(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定する試料に照射される励起光の光源と
前記試料を設置する試料設置部と、
前記光源の光を前記励起光に分光する励起側分光器と、
前記励起光に基づく高次光を遮断する複数の励起側フィルタと、
当該複数の励起側フィルタから測定条件に応じて（１）励起光の１／２次光の波長領域を吸収し遮蔽すること（吸収判定）、（２）高い透過率の波長領域であること（高透過判定）、の２つの判定を同時に満たす該励起側フィルタを選択する励起側フィルタ選択手段と
選択した前記励起側フィルタを前記試料と前記光源との間の光学系に配置する励起側フィルタ移動機構と、
前記励起光の照射により前記試料から放出された蛍光を分光する蛍光側分光器と、
前記蛍光に基づく高次光を遮断する複数の蛍光側フィルタと、
当該複数の蛍光側フィルタから測定条件に応じて（１）励起光の散乱光の波長領域を吸収し遮蔽すること（蛍光側吸収判定）、（２）蛍光を高い割合で透過する波長領域であること（蛍光側高透過判定）、の２つの判定を同時に満たす該蛍光側フィルタを選択する選択手段と
選択した前記蛍光側フィルタを前記試料と前記蛍光側分光部との間の光学系に配置する蛍光側フィルタ移動機構と、
前記蛍光側フィルタ通過後の蛍光を検知する検知器と、
を備え、
前記励起光に基づく高次光と前記蛍光に基づく高次光の影響を抑制することを特徴とする分光蛍光分析装置。
【請求項２】
前記励起側分光器による波長の範囲が２００〜７５０ｎｍであり、前記励起側フィルタが３種類備わる請求項１に記載の分光蛍光分析装置。
【請求項３】
前記蛍光側分光器による波長の範囲が２００〜７５０ｎｍであり、前記蛍光側フィルタが３種類備わる請求項１又は２に記載の分光蛍光分析装置。
【請求項４】
請求項１乃至３に記載の分光蛍光分析装置を用いた３次元蛍光スペクトルの取得方法において、
励起光及び蛍光に関わる条件を特定する測定条件設定ステップと、
当該装置に備えた複数の励起側及び蛍光側のフィルタの条件を特定するフィルタ条件設定ステップと、
前記励起光の波長範囲と前記蛍光の波長範囲とにより決定する領域を前記測定条件設定ステップと前記フィルタ条件設定ステップとから計算に基づき前記励起側及び前記蛍光側の各フィルタの組み合わせからなるフィルタ群と当該フィルタで測定可能な範囲とを一組とする一領域として複数の領域に区分し、各領域の境界に関わる励起光波長及び蛍光波長をそれぞれ励起側フィルタ切替波長及び蛍光側フィルタ切替波長として認識する波長範囲の照合ステップと、
区分された複数の前記領域ごとに、励起側及び蛍光側のそれぞれ測定開始波長から測定終了波長までの範囲に当該領域が含まれるか否かの判定を行う判定ステップと、
前記判定ステップに従った領域を前記照合ステップにより決定した前記フィルタ群を用いて測定する測定ステップと、
前記測定スップにて取得したデータに使用したフィルタの蛍光強度値に基づいて透過率を補正するフィルタ補正ステップと、
当該補正ステップにて補正した後の各領域のデータを合成することで全測定の範囲のデータとするデータ合成ステップと、
を含んでなる分光蛍光分析装置を用いた３次元蛍光スペクトルの取得方法。
【請求項５】
請求項４の３次元蛍光スペクトル取得方法において、前記フィルタ補正ステップと前記データ合成ステップの過程で発生した蛍光強度の低下を強度補正することを特長とした、
３次元蛍光スペクトルの取得方法。
【請求項６】
請求項４に記載の前記フィルタ条件設定ステップが、任意に選択した測定開始波長及び測定終了波長と蛍光側フィルタ切替波長の大小を比較して、前記蛍光側の測定開始波長及び前記測定終了波長を決定する、
３次元蛍光スペクトルの取得方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】  本発明は、自動でカットフィルタが挿入される機構を備えた分光蛍光光度計に関するものであり、測定試料の蛍光測定に不要な高次光の発生を抑制するために、測定条件に応じてカットフィルタ挿入波長と測定シーケンスを判定し実行することで、３次元蛍光スペクトルの測定時間を短縮化することに寄与する。
【背景技術】
【０００２】  分光蛍光光度計は、光度計部、データ処理部、インターフェイス部から構成される。光源からの連続光を励起側分光器で分光された励起光として測定試料に照射する。試料から放出された蛍光は、蛍光側分光器にて単色光に分光され、検知器にて光を検出しＡ／Ｄ変換機を経てコンピュータに信号強度として取り込まれ、モニタにて測定結果が表示される。【０００３】  一般に、測定試料に対し励起波長を変化させた際の蛍光強度を測定する励起スペクトルは、励起側分光器を測定開始波長から測定終了波長まで変化させ、各波長の励起光を測定試料に照射し、その時の固定波長に設定された蛍光側分光器を経て得られる特定波長の蛍光強度の変化を検知器で検出し、Ａ／Ｄ変換機を経てコンピュータに信号強度として取り込まれ、モニタに測定結果として励起波長と蛍光強度の２次元のスペクトルが表示される。【０００４】  また、測定試料に対し、固定波長の励起光を照射し、蛍光波長を変化させた際の波長毎の蛍光強度を測定する蛍光スペクトルは、固定波長に設定された励起側分光器からの励起光を測定試料に照射し、その時の蛍光を蛍光側分光器にて、測定開始波長から測定終了波長まで変化させ、波長毎の蛍光の変化を検知器で検出し、Ａ／Ｄ変換機を経てコンピュータに信号強度として取り込まれ、モニタにて測定結果が蛍光波長と蛍光強度の２次元のスペクトルとして表示される。【０００５】  一方、３次元蛍光スペクトルは、励起波長を固定した際の蛍光スペクトルを測定し、蛍光スペクトル走査が終了したら、蛍光波長を測定開始波長に戻し、励起波長を所定の波長間隔だけ駆動、次の励起波長における蛍光スペクトルを測定する。得られた蛍光スペクトルを励起波長、蛍光波長、蛍光強度の３次元で記憶し、励起波長が最終の波長に達するまで繰り返すことにより、３次元の蛍光スペクトルを取得する。得られた３次元蛍光スペクトルは、同一の蛍光強度をそれぞれ線で結び、等高線図や鳥瞰図として描写される。等高線で山となる励起波長および蛍光波長が測定試料の最適な励起波長、特徴的な蛍光波長となり、測定試料の測定範囲内の励起波長と蛍光波長の蛍光特性が一目で分かる特徴がある。３次元蛍光スペクトルから、測定試料中の蛍光物質の成分数や成分の同定など多くの情報を得ることが出来る利点がある。