(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検眼の角膜表面に同心状の複数のリング光を照射すると共に、被検眼の角膜表面から反射される前記複数のリング光の反射像を撮影するリング像撮影光学系と、
被検眼に測定光を照射すると共に、被検眼から反射される前記測定光の反射光と予め定められた参照光との干渉光を検出する干渉光学系と、
前記リング像撮影光学系で得られた前記複数のリング光の反射像と、前記干渉光学系の検出結果とに基づいて、被検眼の角膜の後面の形状を算出する演算装置と、
被検眼の前眼部像を撮影する前眼部撮影装置と、
を備え、
前記干渉光学系は、
被検眼に照射される前記測定光の照射位置を変更する照射位置変更手段と、
前記照射位置変更手段により変更される前記測定光の照射位置を検出する照射位置検出手段と、を有し、
前記演算装置は、
前記リング像撮影光学系で得られた前記複数のリング光の反射像に基づいて、被検眼の角膜の前面の形状を算出し、
前記干渉光学系で得られた複数の照射位置における干渉光に基づいて、当該複数の照射位置における被検眼の角膜の厚さを算出し、
前記算出した被検眼の角膜の前面の形状と、前記算出した前記複数の照射位置における角膜の厚さとに基づいて、被検眼の角膜の後面の形状を算出し、
前記照射位置検出手段は、前記前眼部撮影装置が備える受光素子とは異なる受光素子を備え、
前記干渉光学系は、前記測定光を、被検眼に照射する光と前記照射位置検出手段に照射する光とに分割する分割手段をさらに備え、
前記照射位置検出手段は、前記分割手段によって分割された光から、前記測定光の被検眼への照射位置を検出する、眼科装置。
【請求項２】
前記照射位置変更手段は、被検眼の角膜頂点を取り囲むように設定された設定円の円周上の複数の照射位置に前記測定光が照射されるように前記測定光の照射位置を変更し、
前記演算装置は、前記設定円の円周上の複数の照射位置における被検眼の角膜の厚さを算出する、請求項１に記載の眼科装置。
【請求項３】
前記干渉光学系は、前記照射位置変更手段により照射位置が走査される測定光を平行に走査するための光学部材をさらに備える、請求項１又は２に記載の眼科装置。
【請求項４】
前記分割手段は、前記照射位置変更手段と前記光学部材との間に配置されている、請求項３に記載の眼科装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本願は、被検眼を検査する眼科装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
患者の眼内に眼内レンズ（ＩＯＬ）を埋め込む処置が行われることがある。例えば、白内障手術においては、患者の眼内から水晶体を取り除いた後に、患者の眼内に眼内レンズ（ＩＯＬ）が挿入される。眼内レンズの度数を決定する際には、対象眼の眼軸長、角膜曲率（角膜屈折力）等の眼特性データが予め測定され、得られた眼特性データをもとに、周知のＩＯＬ計算式に従って、眼内レンズの度数が決定される。特に、角膜疾患を持つ眼や屈折矯正手術がなされた眼に対して眼内レンズを適切に処方するためには、被検者眼の角膜の前後面の曲率半径等を計測して、角膜全体の屈折力を求めることが必要とされている。特許文献１には、被検眼の角膜の厚さを検査するための眼科装置が開示されている。特許文献１の眼科装置は、被検眼に測定光を照射すると共に、被検眼から反射される反射光と参照光とを干渉させた干渉光を検出する干渉光学系を備えている。この眼科装置では、被検眼の複数の測定点において干渉光を検出する。そして、複数の測定点において検出した干渉光に基づいて、各測定点における角膜前面の位置と角膜後面の位置を特定する。これによって、被検眼の各測定点における角膜の厚さを取得している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００８−１６７７７７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上述したように、眼内レンズを適切に処方するためには、対象となる患者の角膜前面の形状（曲率半径）と角膜後面の形状（曲率半径）が必要となる。従来の技術では、角膜前面の形状を計測し、角膜前面の形状から経験式を用いて角膜後面の形状を推定していた。したがって、推定した角膜後面の形状に誤りがあると、眼内レンズを適切に処方することができないという問題があった。このため、角膜後面の形状を測定することができる眼科装置の実現が望まれている。
