(57)【要約】  ピンホールの誤検出やそれに起因して瑕疵のない缶体が排除されてしまうことを抑制できるライトテスタを提供する。  ライトテスタ１において、閾値を一定値である第１の値ＵＬとした第１検査パターン（ステップＳ３）と、閾値を検査ゾーン６での検出値Ｘ１が増大を開始し、その増大を開始した時点での検出値Ｘ１に判断値Ｍ１を加えて第２の値ＳＬとした第２検査パターン（ステップＳ４）と、閾値を検査ゾーン６に缶体２が進入した時点での検出値Ｘ１（ｎ）と検査ゾーン６から缶体２が出る時点での検出値Ｘ１（ｎ＋２）との平均値Ａｖｅに他の判断値Ｍ２を加えて第３の値ＴＬとした第３検査パターン（ステップＳ５）とを備えている。
2016117011.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査ゾーンに搬送されてきた缶体に光を照射する光源と、前記光源から前記缶体に照射された光の通過量に応じた検出値を出力する光センサとを備え、前記検査ゾーンでの前記検出値の最大値が予め定めた閾値を超えた場合に前記缶体にピンホールがあることの検出信号を出力するように構成されているライトテスタにおいて、
前記閾値を予め定めた一定値である第１の値とした第１検査パターンと、
前記閾値を前記検査ゾーンでの前記検出値が増大を開始し、その増大を開始した時点での前記検出値に所定の判断値を加えた第２の値とした第２検査パターンと、
前記閾値を前記検査ゾーンに前記缶体が進入した時点での前記検出値と前記検査ゾーンから前記缶体が出る時点での前記検出値との平均値に所定の他の判断値を加えた第３の値とした第３検査パターンとを備えていることを特徴とするライトテスタ。
【請求項２】
前記第１検査パターンないし前記第３検査パターンのうち少なくとも２つの検査パターンを並行して実行するように構成されていることを特徴とする請求項１に記載のライトテスタ。
【請求項３】
前記第１検査パターンないし前記第３検査パターンを並行して実行するように構成されていることを特徴とする請求項１に記載のライトテスタ。
【請求項４】
前記最大値が前記第１の値より小さい場合に、前記第２検査パターンおよび前記第３検査パターンを並行して実行するように構成されていることを特徴とする請求項１に記載のライトテスタ。
【請求項５】
前記最大値が前記第１の値ないし前記第３の値のうちいずれかを超えた場合に、前記検出信号が入力されることにより前記ピンホールがある前記缶体を排除する排除装置に前記検出信号を出力し、かつ、前記缶体に前記ピンホールがあることの警告を発する警告装置に警告信号を出力するように構成されていることを特徴とする請求項２ないし４のいずれかに記載のライトテスタ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、検査ゾーンに搬入されてきた缶体に光を照射する光源と、缶体を通過する光を検出する光センサとを備えたライトテスタに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種のライトテスタを用いて缶体におけるピンホールを検査する方法の一例が特開２００４−２９４３９１号公報に記載されている。そのライトテスタは、スターホイールによって連続的に供給される缶体に対し、その缶体の外側から光を照射し、その缶体におけるピンホールを通過した光を缶体の内側に配置した光電子増倍管によって検出するように構成されている。また、その光電子増倍管によってピンホールを通過した光の通過量を複数回検出し、それらの検出値のうち３つの検出値を閾値と比較するようになっている。それら３つの検出値のうち２つの検出値が閾値を超えた場合には、缶体にピンホールがあると判断する。また、１つの検出値のみが閾値を超えた場合には、缶体にピンホールがなく、缶体の内側と外側とを隔絶するシール部から缶体の内側に光の漏れがあったと判断する。【０００３】
また、特公平８−２０３８１号公報には、ライトテスタにおける光センサのピンホール検出機能を自己診断する装置が記載されている。その装置は、テスト用ピンホールが形成されたターレットを有している。そのターレットは缶体をライトテスタに向けて搬送するスターホイールと共に回転する。そして、缶体におけるピンホールの検査中に、テスト用ピンホールを通過した光を光センサによって検出するように構成されている。光センサに対応する位置にテスト用ピンホールが旋回してきているにも拘わらず、光センサから検出信号がない場合には、光センサのピンホール検出機能に障害が生じていると判断する。【０００４】
