(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
衝突部を挟んで前後に質量分離部を有する質量分析装置を用いて分析対象化合物をＭＳｎ分析（ｎは２以上の整数）する方法であって、
a) ＭＳ１分析における測定質量範囲を含むＭＳ１分析条件を決定し、
b) 分析対象化合物のＭＳｎ−１スペクトルデータからＭＳｎ分析のプリカーサイオンを選出する条件と、ＭＳｎ分析における測定質量範囲と、を含むＭＳｎ分析条件を決定し、
c) イオンを開裂させるための衝突ガスを前記衝突部に導入することなく前記ＭＳ１分析条件に基づき前記分析対象化合物のＭＳ１分析を実行し、イオンを開裂させるための衝突ガスを前記衝突部に導入して前記ＭＳｎ分析条件に基づき前記分析対象化合物のＭＳ２以上の分析を実行する分析実行ファイルを作成し、
d) 前記分析実行ファイルを実行することにより前記分析対象化合物をＭＳｎ分析してＭＳｎスペクトルデータを取得する
ことを特徴とする質量分析方法。
【請求項２】
前記ＭＳ１分析条件を設定する前に前記ＭＳｎ分析条件を決定し、該ＭＳｎ分析条件に含まれる測定質量範囲を、そのまま前記ＭＳ１分析の測定質量範囲に決定することを特徴とする請求項１に記載の質量分析方法。
【請求項３】
衝突部を挟んで前後に質量分離部を有する質量分析装置であって、
a) 使用者の入力に基づいて、ＭＳ１分析における測定質量範囲を含むＭＳ１分析条件を設定するＭＳ１分析条件設定部と、
b) 使用者の入力に基づいて、ＭＳｎ−１分析（ｎは２以上の整数）により取得したＭＳｎ−１スペクトルからＭＳｎ分析のプリカーサイオンを選出する条件と、ＭＳｎ分析における測定質量範囲を含むＭＳｎ分析条件と、を設定するＭＳｎ分析条件設定部と、
c) イオンを開裂させるための衝突ガスを前記衝突部に導入することなく前記ＭＳ１分析条件に基づき分析対象化合物のＭＳ１分析を実行し、イオンを開裂させるための衝突ガスを前記衝突部に導入して前記ＭＳｎ分析条件に基づき前記分析対象化合物のＭＳ２以上の分析を実行する分析実行ファイルを作成する分析実行ファイル作成部と、
d) 使用者による所定の操作に基づいて前記分析実行ファイルを実行することにより前記分析対象化合物をＭＳｎ分析してＭＳｎスペクトルデータを取得する分析実行部と
を備えることを特徴とする質量分析装置。
【請求項４】
衝突部を挟んで前後に質量分離部を有する質量分析装置を用いて分析対象化合物をＭＳｎ分析するためのプログラムであって、コンピュータを請求項３に記載の質量分析装置の各部として機能させることを特徴とする質量分析用プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＭＳｎ分析（ｎは２以上の整数）を行うことが可能な質量分析装置に関する。また、そのような質量分析装置を用いて行われる質量分析方法及び質量分析用プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
試料に含まれる分析対象化合物を同定する方法にＭＳ２分析がある。ＭＳ２分析は、例えば、プリカーサイオンを選別する前段質量分離部、プリカーサイオンを開裂させてプロダクトイオンを生成するコリジョンセル、及びプロダクトイオンを選別する後段質量分離部を有する、三連四重極型質量分析装置を用いて行うことができる。
【０００３】
ＭＳ２分析では、一般に、まず、質量分析装置に分析対象化合物を導入してＭＳ１分析（ＭＳ分析）を行い、ＭＳスペクトルデータを取得する。そして、分析者が該ＭＳスペクトルデータに基づき、検出強度が大きい１乃至複数のイオンを選出する。そして、再び質量分析装置に分析対象化合物を導入し、選出した１乃至複数のイオンのうちの１つをプリカーサイオンとしてＭＳ２分析を行い、ＭＳ２スペクトルデータを取得する。選出したイオンの全てについて、それぞれＭＳ２スペクトルデータを取得した後、それらを予めデータベース化されている多数の参照化合物のマススペクトルデータと照合して分析対象化合物を同定する。
