(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
カッティングの際のカッターの進行方向に対して前記カッターの切り込み位置を左方側および右方側に移動する移動手段を備えたカッティング装置における、前記カッターの刃先の前記進行方向における左方側および右方側へずれるずれ込みを検出する検出方法において、
ライン上において、一方側から他方側に移動する順方向で直線上にカッティングする第１のパターンと、前記第１のパターンと所定の間隔を空けて、前記ライン上において、他方側から一方側に移動する逆方向で直線上にカッティングを行う第２のパターンとにより構成されるテストパターンを作製して、カッターの刃先のずれ込みを検出する検出方法であって、
前記テストパターンは、
所定のライン上に、入力された情報に基づいて、予め設定された基準位置から前記カッターの切り込み位置をずらすことなく作製される基準テストパターンと、
前記基準テストパターンの左方側において、前記入力された情報に基づいて、前記カッターの切り込み位置を前記基準位置から左方側に所定量だけずらして作製される第１のテストパターンと、
前記基準テストパターンの右方側において、前記入力された情報に基づいて、前記カッターの切り込み位置を前記基準位置から右方側に所定量だけずらして作製される第２のテストパターンと
を有し、
前記第１のテストパターンおよび前記第２のテストパターンはそれぞれ複数作製され、前記基準テストパターンから離れるほど前記カッターの切り込み位置をずらす前記所定量が大きくなる
ことを特徴とする検出方法。
【請求項２】
カッティング装置における前記カッターの刃先のカッティングの際の前記カッターの進行方向における左方側あるいは右方側へずれるずれ込みを検出する検出装置において、
カッティングの際のカッターの進行方向に対して前記カッターの切り込み位置を左方側および右方側へ移動する移動手段と、
ライン上において、一方側から他方側に移動する順方向で直線上にカッティングする第１のパターンと、前記第１のパターンと所定の間隔を空けて、前記ライン上において、他方側から一方側に移動する逆方向で直線上にカッティングを行う第２のパターンとにより構成されるテストパターンを作製する作成手段と
を有し、
前記作成手段は、
所定のライン上に、入力された情報に基づいて、予め設定された基準位置から前記カッターの切り込み位置をずらすことなく基準テストパターンを作製し、
前記基準テストパターンの左方側において、前記入力された情報に基づいて、前記カッターの切り込み位置を前記基準位置から左方側に所定量だけずらした第１のテストパターンを、前記基準テストパターンから離れるほど前記カッターの切り込み位置をずらす前記所定量を大きくして複数作製し、
前記基準テストパターンの右方側において、前記入力された情報に基づいて、前記カッターの切り込み位置を前記基準位置から右方側に所定量だけずらした第２のテストパターンを、前記基準テストパターンから離れるほど前記カッターの切り込み位置をずらす前記所定量を大きくして複数作成する
ことを特徴とする検出装置。
【請求項３】
カッティングヘッドに把持されたカッターによりメディアを所定の形状にカッティングするカッティング装置において、
カッティングの際のカッターの進行方向における左方側および右方側に、前記カッターの切り込み位置を移動することが可能な移動手段と、
請求項１に記載の検出方法により、前記カッターの刃先の前記進行方向における左方側および右方側へずれるずれ込みを検出する検出手段と
を有することを特徴とするカッティング装置。
【請求項４】
請求項３に記載のカッティング装置において、さらに、
前記入力された情報に基づいて、前記カッターの刃先のずれ込みを補正する補正手段と
を有することを特徴とするカッティング装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検出方法および検出装置ならびにカッティング装置に関し、さらに詳細には、カッティング装置におけるカッターの刃先のずれ込みを検出する検出方法および検出装置ならびにカッティング装置に関する。
【０００２】
