(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像形成装置であって、
記録媒体を、所定の搬送方向に搬送する搬送ユニットと、
前記所定の搬送方向であるＹ方向、及び、前記Ｙ方向と交わるＸ方向のそれぞれに、一定のピッチで配列される格子点を含む二次元格子における前記格子点上に、画素が選択的に配置されて構成される画像を、前記記録媒体に形成する第一の画像形成ユニットと、
前記第一の画像形成ユニットよりも前記搬送方向下流に配置され、前記搬送ユニットにより搬送されてきた前記記録媒体に前記画像を形成する第二の画像形成ユニットと、
前記第一の画像形成ユニット、前記第二の画像形成ユニット、及び前記搬送ユニットを制御するコントローラと、
を備え、
前記コントローラは、
前記第一の画像形成ユニットが、第一のテストパターンを前記記録媒体に形成するように、前記第一の画像形成ユニットを制御する第一の形成制御処理と、
前記搬送ユニットが前記記録媒体を前記搬送方向下流に搬送するように、前記搬送ユニットを制御する搬送制御処理と、
前記第二の画像形成ユニットが、第二のテストパターンを前記記録媒体に形成するように、前記第二の画像形成ユニットを制御する第二の形成制御処理であって、前記記録媒体に形成された前記第一のテストパターンが前記第二のテストパターンと交差又は近接する位置まで前記記録媒体が搬送されたことを条件に、前記第二の画像形成ユニットに前記第二のテストパターンを形成させる第二の形成制御処理と、
を実行するように構成され、
前記第一のテストパターンは、前記二次元格子における任意の格子点から、この任意の格子点を０番目として、前記Ｘ方向にＡ１番目、且つ、前記Ｙ方向にＢ１番目（但しＢ１＜Ａ１）の格子点へ向かう第一の方向に、第一の基本図形が繰返し配列された幾何学パターンであり、
前記第二のテストパターンは、前記二次元格子における任意の格子点から、この任意の格子点を０番目として、前記Ｘ方向にＡ２番目、且つ、前記Ｙ方向にＢ２番目（但しＢ２＜Ａ２）の前記格子点へ向かう前記第一の方向とは異なる第二の方向に、第二の基本図形が繰返し配列された幾何学パターンである画像形成装置。
【請求項２】
前記第一の基本図形は、線状又は矩形状に配列された前記Ｘ方向の画素数及び前記Ｙ方向の画素数が一定である画素の集合であり、
前記第二の基本図形は、線状又は矩形状に配列された前記Ｘ方向の画素数及び前記Ｙ方向の画素数が一定である画素の集合である請求項１記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記第一の基本図形は、前記Ｘ方向の画素数が前記Ａ１の整数倍であり、前記Ｙ方向の画素数が前記Ｂ１である画素の集合であり、
前記第二の基本図形は、前記Ｘ方向の画素数が前記Ａ２の整数倍であり、前記Ｙ方向の画素数が前記Ｂ２である画素の集合である請求項１又は請求項２記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記Ｂ１及び前記Ｂ２は、値１であり、前記Ａ１及び前記Ａ２は、値１より大きい、互いに異なる整数値である請求項１〜請求項３のいずれか一項記載の画像形成装置。
【請求項５】
画像形成装置であって、
記録媒体を、所定の搬送方向に搬送する搬送ユニットと、
前記所定の搬送方向であるＹ方向、及び、前記Ｙ方向と交わるＸ方向のそれぞれに、一定のピッチで配列される格子点を含む二次元格子における前記格子点上に、画素が選択的に配置されて構成される画像を、前記記録媒体に形成する第一の画像形成ユニットと、
前記第一の画像形成ユニットよりも前記搬送方向下流に配置され、前記搬送ユニットにより搬送されてきた前記記録媒体に前記画像を形成する第二の画像形成ユニットと、
前記第一の画像形成ユニット、前記第二の画像形成ユニット、及び前記搬送ユニットを制御するコントローラと、
を備え、
前記コントローラは、
前記第一の画像形成ユニットが、第一のテストパターンを前記記録媒体に形成するように、前記第一の画像形成ユニットを制御する第一の形成制御処理と、
前記搬送ユニットが前記記録媒体を前記搬送方向下流に搬送するように、前記搬送ユニットを制御する搬送制御処理と、
前記第二の画像形成ユニットが、第二のテストパターンを前記記録媒体に形成するように、前記第二の画像形成ユニットを制御する第二の形成制御処理であって、前記記録媒体に形成された前記第一のテストパターンが前記第二のテストパターンと交差又は近接する位置まで前記記録媒体が搬送されたことを条件に、前記第二の画像形成ユニットに前記第二のテストパターンを形成させる第二の形成制御処理と、
を実行するように構成され、
前記第一のテストパターンは、前記二次元格子における任意の格子点と、この任意の格子点を０番目として、前記Ｘ方向にＡ１番目、且つ、前記Ｙ方向にＢ１番目（但しＢ１＜Ａ１）の格子点と、を結ぶ仮想直線上に、前記Ｘ方向に並ぶ画素列が配列された幾何学パターンであり、
前記第二のテストパターンは、前記二次元格子における任意の格子点と、この任意の格子点を０番目として、前記Ｘ方向にＡ２番目、且つ、前記Ｙ方向にＢ２番目（但しＢ２＜Ａ２）の前記格子点と、を結ぶ仮想直線上に、前記Ｘ方向に並ぶ画素列が配列された幾何学パターンである画像形成装置。
【請求項６】
前記Ｂ１及び前記Ｂ２は、値１であり、前記Ａ１及び前記Ａ２は、値１より大きい、互いに異なる整数値である請求項５記載の画像形成装置。
【請求項７】
前記コントローラは、前記記録媒体に形成された前記第一のテストパターンが前記第二のテストパターンと交差又は近接する位置まで搬送される前記記録媒体の搬送量よりも少ない前記記録媒体の搬送毎に、前記第一の形成制御処理を繰返し実行し、前記記録媒体に形成された前記第一のテストパターンが前記第二の画像形成ユニットにより形成される第二のテストパターンと交差又は近接する位置に到来する度に、前記第二の形成制御処理を実行するように構成される請求項１〜請求項６のいずれか一項記載の画像形成装置。
【請求項８】
前記第一及び第二のテストパターンが形成された前記記録媒体を光学的に読み取る読取ユニットを備え、
前記コントローラは、前記読取ユニットにより読み取られた前記記録媒体の読取画像を表す画像データを解析して、前記記録媒体に形成された前記第一及び第二のテストパターンの交点位置を特定する処理を更に実行するように構成される請求項１〜請求項７のいずれか一項記載の画像形成装置。
【請求項９】
前記コントローラは、前記記録媒体の搬送制御に用いる制御パラメータを、前記記録媒体に形成された前記第一及び第二のテストパターンの交点位置に基づき、前記記録媒体の搬送誤差を抑える方向に補正する処理を更に実行するように構成される請求項１〜請求項８のいずれか一項記載の画像形成装置。
【請求項１０】
前記記録媒体に対して前記搬送方向と交差する方向に相対移動しながらインク液滴を間欠的に吐出するインクジェットヘッドであって、前記インク液滴を吐出するノズルが前記搬送方向に配列されたインクジェットヘッド
を備え、前記第一及び第二の画像形成ユニットの夫々は、前記インクジェットヘッドの前記搬送方向におけるノズル配列の一部を構成するノズル群である請求項１〜請求項９のいずれか一項記載の画像形成装置。
【請求項１１】
前記搬送方向に相対移動する前記記録媒体に対してインク液滴を吐出する複数のインクジェットヘッドであって、前記インク液滴を間欠的に吐出するノズルが前記搬送方向と交差する方向に配列された複数のインクジェットヘッド
を備え、前記第一及び第二の画像形成ユニットの夫々は、前記複数のインクジェットヘッドのうち、前記搬送方向に離れた二つのインクジェットヘッドである請求項１〜請求項９のいずれか一項記載の画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、画像形成装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
画像形成装置としては、インクジェットプリンタ及びドットインパクトプリンタに代表されるシリアルプリンタや、レーザプリンタ及びＬＥＤプリンタに代表される電子写真方式のページプリンタが知られている。
【０００３】
用紙等のシート状記録媒体に対し当該記録媒体の搬送誤差を抑えて高品質な画像を形成するために、記録媒体にテストパターンを形成する画像形成装置もまた知られている（特許文献１参照）。例えば、画像形成装置は、記録媒体に第一のテストパターンを形成した後、記録媒体を所定量搬送する。その後、記録媒体に第二のテストパターンを形成する。記録媒体の搬送誤差は、記録媒体に形成された第一のテストパターンと第二のテストパターンとの関係から判定される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１３−２２６７５９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
