(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
接地部と前記接地部に囲まれた可変部とが形成された合成樹脂製の底部を有し、内容物を充填・封止してレトルト殺菌処理された封止済み容器の検査方法であって、
レトルト殺菌処理後、第１の所定期間以内に、複数の前記封止済み容器の前記接地部の下縁を含む平面に対する前記可変部の中央の底部高さ、又は、前記封止済み容器と同一構造を有し、同一内容物が充填・封止され、かつ同一条件でレトルト殺菌処理された複数のサンプル容器の底部高さのうち何れか一方の底部高さを測定し、測定した測定値に基づいて判定基準を設定する設定工程と、
レトルト殺菌処理後、第２の所定期間の経過後に、前記封止済み容器の前記底部高さを測定する測定工程と、
前記封止済み容器の前記底部高さと前記判定基準とを比較して、前記封止済み容器の良否を判定する判定工程と、
を有することを特徴とする、封止済み容器の検査方法。
【請求項２】
前記設定工程において、前記判定基準は、複数の前記封止済み容器又は複数の前記サンプル容器のうちの一方の底部高さの測定値の実質的な分布範囲の最大値よりも大きい基準高さであり、
前記判定工程において、前記封止済み容器の前記底部高さが前記基準高さ以下であるときに、当該封止済み容器を不良品と判定する
ことを特徴とする、請求項１記載の封止済み容器の検査方法。
【請求項３】
前記設定工程において、前記判定基準は、複数の前記サンプル容器のうちの複数の不良品の底部高さの測定値の実質的な分布範囲の最大値よりも大きい基準高さであり、
前記判定工程において、前記封止済み容器の前記底部高さが前記基準高さ以下であるときに、当該封止済み容器を不良品と判定する
ことを特徴とする、請求項１記載の封止済み容器の検査方法。
【請求項４】
前記設定工程において、前記判定基準は、複数の前記サンプル容器のうちの複数の不良品の底部高さの測定値の実質的な分布範囲であり、
前記判定工程において、前記封止済み容器の前記底部高さが前記分布範囲に含まれるときに、当該封止済み容器を不良品と判定する
ことを特徴とする、請求項１記載の封止済み容器の検査方法。
【請求項５】
前記第１の所定期間は１時間以内である
ことを特徴とする、請求項１〜４のいずれかに記載の封止済み容器の検査方法。
【請求項６】
前記第２の所定期間は５日以上である
ことを特徴とする、請求項１〜５のいずれかに記載の封止済み容器の検査方法。
【請求項７】
前記封止済み容器は、レトルト釜内の圧力を前記封止済み容器内部の圧力変化に応じて等圧制御する等圧殺菌によりレトルト殺菌処理されている
ことを特徴とする、請求項１〜６のいずれかに記載の封止済み容器の検査方法。
【請求項８】
接地部と当該接地部に囲まれた可変部とが形成された底部を有する合成樹脂製の容器と、前記容器の開口を閉塞する可撓性の蓋部とを有する封止済み容器の検査を行う容器検査システムであって、
請求項１〜７のいずれかに記載の封止済み容器の検査方法を実行する底部変形検査装置と、
前記蓋部の変形量に基づいて封止済み容器の良否を判定する蓋部検査装置と
を備えたことを特徴とする、容器検査システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、封止済み容器検査方法及び容器検査システムに関し、より詳細には、内容物を充填後、フィルム材等の蓋材で封止してレトルト殺菌処理された封止済み容器の微小な密封不良等の有無を判定するのに好適な検査方法、及びその検査方法を実行する容器検査システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、食品などの内容物を充填・封止してレトルト殺菌処理される容器として、合成樹脂製のカップ型容器が広く使用されている。かかる容器は、通常、内容物の充填後、上部開口をフィルム材等で閉塞することによって封止される。製造された封止済み容器に対しては、ピンホールやフィルム装着不良による密封不良の有無を判定する密封検査が実施される。
【０００３】
従来の密封検査方法の一例が下記の特許文献１に開示されている。レトルト殺菌処理後、常温まで冷却されたプラスチック容器は、内部が陰圧になるため、その底及び蓋が凹形に変形するのに対し、密封不良の場合には変形が生じないか変形量が小さくなる。特許文献１では、このことを利用し、蓋等の変形量を測定することによって、容器の密封性の良否を判定している。
【０００４】
また、密閉缶を対象とした検査方法の一例が特許文献２に記載されている。密封不良の密閉缶は、放置している間に缶の内圧が低下する。特許文献２では、このことを利用し、個々の缶の内圧を、所定期間を挟んで２回測定し、両方の測定値の差が大きいものを密封不良と判定している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平１−３１６６２６号公報
