(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の画素でＦＤ（Floating Diffusion）を共有する構造の撮像素子と、
前記撮像素子が有する画素群のうち、静的な欠陥を持つ静的欠陥画素とＲＴＳ（Random Telegraph Signal）ノイズが発生するＲＴＳノイズ発生画素を登録する登録手段と、
前記登録手段に登録された静的欠陥画素と一部のＲＴＳノイズ発生画素に対して欠陥画素補正を行う欠陥画素補正手段と、
前記欠陥画素補正が行われた後の前記画素群に対してノイズの補正を行うノイズ補正手段と、
を備え、
前記登録手段は、
前記ＦＤを共有し且つ前記ＲＴＳノイズ発生画素である複数の画素のうち、少なくとも一つのＲＴＳノイズ発生画素を、静的欠陥画素として登録し、
前記欠陥画素補正手段は、
前記登録手段に登録された静的欠陥画素と、前記静的欠陥画素として登録された前記一部のＲＴＳノイズ発生画素に対して欠陥画素補正を行う、
撮影装置。
【請求項２】
前記登録手段に登録されたＲＴＳノイズ発生画素でノイズが発生するか否かを検出する検出手段
を備え、
前記ノイズ補正手段は、
前記登録手段に登録されたＲＴＳノイズ発生画素におけるノイズの発生が検出されると、前記一部のＲＴＳノイズ発生画素を除くＲＴＳノイズ発生画素に対して前記ノイズの補正を行う、
請求項１に記載の撮影装置。
【請求項３】
前記検出手段は、
所定の条件が満たされるとき、前記登録手段に登録されたＲＴＳノイズ発生画素におけるノイズの発生を検出する、
請求項２に記載の撮影装置。
【請求項４】
前記所定の条件は、
下記の項目（１）〜（５）、
（１）ＩＳＯ感度が所定感度以上に設定されている、
（２）撮影時の温度が所定温度以上である、
（３）撮影モードが複数枚の画像を合成した合成画像を生成する合成モードに設定されている、
（４）撮影モードがライブビューを表示するライブビューモードに設定されている、
（５）撮影モードが動画を撮影する動画モードに設定されている、
の少なくとも１つを含む条件である、
請求項３に記載の撮影装置。
【請求項５】
前記撮像素子は、
ＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）イメージセンサである、
請求項１から請求項４の何れか一項に記載の撮影装置。
【請求項６】
前記ＦＤを共有する複数の画素は、
少なくとも２つの同色画素を含む、
請求項１から請求項５の何れか一項に記載の撮影装置。
【請求項７】
前記ノイズは、
ＲＴＳ（Random Telegraph Signal）ノイズである、
請求項１から請求項６の何れか一項に記載の撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の画素でＦＤ（Floating Diffusion）を共有する構造の撮像素子を持つ撮影装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）イメージセンサにおいて、イメージセンサの小型化や受光面積の確保を達成するため、複数の画素でＦＤを共有することにより、単位画素当たりのＦＥＴ（Field Effect Transistor）数及び配線数を低減した構成が知られている。例えば特許文献１に、この種のＣＭＯＳイメージセンサの具体的構成が記載されている。
【０００３】
また、ＣＭＯＳイメージセンサでは、ＭＯＳＦＥＴのチャネル内を移動するキャリアがゲート絶縁膜等に存在するトラップ準位に捕獲されることにより、撮像した画像にＲＴＳ（Random Telegraph Signal）ノイズが発生することが知られている。例えば特許文献２に、ＲＴＳノイズを低減させることが可能な撮影装置の具体的構成が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００５−１９８００１号公報
【特許文献２】特許５５６１１１２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ｎ（ｎは２以上の自然数）個の画素でＦＤを共有する構造（以下、説明の便宜上「ｎ画素ＦＤ共有構造」と記す。）のＣＭＯＳイメージセンサでは、ＲＴＳノイズがＭＯＳＦＥＴで発生するため、ＦＤを共有する画素群単位でＲＴＳノイズが発生する。以下、説明の便宜上、ＲＴＳノイズが発生する画素を「ＲＴＳノイズ発生画素」と記す。
