(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
タッチ検出可能な第１センサと第２センサとを積層するタッチパネルから、前記第１センサが検出した第１の位置情報と前記第２センサが検出した第２の位置情報とを取得し、
前記第１の位置情報に対応する第１の電圧値と前記第２の位置情報に対応する第２の電圧値との差にもとづいて前記第１の位置情報および前記第２の位置情報と異なる第３の位置情報を生成する、制御部と、
を含む情報処理装置。
【請求項２】
前記第１センサは、互いに対向する第１および第２のシートを有すると共に、前記第１のシートと前記第２のシートとの接触により検出される電気特性にもとづいて第１のタッチ位置を検出する抵抗膜方式タッチセンサであり、
前記第２センサは、誘電体の接触または接近する第２のタッチ位置を検出する静電容量方式タッチセンサであり、
前記制御部は、前記第１のシートと前記第２のシートとが接触した位置のうち一方の位置を前記第２のタッチ位置に対応させ、前記第１のタッチ位置と該第２のタッチ位置とを基に接触した該位置のうち他方の位置を特定し、特定した該他方の位置をユーザの指示位置とする、
請求項１記載の情報処理装置。
【請求項３】
前記制御部は、前記第１センサによるタッチ検出を前記第２センサによるタッチ検出に優先する場合に、前記第１の電圧値と前記第２の電圧値との差にもとづいて前記第３の位置情報を生成する、
請求項１または２記載の情報処理装置。
【請求項４】
前記制御部は、前記第１の位置情報および前記第２の位置情報が一致しないとき、前記第１の電圧値と前記第２の電圧値との差にもとづいて前記第３の位置情報を生成する、
請求項１乃至３のいずれか１項に記載の情報処理装置。
【請求項５】
前記第２の位置情報と抵抗膜方式タッチセンサが検出する電圧値との関係を示す関係情報を記憶する記憶部を含み、
前記制御部は、前記関係情報と前記第２の位置情報とから生成した電圧値にもとづいて、前記第１の位置情報を補正する、
請求項２に記載の情報処理装置。
【請求項６】
コンピュータに、
タッチ検出可能な第１センサと第２センサとを積層するタッチパネルから、前記第１センサが検出した第１の位置情報と、前記第２センサが検出した第２の位置情報とを取得し、
前記第１の位置情報に対応する第１の電圧値と前記第２の位置情報に対応する第２の電圧値との差にもとづいて前記第１の位置情報および前記第２の位置情報と異なる第３の位置情報を生成する、
処理を実行させる情報処理プログラム。
【請求項７】
タッチ検出可能な第１センサと第２センサとを積層するタッチパネルと、
前記第１センサが検出した第１の位置情報と、前記第２センサが検出した第２の位置情報とを取得し、
前記第１の位置情報に対応する第１の電圧値と前記第２の位置情報に対応する第２の電圧値との差にもとづいて前記第１の位置情報および前記第２の位置情報と異なる第３の位置情報を生成する、制御部と、
を含む電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、情報処理装置、情報処理プログラム、および電子機器に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子機器の入力装置の１つとして、パネル上のタッチ位置を検出できるタッチパネルが知られている。タッチパネルは、抵抗膜方式、静電容量方式、超音波式、光学式等、様々なタッチ位置検出方式があり、それぞれのタッチ位置検出方式は、長所と短所とがあり用途に応じて使い分けられている。
【０００３】
また、異なるタッチ位置検出方式を複合することで、各々のタッチ位置検出方式の短所を補完する複合型タッチパネルがある。このような複合型タッチパネルは、検出状態に応じて検出方式を切り替えることでタッチ位置の検出精度向上を図っている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１３−１７５１６３号公報
【特許文献２】特表２０１２−５１９３３７号公報
【特許文献３】特開２００８−１５２４６８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、複合型タッチパネルは、いずれの検出方式においてもタッチ位置を正確に検出できない場合があり、検出状態に応じた検出方式の切替によっても十分な検出精度を得られない場合がある。
【０００６】
１つの側面では、本発明は、タッチパネルにおけるタッチ位置の検出精度を向上できる情報処理装置、情報処理プログラム、および電子機器を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために、以下に示すような、情報処理装置が提供される。情報処理
装置は、制御部を含む。制御部は、タッチ検出可能な第１センサと第２センサとを積層するタッチパネルから、第１センサが検出した第１の位置情報と、第２センサが検出した第２の位置情報とを取得し、第１の位置情報に対応する第１の電圧値と第２の位置情報に対応する第２の電圧値との差にもとづいて第１の位置情報および第２の位置情報と異なる第３の位置情報を生成する。
【０００８】
また、１つの態様では、コンピュータに処理を実行させる情報処理プログラムが提供される。また、１つの態様では、電子機器が提供される。
【発明の効果】
【０００９】
１態様によれば、情報処理装置、情報処理プログラム、および電子機器において、タッチパネルにおけるタッチ位置の検出精度を向上できる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】第１の実施形態の情報処理装置の構成の一例を示す図である。
