(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源からの光を測定光と参照光に分割して対象物体と参照物体に入射させ、対象物体で反射された測定光と参照物体で反射された参照光を重畳させて生成される干渉光に基づき対象物体の断層像を撮影し、撮影された断層像に基づいて生成された対象物体の断層画像を表示する表示手段を備えた断層像撮影装置であって、  測定光をラスタ走査により二次元走査して対象物体に入射させ、対象物体の断層像を撮影する第１撮影モードと、  測定光を前記第１撮影モードにおけるラスタ走査を間引きしたラスタ走査により二次元走査して対象物体に入射させ、対象物体の断層像を撮影する第２撮影モードと、を備え、  前記表示手段が、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された断層画像のうち、対象物体の注目領域を含む複数の断層画像を選択し、選択された複数の断層画像のみを表示する第１表示モードと、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された断層画像の全てを順に表示する第２表示モードとを切り替え可能に構成されており、  前記第１撮影モードで断層像の撮影をするために必要な撮影条件の調整を、前記第１表示モードで表示された断層画像に基づく第１調整操作と、前記第２表示モードで表示された断層画像に基づく第２調整操作とに分けて行った後、前記第１撮影モードで断層像の撮影が行われることを特徴とする断層像撮影装置。
【請求項２】
前記第１表示モードにおいて、前記表示手段が、前記選択された複数の断層画像を順に繰り返し表示することを特徴とする、請求項１に記載の断層像撮影装置。
【請求項３】
前記第１表示モードにおいて、前記表示手段が、前記選択された複数の断層画像を同一画面上に並べて表示することを特徴とする、請求項１に記載の断層像撮影装置。
【請求項４】
前記選択された複数の断層画像のそれぞれについて、所望の選択領域のみを表示可能であることを特徴とする、請求項２又は３に記載の断層像撮影装置。
【請求項５】
前記選択された複数の断層画像のそれぞれについて、対象物体の断層構造が含まれた領域のみを拡大し、当該拡大した断層画像を同一画面上に並べて表示することを特徴とする、請求項３に記載の断層像撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】  本発明は、被検眼などの対象物体からの測定光を参照光と重畳させて生成される干渉光に基づいて対象物体の断層像を撮影する断層像撮影装置に関する。
【背景技術】
【０００２】  眼科診断機の一つで、眼底の断層像を撮影するＯＣＴ(Optical Coherence Tomography)という光干渉を利用した断層像撮影装置がある。このような断層像撮影装置は広帯域な低コヒーレント光を、眼底に照射し、眼底からの反射光を参照光と干渉させて眼底の断層像を高感度に撮影することができる。このような断層像撮影装置により、眼底の左右方向をｘ方向、縦方向をｙ方向、奥行きをｚ方向として、ｘｚ方向の断層画像（Ｂスキャン画像）を取得することができる。一般的なＯＣＴの撮影を行えば、例えば４０枚／秒の速度で断層像が撮影され、一度の検査（網膜中のある一部分での撮影）で１００枚以上の網膜の断層画像群が取得できる。【０００３】  一般に、断層像の撮影を行う際には、最適な眼底の断層画像が得られるように、撮影前に撮影部位の位置調整や参照ミラーの位置調整、フォーカス調整、分散補償ガラスの決定といった撮影条件の調整を行う。図７に示すように、三次元断層構造を撮影するためにラスタ走査を行う場合、撮影前の撮影条件の調整時には二次元で設定された走査画角の中心の高速軸方向（ｘ方向）のみを連続的に走査して得られた断層画像を見ながら撮影条件の調整を行い、その後実際に断層像を撮影する際には本来の走査画角エリア全体をラスタ走査する方法がある。このような方法においては、撮影条件の調整時に得られる断層画像がほぼ一定であり、当該断層画像において撮影部位の形態変化も発生しにくいため、断層画像における撮影部位の出現位置やフォーカス調整等の撮影条件の調整が行い易いという利点がある。