【０００６】
ＲＴＳノイズ発生画素を一般的なフィルタ（平滑化フィルタやメディアンフィルタ等）を用いて補正する場合を考える。この場合において、例えば、ＦＤを共有する一対の隣接画素同士でＲＴＳノイズが発生すると、隣接一画素（隣接する一方のＲＴＳノイズ発生画素）の影響が強すぎて、対象画素（隣接する他方のＲＴＳノイズ発生画素）を良好に補正することができない。隣接一画素のＲＴＳノイズの影響を抑えて対象画素を良好に補正するためには、例えばフィルタの範囲を拡げる必要がある。しかし、フィルタの範囲を拡げて画素補正を行うと、画像の解像度の低下につながるという問題が指摘される。
【０００７】
本発明は上記の事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、ＦＤを共有する近接画素同士でＲＴＳノイズが発生する場合であっても、画像の解像度の低下を抑えつつ対象画素を良好に補正することが可能な撮影装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の一実施形態に係る撮影装置は、複数の画素でＦＤを共有する構造の撮像素子と、撮像素子が有する画素群の中で静的な欠陥を持つ静的欠陥画素を登録する欠陥画素登録手段と、登録手段に登録された静的欠陥画素に対して欠陥画素補正を行う欠陥画素補正手段と、欠陥画素補正が行われた後の画素群に対してノイズの補正を行うノイズ補正手段とを備える。登録手段は、ＦＤを共有する複数の画素のうち少なくとも１つの画素を除く他の画素を静的欠陥画素として登録している。
【０００９】
また、本発明の一実施形態に係る撮影装置は、ノイズが発生する画素を検出する検出手段を備える構成としてもよい。この構成において、ノイズ補正手段は、検出手段により検出された画素に対してノイズの補正を行う。
【００１０】
また、本発明の一実施形態に係る撮影装置は、ノイズが発生する可能性のある画素を登録するノイズ画素登録手段を備える構成としてもよい。この構成において、検出手段は、所定の条件が満たされるとき、ノイズ画素登録手段に登録された画素をノイズ発生画素として検出する。
【００１１】
また、本発明の一実施形態において、ノイズ発生画素を検出するための所定の条件は、例えば、
（１）ＩＳＯ感度が所定感度以上に設定されている、
（２）撮影時の温度が所定温度以上である、
（３）撮影モードが複数枚の画像を合成した合成画像を生成する合成モードに設定されている、
（４）撮影モードがライブビューを表示するライブビューモードに設定されている、
（５）撮影モードが動画を撮影する動画モードに設定されている、
の少なくとも１つを含む。
【００１２】
また、本発明の一実施形態において、撮像素子は、例えばＣＭＯＳイメージセンサである。
【００１３】
また、本発明の一実施形態において、ＦＤを共有する複数の画素は、少なくとも２つの同色画素を含む。
【００１４】
また、本発明の一実施形態において、ノイズは、ＲＴＳノイズである。
【発明の効果】
【００１５】
本発明の一実施形態によれば、ＦＤを共有する近接画素同士でＲＴＳノイズが発生する場合であっても、画像の解像度の低下を抑えつつ対象画素を良好に補正することが可能な撮影装置が提供される。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の一実施形態に係る撮影装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の一実施形態に係る撮影装置に備えられる固体撮像素子の画素配置を模式的に示す図である。
【図３】本発明の一実施形態において撮影装置に備えられるシステムコントローラにより実行される画素補正処理のフローチャートを示す図である。