【０００６】  分光蛍光光度計にて上記、励起スペクトル、蛍光スペクトル、３次元蛍光スペクトルを測定する上で、目的の蛍光以外の光として高次光の発生が問題となる。励起光の散乱光、ラマン散乱光、目的波長よりも短波長の蛍光などの光が蛍光側分光器に入射されることで高次光が生じる。通常、ロングパスフィルタやバンドパスフィルタなどのカットフィルタを用いて、高次光の要因となる短波長側の光を透過させず、目的の蛍光を分光器に導くことで高次光を抑制する。カットフィルタは、透過限界波長毎に複数用意し、発生要因となる光を遮断するフィルタを選択し、試料と蛍光側分光器の間に挿入する必要がある。一方、励起側分光器では、設定した励起波長よりも短波長側に生じる高次光が問題となる。蛍光スペクトル測定の際、測定試料に励起光以外の高次光が照射されると目的の励起光から励起されて放出された蛍光か高次光から励起されて放出��れた蛍光かどちらか区別ができない問題が発生する。そこで、設定した励起波長よりも短波長側に生じる高次光を防ぐために、高次光を透過させず目的の励起光を透過するカットフィルタを励起側分光器と蛍光側分光器の間に挿入する。これらは従来、高次光の知識を基に、分析者がサンプルの蛍光のみを得るために適切なカットフィルタを選択して挿入していたが、カットフィルタを間違える場合もあり、また広波長範囲の測定の際には、測定の途中でカットフィルタを入れ替えるなど煩雑でもあった。【０００７】  この問題を防ぐために自動挿入機構が備えられた分光光度計の場合、高次光力ットフィルタは、分光器の波長走査と連動して切替る制御方法が採用されている。その際、波長走査を一旦止めてカットフィルタを切替えて、波長走査を再開する。（特許文献１）【０００８】  また、得られたスペクトルにおけるピークが、蛍光を示すピークであるか、レーリー散乱光を示すピークであるかを識別するために、カットフィルタを備えた分光蛍光光度計を用いて判別する方法が知られている（特許文献２）。励起波長に基づいて、任意のカットフィルタが蛍光側分光器の前方に配置され、回折格子を回転させながら、光検出器（本願では検知器と標記）からの光強度信号（本願では蛍光強度と標記）を取得していくことで、試料から放出されるレーリー散乱の２次光が除かれたスペクトルが取得される制御がなされる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開昭６１−１０５４３０
【特許文献２】特開２０１２−６３１４３８
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】  分光蛍光光度計にて、励起スペクトル、蛍光スペクトル、３次元蛍光スペクトルを測定する上で、目的の蛍光以外の光として、高次光の発生が問題となる。【００１１】  励起スペクトルの場合、固定の蛍光波長に応じたカットフィルタを一つ選択し、当該カットフィルタを測定試料と蛍光側分光器の間に挿入して、励起スペクトルを得ることで高次光が抑制される。蛍光スペクトルの場合、固定の励起波長に応じたカットフィルタを一つ選択し、当該カットフィルタを測定試料と蛍光側分光器の間に挿入して、蛍光スペクトルを得ることで高次光が抑制される。励起スペクトル、蛍光スペクトルにて高次光を抑制するためには、一つのカットフィルタを選択・挿入して測定するので測定自体は容易である。【００１２】  一方、３次元蛍光スペクトルは、所定の波長間隔の励起波長間隔分の蛍光スペクトルを取得することとなり、分析者が設定する励起波長毎にカットフィルタを逐一選択して、挿入することを要し、非常に煩雑である。また、複数の励起波長における蛍光スペクトルを取得することから、通常の蛍光スペクトル測定よりも時間を要する分析であるため、分析者が長時間拘束されるなどの不都合がある。【００１３】例えば、特許文献１の方法で高次光カットフィルタを用いる場合には、蛍光スペクトルの測定中に、波長走査を一旦止めて励起波長に対応したカットフィルタに切替る必要がある。この時、所定の励起波長間隔分の測定回数に相当するフィルタ切替が生じるため、測定時間が延長する問題がある。また、測定時間短縮のために高速の波長走査条件を用いた場合には、一旦停止に伴う波長駆動系への負荷、波長や蛍光強度値への段差が生じる等の課題が生じる。【００１４】特許文献２では、複数の中から選択した単一のレーリーカットフィルタを、蛍光側分光器の前方に配置する構成が記載されている。当該レーリーカットフィルタは、設定励起波長に基づいて、遮断波長以下の光を遮断する目的で配置される。そして、蛍光ピークの判定において、任意のレーリーカットフィルタを蛍光側分光器の前方に配置した上で、設定励起波長と異なる長波長側の光を段階的に変化させながら試料に照射して、その際に試料から放出される蛍光スペクトルを測定すると記載されている。また、複数のレーリーカットフィルタから、設定励起波長よりも長波長側で且つ最も励起波長との波長数の差が小さいレーリーカットフィルタを選択して使用することで、より正確に判定を行うことができると記載されている。【００１５】  しかし、この方法でカットフィルタを選択した場合、レーリー散乱由来の高次光を含めたピーク、ラマン散乱由来の高次光を含めたピークを判定することは可能であるが、下記の課題があるため、本発明の目的である測定試料の蛍光測定に不要となる高次光の影響を抑制したデータは得られない。【００１６】  第一の課題として、蛍光の２次光が考慮されていない。例えば励起波長２００ｎｍにて３００ｎｍの蛍光ピークを有する試料の測定をした際、レーリーカットフィルタにより、励起波長２００ｎｍのレーリー散乱光は蛍光分光器に入射されないことから、４００ｎｍに出現するレーリー散乱光の２次光など、レーリー散乱光に由来する高次光は観測されない。��かしながら、蛍光分光器には３００ｎｍの蛍光によって、６００ｎｍに蛍光の２次光が観測されることになる。【００１７】  第二の課題として、励起分光器による高次光の影響が考慮されていない。例えば、励起波長４４０ｎｍとした際、励起光には１／２次光として２２０ｎｍの光が含まれる。この時、第一の例に示した試料を測定すると、蛍光波長３００ｎｍに１／２次光で励起された蛍光と、６００ｎｍに蛍光の２次光が観測される。いずれも、４４０ｎｍで励起されて出現した蛍光ではない。【００１８】  第三の課題として、カットフィルタの透過率が加味されていない。通常、レーリーカットフィルタに用いられるロングパスフィルタやバンドパスフィルタは透過率が１００％ではないため、光の損失が生じる。ロングパスフィルタの場合、透過領域にて８０〜９０％程度の透過率である。また、遮断波長域から透過波長域に移行する波長範囲では透過率の急激な変化があるため、測定データに適用することは不適切であるが考慮されていない。【００１９】  なお、特許文献２に記載の励起波長・蛍光波長・蛍光強度を３次元にて等高線表示することにより表示した３次元蛍光スペクトルでは、上記、第一から第三の課題のため、本発明の目的であるサンプルの蛍光測定に不要な高次光の発生を抑制する３次元蛍光スペクトルデータは得られない。
