(57)【要約】【課題】パルス磁場による非破壊検査において被検査体の形状によらず設置が容易な非破壊検査装置を提供することである。【解決手段】パルス磁場に対する磁場応答を用いた非破壊検査装置１０は、コの字型のヨーク１２ａと、ヨーク１２ａに巻回された励磁コイル１２ｂ、１２ｃと、を備える。
2015190414.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
パルス磁場に対する磁場応答を用いた非破壊検査装置であって、
コの字型のヨークと、
前記ヨークに巻回された励磁コイルと、を備えることを特徴とする非破壊検査装置。
【請求項２】
前記励磁コイルは、前記ヨークの両端部付近にそれぞれ巻回されていることを特徴とする請求項１に記載の非破壊検査装置。
【請求項３】
前記ヨークの両端部の先端形状が凸状の曲面であることを特徴とする請求項１又は２に記載の非破壊検査装置。
【請求項４】
磁場応答を検出する磁気センサを前記ヨークに設けたことを特徴とする請求項１〜３の何れかに記載の非破壊検査装置。
【請求項５】
前記非破壊検査装置どうしを脱着可能に柔軟性を有して電気的に接続する接続部を備えることを特徴とする請求項１〜３の何れかに記載の非破壊検査装置。
【請求項６】
請求項５に記載の非破壊検査装置を複数連結し、
少なくとも１つの前記ヨークに、磁場応答を検出する磁気センサを設けたことを特徴とする非破壊検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はパルス磁場に対する磁場応答を用いた非破壊検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、産業分野で工場やインフラの老朽化が問題となっている。例えば、断熱材と表面板金とで覆われた配管、いわゆる断熱配管においては、その断熱材下の鋼管表面に腐食が発生することが問題になっている。この問題に対しては、板金と断熱材を除去しないで検査することが困難であり、大きな課題となっている。【０００３】
そこで、配管や鋼材等の劣化状態を非破壊で検査する技術が注目されている。このような非破壊検査においては、簡易的でロバスト性が高く、またインフラなど広範囲を効率的に検査するために短時間で検査可能なことが望ましい。なかでも被検査体に外部磁場を加え、これによって生じる磁気応答を検出原理とした非破壊検査は非接触での検査が可能であるという優れた特徴があり、これまで検査が難しかった箇所の検査手法として期待されている。【０００４】
例えば、特許文献１には、配管を励磁コイルに挿通してパルス磁場を被検査体に印加して、その磁場応答を計測することで、配管の欠陥を検査する手法が開示されている。パルス磁場を用いることで、信号周波数が広帯域になり、従来の高周波の渦流探傷法に比べてより深い箇所の欠陥検出が可能な手法となっており、これにより断熱材下の欠陥の有無をとらえることが可能となっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１４−４４０８７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１では、励磁コイルはコイル接続コネクタで切り離しできるようになっている。しかしながら、励磁コイルの巻線数が増えると励磁コイルの剛性が高くなり、被検査配管へ取り付けにくくなる。また、被検査配管の形状に応じて励磁コイルを用意する必要があり、汎用性がない。【０００７】
本発明は、このような課題に鑑みてなされたもので、パルス磁場による非破壊検査において被検査体の形状によらず設置が容易な非破壊検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の一側面に従う装置は、パルス磁場に対する磁場応答を用いた非破壊検査装置であって、コの字型のヨークと、前記ヨークに巻回された励磁コイルと、を備える。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明の一実施形態の非破壊検査装置を示す概略図である。
【図２】本発明の一実施形態の非破壊検査装置を示す概略図である。
【図３】本発明の一実施形態の非破壊検査装置を示す概略図である。
【図４】本発明の一実施形態の非破壊検査装置を示す概略図である。