【図４】図３に示される画像補正処理の効果を説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明の一実施形態に係る撮影装置について図面を参照しながら説明する。以下においては、本発明の一実施形態として、デジタル一眼レフカメラについて説明する。なお、撮影装置は、デジタル一眼レフカメラに限らず、例えば、ミラーレス一眼カメラ、コンパクトデジタルカメラ、ビデオカメラ、カムコーダ、タブレット端末、ＰＨＳ（Personal Handy phone System）、スマートフォン、フィーチャフォン、携帯ゲーム機など、撮影機能を有する別の形態の装置に置き換えてもよい。
【００１８】
［撮影装置１の構成］
図１は、本発明の一実施形態に係る撮影装置１の構成を示すブロック図である。図１に示されるように、撮影装置１は、システムコントローラ１００、操作部１０２、駆動回路１０４、撮影レンズ１０６、絞り１０８、シャッタ１１０、固体撮像素子１１２、信号処理回路１１４、画像処理エンジン１１６、バッファメモリ１１８、カード用インタフェース１２０、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）制御回路１２２、ＬＣＤ１２４、ＲＯＭ（Read Only Memory）１２６及び温度センサ１２８を備えている。なお、撮影レンズ１０６は複数枚構成であるが、図１においては便宜上一枚のレンズとして示す。
【００１９】
操作部１０２には、電源スイッチやレリーズスイッチ、撮影モードスイッチ、ＩＳＯ感度等の撮影条件を指定するスイッチなど、ユーザが撮影装置１を操作するために必要な各種スイッチが含まれる。ユーザにより電源スイッチが操作されると、図示省略されたバッテリから撮影装置１の各種回路に電源ラインを通じて電源供給が行われる。
【００２０】
システムコントローラ１００は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）及びＤＳＰ（Digital Signal Processor）を含む。システムコントローラ１００は電源供給後、ＲＯＭ１２６にアクセスして制御プログラムを読み出してワークエリア（不図示）にロードし、ロードされた制御プログラムを実行することにより、撮影装置１全体の制御を行う。
【００２１】
レリーズスイッチが操作されると、システムコントローラ１００は、例えば、固体撮像素子１１２により撮像された画像に基づいて計算された測光値や、撮影装置１に内蔵された露出計（不図示）で測定された測光値に基づき適正露出が得られるように、駆動回路１０４を介して絞り１０８及びシャッタ１１０を駆動制御する。より詳細には、絞り１０８及びシャッタ１１０の駆動制御は、プログラムＡＥ（Automatic Exposure）、シャッタ優先ＡＥ、絞り優先ＡＥなど、撮影モードスイッチにより指定されるＡＥ機能に基づいて行われる。また、システムコントローラ１００はＡＥ制御と併せてＡＦ（Autofocus）制御を行う。ＡＦ制御には、アクティブ方式、位相差検出方式、コントラスト検出方式等が適用される。また、ＡＦモードには、中央一点の測距エリアを用いた中央一点測距モード、複数の測距エリアを用いた多点測距モード等がある。システムコントローラ１００は、ＡＦ結果に基づいて駆動回路１０４を介して撮影レンズ１０６を駆動制御し、撮影レンズ１０６の焦点を調整する。なお、この種のＡＥ及びＡＦの構成及び制御については周知であるため、ここでの詳細な説明は省略する。
【００２２】
被写体からの光束は、撮影レンズ１０６、絞り１０８、シャッタ１１０を通過して固体撮像素子１１２の受光面にて受光される。固体撮像素子１１２は、ベイヤ型画素配置を有する単板式カラーＣＭＯＳイメージセンサである。
【００２３】
図２に、固体撮像素子１１２の画素配置を模式的に示す。図２では、各画素を識別する都合上、各画素を「色＋符号」で示す。図２に示されるように、固体撮像素子１１２は、４つの画素（Ｒ画素、Ｇｒ画素、Ｇｂ画素、Ｂ画素）が周期的に配列されており、この４つの画素でＦＤを共有する４画素ＦＤ共有構造となっている。
【００２４】
固体撮像素子１１２は、受光面上の各画素で結像した光学像を光量に応じた電荷として蓄積して、Ｒ、Ｇ、Ｂの画像信号を生成して出力する。なお、固体撮像素子１１２は、ベイヤ型フィルタを搭載したものに限らず、他の配色のフィルタを搭載したものであってもよい。
【００２５】
