(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
グリッドを用いた撮影により取得された、前記グリッドに起因する周期的パターンを含む放射線画像に対して周波数解析を行って、前記放射線画像の周波数スペクトルを取得する周波数解析手段と、
前記周波数スペクトルに含まれるピークの幅を計測し、該ピークの幅をしきい値と比較し、該ピークの幅が前記しきい値以上の場合に不良、前記しきい値未満の場合に良好と判定することにより、前記グリッドの品質を判定する判定手段とを備えたことを特徴とするグリッド品質判定装置。
【請求項２】
前記周波数スペクトルにおける処理対象となるピークを決定するピーク決定手段をさらに備え、
前記判定手段は、前記処理対象となるピークの幅を計測し、該計測された処理対象となるピークの幅を前記しきい値と比較し、該処理対象となるピークの幅が前記しきい値以上の場合に不良、前記しきい値未満の場合に良好と判定することにより、前記グリッドの品質を判定する請求項１記載のグリッド品質判定装置。
【請求項３】
前記周波数解析手段は、前記放射線画像を複数の領域に分割し、該複数の領域のそれぞれにおいて前記周波数スペクトルを取得し、
前記判定手段は、前記複数の領域のそれぞれにおいて前記ピークの幅を計測し、前記複数の領域のそれぞれにおける前記計測されたピークの幅を前記しきい値と比較し、該ピークの幅が前記しきい値以上の場合に不良、前記しきい値未満の場合に良好と判定することにより、前記複数の領域のそれぞれにおける前記グリッドの品質を判定する請求項１記載のグリッド品質判定装置。
【請求項４】
前記周波数解析手段は、前記放射線画像を複数の領域に分割し、該複数の領域のそれぞれにおいて前記周波数スペクトルを取得し、
前記ピーク決定手段は、前記複数の領域のそれぞれにおいて前記処理対象となるピークを決定し、
前記判定手段は、前記複数の領域のそれぞれにおいて前記処理対象となるピークの幅を計測し、前記複数の領域のそれぞれにおける前記計測された処理対象となるピークの幅を前記しきい値と比較し、該処理対象となるピークの幅が前記しきい値以上の場合に不良、前記しきい値未満の場合に良好と判定することにより、前記複数の領域のそれぞれにおける前記グリッドの品質を判定する請求項２記載のグリッド品質判定装置。
【請求項５】
前記グリッドの密度および前記放射線画像のナイキスト周波数に基づいて発生する少なくとも１つの高調波の周波数を算出する高調波周波数算出手段をさらに備え、
前記判定手段は、前記周波数スペクトルにおけるピークの周波数と前記少なくとも１つの高調波の周波数とを比較し、前記高調波の周波数とは異なる周波数における前記ピークの有無にも基づいて、前記グリッドの品質を判定する請求項１から４のいずれか１項記載のグリッド品質判定装置。
【請求項６】
前記周波数解析手段は、前記放射線画像を複数の領域に分割し、該複数の領域のそれぞれにおいて前記周波数スペクトルを取得し、
前記高調波周波数算出手段は、前記複数の領域のそれぞれにおいて前記少なくとも１つの高調波の周波数を算出し、
前記判定手段は、前記複数の領域のそれぞれにおいて、前記周波数スペクトルにおけるピークの周波数と前記少なくとも１つの高調波の周波数とを比較し、前記高調波の周波数とは異なる周波数における前記ピークの有無に基づいて、前記グリッドの品質を判定する請求項５記載のグリッド品質判定装置。
【請求項７】
前記周波数解析手段は、前記放射線画像における互いに直交する第１および第２の方向に前記周波数解析を行って、前記第１および第２の方向のそれぞれにおいて前記周波数スペクトルを取得し、
前記第１および第２の方向の前記周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無を検出するピーク有無検出手段をさらに備え、
前記判定手段は、前記第１および第２の方向の前記周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無にも基づいて、前記グリッドの品質を判定する請求項１から６のいずれか１項記載のグリッド品質判定装置。
【請求項８】
前記周波数解析手段は、前記放射線画像を複数の領域に分割し、該複数の領域のそれぞれにおいて前記第１および第２の方向のそれぞれの前記周波数スペクトルを取得し、
前記ピーク有無検出手段は、前記複数の領域のそれぞれにおいて、前記第１および第２の方向の前記周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無を検出し、
前記判定手段は、前記複数の領域のそれぞれにおいて、前記第１および第２の方向の前記周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無に基づいて、前記グリッドの品質を判定する請求項７記載のグリッド品質判定装置。
【請求項９】
グリッドを用いた撮影により取得された、前記グリッドに起因する周期的パターンを含む放射線画像に対して周波数解析を行って、前記放射線画像の周波数スペクトルを取得する周波数解析手段と、
前記周波数スペクトルに含まれるピークに基づいて、前記グリッドの品質を表す品質情報を生成する品質情報生成手段と、
前記品質情報を表示する表示手段とを備えたことを特徴とするグリッド品質判定装置。
【請求項１０】
前記品質情報生成手段は、前記ピークの幅を計測し、該計測されたピークの幅を前記品質情報として生成する請求項９記載のグリッド品質判定装置。
【請求項１１】
前記周波数スペクトルにおける処理対象となるピークを決定するピーク決定手段をさらに備え、
前記品質情報生成手段は、前記処理対象となるピークの幅を計測し、該計測された処理対象となるピークの幅を前記品質情報として生成する請求項１０記載のグリッド品質判定装置。
【請求項１２】
前記周波数解析手段は、前記放射線画像を複数の領域に分割し、該複数の領域のそれぞれにおいて前記周波数スペクトルを取得し、
前記品質情報生成手段は、前記複数の領域のそれぞれにおいて前記ピークの幅を計測し、前記複数の領域のそれぞれにおける前記計測されたピークの幅を前記品質情報として生成する請求項１０記載のグリッド品質判定装置。
【請求項１３】
前記周波数解析手段は、前記放射線画像を複数の領域に分割し、該複数の領域のそれぞれにおいて前記周波数スペクトルを取得し、
前記ピーク決定手段は、前記複数の領域のそれぞれにおいて前記処理対象となるピークを決定し、
前記品質情報生成手段は、前記複数の領域のそれぞれにおいて前記処理対象となるピークの幅を計測し、前記複数の領域のそれぞれにおける前記計測された処理対象となるピークの幅を前記品質情報として生成する請求項１１記載のグリッド品質判定装置。
【請求項１４】
前記グリッドの密度および前記放射線画像のナイキスト周波数に基づいて発生する少なくとも１つの高調波の周波数を算出する高調波周波数算出手段をさらに備え、
前記品質情報生成手段は、前記周波数スペクトルにおけるピークの周波数と前記少なくとも１つの高調波の周波数とを比較し、前記高調波の周波数とは異なる周波数における前記ピークの有無を前記品質情報として生成する請求項９から１３のいずれか１項記載のグリッド品質判定装置。
【請求項１５】
前記周波数解析手段は、前記放射線画像を複数の領域に分割し、該複数の領域のそれぞれにおいて前記周波数スペクトルを取得し、
前記高調波周波数算出手段は、前記複数の領域のそれぞれにおいて前記少なくとも１つの高調波の周波数を算出し、
前記品質情報生成手段は、前記複数の領域のそれぞれにおいて、前記周波数スペクトルにおけるピークの周波数と前記少なくとも１つの高調波の周波数とを比較し、前記高調波の周波数とは異なる周波数における前記ピークの有無を前記品質情報として生成する請求項１４記載のグリッド品質判定装置。
【請求項１６】
前記周波数解析手段は、前記放射線画像における互いに直交する第１および第２の方向に前記周波数解析を行って、前記第１および第２の方向のそれぞれにおいて前記周波数スペクトルを取得し、
前記第１および第２の方向の前記周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無を検出するピーク有無検出手段をさらに備え、
前記品質情報生成手段は、前記第１および第２の方向の前記周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無を前記品質情報として生成する請求項９から１５のいずれか１項記載のグリッド品質判定装置。
【請求項１７】
前記周波数解析手段は、前記放射線画像を複数の領域に分割し、該複数の領域のそれぞれにおいて、前記第１および第２の方向のそれぞれの前記周波数スペクトルを取得し、
前記ピーク有無検出手段は、前記複数の領域のそれぞれにおいて、前記第１および第２の方向の前記周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無を検出し、
前記品質情報生成手段は、前記複数の領域のそれぞれにおいて、前記第１および第２の方向の前記周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無を前記品質情報として生成する請求項１６記載のグリッド品質判定装置。
【請求項１８】
グリッドを用いた撮影により取得された、前記グリッドに起因する周期的パターンを含む放射線画像に対して周波数解析を行って、前記放射線画像の周波数スペクトルを取得し、
前記周波数スペクトルに含まれるピークの幅を計測し、該ピークの幅をしきい値と比較し、該ピークの幅が前記しきい値以上の場合に不良、前記しきい値未満の場合に良好と判定することにより、前記グリッドの品質を判定することを特徴とするグリッド品質判定方法。
【請求項１９】
グリッドを用いた撮影により取得された、前記グリッドに起因する周期的パターンを含む放射線画像に対して周波数解析を行って、前記放射線画像の周波数スペクトルを取得し、
前記周波数スペクトルに含まれるピークに基づいて、前記グリッドの品質を表す品質情報を生成し、
前記品質情報を表示することを特徴とするグリッド品質判定方法。
【請求項２０】
グリッドを用いた撮影により取得された、前記グリッドに起因する周期的パターンを含む放射線画像に対して周波数解析を行って、前記放射線画像の周波数スペクトルを取得する手順と、
前記周波数スペクトルに含まれるピークの幅を計測し、該ピークの幅をしきい値と比較し、該ピークの幅が前記しきい値以上の場合に不良、前記しきい値未満の場合に良好と判定することにより、前記グリッドの品質を判定する手順とをコンピュータに実行させることを特徴とするグリッド品質判定プログラム。
