(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像された画像の各画素位置に対応した各アドレスの記憶領域に、撮像された画像の各画素の輝度データが記憶される第１の輝度データ記憶手段と、
物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域を備えた第２の輝度データ記憶手段と、
撮像された画像における円周上又は放射線上の各画素のアドレスに対応する第１の輝度データ記憶手段のアドレスの記憶領域に記憶されていた輝度データを、第２の輝度データ記憶手段の物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域に記憶させるアドレス変換手段と、
前記第２の輝度データ記憶手段の物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域から出力される輝度データを入力して当該輝度データに基づく情報を強調する処理を行う演算回路とを備え、
撮像された画像中の検査対象部分が、良品状態において円周上で輝度差がない非特徴部分と円周上で当該非特徴部分との輝度差がある特徴部分とを有している場合において、
撮像された画像における円周上の特徴部分が位置する画素のアドレスを開始位置として、撮像された画像における円周上の各画素のアドレスに対応する第１の輝度データ記憶手段のアドレスの記憶領域に記憶されていた輝度データを、第２の輝度データ記憶手段の物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域に記憶させることを特徴とする画像処理装置。  
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像画像における円周上の各画素の輝度データの記憶処理方法を用いた画像処理装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、物品検査において、検査対象を撮像した検査対象画像を基準画像と比較するパターンマッチングによって、検査対象の傷、汚れ等の欠陥を判定する場合、検査対象画像を基準画像に合わせるために回転補正を行うようにしている（例えば特許文献１等参照）。
また、検査対象を撮像した画像の各画素の輝度データをメモリに記憶させ、当該輝度データに基づく情報を強調して得られた判定値を閾値と比較することにより、精度の高い欠陥検査を行えるようした装置が知られている（例えば特許文献２等参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平９−１１３２２５号公報
【特許文献２】特許第４５７６１８７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、特許文献１のようなパターンマッチングによる検査方法では、検査対象画像を回転補正する処理が必要となる。この処理は、全画素を１画素毎に回転補正しなければならない。即ち、１画素分の回転補正計算を全画素分行わなくてはならないため、当該回転補正処理に要する時間が長くなり、検査速度が遅くなってしまう。
そこで、回転補正処理を行わずに、検査対象画像中の検査対象物の中心を基準画像中の検査対象物の中心に一致させて、当該検査対象画像中の検査対象物上における中心を中心とした円周上の画素の輝度データを読み取って、円周上の隣接する画素の輝度データに基づく情報を強調して得られた判定値を閾値と比較する方法もある。
しかしながら、当該方法によれば、ソフトウエアによる処理によって、円周上の画素の輝度データを読み取り、円周上の隣接する画素の輝度データに基づく情報を強調する処理を行うため、画像処理装置のプロセッサが行う、円周上の画素の輝度データを読み取る処理、および、円周上の隣接する画素の輝度データに基づく情報を強調した判定値を計算する処理に要する時間が長くなり、検査速度が遅くなってしまう。
即ち、この方法の場合、画像処理装置のプロセッサが、円周上の画素の輝度データを読み取る際には、画像上においてスキャンする円周の径を決めて、円周上の画素のアドレスを計算して求め、さらに、当該アドレスに対応する画像メモリのアドレスの記憶領域から円周上の隣接する複数画素の輝度データをＲＡＭに逐一読み込んで輝度データに基づく情報を強調する処理を行って判定値を求めるため、閾値と比較するための判定値を得るまでの処理に要する時間、即ち、撮像された画像における円周上の各画素の輝度データに基づく情報を強調する処理に要する時間がかかりすぎるという問題があった。
