(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ステンレス鋼部品の鋭敏化度測定装置であって、
前記ステンレス鋼部品の測定面に取り付けられ、絶縁材料で形成される筒状の電解セルと、
前記電解セルに溜められ、硫酸とチオシアン酸カリウムとを含む溶液からなる測定液と、
前記電解セルに挿入され、前記測定液に浸漬される照合電極と、
前記電解セルに挿入され、前記測定液に浸漬される対極と、
前記照合電極と、前記対極と、前記ステンレス鋼部品の測定面と、に電気的接続され、電位を印加する電位印加手段と、
電位を掃引する電位掃引手段と、
を備え、
前記ステンレス鋼部品の鋭敏化部は、線状に形成されており、
前記電解セルは、前記ステンレス鋼部品の測定面へ取り付ける取り付け側の開口部が、前記ステンレス鋼部品の鋭敏化部の幅より大きく、矩形状に形成されていることを特徴とするステンレス鋼部品の鋭敏化度測定装置。
【請求項２】
請求項１に記載のステンレス鋼部品の鋭敏化度測定装置であって、
前記取り付け側の開口部は、正方形で形成されていることを特徴とするステンレス鋼部品の鋭敏化度測定装置。
【請求項３】
請求項１または２に記載のステンレス鋼部品の鋭敏化度測定装置であって、
前記照合電極の先端と、前記ステンレス鋼部品の測定面との距離が、５ｍｍ以上１０ｍｍ以下であることを特徴とするステンレス鋼部品の鋭敏化度測定装置。
【請求項４】
請求項１から３のいずれか１つに記載のステンレス鋼部品の鋭敏化度測定装置であって、
前記ステンレス鋼部品は、溶接加工されていることを特徴とするステンレス鋼部品の鋭敏化度測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ステンレス鋼部品の鋭敏化度測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、ステンレス鋼部品の粒界腐食について、クロム炭化物の粒界析出・成長に伴う結晶粒界近傍におけるクロム欠乏域の生成に起因して結晶粒界に沿った腐食が生じることが知られている。このような結晶粒界近傍のクロム濃度が減少して耐食性が低下する現象を、一般に鋭敏化と呼んでいる。ステンレス鋼部品の鋭敏化の評価は、通常、ステンレス鋼部品から試験片を切り出す等によりサンプルを採取し、電気化学的測定法により測定して行われている（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００６−１３８７９７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、運転中のプラントや現場等でステンレス鋼部品の鋭敏化度を測定する場合には、試験片の切り出し等によるサンプルの採取が難しく、ステンレス鋼部品の鋭敏化度の測定が困難となる可能性がある。
【０００５】
そこで本発明の目的は、運転中のプラントや現場等でステンレス鋼部品の鋭敏化度を測定する場合でも、容易に測定可能なステンレス鋼部品の鋭敏化度測定装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明に係るステンレス鋼部品の鋭敏化度測定装置は、前記ステンレス鋼部品の測定面に取り付けられ、絶縁材料で形成される筒状の電解セルと、前記電解セルに溜められ、硫酸とチオシアン酸カリウムとを含む溶液からなる測定液と、前記電解セルに挿入され、前記測定液に浸漬される照合電極と、前記電解セルに挿入され、前記測定液に浸漬される対極と、前記照合電極と、前記対極と、前記ステンレス鋼部品の測定面と、に電気的接続され、電位を印加する電位印加手段と、電位を掃引する電位掃引手段と、を備え、前記電解セルは、前記ステンレス鋼部品の測定面へ取り付ける取り付け側の開口部が、矩形状に形成されていることを特徴とする。