【請求項２１】
グリッドを用いた撮影により取得された、前記グリッドに起因する周期的パターンを含む放射線画像に対して周波数解析を行って、前記放射線画像の周波数スペクトルを取得する手順と、
前記周波数スペクトルに含まれるピークに基づいて、前記グリッドの品質を表す品質情報を生成する手順と、
前記品質情報を表示する手順とをコンピュータに実行させることを特徴とするグリッド品質判定プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線画像を撮影する場合に使用する、被写体による散乱線の影響を除去する散乱線除去グリッドの品質を判定する、あるいはグリッドの品質を表す品質情報を生成するグリッド品質判定装置、方法およびプログラムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、被写体を透過した放射線により被写体の放射線画像を撮影する際、とくに被写体の厚さが大きいと、被写体内において放射線が散乱して散乱線が発生し、この散乱線により、取得される放射線画像のコントラストが低下するという問題がある。このため、放射線画像の撮影時には、放射線を検出して放射線画像を取得するための放射線検出器に散乱線が照射されないように、被写体と放射線検出器との間に散乱線除去グリッド（以下単にグリッドとする）を配置して撮影を行うことがある。グリッドを用いて撮影を行うと被写体により散乱された放射線が放射線検出器に照射されにくくなるため、放射線画像のコントラストを向上させることができる。
【０００３】
グリッドは、放射線を透過しない鉛等と、放射線を透過しやすいアルミニウムやファイバー等のインタースペース素材とが、例えば４．０本／ｍｍ程度の細かなグリッド密度で交互に配置されて構成されている。このため、グリッドを用いて撮影を行うと、得られた放射線画像中にグリッドに起因する周期縞およびモアレ等の周期的パターンが発生し、放射線画像が見にくいものとなる。なお、モアレは、グリッド密度が放射線画像のナイキスト周波数よりも大きい場合に生じる細かな周期的パターンである。
【０００４】
このため、周期的パターンの周波数成分を除去するフィルタリング処理を行うことにより、周期的パターンが低減した観察しやすい画像を得るための各種手法が提案されている（特許文献１参照）。
【０００５】
ところで、グリッドは、製造精度および経時劣化により単位長さ当たりの縞目の本数であるグリッド密度がグリッドの場所によってばらつく場合がある。このため、グリッドの向きを変更しつつ撮影し、撮影により取得したグリッド画像の信号強度に基づいてグリッドの間隔不良を検出する手法が提案されている（特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００２−１５２４６７号公報
【特許文献２】特開昭６１−１３３８４８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上述したグリッド密度のばらつきがあると、グリッド本来の周期構造とは異なる不要な周期構造がグリッドに含まれる。また、グリッド密度のばらつきの他、グリッドを構成する材料を接着する接着剤等の影響により、グリッド本来の周期構造とは異なる不要な周期構造がグリッドに含まれる場合がある。さらに、グリッドは製造時に表面が研磨されるが、グリッドの縞目の方向と異なる方向に研磨による筋が発生し、この筋が不要な周期構造としてグリッドに含まれる場合もある。このような不要な周期構造の周波数は、グリッド本来の周期構造の周波数とは異なる。このため、上記特許文献１に記載された手法のように、グリッドを用いて撮影を行うことにより取得した放射線画像に対して、グリッドに起因して発生するモアレの周波数成分を除去するようにフィルタリング処理を行っても、放射線画像から不要な周期構造に対応する周波数成分を除去することができない。このような除去できない不要な周期構造に対応する周波数成分は、放射線画像を用いた診断の妨げとなる。したがって、グリッドを使用して撮影を行う際には、そのグリッドが使用可能な品質を有するか否かを判断し、使用可能な品質を有するグリッドのみを使用することが好ましい。
【０００８】
上記特許文献２に記載された手法を用いれば、グリッドの間隔不良を検出できるため、グリッドが使用可能な品質を有するか否かを判定できる。しかしながら、特許文献２に記載された手法は、グリッドの向きを変えつつ複数回の撮影および信号強度の解析を行う必要があるため、グリッドの品質を判定する処理に長時間を要する。
【０００９】
本発明は、上記事情に鑑みなされたものであり、グリッドの品質を容易に判定できるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明による第１のグリッド品質判定装置は、グリッドを用いた撮影により取得された、グリッドに起因する周期的パターンを含む放射線画像に対して周波数解析を行って、放射線画像の周波数スペクトルを取得する周波数解析手段と、
周波数スペクトルに含まれるピークに基づいて、グリッドの品質を判定する判定手段とを備えたことを特徴とするものである。
【００１１】
なお、本発明による第１のグリッド品質判定装置においては、判定手段を、ピークの幅を計測し、計測されたピークの幅に基づいてグリッドの品質を判定するものとしてもよい。
【００１２】
また、本発明による第１のグリッド品質判定装置においては、周波数スペクトルにおける処理対象となるピークを決定するピーク決定手段をさらに備えるものとし、
判定手段を、処理対象となるピークの幅を計測し、計測された処理対象となるピークの幅に基づいてグリッドの品質を判定するものとしてもよい。
【００１３】
また、本発明による第１のグリッド品質判定装置においては、周波数解析手段を、放射線画像を複数の領域に分割し、複数の領域のそれぞれにおいて周波数スペクトルを取得するものとし、
判定手段を、複数の領域のそれぞれにおいてピークの幅を計測し、複数の領域のそれぞれにおける計測されたピークの幅に基づいて、複数の領域のそれぞれにおけるグリッドの品質を判定するものとしてもよい。
【００１４】
また、本発明による第１のグリッド品質判定装置においては、周波数解析手段を、放射線画像を複数の領域に分割し、複数の領域のそれぞれにおいて周波数スペクトルを取得するものとし、
ピーク決定手段を、複数の領域のそれぞれにおいて処理対象となるピークを決定するものとし、
判定手段を、複数の領域のそれぞれにおいて処理対象となるピークの幅を計測し、複数の領域のそれぞれにおける計測された処理対象となるピークの幅に基づいて、複数の領域のそれぞれにおけるグリッドの品質を判定するものとしてもよい。
【００１５】
周波数スペクトルにおいては、グリッド本来の周期構造の周波数において最も大きいピークを有するものとなる。「処理対象となるピーク」は、周波数スペクトルにおいて最も大きいピークとなる周波数に決定してもよく、周波数スペクトルにおいて処理対象となるピークの指定を受け付けることにより決定してもよい。
【００１６】
また、本発明による第１のグリッド品質判定装置においては、グリッドの密度および放射線画像のナイキスト周波数に基づいて発生する少なくとも１つの高調波の周波数を算出する高調波周波数算出手段をさらに備えるものとし、
判定手段を、周波数スペクトルにおけるピークの周波数と少なくとも１つの高調波の周波数とを比較し、高調波の周波数とは異なる周波数におけるピークの有無に基づいて、グリッドの品質を判定するものとしてもよい。
【００１７】
この場合、周波数解析手段を、放射線画像を複数の領域に分割し、複数の領域のそれぞれにおいて周波数スペクトルを取得するものとし、
高調波周波数算出手段を、複数の領域のそれぞれにおいて少なくとも１つの高調波の周波数を算出するものとし、
判定手段を、複数の領域のそれぞれにおいて、周波数スペクトルにおけるピークの周波数と少なくとも１つの高調波の周波数とを比較し、高調波の周波数とは異なる周波数におけるピークの有無に基づいて、グリッドの品質を判定するものとしてもよい。
【００１８】
また、本発明による第１のグリッド品質判定装置においては、
周波数解析手段を、放射線画像における互いに直交する第１および第２の方向に周波数解析を行って、第１および第２の方向のそれぞれにおいて周波数スペクトルを取得するものとし、
第１および第２の方向の周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無を検出するピーク有無検出手段をさらに備えるものとし、
判定手段を、第１および第２の方向の周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無に基づいて、グリッドの品質を判定するものとしてもよい。
【００１９】
この場合、周波数解析手段を、放射線画像を複数の領域に分割し、複数の領域のそれぞれにおいて第１および第２の方向のそれぞれの周波数スペクトルを取得するものとし、
ピーク有無検出手段を、複数の領域のそれぞれにおいて、第１および第２の方向の周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無を検出するものとし、
判定手段は、複数の領域のそれぞれにおいて、第１および第２の方向の周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無に基づいて、グリッドの品質を判定するものとしてもよい。
【００２０】
本発明による第２のグリッド品質判定装置は、グリッドを用いた撮影により取得された、グリッドに起因する周期的パターンを含む放射線画像に対して周波数解析を行って、放射線画像の周波数スペクトルを取得する周波数解析手段と、
周波数スペクトルに含まれるピークに基づいて、グリッドの品質を表す品質情報を生成する品質情報生成手段と、
品質情報を表示する表示手段とを備えたことを特徴とするものである。
【００２１】
「品質情報」とは、表示された品質情報を見た者が、グリッドの品質を判定することが可能な情報を意味する。具体的には、後述する周波数スペクトルにおける処理対象となるピークの幅、高調波の周波数とは異なる周波数におけるピークの有無、放射線画像における互いに直交する第１および第２の方向の周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無を、品質情報として用いることができる。
【００２２】
