(57)【要約】  測距装置は、装置に与えられた変動を検出する検出部と、共通光路、反射光用光路、及び指向性光用光路を形成する光路形成部と、共通光路と異なる箇所に設けられた複数の機構、及び被写体像加工部のうちの少なくとも２つ以上であり、結像光学系の光軸の変動が与える影響を検出部による検出結果に基づいて抑制する第１抑制部と、共通光路と異なる箇所に設けられ、被写体に対する指向性光の光軸の変動を検出部による検出結果に基づいて抑制する第２抑制部と、第１抑制部と第２抑制部とを同時に動作させる場合、受光部が受光した被写体像内における指向性光の照射位置の変動を抑制する制御を第１抑制部及び第２抑制部に対して行う制御部と、を含む。
2016151926.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被写体からの反射光を結像光学系を通して被写体像として受光する受光部と、
指向性のある光である指向性光を発光する発光素子を有する射出部であって、前記指向性光を前記被写体に向けて射出する射出部と、
装置に与えられた変動を検出する検出部と、
前記結像光学系の光軸と前記指向性光の光軸とが共通する共通光路、前記共通光路から分流して前記反射光を前記受光部に導く反射光用光路、及び前記共通光路と合流して前記指向性光を前記共通光路に導く指向性光用光路を形成する光路形成部と、
前記共通光路と異なる箇所に設けられた複数の機構、及び被写体像加工部のうちの少なくとも２つ以上であり、前記受光部が受光した前記被写体像に対して前記結像光学系の光軸の変動が与える影響を前記検出部による検出結果に基づいて抑制する第１抑制部と、
前記共通光路と異なる箇所に設けられ、前記被写体に対する前記指向性光の光軸の変動を前記検出部による検出結果に基づいて抑制する第２抑制部と、
前記第１抑制部と前記第２抑制部とを同時に動作させる場合、前記受光部が受光した前記被写体像内における前記指向性光の照射位置の変動を抑制する制御を前記第１抑制部及び前記第２抑制部に対して行う制御部と、
を含む測距装置。
【請求項２】
前記制御部は、前記検出部による検出結果及び前記第１抑制部による抑制結果に応じて定まる第１抑制量で、前記被写体像に対して前記結像光学系の光軸の変動が与える影響を抑制する制御を前記第１抑制部に対して行い、前記第１抑制部と前記第２抑制部とを同時に動作させる場合、前記第１抑制部による抑制結果及び前記第２抑制部による抑制結果に応じて定まる第２抑制量で、前記被写体に対する前記指向性光の光軸の変動を抑制する制御を前記第２抑制部に対して行う請求項１に記載の測距装置。
【請求項３】
前記制御部は、前記検出部による検出結果及び前記第１抑制部による抑制結果に応じて定まる第１抑制量で、前記被写体像に対して前記結像光学系の光軸の変動が与える影響を抑制する制御を前記第１抑制部に対して行い、前記第１抑制部と前記第２抑制部とを同時に動作させる場合、前記検出部による検出結果及び前記第２抑制部による抑制結果に応じて定まる第２抑制量で、前記被写体に対する前記指向性光の光軸の変動を抑制する制御を前記第２抑制部に対して行う請求項１に記載の測距装置。
【請求項４】
前記被写体像の画角を変更する画角変更部を更に含み、
前記第１抑制量は、前記検出部による検出結果、前記第１抑制部による抑制結果、及び前記画角変更部による前記画角の変更量に応じて定められる請求項２又は請求項３に記載の測距装置。
【請求項５】
前記制御部は、前記画角変更部による前記画角の変更に伴って得られた前記第１抑制量、前記第２抑制量、前記第１抑制量の許容範囲、前記第２抑制量の許容範囲、前記第１抑制部が動作可能な範囲、及び前記第２抑制部が動作可能な範囲に基づいて、前記被写体像に対して前記結像光学系の光軸の変動が与える影響を抑制する制御を前記第１抑制部に対して行い、前記被写体に対する前記指向性光の光軸の変動を抑制する制御を前記第２抑制部に対して行う請求項４に記載の測距装置。
【請求項６】
前記複数の機構のうちの何れかの機構は、前記反射光用光路に設けられた第１防振レンズと前記第１防振レンズを変動させる第１レンズ変動機構とによる第１防振レンズ機構である請求項１から請求項５の何れか一項に記載の測距装置。
【請求項７】
前記被写体像加工部は、前記被写体像に対して信号処理を行うことで前記被写体像を加工する被写体像加工部である請求項１から請求項６の何れか一項に記載の測距装置。
【請求項８】
前記第２抑制部は、前記指向性光用光路に設けられた第２防振レンズと前記第２防振レンズを変動させる第２レンズ変動機構とによる第２防振レンズ機構、及び前記発光素子を変動させる発光素子変動機構のうちの少なくとも１つである請求項１から請求項７の何れか一項に記載の測距装置。
【請求項９】
前記制御部は、前記第１抑制部の動作中に、前記被写体に対する前記指向性光の光軸の変動を前記第１抑制部による抑制量の範囲内で抑制させる制御を前記第２抑制部に対して行う請求項１から請求項８の何れか一項に記載の測距装置。
【請求項１０】
前記制御部は、前記第１抑制部の動作中に、測距動作期間外に前記第２抑制部を動作させず、前記測距動作期間内に前記第２抑制部を動作させる制御を前記第２抑制部に対して行う請求項１から請求項９の何れか一項に記載の測距装置。
【請求項１１】
前記制御部は、前記第１抑制部の動作中に、前記指向性光を走査させながら測距を行う走査測距機能が働いている場合、前記第２抑制部の動作を抑制する制御を前記第２抑制部に対して行う請求項１から請求項１０の何れか一項に記載の測距装置。
【請求項１２】
前記結像光学系は、ズームレンズを有し、
前記制御部は、前記ズームレンズの移動により画角が変更された場合に、前記受光部が受光した前記被写体像内での前記指向性光の照射位置を画角の変更の前後で保持する制御を行う請求項１から請求項１１の何れか一項に記載の測距装置。
【請求項１３】
前記受光部は、観察光学系である請求項１から請求項１２の何れか一項に記載の測距装置。
【請求項１４】
前記制御部は、前記複数の機構のうちの少なくとも２つ以上と前記第２抑制部とを同時に動作させる場合、前記観察光学系が受光した前記被写体像内における前記指向性光の照射位置の変動を抑制する制御を前記複数の機構のうちの少なくとも２つ以上及び前記第２抑制部に対して行う請求項１３に記載の測距装置。
【請求項１５】
前記受光部は、前記被写体像を撮像する撮像素子である請求項１から請求項１２の何れか一項に記載の測距装置。
【請求項１６】
前記複数の機構のうちの何れかの機構は、前記撮像素子を変動させる撮像素子変動機構である請求項１５に記載の測距装置。
【請求項１７】
前記制御部は、前記第１抑制部の動作中に、前記撮像素子により撮像されて得られた画像のフレームレートに応じて定められた間隔毎に前記第２抑制部を動作させる制御を前記第２抑制部に対して行う請求項１５又は請求項１６に記載の測距装置。
【請求項１８】
前記制御部は、前記撮像素子により撮像されて得られた画像を表示する表示部に対して、前記射出部により前記被写体に向けて射出された前記指向性光の往復時間を基に得られた測距結果を前記画像の表示領域内に表示させる制御を行う請求項１５から請求項１７の何れか一項に記載の測距装置。
【請求項１９】
被写体からの反射光を結像光学系を通して被写体像として受光する受光部と、指向性のある光である指向性光を発光する発光素子を有する射出部であって、前記指向性光を前記被写体に向けて射出する射出部と、装置に与えられた変動を検出する検出部と、前記結像光学系の光軸と前記指向性光の光軸とが共通する共通光路、前記共通光路から分流して前記反射光を前記受光部に導く反射光用光路、及び前記共通光路と合流して前記指向性光を前記共通光路に導く指向性光用光路を形成する光路形成部と、前記共通光路と異なる箇所に設けられた複数の機構、及び被写体像加工部のうちの少なくとも２つ以上であり、前記受光部が受光した前記被写体像に対して前記結像光学系の光軸の変動が与える影響を前記検出部による検出結果に基づいて抑制する第１抑制部と、前記共通光路と異なる箇所に設けられ、前記被写体に対する前記指向性光の光軸の変動を前記検出部による検出結果に基づいて抑制する第２抑制部と、を含む測距装置に含まれる前記第１抑制部と前記第２抑制部とを同時に動作させる場合、前記受光部が受光した前記被写体像内における前記指向性光の照射位置の変動を抑制する制御を前記第１抑制部及び前記第２抑制部に対して行うことを含む測距用制御方法。
【請求項２０】
コンピュータに、
被写体からの反射光を結像光学系を通して被写体像として受光する受光部と、指向性のある光である指向性光を発光する発光素子を有する射出部であって、前記指向性光を前記被写体に向けて射出する射出部と、装置に与えられた変動を検出する検出部と、前記結像光学系の光軸と前記指向性光の光軸とが共通する共通光路、前記共通光路から分流して前記反射光を前記受光部に導く反射光用光路、及び前記共通光路と合流して前記指向性光を前記共通光路に導く指向性光用光路を形成する光路形成部と、前記共通光路と異なる箇所に設けられた複数の機構、及び被写体像加工部のうちの少なくとも２つ以上であり、前記受光部が受光した前記被写体像に対して前記結像光学系の光軸の変動が与える影響を前記検出部による検出結果に基づいて抑制する第１抑制部と、前記共通光路と異なる箇所に設けられ、前記被写体に対する前記指向性光の光軸の変動を前記検出部による検出結果に基づいて抑制する第２抑制部と、を含む測距装置に含まれる前記第１抑制部と前記第２抑制部とを同時に動作させる場合、前記受光部が受光した前記被写体像内における前記指向性光の照射位置の変動を抑制する制御を前記第１抑制部及び前記第２抑制部に対して行うことを含む処理を実行させるための測距用制御プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示の技術は、測距装置、測距用制御方法、及び測距用制御プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
ユーザが測距対象として想定している被写体に向けて射出部により射出されたレーザ光の往復時間を基に測距を行う測距装置が知られている。測距装置では、被写体からの反射光が結像光学系に入射されることによって結像されて得られた被写体像がファインダを介してユーザによって視認される。【０００３】
通常、測距装置によって測距が行われる場合、測距装置はユーザによって把持された状態で使用される。この状態で、ユーザの手の振動が伝達されることにより測距装置が振動する現象である手振れ（ぶれ）が発生すると、手振れに伴って、測距装置に含まれる結像光学系の光軸も変動する。また、車両に測距装置が搭載されている場合には、車両の振動が伝達されることにより測距装置が振動して結像光学系の光軸が変動することもある。また、測距装置に接続して使用される外部装置から測距装置に振動が伝達されることに起因して結像光学系の光軸が変動することもある。更に、測距装置に搭載されている内部装置（例えば、モータ）が振動することに起因して結像光学系の光軸が変動することもある。なお、ここで、光軸の変動とは、例えば、基準軸（例えば、手振れが発生する前の光軸）に対して光軸が傾くことを意味する。【０００４】
このように、結像光学系の光軸が変動すると、被写体像が基準位置（例えば、手振れが発生していない状態で得られる被写体像の位置）からずれる現象である像振れが発生する。像振れは、例えば、結像光学系からファインダを介して得られる被写体像や撮像素子によって撮像されて得られた画像を介してユーザによって視覚的に認識され、測距対象の被写体に照準を合わせる作業の妨げとなる。【０００５】
このような像振れを抑制する方法としては、例えば、市販の撮像装置に搭載されている像振れ抑制機構を測距装置に対して適用する方法が考えられる。【０００６】
ところで、一般的に、ユーザは、ファインダを介して被写体像を視認しつつ、被写体像の中心にレーザ光が照射されると想定して測距対象の被写体に照準を合わせ、測距装置に対して測距の開始の指示を与えてレーザダイオードにレーザ光を発光させる。しかし、例えば、手振れが発生すると、像振れに加え、レーザ光の光軸が被写体に対して変動する現象（レーザ振れ）も発生する。そのため、像振れ抑制機構により像振れが抑制されたとしても、ユーザによって視認される被写体像内において、ユーザが意図する位置である被写体像の中心からレーザ光の照射位置がずれてしまうという事態が起こり得る。なお、「照射位置」とは、例えば、被写体におけるレーザ光が当たっている位置を指す。【０００７】
特開２００９−２７０８５６号公報には、像振れ及びレーザ振れを抑制する振れ抑制機能を備えた測距装置が開示されている。特許文献１に記載の測距装置では、結像光学系の光軸とレーザ光の光軸とが共通する光路が存在しており、共通の光路に設けられた防振レンズによって防振動作が行われることで、像振れ及びレーザ振れが抑制される。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、特開２００９−２７０８５６号公報に記載の測距装置では、結像光学系の光軸とレーザ光の光軸とが共通する箇所に振れ抑制機能が設置されることを前提としている。結像光学系の光軸とレーザ光の光軸とが共通しない箇所（光軸非共通箇所）に対しては有効に働かない。【０００９】
光軸非共通箇所に対しては、市販の撮像装置に搭載されている像振れ抑制機構を用いることで、像振れ及びレーザ振れを個別に抑制することが考えられる。しかし、像振れを抑制する動作とレーザ振れを抑制する動作とが無関係に行われると、像振れを抑制する動作に伴って被写体像内におけるレーザ光の照射位置が本来あるべき位置（例えば、被写体像の中心）からずれてしまうことがある。【００１０】
また、測距装置では、被写体からの反射光を結像光学系を通して被写体像として受光する撮像部等の被写体像を得る側の構造は、レーザ光を射出する側の構造に比べ、構造上の制約が多い。よって、測距装置に手振れ等による変動が与えられた場合、その構造上の差異に起因して、被写体像に対する像振れの抑制とレーザ光に対するレーザ振れの抑制との間で振れの抑制精度に差が生じ、測距装置全体としての振れの抑制精度が低下する虞がある。なお、レーザ光に限らず、指向性のある光である指向性であれば同様の問題が発生し得る。【００１１】
本発明の一つの実施形態は、結像光学系の光軸と指向性光の光軸とが共通する光路を有しない構造の測距装置の場合に比べ、結像光学系の光軸の変動が被写体像に対して与える影響を抑制する動作に伴って被写体像内における指向性光の照射位置が本来あるべき位置からずれることを抑制した抑制結果の精度が、結像光学系の光軸の変動が被写体像に対して与える影響の抑制と指向性光の光軸の変動の抑制との間での抑制精度の差に起因して低下することを小型の構造内で実現することができる測距装置、測距用制御方法、及び測距用制御プログラムを提供する。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明の第１の態様に係る測距装置は、被写体からの反射光を結像光学系を通して被写体像として受光する受光部と、指向性のある光である指向性光を発光する発光素子を有する射出部であって、指向性光を被写体に向けて射出する射出部と、装置に与えられた変動を検出する検出部と、結像光学系の光軸と指向性光の光軸とが共通する共通光路、共通光路から分流して反射光を受光部に導く反射光用光路、及び共通光路と合流して指向性光を共通光路に導く指向性光用光路を形成する光路形成部と、共通光路と異なる箇所に設けられた複数の機構、及び被写体像加工部のうちの少なくとも２つ以上であり、受光部が受光した被写体像に対して結像光学系の光軸の変動が与える影響を検出部による検出結果に基づいて抑制する第１抑制部と、共通光路と異なる箇所に設けられ、被写体に対する指向性光の光軸の変動を検出部による検出結果に基づいて抑制する第２抑制部と、第１抑制部と第２抑制部とを同時に動作させる場合、受光部が受光した被写体像内における指向性光の照射位置の変動を抑制する制御を第１抑制部及び第２抑制部に対して行う制御部と、を含む。【００１３】
従って、本発明の第１の態様に係る測距装置は、結像光学系の光軸と指向性光の光軸とが共通する光路を有しない構造の測距装置の場合に比べ、結像光学系の光軸の変動が被写体像に対して与える影響を抑制する動作に伴って被写体像内における指向性光の照射位置が本来あるべき位置からずれることを抑制した抑制結果の精度が、結像光学系の光軸の変動が被写体像に対して与える影響の抑制と指向性光の光軸の変動の抑制との間での抑制精度の差に起因して低下することを小型の構造内で実現することができる。【００１４】
本発明の第２の態様に係る測距装置は、本発明の第１の態様に係る測距装置において、制御部が、検出部による検出結果及び第１抑制部による抑制結果に応じて定まる第１抑制量で、被写体像に対して結像光学系の光軸の変動が与える影響を抑制する制御を第１抑制部に対して行い、第１抑制部と第２抑制部とを同時に動作させる場合、第１抑制部による抑制結果及び第２抑制部による抑制結果に応じて定まる第２抑制量で、被写体に対する指向性光の光軸の変動を抑制する制御を第２抑制部に対して行う、とされている。【００１５】
従って、本発明の第２の態様に係る測距装置は、検出部による検出結果及び第２抑制部による抑制結果に応じて定まる第２抑制量で、被写体に対する指向性光の光軸の変動を抑制する制御を行う場合に比べ、結像光学系の光軸の変動が被写体像に対して与える影響を抑制する動作に伴って被写体像内における指向性光の照射位置が本来あるべき位置からずれることを簡易な構成で抑制することができる。【００１６】
本発明の第３の態様に係る測距装置は、本発明の第１の態様に係る測距装置において、制御部が、検出部による検出結果及び第１抑制部による抑制結果に応じて定まる第１抑制量で、被写体像に対して結像光学系の光軸の変動が与える影響を抑制する制御を第１抑制部に対して行い、第１抑制部と第２抑制部とを同時に動作させる場合、検出部による検出結果及び第２抑制部による抑制結果に応じて定まる第２抑制量で、被写体に対する指向性光の光軸の変動を抑制する制御を第２抑制部に対して行う、とされている。【００１７】
従って、本発明の第３の態様に係る測距装置は、第１抑制部による抑制結果及び第２抑制部による抑制結果に応じて定まる第２抑制量で、被写体に対する指向性光の光軸の変動を抑制する制御を行う場合に比べ、結像光学系の光軸の変動が被写体像に対して与える影響を抑制する動作に伴って被写体像内における指向性光の照射位置が本来あるべき位置からずれることを高精度に抑制することができる。【００１８】
本発明の第４の態様に係る測距装置は、本発明の第２の態様又は第３の態様に係る測距装置において、被写体像の画角を変更する画角変更部を更に含み、第１抑制量が、検出部による検出結果、第１抑制部による抑制結果、及び画角変更部による画角の変更量に応じて定められる、とされている。【００１９】
従って、本発明の第４の態様に係る測距装置は、画角変更部による画角の変更量が考慮されることなく第１抑制量が定まる場合に比べ、画角が変更されたとしても、結像光学系の光軸の変動が被写体像に対して与える影響を抑制する動作に伴って被写体像内における指向性光の照射位置が本来あるべき位置からずれることを高精度に抑制することができる。【００２０】
本発明の第５の態様に係る測距装置は、本発明の第４の態様に係る測距装置において、制御部が、画角変更部による画角の変更に伴って得られた第１抑制量、第２抑制量、第１抑制量の許容範囲、第２抑制量の許容範囲、第１抑制部が動作可能な範囲、及び第２抑制部が動作可能な範囲に基づいて、被写体像に対して結像光学系の光軸の変動が与える影響を抑制する制御を第１抑制部に対して行い、被写体に対する指向性光の光軸の変動を抑制する制御を第２抑制部に対して行う、とされている。【００２１】
従って、本発明の第５の態様に係る測距装置は、画角の変更に伴って得られた第１抑制量、第２抑制量、第１抑制量の許容範囲、第２抑制量の許容範囲、第１抑制部が動作可能な範囲、及び第２抑制部が動作可能な範囲が考慮されることなく第１抑制部及び第２抑制部による抑制が行われる場合に比べ、第１抑制部による抑制の度合いと第２抑制部による抑制の度合いとの乖離を抑制することができる。【００２２】
