(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
円柱形の表面に凹凸を有する澱物ケーキの高さを測定する澱物ケーキ高さ測定器であって、
基準位置とする端部から離間した距離を表示可能な本尺と、
該本尺の長さ方向に摺動自在に支承された副尺と、
該副尺と一体的に摺動可能であり前記本尺の前記端部から突出した距離を直読可能にするデプスバーと、
前記本尺の長さ方向に対して直角に前記端部から所定の長さだけ延在する当接部と、を備え、
前記澱物ケーキの底面を含む面と前記デプスバーが直交する状態で該デプスバーの先端を前記面と一致させながら、前記澱物ケーキの頂部に前記当接部を当接させて測定した距離を前記円柱形の澱物ケーキ高さとし、
前記当接部の前記所定の長さは、前記澱物ケーキの半径に一致する長さである澱物ケーキ高さ測定器。
【請求項２】
前記本尺と前記副尺と前記デプスバーとを有するノギスと、前記本尺の長さ方向に対して直角に前記端部から前記所定の長さだけ延在する当接部とを備えた請求項１に記載の澱物ケーキ高さ測定器。
【請求項３】
大きさが異なる前記澱物ケーキの半径に適合させて、少なくとも前記所定の長さを変えた多種類の前記当接部が、前記本尺に対して交換自在である請求項１又は２に記載の澱物ケーキ高さ測定器。
【請求項４】
前記当接部は直角三角形であり、該直角三角形の直角を挟む２辺のうち一辺が前記本尺の長さ方向に揃えられ、他辺が前記端部から前記所定の長さだけ延在し、かつ、前記本尺に支承された前記副尺の摺動ストロークに干渉しない構成である請求項１〜３の何れかに記載の澱物ケーキ高さ測定器。
【請求項５】
前記当接部は、測定対象とする前記澱物ケーキの表面色に対して色相環で定義される補色関係の表面色を発色する樹脂製である請求項１〜４の何れかに記載の澱物ケーキ高さ測定器。
【請求項６】
濾過処理後の残渣でなる円柱形の澱物ケーキを処理管理するために行う澱物ケーキ高さ測定方法であって、
前記澱物ケーキを水平な測定台へ移動して載置する澱物ケーキ移動工程と、
ノギスを構成する本尺に対して摺動自在の副尺に延設されたデプスバーを、前記本尺の端部から前記澱物ケーキの高さよりも充分に長く突出させて計測準備するデプスバー突出工程と、
前記測定台に載置された前記澱物ケーキの底面を囲むように規定された円周をＮ分割して点在する測定位置のうち未測定の箇所を選んだ１点に前記デプスバーの先端を当接するデプスバー位置決め工程と、
前記デプスバーを鉛直に保持しながら、前記本尺の長さ方向に対して直角に所定長さだけ延設された当接部の先端を前記澱物ケーキの上面の中心に向けた状態で、前記本尺を降下させる方向に摺動させる本尺降下工程と、
前記当接部を前記澱物ケーキの頂部に当接させる頂部当接工程と、
前記頂部当接工程により、前記デプスバーが前記本尺の前記端部から突出している距離を、前記本尺と前記副尺との相対位置関係に基づいて表示された値により、前記澱物ケーキの高さとして読み取る高さ読み取り工程と、を含み、
前記高さ読み取り工程の後に、再び前記デプスバー突出工程から高さ読み取り工程までを合計Ｎ回繰り返し実行する澱物ケーキ高さ測定方法。
【請求項７】
前記測定台に規定された前記円周の分割数Ｎは８であり、前記測定位置は８箇所にわたって点在する請求項６に記載の澱物ケーキ高さ測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、汚染スラリー等の濾過処理後の残渣を減量化させる際、管理指標を得るための澱物ケーキの高さ測定器、および澱物ケーキ高さ測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
物品の高さを測定するための高さ測定器として、ノギスやハイトゲージが知られている。これらのノギスやハイトゲージも、測定対象物の形状や目的に応じて、各種の冶具等を付設することにより、測定の作業効率を高めるようにしたものが知られている。
【０００３】
例えば、ノギス本尺の末端に、デプス測定時に直立させたノギスの傾きを防止するに充分な幅と厚さを有する安定用の補助ブロックを、その一面が本尺末端のデプス基準面と同一面をなすように取付けてなるデプス測定用補助ブロック付ノギスが知られている（特許文献１）。
【０００４】