【０００７】
本発明に係るステンレス鋼部品の鋭敏化度測定装置において、前記取り付け側の開口部は、正方形で形成されていることを特徴とする。
【０００８】
本発明に係るステンレス鋼部品の鋭敏化度測定装置は、前記照合電極の先端と、前記ステンレス鋼部品の測定面との距離が、５ｍｍ以上１０ｍｍ以下であることを特徴とする。
【０００９】
本発明に係るステンレス鋼部品の鋭敏化度測定装置において、前記ステンレス鋼部品は、溶接加工されていることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
上記構成のステンレス鋼部品の鋭敏化度測定装置によれば、ステンレス鋼部品から試験片を切り出す必要がなく、ステンレス鋼部品の鋭敏化度を非破壊で測定可能なので、運転中のプラントや現場等で容易に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の実施の形態において、ステンレス鋼部品の鋭敏化度測定装置の構成を示す図である。
【図２】本発明の実施の形態において、電解セルの構成を示す図である。
【図３】本発明の実施の形態において、往復アノード分極したときの分極曲線を示すグラフである。
【図４】本発明の実施の形態において、溶接加工したステンレス鋼部品を、取り付け側の開口部が矩形状である電解セルで測定する場合を示す図である。
【図５】本発明の実施の形態において、溶接加工したステンレス鋼部品を、取り付け側の開口部が円形の電解セルで測定する場合を示す図である。
【図６】本発明の実施の形態において、ＴＩＧ溶接した配管の溶接部に対する電解セルの取り付け位置を示す図である。
【図７】本発明の実施の形態において、ＴＩＧ溶接した配管の鋭敏化度測定結果を示すグラフである。
【図８】本発明の実施の形態において、照合電極の先端と、ステンレスシートの測定面との距離を変えたときの鋭敏化度測定結果を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下に本発明の実施の形態について図面を用いて詳細に説明する。図１は、ステンレス鋼部品Ｔの鋭敏化度測定装置１０の構成を示す図である。
【００１３】
ステンレス鋼部品Ｔは、例えば、プラント配管、桁構造、継手等からなり、ＳＵＳ３０４、ＳＵＳ３１６等のオーステナイト系ステンレス鋼、二相系（オーステナイト・フェライト系）ステンレス鋼等のクロム（Ｃｒ）を含むステンレス鋼で形成されている。ステンレス鋼部品Ｔは、溶接加工や熱処理等されることにより、結晶粒界近傍のクロム濃度が減少し、耐食性が低下して鋭敏化した鋭敏化部Ｅが形成されている。
【００１４】
ステンレス鋼部品Ｔの鋭敏化度測定装置１０は、電解セル１２と、測定液１４と、照合電極１６と、対極１８と、ポテンショスタット２０と、制御部２２と、を備えている。
【００１５】
図２は、電解セル１２の構成を示す図であり、図２（ａ）は、電解セル１２の構成を示す斜視図であり、図２（ｂ）は、電解セル１２の構成を示す断面図である。電解セル１２は、筒状に形成されており、ステンレス鋼部品Ｔの測定面Ｔａに取り付けられる。電解セル１２は、例えば、アクリル樹脂等の合成樹脂からなる絶縁材料で形成されている。
【００１６】