本発明は、撮像された画像における円周上又は放射線上の各画素の輝度データに基づく情報を強調する処理に要する時間を短縮できる輝度データの記憶処理方法を用いた画像処理装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明に係る輝度データの記憶処理方法を使用した画像処理装置は、撮像された画像の各画素位置に対応した各アドレスの記憶領域に、撮像された画像の各画素の輝度データが記憶される第１の輝度データ記憶手段と、物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域を備えた第２の輝度データ記憶手段と、撮像された画像における円周上又は放射線上の各画素のアドレスに対応する第１の輝度データ記憶手段のアドレスの記憶領域に記憶されていた輝度データを、第２の輝度データ記憶手段の物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域に記憶させるアドレス変換手段と、前記第２の輝度データ記憶手段の物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域から出力される輝度データを入力して当該輝度データに基づく情報を強調する処理を行う演算回路とを備え、撮像された画像中の検査対象部分が、良品状態において円周上で輝度差がない非特徴部分と円周上で当該非特徴部分との輝度差がある特徴部分とを有している場合において、撮像された画像における円周上の特徴部分が位置する画素のアドレスを開始位置として、撮像された画像における円周上の各画素のアドレスに対応する第１の輝度データ記憶手段のアドレスの記憶領域に記憶されていた輝度データを、第２の輝度データ記憶手段の物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域に記憶させるので、当該第２の輝度データ記憶手段の物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域からの出力を入力して、撮像された画像における円周上の各画素の輝度データに基づく情報を強調する処理を、ハードウエア（演算回路）で実現できるようになるため、撮像された画像における円周上の各画素の輝度データに基づく情報を強調する処理に要する時間を短縮でき、検査対象を撮像した画像に基づいて欠陥有無の検査を行う場合の検査時間等を短縮できるとともに、撮像された画像中の検査対象部分における特徴部分の位置が基準画像に対してずれていても、特徴部分の位置を基準画像に合わせるための回転補正を行うことなく、特徴部分の輝度データを特定できるようになり、非特徴部分のみにおいて前記演算回路の強調処理に基づく欠陥検査などの検査を行い、特徴部分においては検査感度を弱めるなどの検査を行うことが可能となる画像処理装置を提供できるようになる。  
【図面の簡単な説明】
【０００６】
【図１】撮像画像における円周上の各画素の輝度データの記憶処理方法を用いた画像処理装置を含む検査装置を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００７】
実施形態１
図１に示すように、実施形態１による検査装置１は、検査対象部分Ｘを撮像するエリアセンサカメラ等の撮像手段２と、画像処理装置３とを備えて構成される。
画像処理装置３は、撮像された画像の各画素位置に対応した各アドレスの記憶領域に、撮像された画像の各画素の輝度データが記憶される第１の輝度データ記憶手段としてのフレームメモリ４と、物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域を備えた第２の輝度データ記憶手段としてのラインメモリ５と、フレームメモリ４のアドレスとラインメモリ５のアドレスとが対応付けされたルックアップテーブル６と、前記第２の輝度データ記憶手段の物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域から出力される輝度データを入力して当該輝度データに基づく情報を強調する処理を行う回路としての演算回路７と、判定手段８と、プロセッサ１０と、を備える。
【０００８】
撮像手段２は、コンベアＢ等で搬送されてきて光源Ｌからの光で照射された検査対象部分Ｘとしての例えば缶蓋の円形部分を撮像する。
フレームメモリ４には、撮像手段２で撮像された検査対象画像Ａ全体の各画素の輝度データ（撮像手段２のＣＣＤにより検査対象部分Ｘの光学的な像が電気的な信号に変換された輝度データ）が記憶される。
ラインメモリ５には、検査対象画像Ａにおける円周上の画素の輝度データが物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域に記憶される。
演算回路７は、ラインメモリ５の物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域から出力される検査対象画像Ａの円周上の画素の輝度データを入力して当該輝度データに基づく情報を強調した判定値を演算する。
