(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の撮像素子を主走査方向に設けたセンサチップを前記主走査方向に配列し、前記センサチップに対向した読取対象物を撮像するラインセンサと、
合成情報に基づいて前記センサチップごとの撮像画像について拡大または縮小を行なうとともに、合成位置を調整して合成することで合成画像データを生成する画像合成部とを備える画像読取装置のキャリブレーション方法であって、
予め決められた基準位置を前記合成情報として設定し、千鳥状に配置された点列と前記主走査方向に沿った直線とが描写されたキャリブレーションパターンを有するキャリブレーション原稿を前記読取対象物として、前記キャリブレーション原稿から前記ラインセンサまでの原稿距離について複数の距離設定で前記合成画像データを取得し、
それぞれの前記原稿距離において得られた前記センサチップごとの撮像画像と前記原稿距離との関係から、前記センサチップごとの副走査方向ずれ量、センサチップ間ごとのオーバーラップ量のオフセット量、及び前記センサチップごとの読取対象物方向の高さオフセット量を算出し、
得られた前記センサチップの副走査方向ずれ量と、前記センサチップ間ごとの前記オーバーラップ量のオフセット量及び前記センサチップごとの読取対象物方向の高さオフセット量とを前記合成情報として設定することを特徴とする画像読取装置のキャリブレーション方法。
【請求項２】
前記キャリブレーション原稿と前記ラインセンサとの原稿距離について距離設定を行なうステップと、
前記原稿距離において得られた前記合成画像データから、前記合成画像データでの直線のずれ量に基づいて前記センサチップごとの副走査方向ずれ量を算出するステップと、
それぞれの前記原稿距離において得られた前記センサチップの画像データから前記センサチップごとの前記点列の間隔と前記原稿距離との関係を第１の一次式で近似するステップと、
前記第１の一次式と前記キャリブレーション原稿の前記点列の間隔とから、前記センサチップにおける前記原稿距離と前記画像データの倍率との関係を算出するステップと、
前記センサチップごとに、主走査方向の前記オーバーラップ量と前記原稿距離との関係を第２の一次式で近似するステップと、
前記原稿距離と前記第２の一次式とから、前記センサチップ間ごとに本来あるべきオーバーラップ量を算出するステップと、
主走査方向の前記オーバーラップ量と前記本来あるべきオーバーラップ量とから、前記センサチップ間ごとにオーバーラップ量のオフセット量を算出するステップと、
前記原稿距離と前記第１の一次式とから、前記センサチップごとの読取対象物方向の高さオフセット量を算出するステップとを備える
ことを特徴とする請求項１に記載の画像読取装置のキャリブレーション方法。
【請求項３】
複数の撮像素子を主走査方向に設けたセンサチップを前記主走査方向に配列し、前記センサチップに対向した読取対象物を撮像するラインセンサと、
合成情報に基づいて前記センサチップごとの撮像画像について拡大または縮小を行なうとともに、合成位置を調整して合成することで合成画像データを生成する画像合成部と、
キャリブレーションモードのときに、予め決められた基準位置を前記合成情報として設定し、千鳥状に配置された点列と前記主走査方向に沿った直線とが描写されたキャリブレーションパターンを有するキャリブレーション原稿を前記読取対象物として、前記キャリブレーション原稿から前記ラインセンサまでの原稿距離について複数の距離設定を行なう
設定部と、
それぞれの前記原稿距離において得られた前記センサチップごとの撮像画像と前記原稿距離との関係から、前記センサチップごとの副走査方向ずれ量、センサチップ間ごとのオーバーラップ量のオフセット量、及び前記センサチップごとの読取対象物方向の高さオフセット量を算出する算出部とを備え、
前記設定部は、得られた前記センサチップの副走査方向ずれ量と、前記センサチップ間ごとの前記オーバーラップ量のオフセット量及び前記センサチップごとの読取対象物方向の高さオフセット量とを前記合成情報として設定することを特徴とする画像読取装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、複数のセンサチップが直線状に配列されたラインセンサを用いて原稿や紙葉など読取対象物を撮像する画像読取装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
