(57)【要約】  本発明は、表示装置の上に配置される透明基体の光学特性を評価する方法であって、透明基体の定量化された解像度指標値（Ｔ）と定量化された反射像拡散性指標値（Ｒ）及び定量化されたぎらつき指標値の中から２つを選択して、前記透明基体の光学特性を評価することを特徴とする。  本発明によると、目的や用途に応じて、透明基体とそれに施工するアンチグレア処理を適正に選定することができる。  本発明は、例えば、ＬＣＤ装置、ＯＬＥＤ装置、ＰＤＰ装置、およびタブレット型表示装置の各種表示装置に設置される透明基体の光学特性評価に利用することができる。【特許請求の範囲】
【請求項１】
表示装置の上に配置される透明基体の光学特性を評価する方法であって、  透明基体の定量化された解像度指標値、定量化された反射像拡散性指標値、および定量化されたぎらつき指標値の中から２つを選択して、前記透明基体の光学特性を評価することを特徴とする方法。
【請求項２】
前記選択される指標値の組は、前記解像度指標値および前記反射像拡散性指標値の組、前記ぎらつき指標値および前記反射像拡散性指標値の組、または前記解像度指標値および前記ぎらつき指標値の組であることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記定量化された解像度指標値は、  第１および第２の表面を有する透明基体の前記第２の表面側から、前記透明基体の厚さ方向と平行な方向に第１の光を照射し、前記第１の表面から前記透明基体の厚さ方向と平行な方向に透過する透過光（０゜透過光という）の輝度を測定するステップと、  前記第１の光の前記透明基体の第１の表面に対する受光角度を−９０゜〜＋９０゜の範囲で変化させ、前記第１の表面側から透過する全透過光の輝度を測定するステップと、  以下の式（１）から、解像度指標値Ｔを算定するステップと   解像度指標値Ｔ＝        （全透過光の輝度−０゜透過光の輝度）／（全透過光の輝度）    式（１）   により得られることを特徴とする請求項１または２に記載の方法。
【請求項４】
前記定量化された反射像拡散性指標値は、  第１および第２の表面を有する透明基体の前記第１の表面側から、前記透明基体の厚さに対して４５゜の方向に第２の光を照射し、前記第１の表面で反射する４５゜正反射光の輝度を測定するステップと、  前記第１の表面により反射される反射光の受光角度を０゜〜＋９０°の範囲で変化させ、前記第１の表面で反射される全反射光の輝度を測定するステップと、  以下の式（２）から、反射像拡散性指標値Ｒを算定するステップと   反射像拡散性指標値Ｒ＝        （全反射光の輝度−４５゜正反射光の輝度）／（全反射光の輝度）    式（２）   により得られることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一つに記載の方法。
【請求項５】
前記解像度指標値および／または反射像拡散性指標値は、ゴニオメータを用いて取得されることを特徴とする請求項３または４に記載の方法。
【請求項６】
前記定量化されたぎらつき指標値は、  第１および第２の表面を有する透明基体を、表示装置の上に配置するステップであって、前記透明基体は、第２の表面が前記表示装置の側になるようにして、該表示装置の上に配置されるステップと、  前記透明基体を前記第１の表面側から撮影し、画像を取得するステップと、  前記デジタル画像の一部を解析領域として選択し、前記解析領域を複数画素からなる複数の領域に分割し、前記各領域内における最大輝度値と最大輝度傾斜を求め、前記解析領域における前記最大輝度値と前記最大輝度傾斜それぞれのばらつきから算出される指標値を用いて、前記透明基体のぎらつきを定量化するステップと、  により得られることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか一つに記載の方法。
【請求項７】
前記表示装置は、ＬＣＤ装置、ＯＬＥＤ装置、ＰＤＰ装置、およびタブレット型表示装置からなる群から選択された一つであることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか一つに記載の方法。
【請求項８】
前記透明基体は、ソーダライムガラスまたはアルミノシリケートガラスで構成されることを特徴とする請求項１乃至７のいずれか一つに記載の方法。
【請求項９】
前記透明基体は、第１および第２の表面のうちの少なくとも一方が、化学強化処理されていることを特徴とする請求項８に記載の方法。
【請求項１０】
前記透明基体は、前記第１の表面がアンチグレア処理されていることを特徴とする請求項１乃至９のいずれか一つに記載の方法。
【請求項１１】
前記アンチグレア処理は、前記透明基体の第１の表面に、フロスト処理、エッチング処理、サンドブラスト処理、ラッピング処理、およびシリカコート処理からなる群から選択された、少なくとも一つの処理方法を適用することにより実施されることを特徴とする請求項１０に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】  本発明は、透明基体の光学特性を評価する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】  一般に、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ  Ｃｒｙｓｔａｌ  Ｄｉｓｐｌａｙ）装置等の表示装置の上には、該表示装置の保護のため、透明基体で構成されたカバーが配置される。【０００３】  しかしながら、表示装置上にこのような透明基体を設置した場合、透明基体を介して表示装置の表示画を視認しようとした際に、しばしば、周辺に置かれているものの映り込みが生じる場合がある。透明基体にそのような映り込みが生じると、表示画の視認者は、表示画を視認することが難しくなる上、不快な印象を受けるようになる。【０００４】  そこで、このような映り込みを抑制するため、例えば、透明基体の表面に、凹凸形状を形成するアンチグレア処理を実施する方法等が採用されている。