(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも１つの電気接触部（４０，５０）を有する部品（１０）の電気接触のための方法であって、
前記少なくとも１つの接触部（４０，５０）に少なくとも１つの開気孔接触片（６０，７０，６０’，７０’）がガルバニック接合され、
前記少なくとも１つの開気孔接触片（６０，７０，６０’，７０’）が、多孔質材料又は多孔質材料を含む材料から形成されている、方法。
【請求項２】
少なくとも１つの電気接触部（４０，５０）を有する部品（１０）の電気接触のための方法であって、
前記少なくとも１つの接触部（４０，５０）に少なくとも１つの開気孔接触片（６０，７０，６０’，７０’）がガルバニック接合され、
前記少なくとも１つの開気孔接触片（６０，７０，６０’，７０’）が、織物構造、発泡構造およびメッシュ構造の少なくとも１つで形成されている、方法。
【請求項３】
前記少なくとも１つの接触部（４０，５０）が、少なくともそれ自体としては平らな部材である部品（１０）、および前記少なくとも１つの接触部（４０，５０）が有する接触面の最大限の平面的広がりがその接触面に対して垂直方向の当該接触部の広がりよりも大きい部品（１０）の少なくとも一方が使用される、請求項１または２記載の方法。
【請求項４】
前記少なくとも１つの接触片（６０，７０，６０’，７０’）として、導電性の開気孔接触片（６０，７０，６０’，７０’）が使用される、請求項１または２記載の方法。
【請求項５】
前記少なくとも１つの開気孔接触片（６０，７０，６０’，７０’）が、金属又は金属を含む材料から形成されている、請求項１乃至４の１つに記載の方法。
【請求項６】
高々１００℃である温度、および、前記部品の動作温度から高々２０℃だけ偏差を有する温度の少なくとも一方において、前記少なくとも１つの開気孔接触片（６０，７０，６０’，７０’）が前記接触部（４０，５０）にガルバニック接合される、請求項１乃至５の１つに記載の方法。
【請求項７】
前記少なくとも１つの開気孔接触片（６０，７０，６０’，７０’）が、電気化学的めっき法によりガルバニック接合される、請求項１乃至６の１つに記載の方法。
【請求項８】
前記少なくとも１つの開気孔接触片（６０，７０，６０’，７０’）が、外部電流のない方法によりガルバニック接合される、請求項１乃至７の１つに記載の方法。
【請求項９】
前記部品（１０）が、前記接触片（６０，７０，６０’，７０’）により、
他の構成素子および電流導体の少なくとも一方に接触させられるか、
基板（９０）に接触させられるか、
または、他の構成素子および電流導体の少なくとも一方と基板（９０）に接触させられ、
その後に前記接触片（６０，７０，６０’，７０’）、前記部品（１０）、前記他の構成素子、電流導体および基板（９０）の少なくとも１つが電気絶縁層（１７０）を施される、請求項１乃至８の１つに記載の方法。
【請求項１０】
前記絶縁層（１７０）が、
キャスティングおよびモールドの少なくとも一方により形成されるか、
シロキサンおよびポリマーの少なくとも一方から形成されるか、またはシロキサンおよびポリマーの少なくとも一方を含んで形成されるか、
または、キャスティングおよびモールドの少なくとも一方により形成されるとともに、シロキサンおよびポリマーの少なくとも一方から形成されるか、またはシロキサンおよびポリマーの少なくとも一方を含んで形成される、
請求項９記載の方法。
【請求項１１】
前記部品（１０）としてパワー部品が使用される、請求項１乃至１０の１つに記載の方法。
【請求項１２】
前記部品（１０）として、少なくとも１つのトランジスタを有する部品が使用される、請求項１乃至１１の１つに記載の方法。
【請求項１３】
２つの接触部（４０，５０）を有する部品（１０）が使用され、接触部（４０，５０）ごとに少なくとも１つの開気孔接触片（６０，７０，６０’，７０’）が該接触部にガルバニック接合される、請求項１乃至１２の１つに記載の方法。
【請求項１４】
少なくとも１つの開気孔接触片（６０，７０，６０’，７０’）がガルバニック接合されている少なくとも１つの電気接触部（４０，５０）を有する部品を備えた部品モジュールであって、
前記少なくとも１つの開気孔接触片（６０，７０，６０’，７０’）が、多孔質材料又は多孔質材料を含む材料から形成されているか、又は、織物構造、発泡構造およびメッシュ構造の少なくとも１つで形成されている、部品モジュール。
【請求項１５】
請求項１乃至１３の１つに記載の方法により形成されている請求項１４記載の部品モジュール。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、導電接触部を備えた部品の電気接触方法および少なくとも１つの導電接触部を備えた部品を有する部品モジュールに関する。