複写機、スキャナ、ファクシミリ及び紙幣読み取り装置等に適用される画像読取装置として、読取対象物である紙葉類を複数の撮像素子を直線状に配列されたラインセンサ（一次元撮像素子ともいう）で走査し、紙葉類に対応する画像データを生成するものがある。このときラインセンサは複数の撮像素子が直線状に配列された方向を主走査方向として主走査方向のラインを走査し、主走査方向と垂直方向となる副走査方向に読取対象物を搬送するなどしてずらして新たな走査を行ないつなぎ合わせることで２次元の画像データを生成する。
【０００３】
ラインセンサは、主走査方向に直線状に配列された複数の撮像素子を有するセンサチップから構成されており、複数個のセンサチップをさらに主走査方向に配列した構成となっている。
【０００４】
センサチップは半導体製造技術で製造されるため、センサチップ上の撮像素子間の間隔は比較的等間隔であるが、複数個のセンサチップをさらに主走査方向に配列したラインセンサは、センサチップを機械的に並べる工程で製造されるため、ラインセンサ上のセンサチップ間の間隔は、ばらつく傾向にある。また、センサチップ間の間隔は撮像素子間の間隔とは異なっている場合が多く、センサチップ毎に読取った画像データを主走査方向に並べただけでは、画像データ上のセンサチップの境界部分が不連続になるという問題点がある。
【０００５】
そこで、センサチップ間の間隔が撮像素子間の間隔よりも大きいという条件のもとで、画像データがセンサチップの境界部分で不連続にならないように、補間処理で境界部分に画素を挿入するという方法がある（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００３−１０１７２４号公報（第５−７頁、第３図）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
特許文献１の方法を実現するためには、撮像素子間の間隔およびセンサチップ間の間隔が既知である必要がある。しかし、センサチップは機械的に取り付けられるため、取り付け時に誤差が生じ、必ずしも直線状でない場合があり、かつセンサチップ間の間隔が必ずしも等間隔でない場合がある。特許文献１のラインセンサの構成では、センサチップ間に撮像素子が無いため、ラインセンサで読み取った画像データからセンサチップ間の間隔を算出することができず、センサチップ間の間隔を算出するためにはセンサチップの位置関係について直接計測する等の手段を用いる必要がある。
【０００８】
この発明は、上述のような課題を解決するためになされたもので、センサチップの位置関係に設計位置と誤差が生じている場合であってもセンサチップの位置関係について一つ一つ直接計測することなく校正して、センサチップの境界部分で不連続にならない画像データを出力するという所期の目的を果たす画像読取装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
この発明に係る画像読取装置のキャリブレーション方法においては、複数の撮像素子を主走査方向に設けたセンサチップを前記主走査方向に配列し、前記センサチップに対向した読取対象物を撮像するラインセンサと、合成情報に基づいて前記センサチップごとの撮像画像について拡大または縮小を行なうとともに、合成位置を調整して合成することで合成画像データを生成する画像合成部とを備える画像読取装置のキャリブレーション方法であって、予め決められた基準位置を前記合成情報として設定し、千鳥状に配置された点列と前記主走査方向に沿った直線とが描写されたキャリブレーションパターンを有するキャリブレーション原稿を前記読取対象物として、前記キャリブレーション原稿から前記ラインセンサまでの原稿距離について複数の距離設定で前記合成画像データを取得し、それぞれの前記原稿距離において得られた前記センサチップごとの撮像画像と前記原稿距離との関係から、前記センサチップごとの副走査方向ずれ量、センサチップ間ごとのオーバーラップ量のオフセット量、及び前記センサチップごとの読取対象物方向の高さオフセット量を算出し、得られた前記センサチップの副走査方向ずれ量と、前記センサチップ間ごとの前記オーバーラップ量のオフセット量及び前記センサチップごとの読取対象物方向の高さオフセット量とを前記合成情報として設定することを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１０】