なお、本発明による第２のグリッド品質判定装置においては、品質情報生成手段を、ピークの幅を計測し、計測されたピークの幅を品質情報として生成するものとしてもよい。
【００２３】
また、本発明による第２のグリッド品質判定装置においては、周波数スペクトルにおける処理対象となるピークを決定するピーク決定手段をさらに備えるものとし、
品質情報生成手段を、処理対象となるピークの幅を計測し、計測された処理対象となるピークの幅を品質情報として生成するものとしてもよい。
【００２４】
また、本発明による第２のグリッド品質判定装置においては、周波数解析手段を、放射線画像を複数の領域に分割し、複数の領域のそれぞれにおいて周波数スペクトルを取得するものとし、
品質情報生成手段を、複数の領域のそれぞれにおいて、ピークの幅を計測し、複数の領域のそれぞれにおける計測されたピークの幅を品質情報として生成するものとしてもよい。
【００２５】
また、本発明による第２のグリッド品質判定装置においては、周波数解析手段を、放射線画像を複数の領域に分割し、複数の領域のそれぞれにおいて周波数スペクトルを取得するものとし、
ピーク決定手段を、複数の領域のそれぞれにおいて処理対象となるピークを決定するものとし、
品質情報生成手段を、複数の領域のそれぞれにおいて、処理対象となるピークの幅を計測し、複数の領域のそれぞれにおける計測された処理対象となるピークの幅を品質情報として生成するものとしてもよい。
【００２６】
また、本発明による第２のグリッド品質判定装置においては、グリッドの密度および放射線画像のナイキスト周波数に基づいて発生する少なくとも１つの高調波の周波数を算出する高調波周波数算出手段をさらに備えるものとし、
品質情報生成手段を、周波数スペクトルにおけるピークの周波数と少なくとも１つの高調波の周波数とを比較し、高調波の周波数とは異なる周波数におけるピークの有無を品質情報として生成するものとしてもよい。
【００２７】
この場合、周波数解析手段を、放射線画像を複数の領域に分割し、複数の領域のそれぞれにおいて周波数スペクトルを取得するものとし、
高調波周波数算出手段を、複数の領域のそれぞれにおいて少なくとも１つの高調波の周波数を算出するものとし、
品質情報生成手段を、複数の領域のそれぞれにおいて、周波数スペクトルにおけるピークの周波数と少なくとも１つの高調波の周波数とを比較し、高調波の周波数とは異なる周波数におけるピークの有無を品質情報として生成するものとしてもよい。
【００２８】
また、本発明による第２のグリッド品質判定装置においては、周波数解析手段を、放射線画像における互いに直交する第１および第２の方向に周波数解析を行って、第１および第２の方向のそれぞれにおいて周波数スペクトルを取得するものとし、
第１および第２の方向の周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無を検出するピーク有無検出手段をさらに備えるものとし、
品質情報生成手段を、第１および第２の方向の周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無を品質情報として生成するものとしてもよい。
【００２９】
この場合、周波数解析手段を、放射線画像を複数の領域に分割し、複数の領域のそれぞれにおいて第１および第２の方向のそれぞれの周波数スペクトルを取得するものとし、
ピーク有無検出手段を、複数の領域のそれぞれにおいて、第１および第２の方向の周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無を検出するものとし、
品質情報生成手段を、複数の領域のそれぞれにおいて、第１および第２の方向の周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無を品質情報として生成するものとしてもよい。
【００３０】
本発明による第１のグリッド品質判定方法は、グリッドを用いた撮影により取得された、グリッドに起因する周期的パターンを含む放射線画像に対して周波数解析を行って、放射線画像の周波数スペクトルを取得し、
周波数スペクトルに含まれるピークに基づいて、グリッドの品質を判定することを特徴とするものである。
【００３１】
本発明による第２のグリッド品質判定方法は、グリッドを用いた撮影により取得された、グリッドに起因する周期的パターンを含む放射線画像に対して周波数解析を行って、放射線画像の周波数スペクトルを取得し、
周波数スペクトルに含まれるピークに基づいて、グリッドの品質を表す情報を生成し、
品質情報を表示することを特徴とするものである。
【００３２】
なお、本発明による第１および第２のグリッド品質判定方法をコンピュータに実行させるためのプログラムとして提供してもよい。
【発明の効果】
【００３３】
本発明の第１のグリッド品質判定装置、方法およびプログラムによれば、グリッドを用いた撮影により取得された、グリッドに起因する周期的パターンを含む放射線画像に対して周波数解析が行われて、放射線画像の周波数スペクトルが取得される。そして、周波数スペクトルに含まれるピークに基づいて、グリッドの品質が判定される。ここで、周波数スペクトルに含まれるピークは、グリッド本来の周期構造とは異なる不要な周期構造の有無によって、出現の仕方が変化する。本発明の第１のグリッド品質判定装置、方法およびプログラムによれば、周波数レスポンスにおけるピークに基づくことにより、グリッドに不要な周期構造の有無を判定することができる。したがって、グリッドを用いた撮影を行うのみで、グリッドの品質を容易に判定できる。
【００３４】
本発明の第２のグリッド品質判定装置、方法およびプログラムによれば、グリッドを用いた撮影により取得された、グリッドに起因する周期的パターンを含む放射線画像に対して周波数解析が行われて、放射線画像の周波数スペクトルが取得される。そして、周波数スペクトルに含まれるピークに基づいて、グリッドの品質を表す品質情報が生成され、品質情報が表示される。ここで、周波数スペクトルに含まれるピークは、グリッド本来の周期構造とは異なる不要な周期構造の有無によって、出現の仕方が変化する。本発明の第２のグリッド品質判定装置、方法およびプログラムによれば、表示された品質情報により、グリッドに不要な周期構造の有無を判定することができる。したがって、グリッドを用いた撮影を行うのみで、グリッドの品質を容易に判定できる。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】本発明の第１の実施形態によるグリッド品質判定装置を適用した放射線画像撮影システムの構成を示す概略ブロック図
【図２】第１の実施形態によるグリッド品質判定装置の概略構成を示す図
【図３】第１の実施形態における周波数解析を説明するための図
【図４】周波数スペクトルを示す図
【図５】グリッド密度にばらつきがあるグリッドを示す図
【図６】グリッド密度にばらつきがある場合の周波数スペクトルを示す図
【図７】第１の実施形態において行われる処理を示すフローチャート
【図８】第２の実施形態によるグリッド品質判定装置の概略構成を示す図
【図９】グリッド本来の周期構造と異なる周期構造が存在するグリッドを示す図
【図１０】グリッド本来の周期構造と異なる周期構造が存在する場合の周波数スペクトルを示す図
【図１１】第２の実施形態において行われる処理を示すフローチャート
【図１２】第３の実施形態によるグリッド品質判定装置の概略構成を示す図
【図１３】第３の実施形態における周波数解析を説明するための図
【図１４】グリッドの縞目の方向における周波数スペクトルを示す図
【図１５】グリッドの縞目と異なる方向の周期構造が含まれるグリッドを示す図
【図１６】グリッドの縞目と異なる方向の周期構造が含まれる場合のグリッドの縞目の方向における周波数スペクトルを示す図
【図１７】第３の実施形態において行われる処理を示すフローチャート
【図１８】第４の実施形態によるグリッド品質判定装置の概略構成を示す図
【図１９】第５の実施形態によるグリッド品質判定装置の概略構成を示す図
【図２０】第６の実施形態によるグリッド品質判定装置の概略構成を示す図
【図２１】第７の実施形態によるグリッド品質判定装置の概略構成を示す図
【図２２】第８の実施形態によるグリッド品質判定装置の概略構成を示す図
【図２３】第８の実施形態において表示部に表示された品質情報を示す図
【図２４】第８の実施形態において行われる処理を示すフローチャート
【図２５】第８の実施形態において表示部に表示された品質情報の他の例示す図
【図２６】第９の実施形態によるグリッド品質判定装置の概略構成を示す図
【図２７】第９の実施形態において表示部に表示された品質情報を示す図
【図２８】第１０の実施形態によるグリッド品質判定装置の概略構成を示す図
【図２９】第１０の実施形態において表示部に表示された品質情報を示す図
【図３０】第１１の実施形態によるグリッド品質判定装置の概略構成を示す図
【図３１】第１２の実施形態によるグリッド品質判定装置の概略構成を示す図
【図３２】第１３の実施形態によるグリッド品質判定装置の概略構成を示す図
【図３３】第１４の実施形態によるグリッド品質判定装置の概略構成を示す図
【発明を実施するための形態】
【００３６】
以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。図１は本発明の第１の実施形態によるグリッド品質判定装置を適用した放射線画像撮影システムの構成を示す概略ブロック図である。図１に示すように、本実施形態による放射線画像撮影システムは、グリッドの放射線画像を撮影し、放射線画像を用いてグリッドの品質を判定する処理を行うためのものであり、撮影装置１と、本実施形態によるグリッド品質判定装置を内包するコンピュータ２とを備える。
【００３７】
撮影装置１は、破線で示す被写体Ｈの撮影時において、被写体Ｈに放射線であるＸ線を照射するＸ線源３と、被写体Ｈを透過したＸ線を検出して被写体Ｈの放射線画像Ｇ０を取得する放射線検出器５とを備える。また、被写体Ｈの撮影時においては、被写体Ｈと放射線検出器５との間に被写体Ｈにより散乱された散乱線を除去するための散乱線除去グリッド（以下単にグリッドとする）４が配置される。
【００３８】
グリッド４は、放射線を透過しない鉛等と、放射線を透過しやすいアルミニウムやファイバー等のインタースペース素材とが、例えば４．０本／ｍｍ程度の細かなグリッド密度で交互に配置されて構成されている。
【００３９】
