(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
構造物表面の荷重印加前後の時系列画像から、前記時系列画像の変位の２次元空間分布を算出する変位算出部と、
前記時系列画像の撮像方向から測定した、前記荷重印加による前記構造物表面の法線方向の移動量、に基づく補正量を算出する補正量算出部と、
前記時系列画像の変位の２次元空間分布から前記補正量を差し引いて、前記構造物表面の変位の２次元空間分布を抽出する変位補正部と、
前記構造物表面の変位の２次元空間分布と、予め備えられた変位の空間分布との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する異常判定部と、を有する、状態判定装置。
【請求項２】
前記補正量算出部は、前記構造物の傾斜角度を補正した前記移動量に基づいて前記補正量を算出する、請求項１記載の状態判定システム。
【請求項３】
前記構造物表面の法線方向の移動量、もしくは、前記構造物の傾斜角度は、前記時系列画像の撮像と同じタイミングで測定される、請求項２記載の状態判定装置。
【請求項４】
前記構造物表面の変位の２次元空間分布から２次元微分空間分布を算出する微分変位算出部を有し、
前記異常判定部は、前記２次元微分空間分布と、予め備えられた微分変位の微分空間分布との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、請求項１から３の内の１項記載の状態判定装置。
【請求項５】
前記異常判定部は、前記構造物表面の変位の２次元空間分布の時間変化に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、請求項１から４の内の１項記載の状態判定装置。
【請求項６】
前記異常判定部は、
前記２次元微分空間分布の時間変化に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、
請求項４記載の状態判定装置。
【請求項７】
構造物表面の荷重印加前後の時系列画像から前記時系列画像の変位の２次元空間分布を算出する変位算出部と、前記荷重印加による前記構造物表面の法線方向の移動量に基づく補正量を算出する補正量算出部と、前記時系列画像の変位の２次元空間分布から前記補正量を差し引いて、前記構造物表面の変位の２次元空間分布を抽出する変位補正部と、前記構造物表面の変位の２次元空間分布と予め備えられた変位の空間分布との比較に基づいて前記構造物の欠陥を特定する異常判定部と、を有する状態判定装置と、
前記時系列画像を撮像し前記状態判定装置に提供する撮像部と、
前記時系列画像の撮像方向から前記移動量を測定し前記状態判定装置に提供する距離測定部と、を有する、状態判定システム。
【請求項８】
前記構造物の傾斜角度を測定し前記状態判定装置に提供する傾斜測定部を有し、
前記補正量算出部は、前記傾斜角度を補正した前記移動量に基づいて前記補正量を算出する、請求項７記載の状態判定システム。
【請求項９】
前記距離測定部、もしくは、前記傾斜測定部は、前記構造物表面の法線方向の移動量、もしくは、前記構造物の傾斜角度を、前記時系列画像の撮像と同じタイミングで測定する、請求項８記載の状態判定システム。
【請求項１０】
構造物表面の荷重印加前後の時系列画像から、前記時系列画像の変位の２次元空間分布を算出し、
前記時系列画像の撮像方向から測定した、前記荷重印加による前記構造物表面の法線方向の移動量、に基づく補正量を算出し、
前記時系列画像の変位の２次元空間分布から前記補正量を差し引いて、前記構造物表面の変位の２次元空間分布を抽出し、
前記構造物表面の変位の２次元空間分布と、予め備えられた変位の空間分布との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、状態判定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、構造物に生じる欠陥などの状態を遠隔から判定する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
トンネルや橋梁などのコンクリート構造物においては、構造物の表面に発生するひび割れ、剥離、内部空洞などの欠陥が、構造物の健全度に影響を及ぼすことが知られている。そのため、構造物の健全度を正確に判断するためには、これらの欠陥を正確に検出することが必要となる。