演算回路７は、例えば、ＦＰＧＡ（field-programmable  gate  array）により構成される。
判定手段８は、演算回路７から出力された判定値と閾値とを比較して検査対象部分Ｘの欠陥の有無を判定する。
【０００９】
画像処理装置３は、検査対象画像Ａにおける円周上の画素のアドレスに対応するフレームメモリ４のアドレスの記憶領域に記憶されている輝度データを、ラインメモリ５の物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域に記憶させるアドレス変換処理手段を備える。
当該アドレス変換処理手段は、ルックアップテーブル６と、当該ルックアップテーブル６を参照して、検査対象画像Ａにおける円周上の画素のアドレスに対応するフレームメモリ４のアドレスの記憶領域に記憶されている輝度データを、ラインメモリ５の物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域に記憶させる画像処理装置３のプロセッサ１０とにより実現される。
【００１０】
まず、検査を行う前の事前準備として以下のことを行う。
撮像範囲のＸＹ座標で指定される各画素のアドレスとフレームメモリ４のＸＹ座標で指定されるアドレスとを対応付けておき、撮像手段２により検査対象部分Ｘが撮像された場合に、当該撮像された検査対象画像Ａの各画素の輝度データがフレームメモリ４に記憶されるようにしておく。
基準画像（図示せず）は、撮像範囲のＸＹ座標の中心と検査対象部分Ｘとしての円形部分の中心とを一致させた画像とする。
基準画像上の円形部分の中心を中心とした円周上の画素のアドレスに対応するフレームメモリ４のアドレスと、ラインメモリ５の物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスと、を対応付けしたルックアップテーブル６を作成する。
即ち、検査対象画像Ａにおける検査対象部分Ｘである円形部分上において、円形部分の中心Ｃを中心とした径の異なる複数の円周（円形部分の中心Ｃを中心とした同心円上の半径が異なる円周）上の各画素のアドレスをスキャン（指定）するために、各円周毎の画素のアドレスに対応するフレームメモリ４のアドレスと、ラインメモリ５の物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスと、を対応させたルックアップテーブル６を作成しておく。この場合、円周の径が大きいほど、円周上の画素数が多くなるため、円周上の画素の輝度データを記憶するラインメモリ５のアドレス数も多く必要となる。
円形部分の中心Ｃを中心とした同心円上の半径が異なる円周は、円形部分の径方向に沿って隣接する画素間を隔てて設定された複数の円周としても良いが、例えば、円形部分の径方向に沿って２〜３画素分の間隔を隔てた円周とすることが好ましい。
つまり、検査対象画像Ａにおける検査対象部分Ｘである円形部分上に設定される円周毎に、円周の画素の輝度データが記憶されたフレームメモリ４のアドレスとラインメモリ５の物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスとを対応付けたルックアップテーブル６を作成しておく。
また、ＦＰＧＡにより、ラインメモリ５の物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域から出力される検査対象画像Ａの円周上の画素の輝度データを入力して判定値を演算する演算回路７を作成する。
尚、ルックアップテーブル６、及び、演算回路７は、検査対象部分Ｘが異なれば、検査対象部分Ｘ毎に作成することになる。
【００１１】
検査装置１を用いた検査方法について説明する。
コンベアＢ等で搬送されてきた検査対象部分Ｘが撮像手段２で撮像され、撮像された検査対象画像Ａの各画素の輝度データがフレームメモリ４に記憶される。
フレームメモリ４に記憶された輝度データから、検査対象部分Ｘである円形部分の中心Ｃを求める。即ち、円形部分の外周縁における互いに１８０度離れた一対のエッジ部分をつなぐ直線を２本引いて当該２本の直線が交差する点を円形部分の中心Ｃとする。当該検査対象画像Ａにおいて求めた円形部分の中心Ｃと基準画像の円形部分の中心とのｘｙ座標上のずれ量を求める。求めたｘｙ座標上のずれ量を用いて、検査対象画像Ａの円形部分の中心Ｃと基準画像の円形部分の中心とを一致させる様に検査対象画像Ａをｘ、ｙ移動させ、ずれ量に対応してフレームメモリ４の各アドレスの記憶領域に記憶されている輝度データを書き替える。
【００１２】
次に、画像処理装置３のプロセッサ１０が、検査対象画像Ａにおける検査対象部分Ｘである円形部分上において、円形部分の中心Ｃを中心とした同心円上の半径が異なる複数の円周上の画素のアドレスをスキャンするためのスキャン開始位置のアドレスを求める。
