(57)【要約】[課題]複数個の検体チップを検査する場合に、検査に要する時間を可及的に短くすることができ、装置も大型化することがなく、安価に検査することができる表面プラズモン共鳴蛍光分析方法、表面プラズモン共鳴蛍光分析装置および表面プラズモン共鳴蛍光分析システムを提供する。[解決手段]複数個の検体チップを検査するにあたり、複数個の検体チップ挿入口が形成された蛍光分析装置の挿入口に検体チップを挿入し、先ず第１の検体チップのイニシャル測定工程を行い、その後、第２の検体チップのイニシャル測定工程を行うようにして、複数個の検査を行う場合に光学系を有効利用するようにした。また、イニシャル測定工程が完了した検体チップは、そのイニシャル測定工程が完了した後に一次反応工程、二次反応工程、シグナル測定工程を順次行うようにした。このような順序で検査を行うことにより、検査時間の短縮化を図ることを可能とした。
2015064564.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数個の検体チップに含まれる被検出物質を表面プラズモン共鳴蛍光分析により連続的に検出する表面プラズモン共鳴蛍光分析方法であって、
複数個の検体チップが、複数個（ｎ個）の検体チップ挿入口を有する蛍光分析装置に、それぞれ挿入された際に、
（ｂ）前記蛍光分析装置の検体チップ挿入口に挿入された検体チップに対し、前記プリズムを介して光源から導電体膜に光を照射して、イニシャル測定を行うイニシャル測定工程と、
（ｃ）前記検体チップに前記被検出物質を含む試料溶液を注入し、当該試料溶液を前記導電体膜上の前記捕捉体に接触させて、前記試料溶液に含まれる被検出物質と前記捕捉体とを結合させる一次反応工程と、
（ｄ）前記被検出物質を蛍光物質で標識する二次反応工程と、
（ｅ）前記プリズム側から前記導電体膜に測定角で励起光を照射し、前記被検出物質を標識する前記蛍光物質から放出される蛍光の光量を測定するシグナル測定工程と、を有し、
ｎ個の検体チップに含まれる前記被検出物質から放出される蛍光の光量を測定するにあたり、
前記工程（ｂ）を、前記工程（ｃ）の前に行うとともに、
第１の検体チップに対する前記工程（ｂ）が完了した後に、第２の検体チップに対する前記工程（ｂ）を行い、第（ｎ-１）の検体チップに対する前記工程（ｂ）が完了した後に、第ｎの検体チップに対する前記工程（ｂ）を行う表面プラズモン共鳴蛍光分析方法。
【請求項２】
前記イニシャル測定工程は、共鳴角調整またはブランク測定の少なくとも一方、あるいはその両方を含む工程である、請求項１に記載の表面プラズモン共鳴蛍光分析方法。
【請求項３】
前記工程（ｂ）の後に、前記工程（ｃ）を行い、前記工程（ｃ）の後に工程（ｄ）を行い、前記工程（ｄ）の後に前記工程（ｅ）を行う、請求項１または２に記載の表面プラズモン共鳴蛍光分析方法。
【請求項４】
前記工程（ｃ）の前に、前記工程（ｄ）を行う、請求項１または２に記載の表面プラズモン共鳴蛍光分析方法。
【請求項５】
検体チップの案内部に流体を注入して試薬と検体（被検出物質）を反応させ反応結果を前記検体チップの検出部から光学系を用いて測定する表面プラズモン共鳴蛍光分析装置において、
前記表面プラズモン共鳴蛍光分析装置の筐体内に前記検体チップを挿入する少なくとも２つの挿入口と、
前記検体チップに流体を注入するための送液系と、
前記挿入口から挿入された前記検体チップを、前記流体案内部と前記送液系が連通する所定の位置に固定するための駆動部材と、
前記被検出物質を光学的に検知するための光学系とを備え、
前記光学系の数が、前記挿入口の数に比べて少ない数に設定されている表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。
【請求項６】
請求項５に記載の表面プラズモン共鳴蛍光分析装置を用いて、請求項１〜４のいずれかに記載の方法により、被検出物質を連続的に検出する表面プラズモン共鳴蛍光分析システムであって、
（ｂ）蛍光分析装置の検体チップ挿入口に挿入された検体チップに対し、プリズムを介して光源から導電体膜に光を照射して、イニシャル測定を行うイニシャル測定工程と、
（ｃ）前記検体チップに前記被検出物質を含む試料溶液を注入し、当該試料溶液を前記導電体膜上の前記捕捉体に接触させて、前記試料溶液に含まれる被検出物質と前記捕捉体とを結合させる一次反応工程とを、
この順番で行うためのプログラムを備えた表面プラズモン共鳴蛍光分析システム。
【請求項７】
前記イニシャル測定工程は、共鳴角調整またはブランク測定の少なくとも一方、あるいはその両方を含む工程である請求項６に記載の表面プラズモン共鳴蛍光分析システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表面プラズモン共鳴によって生じたエバネッセント波の電場を利用して被検出物質を標識した蛍光物質を発光させ、この蛍光を検出することにより被検出物質を測定する表面プラズモン共鳴蛍光分析方法、表面プラズモン共鳴蛍光分析装置および表面プラズモン共鳴蛍光分析システムに関し、詳しくは、複数個の検体チップを連続的に短時間で自動的に検査するのに有用な表面プラズモン共鳴蛍光分析方法、表面プラズモン共鳴蛍光分析装置および表面プラズモン共鳴蛍光分析システムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、表面プラズモン共鳴蛍光分析装置（以下、単に「蛍光分析装置」とも称する。）としては、特許文献１に記載のものが知られている。この分析装置では、プリズムに成膜した導電体膜において表面プラズモン共鳴を生じさせることにより前記導電体膜の表面近傍に増強された電場（増強電場）が形成され、この増強電場を利用して高感度且つ高精度の検体の検査が行われる。【０００３】
例えば、図７及び図８に示した蛍光分析装置１００では、導電体膜１１２が形成されたプリズム部１１０と、このプリズム部１１０に向けて光線αを射出する光源１２０と、プリズム部１１０において反射された光線αを測定する受光部１３０と、導電体膜１１２の近傍において増強電場に基づく光（蛍光）を検出するための蛍光検出手段１４０とを備える。【０００４】
プリズム部１１０は、三角プリズム（以下、単に「プリズム」と称する。）１１４と、このプリズム１１４の頂角に対向する所定の面１１４ｂ上に成膜された導電体膜１１２と、この導電体膜１１２の表面（プリズム１１４と反対側の面）１１２ａ上に成膜され、検体（試料溶液）中の特定の抗原を捕捉する捕捉体（抗体）が表面に固定された抗体固相膜１１３と、検体が抗体固相膜１１３の表面と接しつつ流れることができる流路１１６を有する流路部材１１７とを備える。【０００５】