本発明の第６の態様に係る測距装置は、本発明の第１の態様から第５の態様の何れか１つに係る測距装置において、複数の機構のうちの何れかの機構が、反射光用光路に設けられた第１防振レンズと第１防振レンズを変動させる第１レンズ変動機構とによる第１防振レンズ機構である、とされている。【００２３】
従って、本発明の第６の態様に係る測距装置は、複数の機構の何れもが第１防振レンズ機構と異なる機構である場合に比べ、結像光学系の光軸の変動を簡易な構成で抑制することができる。【００２４】
本発明の第７の態様に係る測距装置は、本発明の第１の態様から第６の態様の何れか１つに係る測距装置において、被写体像加工部が、被写体像に対して信号処理を行うことで被写体像を加工する被写体像加工部である、とされている。【００２５】
従って、本発明の第７の態様に係る測距装置は、被写体像加工部を有しない場合に比べ、結像光学系の光軸の変動が被写体像に対して与える影響を簡易な構成で抑制することができる。【００２６】
本発明の第８の態様に係る測距装置は、本発明の第１の態様から第７の態様の何れか１つに係る測距装置において、第２抑制部が、指向性光用光路に設けられた第２防振レンズと第２防振レンズを変動させる第２レンズ変動機構とによる第２防振レンズ機構、及び発光素子を変動させる発光素子変動機構のうちの少なくとも１つである、とされている。【００２７】
従って、本発明の第８の態様に係る測距装置は、第２抑制部が第２防振レンズと第２レンズ変動機構とによる第２防振レンズ機構でなく、発光素子変動機構でもない場合に比べ、被写体に対する指向性光の光軸の変動を簡易な構成で抑制することができる。【００２８】
本発明の第９の態様に係る測距装置は、本発明の第１の態様から第８の態様の何れか１つに係る測距装置において、制御部が、第１抑制部の動作中に、被写体に対する指向性光の光軸の変動を第１抑制部による抑制量の範囲内で抑制させる制御を第２抑制部に対して行う、とされている。【００２９】
従って、本発明の第９の態様に係る測距装置は、第１抑制部の動作中に、被写体に対する指向性光の光軸の変動を第１抑制部による抑制量を考慮せずに抑制させる制御を行う場合に比べ、結像光学系の光軸の変動が被写体像に対して与える影響を抑制する動作に伴って被写体像内における指向性光の照射位置が本来あるべき位置からずれることを高精度に抑制することができる。【００３０】
本発明の第１０の態様に係る測距装置は、本発明の第１の態様から第９の態様の何れか１つに係る測距装置において、制御部が、第１抑制部の動作中に、測距動作期間外に第２抑制部を動作させず、測距動作期間内に第２抑制部を動作させる制御を第２抑制部に対して行う、とされている。【００３１】
従って、本発明の第１０の態様に係る測距装置は、第１抑制部の動作中に常に第２抑制部を動作させる場合に比べ、消費電力を抑制することができる。【００３２】
本発明の第１１の態様に係る測距装置は、本発明の第１の態様から第１０の態様の何れか１つに係る測距装置において、制御部が、第１抑制部の動作中に、指向性光を走査させながら測距を行う走査測距機能が働いている場合、第２抑制部の動作を抑制する制御を第２抑制部に対して行う、とされている。【００３３】
従って、本発明の第１１の態様に係る測距装置は、第１抑制部の動作中に、走査測距機能が働いているにも拘わらず第２抑制部の動作を抑制させない場合に比べ、指向性光の実際の走査範囲がユーザの意図する走査範囲よりも狭くなるという事態の発生を抑制することができる。【００３４】
本発明の第１２の態様に係る測距装置は、本発明の第１の態様から第１１の態様の何れか１つに係る測距装置において、結像光学系が、ズームレンズを有し、制御部が、ズームレンズの移動により画角が変更された場合に、受光部が受光した被写体像内での指向性光の照射位置を画角の変更の前後で保持する制御を行う、とされている。【００３５】
従って、本発明の第１２の態様に係る測距装置は、ズームレンズの移動に拘らずズームレンズと結像光学系の光軸との相対的な位置関係が固定化されている場合に比べ、ズームレンズが移動したとしても、結像光学系の光軸の変動が被写体像に対して与える影響を抑制する動作に伴って被写体像内における指向性光の照射位置が本来あるべき位置からずれることを抑制することができる。【００３６】
本発明の第１３の態様に係る測距装置は、本発明の第１の態様から第１２の態様の何れか１つに係る測距装置において、受光部が、観察光学系である、とされている。【００３７】
従って、本発明の第１３の態様に係る測距装置は、観察光学系を有しない場合に比べ、結像光学系の光軸の変動が被写体像に対して与える影響を抑制する動作に伴って被写体像内における指向性光の照射位置が本来あるべき位置からずれることが抑制された被写体像をユーザに視認させることができる。【００３８】
本発明の第１４の態様に係る測距装置は、本発明の第１３の態様に係る測距装置において、制御部が、複数の機構のうちの少なくとも２つ以上と第２抑制部とを同時に動作させる場合、観察光学系が受光した被写体像内における指向性光の照射位置の変動を抑制する制御を複数の機構のうちの少なくとも２つ以上及び第２抑制部に対して行う、とされている。【００３９】
本発明の第１５の態様に係る測距装置は、本発明の第１の態様から第１２の態様の何れか１つに係る測距装置において、受光部が、被写体像を撮像する撮像素子である、とされている。【００４０】
従って、本発明の第１５の態様に係る測距装置は、撮像素子を有しない場合に比べ、結像光学系の光軸の変動が被写体像に対して与える影響を抑制する動作に伴って被写体内における指向性光の照射位置が本来あるべき位置からずれることが抑制された画像を得ることができる。【００４１】
本発明の第１６の態様に係る測距装置は、本発明の第１５の態様に係る測距装置において、複数の機構のうちの何れかの機構が、撮像素子を変動させる撮像素子変動機構である、とされている。【００４２】
従って、本発明の第１６の態様に係る測距装置は、複数の機構の何れもが撮像素子変動機構と異なる機構である場合に比べ、結像光学系の光軸の変動を簡易な構成で抑制することができる。【００４３】
本発明の第１７の態様に係る測距装置は、本発明の第１５の態様又は第１６の態様に係る測距装置において、制御部が、第１抑制部の動作中に、撮像素子により撮像されて得られた画像のフレームレートに応じて定められた間隔毎に第２抑制部を動作させる制御を第２抑制部に対して行う、とされている。【００４４】
従って、本発明の第１７の態様に係る測距装置は、フレームレートとは無関係なタイミングで第２抑制部を動作させる場合に比べ、結像光学系の光軸の変動が被写体像に対して与える影響を抑制する動作に伴って被写体像内における指向性光の照射位置が本来あるべき位置からずれることを簡易な制御で抑制することができる。【００４５】
本発明の第１８の態様に係る測距装置は、本発明の第１５の態様から第１７の態様の何れか１つに係る測距装置において、制御部が、撮像素子により撮像されて得られた画像を表示する表示部に対して、射出部により被写体に向けて射出された指向性光の往復時間を基に得られた測距結果を画像の表示領域内に表示させる制御を行う、とされている。【００４６】
従って、本発明の第１８の態様に係る測距装置は、画像の表示領域内に測距結果が表示されない場合に比べ、結像光学系の光軸の変動が画像に対して与える影響を抑制する動作に伴って画像内における指向性光の照射位置が本来あるべき位置からずれることが抑制された状況下で得られた測距結果を、対応する画像と併せてユーザに容易に認識させることができる。【００４７】
本発明の第１９の態様に係る測距用制御方法は、被写体からの反射光を結像光学系を通して被写体像として受光する受光部と、指向性のある光である指向性光を発光する発光素子を有する射出部であって、指向性光を被写体に向けて射出する射出部と、装置に与えられた変動を検出する検出部と、結像光学系の光軸と指向性光の光軸とが共通する共通光路、共通光路から分流して反射光を受光部に導く反射光用光路、及び共通光路と合流して指向性光を共通光路に導く指向性光用光路を形成する光路形成部と、共通光路と異なる箇所に設けられた複数の機構、及び被写体像加工部のうちの少なくとも２つ以上であり、受光部が受光した被写体像に対して結像光学系の光軸の変動が与える影響を検出部による検出結果に基づいて抑制する第１抑制部と、共通光路と異なる箇所に設けられ、被写体に対する指向性光の光軸の変動を検出部による検出結果に基づいて抑制する第２抑制部と、を含む測距装置に含まれる第１抑制部と第２抑制部とを同時に動作させる場合、受光部が受光した被写体像内における指向性光の照射位置の変動を抑制する制御を第１抑制部及び第２抑制部に対して行うことを含む。【００４８】
従って、本発明の第１９の態様に係る測距用制御方法によれば、本発明の第１の態様に係る測距装置と同様の効果を得ることができる。【００４９】
本発明の第２０の態様に係る測距用制御プログラムは、コンピュータに、被写体からの反射光を結像光学系を通して被写体像として受光する受光部と、指向性のある光である指向性光を発光する発光素子を有する射出部であって、指向性光を被写体に向けて射出する射出部と、装置に与えられた変動を検出する検出部と、結像光学系の光軸と指向性光の光軸とが共通する共通光路、共通光路から分流して反射光を受光部に導く反射光用光路、及び共通光路と合流して指向性光を共通光路に導く指向性光用光路を形成する光路形成部と、共通光路と異なる箇所に設けられた複数の機構、及び被写体像加工部のうちの少なくとも２つ以上であり、受光部が受光した被写体像に対して結像光学系の光軸の変動が与える影響を検出部による検出結果に基づいて抑制する第１抑制部と、共通光路と異なる箇所に設けられ、被写体に対する指向性光の光軸の変動を検出部による検出結果に基づいて抑制する第２抑制部と、を含む測距装置に含まれる第１抑制部と第２抑制部とを同時に動作させる場合、受光部が受光した被写体像内における指向性光の照射位置の変動を抑制する制御を第１抑制部及び第２抑制部に対して行うことを含む処理を実行させるための測距用制御プログラム。【００５０】
従って、本発明の第２０の態様に係る測距用制御プログラムによれば、本発明の第１の態様に係る測距装置と同様の効果を得ることができる。
【発明の効果】
【００５１】
本発明の一つの実施形態によれば、結像光学系の光軸と指向性光の光軸とが共通する光路を有しない構造の測距装置の場合に比べ、結像光学系の光軸の変動が被写体像に対して与える影響を抑制する動作に伴って被写体像内における指向性光の照射位置が本来あるべき位置からずれることを抑制した抑制結果の精度が、結像光学系の光軸の変動が被写体像に対して与える影響の抑制と指向性光の光軸の変動の抑制との間での抑制精度の差に起因して低下することを小型の構造内で実現することができる、という効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】第１〜第３実施形態に係る測距装置の要部のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。
【図２】第１〜第３実施形態に係る測距装置による計測シーケンスの一例を示すタイムチャートである。
【図３】第１〜第３実施形態に係る測距装置による１回の計測を行う場合に要するレーザトリガ、発光信号、受光信号、及びカウント信号の一例を示すタイムチャートである。
【図４】第１〜第３実施形態に係る測距装置による計測シーケンスで得られた計測値のヒストグラム（被写体までの距離（計測値）を横軸とし、計測回数を縦軸とした場合のヒストグラム）の一例を示すグラフである。
【図５】第１〜第３実施形態に係る測距装置に含まれる主制御部のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。
【図６】図５に示す主制御部に含まれるＲＯＭの記憶内容の一例を示す概念図である。
【図７】第１〜第３実施形態に係る測距装置に含まれる電子ビューファインダに表示されたライブビュー画像の一例を示す画面図である。
【図８】第１実施形態に係る測距装置の主制御部に含まれるＣＰＵの要部機能の一例を示すブロック図である。
【図９】第１〜第３実施形態に係る測距処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【図１０】第１〜第３実施形態に係るライブビュー処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【図１１】第１〜第３実施形態に係る静止画撮像処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【図１２】第１〜第３実施形態に係る動画撮像処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【図１３】第１実施形態に係る位置変動抑制処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【図１４】図１３に示すフローチャートの続きである。
【図１５】第１及び第２実施形態に係る第１及び第２光学式抑制処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【図１６】第２実施形態に係る測距装置の主制御部に含まれるＣＰＵの要部機能の一例を示すブロック図である。
【図１７】第２実施形態に係る測距装置の要部のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。
【図１８】第３実施形態に係る測距装置の主制御部に含まれるＣＰＵの要部機能の一例を示すブロック図である。
【図１９】第３実施形態に係る測距装置の撮像ユニットにおける結像光学系の光軸と撮像範囲との位置関係の一例を示す概念図である。
【図２０】第３実施形態に係る第１及び第２光学式抑制処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【図２１】第３実施形態に係る測距装置の主制御部に含まれるＣＰＵの要部機能の変形例を示すブロック図である。
【図２２】第３実施形態に係る測距装置の要部のハードウェア構成の第１変形例を示すブロック図である。
【図２３】第３実施形態に係る測距装置の要部のハードウェア構成の第２変形例を示すブロック図である。
【図２４】第３実施形態に係る測距装置の要部のハードウェア構成の第３変形例を示すブロック図である。
【図２５】第３実施形態に係る測距装置の要部のハードウェア構成の第４変形例を示すブロック図である。
【図２６】第１〜第３実施形態に係る測距装置に含まれる電子ビューファインダに表示されたライブビュー画像に測距結果である距離が重ねて表示された状態の一例を示す画面図である。
【図２７】実施形態に係るプログラムが記憶された記憶媒体からプログラムが測距装置にインストールされる態様の一例を示す概念図である。
【発明を実施するための形態】
【００５３】
以下、添付図面に従って本開示の技術に係る実施形態の一例について説明する。なお、本実施形態において、「測距」とは、計測対象となる被写体までの距離を計測することを指す。また、本実施形態において、「略垂直」とは、許容される範囲内の誤差を含めた意味合いでの垂直を指し、「略平行」とは、許容される範囲内の誤差を含めた意味合いでの平行を指す。
【００５４】
［第１実施形態］
本第１実施形態に係る測距装置１０Ａ（図１参照）は、測距用のレーザ光を射出して測距を行う測距系機能と撮像を行う撮像系機能とを備えている。
【００５５】
測距装置１０Ａは、測距系機能を働かせる測距系の動作モードとして、ノーマルモードとスキャンモードとを有する。ノーマルモードは、１回の指示に応じて１回の計測シーケンス（図２参照）を行う動作モードである。スキャンモードは、走査測距機能を働かせる動作モードである。走査測距機能とは、ユーザが測距装置１０Ａを移動させることによりレーザ光を走査させて継続的に複数回の計測シーケンスを行う機能を指す。ノーマルモード及びスキャンモードは、ユーザの指示に応じて選択的に設定される。
【００５６】
測距装置１０Ａは、撮像系の動作モードとして、静止画撮像モードと動画撮像モードとを有する。静止画撮像モードは、静止画像を撮像する動作モードであり、動画撮像モードは、動画像を撮像する動作モードである。静止画撮像モード及び動画撮像モードは、ユーザの指示に応じて選択的に設定される。
【００５７】
一例として図１に示すように、測距装置１０Ａは、測距ユニット１２、撮像ユニット１４（被写体像を得る側の構造の一例）、処理装置１６、角速度センサ１８、受付デバイス２０、電子ビューファインダ２２、メモリカード２４、及びビームスプリッタ１６０を含む。なお、ビームスプリッタ１６０は、本開示の技術に係る光路形成部の一例である。
【００５８】
測距ユニット１２は、射出部２６（レーザ光を射出する側の構造の一例）及び受光部２８を有する。射出部２６は、本開示の技術に係る発光素子の一例であるＬＤ（レーザダイオード：Ｌａｓｅｒ  Ｄｉｏｄｅ）３０、射出光学系３２、及び本開示の技術に係る第２抑制部及び第２防振レンズ機構の一例であるレーザ振れ抑制部３３を有する。
【００５９】
ＬＤ３０は、本開示の技術に係る指向性光の一例である測距用のレーザ光を発光する。なお、以下では、説明の便宜上、ＬＤ３０により発光されるレーザ光の波長が９００ナノメートルであることを前提として説明するが、本開示の技術はこれに限定されるものではなく、レーザ光の波長が９００ナノメートル以外の波長であってもよいことは言うまでもない。
【００６０】
射出光学系３２は、共通光路１６２及びレーザ光用光路１６４を有する。共通光路１６２は、撮像ユニット１４の結像光学系６２の光軸ＰとＬＤ３０により発光されたレーザ光の光軸Ｌ１とが共通する光路である。なお、以下では、説明の便宜上、共通光路１６２での光軸Ｐ及び光軸Ｌ１を区別して説明する必要がない場合、「共通光軸」と称する。
【００６１】
結像光学系６２は、共通光路１６２及び被写体光用光路１６３を有する。共通光路１６２、被写体光用光路１６３、及びレーザ光用光路１６４は、ビームスプリッタ１６０によって形成される。
【００６２】
被写体光用光路１６３は、ビームスプリッタ１６０を介して共通光路１６２から分流して被写体からの反射光である被写体光を撮像素子６０（後述）に導く光路である。レーザ光用光路１６４は、ビームスプリッタ１６０を介して共通光路１６２に合流して、ＬＤ３０により発光されたレーザ光を共通光路１６２に導く光路である。
【００６３】
共通光路１６２には、固定レンズ３６が配置されており、被写体光は、固定レンズ３６に入射される。固定レンズ３６は、被写体光を通過させ、ビームスプリッタ１６０に導く。また、固定レンズ３６は、レーザ光用光路１６４からビームスプリッタ１６０によって導かれたレーザ光を被写体に対して射出する。
【００６４】
レーザ光用光路１６４には、集光レンズ（図示省略）及び射出系防振レンズ３４が設けられている。集光レンズ及び射出系防振レンズ３４は、レーザ光の光軸Ｌ１に沿って設けられており、ＬＤ３０からビームスプリッタ１６０にかけて光軸Ｌ１に沿って集光レンズ及び射出系防振レンズ３４の順に配置されている。
【００６５】
集光レンズは、ＬＤ３０により発光されたレーザ光を集光する。射出系防振レンズ３４は、集光レンズにより集光されたレーザ光を通過させてビームスプリッタ１６０へ導き、かつ、射出系防振レンズ３４の光軸に対して略垂直方向に変動する。
【００６６】
レーザ振れ抑制部３３は、レーザ振れを抑制する機構であり、本開示の技術に係る第２防振レンズの一例である射出系防振レンズ３４、及び本開示の技術に係る第２レンズ変動機構の一例である防振レンズ変動機構３８を有する。なお、レーザ振れは、例えば、手振れに伴って生じる。
【００６７】
ここで、本第１実施形態において、「手振れ」とは、ユーザの手の振動が伝達されることにより測距装置１０Ａが振動する現象を指す。また、本第１実施形態において、「レーザ振れ」とは、被写体に対して光軸Ｌ１が変動する現象を指す。また、本第１実施形態において、「レーザ振れの抑制」には、レーザ振れを無くすという意味の他に、レーザ振れを低減するという意味も含まれる。
【００６８】