【０００５】  なお、特許文献１には、特殊な装置を用いて、表示装置への映り込みを評価する方法が示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００７−１４７３４３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】  前述のように、特許文献１には、特殊な装置を用いて、表示装置への映り込みを評価する方法が示されている。【０００８】  しかしながら、透明基体に要求される光学特性は、映り込みの低減のみに限られるものではない。すなわち、透明基体には、用途に応じて、解像度、反射像拡散性、およびぎらつきなど、様々な光学特性が求められる。従って、透明基体を選定する際に、いずれか１つの光学特性を考慮するのみでは不十分であり、しばしば、複数の光学特性を同時に考慮する必要が生じ得る。【０００９】  ここで述べる解像度は、透明基体を通して表示画像を視認した際に、表示画像とどの程度一致した像が得られるかを表すものである。また反射像拡散性は、透明基体の周辺に置かれている物体（例えば照明）の反射像が、元の物体とどの程度一致しているかを表すものである。さらにぎらつきは、表示画像からの光（像）が透明基体を透過する際に透明基体表面によって散乱され、散乱された光が相互に干渉することによって生じる輝点のムラが、どの程度観察されるかを表すものである。【００１０】  一方、透明基体に要求される光学特性の中には、しばしば、トレードオフの関係にあるものが存在する。例えば、一般に、反射像拡散性を高める際には、透明基体の表面にアンチグレア処理が施工される。しかしながら、このようなアンチグレア処理を施工した場合、透明基体の解像度は低下する傾向にある。このように、複数の光学特性に基づいて、透明基体にアンチグレア処理を施工しようとすると、適正なアンチグレア処理を選定することが難しくなる場合がある。【００１１】  本発明は、このような背景に鑑みなされたものであり、本発明では、目的や用途などに応じて、透明基体とそれに施工するアンチグレア処理を適正に選定することが可能な、透明基体の光学特性を評価する方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】  本発明では、表示装置の上に配置される透明基体の光学特性を評価する方法であって、  透明基体の定量化された解像度指標値、定量化された反射像拡散性指標値、および定量化されたぎらつき指標値の中から２つを選択して、前記透明基体の光学特性を評価することを特徴とする方法が提供される。【００１３】  ここで、本発明による方法において、前記選択される指標値の組は、前記解像度指標値および前記反射像拡散性指標値の組、前記ぎらつき指標値および前記反射像拡散性指標値の組、または前記解像度指標値および前記ぎらつき指標値の組であっても良い。【００１４】  また、本発明による方法において、前記定量化された解像度指標値は、  第１および第２の表面を有する透明基体の前記第２の表面側から、前記透明基体の厚さ方向と平行な方向に第１の光を照射し、前記第１の表面から前記透明基体の厚さ方向と平行な方向に透過する透過光（０゜透過光という）の輝度を測定するステップと、  前記第１の光の前記透明基体の第１の表面に対する受光角度を−９０゜〜＋９０゜の範囲で変化させ、前記第１の表面側から透過する全透過光の輝度を測定するステップと、  以下の式（１）から、解像度指標値Ｔを算定するステップと   解像度指標値Ｔ＝        （全透過光の輝度−０゜透過光の輝度）／（全透過光の輝度）    式（１）   により得られても良い。【００１５】  また、本発明による方法において、前記定量化された反射像拡散性指標値は、  第１および第２の表面を有する透明基体の前記第１の表面側から、前記透明基体の厚さに対して４５゜の方向に第２の光を照射し、前記第１の表面で反射する４５゜正反射光の輝度を測定するステップと、  前記第１の表面により反射される反射光の受光角度を０゜〜＋９０°の範囲で変化させ、前記第１の表面で反射される全反射光の輝度を測定するステップと、  以下の式（２）から、反射像拡散性指標値Ｒを算定するステップと   反射像拡散性指標値Ｒ＝        （全反射光の輝度−４５゜正反射光の輝度）／（全反射光の輝度）    式（２）   により得られても良い。【００１６】  また、本発明による方法において、前記解像度指標値および／または反射像拡散性指標値は、変角光度計を用いて取得されても良い。【００１７】  また、本発明による方法において、前記定量化されたぎらつき指標値は、（ａ）第１および第２の表面を有する透明基体を、前記第２の表面が前記表示装置の表示面側になるようにして、該表示装置の上に配置し、（ｂ）前記透明基体を前記第１の表面側から撮影し、デジタル画像を取得し、（ｃ）前記デジタル画像の一部を解析領域として選択し、前記解析領域を複数画素からなる複数の領域に分割し、前記各領域内における最大輝度値と最大輝度傾斜を求め、前記解析領域における前記最大輝度値と前記最大輝度傾斜それぞれのばらつきから算出される指標値を用いて、前記透明基体のぎらつきを定量化する  ことを特徴とする方法が提供される。【００１８】  また、本発明による方法において、前記表示装置は、ＬＣＤ装置、ＯＬＥＤ装置、ＰＤＰ装置、およびタブレット型表示装置からなる群から選択された一つであっても良い。【００１９】  また、本発明による方法において、前記透明基体は、ソーダラ��ムガラスまたはアルミノシリケートガラスで構成されても良い。【００２０】  この場合、前記透明基体は、第１および第２の表面のうちの少なくとも一方が、化学強化処理されていても良い。【００２１】  また、本発明による方法において、前記透明基体は、前記第１または第２、あるいは両方の表面がアンチグレア処理されていても良い。【００２２】  この場合、前記アンチグレア処理は、前記透明基体の第１の表面に、フロスト処理、エッチング処理、サンドブラスト処理、ラッピング処理、およびシリカコート処理からなる群から選択された、少なくとも一つの処理方法を適用することにより実施されても良い。
【発明の効果】
