(57)【要約】  回路規模の増大を抑制しつつ回路素子の劣化を補償することのできる表示装置（特に、駆動トランジスタの劣化および発光素子の劣化の双方を同時に補償することのできる表示装置）を実現する。  モニタ行についての１水平走査期間（ＴＨｍ）は、モニタ行においてＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性を検出する準備が行われる検出準備期間（Ｔａ）と、ＴＦＴ特性を検出するための電流測定が行われるＴＦＴ特性検出期間（Ｔｂ）と、ＯＬＥＤ特性を検出するための電流測定が行われるＯＬＥＤ特性検出期間（Ｔｃ）と、モニタ行において有機ＥＬ素子を発光させる準備が行われる発光準備期間（Ｔｄ）とによって構成される。データ線は、各画素回路内の有機ＥＬ素子を所望の輝度で発光させるための信号を伝達する信号線として用いられるだけでなく、特性検出用の信号線としても用いられる。
2014208459.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
アクティブマトリクス型の表示装置であって、
電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを有する表示部と、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動部と、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして記憶する補正データ記憶部と、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正部と
を備え、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動部は、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線を駆動し、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線を駆動し、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位を前記データ線に与え、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位を前記データ線に与え、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位を前記データ線に与えることを特徴とする、表示装置。
【請求項２】
前記画素回路駆動部は、前記データ信号を前記データ線に印加する機能および前記データ線に流れている電流を測定する機能を有する出力／電流モニタ回路を含み、
前記出力／電流モニタ回路は、
前記データ信号が非反転入力端子に与えられ、前記データ線に反転入力端子が接続されたオペアンプと、
前記データ線に一旦が接続され、前記オペアンプの出力端子に他端が接続された第２のコンデンサと、
前記データ線に一旦が接続され、前記オペアンプの出力端子に他端が接続されたスイッチと
を含み、
前記電流測定期間には、前記スイッチをオン状態にして前記第２の所定電位を前記データ線に与えた後、前記スイッチをオフ状態にすることによって前記データ線に流れている電流を測定することを特徴とする、請求項１に記載の表示装置。
【請求項３】
複数本のデータ線につき１つの出力／電流モニタ回路が設けられ、
所定期間毎に前記複数本のデータ線が順次に前記出力／電流モニタ回路に電気的に接続されることを特徴とする、請求項２に記載の表示装置。
【請求項４】
前記特性検出処理期間は、垂直走査期間内に設けられていることを特徴とする、請求項１に記載の表示装置。
【請求項５】
任意の電気光学素子を着目電気光学素子と定義したとき、前記画素回路駆動部は、前記着目電気光学素子が前記モニタ行に含まれている場合、前記発光準備期間には、前記着目電気光学素子が前記非モニタ行に含まれている場合における階調電圧よりも大きい階調電圧に相当するデータ信号の電位を前記データ線に与えることを特徴とする、請求項４に記載の表示装置。
【請求項６】
前記特性検出処理期間は、垂直帰線期間内に設けられていることを特徴とする、請求項１に記載の表示装置。
【請求項７】
任意の電気光学素子を着目電気光学素子と定義したとき、前記画素回路駆動部は、前記着目電気光学素子が前記モニタ行に含まれている場合、前記モニタ行に含まれる画素回路への前記データ信号の書き込みを垂直走査期間に行う際には、前記着目電気光学素子が前記非モニタ行に含まれている場合における階調電圧よりも大きい階調電圧に相当するデータ信号の電位を前記データ線に与えることを特徴とする、請求項６に記載の表示装置。
【請求項８】
前記特性検出処理は、１フレーム期間につき前記画素マトリクスの１つの行のみに対して行われることを特徴とする、請求項１に記載の表示装置。
【請求項９】
前記特性検出対象回路素子として前記駆動トランジスタのみの特性の検出が行われるフレームと前記特性検出対象回路素子として前記電気光学素子のみの特性の検出が行われるフレームとが存在することを特徴とする、請求項１に記載の表示装置。
【請求項１０】
前記電流測定期間は、前記駆動トランジスタの特性を検出するための電流測定が行われる駆動トランジスタ特性検出期間と前記電気光学素子の特性を検出するための電流測定が行われる電気光学素子特性検出期間とからなり、
前記画素回路駆動部は、前記駆動トランジスタ特性検出期間と前記電気光学素子特性検出期間とで前記第２の所定電位として異なる電位を前記データ線に与えることを特徴とする、請求項１に記載の表示装置。
【請求項１１】
前記検出準備期間に前記データ線に与える電位をＶｍｇとし、前記駆動トランジスタ特性検出期間に前記データ線に与える電位をＶｍ＿ＴＦＴとし、前記電気光学素子特性検出期間に前記データ線に与える電位をＶｍ＿ｏｌｅｄとしたとき、Ｖｍｇの値は以下の式を満たすように定められていることを特徴とする、請求項１０に記載の表示装置：
Ｖｍｇ＞Ｖｍ＿ＴＦＴ＋Ｖｔｈ（Ｔ２）
Ｖｍｇ＜Ｖｍ＿ｏｌｅｄ＋Ｖｔｈ（Ｔ２）
ここで、Ｖｔｈ（Ｔ２）は前記駆動トランジスタの閾値電圧である。
【請求項１２】
前記検出準備期間に前記データ線に与える電位をＶｍｇとし、前記駆動トランジスタ特性検出期間に前記データ線に与える電位をＶｍ＿ＴＦＴとしたとき、Ｖｍ＿ＴＦＴの値は以下の式を満たすように定められていることを特徴とする、請求項１０に記載の表示装置：
Ｖｍ＿ＴＦＴ＜Ｖｍｇ−Ｖｔｈ（Ｔ２）
Ｖｍ＿ＴＦＴ＜ＥＬＶＳＳ＋Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）
ここで、Ｖｔｈ（Ｔ２）は前記駆動トランジスタの閾値電圧であって、Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）は前記電気光学素子の発光閾値電圧であって、ＥＬＶＳＳは前記電気光学素子の陰極の電位である。
【請求項１３】
前記検出準備期間に前記データ線に与える電位をＶｍｇとし、前記電気光学素子特性検出期間に前記データ線に与える電位をＶｍ＿ｏｌｅｄとしたとき、Ｖｍ＿ｏｌｅｄの値は以下の式を満たすように定められていることを特徴とする、請求項１０に記載の表示装置：
Ｖｍ＿ｏｌｅｄ＞Ｖｍｇ−Ｖｔｈ（Ｔ２）
Ｖｍ＿ｏｌｅｄ＞ＥＬＶＳＳ＋Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）
ここで、Ｖｔｈ（Ｔ２）は前記駆動トランジスタの閾値電圧であって、Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）は前記電気光学素子の発光閾値電圧であって、ＥＬＶＳＳは前記電気光学素子の陰極の電位である。
【請求項１４】
前記検出準備期間に前記データ線に与える電位をＶｍｇとし、前記駆動トランジスタ特性検出期間に前記データ線に与える電位をＶｍ＿ＴＦＴとし、前記電気光学素子特性検出期間に前記データ線に与える電位をＶｍ＿ｏｌｅｄとしたとき、以下の関係を満たすようにＶｍｇ，Ｖｍ＿ＴＦＴ，およびＶｍ＿ｏｌｅｄの値が定められていることを特徴とする、請求項１０に記載の表示装置：
Ｖｍ＿ＴＦＴ＜Ｖｍｇ−Ｖｔｈ（Ｔ２）
Ｖｍ＿ＴＦＴ＜ＥＬＶＳＳ＋Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）
Ｖｍ＿ｏｌｅｄ＞Ｖｍｇ−Ｖｔｈ（Ｔ２）
Ｖｍ＿ｏｌｅｄ＞ＥＬＶＳＳ＋Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）
ここで、Ｖｔｈ（Ｔ２）は前記駆動トランジスタの閾値電圧であって、Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）は前記電気光学素子の発光閾値電圧であって、ＥＬＶＳＳは前記電気光学素子の陰極の電位である。
【請求項１５】
温度を検出する温度検出部と、
前記特性データに対して前記温度検出部で検出された温度に基づく補正を施す温度変化補償部と
を更に含み、
前記補正データ記憶部には、前記温度変化補償部による補正が施されたデータが前記補正データとして記憶されることを特徴とする、請求項１に記載の表示装置。
【請求項１６】
電源オフの際に最後に前記特性検出処理が行われた領域を特定する情報を記憶するモニタ領域記憶部を更に備え、
電源オン後には、前記モニタ領域記憶部に記憶されている情報に基づいて得られる領域近傍の領域から、前記特性検出処理が行われることを特徴とする、請求項１に記載の表示装置。
【請求項１７】
電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを備えた表示装置の駆動方法であって、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動ステップと、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして、予め用意された補正データ記憶部に記憶させる補正データ記憶ステップと、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正ステップと
を含み、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動ステップでは、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線が駆動され、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線が駆動され、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位が前記データ線に与えられ、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位が前記データ線に与えられ、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位が前記データ線に与えられることを特徴とする、駆動方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は表示装置およびその駆動方法に関し、より詳しくは、有機ＥＬ（Electro Luminescence）素子などの電気光学素子を含む画素回路を備える表示装置およびその駆動方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、表示装置が備える表示素子としては、印加される電圧によって輝度が制御される電気光学素子と流れる電流によって輝度が制御される電気光学素子とがある。印加される電圧によって輝度が制御される電気光学素子の代表例としては液晶表示素子が挙げられる。一方、流れる電流によって輝度が制御される電気光学素子の代表例としては有機ＥＬ素子が挙げられる。有機ＥＬ素子は、ＯＬＥＤ（Organic Light-Emitting Diode）とも呼ばれている。自発光型の電気光学素子である有機ＥＬ素子を使用した有機ＥＬ表示装置は、バックライトおよびカラーフィルタなどを要する液晶表示装置に比べて、容易に薄型化・低消費電力化・高輝度化などを図ることができる。従って、近年、積極的に有機ＥＬ表示装置の開発が進められている。【０００３】
有機ＥＬ表示装置の駆動方式として、パッシブマトリクス方式（単純マトリクス方式とも呼ばれる。）とアクティブマトリクス方式とが知られている。パッシブマトリクス方式を採用した有機ＥＬ表示装置は、構造は単純であるものの、大型化および高精細化が困難である。これに対して、アクティブマトリクス方式を採用した有機ＥＬ表示装置（以下「アクティブマトリクス型の有機ＥＬ表示装置」という。）は、パッシブマトリクス方式を採用した有機ＥＬ表示装置に比べて大型化および高精細化を容易に実現できる。【０００４】
アクティブマトリクス型の有機ＥＬ表示装置には、複数の画素回路がマトリクス状に形成されている。アクティブマトリクス型の有機ＥＬ表示装置の画素回路は、典型的には、画素を選択する入力トランジスタと、有機ＥＬ素子への電流の供給を制御する駆動トランジスタとを含んでいる。なお、以下においては、駆動トランジスタから有機ＥＬ素子に流れる電流のことを「駆動電流」という場合がある。【０００５】
図３７は、従来の一般的な画素回路９１の構成を示す回路図である。この画素回路９１は、表示部に配設されている複数のデータ線Ｓと複数の走査線Ｇとの各交差点に対応して設けられている。図３７に示すように、この画素回路９１は、２個のトランジスタＴ１，Ｔ２と、１個のコンデンサＣｓｔと、１個の有機ＥＬ素子ＯＬＥＤとを備えている。トランジスタＴ１は入力トランジスタであり、トランジスタＴ２は駆動トランジスタである。【０００６】
トランジスタＴ１は、データ線ＳとトランジスタＴ２のゲート端子との間に設けられている。そのトランジスタＴ１に関し、走査線Ｇにゲート端子が接続され、データ線Ｓにソース端子が接続されている。トランジスタＴ２は、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤと直列に設けられている。そのトランジスタＴ２に関し、ハイレベル電源電圧ＥＬＶＤＤを供給する電源線にドレイン端子が接続され、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤのアノード端子にソース端子が接続されている。なお、ハイレベル電源電圧ＥＬＶＤＤを供給する電源線のことを以下「ハイレベル電源線」といい、ハイレベル電源線にはハイレベル電源電圧と同じ符合ＥＬＶＤＤを付す。コンデンサＣｓｔについては、トランジスタＴ２のゲート端子に一端が接続され、トランジスタＴ２のソース端子に他端が接続されている。有機ＥＬ素子ＯＬＥＤのカソード端子は、ローレベル電源電圧ＥＬＶＳＳを供給する電源線に接続されている。なお、ローレベル電源電圧ＥＬＶＳＳを供給する電源線のことを以下「ローレベル電源線」といい、ローレベル電源線にはローレベル電源電圧と同じ符合ＥＬＶＳＳを付す。また、ここでは、トランジスタＴ２のゲート端子と、コンデンサＣｓｔの一端と、トランジスタＴ１のドレイン端子との接続点のことを便宜上「ゲートノードＶＧ」という。なお、一般的には、ドレインとソースのうち電位の高い方がドレインと呼ばれているが、本明細書の説明では、一方をドレイン，他方をソースと定義するので、ドレイン電位よりもソース電位の方が高くなることもある。【０００７】
図３８は、図３７に示す画素回路９１の動作を説明するためのタイミングチャートである。時刻ｔ１以前には、走査線Ｇは非選択状態となっている。従って、時刻ｔ１以前には、トランジスタＴ１がオフ状態になっており、ゲートノードＶＧの電位は初期レベル（例えば、１つ前のフレームでの書き込みに応じたレベル）を維持している。時刻ｔ１になると、走査線Ｇが選択状態となり、トランジスタＴ１がターンオンする。これにより、データ線ＳおよびトランジスタＴ１を介して、この画素回路９１が形成する画素（サブ画素）の輝度に対応するデータ電圧ＶｄａｔａがゲートノードＶＧに供給される。その後、時刻ｔ２までの期間に、ゲートノードＶＧの電位がデータ電圧Ｖｄａｔａに応じて変化する。このとき、コンデンサＣｓｔは、ゲートノードＶＧの電位とトランジスタＴ２のソース電位との差であるゲート−ソース間電圧Ｖｇｓに充電される。時刻ｔ２になると、走査線Ｇが非選択状態となる。これにより、トランジスタＴ１がターンオフし、コンデンサＣｓｔが保持するゲート−ソース間電圧Ｖｇｓが確定する。トランジスタＴ２は、コンデンサＣｓｔが保持するゲート−ソース間電圧Ｖｇｓに応じて有機ＥＬ素子ＯＬＥＤに駆動電流を供給する。その結果、駆動電流に応じた輝度で有機ＥＬ素子ＯＬＥＤが発光する。【０００８】
ところで、有機ＥＬ表示装置においては、駆動トランジスタとして、典型的には薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）が採用される。しかしながら、薄膜トランジスタについては、閾値電圧にばらつきが生じやすい。表示部内に設けられている駆動トランジスタに閾値電圧のばらつきが生じると、輝度のばらつきが生じるので表示品位が低下する。そこで、有機ＥＬ表示装置における表示品位の低下を抑制する技術が従来より提案されている。例えば、日本の特開２００５−３１６３０号公報には、駆動トランジスタの閾値電圧のばらつきを補償する技術が開示されている。また、日本の特開２００３−１９５８１０号公報および日本の特開２００７−１２８１０３号公報には、画素回路から有機ＥＬ素子ＯＬＥＤに流れる電流を一定にする技術が開示されている。さらに、日本の特開２００７−２３３３２６号公報には、駆動トランジスタの閾値電圧や電子移動度に関わらず均一な輝度の画像を表示する技術が開示されている。【０００９】
上述の先行技術によれば、表示部内に設けられている駆動トランジスタに閾値電圧のばらつきが生じても、所望の輝度（目標輝度）に応じて有機ＥＬ素子（発光素子）に一定電流を供給することが可能となる。しかしながら、有機ＥＬ素子に関しては、時間の経過とともに電流効率が低下する。すなわち、たとえ一定電流が有機ＥＬ素子に供給されたとしても、時間の経過とともに輝度が徐々に低下する。その結果、焼き付きが生じる。【００１０】
以上より、駆動トランジスタの劣化および有機ＥＬ素子の劣化に対して何ら補償が行われなければ、図３９に示すように、駆動トランジスタの劣化に起因する電流低下が生じるとともに有機ＥＬ素子の劣化に起因する輝度低下が生じる。また、駆動トランジスタの劣化に対して補償が行われても、図４０に示すように、時間が経過するにつれて、有機ＥＬ素子の劣化に起因する輝度低下が生じる。そこで、日本の特表２００８−５２３４４８号公報には、駆動トランジスタの特性に基づいてデータを補正する技術に加えて、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの特性に基づいてデータを補正する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１１】
【特許文献１】日本の特開２００５−３１６３０号公報
【特許文献２】日本の特開２００３−１９５８１０号公報
【特許文献３】日本の特開２００７−１２８１０３号公報
【特許文献４】日本の特開２００７−２３３３２６号公報
【特許文献５】日本の特表２００８−５２３４４８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
ところが、日本の特表２００８−５２３４４８号公報に開示された技術によれば、選択期間中には駆動トランジスタまたは有機ＥＬ素子のいずれか一方の特性しか検出することができない。このため、駆動トランジスタの劣化および有機ＥＬ素子の劣化の双方を同時に補償することはできない。また、駆動トランジスタおよび有機ＥＬ素子の双方の特性を検出するためには選択期間を長くする必要がある。これに関し、日本の特表２００８−５２３４４８号公報に開示された技術においては、特性の検出を行う行の選択期間を長くした場合、特性の検出を行う行とそれ以外の行とで発光時間の長さが異なってしまい、所望の輝度表示が行われない。また、駆動トランジスタの特性の検出や有機ＥＬ素子の特性の検出が可能となるように表示装置を構成しようとする場合、できるだけ回路規模が増大しないことが望まれる。回路規模が増大すると、例えば低消費電力化や小型化を図る上で不利になるからである。【００１３】
そこで、本発明は、回路規模の増大を抑制しつつ回路素子の劣化を補償することのできる表示装置（特に、駆動トランジスタの劣化および有機ＥＬ素子の劣化の双方を同時に補償することのできる表示装置）を実現することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明の第１の局面は、アクティブマトリクス型の表示装置であって、
電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを有する表示部と、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動部と、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして記憶する補正データ記憶部と、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正部と
を備え、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動部は、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線を駆動し、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線を駆動し、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位を前記データ線に与え、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位を前記データ線に与え、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位を前記データ線に与えることを特徴とする。【００１５】
本発明の第２の局面は、本発明の第１の局面において、
前記画素回路駆動部は、前記データ信号を前記データ線に印加する機能および前記データ線に流れている電流を測定する機能を有する出力／電流モニタ回路を含み、
前記出力／電流モニタ回路は、
前記データ信号が非反転入力端子に与えられ、前記データ線に反転入力端子が接続されたオペアンプと、
前記データ線に一旦が接続され、前記オペアンプの出力端子に他端が接続された第２のコンデンサと、
前記データ線に一旦が接続され、前記オペアンプの出力端子に他端が接続されたスイッチと
を含み、
前記電流測定期間には、前記スイッチをオン状態にして前記第２の所定電位を前記データ線に与えた後、前記スイッチをオフ状態にすることによって前記データ線に流れている電流を測定することを特徴とする。【００１６】
本発明の第３の局面は、本発明の第２の局面において、
複数本のデータ線につき１つの出力／電流モニタ回路が設けられ、
所定期間毎に前記複数本のデータ線が順次に前記出力／電流モニタ回路に電気的に接続されることを特徴とする。【００１７】
本発明の第４の局面は、本発明の第１の局面において、
前記特性検出処理期間は、垂直走査期間内に設けられていることを特徴とする。【００１８】
本発明の第５の局面は、本発明の第４の局面において、
任意の電気光学素子を着目電気光学素子と定義したとき、前記画素回路駆動部は、前記着目電気光学素子が前記モニタ行に含まれている場合、前記発光準備期間には、前記着目電気光学素子が前記非モニタ行に含まれている場合における階調電圧よりも大きい階調電圧に相当するデータ信号の電位を前記データ線に与えることを特徴とする。【００１９】
本発明の第６の局面は、本発明の第１の局面において、
前記特性検出処理期間は、垂直帰線期間内に設けられていることを特徴とする。【００２０】
本発明の第７の局面は、本発明の第６の局面において、
任意の電気光学素子を着目電気光学素子と定義したとき、前記画素回路駆動部は、前記着目電気光学素子が前記モニタ行に含まれている場合、前記モニタ行に含まれる画素回路への前記データ信号の書き込みを垂直走査期間に行う際には、前記着目電気光学素子が前記非モニタ行に含まれている場合における階調電圧よりも大きい階調電圧に相当するデータ信号の電位を前記データ線に与えることを特徴とする。【００２１】
本発明の第８の局面は、本発明の第１の局面において、
前記特性検出処理は、１フレーム期間につき前記画素マトリクスの１つの行のみに対して行われることを特徴とする。【００２２】
本発明の第９の局面は、本発明の第１の局面において、