なお、レーザ振れ抑制部３３によるレーザ振れの抑制結果は、本開示の技術に係る第２抑制部による抑制結果の一例である。レーザ振れ抑制部３３によるレーザ振れの抑制結果とは、例えば、レーザ振れ抑制部３３が動作することによってレーザ振れが抑制された場合における射出系防振レンズ３４の現在位置を指す。
【００６９】
防振レンズ変動機構３８は、動力源３８Ａ及び第１動力伝達機構（図示省略）を備えている。動力源３８Ａは、動力を生成する。第１動力伝達機構は、動力源３８Ａにより生成された動力を受け、受けた動力を射出系防振レンズ３４に伝達することにより、射出系二次元平面に沿って射出系防振レンズ３４を変動させる。ここで、射出系二次元平面とは、例えば、射出系防振レンズ３４の光軸に対して略垂直な二次元平面を指す。
【００７０】
なお、本第１実施形態では、動力源３８Ａの一例として、射出系二次元平面に沿って伸縮するピエゾ素子が採用されているが、本開示の技術はこれに限定されるものではなく、ボイスコイルモータ又はステッピングモータ等であってもよい。
【００７１】
射出部２６は、位置検出センサ４０を有する。位置検出センサ４０は、射出系防振レンズ３４の現在位置を検出し、検出した現在位置を示す位置信号を出力する。ここで、射出系防振レンズ３４の現在位置とは、射出系二次元平面内の現在位置を指す。
【００７２】
なお、本第１実施形態では、位置検出センサ４０の一例として、ホール素子が採用されているが、本開示の技術はこれに限定されるものではなく、ホール素子以外の磁気センサ、又はフォトセンサなどであってもよい。
【００７３】
受光部２８は、ＰＤ（フォトダイオード：Ｐｈｏｔｏ  Ｄｉｏｄｅ）５０及び対物レンズ５４を有する。対物レンズ５４は、ＰＤ５０の受光面側に配置されており、射出部２６により射出されたレーザ光が被写体に当たって反射したレーザ光である反射レーザ光は対物レンズ５４に入射される。対物レンズ５４は、反射レーザ光を通過させ、ＰＤ５０の受光面に導く。ＰＤ５０は、対物レンズ５４を通過した反射レーザ光を受光し、受光量に応じたアナログ信号を受光信号として出力する。
【００７４】
なお、反射レーザ光の光軸Ｌ２及び共通光軸は、互いに異なる光路に略平行に配置されており、光軸間の間隔は数ミリ程度である。
【００７５】
撮像ユニット１４は、本開示の技術に係る受光部の一例である撮像素子６０、結像光学系６２、及び本開示の技術に係る第１抑制部及び第１防振レンズ機構の一例である像振れ抑制部６３を有する。撮像素子６０は、ＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ  Ｍｅｔａｌ  Ｏｘｉｄｅ  Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｔｏｒ）型のイメージセンサであり、カラーフィルタ（図示省略）を備えている。カラーフィルタは、輝度信号を得るために最も寄与するＧ（Ｇｒｅｅｎ：緑）に対応するＧフィルタ、Ｒ（Ｒｅｄ：赤）に対応するＲフィルタ、及びＢ（Ｂｌｕｅ：青）に対応するＢフィルタを含む。撮像素子６０は、マトリクス状に配置された複数の画素（図示省略）を有しており、各画素には、カラーフィルタに含まれるＲフィルタ、Ｇフィルタ、及びＢフィルタの何れかのフィルタが割り当てられている。
【００７６】
結像光学系６２の被写体光用光路１６３には、フィルタ６４及び撮像系防振レンズ６６が設けられている。フィルタ６４及び撮像系防振レンズ６６は、光軸Ｐに沿って設けられており、撮像素子６０からビームスプリッタ１６０にかけて光軸Ｐに沿ってフィルタ６４及び撮像系防振レンズ６６の順に配置されている。
【００７７】
撮像系防振レンズ６６は、ビームスプリッタ１６０によって共通光路１６２から被写体光用光路１６３に導かれた被写体光を通過させてフィルタ６４へ導き、かつ、撮像系防振レンズ６６の光軸に対して略垂直方向に変動する。
【００７８】
フィルタ６４は、反射レーザ光を吸収し、撮像素子６０が感度を有する有効波長の光を通過させる。例えば、有効波長が５００ナノメートル以上、かつ、７５０ナノメートル以下の場合、フィルタ６４は、８００ナノメートル以上の波長の光を吸収するフィルタであればよい。なお、本第１実施形態では、フィルタ６４として、反射レーザ光を吸収するフィルタを例示しているが、これに限らず、反射レーザ光を反射するフィルタであってもよい。
【００７９】
フィルタ６４を通過した被写体光は、撮像素子６０の受光面に結像され、被写体光の受光量に応じた電荷が撮像素子６０の画素に蓄積される。撮像素子６０は、各画素に蓄積された電荷を、被写体光が受光面で結像されて得られた被写体像に相当する画像を示す画像信号として出力する。
【００８０】
像振れ抑制部６３は、撮像素子６０の受光面に結像されて得られた被写体像に対して光軸Ｐの変動が与える影響を抑制する機構、すなわち、像振れを抑制する機構であり、撮像系防振レンズ６６及び防振レンズ変動機構７０による単一の機構である。なお、撮像系防振レンズ６６は、本開示の技術に係る第１防振レンズの一例であり、防振レンズ変動機構７０は、本開示の技術に係る第１レンズ変動機構の一例である。
【００８１】
ここで、本第１実施形態において、「像振れ」とは、被写体像が基準位置からずれる現象を指し、例えば、撮像素子６０の受光面に結像されて得られた被写体像が、光軸Ｐの被写体に対する相対的な移動に伴って基準位置からずれる現象を指す。また、「基準位置」とは、例えば、手振れがない状態で撮像素子６０の受光面に結像されて得られる被写体像の位置を指す。また、本第１実施形態において、「像振れの抑制」には、像振れを無くすという意味の他に、像振れを低減するという意味も含まれる。
【００８２】
なお、像振れ抑制部６３による像振れの抑制結果は、本開示の技術に係る第１抑制部による抑制結果の一例である。像振れ抑制部６３による像振れの抑制結果とは、例えば、像振れ抑制部６３が動作することによって像振れが抑制された場合における撮像系防振レンズ６６の現在位置を指す。
【００８３】
防振レンズ変動機構７０は、動力源７０Ａ及び第２動力伝達機構（図示省略）を備えている。動力源７０Ａは、動力を生成する。第２動力伝達機構は、動力源７０Ａにより生成された動力を受け、受けた動力を撮像系防振レンズ６６に伝達することにより撮像系二次元平面に沿って撮像系防振レンズ６６を変動させる。ここで、撮像系二次元平面とは、例えば、撮像系防振レンズ６６の光軸に対して略垂直な二次元平面を指す。
【００８４】
なお、本第１実施形態では、動力源７０Ａの一例として、撮像系二次元平面に沿って伸縮するピエゾ素子が採用されているが、本開示の技術はこれに限定されるものではなく、ボイスコイルモータ又はステッピングモータ等であってもよい。
【００８５】
撮像ユニット１４は、位置検出センサ７２を有する。位置検出センサ７２は、撮像系防振レンズ６６の現在位置を検出し、検出した現在位置を示す位置信号を出力する。ここで、撮像系防振レンズ６６の現在位置とは、撮像系二次元平面内の現在位置を指す。本第１実施形態では、位置検出センサ７２の一例として、ホール素子が採用されているが、本開示の技術はこれに限定されるものではなく、ホール素子以外の磁気センサ、又はフォトセンサなどであってもよい。
【００８６】
なお、以下では、説明の便宜上、位置検出センサ４０により出力される位置信号を「射出系位置信号」と称する。また、以下では、説明の便宜上、位置検出センサ７２により出力される位置信号を「撮像系位置信号」と称する。また、以下では、説明の便宜上、射出系位置信号及び撮像系位置信号を区別して説明する必要がない場合、「位置信号」と称する。
【００８７】
処理装置１６は、主制御部８０を有しており、主制御部８０は、測距装置１０Ａの全体を制御する。また、処理装置１６は、本開示の技術に係る被写体像加工部の一例である画像処理部８２、画像メモリ８４、測距制御部８６、及び表示制御部８８を有する。また、処理装置１６は、ＬＤドライバ９２、位置信号処理回路９４，９６、変動機構ドライバ９８，１００、受光信号処理回路１０２、撮像素子ドライバ１０４、及び画像信号処理回路１０６を有する。更に、処理装置１６は、メディアＩ／Ｆ（Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ：インタフェース）１０８、センサＩ／Ｆ１１０、及び受付Ｉ／Ｆ１１２を有する。
【００８８】
主制御部８０、画像処理部８２、画像メモリ８４、測距制御部８６、及び表示制御部８８は、バスライン１１４に接続されている。また、ＬＤドライバ９２、位置信号処理回路９４，９６、変動機構ドライバ９８，１００、受光信号処理回路１０２、撮像素子ドライバ１０４、及び画像信号処理回路１０６もバスライン１１４に接続されている。更に、メディアＩ／Ｆ１０８、センサＩ／Ｆ１１０、及び受付Ｉ／Ｆ１１２もバスライン１１４に接続されている。
【００８９】
角速度センサ１８は、センサＩ／Ｆ１１０に接続されており、ヨー方向の角速度及びピッチ方向の角速度を検出し、検出した角速度を示す角速度信号をセンサＩ／Ｆ１１０に出力する。センサＩ／Ｆ１１０は、主制御部８０の指示に従って角速度センサ１８を作動させ、角速度センサ１８から入力された角速度信号を主制御部８０に出力する。
【００９０】
受付デバイス２０は、測距指示ボタン２０Ａ、レリーズボタン２０Ｂ、測距系動作モード切替ボタン２０Ｃ、及び撮像系動作モード切替ボタン２０Ｄ等を有しており、ユーザによる各種指示を受け付ける。
【００９１】
測距指示ボタン２０Ａは、測距の開始の指示を受け付ける。レリーズボタン２０Ｂは、静止画像の撮像の開始の指示、動画像の撮像の開始の指示、及び動画像の撮像の終了の指示を受け付ける。測距系動作モード切替ボタン２０Ｃは、ノーマルモードとスキャンモードとを切り替える指示を受け付ける。撮像系動作モード切替ボタン２０Ｄは、静止画撮像モードと動画撮像モードとを切り替える指示を受け付ける。
【００９２】
受付デバイス２０は、受付Ｉ／Ｆ１１２に接続されており、受け付けた指示の内容を示す指示内容信号を受付Ｉ／Ｆ１１２に出力する。受付Ｉ／Ｆ１１２は、主制御部８０の指示に従って受付デバイス２０を作動させ、受付デバイス２０から入力された指示内容信号を主制御部８０に出力する。主制御部８０は、受付Ｉ／Ｆ１１２から入力された指示内容信号に応じて処理を実行する。
【００９３】
なお、本第１実施形態に係る測距装置１０Ａでは、マニュアルフォーカスモードとオートフォーカスモードとが受付デバイス２０を介したユーザの指示に応じて選択的に設定される。レリーズボタン２０Ｂは、撮像準備指示状態と撮像指示状態との２段階の押圧操作を受け付ける。撮像準備指示状態とは、例えば、待機位置から中間位置（半押し位置）まで押下される状態を指し、撮像指示状態とは、中間位置を超えた最終押下位置（全押し位置）まで押下される状態を指す。なお、以下では、説明の便宜上、「待機位置から半押し位置まで押下された状態」を「半押し状態」といい、「待機位置から全押し位置まで押下される状態」を「全押し状態」という。
【００９４】
オートフォーカスモードでは、レリーズボタン２０Ｂが半押し状態にされることで撮像条件の調整が行われ、その後、引き続き全押し状態にすると露光が行われる。つまり、レリーズボタン２０Ｂが半押し状態にされることでＡＥ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ  Ｅｘｐｏｓｕｒｅ）機能が働いて露出調整が行われた後、ＡＦ（Ａｕｔｏ−Ｆｏｃｕｓ）機能が働いて合焦制御され、レリーズボタン２０Ｂが全押し状態にされると露光が行われる。
【００９５】
ＬＤドライバ９２は、ＬＤ３０に接続されており、測距制御部８６の指示に従って、ＬＤ３０を駆動させてレーザ光を発光させる。
【００９６】
位置信号処理回路９４は、位置検出センサ４０に接続されており、位置検出センサ４０から入力された射出系位置信号を増幅し、増幅した射出系位置信号に対してＡ／Ｄ（Ａｎａｌｏｇ／Ｄｉｇｉｔａｌ：アナログ／デジタル）変換を行う。そして、位置信号処理回路９４は、Ａ／Ｄ変換によりデジタル化された射出系位置信号を主制御部８０に出力する。
【００９７】
変動機構ドライバ９８は、動力源３８Ａに接続されており、主制御部８０の指示に従って、動力源３８Ａを駆動させる。
【００９８】
受光信号処理回路１０２は、ＰＤ５０に接続されており、ＰＤ５０から入力された受光信号を増幅器（図示省略）で増幅し、増幅した受光信号に対してＡ／Ｄ変換を行う。そして、受光信号処理回路１０２は、Ａ／Ｄ変換によってデジタル化された受光信号を測距制御部８６に出力する。
【００９９】
測距制御部８６は、主制御部８０の制御下で、測距ユニット１２を制御する。なお、本第１実施形態において、測距制御部８６は、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ  Ｓｐｅｃｉｆｉｃ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）によって実現されているが、本開示の技術はこれに限定されるものではない。例えば、測距制御部８６は、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ−Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｇａｔｅ  Ａｒｒａｙ）によって実現されてもよい。また、測距制御部８６は、ＣＰＵ（中央処理装置：Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）、及びＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）を含むコンピュータによって実現されてもよい。更に、測距制御部８６は、ハードウェア構成及びソフトウェア構成の組み合わせによって実現されてもよい。
【０１００】
測距制御部８６は、主制御部８０の制御下で、ＬＤドライバ９２を制御することで、ＬＤ３０によるレーザ光の発光を制御し、受光信号処理回路１０２から受光信号を取得する。測距制御部８６は、レーザ光を発光させたタイミングと受光信号を取得したタイミングとを基に、被写体までの距離を導出し、導出した距離を示す距離情報を主制御部８０に出力する。
【０１０１】
ここで、測距制御部８６による被写体までの距離の計測について更に詳細に説明する。
【０１０２】
一例として図２に示すように、測距装置１０Ａによる１回の計測シーケンスは、電圧調整期間、実計測期間、及び休止期間で規定される。
【０１０３】
電圧調整期間は、ＬＤ３０及びＰＤ５０の駆動電圧を調整する期間である。実計測期間は、被写体までの距離を実際に計測する期間であり、本開示の技術に係る測距動作期間の一例である。実計測期間では、ＬＤ３０にレーザ光を発光させ、ＰＤ５０に反射レーザ光を受光させる動作が数百回繰り返され、レーザ光を発光させたタイミングと受光信号を取得したタイミングとを基に、被写体までの距離が導出される。休止期間は、ＬＤ３０及びＰＤ５０の駆動を休止させるための期間である。よって、１回の計測シーケンスでは、被写体までの距離の計測が数百回行われることになる。
【０１０４】
なお、本第１実施形態では、電圧調整期間を数百ミリ秒とし、実計測期間を数百ミリ秒とし、休止期間を数百ミリ秒としている。
【０１０５】
一例として図３に示すように、測距制御部８６には、測距制御部８６がレーザ光の発光の指示を与えるタイミング、及び受光信号を取得するタイミングを規定するカウント信号が供給される。本第１実施形態では、カウント信号は、主制御部８０によって生成されて測距制御部８６に供給されるが、これに限らず、バスライン１１４に接続されたタイムカウンタ等の専用回路によって生成されて測距制御部８６に供給されるようにしてもよい。
【０１０６】
測距制御部８６は、カウント信号に応じて、レーザ光を発光させるためのレーザトリガをＬＤドライバ９２に出力する。ＬＤドライバ９２は、レーザトリガに応じて、ＬＤ３０を駆動してレーザ光を発光させる。
【０１０７】
図３に示す例では、レーザ光の発光時間が数十ナノ秒とされている。この場合、射出部２６により数キロメートル先の被写体に向けて射出されたレーザ光が反射レーザ光としてＰＤ５０で受光されるまでの時間は、“数キロメートル×２／光速”≒数マイクロ秒となる。従って、数キロメートル先の被写体までの距離を計測するためには、一例として図２に示すように、最低必要時間として、数マイクロ秒の時間を要する。
【０１０８】
なお、本第１実施形態では、レーザ光の往復時間等を考慮して、一例として図２に示すように、１回の計測時間を数ミリ秒としているが、被写体までの距離によりレーザ光の往復時間は異なるので、想定する距離に応じて１回あたりの計測時間を異ならせてもよい。
【０１０９】
測距制御部８６は、１回の計測シーケンスにおける数百回の計測から得た計測値を基に、被写体までの距離を導出する場合、例えば、数百回の計測から得た計測値のヒストグラムを解析して被写体までの距離を導出する。
【０１１０】
一例として図４に示すように、１回の計測シーケンスにおける数百回の計測から得られた計測値のヒストグラムでは、横軸が被写体までの距離であり、縦軸が計測回数であり、計測回数の最大値に対応する距離が測距結果として測距制御部８６によって導出される。なお、図４に示すヒストグラムはあくまでも一例であり、被写体までの距離に代えて、レーザ光の往復時間（発光から受光までの経過時間）や、レーザ光の往復時間の１／２等に基づいてヒストグラムが生成されてもよい。
【０１１１】
撮像素子ドライバ１０４は、撮像素子６０に接続されており、主制御部８０の制御下で、撮像素子６０に駆動パルスを供給する。撮像素子６０の各画素は、撮像素子ドライバ１０４によって供給された駆動パルスに従って駆動する。
【０１１２】
画像信号処理回路１０６は、主制御部８０の制御下で、撮像素子６０から１フレーム分の画像信号を画素毎に読み出す。画像信号処理回路１０６は、読み出した画像信号に対して、相関二重サンプリング処理、自動利得調整、Ａ／Ｄ変換等の各種処理を行う。画像信号処理回路１０６は、画像信号に対して各種処理を行うことでデジタル化した画像信号を、主制御部８０から供給されるクロック信号で規定される特定のフレームレート（例えば、数十フレーム／秒）で１フレーム毎に画像メモリ８４に出力する。
【０１１３】
画像メモリ８４は、画像信号処理回路１０６から入力された画像信号を一時的に保持する。
【０１１４】
画像処理部８２は、画像メモリ８４から特定のフレームレートで１フレーム毎に画像信号を取得し、取得した画像信号に対して、ガンマ補正、輝度・色差変換、及び圧縮処理等の各種処理を行う。
【０１１５】
また、画像処理部８２は、画像メモリ８４から取得した画像信号に対して電子式の画像振れ抑制処理を行う。なお、以下では、説明の便宜上、電子式の画像振れ抑制処理を「電子式抑制処理」と称する。
【０１１６】
電子式抑制処理は、撮像素子６０により撮像されて得られた画像に対して光軸Ｐの変動が与える影響を抑制する画像処理、すなわち、画像信号を加工することで画像振れを抑制する処理である。ここで、「画像振れ」とは、例えば、手振れ等により、光軸Ｐの被写体に対する相対的な移動に伴って、撮像されて得られた画像が基準位置からずれる現象を指す。また、本第１実施形態において、「画像振れの抑制」には、画像振れを無くすという意味の他に、画像振れを低減するという意味も含まれる。
【０１１７】
電子式抑制処理では、先ず、画像処理部８２は、画像メモリ８４から取得した時系列的に前後する画像信号を比較する。次に、画像処理部８２は、画像信号を比較した結果を基に、先行の画像信号により示される画像に対する後続の画像信号により示される画像のずれ量及びずれ方向（本開示の技術に係る検出結果の一例）を算出する。そして、画像処理部８２は、後続の画像信号を、算出したずれ量及びずれ方向が打ち消された画像を示す画像信号に加工する。
【０１１８】
画像処理部８２は、各種処理を行って得た画像信号を特定のフレームレートで１フレーム毎に表示制御部８８に出力する。また、画像処理部８２は、各種処理を行って得た画像信号を、主制御部８０の要求に応じて、主制御部８０に出力する。
【０１１９】