また、持ち運びが容易で、かつ簡単に正確な測定を行うことのできる飲料缶等のハイトの測定に好適なハイト測定スタンドも知られている（特許文献２）。具体的には、水平なプレート表面を有する固定台の側面から中央部に向けて形成した溝状開孔部に、デジタルノギスの本体ゲージ面とノギスの先端部に位置する固定ジョーの全面を嵌挿固定するとともに、固定台のプレート上面をゼロセットしたというものである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】実開昭５６−５１００５号公報
【特許文献２】実公平７−３８８０３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１に開示されているデプス測定用補助ブロック付ノギスは、穴の深さ、あるいは段差を安定して正確に測定し得るノギスであって、澱物ケーキ高さ測定器に特化したものではない。
また、特許文献２に開示されているハイト測定スタンドは、飲料缶等のハイトの測定に好適なハイト測定スタンドであって、これも澱物ケーキ高さ測定器に特化したものではないため改善余地があった。
【０００７】
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、円柱状の澱物ケーキを減量化させる際、管理指標となる澱物ケーキ高さを簡単かつ正確に測定できるようにした澱物ケーキ高さ測定器、および澱物ケーキ高さ測定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の一態様は、円柱形の表面に凹凸を有する澱物ケーキの高さを測定する澱物ケーキ高さ測定器であって、基準位置とする端部から離間した距離を表示可能な本尺と、該本尺の長さ方向に摺動自在に支承された副尺と、該副尺と一体的に摺動可能であり前記本尺の前記端部から突出した距離を直読可能にするデプスバーと、前記本尺の長さ方向に対して直角に前記端部から所定の長さだけ延在する当接部と、を備え、前記澱物ケーキの底面を含む面と前記デプスバーが直交する状態で該デプスバーの先端を前記面と一致させながら、前記澱物ケーキの頂部に前記当接部を当接させて測定した距離を前記円柱形の澱物ケーキ高さとし、前記当接部の前記所定の長さは、前記澱物ケーキの半径に一致する長さとして計測するものである。
【０００９】
また、本発明の一態様に係る澱物ケーキ高さ測定器は、前記本尺と前記副尺と前記デプスバーとを有するノギスと、前記本尺の長さ方向に対して直角に前記端部から前記所定の長さだけ延在する当接部とを備えて構成した。
【００１１】
また、本発明の一態様に係る澱物ケーキ高さ測定器は、大きさが異なる前記澱物ケーキの半径に適合させて、少なくとも前記所定の長さを変えた多種類の前記当接部が、前記本尺に対して交換自在となるように構成した。
【００１２】
また、本発明の一態様に係る澱物ケーキ高さ測定器は、前記当接部が直角三角形であり、該直角三角形の直角を挟む２辺のうち一辺が前記本尺の長さ方向に揃えられ、他辺が前記端部から前記所定の長さだけ延在し、かつ、前記本尺に支承された前記副尺の摺動ストロークに干渉しないように構成した。
【００１３】
また、本発明の一態様に係る澱物ケーキ高さ測定器は、前記当接部を樹脂製にし、該樹脂は、測定対象とする前記澱物ケーキの表面色に対して色相環で定義される補色関係の表面色を発色するものにより構成した。
【００１４】
また、本発明の一態様は、濾過処理後の残渣でなる円柱形の澱物ケーキを処理管理するために行う澱物ケーキ高さ測定方法であって、前記澱物ケーキを水平な測定台へ移動して載置する澱物ケーキ移動工程と、ノギスを構成する本尺に対して摺動自在の副尺に延設されたデプスバーを、前記本尺の端部から前記澱物ケーキの高さよりも充分に長く突出させて計測準備するデプスバー突出工程と、前記測定台に載置された前記澱物ケーキの底面を囲むように規定された円周をＮ分割して点在する測定位置のうち未測定の箇所を選んだ１点に前記デプスバーの先端を当接するデプスバー位置決め工程と、前記デプスバーを鉛直に保持しながら、前記本尺の長さ方向に対して直角に所定長さだけ延設された当接部の先端を前記澱物ケーキの上面の中心に向けた状態で、前記本尺を降下させる方向に摺動させる本尺降下工程と、前記当接部を前記澱物ケーキの頂部に当接させる頂部当接工程と、前記頂部当接工程により、前記デプスバーが前記本尺の前記端部から突出している距離を、前記本尺と前記副尺との相対位置関係に基づいて表示された値により、前記澱物ケーキの高さとして読み取る高さ読み取り工程と、を含み、前記高さ読み取り工程の後に、再び前記デプスバー突出工程から高さ読み取り工程までを合計Ｎ回繰り返し実行することにより澱物ケーキ高さを測定する方法である。