【００２３】  本発明では、目的や用途などに応じて、透明基体を適正に選定することが可能な、透明基体の光学特性を評価する方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】本発明の一実施例による透明基体の解像度指標値を取得する方法のフローを概略的に示した図である。
【図２】解像度指標値を取得する際に使用される、測定装置の一例を模式的に示した図である。
【図３】本発明の一実施例による透明基体の反射像拡散性指標値を取得する方法のフローを概略的に示した図である。
【図４】反射像拡散性指標値を取得する際に使用される、測定装置の一例を模式的に示した図である。
【図５】本発明の一実施例による透明基体のぎらつき指標値を取得する方法のフローを概略的に示した図である。
【図６】各種透明基体において得られた、解像度指標値Ｔ（横軸）と反射像拡散性指標値Ｒ（縦軸）の関係の一例をプロットした図である。
【図７】各種透明基体において得られた、ぎらつき指標値（横軸）と、反射像拡散性指標値Ｒ（縦軸）との関係の一例をプロットした図である。
【図８】各種透明基体において得られた、解像度指標値Ｔ（横軸）と、ぎらつき指標値（縦軸）との関係の一例をプロットした図である。
【図９】各透明基体において得られた、目視による解像度レベルの判定結果（縦軸）と、解像度指標値Ｔ（横軸）の間の関係の一例を示したグラフである。
【図１０】レベル１〜レベル１２のそれぞれの反射像拡散性を有する透明基体をまとめて示した図である。
【図１１】各透明基体において得られた、目視による反射像拡散性のレベル（縦軸）と、反射像拡散性指標値Ｒ（横軸）の間の関係の一例を示したグラフである。
【図１２】レベル０およびレベル７のそれぞれのぎらつきを示す透明基体を示した図である。
【図１３】各透明基体において得られた、ぎらつき指標値（縦軸）と、目視によるぎらつきのレベル（横軸）の間の関係の一例を示したグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００２５】  以下、本発明について詳しく説明する。
【００２６】  本発明では、表示装置の上に配置される透明基体の光学特性を評価する方法であって、  透明基体の定量化された解像度指標値、定量化された反射像拡散性指標値、および定量化されたぎらつき指標値の中から２つを選択して、前記透明基体の光学特性を評価することを特徴とする方法が提供される。
【００２７】  前述のように、表示装置の表面に配置される透明基体には、解像度、反射像拡散性、およびぎらつき防止性など、様々な光学特性が要求される。従って、透明基体を選定する際に、単一の光学特性を考慮するのみでは不十分な場合がしばしばある。
【００２８】  これに対して、本発明では、解像度指標値、反射像拡散性指標値、およびぎらつき指標値の中から２つを選択して、透明基体の光学特性が評価される。
【００２９】  このような方法では、２つの光学特性を考慮して、透明基体を選定することができるため、透明基体をより適正に選定することが可能となる。
【００３０】  また、本発明による方法では、透明基体の解像度指標値、反射像拡散性指標値、およびぎらつき指標値として、数値化された値が使用される。このため、解像度、反射像拡散性、およびぎらつきの各光学特性に関して、観察者の主観や先入観にとらわれず、これらの光学特性を、客観的かつ定量的に判断することができる。
【００３１】  さらに、透明基体に要求される光学特性の中には、解像度と反射像拡散性など、しばしば、トレードオフの関係にあるものが存在する。従来、このような場合、選定の際のよりどころとなる指標が存在しないため、２つの光学特性を両立させる透明基体を適正に選定することは難しかった。
【００３２】  しかしながら、本発明による方法では、透明基体の２つの光学特性を、総合的かつ定量的に評価することができる。従って、本発明による方法では、目的および用途等に応じて、最適な光学特性を有する透明基体を、適正に選定することが可能となる。
【００３３】  ここで、図面を参照して、本発明による方法において使用される、透明基体の解像度指標値、反射像拡散性指標値、およびぎらつき指標値を取得する方法の一実施例について説明する。
【００３４】  （解像度指標値について）  図１には、本発明の一実施例による透明基体の解像度指標値を取得する方法のフローを概略的に示す。
【００３５】  図１に示すように、この透明基体の解像度指標値を取得する方法は、  （ａ）第１および第２の表面を有する透明基体の前記第２の表面側から、前記透明基体の厚さ方向と平行な方向に第１の光を照射し、前記第１の表面から前記透明基体の厚さ方向と平行な方向に透過する透過光（以下、「０゜透過光」ともいう）の輝度を測定するステップ（ステップＳ１１０）と、  （ｂ）前記第１の光の前記透明基体の厚さ方向に対する照射角度を−９０゜〜＋９０゜の範囲で変化させ、透明基体を透過して、第１の表面から出射される第１の光（以下、「全透過光」ともいう）の輝度を測定するステップ（ステップＳ１２０）と、  （ｃ）以下の式（１）から、解像度指標値Ｔを算定するステップ（ステップＳ１３０）   解像度指標値Ｔ＝        （全透過光の輝度−０゜透過光の輝度）／（全透過光の輝度）    式（１）   と、を有する。
【００３６】  以下、各ステップについて説明する。
【００３７】  （ステップＳ１１０）  まず、相互に対向する第１および第２の表面を有する透明基体が準備される。
【００３８】  透明基体は、透明である限り、いかなる材料で構成されても良い。透明基体は、例えば、ガラスまたはプラスチック等であっても良い。
【００３９】  透明基体がガラスで構成される場合、ガラスの組成は特に限られない。ガラスは、例えば、ソーダライムガラスまたはアルミノシリケートガラスであっても良い。
【００４０】  また、透明基体がガラスで構成される場合、第１および／または第２の表面は、化学強化処理されても良い。
