(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線発生装置のための修正構成であって、当該構成は、
カソードと、
アノードと、
修正装置と、を有しており、
前記カソードは、電子ビームを供給するように構成され、
前記アノードは、前記電子ビームの衝突中に回転するように構成され、
前記アノードは、前記アノードの円周の周りに配置され且つ焦点軌道を横断するアノードの外周内に半径方向内向きに存在するスリットによってセグメント化され、前記スリットは、前記焦点軌道が存在する前記アノードの側部から、反対側の底部に存在し、
前記修正装置は、前記電子ビームが前記アノードの回転する前記スリットの１つに当っているときに、前記電子ビームを修正するように構成され、
前記修正装置は、前記電子ビームを、前記アノードの回転運動の方向に接線方向前方に又は前記アノードの回転運動の方向とは逆の接線方向後方に偏向させ、次に前記アノードの回転運動の方向とは逆に後方に又は前記アノードの回転運動の方向に前方に偏向させ、前記電子ビームが前記スリットの１つに当たる時間を少なくするように構成される、
修正構成。
【請求項２】
前記修正装置は、前記スリットの１つが前記電子ビームに近づいている及び／又は前記電子ビームから離れているときに、前記電子ビームをさらに修正するように構成される、請求項１に記載の修正構成。
【請求項３】
前記修正は、さらに、前記電子ビームの半径方向及び／又は接線方向の拡大又は縮小である、請求項１又は２に記載の修正構成。
【請求項４】
前記修正は、さらに、前記スリットの平面内での前記電子ビームの断面の形状の変化である、請求項１乃至３のいずれか一項に記載の修正構成。
【請求項５】
前記修正装置は、電気的及び／又は磁気的サブ装置を有し、該サブ装置は前記電子ビームの放射領域を修正するサブ機能を有する、請求項１乃至４のいずれか一項に記載の修正構成。
【請求項６】
前記アノードは、前記電子ビームが前記アノードに当たるときに光子束を出力するように構成され、前記修正装置は、前記電子ビームが前記アノードのスリットの１つに当たるときに、生成された前記光子束のディップが低減するよう前記電子ビームを修正するように構成される、請求項１乃至５のいずれか一項に記載の修正構成。
【請求項７】
前記アノードは、前記電子ビームが前記アノードに当たるときに光子束を出力するように構成され、前記修正装置は、前記電子ビームが前記アノードのスリットの１つに当たるときに、前記電子ビームが前記アノードのスリットの外部で前記アノードに当たる場合と比べて、生成された前記光子束が、９０％未満だけ変動するように、前記電子ビームを修正するように構成される、請求項１乃至６のいずれか一項に記載の修正構成。
【請求項８】
Ｘ線源及びＸ線検出器を有するＸ線撮像用システムであって、前記Ｘ線源は、請求項１乃至７のいずれか一項に記載による修正構成を含む、システム。
【請求項９】
Ｘ線発生装置のための修正方法であって、当該方法は、
電子ビームを供給するステップと、
前記電子ビームの衝突中にアノードを回転させるステップであって、前記アノードは、前記アノードの円周の周りに配置され且つ焦点軌道を横断する前記アノードの外周に半径方向内向きに存在し、且つ前記アノードの円周の周りに実質的に等距離に配置されたスリットによってセグメント化され、前記スリットは、前記焦点軌道が存在する前記アノードの側部から、反対側の底部に存在する、ステップと、
前記アノードの回転する前記スリットの１つに当っているときに、前記電子ビームを修正するステップと、
前記電子ビームを、前記アノードの回転運動の方向に接線方向前方に又は前記アノードの回転運動の方向とは逆の接線方向後方に偏向させ、次に前記アノードの回転運動の方向とは逆に後方に又は前記アノードの回転運動の方向に前方に偏向させ、前記電子ビームが前記スリットの１つに当たる時間を少なくするステップと、を含む、
修正方法。
【請求項１０】