以上のように従来技術には、係る課題として以下のようにまとめられる。【００２０】  つまり、上記従来の分光蛍光光度計による３次元蛍光スペクトル取得時には、分析者がカットフィルタを経験や知識に基づいて選択するため、誤った選択をする可能性があった。また、測定中に波長走査を一旦停止してフィルタの挿入・交換を行うため、測定時間の延長が避けられず、これを軽減するために高速波長走査を行うと、波長駆動系への負荷が大きくなり、波長や蛍光強度に誤差や段差が生じるなどの不具合があった。更に、設定した励起波長に基づいて、励起波長以下の光を遮断するフィルタを使用すると、蛍光の２次光及び励起分光器の高次光の影響を抑制した３次元蛍光スペクトルの取得ができない。また、波長合成時にもカットフィルタの透過率が加味されていないという課題があった。
【課題を解決するための手段】
【００２１】上記の目的を達成するために、本発明の分光蛍光分析装置では、光源の光を励起光に分光する励起側分光器と試料との間に、励起光に基づく高次光を遮断する複数の励起側フィルタから測定条件に応じてフィルタを選択する励起側フィルタ選択手段により選択された励起側フィルタを光学的に配置する励起側フィルタ移動機構および、試料と、励起光の照射により試料から放出された蛍光を分光する蛍光側分光器との間に、蛍光に基づく高次光を遮断する複数の蛍光側フィルタから測定条件に応じてフィルタを選択する蛍光側フィルタ選択手段により選択された蛍光側フィルタを光学的に配置する蛍光側フィルタ移動機構を有する。上記により、蛍光側フィルタと蛍光側分光器通過後の蛍光を検知する検出器では、励起側高次光と蛍光側高次光の影響を抑制した３次元蛍光スペクトルデータを得ることができる。【００２２】上記の３次元蛍光スペクトルデータ取得方法は以下のステップを有する。励起光及び蛍光に係る条件を特定する測定条件設定ステップと、装置に備えた複数の励起側及び蛍光側フィルタの条件を特定するフィルタ条件設定ステップと、励起光の波長範囲と蛍光の波長範囲とにより決定する波長領域を、測定条件設定ステップとフィルタ条件設定ステップからの計算に基づいて、励起側及び蛍光側の各フィルタの組み合わせからなるフィルタ群と当該フィルタで測定可能な範囲とを一組とする一領域として複数の領域に区分し、各領域の境界に関わる励起光波長及び蛍光波長をそれぞれ励起側フィルタ切替波長及び蛍光側フィルタ切替波長として認識する波長範囲の照合ステップと、区分された複数の領域ごとに、励起側及び蛍光側のそれぞれ測定開始波長から測定終了波長までの範囲に当該領域が含まれるか否かの判定を行う判定ステップと、判定ステップに従った領域を照合ステップにより決定したフィルタ群を用いて測定する測定ステップと、測定スップにより取得したデータに使用したフィルタの透過率を補正するフィルタ補正ステップと、補正ステップにて補正した後の各領域のデータを合成することで全測定範囲のデータとするデータ合成ステップ。【００２３】また、上記の３次元蛍光スペクトルデータ取得方法においては、フィルタ補正ステップとデータ合成ステップの過程で発生した励起光による測定試料の劣化に伴う蛍光強度の低下を強度補正する。【００２４】上記のフィルタ条件設定ステップでは、任意に選択した測定開始波長及び測定終了波長と蛍光側フィルタ切替波長の大小を比較して、蛍光側の測定開始波長及び前記測定終了波長を決定することもできる。
【発明の効果】
【００２５】  本発明の分光蛍光光度計によれば、測定条件に応じたフィルタ挿入波長及び測定シーケンスを判定して実行することで、必要なカットフィルタを自動で挿入・交換する機構を備えることにより、高い効率で、サンプルの蛍光測定に不要な高次光の発生を抑制することができる。そのため、測定時間を効率的に短縮して高次光の発生を抑制した３次元蛍光スペクトルを取得することができる。
また、必要なカットフィルタの挿入・交換が自動で行えるため、分析者の拘束時間を低減すると共にヒューマンエラーをも防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】本発明の実施例における装置構成図
【図２】励起スペクトルの説明図
【図３】蛍光スペクトルの説明図
【図４】３次元蛍光スペクトルの説明図
【図５】励起側カットフィルタ使用波長域の概念図
【図６】蛍光側カットフィルタ使用波長域の概念図
【図７】カットフィルタの構成例
【図８】３次元蛍光測定の判定フローチャート
【図９】第２の実施例における３次元蛍光測定の判定フローチャート
【図１０】蛍光強度の補正概念図（補正前）
【図１１】蛍光強度の補正概念図（補正後）
【発明を実施するための形態】
【００２７】  以下、本発明に係る分光蛍光光度計の一実施形態を図１〜図８を参照しながら説明する。
【実施例１】
【００２８】  分光蛍光光度計は、図１に示すように、光度計部１００、データ処理部１０１、インターフェイス部１０２から構成される。光源１からの連続光を励起側分光器２で励起光として分光し、ビームスプリッタ３を経て試料設置部５に設置された測定試料６に照射される。この時、ビームスプリッタ３で一部の分割された励起光は、モニタ検知器４にて光量を測定し光源の変動の補正がなされている。試料から放出された蛍光は、蛍光側分光器７にて単色光に分光され、検知器８にて光を検出しＡ／Ｄ変換機９を経てコンピュータ１０に信号強度として取り込まれ、モニタ１７にて測定結果が表示される。【００２９】  波長駆動系について説明する。コンピュータ１０の指令によって、励起側パルスモーター１２が駆動することで、目的の波長位置に励起側分光器２がセットされる。また、蛍光側分光器７は、コンピュータ１０の指令によって蛍光側パルスモーター１１が駆動することで、目的の波長位置にセットされる。