(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザを有するデータ記憶システム内に設けられた熱アシスト磁気記録（ＨＡＭＲ：Heat  Assisted  Magnetic  Recording）装置を動作温度に設定するステップと、
前記レーザから光を出力させるのに必要な最小電流量を示すしきい値レーザ電流を決定するステップと、
最適ビット誤り率（ＢＥＲ：Bit  Error  Rate）および最小隣接トラック干渉（ＡＴＩ：Adjacent  Track  Interface）を生じさせる電流量を示す最適レーザ電流を決定するステップと、
前記しきい値レーザ電流および前記最適レーザ電流をメモリに記憶するステップと、
前記しきい値レーザ電流を決定するステップと、前記最適レーザ電流を決定するステップと、前記しきい値レーザ電流および前記最適レーザ電流を校正テーブルに記憶するステップとを、許容可能な装置性能が２以上の動作温度で達成されるまで繰り返し実行するステップとを含む、方法。
【請求項２】
使用される前記２以上の動作温度とは異なる動作温度について、記憶された前記しきい値レーザ電流の値および前記最適レーザ電流の値から、しきい値電流および最適レーザ電流を補完するステップをさらに含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記しきい値レーザ電流を決定するステップは、
前記レーザに電流を印加するステップと、
前記レーザからのレーザ出力光を光検出器が検出するまで前記レーザに印加される印加レーザ電流を増加させるステップと、
前記光検出器が前記レーザ出力光を検出したときの前記印加レーザ電流を、前記しきい値レーザ電流として取得するステップとを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記しきい値レーザ電流を決定するステップは、
前記レーザに電流を印加するステップと、
光近接場変換器（ＮＦＴ：Near  Field  Transducer）の出力が空気軸受面の温度を上昇させることによって、デュアルエンド抵抗温度係数（ＤＥＴＣＲ：Dual-Ended  Temperature  Coefficient  of  Resistance）センサの直流電圧の傾きが変化するまで、前記レーザに印加される印加レーザ電流を増加させるステップと、
前記デュアルエンド抵抗温度係数センサの直流電圧の傾きが変化したときの前記印加レーザ電流を、前記しきい値レーザ電流として取得するステップとを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項５】
前記しきい値レーザ電流を決定するステップは、
前記レーザに電流を印加するステップと、
ボロメータの抵抗率が変化するまで、前記レーザに印加される印加レーザ電流を増加させるステップと、
前記ボロメータの抵抗率が変化したときの前記印加レーザ電流を、前記しきい値レーザ電流として取得するステップとを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項６】
前記最適レーザ電流を決定するステップは、
動作レーザ電流の増加に伴うビット誤り率を監視するステップと、
最適ビット誤り率を生じさせる前記動作レーザ電流を、前記最適レーザ電流として取得するステップとを含む、請求項１〜５のいずれか１項に記載の方法。
【請求項７】
前記最適レーザ電流を決定するステップは、複数の異なる電流に亘って、媒体上のトラックに書き込まれるデータのビット誤り率がどこで最小となるかを決定するステップを含む、請求項６に記載の方法。
【請求項８】
前記熱アシスト磁気記録装置を動作温度に設定するステップと、前記しきい値レーザ電流を決定するステップと、前記最適レーザ電流を決定するステップと、前記しきい値レーザ電流および前記最適レーザ電流をメモリに記憶するステップと、前記繰り返し実行するステップとは、前記データ記憶システムの製造プロセス中に実行される、請求項１〜７のいずれか１項に記載の方法。
【請求項９】
前記データ記憶システムの正常動作中に、前記メモリに記憶されたデータを用いて、前記熱アシスト磁気記録装置のヒータパワーを調整するステップをさらに含む、請求項８に記載の方法。
【請求項１０】
レーザを有するデータ記憶システム内に設けられた熱アシスト磁気記録（ＨＡＭＲ：Heat  Assisted  Magnetic  Recording）装置を動作温度に設定するステップと、
最適ビット誤り率（ＢＥＲ：Bit  Error  Rate）および最小隣接トラック干渉（ＡＴＩ：Adjacent  Track  Interface）を生じさせる電流量を示す最適レーザ電流を決定するステップと、
データを破損させるレーザ電流を決定するステップと、
前記データを破損させるレーザ電流および前記最適レーザ電流をメモリに記憶するステップと、
