(57)【要約】  信号光が信号光走査手段４０により走査され、その信号光走査に同期して参照光の光路長を調整する光路長調整手段６６が設けられる。光路長調整手段は、信号光走査に同期して、対象物体の湾曲によって生じる信号光と参照光の光路長の差がなくなるように、参照光の光路長を調整する。このような構成では、対象物体が湾曲している場合でも、平坦な対象物のような断層画像を取得することができ、全領域にわたって鮮明な断層画像を得ることができる。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源から出力された光を対象物体に向かう信号光と参照物体に向かう参照光とに分割し、対象物体を経由した信号光と参照物体を経由した参照光とを重畳させて生成される干渉光に基づいて対象物体の断層画像を形成する光画像計測装置であって、
対象物体に向かう信号光を走査する信号光走査手段と、
前記信号光走査手段による信号光走査に同期して参照光の光路長を調整する光路長調整手段と、を備え、
前記光路長調整手段は、信号光走査に同期して、対象物体の湾曲によって生じる信号光と参照光の光路長の差がなくなるように、参照光の光路長を調整することを特徴とする光画像計測装置。
【請求項２】
前記光路長調整手段による光路長調整を行うことなく断層画像を取得し、該取得した断層画像の解析から対象物体の湾曲を求めることを特徴とする請求項１に記載の光画像計測装置。
【請求項３】
対象物体の形状パラメータから前記対象物体の湾曲を求めることを特徴とする請求項１に記載の光画像計測装置。
【請求項４】
断層画像取得前に、参照光と信号光の光路長を一致させておくことを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の光画像計測装置。
【請求項５】
前記対象物体が被検眼の眼底であることを特徴とする請求項１から４のいずれか１項に記載の光画像計測装置。
【請求項６】
被検眼の視度パラメータから眼底の湾曲を求めることを特徴とする請求項５に記載の光画像計測装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被検眼等の対象物体の形態を観察するための光画像計測装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
被検眼の眼底を撮影するための装置（眼底観察装置）と、眼底の断層像を撮影するためのいわゆるＯＣＴ（Optical Coherence Tomography）技術を応用した光画像計測装置が開示されている（特許文献１）。これは前回測定時の参照ミラーの位置を記憶して、次回においても同じ設定状態を再現できるようにしたもので、眼軸長データからも適切な参照ミラー位置を予想し、効率よく測定を行えるようにするものである。スキャンする場所によって参照ミラーの位置も異なるため、前回と同一の位置をスキャンさせると共に、そのときの参照ミラー位置も記録して再現測定を行うことが可能である。【０００３】
特許文献１に開示されている光画像計測装置は測定対象の人の違いや、同じ人でも測定する場所が異なると適切な参照ミラーの位置が異なっているので、それを補正しようとするものであり、1枚の断層画面内での処理というわけではない。一度参照ミラーの位置を決めてしまえば1枚の断層画像を撮影し終えるまでは参照ミラーを動かさないという特徴がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特許第４８２３６９３号公報
【発明の概要】
【０００５】
ここで強度近視患者の眼底撮影を考える。強度近視とは眼球の前後の長さ（眼軸長）が一定の基準を超えて著しく長い状態をいうが、それはつまり眼底がきわめて湾曲しているということであり、走査時においては眼底の中心とその周辺部とで光路長の差が著しく生じることとなる。上記のように参照ミラーを所定の位置に決めてからスキャンすると、1断層画像の撮影可能範囲に収まりきらない（撮影可能範囲を越えてしまうほどの）光路長の差が中心と周辺とで発生するため、断層画像の一部欠損や得られる断層画像の質が低下するという問題がある。