なお、本明細書において、「カッティング装置」とは、カッティング機能のみを備えたカッティング装置は勿論のこと、カッティング機能に加えて画像作成機能や各種の加工機能を備えたカッティング装置が含まれるものとする。
【背景技術】
【０００３】
従来より、例えば、上面にメディアを保持する平板状のテーブルと、テーブルに対して前後方向に移動するガイド部材に対し、左右方向に移動可能に配設されたカッティングヘッドとを備え、カッティングヘッドに取り付けられたカッターによりメディアを切断するフラットベッド型のカッティング装置が知られている。
【０００４】
このカッティング装置では、ガイド部材とカッティングヘッドとを移動するとともに、カッターをメディアに対して押付あるいは離隔することにより、メディアを所望の形状にカッティングする。
【０００５】
ところで、メディアをカッティングするカッターは、使用を継続しているとカッターの刃先に摩耗や欠けなどの劣化が生じてしまう。
【０００６】
このように、カッターの刃先が劣化してしまうと、カッターがメディアに切り込む際に、その刃先が徐々に進行方向の左方側あるいは右方側のいずれかにずれ込んでしまっていた。
【０００７】
これにより、カッティングの際には、実際にメディアに対してカッターが入る切り込み位置が、カッティングデータに基づいて算出された切り込み位置よりも、カッターの進行方向の左方側あるいは右方側にずれてしまい、例えば、カッティングしたい図柄に切り込み線がかかってしまったり、カッティングの始点と終点とがずれてしまうなど、カッターの切り込み位置のずれに起因するカット精度の低下が生じてしまっていた。
【０００８】
具体的には、カッターは、図１（ａ）（ｂ）に示すように、その刃先と中心軸とが一致するように形成されている。
【０００９】
しかしながら、カッターの刃先が劣化すると、例えば、刃先が中心軸からずれてしまっていた（図１（ｃ）を参照する。）。
【００１０】
こうした劣化した刃先のカッターを用いてカッティングを行うと、図１（ｄ）に示すように、カッティングして切り抜きたい図柄部分に、カッターによる切り込み線がかかってしまっていた。
【００１１】
なお、こうしてカット精度が低下すると、ユーザーの判断によりカッターを交換するが、カッティングヘッドに把持するカッターは高価であり、カッターの交換頻度が上がるとコスト高を招来してしまっていた。
【００１２】
このため、カッターの交換頻度を抑制するために、カッターの刃先の進行方向に対する左方側あるいは右方側へのずれ（以下、「進行方向に対する左方側あるいは右方側へのずれ」を、単に「ずれ込み」と適宜に称する。）を検出し、検出したずれ込みに基づいてカッターの切り込み位置を補正した後に、カッティングを行うことが考えられる。
【００１３】
しかしながら、ずれ込みを容易に検出することが可能な検出方法は未だ確立されておらず、こうした検出方法の提案が望まれていた。
【００１４】
なお、本願出願人が特許出願のときに知っている先行技術は、文献公知発明に係る発明ではないため、本願明細書に記載すべき先行技術文献情報はない。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
本発明は、従来の技術の有する上記したような要望に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、カッターの刃先のずれ込みを容易に検出することが可能な検出方法および検出装置を提供しようとするものである。
【００１６】
また、本発明の目的とするところは、上記検出方法によりカッターの刃先のずれ込みを検出するカッティング装置を提供しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
上記目的を達成するために、本発明による検出方法は、カッティングの際のカッターの進行方向に対して上記カッターの切り込み位置を左方側および右方側に移動する移動手段を備えたカッティング装置における、上記カッターの刃先の上記進行方向における左方側および右方側へずれるずれ込みを検出する検出方法であって、ライン上において、一方側から他方側に移動する順方向で直線上にカッティングする第１のパターンと、上記第１のパターンと所定の間隔を空けて、上記ライン上において、他方側から一方側に移動する逆方向で直線上にカッティングを行う第２のパターンとにより構成されるテストパターンを作製して、カッターの刃先のずれ込みを検出するようにしたものである。