そして、ルックアップテーブル６の機能により、検査対象画像Ａの円周上の画素のアドレスに対応するフレームメモリ４のアドレスの記憶領域に記憶されている輝度データが、ラインメモリ５の物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域に転送されて記憶される。
尚、フレームメモリ４で基準画像の検査対象部分Ｘの中心と検査対象画像の検査対象部分Ｘの中心の位置ずれを求めて位置補正を行うが、その時に検査対象部分Ｘ内において円形スキャンの開始位置となる輝度変化模様（例えばプルトップの様な凹凸特徴部分）の位置も合わせて求める。その位置が基準画像のスキャン開始位置となりラインメモリ５の物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域に転送されて記憶される。
このラインメモリ５に記憶された輝度データが検査に使うラインメモリ５の基準画像となる。
つまり、このスキャン開始位置からスキャンしたデータをラインメモリ５の物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域に転送して記憶する。
即ち、画像処理装置３のプロセッサ１０が、ルックアップテーブル６を参照して、検査対象画像Ａの各円周上の画素のアドレスを特徴部分の位置であるスキャン開始位置のアドレスから順番に指定することにより、指定されたアドレスに対応したフレームメモリ４のアドレスの記憶領域に記憶されている輝度データが、ラインメモリ５の物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域に転送されて記憶される。
このように、撮像された画像における円周上の特徴部分をスキャン開始位置として、撮像された画像における円周上の各画素のアドレスに対応するフレームメモリ４のアドレスの記憶領域に記憶されていた輝度データを、ラインメモリ５の物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域に記憶させるので、撮像された画像中の検査対象部分Ｘにおける特徴部分の位置が基準画像に対してずれていても、特徴部分の位置を基準画像に合わせるための回転補正を行うことなく、回転補正した場合と同一の判定結果が得られ、また、特徴部分の輝度データを特定できるようになる。
【００１３】
演算回路７は、例えば、ラインメモリ５の物理的に一直線上に隣り合う例えば３アドレス分（３画素分）の輝度データの値を１アドレス（１画素）ずつずらしていきながら加算し、そして、前後に計算された３アドレス分の輝度データの加算値同士を比較した差を出力するように作成されたＦＰＧＡにより構成される。
即ち、演算回路７は、ラインメモリ５の物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域から出力される輝度データを入力して当該輝度データに基づく情報を強調する処理を行って判定値を出力するＦＰＧＡ（ハードウエア）により構成される。
【００１４】
判定手段８は、専用のソフトウエアの命令に従って、演算回路７から出力された判定値としきい値とを比較して検査対象部分Ｘの欠陥の有無を判定するプロセッサ１０により実現される。
【００１５】
実施形態１の画像処理装置３によれば、基準画像上の検査対象部分Ｘである円形部分の中心Ｃを中心とした円周上の画素のアドレスに対応するフレームメモリ４のアドレスと、ラインメモリ５の物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスと、を対応付けしたルックアップテーブル６を備えていることにより、検査対象画像Ａにおける検査対象部分Ｘである円形部分上において、円形部分の中心Ｃを中心とした径の異なる複数の円周上の各画素のアドレスをスキャンする際に、従来のようなソフトウエアによる計算処理によってスキャンするアドレスを求める必要がなくなるため、検査対象画像Ａの円周上の画素のアドレスをスキャンするために要する処理時間を短縮できる。
また、実施形態１の画像処理装置３によれば、ルックアップテーブル６を備え、検査対象画像Ａの円周上の画素のアドレスに対応するフレームメモリ４のアドレスに格納されている輝度データが、ラインメモリ５の物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域に転送されて記憶されるため、検査対象画像Ａの円周上の画素の輝度データに基づく情報を強調して判定値を求める処理をハードウエア（演算回路７）によって行えるようになる。従って、従来のようなソフトウエアによる計算処理によって閾値と比較するための判定値を求める必要がなくなるため、判定値を求めるために要する処理時間（撮像された画像における円周上の各画素の輝度データに基づく情報を強調する処理に要する時間）を大幅に短縮できるようになり、検査時間を短縮できて、検査の高速化が可能となる。