このプリズム部１１０において、プリズム１１４は、光源１２０から射出された光線αを一方の斜面（入射面）１１４ａからプリズム１１４の内部に入射させ、所定の面１１４ｂ上に設けられた導電体膜１１２により反射された光線αを他方の斜面（射出面）１１４ｃから外部に射出する。詳しくは、プリズム１１４内に入射した光線αは、導電体膜１１２の裏面（プリズム１１４側の面）１１２ｂ側から導電体膜１１２の表面１１２ａで全反射され、射出面１１４ｃからプリズム１１４の外部に射出される。【０００６】
光源１２０は、プリズム１１４の入射面１１４ａに向けて光線αを射出するものである。この光源１２０は、導電体膜１１２への光線αの入射角θを変更可能に構成されている。受光部１３０は、導電体膜１１２により反射されてプリズム１１４の射出面１１４ｃからプリズム１１４の外部に射出された光線αを受光し、その強度を測定する。蛍光検出手段１４０は、導電体膜１１２に対して流路１１６を挟んで対向する位置に配置され、導電体膜１１２の表面近傍に形成される増強電場により励起された蛍光物質の蛍光を検出する。【０００７】
通常、このような蛍光分析装置１００においては、以下の（Ａ）〜（Ｄ）の工程により被検出物質の検査が行われている（たとえば特許文献２参照）。【０００８】
（Ａ）流路１１６に試料溶液を流して捕捉体に接触させる。流路１１６に検体が流されると、抗原抗体反応により検体中の標的物質（特定の抗原）が抗体固相膜１１３に固定された抗体に捕捉される（この工程を一次反応工程と称する）。【０００９】
（Ｂ）検体を検査する際（シグナル測定工程）の、導電体膜１１２の表面近傍に増強電場を形成するための導電体膜１１２への光線αの入射角θ（詳しくは、導電体膜１１２の表面１１２ａに対して裏面１１２ｂ側から入射する光線αの入射角θ）、すなわち測定角θ３を決定する。【００１０】
具体的には、導電体膜１１２への光線αの入射角θを変えながら光源１２０から光線αが射出される。このとき、導電体膜１１２により反射された光線αが受光部１３０によって受光され、その強度が測定される。これにより、導電体膜１１２において表面プラズモン共鳴が生じる導電体膜１１２への入射角である共鳴角（ＳＰＲ角）θ１が求まる（図９参照）。具体的には、反射光の強度が最も小さくなった導電体膜１１２への入射角（すなわち、反射率が最も小さくなった入射角）が共鳴角θ１となる。ここで、導電体膜１１２において表面プラズモン共鳴が生じる共鳴角θ１と、増強電場が最も大きくなる導電体膜１１２への光線αの入射角（増強電場最大角θ２）との間には、ズレがあるため、蛍光分析装置１００は、求めた共鳴角θ１から所定の角度を加減（通常、±０．５°を加減）して、増強電場最大角θ２と略一致するよう、測定角θ３を決定する。【００１１】
光線αの導電体膜１１２への入射角が測定角θ３となるように光源１２０の射出方向が調整される。これにより、導電体膜１１２の表面１１２ａ近傍（導電体膜１１２の流路１１６側近傍）に形成される増強電場が略最大となる（光学系を用いて入射角θから測定角θ３を求めるまでの工程を共鳴角調整工程と称する）。【００１２】
（Ｃ）流路１１６に蛍光標識された抗体を流すことにより、抗体固相膜１１３に固定された抗体に捕捉された抗原に蛍光物質が標識される（この工程を二次反応工程と称する）。【００１３】
（Ｄ）この標識された蛍光物質が、導電体膜１１２の表面近傍に形成されている増強電場により励起されて発光する。受光部１３０がこの蛍光を測定することにより蛍光分析装置１００において抗原の反応量を高感度且つ高精度に測定する（この工程をシグナル測定工程と称する）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１４】
【特許文献１】特開２００６−２０８０６９号公報
【特許文献２】国際公開第２０１２／１０８３２３号パンフレット
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
ところで、このような従来の蛍光分析装置は、図１０（Ａ）に示したように、持ち運びが容易な筺体８２内に組み込まれており、そこに検体チップ１を装着して使用される。通常、蛍光分析装置の筺体には、被検出物質を含む検体チップ１を挿入するための検体チップ挿入口８３が１つ形成されている。なお、検体チップ挿入口８３は検体チップ１を挿入時に検体チップ１が挿入口８３に接触しないように、検体チップ１の厚みより十分な高さがある。図１０（Ａ）において、符号８５はメモリカードスロット、８６はプリント出力口、８７は操作パネル、８８は入出力端子である。【００１６】
これに対して、検査の処理能力を向上させるため、複数の検体チップ挿入口８３、８３を設け、複数の検体チップについての分析を一度に行えるようにすることが望まれている。そのためには、例えば、図１０（Ｂ）に示すように、筺体８２に検体チップ挿入口８３を２つ形成することが考えられる。例えば、この検体チップ挿入口８３、８３のそれぞれに、検体チップ１ａ、１ｂを同時に挿入して、両方の検査を完了させてから、検体チップ１ａ、１ｂを筺体８２から同時に取り出して、次の検体チップ１ｃ、１ｄを同様に挿入するような方式で検査を行うことができる。このような方式であれば、図１０（Ａ）に示した蛍光分析装置１００のように、検体チップ挿入口８３が１つ形成されていて、そこに検体チップ１ａ、１ｂ、１ｃ、１ｄ・・・を順次挿入するような実施形態に比べると、検体チップの交換に要する時間を省略することができる。【００１７】
なお、検体チップ挿入口８３の数は、３つ以上とすることも可能である。【００１８】
ここで、増強電場最大角θ２はチップごとに異なる、換言すればある入射角θでの電場増強の程度はチップごとに異なるので、適正な測定角θ３はチップごとに異なる。そのため、筺体８２内で検体の検査を、順番に行う場合であっても、２つ目の検体チップ１ｂの検査をする際、あるいは３つ目の検体チップの検査を行う際、それぞれで新たに共鳴角調整工程（Ｂ）を行う必要がある。仮に、この適正な測定角θ３の測定を新たに行わないで、１つめの検体チップ１ａの測定角θ３のまま次の検体チップでの検査を行った場合には、同じ量の蛍光物質から発せられるシグナルの強度が検体チップ１ａ、１ｂ、…それぞれで相違することになるので、検体中の特定の抗原の定量性（測定の正確性）が悪化してしまうことになる。【００１９】