表示制御部８８は、電子ビューファインダ２２に接続されており、主制御部８０の制御下で、電子ビューファインダ２２を制御する。また、表示制御部８８は、画像処理部８２から入力された画像信号を１フレーム毎に特定のフレームレートで電子ビューファインダ２２に出力する。
【０１２０】
電子ビューファインダ２２は、画像及び文字情報等を表示する。電子ビューファインダ２２は、表示制御部８８から特定のフレームレートで入力された画像信号により示される画像をライブビュー画像として表示する。ライブビュー画像は、連続フレームで撮像されて得られた連続フレーム画像であり、スルー画像とも称される。また、電子ビューファインダ２２は、単一フレームで撮像されて得られた単一フレーム画像である静止画像も表示する。更に、電子ビューファインダ２２は、ライブビュー画像の他に、再生画像やメニュー画面等も表示する。
【０１２１】
なお、本第１実施形態では、画像処理部８２及び表示制御部８８は、ＡＳＩＣによって実現されているが、本開示の技術はこれに限定されるものではない。例えば、画像処理部８２及び表示制御部８８は、ＦＰＧＡによって実現されてもよい。また、画像処理部８２及び表示制御部８８は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、及びＲＡＭを含むコンピュータによって実現されてもよい。更に、画像処理部８２及び表示制御部８８は、ハードウェア構成及びソフトウェア構成の組み合わせによって実現されてもよい。
【０１２２】
主制御部８０は、静止画撮像モード下でレリーズボタン２０Ｂによって静止画像の撮像の指示が受け付けられた場合、撮像素子ドライバ１０４を制御することで、撮像素子６０に１フレーム分の露光を行わせる。主制御部８０は、１フレーム分の露光が行われることによって得られた画像信号を画像処理部８２から取得し、取得した画像信号に対して圧縮処理を施して特定の静止画像用フォーマットの静止画像ファイルを生成する。なお、ここで、特定の静止画像用フォーマットとは、例えば、ＪＰＥＧ（Ｊｏｉｎｔ  Ｐｈｏｔｏｇｒａｐｈｉｃ  Ｅｘｐｅｒｔｓ  Ｇｒｏｕｐ）を指す。
【０１２３】
主制御部８０は、動画撮像モード下でレリーズボタン２０Ｂによって動画像の撮像の指示が受け付けられた場合、画像処理部８２によりライブビュー画像用として表示制御部８８に出力される画像信号を特定のフレームレートで１フレーム毎に取得する。そして、主制御部８０は、画像処理部８２から取得した画像信号に対して圧縮処理を施して特定の動画像用フォーマットの動画像ファイルを生成する。なお、ここで、特定の動画像用フォーマットとは、例えば、ＭＰＥＧ（Ｍｏｖｉｅ  Ｐｉｃｔｕｒｅ  Ｅｘｐｅｒｔｓ  Ｇｒｏｕｐ）を指す。なお、以下では、説明の便宜上、静止画像ファイル及び動画像ファイルを区別して説明する必要がない場合、画像ファイルと称する。
【０１２４】
メディアＩ／Ｆ１０８は、メモリカード２４に接続されており、主制御部８０の制御下で、メモリカード２４に対する画像ファイルの記録及び読み出しを行う。なお、メディアＩ／Ｆ１０８によってメモリカード２４から読み出された画像ファイルは、主制御部８０によって伸長処理が施されて電子ビューファインダ２２に再生画像として表示される。
【０１２５】
なお、主制御部８０は、測距制御部８６から入力された距離情報を画像ファイルに関連付けて、メディアＩ／Ｆ１０８を介してメモリカード２４に保存する。そして、距離情報は、メモリカード２４からメディアＩ／Ｆ１０８を介して主制御部８０によって画像ファイルと共に読み出され、読み出された距離情報により示される距離は、関連する画像ファイルによる再生画像と共に電子ビューファインダ２２に表示される。
【０１２６】
位置信号処理回路９６は、位置検出センサ７２に接続されており、位置検出センサ７２から入力された撮像系位置信号を増幅し、増幅した撮像系位置信号に対してＡ／Ｄ変換を行う。そして、位置信号処理回路９６は、Ａ／Ｄ変換によりデジタル化した撮像系位置信号を主制御部８０に出力する。
【０１２７】
変動機構ドライバ１００は、動力源７０Ａに接続されており、主制御部８０の指示に従って、動力源７０Ａを駆動させる。
【０１２８】
一例として図５に示すように、主制御部８０は、ＣＰＵ１２０、ＲＡＭ１２２、及びＲＯＭ１２４を備えている。ＣＰＵ１２０は、測距装置１０Ａの全体を制御する。ＲＡＭ１２２は、各種プログラムの実行時のワークエリア等として用いられる揮発性のメモリである。ＲＯＭ１２４は、測距装置１０Ａの作動を制御する制御プログラムや各種パラメータ等を予め記憶する不揮発性のメモリである。ＣＰＵ１２０、ＲＡＭ１２２、及びＲＯＭ１２４は、バスライン１１４を介して相互に接続されている。
【０１２９】
一例として図６に示すように、ＲＯＭ１２４は、静止画撮像プログラム１２６及び動画撮像プログラム１２８を記憶している。ＣＰＵ１２０は、静止画撮像モードが設定された場合に、ＲＯＭ１２４から静止画撮像プログラム１２６を読み出してＲＡＭ１２２に展開し、静止画撮像プログラム１２６を実行する。また、ＣＰＵ１２０は、動画撮像モードが設定された場合に、ＲＯＭ１２４から動画撮像プログラム１２８を読み出してＲＡＭ１２２に展開し、動画撮像プログラム１２８を実行する。
【０１３０】
ところで、測距装置１０Ａでは、像振れ抑制部６３が動作されると、像振れが抑制され、電子式抑制処理が実行されると、電子ビューファインダ２２に表示されるライブビュー画像の画像振れが抑制される。ここで、像振れ抑制部６３の動作中、又は電子式抑制処理の実行中に測距を行う場合、ユーザは、ライブビュー画像の中心１４０（図７参照）に測距対象の被写体を位置させることで測距対象の被写体に照準を合わせ、測距指示ボタン２０Ａを押下する。これにより、射出部２６によりレーザ光が射出されるが、一例として図７に示すように、ライブビュー画像内では、レーザ光の照射位置１４２が変動する現象である位置変動現象が発生する。また、位置変動現象が生じている状態で、静止画撮像モードで静止画像が撮像されたり、動画撮像モードで動画像が撮像されたりすると、結果的に、照射位置１４２が中心１４０からずれた状態の静止画像や動画像が得られてしまう。
【０１３１】
なお、射出部２６により射出されるレーザ光の波長は、撮像素子６０が感度を有する有効波長ではないため、照射位置１４２は、ユーザによって画像から視覚的に認識されない。よって、位置変動現象が発生したことにより中心１４０から照射位置１４２がどの程度ずれたかをユーザが認識することは困難である。
【０１３２】
そこで、測距装置１０Ａでは、一例として図６に示すように、ＲＯＭ１２４が、位置変動現象を抑制するための位置変動抑制プログラム１３０Ａを記憶している。ここで、「位置変動現象の抑制」には、位置変動現象を無くすという意味の他に、位置変動現象を低減するという意味も含まれる。なお、位置変動抑制プログラム１３０Ａは、本開示の技術に係る測距用制御プログラムの一例である。
【０１３３】
ＣＰＵ１２０は、ＲＯＭ１２４から位置変動抑制プログラム１３０Ａを読み出してＲＡＭ１２２に展開し、位置変動抑制プログラム１３０Ａを実行することで、一例として図８に示す制御部１５０Ａとして動作する。
【０１３４】
制御部１５０Ａは、像振れ抑制部６３の動作と電子式抑制処理の実行とレーザ振れ抑制部３３の動作とを同時に行わせる場合、位置変動現象を抑制する制御を像振れ抑制部６３、画像処理部８２、及びレーザ振れ抑制部３３に対して行う。
【０１３５】
一例として図８に示すように、制御部１５０Ａは、変位算出部１５２、目標位置算出部１５３Ａ，１５３Ｂ、位置信号取得部１５４Ａ１，１５４Ｂ１、位置誤差算出部１５５Ａ１，１５５Ｂ１、及び移動量算出部１５６Ａ１，１５６Ｂ１を有する。
【０１３６】
変位算出部１５２は、角速度センサ１８からセンサＩ／Ｆ１１０を介して角速度信号を取得し、取得した角速度信号を基に、測距装置１０Ａの変位方向及び変位量（本開示の技術に係る検出結果の一例）を算出する。このように、角速度センサ１８及び変位算出部１５２は、本開示の技術に係る検出部の一例であり、測距装置１０Ａ全体の変動を検出する。
【０１３７】
目標位置算出部１５３Ａは、変位算出部１５２により算出された変位方向及び変位量を基に、撮像系防振レンズ６６の目標位置を算出する。ここで、撮像系防振レンズ６６の目標位置とは、像振れを抑制するために必要な目標位置を意味する。
【０１３８】
なお、撮像系防振レンズ６６の目標位置は、撮像系防振レンズ６６用の目標位置演算式によって算出される。撮像系防振レンズ６６用の目標位置演算式は、測距装置１０Ａの変位方向及び変位量を独立変数とし、撮像系防振レンズ６６の目標位置を従属変数とする演算式である。また、撮像系防振レンズ６６用の目標位置演算式を用いずに、測距装置１０Ａの変位方向及び変位量と撮像系防振レンズ６６の目標位置とが対応付けられた導出テーブルから撮像系防振レンズ６６の目標位置が導出されるようにしてもよい。
【０１３９】
目標位置算出部１５３Ｂは、変位算出部１５２から入力された変位信号により示される変位方向及び変位量を基に、射出系防振レンズ３４の目標位置を算出する。ここで、射出系防振レンズ３４の目標位置とは、レーザ振れを抑制するために必要な目標位置を意味する。
【０１４０】
なお、射出系防振レンズ３４の目標位置は、射出系防振レンズ３４用の目標位置演算式によって算出される。射出系防振レンズ３４用の目標位置演算式は、測距装置１０Ａの変位方向及び変位量を独立変数とし、射出系防振レンズ３４の目標位置を従属変数とする演算式である。また、射出系防振レンズ３４用の目標位置演算式を用いずに、測距装置１０Ａの変位方向及び変位量と射出系防振レンズ３４の目標位置とが対応付けられた導出テーブルから射出系防振レンズ３４の目標位置が導出されるようにしてもよい。
【０１４１】
位置信号取得部１５４Ａ１は、位置信号処理回路９６から撮像系位置信号を取得する。位置信号取得部１５４Ｂ１は、位置信号処理回路９４から射出系位置信号を取得する。
【０１４２】
位置誤差算出部１５５Ａ１は、位置信号取得部１５４Ａ１により取得された撮像系位置信号により示される撮像系防振レンズ６６の現在位置と目標位置算出部１５３Ａにより算出された撮像系防振レンズ６６の目標位置との差である撮像系位置誤差を算出する。
【０１４３】
位置誤差算出部１５５Ｂ１は、位置信号取得部１５４Ｂ１により取得された射出系位置信号により示される射出系防振レンズ３４の現在位置と目標位置算出部１５３Ｂにより算出された射出系防振レンズ３４の目標位置との差である射出系位置誤差を算出する。
【０１４４】
移動量算出部１５６Ａ１は、位置誤差算出部１５５Ａ１により算出された撮像系位置誤差から、撮像系光軸移動量演算式を用いて、像振れを抑制するのに必要な撮像系光軸移動量（本開示の技術に係る第１抑制量の一例）を算出する。なお、撮像系光軸移動量とは、被写体光用光路１６３での光軸Ｐの現時点の位置からの移動量を指す。
【０１４５】
撮像系光軸移動量演算式は、撮像系位置誤差を独立変数とし、撮像系光軸移動量を従属変数とする演算式である。なお、ここでは、撮像系光軸移動量演算式を例示しているが、本開示の技術はこれに限定されるものではない。例えば、移動量算出部１５６Ａ１は、撮像系位置誤差と撮像系光軸移動量とが対応付けられた撮像系光軸移動量テーブルを用いて、撮像系光軸移動量を導出するようにしてもよい。
【０１４６】
変動機構ドライバ１００は、移動量算出部１５６Ａ１から入力された撮像系光軸移動量に対応する駆動パルスを動力源７０Ａに出力する。なお、撮像系防振レンズ６６の移動距離は、変動機構ドライバ１００から動力源７０Ａに入力される駆動パルスの個数に応じて定まり、撮像系防振レンズ６６の移動方向は、変動機構ドライバ１００から動力源７０Ａに入力される駆動パルスの波形に応じて定まる。
【０１４７】
また、ここでは、変動機構ドライバ１００は、撮像系光軸移動量と駆動パルスとが対応付けられた撮像系駆動パルステーブルを用いて駆動パルスを導出しているが、本開示の技術はこれに限定されるものではない。例えば、変動機構ドライバ１００は、撮像系光軸移動量を独立変数とし、駆動パルスを従属変数とする撮像系駆動パルス演算式を用いて駆動パルスを算出するようにしてもよい。
【０１４８】
移動量算出部１５６Ｂ１は、位置誤差算出部１５５Ｂ１により算出された射出系位置誤差から、射出系光軸移動量演算式を用いて、レーザ振れを抑制するのに必要な射出系光軸移動量（本開示の技術に係る第２抑制量の一例）を算出する。なお、射出系光軸移動量とは、レーザ光用光路１６４での光軸Ｌ１の現時点の位置からの移動量を指す。
【０１４９】
射出系光軸移動量演算式は、射出系位置誤差を独立変数とし、射出系光軸移動量を従属変数とする演算式である。なお、ここでは、射出系光軸移動量演算式を例示しているが、本開示の技術はこれに限定されるものではない。例えば、移動量算出部１５６Ｂ１は、射出系位置誤差と射出系光軸移動量とが対応付けられた射出系光軸移動量テーブルを用いて、射出系光軸移動量を導出するようにしてもよい。
【０１５０】
移動量算出部１５６Ｂ１は、算出した射出系光軸移動量の絶対値と撮像系光軸移動量の絶対値とを比較する。そして、移動量算出部１５６Ｂ１は、算出した射出系光軸移動量の絶対値が撮像系光軸移動量の絶対値以下の場合、算出した射出系光軸移動量を変動機構ドライバ９８に出力する。移動量算出部１５６Ｂ１は、算出した射出系光軸移動量の絶対値が撮像系光軸移動量の絶対値を超えた場合、“射出系光軸移動量の絶対値＝撮像系光軸移動量の絶対値”の関係が成立するように射出系光軸移動量を調整する。そして、移動量算出部１５６Ｂ１は、調整して得た射出系光軸移動量を変動機構ドライバ９８に出力する。
【０１５１】
変動機構ドライバ９８は、移動量算出部１５６Ｂ１から入力された射出系光軸移動量に対応する駆動パルスを動力源３８Ａに出力する。なお、射出系防振レンズ３４の移動距離は、変動機構ドライバ９８から動力源３８Ａに入力される駆動パルスの個数に応じて定まり、射出系防振レンズ３４の移動方向は、変動機構ドライバ９８から動力源３８Ａに入力される駆動パルスの波形に応じて定まる。
【０１５２】
また、ここでは、変動機構ドライバ９８は、射出系光軸移動量と駆動パルスとが対応付けられた射出系駆動パルステーブルを用いて駆動パルスを導出しているが、本開示の技術はこれに限定されるものではない。例えば、変動機構ドライバ９８は、射出系光軸移動量を独立変数とし、駆動パルスを従属変数とする射出系駆動パルス演算式を用いて駆動パルスを算出するようにしてもよい。
【０１５３】
次に、測距装置１０Ａの作用について説明する。
【０１５４】
先ず、測距装置１０Ａの電源がオン（投入）された場合に主制御部８０の制御下で測距制御部８６によって実行される測距処理について図９を参照して説明する。
【０１５５】
図９に示す測距処理では、先ず、ステップ２００で、測距制御部８６は、測距指示ボタン２０Ａを介して測距の開始の指示があったか否かを判定する。ステップ２００において、測距指示ボタン２０Ａを介して測距の開始の指示がない場合は、判定が否定されて、ステップ２１０へ移行する。ステップ２００において、測距指示ボタン２０Ａを介して測距の開始の指示があった場合は、判定が肯定されて、ステップ２０２へ移行する。
【０１５６】
ステップ２０２で、測距制御部８６は、ＬＤドライバ９２を制御することでＬＤ３０にレーザ光を発光させる。ＬＤ３０によりレーザ光が発光されることで、レーザ光が射出部２６により被写体に向けて射出され、ＰＤ５０により反射レーザ光が受光される。ここで、測距制御部８６は、レーザ光の発光から反射レーザ光の受光までの経過時間を計測し、計測した経過時間を保持することで、実計測期間における１回の計測を終了する。
【０１５７】
次のステップ２０４で、測距制御部８６は、予め定められた回数の計測を終了したか否か判定する。ステップ２０４において、予め定められた回数の計測を終了していない場合は、判定が否定されて、ステップ２０２へ移行する。ステップ２０４において、予め定められた回数の計測を終了した場合は、判定が肯定されて、ステップ２０６へ移行する。
【０１５８】
ステップ２０６で、測距制御部８６は、予め定められた回数の計測を行って得た経過時間に基づいて、被写体までの距離を導出する。すなわち、測距制御部８６は、一例として図４に示すように、被写体までの距離に関するヒストグラムを生成し、生成したヒストグラムから、計測回数の最大値に対応する被写体までの距離を計測結果として導出する。
【０１５９】
なお、レーザ光の往復時間等の時間に関するヒストグラムを生成した場合は、先ず、計測回数の最大値に対応する時間を導出し、導出した時間に基づいて被写体までの距離を導出すればよい。例えば、レーザ光の往復時間に関するヒストグラムの場合は、計測回数の最大値に対応するレーザ光の往復時間の１／２に光速を乗じて得た値を被写体までの距離として導出すればよい。
【０１６０】
ステップ２０８で、測距制御部８６は、ステップ２０６で導出した距離を示す距離情報を主制御部８０に出力し、その後、ステップ２１０へ移行する。
【０１６１】
ステップ２１０で、測距制御部８６は、測距処理を終了する条件を満たしたか否かを判定する。測距処理を終了する条件とは、例えば、測距処理を終了する指示が受付デバイス２０によって受け付けられたとの条件や、測距処理の実行が開始されてから予め定められた時間（例えば、１０分）が経過しても測距の開始の指示がないとの条件を指す。
【０１６２】
ステップ２１０において、測距処理を終了する条件を満たしていない場合は、判定が否定されて、ステップ２００へ移行する。ステップ２１０において、測距処理を終了する条件を満たした場合は、判定が肯定されて、測距処理を終了する。
【０１６３】
次に、測距装置１０Ａの電源がオンされた場合に主制御部８０の制御下で画像処理部８２によって実行されるライブビュー処理について図１０を参照して説明する。なお、以下では、説明の便宜上、測距装置１０Ａの電源がオンされると、主制御部８０の指示に従って周期的に撮像素子６０により撮像されて得られた画像信号が特定のフレームレートで１フレーム毎に画像メモリ８４に入力されることを前提として説明する。
【０１６４】
図１０に示すライブビュー処理では、先ず、ステップ２２０で、画像処理部８２は、画像メモリ８４に１フレーム分の画像信号が入力されたか否かを判定する。ステップ２２０において、画像メモリ８４に１フレーム分の画像信号が入力されていない場合は、判定が否定されて、ステップ２２８へ移行する。ステップ２２０において、画像メモリ８４に１フレーム分の画像信号が入力された場合は、判定が肯定されて、ステップ２２２へ移行する。
【０１６５】
ステップ２２２で、画像処理部８２は、画像メモリ８４から１フレーム分の画像信号を取得し、その後、ステップ２２４へ移行する。
【０１６６】
ステップ２２４で、画像処理部８２は、ステップ２２２の処理で取得した画像信号に対して行うべき全ての信号処理を実行したか否かを判定する。ステップ２２４において、ステップ２２２の処理で取得した画像信号に対して行うべき全ての信号処理を実行していな場合は、判定が否定されて、ステップ２２４の判定が再び行われる。ステップ２２４において、ステップ２２２の処理で取得した画像信号に対して行うべき全ての信号処理を実行した場合は、判定が肯定されて、ステップ２２６へ移行する。
【０１６７】
ステップ２２６で、画像処理部８２は、信号処理を施して得た画像信号を表示制御部８８に出力し、その後、ステップ２２８へ移行する。
【０１６８】
ステップ２２８で、画像処理部８２は、測距装置１０Ａの電源がオフされたか否かを判定する。ステップ２２８において、測距装置１０Ａの電源がオフされていない場合は、判定が否定されて、ステップ２２０へ移行する。ステップ２２８において、測距装置１０Ａの電源がオフされた場合は、判定が肯定されて、ライブビュー処理を終了する。
【０１６９】
このようにライブビュー処理が実行されると、ステップ２２６の処理が特定のフレームレートで定められた周期毎に実行される。そして、表示制御部８８は、ステップ２２６の処理が実行されることによって画像処理部８２から１フレーム毎に入力された画像信号を特定のフレームレートで電子ビューファインダ２２に出力する。電子ビューファインダ２２は、表示制御部８８から特定のフレームレートで入力された画像信号に示される画像をライブビュー画像として表示する。
【０１７０】