信号処理回路１１４は、固体撮像素子１１２より入力される画像信号に対して黒レベル補正、欠陥画素補正等の所定の信号処理を施してＲＡＷ形式の画像データを生成し、画像処理エンジン１１６に出力する。
【００２６】
なお、信号処理回路１１４による欠陥画素補正とは、固体撮像素子１１２の有効画素群の中で静的な欠陥を持つ静的欠陥画素を補正する処理である。静的欠陥画素の典型例としては、入射光が無い状態でも電子が湧き出してしまうことにより、偽の信号を生成してしまう、いわゆる白傷画素（白点画素）が挙げられる。製品出荷時に存在する白傷画素（白点画素）は、組立・調整ライン等において検出されており、そのアドレスが例えばシステムコントローラ１００の内部メモリに予め登録（記憶）されている。製品出荷後に発生した後発的な白傷画素（白点画素）については、例えば電源投入時等のタイミングで検出され、そのアドレスがシステムコントローラ１００の内部メモリに登録される。
【００２７】
信号処理回路１１４による欠陥画素補正では、システムコントローラ１００の内部メモリに登録された静的欠陥画素について、例えば平滑化フィルタやメディアンフィルタ等の周辺画素（欠陥画素を除く周辺画素）を用いた補正が行われたり、規定の画素値に置き換える補正が行われたりする。
【００２８】
画像処理エンジン１１６は、信号処理回路１１４より入力されるＲＡＷ形式の画像データに対し、ＲＴＳノイズ発生画素の補正、デモザイク、マトリクス演算、ホワイトバランス、Ｙ／Ｃ分離等の所定の信号処理を施して輝度信号Ｙ、色差信号Ｃｂ、Ｃｒを生成し、ＪＰＥＧ（Joint Photographic Experts Group）等の所定のフォーマットで圧縮する。バッファメモリ１１８は、画像処理エンジン１１６による処理の実行時、処理データの一時的な保存場所として用いられる。また、撮影画像は、画像処理エンジン１１６により生成されたＪＰＥＧ形式の撮影画像データに限らず、信号処理回路１１４より入力されるＲＡＷ形式の撮影画像データが保存されてもよい。
【００２９】
カード用インタフェース１２０のカードスロットには、メモリカード２００が着脱可能に差し込まれている。
【００３０】
画像処理エンジン１１６は、カード用インタフェース１２０を介してメモリカード２００と通信可能である。画像処理エンジン１１６は、生成されたＪＰＥＧ形式の撮影画像データをメモリカード２００（又は撮影装置１に備えられる不図示の内蔵メモリ）に保存する。なお、メモリカード２００には、信号処理回路１１４より出力されるＲＡＷ形式の撮影画像データが保存されてもよい。
【００３１】
また、画像処理エンジン１１６は、生成された輝度信号Ｙ、色差信号Ｃｂ、Ｃｒをフレームメモリ（不図示）にフレーム単位でバッファリングする。画像処理エンジン１１６は、バッファリングされた信号を所定のタイミングで各フレームメモリから掃き出して所定のフォーマットのビデオ信号に変換し、ＬＣＤ制御回路１２２に出力する。ＬＣＤ制御回路１２２は、画像処理エンジン１１６より入力される画像信号を基に液晶を変調制御する。これにより、被写体の撮影画像がＬＣＤ１２４の表示画面に表示される。ユーザは、ＡＥ制御及びＡＦ制御に基づいて適正な露出及びピントで撮影されたリアルタイムのスルー画（ライブビュー）を、ＬＣＤ１２４の表示画面を通じて視認することができる。
【００３２】
画像処理エンジン１１６は、ユーザにより撮影画像の再生操作が行われると、操作により指定された撮影画像データをメモリカード２００又は内蔵メモリより読み出して所定のフォーマットの画像信号に変換し、ＬＣＤ制御回路１２２に出力する。ＬＣＤ制御回路１２２が画像処理エンジン１１６より入力される画像信号を基に液晶を変調制御することで、被写体の撮影画像がＬＣＤ１２４の表示画面に表示される。
【００３３】
［画素補正処理］
次に、システムコントローラ１００により実行される画素補正処理を図３のフローチャートを用いて説明する。図３に示される画素補正処理は、例えばレリーズスイッチが押された時点で開始される。
【００３４】
なお、ＲＴＳノイズは、特定の画素に撮影毎にランダムに発生するランダムノイズであり、高い再現性を有しているとは限らない。しかし、組立・調整ライン等においてテスト撮影を繰り返すことにより、ＲＴＳノイズが発生するＲＴＳノイズ発生画素の特定は可能である。本実施形態では、ＲＴＳノイズ発生画素が組立・調整ライン等において特定されており、そのアドレスが例えばシステムコントローラ１００の内部メモリに予め登録（記憶）されている。