【図２】第２の実施形態の電子機器のブロック構成の一例を示す図である。
【図３】第２の実施形態のタッチパネルモニタの構成の一例を示す図である。
【図４】第２の実施形態の電子機器のハードウェア構成の一例を示す図である。
【図５】第２の実施形態のタッチパネルモニタにおけるタッチ検出状態一覧の一例を示す図である。
【図６】タッチパネルモニタにおけるタッチ検出状態（状態３）の一例を示す図である。
【図７】第２の実施形態の抵抗膜方式座標検出部における１点タッチ時のタッチ位置（ｘ座標）検出の一例を示す図である。
【図８】第２の実施形態の抵抗膜方式座標検出部における１点タッチ時のタッチ位置（ｙ座標）検出の一例を示す図である。
【図９】第２の実施形態のタッチパネルモニタにおけるタッチ検出状態（状態５）の一例を示す図である。
【図１０】第２の実施形態の抵抗膜方式座標検出部における２点タッチ時のタッチ位置（ｘ座標）検出の一例を示す図である。
【図１１】第２の実施形態の抵抗膜方式座標検出部における２点タッチ時のタッチ位置（ｙ座標）検出の一例を示す図である。
【図１２】第２の実施形態のタッチ位置検出処理のフローチャートを示す図である。
【図１３】第２の実施形態の検出位置補正処理のフローチャートを示す図である。
【図１４】第２の実施形態のｘ座標変換テーブルの一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、図面を参照して実施の形態を詳細に説明する。
［第１の実施形態］
まず、第１の実施形態の情報処理装置について図１を用いて説明する。図１は、第１の実施形態の情報処理装置の構成の一例を示す図である。
【００１２】
情報処理装置１は、タッチパネル２と接続する。情報処理装置１は、たとえば、携帯端末装置のようなタッチパネル２と一体に構成されるものであってもよいし、たとえばパーソナルコンピュータのようにタッチパネル２と別体に構成されるものであってもよい。
【００１３】
情報処理装置１は、制御部１ａを含む。制御部１ａは、タッチパネル２からタッチ位置に関する情報を入力し、所要の情報処理をおこなう。たとえば、制御部１ａは、パームキャンセルを含むノイズキャンセルや、タッチ位置の補正等をおこなう。
【００１４】
タッチパネル２は、第１センサ２ａと第２センサ２ｂとを積層する複合型タッチパネルである。第１センサ２ａは、第１の方式でタッチ検出可能である。たとえば、第１センサ２ａは、抵抗膜方式タッチセンサである。第２センサ２ｂは、第１の方式と異なる第２の方式でタッチ検出可能である。たとえば、第２センサ２ｂは、静電容量方式タッチセンサである。以下、第１の実施形態の説明において、第１センサ２ａが抵抗膜方式タッチセンサであり、第２センサ２ｂが静電容量方式タッチセンサであるとして説明する。
【００１５】
第１センサ２ａは、互いに対向する２枚の抵抗膜のシートを有する。２枚の抵抗膜のシートは、第１センサ２ａへの外圧により接触する。このとき、第１センサ２ａは、当該抵抗膜のシートの導通により生じる電気的特性（たとえば、電圧）からタッチ位置（押圧位置）を検出するものであり、たとえばペン３のペンダウン（非誘電体によるタッチパネル２の押下状態）を検出する。第２センサ２ｂは、誘電体の近接を静電容量の変化により検出するものであり、たとえば指等の生体によるタッチ位置を検出する。
【００１６】
なお、第２センサ２ｂは、タッチパネル２に誘電体が接触または接近したタッチ位置を検出できるが、非誘電体によるタッチパネル２のタッチ位置を検出できない。一方、第１センサ２ａは、誘電体による押圧か、非誘電体による押圧かを問わずにタッチパネル２のタッチ位置を検出できるが、２点以上のマルチタッチに対して正確なタッチ位置の検出が難しい。
【００１７】
たとえば、操作者がペン３を用いてタッチ操作する場合、タッチパネル２は、タッチパネル２に接触した手のひらのタッチを検出してしまうことがある。このとき、第１センサ２ａは、手のひらのタッチ位置Ｐ２とペン３のタッチ位置Ｐ３の合成位置Ｐ１を検出する。合成位置Ｐ１は、タッチ位置Ｐ２とタッチ位置Ｐ３のいずれとも異なる。第２センサ２ｂは、生体接触範囲４から手のひらのタッチ位置Ｐ２を検出する。
【００１８】
制御部１ａは、第１センサ２ａから第１の位置情報（たとえば、タッチ位置Ｐ１）と、第２センサ２ｂから第２の位置情報（たとえば、タッチ位置Ｐ２）を取得する。制御部１ａは、第２の位置情報にもとづいて第１の位置情報を補正し、第１の位置情報および第２の位置情報のいずれとも異なる第３の位置情報（たとえば、タッチ位置Ｐ３）を生成する。
【００１９】
具体的には、タッチパネル２への２点タッチがされる場合、制御部１ａは、第１センサ２ａが有する第１および第２の抵抗膜のシートが接触した位置のうち一方の位置を、第２センサ２ｂが検出したタッチ位置Ｐ２に対応させる。そして、制御部１ａは、第１センサ２ａが検出したタッチ位置Ｐ１と第２センサ２ｂが検出したタッチ位置Ｐ２とを基に接触した位置のうち他方の位置Ｐ３を特定する。さらに、制御部１ａは、他方の位置Ｐ３をユーザの指示位置として受け付ける。
【００２０】
このように、制御部１ａは、第１の位置情報および第２の位置情報のいずれとも異なる第３の位置情報を生成することで、第１の位置情報および第２の位置情報のいずれによっても不十分な検出精度の向上を図ることができる。
【００２１】
これにより、情報処理装置１は、ペン３を用いたタッチ入力時にタッチパネル２に手のひら等が接触しても、ペンダウンによるタッチ位置を精度よく検出することができる。
