(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
芯線および当該芯線を取り囲むシールドを有するシールド線における当該芯線の先端部に接続された第１の接触端子を測定対象における一方の被接触部に接触させると共に導線の先端部に接続された第２の接触端子を前記測定対象における他方の被接触部に接触させて、前記芯線および前記導線を介して直流信号源からの直流信号を前記測定対象に供給している状態で当該測定対象の被測定量を測定する測定装置における前記各接触端子と前記各被接触部との接触状態を判定可能な接触判定装置であって、
前記芯線の基端部と前記直流信号源の一方の電極とを結ぶ第１回路と、前記シールドの基端部と前記一方の電極とを結ぶ第２回路と、前記シールドの前記基端部と前記一方の電極とを結んで前記第２回路に並列に接続される第３回路と、前記接触状態を判定可能な物理量を検出する検出回路とを備え、
前記第１回路は、電流電圧変換用の第１変換素子を備え、
前記第２回路は、直列接続された可変容量素子および電流電圧変換用の第２変換素子を備え、
前記第３回路は、前記接触状態の判定用の交流信号を出力する交流信号源を備え、
前記検出回路は、前記第１変換素子によって電流電圧変換された電圧と前記第２変換素子によって電流電圧変換された電圧との電圧差を前記物理量として検出する接触判定装置。
【請求項２】
前記交流信号源は、前記交流信号の周波数を変更可能に構成されている請求項１記載の接触判定装置。
【請求項３】
前記可変容量素子における容量の調節範囲内で前記検出回路から出力される前記電圧差が０Ｖとならないときにその旨を報知する報知部を備えている請求項１または２記載の接触判定装置。
【請求項４】
請求項１から３のいずれかに記載の接触判定装置と、前記直流信号源と、前記第１回路に設けられた電流計とを備え、当該電流計によって検出される電流値に基づいて前記測定対象の前記被測定量を測定する測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被接触部に接触させた接触端子を介して直流信号を測定対象に供給している状態で被測定量を測定する測定装置における接触端子と被接触部との接触状態を判定可能な接触判定装置、およびその接触判定装置を備えた測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種の測定装置として、下記特許文献１に開示された２端子回路素子測定装置（以下、単に「測定装置」ともいう）が知られている。この測定装置は、電流計、直流電圧に交流電圧を重畳した電圧を発生する直流電圧発生回路、およびＣＰＵ等を備えて、測定対象（ＤＵＴ）の絶縁抵抗を測定可能に構成されている。ここで、測定対象に電圧を供給するケーブルと測定対象との接触状態が不良のときには、絶縁抵抗を正しく測定することができないため、この測定装置には、ケーブルと測定対象との接触状態を判定する機能が搭載されている。この場合、ケーブルと測定対象との接触状態が良好なときには測定対象の容量を介して電流の交流成分が流れ、接触状態が不良のときには電流の直流成分および交流成分の双方が流れないため、この測定装置では、電流計によって測定された電流の直流成分および交流成分の双方が０Ａのときには接触状態が不良と判定し、電流の交流成分が０Ａではないときには接触状態が良好と判定している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００４−２４５５８４号公報（第６−７頁、第１図）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところが、上記の測定装置には、以下の問題点がある。すなわち、上記の測定装置では、測定対象に電圧を供給するケーブルとして、芯線（第１導体）とシールド（第２導体）とを有する同軸ケーブル（シールド線）を用いている。