【図５】図１の非破壊検査装置を用いた検査の様子を説明する図である。
【図６】本発明の一実施形態の非破壊検査装置の主要構成を示すブロック図である。
【図７】本発明の一実施形態の非破壊検査装置を示す概略図である。
【図８Ａ】図７のプラグとジャック付近の平面図である。
【図８Ｂ】隣り合う非破壊検査装置どうしのプラグとジャックとを接続した状態の平面図である。
【図９】図７の非破壊検査装置を用いた検査の様子を説明する図である。
【図１０】図７の非破壊検査装置を用いた検査の様子を説明する図である。
【図１１】図７の非破壊検査装置を用いた検査の様子を説明する図である。
【図１２Ａ】直列接続した非破壊検査装置の一例を示す図である。
【図１２Ｂ】並列接続した非破壊検査装置の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下に、パルス磁場に対する磁場応答を用いた非破壊検査装置の実施形態について説明する。図１〜図４は本発明の一実施形態の非破壊検査装置を示す概略図、図５は図１の非破壊検査装置を用いた検査の様子を説明する図、図６は本発明の一実施形態の非破壊検査装置の主要構成を示すブロック図である。
【００１１】
まず、本実施形態で用いる被検査体について図５を参照して説明する。図５にその断面を示すように、被検査体の一例として断熱配管５０を用いる。断熱配管５０は、配管の本体であり炭素鋼等からなる鋼管５１と、鋼管５１の外面を覆うケイ酸カルシウム等からなる断熱材５２と、断熱材５２の外面を覆う亜鉛メッキ鋼板や炭素鋼等からなる表面板金５３とで構成されている。断熱材５２は鋼管５１と表面板金５３との間に隙間なく詰められている。
【００１２】
例えば、鋼管５１には材質が炭素鋼（比透磁率が１５０、電気抵抗率が１５×１０−８Ωｍ）で内径が１５０ｍｍ、肉厚が７．１ｍｍのものを用いることができる。断熱材５２にはケイ酸カルシウム（比透磁率は１の非導電体）を用いることができる。表面板金５３には鋼管５１と同じ材質で内径が２６５ｍｍ、肉厚が０．３ｍｍのものを用いることができる。
【００１３】
なお、被検査体としては、このような鋼管５１だけでなく、比透磁率が１でない材質（例えば導電体）を含む配管等を用いることができる。また、被検査体としては、鋼管のみからなる配管であってもよいし、配管に限らず、鋼板のような平面に近い大面積の被検査体など、様々な形状のものを用いることができる。
【００１４】
図１又は図６に示すように、非破壊検査装置１０は、パルス電流源１１と、パルス磁場発生部１２と、磁気検出部１３と、移動部１４と、制御部１５とを備えている。
【００１５】
パルス電流源１１は、制御部１５からの指示によりパルス磁場発生部１２へ所定のパルス電流を供給するものである。パルス磁場発生部１２は、パルス電流源１１に接続され、パルス電流源１１からの電流によって被検査体（断熱配管５０）に印加するパルス磁場を発生するものである。
【００１６】
パルス磁場発生部１２は、ヨーク１２ａと、励磁コイル１２ｂ、１２ｃとを備えるユニットである。ヨーク１２ａは、略直線状に延びる長辺部と、長辺部の両端から長辺部と略直角になるようにそれぞれ同じ方向に延出した２つの短辺部とで構成される、コの字型の形状を有している。２つの短辺部はヨーク１２ａの両端部（両端部付近を含む）となっている。ここでいうコの字型とは、環の一部が開いた形状全般を指すものであり、角のない曲線形状であっても、角を有する折れ線形状であってもよい。ヨーク１２ａの両端部の先端面１２ｄ、１２ｅは略平行であり、さらには同一平面上にあることが好ましい。ヨーク１２ａには、ケイ素鋼板やフェライトなど透磁率の高い材料を用いることが好ましい。断熱配管５０の検査時には、図５に示すようにヨーク１２ａの両端部の先端面１２ｄ、１２ｅを断熱配管５０に接触させて検査する。
【００１７】
なお、被検査体がヨーク１２ａに対して十分に大きければ、図５のようにヨーク１２ａの長手方向と断熱配管５０の軸方向とが平行になるように設置して検査する以外にも、ヨーク１２ａをどのような方向で設置しても検査は可能である。
【００１８】