したがって、情報処理装置１は、タッチパネル２におけるタッチ位置の検出精度を向上できる。
【００２２】
［第２の実施形態］
次に、第２の実施形態の電子機器について図２を用いて説明する。図２は、第２の実施形態の電子機器のブロック構成の一例を示す図である。
【００２３】
電子機器１０は、タッチパネルモニタ１１とコンピュータ１００を含む。電子機器１０は、タッチパネルモニタ１１とコンピュータ１００とを、たとえばデスクトップコンピュータ等のように別体にして備えてもよいし、ラップトップ型コンピュータ等のように一体にして備えてもよい。また、電子機器１０は、工場やオフィス、あるいは商業施設のカウンタ等に載置される据置型端末装置であってもよいし、操作者によって携帯される携帯型端末装置であってもよい。
【００２４】
タッチパネルモニタ１１は、抵抗膜方式座標検出部２０と、静電容量方式座標検出部３０と、液晶パネルコントローラ４０と、バックライトコントローラ５０を含む。抵抗膜方式座標検出部２０は、抵抗膜方式によりタッチ位置の座標を検出する。抵抗膜方式座標検出部２０は、抵抗膜方式座標検出部２０と比較してタッチ位置を精度よく検出できるが、マルチタッチがある場合に誤差を含むタッチ位置の座標を検出する。
【００２５】
静電容量方式座標検出部３０は、静電容量方式によりタッチ位置の座標を検出する。静電容量方式座標検出部３０は、マルチタッチがある場合に各タッチ位置の座標を検出できるが、非誘電体によるタッチが困難である。
【００２６】
液晶パネルコントローラ４０は、コンピュータ１００が出力する映像信号にもとづいて液晶パネルの表示を制御する。バックライトコントローラ５０は、コンピュータ１００が出力する映像信号にもとづいてバックライトの明るさを制御する。
【００２７】
コンピュータ１００は、タッチ位置検出部１００１を含む。タッチ位置検出部１００１は、抵抗膜方式座標検出部２０からの出力と、静電容量方式座標検出部３０からの出力とを入力し、タッチ位置を検出する。タッチ位置検出部１００１は、パームキャンセルを含むノイズキャンセル機能を有する。たとえば、タッチ位置検出部１００１は、検出状態に応じて、抵抗膜方式座標検出部２０の出力または静電容量方式座標検出部３０の出力の選択をおこなう。また、タッチ位置検出部１００１は、抵抗膜方式座標検出部２０の出力を静電容量方式座標検出部３０の出力にもとづいて補正する。
【００２８】
なお、電子機器１０は、コンピュータ１００がタッチ位置検出部１００１を備えるとしたが、タッチパネルモニタ１１がタッチ位置検出部１００１を備えるものであってもよい。
【００２９】
次に、タッチパネルモニタ１１の構成について図３を用いて説明する。図３は、第２の実施形態のタッチパネルモニタの構成の一例を示す図である。
タッチパネルモニタ１１は、抵抗膜方式タッチセンサ２０ａと、静電容量方式タッチセンサ３０ａと、液晶パネル４１と、バックライト５１を含む。タッチパネルモニタ１１は、バックライト５１を最背面にして順に、液晶パネル４１、静電容量方式タッチセンサ３０ａ、抵抗膜方式タッチセンサ２０ａを積層する。
【００３０】
抵抗膜方式タッチセンサ２０ａは、たとえば４線式抵抗膜方式のタッチセンサであり、Ｘ側抵抗膜２１と、セパレータ２２と、Ｙ側抵抗膜２３を含む。Ｘ側抵抗膜２１はタッチ位置座標のＸ方向に電圧を印加する。セパレータ２２は、Ｘ側抵抗膜２１とＹ側抵抗膜２３との隙間を確保し、通常状態においてＸ側抵抗膜２１とＹ側抵抗膜２３とを非接触とし、タッチ状態においてＸ側抵抗膜２１とＹ側抵抗膜２３とを接触可能にする。Ｙ側抵抗膜２３はタッチ位置座標のＹ方向に電圧を印加する。抵抗膜方式タッチセンサ２０ａは、Ｘ側抵抗膜２１への電圧印加時にＸ側抵抗膜２１とＹ側抵抗膜２３との接触で分圧された電圧をＹ側抵抗膜２３により検出して、Ｘ方向のタッチ位置を得る。また、抵抗膜方式タッチセンサ２０ａは、Ｙ側抵抗膜２３への電圧印加時にＸ側抵抗膜２１とＹ側抵抗膜２３との接触で分圧された電圧をＸ側抵抗膜２１により検出して、Ｙ方向のタッチ位置を得る。
【００３１】
静電容量方式タッチセンサ３０ａは、たとえば投影型静電容量方式のタッチセンサであり、Ｘ側センサ３１と、フィルム３２と、Ｙ側センサ３３と、フィルム３４を含む。フィルム３２とフィルム３４は、基材の一形態であり、ガラス等であってもよい。Ｘ側センサ３１とＹ側センサ３３とは、透明電極をマトリクス状に配置する。静電容量方式タッチセンサ３０ａは、Ｘ側センサ３１の静電容量の変化によりＸ方向のタッチ位置を得て、Ｙ側センサ３３の静電容量の変化によりＹ方向のタッチ位置を得る。
【００３２】
なお、抵抗膜方式タッチセンサ２０ａは、図示しない電圧駆動や電圧検出等を担うコントローラとともに抵抗膜方式座標検出部２０を構成する。また、静電容量方式タッチセンサ３０ａは、図示しない静電容量検出等を担うコントローラとともに静電容量方式座標検出部３０を構成する。
【００３３】
次に、電子機器１０のハードウェア構成について図４を用いて説明する。図４は、第２の実施形態の電子機器のハードウェア構成の一例を示す図である。
コンピュータ１００は、プロセッサ１０１によって装置全体が制御されている。プロセッサ１０１には、バス１０９を介してＲＡＭ（Random Access Memory）１０２と複数の周辺機器が接続されている。プロセッサ１０１は、マルチプロセッサであってもよい。プロセッサ１０１は、たとえばＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＭＰＵ（Micro Processing Unit）、ＤＳＰ（Digital Signal Processor）、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）、またはＰＬＤ（Programmable Logic Device）である。またプロセッサ１０１は、ＣＰＵ、ＭＰＵ、ＤＳＰ、ＡＳＩＣ、ＰＬＤのうちの２以上の要素の組み合わせであってもよい。