電解セル１２については、角筒状に形成することができる。電解セル１２の高さは、例えば、４０ｍｍから６０ｍｍである。電解セル１２は、ステンレス鋼部品Ｔの測定面Ｔａに取り付ける取り付け側の開口部１２ａを、矩形状に形成するとよい。取り付け側の開口部１２ａの形状は、正方形であってもよいし、長方形であってもよい。取り付け側の開口部１２ａの大きさは、例えば、縦が１０ｍｍから２０ｍｍであり、横が１０ｍｍから２０ｍｍである。また、電解セル１２については、円筒状に形成し、取り付け側の開口部を円形状としてもよい。取り付け側の開口部を円形状としたときの大きさは、例えば、直径が１０ｍｍから２０ｍｍである。
【００１７】
電解セル１２は、電解セル１２と、ステンレス鋼部品Ｔの測定面Ｔａとの隙間から測定液１４が漏れないように、電解セル１２の側縁を合成樹脂等のシール材（図示せず）でシールすることが好ましい。電解セル１２は、ステンレス鋼部品Ｔの測定面Ｔａに接着剤等で接着されるようにしてもよい。
【００１８】
測定液１４は、電解セル１２の筒内に入れられ、電解セル１２に溜められる。測定液１４は、硫酸（Ｈ２ＳＯ４）とチオシアン酸カリウム（ＫＳＣＮ）とを含む溶液で構成されている。測定液１４には、例えば、０．５ｍｏｌ／Ｌ硫酸と、０．０１ｍｏｌ／Ｌチオシアン酸カリウムとを含む水溶液を用いることができる。硫酸とチオシアン酸カリウムとについては、一般に市販されているものを使用することが可能である。なお、測定液１４の温度を測定するために、温度計等（図示せず）を設けるようにしてもよい。
【００１９】
照合電極１６は、電解セル１２に挿入されており、測定液１４に浸漬されている。照合電極１６には、銀―塩化銀電極、飽和カロメル電極等の一般的なものを用いることができる。照合電極１６は、例えば、電解セル１２等に図示しない取り付け部材等で取り付けられる。
【００２０】
照合電極１６の先端と、ステンレス鋼部品Ｔの測定面Ｔａとの距離Ｌは、５ｍｍ以上１０ｍｍ以下であることが好ましい。後述する実施例で明らかとなるように、照合電極１６の先端と、ステンレス鋼部品Ｔの測定面Ｔａとの距離Ｌが５ｍｍ以上１０ｍｍ以下の場合には、鋭敏化度が大きくなると共に、距離Ｌの変化に対して鋭敏化度の変化も小さく、ばらつきが抑制されるからである。
【００２１】
一方、照合電極１６の先端と、ステンレス鋼部品Ｔの測定面Ｔａとの距離Ｌが１０ｍｍより長い場合には、測定液１４の溶液抵抗によりオーム損（ＩＲ損）の影響が大きくなるので測定精度が低下する。照合電極１６の先端と、ステンレス鋼部品Ｔの測定面Ｔａとの距離Ｌが５ｍｍより短い場合には、距離Ｌの変化に対する鋭敏化度の変化が大きくなり、ばらつきが大きくなる。この理由については、照合電極１６の先端と、ステンレス鋼部品Ｔの測定面Ｔａとの距離Ｌが５ｍｍより短い場合には、照合電極１６の近傍や測定面Ｔａの近傍の電流分布や電位分布が乱れ易くなる等により、異常値を示すと考えられる。
【００２２】
また、照合電極１６の先端と、ステンレス鋼部品Ｔの測定面Ｔａとの距離Ｌが５ｍｍ以上１０ｍｍ以下である場合には、後述する鋭敏化度（Ｒ）が、ＪＩＳ  Ｇ０５８０の「ステンレス鋼の電気化学的再活性化率の測定方法」（ＥＰＲ法：Electrochemical Potentiokinetic Reactivation）で測定した鋭敏化度と略同じ値となるので、実験室等でＥＰＲ法により測定して得られた鋭敏化度と比較することにより、ステンレス鋼部品Ｔの鋭敏化を評価することができる。
【００２３】
対極１８は、電解セル１２に挿入されており、照合電極１６に巻回等されて配置され、測定液１４に浸漬されている。対極１８には、白金線等を用いることができる。
【００２４】
ポテンショスタット２０は、照合電極１６と、対極１８と、ステンレス鋼部品Ｔの測定面Ｔａと、に導線等で電気的接続されており、電位を印加する電位印加手段としての機能を有している。ポテンショスタット２０には、一般的な電気化学測定で用いられるものを使用可能である。なお、電位印加手段として、ポテンショ／ガルバノスタット等を用いてもよい。