【００４１】  ここで、化学強化処理とは、アルカリ金属を含む溶融塩中にガラス基板を浸漬させ、ガラス基板の最表面に存在するイオン半径の小さなアルカリ金属（イオン）を、溶融塩中に存在するイオン半径の大きなアルカリ金属（イオン）と置換する技術の総称を言う。化学強化処理法では、処理されたガラス基板の表面には、元の原子よりもイオン半径の大きなアルカリ金属（イオン）が配置される。このため、ガラス基板の表面に圧縮応力を付与することができ、これによりガラス基板の強度（特にワレ強度）が向上する。
【００４２】  例えば、ガラス基板がナトリウムイオン（Ｎａ＋）を含む場合、化学強化処理により、このナトリウムイオンは、例えばカリウムイオン（Ｋａ＋）と置換される。あるいは、例えば、ガラス基板がリチウムイオン（Ｌｉ＋）を含む場合、化学強化処理により、このリチウムイオンは、例えばナトリウムイオン（Ｎａ＋）および／またはカリウムイオン（Ｋａ＋）と置換されても良い。
【００４３】  一方、透明基体がプラスチックで構成される場合、プラスチックの組成は特に限られない。透明基体は、例えばポリカーボネート基板であっても良い。
【００４４】  なお、ステップＳ１１０の前に、透明基体の第１の表面を、アンチグレア処理するステップが実施されていても良い。アンチグレア処理の方法は、特に限られない。アンチグレア処理は、例えば、フロスト処理、エッチング処理、サンドブラスト処理、ラッピング処理、またはシリカコート処理等であっても良い。
【００４５】  アンチグレア処理後の透明基体の第１の表面は、例えば、０．０５μｍ〜０．５μｍの範囲の表面粗さ（算術平均粗さＲａ）を有しても良い。
【００４６】  次に、透明基体の第２の表面側から、透明基体の厚さ方向と平行な方向、具体的には角度θ＝０゜±０．５゜の方向（以下、「角度０°の方向」ともいう）に、第１の光が照射される。第１の光は、透明基体を透過し、第１の表面から出射される。第１の表面から角度０°の方向に出射された０゜透過光を受光し、その輝度を測定して、「０゜透過光の輝度」とする。
【００４７】  （ステップＳ１２０）  次に、第１の表面から出射された光を受光する角度θを、−９０゜〜＋９０゜の範囲で変化させ、同様の操作を実施する。これにより、透明基体を透過して、第１の表面から出射される光の輝度分布を測定して合計し、「全透過光の輝度」とする。
【００４８】  （ステップＳ１３０）  次に、以下の式（１）から、解像度指標値Ｔを算定する：   解像度指標値Ｔ＝        （全透過光の輝度−０゜透過光の輝度）／（全透過光の輝度）    式（１）   この解像度指標値Ｔは、後述するように、観察者の目視による解像度の判断結果と相関し、人の視感に近い挙動を示すことが確認されている。例えば、解像度指標値Ｔが大きな（１に近い）値を示す透明基体は、解像度が劣り、逆に解像度指標値Ｔが小さな値を示す透明基体は、良好な解像度を有する。従って、この解像度指標値Ｔは、透明基体の解像度を判断する際の定量的指標として、使用することができる。
【００４９】  図２には、前述の式（１）で表される解像度指標値Ｔを取得する際に使用される、測定装置の一例を模式的に示す。
【００５０】  図２に示すように、測定装置２００は、光源２５０および検出器２７０を有し、測定装置２００内に、透明基体２１０が配置される。透明基体２１０は、第１の表面２１２および第２の表面２１４を有する。光源２５０は、透明基体２１０に向かって、第１の光２６２を放射する。検出器２７０は、第１の表面２１２から出射される透過光２６４を受光し、その輝度を検出する。
【００５１】  なお、透明基体２１０は、第２の表面２１４が光源２５０の側となり、第１の表面２１２が検出器２７０の側となるように配置される。従って、検出器２７０が検出する第１の光は、透明基体２１０を透過した透過光２６４である。なお、透明基体２１０の一方の表面がアンチグレア処理されている場合、このアンチグレア処理されている表面が、透明基体２１０の第１の表面２１２となる。すなわち、この場合、透明基体２１０は、アンチグレア処理されている表面が検出器２７０の側となるようにして、測定装置２００内に配置される。
【００５２】  また、第１の光２６２は、透明基体２１０の厚さ方向と平行な角度θで照射される。以降、この角度θを０゜と規定する。なお、本願では、測定装置の誤差を考慮して、θ＝０゜±０．５゜の範囲を、角度０゜と定義する。
【００５３】  このような測定装置２００において、光源２５０から透明基体２１０に向かって第１の光２６２を照射し、検出器２７０を用いて透明基体２１０の第１の表面２１２側から出射される透過光２６４を検出する。これにより、０゜透過光が検出される。
【００５４】  次に、検出器２７０が透過光２６４を受光する角度θについて、−９０゜〜＋９０゜の範囲で変化させ、同様の操作を実施する。
【００５５】  これにより、検出器２７０を用いて、−９０゜〜＋９０゜までの範囲で、透明基体２１０を透過して、第１の表面２１２から出射される透過光２６４、すなわち全透過光を検出する。
【００５６】  得られた０゜透過光の輝度および全透過光の輝度から、前述の式（１）により、透明基体２１０の解像度指標値Ｔを取得できる。
【００５７】  なお、このような測定は、市販のゴニオメータ（変角光度計）を使用することにより、容易に実施できる。
【００５８】  （反射像拡散性指標値について）  図３には、本発明の一実施例による透明基体の反射像拡散性指標値を取得する方法のフローを概略的に示す。
【００５９】  図３に示すように、この透明基体の反射像拡散性指標値を取得する方法は、  （ａ’）第１および第２の表面を有する透明基体の前記第１の表面側から、前記透明基体の厚さ方向に対して４５゜の方向に第２の光を照射し、前記第１の表面で正反射する光（以下、「４５゜正反射光」ともいう）の輝度を測定するステップ（ステップＳ２１０）と、  （ｂ’）前記第１の表面により反射される反射光の受光角度を０°〜＋９０°の範囲で変化させ、前記第１の表面で反射される第２の光（以下、「全反射光」ともいう）の輝度を測定するステップ（ステップＳ２２０）と、  （ｃ’）以下の式（２）から、反射像拡散性指標値Ｒを算定するステップ（ステップＳ２３０）   反射像拡散性指標値Ｒ＝        （全反射光の輝度−４５゜正反射光の輝度）／（全反射光の輝度）    式（２）   と、を有する。