励磁コイル１２ｂ、１２ｃは、ヨーク１２ａの両端部付近（短辺部）にそれぞれ巻回されている。励磁コイル１２ｂ、１２ｃは互いに逆方向に電流が流れるようにパルス電流源１１に接続されており、任意のパルス電流が供給されることで、例えば図５の矢印で示すような磁場を形成する。すなわち、一方の励磁コイル１２ｂで発生した磁束が断熱配管５０へ動径方向から侵入し、断熱配管５０内を軸方向（長手方向）に沿って進み、断熱配管５０の動径方向から他方の励磁コイル１２ｂへ向かう。換言すれば、ヨーク１２ａの一端がＮ極、他端がＳ極となり、断熱配管５０表面の垂直方向に磁束が与えられ、Ｎ極からＳ極に向けた磁束が断熱配管５０の中を軸方向（長手方向）に流れることになる。
【００１９】
磁気検出部１３は、磁気センサ１３ａと検出回路１３ｂとを含み、パルス磁場に対する磁場応答を検出して磁場応答信号を生成する。磁場応答の強度としては磁束密度を用いることができる。磁気センサ１３ａは、ヨーク１２ａの長辺部の中央付近であってコの字型の内側部分に、短辺部の延出方向と同方向に向かって設けられる。磁気センサ１３ａは、ヨーク１２ａから突出して短辺部と同じ長さか若干短い長さの位置に設けることが望ましい。磁気センサ１３ａをなるべく被検査体に近づけることで磁場応答信号検出時のＳＮ比が向上し、より高精度な検出が可能となる。
【００２０】
磁気センサ１３ａは磁場（磁界）の大きさや方向を計測するものであり、本実施形態ではパルス磁場に対する磁場応答を検出可能な各種センサを用いることができる。例えば、コイル、ＭＲ（Magneto  Resistance）素子、ホール素子、磁気インピーダンス素子、ＳＱＵＩＤ（Superconducting  QUantum  Interference  Device）等を用いることができる。ＭＲ素子としてはＡＭＲ（Anisotropic  Magneto  Resistance）素子、ＴＭＲ（Tunnel  Magneto  Resistance）素子等を用いることができる。なお、磁気センサ１３ａは応答磁場を検出可能であれば、ヨーク１２ａ他の位置又はヨーク１２ａ以外の位置に設けてもよい。
【００２１】
検出回路１３ｂは磁気センサ１３ａに接続されており、磁気センサ１３ａからの入力を受けて磁場応答信号を生成する。また、検出回路１２ｂは制御部１５に接続されており、生成した磁場応答信号を制御部１５へ出力する。
【００２２】
移動部１４は、ヨーク１２ａ及び磁気センサ１３ａを被検査体に沿って移動させる自走機構を有し、例えば、非破壊検査装置１０に設けられた車輪をモータで駆動させることにより、非破壊検査装置１０が断熱配管５０上を自由に移動できるようにするものである。制御部１５は、移動部１４を駆動させながら（例えば２０〜３０ｍｍ毎）パルス磁場を印加するように制御することで、ヨーク１２ａ及び磁気センサ１３ａを移動させながら高速で磁場応答信号を取得することができ、広範囲を効率的に検査することができる。なお、移動部１４はモータ等の動力源を持たず手動で移動させる構成であってもよい。
【００２３】
制御部１５は、パルス電流源１１、磁気検出部１３及び移動部１４を制御、つまり非破壊検査装置１０全体を制御する。制御部１５は、検出回路１３ｂから取得した磁場応答信号に基づいて鋼管５１のきずを判別する。例えば、磁場応答信号の減衰波形を正規化し、正規化波形の減衰時間を算出し、鋼管５１のきずを解析することができる。きずは鋼管５１の肉厚に基づき、腐食等によって肉厚が薄くなっているほど減衰時間が短くなる。
【００２４】
図２〜図４を参照して非破壊検査装置、特にパルス磁場発生部１２の他の形態について説明する。図２〜４において図１に示した部材と同様の部材には同符号を付してその詳細な説明を省略する。
【００２５】
図２に示す非破壊検査装置２０は、ヨーク１２ａの長辺部に励磁コイル１２ｆを巻回した点で図１及び図６に示した非破壊検査装置１０と異なり、他の構成は非破壊検査装置１０と同様である。このように、励磁コイル１２ｆをヨーク１２ａの長辺部に巻回した場合でも、図５に示した矢印と同じような磁束を発生させることができるので、上記と同様の手法で検査できる。
【００２６】
図３に示す非破壊検査装置３０は、図１の非破壊検査装置１０と図２の非破壊検査装置２０とを組み合わせた構成、つまりヨーク１２ａの両端部付近（短辺部）にそれぞれ励磁コイル１２ｂ、１２ｃを巻回し、ヨーク１２ａの長辺部に励磁コイル１２ｆを巻回した構成となっている。このような構成によっても、図５に示した矢印と同じような磁束を発生させることができるので、上記と同様の手法で検査できる。非破壊検査装置３０によれば励磁コイルの巻数を増やすことができ磁束密度が高くなるので、磁場応答信号検出時のＳＮ比が向上し、より高精度な検出が可能となる。