上記の特開２００４−２９４３９１号公報に記載された構成では、連続して搬送される缶体が一部、抜けていることによってスターホイールに缶体が装着されていない場合には、光源の光が缶体によって遮られずに光電子増倍管に直接入射する。その場合の検出値は、入射光量が多いために大きい値となる。一方、通常使用されている光電子増倍管あるいはこれを使用した検出装置では、入射光量の減少に対して検出値の低下が遅れる特性がある。そのため、ピンホールを通過した光量に対して遙かに多い光が入射した場合には、その後に入射光量が低下しても検出値の低下が遅れて、しばらくの間は、入射光量に対して大きい検出信号が出力されてしまう。そのため、高速で送られてくる缶体のピンホール検査を行っている過程で、一時的に缶体が抜けてしまった場合には、後続する缶体についての検出値が、入射光量が過大であった場合の後のいわゆる残存する検出値の影響を受けて、実際よりも大きい値となってしまう。このように、過大入射光量の影響を受けている状態で、連続搬送されている後続の缶体のピンホール検査を行ってしまうと、ピンホールの無いいわゆる良缶であっても不良缶として判断され、排除されてしまう可能性がある。このような誤判定は、缶体の搬送速度あるいは検査速度が速いほど顕著になる。このような不都合は、特公平８−２０３８１号公報に記載された発明によっても同様に生じる可能性がある。
【発明の概要】
【０００５】
この発明は、上記の技術的課題に着目してなされたものであって、ピンホールの誤検出やそれに起因して瑕疵のない缶体が排除されてしまうことを抑制できるライトテスタを提供することを目的とするものである。
【０００６】
上記の目的を達成するために、この発明は、検査ゾーンに搬送されてきた缶体に光を照射する光源と、前記光源から前記缶体に照射された光の通過量に応じた検出値を出力する光センサとを備え、前記検査ゾーンでの前記検出値の最大値が予め定めた閾値を超えた場合に前記缶体にピンホールがあることの検出信号を出力するように構成されているライトテスタにおいて、前記閾値を予め定めた一定値である第１の値とした第１検査パターンと、前記閾値を前記検査ゾーンでの前記検出値が増大を開始し、その増大を開始した時点での前記検出値に所定の判断値を加えた第２の値とした第２検査パターンと、前記閾値を前記検査ゾーンに前記缶体が進入した時点での前記検出値と前記検査ゾーンから前記缶体が出る時点での前記検出値との平均値に所定の他の判断値を加えた第３の値とした第３検査パターンとを備えていることを特徴とするものである。
【０００７】
この発明では、前記第１検査パターンないし前記第３検査パターンのうち少なくとも２つの検査パターンを並行して実行するように構成されていてよい。
【０００８】
またこの発明では、前記第１検査パターンないし前記第３検査パターンを並行して実行するように構成されていてよい。
【０００９】
さらにこの発明では、前記最大値が前記第１の値より小さい場合に、前記第２検査パターンおよび前記第３検査パターンを並行して実行するように構成されていてよい。
【００１０】
そしてこの発明では、前記最大値が前記第１の値ないし前記第３の値のうちいずれかを超えた場合に、前記検出信号が入力されることにより前記ピンホールがある前記缶体を排除する排除装置に前記検出信号を出力し、かつ、前記缶体に前記ピンホールがあることの警告を発する警告装置に警告信号を出力するように構成されていてよい。
【００１１】
この発明によれば、閾値を一定値とした検査に加えて、検出値の増大開始時の検出値に所定の判断値を加えた閾値を使用する検査、および、検査ゾーンに缶体が進入した時の検出値と検査ゾーンから缶体が出る時の検出値との平均値に所定の他の判断値を加えた閾値を使用する検査を行う。そのため、光センサが過大入射光量の影響を受けている状態であっても、ピンホールのない良缶を不良缶として排除するなどの誤判定を抑制でき、また缶体の再検査の頻度を低減できる。
【００１２】
また、この発明によれば、各検査パターンのうち少なくとも２つの検査パターンが並行して実行され、あるいは、３つの検査パターンが並行して実行され、あるいは、前記最大値が前記第１の値より小さい場合に第２検査パターンおよび第３検査パターンが並行して実行される。そして、検出値の最大値が第１の値ないし第３の値のいずれかを超えた場合にはつまり不良缶が発生した場合には、その不良缶を排除する排除装置に、缶体にピンホールがあることの検出信号すなわち排除信号が出力される。また、警告装置に警告信号が出力される。こうすることにより、排除装置によって不良缶のみを排除できるとともに、警告装置によってこの発明に係るライトテスタの操作者あるいはその周囲の者に対して不良缶の発生を知らせることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】この発明に係るライトテスタにおけるコントローラで実行される制御の一例を説明するためのフローチャートである。
【図２】この発明における第１検査パターンの一例を説明するためのフローチャートである。
【図３】この発明における第２検査パターンの一例を説明するためのフローチャートである。
【図４】この発明における第３検査パターンの一例を説明するためのフローチャートである。
【図５】この発明に係るライトテスタで実行される各検査パターンを説明するためのタイムチャートである。
【図６】この発明に係るライトテスタで実行される第２検査パターンの一例を説明するためのタイムチャートである。
【図７】この発明に係るライトテスタで実行される第３検査パターンの一例を説明するためのタイムチャートである。
【図８】この発明に係るライトテスタの一例を示す図である。
【図９】この発明に係るライトテスタの断面図である。