【００２５】
制御部２２は、ポテンショスタット２０に電気ケーブル等で電気的接続されており、ポテンショスタット２０を制御して電位を掃引する電位掃引手段としての機能を有している。また、制御部２２は、ポテンショスタット２０により印加する電位や、ポテンショスタット２０により測定された電流を記憶する機能や、後述する鋭敏化度（Ｒ）を演算する機能を有している。制御部２２は、一般的なコンピュータシステム等で構成される。
【００２６】
次に、ステンレス鋼部品Ｔの鋭敏化度測定装置１０による鋭敏化度測定方法について説明する。
【００２７】
ステンレス鋼部品Ｔの測定面Ｔａを研磨紙等で研磨して、測定面Ｔａの自然酸化皮膜を除去する。ステンレス鋼部品Ｔの測定面Ｔａの上に電解セル１２を取り付ける。電解セル１２は、その貫通孔がステンレス鋼部品Ｔの測定面Ｔａに位置するようにして位置決めされる。電解セル１２に測定液１４を入れる。照合電極１６と対極１８とを電解セル１２に挿入し、測定液１４に浸漬させる。照合電極１６と、対極１８と、ステンレス鋼部品Ｔの測定面Ｔａとを、ポテンショスタット２０に導線等で電気的接続する。
【００２８】
次に、制御部２２により電位掃引することにより往復アノード分極を行って、分極曲線からステンレス鋼部品Ｔの鋭敏化度（Ｒ）を求める。往復アノード分極については、ステンレス鋼部品Ｔの測定面Ｔａを自然浸漬電位より一定の速度でアノード分極させて不動態化させた後に、活性域へ逆掃引して行う。鋭敏化していない健全な組織の場合は、ステンレス鋼の自然浸漬電位から、活性域、不動態域までの貴（高い）電位方向への分極（往路）で、ステンレス鋼部品Ｔの接液部全体に均一で緻密な不動態皮膜が形成される。これにより、卑（低い）電位方向への分極（復路）では溶解に伴う電流は、ほとんど流れない。これに対して鋭敏化が進んだ組織の場合には、貴（高い）電位方向への分極（往路）で形成される結晶粒界近傍のクロム欠乏域の不動態皮膜は均一・緻密でないので、卑（低い）電位方向への分極（復路）でも溶解に伴う電流が流れる。
【００２９】
図３は、往復アノード分極したときの分極曲線を示すグラフである。図３のグラフでは、横軸に電流密度を取り、縦軸に電位を取り、往路と復路との分極を矢印で示している。鋭敏化度（Ｒ）は、往路の電流密度の極大値（ＩＡ）と、復路の電流密度の極大値（ＩＢ）との比（ＩＢ/ＩＡ）で算出される。鋭敏化度（Ｒ）は、数値が大きいほど鋭敏化が進んでいることを示している。このようにして、ステンレス鋼部品Ｔの鋭敏化度を非破壊で測定することができる。
【００３０】
また、溶接加工したステンレス鋼部品Ｔの鋭敏化度を測定する場合には、電解セル１２の取り付け側の開口部１２ａは、矩形状で形成されることが好ましく、正方形で形成されることがより好ましい。溶接加工したステンレス鋼部品Ｔの鋭敏化部は、溶接部の近傍に、溶接部に沿って線状に形成されるので、電解セル１２における取り付け側の開口部１２ａが矩形状で形成されている場合には、電解セル１２の取り付け位置に起因する鋭敏化度のばらつきが小さくなるからである。
【００３１】
図４は、溶接加工したステンレス鋼部品Ｔを、取り付け側の開口部１２ａが矩形状である電解セル１２で測定する場合を示す図である。図５は、溶接加工したステンレス鋼部品Ｔを、取り付け側の開口部３０ａが円形の電解セル３０で測定する場合を示す図である。
【００３２】
