(57)【要約】ｘ、ｙ、ｚ軸から成る直交座標系のｘｙ平面を構成する載置平面と、載置平面に載置された貨物の各軸方向の寸法を測定するｘ軸方向測定部、ｙ軸方向測定部、ｚ軸方向測定部を備える寸法測定装置であって、各軸方向測定部は、所定数の投光素子及び受光素子の対と投光素子及び受光素子を起動するシフトレジスタとを含む投受光単位基板３０の複数個の配列と、シフトレジスタを制御して軸方向に並ぶ投光素子及び受光素子の対を一方向にスキャンし、受光素子の出力から貨物の各軸方向の寸法を算出するコントローラ５１，５２，５３とを備える。各コントローラ５１，５２，５３がスキャンを同時に行うことにより測定時間が短縮できる。各軸の測定範囲は、配列する投受光単位基板の数を変えることで変更できる。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ｘ、ｙ、ｚ軸から成る直交座標系のｘｙ平面を構成する載置平面と、前記載置平面に載置された直方体または立方体形状の貨物のｘ軸方向の寸法を測定するｘ軸方向測定部と、前記貨物のｙ軸方向の寸法を測定するｙ軸方向測定部と、前記貨物のｚ軸方向の寸法を測定するｚ軸方向測定部と、を備える寸法測定装置であって、
前記ｘ軸方向測定部は、所定数の投光素子及び受光素子の対と当該投光素子及び受光素子を起動するシフトレジスタとを含む投受光単位基板の複数個の配列と、前記投受光単位基板のシフトレジスタを制御してｘ軸方向に並ぶ前記投光素子及び受光素子の対を一方向に連続的にスキャンし、前記受光素子の出力に基づいて前記貨物のｘ軸方向の原点からの寸法を算出するｘ軸コントローラと、を備え、
前記ｙ軸方向測定部は、前記投受光単位基板の複数個の配列と、前記投受光単位基板のシフトレジスタを制御してｙ軸方向に並ぶ前記投光素子及び受光素子の対を一方向に連続的にスキャンし、前記受光素子の出力に基づいて前記貨物のｙ軸方向の原点からの寸法を算出するｙ軸コントローラと、を備え、
前記ｚ軸方向測定部は、前記投受光単位基板の複数個の配列と、前記投受光単位基板のシフトレジスタを制御してｚ軸方向に並ぶ前記投光素子及び受光素子の対を一方向に連続的にスキャンし、前記受光素子の出力に基づいて前記貨物のｚ軸方向の原点からの寸法を算出するｚ軸コントローラと、を備え、
前記ｘ軸コントローラ、ｙ軸コントローラ及びｚ軸コントローラが、前記スキャンを同時に行う、
ことを特徴とする寸法測定装置。
【請求項２】
請求項１に記載の寸法測定装置であって、ｋを２以上の整数とし、ｎを１以上の整数とするとき、前記ｘ軸コントローラ、ｙ軸コントローラ及びｚ軸コントローラの少なくとも一つは、前記シフトレジスタに供給するクロック信号を制御して、軸方向の並び順がｋの倍数である前記受光素子の出力を検出し、出力値が一つ前の受光素子（ｎ−１）ｋと異なる受光素子の並び順ｎｋを識別する１回目のスキャンと、
前記シフトレジスタに供給するクロック信号を制御して、並び順が（ｎ−１）ｋから（ｎｋ−１）までの前記受光素子の出力を検出し、出力値が一つ前の受光素子と異なる受光素子の並び順を識別する２回目のスキャンと、
を行うことを特徴とする寸法測定装置。
【請求項３】
請求項１または２に記載の寸法測定装置であって、前記ｘ軸コントローラ及びｙ軸コントローラの一方は、原点に近い側から遠い側に向かってスキャンを行い、前記ｘ軸コントローラ及びｙ軸コントローラの他方は、原点に遠い側から近い側に向かってスキャンを行うことを特徴とする寸法測定装置。
【請求項４】