【０００５】
本願は、上述した実情に鑑みてなされたものであり、その目的は、角膜後面の形状を測定することができる眼科装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本明細書に開示する眼科装置は、リング像撮影光学系と干渉光学系と演算装置を備えている。リング像撮影光学系は、被検眼の角膜表面に同心状の複数のリング光を照射すると共に、被検眼の角膜表面から反射される複数のリング光の反射像を撮影する。干渉光学系は、被検眼に測定光を照射すると共に、被検眼から反射される測定光の反射光と予め定められた参照光との干渉光を検出する。演算装置は、リング像撮影光学系で得られた複数のリング光の反射像と、干渉光学系の検出結果とに基づいて、被検眼の角膜の後面の形状を算出する。干渉光学系は、被検眼に照射される測定光の照射位置を変更する照射位置変更手段を有している。演算装置は、（１）リング像撮影光学系で得られた複数のリング光の反射像に基づいて、被検眼の角膜の前面の形状を算出し、（２）干渉光学系で得られた複数の照射位置における干渉光に基づいて、当該複数の照射位置における被検眼の角膜の厚さを算出し、（３）算出した被検眼の角膜の前面の形状と、算出した複数の照射位置における角膜の厚さとに基づいて、被検眼の角膜の後面の形状を算出する。
【０００７】
この眼科装置では、リング像撮影光学系で得られた複数のリング光の反射像に基づいて、被検眼の角膜前面の形状が算出される。また、干渉光学系で得られた複数の照射位置における干渉光に基づいて、複数の照射位置における角膜の厚さが算出される。角膜後面の位置は、対応する角膜前面の位置と、その位置における角膜の厚さから特定することができる。このため、演算装置は、算出された被検眼の角膜前面の形状と角膜の厚さとから特定される角膜後面の位置を用いて、角膜後面の形状を算出する。この眼科装置によると、角膜後面の形状を測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本実施例に係る眼科装置の光学系の概略構成図である。
【図２】本実施例に係る眼科装置の制御系のブロック図である。
【図３】本実施例に係る眼科装置の処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図４】被検眼に照射されるリング状の光と、被検眼に照射される測定光の照射位置とを併せて示す図である。
【図５】角膜前面の形状と、照射位置における角膜厚とから、角膜後面の形状を算出する手順を説明するための図である。
【図６】レンズ３８の機能を説明するための図。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
本明細書に開示する眼科装置では、照射位置変更手段は、被検眼の角膜頂点を取り囲むように設定された設定円の円周上の複数の照射位置に測定光が照射されるように測定光の照射位置を変更してもよい。演算装置は、設定円の円周上の複数の照射位置における被検眼の角膜の厚さを算出してもよい。このような構成によると、リング像撮影光学系により照射されるリング光の位置と、干渉光学系により照射される測定光の位置とを対応させることができ、角膜後面の形状を精度良く算出することができる。
【００１０】
本明細書に開示する眼科装置では、干渉光学系は、照射位置変更手段により照射位置が走査される測定光を平行に走査するための光学部材をさらに備えていてもよい。このような構成によると、被検眼から反射される反射光（測定光の反射光）の光の強度が強くなり、角膜の厚さを精度良く算出することができる。