溶接加工したステンレス鋼部品Ｔでは、熱影響部は、溶接部Ｗに隣接して形成され、約１０００℃以上に加熱された溶体化部Ｓと、溶接部Ｗから離間して形成され、約５００℃から８５０℃に加熱され、クロム炭化物が析出した鋭敏化部Ｅと、から構成されている。溶体化部Ｓと鋭敏化部Ｅとは、溶接部Ｗの溶接線に沿って線状に形成されている。溶体化部Ｓの幅は溶接条件により変動するが約５ｍｍであり、鋭敏化部Ｅの幅は約１ｍｍである。鋭敏化部Ｅは、通常、鋭敏化されていない溶体化部Ｓや熱影響部以外の健全部Ｒと外観上区別することが難しい。このため電解セル１２、３０の鋭敏化部Ｅへの位置決めが難しくなる。
【００３３】
図４に示すように、取り付け側の開口部１２ａが矩形状である電解セル１２で測定する場合には、電解セル１２の取り付け位置が異なる場合でも、取り付け側の開口部１２ａに占める鋭敏化部Ｅの面積の比率が略同じになる。このことから、電解セル１２の取り付け位置に起因する鋭敏化度のばらつきを小さくすることができる。また、電解セル１２における取り付け側の開口部１２ａについては、長方形よりも正方形であることが好ましい。取り付け側の開口部１２ａについては、長方形よりも正方形のほうが、取り付け側の開口部１２ａに占める鋭敏化部Ｅの面積の比率が大きくなるので、鋭敏化度の測定精度を高めることができる。更に、取り付け側の開口部１２ａの形状を１０ｍｍ角の正方形とし、溶接部Ｗと電解セル１２との距離が０ｍｍ（溶接部Ｗと電解セル１２とが接している状態）となるように電解セル１２を取り付けることで、取り付け側の開口部１２ａの略中央に鋭敏化部Ｅが位置するので、電解セル１２の取り付け位置に起因する鋭敏化度のばらつきを抑制することができる。
【００３４】
図５に示すように、取り付け側の開口部３０ａが円形状である電解セル３０で測定する場合には、電解セル３０の取り付け位置が異なると、取り付け側の開口部３０ａに占める鋭敏化部Ｅの面積の比率が異なるので、電解セル３０の取り付け位置に起因する鋭敏化度のばらつきが大きくなる。このように、取り付け側の開口部３０ａが円形状である電解セル３０の場合には、取り付け側の開口部１２ａが矩形状である電解セル１２の場合と比較して、鋭敏化度のばらつきが大きくなる。
【００３５】
通常、溶接加工したステンレス鋼部品Ｔの鋭敏化部Ｅについては、鋭敏化されていない溶体化部Ｓや熱影響部以外の健全部Ｒと、外観上区別することができないので、電解セル１２、３０を鋭敏化部Ｅに精度良く位置決めすることが難しい。このような場合でも、取り付け側の開口部１２ａが矩形状である電解セル１２を用いることにより、電解セル１２の取り付け位置に起因する鋭敏化度のばらつきを抑制することができる。
【００３６】
以上、上記構成のステンレス鋼部品の鋭敏化度測定装置によれば、ステンレス鋼部品から試験片を切り出す必要がなく、ステンレス鋼部品の鋭敏化度を非破壊で測定可能なので、運転中のプラントや現場等でも容易に測定することができる。また、取り付け側の開口部が矩形状である電解セルを用いることにより、溶接加工されたステンレス鋼部品の鋭敏化度を測定する場合でも、電解セルの取り付け位置に起因する鋭敏化度のばらつきを抑制することができるので、鋭敏化度測定の信頼性が向上する。
【００３７】
上記構成のステンレス鋼部品の鋭敏化度測定装置によれば、照合電極の先端と、ステンレス鋼部品の測定面との距離を５ｍｍ以上１０ｍｍ以下とすることにより、鋭敏化度の値が大きくなると共に、照合電極の先端と、ステンレス鋼部品の測定面との距離の変化に対して鋭敏化度のばらつきが抑制されるので、鋭敏化度測定の信頼性が向上する。
【実施例】
【００３８】
ステンレス鋼部品の鋭敏化度測定を行った。ステンレス鋼部品には、ＳＵＳ３０４製のＴＩＧ溶接した配管を使用した。
【００３９】
