(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電気分散補償器を備える受信器であって、
入力電気信号をタップ数Ｌに分岐し、互いにビット周期Ｔの時間差となる遅延を与え、タップ係数ｗｘで与えられる重み付けをした後に、入力電気信号から減算して出力信号を生成する判定帰還等価回路と、
前記判定帰還等価回路に伝送後のテストパターンを入力して得られるアイ開口の所定の位相及び振幅において、伝送前のテストパターンと比較してエラーカウントを測定するアイ品質モニタ部と、
制御部と
を備え、
前記制御部は、
タップ係数を決定するタップをタップ１から順に選択する手段と、
選択された前記タップについて、タップ係数を設定する手段と、
所定の測定範囲について、前記アイ品質モニタ部から取得したエラーカウントの合計値を取得する手段と、
エラーカウントの合計値が最小のタップ係数を最適値として決定する手段と、
測定範囲の中心を初期値からずらしてエラーカウントの合計値が改善するか否かを判定し、改善した場合は、改善したときの測定範囲の中心を以降の初期値として更新する手段と
を備える
ことを特徴とする受信器。
【請求項２】
入力電気信号をタップ数Ｌに分岐し、互いにビット周期Ｔの時間差となる遅延を与え、タップ係数ｗｘで与えられる重み付けをした後に、入力電気信号から減算して出力信号を生成する判定帰還等価回路と、
前記判定帰還等価回路に伝送後のテストパターンを入力して得られるアイ開口の所定の位相及び振幅において、伝送前のテストパターンと比較してエラーカウントを測定するアイ品質モニタ部と、
制御部と
を備える、電気分散補償器を有する受信器で行われるタップ係数最適化方法であって、
タップ係数を決定するタップをタップ１から順に選択する過程と、
選択された前記タップについて、タップ係数を設定する過程と、
テストパターンを用いたデータ受信を行うことにより得られるアイ開口を用いて、予め設定された測定範囲でのエラーカウントの合計値を取得する過程と、
選択されたタップの全てのタップ係数についてエラーカウントの合計値を取得したか否かを判定し、取得していない場合は再び前記タップ係数を設定する過程を行い、取得している場合はエラーカウントの合計値が最小のタップ係数を最適値として決定する過程と、
全てのタップでの最適値の設定が終了しているか否かを判定する過程と、
終了していない場合に行われる、エラーカウント条件抽出過程と
を備え、
エラーカウント条件抽出過程では、測定範囲の中心を初期値からずらしてエラーカウントの合計値が改善するか否かを判定し、改善した場合は、改善したときの測定範囲の中心を以降の初期値として更新する
ことを特徴とするタップ係数最適化方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、電気分散補償器を備える受信器と、この受信器で用いて好適なタップ係数最適化方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
次世代のＰＯＮ（Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）システムでは、多分岐化と伝送距離の長延化とにより局側装置（ＯＬＴ：Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｌｉｎｅ  Ｔｅｒｍｉｎａｌ）によるカバーエリアを広域化すること、すなわち、局統合を行うことによる、低消費電力駆動が検討されている。この局統合を実現するためには、伝送距離の長延化で生じる課題の一つである、波長分散の影響を緩和する必要がある。
【０００３】
現在、コアネットワークでは、分散補償ファイバを用いて波長分散の影響を緩和している。しかし、ＰＯＮシステムは、ＯＬＴからの距離が異なる複数の加入者端末（ＯＮＵ：Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ  Ｕｎｉｔ）が同一のファイバを共有する構成であるため、分散補償ファイバを用いた補償方法は現実的ではない。