前記特性検出対象回路素子として前記駆動トランジスタのみの特性の検出が行われるフレームと前記特性検出対象回路素子として前記電気光学素子のみの特性の検出が行われるフレームとが存在することを特徴とする。【００２３】
本発明の第１０の局面は、本発明の第１の局面において、
前記電流測定期間は、前記駆動トランジスタの特性を検出するための電流測定が行われる駆動トランジスタ特性検出期間と前記電気光学素子の特性を検出するための電流測定が行われる電気光学素子特性検出期間とからなり、
前記画素回路駆動部は、前記駆動トランジスタ特性検出期間と前記電気光学素子特性検出期間とで前記第２の所定電位として異なる電位を前記データ線に与えることを特徴とする。【００２４】
本発明の第１１の局面は、本発明の第１０の局面において、
前記検出準備期間に前記データ線に与える電位をＶｍｇとし、前記駆動トランジスタ特性検出期間に前記データ線に与える電位をＶｍ＿ＴＦＴとし、前記電気光学素子特性検出期間に前記データ線に与える電位をＶｍ＿ｏｌｅｄとしたとき、Ｖｍｇの値は以下の式を満たすように定められていることを特徴とする。
Ｖｍｇ＞Ｖｍ＿ＴＦＴ＋Ｖｔｈ（Ｔ２）
Ｖｍｇ＜Ｖｍ＿ｏｌｅｄ＋Ｖｔｈ（Ｔ２）
ここで、Ｖｔｈ（Ｔ２）は前記駆動トランジスタの閾値電圧である。【００２５】
本発明の第１２の局面は、本発明の第１０の局面において、
前記検出準備期間に前記データ線に与える電位をＶｍｇとし、前記駆動トランジスタ特性検出期間に前記データ線に与える電位をＶｍ＿ＴＦＴとしたとき、Ｖｍ＿ＴＦＴの値は以下の式を満たすように定められていることを特徴とする。
Ｖｍ＿ＴＦＴ＜Ｖｍｇ−Ｖｔｈ（Ｔ２）
Ｖｍ＿ＴＦＴ＜ＥＬＶＳＳ＋Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）
ここで、Ｖｔｈ（Ｔ２）は前記駆動トランジスタの閾値電圧であって、Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）は前記電気光学素子の発光閾値電圧であって、ＥＬＶＳＳは前記電気光学素子の陰極の電位である。【００２６】
本発明の第１３の局面は、本発明の第１０の局面において、
前記検出準備期間に前記データ線に与える電位をＶｍｇとし、前記電気光学素子特性検出期間に前記データ線に与える電位をＶｍ＿ｏｌｅｄとしたとき、Ｖｍ＿ｏｌｅｄの値は以下の式を満たすように定められていることを特徴とする。
Ｖｍ＿ｏｌｅｄ＞Ｖｍｇ−Ｖｔｈ（Ｔ２）
Ｖｍ＿ｏｌｅｄ＞ＥＬＶＳＳ＋Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）
ここで、Ｖｔｈ（Ｔ２）は前記駆動トランジスタの閾値電圧であって、Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）は前記電気光学素子の発光閾値電圧であって、ＥＬＶＳＳは前記電気光学素子の陰極の電位である。【００２７】
本発明の第１４の局面は、本発明の第１０の局面において、
前記検出準備期間に前記データ線に与える電位をＶｍｇとし、前記駆動トランジスタ特性検出期間に前記データ線に与える電位をＶｍ＿ＴＦＴとし、前記電気光学素子特性検出期間に前記データ線に与える電位をＶｍ＿ｏｌｅｄとしたとき、以下の関係を満たすようにＶｍｇ，Ｖｍ＿ＴＦＴ，およびＶｍ＿ｏｌｅｄの値が定められていることを特徴とする。
Ｖｍ＿ＴＦＴ＜Ｖｍｇ−Ｖｔｈ（Ｔ２）
Ｖｍ＿ＴＦＴ＜ＥＬＶＳＳ＋Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）
Ｖｍ＿ｏｌｅｄ＞Ｖｍｇ−Ｖｔｈ（Ｔ２）
Ｖｍ＿ｏｌｅｄ＞ＥＬＶＳＳ＋Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）
ここで、Ｖｔｈ（Ｔ２）は前記駆動トランジスタの閾値電圧であって、Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）は前記電気光学素子の発光閾値電圧であって、ＥＬＶＳＳは前記電気光学素子の陰極の電位である。【００２８】
本発明の第１５の局面は、本発明の第１の局面において、
温度を検出する温度検出部と、
前記特性データに対して前記温度検出部で検出された温度に基づく補正を施す温度変化補償部と
を更に含み、
前記補正データ記憶部には、前記温度変化補償部による補正が施されたデータが前記補正データとして記憶されることを特徴とする。【００２９】
本発明の第１６の局面は、本発明の第１の局面において、
電源オフの際に最後に前記特性検出処理が行われた領域を特定する情報を記憶するモニタ領域記憶部を更に備え、
電源オン後には、前記モニタ領域記憶部に記憶されている情報に基づいて得られる領域近傍の領域から、前記特性検出処理が行われることを特徴とする。【００３０】
本発明の第１７の局面は、電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを備えた表示装置の駆動方法であって、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動ステップと、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして、予め用意された補正データ記憶部に記憶させる補正データ記憶ステップと、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正ステップと
を含み、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動ステップでは、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線が駆動され、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線が駆動され、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位が前記データ線に与えられ、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位が前記データ線に与えられ、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位が前記データ線に与えられることを特徴とする。
【発明の効果】
【００３１】
本発明の第１の局面によれば、電流によって輝度が制御される電気光学素子（例えば有機ＥＬ素子）と当該電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタとを含む画素回路を有する表示装置において、フレーム期間に回路素子（電気光学素子または駆動トランジスタの少なくとも一方）の特性の検出が行われる。そして、その検出結果を考慮して得られる補正データを用いて映像信号が補正される。このようにして補正された映像信号に基づくデータ信号が画素回路に供給されるので、回路素子の劣化が補償されるような大きさの駆動電流が電気光学素子に供給される。ここで、回路素子の特性は、データ線に流れている電流を測定することによって検出される。すなわち、データ線は、各画素回路内の電気光学素子を所望の輝度で発光させるための信号を伝達する信号線として用いられるだけでなく、特性検出用の信号線としても用いられる。このため、回路素子の特性を検出するために新たな信号線を表示部内に設ける必要がない。従って、回路規模の増大を抑制しつつ、回路素子の劣化を補償することが可能となる。【００３２】
本発明の第２の局面によれば、画素回路駆動部の構成を複雑化させることなく、データ線を、各画素回路内の電気光学素子を所望の輝度で発光させるための信号を伝達する信号線として用いるとともに特性検出用の信号線として用いることが可能となる。【００３３】
本発明の第３の局面によれば、ソースシェアドドライビング（ＳＳＤ）方式を採用する表示装置において、回路規模の増大を抑制しつつ、回路素子の劣化を補償することが可能となる。【００３４】
本発明の第４の局面によれば、垂直帰線期間内に特性検出処理期間が設けられている構成とは異なり、モニタ行における目標輝度に応じた書き込みは１フレーム期間に１回だけ行われれば良い。【００３５】
本発明の第５の局面によれば、モニタ行での電気光学素子の発光期間の長さが非モニタ行での電気光学素子の発光期間の長さよりも短くなるということを考慮して、データ信号の電位が調整される。このため、表示品位の低下が抑制される。【００３６】
本発明の第６の局面によれば、モニタ行については、垂直走査期間における書き込み後、垂直帰線期間中の発光準備期間に再度書き込みが行われる。これに関し、発光準備期間における書き込みが可能となるよう、垂直走査期間における書き込み後に、該当のデータを保持しておく必要がある。この点に関し、保持すべきデータは１ライン分のデータにすぎないので、メモリ容量の増大は僅かである。これに対して、垂直走査期間内に特性検出処理期間が設けられている構成においては、数十ライン分のラインメモリが必要となることもある。以上より、垂直走査期間内に特性検出処理期間が設けられている構成と比較して、必要となるメモリ容量が低減される。【００３７】
本発明の第７の局面によれば、モニタ行では電気光学素子が垂直帰線期間中に一時的に消灯するということを考慮して、データ信号の電位が調整される。このため、表示品位の低下が抑制される。【００３８】
本発明の第８の局面によれば、フレーム期間には、１つの行のみについての特性検出処理期間が含まれていれば良い。このため、フレーム期間について充分な長さの垂直帰線期間が確保される。【００３９】
本発明の第９の局面によれば、フレーム期間には、電気光学素子または駆動トランジスタのいずれか一方の特性を検出するための特性検出処理期間が含まれていれば良い。このため、フレーム期間について充分な長さの垂直帰線期間が確保される。【００４０】
本発明の第１０の局面によれば、フレーム期間に電気光学素子および駆動トランジスタの特性の検出が行われる。このため、回路規模の増大を抑制しつつ、電気光学素子の劣化および駆動トランジスタの劣化の双方を補償することが可能となる。【００４１】
本発明の第１１の局面によれば、駆動トランジスタ特性検出期間には駆動トランジスタが確実にオン状態になり、電気光学素子特性検出期間には電気光学素子が確実にオン状態となる。【００４２】
本発明の第１２の局面によれば、駆動トランジスタ特性検出期間には、駆動トランジスタが確実にオン状態になるとともに電気光学素子が確実にオフ状態となる。【００４３】
本発明の第１３の局面によれば、電気光学素子特性検出期間には、駆動トランジスタが確実にオフ状態になるとともに電気光学素子が確実にオン状態となる。【００４４】
本発明の第１４の局面によれば、駆動トランジスタ特性検出期間には、駆動トランジスタが確実にオン状態になるとともに電気光学素子が確実にオフ状態となる。また、電気光学素子特性検出期間には、駆動トランジスタが確実にオフ状態になるとともに電気光学素子が確実にオン状態となる。【００４５】
本発明の第１５の局面によれば、温度変化を考慮した補正データを用いて映像信号が補正される。このため、温度の変化に関わらず、駆動トランジスタの劣化および電気光学素子の劣化の双方を充分に補償することが可能となる。【００４６】
本発明の第１６の局面によれば、例えば上方の行と下方の行との間で特性検出対象回路素子の特性の検出回数に差が生じることが防止される。このため、特性検出対象回路素子の劣化に対する補償を画面全体で一様に行うことが可能となり、輝度のばらつきの発生が効果的に防止される。【００４７】
本発明の第１７の局面によれば、本発明の第１の局面と同様の効果を表示装置の駆動方法の発明において奏することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】本発明の一実施形態において、モニタ行についての１水平走査期間の詳細を説明するためのタイミングチャートである。
【図２】上記実施形態に係るアクティブマトリクス型の有機ＥＬ表示装置の全体構成を示すブロック図である。
【図３】上記実施形態において、ゲートドライバの動作について説明するためのタイミングチャートである。
【図４】上記実施形態において、ゲートドライバの動作について説明するためのタイミングチャートである。
【図５】上記実施形態において、ゲートドライバの動作について説明するためのタイミングチャートである。
【図６】上記実施形態において、出力部内の出力／電流モニタ回路の入出力信号について説明するための図である。
【図７】上記実施形態において、画素回路および出力／電流モニタ回路の構成を示す回路図である。
【図８】上記実施形態において、各行の動作の推移について説明するための図である。
【図９】上記実施形態において、通常動作が行われる際の電流の流れについて説明するための図である。
【図１０】上記実施形態において、モニタ行に含まれる画素回路（ｉ行ｊ列の画素回路）の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図１１】上記実施形態において、検出準備期間の電流の流れについて説明するための図である。
【図１２】上記実施形態において、ＴＦＴ特性検出期間の電流の流れについて説明するための図である。
【図１３】上記実施形態において、ＯＬＥＤ特性検出期間の電流の流れについて説明するための図である。
【図１４】上記実施形態において、発光準備期間の電流の流れについて説明するための図である。
【図１５】上記実施形態において、発光期間の電流の流れについて説明するための図である。
【図１６】上記実施形態において、モニタ行における１フレーム期間と非モニタ行における１フレーム期間とを比較した図である。
【図１７】上記実施形態において、補正データ記憶部内の補正データの更新の手順を説明するためのフローチャートである。
【図１８】上記実施形態において、映像信号の補正について説明するための図である。
【図１９】上記実施形態において、ＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の検出に関連する動作の概略を説明するためのフローチャートである。
【図２０】上記実施形態における効果について説明するための図である。
【図２１】上記実施形態における効果について説明するための図である。
【図２２】上記実施形態の第１の変形例における有機ＥＬ表示装置の全体構成を示すブロック図である。
【図２３】上記実施形態の第１の変形例において、接続制御部の詳細な構成を示す図である。
【図２４】上記実施形態の第１の変形例において、モニタ行についての１水平走査期間の詳細を説明するためのタイミングチャートである。
【図２５】上記実施形態の第１の変形例において、モニタ行に含まれる画素回路１１（ｉ行ｊ列の画素回路とする）の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図２６】上記実施形態の第２の変形例における有機ＥＬ表示装置の全体構成を示すブロック図である。
【図２７】有機ＥＬ素子の電流−電圧特性の温度依存性について説明するための図である。
【図２８】上記実施形態の第３の変形例における有機ＥＬ表示装置の全体構成を示すブロック図である。
【図２９】上記実施形態の第３の変形例において、補正データ記憶部内の補正データの更新の手順を説明するためのフローチャートである。
【図３０】上記実施形態の第４の変形例において、各行の動作の推移について説明するための図である。
【図３１】上記実施形態の第４の変形例において、モニタ行についての１水平走査期間の詳細を説明するためのタイミングチャート（モニタ行でＯＬＥＤ特性検出動作が行われるフレームにおけるタイミングチャート）である。
【図３２】上記実施形態の第４の変形例において、モニタ行についての１水平走査期間の詳細を説明するためのタイミングチャート（モニタ行でＴＦＴ特性検出動作が行われるフレームにおけるタイミングチャート）である。
【図３３】上記実施形態の第４の変形例において、補正データ記憶部内の補正データの更新の手順を説明するためのフローチャートである。
【図３４】１フレーム期間の構成を説明するための図である。
【図３５】上記実施形態の第５の変形例において、モニタ行に含まれる画素回路（ｉ行ｊ列の画素回路とする）の垂直帰線期間中の動作について説明するためのタイミングチャートである。
【図３６】上記実施形態の第５の変形例において、モニタ行に含まれる画素回路（ｉ行ｊ列の画素回路とする）の１フレーム期間中の動作について説明するためのタイミングチャートである。
【図３７】従来の一般的な画素回路の構成を示す回路図である。
【図３８】図３７に示す画素回路の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図３９】駆動トランジスタの劣化および有機ＥＬ素子の劣化に対して何ら補償が行われない場合について説明するための図である。
【図４０】駆動トランジスタの劣化に対してのみ補償が行われた場合について説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００４９】
以下、添付図面を参照しながら、本発明の一実施形態について説明する。なお、以下においては、ｍおよびｎは２以上の整数、ｉは１以上ｎ以下の整数、ｊは１以上ｍ以下の整数であると仮定する。また、以下においては、画素回路内に設けられている駆動トランジスタの特性のことを「ＴＦＴ特性」といい、画素回路内に設けられている有機ＥＬ素子の特性のことを「ＯＬＥＤ特性」という。
【００５０】
＜１．全体構成＞
図２は、本発明の一実施形態に係るアクティブマトリクス型の有機ＥＬ表示装置１の全体構成を示すブロック図である。この有機ＥＬ表示装置１は、表示部１０，コントロール回路２０，ソースドライバ（データ線駆動回路）３０，ゲートドライバ（走査線駆動回路）４０，および補正データ記憶部５０を備えている。本実施形態においては、ソースドライバ３０およびゲートドライバ４０によって画素回路駆動部が実現されている。なお、ソースドライバ３０およびゲートドライバ４０の一方または双方が表示部１０と一体的に形成された構成であっても良い。
【００５１】
表示部１０には、ｍ本のデータ線Ｓ（１）〜Ｓ（ｍ）およびこれらに直交するｎ本の走査線Ｇ１（１）〜Ｇ１（ｎ）が配設されている。以下では、データ線の延伸方向をＹ方向とし、走査線の延伸方向をＸ方向とする。Ｙ方向に沿った構成要素を「列」という場合があり、Ｘ方向に沿った構成要素を「行」という場合がある。また、表示部１０には、ｎ本の走査線Ｇ１（１）〜Ｇ１（ｎ）と１対１で対応するように、ｎ本のモニタ制御線Ｇ２（１）〜Ｇ２（ｎ）が配設されている。走査線Ｇ１（１）〜Ｇ１（ｎ）とモニタ制御線Ｇ２（１）〜Ｇ２（ｎ）とは互いに平行になっている。さらに、表示部１０には、ｎ本の走査線Ｇ１（１）〜Ｇ１（ｎ）とｍ本のデータ線Ｓ（１）〜Ｓ（ｍ）との交差点に対応するように、ｎ×ｍ個の画素回路１１が設けられている。このようにｎ×ｍ個の画素回路１１が設けられることによって、ｎ行×ｍ列の画素マトリクスが表示部１０に形成されている。また、表示部１０には、ハイレベル電源電圧を供給するハイレベル電源線と、ローレベル電源電圧を供給するローレベル電源線とが配設されている。
【００５２】
なお、以下においては、ｍ本のデータ線Ｓ（１）〜Ｓ（ｍ）を互いに区別する必要がない場合にはデータ線を単に符号Ｓで表す。同様に、ｎ本の走査線Ｇ１（１）〜Ｇ１（ｎ）を互いに区別する必要がない場合には走査線を単に符号Ｇ１で表し、ｎ本のモニタ制御線Ｇ２（１）〜Ｇ２（ｎ）を互いに区別する必要がない場合にはモニタ制御線を単に符号Ｇ２で表す。
【００５３】
本実施形態におけるデータ線Ｓは、画素回路１１内の有機ＥＬ素子を所望の輝度で発光させるための輝度信号を伝達する信号線として用いられるだけでなく、ＴＦＴ特性やＯＬＥＤ特性の検出用の制御電位を画素回路１１に与えるための信号線およびＴＦＴ特性やＯＬＥＤ特性を表す電流であって後述する出力／電流モニタ回路３３０で測定可能な電流の経路となる信号線としても用いられる。
【００５４】
コントロール回路２０は、ソースドライバ３０にデータ信号ＤＡおよびソース制御信号ＳＣＴＬを与えることによりソースドライバ３０の動作を制御し、ゲートドライバ４０にゲート制御信号ＧＣＴＬを与えることによりゲートドライバ４０の動作を制御する。ソース制御信号ＳＣＴＬには、例えば、ソーススタートパルス，ソースクロック，ラッチストローブ信号が含まれている。ゲート制御信号ＧＣＴＬには、例えば、ゲートスタートパルス，ゲートクロック，およびアウトプットイネーブル信号が含まれている。また、コントロール回路２０は、ソースドライバ３０から与えられるモニタデータＭＯを受け取り、補正データ記憶部５０に格納されている補正データの更新を行う。なお、モニタデータＭＯとは、ＴＦＴ特性やＯＬＥＤ特性を求めるために測定されたデータである。
【００５５】
ゲートドライバ４０は、ｎ本の走査線Ｇ１（１）〜Ｇ１（ｎ）およびｎ本のモニタ制御線Ｇ２（１）〜Ｇ２（ｎ）に接続されている。ゲートドライバ４０は、シフトレジスタおよび論理回路などによって構成されている。ところで、本実施形態に係る有機ＥＬ表示装置１においては、ＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性に基づいて、外部から送られる映像信号（上記データ信号ＤＡの元となるデータ）に補正が施される。これに関し、本実施形態では、各フレームにおいて、１つの行についてのＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の検出が行われる。すなわち、或るフレームに１行目についてのＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の検出が行われると、次のフレームには２行目についてのＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の検出が行われ、さらに次のフレームには３行目についてのＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の検出が行われる。このようにして、ｎフレーム期間をかけて、ｎ行分のＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の検出が行われる。なお、本明細書においては、任意のフレームに着目したときにＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の検出が行われている行のことを「モニタ行」といい、モニタ行以外の行のことを「非モニタ行」という。
【００５６】
ここで、１行目についてのＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の検出が行われるフレームを（ｋ＋１）フレーム目と定義すると、ｎ本の走査線Ｇ１（１）〜Ｇ１（ｎ）およびｎ本のモニタ制御線Ｇ２（１）〜Ｇ２（ｎ）は、（ｋ＋１）フレーム目には図３に示すように駆動され、（ｋ＋２）フレーム目には図４に示すように駆動され、（ｋ＋ｎ）フレーム目には図５に示すように駆動される。なお、図３〜図５に関し、ハイレベルの状態がアクティブな状態である。また、図３〜図５では、モニタ行についての１水平走査期間を符号ＴＨｍで表し、非モニタ行についての１水平走査期間を符号ＴＨｎで表している。
【００５７】
図３〜図５より把握されるように、モニタ行と非モニタ行とで１水平走査期間の長さが異なっている。詳しくは、モニタ行についての１水平走査期間の長さは、非モニタ行についての１水平走査期間の長さの４倍になっている。但し、本発明はこれには限定されない。非モニタ行については、一般的な表示装置と同様、１フレーム期間中に１回の選択期間がある。モニタ行については、一般的な表示装置とは異なり、１フレーム期間中に２回の選択期間がある。１回目の選択期間は１水平走査期間ＴＨｍ中の最初の４分の１の期間であり、２回目の選択期間は１水平走査期間ＴＨｍ中の最後の４分の１の期間である。なお、モニタ行についての１水平走査期間ＴＨｍに関する更に詳しい説明は後述する。
【００５８】
図３〜図５に示すように、各フレームにおいて、非モニタ行に対応するモニタ制御線Ｇ２は非アクティブな状態で維持される。モニタ行に対応するモニタ制御線Ｇ２については、１水平走査期間ＴＨｍ中の選択期間以外の期間（走査線Ｇ１が非アクティブな状態になっている期間）に、アクティブな状態で維持される。本実施形態においては、以上のようにｎ本の走査線Ｇ１（１）〜Ｇ１（ｎ）およびｎ本のモニタ制御線Ｇ２（１）〜Ｇ２（ｎ）が駆動されるよう、ゲートドライバ４０が構成されている。なお、モニタ行において１フレーム期間中に走査線Ｇ１に２回のパルスを発生させるためには、コントロール回路２０からゲートドライバ４０に送られるアウトプットイネーブル信号の波形を公知の手法を用いて制御すれば良い。
【００５９】
