(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
成分分離及び質量分析システムから得られる複数のサンプルのためのデータを分析する方法であって、前記データは、各サンプルに対するデータセットを含み、各データセットは、サンプルの表示と、サンプルのイオン質量と、保持時間と、強度とを含み、前記方法は、
前記成分分離及び質量分析システムから得られ、各々のサンプルに対応する前記データから各サンプルに対するプロファイルプロットを形成することと、ここで、各プロファイルプロットは、保持時間軸と、強度軸とを有し、選択されたサンプルのイオン質量のための保持時間の関数として強度のグラフ表現を含む；
選択されたイオンに対応する強度ピーク配置を各サンプルに対するプロファイルプロットにおいて特定することと、ここで、前記強度ピーク配置は、少なくとも１つの特定ピークを含み、前記少なくとも１つの特定ピークがそれぞれ、ピーク範囲と、前記ピーク範囲内の特徴的強度とを有する；
各サンプルに対し、前記選択されたサンプルのイオン質量のための前記プロファイルプロットに対応して、直交プロットを形成することと、ここで、前記直交プロットは、前記強度軸に垂直な面に前記保持時間軸に沿って延在する；
前記複数のサンプルの前記直交プロットから第１のサンプル全体プロットを形成することと、ここで、前記第１のサンプル全体プロットは、前記保持時間軸と、サンプル表示軸とを有し、前記複数のサンプル全体の前記直交プロットのグラフ表現を含む、
前記複数のサンプル全体で、規定される範囲との前記特徴的強度の関係に比例した、前記少なくとも１つの特定ピークのそれぞれのための表現を有する段階的表示で、前記少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの前記特徴的強度を、各サンプルに対する前記直交プロットの前記保持時間軸に表すこととを含む方法。
【請求項２】
前記少なくとも１つの特定ピークは、メインピークと、少なくとも１つのサブピークとを含み、前記少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの前記特徴的強度を表すことは、前記メインピークの前記特徴的強度のための最大表現と、前記少なくとも１つのサブピークのそれぞれの前記特徴的強度のためのより小さい表現とを有する段階的表示で、前記少なくとも１つの特定ピークの特徴的強度を前記直交プロットの前記保持時間軸に表すことをさらに含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの前記ピーク範囲を範囲表示で前記直交プロットに表すことを含み、前記範囲表示は、前記少なくとも１つの特定ピークのそれぞれに対し、前記ピーク範囲の開始を表す第１標識と、前記ピーク範囲の終了を表す第２標識とを有する、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記少なくとも１つの特定ピークは、メインピークと、少なくとも１つのサブピークとを含み、前記少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの前記ピーク範囲を範囲表示で前記直交プロットに表すことは、前記メインピークの前記範囲表示である第２標識が強度ピーク配置の次のサブピークの前記範囲表示である第１標識をも表す状態で、前記少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの前記ピーク範囲を範囲表示で前記直交プロットに表すことを含み、前記次のサブピークは、前記メインピークと関連するショルダーピーク及び２次ピークのうち一方である、請求項３に記載の方法。
【請求項５】
前記少なくとも１つの特定ピークは、メインピークと、少なくとも１つのサブピークとを含み、前記少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの前記ピーク範囲を範囲表示で前記直交プロットに表すことは、前記サブピークのうち１つの前記範囲表示である第２標識が前記強度ピーク配置の次のサブピークの範囲表示である第１標識をも表す状態で、前記少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの前記ピーク範囲を範囲表示で前記直交プロットに表すことを含み、前記次のサブピークは、前記サブピークのうち１つと関連するショルダーピーク及び２次ピークのうち一方である、請求項３に記載の方法。
【請求項６】
前記少なくとも１つの特定ピークは、メインピークと、少なくとも１つのサブピークとを含み、前記少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの前記特徴的強度を前記直交プロットの前記保持時間軸に表すことは、前記メインピークの前記特徴的強度のための形状である最大サイズと、前記少なくとも１つのサブピークのそれぞれの前記特徴的強度のための形状であるより小さいサイズとを有する段階的形状で、前記少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの前記特徴的強度を前記直交プロットの前記保持時間軸に表すことを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項７】
前記少なくとも１つの特定ピークは、メインピークと、少なくとも１つのサブピークとを含み、前記少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの前記特徴的強度を前記直交プロットの前記保持時間軸に表すことは、前記メインピークの前記特徴的強度のための陰影である最大明暗度と、前記少なくとも１つのサブピークのそれぞれの前記特徴的強度のための陰影であるより低い明暗度とを有する段階的陰影で、前記少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの前記特徴的強度を前記直交プロットの前記保持時間軸に表すことを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項８】
前記少なくとも１つの特定ピークは、メインピークと、少なくとも１つのサブピークとを含み、前記少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの前記特徴的強度を前記直交プロットの前記保持時間軸に表すことは、前記メインピークの前記特徴的強度のための色彩である最大彩度と、前記少なくとも１つのサブピークのそれぞれの前記特徴的強度のための色彩であるより低い彩度とを有する段階的色彩で、前記少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの前記特徴的強度を前記直交プロットの前記保持時間軸に表すことを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項９】
前記少なくとも１つの特定ピークは、メインピークと、少なくとも１つのサブピークとを含み、前記少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの前記特徴的強度を前記直交プロットの前記保持時間軸に表すことは、前記メインピークの前記特徴的強度のための第１形状と、前記少なくとも１つのサブピークのうち１つの特徴的強度のための第２形状とを含む異なる形状で、前記少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの前記特徴的強度を前記直交プロットの前記保持時間軸に表すことを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１０】
統合方式を使用して、前記選択されたイオンのための前記強度ピーク配置の前記少なくとも１つの特定ピークのうちいずれかと関連する領域を判定することをさらに含み、判定された領域は、前記各々のサンプルにおいて、当該領域と対応するイオン成分の相対量と関連している、請求項１に記載の方法。
【請求項１１】
前記少なくとも１つの特定ピークから、前記選択されたイオンのための識別ピークを判定することをさらに含み、前記領域を判定することは、前記統合方式を使用して、前記選択されたイオンのための前記識別ピークと関連する領域を判定することを含み、前記識別ピークの前記判定された領域は、前記各々のサンプルにおいて、前記領域と対応する前記選択されたイオンの相対量と関連する、請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
前記サンプルのうち少なくとも１つの前記強度ピーク配置の前記プロファイルプロットと、前記直交プロットとの間をトグルで選択的に切り換えることを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１３】
前記サンプルのうち少なくとも１つの前記イオンピーク配置の前記プロファイルプロット及び前記直交プロットを同時に表示することを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１４】
前記サンプルの少なくとも一部のための前記選択されたイオンの前記プロファイルプロットを第２のサンプル全体プロットに重ねることを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１５】
前記複数のサンプルの前記直交プロットから第１のサンプル全体プロットを形成することと、ここで前記第１のサンプル全体プロットは、前記保持時間軸と、サンプル表示軸とを有し、前記複数のサンプル全体の前記直交プロットのグラフ表現を含む；前記第２のサンプル全体プロットを前記第１のサンプル全体プロットと同時に表示することとをさらに含む、請求項１４に記載の方法。
【請求項１６】
成分分離及び質量分析システムから得られる複数のサンプルのデータを分析するための装置であって、前記データは、各サンプルに対するデータセットを含み、各データセットは、サンプルの表示と、サンプルのイオン質量と、保持時間と、強度とを含み、前記装置は、プロセッサと、前記プロセッサによる実行に応答して、前記装置に請求項１乃至１５のうちいずれか１項に記載の方法工程を少なくとも行わせる、実行可能な命令を記憶するメモリとを備える、装置。
【請求項１７】
成分分離及び質量分析システムから得られる複数のサンプルのデータを分析するためのコンピュータプログラム製品であって、前記データは、各サンプルに対するデータセットを含み、各データセットは、サンプルの表示と、サンプルのイオン質量と、保持時間と、強度とを含み、前記コンピュータプログラム製品は、コンピュータ可読プログラムコードを内部に記憶する少なくとも１つの非一時的なコンピュータ可読記憶媒体を備え、コンピュータ可読プログラムコードは、請求項１乃至１５のうちいずれか１項の方法工程を行うためのプログラムコードを含む、コンピュータプログラム製品。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、複雑な混合物における小分子成分を分析する分野に関し、より具体的には、生体の代謝過程により生成される小分子の研究であるメタボロミクスを含む当該小分子の分析法、又は代謝を介して生成される小分子の他の分析法を用いて、複数のサンプル処理における複雑な混合物の小分子成分を分析するための方法、並びに関連する装置及びコンピュータプログラム製品に関する。
【背景技術】
【０００２】
メタボロミクスは、細胞、組織、又は臓器（体液を含む）に含有され、初期代謝及び中間代謝に関与する、小分子又は代謝産物の研究である。用語「メタボローム」とは、生体内にある代謝産物の集合を指す。ヒトのメタボロームは、一般的な代謝反応に携わる、細胞の維持、増殖、及び正常な機能に要する天然小分子（天然に生合成可能な、非高分子化合物）を包含する。したがって、メタボロミクスは、細胞生理学的状態を直接的に観察することであり、そのため、所定の生体における疾患を予測し得る。微妙な生化学的変化（選択された代謝産物の存在を含む）は、所定の疾患に固有のものである。そのため、これらの変化を既知の経路に正確にマッピングすることにより、研究者は疾患の生化学的仮説を立てることを可能とし得る。この仮説に基づき、疾患に重要な酵素及びタンパク質を発見することでき、その結果、ターゲットとした医薬化合物を用いた治療又は他の療法に対して疾患のターゲットを特定し得る。
【０００３】
疾患の根底にある生化学的過程を発見するための分子生物学的技術は、ＲＮＡに転写された後、タンパク質へと翻訳され、その後ヒトのメタボロームの小分子を作るＤＮＡを作る遺伝子で構成されるゲノムに集中している。ゲノミクス（ＤＮＡレベルでの生化学の研究）、転写プロファイリング（ＲＮＡレベルでの生化学の研究）、及びプロテオミクス（タンパク質レベルでの生化学の研究）は、疾患の経路の特定に有用であるが、これら方法は、２５，０００超の遺伝子、１００，０００から２００，０００のＲＮＡ転写物、及び最大１，０００，０００のタンパク質がヒトの細胞に存在するという事実により複雑になる。しかし、ヒトのメタボロームには、２，５００の小分子しかないであろうと推測される。
【０００４】
