(57)【要約】  支援装置は、検査装置と収容装置と処理装置と搬送装置とを備える。検査装置は、生産ラインを流れる回路基板に、複数の検査項目を含む検査を実行し、その検査の結果に基づいて、当該回路基板が不良品であるのか否か判定する。収容装置は、複数の基板収容部を有しており、各々の基板収容部は、検査装置によって不良品と判定された回路基板を収容可能となっている。処理装置は、検査装置による検査の結果に基づいて、不良品と判定された回路基板に、複数の収容部のなかの少なくとも一つを割り当てる。そして、搬送装置は、不良品と判定された回路基板を、処理装置によって割り当てられた収容部へ搬送する。
2015121927.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
部品実装基板の生産ラインで生じた不良品の修正作業を支援する装置であって、
前記生産ラインを流れる回路基板に、複数の検査項目を含む検査を実行し、その検査の結果に基づいて、当該回路基板が不良品であるのか否か判定する検査装置と、
複数の基板収容部を有し、各々の基板収容部が、前記検査装置によって不良品と判定された回路基板を収容可能な収容装置と、
前記検査装置による検査の結果に基づいて、前記不良品と判定された回路基板に、前記複数の収容部のなかの少なくとも一つを割り当てる処理装置と、
前記不良品と判定された回路基板を、前記処理装置によって割り当てられた収容部へ搬送する搬送装置と、
を備える装置。
【請求項２】
前記処理装置は、前記検査装置による各々の検査項目の検査結果に基づいて、前記不良品と判定された回路基板の不良の程度を示す不良指標を計算し、当該計算した不良指標に基づいて、当該回路基板に割り当てる収容部を決定する、請求項１に記載の装置。
【請求項３】
前記不良指標は、各々の検査項目に定められた個別不良指標を、各々の検査項目の検査結果に応じて累積的に加算したものである、請求項２に記載の装置。
【請求項４】
前記複数の検査項目の数をｎとし、各々の検査項目ｉにおける検査結果ｘｉを、良好のときは「１」とし、不良のときは「０」とし、各々の検査項目ｉに対する重み計数をαｉとしたときに、前記不良指標ｙは、下記の数式（１）又は（２）を満たす、請求項２又は３に記載の装置。
【数１】
2015121927.tif 000005
【数２】
2015121927.tif 000006
【請求項５】
前記数式（１）又は（２）において、少なくとも一つの検査項目ｉにおける重み計数αｉと、その他の少なくとも一つの検査項目ｊにおける重み計数αｊとは互いに異なる、請求項４に記載の装置。
【請求項６】
前記処理装置は、前記不良指標が示す不良の程度がより小さいときほど、前記回路基板を前記生産ラインへ再投入するための再投入部のより近くに位置する収容部を、前記不良品と判定された回路基板に割り当てる、請求項２から５のいずれか一項に記載の装置。
【請求項７】
前記処理装置は、前記不良指標に基づいて前記不良と判定された回路基板にランク付けを行い、そのランクに基づいて、前記不良と判定された回路基板に割り当てる収容部を決定する、請求項２から６のいずれか一項に記載の装置。
【請求項８】
前記処理装置は、前記ランク付けにおいて、前記収容装置に既に収容された少なくとも一つの回路基板の不良指標をさらに加味して、新たに不良品と判定された回路基板のランクを決定する、請求項７に記載の装置。
【請求項９】
前記処理装置は、前記ランク付けにおいて、前記新たに不良と判定された回路基板のランクに応じて、前記収容装置に既に収容されている少なくとも一つの回路基板のランクを更新し、更新されたランクに基づいて、前記収容装置に既に収容された少なくとも一つの回路基板に新たな収容部を割り当てる、請求項８に記載の装置。
【請求項１０】
前記搬送装置は、前記収容装置に既に収容された少なくとも一つの回路基板を、前記新たに割り当てられた収容部へ移動する、請求項９に記載の装置。
【請求項１１】
前記収容装置に収容された回路基板の識別情報と、その回路基板を収容する収容部の識別情報とを、関連付けて表示する表示装置をさらに備える、請求項１から１０のいずれか一項に記載の装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