【図１０】この発明に係るライトテスタにおけるコントローラで実行される制御の他の例を説明するためのフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
この発明に係るライトテスタは、要は、缶体に光を照射し、その缶体を通過した光に基づいて缶体におけるピンホール検査を行う装置である。図８は、この発明に係るライトテスタの一例を示す図である。そのライトテスタ１で検査対象とされる缶体２は例えば内容物が充填される前の金属缶や製品としての缶とされる前の複数の処理が必要とされる中間品などであって、有底の円筒状に形成されている。その缶体２はコンベアなどの搬送装置３を介してライトテスタ１のスターホイール４のポケット５に供給される。そのスターホイール４は検査ゾーン６に缶体２を供給するためのものであり、例えば図示しないサーボモータによって回転させられる。缶体２はスターホイール４の回転に伴って旋回する。ポケット５に収容された缶体２の開口部は後述する光センサ側に配置されており、またその開口部側の端部はスターホイール４と一体に回転する後述するターレットに押しつけられる。こうすることにより、それらの間から缶体２の内部に光が漏れないようになっている。
【００１５】
上記の検査ゾーン６は、缶体２の旋回円２ａに沿って円弧状に形成されている。その検査ゾーン６の幅あるいは長さは、ここに示す例では、缶体２の直径より若干長い。また旋回円２ａに沿って光源７が配置されている。図８に示す例では、旋回円２ａの半径方向で外側に第１光源７ａが配置され、旋回円２ａの半径方向で内側に第２光源７ｂが配置されている。それら光源７ａ，７ｂとしては、例えば発光ダイオードを用いることができ、こうすることにより光源７に蛍光灯や電球を用いる場合に比較して消費電力を抑制できる。また、検査ゾーン６の中央部６ａに、図示しない固定部に固定された光センサ８が配置されており、その光センサ８の図示しない受光部の前を缶体２の開口部が通過するようになっている。
【００１６】
ここで、缶体２のピンホールを通過して光センサ８の受光部に入射される光量について簡単に説明する。光センサ８は上述したように、缶体２の旋回円２ａに沿うように形成された検査ゾーン６の中央部６ａに配置されている。そのため、検査ゾーン６の入口あるいは出口に位置している缶体２のピンホールの開口面積は、検査ゾーン６の中央部に位置している缶体２のピンホールの開口面積より、見かけ上、狭い。つまり、検査ゾーン６の入口あるいは出口に缶体２が位置している場合には、光センサ８の受光部に入射する光量が少ない。そして、缶体２が光センサ８に接近するにつれて上記の受光部に入射する光量が増大する。したがって、缶体２にピンホールがあるとすれば、光センサ８の検出値Ｘ１は放物線状に変化し、検査ゾーン６の中央部６ａで最も大きくなる傾向がある。
【００１７】
上記の光センサ８には、例えば、光電子増倍管を用いることができる。その光電子増倍管は光電効果を利用して光エネルギを電気エネルギに変換し、その電気エネルギを増大して出力するように構成されており、その基本的な構成は従来知られている光電子増倍管と同様である。これに替えてフォトダイオードやフォトトランジスタなどを用いることもできる。これらの光センサ８は、その受光部に入射した光量に応じた電流値もしくは電圧値を検出値として出力する。また入射光量に応じた検出値を出力するものの、過大光量が入射された場合には、そのエネルギが残存するなどのことが要因となって入射光量の減少に対して検出値が若干遅れる特性を有している。そのため、受光部に入射する光量が過剰になると検出値も大きくなり、その後に入射光量が低下しても検出値の低下が遅れて、しばらくの間は、入射光量に対して大きい検出値が出力されてしまう。すなわち光センサ８が通常の状態に復帰するまでにある程度の時間を要する。
【００１８】
上記のライトテスタ１にスターホイール４の回転角度を検出する回転角度センサ９が設けられている。その回転角度センサ９の基本的な構成は従来知られている回転角度センサと同様である。その回転角度センサ９の検出信号は後述するＥＣＵに入力されるようになっている。ここに示す例では、回転角度センサ９の検出信号に基づいて検査ゾーン６に缶体２が進入し、また、検査ゾーン６から缶体２が出たことを判断するように構成されている。なお、後述するように、検査ゾーン６に缶体２が進入したと判断された時点では、その缶体２の約半分が検査ゾーン６に進入しており、検査ゾーン６から缶体２が出たと判断された時点では、缶体２の約半分が検査ゾーン６に残っている。つまり缶体２の約半分が検査ゾーン６から出ている。その検査ゾーン６から出た缶体２はコンベアなどの搬出装置１０を介して次工程に搬送される。
【００１９】
また、上記のライトテスタ１に本発明のコントローラとして機能する電子制御装置（以下、ＥＣＵと称する。）１１が設けられている。このＥＣＵ１１はマイクロコンピュータを主体にして構成され、入力されたデータおよび予め記憶させられているデータを使用して演算を行い、その演算結果を制御指令信号として出力するように構成されている。具体的には、ＥＣＵ１１に入力されるデータの例を挙げると、光センサ８の検出値Ｘ１や回転角度センサ９の検出信号などである。また、それらのデータに基づいて後述するように複数の閾値を算出し、かつ、それらの閾値と光センサ８の検出値Ｘ１とを使用して演算を行い、缶体２におけるピンホールの有無を判断する。そして、缶体２にピンホールがあると判断された場合には、後述する排除装置１２に排除信号ＲＳを出力し、また、後述する警告装置１３に警告信号ＷＳを出力するように構成されている。上記の排除信号ＲＳがこの発明における検出信号に相当している。なお、ピンホールのある缶体を以下の説明では、不良缶２ｒと記す。