【０００４】  一方、ラスタ走査エリアが広い場合や、撮影対象が強度近視眼である場合、網膜周辺部位を撮影する場合、視神経乳頭部を撮影する場合等においては、撮影される断層画像の湾曲が大きくなり、走査する位置によって断層画像における撮影部位の出現位置が大きく異なるため、ラスタ走査の中心位置だけを走査して得られた断層画像を基に撮影条件の調整を行って撮影条件を最適化しても、ラスタ走査の中心位置以外における測定対象の形態を把握できていない以上、適切なフォーカス位置や参照ミラーの位置を決定することができない。その結果、ラスタ走査の中心位置以外の走査によって得られた断層画像においては、フォーカスずれや撮影部位の断層構造の折り返しが発生してしまうおそれがある。また、折り返しをおそれるあまり不必要に撮影部位の出現位置を下に設定してしまうことにより、画像コントラストの低下を招くことになるおそれもある。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】  撮影条件の調整時においても断層像の撮影時と同様にラスタ走査エリア全体の走査を行えば、全ての撮影部位の断層画像を撮影条件の調整中に観察することができ、最適な撮影条件を決定することができるため、理想的ともいえる。しかしながら、走査エリア全体のラスタ走査には時間がかかり、撮影条件の調整にかかる時間も長くなる。実際の断層像の撮影は撮影条件の調整を行って撮影条件の最適化を行った後になるので、一連の撮影動作に時間がかかってしまい、撮影完了までに被検者に長時間の我慢を強いることによって固視微動等の外乱影響も受け易くなってしまう。大きな固視微動が発生した場合には再び撮影条件の調整が必要となってしまうため、撮影時間がより長くかかってしまう悪循環へとつながる。【０００６】  本発明は、このような点に鑑みてなされたものであり、短時間で撮影条件の調整を完了させて最適な撮影条件を決定することができる断層像撮影装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】  上記目的を達成するために、本発明は、光源からの光を測定光と参照光に分割して対象物体と参照物体に入射させ、対象物体で反射された測定光と参照物体で反射された参照光を重畳させて生成される干渉光に基づき対象物体の断層像を撮影し、撮影された断層像に基づいて生成された対象物体の断層画像を表示する表示手段を備えた断層像撮影装置であって、測定光をラスタ走査により二次元走査して対象物体に入射させ、対象物体の断層像を撮影する第１撮影モードと、測定光を前記第１撮影モードにおけるラスタ走査を間引きしたラスタ走査により二次元走査して対象物体に入射させ、対象物体の断層像を撮影する第２撮影モードと、を備え、前記表示手段が、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された断層画像のうち、対象物体の注目領域を含む複数の断層画像を選択し、選択された複数の断層画像のみを表示する第１表示モードと、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された断層画像の全てを順に表示する第２表示モードとを切り替え可能に構成されており、前記第１撮影モードで断層像の撮影をするために必要な撮影条件の調整を、前記第１表示モードで表示された断層画像に基づく第１調整操作と、前記第２表示モードで表示された断層画像に基づく第２調整操作とに分けて行った後、前記第１撮影モードで断層像の撮影が行われることを特徴とする断層像撮影装置を提供する（発明１）。ここで、対象物体の注目領域とは、第１撮影モードの走査領域における撮影対象物体の形態の変化を代表する領域のことである。【０００８】  なお、本願において、第１撮影モードで断層像の撮影をするために必要な撮影条件の調整には、断層像撮影装置と対象物体である被検眼との位置合わせ、被検眼の視度に応じてフォーカスレンズの位置を移動させてピントを合わせるフォーカス調整、測定光と参照光とを重畳させて干渉光を生成すべく参照ミラーの位置を移動させて測定光学系と参照光学系の光路長を合わせる参照ミラー位置調整、断層像のぼけの原因となる屈折率分散を補償するための適切な分散補償ガラスを選択する分散補償ガラス決定等、最適な眼底の断層画像が得られるように断層像の撮影前に行われる様々な調整操作が含まれる。