【００１８】
また、本発明による検出方法は、上記した検出方法において、上記テストパターンは、所定のライン上に、予め設定された基準位置から上記カッターの切り込み位置をずらすことなく作製される基準テストパターンと、上記基準テストパターンの左方側において、上記カッターの切り込み位置を上記基準位置から左方側にずらして作製される第１のテストパターンと、上記基準テストパターンの右方側において、上記カッターの切り込み位置を上記基準位置から右方側にずらして作製される第２のテストパターンとを有し、上記第１のテストパターンおよび上記第２のテストパターンはそれぞれ複数作製され、上記基準テストパターンから離れるほど上記カッターの切り込み位置をずらす量が大きくなるようにしたものである。
【００１９】
また、本発明による検出方法は、上記した検出方法において、上記テストパターンは、入力された情報に基づいて、予め設定された基準位置から上記カッターの切り込み位置を所定の方向に所定量だけずらして作製されるようにしたものである。
【００２０】
また、本発明による検出装置は、カッティング装置における上記カッターの刃先のカッティングの際の上記カッターの進行方向における左方側あるいは右方側へずれるずれ込みを検出する検出装置であって、カッティングの際のカッターの進行方向に対して上記カッターの切り込み位置を左方側および右方側へ移動する移動手段と、ライン上において、一方側から他方側に移動する順方向で直線上にカッティングする第１のパターンと、上記第１のパターンと所定の間隔を空けて、上記ライン上において、他方側から一方側に移動する逆方向で直線上にカッティングを行う第２のパターンとにより構成されるテストパターンを作製する作成手段とを有するようにしたものである。
【００２１】
また、本発明による検出装置は、上記した検出装置において、上記作成手段は、所定のライン上に、予め設定された基準位置から上記カッターの切り込み位置をずらすことなく基準テストパターンを作製し、上記基準テストパターンの左方側において、上記カッターの切り込み位置を上記基準位置から左方側にずらした第１のテストパターンを、上記基準テストパターンから離れるほど上記カッターの切り込み位置をずらす量を大きくして複数作製し、上記基準テストパターンの右方側において、上記カッターの切り込み位置を上記基準位置から右方側にずらした第２のテストパターンを、上記基準テストパターンから離れるほど上記カッターの切り込み位置をずらす量を大きくして複数作成するようにしたものである。
【００２２】
また、本発明による検出装置は、上記した検出装置において、上記作成手段は、入力された情報に基づいて、予め設定された基準位置から上記カッターの切り込み位置を所定の方向に所定量だけずらして上記テストパターンを作製するようにしたものである。
【００２３】
また、本発明によるカッティング装置は、カッティングヘッドに把持されたカッターによりメディアを所定の形状にカッティングするカッティング装置において、カッティングの際のカッターの進行方向における左方側および右方側に、上記カッターの切り込み位置を移動することが可能な移動手段と、請求項１、２または３のいずれか１項に記載の検出方法により、上記カッターの刃先の上記進行方向における左方側および右方側へずれるずれ込みを検出する検出手段とを有するようにしたものである。
【００２４】
また、本発明によるカッティング装置は、上記したカッティング装置において、さらに、入力された情報に基づいて、上記カッターの刃先のずれ込みを補正する補正手段とを有するようにしたものである。
【発明の効果】
【００２５】