【００２７】
図４に示す非破壊検査装置４０は、ヨーク４１ａの両端部の先端形状を凸状の曲面とした点で図１及び図６に示した非破壊検査装置１０と異なり、他の構成は非破壊検査装置１０と同様である。ヨーク４１ａの両端部の先端面４１ｄ、４１ｅは、例えば球面や回転楕円面などとすることができる。検査時には、この先端面４１ｄ、４１ｅを被検査体に点で接触させて検査することになるので、被検査体の表面に凹凸があるような場合でも先端面４１ｄ、４１ｅが被検査体に確実に接触し、被検査体とヨーク４１ａとのエアギャップをなくすことができる。その結果、磁場応答信号検出時のＳＮ比が向上し、より高精度な検出が可能となる。
【００２８】
図１から図４に示す非破壊検査装置１０、２０、３０、４０は、ヨークの両端部の先端形状や励磁コイルの巻き回し方が相違するが、いずれも、パルス磁場に対する磁場応答を用いた非破壊検査装置であり、コの字型のヨークと、ヨークに巻回された励磁コイルとを備えている。
【００２９】
換言すると、これらの装置は、その両端部の先端が被検査体に接触可能となるようにコの字型に形成されたヨークと、ヨークに巻回され、通電されることでヨークの両端部の先端が接触している被検査体に対してヨークの両端部の先端を介して磁場を形成する励磁コイルと、を備え、パルス磁場に対する磁場応答を利用した非破壊検査に使用可能な非破壊検査装置である。
【００３０】
このように、上述した非破壊検査装置１０、２０、３０、４０によれば、パルス磁場による非破壊検査において被検査体の形状によらず設置が容易な非破壊検査装置を提供することができる。
【００３１】
次に、パルス磁場発生部を複数連結できる非破壊検査装置の実施形態について説明する。図７は本発明の一実施形態の非破壊検査装置を示す概略図、図８Ａ及び図８Ｂは接続部を説明する図、図９〜図１１は図７の非破壊検査装置を用いた検査の様子を説明する図、図１２Ａは直列接続した非破壊検査装置の一例を示す図、図１２Ｂは並列接続した非破壊検査装置の一例を示す図である。
【００３２】
図７に示すように、非破壊検査装置６０は、図１に示した非破壊検査装置１０に、２組の接続部６１、６２を設けたものである。接続部６１は、ヨーク１２ａの背面側に設けられた一対のプラグ６１ａ、６１ｂ及びフレキシブル配線６１ｃと、ヨーク１２ａの正面側にフレキシブル配線６１ｃに対向して設けられ、一対のジャック６１ｅ、６１ｆを有するコネクタ６１ｄとを備えている。同様に、接続部６２は、ヨーク１２ａの背面側に設けられた一対のプラグ６２ａ、６２ｂ及びフレキシブル配線６２ｃと、ヨーク１２ａの正面側にフレキシブル配線６２ｃに対向して設けられ、一対のジャック６２ｅ、６２ｆを有するコネクタ６２ｄとを備えている。これにより、接続部６１、６２は非破壊検査装置６０どうしを脱着可能に接続できる。
【００３３】
プラグ６１ａ、６１ｂ、６２ａ、６２ｂは、他の非破壊検査装置６０のジャック６１ｅ、６１ｆ、６２ｅ、６２ｆにそれぞれ挿入されることで電気的に接続する端子であり、詳細は後述する図８Ａ及び図８Ｂを用いて説明する。フレキシブル配線６１ｃ、６２ｃは、例えば配線が樹脂で覆われてなる柔軟性を有する配線であり、図７では蛇腹状であることによって屈曲や湾曲可能となっている。
【００３４】
フレキシブル配線６１ｃ、６２ｃには、それぞれ２本の配線が通っている。フレキシブル配線６１ｃ内の一方の配線は、フレキシブル配線６１ｃのヨーク１２ａと反対側に位置する一端でプラグ６１ａに接続されており、フレキシブル配線６１ｃのヨーク１２ａと接続されている他端で励磁コイル１２ｂの一端に接続されている。励磁コイル１２ｂの他端はコネクタ６１ｄの一方のジャック６１ｅに接続されている。フレキシブル配線６１ｃ内の他方の配線は、フレキシブル配線６１ｃのヨーク１２ａと反対側に位置する一端でプラグ６１ｂに接続されており、フレキシブル配線６１ｃのヨーク１２ａと接続されている他端でコネクタ６１ｄの他方のジャック６１ｆに接続されている。すなわち、プラグ６１ａは励磁コイル１２ｂを介してジャック６１ｅと電気的に接続されており、プラグ６１ｂはジャック６１ｆと電気的に直接接続されている。
【００３５】
