(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
検証対象装置における静電気放電の検証をシミュレーションによって行なうコンピュータに、
前記検証対象装置において対象部品から他部品へ伝播する電荷の移動距離を算出し、
算出した電荷の移動距離が規定値以内になる領域を取得し、
取得した領域を、前記対象部品に対する前記静電気放電の影響範囲として出力する、処理を実行させる、静電気放電検証プログラム。
【請求項２】
前記対象部品から前記検証対象装置における注目点までの前記電荷の移動経路として、電圧減衰量が最小になる経路を抽出し、
抽出した前記電荷の移動経路に沿った前記電荷の移動に伴う前記電圧減衰量を、前記対象部品から前記注目点までの前記電荷の移動距離に相当する電圧値として算出する、処理を、前記コンピュータに実行させる、請求項１に記載の静電気放電検証プログラム。
【請求項３】
前記対象部品上および複数の前記他部品上に設定される複数のサンプル点間の可視グラフを生成し、前記複数の他部品のそれぞれを複数のメッシュに分割し、前記対象部品上の頂点および前記サンプル点に前記電荷の移動距離の初期値として０を設定し、各他部品上の前記サンプル点と各他部品上の前記複数のメッシュの重心とのそれぞれに前記電荷の移動距離の初期値として最大値を設定する、初期化処理を、前記コンピュータに実行させ、
前記各他部品上の前記注目点である第１注目点として、前記最大値以外の値を前記電荷の移動距離として設定された点であって、前記対象部品の頂点に対応する点および前記複数のメッシュの重心のうちの一つを選択し、選択した前記第１注目点に隣接する前記重心の一つを次の第１注目点として抽出し、前記第１注目点に設定された前記電荷の移動距離と、前記第１注目点から前記次の第１注目点への移動に伴う第１電圧減衰量との第１合計値を算出し、算出した第１合計値が前記次の第１注目点に設定された前記電荷の移動距離に相当する第１電圧値未満であるか否かを判定し、前記第１合計値が前記第１電圧値未満である場合、前記次の第１注目点に設定された前記第１電圧値を、前記第１合計値に更新する、沿面距離算出処理を、前記コンピュータに実行させ、
前記検証対象装置における前記注目点である第２注目点として、前記最大値以外の値を前記電荷の移動距離として設定された点であって、前記対象部品の頂点および前記複数のサンプル点のうちの一つを選択し、選択した前記第２注目点に前記可視グラフによって接続される前記サンプル点の一つを次の第２注目点として抽出し、前記第２注目点に設定された前記電荷の移動距離と、前記第２注目点から前記次の第２注目点への移動に伴う第２電圧減衰量との第２合計値を算出し、算出した第２合計値が前記次の第２注目点に設定された前記電荷の移動距離に相当する第２電圧値未満であるか否かを判定し、前記第２合計値が前記第２電圧値未満である場合、前記次の第２注目点に設定された前記第２電圧値を、前記第２合計値に更新する、空間距離算出処理を、前記コンピュータに実行させ、
前記第１電圧値の更新および前記第２電圧値の更新が行なわれなくなるまで、前記沿面距離算出処理および前記空間距離算出処理を、繰り返し、前記コンピュータに実行させる、請求項２に記載の静電気放電検証プログラム。
【請求項４】
前記第１注目点から前記次の第１注目点への移動に伴う前記第１電圧減衰量を、前記各他部品について予め設定される、前記電荷の移動距離に応じた電圧減衰量を規定する第１電圧減衰量関数に基づいて算出する、処理を、前記コンピュータに実行させる、請求項３に記載の静電気放電検証プログラム。
【請求項５】
前記第２注目点から前記次の第２注目点への移動に伴う前記第２電圧減衰量を、前記他部品間の空間について予め設定される、前記電荷の移動距離に応じた電圧減衰量を規定する第２電圧減衰量関数に基づいて算出する、処理を、前記コンピュータに実行させる、請求項３または請求項４に記載の静電気放電検証プログラム。
【請求項６】
複数の前記対象部品のそれぞれについて、前記初期化処理、前記沿面距離算出処理、および前記空間距離算出処理を、前記コンピュータに実行させ、
前記複数のサンプル点および前記複数のメッシュの重心の各点に対し前記複数の対象部品のそれぞれについて設定された複数の前記電荷の移動距離のうち、最短の移動距離を選択し、選択した最短の移動距離を前記各点に設定する、合成処理を、前記コンピュータに実行させ、
前記合成処理によって前記各点に設定された前記最短の移動距離に基づき、前記電荷の移動距離の分布を導出し、前記静電気放電の影響範囲を取得して出力する、処理を、前記コンピュータに実行させる、請求項３〜請求項５のいずれか一項に記載の静電気放電検証プログラム。
【請求項７】
前記各点のうちの隣接する二点にそれぞれ設定された二つの前記最短の移動距離が、それぞれ、前記複数の対象部品のうちの異なる二つの対象部品からの距離である場合、当該二点を結ぶ線分間において、前記異なる二つの対象部品からの前記電荷の移動距離が同一になる点を、補間点として設定する、補間点設定処理を、前記コンピュータに実行させ、
前記合成処理によって前記各点に設定された前記最短の移動距離と、前記補間点設定処理によって設定された補間点とに基づき、前記電荷の移動距離の分布を導出し、前記静電気放電の影響範囲を取得して出力する、処理を、前記コンピュータに実行させる、請求項６に記載の静電気放電検証プログラム。
【請求項８】
検証対象装置における静電気放電の検証をシミュレーションによって行なう処理部を有し、
前記処理部は、
前記検証対象装置において対象部品から他部品へ伝播する電荷の移動距離を算出し、
算出した電荷の移動距離が規定値以内になる領域を取得し、
取得した領域を、前記対象部品に対する前記静電気放電の影響範囲として出力する、情報処理装置。
【請求項９】
コンピュータを用いて、検証対象装置における静電気放電の検証をシミュレーションによって行なう静電気放電検証方法であって、
前記検証対象装置において対象部品から他部品へ伝播する電荷の移動距離を算出し、
算出した電荷の移動距離が規定値以内になる領域を取得し、
取得した領域を、前記対象部品に対する前記静電気放電の影響範囲として出力する、静電気放電検証方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本件明細書に開示の発明は、静電気放電検証プログラム、情報処理装置、及び静電気放電検証方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ノートＰＣ（Personal Computer）などの製品に対し、帯電した物体（人体など）が接近または接触した時、ＥＳＤ（Electro-Static Discharge：静電気放電）が発生する場合がある。ＥＳＤの発生は、製品に内蔵されるＬＳＩ（Large Scale Integration）などの電子部品の損傷や誤動作を招く要因になる。また、電子部品の小型化の進行に伴って、ＥＳＤの影響はますます大きくなっている。このため、設計開発対象の製品（以下、検証対象装置という場合がある）について、ＥＳＤの検証（チェック）が行なわれる。
【０００３】
ＥＳＤの検証の一つとして、実機による検証が考えられる。実機による検証では、実際に製作された製品の試作機においてＥＳＤを発生させた後、試作機内の電子部品の状態が確認される。
【０００４】
一方、近年、三次元ＣＡＤ（Computer Aided Design）によって得られる三次元モデルを使用して製品の設計開発を効率化する設計支援装置（ＶＰＳ：Virtual Product Simulator）が開発されている。当該設計支援装置では、三次元シミュレーションを用いた製品設計が行なわれる。その際、試作機を製作することなく、設計した製品モデルが設計規則を遵守しているか否かを検証するデザインルールチェックが行なわれる。デザインルールチェックの一つとして、検証対象装置のＥＳＤチェックを行なうことができる。
【０００５】
三次元シミュレーションによるＥＳＤチェックでは、図１８に示すように、人体や物体が製品に触れることで発生する電荷（静電気）が当該電荷の印加点から製品内の電子部品までの電荷移動距離が算出される。算出された電荷移動距離が規定値以上であれば電荷は電子部品に届かずＥＳＤの影響を受けない（問題なし）と判断される一方、規定値未満であれば電荷が電子部品に届きＥＳＤの影響を受ける（問題あり）と判断される。
【０００６】
従来、ユーザ（設計者）は、上記設計支援装置の表示画面上において、図３（Ａ）に示すように、複数の静電気（電荷）の印加点を一つ一つ指定（設定）する。そして、製品外部で指定された各印加点から製品内部の各電子部品までの電荷移動距離が上述のごとく算出され、算出された電荷移動距離が規定値以上であるか否かを判断することで、検証対象装置全体のＥＳＤ検証が行なわれる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００９−０５４６４８号公報
【特許文献２】特開２００６−３３７０２９号公報
【特許文献３】特開平０８−２３３８８７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
上述のように、ユーザによって印加点を設定し当該印加点からの電荷移動距離を算出してＥＳＤ検証を行なう場合、図３（Ａ）に示すように、問題のある印加点を設定し損なう場合がある。つまり、検証漏れが発生し、ＥＳＤの影響を受ける印加点を特定できず、ＥＳＤ検証精度の低下を招く可能性がある。このような可能性を低くするためには、検証対象装置全体において多数の印加点を設定し各印加点について電荷移動距離を算出する必要があり、ＥＳＤ検証に多大な時間を要するという課題がある。
【０００９】
一つの側面で、本件明細書に開示の発明は、静電気放電検証に要する時間を短縮することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本件の静電気放電検証プログラムは、検証対象装置における静電気放電の検証をシミュレーションによって行なうコンピュータに、以下の処理（１）〜（３）を実行させる。
（１）前記検証対象装置において対象部品から他部品へ伝播する電荷の移動距離を算出する処理。
（２）算出した電荷の移動距離が規定値以内になる領域を取得する処理。
（３）取得した領域を、前記対象部品に対する前記静電気放電の影響範囲として出力する処理。
【発明の効果】
【００１１】
一実施形態によれば、静電気放電検証に要する時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の一実施形態としての静電気放電検証機能を有する情報処理装置の機能構成の一例を示すブロック図である。