テストパターン形成方法としては、記録媒体に第一のテストパターンを形成した後、記録媒体を微小量搬送して第二のテストパターンを形成する動作を繰り返す方法が知られている。搬送誤差は、微小量搬送毎に形成された第二のテストパターンと、第一のテストパターンとの重なりに基づいて判定される。
【０００６】
別のテストパターン形成方法としては、記録ヘッド（インクジェットヘッド）が有する全ノズル群の内、記録媒体搬送方向に対して上流側に位置するノズル群を用いて、記録媒体に主走査方向の第一のテストパターンを形成し、記録媒体を所定量搬送した後に、全ノズル群の内、下流側に位置するノズル群を用いて、記録媒体に、主走査方向に対して傾斜した第二のテストパターンを形成する方法が知られている。第一のテストパターンは、例えば、主走査方向のドット列が、主走査方向に平行な直線上に複数配列された構成にされる。第二のテストパターンは、主走査方向のドット列が、主走査方向に対して傾斜した直線上に複数配列された構成される。搬送誤差は、第一のテストパターンのドット列と第二のテストパターンのドット列との重なりに基づいて判定される。
【０００７】
前者のテストパターン形成方法によれば、記録媒体を微小量搬送する動作を繰り返して第二のテストパターンを形成するため、テストパターンの全形成工程を完了するまでに長い時間を要する。一方、後者のテストパターン形成方法によれば、微小量搬送毎に第二のテストパターンを形成することに代えて、記録媒体を停止させたまま、主走査方向に対して斜めに、第二のテストパターンを形成するために、テストパターンの全形成工程を迅速に完了することができる。しかしながら、後者のテストパターン形成方法によれば、第二のテストパターンの形成位置を、副走査方向（記録媒体搬送方向）におけるドットピッチ未満の距離で調整することができないため、ドットピッチ未満の搬送誤差を判定することが難しい。
【０００８】
そこで、本開示の一側面によれば、搬送誤差を精度よく判定可能で効率的に形成可能な
テストパターンの形成技術を提供できることが望ましい。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本開示の一側面に係る画像形成装置は、搬送ユニットと、第一及び第二の画像形成ユニットと、コントローラとを備える。搬送ユニットは、記録媒体を所定の搬送方向に搬送する。第一及び第二の画像形成ユニットは、この記録媒体に画像を形成するように構成される。記録媒体に形成される画像は、上記所定の搬送方向であるＹ方向、及び、Ｙ方向と交わるＸ方向のそれぞれに、一定のピッチで配列される格子点を含む二次元格子における格子点上に、画素が選択的に配置されて構成される画像である。第二の画像形成ユニットは、第一の画像形成ユニットよりも搬送方向下流に配置されて、搬送ユニットにより搬送されてきた記録媒体に画像を形成する。コントローラは、第一の画像形成ユニット、第二の画像形成ユニット、及び搬送ユニットを制御するように構成される。
【００１０】
本開示の一側面によれば、コントローラは、第一の画像形成ユニットが、第一のテストパターンを記録媒体に形成するように、第一の画像形成ユニットを制御する第一の形成制御処理と、搬送ユニットが記録媒体を搬送方向下流に搬送するように、搬送ユニットを制御する搬送制御処理と、第二の画像形成ユニットが、第二のテストパターンを記録媒体に形成するように、第二の画像形成ユニットを制御する第二の形成制御処理と、を実行するように構成される。
【００１１】
第二の形成制御処理は、記録媒体に形成された第一のテストパターンが第二のテストパターンと交差又は近接する位置まで記録媒体が搬送されたことを条件に、第二の画像形成ユニットに第二のテストパターンを形成させるように、第二の画像形成ユニットを制御する処理である。例えば、コントローラは、上記搬送制御処理として、第一の形成制御処理の実行後、第一の画像形成ユニットにより記録媒体に形成された第一のテストパターンが第二の画像形成ユニットにより形成される第二のテストパターンと交差又は近接する位置まで記録媒体が搬送されるように、搬送ユニットを制御する処理を実行する構成にされ得る。
【００１２】
本開示の一側面によれば、第一のテストパターンは、二次元格子における任意の格子点から、この任意の格子点を０番目として、Ｘ方向にＡ１番目、且つ、Ｙ方向にＢ１番目（但しＢ１＜Ａ１）の格子点へ向かう第一の方向に、第一の基本図形が繰返し配列された幾何学パターンであり得る。第二のテストパターンは、二次元格子における任意の格子点から、この任意の格子点を０番目として、Ｘ方向にＡ２番目、且つ、Ｙ方向にＢ２番目（但しＢ２＜Ａ２）の格子点へ向かう第二の方向に、第二の基本図形が繰返し配列された幾何学パターンであり得る。第二の方向は、第一の方向とは異なる。
【００１３】
記録媒体の搬送誤差は、第一のテストパターンと第二のテストパターンとの交点の標準地点からのズレに基づいて判定可能である。ここで言う交点は、広義に解釈されるべきである。即ち、ここで言う交点は、仮に第一のテストパターンを第一の方向に沿って延長したとき、及び、第２のテストパターンを第二の方向に延長したときに、第一のテストパターンと第二のテストパターンとが交わる点を含む。
【００１４】
この交点のズレは、第一のテストパターンと第二のテストパターンとが交わる角度が小さい程、搬送誤差に対して大きく現れる。しかしながら、従来装置は、Ｘ方向に、Ｘ方向のドット列を配列した第一のテストパターンを形成し、Ｘ方向とは傾斜するベクトル（Ｘ，Ｙ）＝（Ａ２，Ｂ２）（但し、Ｂ２≠０）方向に、Ｘ方向のドット列を配列した第二のテストパターンを形成する。ドット列は、基本図形の一例である。ここでベクトル（Ｘ，Ｙ）は、画素に対応する格子点を有する上記二次元格子において、任意の格子点から、この任意の格子点を０番目として、Ｘ方向にＸ番目、且つ、Ｙ方向にＹ番目の格子点へ向か
うベクトルと理解されてよい。
【００１５】
従来装置のように第一のテストパターンを形成する場合、第一のテストパターンと第二のテストパターンとが交わる角度は、Ｘ方向とベクトル（Ｘ，Ｙ）＝（Ａ２，Ｂ２）との間の角度に対応する。この角度は、Ｂ２の絶対値｜Ｂ２｜を小さく設定し、Ａ２の絶対値｜Ａ２｜を大きく設定することで小さくすることができる。但し、｜Ｂ２｜の下限は１である。｜Ｂ２｜＝１は、記録媒体搬送方向の画素ピッチに対応する。即ち、従来装置によれば、記録媒体搬送方向の画素ピッチ（解像度）の影響を受けて、第一のテストパターンと第二のテストパターンとが交わる角度を、望ましい角度まで小さくすることができず、微小な記録媒体の搬送誤差を判定することが難しい。
【００１６】
そこで、本開示の一側面では、Ｘ方向とは傾斜する方向に基本図形を配列した第一及び第二のテストパターンを、記録媒体を形成する。このように第一のテストパターンと第二のテストパターンとを、両方ともＸ方向に対して傾ける場合には、一方のテストパターンをＸ方向に平行に形成する従来技術よりも、第一のテストパターンと第二のテストパターンとの間の角度を小さくすることができる。
【００１７】
従って、本開示の一側面に係る画像形成装置によれば、記録媒体の搬送誤差を精度よく判定可能なテストパターンを記録媒体に形成することができる。この画像形成装置は、従来装置のように記録媒体を微小量搬送する動作を繰り返すことなく、記録媒体の搬送誤差を精度よく判定可能なテストパターンを記録媒体に効率的に形成することができる点で有益である。
【００１８】
本開示の一側面によれば、第一及び第二のテストパターンは、巨視的又は近似的には傾きの異なる直線であるように、画素（例えばドット）が階段状に配列された幾何学パターンとして構成され得る。本開示の一側面によれば、第一及び第二のテストパターンの夫々は、巨視的又は近似的には直線の太さが均一であるように、画素が配列された幾何学パターンとして構成されてもよい。
【００１９】
本開示の一側面によれば、上記第一の基本図形は、線状又は矩形状に配列されたＸ方向の画素数及びＹ方向の画素数が一定である画素の集合であり得る。同様に、第二の基本図形は、線状又は矩形状に配列されたＸ方向の画素数及びＹ方向の画素数が一定である画素の集合であり得る。
【００２０】
本開示の一側面によれば、上記第一の基本図形は、Ｘ方向の画素数がＡ１の整数倍であり、Ｙ方向の画素数がＢ１である画素の集合であり得る。第二の基本図形は、Ｘ方向の画素数がＡ２の整数倍であり、Ｙ方向の画素数がＢ２である画素の集合であり得る。本開示の一側面によれば、第一の基本図形は、Ｘ方向の画素数がＡ１である画素の集合であってもよい。第二の基本図形は、Ｘ方向の画素数がＡ２である画素の集合であってもよい。本開示の一側面によれば、第一のテストパターンは、第一の基本図形が、Ｘ方向に格子点数Ａ１且つＹ方向に格子点数Ｂ１だけ進んだ間隔、即ち、ベクトル（Ｘ，Ｙ）＝（Ａ１，Ｂ１）に対応する間隔で配置された幾何学パターンであってもよい。第二のテストパターンは、上記第二の基本図形が、第二の方向に、ベクトル（Ｘ，Ｙ）＝（Ａ２，Ｂ２）に対応する間隔で配置された幾何学パターンであってもよい。
【００２１】