ここで開示する技術は、部品実装基板を生産する技術に関し、特に、生産ラインで生じた不良品の回路基板に修正作業を実施する作業者を支援する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
特開平８−２５６０００号公報に、部品実装基板の生産ラインが記載されている。この生産ラインは、回路基板に電子部品を実装する実装工程、回路基板と電子部品とを接合するはんだ付け工程、回路基板の検査を行う検査工程を備えている。検査工程では、検査装置が、回路基板に対して複数の検査項目を含む検査を実行し、その検査の結果に基づいて、当該回路基板が不良品であるのか否か判定する。不良品と判定された回路基板は、修正工程に送られる。修正工程では、作業者が、不良品と判定された回路基板の修正作業を行い、修正後の回路基板を生産ラインへ再投入する。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
生産ラインの生産性を維持するためには、検査工程で抽出された不良品の回路基板が、作業者による修正作業の後に、生産ラインへ速やかに再投入されることが好ましい。しかしながら、例えば回路基板が多数の不良を有している場合、作業者がその修正作業に多くの時間を必要とすることがある。この場合、作業者による修正作業の間に、検査工程で不良品の回路基板が新たに抽出され、修正作業を必要とする回路基板が修正工程に長く滞留することがある。その結果、生産ラインの生産性が低下するという問題がある。【０００４】
本明細書は、上記の問題を解決又は少なくとも低減するために、作業者による修正作業を支援するための技術を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本技術の一側面により、部品実装基板の生産ラインで生じた不良品の修正作業を支援する装置が開示される。この装置は、検査装置と収容装置と処理装置と搬送装置とを備える。検査装置は、生産ラインを流れる回路基板に、複数の検査項目を含む検査を実行し、その検査の結果に基づいて、当該回路基板が不良品であるのか否か判定する。収容装置は、複数の基板収容部を有しており、各々の基板収容部は、検査装置によって不良品と判定された回路基板を収容可能となっている。処理装置は、検査装置による検査の結果に基づいて、不良品と判定された回路基板に、複数の収容部のなかの少なくとも一つを割り当てる。そして、搬送装置は、不良品と判定された回路基板を、処理装置によって割り当てられた収容部へ搬送する。【０００６】
上記した装置では、検査装置が回路基板を不良品と判定すると、その不良品と判定された回路基板が収容装置に収容される。作業者は、収容装置から回路基板を取り出し、当該回路基板に生じている不良を確認して、必要な修正作業を行うことができる。収容装置は、複数の収容部を有しており、複数の回路基板を収容することができる。収容装置に複数の回路基板が収容された場合、各々の回路基板に生じている不良の程度は様々であり、作業者による修正作業の所要時間も回路基板に応じて相違する。このような場合、作業者は、修正作業の対象として、修正作業の所要時間が短い回路基板を、優先的に選択することが求められる。逆に、修正作業の所要時間が長い回路基板が先に選択されたとすると、修正作業を待つ一又は複数の回路基板が収容装置に長く滞留することになり、生産ラインの生産性を大きく低下させてしまう。【０００７】
上記の点に関して、本技術に係る装置では、不良品の回路基板が収容装置に収容されるときに、当該回路基板を収容すべき一又は複数の収容部が、検査装置による検査の結果に基づいて選択的に決定される。従って、収容装置における各々の回路基板の収容位置は、各々の回路基板に対する検査の結果、即ち、各々の回路基板に生じている不良の程度に関連する。従って、作業者は、収容装置から修正作業を行う回路基板を選択するときに、各々の回路基板が収容されている位置に基づいて、優先的に修正作業を行うべき回路基板を容易に決定することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】実施例の生産システムの構成を模式的に示す。
【図２】不良品操作装置の構成を模式的に示す。
【図３】不良品操作装置の動作の流れを示すフローチャート。
【図４】処理装置が記憶するデータテーブルの一例を示す図。