【００６０】  以下、各ステップについて説明する。
【００６１】  （ステップＳ２１０）  まず、相互に対向する第１および第２の表面を有する透明基体が準備される。
【００６２】  なお、透明基体の材質、組成等は、前述のステップＳ１１０において示したものと同様であるため、ここではこれ以上説明しない。
【００６３】  次に、準備された透明基体の第１の表面側から、透明基体の厚さ方向に対して４５゜±０．５゜の方向に向かって、第２の光が照射される。第２の光は、透明基体の第１の表面で反射される。この反射光のうち、４５゜正反射光を受光し、その輝度を測定して、「４５゜正反射光の輝度」とする。
【００６４】  （ステップＳ２２０）  次に、第１の表面により反射される反射光の受光角度を０°〜＋９０°の範囲で変化させ、同様の操作を実施する。この際に、透明基体の第１の表面で反射して、第１の表面から出射される第２の光の輝度分布を測定して合計し、「全反射光の輝度」とする。
【００６５】  （ステップＳ２３０）  次に、以下の式（２）から、反射像拡散性指標値Ｒを算定する：   反射像拡散性指標値Ｒ＝        （全反射光の輝度−４５゜正反射光の輝度）／（全反射光の輝度）    式（２）   この反射像拡散性指標値Ｒは、後述するように、観察者の目視による反射像拡散性の判断結果と相関し、人の視感に近い挙動を示すことが確認されている。例えば、反射像拡散性指標値Ｒが大きな値（１に近い値）を示す透明基体は、反射像拡散性に優れ、逆に反射像拡散性指標値Ｒが小さな値を示す透明基体は、反射像拡散性が劣る傾向にある。従って、この反射像拡散性指標値Ｒは、透明基体の反射像拡散性を判断する際の定量的指標として、使用することができる。
【００６６】  図４には、前述の式（２）で表される反射像拡散性指標値Ｒを取得する際に使用される、測定装置の一例を模式的に示す。
【００６７】  図４に示すように、測定装置３００は、光源３５０および検出器３７０を有し、測定装置３００内に、透明基体２１０が配置される。透明基体２１０は、第１の表面２１２および第２の表面２１４を有する。光源３５０は、透明基体２１０に向かって、第２の光３６２を放射する。検出器３７０は、第１の表面２１２において反射される反射光３６４を受光し、その輝度を検出する。
【００６８】  なお、透明基体２１０は、第１の表面２１２が光源３５０および検出器３７０の側となるように配置される。従って、検出器３７０が検出する第２の光は、透明基体２１０で反射された反射光３６４である。また、透明基体２１０の一方の表面がアンチグレア処理されている場合、このアンチグレア処理されている表面が、透明基体２１０の第１の表面２１２となる。すなわち、この場合、透明基体２１０は、アンチグレア処理されている表面が光源３５０および検出器３７０の側となるようにして、測定装置３００内に配置される。
【００６９】  また、第２の光３６２は、透明基体２１０の厚さ方向に対して、４５゜傾斜した角度で照射される。なお、本願では、測定装置の誤差を考慮して、４５゜±０．５゜の範囲を、角度４５゜と定義する。
【００７０】  このような測定装置３００において、光源３５０から透明基体２１０に向かって第２の光３６２を照射し、検出器３７０を用いて、透明基体２１０の第１の表面２１２で反射される反射光３６４を検出する。これにより、「４５゜正反射光」が検出される。
【００７１】  次に、検出器３７０が反射光３６４を測定する角度φにおいて、０゜〜＋９０゜の範囲で変化させ、同様の操作を実施する。
【００７２】  この際に、検出器３７０を用いて、０゜〜＋９０゜の範囲で、透明基体２１０の第１の表面２１２で反射された反射光３６４、すなわち全反射光の輝度分布を検出し、合計する。
【００７３】  得られた４５゜正反射光の輝度および全反射光の輝度から、前述の式（２）により、透明基体２１０の反射像拡散性指標値Ｒを取得できる。なお、このような測定は、市販のゴニオメータ（変角光度計）を使用することにより、容易に実施することができる。
【００７４】  （ぎらつき指標値について）  図５には、本発明の一実施例による透明基体のぎらつき指標値を取得する方法のフローを概略的に示す。
【００７５】  図５に示すように、この透明基体のぎらつき指標値を取得する方法は、（ａ’’）第１および第２の表面を有する透明基体を、前記第２の表面が前記表示装置の表示面側になるようにして、該表示装置の上に配置し（以下、ステップＳ３１０：透明基体の配置ともいう）、（ｂ’’）前記透明基体を前記第１の表面側から撮影し、デジタル画像を取得し（以下、ステップＳ３２０：デジタル画像の取得ともいう）、（ｃ’’）前記デジタル画像の一部を解析領域として選択し、前記解析領域を複数画素からなる複数の領域に分割し、前記各領域内における最大輝度値と最大輝度傾斜を求め、前記解析領域における前記最大輝度値と前記最大輝度傾斜それぞれのばらつきから算出される指標値を用いて、前記透明基体のぎらつきを定量化する（以下、ステップＳ３３０：ぎらつきの定量化ともいう）と、  を有する。
【００７６】  以下、各ステップについて詳しく説明する。
【００７７】  （ステップＳ３１０）  まず、相互に対向する第１および第２の表面を有する透明基体が準備される。
【００７８】  なお、透明基体の材質、組成等は、前述のステップＳ１１０において示したものと同様であるため、ここではこれ以上説明しない。
【００７９】  次に、表示装置が準備される。表示装置は、特に限られない。表示装置は、例えば、ＬＣＤ装置、ＯＬＥＤ（Ｏｒｇａｎｉｃ  Ｌｉｇｈｔ  Ｅｍｉｔｔｉｎｇ  Ｄｉｏｄｅ）装置、ＰＤＰ（Ｐｌａｓｍａ  Ｄｉｓｐｌａｙ  Ｐａｎｅｌ）装置、またはタブレット型表示装置であっても良い。
【００８０】  次に、表示装置の上に透明基体が配置される。この際には、透明基体は、第２の表面が表示装置の側になるようにして、表示装置の上に配置される。
【００８１】  （ステップＳ３２０）  次に、表示装置をＯＮにした状態（すなわち画像を表示させた状態）で、透明基体を第１の表面側から撮影し、表示装置上に配置された透明基体の画像を取得する。
