(57)【要約】  検出器信号処理回路８は、中性子検出器３の電流値を電圧値に変換する電流／電圧変換部２１と、Ｄ／Ａコンバータ５３により第１段階の可変ゲインで増幅を行う可変ゲイン増幅部２２と、電圧値に応じて計測レンジを選択する電流レベル対応用抵抗回路４１と、電流レベル対応用抵抗回路４１の温度を測定する温度測定器８２，８３，８４と、測定された温度に基づいてＤ／Ａコンバータ５３にゲイン補償を指令する温度補償部８１と、計測レンジの選択制御および可変ゲイン増幅部２２の可変ゲインを調整する選択調整制御部２６と、で構成されている。これにより、計測レンジの切替え前後においても出力精度を一定に保ちながら、高い精度で中性子束を計測することができる。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
原子炉容器の外部に配置された中性子検出器により、原子炉容器から漏洩する中性子束を検出して電流値に変換して、前記中性子束を計測処理する検出器信号処理回路を有する炉外核計装装置であって、
前記検出器信号処理回路は、
前記電流値を電圧値に変換する電流／電圧変換部と、
前記電圧値をＤ／Ａコンバータにより可変ゲインで増幅する可変ゲイン増幅部と、
前記電流／電圧変換部あるいは前記可変ゲイン増幅部に設けられるとともに、前記電流値に応じて計測レンジを選択する計測レンジ選択部と、
前記計測レンジ選択部の温度を測定する温度測定器と、
前記温度に基づいて、前記Ｄ／Ａコンバータにゲイン補償値を出力する温度補償部と、
前記計測レンジの選択制御および前記ゲイン補償値で前記Ｄ／Ａコンバータのゲインを調整制御する選択調整制御部と、で構成されていることを特徴とする炉外核計装装置。
【請求項２】
前記計測レンジ選択部は、抵抗器とスイッチとが直列に接続された直列体が複数個並列に接続された電流レベル対応用抵抗回路で構成されていることを特徴とする請求項１に記載の炉外核計装装置。
【請求項３】
前記計測レンジ選択部は、前記計測レンジに応じてゲインを選択できる第二のＤ／Ａコンバータで構成されていることを特徴とする請求項１に記載の炉外核計装装置。
【請求項４】
前記可変ゲイン増幅部を一定温度に保つように恒温制御する恒温制御部が設けられていることを特徴とする請求項３に記載の炉外核計装装置。
【請求項５】
前記可変ゲイン増幅部と直列に接続され、前記可変ゲイン増幅部の出力を固定ゲインで増幅する固定ゲイン増幅部を備えていることを特徴とする請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の炉外核計装装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、原子炉容器外に設置された中性子検出器で検出した中性子束により、原子炉の出力レベルを計測、監視する炉外核計装装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
炉外核計装装置は、原子炉１次遮蔽体内に設置された中性子検出器で中性子束を連続監視することにより、原子炉起動時及び出力運転時に運転状態を監視するとともに、原子炉異常時には、警報信号及び原子炉の緊急停止信号を発信して原子炉の保護を行うものである。炉外核計装装置は、主に中性子束を計測して中性子束の大きさに応じた電流値を出力する中性子検出器と、出力された電流値を演算処理して、警報信号等を発信する炉外核計装盤から構成されている。【０００３】
一般に、炉外における原子炉の停止状態から出力運転に至るまでの中性子束は、レベルで１０〜１１桁と非常に広い範囲にわたるため、炉外核計装装置においては、炉の出力レベルに応じて、中性子束の計測領域を中性子源領域、中間領域及び出力領域の３つの領域に分け、各領域を互いにオーバーラップさせて全域を連続監視している。このため、中性子検出器及び炉外核計装盤の構造、機能は領域ごとに異なり、出力領域の演算処理には検出器信号処理回路が用いられる。【０００４】