この発明は、千鳥状に配置された点列と前記主走査方向に沿った直線とが描写されたキャリブレーションパターンを有する原稿を前記読取対象物として、得られた合成画像データから、センサチップの副走査方向ずれ量、オーバーラップ量のオフセット量、及びセンサチップごとの読取対象物方向の高さオフセット量を算出して合成情報として設定するため、センサチップが設けられた位置が設計位置と誤差が生じている場合であっても、一つ一つ直接計測することなく校正して、センサチップの境界部分で不連続にならない画像データを出力するという所期の目的を果たす画像読取装置を提供することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】実施の形態１にかかる画像読取装置１の概略構成を示す機能ブロック図である。
【図２】撮像部１１の概略構成を示す図である。
【図３】キャリブレーション用原稿の図柄を示す図である。
【図４】キャリブレーション用原稿を読取った画像データの例を示す図である。
【図５】キャリブレーション用原稿を読取った画像データにオーバーラップ領域を表示した図である。
【図６】実施の形態１に係るキャリブレーション方法の処理手順を示す図である。
【図７】原稿距離と各センサチップで取得した画像データ中の点列間隔との関係を示す図である。
【図８】原稿距離と各センサチップでの点列間隔との近似式を示す図である。
【図９】原稿距離と各センサチップで取得した画像データ中のオーバーラップ量との関係を示す図である。
【図１０】原稿距離と各センサチップでのオーバーラップ量との近似式を示す図である。
【図１１】実施の形態１に係る倍率算出方法の処理手順を示す図である。
【図１２】校正部を備えた画像読取装置を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
実施の形態１．
図１は、実施の形態１にかかる画像読取装置１の概略構成を示す機能ブロック図である。画像読取装置１は、撮像部１１、Ａ／Ｄ変換部１２、メモリ１３、及び画像合成部１４を備える。また、画像読取装置１を校正するためにキャリブレーション時に用いる校正装置２は、点列間隔計測部２１、オーバーラップ量推定部２２、及び算出部２３を備える。
【００１３】
撮像部１１は、光学的に読取対象物を走査することによって画像信号ＳＩを生成するラインセンサである。撮像部１１は、Ｍ個（Ｍは２以上の整数）の撮像素子を直線状に配列したセンサチップを、Ｎ個（Ｎは２以上の整数）配列して設けられている。ここで、撮像素子及びセンサチップの配列方向を主走査方向と呼ぶ。
【００１４】
図２は、撮像部１１の概略構成を示す図である。図２では、基板上にセンサチップＡ、センサチップＢ、及びセンサチップＣが主走査方向に配列して設けられている。つまり図２ではセンサチップを３個配列しているのでＮは３として図示している。
【００１５】
また、それぞれのセンサチップにはＭ個の撮像素子が主走査方向に配列して設けられている（図示せず）。センサチップは半導体製造技術で製造されるものが一般的であって、センサチップ上の撮像素子の配置ずれは小さい。ただし、基板上にセンサチップＡ、センサチップＢ、及びセンサチップＣを配列する際は、センサチップを機械的に並べる工程で製造されるため、センサチップごとの位置は設計で決められた基準位置に対して主走査方向、副走査方向、及び高さ方向にばらつく傾向にあり、センサチップ上の撮像素子の配置ずれよりもずれ幅は大きい。
【００１６】
図２では、センサチップＡに対向した位置にレンズＡを設けている。同様に、センサチップＢに対向した位置にレンズＢを設け、センサチップＣに対向した位置にレンズＣを設けている。それぞれのレンズはセンサチップが撮像する画角を拡げるような構造をもつ。これにより、それぞれのセンサチップにレンズを介して対向した位置の読取対象物を走査したときに、それぞれのセンサチップの読取り範囲を拡張することができるので、隣り合うセンサチップ間に対応する位置の読取対象物について画像データの欠落を無くすことができる。またこのレンズはセンサチップと一体の構成にして設けることで、センサチップとレンズとの距離は製造工程でのばらつきを抑えることができる。また、レンズと絞りから構成された光学系（セル）としてセンサチップと一体に構成してもよい。
