(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮影光学系により形成された被写体像を電気的な画素信号に変換するイメージセンサと、
前記撮影光学系の少なくとも一部をなす光学要素と前記イメージセンサの少なくとも一方を移動部材とし、この移動部材を前記撮影光学系の光軸と異なる方向に駆動することにより、被写体光束を前記イメージセンサの複数の画素に入射させて、光学的なローパスフィルタ効果を得る駆動機構と、
前記駆動機構の劣化度合いを検出する劣化検出部と、
露光時間を設定する露光時間設定部と、
前記露光時間設定部が設定した露光時間が所定の臨界時間より長いか短いかを判定する露光時間判定部と、
所定の臨界周波数より低い駆動周波数であり且つ前記劣化検出部が検出した前記駆動機構の劣化度合いに応じて駆動振幅が変動する低周波駆動信号を生成する低周波駆動信号生成部と、
所定の臨界周波数より高い駆動周波数であり且つ前記劣化検出部が検出した前記駆動機構の劣化度合いに応じて駆動振幅が変動する高周波駆動信号を生成する高周波駆動信号生成部と、
前記劣化検出部が検出した前記駆動機構の劣化度合いに応じてその信号特性を可変補正した駆動信号に基づいて、前記駆動機構を介して前記移動部材を駆動するとともに、前記露光時間設定部が設定した露光時間が前記臨界時間より長いと前記露光時間判定部が判定したとき、前記低周波駆動信号生成部が生成した低周波駆動信号に基づいて、前記駆動機構を介して前記移動部材を駆動し、前記露光時間設定部が設定した露光時間が前記臨界時間より短いと前記露光時間判定部が判定したとき、前記高周波駆動信号生成部が生成した高周波駆動信号に基づいて、前記駆動機構を介して前記移動部材を駆動する駆動制御部と、
を有することを特徴とする撮影装置。
【請求項２】
請求項１記載の撮影装置において、
前記低周波駆動信号生成部は、前記劣化検出部が検出した前記駆動機構の劣化度合いが悪くなるに連れて、前記低周波駆動信号の駆動振幅を小さくし、前記劣化検出部が検出した前記駆動機構の劣化度合いが良くなるに連れて、前記低周波駆動信号の駆動振幅を大きくする撮影装置。
【請求項３】
請求項１または２記載の撮影装置において、
前記高周波駆動信号生成部は、前記劣化検出部が検出した前記駆動機構の劣化度合いが悪くなるに連れて、前記高周波駆動信号の駆動振幅を大きくし、前記劣化検出部が検出した前記駆動機構の劣化度合いが良くなるに連れて、前記高周波駆動信号の駆動振幅を小さくする撮影装置。
【請求項４】
請求項１ないし３のいずれか１項記載の撮影装置において、
ボディ本体の内部の温度を検出する温度検出部をさらに有し、
前記低周波駆動信号生成部は、所定の臨界周波数より低い駆動周波数であり且つ前記温度検出部が検出した前記ボディ本体の内部の温度に応じて駆動振幅が変動する低周波駆動信号を生成し、
前記高周波駆動信号生成部は、所定の臨界周波数より高い駆動周波数であり且つ前記温度検出部が検出した前記ボディ本体の内部の温度に応じて駆動振幅が変動する高周波駆動信号を生成する撮影装置。
【請求項５】
請求項４記載の撮影装置において、
前記低周波駆動信号生成部は、前記温度検出部が検出した前記ボディ本体の内部の温度が高くなるに連れて、前記低周波駆動信号の駆動振幅を小さくし、前記温度検出部が検出した前記ボディ本体の内部の温度が低くなるに連れて、前記低周波駆動信号の駆動振幅を大きくする撮影装置。
【請求項６】
請求項４または５記載の撮影装置において、
前記高周波駆動信号生成部は、前記温度検出部が検出した前記ボディ本体の内部の温度が高くなるに連れて、前記高周波駆動信号の駆動振幅を大きくし、前記温度検出部が検出した前記ボディ本体の内部の温度が低くなるに連れて、前記高周波駆動信号の駆動振幅を小さくする撮影装置。
【請求項７】
請求項１および４に少なくとも従属する撮影装置において、
前記ボディ本体の振れを検出する振れ検出部をさらに有し、
前記低周波駆動信号生成部は、前記振れ検出部が検出した振れ検出信号と、前記劣化検出部が検出した前記駆動機構の劣化度合いと前記温度検出部が検出した前記ボディ本体の内部の温度に応じて駆動振幅が変動する低周波微小信号とを重畳合成することで、前記低周波駆動信号を生成し、
前記高周波駆動信号生成部は、コントローラの算出した駆動力信号に、前記劣化検出部が検出した前記駆動機構の劣化度合いと前記温度検出部が検出した前記ボディ本体の内部の温度に応じて駆動振幅が変動する高周波微小信号を用いた信号処理を施すことで、前記高周波駆動信号を生成する撮影装置。
【請求項８】
請求項７記載の撮影装置において、
前記低周波微小信号の駆動振幅は、制御目標値を一定のままとしホールセンサによるホール出力信号の回路ゲインを可変することにより得られる撮影装置。
【請求項９】
請求項７記載の撮影装置において、
前記低周波微小信号の駆動振幅は、制御目標値を一定のままとしホールセンサによるホール出力信号のバイアス電流を可変することにより得られる撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、移動部材（振れ補正部材）を撮影光学系の光軸と異なる方向に（例えば光軸直交平面内で）駆動することで光学的なローパスフィルタ効果を得る撮影装置、撮影方法及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１、２には、撮影光学系の一部をなす移動部材（特許文献１では振れ補正光学系、特許文献２ではプリズム）を光軸直交平面内で駆動（微小振動）することで、光学的なローパスフィルタ効果を得る撮影装置が開示されている。
【０００３】
このような撮影装置では、移動部材を駆動するための駆動信号が微小な高周波成分（例えば、駆動周波数が８ｋＨｚ、駆動周期が１／８０００秒）を含むので、移動部材を高精度に駆動制御するのが非常に難しい。特に、制御目標値（ジャイロセンサが検出した制御目標信号）に微小振動（微小信号）を重畳合成して駆動信号を生成する場合、この駆動信号が追従できる周波数領域はせいぜい数Ｈｚ〜数十Ｈｚ程度にすぎず、これを超える周波数領域には追従することができない。一方、微小な高周波成分を含む高周波駆動信号によって移動部材を駆動したときには、高周波騒音が発生してユーザに不快感を与えるおそれがある。この高周波騒音は露光時間が比較的長い場合にとりわけ問題となりやすい。
【０００４】
移動部材を駆動するための駆動機構として、例えば、固定支持基板と、この固定支持基板に対してスライド可能で移動部材が固定された可動ステージと、固定支持基板と可動ステージの一方に固定された磁石と、固定支持基板と可動ステージの他方に固定された駆動用コイルとを備え、駆動用コイルに交流駆動信号を流すことにより、可動ステージ（移動部材）を固定支持基板に対して駆動するものが一般的である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００２−３５４３３６号公報
【特許文献２】特開２００４−９４１３１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところが、駆動機構の構成要素（主に磁石）は、経年変化や極端な高温下におかれた場合（例えば真夏の車中や砂漠地帯など）、磁石の不可逆性の特性により磁力が元通りに戻らず、劣化が進んでしまう。そして、駆動機構の構成要素（主に磁石）の劣化が進むに連れて、移動部材の駆動力の設定誤差や移動量の検出誤差が発生して、所望のローパスフィルタ効果が得られなくなってしまう。
【０００７】
本発明は、以上の問題意識に基づいてなされたものであり、駆動機構の構成要素（主に磁石）の劣化度合いにかかわらず、移動部材を高精度に駆動制御して、所望のローパスフィルタ効果を得ることができる撮影装置、撮影方法及びプログラムを得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の撮影装置は、撮影光学系により形成された被写体像を電気的な画素信号に変換するイメージセンサと、前記撮影光学系の少なくとも一部をなす光学要素と前記イメージセンサの少なくとも一方を移動部材とし、この移動部材を前記撮影光学系の光軸と異なる方向に駆動することにより、被写体光束を前記イメージセンサの複数の画素に入射させて、光学的なローパスフィルタ効果を得る駆動機構と、前記駆動機構の劣化度合いを検出する劣化検出部と、露光時間を設定する露光時間設定部と、前記露光時間設定部が設定した露光時間が所定の臨界時間より長いか短いかを判定する露光時間判定部と、所定の臨界周波数より低い駆動周波数であり且つ前記劣化検出部が検出した前記駆動機構の劣化度合いに応じて駆動振幅が変動する低周波駆動信号を生成する低周波駆動信号生成部と、所定の臨界周波数より高い駆動周波数であり且つ前記劣化検出部が検出した前記駆動機構の劣化度合いに応じて駆動振幅が変動する高周波駆動信号を生成する高周波駆動信号生成部と、前記劣化検出部が検出した前記駆動機構の劣化度合いに応じてその信号特性を可変補正した駆動信号に基づいて、前記駆動機構を介して前記移動部材を駆動するとともに、前記露光時間設定部が設定した露光時間が前記臨界時間より長いと前記露光時間判定部が判定したとき、前記低周波駆動信号生成部が生成した低周波駆動信号に基づいて、前記駆動機構を介して前記移動部材を駆動し、前記露光時間設定部が設定した露光時間が前記臨界時間より短いと前記露光時間判定部が判定したとき、前記高周波駆動信号生成部が生成した高周波駆動信号に基づいて、前記駆動機構を介して前記移動部材を駆動する駆動制御部と、を有することを特徴としている。