鋭敏化度測定装置については、アクリル樹脂製の電解セルと、測定液と、照合電極（飽和カロメル電極）と、対極（白金線）と、ポテンショスタットと、パーソナルコンピュータと、から構成した。測定液には、０．５ｍｏｌ／Ｌ硫酸と、０．０１ｍｏｌ／Ｌチオシアン酸カリウムとを含む水溶液を用いた。電解セルについては、角筒状の電解セルと、円筒状の電解セルとを使用した。角筒状の電解セルについては、ＴＩＧ溶接した配管の測定面へ取り付ける取り付け側の開口部を正方形（１０ｍｍ×１０ｍｍ）とした。円筒状の電解セルについては、取り付け側の開口部を円形（直径１１ｍｍ）とした。
【００４０】
ＴＩＧ溶接した配管の測定面に電解セルを接着剤で接着した。電解セルに測定液を入れ、照合電極と、対極とを測定液に浸漬させた。照合電極の先端と、ＴＩＧ溶接した配管の測定面との距離については、５ｍｍから１０ｍｍとした。照合電極と、対極と、ＴＩＧ溶接した配管の測定面と、をポテンショスタットに導線で電気的接続した。次に、自然浸漬電位から０．３Ｖ  ｖｓ  ＳＣＥまで、および０．３Ｖ  ｖｓ  ＳＣＥから自然浸漬電位まで連続電位掃引して往復アノード分極を行った。ＴＩＧ溶接した配管の鋭敏化度（Ｒ）については、図３に示すグラフのように往復アノード分極による分極曲線を求め、往路の電流密度の極大値（ＩＡ）と、復路の電流密度の極大値（ＩＢ）との比（ＩＢ/ＩＡ）で算出した。
【００４１】
なお、ＴＩＧ溶接した配管の鋭敏化度測定については、溶接部に対する電解セルの取り付け位置を変えて測定した。図６は、ＴＩＧ溶接した配管Ｔ´の溶接部Ｗに対する電解セルの取り付け位置を示す図である。図６において、Ｗは溶接部を示しており、Ｓは溶体化部を示しており、Ｅは鋭敏化部を示しており、Ｒは熱影響部以外の健全部を示している。鋭敏化度測定については、溶接部Ｗと、電解セルとの距離を変えて測定した。Ｘ１からＸ３は、角筒状の電解セルの取り付け位置を示しており、Ｙ１からＹ３は、円筒状の電解セルの取り付け位置を示している。溶接部Ｗと、各電解セルとの距離については、Ｘ１、Ｙ１の場合が０ｍｍ（溶接部Ｗと電解セルとが接触している状態）、Ｘ２、Ｙ２の場合が２ｍｍ、Ｘ３、Ｙ３の場合が４ｍｍとした。
【００４２】
図７は、ＴＩＧ溶接した配管の鋭敏化度測定結果を示すグラフである。図７に示すグラフでは、横軸に溶接部Ｗと電解セルとの距離を取り、縦軸に鋭敏化度を取り、角筒状の電解セルで測定した鋭敏化度を白四角形で示し、円筒状の電解セルで測定した鋭敏化度を黒丸で示している。
【００４３】
角筒状の電解セルで測定した場合には、距離０ｍｍのときが２．９８％、距離２ｍｍのときが２．９５％、距離４ｍｍのときが１．９２％であった。円筒状の電解セルで測定した場合には、距離０ｍｍのときが４．３２％、距離２ｍｍのときが３．５７％、距離４ｍｍのときが１．１６％であった。このように、ＴＩＧ溶接した配管について、非破壊で鋭敏化度を測定することができた。
【００４４】
また、角筒状の電解セルの場合には、溶接部Ｗと電解セルとの距離に対して鋭敏化度の変化が小さくなった。これに対して円筒状の電解セルの場合には、溶接部Ｗと電解セルとの距離に対して鋭敏化度の変化が大きくなった。このように、角筒状の電解セルの場合には、円筒状の電解セルよりも、電解セルの取り付け位置に対する鋭敏化度のばらつきが小さくなることがわかった。
【００４５】
次に、照合電極の先端と、ステンレス鋼部品の測定面との距離の影響について評価した。ステンレス鋼部品として、ＳＵＳ３０４製のステンレスシートを使用した。ステンレスシートについては、強鋭敏化させるために、６７５℃で３０時間の熱処理を施した。
【００４６】
鋭敏化度測定装置については、上記のＴＩＧ溶接した配管の鋭敏化度測定と同様の装置を使用した。なお、電解セルには、ステンレスシートに取り付ける取り付け側の開口部が円形（直径１１ｍｍ）である円筒状の電解セルを用いた。
【００４７】