仮に、図１０（Ａ）に示したように、検体チップ挿入口８３が１つである実施形態の蛍光分析装置１００において複数個の検体チップ１ａ、１ｂ、…の検査を行う場合、例えば１つの検体チップ１ａの検査を上記した一次反応工程を（Ａ）、共鳴角調整工程を（Ｂ）、二次反応工程を（Ｃ）およびシグナル測定工程を（Ｄ）とし、この（Ａ）〜（Ｄ）をこの順番で行って、１つの検体チップ１ａの検査が完全に完了した後に、次の検体チップ１ｂの検査を、上記した（Ａ）〜（Ｄ）の順番に行おうとすると、図１１（Ｂ）に示したように、検査の時間が極めて長くなる。【００２０】
例えば、ある実施形態では、１つの検体チップについて、一次反応工程（Ａ）に要する時間は約１２０秒、共鳴角調整工程（Ｂ）に要する時間は約２０秒、二次反応工程（Ｃ）に要する時間は約５０秒、シグナル測定工程（Ｄ）に要する時間は約２０秒である。そのため、１つの検体チップ１ａの検査を行うのに約２１０秒（３分３０秒）の時間が必要である。また、２つ目の検体チップ１ｂの検査を行うまでに２×２１０秒（約７分）の時間が必要である。ｎ個の検体チップを検査する場合は、ｎ×２１０秒の時間が最低必要となる。【００２１】
図１０（Ｂ）のように検体チップ挿入口８３が複数ある場合において、検査時間のうち光学系を用いた測定の占める時間が少ないことから、装置のコストダウンのために、挿入口・送液系の数に対して光学系の数を減らすことが可能である。その場合、少なくとも光学系を稼働させている測定のタイミングが各挿入口間で重複しないようにする必要がある。【００２２】
また、図１０（Ｂ）に示したように検体チップ挿入口８３が複数（例えば２個）ある場合において、この挿入口８３、８３に挿入された検体チップ１ａ、１ｂ…の検査を同時に開始するのではなく、図１２に示したように、時間をおいてランダムで開始することも考えられる。【００２３】
このようにランダムで開始する場合であっても、光学系の数以上に、共鳴角調整工程（Ｂ）とシグナル測定工程（Ｄ）との重複（例えば、検体チップ１ａに対するシグナル測定工程（Ｄ）と検体チップ１ｂに対する共鳴角調整工程（Ｂ）との重複など）を避けるためには、時間を調整しなければならないので、時間のロスが生じることなる。【００２４】
さらに、検体チップ挿入口８３の数が３つで、光学系が１つ、送液系の数が３つである場合を想定する。このような場合には、図１３に示したように、第１の検体チップと第２の検体チップと第３の検体チップに対して、一次反応工程（Ａ）を複数の送液系を用いて、それぞれ同時に行うことができる。しかしながら、第１の検体チップの共鳴角調整工程（Ｂ）を行う場合に、第２の検体チップと第３の検体チップは、待機していなければならない。よって、このような場合も時間的なロスが生じる。また、その待機時間において、抗原の解離が起こる懸念がある。【００２５】
上記したように、従来の蛍光分析装置１００または複数の検体チップ挿入口があると仮定した蛍光分析装置１１０において、複数個の検体チップ１の検査を行うには、一般に、相応の時間を要し、結果として検査に要する費用が高くなるという問題があった。【００２６】
また、送液系９０の数と光学系１５０の数とが同数で、かつ複数組用意されている場合には、それぞれが独立しているため、その複数組と同数の検体チップの検査を同時に開始することもできる。例えば、送液系と光学系とが３組用意されていれば、第１の検体チップと第２の検体チップと第３の検体チップに対する検査を同時に開始することもできる。【００２７】
しかしながら、このような場合には、装置が大型化してしまうという問題がある。また、例えば、図７に示した光源１２０、受光部１３０、蛍光検出手段１４０などからなる光学系１５０は高価であるため、その光学系１５０の数を送液系９０の数に合わせて揃えることは、蛍光分析装置１００のコストを大幅に上昇させてしまうことになる。【００２８】
本発明は、このような実情に鑑み、複数個の検体チップを検査する場合に、検査に要する時間を可及的に短縮することができ、装置も大型化することがなく安価に検査することができる表面プラズモン共鳴蛍光分析方法、表面プラズモン共鳴蛍光分析装置および表面プラズモン共鳴蛍光分析システムを提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００２９】
上述した目的のうちの少なくとも一つを実現するために、本発明の一側面を反映した表面プラズモン共鳴蛍光分析方法は、
複数個の検体チップに含まれる被検出物質を表面プラズモン共鳴蛍光分析により連続的に検出する表面プラズモン共鳴蛍光分析方法であって、
複数個の検体チップが、複数個（ｎ個）の検体チップ挿入口を有する蛍光分析装置に挿入された際に、
（ｂ）前記蛍光分析装置の検体チップ挿入口に挿入された検体チップに対し、前記プリズムを介して光源から前記導電体膜に光を照射して、イニシャル測定を行うイニシャル測定工程と、
（ｃ）前記検体チップに前記被検出物質を含む試料溶液を注入し、当該試料溶液を前記導電体膜上の前記捕捉体に接触させて、前記試料溶液に含まれる被検出物質と前記捕捉体とを結合させる一次反応工程と、
（ｄ）前記被検出物質を蛍光物質で標識する二次反応工程と、
（ｅ）前記プリズム側から前記導電体膜に測定角で励起光を照射し、前記被検出物質を標識する前記蛍光物質から放出される蛍光の光量を測定するシグナル測定工程と、を有し、
ｎ個の検体チップに含まれる前記被検出物質から放出される蛍光の光量を測定するにあたり、
前記工程（ｂ）を、前記工程（ｃ）の前に行うとともに、
第１の検体チップに対する前記工程（ｂ）が完了した後に、第２の検体チップに対する前記工程（ｂ）を行い、第（ｎ-１）の検体チップに対する前記工程（ｂ）が完了した後に、第ｎの検体チップに対する前記工程（ｂ）を行う。【００３０】
また、上述した目的のうちの少なくとも一つを実現するために、本発明の一側面を反映した表面プラズモン共鳴蛍光分析装置は、
検体チップの案内部に流体を注入して試薬と検体（被検出物質）を反応させ反応結果を前記検体チップの検出部から光学系を用いて測定する表面プラズモン共鳴蛍光分析装置において、
前記表面プラズモン共鳴蛍光分析装置の筐体内に前記検体チップを挿入する少なくとも２つの挿入口と、
前記検体チップに流体を注入するための送液系と、
前記挿入口から挿入された前記検体チップを、前記流体案内部と前記送液系が連通する所定の位置に固定するための駆動部材と、
前記被検出物質を光学的に検知するための光学系とを備え、
前記光学系の数が、前記挿入口の数に比べて少ない数に設定されている。【００３１】
さらに、上述した目的のうちの少なくとも一つを実現するために、本発明の一側面を反映した表面プラズモン共鳴蛍光分析システムは、