【０００４】
ＭＳ２分析を実行可能な質量分析装置の中には、ＭＳ分析により取得した分析対象化合物のＭＳスペクトルデータから、予め決められた選出条件（例えば、検出強度が閾値以上であるイオンを選出する）に基づいてプリカーサイオンを自動的に選出し、上記ＭＳ分析に引き続いてＭＳ２分析できるものがある。このような分析は、データ依存分析（ＤＤＡ：Data Dependent Analysis）と呼ばれる（例えば特許文献１）。ＤＤＡには、分析対象化合物を質量分析装置に導入する回数が１度で済み、また、分析者が自らＭＳスペクトルデータを確認してプリカーサイオンを選出する必要がなく簡便にＭＳ２スペクトルデータを取得できる、という利点がある。なお、ＤＤＡではなくオートＭＳと呼ばれる場合もある（例えば特許文献２、３）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開2007-309661号公報
【特許文献２】特開2008-298427号公報
【特許文献３】特開2014-170013号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ＤＤＡでは、ＭＳ分析とＭＳ２分析を連続して行うために、ＭＳ２分析においてプリカーサイオンを開裂させるための衝突ガスを分析開始前にコリジョンセルに導入している。そのため、ＭＳ分析時にもイオンがコリジョンセルを通過する際に衝突ガスと衝突し、一部のイオンが開裂してしまう。以下、こうしたイオンの開裂によって生じる問題を説明する。
【０００７】
分析対象化合物から生成したイオンが開裂することなく検出された場合のＭＳスペクトルの例を図１(a)に示す。一方、分析対象化合物から生成したイオンの一部が開裂して検出された場合のＭＳスペクトルの例を図１(b)に示す。これらのＭＳスペクトルにおいて、予め設定された閾値を超える強度のマスピークに対応するイオン（即ち、閾値以上の強度で検出されたイオン）を選出してＭＳ２分析すると、次のようになる。
【０００８】
図１(a)の例では、３つのイオン（Ｐａ、Ｐｂ、Ｐｃ）が閾値以上の強度で検出されており、これらをプリカーサイオンとするＭＳ２分析がＭＳ分析に引き続いて行われる。一方、図１(b)の例では、これら３つのイオン（Ｐａ、Ｐｂ、Ｐｃ）の検出強度が低下し、図１(a)では検出されない新たな複数のイオン（Ｐｄ、Ｐｅ、Ｐｆ）が閾値以上の強度で検出されている。これは、Ｐａ、Ｐｂ、Ｐｃが衝突ガスと衝突して開裂し、Ｐｄ、Ｐｅ、及びＰｆ等のイオンが新たに生成されたためである。その結果、Ｐａ、Ｐｄ、Ｐｅ、及びＰｆをプリカーサイオンとするＭＳ２分析が行われる。
【０００９】
図１(b)の例でＭＳ２分析される４つのプリカーサイオン（Ｐａ、Ｐｄ、Ｐｅ、Ｐｆ）のうちの３つのイオン（Ｐｄ、Ｐｅ、Ｐｆ）は開裂によって生じたイオンであり、本来はＭＳ２分析において検出されるべきイオンである。そのため、これらをプリカーサイオンとするＭＳ２分析により取得されるＭＳ２スペクトルデータを参照化合物のＭＳ２スペクトルデータと照合しても該当するものは存在しない。また、本来、ＭＳ２分析すべきプリカーサイオン（Ｐｂ、Ｐｃ）のＭＳ２スペクトルデータを得ることができない。そのため、プリカーサイオンの選出条件の変更を行い、再びＭＳ２スキャン測定を実行しなければ、本来のＭＳ２スペクトルデータを取得することができず、却って手間と時間がかかる。
【００１０】
ところで、ＤＤＡでは、検出強度に関わらず選出しないイオンを除外イオンとして予め設定しておくことができる。そこで、ＭＳ分析時に不所望の開裂により生じることが想定されるイオンを除外イオンに設定して上記の問題を回避することが考えられる。しかし、開裂によって生じる全てのイオンを事前に想定することは実際には不可能であり、また、多数の除外イオンを設定する作業には手間がかかる。
【００１１】
ここでは、ＭＳ２分析を例に挙げて説明したが、イオントラップ飛行時間型質量分析装置（ＩＴ−ＴＯＦ）などを用いたＭＳ３以上の分析においても、上記同様にＭＳスペクトルデータからイオンを選出してＭＳ２分析する工程が存在することから同じ問題がある。