【０００９】  また、本願において、第１調整操作とは、断層像のぼけの原因となる屈折率分散を補償するために適切な分散補償ガラスを選択する分散補償ガラス決定、及び被検眼の視度に応じてフォーカスレンズの位置を移動させてピントを合わせるフォーカス調整を行うことを意味する。また、本願において、第２調整操作とは、被検眼の視度に応じてフォーカスレンズの位置を移動させてピントを合わせるフォーカス調整、及び測定光と参照光とを重畳させて干渉光を生成すべく参照ミラーの位置を移動させて測定光学系と参照光学系の光路長を合わせる参照ミラー位置調整を行うことを意味する。【００１０】  上記発明（発明１）によれば、まず、第１撮影モードより走査に要する時間が短い間引きされたラスタ走査によって断層像を撮影する第２撮影モードが設けられているため、当該第２撮影モードにおいて第１撮影モードで断層像の撮影をするために必要な撮影条件の調整を行うことにより、短時間で撮影条���の調整を完了させることができる。また、第２撮影モードにおける断層像の撮影を、従来のように一次元的にラスタ走査の中心位置等を走査するものではなく、第１撮影モードにおけるラスタ走査を間引きしたラスタ走査により二次元的に行うことにより、撮影部位のほぼ全体をカバーする断層画像を撮影条件の調整中に観察することができるため、最適な撮影条件を決定することができる。さらに、特定の断層画像のみに基づいて適切に調整可能な第１調整操作と、撮影部位のほぼ全体をカバーする走査によって得られた複数の断層画像に基づいて調整した方がより適切に調整できる第２調整操作とを、それぞれ別々に行うことができるため、短時間により最適な撮影条件を決定することができる。このとき、第１調整操作を特定の一の断層画像のみに基づいて行うことも技術的には可能であるが、その場合、その特定の一の断層画像が取得された部位においては適切に第１調整操作を行うことができたとしても、他の部位においては最適に調整されていないおそれがある。そこで、対象物体の注目領域を含む複数の断層画像を選択して第１調整操作を行うことにより、複数の部位において適切に第１調整操作を行うことができるため、より精密に撮影条件の調整が実施可能となる。【００１１】  上記発明（発明１）においては、前記第１表示モードにおいて、前記表示手段が、前記選択された複数の断層画像を順に繰り返し表示してもよいし（発明２）、前記第１表示モードにおいて、前記表示手段が、前記選択された複数の断層画像を同一画面上に並べて表示してもよい（発明３）。【００１２】  上記発明（発明２，３）においては、前記選択された複数の断層画像のそれぞれについて、所望の選択領域のみを表示可能であってもよい（発明４）。ここで、所望の選択領域とは、第１調整操作を行うために必要な程度に対象物体の断層構造が含まれるように選択された、断層画像の部分的領域のことである。【００１３】  上記発明（発明３）においては、前記選択された複数の断層画像のそれぞれについて、対象物体の断層構造が含まれた領域のみを拡大し、当該拡大した断層画像を同一画面上に並べて表示してもよい（発明５）。【００１４】  選択された複数の断層画像を同一画面上に並べて表示する場合、表示される断層画像一枚当たりの画像サイズは枚数が増えれば増えるほど小さくなり、細部の観察が困難になる。上記発明（発明５）によれば、断層画像において対象物体の断層構造が含まれていない部分は本来第１調整操作に不要であるため、当該部分を表示対象から外し、第１調整操作に必要な対象物体の断層構造が含まれた領域のみを拡大することにより、複数の断層画像を同一画面上に並べて表示した場合においてもそれぞれの画像における断層構造の細部を観察することができる。
【発明の効果】
【００１５】  本発明の断層像撮影装置によれば、短時間で撮影条件の調整を完了させて最適な撮影条件を決定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の第１実施形態に係る断層像撮影装置の全体構成を示す光学図である。
【図２】第１実施形態の本撮影モードの走査パターンを示す説明図である。
【図３】第１実施形態の予備撮影モードの走査パターンを示す説明図である。
【図４】第１実施形態における予備撮影モードから本撮影モードへの切替の流れを示す説明図である。