前記スリットの１つに当っているときに前記電子ビームを修正するステップは、さらに、前記電子ビームの拡大又は縮小である、請求項９に記載の修正方法。
【請求項１１】
コンピュータの処理ユニットによって実行されるときに、請求項９又は１０に記載の方法ステップを実行するように適合されるコンピュータプログラム。
【請求項１２】
請求項１１に記載のコンピュータプログラムを記憶したコンピュータ可読媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ｘ線発生装置のための修正構成、Ｘ線撮像用システム、修正方法、そのような装置を制御するためのコンピュータプログラム要素、及びこのようなコンピュータプログラム要素を記憶したコンピュータ可読媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、Ｘ線管のための回転可能なアノードが記載されており、このアノードは、第１の電子ビームが当たるように適合された第１のユニットと、少なくとも第２の電子ビームが当たるように適合された少なくとも第２のユニットとを含む。さらに、電子ビームを生成するためのアノード及びメイン・カソードを含むＸ線システムが記載されている。メイン・カソードは、第１の電位を生成するように適合される。Ｘ線システムは、第２の電位に影響を及ぼすための補助カソードをさらに有する。
【０００３】
特許文献２には、生成されたＸ線ビームのより高速で周期的な変調のためのＸ線管が記載されている。Ｘ線管は、ターゲット表面領域を有する円周ターゲット領域、焦点トラック中心線、及びビームダンプ表面領域を含むアノードディスクを有する。ターゲット表面領域は、電子ビームが当たったときに、Ｘ線撮像用のＸ線を発生できるように設けられる。ビームダンプ表面領域は、電子ビームが当たったときに、Ｘ線撮像用の有用なＸ線が生成されないように設けられる。
【０００４】
特許文献３は、多重エネルギーＸ線放射の発生について記載している。多重エネルギーＸ線放射に増大したスイッチング周波数を与えるために、Ｘ線管用の回転アノードには、アノード本体、円形の焦点軌道、及び回転軸が設けられる。焦点軌道は、アノード本体に設けられ、且つ少なくとも１つの第１焦点軌道部分及び少なくとも１つの第２焦点軌道部分を含む。少なくとも１つの第１及び第２の焦点軌道部分の間に移行部分が設けられる。
【０００５】
Ｘ線管には、セグメント化されたアノードを備え付けることができる。セグメント化されたアノードでは、スリット又はスロットが、アノードの外周に半径方向内向きに存在しており、Ｘ線管の動作中の大きな温度勾配により生じる熱応力を低減する。
【０００６】
アノード回転時には、カソードから供給された電子ビームがスリットに繰り返し当たる。アノードは、電子ビームがアノードに当たると光子束を出力する。スリットの幅に対して電子ビームの焦点スポット幅が小さいと、Ｘ線が、スロット内の深部で発生し、使用される電子ビームに入射されず、例えばＣＴスキャナ内の対象物に到達しないので、光子束は、通過中に低下する。
【０００７】
特にＸ線検出器が非線形に強く反応するとき、光子束の低下又は強度の低下は、画像の検出及び再構成に問題を引き起こす可能性がある。換言すると、光子束が低下すると、信号は、急激に立ち上がり、信号バーストになることがある。
【０００８】
スリットの通過中に電子ビームの焦点スポットを通過すると、これらの信号バーストは、ランダムであるように見え、有意で望ましくないノイズが追加される。
【０００９】
その結果、スリットの存在にもかかわらず、光子束を安定に保ち、画像検出の質を向上させることが望まれている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】米国特許第８，６８７，７６９号
【特許文献２】国際公開第２０１３／０７６５９８号
【特許文献３】国際公開第２０１３／００１３８４号
【発明の概要】
【００１１】
こうして、向上した画像品質を可能にする、Ｘ線発生装置のための修正構成を提供する必要があり得る。
【００１２】