【０００３】
構造物のひび割れ、剥離、内部空洞などの欠陥の検出は、検査員による目視検査や打音検査によって行われてきており、検査のためには検査員が構造物に接近する必要がある。そのため、空中での作業ができる環境を整えることによる作業コストの増加や、作業環境設定のために交通規制をすることによる経済的機会の損失などが問題となっており、検査員が構造物を遠隔より検査する方法が望まれている。
【０００４】
遠隔から構造物の状態を判定する方法として画像計測による方法がある。例えば、構造物を撮像装置で撮像して得られた画像を所定の閾値で２値化処理し、この２値化した画像からひび割れに対応する画像部分を検出する技術が提案されている（特許文献１）。また、構造物の応力状態から、構造物に生じている亀裂を検出する技術が提案されている（特許文献２、特許文献３）。また、赤外線撮像装置或は可視光撮像装置とレーザ撮像装置との両方を使用して、撮像画像を自動解析して計測対象物の不具合を判定するシステム（特許文献４）や、可搬性に優れた撮像手段で撮像した画像から欠陥マップを作成する方法（特許文献５）が提案されている。さらに、非特許文献１には、構造物表面の動画像により、ひび割れ領域の動きを検出することによって、ひび割れの検出精度を高める方法が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００３−０３５５２８号公報
【特許文献２】特開２００８−２３２９９８号公報
【特許文献３】特開２００６−３４３１６０号公報
【特許文献４】特開２００４−３４７５８５号公報
【特許文献５】特開２００２−２３６１００号公報
【特許文献６】特開２０１２−１３２７８６号公報
【非特許文献】
【０００６】
【非特許文献１】Ｚ．Ｗａｎｇ，ｅｔ  ａｌ．，“Ｃｒａｃｋ−ｏｐｅｎｉｎｇ  ｄｉｓｐｌａｃｅｍｅｎｔ  ｅｓｔｉｍａｔｉｏｎ  ｍｅｔｈｏｄ  ｂａｓｅｄ  ｏｎ  ｓｅｑｕｅｎｃｅ  ｏｆ  ｍｏｔｉｏｎ  ｖｅｃｔｏｒ  ｆｉｅｌｄ  ｉｍａｇｅｓ  ｆｏｒ  ｃｉｖｉｌ  ｉｎｆｒａｓｔｒｕｃｔｕｒｅ  ｄｅｔｅｒｉｏｒａｔｉｏｎ  ｉｎｓｐｅｃｔｉｏｎ”，映像メディア処理シンポジウム（ＰＣＳＪ／ＩＭＰＳ２０１４），Ｉ−１−１７，２０１４．
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、前記の技術では、例えば橋梁などの構造物の下表面を撮像する場合、荷重により構造物がたわむことで、撮像する表面の位置が表面の法線方向に移動することによる変位（面外変位という）が、構造物の欠陥の情報を有する表面の面内方向の変位（面内変位という）に加算されてしまう。このため、構造物の欠陥を検出する際の精度が低下するという問題があった。
【０００８】
特許文献６には、測定対象物の表面に発生する歪を計測する方法において、撮像された画像の変位から面外変位量を補正する方法が提案されている。特許文献６では、面外変位量を構造物の変形前後の側面画像から読み取る。そのために、構造物の表面を撮影する第１映像装置と、側面を撮影する第２映像装置との、２台の映像装置を備えている。
【０００９】
しかしながら、この方法では、側面を撮影するために、表面を撮影する映像装置とは別にもう一台の映像装置が必要となり、コスト増大の課題がある。さらに、例えば橋梁などの場合、橋梁の側面の測定のためには、撮像装置を固定したり作業者の足場を確保したりする必要があるために作業性が悪く、測定精度が低下するという課題がある。
【００１０】
本発明は、上記の課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、構造物表面の画像の荷重による変位から、構造物表面の法線方向への移動による面外変位を作業性良く分離して、構造物表面の面内変位を抽出できるようにする。これにより、構造物のひび割れや剥離や内部空洞などの欠陥を区別した検出を、遠隔から非接触で精度良く行うことを可能とすることにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明による状態判定装置は、構造物表面の荷重印加前後の時系列画像から、前記時系列画像の変位の２次元空間分布を算出する変位算出部と、前記時系列画像の撮像方向から測定した、前記荷重印加による前記構造物表面の法線方向の移動量、に基づく補正量を算出する補正量算出部と、前記時系列画像の変位の２次元空間分布から前記補正量を差し引いて、前記構造物表面の変位の２次元空間分布を抽出する変位補正部と、前記構造物表面の変位の２次元空間分布と、予め備えられた変位の空間分布との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する異常判定部と、を有する。