励起側分光器２や蛍光側分光器７については、回折格子やプリズムなどの光学素子が用いられており、励起側パルスモーター１２や蛍光側パルスモーター１１を動力とし、ギヤとカムによって、それらを回転運動させることでスペクトルスキャンされている。励起側分光器２と測定試料６の間に励起側フィルタ１５が配置される。励起側フィルタ１５は複数のカットフィルタが備えられており、励起側フィルタパルスモーター１３にて単一のカットフィルタが挿入される。測定試料６と蛍光側分光器７の間に蛍光側フィルタ１６が配置される。蛍光側フィルタ１６は複数のカットフィルタが備えられており、蛍光側フィルタパルスモーター１４にて単一のカットフィルタが挿入される。【００３０】  一般に、測定試料６に対し励起波長を変化させた際の蛍光強度を測定する励起スペクトルは、励起側分光器２を測定開始波長から測定終了波長まで変化させ、各波長の励起光を測定試料に照射し、その時の固定波長に設定された蛍光側分光器７を経て特定波長の蛍光の変化を検知器８で検出し、Ａ／Ｄ変換機９を経てコンピュータ１０に信号強度として取り込まれ、モニタ１７にて測定結果として、励起波長と蛍光強度の図２に示されるような２次元のスペクトルが表示される。【００３１】  また、測定試料に対し、固定波長の励起光を照射し、蛍光波長を変化させた際の波長毎の蛍光強度を測定する蛍光スペクトルは、固定波長に設定された励起側分光器２からの励起光を測定試料に照射し、その時の蛍光を蛍光側分光器７にて、測定開始波長から測定終了波長まで変化させ波長毎の蛍光の変化を検知器８で検出し、Ａ／Ｄ変換機９を経てコンピュータ１０に信号強度として取り込まれ、モニタ１７にて測定結果が蛍光波長と蛍光強度の図３に示されるような２次元のスペクトルが表示される。【００３２】  ３次元蛍光スペクトルは、固定波長に設定された励起側分光器２からの励起光を測定試料６に照射し、蛍光側分光器７をスペクトル走査することで蛍光スペクトルを測定し、蛍光スペクトルスキャン走査が終了したら、蛍光波長を開始波長に戻し、励起波長を所定の波長間隔だけ駆動し、次の励起波長における蛍光スペクトルを測定する。得られた蛍光スペクトルを励起波長、蛍光波長、��光強度の３次元で記憶し、励起波長が所定の範囲の最終の波長に対する蛍光スペクトルを得るまで前述の動作を繰り返すことにより、図４に示すような等高線図として３次元の蛍光スペクトルを表示する。
次に、励起側フィルタ１５の選択について図を用いて説明する。
まず、本発明における励起側フィルタの選択方法について説明する。
図５には、本発明における励起側フィルタ使用波長域の概念図を記す。【００３３】  原点から右斜め上部に伸びる破線Ｗｒｓはレーリー散乱波長、励起波長軸上のＷｅｘ１〜３は励起フィルタ１５の切替波長、当該切替波長で区切られるＡｅｘ０〜３は使用する励起側フィルタ１５の波長領域を示す。ここで、励起側フィルタ１５は、励起側フィルタＮｏ．０（励起側フィルタ無し）あるいは励起側フィルタＮｏ．１〜３のいずれかである構成を示す。励起側フィルタパルスモーター１３にて、挿入される。【００３４】  励起側フィルタは、各フィルタの仕様（種類）により、励起光の使用波長に応じて選択される。選択する際は、（１）励起光の１／２次光の波長領域を吸収し遮蔽すること（吸収判定）、（２）高い透過率の波長領域であること（高透過判定）、の２つの判定を同時に満たすことが条件となる。
以下に、該当励起側フィルタ１５の上記２つの判定について説明する。【００３５】（１）吸収判定【００３６】    吸収判定における励起側フィルタ１５の選択は、次の判定式を満たすことを条件とする。この判定式を満たしているフィルタであれば、いずれのフィルタを用いても構わない。
［式１］
0006541949.tif 000002
0006541949.tif 000003
よって、式１を満たすカットフィルタは、Ｗｅｘ（ｎｍ）以下の励起光波長であれば、不要な１／２次光に該当する信号が除去できることになる。【００３７】  当該励起側フィルタ１５については、ＪＩＳ  Ｂ７１１３に規定されたシャープカットフィルタもしくは相当品を使用することができる。なお、ＪＩＳ  Ｂ７１１３記載の吸収限界波長は透過率が５％の波長が挙げられており、これでは励起光の１／２次光が透過してしまうため判定に適用することができない。そのため、
0006541949.tif 000004
係数α（例えば０〜２０ｎｍ）を用い、設定された励起波長Ｗｅｘ（ｎｍ）における励起側フィルタの完全吸収される波長域を導くことが必要となる。【００３８】  （２）高透過判定
高透過判定における励起光の透過のための励起側フィルタ１５の選択には、次の判定式を満たすことを条件とする。
［式２］
0006541949.tif 000005
【００３９】  よって、式２を満たすカットフィルタは、励起波長Ｗｅｘ（ｎｍ）について概ね９０％以上の高い透過率を有し、該当する領域に出現する信号を低い損失にて得ることが可能になる。この判定により、設定された励起波長Ｗｅｘ（ｎｍ）における励起側フィルタの高透過波長域を導く。従って、励起波長Ｗｅｘ（ｎｍ）において、励起側フィルタ短波長判定条件かつ高透過判定条件を満たすフィルタが選択されることとなる。【００４０】  ここで、励起光の１／２次光は、真空紫外域に相当する１８５ｎｍより短くなると空気中の窒素の強い吸収により出現しない。そのため、１／２次光が１８５ｎｍ以下に存在する場合は、その領域を吸収し遮断する励起側フィルタ１５は不要となる。【００４１】  このような考え方に基づいて、図５の励起側フィルタの波長領域Ａｅｘ０〜３で使用するカットフィルタは、図７に記載した励起側のフィルタから選定した。これらのフィルタは市販されているものを利用した。【００４２】  より具体的には、一般的な分光蛍光光度計の最大の励起スリット幅２０ｎｍを
0006541949.tif 000006
Ｇ２９５フィルタ）にて、調整係数をα７．５ｎｍとした場合、励起波長Ｗｅｘ（ｎｍ）に相当する励起側フィルタ１切替波長Ｗｅｘ１（ｎｍ）は、式２より３４０ｎｍに設定可能である。また、式１より５２０ｎｍ以下の励起光であれば１／２次光を透過しない。従って、ＷＧ２９５フィルタは、励起光波長が３４０〜５２０ｎｍの領域において、吸収判定の式１および高透過判定の式２を同時に満たすため励起側フィルタ１５として利用できる。【００４３】  また、励起側フィルタ１切替波長Ｗｅｘ１が３４０（ｎｍ）であれば、それ以下の励起光波長による１／２次光は概ね２００ｎｍよりも小さく、一般的な励起光として利用範囲外であり、Ｗｅｘ１よりも短波長の励起光を照射する際は励起側フィルタが不要となる。【００４４】