前記に記載の表面プラズモン共鳴蛍光分析装置を用いて、前記いずれかに記載の方法により、被検出物質を連続的に検出する表面プラズモン共鳴蛍光分析システムであって、
（ｂ）蛍光分析装置の検体チップ挿入口に挿入された検体チップに対し、プリズムを介して光源から導電体膜に光を照射して、イニシャル測定を行うイニシャル測定工程と、
（ｃ）前記検体チップに前記被検出物質を含む試料溶液を注入し、当該試料溶液を前記導電体膜上の前記捕捉体に接触させて、前記試料溶液に含まれる被検出物質と前記捕捉体とを結合させる一次反応工程とを、
この順番で行うためのプログラムを備えている。
【発明の効果】
【００３２】
本発明に係る表面プラズモン共鳴蛍光分析方法、表面プラズモン共鳴蛍光分析装置および表面プラズモン共鳴蛍光分析システムによれば、装置も大型化を抑制しつつ、複数の検体チップを効率良く短時間で連続的に検査することができ、生化学検査に要するコストの低減に寄与することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３３】
【図１】図１は、本発明の好ましい実施形態に係る表面プラズモン共鳴蛍光分析装置の概略構成図である。
【図２】図２は、図１の表面プラズモン共鳴蛍光分析装置において第１の光フィルタと第２の光フィルタとの位置を切り換えた状態の概略構成図である。
【図３】図３は、図１の表面プラズモン共鳴蛍光分析装置において、プリズム上に成膜された導電体膜の表面近傍に生じるプラズモン散乱光の強度と電場増強度との関係を示す図である。
【図４】図４は、送液系に用いられる試薬チップを説明するための拡大斜視図である。
【図５】図５は、本実施形態に係る表面プラズモン共鳴蛍光分析装置の外観図である。
【図６】図６（Ａ）は、本実施形態に係る表面プラズモン共鳴蛍光分析装置で、いわゆるランダム式で検体チップを検査した場合の経過時間との関係を示すフローチャート、図６（Ｂ）は、本実施形態に係る表面プラズモン共鳴蛍光分析装置を用いて、いわゆるバッチ式で検体チップを検査する場合の経過時間との関係を示すフローチャートである。
【図７】図７は、従来の表面プラズモン共鳴蛍光分析装置の概略図である。
【図８】図８は、図７に示した前記表面プラズモン共鳴蛍光分析装置のプリズム部の構造を示す拡大縦断面図である。
【図９】図９は、プリズム部の導電体膜における光線の反射率と導電体膜の表面近傍に生じるプラズモン散乱光の強度との関係を示す図である。
【図１０】図１０（Ａ）は検体チップ挿入口が１つの蛍光分析装置の外観図、図１０（Ｂ）は検体チップ挿入口が２つの蛍光分析装置の外観図である。
【図１１】図１１（Ａ）は、従来の蛍光分析装置において複数個の検体チップを検査する場合の各工程の順番と経過時間との関係を示すフローチャート、図１１（Ｂ）は従来の蛍光分析装置において複数個の検体チップを検査する場合の経過時間を示すフローチャートである。
【図１２】図１２は、複数の検体チップ挿入口を設けた蛍光分析装置において、複数個の検体チップの測定をランダムで検査を開始する場合の経過時間との関係を示すフローチャートである。
【図１３】図１３は、蛍光分析装置において、検体チップ挿入口が３つ、光学系が１つで送液系が３つある場合の、検査方法と検査時間との関係を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００３４】
以下、本発明の好ましい実施形態について、添付図面を参照しつつ説明する。
【００３５】
本実施形態に係る表面プラズモン共鳴蛍光分析装置（蛍光分析装置）１０は、図１及び図２に示すように、検体チップ２０に向けて光線を射出する光源４０と、検体チップ２０において生じた光を測定する光測定部５０と、検体チップ２０を着脱可能に保持する保持部１２とを備える。また、蛍光分析装置１０は、光測定部５０により測定した光を分析するための演算部１４と、演算部１４における演算結果等の各種情報を表示するための表示部１６とを備える。なお、図１および図２は、蛍光分析装置１０に検体チップ２０を装着した状態を表している。
【００３６】
また、本実施形態に係る表面プラズモン共鳴蛍光分析システムは、図１の装置１０と制御部５８とにより、連続運転が可能にされた分析システムをいう。
【００３７】
検体チップ２０は、プリズム２１と、プリズム２１の表面に成膜される導電体膜２５と、導電体膜２５上を当該導電体膜２５に接しつつ検体や試薬、洗浄液等の溶液が流れる流路３１を形成する流路部材３０とを備える。
【００３８】
プリズム２１は、光源４０からの光線αをプリズム２１の内部に入射させる入射面２２と、このプリズム２１の内部に入射した光線αを反射する導電体膜２５が成膜される成膜面（所定の面）２３と、導電体膜２５で反射された光線αがプリズム２１の外部に射出される射出面２４とをその表面に含み、透明なガラス又は樹脂により形成されている。本実施形態のプリズム２１は、屈折率が１．４０〜１．７５程度の透明なガラス又は樹脂により形成されている。なお、プリズムは、側面視が本実施形態のように三角プリズムの頂角部分を切り取ったような形状でもよく、また、側面視が三角形状であってもよい（図１の点線部参照）。すなわち、プリズムは、入射面と成膜面と射出面とをその表面に含み、入射面からプリズムの内部に入射した光線αが成膜面上の導電体膜により全反射され、この光線αを内部で乱反射させずに射出面から外部に射出するような形状であればよい。
【００３９】
導電体膜２５は、プリズム２１の成膜面２３上に成膜（形成）された金属製の薄膜である。本実施形態の導電体膜２５は、金により形成されている。この導電体膜２５は、光線αを全反射することにより生じるエバネッセント波を増幅するための部材である。すなわち、成膜面２３上に導電体膜２５を設けて表面プラズモン共鳴を生じさせることにより、導電体膜２５のない面（成膜面２３）により光線αを全反射させてエバネッセント波を生じさせた場合に比べ、形成される電場を増強させることができる。本実施形態における電場の増強度（電場増強度）は、導電体膜２５がない場合に比べて１０倍程度となる（図３参照）。導電体膜２５は、膜厚が３０〜７０ｎｍとなるようにスパッタ法や蒸着法、メッキ法等の各種成膜方法により形成されている。なお、導電体膜２５の素材は、金に限定されず、表面プラズモンを発生させる金属であればよく、例えば、銀、銅、アルミ等（合金を含む）であってもよい。
【００４０】
また、導電体膜２５の表面（プリズムと反対側の面）２５ａには、特定の抗原を捕捉するための捕捉体２６が固定されている。この捕捉体２６は、例えば、表面処理によって導電体膜２５の表面２５ａに固定される。
【００４１】