【００１７】
図１に戻って説明する。Ａ／Ｄ変換部１２は、撮像部１１が光学的に走査して得られた画像信号ＳＩをデジタルの画像データＤＩに変換する。
【００１８】
メモリ１３は、画像データＤＩを格納する。
【００１９】
画像合成部１４は、合成情報Ｄ１３に基づき、Ｎ個の撮像画像について拡大または縮小を行なうとともに、合成位置を調整して合成することで合成画像データＤｏｕｔを生成する。合成情報Ｄ１３には、センサチップごとの副走査方向ずれ量、オーバーラップ量のオフセット量、及びセンサチップごとの読取対象物方向の高さオフセット量の情報又はそれに基づく調整量が含まれている。合成情報Ｄ１３に基づいて調整することで、Ｎ個の撮像画像について主走査方向の幅が揃い、また画像の重複部分がなくなる合成画像データが得られる。
【００２０】
ここで、複数個のセンサチップを主走査方向に配列する工程において設計との誤差がなければ既定の原稿位置に対するセンサチップごとの副走査方向ずれ量、オーバーラップ量のオフセット量、及びセンサチップごとの読取対象物方向の高さオフセット量は設計に基づいた基準位置での値となり合成情報Ｄ１３は確定させることができる。本発明では、複数個のセンサチップを主走査方向に配列する工程以降に校正を行なうキャリブレーションをすることで、その画像読取装置にとって設計に基づいて決められたものよりも適した合成情報Ｄ１３に設定することができる。
【００２１】
画像合成部１４は、合成情報Ｄ１３について、外部から入力されるものとしてもよいし、設計に基づいた基準位置での合成情報Ｄ１３を初期情報として書き換え可能なデータとして保持するものとしても構わない。
【００２２】
次に本実施の形態にかかる画像読取装置のキャリブレーション方法について説明する。
【００２３】
図３は、キャリブレーションモードのときに使用するキャリブレーションパターンを有する原稿（キャリブレーション用原稿）の図柄である。キャリブレーション用原稿は主走査方向に伸びた直線と、主走査方向に等間隔に千鳥状に配置された点列から構成される。直線は副走査方向のズレを検出するために使用する。また点列は主走査方向のオーバーラップ量を検出するために使用する。図３では直線が２本としているが、直線は１本以上であれば何本でもかまわない。また図３では点列が４段の構成としているが、点列は２段以上であれば何段でもかまわない。
【００２４】
キャリブレーションは、読取対象物として用いるキャリブレーション用原稿とラインセンサとの距離を指定した距離だけ離れた位置に配置して画像データを取得する。指定した距離を２種類以上の距離に対して実施し、取得した２種類以上の画像データを解析することで実現する。
【００２５】
図４は、読取装置１がキャリブレーション用原稿の画像データを取得した画像データの例を示す。図４は、各センサチップが主走査方向、副走査方向及び高さ方向にずれている状態での例を示している。図４のように、ラインセンサ上に配置されている各センサチップが副走査方向にずれて配列されている場合、キャリブレーション用原稿の主走査方向に伸びた直線は、図４に示すようにセンサチップ毎にずれて合成された画像データとなる。また、ラインセンサ上に配置されている各センサチップが主走査方向にずれて配置されている場合、キャリブレーション用原稿のオーバーラップ領域の幅は、設計に基づくオーバーラップ領域の幅と異なる幅になる。また、ラインセンサ上に配置されている各センサチップが高さ方向にずれて配置されている場合、キャリブレーション用原稿の点列部分の間隔は、設計に基づく点列部分の間隔と異なる間隔になる。
【００２６】
図５は、図４の画像データとずれ量の関係について示す図である。図５では、左からセンサチップＡ、センサチップＢ、センサチップＣ、センサチップＤ、及びセンサチップＥと配列されたときの画像データを示す。ここでＴｋ（ｋはＮ個のセンサチップのうちのいずれかのセンサチップを表す変数）は、センサチップｋでの点列の間隔の平均値を示す。ＯＶは、センサチップ間の主走査方向のオーバーラップ量を示し、センサチップＡとセンサチップＢとの間の主走査方向のオーバーラップ量をＯＶＡＢと示す。
【００２７】
図５のように、上述したキャリブレーション用原稿を用いて画像読取装置からの合成画像データＤｏｕｔから、主走査方向に伸びた直線のずれた量、センサチップごとの点列の間隔、及びセンサチップ間ごとのオーバーラップ量を計測することができる。
