(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
メモリの試験方法であって、
メモリの複数のモードのうちの各モードにおいて、試験におけるファームウェアによるメモリの障害が発生したか否かを示すパターンを記録するステップと、
メモリの所定の１つのモードにおいて、試験におけるファームウェアによりメモリの障害が発生したときに、当該障害に対応する前記パターンを参照するステップと、
前記所定の１つのモードにおいて発生した障害が既に全てのモードにおいて発生していたことを、参照した前記パターンが示す場合には、メモリの前記所定の１つのモード以外のモードにおける、メモリに対する追加試験を行わずに、次のメモリ試験が存在すれば次のメモリ試験に移行するステップを備えた、メモリの試験方法。
【請求項２】
前記所定の１つのモードにおいて発生した障害が、いずれかの前記モードにおいてまだ発生していないことを、参照した前記パターンが示す場合には、メモリの前記所定の１つのモード以外のモードにおける、メモリに対する追加試験を行うステップをさらに備え、
前記記録するステップは、追加試験の結果に応じて、前記パターンを更新する必要があれば、前記パターンの更新を行うものである、請求項１に記載のメモリの試験方法。
【請求項３】
前記所定の１つのモードは、ノーマルモードであり、
追加試験は、ミラーモード及びスペアモードにおいて行われるものである、請求項１または２に記載のメモリの試験方法。
【請求項４】
メモリの試験装置であって、
メモリの複数のモードのうちの各モードにおいて、試験におけるファームウェアによるメモリの障害が発生したか否かを示すパターンを記憶する記憶部と、
メモリの所定の１つのモードにおいて、試験におけるファームウェアによりメモリの障害が発生したときに、当該障害に対応する前記パターンを参照する参照部と、
前記所定の１つのモードにおいて発生した障害が既に全てのモードにおいて発生していたことを、前記参照部が参照した前記パターンが示す場合には、メモリの前記所定の１つのモード以外のモードにおける、メモリに対する追加試験を行わずに、次のメモリ試験が存在すれば次のメモリ試験に移行する制御部を備えた、メモリの試験装置。
【請求項５】
メモリ試験の対象の装置である被試験装置と該被試験装置のメモリ試験を行う試験装置とを有する試験システムであって、
前記試験装置は、
メモリの複数のモードのうちの各モードにおいて、試験におけるファームウェアによるメモリの障害が発生したか否かを示すパターンを記憶する記憶部と、
メモリの所定の１つのモードにおいて、試験におけるファームウェアによりメモリの障害が発生したときに、当該障害に対応する前記パターンを参照する参照部と、
前記所定の１つのモードにおいて発生した障害が既に全てのモードにおいて発生していたことを、前記参照部が参照した前記パターンが示す場合には、メモリの前記所定の１つのモード以外のモードにおける、メモリに対する追加試験を行わずに、次のメモリ試験が存在すれば次のメモリ試験に移行する制御部を備えた、試験システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験方法、試験装置及び試験システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
メモリを搭載するサーバ等の電子装置では、品質保証のためのメモリ試験が数時間に渡って行われる。このため、メモリ試験は夜間あるいは休日に行われる。オペレータは、被試験装置に試験装置からテストプログラムを走行させる指示を出し、試験を開始する。
【０００３】
障害が発生すると、被試験装置から障害情報が試験装置に通知され、試験は停止する。オペレータは、翌朝あるいは休日明けの朝から障害解析を実施する。オペレータは、被試験装置から障害ログを採取して解析し、障害原因を特定した後に被試験装置を復旧させ、試験を再開する。
【０００４】
なお、各演算装置への命令の供給、各演算装置へのデータの供給を同期させ、各演算装置から出力された命令実行情報同士を比較し、演算装置のいずれかが異なる命令実行情報を出力したか否かを判定することで、演算装置に高速かつ網羅的な試験を行う技術がある。
【０００５】
また、既知障害と該既知障害と関連がある既存の既知障害をグループ化してグループの対処優先度を決定し、データベースに登録することで、既知障害への対処を効率化する技術がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】国際公開第２００８／０５３７０９号
【特許文献２】特開２００９−１６９６０９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
試験中に障害が発生して試験が停止し、翌朝あるいは休日明けの朝から障害解析を実施する従来の試験は、障害が発生した場合に翌朝あるいは休日明けに試験が再開されるため、試験効率が悪いという問題がある。被試験装置の開発期間は年々短くなり、品質保証のための検証時間も短縮が求められている。
【０００８】
本発明は、１つの側面では、試験を効率化することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本願の開示するメモリの試験方法は、１つの態様において、メモリの複数のモードのうちの各モードにおいて、試験におけるファームウェアによるメモリの障害が発生したか否かを示すパターンを記録するステップを備える。前記試験方法は、メモリの所定の１つのモードにおいて、試験におけるファームウェアによりメモリの障害が発生したときに、当該障害に対応する前記パターンを参照するステップを備える。前記試験方法は、前記所定の１つのモードにおいて発生した障害が既に全てのモードにおいて発生していたことを、参照した前記パターンが示す場合には、メモリの前記所定の１つのモード以外のモードにおける、メモリに対する追加試験を行わずに、次のメモリ試験が存在すれば次のメモリ試験に移行するステップを備える。
【発明の効果】
【００１０】
１実施態様によれば、試験を効率化することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】図１は、実施例に係る試験システムの構成を示す図である。
【図２】図２は、被試験装置の構成を示す図である。
【図３Ａ】図３Ａは、電源オンオフサイクル試験のフローを示すフローチャートである。
【図３Ｂ】図３Ｂは、リブート試験のフローを示すフローチャートである。
【図３Ｃ】図３Ｃは、負荷試験のフローを示すフローチャートである。
【図４】図４は、試験装置による障害判定方法を説明するための図である。
【図５】図５は、障害発生マトリックスを示す図である。
【図６】図６は、一次判定のフローを示す図である。