流路部材３０は、プリズム２１の成膜面２３上に設けられ、検体が流れる流路３１を有する。この流路部材３０は、透明な樹脂により形成される。本実施形態の流路部材３０は、水平方向に拡がる板状の部材である。流路３１は、抗原抗体反応が行われる検出部３２と、検体チップ２０の外部から検出部３２へ検体を案内し、又は検出部３２から検体チップ２０の外部面（図１において下側の面）３０ｂに設けられた溝とプリズム２１上の導電体膜２５とにより囲まれている。すなわち、この検出部３２では、検体が導電体膜２５の表面（捕捉体２６が固定されている面）２５ａと接しつつ流れる。各案内部３３は、一方の端部が流路部材３０の表面（図１において上側の面）３０ａにおいて開口し、他方の端部（前記一方の端部と反対側の端部）が検出部３２に接続されている。このように案内部３３と検出部３２と案内部３３とが順に繋がることによって一本の流路３１が形成される。
【００４２】
この流路部材３０は、プリズム２１と接着剤により接着（接合）されている。本実施形態では、検出部３２を水平方向から囲み且つ流路部材３０とプリズム２１との間となる位置に、弾性体からなるシール部材３５が設けられている。これにより、流路部材３０とプリズム２１との接合部位からの検体の漏れが防止される。なお、流路部材３０とプリズム２１との接合は、接着に限定されず、レーザ溶着や超音波溶着、クランプ部材を用いた圧着等であってもよい。また、流路部材３０とプリズム２１とが液密に接合されていれば、前記検出部３２を囲むシール部材３５はなくてもよい。
【００４３】
光源４０は、検体チップ２０、詳しくは、プリズム２１の入射面２２に向けて光線αを射出する光源装置である。この光源４０は、半導体レーザやＬＥＤ等の発光素子４１と、発光素子４１による光線αの射出方向を変更する角度変更部４２と、発光素子４１からの光線αを偏光する偏光板（図示省略）とを有する。
【００４４】
角度変更部４２は、発光素子４１から射出された光線αが入射面２２からプリズム２１の内部に入射して導電体膜２５で全反射している状態（詳細には、導電体膜２５の裏面（表面２５ａと反対の側の面）側から当該導電体膜２５を通過してその表面２５ａで全反射している状態）で、この光線αの導電体膜２５（詳細には、導電体膜２５の表面２５ａ）に対する入射角θを変更するように発光素子４１による光線αの射出方向を変更させる。詳しくは、角度変更部４２は、導電体膜２５における光線αの反射される位置を変えることなく導電体膜２５への光線αの入射角θを変更するように、発光素子４１の射出方向を変更可能に構成される。本実施形態の角度変更部４２は、光測定部５０の制御部５８と接続され、この制御部５８からの指示信号に従って発光素子４１による光線αの射出方向を変更する。
【００４５】
偏光板は、プリズム２１の成膜面２３上に設けられた導電体膜２５に対してＰ偏光となるように発光素子４１から射出される光線αを偏光する。なお、発光素子４１として半導体レーザが用いられる場合、半導体レーザ自身の偏光面が導電体膜２５に対するＰ偏光の偏光面と一致するように半導体レーザが配置されれば、偏光板は設けなくてもよい。
【００４６】
光測定部５０は、導電体膜２５の表面２５ａ側に生じた光を受光する受光部５１と、第１の光フィルタ５４と、第２の光フィルタ５５と、これら第１の光フィルタ５４と第２の光フィルタ５５との位置をそれぞれ切り換える位置切換装置（位置切換部）５６と、当該光測定部５０の各構成要素や光源４０の角度変更部４２等の制御を行う制御部５８とを備える。
【００４７】
受光部５１は、光を検出する受光素子５２と、レンズ等により構成され、導電体膜２５の表面２５ａ側で生じた光を受光素子５２まで導光する光学系５３とを有する。本実施形態では、微弱な光（検体中の抗原に標識した蛍光物質を励起させることにより生じた蛍光）を検出するため、受光素子５２として光電子倍増管（いわゆるフォトマル：Photomultiplier Tube）が用いられている。
【００４８】
第１の光フィルタ５４は、入射した光を減衰させて出射する光フィルタである。本実施形態の第１の光フィルタ５４は、減光フィルタ（ＮＤフィルタ）である。この第１の光フィルタ５４が検体チップ２０の導電体膜２５において生じたプラズモン散乱光を減光することにより、微弱な光を検出するための受光素子（本実施形態ではフォトマル）５２によるプラズモン散乱光の測定が可能となる。
【００４９】
第２の光フィルタ５５は、所定の波長の光を遮るための光フィルタである。本実施形態の第２の光フィルタ５５は、ロングパスフィルタである。なお、第２の光フィルタ５５は、ロングパスフィルタに限定されず、バンドパスフィルタ等でもよい。
【００５０】
この第２の光フィルタ５５は、受光部５１に蛍光（検体中の抗原に標識した蛍光物質を励起させることにより生じた光）以外の波長の光（例えば、光源４０からの光（漏れ光）やプラズモン散乱光等）が入射することを防ぐ。すなわち、第２の光フィルタ５５は、受光部５１に入射する光からノイズ成分を除去し、これにより受光部５１における微弱な蛍光の検出精度及び検出感度の向上を図っている。
【００５１】
位置切換装置５６は、第１の光フィルタ５４及び第２の光フィルタ５５の位置を中間位置と待避位置との間で切り換える装置である。なお、中間位置は、導電体膜２５と受光部５１との間の位置である。詳しくは、中間位置は、検体チップ２０と受光部５１との間の位置（図１における第１の光フィルタ５４の位置）である。また、待避位置は、中間位置よりも導電体膜２５及び受光部５１から離れた位置（図１における第２の光フィルタ５５の位置）である。詳しくは、待避位置は、導電体膜２５の表面２５ａ側で生じた光が受光部５１に直接入射できるような位置である。
【００５２】
具体的に、位置切換装置５６は、第１の光フィルタ５４が中間位置のときに第２の光フィルタ５５が待避位置となり（図１参照）、第１の光フィルタ５４が待避位置のときに第２の光フィルタ５５が中間位置となる（図２参照）ように、第１の光フィルタ５４及び第２の光フィルタ５５の位置をそれぞれ切り換える。この位置切換装置５６は、制御部５８と接続され、この制御部５８からの指示信号に基づいて第１の光フィルタ５４及び第２の光フィルタ５５の位置の切り換えを行う。
【００５３】