中性子検出器の出力電流が微小な場合においても、炉の出力レベルに応じた電圧レベルを出力でき、高い精度の計測値を得るため、例えば、特許文献１の炉外核計装装置では、中性子検出器で計測された電流値を、検出器信号処理回路を用いて演算処理して運転時の中性子束の状態を出力するために、検出器信号処理回路は、中性子検出器で変換された電流値を、その電流値に応じた電圧値に変換する電流／電圧変換部と、ゲインを選択できる電流レベル対応用抵抗回路、及びゲインを調整するＤ／Ａコンバータを持つ演算増幅器を有し、電流／電圧変換部で変換された電圧値を増幅する可変ゲイン増幅部と、を備えている。これにより、計測できる中性子検出器電流の幅を精度よく拡大することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１２−１６３３６２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１の従来の炉外核計装装置では、炉の出力レベルに応じた電圧レベルを出力させるため、電流レベル対応用抵抗回路により、中性子検出器で変換された電流値のゲインを計測レンジ切替えにより選択できるように構成されており、選択する計測レンジによって、別々の抵抗器が使用されている。しかしながら、各抵抗器の温度特性には、器差があるため、同一の温度環境下で使用しても、計測レンジを切替えると抵抗器の温度特性の器差の影響を受け、検出器信号処理回路からの出力電圧の精度にばらつきが発生するという問題があった。【０００７】
本発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、計測レンジの切替え前後においても出力精度を一定に保ちながら、高い精度で中性子束を計測することができる炉外核計装装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明に係る炉外核計装装置は、原子炉容器の外部に配置された中性子検出器により、原子炉容器から漏洩する中性子束を検出して電流値に変換して、前記中性子束を計測処理する検出器信号処理回路を有する炉外核計装装置であって、前記検出器信号処理回路は、前記電流値を電圧値に変換する電流／電圧変換部と、前記電圧値をＤ／Ａコンバータにより可変ゲインで増幅する可変ゲイン増幅部と、前記電流／電圧変換部あるいは前記可変ゲイン増幅部に設けられるとともに、前記電流値に応じて計測レンジを選択する計測レンジ選択部と、前記計測レンジ選択部の温度を測定する温度測定装置と、前記温度に基づいて、前記Ｄ／Ａコンバータにゲイン補償値を出力する温度補償部と、前記計測レンジの選択制御および前記ゲイン補償値で前記Ｄ／Ａコンバータのゲインを調整制御する選択調整制御部と、で構成されていることを特徴とするものである。
【発明の効果】
【０００９】
本発明の炉外核計装装置によれば、計測レンジ切替えに伴う温度依存性があってもゲイン補償することで、計測レンジの切替え前後においても可変ゲイン増幅部の出力値の精度を一定に保ちながら、正確な中性子束の状態を把握することができるようにするとともに、高い精度の計測値を得ることができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】実施の形態１に係る炉外核計装装置を含む炉外核計装システムの概略構成図である。
【図２】実施の形態１における検出器信号処理回路の構成図である。
【図３】実施の形態１における他の実施態様を示す検出器信号処理回路の構成図である。
【図４】実施の形態２における検出器信号処理回路の構成図である。
【図５】実施の形態３における検出器信号処理回路の構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明の実施の形態に係る炉外核計装装置の詳細について、図１から図５を参照して説明する。
【００１２】
実施の形態１．
図１は、実施の形態１に係る炉外核計装装置を含む炉外核計装システムの概略構成図であり、図２は、炉外核計装装置の検出器信号処理回路の構成図である。
【００１３】