この場合、同軸ケーブルのケーブル長が規定値よりも長い場合には、芯線とシールドとの間の容量が大きくなるため、電流計によって測定される電流の交流成分が、ケーブル長が規定値のときに測定される交流成分よりも小さくなる結果、接触状態を誤判定するおそれがある。また、同軸ケーブルのケーブル長が規定値よりも短い場合には、芯線とシールドとの間の容量が小さくなるため、電流計によって測定される電流の交流成分が、ケーブル長が規定値のときに測定される交流成分よりも大きくなる結果、接触状態を誤判定するおそれがある。したがって、上記の測定装置には、ケーブル長が規定値とは異なる同軸ケーブルを使用するときに、そのケーブル長に合わせて増幅器の感度や交流電圧の振幅を再調整する必要があり作業が煩雑となるという問題点が存在する。
【０００５】
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、シールド線の長さが変更された場合においても、煩雑な作業を行うことなく接触端子と測定対象の被接触部との接触状態の良否を正確に判定し得る接触判定装置および測定装置を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成すべく請求項１記載の接触判定装置は、芯線および当該芯線を取り囲むシールドを有するシールド線における当該芯線の先端部に接続された第１の接触端子を測定対象における一方の被接触部に接触させると共に導線の先端部に接続された第２の接触端子を前記測定対象における他方の被接触部に接触させて、前記芯線および前記導線を介して直流信号源からの直流信号を前記測定対象に供給している状態で当該測定対象の被測定量を測定する測定装置における前記各接触端子と前記各被接触部との接触状態を判定可能な接触判定装置であって、前記芯線の基端部と前記直流信号源の一方の電極とを結ぶ第１回路と、前記シールドの基端部と前記一方の電極とを結ぶ第２回路と、前記シールドの前記基端部と前記一方の電極とを結んで前記第２回路に並列に接続される第３回路と、前記接触状態を判定可能な物理量を検出する検出回路とを備え、前記第１回路は、電流電圧変換用の第１変換素子を備え、前記第２回路は、直列接続された可変容量素子および電流電圧変換用の第２変換素子を備え、前記第３回路は、前記接触状態の判定用の交流信号を出力する交流信号源を備え、前記検出回路は、前記第１変換素子によって電流電圧変換された電圧と前記第２変換素子によって電流電圧変換された電圧との電圧差を前記物理量として検出する。
【０００７】
また、請求項２記載の接触判定装置は、請求項１記載の接触判定装置において、前記交流信号源は、前記交流信号の周波数を変更可能に構成されている。
【０００８】
また、請求項３記載の接触判定装置は、請求項１または２記載の接触判定装置において、前記可変容量素子における容量の調節範囲内で前記検出回路から出力される前記電圧差が０Ｖとならないときにその旨を報知する報知部を備えている。
【０００９】
また、請求項４記載の測定装置は、請求項１から３のいずれかに記載の接触判定装置と、前記直流信号源と、前記第１回路に設けられた電流計とを備え、当該電流計によって検出される電流値に基づいて前記測定対象の前記被測定量を測定する。
【発明の効果】
【００１０】
請求項１記載の接触判定装置、および請求項４記載の測定装置では、第１変換素子を有してシールド線の芯線と直流信号源とを結ぶ第１回路と、可変容量素子および第２変換素子を有してシールド線のシールドと直流信号源とを結ぶ第２回路と、交流信号を出力する交流信号源を有して第２回路に並列に接続される第３回路と、第１変換素子によって電流電圧変換された電圧と第２変換素子によって電流電圧変換された電圧との電圧差を検出する検出回路とを備えている。