このように第一及び第二のテストパターンを構成することで、画像形成装置は、第一のテストパターンを、巨視的又は近似的には太さの均一な直線状のテストパターンとして記録媒体に形成することができ、第二のテストパターンを、巨視的又は近似的には太さの均一な直線であって、第一のテストパターンとは傾きの異なる直線として記録媒体に形成することができる。太さの均一な直線によれば、角度差の小さい第一のテストパターンと第
二のテストパターンとの交点を画像解析に基づいて判定する際、交点を簡単且つ精度よく判定可能である。
【００２２】
本開示の一側面によれば、上記Ｂ１及びＢ２は、値１に設定されてもよい。この場合、上記Ａ１及びＡ２は、値１より大きい、互いに異なる整数値に設定することができる。このように第一及び第二の方向を設定することで、第一及び第二のテストパターンを記録媒体搬送方向に直交する方向に近づけて、第一及び第二のテストパターンの角度差を効果的に小さくすることができる。即ち、記録媒体の搬送誤差に対して交点のズレが大きく現れるように、第一及び第二のテストパターンを形成することができる。
【００２３】
本開示の一側面によれば、第一のテストパターンは、上記二次元格子における任意の格子点と、この格子点からＸ方向にＡ１番目且つＹ方向にＢ１番目（但しＢ１＜Ａ１）の格子点と、を結ぶ仮想直線上に、Ｘ方向に並ぶ画素列が配列された幾何学パターンであってもよい。第二のテストパターンは、上記二次元格子における任意の格子点と、この格子点からＸ方向にＡ２番目且つＹ方向にＢ２番目（但しＢ２＜Ａ２）の格子点と、を結ぶ仮想直線上に、Ｘ方向に並ぶ画素列が配列された幾何学パターンであってもよい。本開示の一側面によれば、上記仮想直線を決定付けるＢ１及びＢ２は、値１であり得る。この場合、上記Ａ１及びＡ２は、値１より大きい、互いに異なる整数値であり得る。
【００２４】
このような幾何学パターンからなる第一及び第二のテストパターンを記録媒体に形成する場合にも、第一のテストパターンと第二のテストパターンとの交点として、小さな角度差の交点を形成することができる。即ち、この画像形成装置によっても、記録媒体の搬送誤差を高精度に判定可能なテストパターンを記録媒体に効率的に形成することができる。
【００２５】
本開示の一側面によれば、コントローラは、記録媒体に形成された第一のテストパターンが第二のテストパターンと交差又は近接する位置まで搬送される上記記録媒体の搬送量よりも少ない記録媒体の搬送毎に、第一の形成制御処理を繰返し実行するように構成されてもよい。この場合、コントローラは、記録媒体に形成された第一のテストパターンが第二の画像形成ユニットにより形成される第二のテストパターンと交差する位置に到来する度に、第二の形成制御処理を実行するように構成され得る。
【００２６】
例えば、コントローラは、上記搬送制御処理として、搬送ユニットが記録媒体を搬送方向下流に所定量搬送するように、搬送ユニットを制御する送出制御処理を複数回実行することにより、第一のテストパターンが第二のテストパターンと交差又は近接する位置まで記録媒体が搬送方向下流に搬送されるように、搬送ユニットを制御する構成にされてもよい。この場合、コントローラは、第一の形成制御処理と、送出制御処理と、を交互に繰返し実行するように構成され得る。
【００２７】
本開示の一側面によれば、画像形成装置は、第一及び第二のテストパターンが形成された記録媒体を光学的に読み取る読取ユニットを備えた構成にされてもよい。コントローラは、読取ユニットにより読み取られた記録媒体の読取画像を表す画像データを解析して、記録媒体に形成された第一及び第二のテストパターンの交点位置を特定する処理を更に実行するように構成されてもよい。
【００２８】
本開示の一側面によれば、コントローラは、記録媒体の搬送制御に用いる制御パラメータを、記録媒体に形成された第一及び第二のテストパターンの交点位置に基づき、記録媒体の搬送誤差を抑える方向に補正する処理を更に実行するように構成されてもよい。
【００２９】
本開示の一側面によれば、画像形成装置は、インクジェットプリンタ又はレーザ（若しくはＬＥＤ）プリンタであり得る。本開示の一側面によれば、画像形成装置は、記録媒体
に対して上記搬送方向と交差する方向に相対移動しながらインク液滴を間欠的に吐出するインクジェットヘッドであって、インク液滴を吐出するノズルが上記搬送方向に配列されたインクジェットヘッドを備えた構成にされてもよい。この場合、第一及び第二の画像形成ユニットの夫々は、インクジェットヘッドの上記搬送方向におけるノズル配列の一部を構成するノズル群であり得る。即ち、第一及び第二の画像形成ユニットの夫々は、インクジェットヘッドが備えるノズル配列の一部を用いて記録媒体に画像を形成する構成にされ得る。
【００３０】
本開示の一側面によれば、画像形成装置は、上記搬送方向に相対移動する記録媒体に対してインク液滴を吐出する複数のインクジェットヘッドであって、インク液滴を間欠的に吐出するノズルが上記搬送方向と交差する方向に配列された複数のインクジェットヘッドを備えた構成にされてもよい。この場合、第一及び第二の画像形成ユニットの夫々は、複数のインクジェットヘッドのうち、上記搬送方向に離れた二つのインクジェットヘッドであり得る。
【００３１】
本開示の一側面によれば、コントローラによって実行される処理は、コンピュータがプログラムを実行することにより実現されてもよい。プログラムは、半導体製メモリや磁気ディスク等のコンピュータ読取可能な一時的でない記録媒体に格納され得る。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】複合機の概略構成を表すブロック図である。
【図２】記録ヘッド周辺の用紙搬送機構の概略構成を表す図である。
【図３】メインコントローラが実行するテスト印刷処理を表すフローチャートである。
【図４】テストパターンの印刷過程を段階的に示した図である。
【図５】第一のテストパターンの拡大図である。
【図６】第二のテストパターンの拡大図である。
【図７】テストパターンの交点位置の検出方法に関する説明図である。
【図８】図８Ａは、変形例のテストパターンの拡大図であり、図８Ｂは、テストパターンの交点と濃度との関係を表すグラフである。
【図９】交点のズレ量と搬送誤差との対応関係を幾何学的に説明した図である。
【図１０】本実施形態のテストパターンによる交点のズレ量を示した図である。
【図１１】図１１Ａ−１１Ｅは、変形例のテストパターンを示した図である。
【図１２】ライン型インクジェットプリンタの概略構成を表す図である。
【図１３】従来技術のテストパターンによる交点のズレ量を示した図である。
【発明を実施するための形態】
【００３３】
以下に本開示の例示的実施形態を図面と共に説明する。
図１に示す本実施形態のディジタル複合機（以下、単に「複合機」と称する。）１は、メインコントローラ１０と、プリンタ部２０、スキャナ部７０と、ユーザインタフェース９０とを備える。メインコントローラ１０は、複合機１全体を統括制御して、複合機１をプリンタ装置、スキャナ装置、及び複写装置として機能させるための処理を実行するように構成される。メインコントローラ１０は、ＣＰＵ１１と、ＲＯＭ１３と、ＲＡＭ１５と、ＮＶＲＡＭ１７とを備える。
【００３４】
ＣＰＵ１１は、ＲＯＭ１３が記憶するプログラムに従う処理を実行する。ＲＡＭ１５は、ＣＰＵ１１によるプログラム実行時に作業領域として利用される。ＮＶＲＡＭ１７は、電気的にデータ書換可能な不揮発性メモリである。ＮＶＲＡＭ１７は、例えばフラッシュメモリ又はＥＥＰＲＯＭにより構成される。メインコントローラ１０は、外部装置３と通信可能な通信インタフェース（図示せず）を更に備える。外部装置３の例には、パーソナルコンピュータが含まれる。
【００３５】
プリンタ部２０は、メインコントローラ１０に制御されて、用紙Ｑに画像を形成する。このプリンタ部２０は、インクジェットプリンタとして構成される。プリンタ部２０は、例えば、外部装置３からの受信データや、スキャナ部７０による原稿の読取画像を表す画像データに基づく画像を用紙Ｑに形成する。プリンタ部２０は更に、メインコントローラ１０に制御されて、用紙Ｑの搬送誤差を判定するためのテストパターンを用紙Ｑに形成する。
【００３６】
スキャナ部７０は、フラットベッド型のスキャナとして構成される。スキャナ部７０は、メインコントローラ１０に制御されて、原稿台に載置された原稿を光学的に読み取り、原稿の読取画像を表す画像データをメインコントローラ１０に入力する。ユーザインタフェース９０は、ユーザに各種情報を表示するためのディスプレイ、及び、ユーザからの指令を受け付けるための入力デバイスを備える。入力デバイスは、例えばメカニカルなキースイッチ又はディスプレイ上のタッチパネルであり得る。
【００３７】
続いて、プリンタ部２０の詳細を説明する。プリンタ部２０は、図１に示すように、印字コントローラ３０と、記録ヘッド４０と、キャリッジ搬送機構５１と、ＣＲモータ５３と、リニアエンコーダ５５と、用紙搬送機構６１と、ＰＦモータ６３と、ロータリエンコーダ６５と、を備える。
【００３８】