ソースドライバ３０は、ｍ本のデータ線Ｓ（１）〜Ｓ（ｍ）に接続されている。ソースドライバ３０は、駆動信号発生回路３１と、信号変換回路３２と、ｍ個の出力／電流モニタ回路３３０からなる出力部３３とによって構成されている。出力部３３内のｍ個の出力／電流モニタ回路３３０はそれぞれｍ本のデータ線Ｓ（１）〜Ｓ（ｍ）のうちの対応するデータ線Ｓに接続されている。
【００６０】
駆動信号発生回路３１には、シフトレジスタ，サンプリング回路，およびラッチ回路が含まれている。駆動信号発生回路３１において、シフトレジスタは、ソースクロックに同期して、ソーススタートパルスを入力端から出力端へと順次に転送する。ソーススタートパルスのこの転送に応じて、シフトレジスタから各データ線Ｓに対応するサンプリングパルスが出力される。サンプリング回路は、サンプリングパルスのタイミングに従って１行分のデータ信号ＤＡを順次に記憶する。ラッチ回路は、サンプリング回路に記憶された１行分のデータ信号ＤＡをラッチストローブ信号に応じて取り込んで保持する。
【００６１】
なお、本実施形態においては、データ信号ＤＡには、各画素の有機ＥＬ素子を所望の輝度で発光させるための輝度信号と、ＴＦＴ特性やＯＬＥＤ特性を検出する際に画素回路１１の動作を制御するためのモニタ制御信号とが含まれている。
【００６２】
信号変換回路３２には、Ｄ／ＡコンバータおよびＡ／Ｄコンバータが含まれている。上述のようにして駆動信号発生回路３１内のラッチ回路に保持された１行分のデータ信号ＤＡは、信号変換回路３２内のＤ／Ａコンバータによってアナログ電圧に変換される。その変換されたアナログ電圧は、出力部３３内の出力／電流モニタ回路３３０に与えられる。また、信号変換回路３２には、出力部３３内の出力／電流モニタ回路３３０からモニタデータＭＯが与えられる。そのモニタデータＭＯは、信号変換回路３２内のＡ／Ｄコンバータで、アナログ電圧からデジタル信号に変換される。そして、デジタル信号に変換されたモニタデータＭＯは、駆動信号発生回路３１を介してコントロール回路２０に与えられる。
【００６３】
図６は、出力部３３内の出力／電流モニタ回路３３０の入出力信号について説明するための図である。出力／電流モニタ回路３３０には、信号変換回路３２からデータ信号ＤＡとしてのアナログ電圧Ｖｓが与えられる。そのアナログ電圧Ｖｓは、出力／電流モニタ回路３３０内のバッファを介してデータ線Ｓに印加される。また、出力／電流モニタ回路３３０はデータ線Ｓに流れている電流を測定する機能を有している。出力／電流モニタ回路３３０で測定されたデータは、モニタデータＭＯとして信号変換回路３２に与えられる。なお、出力／電流モニタ回路３３０の詳しい構成については後述する（図７参照）。
【００６４】
補正データ記憶部５０には、ＴＦＴ用オフセットメモリ５１ａ，ＯＬＥＤ用オフセットメモリ５１ｂ，ＴＦＴ用ゲインメモリ５２ａ，およびＯＬＥＤ用ゲインメモリ５２ｂが含まれている。なお、これら４つのメモリは、物理的には１つのメモリであっても良いし、物理的に異なるメモリであっても良い。補正データ記憶部５０は、外部から送られる映像信号の補正に使用される補正データを記憶している。詳しくは、ＴＦＴ用オフセットメモリ５１ａは、ＴＦＴ特性の検出結果に基づくオフセット値を補正データとして記憶する。ＯＬＥＤ用オフセットメモリ５１ｂは、ＯＬＥＤ特性の検出結果に基づくオフセット値を補正データとして記憶する。ＴＦＴ用ゲインメモリ５２ａは、ＴＦＴ特性の検出結果に基づくゲイン値を補正データとして記憶する。ＯＬＥＤ用ゲインメモリ５２ｂは、ＯＬＥＤ特性の検出結果に基づく劣化補正係数を補正データとして記憶する。なお、典型的には、表示部１０内の画素の数に等しい数のオフセット値およびゲイン値が、ＴＦＴ特性の検出結果に基づく補正データとして、それぞれＴＦＴ用オフセットメモリ５１ａおよびＴＦＴ用ゲインメモリ５２ａに記憶される。また、典型的には、表示部１０内の画素の数に等しい数のオフセット値および劣化補正係数が、ＯＬＥＤ特性の検出結果に基づく補正データとして、それぞれＯＬＥＤ用オフセットメモリ５１ｂおよびＯＬＥＤ用ゲインメモリ５２ｂに記憶される。但し、複数の画素毎に１つの値が各メモリに記憶されるようにしても良い。
【００６５】
コントロール回路２０は、ソースドライバ３０から与えられるモニタデータＭＯに基づいて、ＴＦＴ用オフセットメモリ５１ａ内のオフセット値，ＯＬＥＤ用オフセットメモリ５１ｂ内のオフセット値，ＴＦＴ用ゲインメモリ５２ａ内のゲイン値，およびＯＬＥＤ用ゲインメモリ５２ｂ内の劣化補正係数を更新する。また、コントロール回路２０は、ＴＦＴ用オフセットメモリ５１ａ内のオフセット値，ＯＬＥＤ用オフセットメモリ５１ｂ内のオフセット値，ＴＦＴ用ゲインメモリ５２ａ内のゲイン値，およびＯＬＥＤ用ゲインメモリ５２ｂ内の劣化補正係数を読み出して、映像信号の補正を行う。その補正によって得られたデータが、データ信号ＤＡとしてソースドライバ３０に送られる。
【００６６】
＜２．画素回路および出力／電流モニタ回路の構成＞
＜２．１  画素回路＞
図７は、画素回路１１および出力／電流モニタ回路３３０の構成を示す回路図である。なお、図７に示す画素回路１１は、ｉ行ｊ列の画素回路１１である。この画素回路１１は、１個の有機ＥＬ素子ＯＬＥＤ，３個のトランジスタＴ１〜Ｔ３，および１個のコンデンサＣｓｔを備えている。トランジスタＴ１は画素を選択する入力トランジスタとして機能し、トランジスタＴ２は有機ＥＬ素子ＯＬＥＤへの電流の供給を制御する駆動トランジスタとして機能し、トランジスタＴ３はＴＦＴ特性やＯＬＥＤ特性を検出するか否かを制御するモニタ制御トランジスタとして機能する。
【００６７】
トランジスタＴ１は、データ線Ｓ（ｊ）とトランジスタＴ２のゲート端子との間に設けられている。そのトランジスタＴ１に関し、走査線Ｇ１（ｉ）にゲート端子が接続され、データ線Ｓ（ｊ）にソース端子が接続されている。トランジスタＴ２は、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤと直列に設けられている。そのトランジスタＴ２に関し、トランジスタＴ１のドレイン端子にゲート端子が接続され、ハイレベル電源線ＥＬＶＤＤにドレイン端子が接続され、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤのアノード端子にソース端子が接続されている。トランジスタＴ３については、モニタ制御線Ｇ２（ｉ）にゲート端子が接続され、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤのアノード端子にドレイン端子が接続され、データ線Ｓ（ｊ）にソース端子が接続されている。コンデンサＣｓｔについては、トランジスタＴ２のゲート端子に一端が接続され、トランジスタＴ２のドレイン端子に他端が接続されている。なお、このコンデンサＣｓｔによって第１のコンデンサが実現されている。有機ＥＬ素子ＯＬＥＤのカソード端子は、ローレベル電源線ＥＬＶＳＳに接続されている。
【００６８】
ところで、図３７に示した構成においては、コンデンサＣｓｔは、トランジスタＴ２のゲート−ソース間に設けられていた。これに対して、本実施形態においては、コンデンサＣｓｔは、トランジスタＴ２のゲート−ドレイン間に設けられている。この理由は次のとおりである。本実施形態においては、１フレーム期間中に、トランジスタＴ３をオンにした状態でデータ線Ｓ（ｊ）の電位を変動させる制御が行われる。仮にトランジスタＴ２のゲート−ソース間にコンデンサＣｓｔが設けられていると、データ線Ｓ（ｊ）の電位の変動に応じてトランジスタＴ２のゲート電位も変動する。そうすると、トランジスタＴ２のオン／オフ状態が所望の状態とはならないことが生じ得る。そこで、本実施形態においては、データ線Ｓ（ｊ）の電位の変動に応じてトランジスタＴ２のゲート電位が変動することのないよう、図７に示すようにトランジスタＴ２のゲート−ドレイン間にコンデンサＣｓｔが設けられている。但し、データ線Ｓ（ｊ）の電位の変動がトランジスタＴ２のゲート電位に及ぼす影響が小さい場合には、トランジスタＴ２のゲート−ソース間にコンデンサＣｓｔが設けられていても良い。
【００６９】
＜２．２  画素回路内のトランジスタについて＞
本実施形態においては、画素回路１１内のトランジスタＴ１〜Ｔ３はすべてｎチャネル型である。また、本実施形態においては、トランジスタＴ１〜Ｔ３には、酸化物ＴＦＴ（酸化物半導体をチャネル層に用いた薄膜トランジスタ）が採用されている。
【００７０】
以下、酸化物ＴＦＴに含まれる酸化物半導体層について説明する。酸化物半導体層は、例えば、Ｉｎ−Ｇａ−Ｚｎ−Ｏ系の半導体層である。酸化物半導体層は、例えばＩｎ−Ｇａ−Ｚｎ−Ｏ系の半導体を含む。Ｉｎ−Ｇａ−Ｚｎ−Ｏ系半導体は、Ｉｎ（インジウム）、Ｇａ（ガリウム）、Ｚｎ（亜鉛）の三元系酸化物である。Ｉｎ、ＧａおよびＺｎの割合（組成比）は、特に限定されない。例えばＩｎ：Ｇａ：Ｚｎ＝２：２：１、Ｉｎ：Ｇａ：Ｚｎ＝１：１：１、Ｉｎ：Ｇａ：Ｚｎ＝１：１：２などでもよい。
【００７１】
Ｉｎ−Ｇａ−Ｚｎ−Ｏ系半導体層を有するＴＦＴは、高い移動度（アモルファスシリコンＴＦＴに比べて２０倍を超える移動度）と低いリーク電流（アモルファスシリコンＴＦＴに比べて１００分の１未満のリーク電流）を有するので、画素回路内の駆動ＴＦＴ（上記トランジスタＴ２）およびスイッチングＴＦＴ（上記トランジスタＴ１）として好適に用いられる。Ｉｎ−Ｇａ−Ｚｎ−Ｏ系半導体層を有するＴＦＴを用いれば、表示装置の消費電力を大幅に削減することができる。
【００７２】
Ｉｎ−Ｇａ−Ｚｎ−Ｏ系半導体は、アモルファスでもよく、結晶質部分を含み、結晶性を有していてもよい。結晶質Ｉｎ−Ｇａ−Ｚｎ−Ｏ系半導体としては、ｃ軸が層面に概ね垂直に配向した結晶質Ｉｎ−Ｇａ−Ｚｎ−Ｏ系半導体が好ましい。このようなＩｎ−Ｇａ−Ｚｎ−Ｏ系半導体の結晶構造は、例えば日本の特開２０１２−１３４４７５号公報に開示されている。
【００７３】
酸化物半導体層は、Ｉｎ−Ｇａ−Ｚｎ−Ｏ系半導体に代えて、他の酸化物半導体を含んでいてもよい。例えばＺｎ−Ｏ系半導体（ＺｎＯ）、Ｉｎ−Ｚｎ−Ｏ系半導体（ＩＺＯ（登録商標））、Ｚｎ−Ｔｉ−Ｏ系半導体（ＺＴＯ）、Ｃｄ−Ｇｅ−Ｏ系半導体、Ｃｄ−Ｐｂ−Ｏ系半導体、ＣｄＯ（酸化カドニウム）、Ｍｇ−Ｚｎ−Ｏ系半導体、Ｉｎ―Ｓｎ―Ｚｎ―Ｏ系半導体（例えばＩｎ2Ｏ3−ＳｎＯ2−ＺｎＯ）、Ｉｎ−Ｇａ−Ｓｎ−Ｏ系半導体などを含んでいてもよい。
【００７４】
＜２．３  出力／電流モニタ回路＞
図７を参照しつつ、本実施形態における出力／電流モニタ回路３３０の詳細な構成について説明する。この出力／電流モニタ回路３３０には、オペアンプ３３１とコンデンサ３３２とスイッチ３３３とが含まれている。なお、コンデンサ３３２によって第２のコンデンサが実現されている。オペアンプ３３１については、反転入力端子はデータ線Ｓ（ｊ）に接続され、非反転入力端子にはデータ信号ＤＡとしてのアナログ電圧Ｖｓが与えられる。コンデンサ３３２およびスイッチ３３３は、オペアンプ３３１の出力端子とデータ線Ｓ（ｊ）との間に設けられている。以上のように、この出力／電流モニタ回路３３０は積分回路で構成されている。このような構成において、制御クロック信号Ｓｃｌｋによってスイッチ３３３がオン状態にされると、オペアンプ３３１の出力端子−反転入力端子間が短絡状態となる。これにより、オペアンプ３３１の出力端子およびデータ線Ｓ（ｊ）の電位がアナログ電圧Ｖｓの電位と等しくなる。データ線Ｓ（ｊ）に流れている電流の測定が行われる際には、制御クロック信号Ｓｃｌｋによってスイッチ３３３がオフ状態にされる。これにより、コンデンサ３３２の存在に起因して、データ線Ｓ（ｊ）に流れている電流の大きさに応じてオペアンプ３３１の出力端子の電位が変化する。そのオペアンプ３３１からの出力はモニタデータＭＯとして信号変換回路３２内のＡ／Ｄコンバータに送られる。
【００７５】
＜３．駆動方法＞
＜３．１  概要＞
次に、本実施形態における駆動方法について説明する。上述したように、本実施形態においては、各フレームに１つの行のＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の検出が行われる。各フレームにおいて、モニタ行についてはＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の検出を行うための動作（以下、「特性検出動作」という。）が行われ、非モニタ行については通常動作が行われる。すなわち、１行目についてのＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の検出が行われるフレームを（ｋ＋１）フレーム目と定義すると、図８に示すように、各行の動作は推移する。また、ＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の検出が行われると、その検出結果を用いて、補正データ記憶部５０内の補正データの更新が行われる。そして、補正データ記憶部５０に記憶されている補正データを用いて映像信号の補正が行われる。
【００７６】
図１は、モニタ行についての１水平走査期間ＴＨｍの詳細を説明するためのタイミングチャートである。なお、この１水平走査期間ＴＨｍによって特性検出処理期間が実現されている。図１に示すように、モニタ行についての１水平走査期間ＴＨｍは、モニタ行においてＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性を検出する準備が行われる期間（以下、「検出準備期間」という。）Ｔａと、ＴＦＴ特性を検出するための電流測定が行われる期間（以下、「ＴＦＴ特性検出期間」という。）Ｔｂと、ＯＬＥＤ特性を検出するための電流測定が行われる期間（以下、「ＯＬＥＤ特性検出期間」という。）Ｔｃと、モニタ行において有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを発光させる準備が行われる期間（以下、「発光準備期間」という。）Ｔｄとによって構成されている。なお、本実施形態においては、ＴＦＴ特性検出期間とＯＬＥＤ特性検出期間とによって電流測定期間が実現されている。
【００７７】
検出準備期間Ｔａには、走査線Ｇ１はアクティブな状態とされ、モニタ制御線Ｇ２は非アクティブな状態とされ、データ線Ｓには電位Ｖｍｇが与えられる。ＴＦＴ特性検出期間Ｔｂには、走査線Ｇ１は非アクティブな状態とされ、モニタ制御線Ｇ２はアクティブな状態とされ、データ線Ｓには電位Ｖｍ＿ＴＦＴが与えられる。ＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃには、走査線Ｇ１は非アクティブな状態とされ、モニタ制御線Ｇ２はアクティブな状態とされ、データ線Ｓには電位Ｖｍ＿ｏｌｅｄが与えられる。発光準備期間Ｔｄには、走査線Ｇ１はアクティブな状態とされ、モニタ制御線Ｇ２は非アクティブな状態とされ、データ線Ｓにはモニタ行に含まれる有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの目標輝度に応じたデータ電位Ｄが与えられる。本実施形態においては、電位Ｖｍｇによって第１の所定電位が実現され、電位Ｖｍ＿ＴＦＴおよび電位Ｖｍ＿ｏｌｅｄによって第２の所定電位が実現されている。なお、電位Ｖｍｇ，電位Ｖｍ＿ＴＦＴ，および電位Ｖｍ＿ｏｌｅｄについての詳しい説明は後述する。
【００７８】
＜３．２  画素回路の動作＞
＜３．２．１  通常動作＞
各フレームにおいて、非モニタ行では、通常動作が行われる。非モニタ行に含まれる画素回路１１では、目標輝度に対応するデータ電位Ｖｄａｔａに基づく書き込みが選択期間に行われた後、トランジスタＴ１はオフ状態で維持される。データ電位Ｖｄａｔａに基づく書き込みによってトランジスタＴ２はオン状態となる。トランジスタＴ３についてはオフ状態で維持される。以上より、図９で符号７１で示す矢印のように、トランジスタＴ２を介して有機ＥＬ素子ＯＬＥＤに駆動電流が供給される。これにより、駆動電流に応じた輝度で有機ＥＬ素子ＯＬＥＤが発光する。
【００７９】
＜３．２．２  特性検出動作＞
各フレームにおいて、モニタ行では、特性検出動作が行われる。図１０は、モニタ行に含まれる画素回路１１（ｉ行ｊ列の画素回路１１とする）の動作を説明するためのタイミングチャートである。なお、図１０では、ｉ行目がモニタ行とされるフレームにおけるｉ行目の１回目の選択期間開始時点を基準にして「１フレーム期間」を表している。また、ここでは、モニタ行における１フレーム期間のうちの上述した１水平走査期間ＴＨｍ以外の期間のことを「発光期間」という。発光期間には符号ＴＬを付している。
【００８０】
検出準備期間Ｔａには、走査線Ｇ１（ｉ）はアクティブな状態とされ、モニタ制御線Ｇ２（ｉ）は非アクティブな状態で維持される。これにより、トランジスタＴ１はオン状態となり、トランジスタＴ３はオフ状態で維持される。また、この期間には、データ線Ｓ（ｊ）には電位Ｖｍｇが与えられる。この電位Ｖｍｇに基づく書き込みによってコンデンサＣｓｔが充電され、トランジスタＴ２がオン状態となる。以上より、検出準備期間Ｔａには、図１１で符号７２で示す矢印のように、トランジスタＴ２を介して有機ＥＬ素子ＯＬＥＤに駆動電流が供給される。これにより、駆動電流に応じた輝度で有機ＥＬ素子ＯＬＥＤが発光する。但し、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤが発光するのは極めて短い時間である。
【００８１】
ＴＦＴ特性検出期間Ｔｂには、走査線Ｇ１（ｉ）は非アクティブな状態とされ、モニタ制御線Ｇ２（ｉ）はアクティブな状態とされる。これにより、トランジスタＴ１はオフ状態となり、トランジスタＴ３はオン状態となる。また、この期間にはデータ線Ｓ（ｊ）に電位Ｖｍ＿ＴＦＴが与えられる。なお、後述するＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃには、データ線Ｓ（ｊ）に電位Ｖｍ＿ｏｌｅｄが与えられる。また、上述したように、検出準備期間Ｔａに、電位Ｖｍｇに基づく書き込みが行われている。
【００８２】
ここで、ＴＦＴ用オフセットメモリ５１ａに格納されているオフセット値に基づいて求められるトランジスタＴ２の閾値電圧をＶｔｈ（Ｔ２）とすると、次式（１），（２）が成立するように、電位Ｖｍｇの値，電位Ｖｍ＿ＴＦＴの値，および電位Ｖｍ＿ｏｌｅｄの値が設定されている。
Ｖｍ＿ＴＦＴ＋Ｖｔｈ（Ｔ２）＜Ｖｍｇ      ・・・（１）
Ｖｍｇ＜Ｖｍ＿ｏｌｅｄ＋Ｖｔｈ（Ｔ２）    ・・・（２）
また、ＯＬＥＤ用オフセットメモリ５１ｂに格納されているオフセット値に基づいて求められる有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの発光閾値電圧をＶｔｈ（ｏｌｅｄ）とすると、次式（３）が成立するように電位Ｖｍ＿ＴＦＴの値が設定されている。
Ｖｍ＿ＴＦＴ＜ＥＬＶＳＳ＋Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）      ・・・（３）
さらに、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの降伏電圧をＶｂｒ（ｏｌｅｄ）とすると、次式（４）が成立するように電位Ｖｍ＿ＴＦＴの値が設定されている。
Ｖｍ＿ＴＦＴ＞ＥＬＶＳＳ−Ｖｂｒ（ｏｌｅｄ）      ・・・（４）
【００８３】
以上のように、検出準備期間Ｔａに上式（１），（２）を満たす電位Ｖｍｇに基づく書き込みが行われた後、ＴＦＴ特性検出期間Ｔｂには上式（１），（３），および（４）を満たす電位Ｖｍ＿ＴＦＴがデータ線Ｓ（ｊ）に与えられる。上式（１）より、ＴＦＴ特性検出期間Ｔｂには、トランジスタＴ２はオン状態となる。また、上式（３），（４）より、ＴＦＴ特性検出期間Ｔｂには、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤに電流は流れない。
【００８４】
以上より、ＴＦＴ特性検出期間Ｔｂには、図１２で符号７３で示す矢印のように、トランジスタＴ２を流れる電流が、トランジスタＴ３を介してデータ線Ｓ（ｊ）に出力される。これにより、データ線Ｓ（ｊ）に出力された電流（シンク電流）が、出力／電流モニタ回路３３０によって測定される。以上のようにして、トランジスタＴ２のゲート−ソース間の電圧を所定の大きさ（Ｖｍｇ−Ｖｍ＿ＴＦＴ）にした状態で当該トランジスタＴ２のドレイン−ソース間を流れる電流の大きさが測定され、ＴＦＴ特性が検出される。
【００８５】
ＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃには、走査線Ｇ１（ｉ）は非アクティブな状態で維持され、モニタ制御線Ｇ２（ｉ）はアクティブな状態で維持される。このため、この期間には、トランジスタＴ１はオフ状態で維持され、トランジスタＴ３はオン状態で維持される。また、上述したように、この期間には、データ線Ｓ（ｊ）には電位Ｖｍ＿ｏｌｅｄが与えられる。
【００８６】
ここで、上式（２）および次式（５）が成立するように電位Ｖｍ＿ｏｌｅｄの値が設定されている。
ＥＬＶＳＳ＋Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）＜Ｖｍ＿ｏｌｅｄ      ・・・（５）
また、トランジスタＴ２の降伏電圧をＶｂｒ（Ｔ２）とすると、次式（６）が成立するように電位Ｖｍ＿ｏｌｅｄの値が設定されている。
Ｖｍ＿ｏｌｅｄ＜Ｖｍｇ＋Ｖｂｒ（Ｔ２）      ・・・（６）
【００８７】
以上のように、ＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃには、上式（２），（５），および（６）を満たす電位Ｖｍ＿ｏｌｅｄがデータ線Ｓ（ｊ）に与えられる。上式（２），（６）より、ＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃには、トランジスタＴ２はオフ状態となる。また、上式（５）より、ＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃには、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤに電流が流れる。
【００８８】
以上より、ＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃには、図１３で符号７４で示す矢印のように、データ線Ｓ（ｊ）からトランジスタＴ３を介して有機ＥＬ素子ＯＬＥＤに電流が流れ、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤが発光する。この状態において、データ線Ｓ（ｊ）に流れている電流が出力／電流モニタ回路３３０によって測定される。以上のようにして、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤのアノード（陽極）−カソード（陰極）間の電圧を所定の大きさ（Ｖｍ＿ｏｌｅｄ−ＥＬＶＳＳ）にした状態で当該有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを流れる電流の大きさが測定され、ＯＬＥＤ特性が検出される。
【００８９】
なお、電位Ｖｍｇの値，電位Ｖｍ＿ＴＦＴの値，および電位Ｖｍ＿ｏｌｅｄの値については、上式（１）〜（６）の他、採用されている出力／電流モニタ回路３３０での電流の測定可能範囲なども考慮して決定される。
【００９０】
ここで、出力／電流モニタ回路３３０内のスイッチ３３３のオン／オフ状態の変化について説明する。スイッチ３３３がオフ状態からオン状態に切り替えられると、コンデンサ３３２に蓄積された電荷が放電される。その後、スイッチ３３３がオン状態からオフ状態に切り替えられると、コンデンサ３３２への充電が開始される。そして、出力／電流モニタ回路３３０が積分回路として動作する。なお、スイッチ３３３は、データ線Ｓに流れている電流を測定しようとする期間、オフ状態で維持される。具体的には、まず、ＴＦＴ特性検出期間Ｔｂに、スイッチ３３３をオン状態にしてデータ線Ｓに電位Ｖｍ＿ＴＦＴを与えた後、スイッチ３３３をオフ状態にしてデータ線Ｓに流れている電流を測定する。次に、ＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃに、スイッチ３３３をオン状態にしてデータ線Ｓに電位Ｖｍ＿ｏｌｅｄを与えた後、スイッチ３３３をオフ状態にしてデータ線Ｓに流れている電流を測定する。
【００９１】
発光準備期間Ｔｄには、走査線Ｇ１（ｉ）はアクティブな状態とされ、モニタ制御線Ｇ２（ｉ）は非アクティブな状態とされる。これにより、トランジスタＴ１はオン状態となり、トランジスタＴ３はオフ状態となる。また、この期間には、データ線Ｓ（ｊ）には目標輝度に応じたデータ電位Ｄ（ｉ，ｊ）が与えられる。このデータ電位Ｄ（ｉ，ｊ）に基づく書き込みによってコンデンサＣｓｔが充電され、トランジスタＴ２がオン状態となる。以上より、発光準備期間Ｔｄには、図１４で符号７５で示す矢印のように、トランジスタＴ２を介して有機ＥＬ素子ＯＬＥＤに駆動電流が供給される。これにより、駆動電流に応じた輝度で有機ＥＬ素子ＯＬＥＤが発光する。