【図５】本発明の第２実施形態における予備撮影モードから本撮影モードへの切替の流れを示す説明図である。
【図６】第２実施形態の選択表示モードにおける表示画像の変形例を示す説明図である。
【図７】従来の断層像撮影装置における撮影条件の調整時及び撮影時の走査パターンを示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】＜第１実施形態＞  以下、本発明の第１実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。
【００１８】  図１は、本発明の第１実施形態に係る断層像撮影装置の全体構成を示す光学図である。本実施形態に係る断層像撮影装置は被検眼Ｅの眼底を撮影対象物体とし、当該眼底の所望の領域の断層像をラスタ走査によって撮影するものである。符号１０で示す部分は分波／合波光学系で、この光学系には、波長が７００ｎｍ〜１１００ｎｍで数μｍ〜数十μｍ程度の時間的コヒーレンス長の光を発光する例えばスーパールミネッセントダイオード（ＳＬＤ）からなる広帯域な低コヒーレンス光源１１が設けられる。
【００１９】  低コヒーレンス光源１１で発生した低コヒーレンス光は、光量調整機構１２を介して光量が調整され、光ファイバ１３ａにより光カプラ１３に入射し、続いて光ファイバ１３ｂ、コリメートレンズ１４を介して分割光学素子としてのビームスプリッタ２０に導かれる。なお、光カプラ１３の代わりに光サーキュレータを用いて分波、合波するようにしてもよい。
【００２０】  ビームスプリッタ２０に入射した光は参照光と測定光に分割される。測定光はフォーカスレンズ３１に入射し、測定光が被検眼Ｅの眼底に合焦される。眼底にピントの合った測定光はミラー３２で反射されてレンズ３３を通過し、ｘ軸走査ミラー（ガルバノミラー）３４、ｙ軸走査ミラー（ガルバノミラー）３５で任意の方向に走査される。ｘ軸、ｙ軸走査ミラー３４、３５で走査された測定光は、スキャンレンズ３６を通過し、ダイクロイックミラー３７で反射された後、対物レンズ３８を通過して眼底に入射し、眼底が測定光でｘ、ｙ方向に走査される。眼底で反射された測定光は上記の経路を逆にたどってビームスプリッタ２０に戻ってくる。
【００２１】  このような光学系で、ビームスプリッタ２０から後のフォーカスレンズ３１、ミラー３２、レンズ３３、ｘ軸走査ミラー３４、ｙ軸走査ミラー３５、スキャンレンズ３６、ダイクロイックミラー３７及び対物レンズ３８は、断層像撮影装置の測定光学系３０を構成している。
【００２２】  一方、ビームスプリッタ２０で分割された参照光は、ミラー４１で反射された後、対物レンズ用分散補償ガラス４２、レンズ４３、４４を通過する。その後、ミラー４５で反射されて、対象物体である被検眼Ｅの屈折率分散を補償する被検眼分散補償ガラス５０を通過した後、ダイクロイックミラー４６で反射され、集光レンズ４７、光量を調整する可変アパーチャ４８を通過し、参照ミラー４９に到達する。光路長を合わせるために集光レンズ４７、可変アパーチャ４８と参照ミラー４９は、図１において２重矢印で図示したように、一体で光軸方向に移動する。参照ミラー４９で反射された参照光は上記の光路を逆にたどってビームスプリッタ２０に戻ってくる。
【００２３】  本実施形態では、測定光学系３０のフォーカスレンズ３１、レンズ３３、スキャンレンズ３６、及び対物レンズ３８は、参照光学系４０のレンズ４３、４４、集光レンズ４７、及び対物レンズ用分散補償ガラス４２にそれぞれ対応していてそれぞれの分散特性が同じないし等価となっている。また、測定光学系３０のミラー３２、ｘ軸走査ミラー３４、ｙ軸走査ミラー３５、ダイクロイックミラー３７は、参照光学系４０のミラー４１、ミラー４５、参照ミラー４９、ダイクロイックミラー４６にそれぞれ対応していてその分散特性が同じないし等価となっている。また、被検眼Ｅの分散特性と被検眼分散補償ガラス５０の分散特性が同じないし等価になっている。
【００２４】  このような光学系で、ミラー４１、対物レンズ用分散補償ガラス４２、レンズ４３、４４、ミラー４５、被検眼分散補償ガラス５０、ダイクロイックミラー４６、集光レンズ４７、参照物体としての参照ミラー４９は断層像撮影装置の参照光学系４０を構成している。