印字コントローラ３０は、メインコントローラ１０からの指令に従って、記録ヘッド４０からのインク液滴の吐出制御、キャリッジ５２（図２参照）の搬送制御、及び、用紙Ｑの搬送制御を実行するように構成される。印字コントローラ３０は、例えばＡＳＩＣで構成される。
【００３９】
記録ヘッド４０は、周知のインクジェットヘッドである。記録ヘッド４０は、印字コントローラ３０により制御されて、インク液滴を吐出し、用紙Ｑに画像を形成する。この記録ヘッド４０は、用紙Ｑと対向する下面に、インク液滴の吐出ノズルを備える。具体的に、記録ヘッド４０は、副走査方向に配列された吐出ノズルの一群Ｎ０を備える。副走査方向は、用紙Ｑの搬送方向に対応する。主走査方向は、副走査方向に直交する方向に対応し、キャリッジ５２の搬送方向（図２の紙面法線方向）に対応する。以下では、記録ヘッド４０に設けられた吐出ノズルの一群Ｎ０を、ノズル群Ｎ０と表現する。
【００４０】
キャリッジ搬送機構５１は、記録ヘッド４０を搭載するキャリッジ５２を備え、キャリッジ５２を主走査方向（図２の紙面法線方向）に搬送する構成にされる。ＣＲモータ５３は、キャリッジ搬送機構５１の駆動源であり、直流モータにより構成される。ＣＲモータ５３は、印字コントローラ３０により制御される。キャリッジ５２の搬送制御は、印字コントローラ３０がＣＲモータ５３の回転を制御することにより実現される。
【００４１】
リニアエンコーダ５５は、キャリッジ５２の主走査方向の変位に応じたパルス信号をエンコーダ信号として印字コントローラ３０に入力する。印字コントローラ３０は、キャリッジ５２の主走査方向における位置及び速度を、リニアエンコーダ５５から入力されるエンコーダ信号に基づいて検出し、キャリッジ５２の位置及び速度をフィードバック制御する。印字コントローラ３０は、このキャリッジ５２の移動に合わせて記録ヘッド４０を制御し、用紙Ｑに対して主走査方向に相対移動している状態で、記録ヘッド４０にインク液滴を間欠的に吐出させることによって、用紙Ｑに目的の画像を形成する。
【００４２】
この他、用紙搬送機構６１は、用紙Ｑを給紙トレイ（図示せず）から記録ヘッド４０による記録領域Ｒ０を介して排紙トレイ（図示せず）まで搬送するための機構である。図２は、用紙搬送機構６１が備える構成の内、記録ヘッド４０周辺の構成を示す。用紙搬送機
構６１は、図２に示すように、記録ヘッド４０の下方にプラテン６１１を備える。用紙搬送機構６１は、このプラテン６１１より用紙搬送方向上流に、対向配置された搬送ローラ６１３及びピンチローラ６１４を備え、プラテン６１１より用紙搬送方向下流に、対向配置された排紙ローラ６１７及び拍車ローラ６１８を備える。
【００４３】
搬送ローラ６１３及び排紙ローラ６１７は、図示しない伝達機構を通じてＰＦモータ６３と連結され、ＰＦモータ６３からの動力を受けて同期回転する。ＰＦモータ６３は、用紙搬送機構６１の駆動源であり、直流モータで構成される。
【００４４】
用紙搬送機構６１は、給紙ローラ（図示せず）の回転により、給紙トレイに載置された用紙Ｑを一枚ずつ分離し、当該分離した用紙Ｑを搬送ローラ６１３とピンチローラ６１４との間に提供する。搬送ローラ６１３は、ＰＦモータ６３により回転駆動されて、給紙トレイから供給される用紙Ｑを、図２破線矢印で示す用紙搬送方向下流に搬送する。搬送ローラ６１３は、ピンチローラ６１４との間に用紙Ｑを挟持した状態で、回転により用紙Ｑを下流に搬送する。
【００４５】
搬送ローラ６１３の回転により下流に搬送される用紙Ｑは、プラテン６１１に支持されながら、記録ヘッド４０の下方の記録領域Ｒ０を通過する。記録領域Ｒ０を通過した用紙Ｑは、排紙ローラ６１７と拍車ローラ６１８との間に挟持されて、排紙ローラ６１７の回転により下流に搬送される。排紙ローラ６１７を通過した用紙Ｑは、最終的に排紙トレイに排出される。
【００４６】
ロータリエンコーダ６５は、搬送ローラ６１３の回転軸、ＰＦモータ６３の回転軸、又は、ＰＦモータ６３から搬送ローラ６１３までの動力伝達経路に設けられて、搬送ローラ６１３の回転に応じたパルス信号を、エンコーダ信号として印字コントローラ３０に入力する。
【００４７】
印字コントローラ３０は、ロータリエンコーダ６５からのエンコーダ信号に基づいて、搬送ローラ６１３の回転量、回転速度及び回転位相φを検出する。回転位相φは、搬送ローラ６１３の１周を２πとしたときのゼロから２πの範囲における搬送ローラ６１３の回転角度φ（０≦φ＜２π）に対応する。
【００４８】
メインコントローラ１０は、プリンタ部２０の個体差に応じた制御パラメータ群をＮＶＲＡＭ１７に記憶する。メインコントローラ１０は、この制御パラメータ群に基づいて、プリンタ部２０を適切に制御する。具体的には、メインコントローラ１０は、ＮＶＲＡＭ１７が記憶する制御パラメータ群に基づいて、印字コントローラ３０の動作を規定するパラメータ群を印字コントローラ３０に設定して印字コントローラ３０を作動させることにより、印字コントローラ３０の動作を個体差に適合させて、プリンタ部２０を適切に制御する。
【００４９】
印字コントローラ３０は、メインコントローラ１０から設定されたパラメータ群に基づいたＣＲモータ５３及びＰＦモータ６３の制御を、リニアエンコーダ５５及びロータリエンコーダ６５からのエンコーダ信号に基づいて実行する。本実施形態では、こうしたメインコントローラ１０と印字コントローラ３０との協働により、記録ヘッド４０からのインク液滴の吐出制御、記録ヘッド４０を搭載するキャリッジ５２の搬送制御、及び用紙Ｑの搬送制御が実現される。
【００５０】
詳述すると、ＮＶＲＡＭ１７が記憶する制御パラメータ群には、搬送ローラ６１３の回転量と用紙搬送量との対応関係を表すパラメータが含まれる。メインコントローラ１０は、この制御パラメータ群に基づき、用紙Ｑの搬送誤差を含む個体差に起因する制御誤差を
抑制する方向に調整したパラメータ群を印字コントローラ３０に設定する。例えば、メインコントローラ１０は、目標とする用紙搬送量に対応する搬送ローラ６１３の目標回転量を算出し、算出した搬送ローラ６１３の目標回転量を表すパラメータを印字コントローラ３０に設定する。この設定によって、搬送ローラ６１３による用紙搬送は、搬送ローラ６１３の偏心や形状差による搬送誤差を抑えた形で実現される。
【００５１】
メインコントローラ１０は、搬送ローラ６１３の回転量と用紙搬送量との対応関係を表す上記制御パラメータの値を、テストパターンの形成結果に基づいて補正する。この制御パラメータは、初期段階で個体差を考慮しない標準値に定められており、テストパターンの形成結果に基づいて、個体差に応じた値に更新される。
【００５２】
メインコントローラ１０は、ユーザインタフェース９０又は外部装置３からテストパターンの印刷指令が入力されると、ＲＯＭ１３が記憶するプログラムに従って、図３に示すテスト印刷処理を実行する。例えば、複合機１を使用するユーザ、又は、複合機１の出荷前に製造元の作業者が、ユーザインタフェース９０又は外部装置３を操作することにより、テストパターンの印刷指令は入力される。
【００５３】
テスト印刷処理を開始すると、メインコントローラ１０は、印字コントローラ３０を作動させ、印字コントローラ３０によるＰＦモータ６３の制御を通じて、用紙搬送機構６１に、用紙Ｑを記録ヘッド４０下方の記録領域Ｒ０まで搬送させる（Ｓ１１０）。
【００５４】
その後、メインコントローラ１０は、第一パターン形成処理を実行する（Ｓ１２０）。第一パターン形成処理において、メインコントローラ１０は、印字コントローラ３０を通じて、記録ヘッド４０に、第一のノズル群Ｎ１を用いて、用紙Ｑの第一の記録領域Ｒ１に位置する部位に第一のテストパターンＴＰ１１を形成させる（Ｓ１２０）。第一の記録領域Ｒ１は、記録領域Ｒ０の内、第一のノズル群Ｎ１によって画像形成可能な、第一のノズル群Ｎ１下方の領域に対応する。第一のノズル群Ｎ１は、ノズル群Ｎ０の内、用紙搬送方向上流に位置するノズル群に対応する。
【００５５】
用紙Ｑに形成される第一のテストパターンＴＰ１１は、図４の領域（Ａ）に示される幾何学パターンを有する。具体的には、第一のテストパターンＴＰ１１は、主走査方向に対して僅かに傾きを有する巨視的又は近似的には直線状のテストパターンである。以下では、テストパターンの配置及び形状を説明するために、用紙表面に対してＸＹ直交座標系を定義する。
【００５６】
定義されるＸＹ直交座標系は、主走査方向にＸ軸を有し、用紙搬送方向、換言すれば副走査方向にＹ軸を有するＸＹ直交座標系である。Ｘ軸及びＹ軸の符号（正負）の向きは任意である。ここでは、形式的にＹ軸正方向を用紙搬送方向下流に向けて定義し、Ｘ軸正方向をＹ軸正方向に対して右方向に定義する。
【００５７】
本実施形態では更に、Ｙ軸を画素単位で定義する。換言すれば、Ｙ軸の単位長を、用紙Ｑに形成可能な画素の副走査方向の間隔、即ち、副走査方向の画素ピッチに定義する。以下、画素ピッチのことをドットピッチとも表現する。このドットピッチは、副走査方向における記録ヘッド４０のノズル間隔に対応する。Ｙ軸における位置Ｙ１と位置Ｙ２との間の距離（Ｙ２−Ｙ１）が値３である場合、位置Ｙ２は、位置Ｙ１に対して副走査方向に３画素分離れていることを意味し、位置Ｙ２の画素と、位置Ｙ１の画素との間には２画素分の空間が存在することを意味する。