同様に、フレキシブル配線６２ｃ内の一方の配線は、フレキシブル配線６２ｃのヨーク１２ａと反対側に位置する一端でプラグ６２ａに接続されており、フレキシブル配線６２ｃのヨーク１２ａと接続されている他端で励磁コイル１２ｃの一端に接続されている。励磁コイル１２ｃの他端はコネクタ６２ｄの一方のジャック６２ｅに接続されている。フレキシブル配線６２ｃ内の他方の配線は、フレキシブル配線６２ｃのヨーク１２ａと反対側に位置する一端でプラグ６２ｂに接続されており、フレキシブル配線６２ｃのヨーク１２ａと接続されている他端でコネクタ６２ｄの他方のジャック６２ｆに接続されている。すなわち、プラグ６２ａは励磁コイル１２ｃを介してジャック６２ｅと電気的に接続されており、プラグ６２ｂはジャック６２ｆと電気的に直接接続されている。
【００３６】
図８Ａは、隣合う非破壊検査装置どうしのプラグ６１ａとジャック６１ｅ付近の平面図であり、図８Ｂは、図８Ａのプラグ６１ａとジャック６１ｅとを接続した状態の平面図である。他のプラグ６１ｂ、６２ａ、６２ｂとジャック６１ｆ、６２ｅ、６２ｆは同様の構成であるので詳細な説明を省略する。プラグ６１ａの先端部６１ｇはプラグ６１ａの円柱状の軸よりも大きな略円錐状になっている。一方、ジャック６１ｅはプラグ６１ａ及びその先端部６１ｇが挿入可能なようにプラグ６１ａより一回り大きな径を有する円筒状である。ジャック６１ｅの内壁の一部が切り欠かれて凹部（不図示）が形成されており、この凹部内に球６１ｈが設置されている。凹部はジャック６１ｅの内壁に開口を形成しているが、球６１ｈはこの開口より一回り大きな径を有しているため、ジャック６１ｅ内に脱落することはない。球６１ｈは、ジャック６１ｅの内壁の外周側からバネ等（不図示）によって内周側に向かって付勢されている。このような構成により、球６１ｈは、その一部が開口からジャック６１ｅ内に突出しているとともに、押圧されると凹部内に退避可能である。
【００３７】
このような構成により、プラグ６１ａがジャック６１ｅに挿入されていくと、プラグ６１ａの先端部６１ｇが球６１ｈを押しのけ、先端部６１ｇの通過後に球６１ｈが元の位置に戻ることにより接続が完了し、図８Ｂに示した状態となる。プラグ６１ａとジャック６１ｅの接続完了後は非破壊検査装置６０の使用時に掛かる外力程度で抜けることはないが、挿入時よりも大きな力を加えれば容易にプラグ６１ａを抜くことができる。
【００３８】
このような非破壊検査装置６０は複数連結して使用することができる。図９及び図１０では、非破壊検査装置６０を複数連結して構成される非破壊検査装置７０を用いた検査の様子を示している。非破壊検査装置７０は、複数の非破壊検査装置６０において隣接する非破壊検査装置６０のプラグとジャックとを接続し、図１１、図１２Ａ又は図１２Ｂに示すように、一端の非破壊検査装置６０のコネクタ６１ｄ、６２ｄをパルス電流源１１に接続し、他端の非破壊検査装置６０のプラグ６１ａ、６１ｂ、６２ａ、６２ｂどうしを適宜接続したものである。
【００３９】
また、非破壊検査装置７０では、パルス電流源１１、磁気検出部１３、移動部１４、制御部１５はそれぞれ少なくとも１つ備えていればよい。例えば、磁気センサ１３ａは何れか１つのヨーク１２ａに設けるようにしてもよいし、全てのヨーク１２ａに設けるようにしてもよいし、１つ置きのヨーク１２ａに設けるようにしてもよいし、２つ置きのヨーク１２ａに設けるようにしてもよい。磁気センサ１３ａの数は、磁気センサ１３ａの感度や被検査体のきずの深さによって適宜決定できる。
【００４０】
非破壊検査装置７０は、クローラ状（いわゆるキャタピラ状）や簾状の形状であり、フレキシブル配線６１ｃ、６２ｃの柔軟性によって、四角形の断面の配管５５（図９参照）や円形の断面の配管５６（図１０参照）など、様々な断面形状の被検査体に巻き付けて検査することができる。また、非破壊検査装置６０の連結数を適宜調整することにより、様々な径の被検査体に密着させた状態で巻き付けることができる。また、被検査体が板状である場合は、巻き付けずに広げて設置することができる。このような非破壊検査装置７０によれば、被検査体の形状や大きさに関わらず、ヨーク１２ａの両端部を被検査体表面に確実に接触させることができ、高精度できずを検出することができる。
【００４１】