本発明は、以上説明したように構成されているので、カッターの刃先が、カッターの進行方向に対する左方側あるいは右方側のどちらの側に、どの程度ずれ込んでいるのかという情報を容易に検出することができるという優れた効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】図１（ａ）は、カッティングヘッドに把持するカッターの刃先の正面説明図であり、また、図１（ｂ）は、図１（ａ）のＡ矢視図であり、また、図１（ｃ）は、劣化前後のカッターの刃先の中心軸に対するずれ込みを説明する説明図であり、また、図１（ｄ）は、刃先が劣化によりずれ込んだカッターを用いてカッティングを行い、切り込み線が図柄部分にかかった状態を示す説明図である。
【図２】図２は、本発明による検出方法を実行するカッティング装置１０の概略構成斜視説明図である。
【図３】図３（ａ）は、カッターの刃先のずれ込みを検出するためのテストパターンを示す説明図であり、また、図３（ｂ）は、カッターの刃先がカッターの中心軸と一致する際に作製された複数のテストパターンを示す説明図であり、また、図３（ｃ）は、カッターの刃先がカッターの中心軸より左方側に３ドットだけずれていた際に作製された複数のテストパターンを示す説明図であり、また、図３（ｄ）は、カッターの刃先がカッターの中心軸より右方側に２ドットだけずれていた際に作製された複数のテストパターンを示す説明図である。
【図４】図４は、検出処理の処理ルーチンを示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２７】
以下、添付の図面を参照しながら、本発明による検出方法および検出装置ならびにカッティング装置の実施の形態の一例を詳細に説明することとする。
【００２８】
図２には、本発明による検出方法を実行するカッティング機能を備えたインクジェットプリンタの概略構成斜視説明図が示されている。
【００２９】
この図２に示すカッティング装置１０は、所謂、フラットベッド型のカッティング装置である。
【００３０】
即ち、固定系のベース部材１２上には、上面にメディアＭを保持可能な平板状のテーブル１４が配設されている。
【００３１】
そして、ベース部材１２におけるテーブル１４のＸＹＺ直交座標系のＸ軸方向の両端部には、Ｙ軸方向に延長して一対のレール１６が配設されている。
【００３２】
このレール１６上には移動自在にガイドレール１８が配設され、このガイドレール１８は、Ｘ軸方向に延長した形状を備えるとともに、両端部がレール１６上にそれぞれ配設されてＺ軸方向に立ち上がり形成されてなる門型形状となっている。
【００３３】
ガイドレール１８には、Ｘ軸方向に移動自在にカッティングヘッド２０が配設されるとともに、カッティングヘッド２０と着脱可能な構成のインクヘッド２２が、Ｘ軸方向に移動自在に配設されている。
【００３４】
なお、こうしたカッティング装置１０の全体の動作は、マイクロコンピューター３０により制御される。
【００３５】
また、カッティングヘッド２０は、カッターホルダー（図示せず。）を介してカッター（図示せず。）を把持可能な構成となっている。カッターホルダーに把持されたカッターは、Ｚ軸周りに３６０°回転自在であり、所定の角度に回転して切り込み方向（つまり、カッティングの際のカッターの進行方向である。）を変更することが可能である。
【００３６】
さらに、カッティングヘッド２０は、把持したカッターの切り込み位置を、カッターの進行方向の左方側および右方側にドット単位で移動することが可能な移動機構を備えている。
【００３７】
なお、本明細書において「ドット」とは、カッターの切り込み位置を進行方向の左方側および右方側に移動する際の最小単位として設定されている単位であって、例えば、０．０２５ｍｍとする。
【００３８】
ここで、カッティング装置１０は、カッティングヘッド２０に把持されるカッターの刃先のずれ込みを検出する際の制御方法のみが従来の技術とは異なり、その他の構成および制御方法については、従来より公知の技術を適用することができる。
【００３９】
従って、以下の説明においては、カッターの刃先のずれ込みを検出する際の検出処理についてのみ詳細に説明するものとして、従来より公知の技術を適用できるその他の構成ならびに制御に関する詳細な説明は省略する。
マイクロコンピューター３０は、印刷データやカッティングデータなどの各種の情報に基づいて、インクヘッド２２やカッティングヘッド２０などの構成部材に対して、印刷やカッティングなどの従来より公知の技術による制御を行う制御部３２を備えるとともに、印刷データ、カッティングデータ、テストパターンデータなどの各種の情報を記憶する記憶部３４を備えている。