本発明の課題は、独立請求項の主題によって解決され、更なる実施形態は、従属請求項に組み込まれる。なお、以下に説明する本発明の態様は、Ｘ線発生装置、Ｘ線撮像用システム、修正方法、コンピュータプログラム要素、及びコンピュータ可読媒体にも適用されることに留意されたい。
【００１３】
本発明によれば、Ｘ線発生装置のための修正構成が提示される。修正構成は、カソード、アノード、及び修正手段、例えば、修正装置を有する。
【００１４】
カソードは、電子ビームを供給するように構成される。例えば焦点軌道を有するアノードは、電子ビームの衝突中に回転するように構成され、例えば、焦点軌道を横断するアノードの外周に半径方向内向きに存在し、且つアノードの円周の周りに実質的に等距離に配置されたスリットによってセグメント化される。スリットは、焦点軌道が存在するアノードの側部から、反対側の底部に存在する。スリットが終了する内側の位置では、アノードの円周よりもアノードの回転軸に近い半径方向の位置に、円形孔が存在しており、この円形孔は、スリットが終了する内側位置でのアノードの割れを防止する。スリットの半径方向の長さは、典型的には、アノードの半径の約２０〜５０％である。円形孔の直径は、典型的には、アノードの直径の約０．５〜５％である。典型的には、アノードの円周の周りに実質的に等距離に且つ放射状に配置された約１０〜３０のスリットがある。修正装置は、電子ビームがアノードの回転スリットの１つに当っているときに、電子ビームを修正するように構成される。
【００１５】
これにより、セグメント化された回転アノードからの光子束の安定化が達成される。換言すれば、アノードのスリットを通過する際の光子束のディップ(dip)が低減される。信号バーストが現れないか、又は殆ど発生せず、対応する望ましくないノイズも完全に又はほぼ回避される。その結果、画像の検出及び／又は再構成が改善され、これにより画像データの質が向上する。
【００１６】
一例では、修正装置は、スリットの１つが電子ビームに近づいている及び／又は電子ビームから離れているときに、電子ビームを修正するようにも構成される。これは、アノードと共に回転するスロットの１つが、電子ビームがアノードに当たり且つＸ線が発生する位置に近づく及び／又は離れると直ぐに、電子ビームが修正されることを意味する。例えば、接線方向の焦点スポットの寸法は、０．６ｍｍから１．０ｍｍ又は２．０ｍｍまで拡げることができる。スリットの幅が０．３ｍｍの場合に、強度の低下は、約５０％から３３％まで、又はさらに約１６％まで減少するだろう。修正は、逆も可能である。また、接線方向のビーム幅を０．３ｍｍ以下に縮小することができ、これは、強度低下期間を、スリットの幅を焦点トラック速度で割った値の約３倍以下に低減させるだろう。
【００１７】
電子ビームの修正は、電子ビームがアノードに衝突する位置における電子ビームの焦点スポットの修正として理解することができる。電子ビームの修正は、以下の態様の１つによって達成することができる。
【００１８】
本発明によれば、修正は、電子ビームの偏向である。
【００１９】
偏向は、アノードの回転運動に対する接線方向である。修正装置は、アノードの回転運動の方向の接線方向に前方に電子ビームを偏向し、次に、アノードの回転運動の方向とは逆に後方に偏向して、電子ビームがスリットの１つに当たる時間を少なくするように構成される。これは、セグメント化された回転アノードからの光子束を安定化させることは、アノードと共に回転するスリットの１つが、電子ビームがアノードに当たり且つＸ線が発生する位置に近づくと直ぐに、電子ビームが、例えば、接線方向に前後に偏向されることを意味する。換言すれば、電子ビームがスリットを高速で通過するので、光子束が減少する期間が最小限に抑えられる。
【００２０】
一例では、修正装置は、逆に、アノードの回転運動の方向とは逆に接線方向に後方に電子ビームを偏向し、次に、アノードの回転運動の方向の前方に偏向して、電子ビームがスリットの１つに当たる時間を少なくするように構成される。
【００２１】