このため、この接触判定装置および測定装置によれば、各接触端子を測定対象の各被接触部から離した状態で検出回路から出力される電圧差が０Ｖとなるように可変容量素子の容量を調節した後に、各接触端子を測定対象の各被接触部に接触させる操作をすることで、シールド線の容量を介して流れる電流の影響を受けることなく、各接触端子と測定対象の各被接触部との接触状態の良否を正確に判定することができる。また、この接触判定装置および測定装置によれば、接触状態の判定を行う前に、可変容量素子の容量を調節することによって可変容量素子の容量とシールド線の容量とを等しくすることができるため、シールド線を変更してシールド線の容量が変わったとしても、煩雑な作業を行うことなく、シールド線の変更によって接触状態の判定の正否が影響を受ける事態を確実に防止して、接触状態の良否を正確に判定することができる。
【００１１】
また、請求項２記載の接触判定装置、および請求項４記載の測定装置によれば、交流信号の周波数を変更可能に交流信号源を構成したことにより、例えば、同種類の他の測定装置を用いた測定を隣接した箇所で同時に行うような測定環境において、各測定装置における各交流信号源から出力される交流信号の周波数を互いに異ならせることで、各交流信号源から出力される各交流信号同士の干渉によって可変容量素子の容量調節や、接触状態の判定が不正確となる事態を確実に防止することができる。
【００１２】
また、請求項３記載の接触判定装置、および請求項４記載の測定装置によれば、可変容量素子における容量の調節範囲内で検出回路から出力される電圧差が０Ｖとならないときにその旨を報知する報知部を備えたことにより、例えば、容量が大きすぎる（長すぎる）シールド線を用いて測定をしようとしたときに、そのことを使用者に確実に報知することができる。このため、この接触判定装置および測定装置によれば、容量が大きすぎる（長すぎる）シールド線を用いて測定を行うことによって各接触端子と各被接触部との接触状態の判定を正確に行うことができなかったり、シールド線の容量の影響によって測定対象の被測定量を正確に測定することができなかったりする事態を確実に防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】抵抗測定装置１の構成を示す構成図である。
【図２】測定部２の回路構成を示す構成図である。
【図３】抵抗測定装置１を用いた測定方法を説明する第１の説明図である。
【図４】抵抗測定装置１を用いた測定方法を説明する第２の説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、本発明に係る接触判定装置および測定装置の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。
【００１５】
最初に、図１に示す抵抗測定装置１の構成について説明する。抵抗測定装置１は、測定装置の一例であって、測定対象５０の絶縁抵抗Ｒｉ（被測定量の一例）を測定可能に構成されている。具体的には、抵抗測定装置１は、同図に示すように、測定部２、操作部３、表示部４および処理部５を備えて構成されている。
【００１６】
測定部２は、図２に示すように、直流電源２１（直流信号源）、電流計２２、インダクタ２３ａ，２３ｂ、可変コンデンサ２４（可変容量素子）、抵抗２５ａ，２５ｂ，２５ｃ、交流電源２６（交流信号源）、および差動アンプ２７（検出回路）を備えて構成されている。なお、インダクタ２３ａ，２３ｂ、可変コンデンサ２４、抵抗２５ａ，２５ｂ、交流電源２６および差動アンプ２７によって接触判定装置が構成される。
【００１７】
また、測定部２には、交流電圧（交流信号）および直流電圧（直流信号）を測定対象５０に供給するためのシールド線６０および導線７０（図２参照）を接続するための図外の接続端子が配設されている。この場合、シールド線６０は、同図に示すように、芯線６１と、絶縁体を介して芯線６１を取り囲むように配設されたシールド６２とを備えた同軸ケーブルで構成されている。また、シールド線６０における芯線６１の先端部６１ａには、測定対象５０の被接触部５１に接触させる接触端子６３（第１の接触端子）が接続されている。また、シールド線６０における芯線６１の基端部６１ｂおよびシールド６２の基端部６２ｂには、測定部２の接続端子に接続可能な図外の接続端子が接続されている。また、導線７０の先端部７０ａには、測定対象５０の被接触部５１に接触させる接触端子７１（第２の接触端子）が接続され、導線７０の基端部７０ｂには、測定部２の接続端子に接続可能な図外の接続端子が接続されている。