まず、図１の炉外核計装システムの概略構成図を用いて、実施の形態１に係る炉外核計装装置１の構成について説明する。炉外核計装装置１は、原子炉格納容器１５内に設置された原子炉容器１６の外部の周辺に配置され、原子炉容器１６から漏洩する中性子を検出し電流値に変換する中性子検出器３と、中性子検出器３で検出された電流値を処理する検出器信号処理回路８と、検出器信号処理回路８の出力電圧を信号変換処理する信号処理回路１１と、信号処理回路１１との間で信号の遣り取りを行う操作パネル１２と、で構成されている。ここで、中性子検出器３は、原子炉容器１６の上部から漏洩する中性子を検出し電流値に変換する上部検出器３ａと、原子炉容器１６の下部から漏洩する中性子を検出し電流値に変換する下部検出器３ｂと、で構成されており、上部検出器３ａで変換された電流値は、上部検出器ケーブル６ａを経由して、下部検出器３ｂで変換された電流値は、下部検出器ケーブル６ｂを経由して、それぞれ、検出器信号処理回路８に入力される。なお、検出器信号処理回路８、信号処理回路１１及び操作パネルは、原子炉格納容器１５の外部に設置されている炉外核計装盤１４内に収容されている。
【００１４】
この検出器信号処理回路８には、上部検出器３ａに対応した処理回路と下部検出器３ｂに対応した処理回路とが、それぞれ設けられており、この検出器信号処理回路８により、これらの電流値は上部検出器の出力電圧９ａと、下部検出器の出力電圧９ｂとに変換され、出力される。これらの出力電圧９ａ、９ｂは、炉外核計装盤１４内にある信号処理回路１１に入力される。信号処理回路１１では、Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換や工学値変換等の処理を行い、得られた各種信号は、操作パネル１２や炉外核計装装置１の外部にある原子炉保護系システム２内の入出力回路１３に出力される。
【００１５】
図２を参照して、実施の形態１に係る炉外核計装装置の検出器信号処理回路８の回路構成を詳細に説明する。
検出器信号処理回路８には、上述したように、上部検出器３ａの処理回路と、下部検出器３ｂの処理回路と，があるが、同じ回路構成であるので、図２では、一方の検出器信号処理回路８の回路構成を示す。検出器信号処理回路８は、例えば、上部検出器３ａで検出された中性子束の値が変換された電流値Ｉｕを電圧値Ｖ１に変換する電流／電圧（Ｉ／Ｅ）変換部２１と、電流／電圧変換部２１で変換された電圧値Ｖ１を表示する検出器電流指示計出力部２４と、この電圧値Ｖ１をＤ／Ａ（デジタル／アナログ）コンバータ５３により第１段階の可変ゲインで増幅を行って電圧値Ｖ２とする可変ゲイン増幅部２２と、可変ゲイン増幅部２２に設けられるとともに、電圧値Ｖ１に応じて計測レンジを選択する計測レンジ選択部４１である電流レベル対応用抵抗回路４１と、電流レベル対応用抵抗回路４１の温度を測定する温度測定器８２，８３，８４と、測定された温度に基づいてＤ／Ａコンバータ５３にゲイン補償を指令する温度補償部８１と、計測レンジの選択制御および可変ゲイン増幅部２２の可変ゲインを調整する選択調整制御部２６と、電圧値Ｖ２を第２段階の固定ゲインで増幅を行って電圧値Ｖ３とする固定ゲイン増幅部２３と、から構成されている。なお、ここでは、可変ゲイン増幅部２２の後段に固定ゲイン増幅部２３を配置する場合について説明したが、固定ゲイン増幅部２３の後段に可変ゲイン増幅部２２を配置することも可能である。
【００１６】
検出器信号処理回路８の機能に関しては、まず、中性子検出器３で計測された電流Ｉｕが電流／電圧変換部２１で演算増幅器を用いた反転増幅器３１に入力され、電流Ｉｕに応じた電圧値Ｖ１が出力される。３２は抵抗器である。図２では、電流／電圧変換部２１及び後述する固定ゲイン増幅部２３のゲインは一定である。次に、電圧値Ｖ１により検出器電流指示計出力部２４で検出器電流が表示されると共に、電圧値Ｖ１は、可変ゲイン増幅部２２の演算増幅器である反転増幅器５１に入力される。
【００１７】
可変ゲイン増幅部２２では、あらかじめ電圧値Ｖ３を炉出力に応じた電圧値に校正するため選択調整制御部２６によってＤ／Ａコンバータ５３のゲインの調整が行われており、それによって検出器信号処理回路８の電圧値Ｖ３が決定される。すなわち、検出器電流Ｉｕを電流／電圧変換部２１の固定ゲイン増幅により変換した電圧値Ｖ１を出力表示する検出器電流指示計出力部２４の値を基に、選択調整制御部２６によって可変ゲイン増幅部２２のゲイン幅を調整している。なお、この調整は、中性子検出器３（図１を参照。）を設置した後に行われるものであり、炉出力、原子炉容器１６（図１を参照。）からの中性子の漏洩量、設置した検出器の誤差やその設置場所などから生じる検出精度を吸収するものであり、他の装置等（例えば、炉内核計装や炉内温度計装など）から得られる炉出力と検出器電流指示計出力部２４との関係から作業員が選択調整制御部２６により調整するものである。調整作業を自動化する場合は、検出器電流指示計出力部２４の電圧値の信号と、原子炉保護系システム２（図１、あるいは図示していない他の原子力プラントの計装システム）が有している炉出力の信号を選択調整制御部２６に入力し、これらの値からゲイン幅を算出して、Ｄ／Ａコンバータ５３のゲインを調整するようにすればよい。