したがって、メタボローム技術は、ゲノミクス、転写プロファイリング、及び／又はプロテオミクスを超える著しい飛躍を提供する。メタボロミクスを用いて、代謝産物及び代謝におけるそれらの役割は、容易に特定されるであろう。これに関連して、疾患のターゲットの特定は、他の既知の方法に対し、正確性がより高く迅速に行われるであろう。疾患の経路の特定に使用するためのメタボロームデータの収集は、例えば、それぞれ、「メタボロミクスを使用する創薬、疾患の治療、及び診断（Ｍｅｔｈｏｄｓ  ｆｏｒ  Ｄｒｕｇ  Ｄｉｓｃｏｖｅｒｙ，  Ｄｉｓｅａｓｅ  Ｔｒｅａｔｍｅｎｔ，  ａｎｄ  Ｄｉａｇｎｏｓｉｓ  Ｕｓｉｎｇ  Ｍｅｔａｂｏｌｏｍｉｃｓ）」という名称のＭｅｔａｂｏｌｏｎ社の米国特許第７，００５，２５５号、及び米国特許第７，３２９，４８９号に概ね記載されるように、当技術分野において概ね既知である。メタボロミクスデータのさらなる利用法は、本明細書に記載され、例えば、治療薬（すなわち、薬物）又は他の生体異物への反応の判定と、薬物反応のモニタリングと、薬物の安全性の判定と、創薬とを含む。しかし、様々なサンプルから（例えば、患者集団から）取得されるメタボロームデータの収集及び選別には、多くの時間及び演算能力が費やされる。例えば、いくつかの既知のメタボローム技術によれば、あるサンプルの分光測定データは、収集され、３次元（又はそれ以上の次元）でプロットされ（すなわち、他のサンプル特性に対し軸に沿って表すことができるサンプル特性）、各サンプルに対応する個々のファイルに記憶される。その後、このデータは、個々のファイルにより、疾患のターゲットであるであろう既知の代謝産物を同定するため、複数の既知の代謝産物に対応するデータと比較される。データは、毒物及び／又は薬物の代謝産物の同定のためにも使用されることがある。さらに、そのようなデータは、生体異物の影響をモニタリングすること、及び／又は生体異物及び生体異物を処理（代謝）することにより生成される関連代謝産物をモニタリング／測定／同定することにも使用されることがある。しかし、そのような従来の「ファイルベース」の方法（各サンプルに対して作製される個々のデータファイルを指す）は、多数の既知の代謝産物のスクリーニングを処理するための多くの演算能力及びメモリ容量の使用を要する。さらに、既知のメタボロームデータを処理する技術によれば、各サンプルは、サンプル集団全体ではより容易に検出可能であるであろう代謝産物の組成の微妙な変化を考慮せず、個々に分析されるため、「ファイルベース」のデータ処理は、多くのサンプル全体のサンプル集団データの編集に向き得ない。さらに、既存の「ファイルベース」の方法には、安全性及び監査能力が限られることと、複数のコピーファイル全体でのデータセットの一貫性に乏しいこととを含む他の限界があるであろう。加えて、個々のファイルは、複数のインデックス（すなわち、収集日、サンプルＩＤ、対照と処置後の比較、薬物投与量など）を援用できず、その結果、特定の部分集合のみが要求されるときに、全てのファイルをスキャンしなければならない。
【０００５】
現行のメタボロームデータ分析技術におけるこれらの限界は、疾患のターゲットとして特定の代謝産物を同定及び分類することに使用されるであろう潜在的に関連する及び／又は価値あるメタボロームデータの廃棄につながることがある。具体的には、多くのサンプル（個々のヒト被験者由来の組織サンプルなど）に対応する分光測定データは、一般的に、各サンプルに対応する大容量のデータファイルとなり、各データファイルは、その後、既知の代謝産物のライブラリに対しての個別のスクリーニング処理を受けなければならない。しかし、従来のシステムでは、分光測定処理により作製されるデータの主観的評価のため、多くのサンプルから分光測定データを容易に統合することができない。したがって、個々のサンプルに対応する１つのファイルは、確定的なものとならないことがあるが、サンプル集団内の他のサンプルに対して、簡明な形式で主観的に見た場合、そのようなデータはより有効となることがある。
【０００６】
現行のメタボロームデータ分析技術における制限の１つの特定の実例は、複数のサンプルのうちのそれぞれにおける代謝産物の同定及び定量に関与する。いくつかの例において、代謝産物の同定では、各サンプルのデータファイルの分析は、その代謝産物の指標（すなわち、特定の保持時間若しくは範囲又は保持回数で観察される、特定のサンプルのイオン質量又はサンプル成分の質量の強度ピーク）が各々のデータファイル内に存在するかどうかを判定することに関与する。そのような指標があると判定される場合、その代謝産物の定量は、その後、その指標により表される領域（すなわち、強度ピーク下の領域）の統合（領域の数学的計算）に関与することがある。しかし、前述したように、「ファイルベース」のデータ処理方法において、判定された指標がサンプル全体で一貫性があるかどうかを検証することは困難であることがある。例えば、特定された強度ピークがサンプル全体で保持時間に対して調整するかどうかを判定することは困難であることがある。さらに、指標（すなわち、強度ピーク）が１つ又は複数のサンプルのデータファイル内で明確に規定されていない例があり得る。これらの例において、特に、特定の強度ピークの起点及び終点が明確に現れていない場合、例えば、計算と関連して使用される仮説又は計算に関連して行われる推測に基づき、指標により表される領域を計算するために使用される統合方式を変えることがある。指標（すなわち、強度ピーク）が、１つ以上のサンプル成分の存在を実際に反映することがある例もあり得、そのため、それら強度ピークの任意の分析は、全体として著しく正確性を欠くことがある。そのため、ファイルベースでのデータ処理方法を使用するとき、個々のサンプルに対して分析することを困難とすることがある仮説及び推測により、複数のサンプルにわたり存在するその代謝産物（又は、複数の代謝産物）の量が誤って示されることがある。この点について、そのような初期段階でのメタボロミクス分析に導入されるそのような量的不正確性は、後続する工程又は分析でより大きな不正確性をもたらすことがある。
【０００７】
そのため、従来のメタボロームデータ分析システムと関連する、上記のように概説された技術的課題を解決するための装置及び方法を改良する必要性が存在する。より具体的には、各サンプルに対する個別のデータファイルを作製することが、必要ではなく選択的に備わった、サンプル全体の分光測定データを分析することが可能な装置及び方法に対する必要性が存在する。ユーザーが選択された代謝産物の同定における信頼性を検証する、又はその他の方法で判定することを可能とするため、ユーザーが、例えば、選別、グループ化、及び／又は調整を目的として、選択された代謝産物の同定と関連するデータを検査することを可能とするため、及びユーザーが、例えば、品質管理及び一貫性の検証を目的として、同定され、選択された代謝産物に関するさらなる情報を判定することを可能とするために、複数のサンプル全体の分光測定データをユーザーが主観的に評価し、選択された代謝産物を同定することが可能な装置及び方法に対する必要性も存在する。取得した分光測定データからサンプル全体のサンプル成分をより正確に同定及び定量することが可能な装置及び方法を改良する必要性も存在する。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
上記及び他の必要性は、一態様として、成分分離及び質量分析システムから得られる複数のサンプルのためのデータを分析する方法であって、データは、各サンプルに対するデータセットを含み、各データセットは、サンプルの表示（即ち、例えば、数、名称、ＩＤ、若しくは他の適切な／特有の呼称、又はその組み合わせ）と、サンプルのイオン質量又はサンプル成分の質量と、保持時間と、強度とを含む、方法を提供する、本開示の態様により満たされる。そのような方法は、各プロファイルプロットが、保持時間軸と、強度軸とを有し、選択されたサンプルのイオン質量のための保持時間の関数として強度のグラフ表現を含む状態で、成分分離及び質量分析システムから得られ、各々のサンプルに対応するデータから各サンプルに対するプロファイルプロットを形成することを含んでもよい。選択されたイオンに対応する強度ピーク配置は、強度ピーク配置が少なくとも１つの特定ピークを含み、少なくとも１つの特定ピークがそれぞれ、ピーク範囲と、ピーク範囲内の特徴的強度とを有する状態で、各サンプルに対するプロファイルプロットにおいて特定される。プロファイルプロットに対応する直交プロットは、直交プロットが強度軸に垂直な面に保持時間軸に沿って延在する状態で、各サンプルに対して形成される。少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度は、段階的表示で、直交プロットの保持時間軸に表される。いくつかの態様において、少なくとも１つの特定ピークは、メインピークと、少なくとも１つのサブピークとを含み、そのため、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度が、メインピークの特徴的強度のための最大表現と、少なくとも１つのサブピークのそれぞれの特徴的強度のためのより小さい表現とを有する段階的表示で直交プロットの保持時間軸に表される。いくつかの例において、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれのピーク範囲は、範囲表示がメインピーク及び少なくとも１つのサブピークのそれぞれに対し、ピーク範囲の開始を表す第１標識と、ピーク範囲の終了を表す第２標識とを有する状態で、直交プロットに範囲表示で表される。
【０００９】
本開示の別の態様は、成分分離及び質量分析システムから得られる複数のサンプルのためのデータを分析するための装置であって、データが各サンプルに対するデータセットを含み、各データセットが、サンプルの表示と、サンプルのイオン質量と、保持時間と、強度とを含む状態であり、装置は、プロセッサと、プロセッサによる実行に応答して、本開示の方法の態様の工程を、装置に少なくとも行わせる実行可能な命令を記憶するメモリとを備える装置を提供する。
【００１０】
本開示のさらなる態様は、成分分離及び質量分析システムから得られる複数のサンプルのためのデータを分析するためのコンピュータプログラム製品であって、データが各サンプルに対するデータセットを含み、各データセットが、サンプルの表示と、サンプルのイオン質量と、保持時間と、強度とを含む状態であり、コンピュータプログラム製品は、コンピュータ可読プログラムコードを内部に記憶する少なくとも１つの非一時的なコンピュータ可読記憶媒体を備え、コンピュータ可読プログラムコードは、本開示の方法の態様の工程を少なくとも行うことを実行可能とするプログラムコードを含む、コンピュータプログラム製品を提供する。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本開示は、したがって、限定することなく、以下の実施形態を含む。
【００１２】
実施形態１：成分分離及び質量分析システムから得られる複数のサンプルのためのデータを分析する方法であって、データは、各サンプルに対するデータセットを含み、各データセットは、サンプルの表示と、サンプルのイオン質量と、保持時間と、強度とを含み、当該方法は、成分分離及び質量分析システムから得られ、各々のサンプルに対応するデータから各サンプルに対するプロファイルプロットを形成することと、ここで、各プロファイルプロットは、保持時間軸と、強度軸とを有し、選択されたサンプルのイオン質量のための保持時間の関数として強度のグラフ表現を含む；選択されたイオンに対応する強度ピーク配置を各サンプルに対するプロファイルプロットにおいて特定することと、ここで、強度ピーク配置は、少なくとも１つの特定ピークを含み、少なくとも１つの特定ピークはそれぞれ、ピーク範囲と、ピーク範囲内の特徴的強度とを有する；各サンプルに対するプロファイルプロットに対応して、直交プロットを形成することと、ここで、直交プロットは、強度軸に垂直な面に保持時間軸に沿って延在する；少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度を段階的表示で、直交プロットの保持時間軸に表すこととを含む方法。
【００１３】
実施形態２：少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度を表すことは、規定される範囲との特徴的強度の関係に比例した、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれのための表現を有する段階的表示で、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度を直交プロットの保持時間軸に表すことをさらに含む、前述若しくは後述の任意の実施形態の方法又はその組み合わせ。
【００１４】
実施形態３：少なくとも１つの特定ピークは、メインピークと、少なくとも１つのサブピークとを含み、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度を表すことは、メインピークの特徴的強度のための最大表現と、少なくとも１つのサブピークのそれぞれの特徴的強度のためのより小さい表現とを有する段階的表示で、少なくとも１つの特定ピークの特徴的強度を直交プロットの保持時間軸に表すことをさらに含む、前述若しくは後述の任意の実施形態の方法又はその組み合わせ。
【００１５】
実施形態４：少なくとも１つの特定ピークのそれぞれのピーク範囲を範囲表示で直交プロットに表すことをさらに含み、範囲表示は、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれに対し、ピーク範囲の開始を表す第１標識と、ピーク範囲の終了を表す第２標識とを有する、前述若しくは後述の任意の実施形態の方法又はその組み合わせ。
【００１６】
実施形態５：少なくとも１つの特定ピークは、メインピークと、少なくとも１つのサブピークとを含み、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれのピーク範囲を範囲表示で直交プロットに表すことは、メインピークの範囲表示である第２標識が強度ピーク配置の次のサブピークの範囲表示である第１標識をも表す状態で、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれのピーク範囲を範囲表示で直交プロットに表すことを含み、次のサブピークは、メインピークと関連するショルダーピーク及び２次ピークのうち一方である、前述若しくは後述の任意の実施形態の方法又はその組み合わせ。
【００１７】
実施形態６：少なくとも１つの特定ピークは、メインピークと、少なくとも１つのサブピークとを含み、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれのピーク範囲を範囲表示で直交プロットに表すことは、サブピークのうち１つの範囲表示である第２標識が強度ピーク配置の次のサブピークの範囲表示である第１標識をも表す状態で、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれのピーク範囲を範囲表示で直交プロットに表すことを含み、次のサブピークは、サブピークのうち１つと関連するショルダーピーク及び２次ピークのうち一方である、前述若しくは後述の任意の実施形態の方法又はその組み合わせ。