【００１８】
直流電源２１は、処理部５の制御に従い、絶縁抵抗測定用の直流電圧（直流信号）を出力する。また、図２に示すように、直流電源２１の負極２１ａ（一方の電極）は、第１回路Ｐｃ１、第２回路Ｐｃ２および第３回路Ｐｃ３を介して、シールド線６０における芯線６１の基端部６１ｂおよびシールド６２の基端部６２ｂに接続され、直流電源２１の正極２１ｂ（他方の電極）は、導線７０の基端部７０ｂに接続される。この場合、同図に示すように、第１回路Ｐｃ１は、電流計２２、インダクタ２３ａおよび抵抗２５ａを備えて構成され、第２回路Ｐｃ２は、インダクタ２３ｂ、可変コンデンサ２４および抵抗２５ｂを備えて構成され、第３回路Ｐｃ３は、抵抗２５ｃおよび交流電源２６を備えて構成されている。
【００１９】
電流計２２は、図２に示すように、シールド線６０における芯線６１の基端部６１ｂと直流電源２１の負極２１ａとを結ぶ第１回路Ｐｃ１に設けられて、第１回路Ｐｃ１に流れる電流Ｉ１（図３参照）の電流値を検出する。
【００２０】
インダクタ２３ａは、図２に示すように、第１回路Ｐｃ１において電流計２２に対して直列に接続されている。このインダクタ２３ａは、第１回路Ｐｃ１を流れる電流を電圧に変換するための（電流電圧変換用の）第１変換素子として機能すると共に、高周波から電流計２２を保護する機能を有している。この抵抗測定装置１では、インダクタ２３ａには、一例として、１０００μＨのインダクタが用いられている。
【００２１】
抵抗２５ａは、電流計２２の保護用の抵抗であって、図２に示すように、第１回路Ｐｃ１において電流計２２およびインダクタ２３ａに対して直列に接続されている。この場合、この抵抗測定装置１では、一例として、１ｋΩの抵抗２５ａが用いられている。
【００２２】
可変コンデンサ２４は、容量を調節可能なコンデンサであって、図２に示すように、シールド線６０におけるシールド６２の基端部６２ｂと直流電源２１の負極２１ａとを結ぶ第２回路Ｐｃ２に設けられている。
【００２３】
インダクタ２３ｂは、図２に示すように、第２回路Ｐｃ２において可変コンデンサ２４に対して直列に接続されている。この場合、インダクタ２３ｂは、第２回路Ｐｃ２を流れる電流を電圧に変換するための（電流電圧変換用の）第２変換素子として機能する。この抵抗測定装置１では、第１回路Ｐｃ１におけるインダクタ２３ａと同じ１０００μＨのインダクタ２３ｂが用いられている。
【００２４】
抵抗２５ｂは、第２回路Ｐｃ２の全体の抵抗値を第１回路Ｐｃ１の全体の抵抗値と同等にするための調整用の抵抗であって、第２回路Ｐｃ２における可変コンデンサ２４とインダクタ２３ｂとの間に、可変コンデンサ２４およびインダクタ２３ｂに対して直列に接続されている。この場合、この抵抗測定装置１では、第１回路Ｐｃ１における抵抗２５ａと同じ１ｋΩの抵抗２５ｂが用いられている。
【００２５】
交流電源２６は、図２に示すように、シールド線６０におけるシールド６２の基端部６２ｂと直流電源２１の負極２１ａとを結んで第２回路Ｐｃ２に並列な第３回路Ｐｃ３に設けられている。この交流電源２６は、処理部５の制御に従い、交流電圧（接触状態判定用の交流信号）を出力する。また、交流電源２６は、処理部５の制御に従って交流電圧の周波数を変更することが可能に構成されている。この場合、この抵抗測定装置１では、予め設定された複数の周波数の中から、操作部３の操作によって任意の１つの周波数を選択することによって交流電源２６の周波数を変更する構成が採用されている。