【００２５】  ビームスプリッタ２０に戻ってきた測定光と参照光は重畳されて干渉光となり、コリメートレンズ１４、光カプラ１３を通り、光ファイバ１３ｃを介して分光器１６に入射する。分光器１６は回折格子１６ａ、結像レンズ１６ｂ、ラインセンサ１６ｃなどを有しており、干渉光は、回折格子１６ａで低コヒーレンス光の波長に応じたスペクトルに分光されて結像レンズ１６ｂによりラインセンサ１６ｃに結像される。
【００２６】  ラインセンサ１６ｃからの信号は、コンピュータ１７のＣＰＵなどで実現される断層画像形成手段でフーリエ変換を含む信号処理が行われ、眼底の深度方向（ｚ方向）の情報を示す深さ信号が生成される。眼底の走査の各サンプリング時点での干渉光によりそのサンプリング時点での深さ信号（Ａスキャン画像）が得られるので、１走査が終了すると、その走査方向に沿ったｚ方向画像（Ａスキャン画像）からなる二次元の断層画像（Ｂスキャン画像）を形成することができる。形成された断層画像（Ｂスキャン画像）はディスプレイ１８に表示することができる。また、形成された断層画像はコンピュータ１７内の記憶部（不図示）に記憶させておくことができる。
【００２７】  本実施形態に係る断層像撮影装置は、実際に断層像を撮影する際の撮影条件を最適化するために、いくつかの撮影条件の調整を行う。撮影条件の調整としては、例えば、断層像撮影装置と対象物体である被検眼Ｅとの位置合わせ、被検眼Ｅの視度に応じてフォーカスレンズ３１の位置を移動させてピントを合わせるフォーカス調整、測定光と参照光とを重畳させて干渉光を生成すべく参照ミラー４９の位置を移動させて測定光学系と参照光学系の光路長を合わせる参照ミラー位置調整、断層像のぼけの原因となる屈折率分散を補償するために適切な被検眼分散補償ガラス５０を選択する分散補償ガラス決定が挙げられる。
【００２８】  本実施形態に係る断層像撮影装置は、撮影条件の調整を行うための断層像を撮影する予備撮影モード（第２撮影モード）と、撮影条件の調整によって最適な撮影条件を決定した後に実際に眼底の所望の領域（走査領域）の断層画像を得るための断層像を撮影する本撮影モード（第１撮影モード）とを切り替え可能に構成されている。具体的には、断層像撮影装置は予備撮影モード及び本撮影モードでそれぞれ異なる走査パターンを用いて断層像を撮影し、撮影モード切替操作によって予備撮影モードと本撮影モードとを切り替えることができる。
【００２９】  本撮影モードにおいては、図２に示すように、走査領域全体をラスタ走査する。本実施形態においては、本撮影モードでは高速軸方向（ｘ方向）に全部で２５６本の走査を行うが、これに限られるものではなく、撮影対象や撮影目的、走査領域のサイズに応じて適宜変更されてよい。
【００３０】  一方、予備撮影モードにおいては、図３に示すように、低速軸方向（ｙ方向）の走査間隔を広げることにより、本撮影モードの走査密度より粗い走査密度の走査、つまり、本撮影モードにおけるラスタ走査の高速軸方向（ｘ方向）の走査を間引きした走査を行う。本実施形態においては、予備撮影モードでは高速軸方向（ｘ方向）に全部で１１本の走査を行うが、これに限られるものではなく、撮影対象や撮影目的、走査領域のサイズに応じて適宜変更されてよい。少なくとも走査領域内における対象物体の形状変化を把握するのに十分な走査数とすれば、撮影条件の最適化は適切に実施可能である。ただし、予備撮影モードが、本撮影モードよりも走査密度を粗くすることによって撮影条件の調整用の断層像の撮影に要する時間を短くし、短時間で撮影条件の調整を完了させる効果を狙っているものであることから、予備撮影モードの走査数は本撮影モードの走査数の１／２〜１／２０の範囲に設定することが望ましい。
【００３１】  本実施形態において、予備撮影モードにおける走査領域は本撮影モードにおける走査領域と同じ領域になっており、そのため、当然に本撮影モードにおける走査領域中の注目領域は予備撮影モードにおける走査領域に含まれている。ここで、注目領域とは、本撮影モードの走査領域における撮影対象物体（被検眼Ｅの眼底）の形態の変化を代表する領域のことである。
【００３２】  本実施形態においては、予備撮影モードにおいて撮影された断層像から生成された被検眼Ｅの眼底の断層画像をディスプレイ１８に表示するに際して、選択表示モード及び連続表示モードの二つの表示モードが用意されており、表示モード切替ボタン（不図示）によって選択表示モードと連続表示モードとを切り替えることができる。