【００１５】
また、本発明の一態様に係る澱物ケーキ高さ測定方法は、前記測定台に規定された前記円周の分割数Ｎは８であり、前記測定位置は８箇所にわたって点在させることにより澱物ケーキ高さを測定する方法である。
【発明の効果】
【００１６】
以上説明したように本発明によれば、円柱状の澱物ケーキを減量化させる際、管理指標となる澱物ケーキ高さを簡単かつ正確に測定できるようにした澱物ケーキ高さ測定器、および澱物ケーキ高さ測定方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の一実施形態に係る澱物ケーキ高さ測定器の使用状態を示す正面図である。
【図２】本発明の一実施形態に係る澱物ケーキ高さ測定方法を示した斜視図である。
【図３】測定位置を８箇所にわたって変化させることを説明するための平面図である。
【図４】図１〜図３に示した澱物ケーキ高さ測定方法の手順を説明するためのフローチャートである。
【図５】他の実施形態に係る澱物ケーキ高さ測定器を示す正面図である。
【図６】自然乾燥における中和澱物高さの経時変化を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、以下に説明する本実施形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではなく、本実施形態で説明される構成の全てが本発明の解決手段として必須であるとは限らない。
【００１９】
図１は、澱物ケーキ高さ測定器（以下、「本器」ともいう）の使用状態を示す正面図である。図１に示すように、本器１００は、ＸＹ平面上に載置された澱物ケーキ３１の高さＨを測定するものである。澱物ケーキ３１は基本的に円柱形であり底面３２がＸＹ平面上に載置された状態で、本器１００を縦に用いて測定された距離Ｚを円柱形の澱物ケーキ高さＨとする。ただし、澱物ケーキ３１の上面３３や外周面にはひび割れや凹凸を生じている。
【００２０】
本器１００における主要構成部は、ノギス１７であり、そのノギス１７にアタッチメントとして当接部１９を付設したものである。すなわち、本器１００は、本尺１２と副尺１３とデプスバー１４とを有して構成されるノギス１７に加え、本尺１２の長さ方向に対して直角に本尺１２の端部１１から所定の長さＸだけ延在する当接部１９を備えて構成されている。なお、当接部１９の長さＸは、本尺１２かデプスバー１４のうち何れかの一面を基点として当接部１９の先端までの長さとするが、厳格である必要はない。固定ネジ１８は本尺１２に対する副尺１３の摺動を止めて固定するために適宜に締めて用いる。
【００２１】
ノギス１７をはじめとし、本器１００を構成する各部の詳細については、以下のとおりである。本尺１２は、基準位置とする端部１１から離間した距離Ｚを表示可能である。副尺１３は、本尺１２の長さ方向に摺動自在に支承されている。デプスバー１４は、副尺１３と一体的に摺動可能であるため、本尺１２の端部１１からデプスバー１４が突出した距離Ｚは、本尺１２から副尺１３がズレた距離Ｚとして表される。つまり、本尺１２に対する副尺１３の相対位置関係（ズレた距離）に基づいて距離Ｚが表示される。このとき、距離Ｚの表示は、不図示のバーニア目盛、ダイヤル指針あるいはデジタル表示の何れであっても良い。
【００２２】
このノギス１７に付設された当接部１９は、本尺１２やデプスバー１４の長さ方向に対して直角に所定の長さＸだけ延在するので、本尺１２やデプスバー１４から離れた位置にある測定対象にも当接させられる。その作用効果については、不図示の身長計と同様である。すなわち、身長計の本尺上で摺動自在の当接部は、本尺に対して直角に人の頭部の奥行き長さだけ延在する。そのため、身長計は、人の頭部が球状であっても、その頂部に当接部を軽く当接させるだけで、正確かつ容易に身長を測定できるという作用効果がある。なお、本器１００，１０１（図５）における当接部１９，２０（図５）は、本尺１２の端部１１を規定する辺２２（図５），２４の稜線を、一例としてナイフエッジ形状にしている。このナイフエッジ形状については、片刃と両刃の何れでも良い。
【００２３】