【００１８】
実施形態７：少なくとも１つの特定ピークは、メインピークと、少なくとも１つのサブピークとを含み、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度を直交プロットの保持時間軸に表すことは、メインピークの特徴的強度のための形状である最大サイズと、少なくとも１つのサブピークのそれぞれの特徴的強度のための形状であるより小さいサイズとを有する段階的形状で、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度を直交プロットの保持時間軸に表すことを含む、前述若しくは後述の任意の実施形態の方法又はその組み合わせ。
【００１９】
実施形態８：少なくとも１つの特定ピークは、メインピークと、少なくとも１つのサブピークとを含み、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度を直交プロットの保持時間軸に表すことは、メインピークの特徴的強度のための陰影である最大明暗度と、少なくとも１つのサブピークのそれぞれの特徴的強度のための陰影であるより低い明暗度とを有する段階的陰影で、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度を直交プロットの保持時間軸に表すことを含む、前述若しくは後述の任意の実施形態の方法又はその組み合わせ。
【００２０】
実施形態９：少なくとも１つの特定ピークは、メインピークと、少なくとも１つのサブピークとを含み、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度を直交プロットの保持時間軸に表すことは、メインピークの特徴的強度のための色彩である最大彩度と、少なくとも１つのサブピークのそれぞれの特徴的強度のための色彩であるより低い彩度とを有する段階的色彩で、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度を直交プロットの保持時間軸に表すことを含む、前述若しくは後述の任意の実施形態の方法又はその組み合わせ。
【００２１】
実施形態１０：少なくとも１つの特定ピークは、メインピークと、少なくとも１つのサブピークとを含み、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度を直交プロットの保持時間軸に表すことは、メインピークの特徴的強度のための第１形状と、少なくとも１つのサブピークのうち１つの特徴的強度のための第２形状とを含む異なる形状で、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度を直交プロットの保持時間軸に表すことを含む、前述若しくは後述の任意の実施形態の方法又はその組み合わせ。
【００２２】
実施形態１１：複数のサンプルの直交プロットから第１のサンプル全体プロットを形成することをさらに含み、第１のサンプル全体プロットは、保持時間軸と、サンプル表示軸とを有し、複数のサンプル全体の直交プロットのグラフ表現を含む、前述若しくは後述の任意の実施形態の方法又はその組み合わせ。
【００２３】
実施形態１２：統合方式を使用して、選択されたイオンのための強度ピーク配置の少なくとも１つの特定ピークのうちいずれかと関連する領域を判定することをさらに含み、判定された領域は、各々のサンプルにおいて、当該領域と対応するイオン成分の相対量と関連する、前述若しくは後述の任意の実施形態の方法又はその組み合わせ。
【００２４】
実施形態１３：少なくとも１つの特定ピークから、選択されたイオンのための識別ピークを判定することをさらに含み、領域を判定することは、統合方式を使用して、選択されたイオンのための識別ピークと関連する領域を判定することを含み、識別ピークの判定された領域は、各々のサンプルにおいて、当該領域と対応する選択されたイオンの相対量と関連する、前述若しくは後述の任意の実施形態の方法又はその組み合わせ。
【００２５】
実施形態１４：サンプルのうち少なくとも１つの強度ピーク配置のプロファイルプロットと、直交プロットとの間をトグルで選択的に切り換えることをさらに含む、前述若しくは後述の任意の実施形態の方法又はその組み合わせ。
【００２６】
実施形態１５：サンプルのうち少なくとも１つのイオンピーク配置のプロファイルプロット及び直交プロットを同時に表示することをさらに含む、前述若しくは後述の任意の実施形態の方法又はその組み合わせ。
【００２７】
実施形態１６：サンプルの少なくとも一部のための選択されたイオンのプロファイルプロットを第２のサンプル全体プロットに重ねることをさらに含む、前述若しくは後述の任意の実施形態の方法又はその組み合わせ。
【００２８】
実施形態１７：複数のサンプルの直交プロットから第１のサンプル全体プロットを形成することと、ここで第１のサンプル全体プロットは、保持時間軸と、サンプル表示軸とを有し、複数のサンプル全体の直交プロットのグラフ表現を含む；第２のサンプル全体プロットを第１のサンプル全体プロットと同時に表示することとをさらに含む、前述若しくは後述の任意の実施形態の方法又はその組み合わせ。
【００２９】
実施形態１８：成分分離及び質量分析システムから得られる複数のサンプルのためのデータを分析するための装置であって、データは、各サンプルに対するデータセットを含み、各データセットは、サンプルの表示と、サンプルのイオン質量と、保持時間と、強度とを含み、装置は、プロセッサと、成分分離及び質量分析システムから得られ、各々のサンプルに対応するデータから各サンプルに対するプロファイルプロットを形成する工程と、ここで、各プロファイルプロットは、保持時間軸と、強度軸とを有し、選択されたサンプルのイオン質量のための保持時間の関数として強度のグラフ表現を含む；選択されたイオンに対応する強度ピーク配置を各サンプルに対するプロファイルプロットにおいて特定する工程と、ここで、強度ピーク配置は、少なくとも１つの特定ピークを含み、少なくとも１つの特定ピークはそれぞれ、ピーク範囲と、ピーク範囲内の特徴的強度とを有する；各サンプルに対するプロファイルプロットに対応して、直交プロットを形成する工程と、ここで、直交プロットは、強度軸に垂直な面に保持時間軸に沿って延在し、ディスプレイに表示される；少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度を段階的表示で、直交プロットの保持時間軸に表す工程とを、プロセッサによる実行に応答して、装置に少なくとも行わせる実行可能な命令を記憶するメモリとを備える装置。
【００３０】
実施形態１９：メモリは、規定される範囲との特徴的強度の関係に比例した、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれのための表現を有する段階的表示で、少なくとも１つの特定ピークの特徴的強度を直交プロットの保持時間軸に表す工程を、プロセッサによる実行に応答して、装置にさらに行わせる実行可能な命令を記憶する、前述若しくは後述の任意の実施形態の装置又はその組み合わせ。
【００３１】
実施形態２０：少なくとも１つの特定ピークは、メインピークと、少なくとも１つのサブピークとを含み、メモリは、メインピークの特徴的強度のための最大表現と、少なくとも１つのサブピークのそれぞれの特徴的強度のためのより小さい表現とを有する段階的表示で、少なくとも１つの特定ピークの特徴的強度を直交プロットの保持時間軸に表す工程を、プロセッサによる実行に応答して、装置にさらに行わせる実行可能な命令を記憶する、前述若しくは後述の任意の実施形態の装置又はその組み合わせ。
【００３２】
実施形態２１：メモリは、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれのピーク範囲を範囲表示で直交プロットに表す工程を、プロセッサによる実行に応答して、装置にさらに行わせる実行可能な命令を記憶し、範囲表示は、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれに対し、ピーク範囲の開始を表す第１標識と、ピーク範囲の終了を表す第２標識とを有する、前述若しくは後述の任意の実施形態の装置又はその組み合わせ。
【００３３】
実施形態２２：少なくとも１つの特定ピークは、メインピークと、少なくとも１つのサブピークとを含み、メモリは、メインピークの範囲表示である第２標識が強度ピーク配置の次のサブピークの範囲表示である第１標識をも表す状態で、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれのピーク範囲を範囲表示で直交プロットに表す工程を、プロセッサによる実行に応答して、装置にさらに行わせる実行可能な命令を記憶し、次のサブピークは、メインピークと関連するショルダーピーク及び２次ピークのうち一方である、前述若しくは後述の任意の実施形態の装置又はその組み合わせ。
【００３４】
実施形態２３：少なくとも１つの特定ピークは、メインピークと、少なくとも１つのサブピークとを含み、メモリは、サブピークのうち１つの範囲表示である第２標識が強度ピーク配置の次のサブピークの範囲表示である第１標識をも表す状態で、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれのピーク範囲を範囲表示で直交プロットに表す工程を、プロセッサによる実行に応答して、装置にさらに行わせる実行可能な命令を記憶し、次のサブピークは、サブピークのうち１つと関連するショルダーピーク及び２次ピークのうち一方である、前述若しくは後述の任意の実施形態の装置又はその組み合わせ。
【００３５】
実施形態２４：少なくとも１つの特定ピークは、メインピークと、少なくとも１つのサブピークとを含み、メモリは、メインピークの特徴的強度のための形状である最大サイズと、少なくとも１つのサブピークのそれぞれの特徴的強度のための形状であるより小さいサイズとを有する段階的形状で、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度を直交プロットの保持時間軸に表す工程を、プロセッサによる実行に応答して、装置にさらに行わせる実行可能な命令を記憶する、前述若しくは後述の任意の実施形態の装置又はその組み合わせ。
【００３６】
実施形態２５：少なくとも１つの特定ピークは、メインピークと、少なくとも１つのサブピークとを含み、メモリは、メインピークの特徴的強度のための陰影である最大明暗度と、少なくとも１つのサブピークのそれぞれの特徴的強度のための陰影であるより低い明暗度とを有する段階的陰影で、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度を直交プロットの保持時間軸に表す工程を、プロセッサによる実行に応答して、装置にさらに行わせる実行可能な命令を記憶する、前述若しくは後述の任意の実施形態の装置又はその組み合わせ。
【００３７】
実施形態２６：少なくとも１つの特定ピークは、メインピークと、少なくとも１つのサブピークとを含み、メモリは、メインピークの特徴的強度のための色彩である最大彩度と、少なくとも１つのサブピークのそれぞれの特徴的強度のための色彩であるより低い彩度とを有する段階的色彩で、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度を直交プロットの保持時間軸に表す工程を、プロセッサによる実行に応答して、装置にさらに行わせる実行可能な命令を記憶する、前述若しくは後述の任意の実施形態の装置又はその組み合わせ。
【００３８】
実施形態２７：少なくとも１つの特定ピークは、メインピークと、少なくとも１つのサブピークとを含み、メモリは、メインピークの特徴的強度のための第１形状と、少なくとも１つのサブピークのうち１つの特徴的強度のための第２形状とを含む異なる形状で、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度を直交プロットの保持時間軸に表す工程を、プロセッサによる実行に応答して、装置にさらに行わせる実行可能な命令を記憶する、前述若しくは後述の任意の実施形態の装置又はその組み合わせ。
【００３９】
実施形態２８：メモリは、複数のサンプルの直交プロットから第１のサンプル全体プロットを形成する工程を、プロセッサによる実行に応答して、装置にさらに行わせる実行可能な命令を記憶し、第１のサンプル全体プロットは、保持時間軸と、サンプル表示軸とを有し、ディスプレイに表示される複数のサンプル全体の直交プロットのグラフ表現を含む、前述若しくは後述の任意の実施形態の装置又はその組み合わせ。
【００４０】
実施形態２９：メモリは、統合方式を使用して、選択されたイオンのための強度ピーク配置の少なくとも１つの特定ピークのうちいずれかと関連する領域を判定する工程を、プロセッサによる実行に応答して、装置にさらに行わせる実行可能な命令を記憶し、判定された領域は、各々のサンプルにおいて、当該領域と対応するイオン成分の相対量と関連する、前述若しくは後述の任意の実施形態の装置又はその組み合わせ。
【００４１】
実施形態３０：メモリは、少なくとも１つの特定ピークから、選択されたイオンのための識別ピークを判定する工程を、プロセッサによる実行に応答して、装置にさらに行わせる実行可能な命令を記憶し、領域を判定することは、統合方式を使用して、選択されたイオンのための識別ピークと関連する領域を判定することを含み、識別ピークの判定された領域は、各々のサンプルにおいて、当該領域と対応する選択されたイオンの相対量と関連する、前述若しくは後述の任意の実施形態の装置又はその組み合わせ。
【００４２】
実施形態３１：メモリは、ディスプレイに表示されるサンプルのうち少なくとも１つの強度ピーク配置のプロファイルプロットと、直交プロットとの間をトグルで選択的に切り換える工程を、プロセッサによる実行に応答して、装置にさらに行わせる実行可能な命令を記憶する、前述若しくは後述の任意の実施形態の装置又はその組み合わせ。
【００４３】