【図５】データテーブルの更新内容を示す図。
【図６】データテーブルの更新内容を示す図。
【図７】データテーブルの更新内容を示す図。
【図８】既存の回路基板が更新された収容部へ搬送される様子を示す図。
【図９】回路基板が割り当てられた収容部へ搬送される様子を示す図。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
本技術の一実施形態において、処理装置は、検査装置による各々の検査項目の検査結果に基づいて、不良品と判定された回路基板の不良の程度を示す不良指標を計算し、計算した不良指標に基づいて、回路基板に割り当てる収容部を決定することが好ましい。このような構成によると、回路基板に生じている不良の程度を、不良指標によって数値化することができ、回路基板に割り当てる収容部を適切に決定することができる。
【００１０】
ここで、本明細書における検査項目は、その検査結果が二値的（例えば良又は不良）に表現し得る様々なものを含み得る。例えば、検査装置による検査が、回路基板上の１００の検査箇所において、それぞれの検査箇所について二値的な検査結果が得られる場合、当該検査は１００の検査項目を含むといえる。あるいは、一つの検査箇所に対する検査であっても、例えば電子部品の有無とその位置といったように、二つの項目について二値的な検査結果がそれぞれ得られる場合、当該検査は２つの検査項目を含むといえる。また、例えばはんだの量といったように、数値によって表現される単一の指標を、二つの閾値によって三段階に判定するような検査についても、各々の閾値について二値的な検査結果が得られることから、当該検査は２つの検査項目を含むといえる。
【００１１】
上記した実施形態において、不良指標は、各々の検査項目に定められた個別不良指標を、各々の検査項目の検査結果に応じて累積的に加算したものであることが好ましい。典型的には、多くの検査項目について不良と判定された回路基板ほど、必要とされる修正作業の所要時間も長くなることから、回路基板に生じている不良の程度は大きいと考えることができる。従って、上記した手法によれば、不良の程度によく関連する不良指標を、比較的に簡単に決定することができる。
【００１２】
上記した実施形態において、一例ではあるが、不良指標は、下記の数式（１）又は（２）を満たすように決定することができる。なお、下記の数式（１）又は（２）において、ｙは不良指標を示し、ｎは複数の検査項目の数を示し、ｘｉは各々の検査項目ｉにおける検査結果であって、検査結果が良好のときはｘｉ＝１とし、不良のときはｘｉ＝０とし、αｉは各々の検査項目ｉに対する重み計数を示す。重み計数αｉは、前述した個別不良指標に相当し、数式（１）又は（２）によって計算される不良指標は、各々の検査項目ｉに定められた個別不良指標αｉを、各々の検査項目ｉの検査結果に応じて累積的に加算したものといえる。数式（１）の場合、回路基板に生じている不良の程度が大きいときほど、不良指標ｙはより小さな値となる。一方、数式（１）の場合では、回路基板に生じている不良の程度が大きいときほど、不良指標ｙはより大きな値となる。
【００１３】
【数１】
2015121927.tif 000003
【００１４】
【数２】
2015121927.tif 000004
【００１５】
上記した数式（１）又は（２）において、少なくとも一つの検査項目ｉにおける重み計数αｉと、その他の少なくとも一つの検査項目ｊにおける重み計数αｊとは互いに異なることが好ましい。通常、検査項目に応じて、修正作業の所要時間は相違する。例えば、大きな部品に対する修正作業は、微小な部品に対する修正作業よりも容易であり、必要となれる所要時間は短い。そのことから、一例ではあるが、大きな部品に対する検査項目iの重み計数αｉは、小さな部品に対する検査項目ｊの重み計数αｊよりも、小さな値とすることができる。このように、必要とされる修正作業の所要時間に応じて、重み計数αｉ、αｊをそれぞれ決定することにより、不良指標される算出を、回路基板が必要とする修正作業の所要時間により関連させることができる。
【００１６】