一例では、修正は、電子ビームの半径方向及び／又は接線方向の拡大である。電子ビームの拡大は、偏向中の焦点スポットの拡大につながる。換言すれば、焦点は拡がって見える。偏向が十分に速く、大きく拡がらない（約１焦点スポット幅）場合に、歪みの時間は、例えばＣＴ投影を発生させるために使用される積分時間に対して小さくなる。投影の相対的な歪みは許容範囲となるだろう。拡大は、電子ビームの偏向と組み合わせることができる。
【００２２】
一例では、修正は、電子ビームの半径方向及び／又は接線方向の縮小である。縮小は、電子ビームの偏向と組み合わせることができる。
【００２３】
一例では、修正は、スリットの平面における電子ビームの断面の形状の変化である。電子ビームの断面の形状の変化は、矩形から例えば斜め台形(diagonal  trapezoid  shape)への半径方向の回転とすることができる。矩形と比較して、斜め台形は、スリット内に完全に消失せず、むしろスリット内で「詰まる」ので、電子ビームの少なくとも一部がスリット内で消失しない。形状の変化は、電子ビームの偏向、拡大及び／又は縮小と組み合わせることもできる。
【００２４】
電子ビームの断面の形状の変化は、スリットの平面内の本質的に同じ表面領域に基づくことができ、又は電子ビームの拡大又は縮小と組み合わせることができ、それにより、スリットの平面内の表面領域の拡大又は縮小と組み合わせることができる。
【００２５】
一例では、修正装置は、電気的及び／又は磁気的サブ装置を有する。電気的サブ装置は、カソード内のバイアスされた電極とすることができ、この電極は、電子エミッタの近傍の局所電界を変更して放射領域を修正する。磁気的サブ装置は、磁気四重極レンズ又はシリンダーレンズ又は磁気双極子であり得る。
【００２６】
一例では、修正装置は、電子ビームがアノードのスリットの１つに当たるときに、生成された光子束が本質的に安定化するように電子ビームを修正するように構成することができる。修正装置は、ビームがアノードのスリットの１つに当たるときに、電子ビームがアノードのスリットの外部でアノードに当たる場合と比較して、生成された光子束が、９０％未満、好ましくは７０％未満、より好ましくは３０％未満、さらにより好ましくは１０％未満だけ変動するように電子ビームを修正する。
【００２７】
本発明によれば、Ｘ線撮像用システムも提示される。このシステムは、Ｘ線源及びＸ線検出器を有する。Ｘ線源は、カソード、アノード、及び修正装置を含む上述したような修正構成を有する。Ｘ線検出器は、減衰したＸ線を電気信号に変換する。
【００２８】
本発明によれば、Ｘ線発生装置のための修正方法も提示される。この方法は、以下のステップを含むが、必ずしもこの順序ではない、
ａ）電子ビームを供給するステップと、
ｂ）電子ビームの衝突中にアノードを回転させるステップであって、アノードは、焦点軌道を横断するアノードの外周に半径方向内向きに存在し、且つアノードの円周の周りに実質的に等距離に配置されたスリットによってセグメント化される、ステップと、
ｃ）アノードの回転スリットの１つに当っているときに、電子ビームを修正するステップと、
ｄ）電子ビームを、アノードの回転運動の方向に接線方向に前方に又はアノードの回転運動の方向とは逆に後方に偏向させ、次にアノードの回転運動の方向とは逆に後方に又はアノードの回転運動の方向に前方に偏向させ、電子ビームがスリットの１つに当たる時間を少なくするステップと、
を含む。
【００２９】
一例では、修正装置は、スリットの１つが電子ビームに近づいている及び／又は電子ビームから離れているときに、電子ビームを修正するようにも構成される。
【００３０】
電子ビームの修正は、電子ビームがアノードに衝突する位置における電子ビームの焦点スポットの修正として理解することができる。一例では、スリットの１つに当っているときの電子ビームの修正は、さらに、電子ビームの形状の変化、及び／又は拡大又は縮小である。
【００３１】