【００１１】
本明細書に開示する眼科装置では、照射位置変更手段により変更される測定光の照射位置を検出する照射位置検出手段をさらに備えていてもよい。このような構成によると、測定光が実際に照射された位置を検出するため、角膜後面の形状を精度良く算出することができる。
【実施例１】
【００１２】
図１に示すように、本実施例の眼科装置は、被検眼１００の角膜１０２を検査するための測定部６０を有している。測定部６０は、角膜１０２の前面の形状を計測するためのリング像撮影光学系（２８，３０，３２，４０）と、角膜１０２の厚みを計測するための干渉光学系（１０，１２，１４，１６，１８，２０，２２，２４，３０，３２，３６，３８）と、被検眼１００に対して測定部６０を所定の位置関係にアライメントするためのアライメント機構３４を有している。
【００１３】
リング像撮影光学系（２８，３０，３２，４０）は、角膜１０２の前面（表面）に同心状の複数のリング光を照射すると共に、角膜１０２の前面から反射される複数のリング光の反射像を撮影する。リング像撮影光学系は、コーン４０と、ＬＥＤを用いた照明装置４２（図１では図示を省略。ただし、図２に図示）と、角膜１０２の前面から反射されたリング光の反射像を撮影する撮影装置２８を備えている。
【００１４】
コーン４０は、内部が中空の円錐形状の筒体であり、透明樹脂によって形成されている。コーン４０の内壁面には、同心円状のパターンが印刷された透明フィルムが貼り付けられている。コーンの外壁面には、光を反射する塗装が施されている。
【００１５】
照明装置４２は、コーン４０の背面（被検眼１００の反対側）に配置されている。照明装置４２の照明光は、コーン４０内で散乱し、透明フィルムによって光の一部が遮られる。これにより、同心円状のリング光が被検眼１００の角膜１０２に投影（照射）される。すなわち、図４に示すように、被検眼１００の角膜１０２の表面には、６本のリング光Ｌ１〜Ｌ６が投影される。後述するように、被検眼１００にリング光Ｌ１〜Ｌ６を投影する際は、測定部６０が被検眼１００の角膜１０２の頂点に対して位置決めされている。このため、被検眼１００に投影されるリング光Ｌ１〜Ｌ６は、角膜１０２の頂点に対して同心状に位置している。
【００１６】
撮影装置２８は、被検眼１００の前眼部像と、角膜１０２の前面から反射されるリング光Ｌ１〜Ｌ６の反射像とを撮影する。すなわち、被検眼１００の前眼部像及びリング光Ｌ１〜Ｌ６の反射像は、ミラー３２，３０を介して撮影装置２８に導かれる。撮影装置２８で撮影された被検眼１００の前眼部像及びリング光Ｌ１〜Ｌ６の反射像は、後述する演算装置５０に入力される。また、被検眼１００の前眼部像及びリング光Ｌ１〜Ｌ６の反射像は、モニタ４０に表示される。
【００１７】
干渉光学系（１０，１２，１４，１６，１８，２０，２２，２４，３０，３２，３６，３８）は、被検眼１００に測定光を照射すると共に、被検眼１００から反射される反射光（測定光による反射光）と参照光とを合成した干渉光を検出する。干渉光学系は、光源１０と、光源１０からの光を被検眼１００の内部に照射すると共にその反射光を導く測定光学系と、光源１０からの光を参照面に照射すると共にその反射光を導く参照光学系と、測定光学系により導かれた反射光と参照光学系により導かれた参照光とを合成した干渉光を受光する受光素子１４によって構成されている。
【００１８】
光源１０は、波長掃引型（波長走査型）の光源であり、出射される光の波長が所定の周期で変化する。本実施例では、光源１０から出射される光の波長を変化させながら、被検眼１００からの反射光と参照光とを干渉させ、その干渉光を測定する。後述するように、測定した干渉光（干渉信号）をフーリエ変換することで、被検眼１００の角膜１０２の前面の位置及び後面の位置が特定される。
【００１９】