【図７】図７は、二次判定のフローを示す図である。
【図８】図８は、障害切り分けフローを示す図である。
【図９】図９は、ファーム障害における既知障害との比較のフローを示す図である。
【図１０Ａ】図１０Ａは、連続試験の流れ（エラー未発生）を示す図である。
【図１０Ｂ】図１０Ｂは、連続試験の流れ（エラー発生の場合１）を示す図である。
【図１０Ｃ】図１０Ｃは、連続試験の流れ（エラー発生の場合２）を示す図である。
【図１０Ｄ】図１０Ｄは、連続試験の流れ（エラー発生の場合３、追加試験あり）を示す図である。
【図１０Ｅ】図１０Ｅは、連続試験の流れ（エラー発生の場合４、追加試験なし）を示す図である。
【図１１Ａ】図１１Ａは、連続試験の処理フローを示す第１のフローチャート（全体）である。
【図１１Ｂ】図１１Ｂは、連続試験の処理フローを示す第２のフローチャート（障害切り分け）である。
【図１１Ｃ】図１１Ｃは、連続試験の処理フローを示す第３のフローチャート（ハード障害）である。
【図１１Ｄ】図１１Ｄは、連続試験の処理フローを示す第４のフローチャート（ＯＳ障害）である。
【図１１Ｅ】図１１Ｅは、連続試験の処理フローを示す第５のフローチャート（ファーム障害）である。
【図１１Ｆ】図１１Ｆは、連続試験の処理フローを示す第６のフローチャート（追加試験）である。
【図１１Ｇ】図１１Ｇは、連続試験の処理フローを示す第７のフローチャート（追加試験結果に基づく処理）である。
【図１２】図１２は、実施例に係る試験の効果を説明するための図である。
【図１３】図１３は、実施例に係る試験プログラムを実行するコンピュータのハードウェア構成を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下に、本願の開示する試験方法、試験装置及び試験システムの実施例を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施例は開示の技術を限定するものではない。
【実施例】
【００１３】
まず、実施例に係る試験システムの構成について説明する。図１は、実施例に係る試験システムの構成を示す図である。図１に示すように、試験システム１０は、試験装置１と４台の被試験装置２とを有する。なお、ここでは説明の便宜上、４台の被試験装置２のみを示したが、被試験装置の台数は５台以上でもよい。試験装置１と４台の被試験装置２は通信可能に接続される。
【００１４】
試験装置１は、４台の被試験装置２のメモリ試験を行う装置であり、設定情報部１１と、時間管理部１２と、エラー収集部１３と、解析診断部１４と、操作部１５と、既知障害管理部１６とを有する。
【００１５】
設定情報部１１は、ファームデータ、試験パラメータ及びメモリモードを記憶する。ファームデータは、被試験装置２で実行されるテストプログラムである。試験パラメータには、試験内容、試験時間が含まれる。試験内容には、電源のオンオフを繰り返す電源オンオフサイクル試験と、ＯＳ（Operating  System）の再起動を繰り返すリブート試験と、メモリへ書き込み及び読み出しの負荷を与える負荷試験とがある。
【００１６】
メモリモードには、ノーマルモードと、ミラーモードと、スペアモードとがある。ノーマルモードは、通常使われるモードである。ミラーモードは、メモリを二重化して、二重化したメモリの両方にデータを書き込むモードである。片方のメモリで訂正不可能なエラーが発生した場合には、もう一方のメモリのデータが使用される。スペアモードは、予備メモリ（スペア）を待機させ、運用しているメモリで訂正可能なエラーが発生した場合に予備メモリへ運用を切り替えるモードである。
【００１７】
設定情報部１１は、試験開始前にファームデータ及びメモリモードを被試験装置２に設定する。また、設定情報部１１は、時間管理部１２に試験の開始時刻及び試験時間を伝える。また、設定情報部１１は、操作部１５に対して、試験に沿った命令を伝える。
【００１８】
時間管理部１２は、設定情報部１１から試験の開始時刻及び試験時間を受け取り、試験時間を監視する。そして、試験が終了すると設定情報部１１に通知する。また、時間管理部１２は、全ての試験が終了すると操作部１５にシャットダウンを指示する。
【００１９】
エラー収集部１３は、被試験装置２でエラーが発生した場合に、被試験装置２からエラー情報を受信し、解析診断部１４にエラー情報を伝える。
【００２０】
解析診断部１４は、エラー収集部１３からエラー情報を受け取り、エラー情報等に基づいて障害の切り分けを行う。解析診断部１４は、障害の切り分けを行うために、被試験装置２から装置名、ＯＳ情報及びメモリモードを入手し、設定情報部１１から試験パラメータを入手する。解析診断部１４は、障害をハード障害、ＯＳ障害又はファーム障害のいずれかに切り分ける。ここで、ハード障害とは、メモリのハードウェアの障害である。ＯＳ障害とは、ＯＳの障害である。ファーム障害とは、ファームウェアすなわちテストプログラムによる障害である。
【００２１】
解析診断部１４は、ファーム障害の場合に、既知障害管理部１６から情報を取得して障害が既知障害であるか否かを切り分ける。そして、解析診断部１４は、障害が既知障害である場合には、次の試験を行うように操作部１５に指示する。
【００２２】
一方、障害が既知障害でない場合には、解析診断部１４は、追加試験を実施し、追加試験の結果に基づいて、障害が既知障害であるか否かを再度判定する。そして、障害が既知障害である場合には、解析診断部１４は、次の試験を行うように操作部１５に指示する。一方、障害が既知障害でない場合には、既知障害管理部１６に対して、新しく検出された障害の登録を依頼する。そして、解析診断部１４は、次の試験を行うように操作部１５に指示する。なお、解析診断部１４の詳細については後述する。
【００２３】
操作部１５は、オペレータによる試験パラメータの選択及び試験開始の指示を端末３から受け付け、選択された試験パラメータでの試験開始を被試験装置２に指示する。また、操作部１５は、設定情報部１１及び時間管理部１２のデータに基づいて、被試験装置２に対して試験の指示を出す。また、操作部１５は、解析診断部１４からの指示に基づいて、被試験装置２を操作する。具体的には、操作部１５は、被試験装置２に電源オン、リブート及びシャットダウンの指示を出す。
【００２４】
既知障害管理部１６は、新しく検出された障害の情報を解析診断部１４から受け取り、既知障害記憶部に登録する。また、既知障害管理部１６は、解析診断部１４からの依頼に基づいて、既知障害記憶部に記憶する情報を解析診断部１４に伝える。
【００２５】
被試験装置２は、メモリを備えるサーバであり、試験装置１により試験される。図２は、被試験装置２の構成を示す図である。図２に示すように、４台の被試験装置２の装置名は、装置Ａ〜装置Ｄである。装置Ａ及び装置ＢのＯＳはＷｉｎｄｏｗｓ（登録商標）であり、装置Ｃ及び装置ＤのＯＳはＬｉｎｕｘ（登録商標）である。ハード構成は、４台とも同構成であり、ファーム版数は、４台とも同ファーム版数である。