【００９２】
発光期間ＴＬには、走査線Ｇ１（ｉ）は非アクティブな状態とされ、モニタ制御線Ｇ２（ｉ）は非アクティブな状態で維持される。これにより、トランジスタＴ１はオフ状態となり、トランジスタＴ３はオフ状態で維持される。トランジスタＴ１はオフ状態となるが、発光準備期間Ｔｄ中に目標輝度に応じたデータ電位Ｄ（ｉ，ｊ）に基づく書き込みによってコンデンサＣｓｔが充電されていることから、トランジスタＴ２はオン状態で維持される。従って、発光期間ＴＬには、図１５で符号７６で示す矢印のように、トランジスタＴ２を介して有機ＥＬ素子ＯＬＥＤに駆動電流が供給される。これにより、駆動電流に応じた輝度で有機ＥＬ素子ＯＬＥＤが発光する。すなわち、発光期間ＴＬには、目標輝度に応じて有機ＥＬ素子ＯＬＥＤが発光する。ところで、トランジスタＴ１がオフ状態になると、トランジスタＴ２のゲート電位は理想的には保持される。しかしながら、実際には、トランジスタＴ１によるチャージインジェクション、走査線Ｇ１（ｉ）のフィードスルー、寄生容量との電荷分配等の二次効果により、トランジスタＴ２のゲート電位については書き込まれた電位からの変動が生じる。一方、発光期間ＴＬよりも先行するＴＦＴ特性検出期間Ｔｂの直前にも、トランジスタＴ１がオフ状態となってトランジスタＴ２のゲートがホールド状態になることから、ＴＦＴ特性検出期間Ｔｂと発光期間ＴＬにおける、二次効果の影響は、ほぼ等しくなる。従って、これら二次効果による影響の大きさが（寄生容量値のばらつき等によって）画素毎にばらついていても、二次効果を考慮してＴＦＴ特性の検出が行われ、補正が施される。よって、画素毎の二次効果のばらつきを互いに相殺することができる。
【００９３】
以上のように、非モニタ行においては、一般的な表示装置と同様に、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを発光させる処理が行われる。これに対して、モニタ行においては、ＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性を検出するための処理が行われた後に、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを発光させる処理が行われる。従って、図１６から把握されるように、モニタ行における発光期間の長さは非モニタ行における発光期間の長さよりも短くなる。このため、発光準備期間Ｔｄにデータ線Ｓ（ｊ）に印加されるデータ電位Ｄ（ｉ，ｊ）の大きさについては、フレーム期間内での積分輝度が非モニタ行で現れる輝度と等しくなるように調整が施される。詳しくは、非モニタ行における階調電圧よりもやや大きい階調電圧に相当するデータ電位が、発光準備期間Ｔｄにデータ線Ｓ（ｊ）に与えられる。換言すれば、任意の有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを着目有機ＥＬ素子と定義したとき、着目有機ＥＬ素子がモニタ行に含まれている場合、発光準備期間Ｔｄには、着目有機ＥＬ素子が非モニタ行に含まれている場合における階調電圧よりも大きい階調電圧に相当するデータ電位がソースドライバ３０によってデータ線Ｓ（ｊ）に与えられる。これにより、表示品位の低下が抑制される。
【００９４】
なお、本実施形態においては、図８に示すようにフレームが変わる毎にモニタ行も変わるが、本発明はこれに限定されない。複数フレームにわたって同じ行をモニタ行としても良い。このようにして１つの行で繰り返して特性検出の処理を行うことによって、Ｓ／Ｎ比が向上するという効果が得られる。また、本実施形態においては、各フレームに１つの行のみがモニタ行とされるが、本発明はこれに限定されない。表示品位が損なわれない範囲内で、各フレームに複数の行がモニタ行とされても良いし、パネルの電源オン直後や電源オフ期間、又は非表示期間の任意のタイミングで、全行の特性検出を連続実行するようにしても良い。
【００９５】
＜３．３  補正データ記憶部内の補正データの更新＞
次に、補正データ記憶部５０に記憶されている補正データ（ＴＦＴ用オフセットメモリ５１ａに記憶されているオフセット値，ＯＬＥＤ用オフセットメモリ５１ｂに記憶されているオフセット値，ＴＦＴ用ゲインメモリ５２ａに記憶されているゲイン値，およびＯＬＥＤ用ゲインメモリ５２ｂに記憶されている劣化補正係数）がどのように更新されるかについて説明する。図１７は、補正データ記憶部５０内の補正データの更新の手順を説明するためのフローチャートである。なお、ここでは１つの画素に対応する補正データに着目する。
【００９６】
まず、ＴＦＴ特性検出期間ＴｂにＴＦＴ特性の検出が行われる（ステップＳ１１０）。このステップＳ１１０によって、映像信号を補正するためのオフセット値およびゲイン値が求められる。そして、ステップＳ１１０で求められたオフセット値が、新たなオフセット値としてＴＦＴ用オフセットメモリ５１ａに格納される（ステップＳ１２０）。また、ステップＳ１１０で求められたゲイン値が、新たなゲイン値としてＴＦＴ用ゲインメモリ５２ａに格納される（ステップＳ１３０）。その後、ＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃに、ＯＬＥＤ特性の検出が行われる（ステップＳ１４０）。このステップＳ１４０によって、映像信号を補正するためのオフセット値および劣化補正係数が求められる。そして、ステップＳ１４０で求められたオフセット値が、新たなオフセット値としてＯＬＥＤ用オフセットメモリ５１ｂに格納される（ステップＳ１５０）。また、ステップＳ１４０で求められた劣化補正係数が、新たな劣化補正係数としてＯＬＥＤ用ゲインメモリ５２ｂに格納される（ステップＳ１６０）。以上のようにして、１つの画素に対応する補正データの更新が行われる。本実施形態においては、各フレームに１つの行についてのＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の検出が行われるので、１フレーム期間につき、ＴＦＴ用オフセットメモリ５１ａ内のｍ個のオフセット値，ＴＦＴ用ゲインメモリ５２ａ内のｍ個のゲイン値，ＯＬＥＤ用オフセットメモリ５１ｂ内のｍ個のオフセット値，およびＯＬＥＤ用ゲインメモリ５２ｂ内のｍ個の劣化補正係数の更新が行われる。
【００９７】
なお、本実施形態においては、ステップＳ１１０およびステップＳ１４０での検出結果に基づいて得られるデータ（オフセット値，ゲイン値，劣化補正係数）によって特性データが実現されている。
【００９８】
ところで、上述したように、ＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃには、一定電圧（Ｖｍ＿ｏｌｅｄ−ＥＬＶＳＳ）に基づいて有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを流れる電流の大きさの測定が行われる。その測定結果としての検出電流が小さいほど、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの劣化の程度は大きい。従って、検出電流が小さいほど、オフセット値が大きくかつ劣化補正係数が大きくなるようにＯＬＥＤ用オフセットメモリ５１ｂおよびＯＬＥＤ用ゲインメモリ５２ｂ内のデータの更新が行われる。
【００９９】
＜３．４  映像信号の補正＞
本実施形態においては、駆動トランジスタの劣化および有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの劣化を補償するために、補正データ記憶部５０に格納されている補正データを用いて、外部から送られる映像信号の補正が行われる。以下、映像信号のこの補正について図１８を参照しつつ説明する。
【０１００】
図１８に示すように、コントロール回路２０には、映像信号を補正するための構成要素として、ＬＵＴ２１１，乗算部２１２，乗算部２１３，加算部２１４，加算部２１５，および乗算部２１６が設けられている。また、コントロール回路２０には、ＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃにデータ線Ｓに与える電位Ｖｍ＿ｏｌｅｄを補正するための構成要素として、乗算部２２１および加算部２２２が設けられている。コントロール回路２０内のＣＰＵ２３０は、上記各構成要素の動作の制御，補正データ記憶部５０内の各メモリ（ＴＦＴ用オフセットメモリ５１ａ，ＴＦＴ用ゲインメモリ５２ａ，ＯＬＥＤ用オフセットメモリ５１ｂ，およびＯＬＥＤ用ゲインメモリ５２ｂ）に対するデータの更新／読み出し，不揮発性メモリ７０に対するデータの更新／読み出し，ソースドライバ３０との間のデータ授受などを行う。なお、本実施形態においては、ＬＵＴ２１１，乗算部２１２，乗算部２１３，加算部２１４，加算部２１５，および乗算部２１６によって映像信号補正部が実現されている。
【０１０１】
以上のような構成において、外部から送られる映像信号は、以下のように補正される。まず、ＬＵＴ２１１を用いて、外部から送られる映像信号にガンマ補正が施される。すなわち、映像信号が示す階調Ｐがガンマ補正によって制御電圧Ｖｃに変換される。乗算部２１２は、制御電圧ＶｃとＴＦＴ用ゲインメモリ５２ａから読み出されたゲイン値Ｂ１とを受け取り、それらを乗じて得られる値“Ｖｃ・Ｂ１”を出力する。乗算部２１３は、乗算部２１２から出力された値“Ｖｃ・Ｂ１”とＯＬＥＤ用ゲインメモリ５２ｂから読み出された劣化補正係数Ｂ２とを受け取り、それらを乗じて得られる値“Ｖｃ・Ｂ１・Ｂ２”を出力する。加算部２１４は、乗算部２１３から出力された値“Ｖｃ・Ｂ１・Ｂ２”とＴＦＴ用オフセットメモリ５１ａから読み出されたオフセット値Ｖｔ１とを受け取り、それらを加算することによって得られる値“Ｖｃ・Ｂ１・Ｂ２＋Ｖｔ１”を出力する。加算部２１５は、加算部２１４から出力された値“Ｖｃ・Ｂ１・Ｂ２＋Ｖｔ１”とＯＬＥＤ用オフセットメモリ５１ｂから読み出されたオフセット値Ｖｔ２とを受け取り、それらを加算することによって得られる値“Ｖｃ・Ｂ１・Ｂ２＋Ｖｔ１＋Ｖｔ２”を出力する。乗算部２１６は、加算部２１５から出力された値“Ｖｃ・Ｂ１・Ｂ２＋Ｖｔ１＋Ｖｔ２”と画素回路１１内の寄生容量に起因するデータ電位の減衰を補償するための係数Ｚとを受け取り、それらを乗じて得られる値“Ｚ（Ｖｃ・Ｂ１・Ｂ２＋Ｖｔ１＋Ｖｔ２）”を出力する。以上のようにして得られた値“Ｚ（Ｖｃ・Ｂ１・Ｂ２＋Ｖｔ１＋Ｖｔ２）”がデータ信号ＤＡとしてコントロール回路２０からソースドライバ３０に送られる。検出準備期間Ｔａにデータ線Ｓに与える電位Ｖｍｇについても映像信号と同様の処理によって補正される。なお、加算部２１５から出力された値にデータ電位の減衰を補償するための係数Ｚを乗ずる処理を行う乗算部２１６については、必ずしも設けられる必要はない。
【０１０２】
また、ＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃにデータ線Ｓに与える電位Ｖｍ＿ｏｌｅｄが以下のように補正される。乗算部２２１は、ｐｒｅ＿Ｖｍ＿ｏｌｅｄ（補正前のＶｍ＿ｏｌｅｄ）とＯＬＥＤ用ゲインメモリ５２ｂから読み出された劣化補正係数Ｂ２とを受け取り、それらを乗じて得られる値“ｐｒｅ＿Ｖｍ＿ｏｌｅｄ・Ｂ２”を出力する。加算部２２２は、乗算部２２１から出力された値“ｐｒｅ＿Ｖｍ＿ｏｌｅｄ・Ｂ２”とＯＬＥＤ用オフセットメモリ５１ｂから読み出されたオフセット値Ｖｔ２とを受け取り、それらを加算することによって得られる値“ｐｒｅ＿Ｖｍ＿ｏｌｅｄ・Ｂ２＋Ｖｔ２”を出力する。以上のようにして得られた値“ｐｒｅ＿Ｖｍ＿ｏｌｅｄ・Ｂ２＋Ｖｔ２”が、ＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃ中のデータ線Ｓの電位Ｖｍ＿ｏｌｅｄを指示するデータとしてコントロール回路２０からソースドライバ３０に送られる。
【０１０３】
＜３．５  駆動方法のまとめ＞
図１９は、ＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の検出に関連する動作の概略を説明するためのフローチャートである。まず、ＴＦＴ特性検出期間ＴｂにＴＦＴ特性の検出が行われる（ステップＳ２１０）。そして、ステップＳ２１０での検出結果を用いて、ＴＦＴ用オフセットメモリ５１ａおよびＴＦＴ用ゲインメモリ５２ａの更新が行われる（ステップＳ２２０）。次に、ＯＬＥＤ特性検出期間ＴｃにＯＬＥＤ特性の検出が行われる（ステップＳ２３０）。そして、ステップＳ２３０での検出結果を用いて、ＯＬＥＤ用オフセットメモリ５１ｂおよびＯＬＥＤ用ゲインメモリ５２ｂの更新が行われる（ステップＳ２４０）。その後、ＴＦＴ用オフセットメモリ５１ａ，ＴＦＴ用ゲインメモリ５２ａ，ＯＬＥＤ用オフセットメモリ５１ｂ，およびＯＬＥＤ用ゲインメモリ５２ｂに格納されている補正データを用いて、外部から送られる映像信号の補正が行われる（ステップＳ２５０）。
【０１０４】
なお、本実施形態においては、ステップＳ２２０およびステップＳ２４０によって補正データ記憶ステップが実現され、ステップＳ２５０によって映像信号補正ステップが実現されている。
【０１０５】
＜４．効果＞
本実施形態によれば、各フレームにおいて１つの行についてのＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の検出が行われる。モニタ行における１水平走査期間ＴＨｍは非モニタ行における１水平走査期間ＴＨｎよりも長くされ、モニタ行では、その１水平走査期間ＴＨｍ中にＴＦＴ特性の検出およびＯＬＥＤ特性の検出が行われる。そして、ＴＦＴ特性の検出結果およびＯＬＥＤ特性の検出結果の双方を考慮して求められた補正データを用いて、外部から送られる映像信号が補正される。このようにして補正された映像信号に基づくデータ電位がデータ線Ｓに印加されるので、各画素回路１１内の有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを発光させる際に、駆動トランジスタ（トランジスタＴ２）の劣化および有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの劣化が補償されるような大きさの駆動電流が有機ＥＬ素子ＯＬＥＤに供給される（図２０参照）。また、図２１に示すように劣化の最も少ない画素の劣化レベルに合わせて電流を増加させることによって、焼き付きに対する補償を行うことが可能となる。ここで、本実施形態におけるデータ線Ｓは、各画素回路１１内の有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを所望の輝度で発光させるための輝度信号を伝達する信号線として用いられるだけでなく、特性検出用の信号線（特性検出用の制御電位（Ｖｍｇ，Ｖｍ＿ＴＦＴ，Ｖｍ＿ｏｌｅｄ）を画素回路１１に与える信号線、特性を表す電流であって出力／電流モニタ回路３３０で測定可能な電流の経路となる信号線）としても用いられる。すなわち、ＴＦＴ特性やＯＬＥＤ特性を検出するために新たな信号線を表示部１０内に設ける必要がない。従って、回路規模の増大を抑制しつつ、駆動トランジスタ（トランジスタＴ２）の劣化および有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの劣化の双方を同時に補償することが可能となる。
【０１０６】
また、本実施形態においては、画素回路１１内のトランジスタＴ１〜Ｔ３に酸化物ＴＦＴ（具体的にはＩｎ−Ｇａ−Ｚｎ−Ｏ系半導体層を有するＴＦＴ）が採用されているので、充分なＳ／Ｎ比を確保できるという効果が得られる。これについて以下に説明する。なお、Ｉｎ−Ｇａ−Ｚｎ−Ｏ系半導体層を有するＴＦＴのことをここでは「Ｉｎ−Ｇａ−Ｚｎ−Ｏ−ＴＦＴ」という。Ｉｎ−Ｇａ−Ｚｎ−Ｏ−ＴＦＴとＬＴＰＳ（Low Temperature Poly silicon）−ＴＦＴとを比較すると、ＬＴＰＳ−ＴＦＴよりもＩｎ−Ｇａ−Ｚｎ−Ｏ−ＴＦＴの方がオフ電流が極めて小さい。例えば、画素回路１１内のトランジスタＴ３にＬＴＰＳ−ＴＦＴが採用されている場合には、オフ電流は最大１ｐＡ程度となる。これに対して、画素回路１１内のトランジスタＴ３にＩｎ−Ｇａ−Ｚｎ−Ｏ−ＴＦＴが採用されている場合には、オフ電流は最大１０ｆＡ程度となる。従って、例えば１０００行分のオフ電流は、ＬＴＰＳ−ＴＦＴが採用されている場合には最大１ｎＡ程度となり、Ｉｎ−Ｇａ−Ｚｎ−Ｏ−ＴＦＴが採用されている場合には最大１０ｐＡ程度となる。検出電流については、いずれが採用されている場合にも１０〜１００ｎＡ程度となる。ところで、各データ線Ｓは、対応する列の全ての行の画素回路１１内のトランジスタＴ３に接続されている。従って、特性検出が行われているときのデータ線ＳのＳ／Ｎ比は、非モニタ行のトランジスタＴ３の漏れ電流の合計に依存する。具体的には、特性検出が行われているときのデータ線ＳのＳ／Ｎ比は「検出電流／（漏れ電流×非モニタ行の行数）」で表される。以上のことから、例えば、“Ｌａｎｄｓｃａｐｅ  ＦＨＤ”の表示部１０を有する有機ＥＬ表示装置においては、ＬＴＰＳ−ＴＦＴが採用されている場合にはＳ／Ｎ比は１０程度となるのに対し、Ｉｎ−Ｇａ−Ｚｎ−Ｏ−ＴＦＴが採用されている場合にはＳ／Ｎ比は１０００程度となる。このように、本実施形態においては、電流の検出を行う際に充分なＳ／Ｎ比を確保することができる。
【０１０７】
＜５．変形例＞
以下、上記実施形態の変形例について説明する。なお、以下においては、上記実施形態と異なる点についてのみ詳しく説明し、上記実施形態と同様の点については説明を省略する。
【０１０８】
＜５．１  第１の変形例＞
上記実施形態においては、表示部１０内のデータ線Ｓとソースドライバ３０内の出力／電流モニタ回路３３０とが１対１で対応することを前提としていた。しかしながら、本発明はこれに限定されず、１つの出力／電流モニタ回路３３０が複数のデータ線Ｓに対応する構成（本変形例の構成）を採用することもできる。なお、本変形例のようにソースドライバからの１つの出力を複数のデータ線Ｓに振り分ける方式のことは「ソースシェアドドライビング（ＳＳＤ）方式」などと呼ばれている。
【０１０９】
図２２は、本変形例における有機ＥＬ表示装置２の全体構成を示すブロック図である。図２２から把握されるように、本変形例においては、３本のデータ線Ｓにつき１つの出力／電流モニタ回路３３０が設けられている。また、本変形例においては、出力／電流モニタ回路３３０とデータ線Ｓとの電気的な接続状態を制御するための接続制御部８０が表示部１０とソースドライバ３０との間に設けられている。
【０１１０】
図２３に示すように、接続制御部８０には、出力／電流モニタ回路３３０と赤色用のデータ線Ｓ（Ｒ）との電気的な接続状態を制御するためのトランジスタＴＳ（Ｒ）と、出力／電流モニタ回路３３０と緑色用のデータ線Ｓ（Ｇ）との電気的な接続状態を制御するためのトランジスタＴＳ（Ｇ）と、出力／電流モニタ回路３３０と青色用のデータ線Ｓ（Ｂ）との電気的な接続状態を制御するためのトランジスタＴＳ（Ｂ）とが含まれている。トランジスタＴＳ（Ｒ）のオン／オフ状態は、制御信号ＳＭＰ（Ｒ）によって制御される。トランジスタＴＳ（Ｇ）のオン／オフ状態は、制御信号ＳＭＰ（Ｇ）によって制御される。トランジスタＴＳ（Ｂ）のオン／オフ状態は、制御信号ＳＭＰ（Ｂ）によって制御される。赤色用のデータ線Ｓ（Ｒ）は赤色用の画素回路１１（Ｒ）に接続されており、緑色用のデータ線Ｓ（Ｇ）は緑色用の画素回路１１（Ｇ）に接続されており、青色用のデータ線Ｓ（Ｂ）は青色用の画素回路１１（Ｂ）に接続されている。
【０１１１】
図２４は、本変形例において、モニタ行についての１水平走査期間ＴＨｍの詳細を説明するためのタイミングチャートである。図２５は、本変形例において、モニタ行に含まれる画素回路１１（ｉ行ｊ列の画素回路１１とする）の動作を説明するためのタイミングチャートである。上記実施形態と同様、モニタ行についての１水平走査期間ＴＨｍは、検出準備期間ＴａとＴＦＴ特性検出期間ＴｂとＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃと発光準備期間Ｔｄとによって構成されている。検出準備期間Ｔａには、走査線Ｇ１はアクティブな状態とされ、モニタ制御線Ｇ２は非アクティブな状態とされる。ＴＦＴ特性検出期間Ｔｂには、走査線Ｇ１は非アクティブな状態とされ、モニタ制御線Ｇ２はアクティブな状態とされる。ＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃには、走査線Ｇ１は非アクティブな状態で維持され、モニタ制御線Ｇ２はアクティブな状態で維持される。発光準備期間Ｔｄには、走査線Ｇ１はアクティブな状態とされ、モニタ制御線Ｇ２は非アクティブな状態とされる。
【０１１２】
図２４および図２５から把握されるように、検出準備期間Ｔａ，ＴＦＴ特性検出期間Ｔｂ，ＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃ，および発光準備期間Ｔｄについては、いずれも３つの期間に分割されている。いずれについても、最初の３分の１の期間には制御信号ＳＭＰ（Ｒ）がハイレベルとなり、２番目の３分の１の期間には制御信号ＳＭＰ（Ｇ）がハイレベルとなり、最後の３分の１の期間には制御信号ＳＭＰ（Ｂ）がハイレベルとなる。従って、検出準備期間Ｔａ，ＴＦＴ特性検出期間Ｔｂ，ＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃ，および発光準備期間Ｔｄのいずれについても、最初の３分の１の期間にはトランジスタＴＳ（Ｒ）がオン状態となって出力／電流モニタ回路３３０と赤色用のデータ線Ｓ（Ｒ）とが電気的に接続され、２番目の３分の１の期間にはトランジスタＴＳ（Ｇ）がオン状態となって出力／電流モニタ回路３３０と緑色用のデータ線Ｓ（Ｇ）とが電気的に接続され、最後の３分の１の期間にはトランジスタＴＳ（Ｂ）がオン状態となって出力／電流モニタ回路３３０と青色用のデータ線Ｓ（Ｂ）とが電気的に接続される。
【０１１３】
出力／電流モニタ回路３３０からデータ線Ｓに与えられる電位は次のようになっている。検出準備期間Ｔａには、電位Ｖｍｇとして、赤色用の電位，緑色用の電位，および青色用の電位が順次に出力／電流モニタ回路３３０からデータ線Ｓに与えられる。ＴＦＴ特性検出期間Ｔｂには、電位Ｖｍ＿ＴＦＴとして、赤色用の電位，緑色用の電位，および青色用の電位が順次に出力／電流モニタ回路３３０からデータ線Ｓに与えられる。ＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃには、電位Ｖｍ＿ｏｌｅｄとして、赤色用の電位，緑色用の電位，および青色用の電位が順次に出力／電流モニタ回路３３０からデータ線Ｓに与えられる。発光準備期間Ｔｄには、データ電位Ｄとして、赤色用の電位，緑色用の電位，および青色用の電位が順次に出力／電流モニタ回路３３０からデータ線Ｓに与えられる。
【０１１４】
以上より、検出準備期間Ｔａには、赤色用の電位に基づく赤色用の画素回路１１（Ｒ）への書き込み，緑色用の電位に基づく緑色用の画素回路１１（Ｇ）への書き込み，および青色用の電位に基づく青色用の画素回路１１（Ｂ）への書き込みが順次に行われる。ＴＦＴ特性検出期間Ｔｂには、赤色用の画素回路１１（Ｒ）内のトランジスタＴ２の特性の検出，緑色用の画素回路１１（Ｇ）内のトランジスタＴ２の特性の検出，および青色用の画素回路１１（Ｂ）内のトランジスタＴ２の特性の検出が順次に行われる。ＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃには、赤色用の画素回路１１（Ｒ）内の有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの特性の検出，緑色用の画素回路１１（Ｇ）内の有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの特性の検出，および青色用の画素回路１１（Ｂ）内の有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの特性の検出が順次に行われる。発光準備期間Ｔｄには、目標輝度に応じた赤色用の画素回路１１（Ｒ）への書き込み，目標輝度に応じた緑色用の画素回路１１（Ｇ）への書き込み，および目標輝度に応じた青色用の画素回路１１（Ｂ）への書き込みが順次に行われる。
【０１１５】
本変形例によれば、以上のようにして、ＳＳＤ方式を採用している有機ＥＬ表示装置においても、回路規模の増大を抑制しつつ、駆動トランジスタ（トランジスタＴ２）の劣化および有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの劣化の双方を同時に補償することが可能となる。
【０１１６】
＜５．２  第２の変形例＞