【０００４】
これに対し、電気分散補償法（ＥＤＣ：Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌ  Ｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ  Ｃｏｍｐｅｎｓａｔｉｎｇ）を用いる提案がある（例えば、特許文献１参照）。ＥＤＣとは、波長分散により歪んだ信号波形に対して、デジタル信号処理により歪みを補正する技術である。
【０００５】
ＥＤＣ技術の１つに、ＤＦＥ（Ｄｅｃｉｓｉｏｎ  Ｆｅｅｄｂａｃｋ  Ｅｑｕａｌｉｚｅｒ）がある（例えば、特許文献２参照）。ＤＦＥとは、サンプリングした信号に現れる歪み成分を補償するために、サンプリングした信号が複数のタップを経由するように構成し、タップ間の遅延と重み付けのためのタップ係数とにより、歪み成分を相殺するように動作する等価器である。ＤＦＥでは、判定帰還回路を備えるため、補償誤差を小さくすることが可能である。
【０００６】
タップ係数の最適値を自律的に決定する方法の一つとして、受信信号のアイ開口の品質をモニタし、エラーを小さくするようにタップ係数を最適化する方法が考えられる。図３にアイ開口をモニタしたときのイメージを示す。横軸方向を位相、縦軸方向を強度（振幅）としたとき、任意のポイント数とポイント間隔で各測定ポイントにおけるエラーカウントを求めると、中心付近（図３中、Ｉで示す。）はエラーが少なく、外環部にかけて次第にエラーが大きくなる。例えば、ＤＦＥのタップ係数を変化させる前と後で、同一の測定範囲（図３中、ＩＩで示す。）でエラーカウントを求めたとき、エラーカウントの合計値が少ないほうを高品質と判定する。この場合、ＤＦＥのタップ係数を順次変更していったときの、エラーカウントの合計値を比較することで、ＤＦＥのタップ係数の最適値を得ることができる。これを、タップ１から順番に、タップ２、３、４と同様に最適化していくことで、全てのタップに対して、最適化されたタップ係数が得られる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００６−２８７６９５号公報
【特許文献２】特開２００２−３４４８２２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
ＤＦＥのタップ係数を完全に最適化するためには、エラーカウントの測定ポイント及びタップ係数を全てパラメータとして、総当たりで測定する必要がある。しかし、想定される次世代のＰＯＮシステムでは、受信側の初期設定に与えられる時間が限られている。このため、タップ係数の最適化に要する時間を短縮する必要がある。
【０００９】
そこで、エラーが大きいポイントは省略し、アイ開口の中心部の必要なポイントだけを測定する方法を提案する。測定範囲と測定ポイントの一例を図４に示す。図４は、８０ｋｍ伝送を行ったときのシミュレーションによる受信波形である。図４（Ａ）はＤＦＥなしの場合の波形を示し、図４（Ｂ）はＤＦＥのタップ１だけを最適化したときの波形を示している。タップ１の最適化前は、図４（Ａ）に示すように、アイ開口が最大となる位相の位置（図４（Ａ）中、Ｉで示す。）は中心線に沿っていて、この中心線に沿った部分を測定範囲とする。ここで、ＤＦＥの特性上、タップ１の最適化は、立下りの歪みを補正するように動作する。このため、タップ１を最適化した後では、図４（Ｂ）に示すように、アイ開口が最大となる位相の位置（図４（Ｂ）中、ＩＩで示す。）が、測定範囲の中心からずれる。従って、最適化前のアイ開口が最大となる位相の位置を中心として測定を行うと、正確なエラーカウントの測定ができず、タップ２以降のタップ係数の最適化が正確に行われない。
【００１０】