【００５８】
本実施形態では更に、Ｘ軸を画素単位で定義する。換言すれば、Ｘ軸の単位長を、用紙Ｑに形成可能な画素の主走査方向の間隔、即ち、主走査方向のドットピッチに定義する。
Ｘ軸における位置Ｘ１と位置Ｘ２との間の距離（Ｘ２−Ｘ１）が値２である場合、位置Ｘ２は、位置Ｘ１に対して主走査方向に２画素分離れていることを意味し、位置Ｘ２の画素と、位置Ｘ１の画素との間には１画素分の空間が存在することを意味する。
【００５９】
用紙Ｑに形成される画像は、上記ＸＹ直交座標系において、任意の整数値の組合せで定まる複数の点（Ｘ，Ｙ）に、画素（ドット）が選択的に配置されて構成される。ＸＹ直交座標系において、任意の整数値の組合せで定義される点（Ｘ，Ｙ）は、格子点と理解されてよい。即ち、用紙Ｑに形成される画像は、Ｘ方向及びＹ方向の夫々に、一定のピッチで配列される格子点を含む二次元格子における格子点上に、画素が選択的に配置されて構成される。以下において表現されるベクトル（Ｘ，Ｙ）は、始点の画素から、Ｘ方向にＸ画素且つＹ方向にＹ画素離れた画素に向かうベクトルであると理解されてよい。換言すれば、ベクトル（Ｘ，Ｙ）は、上記二次元格子において、任意の格子点から、この任意の格子点を０番目として、Ｘ方向にＸ番目、且つ、Ｙ方向にＹ番目の格子点へ向かうベクトルと理解されてよい。
【００６０】
一般的なインクジェットプリンタでは、主走査方向の解像度が、副走査方向の解像度より高い。例えば主走査方向の解像度が６００ｄｐｉであり副走査方向の解像度が３００ｄｐｉであるインクジェットプリンタが知られている。本実施形態の複合機１でも、主走査方向の解像度は、副走査方向の解像度より高く、主走査方向のドットピッチＤＰ１は、副走査方向のドットピッチＤＰ２よりも短い。このことは、テストパターンを形成するときに、Ｘ方向の自由度がＹ方向の自由度より高いことを意味する。
【００６１】
ここで、第一のテストパターンＴＰ１１の配置及び形状を詳述する。Ｓ１２０で用紙Ｑに形成される第一のテストパターンＴＰ１１は、テストパターン構成要素である矩形の基本図形ＥＬ１１を、主走査方向に対して傾きを有する仮想直線ＬＮ１上に繰返し配列したテストパターンである。基本図形ＥＬ１１は、詳細には、図５に示すようにドットＤＴを矩形状又は直線状に配列した構成にされる。
【００６２】
図５に示す例によれば、第一のテストパターンＴＰ１１は、６つのドットＤＴがＸ方向に一列に配置された一定の基本図形ＥＬ１１が仮想直線ＬＮ１に沿う第一のベクトル（Ｘ，Ｙ）＝（３，−１）方向に配列された幾何学パターンとして構成される。仮想直線ＬＮ１は、基本図形ＥＬ１１が直線ＬＮ１上に配列されていることを説明するためのものであって、用紙Ｑに実際に印刷されるものではないことに留意されたい。
【００６３】
図５では、ドットＤＴが６つ配置された基本図形ＥＬ１１を示すが、基本図形ＥＬ１１のドット数は、任意である。図５では、第一のテストパターンにおける基本図形配列方向である第一のベクトル（Ｘ，Ｙ）＝（Ａ１，Ｂ１）方向が｜Ａ１｜＝３及び｜Ｂ１｜＝１である例を示すが、値｜Ａ１｜は、より大きい値に定められてもよい。ここで｜｜は絶対値を意味する。
【００６４】
広くは、第一のベクトル（Ｘ，Ｙ）＝（Ａ１，Ｂ１）方向は、不等式｜Ａ１｜＞｜Ｂ１｜＞０を満足する整数Ａ１，Ｂ１で設定されればよい。不等式｜Ａ１｜＞｜Ｂ１｜＞０は、第一のベクトル方向とＸ軸とがなす角度が４５度未満であることを意味する。｜Ａ１｜は、第一のテストパターンＴＰ１１をＸ方向に近づけるために、大きい値であるのが好ましく、｜Ｂ１｜は、値１であるのが好ましい。
【００６５】
第一のテストパターンＴＰ１１の形成後、メインコントローラ１０は、印字コントローラ３０を通じて、用紙搬送機構６１に搬送ローラ６１３を所定量Ｌ１回転させることで、用紙Ｑを所定量Ｌ１用紙搬送方向下流に搬送させる（Ｓ１３０）。その後、Ｓ１４０で否定判断して、第一パターン形成処理（Ｓ１２０）を再実行し、記録ヘッド４０に第一のテ
ストパターンＴＰ１１を用紙Ｑに再度形成させる。用紙Ｑを所定量Ｌ１搬送させる処理は、搬送ローラ６１３の回転量の制御により実現される処理であるため、Ｓ１３０の処理による実際の用紙搬送量は、所定量Ｌ１に対して誤差を含む。
【００６６】
メインコントローラ１０は、搬送される用紙Ｑに対して最初に形成した第一のテストパターンＴＰ１１が、記録領域Ｒ０の内、第二のテストパターンＴＰ２１が形成される第二の記録領域Ｒ２に到達するまでは、Ｓ１４０で否定判断し、記録ヘッド４０に第一のテストパターンＴＰ１１を用紙Ｑに形成させては（Ｓ１２０）、用紙搬送機構６１に用紙Ｑを所定量Ｌ１搬送させる処理を繰返し実行する（Ｓ１３０）。メインコントローラ１０は、Ｓ１３０の処理後に実行するＳ１４０において、上記最初に形成した第一のテストパターンＴＰ１１が第二の記録領域Ｒ２に到達したか否かを判断し、到達していないと判断した場合には（Ｓ１４０でＮｏ）、Ｓ１２０に移行し、到達したと判断した場合には（Ｓ１４０でＹｅｓ）、Ｓ１５０に移行する。図４の領域（Ｂ）には、Ｓ１２０，Ｓ１３０の処理の繰返しによって用紙Ｑに間隔Ｌ１毎に形成された第一のテストパターンＴＰ１１を示す。
【００６７】
第一のテストパターンＴＰ１１の形成間隔に対応する所定量Ｌ１は、記録領域Ｒ０の内、第一のテストパターンＴＰ１１が形成される第一の記録領域Ｒ１と、第二のテストパターンＴＰ２１が形成される第二の記録領域Ｒ２と、の間の副走査方向長さＬ０（図２参照）の整数分の一であって、搬送ローラ６１３の外周の整数分の一に対応する。搬送ローラ６１３の外周は、搬送ローラ６１３が一回転したときの用紙搬送量に対応する。
【００６８】
本実施形態において、搬送ローラ６１３の回転量と実際の用紙搬送量との誤差は、用紙搬送時の搬送ローラ６１３の回転位相に依存する。本実施形態では、この回転位相に依存した用紙Ｑの搬送誤差の影響を抑えるために、搬送ローラ６１３の一周を複数区間に分割した異なる回転位相毎の用紙搬送誤差を判定する。所定量Ｌ１毎に実行される第一のテストパターンＴＰ１１の形成は、回転位相毎の用紙搬送誤差を判定するためのものである。
【００６９】
メインコントローラ１０は、Ｓ１４０において、上記最初に形成した第一のテストパターンＴＰ１１が第二の記録領域Ｒ２に到達したと判断すると、Ｓ１５０に移行し、両パターン形成処理を実行する。
【００７０】
両パターン形成処理において、メインコントローラ１０は、印字コントローラ３０を通じて、記録ヘッド４０に、第一のテストパターンＴＰ１１及び第二のテストパターンＴＰ２１を用紙Ｑに形成させる。具体的に、メインコントローラ１０は、記録ヘッド４０に、第一のノズル群Ｎ１を用いて、用紙Ｑの第一の記録領域Ｒ１に位置する部位に第一のテストパターンＴＰ１１を形成させ、第二のノズル群Ｎ２を用いて、用紙Ｑの第二の記録領域Ｒ２に位置する部位に第二のテストパターンＴＰ２１を形成させる（Ｓ１５０）。第二の記録領域Ｒ２は、記録領域Ｒ０の内、第二のノズル群Ｎ２によって画像形成可能な、第二のノズル群Ｎ２下方の領域に対応する。第二のノズル群Ｎ２は、ノズル群Ｎ０の内、第一のノズル群Ｎ１よりも、用紙搬送方向下流に位置するノズル群に対応する。
【００７１】
用紙Ｑに形成される第二のテストパターンＴＰ２１は、図４の領域（Ｃ）に示す通りである。第二のテストパターンＴＰ２１は、主走査方向に対して僅かに傾きを有する巨視的又は近似的には直線状のテストパターンであり、第一のテストパターンＴＰ１１とは異なる傾きを有する。図４の領域（Ｃ）は、初回のＳ１５０において、用紙Ｑにおける先頭の第一のテストパターンＴＰ１１に交差するように、第二のテストパターンＴＰ２１が形成された状態を示す。
【００７２】
詳述すると、第二のテストパターンＴＰ２１は、テストパターン構成要素である矩形の
基本図形ＥＬ２１を、主走査方向に対して傾きを有する仮想直線ＬＮ２上に繰返し配列したテストパターンである。基本図形ＥＬ２１は、第一のテストパターンＴＰ１１と同様、図６に示すように、ドットＤＴを矩形状又は直線状に配列して構成される。
【００７３】
図６に示す例によれば、第二のテストパターンＴＰ２１は、４つのドットＤＴがＸ方向に一列に配置された一定の基本図形ＥＬ２１が、仮想直線ＬＮ２に沿う第二のベクトル（Ｘ，Ｙ）＝（２，−１）方向に配列された幾何学パターンとして構成される。仮想直線ＬＮ２は、基本図形ＥＬ２１が直線ＬＮ２上に配列されていることを説明するためのものであって、用紙Ｑに実際に印刷されるものではないことに留意されたい。
【００７４】
図６では、ドットＤＴが４つ配置された基本図形ＥＬ２１を示すが、基本図形ＥＬ２１のドット数は、任意である。図６では、第二のテストパターンにおける基本図形配列方向である第二のベクトル（Ｘ，Ｙ）＝（Ａ２，Ｂ２）方向が｜Ａ２｜＝２及び｜Ｂ２｜＝１である例を示すが、値｜Ａ２｜は、より大きい値に定められてもよい。
【００７５】