【００２６】
抵抗２５ｃは、交流電源２６を終端する（保護するための）終端抵抗であって、図２に示すように、交流電源２６に対して並列に接続されている。この場合、この抵抗測定装置１では、一例として、５０Ωの抵抗２５ｃが用いられている。
【００２７】
差動アンプ２７は、図２に示すように、第１回路Ｐｃ１におけるインダクタ２３ａと抵抗２５ａとの間の位置Ａ１の電圧Ｖ１（インダクタ２３ａによって電流電圧変換された電圧）と、第２回路Ｐｃ２におけるインダクタ２３ｂと抵抗２５ｂとの間の位置Ａ２の電圧Ｖ２（インダクタ２３ｂによって電流電圧変換された電圧）との電圧差Ｖｓ（接触状態を判定可能な物理量）を出力（検出）する。
【００２８】
操作部３は、各種のスイッチを備えて構成され、これらが操作されたときに操作信号を出力する。表示部４は、処理部５の制御に従って各種の値や文字情報を表示する。具体的には、表示部４は、処理部５によって測定される絶縁抵抗Ｒｉの値、測定部２の差動アンプ２７から出力される電圧差Ｖｓの値、および後述する文字情報等を表示する。
【００２９】
処理部５は、操作部３から出力される操作信号に従って各種の処理を実行する。具体的には、処理部５は、測定部２の電流計２２によって検出される電流値および直流電源２１から出力される直流電圧の電圧値に基づいて測定対象５０の絶縁抵抗Ｒｉを測定し、絶縁抵抗Ｒｉの値を表示部４に表示させる。また、処理部５は、表示部４と共に報知部として機能し、測定部２の可変コンデンサ２４における容量の調節範囲内では、差動アンプ２７から出力される電圧差Ｖｓが０Ｖとならないことを示す文字情報を表示部４に表示させる。
【００３０】
次に、抵抗測定装置１を用いて測定対象５０の絶縁抵抗Ｒｉを測定する方法、およびその際の抵抗測定装置１の動作について、図面を参照して説明する。
【００３１】
測定に先立ち、測定部２における可変コンデンサ２４の容量調節を行う。この容量調節では、まず、操作部３を操作して、交流電源２６から出力される交流電圧の周波数を、予め設定された複数の周波数の中から選択して設定する。
【００３２】
次いで、図３に示すように、シールド線６０に接続されている接触端子６３を測定対象５０の被接触部５１から離した状態で、操作部３を操作して、測定部２の交流電源２６による交流電圧の出力を指示する。続いて、処理部５が、操作部３から出力された操作信号に従って交流電源２６を制御して交流電圧を出力させる。
【００３３】
この場合、この状態では、図３に示すように、接触端子６３が測定対象５０の被接触部５１から離れているため、被接触部５１には交流電圧が供給されず、測定対象５０には電流が流れていない。一方、芯線６１とシールド６２との間には容量（以下、この容量を「容量Ｃ１」ともいう）が存在するため、交流電圧の出力により、第１回路Ｐｃ１には、容量Ｃ１に応じた電流Ｉ１が流れる。また、交流電圧の出力により、第２回路Ｐｃ２には、可変コンデンサ２４の容量（以下、この容量を「容量Ｃ２」ともいう）に応じた電流Ｉ２が流れる。また、第３回路Ｐｃ３には、電流Ｉ１，Ｉ２の合成電流Ｉ３が流れる。
【００３４】
また、差動アンプ２７が、インダクタ２３ａによって電流電圧変換された位置Ａ１の電圧Ｖ１と、インダクタ２３ｂによって電流電圧変換された位置Ａ２の電圧Ｖ２との電圧差Ｖｓを出力する。また、処理部５は、電圧差Ｖｓの値を表示部４に表示させる。
【００３５】
この場合、電圧差Ｖｓが０Ｖではないとき（つまり、電圧Ｖ１，Ｖ２が異なるとき）には、表示部４に表示される電圧差Ｖｓの値を見ながら、電圧差Ｖｓが０Ｖとなるように可変コンデンサ２４の容量Ｃ２を調節する。ここで、この抵抗測定装置１では、第１回路Ｐｃ１におけるインダクタ２３ａのインダクタンスおよび第２回路Ｐｃ２におけるインダクタ２３ｂのインダクタンスが互いに等しく、第１回路Ｐｃ１における抵抗２５ａの抵抗値および第２回路Ｐｃ２における抵抗２５ｂの抵抗値が互いに等しいため、シールド線６０の容量Ｃ１と可変コンデンサ２４の容量Ｃ２とが等しいときには、第１回路Ｐｃ１に流れる電流Ｉ１と第２回路Ｐｃ２に流れる電流Ｉ２とが等しくなり、この結果、電圧Ｖ１，Ｖ２が等しくなって、電圧差Ｖｓが０Ｖとなる。つまり、電圧差Ｖｓが０Ｖとなったときには、シールド線６０の容量Ｃ１と可変コンデンサ２４の容量Ｃ２とが等しくなったこととなる。