【特許文献２】特開２００４−３１７４７９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１には、密封性の良否判定にあたり、蓋等の変形量の良否判定基準が記載されておらず、また、特許文献２には内圧差の良否判定基準値の根拠が記載されていない。良否判定基準が不適切であると、密封性の良／不良が誤判定されて、検査精度が低下してしまうおそれがある。また、特許文献２に記載の技術では、すべての缶について内圧を２回測定して、その差分を計算しなければならない。このため、異なるタイミングで測定された個々の缶の測定値が同一の缶のものであると判別するために、特別な工程とシステムを必要とし、設備コストと手間がかかるものであった。
【０００７】
また、従来の検査装置において直接検出可能な蓋部のピンホールの直径は、せいぜい５０μｍ程度であった。しかし、直径５０μｍ未満の微小ピンホールからでも微生物が容器内に侵入し、内容物が変敗するおそれがある。このため、直径５０μｍ未満の微小ピンホールも検出可能な密封検査技術の実現が要請されている。
【０００８】
本発明は、上記の事情にかんがみてなされたものであり、合成樹脂製の封止済み容器の微小な密封不良等を簡便な方法で精度良く全数検査することができる封止済み容器の検査方法、及びその検査方法を実行する容器検査システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
この目的を達成するため、本発明の封止済み容器検査方法は、接地部とこの接地部に囲まれた可変部とが形成された合成樹脂製の底部を有し、内容物を充填・封止してレトルト殺菌処理された封止済み容器の検査方法であって、レトルト殺菌処理後、第１の所定期間以内に、複数の封止済み容器の接地部の下縁を含む平面に対する可変部の中央の底部高さと、又は、封止済み容器と同一構造を有し、同一内容物が充填・封止され、かつ同一条件でレトルト殺菌処理された複数のサンプル容器の底部高さのうち何れか一方の底部高さを測定し、測定された測定値に基づいて判定基準を設定する設定工程と、レトルト殺菌処理後、第２の所定期間の経過後に、封止済み容器の底部高さを測定する測定工程と、封止済み容器の底部高さと判定基準とを比較して、封止済み容器の良否を判定する判定工程とを有する方法としてある。
【００１０】
また、本発明の容器検査システムは、接地部と当該接地部に囲まれた可変部とが形成された底部を有する合成樹脂製の容器と、前記容器の開口を閉塞する可撓性の蓋部とを有する封止済み容器の検査を行う容器検査システムであって、上記の封止済み容器の検査方法を実行する底部変形検査装置と、蓋部の変形量に基づいて封止済み容器の良否を判定する蓋部変形検査装置とを備えた構成としてある。
【発明の効果】
【００１１】
本発明の封止済み容器の検査方法及び容器検査システムによれば、合成樹脂製の封止済み容器の微小な密封不良等を簡便な方法で精度良く全数検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の第１実施形態における封止済み容器の検査方法の工程を示すブロック図である。
【図２】（ａ）は、容器の断面図であり、（ｂ）は、容器の底面図である。
【図３】容器の断面形状を示す模式図であり、（ａ）は、内容物充填前の容器の断面形状、（ｂ）は、レトルト殺菌処理直後の容器の断面形状、（ｃ）は、保管工程後の容器の断面形状、（ｄ）は、密封不良品の断面形状をそれぞれ模式的に示す。
【図４】充填前、レトルト殺菌処理直後、及び保管工程の容器の底部高さの変化を示すグラフである。
【図５】レトルト殺菌処理直後の封止済み容器の底部高さの分布範囲と、保管工程後の良品の封止済み容器の底部高さの分布範囲とを示す模式図である。
【図６】封止済み容器の底部高さの測定方法の説明図である。
【図７】本発明の第２実施形態における封止済み容器の検査方法の工程を示すブロック図である。
【図８】レトルト殺菌処理直後のサンプル容器及び不良品の底部高さの分布範囲と、保管工程後の良品の封止済み容器の底部高さの分布範囲とを示す模式図である。
【図９】本発明の実施形態による容器検査システムの概略図である。
【図１０】本発明の容器検査システムによる検査工程を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、本発明に係る封止済み容器検査方法及び容器検査システムの実施形態について図面を参照して説明する。
【００１４】
［封止済み容器の検査方法の第１実施形態］