広くは、第二のベクトル方向（Ｘ，Ｙ）＝（Ａ２，Ｂ２）は、第一のベクトル方向とは非平行な範囲内で、不等式｜Ａ２｜＞｜Ｂ２｜＞０及び（Ｂ１／Ａ１）＊（Ｂ２／Ａ２）＞０を満足する整数Ａ２，Ｂ２で設定されればよい。不等式｜Ａ２｜＞｜Ｂ２｜＞０は、第二のベクトル方向とＸ軸とがなす角度が４５度未満であることを意味し、不等式（Ｂ１／Ａ１）＊（Ｂ２／Ａ２）＞０は、第二のベクトル方向に沿う仮想直線ＬＮ２の傾きと、第一のベクトル方向に沿う仮想直線ＬＮ１の傾きとが同符号であることを意味する。｜Ａ２｜は、第二のテストパターンＴＰ２１をＸ方向に近づけるために、大きい値であるのが好ましく、｜Ｂ２｜は、値１であるのが好ましい。更に言えば、第一のテストパターンＴＰ１１と第二のテストパターンＴＰ２１が交わる角度を小さくするために、値｜Ａ２｜は、値｜Ａ１｜に近い値であるのが好ましい。
【００７６】
第二のテストパターンＴＰ２１の形成後、メインコントローラ１０は、Ｓ１３０での処理と同様に、印字コントローラ３０を通じて、用紙搬送機構６１に用紙Ｑを所定量Ｌ１用紙搬送方向下流に搬送させる（Ｓ１６０）。その後、Ｓ１７０の判断を経て、両パターン形成処理を再実行し（Ｓ１５０）、図４の領域（Ｄ）に示すように、第一のテストパターンＴＰ１１を第一のノズル群Ｎ１を通じて用紙Ｑに形成し、第二のテストパターンＴＰ２１を第二のノズル群Ｎ２を通じて第二の記録領域Ｒ２に到達した第一のテストパターンＴＰ１１に交差させるように形成する。
【００７７】
メインコントローラ１０は、所定数の第一のテストパターンＴＰ１１の形成が完了するまでは、Ｓ１７０で否定判断して、上述したように記録ヘッド４０に第一のテストパターンＴＰ１１及び第二のテストパターンＴＰ２１を用紙Ｑに形成させては（Ｓ１５０）、用紙搬送機構６１に用紙Ｑを所定量Ｌ１搬送させる処理を繰返し実行する（Ｓ１６０）。メインコントローラ１０は、Ｓ１６０の処理実行後に移行するＳ１７０において、所定数の第一のテストパターンＴＰ１１の形成が完了したか否かを判断し、完了していないと判断した場合には（Ｓ１７０でＮｏ）、Ｓ１５０に移行する。
【００７８】
所定数の第一のテストパターンＴＰ１１の形成が完了すると、メインコントローラ１０は、Ｓ１７０で肯定判断して、Ｓ１８０に移行する。但し、先頭の第一のテストパターンＴＰ１１が第二の記録領域Ｒ２に到達した時点で、第一のテストパターンＴＰ１１の形成を止める実施形態では、Ｓ１４０で肯定判断した時点で、Ｓ１５０−１７０の処理をスキップして、Ｓ１８０に移行することができる。
【００７９】
Ｓ１８０に移行すると、メインコントローラ１０は、第二パターン形成処理を実行する。第二パターン形成処理において、メインコントローラ１０は、印字コントローラ３０を
通じて、記録ヘッド４０に、第二のノズル群Ｎ２を用いて、用紙Ｑの第二の記録領域Ｒ２に位置する部位に第二のテストパターンＴＰ２１を形成させる（Ｓ１８０）。即ち、第二の記録領域Ｒ２に到達した第一のテストパターンＴＰ１１に交差させるように、第二のテストパターンＴＰ２１を記録ヘッド４０に形成させる。
【００８０】
その後、メインコントローラ１０は、全ての第一のテストパターンＴＰ１１に対する第二のテストパターンＴＰ２１の形成を完了したか否かを判断する（１９０）。そして、完了していないと判断すると（Ｓ１９０でＮｏ）、Ｓ２００に移行し、完了したと判断すると（Ｓ１９０でＹｅｓ）、Ｓ２１０に移行する。
【００８１】
Ｓ２００に移行すると、メインコントローラ１０は、Ｓ１３０での処理と同様に、用紙搬送機構６１に用紙Ｑを所定量Ｌ１搬送させて、Ｓ１８０に移行する。このようにしてメインコントローラ１０は、全ての第一のテストパターンＴＰ１１に対する第二のテストパターンＴＰ２１の形成が完了するまでは、用紙搬送機構６１に用紙Ｑを所定量Ｌ１搬送させては（Ｓ２００）、記録ヘッド４０に第二のテストパターンＴＰ２１を用紙Ｑに形成させる処理（Ｓ１８０）を繰返し実行する。そして、全ての第一のテストパターンＴＰ１１に対する第二のテストパターンＴＰ２１の形成が完了すると（Ｓ１９０でＹｅｓ）、排紙処理を実行する（Ｓ２１０）。
【００８２】
Ｓ２１０において、メインコントローラ１０は、印字コントローラ３０を通じて、用紙搬送機構６１に用紙Ｑを排紙トレイまで排出させる。更に、メインコントローラ１０は、テストパターンが印刷された用紙Ｑをスキャナ部７０の原稿台に載せてスキャン指示を入力することを促すメッセージを、ユーザインタフェース９０のディスプレイに表示させる（Ｓ２２０）。その後、ユーザインタフェース９０を通じてスキャン指示が入力されるまで待機する（Ｓ２３０）。
【００８３】
スキャン指示が入力されると、メインコントローラ１０は、スキャナ部７０を制御して、スキャナ部７０にテストパターンの印刷された用紙Ｑを読み取らせて、その読取画像を表す画像データを、スキャナ部７０から取得する（Ｓ２４０）。
【００８４】
更に、メインコントローラ１０は、スキャナ部７０から取得した画像データに基づき、第一のテストパターンＴＰ１１と、第二のテストパターンＴＰ２１との交点の標準地点からのズレ量を算出し、このズレ量に基づき、用紙Ｑの搬送誤差を算出する（Ｓ２５０）。メインコントローラ１０は、Ｓ２５０で算出された用紙Ｑの搬送誤差に基づき、ＮＶＲＡＭ１７が記憶する搬送ローラ６１３の回転量と用紙搬送量との対応関係を表す制御パラメータを更新し（Ｓ２６０）、図３に示すテスト印刷処理を終了する。
【００８５】
ここで、用紙Ｑの搬送誤差の算出原理を説明する。メインコントローラ１０は、スキャナ部７０から得られた画像データに基づき、Ｓ２５０において、次の処理を実行することにより、用紙Ｑに形成された第一のテストパターンＴＰ１１及び第二のテストパターンＴＰ２１の組毎に、用紙Ｑの搬送誤差を算出し、この算出結果に基づき、Ｓ２６０で上記制御パラメータを更新する。
【００８６】
即ち、メインコントローラ１０は、上記画像データにおける第一のテストパターンＴＰ１１毎に、第一のテストパターンＴＰ１１に沿って、図７において太実線で示す所定面積の矩形窓ＷＮの位置を、一点鎖線で示すように所定量ずつスライドし、各位置の矩形窓ＷＮ内の濃度（上記所定面積あたりの濃度）を算出する。これにより、第一のテストパターンＴＰ１１が形成された部位に沿う各位置の濃度を算出する。矩形窓ＷＮは、副走査方向に長く主走査方向に短い矩形窓として定義することができる。矩形窓ＷＮの副走査方向の長さは、第一のテストパターンＴＰ１１及び第二のテストパターンＴＰ２１の両方が含ま
れるような長さに設定することができる。
【００８７】
濃度は、矩形窓ＷＮ内に含まれるテストパターンＴＰ１１，ＴＰ２１の面積が小さくなるほど低くなる。従って、第一のテストパターンＴＰ１１に沿う上記濃度の分布は、第一のテストパターンＴＰ１１と第二のテストパターンＴＰ２１との交点位置で極小値を示す。Ｓ２５０において、メインコントローラ１０は、この濃度の分布に基づき、濃度が極小値を示すＸ方向の位置を、第一のテストパターンＴＰ１１と第二のテストパターンＴＰ２１との交点位置として特定する。
【００８８】
図８Ｂは、図４−７とは異なる図８Ａに示す第一のテストパターンＴＰ１２及び第二のテストパターンＴＰ２２の交点位置を特定するために算出された濃度の分布を下段グラフに示す。図８Ｂ上段グラフは、図８Ｂ下段グラフに示される濃度の分布に対応する第一のテストパターンＴＰ１２及び第二のテストパターンＴＰ２２の分布を示す。
【００８９】
図８Ａによれば、第一のテストパターンＴＰ１２は、９つのドットＤＴがＸ方向に二列に配置された縦２画素横９画素分のドット集合からなる基本図形ＥＬ１２が、第一のベクトル（Ｘ，Ｙ）＝（９，−１）方向に配列された幾何学パターンとして構成される。第二のテストパターンＴＰ２２は、８つのドットＤＴがＸ方向に二列に配置された縦２画素横８画素分のドット集合からなる基本図形ＥＬ２２が、第二のベクトル（Ｘ，Ｙ）＝（８，−１）方向に配列された幾何学パターンとして構成される。図８Ｂから理解できるように、濃度の分布は、第一のテストパターンＴＰ１２と第二のテストパターンＴＰ２２との交点位置で極小値を示す。このような濃度の分布は、第一のテストパターンＴＰ１１及び第二のテストパターンＴＰ２１の組合せに対しても同様に現れる。
【００９０】
上記濃度の分布から第一のテストパターンＴＰ１１と第二のテストパターンＴＰ２１との交点位置（Ｘ座標）を特定すると、メインコントローラ１０は、特定された交点位置の標準地点からのＸ方向のズレ量ΔＸを算出する。標準地点は、用紙Ｑの搬送誤差がゼロであるときの交点位置に対応する。標準地点の位置情報は、ＮＶＲＡＭ１７に記憶させておくことができる。
【００９１】
図９上段は、搬送誤差がゼロであるときの第一のテストパターンＴＰ１１に沿う仮想直線ＬＮ１と、第二のテストパターンＴＰ２１に沿う仮想直線ＬＮ２との交点を、白丸で示す。白丸は、上記標準地点に対応する。図９下段は、搬送誤差がゼロであるときより用紙搬送量が少なく、搬送誤差がゼロであるときの位置よりも｜ΔＹ｜搬送方向上流に用紙Ｑが位置している状態で、第二のテストパターンＴＰ２１が形成されたときの、仮想直線ＬＮ１と仮想直線ＬＮ２との交点を黒丸で示す。図９に示される幾何学配置からも理解できるように、標準地点からの交点位置のズレ量ΔＸと搬送誤差ΔＹとの関係は、次式で表すことができる。