【００３６】
次いで、操作部３を操作して交流電圧の出力の停止を指示し、これに応じて、処理部５が交流電源２６を制御して交流電圧の出力を停止させる。以上により、可変コンデンサ２４の容量調節が終了する。
【００３７】
なお、可変コンデンサ２４の容量調節において、可変コンデンサ２４の容量調節範囲内では電圧差Ｖｓが０Ｖとならないときには、処理部５は、その旨を示す文字情報を表示部４に表示させる。また、この際には、処理部５は、参考値として、可変コンデンサ２４の容量Ｃ２を表示部４に表示させる。このような情報が表示部４に表示されたときには、シールド線６０の容量Ｃ１が大きすぎる（つまり、シールド線６０が長すぎる）ことを意味している。このときには、後述する接触端子６３，７１と被接触部５１との接触状態の良否の判定を正確に行うことができず、また、測定対象５０の絶縁抵抗Ｒｉを測定する際に、シールド線６０の容量Ｃ１の影響によって絶縁抵抗Ｒｉを正確に測定することができないおそれがある。このため、このような情報が表示部４に表示されたときには、シールド線６０を短いものと交換して、可変コンデンサ２４の容量調節を再度行う。
【００３８】
続いて、測定対象５０における絶縁抵抗Ｒｉの測定を開始する。まず、図４に示すように、接触端子６３，７１を測定対象５０の各被接触部５１に接触させる操作を行う。次いで、操作部３を操作して、接触端子６３，７１と被接触部５１との接触状態の判定を指示する。続いて、処理部５は、操作部３から出力された操作信号に従って交流電源２６を制御して交流電圧を出力させる。
【００３９】
この場合、図４に示すように、測定対象５０の各被接触部５１に接触端子６３，７１が接触しているときには、測定対象５０の容量Ｃ３を介しても電流Ｉ１が流れるため、第１回路Ｐｃ１に流れる電流Ｉ１の電流値と第２回路Ｐｃ２に流れる電流Ｉ２の電流値とが異なることとなり、位置Ａ１の電圧Ｖ１と位置Ａ２の電圧Ｖ２とが異なる値となって電圧差Ｖｓが０Ｖではない値となる。したがって、０Ｖ以外の電圧差Ｖｓの値が表示部４に表示されたときには、測定対象５０の各被接触部５１に接触端子６３，７１が接触している（接触状態が良好である）ことを把握することができる。
【００４０】
一方、図３に示すように、測定対象５０の各被接触部５１に接触端子６３，７１の少なくとも一方（同図では、接触端子６３のみ）が接触していないときには、上記した可変コンデンサ２４の容量調節において説明したように、第１回路Ｐｃ１に流れる電流Ｉ１と第２回路Ｐｃ２に流れる電流Ｉ２とが等しくなり、この結果、電圧Ｖ１，Ｖ２が等しくなって、電圧差Ｖｓが０Ｖとなる。したがって、０Ｖの電圧差Ｖｓの値が表示部４に表示されたときには、測定対象５０の各被接触部５１に接触端子６３，７１が接触していない（接触状態が不良である）ことを把握することができる。この際には、測定対象５０の各被接触部５１に接触させる操作を再度行う。
【００４１】
この抵抗測定装置１では、測定部２を上記した構成として、接触状態の判定に先立ち、可変コンデンサ２４の容量Ｃ２を調整してシールド線６０の容量Ｃ１と可変コンデンサ２４の容量Ｃ２とを等しくすることで、上記したように、シールド線６０の容量Ｃ１を介して流れる電流の影響を受けることなく、接触端子６３，７１と測定対象５０の各被接触部５１との接触状態の良否を正確に判定することが可能となっている。また、この抵抗測定装置１では、接触状態の判定に先立って容量Ｃ２とシールド線６０の容量Ｃ１とを等しくしているため、シールド線６０を変更してシールド線６０の容量Ｃ１が変わったとしても、シールド線６０の変更によって接触状態の判定の正否が影響を受けることがないため、接触状態の判定を正しく行うことが可能となっている。