上記実施形態によれば、有機ＥＬ表示装置１の短時間運転が繰り返されると、表示部１０の上方の行と表示部１０の下方の行との間で、ＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の検出の回数に大きな差が生じる。そこで、本変形例に係る有機ＥＬ表示装置３においては、図２６に示すように、コントロール回路２０内にモニタ行を記憶するためのモニタ行記憶部２０１が設けられている。このような構成において、電源オフの際に、最後にＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の検出が行われた行を特定する情報がモニタ行記憶部２０１に格納される。電源オン後には、モニタ行記憶部２０１に格納されている情報に基づいて特定される行の次の行から、ＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の検出が行われる。なお、本実施形態においては、モニタ行記憶部２０１によってモニタ領域記憶部が実現されている。
【０１１７】
以上より、本変形例によれば、表示部１０の上方の行と表示部１０の下方の行との間でＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の検出の回数に差が生じることが防止される。このため、駆動トランジスタ（トランジスタＴ２）の劣化および有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの劣化に対する補償を画面全体で一様に行うことが可能となり、輝度のばらつきの発生が効果的に防止される。
【０１１８】
なお、電源オン後に最初にＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の検出が行われる行は、モニタ行記憶部２０１に格納されている情報に基づいて特定される行の次の行には限定されず、モニタ行記憶部２０１に格納されている情報に基づいて特定される行の近傍の行であっても良い。例えば、電源オフ直前と電源オン直後とで特性検出動作が重複して行われる行が存在しても良い。
【０１１９】
また、最後にＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の検出が行われた列を特定する情報を記憶するようにしても良いし、最後にＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の検出が行われた行および列の双方を特定する情報を記憶するようにしても良い。
【０１２０】
＜５．３  第３の変形例＞
図２７は、有機ＥＬ素子の電流−電圧特性の温度依存性について説明するための図である。図２７には、温度ＴＥ１における有機ＥＬ素子の電流−電圧特性，温度ＴＥ２における有機ＥＬ素子の電流−電圧特性，および温度ＴＥ３における有機ＥＬ素子の電流−電圧特性を示している。なお、“ＴＥ１＞ＴＥ２＞ＴＥ３”である。図２７から把握されるように、有機ＥＬ素子に所定の電流を供給するためには、温度が低くなるほど電圧を高くする必要がある。このように、有機ＥＬ素子の電流−電圧特性は、温度に大きく依存している。そこで、温度変化を補償することのできる構成（本変形例の構成）を採用することが好ましい。
【０１２１】
図２８は、本変形例における有機ＥＬ表示装置４の全体構成を示すブロック図である。本変形例においては、上記実施形態における構成要素に加えて、温度センサ６０が設けられている。この温度センサ６０によって温度検出部が実現されている。また、コントロール回路２０には、温度変化補償部２０２が設けられている。温度センサ６０は、随時、温度を測定した結果である温度情報ＴＥをコントロール回路２０に与える。温度変化補償部２０２は、ソースドライバ３０から与えられるモニタデータＭＯに対して、温度情報ＴＥに基づく補正を施す。詳しくは、温度変化補償部２０２は、検出時の温度に対応するモニタデータＭＯの値を或る標準温度に対応する値に変換し、その変換で得られた値に基づいてＯＬＥＤ用オフセットメモリ５１ｂ内のオフセット値およびＯＬＥＤ用ゲインメモリ５２ｂ内の劣化補正係数を更新する。
【０１２２】
図２９は、本変形例における補正データ記憶部５０内の補正データ（ＴＦＴ用オフセットメモリ５１ａに記憶されているオフセット値，ＯＬＥＤ用オフセットメモリ５１ｂに記憶されているオフセット値，ＴＦＴ用ゲインメモリ５２ａに記憶されているゲイン値，およびＯＬＥＤ用ゲインメモリ５２ｂに記憶されている劣化補正係数）の更新の手順を説明するためのフローチャートである。なお、本変形例（図２９）におけるステップＳ３１０〜ステップＳ３４０の処理は上記実施形態（図１７）におけるステップＳ１１０〜ステップＳ１４０の処理と同じであり、本変形例（図２９）におけるステップＳ３５０〜ステップＳ３６０の処理は上記実施形態（図１７）におけるステップＳ１５０〜ステップＳ１６０の処理と同じである。本変形例においては、ＯＬＥＤ特性の検出が行われた後、オフセット値および劣化補正係数の更新が行われる前に、温度センサ６０によって与えられた温度情報ＴＥに基づいて、オフセット値および劣化補正係数に補正が施される（ステップＳ３４５）。
【０１２３】
以上より、本変形例によれば、外部から送られる映像信号は、温度変化を考慮した補正データによって補正される。このため、有機ＥＬ表示装置において、温度の変化に関わらず駆動トランジスタ（トランジスタＴ２）の劣化および有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの劣化の双方を同時に補償することが可能となる。
【０１２４】
＜５．４  第４の変形例＞
＜５．４．１  概要＞
上記実施形態においては、各フレームにおいて１つの行についてのＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の双方の検出が行われていた。しかしながら、本発明はこれに限定されず、各フレームにおいて１つの行についてのＴＦＴ特性の検出または１つの行についてのＯＬＥＤ特性の検出のいずれかが行われる構成（本変形例の構成）を採用することもできる。
【０１２５】
本変形例においては、或るフレームに１行目についてのＯＬＥＤ特性の検出が行われると、次のフレームには２行目についてのＯＬＥＤ特性の検出が行われ、さらに次のフレームには３行目についてのＯＬＥＤ特性の検出が行われる。その後、４〜ｎ行目についてのＯＬＥＤ特性の検出が順次に行われる。ｎ行目についてのＯＬＥＤ特性の検出が行われた後、１行目についてのＴＦＴ特性の検出が行われる。そして、２〜ｎ行目についてのＴＦＴ特性の検出が順次に行われる。このようにＴＦＴ特性の検出とＯＬＥＤ特性の検出とは異なるフレームで行われる。以上のように、各フレームにおいて、モニタ行についてはＴＦＴ特性の検出を行うための動作（以下、「ＴＦＴ特性検出動作」という。）またはＯＬＥＤ特性の検出を行うための動作（以下、「ＯＬＥＤ特性検出動作」という。）のいずれかが行われ、非モニタ行については通常動作が行われる。すなわち、１行目についてのＯＬＥＤ特性の検出が行われるフレームを（ｋ＋１）フレーム目と定義すると、図３０に示すように、各行の動作は推移する。なお、（ｋ＋１）フレーム目から（ｋ＋ｎ）フレーム目までは、いずれの行においてもＴＦＴ特性検出動作は行われない。また、（ｋ＋ｎ＋１）フレーム目から（ｋ＋２ｎ）フレーム目までは、いずれの行においてもＯＬＥＤ特性検出動作は行われない。
【０１２６】
モニタ行でＯＬＥＤ特性検出動作が行われた後には、検出結果に基づいて、ＯＬＥＤ用オフセットメモリ５１ｂおよびＯＬＥＤ用ゲインメモリ５２ｂの更新が行われる。モニタ行でＴＦＴ特性検出動作が行われた後には、検出結果に基づいて、ＴＦＴ用オフセットメモリ５１ａおよびＴＦＴ用ゲインメモリ５２ａの更新が行われる。映像信号の補正については、上記実施形態と同様にして行われる。
【０１２７】
＜５．４．２  駆動方法＞
＜５．４．２．１  画素回路の動作＞
図３１および図３２を参照しつつ、本変形例における駆動方法について説明する。図３１および図３２は、モニタ行に含まれる画素回路１１（ｉ行ｊ列の画素回路１１とする）の動作を説明するためのタイミングチャートである。図３１は、モニタ行でＯＬＥＤ特性検出動作が行われるフレームにおけるタイミングチャートであり、図３２は、モニタ行でＴＦＴ特性検出動作が行われるフレームにおけるタイミングチャートである。なお、非モニタ行では、各フレームにおいて、上記実施形態と同様にして通常動作が行われる。以下、モニタ行に含まれる画素回路１１の動作について説明する。
【０１２８】
まず、モニタ行でＯＬＥＤ特性検出動作が行われるフレームにおける動作について説明する。図３１に示すように、このフレームにおいては、モニタ行についての１水平走査期間ＴＨｍは、検出準備期間ＴａとＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃと発光準備期間Ｔｄとによって構成されている。
【０１２９】
検出準備期間Ｔａには、走査線Ｇ１（ｉ）はアクティブな状態とされ、モニタ制御線Ｇ２（ｉ）は非アクティブな状態で維持される。また、この期間には、データ線Ｓ（ｊ）には電位Ｖｍｇが与えられる。以上より、この期間には、電位Ｖｍｇに基づく書き込みによって画素回路１１内のコンデンサＣｓｔが充電される。
【０１３０】
ＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃには、走査線Ｇ１（ｉ）は非アクティブな状態とされ、モニタ制御線Ｇ２（ｉ）はアクティブな状態とされる。このため、この期間には、トランジスタＴ１はオフ状態となり、トランジスタＴ３はオン状態となる。また、この期間には、データ線Ｓ（ｊ）には電位Ｖｍ＿ｏｌｅｄが与えられる。
【０１３１】
ここで、ＯＬＥＤ用オフセットメモリ５１ｂに格納されているオフセット値に基づいて求められる有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの発光閾値電圧をＶｔｈ（ｏｌｅｄ）とし、トランジスタＴ２の降伏電圧をＶｂｒ（Ｔ２）とすると、上式（２），（５），および（６）が成立するように、電位Ｖｍｇの値および電位Ｖｍ＿ｏｌｅｄの値が設定されている。上式（２），（６）より、ＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃには、トランジスタＴ２はオフ状態となる。また、上式（５）より、ＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃには、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤに電流が流れる。
【０１３２】
以上より、ＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃには、図１３で符号７４で示す矢印のように、データ線Ｓ（ｊ）からトランジスタＴ３を介して有機ＥＬ素子ＯＬＥＤに電流が流れ、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤが発光する。この状態において、データ線Ｓ（ｊ）に流れている電流が出力／電流モニタ回路３３０によって測定される。このようにして、ＯＬＥＤ特性が検出される。
【０１３３】
発光準備期間Ｔｄには、走査線Ｇ１（ｉ）はアクティブな状態とされ、モニタ制御線Ｇ２（ｉ）は非アクティブな状態とされる。これにより、トランジスタＴ１はオン状態となり、トランジスタＴ３はオフ状態となる。また、この期間には、データ線Ｓ（ｊ）には目標輝度に応じたデータ電位Ｄ（ｉ，ｊ）が与えられる。以上より、この期間には、データ電位Ｄ（ｉ，ｊ）に基づく書き込みによって画素回路１１内のコンデンサＣｓｔが充電される。
【０１３４】
発光期間ＴＬには、走査線Ｇ１（ｉ）は非アクティブな状態とされ、モニタ制御線Ｇ２（ｉ）は非アクティブな状態で維持される。これにより、トランジスタＴ１はオフ状態となり、トランジスタＴ３はオフ状態で維持される。トランジスタＴ１はオフ状態となるが、発光準備期間Ｔｄ中に目標輝度に応じたデータ電位Ｄ（ｉ，ｊ）に基づく書き込みによってコンデンサＣｓｔが充電されていることから、トランジスタＴ２はオン状態で維持される。従って、発光期間ＴＬには、図１５で符号７６で示す矢印のように、トランジスタＴ２を介して有機ＥＬ素子ＯＬＥＤに駆動電流が供給される。これにより、駆動電流に応じた輝度で有機ＥＬ素子ＯＬＥＤが発光する。すなわち、発光期間ＴＬには、目標輝度に応じて有機ＥＬ素子ＯＬＥＤが発光する。
【０１３５】
次に、モニタ行でＴＦＴ特性検出動作が行われるフレームにおける動作について説明する。なお、検出準備期間Ｔａ，発光準備期間Ｔｄ，および発光期間ＴＬにおける動作については、モニタ行でＯＬＥＤ特性検出動作が行われるフレームと同様であるので、説明を省略する。
【０１３６】
ＴＦＴ特性検出期間Ｔｂには、走査線Ｇ１（ｉ）は非アクティブな状態とされ、モニタ制御線Ｇ２（ｉ）はアクティブな状態とされる。このため、この期間には、トランジスタＴ１はオフ状態となり、トランジスタＴ３はオン状態となる。また、この期間には、データ線Ｓ（ｊ）には電位Ｖｍ＿ＴＦＴが与えられる。
【０１３７】
ここで、ＴＦＴ用オフセットメモリ５１ａに格納されているオフセット値に基づいて求められるトランジスタＴ２の閾値電圧をＶｔｈ（Ｔ２）とし、ＯＬＥＤ用オフセットメモリ５１ｂに格納されているオフセット値に基づいて求められる有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの発光閾値電圧をＶｔｈ（ｏｌｅｄ）とし、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの降伏電圧をＶｂｒ（ｏｌｅｄ）とすると、上式（１），（３），および（４）が成立するように、電位Ｖｍｇの値および電位Ｖｍ＿ＴＦＴの値が設定されている。上式（１）より、ＴＦＴ特性検出期間Ｔｂには、トランジスタＴ２はオン状態となる。また、上式（３），（４）より、ＴＦＴ特性検出期間Ｔｂには、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤに電流は流れない。
【０１３８】
以上より、ＴＦＴ特性検出期間Ｔｂには、図１２で符号７３で示す矢印のように、トランジスタＴ２を流れる電流が、トランジスタＴ３を介してデータ線Ｓ（ｊ）に出力される。これにより、データ線Ｓ（ｊ）に出力された電流（シンク電流）が、出力／電流モニタ回路３３０によって測定される。このようにして、ＴＦＴ特性が検出される。
【０１３９】
＜５．４．２．２  補正データ記憶部内の補正データの更新＞
次に、補正データ記憶部５０内の補正データ（ＴＦＴ用オフセットメモリ５１ａに記憶されているオフセット値，ＯＬＥＤ用オフセットメモリ５１ｂに記憶されているオフセット値，ＴＦＴ用ゲインメモリ５２ａに記憶されているゲイン値，およびＯＬＥＤ用ゲインメモリ５２ｂに記憶されている劣化補正係数）の更新について説明する。図３３は、補正データ記憶部５０内の補正データの更新の手順を説明するためのフローチャートである。なお、ここでは１つの画素に対応する補正データに着目する。ところで、図３０から把握されるように、本変形例においては、任意の１つの画素に着目したとき、ＴＦＴ特性の検出はＯＬＥＤ特性の検出が行われたフレームのｎフレーム後に行われる。そこで、ここでは、Ｋフレーム目にＯＬＥＤ特性の検出が行われ、（Ｋ＋ｎ）フレーム目にＴＦＴ特性の検出が行われるものとする。
【０１４０】
まず、Ｋフレーム目において、ＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃに、ＯＬＥＤ特性の検出が行われる（ステップＳ４１０）。このステップＳ４１０によって、映像信号を補正するためのオフセット値および劣化補正係数が求められる。そして、ステップＳ４１０で求められたオフセット値が、新たなオフセット値としてＯＬＥＤ用オフセットメモリ５１ｂに格納される（ステップＳ４２０）。また、ステップＳ４１０で求められた劣化補正係数が、新たな劣化補正係数としてＯＬＥＤ用ゲインメモリ５２ｂに格納される（ステップＳ４３０）。その後、（Ｋ＋ｎ）フレーム目において、ＴＦＴ特性検出期間Ｔｂに、ＴＦＴ特性の検出が行われる（ステップＳ４４０）。このステップＳ４４０によって、映像信号を補正するためのオフセット値およびゲイン値が求められる。そして、ステップＳ４４０で求められたオフセット値が、新たなオフセット値としてＴＦＴ用オフセットメモリ５１ａに格納される（ステップＳ４５０）。また、ステップＳ４４０で求められたゲイン値が、新たなゲイン値としてＴＦＴ用ゲインメモリ５２ａに格納される（ステップＳ４６０）。
【０１４１】
以上のようにして、１つの画素に対応するオフセット値およびゲイン値の更新が行われる。本変形例においては、各フレームに、１つの行についてのＯＬＥＤ特性の検出または１つの行についてのＴＦＴ特性の検出のいずれかが行われる。従って、ＯＬＥＤ特性の検出が行われるフレームにおいては１フレームにつきＯＬＥＤ用オフセットメモリ５１ｂ内のｍ個のオフセット値およびＯＬＥＤ用ゲインメモリ５２ｂ内のｍ個の劣化補正係数の更新が行われ、ＴＦＴ特性の検出が行われるフレームにおいては１フレームにつきＴＦＴ用オフセットメモリ５１ａ内のｍ個のオフセット値およびＴＦＴ用ゲインメモリ５２ａ内のｍ個のゲイン値の更新が行われる。
【０１４２】
＜５．４．３  効果＞
本変形例によれば、各画素について、ｎフレーム毎（ｎは画素マトリクスを構成する行の数）にＯＬＥＤ特性の検出とＴＦＴ特性の検出とが交互に行われる。そして、上記実施形態と同様に、ＯＬＥＤ特性の検出結果およびＴＦＴ特性の検出結果の双方を考慮して求められた補正データを用いて、外部から送られる映像信号が補正される。このため、各画素回路１１ａ内の有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを発光させる際に、駆動トランジスタ（トランジスタＴ２）の劣化および有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの劣化が補償されるような大きさの駆動電流が有機ＥＬ素子ＯＬＥＤに供給される。ここで、本変形例においても、データ線Ｓは、各画素回路１１内の有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを所望の輝度で発光させるための輝度信号を伝達する信号線として用いられるだけでなく、特性検出用の信号線としても用いられる。従って、回路規模の増大を抑制しつつ、駆動トランジスタ（トランジスタＴ２）の劣化および有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの劣化の双方を同時に補償することが可能となる。
【０１４３】
＜５．５  第５の変形例＞
一般に、有機ＥＬ表示装置においては、１フレーム期間は、先頭行から最終行への順番で順次に画素への映像信号の書き込みが行われる期間である垂直走査期間と、映像信号の書き込みを最終行から先頭行に戻すために設けられている期間である垂直帰線期間（垂直同期期間）とからなる。そして、有機ＥＬ表示装置の動作中、図３４に示すように、垂直走査期間Ｔｖと垂直帰線期間Ｔｆとが交互に繰り返される。ところで、上記実施形態においては、垂直走査期間Ｔｖ中にＴＦＴ特性の検出およびＯＬＥＤ特性の検出が行われていた。しかしながら、本発明はこれに限定されず、垂直帰線期間Ｔｆ中にＴＦＴ特性の検出およびＯＬＥＤ特性の検出が行われる構成（本変形例の構成）を採用することもできる。
【０１４４】
本変形例においては、例えば（ｋ＋１）フレーム目の垂直帰線期間Ｔｆに１行目についてのＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の検出が行われるとすると、（ｋ＋２）フレーム目の垂直帰線期間Ｔｆには、２行目についてのＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の検出が行われ、（ｋ＋３）フレーム目の垂直帰線期間Ｔｆには、３行目についてのＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の検出が行われ、（ｋ＋ｎ）フレーム目の垂直帰線期間Ｔｆには、ｎ行目についてのＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の検出が行われる。すなわち、フレームが変わる毎にモニタ行も変わる。なお、垂直走査期間Ｔｖには、一般的な有機ＥＬ表示装置と同様の動作が行われる。
【０１４５】
図３５は、モニタ行に含まれる画素回路１１（ｉ行ｊ列の画素回路１１とする）の垂直帰線期間Ｔｆ中の動作について説明するためのタイミングチャートである。図３５に示すように、本変形例においては、垂直帰線期間Ｔｆに、検出準備期間ＴａとＴＦＴ特性検出期間ＴｂとＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃと発光準備期間Ｔｄとが含まれている。
【０１４６】
本変形例における垂直帰線期間Ｔｆ中の検出準備期間Ｔａ，ＴＦＴ特性検出期間Ｔｂ，ＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃ，および発光準備期間Ｔｄには、それぞれ上記実施形態における検出準備期間Ｔａ，ＴＦＴ特性検出期間Ｔｂ，ＯＬＥＤ特性検出期間Ｔｃ，および発光準備期間Ｔｄと同様の動作が行われる。このようにして、垂直走査期間Ｔｖではなく垂直帰線期間ＴｆにＴＦＴ特性およびＯＬＥＤ特性の検出を行うことも可能である。
【０１４７】
ところで、非モニタ行においては、垂直走査期間Ｔｖ中の選択期間に目標輝度に応じた書き込みが行われ、当該書き込みに基づく有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの発光がほぼ１フレーム期間継続される。これに対して、モニタ行においては、垂直走査期間Ｔｖ中の選択期間に書き込みが行われるが、垂直帰線期間Ｔｆになると有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの発光が一時的に中断される。このため、垂直帰線期間Ｔｆ終了後にモニタ行で有機ＥＬ素子ＯＬＥＤが発光するよう、垂直帰線期間Ｔｆ中の発光準備期間Ｔｄにデータ電位Ｄ（ｉ，ｊ）に基づく書き込みが行われる。
【０１４８】
すなわち、モニタ行においては、図３６に示すように、まず、先行フレームの垂直走査期間Ｔｖ中の選択期間における書き込みに基づいて有機ＥＬ素子ＯＬＥＤが発光する。その後、垂直帰線期間Ｔｆに、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤが一時的に消灯する。その後、垂直帰線期間Ｔｆ中の発光準備期間Ｔｄにおける書き込みに基づいて有機ＥＬ素子ＯＬＥＤが発光する。これに関し、発光準備期間Ｔｄにデータ電位Ｄ（ｉ，ｊ）に基づく書き込みが可能となるよう、垂直走査期間Ｔｖ中の選択期間における書き込み後に、該当のデータを保持しておく必要がある。この点に関し、保持すべきデータは１ライン分のデータにすぎないので、メモリ容量の増大は僅かである。これに対して、上記実施形態においては、モニタ行と非モニタ行とで１水平走査期間の長さが異なるので、コントロール回路２０からのデータ転送のタイミングによっては、数十ライン分のラインメモリが必要となることもある。以上より、本変形例によれば、上記実施形態と比較して、必要となるメモリ容量が低減される。
【０１４９】
なお、垂直帰線期間Ｔｆにモニタ行での有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの発光が一時的に中断されることを考慮して、垂直走査期間Ｔｖ中の選択期間（図３６で符号Ｔｚで示す期間）に予め本来の階調電圧よりも大きい階調電圧に相当するデータ電位がデータ線Ｓに与えられるようにしても良い。換言すれば、任意の有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを着目有機ＥＬ素子と定義したとき、着目有機ＥＬ素子がモニタ行に含まれている場合、垂直走査期間Ｔｖ中の選択期間には、着目有機ＥＬ素子が非モニタ行に含まれている場合における階調電圧よりも大きい階調電圧に相当するデータ電位がソースドライバ３０によってデータ線Ｓ（ｊ）に与えられるようにしても良い。これにより、表示品位の低下が抑制される。
【０１５０】
＜６．その他＞
本発明は、上記実施形態および変形例に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。例えば、本発明を適用可能な有機ＥＬ表示装置は、上記実施形態で例示した画素回路１１を備えるものに限定されるものではない。画素回路は、少なくとも、電流によって制御される電気光学素子（有機ＥＬ素子ＯＬＥＤ），トランジスタＴ１〜Ｔ３，およびコンデンサＣｓｔを備えていれば、上記実施形態で例示した構成以外の構成であっても良い。
【符号の説明】
【０１５１】