【００２６】
被試験装置２は、ＢＩＯＳ（Basic  Input/Output  System）２１と、ＢＭＣ（Base  Management  Controller）２２と、システム制御ボード２３とを有する。ＢＩＯＳ２１は、ＣＰＵ、メモリ等の試験を行う。そして、ＢＩＯＳ２１は、メモリの試験中にエラーが発生するとメモリエラーをＢＭＣ２２に通知する。ＢＭＣ２２は、ＣＰＵ、メモリの監視等を行う。ＢＭＣ２２は、ＢＩＯＳ２１からメモリエラーを通知されると、システム制御ボード２３にエラーを通知する。
【００２７】
システム制御ボード２３は、被試験装置２の監視、制御を行う。システム制御ボード２３は、ＢＭＣ２２からエラーを通知されると、エラー情報を試験装置１に送信する。また、システム制御ボード２３は、解析診断部１４からの依頼に基づき、ＯＳ情報、装置名及びメモリモードを解析診断部１４に送信する。
【００２８】
また、システム制御ボード２３は、試験装置１からファームデータ及びメモリモードを受け取り、指定されたメモリモードでのメモリ試験をファームデータを使用して行うようにＢＭＣ２２に指示する。ＢＭＣ２２は、システム制御ボード２３の指示に基づいて、ＢＩＯＳ２１にメモリ試験を指示する。また、システム制御ボード２３は、試験装置１から電源オン、リブート及びシャットダウンの指示を受け取り、それぞれ被試験装置２の電源オン、リブート及びシャットダウンを行う。
【００２９】
次に、各試験のフローについて図３Ａ〜図３Ｃを用いて説明する。図３Ａは、電源オンオフサイクル試験のフローを示すフローチャートである。図３Ａでは、１０分間隔で電源のオンオフが繰り返される。
【００３０】
図３Ａに示すように、電源オンオフサイクル試験では、設定情報部１１の指示に基づいて操作部１５が被試験装置２に電源オンを指示する（ステップＳ１）。そして、指定されたメモリモードでのメモリ試験が行われる。
【００３１】
そして、時間管理部１２が５分経過したか否かを判定し（ステップＳ２）、５分経過すると、時間管理部１２が設定情報部１１に通知し、設定情報部１１の指示に基づいて操作部１５が被試験装置２にシャットダウンを指示する（ステップＳ３）。そして、時間管理部１２は、試験終了時間か否かを判定し（ステップＳ４）、試験終了時間である場合には、試験装置１は、電源オンオフサイクル試験を終了する。
【００３２】
一方、試験終了時間でない場合には、時間管理部１２が５分経過したか否かを判定し（ステップＳ５）、５分経過すると、時間管理部１２が設定情報部１１に通知し、設定情報部１１の指示に基づいて操作部１５が被試験装置２に電源オンを指示する（ステップＳ６）。そして、指定されたメモリモードでのメモリ試験が行われ、試験装置１は、ステップＳ２に戻る。
【００３３】
図３Ｂは、リブート試験のフローを示すフローチャートである。図３Ｂでは、１０分間隔でリブートが繰り返される。図３Ｂに示すように、リブート試験では、設定情報部１１の指示に基づいて操作部１５が被試験装置２に電源オンを指示する（ステップＳ１１）。そして、指定されたメモリモードでのメモリ試験が行われる。
【００３４】
そして、時間管理部１２が、１０分経過したか否かを判定し（ステップＳ１２）、１０分経過すると、試験終了時間か否かを判定する（ステップＳ１３）。そして、試験終了時間である場合には、時間管理部１２が設定情報部１１に試験終了を通知し、設定情報部１１の指示に基づいて操作部１５が被試験装置２にシャットダウンを指示する（ステップＳ１５）。
【００３５】
一方、試験終了時間でない場合には、時間管理部１２が設定情報部１１に１０分経過を通知し、設定情報部１１の指示に基づいて操作部１５が被試験装置２にリブートを指示する（ステップＳ１４）。そして、リブートが行われると、指定されたメモリモードでのメモリ試験が行われ、試験装置１は、ステップＳ１２に戻る。
【００３６】
図３Ｃは、負荷試験のフローを示すフローチャートである。図３Ｃに示すように、負荷試験では、設定情報部１１の指示に基づいて操作部１５が被試験装置２に電源オンを指示する（ステップＳ２１）。そして、指定されたメモリモードでのメモリ試験が行われる。
【００３７】
そして、時間管理部１２が、試験終了時間か否かを判定し（ステップＳ２２）、試験終了時間でない場合には、試験終了時間まで待つ。そして、試験終了時間になると、時間管理部１２が設定情報部１１に試験終了を通知し、設定情報部１１の指示に基づいて操作部１５が被試験装置２にシャットダウンを指示する（ステップＳ２３）。
【００３８】
次に、図４〜図９を用いて、試験装置１による障害判定方法について説明する。図４は、試験装置１による障害判定方法を説明するための図である。図４に示すように、操作部１５は、オペレータによる試験パラメータの選択及び開始スイッチオンの指示を受け付け、４台の被試験装置２に試験を指示する。
【００３９】
そして、被試験装置２で障害が発生すると、エラー収集部１３がエラー情報を収集し、解析診断部１４にエラー情報を渡す。解析診断部１４は、設定情報部１１から試験パラメータを取得し、取得した試験パラメータ等に基づいて障害の解析を行う。具体的には、解析診断部１４は、４台の被試験装置２の障害発生マトリックスを用いて一次判定を行い（ステップｔ１）、障害原因がハード障害であるか、ＯＳ障害であるか、ファーム障害であるかを切り分ける。
【００４０】
図５は、障害発生マトリックスを示す図である。図５において、黒丸は障害発生を示す。図５に示すように、障害発生マトリックスは、障害発生装置と障害原因とを対応付ける表である。装置Ａ〜装置Ｄのいずれか１台だけに障害が発生した場合には、障害原因は（１）ハード障害である。ハード障害は、ＯＳ、メモリモードに起因せずに装置単独で発生する障害である。
【００４１】
また、ＯＳが同じである２つの装置で障害が発生した場合には、障害原因は（２）ＯＳ障害である。すなわち、Ｗｉｎｄｏｗｓを搭載した装置Ａ及び装置Ｂだけで障害が発生した場合、あるいは、Ｌｉｎｕｘを搭載した装置Ｃ及び装置Ｄだけで障害が発生した場合には、障害原因はＯＳ障害である。
【００４２】
また、全装置で障害が発生した場合、ＯＳが異なる２台の装置で障害が発生した場合、３台の装置で障害が発生した場合には、障害原因は（３）ファーム障害である。すなわち、ハード障害でもＯＳ障害でもない場合には、障害原因はファーム障害である。
【００４３】
図４に戻って、一次判定結果がハード障害又はＯＳ障害である場合には、解析診断部１４は、障害の記録を行い、障害が発生した装置のシャットダウン等を操作部１５に対して指示する。そして、ハード障害またはＯＳ障害への対応が終了すると、ハード障害が発生した被試験装置２は試験を再開し、またはＯＳ障害が発生した被試験装置２は試験をやり直し、試験を完了する。