この発明は、上述の問題点に鑑みてなされたものである。この発明の目的は、測定ポイントを減らすことにより、ＤＦＥのタップ係数を最適化する時間を短縮できる、電気分散補償器を備える受信器と、この受信器で用いて好適なタップ係数最適化方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上述した目的を達成するために、この発明の電気分散補償器を備える受信器は、以下の構成を備えている。
【００１２】
入力電気信号をタップ数Ｌに分岐し、互いにビット周期Ｔの時間差となる遅延を与え、タップ係数ｗｘで与えられる重み付けをした後に、入力電気信号から減算して出力信号を生成する判定帰還等価回路と、判定帰還等価回路に伝送後のテストパターンを入力して得られるアイ開口の所定の位相及び振幅において、伝送前のテストパターンと比較してエラーカウントを測定するアイ品質モニタ部と、制御部とを備えて構成される。
【００１３】
制御部は、タップ係数を決定するタップをタップ１から順に選択する手段と、選択されたタップについて、タップ係数を設定する手段と、所定の測定範囲について、アイ品質モニタ部から取得したエラーカウントの合計値を取得する手段と、エラーカウントの合計値が最小のタップ係数を最適値として決定する手段と、測定範囲の中心を初期値からずらしてエラーカウントの合計値が改善するか否かを判定し、改善した場合は、改善したときの測定範囲の中心を以降の初期値として更新する手段とを備える。
【００１４】
また、この発明のタップ係数最適化方法は、入力電気信号をタップ数Ｌに分岐し、互いにビット周期Ｔの時間差となる遅延を与え、タップ係数ｗｘで与えられる重み付けをした後に、入力電気信号から減算して出力信号を生成する判定帰還等価回路と、判定帰還等価回路に伝送後のテストパターンを入力して得られるアイ開口の所定の位相及び振幅において、伝送前のテストパターンと比較してエラーカウントを測定するアイ品質モニタ部と、制御部とを備える、電気分散補償器を有する受信器で行われ、タップ係数を決定するタップをタップ１から順に選択する過程と、選択されたタップについて、タップ係数を設定する過程と、テストパターンを用いたデータ受信を行うことにより得られるアイ開口を用いて、予め設定された測定範囲でのエラーカウントの合計値を取得する過程と、選択されたタップの全てのタップ係数についてエラーカウントの合計値を取得したか否かを判定し、取得していない場合は再びタップ係数を設定する過程を行い、取得している場合はエラーカウントの合計値が最小のタップ係数を最適値として決定する過程と、全てのタップでの最適値の設定が終了しているか否かを判定する過程と、終了していない場合に行われる、エラーカウント条件抽出過程とを備えている。エラーカウント条件抽出過程では、測定範囲の中心を初期値からずらしてエラーカウントの合計値が改善するか否かを判定し、改善する場合は、改善したときの中心を以降の初期値として更新する。
【発明の効果】
【００１５】
この発明の受信器及びタップ係数最適化方法によれば、測定の中心を最適化するためのエラーカウントの条件抽出時間を加えている。この結果、ＤＦＥのタップ係数を完全に最適化するためには、エラーカウントの測定範囲、ＤＦＥのタップ数、ＤＦＥのタップ係数の調整範囲すべてにおいて、総当たりで測定する必要がある従来技術に対し、少ない測定ポイントで、信頼性の高いタップ係数の最適化が可能となり、総計算時間の短縮化も可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】受信器の模式的なブロック図である。
【図２】受信器が備えるＤＦＥの模式図である。
【図３】アイ開口をモニタしたときのイメージを示す図である。
【図４】測定範囲と測定ポイントの一例を示す図である。
【図５】タップ係数最適化方法を説明するためのフローチャート（１）である。
【図６】タップ係数最適化方法を説明するためのフローチャート（２）である。
【図７】タップ係数最適化方法の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、図を参照して、この発明の実施の形態について説明するが、各構成要素の配置関係については、この発明が理解できる程度に概略的に示したものに過ぎない。また、以下、この発明の好適な構成例につき説明するが、各構成要素の数値的条件などは、単なる好適例にすぎない。従って、この発明は以下の実施の形態に限定されるものではなく、この発明の構成の範囲を逸脱せずにこの発明の効果を達成できる多くの変更又は変形を行うことができる。