【００１２】
本発明による状態判定システムは、構造物表面の荷重印加前後の時系列画像から前記時系列画像の変位の２次元空間分布を算出する変位算出部と、前記荷重印加による前記構造物表面の法線方向の移動量に基づく補正量を算出する補正量算出部と、前記時系列画像の変位の２次元空間分布から前記補正量を差し引いて、前記構造物表面の変位の２次元空間分布を抽出する変位補正部と、前記構造物表面の変位の２次元空間分布と予め備えられた変位の空間分布との比較に基づいて前記構造物の欠陥を特定する異常判定部と、を有する状態判定装置と、前記時系列画像を撮像し前記状態判定装置に提供する撮像部と、前記時系列画像の撮像方向から前記移動量を測定し前記状態判定装置に提供する距離測定部と、を有する。
【００１３】
本発明による状態判定方法は、構造物表面の荷重印加前後の時系列画像から、前記時系列画像の変位の２次元空間分布を算出し、前記時系列画像の撮像方向から測定した、前記荷重印加による前記構造物表面の法線方向の移動量、に基づく補正量を算出し、前記時系列画像の変位の２次元空間分布から前記補正量を差し引いて、前記構造物表面の変位の２次元空間分布を抽出し、前記構造物表面の変位の２次元空間分布と、予め備えられた変位の空間分布との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、構造物表面の画像の荷重による変位から、構造物表面の法線方向への移動による面外変位を作業性良く分離して、構造物表面の面内変位を抽出できるようになる。これにより、構造物のひび割れや剥離や内部空洞などの欠陥を区別した検出を遠隔から非接触で精度良く行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明の実施形態の状態判定装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施形態の状態判定装置の具体的な構成を示すブロック図である。
【図３】本発明の実施形態の状態判定システムの構成を示すブロック図である。
【図４Ａ】構造物の状態（健全な場合）と表面の変位の関係を説明するための図である。
【図４Ｂ】構造物の状態（ひび割れの場合）と表面の変位の関係を説明するための図である。
【図４Ｃ】構造物の状態（剥離の場合）と表面の変位の関係を説明するための図である。
【図４Ｄ】構造物の状態（内部空洞の場合）と表面の変位の関係を説明するための図である。
【図５Ａ】荷重前後の構造物（ひび割れの場合）のＸ方向の表面の変位を変位算出部で算出した結果を示す図である。
【図５Ｂ】荷重前後の構造物（ひび割れの場合）のＹ方向の表面の変位を変位算出部で算出した結果を示す図である。
【図６Ａ】本発明の実施形態の距離測定部の構成を示すブロック図である。
【図６Ｂ】本発明の実施形態の距離測定部の測定対象の構造部表面の位置の移動の様子を示す図である。
【図７】本発明の実施形態の補正量算出部における補正量の算出方法を説明するための図である。
【図８Ａ】荷重前後の構造物（ひび割れの場合）のＸ方向の表面の面内変位を変位補正部で算出した結果を示す図である。
【図８Ｂ】荷重前後の構造物（ひび割れの場合）のＹ方向の表面の面内変位を変位補正部で算出した結果を示す図である。
【図９】本発明の実施形態の補正量算出部における傾斜がある場合の補正量の算出方法を説明するための図である。
【図１０Ａ】ひび割れ周りの応力場の分布を示した図である。
【図１０Ｂ】ひび割れ周りの応力場の分布を示した図である。
【図１１Ａ】ひび割れ周りの変位量の２次元分布（Ｘ方向）の例を示す図である（ひび割れが浅い場合）。
【図１１Ｂ】ひび割れ周りの変位量の２次元分布（Ｙ方向）の例を示す図である（ひび割れが浅い場合）。
【図１１Ｃ】ひび割れ周りの変位量の２次元分布（Ｘ方向）の例を示す図である（ひび割れが深い場合）。