実施形態３２：メモリは、ディスプレイに表示されるサンプルのうち少なくとも１つのイオンピーク配置のプロファイルプロット及び直交プロットを同時に表示する工程を、プロセッサによる実行に応答して、装置にさらに行わせる実行可能な命令を記憶する前述若しくは後述の任意の実施形態の装置又はその組み合わせ。
【００４４】
実施形態３３：メモリは、サンプルの少なくとも一部のための選択されたイオンのプロファイルプロットを、ディスプレイに表示される第２のサンプル全体プロットに重ねる工程を、プロセッサによる実行に応答して、装置にさらに行わせる実行可能な命令を記憶する、前述若しくは後述の任意の実施形態の装置又はその組み合わせ。
【００４５】
実施形態３４：メモリは、複数のサンプルの直交プロットから第１のサンプル全体プロットを形成する工程と、ここで第１のサンプル全体プロットは、保持時間軸と、サンプル表示軸とを有し、ディスプレイに表示される複数のサンプル全体の直交プロットのグラフ表現を含む；第２のサンプル全体プロットを第１のサンプル全体プロットと同時にディスプレイに表示する工程とを、プロセッサによる実行に応答して、装置にさらに行わせる実行可能な命令を記憶する、前述若しくは後述の任意の実施形態の装置又はその組み合わせ。
【００４６】
実施形態３５：成分分離及び質量分析システムから得られる複数のサンプルのためのデータを分析するためのコンピュータプログラム製品であって、データは、各サンプルに対するデータセットを含み、各データセットは、サンプルの表示と、サンプルのイオン質量と、保持時間と、強度とを含み、コンピュータプログラム製品は、コンピュータ可読プログラムコードを内部に記憶する少なくとも１つの非一時的なコンピュータ可読記憶媒体を備え、コンピュータ可読プログラムコードは、成分分離及び質量分析システムから得られ、各々のサンプルに対応するデータから各サンプルに対するプロファイルプロットを形成するためのプログラムコードと、ここで、各プロファイルプロットは、保持時間軸と、強度軸とを有し、選択されたサンプルのイオン質量のための保持時間の関数として強度のグラフ表現を含む；選択されたイオンに対応する強度ピーク配置を各サンプルに対するプロファイルプロットにおいて特定するためのプログラムコードと、ここで、強度ピーク配置は、少なくとも１つの特定ピークを含み、少なくとも１つの特定ピークがそれぞれ、ピーク範囲と、ピーク範囲内の特徴的強度とを有する；各サンプルに対するプロファイルプロットに対応して、直交プロットを形成し、直交プロットがディスプレイに表示されるよう指示するためのプログラムコードと、ここで、直交プロットは、強度軸に垂直な面に保持時間軸に沿って延在する；段階的囲表示で、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度を直交プロットの保持時間軸に表すためのプログラムコードとを含む、コンピュータプログラム製品。
【００４７】
実施形態３６：コンピュータプログラム製品は、規定される範囲との特徴的強度の関係に比例した、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれのための表現を有する段階的表示で、少なくとも１つの特定ピークの特徴的強度を直交プロットの保持時間軸に表すためのプログラムコードをさらに含む、前述若しくは後述の任意の実施形態のコンピュータプログラム製品又はその組み合わせ。
【００４８】
実施形態３７：コンピュータプログラム製品は、少なくとも１つの特定ピークは、メインピークと、少なくとも１つのサブピークとを含み、メインピークの特徴的強度のための最大表現と、少なくとも１つのサブピークのそれぞれの特徴的強度のためのより小さい表現とを有する段階的表示で、少なくとも１つの特定ピークの特徴的強度を直交プロットの保持時間軸に表すためのプログラムコードを含む、前述若しくは後述の任意の実施形態のコンピュータプログラム製品又はその組み合わせ。
【００４９】
実施形態３８：少なくとも１つの特定ピークのそれぞれのピーク範囲を範囲表示で直交プロットに表すためのプログラムコードをさらに含み、範囲表示は、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれに対し、ピーク範囲の開始を表す第１標識と、ピーク範囲の終了を表す第２標識とを有する、前述若しくは後述の任意の実施形態のコンピュータプログラム製品又はその組み合わせ。
【００５０】
実施形態３９：少なくとも１つの特定ピークは、メインピークと、少なくとも１つのサブピークとを含み、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれのピーク範囲を範囲表示で直交プロットに表すためのプログラムコードは、メインピークの範囲表示である第２標識が強度ピーク配置の次のサブピークの範囲表示である第１標識をも表す状態で、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれのピーク範囲を範囲表示で直交プロットに表すプログラムコードを含み、次のサブピークは、メインピークと関連するショルダーピーク及び２次ピークのうち一方である、前述若しくは後述の任意の実施形態のコンピュータプログラム製品又はその組み合わせ。
【００５１】
実施形態４０：少なくとも１つの特定ピークは、メインピークと、少なくとも１つのサブピークとを含み、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれのピーク範囲を範囲表示で直交プロットに表すためのプログラムコードは、サブピークのうち１つの範囲表示である第２標識が強度ピーク配置の次のサブピークの範囲表示である第１標識をも表す状態で、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれのピーク範囲を範囲表示で直交プロットに表すためのプログラムコードを含み、次のサブピークは、サブピークのうち１つと関連するショルダーピーク及び２次ピークのうち一方である、前述若しくは後述の任意の実施形態のコンピュータプログラム製品又はその組み合わせ。
【００５２】
実施形態４１：少なくとも１つの特定ピークは、メインピークと、少なくとも１つのサブピークとを含み、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度を直交プロットの保持時間軸に表すためのプログラムコードは、メインピークの特徴的強度のための形状である最大サイズと、少なくとも１つのサブピークのそれぞれの特徴的強度のための形状であるより小さいサイズとを有する段階的形状で、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度を直交プロットの保持時間軸に表すためのプログラムコードを含む、前述若しくは後述の任意の実施形態のコンピュータプログラム製品又はその組み合わせ。
【００５３】
実施形態４２：少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度を直交プロットの保持時間軸に表すためのプログラムコードは、メインピークの特徴的強度のための陰影である最大明暗度と、少なくとも１つのサブピークのそれぞれの特徴的強度のための陰影であるより低い明暗度とを有する段階的陰影で、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度を直交プロットの保持時間軸に表すためのプログラムコードを含む、前述若しくは後述の任意の実施形態のコンピュータプログラム製品又はその組み合わせ。
【００５４】
実施形態４３：少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度を直交プロットの保持時間軸に表すためのプログラムコードは、メインピークの特徴的強度のための色彩である最大彩度と、少なくとも１つのサブピークのそれぞれの特徴的強度のための色彩であるより低い彩度とを有する段階的色彩で、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度を直交プロットの保持時間軸に表すためのプログラムコードを含む、前述若しくは後述の任意の実施形態のコンピュータプログラム製品又はその組み合わせ。
【００５５】
実施形態４４：少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度を直交プロットの保持時間軸に表すためのプログラムコードは、メインピークの特徴的強度のための第１形状と、少なくとも１つのサブピークのうち１つの特徴的強度のための第２形状とを含む異なる形状で、少なくとも１つの特定ピークのそれぞれの特徴的強度を直交プロットの保持時間軸に表すためのプログラムコードを含む、前述若しくは後述の任意の実施形態のコンピュータプログラム製品又はその組み合わせ。
【００５６】
実施形態４５：複数のサンプルの直交プロットから第１のサンプル全体プロットを形成し、第１のサンプル全体プロットをディスプレイに表示するためのプログラムコードをさらに含み、第１のサンプル全体プロットは、保持時間軸と、サンプル表示軸とを有し、複数のサンプル全体の直交プロットのグラフ表現を含む、前述若しくは後述の任意の実施形態のコンピュータプログラム製品又はその組み合わせ。
【００５７】
実施形態４６：統合方式を使用して、選択されたイオンのための強度ピーク配置の少なくとも１つの特定ピークのうちいずれかと関連する領域を判定するためのプログラムコードをさらに含み、判定された領域は、各々のサンプルにおいて、当該領域と対応するイオン成分の相対量と関連する、前述若しくは後述の任意の実施形態のコンピュータプログラム製品又はその組み合わせ。
【００５８】
実施形態４７：少なくとも１つの特定ピークから、選択されたイオンのための識別ピークを判定するためのプログラムコードをさらに含み、領域を判定するためのプログラムコードは、統合方式を使用して、選択されたイオンのための識別ピークと関連する領域を判定するためのプログラムコードを含み、識別ピークの判定された領域は、各々のサンプルにおいて、当該領域と対応する選択されたイオンの相対量と関連する、前述若しくは後述の任意の実施形態のコンピュータプログラム製品又はその組み合わせ。
【００５９】
実施形態４８：ディスプレイに表示されるサンプルのうち少なくとも１つの強度ピーク配置のプロファイルプロットと、直交プロットとの間をトグルで選択的に切り換えるためのプログラムコードをさらに含む、前述若しくは後述の任意の実施形態のコンピュータプログラム製品又はその組み合わせ。
【００６０】
実施形態４９：ディスプレイに表示されるサンプルのうち少なくとも１つのイオンピーク配置のプロファイルプロット及び直交プロットを同時に表示するためのプログラムコードをさらに含む、前述若しくは後述の任意の実施形態のコンピュータプログラム製品又はその組み合わせ。
【００６１】
実施形態５０：ディスプレイに表示されるサンプルの少なくとも一部のための選択されたイオンのプロファイルプロットを第２のサンプル全体プロットに重ねるためのプログラムコードをさらに含む、前述若しくは後述の任意の実施形態のコンピュータプログラム製品又はその組み合わせ。
【００６２】
実施形態５１：複数のサンプルの直交プロットから第１のサンプル全体プロットを形成し、第１のサンプル全体プロットをディスプレイに表示するためのプログラムコードと、ここで第１のサンプル全体プロットは、保持時間軸と、サンプル表示軸とを有し、複数のサンプル全体の直交プロットのグラフ表現を含む；第２のサンプル全体プロットを第１のサンプル全体プロットと同時にディスプレイに表示するためのプログラムコードとをさらに含む、前述若しくは後述の任意の実施形態のコンピュータプログラム製品又はその組み合わせ。
【００６３】
本開示のこれら及び他の特徴、態様及び利益は、添付図面と共に以下の詳細な記述を読むことにより明らかになるであろう。そして、それらは、以下に簡潔に記載される。本開示は、そのような特徴又は要素が本明細書の具体的な実施形態の記述において明白に組み合わされているかどうかに関わらず、本開示で明らかになる任意の２、３、４、又はそれ以上の特徴又は要素の組み合わせはもちろん、上述の態様の２、３、４、又はそれ以上の任意の組み合わせを含む。本開示は、全体論として解釈されることを意図しており、そのため、本開示の任意の分離可能な特徴又は要素は、その様々な態様及び実施形態のいずれかにおいて、文脈上明確に規定されていない限り、組み合わせることが可能であるとみなされるべきである。
【００６４】
したがって、本開示の態様に係る成分分離及び質量分析システムから得られるデータを分析するための装置、方法、及びコンピュータプログラム製品は、本明細書においてさらに詳説されるように、これら及び他の利益を提供する。重要なことに、これら利益が、サンプルデータの「さらなる次元（ａｄｄｉｔｉｏｎａｌ  ｄｉｍｅｎｓｉｏｎ）」まで及ぶコンパクトなフォーマットを含み、又はその他の方法でサンプルの集団全体での若しくは集団内のサンプル間での、サンプルデータの分析を容易にし、それにより、分析結果の質及び一貫性を向上させる。これら利益は、さらなるサンプル成分及び／又はそのイオン成分を同定する性能、並びに詳述する強度ピーク又は強度ピーク配置により示されるそのようなサンプル成分及び／又はそのイオン成分のうち１つ又は複数のものの相対量を判定する向上した性能も含む。
【００６５】
したがって、一般的な用語で本開示を記載するが、ここで、添付図面を参考とされたい。しかし、添付図面は、必ずしも一定の縮尺で描かれてはいない。
【図面の簡単な説明】
【００６６】
【図１】分光測定デバイスと通信している、データベースと、プロセッサデバイスと、ユーザーインターフェース（ディスプレイ）とを有するメモリデバイスを含む、本開示の一態様に係るシステムの概略図である。
【図２】１つの例示的サンプルと関連する分光測定データの３次元プロットの概略図である。
【図３】本開示のいくつかの態様に係る、１つの例示的なサンプルのための分光測定データの対応する３次元プロットから判定され得る、当該サンプルのための２次元プロファイルプロットの概略図である。
【図４】本開示のいくつかの態様に係る、図３に図示される例示的なサンプルのための２次元プロファイルプロットに対応する２次元直交プロットの概略図である。
【図５】本開示のいくつかの態様に係る、別の例示的なサンプルのための分光測定データの対応する３次元プロットから判定され得る、当該サンプルのための２次元プロファイルプロットの概略図である。