【００１８】
（受信器）
図１及び図２を参照して、電気分散補償器を備える受信器について説明する。図１は、受信器の模式的なブロック図である。図２は、受信器が備える電気分散補償器であるＤＦＥの模式図である。受信器１０は、受光器２０、ＰＭＡ（Ｐｈｙｓｉｃａｌ  Ｍｅｄｉａ  Ａｔｔａｃｈｍｅｎｔ）処理部４０、ＰＣＳ（Ｐｈｙｓｉｃａｌ  Ｃｏｄｉｎｇ  Ｓｕｂｌａｙｅｒ）処理部６０及びＭＡＣ（Ｍｅｄｉａ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）処理部８０を備えて構成される。
【００１９】
受光器２０は、受信した光信号を電気信号に変換して、ＰＭＡ処理部４０に送る。ＰＭＡ処理部４０は、電気信号に対して所定の処理を行い、ＰＣＳ処理部６０に送る。ＰＭＡ処理部４０の詳細については後述する。ＰＣＳ処理部６０は、ＰＭＡ処理部４０で生成されたデータに、ヘッダを付加するなどして、ＭＡＣ処理部８０に送る。ＭＡＣ処理部８０は、ＰＣＳ処理部６０から受け取ったデータを他の機器等（図示を省略する。）に送る。
【００２０】
受光器２０は、フォトダイオード（ＰＤ）など、任意好適な光変換素子を用いて構成することができる。ＰＭＡ処理部４０、ＰＣＳ処理部６０及びＭＡＣ処理部８０は、Ａｌｔｅｒａ社製ＦＰＧＡなど、任意好適なプログラマブルロジックデバイスを用いて構成することができる。
【００２１】
ＰＭＡ処理部４０は、ＤＦＥ５０、アイ品質（ＥＹＥ＿Ｑ）モニタ部４２、制御部４４及びメモリ４６を備えて構成される。制御部４４は、ＣＰＵとして動作し、所定のプログラムを実行することにより各機能を実現する。制御部４４が実現する各機能については後述する。
【００２２】
ＤＦＥ５０は、判定帰還等価回路である。ＤＦＥ５０は、受信した電気信号を分岐し、遅延を加えて重み付けをした後に、受信信号を重ね合わせる処理を行う。ＤＦＥ５０は、タップ数をＬとしたとき、差分回路５６、Ｌ個の重み付け回路５４−１〜Ｌ、及び、Ｌ個の遅延回路５２−１〜Ｌを備えて構成される。
【００２３】
ＤＦＥ５０において、入力信号ｕ（ｔ）は、２分岐され、一方は、第１の遅延回路５２−１に送られ、他方は、出力信号ｙ（ｔ）として、ＰＣＳ処理部６０及びＥＹＥ＿Ｑモニタ部４２に送られる。第１の遅延回路５２−１で遅延を受けた第１の遅延信号は２分岐され、一方は、第２の遅延回路５２−２に送られ、他方は、第１の重み付け回路５４−１を経て、差分回路５６に送られ、入力信号から減算される。同様に、第ｍ（ｍは、２以上Ｌ−１以下の整数）の遅延回路５２−ｍで遅延を受けた第ｍの遅延信号は２分岐され、一方は、第（ｍ＋１）の遅延回路５２−（ｍ＋１）に送られ、他方は、第ｍの重み付け回路５４−ｍを経て、差分回路５６に送られ、入力信号から減算される。第Ｌの遅延回路５２−Ｌで遅延を受けた第Ｌの遅延信号は、第Ｌの重み付け回路５４−Ｌを経て、差分回路５６に送られ、入力信号から減算される。
【００２４】
第１〜Ｌの遅延回路５２−１〜Ｌは、受け取った信号に１ビット周期Ｔに対応する遅延を与える。第１〜Ｌの重み付け回路５４−１〜Ｌは、受け取った信号にタップ係数Ｗｘ（ｘは１以上Ｌ以下の整数）の重み付けを与える。このタップ係数Ｗｘは、制御部４４の指示で設定される。
【００２５】
ＥＹＥ＿Ｑモニタ部４２は、ＤＦＥ５０の出力から得られるアイ開口に対して、制御部４４から与えられた、所定の測定ポイントでエラーカウントを計数する。測定ポイントは、アイ開口の横軸及び縦軸の座標に対応する、位相及び振幅の組で与えられる。エラーカウントの測定は、ＤＦＥ５０に伝送後のテストパターンを入力して得られるアイ開口を、伝送前のテストパターンと比較して行われる。伝送前と伝送後の値が不一致の場合に、エラーカウントが加算される。このエラーカウントの測定結果は、制御部４４に送られる。