【００４４】
一方、一次判定結果がファーム障害である場合には、解析診断部１４は、既知障害管理部１６から情報を取得して全てのメモリモードで障害が発生済みか否かを判定する二次判定を行う（ステップｔ２）。その結果、全てのメモリモードで障害が発生済みである場合には、解析診断部１４は、発生した障害は既知障害であるとして、操作部１５に対して試験の完了を指示し、試験装置１は、次の試験を行うか又は全試験を完了する。
【００４５】
一方、全メモリモードで一つでも障害が発生していない場合には、解析診断部１４は、新規障害であるとして、追加試験を行う（ステップｔ３）。その結果、解析診断部１４は、新たなメモリモードで障害が発生したか否かを判定し（ステップｔ４）、新たなメモリモードで障害が発生した場合には、既知障害管理部１６に新規障害として登録することを指示する（ステップｔ５）。一方、発生した障害のメモリモードで既に障害が発生している場合には、解析診断部１４は、発生した障害は既知障害であるとして、既知障害としての対応を行う（ステップｔ６）。
【００４６】
図６は、一次判定のフローを示す図である。図６では、電源オンオフサイクル試験で障害が発生し、ハード障害又はＯＳ障害であった場合に、リブート試験を継続して行う場合を示す。図６に示すように、設定情報部１１は、操作部１５を介して４台の被試験装置２に電源オンオフサイクル試験を指示する（ステップｔ１１）。そして、電源オンオフサイクル試験中に障害が発生すると、エラー収集部１３がエラー情報を収集する（ステップｔ１２）。
【００４７】
そして、解析診断部１４は、ハード障害であるか否かを判定し（ステップｔ１３）、ハード障害である場合には、ハード障害の発生を登録し（ステップｔ１４）、障害メモリの切り離しを指示する（ステップｔ１５）。そして、被試験装置２は試験を再開し、試験を終了すると、設定情報部１１は操作部１５を介して４台の被試験装置２にリブート試験を指示する（ステップｔ１６）。そして、リブート試験中に障害が発生すると、エラー収集部１３がエラー情報を収集する（ステップｔ１７）。そして、解析診断部１４が障害の切り分けを行う。
【００４８】
一方、ハード障害でない場合には、解析診断部１４は、ＯＳ障害であるか否かを判定し（ステップｔ１８）、ＯＳ障害でない場合には、二次判定に進む。一方、ＯＳ障害である場合には、解析診断部１４は、ＯＳ障害の発生を登録し（ステップｔ１９）、ＯＳ障害対応を指示する（ステップｔ２０）。そして、被試験装置２は試験をやり直し、試験を終了すると、試験装置１はステップｔ１６に進む。
【００４９】
図７は、二次判定のフローを示す図である。図７に示すように、解析診断部１４は、全メモリモードで既に障害があるか否かを既知障害管理部１６から情報を取得して判定する（ステップｔ２１）。その結果、全メモリモードで既に障害がある場合には、発生した障害は既知障害であるとして、試験装置１は、現在の試験をスキップして次の試験を行うか又は全試験を完了する（ステップｔ２２）。なお、全試験を完了するのは、最後の試験で既知障害が発生した場合である。
【００５０】
一方、いずれかのメモリモードでまだ障害が発生していない場合には、操作部１５は、追加試験として、ミラーモードでの試験を指示し（ステップｔ２３）、スペアモードでの試験を指示する（ステップｔ２４）。
【００５１】
そして、解析診断部１４は、新たなメモリモードで障害が発生したか否かを既知障害管理部１６から情報を取得して判定することによって既知障害であるか否かを判定する（ステップｔ２５）。その結果、発生した障害が新たなメモリモードでの障害である場合には、解析診断部１４は、既知障害でないと判定する。そして、既知障害管理部１６が新規障害の登録を行う（ステップｔ２６）。そして、試験装置１は、次の試験を行うか又は全試験を完了する（ステップｔ２７）。
【００５２】
一方、発生した障害が新たなメモリモードでの障害でない場合には、解析診断部１４は、既知障害であると判定する。そして、試験装置１は、現在の試験をスキップして次の試験を行うか又は全試験を完了する（ステップｔ２８）。また、障害が発生しなかった場合にも、試験装置１は、現在の試験をスキップして次の試験を行うか又は全試験を完了する（ステップｔ２８）。
【００５３】
このように、解析診断部１４は、一次判定でハード障害又はＯＳ障害とファーム障害とを切り分ける。そして、解析診断部１４は、ファーム障害である場合に、二次判定で既知障害か新規障害かを切り分ける。そして、既知障害である場合には、試験装置１は、現在の試験をスキップして、次の試験を行うか又は全試験を完了する。すなわち、試験装置１は、発生した障害が既知である場合には、障害を無視して試験を継続する。
【００５４】
図８は、障害切り分けフローを示す図である。図８では、障害切り分けに用いられる障害発生マトリックスも示されている。図８に示すように、解析診断部１４は、エラー収集部１３が被試験装置２からエラー情報を通知されたか否かを判定する（ステップｔ３１）。そして、解析診断部１４は、エラー情報を通知された場合には、障害発生パターンが障害発生マトリックスのハード障害のいずれかに該当するかを判断することによって、ハード障害かどうかを判断する（ステップｔ３２）。すなわち、解析診断部１４は、エラーが発生した装置は何台かを判定し（ステップｔ３３）、１台である場合に、ハード障害と判断する（ステップｔ３４）。
【００５５】
一方、エラーが発生した装置が２台以上である場合には、解析診断部１４は、障害発生パターンが障害発生マトリックスのＯＳ障害のいずれかに該当するかを判断することによって、ＯＳ障害かどうかを判断する（ステップｔ３５）。すなわち、解析診断部１４は、エラー情報を通知した装置のＯＳを確認し（ステップｔ３６）、エラーが発生した装置のＯＳが全て同一であるか否かを判定する（ステップｔ３７）。
【００５６】
その結果、解析診断部１４は、エラーが発生した装置のＯＳが全て同一である場合には、ＯＳ障害と判断し（ステップｔ３８）、エラーが発生した装置のＯＳに異なるものがある場合には、ファーム障害と判断する（ステップｔ３９）。
【００５７】
このように、解析診断部１４は、障害が発生した被試験装置２の台数及び障害が発生した被試験装置２に搭載されたＯＳに基づいて、障害切り分けを行うことができる。
【００５８】
図９は、ファーム障害における既知障害との比較のフローを示す図である。また、図９には、既知障害管理部１６が管理する既知障害登録パターンを示す。図９に示すように、既知障害登録パターンには、Ｐ＿１〜Ｐ＿５の５つのパターンがあり、既知障害管理部１６には、Ｐ＿１〜Ｐ＿５のうち一つのパターンが登録されている。
【００５９】