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
そこで、本発明は、対象物体が湾曲している場合でも全領域にわたって鮮明な断層画像が得られる光画像計測装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決する本発明は、
光源から出力された光を対象物体に向かう信号光と参照物体に向かう参照光とに分割し、対象物体を経由した信号光と参照物体を経由した参照光とを重畳させて生成される干渉光に基づいて対象物体の断層画像を形成する光画像計測装置であって、
対象物体に向かう信号光を走査する信号光走査手段と、
前記信号光走査手段による信号光走査に同期して参照光の光路長を調整する光路長調整手段と、を備え、
前記光路長調整手段は、信号光走査に同期して、対象物体の湾曲によって生じる信号光と参照光の光路長の差がなくなるように、参照光の光路長を調整することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明では、信号光走査手段による走査と同期して、対象物体の湾曲によって生じる信号光と参照光の光路長の差がなくなるように、参照光の光路長を調整するので、対象物体が湾曲している場合でも、平坦な対象物体のような断層画像を取得することができ、全領域にわたって鮮明な断層画像を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】光画像計測装置全体を示すブロック図である。
【図２】走査ユニットの光学系を示す光学図である。
【図３】ＯＣＴユニットの光学系を示す光学図である。
【図４】光画像計測装置の機能ブロック図である。
【図５】参照光の光路長を調整する機構の一例を示す図である。
【図６】眼底の走査領域を説明する図である。
【図７】光画像計測装置の動作を示すフローチャートである。
【図８】断層画像の例を示す図である。
【図９】断層画像の例を示す図である。
【図１０】断層画像の位置関係を示す図である。
【図１１】断層画像の位置関係を示す図である。
【図１２】参照光の光路長を調整する調整信号とガルバノミラー駆動機構の制御信号の例を説明する図である。
【図１３ａ】従来の光画像計測装置で形成した断層画像の例を示す図である。
【図１３ｂ】本発明の光画像計測装置で形成した断層画像の例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、図面を参照しながら実施例に基づいて本発明の光画像計測装置（断層画像取得装置）を詳細に説明する。ここでは、眼科検診用の光画像計測装置で被検眼の眼底（対象物体の一例）の断層画像を取得する例について説明するが、本発明における対象物体は眼底には限られない。
【実施例１】
【００１１】
図１は、光画像計測装置全体を示すブロック図である。光画像計測装置１は、被検眼Ｅの眼底Ｅｆを観察及び撮像する眼底カメラユニット２と、光の干渉を利用して眼底Ｅｆの断層画像を撮像するＯＣＴユニット５０と、これら二つのユニットを制御する演算制御装置１００とを備えており、眼底の断層画像を取得する。眼底カメラユニット２とＯＣＴユニット５０とは、接続線５６及びコネクタ５８によって光学的に接続されている。【００１２】
眼底カメラユニット２は、照明光学系１０と撮影光学系２０と走査ユニット３０とを備えている。照明光学系１０は、ハロゲンランプ等の観察光源とキセノンランプ等の撮影光源を備え、これらの光源から照射される光をレンズやミラー等の光学素子からなる照明光路に沿って眼底Ｅｆに導き、眼底を照明する。【００１３】
撮影光学系２０は、対物レンズ、撮影レンズなどの光学系、ＣＣＤ(Charge Coupled Device)等の撮像装置を備え、眼底Ｅｆにより反射された撮影光を撮影光路に沿って撮像装置に導き、眼底Ｅｆの画像を撮影する。また、後述する眼底Ｅｆにより反射された信号光ＬＳをＯＣＴユニット５０に導く。また、図示されていないが、撮像装置により撮像された眼底を表示する表示器なども設けられている。【００１４】
走査ユニット３０は、信号光ＬＳを図１のＸ方向及びＹ方向に走査するための機構で、信号光走査手段を構成し、その光学図を図２に示す。【００１５】