【００３５】
また、システムコントローラ１００の内部メモリに登録された一部のＲＴＳノイズ発生画素（静的欠陥画素でないもの）は、詳しくは後述するが、静的欠陥画素としても登録（記憶）されている。以下、説明の便宜上、このようなＲＴＳノイズ発生画素を「静的欠陥みなし画素」と記す。
【００３６】
［図３のＳ１１（条件の判定）］
本処理ステップＳ１１では、所定の条件が満たされるか否かが判定される。ここで、所定の条件とは、ＲＴＳノイズが発生しやすい（ノイズ量が微小でなく画像上目立ちやすい）条件である。例示的には、下記の項目（１）〜（５）の少なくとも１つが満たされる場合に、所定の条件が満たされるものと判定される。
（１）ＩＳＯ感度が所定感度以上に設定されている。
（２）温度センサ１２８により検出された撮影時の温度が所定温度以上である。
（３）撮影モードが複数枚の画像を合成した合成画像を生成する合成モードに設定されている。
（４）撮影モードがライブビューを表示するライブビューモードに設定されている。
（５）撮影モードが動画を撮影する動画モードに設定されている。
【００３７】
［図３のＳ１２（静的欠陥みなし画素を含まない欠陥画素補正）］
処理ステップＳ１１（条件の判定）にて所定の条件が満たされないと判定された場合（Ｓ１１：ＮＯ）、システムコントローラ１００の内部メモリに登録されたＲＴＳノイズ発生画素でＲＴＳノイズの発生が検出されなかったものとみなされて、本処理ステップＳ１２が実行される。
【００３８】
本処理ステップＳ１２では、システムコントローラ１００の内部メモリから静的欠陥画素のアドレスだけが読み出され、読み出されたアドレスの画素に対して信号処理回路１１４による欠陥画素補正が行われる。信号処理回路１１４による欠陥画素補正後、図３に示される画素補正処理は終了する。
【００３９】
［図３のＳ１３（静的欠陥みなし画素を含む欠陥画素補正）］
処理ステップＳ１１（条件の判定）にて所定の条件が満たされると判定される場合（Ｓ１１：ＹＥＳ）、システムコントローラ１００の内部メモリに登録されたＲＴＳノイズ発生画素でＲＴＳノイズの発生が検出されたものとみなされて、本処理ステップＳ１３が実行される。
【００４０】
本処理ステップＳ１３では、システムコントローラ１００の内部メモリから静的欠陥画素のアドレス及び静的欠陥みなし画素のアドレスが読み出され、読み出されたアドレスの画素に対して信号処理回路１１４による欠陥画素補正が行われる。
【００４１】
［図３のＳ１４（ＲＴＳノイズ発生画素の補正）］
本処理ステップＳ１４では、システムコントローラ１００の内部メモリから、静的欠陥みなし画素を除くＲＴＳノイズ発生画素のアドレスが読み出され、読み出されたアドレスの画素に対して画像処理エンジン１１６によりＲＴＳノイズ発生画素が補正される。かかる補正処理には、例えば平滑化フィルタやメディアンフィルタ等が用いられる。
【００４２】
図４（ａ）及び図４（ｂ）に、図３に示される画像補正処理の効果を説明するための図を示す。
【００４３】
図４（ａ）は、ＲＴＳノイズ発生画素を模式的に示す図である。図４（ａ）の例では、ＦＤを共有する４画素（画素Ｒ２２、画素Ｇｒ２３、画素Ｇｂ３２、画素Ｂ３３）がＲＴＳノイズ発生画素となっている。図４（ａ）の例において、ＲＴＳノイズ発生画素を同色の周辺画素を用いて補正（欠陥画素補正）する場合を説明する。
【００４４】
画素Ｒ２２に最も近接する同色の周辺画素は、画素Ｒ０２、画素Ｒ２０、画素Ｒ２４、画素Ｒ４２である。図４（ａ）の例では、何れの同色画素もＲＴＳノイズ発生画素ではない。そのため、画素Ｒ２２は、最小フィルタで（具体的には、４つの画素（画素Ｒ０２、画素Ｒ２０、画素Ｒ２４、画素Ｒ４２）を用いて）良好に補正される。
【００４５】
画素Ｂ３３に最も近接する同色の周辺画素は、画素Ｂ１３、画素Ｂ３１、画素Ｂ３５、画素Ｂ５３である。この場合も画素Ｒ２２の例と同様に、何れの同色画素もＲＴＳノイズ発生画素ではない。そのため、画素Ｂ３３も、最小フィルタで（具体的には、４つの画素（画素Ｂ１３、画素Ｂ３１、画素Ｂ３５、画素Ｂ５３）を用いて）良好に補正される。
【００４６】