放射線検出器５は、放射線画像の記録と読み出しを繰り返して行うことができるものであり、放射線の照射を直接受けて電荷を発生する、いわゆる直接型の放射線検出器を用いてもよいし、放射線を一旦可視光に変換し、その可視光を電荷信号に変換する、いわゆる間接型の放射線検出器を用いるようにしてもよい。また、放射線画像信号の読出方式としては、ＴＦＴ（thin film transistor）スイッチをオン・オフさせることによって放射線画像信号が読み出される、いわゆるＴＦＴ読出方式のものや、読取り光を照射することによって放射線画像信号が読み出される、いわゆる光読出方式のものを用いることが望ましいが、これに限らずその他のものを用いるようにしてもよい。
【００４０】
なお、本実施形態においては、被写体Ｈの撮影により取得した放射線画像Ｇ０を用いてグリッドの品質を判定してもよいが、より精度よくグリッドの品質を判定するため、被写体Ｈを配置することなく、Ｘ線源３を駆動して、グリッド４を透過した放射線を放射線検出器５により検出して、グリッド４の放射線画像Ｇ０を取得するものとする。
【００４１】
コンピュータ２には表示部６および入力部８が接続されている。表示部６は、ＣＲＴ（Cathode Ray Tube）あるいは液晶ディスプレイ等からなり、撮影により取得された放射線画像およびコンピュータ２において行われる処理に必要な各種入力の補助を行う。入力部８は、キーボード、マウスあるいはタッチパネル等からなる。
【００４２】
コンピュータ２には、本実施形態のグリッド品質判定プログラムがインストールされている。本実施形態においては、コンピュータは、操作者が直接操作するワークステーションあるいはパソコンでもよいし、それらとネットワークを介して接続されたサーバコンピュータでもよい。グリッド品質判定プログラムは、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disc Read Only Memory）等の記録媒体に記録されて配布され、その記録媒体からコンピュータにインストールされる。もしくは、ネットワークに接続されたサーバコンピュータの記憶装置、あるいはネットワークストレージに、外部からアクセス可能な状態で記憶され、要求に応じてコンピュータにダウンロードされ、インストールされる。
【００４３】
図２は、第１の実施形態において、コンピュータ２にグリッド品質判定プログラムをインストールすることにより実現されたグリッド品質判定装置の概略構成を示す図である。図２に示すように、グリッド品質判定装置は、標準的なコンピュータの構成として、ＣＰＵ(Central Processing Unit)２１、メモリ２２およびストレージ２３を備えている。
【００４４】
ストレージ２３は、ハードディスクまたはＳＳＤ（Solid State Drive）等のストレージデバイスからなり、撮影装置１の各部を駆動するためのプログラムおよびグリッド品質判定プログラムを含む各種情報が記憶されている。また、撮影により取得された放射線画像も記憶される。
【００４５】
メモリ２２には、各種処理をＣＰＵ２１に実行させるために、ストレージ２３に記憶されたプログラム等が一時的に記憶される。グリッド品質判定プログラムは、ＣＰＵ２１に実行させる処理として、撮影装置１に撮影を行わせてグリッド４の放射線画像Ｇ０を取得する画像取得処理、放射線画像Ｇ０に対して周波数解析を行って、放射線画像Ｇ０の周波数スペクトルを取得する周波数解析処理、周波数スペクトルにおける処理対象となるピークを決定するピーク決定処理、および周波数スペクトルに含まれるピークに基づいてグリッドの品質を判定する判定処理を規定している。
【００４６】
そして、ＣＰＵ２１がグリッド品質判定プログラムに従いこれらの処理を実行することで、コンピュータ２は、画像取得部３１、周波数解析部３２、ピーク決定部３３および第１の判定部３４として機能する。なお、コンピュータ２は、画像取得処理、周波数解析処理、ピーク決定処理および判定処理をそれぞれ行うプロセッサを備えるものであってもよい。
【００４７】
画像取得部３１は、グリッド４を撮影して放射線画像Ｇ０を取得する。すなわちＸ線源３を駆動してグリッド４にＸ線を照射し、グリッド４を透過したＸ線を放射線検出器５により検出して、放射線画像Ｇ０を取得する。なお、グリッド品質判定プログラムとは別個のプログラムにより放射線画像Ｇ０を取得してストレージ２３に保存するようにしてもよい。この場合、画像取得部３１は、ストレージ２３に保存された放射線画像Ｇ０を画像処理のためにストレージ２３から読み出すものとなる。
【００４８】
周波数解析部３２は、放射線画像Ｇ０に対して、フーリエ変換または高速フーリエ変換等を用いて周波数解析を行い、放射線画像Ｇ０の周波数スペクトルを取得する。図３は第１の実施形態における周波数解析を説明するための図である。図３に示すように、撮影時においてグリッド４の縞目が放射線検出器５の長辺に平行である場合、放射線画像Ｇ０には長辺に平行な方向、すなわち図３のｘ方向に等間隔で周期的に並ぶ周期的パターンが含まれる。周波数解析部３２は、周期的パターンに直交する方向に対して周波数解析を行って周波数スペクトルを取得する。この際、図３の矢印４０に示すように、複数の線状の領域において周波数スペクトルを算出し、これらの領域において取得した複数の周波数スペクトルを平均して最終的な周波数スペクトルとして取得する。なお、放射線画像Ｇ０に被写体Ｈが含まれる場合、被写体Ｈが存在する領域を避けて周波数解析を行うことが好ましい。
【００４９】
図４は周波数スペクトルを示す図である。なお、周波数レスポンスにおいて横軸は周波数（cycle/mm）、縦軸はレスポンスの大きさを示す。図４に示すように、周波数スペクトルは、グリッド本来の周期構造に対応する周波数においてピークを有するものとなっている。具体的には、レスポンスのピークが最も大きい第１高調波、第２高調波および第３高調波の３つのピークＰ１，Ｐ２，Ｐ３が出現している。第２高調波および第３高調波の周波数は、本来、第１高調波の周波数よりも大きくなるが、第２高調波および第３高調波の周波数がナイキスト周波数を上回る場合、折り返されて、第１高調波よりも低い周波数となる。図４では、第２高調波および第３高調波の両方が、折り返しによって第１高調波よりも低い周波数となっている。
【００５０】
ピーク決定部３３は、周波数解析部３２が取得した周波数レスポンスにおいて、グリッドの品質の判定の処理対象となるピークを決定する。具体的には、ピーク決定部３３は、レスポンスが最も大きいピークの部分を処理対象となるピークに決定する。なお、周波数レスポンスにおいてレスポンスが最大となるピークは第１高調波の周波数に現れる。このため、第１高調波の周波数の入力部８からの入力を受け付け、入力された第１高調波の周波数におけるピークを処理対象のピークに決定してもよい。
【００５１】
ここで、グリッド４のグリッド密度は既知である。また、放射線画像Ｇ０のサンプリング間隔も既知であり、したがって、放射線画像Ｇ０のナイキスト周波数も既知である。グリッド密度が放射線画像Ｇ０のナイキスト周波数以下の場合、第１高調波の周波数は、グリッド密度と等しい。このため、グリッド密度を第１高調波の周波数として入力すればよい。一方、グリッド密度が放射線画像Ｇ０のナイキスト周波数より大きい場合、高周波数側のレスポンスが低周波数側に折り返されるため、第１高調波の周波数を下記の式（１）により算出し、算出した第１高調波の周波数を入力すればよい。なお、Ｆ１は第１高調波の周波数、Ｆｎはナイキスト周波数、Ｎはグリッド密度、ａは０を含む任意の整数である。なお、グリッド密度および放射線画像Ｇ０のナイキスト周波数をストレージ２３に保存しておき、ピーク決定部３３が、ストレージ２３からグリッド密度および放射線画像Ｇ０のナイキスト周波数を読み出し、式（１）を用いた演算を行って第１高調波の周波数を算出し、算出した第１高調波の周波数から処理対象となるピークを決定してもよい。
【００５２】
F1=N-2*a*Fn ((2*a+1)*Fn>N>2*a*Fnの場合)
F1=2*(a+1)*Fn-N (2*(a+1)*Fn>N>(2*a+1)*Fnの場合)        （１）
第１の判定部３４は、処理対象に決定されたピークの幅を計測し、計測された処理対象のピークの幅に基づいてグリッド４の品質を判定する。ここで、グリッド密度にばらつきがなければ、周波数レスポンスにおいて、グリッド本来の周期構造に対応する周波数においてのみピークが出現するため、処理対象となるピークの幅は小さい。一方、図５に示すグリッドのように、グリッド４の場所によってグリッド密度にばらつきがある場合、周波数スペクトルにおいて、グリッド本来の周期構造に対応する周波数に加えて、グリッド本来の周期構造の周波数とは異なる周波数にピークが出現する。また、これら２つの周波数はそれほど大きく異なるものではないため、２つの周波数は比較的近い値を有するものとなる。その結果、２つの周波数のピークが重なり、周波数レスポンスにおいて、処理対象となるピークの幅が大きくなる。
【００５３】
すなわち、グリッド密度のばらつきがない場合、図４に示すように、レスポンスが最も大きい処理対象のピークの幅はＬ０となる。なお、本実施形態においてはピークの幅として半値全幅を求めるものとするが、半値半幅を求めるようにしてもよい。一方、グリッド密度のばらつきがある場合、図６に示すように、グリッド本来の周期構造に対応するピークの周波数に近い周波数においてもピークが出現する。このため、２つのピークが重なり、重なったピークの幅Ｌ１は図４に示す幅Ｌ０よりも大きくなる。なお、図６に示すように、ピークが重なった場合、いずれか一方のピークの半値全幅を求めてもよく、２つのピークの周波数の平均値の位置におけるレスポンスの半値全幅を求めてもよい。図６においては、２つのピークの周波数の平均値の位置におけるレスポンスの半値全幅を、処理対象のピークの幅Ｌ１として求めている。
【００５４】
このように、処理対象のピークの幅がグリッド密度のばらつきの大きさに対応するものとなる。すなわち、ピークの幅が小さいほど、グリッド密度のばらつきは小さくなる。このため、第１の判定部３４は、周波数レスポンスにおける処理対象のピークの幅を計測し、計測されたピークの幅に基づいてグリッドの品質を判定する。具体的には、第１の判定部３４は、処理対象のピークの幅をしきい値Ｔｈ１と比較し、処理対象のピークの幅がしきい値Ｔｈ１以上であれば、グリッドの品質は不良であると判定する。一方、処理対象のピークの幅がしきい値Ｔｈ１未満であれば、グリッドの品質は良好であると判定する。第１の判定部３４は、判定結果を表示部６に出力する。なお、判定結果としては、グリッドの品質を操作者に知らせることができればよく、例えばグリッドが不良の場合はＮＧ、グリッドが良好である場合ＯＫ等のテキスト、あるいは品質に応じた色の表示等を用いることができる。