0006541949.tif 000007
（Ｙ４４フィルタ）にて調整係数αを７．５ｎｍとした場合、励起波長Ｗｅｘ（ｎｍ）に相当する波長は式２より４８５ｎｍ、また、１／２次光を遮蔽可能な波長は式１より８１０ｎｍとなる。従って、Ｙ４４フィルタは、励起光波長が４８５〜８１０ｎｍの励起光波長の範囲において、吸収判定の式１および高透過判定の式２を同時に満たすため励起側フィルタ１５として利用できる。ここで、ＷＧ２９５フィルタとの組み合わせにおいては、当該フィルタの式１に基づく５２０ｎｍの励起光波長をＹ４４フィルタへの切替波長Ｗｅｘ２に設定することができる。【００４５】
0006541949.tif 000008
ルタ（Ｙ５０フィルタ）にて調整係数αを７．５ｎｍとした場合、式２より５４５ｎｍ及び式１より９３０ｎｍとなり、励起光波長が５４５〜９３０ｎｍの励起光波長の範囲において励起側フィルタ１５として利用できる。そして、Ｙ４４フィルタとの組み合わせにおいては、当該フィルタの式１に基づいて８００ｎｍの励起光波長をＹ５０フィルタへの切替波長Ｗｅｘ３に設定することができる。【００４６】  以上より、励起側フィルタ無し波長領域Ａｅｘ０は、分光蛍光光度計で設定可能な最小の励起波長から励起側フィルタ１切替波長Ｗｅｘ１までの励起波長範囲とし励起側フィルタ１５は励起側フィルタパルスモーター１３にて励起側フィルタＮｏ．０（励起側フィルタ無し）が光学系上に挿入される。励起側フィルタ１波長領域Ａｅｘ１は、励起側フィルタ１切替波長Ｗｅｘ１から励起側フィルタ２切替波長Ｗｅｘ２までの励起波長範囲とし、励起側フィルタ１５は励起側フィルタパルスモーター１３にて励起側フィルタＮｏ．１（ＷＧ２９５フィルタ）が光学系上に挿入される。励起側フィルタ２波長領域Ａｅｘ２は、励起側フィルタ２切替波長Ｗｅｘ２から励起側フィルタ３切替波長Ｗｅｘ３までの励起波長範囲とし、励起側フィルタ１５は励起側フィルタパルスモーター１３にて励起側フィルタＮｏ．２（Ｙ４４フィルタ）が光学系上に挿入される。励起側フィルタ３波長領域Ａｅｘ３は、励起側フィルタ３切替波長Ｗｅｘ３から分光蛍光光度計で設定可能な最長の励起波長までの波長範囲とし励起側フィルタ１５は励起側フィルタパルスモーター１３にて励起側フィルタＮｏ．３（Ｙ５０フィルタ）が光学系上に挿入される。
次に、蛍光測定に関して説明する。【００４７】図６には、本発明における蛍光側フィルタ使用波長域の概念図を示す。
原点から右斜め上部に伸びる一点破線Ｗｒｓはレーリー散乱光の波長、蛍光波長軸中央付近から右斜め上部に伸びる破線Ｗｒｅはレーリー散乱光の２次光に相当する波長、励起波長軸上のＷｅｘ１２・１３は蛍光側フィルタ１６の切り替え判定に係る励起波長、当該切り替え波長で区切られるＡｅｍ０〜３は使用する蛍光側フィルタ１６の波長領域を示す。ここで、蛍光側フィルタ１６は、蛍光側フィルタＮｏ．０（蛍光側フィルタ無し）あるいは蛍光側フィルタＮｏ．１〜Ｎｏ．３のいずれかである構成を示す。これらの蛍光側フィルタのうち後述する判定により適切なものが選択され、測定する試料と蛍光側分光器の間の光学系に蛍光側フィルタパルスモーター１４にて挿入される。【００４８】  蛍光側フィルタ１６は、各フィルタの仕様（種類）により、励起光の使用波長及び蛍光波長に応じて選択される。選択する際は、（１）励起光の散乱光の波長領域を吸収し遮蔽すること（蛍光側吸収判定）、（２）蛍光を高い割合で透過する波長領域であること（蛍光側高透過判定）、の２つの判定を同時に満たすことが条件となる。以下に、当該蛍光側フィルタ１６の上記２つの判定について詳細を説明する。【００４９】（１）蛍光側吸収判定
吸収判定における蛍光側フィルタ１６の選択には、次の判定式を満たすことを条件とする。吸収判定式は以下の通りである。
［式３］
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【００５０】  当該蛍光側フィルタ１６については、励起側フィルタ１５と同様に、ＪＩＳ  Ｂ７１１３に規定されたシャープカットフィルタもしくはその相当品を使用することができる。なお、ＪＩＳ  Ｂ７１１３記載の吸収限界波長は励起側フィルタの説明の通り、透過率が０％ではない（５％）ため、励起光の散乱光が透過してしまい判定に適用することができない。そのため、蛍光側フィルタ１６の判定には、
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された励起波長Ｗｅｘ（ｎｍ）における蛍光側フィルタ１６の完全吸収される波長域を導くことが必要となる。【００５１】（２）蛍光側高透過判定
高透過判定における蛍光の透過のための蛍光側フィルタ１６の選択時は、次の判定式を満たすことを条件とする。
［式４］
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なお、“β”は、装置間の２次光の裾の出現状況の差異を調整する係数であり、蛍光調整係数（例えば、０〜２０ｎｍ）である。【００５２】  よって、式４を満たすカットフィルタは、励起波長Ｗｅｘ（ｎｍ）における試料に基づく蛍光について概ね９０％以上の高い透過率を有し、該当する領域に出現する信号を低い損失にて得ることが可能になる。従って、この判定により、設定された励起波長Ｗｅｘにおける試料に基づく蛍光に対する蛍光側フィルタ１６の高透過波長域を導く。【００５３】  このような考え方に基づき、図６の蛍光側フィルタの波長領域Ａｅｍ０〜３で使用するカットフィルタは、図７に記載した蛍光側フィルタから選定した。これらも、励起側フィルタ同様に市販されているものを利用した。具体的な選定について、上記の２つの判定式（式３及び４）を用いて説明する【００５４】  一般的な分光蛍光光度計の最大の励起スリット幅２０ｎｍを基に、蛍光側フィ
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ルタを用い、蛍光調整係数βを７．５ｎｍとした場合、蛍光側フィルタ２切替判定のための励起波長Ｗｅｘ１２は２５０ｎｍに設定可能である。蛍光側フィルタ