次に、静止画撮像モードが設定された場合にＣＰＵ１２０によって静止画撮像プログラム１２６が実行されることで実現される静止画撮像処理について図１１を参照して説明する。なお、以下では、説明の便宜上、静止画撮像処理に並行して画像処理部８２によりライブビュー処理が実行されていることを前提として説明する。
【０１７１】
図１１に示す静止画撮像処理では、先ず、ステップ２５０で、制御部１５０Ａは、レリーズボタン２０Ｂが半押し状態か否かを判定する。ステップ２５０において、レリーズボタン２０Ｂが半押し状態でない場合は、判定が否定されて、ステップ２６６へ移行する。ステップ２５０において、レリーズボタン２０Ｂが半押し状態の場合は、判定が肯定されて、ステップ２５２へ移行する。
【０１７２】
ステップ２５２で、制御部１５０Ａは、ＡＥ機能を働かせて露出調整を行い、かつ、ＡＦ機能を働かせて合焦制御を行った後、ステップ２５４へ移行する。
【０１７３】
ステップ２５４で、制御部１５０Ａは、レリーズボタン２０Ｂが全押し状態か否かを判定する。ステップ２５４において、レリーズボタン２０Ｂが全押し状態でない場合は、判定が否定されて、ステップ２５６へ移行する。ステップ２５４において、レリーズボタン２０Ｂが全押し状態の場合は、判定が肯定されて、ステップ２５８へ移行する。
【０１７４】
ステップ２５６で、制御部１５０Ａは、レリーズボタン２０Ｂへの押圧操作が解除されたか否かを判定する。ステップ２５６において、レリーズボタン２０Ｂへの押圧操作が解除されていない場合は、判定が否定されて、ステップ２５２へ移行する。ステップ２５６において、レリーズボタン２０Ｂへの押圧操作が解除された場合は、判定が肯定されて、ステップ２６６へ移行する。
【０１７５】
ステップ２５８で、制御部１５０Ａは、画像信号取得タイミングが到来したか否かを判定する。ここで言う「画像信号取得タイミング」とは、ステップ２５４の処理で判定が肯定されてから撮像素子６０により露光が行われて得られた１フレーム分の画像信号に対して各種の信号処理が画像処理部８２によって行われた場合を指す。
【０１７６】
ステップ２５８において、画像信号取得タイミングが到来していない場合は、判定が否定されて、ステップ２５８の判定が再び行われる。ステップ２５８において、画像信号取得タイミングが到来した場合は、判定が肯定されて、ステップ２６０へ移行する。
【０１７７】
ステップ２６０で、制御部１５０Ａは、画像処理部８２により各種の信号処理が行われた１フレーム分の画像信号を画像処理部８２から取得し、その後、ステップ２６２へ移行する。
【０１７８】
ステップ２６２で、制御部１５０Ａは、ステップ２６０の処理で取得した画像信号から静止画像ファイルを生成し、その後、ステップ２６４へ移行する。
【０１７９】
ステップ２６４で、制御部１５０Ａは、ステップ２６２の処理で生成した静止画像ファイルをメモリカード２４に記録し、その後、ステップ２６６へ移行する。
【０１８０】
ステップ２６６で、制御部１５０Ａは、静止画撮像モードを終了する条件を満たしたか否かを判定する。静止画撮像モードを終了する条件とは、例えば、動画撮像モードが設定されたとの条件、又は再生画像を電子ビューファインダ２２に表示させる指示が受付デバイス２０によって受け付けられたとの条件等を指す。
【０１８１】
ステップ２６６において、静止画撮像モードを終了する条件を満たしていない場合は、判定が否定されて、ステップ２５０へ移行する。ステップ２６６において、静止画撮像モードを終了する条件を満たした場合は、判定が肯定されて、静止画撮像処理を終了する。
【０１８２】
次に、動画撮像モードが設定された場合にＣＰＵ１２０によって動画撮像プログラム１２８が実行されることで実現される動画撮像処理について図１２を参照して説明する。なお、以下では、説明の便宜上、動画撮像処理に並行して画像処理部８２によりライブビュー処理が実行されていることを前提として説明する。
【０１８３】
図１２に示す動画撮像処理では、先ず、ステップ３００で、制御部１５０Ａは、レリーズボタン２０Ｂが半押し状態か否かを判定する。ステップ３００において、レリーズボタン２０Ｂが半押し状態でない場合は、判定が否定されて、ステップ３１８へ移行する。ステップ３００において、レリーズボタン２０Ｂが半押し状態の場合は、判定が肯定されて、ステップ３０２へ移行する。
【０１８４】
ステップ３０２で、制御部１５０Ａは、ＡＥ機能を働かせて露出調整を行い、かつ、ＡＦ機能を働かせて合焦制御を行った後、ステップ３０４へ移行する。
【０１８５】
ステップ３０４で、制御部１５０Ａは、レリーズボタン２０Ｂが全押し状態か否かを判定する。ステップ３０４において、レリーズボタン２０Ｂが全押し状態でない場合は、判定が否定されて、ステップ３０６へ移行する。ステップ３０４において、レリーズボタン２０Ｂが全押し状態の場合は、判定が肯定されて、ステップ３０８へ移行する。
【０１８６】
ステップ３０６で、制御部１５０Ａは、レリーズボタン２０Ｂへの押圧操作が解除されたか否かを判定する。ステップ３０６において、レリーズボタン２０Ｂへの押圧操作が解除されていない場合は、判定が否定されて、ステップ３０２へ移行する。ステップ３０６において、レリーズボタン２０Ｂへの押圧操作が解除された場合は、判定が肯定されて、ステップ３１８へ移行する。
【０１８７】
ステップ３０８で、制御部１５０Ａは、画像信号取得タイミングが到来したか否かを判定する。ここで言う「画像信号取得タイミング」とは、ステップ３０４の処理で判定が肯定されてから撮像素子６０により露光が行われて得られた１フレーム分の画像信号に対して各種の信号処理が画像処理部８２によって行われた場合を指す。
【０１８８】
ステップ３０８において、画像信号取得タイミングが到来していない場合は、判定が否定されて、ステップ３１６へ移行する。ステップ３０８において、画像信号取得タイミングが到来した場合は、判定が肯定されて、ステップ３１０へ移行する。
【０１８９】
ステップ３１０で、制御部１５０Ａは、画像処理部８２により各種の信号処理が行われた１フレーム分の画像信号を画像処理部８２から取得し、その後、ステップ３１２へ移行する。
【０１９０】
ステップ３１２で、制御部１５０Ａは、ステップ３１０の処理で取得した画像信号から動画像ファイルを生成し、その後、ステップ３１４へ移行する。
【０１９１】
ステップ３１４で、制御部１５０Ａは、ステップ３１２の処理で生成した動画像ファイルをメモリカード２４に記録し、その後、ステップ３１６へ移行する。
【０１９２】
ステップ３１６で、制御部１５０Ａは、レリーズボタン２０Ｂが再びオンされたか否かを判定する。ここで、レリーズボタン２０Ｂが再びオンされるとは、例えば、レリーズボタン２０Ｂへの押圧状態が解除されて再びレリーズボタン２０Ｂが押圧されて半押し状態又は全押し状態になることを意味する。
【０１９３】
ステップ３１６において、レリーズボタン２０Ｂが再びオンされていない場合は、判定が否定されて、ステップ３０８へ移行する。ステップ３１６において、レリーズボタン２０Ｂが再びオンされた場合は、判定が肯定されて、ステップ３１８へ移行する。
【０１９４】
ステップ３１８で、制御部１５０Ａは、動画撮像モードを終了する条件を満たしたか否かを判定する。動画撮像モードを終了する条件とは、例えば、静止画撮像モードが設定されたとの条件、又は再生画像を電子ビューファインダ２２に表示させる指示が受付デバイス２０によって受け付けられたとの条件等を指す。
【０１９５】
ステップ３１８において、動画撮像モードを終了する条件を満たしていない場合は、判定が否定されて、ステップ３００へ移行する。ステップ３１８において、動画撮像モードを終了する条件を満たした場合は、判定が肯定されて、動画撮像処理を終了する。
【０１９６】
次に、ライブビュー処理が実行されている場合に並行してＣＰＵ１２０によって位置変動抑制プログラム１３０Ａが実行されることで実現される位置変動抑制処理について図１３を参照して説明する。
【０１９７】
なお、以下では、説明の便宜上、ノーマルモード及びスキャンモードの何れかが設定されていることを前提として説明する。また、以下では、説明の便宜上、静止画撮像モード及び動画撮像モードの何れかが設定されていることを前提として説明する。また、以下では、説明の便宜上、角速度信号のサンプリング周期が１．０ミリ秒であり、位置信号のサンプリング周期が０．１ミリ秒であることを前提として説明する。また、以下では、説明の便宜上、目標位置算出部１５３Ａ，１５３Ｂが同期して動作していることを前提として説明する。また、以下では、説明の便宜上、位置信号取得部１５４Ａ１，１５４Ｂ１が同期して動作していることを前提として説明する。また、以下では、説明の便宜上、位置誤差算出部１５５Ａ１，１５５Ｂ１が同期して動作していることを前提として説明する。
【０１９８】
図１３に示す位置変動抑制処理では、先ず、ステップ４００で、制御部１５０Ａは、実計測期間内か否かを判定する。ステップ４００において、実計測期間外の場合は、判定が否定されて、図１４に示すステップ４１４へ移行する。ステップ４００において、実計測期間内の場合は、判定が肯定されて、ステップ４０２へ移行する。
【０１９９】
なお、一例として図２６に示すように、電子ビューファインダ２２は、制御部１５０Ａの制御下で、実計測期間内に測距制御部８６により算出された距離を、表示終了条件を満たすまでライブビュー画像に重ねて表示する。図２６に示す例では、測距結果である“５００ｍ（メートル）”がライブビュー画像上に表示された状態が示されている。ここで、表示終了条件とは、例えば、測距指示ボタン２０Ａが押下されたとの条件や、距離の表示が開始されてから測距指示ボタン２０Ａが押下されることなく予め定められた時間（例えば、３秒）が経過したとの条件等を指す。
【０２００】
ステップ４０２で、制御部１５０Ａは、ノーマルモードが設定されているか否かを判定する。ステップ４０２において、ノーマルモードが設定されていない場合（スキャンモードが設定されている場合）は、判定が否定されて、図１４に示すステップ４１４へ移行する。ステップ４０２において、ノーマルモードが設定されている場合は、判定が肯定されて、ステップ４０４へ移行する。
【０２０１】
ステップ４０４で、制御部１５０Ａは、画像処理部８２によって電子式抑制処理が実行されているか否かを判定する。ステップ４０４において、画像処理部８２によって電子式抑制処理が実行されていない場合は、判定が否定されて、ステップ４０６へ移行する。ステップ４０４において、画像処理部８２によって電子式抑制処理が実行されている場合は、判定が肯定されて、ステップ４０８へ移行する。
【０２０２】
ステップ４０６で、制御部１５０Ａは、画像処理部８２に対して、電子式抑制処理の実行を指示する電子式抑制実行信号を出力し、その後、ステップ４０８へ移行する。本ステップ４０６の処理が実行されることによって画像処理部８２に電子式抑制実行信号が入力されると、画像処理部８２は、電子式抑制処理の実行を開始する。
【０２０３】
ステップ４０８で、制御部１５０Ａは、画像処理部８２が表示制御部８８に画像信号を出力するタイミングとして特定のフレームレートにより規定される画像信号出力タイミングが到来したか否かを判定する。ステップ４０８において、画像信号出力タイミングが到来していない場合は、判定が否定されて、ステップ４０８の判定が再び行われる。ステップ４０８において、画像信号出力タイミングが到来した場合は、判定が肯定されて、ステップ４１０へ移行する。
【０２０４】
ステップ４１０で、制御部１５０Ａは、一例として図１５に示す第１光学式抑制処理を実行し、その後、ステップ４１２へ移行する。
【０２０５】
図１５に示す第１光学式抑制処理では、先ず、ステップ５００Ａで、変位算出部１５２は、測距装置１０Ａの変位方向及び変位量を算出するタイミングとして角速度信号のサンプリング周期で規定される変位算出タイミングが到来したか否かを判定する。ステップ５００Ａにおいて、変位算出タイミングが到来していない場合は、判定が否定されて、ステップ５００Ａの判定が再び行われる。ステップ５００Ａにおいて、変位算出タイミングが到来した場合は、判定が肯定されて、ステップ５０２Ａへ移行する。
【０２０６】
ステップ５０２Ａで、変位算出部１５２は、角速度信号を取得し、取得した角速度信号を基に、測距装置１０Ａの変位方向及び変位量を算出する。
【０２０７】
次のステップ５０４Ａで、目標位置算出部１５３Ａは、ステップ５０２Ａの処理で算出された変位方向及び変位量を基に、撮像系防振レンズ６６の目標位置を算出する。また、ステップ５０４Ａで、目標位置算出部１５３Ｂは、ステップ５０２Ａの処理で算出された変位方向及び変位量を基に、射出系防振レンズ３４の目標位置を算出する。
【０２０８】
次のステップ５０６Ａで、位置信号取得部１５４Ａ１は、位置信号を取得するタイミングとして位置信号のサンプリング周期で規定される位置信号取得タイミングが到来したか否かを判定する。ステップ５０６Ａにおいて、位置信号取得タイミングが到来していない場合は、判定が否定されて、ステップ５０６Ａの判定が再び行われる。ステップ５０６Ａにおいて、位置信号取得タイミングが到来した場合は、判定が肯定されて、ステップ５０８Ａへ移行する。
【０２０９】
ステップ５０８Ａで、位置信号取得部１５４Ａ１は、位置信号処理回路９６から撮像系位置信号を取得する。また、ステップ５０８Ａで、位置信号取得部１５４Ｂ１は、位置信号処理回路９４から射出系位置信号を取得する。
【０２１０】
次のステップ５１０Ａで、位置誤差算出部１５５Ａ１は、ステップ５０８Ａで取得された撮像系位置信号により示される撮像系防振レンズ６６の現在位置、及びステップ５０４Ａで算出された撮像系防振レンズ６６の目標位置から撮像系位置誤差を算出する。
【０２１１】
また、ステップ５１０Ａで、位置誤差算出部１５５Ｂ１は、ステップ５０８Ａで取得された射出系位置信号により示される射出系防振レンズ３４の現在位置、及びステップ５０４Ａで算出された射出系防振レンズ３４の目標位置から射出系位置誤差を算出する。
【０２１２】
次のステップ５１２Ａで、移動量算出部１５６Ａ１は、ステップ５１０Ａの処理で算出された撮像系位置誤差から撮像系光軸移動量演算式を用いて撮像系光軸移動量を算出し、算出した撮像系光軸移動量を変動機構ドライバ１００に出力する。
【０２１３】
変動機構ドライバ１００は、移動量算出部１５６Ａ１から入力された撮像系光軸移動量に対応する駆動パルスを動力源７０Ａに出力する。防振レンズ変動機構７０の動力伝達機構は、入力された駆動パルスに従って動力源７０Ａによって生成された動力を撮像系防振レンズ６６に伝達することで、駆動パルスに対応する移動方向に、駆動パルスに対応する移動距離だけ撮像系防振レンズ６６を移動させる。
【０２１４】
また、ステップ５１２Ａで、移動量算出部１５６Ｂ１は、ステップ５１０Ａの処理で算出された射出系位置誤差から射出系光軸移動量演算式を用いて射出系光軸移動量を算出する。そして、移動量算出部１５６Ｂ１は必要に応じて射出系光軸移動量を調整する。
【０２１５】
ここで、射出系光軸移動量を調整する場合とは、算出した射出系光軸移動量の絶対値が現時点の撮像系光軸移動量の絶対値を超えた場合を指す。ここで、「現時点の撮像系光軸移動量」とは、移動量算出部１５６Ａ１により算出された最新の撮像系光軸移動量を指す。
【０２１６】
移動量算出部１５６Ｂ１は、算出した射出系光軸移動量の絶対値が現時点の撮像系光軸移動量の絶対値以下の場合、算出した射出系光軸移動量を変動機構ドライバ９８に出力する。移動量算出部１５６Ｂ１は、算出した射出系光軸移動量の絶対値が現時点の撮像系光軸移動量の絶対値を超えた場合、“射出系光軸移動量の絶対値＝現時点の撮像系光軸移動量の絶対値”の関係が成立するように射出系光軸移動量を調整する。そして、移動量算出部１５６Ｂ１は、調整して得た射出系光軸移動量を変動機構ドライバ９８に出力し、その後、第１光学式抑制処理を終了する。
【０２１７】
変動機構ドライバ９８は、移動量算出部１５６Ｂ１から入力された射出系光軸移動量に対応する駆動パルスを動力源３８Ａに出力する。防振レンズ変動機構３８の動力伝達機構は、入力された駆動パルスに従って動力源３８Ａによって生成された動力を射出系防振レンズ３４に伝達することで、駆動パルスに対応する移動方向に、駆動パルスに対応する移動距離だけ射出系防振レンズ３４を移動させる。
【０２１８】
一方、図１４に示すステップ４１４で、制御部１５０Ａは、画像処理部８２によって電子式抑制処理が実行されているか否かを判定する。ステップ４１４において、画像処理部８２によって電子式抑制処理が実行されていない場合は、判定が否定されて、ステップ４１６へ移行する。ステップ４１４において、画像処理部８２によって電子式抑制処理が実行されている場合は、判定が肯定されて、ステップ４１８へ移行する。
【０２１９】
ステップ４１６で、制御部１５０Ａは、画像処理部８２に対して、電子式抑制処理の実行を指示する電子式抑制実行信号を出力し、その後、ステップ４１８へ移行する。本ステップ４１６の処理が実行されることによって画像処理部８２に電子式抑制実行信号が入力されると、画像処理部８２は、電子式抑制処理の実行を開始する。
【０２２０】
ステップ４１８で、制御部１５０Ａは、画像信号出力タイミングが到来したか否かを判定する。ステップ４１８において、画像信号出力タイミングが到来していない場合は、判定が否定されて、ステップ４１８の判定が再び行われる。ステップ４１８において、画像信号出力タイミングが到来した場合は、判定が肯定されて、ステップ４２０へ移行する。
【０２２１】
ステップ４２０で、制御部１５０Ａは、一例として図１５に示す第２光学式抑制処理を実行し、その後、ステップ４１２へ移行する。
【０２２２】
図１５に示す第２光学式抑制処理では、先ず、ステップ５００Ｂで、変位算出部１５２は、変位算出タイミングが到来したか否かを判定する。ステップ５００Ｂにおいて、変位算出タイミングが到来していない場合は、判定が否定されて、ステップ５００Ｂの判定が再び行われる。ステップ５００Ｂにおいて、変位算出タイミングが到来した場合は、判定が肯定されて、ステップ５０２Ｂへ移行する。
【０２２３】
ステップ５０２Ｂで、変位算出部１５２は、角速度信号を取得し、取得した角速度信号を基に、測距装置１０Ａの変位方向及び変位量を算出する。
【０２２４】
次のステップ５０４Ｂで、目標位置算出部１５３Ａは、ステップ５０２Ｂの処理で算出された変位方向及び変位量を基に、撮像系防振レンズ６６の目標位置を算出する。
【０２２５】
次のステップ５０６Ｂで、位置信号取得部１５４Ａ１は、位置信号取得タイミングが到来したか否かを判定する。ステップ５０６Ｂにおいて、位置信号取得タイミングが到来していない場合は、判定が否定されて、ステップ５０６Ｂの判定が再び行われる。ステップ５０６Ｂにおいて、位置信号取得タイミングが到来した場合は、判定が肯定されて、ステップ５０８Ｂへ移行する。
【０２２６】
ステップ５０８Ｂで、位置信号取得部１５４Ａ１は、位置信号処理回路９６から撮像系位置信号を取得する。
【０２２７】
次のステップ５１０Ｂで、位置誤差算出部１５５Ａ１は、ステップ５０８Ｂで取得された撮像系位置信号により示される撮像系防振レンズ６６の現在位置、及びステップ５０４Ｂで算出された撮像系防振レンズ６６の目標位置から撮像系位置誤差を算出する。
【０２２８】
次のステップ５１２Ｂで、移動量算出部１５６Ａ１は、ステップ５１０Ｂの処理で算出された撮像系位置誤差から撮像系光軸移動量演算式を用いて撮像系光軸移動量を算出する。そして、移動量算出部１５６Ａ１は、算出した撮像系光軸移動量を変動機構ドライバ１００に出力し、その後、第２光学式抑制処理を終了する。これにより、変動機構ドライバ１００及び防振レンズ変動機構７０は、第１光学式抑制処理が実行された場合と同様に動作する。
【０２２９】
一方、図１４に示すステップ４１２で、制御部１５０Ａは、位置変動抑制処理を終了する条件を満たしたか否かを判定する。位置変動抑制処理を終了する条件の一例としては、位置変動抑制処理を終了させる指示が受付デバイス２０によって受け付けられたとの条件、又は位置変動抑制処理の実行が開始されてから予め定められた時間（例えば、３０分）が経過したとの条件が挙げられる。
【０２３０】