【図１１Ｄ】ひび割れ周りの変位量の２次元分布（Ｙ方向）の例を示す図である（ひび割れが深い場合）。
【図１２Ａ】異常判定部による変位分布（変位のＸ方向のパタン）とのパタンマッチングを説明する図である。
【図１２Ｂ】異常判定部による変位分布（変位のＹ方向のパタン）とのパタンマッチングを説明する図である。
【図１２Ｃ】異常判定部による変位分布（変位の微分ベクトル場のパタン）とのパタンマッチングを説明する図である。
【図１３Ａ】内部空洞が存在する場合の撮像方向から見た面の応力の２次元分布を示す斜視図である。
【図１３Ｂ】内部空洞が存在する場合の撮像方向から見た面の応力の２次元分布を示す平面図である。
【図１４Ａ】内部空洞が存在する場合の撮像方向から見た面の変位の等高線（Ｘ成分）を示す図である。
【図１４Ｂ】内部空洞が存在する場合の撮像方向から見た面の変位の等高線（Ｙ成分）を示す図である。
【図１４Ｃ】内部空洞が存在する場合の撮像方向から見た面の応力場を示す図である。
【図１５Ａ】内部空洞が存在する場合の構造体にインパルス刺激を与えた場合の応答を説明する図である（応答を得る位置ＡＢＣを示す）。
【図１５Ｂ】内部空洞が存在する場合の構造体にインパルス刺激を与えた場合の応答を説明する図である（位置ＡＢＣでの応答を示す）。
【図１６Ａ】剥離が存在する場合の撮像方向から見た面の変位の等高線（Ｘ成分）を示す図である。
【図１６Ｂ】剥離が存在する場合の撮像方向から見た面の変位の等高線（Ｙ成分）を示す図である。
【図１６Ｃ】剥離が存在する場合の撮像方向から見た面の応力場を示す図である。
【図１７】剥離が存在する場合の構造体にインパルス刺激を与えた場合の変位の時間応答を説明する図である。
【図１８】本発明の実施形態の状態判定装置における状態判定方法を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、図を参照しながら、本発明の実施形態を詳細に説明する。但し、以下に述べる実施形態には、本発明を実施するために技術的に好ましい限定がされているが、発明の範囲を以下に限定するものではない。
【００１７】
図１は、本発明の実施形態の状態判定装置の構成を示すブロック図である。本実施形態の状態判定装置１００は、構造物表面の荷重印加前後の時系列画像から、前記時系列画像の変位の２次元空間分布を算出する変位算出部１０１と、前記時系列画像の撮像方向から測定した、前記荷重印加による前記構造物表面の法線方向の移動量、に基づく補正量を算出する補正量算出部１０２と、前記時系列画像の変位の２次元空間分布から前記補正量を差し引いて、前記構造物表面の変位の２次元空間分布を抽出する変位補正部１０３と、前記構造物表面の変位の２次元空間分布と、予め備えられた変位の空間分布との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する異常判定部１０４と、を有する。
【００１８】
図２は、本発明の実施形態の状態判定装置の具体的な構成を示すブロック図である。状態判定装置１は、変位算出部２、補正量算出部３、変位補正部４、微分変位算出部５、異常判定部６、異常マップ作成部９を備えている。異常判定部６は、２次元空間分布情報解析部７と時間変化情報解析部８を備えている。
【００１９】
図３は、本発明の実施形態の状態判定システムの構成を示すブロック図である。状態判定システム１０は、状態判定装置１、撮像部１１、距離測定部１２、傾斜測定部１３を備えている。状態判定装置１は図２に示す装置である。撮像部１１は撮像用のカメラである。図３では、被測定物である構造物１５は、２点支持された梁状の構造としている。構造物１５には、各種の欠陥１４が存在する可能性がある。
【００２０】
撮像部１１は、構造物１５に荷重を印加する前後の構造物１５の表面を、Ｘ−Ｙ平面の時系列画像として撮像する。さらに、撮像部１１は、撮像した時系列画像を状態判定装置１の変位算出部２に入力する。
【００２１】
距離測定部１２は、撮像部１１と撮像部１１が撮像する構造物１５表面との間の距離（撮像距離という）を検出する。さらに、距離測定部１２は、荷重を印加することで構造物１５がたわむなどして、構造物１５表面が表面の法線方向へ移動することで撮像距離が変化する変化分を検出する。すなわち、距離測定部１２は、映像部１１の撮像方向と同じ方向から、撮像距離とその変化分とを測定することができる。距離測定部１２は、撮像距離と変化分とを距離情報として補正量算出部３に入力する。