図１は、本発明の第１実施形態における封止済み容器の検査方法の工程を示すブロック図である。
容器成形工程（Ｓ１０）では、図２に示す合成樹脂（プラスチック）製のカップ型の容器１０を射出成形などの成形法により成形する。
図２（ａ）に、容器１０の断面図を示し、図２（ｂ）に、容器１０の底面図を示す。
【００１５】
容器１０は、底部１１と、その外周から容器１０の外部に向かって傾斜しつつ立ち上がる胴部１２と、胴部１２の上縁に形成されたフランジ部１３とから構成され、胴部１２の上縁によって開口部１４が画成されている。底部１１には、接地部１５とこの接地部１５に囲まれた可変部１６とが形成されている。接地部１５の下縁を含む平面Ｐに対する可変部１６の中央部１６ａを底部高さ（ボトムシンク）Ｈとする。
なお、図２（ｂ）に示すように、底部１１の接地部１５の外周は、円形の形状を有しているが、底部１１の形状は円形に限定されず、例えば、角丸の矩形や多角形、楕円形であってもよい。
【００１６】
図３（ａ）に示すように、成形時の容器１０の底部１１の可変部１６は平坦である。しかし、合成樹脂製の可変部１６は可撓性を有しているため、封止済み容器２０の剛性と加重のバランスや、内部の圧力変化により変形する。例えば、図３(ｂ)に示すように、封止済み容器２０が、後述するレトルト殺菌処理工程（Ｓ１２）により加熱された状態では、合成樹脂の剛性が低下すると共に内容物Ｃの加重がかかるため、可変部１６は凸形に変形する。一方、図３（ｃ）に示すように、封止済み容器２０の内部が減圧して陰圧になると、可変部１６は凹形に変形する。そして、封止済み容器２０内部圧力が低いほど線形的に可変部１６の変形量も大きくなる。
【００１７】
次に、充填封止工程（Ｓ１１）では、容器１０に内容物Ｃを充填して封止する。容器１０の開口部をフィルム状の蓋部１７で覆い、フランジ１３の上面と蓋部１７とをヒートシールなどの方法により溶着することによって、容器１０は封止される。
【００１８】
次に、レトルト殺菌処理工程（Ｓ１２）では、容器１０を蓋部１７で封止した封止済み容器２０に対してレトルト殺菌処理が行われる。レトルト殺菌処理は、レトルト釜（図示せず）内の圧力を封止済み容器２０の内部の圧力変化に応じて制御する殺菌処理方法を用いることが好ましい。具体的には、レトルト釜内の圧力を封止済み容器２０の内部の圧力変化に応じて等圧制御する等圧殺菌により、殺菌処理が行われる。このような、等圧制御により封止済み容器２０の内外圧力差を小さくすることで、蓋部１７の変位を、容器内圧力が変化しない範囲、即ち、容器内圧が高くなり蓋部１７が凸状に張りつめた状態や、容器内圧が低くなり蓋部１７が凹状に張りつめた状態でなく、蓋部１７に若干の弛みがある状態を保つことができる。このため、レトルト殺菌処理中の封止済み容器２０の破裂や永久変形の発生が防止される。
【００１９】
ここで、図４を参照して、レトルト殺菌処理後の封止済み容器２０の内圧の変化を説明する。図４は、充填前、レトルト殺菌処理直後、及び保管工程の封止済み容器２０の底部高さＨの変化を示すグラフである。
なお、図４のグラフ中において、良品の封止済み容器の底部高さＨは「○」、「◇」及び「△」印の測定プロットで示し、密封不良である蓋部１７に直径５μｍのピンホールを付与した不良品の底部高さＨは「×」印の測定プロットで示している。
【００２０】
レトルト殺菌処理直後の封止済み容器２０の底部１１の可変部１６は、図３(ｂ)に示すように凸形に変形している。このため、図４に示すように、封止済み容器２０の底部高さＨは、充填前のものよりも低くなっている。これは、上述したように、レトルト殺菌処理が終了し、レトルト釜から取り出された直後の封止済み容器２０は、レトルト釜内で冷却して常温に戻す工程を経てはいるものの、レトルト殺菌処理の加熱の影響により、封止済み容器２０の合成樹脂の剛性が低下すると共に内容物Ｃの加重がかかっている状態にあるためである。このような、レトルト殺菌処理直後の封止済み容器の底部高さＨの低下は、図４に示すとおり、良品の封止済み容器においても、密封不良である不良品の封止済み容器においても、同様に生じる。
【００２１】
そして、保管工程中に、封止済み容器２０内部では、ヘッドスペースＨＳに封入されている炭酸ガスなどの気体が内容物Ｃによって吸収され、容器内部が減圧して底部１１が引っ張りあげられていく。その結果、図４のグラフ中に「○」、「◇」及び「△」印の測定プロットで示すように、良品の封止済み容器の底部高さＨは、レトルト殺菌処理直後と比較し、１日、３日、５日、７日及び１４日が経過すると、底部高さＨが大きくなる。すなわち、保管工程中に、良品の封止済み容器の底部１１の可変部１６は、図３(ｃ)に示すように凹形に変形する。
【００２２】