１〜４…有機ＥＬ表示装置
１０…表示部
１１…画素回路
２０…コントロール回路
３０…ソースドライバ
３１…駆動信号発生回路
３２…信号変換回路
３３…出力部
４０…ゲートドライバ
５０…補正データ記憶部
５１ａ…ＴＦＴ用オフセットメモリ
５１ｂ…ＯＬＥＤ用オフセットメモリ
５２ａ…ＴＦＴ用ゲインメモリ
５２ｂ…ＯＬＥＤ用ゲインメモリ
６０…温度センサ
２０１…モニタ行記憶部
２０２…温度変化補償部
３３０…出力／電流モニタ回路
Ｔ１〜Ｔ３…トランジスタ
Ｃｓｔ…コンデンサ
Ｇ１（１）〜Ｇ１（ｎ）…走査線
Ｇ２（１）〜Ｇ２（ｎ）…モニタ制御線
Ｓ（１）〜Ｓ（ｍ）…データ線
ＥＬＶＤＤ…ハイレベル電源電圧，ハイレベル電源線
ＥＬＶＳＳ…ローレベル電源電圧，ローレベル電源線
Ｔａ…検出準備期間
Ｔｂ…ＴＦＴ特性検出期間
Ｔｃ…ＯＬＥＤ特性検出期間
Ｔｄ…発光準備期間
ＴＬ…発光期間
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
2014208459.tif 000012
【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
2014208459.tif 000033
【図３２】
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【図３３】
2014208459.tif 000035
【図３４】
2014208459.tif 000036
【図３５】
2014208459.tif 000037
【図３６】
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【図３７】
2014208459.tif 000039
【図３８】
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【図３９】
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【図４０】
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【手続補正書】
【提出日】平成28年11月21日(2016.11.21)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
アクティブマトリクス型の表示装置であって、
電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを有する表示部と、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動部と、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして記憶する補正データ記憶部と、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正部と
を備え、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動部は、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線を駆動し、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線を駆動し、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位を前記データ線に与え、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位を前記データ線に与え、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位を前記データ線に与え、
前記特性検出処理期間は、垂直走査期間内に設けられ、
任意の電気光学素子を着目電気光学素子と定義したとき、前記画素回路駆動部は、前記着目電気光学素子が前記モニタ行に含まれている場合、前記発光準備期間には、前記着目電気光学素子が前記非モニタ行に含まれている場合における階調電圧よりも大きい階調電圧に相当するデータ信号の電位を前記データ線に与えることを特徴とする、表示装置。
【請求項２】
アクティブマトリクス型の表示装置であって、
電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを有する表示部と、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動部と、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして記憶する補正データ記憶部と、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正部と
を備え、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動部は、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線を駆動し、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線を駆動し、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位を前記データ線に与え、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位を前記データ線に与え、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位を前記データ線に与え、
前記特性検出処理期間は、垂直帰線期間内に設けられ、
任意の電気光学素子を着目電気光学素子と定義したとき、前記画素回路駆動部は、前記着目電気光学素子が前記モニタ行に含まれている場合、前記モニタ行に含まれる画素回路への前記データ信号の書き込みを垂直走査期間に行う際には、前記着目電気光学素子が前記非モニタ行に含まれている場合における階調電圧よりも大きい階調電圧に相当するデータ信号の電位を前記データ線に与えることを特徴とする、表示装置。
【請求項３】
アクティブマトリクス型の表示装置であって、
電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを有する表示部と、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動部と、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして記憶する補正データ記憶部と、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正部と
を備え、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動部は、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線を駆動し、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線を駆動し、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位を前記データ線に与え、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位を前記データ線に与え、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位を前記データ線に与え、
前記特性検出対象回路素子として前記駆動トランジスタのみの特性の検出が行われるフレームと前記特性検出対象回路素子として前記電気光学素子のみの特性の検出が行われるフレームとが存在することを特徴とする、表示装置。
【請求項４】
アクティブマトリクス型の表示装置であって、
電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを有する表示部と、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動部と、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして記憶する補正データ記憶部と、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正部と
を備え、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動部は、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線を駆動し、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線を駆動し、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位を前記データ線に与え、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位を前記データ線に与え、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位を前記データ線に与え、
前記電流測定期間は、前記駆動トランジスタの特性を検出するための電流測定が行われる駆動トランジスタ特性検出期間と前記電気光学素子の特性を検出するための電流測定が行われる電気光学素子特性検出期間とからなり、
前記画素回路駆動部は、前記駆動トランジスタ特性検出期間と前記電気光学素子特性検出期間とで前記第２の所定電位として異なる電位を前記データ線に与えることを特徴とする、表示装置。
【請求項５】
アクティブマトリクス型の表示装置であって、
電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを有する表示部と、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動部と、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして記憶する補正データ記憶部と、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正部と、
温度を検出する温度検出部と、
前記特性データに対して前記温度検出部で検出された温度に基づく補正を施す温度変化補償部と
を備え、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動部は、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線を駆動し、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線を駆動し、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位を前記データ線に与え、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位を前記データ線に与え、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位を前記データ線に与え、
前記補正データ記憶部には、前記温度変化補償部による補正が施されたデータが前記補正データとして記憶されることを特徴とする、表示装置。
【請求項６】
アクティブマトリクス型の表示装置であって、
電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを有する表示部と、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動部と、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして記憶する補正データ記憶部と、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正部と、
電源オフの際に最後に前記特性検出処理が行われた領域を特定する情報を記憶するモニタ領域記憶部と
を備え、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動部は、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線を駆動し、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線を駆動し、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位を前記データ線に与え、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位を前記データ線に与え、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位を前記データ線に与え、
電源オン後には、前記モニタ領域記憶部に記憶されている情報に基づいて得られる領域近傍の領域から、前記特性検出処理が行われることを特徴とする、表示装置。
【請求項７】
前記検出準備期間に前記データ線に与える電位をＶｍｇとし、前記駆動トランジスタ特性検出期間に前記データ線に与える電位をＶｍ＿ＴＦＴとし、前記電気光学素子特性検出期間に前記データ線に与える電位をＶｍ＿ｏｌｅｄとしたとき、Ｖｍｇの値は以下の式を満たすように定められていることを特徴とする、請求項４に記載の表示装置：
Ｖｍｇ＞Ｖｍ＿ＴＦＴ＋Ｖｔｈ（Ｔ２）
Ｖｍｇ＜Ｖｍ＿ｏｌｅｄ＋Ｖｔｈ（Ｔ２）
ここで、Ｖｔｈ（Ｔ２）は前記駆動トランジスタの閾値電圧である。
【請求項８】
前記検出準備期間に前記データ線に与える電位をＶｍｇとし、前記駆動トランジスタ特性検出期間に前記データ線に与える電位をＶｍ＿ＴＦＴとしたとき、Ｖｍ＿ＴＦＴの値は以下の式を満たすように定められていることを特徴とする、請求項４に記載の表示装置：
Ｖｍ＿ＴＦＴ＜Ｖｍｇ−Ｖｔｈ（Ｔ２）
Ｖｍ＿ＴＦＴ＜ＥＬＶＳＳ＋Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）
ここで、Ｖｔｈ（Ｔ２）は前記駆動トランジスタの閾値電圧であって、Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）は前記電気光学素子の発光閾値電圧であって、ＥＬＶＳＳは前記電気光学素子の陰極の電位である。
【請求項９】
前記検出準備期間に前記データ線に与える電位をＶｍｇとし、前記電気光学素子特性検出期間に前記データ線に与える電位をＶｍ＿ｏｌｅｄとしたとき、Ｖｍ＿ｏｌｅｄの値は以下の式を満たすように定められていることを特徴とする、請求項４に記載の表示装置：
Ｖｍ＿ｏｌｅｄ＞Ｖｍｇ−Ｖｔｈ（Ｔ２）
Ｖｍ＿ｏｌｅｄ＞ＥＬＶＳＳ＋Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）
ここで、Ｖｔｈ（Ｔ２）は前記駆動トランジスタの閾値電圧であって、Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）は前記電気光学素子の発光閾値電圧であって、ＥＬＶＳＳは前記電気光学素子の陰極の電位である。
【請求項１０】
前記検出準備期間に前記データ線に与える電位をＶｍｇとし、前記駆動トランジスタ特性検出期間に前記データ線に与える電位をＶｍ＿ＴＦＴとし、前記電気光学素子特性検出期間に前記データ線に与える電位をＶｍ＿ｏｌｅｄとしたとき、以下の関係を満たすようにＶｍｇ，Ｖｍ＿ＴＦＴ，およびＶｍ＿ｏｌｅｄの値が定められていることを特徴とする、請求項４に記載の表示装置：
Ｖｍ＿ＴＦＴ＜Ｖｍｇ−Ｖｔｈ（Ｔ２）
Ｖｍ＿ＴＦＴ＜ＥＬＶＳＳ＋Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）
Ｖｍ＿ｏｌｅｄ＞Ｖｍｇ−Ｖｔｈ（Ｔ２）
Ｖｍ＿ｏｌｅｄ＞ＥＬＶＳＳ＋Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）
ここで、Ｖｔｈ（Ｔ２）は前記駆動トランジスタの閾値電圧であって、Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）は前記電気光学素子の発光閾値電圧であって、ＥＬＶＳＳは前記電気光学素子の陰極の電位である。
【請求項１１】
前記画素回路駆動部は、前記データ信号を前記データ線に印加する機能および前記データ線に流れている電流を測定する機能を有する出力／電流モニタ回路を含み、
前記出力／電流モニタ回路は、
前記データ信号が非反転入力端子に与えられ、前記データ線に反転入力端子が接続されたオペアンプと、
前記データ線に一旦が接続され、前記オペアンプの出力端子に他端が接続された第２のコンデンサと、
前記データ線に一旦が接続され、前記オペアンプの出力端子に他端が接続されたスイッチと
を含み、
前記電流測定期間には、前記スイッチをオン状態にして前記第２の所定電位を前記データ線に与えた後、前記スイッチをオフ状態にすることによって前記データ線に流れている電流を測定することを特徴とする、請求項１から６までのいずれか１項に記載の表示装置。
【請求項１２】
複数本のデータ線につき１つの出力／電流モニタ回路が設けられ、
所定期間毎に前記複数本のデータ線が順次に前記出力／電流モニタ回路に電気的に接続されることを特徴とする、請求項１１に記載の表示装置。
【請求項１３】
前記特性検出処理は、１フレーム期間につき前記画素マトリクスの１つの行のみに対して行われることを特徴とする、請求項１から６までのいずれか１項に記載の表示装置。
【請求項１４】
電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを備えた表示装置の駆動方法であって、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動ステップと、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして、予め用意された補正データ記憶部に記憶させる補正データ記憶ステップと、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正ステップと
を含み、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動ステップでは、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線が駆動され、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線が駆動され、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位が前記データ線に与えられ、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位が前記データ線に与えられ、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位が前記データ線に与えられ、
前記特性検出処理期間は、垂直走査期間内に設けられ、
任意の電気光学素子を着目電気光学素子と定義したとき、前記画素回路駆動ステップでは、前記着目電気光学素子が前記モニタ行に含まれている場合、前記発光準備期間には、前記着目電気光学素子が前記非モニタ行に含まれている場合における階調電圧よりも大きい階調電圧に相当するデータ信号の電位が前記データ線に与えられることを特徴とする、駆動方法。
【請求項１５】
電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを備えた表示装置の駆動方法であって、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動ステップと、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして、予め用意された補正データ記憶部に記憶させる補正データ記憶ステップと、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正ステップと
を含み、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動ステップでは、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線が駆動され、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線が駆動され、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位が前記データ線に与えられ、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位が前記データ線に与えられ、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位が前記データ線に与えられ、
前記特性検出処理期間は、垂直帰線期間内に設けられ、
任意の電気光学素子を着目電気光学素子と定義したとき、前記画素回路駆動ステップでは、前記着目電気光学素子が前記モニタ行に含まれている場合、前記モニタ行に含まれる画素回路への前記データ信号の書き込みを垂直走査期間に行う際には、前記着目電気光学素子が前記非モニタ行に含まれている場合における階調電圧よりも大きい階調電圧に相当するデータ信号の電位が前記データ線に与えられることを特徴とする、駆動方法。
【請求項１６】
電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを備えた表示装置の駆動方法であって、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動ステップと、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして、予め用意された補正データ記憶部に記憶させる補正データ記憶ステップと、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正ステップと
を含み、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動ステップでは、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線が駆動され、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線が駆動され、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位が前記データ線に与えられ、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位が前記データ線に与えられ、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位が前記データ線に与えられ、
前記特性検出対象回路素子として前記駆動トランジスタのみの特性の検出が行われるフレームと前記特性検出対象回路素子として前記電気光学素子のみの特性の検出が行われるフレームとが存在することを特徴とする、駆動方法。
【請求項１７】
電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを備えた表示装置の駆動方法であって、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動ステップと、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして、予め用意された補正データ記憶部に記憶させる補正データ記憶ステップと、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正ステップと
を含み、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動ステップでは、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線が駆動され、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線が駆動され、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位が前記データ線に与えられ、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位が前記データ線に与えられ、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位が前記データ線に与えられ、