【図２】本発明の一実施形態としての静電気放電検証機能を実現する情報処理装置のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。
【図３】（Ａ）は検証漏れの生じる従来のＥＳＤ検証手法を説明する図、（Ｂ）は本実施形態のＥＳＤ検証手法の概要を説明する図である。
【図４】電荷の移動経路（移動距離）を算出する際の電荷移動条件を例示する図である。
【図５】本実施形態のＥＳＤ検証に際して入力される情報とその入力手法の一例とを具体的に示す図である。
【図６】本実施形態のＥＳＤ検証に際して入力される情報とその入力手法の他例とを具体的に示す図である。
【図７】本実施形態のＥＳＤ検証に際して入力される情報と本実施形態のＥＳＤ検証機能によって表示出力される情報とを模式的に示す図である。
【図８】本実施形態のＥＳＤ検証機能によって表示出力される情報の一例を具体的に示す図である。
【図９】本実施形態における初期化処理部，沿面距離算出処理部および空間距離算出処理部の機能を説明する図である。
【図１０】（Ａ）〜（Ｅ）は本実施形態における初期化処理部，沿面距離算出処理部および空間距離算出処理部の機能を説明する図である。
【図１１】（Ａ）〜（Ｃ）は本実施形態における合成処理部および補間設定処理部の機能を説明する図である。
【図１２】本実施形態のＥＳＤ検証機能によるＥＳＤ検証手法の流れを説明するフローチャートである。
【図１３】本実施形態の初期化処理の手順を説明するフローチャートである。
【図１４】本実施形態の電荷移動距離算出処理の手順を説明するフローチャートである。
【図１５】本実施形態の沿面距離算出処理の手順を説明するフローチャートである。
【図１６】本実施形態の空間距離算出処理の手順を説明するフローチャートである。
【図１７】本実施形態の電荷移動距離合成処理および補間点設定処理の手順を説明するフローチャートである。
【図１８】三次元シミュレーションによるＥＳＤ検証を説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下に、図面を参照し、本願の開示する静電気放電検証プログラム、情報処理装置、及び静電気放電検証方法の実施形態について、詳細に説明する。ただし、以下に示す実施形態は、あくまでも例示に過ぎず、実施形態で明示しない種々の変形例や技術の適用を排除する意図はない。すなわち、本実施形態を、その趣旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。また、各図は、図中に示す構成要素のみを備えるという趣旨ではなく、他の機能を含むことができる。そして、各実施形態は、処理内容を矛盾させない範囲で適宜組み合わせることが可能である。
【００１４】
〔１〕本実施形態の静電気放電検証手法の概要
まず、図３（Ａ）および図３（Ｂ）を参照しながら、本実施形態の概要について説明する。なお、図３（Ａ）は検証漏れの生じる従来のＥＳＤ検証手法を説明する図、図３（Ｂ）は本実施形態のＥＳＤ検証手法の概要を説明する図である。
【００１５】
図３（Ａ）を参照しながら前述したように、三次元シミュレーションによる従来のＥＳＤ検証手法では、製品外部の印加点がユーザによって設定されるため、検証漏れの発生する可能性が高い。
【００１６】
そこで、本実施形態では、ユーザが、検証対象装置である製品を表示する表示画面上において、製品内部の一以上の対象部品（以下、電子部品，指定電子部品という場合がある）を指定する。電子部品が指定されると、コンピュータ（情報処理装置，設計支援装置）は、図３（Ｂ）に示すように、当該製品において指定電子部品から他部品へ伝播する電荷の移動距離を算出する。そして、コンピュータは、算出した電荷の移動距離が規定値以内になる領域を取得し、取得した領域を、指定電子部品に対するＥＳＤの影響範囲として出力する。例えば、図３（Ｂ）に示すように、表示画面上においてＥＳＤの影響範囲が表示出力される。また、複数の電子部品が指定される場合、コンピュータは、後述するごとく、各電子部品からの電荷の移動距離の分布を求め合成して表示出力する。
【００１７】
これにより、ユーザは、表示画面を参照することで、製品内部および製品外部を含む製品全体に亘るＥＳＤの影響範囲を一度で確認することができる。したがって、検証漏れ、即ち問題箇所の検出漏れの発生を確実に抑止しながら、ＥＳＤ検証が効率化されＥＳＤ検証に要する工数が削減されるので、ＥＳＤ検証に要する時間が短縮される。また、検証漏れの発生が確実に抑止されるので、ＥＳＤ検証精度の低下を招くこともなくなる。さらに、コンピュータによって製品の設計を変更しながらＥＳＤ対策の確認を効率的に行なうことが可能になるため、インタラクティブ性が向上しＥＳＤ対策が効率化される。
【００１８】
なお、本実施形態においては、指定電子部品から検証対象装置における注目点（他部品上の点）までの電荷の移動経路として、電圧減衰量が最小になる経路が抽出される。そして、抽出された電荷の移動経路に沿った電荷の移動に伴う電圧減衰量が、指定電子部品から注目点までの電荷の移動距離に相当する電圧値として算出される。
【００１９】
また、本実施形態において、表示出力される影響範囲の境界上から指定電子部品側で静電気放電が生じた場合、指定電子部品に影響を与える電圧レベルの電荷が、指定電子部品に到達すると判断することができる。
【００２０】
〔２〕静電気放電検証機能を実現する本実施形態の情報処理装置のハードウェア構成
まず、図２を参照しながら、本実施形態の静電気放電（ＥＳＤ）検証機能を実現する情報処理装置（コンピュータ）１０のハードウェア構成について説明する。図２は、当該ハードウェア構成の一例を示すブロック図である。
【００２１】
コンピュータ１０は、例えば、プロセッサ１１，ＲＡＭ（Random Access Memory）１２，ＨＤＤ（Hard Disk Drive）１３，グラフィック処理装置１４，入力インタフェース１５，光学ドライブ装置１６，機器接続インタフェース１７およびネットワークインタフェース１８を構成要素として有する。これらの構成要素１１〜１８は、バス１９を介して相互に通信可能に構成される。
【００２２】
プロセッサ（処理部）１１は、コンピュータ１０全体を制御する。プロセッサ１１は、マルチプロセッサであってもよい。プロセッサ１１は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit），ＭＰＵ（Micro Processing Unit），ＤＳＰ（Digital Signal Processor），ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit），ＰＬＤ（Programmable Logic Device），ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）のいずれか一つであってもよい。また、プロセッサ１１は、ＣＰＵ，ＭＰＵ，ＤＳＰ，ＡＳＩＣ，ＰＬＤ，ＦＰＧＡのうちの２種類以上の要素の組み合わせであってもよい。
【００２３】
ＲＡＭ（記憶部）１２は、コンピュータ１０の主記憶装置として使用される。ＲＡＭ１２には、プロセッサ１１に実行させるＯＳ（Operating System）プログラムやアプリケーションプログラムの少なくとも一部が一時的に格納される。また、ＲＡＭ１２には、プロセッサ１１による処理に必要な各種データが格納される。アプリケーションプログラムには、コンピュータ１０によって本実施形態のＥＳＤ検証機能を実現するためにプロセッサ１１によって実行されるＥＳＤ検証プログラム（図１の符号３１参照）が含まれてもよい。
【００２４】
ＨＤＤ（記憶部）１３は、内蔵したディスクに対して、磁気的にデータの書き込み及び読み出しを行なう。ＨＤＤ１３は、コンピュータ１０の補助記憶装置として使用される。ＨＤＤ１３には、ＯＳプログラム，アプリケーションプログラム、及び各種データが格納される。なお、補助記憶装置としては、フラッシュメモリ等の半導体記憶装置（ＳＳＤ：Solid State Drive）を使用することもできる。
【００２５】
グラフィック処理装置１４には、モニタ１４ａが接続されている。グラフィック処理装置１４は、プロセッサ１１からの命令に従って、画像をモニタ１４ａの画面に表示させる。モニタ１４ａとしては、ＣＲＴ（Cathode Ray Tube）を用いた表示装置や液晶表示装置等が挙げられる。
【００２６】
入力インタフェース１５には、キーボード１５ａおよびマウス１５ｂが接続されている。入力インタフェース１５は、キーボード１５ａやマウス１５ｂから送られてくる信号をプロセッサ１１に送信する。なお、マウス１５ｂは、ポインティングデバイスの一例であり、他のポインティングデバイスを使用することもできる。他のポインティングデバイスとしては、タッチパネル，タブレット，タッチパッド，トラックボール等が挙げられる。
【００２７】
光学ドライブ装置１６は、レーザ光等を利用して、光ディスク１６ａに記録されたデータの読み取りを行なう。光ディスク１６ａは、光の反射によって読み取り可能にデータを記録された可搬型の非一時的な記録媒体である。光ディスク１６ａには、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc），ＤＶＤ−ＲＡＭ，ＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disc Read Only Memory），ＣＤ−Ｒ（Recordable）／ＲＷ（ReWritable）等が挙げられる。
【００２８】
機器接続インタフェース１７は、コンピュータ１０に周辺機器を接続するための通信インタフェースである。例えば、機器接続インタフェース１７には、メモリ装置１７ａやメモリリーダライタ１７ｂを接続することができる。メモリ装置１７ａは、機器接続インタフェース１７との通信機能を搭載した非一時的な記録媒体、例えばＵＳＢ（Universal Serial Bus）メモリである。メモリリーダライタ１７ｂは、メモリカード１７ｃへのデータの書き込み、またはメモリカード１７ｃからのデータの読み出しを行なう。メモリカード１７ｃは、カード型の非一時的な記録媒体である。
【００２９】
ネットワークインタフェース１８は、ネットワーク１８ａに接続される。ネットワークインタフェース１８は、ネットワーク１８ａを介して、他のコンピュータまたは通信機器との間でデータの送受信を行なう。
【００３０】
以上のようなハードウェア構成を有するコンピュータ１０によって、図４〜図１７を参照しながら後述する本実施形態のＥＳＤ検証機能を実現することができる。
【００３１】
なお、コンピュータ１０は、例えばコンピュータ読み取り可能な非一時的な記録媒体に記録されたプログラム（ＥＳＤ検証プログラム等）を実行することにより、本実施形態のＥＳＤ検証機能を実現する。コンピュータ１０に実行させる処理内容を記述したプログラムは、様々な記録媒体に記録しておくことができる。例えば、コンピュータ１０に実行させるプログラムをＨＤＤ１３に格納しておくことができる。プロセッサ１１は、ＨＤＤ１３内のプログラムの少なくとも一部をＲＡＭ１２にロードし、ロードしたプログラムを実行する。