【００４０】
また、マイクロコンピューター３０は、カッティングヘッド２０を制御して、テストパターンを作製するテストパターン作製制御部３６を備えている。
【００４１】
このテストパターン作製制御部３６は、記憶部３４に記憶されたテストパターンに基づいて、テスト用のメディア上にテストパターンを作製する。
【００４２】
テストパターンは、所定のライン上において、一方側から他方側に移動する順方向で直線状にカッティングする第１のパターンと、他方側から一方側に移動する逆方向で直線状にカッティングする第２のパターンとから構成されている（図３（ａ）を参照する。）。なお、第２のパターンは、第１のパターンと所定の間隔を空けて形成される。
【００４３】
そして、テストパターン作製制御部３６では、カッターの切り込み位置をずらさずに基準となるテストパターン（以下、「基準テストパターン」と適宜に称する。）を作製するとともに、カッターの切り込み位置を１ドットずつずらしたテストパターンを作製する。
【００４４】
カッターの切り込み位置を１ドットずつずらしたテストパターンは、基準テストパターンの左方側に第１のテストパターン、基準テストパターンの右方側に第２のテストパターンが作製される。
【００４５】
第１のテストパターンおよび第２のテストパターンはそれぞれ、ｎ（ｎは予め設定された自然数である。）個作製され、作製された第１のテストターンおよび第２のテストパターンの近傍にはそれぞれ、インクヘッド２２により、ずらし量（つまり、カッターの切り込み位置をずらした量である。）およびずらした方向が認識可能な符号が付される（図３（ｂ）（ｃ）（ｄ）を参照する。
【００４６】
テストパターンに付される符号は、基準テストパターンには「０」が付され、左方側に位置する第１のテストパターンには、例えば、左方側を意味する「−（マイナス）」と、ずらし量を意味する数値が付される。また、右方側に位置する第２のテストパターンには、例えば、右方側を意味する「＋（プラス）」と、ずらし量を意味する数値が付される。
【００４７】
そして、第１のテストパターンでは、カッターの切り込み位置を、カッターの進行方向の左方側にずらすが、その量は、基準テストパターンから離れるほど１ドットずつ大きくなる。即ち、基準テストパターンの左隣に形成されるテストパターン（図３（ｂ）における「−１」の符号が付されたテストパターンである。）では、カッターの切り込み位置を１ドット左方側に意図的にずらし、基準テストパターンの左方側において３つ離れた位置に形成されるテストパターン（図３（ｂ）における「−３」の符号が付されたテストパターンである。）では、カッターの切り込み位置を３ドット左方側にずらす。
【００４８】
また、第２のテストパターンでは、カッターの切り込み位置を、カッターの進行方向の右方側にずらすが、その量は、基準テストパターンから離れるほど１ドットずつ大きくなる。即ち、基準テストパターンの右方側において２つ離れた位置に形成されるテストパターン（図３（ｂ）における「＋２」の符号が付されたテストパターンである。）では、カッターの切り込み位置を２ドット右方側に意図的にずらし、基準テストパターンの右方側において４つ離れた位置に形成されるテストパターン（図３（ｂ）における「＋４」の符号が付されたテストパターンである。）では、カッターの切り込み位置を４ドット右方側にずらす。
【００４９】
より詳細には、カッターの切り込み位置をずらさずに作製する基準テストパターンでは、予めその作製位置が設定されている所定のライン上にテストパターンを作製するようにする。このとき、まず、カッターの切り込み位置を基準位置（つまり、予め設定された位置である。）としたまま、カッターを順方向で移動しながら第１のパターンを作製する。その後、第１のパターンと所定の間隔を空けて、カッターを逆方向で移動しながら第２のパターンを作製する。
【００５０】
このとき、カッターの刃先に劣化が生じておらず、カッターの刃先がカッターの中心軸と一致する場合には、基準テストパターンを表す「０」のテストパターンにおいて、第１のパターンと第２のパターンとは所定のライン上、つまり、同一直線上に形成される（図３（ｂ）を参照する。）。