【背景技術】
【０００２】
特にマイクロシステム技術およびパワーエレクトロニクスにおいては、例えば抵抗のような受動部品、例えばＩＧＢＴ、ダイオード、ＭＯＳＦＥＴ、ＬＥＤのような半導体部品、例えばＦＲ４、ＤＣＢ、ＡＮＭのような基板およびリードフレームの電気接触部が、構造技術および接続技術により互いに電気的に接続される。
【０００３】
基板への電気的な接触のために、導電接着剤による接着、いわゆるプリフォームのはんだ付け、はんだペーストによるはんだ付け、拡散はんだ付けならびに焼結のような方法が知られている。拡散はんだ付けおよび焼結の場合に、部品接触部も高温に耐える。
【０００４】
これに対して、基板から離れた接触は、通常、ワイヤボンディング技術（リボンボンディング技術も）や、例えばモリブデンの如き調整要素の助けを借りた加圧接触技術のような方法により実現されるか、又はプレーナ技術（例えば、ＳｉＰＬＩＴ、ＳｋｉｎおよびＤｉｒｅｃｔＦＥＴ）により実現される。しかし、加圧焼結又は低加圧焼結による接触の場合には、応力や破損に対して弱い電気接触部が生じる。さらに、このような焼結の方法は時間的および装置的に高価である。さらに、はんだ付けおよび焼結の方法は、接触させられるべき構成要素に高い温度を供給することを必要とし、従って熱に弱い部品には使用できないという欠点を有する。さらに、電気めっき、拡散はんだ付けおよび焼結は、非常に時間のかかる方法である。
【０００５】
これに対して、締付け接続又はばね接続又は押圧接続の場合に、必要不可欠の固定が、特に複数の接触部位の接触の際に、不利なことに著しい組立費用を必要とする。さらに、これらの接触方法は、不規則な加圧力に起因した部品破損のリスクがあるために、十分な信頼性がない。
【０００６】
これに対して、注入可能なはんだ材料（例えば、出願時点でIndium Cooperation社によって販売された「Heatspring」（登録商標））を用いた接触は、接触部の導電率が低いという結果に終わり、しかも複雑で高価である。
【０００７】
従って、これらの公知の方法には、基板への電気接触および基板から遠い電気接触を行うのに、次の必要条件を同時に満たすことが困難であるという欠点がある。
・複数の接触部を同時に形成すること。
・高い温度上昇なしに形成すること。
・高い圧力上昇なしに形成すること。
・数秒から数分までの時間範囲内で形成すること。
・接触部が大きな接触面を有すること。
・接触部が高い耐温性を有すること。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
従って、本発明の課題は、少なくとも１つの導電接触部を有する部品の、上記欠点を持たない電気接触方法を提供することにある。特に、本発明による方法により、高い温度上昇又は圧力上昇なしに迅速に大きな平面と耐温性とを有する複数の接触部を同時に接触させることができなければならない。さらに、本発明の課題は、このように接触させられた電気接触部を有する部品モジュールを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
この本発明の課題は、請求項１記載の特徴事項を有する方法と、請求項１５記載の特徴事項を有する部品モジュールとによって解決される。本発明の好ましい発展形態は、従属請求項、以下の記載および図面からもたらされる。
【００１０】
本発明による方法は、少なくとも１つの電気接触部を有する部品を電気的に接触させるための方法である。本発明による方法では、少なくとも１つの接触部に少なくとも１つの開気孔接触片がガルバニック接合される。その接触片の開気孔性は、多数の電解液通路を提供し、従って、電解液は外側から接触片と部品の電気接触部との接触面に到達することができる。理想的には接触片の開気孔材料が連続気泡構造を有し、その連続気泡構造を貫通して電解液が格別に効率良く通過することができる。
【００１１】
本発明による方法は、少なくとも潜在的に熱に弱い被接触部品において大きな温度上昇なしに有利に実施することができる。というのは、ガルバニック法は、通常高々１５０℃の比較的低い温度で実施されるからである。
【００１２】
さらに、本発明による方法により、部品の高い加圧負担を容易に回避することもできる。というのは、ガルバニック法は、加圧力を全く又は場合によっては僅かしか必要としないからである。
【００１３】
本発明による方法により、持続弾性を有する弾力性のある接触を容易に実現することができる。というのは、まさに開気孔材料が通常、持続弾性を有する弾力性のある材料特性を有するからである。
【００１４】