【００３２】
また、コンピュータ１０（プロセッサ１１）に実行させるプログラムを、光ディスク１６ａ，メモリ装置１７ａ，メモリカード１７ｃ等の非一時的な可搬型記録媒体に記録しておくこともできる。可搬型記録媒体に格納されたプログラムは、例えばプロセッサ１１からの制御により、ＨＤＤ１３にインストールされた後、実行可能になる。また、プロセッサ１１が、可搬型記録媒体から直接プログラムを読み出して実行することもできる。
【００３３】
〔３〕静電気放電検証機能を有する本実施形態の情報処理装置の機能構成
次に、図１を参照しながら、本実施形態の静電気放電（ＥＳＤ）検証機能を有する情報処理装置（コンピュータ）１０の機能構成について説明する。図１は、当該機能構成の一例を示すブロック図である。
【００３４】
コンピュータ１０は、検証対象装置である製品におけるＥＳＤの検証をシミュレーションによって行なうもので、図３（Ｂ）を参照しながら上述した機能を実現すべく、図１に示すように、少なくとも処理部２０，記憶部３０，入力部４０および表示部５０としての機能を有している。
【００３５】
処理部２０は、例えば図２に示すようなプロセッサ１１であり、上述したＥＳＤ検証プログラム３１を実行することで、後述する初期化処理部２１，沿面距離算出処理部２２，空間距離算出処理部２３，合成処理部２４，補間点設定処理部２５および表示制御部２６としての機能を果たす。
【００３６】
記憶部３０は、例えば図２に示すようなＲＡＭ１２，ＨＤＤ１３であり、ＥＳＤ検証機能を実現するための各種情報を記憶し保存する。当該各種情報としては、上述したＥＳＤ検証プログラム３１のほか、製品モデルデータ３２，ＥＳＤチェック用規定値３３，対象部品情報３４，電荷移動条件３５，チェックキュー３６などが含まれる。
【００３７】
製品モデルデータ３２は、三次元ＣＡＤを用いて生成された製品（検証対象装置）の三次元ＣＡＤデータであり、当該製品を形成する各部品の三次元ＣＡＤデータである部品モデルデータを含む。製品モデルデータ３２は、当該製品を形成する各部品について、導体であるか絶縁体であるかの区別を示す情報や、静電気の影響を受ける本実施形態の対象部品になる電子部品であるか否かの区別を示す情報を含む（図１２のステップＳ１参照）。製品モデルデータ３２は、例えば、ユーザが入力部４０を操作することで、光ディスク１６ａ，メモリ装置１７ａ，メモリカード１７ｃ，ネットワーク１８ａなどを経由して外部から入力される。
【００３８】
ＥＳＤチェック用規定値（影響距離，閾値）３３は、図５や図７を参照しながら後述するごとくユーザによって入力設定される値で、影響範囲の境界（図３（Ｂ），図７，図８参照）を規定する値である。当該影響範囲の境界上から指定電子部品側で静電気放電が生じた場合、指定電子部品に影響を与える電圧レベルの電荷が指定電子部品に到達すると判断することができる。ＥＳＤチェック用規定値３３としては、電荷移動距離に相当する電圧値が入力設定される。例えば、電荷移動距離に相当する電圧値は、指定電子部品の各頂点から影響範囲の境界に到達するまでの、電荷の電圧減衰量が最小になる経路に沿った電荷の移動に伴う電圧減衰量（例えば、単位ｋＶ）である。
【００３９】
指定電子部品情報（対象部品情報）３４は、図５〜図７を参照しながら後述するごとくユーザによって入力指定される指定電子部品（対象部品）に係る情報であり、一以上の指定電子部品を特定する情報を含む。本実施形態では、指定電子部品情報３４によって特定される一以上の指定電子部品に対するＥＳＤの影響範囲が求められ表示出力される。
【００４０】
電荷移動条件３５は、図４に示すような、電荷の移動経路（移動距離）を算出する際に後述するごとく用いられる条件である。図４は電荷移動条件３５を例示する図である。電荷移動条件３５は、ユーザによって入力されてもよいし、光ディスク１６ａ，メモリ装置１７ａ，メモリカード１７ｃ，ネットワーク１８ａなどを経由して外部から入力されてもよい。
【００４１】
図４に示すように、電子部品，ネジ等の導体部品において電荷は当該導体部品の内部（または表面）を移動し、当該移動に伴う電圧減衰量は例えば関数Ｆ(ｘ) [ｋＶ]で与えられる。ただし、本実施形態では、導体部品において電荷は当該導体部品の表面を移動するものと仮定する（図１５等参照）。また、基板，筐体等の絶縁体部品において電荷は当該絶縁体部品の表面を移動し、当該移動に伴う電圧減衰量は例えば関数Ｇ(ｘ) [ｋＶ]で与えられる。また、二つの部品間の空間において電荷は当該空間を移動し、当該移動に伴う電圧減衰量は例えば関数Ｈ(ｘ) [ｋＶ]で与えられる。
【００４２】
なお、ｘは、電荷が、部品上（沿面上）や、部品内部や、部品間の空間を移動した距離であり、電圧減衰量関数Ｆ(ｘ)，Ｇ(ｘ)，Ｈ(ｘ)は、電荷の移動距離ｘの関数である。また、電圧減衰量関数Ｆ(ｘ)，Ｇ(ｘ)は、それぞれ導体部品および絶縁体部品について予め設定される、電荷の移動距離ｘに応じた電圧減衰量を規定する第１電圧減衰量関数に相当し、部品の材質等によって異なる。同様に、電圧減衰量関数Ｈ(ｘ)は、二つの部品間の空間について予め設定される、電荷の移動距離ｘに応じた電圧減衰量を規定する第２電圧減衰量関数に相当し、電荷が移動する空間の温度，湿度等によって異なる。さらに、導体を移動する電荷の電圧減衰量は“０（ゼロ）”もしくは“０”に近いため、導体製品についての電圧減衰量関数Ｆ(ｘ)は、電荷の移動距離ｘに対し“０”もしくは“０”に近い値を示す関数であってもよい。
【００４３】
本実施形態では、上述のような電圧減衰量関数Ｆ(ｘ)，Ｇ(ｘ)，Ｈ(ｘ)を含む電荷移動条件３５に基づき、電圧減衰量が最小になる経路が、電荷の移動経路として算出され、当該移動経路の経路長が電荷移動距離として算出される。このとき、電荷移動距離は、当該電荷移動距離に相当する電圧値として表すことができる。例えば、電荷の移動経路に沿った当該電荷の移動に伴う電圧減衰量を、電荷移動距離に相当する電圧値として算出することができる。なお、当該移動経路が、アースされた導体部品（グラウンドに接続された導体部品）に到達した場合、それ以上、電荷は移動しないものと判断し、当該移動経路（移動距離）の算出は終了する。
【００４４】
チェックキュー３６は、後述する沿面距離算出処理（図１５参照）の実行時に初期化され、最大値（＋∞）以外の最短電荷移動距離（電荷距離）が設定された頂点あるいは重心を特定する情報を投入され一時的に保持する。同様に、チェックキュー３６は、後述する空間距離算出処理（図１６参照）の実行時に初期化され、最大値（＋∞）以外の最短電荷移動距離（電荷距離）が設定されたサンプル点を特定する情報を投入され一時的に保持する。
【００４５】
入力部４０は、例えば図２に示すようなキーボード１５ａおよびマウス１５ｂであり、ユーザによって操作され、図５〜図７に示すごとくＥＳＤチェック用規定値３３や指定電子部品情報３４を入力するほか、ＥＳＤ検証機能を実現するための各種指示を行なう。なお、マウス１５ｂに代え、タッチパネル，タブレット，タッチパッド，トラックボール等が用いられてもよい。
【００４６】
表示部５０は、例えば図２に示すようなモニタ１４ａであり、後述する表示制御部２６によって表示状態を制御される。表示部５０は、図５や図６に示すように、本実施形態のＥＳＤ検証機能を実現するために必要な情報の入力をユーザに対し促す情報を表示する。また、表示部５０は、図７や図８に示すように、本実施形態のＥＳＤ検証機能によって得られた一以上の指定電子部品に対するＥＳＤの影響範囲の境界を表示出力するほか、ＥＳＤ検証手順に伴う各種状況を表示する。なお、本実施形態では、ＥＳＤの影響範囲の境界等は表示部５０に表示出力されているが、本実施形態はこれに限定されるものでなく、ＥＳＤの影響範囲の境界等は、プリンタ等によって印刷出力されてもよい。
【００４７】
ここで、図５は、本実施形態のＥＳＤ検証に際して入力される情報とその入力手法の一例とを具体的に示す図である。図５では、表示部５０において、製品モデルデータ３２に基づき検証対象装置である製品が表示されるとともに、ＥＳＤチェック用ウインドウが表示されている。ＥＳＤチェック用ウインドウにおいて、ユーザは、入力部４０を操作し、ＥＳＤチェック用規定値と製品内部の対象部品を特定する情報（例えば部品名）とを入力する。部品名が入力されると、当該部品名に対応する対象部品、つまり選択された対象部品は、表示部５０において強調的に表示される。例えば、対象部品は、ハイライト表示，色づけ等によって強調的に表示される。なお、図５では、部品名等を入力して対象部品が選択されているが、ユーザがマウス１５ｂを操作し表示部５０に表示される部品をクリックすることによって対象部品を選択してもよい。
【００４８】
図６は、本実施形態のＥＳＤ検証に際して入力される情報とその入力手法の他例とを具体的に示す図である。図６では、表示部５０において、対象部品になり得る候補部品の部品名がリスト形式で表示される。そして、ユーザは、マウス１５ｂを操作し、リスト表示されている部品名の中から対象部品の部品名をクリックすることによって対象部品を選択してもよい。このときも、選択された対象部品は、表示部５０において強調的に表示される。
【００４９】
図７は、本実施形態のＥＳＤ検証に際して入力される情報と本実施形態のＥＳＤ検証機能によって表示出力される情報とを模式的に示す図である。本実施形態では、図７に示すように、少なくともＥＳＤチェック用規定値および対象部品が、ユーザによって入力設定される。この後、入力設定された規定値および対象部品に基づき、本実施形態のＥＳＤ検証が行なわれる。そして、図７に示すように、影響範囲や、影響範囲の境界や、対象部品から影響範囲の境界までの最短経路（最短電荷移動経路）や、当該最短経路の経路長（最短距離，最短電荷移動距離，又は電荷距離という場合もある）が表示部５０で表示出力される。なお、最短距離としては、当該最短距離に相当する電圧値が得られる。当該電圧値としては、例えば、最短経路に沿った電荷移動に伴う電荷減衰量が得られる。なお、図７では、最短距離に係る情報の図示は省略されているが、最短距離に係る情報としては、得られた最短距離（電圧値）が、最短経路表示（点線矢印）に対応付けられて表示されてもよい。
【００５０】
図８は、本実施形態のＥＳＤ検証機能によって表示出力される情報の一例を具体的に示す図である。図８では、特に、影響範囲や、影響範囲の境界の具体的な表示例が示されている。図８では、影響範囲の境界が、点線円によって強調的に表示されている。つまり、図８に示す表示出力例では、ユーザは、表示部５０を参照するだけで、対象部品から、プラグを挿入されるジャック等の穴の外側まで影響範囲が広がっていることを視認することができる。このとき、影響範囲内の部品表面を色づけする強調表示や、影響範囲内の部品のみを表示する強調表示を行なってもよい。ユーザは、このような強調表示を参照することで、影響範囲の境界上から対象部品側で静電気放電が生じた場合、対象部品に影響を与える電圧レベルの電荷が対象部品に到達すると判断することができる。