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を用い、調整係数αを７．５ｎｍとした場合、蛍光側フィルタ３切替判定のための励起波長Ｗｅｘ１３は３５０ｎｍに設定可能である。【００５５】  蛍光側フィルタ１切替判定波長Ｗｅｍ１は、（励起波長Ｗｅｘ（ｎｍ）−励起スリット幅Ｓｅｘ（ｎｍ））×２−蛍光調整係数β（ｎｍ）で決定される。蛍光側フィルタ２切替判定波長Ｗｅｍ２は、蛍光側フィルタ２切替判定のための励起波長Ｗｅｘ１２と蛍光側フィルタ１切替判定波長Ｗｅｍ１の交点に対応する蛍光波長である。蛍光側フィルタ２切替判定波長Ｗｅｍ２は、分光蛍光光度計で設定可能な最長の蛍光波長の１／２倍の蛍光を透過しないフィルタを用いる。例えば、最大の蛍光波長が７５０ｎｍとした場合、蛍光側フィルタＮｏ．２として、透過
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できる。【００５６】  蛍光側フィルタ無し波長領域Ａｅｍ０は、蛍光側フィルタ１切替判定波長Ｗｅｍ１よりも蛍光波長が短波長に相当し、蛍光側フィルタ１６は蛍光側フィルタパルスモーター１４にて蛍光側フィルタＮｏ．０（蛍光側フィルタ無し）が光学系上に挿入される。蛍光側フィルタ１波長領域Ａｅｍ１は、蛍光側フィルタ１切替判定波長Ｗｅｍ１よりも蛍光波長が長波長であり、蛍光側フィルタ２切替判定波長Ｗｅｍ２よりも短波長であり、励起波長は分光蛍光光度計で設定可能な最小の励起波長から蛍光側フィルタ２切替判定のための励起波長Ｗｅｘ１２の波長範囲に相当し、蛍光側フィルタ１６は蛍光側フィルタパルスモーター１４にて蛍光側フィルタＮｏ．１が光学系上に挿入される。蛍光側フィルタ２波長領域Ａｅｍ２は、蛍光側フィルタ１切替判定波長Ｗｅｍ１よりも蛍光波長が長波長であり、蛍光側フィルタ２切替判定波長Ｗｅｍ２よりも長波長であり、励起波長は分光蛍光光度計で設定可能な最小の励起波長から蛍光側フィルタ３切替判定のための励起波長Ｗｅｘ１３の波長範囲に相当し、蛍光側フィルタ１６は蛍光側フィルタパルスモーター１４にて蛍光側フィルタＮｏ．２が光学系上に挿入される。蛍光側フィルタ３波長領域Ａｅｍ３は、蛍光側フィルタ１切替判定波長Ｗｅｍ１よりも蛍光波長が長波長であり、励起波長は蛍光側フィルタ３切替判定のための励起波長Ｗｅｘ１３よりも長波長の波長範囲に相当し、蛍光側フィルタ１６は蛍光側フィルタパルスモーター１４にて蛍光側フィルタＮｏ．３が光学系上に挿入される。【００５７】  図７に本発明におけるカットフィルタの構成例を記す。前記励起側フィルタ１５の励起側フィルタ吸収判定（式１）および励起側フィルタ高透過判定（式２）、蛍光側フィルタ１６の蛍光側フィルタ吸収判定（式３）および蛍光側フィルタ高透過判定（式４）の判定条件を満たす構成となっている。なお、前記励起側フィルタ１５の励起側フィルタ吸収判定（式１）および励起側フィルタ高透過判定（式２）、蛍光側フィルタ１６の蛍光側フィルタ吸収判定定（式３）および蛍光側フィルタ高透過判定（式４）の判定条件を満たせばこの限りでない。【００５８】  図７に示す励起側フィルタについて説明する。励起側フィルタＮｏ．１には、ＷＧ２９５フィルタを例示する。このフィルタの透過限界波長λＴは２９５  ｎ
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ィルタを例示する。このフィルタの透過限界波長λＴは４４０  ｎｍ、波長傾斜
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ｎｍである。透過スペクトルを測定し、目的の波長域を遮蔽していることを確認する。【００５９】  同様に図７に示す蛍光側フィルタについて説明する。蛍光側フィルタＮｏ．１には、ＷＧ２９５フィルタを例示する。このフィルタの透過限界波長λＴは２９
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４２フィルタを例示する。このフィルタの透過限界波長λＴは４２０  ｎｍ、波
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は２５  ｎｍである。励起側フィルタと同様に透過スペクトルを測定し、目的の波
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と５％に該当する波長の波長間隔で得る。透過限界波長λＴは、波長傾斜幅の中点に該当する波長で得る。
図８に本発明における３次元蛍光スペクトル測定のフローチャートを記す。【００６０】ステップ５０１として、操作パネル１８より、光度計部１００の３次元蛍光スペクトル測定の条件として、励起側測定開始波長Ｗｅｘｓ、励起側測定終了波長Ｗｅｘｅ（ｎｍ）、励起データ間隔Ｄｅｘ（ｎｍ）、蛍光側測定開始波長Ｗｅｍｓ（ｎｍ）、蛍光側測定終了波長Ｗｅｍｅ（ｎｍ）、蛍光データ間隔Ｄｅｍ（ｎｍ）、励起スリット幅Ｓｅｘ（ｎｍ）、蛍光スリット幅Ｓｅｍ（ｎｍ）を入力する。【００６１】  ステップ５０２として、搭載されているフィルタに相当するフィルタ条件を入力する。このとき、フィルタ条件は、搭載された励起側フィルタ１５におけるＸ
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ｍ）、調整係数αｅｘｘとする。予め搭載された蛍光側フィルタ１６におけるＹ番目
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蛍光調整係数βｅｍｙとする。入力されたフィルタ条件より、励起側遮断／透過波長および蛍光側遮断／透過波長が導かれ、Ａｅｘ１励起側フィルタ１波長領域Ａｅｘ２  励起側フィルタ２波長領域、Ａｅｘ３  励起側フィルタ３波長領域、Ａｅｍ０  蛍光側フィルタ無し波長領域、Ａｅｍ１  蛍光側フィルタ１波長領域、Ａｅｍ２  蛍光側フィルタ２波長領域、Ａｅｍ３  蛍光側フィルタ３波長領域が決定される。ここで、ステップ５０１とステップ５０２の順番は問わない。【００６２】  ステップ５０３は波長範囲の照合である。５０１で入力された測定波長範囲と５０２の入力値にて決定されたＡｅｍ０蛍光側フィルタ無し波長領域、Ａｅｍ１蛍光側フィルタ１波長領域、Ａｅｍ２  蛍光側フィルタ２波長領域、Ａｅｍ３  蛍光側フィルタ３波長領域を照合し、５０４測定開始が実行されると、５０５〜５１２の判定ステップに移る。【００６３】  操作パネル１８より、ステップ５０４である測定開始が実行された際、判定１（ステップ５０５）として、励起側測定開始波長Ｗｅｘｓ、励起側測定終了波長Ｗｅｘｅ（ｎｍ）、蛍光側測定開始波長Ｗｅｍｓ（ｎｍ）、蛍光側測定終了波長Ｗｅｍｅ（ｎｍ）からなる３次元蛍光スペクトルの測定波長範囲に、蛍光側フィルタ無し波長領域Ａｅｍ０  が含まれているかを判定する。