【００１２】
本発明が解決しようとする課題は、分析対象化合物のＭＳｎ−１分析（ｎは２以上の整数）によりＭＳｎ−１スペクトルデータを取得し、該ＭＳｎ−１スペクトルデータに基づきプリカーサイオンを選出してＭＳｎ分析を実行するＭＳｎ分析において、簡便かつ正確に分析対象化合物のＭＳｎスペクトルデータを取得することである。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記課題を解決するために成された本発明の第１の態様は、衝突部を挟んで前後に質量分離部を有する質量分析装置を用いて分析対象化合物をＭＳｎ分析（ｎは２以上の整数）する方法であって、
a) ＭＳ１分析における測定質量範囲を含むＭＳ１分析条件を決定し、
b) 分析対象化合物のＭＳｎ−１スペクトルデータからＭＳｎ分析のプリカーサイオンを選出する条件と、ＭＳｎ分析における測定質量範囲と、を含むＭＳｎ分析条件を決定し、
c) イオンを開裂させるための衝突ガスを前記衝突部に導入することなく前記ＭＳ１分析条件に基づき前記分析対象化合物のＭＳ１分析を実行し、イオンを開裂させるための衝突ガスを前記衝突部に導入して前記ＭＳｎ分析条件に基づき前記分析対象化合物のＭＳ２以上の分析を実行する分析実行ファイルを作成し、
d) 前記分析実行ファイルを実行することにより前記分析対象化合物をＭＳｎ分析してＭＳｎスペクトルデータを取得する
ことを特徴とする。
【００１４】
上記質量分析装置は、例えば三連四重極型質量分析装置（Ｔｒｉｐｌｅ−Ｑ）、四重極飛行時間型質量分析装置（Ｑ−ＴＯＦ）、イオントラップ飛行時間型質量分析装置（ＩＴ−ＴＯＦ）である。三連四重極型質量分析装置及び四重極飛行時間型質量分析装置ではコリジョンセルが上記衝突部に相当し、イオントラップ飛行時間型質量分析装置ではイオントラップが上記衝突部に相当する。
上記ＭＳｎ分析のプリカーサイオンを選出する条件には、例えば、検出強度が閾値以上であるイオンを選出すること、検出強度が大きい順に所定数のイオンを選出すること、あるいは、予め使用者により設定された１乃至複数の優先イオンが検出されると該イオンの検出強度に関わらず選出すること、を用いることができる。また、予め使用者により設定された１乃至複数の除外イオンのいずれかが検出されても選出しないこと、を上記条件として用いることもできる。
【００１５】
本発明に係る質量分析方法では、衝突ガスを用いずにＭＳ１分析（ＭＳ分析）を実行するため、ＭＳ分析時にイオンが開裂して不所望のイオンが生成されることがない。従って、ＭＳ分析により取得したＭＳスペクトルデータから正しくプリカーサイオンを選出してＭＳ２分析を実行し、ＭＳ２スペクトルデータを取得することができる。また、正しいＭＳ２スペクトルデータに基づいてＭＳ３以降の分析を実行してＭＳ３以上のスペクトルデータを取得することができる。
また、本発明に係る質量分析方法では、分析者はＭＳ１分析条件及びＭＳｎ分析条件を決定し、分析実行ファイルを実行するのみで、簡便に分析対象化合物をＭＳｎ分析してＭＳｎスペクトルデータを取得することができる。
【００１６】
１価のプリカーサイオンの開裂によって生じるプロダクトイオンの質量電荷比は、プリカーサイオンの質量電荷比よりも小さいが、２価のプリカーサイオンの開裂によって生じるプロダクトイオンの質量電荷比は、プリカーサイオンの質量電荷比よりも大きくなる場合がある。そのため、通常、ＭＳ分析の測定質量範囲とＭＳｎ分析の測定質量範囲は同じである。
【００１７】
そこで、本発明に係る質量分析方法では、前記ＭＳ１分析条件を設定する前に前記ＭＳｎ分析条件を決定し、該ＭＳｎ分析条件に含まれる測定質量範囲を、そのまま前記ＭＳ１分析の測定質量範囲に決定するように構成することができる。これにより、分析者がＭＳ１分析条件を決定する必要がなくなり、より簡便に分析対象化合物をＭＳｎ分析することができる。
【００１８】