【００５１】
また、カッターの切り込み位置を右方側にｍ（ｍは正の整数）ドットずつずらして作製する第２のテストパターンでは、基準テストパターンを作製するための所定のラインから、右方側にｍｔ（ｔは予め設定された値である。）だけ間隔を空けたライン上にテストパターンを作製するようにする。このとき、まず、基準位置からカッターの進行方向（つまり、順方向である。）の右方側にカッターの切り込み位置をｍドットだけずらし、カッターを順方向で移動しながら第１のパターンを作製する。次に、カッターの切り込み位置を基準位置に戻し、再度、基準位置からカッターの進行方向（つまり、逆方向である。）の右方側にカッターの切り込み位置をｍドットだけずらし、第１のパターンと所定の間隔を空けて、カッターを逆方向で移動しながら第２のパターンを作製する。
【００５２】
なお、このとき、カッターの刃先に劣化が生じておらず、カッターの刃先がカッターの中心軸と一致する場合には、例えば、図３（ｂ）に示すテストパターンのように形成される。
【００５３】
さらに、カッターの切り込み位置を左方側にｍ（ｍは正の整数）ドットずつずらして作製する第１のテストパターンでは、基準テストパターンを作製するための所定のラインから、左方側にｍｔだけ間隔を空けたライン上にテストパターンを作製するようにする。このとき、まず、基準位置からカッターの進行方向（つまり、順方向である。）の左方側にカッターの切り込み位置をｍドットだけずらし、カッターを順方向で移動しながら第１のパターンを作製する。次に、カッターの切り込み位置を基準位置に戻し、再度、基準位置からカッターの進行方向（つまり、逆方向である。）の左方側にカッターの切り込み位置をｍドットだけずらし、第１のパターンと所定の間隔を空けて、カッターを逆方向で移動しながら第２のパターンを作製する。
【００５４】
なお、このとき、カッターの刃先に劣化が生じておらず、カッターの刃先がカッターの中心軸と一致する場合には、例えば、図３（ｂ）に示すテストパターンのように形成される。
【００５５】
以上の構成において、ユーザーが、テーブル１４の上面にテスト用のメディアＭを保持させ、図示しない操作子によりカッターの刃先のずれ込みの検出を指示すると、マイクロコンピューター３０により、検出処理が開始される。
【００５６】
ここで、図４のフローチャートには、検出処理の詳細な処理内容が示されている。
【００５７】
この図４に示す検出処理では、まず、カッターの切り込み位置をずらさずに基準テストパターンを作製する（ステップＳ４０２）。
【００５８】
即ち、このステップＳ４０２の処理では、基準テストパターンのカッティングを行うとともに、カッティングにより作製した基準テストパターンの下方側にインクヘッド２２により「０」を印刷する。
【００５９】
次に、ｑ＝１とし（ステップＳ４０４）、「＋ｑ」の符号が付される第２のテストパターンを作製する（ステップＳ４０６）。
【００６０】
即ち、このステップＳ４０６の処理では、基準テストパターンの右方側において、カッターの切り込み位置を右方側に「ｑ」ドットずらしたテストパターンを作製する。このとき、作製したテストパターンの下方側にインクヘッド２２により「＋ｑ」を印刷する。
【００６１】
その後、ｑはｎと一致するか否かの判断を行う（ステップＳ４０８）。
【００６２】
即ち、このステップＳ４０８の判断処理では、「ｑ」が予め設定されている基準テストパターンの左右に作製するテストパターンの数「ｎ」と一致するか否かの判断を行う。
【００６３】
このステップＳ４０８の判断処理において、ｑがｎと一致しないと判断されると、ｑをインクリメントして（ステップＳ４１０）、ステップＳ４０６の処理に戻る。
【００６４】
一方、ステップＳ４０８の判断処理において、ｑがｎと一致すると判断されると、再度ｑ＝１とし（ステップＳ４１２）、その後、「−ｑ」の符号が付される第１のテストパターンを作製する（ステップＳ４１４）。
【００６５】
即ち、このステップＳ４１４の処理では、基準テストパターンの左方側において、カッターの切り込み位置を左方側に「ｑ」ドットずらしたテストパターンを作製する。このとき、作製したテストパターンの下方側にインクヘッド２２により「−ｑ」を印刷する。