ここで、３次元蛍光スペクトルの測定波長範囲に、蛍光側フィルタ無し波長領域Ａｅｍ０  が含まれている場合、蛍光側フィルタ１６は、蛍光側フィルタパルスモーター１４にて蛍光側フィルタＮｏ．０（蛍光側フィルタ無し）が光学系上に挿入される。蛍光側フィルタ１６が無い状態で入力された測定条件の全測定波長範囲の３次元蛍光スペクトルが取得される（ステップ５０６）。この時、励起側フィルタ１５は、図５における励起側カットフィルタ使用波長域に基づき、励起波長に併せて励起側フィルタ１５を切替て３次元蛍光スペクトルを取得する。３次元蛍光スペクトルの測定波長範囲に、蛍光側フィルタ無し波長領域Ａｅｍ０  が含まれていない場合は、次の判定に進む。【００６４】  次に、判定２（ステップ５０７）として、３次元蛍光スペクトルの測定波長範囲に、蛍光側フィルタ１波長領域Ａｅｍ１が含まれているかを判定する。３次元蛍光スペクトルの測定波長範囲に、蛍光側フィルタ１波長領域Ａｅｍ１が含まれている場合、蛍光側フィルタ１６は蛍光側フィルタパルスモーター１４にて蛍光側フィルタＮｏ１が挿入され、３次元蛍光スペクトルの測定波長範囲に、蛍光側フィルタ１波長領域Ａｅｍ１が含まれている波長範囲の３次元蛍光スペクトルを取得する。この時、励起側フィルタ１５は、図５における励起側カットフィルタ使用波長域に基づき、励起波長に併せて励起側フィルタ１５を切替えて３次元蛍光スペクトル（ステップ５０８）を取得する。３次元蛍光スペクトルの測定波長範囲に、蛍光側フィルタ１波長領域Ａｅｍ１が含まれていない場合は、次の判定に進む。【００６５】  次に、判定３（ステップ５０９）として、３次元蛍光スペクトルの測定波長範囲に、蛍光側フィルタ２波長領域Ａｅｍ２が含まれているかを判定する。３次元蛍光スペクトルの測定波長範囲に、蛍光側フィルタ２波長領域Ａｅｍ２が含まれている場合、蛍光側フィルタ１６は蛍光側フィル���パルスモーター１４にて蛍光側フィルタＮｏ２が挿入され、３次元蛍光スペクトルの測定波長範囲に、蛍光側フィルタ２波長領域Ａｅｍ２が含まれている波長範囲の３次元蛍光スペクトル（ステップ５１０）を取得する。３次元蛍光スペクトルの測定波長範囲に、蛍光側フィルタ２波長領域Ａｅｍ２が含まれていない場合は、次の判定に進む。【００６６】  次に、判定４（ステップ５１１）として、３次元蛍光スペクトルの測定波長範囲に、蛍光側フィルタ３波長領域Ａｅｍ３が含まれているかを判定する。３次元蛍光スペクトルの測定波長範囲に、蛍光側フィルタ３波長領域Ａｅｍ３が含まれている場合、蛍光側フィルタ１６は蛍光側フィルタパルスモーター１４にて蛍光側フィルタＮｏ３が挿入され、３次元蛍光スペクトルの測定波長範囲に、蛍光側フィルタ３波長領域Ａｅｍ３が含まれている波長範囲の３次元蛍光スペクトル（ステップ５１２）を取得する。３次元蛍光スペクトルの測定波長範囲に、蛍光側フィルタ３波長領域Ａｅｍ３が含まれていない場合は、次のステップに進む。【００６７】  次のステップ（ステップ５１３）ではフィルタ透過率の補正を実施する。判定２〜４で測定（ステップ５０７〜５１２）された３次元蛍光スペクトルは、蛍光側フィルタ１６に蛍光側フィルタＮｏ．１〜３のカットフィルタが挿入されている状態であり、カットフィルタの吸収による蛍光強度のロスが生じている。そのため、各波長のフィルタ透過率の逆数を蛍光スペクトルに掛け算し、蛍光強度のロス分を補正する。同様に励起側フィルタ１５に励起側フィルタＮｏ．１〜３のカットフィルタが挿入されて測定された波長範囲には、励起側フィルタ１５の各波長のフィルタ透過率の逆数を蛍光スペクトルに掛け算し、蛍光強度のロス分を補正する。【００６８】  次のステップ（ステップ５１５）では、判定１〜判定４（ステップ５０５〜５１２）にて取得された各波長域の３次元蛍光スペクトルを合成し、測定波長の全範囲における単一の３次元蛍光スペクトル測定データとする。
本発明の効果について説明する。【００６９】励起側測定開始波長２００ｎｍ、励起側測定終了波長７５０ｎｍ、励起波長間隔５ｎｍとし、蛍光側測定開始波長２００ｎｍ、蛍光側測定終了波長７５０ｎｍ、蛍光波長間隔５ｎｍとし、蛍光側測定終了波長７５０ｎｍと高次光カットフィルタ切替波長２００の交点を励起波長４００ｎｍとした場合、従来のフィルタ制御方法である特許文献１の方法で３次元蛍光スペクトルを測定した場合、フィルタ切替回数は、（４００−２００）／５＋１＝４１（回）となる。フィルタ切替時間に伴う停止時間を３秒とすると、フィルタ切替に１２３秒要することとなる。波長走査速度６０，０００ｎｍ／ｍｉｎで全波長範囲を測定した場合、フィルタ切替をしない実測時間は２３５秒であり、これにフィルタ切替時間を加えると３５８秒となる。【００７０】  本発明の場合、判定１（ステップ５０５）の蛍光側フィルタ無しで全波長域測定の際、励起側フィルタ１５の切替回数は２回である。実測定時間２３５秒にフィルタ切替時間６秒を加算し、判定１の蛍光側フィルタ無しの測定時間は２４１秒となる。【００７１】  判定２〜判定４（ステップ５０７〜５１２）の蛍光側フィルタ有における測定は、励起側測定開始波長２００ｎｍ、励起側測定終了波長４００ｎｍ、励起波長間隔５ｎｍ、蛍光側測定開始波長２００ｎｍ、蛍光側測定終了波長７５０ｎｍ、蛍光波長間隔５ｎｍにおいて、蛍光側フィルタ１切替判定波長Ｗｅｍ１よりも長波長の蛍光波長範囲を測定する。フィルタの切替回数は励起側フィルタ１回、蛍光側フィルタ３回である。このときの３次元蛍光スペクトル実測定時間は４４秒にフィルタ切替時間１２秒を加算すると、判定２〜判定４（ステップ５０７〜５１２）の測定時間は５６秒となる。判定１（ステップ５０５・５０６）と判定２〜判定４（ステップ５０７〜５１２）の測定時間を加えると２９７秒となる。従来のフィルタ制御方法では、３５８秒要していたが、本発明により、測定時間は６１秒短縮され、２９７秒で測定可能となる。
次に図９〜図１１を参照しながら第２の実施例を説明する。
【実施例２】