ステップ４１２において、位置変動抑制処理を終了する条件を満たしていない場合は、判定が否定されて、ステップ４００へ移行する。ステップ４１２において、位置変動抑制処理を終了する条件を満たした場合は、判定が肯定されて、位置変動抑制処理を終了する。
【０２３１】
以上説明したように、測距装置１０Ａでは、制御部１５０Ａにより、像振れ抑制部６３及びレーザ振れ抑制部３３を同時に動作させる場合、位置変動現象を抑制する制御が像振れ抑制部６３及びレーザ振れ抑制部３３に対して行われる。
【０２３２】
従って、測距装置１０Ａは、像振れを抑制する動作とレーザ振れを抑制する動作とを無関係に行う場合に比べ、像振れ抑制部６３の動作に伴って画像内における照射位置１４２が中心１４０からずれる現象（以下、「ずれ現象」と称する）を抑制することができる。
【０２３３】
ここで、測距装置１０Ａに対して、例えば、手振れによる変動が与えられた場合、その構造上の差異に起因して、像振れの抑制とレーザ振れの抑制との間で振れの抑制精度に差（以下、「抑制精度差」と称する）が生じる。このように、抑制精度差が生じると、測距装置１０Ａ全体としての振れの抑制精度、すなわち、制御部１５０Ａの制御下で像振れ抑制部６３及びレーザ振れ抑制部３３が同時に動作することによってずれ現象が抑制された抑制結果の精度が低下する虞がある。
【０２３４】
そこで、測距装置１０Ａでは、像振れ抑制部６３の動作、電子式抑制処理の実行、及びレーザ振れ抑制部３３の動作を同時に行わせる場合、位置変動抑制処理が実行されることで振れ抑制部６３、画像処理部８２、及びレーザ振れ抑制部３３が制御される。
【０２３５】
従って、測距装置１０Ａは、共通光路１６２を有しない構造の測距装置の場合に比べ、ずれ現象を抑制した抑制結果の精度が抑制精度差に起因して低下することの抑制を小型の構造内で得ることができる。
【０２３６】
また、測距装置１０Ａでは、目標位置算出部１５３Ａにより、変位算出部１５２の算出結果を基に撮像系防振レンズ６６の目標位置が算出される。また、移動量算出部１５６Ａ１により、撮像系防振レンズ６６の目標位置及び位置信号取得部１５４Ａ１により取得された撮像系位置信号に応じて、撮像系光軸移動量が算出され、撮像系光軸移動量を基に防振レンズ変動機構７０が制御される。また、目標位置算出部１５３Ｂにより、変位算出部１５２の算出結果を基に射出系防振レンズ３４の目標位置が算出される。
【０２３７】
ここで、像振れ抑制部６３の動作、電子式抑制処理の実行、及びレーザ振れ抑制部３３の動作を同時に行わせる場合、移動量算出部１５６Ｂ１により、射出系防振レンズ３４の目標位置及び射出系位置信号に応じて射出系移動量が算出される。そして、算出された射出系移動量を基に防振レンズ変動機構３８が制御される。
【０２３８】
従って、測距装置１０Ａは、射出系防振レンズ３４の目標位置を用いずに防振レンズ変動機構３８を制御する場合に比べ、ずれ現象を高精度に抑制することができる。
【０２３９】
また、測距装置１０Ａでは、像振れを抑制する機構として像振れ抑制部６３が用いられる。従って、測距装置１０Ａは、結像光学系６２で像振れを抑制する機構として像振れ抑制部６３と異なる機構を用いる場合に比べ、像振れを簡易な構成で抑制することができる。
【０２４０】
また、測距装置１０Ａでは、画像処理部８２により電子式抑制処理が実行される。従って、測距装置１０Ａは、画像処理部８２により電子式抑制処理が実行されない場合に比べ、画像振れを容易に抑制することができる。
【０２４１】
また、測距装置１０Ａでは、防振レンズ変動機構３８が光軸Ｌ１の変動に応じて射出系防振レンズ３４を変動させている。従って、測距装置１０Ａは、防振レンズ変動機構３８を用いない場合に比べ、簡素な構成で、レーザ振れを抑制することができる。
【０２４２】
また、測距装置１０Ａでは、像振れ抑制部６３の動作中に、移動量算出部１５６Ｂ１により、絶対値が撮像系光軸移動量の絶対値以下の射出系光軸移動量が算出されて変動機構ドライバ９８に出力される。また、測距装置１０Ａでは、電子式抑制処理の実行中に、移動量算出部１５６Ｂ１により、絶対値が撮像系光軸移動量の絶対値以下の射出系光軸移動量が算出されて変動機構ドライバ９８に出力される。これにより、射出系防振レンズ３４は、撮像系光軸移動量の範囲内で、光軸Ｌ１の変動に応じて変動することになる。
【０２４３】
従って、測距装置１０Ａは、絶対値が撮像系光軸移動量の絶対値を上回る射出系光軸移動量が算出されて変動機構ドライバ９８に出力される場合に比べ、ずれ現象を抑制する精度を高めることができる。
【０２４４】
また、測距装置１０Ａでは、像振れ抑制部６３の動作中又は電子式抑制処理の実行中に、実計測期間外（ステップ４００：Ｎ）にレーザ振れ抑制部３３を動作させず、実計測期間内（ステップ４００：Ｙ）にレーザ振れ抑制部３３を動作させている。従って、測距装置１０Ａは、像振れ抑制部６３の動作中又は電子式抑制処理の実行中に常にレーザ振れ抑制部３３を動作させる場合に比べ、消費電力を抑制することができる。
【０２４５】
また、測距装置１０Ａでは、像振れ抑制部６３の動作中に、スキャンモードが設定されている場合（ステップ４０２：Ｎ）、制御部１５０Ａにより、レーザ振れ抑制部３３を動作させない制御が行われる。従って、測距装置１０Ａは、像振れ抑制部６３の動作中にスキャンモードが設定されている状態でレーザ振れ抑制部３３を動作させる場合に比べ、レーザ光の実際の走査範囲がユーザの意図する走査範囲よりも狭くなるという事態の発生を抑制することができる。
【０２４６】
また、測距装置１０Ａでは、電子式抑制処理の実行中に、スキャンモードが設定されている場合（ステップ４０２：Ｎ）、制御部１５０Ａにより、レーザ振れ抑制部３３を動作させない制御が行われる。従って、測距装置１０Ａは、電子式抑制処理の実行中にスキャンモードが設定されている状態でレーザ振れ抑制部３３を動作させる場合に比べ、レーザ光の実際の走査範囲がユーザの意図する走査範囲よりも狭くなるという事態の発生を抑制することができる。
【０２４７】
また、測距装置１０Ａでは、撮像素子６０が採用されている。従って、測距装置１０Ａは、撮像素子６０が採用されていない場合に比べ、ずれ現象が抑制された画像を得ることができる。
【０２４８】
また、測距装置１０Ａでは、防振レンズ変動機構７０の動作中又は電子式抑制処理の実行中に、特定のフレームレートに応じて定められた間隔毎に（ステップ４０８，４１８：Ｙ）、レーザ振れ抑制部３３を動作させている。従って、測距装置１０Ａは、特定のフレームレートとは無関係なタイミングでレーザ振れ抑制部３３を動作させる場合に比べ、簡易な制御で、ずれ現象を抑制することができる。
【０２４９】
また、測距装置１０Ａでは、実計測期間内に測距制御部８６により算出された距離がライブビュー画像の表示領域内に表示される。従って、測距装置１０Ａは、測距制御部８６で算出された距離がライブビュー画像の表示領域内に表示されない場合に比べ、ずれ現象が抑制された状況下で得られた測距結果である距離を、対応するライブビュー画像と併せてユーザに容易に認識させることができる。
【０２５０】
なお、上記第１実施形態では、移動量算出部１５６Ｂ１により、“射出系光軸移動量の絶対値＝現時点の撮像系光軸移動量の絶対値”の関係が成立するように射出系光軸移動量が調整される場合を例示したが、本開示の技術はこれに限定されるものではない。例えば、“０＜射出系光軸移動量の絶対値＜現時点の撮像系光軸移動量の絶対値”の関係が成立するように射出系光軸移動量が調整されるようにしてもよい。
【０２５１】
また、上記第１実施形態では、像振れ抑制部６３の動作中又は電子式抑制処理の実行中に、スキャンモードが設定されている場合、レーザ振れ抑制部３３を動作させないようにしているが、本開示の技術はこれに限定されるものではない。例えば、像振れ抑制部６３の動作中又は電子式抑制処理の実行中に、スキャンモードが設定されている場合、レーザ振れ抑制部３３の動作を停止させずに動作レベルを低減させてもよい。
【０２５２】
また、上記第１実施形態では、中心１４０を基準位置とする前提で、ずれ現象が抑制される場合について説明したが、本開示の技術はこれに限定されるものではない。例えば、ライブビュー画像の中心１４０以外の固定化された特定の位置を基準位置（照射位置１４２が本来あるべき位置）とし、位置変動抑制処理が実行されることにより、照射位置１４２が基準位置からずれることが抑制されるようにしてもよい。
【０２５３】
また、上記第１実施形態では、時系列的に前後する２つの画像信号を比較して画像振れを抑制する電子式抑制処理を例示したが、本開示の技術はこれに限定されるものではない。例えば、第１及び第３光学式抑制処理と同様に、既に得られた画像信号と変位算出部１５２の算出結果とに応じて定められた撮像系光軸移動量を基に画像振れを抑制する電子式抑制処理を採用してもよい。
【０２５４】
［第２実施形態］
上記第１実施形態では、目標位置算出部１５３Ａ，１５３Ｂを併用する場合を例示したが、本第２実施形態では、目標位置算出部１５３Ｂを用いない場合について説明する。なお、本第２実施形態では、上記第１実施形態で説明した構成要素と同一の構成要素については同一の符号を付し、その説明を省略する。
【０２５５】
一例として図６に示すように、本第２実施形態に係る測距装置１０Ｂ（図１参照）は、上記第１実施形態に係る測距装置１０Ａに比べ、ＲＯＭ１２４が位置変動抑制プログラム１３０Ａに代えて位置変動抑制プログラム１３０Ｂを記憶している点が異なる。
【０２５６】
ＣＰＵ１２０は、ＲＯＭ１２４から位置変動抑制プログラム１３０Ｂを読み出してＲＡＭ１２２に展開し、位置変動抑制プログラム１３０Ｂを実行することで、一例として図１６に示す制御部１５０Ｂとして動作する。
【０２５７】
一例として図１６に示すように、制御部１５０Ｂは、図８に示す制御部１５０Ａに比べ、目標位置算出部１５３Ｂを有しない点が異なる。また、制御部１５０Ｂは、図８に示す制御部１５０Ａに比べ、位置信号取得部１５４Ａ１に代えて位置信号取得部１５４Ａ２を有する点、及び位置誤差算出部１５５Ｂ１に代えて位置誤差算出部１５５Ｂ２を有する点が異なる。
【０２５８】
位置信号取得部１５４Ａ２は、図８に示す位置信号取得部１５４Ａ１に比べ、位置誤差算出部１５５Ｂ２にも撮像系位置信号を出力する点が異なる。
【０２５９】
位置誤差算出部１５５Ｂ２は、現在位置差を算出する。現在位置差とは、位置信号取得部１５４Ａ２から入力された撮像系位置信号により示される撮像系防振レンズ６６の現在位置と位置信号取得部１５４Ｂ１から入力された射出系位置信号により示される射出系防振レンズ３４の現在位置との差を指す。
【０２６０】
そして、位置誤差算出部１５５Ｂ２は、算出した現在位置差を用いて射出系位置誤差演算式から、上記第１実施形態で説明した射出系位置誤差を算出する。
【０２６１】
ここで、射出系位置誤差演算式とは、例えば、現在位置差を独立変数とし、射出系位置誤差を従属変数とする演算式を指す。
【０２６２】
なお、位置誤差算出部１５５Ｂ２は、射出系位置誤差演算式を用いずに、現在位置差と射出系位置誤差とが対応付けられた射出系位置誤差導出テーブルから射出系位置誤差を導出するようにしてもよい。
【０２６３】
次に、測距装置１０Ｂの作用について、上記第１実施形態で説明した内容と異なる点を説明する。
【０２６４】
本第２実施形態に係る第１光学式抑制処理について図１５を参照して説明する。
【０２６５】
本第２実施形態に係る第１光学式抑制処理では、ステップ５００Ｃで、変位算出部１５２は、測距装置１０Ｂの変位方向及び変位量を算出するタイミングとして角速度信号のサンプリング周期で規定される変位算出タイミングが到来したか否かを判定する。ステップ５００Ｃにおいて、変位算出タイミングが到来していない場合は、判定が否定されて、ステップ５００Ｃの判定が再び行われる。ステップ５００Ｃにおいて、変位算出タイミングが到来した場合は、判定が肯定されて、ステップ５０２Ｃへ移行する。
【０２６６】
ステップ５０２Ｃで、変位算出部１５２は、角速度信号を取得し、取得した角速度信号を基に、測距装置１０Ａの変位方向及び変位量を算出する。
【０２６７】
次のステップ５０４Ｃで、目標位置算出部１５３Ａは、ステップ５０２Ｃの処理で算出された変位方向及び変位量を基に、撮像系防振レンズ６６の目標位置を算出する。
【０２６８】
次のステップ５０６Ｃで、位置信号取得部１５４Ａ２は、位置信号取得タイミングが到来したか否かを判定する。ステップ５０６Ｃにおいて、位置信号取得タイミングが到来していない場合は、判定が否定されて、ステップ５０６Ｃの判定が再び行われる。ステップ５０６Ｃにおいて、位置信号取得タイミングが到来した場合は、判定が肯定されて、ステップ５０８Ｃへ移行する。
【０２６９】
ステップ５０８Ｃで、位置信号取得部１５４Ａ２は、位置信号処理回路９６から撮像系位置信号を取得する。また、ステップ５０８Ｃで、位置信号取得部１５４Ｂ１は、位置信号処理回路９４から射出系位置信号を取得する。
【０２７０】
次のステップ５１０Ｃで、位置誤差算出部１５５Ａ１は、ステップ５０８Ｃで取得された撮像系位置信号により示される撮像系防振レンズ６６の現在位置、及びステップ５０４Ｃで算出された撮像系防振レンズ６６の目標位置から撮像系位置誤差を算出する。
【０２７１】
また、ステップ５１０Ｃで、位置誤差算出部１５５Ｂ２は、ステップ５０８Ｃの処理で取得された撮像系位置信号及び射出系位置信号から現在位置差を算出する。そして、位置誤差算出部１５５Ｂ２は、現在位置差を用いて射出系位置誤差演算式から、上記第１実施形態で説明した射出系位置誤差を算出する。
【０２７２】
次のステップ５１２Ｃで、移動量算出部１５６Ａ１は、ステップ５１０Ｃの処理で算出された撮像系位置誤差から撮像系光軸移動量演算式を用いて撮像系光軸移動量を算出し、算出した撮像系光軸移動量を変動機構ドライバ１００に出力する。これにより、変動機構ドライバ１００及び防振レンズ変動機構７０は、上記第１実施形態に係る第１光学式抑制処理が実行された場合と同様に動作する。
【０２７３】
また、ステップ５１２Ｃで、移動量算出部１５６Ｂ１は、ステップ５１０Ｃの処理で算出された射出系位置誤差から射出系光軸移動量演算式を用いて射出系光軸移動量を算出する。そして、移動量算出部１５６Ｂ１は必要に応じて射出系光軸移動量を調整する。
【０２７４】
ステップ５１２Ｃで、移動量算出部１５６Ｂ１は、算出した射出系光軸移動量の絶対値が現時点の撮像系光軸移動量の絶対値以下の場合、算出した射出系光軸移動量を変動機構ドライバ９８に出力する。
【０２７５】
ステップ５１２Ｃで、移動量算出部１５６Ｂ１は、算出した射出系光軸移動量の絶対値が現時点の撮像系光軸移動量の絶対値を超えた場合、上記ステップ５１２Ａと同様に、射出系光軸移動量を調整する。そして、移動量算出部１５６Ｂ１は、調整して得た射出系光軸移動量を変動機構ドライバ９８に出力し、その後、第１光学式抑制処理を終了する。
【０２７６】
このように、ステップ５１２Ｃの処理が実行されることによって射出系光軸移動量が変動機構ドライバ９８に出力されると、変動機構ドライバ９８及び防振レンズ変動機構３８は、上記第１実施形態に係る第１光学式抑制処理が実行された場合と同様に動作する。
【０２７７】
以上説明したように、測距装置１０Ｂでは、目標位置算出部１５３Ａにより、変位算出部１５２の算出結果を基に撮像系防振レンズ６６の目標位置が算出される。また、移動量算出部１５６Ａ１により、撮像系防振レンズ６６の目標位置及び位置信号取得部１５４Ａ２により取得された撮像系位置信号に応じて、撮像系光軸移動量が算出され、撮像系光軸移動量を基に防振レンズ変動機構７０が制御される。
【０２７８】
ここで、像振れ抑制部６３及びレーザ振れ抑制部３３を同時に動作させる場合、移動量算出部１５６Ｂ１により、撮像系位置信号及び位置信号取得部１５４Ｂ１により取得された射出系位置信号に応じて射出系移動量が算出される。そして、算出された射出系移動量を基に防振レンズ変動機構３８が制御される。
【０２７９】
従って、測距装置１０Ｂは、変位算出部１５２の算出結果を基に射出系防振レンズ３４の目標位置が算出される場合に比べ、ずれ現象を簡易な構成で抑制することができる。
【０２８０】
また、上記第２実施形態では、位置誤差算出部１５５Ｂ２が撮像系位置信号及び射出系位置信号に基づいて射出系位置誤差を算出したが、本開示の技術はこれに限定されるものではない。例えば、位置誤差算出部１５５Ｂ２は、予め定められたテーブル又は演算式を用いて、撮像系位置誤差及び射出系位置信号から射出系位置誤差を算出してもよいし、撮像系位置誤差及び撮像系位置信号から射出系位置誤差を算出してもよい。
【０２８１】
［第３実施形態］
上記第１及び第２実施形態では、光学ズーム機能を有しない測距装置１０Ａについて説明したが、本第３実施形態では、光学ズーム機能を有する測距装置１０Ｃ（図１７参照）について説明する。なお、本第３実施形態では、上記第１実施形態で説明した構成要素と同一の構成要素については同一の符号を付し、その説明を省略する。また、以下では、説明の便宜上、撮像系光軸移動量と射出系光軸移動量とを区別して説明する必要がない場合、「光軸移動量」と称する。また、以下では、説明の便宜上、変動機構ドライバ９８，１００を区別して説明する必要がない場合、符号を付さずに「変動機構ドライバ」と称する。
【０２８２】
一例として図１７に示すように、本第３実施形態に係る測距装置１０Ｃは、測距装置１０Ａに比べ、撮像ユニット１４に代えて撮像ユニット６０４を有する点が異なる。また、測距装置１０Ｃは、測距装置１０Ａに比べ、処理装置１６に代えて処理装置６０６を有する点が異なる。更に、測距装置１０Ｃは、測距装置１０Ａに比べ、受付デバイス２０に代えて受付デバイス６０８を有する点が異なる。
【０２８３】
撮像ユニット６０４は、撮像ユニット１４に比べ、結像光学系６２に代えて結像光学系６２６を有する点、及びズームレンズ移動機構６２８を有する点が異なる。結像光学系６２６は、結像光学系６２に比べ、被写体光用光路１６３に代えて被写体光用光路６２７を有する点が異なる。被写体光用光路６２７は、被写体光用光路１６３に比べ、撮像系防振レンズ６６とビームスプリッタ１６０との間にズームレンズ６３０が配置されている点が異なる。
【０２８４】
ズームレンズ移動機構６２８は、動力源（図示省略）を備えており、動力源により生成された動力に従ってズームレンズ６３０を光軸Ｐに沿って移動させる。よって、画角は、ズームレンズ６３０を光軸Ｐに沿って移動させることで、変更される。なお、ズームレンズ移動機構６２８に含まれる動力源の一例としては、ステッピングモータ等が挙げられるが、これに限らず、他種類のモータであってもよい。
【０２８５】
処理装置６０６は、処理装置１６に比べ、移動機構ドライバ６４２を有する点が異なる。移動機構ドライバ６４２は、バスライン１１４に接続されており、主制御部８０の指示に従ってズームレンズ移動機構６２８の動力源を制御する。
【０２８６】
受付デバイス６０８は、受付デバイス２０に比べ、広角指示ボタン２０Ｅ及び望遠指示ボタン２０Ｆを有する点が異なる。広角指示ボタン２０Ｅは、広角にする指示を受け付ける押圧式のボタンであり、広角側への画角の変更量は、許容される範囲内で、広角指示ボタン２０Ｅへの押圧が継続して行われる押圧時間に応じて定まる。望遠指示ボタン２０Ｆは、望遠にする指示を受け付ける押圧式のボタンであり、望遠側への画角の変更量は、許容される範囲内で、望遠指示ボタン２０Ｆへの押圧が継続して行われる押圧時間に応じて定まる。なお、以下では、説明の便宜上、広角指示ボタン２０Ｅ及び望遠指示ボタン２０Ｆを区別して説明する必要がない場合、「画角指示ボタン」と称する。
【０２８７】
また、一例として図６に示すように、測距装置１０Ｃは、測距装置１０Ａに比べ、ＲＯＭ１２４が位置変動抑制プログラム１３０Ａに代えて位置変動抑制プログラム１３０Ｃを記憶している点が異なる。
【０２８８】
ＣＰＵ１２０は、ＲＯＭ１２４から位置変動抑制プログラム１３０Ｃを読み出してＲＡＭ１２２に展開し、位置変動抑制プログラム１３０Ｃを実行することで、一例として図１８に示す画角変更部６５０及び制御部１５０Ｃとして動作する。
【０２８９】
画角変更部６５０は、画角指示ボタンの押圧時間に応じて移動機構ドライバ６４２を制御してズームレンズ移動機構６２８を駆動させることでズームレンズ６３０を移動させ、被写体像の画角を変更する。