【００２０】
上記の排除装置１２は、例えば搬出装置１０に設けられており、上記の排除信号ＲＳが入力された場合に、搬出装置１０から不良缶２ｒを排除するように構成されている。警告装置１３は、上記の警告信号ＷＳが入力された場合に、ライトテスタ１の動作を監視するモニタ１４に不良缶２ｒの発生を表示したり、音や光、振動を発生させたり、あるいはそれらの組み合わせを生じさせたりするように構成されている。また、搬送装置３を停止したり、スターホイール４の回転を停止したりするように構成してもよい。警告装置１３は、要は、この発明におけるライトテスタ１の操作者あるいはその周囲の者に対して不良缶２ｒの発生を知らせるように構成されていればよい。
【００２１】
図９は、図８に示すライトテスタ１の断面図である。スターホイール４と同軸上にターレット１５が配置されており、それらスターホイール４とターレット１５とは一体に回転するように構成されている。そのターレット１５における上記のポケット５に対応する位置に缶体２の開口部２ｂの直径より小さい直径の貫通孔１６が形成されており、その貫通孔１６の周囲に、缶体２の開口部２ｂ側の自由端部２ｃが押しつけられる。こうすることにより、ターレット１５と缶体２とが隙間なく密着させられて、缶体２の内部に光源７からの光が漏れないようになっている。
【００２２】
ターレット１５を挟んでスターホイール４とは反対側に光センサ８が配置されていて、そのターレット１５における光センサ８側の側面に第１遮光部材１７が取り付けられている。その第１遮光部材１７に上記の貫通孔１６の直径より小さい直径の第１検査孔１７ａが形成されている。また、光センサ８に第１遮光部材１７に摺接する第２遮光部材１８が取り付けられている。その第２遮光部材１８に第１検査孔１７ａと同じ直径の第２検査孔１８ａが形成されている。相対回転する光センサ８とターレット１５との隙間から光センサ８に光が差し込むことを、それら遮光部材１７，１８によって抑制するように構成されている。また第１検査孔１７ａと第２検査孔１８ａとが連通した場合に缶体２のピンホールを通過した光が光センサ８の図示しない受光部に入射するようになっている。
【００２３】
（実施例１）
この発明に係るライトテスタ１は、缶体２を通過した光を検出する光センサ８の検出値に基づいて缶体２におけるピンホール検査を行うように構成されている。図１は、その制御の一例を説明するためのフローチャートであって、このルーチンは所定の短時間ごとに、あるいは、スターホイール４の回転と同期して繰り返し実行される。図１に示す制御例では、先ず、ピンホールがあるとされた場合にオンにされるフラグ（以下、ＮＧフラグと称する。）がリセットされる（ステップＳ１）。
【００２４】
次いで、検査ゾーン６の入口にスターホイール４における所定のポケット５が旋回してきたか否かが判断される（ステップＳ２）。このステップＳ２の判断は、例えば、上述した回転角度センサ９によってスターホイール４の回転角度を検出することにより行うことができ、所定のポケット５が検査ゾーン６の入口に到達するまで繰り返し実行される。この場合に、上記のポケット５に缶体２が収容されていなくてもよい。なお、缶体２が収容されているポケット５が検査ゾーン６の入口に旋回してきたと判断された時点では、すなわち、このステップＳ２で否定的な判断結果から肯定的な判断結果に変化した時点では、そのポケット５に収容されている缶体２の約半分が検査ゾーン６に進入している。
【００２５】
上記のステップＳ２で肯定的に判断された場合には、第１検査パターン（ステップＳ３）と、第２検査パターン（ステップＳ４）と、第３検査パターン（ステップＳ５）とが同時並行的に実行される。これらの検査パターンについて順に説明する。図２は、この発明における第１検査パターンの一例を説明するためのフローチャートである。図１に示すルーチンのステップＳ２で肯定的に判断されると、光センサ８の検出値Ｘ１が、第１の値ＵＬ以上であるか否かが判断される（ステップＳＲ１０１）。上記の第１の値ＵＬは、缶体２におけるピンホールの有無を確実に判断するための閾値であり、ここに示す例では一定値として設定されている。検出値Ｘ１が第１の値ＵＬを超えた場合には、缶体２に大きなピンホールがあるか上記のポケット５に缶体２が収容されていない、と判断される。上記の第１の値ＵＬは、一例として、実験により予め決めておくことができ、ここに示す例では、３．０Ｖに設定される。
【００２６】
ステップＳＲ１０１で肯定的に判断された場合には、ＮＧフラグがオンにされ（ステップＳＲ１０２）、その後、ポケット５が検査ゾーン６の出口に到達したか否かが判断される（ステップＳＲ１０３）。これとは反対に、ステップＳＲ１０１で否定的に判断された場合には、ＮＧフラグをオンにすることなく、ステップＳＲ１０３に進む。