図２は、本発明の一実施形態に係る澱物ケーキ高さ測定方法（以下、「本方法」ともいう）を示した斜視図である。図２に示すように、本器１００および本方法は、固液分離装置（濾過槽）４０から取り出された軟弱な被測定物、すなわち澱物ケーキ３１を減量化させるように処理管理するため、その高さＨを管理仕様にしたがって測定するものである。簡略に図示する濾過槽４０は、半径Ｒ（一例としてＲ＝１２ｃｍ）の円筒形でなる濾過凹部４１を備え、その濾過凹部４１の内周面に沿うように濾紙４４が敷かれる。なお、図２の澱物ケーキ３１は、濾過槽４０から取り出された直後のものに限らず、取り出されてから数十日を経過したものも含んでいる。
【００２４】
被処理スラリー等が、濾紙４４を敷かれた濾過凹部４１に注ぎ込まれて脱水圧縮されることにより、半径Ｒの澱物ケーキ３１となる。澱物ケーキ３１は、濾過槽４０から取り出され、自然乾燥により体積を縮小（減量）化される。日数をかけて所望の減量化が達成された澱物ケーキ３１は、害毒を封じる対策を伴って埋設処分又は産業廃棄物として処分される。本器１００および本方法は、所望の減量化が達成されるまでの管理指標を得るために、澱物ケーキ高さＨの測定に用いられる。以下、より具体的に説明する。
【００２５】
本器１００は、澱物ケーキ３１の底面３２から上面３３の頂部３４までの高さＨを測定する。まず、澱物ケーキ３１の底面３２を含む面ＸＹとデプスバー１４が直交する状態で、そのデプスバー１４の先端１５を面ＸＹ（測定台４２）と一致させる。それから、澱物ケーキ３１の上面３３の頂部３４に当接部１９を当接させて高さＨを測定する。このとき、測定者は、澱物ケーキ３１の上面３３の全面にわたって頂部３４を探す必要はない。図３を用いて後述するように、管理仕様にしたがって測定すれば、測定者が交代しても効率的かつ速やかに作業が完了する。したがって、本器１００および本方法によれば、表面に凹凸を有する円柱形の澱物ケーキ３１の高さＨを簡単かつ正確に測定できる。
【００２６】
本器１００の当接部１９は、交換自在であり、いわばアタッチメントのようなものである。この当接部１９の所定の長さＸは、澱物ケーキ３１の半径Ｒに一致する長さに設定されることが好ましい。したがって、本器１００は、大きさが異なる澱物ケーキ３１の半径Ｒに適合させるため、少なくとも所定の長さＸを変えた多種類の当接部１９が用意され、本尺１２に対して交換自在であることがなお好ましい。その場合、各当接部１９には根元に共通の嵌合部を備えていれば着脱可能である。さらに、図５を用いて他の本器１０１について後述するように、長方形の当接部１９に代えた直角三角形の当接部２０であっても良い。何れの形状の当接部１９，２０であっても、澱物ケーキ３１の半径Ｒに多種類の区別が不要であれば、着脱可能でなく、接着剤等で本尺１２の端部１１に貼り付ける構成としても良い。
【００２７】
図２に示すように、澱物ケーキ３１は、乾燥の進捗によりひび割れが生じるとともに、その表面には凹凸があるため、測定精度および作業効率の観点から当接部１９の視認性を良好に保つことが求められる。このため、本器１００の当接部１９は、測定対象とする澱物ケーキ３１の表面色に対して色相環で定義される補色関係の表面色を発色する樹脂製である。
【００２８】
ここで言及する補色（ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ  ｃｏｌｏｒ）とは、色相環（ｃｏｌｏｒ  ｃｉｒｃｌｅ）で正反対に位置する関係の色の組合せをいう。例えば、「赤／青緑」、「紫／黄緑」、「黄色／青紫」など、相補的な色のことでもある。余色、対照色、反対色ともいう。
【００２９】
例えば、澱物ケーキ３１が黄土色であれば、当接部１９に青色の彩色を施すことにより際立たせるので視認性を良好に保つ効果がある。同様に、澱物ケーキ３１が黒色ならば、当接部１９をポリエチレン等の樹脂で白色に形成することにより、コントラストを付けることが望ましい。
【００３０】
また、当接部１９は、その長さ方向Ｘ（辺２２，２４）が、本尺１２やデプスバー１４の長さ方向に対して直角を維持できれば、材質や取り付け方については特に限定されない。一例として、当接部１９の材質に、半透明の硬質プラスチック（例えば、ポリスチレン、ポリプロピレン、ポリエチレン等）を接着剤で本尺１２の端部１１に取り付けることで良い結果が得られた。すなわち、澱物ケーキ３１の頂部４４に半透明の当接部１９が当接したことを視認し易く、その結果、澱物ケーキ３１が非常に軟弱な場合であっても、澱物ケーキ３１の形状に与える変形を最小限に止めることができる。
【００３１】