【００１６】
即ち、従来のように、検査対象画像の画素の輝度データをフレームメモリに記憶させただけでは、検査対象画像の円周上の画素の輝度データに基づく情報を強調して判定値を求める処理を行うためのハードウエアを構成することは不可能であるため、画像処理装置のプロセッサが専用のソフトウエアの命令に従って、判定値を求めるために必要な検査対象画像の円周上の画素の輝度データをフレームメモリからＲＡＭに逐一読み込んで演算処理を行わなくてはならなかったため、判定値を求めるために要する処理時間が長くなるという課題があった。
一方、実施形態１のように、検査対象画像Ａの円周上の画素の輝度データを、ラインメモリ５の物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域に記憶させるようにすれば、ラインメモリ５の当該アドレスの記憶領域からの輝度データを入力して当該輝度データに基づく情報を強調する判定値を演算する演算回路７を構成することができるようになり、判定値を求める処理をハードウエアで行うことが可能となるため、判定値を求めるための処理時間を大幅に短縮できるようになる。
【００１７】
尚、例えば検査対象画像Ａ中の検査対象部分Ｘである円形部分が、良品状態において円形部分の中心Ｃを中心とした円周上で輝度差がない検査対象部分Ｘである場合、検査対象画像Ａにおける検査対象部分Ｘである円形部分上において円形部分の中心Ｃを中心とした同心円上の半径が異なる複数の円周上の画素のアドレスをスキャンするためのスキャン開始位置は、任意の位置に設定すればよい。
即ち、良品状態において円形部分の中心Ｃを中心とした円周上で輝度差がない検査対象部分Ｘの場合、スキャン開始位置がどこであろうと、検査対象部分Ｘである円形部分の円周上の画素のアドレスをスキャンして、円周上の画素のアドレスの輝度データをラインメモリ５の物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域に記憶させ、ラインメモリ５の物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域から出力される検査対象画像Ａの円周上の画素の輝度データに基づく情報を強調した判定値を演算回路７で演算して、当該輝度データに基づく情報を強調した判定値を所定の閾値と比較することにより、円周上で比較的小さな輝度差が生じている場合であっても、当該輝度差を検出できて、検査対象部分Ｘの円周上の傷、汚れ等の欠陥を検出できるようになる。
しかしながら、検査対象画像Ａ中の検査対象部分Ｘである円形部分が、良品状態において円周上で輝度差がない非特徴部分と円周上で当該非特徴部分との輝度差がある特徴部分とを有する検査対象部分Ｘである場合、例えば、検査対象部分Ｘである円形部分上に例えば図１に示すプルトップＰのような特徴部分がある場合においては、当該特徴部分が存在する範囲は、非特徴部分との輝度の差が大きいため、円周上の画素のアドレスを円周を１周するようにスキャンして演算回路７によって特徴部分の輝度データに基づく情報を強調した判定値を求めた場合、特徴部分の輝度データが演算回路７によって強調されて当該特徴部分が傷、汚れ等の欠陥と判定されてしまう。
そこで、このような特徴部分が存在する範囲は、検査強度を弱めて検査を行うようにする。つまり、プルトップＰのような特徴部分が存在する範囲は、演算回路７による輝度データに基づく情報を強調した判定値を用いた処理を行わず、本実施形態による非特徴部分の検査に用いる閾値とは異なる閾値を用いて検査を行う。
即ち、検査対象部分Ｘである円形部分上に特徴部分がある場合においては、特徴部分が存在する範囲では、演算回路７による輝度データに基づく情報を強調した判定値を用いた処理を行わないようにする。
この場合、例えば、まず、基準画像を作成する際、プルトップＰの左右両側のエッジＥ，Ｅ間の中間位置と円形部分の中心Ｃとを通る半径線上のアドレスを基準として複数の円周上の各画素のアドレスをスキャンした場合の、特徴部分を含むアドレス範囲をあらかじめ求めておく。
そして、検査時においては、画像処理装置３のプロセッサ１０が、検査対象画像Ａにおける検査対象部分Ｘの中心を基準画像の検査対象部分Ｘの中心に合わせた後、検査対象画像Ａにおける検査対象部分ＸのプルトップＰの左右両側のエッジＥ，Ｅ間の中間位置と円形部分の中心Ｃとを通る半径線上のアドレスをスキャン開始アドレスとし、スキャンする円周上において当該スキャン開始アドレスから特徴部分を含むアドレス範囲を加算したアドレスに記憶されている輝度データは特徴部分の輝度データであるから、当該特徴部分の輝度データは検査感度を弱めて検査する。