【００５１】
ＥＳＤ検証プログラム３１は、上述のごとく、処理部２０（プロセッサ１１）に、後述する初期化処理部２１，沿面距離算出処理部２２，空間距離算出処理部２３，合成処理部２４，補間点設定処理部２５および表示制御部２６による処理を実行させるものである。
【００５２】
次に、処理部２０（プロセッサ１１）によって実現される、初期化処理部２１，沿面距離算出処理部２２，空間距離算出処理部２３，合成処理部２４，補間点設定処理部２５および表示制御部２６としての機能について図９〜図１１（Ｃ）を参照しながら説明する。なお、図９および図１０（Ａ）〜図１０（Ｅ）は、本実施形態における初期化処理部２１，沿面距離算出処理部２２および空間距離算出処理部２３の機能を説明する図である。図１１（Ａ）〜図１１（Ｃ）は、本実施形態における合成処理部２４および補間設定処理部２５の機能を説明する図である。
【００５３】
初期化処理部２１は、本実施形態のＥＳＤ検証の開始時に、以下の処理（ａ１）〜（ａ４）を実行する。
【００５４】
（ａ１）一以上の指定電子部品上、および、当該指定電子部品以外の複数の他部品上に複数のサンプル点を設定する。サンプル点は、ユーザによって設定されてもよいし、ユーザによって指定された間隔に基づき自動的に設定されてもよい。そして、指定電子部品上および複数の他部品上に設定された複数のサンプル点間の可視グラフを生成する（図９下段参照）。
【００５５】
（ａ２）複数の他部品のそれぞれを複数のメッシュに分割する。このとき、例えば、各部品の表面は、複数の三角形ポリゴンに分割され、各三角形の重心Ｇが算出される（図９上段参照）。
【００５６】
（ａ３）各他部品上のサンプル点と各他部品上の複数のメッシュの重心Ｇとのそれぞれに電荷の移動距離の初期値として“＋∞（最大値）”を設定する。例えば図９下段における部品上のサンプル点には、初期値として“＋∞”が設定される。また、図９上段に示す他部品上の各三角形ポリゴンの重心Ｇには、初期値として“＋∞”が設定される。
【００５７】
（ａ４）ユーザによって指定された電子部品上の頂点およびサンプル点に、電荷の移動距離の初期値として“０”を設定する。例えば、図９中段に示す電子部品上の各頂点や各重心Ｇと、図９下段に示す電子部品上のサンプル点とには、初期値として“０”が設定される。また、図１０（Ａ）では、電子部品Ａを載置される他部品ａ下面の載置領域（太点線領域）内における、電子部品Ａの頂点に対応する点や重心Ｇには、初期値として“０”が設定される。なお、図１０（Ａ）では、他部品ａ下面の載置領域（太点線領域）内における、電子部品Ａの頂点に対応する点Ｘ１，Ｘ２や重心Ｇには、初期値として、上記処理（ａ３）で一旦“＋∞”が設定された後、当該処理（ａ４）で“０”が設定される。
【００５８】
沿面距離算出処理部２２は、図９上段に示すごとく、各部品表面の三角形ポリゴンの重心Ｇを辿って、各部品の表面に沿う電荷の移動距離つまり沿面距離を算出する。このため、沿面距離算出処理部２２は、以下の処理（ｂ１）〜（ｂ５）を実行する。
【００５９】
（ｂ１）各他部品上の注目点（第１注目点Ｐ）として、“＋∞”以外の値（一回目は初期値０）を電荷の移動距離として設定された点であって、一以上の対象部品の頂点に対応する点（例えば図１０（Ａ）では上記点Ｘ１，Ｘ２）および前記複数のメッシュの重心Ｇのうちの一つを選択する。処理開始時であれば、初期値０を設定された点の中から第１注目点Ｐが選択される。なお、第１注目点Ｐの候補になる“＋∞”以外の値を電荷の移動距離として設定された点を特定する情報は、チェックキュー３６に投入されて保存されており、当該チェックキュー３６から第１注目点Ｐに係る情報を取り出すことにより、第１注目点Ｐが選択される。
【００６０】
（ｂ２）選択した第１注目点Ｐに隣接する重心Ｇの一つを、次の第１注目点として抽出する（図９上段参照）。
【００６１】
（ｂ３）第１注目点Ｐに設定された電荷の移動距離eDist(Ｐ)と、第１注目点Ｐから次の第１注目点Ｇへの移動に伴う第１電圧減衰量との第１合計値を算出する。ここで、eDist(Ｐ)は、点Ｐにおける最短電荷移動距離に相当する電圧値である。また、第１注目点Ｐから次の第１注目点Ｇへの移動に伴う第１電圧減衰量は、電荷の移動距離に応じた電圧減衰量を規定する第１電圧減衰量関数Ｆ(ｘ)またはＧ(ｘ)に基づいて算出される。つまり、注目点の存在する部品が導体である場合、第１注目点Ｐから次の第１注目点Ｇへの移動に伴う第１電圧減衰量は、Ｆ(|Ｐ−Ｇ|)として算出され、第１合計値は、eDist(Ｐ)＋Ｆ(|Ｐ−Ｇ|)になる。また、注目点の存在する部品が絶縁体である場合、第１注目点Ｐから次の第１注目点Ｇへの移動に伴う第１電圧減衰量は、Ｇ(|Ｐ−Ｇ|)として算出され、第１合計値は、eDist(Ｐ)＋Ｇ(|Ｐ−Ｇ|)になる。
【００６２】
（ｂ４）上記処理（ｂ３）で算出した第１合計値eDist(Ｐ)＋Ｆ(|Ｐ−Ｇ|)またはeDist(Ｐ)＋Ｇ(|Ｐ−Ｇ|)が、次の第１注目点Ｇに設定された電荷の移動距離（一回目は初期値＋∞）に相当する第１電圧値eDist(Ｇ)未満であるか否かを判定する。
【００６３】
（ｂ５）第１合計値が第１電圧値eDist(Ｇ)未満である場合、次の第１注目点Ｇに設定された第１電圧値eDist(Ｇ)を、第１合計値eDist(Ｐ)＋Ｆ(|Ｐ−Ｇ|)またはeDist(Ｐ)＋Ｇ(|Ｐ−Ｇ|)に更新し、次の第１注目点Ｇをチェックキュー３６に投入する。一方、第１合計値が第１電圧値eDist(Ｇ)以上である場合、沿面距離算出処理部２２は、上記処理（ｂ２）に戻る。
【００６４】
上記処理（ｂ２）〜（ｂ５）は、上記処理（ｂ２）で第１注目点Ｐに隣接する全ての重心Ｇについて処理を完了するまで繰り返し実行される。また、上記処理（ｂ１）〜（ｂ５）は、チェックキュー３６に保持される、第１注目点Ｐの候補情報が無くなるまで繰り返し実行される。
【００６５】
空間距離算出処理部２３は、図９下段に示すごとく、部品表面上に設定したサンプル点に基づき可視グラフを作成して部品間の電荷の移動距離つまり空間距離を算出する。このため、空間距離算出処理部２３は、以下の処理（ｃ１）〜（ｃ５）を実行する。
【００６６】
（ｃ１）各他部品上の注目点（第２注目点Ｐ）として、“＋∞”以外の値（一回目は初期値０）を電荷の移動距離として設定された点であって、一以上の対象部品の頂点および複数のサンプル点のうちの一つを選択する。処理開始時であれば、初期値０を設定された点の中から第２注目点Ｐが選択される。なお、第２注目点Ｐの候補になる“＋∞”以外の値を電荷の移動距離として設定された点を特定する情報は、チェックキュー３６に投入されて保存されており、当該チェックキュー３６から第２注目点Ｐに係る情報を取り出すことにより、第２注目点Ｐが選択される。
【００６７】
（ｃ２）選択した第２注目点Ｐに可視グラフによって接続されるサンプル点の一つを次の第２注目点Ｑとして抽出する（図９下段参照）。第２注目点Ｐおよび次の第２注目点Ｑは、それぞれ、例えば図９中の点Ｐ，Ｑに相当する。
【００６８】
（ｃ３）第２注目点Ｐに設定された電荷の移動距離eDist(Ｐ)と、第２注目点Ｐから次の第２注目点Ｑへの移動に伴う第２電圧減衰量との第２合計値を算出する。ここで、第２注目点Ｐから次の第２注目点Ｑへの移動に伴う第２電圧減衰量は、部品間の空間について予め設定される、電荷の移動距離に応じた電圧減衰量を規定する第２電圧減衰量関数Ｈ(ｘ)に基づいて算出される。つまり、第２注目点Ｐから次の第２注目点Ｑへの移動に伴う第２電圧減衰量は、Ｈ(|Ｐ−Ｑ|)として算出され、第２合計値は、eDist(Ｐ)＋Ｈ(|Ｐ−Ｑ|)になる。
【００６９】
（ｃ４）上記処理（ｃ３）で算出した第２合計値eDist(Ｐ)＋Ｈ(|Ｐ−Ｑ|)が、次の第２注目点Ｑに設定された電荷の移動距離（一回目は初期値＋∞）に相当する第２電圧値eDist(Ｑ)未満であるか否かを判定する。
【００７０】
（ｃ５）第２合計値が第２電圧値eDist(Ｑ)未満である場合、次の第２注目点Ｑに設定された第２電圧値eDist(Ｑ)を、第２合計値eDist(Ｐ)＋Ｈ(|Ｐ−Ｑ|)に更新し、次の第２注目点Ｑをチェックキュー３６に投入する。一方、第２合計値が第２電圧値eDist(Ｑ)以上である場合、空間距離算出処理部２３は、上記処理（ｃ２）に戻る。
【００７１】
上記処理（ｃ２）〜（ｃ５）は、上記処理（ｃ２）で第２注目点Ｐに接続される全てのサンプル点について処理を完了するまで繰り返し実行される。また、上記処理（ｃ１）〜（ｃ５）は、チェックキュー３６に保持される、第２注目点Ｐの候補情報が無くなるまで繰り返し実行される。
【００７２】
そして、処理部２０は、第１電圧値eDist(Ｇ)も第２電圧値eDist(Ｑ)も更新されなくなるまで、上述した沿面距離算出処理部２２および空間距離算出処理部２３による処理を、繰り返し実行する。このような処理の繰り返しの具体例について、図１０（Ａ）〜図１０（Ｅ）を参照しながら説明する。なお、図１０（Ａ）〜図１０（Ｅ）において、例えば、他部品ａ，ｂは、製品内部の基板等であり、他部品ｃ，ｄは、ジャック等の穴を有する製品の筐体である。
【００７３】
例えば、図１０（Ａ）において、初期化処理部２１は、指定電子部品（対象部品）Ａとそれ以外の他部品ａ〜ｄに対し上記処理（ａ１）〜（ａ４）を実行する。これにより、電子部品Ａ上の頂点およびサンプル点に電荷移動距離の初期値“０”が設定されるとともに、他部品ａ下面の電子部品Ａの載置領域（太点線領域）内におけるサンプル点や重心Ｇに電荷移動距離の初期値“０”が設定される。また、初期値“０”を設定された点以外の、他部品ａ〜ｄ上のサンプル点や重心Ｇに電荷移動距離の初期値“＋∞”が設定される。
【００７４】
初期化後、図１０（Ｂ）に示すように、まず、沿面距離算出処理部２２は、電子部品Ａが載置される他部品ａについて、電荷移動距離として“＋∞”以外の値つまり０を設定された電子部品Ａの頂点に対応する点および重心Ｇの一つを第１注目点Ｐとして選択し、上記処理（ｂ１）〜（ｂ４）を実行する。これにより、他部品ａ外周面における各重心Ｇについて、電子部品Ａから当該重心Ｇまでの電荷移動距離相当の第１電圧値eDist(Ｇ)が更新される。
【００７５】
この後、図１０（Ｃ）に示すように、空間距離算出処理部２３は、他部品ａの左右両面および上面における各サンプル点（第２注目点）Ｐから、他部品ｂの下面における各サンプル点（次の第２注目点）Ｑへの可視グラフについて、上記処理（ｃ１）〜（ｃ４）を実行する。これにより、他部品ｂ下面における各サンプル点Ｑについて、電子部品Ａから当該サンプル点Ｑまでの電荷移動距離相当の第２電圧値eDist(Ｑ)が更新される。