上記課題を解決するために成された本発明の第２の態様は、衝突部を挟んで前後に質量分離部を有する質量分析装置であって、
a) 使用者の入力に基づいて、ＭＳ１分析における測定質量範囲を含むＭＳ１分析条件を設定するＭＳ１分析条件設定部と、
b) 使用者の入力に基づいて、ＭＳｎ−１分析（ｎは２以上の整数）により取得したＭＳｎ−１スペクトルからＭＳｎ分析のプリカーサイオンを選出する条件と、ＭＳｎ分析における測定質量範囲と、を含むＭＳｎ分析条件を設定するＭＳｎ分析条件設定部と、
c) イオンを開裂させるための衝突ガスを前記衝突部に導入することなく前記ＭＳ１分析条件に基づき分析対象化合物のＭＳ１分析を実行し、イオンを開裂させるための衝突ガスを前記衝突部に導入して前記ＭＳｎ分析条件に基づき前記分析対象化合物のＭＳ２以上の分析を実行する分析実行ファイルを作成する分析実行ファイル作成部と、
d) 使用者による所定の操作に基づいて前記分析実行ファイルを実行することにより前記分析対象化合物をＭＳｎ分析してＭＳｎスペクトルデータを取得する分析実行部と
を備えることを特徴とする。
【００１９】
上記課題を解決するために成された本発明の第３の態様は、衝突部を挟んで前後に質量分離部を有する質量分析装置を用いて分析対象化合物をＭＳｎ分析するためのプログラムであって、コンピュータを前記第２の態様の質量分析装置の各部として機能させることを特徴とする。
【発明の効果】
【００２０】
本発明に係る質量分析方法、質量分析装置、あるいは質量分析用プログラムを用いることにより、簡便かつ正確に分析対象化合物をＭＳｎ分析してＭＳｎスペクトルデータを取得することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】ＭＳ１分析時にイオンが開裂した場合の問題を説明する図。
【図２】本発明に係る質量分析装置の一実施例であるクロマトグラフ質量分析装置の要部構成図。
【図３】本実施例における質量分析方法に関するフローチャート。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
以下、本発明に係る質量分析方法、質量分析装置、及び質量分析用プログラムの一実施例について、図面を参照して説明する。図２は、本実施例のクロマトグラフ質量分析装置の要部構成図、図３は本実施例の質量分析方法に関するフローチャートである。
【００２３】
本実施例のクロマトグラフ質量分析装置は、液体クロマトグラフ部１、質量分析部２、及びこれらの動作を制御する制御部４から構成された、液体クロマトグラフ質量分析装置である。
【００２４】
本実施例の液体クロマトグラフ質量分析装置において、液体クロマトグラフ部１は、移動相が貯留された移動相容器１０と、移動相を吸引して一定流量で送給するポンプ１１と、移動相中に所定量の試料液を注入するインジェクタ１２と、試料液に含まれる各種化合物を時間方向に分離するカラム１３と、を備える。
【００２５】
質量分析部２は、略大気圧であるイオン化室２０と真空ポンプ（図示なし）により真空排気された高真空の分析室２３との間に、段階的に真空度が高められた第１、第２中間真空室２１、２２を備えた多段差動排気系の構成を有している。イオン化室２０には、試料溶液に電荷を付与しながら噴霧するエレクトロスプレイイオン化用プローブ（ＥＳＩプローブ）２０１が設置されている。イオン化室２０と後段の第１中間真空室２１との間は細径の加熱キャピラリ２０２を通して連通している。
【００２６】
第１中間真空室２１と第２中間真空室２２との間は頂部に小孔を有するスキマー２１２で隔てられ、第１中間真空室２１と第２中間真空室２２にはそれぞれ、イオンを収束させつつ後段へ輸送するためのイオンガイド２１１、２２１が設置されている。分析室２３には、多重極イオンガイド（ｑ２）２３３が内部に設置されたコリジョンセル２３２を挟み、イオンを質量電荷比に応じて分離する前段四重極マスフィルタ（Ｑ１）２３１と、同じくイオンを質量電荷比に応じて分離する後段四重極マスフィルタ（Ｑ３）２３４、及びイオン検出器２３５が設置されている。
【００２７】