一方、蓋部１７に直径５μｍのピンホールがある密封不良の不良品では、ピンホールから外気が侵入するため、容器内部が減圧しない。このため、図４のグラフ中に「×」の測定プロットで示すように、密封不良である不良品の封止済み容器の底部高さＨは、レトルト殺菌処理後、何日経過しても、レトルト殺菌処理直後の底部高さＨからほとんど変化していない。すなわち、保管工程中、不良品の封止済み容器の底部１１の可変部１６は、レトルト殺菌処理直後と同様に、図３(ｄ)に示すように実質的に凸形に変形したままである。
【００２３】
なお、図４においては、蓋部１７に直径５μｍのピンホールを付与した封止済み容器を例にあげたが、内容物Ｃが蓋部１７に噛みこんだ状態で封止された容器においても、図４の不良品と同様の底部高さＨの変化となる。また、封止済み容器内のヘッドスペースのガス置換不良が発生した場合においても、図４の不良品と同様の底部高さＨの変化が生ずる。
【００２４】
このように、保存工程中に、良品の封止済み容器の底部高さＨが、レトルト殺菌処理直後の底部高さＨから増加するのに対し、不良品の封止済み容器の底部高さＨは、レトルト殺菌処理直後の底部高さＨからほとんど変化しない。その結果、保管工程を経ることによって、良品の封止済み容器の底部高さＨと、不良品の封止済み容器の底部高さＨとの差が拡大する。
【００２５】
ところで、上述のように、不良品の封止済み容器の底部高さＨは、レトルト殺菌処理直後の底部高さＨからほとんど変化していないため、不良品の底部高さＨの測定値の分布範囲は、レトルト殺菌直後の底部高さＨの測定値の分布範囲に近いままである。
【００２６】
ここで、図５に、レトルト殺菌処理直後の封止済み容器２０の底部高さＨの分布範囲と、保管工程後の封止済み容器２０の底部高さＨの分布範囲とを模式的に示す。図５においては、右にいくほど底部高さＨが高いことを示している。図５中の曲線Ｉは、レトルト殺菌処理直後の底部高さＨの測定値の分布を正規分布と仮定した正規分布曲線である。また、図５中の曲線IIは、保管工程後の底部高さＨの測定値の分布を正規分布と仮定した正規分布曲線である。
【００２７】
図５に示すように、曲線IIで示す保管工程後の底部高さＨの分布範囲は、曲線Ｉで示すレトルト殺菌処理直後の底部高さＨの分布範囲よりも、底部高さＨの高い側（グラフ右側）へ大きく移動している。このように、曲線Ｉで示す分布範囲と曲線IIで示す分布範囲との底部高さＨ方向の位置が異なっているため、２つの分布範囲の間に判定基準の閾値を設定すれば、密封の良否を精度良く判定することができる。
【００２８】
そのために、基準設定工程（Ｓ１３）では、レトルト殺菌処理後、第１の所定期間以内前に、複数の封止済み容器２０の底部高さＨを測定し、その測定値に基づいて判定基準を設定する。
なお、判定基準設定のために底部高さＨを測定する封止済み容器２０は、レトルト殺菌処理が終了した直後（第１の所定期間以内）の多数の封止済み容器２０の中から任意に選択するとよい。
【００２９】
ここで、レトルト殺菌処理直後となる第１の所定期間は、具体的には、レトルト殺菌処理が終了してから１時間以内、より好適には、蓋部１７に若干の弛みがある状態（封止済み容器２０の内外圧が等圧、即ち、容器内圧が高くなり蓋部１７が凸状に張りつめた状態や、容器内圧が低くなり蓋部１７が凹状に張りつめた状態でない状態）であることが好ましい。
封止済み容器２０の内部減圧速度は、内容物Ｃの種類により変化する。例えば、対流しやすい水のような内容物であれば、ヘッドスペースＳ中の炭酸ガスは内容物Ｃに早く吸収されるため、減圧速度は速くなる。一方、対流しにくいペースト状の食品のような内容物の場合は、ヘッドスペースＳ中の炭酸ガスは内容物Ｃにゆっくりと吸収されるため、減圧速度は遅くなる。減圧速度の遅い内容物Ｃであれば、レトルト殺菌処理直後の１時間以内に、封止済み容器２０の内部減圧により底部１１の可変部１５が凹形に大きく変形する前に、底部高さを測定することができるため好適である。
【００３０】
底部高さＨの測定方法は限定されないが、図６に示すように、封止済み容器２０の底部１１に下方から二次元形状計測センサ５１のレーザ光を照射して、底部１１の形状から底部高さＨの距離を測定するとよい。その際には、封止済み容器２０を、二次元形状計測センサ５１の上方を通過するように搬送しながら、底部１１の直径に沿って照射して、接地部１５の下端の１５ａ，１５ｂまでの距離と可変部１６の中央部１６ａまでの距離とをそれぞれ測定し、１５ａ，１５ｂの平均値を基準値として、中央部１６ａまでの差を求めるとよい。また、前述の二次元形状計測センサ５１に変えてレーザ距離センサを用いる場合は、前述と同様の方法で接地部１５と可変部１６までの距離の差を求めても良いし、レーザ距離センサから底部１１の接地部１５の下縁を含む平面Ｐまでの距離が既定であれば、平面Ｐまでの距離と可変部１６の中央部１６ａまでの距離との差を求めてもよい。