測定光学系は、コリメータレンズ１６と、ビームスプリッタ２０と、ビームエキスパンダー２１と、ミラー３０，３２と、レンズ３８と、光検出器３６によって構成されている。光源１０から出射された光の一部は、コリメータレンズ１６、ビームスプリッタ２０、ビームエキスパンダー２１、ミラー３０，３２、及びレンズ３８を介して被検眼１００に照射される。被検眼１００からの反射光は、レンズ３８、ミラー３２，３０、ビームエキスパンダー２１、ミラー３４、ビームスプリッタ２０、及びコリメータレンズ１６を介して干渉計１２及び受光素子１４に導かれる。ビームエキスパンダー２１と光検出器３６とレンズ３８の機能については、後で詳述する。
【００２０】
参照光学系は、干渉計１２内に配置される参照ミラー（図示省略）によって構成されている。すなわち、光源１０から出射された光は、その一部が分岐され、干渉計１２内に配置される参照ミラーに照射される。参照ミラーに照射された光は、参照ミラーで反射されて参照光が生成される。
【００２１】
干渉計１２は、参照光学系により導かれた光（参照光）と測定光学系により導かれた光（測定光）とを合成して干渉光とする。受光素子１４は、干渉計１２において合成された干渉光を検出する。受光素子１４としては、例えば、フォトダイオードを用いることができる。
【００２２】
なお、コリメータレンズ１６とビームエキスパンダー２１の間には、ビームスプリッタ２０とガラス部材１８が配置されている。光源１０から出射された光の一部は、コリメータレンズ１６を通ってビームスプリッタ２０で反射され、ガラス部材１８に照射される。ガラス部材１８に照射された光は、ガラス部材１８の端面で反射される。ガラス部材１８の端面で反射された光は、ビームスプリッタ２４及びコリメータレンズ１６を介して干渉計１２及び受光素子１４に導かれる。ガラス部材１８の位置は固定されているため、ガラス部材１８の端面で反射される光の光路長は一定で変化しない。本実施例では、ガラス部材１８の端面から反射される光と参照光とを合成して得られる干渉光を利用して、被検眼１００の測定結果が補正されるようになっている。
【００２３】
ここで、測定光学系に備えられるビームエキスパンダー２１と光検出器３６とレンズ３８の機能について説明する。ビームエキスパンダー２１は、光源１０側に配置される凸レンズ２２と、被検眼１００側に配置される凸レンズ２４と、凸レンズ２４に対して凸レンズ２２を光軸方向（ｚ軸方向）に進退動させると共に、凸レンズ２４を光軸に対して直交する平面（ｘｙ平面）内で移動させる駆動機構２６を備えている。凸レンズ２２と凸レンズ２４は、光軸上に配置され、入射する平行光の焦点の位置を変化させる。すなわち、駆動機構２６が凸レンズ２４を光軸方向に駆動することで、被検眼１００に照射される光の焦点の位置が被検眼１００の深さ方向に変化する。具体的には、凸レンズ２４から照射される光が平行光となるように凸レンズ２２と凸レンズ２４との間隔を調整した状態から、凸レンズ２２を凸レンズ２４から離れる方向に移動させると、凸レンズ２４から照射される光は収束光となり、凸レンズ２２を凸レンズ２４に近づく方向に移動させると、凸レンズ２４から照射される光は発散光となる。これによって、被検眼１００に照射される光の焦点の位置を被検眼１００の角膜１０２の前面に一致させることで、これらの面から反射される光の強度を強くでき、これらの面の位置を精度よく検出することができる。
【００２４】
また、凸レンズ２４は、光軸に対して直交する平面（ｘｙ平面）内で２次元的に移動可能となっている。すなわち、駆動機構２６は、凸レンズ２２に対して凸レンズ２４を、光軸に対して直交する平面（ｘｙ平面）内で２次元的に駆動する。これによって、光源１０からの光の被検眼１００への入射位置（照射位置）が、被検眼１００に対して２次元的に変化する。具体的には、被検眼１００を正面視した図４において、光の照射位置はこの平面（ｘｙ平面）内を２次元的に変化する。より詳細には、凸レンズ２４を凸レンズ２２に対してｙ方向に移動させると、照射位置もｙ方向に変化する。また、凸レンズ２４を凸レンズ２２に対してｘ方向に移動させると、照射位置もｘ方向に変化する。したがって、凸レンズ２４を凸レンズ２２に対してｘ方向及び／又はｙ方向に移動させることで、照射位置がｘｙ平面内で変化する。本実施例では、被検眼１００に照射されるリング光Ｌ１〜Ｌ６と同一の位置（角膜１０２の頂点を中心とする同心円状の位置）に照射されるように測定光を走査し、その測定光が走査される軌跡上の複数の照射位置Ｐ（測定点）において角膜１０２の厚みを測定するようになっている。