【００１８】
Ｄ／Ａコンバータ５３は、選択調整制御部２６からのデジタル電気信号をアナログ電気信号（抵抗値）に変換する電子回路（例えば、１２ビット回路）で、１／１０，０００程度の細かさの抵抗値に変換し得る。そして、可変ゲイン増幅部２２の出力の電圧値Ｖ２は，固定ゲイン増幅部２３の増幅器７１により増幅され、出力信号の電圧値Ｖ３が信号処理回路１１（図１を参照。）に入力される。ここで、出力信号の電圧値Ｖ３は、炉出力と対応した電圧値（例えば、炉出力１００％に対応した電圧値３．３Ｖ）であり、信号処理回路１１以降の演算処理には炉出力に対応した、ある一定のレベルの電圧値が要求されるため、検出器電流Ｉｕは、検出器信号処理回路８によって電圧値に変換され増幅されている。なお、４１は、ゲインを計測レンジにより選択できる電流レベル対応用抵抗回路、５２，７２〜７５は抵抗器である。
【００１９】
電流レベル対応用抵抗回路４１は、計測レンジの切り替えを行うもので、抵抗器とスイッチ（アナログスイッチ）とを直列に接続した直列体を複数個並列に接続した並列体で構成されている。４２〜４４は抵抗器、４５〜４７はスイッチである。それにより、スイッチ４５〜４７を選択して閉じて、低電流レベル対応用の高抵抗回路にすることができる。なお、電流レベル対応用抵抗回路４１は、可変抵抗器でも構成することができる。
【００２０】
電流レベル対応用抵抗回路４１の抵抗器を選択することによって、反転増幅器５１のゲインを調整できる。例えば、抵抗器４２＝Ｒ１、抵抗器４３＝Ｒ２、抵抗器４４＝Ｒ３とし、Ｒ１，・・・，Ｒ２，Ｒ３＝１／１００Ｒ，・・・，１０Ｒ，１００Ｒのように抵抗値を１桁単位で段階的に変えて、選択調整制御部２６によりスイッチを選択的にオン、オフ制御して、所望する抵抗器を選択することで、固定抵抗器時に比べて可変ゲイン増幅部２２のゲインの幅を広げることができる。中性子検出器３で計測された電流Ｉｕが小さい場合には、大きな抵抗値を選択するようにする。
【００２１】
可変ゲイン増幅部２２のゲインは、Ｄ／Ａコンバータ５３の抵抗値を選択調整制御部２６によるデジタル電気信号で調整して可変できるが、電流レベル対応用抵抗回路４１を固定抵抗器として、Ｄ／Ａコンバータ５３だけで抵抗値を調整しようとすると、電流入力範囲の下限が、例えば、１μＡまで下る場合、Ｄ／Ａコンバータ５３におけるゲイン設定用カウント値（デジタル電気信号）当たりの電圧変化幅が大きくなり、精度が悪化する。そのため、図２では、ゲインを選択できる電流レベル対応用抵抗回路４１とゲインを調整するＤ／Ａコンバータ５３との二段直列構成として、電流レベル対応用抵抗回路４１で大きいゲインを選択して、Ｄ／Ａコンバータ５３で細かくゲインを調整することにより、精度の高いゲイン調整ができる。
【００２２】
ここで、可変ゲイン増幅部２２のゲインを計測レンジにより選択する電流レベル対応用抵抗回路４１を構成する抵抗器４２，４３，４４の度特性に器差があり、各抵抗器の温度が温度測定器８２，８３，８４により測定され、測定された温度に基づいて温度補償部８１は、選択された抵抗器に対するゲイン補償を選択調整制御部２６に指令する。これに従って、選択調整制御部２６は、Ｄ／Ａコンバータ５３にゲイン補償を行ってゲイン調整するよう指令を出す。この結果、同一の温度環境下において、各抵抗器の温度特性に器差があっても、検出器信号処理回路８からの出力の電圧値の精度にばらつきが発生することを抑制することが可能になる。
【００２３】