請求項１から３のいずれかに記載の寸法測定装置であって、さらに、前記ｘ軸、ｙ軸及びｚ軸が交わる原点の近傍でｘｙ平面及びｘｚ平面の一方から他方に斜めに入射する赤外光により前記貨物とｙｚ平面との間の隙間を検出するｘ方向隙間検出手段と、原点の近傍でｘｙ平面及びｙｚ平面の一方から他方に斜めに入射する赤外光により前記貨物とｘｚ平面との間の隙間の有無を検出するｙ方向隙間検出手段とを備えることを特徴とする寸法測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、直方体または立方体形状の外箱に収容された貨物の長さ、幅、高さを同時に測定する寸法測定装置に関し、短時間での寸法測定を可能にしたものである。
【背景技術】
【０００２】
従来から、段ボール箱に収納された貨物の長さ、幅、高さの寸法及び重量を同時に測定する寸法重量測定装置が知られている。この寸法重量測定装置は、海運、陸運、空運、倉庫などの物流分野で広く利用されている。
この装置は、図１１に示すように、長方形の載置面を有する測定用台板１１と、測定用台板１１の直交する辺の一方に固定された、貨物の長さ（Ｌ）を測定する長さ測定部２２と、測定用台板１１の直交する辺の他方に固定された、貨物の幅（Ｗ）を測定する幅測定部２３と、長さ測定部２２及び幅測定部２３が交わる測定用台板１１の角に固定された、貨物の高さ（Ｈ）を測定する高さ測定部２４と、長さ測定部２２及び高さ測定部２４に固定された側板２５と、幅測定部２３及び高さ測定部２４に固定された側板２６とを有する寸法測定装置を具備し、この寸法測定装置の測定用台板１１が荷重検出ユニット（不図示）で支持されている。
長さ測定部２２、幅測定部２３及び高さ測定部２４で測定された貨物の長さ（Ｌ）、幅（Ｗ）、高さ（Ｈ）と、荷重検出ユニットで検出された貨物の重量とは、表示器１３０に表示される。【０００３】
貨物の寸法は、発光素子と受光素子との対を所定間隔で並べ、発光素子から受光素子に入射する光線が貨物により遮断される位置を識別して求めることができる。
下記特許文献１には、発光素子及び受光素子の対を図１２のように配置することが開示されている。図１２（ａ）では、Ｌ字状の基板１２の垂直面に受光素子Ｐ1〜Ｐ10を、また、水平面に発光素子Ｌ1〜Ｌ10を配置しており、発光素子Ｌ1〜Ｌ10の光は、測定用台板１１の穴を通って受光素子Ｐ1〜Ｐ10に斜めに入射する。貨物Ａが存在する場合は、貨物Ａの隅により光線が遮断される。
また、図１２（ｂ）では、平板な基板１２に受光素子Ｐ1〜Ｐ10及び発光素子Ｌ1〜Ｌ10が配置されており、発光素子Ｌ1〜Ｌ10から発光された光が反射鏡１４で反射され、測定用台板１１の穴を通って受光素子Ｐ1〜Ｐ10に斜めに入射する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平７−７１９２２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、従来の寸法測定装置では、発光素子及び受光素子の対を順に起動して受光素子の出力を検出するスキャン動作が、コントローラの制御の下に、長さ測定部２２の次に幅測定部２３、その次に高さ測定部２４と言うように順次切換えながら行われているため、寸法測定が完了するまでに時間が掛かると言う課題がある。
また、寸法の測定範囲を顧客の要求に合わせて細かく調整することが難しいと言う課題がある。【０００６】
本発明は、こうした事情を考慮して創案したものであり、測定時間を短縮することができ、また、測定範囲を顧客の要求に合わせて変更することができる寸法測定装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、ｘ、ｙ、ｚ軸から成る直交座標系のｘｙ平面を構成する載置平面と、載置平面に載置された直方体または立方体形状の貨物のｘ軸方向の寸法を測定するｘ軸方向測定部と、貨物のｙ軸方向の寸法を測定するｙ軸方向測定部と、貨物のｚ軸方向の寸法を測定するｚ軸方向測定部と、を備える寸法測定装置であって、ｘ軸方向