前記最適レーザ電流を決定するステップと、前記データを破損させるレーザ電流を決定するステップとを、許容可能な装置性能が２以上の動作温度で達成されるまで繰り返し実行するステップとを含む、方法。
【請求項１１】
使用される前記２以上の動作温度とは異なる動作温度について、記憶された前記データから、前記データを破損させるレーザ電流を補完するステップ、および前記最適レーザ電流を補完するステップをさらに含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
前記最適レーザ電流を決定するステップは、
レーザ電流の増加に伴うビット誤り率を監視するステップと、
最適ビット誤り率（ＢＥＲ）を生じさせるレーザ電流を取得するステップとを含む、請求項１０または１１に記載の方法。
【請求項１３】
前記データを破損させるレーザ電流を決定するステップは、
前記最適レーザ電流および書き込み電流を媒体上のトラックに印加するステップと、
前記トラックにデータを書き込むとともにビット誤り率（ＢＥＲ）を測定することによって、確立されたビット誤り率を実現するステップと、
前記書き込み電流をゼロに設定するとともに、前記レーザ電流を低い値に設定するステップと、
前記確立されたビット誤り率とともに前記トラックにデータを書き込むステップと、
新たなビット誤り率を測定するステップと、
前記確立されたビット誤り率と前記新たなビット誤り率との間のビット誤り率の変化を算出するステップと、
前記確立されたビット誤り率とともに前記トラックにデータを書き込むステップと、前記新たなビット誤り率を測定するステップと、前記確立されたビット誤り率と新たなビット誤り率との間のビット誤り率の変化を算出するステップとを、増加させたレーザ電流量において前記変化がしきい値よりも大きくなるまで繰り返し実行するステップと、
前記レーザ電流を、前記データを破損させるレーザ電流として取得するステップとを含む、請求項１０〜１２のいずれか１項に記載の方法。
【請求項１４】
方法であって、
データ記憶システムの製造中に、レーザを有する熱アシスト磁気記録（ＨＡＭＲ：Heat  Assisted  Magnetic  Recording）装置のための校正テーブルを作成するステップを含み、
前記校正テーブルは、その後のアクセスのために前記データ記憶システムの動作中に前記データ記憶システムの不揮発性メモリに記憶され、
前記校正テーブルを作成するステップは、
ある動作温度で前記レーザから光を出力させるのに必要な最小電流量を決定するステップと、
前記動作温度と同じ温度で最適ビット誤り率を生じさせる電流量を決定するステップと、
前記光を出力させるのに必要な電流量、および前記最適ビット誤り率を生じさせる電流量を、前記不揮発性メモリに記憶された前記校正テーブルに保存するステップとを含み、
前記方法は、前記レーザから光を出力させるのに必要な最小電流量を決定するステップと、前記最適ビット誤り率を生じさせる電流量を決定するステップと、前記光を出力させるのに必要な電流量および前記最適ビット誤り率を生じさせる電流量を保存するステップとを、許容可能な装置性能が２以上の動作温度で達成されるまで繰り返し実行するステップをさらに含む、方法。
【請求項１５】
前記２以上の動作温度で前記レーザから光を出力させるのに必要なレーザ電流量が取得できない場合に、データを破損するレーザ電流を決定するとともに、前記データを破損させるレーザ電流を前記校正テーブルに保存するステップをさらに含む、請求項１４に記載の方法。
【請求項１６】
前記光を出力させるのに必要な電流量を決定するステップは、
前記レーザにレーザ電流を印加するステップと、
前記レーザからのレーザ出力光を光検出器が検出するまで前記レーザに印加される印加レーザ電流を増加させるステップと、
前記光検出器が前記レーザ出力光を検出したときの前記印加レーザ電流を、前記光を出力させるのに必要な電流として取得するステップとを含む、請求項１４または１５に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【発明の概要】
【課題を解決するための手段】
【０００１】
概要
方法は、レーザを有するデータ記憶システム内に設けられた熱アシスト磁気記録（ＨＡＭＲ：Heat  Assisted  Magnetic  Recording）装置を動作温度に設定するステップを含む。しきい値レーザ電流が決定される。しきい値レーザ電流とは、レーザから光を出力するために必要な最小電流量である。最適レーザ電流が決定される。最適レーザ電流とは、最適ビット誤り率（ＢＥＲ：Bit  Error  Rate）を生じさせる電流量である。しきい値レーザ電流と最適レーザ電流とはメモリに記憶される。しきい値レーザ電流を決定するステップと、最適レーザ電流を決定するステップと、しきい値レーザ電流および最適レーザ電流を校正テーブルに記憶するステップとは、許容可能な装置性能が２以上の動作温度において達成されるまで繰り返し実行される。