次に、可変ゲイン増幅部２２の選択調整制御部２６による電流レベル対応用抵抗回路４１の選択とＤ／Ａコンバータ５３の調整について説明する。炉出力１００％レベルに対応した中性子検出器電流Ｉｕを電流／電圧変換部２１に入力すると、反転増幅器３１によって電圧値Ｖ１に変換されて出力される。さらに、検出器電流指示計出力部２４で検出器電流が表示されると共に、可変ゲイン増幅部２２の反転増幅器５１に電圧値Ｖ１が入力される。このとき、可変ゲイン増幅部２２の反転増幅器５１の電流レベル対応用抵抗回路４１における抵抗値を、電流レベル（検出器電流指示計出力部２４で表示される検出器電流）により選択的に切替えると共に、Ｄ／Ａコンバータ５３の抵抗値を調整して、可変ゲイン増幅部２２のゲインを変化させることで、検出器信号処理回路８の出力の電圧値Ｖ３を要求電圧レベル（例えば、Ｖ３＝３．３Ｖ）へ合わせ込むことができる。
【００２４】
つまり、計測された電流が微小で、検出器信号処理回路８の出力の電圧値Ｖ３が要求電圧レベルに達しない場合は、スイッチ４５〜４７のオン、オフで電流レベル対応用抵抗回路４１の抵抗器４２〜４４を選択することで抵抗値を切替えると共に、さらに、Ｄ／Ａコンバータ５３の抵抗値を調整して、可変ゲイン増幅部２２のゲインを変化させ、検出器信号処理回路８の出力の電圧値Ｖ３を要求電圧レベルへ合わせ込むことができる。また、Ｄ／Ａコンバータ５３を調整することにより、Ｄ／Ａコンバータ５３の抵抗値、電流レベル対応用抵抗回路４１で選択された抵抗値、及びスイッチのオン抵抗値を含めた抵抗値を微調整することができる。そのため、選択調整制御により可変ゲイン増幅部２２の持つゲイン幅を従来に比べて大きく、かつ精度よく変化させることができるため、結果として計測できる中性子検出器３の電流の幅が拡大することができる。
【００２５】
前述でゲインが選択調整された可変ゲイン増幅部２２を有する検出器信号処理回路８を用いた炉外核計装装置について説明する。原子炉の運転時における中性子検出器電流Ｉｕが電流／電圧変換部２１に入力されると、反転増幅器３１によって電圧値Ｖ１として出力される。次に、検出器電流指示計出力部２４で検出器電流が表示されると共に、可変ゲイン増幅部２２の反転増幅器５１に電圧値Ｖ１が入力される。その電圧値Ｖ１は、ゲインが選択調整制御された可変ゲイン増幅部２２で増幅されて、電圧値Ｖ２を得、固定ゲイン増幅部２３で増幅されて出力電圧Ｖ３を得る。炉出力が１００％のとき、出力電圧Ｖ３が先に設定した要求電圧レベルであれば、原子炉は正常に動作しているが、出力電圧Ｖ３が設定した要求電圧レベルを超えて異常が検出された場合には、警報信号及び原子炉を緊急停止させる信号が出力される。
【００２６】
さらに、温度測定器８２，８３，８４と温度補償部８１を備えることにより、温度測定器８２，８３，８４で逐次温度を測定し、温度補償部８１で各抵抗器４２，４３，４４の補償値を決定し、Ｄ／Ａコンバータ５３の出力を調整することで高精度な電流計測を可能としている。温度補償部８１には、各抵抗器の温度特性のマトリクス表が格納されており、各抵抗器間の温度特性の比較調整を鑑みた各温度における補償値を選択調整制御部２６に伝送し、Ｄ／Ａコンバータ５３の出力値を調整する。これにより、Ｈ／Ｗの持つ個体差を低減し、微小電流の測定精度の向上を図ると同時に、各ゲイン間の精度のばらつきをなくし、全計測レンジにおいて一定の精度を実現することを実現している。
【００２７】
なお、実施の形態１の温度測定器８２〜８４としては、熱電対等、通常の温度測定器を適用することができる。
【００２８】
また、図３は、実施の形態１の他の実施態様を示すもので、電流レベル対応用抵抗回路４１を可変ゲイン増幅部２２ではなく、電流／電圧変換部２１に設けたもので、上述した実施の形態と同様の効果が期待できる。
【００２９】
このように、実施の形態１に係る炉外核計装装置によれば、炉の出力レベルに応じて可変ゲイン増幅部のゲインを計測レンジ選択により切替えることができるとともに、温度測定器により計測レンジ選択に使用される電流レベル対応用抵抗回路の抵抗器の温度を測定し、抵抗器の温度特性の器差によるゲイン補償を行うことで、検出器信号処理回路からの出力の電圧値の精度にばらつきが発生することを抑制し、計測レンジの切替え前後においても出力精度を一定に保ちながら、高い精度で中性子束を計測することができるという効果がある。
【００３０】
実施の形態２．
図４は、実施の形態２に係る炉外核計装装置の検出器信号処理回路の構成図である。実施の形態１の検出器信号処理回路との違いは、実施の形態１では、計測レンジ選択に電流レベル対応用抵抗回路４１を用いていたが、実施の形態２では、電流レベル対応用抵抗回路４１がＤ／Ａコンバータ５５に変更された点である。温度測定器８２が一つになり、Ｄ／Ａコンバータ５５に温度補償値を指令する選択調整制御部２８となった点を除いて、他の構成要素は、実施の形態１と同様であるので、説明を省略する。