【００５５】
次いで、第１の実施形態において行われる処理について説明する。図７は第１の実施形態において行われる処理を示すフローチャートである。まず、グリッド４の撮影が行われてコンピュータ２の画像取得部３１が放射線画像Ｇ０を取得し（ステップＳＴ１）、周波数解析部３２が、放射線画像Ｇ０に対して周波数解析を行って、放射線画像Ｇ０の周波数スペクトルを取得する（ステップＳＴ２）。次いで、ピーク決定部３３が、周波数スペクトルにおける処理対象となるピークを決定する（ステップＳＴ３）。そして、第１の判定部３４が、処理対象のピークの幅を計測し、計測された処理対象のピークの幅に基づいてグリッド４の品質を判定し（ステップＳＴ４）、処理を終了する。判定結果は表示部６に表示される。
【００５６】
このように、第１の実施形態においては、 周波数スペクトルにおける処理対象に決定されたピークの幅を計測し、計測された処理対象のピークの幅に基づいてグリッドの品質を判定するようにした。このため、グリッド密度のばらつきに起因するグリッドの品質を容易に判定することができる。
【００５７】
なお、上記第１の実施形態においては、図３に示すように複数の領域において周波数スペクトルを算出し、これらを平均して最終的な周波数スペクトルとして取得している。しかしながら、複数の領域のそれぞれにおいて算出した周波数スペクトルを用いて、複数の領域毎に処理対象となるピークの決定、およびグリッドの品質の判定を行うようにしてもよい。これにより、複数の領域毎のグリッド密度のばらつきに起因する品質を判定することができる。
【００５８】
また、上記第１の実施形態においては、ピーク決定部３３において、処理対象のピークを決定している。しかしながら、周波数レスポンスにおいてピークが１つしか出現しない場合、あるいはグリッド本来の周期構造から、周波数レスポンスにおいて最大のピークとなる周波数が既知である場合等においては、処理対象となるピークを決定することなく、第１の判定部３４が、周波数レスポンスにおけるピークの幅を計測し、計測されたピークの幅に基づいてグリッドの品質を判定するようにしてもよい。また、複数の領域毎に、処理対象となるピークを決定することなく、第１の判定部３４が、周波数レスポンスにおけるピークの幅を計測し、計測されたピークの幅に基づいてグリッドの品質を判定するようにしてもよい。この場合、図２におけるピーク決定部３３は不要となる。
【００５９】
次いで、本発明の第２の実施形態について説明する。図８は、第２の実施形態において、コンピュータ２にグリッド品質判定プログラムをインストールすることにより実現されたグリッド品質判定装置の概略構成を示す図である。なお、図８において図２と同一の構成については同一の参照番号を付与し、詳細な説明は省略する。図８に示すように第２の実施形態におけるグリッド品質判定装置は、ピーク決定部３３および第１の判定部３４に代えて、グリッド密度および放射線画像Ｇ０のナイキスト周波数に基づいて発生する少なくとも１つの高調波の周波数を算出する高調波周波数算出部３５、および周波数スペクトルにおけるピークの周波数と高調波周波数算出部３５が算出した少なくとも１つの高調波の周波数とを比較し、高調波の周波数とは異なる周波数におけるピークの有無に基づいて、グリッドの品質を判定する第２の判定部３６を備えた点が第１の実施形態と異なる。
【００６０】
高調波周波数算出部３５は、少なくとも１つの高調波の周波数を算出する。算出する高調波の周波数が１つのみの場合は第１高調波の周波数を、複数の場合は第１高調波から第Ｍ高調波までの周波数を算出する。なお、Ｍの値としては例えば３程度を用いればよい。ここで、グリッド４のグリッド密度は既知である。また、放射線画像Ｇ０のナイキスト周波数も既知である。グリッド密度が放射線画像Ｇ０のナイキスト周波数以下の場合、第１高調波の周波数は、グリッド密度と等しい。第Ｍ高調波の周波数の算出に際して、まずグリッド密度Ｎを用いてＮ＊Ｍを計算する。Ｎ＊Ｍの値が放射線画像Ｇ０のナイキスト周波数以下の場合、Ｎ＊Ｍの値が第Ｍ高調波の周波数に相当する。高調波周波数算出部３５はこのようにして、第Ｍ高調波の周波数を算出する。
【００６１】
一方、グリッド密度が放射線画像Ｇ０のナイキスト周波数より大きい場合、高周波数側のレスポンスが低周波数側に折り返される。このため、高調波周波数算出部３５は、グリッド密度およびナイキスト周波数を用いて、第Ｍ高調波の周波数を下記の式（２）により算出する。なお、Ｆｍは第Ｍ高調波の周波数、Ｆｎはナイキスト周波数、Ｎはグリッド密度、ａは０を含む任意の整数である。ここで、グリッド密度およびナイキスト周波数は入力部８からの入力により取得してもよいが、グリッド密度および放射線画像Ｇ０のナイキスト周波数をストレージ２３に保存しておき、高調波周波数算出部３５が、ストレージ２３からグリッド密度および放射線画像Ｇ０のナイキスト周波数を読み出し、式（２）を用いた演算を行って第Ｍ高調波の周波数を算出してもよい。
【００６２】
Fm=N*M-2*a*Fn ((2*a+1)*Fn>N*M>2*a*Fnの場合)
Fm=2*(a+1)*Fn-N*M (2*(a+1)*Fn>N*M>(2*a+1)*Fnの場合)        （２）
なお、式（２）はグリッド密度Ｎから第Ｍ高調波の周波数を算出しているが、第１高調波の周波数Ｆ１が既知の場合には、第１高調波の周波数Ｆ１を用いて下記の式（３）により第Ｍ高調波の周波数を算出してもよい。
【００６３】
Fm=F1*M-2*a*Fn ((2*a+1)*Fn>F1*M>2*a*Fnの場合)
Fm=2*(a+1)*Fn-F1*M (2*(a+1)*Fn>F1*M>(2*a+1)*Fnの場合)        （３）
第２の判定部３６は、周波数スペクトルにおけるピークの周波数と高調波周波数算出部３５が算出した少なくとも１つの高調波の周波数とを比較し、高調波の周波数とは異なる周波数におけるピークの有無に基づいて、グリッドの品質を判定する。ここで、グリッド４にグリッド本来の周期構造と異なる周期構造が存在しない場合、周波数スペクトルに含まれるピークの周波数は、算出された高調波の周波数と一致する。一方、図９に示すように、グリッド４にグリッド本来の周期構造とは異なる周期構造が存在する場合、周波数スペクトルには、算出された高調波の周波数以外の周波数にピークが出現する。
【００６４】
具体的には、グリッド４にグリッド本来の周期構造と異なる周期構造が存在しない場合、図４に示すように、周波数レスポンスにはグリッド本来の周期構造に起因する第１〜第３高調波の３つのピークが出現する。これら３つの高調波の周波数は、高調波周波数算出部３５が算出した第１〜第３高調波の周波数と一致する。一方、グリッド４にグリッド本来の周期構造と異なる周期構造が存在する場合、図１０に示すように、周波数スペクトルには、算出された高調波の周波数以外の周波数にピークＰａが出現する。
【００６５】
第２の判定部３６は、周波数スペクトルにおけるピークの周波数と第Ｍ高調波の周波数とを比較し、第Ｍ高調波の周波数とは異なる周波数におけるピークの有無に基づいてグリッドの品質を判定する。具体的には、第２の判定部３６は、周波数レスポンスにおいて全てのピークの周波数を検出する。そして、検出したピークの周波数のうち、対象となる周波数について、高調波周波数算出部３５が算出した全ての高調波の周波数に対してあらかじめ定められたしきい値Ｔｈ２以内にあるか否かを判定する。さらに、この判定を周波数レスポンスにおいて検出した全てのピーク周波数に対して行う。その結果、算出された高調波の周波数に対してしきい値Ｔｈ２を超えて異なる周波数のピークが出現する場合、グリッドにはグリッド本来の構造とは異なる不要な周期構造が含まれることから、グリッドの品質は不良であると判定する。例えば、図１０に示すように、周波数レスポンスに、第１〜第３高調波の周波数のピークＰ１〜Ｐ３以外の周波数にピークＰａが出現する場合、グリッドの品質は不良であると判定する。判定結果は，第１の実施形態と同様に表示部６に表示される。
【００６６】
次いで、第２の実施形態において行われる処理について説明する。図１１は第２の実施形態において行われる処理を示すフローチャートである。まず、グリッド４の撮影が行われてコンピュータ２の画像取得部３１が放射線画像Ｇ０を取得し（ステップＳＴ１１）、周波数解析部３２が、放射線画像Ｇ０に対して周波数解析を行って、放射線画像Ｇ０の周波数スペクトルを取得する（ステップＳＴ１２）。次いで、高調波周波数算出部３５が、グリッド密度および放射線画像Ｇ０のナイキスト周波数に基づいて発生する少なくとも１つの高調波の周波数を算出する（ステップＳＴ１３）。さらに、第２の判定部３６が、周波数スペクトルにおけるピークの周波数と高調波周波数算出部３５が算出した少なくとも１つの高調波の周波数とを比較し、高調波の周波数とは異なる周波数におけるピークの有無に基づいてグリッドの品質を判定し（ステップＳＴ１４）、処理を終了する。判定結果は表示部６に表示される。
【００６７】
このように、第２の実施形態においては、 周波数スペクトルにおけるピークの周波数と高調波周波数算出部３５が算出した少なくとも１つの高調波の周波数とを比較し、高調波の周波数とは異なる周波数におけるピークの有無に基づいて、グリッドの品質を判定するようにした。このため、グリッド本来の周期構造とは異なる周期構造に起因するグリッドの品質を容易に判定することができる。
【００６８】
なお、上記第２の実施形態においては、図３に示すように複数の領域において周波数スペクトルを算出し、これらを平均して最終的な周波数スペクトルとして取得している。しかしながら、複数の領域のそれぞれにおいて算出した周波数スペクトルを用いて、複数の領域毎にグリッドの品質の判定を行うようにしてもよい。これにより、複数の領域毎に、グリッド本来の周期構造とは異なる周期構造に起因するグリッドの品質を判定することができる。
【００６９】
次いで、本発明の第３の実施形態について説明する。図１２は、第３の実施形態において、コンピュータ２にグリッド品質判定プログラムをインストールすることにより実現されたグリッド品質判定装置の概略構成を示す図である。なお、図１２において図２と同一の構成については同一の参照番号を付与し、詳細な説明は省略する。図１２に示すように第３の実施形態におけるグリッド品質判定装置は、周波数解析部３２において、放射線画像Ｇ０における互いに直交する第１および第２の方向に周波数解析を行って、第１および第２の方向のそれぞれにおいて周波数スペクトルを取得するようにし、ピーク決定部３３および第１の判定部３４に代えて、第１および第２の方向の周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無を検出するピーク有無検出部３７、およびピークの有無に基づいてグリッドの品質を判定する第３の判定部３８を備えた点が第１の実施形態と異なる。