【００６６】
その後、ｑはｎと一致するか否かの判断を行う（ステップＳ４１６）。
【００６７】
即ち、このステップＳ４１６の判断処理では、ステップＳ４０８の判断処理と同様にして判断が行われる。
【００６８】
ステップＳ４１６の判断処理において、ｑがｎと一致しないと判断されると、ｑをインクリメントして（ステップＳ４１８）、ステップＳ４１２の処理に戻る。
【００６９】
一方、ステップＳ４１６の判断処理において、ｑがｎと一致すると判断されると、検出処理を終了する。
【００７０】
ところで、こうして作製されたテストパターンでは、カッターの刃先に劣化が生じておらず、カッターの刃先がその中心軸と一致する場合には、図３（ｂ）に示すように、基準テストパターン「０」において、第１のパターンと第２のパターンとが同一直線上に位置する。
【００７１】
しかしながら、カッターの刃先に劣化が生じた場合には、第１のパターンと第２のパターンとが同一直線に位置するテストパターンが、基準テストパターンではなくなる。
【００７２】
具体的には、例えば、カッターの刃先に劣化が生じ、カッターの刃先がカッターの中心軸よりも左方側に３ドットだけずれている場合には、検出処理により作製される複数のテストパターンは、図３（ｃ）に示すようになる。
【００７３】
このとき、ユーザーは、作製された複数のテストパターンから、第１のパターンと第２のパターンとが同一直線上に位置するテストパターンに付された符号が「＋３」であることを確認して、このテストパターンを作製したカッターの刃先のずれ込みを補正するためには、「＋」により示される右方側に、「３」により示される３ドットだけカッターの切り込み位置をずらす必要があることを確認することができる。
【００７４】
同様に、例えば、カッターの刃先に劣化が生じ、カッターの刃先がカッターの中心軸よりも右方側に２トッドだけずれている場合には、検出処理により作製される複数のテストパターンは、図３（ｄ）に示すようになる。
【００７５】
このとき、ユーザーは、作製された複数のテストパターンから、第１のパターンと第２のパターンとが同一直線上に位置するテストパターンに付された符号が「−２」であることを確認して、このテストパターンを作製したカッターの刃先のずれ込みを補正するためには、「−」により示される左方側に、「２」により示される２ドットだけカッターの切り込み位置をずらす必要があることを確認することができる。
【００７６】
なお、図３（ｂ）（ｃ）（ｄ）については、カッターの切り込み位置をずらす単位のドットや各テストパターンにおける中心軸となるラインを記載しているが、これは、本明細書において第１のパターンと第２のパターンとのずれを明確にするためであり、実際に検出処理により作製されるテストパターンでは、こうしたドットやラインの印刷あるいはカッティングはなされない。
【００７７】
以上において説明したように、本発明による検出方法を実行するカッティング装置１０は、カッターの刃先の劣化により生じた、カッターの刃先のずれ込みを検出するために、所定のライン上に、カッターを順方向で移動して形成した第１のパターンと、カッターを逆方向で移動して形成した第２のパターンとによりテストパターンを作製するようにした。
【００７８】
そして、カッターの切り込み位置をずらすことなく作製した基準テストパターンを中心として、左方側には、カッターの切り込み位置の左方側へのずらし量の異なる複数のテストパターンを作製するとともに、右方側には、カッターの切り込み位置の右方側へのずらし量の異なる複数のテストパターンを作製するようにした。
【００７９】
これにより、本発明による検出方法を実行するカッティング装置１０では、カッターの刃先が、カッターの進行方向のどちら側に、どの程度ずれ込んでいるのかを、ユーザーが容易に認識することができるようになる。
【００８０】
このため、本発明による検出方法を利用すれば、カッターの切り込み位置を適正に補正することが可能となる。
【００８１】
なお、上記した実施の形態は、以下の（１）乃至（４）に示すように変形するようにしてもよい。
【００８２】