【図６】本開示のいくつかの態様に係る、図５に図示される例示的なサンプルのための２次元プロファイルプロットに対応する２次元直交プロットの概略図である。
【図７】複数のサンプル全体の直交プロットの比較を図示する、本開示のいくつかの態様によって作製され得る、第１のサンプル全体プロットの概略図である。
【図８】本開示の１つの例示的な態様である、装置、方法、及びコンピュータプログラム製品の動作の流れの概略図である。
【図９】複数のサンプル全体の選択された強度ピークのプロファイルプロットの比較を図示する、本開示のいくつかの態様によって作製され得る、別のプロットの概略図であり、ここで、強度ピーク又は強度ピーク配置の成分の下の領域の判定は、本開示の一態様に従い判定される。
【図１０】複数のサンプル全体の直交プロットの比較を図示する、本開示のいくつかの態様によって作製され得る、第１のサンプル全体プロット、及び直交プロットのうち１つに対応するプロファイルプロットの同時表示の概略図である。
【図１１】複数のサンプル全体の直交プロットの比較を図示する、本開示のいくつかの態様によって作製され得る、第１のサンプル全体プロット、及び選択された数のサンプルのための重ねたプロファイルプロットに対応する第２のサンプル全プロットの同時表示の概略図である。
【発明を実施するための形態】
【００６７】
本開示は、ここで、全てではなくいくつかの本開示の態様が図示される添付図面を参照して、以下により完全に記載されるであろう。実際には、本開示は、多くの異なる形態で具体化されてもよく、本明細書で明らかになる態様に限定されると解釈されるべきではなく、むしろ、それらの態様は、本開示が適用可能な法的要件を満たすように、提供される。全体を通して、同じ要素には同じ符号を付す。
【００６８】
上述の本開示の様々な態様は、本開示の多くの他の態様と同様に、本明細書にさらに詳細に記載される。本開示の態様と関連する装置及び方法は、いくつかの例において、分離器部分（すなわち、クロマトグラフ）及び／又は検出器部分（すなわち、分光計）を備えてもよい適切な分析デバイスと、いくつかの場合において、併せて例示的に開示される。しかし、当業者であれば、そのような開示が本開示の様々な態様の実施を図解することのみの例示的な目的のためにあることを認識しているであろう。特に、本開示の態様と関連する装置及び方法は、事実上、生物学的、化学的、又は生化学的であるかどうかに関わらず、複数のサンプル全体の各サンプルに対するデータの複雑なセットを作製するために使用される任意の数の処理に適用することができる。例えば、本開示の態様は、液体クロマトグラフ（ＬＣ）及びガスクロマトグラフ（ＧＣ）のうち一方を備える分離器部分（又は、「成分分離器」部分）と、核磁気共鳴画像（ＮＭＲ）デバイス、質量分析計（ＭＳ）、及び電気化学アレイ（ＥＣ）、並びに／又はその組み合わせのうち１つを備える連携検出器部分（又は、「質量分析計」部分）とを含む分析デバイスを含むがこれに限定されない、様々な異なる分析デバイス及び処理で使用されてもよく、それらに適用されてもよい。この点について、当業者であれば、本明細書に開示されるような本開示の態様が、メタボロミクス分析に限定されないことを認識しているであろう。例えば、本明細書に開示されるような本開示の態様は、サンプル又は複雑な混合物の生成原因に関わらず、サンプル又は複雑な混合物内にある小分子を特徴付ける又は分析する必要性がある他の用途で実施できる。例えば、本明細書に開示されるような本開示の態様は、薬物又は添加物を生成する細胞を増殖させることを目標とするバイオプロセス最適化方式で、又は投与される生体異物の生体内変化に起因する全ての代謝産物を同定することを目標とする薬物代謝プロファイリング方式でも実施できる。当業者に認識されているように、それら例示的な用途は、内因性代謝産物を検査することのみを目標とするメタボロミクス分析とは大きく異なることがある。他の用途のいくつかの他の非限定的な実施例としては、大量のサンプル成分が、味又は香り（例えば、チーズ、ワイン又はビール）、若しくは香気／悪臭（例えば、芳香）などの特定の属性を生じさせることができる方式で、所望の製品特徴が満たされることを主観的に保証することを目標として意図する、消費生活用製品製造のための品質保証方式を含むことができるだろう。したがって、本明細書に開示されるような本開示の態様によって明示される１つの共通のテーマは、サンプルにおける小分子を本明細書に開示される様々な装置及び方法の態様を使用して分析することができることである。
【００６９】
図１は、システムがコンビネーションクロマトグラフ（成分分離器）／質量分析計などの分析デバイス１１０と通信している、本開示の一態様に係るシステムの実施例を図解する。しかし、当業者であれば、本明細書にある分析デバイス１１０の構成が例示のみを目的とし、本明細書に開示される原理の下で適用してもよい、適した及び適切な分析デバイスの範囲に関する限定を意図していないことを認識しているであろう。図示されるように、サンプル（事実上、生物学的、化学的、又は生化学的であるかどうかに関わらない）１００は、分析デバイス１１０の分離器部分に取り込まれ、検出器部分にかけられると、適切な技術を使用して分析される。これは、当業者に認識されているであろう。例えば、特定のサンプル１００の成分は、異なる割合で分離器部分と関連するカラムを通過し、検出器部分により検出されると、それらの特異的な特徴に基づき、異なるスペクトル応答を明示することがある。当業者に認識されるように、分析デバイス１１０が、各サンプル１００に対応し、それらと関連する３次元又はそれ以上の次元（すなわち、定量可能なサンプル特性）を有する分光測定データのセットを作製してもよく、ここで、データセットに含まれるデータは、概ね、サンプル１００の組成を示す。いくつかの態様において、データセットは、例えば、保持時間、サンプル若しくは成分（イオン）質量、強度、又はサンプルの表示若しくは識別にさえ関する各サンプルに対するデータを含んでもよい。しかし、そのようなデータは、まず、サンプル組成を判定するために適切に分析されなければならない。
【００７０】
いくつかの例において、複数のサンプルのそれぞれに対する３次元データセットは、定量可能なサンプル特性に対応する各次元を有して、さらなる分析のために選択され、又はその他の方法で指定されてもよい。分光測定データのそのような３次元セットの実施例は、図２に概ね図示され、応答強度要素２２０、サンプル成分の質量要素２１０、及び時間要素２３０（特に、本実施例において、特定の成分が分析デバイス１１０の分離器部分のカラムで過ごす時間である保持時間又は時間）のための個々の軸を含むプロット又はグラフを用いて、３軸プロット又はグラフにプロットされてもよい。サンプル成分の質量軸２１０に関するデータ点の位置は、サンプル１００内の個々の成分分子の数及びそのようなサンプル成分の相対質量値を示してもよい。本開示の他の態様によれば、サンプル１００に対応する分析データの３次元又はそれ以上の次元のセットを作製するため、他の分析デバイスが使用されてもよい。例えば、分析デバイスは、液体クロマトグラフ（ＬＣ）（ポジティブチャンネル又はネガティブチャンネル）及びガスクロマトグラフ（ＧＣ）のうち一方を備える分離器部分と、核磁気共鳴画像（ＮＭＲ）デバイス、質量分析計（ＭＳ）、及び電気化学アレイ（ＥＣ）のうち１つを備える連携検出器部分との様々な組み合わせを含んでもよいが、これらに限定されない。当業者であれば、そのような複雑な３次元又はそれ以上の次元のデータセットが、本明細書においてさらに詳細に記載されるように、本開示の態様の構成要素と通信し得る他の適切な分析デバイスによって製作されてもよいことを認識しているであろう。
【００７１】
複数のサンプル１００は、ウエルプレート１２０から及び／又は他の種のサンプル容器から個々に取得されてもよく、対応する３次元又はそれ以上の次元のデータセットの分析及び作製のために、個々に分析デバイス１１０に取り込まれてもよい（例えば、図２参照）。例えば、個々のサンプル１００は、ピペット、シリンジ、テストアレイに規定されるマイクロ流体の経路、及び／又は研究環境においてサンプルを移すための他のシステムを介してウエルプレート１２０から分析デバイス１１０へ移されてもよい。本明細書に開示されるように、サンプルの性質は、概ね、小分子を含む混合物又は複合物を含むため、大きく変わることがあり、ここで、そのようなサンプルは、血液サンプル、尿サンプル、細胞培養物、唾液サンプル、植物組織又は植物器官（例えば、葉、根、茎、花など）、植物抽出物、培地、細胞膜、細胞内コンパートメント／細胞器官、脳脊髄液（ＣＳＦ）、乳、ソーダ製品、食品製品（例えば、ヨーグルト、チョコレート、ジュース）、及び／又は対象となる代謝産物及び／又は化学的／分子的成分が存在し得る他の種の生物学的、化学的及び／又は生化学的なサンプルを例示的に含んでもよいが、これらに限定されない。
【００７２】
図１に図示されるように、本開示の態様は、例えば、メモリ又はメモリデバイス１４０（すなわち、コンピュータ可読プログラムコード部分を内部に記憶するコンピュータ可読記憶媒体）にある実行可能な命令のような少なくとも一部に記憶されるデータベース（例えば、リレーショナル・データベース）を備えてもよく、ここで、メモリデバイス１４０は、メモリデバイス１４０にある命令／コンピュータ可読プログラムコード部分を選択的に実行するために、プロセッサ又はプロセッサデバイス１３０（例えば、プロセッサを実装するコンピュータデバイス）と通信し、装置に特定の方法工程及び／又は機能を行わせる。いくつかの例において、メモリデバイス１４０及び／又はプロセッサデバイス１３０は、分析デバイス１１０から、複数のサンプル１００のそれぞれに対応するデータセット（いくつかの例において、データセットは、３次元又はそれ以上の次元を含み、ここで、サンプルの表示、サンプル又は成分（イオン）質量、保持時間、及び強度／応答などのデータパラメーターは、データセットの次元の１つを表してもよい）を自動で受信するため、分析デバイス１１０と通信するよう構成されてもよい。プロセッサデバイス１３０は、有線（ＲＳ−２３２、及び／又は他の種の有線接続）及び／又は無線技術（たとえば、ＲＦ、ＩＲ、又は他の無線通信など）を介して、分析デバイス１１０と通信してもよく、その結果、メモリデバイス１４０／プロセッサデバイス１３０と関連する（及び／又はそれらと通信する）データベースは、データベースにより記憶されるように、分析デバイス１１０からデータセットを受信してもよい。さらに、分析デバイス１１０、インターネット、ローカルエリアネットワーク（ＬＡＮ）、広域ネットワーク（ＷＡＮ）、又は当業者に認識されている他のネットワーク種及び／又は技術を含むが、これらに限定されない、有線及び／又は無線コンピュータネットワークを介して、１つ又は複数のプロセッサデバイス１３０（及び、関連するユーザーインターフェース又はディスプレイ１５０）と通信してもよい。当業者に理解及び認識されているように、ユーザーインターフェース／ディスプレイ１５０は、本明細書に開示されるサンプルデータの操作及び分析を含む、システムに関与するいずれかの又は全ての通信を表示するために使用されてもよい。データベースは、例えば、Ｏｒａｃｌｅ、Ｓｙｂａｓｅ、ＤＢ２、又は他のデータベースソフトウェアなどの市販のソフトウェアを使用して構築されてもよい。図１に図示されるように、プロセッサデバイス１３０は、分析デバイス１１０から自動で受信される３次元データセットを含む、データベースを記憶／管理するために、メモリデバイス１４０（ハードドライブ、メモリチップ、フラッシュメモリ、ＲＡＭモジュール、ＲＯＭモジュール、及び／又は他のメモリデバイス１４０など）と通信してもよい。加えて、メモリデバイス１４０は、データベースにある他の受信データ及び／又はプロセッサデバイス１３０によりその他の方法で操作されるデータを記憶するためにも使用されてもよい。
【００７３】
プロセッサデバイス１３０は、いくつかの態様において、メモリデバイス１４０により受信される、サンプルそれぞれに対するデータセット（例えば、図２参照、ここで、例示的なデータセットは、３次元データセットである）のそれぞれを、少なくとも１つの対応する２次元データセット（例えば、図３参照）に変換可能であってもよく、ここで、少なくとも１つの対応する２次元データセットは、例えば、３次元データセットの３軸のうち１つに沿った、特定の点２３５（図２）にある特定のサンプル１００の２次元成分の「プロファイル」を含んでもよい。３軸のうち１つに沿った特定の点２３５は、例えば、サンプル成分の質量軸２１０に沿った特定のサンプル成分の質量であってもよい。得られたプロファイル（本明細書では、図３及び図５に図示される「プロファイルプロット」とも称する）は、ゼロ点から計測される時間の関数として検出されるその特定のサンプル成分の質量（及び、その検出強度）を図解し、ゼロ点は、サンプル１００が分析デバイス１１０に注入及び／又はその他の方法で取り込まれるときに対応する。例えば、プロセッサデバイス１３０は、その所定の又は選択されたサンプル成分の質量点２３５のためのサンプルの強度／応答プロファイルに対するサンプル成分の（保持）時間を作り出すよう構成されてもよい（例えば、図３及び図５参照）。図２における「ｘ」軸は、いくつかの例において、保持指数及び／又は保持時間として、さらに特徴付けてもよい。したがって、プロセッサデバイス１３０は、３次元（又は、それ以上の次元）のデータセット（例えば、図２のもの）のそれぞれを、サンプル成分の保持時間２３０に対する対応するサンプル成分の質量の応答強度２２０として、後にプロットされ、必要に応じて、ユーザーインターフェース／ディスプレイ１５０に表示されてもよい選択されたサンプル成分の少なくとも１つの対応する２次元データセット（例えば、図３及び図５並びに図８の工程６００に図示されるプロファイル又はプロファイルプロットを有する）に各３次元（又は、それ以上）の次元のデータセット（例えば、図２のもの）を変換するように、複数のサンプルのそれぞれに対する、３次元（又は、それ以上の次元）のデータセットのそれぞれを、少なくとも１つの特定の（選択された）サンプル成分の質量点（例えば、要素２３５）に対応する１つ又は複数の個々の２次元（すなわち、強度／応答プロファイルに対するサンプル成分の保持時間）プロファイルにさらに解析可能であってもよい。