【００７０】
ここで、グリッド４を用いて撮影を行う際、取得される放射線画像Ｇ０の縦方向または横方向とグリッド４の縞目の方向とが一致するようにグリッド４が配置される。放射線画像Ｇ０における互いに直交する第１および第２の方向とは、放射線画像Ｇ０におけるグリッド４の縞目の方向と一致する方向およびグリッド４の縞目の方向に直交する方向を意味する。
【００７１】
図１３は第３の実施形態における周波数解析を説明するための図である。図１３に示すように、撮影時においてグリッド４の縞目が放射線検出器５の長辺に平行である場合、放射線画像Ｇ０には長辺に平行な方向、すなわち図１３のｘ方向に周期的に並ぶ周期的パターンが含まれる。第３の実施形態においては、周波数解析部３２は、グリッド４の縞目に直交する方向および平行な方向に対して周波数解析を行って２つの周波数スペクトルを取得する。具体的には、図１３に示すように、ｘ方向を第１の方向、ｙ方向を第２の方向として、放射線画像Ｇ０に対して第１の方向の矢印４１および第２の方向の矢印４２の領域にフーリエ変換または高速フーリエ変換等を用いて周波数解析を行い、放射線画像Ｇ０のｘ方向およびｙ方向における第１および第２の周波数スペクトルを取得する。この際、ｘ方向およびｙ方向の複数の線状の領域において周波数スペクトルを算出し、これらの領域において取得した周波数スペクトルを平均して最終的な第１および第２の周波数スペクトルとして取得してもよい。
【００７２】
ここで、図３に示すように、グリッド４にグリッドの縞目と異なる方向の周期構造が含まれなければ、放射線画像Ｇ０における互いに直交する第１および第２の方向のそれぞれにおいて取得した周波数スペクトルのうち、１つの方向にのみピークが含まれる。具体的には、図１３に示すｘ方向において算出した周波数スペクトルは、図３に示すように、グリッド本来の周期構造に対応する周波数においてピークを有するものとなる。また、ｙ方向において算出した周波数スペクトルは、図１４に示すように、ピークが出現しない。
【００７３】
一方、図１５に示すようにグリッド４にグリッドの縞目と異なる方向の周期構造が含まれると、ｙ方向において算出した周波数スペクトルにも、図１６に示すように、ピークＰｂが出現する。
【００７４】
この際、グリッドの縞目の方向と縞目とは異なる方向においてピークの大きさが異なるため、グリッドの縞目の方向が第１および第２の方向のいずれであるかを認識することができる。このため、ピーク有無検出部３７は、第１および第２の方向の周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無を検出する。そして、第３の判定部３８は、第１および第２の方向の周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無に基づいて、グリッドの品質を判定する。具体的には、グリッドの縞目の方向とは異なる方向の周波数スペクトルにピークが出現する場合、グリッドの品質は不良であると判定する。
【００７５】
次いで、第３の実施形態において行われる処理について説明する。図１７は第３の実施形態において行われる処理を示すフローチャートである。まず、グリッド４の撮影が行われてコンピュータ２の画像取得部３１が放射線画像を取得し（ステップＳＴ２１）、周波数解析部３２が、放射線画像Ｇ０に対して周波数解析を行って、放射線画像Ｇ０の第１および第２の方向のそれぞれについての周波数スペクトルを取得する（ステップＳＴ２２）。次いで、ピーク有無検出部３７が、第１および第２の方向の周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無を検出する（ステップＳＴ２３）。そして、第３の判定部３８が、第１および第２の方向の周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無に基づいてグリッドの品質を判定し（ステップＳＴ２４）、処理を終了する。判定結果は表示部６に表示される。
【００７６】
このように、第３の実施形態においては、 第１および第２の方向の周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無に基づいてグリッドの品質を判定するようにしたため、グリッドの縞目の方向とは異なる方向に存在する周期構造に起因するグリッドの品質を容易に判定することができる。
【００７７】
なお、上記第３の実施形態においては、図１３に示すように、放射線画像Ｇ０に対して第１の方向の矢印４１および第２の方向の矢印４２の領域において周波数スペクトルを算出してグリッドの品質を判定している。しかしながら、放射線画像Ｇ０を例えば４等分する等して複数の領域に分割し、分割した領域のそれぞれにおいて、第１の方向および第２の方向の周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無に基づいて、領域毎にグリッドの品質を判定してもよい。これにより、複数の領域毎に、グリッドの縞目の方向とは異なる方向に存在する周期構造に起因するグリッドの品質を判定することができる。
【００７８】
次いで、本発明の第４の実施形態について説明する。図１８は、第４の実施形態において、コンピュータ２にグリッド品質判定プログラムをインストールすることにより実現されたグリッド品質判定装置の概略構成を示す図である。なお、図１８において図２と同一の構成については同一の参照番号を付与し、詳細な説明は省略する。図１８に示すように第４の実施形態におけるグリッド品質判定装置は、第１の実施形態におけるグリッド品質判定装置に加えて、第２の実施形態におけるグリッド品質判定装置の高調波周波数算出部３５および第２の判定部３６を備えた点が第１の実施形態と異なる。
【００７９】
このように、第４の実施形態においては、第１の実施形態における第１の判定部３４および第２の実施形態における第２の判定部３６を備えているため、グリッド密度のばらつきに起因するグリッドの品質およびグリッド本来の周期構造とは異なる周期構造に起因するグリッドの品質の双方を容易に判定することができる。
【００８０】
次いで、本発明の第５の実施形態について説明する。図１９は、第５の実施形態において、コンピュータ２にグリッド品質判定プログラムをインストールすることにより実現されたグリッド品質判定装置の概略構成を示す図である。なお、図１９において図２と同一の構成については同一の参照番号を付与し、詳細な説明は省略する。図１９に示すように第５の実施形態におけるグリッド品質判定装置は、第１の実施形態におけるグリッド品質判定装置に加えて、第３の実施形態におけるグリッド品質判定装置のピーク有無検出部３７および第３の判定部３８を備えた点が第１の実施形態と異なる。なお、第５の実施形態においては、周波数解析部３２は、第３の実施形態と同様に、放射線画像Ｇ０における第１および第２の方向のそれぞれの周波数スペクトルを取得する。
【００８１】
このように、第５の実施形態においては、第１の実施形態における第１の判定部３４および第３の実施形態における第３の判定部３８を備えているため、グリッド密度のばらつきに起因するグリッドの品質およびグリッドの縞目の方向とは異なる方向に存在する周期構造に起因するグリッドの品質の双方を容易に判定することができる。
【００８２】
次いで、本発明の第６の実施形態について説明する。図２０は、第６の実施形態において、コンピュータ２にグリッド品質判定プログラムをインストールすることにより実現されたグリッド品質判定装置の概略構成を示す図である。なお、図２０において図８と同一の構成については同一の参照番号を付与し、詳細な説明は省略する。図２０に示すように第６の実施形態におけるグリッド品質判定装置は、第２の実施形態におけるグリッド品質判定装置に加えて、第３の実施形態におけるピーク有無検出部３７および第３の判定部３８を備えた点が第１の実施形態と異なる。なお、第６の実施形態においては、周波数解析部３２は、第３の実施形態と同様に、放射線画像Ｇ０における第１および第２の方向のそれぞれの周波数スペクトルを取得する。
【００８３】
このように、第６の実施形態においては、第２の実施形態における第２の判定部３６および第３の実施形態における第３の判定部３８を備えているため、グリッド本来の周期構造とは異なる周期構造に起因するグリッドの品質およびグリッドの縞目の方向とは異なる方向に存在する周期構造に起因するグリッドの品質の双方を容易に判定することができる。
【００８４】
次いで、本発明の第７の実施形態について説明する。図２１は、第７の実施形態において、コンピュータ２にグリッド品質判定プログラムをインストールすることにより実現されたグリッド品質判定装置の概略構成を示す図である。なお、図２１において図２と同一の構成については同一の参照番号を付与し、詳細な説明は省略する。図２１に示すように第７の実施形態におけるグリッド品質判定装置は、第１の実施形態におけるグリッド品質判定装置に加えて、第２の実施形態におけるグリッド品質判定装置の高調波周波数算出部３５および第２の判定部３６、並びに第３の実施形態におけるグリッド品質判定装置のピーク有無検出部３７および第３の判定部３８を備えた点が第１の実施形態と異なる。なお、第７の実施形態においては、周波数解析部３２は、第３の実施形態と同様に、放射線画像Ｇ０における第１および第２の方向のそれぞれの周波数スペクトルを取得する。
【００８５】
このように、第７の実施形態においては、第１の実施形態における第１の判定部３４、第２の実施形態における第２の判定部３６および第３の実施形態における第３の判定部３８を備えているため、グリッド密度のばらつきに起因するグリッドの品質、グリッド本来の周期構造とは異なる周期構造に起因するグリッドの品質およびグリッドの縞目の方向とは異なる方向に存在する周期構造に起因するグリッドの品質の全てを容易に判定することができる。
【００８６】