【０２９０】
制御部１５０Ｃは、制御部１５０Ａに比べ、移動量算出部１５６Ａ１に代えて移動量算出部１５６Ａ２を有する点が異なる。また、制御部１５０Ｃは、制御部１５０Ａに比べ、移動量算出部１５６Ｂ１に代えて移動量算出部１５６Ｂ２を有する点が異なる。更に、制御部１５０Ａに比べ、移動量決定部１５８を有する点が異なる。
【０２９１】
移動量算出部１５６Ａ２は、第１実施形態で説明した移動量算出部１５６Ａ１と同様に撮像系光軸移動量を算出する。そして、移動量算出部１５６Ａ２は、算出した撮像系光軸移動量を、撮像系光軸移動量換算式を用いて、画角変更部６５０による画角の変更量に対応する撮像系光軸移動量に換算する。
【０２９２】
撮像系光軸移動量換算式は、撮像系光軸移動量を独立変数とし、画角変更部６５０による画角の変更量に対応する撮像系光軸移動量を従属変数とする演算式である。また、撮像系光軸移動量換算式は、例えば、画角が広角側へ向けて変更されるのに対応して従属変数が小さくなり、画角が望遠側へ向けて変更されるのに対応して従属変数が大きくなる特性を有する演算式である。従って、移動量算出部１５６Ａ２により撮像系光軸移動量換算式から換算されて得られる撮像系光軸移動量は、画角が広角側へ向けて変更されるのに伴って少なくなり、画角が望遠側へ向けて変更されるのに伴って多くなる。
【０２９３】
移動量算出部１５６Ｂ２は、第１実施形態で説明した移動量算出部１５６Ｂ１と同様に、射出系光軸移動量を算出し、算出した射出系光軸移動量を必要に応じて調整する。
【０２９４】
ところで、撮像ユニット６０４にはズームレンズ６３０による光学ズーム機能が搭載されているため、光学ズーム機能を働かせることで撮像範囲が変更される。例えば、図１９に示すように、望遠寄りの撮像範囲αは、広角寄りの撮像範囲βよりも狭い。そのため、撮像範囲βの一端に光軸Ｐが達したことに起因して生じる像振れを抑制するための応答性は、撮像範囲αの一端に光軸Ｐが達したことに起因して生じる像振れを抑制するための応答性よりも良くなる。
【０２９５】
ここで、「像振れを抑制するための応答性が良い」とは、例えば、像振れを抑制するのに要する撮像系防振レンズ６６の移動量が少ないことを意味する。逆に、「像振れを抑制するための応答性が悪い」とは、例えば、像振れを抑制するのに要する撮像系防振レンズ６６の移動量が多いことを意味する。なお、以下では、説明の便宜上、「像振れを抑制するための応答性」を「撮像系応答性」と称する。
【０２９６】
一方、射出部２６には光学ズーム機能が搭載されていないため、射出部２６では、レーザ光の照射範囲が固定化されている。そのため、撮像範囲の広さ次第で、像振れを抑制するための応答性とレーザ振れを抑制するための応答性との間で差異が生じることがある。なお、「レーザ振れの抑制に対する応答性が良い」とは、例えば、レーザ振れを抑制するのに要する射出系防振レンズ３４の移動量が少ないことを意味する。逆に、「レーザ振れの抑制に対する応答性が悪い」とは、例えば、レーザ振れを抑制するのに要する射出系防振レンズ３４の移動量が多いことを意味する。なお、以下では、説明の便宜上、「レーザ振れを抑制するための応答性」を「レーザ系応答性」と称する。また、撮像系応答性とレーザ応答性と区別して説明する必要がない場合は、「応答性」と称する。
【０２９７】
上述したように撮像系応答性とレーザ系応答性との間に差異が生じると、場合によっては、像振れ抑制部６３及びレーザ振れ抑制部３３を動作させると、像振れの抑制の度合いとレーザ振れの抑制の度合いとが釣り合わなくなる可能性がある。例えば、望遠側への画角の変更量が多くなるに従って撮像系応答性がレーザ系応答性よりも相対的に良くなると、射出系防振レンズ３４が可動範囲を超えて移動しない限り撮像系防振レンズ６６の動作に追従することができなくなる場合がある。また、広角側への画角の変更量が多くなるに従って撮像系応答性が悪くなっていくと、算出された撮像系光軸移動量が撮像系防振レンズ６６の可動範囲に対応できず、撮像系防振レンズ６６が射出系防振レンズ３４の動作に追従することができなくなる場合がある。
【０２９８】
そこで、移動量決定部１５８は、第１〜第４条件を満足したか否かを判定し、判定結果に基づいて変動機構ドライバ９８に出力すべき光軸移動量を決定し、決定した光軸移動量を変動機構ドライバに出力する。
【０２９９】
第１条件とは、算出された撮像系光軸移動量が許容範囲内にあると判定されたとの条件を指す。第２条件とは、算出された射出系光軸移動量が許容範囲内にあると判定されたとの条件を指す。第３条件とは、算出された撮像系光軸移動量での光軸Ｐの移動を実現するための撮像系防振レンズ６６の移動が撮像系防振レンズ６６の可動範囲内で足りると判定されたとの条件を指す。第４条件とは、算出された射出系光軸移動量での光軸Ｌ１の移動を実現するための射出系防振レンズ３４の移動が射出系防振レンズ３４の可動範囲内での移動で足りると判定されたとの条件を指す。
【０３００】
ここで、撮像系光軸移動量の許容範囲とは、最終的に採用される撮像系光軸移動量の許容範囲として事前の実験やシミュレーション等により知得された許容範囲を指す。撮像系光軸移動量の許容範囲は、撮像ユニット６０４の構造及び画角変更部６５０の特性によって一意に定まる。また、射出系光軸移動量の許容範囲とは、最終的に採用される射出系光軸移動量の許容範囲として事前の実験やシミュレーション等により知得された許容範囲を指す。射出系光軸移動量の許容範囲は、測距ユニット１２の構造、特に、射出部２６の構造によって一意に定まる。
【０３０１】
また、撮像系防振レンズ６６の可動範囲とは、撮像系防振レンズ６６が上記第１実施形態で説明した撮像系二次元平面において移動可能な範囲を指す。撮像系防振レンズ６６の可動範囲は、本開示の技術に係る「第１抑制部が動作可能な範囲」の一例であり、像振れ抑制部６３の構造によって一意に定まる。射出系防振レンズ３４の可動範囲とは、射出系防振レンズ３４が上記第１実施形態で説明した射出系二次元平面において移動可能な範囲を指す。射出系防振レンズ３４の可動範囲は、本開示の技術に係る「第２抑制部が動作可能な範囲」の一例であり、レーザ振れ抑制部３３の構造によって一意に定まる。
【０３０２】
次に、測距装置１０Ｃの作用について、上記第１実施形態で説明した内容と異なる点を説明する。
【０３０３】
先ず、本第３実施形態に係る第１光学式抑制処理について図２０を参照して説明する。
【０３０４】
本第３実施形態に係る第１光学式抑制処理は、上記第１実施形態に係る第１光学式抑制処理（図１５参照）に比べ、ステップ５１２Ａの処理に代えてステップ６５０Ａ，６５２Ａの処理を有する点が異なる。
【０３０５】
本第３実施形態に係る第１光学式抑制処理では、ステップ６５０Ａで、移動量算出部１５６Ａ２は、ステップ５１０Ａの処理で算出された撮像系位置誤差から撮像系光軸移動量演算式を用いて撮像系光軸移動量を算出する。そして、移動量算出部１５６Ａ２は、算出した撮像系光軸移動量を、撮像系光軸移動量換算式を用いて、画角変更部６５０による画角の変更量に対応する撮像系光軸移動量に換算する。
【０３０６】
また、ステップ６５０Ａで、移動量算出部１５６Ｂ２は、ステップ５１０Ａの処理で算出された射出系位置誤差から射出系光軸移動量演算式を用いて射出系光軸移動量を算出する。そして、移動量算出部１５６Ｂ２は、上記第１実施形態で説明したステップ５１２Ａの処理と同様に、必要に応じて射出系光軸移動量を調整する。
【０３０７】
次のステップ６５２Ａで、移動量決定部１５８は、第１〜第４条件を満足したか否かを判定し、判定結果に基づいて第１〜第３出力処理の何れかを実行し、その後、第１光学式抑制処理を終了する。
【０３０８】
移動量決定部１５８は、第１条件及び第２条件のうちの少なくとも一方の条件が満足せず、かつ、第３条件及び第４条件を満足した場合に、第１出力処理を実行する。
【０３０９】
移動量決定部１５８によって第１出力処理が実行されると、撮像系応答性及びレーザ系応答性のうちの悪い方の応答性に対応する光軸移動量が変動機構ドライバに出力される。すなわち、悪い方の応答性が撮像系応答性である場合、移動量算出部１５６Ａ２により算出された撮像系光軸移動量が変動機構ドライバ９８，１００に出力される。また、悪い方の応答性がレーザ系応答性である場合、移動量算出部１５６Ｂ２により算出された射出系光軸移動量が変動機構ドライバ９８，１００に出力される。
【０３１０】
移動量決定部１５８は、第１条件及び第２条件を満足したか否かに拘わらず、第３条件及び第４条件の少なくとも一方を満足していない場合に、第２出力処理を実行する。
【０３１１】
移動量決定部１５８によって第２出力処理が実行されると、移動量算出部１５６Ａ２により算出された撮像系光軸移動量の許容範囲の上限値が変動機構ドライバ１００に出力される。また、移動量算出部１５６Ｂ２により算出された射出系光軸移動量の許容範囲の上限値が変動機構ドライバ９８に出力される。
【０３１２】
移動量決定部１５８は、第１〜第４条件の全てを満足した場合に、第３出力処理を実行する。移動量決定部１５８によって第３出力処理が実行されると、移動量算出部１５６Ａ２により算出された撮像系光軸移動量が変動機構ドライバ１００に出力される。また、移動量算出部１５６Ｂ２により算出された射出系光軸移動量が変動機構ドライバ９８に出力される。
【０３１３】
このように、ステップ６５２Ａの処理が実行されることにより撮像系光軸移動量が変動機構ドライバ１００に出力されると、変動機構ドライバ１００及び防振レンズ変動機構７０は、上記第１実施形態に係る第１光学式抑制処理が実行された場合と同様に動作する。また、ステップ６５２Ａの処理が実行されることにより射出系光軸移動量が変動機構ドライバ９８に出力されると、変動機構ドライバ９８及び防振レンズ変動機構３８は、上記第１実施形態に係る第１光学式抑制処理が実行された場合と同様に動作する。
【０３１４】
次に、本第３実施形態に係る第２光学式抑制処理について図２０を参照して説明する。
【０３１５】
本第３実施形態に係る第２光学式抑制処理は、上記第１実施形態に係る第２光学式抑制処理（図１５参照）に比べ、ステップ５１２Ｂの処理に代えてステップ６５０Ｂ，６５２Ｂの処理を有する点が異なる。
【０３１６】
次に、本第３実施形態に係る第２光学式抑制処理について図２０を参照して説明する。
【０３１７】
本第３実施形態に係る第２光学式抑制処理は、上記第１実施形態に係る第２光学式抑制処理（図１５参照）に比べ、ステップ５１２Ｂの処理に代えてステップ６５０Ｂ，６５２Ｂの処理を有する点が異なる。
【０３１８】
本第３実施形態に係る第２光学式抑制処理では、ステップ６５０Ｂで、移動量算出部１５６Ａ２は、ステップ５１０Ｂの処理で算出された撮像系位置誤差から撮像系光軸移動量演算式を用いて撮像系光軸移動量を算出する。そして、移動量算出部１５６Ａ２は、算出した撮像系光軸移動量を、撮像系光軸移動量換算式を用いて、画角変更部６５０による画角の変更量に対応する撮像系光軸移動量に換算する。
【０３１９】
次のステップ６５２Ｂで、移動量決定部１５８は、第１〜第４条件を満足したか否かを判定し、判定結果に基づいて第４〜第６出力処理の何れかを実行し、その後、第３光学式抑制処理を終了する。
【０３２０】
移動量決定部１５８は、第１条件及び第２条件のうちの少なくとも一方の条件が満足せず、かつ、第３条件及び第４条件を満足した場合に、第４出力処理を実行する。
【０３２１】
移動量決定部１５８によって第４出力処理が実行されると、移動量算出部１５６Ａ２により算出された撮像系光軸移動量が変動機構ドライバ１００に出力される。
【０３２２】
移動量決定部１５８は、第１条件及び第２条件を満足したか否かに拘わらず、第３条件及び第４条件の少なくとも一方を満足していない場合に、第５出力処理を実行する。
【０３２３】
移動量決定部１５８によって第５出力処理が実行されると、移動量算出部１５６Ａ２により算出された撮像系光軸移動量の許容範囲の上限値が変動機構ドライバ１００に出力される。
【０３２４】
移動量決定部１５８は、第１〜第４条件の全てを満足した場合に、第６出力処理を実行する。移動量決定部１５８によって第６出力処理が実行されると、移動量算出部１５６Ａ２により算出された撮像系光軸移動量が変動機構ドライバ１００に出力される。
【０３２５】
このように、ステップ６５２Ｂの処理が実行されることにより撮像系光軸移動量が変動機構ドライバ１００に出力されると、変動機構ドライバ１００及び防振レンズ変動機構７０は、上記第１実施形態に係る第２光学式抑制処理が実行された場合と同様に動作する。
【０３２６】
以上説明したように、測距装置１０Ｃでは、目標位置算出部１５３Ａにより、変位算出部１５２の算出結果を基に撮像系防振レンズ６６の目標位置が算出される。移動量算出部１５６Ａ２により、撮像系防振レンズ６６の目標位置、位置信号取得部１５４Ａ１により取得された撮像系位置信号、及び画角変更部６５０による画角の変更量に応じて、撮像系光軸移動量が算出される。そして、移動量算出部１５６Ａ２により算出された撮像系光軸移動量を基に防振レンズ変動機構７０が制御される。
【０３２７】
従って、測距装置１０Ｃは、画角の変更量が考慮されることなく撮像系光軸移動量が算出される場合に比べ、画角が変更されたとしても、ずれ現象を高精度に抑制することができる。
【０３２８】
また、測距装置１０Ｃでは、移動量決定部１５８により、第１〜第４条件が満足しているか否かの判定が行われ、判定結果に基づいて決定された光軸移動量が変動機構ドライバに出力される。
【０３２９】
従って、測距装置１０Ｃは、光軸移動量、許容範囲、及び可動範囲が考慮されることなく像振れ及びレーザ振れの抑制が行われる場合に比べ、像振れの抑制の度合いとレーザ振れの抑制の度合いとの乖離を抑制することができる。
【０３３０】
なお、上記第３実施形態では、光学ズーム機能を例に挙げて説明したが、本開示の技術はこれに限定されるものではなく、デジタルズーム機能であっても本開示の技術は成立する。
【０３３１】
また、上記第３実施形態では、目標位置算出部１５３Ａ，１５３Ｂを併用する場合を例示したが、本開示の技術はこれに限定されるものではなく、上記第２実施形態で説明したように、目標位置算出部１５３Ｂを用いなくても本開示の技術は成立する。
【０３３２】
この場合、ＲＯＭ１２４は、位置変動抑制プログラム１３０Ｃに代えて位置変動抑制プログラム１３０Ｄを記憶している。そして、ＣＰＵ１２０は、ＲＯＭ１２４から位置変動抑制プログラム１３０Ｄを読み出してＲＡＭ１２２に展開し、位置変動抑制プログラム１３０Ｄを実行することで、一例として図２１に示す制御部１５０Ｄとして動作する。
【０３３３】
一例として図２１に示すように、制御部１５０Ｄは、図１８に示す制御部１５０Ｃに比べ、目標位置算出部１５３Ｂを有しない点が異なる。また、制御部１５０Ｄは、図１８に示す制御部１５０Ｃに比べ、位置信号取得部１５４Ａ１に代えて、上記第２実施形態で説明した位置信号取得部１５４Ａ２を有する点が異なる。また、制御部１５０Ｄは、図１８に示す制御部１５０Ｃに比べ、位置誤差算出部１５５Ｂ１に代えて、上記第２実施形態で説明した位置誤差算出部１５５Ｂ２を有する点が異なる。よって、測距装置１０Ｃは、ＣＰＵ１２０を制御部１５０Ｄとして動作させることで、上記第２実施形態に係る測距装置１０Ｂと同様の効果を得ることができる。
【０３３４】
また、上記第３実施形態では、説明の便宜上、画角の変更に伴って画像内でのレーザ光の位置がずれる現象である画角変更時ずれ現象が発生しないことを前提として説明したが、画角変更時ずれ現象を抑制すべく測距装置１０Ｄを採用してもよい。
【０３３５】
一例として図２２に示すように、測距装置１０Ｄは、測距装置１０Ｃ（図１７参照）に比べ、撮像ユニット６０４に代えて撮像ユニット７００を有する点、及び処理装置６０６に代えて処理装置７０２を有する点が異なる。
【０３３６】
撮像ユニット７００は、撮像ユニット６０４に比べ、ズームレンズ傾斜機構７０４を有する点が異なる。処理装置７０２は、処理装置６０６に比べ、傾斜機構ドライバ７０６を有する点が異なる。
【０３３７】
ズームレンズ傾斜機構７０４は、動力源（図示省略）を備えており、動力源により生成された動力に従ってズームレンズ６３０を基準軸に対して傾斜させる。ここで、基準軸とは、例えば、手振れがない状態の光軸Ｐを指す。なお、ズームレンズ傾斜機構７０４に含まれる動力源の一例としては、ステッピングモータ等が挙げられるが、これに限らず、他種類のモータであってもよいし、ピエゾ素子であってもよい。
【０３３８】
傾斜機構ドライバ７０６は、バスライン１１４に接続されており、主制御部８０の指示に従ってズームレンズ傾斜機構７０４の動力源を制御してズームレンズ傾斜機構７０４を駆動させることで、ズームレンズ６３０を基準軸に対して傾斜させる。
【０３３９】
ＣＰＵ１２０は、ズームレンズ６３０を移動させて画角を変更した場合に、画角の変更量から傾斜角度導出テーブル（図示省略）を用いて、ズームレンズ６３０を基準軸に対して傾斜させる角度である傾斜角度を導出する。傾斜角度導出テーブルは、画角の変更量と傾斜角度とが対応付けられたテーブルである。傾斜角度導出テーブルが有する傾斜角度は、画像内でのレーザ光の照射位置が画角の変更の前後で保持される傾斜角度として事前に実験やシミュレーション等によって知得された傾斜角度である。
【０３４０】
なお、ＣＰＵ１２０は、傾斜角度導出テーブルに代えて、画角の変更量を独立変数とし、傾斜角度を従属変数とする傾斜角度算出演算式を用いて傾斜角度を算出してもよい。
【０３４１】
ＣＰＵ１２０は、傾斜角度導出テーブルを用いて導出した傾斜角度でズームレンズ６３０を傾斜させるように傾斜機構ドライバ７０６を制御することでズームレンズ傾斜機構７０４を駆動させる。この結果、ズームレンズ６３０は、傾斜角度導出テーブルから導出された傾斜角度で傾斜し、画像内でのレーザ光の照射位置が画角の変更の前後で保持される。
【０３４２】
従って、測距装置１０Ｄは、ズームレンズ６３０の移動に拘らず光軸Ｐとズームレンズ６３０との相対的な位置関係が固定化されている場合に比べ、画角変更時ずれ現象を抑制することができる。
【０３４３】
なお、図２２に示す例では、ズームレンズ６３０の傾きを変更することで画角変更時ずれ現象を抑制する例を挙げたが、これに限らず、画像処理部８２が主制御部８０の制御下で画像信号を加工することにより画角変更時ずれ現象を抑制するようにしてもよい。
【０３４４】
また、図２２には、像振れ抑制部６３及びレーザ振れ抑制部３３を有する測距装置１０Ｄが例示されているが、本開示の技術はこれに限定されるものではなく、例えば、図２３に示すように、測距装置１０Ｄに代えて測距装置１０Ｅを採用してもよい。
【０３４５】
一例として図２３に示すように、測距装置１０Ｅは、測距装置１０Ｄに比べ、撮像ユニット７００に代えて撮像ユニット７５０を有する点が異なる。また、測距装置１０Ｅは、測距装置１０Ｄに比べ、測距ユニット１２に代えて測距ユニット７５２を有する点が異なる。また、測距装置１０Ｅは、測距装置１０Ｄに比べ、処理装置７０２に代えて処理装置７５４を有する点が異なる。
【０３４６】
撮像ユニット７５０は、撮像ユニット７００に比べ、結像光学系６２６に代えて結像光学系７５５を有する点、像振れ抑制部６３に代えて撮像素子変動機構７５６を有する点、及び位置検出センサ７２に代えて位置検出センサ７５８を有する点が異なる。
【０３４７】
結像光学系７５５は、結像光学系６２６に比べ、撮像系防振レンズ６６を有しない点が異なる。
【０３４８】
撮像素子変動機構７５６は、動力源７５６Ａ及び第３動力伝達機構（図示省略）を備えている。動力源７５６Ａは、動力を生成する。第３動力伝達機構は、動力源７５６Ａにより生成された動力を受け、受けた動力を撮像素子６０に伝達することにより撮像素子二次元平面に沿って撮像素子６０を変動させる。撮像素子二次元平面とは、例えば、撮像素子６０の受光面に対して略平行な二次元平面を指す。
【０３４９】
なお、動力源７５６Ａの一例としては、撮像素子二次元平面に沿って伸縮するピエゾ素子が挙げられるが、本開示の技術はこれに限定されるものではなく、ボイスコイルモータ又はステッピングモータ等であってもよい。
【０３５０】