測定部は、所定数の投光素子及び受光素子の対と投光素子及び受光素子を起動するシフトレジスタとを含む投受光単位基板の複数個の配列と、投受光単位基板のシフトレジスタを制御してｘ軸方向に並ぶ投光素子及び受光素子の対を一方向に連続的にスキャンし、受光素子の出力に基づいて貨物のｘ軸方向の原点からの寸法を算出するｘ軸コントローラと、を備え、ｙ軸方向測定部は、投受光単位基板の複数個の配列と、投受光単位基板のシフトレジスタを制御してｙ軸方向に並ぶ投光素子及び受光素子の対を一方向に連続的にスキャンし、受光素子の出力に基づいて貨物のｙ軸方向の原点からの寸法を算出するｙ軸コントローラと、を備え、ｚ軸方向測定部は、投受光単位基板の複数個の配列と、投受光単位基板のシフトレジスタを制御してｚ軸方向に並ぶ投光素子及び受光素子の対を一方向に連続的にスキャンし、受光素子の出力に基づいて貨物のｚ軸方向の原点からの寸法を算出するｚ軸コントローラと、を備え、ｘ軸コントローラ、ｙ軸コントローラ及びｚ軸コントローラが、スキャンを同時に行う、ことを特徴とする。
この寸法測定装置では、ｘ軸方向（Ｌ方向）測定部、ｙ軸方向（Ｗ方向）測定部及びｚ軸方向（Ｈ方向）測定部が、それぞれコントローラを有し、各軸のスキャンが同時に行われるため、短時間の寸法測定が可能になる。また、各軸の測定範囲は、軸方向に配列する投受光単位基板の数を変えることで容易に変更できる。【０００８】
また、本発明の寸法測定装置では、ｋを２以上の整数とし、ｎを１以上の整数とするとき、ｘ軸コントローラ、ｙ軸コントローラ及びｚ軸コントローラの少なくとも一つは、シフトレジスタに供給するクロック信号を制御して、軸方向の並び順がｋの倍数である受光素子の出力を検出し、出力値が一つ前の受光素子（ｎ−１）ｋと異なる受光素子の並び順ｎｋを識別する１回目のスキャンと、シフトレジスタに供給するクロック信号を制御して、並び順が（ｎ−１）ｋから（ｎｋ−１）までの受光素子の出力を検出し、出力値が一つ前の受光素子と異なる受光素子の並び順を識別する２回目のスキャンと、を行うことを特徴とする。
１回目のスキャンにより粗い精度で貨物の寸法が測定され、２回目のスキャンにより、貨物の終端部分の位置が高い精度で測定される。そのため、寸法測定時間を短縮することができる。【０００９】
また、本発明の寸法測定装置では、ｘ軸コントローラ及びｙ軸コントローラの一方が、原点に近い側から遠い側に向かってスキャンを行い、ｘ軸コントローラ及びｙ軸コントローラの他方が、原点に遠い側から近い側に向かってスキャンを行う。
そのため、ｘ軸のスキャンとｙ軸のスキャンが同時に行われても、ｘ軸の発光素子の光の反射光をｙ軸の受光素子が受けたり、ｙ軸の発光素子の光の反射光をｘ軸の受光素子が受けたりすることに起因する誤差を回避できる。【００１０】
また、本発明の寸法測定装置では、さらに、ｘ軸、ｙ軸及びｚ軸が交わる原点の近傍でｘｙ平面及びｘｚ平面の一方から他方に斜めに入射する赤外光により貨物とｙｚ平面との間の隙間を検出するｘ方向隙間検出手段と、原点の近傍でｘｙ平面及びｙｚ平面の一方から他方に斜めに入射する赤外光により貨物とｘｚ平面との間の隙間の有無を検出するｙ方向隙間検出手段とを設けるようにしても良い。
この寸法測定装置は、貨物が測定基準点の原点からずれていることによる寸法測定の誤差を回避することができる。
【発明の効果】
【００１１】
本発明の寸法測定装置は、短い時間で寸法測定を完了することができ、また、寸法の測定範囲を顧客の要求に合わせて容易に変更することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る寸法測定装置の測定機構を示す図
【図２】図１の測定機構の投受光単位基板を示す図
【図３】投受光単位基板の回路構成を示す図