初期値として登録されているパターンはＰ＿１であり、Ｐ＿１はいずれのメモリモードでも障害が発生していないことを表す。メモリの試験は、ノーマルモードで行われ、ノーマルモードで障害が発生すると、追加試験としてミラーモード及びスペアモードでの試験が行われる。
【００６０】
追加試験により障害が発生しない場合には、既知障害登録パターンはＰ＿２となる。追加試験によりミラーモードだけで障害が発生した場合には、既知障害登録パターンはＰ＿３となる。追加試験によりスペアモードだけで障害が発生した場合には、既知障害登録パターンはＰ＿４となる。追加試験によりミラーモードとスペアモードの両方で障害が発生した場合には、既知障害登録パターンはＰ＿５となる。なお、既知障害管理部１６は、既知障害登録パターンは、試験内容毎に既知障害登録パターンを管理する。
【００６１】
解析診断部１４は、既知障害管理部１６から登録されている情報すなわち既知障害登録パターンを入手する（ステップｔ４１）。そして、解析診断部１４は、既知障害登録パターンがＰ＿５であるか否かを判定し（ステップｔ４２）、Ｐ＿５である場合には、既に全メモリモードで障害が発生しているので、既知障害であると判定する。そして、試験装置１は、現試験はスキップし、次の試験を行うか又は全試験を完了する（ステップｔ４３）。
【００６２】
一方、既知障害登録パターンがＰ＿５でない場合には、解析診断部１４は、新たなメモリモードで障害が発生する可能性があるので、追加試験を指示する（ステップｔ４４）。
【００６３】
このように、既知障害の情報を既知障害管理部１６が既知障害登録パターンとして管理することで、解析診断部１４は、追加試験が必要か否かを簡単に判断することができる。
【００６４】
次に、連続試験の流れについて図１０Ａ〜図１０Ｅを用いて説明する。ここで、連続試験とは、電源オンオフサイクル試験、リブート試験及び負荷試験を連続して行う試験である。図１０Ａは、連続試験の流れ（エラー未発生）を示す図である。図１０Ａに示すように、連続試験では、装置Ａ〜装置Ｄに対して、電源オンオフサイクル試験、リブート試験、負荷試験の順でそれぞれ２時間の試験が行われる。図１０Ａでは、どの被試験装置２でもエラーが発生しなかったため、連続試験は６時間で終了する。
【００６５】
図１０Ｂは、連続試験の流れ（エラー発生の場合１）を示す図である。図１０Ｂは、装置Ｄで電源オンオフサイクル試験中にエラーが発生した場合を示す。１台の被試験装置２だけでエラーが発生したので、ハード障害と判断され、メモリ交換後、継続して試験が行われる。エラー未発生の装置Ａ〜装置Ｃは、電源オンオフサイクル試験終了後、エラーが発生した装置Ｄの電源オンオフサイクル試験が終了するまで待つ。４台全ての被試験装置２の電源オンオフサイクル試験終了後にリブート試験が行われる。この場合、メモリ交換に必要な時間をα時間とすると、連続試験は（６＋α）時間で終了する。
【００６６】
図１０Ｃは、連続試験の流れ（エラー発生の場合２）を示す図である。図１０Ｃは、装置Ｃ及び装置Ｄで電源オンオフサイクル試験中にエラーが発生した場合を示す。２台の被試験装置２でエラーが発生し、エラーが発生した装置のＯＳが同一なので、ＯＳ障害と判断され、装置Ｃ及び装置Ｄについては、ＯＳ交換後、最初から電源オンオフサイクル試験が行われる。エラー未発生の装置Ａ及び装置Ｂは、電源オンオフサイクル試験終了後、エラーが発生した装置Ｃ及び装置Ｄの電源オンオフサイクル試験が終了するまで待つ。４台全ての被試験装置２の電源オンオフサイクル試験終了後にリブート試験が行われる。この場合、電源オンオフサイクル試験開始後１時間でエラーが発生し、ＯＳ交換に必要な時間をα時間とすると、連続試験は（７＋α）時間で終了する。
【００６７】
図１０Ｄは、連続試験の流れ（エラー発生の場合３、追加試験あり）を示す図である。図１０Ｄは、装置Ｂ及び装置Ｄで電源オンオフサイクル試験中にエラーが発生した場合を示す。２台の被試験装置２でエラーが発生し、エラーが発生した装置のＯＳが異なるので、ファーム障害と判断され、装置Ｂ及び装置Ｄについては、追加試験が行われる。エラー未発生の装置Ａ及び装置Ｃは、電源オンオフサイクル試験終了後、エラーが発生した装置Ｂ及び装置Ｄの追加試験が終了するまで待つ。追加試験終了後にリブート試験が行われる。この場合、電源オンオフサイクル試験開始後１時間で装置Ｂ及び装置Ｄでエラーが発生し、追加試験に２時間かかったとすると、連続試験は７時間で終了する。
【００６８】
図１０Ｅは、連続試験の流れ（エラー発生の場合４、追加試験なし）を示す図である。図１０Ｅは、装置Ｂ及び装置Ｄで電源オンオフサイクル試験中にエラーが発生した場合を示す。２台の被試験装置２でエラーが発生し、エラーが発生した装置のＯＳが異なるので、ファーム障害と判断されるが、追加試験は行われない。エラー未発生の装置Ａ及び装置Ｃも電源オンオフサイクル試験を強制的に終了し、リブート試験に移る。この場合、電源オンオフサイクル試験開始後１時間で装置Ｂ及び装置Ｄでエラーが発生したとすると、連続試験は５時間で終了する。
【００６９】
次に、連続試験の処理フローについて図１１Ａ〜図１１Ｇを用いて説明する。図１１Ａ〜図１１Ｇは、それぞれ連続試験の処理フローを示す第１〜第７のフローチャートである。図１１Ａは、全体の処理フローを示す。図１１Ｂは、障害切り分けの処理フローを示す。図１１Ｃは、ハード障害の場合の処理フローを示す。図１１Ｄは、ＯＳ障害の場合の処理フローを示す。図１１Ｅは、ファーム障害の場合の処理フローを示す。図１１Ｆは、追加試験の処理フローを示す。図１１Ｇは、追加試験結果に基づく処理のフローを示す。
【００７０】
図１１Ａに示すように、設定情報部１１は、操作部１５を介して被試験装置２の電源をオンにする（ステップＳ３１）。そして、設定情報部１１は、ファームデータ及びメモリモード（ノーマル）を被試験装置２に設定し（ステップＳ３２）、操作部１５を介して被試験装置２をシャットダウンする（ステップＳ３３）。
【００７１】
そして、設定情報部１１は、試験パラメータを設定し（ステップＳ３４）、試験開始時刻及び試験時間を設定する（ステップＳ３５）。そして、時間管理部１２は操作部１５に試験開始を指示し（ステップＳ３６）、操作部１５は被試験装置２に電源オンオフサイクル試験を指示する（ステップＳ３７）。
【００７２】
そして、エラー収集部１３がエラーが発生したか否かを判定し（ステップＳ３８）、エラーが発生した場合には、試験装置１は図１１Ｂに示すステップＳ５０に進む。一方、エラーが発生しない場合には、時間管理部１２が、試験時間が終了したか否かを判定し（ステップＳ３９）、試験時間が終了していない場合には、試験装置１はステップＳ３８に戻る。
【００７３】
一方、試験時間が終了した場合には、試験装置１は、全装置の試験が完了したか否かを判定し（ステップＳ４０）、試験が終了していない装置がある場合には、全装置の試験終了を待つ。そして、全装置の試験が終了すると、操作部１５は、被試験装置２にリブート試験を指示する（ステップＳ４１）。