【００４２】
また、この抵抗測定装置１では、交流電源２６から出力される交流電圧の周波数を変更することができるため、同種類の他の抵抗測定装置１を用いた測定を隣接した箇所で同時に行うような測定環境において、各抵抗測定装置１における各交流電源２６から出力される交流電圧の周波数を互いに異ならせることで、各交流電源２６から出力される各交流電圧同士の干渉によって可変コンデンサ２４の容量調節や、接触状態の判定が不正確となる事態を確実に防止することが可能となっている。
【００４３】
次いで、接触端子６３，７１と被接触部５１との接触状態が良好であると判定したときには、操作部３を操作して、接触状態の判定の終了を指示し、続いて、操作部３を操作して測定の実行を指示する。次いで、処理部５は、操作部３から出力された操作信号に従って交流電源２６を制御して交流電圧の出力を停止させ、続いて、直流電源２１を制御して直流電圧を出力させる。この際に、直流電圧が接触端子６３，７１を介して測定対象５０の各被接触部５１に供給される。これに伴い、測定対象５０の絶縁抵抗Ｒｉに応じた電流Ｉ１１（図４参照）が第１回路Ｐｃ１を流れ、電流計２２が、その電流Ｉ１１を検出する。
【００４４】
次いで、処理部５は、電流計２２によって検出される電流Ｉ１１の電流値と、直流電源２１から出力される直流電圧の電圧値とに基づいて測定対象５０の絶縁抵抗Ｒｉを測定し、続いて、絶縁抵抗Ｒｉの値を表示部４に表示させる。以上により、絶縁抵抗Ｒｉの測定が終了する。
【００４５】
この場合、絶縁抵抗Ｒｉが予め決められたしきい値以上のときには、測定対象５０の絶縁状態が良好と判定し、絶縁抵抗Ｒｉがしきい値未満のときには、測定対象５０の絶縁状態が不良と判定する。この抵抗測定装置１では、上記したように、接触端子６３，７１と測定対象５０の各被接触部５１との接触状態の良否を正確に判定することができるため、接触状態が良好のときにのみ絶縁抵抗Ｒｉの測定を行うことができる。このため、この抵抗測定装置１では、接触状態が不良であるときに絶縁抵抗Ｒｉの測定を行った結果、測定対象５０の絶縁抵抗Ｒｉが実際には小さい（絶縁状態が不良）にも拘わらず、絶縁抵抗Ｒｉが大きい値として測定され、これによって絶縁状態が実際には不良の測定対象５０が良好と誤判定される事態を確実に防止することが可能となっている。
【００４６】
このように、この接触判定装置および抵抗測定装置１では、インダクタ２３ａを有してシールド線６０の芯線６１と直流電源２１とを結ぶ第１回路Ｐｃ１と、可変コンデンサ２４およびインダクタ２３ｂを有してシールド線６０のシールド６２と直流電源２１とを結ぶ第２回路Ｐｃ２と、交流電圧を出力する交流電源２６を有して第２回路Ｐｃ２に並列に接続される第３回路Ｐｃ３と、第１回路Ｐｃ１における位置Ａ１の電圧Ｖ１と第２回路Ｐｃ２における位置Ａ２の電圧Ｖ２との電圧差Ｖｓを検出する差動アンプ２７とを備えている。このため、この接触判定装置および抵抗測定装置１によれば、接触端子６３，７１を測定対象５０の被接触部５１から離した状態で差動アンプ２７から出力される電圧差Ｖｓが０Ｖとなるように可変コンデンサ２４の容量Ｃ２を調節した後に、接触端子６３，７１を測定対象５０の各被接触部５１に接触させる操作をすることで、シールド線６０の容量Ｃ１を介して流れる電流の影響を受けることなく、接触端子６３，７１と測定対象５０の各被接触部５１との接触状態の良否を正確に判定することができる。また、この接触判定装置および抵抗測定装置１によれば、接触状態の判定を行う前に、可変コンデンサ２４の容量Ｃ２を調節することによって容量Ｃ２とシールド線６０の容量Ｃ１とを等しくすることができるため、シールド線６０を変更してシールド線６０の容量Ｃ１が変わったとしても、煩雑な作業を行うことなく、シールド線６０の変更によって接触状態の判定の正否が影響を受ける事態を確実に防止して、接触状態の良否を正確に判定することができる。