【図４】図１の測定機構のコントローラを示すブロック図
【図５】二段階スキャンの手順を示すフロー図
【図６】二段階スキャンの第１段階のスキャンにおける波形図
【図７】第１段階のスキャンにおけるクロック信号、受光素子検出出力、信号処理部出力及びＡ／Ｄ変換タイミング信号の関係を示す波形図
【図８】二段階スキャンの第２段階のスキャンにおけるクロック信号、受光素子検出出力、信号処理部出力及びＡ／Ｄ変換タイミング信号の関係を示す波形図
【図９】本発明の第２の実施形態に係る寸法測定装置を示す図
【図１０】本発明の第３の実施形態に係る寸法測定装置を示す図
【図１１】従来の寸法重量測定装置を示す図
【図１２】寸法測定装置の発光素子・受光素子の配置を示す図
【発明を実施するための形態】
【００１３】
（第１の実施形態）
図１は、本発明の実施形態に係る寸法測定装置の測定機構を模式的に示している。この装置の外形は図１１と同様である。図１１の長さ測定部２２の測定機構は、長さ（Ｌ）方向に一列に並べた３個の投受光単位基板３０と、長さ方向のスキャンを制御するＬ軸コントローラ５１とで構成され、図１１の幅測定部２３の測定機構は、幅（Ｗ）方向に一列に並べた３個の投受光単位基板３０と、幅方向のスキャンを制御するＷ軸コントローラ５２とで構成され、図１１の高さ測定部２４の測定機構は、高さ（Ｈ）方向に一列に並べた４個の投受光単位基板３０と、高さ方向のスキャンを制御するＨ軸コントローラ５３とで構成されている。
【００１４】
投受光単位基板３０は、図１２（ａ）または図１２（ｂ）に記載されたものと同様に、発光素子Ｌ及び受光素子Ｐが配置されたＬ状または平板状の基板１２から成る。一つの投受光単位基板３０の長手方向の長さは１６ｃｍであり、図２に示すように、長手方向に３２個の発光素子及び受光素子が配置されている。
【００１５】
図３は、投受光単位基板３０の回路構成を示している。投受光単位基板３０には、ｍ個（３２個）のフリップフロップから成るシフトレジスタ３１と、ｍ個の発光素子及び受光素子の対とが配置されている。
シフトレジスタ３１の各フリップフロップには、その軸のコントローラからクロック信号が入力する。最初のフリップフロップにＤ入力した信号は、クロック信号に同期して次のフリップフロップにＱ１出力され、その後、１クロックずつ遅れて後続のフリップフロップからＱ２出力、Ｑ３出力、Ｑ４出力・・・と順次出力される。
【００１６】
最初のフリップフロップのＱ１出力で最初の発光素子及び受光素子の対が起動され、発光素子が発光し、受光素子の出力Ｐ１がコントローラに送られる。受光素子が発光素子の発光を受光している場合は、出力Ｐ１の出力レベルは高くなる。
次のクロックにより、フリップフロップのＱ２出力で２番目の発光素子及び受光素子の対が起動され、受光素子の出力Ｐ２がコントローラに送られる。以下、同様に、クロックごとに、受光素子の出力Ｐ３、Ｐ４、Ｐ５・・・が順次コントローラに送られる。
【００１７】
一つの投受光単位基板３０に次の投受光単位基板３０を結合した場合、両者のクロック信号線が接続し、コントローラからのクロック信号は、接続した全ての投受光単位基板３０のシフトレジスタ３１を構成するフリップフロップに入力する。また、シフトレジスタの最後に位置するフリップフロップのＱｍ出力は、次の投受光単位基板３０のシフトレジスタを構成する最初のフリップフロップのＤ入力となる。
【００１８】
また、図４は、Ｌ軸コントローラ５１、Ｗ軸コントローラ５２及びＨ軸コントローラ５３の構成を示している。