【００７４】
そして、エラー収集部１３がエラーが発生したか否かを判定し（ステップＳ４２）、エラーが発生した場合には、試験装置１は図１１Ｂに示すステップＳ５０に進む。一方、エラーが発生しない場合には、時間管理部１２が、試験時間が終了したか否かを判定し（ステップＳ４３）、試験時間が終了していない場合には、試験装置１はステップＳ４２に戻る。
【００７５】
一方、試験時間が終了した場合には、試験装置１は、全装置の試験が完了したか否かを判定し（ステップＳ４４）、試験が終了していない装置がある場合には、全装置の試験終了を待つ。そして、全装置の試験が終了すると、操作部１５は、被試験装置２に負荷試験を指示する（ステップＳ４５）。
【００７６】
そして、エラー収集部１３がエラーが発生したか否かを判定し（ステップＳ４６）、エラーが発生した場合には、試験装置１は図１１Ｂに示すステップＳ５０に進む。一方、エラーが発生しない場合には、時間管理部１２が、試験時間が終了したか否かを判定し（ステップＳ４７）、試験時間が終了していない場合には、試験装置１はステップＳ４６に戻る。
【００７７】
一方、試験時間が終了した場合には、試験装置１は、全装置の試験が完了したか否かを判定し（ステップＳ４８）、試験が終了していない装置がある場合には、全装置の試験終了を待つ。そして、全装置の試験が終了すると、試験装置１は、連続試験を終了する（ステップＳ４９）。
【００７８】
エラーが発生すると、図１１Ｂに示すように、解析診断部１４は、エラー発生装置数を判定し（ステップＳ５０）、１台である場合には、ハード障害と判断し（ステップＳ５１）、試験装置１は、図１１Ｃに示すステップＳ５５に進む。一方、エラー発生装置数が２台以上である場合には、解析診断部１４は、エラー発生ＯＳ数を判定し（ステップＳ５２）、１つのＯＳのみエラーが発生した場合には、ＯＳ障害と判断し（ステップＳ５３）、試験装置１は、図１１Ｄに示すステップＳ５９に進む。一方、エラー発生ＯＳ数が複数である場合には、解析診断部１４は、ファーム障害と判断し（ステップＳ５４）、試験装置１は、図１１Ｅに示すステップＳ６３に進む。
【００７９】
ハード障害と判断すると、試験装置１は、図１１Ｃに示すように、エラー発生装置のみシャットダウンし（ステップＳ５５）、ハード交換を指示する（ステップＳ５６）。そして、ハード交換が完了すると、試験装置１は、試験を再開する（ステップＳ５７）。すなわち、試験装置１は、エラー発生試験を判定し（ステップＳ５８）、電源オンオフサイクル試験である場合には、ステップＳ３８に戻り、リブート試験の場合には、ステップＳ４２に戻り、負荷試験の場合には、ステップＳ４６に戻る。
【００８０】
ＯＳ障害と判断すると、試験装置１は、図１１Ｄに示すように、エラー発生装置のみシャットダウンし（ステップＳ５９）、ＯＳ交換を指示する（ステップＳ６０）。そして、ＯＳ交換が完了すると、試験装置１は、試験をやり直す（ステップＳ６１）。すなわち、試験装置１は、エラー発生試験を判定し（ステップＳ６２）、電源オンオフサイクル試験である場合には、ステップＳ３７に戻り、リブート試験の場合には、ステップＳ４１に戻り、負荷試験の場合には、ステップＳ４５に戻る。
【００８１】
ファーム障害と判断すると、解析診断部１４は、図１１Ｅに示すように、エラー発生時の試験内容を判定する（ステップＳ６３）。そして、試験内容が、リブート試験である場合には、リブート試験でのメモリモード毎の既知障害情報すなわち既知障害登録パターンを入手する（ステップＳ６４）。また、試験内容が、電源オンオフサイクル試験である場合には、電源オンオフサイクル試験でのメモリモード毎の既知障害情報を入手する（ステップＳ６５）。また、試験内容が、負荷試験である場合には、負荷試験でのメモリモード毎の既知障害情報を入手する（ステップＳ６６）。
【００８２】
そして、解析診断部１４は、ミラーモードで既知障害が登録済であるか否かを判定し（ステップＳ６７）、登録済である場合には、スペアモードで既知障害が登録済であるか否かを判定する（ステップＳ６８）。そして、スペアモードで既知障害が登録済である場合には、既知障害登録パターンがＰ＿５である場合であり、解析診断部１４は、発生した障害は既知障害と判断する（ステップＳ６９）。
【００８３】
そして、試験装置１は、実行中の試験を中止し（ステップＳ７２）、全装置をシャットダウンし（ステップＳ７３）、次の試験へ進む（ステップＳ７４）。すなわち、試験装置１は、エラー発生時の試験を判定し（ステップＳ７５）、電源オンオフサイクル試験であれば、ステップＳ４１に進み、リブート試験であれば、ステップＳ４５に進み、負荷試験であれば、ステップＳ４９へ進む。
【００８４】
一方、スペアモードで既知障害が登録済でない場合、あるいは、ミラーモードで既知障害が登録済でない場合には、試験装置１は、図１１ＦのステップＳ７６〜ステップＳ８８に示す追加試験を実施する（ステップＳ７０）。また、試験装置１は、エラーが発生した装置のみ試験を一旦停止する（ステップＳ７１）。
【００８５】
追加試験では、試験装置１は、図１１Ｆに示すように、メモリモードをミラーに変更し（ステップＳ７６）、エラー発生時の試験を判定する（ステップＳ７７）。そして、試験装置１は、エラー発生時の試験がリブート試験である場合には、リブート試験での追加試験を１時間行う（ステップＳ７８）。また、試験装置１は、エラー発生時の試験が電源オンオフサイクル試験である場合には、電源オンオフサイクル試験での追加試験を１時間行う（ステップＳ７９）。また、試験装置１は、エラー発生時の試験が負荷試験である場合には、負荷試験での追加試験を１時間行う（ステップＳ８０）。
【００８６】
すなわち、試験装置１は、試験開始時刻及び試験時間を設定し（ステップＳ８１）、ミラーモード又はスペアモードでの追加試験を開始する（ステップＳ８２）。そして、試験装置１は、エラーが発生したか否かを判定し（ステップＳ８３）、エラーが発生していない場合には、試験時間が終了したか否かを判定する（ステップＳ８４）。そして、試験時間が終了していない場合には、試験装置１は、ステップＳ８３に戻る。
【００８７】
一方、試験時間が終了した場合には、試験装置１は、スペアモードで試験が終了したか否かを判定し（ステップＳ８５）、終了していない場合には、メモリモードをスペアに変更し（ステップＳ８６）、ステップＳ７７に戻る。一方、スペアモードで試験が終了した場合には、試験装置１は、追加試験を終了し（ステップＳ８７）、図１１Ｇに示すステップＳ８９へ進む。
【００８８】
また、ステップＳ８３において、エラーが発生した場合には、試験装置１は、ミラーモード又はスペアモードでの追加試験を終了し（ステップＳ８８）、ステップＳ８５へ移動する。
【００８９】