【００７４】
いくつかの態様によれば、プロセッサデバイス１３０は、例えば、その選択されたサンプル成分を表す２次元データセットから、複数のサンプルのそれぞれにおける選択されたサンプル成分（すなわち、代謝産物、分子、若しくはイオン、又はその一部）の同定、定量、表現、及び／又は他の分析を達成するように、メモリデバイス１４０により記憶される実行可能な命令／コンピュータ可読プログラムコード部分を選択的に実行するよう構成されてもよい。そうすることで、分析されるサンプル成分は、まず、メタボロミクスデータ（すなわち、「少なくとも１つの特定ピーク」）の複数の２次元データセット（すなわち、複数のサンプル全体の）のそれぞれにおいて、概ね、十分な質を伴い存在する強度ピーク（例えば、図５における要素２２５参照）、又は強度ピーク配置（例えば、図３における要素２２５参照）を選択することにより判定される。先に開示したように、そのような２次元データセットは、概ね、２つの所望の次元／軸を選択又はその他の方法で指定し、３次元又はそれ以上の次元のデータセットの次元／軸のうち別の１つに対して、特定の値（すなわち、保持時間又はサンプル成分の質量）を選択することにより、複数のサンプルのそれぞれに対する、メタボロミクスデータの各々の３次元又はそれ以上の次元のデータセットから判定される。しかし、当業者であれば、分析されるサンプル成分が、いくつかの例において、必要である又は望まれる場合に、３次元又はそれ以上の次元のデータセットから選択されてもよく、分析されるサンプル成分のそのような選択は、それに対応する２次元データセットの分析の際に、さらに精密化されてもよいことを認識しているであろう。いくつかの例において、分析されるサンプル成分の選択は、例えば、３次元又はそれ以上の次元のデータセットのグラフ表現を分析すること（すなわち、例えば、ディスプレイデバイス、パーソナルコンピュータ、及び／又はデータのグラフ表現のためのディスプレイを有する他の電子デバイスを備え得るユーザーインターフェース又はディスプレイ１５０を介して）により容易になってもよく、選択は、例えば、選択された強度ピーク又は強度ピーク配置２２５（すなわち、「少なくとも１つの特定ピーク」）を判定するために、各々の２次元及び／若しくは３次元又はそれ以上の次元のデータセットにおいてそのサンプル成分の見かけの応答強度を評価することに関与してもよい。
【００７５】
いくつかの例において、プロセッサデバイス１３０は、強度ピーク又は強度ピークの組み合わせ若しくは配置（本明細書においては、「強度ピーク配置」とも称する）２２５を介して、サンプル成分が以前に同定されているか否かに関わらず（すなわち、特定の分子、イオン、若しくは代謝産物、又はその一部として）、さらに分析される適切なサンプル成分を判定するように、複数のサンプルのうち２つ又はそれ以上の全体で、収集したデータセットを分析するために、メモリデバイス１４０に記憶されるコンピュータ可読プログラムコード部分を実行するよう構成されてもよい。その他の方法として、強度ピーク又はその組み合わせは、本明細書においては、それらに関連して「少なくとも１つの特定ピーク」、「選択された強度ピーク」、「選択された強度ピーク配置」、「イオンピーク」、又は「選択されたイオンピーク配置」とも称することがある。つまり、分析用の適切なサンプル成分を選択するため、プロセッサデバイス１３０は、例えば、サンプル成分の質量により及び／又は選択された保持時間により、複数のサンプル全体の強度／イオンピークデータを選別及び／又はグループ化するよう構成されてもよい。この様式において、プロセッサデバイス１３０は、例えば、選択された強度ピーク又は強度ピーク配置２２５（すなわち、「少なくとも１つの特定ピーク」）を判定する際に、差異を低減し、統計的により有意な分析を提供するため、バックグランドノイズ又は他の望ましくないデータアーチファクトから十分に識別可能な（すなわち、適切な質の）強度ピーク又は強度ピーク配置データを検査するようにも構成されてもよい。本明細書において述べられるように、「強度ピーク配置」又は強度ピークの組み合わせ２２５は、例えば、保持時間軸に沿って、「メインピーク」２２５Ａと、少なくとも１つの「サブピーク」２２５Ｂ、２２５Ｃ、２２５Ｄとを含んでもよい（例えば、図３参照）。そのような「強度ピーク配置」又は強度ピークの組み合わせ２２５は、例えば、分析デバイスを介するサンプルの高スループット処理における共溶出の事実に起因し得る。そのような高スループット処理では、様々な代謝産物を表す強度ピークは、得られたデータにおいて、互いに、「十分に分離された」（すなわち、十分に分解された）ように見える様式では、分析デバイスにより検出し得ず、したがって、例えば、図３に図示されるように、強度ピークのグループとして現れることがある。いくつかの場合において、少なくとも１つのサブピーク２２５Ｂ、２２５Ｃ、２２５Ｄは、常に必ずしも現れるわけではないが、メインピーク２２５Ａよりもより小さい強度／応答を有し得る。他の場合において、少なくとも１つのサブピークのうち１つ又は複数は、保持時間軸２３０において、メインピーク２２５Ａの前に現れることがある。代謝産物が、サンプルの他の部分とははっきりと区別できる（すなわち、「十分に分離された」又は「十分に分解された」）例又は、分析デバイスが、好ましい条件下でサンプルを受けた例では、様々な代謝産物を表す強度ピークは、得られたデータにおいて、互いに「ｗ十分に分離された／十分に分解された」ように見える様式で、分析デバイスにより検出されることがあり、そのため、例えば、図５に図示されるように、分離した、はっきりと区別できる、及び／又は離れた強度ピークとして現れることがある。
【００７６】
一態様において、選択された強度ピーク又は強度ピーク配置を判定するために、プロセッサデバイス１３０は、まず、２次元データセットのそれぞれにおける複数の候補となる強度ピーク又は強度ピーク配置を特定し、複数の２次元データセット全体の候補となる強度ピーク又は強度ピーク配置を比較するよう構成されてもよく、ここで、最低標準偏差を有する候補となる強度ピーク又は強度ピーク配置（すなわち、複数のサンプル全体の最良のデータ品質のメインピーク２２５Ａ）は、選択された強度／イオンピーク／又は強度／イオン配置２２５として選択されてもよい（例えば、図８の工程６１０参照）。しかし、当業者であれば、選択された強度ピーク又は強度ピーク配置が、他の様式で判定されてもよいことを認識しているであろう。例えば、複数の２次元データセット全体で（すなわち、複数のサンプル全体で）、候補となる強度ピーク配置を比較する際に、そのような化合物、代謝産物、イオン、又はその成分若しくは一部の関連するデータベースにおいて、複数の２次元データセット全体に、認識される化合物、代謝産物、イオン、若しくはその成分又は一部に対応して現れる候補となる強度ピーク又は強度ピーク配置のうち１つは、選択された強度／イオンピーク又は強度ピーク配置として選択されてもよい。より具体的には、例えば、複数の２次元のデータセット全体の候補となる強度ピーク又は強度ピーク配置は、認識される、又はその他の方法で既知の化合物のライブラリ又はデータベースに含まれる質量分析スペクトルと比較されてもよく（すなわち、ライブラリ又はデータベース適合処理を使用して）、その後、必要に応じて、適合処理の主観的な精選又は決定が続く。そのような例において、認識される又は既知の化合物と適合する、対応する、又は最も相関がある（すなわち、定量可能な質量の比較により）候補となる強度ピーク又は強度ピーク配置のうち１つは、例えば、図３及び図５に図示されるように、選択された強度／イオンピーク又は強度ピーク配置２２５として選択されてもよく、複数のサンプル全体の一貫性がある分析を容易にすることがある又はその他の方法で促進することがある。
【００７７】
特定の態様において、プロセッサデバイス１３０は、さらに、選択され分析された強度ピーク又は強度ピーク配置２２５と関連する特定の化合物又はサンプル成分（すなわち、代謝産物）を同定するように、命令／コンピュータ可読プログラムコード部分を実行するよう構成されてもよい。特定の化合物／サンプル成分は、「既知で名称のある」及び／又は「既知だが名称のない」化学物質／化合物であってもよい。つまり、例えば、同定された特定の化合物／サンプル成分は、化学命名法による名称を有する代謝産物、又は以前に同定されたがまだ化学名称及び／又は分類を割り当てられていない「既知だが名称のない」代謝産物に対応してもよい。当業者であれば、そのような化合物の同定方式が、分析を受け、いくつかの例において、複数のサンプル全体で、選択された強度ピーク／強度ピーク配置２２５及び／又は対応する２次元又は３次元データセットに関して、多くの異なる様式で達成されてもよいことを認識しているであろう。例えば、いくつかの化合物の同定方式は、米国特許第７，４３３，７８７号（「複数のサンプルから得られたメタボロームデータを編集及び比較するコンピュータシステムにおけるデータベースを使用したシステム、方法、及びコンピュータプログラム製品（Ｓｙｓｔｅｍ，  Ｍｅｔｈｏｄ，  ａｎｄ  Ｃｏｍｐｕｔｅｒ  Ｐｒｏｇｒａｍ  Ｐｒｏｄｕｃｔ  Ｕｓｉｎｇ  ａ  Ｄａｔａｂａｓｅ  ｉｎ  ａ  Ｃｏｍｐｕｔｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍ  ｔｏ  Ｃｏｍｐｉｌｅ  ａｎｄ  Ｃｏｍｐａｒｅ  Ｍｅｔａｂｏｌｏｍｉｃ  Ｄａｔａ  Ｏｂｔａｉｎｅｄ  Ｆｒｏｍ  ａ  Ｐｌｕｒａｌｉｔｙ  ｏｆ  Ｓａｍｐｌｅｓ）」）、米国特許第７，５６１，９７５号（サンプルの個々の成分を同定及び定量する分光測定データを分析するためのシステム、方法、及びコンピュータプログラム製品（Ｓｙｓｔｅｍ，  Ｍｅｔｈｏｄ，  ａｎｄ  Ｃｏｍｐｕｔｅｒ  Ｐｒｏｇｒａｍ  Ｐｒｏｄｕｃｔ  ｆｏｒ  Ａｎａｌｙｚｉｎｇ  Ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙ  Ｄａｔａ  ｔｏ  Ｉｄｅｎｔｉｆｙ  ａｎｄ  Ｑｕａｎｔｉｆｙ  Ｉｎｄｉｖｉｄｕａｌ  Ｃｏｍｐｏｎｅｎｔｓ  ｉｎ  ａ  Ｓａｍｐｌｅ）」）、及び米国特許第７，９４９，４７５号（メタボロームデータを分析するためのシステム及び方法（Ｓｙｓｔｅｍ  ａｎｄ  Ｍｅｔｈｏｄ  ｆｏｒ  Ａｎａｌｙｚｉｎｇ  Ｍｅｔａｂｏｌｏｍｉｃ  Ｄａｔａ）」）に開示され、これら全ては、本願の譲受人でもあるＭｅｔａｂｏｌｏｎ社に譲渡されている。そのような化合物の同定方式が本明細書の開示に関連するという範囲で、米国特許第７，４３３，７８７号、米国特許第７，５６１，９７５号、及び米国特許第７，９４９，４７５号に開示されるそのような化合物の同定方式は、参照により本明細書に組み込まれ、そうでない場合にも、便宜上、本明細書に詳細に論じることはない。
【００７８】
プロセッサデバイス１３０は、さらに、データのさらなる分析の前に、複数のサンプル全体で、各２次元データセットに現れる、選択された強度ピーク又は強度ピーク配置２２５を調整させるよう構成されてもよい。より具体的には、複数のサンプル全体の分光測定データを分析するとき、様々な化合物（代謝産物を含む）は、分離処理の間、若干異なる比率で、あるサンプルから別のサンプルへ移動することがあり、その結果、ピーク又はピーク配置（例えば、溶出又は共溶出した化合物に対応する）が、複数のサンプル全体で互いに対応していると考えられるべきであることが完全に明確になり得ない。そのため、プロセッサデバイス１３０は、複数のサンプル全体で、各２次元データセットにおける選択された強度ピーク又は強度ピーク配置のための強度ピーク／強度ピーク配置の調整修正方法を実施する命令／コンピュータ可読プログラムコード部分を実行するよう構成されてもよい。例えば、１つのそのような方法は、分光測定分析における既知の保持時間（ＲＴ）により特徴付けられる既知の化合物を各サンプルにスパイクされることに関与する。「スパイクされた」化合物のセットは、一定の保持指数（ＲＩ）値を変動するＲＴに適合させる。したがって、「スパイクされた」化合物は、複数のサンプル由来のデータを研究室から研究室へ及び／又は研究室から化学ライブラリへ調整させるために使用されることがある内部標準（ＩＳ）を提供する。しかし、当業者であれば、多くの異なる方法が、本開示の精神及び範囲内において、複数のサンプル全体で、選択された強度ピーク又はピーク配置のための強度ピーク／ピーク配置の調整を行うために使用されてもよいことと、この点において、本明細書にある実施例は、いずれかの様式に限定されることを意図していないことを認識しているであろう。
【００７９】
一度、分析されるサンプル成分が選択され、サンプル全体の対応する選択された強度ピーク／ピーク配置を介して調整されると、プロセッサデバイス１３０は、複数のサンプル全体の２次元データセットのそれぞれに対して、複数の統合方式のうち１つを使用して、選択された強度ピーク若しくは選択されたピーク配置又はその成分と関連する領域（例えば、図９に図示される４つの異なるサンプルのための４つのプロファイルプロットのそれぞれの陰影を付けた部分により表される領域参照）を判定するための方式を実施する命令／コンピュータ可読プログラムコード部分を実行するよう構成されてもよい。そのような例においては、各２次元データセットが、他の次元における時間の関数として、別のサンプル特性（すなわち、サンプル成分の質量）の選択された値における検出された強度に対して１次元で、サンプル特性（すなわち、サンプル成分（保持）時間）を示すよう構成されるため、選択された強度ピーク又は選択されたピーク配置（又は、その成分）２２５の領域は、例えば、割合相対標準偏差（％ＲＳＤ）の点から、例えば、サンプル内の対応するサンプル成分（すなわち、分子、イオン、若しくは代謝産物、又はその一部）の相対量を表してもよい。そのような例において、強度は、例えば、時間ゼロ点から始まる（保持）時間の関数として検出される、サンプル成分の質量の選択された値を有する、分子、イオン、若しくは代謝産物又はその一部若しくは成分の量を表してもよい。
【００８０】