【００７６】
ついで、図１０（Ｄ）に示すように、沿面距離算出処理部２２は、他部品ｂについて、電荷移動距離として“＋∞”以外の値を設定された点（重心Ｇまたはサンプル点）の一つを第１注目点Ｐとして選択し、上記処理（ｂ１）〜（ｂ４）を実行する。これにより、他部品ｂ外周面における各重心Ｇについて、電子部品Ａから当該重心Ｇまでの電荷移動距離相当の第１電圧値eDist(Ｇ)が更新される。
【００７７】
そして、図１０（Ｅ）に示すように、空間距離算出処理部２３は、他部品ｂの上面における各サンプル点（第２注目点）Ｐから、他部品ｃの左右両面および下面と他部品ｄの左面および下面における各サンプル点（次の第２注目点）Ｑへの可視グラフについて、上記処理（ｃ１）〜（ｃ４）を実行する。これにより、他部品ｃの左右両面および下面と他部品ｄの左面および下面における各サンプル点Ｑについて、電子部品Ａから当該サンプル点Ｑまでの電荷移動距離相当の第２電圧値eDist(Ｑ)が更新される。
【００７８】
合成処理部２４は、ユーザによって複数の指定電子部品（対象部品）が入力設定され各指定電子部品について初期化処理部２１，沿面距離算出処理部２２および空間距離算出処理部２３による処理を実行した場合に機能する。合成処理部２４は、複数のサンプル点および複数のメッシュの重心Ｇの各点に対し各指定電子部品について設定された複数の電荷移動距離のうち、最短の移動距離を選択し、選択した最短の移動距離を各点に設定する。
【００７９】
補間点設定処理部２５は、複数のサンプル点および複数のメッシュの重心Ｇの各点のうちの隣接する二点にそれぞれ設定された二つの最短の電荷移動距離が、それぞれ、複数の指定電子部品のうちの異なる二つの指定電子部品からの距離である場合に機能する。補間点設定処理２５は、当該隣接する二点を結ぶ線分間において、異なる二つの指定電子部品からの電荷の移動距離が同一になる点を、補間点として設定する。
【００８０】
そして、処理部２０は、合成処理部２４によって各点に設定された最短の移動距離と、補間点設定処理部２５によって設定された補間点とに基づき、電荷の移動距離の分布を導出し、複数の指定電子部品に対するＥＳＤの影響範囲を取得して出力する。
【００８１】
ここで、図１１（Ａ）〜図１１（Ｃ）を参照しながら、合成処理部２４および補間設定処理部２５の機能について説明する。
【００８２】
図１１（Ａ）では、二つの電子部品Ａ，Ｂのそれぞれについて初期化処理部２１，沿面距離算出処理部２２および空間距離算出処理部２３による処理を実行した結果例が示される。つまり、図１１（Ａ）では、各電子部品Ａ，Ｂにおける各点（頂点，サンプル点，重心）に設定された最短電荷移動距離（電荷距離；物理量は電圧）の例が示される。
【００８３】
例えば、他部品ｆ上の点ｐ１には、電子部品Ａからの電荷距離“７”が設定されるとともに電子部品Ｂからの電荷距離“１３”が設定される。また、他部品ｆ上の点ｐ２には、電子部品Ａからの電荷距離“１０”が設定されるとともに電子部品Ｂからの電荷距離“８”が設定される。さらに、他部品ｆ上の点ｐ３には、電子部品Ａからの電荷距離“１２”が設定されるとともに電子部品Ｂからの電荷距離“９”が設定される。
【００８４】
同様に、他部品ｇ上の点ｐ４には、電子部品Ａからの電荷距離“１３”が設定されるとともに電子部品Ｂからの電荷距離“７”が設定される。また、他部品ｇ上の点ｐ５には、電子部品Ａからの電荷距離“１４”が設定されるとともに電子部品Ｂからの電荷距離“９”が設定される。さらに、他部品ｇ上の点ｐ６には、電子部品Ａからの電荷距離“１６”が設定されるとともに電子部品Ｂからの電荷距離“８”が設定される。
【００８５】
図１１（Ｂ）では、図１１（Ａ）に示すように各電子部品Ａ，Ｂにおける各点に設定された電荷距離に基づいて得られた、合成処理部２４による合成結果例および補間点設定処理部２５による補間点設定結果例が示される。
【００８６】
合成処理部２４は、各点ｐ１〜ｐ６に対し各電子部品Ａ，Ｂについて設定された二つの電荷距離のうち、最短の移動距離を選択し、選択した最短の移動距離を各点ｐ１〜ｐ６に設定することで、図１１（Ｂ）に示すように、二つの電子部品Ａ，Ｂについての電荷距離が一つに合成される。
【００８７】
例えば、他部品ｆの点ｐ１については電子部品Ａからの電荷距離“７”が選択され、他部品ｆの点ｐ２については電子部品Ｂからの電荷距離“８”が選択され、他部品ｆの点ｐ３については電子部品Ｂからの電荷距離“９”が選択される。同様に、他部品ｇの点ｐ４については電子部品Ｂからの電荷距離“７”が選択され、他部品ｇの点ｐ５については電子部品Ｂからの電荷距離“８”が選択され、他部品ｇの点ｐ６については電子部品Ｂからの電荷距離“８”が選択される。
【００８８】
また、補間点設定処理部２５は、点ｐ１〜ｐ６のうちの隣接する二点にそれぞれ設定された二つの最短の移動距離が、それぞれ、異なる二つの電子部品Ａ，Ｂからの距離である場合に機能する。図１１（Ｂ）に示す例では、他部品ｆ上の点ｐ１には電子部品Ａからの電荷距離“７”が設定され、点ｐ１に隣接する点ｐ２には電子部品Ｂからの電荷距離“８”が設定されており、点ｐ１，ｐ２に対し補間点設定処理部２５が以下のように機能する。つまり、補間点設定処理２５は、当該二点ｐ１，ｐ２を結ぶ線分ｐ１−ｐ２間において、異なる二つの指定電子部品Ａ，Ｂからの電荷距離が同一になる点ｑ１を、補間点として設定する。
【００８９】
ここで、図１１（Ａ）に示すように、点ｐ１には電子部品Ａからの電荷距離“７”と電子部品Ｂからの電荷距離“１３”とが設定され、点ｐ２には電子部品Ａからの電荷距離“１０”と電子部品Ｂからの電荷距離“８”とが設定される。このとき、点ｐ１と点ｐ２との間において電荷の電圧が線型に減衰すると仮定すると、図１１（Ｂ）に示すように、線分ｐ１−ｐ２を３：１に分割する点ｑ１において、電子部品Ａからの電荷距離と電子部品Ｂからの電荷距離とが同一の値“９．２５”になる。
【００９０】
具体的には、以下のようにして、電子部品Ａからの電荷距離と電子部品Ｂからの電荷距離とが同一の値“９．２５”が得られる。ここで、図１１（Ａ）における点ｐ１と点ｐ２との間隔を定数Ｋと仮定し、点ｐ１と点ｐ２との間の位置をｘとする。また、点ｐ１と点ｐ２との間の各位置における電子部品Ａおよび電子部品Ｂからの電荷距離をそれぞれｙＡおよびｙＢとする。このとき、位置ｘにおける電荷距離ｙＡおよびｙＢ以下のように与えられる。
電荷距離ｙＡ ＝ （１０−７）ｘ／Ｋ＋７
電荷距離ｙＢ ＝ （８−１３）ｘ／Ｋ＋１３
【００９１】
このとき、電荷距離ｙＡ＝電荷距離ｙＢとなるときの位置ｘは、以下のように算出される。
（１０−７）ｘ／Ｋ＋７＝（８−１３）ｘ／Ｋ＋１３
３ｘ＋７Ｋ＝−５ｘ＋１３Ｋ
ｘ＝３Ｋ／４
【００９２】
したがって、電荷距離ｙＡ＝電荷距離ｙＢ＝３・３／４＋７＝３７／４＝９．２５となる。
このように得られた点ｑ１が、線分ｐ１−ｐ２上の補間点（図１１（Ｂ）における「補：９．２５」参照）として設定される。
【００９３】
なお、図１１（Ａ）では図示を省略されているが、各電子部品Ａ，Ｂの各頂点に電荷距離として０が設定されている。このため、二つの電子部品Ａ，Ｂを載置される他部品ｅ上における点ｑ２（電子部品Ａ，Ｂの中間点）は、補間点として設定されてもよい。図１１（Ｂ）に示す例では、補間点ｑ２において、電子部品Ａからの電荷距離および電子部品Ｂからの電荷距離として同一の値、例えば、“４”が設定される。
【００９４】
図１１（Ｃ）では、図１１（Ｂ）に示すように得られた合成結果例および補間点設定結果例に基づいて導出される最短電荷移動距離分布例が示される。処理部２０は、図１１（Ｃ）に示すように、各点ｐ１〜ｐ６，ｑ１，ｑ２に設定された電荷距離に基づき、近隣において同一の電荷距離（最短電荷移動距離）を設定された点どうしを結ぶことで、最短電荷移動距離分布を導出する。図１１（Ｃ）に示す例では、同一の電荷距離として“７”および“８”を設定された点を結ぶことで導出された、値“７”，“８”についての等距離線が示されている。このとき、ＥＳＤチェック用規定値３３として設定された値（影響距離，閾値）を設定された点どうしを結ぶことで、ＥＳＤの影響範囲の境界が取得される。
【００９５】
表示制御部２６は、上述した表示部５０の表示状態を制御する。例えば、表示制御部２６は、本実施形態のＥＳＤ検証機能を実現するために必要な情報の入力をユーザに対し促す情報（図５，図６参照）を、表示部５０に表示させる。また、表示制御部２６は、本実施形態のＥＳＤ検証機能によって得られた一以上の指定電子部品に対するＥＳＤの影響範囲の境界（図７，図８参照）を、表示部５０に表示させる。同様に、表示制御部２６は、本実施形態のＥＳＤ検証機能によって得られた最短電荷移動距離分布（図１１（Ｃ）参照）を、表示部５０に表示させる。さらに、表示制御部２６は、ＥＳＤ検証手順に伴う各種状況を、表示部５０に表示させる。なお、表示制御部２６は、上述のように各種情報を表示部５０に表示させる代わりに、プリンタ等に印刷出力させるように機能してもよい。
【００９６】
〔４〕本実施形態のＥＳＤ検証機能によるＥＳＤ検証手順
次に、図１２〜図１７を参照しながら、本実施形態の情報処理装置１０のＥＳＤ検証機能によるＥＳＤ検証手順について説明する。
【００９７】
〔４−１〕ＥＳＤ検証手法の流れ
まず、図１２に示すフローチャート（ステップＳ１〜Ｓ５）に従って、本実施形態のＥＳＤ検証機能によるＥＳＤ検証手法の流れについて説明する。
【００９８】
本実施形態のＥＳＤ検証を開始するに際し、まず、本実施形態のＥＳＤ検証を実行するための情報が、情報処理装置１０に入力され記憶部３０に保存される（ステップＳ１）。ここで入力される情報は、少なくとも、前述した製品モデルデータ３２，ＥＳＤチェック用規定値３３，指定電子部品情報３４および電荷移動条件３５である。
【００９９】
情報３２〜３５の入力後、初期化処理部２１は、上述した処理（ａ１）〜（ａ４）を実行することで、初期化処理を行なう（ステップＳ２）。初期化処理部２１による処理手順については、図１３を参照しながら後述する。
【０１００】
初期化処理後、各指定電子部品について、沿面距離算出処理部２２が上述した処理（ｂ１）〜（ｂ５）を実行するとともに、空間距離算出処理部２３が上述した処理（ｃ１）〜（ｃ５）を実行することで、各指定電子部品の各点までの最短電荷移動距離が算出され、算出された最短電荷移動距離が各点に設定される（ステップＳ３）。沿面距離算出処理部２２および空間距離算出処理部２３による処理手順については、図１４〜図１６を参照しながら後述する。
【０１０１】