この出願での「ガルバニック接合される」という言い回しは、特に「ガルバノ技術による接合」、又は「めっき法による接合」を意味する。このガルバニック接合は、好ましくは電解液により、特に電解浴により行われる。
【００１５】
好ましくは、本発明による方法では、電解液が開気孔接触片の開気孔内に導入される。
【００１６】
この出願での「開気孔接触片」という用語は、気孔が外側から接触片の内部に通じている接触片を意味する。
【００１７】
好ましくは、本発明による方法では、前記接触片がガルバニック接合され、その際に、前記接触片および／又は前記部品の電気接触部が形成されている材料と同じ材料が析出される。
【００１８】
本発明による方法では、前記少なくとも１つの接触部が少なくともそれ自体としては平らな部材である部品が使用されると有利である。その代替又は追加として、前記接触部が有する接触面の最大限の平面的広がりが、この接触面に対して垂直方向の当該接触部の広がりよりも大きいことが好ましい。
【００１９】
まさに面接触による接触の場合には、本発明による方法が格別に有利であることが分かった。というのは、この方法により平面的な接触が容易に実現できるからである。特に、このようにして熱分散する接触が容易に達成できる。というのは、平面的な接触が、既に空間的なジオメトリに基づいて、強い熱分散を生じさせるからである。通常は熱分散のために必要な熱伝導性も付与されている。というのは、接触に必要である良好な導電性と、熱分散にとって望ましい良好な熱伝導性とが、典型的な材料に関しては通常、互いに付随して現れるからである。
【００２０】
本発明による方法では、少なくとも１つの接触片として導電性の接触片を使用するのが好適である。本発明による方法のこの発展形態では、接触接続を非常に速やかに実現することができる。というのは、接触部位に析出された材料により導電接続を実現するだけでよいからである。本発明による方法のこの発展形態では、接触片自体が既に大きな面積の導電通路であるので、大量の材料を析出することは必要でない。
【００２１】
本発明による有利な発展形態では、前記少なくとも１つの開気孔接触片が多孔質材料から又は多孔質材料を含んで形成されている。
【００２２】
本発明による方法では、前記少なくとも１つの開気孔接触片が金属から又は金属を含んで形成されており、該金属がニッケルおよび／又は銀および／又は金および／又は錫および／又は銅であると有利である。
【００２３】
本発明による方法では、前記少なくとも１つの開気孔接触片が織物構造および／又は発泡構造および／又はメッシュ構造で形成されていると適切である。
【００２４】
本発明による方法の有利な発展形態では、前記少なくとも１つの開気孔接触片が、前記接触部に次の温度においてガルバニック接合される、すなわち高々１００℃、好ましくは高々６０℃、特に高々２０℃、適切には高々５℃である温度、および／又は前記部品の動作温度から高々２０℃だけ、好ましくは高々１０℃だけ、特に高々５℃だけ、理想的には高々２℃だけずれた温度においてガルバニック接合される。低い温度で動作する場合には本発明による方法の実施時における部品の温度上昇を格別に少なく保つことができる。まさに温度に敏感な部品に対しては、本発明による方法のこの発展形態を選択するとよい。さらにガルバニック接合とその後の動作温度との温度差をできるだけ少なくするならば、前記部品は格別に少ない応力で接続されている。部品の予定動作温度が１００℃よりも高い温度であるならば、ガルバニック接合は１００℃よりも高い温度で行うのがよい。この場合には塩溶融に基づく金属析出法が有利に使用される。
【００２５】
好適には、本発明による方法では、前記少なくとも１つの開気孔接触片が、電気化学的めっき法によりガルバニック接合される。
【００２６】
本発明による方法のこの発展形態では、有利には導電接触片が使用され、電気化学的めっき法により金属がその接触片上に析出される。本発明による方法では、該方法において接触片上に析出されるべき金属を含んで形成されている陽極が使用されると有利である。この金属が銅であると有利である。代替としてかつ同様に有利には、金属としてニッケルおよび／又は銀および／又は金および／又は錫が使用される。
【００２７】
代替としてかつ同様に好ましくは、本発明による方法において、前記少なくとも１つの開気孔接触片が、外部電流のない方法により、特に置換メタライゼーションおよび／又は還元メタライゼーションおよび／又は接触メタライゼーションによりガルバニック接合される。外部電流のないめっき法の場合には、金属の析出が、その後の前記部品の動作温度にほぼ等しい動作温度で行われると有利である。それによって機械的応力が低減又は回避される。さらに同様に腐食保護を、特にニッケルのめっき、又はニッケルおよび金のめっきによって実現することができる。外部電流のない方法の他の利点は、前記部品自体が電気接触される必要がないことにある。従って、高価なシード層（英語の「Seed layers」）の析出および接触手段が必要でない。