【００３４】
ＲＡＭ１０２は、コンピュータ１００の主記憶装置として使用される。ＲＡＭ１０２には、プロセッサ１０１に実行させるＯＳ（Operating System）のプログラムやアプリケーションプログラムの少なくとも一部が一時的に格納される。また、ＲＡＭ１０２には、プロセッサ１０１による処理に必要な各種データが格納される。
【００３５】
バス１０９に接続されている周辺機器としては、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）１０３、グラフィック処理装置１０４、入力インタフェース１０５、光学ドライブ装置１０６、機器接続インタフェース１０７およびネットワークインタフェース１０８がある。
【００３６】
ＨＤＤ１０３は、内蔵したディスクに対して、磁気的にデータの書き込みおよび読み出しをおこなう。ＨＤＤ１０３は、コンピュータ１００の補助記憶装置として使用される。ＨＤＤ１０３には、ＯＳのプログラム、アプリケーションプログラム、および各種データが格納される。なお、補助記憶装置としては、フラッシュメモリ等の半導体記憶装置を使用することもできる。
【００３７】
グラフィック処理装置１０４には、タッチパネルモニタ１１が接続されている。グラフィック処理装置１０４は、プロセッサ１０１からの命令にしたがって、画像をタッチパネルモニタ１１の画面に表示させる。なお、タッチパネルモニタ１１は、液晶表示装置であるとしたが、ＣＲＴ（Cathode Ray Tube）を用いた表示装置等であってもよい。
【００３８】
入力インタフェース１０５には、タッチパネルモニタ１１とマウス１１０とキーボード１１１とが接続されている。入力インタフェース１０５は、タッチパネルモニタ１１や、マウス１１０、キーボード１１１から送られてくる信号をプロセッサ１０１に送信する。なお、タッチパネルモニタ１１やマウス１１２は、ポインティングデバイスの一例である。タッチパネルモニタ１１は、タブレット、タッチパッド等であってもよいし、マウス１１２は、トラックボール等であってもよい。
【００３９】
光学ドライブ装置１０６は、レーザ光等を利用して、光ディスク１１２に記録されたデータの読み取りをおこなう。光ディスク１１２は、光の反射によって読み取り可能なようにデータが記録された可搬型の記録媒体である。光ディスク１１２には、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disc Read Only Memory）、ＣＤ−Ｒ（Recordable）／ＲＷ（ReWritable）等がある。
【００４０】
機器接続インタフェース１０７は、コンピュータ１００に周辺機器を接続するための通信インタフェースである。たとえば機器接続インタフェース１０７には、メモリ装置１１３やメモリリーダライタ１１４を接続することができる。メモリ装置１１３は、機器接続インタフェース１０７との通信機能を搭載した記録媒体である。メモリリーダライタ１１４は、メモリカード１１５へのデータの書き込み、またはメモリカード１１５からのデータの読み出しをおこなう装置である。メモリカード１１５は、カード型の記録媒体である。
【００４１】
ネットワークインタフェース１０８は、ネットワーク２００に接続されている。ネットワークインタフェース１０８は、ネットワーク２００を介して、他のコンピュータまたは通信機器との間でデータの送受信をおこなう。
【００４２】
以上のようなハードウェア構成によって、第２の実施形態のコンピュータ１００の処理機能を実現することができる。なお、第１の実施形態に示した情報処理装置１も、図４に示したコンピュータ１００と同様のハードウェアにより実現することができる。
【００４３】
コンピュータ１００は、たとえば、コンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録されたプログラムを実行することにより、第２の実施形態の処理機能を実現する。コンピュータ１００に実行させる処理内容を記述したプログラムは、様々な記録媒体に記録しておくことができる。たとえば、コンピュータ１００に実行させるプログラムをＨＤＤ１０３に格納しておくことができる。プロセッサ１０１は、ＨＤＤ１０３内のプログラムの少なくとも一部をＲＡＭ１０２にロードし、プログラムを実行する。また、コンピュータ１００に実行させるプログラムを、光ディスク１１２、メモリ装置１１３、メモリカード１１５等の可搬型記録媒体に記録しておくこともできる。可搬型記録媒体に格納されたプログラムは、たとえばプロセッサ１０１からの制御により、ＨＤＤ１０３にインストールされた後、実行可能となる。またプロセッサ１０１が、可搬型記録媒体から直接プログラムを読み出して実行することもできる。
【００４４】
次に、２つのタッチセンサの出力にもとづくタッチ検出状態について図５を用いて説明する。図５は、第２の実施形態のタッチパネルモニタにおけるタッチ検出状態一覧の一例を示す図である。
【００４５】
タッチ位置検出部１００１は、抵抗膜方式座標検出部２０におけるタッチ検出の有無と、静電容量方式座標検出部３０におけるタッチ検出の有無とにもとづいてタッチ検出状態を区別し、タッチ検出状態に応じてタッチパネルモニタ１１へのタッチ位置検出をおこなう。