【００２８】
図１における、校正装置２の点列間隔計測部２１は、画像読取装置１から出力された画像合成データＤｏｕｔから、センサチップごとの点列の間隔を計測する。計測は１点のみの計測として簡略化することもできる。複数の点列の間隔を計測して算出部２３でその平均を算出して該当するセンサチップの点列の間隔の平均値Ｔｋとする方が１点のみの計測よりも妥当性の高い計測値を取得することができる。
【００２９】
オーバーラップ量推定部２２は、画像読取装置１から出力された画像合成データＤｏｕｔから、センサチップ間のオーバーラップ量を推定する。
【００３０】
オーバーラップ量推定部２２は、Ｎ個のセンサチップによって生成された画像データについて、隣りあったセンサチップ間で読取範囲が重複している領域（以下、オーバーラップ領域ともいう）の類似度を算出し、オーバーラップ量を推定し出力する。類似度は、隣りあったセンサチップのそれぞれの画像データから類似の程度を示す指標である。
【００３１】
ここで、センサチップ及びレンズが基準位置に配置されて指定した原稿距離であった場合のオーバーラップ領域の幅は設計に基づく既知情報であるので、オーバーラップ量推定部２２で推定されたオーバーラップ量と設計に基づく基準位置でのオーバーラップ量とを比較することでセンサチップ間での主走査方向のズレ量を得ることができる。ここで、原稿距離とは、センサチップもしくはそのセンサチップと一体になって設けられたレンズと、読取対象物との距離を示す。
【００３２】
算出部２３は、点列間隔計測部２１の計測結果とオーバーラップ量推定部２２の推定結果と計測したときの原稿距離の設定値とから、センサチップの副走査方向ずれ量、センサチップごとのオーバーラップオフセット量、及びセンサチップごとの読取対象物方向の高さオフセット量を算出する。
【００３３】
次にキャリブレーションモードでのキャリブレーション方法の処理手順について説明する。図６は、本実施の形態に係るキャリブレーション方法の処理手順である。
【００３４】
ステップ１では、キャリブレーション用原稿とラインセンサとの間の距離を指定した距離に設定する。指定した距離は、キャリブレーション用に２種類以上の設定距離のうちいずれか１つを設定する。
【００３５】
ステップ２では、画像読取装置１を動作させて、配置した原稿距離におけるキャリブレーション用原稿の画像データを取得する。
【００３６】
ステップ３では、キャリブレーション用原稿の画像データに対して、センサチップ毎に点列の主走査方向の間隔を計測する。センサチップ毎に点が複数あり点の間隔も複数計測されるが、代表値を当該センサチップに対する点列の間隔とする。全ての点の間隔の平均値を代表値としてもかまわないし、全ての点の間隔の中央値を代表値としてもかまわない。これらの計測は例えば合成画像データＤｏｕｔを出力して画像読取装置１の外部（校正装置２）で計測を行なう。このように、製造工程でのキャリブレーションとして外部で計測を行なうことで、画像読取装置１自体に合成画像データＤｏｕｔから点列の主走査方向の間隔を計測する計測部を設ける必要がなく製品コストを抑えることができる。合成画像データＤｏｕｔから点列の主走査方向の間隔を計測する計測部を画像読取装置１に備えても所期の目的を達成することができる。
【００３７】
ステップ４では、キャリブレーション用原稿を走査した時の画像データに対して、センサチップ間の境界付近の画像データを重ね合わせてズレが無くなる位置を探索し、センサチップの副走査方向ズレ量およびオーバーラップ量を算出する。ステップ４の処理はオーバーラップ量推定部２２で実施される。
【００３８】
ステップ５では、キャリブレーション用の設定距離のうち全ての設定距離に対してステップ１からステップ４までの処理を実施したかを確認する。全ての設定距離に対して実施していない場合には、ステップ１に戻り、残りの設定距離についての処理を実施する。全ての設定距離に対して実施した場合にはステップ６に進む。
【００３９】
ステップ６では、センサチップ毎の副走査方向のズレ量を算出する。ステップ５までで、全てのセンサチップおよび全ての設定距離について副走査方向ズレ量を算出してきた。ステップ６では、同一のセンサチップについて、全ての設定距離での副走査方向ズレ量の代表値を、当該センサチップの副走査方向ズレ量とする。全ての設定距離での副走査方向ズレ量の平均値を代表値としてもかまわないし、全ての設定距離での副走査方向ズレ量の中央値を代表値としてもかまわない。