【００１０】
前記低周波駆動信号生成部は、前記劣化検出部が検出した前記駆動機構の劣化度合いが悪くなる（劣化度合いが高くなる、劣化度合いが進む）に連れて、前記低周波駆動信号の駆動振幅（ゲイン）を小さくし、前記劣化検出部が検出した前記駆動機構の劣化度合いが良くなる（劣化度合いが低くなる、劣化度合いが進まない）に連れて、前記低周波駆動信号の駆動振幅（ゲイン）を大きくすることができる。
【００１１】
前記高周波駆動信号生成部は、前記劣化検出部が検出した前記駆動機構の劣化度合いが悪くなるに連れて、前記高周波駆動信号の駆動振幅（ゲイン）を大きくし、前記劣化検出部が検出した前記駆動機構の劣化度合いが良くなるに連れて、前記高周波駆動信号の駆動振幅（ゲイン）を小さくすることができる。
【００１２】
本発明の撮影装置は、ボディ本体の内部の温度を検出する温度検出部をさらに有し、前記低周波駆動信号生成部は、所定の臨界周波数より低い駆動周波数であり且つ前記温度検出部が検出した前記ボディ本体の内部の温度に応じて駆動振幅が変動する低周波駆動信号を生成し、前記高周波駆動信号生成部は、所定の臨界周波数より高い駆動周波数であり且つ前記温度検出部が検出した前記ボディ本体の内部の温度に応じて駆動振幅が変動する高周波駆動信号を生成することができる。
【００１３】
前記低周波駆動信号生成部は、前記温度検出部が検出した前記ボディ本体の内部の温度が高くなるに連れて、前記低周波駆動信号の駆動振幅（ゲイン）を小さくし、前記温度検出部が検出した前記ボディ本体の内部の温度が低くなるに連れて、前記低周波駆動信号の駆動振幅（ゲイン）を大きくすることができる。
【００１４】
前記高周波駆動信号生成部は、前記温度検出部が検出した前記ボディ本体の内部の温度が高くなるに連れて、前記高周波駆動信号の駆動振幅（ゲイン）を大きくし、前記温度検出部が検出した前記ボディ本体の内部の温度が低くなるに連れて、前記高周波駆動信号の駆動振幅（ゲイン）を小さくすることができる。
【００１５】
本発明の撮影装置は、前記ボディ本体の振れを検出する振れ検出部をさらに有し、前記低周波駆動信号生成部は、前記振れ検出部が検出した振れ検出信号と、前記劣化検出部が検出した前記駆動機構の劣化度合いと前記温度検出部が検出した前記ボディ本体の内部の温度に応じて駆動振幅が変動する低周波微小信号とを重畳合成することで、前記低周波駆動信号を生成し、前記高周波駆動信号生成部は、コントローラの算出した駆動力信号に、前記劣化検出部が検出した前記駆動機構の劣化度合いと前記温度検出部が検出した前記ボディ本体の内部の温度に応じて駆動振幅が変動する高周波微小信号を用いた信号処理を施すことで、前記高周波駆動信号を生成することができる。
【００１６】
前記低周波微小信号の駆動振幅は、制御目標値を一定のままとしホールセンサによるホール出力信号の回路ゲインを可変することにより得ることができる。
【００１７】
前記低周波微小信号の駆動振幅は、制御目標値を一定のままとしホールセンサによるホール出力信号のバイアス電流を可変することにより得ることができる。
【発明の効果】
【００２３】
本発明によれば、駆動機構の構成要素（主に磁石）の劣化度合いにかかわらず、移動部材を高精度に駆動制御して、所望のローパスフィルタ効果を得ることができる撮影装置、撮影方法及びプログラムが得られる。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】本発明の第１実施形態によるデジタルカメラの要部構成を示すブロック図である。
【図２】像振れ補正装置の要部構成を示すブロック図である。
【図３】像振れ補正装置の構成を示す側面図である。
【図４】図４（Ａ）、（Ｂ）は所定軌跡を描くようにイメージセンサを駆動することで光学的なローパスフィルタ効果を与えるための動作を示す図であり、図４（Ａ）は撮影光学系の光軸を中心とする回転対称な正方形軌跡を描くようにイメージセンサを駆動する場合、図４（Ｂ）は撮影光学系の光軸を中心とする回転対称な円形軌跡を描くようにイメージセンサを駆動する場合をそれぞれ示している。
【図５】イメージセンサ駆動回路の構成を示す機能ブロック図である。
【図６】イメージセンサ駆動回路が低周波駆動信号生成部として機能しているときの図５に対応する機能ブロック図である。
【図７】低周波駆動信号によってイメージセンサを光軸直交平面内で円軌跡を描くように駆動したときの波形を示す図である。
【図８】イメージセンサ駆動回路が高周波駆動信号生成部として機能しているときの図５に対応する機能ブロック図である。
【図９】高周波駆動信号によってイメージセンサを光軸直交平面内で円軌跡を描くように駆動したときの重畳波形を示す図である。
【図１０】ゲイン決定部がＤｕｔｙ重畳の振幅（ゲイン）を決定する様子を示す図である。
【図１１】駆動制御部が、露光時間判定部と下限時間判定部の判定結果に基づいて、イメージセンサ駆動回路を介してイメージセンサのＬＰＦ動作を駆動制御する内容を示す図である。
【図１２】像振れ補正装置の磁石が発生する磁力の温度特性を示す図である。
【図１３】ホールセンサによるホール出力の温度特性を示す図である。
【図１４】ホールセンサによるホール出力を用いた位置検出誤差の温度特性を示す図である。
【図１５】本実施形態の正の温度特性による補正を実行することなく、イメージセンサ駆動回路が「低周波駆動信号生成部」として機能している場合において、制御目標値を同一として像振れ補正装置によりイメージセンサを光軸直交平面内で駆動したときの実際の駆動量の温度特性を示す図である。
【図１６】本実施形態の負の温度特性による補正を実行することなく、イメージセンサ駆動回路が「高周波駆動信号生成部」として機能している場合において、制御目標値を同一として像振れ補正装置によりイメージセンサを光軸直交平面内で駆動したときの実際の駆動量の温度特性を示す図である。
【図１７】磁石の温度による磁力の低下度合いを示すグラフの一例である。
【図１８】磁石の経年劣化度合いの様子を示したグラフである。
【図１９】デジタルカメラの撮影処理を示すフローチャートである。
【図２０】デジタルカメラの撮影処理を示すタイミングチャートである。
【図２１】本発明の第２実施形態を示す図１に対応するブロック図である。
【図２２】本発明の第２実施形態を示す図５に対応する機能ブロック図である。
【図２３】本発明の第２実施形態を示す図６に対応する機能ブロック図である。
【図２４】本発明の第２実施形態を示す図８に対応する機能ブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００２５】
≪第１実施形態≫
図１ないし図２０を参照して、本発明の第１実施形態によるデジタルカメラ（撮影装置）１０について説明する。
【００２６】
図１に示すように、デジタルカメラ１０は、ボディ本体２０と、このボディ本体２０に着脱可能（レンズ交換可能）な撮影レンズ３０とを備えている。撮影レンズ３０は、被写体側（図１中の左側）から像面側（図１中の右側）に向かって順に、撮影レンズ群（撮影光学系、移動部材、振れ補正部材）３１と、絞り（撮影光学系）３２とを備えている。ボディ本体２０は、被写体側（図１中の左側）から像面側（図１中の右側）に向かって順に、シャッタ（撮影光学系）２１と、イメージセンサ（移動部材、振れ補正部材）２２とを備えている。またボディ本体２０は、撮影レンズ３０への装着状態で絞り３２とシャッタ２１を駆動制御する絞り／シャッタ駆動回路２３を備えている。撮影レンズ群３１から入射し、絞り３２とシャッタ２１を通った被写体光束による被写体像が、イメージセンサ２２の受光面上に形成される。イメージセンサ２２の受光面上に形成された被写体像は、マトリックス状に配置された多数の画素によって、電気的な画素信号に変換され、画像データとしてＤＳＰ４０に出力される。ＤＳＰ４０は、イメージセンサ２２から入力した画像データに所定の画像処理を施して、これをＬＣＤ２４に表示し、画像メモリ２５に記憶する。なお、図１では、撮影レンズ群３１が単レンズからなるように描いているが、実際の撮影レンズ群３１は、例えば、固定レンズ、変倍時に移動する変倍レンズ、フォーカシング時に移動するフォーカシングレンズなどの複数枚のレンズからなる。