上記した各々の実施形態において、処理装置は、不良指標が示す不良の程度がより小さいときほど、回路基板を生産ラインへ再投入するための再投入部のより近くに位置する収容部を、不良品と判定された回路基板に割り当てることが好ましい。不良の程度が小さい回路基板のなかには、ごく簡単な修正作業によって、あるいは、実質的に修正作業を必要とすることなく、生産ラインへ再投入し得るものも含まれる。このような場合に、回路基板が再投入部に近い収容部に位置していれば、作業者は、当該回路基板を生産ラインへごく短時間で再投入することができる。
【００１７】
上記した各々の実施形態において、処理装置は、不良指標に基づいて不良と判定された回路基板にランク付けを行い、そのランクに基づいて、その不良と判定された回路基板に割り当てる収容部を決定することが好ましい。なお、このランク付けは、一例ではあるが、一つの閾値を用いた二段階のランク付けであってもよいし、複数の閾値を用いた多段階のランク付けであってもよい。あるいは、処理装置は、他の回路基板の不良指標との大小関係に基づいて、ランク付けを行ってもよい。
【００１８】
上記に加え、処理装置は、前記したランク付けにおいて、収容装置に既に収容された少なくとも一つの回路基板の不良指標をさらに加味して、新たに不良品と判定された回路基板のランクを決定することが好ましい。このような構成によると、修正作業の対象となるべき順序に関して、新たに不良品と判定された回路基板の優先順位を、収容装置に既に収容された少なくとも一つの回路基板との間で相対的に決定し、その優先順位に応じた収容部を割り当てることができる。
【００１９】
上記に加え、処理装置は、前記したランク付けにおいて、新たに不良品と判定された回路基板のランクに応じて、収容装置に既に収容されている少なくとも一つの回路基板のランクを更新することが好ましい。そして、処理装置は、更新されたランクに基づいて、収容装置に既に収容された少なくとも一つの回路基板に、新たな収容部を割り当てることが好ましい。このような構成によると、収容装置に複数の回路基板が収容されるときに、それらの回路基板が収容装置に収容される順序にかかわらず、各々の回路基板に適切な収容部を割り当てることができる。
【００２０】
上記した実施形態において、搬送装置は、収容装置に既に収容された少なくとも一つの回路基板を、新たに割り当てられた収容部へ移動するものであることが好ましい。このような構成によると、不良品である複数の回路基板を、各々の回路基板の不良の程度に応じて、収容装置の複数の収容部に配列することができる。
【００２１】
本技術の一実施形態では、収容装置に収容された回路基板の識別情報と、その回路基板を収容する収容部の識別情報とを、関連付けて表示する表示装置をさらに備えることが好ましい。このような構成によると、作業者は、表示装置に表示された情報に基づいて、収容装置に収容された回路基板を容易に認識することができる。
【実施例】
【００２２】
図面を参照して、本技術の実施例である生産システムについて説明する。本実施例の生産システムは、回路基板４に複数の電子部品が装着された部品実装基板の生産システムである。図１に示すように、生産システムは、生産ライン１０と、生産ライン１０に設けられた不良品操作装置３０（以下、操作装置３０という）とを備える。生産ライン１０は、回路基板４を搬送するラインコンベア２０と、ラインコンベア２０に沿って配置された、はんだ印刷装置１２、部品装着装置１４、検査装置１６及びリフロー装置１８とを備える。はんだ印刷装置１２は、回路基板４にはんだを印刷し、部品装着装置１４は、はんだが塗布された回路基板４に複数の電子部品を装着する。【００２３】
検査装置１６は、回路基板４に検査を実行し、当該回路基板４が不良品であるのか否か判定する。検査装置１６による検査には、複数の検査項目が含まれる。例えば、検査装置１６は、回路基板４を撮像し、回路基板４の画像を解析することによって、回路基板４上における各々の電子部品について、有無、位置、向き、はんだ量を含む複数の検査項目の良否を判定する。なお、具体的な検査項目については特に限定されず、さらに複数の検査項目を有してもよい。検査をパスした回路基板４は、リフロー装置１８に送られる。リフロー装置１８は、回路基板４を加熱処理することによって、回路基板４上のはんだをリフローする。なお、生産ライン１０構成は様々に変更可能であり、本実施例で説明する構成に限定されない。【００２４】