【００３１】
本実施形態では、レトルト殺菌処理後、第１の所定期間内において、任意に選択された複数の封止済み容器２０の底部高さＨの実質的な測定値の分布範囲の最大値よりも大きい基準高さを、判定基準として設定する。
判定基準の設定方法は、まず、前述の複数の封止済み容器２０の底部高さＨの平均値μを算出するとともに、標準偏差σを算出し、標準偏差σの整数倍の範囲（例えば、３σの範囲、又は４σの範囲）を測定値の実質的な分布範囲とする。そして、その標準偏差σの整数倍の値のうち平均値μよりも大きい方を、底部高さＨの分布範囲の最大値（例えば、３σ、又は４σ）とする。
【００３２】
例えば、図５に曲線Ｉで示す正規分布において、３０個のレトルト殺菌処理直後の封止済み容器２０の底部高さＨの測定値の平均は０．９０ｍｍであり、３σは０．５６ｍｍと１．２４ｍｍであり、４σは０．４５ｍｍと１．３５ｍｍである。したがって、底部高さＨの測定値の実質的な分布範囲は、４σを採用すれば、０．４５ｍｍ〜１．３５ｍｍとなる。この場合、１．３５ｍｍが実質的な分布範囲の最大値となる。そして、この最大値よりも少し大きい値（４σ＋α）である１．４３を基準高さＨｔとするとよい。なお、３σを採用した場合には、０．５６ｍｍ〜１．２４ｍｍが底部高さＨの測定値の実質的な分布範囲となり、１．２４ｍｍが最大値となる。
【００３３】
また、この基準高さＨｔの値は、図５に曲線IIで示した保管工程後の検査対象の封止済み容器２０の底部高さＨの正規分布の下側の３σ又は４σの値よりも小さいこと（グラフ左側）が好ましい。
このように、封止済み容器２０の実質的な分布範囲の最大値よりも少し大きい値を基準高さとすることにより、曲線Ｉで示す正規分布の山と、曲線IIで示す正規分布の山とを、基準高さＨｔを閾値として明確に分けることができる。
【００３４】
次に、保管工程（Ｓ１４）では、レトルト殺菌処理が終了した封止済み容器２０を第２の所定期間以上保管する。
封止済み容器２０を保管する第２の所定期間は、レトルト殺菌処理後５日間以上であるのがよい。図４のグラフに示したように、良品容器の底部高さＨは、レトルト殺菌処理後５日までは大きく上昇するが、５日経過後は変化が小さい。したがって、第２の所定期間を５日間として、保管期間を５日間以上とすれば、良品容器の底部高さＨと不良品容器の底部高さＨとの間に明確な差が生じるため、良否判定の精度を高めることができる。
【００３５】
次に、底部高さ測定工程（Ｓ１５）では、保管工程（Ｓ１４）を経た封止済み容器２０の底部高さＨを測定する。底部高さ測定工程（Ｓ１５）においても、基準設定工程（Ｓ１３）と同様に、封止済み容器２０の底部高さＨを全数測定する。保管工程後の底部高さＨの測定値の分布は、図５に曲線IIで示した正規分布曲線に対応する。
なお、封止済み容器２０が生産ライン上で二次元形状計測センサ５１の上方を通過するようにシステムを配置すれば、スループットを低下させることなく全数検査を行うことができる。
【００３６】
次に、判定工程（Ｓ１６）では、底部高さ測定工程（Ｓ１５）で測定された封止済み容器２０の底部高さＨと、基準設定工程（Ｓ１３）で設定された判定基準である基準高さＨｔとを比較し、良品、不良品の判定を行う。封止済み容器２０の底部高さＨが基準高さＨｔ以下であるときに、その封止済み容器２０を密封不良と判定する。その結果、図５のグラフ中、曲線Ｉで示す実質的な分布範囲（例えば、平均値μの両側の４σに挟まれる範囲）に含まれる底部高さＨを有する封止済み容器２０は、すべて不良品と判定される。一方、良品の封止済み容器２０は、その底部高さＨが曲線IIで示す正規分布範囲に実施的に含まれるため良品と判定される。このため、密封の良否の精度良く判定することができる。
【００３７】
不良品と判定された封止済み容器２０は、不良品排除工程（Ｓ１７）において、生産ラインから排除される。
【００３８】
以上説明したように、本実施形態の封止済み容器の検査方法によれば、レトルト殺菌処理が終了してから第１の所定期間以内（例えば、１時間以内）に複数の封止済み容器２０の底部高さＨを測定し、その測定結果に基づいて判定基準である基準高さＨｔを設定し、レトルト殺菌処理後、第２の所定期間（例えば、５日間）が経過した封止済み容器２０の底部高さＨとその判定基準である基準高さＨｔとを比較して、封止済み容器２０の密封性の良否を判定する。かかる判定基準を設定することにより、合成樹脂製の封止済み容器２０において、直径５０μｍ未満の微小な密封不良を精度良く全数検査することができる。
【００３９】
［封止済み容器の検査方法の第２実施形態］
次に、本発明の封止済み容器の検査方法の第２実施形態について説明する。