【００２７】
撮影レンズ３０は、撮影レンズ群３１の解像力（ＭＴＦ）情報や絞り３２の開口径（絞り値）情報などの各種情報を記憶した通信用メモリ３３を搭載している。撮影レンズ３０をボディ本体２０に装着した状態では、通信用メモリ３３が記憶した各種情報がＤＳＰ４０に読み込まれる。
【００２８】
ボディ本体２０は、ＤＳＰ４０に接続させて、撮影操作スイッチ２６とローパスフィルタ操作スイッチ２７を備えている。撮影操作スイッチ２６は、電源スイッチやレリーズスイッチなどの各種スイッチからなる。ローパスフィルタ操作スイッチ２７は、イメージセンサ２２を撮影光学系の光軸Ｚと直交する平面内（以下、光軸直交平面内と呼ぶことがある）で駆動するローパスフィルタ動作のオンオフの切替え、ローパスフィルタ動作に関する各種設定などを行うためのスイッチである。イメージセンサ２２のローパスフィルタ動作については後に詳細に説明する。
【００２９】
ボディ本体２０は、ＤＳＰ４０に接続させて、ジャイロセンサ（振れ検出部）２８を備えている。ジャイロセンサ２８は、ボディ本体２０に加わる移動角速度（Ｘ軸とＹ軸周り）を検出することで、該ボディ本体２０の光軸直交平面内の振れを示す振れ検出信号を検出する。
【００３０】
図１ないし図３に示すように、イメージセンサ２２は、撮影光学系の光軸Ｚと直交するＸ軸方向とＹ軸方向（直交二方向）に移動可能に像振れ補正装置（駆動機構）５０に搭載されている。像振れ補正装置５０は、ボディ本体２０のシャーシなどの構造物に固定される固定支持基板５１と、イメージセンサ２２を固定した、固定支持基板５１に対してスライド可能な可動ステージ５２と、固定支持基板５１の可動ステージ５２との対向面に固定した磁石Ｍ１、Ｍ２、Ｍ３と、固定支持基板５１に可動ステージ５２を挟んで各磁石Ｍ１、Ｍ２、Ｍ３と対向させて固定した、各磁石Ｍ１、Ｍ２、Ｍ３との間に磁気回路を構成する磁性体からなるヨークＹ１、Ｙ２、Ｙ３と、可動ステージ５２に固定した、前記磁気回路の磁界内において電流を受けることにより駆動力を発生する駆動用コイルＣ１、Ｃ２、Ｃ３を有し、駆動用コイルＣ１、Ｃ２、Ｃ３に交流駆動信号（交流電圧）を流す（印加する）ことにより、固定支持基板５１に対して可動ステージ５２（イメージセンサ２２）が光軸直交平面内で駆動するようになっている。駆動用コイルＣ１、Ｃ２、Ｃ３に流す交流駆動信号は、ＤＳＰ４０による制御の下、後述するイメージセンサ駆動回路（低周波駆動信号生成部、高周波駆動信号生成部、可変補正駆動信号生成部）６０によって生成される。イメージセンサ駆動回路６０の構成及び該イメージセンサ駆動回路６０が生成する交流駆動信号については後に詳細に説明する。
【００３１】
本実施形態では、磁石Ｍ１、ヨークＹ１及び駆動用コイルＣ１からなる磁気駆動手段と、磁石Ｍ２、ヨークＹ２及び駆動用コイルＣ２からなる磁気駆動手段（２組の磁気駆動手段）とがイメージセンサ２２の長手方向（水平方向、Ｘ軸方向）に所定間隔で配置され、磁石Ｍ３、ヨークＹ３及び駆動用コイルＣ３からなる磁気駆動手段（１組の磁気駆動手段）がイメージセンサ２２の長手方向と直交する短手方向（鉛直（垂直）方向、Ｙ軸方向）に配置されている。
【００３２】
さらに固定支持基板５１には、各駆動用コイルＣ１、Ｃ２、Ｃ３の近傍（中央空間部）に、磁石Ｍ１、Ｍ２、Ｍ３の磁力を検出して可動ステージ５２（イメージセンサ２２）の光軸直交平面内の位置を示すホール出力信号（位置検出信号）を出力（検出）するホールセンサ（位置検出部）Ｈ１、Ｈ２、Ｈ３が配置されている。ホールセンサＨ１、Ｈ２により可動ステージ５２（イメージセンサ２２）のＹ軸方向位置及び傾き（回転）が検出され、ホールセンサＨ３により可動ステージ５２（イメージセンサ２２）のＸ軸方向位置が検出される。ＤＳＰ４０は、後述するイメージセンサ駆動回路６０を介して、ジャイロセンサ２８が検出したボディ本体２０の光軸直交平面内の振れを示す振れ検出信号と、ホールセンサＨ１、Ｈ２、Ｈ３が出力したイメージセンサ２２の光軸直交平面内の位置を示すホール出力信号とに基づいて、像振れ補正装置５０によってイメージセンサ２２を光軸直交平面内で駆動する。これにより、イメージセンサ２２上への被写体像の結像位置を変位させて、手振れに起因する像振れを補正することができる。本実施形態ではこの動作を「イメージセンサ２２の像振れ補正動作（像振れ補正駆動）」と呼ぶ。
【００３３】
本実施形態の像振れ補正装置５０は、撮影光学系の光軸Ｚと直交する平面内において所定軌跡を描くようにイメージセンサ２２を駆動して、被写体光束をイメージセンサ２２の検出色の異なる複数の画素に入射させることにより、光学的なローパスフィルタ効果（以下、ＬＰＦ効果と呼ぶことがある）を与える。本実施形態ではこの動作を「イメージセンサ２２のローパスフィルタ動作（ＬＰＦ動作、ＬＰＦ駆動）」と呼ぶ。
【００３４】
本実施形態の像振れ補正装置５０は、イメージセンサ２２をその像振れ補正動作範囲（像振れ補正駆動範囲）の中央位置で保持する「イメージセンサ２２の中央保持動作（中央保持駆動）」を実行する。例えば、「イメージセンサ２２の像振れ補正動作（像振れ補正駆動）」と「イメージセンサ２２のＬＰＦ動作（ＬＰＦ駆動）」がともにオフの場合には、「イメージセンサ２２の中央保持動作（中央保持駆動）」のみをオンにして撮影が行われる（像振れ補正を行わなくても中央保持は行う）。
【００３５】
「イメージセンサ２２の像振れ補正動作（像振れ補正駆動）」、「イメージセンサ２２のＬＰＦ動作（ＬＰＦ駆動）」及び「イメージセンサ２２の中央保持動作（中央保持駆動）」は、これらの合成動作（合成駆動）として像振れ補正装置５０によって実現される態様、あるいは、これらのいずれか１つの動作（駆動）のみが単独で像振れ補正装置５０によって実現される態様が可能である。
【００３６】
図４（Ａ）、（Ｂ）を参照して、像振れ補正装置５０が、所定軌跡を描くようにイメージセンサ２２を駆動して、該イメージセンサ２２によってＬＰＦ効果を与えるＬＰＦ動作について説明する。同図において、イメージセンサ２２は、受光面にマトリックス状に所定の画素ピッチＰで配置された多数の画素２２ａを備え、各画素２２ａの前面にベイヤ配列のカラーフィルタＲ、Ｇ、Ｂのいずれかが配置されている。各画素２２ａは、前面のいずれかのカラーフィルタＲ、Ｇ、Ｂを透過して入射した被写体光線の色を検出、つまり、色成分（色帯域）の光を光電変換し、その強さ（輝度）に応じた電荷を蓄積する。
【００３７】
図４（Ａ）は、イメージセンサ２２を、撮影光学系の光軸Ｚを中心とする回転対称な正方形軌跡を描くように駆動する場合を示している。この正方形軌跡は、例えば、イメージセンサ２２の画素ピッチＰを一辺とした正方形の閉じた経路とすることができる。図４（Ａ）では、イメージセンサ２２を、画素２２ａの互いに直交する並び方向の一方（鉛直方向）と平行なＹ軸方向、他方（水平方向）と平行なＸ軸方向に１画素ピッチＰ単位で交互にかつ正方形経路となるように移動させている。
【００３８】
図４（Ｂ）は、イメージセンサ２２を、撮影光学系の光軸Ｚを中心とする回転対称な円形軌跡を描くように駆動する場合を示している。この円形軌跡は、イメージセンサ２２の画素ピッチＰの２1/2／２倍を半径ｒとする円形の閉じた経路とすることができる。
【００３９】
図４（Ａ）、（Ｂ）のように、露光中にイメージセンサ２２を正方形または円形の所定軌跡を描くように駆動すると、各カラーフィルタＲ、Ｇ、Ｂ（画素２２ａ）の中央に入射した被写体光線（光束）が、４個のカラーフィルタＲ、Ｇ、Ｂ、Ｇに均等に入射するので、光学的なローパスフィルタと同等の効果が得られる。つまり、どのカラーフィルタＲ、Ｇ、Ｂ、Ｇ（画素２２ａ）に入射した光線も、必ずその周辺のカラーフィルタＲ、Ｇ、Ｂ、Ｇ（画素２２ａ）に入射するので、恰も光学的なローパスフィルタを光線が通過したのと同等の効果（ＬＰＦ効果）が得られる。
【００４０】