【００２２】
なお、表面が曲面である場合に対して法線というが、表面が複数の小さな曲面を有していて全体として大きな曲面を成している場合、ここでは大きな曲面に対する法線を指すものとする。また、表面が平面である場合に対しては垂線というが、以下の説明では、単純化のために法線と統一して表記することとする。
【００２３】
傾斜測定部１３は、撮像部１１の撮像方向の中心の光軸に対する構造物１５表面の法線の傾き角度、すなわち、構造物１５の傾斜角度を検出して、補正量算出部３に傾斜情報として入力する。傾斜測定部１３は、映像部１１の撮像方向と同じ方向から、傾斜情報を取得することができる。
【００２４】
変位算出部２は、時系列画像のＸ−Ｙ平面上の各（Ｘ，Ｙ）座標ごとの変位を算出する。すなわち、撮像部１１で撮像された荷重印加前のフレーム画像を基準とし、荷重印加後の最初の時刻のフレーム画像における変位を算出する。次に、荷重印加後の次の時刻のフレーム画像の変位、さらにその次の時刻のフレーム画像の変位という具合に、時系列画像ごとに荷重前の画像に対する変位を算出する。変位算出部２は、画像相関演算を用いて変位を算出することができる。また、変位算出部２は、算出した変位を、Ｘ−Ｙ平面の２次元空間分布とする変位分布図として表すこともできる。
【００２５】
補正量算出部３は、距離測定部１２からの距離情報、および、傾斜測定部１３からの傾斜情報を用いて、変位算出部２が算出した変位に含まれている、荷重により構造物１５がたわむなどして、構造物１５表面が表面の法線方向へ移動することによる変位（面外変位という）を算出する。
【００２６】
変位補正部４は、変位算出部２で算出された変位もしくは変位分布図から、補正量算出部３で算出された面外変位を差し引くことによって、構造物１５の表面内に生じている変位（面内変位という）を抽出する。変位補正部４は、抽出した面内変位を、微分変位算出部５と異常判定部６とに入力する。
【００２７】
微分変位算出部５は、変位もしくは変位分布図に空間微分を施し、微分変位、もしくは、算出した微分変位をＸ−Ｙ平面上の２次元微分空間分布とする微分変位分布図を算出する。変位補正部４、および、微分変位算出部５の算出結果は、異常判定部６に入力される。
【００２８】
異常判定部６は、入力された算出結果に基づいて、構造物１５の状態を判定する。すなわち、異常判定部６は、２次元空間分布情報解析部７と時間変化情報解析部８での解析結果から、構造物１５の異常（欠陥１４）の場所と種類を判定する。さらに、異常判定部６は、判定した構造物１５の異常の場所と種類を、異常マップ作成部９に入力する。異常マップ作成部９は、構造物１５の異常状態の空間分布をＸ−Ｙ平面にマップ化し、異常マップとして記録し、出力する。
【００２９】
状態判定装置１は、ＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ  Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）やサーバなどの情報機器とすることができる。情報機器の有する演算資源であるＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）と、記憶資源であるメモリやＨＤＤ（Ｈａｒｄ  Ｄｉｓｋ  Ｄｒｉｖｅ）を用いて、ＣＰＵでプログラムを動作させることにより、状態判定装置１を構成する各部を実現することができる。
【００３０】
図４Ａ〜図４Ｄは、構造物１５の各種異常状態と表面の面内変位の関係を説明するための図である。図４Ａは、２点支持された梁状の構造物１５の側面図である。図４Ａに示すように、図３における撮像部１１は、構造物１５の下表面を撮像方向（Ｚ方向）から撮像する条件で配置されている。このとき、構造物１５が健全であれば、図４Ａに示すように、構造物１５の上面からの垂直荷重に対し、構造物１５の上面には圧縮応力が、下面には引張応力がそれぞれ働く。なお、構造物１５は、同様の応力が働く条件であれば、特に２点支持された梁状の構造物でなくてもよい。
【００３１】