走査ユニット３０は、ガルバノミラー３３、３４を備えている。ＯＣＴユニット５０で生成され、接続線５６に挿通された光ファイバ５４により導かれた信号光ＬＳはコネクタ５８の端部で射出し、レンズ３２により平行な光束とされたあとガルバノミラー３３に導かれる。ガルバノミラー３３で反射した信号光ＬＳは、ガルバノミラー３４を介して撮影光学系２０に入射する。ガルバノミラー３３は、図２で紙面と平行な回転軸３７を中心に回転可能に構成されている。ガルバノミラー３４は、紙面及び回転軸３７と垂直な回転軸３８を中心に回転可能に構成されている。そのため、ガルバノミラー３３を回転させることによって信号光ＬＳを図１のＸ方向に、また、ガルバノミラー３４を回転させることによって信号光ＬＳをＹ方向に走査することができる。【００１６】
図３は、ＯＣＴユニット５０の光学図である。ＯＣＴユニット５０は、低コヒーレンス光源５１（光源の一例）、光カプラ５９（干渉光生成手段の一例）、参照ミラー６３（参照物体の一例）、ＯＣＴ信号検出装置７０（検出手段の一例で、例えばスペクトロメータとして構成される）を備えている。低コヒーレンス光源５１は、例えば発光ダイオード等の広帯域光源や広帯域のモードロックレーザ等により構成され、数μｍ〜数十μｍ程度の時間的コヒーレンス長の低コヒーレンス光Ｌ０を発生させる。低コヒーレンス光Ｌ０の波長は、眼科用としては、例えば、可視光よりもやや長い７００ｎｍ〜１１００ｎｍのものを用いる。光カプラ５９は、光線を分割及び重畳する光学素子である。参照ミラー６３は、図３の矢印方向（図１のＺ方向）に移動可能となっている。ＯＣＴ信号検出装置７０は、干渉光を検出して、ＣＣＤ等の撮像装置に結像させる装置である。【００１７】
低コヒーレンス光源５１で発生した低コヒーレンス光Ｌ０は、光ファイバ５２により光カプラ５９に導かれ、参照光ＬＲと信号光ＬＳに分割される。参照光ＬＲは、光ファイバ５３、コリメータレンズ６０、ガラスブロック６１、濃度フィルタ６２を経て参照ミラー６３に到達する。ガラスブロック６１と濃度フィルタ６２は、参照光ＬＲと信号光ＬＳの光路長（光学距離）を合わせるための遅延手段として、また参照光ＬＲと信号光ＬＳの分散特性を合わせるための手段として作用している。参照光ＬＲは参照ミラー６３で反射し上記の経路を逆にたどって光カプラ５９に戻ってくる。【００１８】
信号光ＬＳは、接続線５６に挿通された光ファイバ５４により眼底カメラユニット２に導かれ、図１の走査ユニット３０、撮影光学系２０を経由して眼底Ｅｆに到達し、眼底をＸ、Ｙ方向に走査する。眼底Ｅｆに到達した信号光ＬＳは、眼底Ｅｆで反射し、上記の経路を逆にたどって光カプラ５９に戻ってくる。【００１９】
参照ミラー６３で反射した参照光ＬＲと眼底Ｅｆで反射した信号光ＬＳは、光カプラ５９により重畳され干渉光ＬＣとなる。干渉光ＬＣは、光ファイバ５５によりＯＣＴ信号検出装置７０に導かれる。干渉光ＬＣはＯＣＴ信号検出装置７０内でコリメータレンズ７１により平行な光束とされたのち、回折格子７２に入射し分光される。分光された干渉光ＬＣは結像レンズ７３によりＣＣＤ７４に結像される。【００２０】
図４は、光画像計測装置１の機能ブロック図である。ガルバノミラー駆動手段４０は、例えばモーターやソレノイドにより構成され、回転軸３７を中心にガルバノミラー３３を、回転軸３８を中心にガルバノミラー３４を回転させる。走査ユニット３０とガルバノミラー駆動手段４０は信号光走査手段の一例である。【００２１】
参照ミラー駆動手段６５は、従来から用いられているもので、撮影の開始に先立って参照光ＬＲと信号光ＬＳの光路長が等しくなるように、参照ミラー６３のＺ方向の位置決めをする機構で、例えばモーターやソレノイドにより構成することができる。参照ミラー駆動手段６５は、位置決めされた後は、走査ユニット３０とガルバノミラー駆動手段４０により信号光ＬＳの走査を行っている間は作動しない。【００２２】