【００４６】
タッチ位置検出部１００１は、状態１から状態５までの５つのタッチ検出状態を区別する。状態１は、抵抗膜方式座標検出部２０におけるタッチ検出がなく、静電容量方式座標検出部３０におけるタッチ検出もないタッチ検出状態である。状態２は、抵抗膜方式座標検出部２０におけるタッチ検出がなく、静電容量方式座標検出部３０におけるタッチ検出があるタッチ検出状態である。状態２は、たとえば抵抗膜方式座標検出部２０がタッチを検出できない程度に誘電体がタッチパネルモニタ１１に触れている状態または近接している状態である。状態３は、抵抗膜方式座標検出部２０におけるタッチ検出があり、静電容量方式座標検出部３０におけるタッチ検出がないタッチ検出状態である。状態３は、たとえば非誘電体がタッチパネルモニタ１１を押圧している状態である。
【００４７】
状態４は、抵抗膜方式座標検出部２０および静電容量方式座標検出部３０でタッチ検出があり、抵抗膜方式座標検出部２０のタッチ検出位置と静電容量方式座標検出部３０のタッチ検出位置とが一致するタッチ検出状態である。状態４は、たとえば誘電体がタッチパネルモニタ１１を押圧している状態である。状態５は、抵抗膜方式座標検出部２０および静電容量方式座標検出部３０でタッチ検出があり、抵抗膜方式座標検出部２０のタッチ検出位置と静電容量方式座標検出部３０のタッチ検出位置とが一致しないタッチ検出状態である。状態５は、たとえば非誘電体がタッチパネルモニタ１１を押圧しながら、手のひら等の誘電体がタッチパネルモニタ１１を押圧している状態である。
【００４８】
なお、抵抗膜方式座標検出部２０のタッチ検出位置と静電容量方式座標検出部３０のタッチ検出位置との一致とは、双方のタッチ検出位置が同一ポイントとみなせる所定の範囲内にあることをいい、あらかじめ定める閾値との比較により判定される。
【００４９】
次に、抵抗膜方式座標検出部２０におけるタッチ位置検出について図６から図１１を用いて説明する。抵抗膜方式座標検出部２０は、たとえば、タッチ検出状態（状態３）のように１点タッチによるタッチ位置検出をおこなう場合と、タッチ検出状態（状態５）のように２点タッチによるタッチ位置検出をおこなう場合とがある。
【００５０】
先に、抵抗膜方式座標検出部２０における１点タッチ時のタッチ位置検出について図６から図８を用いて説明し、その後に、抵抗膜方式座標検出部２０における２点タッチ時のタッチ位置検出について図９から図１１を用いて説明する。
【００５１】
まず、タッチ検出状態の状態３について図６を用いて説明する。図６は、タッチパネルモニタにおけるタッチ検出状態（状態３）の一例を示す図である。
図示する状態３は、非誘電体であるタッチペン１２がタッチパネルモニタ１１を押圧している状態である。抵抗膜方式座標検出部２０は、タッチ位置Ｐ１（ｘ１，ｙ１）を検出し、静電容量方式座標検出部３０は、タッチ位置を検出しない。
【００５２】
次に、状態３におけるタッチ位置Ｐ１のうちｘ座標の検出について図７を用いて説明する。図７は、第２の実施形態の抵抗膜方式座標検出部における１点タッチ時のタッチ位置（ｘ座標）検出の一例を示す図である。
【００５３】
抵抗膜方式タッチセンサ２０ａは、ｘ座標検出タイミングでＸ側抵抗膜２１に電圧Ｖを印加する。タッチ位置Ｐ１でタッチがあったとき、抵抗膜方式タッチセンサ２０ａは、タッチ位置Ｐ１でＸ側抵抗膜２１とＹ側抵抗膜２３とを導通する。このとき、Ｘ側抵抗膜２１の抵抗値は、タッチ位置Ｐ１でＲｘ１とＲｘ２とに分割される。これにより、抵抗膜方式座標検出部２０は、分圧された電圧Ｖｘ１をＹ側抵抗膜２３から検出する。
【００５４】
また、１点タッチ時の電圧Ｖｘは、以下に示す（１）式により算出できる。
Ｖｘ  ＝  Ｖ（Ｒｘ１／（Ｒｘ１＋Ｒｘ２））  ・・・（１）
したがって、タッチ位置Ｐ１のｘ座標ｘ１は、（１）式を用いたＡ／Ｄ変換により電圧Ｖｘ１から算出できる。
【００５５】
次に、状態３におけるタッチ位置Ｐ１のうちｙ座標の検出について図８を用いて説明する。図８は、第２の実施形態の抵抗膜方式座標検出部における１点タッチ時のタッチ位置（ｙ座標）検出の一例を示す図である。
【００５６】
抵抗膜方式タッチセンサ２０ａは、ｙ座標検出タイミングでＹ側抵抗膜２３に電圧Ｖを印加する。このとき、Ｙ側抵抗膜２３の抵抗値は、タッチ位置Ｐ１でＲｙ１とＲｙ２とに分割される。これにより、抵抗膜方式座標検出部２０は、分圧された電圧Ｖｙ１をＸ側抵抗膜２１から検出する。
【００５７】
また、１点タッチ時の電圧Ｖｙは、以下に示す（２）式により算出できる。
Ｖｙ  ＝  Ｖ（Ｒｙ１／（Ｒｙ１＋Ｒｙ２））  ・・・（２）
したがって、タッチ位置Ｐ１のｙ座標ｙ１は、（２）式を用いたＡ／Ｄ変換により電圧Ｖｙ１から算出できる。
【００５８】
次に、抵抗膜方式座標検出部２０における２点タッチ時のタッチ位置検出について説明する。まず、タッチ検出状態の状態５について図９を用いて説明する。図９は、第２の実施形態のタッチパネルモニタにおけるタッチ検出状態（状態５）の一例を示す図である。
【００５９】
図示する状態５は、非誘電体であるタッチペン１２がタッチパネルモニタ１１を押圧しながら、誘電体である手のひら１３がタッチパネルモニタ１１を押圧している状態である。抵抗膜方式座標検出部２０は、タッチペン１２のタッチ位置Ｐ３（ｘ３，ｙ３）と、手のひら１３のタッチ位置Ｐ２（ｘ２，ｙ２）とで同時に押圧されることから、合成位置Ｐ１（ｘ１，ｙ１）を検出する。合成位置Ｐ１は、タッチ位置Ｐ３およびタッチ位置Ｐ２と異なる。