ここで構造物１５が弾性体である場合、応力は歪に比例する。その比例定数であるヤング率は、構造物の材質に依存する。応力と比例する歪は単位長さあたりの変位であるので、変位補正部４で算出された結果を微分変位算出部５で空間微分することにより、歪を算出することができる。すなわち、微分変位算出部５の結果により、応力場を求めることが可能となる。
【００３２】
図４Ｂに示すように、ひび割れが存在する場合、ひび割れ部分は荷重による変位が大きい。一方で、ひび割れ部分の周辺は、ひび割れ部分により応力の伝達がないため、構造物１５の下面の引張応力は、図４Ａに示す健全な状態と比べ小さくなる。
【００３３】
また、図４Ｃに示すように、剥離が存在する場合、構造物１５の下面から見た外観は、ひび割れの場合と同様の外観が観察される。しかしながら、剥離の場合は、剥離部分とその上部との間に応力伝達がない。そのため、荷重による変位は剥離部分においては一定方向に一定量が平行移動するだけであり、その空間微分値である歪は発生しない。よって、荷重による変位を空間微分することで得られる歪の情報を用いることで、ひび割れと剥離との区別をつけることが可能となる。
【００３４】
また、図４Ｄに示すように、内部空洞が存在する場合、内部空洞では応力の伝達が妨げられるため、構造物１５の下面における応力は小さくなる。よって、画像から算出される歪も小さくなることから、構造物１５の外側から直接見ることができない内部空洞を見つけることが可能である。
【００３５】
以下、図５Ａ、図５Ｂを参照して、図４Ｂに示すようなＹ方向に沿ったひび割れが存在する場合を例として、面外変位を除去して面内変位を抽出する方法について述べる。図５Ａは、図３の構造物１５の、Ｙ方向に沿ったひび割れが存在する場合の、荷重によるＸ方向の表面の変位を変位算出部２で算出した結果を示す図である。また、図５Ｂは、図５Ａと同様の場合の、Ｙ方向の表面の変位を変位算出部２で算出した結果を示す図である。ここでは、撮像距離は５ｍ、構造物１５は長さ２０ｍ、厚さ０．５ｍ、幅１０ｍのコンクリート（ヤング率４０ＧＰａ）とし、１０ｔの荷重をかけた場合と等価な条件の両持ち梁を用いている。
【００３６】
Ｘ方向の変位を示す図５Ａでは、撮像範囲±２００ｍｍの範囲で±１７０μｍの変位が生じている。Ｙ方向の変位を示す図５Ｂでは、撮像範囲±２００ｍｍの範囲で±１６０μｍの変位が直線的に生じている。Ｘ方向の変位は、面内変位に面外変位が重畳された変位となっている。一方、Ｙ方向の変位は、面外変位のみの変位となっている。
【００３７】
図６Ａは、距離測定部１２の構成を示す。距離測定部１２は、撮像部１１と構造物１５表面との距離を測定する。距離測定部１２は、信号発生器１２１、送信機１２２、受信機１２３、時間比較器１２４、距離算出器１２５を備えている。
【００３８】
信号発生器１２１は、パルス信号を発生する。送信機１２２は、信号発生器１２１の生成するパルス信号に対応した超音波を発信する。送信機１２２から発信された超音波は、構造物１５の表面で反射し、受信機１２３で受信される。時間比較器１２４は、超音波を送信機１２２が発信した時刻と、受信機１２３が受信した時刻とから、発信から受信までの時間を算出する。これは、超音波が、距離測定部１２と構造物１５の表面との距離ｚ（撮像部１１と構造物１５表面との距離に相当する）を往復する時間である。
【００３９】
さらに、時間比較器１２４は、構造物１５に荷重を印加する前後で前記時間を算出することによって、荷重により構造物１５がたわむなどして、構造物１５表面が表面の法線方向へ移動することによって生じた距離の変化分Δｚに対応した時間差Δｔを求める。距離算出器１２５は、超音波の発信から受信までの時間から距離ｚを、時間差Δｔから距離ｚの変化分Δｚを、算出し、距離情報として状態判定装置１の補正量算出部３に入力する。
【００４０】
図６Ｂは、距離測定部１２と、測定対象である構造部１５の表面位置の移動の様子を示す図である。距離測定部１２と構造物１５表面との距離は、時刻毎に出力される。例えば、時刻ｔ１で、発信から受信までの時間が２９．４１２ｍｓｅｃ．であった場合、音速３４０ｍ／ｓｅｃ．を乗算して、撮像部１１と構造物１５の表面との距離は５ｍであることが求まる。また、時刻ｔ２で、発信から受信までの時間が２９．３８８ｍｓｅｃ．であった場合、音速３４０ｍ／ｓｅｃ．を乗算して距離は４．９９６ｍであることが求まる。ここで、時刻ｔ１は荷重印加前、時刻ｔ２は荷重印加後の時刻とすれば、構造物１５のたわみなどによる変化分Δｚは、４ｍｍと算出される。なお、時刻ｔ１や時刻ｔ２は、撮像部１１が荷重前後での時系列画像を撮像するタイミングに合わせることが好ましい。これにより補正の精度を高めることができる。