【０００２】
方法は、レーザを有するデータ記憶システム内に設けられた熱アシスト磁気記録（ＨＡＭＲ）装置を動作温度に設定するステップを含む。最適レーザ電流が決定される。最適レーザ電流とは、最適ＢＥＲを生じさせる電流量である。データを破損するレーザ電流が決定される。データを破損するレーザ電流と最適レーザ電流とはメモリに記憶される。最適レーザ電流を決定するステップと、データを破損するレーザ電流を決定するステップと、データを破損するレーザ電流および最適レーザ電流を校正テーブルに記憶するステップとは、許容可能な装置性能が２以上の動作温度において達成されるまで繰り返し実行される。
【０００３】
製造プロセスの間に、レーザを有する熱アシスト磁気記録（ＨＡＭＲ）装置のための校正テーブルが生成される。校正テーブルは、その後のアクセスのためにデータ記憶システム動作中にデータ記憶システムのメモリに記憶される。校正は、ある動作温度においてレーザから光を出力するために必要な電流量を決定するステップと、同一動作温度において最適ＢＥＲを生じさせる電流量を決定するステップと、光を出力するために必要な電流量および最適ＢＥＲを生じさせる電流量をメモリに記憶された校正テーブルに保存するステップとを含む。レーザから光を出力するために必要な電流量を決定するステップと、最適ＢＥＲを生じさせる電流量を決定するステップと、光出力に必要な電流量および最適ＢＥＲを生じさせる電流量を保存するステップとは、許容可能な装置性能が２以上の動作温度の組において達成されるまで繰り返し実行される。
【０００４】
この概要は概念選択を簡易に紹介するために設けられたものであり、概念選択は以下の詳細な説明においてさらに説明される。この概要は、特許請求の主題の重要な特徴または必須の特徴を特定することを目的とするものではなく、特許請求の主題の範囲を決定する際の補助として用いられることを目的とするものでもない。特許請求の主題は、背景技術に記載されたいずれかまたはすべての課題の解決を促進することに限定されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【０００５】
【図１】ヘッドスタックアセンブリおよび媒体を含むデータ記憶装置の例示的構成要素の概略図である。
【図２】ヘッドジンバルアセンブリ（ＨＧＡ：Head  Gimbal  Assembly）の側面の概略図である。
【図３】図２に示されたＨＧＡのスライダのトレーリング端の拡大図である。
【図４】ある実施の形態に従う、製造プロセス中に熱アシスト磁気記録装置内のレーザのための校正テーブルを生成する方法を示すブロック図である。
【図５】異なる動作温度における、検出されたレーザ出力パワーに対する印加レーザ電流の関係を説明するための例示的グラフである。
【図６Ａ】ある実施の形態に従う、製造プロセス中に熱アシスト磁気記録装置のしきい値レーザ電流（ＩＴＨＲ）を決定する方法を示すブロック図である。
【図６Ｂ】他の実施の形態に従う、製造プロセス中に熱アシスト磁気記録装置のしきい値レーザ電流（ＩＴＨＲ）を決定する方法を示すブロック図である。
【図６Ｃ】さらに他の実施の形態に従う、製造プロセス中に熱アシスト磁気記録装置のしきい値レーザ電流（ＩＴＨＲ）を決定する方法を示すブロック図である。
【図７】異なる動作温度における、ＢＥＲに対する動作レーザ電流の関係を示す例示的グラフである。
【図８】ある実施の形態に従う、製造プロセス中に熱アシスト磁気記録装置の最適レーザ電流を決定する方法を示すブロック図である。
【図９】他の実施の形態に従う、製造プロセス中に熱アシスト磁気記録装置内のレーザのための校正テーブルを生成する方法を示すブロック図である。
【図１０】ＢＥＲに対する消去レーザ電流の関係と、どの動作レーザ電流がデータを破損するかを示す例示的グラフである。
【図１１】データ記憶システムの製造プロセス中に、熱アシスト磁気記録装置内におけるデータを破損するレーザ電流を決定する方法を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【０００６】
詳細な説明
本開示は、一般的に、熱アシスト磁気記録（ＨＡＭＲ）装置におけるデータの読み出しおよび書き込みに関する。この技術は、熱的アシスト記録（ＴＡＲ：Thermally-Assisted  Recording）、熱的アシスト磁気記録（ＴＡＭＲ：Thermally-Assisted  Magnetic  Recording）、エネルギーアシスト磁気記録（Energy-Assisted  Magnetic  Recording）等とも称され、記録中の磁気ディスク上の微小スポットを加熱するためにレーザなどのエネルギー源を用いる。熱アシスト磁気記録装置内のレーザダイオードの出力パワーは温度感受性を有する。さらに、熱アシスト磁気記録装置の読み出し／書き込み性能はレーザ電流入力および浮上高（fly  height）に感受性を有する。レーザ誘起されたライタ突出を補償するためにヒータが用いられる。レーザが温度感受性を有するため、ヒータは、一定の浮上高を維持するために異なる温度では異なる態様で用いられるであろう。本開示は、ある温度範囲に亘って最適な動作性能を達成するために、温度変化によるレーザ効率の変化および浮上高の変化を校正するための方法を説明する。校正プロセスにおいては、データ記憶システムの製造プロセス中にテーブルが生成される。この校正テーブルは、正常なシステム動作中には、その後のアクセスのためにメモリに記憶され、熱アシスト磁気記録装置または他の装置が置かれた環境の温度変化を補償するために用いられる。