【００２５】
なお、干渉光学系から被検眼１００に照射される測定光の照射位置は、位置検出器３６によって検出されるようになっている。すなわち、駆動機構２６が凸レンズ２４をｘｙ平面内で移動させると、それによって、被検眼１００に照射される測定光の照射位置が変わると共に、ミラー３２に入射する測定光の入射位置も変化する。ミラー３２に入射する光は、その一部がミラー３２で反射されて被検眼１００に照射され、その一部はミラー３２を透過して位置検出器３６で検出される。位置検出器３６は、ミラー３２のどの位置に光が入射したかを検出する。これによって、被検眼１００に照射される測定光の照射位置を正確に特定することが可能となる。
【００２６】
また、被検眼１００に照射される測定光の照射位置が角膜１０２の頂点の位置からずれると、被検眼１００から反射される光の強度が低下することがある。その結果、光検出器１４で検出される干渉光の強度が低下することがある。本実施例では、レンズ３８は、ミラー３２とコーン４０の間の光軸上に配置される状態と、ミラー３２とコーン４０の間の光軸上に配置されない状態とに切換えられる。レンズ３８がミラー３２とコーン４０の間の光軸上に配置されると、図６に示すように、被検眼１００に照射される測定光を走査する際に、その測定光が平行に走査される。これによって、測定光の被検眼１００に対する入射角が略一定となり、照射される測定光の照射位置が角膜１０２の頂点の位置からずれても、被検眼１００から反射される光の強度を大きくでき、光検出器１４で検出される干渉光の強度を十分な大きさとすることができる。
【００２７】
アライメント機構３４は、被検眼１００に対する測定部６０の位置を検出するためのアライメント光学系（図示しない）と、被検眼１００の角膜１０２の頂点の位置を検出する角膜頂点検出装置（図示しない）と、その結果に基づいて測定部６０の位置を調整する位置調整機構（図示しない）を備えている。アライメント機構３４については、公知の眼科装置に用いられているものを用いることができるため、その詳細な説明は省略する。
【００２８】
次に、本実施例の眼科装置の制御系の構成を説明する。図２に示すように、眼科装置は演算装置５０によって制御される。演算装置５０は、ＣＰＵ，ＲＯＭ，ＲＡＭ等からなるマイクロコンピュータ（マイクロプロセッサ）によって構成されている。演算装置５０には、光源１０と、照明装置４２と、モニタ４４と、光検出器１４と、位置検出器３６と、撮影装置２８と、アライメント機構３４と、駆動機構２６が接続されている。演算装置５０は、光源１０と照明装置４２のオン／オフを制御し、アライメント機構３４と駆動機構２６を制御することで測定部６０の位置調整等を行い、また、撮影装置２８を制御して被検眼１００の前眼部像（リング光の反射像）を撮影する。また、演算装置５０には、光検出器１４が接続され、光検出器１４で検出される干渉光の強度に応じた干渉信号が入力する。演算装置５０は、光検出器１４からの干渉信号をフーリエ変換することによって、被検眼１００の角膜１０２の前後面の位置を特定し、角膜１０２の厚さを算出する。
【００２９】