次いで、本発明の第８の実施形態について説明する。図２２は、第８の実施形態において、コンピュータ２にグリッド品質判定プログラムをインストールすることにより実現されたグリッド品質判定装置の概略構成を示す図である。なお、図２２において図２と同一の構成については同一の参照番号を付与し、詳細な説明は省略する。図２２に示すように第８の実施形態におけるグリッド品質判定装置は、第１の実施形態におけるグリッド品質判定装置の第１の判定部３４に代えて、グリッドの品質を表す品質情報を生成する第１の品質情報生成部５０を備えた点が第１の実施形態と異なる。
【００８７】
第１の品質情報生成部５０は、処理対象に決定されたピークの半値半幅を計測し、計測された処理対象のピークの幅を品質情報Ｑ０として生成し、品質情報Ｑ０を表示部６に出力する。表示部６は品質情報Ｑ０を表示する。図２３は、第８の実施形態において、表示部６に表示された品質情報Ｑ０を示す図である。図２３に示すように、表示部６には、品質情報Ｑ０として処理対象に決定されたピークの半値半幅の値が表示される。なお、上記第１の実施形態におけるピークの幅を比較するためのしきい値Ｔｈ１を併せて表示してもよい。図２３においては、しきい値Ｔｈ１を併せて表示している。
【００８８】
次いで、第８の実施形態において行われる処理について説明する。図２４は第８の実施形態において行われる処理を示すフローチャートである。まず、グリッド４の撮影が行われてコンピュータ２の画像取得部３１が放射線画像Ｇ０を取得し（ステップＳＴ３１）、周波数解析部３２が、放射線画像Ｇ０に対して周波数解析を行って、放射線画像Ｇ０の周波数スペクトルを取得する（ステップＳＴ３２）。次いで、ピーク決定部３３が、周波数スペクトルにおける処理対象となるピークを決定する（ステップＳＴ３３）。そして、第１の品質情報生成部５０が、処理対象のピークの幅を計測し、計測された処理対象のピークの幅を品質情報Ｑ０として生成する（ステップＳＴ３４）。さらに、表示部６が品質情報Ｑ０を表示し（ステップＳＴ３５）、処理を終了する。
【００８９】
このように、第８の実施形態においては、 周波数スペクトルにおける処理対象に決定されたピークの幅を計測し、計測された処理対象のピークの幅を品質情報Ｑ０として生成して表示部６に表示するようにした。このため、操作者は、表示された品質情報Ｑ０に基づいて、グリッド密度のばらつきに起因するグリッドの品質を容易に判定することができる。
【００９０】
なお、上記第８の実施形態においては、複数の領域のそれぞれにおいて算出した周波数スペクトルを用いて、複数の領域毎に処理対象となるピークの決定、および品質情報Ｑ０の生成を行うようにしてもよい。この場合、領域毎に品質情報Ｑ０すなわちピークの幅を表示してもよい。表示の態様としては、ピークの幅に応じて領域の色を異なるものとするカラーマップを表示してもよい。図２５はカラーマップを示す図である。なお、図２５においては色が異なることを異なるハッチングにより示している。これにより、操作者は、複数の領域毎のグリッド密度のばらつきに起因する品質を判定することができる。
【００９１】
また、上記第８の実施形態においては、ピーク決定部３３において、処理対象のピークを決定している。しかしながら、周波数レスポンスにおいてピークが１つしか出現しない場合、あるいはグリッド本来の周期構造から、周波数レスポンスにおいて最大のピークとなる周波数が既知である場合等においては、処理対象となるピークを決定することなく、第１の品質情報生成部５０が、周波数レスポンスにおけるピークの幅を計測し、計測されたピークの幅を品質情報Ｑ０として表示するようにしてもよい。また、複数の領域毎に、処理対象となるピークを決定することなく、第１の品質情報生成部５０が、周波数レスポンスにおけるピークの幅を計測し、計測されたピークの幅を品質情報Ｑ０として表示するようにしてもよい。この場合、図２２におけるピーク決定部３３は不要となる。
【００９２】
次いで、本発明の第９の実施形態について説明する。図２６は、第９の実施形態において、コンピュータ２にグリッド品質判定プログラムをインストールすることにより実現されたグリッド品質判定装置の概略構成を示す図である。なお、図２６において図８と同一の構成については同一の参照番号を付与し、詳細な説明は省略する。図２６に示すように第９の実施形態におけるグリッド品質判定装置は、第２の実施形態におけるグリッド品質判定装置の第２の判定部３６に代えて、グリッドの品質を表す品質情報を生成する第２の品質情報生成部５１を備えた点が第２の実施形態と異なる。
【００９３】
第２の品質情報生成部５１は、周波数スペクトルにおけるピークの周波数と高調波周波数算出部３５が算出した少なくとも１つの高調波の周波数とを比較し、高調波の周波数とは異なる周波数におけるピークの有無を品質情報Ｑ１として生成し、生成した品質情報Ｑ１を表示部６に出力する。具体的には、第２の品質情報生成部５１は、周波数レスポンスにおいて全てのピークの周波数を検出する。そして、検出したピークの周波数のうち、対象となる周波数について、高調波周波数算出部３５が算出した全ての高調波の周波数に対してあらかじめ定められたしきい値Ｔｈ２以内にあるか否かを判定する。さらに、この判定を周波数レスポンスにおいて検出した全てのピーク周波数に対して行う。その結果、算出された高調波の周波数に対してしきい値Ｔｈ２を超える周波数のピークが出現する場合、高調波の周波数とは異なる周波数におけるピークがあることを表す情報を品質情報Ｑ１として生成する。逆に、算出された高調波の周波数に対してしきい値Ｔｈ２を超える周波数のピークが出現しない場合、高調波の周波数とは異なる周波数におけるピークがないことを表す情報を品質情報Ｑ１として生成する。表示部６は品質情報Ｑ１を表示する。
【００９４】
図２７は、第９の実施形態において、表示部６に表示された品質情報Ｑ１を示す図である。図２７に示すように、表示部６には、品質情報Ｑ１として、高調波の周波数とは異なる周波数におけるピークの有無が表示される。なお、図２７においては「ピーク有り」のテキストが表示されている。
【００９５】
このように、第９の実施形態においては、 周波数スペクトルにおけるピークの周波数と高調波周波数算出部３５が算出した少なくとも１つの高調波の周波数とを比較し、高調波の周波数とは異なる周波数におけるピークの有無を表す情報を品質情報Ｑ１として生成して表示部６に表示するようにした。このため、操作者は、表示された品質情報Ｑ１に基づいて、グリッド本来の周期構造とは異なる周期構造に起因するグリッドの品質を容易に判定することができる。
【００９６】
なお、上記第９の実施形態においては、複数の領域のそれぞれにおいて算出した周波数スペクトルを用いて、複数の領域毎に処理対象となるピークの決定、および品質情報Ｑ１の生成を行うようにしてもよい。この場合、領域毎に品質情報Ｑ１すなわちピークの有無を表示すればよい。表示の態様としては、ピークの有無に応じて領域の色を異なるものとするカラーマップを表示してもよい。これにより、操作者は、複数の領域毎に、グリッド本来の周期構造とは異なる周期構造に起因するグリッドの品質を判定することができる。
【００９７】
次いで、本発明の第１０の実施形態について説明する。図２８は、第１０の実施形態において、コンピュータ２にグリッド品質判定プログラムをインストールすることにより実現されたグリッド品質判定装置の概略構成を示す図である。なお、図２８において図１２と同一の構成については同一の参照番号を付与し、詳細な説明は省略する。図２８に示すように第１０の実施形態におけるグリッド品質判定装置は、第３の実施形態におけるグリッド品質判定装置の第３の判定部３８に代えて、グリッドの品質を表す品質情報を生成する第３の品質情報生成部５２を備えた点が第３の実施形態と異なる。
【００９８】
第３の品質情報生成部５２は、ピーク有無検出部３７が検出した、第１および第２の方向の周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無を品質情報Ｑ２として生成し、表示部６に出力する。表示部６は品質情報Ｑ２を表示する。
【００９９】
図２９は、第１０の実施形態において、表示部６に表示された品質情報Ｑ２を示す図である。図２９に示すように、表示部６には、品質情報Ｑ２として、第１および第２の方向の周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無が表示される。なお、図２９においては、第１の方向について「ピーク有り」、第２の方向について「ピーク無し」のテキストが表示されている。
【０１００】
このように、第１０の実施形態においては、第１および第２の方向の周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無を表す情報を品質情報Ｑ２として生成して表示部６に表示するようにした。このため、表示された品質情報Ｑ２に基づいて、操作者は、グリッドの縞目の方向とは異なる方向に存在する周期構造に起因するグリッドの品質を容易に判定することができる。
【０１０１】
なお、上記第１０の実施形態においては、放射線画像Ｇ０を例えば４等分する等して複数の領域に分割し、分割した領域のそれぞれにおいて、第１の方向および第２の方向の周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無に基づいて、領域毎にグリッドの品質を表す品質情報Ｑ２を生成してもよい。この場合、領域毎に品質情報Ｑ２すなわち第１および第２の方向についてのピークの有無を表示すればよい。表示の態様としては、第１および第２の方向におけるピークの有無に応じて領域の色を異なるものとするカラーマップを表示してもよい。例えば、第１の方向にのみピークがある場合にはその領域を緑色とし、第１および第２の方向の双方にピークがある場合にはその領域を赤色として表示してもよい。これにより、操作者は、複数の領域毎に、グリッドの縞目の方向とは異なる方向に存在する周期構造に起因するグリッドの品質を判定することができる。
【０１０２】
次いで、本発明の第１１の実施形態について説明する。図３０は、第１１の実施形態において、コンピュータ２にグリッド品質判定プログラムをインストールすることにより実現されたグリッド品質判定装置の概略構成を示す図である。なお、図３０において図２２と同一の構成については同一の参照番号を付与し、詳細な説明は省略する。図３０に示すように第１１の実施形態におけるグリッド品質判定装置は、第８の実施形態におけるグリッド品質判定装置に加えて、第９の実施形態におけるグリッド品質判定装置の高調波周波数算出部３５および第２の品質情報生成部５１を備え、表示部６が品質情報Ｑ０，Ｑ１を表示するようにした点が第８の実施形態と異なる。
【０１０３】