図１１Ｇに示すように、解析診断部１４は、追加試験において、ミラーモードでエラーが発生したか否かを判定し（ステップＳ８９）、エラーが発生しなかった場合には、スペアモードでエラーが発生したか否かを判定する（ステップＳ９０）。そして、スペアモードでエラーが発生しなかった場合には、解析診断部１４は、既知障害管理部１６から既知障害登録パターンを取得し、ノーマルモードの既知障害が登録済であるか否かを判定する（ステップＳ９１）。ここで、ノーマルモードの既知障害が登録済であるとは、図９に示した既知障害登録パターンが、Ｐ＿２〜Ｐ＿５のいずれかの場合である。
【００９０】
そして、解析診断部１４は、ノーマルモードの既知障害が登録済である場合には、既知障害と判断し（ステップＳ９２）、ステップＳ７２へ移動する。一方、ノーマルモードの既知障害が登録済でない場合には、解析診断部１４は、ノーマルの新規障害と判断し（ステップＳ９３）、ステップＳ１１４へ移動する。
【００９１】
一方、ステップＳ９０において、スペアモードでエラーが発生した場合には、解析診断部１４は、既知障害管理部１６から既知障害登録パターンを取得し、スペアモードの既知障害が登録済であるか否かを判定する（ステップＳ９４）。ここで、スペアモードの既知障害が登録済であるとは、図９に示した既知障害登録パターンが、Ｐ＿４又はＰ＿５の場合である。
【００９２】
そして、解析診断部１４は、スペアモードの既知障害が登録済である場合には、既知障害と判断し（ステップＳ９５）、ステップＳ７２へ移動する。一方、スペアモードの既知障害が登録済でない場合には、解析診断部１４は、ノーマルモードの既知障害が登録済であるか否かを判定する（ステップＳ９６）。そして、解析診断部１４は、ノーマルモードの既知障害が登録済である場合には、スペアの新規障害と判断し（ステップＳ９７）、ステップＳ１１４へ移動する。一方、ノーマルモードの既知障害が登録済でない場合には、ノーマル及びスペアの新規障害と判断し（ステップＳ９８）、ステップＳ１１４へ移動する。
【００９３】
また、ステップＳ８９において、ミラーモードでエラーが発生した場合には、解析診断部１４は、スペアモードでエラーが発生したか否かを判定する（ステップＳ９９）。そして、スペアモードでエラーが発生しなかった場合には、解析診断部１４は、既知障害管理部１６から既知障害登録パターンを取得し、ミラーモードの既知障害が登録済であるか否かを判定する（ステップＳ１００）。ここで、ミラーモードの既知障害が登録済であるとは、図９に示した既知障害登録パターンが、Ｐ＿３又はＰ＿５の場合である。
【００９４】
そして、解析診断部１４は、ミラーモードの既知障害が登録済である場合には、既知障害と判断し（ステップＳ１０１）、ステップＳ７２へ移動する。一方、ミラーモードの既知障害が登録済でない場合には、解析診断部１４は、ノーマルモードの既知障害が登録済であるか否かを判定する（ステップＳ１０２）。そして、解析診断部１４は、ノーマルモードの既知障害が登録済である場合には、ミラーの新規障害と判断し（ステップＳ１０３）、ステップＳ１１４へ移動する。一方、ノーマルモードの既知障害が登録済でない場合には、ノーマル及びミラーの新規障害と判断し（ステップＳ１０４）、ステップＳ１１４へ移動する。
【００９５】
一方、ステップＳ９９において、スペアモードでエラーが発生した場合には、解析診断部１４は、既知障害管理部１６から既知障害登録パターンを取得し、ミラーモードの既知障害が登録済であるか否かを判定する（ステップＳ１０５）。
【００９６】
そして、解析診断部１４は、ミラーモードの既知障害が登録済である場合には、スペアモードの既知障害が登録済であるか否かを判定する（ステップＳ１０６）。そして、スペアモードの既知障害が登録済であると判定した場合には、解析診断部１４は、既知障害と判断し（ステップＳ１０７）、ステップＳ７２へ移動する。一方、スペアモードの既知障害が登録済でない場合には、解析診断部１４は、スペアの新規障害と判断し（ステップＳ１０８）、ステップＳ１１４へ移動する。
【００９７】
また、ステップＳ１０５において、ミラーモードの既知障害が登録済でない場合には、解析診断部１４は、スペアモードの既知障害が登録済であるか否かを判定する（ステップＳ１０９）。そして、スペアモードの既知障害が登録済であると判定した場合には、解析診断部１４は、ミラーの新規障害と判断し（ステップＳ１１０）、ステップＳ１１４へ移動する。一方、スペアモードの既知障害が登録済でない場合には、解析診断部１４は、ノーマルモードの既知障害が登録済であるか否かを判定する（ステップＳ１１１）。そして、解析診断部１４は、ノーマルモードの既知障害が登録済である場合には、ミラー及びスペアの新規障害と判断し（ステップＳ１１２）、ステップＳ１１４へ移動する。一方、ノーマルモードの既知障害が登録済でない場合には、ノーマル・ミラー・スペア全てのモードの新規障害と判断し（ステップＳ１１３）、ステップＳ１１４へ移動する。
【００９８】
そして、解析診断部１４は、既知障害管理部１６に新規障害のメモリモードを既知障害として登録するよう指示する（ステップＳ１１４）。ここで、既知障害管理部１６は、ノーマルの新規障害の場合には、既知障害登録パターンをＰ＿１からＰ＿２へ変更する。また、既知障害管理部１６は、スペアの新規障害の場合には、既知障害登録パターンをＰ＿２からＰ＿４又はＰ＿３からＰ＿５へ変更する。また、既知障害管理部１６は、ミラーの新規障害の場合には、既知障害登録パターンをＰ＿２からＰ＿３又はＰ＿４からＰ＿５へ変更する。また、既知障害管理部１６は、ミラー及びスペアの新規障害の場合には、既知障害登録パターンをＰ＿２からＰ＿５へ変更する。また、既知障害管理部１６は、ノーマル及びスペアの新規障害の場合には、既知障害登録パターンをＰ＿１からＰ＿４変更する。また、既知障害管理部１６は、ノーマル及びミラーの新規障害の場合には、既知障害登録パターンをＰ＿１からＰ＿３変更する。また、既知障害管理部１６は、ノーマル・ミラー・スペア全てのモードの新規障害の場合には、既知障害登録パターンをＰ＿１からＰ＿５変更する。そして、試験装置１は、ステップＳ７２へ移動する。
【００９９】
このように、試験装置１は、障害が発生した場合に、障害原因を切り分け、障害原因に対応する処理を行って連続試験を継続することによって、メモリ試験を効率化することができる。
【０１００】
図１２は、実施例に係る試験の効果を説明するための図である。図１２に示すように、従来方式では、例えば、試験装置９の操作部９１が被試験装置２の試験を午後５時に開始し、障害が発生すると、エラー収集部９２がエラー情報を収集する。また、被試験装置２は自動停止する。そして、翌朝、午前８時にオペレータが手動でログを採取して原因を特定し、対応を行う。そして、試験装置９の操作部９１が被試験装置２の試験を午後に再開し、試験を完了する。