【００４０】
ステップ７では、点列の間隔と原稿距離との関係を算出する。ステップ５までで、全てのセンサチップについて設定距離毎に点列の間隔を算出してきた。設定距離毎に全てのセンサチップの点列の間隔の平均値を算出する。
【００４１】
図７は、点列の間隔と原稿距離との関係を示す図である。キャリブレーション用原稿にある点列パターンの間隔に対して、センサチップとキャリブレーション用原稿との距離である原稿距離が離れれば離れるほど、そのセンサチップで撮像された画像データでみられる点列の間隔は狭くなる。
【００４２】
図８は、原稿距離とセンサチップで撮像された画像データでみられる点列の間隔との関係を示す図である。横軸は原稿距離を示し、縦軸は各センサチップで撮像された画像データでみられる点列の間隔を示す。また、原稿距離をキャリブレーション用の設定距離としてＰ１、Ｐ２、及びＰ３の３点についてセンサチップＡの画像データから取得した点列の間隔の平均値ＴＡを白抜き四角で示し、センサチップＢの画像データから取得した点列の間隔の平均値ＴＢを×マークで示し、センサチップＣの画像データから取得した点列の間隔の平均値ＴＣを白抜き丸で示した。このように、点列の間隔と原稿距離との関係は一次式で近似することができる。
【００４３】
センサチップＡと原稿との距離ＰＡで取得した点列の間隔の平均値をＴＡ、センサチップＢと原稿との距離ＰＢで取得した点列の間隔の平均値をＴＢ、センサチップＣと原稿との距離ＰＣで取得した点列の間隔の平均値をＴＣのように各原稿距離における点列の間隔の平均値を算出する。センサチップｋと原稿との距離（原稿距離）ＰＴｋとセンサチップｋでの点列の間隔の平均値Ｔｋとの関係を式（１）に示す第１の一次式で近似することができる。ここでｋはＮ個のセンサチップのうちのいずれかのセンサチップを表す変数として示す。
【００４４】
【数１】
0006544233.tif 000002
ここでは、原稿距離ＰＴｋの単位は［ｍｍ］とし、Ｔｋの単位は画素数とする。ＫＥＩＴｋは近似一次式の傾き［ｍｍ／画素］であり、ＯＦＴｋは近似一次式の切片［ｍｍ］である。
【００４５】
ステップ８では、原稿距離と倍率の関係を算出する。本実施の形態の撮像部１１は、標準的に使用する原稿距離と、その時の解像度が設計に基づいて決められている。原稿上の点列の間隔は全て等間隔であり、その間隔はＳ［ｍｍ］である。標準的な原稿距離をＰ０［ｍｍ］とし、そのときの解像度をＱ０［ｄｐｉ：ｄｏｔｓ  ｐｅｒ  ｉｎｃｈ］とすると、１インチを２５．４［ｍｍ］として換算しセンサチップｋでの点列の間隔の平均値Ｔｋ［画素］に対する倍率Ｒｋ［倍］は式（２）で算出される。
【００４６】
【数２】
0006544233.tif 000003
【００４７】
式（１）と式（２）から原稿距離と倍率の関係は式（３）で表される。
【００４８】
【数３】
0006544233.tif 000004
【００４９】
ステップ９では、オーバーラップ量と原稿距離の関係を算出する。ステップ５までで、全てのセンサチップ間について設定距離毎に主走査方向のオーバーラップ量を算出してきた。設定距離毎に全てのセンサチップ間のオーバーラップ量の平均値を算出する。
【００５０】
図９は、オーバーラップ量と原稿距離との関係を示す図である。キャリブレーション用原稿にある点列パターンの間隔に対して、センサチップとキャリブレーション用原稿との距離である原稿距離が離れれば離れるほど、そのセンサチップで撮像された画像データでみられるオーバーラップ量の間隔は広くなる。
【００５１】
図１０は、原稿距離とセンサチップで撮像された画像データでみられるオーバーラップ量との関係を示す図である。横軸は原稿距離を示し、縦軸は各センサチップで撮像された画像データでみられるオーバーラップ量を示す。また、キャリブレーション用の設定距離としてＰ１、Ｐ２、及びＰ３の３点についてセンサチップＡの画像データから取得したオーバーラップ量の平均値ＯＶＡを白抜き四角で示し、センサチップＢの画像データから取得したオーバーラップ量の平均値ＯＶＢを×マークで示し、センサチップＣの画像データから取得したオーバーラップ量の平均値ＯＶＣを白抜き丸で示した。このように、点列の間隔と原稿距離との関係は一次式で近似することができる。