【００８２】  表示装置に表示させる像は、単一色（例えば緑色）の像であって、表示装置の表示画面全体に表示されることが好ましい。表示色の違いによる見え方の違い等の影響を極力小さくするためである。
【００８３】  撮影には、測定の再現性の向上の面から、高画素数を有するデジタルカメラを使用することが好ましい。たとえばＣＣＤイメージセンサーカメラを使用できる。少なくとも、アンチグレア処理後の透明基体表面凹凸や画素ピッチのサイズ以下を判別可能な程度の撮像素子面積、画素数を持つものが好ましい。
【００８４】  また、デジタルカメラの受光素子と被撮影サンプルとの距離を固定すると、測定の再現性が向上するので好ましい。
【００８５】  撮影された透明基体の画像は、解析装置（コンピュータ等）に取り込まれる。
【００８６】  （ステップＳ３３０）  次に、前記画像の一部を解析領域として選択し、前記解析領域を複数画素からなる複数の領域に分割し、前記各領域内における最大輝度値と最大輝度傾斜を求め、前記解析領域における最大輝度値、最大輝度傾斜それぞれのばらつきから、定量化されたぎらつき指標値を算出し、これをぎらつき指標値とする。
【００８７】  解析領域のサイズは、この後の輝度値等のばらつきを評価でき、かつ計算量が適切になる範囲であれば任意に選択できるが、たとえば１２８画素×１００画素〜２５６画素×２００画素からなる矩形エリアを解析領域とすることができる。さらに解析領域を複数画素からなる複数領域に分割し、各領域内における最大輝度値と最大輝度傾斜とを求める。前記複数領域は、各々の領域が互いに重なり合わないように解析領域を満たすことができる同一の画素数であって、かつ最大輝度値や輝度傾斜を求めるのに適する程度の画素数から構成されることが好ましく、たとえば、４画素×４画素〜１６画素×１６画素からなる矩形領域としてもよい。
【００８８】  最大輝度値は、各領域内における各画素の輝度値の最大値から求められる。最大輝度傾斜は、各領域内において各隣接画素の輝度差の最大値から求められる。解析領域内における最大輝度値と最大輝度傾斜それぞれのばらつき（たとえば標準偏差）から、定量化されたぎらつき指標値を算出する。このような解析は、たとえば、市販のソフトウェアＥｙｅｓｃａｌｅ−４Ｗ（アイ・システム社製）によって出力されるＩＳＣ−Ａ値を指標値として用いることで可能である。
【００８９】  このぎらつき指標値は、後述するように、観察者の目視によるぎらつきの判断結果と相関し、人の視感に近い挙動を示すことが確認されている。例えば、ぎらつき指標値が大きな透明基体は、ぎらつきが顕著であり、逆にぎらつき指標値が小さな透明基体は、ぎらつきが抑制される傾向にある。従って、このぎらつき指標値は、透明基体のぎらつきを判断する際の定量的指標として使用できる。
【００９０】  以上のような解像度指標値Ｔ、反射像拡散性指標値Ｒ、およびぎらつき指標値を使用することにより、透明基体の光学特性を定量的に評価することが可能となる。
【００９１】  （２つの指標による評価）  次に、透明基体の２つの光学特性を同時に評価する方法およびその効果について説明する。
【００９２】  まず、透明基板の解像度と反射像拡散性とを同時に評価する場合、例えば、図６に示すような相関図が使用される。
【００９３】  図６は、各種透明基体において得られた、解像度指標値Ｔ（横軸）と反射像拡散性指標値Ｒ（縦軸）の関係の一例をプロットした図である。図において、横軸の解像度指標値Ｔが小さいほど、透明基体の解像度は向上し、縦軸の反射像拡散性指標値Ｒが大きいほど、透明基体の反射像拡散性は向上する。
【００９４】  なお、図６には、参考のため、良好な（高い）解像度と良好な反射像拡散性を兼ね備えた、理想的な透明基体の領域がｉｄｅａｌと表示された○印で表されている。
【００９５】  ここで、従来のように、単一の光学的特性、例えば解像度のみを考慮して、各種透明基体の中から、候補透明基体を選定した場合、図６のハッチングで示された領域Ａに含まれる透明基体が一様に選定されることになる。すなわち、そのような方法では、反射像拡散性の劣る透明基体が、選定候補透明基体に含まれてしまう。同様に、反射像拡散性のみを考慮して、透明基体を選定した場合、図６のハッチングで示された領域Ｂに含まれる透明基体が一様に選定され、解像度の劣る透明基体が選定候補透明基体に含まれてしまう。
【００９６】  また、前述のように、解像度と反射像拡散性は、トレードオフの関係にあり、両方の特性を兼ね備えた透明基体、すなわち○印で表された領域に存在する透明基体を得ることは実質的に不可能である。このため、単に、解像度および反射像拡散性を別々に考慮しても、適正な透明基体を選定することはできない。
【００９７】  これに対して、図６のような解像度指標値Ｔと反射像拡散性指標値Ｒの相関図を使用した場合、一度に両方の光学特性を考慮して、適正な透明基体を選定することが可能となる。すなわち、このような選定方法では、目的および用途などに応じて、透明基体を適正に選定することができ、すなわち、解像度と反射像拡散性に関して、最も良好な特性が発揮できるように透明基体を選定することが可能となる。
【００９８】  次に、図７には、各種透明基体において得られた、ぎらつき指標値（横軸）と、反射像拡散性指標値Ｒ（縦軸）との関係の一例をプロットした図を示す。図において、横軸のぎらつき指標値が小さいほど、透明基体のぎらつきは抑制され、縦軸の反射像拡散性指標値Ｒが大きいほど、透明基体の反射像拡散性は向上する。
【００９９】  なお、図７には、参考のため、良好なぎらつき防止性と良好な反射像拡散性を兼ね備えた、理想的な透明基体の領域がｉｄｅａｌと表示された○印で表されている。
【０１００】  ぎらつき防止性と反射像拡散性の場合も、従来のように、単一の光学的特性、例えばぎらつき防止性のみを考慮して、各種透明基体の中から候補透明基体を選定した場合、図７のハッチングで示された領域Ｃに含まれる透明基体が一様に選定されることになる。すなわち、そのような方法では、反射像拡散性の劣る透明基体が、選定候補透明基体に含まれてしまう。同様に、反射像拡散性のみを考慮して、透明基体を選定した場合、図７のハッチングで示された領域Ｄに含まれる透明基体が一様に選定され、ぎらつき防止性の劣る透明基体が選定候補透明基体に含まれてしまう。