このように、第１１の実施形態においては、第８の実施形態における第１の品質情報生成部５０および第２の実施形態における第２の品質情報生成部５１を備えているため、操作者は、表示部６に表示された品質情報Ｑ０，Ｑ１を参照することにより、グリッド密度のばらつきに起因するグリッドの品質およびグリッド本来の周期構造とは異なる周期構造に起因するグリッドの品質の双方を容易に判定することができる。
【０１０４】
次いで、本発明の第１２の実施形態について説明する。図３１は、第１２の実施形態において、コンピュータ２にグリッド品質判定プログラムをインストールすることにより実現されたグリッド品質判定装置の概略構成を示す図である。なお、図３１において図２２と同一の構成については同一の参照番号を付与し、詳細な説明は省略する。図３１に示すように第１２の実施形態におけるグリッド品質判定装置は、第８の実施形態におけるグリッド品質判定装置に加えて、第１０の実施形態におけるグリッド品質判定装置のピーク有無検出部３７および第３の品質情報生成部５２を備え、表示部６が品質情報Ｑ０，Ｑ２を表示するようにした点が第８の実施形態と異なる。なお、第１２の実施形態においては、周波数解析部３２は、第１０の実施形態と同様に、放射線画像Ｇ０における第１および第２の方向のそれぞれの周波数スペクトルを取得する。
【０１０５】
このように、第１２の実施形態においては、第８の実施形態における第１の品質情報生成部５０および第１０の実施形態における第３の品質情報生成部５２を備えているため、操作者は、表示部６に表示された品質情報Ｑ０，Ｑ２を参照することにより、グリッド密度のばらつきに起因するグリッドの品質およびグリッドの縞目の方向とは異なる方向に存在する周期構造に起因するグリッドの品質の双方を容易に判定することができる。
【０１０６】
次いで、本発明の第１３の実施形態について説明する。図３２は、第１３の実施形態において、コンピュータ２にグリッド品質判定プログラムをインストールすることにより実現されたグリッド品質判定装置の概略構成を示す図である。なお、図３２において図２６と同一の構成については同一の参照番号を付与し、詳細な説明は省略する。図３２に示すように第１３の実施形態におけるグリッド品質判定装置は、第９の実施形態におけるグリッド品質判定装置に加えて、第１０の実施形態におけるピーク有無検出部３７および第３の品質情報生成部５２を備え、表示部６が品質情報Ｑ１，Ｑ２を表示するようにした点が第１０の実施形態と異なる。なお、第１３の実施形態においては、周波数解析部３２は、第１０の実施形態と同様に、放射線画像Ｇ０における第１および第２の方向のそれぞれの周波数スペクトルを取得する。
【０１０７】
このように、第１３の実施形態においては、第９の実施形態における第２の品質情報生成部５１および第１０の実施形態における第３の品質情報生成部５２を備えているため、操作者は、表示部６に表示された品質情報Ｑ１，Ｑ２を参照することにより、グリッド本来の周期構造とは異なる周期構造に起因するグリッドの品質およびグリッドの縞目の方向とは異なる方向に存在する周期構造に起因するグリッドの品質の双方を容易に判定することができる。
【０１０８】
次いで、本発明の第１４の実施形態について説明する。図３３は、第１４の実施形態において、コンピュータ２にグリッド品質判定プログラムをインストールすることにより実現されたグリッド品質判定装置の概略構成を示す図である。なお、図３３において図２２と同一の構成については同一の参照番号を付与し、詳細な説明は省略する。図３３に示すように第１４の実施形態におけるグリッド品質判定装置は、第８の実施形態におけるグリッド品質判定装置に加えて、第９の実施形態におけるグリッド品質判定装置の高調波周波数算出部３５および第２の品質情報生成部５１、並びに第１０の実施形態におけるグリッド品質判定装置のピーク有無検出部３７および第３の品質情報生成部５２を備え、表示部６が品質情報Ｑ０，Ｑ１，Ｑ２を表示するようにした点が第８の実施形態と異なる。なお、第１４の実施形態においては、周波数解析部３２は、第１０の実施形態と同様に、放射線画像Ｇ０における第１および第２の方向のそれぞれの周波数スペクトルを取得する。
【０１０９】
このように、第１４の実施形態においては、第８の実施形態における第１の品質情報生成部５０、第２の実施形態における第２の品質情報生成部５１および第３の実施形態における第３の品質情報生成部５２を備えているため、操作者は、表示部６に表示された品質情報Ｑ０，Ｑ１，Ｑ２を参照することにより、グリッド密度のばらつきに起因するグリッドの品質、グリッド本来の周期構造とは異なる周期構造に起因するグリッドの品質およびグリッドの縞目の方向とは異なる方向に存在する周期構造に起因するグリッドの品質の双方を容易に判定することができる。
【０１１０】
なお、上記各実施形態においては、放射線検出器５を用いて被写体の放射線画像を撮影するシステムにおいて取得した放射線画像を用いて散乱線除去処理を行っているが、特開平８−２６６５２９号公報、特開平９−２２０３９号公報等に示される放射線検出体としての蓄積性蛍光体シートに被写体の放射線画像情報を蓄積記録し、蓄積性蛍光体シートから光電的に読み取ることにより取得した放射線画像を用いた場合においても、本発明を適用できることはもちろんである。
【０１１１】
以下、本発明の実施形態の作用効果について説明する。
【０１１２】
グリッド密度にばらつきがなければ、周波数レスポンスにおいて、グリッド本来の周期構造に対応する周波数においてのみピークが出現するため、処理対象となるピークの幅は小さい。一方、グリッド密度にばらつきがあると、周波数スペクトルにおいて、グリッド本来の周期構造に対応する周波数に加えて、その周波数に近い周波数にピークが出現する。その結果、これら２つのピークが重なり、周波数レスポンスにおいて、処理対象となるピークの幅が大きくなる。したがって、処理対象のピークの幅がグリッド密度のばらつきの大きさに対応するものとなる。すなわち、ピークの幅が小さいほど、グリッド密度のばらつきは小さくなる。このため、処理対象となるピークの幅を計測し、計測されたピークの幅に基づいてグリッドの品質を判定する、あるいはピークの幅を品質情報として生成して表示することにより、グリッド密度のばらつきに起因するグリッドの品質を容易に判定することができる。例えば、ピークの幅をしきい値と比較し、ピークの幅がしきい値以上であれば、グリッドの品質は不良であると判定することができる。
【０１１３】
放射線画像を複数の領域に分割し、分割した各領域において周波数スペクトルの取得、処理対象となるピークの決定、およびグリッドの品質の判定、あるいは品質情報の生成および表示を行うことにより、グリッドの領域毎のグリッド密度のばらつきに起因する品質を判定することができる。
【０１１４】
グリッドにグリッド本来の周期構造と異なる周期構造が存在しない場合、周波数スペクトルに含まれるピークの周波数は、算出された高調波の周波数と一致する。一方、グリッドにグリッド本来の周期構造と異なる周期構造が存在する場合、周波数スペクトルには、算出された高調波の周波数以外の周波数にピークが存在する。このため、周波数スペクトルにおけるピークの周波数と高調波の周波数とを比較し、高調波の周波数とは異なる周波数におけるピークの有無に基づいてグリッドの品質を判定する、あるいはピークの有無を品質情報として生成して表示することにより、グリッド本来の周期構造以外の、グリッドとして不要な周期構造に起因するグリッドの品質を容易に判定することができる。例えば、比較の結果、高調波の周波数とは異なる周波数においてピークがある場合、グリッドの品質は不良であると判定することができる。
【０１１５】
グリッドにグリッドの縞目と異なる方向の周期構造が含まれなければ、放射線画像における互いに直交する第１および第２の方向において取得した周波数スペクトルのうち、１つの方向にのみピークが含まれる。一方、グリッドにグリッドの縞目と異なる方向の周期構造が含まれると、第１および第２の方向のそれぞれにおいて取得した周波数スペクトルの双方にピークが含まれる。この際、グリッドの縞目の方向と縞目とは異なる方向においてピークの大きさが異なるため、グリッドの縞目の方向が第１および第２の方向のいずれであるかを認識することができる。このため、第１および第２の方向の周波数スペクトルのそれぞれにおけるピークの有無に基づいて、グリッドの品質を判定する、あるいはピークの有無を品質情報として生成して表示することにより、グリッドの縞目の方向とは異なる方向に存在する周期構造に基づくグリッドの品質を容易に判定することができる。例えば、グリッドの縞目の方向とは異なる方向においてピークが出現する場合、グリッドの品質は不良であると判定することができる。
【符号の説明】
【０１１６】
１    放射線画像撮影装置
２    コンピュータ
３    Ｘ線源
４    散乱線除去グリッド
５    放射線検出器
６    表示部
８    入力部
２１    ＣＰＵ
２２    メモリ
２３    ストレージ
３１    画像取得部
３２    周波数解析部
３３    ピーク決定部
３４    第１の判定部
３５    高調波周波数算出部
３６    第２の判定部
３７    ピーク有無検出部
３８    第３の判定部
５０    第１の品質情報生成部
５１    第２の品質情報生成部
５２    第３の品質情報生成部
【図１】
0006548556.tif 000002
【図２】
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【図３】
0006548556.tif 000004
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
0006548556.tif 000008
【図８】
0006548556.tif 000009
【図９】
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【図１０】
0006548556.tif 000011
【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
0006548556.tif 000014
【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
0006548556.tif 000020
【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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