【００６０】
一方、静電容量方式座標検出部３０は、誘電体である手のひら１３がタッチパネルモニタ１１に接触していることから、タッチ位置Ｐ２を検出する。すなわち、静電容量方式座標検出部３０は、抵抗膜方式座標検出部２０と異なるタッチ位置を検出する。
【００６１】
したがって、タッチ位置検出部１００１は、タッチ位置（合成位置）Ｐ１と、タッチ位置Ｐ２のいずれとも異なるタッチ位置Ｐ３を検出することが求められる。
次に、状態５におけるタッチ位置Ｐ３のうちｘ座標の検出について図１０を用いて説明する。図１０は、第２の実施形態の抵抗膜方式座標検出部における２点タッチ時のタッチ位置（ｘ座標）検出の一例を示す図である。
【００６２】
抵抗膜方式タッチセンサ２０ａは、ｘ座標検出タイミングでＸ側抵抗膜２１に電圧Ｖを印加する。タッチ位置Ｐ２とタッチ位置Ｐ３とでタッチがあったとき、抵抗膜方式タッチセンサ２０ａは、タッチ位置Ｐ２とタッチ位置Ｐ３とでＸ側抵抗膜２１とＹ側抵抗膜２３とを導通する。このとき、Ｘ側抵抗膜２１の抵抗値は、タッチ位置Ｐ２とタッチ位置Ｐ３とでＲｘ１とＲｘ２とＲｘ３とに分割される。これにより、抵抗膜方式座標検出部２０は、分圧された電圧Ｖｘ１をＹ側抵抗膜２３から検出する。
【００６３】
なお、２点タッチ時のタッチ位置のｘ座標と、電圧Ｖｘとは、以下に示す（３）式の関係にある。
Ｖｘ  ＝  （Ｖ／（Ｒｘ１＋Ｒｘ２＋（１／２）Ｒｘ３））×（Ｒｘ１＋（１／２Ｒｘ３））  ・・・（３）
すなわち、抵抗膜方式座標検出部２０が検出したタッチ位置Ｐ１のｘ座標がｘ１だった場合、ｘ座標ｘ１は、（３）式を用いたＡ／Ｄ変換により電圧Ｖｘ１から算出できる。
【００６４】
また、静電容量方式座標検出部３０が検出したタッチ位置Ｐ２のｘ座標がｘ２だった場合、タッチ位置Ｐ２の電圧Ｖｘは、以下に示す（４）式により算出できる。
Ｖｘ  ＝  （Ｖ／（Ｒｘ１＋Ｒｘ２＋（１／２）Ｒｘ３））×Ｒｘ１  ・・・（４）
したがって、静電容量方式座標検出部３０が検出したタッチ位置Ｐ２のｘ座標がｘ２だった場合、ｘ座標ｘ２に対応する電圧Ｖｘ２は、（４）式を用いたＤ／Ａ変換によりｘ座標ｘ２から算出できる。
【００６５】
これにより、タッチ位置検出部１００１は、電圧Ｖｘ１と電圧Ｖｘ２を得ることから、タッチ位置Ｐ３に対応する電圧Ｖｘ３を、以下に示す（５）式により算出できる。
Ｖｘ３  ＝  Ｖｘ１−Ｖｘ２  ・・・（５）
したがって、タッチ位置Ｐ３のｘ座標ｘ３は、（５）式を用いたＡ／Ｄ変換により電圧Ｖｘ３から算出できる。
【００６６】
次に、状態５におけるタッチ位置Ｐ３のうちｙ座標の検出について図１１を用いて説明する。図１１は、第２の実施形態の抵抗膜方式座標検出部における２点タッチ時のタッチ位置（ｙ座標）検出の一例を示す図である。
【００６７】
抵抗膜方式タッチセンサ２０ａは、ｙ座標検出タイミングでＹ側抵抗膜２３に電圧Ｖを印加する。このとき、Ｙ側抵抗膜２３の抵抗値は、タッチ位置Ｐ２とタッチ位置Ｐ３とでＲｙ１とＲｙ２とＲｙ３とに分割される。これにより、抵抗膜方式座標検出部２０は、分圧された電圧Ｖｙ１をＸ側抵抗膜２１から検出する。
【００６８】
なお、２点タッチ時のタッチ位置のｙ座標と、電圧Ｖｙとは、以下に示す（６）式の関係にある。
Ｖｙ  ＝  Ｖ／（（１／２）（Ｒｙ１＋Ｒｙ２））×Ｒｙ１＋Ｖ／（（１／２）（Ｒｙ１＋Ｒｙ２））×Ｒｙ１  ・・・（６）
すなわち、抵抗膜方式座標検出部２０が検出したタッチ位置Ｐ１のｙ座標がｙ１だった場合、ｙ座標ｙ１は、（６）式を用いたＡ／Ｄ変換により電圧Ｖｙ１から算出できる。
【００６９】
また、静電容量方式座標検出部３０が検出したタッチ位置Ｐ２のｙ座標がｙ２だった場合、タッチ位置Ｐ２の電圧Ｖｙは、以下に示す（７）式により算出できる。
Ｖｙ  ＝  （Ｖ／（１／２）（Ｒｙ１＋Ｒｙ２））×Ｒｙ１・・・（７）
したがって、静電容量方式座標検出部３０が検出したタッチ位置Ｐ２のｙ座標がｙ２だった場合、ｙ座標ｙ２に対応する電圧Ｖｙ２は、（７）式を用いたＤ／Ａ変換によりｙ座標ｙ２から算出できる。
【００７０】
これにより、タッチ位置検出部１００１は、電圧Ｖｙ１と電圧Ｖｙ２を得ることから、タッチ位置Ｐ３に対応する電圧Ｖｙ３を、以下に示す（８）式により算出できる。
Ｖｙ３  ＝  Ｖｙ１−Ｖｙ２  ・・・（８）
したがって、タッチ位置Ｐ３のｙ座標ｙ３は、（８）式を用いたＡ／Ｄ変換により電圧Ｖｙ３から算出できる。
【００７１】
次に、第２の実施形態のタッチ位置検出処理について図１２を用いて説明する。図１２は、第２の実施形態のタッチ位置検出処理のフローチャートを示す図である。
タッチ位置検出処理は、タッチ検出状態に応じたタッチ位置検出をおこなう処理である。タッチ位置検出処理は、タッチ位置検出部１００１によって、電子機器１０の起動後に所定周期で実行される処理である。タッチ位置検出部１００１は、プロセッサ１０１が所要のプログラムを実行することにより実現する。
【００７２】
［ステップＳ１１］タッチ位置検出部１００１は、抵抗膜方式座標検出部２０がタッチ位置を検出したか否かを判定する。タッチ位置検出部１００１は、抵抗膜方式座標検出部２０がタッチ位置を検出していない場合にステップＳ１２に進み、タッチ位置を検出した場合にステップＳ１５に進む。
【００７３】
［ステップＳ１２］タッチ位置検出部１００１は、静電容量方式座標検出部３０がタッチ位置を検出したか否かを判定する。タッチ位置検出部１００１は、静電容量方式座標検出部３０がタッチ位置を検出した場合にステップＳ１３に進む。一方、タッチ位置検出部１００１は、静電容量方式座標検出部３０がタッチ位置を検出しない場合、すなわちタッチ検出状態が状態１に相当する場合にタッチ位置検出処理を終了する。