図３は、測定位置を８箇所にわたって変化させることを説明するための平面図である。図１および図２で示した本方法を実行する際、本器１００のデスプバー１４の端部１５を、澱物ケーキ３１の底面３２の周縁部に接近させる。この周縁部に対し、８箇所にわたって測定位置が設定されている。これら８箇所にわたる測定位置を一巡りさせて、澱物ケーキ高さＨの測定を完了する。澱物ケーキ３１を載置する水平な測定台４２には、澱物ケーキ３１の底面３２と同じ大きさに半径Ｒの円（又は「円周」ともいう）４３が明示されている。この半径Ｒの円４３は、澱物ケーキ３１を、測定に都合良い位置に載置する案内のための目印である。この円周４３をＮ等分するように規定された測定位置１〜ＮがＮ箇所にわたって点在する。
【００３２】
ここでは、円（円周）４３の分割数Ｎ＝８を例示して説明する。すなわち、円周４３を中心角４５度で８等分するように測定位置１〜８が８箇所にわたって設定されている。なお、８箇所の設定は、実際の計測作業を正確かつ効率良くする観点で最適である。また、測定位置１〜８は、本器１００を用いて澱物ケーキ３１の高さＨを測定する際、計測者がデプスバー１４の先端１５を当接する目印である。なお、円４３および測定位置１〜８は、測定台４２の表面に直接印刷する等により明示されるか、同等の内容を印刷された専用の敷き紙４５を用いても良い。
【００３３】
なお、管理仕様において、「測定位置１〜８については、中心角４５度で８等分」と規定されていなければ、測定者の目分量で測定位置１〜８を８箇所にわたって変化させながら計測するようにしても構わない。したがって、円４３や測定位置１〜８については、測定台４２上、又は敷き紙４５上に、必ずしも明示されていなくても良い。
【００３４】
以下、本方法の手順について詳細に説明する。
図４は、図１〜図３に示した本方法の手順を説明するためのフローチャートである。本方法は、濾過槽４０から取り出された軟弱な被測定物、すなわち澱物ケーキ３１を、減量化させるように処理管理するため、その高さＨを管理仕様にしたがって測定する方法である。
【００３５】
図４に示すように、本方法は、澱物ケーキ移動工程（Ｓ１０）と、デプスバー突出工程（Ｓ２０）と、デプスバー位置決め工程（Ｓ３０）と、本尺降下工程（Ｓ４０）と、頂部当接工程（Ｓ５０）と、高さ読み取り工程（Ｓ６０）と、カウントアップ工程（Ｓ７０）と、測定回数確認工程（Ｓ８０）と、を含んで実行される。
【００３６】
また、高さ読み取り工程（Ｓ６０）の後で、再びデプスバー突出工程（Ｓ２０）から高さ読み取り工程（Ｓ６０）までを１サイクルとして、合計Ｎ回（サイクル）繰り返し実行する。一例として、Ｎ＝８とし、合計８回繰り返し実行することが好ましい。まず、測定回数ｎ＝０から開始して、１サイクルの測定毎に、カウントアップ工程（Ｓ７０）により、ｎ＝ｎ＋１とカウントアップする。測定回数確認工程（Ｓ８０）においてｎ＜Ｎならば、デプスバー突出工程（Ｓ２０）へ戻って測定を繰り返す。測定回数確認工程（Ｓ８０）によりｎ＝Ｎならば、管理仕様に基づいて、測定位置１〜ＮのＮ箇所について、漏れなく測定を完了しているので本方法を終了する。なお、図４では、Ｎ箇所の測定値をそれぞれ記帳したり、平均値を算出したりする作業については省略している。
【００３７】
以下、各工程について、より詳細に説明する。澱物ケーキ移動工程（Ｓ１０）の前に、処理対象である汚染スラリー等は、濾過槽４０において、濾過処理されてから濾過処理後の残渣でなる円柱形の澱物ケーキ３１に形成されている。濾過槽４０は、半径Ｒの円柱形の濾過凹部４１を有するので、ここで脱水処理された澱物ケーキ３１は、濾過凹部４１の形状に沿って半径Ｒの円柱形に形成されている。
【００３８】
澱物ケーキ移動工程（Ｓ１０）により、澱物ケーキ３１は、濾過槽４０又は、不図示の乾泥地（天日干し保管場所）等から水平な測定台４２へ移動して載置される。すなわち、測定対象の澱物ケーキ３１は、測定台４２上に規定された円４３に、円形の底面３２を合わせるように、測定台４２に載置されている。円４３には円形の底面３２が収容可能である。つぎのデプスバー突出工程（Ｓ２０）により、デプスバー１４を突出させて計測の準備をする。すなわち、ノギス１７を構成する本尺１２に対して摺動自在の副尺１３に延設されたデプスバー１４を、本尺１２の先端の端部１１から澱物ケーキ３１の高さＨよりも充分に長く突出させて計測の準備をする。
【００３９】
つぎのデプスバー位置決め工程（Ｓ３０）により、測定位置１〜Ｎのうち未測定の箇所を選んだ１点にデプスバー１４の先端１５を当接する。この段階の澱物ケーキ３１は、底面３２を測定台４２上の円４３に合わせて載置されている。この測定台４２上の円４３をＮ分割して点在する測定位置１〜Ｎのうち未測定の箇所を選んだ１点に、測定者がデプスバー１４の先端１５を当接する。測定位置１〜Ｎは、円周４３を均等に分割して点在しているので、測定結果の偏りを少なくする効果がある。