【００２７】
上記のステップＳＲ１０３での判断は、回転角度センサ９によってスターホイール４の回転角度を検出することにより行うことができる。ポケット５が検査ゾーン６の出口に到達したことによりステップＳＲ１０３で肯定的に判断された場合には、図１に示すルーチンのステップＳ６に進む。これとは反対に、ポケット５が検査ゾーン６の出口に到達していないことによりステップＳＲ１０３で否定的に判断された場合には、上述したステップＳＲ１０１に戻る。なお、缶体２が収容されているポケット５が検査ゾーン６の出口に到達したと判断された時点では、すなわち、このステップＳＲ１０３で否定的な判断結果から肯定的な判断結果に変化した時点では、そのポケット５に収容されている缶体２の約半分が検査ゾーン６から出ている。このように第１検査パターンでは、光センサ８の検出値Ｘ１が第１の値ＵＬを超えた缶体２のみが不良缶２ｒとして排除される。
【００２８】
図３は、この発明における第２検査パターンの一例を説明するためのフローチャートである。図１に示すルーチンのステップＳ２で肯定的に判断されると、光センサ８の検出値Ｘ１が、一時的に記憶された第１記憶値Ｙ１以下であるか否かが判断される（ステップＳＲ２０１）。ここで、第１記憶値Ｙ１について簡単に説明する。ＥＣＵ１１は図１に示すルーチンが実行されて光センサ８の検出値が入力される毎に、その検出値を一時的に記憶するように構成されている。上記の第１記憶値Ｙ１は、例えば、図１および図３に示すルーチンの実行中に光センサ８からＥＣＵ１１に入力された検出値のうち、現時点より１回前に光センサ８からＥＣＵ１１に入力された検出値である。現時点での光センサ８の検出値Ｘ１が前回値である第１記憶値Ｙ１以下の場合には光センサ８の検出値Ｘ１は減少傾向にあり、現時点での光センサ８の検出値Ｘ１が前回値である第１記憶値Ｙ１より大きい場合には光センサ８の検出値Ｘ１は増大傾向にある。このステップＳＲ２０１は、要は、光センサ８の検出値Ｘ１が増大傾向にあるか否かを判断するステップである。
【００２９】
先ず、検出値Ｘ１が増大傾向にある場合について説明する。これは、上述したように検出値Ｘ１が第１記憶値Ｙ１より大きいことによりステップＳＲ２０１で否定的に判断された場合である。この場合には、検出値Ｘ１が第１記憶値Ｙ１に所定の判断値Ｍ１を加えた第２の値ＳＬ以上であるか否かが判断される（ステップＳＲ２０２）。光センサ８の検出値Ｘ１は、例えばノイズによって変動する場合がある。このようなノイズを考慮に入れないとすれば、缶体２にピンホールがないにも拘わらずピンホールがあると判断されてしまう可能性がある。そのため、このような不都合を回避するために上記の判断値Ｍ１が設定される。その判断値Ｍ１は、一例として、実験により予め決めておくことができ、ここに示す例では、０．５Ｖに設定される。つまり第２の値ＳＬは変数であり、本発明における第２の値に相当する。
【００３０】
検出値Ｘ１が第２の値ＳＬ以上である場合には、ステップＳＲ２０２で肯定的に判断される。すなわち缶体２にピンホールがあると判断される。この場合には、ＮＧフラグがオンにされる（ステップＳＲ２０３）。これは図２に示すステップＳＲ１０２での制御と同様の制御である。一方、検出値Ｘ１が増大傾向にあるものの、検出値Ｘ１が第２の値ＳＬより小さいことによりステップＳＲ２０２で否定的に判断された場合には、ステップＳＲ２０１に戻る。ステップＳＲ２０２で否定的に判断される場合には、例えば、検出値Ｘ１が最も大きくなる傾向がある検査ゾーン６の中央部６ａに缶体２が到達していない場合が挙げられる。検査ゾーン６の中央部６ａでの検出値と第２の値ＳＬとを比較するため、ステップＳＲ２０２で否定的に判断された場合にはステップＳＲ２０１に戻る。前記中央部６ａでの検出値と第２の値ＳＬとを比較してもステップＳＲ２０２で否定的に判断された場合には、再びステップＳ２０１に戻る。またその後、缶体２が検査ゾーン６の中央部６ａを通過すると、検出値Ｘ１は次第に減少する。この場合には、ステップＳ２０１で肯定的に判断される。
【００３１】
ステップＳＲ２０３の後、ポケット５が検査ゾーン６の出口に到達したか否かが判断される（ステップＳＲ２０４）。これは図２に示すステップＳＲ１０３での制御と同様の制御であり、ポケット５が検査ゾーン６の出口に到達したことによりステップＳＲ２０４で肯定的に判断された場合には、図１に示すルーチンのステップＳ６に進む。ポケット５が検査ゾーン６の出口に到達していないことによりステップＳＲ２０４で否定的に判断された場合には、上述したステップＳＲ２０１に戻る。すなわち、ポケット５が検査ゾーン６の出口に到達するまで、上述した制御が繰り返し実行される。
【００３２】
次いで、検出値Ｘ１が減少傾向もしくは一定である場合について説明する。これは、検出値Ｘ１が第１記憶値Ｙ１以下であることによりステップＳＲ２０１で肯定的に判断された場合である。この場合には、第１記憶値Ｙ１に検出値Ｘ１が入力される（ステップＳＲ２０５）。その後、ステップＳＲ２０４に進む。このように第２検査パターンでは、光センサ８の検出値Ｘ１が第２の値ＳＬ以上となった缶体２のみが不良缶２ｒとして排除される。
【００３３】