各２次元データセットにおける選択された強度ピーク若しくは選択されたピーク配置又はその成分２２５と関連する領域の判定において、プロファイルプロットの各々の軸に沿った強度ピーク（又は、強度ピーク配置の成分）の境界は、最初に判定されなければならない。そうすることで、プロセッサデバイス１３０は、２次元データセットの時間の次元（すなわち、サンプル成分の時間軸２３０）に沿って、強度ピークの強度ピーク起点５００及び強度ピーク終点５５０（離れている／孤立している、又は強度ピーク配置の成分としてあるかどうか）を判定するための命令／コンピュータ可読プログラムコード部分を実行するよう構成されてもよい（例えば、図９参照）。この点については、強度ピーク起点５００及び強度ピーク終点５５０はそれぞれ、必ずしも、明確に規定されなくともよい。つまり、他のサンプル成分、バックグランドノイズ、又は他の望まれないデータアーチファクトが、「ショルダー」又は見かけの強度ピーク起点５００又は強度ピーク終点５５０のいずれかに関する他の変遷部の形態で、データセットにおける選択された強度ピーク２２５に影響を及ぼす又はそれに干渉することがある。そのため、強度ピーク起点５５０及び／又は強度ピーク終点５５０の判定は、例えば、傾斜における特定の変化又は他の閾値変化の判定など、いくつかの近似又は主観的分析をも伴ってもよく、ここで、いくつかの差異は、データの品質に著しく影響を与えることなく（すなわち、統計的な面から）、ある許容値内で、許可されてもよい。強度ピーク起点５００及び／又は強度ピーク終点５５０の判定に伴い、例えば、強度ピーク起点５００及び／又は強度ピーク終点５５０に関する選択された（実際の）強度ピーク２２５の関係などの相対的なデータも、判定されてもよい。選択された（実際の）強度ピーク２２５と強度ピーク起点５００及び／又は強度ピーク終点５５０とのそのような関係は、例えば、それ自体、時間の関数として強度の大きさのカーブの下の領域の大きさ、例えば、時間の関数として、強度の大きさのカーブの下の領域の形状を示してもよい（すなわち、時間の次元２２０に沿って延在する）。
【００８１】
本開示の一態様によれば、一度、強度ピーク起点５００及び強度ピーク終点５５０が各２次元データセットにおいて、選択された強度ピーク（又は、選択された強度ピーク配置若しくはその成分）２２５のために判定されると、強度の次元２２０にある基線強度５７５に対する強度ピーク起点５００及び強度ピーク終点５５０のそれぞれの関係も、選択された強度ピーク、選択された強度ピーク配置、又はその成分の領域を判定するために、判定されなければならない。カーブ下の領域を判定するために使用される統合方式同様、基線強度の判定（ノイズ）に関する詳細及び開示は、例えば、本開示の譲受人でもあるＭｅｔａｂｏｌｏｎ社に譲渡された、Ｄａｉらによる、米国特許出願公報第２０１２／０２３９３０６号に開示され、その内容は、それら全体で、参照により本明細書に組み込まれる。そのため、本明細書の分析の一態様は、概ね、少なくとも１つの特定ピーク（すなわち、メインピーク及び少なくとも１つのサブピーク）から選択されたイオンのための識別ピーク又は特徴的強度を判定することと、統合方式（領域の数学的計算）を使用して、選択されたイオンのための識別ピーク／特徴的強度と関連する領域を判定することとを伴い、ここで、識別ピーク／特徴的強度の判定された領域は、各々のサンプルにおいてそれらに対応する選択されたイオンの相対量と関連する。
【００８２】
本開示の別の態様は、その他の方法で、本明細書に開示されるように、成分分離及び質量分析システムから得られる複数のサンプルのデータを分析する方法を含み（例えば、図９参照）、ここで、データは、各サンプルに対するデータセットを含み、各データセットは、例えば、サンプルの表示と、サンプルのイオン質量と、保持時間と、強度とを含む。そのような態様において、プロファイルプロット（例えば、図３及び図５参照）は、先に開示されるように、成分分離及び質量分析システムから得られ、各々のサンプルに対応するデータから各サンプルに対して形成されてもよい。各サンプルに対するそのような各プロファイルプロットはそれぞれ、保持時間軸２３０と、強度軸２２０とを含んでもよく、選択されたサンプルのイオン質量又はサンプル成分の質量のための保持時間の関数として、強度のグラフ表現を提供してもよい（図８の工程６００）。方法は、各サンプルに対するプロファイルプロットにおいて、選択されたイオン又は選択されたイオンの成分に対応する、強度ピーク又は強度ピーク配置（すなわち、「少なくとも１つの特定ピーク」）を特定することをも含んでもよい（図８の工程６１０）。いくつかの態様において、例えば図３に図示されるように、少なくとも１つの特定ピーク又は特定ピーク配置は、メインピーク２２５Ａと、少なくとも１つのサブピーク（例えば、２２５Ｂ、２２５Ｃ、２２５Ｄなど参照）とを含んでもよい。いくつかの例において、少なくとも１つのサブピークは、メインピーク２２５Ａに続いて発生してもよい。しかし、他の例において、少なくとも１つのサブピークのうち１つ又は複数は、メインピーク２２５Ａの発生前に、発生してもよいか、又はその他の方法で現れてもよい。他の態様において、例えば、図５に図示されるように、少なくとも１つの特定ピークは、分離した、はっきりと区別できる、及び／又は離れた強度ピークとして明らかとなり得る、１つの「十分に分離した」又は「十分に分解された」強度ピーク２２５を含んでもよい。十分に分離した／十分に分解された強度ピーク２２５（図５）、又はメインピーク２２５Ａ及び少なくとも１つのサブピーク（２２５Ｂ、２２５Ｃ、２２５Ｄなど）のそれぞれ（図３）は、ピーク範囲と、そのピーク範囲内の特徴的強度とを有するようにそれぞれ特徴付けられてもよい。十分に分離した／十分に分解された強度ピーク２２５、又はメインピーク２２５Ａ及び少なくとも１つのサブピーク（２２５Ｂ、２２５Ｃ、２２５Ｄなど）のそれぞれは、特徴的な保持時間で（又は、保持時間の範囲内で）観察される特定の強度に従い、いくつかの例においては、特徴的な保持時間で予想される強度（又は、強度範囲）に従い、指定されてもよい。
【００８３】
一度、各サンプルに対する（２次元）プロファイルプロットが判定されると、本開示の特定の態様は、各サンプルに対する、プロファイルプロットに対応する直行プロット６５０（例えば、図４及び図６参照）を形成することにも関与する（図４及び図６並びに図８の工程６２０）。そのような直行プロット６５０は、概ね、強度軸２２０に垂直な面で、保持時間軸２３０に沿って延在する。つまり、直行プロット６５０は、ｙ軸（強度軸２２０）に平行な透視図からｘ軸（保持時間軸２３０）に沿ったプロファイルプロットの図として特徴付けられてもよく、ここで、図中の面は、ｘ軸に沿って、ｙ軸に垂直に延在する。例えば、図４及び図６参照。例えば、そのような直交図は、ｙ＝０から、ｙ軸の増加する方向において、ｘ軸に沿った方向からの図、又はｙ＞０からｙ軸の減少する方向におけるｘ軸の図として特徴付けられてもよい。基本的な形態において、直交図は、また、点により表されているｙ軸と、ｘ軸と同一の広がりをもつ線として出現する特定の成分の質量のためのサンプルデータの図と共に、「２次元」の図として出現してもよい。しかし、本開示のさらなる態様は、十分に分離された強度ピーク２２５、又はメインピーク２２５Ａ及び少なくとも１つのサブピーク（２２５Ｂ、２２５Ｃ、２２５Ｄなど）のぞれぞれの特徴的強度を、識別可能な表示で直交プロットの保持時間軸２２０に表すことを含んでもよい（例えば、図４における要素６５０Ａ、６５０Ｂ、６５０Ｃ、及び６５０Ｄ、及び図６における要素６５０Ａ、並びに図８における工程６３０）。いくつかの例において、そのような識別可能な表示は、例えば、メインピーク６５０Ａの特徴的強度のための最大表現と、少なくとも１つのサブピーク（６５０Ａ、６５０Ｃ、６５０Ｄなど）の特徴的強度のためのより小さい表現とを有する、例えば、段階的表示を含んでもよい。そのような段階的表示は、例えば、図６に図示されるような、十分に分離された／十分に分解された強度ピーク２２５の例にも適用可能であってもよく、ここで、識別可能な表示は、そのような段階的表示の凡例又は他の一覧表に関して、十分に分解された／十分に分離された強度ピーク２２５の特徴的強度を表してもよい。そのような段階的表示は、例えば、特徴的強度のそれぞれの強度の大きさに基づき、特徴的強度のための大きさで段階を付けられる、例えば、特定の形状又は物を含んでもよい。つまり、直交プロットの保持時間軸にあるメインピーク及び少なくとも１つのサブピークのそれぞれの特徴的強度は、メインピークの特徴的強度のための形状である最大サイズと、少なくとも１つのサブピークのそれぞれの特徴的強度のための形状であるより小さいサイズとを有する段階的形状で表されてもよい。十分に分離された／十分に分解された強度ピークでは、表示は、例えば、所定の範囲において、その特徴的強度の大きさに応じて、段階を付けられてもよい（すなわち、直交プロットの十分に分離された／十分に分解されたピークのための表示の段階が大きくなると、特徴的強度は範囲の最大に近づく）。
【００８４】
１つのそのような態様において、形状は、円又は長円であってもよく（例えば、図４及び図６参照）、ここで、図４に図示されるように、メインピーク６５０Ａの特徴的強度は、メインピーク６５０Ａの特徴的強度（すなわち、最高の強度の大きさ）に対応する保持時間軸に沿った保持時間に置かれる、最大サイズの円（すなわち、その形状の最大表現）で表されてもよい。少なくとも１つのサブピーク（６５０Ｂ、６５０Ｃ、６５０Ｄなど）は、さらに、少なくとも１つのサブピークの各々の特徴的強度（すなわち、より小さい強度の大きさ）に対応する、保持時間軸に沿った保持時間に置かれている各々のより小さいサイズの円と共に、各サブピークに対して段階的により小さいサイズの円（すなわち、その形状のより小さい表現）で表されてもよい。しかし、当業者であれば、選択された強度ピーク配置２２５のメインピーク及び少なくとも１つのサブピークが、必ずしも、強度の大きさに段階的に対応し得ないことを認識しているであろう。つまり、イオン又は強度ピーク配置を特定するメインピークが、必ずしも、強度ピーク配置における最高強度を有していないことがあるいくつかの例があり得る。それ故、そのような例において、メインピーク及び少なくとも１つのサブピーク間の連続又は段階は、例えば、特定するイオン／強度ピーク配置２２５における各々の特徴的強度のピークの相対的重要性に基づいてもよい。いくつかの例において、図６に図示されるように、十分に分離された強度ピーク２２５は、予め規定された又は予め選択された範囲又は基準に応じるその強度ピークの特定の特徴に応じて段階を付けられる、円又は長円などの表示であってもよい（すなわち、十分に分離された強度ピーク２２５を表す図解された円６５０Ａは、その特徴的強度がその強度ピークに予想される最高強度にある又はおおよそ最高強度であることを意味する、表示の規定された段階に適用可能な最大の円であってもよい）。
【００８５】
他の態様又は本開示において、開示される表示は、形状表示の代わりに、又は形状表示に加えて、他の表示を含んでもよい。例えば、図７に図示されるように、異なる形状を含む表示は、メインピーク及び少なくとも１つのサブピーク（すなわち、メインピークのための円、続いて次のサブピークのための三角、そして、また次のサブピークのための四角）、又は規定された段階に関して、十分に分離された強度ピークの特徴を示すために使用されてもよい。つまり、直交プロットの保持時間軸にあるメインピーク及び少なくとも１つのサブピークのうち１つのそれぞれの特徴的強度は、メインピークの特徴的強度のための第１形状と、少なくとも１つのサブピークのうち１つの特徴的強度のための第２形状とを含む、異なる形状で表されてもよく、又は十分に分離された強度ピークは、ピークの特徴的強度の大きさに関して、特定の形状で表されてもよい。別の実施例において、表示は、形状の輪郭を含んでもよく、ここで、輪郭は、メインピーク及び少なくとも１つのサブピークのために、又は規定される段階に関して十分に分離された強度ピークの特徴に応じて、段階的な色彩、陰影、色調、又は他のプログレッションで塗りつぶされる。より具体的には、例えば、メインピークを表す最大円の輪郭は、選択された色彩のうち最も濃いもの（すなわち、最高強度の大きさ）で塗りつぶされ、連続するサブピークへは、より明るくなる色彩（すなわち、より小さい強度の大きさ）で塗りつぶされる。色彩の代わりに、例えば、メインピークを表す黒色（すなわち、最高強度の大きさ）と、連続するサブピークを表すために使用されるグレーの陰影（すなわち、より小さい強度の大きさ）を用いるグレースケールが使用されてもよい。その他の方法としては、十分に分離された強度ピークは、ピークの特徴的強度の大きさに関してプログレッション内で、特定の色彩、陰影、色調、又は他の表示で表されてもよい。つまり、直交プロットの保持時間軸にあるメインピーク及び少なくとも１つのサブピークのそれぞれの特徴的強度は、メインピークの特徴的強度のための、陰影、色彩、色調などである最大強度と、少なくとも１つのサブピークのそれぞれの特徴的強度のための、陰影、色彩、色調などであるより小さい強度とを有する、又は規定される段階に関して十分に分離された強度ピークの特徴に応じた段階的陰影、色彩、色調などで表されてもよい。その他の方法として、当業者であれば、規定された段階に関して十分に分離された強度ピークの特徴を表すことと同様、少なくとも１つのサブピークの特徴的強度からメインピークの特徴的強度を区別すること、及び／又はサブピークの特徴的強度を互いに区別することの処理は、形状、輪郭、色彩、陰影、色調、他のプログレッションなどに関する本明細書に開示される様式の代わりに、又は当該様式に加えて、多くの異なる様式で達成されてもよいことを認識しているであろう。例えば、「３次元」の効果も、表示と関連して実施されることができ、その結果、メインピーク及び少なくとも１つのサブピークを表す各表示は、例えば、メインピーク及び少なくとも１つのサブピークのうち各々１つの特徴的強度に比例して、又は３次元の効果の規定された段階に関して、十分に分離された強度ピークの特徴に応じて、直交プロットから外方に飛び出すよう構成される。
【００８６】