各指定電子部品の各点について最短電荷移動距離を算出して設定した後、合成処理部２４は、図１１（Ａ）および図１１（Ｂ）を参照しながら上述した手順で、各点に対し指定電子部品毎に設定された複数の電荷移動距離から最短の移動距離を選択し、電荷移動距離の合成を行なう（ステップＳ４）。このとき、補間点設定処理部２５は、図１１（Ａ）および図１１（Ｂ）を参照しながら上述した手順で、補間点の設定や、当該補間点に対する最短電荷移動距離の設定を行なう。なお、合成処理部２４および補間点設定処理部２５による処理手順については、図１７を参照しながら後述する。
【０１０２】
さらに、処理部２０は、合成処理部２４によって各点に設定された最短の移動距離と、補間点設定処理部２５によって設定された補間点とに基づき、図１１（ｃ）を参照しながら上述した手順で電荷の移動距離の分布を導出し、複数の指定電子部品に対するＥＳＤの影響範囲の境界を取得する。そして、表示制御部２６は、取得された影響範囲の境界を、表示部５０に表示出力させる（ステップＳ５）。
【０１０３】
〔４−２〕初期化処理の手順
次に、図１３に示すフローチャート（ステップＳ２１〜Ｓ２３）に従って、本実施形態の初期化処理（図１２のステップＳ２の処理）の手順について説明する。
【０１０４】
初期化処理部２１は、一以上の指定電子部品上、および、当該指定電子部品以外の複数の他部品上に複数のサンプル点を設定する。そして、初期化処理部２１は、指定電子部品上および複数の他部品上に設定された複数のサンプル点間の可視グラフを生成する（ステップＳ２１；図９下段および上記処理（ａ１）参照）。
【０１０５】
また、初期化処理部２１は、複数の他部品のそれぞれを、複数のメッシュ、例えば複数の三角形ポリゴンに分割する（ステップＳ２２）。その際、各三角形の重心Ｇが算出される（図９上段および上記処理（ａ２）参照）。
【０１０６】
そして、初期化処理部２１は、各部品ごとに電荷移動距離を初期化する（ステップＳ２３）。つまり、初期化処理部２１は、ユーザによって指定された電子部品上の頂点およびサンプル点に、電荷の移動距離の初期値として“０”を設定する（上記処理（ａ３）参照）。また、初期化処理部２１は、各他部品上のサンプル点と各他部品上の複数のメッシュの重心Ｇとのそれぞれに電荷の移動距離の初期値として“＋∞（最大値）”を設定する（上記処理（ａ４）参照）。
【０１０７】
〔４−３〕電荷移動距離算出処理の手順
次に、図１４に示すフローチャート（ステップＳ３１〜Ｓ３３）に従って、本実施形態の電荷移動距離算出処理（図１２のステップＳ３の処理）の手順について説明する。
図１２のステップＳ３における電荷移動距離算出処理では、一以上の指定電子部品のそれぞれについて、図１４のステップＳ３１〜Ｓ３３の処理が実行される。
【０１０８】
つまり、図１０（Ａ）〜図１０（Ｅ）を参照しながら前述したように、沿面距離算出処理部２２による沿面距離算出処理（ステップＳ３１）と、空間距離算出処理部２３による沿面距離算出処理（ステップＳ３２）とが、繰り返し実行される。ステップＳ３１およびステップＳ３２の処理を終了すると、処理部２０は、今回の処理によって沿面距離と空間距離との少なくとも一方が更新されているか否かを判断する（ステップＳ３３）。更新されている場合（ステップＳ３３のＹＥＳルート）、処理部２０は、ステップＳ３１の処理に戻る一方、いずれも更新されていない場合（ステップＳ３３のＮＯルート）、処理部２０は、一の指定電子部品についての沿面距離算出処理および空間距離算出処理を終了する。
【０１０９】
なお、ステップＳ３１における沿面距離算出処理部２２による処理手順、および、ステップＳ３２における空間距離算出処理部２３による処理手順については、それぞれ図１５および図１６を参照しながら後述する。
【０１１０】
〔４−３−１〕沿面距離算出処理の手順
次に、図１５に示すフローチャート（ステップＳ３１１〜Ｓ３１９）に従って、本実施形態の沿面距離算出処理（図１４のステップＳ３１の処理）の手順について説明する。
【０１１１】
まず、沿面距離算出処理部２２は、製品モデルデータ３２の中から、少なくとも一の点に“＋∞”以外の電荷距離が設定されている一部品に係る部品モデルデータを入力される（ステップＳ３１１）。また、沿面距離算出処理部２２は、チェックキュー３６を初期化つまり空状態にしてから（ステップＳ３１２）、“＋∞”以外の電荷距離が設定された点に係る情報をチェックキュー３６に投入する（ステップＳ３１３）。
【０１１２】
この後、沿面距離算出処理部２２は、チェックキュー３６が空状態か否かを判断する（ステップＳ３１４）。空状態である場合（ステップＳ３１４のＹＥＳルート）、処理部２０は、沿面距離算出処理部２２による処理を終了し、図１４のステップＳ３２の処理に移行する。一方、空状態でない場合（ステップＳ３１４のＮＯルート）、沿面距離算出処理部２２は、チェックキュー３６から、第１注目点Ｐに係る情報を取り出すことにより、第１注目点Ｐ（一つの点）を選択する（ステップＳ３１５；上記処理（ｂ１）参照）。
【０１１３】
そして、沿面距離算出処理部２２は、選択した第１注目点Ｐに隣接する重心Ｇの一つを、次の第１注目点として抽出し、抽出した重心Ｇごとに、以下のステップＳ３１７〜Ｓ３１９の処理を実行する（ステップＳ３１５；上記処理（ｂ２）参照）。
【０１１４】
ステップＳ３１７（上記処理（ｂ３），（ｂ４）参照）において、沿面距離算出処理部２２は、第１注目点Ｐに設定された電荷の移動距離eDist(Ｐ)と、第１注目点Ｐから次の第１注目点Ｇへの移動に伴う第１電圧減衰量との第１合計値を算出する。上述した通り、eDist(Ｐ)は、点Ｐにおける最短電荷移動距離に相当する電圧値である。また、第１注目点Ｐから次の第１注目点Ｇへの移動に伴う第１電圧減衰量は、電荷の移動距離に応じた電圧減衰量を規定する第１電圧減衰量関数Ｆ(ｘ)またはＧ(ｘ)に基づいて算出される。つまり、注目点の存在する部品が導体である場合、第１注目点Ｐから次の第１注目点Ｇへの移動に伴う第１電圧減衰量は、Ｆ(|Ｐ−Ｇ|)として算出され、第１合計値は、eDist(Ｐ)＋Ｆ(|Ｐ−Ｇ|)になる。また、注目点の存在する部品が絶縁体である場合、第１注目点Ｐから次の第１注目点Ｇへの移動に伴う第１電圧減衰量は、Ｇ(|Ｐ−Ｇ|)として算出され、第１合計値は、eDist(Ｐ)＋Ｇ(|Ｐ−Ｇ|)になる。そして、沿面距離算出処理部２２は、算出した第１合計値eDist(Ｐ)＋Ｆ(|Ｐ−Ｇ|)またはeDist(Ｐ)＋Ｇ(|Ｐ−Ｇ|)が、次の第１注目点Ｇに設定された電荷の移動距離に相当する第１電圧値eDist(Ｇ)未満であるか否かを判定する。
【０１１５】
第１合計値が第１電圧値eDist(Ｇ)未満である場合（ステップＳ３１７のＹＥＳルート）、沿面距離算出処理部２２は、次の第１注目点Ｇに設定された第１電圧値eDist(Ｇ)を、第１合計値eDist(Ｐ)＋Ｆ(|Ｐ−Ｇ|)またはeDist(Ｐ)＋Ｇ(|Ｐ−Ｇ|)に更新する。また、沿面距離算出処理部２２は、次の第１注目点Ｇをチェックキュー３６に投入する（ステップＳ３１８；上記処理（ｂ５）参照）。
【０１１６】
そして、沿面距離算出処理部２２は、隣接する全ての重心Ｇに対しステップＳ３１７による判定を行なったか否かを判定する（ステップＳ３１９）。隣接する全ての重心Ｇに対し判定を行なった場合（ステップＳ３１９のＹＥＳルート）、沿面距離算出処理部２２は、ステップＳ３１４の処理に戻る。隣接する全ての重心Ｇに対し判定を行なっていない場合（ステップＳ３１９のＮＯルート）、沿面距離算出処理部２２は、ステップＳ３１７の処理に戻る。
【０１１７】
一方、第１合計値が第１電圧値eDist(Ｇ)以上である場合（ステップＳ３１７のＮＯルート）、沿面距離算出処理部２２は、ステップＳ３１９の処理に移行する。
【０１１８】
これにより、ステップＳ３１７〜Ｓ３１９の処理は、ステップＳ３１９でＹＥＳ判定となるまで繰り返し実行される。また、ステップＳ３１４〜Ｓ３１９の処理は、チェックキュー３６に保持される、第１注目点Ｐの候補情報が無くなるまで、つまりチェックキュー３６が空状態になるまで、繰り返し実行される。
【０１１９】
〔４−３−２〕空間距離算出処理の手順
次に、図１６に示すフローチャート（ステップＳ３２１〜Ｓ３２９）に従って、本実施形態の空間距離算出処理（図１４のステップＳ３２の処理）の手順について説明する。
【０１２０】
まず、空間距離算出処理部２３は、製品モデルデータ３２の中から、一部品に係る部品モデルデータを入力される（ステップＳ３２１）。また、空間距離算出処理部２３は、チェックキュー３６を初期化つまり空状態にしてから（ステップＳ３２２）、“＋∞”以外の電荷距離が設定されたサンプル点に係る情報をチェックキュー３６に投入する（ステップＳ３２３）。
【０１２１】
この後、空間距離算出処理部２３は、チェックキュー３６が空状態か否かを判断する（ステップＳ３２４）。空状態である場合（ステップＳ３２４のＹＥＳルート）、処理部２０は、空間距離算出処理部２３による処理を終了し、図１４のステップＳ３３の処理に移行する。一方、空状態でない場合（ステップＳ３２４のＮＯルート）、空間距離算出処理部２３は、チェックキュー３６から、第２注目点Ｐに係る情報を取り出すことにより、第２注目点Ｐ（一つのサンプル点）を選択する（ステップＳ３２５；上記処理（ｃ１）参照）。
【０１２２】
そして、空間距離算出処理部２３は、選択した第２注目点Ｐに可視グラフによって接続されるサンプル点の一つを次の第２注目点Ｑとして抽出し、抽出したサンプル点Ｑごとに、以下のステップＳ３２７〜Ｓ３２９の処理を実行する（ステップＳ３２５；上記処理（ｃ２）参照）。
【０１２３】
ステップＳ３２７（上記処理（ｃ３），（ｃ４）参照）において、空間距離算出処理部２ｄは、第２注目点Ｐに設定された電荷の移動距離eDist(Ｐ)と、第２注目点Ｐから次の第２注目点Ｑへの移動に伴う第２電圧減衰量との第２合計値を算出する。上述した通り、第２注目点Ｐから次の第２注目点Ｑへの移動に伴う第２電圧減衰量は、部品間の空間について予め設定される、電荷の移動距離に応じた電圧減衰量を規定する第２電圧減衰量関数Ｈ(ｘ)に基づいて算出される。つまり、第２注目点Ｐから次の第２注目点Ｑへの移動に伴う第２電圧減衰量は、Ｈ(|Ｐ−Ｑ|)として算出され、第２合計値は、eDist(Ｐ)＋Ｈ(|Ｐ−Ｑ|)になる。そして、空間距離算出処理部２３は、算出した第２合計値eDist(Ｐ)＋Ｈ(|Ｐ−Ｑ|)が、次の第２注目点Ｑに設定された電荷の移動距離に相当する第２電圧値eDist(Ｑ)未満であるか否かを判定する。
【０１２４】
第２合計値が第２電圧値eDist(Ｑ)未満である場合（ステップＳ３２７のＹＥＳルート）、空間距離算出処理部２３は、次の第２注目点Ｑに設定された第２電圧値eDist(Ｑ)を、第２合計値eDist(Ｐ)＋Ｈ(|Ｐ−Ｑ|)に更新する。また、空間距離算出処理部２３は、次の第２注目点Ｑをチェックキュー３６に投入する（ステップＳ３２８；上記処理（ｃ５）参照）。
【０１２５】