前記電流測定期間は、前記駆動トランジスタの特性を検出するための電流測定が行われる駆動トランジスタ特性検出期間と前記電気光学素子の特性を検出するための電流測定が行われる電気光学素子特性検出期間とからなり、
前記画素回路駆動ステップでは、前記駆動トランジスタ特性検出期間と前記電気光学素子特性検出期間とで前記第２の所定電位として異なる電位が前記データ線に与えられることを特徴とする、駆動方法。
【請求項１８】
電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを備えた表示装置の駆動方法であって、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動ステップと、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして、予め用意された補正データ記憶部に記憶させる補正データ記憶ステップと、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正ステップと、
温度を検出する温度検出ステップと、
前記特性データに対して前記温度検出ステップで検出された温度に基づく補正を施す温度変化補償ステップと
を含み、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動ステップでは、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線が駆動され、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線が駆動され、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位が前記データ線に与えられ、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位が前記データ線に与えられ、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位が前記データ線に与えられ、
前記補正データ記憶ステップでは、前記温度変化補償ステップによる補正が施されたデータが前記補正データとして前記補正データ記憶部に記憶されることを特徴とする、駆動方法。
【請求項１９】
電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを備えた表示装置の駆動方法であって、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動ステップと、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして、予め用意された補正データ記憶部に記憶させる補正データ記憶ステップと、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正ステップと、
電源オフの際に最後に前記特性検出処理が行われた領域を特定する情報を記憶するモニタ領域記憶ステップと
を含み、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動ステップでは、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線が駆動され、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線が駆動され、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位が前記データ線に与えられ、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位が前記データ線に与えられ、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位が前記データ線に与えられ、
電源オン後には、前記モニタ領域記憶ステップで記憶された情報に基づいて得られる領域近傍の領域から、前記特性検出処理が行われることを特徴とする、駆動方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１４】
本発明の第１の局面は、アクティブマトリクス型の表示装置であって、
電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを有する表示部と、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動部と、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして記憶する補正データ記憶部と、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正部と
を備え、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動部は、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線を駆動し、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線を駆動し、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位を前記データ線に与え、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位を前記データ線に与え、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位を前記データ線に与え、
前記特性検出処理期間は、垂直走査期間内に設けられ、
任意の電気光学素子を着目電気光学素子と定義したとき、前記画素回路駆動部は、前記着目電気光学素子が前記モニタ行に含まれている場合、前記発光準備期間には、前記着目電気光学素子が前記非モニタ行に含まれている場合における階調電圧よりも大きい階調電圧に相当するデータ信号の電位を前記データ線に与えることを特徴とする。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１５】
本発明の第２の局面は、アクティブマトリクス型の表示装置であって、
電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを有する表示部と、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動部と、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして記憶する補正データ記憶部と、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正部と
を備え、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動部は、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線を駆動し、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線を駆動し、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位を前記データ線に与え、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位を前記データ線に与え、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位を前記データ線に与え、
前記特性検出処理期間は、垂直帰線期間内に設けられ、
任意の電気光学素子を着目電気光学素子と定義したとき、前記画素回路駆動部は、前記着目電気光学素子が前記モニタ行に含まれている場合、前記モニタ行に含まれる画素回路への前記データ信号の書き込みを垂直走査期間に行う際には、前記着目電気光学素子が前記非モニタ行に含まれている場合における階調電圧よりも大きい階調電圧に相当するデータ信号の電位を前記データ線に与えることを特徴とする。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１６】
本発明の第３の局面は、アクティブマトリクス型の表示装置であって、
電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを有する表示部と、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動部と、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして記憶する補正データ記憶部と、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正部と
を備え、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動部は、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線を駆動し、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線を駆動し、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位を前記データ線に与え、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位を前記データ線に与え、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位を前記データ線に与え、
前記特性検出対象回路素子として前記駆動トランジスタのみの特性の検出が行われるフレームと前記特性検出対象回路素子として前記電気光学素子のみの特性の検出が行われるフレームとが存在することを特徴とする。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１７】
本発明の第４の局面は、アクティブマトリクス型の表示装置であって、
電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを有する表示部と、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動部と、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして記憶する補正データ記憶部と、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正部と
を備え、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動部は、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線を駆動し、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線を駆動し、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位を前記データ線に与え、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位を前記データ線に与え、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位を前記データ線に与え、
前記電流測定期間は、前記駆動トランジスタの特性を検出するための電流測定が行われる駆動トランジスタ特性検出期間と前記電気光学素子の特性を検出するための電流測定が行われる電気光学素子特性検出期間とからなり、
前記画素回路駆動部は、前記駆動トランジスタ特性検出期間と前記電気光学素子特性検出期間とで前記第２の所定電位として異なる電位を前記データ線に与えることを特徴とする。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１８】
本発明の第５の局面は、アクティブマトリクス型の表示装置であって、
電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを有する表示部と、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動部と、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして記憶する補正データ記憶部と、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正部と、
温度を検出する温度検出部と、
前記特性データに対して前記温度検出部で検出された温度に基づく補正を施す温度変化補償部と
を備え、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動部は、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線を駆動し、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線を駆動し、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位を前記データ線に与え、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位を前記データ線に与え、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位を前記データ線に与え、
前記補正データ記憶部には、前記温度変化補償部による補正が施されたデータが前記補正データとして記憶されることを特徴とする。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１９】
本発明の第６の局面は、アクティブマトリクス型の表示装置であって、
電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを有する表示部と、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動部と、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして記憶する補正データ記憶部と、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正部と、
電源オフの際に最後に前記特性検出処理が行われた領域を特定する情報を記憶するモニタ領域記憶部と
を備え、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動部は、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線を駆動し、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線を駆動し、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位を前記データ線に与え、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位を前記データ線に与え、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位を前記データ線に与え、
電源オン後には、前記モニタ領域記憶部に記憶されている情報に基づいて得られる領域近傍の領域から、前記特性検出処理が行われることを特徴とする。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２０】
本発明の第７の局面は、本発明の第４の局面において、
前記検出準備期間に前記データ線に与える電位をＶｍｇとし、前記駆動トランジスタ特性検出期間に前記データ線に与える電位をＶｍ＿ＴＦＴとし、前記電気光学素子特性検出期間に前記データ線に与える電位をＶｍ＿ｏｌｅｄとしたとき、Ｖｍｇの値は以下の式を満たすように定められていることを特徴とする。
Ｖｍｇ＞Ｖｍ＿ＴＦＴ＋Ｖｔｈ（Ｔ２）
Ｖｍｇ＜Ｖｍ＿ｏｌｅｄ＋Ｖｔｈ（Ｔ２）
ここで、Ｖｔｈ（Ｔ２）は前記駆動トランジスタの閾値電圧である。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２１】
本発明の第８の局面は、本発明の第４の局面において、
前記検出準備期間に前記データ線に与える電位をＶｍｇとし、前記駆動トランジスタ特性検出期間に前記データ線に与える電位をＶｍ＿ＴＦＴとしたとき、Ｖｍ＿ＴＦＴの値は以下の式を満たすように定められていることを特徴とする。
Ｖｍ＿ＴＦＴ＜Ｖｍｇ−Ｖｔｈ（Ｔ２）
Ｖｍ＿ＴＦＴ＜ＥＬＶＳＳ＋Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）
ここで、Ｖｔｈ（Ｔ２）は前記駆動トランジスタの閾値電圧であって、Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）は前記電気光学素子の発光閾値電圧であって、ＥＬＶＳＳは前記電気光学素子の陰極の電位である。
【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２２】
本発明の第９の局面は、本発明の第４の局面において、
前記検出準備期間に前記データ線に与える電位をＶｍｇとし、前記電気光学素子特性検出期間に前記データ線に与える電位をＶｍ＿ｏｌｅｄとしたとき、Ｖｍ＿ｏｌｅｄの値は以下の式を満たすように定められていることを特徴とする。
Ｖｍ＿ｏｌｅｄ＞Ｖｍｇ−Ｖｔｈ（Ｔ２）
Ｖｍ＿ｏｌｅｄ＞ＥＬＶＳＳ＋Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）
ここで、Ｖｔｈ（Ｔ２）は前記駆動トランジスタの閾値電圧であって、Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）は前記電気光学素子の発光閾値電圧であって、ＥＬＶＳＳは前記電気光学素子の陰極の電位である。
【手続補正１１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２３】
本発明の第１０の局面は、本発明の第４の局面において、
前記検出準備期間に前記データ線に与える電位をＶｍｇとし、前記駆動トランジスタ特性検出期間に前記データ線に与える電位をＶｍ＿ＴＦＴとし、前記電気光学素子特性検出期間に前記データ線に与える電位をＶｍ＿ｏｌｅｄとしたとき、以下の関係を満たすようにＶｍｇ，Ｖｍ＿ＴＦＴ，およびＶｍ＿ｏｌｅｄの値が定められていることを特徴とする。
Ｖｍ＿ＴＦＴ＜Ｖｍｇ−Ｖｔｈ（Ｔ２）
Ｖｍ＿ＴＦＴ＜ＥＬＶＳＳ＋Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）
Ｖｍ＿ｏｌｅｄ＞Ｖｍｇ−Ｖｔｈ（Ｔ２）
Ｖｍ＿ｏｌｅｄ＞ＥＬＶＳＳ＋Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）
ここで、Ｖｔｈ（Ｔ２）は前記駆動トランジスタの閾値電圧であって、Ｖｔｈ（ｏｌｅｄ）は前記電気光学素子の発光閾値電圧であって、ＥＬＶＳＳは前記電気光学素子の陰極の電位である。
【手続補正１２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２４】
本発明の第１１の局面は、本発明の第１から第６までのいずれかの局面において、
前記画素回路駆動部は、前記データ信号を前記データ線に印加する機能および前記データ線に流れている電流を測定する機能を有する出力／電流モニタ回路を含み、
前記出力／電流モニタ回路は、
前記データ信号が非反転入力端子に与えられ、前記データ線に反転入力端子が接続されたオペアンプと、
前記データ線に一旦が接続され、前記オペアンプの出力端子に他端が接続された第２のコンデンサと、
前記データ線に一旦が接続され、前記オペアンプの出力端子に他端が接続されたスイッチと
を含み、
前記電流測定期間には、前記スイッチをオン状態にして前記第２の所定電位を前記データ線に与えた後、前記スイッチをオフ状態にすることによって前記データ線に流れている電流を測定することを特徴とする。
【手続補正１３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２５】
本発明の第１２の局面は、本発明の第１１の局面において、
複数本のデータ線につき１つの出力／電流モニタ回路が設けられ、
所定期間毎に前記複数本のデータ線が順次に前記出力／電流モニタ回路に電気的に接続されることを特徴とする。
【手続補正１４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２６】
本発明の第１３の局面は、本発明の第１から第６までのいずれかの局面において、
前記特性検出処理は、１フレーム期間につき前記画素マトリクスの１つの行のみに対して行われることを特徴とする。
【手続補正１５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２７
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正１６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２８
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正１７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２９
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正１８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３０】
本発明の第１４の局面は、電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを備えた表示装置の駆動方法であって、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動ステップと、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして、予め用意された補正データ記憶部に記憶させる補正データ記憶ステップと、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正ステップと
を含み、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動ステップでは、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線が駆動され、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線が駆動され、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位が前記データ線に与えられ、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位が前記データ線に与えられ、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位が前記データ線に与えられ、
前記特性検出処理期間は、垂直走査期間内に設けられ、
任意の電気光学素子を着目電気光学素子と定義したとき、前記画素回路駆動ステップでは、前記着目電気光学素子が前記モニタ行に含まれている場合、前記発光準備期間には、前記着目電気光学素子が前記非モニタ行に含まれている場合における階調電圧よりも大きい階調電圧に相当するデータ信号の電位が前記データ線に与えられることを特徴とする。
本発明の第１５の局面は、電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを備えた表示装置の駆動方法であって、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動ステップと、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして、予め用意された補正データ記憶部に記憶させる補正データ記憶ステップと、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正ステップと