【００９２】
ΔＹ＝ΔＸ＊（ｔａｎθ２−ｔａｎθ１）
ｔａｎθ１は、第一のテストパターンＴＰ１１に沿う仮想直線ＬＮ１の傾きｔａｎθ１＝Ｂ１／Ａ１に対応し、ｔａｎθ２は、第二のテストパターンＴＰ２１に沿う仮想直線ＬＮ２の傾きｔａｎθ２＝Ｂ２／Ａ２に対応する。ΔＹが正であることは、用紙Ｑが、搬送誤差がゼロである場合より用紙搬送方向下流に｜ΔＹ｜進みすぎていることを示し、ΔＹが負であることは、用紙Ｑが、搬送誤差がゼロである場合より｜ΔＹ｜進み足りないことを示す。上式に従うΔＸ及びΔＹは、上記単位長を有するＸＹ直交座標系上での値である。ΔＸ及びΔＹをインチ単位で取扱う場合には、上式のｔａｎθ１を、ｔａｎθ１＝（Ｂ１＊ＤＰ２）／（Ａ１＊ＤＰ１）、ｔａｎθ２を、ｔａｎθ２＝（Ｂ２＊ＤＰ２）／（Ａ２＊ＤＰ１）に設定すればよい。
【００９３】
Ｓ２５０において、メインコントローラ１０は、上記算出したズレ量ΔＸを、関係式ΔＹ＝ΔＸ＊（ｔａｎθ２−ｔａｎθ１）に代入することによって、用紙Ｑの搬送誤差ΔＹを算出する。メインコントローラ１０は、このような原理に基づき、第一のテストパターンＴＰ１１毎に、換言すれば、搬送ローラ６１３の回転位相毎に、用紙Ｑが距離Ｌ０進むように搬送ローラ６１３を回転させたときの用紙Ｑの搬送誤差ΔＹを算出する。メインコントローラ１０は、この搬送誤差ΔＹから、回転位相毎に、搬送ローラ６１３の回転量と用紙搬送量との対応関係を表す制御パラメータを更新（補正）する（Ｓ２６０）。
【００９４】
上記関係式からも理解できるように、搬送誤差｜ΔＹ｜による交点位置のズレ量｜ΔＸ｜は、第一のテストパターンＴＰ１１と、第二のテストパターンＴＰ２１とが交わる角度｜Δθ｜＝｜θ２−θ１｜が小さい程、大きくなる。更に言えば、ｔａｎθの微分が１／ｃｏｓ2θであることからも理解できるように、ｔａｎθの傾きは、θが小さい程小さくなる。即ち、｜Δθ｜が同じであるときの｜ｔａｎθ２−ｔａｎθ１｜は、θが小さい程、小さい値を採る。
【００９５】
従って、搬送誤差｜ΔＹ｜による交点位置のズレ量｜ΔＸ｜を大きくするためには、第一のテストパターンＴＰ１１と、第二のテストパターンＴＰ２１とが交わる角度｜Δθ｜を、第一のテストパターンＴＰ１１及び第二のテストパターンＴＰ２１の傾きを主走査方向（Ｘ方向）になるべく近づけた状態で小さくするのがよい。
【００９６】
このため、第一のテストパターンＴＰ１１及び第二のテストパターンＴＰ２１は、｜Ｂ１｜＝｜Ｂ２｜＝１であり、｜Ａ１｜と｜Ａ２｜との差が小さく、｜Ａ１｜及び｜Ａ２｜が大きい値であるのが好ましい。
【００９７】
本実施形態に従うテストパターン印刷によって、交点のズレ量が用紙搬送誤差に対して大きく現れることは、図１０及び図１３を対比することにより理解できる。図１０上段は、用紙Ｑの搬送誤差がないときの本開示の例示的テストパターンである第一のテストパターンＴＰ１１と第二のテストパターンＴＰ２１との交点を白丸で示す。図１０下段は、用紙Ｑの搬送誤差が、副走査方向に１画素分ΔＹ１だけ発生したときの第一のテストパターンＴＰ１１と第二のテストパターンＴＰ２１との交点を黒丸で示し、この交点の標準地点（白丸）からのズレ量を、ΔＸＡとして示す。
【００９８】
図１３上段は、用紙Ｑの搬送誤差がないときの従来技術のテストパターンである第一のテストパターンＴＰ１０と、第二のテストパターンＴＰ２０との交点を白丸で示す。図１３下段は、用紙Ｑの搬送誤差が、副走査方向に１画素分ΔＹ１だけ発生したときの第一のテストパターンＴＰ１０と第二のテストパターンＴＰ２０との交点を黒丸で示し、この交点の標準地点（白丸）からのズレ量を、ΔＸＢとして示す。
【００９９】
従来技術によれば、第一のテストパターンＴＰ１０が主走査方向に平行であるために、第一のテストパターンＴＰ１０と第二のテストパターンＴＰ２０とが交わる角度は、副走査方向のドットピッチの影響を受けて、あまり小さくすることができない。従って、用紙Ｑの搬送誤差が大きくない場合には、交点のズレ量も小さく、ズレ量から搬送誤差を精度よく算出することが難しい。また、上記交わる角度を小さくしたとしても、第二のテストパターンＴＰ２０は、詳細には直線ではなく階段形状であるため、用紙Ｑの搬送誤差が副走査方向に１画素分以上生じない限り、交点は標準地点からずれない。従って、従来技術によれば、副走査方向のドットピッチ（ノズル間隔）未満の搬送誤差を検出することができない。
【０１００】
これに対し、本実施形態によれば、第一のテストパターンＴＰ１１及び第二のテストパターンＴＰ２１を共に傾けているために、第一のテストパターンＴＰ１１と第二のテスト
パターンＴＰ２１とが交わる角度を、副走査方向のドットピッチの影響をあまり受けずに小さくすることができる。従って、図１０と図１３との対比から理解できるように、本実施形態によれば、用紙Ｑの搬送誤差に対する交点のズレ量を、従来と比較して格段に大きくすることができ、ズレ量から搬送誤差を精度よく算出することができる。更には、用紙Ｑの搬送誤差が、副走査方向に１画素分未満であっても、交点が標準地点からずれるために、この小さな搬送誤差を精度よく算出することができる。従来では、副走査方向のドットピッチ未満の搬送誤差を検出する場合、用紙Ｑを微小搬送する必要があったが、本実施形態によれば、このような微小搬送を行うことなく、副走査方向のドットピッチ未満の搬送誤差を検出することができる。従って、本実施形態によれば、テストパターンを迅速又は効率的に形成しながら、用紙Ｑの搬送誤差を精度よく検出可能である。
【０１０１】
図４−７に示した第一のテストパターンＴＰ１１及び第二のテストパターンＴＰ２１、並びに、図８に示した第一のテストパターンＴＰ１２及び第二のテストパターンＴＰ２２は、単なる例示であり、これらのテストパターンは、他のテストパターンに変更されてもよい。例えば、第一のテストパターンＴＰ１１は、第二のテストパターンＴＰ２１と入れ替えることができる。第一のテストパターンＴＰ１１及び第二のテストパターンＴＰ２１は、図１１Ａ−１１Ｅに示す構成に変更されてもよい。図１１Ａ−１１Ｅに示すテストパターンＴＰ３，ＴＰ４，ＴＰ５，ＴＰ６，ＴＰ７は、図５及び図６と同様、テストパターンＴＰ３，ＴＰ４，ＴＰ５，ＴＰ６，ＴＰ７の一部を拡大して示したものである。第一のテストパターンＴＰ１１，ＴＰ１２及び第二のテストパターンＴＰ２１，ＴＰ２２は、図１１Ａ−１１Ｅに示すテストパターンＴＰ３，ＴＰ４，ＴＰ５，ＴＰ６，ＴＰ７のいずれに変更されてもよいし、図１１Ａ−１１Ｅとは別のテストパターンに変更されてもよい。
【０１０２】
図１１Ａに示すテストパターンＴＰ３は、７つのドットＤＴがＸ方向に一列に配置された基本図形ＥＬ３がベクトル（Ｘ，Ｙ）＝（４，−１）方向に配列された幾何学パターンとして構成される。図１１Ｂに示すテストパターンＴＰ４は、９つのドットＤＴがＸ方向に一列に配置された基本図形ＥＬ３がベクトル（Ｘ，Ｙ）＝（４，−１）方向に配列された幾何学パターンとして構成される。
【０１０３】
テストパターンＴＰ３及びテストパターンＴＰ４は、図５及び図６に示されるテストパターンＴＰ１１，ＴＰ２１と類似するが、次の点でテストパターンＴＰ１１，ＴＰ２１とは異なる。図５に示されるテストパターンＴＰ１１では、基本図形ＥＬ１１のＸ方向の幅が、６画素であり、基本図形ＥＬ１１の配列方向であるベクトル（Ｘ，Ｙ）＝（３，−１）のＸ方向成分Ａ１＝３の整数倍の大きさを有するのに対し、テストパターンＴＰ３及びテストパターンＴＰ４では、基本図形ＥＬ３，ＥＬ４のＸ方向の幅が夫々７画素及び９画素であり、基本図形ＥＬ３，ＥＬ４の配列方向（Ｘ，Ｙ）＝（４，−１）のＸ方向成分４の非整数倍の大きさを有する。図６に示されるテストパターンＴＰ２１では、図５に示されるテストパターンＴＰ１１と同様、基本図形ＥＬ２１のＸ方向の幅が４画素であり、基本図形ＥＬ２１の配列方向であるベクトル（Ｘ，Ｙ）＝（２，−１）のＸ方向成分Ａ２＝２の整数倍の大きさを有する。
【０１０４】
基本図形が、その配列方向（Ｘ，Ｙ）＝（Ａ，Ｂ）のＸ方向成分Ａに対してＸ方向に非整数倍の幅を有するテストパターンでは、図１１Ａ及び図１１Ｂに示す太矢印部分において、周囲と異なる副走査方向の厚みが生じる。この厚みのばらつきに起因して、テストパターンは、巨視的又は近似的には、厚みが不均一な直線状のテストパターンとして構成される。即ち、この厚みのばらつきは、Ｓ２５０で算出される濃度分布において微細な変動をもたらし、交点に対応する極小点を分かり辛くする可能性がある。
【０１０５】
従って、テストパターンは、図５及び図６に示されるように、基本図形の配列方向（Ｘ，Ｙ）＝（Ａ，Ｂ）と、基本図形のＸ方向の幅、基本図形のＹ方向の幅が、次の関係を満
足するように構成されるのがより好ましい。即ち、テストパターンは、配列方向（Ｘ，Ｙ）＝（Ａ，Ｂ）のＹ方向成分Ｂに一致するＹ方向の画素数、配列方向（Ｘ，Ｙ）＝（Ａ，Ｂ）のＸ方向成分Ａの１倍を含む整数倍に一致するＸ方向の画素数を有するドット集合からなる矩形又は直線状の基本図形が、配列方向（Ｘ，Ｙ）＝（Ａ，Ｂ）に、ベクトル（Ｘ，Ｙ）＝（Ａ，Ｂ）の大きさに対応する間隔（即ち、Ｘ方向にＡ画素分及びＹ方向にＢ画素分離れた間隔）で配置された幾何学パターンとして構成されるのが好ましい。