一方、検査装置１６が回路基板４を不良品と判定すると、当該回路基板４は、作業者による修正作業を受けるために、操作装置３０によって生産ライン１０から一時的に排出される。操作装置３０は、不良品と判定された回路基板４を生産ライン１０から排出し、作業者による修正作業が実施されるまで、一時的に保管する装置である。また、操作装置３０は、修正作業後の回路基板４を、生産ライン１０へ再投入する装置でもある。操作装置３０は、検査装置１６と共に、作業者による修正作業を支援する装置を構成する。以下、操作装置３０の構成及び機能について、詳細に説明する。【００２５】
図１、図２に示すように、操作装置３０は、生産ライン１０において、検査装置１６の下流側に設けられている。操作装置３０は、ゲートコンベア３２と、分配収容装置３４と、処理装置３６と、操作パネル３８とを備える。ゲートコンベア３２は、生産ライン１０のラインコンベア２０に対して、回路基板４を出し入れすることができる。例えば、ゲートコンベア３２は、検査装置１６によって不良品と判定された回路基板４を、生産ライン１０のラインコンベア２０から排出することができる。また、ゲートコンベア３２は、修正作業後の回路基板４を、生産ライン１０のラインコンベア２０へ再投入することができる。本実施例のゲートコンベア３２は、モータによってコンベアベルトを駆動するベルトコンベアであるが、ゲートコンベア３２の具体的な構成については、特に限定されない。【００２６】
分配収容装置３４は、分配装置４０と、収容装置５０とを備える。収容装置５０は、検査装置１６によって不良品と判定された回路基板４を収容する装置である。収容装置５０は、複数の収容部５２ａ〜５２ｊを有している。複数の収容部５２ａ〜５２ｊは、上から順に、第１〜第１０収容部５２ａ〜５２ｊを含む。各々の収容部５２ａ〜５２ｊは、一つの回路基板４を収容することができる。また、各々の収容部５２ａ〜５２ｊは、作業者１００による回路基板４の出し入れを許容する構成を有している。本実施例の収容装置５０は、多段式のラック構造を有しているが、収容装置５０の具体的な構成についてはこれに限定されない。【００２７】
収容装置５０に収容された回路基板４は、作業者１００による修正作業を受ける対象となる。作業者１００は、収容装置５０から不良品の回路基板４を取り出し、回路基板４に生じている不良を確認した上で、必要とされる修正作業を実施する。修正作業後、作業者１００は、回路基板４を収容部５２ａ〜５２ｊのいずれかへ戻す。あるいは、作業者１００は、修正作業後の回路基板４を、ゲートコンベア３２上へセットしてもよい。この場合、ゲートコンベア３２は、修正作業後の回路基板４を、生産ライン１０へ再投入することができる。【００２８】
分配装置４０は、ゲートコンベア３２と各々の収容部５２ａ〜５２ｊとの間で、回路基板４を搬送する装置である。分配装置４０は、ゲートコンベア３２が生産ライン１０から排出した回路基板４を、いずれか一つの収容部５２ａ〜５２ｊへ選択的に搬送することができる。また、分配装置４０は、収容部５２ａ〜５２ｊに収容された修正作業後の回路基板４を、生産ライン１０への再投入部であるゲートコンベア３２へ搬送することができる。本実施例の分配装置４０は、回路基板４を水平方向に搬送するベルトコンベアと、当該ベルトコンベアを垂直方向に移動させる昇降装置との組み合わせによって構成されているが、分配装置４０の具体的な構成についてはこれに限定されない。【００２９】
処理装置３６は、記憶装置及びプロセッサを有するコンピュータを用いて構成されており、各種の演算処理を実行する。特に、処理装置３６は、検査装置１６が回路基板４を不良品と判定したときに、検査装置１６による検査の結果に基づいて、その不良品と判定された回路基板４に、複数の収容部５２ａ〜５２ｊのなかの一つを割り当てる処理を実行する。処理装置３６が割り当てた収容部５２ａ〜５２ｊは、前述したゲートコンベア３２及び分配装置４０に教示される。それにより、不良品と判定された回路基板４は、ゲートコンベア３２及び分配装置４０によって、処理装置３６が割り当てた収容部５２ａ〜５２ｊの一つへ搬送される。【００３０】