【００２８】
本発明による方法の有利な発展形態では、当初それ自体は通り抜けのできない導電通路を形成している接触片、つまり厳密に言えば巨視的には導電性でない接触片が使用される。もっと正確に言うならば、その接触片は多数の金属島を有し、これらの金属島が、いわばメタライゼーション島として、（有利には外部電流のない）めっき法の経過中に初めて通り抜けのできる導電通路を形成する。
【００２９】
好ましくは、本発明による方法において、前記部品が、前記接触片により他の構成素子および／又は電流導体に、および／又は基板に接触させられ、その後に前記接触片および／又は前記部品および／又は前記他の構成素子および／又は電流導体および／又は基板が電気絶縁層を施される。
【００３０】
本発明による方法において、前記絶縁層が、キャスティングおよび／又はモールドにより、および／又はシロキサンおよび／又はポリマーで成形されると有利である。
【００３１】
本発明による方法の有利な発展形態では、部品としてパワー部品が使用される。
【００３２】
本発明による方法において、部品として少なくとも１つのトランジスタ、特に絶縁ゲート電極を有するバイポーラトランジスタ（絶縁ゲートバイポーラトランジスタ：ＩＧＢＴ）を有する部品が使用されると適切である。
【００３３】
本発明による方法では、２つの接触部を有する部品が使用され、好ましくは２つの接触部が該部品の互いに反対の方を向いている側面、特に平らな側面にあって、接触部ごとに該接触部に少なくとも１つの開気孔接触片が、好ましくはそれぞれ本発明による方法に従って既述のようにガルバニック接合されるとよい。
【００３４】
本発明による部品モジュールは、少なくとも１つの電気接触部を備えた部品を有する。その電気接触部には本発明に従って少なくとも１つの開気孔接触片がガルバニック接合されている。
【００３５】
本発明による部品モジュールが上述の如く本発明による方法により構築されていると格別に有利である。
【００３６】
本発明による部品モジュールの発展形態では、部品モジュールが積み重ねたスタックの様式で実現され、このスタックの複数の平面は、プリント板および／又は基板により形成されており、そのプリント板および／又は基板には部品が接触片により接合されている。さらに全ての平面の部品の接触部が同時に本発明による方法により接触させられると有利である。
【００３７】
本発明による部品モジュールの他の発展形態では、複数の部品が共通に１つの基板又は１つのプリント板の平坦面において、該基板又は該プリント板に接合されている。この発展形態においても、複数の部品が同時に本発明による方法により接触させられるとよい。
【００３８】
以下において、図面に示す実施例に基づいて本発明をさらに詳細に説明する。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】図１は、本発明による部品モジュールの第１実施例を製造するための本発明による方法の第１実施例を実施する前におけるセラミック基板へのパワー部品の配置を示す原理的な断面図である。
【図２】図２は、本発明による方法の第１ステップの実施時における図１によるパワー部品の配置を示す原理的断面図である。
【図３】図３は、本発明による方法の第１ステップの実施後における図１によるパワー部品の配置を示す原理的断面図である。
【図４】図４は、図３からの部分拡大図（Ａ）およびこの部分拡大図からの部分詳細図（Ｂ）である。
【図５】図５は、図１乃至４による方法ステップ後における本発明による部品モジュールを示す原理的断面図である。
【図６】図６は、本発明による部分モジュールの他の実施例を製造するための本発明による方法の他の実施例を実施する前におけるセラミック基板へのパワー部品の配置を示す原理的断面図である。
【図７】図７は、本発明による方法の他の実施例の第１ステップの実施時における図６によるパワー部品の配置を示す原理的断面図である。
【図８】図８は、図６および７による方法ステップ後の本発明による部分モジュールの他の実施例を示す原理的断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００４０】