【０１０１】
一方、実施例に係る試験方式では、試験装置１の操作部１５が被試験装置２の試験を午後５時に開始し、障害が発生すると、エラー収集部１３がエラー情報を収集する。また、被試験装置２は停止する。そして、解析診断部１４が障害原因を判定し、原因に対応する操作を操作部１５が行い、被試験装置２を自動復旧し、夜間に試験を終了する。したがって、試験装置１は、メモリ試験の時間を短縮することができる。
【０１０２】
上述してきたように、実施例では、メモリ試験中に障害が発生すると、解析診断部１４が障害がハード障害であるかＯＳ障害であるかファーム障害であるかを特定する。そして、ファーム障害である場合に、解析診断部１４は、既存障害であるか否かを判定し、既存障害である場合に、操作部１５が、障害が発生した試験をスキップして次の試験を行う。したがって、試験装置１は、効率良くメモリ試験を行うことができる。
【０１０３】
また、実施例では、解析診断部１４は、３つのメモリモードそれぞれで既に障害が発生したか否かを表す既知障害登録パターンに基づいて既存障害であるか否かを判定する。したがって、試験装置１は、既知障害であるか否かを適切に判定することができる。
【０１０４】
また、実施例では、解析診断部１４は、既知障害登録パターンがＰ＿５である場合には発生した障害を既知障害であると判定する。したがって、試験装置１は、既知障害であることを迅速に判定することができる。
【０１０５】
また、実施例では、試験装置１は、既知障害登録パターンがＰ＿５以外である場合には、ミラーモード及びスペアモードで追加試験を実施して既知障害であるか否かを判定する。したがって、試験装置１は、ミラーモード及びスペアモードでの障害発生状況に基づいて既知障害であるか否かを判定することができる。
【０１０６】
なお、実施例では、試験装置について説明したが、試験装置が有する構成をソフトウェアによって実現することで、同様の機能を有する試験プログラムを得ることができる。そこで、試験プログラムを実行するコンピュータについて説明する。
【０１０７】
図１３は、実施例に係る試験プログラムを実行するコンピュータのハードウェア構成を示す図である。図１３に示すように、コンピュータ５０は、メインメモリ５１と、ＣＰＵ５２と、ＬＡＮ（Local  Area  Network）インタフェース５３と、ＨＤＤ（Hard  Disk  Drive）５４とを有する。また、コンピュータ５０は、スーパーＩＯ（Input  Output）５５と、ＤＶＩ（Digital  Visual  Interface）５６と、ＯＤＤ（Optical  Disk  Drive）５７とを有する。
【０１０８】
メインメモリ５１は、プログラムやプログラムの実行途中結果などを記憶するメモリである。ＣＰＵ５２は、メインメモリ５１からプログラムを読出して実行する中央処理装置である。ＣＰＵ５２は、メモリコントローラを有するチップセットを含む。
【０１０９】
ＬＡＮインタフェース５３は、コンピュータ５０をＬＡＮ経由で他のコンピュータに接続するためのインタフェースである。ＨＤＤ５４は、プログラムやデータを格納するディスク装置であり、スーパーＩＯ５５は、マウスやキーボードなどの入力装置を接続するためのインタフェースである。ＤＶＩ５６は、液晶表示装置を接続するインタフェースであり、ＯＤＤ５７は、ＤＶＤの読み書きを行う装置である。
【０１１０】
ＬＡＮインタフェース５３は、ＰＣＩエクスプレス（ＰＣＩｅ）によりＣＰＵ５２に接続され、ＨＤＤ５４及びＯＤＤ５７は、ＳＡＴＡ（Serial  Advanced  Technology  Attachment）によりＣＰＵ５２に接続される。スーパーＩＯ５５は、ＬＰＣ（Low  Pin  Count）によりＣＰＵ５２に接続される。
【０１１１】
そして、コンピュータ５０において実行される試験プログラムは、ＤＶＤに記憶され、ＯＤＤ５７によってＤＶＤから読出されてコンピュータ５０にインストールされる。あるいは、試験プログラムは、ＬＡＮインタフェース５３を介して接続された他のコンピュータシステムのデータベースなどに記憶され、これらのデータベースから読出されてコンピュータ５０にインストールされる。そして、インストールされた試験プログラムは、ＨＤＤ５４に記憶され、メインメモリ５１に読み出されてＣＰＵ５２によって実行される。
【０１１２】
また、実施例では、メモリを試験する場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、他の装置を試験する場合にも同様に適用することができる。
【符号の説明】
【０１１３】
１，９    試験装置
２    被試験装置
３    端末
１０    試験システム
１１    設定情報部
１２    時間管理部
１３，９２    エラー収集部
１４    解析診断部
１５，９１    操作部
１６    既知障害管理部
２１    ＢＩＯＳ
２２    ＢＭＣ
２３    システム制御ボード
５０    コンピュータ
５１    メインメモリ
５２    ＣＰＵ
５３    ＬＡＮインタフェース
５４    ＨＤＤ
５５    スーパーＩＯ
５６    ＤＶＩ
５７    ＯＤＤ
【図１】
0006601054.tif 000002
【図２】
0006601054.tif 000003
【図３Ａ】
0006601054.tif 000004
【図３Ｂ】
0006601054.tif 000005
【図３Ｃ】
0006601054.tif 000006
【図４】
0006601054.tif 000007
【図５】
0006601054.tif 000008
【図６】
0006601054.tif 000009
【図７】
0006601054.tif 000010
【図８】
0006601054.tif 000011
【図９】
0006601054.tif 000012
【図１０Ａ】
0006601054.tif 000013
【図１０Ｂ】
0006601054.tif 000014
【図１０Ｃ】
0006601054.tif 000015
【図１０Ｄ】
0006601054.tif 000016
【図１０Ｅ】
0006601054.tif 000017
【図１１Ａ】
0006601054.tif 000018
【図１１Ｂ】
0006601054.tif 000019
【図１１Ｃ】
0006601054.tif 000020
【図１１Ｄ】
0006601054.tif 000021
【図１１Ｅ】
0006601054.tif 000022
【図１１Ｆ】
0006601054.tif 000023
【図１１Ｇ】
0006601054.tif 000024
【図１２】
0006601054.tif 000025
【図１３】
0006601054.tif 000026