そして、空間距離算出処理部２３は、接続された全てのサンプル点Ｑに対しステップＳ３２７による判定を行なったか否かを判定する（ステップＳ３２９）。接続された全てのサンプル点Ｑに対し判定を行なった場合（ステップＳ３２９のＹＥＳルート）、空間距離算出処理部２３は、ステップＳ３２４の処理に戻る。接続された全てのサンプル点Ｑに対し判定を行なっていない場合（ステップＳ３２９のＮＯルート）、空間距離算出処理部２３は、ステップＳ３２７の処理に戻る。
【０１２６】
一方、第２合計値が第２電圧値eDist(Ｑ)以上である場合（ステップＳ３２７のＮＯルート）、空間距離算出処理部２３は、ステップＳ３２９の処理に移行する。
【０１２７】
これにより、ステップＳ３２７〜Ｓ３２９の処理は、ステップＳ３２９でＹＥＳ判定となるまで繰り返し実行される。また、ステップＳ３２４〜Ｓ３２９の処理は、チェックキュー３６に保持される、第２注目点Ｐの候補情報が無くなるまで、つまりチェックキュー３６が空状態になるまで、繰り返し実行される。
【０１２８】
〔４−４〕電荷移動距離合成処理の手順
次に、図１７に示すフローチャート（ステップＳ４１〜Ｓ４８）に従って、本実施形態の電荷移動距離合成処理および補間点設定処理（図１２のステップＳ４の処理）の手順について説明する。
【０１２９】
まず、合成処理部２４および補間点設定処理部２５は、ユーザによって複数の指定電子部品（対象部品）が入力設定された場合に機能し、製品モデルデータ３２の中から、最短電荷移動距離を設定済みの他部品に係る部品モデルデータを入力される（ステップＳ４１）。
【０１３０】
そして、合成処理部２４は、各点（サンプル点や重心）ごとに、当該点に設定された、各指定電子部品からの最短電荷移動距離を比較し、複数の最短電荷移動距離のうちの最小のものを、各点の最短電荷移動距離として選択し設定する（ステップＳ４２）。これにより、図１１（Ａ）および図１１（Ｂ）を参照しながら前述したように、複数の指定電子部品についての電荷距離（最短電荷移動距離）が一つに合成される。
【０１３１】
この後、補間点設定処理部２５は、サンプル点や重心のうちの隣接する二点にそれぞれ設定された二つの最短電荷移動距離の出発点になる指定電子部品を比較する（ステップＳ４３）。二つの指定電子部品が同一である場合（ステップＳ４４のＹＥＳルート）、処理部２０はステップＳ４８の処理に移行する。
【０１３２】
一方、二つの指定電子部品が異なる場合（ステップＳ４４のＮＯルート）、補間点設定処理部２５は、当該隣接する二点を結ぶ線分を作成する（ステップＳ４５）。そして、補間点設定処理部２５は、図１１（Ａ）および図１１（Ｂ）を参照しながら前述したように、指定電子部品ごとに線分上での電荷距離の変化量を求め、当該線分上において同じ電荷距離になる点を求める（ステップＳ４６）。補間点設定処理部２５は、このように電荷距離が同じになる点に補間点（図１１（Ｂ）の点ｑ１，ｑ２参照）を設定する（ステップＳ４７）。
【０１３３】
この後、処理部２０は、全ての隣接する点間について、ステップＳ４３による比較処理を完了したか否かを判定し（ステップＳ４８）、完了した場合（ステップＳ４８のＹＥＳルート）、図１２のステップＳ５の処理に以降する。完了していない場合（ステップＳ４８のＮＯルート）、処理部２０（補間点設定処理部２５）は、ステップＳ４５の処理に戻る。
【０１３４】
〔５〕本実施形態の効果
以上のように、ＥＳＤ検証機能を有する本実施形態の情報処理装置１０によれば、検証対象装置（製品）を表示する表示部５０上で、製品内部の一以上の対象部品が指定されると、対象部品から他部品へ伝播する電荷の移動距離が算出される。そして、算出された電荷の移動距離が規定値以内になる領域が取得され、取得された領域が、図８に示すように、対象部品に対するＥＳＤの影響範囲として表示部５０上で表示される。また、複数の対象部品が指定された場合、各対象部品からの電荷の移動距離の分布が求められ合成され、複数の対象部品に対するＥＳＤの影響範囲として表示部５０上で表示される。
【０１３５】
これにより、ユーザは、表示部５０上の表示を参照することで、製品内部および製品外部を含む製品全体に亘るＥＳＤの影響範囲を確認することができる。したがって、検証漏れ、即ち問題箇所の検出漏れの発生を確実に抑止しながら、ＥＳＤ検証が効率化されＥＳＤ検証に要する工数が削減されるので、ＥＳＤ検証に要する時間が短縮される。また、検証漏れの発生が確実に抑止されるので、ＥＳＤ検証精度の低下を招くこともなくなる。さらに、情報処理装置１０によって製品の設計を変更しながらＥＳＤ対策の確認を効率的に行なうことが可能になるため、インタラクティブ性が向上しＥＳＤ対策が効率化される。
【０１３６】
〔６〕その他
以上、本発明の好ましい実施形態について詳述したが、本発明は、係る特定の実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内において、種々の変形、変更して実施することができる。
【０１３７】
例えば、上述した実施形態では、二つの対象部品（指定電子部品）を選択した場合について説明したが、本発明は、これに限定されるものではなく、一の対象部品（指定電子部品）を選択してもよいし、三以上の対象部品（指定電子部品）を選択してもよい。なお、一の対象部品（指定電子部品）を選択した場合、合成処理部２４および補間点設定処理部２５は機能しない。
【０１３８】
〔７〕付記
以上の各実施形態を含む実施形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
【０１３９】
（付記１）
検証対象装置における静電気放電の検証をシミュレーションによって行なうコンピュータに、
前記検証対象装置において対象部品から他部品へ伝播する電荷の移動距離を算出し、
算出した電荷の移動距離が規定値以内になる領域を取得し、
取得した領域を、前記対象部品に対する前記静電気放電の影響範囲として出力する、処理を実行させる、静電気放電検証プログラム。
【０１４０】
（付記２）
前記対象部品から前記検証対象装置における注目点までの前記電荷の移動経路として、電圧減衰量が最小になる経路を抽出し、
抽出した前記電荷の移動経路に沿った前記電荷の移動に伴う前記電圧減衰量を、前記対象部品から前記注目点までの前記電荷の移動距離に相当する電圧値として算出する、処理を、前記コンピュータに実行させる、付記１に記載の静電気放電検証プログラム。
【０１４１】
（付記３）
前記対象部品上および複数の前記他部品上に設定される複数のサンプル点間の可視グラフを生成し、前記複数の他部品のそれぞれを複数のメッシュに分割し、前記対象部品上の頂点および前記サンプル点に前記電荷の移動距離の初期値として０を設定し、各他部品上の前記サンプル点と各他部品上の前記複数のメッシュの重心とのそれぞれに前記電荷の移動距離の初期値として最大値を設定する、初期化処理を、前記コンピュータに実行させ、
前記各他部品上の前記注目点である第１注目点として、前記最大値以外の値を前記電荷の移動距離として設定された点であって、前記対象部品の頂点に対応する点および前記複数のメッシュの重心のうちの一つを選択し、選択した前記第１注目点に隣接する前記重心の一つを次の第１注目点として抽出し、前記第１注目点に設定された前記電荷の移動距離と、前記第１注目点から前記次の第１注目点への移動に伴う第１電圧減衰量との第１合計値を算出し、算出した第１合計値が前記次の第１注目点に設定された前記電荷の移動距離に相当する第１電圧値未満であるか否かを判定し、前記第１合計値が前記第１電圧値未満である場合、前記次の第１注目点に設定された前記第１電圧値を、前記第１合計値に更新する、沿面距離算出処理を、前記コンピュータに実行させ、
前記検証対象装置における前記注目点である第２注目点として、前記最大値以外の値を前記電荷の移動距離として設定された点であって、前記対象部品の頂点および前記複数のサンプル点のうちの一つを選択し、選択した前記第２注目点に前記可視グラフによって接続される前記サンプル点の一つを次の第２注目点として抽出し、前記第２注目点に設定された前記電荷の移動距離と、前記第２注目点から前記次の第２注目点への移動に伴う第２電圧減衰量との第２合計値を算出し、算出した第２合計値が前記次の第２注目点に設定された前記電荷の移動距離に相当する第２電圧値未満であるか否かを判定し、前記第２合計値が前記第２電圧値未満である場合、前記次の第２注目点に設定された前記第２電圧値を、前記第２合計値に更新する、空間距離算出処理を、前記コンピュータに実行させ、
前記第１電圧値の更新および前記第２電圧値の更新が行なわれなくなるまで、前記沿面距離算出処理および前記空間距離算出処理を、繰り返し、前記コンピュータに実行させる、付記２に記載の静電気放電検証プログラム。
【０１４２】
（付記４）
前記第１注目点から前記次の第１注目点への移動に伴う前記第１電圧減衰量を、前記各他部品について予め設定される、前記電荷の移動距離に応じた電圧減衰量を規定する第１電圧減衰量関数に基づいて算出する、処理を、前記コンピュータに実行させる、付記３に記載の静電気放電検証プログラム。
【０１４３】
（付記５）
前記第２注目点から前記次の第２注目点への移動に伴う前記第２電圧減衰量を、前記他部品間の空間について予め設定される、前記電荷の移動距離に応じた電圧減衰量を規定する第２電圧減衰量関数に基づいて算出する、処理を、前記コンピュータに実行させる、付記３または付記４に記載の静電気放電検証プログラム。
【０１４４】
（付記６）
複数の前記対象部品のそれぞれについて、前記初期化処理、前記沿面距離算出処理、および前記空間距離算出処理を、前記コンピュータに実行させ、
前記複数のサンプル点および前記複数のメッシュの重心の各点に対し前記複数の対象部品のそれぞれについて設定された複数の前記電荷の移動距離のうち、最短の移動距離を選択し、選択した最短の移動距離を前記各点に設定する、合成処理を、前記コンピュータに実行させ、
前記合成処理によって前記各点に設定された前記最短の移動距離に基づき、前記電荷の移動距離の分布を導出し、前記静電気放電の影響範囲を取得して出力する、処理を、前記コンピュータに実行させる、付記３〜付記５のいずれか一項に記載の静電気放電検証プログラム。
【０１４５】
（付記７）
前記各点のうちの隣接する二点にそれぞれ設定された二つの前記最短の移動距離が、それぞれ、前記複数の対象部品のうちの異なる二つの対象部品からの距離である場合、当該二点を結ぶ線分間において、前記異なる二つの対象部品からの前記電荷の移動距離が同一になる点を、補間点として設定する、補間点設定処理を、前記コンピュータに実行させ、
前記合成処理によって前記各点に設定された前記最短の移動距離と、前記補間点設定処理によって設定された補間点とに基づき、前記電荷の移動距離の分布を導出し、前記静電気放電の影響範囲を取得して出力する、処理を、前記コンピュータに実行させる、付記６に記載の静電気放電検証プログラム。
【０１４６】
（付記８）
検証対象装置における静電気放電の検証をシミュレーションによって行なう処理部を有し、