【００２６】
メモリ４６には、最適化方法を実行するに当たって必要な初期設定値が、読み出し自在に格納されている。なお、この初期設定値は、予め格納されていても良いし、任意好適な入力手段により外部から入力されて格納されても良い。
【００２７】
（タップ係数最適化方法）
図５及び６を参照して、タップ係数最適化方法について説明する、図５及び６は、タップ係数最適化方法を説明するためのフローチャートである。
【００２８】
先ず、Ｓ１０において、制御部４４は、メモリ４６から読み出すことにより、又は、外部から入力することにより初期設定値を取得する。初期設定値は、例えば、測定範囲の大きさ、測定中心の初期値、及び、測定ポイント数Ｄなどである。
【００２９】
次に、Ｓ２０において、制御部４４は、タップ係数を決定するタップを選択する。タップ数Ｌが５の場合、タップは、例えば、タップ１からタップ５まで順に選択される。
【００３０】
次に、Ｓ３０において、制御部４４は、Ｓ２０で選択されたタップについて、タップ係数を設定する。タップ係数は、−Ｃから＋Ｃまで、２×Ｃ＋１段階で設定される。Ｃは例えば１５である。この場合、タップ係数は−１５から＋１５まで３１段階で設定される。制御部４４で設定されたタップ係数はＤＦＥ５０に通知される。ＤＦＥ５０は、制御部４４からの通知に従い、タップ係数を設定する。
【００３１】
次に、Ｓ４０において、エラーカウントの合計値を取得する。
【００３２】
Ｓ４０は、Ｓ４２〜Ｓ４８の過程を含んでいる。Ｓ４２において、制御部４４は、測定範囲内の任意の測定ポイントを、ＥＹＥ＿Ｑモニタ部４２に指示する。その後、テストパターンを用いたデータ受信を行うことにより、ＥＹＥ＿Ｑモニタ部４２は、その測定ポイントについてのエラーカウントを測定する。エラーカウントの測定は、ＤＦＥ５０に、伝送後のテストパターンを入力して得られるアイ開口と、伝送前のテストパターンとを比較して行われる。伝送前と伝送後の値が不一致の場合に、エラーカウントが加算される。このエラーカウントの測定結果は、制御部４４に送られる。
【００３３】
次に、Ｓ４４において、測定範囲中の全測定ポイントでの測定が終了したか判定する。判定の結果、全測定ポイントでの測定が終了していない場合（Ｎｏ）は、Ｓ４６において、制御部４４が測定ポイントの変更をＥＹＥ＿Ｑモニタ部４２に指示し、変更した測定ポイントでＳ４２及びＳ４４の過程を行う。一方、判定の結果、全測定ポイントでの測定が終了している場合（Ｙｅｓ）は、Ｓ４８において、制御部４４は全測定ポイントでのエラーカウントの合計値を算出する。
【００３４】
Ｓ４０でエラーカウントの合計値を取得した後、Ｓ５０において、タップ係数の最適値が決定されたか否かを判定する。この判定は、制御部４４がＳ２０で選択されたタップの全てのタップ係数についてエラーカウントの合計値を取得したか否かにより行われる。全てのタップ係数についてエラーカウントの合計値を取得していない場合、すなわち、タップ係数の最適値が決定されていない場合（Ｎｏ）は、Ｓ３０においてタップ係数を設定し、再びＳ４０及びＳ５０を行う。一方、全てのタップ係数についてエラーカウントの合計値を取得している場合（Ｙｅｓ）は、エラーカウントの合計値が最小となるタップ係数を最適値として決定し、Ｓ６０の過程を行う。
【００３５】
Ｓ６０において、全タップの設定が終了しているか否かを判定する。全タップの設定が終了している場合（Ｙｅｓ）は、最適化方法の処理を終了する。一方、全タップの設定が終了していない場合（Ｎｏ）は、Ｓ１００のエラーカウントの条件抽出を行う。
【００３６】
このＳ１００は、Ｓ１１０〜Ｓ１３０の過程を含んでいる。
【００３７】
Ｓ１１０において、制御部４４は、測定範囲の中心を位相及び振幅のいずれか一方又は双方を、測定中心の初期値に対して１ポイントずらす。
【００３８】
次に、Ｓ１２０において、エラーカウントの合計値を取得する。この過程は、測定中心が初期値からずれていることを除いて、Ｓ４０と同様に行われる。
【００３９】