【０００７】
図１は、本願明細書に説明される実施の形態にて使用可能な例示的データ記憶システム１００の簡易ブロック図である。データ記憶装置１００は、メモリ１０４に記憶されたプログラムを用いてデータ記憶装置１００の動作を制御するために用いられる制御回路１０２を含む。制御回路１０２は、バッファ１０６に結合され得る。バッファ１０６は、読み出し動作および書き込み動作中にユーザデータを一時的に記憶することができ、制御回路１０２により実行中のアクセス動作の一時的な記憶能力を有してもよい。
【０００８】
データ記憶システム１００は、記憶媒体または磁気媒体（すなわちディスク）１０８と、媒体１０８にデータの読み出しおよび書き込みを行なうことが可能な変換器１１８（この場合は熱アシスト磁気記憶変換器または変換装置）を支持するサスペンション１１６とを含む。図１に示された実施の形態においては、記憶媒体１０８は、回転可能なディスクとして示される。データ記憶システム１００は、プリアンプ１０７をさらに含む。プリアンプ１０７は、書き込み動作中に変換器１１８に適用される書き込み信号を生成するとともに、読み出し動作中に変換器１１８から生じる読み出し信号を増幅する。いくつかの実施の形態では、プリアンプ１０７は補償回路１０９をさらに含む。
【０００９】
制御回路１０２は、データ記憶媒体１０８上への読み出し動作および書き込み動作を実行する。制御回路１０２による読み出し／書き込み動作は、データ記憶媒体１０８に直接実行されてもよいし、読み出し／書き込みチャネル１１０を介して実行されてもよい。読み出し／書き込みチャネル１１０は、書き込み動作中に制御回路１０２からデータを受け、プリアンプ１０７を介してデータ記憶媒体１０８にエンコード後の書き込みデータを送る。読み出し動作中には、読み出し／書き込みチャネル１１０は、データ記憶媒体１０８上に記録されたデータの検出およびデコードを行なうために、プリアンプ１０７を経由した読み出し信号を処理する。デコード後のデータは制御回路１０２に供給され、最終的にはインターフェース１１２を介して外部ホスト１１４に供給される。
【００１０】
外部ホスト１１４は、データ記憶装置１００への指令を発行可能なロジック（たとえばプロセッサ）を含む。図１では外部ホスト１１４を１つだけ示すが、データ記憶装置１００はインターフェース１１２を介して複数のホスト（マルチホスト）に接続されてもよい。インターフェース１１２を介して、データ記憶システム１００は、外部ホスト１１４からのデータおよび指令を受け、制御回路１０２により実行された指令に基づいて外部ホスト１１４にデータを供給することが可能である。
【００１１】
図２は、ジンバル１２４によりスライダ１２２を支持するサスペンション１１６を示すヘッドジンバルアセンブリ（ＨＧＡ：Head  Gimbal  Assembly）１２０の拡大側面図である。スライダ１２２は、ジンバル１２４を介してサスペンション１１６に対して回転可能な変換器１１８を含む。変換器１１８は、データの読み出しおよび書き込みを行なうために、スライダ１１２のトレーリング端に設けられるとともに、媒体１０８の表面１０９に近接して保持される。変換器１１８は、以下で説明する磁気書き込みコイル（図示せず）と、リーダ（図示せず）と、光近接場変換器（ＮＦＴ：Near  Field  Transducer）１２９とを含む。
【００１２】
変換器１１８などの熱アシスト磁気記録変換器は、媒体１０８などの磁気媒体のデータ面密度を制限する超常磁性効果を乗り越えるために、記録媒体のごく一部を局所的に加熱するためのエネルギー源を用いる。媒体を加熱することで、媒体のある領域の温度が設定温度を上回り、磁気ライタによる磁化が可能になる。媒体は、エネルギー源から回転により離れ次第、すぐに冷却されるので、データの安定的かつ長期的記憶のための書き込みパターンが磁気的に凍結される。
【００１３】
図３は、スライダ１１２下端の拡大図である。熱アシスト磁気記憶変換器１１８は、レーザアセンブリ１２６から熱媒体１０８への光エネルギーを導き、集中し、変換する光導波ガイド１１９などの光学部品を含み得る。レーザアセンブリ１２６はレーザダイオードを含む。レーザダイオードは、電流入力を受け、光導波ガイド１１９を通って媒体１０８上にレーザエネルギーを印加する。熱アシスト磁気記憶媒体のホットスポットは、光の回折限界よりも小さくてはならない可能性がある。そのような小さなスポットを実現するための一手法は、光近接場変換器（ＮＦＴ）１２９を用いることである。