【００３３】  選択表示モードは、予備撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された断層画像のうち、対象物体の注目領域を含む複数の断層画像を選択し、選択された複数の断層画像のみをディスプレイ１８に表示する表示方式であり、本実施形態においては走査領域のｙ方向の両端位置及び中心位置の走査（図３における番号１、６、１１の走査）により撮影された断層像に基づいて生成された３枚の断層画像のみを順に繰り返し表示する。
【００３４】  連続表示モードは、予備撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された断層画像を順に連続してディスプレイ１８に表示する表示方式であり、本実施形態においては全ての走査（図３における番号１〜１１の走査）により撮影された断層像に基づいて生成された１１枚の断層画像を順に繰り返し表示する。
【００３５】  本実施形態においては、撮影条件の調整を第１調整操作及び第２調整操作の二段階に分け、前述の選択表示モードを使って第１調整操作を、連続表示モードを使って第２調整操作を行う。第１調整操作では、断層像のぼけの原因となる屈折率分散を補償するために適切な被検眼分散補償ガラス５０を選択する分散補償ガラス決定、及び被検眼Ｅの視度に応じてフォーカスレンズ３１の位置を移動させてピントを合わせるフォーカス調整を行う。また、第２調整操作では、被検眼Ｅの視度に応じてフォーカスレンズ３１の位置を移動させてピントを合わせるフォーカス調整、及び測定光と参照光とを重畳させて干渉光を生成すべく参照ミラー４９の位置を移動させて測定光学系と参照光学系の光路長を合わせる参照ミラー位置調整を行う。
【００３６】  このように、特定の断層画像のみに基づいて適切に調整可能な第１調整操作と、撮影部位のほぼ全体をカバーする走査によって得られた複数の断層画像に基づいて調整した方がより適切に調整できる第２調整操作とをそれぞれ別々に行うことにより、短時間により最適な撮影条件を決定することができる。このとき、第１調整操作を特定の一の断層画像のみに基づいて行うことも技術的には可能であるが、その場合、その特定の一の断層画像が取得された部位においては適切に第１調整操作を行うことができたとしても、他の部位においては最適に調整されていないおそれがある。そこで、対象物体の注目領域を含む複数の断層画像（本実施例においては三つの断層画像）を選択して第１調整操作を行うことにより、複数の部位において適切に第１調整操作を行うことができるため、より精密に撮影条件の調整が実施可能となる。
【００３７】  本実施形態における予備撮影モードと本撮影モードの切替、選択表示モードと連続表示モードの切替を用いた撮影条件の調整の流れを説明する。図４（ａ）に示すように、まず第１調整操作を予備撮影モードにて行うが、第１調整操作は特定の断層画像のみに基づいて適切に調整可能なものである。そのため、このときディスプレイ１８は選択表示モードに設定し、番号１の走査により撮影された断層像に基づいて生成された断層画像Ｔ１、番号６の走査により撮影された断層像に基づいて生成された断層画像Ｔ６、番号１１の走査により撮影された断層像に基づいて生成された断層画像Ｔ１１の三つの断層画像を順番に繰り返し表示する。
【００３８】  選択表示モードにて第１調整操作を完了したら、続いて、図４（ｂ）に示すように、撮影方式は予備撮影モードのまま、表示モード切替ボタンを押してディスプレイ１８を連続表示モードに切り替え、撮影部位のほぼ全体をカバーする走査によって得られた複数の断層画像に基づいて調整した方がより適切に調整できる第２調整操作を行う。連続表示モードでは、予備撮影モードで得られた全ての断層画像Ｔ１〜Ｔ１１が順番に繰り返し表示される。
【００３９】  連続表示モードにて第２調整操作を完了したら、図４（ｃ）に示すように、撮影モード切替ボタンを押して予備撮影モードから本撮影モードに切り替え、最適化された撮影条件のもと、走査領域全体を高速軸方向（ｘ方向）に全部で２５６本のラスタ走査を行い、被検眼Ｅの眼底の断層像の撮影を行う。