【００７４】
［ステップＳ１３］タッチ位置検出部１００１は、静電容量方式座標検出部３０によるタッチ位置検出が所定時間継続したか否かを判定する。タッチ位置検出部１００１は、静電容量方式座標検出部３０によるタッチ位置検出が所定時間継続した場合にステップＳ１４に進む。一方、タッチ位置検出部１００１は、静電容量方式座標検出部３０によるタッチ位置検出が所定時間継続しない場合、すなわちタッチ位置検出がノイズとみなせる場合もタッチ検出状態が状態１に相当するとしてタッチ位置検出処理を終了する。これにより、タッチ位置検出部１００１は、当該判定によりノイズキャンセル機能の１つを実現する。
【００７５】
［ステップＳ１４］タッチ位置検出部１００１は、状態２に相当するタッチ検出状態であることから、静電容量方式座標検出部３０によるタッチ位置検出をおこない、たとえば、検出したタッチ位置を所要のメモリに格納する。タッチ位置検出部１００１は、静電容量方式座標検出部３０によるタッチ位置検出後に、タッチ位置検出処理を終了する。
【００７６】
［ステップＳ１５］タッチ位置検出部１００１は、静電容量方式座標検出部３０がタッチ位置を検出したか否かを判定する。タッチ位置検出部１００１は、静電容量方式座標検出部３０がタッチ位置を検出しない場合にステップＳ１６に進み、タッチ位置を検出した場合にステップＳ１７に進む。
【００７７】
［ステップＳ１６］タッチ位置検出部１００１は、状態３に相当するタッチ検出状態であることから、抵抗膜方式座標検出部２０によるタッチ位置検出をおこない、たとえば、検出したタッチ位置を所要のメモリに格納する。タッチ位置検出部１００１は、抵抗膜方式座標検出部２０によるタッチ位置検出後に、タッチ位置検出処理を終了する。
【００７８】
［ステップＳ１７］タッチ位置検出部１００１は、抵抗膜方式座標検出部２０よりも静電容量方式座標検出部３０を優先するか否かを判定する。タッチ位置検出部１００１は、抵抗膜方式座標検出部２０よりも静電容量方式座標検出部３０を優先する場合にステップＳ１８に進み、優先しない場合にステップＳ１９に進む。
【００７９】
なお、タッチ位置検出部１００１は、抵抗膜方式座標検出部２０で検出したタッチ位置と静電容量方式座標検出部３０が検出したタッチ位置とが一致するときに、静電容量方式座標検出部３０の優先を判定する。なお、タッチ位置検出部１００１は、別途設定する優先条件（たとえば、起動中のアプリケーションに応じた優先設定）により、静電容量方式座標検出部３０の優先判定をおこなうものであってもよい。
【００８０】
［ステップＳ１８］タッチ位置検出部１００１は、状態４に相当するタッチ検出状態であることから、静電容量方式座標検出部３０によるタッチ位置検出をおこない、たとえば、検出したタッチ位置を所要のメモリに格納する。タッチ位置検出部１００１は、静電容量方式座標検出部３０によるタッチ位置検出後に、タッチ位置検出処理を終了する。
【００８１】
［ステップＳ１９］タッチ位置検出部１００１は、状態５に相当するタッチ検出状態であることから、検出位置補正処理を実行する。検出位置補正処理は、静電容量方式座標検出部３０により検出したタッチ位置にもとづいて、抵抗膜方式座標検出部２０により検出したタッチ位置を補正する処理である。検出位置補正処理については、図１３を用いて後で詳述する。
【００８２】
［ステップＳ２０］タッチ位置検出部１００１は、抵抗膜方式補正処理による補正結果からタッチ位置検出をおこない、たとえば、検出したタッチ位置を所要のメモリに格納する。タッチ位置検出部１００１は、補正結果によるタッチ位置検出後に、タッチ位置検出処理を終了する。
【００８３】
これにより、タッチ位置検出部１００１は、ペン１２を用いたタッチ入力時にタッチパネルモニタ１１に手のひら等が接触しても、ペンダウンによるタッチ位置を精度よく検出することができる。
【００８４】
したがって、電子機器１０は、タッチパネルモニタ１１におけるタッチ位置の検出精度を向上できる。
次に、第２の実施形態の検出位置補正処理について図１３を用いて説明する。図１３は、第２の実施形態の検出位置補正処理のフローチャートを示す図である。
【００８５】
検出位置補正処理は、静電容量方式座標検出部３０により検出したタッチ位置にもとづいて、抵抗膜方式座標検出部２０により検出したタッチ位置を補正する処理である。検出位置補正処理は、タッチ位置検出部１００１によって、タッチ位置検出処理のステップＳ１９で実行される処理である。
【００８６】
［ステップＳ２１］タッチ位置検出部１００１は、抵抗膜方式座標検出部２０が検出したタッチ位置を取得する。
［ステップＳ２２］タッチ位置検出部１００１は、静電容量方式座標検出部３０が検出したタッチ位置を取得する。
【００８７】
［ステップＳ２３］タッチ位置検出部１００１は、ｘ座標変換テーブルを参照する。ｘ座標変換テーブルは、（３）式から（５）式にそれぞれ対応して、タッチ位置ｘ座標と電圧とを相互に変換可能なテーブルである。
【００８８】
［ステップＳ２４］タッチ位置検出部１００１は、ｘ座標変換テーブルを用いて、抵抗膜方式座標検出部２０が検出したタッチ位置ｘ座標を電圧Ｖｘ１に変換（Ｄ／Ａ変換）し、静電容量方式座標検出部３０が検出したタッチ位置ｘ座標を電圧Ｖｘ２に変換（Ｄ／Ａ変換）する。
【００８９】
［ステップＳ２５］タッチ位置検出部１００１は、電圧Ｖｘ１と電圧Ｖｘ２とから補正位置の電圧Ｖｘ３を算出する。
［ステップＳ２６］タッチ位置検出部１００１は、ｘ座標変換テーブルを用いて、補正位置の電圧Ｖｘ３を補正位置のｘ座標に変換（Ａ／Ｄ変換）する。