さらに、イメージセンサ２２の駆動範囲を段階的に切り替える（正方形軌跡の場合は一辺の長さを異ならせ、円形軌跡の場合は半径ｒを異ならせる）ことで、イメージセンサ２２によるＬＰＦ効果の強弱を段階的に切り替えることができる。つまり、正方形軌跡の一辺または円形軌跡の半径ｒを長くする（被写体光線が入射するイメージセンサ２２の検出色の異なる画素２２ａ（カラーフィルタＲ、Ｇ、Ｂ、Ｇ）に入射する画素２２ａの範囲を拡大する）ことでＬＰＦ効果が強くなり、一方、正方形軌跡の一辺または円形軌跡の半径ｒを短くする（被写体光線が入射するイメージセンサ２２の検出色の異なる画素２２ａ（カラーフィルタＲ、Ｇ、Ｂ、Ｇ）に入射する画素２２ａの範囲を縮小する）ことでＬＰＦ効果が弱くなる。表１に示すように、本実施形態では、イメージセンサ２２の駆動範囲ならびにＬＰＦ効果を「ＯＦＦ」、「小」、「中」、「大」の４段階で切り替えることができる。イメージセンサ２２の駆動範囲ならびにＬＰＦ効果が「ＯＦＦ」とは、イメージセンサ２２を駆動することなく、従ってＬＰＦ効果が得られない状態を意味する。
【表１】
0006500394.tif 000002
【００４１】
イメージセンサ２２の駆動範囲ならびにＬＰＦ効果の切り替えは、例えば、ローパスフィルタ操作スイッチ２７の手動操作により行う態様、あるいはＤＳＰ４０が種々の撮影条件パラメータに基づいて自動で行う態様が可能であり、その態様には自由度がある。
【００４２】
図１−図３、図５、図６、図８に示すように、デジタルカメラ１０は、像振れ補正装置（駆動機構）５０の劣化度合いを検出する劣化検出センサ（劣化検出用ホールセンサ、劣化検出部）７０を有している。この劣化検出センサ７０は、磁石Ｍ１の近傍に固定的に配置されており、像振れ補正装置５０の劣化度合いとして、磁石Ｍ１の減磁特性（工程出荷時のホール出力初期値に対してカメラ使用時にどれだけ磁力が低減したか）を検出する。劣化検出センサ７０が検出した磁石Ｍ１の劣化度合いは、ＤＳＰ４０を介して、イメージセンサ駆動回路６０に出力される。
【００４３】
図示を省略しているが、磁石Ｍ１の劣化度合いを検出する劣化検出センサ７０に加えて（又は代えて）、磁石Ｍ２と磁石Ｍ３の劣化度合いを検出する別の劣化検出センサを設けることも可能である。あるいは、磁石Ｍ１と磁石Ｍ２と磁石Ｍ３の劣化度合いを一挙に検出する劣化検出センサを設けることも可能である。いずれの態様であっても、劣化検出センサが検出した磁石の劣化度合いは、ＤＳＰ４０を介して、イメージセンサ駆動回路６０に出力される。磁石Ｍ１−Ｍ３のそれぞれに対応する劣化検出センサを設けることで、像振れ補正装置５０の劣化度合いの検出精度を向上させることができる。
【００４４】
図１、図５、図６、図８に示すように、デジタルカメラ１０は、イメージセンサ２２と像振れ補正装置５０を搭載したボディ本体２０の内部の温度を検出するサーミスタ（温度検出部）８０を有している。このサーミスタ８０は、ボディ本体２０の内部において、イメージセンサ２２、並びに像振れ補正装置５０の磁石Ｍ１〜Ｍ３及びホールセンサＨ１〜Ｈ３の少なくとも一部の近傍に配置されている。サーミスタ８０が検出したボディ本体２０の内部の温度は、ＤＳＰ４０を介して、イメージセンサ駆動回路６０に出力される。
【００４５】
図１、図２、図５、図６、図８に示すように、デジタルカメラ１０は、駆動用コイルＣ１、Ｃ２、Ｃ３に交流駆動信号を流すことで、像振れ補正装置５０を介してイメージセンサ２２を光軸直交平面内で駆動するイメージセンサ駆動回路６０を備えている。このイメージセンサ駆動回路６０の動作全般はＤＳＰ４０によって制御される。
【００４６】
イメージセンサ駆動回路６０は、駆動用コイルＣ１、Ｃ２、Ｃ３に流す交流駆動信号として、所定の臨界周波数より低い駆動周波数の低周波駆動信号を生成する「低周波駆動信号生成部」と、所定の臨界周波数より高い駆動周波数の高周波駆動信号を生成する「高周波駆動信号生成部」のいずれか一方として機能する。またイメージセンサ駆動回路６０は、可変補正駆動信号として、低周波駆動信号と高周波駆動信号のいずれかを択一的に生成する「可変補正駆動信号生成部」として機能する。より具体的にイメージセンサ駆動回路６０は、一方がオン状態のときは他方がオフ状態となる第１スイッチＳＷ１と第２スイッチＳＷ２を備えており、表２に示すように、第１スイッチＳＷ１がオン状態で第２スイッチＳＷ２がオフ状態のときは「低周波駆動信号生成部」として機能し、第１スイッチＳＷ１がオフ状態で第２スイッチＳＷ２がオン状態のときは「高周波駆動信号生成部」として機能する。
【表２】
0006500394.tif 000003
【００４７】
ここで「所定の臨界周波数」は、予め定めた可聴周波数域の下限に設定されている。可聴周波数域は、年齢や性別などの個人差によってばらつくことが知られているが、本実施形態で重要なのは、所定の臨界周波数より低い駆動周波数の低周波駆動信号と、所定の臨界周波数より高い駆動周波数の高周波駆動信号とを使い分けることであり、可聴周波数域（の下限）の具体的な範囲（値）をどのように定めるかには自由度がある。本実施形態では、一般的な可聴周波数域が２０Ｈｚ〜２０ｋＨｚの範囲内とされていることに鑑みて、「所定の臨界周波数」を２０Ｈｚとした場合を例示して説明する。
【００４８】
図６は、イメージセンサ駆動回路６０が「低周波駆動信号生成部」として機能している状態を示している。イメージセンサ駆動回路（低周波駆動信号生成部）６０は、加算部６１と、ゲイン部６２と、低周波微小信号生成部６３と、コントローラ６４とを備えている。コントロールの方式としてはＰＩＤ制御などが考えられる。加算部６１は、ジャイロセンサ２８が検出したボディ本体２０の光軸直交平面内の振れを示す振れ検出信号に加算処理を施す。ゲイン部６２は、加算部６１が加算処理を施した振れ検出信号を増幅する。低周波微小信号生成部６３は、所定の臨界周波数（２０Ｈｚ）より低い周波数（本実施形態では１０Ｈｚ）の低周波微小信号を生成する。ゲイン部６２が増幅した振れ検出信号と、低周波微小信号生成部６３が生成した低周波微小信号とを重畳合成（Ｔａｒｇｅｔ重畳）し、コントローラ６４を通過することで、低周波駆動信号が生成される。コントローラ６４は、このようにして生成された低周波駆動信号を駆動用コイルＣ１、Ｃ２、Ｃ３に流すことで、イメージセンサ２２を光軸直交平面内で駆動して、イメージセンサ２２に像振れ補正動作とＬＰＦ動作を実行させる。
【００４９】
ここで、イメージセンサ駆動回路（低周波駆動信号生成部）６０は、劣化検出センサ７０が検出した磁石Ｍ１の劣化度合い（減磁特性）とサーミスタ８０が検出したボディ本体２０の内部の温度に応じて、正の温度勾配の重畳量を用いて、Ｔａｒｇｅｔ重畳に用いる低周波微小信号の駆動振幅を変動させる。
【００５０】
より具体的に、イメージセンサ駆動回路（低周波駆動信号生成部）６０は、劣化検出センサ７０が検出した磁石Ｍ１の劣化度合いが悪くなる（劣化度合いが高くなる、劣化度合いが進む）に連れて、低周波微小信号生成部６３が生成する低周波微小信号の駆動振幅（ゲイン）ひいては低周波駆動信号の駆動振幅（ゲイン）を小さくし、劣化検出センサ７０が検出した磁石Ｍ１の劣化度合いが良くなる（劣化度合いが低くなる、劣化度合いが進まない）に連れて、低周波微小信号生成部６３が生成する低周波微小信号の駆動振幅（ゲイン）ひいては低周波駆動信号の駆動振幅（ゲイン）を大きくする。つまりイメージセンサ駆動回路（低周波駆動信号生成部）６０は、磁石Ｍ１の劣化量に基づいて、Ｔａｒｇｅｔ減少係数を設定する。
【００５１】
これと同時に、イメージセンサ駆動回路（低周波駆動信号生成部）６０は、サーミスタ８０が検出したボディ本体２０の内部の温度が高くなるに連れて、低周波微小信号生成部６３が生成する低周波微小信号の駆動振幅（ゲイン）ひいては低周波駆動信号の駆動振幅（ゲイン）を小さくし、サーミスタ８０が検出したボディ本体２０の内部の温度が低くなるに連れて、低周波微小信号生成部６３が生成する低周波微小信号の駆動振幅（ゲイン）ひいては低周波駆動信号の駆動振幅（ゲイン）を大きくする。
【００５２】
低周波微小信号生成部６３は、正の温度勾配の駆動振幅算出テーブル６３Ｔに接続されている。低周波微小信号生成部６３は、正の温度勾配の駆動振幅算出テーブル６３Ｔを参照することで、劣化検出センサ７０が検出した磁石Ｍ１の劣化度合いとサーミスタ８０が検出したボディ本体２０の内部の温度に応じて駆動振幅（ゲイン）を最適化した低周波微小信号を生成する。これにより、Ｔａｒｇｅｔ重畳により生成される低周波駆動信号の駆動振幅（ゲイン）も最適化される。
【００５３】
イメージセンサ駆動回路（低周波駆動信号生成部）６０が生成する低周波駆動信号の駆動振幅は、例えば、制御目標値を一定のままとしホールセンサＨ１〜Ｈ３によるホール出力信号の回路ゲインを可変することにより得ることができる。あるいは、イメージセンサ駆動回路（低周波駆動信号生成部）６０が生成する低周波駆動信号の駆動振幅は、制御目標値を一定のままとしホールセンサＨ１〜Ｈ３によるホール出力信号のバイアス電流を可変することにより得ることができる。