照合電極の先端と、ステンレスシートの測定面との距離については、４ｍｍ、５ｍｍ、１０ｍｍ、２４ｍｍ、３０ｍｍ、４４ｍｍ、５０ｍｍとした。往復アノード分極を行って、ステンレスシートの鋭敏化度を算出した。なお、往復アノード分極方法、鋭敏化度の算出方法についても、上記のＴＩＧ溶接した配管の鋭敏化度測定と同様とした。
【００４８】
また、比較のために、ＪＩＳ  Ｇ０５８０のＥＰＲ法による測定も行った。ＥＰＲ法では、ステンレスシートから小試験片を切り出して測定した。塩橋先端と、小試験片の測定面との距離については５ｍｍとした。
【００４９】
図８は、照合電極の先端と、ステンレスシートの測定面との距離を変えたときの鋭敏化度測定結果を示すグラフである。図８のグラフでは、横軸に照合電極の先端と、ステンレスシートの測定面との距離を取り、縦軸に鋭敏化度を取り、各距離のときの鋭敏化度を黒菱形で示す。
【００５０】
距離４ｍｍのときの鋭敏化度が８８％であり、距離５ｍｍのときの鋭敏化度が５３％であり、距離１０ｍｍのときの鋭敏化度が４９％であり、距離２４ｍｍのときの鋭敏化度が３６％であり、距離３０ｍｍのときの鋭敏化度が３２％であり、距離４４ｍｍのときの鋭敏化度が２７％であり、距離５０ｍｍのときの鋭敏化度が２６％であった。また、ＥＰＲ法で測定したときの鋭敏化度については、５０％であった。
【００５１】
照合電極の先端と、ステンレスシートの測定面との距離が短いほど、鋭敏化度が大きくなった。照合電極の先端と、ステンレスシートの測定面との距離が５ｍｍより短くなると、距離が１ｍｍ変化しただけで、鋭敏化度が３５％大きくなった。このことから、照合電極の先端と、ステンレスシートの測定面との距離が５ｍｍより短くなると、照合電極の先端と、ステンレスシートの測定面との距離の変化に対する鋭敏化度の変化が大きくなり、鋭敏化度のバラツキが大きくなることがわかった。この理由については、照合電極やステンレスシートの測定面の近傍の電流分布や電位分布が乱れ易くなる等により、異常値を示したと考えられる。
【００５２】
照合電極の先端と、ステンレスシートの測定面との距離が５ｍｍ以上１０ｍｍ以下の場合には、照合電極の先端と、ステンレスシートの測定面との距離の変化に対して鋭敏化度の変化も小さく、ばらつきも小さくなることがわかった。また、照合電極の先端と、ステンレスシートの測定面との距離が５ｍｍ以上１０ｍｍ以下の場合には、ＥＰＲ法で測定した鋭敏化度と略同じ値となった。
【００５３】
照合電極の先端と、ステンレス鋼部品の測定面との距離が１０ｍｍより長くなると、照合電極の先端と、ステンレスシートの測定面との間の距離の変化に対する鋭敏化度の変化が大きくなり、バラツキも大きくなることがわかった。また、鋭敏化度も小さくなることから、測定液の溶液抵抗によりオーム損（ＩＲ損）の影響が大きくなり、測定精度が低下することがわかった。
【００５４】
この測定結果から、照合電極の先端と、ステンレスシートの測定面との距離は、５ｍｍ以上１０ｍｍ以下が好ましいことが明らかとなった。
【符号の説明】
【００５５】
１０  鋭敏化度測定装置
１２、３０  電解セル
１４  測定液
１６  照合電極
１８  対極
２０  ポテンショスタット
２２  制御部
【図１】
0006613782.tif 000002
【図２】
0006613782.tif 000003
【図３】
0006613782.tif 000004
【図４】
0006613782.tif 000005
【図５】
0006613782.tif 000006
【図６】
0006613782.tif 000007
【図７】
0006613782.tif 000008
【図８】
0006613782.tif 000009