【００４７】
また、この接触判定装置および抵抗測定装置１によれば、交流電圧の周波数を変更可能に交流電源２６を構成したことにより、例えば、同種類の他の抵抗測定装置１を用いた測定を隣接した箇所で同時に行うような測定環境において、各抵抗測定装置１における各交流電源２６から出力される交流電圧の周波数を互いに異ならせることで、各交流電源２６から出力される各交流電圧同士の干渉によって可変コンデンサ２４の容量調節や、接触状態の判定が不正確となる事態を確実に防止することができる。
【００４８】
また、この接触判定装置および抵抗測定装置１によれば、可変コンデンサ２４における容量の調節範囲内で差動アンプ２７から出力される電圧差Ｖｓが０Ｖとならないときにその旨を報知する報知部を備えたことにより、例えば、容量Ｃ１が大きすぎる（長すぎる）シールド線６０を用いて測定をしようとしたときに、そのことを使用者に確実に報知することができる。このため、この接触判定装置および抵抗測定装置１によれば、容量Ｃ１が大きすぎる（長すぎる）シールド線６０を用いて測定を行うことによって接触端子６３，７１と被接触部５１との接触状態の判定を正確に行うことができなかったり、シールド線６０の容量Ｃ１の影響によって絶縁抵抗Ｒｉを正確に測定することができなかったりする事態を確実に防止することができる。
【００４９】
なお、接触判定装置および測定装置の構成は、上記した構成に限定されない。例えば、接触状態の判定の際に、直流電圧を出力させずに交流電圧だけを出力させる構成例について上記したが、直流電圧および交流電圧の双方を出力させて、直流電圧に交流電圧を重畳させた重畳電圧を用いて接触状態の判定を行う構成を採用することもできる。また、この重畳電圧を用いて絶縁抵抗Ｒｉの測定を行う構成を採用することもできる。
【００５０】
また、接触状態の判定と絶縁抵抗Ｒｉの測定とを操作部３の操作で切り替えて行う構成例について上記したが、接触状態が良好であるか否かの判定を処理部５が実行し、接触状態が良好であるとの判定をしたときに絶縁抵抗Ｒｉの測定を処理部５が自動的に実行する構成を採用することもできる。この場合、接触状態が良好であるか否かの判定を開始させる指示については、操作部３を操作することによる指示であってもよいし、外部機器からの信号による指示であってもよい。
【００５１】
また、被測定量として絶縁抵抗Ｒｉを測定する例について上記したが、被測定量は絶縁抵抗Ｒｉに限定されない。例えば、電流計２２によって検出された電流値を測定対象５０の被測定量として測定する構成を採用することもできる。
【００５２】
また、第１変換素子および第２変換素子としてインダクタ２３ａ，２３ｂをそれぞれ用いる例について上記したが、第１変換素子および第２変換素子として抵抗を用いる構成を採用することもできる。また、抵抗２５ａ，２５ｂ，２５ｃは、第１回路Ｐｃ１、第２回路Ｐｃ２および第３回路Ｐｃ３を構成する他の構成要素の内容に応じて、適宜省略することもできる。
【符号の説明】
【００５３】
１  抵抗測定装置
４  表示部
５  処理部
２１  直流電源
２１ａ  負極
２１ｂ  正極
２２  電流計
２３ａ  インダクタ
２３ｂ  インダクタ
２４  可変コンデンサ
２６  交流電源
２７  差動アンプ
５０  測定対象
５１  被接触部
６０  シールド線
６１  芯線
６１ａ  先端部
６１ｂ  基端部
６２  シールド
６３  接触端子
７０  導線
７０ａ  先端部
７１  接触端子
Ａ１，Ａ２  位置
Ｐｃ１  第１回路
Ｐｃ２  第２回路
Ｐｃ３  第３回路
Ｒｉ  絶縁抵抗
Ｖ１，Ｖ２  電圧
Ｖｓ  電圧差
【図１】
0006542094.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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