図４は、この発明における第３検査パターンの一例を説明するためのフローチャートである。光センサ８は上述したように過大光量が入射された場合に、入射光量の減少に対して検出値Ｘ１が若干遅れて低下する特性を有している。検出値Ｘ１が低下している場合であってかつ単位時間当たりの検出値Ｘ１の低下量が大きい場合には、ピンホールを通過した入射光量を反映した検出値Ｘ１の変化曲線は、見かけ上、後述する図７に示すように、なだらかな右肩下がりの曲線になる。このように検出値Ｘ１が変化する場合には、検出値Ｘ１の最大値が第２の値ＳＬを超えることができない可能性がある。つまり第２検査パターンによってはピンホールのある缶体２を排除できない場合に第３検査パターンによってピンホールのある缶体２が排除される。具体的には、図１に示すルーチンのステップＳ２で肯定的に判断されると、そのステップＳ２で肯定的に判断された時点すなわち検査ゾーン６に缶体２が進入した時点での光センサ８の検出値Ｘ１（ｎ）が取得される。そして、その検出値Ｘ１（ｎ）に他の判断値Ｍ２を加えた第１合算値Ｃ１が上述した第１の値ＵＬ以上であるか否かが判断される（ステップＳＲ３０１）。上記の他の判断値Ｍ２は、上記の判断値Ｍ１と同様の理由で設定されるものであり、ここに示す例では、判断値Ｍ１と同様に０．５Ｖに設定されている。なお、各判断値Ｍ１，Ｍ２は異なる値であってもよい。上記の第１合算値Ｃ１が第１の値ＵＬより小さいことによりステップＳＲ３０１で否定的に判断された場合には、第２記憶値Ｙ２に第１合算値Ｃ１が入力される（ステップＳＲ３０２）。一方、第１合算値Ｃ１が第１の値ＵＬ以上であることによりステップＳＲ３０１で肯定的に判断された場合には、第２記憶値Ｙ２に第１の値ＵＬが入力される（ステップＳＲ３０３）。
【００３４】
上記のステップＳＲ３０２あるいはステップＳＲ３０３の後、検査ゾーン６の中央部６ａにスターホイール４のポケット５が到達したか否かが判断される（ステップＳＲ３０４）。この判断は、回転角度センサ９によってスターホイール４の回転角度を検出することにより行うことができる。またこの判断は、ポケット５が検査ゾーン６の中央部６ａに到達するまで繰り返し実行される。ポケット５が検査ゾーン６の中央部６ａに到達したことによりステップＳＲ３０４で肯定的に判断された場合には、その時点つまり検査ゾーン６の中央部６ａでの光センサ８の検出値Ｘ１（ｎ＋１）が取得される。これは、光センサ８が過大入射光量の影響を受けた後に、その検出値が低下している場合でないとすれば、ピンホールを通過した光量に基づく検出値が検査ゾーン６の中央部６ａで最も大きくなる傾向があるためである。そして、第３記憶値Ｙ３に前記検出値Ｘ１（ｎ＋１）が入力される（ステップＳＲ３０５）。
【００３５】
ステップＳＲ３０５の後、ポケット５が検査ゾーン６の出口に到達したか否かが判断される（ステップＳＲ３０６）。この判断は、ポケット５が検査ゾーン６から抜け出るまで繰り返し実行される。ポケット５が検査ゾーン６の出口に到達したことによりステップＳＲ３０６で肯定的に判断されると、そのステップＳＲ３０６で肯定的に判断された時点での光センサ８の検出値Ｘ１（ｎ＋２）が取得される。そして、その検出値Ｘ１（ｎ＋２）に判断値Ｍ２を加えた第２合算値Ｃ２が第１の値ＵＬ以上であるか否かが判断される（ステップＳＲ３０７）。
【００３６】
ステップＳＲ３０７で否定的に判断された場合には、第４記憶値Ｙ４に第２合算値Ｃ２が入力される（ステップＳＲ３０８）。一方、ステップＳＲ３０７で肯定的に判断された場合には、第４記憶値Ｙ４に第１の値ＵＬが入力される（ステップＳＲ３０９）。それらのステップＳＲ３０８あるいはステップＳＲ３０９の後、第２記憶値Ｙ２と、第４記憶値Ｙ４との平均値Ａｖｅが算出される（ステップＳＲ３１０）。その平均値Ａｖｅがこの発明における第３の値ＴＬであって、第５記憶値Ｙ５に第３の値ＴＬが入力される。つまり第３の値ＴＬは変数である。
【００３７】
ステップＳＲ３１０の後、上記の第３記憶値Ｙ３が第５記憶値Ｙ５以上であるか否かが判断される（ステップＳＲ３１１）。つまり検査ゾーン６の中央部６ａでの光センサ８の検出値Ｘ１（ｎ＋１）が第３の値ＴＬ以上であれば、ステップＳＲ３１１で肯定的に判断される。その場合は、ステップＳＲ３１２に進んで、ＮＧフラグがオンにされ、その後、図１に示すルーチンのステップＳ６に進む。一方、検査ゾーン６の中央部６ａでの検出値Ｘ１（ｎ＋１）が第３の値ＴＬより小さいことによりステップＳＲ３１１で否定的に判断された場合には、ＮＧフラグをオンにすることなく図１に示すルーチンのステップＳ６に進む。第３検査パターンでは、中央部６ａでの検出値Ｘ１（ｎ＋１）が第３の値ＴＬ以上となった缶体２のみが不良缶２ｒとして排除される。
【００３８】
図１に示すルーチンのステップＳ６では、上述した各サブルーチンを実行した結果、ＮＧフラグがオンになっているか否かが判断される。ＮＧフラグがオンになっていることによりステップＳ６で肯定的に判断された場合には、排除装置１２に不良缶２ｒを排除するための排除信号ＲＳがＥＣＵ１１から出力されるとともに、警告装置１３に警告信号ＷＳが出力される（ステップＳ７）。その後、リターンする。一方、ＮＧフラグがオフのままであることによりステップＳ６で否定的に判断された場合には、不良缶２ｒがないため、特に制御を行うことなくリターンする。