【００４０】  なお、選択表示モード及び連続表示モードは断層画像の表示方式の違いであるにすぎず、いずれの表示モードを選択した場合においても、被検眼Ｅの断層像の撮影自体は予備撮影モードのもとで番号１〜１１の全部で１１本の走査により行われている。つまり、選択表示モードに設定した場合であっても、番号６の走査のみを行って断層画像Ｔ６を生成するための断層像のみを撮影しているわけではなく、番号１〜１１の走査を行って断層画像Ｔ１〜Ｔ１１を生成するために必要な断層像の撮影は行われている。
【００４１】  また、予備撮影モードで撮影した断層像データ及びそれを基にして生成された断層画像はコンピュータ１７内の記憶部（不図示）に保存される。予備撮影モードで撮影して取得した断層画像は、本撮影モードで撮影して得られる断層画像よりも数倍〜数十倍高速にラスタ走査して得られるものであるため、低速軸方向の固視微動による位置ずれを抑えた撮影が可能となる。この予備撮影モードで取得した各断層画像を基準として、本撮影モードで取得した断層画像を位置ずれ補正を行い再配置すれば、固視微動の影響を排除した高密度画像を得ることが可能となる。
【００４２】  以上述べたように、本実施形態の断層像撮影装置によれば、本撮影モードより走査に要する時間が短い間引きされたラスタ走査によって断層像を撮影する予備撮影モードが設けられており、予備撮影モードにおける二次元走査に要する時間が、本撮影モードにおける二次元走査に要する時間よりも短くなるため、当該予備撮影モードにおいて本撮影モードで断層像の撮影をするために必要な撮影条件の調整を行うことにより、短時間で撮影条件の調整を完了させることができる。また、予備撮影モードにおける断層像の撮影を、従来のように一次元的にラスタ走査の中心位置等を走査するものではなく、走査密度は粗いもののラスタ走査を間引きしたラスタ走査により二次元的に行うことにより、撮影部位のほぼ全体をカバーする断層画像を撮影条件の調整中に観察することができるため、最適な撮影条件を決定することができる。さらに、特定の断層画像のみに基づいて適切に調整可能な第１調整操作と、撮影部位のほぼ全体をカバーする走査によって得られた複数の断層画像に基づいて調整した方がより適切に調整できる第２調整操作とを、それぞれ別々に行うことができるため、短時間により最適な撮影条件を決定することができる。このとき、第１調整操作を特定の一の断層画像のみに基づいて行うことも技術的には可能であるが、その場合、その特定の一の断層画像が取得された部位においては適切に第１調整操作を行うことができたとしても、他の部位においては最適に調整されていないおそれがある。そこで、対象物体の注目領域を含む複数の断層画像を選択して第１調整操作を行うことにより、複数の部位において適切に第１調整操作を行うことができるため、より精密に撮影条件の調整が実施可能となる。
【００４３】＜第２実施形態＞  次に、本発明の第２実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。第２実施形態に係る断層像撮影装置の全体構成は第１実施形態に係る断層像撮影装置と同一であるため、光学系その他の説明は省略する。また、第１実施形態と同じ素子、部品、装置については同じ符号を使用し、同じ用語は同じ意味を持つものとして使用する。
【００４４】  本実施形態に係る断層像撮影装置は、第１実施形態に係る断層像撮影装置と同様に、予備撮影モードにおいて撮影された断層像から生成された被検眼Ｅの眼底の断層画像をディスプレイ１８に表示するに際して、選択表示モード及び連続表示モードの二つの表示モードが用意されており、表示モード切替ボタン（不図示）によって選択表示モードと連続表示モードとを切り替えることができる。この選択表示モードの構成が第１実施形態とは異なるため、以下、この点についてのみ説明する。
【００４５】  本実施形態に係る断層像撮影装置の選択表示モードは、予備撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された断層画像のうち、対象物体の注目領域を含む複数の断層画像を選択し、選択された複数の断層画像のみをディスプレイ１８に表示する表示方式であり、本実施形態においては走査領域のｙ方向の両端位置及び中心位置の走査（図３における番号１、６、１１の走査）により撮影された断層像に基づいて生成された３枚の断層画像を同時に同一画面上に並べて表示する。