【００５４】
図７は、低周波駆動信号（本実施形態では１０Ｈｚ）を駆動用コイルＣ１、Ｃ２、Ｃ３に流すことで、イメージセンサ２２を光軸直交平面内で円軌跡を描くように駆動したときの波形（低周波駆動信号の波形）を示している。劣化検出センサ７０が検出した磁石Ｍ１の劣化度合いとサーミスタ８０が検出したボディ本体２０の内部の温度が高くなるに連れて、図７に示す信号波形の振幅（ゲイン）が小さくなり、劣化検出センサ７０が検出した磁石Ｍ１の劣化度合いとサーミスタ８０が検出したボディ本体２０の内部の温度が低くなるに連れて、図７に示す信号波形の振幅（ゲイン）が大きくなる。
【００５５】
図８は、イメージセンサ駆動回路６０が「高周波駆動信号生成部」として機能している状態を示している。イメージセンサ駆動回路（高周波駆動信号生成部）６０は、加算部６１と、ゲイン部６２と、高周波微小信号生成部６５とを備えている。加算部６１は、ジャイロセンサ２８が検出したボディ本体２０の光軸直交平面内の振れを示す振れ検出信号に加算処理を施す。ゲイン部６２は、加算部６１が加算処理を施した振れ検出信号を増幅する。高周波微小信号生成部６５は、所定の臨界周波数（２０Ｈｚ）より高い周波数（本実施形態では３００Ｈｚ）の高周波微小信号を生成する。
【００５６】
イメージセンサ駆動回路（高周波駆動信号生成部）６０は、コントローラ６４が算出した駆動力信号に、高周波微小信号生成部６５が生成した高周波微小信号を用いた信号処理を施すことで、高周波駆動信号を生成する。
【００５７】
より具体的にイメージセンサ駆動回路（高周波駆動信号生成部）６０は、ハイパスフィルタ部６６と、ゲイン決定部６７と、ゲイン部（増幅部）６８と、重畳合成部６９とからなるフィードバックループを有している。ハイパスフィルタ部６６は、高周波駆動信号のうち、所定の遮断周波数より高い周波数成分のみを通した減衰信号を出力する。ゲイン決定部６７は、ホールセンサＨ１、Ｈ２、Ｈ３が検出したイメージセンサ２２の位置検出信号をモニタしながら、ハイパスフィルタ部６６が出力した減衰信号により、Ｄｕｔｙ重畳の振幅（ゲイン）を決定する。ゲイン部６８は、ゲイン決定部６７が決定した信号振幅に従って、高周波微小信号生成部６５が生成した高周波微小信号を増幅する。重畳合成部６９は、ゲイン部６８が増幅した高周波微小信号と、コントローラ６４が算出した駆動力信号とを重畳合成（Ｄｕｔｙ重畳）することで、高周波駆動信号を生成する。このようにして生成された高周波駆動信号を駆動用コイルＣ１、Ｃ２、Ｃ３に流すことで、イメージセンサ２２を光軸直交平面内で駆動して、イメージセンサ２２に像振れ補正動作とＬＰＦ動作を実行させることができる。
【００５８】
ここで、イメージセンサ駆動回路（高周波駆動信号生成部）６０は、劣化検出センサ７０が検出した磁石Ｍ１の劣化度合いとサーミスタ８０が検出したボディ本体２０の内部の温度に応じて、負の温度勾配の重畳量を用いて、Ｄｕｔｙ重畳に用いる高周波微小信号の駆動振幅を変動させる。
【００５９】
より具体的に、イメージセンサ駆動回路（高周波駆動信号生成部）６０は、劣化検出センサ７０が検出した磁石Ｍ１の劣化度合いが悪くなるに連れて、高周波微小信号生成部６５が生成する高周波微小信号の駆動振幅（ゲイン）ひいては高周波駆動信号の駆動振幅（ゲイン）を大きくし、劣化検出センサ７０が検出した磁石Ｍ１の劣化度合いが良くなるに連れて、高周波微小信号生成部６５が生成する高周波微小信号の駆動振幅（ゲイン）ひいては高周波駆動信号の駆動振幅（ゲイン）を小さくする。つまりイメージセンサ駆動回路（高周波駆動信号生成部）６０は、磁石Ｍ１の劣化量に基づいて、Ｄｕｔｙ増加係数を設定する。
【００６０】
これと同時に、イメージセンサ駆動回路（高周波駆動信号生成部）６０は、サーミスタ８０が検出したボディ本体２０の内部の温度が高くなるに連れて、高周波微小信号生成部６５が生成する高周波微小信号の駆動振幅（ゲイン）ひいては高周波駆動信号の駆動振幅（ゲイン）を大きくし、サーミスタ８０が検出したボディ本体２０の内部の温度が低くなるに連れて、高周波微小信号生成部６５が生成する高周波微小信号の駆動振幅（ゲイン）ひいては高周波駆動信号の駆動振幅（ゲイン）を小さくする。
【００６１】
高周波微小信号生成部６５は、負の温度勾配の駆動振幅算出テーブル６５Ｔに接続されている。高周波微小信号生成部６５は、負の温度勾配の駆動振幅算出テーブル６５Ｔを参照することで、劣化検出センサ７０が検出した磁石Ｍ１の劣化度合いとサーミスタ８０が検出したボディ本体２０の内部の温度に応じて駆動振幅（ゲイン）を最適化した高周波微小信号を生成する。これにより、Ｄｕｔｙ重畳により生成される高周波駆動信号の駆動振幅（ゲイン）も最適化される。
【００６２】
図９は、重畳合成部６９の手前での高周波微小信号（本実施形態では３００Ｈｚ）の重畳波形を示している。イメージセンサ２２を所定の振幅で動かすための高周波微小信号の振幅は、Ｘ、ＹＬ、ＹＲでそれぞれ異なっている。劣化検出センサ７０が検出した磁石Ｍ１の劣化度合いとサーミスタ８０が検出したボディ本体２０の内部の温度が高くなるに連れて、図９に示す信号波形の振幅（ゲイン）が大きくなり、劣化検出センサ７０が検出した磁石Ｍ１の劣化度合いとサーミスタ８０が検出したボディ本体２０の内部の温度が低くなるに連れて、図９に示す信号波形の振幅（ゲイン）が小さくなる。
【００６３】
図１０は、撮影毎のキャリブレーション処理において、ゲイン決定部６７がＤｕｔｙ重畳の振幅（ゲイン）を決定する様子を示している。イメージセンサ２２の中心駆動中に、Ｄｕｔｙ重畳の振幅（ゲイン）を少しずつ上げていくと、これに連れてホールセンサＨ１、Ｈ２、Ｈ３のホールＡＤ値も上がっていく。そして、ホールセンサＨ１、Ｈ２、Ｈ３の出力信号にハイパスフィルタを掛けることで、Ｄｕｔｙ重畳の振幅（ゲイン）のみを抜き出して、ホールセンサＨ１、Ｈ２、Ｈ３のホールＡＤ値（振幅）が所望の値になったところで、Ｄｕｔｙ重畳の振幅（ゲイン）を固定する。なお、ピッチ間距離（ｐ−ｐ）で１画素相当が所望のＤｕｔｙ重畳の振幅（ゲイン）であるが、例えばユーザの設定により、ＬＰＦ効果の小、中、大に応じて、ピッチ間距離（ｐ−ｐ）で１／３画素、２／３画素、１画素相当をＤｕｔｙ重畳の振幅（ゲイン）として選択的に設定することも可能である。
【００６４】
続いて、イメージセンサ駆動回路６０の動作を制御するためのＤＳＰ４０の構成について説明する。図１に示すように、ＤＳＰ４０は、露光時間設定部４１と、露光時間判定部４２と、下限時間判定部４３と、駆動制御部４４とを備えている。
【００６５】
露光時間設定部４１は、例えば、絞り３２のＦ値、シャッタ２１のシャッタ速度、ＩＳＯ感度、ＥＶ値などの各種パラメータにより、露光時間Ｔを設定する。
【００６６】
露光時間判定部４２は、露光時間設定部４１が設定した露光時間Ｔが所定の臨界時間ＴLIMITより長いか短いか（長いか否か）を判定する。臨界時間ＴLIMITは、例えば１／１０秒などに設定することができるが、その値自体には自由度がある。臨界時間ＴLIMITは、可聴周波数域の下限である「所定の臨界周波数」の逆数を基準にして設定することが好ましい。本実施形態では「所定の臨界周波数」を２０Ｈｚに設定しているので、その逆数である１／２０秒を基準にしてその近傍の時間を臨界時間ＴLIMITに設定している。また、イメージセンサ２２を高周波で駆動したときには騒音が出るので、この観点では臨界時間ＴLIMITはなるべく小さいほうが好ましい。人間の聴覚特性上、ミラーショックなどの大きな音の直後０．１秒程度は細かい音が聞き取れないため、臨界時間ＴLIMITを１／１０秒より小さな値にすると、イメージセンサ２２を高周波で駆動しても品位が落ちない。
【００６７】
下限時間判定部４３は、露光時間設定部４１が設定した露光時間Ｔが所定の下限時間ＴLOWを下回っているか否かを判定する。下限時間ＴLOWは、例えば１／５００秒に設定することができるが、その値自体には自由度がある。下限時間ＴLOWは、イメージセンサ２２の駆動周期に基づいて設定されており、例えば、イメージセンサ２２の高周波駆動周期の１／２以上に設定されている。ここで、イメージセンサ２２の駆動周期とは、光軸直交平面内で所定軌跡（円形、四角形等）を１回描くようにイメージセンサ２２を駆動するために要する時間を意味する。これにより露光期間中にイメージセンサ２２の半周以上の駆動が確保される。
【００６８】