【０１０６】
あるいは、テストパターンは、図８に示されるように、配列方向（Ｘ，Ｙ）＝（Ａ，Ｂ）のＸ方向成分Ａに一致するＸ方向の画素数を有するドットの集合からなる矩形又は直線状の基本図形が、配列方向（Ｘ，Ｙ）＝（Ａ，Ｂ）に、ベクトル（Ｘ，Ｙ）＝（Ａ，Ｂ）の大きさに対応する間隔で配置された幾何学パターンとして構成されるのがよい。図８に示されるテストパターンＴＰ１２，ＴＰ２２は、この条件を満足するため、図１１Ａ及び図１１Ｂに示されるような副走査方向の厚みの変動がない。従って、濃度分布における微細な変動を抑えることができ、交点に対応する極小点を精度よく特定することができる。
【０１０７】
図１１Ｃに示すテストパターンＴＰ５は、６つのドットＤＴがＸ方向に二列配置された基本図形ＥＬ５がベクトル（Ｘ，Ｙ）＝（３，−２）方向に配列された幾何学パターンとして構成される。
【０１０８】
図１１Ｄに示すテストパターンＴＰ６は、７つのドットＤＴがＸ方向に一列配置された基本図形ＥＬ６１と、７つのドットＤＴがＸ方向に二列配置された基本図形ＥＬ６２とが、仮想直線ＬＮ６上に交互に配列された幾何学パターンとして構成される。図１１Ｄに示すテストパターンＴＰ６は、異なる二つの基本図形ＥＬ６１，ＥＬ６２が一体化した非矩形の基本図形ＥＬ６がベクトル（Ｘ，Ｙ）＝（８，−３）方向に、ベクトル（Ｘ，Ｙ）＝（８，−３）の大きさに対応する間隔で配置された幾何学パターンとして解釈することも可能である。
【０１０９】
図１１Ｅに示すテストパターンＴＰ７は、サイズの異なる７つのドットＤＴ１，ＤＴ２がＸ方向に一列配置された基本図形ＥＬ７１，ＥＬ７２，ＥＬ７３，ＥＬ７４，ＥＬ７５がベクトル（Ｘ，Ｙ）＝（４，−１）方向に配列された幾何学パターンとして構成される。ドットサイズは、ノズルから吐出するインク液滴のサイズを変更することにより変更可能である。
【０１１０】
上述の例に依らず、第一及び第二のテストパターンは、巨視的又は近似的には、相互に異なる傾きを主走査方向に対して有する直線状（破線状を含む）の幾何学パターンに設定することができる。好ましくは、太さの均一な直線形状を示すように、第一及び第二のテストパターンは構成されるとよい。第一及び第二のテストパターンは、交わる角度が小さく、主走査方向に対する角度が小さいテストパターンであるのが好ましい。このような特徴を有するテストパターンを用いることによって、用紙Ｑの搬送誤差を精度よく算出可能である。
【０１１１】
以上に、本実施形態の複合機１の構成を説明したが、本開示の画像形成装置は、上記実施形態に限定されるものではなく、種々の態様を採ることができる。例えば、本開示の技術は、ライン型インクジェットプリンタやレーザプリンタに適用されてもよい。
【０１１２】
図１２に示されるライン型インクジェットプリンタ１０１は、複数のライン型インクジェットヘッド１４１，１４２，１４３，１４４を、記録ヘッドとして備える。図１２に示されるその他の符号が付された部位は、図２に示される同符号の部位と同様に構成される。ライン型インクジェットヘッド１４１，１４２，１４３，１４４の夫々は、主走査方向に配列された吐出ノズル群Ｎ４を備える。このライン型インクジェットプリンタ１０１は
、副走査方向に相対移動する用紙Ｑに対して、主走査方向に配列された吐出ノズル群Ｎ４から間欠的にインク液滴を吐出することにより、記録ヘッドを主走査方向に搬送することなしに、用紙Ｑに画像を形成する。図１２に示されるライン型インクジェットプリンタ１０１では、主走査方向に沿う各色のライン型インクジェットヘッド１４１，１４２，１４３，１４４が、副走査方向に配列される。このライン型インクジェットプリンタ１０１に、本開示の技術を適用する場合には、用紙Ｑを搬送しながら、上流側のライン型インクジェットヘッド１４１，１４２，１４３の一つ以上で第一のテストパターンを形成し、下流側のライン型インクジェットヘッド１４２，１４３，１４４の一つ以上で第二のテストパターンを形成することができる。
【０１１３】
レーザプリンタとしては、例えばタンデム型レーザプリンタのように、記録媒体としての用紙Ｑ又は転写ベルトに、各色のトナー画像を重ね合わせるようにして、記録媒体にカラー画像を形成するレーザプリンタが知られている。このレーザプリンタでは、各色のトナー画像を記録媒体に転写するときに、各色のトナー画像を精度よく重ね合わせる必要がある。精度のよい重ね合わせには、記録媒体の搬送制御を精度よく行う必要がある。このレーザプリンタに本開示の技術を適用すれば、上述した特徴を有するテストパターンの形成及び読取により、記録媒体の搬送誤差を精度よく算出することができる。従って、記録媒体の搬送誤差を抑えて各色のトナー画像を記録媒体に精度よく重ね合わせることができる。
【０１１４】
上記実施形態では、用紙Ｑに形成されたテストパターンの交点位置を、スキャナ部７０により得られた画像データの解析により特定したが、テストパターンの交点位置は、ユーザが目視により特定してもよい。この場合には、テストパターンと共に用紙Ｑに座標情報（例えばグリッド又は目盛り）を印刷することができる。ユーザは、目視により特定した交点の位置座標を、同時に印刷された座標情報を用いて複合機１に入力することができる。この場合、メインコントローラ１０は、Ｓ２５０において、ユーザインタフェース９０から入力された交点の位置座標に基づいて、用紙Ｑの搬送誤差を算出することができる。
【０１１５】
この他、用紙Ｑに形成されたテストパターンの交点位置は、テストパターンを直線近似して得られた近似直線の交点位置として算出されてもよい。上記実施形態では、第一のテストパターンと第二のテストパターンとの交点が用紙Ｑに現れるように、これらのテストパターンを用紙Ｑに形成したが、第一のテストパターン及び第二のテストパターンは、交点が用紙Ｑ上には現れない近接した関係で用紙Ｑに形成されてもよい。即ち、第一のテストパターン及び第二のテストパターンは、これらを仮に延長した場合に交点が用紙Ｑの内外に現れるような関係で用紙Ｑに形成されてもよい。但し、第一のテストパターン及び第二のテストパターンの用紙Ｑ上の存在領域から交点が離れる程、搬送誤差の算出精度は低下する。従って、第一のテストパターン及び第二のテストパターンは、用紙Ｑ上で交差せずとも、なるべく近接した位置関係で形成されるのが好ましい。また、画素が配置される格子点を有する上述の二次元格子は、Ｘ方向及びＹ方向が直交関係にある二次元格子に限定されない。即ち、二次元格子は、Ｘ方向及びＹ方向が直交関係にない二次元格子であってもよい。
【０１１６】
上記実施形態における１つの構成要素が有する機能は、複数の構成要素に分散して設けられてもよい。複数の構成要素が有する機能は、１つの構成要素に統合されてもよい。上記実施形態の構成の一部は、省略されてもよい。上記実施形態の構成の少なくとも一部は、他の実施形態の構成に対して付加又は置換されてもよい。特許請求の範囲に記載の文言から特定される技術思想に含まれるあらゆる態様が本発明の実施形態である。
【０１１７】
最後に対応関係を説明する。用紙搬送機構６１は、搬送ユニットの一例に対応し、記録ヘッド４０の第一のノズル群Ｎ１及び上流側のライン型インクジェットヘッド１４１，１
４２，１４３は、第一の画像形成ユニットの一例に対応し、記録ヘッド４０の第二のノズル群Ｎ２及び下流側のライン型インクジェットヘッド１４２，１４３，１４４は、第二の画像形成ユニットの一例に対応する。メインコントローラ１０及び印字コントローラ３０は、コントローラの一例に対応する。本開示の技術をレーザプリンタに適用した場合には、用紙Ｑ又は転写ベルトの搬送方向に並んだ複数の感光体の内の２つが、第一及び第二の画像形成ユニットの一例に対応する。
【符号の説明】
【０１１８】
１…複合機、１０…メインコントローラ、１１…ＣＰＵ、１３…ＲＯＭ、１５…ＲＡＭ、１７…ＮＶＲＡＭ、２０…プリンタ部、３０…印字コントローラ、４０…記録ヘッド、５１…キャリッジ搬送機構、５２…キャリッジ、５３…ＣＲモータ、５５…リニアエンコーダ、６１…用紙搬送機構、６３…ＰＦモータ、６５…ロータリエンコーダ、７０…スキャナ部、９０…ユーザインタフェース、１０１…ライン型インクジェットプリンタ、１４１，１４２，１４３，１４４…ライン型インクジェットヘッド、６１１…プラテン、６１３…搬送ローラ、６１７…排紙ローラ、ＤＴ，ＤＴ１，ＤＴ２…ドット、ＥＬ１１，ＥＬ１２，ＥＬ２１，ＥＬ２２，ＥＬ３，ＥＬ４，ＥＬ５，ＥＬ６１，ＥＬ６２，ＥＬ７１，ＥＬ７２，ＥＬ７３，ＥＬ７４，ＥＬ７５…基本図形、ＬＮ１，ＬＮ２，ＬＮ６…仮想直線、Ｎ０，Ｎ１，Ｎ２，Ｎ４…ノズル群、Ｑ…用紙、Ｒ０，Ｒ１，Ｒ２…記録領域、ＴＰ１１，ＴＰ１２，ＴＰ２１，ＴＰ２２，ＴＰ３，ＴＰ４，ＴＰ５，ＴＰ６，ＴＰ７…テストパターン、ＷＮ…矩形窓。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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