（１）上記した実施の形態においては、テストパターン作製制御部３６により、基準テストパターンを中心として、右方側に第２のテストパターンを作製し、左方側に第１のテストパターンとを作製し、各テストパターンの近傍にずらし量およびずらした方向が認識可能な符号を付すようにしたが、これに限られるものではないことは勿論である。
【００８３】
即ち、ユーザーから操作子などを介して、カッターの切り込み位置のずらし量（ドット単位）およびずらす方向（例えば、左方側を「−」、右方側を「＋」とする。）が入力されると、テストパターン作製制御部３６では、入力されたずらし量および入力されたずらす方向に基づいて、テストパターンを作製するようにしてもよい。
【００８４】
なお、この場合には、例えば、ずらし量をドット単位で入力するとともに、ずらす方向については、左方側を「−」、右方側を「＋」として入力する。
【００８５】
具体的には、ずらし量およびずらす方向が入力されると、カッターの切り込み位置を、その進行方向における入力方向に、入力量だけずらし、カッターを順方向で移動しながら第１のパターンを作製する。次に、カッターの切り込み位置を基準位置まで戻し、再度、カッターの切り込み位置を、その進行方向における入力方向に、入力量だけずらし、第１のパターンと所定の間隔を空けて、カッターを逆方向で移動しながら第２のパターンを作製する。
【００８６】
ユーザーは、こうして１つのテストパターンを作製し、作製したテストパターンを確認して、作製されたテストパターンにおいて、第１のパターンと第２のパターンとが同一直線上に位置する否かの確認を行う。
【００８７】
そして、作製されたテストパターンにおいて、第１のパターンと第２のパターンとが同一直線上に位置することが確認されると、ユーザーは、入力したカッターの切り込み位置のずらし量およびずらす方向から、カッターの刃先が、カッターの進行方向のどちら側に、どの程度ずれ込んでいるのかを認識することができるようになる。
【００８８】
また、作製されたテストパターンにおいて、第１のパターンと第２のパターンとが同一直線上に位置しないと確認されると、ユーザーは、作製されたテストパターンおよび当該テストパターンを作製する際に入力した情報に基づいて、新たに入力するカッターの切り込み位置のずらし量およびずらす方向を決定し、こうした情報を入力して、再度、テストパターンを作製する。
【００８９】
なお、この場合、テストパターンの近傍にインクヘッド２２により、ずらし量およびずらした方向が認識可能な符号を付さなくてもよい。
【００９０】
これのため、こうした検出方法は、インクヘッド２２などの画像作成機能を備えていないカッティング装置において用いて好適である。
【００９１】
（２）上記した実施の形態においては、本発明による検出方法を、フラットベッド型のカッティング装置において実行する場合について説明したが、これに限られるものではないことは勿論であり、本発明による検出方法を、ペーパームーブ型のカッティング装置において実行するようにしてもよい。
【００９２】
（３）上記した実施の形態においては、特に記載しなかったが、カッティング装置１０は、検出処理で作製された複数のテストパターンで確認したカッターの刃先のずれ込みを補正するための情報をユーザーが入力可能な構成とし、入力された情報に基づいてカッターの刃先のずれ込みを補正してカッティングがなされるようにしてもよい。
【００９３】
（４）上記した実施の形態ならびに上記した（１）および（３）に示す変形例は、適宜に組み合わせるようにしてもよい。
【産業上の利用可能性】
【００９４】
本発明は、メディアに対して所定のカッティングを施すカッティング装置に用いて好適である。
【符号の説明】
【００９５】
１０  カッティング装置、１２  ベース部材、１４  テーブル、１８  ガイドレール、２０  カッティングヘッド、２２  インクヘッド、３０  マイクロコンピューター、３２  制御部、３４  記憶部、３６  テストパターン作製制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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