【００４０】
つぎの本尺降下工程（Ｓ４０）、頂部当接工程（Ｓ５０）および高さ読み取り工程（Ｓ６０）は、以下のとおり連続的に実行する。すなわち、当接部１９を澱物ケーキ３１の上方から上面３３へと徐々に近接させ（Ｓ４０）、当接部１９の一部が澱物ケーキ３１に当接し（Ｓ５０）、当接した時点でノギス１７の目盛りを読む（Ｓ６０）ことにより、澱物ケーキ高さＨを測定する。
【００４１】
上述のように、本尺降下工程（Ｓ４０）では、固定されたデプスバー１４に対して本尺１２を降下させる方向に摺動させる。つぎの頂部当接工程（Ｓ５０）により、当接部１９を澱物ケーキ３１の頂部３４に当接させる。このとき、デプスバー１４は鉛直にし、かつ、当接部１９の先端２５を澱物ケーキ３１の上面３３の中心Ｏに向けた状態に保持する。なお、当接部１９は、本尺１２の長さ方向に対して直角に所定長さＸだけ延設されている。ここで、Ｘ＝Ｒ、つまり所定長さＸは、円筒形の澱物ケーキ３１の半径Ｒに略等しい。したがって、図１、図２に示すように、当接部１９の先端２５は澱物ケーキ３１の上面３３の中心Ｏに接近することになる。
【００４２】
なお、本実施形態では、頂部当接工程（Ｓ５０）において、ノギス本尺１２の端部１１に備えた当接部１９が澱物ケーキ３１の頂部３４に当接した時点で、ノギス１７を鉛直に固定する必要がある。そのための図示は省略するが、例えば、ノギス１７の副尺１３を実験器具用スタンドに自在ばさみで挟持固定する。この状態で、本尺１２の直線部分に下げ振り錘を取り付けて鉛直方向に固定すると良い。これにより、ノギス１７全体を正確かつ容易に鉛直方向に固定できるので、より正確な測定結果を得ることができる。
【００４３】
高さ読み取り工程（Ｓ６０）では、頂部当接工程（Ｓ５０）により、デプスバー１４が本尺１２の端部１１から突出した距離Ｚについて、本尺１２と副尺１３との相対位置関係に基づいて表示された目盛又は数値を、澱物ケーキ３１の高さＨとして読み取る。このとき、直線スケール状の目盛りを直読するか、ダイヤルの指針を読むか、デジタル表示された数字を読むか、何れであっても良い。
【００４４】
また、上述した高さ読み取り工程（Ｓ６０）の後に、再びデプスバー突出工程（Ｓ２０）から高さ読み取り工程（Ｓ６０）までを1サイクルとして、合計Ｎ回（サイクル）繰り返し実行する。管理仕様の一例に基づいて、測定台４２又は専用の敷き紙４５には、円周４３が分割数Ｎ＝８で８分割され、測定位置１〜８が８箇所にわたって点在するように案内図が描かれている。
【００４５】
この場合、Ｎ＝８とし、合計８回（サイクル）だけ繰り返し実行することが規定されている。その規定どおり、カウントアップ工程（Ｓ７０）と、測定回数確認工程（Ｓ８０）と、により合計８回（サイクル）だけ繰り返し実行されたならば、本方法により１つの澱物ケーキ高さＨの計測作業を終了する。なお、管理仕様によっては、Ｎ＝２〜１６の何れかを適宜に選んで規定すれば良い。このように、本器１００および本方法によれば、測定者が交代するようなことがあっても、測定位置１〜ＮをＮ箇所にわたって変化させながら計測した平均値を用いることにより、連続性を損なわない計測値が、簡単かつ正確に得られる。
【００４６】
図５は、他の実施形態に係る澱物ケーキ高さ測定器（本器）を示す正面図である。図５に示すように、本器１０１において、当接部２０は直角三角形である。この直角三角形の直角を挟む２辺２１，２２のうち一辺２１が本尺１２の長さ方向に揃えられ、他辺２２が端部１１から所定の長さＸだけ延在する。また、本尺１２が必要とする副尺１３の摺動ストローク１６に対し、当接部２０は干渉しないように構成されている。
【００４７】
本実施形態に係る澱物ケーキ高さ測定器および澱物ケーキ高さ測定方法は、継続的に発生する坑水の無害化処理に伴う処理管理に適用される。すなわち、坑水の濾過処理で生成された澱物ケーキを減量化する際、管理指標として澱物ケーキ高さＨを測定する。なお、澱物は様々な工業プロセスにおいて発生し、廃棄物として廃棄物処理プロセスに移送されて処理され、あるいは有価物として有価物回収プロセスに移送されて処理されている。以下、坑水の処理についてのみ簡単に説明する。
【００４８】