【００７２】  判定１（ステップ５０５）における蛍光側フィルタＮｏ．０における蛍光側フィルタ無し測定（ステップ５０６）と判定２〜４における蛍光側フィルタＮｏ．１〜３における蛍光側フィルタ有り測定（ステップ５０７〜５１１）を行う際、励起光による測定試料の劣化により、蛍光強度が低下することがある。この状態でデータ合成を行うと判定１（ステップ５０５）における蛍光側フィルタ無し測定結果（ステップ５０６）と判定２〜４における蛍光側フィルタ有り測定結果（ステップ５０７〜５１２）で蛍光強度に段差が生じる。【００７３】  図９に第２の実施例における３次元蛍光測定の判定フローチャートを記す。このような場合、フィルタ補正とデータ合成の間の過程（ステップ５１４）にて強度補正することで測定試料の劣化に伴う蛍光強度の段差を解消する。【００７４】  図１０及び１１に蛍光強度補正の概念図を記す。概念説明のために３次元蛍光スペクトルから切り出した励起波長Ｗｅｘ（ｎｍ）における２次元の蛍光スペクトルを記している。この時、図１０に示す合成波長Ｗｅｍ３は蛍光側フィルタ１切替判定波長Ｗｅｍ１もしくは、蛍光側フィルタ１切替判定波長Ｗｅｍ２である。合成波長Ｗｅｍ３が蛍光側フィルタ１切替判定波長Ｗｅｍ１の場合、合成波長Ｗｅｍ３を境界に判定１（ステップ５０５）における蛍光側フィルタ無し測定（ステップ５０６）が短波長側に、判定２〜４における蛍光側フィルタ有り測定（ステップ５０７〜５１２）データが長波長側にスペクトル表示される。合成波長Ｗｅｍ３が蛍光側フィルタ２切替判定波長Ｗｅｍ２の場合、合成波長Ｗｅｍ３を境界に判定２（ステップ５０７）における蛍光側フィルタ有り測定（ステップ５０８）が短波長側に、判定３（ステップ５０９）における蛍光側フィルタ有り測定（ステップ５１０）データが長波長側にスペクトル表示される。【００７５】  この時、合成波長Ｗｅｍ３には短波長側の蛍光強度データＦｓと長波長側の蛍光強度データＦｌがそれぞれ存在する。図１０に示すように蛍光強度の段差が生じた場合、蛍光強度補正値ｆｃとして、Ｆｓ／Ｆｌを取得する。この蛍光強度補正値ｆｃを長波長側で得られた蛍光強度に掛け合わせることで蛍光強度が補正される（図１１）。なお、この蛍光強度補正値ｆｃは３次元蛍光スペクトルのそれぞれの励起波長Ｗｅｘ（ｎｍ）において取得し、蛍光強度補正する。測定条件や測定試料によって影響が異なることがあるため、蛍光強度補正シーケンスの有無は、ソフトウェアから選択しても良い。
次に第３の実施例を説明する。
【実施例３】
【００７６】  実施例１において、判定２（ステップ５０７）として、３次元蛍光スペクトルの測定波長範囲に、蛍光側フィルタ１波長領域Ａｅｍ１が含まれている場合、蛍光側フィルタＮｏ１が挿入され、当該波長領域の３次元蛍光スペクトルを取得するが、この時、蛍光側フィルタ１波長領域Ａｅｍ１における蛍光側測定開始波長Ｗｅｍｓ（ｎｍ）は、分析者が設定しようとしている測定開始波長及び測定終了波長と蛍光側フィルタ切替判断波長の大小を比較して、ステップ５０７、５０９、５１１における実際の蛍光側測定開始波長を決定する。
Ｗｅｍｓ≧Ｗｅｍ１
Ｗｅｍｓ：蛍光側測定開始波長  ｎｍ
Ｗｅｍ１：蛍光側フィルタ１切替判定波長ｎｍ
この場合は、分析者により設定された蛍光側測定開始波長Ｗｅｍｓ（ｎｍ）を選択する。
Ｗｅｍｓ＜Ｗｅｍ１
となる場合は、判定波長Ｗｅｍ１を蛍光側測定開始波長とする。
同様に、蛍光側測定終了波長Ｗｅｍｅ（ｎｍ）は、
Ｗｅｍｅ≧Ｗｅｍ２
の場合は、Ｗｅｍ２（ｎｍ）となる。    Ｗｅｍｅ＜Ｗｅｍ２
の場合は、分析者により設定された蛍光側測定開始波長Ｗｅｍｅ（ｎｍ）となる。
蛍光側測定開始波長Ｗｅｍｓ（ｎｍ）に判定波長Ｗｅｍ１を適用することで、測定時間の短縮が図られる。【００７７】  ここで、蛍光側測定開始波長Ｗｅｍｓ（ｎｍ）に蛍光側フィルタ１切替判定波長Ｗｅｍ１を適用せず、分析者により設定された蛍光側測定開始波長Ｗｅｍｓ（ｎｍ）を適用してもよい。【００７８】  測定波長範囲が異なると蛍光側分光器７由来の機械的な波長誤差が生じることがある。蛍光側測定開始波長Ｗｅｍｓ（ｎｍ）に蛍光側フィルタ１切替判定波長Ｗｅｍ１を適用せず、分析者により設定された蛍光側測定開始波長Ｗｅｍｓ（ｎｍ）を適用することで、励起波長Ｗｅｘ（ｎｍ）に依存せず、常に一定の蛍光波長範囲となることから、機械的な波長精度を一定に保つことができる。その結果、データ合成における誤差を低下することができる。これは、判定３（ステップ５０９）、判定４（ステップ５１１）においても同様である。判定３（ステップ５０９）の場合は、以下の２式より蛍光側測定開始波長に設定されたＷｅｍｓ（ｎｍ）を適用する。
Ｗｅｍｓ＜Ｗｅｍ１
Ｗｅｍｓ＜Ｗｅｍ２【００７９】  実施例１と実施例３における蛍光側測定開始波長の適用値の設定は、測定条件や測定試料によって影響が異なることがあるため、ソフトウェアから選択しても良い。【００８０】  以上、本発明の技術範囲は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
例えば、本願の実施例においては、励起側カットフィルタあるいは蛍光側カットフィルタについて、それぞれ３種類を備えた例を示したが、それ以上備えてもかまわない。
【符号の説明】
【００８１】１  光源
２  励起側分光器
３  ビームスプリッタ
４  モニタ検知器
５  試料設置部（セル）
６  測定試料
７  蛍光側分光器
８  検知器
９  Ａ／Ｄ変換器
１０  コンピュータ
１１  蛍光側パルスモーター
１２  励起側パルスモーター
１３  励起側フィルタパルスモーター
１４  蛍光側フィルタパルスモーター
１５  励起側フィルタ
１６  蛍光側フィルタ
１７  モニタ
１８  操作パネル
１００  光度計部
１０１  データ処理部
１０２  インターフェイス
Ｗｒｓ  レーリー散乱波長
Ｗｒｅ  レーリー散乱光の２次光に相当する波長
Ｗｅｘ１  励起側フィルタ１切替波長
Ｗｅｘ２  励起側フィルタ２切替波長
Ｗｅｘ３  励起側フィルタ３切替波長
Ｗｅｍ１  蛍光側フィルタ１切替判定波長
Ｗｅｍ２  蛍光側フィルタ２切替判定波長
Ａｅｘ０  励起側フィルタ無し波長領域
Ａｅｘ１  励起側フィルタ１波長領域
Ａｅｘ２  励起側フィルタ２波長領域
Ａｅｘ３  励起側フィルタ３波長領域
Ａｅｍ０  蛍光側フィルタ無し波長領域
Ａｅｍ１  蛍光側フィルタ１波長領域
Ａｅｍ２  蛍光側フィルタ２波長領域
Ａｅｍ３  蛍光側フィルタ３波長領域
Ｗｅｘ１２  蛍光側フィルタ２切替判定のための励起波長
Ｗｅｘ１３  蛍光側フィルタ３切替判定のための励起波長
Ｗｅｍ３  合成波長
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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