図１に示されている部品１０は、絶縁ゲート電極を有するバイポーラトランジスタ（英語の「insulated-gate bipolar transistor」:ＩＧＢＴ）であり、互いに反対の方を向いている第１の平らな側面２０および第２の平らな側面３０を有する。第１の平らな側面２０および第２の平らな側面３０に沿って、パワー部品１０の薄膜状の面接触部４０，５０が延びており、これらの面接触部は平面状のチップメタライゼーションとして形成されている。図示の実施例では、パワー部品１０の図１において上側に配置された面接触部４０が銅からなるのに対し、パワー部品１０の下側に配置された面接触部５０が銀からなる。基本的には、上側の面接触部も、銀から、又は銀を含んで形成されていてもよいし、あるいはＡｌＳｉＣｕ、その他の金属又はその他の導電材料から、又はＡｌＳｉＣｕ、その他の金属又はその他の導電材料を含んで形成されていてもよい。これに対して、下側の面接触部は、金又はその他の金属又はその他の導電材料から、又は金又はその他の金属又はその他の導電材料を含んで形成されていてもよい。
【００４１】
これらの面接触部４０，５０の接触のために、面接触部４０，５０には開気孔材料の接触片６０，７０が配置され、これらの接触片６０，７０は、面接触部４０，５０に沿ってほぼ平面状に延びている。図示の実施例では、接触片６０，７０は導電性に形成されており、かつ銅スポンジとして実現されている。特に図示されていないがその他の点では図に基づいて説明されている実施例に相当する他の実施例において、開気孔接触片６０，７０は、その他の開気孔導電材料からなっていてもよく、例えばメッシュ構造又は織物構造又はその他の多孔質構造として形成されたアルミニウムの接触片又はチタンの接触片、又はその他の金属から又はその他の金属を含んで形成された接触片であってよい。例えば、導電材料により特定範囲を被覆されたポリマースポンジ又は導電粒子を混合されたポリマースポンジも、接触片として使用することができる。
【００４２】
パワー部品１０の一方の面接触部５０は、窒化アルミニウム（ＡｌＮ）からなるセラミックコア１００を有するセラミック基板９０の他の面接触部８０の方を向いている。基本的にはセラミックコア１００は、特に図示されていない他の実施例において、異なるセラミック材料からなっていてよいし、あるいはシリコンおよび／又はエポキシ樹脂からなるＦＲ４又はその他の基材のようなプリント基板材料からなっていてよい。セラミック基板９０の他の面接触部８０は、表面的な基板メタライゼーションとして、図示の実施例では銅の基板メタライゼーションとして形成されている。パワー部品１０におけるセラミック基板９０の方を向いている面接触部５０と、他の面接触部８０とは、互いに平行に延びており、従って平らな間隙を形成している。セラミック基板９０の方を向いているその面接触部５０に配置された接触片７０は、この平らな間隙を完全に埋めており、全体にわたって、パワー部品１０のこの面接触部５０とセラミック基板９０の他の面接触部８０とに接触している。それゆえ、接触片７０は、パワー部品１０とセラミック基板９０との接触のために配置されている。
【００４３】
開気孔接触片６０，７０は、他の方法ステップにおいて、電極１１０，１２０に接触させられる（図２）。そのために一方では、第１の電極１１０が、セラミック基板９０と反対の方を向いている面接触部４０上に配置されている接触片６０の（パワー部品１０から遠い方の）外側面１３０に電気的に接触させられる。他の電極、すなわち第２の電極１２０は、パワー部品１０とセラミック基板９０との間にある接触片に接している銅の面接触部８０に電気的に接触させられる。第１の電極１１０は同時に固定要素として作用し、この固定要素は、本発明の方法の経過中、パワー部品１０、セラミック基板９０および接触片６０，７０からなるパワーモジュールの固定を保証する。そのために、第１の電極１１０は、詳しく示されていない締付け装置によりセラミック基板９０の方向に力を加えられる。その代わりに、その他の点では図示の実施例に相当する他の実施例では、電極１１０が固定要素として形成されずに、接触片６０，７０の固定が導電接着剤により行われる。その接着剤の導電性によって、接触片６０，７０における電気的接触を簡単に行うことができる。
【００４４】
開気孔接触片６０，７０と電極１１０，１２０との接触によって、（公知の）電気化学的めっき法により、金属が、図示の実施例では銅が、開気孔接触片６０，７０と面接触部４０，５０，８０との間の領域に析出する（図３）。図示の実施例では、その析出された材料が、チップメタリゼーション又はセラミック基板メタリゼーションと接触片６０，７０とに沿って平面状に延びている層１３２，１３４，１３６を形成する。この析出の結果、同時に開気孔接触片６０，７０のそれぞれがパワー部品１０と結合する。その際に、全ての接触片６０，７０が、同時に、該接触片が接している各接触部４０，５０，８０と結合する。
【００４５】