図７は、本発明の第２実施形態による封止済み容器の検査方法の工程を示すブロック図である。
【００４０】
本実施形態は、実際に販売する封止済み容器２０（実製品）の製造及び所定期間保管後の底部高さ測定工程とは別に、予め実製品と同一のサンプル容器を製造し、判定基準を設定する方法である。図７の上段は、実製品による製造工程（Ｓ１０〜Ｓ１２）、保管工程（Ｓ１４）、底部高さ測定工程（Ｓ１５）を経た封止済み容器２０の工程であり、第１実施形態と同一である。そして、図７の下段は、その封止済み容器２０と同一構造を有し（Ｓ２０）、同一内容物が充填・封止され（Ｓ２１）、かつ同一条件でレトルト殺菌処理された（Ｓ２２）複数のサンプル容器に基づいて、判定基準を設定する工程である。このため、本実施形態では、サンプル容器の底部高さＨに基づく判定基準を設定する基準設定工程（Ｓ２３）から説明する。
【００４１】
基準設定工程（Ｓ２３）では、レトルト殺菌処理後、第１の所定期間以内（例えば、１時間以内）に、複数のサンプル容器の底部高さＨを、第１実施形態におけるものと同じ測定方法で測定し、その測定値に基づいて判定基準を設定する。
なお、判定基準設定のために底部高さＨを測定するサンプル容器は、レトルト殺菌処理が終了した直後（第１の所定期間以内）の多数のサンプル容器の中から任意に選択するとよい。
また、変形例として、サンプル容器のうちの複数の密封不良の不良品底部高さＨを測定し、その測定値に基づいて判定基準を設定してもよい。
【００４２】
ここで、図８に、第２実施形態におけるレトルト殺菌処理直後のサンプル容器の底部高さＨの分布範囲と、保管工程後の封止済み容器２０（実製品）の底部高さＨの分布範囲とを模式的に示す。
図８中の曲線IIは、図５中の曲線IIと同じく、保管工程後の実製品の底部高さＨの測定値の分布を正規分布と仮定した正規分布曲線である。また、図８中の曲線IIIは、レトルト殺菌処理直後のサンプル容器の底部高さＨの測定値の分布を正規分布と仮定した正規分布曲線である。さらに、図８中の曲線IVは、レトルト殺菌処理直後のサンプル容器のうち、複数の不良品の底部高さＨの測定値の分布を正規分布と仮定した正規分布曲線である。
【００４３】
図８に示すように、曲線IIで示す保管工程後の実製品の底部高さＨの分布範囲は、曲線IIIで示す殺菌処理直後のサンプル容器の底部高さＨの分布よりも、底部高さＨの高い側（グラフ右側）へ大きく移動している。このように、曲線IIで示す分布範囲と、曲線IIIで示す分布範囲とが異なっているため、２つの分布範囲の間に判定基準の閾値を設定することによって、密封の良否を精度良く判定することができる。
【００４４】
また、曲線IIで示す保管工程後の実製品の底部高さＨの分布範囲は、曲線IVで示す殺菌処理直後のサンプル容器の不良品の底部高さＨの分布に対しても、底部高さＨの高い側（グラフ右側）へ大きく移動している。加えて、殺菌処理直後のサンプル容器の不良品の底部高さＨの分布範囲（曲線IV）は、サンプル容器の底部高さＨの分布範囲（曲線III）よりも、底部高さＨの低い側（グラフ左側）へ移動しているため、保管工程後の実製品の底部高さＨの分布範囲との差がより明確になる。
このように、曲線IIで示す分布範囲と、曲線IVで示す分布範囲との底部高さＨ方向の位置が異なっているため、２つの分布範囲の間に判定基準の閾値を設定することによっても、より明確に密封の良否を精度良く判定することができる。
【００４５】
本実施形態では、曲線IIIで示す複数のサンプル容器の底部高さＨの測定値の実質的な分布範囲の最大値よりも大きい基準高さＨｔ１を判定基準として設定してもよいし、曲線IVで示すサンプル容器のうちの複数の不良品の底部高さＨの測定値の実質的な分布範囲の最大値よりも大きい基準高さＨｔ２を判定基準として設定してもよい。
【００４６】
判定基準の設定にあっては、第１実施形態と同様に、サンプル容器又はサンプル容器の不良品の底部高さＨの平均値μを算出するとともに、標準偏差σを算出し、標準偏差σの整数倍の範囲（例えば、上下４σ間の範囲）を測定値の実質的な分布範囲とする。そして、その標準偏差σの整数倍の値のうち平均値μよりも大きい方を、底部高さＨの分布範囲の最大値（例えば、４σ）とする。
曲線IIIで示す殺菌処理直後のサンプル容器の底部高さＨの分布は、図５に曲線Ｉで示した殺菌処理直後の封止済み容器２０の底部高さＨの分布と実質的に同じになる。したがって、サンプル容器に基づく場合には、第１実施形態と同様にして判定基準を設定するとよい。
【００４７】