【００３１】
計測レンジ選択部である電流レベル対応用抵抗回路４１のスイッチがＤ／Ａコンバータ５５に変更されたことにより、各抵抗器間の温度特性を比較するマトリクス表が不要となり、温度測定器８２で測定した温度に基づいて、Ｄ／Ａコンバータ５５の単一の温度特性を補償する補償値が、温度補償部８１に格納されており、温度補償部８１から所定のゲイン補償値を選択調整制御部２８に伝送し、ゲイン補償を行ってＤ／Ａコンバータ５３の出力値の調整を行う。なお、Ｄ／Ａコンバータ５５は、可変抵抗器としてもよい。これにより、計測レンジ切替部の構成が簡素化され、ゲイン調整が容易なる効果もある。
【００３２】
このように、実施の形態２に係る炉外核計装装置によれば、実施の形態１と同様、炉の出力レベルに応じて可変ゲイン増幅部のゲインを計測レンジ選択により切替えことができるとともに、温度測定器により計測レンジ選択に使用されるＤ／Ａコンバータの温度を測定し、ゲイン補償を行うことで、検出器信号処理回路からの出力の電圧値の精度にばらつきが発生することを抑制し、計測レンジの切替え前後においても出力精度を一定に保ちながら、高い精度で中性子束を計測することができるという効果がある。
【００３３】
実施の形態３．
図５は、実施の形態３に係る炉外核計装装置の検出器信号処理回路の構成図である。実施の形態２の検出器信号処理回路との違いは、実施の形態２では、ゲイン選択に使用されるＤ／Ａコンバータ５５の温度が温度測定器８２により測定され、温度補償部８１により補償されていたが、実施の形態３では、温度測定器８２を用いずに、恒温槽８５が備えられている点である。これにより、温度測定器８２が不要になったことを除いて、他の構成要素は、実施の形態２と同様であるので、説明を省略する。
【００３４】
計測レンジを選択するＤ／Ａコンバータ５５が、例えば、恒温制御部である恒温槽８５に入れられ、恒温制御された温度に基づいて、温度補償部８１から一定の補償値が選択調整制御部２６に伝送され、ゲインの補償を行ってＤ／Ａコンバータ５３の出力値の調整が行われる。
【００３５】
このように、実施の形態３に係る炉外核計装装置によれば、実施の形態１と同様、炉の出力レベルに応じて可変ゲイン増幅部のゲインを計測レンジ選択により切替えることができるとともに、計測レンジ選択に使用されるＤ／Ａコンバータを恒温槽に入れ、恒温槽の温度に基づいて、ゲイン補償を行うことで、検出器信号処理回路からの出力の電圧値の精度にばらつきが発生することを抑制し、計測レンジの切替え前後においても出力精度を一定に保ちながら、高い精度で中性子束を計測することができるという効果がある。
【００３６】
なお、本発明は、その発明の範囲内において、各実施の形態を自由に組み合わせたり、各実施の形態を適宜、変形、省略したりすることが可能である。
【００３７】
また、図中、同一符号は、同一または相当部分を示す。
【符号の説明】
【００３８】
１  炉外核計装装置、２  原子炉保護系システム、３  中性子検出器、８  検出器信号処理回路、１１  信号処理回路、１２  操作パネル、１３  入出力回路、１４  炉外核計装盤、１５  原子炉格納容器、１６  原子炉容器、２１  電流／電圧変換部、２２  可変ゲイン増幅部、２３  固定ゲイン増幅部、２４  検出器電流指示計出力部、２６，２８  選択調整制御部、３１，５１  反転増幅器、４１  電流レベル対応用抵抗回路、３２，４２〜４４，５２，５４，７２〜７５  抵抗器、４５〜４７  スイッチ、５３，５５  Ｄ／Ａコンバータ、７１  増幅器、８１  温度補償部、８２〜８４  温度測定器、８５  恒温槽。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【国際調査報告】
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2016139797.tif 000009
2016139797.tif 000010
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