パワー部品１０、接触片７０およびセラミック基板９０の上記の実施例に基づいて実現された部品接触部が、図４Ａに現実的な部分拡大図で示されている。この部分拡大図は、パワー部品１０とセラミック基板９０との間にある接触片７０の接合を示す。図４Ｂの詳細図はパワー部品１０への接触片７０の接合を示す。接触片７０の一側面すなわちパワー部品１０の方を向いた側面１４０と、パワー部品１０のチップメタライゼーションの一側面すなわち接触面７０の方を向いた側面１５０との間において、ガルバニック接合の過程で、介在する銅の粒成長が起こり、その粒成長によって介在領域１６０が金属で埋められたことが認識できる。  
【００４６】
後続の処理ステップでは、セラミック基板９０と接触させられたパワー部品１０とからなる本発明によるパワーモジュールが、絶縁材料１７０で、図示の例ではシロキサンで被覆される（図５）。特に図示されていないがその他の点では図示の実施例に相当する他の実施例では、それとは異なる絶縁材料１７０、例えばポリマーが使用される。
【００４７】
図６乃至８に示された他の実施例では、電気化学的めっき法の代わりに、外部電流のない（無電解）めっき法が使用される。それに応じて、この実施例は次の点で図１〜５に示された実施例と異なる。すなわち、公知の如く、外部電流のないめっき法にとって、電極１１０，１２０を用いた接触は必要でない。従って、第１の電極１１０の代わりに、固定要素１８０だけが存在する（図６）。固定要素１８０は、詳しく図示されていない締付け装置によりセラミック基板９０の方向に力を加えられ、それによってパワーモジュールが本発明による方法の経過中、一体に保持される。それの代替として、その他の点では図示の実施例に相当する他の実施例では、固定要素１８０が設けられず、その代わりに接触片６０’，７０’の固定が接着剤により（例えば、小さな接着点により）行われる。
【００４８】
外部電流のないめっき法により、公知の方法で金属が、図示の実施例では銅が、開気孔接触片６０’，７０’とパワー部品１０との間の領域に析出する（図７）。図示の実施例では、析出材料が、チップメタライゼーション又はセラミック基板メタライゼーションと接触片６０’，７０’とに沿って平面的に延びている層を形成している。この析出によって、同時にそれぞれ開気孔接触片６０’，７０’がパワー部品１０と結合する。  
【００４９】
その他の点では図６乃至８に基づいて説明した実施例に相当する他の実施例では、当初それ自体は通り抜けのできない導電通路を形成する接触片が使用される。その接触片は、もっと正確に言えば、多数の銅の金属島を有し、これらの金属島は、いわばメタライゼーション島として外部電流のないめっき法の経過中に、上述のように最初のうちは通り抜けのできない導電通路を形成している。
【００５０】
後続の処理ステップにおいて、セラミック基板９０と接触させられたパワー部品１０とからなる本発明によるパワーモジュールが、絶縁材料１７０、図示の例ではシロキサンで被覆される（図８）。その他の点では図示の実施例に相当する特に図示されていない他の実施例では、異なる絶縁材料１７０、例えばポリマーが使用される。
【００５１】
上述の実施例と同様に、他の実施例では、めっきされる金属は銅の代わりにその他の金属であってもよい。
【００５２】
特に図示されていない他の実施例では、本発明によるパワーモジュールが、複数のセラミック基板又はその他の基板を積み重ねたスタックの様式で実現されているとよい。電子的な接触が、複数の平面で同時に本発明による方法により行われるとよい。代替として、付加的に１つの個別平面において複数の部品が、本発明による方法により同時に接触させられてもよい。
【符号の説明】
【００５３】
１０          部品
４０          接触部
５０          接触部
６０，６０’  開気孔接触片
８０          面接触部
９０          セラミック基板
７０，７０’  開気孔接触片
１００        セラミックコア
１１０        電極
１２０        電極
１３０        外側面
１４０        側面
１５０        側面
１６０        介在領域
１７０        絶縁材料
１８０        固定要素
【図１】
0006550477.tif 000002
【図２】
0006550477.tif 000003
【図３】
0006550477.tif 000004
【図４】
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【図５】
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【図６】
0006550477.tif 000007
【図７】
0006550477.tif 000008
【図８】
0006550477.tif 000009