【００５２】
センサチップＡと原稿との距離ＰＡで取得したオーバーラップ量の平均値をＯＶＡ、センサチップＢと原稿との距離ＰＢで取得したオーバーラップ量の平均値をＯＶＢ、センサチップＣと原稿との距離ＰＣで取得したオーバーラップ量の平均値をＯＶＣのように各原稿距離におけるオーバーラップ量の平均値を算出する。するとセンサチップｋと原稿との距離（原稿距離）ＰＶｋとセンサチップｋでのオーバーラップ量の平均値ＯＶｋとの関係を式（４）に示す第２の一次式で近似することができる。ここでｋはＮ個のセンサチップのうちのいずれかのセンサチップを表す変数として示す。
【００５３】
【数４】
0006544233.tif 000005
【００５４】
ここでは、ＯＶｋの単位は画素数とする。ＫＥＩＶｋは近似一次式の傾き［ｍｍ／画素］であり、ＯＦＶｋは近似一次式の切片［ｍｍ］である。
【００５５】
ここで、式（１）と式（４）とからセンサチップｋの原稿距離ＰＶｋにＰＴｋを代入することで以下の式（５）の関係式が成り立つ。また、式（５）を満たす、つまり原稿距離ＰＶｋ＝ＰＴｋであるときのＯＶｋを、センサチップｋにおいて本来あるべきオーバーラップ量ＯＶＪｋとする。
【００５６】
【数５】
0006544233.tif 000006
【００５７】
ステップ１１では、センサチップ毎の本来あるべきオーバーラップ量ＯＶＪｋから、センサチップ間の本来あるべきオーバーラップ量ＯＶＩを算出する。センサチップＡとセンサチップＢとの間の本来あるべきオーバーラップ量ＯＶＩＡＢの算出式は式（６）に示すとおりである。
【００５８】
【数６】
0006544233.tif 000007
【００５９】
ステップ１２ではオーバーラップ量のオフセット量ＯＦＯＶ［画素］を算出する。センサチップＡとセンサチップＢとの間のオーバーラップ量のオフセット量ＯＦＯＶＡＢの算出式は式（７）に示すとおりである。
【００６０】
【数７】
0006544233.tif 000008
【００６１】
ステップ１３ではセンサチップ毎の高さのオフセットＯＦＰｋを算出する。算出式を式（８）に示す。なおＯＦＰｋの単位はミリメートルである。
【００６２】
【数８】
0006544233.tif 000009
【００６３】
ここで、Ｐｉはｉ番目に設定した設定距離を表しており、Ｔｋｉはｉ番目に設定した設定距離に設定したときのセンサチップｋでの原稿距離Ｐｋにおけるセンサチップｋの点列の間隔を表している。ＡＶＧ（）はキャリブレーション用に設定する全ての設定について平均値をとる関数である。
【００６４】
このようにして、ステップ６でセンサチップ毎の副走査方向のズレ量を算出し、ステップ１２でセンサチップ間毎のオーバーラップ量のオフセット量を算出し、ステップ１３でセンサチップ毎の高さのオフセット量を算出する。
【００６５】
次に、倍率算出手順について説明する。図１１は、本実施の形態にかかるキャリブレーション結果を用いた倍率算出手順を示すフロー図である。
【００６６】
ステップ１０１では画像読取装置１に対して未知の原稿距離に原稿を配置する。
【００６７】
ステップ１０２では画像データを取得する。
【００６８】
ステップ１０３ではオーバーラップ量推定部２２を用いて、センサチップ間の境界付近の画像データを重ね合わせてズレが無くなる位置を探索し、合成位置（副走査方向ズレ量およびオーバーラップ量）を算出する。
【００６９】
ステップ１０４ではステップ１０３で算出したオーバーラップ量に対して、キャリブレーションで算出したオーバーラップ量のオフセット量を外部から入力し、減算する。処理内容を式（９）に示す。このように処理することでセンサチップ毎の主走査方向のズレが補正される。なおステップ１０４の処理は画像読取装置１の切替部５３で実行される。
【００７０】
【数９】
0006544233.tif 000010
【００７１】
ここで、ＯＶＩＡＢは、センサチップＡとセンサチップＢとの間におけるオフセット量を減算したオーバーラップ量を示す。ＯＶＡＢは、センサチップＡとセンサチップＢとの間におけるステップ１０３で算出したオーバーラップ量を示す。ＯＦＯＶＡＢは、センサチップＡとセンサチップＢとの間におけるキャリブレーションで算出したオーバーラップ量のオフセット量を示す。
【００７２】