また、処理装置３６は、図４に示すデータテーブルを記憶している。このデータテーブルにおいて、Ａ欄は、各々の収容部５２ａ〜５２ｊの識別情報を記述している。ここで、「１ｓｔ」〜「１０ｔｈ」は、第１〜第１０収容部５２ａ〜５２ｊの識別情報をそれぞれ示す。Ｂ欄は、各々の収容部５２ａ〜５２Ｊのランクを記述する。このランクは、ゲートコンベア３２からの距離に基づいており、ゲートコンベア３２に近い収容部５２ａ〜５２ｊほど、上位のランクが付与されている。データテーブルのＣ、Ｄ、Ｅ欄は、各々の収容部５２ａ〜５２ｊに収容された回路基板４の識別情報、不良指標、ランクをそれぞれ記述している。このように、データテーブルは、各々の収容部５２ａ〜５２ｊに収容された回路基板４に関する情報を記述している。【００３１】
操作パネル３８は、ユーザインタ―フェースの一例であって、作業者１００へ各種の情報を表示する表示装置であるとともに、作業者による各種の指示を受け付ける入力装置でもある。操作パネル３８は、データテーブルに記述された情報、例えば、各々の収容部５２ａ〜５２ｊの識別情報と、各々の収容部５２ａ〜５２ｊに収容された回路基板４の識別情報とを、関連付けて表示することができる。本実施例の操作パネル３８は、液晶タッチパネルを用いて構成されているが、操作パネル３８の具体的な構成はこれに限定されない。【００３２】
次に、図３に示すフローチャートに沿って、操作装置３０の動作の流れについて説明する。なお、説明の便宜上、図２、図４に示すように、第３収容部５２ｃ〜第８収容部５２ｈに、識別情報ＳＢ０１〜ＳＢ０６の回路基板４がそれぞれ収容されているとする。そして、識別情報ＳＢ０７の回路基板４が、新たに不良品と判定され、収容装置５０に収容されるものとする。以下、識別情報ＳＢ０１〜ＳＢ０６の回路基板４を、それぞれ既存不良基板ＳＢ０１〜ＳＢ０６と記し、識別情報ＳＢ０７の回路基板４の回路基板４を、新規不良基板ＳＢ０７と記す。【００３３】
先ず、検査装置１６が新規回路基板ＳＢ０７を不良品と判定すると（Ｓ１２でＹＥＳ）、ゲートコンベア３２は、新規回路基板ＳＢ０７を生産ライン１０から排出する（Ｓ１４）。それと並行して、処理装置３６は、新規不良基板ＳＢ０７の検査の結果を、検査装置１６から取得する。検査装置１６による検査の結果には、複数の検査項目のそれぞれについて、良又は不良のいずれかを示す情報が含まれている。【００３４】
次に、処理装置３６は、取得した検査の結果に基づいて、新規不良基板ＳＢ０７の不良指標を計算する。不良指標は、回路基板４に生じている不良の程度を数値化したものである。一例ではあるが、本実施例の処理装置３６は、前述した（１）式を用いて、不良指標を計算する。従って、不良指標ｙが小さいときほど、新規不良基板ＳＢ０７に生じている不良の程度は大きいといえる。ここで、重み計数αｉ（個別不良指標）は、様々な要因を考慮して定めることができ、特に、その修正作業における作業者の負担を考慮して定めるとよい。特に、作業者が検査対象を目視し難い検査項目は、その修正作業において作業者の負担が大きい検査項目といえる。従って、重み計数αｉは、例えば検査対象の電子部品のサイズ及び形状の少なくとも一方を考慮して、適切に決定することができる。【００３５】
次に、処理装置３６は、計算した不良指標に基づいて、新規不良基板ＳＢ０７にランク付けを行う（図３のＳ２０）。このとき、処理装置３６は、図４に示すデータテーブルを参照して、新規不良基板ＳＢ０７に付与するランクを決定する。例えば、新規不良基板ＳＢ０７の不良指標が０．４であったとする。この場合、０．４という不良指標は、データテーブルに記述された既存不良基板ＳＢ０１〜ＳＢ０６のなかで、６番目に大きい値に相当する。従って、処理装置３６は、新規不良基板ＳＢ０７に「６」というランクを付与する。ここで、「６」というランクは、第３収容部５２ｃに収容された既存不良基板ＳＢ０１のランクと重複する。そこで、図５に示すように、処理装置３６は、データテーブルに記述された既存不良基板ＳＢ０１のランクを、「６」から「７」へ変更する。このように、処理装置３６は、新規不良基板ＳＢ０７に付与したランクに応じて、既存不良基板ＳＢ０１〜ＳＢ０６のランクを更新することができる。【００３６】
次に、処理装置３６は、上記の処理で決定したランクに基づいて、既存不良基板ＳＢ０１及び新規不良基板ＳＢ０７に対する収容部５２ａ〜５２ｊの割り当てを実行する（図３のＳ２２）。先ず、処理装置３６は、図６に示すように、ランクが更新された既存不良基板ＳＢ０１に対し、更新されたランクに基づいて、同じランク「７」の第９収容部５２ｉを新たに割り当てる。次いで、処理装置３６は、図７に示すように、新規不良基板ＳＢ０７に対し、同じランク「６」の第３収容部５２ｃを割り当てる。これにより、データテーブルにおいて、各々の回路基板ＳＢ０１〜ＳＢ０７と、各々の回路基板ＳＢ０１〜ＳＢ０７に割り当てられた収容部５２ｃ〜５２ｉとの間で、ランクが一致する。【００３７】