【０１０１】  また、ぎらつき防止性と反射像拡散性は、両者の特性ともに最良を達成することは難しく、両者の特性が○印で表された理想的な領域に存在する透明基体を得ることは実質的に不可能である。このため、単に、ぎらつき防止性および反射像拡散性を別々に考慮しても、適正な透明基体を選定することはできない。
【０１０２】  これに対して、図７のようなぎらつき指標値と反射像拡散性指標値Ｒの相関図を使用した場合、一度に両方の光学特性を考慮して、適正な透明基体を選定することが可能となる。すなわち、このような選定方法では、目的および用途などに応じて、透明基体を適正に選定することができ、すなわち、ぎらつき防止性と反射像拡散性に関して、最も良好な特性が発揮できるように透明基体を選定することが可能となる。
【０１０３】  次に、図８には、各種透明基体において得られた、解像度指標値Ｔ（横軸）と、ぎらつき指標値（縦軸）との関係の一例をプロットした図を示す。図８において、横軸の解像度指標値Ｔが小さいほど、透明基体の解像度は向上し、縦軸のぎらつき指標値が小さいほど、透明基体のぎらつきは低下する（すなわち、ぎらつき防止性は向上する）。
【０１０４】  なお、図８には、参考のため、良好な解像度と良好なぎらつき防止性を兼ね備えた、理想的な透明基体の領域がｉｄｅａｌと表示された○印で表されている。
【０１０５】  解像度とぎらつき防止性の場合も、従来のように、単一の光学的特性、例えば解像度のみを考慮して、各種透明基体の中から候補透明基体を選定した場合、図８のハッチングで示された領域Ｅに含まれる透明基体が一様に選定されることになる。すなわち、そのような方法では、ぎらつき防止性の劣る透明基体が、選定候補透明基体に含まれてしまう。同様に、ぎらつき防止性のみを考慮して、透明基体を選定した場合、図８のハッチングで示された領域Ｆに含まれる透明基体が一様に選定され、解像度の劣る透明基体が選定候補透明基体に含まれてしまう。
【０１０６】  これに対して、図８のような、解像度指標値Ｔとぎらつき指標値との相関図を使用した場合、一度に両方の光学特性を考慮して、適正な透明基体を選定することが可能となる。すなわち、このような選定方法では、目的および用途などに応じて、透明基体を適正に選定することができ、すなわち、解像度とぎらつき防止性に関して、最も良好な特性が発揮できるように透明基体を選定することが可能となる。
【０１０７】  このように、本発明の一実施例による方法では、２つの光学的特性を一度に、定量的に考慮することができるため、使用目的や用途等に応じて、透明基体をより適正に選定することが可能となる。
【０１０８】  また、本発明による方法では、透明基体の解像度指標値、反射像拡散性指標値、およびぎらつき指標値として、数値化された値が使用される。このため、解像度、反射像拡散性、およびぎらつきの各光学特性に関して、観察者の主観や先入観にとらわれず、これらの光学特性を、客観的かつ定量的に判断することができる。
【実施例】
【０１０９】  次に、実際の透明基体を用いて実施した、解像度評価、反射像拡散性評価、およびぎらつき評価の結果について説明する。【０１１０】  （解像度評価について）  各種透明基体を準備し、この透明基体の解像度を、以下のような方法で評価した。【０１１１】  まず、第１の表面が各種方法でアンチグレア処理された透明基体を準備した。透明基体は、いずれもガラス製とした。透明基体の厚さは、０．５ｍｍ〜３．０ｍｍの範囲から選定した。【０１１２】  また、プラスチック製の標準テストチャート（高精細度解像度チャートＩ型：大日本印刷社製）を準備した。【０１１３】  次に、各透明基体を標準テストチャートの上方に配置した。この際には、透明基体の第１の表面（すなわちアンチグレア処理された表面）の側が、標準テストチャートと反対の側となるようにして透明基体を配置した。なお、透明基体と標準テストチャートの間の間隔は、１ｃｍとした。【０１１４】  次に、透明基体を介して標準テストチャートを目視観察し、視認できるバーの限界（Ｔｖ本数）を評価した。これにより、各透明基体に対して、目視による解像レベルを判定した。なお、本標準テストチャートのＴｖ本数の最大値は２０００本である。【０１１５】  次に、変角光度計（ＧＣ５０００Ｌ：日本電色工業社製）を用いて、前述のステップＳ１１０〜ステップＳ１３０に示したような操作を実施して、式（１）から、各透明基体の解像度指標値Ｔを算定した。なお、ステップＳ１２０において、本測定装置での受光角度の範囲は、測定装置としての構成上の制約から、−８５°〜＋８５°であった。−９０°〜−８５°および＋８５°〜＋９０°の透過光量はほぼ０であるため、本測定範囲であっても解像度指標値Ｔを算出するに当たって大きな影響は生じない。【０１１６】  図９には、各透明基体において得られた、目視による解像度レベルの判定結果（縦軸）と、解像度指標値Ｔ（横軸）の間の関係の一例を示す。【０１１７】  図９から、両者の間には、負の相関関係があることがわかる。なお、解像度指標値Ｔが０．１付近においては、目視による解像度レベルが最大値２０００で飽和しているものが複数あった。【０１１８】  この結果は、解像度指標値Ｔが観察者の目視による解像度の判断傾向と対応し、従って解像度指標値Ｔを用いて、透明基体の解像度を判断することができることを示唆するものである。換言すれば、解像度指標値Ｔを使用することにより、透明基体の解像度を、客観的かつ定量的に判断することができると言える。【０１１９】  （反射像拡散性評価について）  次に、前述の解像度評価で使用した各種透明基体を使用して、これらの透明基体の反射像拡散性を、以下のような方法で評価した。【０１２０】  まず、各透明基体を、第１の表面（すなわちアンチグレア処理された表面）の側から目視で観察し、反射像拡散性をレベル１〜レベル１２までの１２段階で評価した。なお、観察方向は、透明基体の厚さ方向に対して、４５゜の方向とした。【０１２１】  図１０には、参考として、レベル１〜レベル１２のそれぞれの反射像拡散性の例をまとめて示す。