【００３９】
図５は、この発明に係るライトテスタで実行される各検査パターンの例を説明するためのタイムチャートである。先ず、スターホイール４のポケット５に缶体２が収容されている場合について説明する。スターホイール４における所定のポケット５が検査ゾーン６の入口に到達した時点ｔ１で、例えば、検査ゾーン６の入口にポケット５が到達されたことを示すフラグがオンにされる。この時点ｔ１では、上述したように、缶体２の約半分が検査ゾーン６に進入している。一方、ポケット５が検査ゾーン６の出口に到達した時点ｔ２では、上記のフラグがオフにされる。この時点ｔ２では、上述したように、缶体２の約半分が検査ゾーン６から出ており、約半分が検査ゾーン６に残っている。上記のフラグのオン・オフを図５にジグザグの実線ｌ１で記載してある。その実線ｌ１における符号Ａないし符号Ｌで示す部分は、検査ゾーン６に所定のポケット５が配置されていることを示している。また、光センサ８の検出値Ｘ１の変化を図５に実線ｌ２で記載してある。
【００４０】
検査ゾーン６では、缶体２の外側に光源７から光が照射される。缶体２にピンホールがないとすれば、光センサ８の検出値Ｘ１はほぼゼロあるいはほぼ一定となる。具体的には、図５に示すように、符号Ａや符号Ｂで示すポケット５に収容された缶体２についての検出値Ｘ１はほぼ一定であり、上述した第１の値ＵＬ，第２の値ＳＬ，第３の値ＴＬのいずれをも超えないため、それらのポケット５に収容された缶体２にピンホールがないと判断される。
【００４１】
これに対して缶体２にピンホールがあるとすれば、そのピンホールを通過した光が光センサ８によって検出されるため検出値Ｘ１が増大する。光センサ８の検出値Ｘ１は、上述したように、放物線状に変化し、検査ゾーン６の中央部６ａで最も大きくなる傾向がある。
【００４２】
この発明では、不良缶２ｒを排除するために、図５に示すように、光センサ８の検出値Ｘ１が増大し始めた時点ｔ３での検出値Ｘ１に判断値Ｍ１を加えて第２の値ＳＬを設定する。そして、検出値Ｘ１が第２の値ＳＬを超えた場合に、缶体２にピンホールがあるとして排除装置１２に排除信号ＲＳが出力される。また、警告装置１３に警告信号ＷＳが出力される。それらの信号ＲＳ，ＷＳはポケット５が検査ゾーン６の出口に到達した時点ｔ４で出力される。これが、上述した第２検査パターンである。なお、検出値Ｘ１が第２の値ＳＬを超えない場合には、缶体２にピンホールがないと判断され、上述した排除信号ＲＳや警告信号ＷＳが出力されない。なおまた、検出値Ｘ１が第１の値ＵＬを超えた場合には、缶体２にピンホールがあるとしてその缶体２を排除する排除信号ＲＳが排除装置１２に出力され、警告装置１３に警告信号ＷＳが出力される。これが、上述した第１検査パターンである。
【００４３】
次いで、スターホイール４のポケット５に缶体２がない場合について説明する。具体的には、図５に符号Ｅで示すポケット５に缶体２が収容されなかった場合には、上記の符号Ｅで示すポケット５が検査ゾーン６の入口に到達した時点ｔ５で、光センサ８に光源７からの光が直接照射される。この場合、光センサ８の検出値Ｘ１が大きい値となって第１の値ＵＬを超えてしまう。これは、上述したように、缶体２におけるピンホールが大きい場合にも生じる可能性がある。いずれの場合であっても、検出値Ｘ１が第１の値ＵＬを超えていれば、図５に符号Ｅで示すポケット５が検査ゾーン６の出口に到達した時点ｔ６で排除装置１２に排除信号ＲＳが出力され、警告装置１３に警告信号ＷＳが出力される。これが、上述した第１検査パターンである。
【００４４】
光センサ８に過大光量が入射された場合、上述したように、検出値Ｘ１は入射光量の低下に対して若干遅れて低下し、光センサ８が通常の状態に復帰するまでにある程度の時間を要する。つまり、図５に符号Ｆで示すポケット５に収容されている缶体２は、光センサ８が過大光量の影響を受けている状態でピンホールの有無が判断される。その缶体２にピンホールがないとすれば、光センサ８に入射する光はないため、検出値Ｘ１は図５に示すように滑らかに減衰する。一方で、ピンホールがあるとすれば、そのピンホールを通過した光が光センサ８に入射する。そのため、検出値Ｘ１は全体として減少傾向にあるものの、一時的に増大する。これを、図５に符号Ｇで示すポケット５に収容されている缶体２を例として説明する。
【００４５】
図６は、この発明に係るライトテスタ１で実行される第２検査パターンの一例を説明するためのタイムチャートである。図６に示すように、検出値Ｘ１が増大し始めた時点ｔ７での検出値Ｘ１に判断値Ｍ１を加えて第２の値ＳＬを設定する。そして、検出値Ｘ１が第２の値ＳＬを超えた場合には、そのポケット５が検査ゾーン６の出口に到達した時点ｔ９で排除信号ＲＳや警告信号ＷＳが出力される。これが上述した第２検査パターンである。なお、時点ｔ８については後述する。
【００４６】