次に、Ｓ１３０において、改善効果があるか否か、及び、全条件での測定が終了したか否かを判定する。
【００４０】
例えば、測定中心の初期値を用いて測定したエラーカウントの合計値に対して、Ｓ１２０で取得した合計値が小さくなれば、改善効果有と判定される。改善効果が有れば、改善効果が得られた測定中心を、新たに測定中心の初期値に変更する。
【００４１】
改善効果が得られない場合は、測定中心を変更してＳ１１０〜Ｓ１３０の過程を行い、全条件での測定を行う。測定中心の初期値を（０、０）とすると、全条件での測定は、（−１，−１）、（−１、０）、（−１、１）、（０、−１）、（０、１）、（１、−１）、（１、０）及び（１，１）の８つの条件での測定を意味する。全条件のいずれの場合でも、改善効果が得られない場合は、そのまま測定中心の初期値を変更せずに、Ｓ１００を終了する。
【００４２】
このエラーカウントの条件抽出が終わった後、再びＳ２０のタップ選択が行われる。
【００４３】
図７にタップ１だけを最適化したときの受信波形を示す。図７（Ａ）はエラーカウント条件抽出前の測定範囲であり、図７（Ｂ）はエラーカウント条件抽出後の測定範囲のイメージを示した図である。エラーカウントの条件抽出前では、アイ開口が最大となる位相を示す中心線（図７（Ａ）中、Ｉで示す。）が、測定範囲の中心からずれている。タップ１を最適化した後、エラーカウントの条件抽出を行うことにより、測定範囲の中心が移動する。その結果、アイ開口が最大となる位相を示す中心線（図７（Ｂ）中、ＩＩで示す。）が、測定範囲の中心に合う。
【００４４】
このように、ＤＦＥのタップ係数を一つ最適化する度に、エラーカウントの条件を抽出することで、タップの最適化により生じた、測定の中心と測定ポイントのずれを解消することが可能となる。従来、ＤＦＥのタップ係数を完全に最適化するためには、エラーカウントの測定範囲、ＤＦＥのタップ数、ＤＦＥのタップ係数の調整範囲すべてにおいて、総当たりで測定する必要があったが、本実施の形態により、測定の中心を最適化するためのエラーカウントの条件抽出時間を加えるだけで、少ない測定ポイントで、信頼性の高いタップ係数の取得が可能となり、総計算時間の短縮化も可能であるといった効果が得られる。
【００４５】
ＤＦＥのタップ係数を完全に最適化するために、エラーカウントの測定ポイントをＡ（１以上の整数）ポイント、ＤＦＥのタップ係数の調整範囲を±Ｃ（Ｃは１以上の整数）と仮定すると、すべてにおいて総当たりで測定するポイント数は、Ａ（２Ｃ＋１）となる。例えば、測定ポイントＡが８１であり、Ｃが１５であると、１つのタップについて最適化に必要な測定ポイント数は２５１１（＝Ａ（２Ｃ＋１）＝８１×（２×１５＋１））となる。
【００４６】
一方、本発明により、エラーカウントの測定ポイントＤ（１以上Ａ未満の整数）に低減することができると考えると、測定ポイント数は、Ｄ（２Ｃ＋１）となる。
【００４７】
また、エラーカウントの条件抽出工程での測定ポイント数は、８Ｄとなる。この結果、１つのタップについて最適化に必要な測定ポイント数は、６２４ポイントとなる。
【００４８】
このように、この発明によれば、Ａ（２Ｃ＋１）−｛Ｄ（２Ｃ＋１）＋８Ｄ｝＝（Ａ−Ｄ）（２Ｃ＋１）−８Ｄ、この例では、１８８７（＝２５１１−６２４）だけ測定ポイントを削減することができる。仮に、エラーカウントの測定ポイントＤを２５としても、６０％以上、測定ポイントを削減することができる。
【符号の説明】
【００４９】
１０    受信器
２０    受光器
４０    ＰＭＡ処理部
４２    ＥＹＥ＿Ｑモニタ部
４４    制御部
４６    メモリ
５０    ＤＦＥ（判定帰還等価回路）
５２    遅延回路
５４    重み付け回路
５６    差分回路
６０    ＰＣＳ処理部
８０    ＭＡＣ処理部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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