を含み、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動ステップでは、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線が駆動され、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線が駆動され、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位が前記データ線に与えられ、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位が前記データ線に与えられ、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位が前記データ線に与えられ、
前記特性検出処理期間は、垂直帰線期間内に設けられ、
任意の電気光学素子を着目電気光学素子と定義したとき、前記画素回路駆動ステップでは、前記着目電気光学素子が前記モニタ行に含まれている場合、前記モニタ行に含まれる画素回路への前記データ信号の書き込みを垂直走査期間に行う際には、前記着目電気光学素子が前記非モニタ行に含まれている場合における階調電圧よりも大きい階調電圧に相当するデータ信号の電位が前記データ線に与えられることを特徴とする。
本発明の第１６の局面は、電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを備えた表示装置の駆動方法であって、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動ステップと、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして、予め用意された補正データ記憶部に記憶させる補正データ記憶ステップと、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正ステップと
を含み、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動ステップでは、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線が駆動され、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線が駆動され、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位が前記データ線に与えられ、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位が前記データ線に与えられ、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位が前記データ線に与えられ、
前記特性検出対象回路素子として前記駆動トランジスタのみの特性の検出が行われるフレームと前記特性検出対象回路素子として前記電気光学素子のみの特性の検出が行われるフレームとが存在することを特徴とする。
本発明の第１７の局面は、電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを備えた表示装置の駆動方法であって、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動ステップと、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして、予め用意された補正データ記憶部に記憶させる補正データ記憶ステップと、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正ステップと
を含み、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動ステップでは、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線が駆動され、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線が駆動され、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位が前記データ線に与えられ、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位が前記データ線に与えられ、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位が前記データ線に与えられ、
前記電流測定期間は、前記駆動トランジスタの特性を検出するための電流測定が行われる駆動トランジスタ特性検出期間と前記電気光学素子の特性を検出するための電流測定が行われる電気光学素子特性検出期間とからなり、
前記画素回路駆動ステップでは、前記駆動トランジスタ特性検出期間と前記電気光学素子特性検出期間とで前記第２の所定電位として異なる電位が前記データ線に与えられることを特徴とする。
本発明の第１８の局面は、電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを備えた表示装置の駆動方法であって、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動ステップと、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして、予め用意された補正データ記憶部に記憶させる補正データ記憶ステップと、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正ステップと、
温度を検出する温度検出ステップと、
前記特性データに対して前記温度検出ステップで検出された温度に基づく補正を施す温度変化補償ステップと
を含み、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動ステップでは、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線が駆動され、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線が駆動され、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位が前記データ線に与えられ、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位が前記データ線に与えられ、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位が前記データ線に与えられ、
前記補正データ記憶ステップでは、前記温度変化補償ステップによる補正が施されたデータが前記補正データとして前記補正データ記憶部に記憶されることを特徴とする。
本発明の第１９の局面は、電流によって輝度が制御される電気光学素子および前記電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタをそれぞれが含むｎ×ｍ個（ｎおよびｍは２以上の整数）の画素回路からなるｎ行×ｍ列の画素マトリクスと、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられた走査線と、前記画素マトリクスの各行に対応するように設けられたモニタ制御線と、前記画素マトリクスの各列に対応するように設けられたデータ線とを備えた表示装置の駆動方法であって、
フレーム期間に前記電気光学素子または前記駆動トランジスタの少なくとも一方を含む特性検出対象回路素子の特性を検出する特性検出処理が行われるよう、かつ、各電気光学素子が目標輝度に応じて発光するよう、前記走査線，前記モニタ制御線，および前記データ線を駆動する画素回路駆動ステップと、
前記特性検出処理の結果に基づいて得られる特性データを、映像信号を補正するための補正データとして、予め用意された補正データ記憶部に記憶させる補正データ記憶ステップと、
前記補正データ記憶部に記憶されている補正データに基づいて前記映像信号を補正して、前記ｎ×ｍ個の画素回路に供給すべきデータ信号を生成する映像信号補正ステップと、
電源オフの際に最後に前記特性検出処理が行われた領域を特定する情報を記憶するモニタ領域記憶ステップと
を含み、
各画素回路は、
前記電気光学素子と、
前記走査線に制御端子が接続され、前記データ線に第１導通端子が接続され、前記駆動トランジスタの制御端子に第２導通端子が接続された入力トランジスタと、
前記モニタ制御線に制御端子が接続され、前記駆動トランジスタの第２導通端子および前記電気光学素子の陽極に第１導通端子が接続され、前記データ線に第２導通端子が接続されたモニタ制御トランジスタと、
駆動電源電位が第１導通端子に与えられた前記駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタの制御端子の電位を保持するため、一端が前記駆動トランジスタの制御端子に接続された第１のコンデンサと
を含み、
フレーム期間において前記特性検出処理が行われる行をモニタ行と定義し、前記モニタ行以外の行を非モニタ行と定義したとき、前記フレーム期間には、前記モニタ行において前記特性検出対象回路素子の特性を検出する準備が行われる検出準備期間と、前記データ線に流れている電流を測定することによって前記特性検出対象回路素子の特性を検出する電流測定期間と、前記モニタ行において前記電気光学素子を発光させる準備が行われる発光準備期間とからなる特性検出処理期間が含まれ、
前記画素回路駆動ステップでは、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記入力トランジスタがオン状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記入力トランジスタがオフ状態となるよう、前記走査線が駆動され、
前記検出準備期間および前記発光準備期間には前記モニタ制御トランジスタがオフ状態となり、かつ、前記電流測定期間には前記モニタ制御トランジスタがオン状態となるよう、前記モニタ制御線が駆動され、
前記検出準備期間には前記電気光学素子の特性および前記駆動トランジスタの特性に基づいて定められる第１の所定電位が前記データ線に与えられ、前記電流測定期間には前記特性検出対象回路素子の特性に応じた電流を前記データ線に流すための第２の所定電位が前記データ線に与えられ、前記発光準備期間には前記電気光学素子の目標輝度に応じた電位が前記データ線に与えられ、
電源オン後には、前記モニタ領域記憶ステップで記憶された情報に基づいて得られる領域近傍の領域から、前記特性検出処理が行われることを特徴とする。
【手続補正１９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３１】
本発明の第１の局面によれば、電流によって輝度が制御される電気光学素子（例えば有機ＥＬ素子）と当該電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタとを含む画素回路を有する表示装置において、フレーム期間に回路素子（電気光学素子または駆動トランジスタの少なくとも一方）の特性の検出が行われる。そして、その検出結果を考慮して得られる補正データを用いて映像信号が補正される。このようにして補正された映像信号に基づくデータ信号が画素回路に供給されるので、回路素子の劣化が補償されるような大きさの駆動電流が電気光学素子に供給される。ここで、回路素子の特性は、データ線に流れている電流を測定することによって検出される。すなわち、データ線は、各画素回路内の電気光学素子を所望の輝度で発光させるための信号を伝達する信号線として用いられるだけでなく、特性検出用の信号線としても用いられる。このため、回路素子の特性を検出するために新たな信号線を表示部内に設ける必要がない。従って、回路規模の増大を抑制しつつ、回路素子の劣化を補償することが可能となる。
また、垂直帰線期間内に特性検出処理期間が設けられている構成とは異なり、モニタ行における目標輝度に応じた書き込みは１フレーム期間に１回だけ行われれば良い。
また、モニタ行での電気光学素子の発光期間の長さが非モニタ行での電気光学素子の発光期間の長さよりも短くなるということを考慮して、データ信号の電位が調整される。このため、表示品位の低下が抑制される。
【手続補正２０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３２】
本発明の第２の局面によれば、電流によって輝度が制御される電気光学素子（例えば有機ＥＬ素子）と当該電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタとを含む画素回路を有する表示装置において、フレーム期間に回路素子（電気光学素子または駆動トランジスタの少なくとも一方）の特性の検出が行われる。そして、その検出結果を考慮して得られる補正データを用いて映像信号が補正される。このようにして補正された映像信号に基づくデータ信号が画素回路に供給されるので、回路素子の劣化が補償されるような大きさの駆動電流が電気光学素子に供給される。ここで、回路素子の特性は、データ線に流れている電流を測定することによって検出される。すなわち、データ線は、各画素回路内の電気光学素子を所望の輝度で発光させるための信号を伝達する信号線として用いられるだけでなく、特性検出用の信号線としても用いられる。このため、回路素子の特性を検出するために新たな信号線を表示部内に設ける必要がない。従って、回路規模の増大を抑制しつつ、回路素子の劣化を補償することが可能となる。
また、モニタ行については、垂直走査期間における書き込み後、垂直帰線期間中の発光準備期間に再度書き込みが行われる。これに関し、発光準備期間における書き込みが可能となるよう、垂直走査期間における書き込み後に、該当のデータを保持しておく必要がある。この点に関し、保持すべきデータは１ライン分のデータにすぎないので、メモリ容量の増大は僅かである。これに対して、垂直走査期間内に特性検出処理期間が設けられている構成においては、数十ライン分のラインメモリが必要となることもある。以上より、垂直走査期間内に特性検出処理期間が設けられている構成と比較して、必要となるメモリ容量が低減される。
また、モニタ行では電気光学素子が垂直帰線期間中に一時的に消灯するということを考慮して、データ信号の電位が調整される。このため、表示品位の低下が抑制される。
【手続補正２１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３３】
本発明の第３の局面によれば、電流によって輝度が制御される電気光学素子（例えば有機ＥＬ素子）と当該電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタとを含む画素回路を有する表示装置において、フレーム期間に回路素子の特性の検出が行われる（駆動トランジスタのみの特性の検出が行われるフレームと電気光学素子のみの特性の検出が行われるフレームとが存在する）。そして、その検出結果を考慮して得られる補正データを用いて映像信号が補正される。このようにして補正された映像信号に基づくデータ信号が画素回路に供給されるので、回路素子の劣化が補償されるような大きさの駆動電流が電気光学素子に供給される。ここで、回路素子の特性は、データ線に流れている電流を測定することによって検出される。すなわち、データ線は、各画素回路内の電気光学素子を所望の輝度で発光させるための信号を伝達する信号線として用いられるだけでなく、特性検出用の信号線としても用いられる。このため、回路素子の特性を検出するために新たな信号線を表示部内に設ける必要がない。従って、回路規模の増大を抑制しつつ、回路素子の劣化を補償することが可能となる。
また、フレーム期間には、電気光学素子または駆動トランジスタのいずれか一方の特性を検出するための特性検出処理期間が含まれていれば良い。このため、フレーム期間について充分な長さの垂直帰線期間が確保される。
【手続補正２２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３４】
本発明の第４の局面によれば、電流によって輝度が制御される電気光学素子（例えば有機ＥＬ素子）と当該電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタとを含む画素回路を有する表示装置において、フレーム期間に回路素子（電気光学素子および駆動トランジスタ）の特性の検出が行われる。そして、その検出結果を考慮して得られる補正データを用いて映像信号が補正される。このようにして補正された映像信号に基づくデータ信号が画素回路に供給されるので、回路素子の劣化が補償されるような大きさの駆動電流が電気光学素子に供給される。ここで、回路素子の特性は、データ線に流れている電流を測定することによって検出される。すなわち、データ線は、各画素回路内の電気光学素子を所望の輝度で発光させるための信号を伝達する信号線として用いられるだけでなく、特性検出用の信号線としても用いられる。このため、回路素子の特性を検出するために新たな信号線を表示部内に設ける必要がない。従って、回路規模の増大を抑制しつつ、電気光学素子の劣化および駆動トランジスタの劣化の双方を補償することが可能となる。
【手続補正２３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３５】
本発明の第５の局面によれば、電流によって輝度が制御される電気光学素子（例えば有機ＥＬ素子）と当該電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタとを含む画素回路を有する表示装置において、フレーム期間に回路素子（電気光学素子または駆動トランジスタの少なくとも一方）の特性の検出が行われる。そして、その検出結果を考慮して得られる補正データを用いて映像信号が補正される。このようにして補正された映像信号に基づくデータ信号が画素回路に供給されるので、回路素子の劣化が補償されるような大きさの駆動電流が電気光学素子に供給される。ここで、回路素子の特性は、データ線に流れている電流を測定することによって検出される。すなわち、データ線は、各画素回路内の電気光学素子を所望の輝度で発光させるための信号を伝達する信号線として用いられるだけでなく、特性検出用の信号線としても用いられる。このため、回路素子の特性を検出するために新たな信号線を表示部内に設ける必要がない。従って、回路規模の増大を抑制しつつ、回路素子の劣化を補償することが可能となる。
また、温度変化を考慮した補正データを用いて映像信号が補正される。このため、温度の変化に関わらず、回路素子の劣化を充分に補償することが可能となる。
【手続補正２４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３６】
本発明の第６の局面によれば、電流によって輝度が制御される電気光学素子（例えば有機ＥＬ素子）と当該電気光学素子に供給すべき電流を制御するための駆動トランジスタとを含む画素回路を有する表示装置において、フレーム期間に回路素子（電気光学素子または駆動トランジスタの少なくとも一方）の特性の検出が行われる。そして、その検出結果を考慮して得られる補正データを用いて映像信号が補正される。このようにして補正された映像信号に基づくデータ信号が画素回路に供給されるので、回路素子の劣化が補償されるような大きさの駆動電流が電気光学素子に供給される。ここで、回路素子の特性は、データ線に流れている電流を測定することによって検出される。すなわち、データ線は、各画素回路内の電気光学素子を所望の輝度で発光させるための信号を伝達する信号線として用いられるだけでなく、特性検出用の信号線としても用いられる。このため、回路素子の特性を検出するために新たな信号線を表示部内に設ける必要がない。従って、回路規模の増大を抑制しつつ、回路素子の劣化を補償することが可能となる。
また、例えば上方の行と下方の行との間で特性検出対象回路素子の特性の検出回数に差が生じることが防止される。このため、特性検出対象回路素子の劣化に対する補償を画面全体で一様に行うことが可能となり、輝度のばらつきの発生が効果的に防止される。
【手続補正２５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３７】
本発明の第７の局面によれば、駆動トランジスタ特性検出期間には駆動トランジスタが確実にオン状態になり、電気光学素子特性検出期間には電気光学素子が確実にオン状態となる。
【手続補正２６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３８】
本発明の第８の局面によれば、駆動トランジスタ特性検出期間には、駆動トランジスタが確実にオン状態になるとともに電気光学素子が確実にオフ状態となる。
【手続補正２７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３９】
本発明の第９の局面によれば、電気光学素子特性検出期間には、駆動トランジスタが確実にオフ状態になるとともに電気光学素子が確実にオン状態となる。
【手続補正２８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４０】
本発明の第１０の局面によれば、駆動トランジスタ特性検出期間には、駆動トランジスタが確実にオン状態になるとともに電気光学素子が確実にオフ状態となる。また、電気光学素子特性検出期間には、駆動トランジスタが確実にオフ状態になるとともに電気光学素子が確実にオン状態となる。
【手続補正２９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４１】
本発明の第１１の局面によれば、画素回路駆動部の構成を複雑化させることなく、データ線を、各画素回路内の電気光学素子を所望の輝度で発光させるための信号を伝達する信号線として用いるとともに特性検出用の信号線として用いることが可能となる。
【手続補正３０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４２】
本発明の第１２の局面によれば、ソースシェアドドライビング（ＳＳＤ）方式を採用する表示装置において、回路規模の増大を抑制しつつ、回路素子の劣化を補償することが可能となる。
【手続補正３１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４３】
本発明の第１３の局面によれば、フレーム期間には、１つの行のみについての特性検出処理期間が含まれていれば良い。このため、フレーム期間について充分な長さの垂直帰線期間が確保される。
【手続補正３２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４４
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正３３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４５
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正３４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４６
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正３５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４７】
本発明の第１４の局面によれば、本発明の第１の局面と同様の効果を表示装置の駆動方法の発明において奏することができる。
本発明の第１５の局面によれば、本発明の第２の局面と同様の効果を表示装置の駆動方法の発明において奏することができる。
本発明の第１６の局面によれば、本発明の第３の局面と同様の効果を表示装置の駆動方法の発明において奏することができる。
本発明の第１７の局面によれば、本発明の第４の局面と同様の効果を表示装置の駆動方法の発明において奏することができる。
本発明の第１８の局面によれば、本発明の第５の局面と同様の効果を表示装置の駆動方法の発明において奏することができる。
本発明の第１９の局面によれば、本発明の第６の局面と同様の効果を表示装置の駆動方法の発明において奏することができる。
【国際調査報告】
2014208459.tif 000043
2014208459.tif 000044
2014208459.tif 000045
2014208459.tif 000046