稼動中の金属鉱山においては、利益を生み出す鉱山活動のクローズ・システム内で坑水を処理することにより、経済的にも有利な条件でまかなえる場合もある。しかし、休廃止鉱山における坑水の処理は、一方的な負担になる。したがって、経費節減の観点からも、廃棄物としての澱物は、極力減量化することにより、最終処分に至るのまでの負担を軽減することが重要である。
【００４９】
例えば、年間数十万ｍ３の坑水が発生する休廃止鉱山の坑水処理プロセスにおいて、坑水を中和処理し、固液分離して中和殿物を生成する。この中和殿物は、乾泥地（保管場所）に移送され、約１年かけて水分率７０％程度になるまで自然乾燥させ、更に、廃棄物処分場（堆積場所）に移送して堆積されている。移送費用の低減のため、又は、廃棄物処分場の延命のためには、澱物の減量（体積の縮小）化が重要である。
【００５０】
澱物の減量化のために、乾燥設備を導入し、澱物の水分率を低減させる方法がある。乾燥設備は、その導入負担、運転エネルギー負担、運転員等の人的負担のほか、乾燥設備から排出される排気ガスを処理するための負担まで追加される点で不利である。
【００５１】
上述の乾燥設備を導入しないとするならば、現有設備の運転条件、すなわち中和反応の条件や固液分離の条件などを調整して澱物の発生量や自然乾燥の特性を確認し、澱物を減量化する試験が必要となる。特に自然乾燥の特性を調査するためには、固液分離直後および所定の乾燥時間が経過するごとの澱物ケーキ３１の重量および体積を把握する必要がある。このため、本器１００，１０１および本方法が好適に利用される。以下、より具体的に説明する。
【００５２】
上述の固液分離操作では、中和反応後のスラリーを、例えば直径２４ｃｍの凹部４１に対応する濾紙４４を用いた濾過脱水処理により、濾液と澱物に分離する。ここで、得られる澱物ケーキ３１は、湿潤状態のため軟弱であり、直径や高さＨの測定は、何らかの管理仕様に基づいて継続しなければ、測定値に信頼性が得られ難い。特に数十日にわたる連続的な整合性の点で問題が残る。
【００５３】
また、円柱形であった澱物ケーキ３１の上面３３は、乾燥が進むと平坦性が保てなくなる場合が多い。そこで、周縁部に沿った複数の測定個所１〜８でそれぞれ高さＨを測定した平均値によって高さＨを代表させる統計処理が必要になる。このように、自然乾燥による経時的な減量化の進捗を、澱物ケーキ３１の高さＨの値で管理する。柔軟であり変形する澱物ケーキ３１に対し、不安定な計測条件を統一基準で処理管理する必要がある。
【００５４】
また、上述の通り柔軟であり、変形する澱物ケーキの高さＨの測定に、一貫して統一的な測定基準を維持することは困難である。例えば、澱物ケーキ３１の周縁部に生じ易いとされる頂部３４も、必ずしも定位置に生ずるとは限らない。これに対し、測定の都度に頂部３４のピークを意識的に捕捉して計測すべきか否か等について、過度に厳格な判断を求めることを必要としない。したがって、測定者が交代したりすると、一貫性を維持できずに、管理指標としての精度も低くなる。
【００５５】
そこで、本器１００，１０１を用い、本方法で計測することにより、汚染スラリー等の濾過処理後の残渣でなる円柱状の澱物ケーキ３１を減量化させる際、管理指標となる澱物ケーキ高さＨを簡単かつ正確に測定できるようにした。
【実施例１】
【００５６】
以下、図２、図６および表１を用いて実施例を説明する。実施例は、１種類の処理対象に２種類の中和剤を用いた場合で区別し、それぞれの結果を示している。
共通の条件は次の通り。
＜澱物ケーキ＞
直径２４ｃｍに対応する濾紙４４で吸引濾過後、生成された澱物ケーキ３１を濾紙４４ごと取り出して測定台４２に載置した（図２）。
＜中和澱物＞
国内の休廃止鉱山から得られた酸性坑水を中和処理したもの。
＜中和剤＞
水酸化カルシウムＣａ(ＯＨ)２と、水酸化ナトリウムＮａＯＨとの２種類を使用。
【００５７】
【表１】
0006500811.tif 000002
【００５８】
表１は、１種類の酸性坑水を処理対象とし、２種類の中和剤として、水酸化カルシウムＣａ(ＯＨ)２と、水酸化ナトリウムＮａＯＨと、を用いて得られた各中和殿物、すなわち澱物ケーキ３１の高さＨ（ｍｍ）が、吸引濾過後に自然乾燥することによって、減量化する経時変化を経過日数で区切って示している。
【００５９】
図６は、自然乾燥における中和澱物高さの経時変化を示すグラフである。図６に示すように、澱物ケーキ高さＨについて、Ｃａ(ＯＨ)２中和殿物がＮａＯＨ中和殿物よりも当初から薄く、両者共に２４日後には乾燥と共に、それぞれ当初の高さＨから約１／３にまで縮小した。なお、ＮａＯＨ中和殿物の方が、Ｃａ(ＯＨ)２中和殿物がよりも、乾燥期間が２倍程度必要である。