本発明によれば、コンピュータプログラム要素も提示され、コンピュータプログラム要素は、修正構成を制御するコンピュータ上でコンピュータプログラムを実行したときに、装置クレームの独立請求項に規定される修正構成に、修正方法のステップを実行させるプログラムコード手段を含む。
【００３２】
独立請求項に係る修正構成、修正方法、そのような装置を制御するためのコンピュータプログラム要素、及びこのようなコンピュータプログラム要素を記憶したコンピュータ可読媒体は、特に従属請求項に規定されるように、同様の及び／又は同一の好ましい実施形態を有することを理解すべきである。さらに、本発明の好ましい実施形態は、独立請求項とそれぞれの従属請求項との任意の組合せとすることができることも理解されたい。
【００３３】
本発明のこれらの態様及び他の態様は、以下に記載される実施形態を参照して説明され、これらの実施形態から明らかになるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１】本発明によるＸ線撮像用システム及び修正構成の実施形態の概略図を示す。
【図２】本発明による修正構成の一部としてのアノードを概略的且つ例示的に示す。
【図３】アノード及び電子ビームの焦点スポットのいくつかの図を概略的且つ例示的に示す。
【図４】修正方法の一例の基本ステップを示す。
【発明を実施するための形態】
【００３５】
本発明の例示的な実施形態について、添付図面を参照して以下に説明する。
図１は、本発明によるＸ線撮像用システム１０の実施形態を概略的且つ例示的に示す。システム１０は、Ｘ線源１２及びＸ線検出器を有するガントリ１１を含む。ガントリ１１は、検査中に患者１０１の周りを回転可能である。Ｘ線源１２は、例えば円錐形のＸ線ビーム１３を発生する。ガントリ１１上のＸ線源１２の反対側には、減衰したＸ線１３を電気信号に変換する検出器システムがある。コンピュータシステム（図示せず）は、患者の内部形態の画像を再構成する。
【００３６】
Ｘ線源１２は、本発明による修正構成１の例示的な実施形態を含む。修正構成１は、カソード、アノード、及び修正装置を含む。カソードは電子ビームを供給する。アノードは、電子ビームの衝突中に回転する。修正装置は、電気的及び／又は磁気的サブ装置を有する。
【００３７】
図２は、アノード２を概略的且つ例示的に示す。アノード２は、アノードの円周の周りに配置されたスリット２１によってセグメント化される。修正装置は、電子ビーム１５がアノードの回転スリット２１の１つに当っているときに、電子ビーム１５を修正する。修正装置はまた、スリット２１の１つが電子ビーム１５に近づいている及び電子ビーム１５から離れているときに、電子ビーム１５を修正する。これは、アノード２と共に回転するスロットの１つが、電子ビーム１５がアノード２に当たり且つＸ線が発生する位置に近づくと直ぐに、電子ビーム１５を修正することを意味する。電子ビーム１５の修正は、電子ビーム１５がアノード２に衝突する位置における電子ビーム１５の焦点スポットの修正として理解することができる。
【００３８】
時系列的には、まず、電子ビーム１５がアノード２に当たる位置にスリットがない場合に、電子ビーム１５は修正されない。この初期位置Ｉでは、電子ビーム１５の焦点スポットは安定している。
【００３９】
次に、電子ビーム１５がアノード２に当たる位置にスリット２１が近づくと、電子ビーム１５は、修正され、すなわちここではアノード２の回転運動に対して接線方向に偏向(deflected)される。図２では、電子ビーム１５は、アノードの回転運動の方向に、（矢印で示されるように）位置Ａまで前方に偏向される。
【００４０】
電子ビーム１５が最初に位置Ｉでアノード２に当たる位置をスリット２１が通過すると、電子ビーム１５は再び修正され、これはここでは反対方向に急速に偏向されることを意味する。図２では、電子ビーム１５は、アノードの回転運動の方向とは逆に、（矢印で示されるように）位置Ｂまで後方に偏向される。これにより、電子ビーム１５がスリット２１の１つに当たる時間が減少される。
【００４１】