光路長調整手段６６は、ガルバノミラー駆動手段４０と同期して作動し、対象物の湾曲によって生じる信号光と参照光の光路長の差がなくなるように、参照光の光路長を調整する光路長調整信号を発生する。光路長調整信号は、参照ミラー駆動手段６５により参照光と信号光を一致させて断層画像を取得し、該取得した断層画像の解析から眼底の湾曲を求めることにより生成することができる。あるいは、光路長調整信号は、被検眼の視度パラメータ（視度補正量、眼軸長）など対象物体の形状パラメータから眼底の湾曲を求めることにより生成することができる。このように生成された光路長調整信号は、後述するように、信号光走査に同期して参照光の光路長を調整し、対象物の湾曲によって生じる信号光と参照光の光路長の差を解消させる。【００２３】
図５に、光路長調整手段６６の構成例を示す。ピエゾ素子６７に、参照光ＬＲをコリメータレンズ６０に導く光ファイバ５３が巻き付けてある。光路長調整信号がピエゾ素子６７に入力されると、その振幅に応じてピエゾ素子６７は図５の矢印方向に伸縮し、それに伴って光ファイバ５３も伸縮し、結果として参照光ＬＲの光路長が変化する。このほか、光路長調整手段６６は回転モーターやソレノイド等を用いて光路長調整信号に応じて参照ミラー６３のＺ方向の位置を変化させるような構成によっても実現できる。【００２４】
演算制御装置１００は、例えば、眼底カメラユニット２に内蔵されたマイクロコンピュータ、眼底カメラユニット２と接続されたパーソナルコンピュータ等によって構成され、眼底カメラユニット２とＯＣＴユニット５０を制御するとともに、ＯＣＴユニット５０によって得られたデータの解析、断層画像の生成、参照光の光路長を調整する光路長調整信号の生成などを行う。【００２５】
制御モジュール１０１は、眼底カメラユニット２、ＯＣＴユニット５０、演算制御装置１００の各部を制御する。制御モジュール１０１は、例えば、パーソナルコンピュータの備えるＣＰＵ（不図示、Central Processing Unit）が記憶部１０６に記憶されたコンピュータプログラムを実行することによって実現される。【００２６】
表示部１０２は、例えば、ＬＣＤやＣＲＴなどのディスプレイ装置によって構成され、断層画像形成部１０４によって形成された眼底Ｅｆの断層画像や、被験者に関する情報などの付随する情報等を表示する。【００２７】
操作部１０３は、例えば、パーソナルコンピュータに接続されたマウスやキーボード、あるいは、眼底カメラユニット２に設けられた操作パネル等で、操作者が光画像計測装置１に指示を与えるために用いる。【００２８】
断層画像形成部１０４（断層画像形成手段の一例）は、ＯＣＴ信号検出装置７０が検出したＯＣＴ信号に基づいて、眼底Ｅｆの断層画像を生成する。断層画像形成部１０４は、フーリエドメイン法（スペクトラルドメイン法）などの公知の解析方法を実行する専用の電子回路、または、前述のＣＰＵが実行する画像形成プログラムにより実現される。【００２９】
画像解析部１０５は、断層画像形成部１０４が形成した画像データを解析して眼底の湾曲を取得し、この湾曲に基づいて光路長調整手段６６を制御する光路長調整信号を生成する。【００３０】
記憶部１０６は、例えば半導体メモリ、ハードディスク装置等により構成され、制御モジュール１０１が実行するプログラムや作成済みの光路長調整信号等を記憶する。【００３１】
次に、図６の走査領域を走査して断層画像を作成する場合の光画像計測装置１の動作を図７のフローチャートを参照しながら説明する。図６は、被検眼Ｅの眼底ＥｆをＺ軸のプラス方向（図１の右側）から見た様子を模式的に示したものである。ここでは、二つの長方形の走査領域Ｒ１、Ｒ２が設定されている。走査領域Ｒ１は視神経乳頭部が存在する領域、走査領域Ｒ２は黄斑部が存在する領域である。走査領域Ｒ１と走査領域Ｒ２にはＹ軸方向に所定の間隔に並んでＸ軸と平行な方向に、それぞれｎ本の走査線Ａ１、Ａ２、・・・、ＡｎとＢ１、Ｂ２、・・・、Ｂｎが設定されている。【００３２】
まず、操作者の指示に従って、制御モジュール１０１が参照ミラー駆動機構６５を制御して参照光ＬＲと信号光ＬＳの光路長が等しくなるように参照ミラー６３のＺ方向の位置決めを行う（Ｓ１）。【００３３】
制御モジュール１０１は、記憶部１０６に格納されている情報を検索して、光路長調整信号が格納されているかどうかを判定する（Ｓ２）。光路長調整信号は、例えばその波形を所定のサンプリングレートでサンプリングして数値化したディジタルデータとして記憶しておくことができる。【００３４】