図１２Ａは、非破壊検査装置６０を直接接続して構成される非破壊検査装置７０の一例である。非破壊検査装置７０の一端の非破壊検査装置６０において、ジャック６１ｅがパルス電流源１１の一端に接続され、ジャック６２ｅがパルス電流源１１の他端に接続されている。そして、非破壊検査装置７０の他端の非破壊検査装置６０において、プラグ６１ａとプラグ６２ａとが接続されている。このように接続することで非破壊検査装置７０は直列接続回路を形成する。直列接続する場合、並列接続に比べパルス電流源１１への配線が少なくなる。
【００４２】
図１２Ｂは、非破壊検査装置６０の励磁コイル１２ｂと１２ｃとを並列接続して構成される非破壊検査装置７０の一例である。非破壊検査装置７０の一端の非破壊検査装置６０において、ジャック６１ｅ及びジャック６２ｆがそれぞれパルス電流源１１の一端に接続され、ジャック６１ｆ及びジャック６２ｅがそれぞれパルス電流源１１の他端に接続されている。そして、非破壊検査装置７０の他端の非破壊検査装置６０において、プラグ６１ａとプラグ６６１ｂとが接続され、プラグ６２ａとプラグ６２ｂとが接続されている。このように接続することで非破壊検査装置７０は並列接続回路を形成する。
【００４３】
非破壊検査装置７０は、直列接続回路及び並列接続回路の何れにおいても上述した同様の手法できずを検出できるので、どのような接続回路を用いるかはパルス電流源１１の容量、励磁コイル１２ｂ、１２ｃの発熱、使用条件等に応じて適宜決定することができる。
【００４４】
以上説明した装置は、パルス磁場に対する磁場応答を用いた非破壊検査装置であって、コの字型のヨークと、前記ヨークに巻回された励磁コイルと、を備える。
【００４５】
換言すると、上述の装置は、その両端部の先端が被検査体に接触可能となるようにコの字型に形成されたヨークと、ヨークに巻回され、通電されることでヨークの両端部の先端が接触している被検査体に対してヨークの両端部の先端を介して磁場を形成する励磁コイルと、を備え、パルス磁場に対する磁場応答を利用した非破壊検査に使用可能な非破壊検査装置である。
【００４６】
上記の非破壊検査装置において、前記励磁コイルは、前記ヨークの両端部付近にそれぞれ巻回されているようにしてもよい。
【００４７】
また上記の非破壊検査装置において、前記ヨークの両端部の先端形状が凸状の曲面であるようにしてもよい。
【００４８】
また上記の非破壊検査装置において、磁場応答を検出する磁気センサを前記ヨークに設けてもよい。
【００４９】
また上記の非破壊検査装置において、前記非破壊検査装置どうしを脱着可能に柔軟性を有して電気的に接続する接続部を備えるようにしてもよい。
【００５０】
また上記の非破壊検査装置において、上記の非破壊検査装置を複数連結し、少なくとも１つの前記ヨークに、磁場応答を検出する磁気センサを設けてもよい。
【００５１】
以上説明した非破壊検査装置によると、励磁コイルが巻回されたコの字型のヨークを用いることにより、パルス磁場による非破壊検査において被検査体の形状によらず容易に設置することができる。
【符号の説明】
【００５２】
１０、２０、３０、４０、６０、７０  非破壊検査装置
１２ａ、４１ａ  ヨーク
１２ｂ、１２ｃ  励磁コイル
１３ａ  磁気センサ
４１ｄ、４１ｅ  先端面（凸状の曲面）
６１、６２  接続部
【図１】
2015190414.tif 000003
【図２】
2015190414.tif 000004
【図３】
2015190414.tif 000005
【図４】
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【図５】
2015190414.tif 000007
【図６】
2015190414.tif 000008
【図７】
2015190414.tif 000009
【図８Ａ】
2015190414.tif 000010
【図８Ｂ】
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【図９】
2015190414.tif 000012
【図１０】
2015190414.tif 000013
【図１１】
2015190414.tif 000014
【図１２Ａ】
2015190414.tif 000015
【図１２Ｂ】
2015190414.tif 000016
【国際調査報告】
2015190414.tif 000017
2015190414.tif 000018
2015190414.tif 000019
2015190414.tif 000020