次に、本実施例の眼科装置を用いて、被検眼１００の角膜１０２の前面の形状と角膜１０２の後面の形状を計測する際の手順を説明する。検査者が図示しないスイッチ（測定開始を入力するスイッチ）を操作すると、図３に示すように、演算装置５０は、アライメント機構３４を制御して、被検眼１００に対して測定部６０の位置合わせを行う（ステップＳ１０）。すなわち、演算装置５０は、アライメント機構３４によって、被検眼１００の角膜１０２の頂点の位置を検出すると共に、角膜１０２の頂点を測定部６０の光軸上に位置決めする。これによって、被検眼１００に対する測定部６０のｘｙ方向（縦横方向）の位置とｚ方向（進退動する方向）の位置が調整される。測定部６０が位置決めされると、撮影装置２８で撮像される前眼部像の中心に角膜１０２の頂点が位置する。また、演算装置５０は、駆動機構２６を駆動してビームエキスパンダー２１を調整する。これによって、光源１０から被検眼１００に照射される光の焦点の位置が被検眼１００の所定の位置（例えば、角膜１０２の前面）となる。なお、ステップＳ１０では、ビームエキスパンダー２１の凸レンズ２２が光軸方向にのみ駆動される。
【００３０】
次に、演算装置５０は、照明装置４２をオンして、被検眼１００の角膜１０２の表面に複数のリング光を照射すると共に、被検眼１００から反射される複数のリング光の反射像を撮影装置２８で撮影する（ステップＳ１２）。ステップＳ１０により被検眼１００に対して測定部６０が位置決めされているため、図４に示すように、被検眼１００に照射されるリング光Ｌ１〜Ｌ６は、角膜１０２の頂点を中心とする同心円状に照射される。撮影装置２８で撮影された被検眼１００の前眼部像とリング光Ｌ１〜Ｌ６の反射像は、演算装置５０のメモリに記憶されると共に、モニタ４４に表示される。複数のリング光Ｌ１〜Ｌ６の反射像が撮影されると、演算装置５０は照明装置４２をオフする。
【００３１】
次に、演算装置５０は、光源１０をオンすると共に、光検出器１４によって干渉光の測定を行う（Ｓ１４）。すなわち、演算装置５０は、光軸上にレンズ３８を配置すると共に、光源１０をオンして被検眼１００に測定光を照射し、被検眼１００から反射される反射光と参照光とを合成した干渉光を光検出器１４で検出する。光検出器１４から出力される干渉信号は、演算装置５０のメモリに記憶される。ここで、干渉光を光検出器１４で検出する際は、駆動機構２６を駆動することで、被検眼１００に照射される測定光は走査され、リング光Ｌ１〜Ｌ６が照射される位置と同一の位置に照射される（図４参照）。すなわち、被検眼１００に照射される測定光は、角膜１０２の頂点の周囲にリング状に走査される。そして、演算装置５０は、被検眼１００に予め設定された複数の照射位置Ｐ（図４の照射位置Ｐ）における干渉信号をメモリに記憶する。メモリに記憶された干渉信号は、後述するステップＳ１８で処理される。なお、駆動機構２６によって被検眼１００に照射される測定光を走査する際は、位置検出器３６によって測定光が照射される位置が検出される。その結果、照射位置Ｐにおける干渉信号を的確に取得することができ、ステップＳ１４の測定を正確に行うことができる。また、ステップＳ１４の測定時にはレンズ３８が光軸上に配置されるため、被検眼１００には平行光が照射される。その結果、光検出器１４で検出される干渉光の強度を大きくすることができる。
【００３２】
次に、演算装置５０は、ステップＳ１２で撮影された複数のリング光Ｌ１〜Ｌ６の反射像から、被検眼１００の角膜１０２の表面の形状を算出する（Ｓ１４）。リング光Ｌ１〜Ｌ６の反射像から角膜表面の形状を算出する方法は、公知の方法（例えば、特開２０１１−１６７３５９号公報等に開示の方法）を用いることができる。例えば、演算装置５０は、リング光Ｌ１〜Ｌ６の反射像の白黒のエッジ（境界）を検出して、リング像の位置と角膜中心からのエッジ距離を算出する。次いで、リング像が角膜頂点を通る円弧形状と仮定して、算出したエッジ距離に基づいてリングの位置における角膜曲率を算出する。ステップＳ１４で算出された角膜１０２の表面の形状（曲率半径等）は、モニタ４４に出力される。
【００３３】
次に、演算装置５０は、ステップＳ１４で取得された複数の照射位置Ｐにおける干渉信号を処理し、複数の照射位置Ｐにおける角膜厚を算出する（Ｓ１８）。すなわち、演算装置５０は、複数の照射位置Ｐに測定光を照射したときに得られる干渉信号をそれぞれフーリエ解析することで、複数の照射位置Ｐにおける被検眼１００の角膜１０２の前面の位置と後面の位置を特定する。そして、角膜１０２の前面の位置と角膜１０２の後面の位置とから、その照射位置Ｐにおける角膜１０２の厚さを算出する。ステップＳ１８では、全ての照射位置Ｐについて角膜１０２の厚さが算出される。