ステップ１０５では、センサチップ毎のオーバーラップ量ＯＶＪに変換する。ラインセンサにセンサチップがＡからＺまでアルファベット順に配列されているものとした場合、センサチップＢのオーバーラップ量ＯＶＪＢは、式（９）で算出したセンサチップＢと隣り合ったセンサチップＡ及びＣとのそれぞれのオーバーラップ量ＯＶＩＡＢとオーバーラップ量ＯＶＩＢＣとの平均から求める。配列の両端であるセンサチップＡ及びセンサチップＺについては、式（９）で算出した隣り合ったセンサチップとのオーバーラップ量、つまりセンサチップＡにおいてはセンサチップＡとセンサチップＢとの間におけるＯＶＩＡＢとし、センサチップＺにおいてはセンサチップＺとセンサチップＹとの間におけるＯＶＩＹＺとする。変換式を式（１０）に示す。
【００７３】
【数１０】
0006544233.tif 000011
【００７４】
ステップ１０６ではセンサチップ毎のオーバーラップ量ＯＶＪからセンサチップ毎の原稿距離Ｐを算出する。算出式を式（１１）に示す。式（１１）中のＫＥＩＶｋおよびＯＦＶｋはキャリブレーション時に算出したセンサチップｋにおけるパラメータであり、画像読取装置１の外から渡される。
【００７５】
【数１１】
0006544233.tif 000012
【００７６】
ステップ１０７では、ステップ１０６で算出した原稿距離Ｐｋから高さのオフセット量ＯＦＰｋを減算することで真の原稿距離ＰＩｋを算出する。算出式を式（１２）に示す。
【００７７】
【数１２】
0006544233.tif 000013
【００７８】
ステップ１０８では真の原稿距離ＰＩｋから原稿の倍率Ｒｋを算出する。キャリブレーション時のステップ１０８で算出した式（３）に従って真の原稿距離ＰＩｋから原稿の倍率Ｒｋを算出する。
【００７９】
このようにして算出した倍率Ｒｋは画像合成部１４に渡されて、画像の結合前の拡大または縮小で用いられる。
【００８０】
以上に説明した実施の形態に係るキャリブレーション手順とすることで、物理的に計測しないで撮像部１１のセンサチップ毎の副走査方向ズレ量、センサチップ間毎のオーバーラップ量のオフセット量、およびセンサチップ毎の高さのオフセット量を把握することができる。これらの量を把握することで、未知の原稿距離に配置された原稿を読み取った場合でも、前述の倍率算出手順で原稿の倍率を算出することが可能となり、画像データに対して適切な倍率での拡大／縮小処理を実施することができる。
【００８１】
図１２は、図１に示した本実施の形態に係るキャリブレーション手順に用いる点列間隔計測部２１、オーバーラップ量推定部２２、及び算出部２３について、画像読取装置１に点列間隔計測部１５、オーバーラップ量推定部１６、及び算出部１７を構成した図を示す。点列間隔計測部１５と点列間隔計測部２１とは作用は同じである。同様に、オーバーラップ量推定部１６とオーバーラップ量推定部２２とは作用は同じであり、算出部１７と算出部２３とは作用は同じである。図１２のように、画像読取装置１に点列間隔計測部１５、オーバーラップ量推定部１６、及び算出部１７を備えることで、画像読取装置１の所有者が直接キャリブレーションを行なうことができるという効果を奏する。なお、点列間隔計測部１５及びオーバーラップ量推定部１６の入力をメモリ１３からの出力としているが、キャリブレーションモード時として合成情報Ｄ１３を設定した上での画像合成データＤｏｕｔを用いる方法と所期の目的を達成し得ることはいうまでもない。
【符号の説明】
【００８２】
１      画像読取装置
１１    撮像部
１２      Ａ／Ｄ変換部
１３      メモリ
１４      合成情報生成部
２      校正装置
２１    点列間隔計測部
２２    オーバーラップ量推定部
２３    算出部
【図１】
0006544233.tif 000014
【図２】
0006544233.tif 000015
【図３】
0006544233.tif 000016
【図４】
0006544233.tif 000017
【図５】
0006544233.tif 000018
【図６】
0006544233.tif 000019
【図７】
0006544233.tif 000020
【図８】
0006544233.tif 000021
【図９】
0006544233.tif 000022
【図１０】
0006544233.tif 000023
【図１１】
0006544233.tif 000024
【図１２】
0006544233.tif 000025