制御部５８は、光源４０や光測定部５０の各構成要素等の制御を行う。具体的に、制御部５８は、受光部５１により測定された光の強度に基づいて光源４０による光線αの射出方向を調整する。本実施形態の制御部５８は、検体チップ２０の導電体膜２５の表面２５ａ側で生じたプラズモン散乱光の強度に基づいて光源４０の光線αの射出方向を調整する。詳しくは、制御部５８は、保持部１２に検体チップ２０が保持されたときに、光源４０の発光素子４１及び角度変更部４２を制御して、光線αが導電体膜２５の裏面側（プリズム２１側）から導電体膜２５への入射角θを変えつつ導電体膜２５に入射するように光源４０から光線αを射出させる。このとき、受光部５１が導電体膜２５の表面２５ａ側において生じたプラズモン散乱光の強度を検出し、この強度変化に基づいて制御部５８が角度変更部４２を制御して光源４０による光線αの射出方向を調整する。詳しくは、入射角θを変えながら光線αが導電体膜２５に入射すると、受光部５１が検出するプラズモン散乱光の強度は、図３に示すように変化する。制御部５８は、この強度変化がピーク（最大値）となったときの入射角θ５で光線αが導電体膜２５に入射したときの光源４０による光線αの射出方向を求める。そして、制御部５８は、発光素子４１の向きを調整して光源４０がこの射出方向に光線αを射出できるように角度変更部４２に指示信号を出力する。
【００５４】
また、制御部５８は、位置切換装置５６に対して、第１の光フィルタ５４及び第２の光フィルタ５５の位置の切り換え指示を行う。具体的に、制御部５８は、前記のプラズモン散乱光を用いた光源４０による光線αの射出方向の調整を行うときには、第１の光フィルタ５４が中間位置となり、第２の光フィルタ５５が退避位置となるように位置切換装置５６に指示信号を出力する。一方、制御部５８は、蛍光分析装置１０において検体の検査を行うときには、第１の光フィルタ５４が退避位置となり、第２の光フィルタ５５が中間位置となるように位置切換装置５６に指示信号を出力する。
【００５５】
保持部１２は、検体の検査のときに検体チップ２０を保持する部位である。具体的に、この保持部１２は、検体チップ２０が光源４０に対して所定の姿勢となるように検体チップ２０を着脱可能に保持する。前記所定の姿勢とは、光源４０から射出された光線αが入射面２２からプリズム２１の内部に入射してこのプリズム２１の内部に入射した光線αが導電体膜２５により全反射される姿勢である。
【００５６】
図４に示した試薬チップ６０は、送液系に具備されるもので、装着可能な部材である。検査対象となる血液等の検体は、前処理（血球分離や希釈、混合等）を行った後、検体が検体チップ２０に注入される。試薬チップ６０には複数の収納部６１が設けられ、各収納部６１には血液等の検体の他に、試薬、希釈液、洗浄液等が個別に封入されている。
【００５７】
演算部１４は、検体の検査時において、光測定部５０（受光部５１）から送られてきた出力信号を演算してこの光測定部５０により測定された蛍光に関する分析を行うための部位である。具体的に、例えば、演算部１４は、光測定部５０により検出した単位面積あたりの蛍光の数のカウントや時間の経過に伴う蛍光の増加量の算出等を行う。演算部１４での演算結果は、この演算部１４に接続される表示部１６に出力される。
【００５８】
表示部１６は、演算部１４からの出力信号に基づき、演算結果を表示するものである。表示部１６は、モニター等のように結果を画面に表示するものでもよく、プリンター等のように結果をプリントアウトするものでもよい。また、表示部１６は、これらを組み合わせたものでもよい。
【００５９】
このように構成される蛍光分析装置１０は、例えば図５に示したように、持ち運びが容易な１つの筺体８２０内に組み込まれて使用される。
【００６０】
蛍光分析装置１０を収容する筺体８２０には、例えば３つの検体チップ２０、２０、２０を挿入するための検体チップ挿入口８３０が３つ形成されている。なお、筺体８２０に形成される検体チップ挿入口８３０は、３つに限定されず、２つ以上であれば良い。なお、図５において、符号８５はメモリカードスロット、８６はプリント出力口、８７は操作パネル、８８は入出力端子である。
【００６１】
また、本実施形態の筺体８２０内には、図１０（Ｂ）に示した場合と同様に、送液系９０と光学系１５０とが具備されており、送液系９０と光学系１５０との間には、両者を往復移動することが可能な搬送機構が具備されている。そして、この搬送機構により検体チップ２０は、送液系９０から光学系１５０、あるいは光学系１５０から送液系９０に搬送が可能にされている。さらに、本実施形態では、光学系１５０の数が、送液系９０の数に比べて少なくされている。
【００６２】
しかしながら、光学系１５０の数と送液系９０の数は、同数であっても良い。
【００６３】
ここで、本明細書における送液系とは、試薬チップ６０の各収納部６１に収納された血液、試薬、希釈液、洗浄液等などを、図１に示した検体チップ２０の流路３１に流すために必要な構成要素からなる系をいう。
【００６４】
具体的には、図４の試薬チップ６０の他、この試薬チップ６０から検体チップ２０の流路３１へ流体を注入するための送液ポンプ、送液ポンプ搬送機構などをいう。
【００６５】
また、光学系とは、図１を例にして説明すれば、光源４０、光測定部５０、位置切換装置５６など、被検出物質を光学的に検出するために必要な部材からなる系をいう。
【００６６】
本実施形態では、これら光学系１５０の数が送液系９０の数に比べて少ないことから、筺体８２０の小型化および蛍光分析装置１００の製品単価を安くすることに寄与している。
【００６７】
上記のように構成された蛍光分析装置１０では、以下のようにして検査が行われる。
【００６８】
（ａ）準備工程
複数個用意された検体チップ２０を、図５に示したように、３つの検体チップ挿入口８３０、８３０、８３０を有する蛍光分析装置１０に、それぞれ挿入する。
【００６９】
ここで、３つの検体チップ２０、２０、２０を、それぞれ第１の検体チップ、第２の検体チップ、第３の検体チップとする。
【００７０】
（ｂ）イニシャル測定工程
イニシャル測定工程で共鳴角調整を行う場合には、先ず、第１の検体チップ２０を図１のように検査位置に配置した後、共鳴角を特定し、さらに第１の検体チップ２０を検査するときの導電体膜２５への光線αの入射角である測定角を決定する。
【００７１】
なお、イニシャル測定工程とは、広くは、シグナル測定工程以外の工程であって光学系を用いた測定工程を指し、具体的には、「共鳴角調整」または「ブランク測定」のいずれか、あるいはその両方を含むものである。また、イニシャル測定工程には、「共鳴角調整」や「ブランク測定」以外としては、位置情報の入手なども含まれる。
【００７２】
具体的に、制御部５８は、指示信号を位置切換装置５６に出力することによって第１の光フィルタ５４が中間位置となり第２の光フィルタ５５が退避位置となるように第１の光フィルタ５４及び第２の光フィルタ５５の位置をそれぞれ切り換える（図１参照）。