なお、この図は、各レベルに相当する反射像拡散性を有する透明基体を、それぞれ別個に撮影することにより得られたものである。【０１２２】  この図１０から、レベル１〜レベル１２に向かって、透明基体の反射像が徐々に軽微になっていくこと、すなわち、透明基体の反射像拡散性が向上していく傾向にあることがわかる。なお、このレベル１の状態は、何れの表面もアンチグレア処理を実施していない透明基体で得られたものである。【０１２３】  次に、変角光度計（ＧＣ５０００Ｌ：日本電色工業社製）を用いて、前述のステップＳ２１０〜ステップＳ２３０に示したような操作を実施して、式（２）から、各透明基体の反射像拡散性指標値Ｒを算定した。なお、ステップＳ２２０において、本測定装置での受光角度の範囲は、測定装置としての構成上の制約から、＋５°〜＋８５°であった。０°〜＋５°および＋８５°〜＋９０°の反射光量はほぼ０であるため、本測定範囲であっても反射像拡散性指標値Ｒを算出するに当たって大きな影響は生じない。【０１２４】  図１１には、各透明基体において得られた、目視による反射像拡散性の評価レベル（縦軸）と、反射像拡散性指標値Ｒ（横軸）の間の関係の一例を示す。【０１２５】  図１１から、両者の間には、正の相関関係があることがわかる。【０１２６】  この結果は、反射像拡散性指標値Ｒが観察者の目視による反射像拡散性の評価レベルの傾向と対応し、従って反射像拡散性指標値Ｒを用いて、透明基体の反射像拡散性を判断することができることを示唆するものである。換言すれば、反射像拡散性指標値Ｒを使用することにより、透明基体の反射像拡散性を、客観的かつ定量的に判断することができると言える。【０１２７】  （ぎらつき評価について）  次に、前述の解像度評価で使用した各種透明基体を使用して、これらの透明基体のぎらつきを、以下のような方法で評価した。【０１２８】  まず、各透明基体を表示装置（ｉＰｈｏｎｅ４Ｓ（登録商標））の上に、直接配置する。この際には、各透明基体の第１の表面（すなわちアンチグレア処理された表面）が、観察者側となるようにして、透明基体を表示装置上に配置した。なお、表示装置から表示される像は、緑色単色の像とし、像の寸法は、７．５ｃｍ×５．１ｃｍとした。【０１２９】  次に、この状態で、各透明基体を第１の表面側から目視で観察し、ぎらつきをレベル０〜レベル１０までの１１段階で評価した。レベル０は、ぎらつきがほとんど認められないことを表し、レベル１０は、ぎらつきが極めて顕著であることを表す。また、この間のレベル値は、数値が大きいほど、ぎらつきが大きくなる傾向にある。【０１３０】  図１２には、参考として、レベル０およびレベル７のそれぞれのぎらつきを示す透明基体の例を示す。なお、このレベル０は、何れの表面もアンチグレア処理を実施していない透明基体で得られたものである。【０１３１】  次に、前述のステップＳ３２０〜ステップＳ３３０の操作を実施して、ソフトウェアＥｙｅｓｃａｌｅ−４Ｗ（株式会社アイ・システム製）を用いて、各透明基体のＩＳＣ−Ａの値を取得して、ぎらつき指標値とした。【０１３２】  図１３には、各透明基体において得られた、ぎらつき指標値（縦軸）と、目視によるぎらつきのレベル（横軸）の間の関係の一例を示す。【０１３３】  図１３から、両者の間には、正の相関関係があることがわかる。【０１３４��  この結果は、ぎらつき指標値が観察者の目視によるぎらつきの判定結果の傾向と対応し、従ってぎらつき指標値を用いて、透明基体のぎらつきを判断することができることを示唆するものである。換言すれば、ぎらつき指標値を使用することにより、透明基体のぎらつきを、客観的かつ定量的に判断することができると言える。【０１３５】  このように、解像度指標値Ｔ、反射像拡散性指標値Ｒ、およびぎらつき指標値を、それぞれ、透明基体の解像度、反射像拡散性、およびぎらつき防止性の定量的な指標として使用することができることが確認された。
【産業上の利用可能性】
【０１３６】  本発明は、例えば、ＬＣＤ装置、ＯＬＥＤ装置、ＰＤＰ装置、およびタブレット型表示装置のような、各種表示装置等に設置される透明基体の光学特性評価に利用することができる。【０１３７】  また、本願は２０１３年２月１９日に出願した日本国特許出願２０１３−０３０２３８号に基づく優先権を主張するものであり同日本国出願の全内容を本願に参照により援用する。
【符号の説明】
【０１３８】  ２００    測定装置  ２１０    透明基体  ２１２    第１の表面  ２１４    第２の表面  ２５０    光源  ２６２    第１の光  ２６４    透過光  ２７０    検出器  ３００    測定装置  ３５０    光源  ３６２    第２の光  ３６４    反射光  ３７０    検出器
【図１】
2014129360.tif 000002
【図２】
2014129360.tif 000003
【図３】
2014129360.tif 000004
【図４】
2014129360.tif 000005
【図５】
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【図６】
2014129360.tif 000007
【図７】
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【図８】
2014129360.tif 000009
【図９】
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【図１１】
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【図１３】
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【図１０】
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【図１２】
2014129360.tif 000014
【国際調査報告】
2014129360.tif 000015
2014129360.tif 000016
2014129360.tif 000017
2014129360.tif 000018