【００１４】
光近接場変換器１２９の１つの副作用は、レーザダイオードからの熱が光近接場変換器１２９を膨張させることである。この膨張は、変換器に隣接する空気軸受面を突出させる。しかしながら、空気軸受面は、浮上高１３３が一定になるように維持されなければならない。したがって、データ記憶システムの正常動作中には、ヒータ出力は、浮上高が一定に維持されるように調整される。また、必要な調整量は、動作温度およびレーザ電流効率に依存する。
【００１５】
熱アシスト磁気記憶装置における印加レーザエネルギーの制御は動作に不可欠である。媒体１０８に与えられる熱エネルギーが小さ過ぎる場合には、媒体１０８が十分に加熱されず、記録信号の品質が低くなる。上記エネルギーが大き過ぎる場合には、隣接するトラックの記録信号が部分的に消去される可能性がある。また、たとえ熱エネルギーの電流が一定であったとしても上記エネルギーは変化し得る。たとえば、あるレーザ電流のためのレーザエネルギーは、温度によって変化するとともに、レーザダイオードの経年劣化または他の構成部品の経年劣化等の他の効果によって変化する。さらに、構成部品の経年劣化が進むに従って、媒体を同程度に加熱するために必要な印加レーザ電流量も変化し得る。
【００１６】
ある実施の形態においては、レーザダイオードの入力電流は、プリアンプ１０７（図１）のレジスタにより制御され得る。プリアンプ１０７は、プログラムされたレジスタ値を印加電流に変換するデジタル／アナログコンバータ（ＤＡＣ：Digital-to-Analog  Converter）を含む。変換器（図２および図３）から媒体１０８上へのレーザエネルギー出力は変化し得る。たとえレーザダイオードへの電流が精確かつ一定であったとしても、レーザダイオードからのパワーはそうではない可能性がある。たとえば、レーザダイオードの順方向電圧降下は、この関係を変化させ得る。また、プリアンプの印加電流も必ずしも常に精確ではなく変化し得る。これらの変化のすべてに温度が強く影響する。
【００１７】
レーザダイオード出力には２つの重要な特徴が存在し、それらは信頼性の高いドライブ動作を維持するために、データ記憶システムの製造プロセス中に生成される開示の校正テーブルに含まれる。２つの特徴とは、レーザダイオード出力光を生成するために必要な印加電流の最小値（すなわちレーザが発振を開始するときの電流）であるレーザしきい値電流ＩＴＨＲと、最適な読み出し／書き込み動作のために必要な合計レーザ電流（Ｉｏｐｔ）とである。ＩＴＨＲは、書き込みおよび書き込み前の突出のクリアランスのために重要である。ドライブ内のレーザ電流がＩＴＨＲよりも高く設定されると突出が生じ、媒体に対して浮上高のクリアランスを一定に維持しなければならない主要因となるためである。書き込み前の間、レーザは、環境温度に依存したＩＴＨＲよりも高い可能性がある値に「ウォームアップ」される。したがって、ウォームアップ電流は書き込みクリアランスに影響を与えることが可能であり、ＩＴＨＲに関する情報はヒータを用いて浮上高を調整するためのレーザ突出の適切な補償に必要である。ＩＯＰＴは、読み出し／書き込み性能を維持するための合計レーザ電流である。ＩＴＨＲを上回るＩＯＰＴ量は突出を生じさせる電流であるので、ＩＯＰＴは書き込みクリアランスに影響し、上述のようにヒータによる補償を必要とする。動作電流（ＩＯＰ）は、磁化書き込み電流が媒体内のビットを反転させるための媒体の飽和保持力を低減させるのに必要な電流である。
【００１８】
レーザ出力の第３の特徴は、データを破損するために必要なレーザ電流量（ＩＥＲＡ）である。印加レーザ電流は、ＩＥＲＡと、ヘッドが書き込み中でない場合にデータが消去されないことを保証する適切な安全マージンとの和よりも小さく保たれなければならない。レーザを「ウォームアップ」するとともに全電流が印加される書き込み開始時に変動を低減するために、書き込み前に特定値のレーザ電流が印加され得る。この「ウォームアップ」電流もまたＩＥＲＡよりも低く維持されなければならない。
【００１９】
ドライブ品質に重要な２つのパラメータが存在する。それは、媒体上に書き込まれたトラックのＢＥＲと、書き込み動作により隣接トラックに与えられる劣化（隣接トラック干渉すなわちＡＴＩ：Adjacent  Track  Interference）とである。レーザパワーの変化は、これらパラメータの両方に影響する。残念ながら、ＢＥＲ測定およびＡＴＩ測定を適切に行なうためには、書き込みにおける多くの革新が必要である。さらに、これら測定を実験的に行なうことは、隣接トラック上のデータの劣化を引き起こし得る。したがって、ＢＥＲ測定およびＡＴＩ測定をドライブの通常動作中に頻繁に実施することは現実的ではない。
【００２０】