位置検出センサ７５８は、撮像素子６０の現在位置を検出し、検出した現在位置を示す撮像素子位置信号を出力する。ここで、撮像素子６０の現在位置とは、撮像素子二次元平面内の現在位置を指す。また、撮像素子位置信号は、上記第１実施形態で説明した撮像系位置信号に対応する信号である。
【０３５１】
測距ユニット７５２は、測距ユニット１２に比べ、射出部２６に代えて射出部７６０を有する点が異なる。射出部７６０は、射出部２６に比べ、射出光学系３２に代えて射出光学系７６１を有する点、レーザ振れ抑制部３３に代えてＬＤ変動機構７６２を有する点、及び位置検出センサ４０に代えて位置検出センサ７６４を有する点が異なる。なお、ＬＤ変動機構７６２は、本開示の技術に係る発光素子変動機構の一例である。
【０３５２】
射出光学系７６１は、射出光学系３２に比べ、射出系防振レンズ３４を有しない点が異なる。
【０３５３】
ＬＤ変動機構７６２は、動力源７６２Ａ及び第４動力伝達機構（図示省略）を備えている。動力源７６２Ａは、動力を生成する。第４動力伝達機構は、動力源７６２Ａにより生成された動力を受け、受けた動力をＬＤ３０に伝達することによりＬＤ二次元平面に沿ってＬＤ３０を変動させる。なお、ＬＤ二次元平面とは、例えば、ＬＤ３０のレーザ光の射出面に対して略平行な二次元平面を指す。
【０３５４】
なお、動力源７６２Ａの一例としては、ＬＤ二次元平面に沿って伸縮するピエゾ素子が挙げられるが、本開示の技術はこれに限定されるものではなく、ボイスコイルモータ又はステッピングモータ等であってもよい。
【０３５５】
位置検出センサ７６４は、ＬＤ３０の現在位置を検出し、検出した現在位置を示すＬＤ位置信号を出力する。ここで、ＬＤ３０の現在位置とは、ＬＤ二次元平面内の現在位置を指す。また、ＬＤ位置信号は、上記第１実施形態で説明した射出系位置信号に対応する信号である。
【０３５６】
処理装置７５４は、処理装置７０２に比べ、位置信号処理回路９６に代えて位置信号処理回路７７０を有する点、及び変動機構ドライバ１００に代えて変動機構ドライバ７７２を有する点が異なる。処理装置７５４は、処理装置７０２に比べ、位置信号処理回路９４に代えて位置信号処理回路７７４を有する点、及び変動機構ドライバ９８に代えて変動機構ドライバ７７６を有する点が異なる。
【０３５７】
位置信号処理回路７７０，７７４及び変動機構ドライバ７７２，７７６は、バスライン１１４に接続されている。
【０３５８】
位置信号処理回路７７０は、位置検出センサ７５８に接続されており、位置検出センサ７５８から入力された撮像素子位置信号を増幅し、増幅した撮像素子位置信号に対してＡ／Ｄ変換を行う。そして、位置信号処理回路７７０は、Ａ／Ｄ変換によりデジタル化されたＬＤ位置信号を主制御部８０に出力する。
【０３５９】
変動機構ドライバ７７２は、動力源７５６Ａに接続されており、主制御部８０の指示に従って、動力源７５６Ａを駆動させる。すなわち、変動機構ドライバ７７２は、主制御部８０から入力された撮像系光軸移動量を基に変動機構ドライバ７７２を制御して動力源７５６Ａを駆動させることにより、撮像素子６０を撮像素子二次元平面に沿って変動させる。
【０３６０】
位置信号処理回路７７４は、位置検出センサ７６４に接続されており、位置検出センサ７６４から入力されたＬＤ位置信号を増幅し、増幅したＬＤ位置信号に対してＡ／Ｄ変換を行う。そして、位置信号処理回路７７４は、Ａ／Ｄ変換によりデジタル化されたＬＤ位置信号を主制御部８０に出力する。
【０３６１】
変動機構ドライバ７７６は、動力源７６２Ａに接続されており、主制御部８０の指示に従って、動力源７６２Ａを駆動させる。すなわち、変動機構ドライバ７７６は、主制御部８０から入力された射出系光軸移動量を基に変動機構ドライバ７７６を制御して動力源７６２Ａを駆動させることにより、ＬＤ３０をＬＤ二次元平面に沿って変動させる。
【０３６２】
従って、測距装置１０Ｅは、像振れ抑制部６３を用いる場合に比べ、結像光学系７５５の設計の自由度に制限を加えることなく、ずれ現象を抑制することができる。また、測距装置１０Ｅは、レーザ振れ抑制部３３を用いる場合に比べ、射出光学系７６１の設計の自由度に制限を加えることなく、ずれ現象を抑制することができる。
【０３６３】
また、図２３に示す例では、射出部７６０がレーザ振れ抑制部３３を有していないが、本開示の技術はこれに限定されるものではなく、射出部７６０にレーザ振れ抑制部３３を設け、ＬＤ変動機構７６２を補助的に設けるようにしてもよい。
【０３６４】
また、図２３に示す例では、撮像素子変動機構７５６を動作させるのみならず、上記各実施形態で説明したように、撮像素子変動機構７５６の動作と並行して電子式抑制処理の実行も行われる。よって、測距装置１０Ｅでも、上記各実施形態と同様に、光軸Ｐの変動が画像に対して与える影響を像振れ抑制部６３のみで抑制する場合に比べ、ずれ現象を抑制した抑制結果の精度が抑制精度差に起因して低下することを抑制することができる。
【０３６５】
また、図２２には、電子ビューファインダ２２を有する測距装置１０Ｄが例示されているが、本開示の技術はこれに限定されるものではなく、例えば、図２４に示すように、測距装置１０Ｄに代えて測距装置１０Ｆを採用してもよい。
【０３６６】
一例として図２４に示すように、測距装置１０Ｆは、測距装置１０Ｄに比べ、電子ビューファインダ２２及びメモリカード２４を有しない点が異なる。また、測距装置１０Ｆは、測距装置１０Ｄに比べ、処理装置７０２に代えて処理装置８００を有する点が異なる。また、測距装置１０Ｆは、測距装置１０Ｄに比べ、受付デバイス６０８に代えて受付デバイス８０２を有する点が異なる。また、測距装置１０Ｆは、測距装置１０Ｄに比べ、撮像ユニット７００に代えてファインダユニット８０４を有する点が異なる。
【０３６７】
処理装置８００は、処理装置７０２に比べ、画像処理部８２、画像メモリ８４、表示制御部８８、撮像素子ドライバ１０４、画像信号処理回路１０６、及びメディアＩ／Ｆ１０８を有しない点が異なる。処理装置８００は、処理装置７０２に比べ、位置信号処理回路８１４及び変動機構ドライバ８１６を有する点が異なる。位置信号処理回路８１４及び変動機構ドライバ８１６はバスライン１１４に接続されており、主制御部８０によって制御される。なお、図２４には、説明の便宜上、傾斜機構ドライバ７０６及び変動機構ドライバ７７２が図示されていないが、例えば、処理装置８００は、傾斜機構ドライバ７０６及び変動機構ドライバ７７２を備えていてもよいし、備えていなくてもよい。
【０３６８】
受付デバイス８０２は、受付デバイス６０８に比べ、レリーズボタン２０Ｂ及び撮像系動作モード切替ボタン２０Ｄを有しない点が異なる。
【０３６９】
ファインダユニット８０４は、撮像ユニット７００に比べ、撮像素子６０に代えて観察光学系８０６を有する点が異なる。また、ファインダユニット８０４は、撮像ユニット７００に比べ、結像光学系６２６に代えて結像光学系８１３を有する点が異なる。
【０３７０】
結像光学系８１３は、結像光学系６２６に比べ、像振れ抑制部８０７を有する点が異なる。なお、図２４には、説明の便宜上、ズームレンズ６３０、ズームレンズ移動機構６２８、及びズームレンズ傾斜機構７０４が図示されていない。しかし、結像光学系８１３は、ズームレンズ６３０、ズームレンズ移動機構６２８、及びズームレンズ傾斜機構７０４を備えていてもよいし、備えていなくてもよい。
【０３７１】
像振れ抑制部８０７の基本構成は、像振れ抑制部６３と同様であり、像振れ抑制部８０７は、防振レンズ８０８及び防振レンズ変動機構８１０を有する。また、防振レンズ変動機構８１０は、動力源８１０Ａを有する。動力源８１０Ａは、変動機構ドライバ８１６に接続されており、主制御部８０の制御下で、変動機構ドライバ８１６の指示に従って駆動する。防振レンズ変動機構８１０には位置検出センサ８１２が設けられており、防振レンズ８０８の現在位置を示す位置信号を位置信号処理回路８１４に出力する。主制御部８０は、位置信号処理回路８１４を介して防振レンズ８０８の現在位置を把握する。そして、主制御部８０は、像振れ抑制部６３に対して行う制御と同様に、防振レンズ８０８の現在位置に基づいて変動機構ドライバ８１６を介して像振れ抑制部８０７を制御する。
【０３７２】
観察光学系８０６は、ユーザに被写体像を光学像として視認させる光学式ファインダ機能を実現する光学系である。観察光学系８０６は、接眼レンズ８０６Ａを有しており、接眼レンズ８０６Ａは、結像光学系６２６を通過した被写体光を被写体像として受光する。接眼レンズ８０６Ａにより受光された被写体光が示す被写体像は、接眼レンズ８０６Ａを介してユーザによって視認される。
【０３７３】
従って、測距装置１０Ｆは、像振れ抑制部６３，８０７を用いない場合に比べ、撮像素子６０に代えて観察光学系８０６が採用されたとしても、ずれ現象を抑制することができる。また、測距装置１０Ｆは、ファインダユニット８０４を用いない場合に比べ、簡易な構成で、ずれ現象が抑制された被写体像をユーザに視認させることができる。
【０３７４】
また、図２４に示す例では、観察光学系８０６のみを通して被写体像がユーザによって視認される場合を例示したが、本開示の技術はこれに限定されるものではない。例えば、電子ビューファインダ２２による電子式ファインダ機能と観察光学系８０６による光学式ファインダ機能とが切替スイッチ（図示省略）の操作に応じて選択的に使用されるようにしてもよい。この場合、例えば、ユーザによる切替スイッチの操作に応じて液晶シャッタ（図示省略）が遮光状態と非遮光状態とに切り替えられることにより、電子式ファインダ機能による電子像と光学式ファインダ機能による光学像とがユーザによって交互に視認される。
【０３７５】
また、図２３に示す例では、像振れ抑制部６３を有しない測距装置１０Ｅが示されているが、本開示の技術はこれに限定されるものではなく、一例として図２５に示す測距装置１０Ｇであってもよい。
【０３７６】
一例として図２５に示すように、測距装置１０Ｇは、測距装置１０Ｅに比べ、撮像ユニット７５０に代えて撮像ユニット９００を有する点、及び処理装置７５４に代えて処理装置９０２を有する点が異なる。
【０３７７】
撮像ユニット９００は、撮像ユニット７５０に比べ、像振れ抑制部６３を有する点が異なる。また、処理装置９０２は、処理装置７５４に比べ、位置信号処理回路９６及び変動機構ドライバ１００を有する点が異なる。
【０３７８】
主制御部８０は、静止画撮像モード下で、像振れ抑制部６３及び撮像素子変動機構７５６を同時に動作させ、かつ、画像処理部８２に対して電子式抑制処理を実行させない制御を、像振れ抑制部６３、撮像素子変動機構７５６、及び画像処理部８２に対して行う。また、主制御部８０は、動画撮像モード下で、像振れ抑制部６３の動作、撮像素子変動機構７５６の動作、及び電子式抑制処理の実行を同時に行わせる制御を像振れ抑制部６３、撮像素子変動機構７５６、及び画像処理部８２に対して行う。
【０３７９】
従って、測距装置１０Ｇは、撮像系の動作モードが如何なる動作モードであっても常に像振れ抑制部６３を動作させる場合に比べ、消費電力を抑制することができる。
【０３８０】
また、上記各実施形態では、ターゲットマークが表示されない場合を例示したが、本開示の技術はこれに限定されるものではなく、例えば、ライブビュー画像上で特定の被写体を追従するターゲットマークがライブビュー画像に重ねて表示されるようにしてもよい。
【０３８１】
また、上記各実施形態では、電子ビューファインダ２２に画像が表示される場合を例示したが、本開示の技術はこれに限定されるものではない。例えば、測距装置１０Ａに接続して使用される外部装置の表示部に画像が表示されるようにしてもよい。測距装置１０Ａに接続して使用される外部装置の表示部の一例としては、スマートデバイスの表示部、ＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ  Ｃｏｍｐｕｔｅｒ：パーソナル・コンピュータ）の表示部、又は眼鏡型若しくは腕時計型のウェアラブル端末装置の表示部が挙げられる。
【０３８２】
また、上記各実施形態では、実計測期間内に測距制御部８６により算出された距離がライブビュー画像に重ねて表示される場合を例示したが（図２６参照）、本開示の技術はこれに限定されるものではない。例えば、実計測期間内に測距制御部８６により算出された距離が電子ビューファインダ２２とは異なる表示部（例えば、液晶ディスプレイ）に表示されるようにしてもよい。表示部は、測距装置１０Ａに設けられている必要はなく、例えば、測距装置１０Ａに接続して使用される外部装置の表示部であってもよい。測距装置１０Ａに接続して使用される外部装置の一例としては、スマートデバイスの表示部、ＰＣの表示部、又は、眼鏡型若しくは腕時計型のウェアラブル端末装置の表示部が挙げられる。
【０３８３】
また、実計測期間内に測距制御部８６により算出された距離は、観察光学系８０６に重ねて設けられた透光性のディスプレイ（図示省略）に表示されるようにしてもよい。この場合、ユーザは、被写体像を視認しながら測距結果である距離を視覚的に認識することができる。
【０３８４】
また、距離を表示する表示態様は、可視表示に限定されるものではなく、音声再生装置により出力される音声による可聴表示であってもよいし、印刷物による永久可視表示であってもよいし、可視表示と可聴表示と永久可視表示とを２つ以上組み合わせてもよい。
【０３８５】
また、上記各実施形態では、受付デバイス２０が測距指示ボタン２０Ａとレリーズボタン２０Ｂを有する場合について説明したが、測距の開始の指示及び撮像の開始の指示が１つのボタンによって受け付けられるようにしてもよい。また、測距の開始の指示及び撮像の開始の指示は、測距装置１０Ａに接続して使用される外部装置の受付デバイスによって受け付けられるようにしてもよい。測距装置１０Ａに接続して使用される外部装置の一例としては、スマートデバイスの受付デバイス、ＰＣの受付デバイス、又は、眼鏡型若しくは腕時計型のウェアラブル端末装置の受付デバイスが挙げられる。
【０３８６】
また、上記各実施形態では、レリーズボタン２０Ｂが押下されることにより静止画像の撮像の指示及び動画像の撮像の指示が測距装置１０Ａに対して与えられる場合を例示したが、本開示の技術はこれに限定されるものではない。例えば、接眼検出部（図示省略）により電子ビューファインダ２２にユーザの眼部が近接したことが検知された場合に静止画像の撮像の指示及び動画像の撮像の指示が測距装置１０Ａに対して与えられるようにしてもよい。
【０３８７】
また、上記各実施形態では、手振れが原因で共通光軸が変動する場合を例示したが、共通光軸の変動の原因は、手振れに限定されるものではない。例えば、車両に測距装置１０Ａが搭載されている場合には、車両の振動が伝達されることにより共通光軸が変動することもある。また、測距装置１０Ａに接続して使用される外部装置（図示省略）から測距装置１０Ａに振動が伝達されることに起因して共通光軸が変動することもある。更に、測距装置１０Ａに搭載されている内部装置（例えば、モータ）が振動することに起因して共通光軸が変動することもある。
【０３８８】
また、上記各実施形態では、測距用の光としてレーザ光を例示しているが、本開示の技術はこれに限定されるものではなく、指向性のある光である指向性光であればよい。例えば、発光ダイオード（ＬＥＤ：Ｌｉｇｈｔ  Ｅｍｉｔｔｉｎｇ  Ｄｉｏｄｅ）やスーパールミネッセントダイオード（ＳＬＤ：Ｓｕｐｅｒ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ  Ｄｉｏｄｅ）により得られる指向性光であってもよい。指向性光が有する指向性は、レーザ光が有する指向性と同程度の指向性であることが好ましく、例えば、数メートルから数キロメートルの範囲内における測距で使用可能な指向性であることが好ましい。
【０３８９】
また、上記各実施形態では、各種プログラムをＲＯＭ１２４から読み出す場合を例示したが、必ずしも最初からＲＯＭ１２４に記憶させておく必要はない。例えば、図２７に示すように、測距装置１０Ａ，１０Ｂ，１０Ｃ，１０Ｄ，１０Ｅ，１０Ｆ，１０Ｇ（以下、「測距装置１０Ａ等」という）に接続されて使用されるＳＳＤ（Ｓｏｌｉｄ  Ｓｔａｔｅ  Ｄｒｉｖｅ）、ＵＳＢ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ  Ｓｅｒｉａｌ  Ｂｕｓ）メモリ、又は光磁気ディスクなどの任意の可搬型の記憶媒体９５０に先ずは静止画撮像プログラム１２６、動画撮像プログラム１２８、及び位置変動抑制プログラム１３０Ａ（１３０Ｂ，１３０Ｃ，１３０Ｄ）（以下、「プログラム」という）を記憶させておいてもよい。この場合、記憶媒体９５０に記憶されているプログラムが測距装置１０Ａ等にインストールされ、インストールされたプログラムが、ＣＰＵ１２０によって実行されるようにしてもよい。また、通信網（図示省略）を介して測距装置１０Ａに接続される他のコンピュータ又はサーバ装置等の記憶部にプログラムを記憶させておき、プログラムが測距装置１０Ａ等の要求に応じてダウンロードされるようにしてもよい。この場合、ダウンロードされたプログラムがＣＰＵ１２０によって実行される。
【０３９０】
また、上記各実施形態で説明した静止画撮像処理（図１１参照）、動画撮像処理（図１２参照）、及び位置変動抑制処理（図１３参照）はあくまでも一例である。従って、主旨を逸脱しない範囲内において不要なステップを削除したり、新たなステップを追加したり、処理順序を入れ替えたりしてもよいことは言うまでもない。また、静止画撮像処理、動画撮像処理、及び位置変動抑制処理に含まれる各処理は、ＡＳＩＣ等のハードウェア構成のみで実現されてもよいし、コンピュータを利用したソフトウェア構成とハードウェア構成との組み合わせで実現されてもよい。
【０３９１】
なお、２０１５年３月２０日に出願された日本国特許出願２０１５−０５７９１０号の開示は、その全体が参照により本明細書に取り込まれる。
【０３９２】
本明細書に記載された全ての文献、特許出願及び技術規格は、個々の文献、特許出願及び技術規格が参照により取り込まれることが具体的かつ個々に記された場合と同程度に、本明細書中に参照により取り込まれる。
【０３９３】
以上の実施形態に関し、更に以下の付記を開示する。
【０３９４】
（付記１）
被写体からの反射光を結像光学系を通して被写体像として受光する受光部と、
測距用の指向性光を発光する発光素子を有する射出部であって、指向性光を被写体に向けて射出する射出部と、
測距装置に与えられた変動を検出する検出部と、
結像光学系の光軸と指向性光の光軸とが共通する共通光路、共通光路から分流して反射光を受光部に導く反射光用光路、及び共通光路と合流して指向性光を共通光路に導く指向性光用光路を形成する光路形成部と、
共通光路と異なる箇所に設けられた複数の機構、及び被写体像加工部のうちの少なくとも２つ以上であり、受光部が受光した被写体像に対して結像光学系の光軸の変動が与える影響を検出部による検出結果に基づいて抑制する第１抑制部と、
共通光路と異なる箇所に設けられ、被写体に対する指向性光の光軸の変動を検出部による検出結果に基づいて抑制する第２抑制部と、
第１抑制部と第２抑制部とを同時に動作させる場合、受光部が受光した被写体像内における指向性光の照射位置の変動を抑制する制御を第１抑制部及び第２抑制部に対して行う制御部と、を含み、
第１抑制部は、反射光用光路に設けられた第１防振レンズと結像光学系の光軸の変動に応じて第１防振レンズを変動させる第１レンズ変動機構とによる第１防振レンズ機構、結像光学系の光軸の変動に応じて撮像素子を変動させる撮像素子変動機構、及び被写体像加工部から選択された２つ以上であり、
制御部は、撮像素子により静止画像が撮像される場合に、第１防振レンズ機構及び撮像素子変動機構が第１抑制部として動作し、撮像素子により動画像が撮像される場合に、第１防振レンズ変動機構及び撮像素子変動機構のうちの少なくとも１つと被写体像加工部とが第１抑制部として動作する制御を第１防振レンズ機構、撮像素子変動機構、及び被写体像加工部に対して行う測距装置。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【国際調査報告】
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