コリジョンセル２３２の内部には、アルゴン、窒素などの衝突ガスを連続的又は間欠的に供給することができる。電源部２４は、ＥＳＩプローブ２０１、イオンガイド２１１、２２１、２３３、四重極マスフィルタ２３１、２３４などにそれぞれ所定の電圧を印加する。なお、四重極マスフィルタ２３１、２３４はそれぞれ、メインロッド電極の前段に、入口端での電場の乱れを補正するためのプリロッド電極を有しており、プリロッド電極にはメインロッド電極とは異なる電圧が印加できるようになっている。
【００２８】
制御部４は、記憶部４１を有するとともに、機能ブロックとして、ＭＳ１分析条件設定部４２、ＭＳｎ分析条件設定部４３、分析実行ファイル作成部４４、及び分析実行部４５を機能的に備えている。また、上記各部の動作に合わせて液体クロマトグラフ部１のポンプ１１やインジェクタ１２、質量分析部２の電源部２４や衝突ガス供給部（図示せず）などの各部の動作をそれぞれ制御する機能を有している。
【００２９】
制御部４の実体はパーソナルコンピュータであり、該コンピュータに予めインストールされた質量分析用プログラムを実行することにより上記各部として機能させるようにすることができる。また、制御部４には、入力部６、表示部７が接続されている。
【００３０】
以下、本実施例における質量分析方法について、図３のフローチャートを参照して説明する。本実施例では、クロマトグラフ部１により試料から分析対象化合物を分離して、質量分離部２でＭＳ２分析する。本実施例ではＭＳ２分析について説明するが、ＭＳｎ分析全般に本発明の構成を適用することが可能である。
【００３１】
ＭＳ１分析条件設定部４２は、表示部７にＭＳ１分析条件入力画面を表示して分析者に各条件の入力を促す。分析者が測定質量範囲及びスキャン速度を含むＭＳ１分析条件を入力すると、それらをＭＳ１分析条件として設定するとともに記憶部４１に保存する（ステップＳ１）。なお、本実施例におけるＭＳ１分析条件及び後述するＭＳｎ分析条件に含まれるスキャン速度は質量分析部２に三連四重極型質量分析部を用いる場合の分析条件であり、四重極飛行時間型質量分析部やイオントラップ飛行時間型質量分析部など、他の形態の質量分析装置を用いる場合は、それぞれに応じた分析条件を設定する。
【００３２】
次に、ＭＳｎ分析条件設定部４３が、表示部７の画面にＭＳ２分析条件入力画面を表示し、分析者に各条件の入力を促す。ＭＳｎ分析条件（＝ＭＳ２分析条件）には、測定質量範囲やスキャン速度のほか、ＭＳｎ−１スペクトルデータ（＝ＭＳ１スペクトルデータ）からＭＳｎ分析（＝ＭＳ２分析）のプリカーサイオンを選出する条件が含まれる。
【００３３】
プリカーサイオンの選出条件は、例えば、イオンの検出強度が所定の閾値ｔｈ以上であるイオンを選出すること、イオンの検出強度が高い順に所定個数のイオンを選出すること、分析者により指定されたイオン（優先イオン）が検出された場合には検出強度に関わらず選出すること、等とすることができる。また、分析者により指定されたイオン（除外イオン）が強度で検出されても当該イオンを選出しない、という条件も用いることができる。本実施例では、分析者が入力した閾値ｔｈ以上の強度で検出されたイオンを選出する。
【００３４】
分析者が上記各条件の入力を完了すると、ＭＳｎ分析条件設定部４３は、それらをＭＳ２分析条件として設定するとともに記憶部４１に保存する（ステップＳ２）。
【００３５】
ＭＳ１分析条件及びＭＳ２分析条件がそれぞれ設定されると、分析実行ファイル作成部４４がそれらに基づいて、以下のステップＳ４１からＳ４８で分析対象化合物をＭＳ２分析するように、装置各部を制御するコマンドを記載した分析実行ファイルを作成する（ステップＳ３）。
【００３６】
具体的には、質量分析部２の内部空間（コリジョンセル２３２を含む）を真空状態に維持して、試料を液体クロマトグラフ部１のインジェクタ１２から導入し（ステップＳ４１）、分析対象化合物の保持時間に合わせてＭＳ１分析を実行して（ステップＳ４２）、ＭＳ１スペクトルデータを取得する（ステップＳ４３）。そして、該ＭＳ１スペクトルデータに基づいて上記閾値ｔｈ以上の強度で検出されたイオンを選出してＭＳ２分析のプリカーサイオンに決定する（ステップＳ４４）。