検出可能な２つのパラメータは、温度およびレーザ出力パワーを含む。温度は、たとえばサーミスタ１２８を用いて周期的に検出することができる。レーザ出力パワーについても、たとえばフォトダイオード１２７または他の実施の形態においてはボロメータ１３１などのセンサを用いてリアルタイムに検出することができる。ボロメータとは、光を温度に変換する検出器である。図３に示される実施の形態において、フォトダイオード１２７は、ある実施の形態ではレーザアセンブリ１２６の一部であり得る。フォトダイオード１２７は、各変換器上に製造可能であり、記録ヘッド内のレーザパワーまたはエネルギーを測定するために使用可能である。図３において変換器１１８内の矢印は、レーザアセンブリ１２６から光近接場変換器１２９へと光導波ガイド１１９を通るレーザエネルギーの経路を示す。図示されるように、レーザアセンブリ１２６からレーザエネルギーが発せられ、光近接場変換器１２９からのエネルギーが媒体１０８の一部分を加熱する。別の実施の形態では、ボロメータ１３１が光導波ガイド１１９に結合され、記録ヘッド１１８におけるレーザ出力パワーを測定し得る。
【００２１】
熱アシスト磁気記録ドライブ内のレーザダイオードには、３つの一般的な動作モードが存在する。アイドル状態では、ダイオードは、完全にオフであるか非活性状態（印加電流がない状態）である。データ書き込み時には、ダイオードは、完全にオンであるか、媒体１０８へデータの記録または消去を行なうために十分な電流が印加されている活性状態である。書き込み準備時には、レーザダイオードは、部分的にオンであるか、媒体１０８へのデータの記録または消去を行なうには不十分な電流がバイアスされた状態である。
【００２２】
図４は、ある実施の形態に従う、製造プロセス中に熱アシスト磁気記録装置１１８内のレーザのための校正テーブルを生成する方法を示すブロック図２４０である。ブロック２４２では、熱アシスト磁気記録装置１１８は動作温度に設定される。この動作温度は、データ記憶システムが正常動作中に動作するために必要な温度範囲内の任意の環境温度に設定することができる。ブロック２４４において、しきい値レーザ電流（ＩＴＨＲ）が決定される。ＩＴＨＲは、レーザダイオード１２６が光を出力する、すなわちレーザ発振を開始するときの最小電流である。以下で図６Ａ、図６Ｂおよび図６Ｃに示される方法は、しきい値レーザ電流を決定する例示的方法である。
【００２３】
図５は、異なる動作温度において、検出されたレーザ出力パワーに対する印加レーザ電流の関係を説明するための例示的グラフである。図示されるように、熱アシスト磁気記録装置１１８は、しきい値点においてレーザパワーすなわち光の出力を開始する。このしきい値点は、熱アシスト磁気記録装置１１８の動作温度に応じて異なる。図６Ａは、ある実施の形態に従う、製造プロセス中に熱アシスト磁気記録装置１１８のしきい値レーザ電流（ＩＴＨＲ）を決定する方法を示すブロック図２４４ａである。図６Ｂは、他の実施の形態に従う、製造プロセス中に熱アシスト磁気記録装置１１８のしきい値レーザ電流（ＩＴＨＲ）を決定する方法を示すブロック図２４４ｂである。図６Ｃは、さらに他の実施の形態に従う、製造プロセス中に熱アシスト磁気記録装置１１８のしきい値レーザ電流（ＩＴＨＲ）を決定する方法を示すブロック図２４４ｃである。
【００２４】
図６Ａのブロック２６２ａにおいて、レーザダイオード１２６にレーザ電流（Ｉ）が印加される。ブロック２６４ａにおいて、レーザ電流Ｉが印加された状態でレーザダイオード１２６が光を出力しているか否かが判定される。ＹＥＳの場合、この方法はブロック２６６ａに進み、印加レーザ電流Ｉが校正テーブルにおけるしきい値電流（ＩＴＨＲ）として取得される。ＮＯの場合、この方法は、印加レーザ電流を定数δなどのある定数だけ増加させ、レーザダイオード１２６にレーザ電流Ｉを印加するためにブロック２６２ａへと戻る。定数δは、たとえば０．２７５ｍＡである。しかしながら、定数δとして他の値を用いることも可能であり、プリアンプ１０７に応じて変更することができる。この方法は、レーザダイオード１２６が光を出力するまで印加レーザ電流Ｉを定数δずつ増加させ続ける。この光は、たとえばフォトダイオードまたは光検出器１２７により検出することができる。
【００２５】
図６Ｂの別の実施の形態では、ブロック２６２ｂにおいて、レーザダイオード１２６にレーザ電流Ｉが印加される。ブロック２６４ｂにおいて、デュアルエンド抵抗温度係数（ＤＥＴＣＲ：Dual-Ended  Temperature  Coefficient  of  Resistance）センサ（図３には図示せず）のＤＣ電圧の傾きが、スライダ１２２の空気軸受面上の温度を上昇させる光近接場変換器１２９出力により変化しているか否かが判定される。ＹＥＳの場合、この方法はブロック２６６ｂに進み、印加レーザ電流Ｉがしきい値電流（ＩＴＨＲ）として取得されて保存される。ＮＯの場合、この方法は、定数δなどのある定数だけ印加レーザ電流を増加させ、レーザダイオード１２６にレーザ電流Ｉを印加するためにブロック２６２ｂへと戻る。定数δは、たとえば０．２７５ｍＡである。しかしながら、定数δとして他の値を用いることも可能であり、プリアンプ１０７に応じて変更することができる。この方法は、デュアルエンド抵抗温度係数センサ上のＤＣ電圧の傾きが変化するまで印加レーザ電流Ｉを定数δずつ増加させ続ける。