【００３４】
次に、演算装置５０は、ステップＳ１６で得られた角膜１０２の前面の形状と、ステップＳ１８で得られた各照射位置Ｐにおける角膜１０２の厚さとから、角膜１０２の後面の形状を算出する（Ｓ２０）。図５に示すように、照射位置Ｐに対応する角膜１０２の後面１０２ｂの位置Ｐ’は、ステップＳ１６で得られた角膜前面１０２ｆの形状と、当該照射位置Ｐにおける角膜１０２の厚みから特定することができる。したがって、各照射位置Ｐに対応する角膜１０２の後面１０２ｂの位置Ｐ’が特定される。演算装置５０は、照射位置Ｐにおける角膜１０２の後面１０２ｂの位置Ｐ’を用いて、角膜１０２の後面１０２ｂの形状を推定する。曲面上の複数の点の座標が与えられたときに当該曲面の形状を推定する方法としては、公知の種々の数学的手法を用いることができる。このようにして取得された角膜１０２の後面１０２ｂの形状（曲率半径等）は、モニタ４４に出力される。
【００３５】
上述の説明から明らかように、本実施例に係る眼科装置では、リング光Ｌ１〜Ｌ６の反射像から得られた角膜１０２の前面１０２ｆの形状と、干渉光から得られた照射位置Ｐにおける角膜１０２の厚さとから、角膜１０２の後面１０２ｂの形状を算出する。これによって、角膜後面１０２ｂの形状を正確に測定することができる。
【００３６】
以上、本発明の実施例について詳細に説明したが、これは例示に過ぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。
【００３７】
例えば、上述した実施例では、ビームエキスパンダー２１の凸レンズ２４をｘｙ方向に駆動することで、被検眼１００に照射される測定光の照射位置Ｐを変更するようにしたが、被検眼１００に照射される光の照射位置を変更する機構はこのようなものに限られない。例えば、ガルバノミラー等を用いて、被検眼１００に照射される光の照射位置を変更してもよい。また、上述した実施例では、レンズ３８がミラー３２とコーン４０の間の光軸上に配置される状態と、ミラー３２とコーン４０の間の光軸上に配置されない状態とに切換えられるようになっていたが、このような構成ではなく、常にレンズ３８が光軸上に配置されるようにしてもよい。
【００３８】
また、上述した実施例では、フーリエドメイン方式の干渉計を利用した例であったが、タイムドーメイン方式の干渉計を利用してもよい。
【００３９】
本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組み合わせによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組み合わせに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は複数目的を同時に達成するものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。
【符号の説明】
【００４０】
１０・・光源
１２・・干渉計
１４・・光検出器
１６・・コリメータレンズ
１８・・ガラス部材
２０・・ビームスプリッタ
２１・・ビームエキスパンダー（焦点調整機構）
２２，２４・・レンズ
２６・・駆動機構
２８・・前眼部撮影装置
３０，３２・・ハーフミラー
３４・・アライメント機構
３６・・光検出器
３８・・レンズ
４０・・コーン
４２・・照明装置
５０・・演算装置
６０・・測定部
１００・・被検眼
１０２・・角膜
Ｌ１〜Ｌ６・・リング状光
Ｐ・・照射位置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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