【００３７】
続いて、コリジョンセル２３２に衝突ガスを導入し（ステップＳ４５）、再び試料を液体クロマトグラフ部１のインジェクタ１２から導入し（ステップＳ４６）、分析対象化合物の保持時間に合わせて先に選出したプリカーサイオンのそれぞれを用いたＭＳ２分析を行い（ステップＳ４７）、ＭＳ２スペクトルデータを取得する（ステップＳ４８）。
【００３８】
分析実行ファイルの作成を完了すると、記憶部４１に該ファイルを保存するとともに、表示部７に分析開始ボタンを表示する。
【００３９】
分析者が分析開始ボタンを押すと、分析実行部４５は、記憶部４１から分析実行ファイルを読み出して実行する（ステップＳ４）。これにより上述のステップＳ４１からＳ４８が順次実行され分析対象試料のＭＳ２スペクトルデータが取得される。分析実行部４５は、取得したＭＳ２スペクトルデータからＭＳ２スペクトルを作成して表示部７に表示する（ステップＳ５）。
【００４０】
このように、本実施例の質量分析方法、クロマトグラフ質量分析装置、あるいは質量分析用プログラムを用いると、分析者は、ＭＳ１分析条件及びＭＳ２分析条件の入力と、分析開始ボタンを押す操作を行うのみで、簡単に分析対象試料をＭＳ２分析しＭＳ２スペクトルを取得することができる。
【００４１】
また、本実施例では、コリジョンセル２３２に衝突ガスを導入せず、質量分析部２の内部空間を真空状態に維持してＭＳ１分析を行うため、従来のＤＤＡのように、ＭＳ１分析実行時に不所望のイオンの開裂が起こる心配がなく、ＭＳ２分析のプリカーサイオンを正しく選出することができる。
【００４２】
上記実施例は一例であって、本発明の趣旨に沿って適宜に変更することができる。
上記実施例では、分析者がＭＳ１分析条件及びＭＳ２分析条件をそれぞれ入力したが、分析者はＭＳ２分析条件のみを入力し、その一部（上記実施例では測定質量範囲及び質量走査速度等）を抽出してＭＳｎ分析条件設定部がＭＳ１分析条件を自動的に設定するように構成することができる。
【００４３】
上記実施例では液体クロマトグラフ質量分析装置としたが、ガスクロマトグラフ質量分析装置においても同様に分析対象化合物を分析することができる。また、純粋な分析対象化合物を入手可能な場合には、クロマトグラフを用いず、質量分析部のイオン化部に分析対象化合物を直接導入してＭＳｎ分析することができる。
【００４４】
本発明の特徴は、衝突ガスを用いずにＭＳ１分析を行ってＭＳ１スペクトルデータを取得して該ＭＳ１スペクトルデータからＭＳ２分析のプリカーサイオンを選出する点、及び選出したプリカーサイオンを用いたＭＳ２分析をＭＳ１分析に続いて自動的に実行する点にある。つまり、ＭＳ２スペクトルデータからＭＳ３分析のプリカーサイオンを選出する、即ちＭＳ３以上の分析については、従来のＤＤＡと同様に行うことができる。従って、上記実施例における三連四重極型の質量分離部に代えてイオントラップ飛行時間型の質量分析部を用いることにより、上記実施例と同様にＭＳ３以上の分析も行うことができる。
【符号の説明】
【００４５】
１…液体クロマトグラフ部
１０…移動相容器
１１…ポンプ
１２…インジェクタ
１３…カラム
２…質量分析部
２０…イオン化室
２０１…ＥＳＩプローブ
２０２…加熱キャピラリ
２１…第１中間真空室
２１１…イオンガイド
２１２…スキマー
２２…第２中間真空室
２３…分析室
２３１…前段四重極マスフィルタ
２３２…コリジョンセル
２３３…多重極イオンガイド
２３４…後段四重極マスフィルタ
２３５…イオン検出器
２４…電源部
４…制御部
４１…記憶部
４２…ＭＳ１分析条件設定部
４３…ＭＳｎ分析条件設定部
４４…分析実行ファイル作成部
４５…分析実行部
６…入力部
７…表示部
【図１】
0006477332.tif 000002
【図２】
0006477332.tif 000003
【図３】
0006477332.tif 000004