【００２６】
図６Ｃの別の実施の形態では、ブロック２６２ｃにおいて、レーザダイオード１２６にレーザ電流Ｉが印加される。ブロック２６４ｃにおいて、ボロメータ１３１などのボロメータの抵抗率の変化が生じたか否かが判定される。ＹＥＳの場合、この方法はブロック２６６ｃに進み、印加レーザ電流Ｉがしきい値電流（ＩＴＨＲ）として取得されて保存される。ＮＯの場合、この方法は、定数δなどのある定数だけ印加レーザ電流を増加させ、レーザダイオード１２６にレーザ電流Ｉを印加するためにブロック２６２ｃへと戻る。定数δは、たとえば０．２７５ｍＡである。しかしながら、定数δとして他の値を用いることも可能であり、プリアンプ１０７に応じて変更することができる。この方法は、ボロメータ１３１の抵抗率の変化が検出されるまで印加レーザ電流Ｉを定数δずつ増加させ続ける。
【００２７】
図４のブロック図２４０を再び参照して、ブロック２４４においてＩＴＨＲが決定された後、この方法はブロック２４６に進み、最適レーザ電流（ＩＯＰＴ）を決定する。ＩＯＰＴとは、最適ＢＥＲを生じさせるレーザダイオード１２６に印加される電流量である。図８に示される以下の方法は、最適レーザ電流を決定する方法の一例である。
【００２８】
図７は、異なる動作温度において、ＢＥＲに対する動作レーザ電流の関係を示すグラフである。グラフに示されるように、各曲線の最小値が、最適ＢＥＲが達成される最適レーザ電流を表す。言い換えると、ＩＯＰＴを決定するために、印加レーザ電流が増加する際のＢＥＲが監視され、ＢＥＲが最小値に到達したときの印加レーザ電流が校正テーブル内の最適レーザ電流（ＩＯＰＴ）として取得される。さらに言い換えると、ＩＯＰＴは、複数の印加レーザ電流に亘って、媒体上のセクタに書き込まれるデータのＢＥＲが最小になるような電流である。
【００２９】
この決定を行なうための１つの手法を図８に示す。図８は、ある実施の形態に従う、製造プロセス中に熱アシスト磁気記録装置１１８の最適レーザ電流を決定する方法を示すブロック図２４６である。ブロック２７２において、最高ＢＥＲが０に設定され、最適ＢＥＲが０に設定され、カウントが０に設定され、動作電流（ＩＯＰ）が０に設定される。ブロック２７３にてＩＯＰが１だけ増加され、この方法はブロック２７４に進み、新たなＩＯＰが最大動作電流以下であるか否かを判定する。ＹＥＳの場合、この方法は、ブロック２７５へと進む。ＮＯの場合、この方法はブロック２８１へと進み、最大動作電流を上回ったために当該方法を終了させる。ブロック２７５において、スクイーズＢＥＲ（すなわち電流ＢＥＲ）が測定される。ブロック２７６において、電流ＢＥＲが最高ＢＥＲと比較される。電流ＢＥＲが最高ＢＥＲ以下の場合、この方法はブロック２７７に進み、最高ＢＥＲが電流ＢＥＲに等しく設定される。この方法はブロック２７３に戻り、ＩＯＰが１だけ増加され、ＢＥＲを測定するステップが再度実行される。電流ＢＥＲが最高ＢＥＲよりも高い場合、この方法はブロック２７８に進み、カウントが１だけ増加され、最適ＢＥＲが最高ＢＥＲに等しく設定される。ブロック２７９においてカウントが４未満の場合、この方法はブロック２７３に戻り、ＩＯＰが１だけ増加され、ＢＥＲを測定するステップが再度実行される。しかしながら、ブロック２７９においてカウントが４よりも大きい場合、この方法はブロック２８０にて終了し、最適ＢＥＲにおけるＩＯＰがＩＯＰＴとなる。
【００３０】
図４のブロック図２４０を再び参照して、ブロック２４６においてＩＯＰＴが決定された後、この方法はブロック２４８に進み、動作温度とともにＩＴＨＲおよびＩＯＰＴの値が校正テーブルに記憶される。この校正テーブルは、データ記憶システム内の不揮発性メモリなどのメモリに保存されている。上記値が記憶された後、この方法はブロック２５０に進み、許容可能な性能が２以上の動作温度において達成されたかどうかを判定する。許容可能な性能かどうかはＢＥＲおよびＡＴＩを用いて判定することができる。ＹＥＳの場合、この方法は終了し、テストされた動作温度以外の動作温度については校正テーブルに記憶される値が補完される。これは曲線回帰または他の補完方法を用いて行なうことができる。ＮＯの場合、この方法はブロック２５２に進み、熱アシスト磁気記録装置が使用中の動作温度とは異なる動作温度に変更される。許容可能な装置性能が２以上の動作温度において達成されるまでステップ２４４，２４６，２４８が繰り返される。
【００３１】