前記処理部は、
前記検証対象装置において対象部品から他部品へ伝播する電荷の移動距離を算出し、
算出した電荷の移動距離が規定値以内になる領域を取得し、
取得した領域を、前記対象部品に対する前記静電気放電の影響範囲として出力する、情報処理装置。
【０１４７】
（付記９）
前記処理部は、
前記対象部品から前記検証対象装置における注目点までの前記電荷の移動経路として、電圧減衰量が最小になる経路を抽出し、
抽出した前記電荷の移動経路に沿った前記電荷の移動に伴う前記電圧減衰量を、前記対象部品から前記注目点までの前記電荷の移動距離に相当する電圧値として算出する、付記８に記載の情報処理装置。
【０１４８】
（付記１０）
前記処理部は、
前記対象部品上および複数の前記他部品上に設定される複数のサンプル点間の可視グラフを生成し、前記複数の他部品のそれぞれを複数のメッシュに分割し、前記対象部品上の頂点および前記サンプル点に前記電荷の移動距離の初期値として０を設定し、各他部品上の前記サンプル点と各他部品上の前記複数のメッシュの重心とのそれぞれに前記電荷の移動距離の初期値として最大値を設定する、初期化処理部と、
前記各他部品上の前記注目点である第１注目点として、前記最大値以外の値を前記電荷の移動距離として設定された点であって、前記対象部品の頂点に対応する点および前記複数のメッシュの重心のうちの一つを選択し、選択した前記第１注目点に隣接する前記重心の一つを次の第１注目点として抽出し、前記第１注目点に設定された前記電荷の移動距離と、前記第１注目点から前記次の第１注目点への移動に伴う第１電圧減衰量との第１合計値を算出し、算出した第１合計値が前記次の第１注目点に設定された前記電荷の移動距離に相当する第１電圧値未満であるか否かを判定し、前記第１合計値が前記第１電圧値未満である場合、前記次の第１注目点に設定された前記第１電圧値を、前記第１合計値に更新する、沿面距離算出処理部と、
前記検証対象装置における前記注目点である第２注目点として、前記最大値以外の値を前記電荷の移動距離として設定された点であって、前記対象部品の頂点および前記複数のサンプル点のうちの一つを選択し、選択した前記第２注目点に前記可視グラフによって接続される前記サンプル点の一つを次の第２注目点として抽出し、前記第２注目点に設定された前記電荷の移動距離と、前記第２注目点から前記次の第２注目点への移動に伴う第２電圧減衰量との第２合計値を算出し、算出した第２合計値が前記次の第２注目点に設定された前記電荷の移動距離に相当する第２電圧値未満であるか否かを判定し、前記第２合計値が前記第２電圧値未満である場合、前記次の第２注目点に設定された前記第２電圧値を、前記第２合計値に更新する、空間距離算出処理部と、を有し、
前記処理部は、前記第１電圧値の更新および前記第２電圧値の更新が行なわれなくなるまで、前記沿面距離算出処理部および前記空間距離算出処理部による処理を、繰り返し実行する、付記９に記載の情報処理装置。
【０１４９】
（付記１１）
前記沿面距離算出処理部は、前記第１注目点から前記次の第１注目点への移動に伴う前記第１電圧減衰量を、前記各他部品について予め設定される、前記電荷の移動距離に応じた電圧減衰量を規定する第１電圧減衰量関数に基づいて算出する、付記１０に記載の情報処理装置。
【０１５０】
（付記１２）
前記空間距離算出処理部は、前記第２注目点から前記次の第２注目点への移動に伴う前記第２電圧減衰量を、前記他部品間の空間について予め設定される、前記電荷の移動距離に応じた電圧減衰量を規定する第２電圧減衰量関数に基づいて算出する、付記１０または付記１１に記載の情報処理装置。
【０１５１】
（付記１３）
前記処理部は、
複数の前記対象部品のそれぞれについて、前記初期化処理部、前記沿面距離算出処理部、および前記空間距離算出処理部による処理を、実行し、
前記複数のサンプル点および前記複数のメッシュの重心の各点に対し前記複数の対象部品のそれぞれについて設定された複数の前記電荷の移動距離のうち、最短の移動距離を選択し、選択した最短の移動距離を前記各点に設定する、合成処理部を有し、
前記合成処理部によって前記各点に設定された前記最短の移動距離に基づき、前記電荷の移動距離の分布を導出し、前記静電気放電の影響範囲を取得して出力する、付記１０〜付記１２のいずれか一項に記載の情報処理装置。
【０１５２】
（付記１４）
前記処理部は、
前記各点のうちの隣接する二点にそれぞれ設定された二つの前記最短の移動距離が、それぞれ、前記複数の対象部品のうちの異なる二つの対象部品からの距離である場合、当該二点を結ぶ線分間において、前記異なる二つの対象部品からの前記電荷の移動距離が同一になる点を、補間点として設定する、補間点設定処理部を有し、
前記合成処理部によって前記各点に設定された前記最短の移動距離と、前記補間点設定処理部によって設定された補間点とに基づき、前記電荷の移動距離の分布を導出し、前記静電気放電の影響範囲を取得して出力する、付記１３に記載の情報処理装置。
【０１５３】
（付記１５）
コンピュータが、検証対象装置における静電気放電の検証をシミュレーションによって行なう静電気放電検証方法であって、
前記検証対象装置において対象部品から他部品へ伝播する電荷の移動距離を算出し、
算出した電荷の移動距離が規定値以内になる領域を取得し、
取得した領域を、前記対象部品に対する前記静電気放電の影響範囲として出力する、静電気放電検証方法。
【０１５４】
（付記１６）
前記対象部品から前記検証対象装置における注目点までの前記電荷の移動経路として、電圧減衰量が最小になる経路を抽出し、
抽出した前記電荷の移動経路に沿った前記電荷の移動に伴う前記電圧減衰量を、前記対象部品から前記注目点までの前記電荷の移動距離に相当する電圧値として算出する、付記１５に記載の静電気放電検証方法。
【０１５５】
（付記１７）
前記対象部品上および複数の前記他部品上に設定される複数のサンプル点間の可視グラフを生成し、前記複数の他部品のそれぞれを複数のメッシュに分割し、前記対象部品上の頂点および前記サンプル点に前記電荷の移動距離の初期値として０を設定し、各他部品上の前記サンプル点と各他部品上の前記複数のメッシュの重心とのそれぞれに前記電荷の移動距離の初期値として最大値を設定する、初期化処理と、
前記各他部品上の前記注目点である第１注目点として、前記最大値以外の値を前記電荷の移動距離として設定された点であって、前記対象部品の頂点に対応する点および前記複数のメッシュの重心のうちの一つを選択し、選択した前記第１注目点に隣接する前記重心の一つを次の第１注目点として抽出し、前記第１注目点に設定された前記電荷の移動距離と、前記第１注目点から前記次の第１注目点への移動に伴う第１電圧減衰量との第１合計値を算出し、算出した第１合計値が前記次の第１注目点に設定された前記電荷の移動距離に相当する第１電圧値未満であるか否かを判定し、前記第１合計値が前記第１電圧値未満である場合、前記次の第１注目点に設定された前記第１電圧値を、前記第１合計値に更新する、沿面距離算出処理と、
前記検証対象装置における前記注目点である第２注目点として、前記最大値以外の値を前記電荷の移動距離として設定された点であって、前記対象部品の頂点および前記複数のサンプル点のうちの一つを選択し、選択した前記第２注目点に前記可視グラフによって接続される前記サンプル点の一つを次の第２注目点として抽出し、前記第２注目点に設定された前記電荷の移動距離と、前記第２注目点から前記次の第２注目点への移動に伴う第２電圧減衰量との第２合計値を算出し、算出した第２合計値が前記次の第２注目点に設定された前記電荷の移動距離に相当する第２電圧値未満であるか否かを判定し、前記第２合計値が前記第２電圧値未満である場合、前記次の第２注目点に設定された前記第２電圧値を、前記第２合計値に更新する、空間距離算出処理と、を実行し、
前記第１電圧値の更新および前記第２電圧値の更新が行なわれなくなるまで、前記沿面距離算出処理および前記空間距離算出処理を、繰り返し実行する、付記１６に記載の静電気放電検証方法。
【０１５６】
（付記１８）
前記第１注目点から前記次の第１注目点への移動に伴う前記第１電圧減衰量を、前記各他部品について予め設定される、前記電荷の移動距離に応じた電圧減衰量を規定する第１電圧減衰量関数に基づいて算出する、付記１７に記載の静電気放電検証方法。
【０１５７】
（付記１９）
前記第２注目点から前記次の第２注目点への移動に伴う前記第２電圧減衰量を、前記他部品間の空間について予め設定される、前記電荷の移動距離に応じた電圧減衰量を規定する第２電圧減衰量関数に基づいて算出する、付記１７または付記１８に記載の静電気放電検証方法。
【０１５８】
（付記２０）
複数の前記対象部品のそれぞれについて、前記初期化処理、前記沿面距離算出処理、および前記空間距離算出処理を、実行し、
前記複数のサンプル点および前記複数のメッシュの重心の各点に対し前記複数の対象部品のそれぞれについて設定された複数の前記電荷の移動距離のうち、最短の移動距離を選択し、選択した最短の移動距離を前記各点に設定する、合成処理を実行し、
前記合成処理によって前記各点に設定された前記最短の移動距離に基づき、前記電荷の移動距離の分布を導出し、前記静電気放電の影響範囲を取得して出力する、付記１７〜付記１９のいずれか一項に記載の静電気放電検証方法。
【符号の説明】
【０１５９】
１０    コンピュータ（静電気放電検証機能を有する情報処理装置）
１１    プロセッサ（処理部）
１２    ＲＡＭ（記憶部）
１３    ＨＤＤ（記憶部）
１４    グラフィック処理装置
１４ａ    モニタ（表示部）
１５    入力インタフェース
１５ａ    キーボード（入力部）
１５ｂ    マウス（入力部）
１６    光学ドライブ装置
１６ａ    光ディスク
１７    機器接続インタフェース
１７ａ    メモリ装置
１７ｂ    メモリリーダライタ
１７ｃ    メモリカード
１８    ネットワークインタフェース
１８ａ    ネットワーク
１９    バス
２０    処理部
２１    初期化処理部
２２    沿面距離算出処理部
２３    空間距離算出処理部
２４    合成処理部
２５    補間点設定処理部
２６    表示制御部
３０    記憶部
３１    ＥＳＤ検証プログラム（静電気放電検証プログラム）
３２    製品モデルデータ（三次元ＣＡＤデータ）
３３    ＥＳＤチェック用規定値（影響距離，閾値）
３４    指定電子部品情報（対象部品情報）
３５    電荷移動条件
３６    チェックキュー
４０    入力部
５０    表示部（出力部）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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