また、例えば図５に符号Ｇで示すポケット５に収容されている缶体２を第３検査パターンで排除する場合について説明する。図７は、この発明に係るライトテスタ１で実行される第３検査パターンの一例を説明するためのタイムチャートである。図５に符号Ｇで示すポケット５が検査ゾーン６の入口に旋回してきた時点ｔ７すなわち缶体２が検査ゾーン６に進入した時点ｔ７での検出値Ｘ１（ｎ）に判断値Ｍ２を加えた第１合算値Ｃ１が算出され、これが第２記憶値Ｙ２に入力される。また、検査ゾーン６の中央部６ａに缶体２が到達した時点ｔ８での検出値Ｘ１（ｎ＋１）が第３記憶値Ｙ３に入力される。さらに、検査ゾーン６の出口に缶体２が到達した時点ｔ９での検出値Ｘ１（ｎ＋２）に判断値Ｍ２を加えた第２合算値Ｃ２が算出され、これが第４記憶値Ｙ４に入力される。その時点ｔ９において、第２記憶値Ｙ２と第４記憶値Ｙ４との平均値Ａｖｅが算出される。この平均値Ａｖｅが上述したように第３の値ＴＬであり、これが第５記憶値Ｙ５に入力される。そして第３の値ＴＬである第５記憶値Ｙ５と第３記憶値Ｙ３とが比較され、第３記憶値Ｙ３が第５記憶値Ｙ５を超えていれば、図５に符号Ｇで示すポケット５に収容された缶体２にピンホールがあるとして、時点ｔ９で排除装置１２に排除信号ＲＳが出力され、警告装置１３に警告信号ＷＳが出力される。これが上述した第３検査パターンである。
【００４７】
したがって、この発明によれば、光センサ８が過大光量の影響を受けている状態であっても、上述したように複数の閾値が設定されるため、ピンホールのないいわゆる良缶が不良缶２ｒとして排除される誤検出を抑制できる。これにより、再検査が必要な缶体２を少なくできる。また、この発明では、排除装置１２に排除信号ＲＳを出力すると共に、警告装置１３に警告信号ＷＳを出力して警告装置１３で警告を発するように構成されている。そのため、不良缶２ｒが発生した場合には、その不良缶２ｒを排除するとともに、この発明に係るライトテスタ１の操作者およびその周囲の者に対して不良缶２ｒの発生を知らせることができる。
【００４８】
（実施例２）
上述した図１に示す制御例は、３つの検査パターンを同時並行的に実行するように構成した例であるが、この発明では光センサ８の検出値Ｘ１が第１の値ＵＬより小さい場合に、第２検査パターンおよび第３検査パターンを同時並行的に実行するように構成することができる。つまり、光センサ８が過大入射光量の影響を受けている状態で第２検査パターンおよび第３検査パターンを同時並行的に実行する。その例を図１０にフローチャートで示してある。この図１０に示すルーチンは、前述した図１に示すルーチンと同様に、所定の短時間ごとに、あるいは、スターホイール４の回転と同期して繰り返し実行される。なお、前述した図１に示す制御例と同様の制御については、図１０に図１と同様のステップ番号を付してその説明を省略する。
【００４９】
検査ゾーン６の入口にスターホイール４における所定のポケット５が旋回してきたことによりステップＳ２で肯定的に判断された場合には、光センサ８の検出値Ｘ１が第１の値ＵＬ以上であるか否かが判断される（ステップＳ８）。これは、図２に示すステップＳＲ１０１での制御と同様の制御であり、第１検査パターンに相当するステップである。検出値Ｘ１が第１の値ＵＬ以上であることによりステップＳ８で肯定的に判断された場合には、ステップＳ７に進んで排除信号ＲＳおよび警告信号ＷＳが出力される。一方、検出値Ｘ１が第１の値ＵＬより小さいことによりステップＳ８で否定的に判断された場合には、ステップＳ４およびステップＳ５に進んで第２検査パターンおよび第３検査パターンが同時並行的に実行される。
【００５０】
したがって、図１０に示す制御を実行するように構成した場合であっても、光センサ８が過大入射光量の影響を受けている状態で缶体のピンホール検査を行うことができる。そのため、ピンホールの無いいわゆる良缶が不良缶２ｒとして排除されてしまう不都合を回避でき、再検査が必要な缶体２を少なくできる。
【００５１】
なお、この発明は上述した各具体例に限定されないのであって、この発明は、検査ゾーン６を通過中の缶体２に対して、第１検査パターンないし第３検査パターンを順に実行するように構成されていてもよい。要は、光センサ８の検出値Ｘ１が第１の値ないし第３の値のうちいずれかの閾値を超えた場合に、検査対象である缶体２にピンホールがあるとして前記排除信号ＲＳおよび警告信号ＷＳを出力するように構成されていればよい。つまり、上述した「同時並行的に実行する」とは、缶体２が検査ゾーン６を通過する際に、３つの検査パターンが実行されることを含む。このように構成した場合であっても、上述した光センサ８が過大入射光量の影響を受けている状態で缶体のピンホール検査を行うことができるため、前述した状態でピンホールの無いいわゆる良缶が不良缶２ｒとして排除されてしまう不都合を回避できる。
【符号の説明】
【００５２】
１…ライトテスタ、  ２…缶体、  ６…検査ゾーン、  ７…光源、  ８…光センサ、  １１…ＥＣＵ、  ＵＬ…第１の値、  ＳＬ…第２の値、  ＴＬ…第３の値、  Ｍ１…判断値、  Ｍ２…他の判断値、  Ａｖｅ…平均値、  Ｘ１…光センサの検出値、  ＲＳ…排除信号、  ＷＳ…警告信号。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【国際調査報告】
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