【００７３】
制御部５８は、光源４０に光線αを射出させつつ角度変更部４２によってプリズム２１の導電体膜２５に入射する光線αの入射角θを変更する。このとき、光線αがプリズム２１内に入射し、この光線αが導電体膜２５の裏面側から導電体膜２５を通過してその表面２５ａにおいて全反射することにより、エバネッセント波が導電体膜２５の表面２５ａ側に染み出し、これにより、プラズモン散乱光が発生する。光測定部５０（詳しくは、受光素子（フォトマル）５２）は、このプラズモン散乱光の強度を測定する。このとき、第１の光フィルタ５４が中間位置に配置されているため、導電体膜２５の表面２５ａ側で生じたプラズモン散乱光は、第１の光フィルタ５４を通過することにより減光された状態で受光素子５２に到達する。そのため、強い光（詳しくは、検体を検査する際に測定する蛍光に比べて強い光）が入ることによる受光素子５２の故障が防がれる。
【００７４】
制御部５８は、光測定部５０により測定されたプラズモン散乱光における角度依存データ（導電体膜２５への光線αの入射角θと光強度との関係を表すデータ：図３参照）に基づき、プラズモン散乱光の強度が最大となる入射角θ５を求める。このプラズモン散乱光の強度が最大のときの導電体膜２５への光線αの入射角θ５が分れば、制御部５８は、電場増強度が最大となる導電体膜２５への光線αの入射角θを精度よく導出することができる。これは、導電体膜２５において、表面プラズモン共鳴に起因する導電体膜２５の表面２５ａ近傍に形成される電場の大きさ（電場増強度）が最大となるときにプラズモン散乱光の強度が最大となることに基づく。
【００７５】
制御部５８は、角度変更部４２を制御して、光線αが導電体膜２５に入射する入射角が、プラズモン散乱光の強度が最大のときの入射角θ５（すなわち、電場増強度が最大となる入射角θ５）となるように、光源４０から射出される光線αの方向を調整する。
【００７６】
次に、制御部５８は、各光フィルタ５４，５５の位置の切り換えを行う。すなわち、制御部５８の指示信号により、位置切換装置５６が、第１の光フィルタ５４が退避位置となり第２の光フィルタ５５が中間位置となるように第１の光フィルタ５４及び第２の光フィルタ５５の位置をそれぞれ切り換える（図２参照）。
【００７７】
なお、イニシャル測定工程において、ブランク測定を行う場合には、検体チップ２０内を測定液で満たしておき、光源４０から光を当てて測定する。
【００７８】
なお、ブランク測定とは、捕捉抗体などの捕捉体に何も捕捉されていない状態で、予め蛍光を測定することにより、本来ならば検出光としてはならないノイズとしてのチップ自体の自家蛍光、励起光の漏れ、などの蛍光強度をブランク測定工程により決定しておき、この値を後に行われるシグナル測定工程で測定される蛍光強度から差し引くなどの調整を行うことをいう。
【００７９】
（ｃ）一次反応工程
検体チップ２０の流路３１に試料溶液を流して、該試料溶液を捕捉体２６に接触させ、抗原抗体反応等を行わせる。抗原抗体反応により検体中の被検出物質（特定の抗原）と捕捉体２６とを結合させる。
【００８０】
（ｄ）二次反応工程
流路３１に蛍光物質を標識された抗体を流すことにより、捕捉体２６に捕捉された被検出物質を蛍光物質で標識する。なお、このとき、検出部３２の導電体膜２５の表面近傍には増強電場が形成されているため、この電場によって抗原に標識された蛍光物質が励起されて光る。
【００８１】
（ｅ）シグナル測定工程
光源４０から導電体膜２５に測定角で励起光を照射し、被検出物質を標識する前記蛍光物質から放出される蛍光の光量を測定する。
【００８２】
この蛍光が第２の光フィルタ５５を透過することによりノイズ成分が除去されて受光部５１に到達し、受光部５１の受光素子５２が前記ノイズ成分の除去された蛍光を検出する。受光部５１は、この検出結果を出力信号として制御部５８を介して演算部１４に出力する。演算部１４は、この出力信号を受信し、この出力信号を演算処理することにより、抗原の定量分析を行う。
【００８３】
そして、演算部１４が演算結果を表示部１６に送り、当該表示部１６が演算結果を表示する。
【００８４】
なお、本実施形態の蛍光分析装置１０では、筺体８２０内に３つの検体チップ２０を挿入し、第１の検体チップ２０を図１の検査位置に配置する。このとき、第２の検体チップ２０と第３の検体チップ２０は挿入された後、検査位置ではなく待機位置に配置される。
【００８５】
この状態から、第１の検体チップ２０、第２の検体チップ２０、第３の検体チップ２０に対する検査が、以下のように行われていく。
【００８６】
先ず、第１の検体チップ２０に着目して述べれば、図６（Ａ）に示したように、上述のイニシャル測定ｂ、一次反応工程ｃ、二次反応工程ｄ、シグナル測定工程ｅが、この順番で行われる。
【００８７】
また、本実施形態では、第１の検体チップ２０に対するイニシャル測定工程ｂが完了した後に、直ちに第２の検体チップ２０に対するイニシャル測定工程ｂが行われる。
【００８８】
さらに、本実施形態では、第２の検体チップ２０に対するイニシャル測定工程ｂが完了した後に、第３の検体チップ２０に対するイニシャル測定工程ｂが行われる。
【００８９】
このようにして、第ｎの検体チップ２０に対しても、第（ｎ-１）の検体チップ２０に対するイニシャル測定工程ｂが完了した後に、イニシャル測定工程ｂを行う。この際、装置内にセットされている検体チップにおいて、第ｎ番目の検体チップに対するイニシャル測定工程ｂ又はシグナル測定工程ｅを行っている際に、他の検体チップに対してはイニシャル測定工程ｂもシグナル測定工程ｅも行っていない。また、第ｎ-１番目の検体チップに対して一次反応工程ｃを行っている間に、第ｎ番目の検体チップに対するイニシャル測定工程ｂを行っている。この第ｎ番目の検体チップに対するイニシャル測定工程ｂは、第ｎ-１番目の検体チップに対するシグナル測定工程ｅを行う前に行っており、例えば、二次反応工程ｄを行っている間に行っても良く、第ｎ-１番目の検体チップに対して一次反応工程ｃから二次反応工程ｄを行っている間に行うこともできる。
【００９０】
また一方、各検体チップに対するイニシャル測定工程ｂ及びシグナル測定工程ｅはそれぞれの工程で検体チップ毎に順次行い、一次反応工程ｃまたは二次反応工程ｄは複数の検体チップに対して一斉にそれぞれ同時に実施しても良い。
【００９１】
このような順番でイニシャル測定工程ｂを行うようにすれば、高価な光学系１５０を共用して有効利用しつつ、結果として検査に要する時間を大幅に短縮することが可能である。また、送液系９０の数に比べて光学系１５０の数が少なくても、検査に何ら問題が生じることもない。