いくつかの態様において、直交プロットにあるメインピーク及び少なくとも１つのサブピーク（「少なくとも１つの特定ピーク」）のそれぞれの特徴的強度６５０Ａ、６５０Ｂ、６５０Ｃ、６５０Ｄの表現に加えて、方法は、各サンプルに対する選択された強度ピーク配置２２５のメインピーク及び少なくとも１つのサブピークのために、又は各サンプルに対する選択された強度ピーク配置２２５の十分に分離された強度ピークのために、直交プロットにあるメインピーク及び少なくとも１つのサブピークのそれぞれのピーク範囲６７５Ａ、６７５Ｂ、６７５Ｃ、６７５Ｄを範囲表示で、又は十分に分離されたピーク２２５のピーク範囲６７５（例えば、図６参照）をピーク範囲の開始（すなわち、強度ピーク起点５００）を表す第１標識６８０（例えば、図４及び図６参照）と、ピーク範囲の終了（すなわち、強度ピーク終点５５０）を表す第２標識６９０（例えば、図４及び図６参照）とを有する範囲表示で表すことも含んでもよい。そのような例において、ピーク範囲は、メインピーク及び少なくとも１つのサブピーク、又は十分に分離された強度ピークの特徴的強度に加えて、又は当該特徴的強度の代わりに提供されてもよい。特徴的強度がピーク範囲に加えて提供される場合、特徴的強度６５０Ａ、６５０Ｂ、６５０Ｃ、６５０Ｄ（又は、十分に分離されたピークの特徴的強度６５０Ａ）は、概ね、対応する強度ピーク起点５００、６８０と強度ピーク終点５５０、６９０との間に入る。
【００８７】
いくつかの態様において、特徴的強度６５０Ａ、６５０Ｂ、６５０Ｃ、６５０Ｄと、メインピーク又は少なくとも１つのサブピーク（又は、十分に分離された／十分に分解されたピーク）のうち対応する１つのピーク範囲の対応する強度ピーク起点５５０、６８０及び強度ピーク終点５５０、６９０との間の関係は、対応するプロファイルプロットにおける保持時間の関数（特定のサンプル成分の質量のための）として、強度の特性又は特徴を示してもよい。つまり、特徴的強度とのピーク範囲の関係、及び／又は強度ピーク配置の１つの成分のピーク範囲と、強度ピーク配置の隣接する成分のピーク範囲との関係は、例えば、特定のメインピーク又は少なくとも１つのサブピーク（又は、十分に分離された／十分に分解されたピーク）の形状及び／又は時間の関数として、プロットされた強度の下のメインピーク又は少なくとも１つのサブピーク（又は、十分に分離された／十分に分解されたピーク）の領域を示してもよい。より具体的には、例えば、強度ピーク起点と強度ピーク終点との間のおおよそ中間に配される特徴的強度（強度ピーク起点が、隣接する前のピーク又はサブピークの強度ピーク終点を含まない又は強度ピーク終点が、隣接する次のピーク又はサブピークの強度ピーク起点を含まない場合）は、特定のピークが、強度ピークのいずれかの側で概ね対称的である（すなわち、対称的なベルカーブに似た）「孤立した」、「十分に分離された」、又は「十分に分解された」強度ピークであること意味してもよい。同様の状況下において、特徴的強度が、強度ピーク起点又は強度ピーク終点のいずれかに向かって変動する場合、「孤立した」、「十分に分離された」、又は「十分に分解された」強度ピークは、それに応じて歪むことがある（すなわち、ベルカーブが対称から歪む又は変動する）。したがって、強度カーブ下の領域（強度ピーク配置における他の成分のイオンの量を示す）は、そのようなカーブ又は関数に基づき、領域を判定するために使用される様々な統合（数学的）技術により判定されてもよい。
【００８８】
特定のピーク範囲の強度ピーク起点が、隣接する前のピーク又はサブピークの強度ピーク終点を含まない場合、又は、強度ピーク終点が、隣接する次のピーク又はサブピークの強度ピーク起点を含まない場合、そのような関係は、隣接する前のピーク若しくはサブピーク、又は隣接する次のピーク若しくはサブピークが、例えば、強度ピーク起点５００又は強度ピーク終点５５０のいずれかについて、「ショルダーピーク」、「２次ピーク」、又は他の変遷部を含み得ることを示し得る（例えば、図４参照）。つまり、メインピーク及び少なくとも１つのサブピークのそれぞれのピーク範囲は、メインピークの範囲表示である第２標識が強度ピーク配置の連続する次のサブピークの範囲表示である第１標識をも表す状態で、範囲表示で直交プロットに表されてもよく、これは、連続する次のサブピークが、メインピークと関連するショルダーピーク及び２次ピークのうちの一方であることを示す。さらに、メインピーク及び少なくとも１つのサブピークのそれぞれのピーク範囲は、サブピークのうち１つの範囲表示である第２標識が、強度ピーク配置の連続する次のサブピークの範囲表示である第１標識をも表す状態で、範囲表示で直交プロットに表されてもよく、これは、連続する次のサブピークが、サブピークのうち１つと関連するショルダーピーク及び２次ピークのうち一方であることを示す。
【００８９】
隣接する前のピーク若しくはサブピーク、又は隣接する次のピーク若しくはサブピークのうちいずれかのための保持時間軸に沿った特徴的強度６５０Ａ、６５０Ｂ、６５０Ｃ、６５０Ｄの特定の位置は、その歪み同様、サブピークの特定の性質を（すなわち、ショルダーピーク、２次ピーク、又は他の変遷部などとして）特定する役割をも有してもよい。したがって、強度カーブ下の領域（強度ピーク配置における他の成分のイオンの量を示す）は、例えば、参照によりその全体が本明細書に別途組み込まれる、Ｄａｉらの米国特許出願公報第２０１２／０２３９３０６号に開示されるように、例えば、ショルダーピーク、２次ピーク、又は他の変遷部に関するそのようなカーブ又は関数に基づき、領域を判定するために使用される様々な統合技術により判定されてもよい。
【００９０】
それ故、対応するプロファイルプロットのための、直交プロットへのサンプルデータの表現は、その実施により、直交プロットにより与えられるほんの２次元表現を超えるさらなる「次元」、サンプル特性、又は他の情報が示されるように適切に構成されてもよい。例えば、そのような例において、「２次元」直交プロットは、例えば、ピーク領域及びピーク形状などのさらなる「次元」を示すのに適切な表示と共に提供されてもよく、これは、当業者にとってサンプルデータの解析及び分析を促進するのに有用であることがある。
【００９１】
本開示のさらに別の態様において、選択された強度ピーク又はピーク配置２２５は、様々なサンプルのうちいずれか又は全てにわたり比較されてもよく、又はその他の方法で分析されてもよい。そのような例において、プロセッサデバイス１３０は、さらに、図７に図示されるように、分析される複数のサンプルのための直交プロットを配置又はグループ化し、第１のサンプル全体プロットを形成するように、命令／コンピュータ可読プログラムコード部分を実行するよう構成されてもよく、ここで、第１のサンプル全体プロットは、保持時間軸２３０と、サンプル表示軸２４０とを有し、サンプル表示により配置される、複数のサンプル全体の直交プロットのグラフ表現を含むように構成される。つまり、直交プロットは、サンプル表示軸に沿って配置され、その結果、直交プロットは、選択された強度ピーク又は強度ピーク配置２２５と関連する保持時間軸の同一の保持時間範囲にわたり隣接して配され、そのため、選択された強度ピーク又は強度ピーク配置の有（又は、無）は、複数のサンプルのうちいずれか又は全てにわたり、同時に分析されてもよい。
【００９２】
サンプル全体の分析を行うとき、いくつかの例において、複数のサンプルの選択された強度ピーク又は強度ピーク配置のための直交プロットのうちいずれかと関連する他の情報を便宜的に入手することは有益であることがある。そのため、いくつかの態様において、プロセッサデバイス１３０は、さらに、サンプルのうち少なくとも１つの強度ピーク又は強度ピーク配置の直交プロットとプロファイルプロットとの間を選択的にトグルで切り換える性能を提供するように、命令／コンピュータ可読なプログラムコード部分を実行するよう構成されてもよい（例えば、図１０参照）。つまり、例えば、サンプル全体プロット（すなわち、複数のサンプルのための直交プロット）が、ディスプレイ１５０に表示される場合、例えば、マウス又はカーソル選択によって、サンプルのうち１つに対応する直行プロットのうちの１つを選択することにより、サンプル全体プロットは、それに対応する選択された直交プロットの対応するプロファイルプロットによりディスプレイに置換されてもよい。他の例において、対応するプロファイルプロット８００は、サンプル全体プロットと同時に及びサンプル全体プロットに隣接して、ディスプレイ１５０に（すなわち、ディスプレイ１５０の指定位置に挿入又は指定位置にあるよう）表示されてもよい。つまり、いくつかの場合において、分析方法は、サンプルのうち少なくとも１つの十分に分離されたイオンピーク又はイオンピーク配置のプロファイルプロットと、直交プロットとを同時に表示することをも含んでもよい。さらに別の例において、プロファイルプロットを表示するための直交プロットのうち１つの選択と同様に、プロファイルプロットは、さらに、例えば、マウス又はカーソル選択により、選択解除されてもよく、その後、プロファイルプロットは、ディスプレイから除去されてもよい。したがって、ディスプレイは、サンプル全体プロットに戻るであろう。
【００９３】
本開示の特定の態様において、サンプル全体の分析は、当業者が認識しているであろう異なる様式で、実施されてもよい。例えば、本開示のいくつかの態様は、各サンプルに対するそのプロファイルプロットに関して、選択された強度ピーク又は強度ピーク配置の特徴を判定することに関与するため、プロセッサデバイス１３０は、さらに、第２のサンプル全体プロットを形成するように、サンプルの少なくとも一部のための選択されたイオンのプロファイルプロットを互いに重ねるように、命令／コンピュータ可読プログラムコード部分を実行するよう構成されてもよい（例えば、見やすいように、３つのみの重ねられたプロファイルプロットを図示する、図１１にある要素９００参照）。そのような例において、第２のサンプル全体プロット９００は、ｙ軸（サンプル表示軸）に沿った方向において、ｘ軸（時間保持軸）から第１のサンプル全体プロット（すなわち、直交プロットにとっての保持時間軸に対するサンプルの表示）を見たものとして特徴付けられてもよい。例えば、そのような図は、ｙ＝０から、ｙ軸の増加する方向において、ｘ軸に沿った方向からの図、又はｙ＞０からｙ軸の減少する方向におけるｘ軸の図として特徴付けられてもよい。そのような図は、例えば、特定のサンプルの特定のピークの特徴的強度が他のサンプルのそのイオン又はイオン成分の相対量を定める予想される大きさよりも大きいものかどうかのサンプル全体の分析からの特定の情報を提供してもよい。またさらなる態様において、プロセッサデバイス１３０は、さらに、例えば、保持時間軸と、サンプル表示軸とを有し、複数のサンプル全体の直交プロットのグラフ表現を含む第１のサンプル全体プロットと第２のサンプル全体プロットを、マウス又はカーソル選択の手段で、トグルで切り替えることにより、第２のサンプル全体プロットをディスプレイ１５０に表示するように、命令／コンピュータ可読プログラムコード部分を実行するよう構成されてもよい。他の例において、第２のサンプル全体プロットは、例えば、またマウス又はカーソル選択の手段により、ディスプレイの指定位置に挿入又は指定位置にあるよう、第１のサンプル全体プロットと同時に第２のサンプル全体プロットを表示してもよい。
【００９４】
本開示の態様は、図８の動作の流れ図に概ね図示され、本明細書において先に論じたように、メタボロミクスデータを分析する方法をも提供する。適切な装置及び方法を提供することに加えて、本開示の態様は、例えば、プロセッサデバイス１３０による実行に応答して、装置に本明細書に開示される工程を少なくとも行わせる媒体により特定のコンピュータ可読プログラムコード部分を内部に記憶するコンピュータ可読記憶媒体（すなわち、メモリデバイス１４０）の形態で、上記で開示される機能／動作／工程を行う関連するコンピュータプログラム製品をも提供してもよい。この点について、図８は、本開示の特定の態様に係る特定の方法、装置、及びコンピュータプログラム製品と関連する動作の流れ図である。動作の流れ図の各ブロック若しくは工程、又は動作の流れ図にあるブロックの組み合わせが、プロセッサデバイス１３０により実行される適切なコンピュータプログラム命令により実施されることができることを理解されたい。それらのコンピュータプログラム命令は、動作の流れ図において明記される、又はその他の方法で本明細書に開示される方法と関連する機能を実行するためのコンピュータデバイス又は他のプログラム可能な装置にロードされてもよい。それらコンピュータプログラム命令は、また、特定の様式で、コンピュータデバイス又は他のプログラム可能な装置により入手可能であるように、コンピュータ可読メモリ（すなわち、メモリデバイス１４０）に記憶されてもよく、その結果、コンピュータ可読メモリに記憶される実行可能な命令は、動作の流れ図に明記される、又はその他の方法で本明細書に開示される方法と関連する機能を実施する命令を指示可能、又はその他の方法で実行可能な製造品の動作を作り出してもよく、又は容易にしてもよい。コンピュータプログラム命令は、また、一連の動作工程をコンピュータデバイス又は他のプログラム可能な装置で行わせ、コンピュータ実施処理を作り出すため、コンピュータデバイス又は他のプログラム可能な装置にロードされてもよく、その結果、コンピュータデバイス又は他のプログラム可能な装置により実行される命令は、動作の流れ図に明記される、又はその他の方法で本明細書に開示される方法と関連する機能／工程を実施するための適切な工程を提供する、又はその他の方法で指示する。動作の流れ図の各工程又は動作の流れ図の工程の組み合わせが、明記される機能若しくは工程、又は特殊目的のハードウェア及びコンピュータ命令（ソフトウェア）の組み合わせを行う特殊目的のハードウェアベースのコンピュータシステムにより実施されることができることをも理解されたい。
【００９５】
当業者であれば、前述の記述及び関連する図面にある技術の利益を有して本開示が属する、本明細書で明らかになる多くの変更形態および他の態様に想到するであろう。そのため、本開示は、開示される具体的な態様に限定されることを意図しておらず、その変更形態及び他の態様が添付の特許請求の範囲内に含まれることを目的とすることを理解されたい。具体的な用語が本明細書において採用されるが、それらは、総称的及び記述的意味でのみ使用され、限定を目的としていない。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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