【００４６】  ここで、本実施形態においては、図５（ａ）に示すように、番号１の走査により撮影された断層像に基づいて生成された断層画像Ｔ１、番号６の走査により撮影された断層像に基づいて生成された断層画像Ｔ６、番号１１の走査により撮影された断層像に基づいて生成された断層画像Ｔ１１の三つの断層画像を同一画面上に並べて表示する。このディスプレイ１８の表示に基づいて第１調整操作を行う。
【００４７】  選択表示モードにて第１調整操作を完了したら、続いて、図５（ｂ）に示すように、撮影方式は予備撮影モードのまま、表示モード切替ボタンを押してディスプレイ１８を連続表示モードに切り替え、撮影部位のほぼ全体をカバーする走査によって得られた複数の断層画像に基づいて調整した方がより適切に調整できる第２調整操作を行う。連続表示モードにて第２調整操作を完了したら、図５（ｃ）に示すように、撮影モード切替ボタンを押して予備撮影モードから本撮影モードに切り替え、最適化された撮影条件のもと、走査領域全体を高速軸方向（ｘ方向）に全部で２５６本のラスタ走査を行い、被検眼Ｅの眼底の断層像の撮影を行うという流れは第１実施形態と同様である。
【００４８】  なお、本実施形態においては、断層画像Ｔ１、断層画像Ｔ６及び断層画像Ｔ１１の三つの断層画像をそのまま同一画面上に並べて表示しているが、必ずしも断層画像の全体が画面上に表示されている必要はなく、第１調整操作を行うために必要な程度に被検眼Ｅの眼底の断層構造が含まれるように選択された部分的領域が表示されるようにしていてもよい。例えば、図６に示すように、選択された複数の断層画像（断層画像Ｔ１、断層画像Ｔ６及び断層画像Ｔ１１の三つの断層画像）のそれぞれについて、対象物体である被検眼Ｅの眼底の断層構造が含まれた部分的領域のみを拡大し、当該拡大した断層画像Ｔ１Ｐ、断層画像Ｔ６Ｐ及び断層画像Ｔ１１Ｐを同一画面上に並べて表示してもよい。
【００４９】  選択された複数の断層画像を同一画面上に並べて表示する場合、表示される断層画像一枚当たりの画像サイズは枚数が増えれば増えるほど小さくなり、細部の観察が困難になる。断層画像において対象物体の断層構造が含まれていない部分は本来第１調整操作に不要である。そこで、図６に示すように、対象物体の断層構造が含まれていない部分を表示対象から外し、第１調整操作に必要な対象物体の断層構造が含まれた領域のみを拡大すれば、複数の断層画像を同一画面上に並べて表示した場合においてもそれぞれの画像における断層構造の細部を観察することができる。
【００５０】  また、拡大した断層画像Ｔ１Ｐ、断層画像Ｔ６Ｐ及び断層画像Ｔ１１Ｐの一部分を更に拡大して並べて表示されるようにしてもよい。このとき、複数の拡大した断層画像（断層画像Ｔ１Ｐ、断層画像Ｔ６Ｐ及び断層画像Ｔ１１Ｐ）のうちの一の断層画像（断層画像Ｔ１Ｐ）において更に拡大する領域を設定すると、その他の断層画像（断層画像Ｔ６Ｐ及び断層画像Ｔ１１Ｐ）においても対応する同一位置の領域が連動して更に拡大する領域として設定されるようにしてもよいし、複数の拡大した断層画像のそれぞれについて独立に更に拡大する領域を設定するようにしてもよい。複数の拡大した断層画像で領域設定が連動するようにした場合、一の断層画像において設定する領域を移動させるとその他の断層画像においても設定領域が連動して移動するようにしてもよい。
【００５１】  以上、本発明に係る断層像撮影装置について図面に基づいて説明してきたが、本発明は上記実施形態に限定されることはなく、種々の変更実施が可能である。
【符号の説明】
【００５２】Ｅ    被検眼（対象物体）１０  分波／合波光学系１１  低コヒーレンス光源１２  光量調整機構１３  光カプラ１４  コリメートレンズ２０  ビームスプリッタ３０  測定光学系３１  フォーカスレンズ３４  ｘ軸走査ミラー３５  ｙ軸走査ミラー３６  スキャンレンズ３７  ダイクロイックミラー３８  対物レンズ４０  参照光学系４２  対物レンズ用分散補償ガラス４６  ダイクロイックミラー４７  集光レンズ４８  可変アパーチャ４９  参照ミラー５０  被検眼分散補償ガラス
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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