画素Ｇｂ３２に最も近接する同色の周辺画素は、画素Ｇｒ２１、画素Ｇｒ２３、画素Ｇｒ４１、画素Ｇｒ４３である。画素Ｇｒ２１、画素Ｇｒ４１、画素Ｇｒ４３はＲＴＳノイズ発生画素でないが、画素Ｇｒ２３はＲＴＳノイズ発生画素である。そのため、最小フィルタでは（具体的には、４つの画素（画素Ｇｒ２１、画素Ｇｒ２３、画素Ｇｒ４１、画素Ｇｒ４３）だけでは）、ＲＴＳノイズ発生画素である画素Ｇｒ２３の影響が強すぎて、画素Ｇｂ３２を良好に補正することができない。
【００４７】
画素Ｇｂ３２を良好に補正するための典型的な方法としては、例えば、フィルタの範囲を、上記の４つの画素に加えて、画素Ｇｂ１０、画素Ｇｂ１２、画素Ｇｂ１４、画素Ｇｂ３０、画素Ｇｂ３４、画素Ｇｂ５０、画素Ｇｂ５２、画素Ｇｂ５４まで拡げることが考えられる。しかし、フィルタの範囲を拡げることは、撮影画像全体の解像度の低下につながるため望ましくない。
【００４８】
画素Ｇｒ２３についても同様に、ＲＴＳノイズ発生画素である画素Ｇｂ３２の影響が強すぎて良好に補正することができず、また、フィルタの範囲を拡げることは、撮影画像全体の解像度の低下につながるため望ましくない。
【００４９】
そこで、本実施形態では、ＲＴＳノイズ発生画素として登録されている画素に最も近接する同色の周辺画素が同じくＲＴＳノイズ発生画素として登録されている場合は、その一方の画素が静的欠陥みなし画素としてシステムコントローラ１００の内部メモリに登録されている。図４の例では、画素Ｇｂ３２に最も近接する同色の周辺画素Ｇｒ２３が静的欠陥みなし画素としてシステムコントローラ１００の内部メモリに登録されている（図４（ｂ）の概念図参照）。
【００５０】
そのため、画素Ｇｒ２３に対しては、処理ステップＳ１３（静的欠陥みなし画素を含む欠陥画素補正）にて信号処理回路１１４による欠陥画素補正が行われる。これにより、画素Ｇｒ２３の画素値は、ノイズ成分が抑えられた値となる。
【００５１】
一方、画素Ｇｂ３２は、システムコントローラ１００の内部メモリに静的欠陥みなし画素として登録されておらず且つＲＴＳノイズ発生画素として登録されている。そのため、画素Ｇｂ３２は、処理ステップＳ１４（ＲＴＳノイズ発生画素の補正）にて画像処理エンジン１１６により補正される。具体的には、画素Ｇｂ３２は、最小フィルタで（具体的には、４つの画素（画素Ｇｒ２１、画素Ｇｒ２３、画素Ｇｒ４１、画素Ｇｒ４３）を用いて）補正される。このとき、画素Ｇｒ２３は、静的欠陥画素として信号処理回路１１４による欠陥画素補正が行われているため、画素Ｇｂ３２は、ＲＴＳノイズ発生画素の影響を受けることなく良好に補正される。
【００５２】
このように、本実施形態によれば、ＦＤを共有する近接画素同士でＲＴＳノイズが発生する場合であっても、ＲＴＳノイズ発生画素を最小フィルタで良好に補正することができる。従って、ＲＴＳノイズ発生画素の良好な補正と撮影画像の解像度低下の抑制とが同時に達成される。
【００５３】
以上が本発明の例示的な実施形態の説明である。本発明の実施形態は、上記に説明したものに限定されず、本発明の技術的思想の範囲において様々な変形が可能である。例えば明細書中に例示的に明示される実施形態等又は自明な実施形態等を適宜組み合わせた内容も本発明の実施形態に含まれる。
【００５４】
上記の実施形態（図４の例）において、固体撮像素子１１２は、２×２の画素でＦＤを共有する構造となっているが、本発明はこれに限らない。固体撮像素子１１２は、縦方向や斜め方向に並ぶｎ個の画素でＦＤを共有する構造であってもよい。
【符号の説明】
【００５５】
１  撮影装置
１００  システムコントローラ
１０２  操作部
１０４  駆動回路
１０６  撮影レンズ
１０８  絞り
１１０  シャッタ
１１２  固体撮像素子
１１４  信号処理回路
１１６  画像処理エンジン
１１８  バッファメモリ
１２０  カード用インタフェース
１２２  ＬＣＤ制御回路
１２４  ＬＣＤ
１２６  ＲＯＭ
１２８  温度センサ
２００  メモリカード
【図１】
0006575926.tif 000002
【図２】
0006575926.tif 000003
【図３】
0006575926.tif 000004
【図４】
0006575926.tif 000005