【００９２】
一般的に、イニシャル測定工程ｂが完了した検体チップ２０に対して、図６に示したように、それぞれ一次反応工程ｃ、二次反応工程ｄ、シグナル測定工程ｅが、この順番で行われていく。このような順番でｎ個の検体チップ２０の検査を行っていけば、図６に示したように、光学系１５０が同じ時間帯で行われることを防ぐことができる。
【００９３】
一方、一次反応工程ｃの前に二次反応工程ｄを行う、すなわち非検出物質（特定の抗原）を蛍光物質で標識した後、形成された複合体を捕捉体６に接触させて、抗原抗体反応を行わせるようにすることも可能である。
【００９４】
各工程間に、必要に応じて適宜な待ち時間を確保することもできる。このような調整は、制御部５８のプログラムによって制御される。
【００９５】
また、蛍光分析装置１０において光学系を必要以上に設ける必要がないので、装置の小型化及び省コスト化を図ることができる。
【００９６】
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されない。
【００９７】
例えば、図６（Ａ）では、第１の検体チップのイニシャル測定工程ｂと、第２の検体チップのイニシャル測定工程ｂと、第３の検体チップのイニシャル測定工程ｂとは重複が不可能なことから、第２の検体チップのイニシャル測定工程ｂと、第３の検体チップのイニシャル測定工程ｂとは、第１の検体チップのイニシャル測定工程ｂに対して、所定時間間隔を空けてから行っている一方、各検体チップにおける一次反応工程ｃ、二次反応工程ｄ、シグナル測定工程ｅは、イニシャル測定工程ｂが完了した後に、引き続き行われている。第ｎ-１番目の検体チップが一次反応工程ｃから二次反応工程ｄまでを行っている間に第ｎ番目の検体チップのイニシャル測定工程ｂを行っている。また、この間に、第ｎ番目のシグナル測定工程ｅを行うこともできる。図６（Ａ）では、第ｎ番目の一次反応工程ｃから二次反応工程ｄまでを行っている間に第ｎ-１番目の検体チップのシグナル測定工程ｅを行っている。
【００９８】
このようにすることで、各検体チップに対しては、一次反応工程ｃ、二次反応工程ｄ、シグナル測定工程ｅの各工程間の待機時間を無くしあるいは低減して連続的に実行することができるので、余分な待機時間による抗原抗体反応の解離を防ぐことができ、より高感度化が実現できるともに、複数の検体チップの検査における短時間化をより達成できる。また、一次反応工程ｃの開始からシグナル測定工程ｅの開始までの時間を全ての検体チップにおいて同一にすることができるので、複数の検体チップ間での測定条件にバラつきなく抗原抗体反応後の変化を均一化でき、精度の高い検査を実施できる。
【００９９】
本発明では、このような図６（Ａ）の態様に代えて、図６（Ｂ）の態様で行うこともできる。
【０１００】
すなわち、図６（Ｂ）では、第１の検体チップのイニシャル測定工程ｂと、第２の検体チップのイニシャル測定工程ｂと、第３の検体チップのイニシャル測定工程ｂとを所定時間間隔を空けてから行なうまでは、図６（Ａ）の場合と同様であるが、各検体チップの一次反応工程ｃと二次反応工程ｄを行うことについては、同時に行うようにしている。図６（Ｂ）では、複数の検体チップに対して一次反応工程ｃ及び二次反応工程ｄにおける送液をまとめて同じようなタイミングで行うため、送液系の駆動を共通にすることが可能になり、さらなるコストの低減、小型化を達成できる。
【０１０１】
以上、説明したように、本実施形態では、３つの検体チップ２０、２０、２０を全て筺体８２０内に組み込んでから、最初の検体チップ２０に対するイニシャル測定工程（ｂ）を開始する例について説明しているが、これに代え、先ず２つの検体チップ２０、２０を挿入し、この状態で最初の検体チップ２０に対するイニシャル測定工程ｂを開始し、その後に、第３の検体チップ２０を挿入して、検査を継続して行っていくこともできる。
【０１０２】
すなわち、制御部５８にこのようなプログラムを組み込んだ表面プラズモン共鳴蛍光分析システムを採用することもできる。
【０１０３】
このような設定であれば、検査が完了した検体チップ２０から、順次筺体８２０から取出すとともに、新たに、未だ検査が完了していない残りの検体チップ２０を挿入し、その新たに挿入された検体チップ２０を待機位置に配置することができる。これにより、例えば、３個の検体チップ挿入口８３０を備えた分析装置であっても、連続運転が可能となり、一台で多量の検体チップを連続的に検査していくことができる。
【符号の説明】
【０１０４】
１０    蛍光分析装置
１２    保持部
１４    演算部
１６    表示部
２０    検体チップ
２１    プリズム
２２    入射面
２３    成膜面
２４    射出面
２５    導電体膜
３０    流路部材
３１    流路
３２    検出部
３３    案内部
３５    シール部材
４０    光源
４１    発光素子
４２    角度変更部
５０    光測定部
５１    受光部
５２    受光素子
５３    光学系
５４    光フィルタ
５５    光フィルタ
５６    位置切換装置
５８    制御部
６０    試薬チップ
８５    メモリカードスロット
８６    プリント出力口
８７    操作パネル
８８    入出力端子
９０    送液系
１５０  光学系
８２０  筺体
８３０  検体チップ挿入口
ｂ      イニシャル測定工程
ｃ      一次反応工程
ｄ      二次反応工程
ｅ      シグナル測定工程
θ      入射角
θ１    共鳴角
θ３    測定角
θ５    入射角
【図１】
2015064564.tif 000003
【図２】
2015064564.tif 000004
【図３】
2015064564.tif 000005
【図４】
2015064564.tif 000006
【図５】
2015064564.tif 000007
【図６】
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【図７】
2015064564.tif 000009
【図８】
2015064564.tif 000010
【図９】
2015064564.tif 000011
【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【国際調査報告】
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