格納されている場合には、制御モジュール１０１は記憶部１０６から光路長調整信号を読み出す（Ｓ２の判定が真、Ｓ１１）。光路長調整信号としては、被験者の人種、年齢などに応じて平均的な眼球の形状に基づいて作成したものや、特定の被験者の過去の検診データ、例えば眼軸長に基づいて作成したもの等を用いることができる。【００３５】
光路長調整信号が格納されていない場合には、予備撮影を実施する（Ｓ２の判定が偽、Ｓ２１）。具体的には、制御モジュール１０１が眼底カメラユニット２とＯＣＴユニット５０を従来通りの方法で制御して計測を行い、断層画像形成部１０４が眼底Ｅｆの断層画像を形成する。このとき、光路長調整手段６６は作動させないようにする。図８、図９に予備撮影によって得られる眼底Ｅｆの断層画像の例を模式的に示す。断層画像は走査領域Ｒ１、Ｒ２とも走査線毎に１枚、合計ｎ枚ずつ得られるが、図８、図９には最初の３枚ずつを示している。図８の符号１２１は走査線Ａ１の位置の断層画像、符号１２２は走査線Ａ２の位置の断層画像、符号１２３は走査線Ａ３の位置の断層画像、図９の符号１２４は走査線Ｂ１の位置の断層画像、符号１２５は走査線Ｂ２の位置の断層画像、符号１２６は走査線Ｂ３の位置の断層画像である。この例では、眼底Ｅｆは向きの異なる斜線で区別される３層の層構造となっていることがわかる。図８、図９の符号１３１〜１３６は画像から抽出した眼底の表面の湾曲（凹凸）であり本来の画像にはないが説明のために書き加えたものである。図１０と図１１は、それぞれ図８と図９の３枚の画像の立体的な位置関係を模式的に示したものである。これらの画像がＹ方向に位置をずらしてＸＺ平面と平行な面で眼底Ｅｆを撮影したものであることを示している。【００３６】
このように断層画像が形成されたら、画像解析部１０５が断層画像を解析して光路長調整信号を作成するための眼底の湾曲を抽出する（Ｓ２２）。これは、例えば、公知の輪郭抽出手法等を用いて眼底Ｅｆ表面等の形状を抽出することにより行う。図８と図９に符号１３１から１３６の太い実線で眼底の湾曲形状の例を示す。この例では、比較的明りょうに現れている眼底Ｅｆの表面（例えば図８の画像１２１に符号１４１で示した線）の形状をそのまま眼底の湾曲としている。眼底の湾曲として採用する部分は信号光の光軸（図１のＺ軸）におおむね垂直な面とするのが好ましく、上記の眼底Ｅｆの表面の湾曲の他、眼底Ｅｆを構成する各層（内境界膜、網膜色素上皮等）の境界面の湾曲などを用いることもできる。【００３７】
次に、画像解析部１０５は、光路長調整手段６６を制御するための光路長調整信号を眼底の湾曲に基づいて生成する（Ｓ２３）。生成した光路長調整信号は記憶部１０６に格納しておく。【００３８】
図１２に図８の画像から生成された光路長調整信号の一例を示す。図１２の下段のグラフは、ガルバノミラー駆動手段４０の制御信号のうち信号光ＬＳをＸ方向に走査するためにガルバノミラー３３を制御する制御信号を示すものである。信号光ＬＳが時刻ｔ１からｔ２において走査線Ａ１の左端から右端に走査され、時刻ｔ２からｔ３において左端に戻る（この間にガルバノミラー３４を制御して走査線のＹ方向の位置を変更する）ように制御し、以降走査線毎に同様の制御を行っている。【００３９】
図１２の上段のグラフが参照光の光路長調整信号である。光路長調整信号の波形は図８の眼底の湾曲形状に相当している。すなわち、信号光ＬＳによる走査線Ａ１の走査のときは、眼底は図８の上段に示したような湾曲１３１の形状に、また、走査線Ａ２、Ａ３による走査のときは、図８の中段、下段に示したような眼底の湾曲１３２、１３３の形状に相当している。以下同様に、走査線Ａｎによる走査のときは、そのときの走査線による断層画像から得られる眼底の湾曲の形状に相当している。また、図８の画像１２３のように凹凸の激しい部分がある場合はその部分の形状を他の比較的平坦な形状の部分で補間して光路長調整信号を生成するようにしてもよい。【００４０】