一方、図８に示すように、曲線IVで示すサンプル容器の不良品の底部高さＨの分布は、曲線IIIで示すサンプル容器の底部高さＨの分布よりも底部高さが低い側（グラフ左側）に移動している。曲線IVで示すサンプル容器の不良品の底部高さＨの分布においては、３０個の不良品の底部高さＨの測定値の平均は０．６３ｍｍであり、３σは０．３０ｍｍと０．９６ｍｍであり、４σは０．１６ｍｍと１．１０ｍｍである。したがって、不良品の底部高さＨの実質的な分布範囲は、上下の４σを採用すれば、０．１６ｍｍ〜１．１０ｍｍとなる。この場合、１．１０ｍｍが実質的な分布範囲の最大値となり、この最大値よりも少し大きい値（４σ＋α）である１．２３を基準高さＨｔ２とするとよい。
【００４８】
なお、この基準高さＨｔ２の値は、曲線IVで示すサンプル容器の不良品の底部高さＨの正規分布の上側の４σの値と、曲線IIで示す保管工程後の実製品の封止済み容器２０の底部高さＨの正規分布の下側の４σの値との間の値であることが好ましい。これにより、基準高さＨｔ２によって、曲線IVで示す分布範囲と、曲線IIで示す分布範囲とをより明確に分けることができる。
【００４９】
また、判定基準として基準高さＨｔ１又はＨｔ２を設定する代わりに、図８に曲線IVで示す不良品の底部高さＨの実質的な分布の範囲Ｄ、例えば、曲線IVの分布の上下の４σ間を判定基準として設定してもよい。
【００５０】
なお、上述したサンプル容器の不良品の選定方法は、予め蓋部１７又は容器１０に、数μｍ程度（例えば５μｍ〜５０μｍ）のピンホールを付与した複数のサンプル容器を、複数の不良品のサンプル容器としてもよいし、複数のサンプル容器から複数の不良品のサンプル容器を選別したものを用いてもよい。
【００５１】
次に、判定工程（Ｓ１６）では、検査対象である実製品の封止済み容器２０の底部高さＨと判定基準である基準高さＨｔ１（又はＨｔ２）とを比較し、封止済み容器２０の底部高さＨが基準高さＨｔ１（又はＨｔ２）以下である場合に、その封止済み容器２０を不良品と判定する。その結果、図８のグラフ中、曲線III又は曲線IVで示す実質的な分布範囲（例えば、平均値μの両側の４σに挟まれる範囲）に含まれる底部高さＨを有する封止済み容器２０は、すべて不良品と判定される。一方、良品の封止済み容器２０は、その底部高さＨが曲線IIで示す正規分布範囲に実質的に含まれるため良品と判定される。このため、基準高さＨｔ１（又はＨｔ２）を判定基準にした場合にも、密封の良否の精度良く判定することができる。
【００５２】
また、検査対象である実製品の封止済み容器２０の底部高さＨが、判定基準であるサンプル容器の不良品の実質的な分布範囲Ｄに含まれる場合に、その封止済み容器２０を密封不良と判定してもよい。その場合も、図８に曲線IVの実質的な分布範囲Ｄ（例えば、平均値μの両側の４σに挟まれる範囲）に含まれる底部高さＨを有する封止済み容器２０は、すべて不良品と判定される。一方、良品の封止済み容器２０は、その底部高さＨが曲線IIで示す分布範囲に実質的に含まれるため良品と判定される。このため、サンプル容器の不良品の底部高さの分布範囲Ｄを判定基準とした場合にも、密封の良否の精度良く判定することができる。
【００５３】
そして、本実施形態においても、不良品と判定された封止済み容器２０は、不良品排除工程（Ｓ１７）において、生産ラインから排除される。
このようにして、本実施形態においても、第１実施形態における効果と同様の効果を奏することができる。
【００５４】
［容器検査システムの実施形態］
次に、本発明の容器検査システムの実施形態について説明する。
本容器検査システムは、封止済み容器の検査を行う容器検査システムであって、図２及び図３に示した、接地部１５と当該接地部１５に囲まれた可変部１６とが形成された底部１１を有する合成樹脂製のカップ型容器１０と、カップ型容器の開口を閉塞する可撓性の蓋部１７とを有する封止済み容器２０を検査対象としている。
【００５５】
図９は、本実施形態の容器検査システムの概略図である。本容器検査システム１００は、第１実施形態において説明した封止済み容器の検査方法を実行する底部変形検査装置１０１と、蓋部１７の変形量を測定する蓋部変形検査装置１０２とから構成されており、製造ライン上を２条のベルト５０で搬送されている封止済み容器の２０を検査する。
なお、底部変形検査装置１０１は、第２実施形態において説明した封止済み容器の検査方法を実行してもよい。
【００５６】
底部変形検査装置１０１は、封止済み容器の２０の下方からレーザ光を照射して底部高さＨを測定する図６に示した二次元形状計測センサ５１のような底部距離測定手段５１と、コンピュータ５２とから構成されている。また、蓋部変形検査装置１０２は、封止済み容器２０に上方からレーザ光を照射して蓋部１７の変形量を測定するレーザ距離センサのような蓋部距離測定手段５３と、コンピュータ５２とから構成されている。コンピュータ５２は、底部変形検査装置１０１として、第１実施形態の基準設定処理及び判定処理を行うとともに、蓋部変形検査装置１０２として、蓋部の変形量に基づいて密封良否等の判定処理を行う。