駆動制御部４４は、露光時間判定部４２が、露光時間設定部４１が設定した露光時間Ｔが臨界時間ＴLIMITより長い（Ｔ＞ＴLIMIT）と判定したとき、第１スイッチＳＷ１をオン状態に第２スイッチＳＷ２をオフ状態にすることで、イメージセンサ駆動回路６０を「低周波駆動信号生成部」として機能させる。そして駆動制御部４４は、イメージセンサ駆動回路（低周波駆動信号生成部）６０が生成した低周波駆動信号を駆動用コイルＣ１、Ｃ２、Ｃ３に流すことで、イメージセンサ２２を光軸直交平面内で駆動して、イメージセンサ２２に像振れ補正動作とＬＰＦ動作を実行させる。このように、臨界時間ＴLIMITより長い露光時間Ｔのときに、人間の可聴周波数域の下限（２０Ｈｚ）より低い駆動周波数（本実施形態では１０Ｈｚ）の低周波駆動信号でイメージセンサ２２を駆動することで、高周波騒音が発生してユーザに不快感を与えるのを防止することができる。
【００６９】
駆動制御部４４は、露光時間判定部４２が、露光時間設定部４１が設定した露光時間Ｔが臨界時間ＴLIMITより短い（Ｔ＜ＴLIMIT）（長くない（Ｔ≦ＴLIMIT））と判定したとき、第１スイッチＳＷ１をオフ状態に第２スイッチＳＷ２をオン状態にすることで、イメージセンサ駆動回路６０を「高周波駆動信号生成部」として機能させる。そして駆動制御部４４は、イメージセンサ駆動回路（高周波駆動信号生成部）６０が生成した高周波駆動信号を駆動用コイルＣ１、Ｃ２、Ｃ３に流すことで、イメージセンサ２２を光軸直交平面内で駆動して、イメージセンサ２２に像振れ補正動作とＬＰＦ動作を実行させる。このように、臨界時間ＴLIMITより短い（長くない）露光時間Ｔのときに、高い駆動周波数（例えば３００Ｈｚ）の高周波駆動信号でイメージセンサ２２を駆動することで、極めて短秒時の露光であってもイメージセンサ２２を高精度に駆動制御することができ、異なるカラーフィルタに均等に露光させることができる（好適なＬＰＦ効果が得られる）。また、極めて短秒時の露光であるため、順行マスキングの効果により、たとえ高周波騒音が発生してもミラーやシャッタの音に掻き消されて、人間の聴覚特性上これを聞き取ることはできず、ユーザに不快感を与えることはない（経時マスキング）。
【００７０】
駆動制御部４４は、下限時間判定部４３が、露光時間設定部４１が設定した露光時間Ｔが下限時間ＴLOWを下回っていない（Ｔ≧ＴLOW）と判定したとき、イメージセンサ駆動回路６０を介してイメージセンサ２２を光軸直交平面内で駆動することで、像振れ補正動作とＬＰＦ動作の双方を実行させる。一方、駆動制御部４４は、下限時間判定部４３が、露光時間設定部４１が設定した露光時間Ｔが下限時間ＴLOWを下回っている（Ｔ＜ＴLOW）と判定したとき、イメージセンサ駆動回路６０を介してイメージセンサ２２を光軸直交平面内で駆動することで、像振れ補正動作のみを実行させる（ＬＰＦ動作を停止する）。露光時間Ｔが下限時間ＴLOWを下回っていると、イメージセンサ２２が所定軌跡の半分すら描けずＬＰＦ効果が得られないことから、イメージセンサ２２のＬＰＦ動作を停止する。これに対し、露光時間Ｔが下限時間ＴLOWを下回っていなければ、たとえイメージセンサ２２が所定軌跡を１回も描けなくても（例えば所定軌跡の３／４周や４／５周しか描けなくても）、ＬＰＦ効果を得ることができるので、イメージセンサ２２のＬＰＦ動作を実行する。
【００７１】
図１１は、駆動制御部４４が、露光時間判定部４２と下限時間判定部４３の判定結果に基づいて、イメージセンサ駆動回路６０を介してイメージセンサ２２のＬＰＦ動作を駆動制御する内容を示している。同図に示すように、露光時間Ｔが下限時間ＴLOWを下回っているときは、イメージセンサ２２のＬＰＦ動作を実行せず、露光時間Ｔが下限時間ＴLOWを下回っておらず且つ臨界時間ＴLIMITより短い（長くない）ときは、高周波駆動信号を用いてイメージセンサ２２のＬＰＦ動作を実行し、露光時間Ｔが臨界時間ＴLIMITより長いときは、低周波駆動信号を用いてイメージセンサ２２のＬＰＦ動作を実行する。
【００７２】
本実施形態のデジタルカメラ１０では、イメージセンサ駆動回路６０が「低周波駆動信号生成部」として機能するときには、サーミスタ８０が検出したボディ本体２０の内部の温度に応じて、正の温度勾配の重畳量を用いて、Ｔａｒｇｅｔ重畳に用いる低周波微小信号の駆動振幅を変動させる。また、イメージセンサ駆動回路６０が「高周波駆動信号生成部」として機能するときには、サーミスタ８０が検出したボディ本体２０の内部の温度に応じて、負の温度勾配の重畳量を用いて、Ｄｕｔｙ重畳に用いる高周波微小信号の駆動振幅を変動させる。
【００７３】
図１２に示すように、像振れ補正装置５０の磁石Ｍ１〜Ｍ３が発生する磁力の温度特性は、温度が高くなると磁力が小さくなり、逆に、温度が低くなると磁力が大きくなるという“負の温度特性”を示す。このため、本実施形態では、イメージセンサ駆動回路６０が「高周波駆動信号生成部」として機能するとき、サーミスタ８０が検出したボディ本体２０の内部の温度が高くなって磁石Ｍ１〜Ｍ３の磁力が小さくなるに連れて、Ｄｕｔｙ重畳の重畳量を上げて、高周波微小信号生成部６５が生成する高周波微小信号の駆動振幅ひいては高周波駆動信号の駆動振幅を大きくする。逆に、サーミスタ８０が検出したボディ本体２０の内部の温度が低くなって磁石Ｍ１〜Ｍ３の磁力が大きくなるに連れて、Ｄｕｔｙ重畳の重畳量を下げて、高周波微小信号生成部６５が生成する高周波微小信号の駆動振幅ひいては高周波駆動信号の駆動振幅を小さくする。
【００７４】
図１３に示すように、ホールセンサＨ１〜Ｈ３を定電流駆動させた場合、ホールセンサＨ１〜Ｈ３によるホール出力の温度特性は、温度が高くなるとホール出力が小さくなり、逆に、温度が低くなるとホール出力が大きくなるという“負の温度特性”を示す。図１４は、ホールセンサＨ１〜Ｈ３によるホール出力を用いた位置検出誤差の温度特性を示している。例えば、像振れ補正装置５０が同じ位置にある場合でも、図１３に示すように、温度が高くなるとホールセンサＨ１〜Ｈ３によるホール出力が小さくなり、温度が低くなるとホールセンサＨ１〜Ｈ３によるホール出力が大きくなる。このため、本実施形態では、温度変化の影響を受けることなく像振れ補正装置５０を同じ位置に配置制御するために、温度が高くなったときにホールセンサＨ１〜Ｈ３によるホール出力が大きくなり、且つ、温度が低くなったときにホールセンサＨ１〜Ｈ３によるホール出力が小さくなるような制御、すなわち、Ｔａｒｇｅｔ追従制御における“正の温度特性”による補正を実行している。
【００７５】
図１５は、本実施形態の正の温度特性による補正を実行することなく、イメージセンサ駆動回路６０が「低周波駆動信号生成部」として機能している場合において、制御目標値を同一として像振れ補正装置５０によりイメージセンサ２２を光軸直交平面内で駆動したときの実際の駆動量の温度特性を示している。ボディ本体２０の内部の温度が高くなるとホールセンサＨ１〜Ｈ３によるホール出力が小さくなるので、Ｔａｒｇｅｔ追従による実際の駆動量は大きくなる。一方、ボディ本体２０の内部の温度が低くなるとホールセンサＨ１〜Ｈ３によるホール出力が大きくなるので、Ｔａｒｇｅｔ追従による実際の駆動量は小さくなる。つまり図１５は“正の温度特性”を示している。
【００７６】
本実施形態では、図１５のような"正の温度特性"を予め設計計算や実験等で把握して、これを正の温度勾配の駆動振幅算出テーブル６３Ｔに情報として記憶しておく。そして、撮影直前にサーミスタ８０が検出した温度情報に基づいて、正の温度特性による低周波駆動信号の補正量（Ｔａｒｇｅｔ重畳量）を算出する。図１５の例ではおおよそ０．２画素／４５℃の温度勾配を持つので、サーミスタ８０が検出した温度情報の変動に応じて、Ｔａｒｇｅｔ重畳量さらには制御目標値を算出し直す。あるいは、サーミスタ８０の検出温度に対応してホール出力の回路ゲインを可変すること、及び／又は、ホールセンサ駆動用のバイアス電流を可変して出力感度の強弱をつけることも可能である。
【００７７】
図１６は、本実施形態の負の温度特性による補正を実行することなく、イメージセンサ駆動回路６０が「高周波駆動信号生成部」として機能している場合において、制御目標値を同一として像振れ補正装置５０によりイメージセンサ２２を光軸直交平面内で駆動したときの実際の駆動量の温度特性を示している。ボディ本体２０の内部の温度が高くなると磁石Ｍ１〜Ｍ３の磁力が小さくなるので、Ｄｕｔｙ重畳による実際の駆動量は小さくなる。一方、ボディ本体２０の内部の温度が低くなると磁石Ｍ１〜Ｍ３の磁力が大きくなるので、Ｄｕｔｙ重畳による実際の駆動量は大きくなる。つまり図１６は“負の温度特性”を示している。
【００７８】