【００６０】
＜測定方法＞
図１〜図４を用いて説明したとおりであり、特に図４のフローチートに示した手順どおりである。すなわち、概ね半径Ｒ＝１２ｃｍの円柱形の澱物ケーキ３１の高さＨ（ｍｍ）について、周縁部をたどりながら等間隔に８箇所を移動する都度、周縁部の直近に設定された測定位置１〜８において、それぞれの澱物ケーキ高さＨ（ｍｍ）を測定した。
【００６１】
その際、本尺１２の端部１１からデプスバー１４が突出させたノギス１７を鉛直に支持し、デプスバー１４の先端１５をデプスバー１４に当接した状態で、当接部１９，２０を摺動下降させ、澱物ケーキ３１の頂点３４に当接させる。その時点で、適宜固定ネジ１８を締めて副尺１３が摺動できないように固定し、本尺１２に対する副尺１３の相対的な離間距離Ｚを本尺１２によって読み取る。
【００６２】
当接部１９の長さＸは、澱物ケーキ３１の半径Ｒに相当する長さである。この当接部１９を円柱形の澱物ケーキ３１おける周縁部から中心部Ｏに向けて水平に保持しての測定を１サイクルとする。澱物ケーキ高さＨの測定位置１〜８に対し、周縁部をたどって中心角４５度ずつ移動しながら８サイクルの計測を行う。このように、澱物ケーキ３１の周縁部を８等分した各位置から中心部Ｏに向けて水平に測定すれば、測定位置の重複を避けて偏りを少なくできる。その結果、より信頼性のある管理指標を得やすくなる。
【００６３】
以上説明したように本発明によれば、汚染スラリー等の濾過処理後の残渣でなる円柱状の澱物ケーキを減量化させる際、管理指標となる澱物ケーキ高さを簡単かつ正確に測定できるようにした澱物ケーキ高さ測定器、および澱物ケーキ高さ測定方法を提供することできる。
【産業上の利用可能性】
【００６４】
本発明は、汚染スラリー等の濾過処理後に残った残渣を減量化させるため、乾燥程度について管理指標を得る手段として利用される可能性がある。特に、処分施設等の収容効率を高めるために減量化させることが必要な残渣に対する管理手段、すなわち澱物ケーキの高さ測定器、および澱物ケーキ高さ測定方法として好適に利用される可能性がある。
【００６５】
なお、上記のように本発明の各実施形態及び各実施例について詳細に説明したが、本発明の新規事項及び効果から実体的に逸脱しない多くの変形が可能であることは、当業者には、容易に理解できるであろう。したがって、このような変形例は、全て本発明の範囲に含まれるものとする。
【００６６】
例えば、明細書又は図面において、少なくとも一度、より広義又は同義な異なる用語と共に記載された用語は、明細書又は図面のいかなる箇所においても、その異なる用語に置き換えることができる。また、澱物ケーキ高さ測定器、ノギスおよび当接部の構成や動作も本発明の各実施形態及び各実施例で説明したものに限定されず、種々の変形実施が可能である。
【符号の説明】
【００６７】
１〜Ｎ  測定位置、１１  （本尺１２の）端部、１２  本尺、１３  副尺、１４  デプスバー、１５  （デプスバー１４の）先端、１６  摺動ストローク、１７  ノギス、１８  固定ネジ、１９，２０  当接部、２１，２２  直角三角形の直角を挟む２辺、２２，２４  （長さＸ，Ｒの）辺、２５  （当接部１９の）先端、３１  澱物ケーキ、３２  （澱物ケーキ３１の）底面、３４  （澱物ケーキ３１の）頂部、４０  濾過槽（固液分離装置）、４１  濾過凹部、４２  測定台、４３  （測定台４２又は敷き紙４５に描かれた）円又は円周、１００，１０１  澱物ケーキ高さ測定器、Ｈ  （澱物ケーキ３１の）高さ、Ｏ  （澱物ケーキ３１又は円４３の）中心、Ｒ  （澱物ケーキ３１又は円４３の）半径、Ｓ１０  澱物ケーキ移動工程、Ｓ２０  デプスバー突出工程、Ｓ３０  デプスバー位置決め工程、Ｓ４０  本尺降下工程、Ｓ５０  頂部当接工程、Ｓ６０  高さ読み取り工程、Ｘ  （当接部２０の長さ）、ＸＹ  （澱物ケーキ３１の底面３２を含む）面、Ｚ  測定した距離（デプスバー１４が本尺１２の前記基準位置１１から突出した距離）
【図１】
0006500811.tif 000003
【図２】
0006500811.tif 000004
【図３】
0006500811.tif 000005
【図４】
0006500811.tif 000006
【図５】
0006500811.tif 000007
【図６】
0006500811.tif 000008