電子ビーム１５がアノード２に当たる位置の次の領域をスリット２１が去ったときに、電子ビーム１５は再び修正され、これは反対方向に初期位置Ｉまで再び偏向されることを意味する。
【００４２】
こうして、電子ビーム１５はスリット２１を速い速度で通過するので、光子束が減少する期間が最小限に抑えられる。これにより、セグメント化された回転アノード２からの光子束の安定化が達成される。換言すれば、アノード２のスリット２１を通過する際の光子束のディップ(dip)が低減される。信号バーストが現れないか、又は殆ど発生せず、対応する望ましくないノイズも完全に又はほぼ回避される。その結果、画像の検出及び／又は再構成が改善され、これにより画像データの質が向上する。
【００４３】
偏向による電子ビーム１５のこの修正は、電子ビーム１５の拡大又は縮小によって拡張（又は置換）することができる。例えば、電子ビーム１５の形状の矩形から斜め台形(diagonal  trapezoid  shape)への変化によってさらに拡張（又は置換）することができる。
【００４４】
図３は、スリット２１を含む回転アノード２及び電子ビーム（図示せず）の焦点スポット１４のいくつかの図を概略的且つ例示的に示す。焦点スポット１４は、電子ビームがアノード２に当たる又は衝突する位置にある。図３ａでは、焦点スポット１４は修正されていない。
【００４５】
図３ｂから３ｄでは、焦点スポット１４が修正される。図３ｂでは、焦点スポット１４は接線方向に拡げられる。電子ビームの拡大は、焦点スポット１４の拡大につながる。図３ｃでは、焦点スポット１４は、接線方向に縮小又は収縮される。
【００４６】
図３ｄでは、焦点スポット１４の形状が変化する。すなわち、スリット２１の平面内における電子ビームの断面が変化する。その側面の１つに起立する四角形を含む図３ａに示されるような焦点スポット１４の初期の四角形が、傾斜されるか回転されるので、四角形は、そのコーナー部の１つに菱形状に起立する。その側面の１つに起立する四角形と比較して、そのコーナー部の１つに起立する菱形状の四角形がスリット２１内で「詰まる(jammed)」ので、電子ビームのより大きな部分がスリット２１内で消失しない。さらに、スリット２１の平面内における電子ビーム断面の形状のこの変化は、図３ｂに示されるような拡張と組み合わされる。四角形の焦点スポット１４は矩形状に若干拡大されており、スリット２１内で消失する電子ビームの量をさらに増やさない。
【００４７】
図４は、Ｘ線発生装置のための修正方法のステップの概略図を示す。この方法は、以下のステップを含むが、必ずしもこの順序ではない。
第１のステップＳ１において、電子ビーム１５を供給する。
第２のステップＳ２において、電子ビーム１５の衝突中にアノード２を回転させる。ここで、アノード２は、焦点軌道を横断するアノードの外周に半径方向内向きに存在し、且つアノードの円周の周りに実質的に等距離に配置されたスリット２１によってセグメント化される。
第３のステップＳ３において、電子ビーム１５がアノードの回転スリット２１の１つに当っているときに、電子ビーム１５を修正する。
【００４８】
修正装置は、スリット２１の１つが電子ビーム１５に近づいている及び／又は電子ビーム１５から離れているときに、電子ビーム１５を修正するように構成することもできる。
【００４９】
電子ビームの修正は、電子ビームがアノード２に衝突する位置での電子ビームの焦点スポットの修正として理解することができる。この修正は、電子ビームの偏向、形状の変化、及び／又は、拡大又は縮小とすることができる。
【００５０】
本発明の別の例示的な実施形態では、適切なシステム上で、先に示した実施形態の１つに記載の方法の方法ステップを実行するように適合されることにより特徴付けられるコンピュータプログラム又はコンピュータプログラム要素が提供される。
【００５１】