このように、撮像された画像中の検査対象部分Ｘが、良品状態において円周上で輝度差がない非特徴部分と円周上で当該非特徴部分との輝度差がある特徴部分とを有している場合において、撮像された画像における円周上の特徴部分が位置する画素のアドレスを開始位置として、撮像された画像における円周上の各画素のアドレスに対応するフレームメモリ４のアドレスの記憶領域に記憶されていた輝度データを、ラインメモリ５の物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域に記憶させるので、撮像された画像中の検査対象部分における特徴部分の位置が基準画像に対してずれていても、特徴部分の位置を基準画像に合わせるための回転補正を行うことなく、特徴部分の輝度データを特定できるようになり、そして、非特徴部分のみにおいて演算回路７の強調処理に基づく欠陥検査などの検査を行い、特徴部分においては検査感度を弱めるなどの検査を行うことが可能となる。
【００１８】
実施形態２
缶蓋等の圧延加工した製品は、円形部分のエッジ部（円形部分の円形外周縁部）に所謂ドローマーク（放射状の引っ張りシワ模様）が出来るが、これは不良ではない。
そこで、実施形態１で説明した検査を行った後に、検査対象画像Ａにおける検査対象部分Ｘである円形部分の画素を円形部分の中心Ｃから放射線上にスキャンするようにする。
即ち、この場合、基準画像上の円形部分の中心から放射線上の画素のアドレスに対応するフレームメモリのアドレスと、ラインメモリの物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスと、を対応付けしたルックアップテーブルを作成する。
つまり、この場合の画像処理装置は、当該ルックアップテーブルと、当該ルックアップテーブルを参照して、検査対象画像Ａにおける円形部分の中心から複数の放射線上の画素のアドレスに対応するフレームメモリのアドレスの記憶領域に記憶されている輝度データを、ラインメモリの物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域に記憶させる画像処理装置のプロセッサと、からなるアドレス変換処理手段を備えた構成とする。
複数の放射線は、例えば、検査対象画像Ａにおける円形部分の中心Ｃを基準として円周方向に１°間隔毎に３６０本設定する。
さらに、この場合の画像処理装置は、ラインメモリの物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域から出力される輝度データを入力して当該輝度データに基づく情報を強調する処理を行って判定値を出力するＦＰＧＡ（ハードウエア）による演算回路を備えた構成とする。
尚、実施形態２においても、ルックアップテーブル、及び、演算回路は、検査対象部分Ｘが異なれば、検査対象部分Ｘ毎に作成することになる。
【００１９】
実施形態２の画像処理装置によれば、検査対象画像の放射線上の画素の輝度データを、ラインメモリの物理的に一直線上に並ぶ連続したアドレスの記憶領域に記憶させるため、ラインメモリの当該アドレスの記憶領域からの輝度データを入力して当該輝度データに基づく情報を強調する判定値を算出する演算回路（ハードウエア）を構成することができるようになるので、判定値を求めるために要する処理時間（撮像された画像における放射線上の各画素の輝度データに基づく情報を強調する処理に要する時間）を大幅に短縮できるようになり、検査対象である円形部分の円形外周縁部の欠陥の有無を高速かつ正確に判定できるようになる。
【００２０】
尚、上記では、輝度データに基づく情報を強調する処理として、前後に計算された３アドレス分の輝度データの加算値同士を比較した差を出力する処理を例示したが、輝度データに基づく情報を強調する処理は、輝度データを微分して強調する処理、その他の強調処理であっても良く、このような強調処理を行う回路を、例えばＦＰＧＡにより作成すればよい。
【００２１】
本発明の検査装置では、缶詰や飲料缶の缶蓋等の円形部分だけではなく、その他の円形部分を備えた物品の検査が可能である。例えば、自動車部品（丸形ベアリング、コロ型ベアリング、プレーキパット等）の円形部分のキズ、汚れ、異物付着等の検査も可能となる。
【００２２】
また、本発明の検査装置では、円形部分以外の部品であっても、円周上又は放射線上の各画素の輝度データに基づく情報を強調する処理、判定する処理に要する時間を短縮でき、高速かつ精度の高い検査を行うことが可能となる。
【符号の説明】
【００２３】
３  画像処理装置、４  フレームメモリ（第１の輝度データ記憶手段）、
５  ラインメモリ（第２の輝度データ記憶手段）、
６  ルックアップテーブル（アドレス変換手段）、７  演算回路、８  判定手段、
１０  プロセッサ（アドレス変換手段）。
【図１】
0006576661.tif 000002