これらのコントローラは、制御部６１及び演算部６２を構成するＣＰＵ６０と、ＣＰＵ６０の動作を規定するプログラムが格納されたＲＯＭ６３と、演算のためのデータ記憶領域として使用されるＲＡＭ６４と、投受光単位基板３０の受光素子から出力され、増幅器７２で増幅された受光信号が入力する入力部６５と、入力した受光信号の信号処理を行う信号処理部６６と、受光信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換部６７と、クロック発振器７１から入力するクロック信号を加工するクロック信号切換部６８と、演算部６２で算出された寸法データを表示部１３０に出力し、クロック信号切換部６８で加工されたクロック信号をシフトレジスタ３１に出力する出力部６９とを備えている。
【００１９】
Ｌ軸コントローラ５１、Ｗ軸コントローラ５２及びＨ軸コントローラ５３は、各軸の発光素子及び受光素子の対に対するスキャンを同時に実行する。そのため、この装置は、１つのコントローラが各軸のスキャンを切換えて行っていた従来の装置に比べて、寸法測定時間を１／３以下に短くすることが可能である。
【００２０】
この寸法測定装置では、寸法測定時間の更なる短縮を図るため、粗い精度の全体スキャン（第１段階のスキャン）と、細かい精度の部分スキャン（第２段階のスキャン）との二段階のスキャンを実施する。
その手順を図５に示している。
第１段階のスキャンを実施するため、コントローラ５１、５２、５３のクロック信号切換部６８は、制御部６１の指示の下に、クロック発振器７１から入力するクロック信号を用いて、オンの時間がｋ番目毎に長く、それ以外では短いクロック信号を生成し、投受光単位基板３０のシフトレジスタ３１に出力する（ステップ１）。
【００２１】
図６（ａ）には、シフトレジスタ３１に入力するクロック信号を示している。ここでは、ｋ＝５とし、出力順が５の倍数のクロック信号のオン時間を１ｍｓに設定し、その他のクロック信号のオン時間を０．０５ｍｓに設定している。
また、図６（ｂ）には、このときにシフトレジスタ３１の各フリップフロップから出力されるＱ出力を示している。５の倍数に当たる５番目、１０番目、１５番目・・・のフリップフロップのＱ出力時間は長く、その他のフリップフロップのＱ出力時間は短い。
それに伴い、５の倍数に当たる５番目、１０番目、１５番目・・・の発光素子及び受光素子に対する給電時間は長くなり、その他の発光素子及び受光素子に対する給電時間は短くなる。
【００２２】
図６（ｃ）には、このときの各受光素子の検出出力をＰ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４・・・として示している。給電時間が長い５の倍数に当たる受光素子の検出出力Ｐ５、Ｐ１０、Ｐ１５は、発光素子との間が遮蔽されていない場合、高レベルに上昇する。しかし、給電時間が短い他の受光素子の検出出力は、発光素子との間が遮蔽されていなくても、高レベルに達することができない。
この受光素子の検出出力Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４・・・は、増幅器７２で増幅されて順次コントローラ５１、５２、５３に入力する。コントローラ５１、５２、５３の信号処理部６６は、図７（ｄ）に示すように、信号レベルが閾値に満たない受光素子の検出出力を無視し、５の倍数に当たる受光素子の検出出力Ｐ５、Ｐ１０、Ｐ１５・・・のみを出力する。
【００２３】
信号処理部６６で処理された信号はＡ／Ｄ変換器６７に入力し、また、Ａ／Ｄ変換器６７には、制御部６１から図７（ｅ）に示すＡ／Ｄ変換のタイミング信号が入力する。このとき、制御部６１は、オン時間が長い１ｍｓのクロック信号の立上り時点から０．９ｍｓが経過した時点でタイミング信号をＡ／Ｄ変換器６７に送る。Ａ／Ｄ変換器６７は、指示されたタイミングで信号処理部６６から入力する信号をデジタルデータに変換する。
そのため、ｋの倍数に当たる受光素子の内、発光素子との間が貨物により遮蔽された受光素子の検出データは０、遮蔽されていない受光素子の検出データは１となる。