【００９０】
［ステップＳ２７］タッチ位置検出部１００１は、ｙ座標変換テーブルを参照する。ｙ座標変換テーブルは、（６）式から（８）式にそれぞれ対応して、タッチ位置ｙ座標と電圧とを相互に変換可能なテーブルである。
【００９１】
［ステップＳ２８］タッチ位置検出部１００１は、ｙ座標変換テーブルを用いて、抵抗膜方式座標検出部２０が検出したタッチ位置ｙ座標を電圧Ｖｙ１に変換（Ｄ／Ａ変換）し、静電容量方式座標検出部３０が検出したタッチ位置ｙ座標を電圧Ｖｙ２に変換（Ｄ／Ａ変換）する。
【００９２】
［ステップＳ２９］タッチ位置検出部１００１は、電圧Ｖｙ１と電圧Ｖｙ２とから補正位置の電圧Ｖｙ３を算出する。
［ステップＳ３０］タッチ位置検出部１００１は、ｙ座標変換テーブルを用いて、補正位置の電圧Ｖｙ３を補正位置のｙ座標に変換（Ａ／Ｄ変換）し、その後に検出位置補正処理を終了する。
【００９３】
これにより、タッチ位置検出部１００１は、手のひらのタッチに相当する静電容量方式座標検出部３０が検出したタッチ位置をキャンセルすることができる。また、タッチ位置検出部１００１は、ペンタッチに相当するタッチ位置を生成することができる。
【００９４】
次に、ｘ座標変換テーブルについて図１４を用いて説明する。図１４は、第２の実施形態のｘ座標変換テーブルの一例を示す図である。ｘ座標変換テーブル３００は、ｘ座標と、抵抗膜方式タッチセンサ２０ａがｘ座標として出力する電圧値との関係を示す。タッチ位置検出部１００１は、ｘ座標変換テーブル３００を参照することで、（３）式から（５）式にそれぞれ対応して、タッチ位置ｘ座標と電圧とを相互に変換できる。
【００９５】
なお、図示しないがｙ座標変換テーブルもｘ座標変換テーブル３００と同様の構成を有する。ｘ座標変換テーブル３００は、ｘ座標（位置情報）と抵抗膜方式タッチセンサ２０ａが検出する電圧値との関係を示す関係情報の一形態であり、ｙ座標変換テーブルは、ｙ座標（位置情報）と抵抗膜方式タッチセンサ２０ａが検出する電圧値との関係を示す関係情報の一形態である。ｘ座標変換テーブル３００とｙ座標変換テーブルは、たとえば、ＲＡＭ１０２に記憶される。
【００９６】
なお、上記の処理機能は、コンピュータによって実現することができる。その場合、情報処理装置１および電子機器１０が有すべき機能の処理内容を記述したプログラムが提供される。そのプログラムをコンピュータで実行することにより、上記処理機能がコンピュータ上で実現される。処理内容を記述したプログラムは、コンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録しておくことができる。コンピュータで読み取り可能な記録媒体としては、磁気記憶装置、光ディスク、光磁気記録媒体、半導体メモリ等がある。磁気記憶装置には、ハードディスク装置（ＨＤＤ）、フレキシブルディスク（ＦＤ）、磁気テープ等がある。光ディスクには、ＤＶＤ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＣＤ−ＲＯＭ／ＲＷ等がある。光磁気記録媒体には、ＭＯ（Magneto-Optical disk）等がある。
【００９７】
プログラムを流通させる場合には、たとえば、そのプログラムが記録されたＤＶＤ、ＣＤ−ＲＯＭ等の可搬型記録媒体が販売される。また、プログラムをサーバコンピュータの記憶装置に格納しておき、ネットワークを介して、サーバコンピュータから他のコンピュータにそのプログラムを転送することもできる。
【００９８】
プログラムを実行するコンピュータは、たとえば、可搬型記録媒体に記録されたプログラムもしくはサーバコンピュータから転送されたプログラムを、自己の記憶装置に格納する。そして、コンピュータは、自己の記憶装置からプログラムを読み取り、プログラムに従った処理を実行する。なお、コンピュータは、可搬型記録媒体から直接プログラムを読み取り、そのプログラムに従った処理を実行することもできる。また、コンピュータは、ネットワークを介して接続されたサーバコンピュータからプログラムが転送されるごとに、逐次、受け取ったプログラムに従った処理を実行することもできる。
【００９９】
また、上記の処理機能の少なくとも一部を、ＤＳＰ、ＡＳＩＣ、ＰＬＤ等の電子回路で実現することもできる。
【符号の説明】
【０１００】
１  情報処理装置
１ａ  制御部
２  タッチパネル
２ａ  第１センサ
２ｂ  第２センサ
１０  電子機器
１１  タッチパネルモニタ
２０  抵抗膜方式座標検出部
３０  静電容量方式座標検出部
４０  液晶パネルコントローラ
５０  バックライトコントローラ
１００  コンピュータ
１００１  タッチ位置検出部
【図１】
0006613854.tif 000002
【図２】
0006613854.tif 000003
【図３】
0006613854.tif 000004
【図４】
0006613854.tif 000005
【図５】
0006613854.tif 000006
【図６】
0006613854.tif 000007
【図７】
0006613854.tif 000008
【図８】
0006613854.tif 000009
【図９】
0006613854.tif 000010
【図１０】
0006613854.tif 000011
【図１１】
0006613854.tif 000012
【図１２】
0006613854.tif 000013
【図１３】
0006613854.tif 000014
【図１４】
0006613854.tif 000015