本実施形態では、図１６のような“負の温度特性”を予め設計計算や実験等で把握して、これを負の温度勾配の駆動振幅算出テーブル６５Ｔに情報として記憶しておく。そして、撮影直前にサーミスタ８０が検出した温度情報に基づいて、負の温度特性による高周波駆動信号の補正量（Ｄｕｔｙ重畳量）を算出する。図１６の例ではおおよそ−０．４画素／５０℃の温度勾配を持つので、サーミスタ８０が検出した温度情報の変動に応じて、Ｄｕｔｙ重畳量さらには制御目標値を算出し直す。
【００７９】
図１７は磁石の温度による磁力の低下度合いを示すグラフの一例である。磁石は、その特性にもよるが、極端な高温下におかれた場合（例えば真夏の車中や砂漠地帯など）、磁石の不可逆性の特性により磁力が元通りに戻らず、劣化が進んでしまう。図１８は磁石の経年劣化度合いの様子を示したグラフである。磁石は、極端な高温下ではなく、常温下であっても、時間の経過に従って磁力がじわじわと下がって、劣化が進んでしまう。そして、磁石の劣化が進むに連れて、イメージセンサ（移動部材）２２の駆動力の設定誤差や移動量の検出誤差が発生して、所望のローパスフィルタ効果が得られなくなるおそれがある。
【００８０】
そこで本実施形態のデジタルカメラ１０では、イメージセンサ駆動回路６０が、「低周波駆動信号生成部」として機能するときには、劣化検出センサ７０が検出した磁石Ｍ１の劣化度合いに応じて、正の温度勾配の重畳量を用いて、Ｔａｒｇｅｔ重畳に用いる低周波微小信号の駆動振幅を変動させ、「高周波駆動信号生成部」として機能するときには、劣化検出センサ７０が検出した磁石Ｍ１の劣化度合いに応じて、負の温度勾配の重畳量を用いて、Ｄｕｔｙ重畳に用いる高周波微小信号の駆動振幅を変動させる。これにより、像振れ補正装置（駆動機構）５０の構成要素（本実施形態では磁石Ｍ１）の劣化度合いにかかわらず、イメージセンサ（移動部材）２２を高精度に駆動制御して、所望のローパスフィルタ効果を得ることができる。
【００８１】
このように本実施形態では、駆動制御部４４が、劣化検出センサ７０が検出した磁石Ｍ１の劣化度合いとサーミスタ８０が検出したボディ本体２０の内部の温度に応じてその信号特性を可変補正した駆動信号（低周波駆動信号または高周波駆動信号）に基づいて、像振れ補正装置（駆動機構）５０を介してイメージセンサ（移動部材）２２を駆動する。これにより、像振れ補正装置（駆動機構）５０の構成要素（本実施形態では磁石Ｍ１）の劣化度合い、及び、ボディ本体２０の内部の温度変化にかかわらず、イメージセンサ（移動部材）２２を高精度に駆動制御して、所望のローパスフィルタ効果を得ることができる。
【００８２】
また本実施形態では、駆動制御部４４が、露光時間設定部４１が設定した露光時間に応じた信号特性を持つ駆動信号に基づいて、像振れ補正装置（駆動機構）５０を介してイメージセンサ（移動部材）２２を駆動する。これにより、露光時間の長短にかかわらずイメージセンサ（移動部材）２２を高精度に駆動制御して所望のローパスフィルタ効果を得るとともに、高周波騒音が発生してユーザに不快感を与えるのを防止することができる。
【００８３】
続いて、図１９のフローチャートと図２０のタイミングチャートを参照して、デジタルカメラ１０の撮影処理について説明する。
【００８４】
ＤＳＰ４０は、撮影操作スイッチ２６のレリーズスイッチが全押しされると（ステップＳ１：ＹＥＳ）、例えばローパスフィルタ操作スイッチ２７によってイメージセンサ２２のＬＰＦ動作がオン状態に設定されているか否かを判定する（ステップＳ２）。
【００８５】
イメージセンサ２２のＬＰＦ動作がオン状態に設定されているとき（ステップＳ２：ＹＥＳ）、ＤＳＰ４０の下限時間判定部４１は、露光時間設定部４１が設定した露光時間Ｔが下限時間ＴLOWを下回っているか否かを判定する（ステップＳ３）。
【００８６】
露光時間Ｔが下限時間ＴLOWを下回っていないとき（ステップＳ３：ＮＯ）、ＤＳＰ４０は、サーミスタ８０が最も直近に検出したボディ本体２０の内部の温度を取得し（ステップＳ４）、劣化検出センサ７０が最も直近に検出した磁石Ｍ１の劣化度合いを取得する（ステップＳ５）。ここで、ステップＳ４とステップＳ５の処理を実行するタイミングには自由度があり、一方の処理を実行した後に他方の処理を実行してもよいし、２つの処理を同時に実行してもよい。ＤＳＰ４０は、取得した温度情報と劣化度合い情報をイメージセンサ駆動回路６０に出力する。
【００８７】
ＤＳＰ４０の露光時間判定部４２は、露光時間設定部４１が設定した露光時間Ｔが臨界時間ＴLIMITより長いか短いか（長いか否か）を判定する（ステップＳ６）。
【００８８】
露光時間Ｔが臨界時間ＴLIMITより長いとき（ステップＳ６：ＹＥＳ）、ＤＳＰ４０の駆動制御部４４は、第１スイッチＳＷ１をオン状態に第２スイッチＳＷ２をオフ状態にすることで、イメージセンサ駆動回路６０を「低周波駆動信号生成部」として機能させる。そしてイメージセンサ駆動回路（低周波駆動信号生成部）６０において、ゲイン部６２が増幅した振れ検出信号と、低周波微小信号生成部６３が生成した低周波微小信号とを重畳合成（Ｔａｒｇｅｔ重畳）した信号を制御目標とすることで、低周波駆動信号が生成される（ステップＳ７）。この低周波駆動信号は、劣化検出センサ７０が検出した磁石Ｍ１の劣化度合いとサーミスタ８０が検出したボディ本体２０の内部の温度に応じて、正の温度勾配の重畳量を用いて駆動振幅（ゲイン）が最適化されたもの（磁石Ｍ１の劣化量に基づいてＴａｒｇｅｔ減少係数が設定されたもの）である。したがって、正の温度勾配の重畳量を用いて駆動振幅（ゲイン）が最適化された低周波駆動信号に基づいて、より高精度な制御目標値が設定される（ステップＳ８）。
【００８９】
露光時間Ｔが臨界時間ＴLIMITより短い（長くない）とき（ステップＳ６：ＮＯ）、ＤＳＰ４０の駆動制御部４４は、第１スイッチＳＷ１をオフ状態に第２スイッチＳＷ２をオン状態にすることで、イメージセンサ駆動回路６０を「高周波駆動信号生成部」として機能させる。そしてイメージセンサ駆動回路（高周波駆動信号生成部）６０において、重畳合成部６９が、ゲイン部６８が増幅した高周波微小信号と、コントローラ６４が算出した駆動力信号とを重畳合成（Ｄｕｔｙ重畳）することで、高周波駆動信号を生成する（ステップＳ９）。この高周波駆動信号は、劣化検出センサ７０が検出した磁石Ｍ１の劣化度合いとサーミスタ８０が検出したボディ本体２０の内部の温度に応じて、負の温度勾配の重畳量を用いて駆動振幅が最適化されたもの（磁石Ｍ１の劣化量に基づいてＤｕｔｙ増加係数が設定されたもの）である。そして、ゲイン決定部６７が、負の温度勾配の重畳量に基づいて、Ｄｕｔｙ重畳の振幅（ゲイン）を決定する（ステップＳ１０）。
【００９０】
なお、ＤＳＰ４０は、イメージセンサ２２のＬＰＦ動作がオフ状態に設定されているとき（ステップＳ２：ＮＯ）、または露光時間Ｔが下限時間ＴLOWを下回っているとき（ステップＳ３：ＹＥＳ）、イメージセンサ２２のＬＰＦ動作を実行しない旨の設定を行う。
【００９１】
ＤＳＰ４０は、イメージセンサ駆動回路６０が低周波駆動信号または高周波駆動信号を生成するのと並行して（生成している間に）、イメージセンサ駆動回路６０を介して、自由落下状態にあるイメージセンサ２２を中央位置に保持するための中心駆動を開始した後に、ミラーアップを実行する（ステップＳ１１、ステップＳ１２）。図２０のタイミングチャートにおいて、イメージセンサ駆動回路６０によるＴａｒｇｅｔ重畳またはＤｕｔｙ重畳の開始時点をＴ１で示し、ミラーアップの開始時点をＴ２で示している。イメージセンサ駆動回路６０によるＴａｒｇｅｔ重畳またはＤｕｔｙ重畳の開始時点Ｔ１からミラーアップの開始時点Ｔ２までの時間（Ｔ２−Ｔ１）は、例えば２０ｍｓ以内とすることが好ましい。これにより、逆行マスキングの効果による騒音防止が期待できる。
【００９２】
以上の処理が完了したら、図２０のＴ３に示すように、イメージセンサ駆動回路６０が生成した低周波駆動信号または高周波駆動信号を駆動用コイルＣ１、Ｃ２、Ｃ３に流すことで、イメージセンサ２２を光軸直交平面内で駆動して、イメージセンサ２２に像振れ補正動作とＬＰＦ動作を開始させる（ステップＳ１３）。さらに、図２０のＴ４、Ｔ５に示すように、イメージセンサ２２に像振れ補正動作とＬＰＦ動作を行わせながら、シャッタ２１の先幕と後幕を順に走行させて露光する（ステップＳ１４、ステップＳ１５）。露光が終了したら、図２０のＴ６に示すように、駆動用コイルＣ１、Ｃ２、Ｃ３への低周波駆動信号または高周波駆動信号の供給を停止して、イメージセンサ２２による像振れ補正動作とＬＰＦ動作を終了させる（ステップＳ１６）。
【００９３】
露光期間中に、イメージセンサ２２の像振れ補正動作とＬＰＦ動作の双方を実行することで、手ぶれに起因する画像のずれを補正するとともに、モアレ縞や偽色などの偽解像を防止して、高品質な画像データを得ることができる。
【００９４】