図９は、他の実施の形態に従う、製造プロセス中に熱アシスト磁気記録装置１１８内のレーザのための校正テーブルを生成する方法を示すブロック図３４０である。この実施の形態では、様々な理由によりしきい値レーザ電流が利用可能でない。たとえば、フォトダイオード１２７および／またはデュアルエンド抵抗温度係数（ＤＥＴＣＲ）センサが動作中でないか、あるいはヘッド１１８に含まれない場合がある。ブロック３４２において、熱アシスト磁気記録装置１１８は動作温度に設定される。この動作温度は、正常動作中にデータ記録システムが動作するために必要な温度範囲内の任意の環境温度とすることができる。ブロック３４４において、最適レーザ電流（ＩＯＰＴ）が決定される。ＩＯＰＴは、最適ＢＥＲを生じさせるレーザダイオード１２６への印加電流量である。図８に示され説明されたこの方法は、最適レーザ電流を決定する例示的方法である。ＩＯＰＴの決定後、この方法はブロック３４６に進み、データを破損または消去するレーザ電流（ＩＥＲＡ）を決定する。以下で図１１に示される方法は、データを破損または消去するレーザ電流を決定する例示的方法である。
【００３２】
図１０は、ＢＥＲに対する消去レーザ電流の関係と、どの動作レーザ電流においてデータが破損するかを示す典型的グラフである。図示されるように、熱アシスト磁気記録装置１１８はレーザパワーすなわち光を出力する。そして、ある時点で、データが書き込まれたデータトラックの測定ＢＥＲが破損しているデータを示す点に到達する。このしきい値となる点は、熱アシスト磁気記録装置１１８の動作温度に応じて異なる。
【００３３】
図１１は、データを破損または消去する製造プロセス中の熱アシスト磁気記録装置１１８内のレーザ電流（ＩＥＲＡ）を決定する方法を示すブロック図３４４である。ブロック３６２において、ブロック３４４にて決定された最適レーザ電流ＩＯＰＴと、書き込み電流とがレーザダイオード１２６に印加される。ブロック３６３において、データがトラックに書き込まれ、ＢＥＲが測定される。ブロック３６４において、書き込み電流が０に設定され、動作電流（ＩＯＰＴ）が低い値に設定される。ブロック３６５において、ブロック３６３にて確立されたＢＥＲでデータトラック上にデータが書き込まれる。ブロック３６６において、データトラック上に書き込まれた新たなデータから新たなＢＥＲが測定される。ブロック３６８において、この方法は、ＢＥＲの変化、すなわち新たに測定された値と確立された値とのＢＥＲの差がしきい値よりも大きいか否かを判定する。たとえば、しきい値は０．１５とすることができる。ＹＥＳの場合、この方法はブロック３７０に進み、ＩＯＰがＩＥＲＡとして取得される。ＮＯの場合、ＩＯＰがある定数、たとえば定数δだけ増加される。そして、ブロック２７８において、確立されたＢＥＲにてデータをデータトラックに再び書き込み、書き込まれたトラック上の新たなＢＥＲを測定するように、ＩＯＰがレーザダイオード１２６に印加される。定数δは、たとえば０．２７５ｍＡである。しかしながら、定数δとして他の値を用いることも可能であり、プリアンプ１０７に応じて変更することができる。ステップ３６２，３６４，３６６は、確立されたＢＥＲからの新たなＢＥＲの変化がしきい値よりも大きくなるまで繰り返し実行される。
【００３４】
図９のブロック図３４０を再び参照して、ブロック３４８において、設定動作温度とともにＩＯＰＴ値およびＩＥＲＡ値が校正テーブルに記憶される。校正テーブルは、データ記憶システム内の不揮発性メモリなどのメモリに保存される。上記値が記憶された後、この方法はブロック３５０に進み、許容可能な性能が２以上の動作温度において達成されたかどうかを判定する。許容可能な性能かどうかがＢＥＲおよびＡＴＩを用いて判定され得る。ＹＥＳの場合、この方法は終了する。そして、校正テーブルに記憶された値が、テストされた温度以外の動作温度のために補完される。これは、曲線回帰または他の補完方法を用いて行なうことができる。ＮＯの場合、この方法はブロック３５２に進み、これまで使用された動作温度とは異なる動作温度に熱アシスト磁気記録装置が変更される。許容可能な装置性能が２以上の動作温度で達成されるまでステップ３４４，３４６，３４６が繰り返し実行される。
【００３５】
構成的特徴および／または方法的動作に特有の言葉で上記主題を説明したが、添付の特許請求の範囲に定義された主題は、上述の特定の特徴または動作に必ずしも限定されないことが理解されるべきである。むしろ、上述の特別な特徴および動作は、特許請求の範囲を実施するための形態の例示として開示されたものである。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６Ａ】
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【図６Ｂ】
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【図６Ｃ】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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