光路長調整信号の読み出し（Ｓ１１）または生成（Ｓ２３）が完了したら、制御モジュール１０１は、眼底検査ユニット１とＯＣＴユニット５０を制御して本撮影を行う（Ｓ３）。このときは、制御モジュール１０１は、図１２に示すガルバノミラー駆動手段制御信号に従って眼底を信号光ＬＳでＸ、Ｙ方向に走査し、その信号光の走査と同期して、光路長調整信号に従って参照光の光路長を、対象物の湾曲によって生じる信号光と参照光の光路長の差がなくなるように、調整する。例えば、図８の下段に示すように、眼底が顕著に凹状に湾曲していると、信号光と参照光の光路長の差が大きくなる。そこで、光路長調整手段６６はこの凹部のところで、つまりその凹部を走査する時点の信号光走査に同期して振幅の小さな光路長調整信号を出力する。これにより、参照光の光路長は短くなり、信号光と参照光の光路長の差は減少ないし零になる。両光路長の差がなくなることは、眼底に凹部がないときの断層画像が得られることに相当し、表面が平坦な断層画像が得られる。【００４１】
断層画像形成部１０４は、ＯＣＴ信号検出装置７０が取得した信号に基づいて、眼底Ｅｆの断層画像を形成する（Ｓ４）。形成した画像は、表示部１０２に表示し、また、必要に応じて記憶部１０６に記憶する。図１３ａに従来の光画像計測装置で参照ミラーの位置を固定して撮影した断層画像を、図１３ｂに光路長調整手段６６により参照光の光路長を調整して得られた断層画像を模式的に示す。図１３ａでは、眼底が本来の形状通りに湾曲した形状に撮影されている。しかし、参照ミラーの位置決めの基準位置１４２に近い部分（図１３ａでは上部）は高感度に撮影されるが、基準位置１４２から離れた部分（図１３ａでは下部）は低感度で、不鮮明な画像となる。これに対して図１３ｂでは、参照光の光路長と信号光の光路長の差が減少ないしは零になるので、眼底Ｅｆの表面形状が平坦となり、そのため画像の全体が高感度で撮影され鮮明な画像となる。【００４２】
図１３ｂは、走査線Ａ３による走査のとき参照光の光路長を調整したときに得られた断層画像であるが、その他の走査線Ａｎ、Ｂｎにおいても、同様な光路長の調整が行われ、すべての断層画像において眼底Ｅｆの表面形状が平坦で全体が鮮明な断層画像が得られる。得られた平坦で全体が鮮明な断層画像は、光路長調整量が既知でコントロールされた量であるため、この調整量を得られた断層画像より差し引き、通常の撮影方法で撮影した湾曲した断層画像として表示させることも可能である。（光路長の調整量の情報から、実際に湾曲している眼底の断層画像をイメージ図的に表示させることも可能である。）
【符号の説明】
【００４３】
１  光画像計測装置
２  眼底カメラユニット
１０  照明光学系
２０  撮影光学系
３０  走査ユニット
３２  レンズ
３３、３４  ガルバノミラー
４０  ガルバノミラー駆動手段
５０  ＯＣＴユニット
５１  低コヒーレンス光源
５２、５３、５４、５５  光ファイバ
５６  接続線
５８  コネクタ
５９  光カプラ
６０  コリメータレンズ
６１  ガラスブロック
６２  濃度フィルタ
６３  参照ミラー
６５  参照ミラー駆動機構
６６  光路長調整手段
６７  ピエゾ素子
７０  ＯＣＴ信号検出装置
７１  コリメータレンズ
７２  回折格子
７３  結像レンズ
７４  ＣＣＤ
１００  演算制御装置
１０１  制御モジュール
１０２  表示部
１０３  操作部
１０４  断層画像形成部
１０５  画像解析部
１０６  記憶部
Ｅ  被検眼
Ｅｆ  眼底
Ｌ０  低コヒーレンス光
ＬＲ  参照光
ＬＳ  信号光
ＬＣ  参照光
【図１】
2014084139.tif 000003
【図２】
2014084139.tif 000004
【図３】
2014084139.tif 000005
【図４】
2014084139.tif 000006
【図５】
2014084139.tif 000007
【図６】
2014084139.tif 000008
【図７】
2014084139.tif 000009
【図８】
2014084139.tif 000010
【図９】
2014084139.tif 000011
【図１０】
2014084139.tif 000012
【図１１】
2014084139.tif 000013
【図１２】
2014084139.tif 000014
【図１３ａ】
2014084139.tif 000015
【図１３ｂ】
2014084139.tif 000016
【国際調査報告】
2014084139.tif 000017
2014084139.tif 000018