Ａ／Ｄ変換器６７で変換されたデジタルデータは、受光素子の順番と対応付けてＲＡＭ６４に蓄積され、第１段階のスキャンが終了する（ステップ２）。
【００２４】
演算部６２は、第１段階のスキャンにおいて、デジタルデータが、その１つ前の受光素子と異なる受光素子の並び順を識別する（ステップ３）。並び順が（ｎ−１）ｋ番目の受光素子とｎｋ番目の受光素子の検出データが異なっていれば、貨物の端は、その間に存在することになる。
制御部６１は、第２段階のスキャンを実施するため、クロック信号切換部６８から、オンの時間が（ｎ−１）ｋ番目から（ｎｋ−１）番目の間は長く、それ以外は短いクロック信号を投受光単位基板３０のシフトレジスタ３１に出力させる（ステップ４）。
【００２５】
第２段階のスキャンのためのクロック信号を図８（ａ）に示している。
このときの受光素子の検出出力は図８（ｃ）のようになり、信号処理部６６により処理された受光素子の検出出力は図８（ｄ）のようになる。
制御部６１は、Ａ／Ｄ変換器６７に対して図８（ｅ）に示すＡ／Ｄ変換のタイミング信号を送り、Ａ／Ｄ変換器６７は、指示されたタイミングで信号処理部６６から入力する信号をデジタルデータに変換する（ステップ５）。
変換されたデジタルデータは、受光素子の順番と対応付けてＲＡＭ６４に蓄積され、第２段階のスキャンが終了する
【００２６】
演算部６２は、第２段階のスキャンにおいて、デジタルデータが、その１つ前の受光素子と異なる受光素子の並び順を識別する（ステップ６）。並び順が｛（ｎ−１）ｋ＋α−１｝番目の受光素子の検出データと、その次の｛（ｎ−１）ｋ＋α｝番目の受光素子の検出データが異なっていれば、貨物の端が｛（ｎ−１）ｋ＋α−１｝番目の受光素子の位置まで存在すると見て、原点から｛（ｎ−１）ｋ＋α−１｝番目の受光素子の位置までの距離を検出寸法とする（ステップ７）。
【００２７】
このように、粗い精度の全体スキャン及び細かい精度の部分スキャンの二段階スキャンを行う場合は、細かい精度で全体スキャンを行うときに比べて、測定時間を凡そ半分以下に短縮できる。
また、この寸法測定装置では、各軸方向に配列する投受光単位基板３０の数を変えることで、各軸方向の測定範囲を小刻みに調整することができる。
【００２８】
なお、各軸方向の測定範囲は、装置の起動時に行われる準備段階のスキャンにより、発光素子及び受光素子の対の数が自動的に検出されるため、測定範囲を事前にメモリに設定する必要はない。
また、この寸法測定装置では、各軸方向に連結された複数の投受光単位基板３０のスキャン制御や、それらの投受光単位基板３０に配置された受光素子の検出出力の信号処理、寸法の演算などが、全て各軸のコントローラによって行われるため、個々の投受光単位基板３０の構成が簡略化でき、製造コストの低減を図ることができる。
【００２９】
（第２の実施形態）
図１１の寸法測定装置において、長さ測定部２２及び幅測定部２３は、同一水平面上に在るため、長さ測定部２２の発光素子の発光が、ステンレス等で形成された測定用台板１１に反射して、距離的に近い位置にある幅測定部２３の受光素子に受光され、あるいは、逆に、幅測定部２３の発光素子の発光が測定用台板１１に反射して、距離的に近い位置にある長さ測定部２２の受光素子に受光される虞があり、それにより測定誤差が生じる可能性がある。
【００３０】
こうした事態は、一軸ごとにスキャンを行う従来の装置では起こり得ないが、測定時間を短縮するために各軸のスキャンを並行して行う本発明の寸法測定装置では、考慮する必要がある。
なお、高さ測定部２４の発光素子及び受光素子は、最も下側の素子でも測定用台板１１から距離を置いて配置されているので、長さ測定部２２や幅測定部２３の受光素子に影響を与えたり、それらの発光素子から影響を受けたりする虞はない。