データテーブルが更新されると、ゲートコンベア３２及び分配装置４０が、更新後のデータテーブルを参照して、既存不良基板ＳＢ０１及び新規不良基板ＳＢ０７の搬送を実行する。先ず、図８に示すように、分配装置４０が、既存不良基板ＳＢ０１を、それに割り当てられた第９収容部５２ｉへ搬送する（図３のＳ２４）。次いで、図９に示すように、ゲートコンベア３２及び分配装置４０が、新規不良基板ＳＢ０７を、それに割り当てられた第３収容部５２ｃへ搬送する（図３のＳ２６）。これにより、収容装置５０においても、各々の回路基板ＳＢ０１〜ＳＢ０７と、各々の回路基板ＳＢ０１〜ＳＢ０７を収容する収容部５２ｃ〜５２ｉとの間で、ランクが一致する。以上の動作は、生産ライン１０が停止するまで、繰り返し実行される（図３のＳ２８）。【００３８】
以上のように、本実施例の生産システムでは、検査装置１６が回路基板４を不良品と判定すると、その不良品と判定された回路基板４が収容装置５０に収容される。作業者１００は、収容装置５０から回路基板４を取り出し、当該回路基板４に生じている不良を確認して、必要な修正作業を行うことができる。ここで、収容装置５０における各々の回路基板４の収容位置は、各々の回路基板４に生じている不良の程度に関連している。従って、作業者１００は、収容装置５０から修正作業を行う回路基板４を選択するときに、各々の回路基板４の収容位置に基づいて、優先的に修正作業を行うべき回路基板４を容易に決定することができる。即ち、作業者１００は、不良の程度が軽微であり、修正作業の所要時間が短い回路基板４から優先して、修正作業を実施することができる。【００３９】
以上、本発明の具体例を詳細に説明したが、これらは例示にすぎず、請求の範囲を限定するものではない。請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。【００４０】
上記した実施例では、不良品である複数の回路基板４に対して、互いに異なるランクを付与しているが、他の実施例では、不良品である複数の収容部５２ａ〜５２ｊの一部に、同一のランクを付与してもよい。例えば、処理装置３６は、不良指標が所定の範囲にある回路基板４については「１」のランクを付与し、そうでない回路基板４には「２」のランクを付与してもよい。この場合、複数の収容部５２ａ〜５２ｊについても、その一部には「１」のランクを定めておき、他の一部には「２」のランクを定めておくことができる。そして、「１」のランクを付与された回路基板４は、「１」のランクが定められた収容部５２ａ〜５２ｊのいずれかに収容され、「２」のランクを付与された回路基板４は、「２」のランクが定められた収容部５２ａ〜５２ｊのいずれかに収容されることができる。【００４１】
本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組み合わせによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時の請求項に記載の組み合わせに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は複数目的を同時に達成するものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。
【符号の説明】
【００４２】
４：回路基板
１０：生産ライン
１２：はんだ印刷装置
１４：部品装着装置
１６：検査装置
１８：リフロー装置
２０：ラインコンベア
３０：不良品操作装置
３０：操作装置
３２：ゲートコンベア
３４：分配収容装置
３６：処理装置
３８：操作パネル
４０：分配装置
５０：収容装置
５２ａ〜５２ｊ：収容部
１００：作業者
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【国際調査報告】
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