なお、底部距離測定装置５１及び蓋部距離測定装置５３は、二次元形状計測センサやレーザ距離センサなどのレーザセンサに限らず、渦電流方式のコイルセンサなど任意好適な構成とすることができる。
【００５７】
次に、図１０を参照して、本実施形態の容器検査システム１００による容器検査工程を説明する。
本実施形態の容器検査システムは、第１実施形態又は第２実施形態における検査工程に加えて、封止済み容器の蓋部の変形量についても測定する。以下、第１実施形態を用いた場合を例にとり、説明する。
なお、図１０において、図１に示した工程と同一のものについては同一の符号のみを付し、その詳細な説明を省略する。
【００５８】
蓋部変形測定工程（Ｓ３０）では、レトルト殺菌処理後、第２の所定期間（例えば、５日間）経過後、封止済み容器の蓋部１７の変形量を、蓋距離測定装置５３を使用して測定する。蓋変形測定装置５３は、当該装置から蓋部１７までの距離を測定する。
【００５９】
蓋部１７は、可撓性を有する積層構造のフィルム材からなり、封止済み容器２０の内圧に応じて変形する。蓋部１７は、封止済み容器２０内外の圧力差がないときは平坦であるが、封止済み容器２０内部が陽圧になると凸形に変形する。
【００６０】
蓋部１７が凸形に変形する原因としては、内容物Ｃの変敗によるガスの発生が挙げられる。また、蓋部１７の変形量を測定することによって、変敗の発生以外にも、ヘッドスペースのガス量が少なすぎたことによるガス置換不良、充填温度異常、密封不良、及び内容物量異常などの種々の生産条件の異常を検出することができる。
【００６１】
変形量算出工程（Ｓ３１）では、蓋部１７までの距離の測定値に基づいて、蓋部１７の変形量を算出する。変形量は、蓋部１７の周縁部までの距離と蓋部１７の中央部までの距離との差を算出することにより求めるとよい。
【００６２】
第２判定工程（Ｓ３２）では、変形量算出工程（Ｓ３１）において算出された蓋部１７の変形量に基づき、保管工程後の封止済み容器２０における変敗などの異常の有無を判定する。例えば、蓋部１７の変形量が所定値以上である場合には、その封止済み容器２０を不良品と判定する。
【００６３】
不良品排除工程（Ｓ１７）では、第１実施形態の判定工程（Ｓ１６）と同じ第１判定工程（Ｓ１６）において不良品と判定された封止済み容器２０、及び第２判定工程（Ｓ３２）において不良品と判定された封止済み容器２０の両方を生産ラインから排除する。
【００６４】
このように、第１実施形態又は第２実施形態における検査方法を実行する底部変形検査装置に加え、蓋部変形検査装置で封止済み容器２０の蓋部１７の変形量を測定することにより、内容物Ｃの変敗、ガス置換不良、充填温度異常などの様々な生産条件の異常が検出できる。このため、封止済み容器２０の密封不良品の検出精度をより向上させることができる。また、第１判定工程及び第２判定工程の判定基準を設定することにより、最小限のラインコストに抑えることができつつ、合成樹脂性の封止済み容器２０の良否を精度良く全数検査することができる。
【００６５】
なお、本発明の実施形態においては合成樹脂性のカップ型容器を例にあげ説明したが、可撓性を有しており、底部が接地部、接地部と接地部に囲まれた可変部とが形成されている容器であれば、如何なる材料、形状の容器の密封性等の検査にも適用することができる。
【００６６】
また、本発明の実施形態においては、密封検査にのみ焦点を当てて述べたが、蓋部のピンホールによる密封不良の不良品のみならず、内容物が蓋部の封止位置に噛みこんだ状態での密封不良、ヘッドスペースのガス置換不良、封止済み容器の形状変形等の様々な不良も、本発明を適用することにより検出することができる。
【産業上の利用可能性】
【００６７】
本発明は、封止済み容器の密封性等の検査に関する技術であり、密封性等の検査を行う装置や機器に利用可能である。
【符号の説明】
【００６８】
１０  容器
１１  底部
１２  胴部
１３  フランジ部
１４  開口部
１５  接地部
１６  可変部
１６ａ  中央部
１７  蓋部
２０  封止済み容器
５１  底部距離測定手段（二次元形状計測センサ）
５２  コンピュータ
５３  蓋部距離測定手段（レーザ距離センサ）
１０１  底部変形検査装置
１０２  蓋部変形測定装置
Ｃ  内容物
Ｐ  接地部の下縁を含む平面
Ｈ  底部高さ
Ｓ  ヘッドスペース
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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