【００３１】
第２の実施形態の寸法測定装置では、長さ測定部２２と幅測定部２３との間の発光・受光の影響を避けるため、図９に示すように、Ｌ軸コントローラ５１は、長さ測定部２２の発光素子及び受光素子の対を最遠点から原点に向かってスキャンし、Ｗ軸コントローラ５２は、幅測定部２３の発光素子及び受光素子の対を原点から最遠点に向かってスキャンするように構成している。
【００３２】
この装置では、このように、長さ測定部２２と幅測定部２３のスキャン方向を変えているため、Ｌ軸コントローラ５１、Ｗ軸コントローラ５２及びＨ軸コントローラ５３が各軸のスキャンを同時に行っても、長さ測定部２２における発光素子及び受光素子の対の起動位置と、幅測定部２３における発光素子及び受光素子の対の起動位置とが離れており、相互間の影響を避けることができる。
【００３３】
（第３の実施形態）
第３の実施形態では、第１及び第２の実施形態の構成に加えて、貨物が測定基準点のコーナーに当たっているかどうかを非接触で感知できる手段を付加した寸法測定装置について説明する。
この装置は、図１０に示すように、Ｌ軸、Ｗ軸及びＨ軸の交点（原点）の近傍で、Ｌ軸とＷ軸とを含む平面（ｘｙ平面）から、Ｌ軸とＨ軸とを含む平面（ｘｚ平面）に斜めに入射する複数本の平行な赤外光４１を送受する発光素子・受光素子を有し、また、交点の近傍で、Ｌ軸とＷ軸とを含む平面（ｘｙ平面）から、Ｗ軸とＨ軸とを含む平面（ｙｚ平面）に斜めに入射する複数本の平行な赤外光４２を送受する発光素子・受光素子を有している。
発光素子及び受光素子の配置は、図１２（ａ）または図１２（ｂ）に記載されたものと同様である。
【００３４】
貨物とＷ軸との間に隙間が存在する場合、遮断されない赤外光４１が発生し、隙間の間隔により、遮断されない赤外光４１の本数が変わってくる。また、貨物とＬ軸との間に隙間が存在する場合、遮断されない赤外光４２が発生し、隙間の間隔により、遮断されない赤外光４２の本数が変わってくる。
従って、赤外光４１によりＬ軸方向の隙間の有無や隙間の間隔を識別することができ、赤外光４２によりＷ軸方向の隙間の有無や隙間の間隔を識別することができる。
【００３５】
なお、ここで示した各種の数値は、一例であって、本発明は、それだけに限定されるものではない。
【産業上の利用可能性】
【００３６】
本発明の寸法測定装置は、貨物の寸法測定を短時間で終了することが可能であり、多くの貨物の寸法測定作業を必要とする物流分野などで広く利用することができる。
【符号の説明】
【００３７】
１１    測定用台板
２２    長さ測定部
２３    幅測定部
２４    高さ測定部
２５    側板
２６    側板
３０    投受光単位基板
３１    シフトレジスタ
４１    赤外光
４２    赤外光
５１    Ｌ軸コントローラ
５２    Ｗ軸コントローラ
５３    Ｈ軸コントローラ
６０    ＣＰＵ
６１    制御部
６２    演算部
６３    ＲＯＭ
６４    ＲＡＭ
６５    入力部
６６    信号処理部
６７    Ａ／Ｄ変換部
６８    クロック信号切換部
６９    出力部
７１    クロック発振器
７２    増幅器
１３０  表示器
Ｌ1〜Ｌ10  発光素子
Ｐ1〜Ｐ10  受光素子
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2014192080.tif 000009
【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【国際調査報告】
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