従って、コンピュータプログラム要素は、本発明の実施形態の一部であってもよいコンピュータユニットに記憶してもよい。このコンピュータユニットは、上述した方法のステップを実行する又はこれらステップの実行を誘導するように構成することができる。さらに、そのコンピュータユニットは、上述した装置の構成要素を動作させるように構成することもできる。コンピュータユニットは、ユーザの命令を自動的に動作させる及び／又はそれら命令を実行するように構成することができる。コンピュータプログラムは、データプロセッサの作業メモリにロードすることができる。従って、データプロセッサは、本発明の方法を実行するために備え付けることができる。
【００５２】
本発明のこの例示的な実施形態は、当初から本発明を使用するコンピュータプログラムと、既存のプログラムを、本発明を使用するプログラムに変換する更新によるコンピュータプログラムとの両方を網羅する。
【００５３】
さらに、コンピュータプログラム要素は、上述した方法の例示的な実施形態の手順を実行するために必要な全てのステップを提供することができる。
【００５４】
本発明の更なる例示的な実施形態によれば、ＣＤ−ＲＯＭ等のコンピュータ可読媒体が提示され、このコンピュータ可読媒体は、その上に記憶されたコンピュータプログラム要素を有し、コンピュータプログラム要素は、先に示した段落によって説明されている。
【００５５】
コンピュータプログラムは、他のハードウェアと一緒に又は他のハードウェアの一部として供給される光記憶媒体又は固体媒体等の適切な媒体上に記憶及び／又は分配してもよいが、インターネット、或いは他の有線又は無線電気通信システム等を介して他の形態で配布してもよい。
【００５６】
しかしながら、コンピュータプログラムは、ワールド・ワイド・ウェブのようなネットワークを介して提示してもよく、このようなネットワークからデータプロセッサの作業メモリにダウンロードしてもよい。本発明の更なる例示的な実施形態によれば、コンピュータプログラム要素をダウンロード可能にするための媒体が提供され、このコンピュータプログラム要素は、本発明の前述した実施形態の１つに従って方法を実行するように構成される。
【００５７】
本発明の実施形態は、異なる主題を参照して説明されることに留意されたい。具体的には、いくつかの実施形態は、方法クレームの形式を参照して記載されるが、他の実施形態は、装置クレームの形式を参照して記載される。しかしながら、当業者であれば、上述した説明及び以下の説明から、別段の記載がない限り、１つの形式の主題に属する特徴の任意の組合せに加えて、異なる主題に関連する特徴同士の間の任意の組合せが、本願に開示されるとみなされることを推量するだろう。もっとも、全ての機能を組み合わせることで、機能の単純な合計以上の相乗効果を提供することができる。
【００５８】
本発明について、図面及び前述の詳細な説明において詳細に図示及び説明してきたが、そのような図示及び説明は、例又は例示であって、限定的なものとみなすべきではない。本発明は、開示された実施形態に限定されるものではない。開示された実施形態に対する他の変更は、図面、明細書の開示、及び従属請求項の検討から、特許請求の範囲に記載された発明を実施する際に当業者によって理解され、達成され得る。
【００５９】
特許請求の範囲において、「備える、有する、含む(comprising)」という単語は、他の要素又はステップを排除するものではなく、不定冠詞「１つの(a,  an)」は、複数を除外するものではない。単一のプロセッサ又は他のユニットが、請求項に列挙された、いくつかのアイテムの機能を充足することができる。特定の手段が互いに異なる従属請求項に列挙されているという単なる事実は、これらの手段の組合せが有利に使用できないことを示すものではない。特許請求の範囲における参照符号は、その範囲を限定するものとして解釈すべきではない。
【図１】
0006452811.tif 000002
【図２】
0006452811.tif 000003
【図３ａ）】
0006452811.tif 000004
【図３ｂ）】
0006452811.tif 000005
【図３ｃ）】
0006452811.tif 000006
【図３ｄ）】
0006452811.tif 000007
【図４】
0006452811.tif 000008