なお、イメージセンサ２２のＬＰＦ動作がオフ状態に設定され（ステップＳ２：ＮＯ）、または露光時間Ｔが下限時間ＴLOWを下回っている（ステップＳ３：ＹＥＳ）ため、ＤＳＰ４０がイメージセンサ２２のＬＰＦ動作を実行しない旨の設定を行ったときは、上記ステップＳ１４〜ステップＳ１５の露光期間中に、イメージセンサ２２の像振れ補正動作のみを実行する。
【００９５】
≪第２実施形態≫
図２１−図２４は、本発明のデジタルカメラ１０の第２実施形態を示している。この第２実施形態は、第１実施形態において、ボディ本体２０の内部の温度を検出するサーミスタ（温度検出部）８０を省略したものである。この第２実施形態では、駆動制御部４４が、劣化検出センサ７０が検出した磁石Ｍ１の劣化度合いだけに応じてその信号特性を可変補正した駆動信号（低周波駆動信号または高周波駆動信号）に基づいて、像振れ補正装置（駆動機構）５０を介してイメージセンサ（移動部材）２２を駆動する。この第２実施形態によっても、像振れ補正装置（駆動機構）５０の構成要素（本実施形態では磁石Ｍ１）の劣化度合いにかかわらず、イメージセンサ（移動部材）２２を高精度に駆動制御して、所望のローパスフィルタ効果を得ることができる。
【００９６】
以上の実施形態では、イメージセンサ２２を「移動部材」として、このイメージセンサ２２を光軸直交平面内で駆動する態様を例示して説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、撮影レンズ群（撮影光学系）３１の少なくとも一部をなす光学要素を「移動部材」として、この光学要素を撮影レンズ３０内に設けたボイスコイルモータ（駆動機構）によって光軸直交平面内で駆動する態様も可能である。あるいは、イメージセンサ２２と撮影レンズ群（撮影光学系）３１の少なくとも一部をなす光学要素の双方を「移動部材」として、これらを光軸直交平面内で駆動する態様も可能である。いずれの態様であっても、イメージセンサ２２上への被写体像の結像位置を変位させて像振れを補正するとともに、被写体光束をイメージセンサ２２の検出色の異なる複数の画素に入射させて光学的なローパスフィルタ効果を得ることができる。
【００９７】
以上の実施形態では、像振れ補正動作及びＬＰＦ動作を実行するために、像振れ補正装置（駆動機構）５０を介してイメージセンサ（移動部材）２２を光軸直交平面内で駆動する場合を例示して説明したが、イメージセンサ（移動部材）２２を駆動する方向はこれに限定されず、撮影光学系の光軸と異なる方向であればよい。
【００９８】
以上の実施形態では、単一（共通）の像振れ補正装置（駆動機構）５０を介してイメージセンサ２２を光軸直交平面内で駆動することで、イメージセンサ２２による像振れ補正動作とＬＰＦ動作を実行する場合を例示して説明したが、ＬＰＦ動作を実行させるための駆動系をピエゾ駆動装置などによって独立して設ける態様も可能である。
【００９９】
以上の実施形態では、ＤＳＰ４０とイメージセンサ駆動回路６０を別々の構成要素（ブロック）として描いているが、これらを単一の構成要素（ブロック）として実現する態様も可能である。
【０１００】
以上の実施形態では、像振れ補正装置（駆動機構）５０の構成として、固定支持基板５１に磁石Ｍ１、Ｍ２、Ｍ３及びヨークＹ１、Ｙ２、Ｙ３を固定し、可動ステージ５２に駆動用コイルＣ１、Ｃ２、Ｃ３を固定した場合を例示して説明したが、この位置関係を逆にして、可動ステージに磁石及びヨークを固定し、固定支持基板に駆動用コイルを固定する態様も可能である。
【０１０１】
以上の実施形態では、イメージセンサ２２が描く所定軌跡を、撮影光学系の光軸Ｚを中心とする回転対称な正方形軌跡または円形軌跡とした場合を例示して説明したが、これに限定されず、例えば、撮影光学系の光軸Ｚと直交する平面内における直線往復移動軌跡としてもよい。
【０１０２】
以上の実施形態では、ボディ本体２０と撮影レンズ３０を着脱可能（レンズ交換可能）とする態様を例示して説明したが、ボディ本体２０と撮影レンズ３０を着脱不能（レンズ交換不能）とする態様も可能である。
【０１０３】
以上の実施形態では、低周波微小信号生成部６３が生成する低周波微小信号の周波数を１０Ｈｚとした場合を例示して説明したが、これに限定されるわけではなく、例えば、８Ｈｚ、１６Ｈｚなどに切り替える態様も可能である。
【０１０４】
以上の実施形態では、高周波微小信号生成部６５が生成する高周波微小信号の周波数を３００Ｈｚとした場合を例示して説明したが、これに限定されるわけではなく、例えば、５ｋＨｚ、２０ｋＨｚなどに切り替える態様も可能である。
【０１０５】
以上の実施形態では、劣化検出センサ７０が像振れ補正装置（駆動機構）５０の劣化度合いとして磁石Ｍ１の減磁特性を検出する場合を例示して説明した。しかし、劣化検出センサ７０は、像振れ補正装置（駆動機構）５０の劣化度合いとして、磁石Ｍ１以外の磁石Ｍ２や磁石Ｍ３の減磁特性、さらにはヨークＹ１−Ｙ３、駆動用コイルＣ１−Ｃ３、ホールセンサＨ１−Ｈ３などの構成要素の劣化度合いを検出することも可能である。
【０１０６】
以上の実施形態では、サーミスタ（温度検出部）８０を、イメージセンサ２２、並びに像振れ補正装置５０の磁石Ｍ１〜Ｍ３及びホールセンサＨ１〜Ｈ３の少なくとも一部の近傍に配置した場合を例示して説明した。しかし、サーミスタ（温度検出部）８０は、ボディ本体２０の内部の任意の位置に配置することができる。
【符号の説明】
【０１０７】
１０  デジタルカメラ（撮影装置）
２０  ボディ本体
２１  シャッタ（撮影光学系）
２２  イメージセンサ（移動部材、振れ補正部材）
２２ａ  画素
Ｒ  Ｇ  Ｂ  カラーフィルタ
２３  絞り／シャッタ駆動回路
２４  ＬＣＤ
２５  画像メモリ
２６  撮影操作スイッチ
２７  ローパスフィルタ操作スイッチ
２８  ジャイロセンサ（振れ検出部）
３０  撮影レンズ
３１  撮影レンズ群（撮影光学系、移動部材、振れ補正部材）
３２  絞り（撮影光学系）
３３  通信用メモリ
４０  ＤＳＰ
４１  露光時間設定部
４２  露光時間判定部
４３  下限時間判定部
４４  駆動制御部
５０  像振れ補正装置（駆動機構）
５１  固定支持基板
５２  可動ステージ
Ｍ１  Ｍ２  Ｍ３  磁石
Ｙ１  Ｙ２  Ｙ３  ヨーク
Ｃ１  Ｃ２  Ｃ３  駆動用コイル
Ｈ１  Ｈ２  Ｈ３  ホールセンサ（位置検出部）
６０  イメージセンサ駆動回路（低周波駆動信号生成部、高周波駆動信号生成部、可変補正駆動信号生成部）
６１  加算部
６２  ゲイン部
６３  低周波微小信号生成部
６３Ｔ  正の温度勾配の駆動振幅算出テーブル
６４  コントローラ
６５  高周波微小信号生成部
６５Ｔ  負の温度勾配の駆動振幅算出テーブル
６６  ハイパスフィルタ部
６７  ゲイン決定部
６８  ゲイン部（増幅部）
６９  重畳合成部
ＳＷ１  第１スイッチ
ＳＷ２  第２スイッチ
７０  劣化検出センサ（劣化検出用ホールセンサ、劣化検出部）
８０  サーミスタ（温度検出部）
【図１】
0006500394.tif 000004
【図２】
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【図３】
0006500394.tif 000006
【図４】
0006500394.tif 000007
【図５】
0006500394.tif 000008
【図６】
0006500394.tif 000009
【図７】
0006500394.tif 000010
【図８】
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【図９】
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【図１０】
0006500394.tif 000013
【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
0006500394.tif 000016
【図１４】
0006500394.tif 000017
【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
0006500394.tif 000021
【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
0006500394.tif 000025
【図２３】
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【図２４】
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