【００４１】
また、例えば、信号発生器１２１は、パルス信号のパルス幅を１２．５μｓｅｃ．（パルスＯＮ／ＯＦＦで帯域４ｋＨｚ）とし、時間比較器１２４は、パルス信号のパルス幅の１／５００の２５ｎｓｅｃ．（パルスＯＮ／ＯＦＦで帯域２ＭＨｚ）までの時間比較ができるようにすることで、８．５μｍの距離分解能を得ることができる。なお、距離測定部１２は、これと同等の分解能が得られれば、超音波に限らずレーザー光線やマイクロ波等を使ったものでもよく、また、時間差を用いる以外の方法として、三角計測の原理を用いる方法でもよい。
【００４２】
補正量算出部３は、距離測定部１２から得た荷重前後での距離の変化分Δｚに基づいて、面外変位δｉを算出する。図７は、補正量算出部３における補正量の算出方法を説明するための図である。図７では、距離の変化分Δｚが荷重前後の構造物のたわみに対応するものとし、変化分Δｚをたわみ量δとして表記している。なお、変化分Δｚは、たわみ量だけには限定されず、例えば、荷重により構造物１５の全体が沈み込むことで撮像する表面の位置が表面の法線方向へ移動する場合などが、含まれていても良い。
【００４３】
図７に示すように、荷重により構造物１５にたわみ（たわみ量δ）が発生する場合、撮像部１１の撮像面には、構造物表面の変位の２次元空間分布である面内変位Δｘに相当するΔｘｉとは別に、たわみ量δによる面外変位δｉが生じる。面外変位δｉと面内変位Δｘｉとは、撮像距離をＬ、レンズの焦点距離をｆ、構造物表面の撮像中心からの距離をｘとすると、それぞれ、式１と式２とで表される。
δｉ＝ｘ・ｆ・｛１／（Ｌ−δ）−１／Ｌ｝      （式１）
Δｘｉ＝Δｘ・ｆ／（Ｌ−δ）      （式２）
ここで、構造物１５の荷重前後のたわみ量δが前記の４ｍｍ、撮像距離Ｌが５ｍ、レンズ焦点距離ｆが５０ｍｍの場合、構造物１５の表面における撮像中心からの距離ｘが２００ｍｍにおいて、撮像面の面外変位δｉは式１より１．６μｍとなる。一方、構造物１５の表面に１６０μｍの面内変位Δｘが存在する場合、式２より撮像面の面内変位Δｘｉは１．６μｍとなる。
【００４４】
このように、変位算出部２で算出された時系列画像の変位やＸ−Ｙ平面の２次元空間分布とする変位分布図には、面内変位Δｘｉと同等の面外変位δｉが重畳されている場合がある。変位補正部４は、変位算出部２で得られた変位から、補正量算出部３で得られた面外変位δｉを補正量として減算することで、面内変位Δｘｉを抽出する。
【００４５】
図５Ａと図５Ｂの変位算出部２で算出した変位から、補正量算出部３で得られた面外変位を減算することで抽出した面内変位を、図８Ａと図８Ｂに各々示す。図８Ａは、Ｙ方向にひび割れを有する構造物の、荷重によるＸ方向の表面の面内変位を変位補正部４で算出した結果を示す図である。図８Ｂは、同様の構造物の、荷重によるＹ方向の表面の面内変位を変位補正部４で算出した結果を示す図である。ひび割れ部では、Ｘ方向で不連続な２０μｍの急激な面内変位が生じていることが分かる。一方、Ｙ方向には面内変位が生じていないことが分かる。
【００４６】
なお、図５Ａ、５Ｂおよび図８Ａ、８Ｂから分かるように、面内変位がＸ方向にだけ生じていてＹ方向には生じていないことが予め分かっている場合は、図５Ａから図５Ｂを差し引くことによって、図８Ａの面内変位を得ることができる。
【００４７】
図９は、本発明の実施形態の補正量算出部３における補正量の算出方法において、構造物１５に傾斜がある場合についての面外変位を説明する図である。補正量算出部３には、傾斜測定部１３から、撮像部１１の撮像方向の中心の光軸に対する構造物１５の表面の法線の傾斜角度θ（すなわち、構造物１５の傾斜角度）が傾斜情報として入力される。
【００４８】
図９に示すように、Ｙ軸を軸として構造物１５の表面の法線がθだけ回転している場合、撮像部１１の光軸をｚ軸とした座標と構造物表面の法線をz’とした座標との関係は、式３、式４、式５で示される。
ｘ’＝ｘ・ｃｏｓθ＋ｚ・ｓｉｎθ      （式３）
ｙ’＝ｙ      （式４）
ｚ’＝−ｘ・ｓｉｎθ＋ｚ・ｃｏｓθ      （式５）
さらに、θだけ回転した撮像面のＸ−Ｙ座標は式６、式７で写像される。
Ｘ＝ｘ’・ｆ／（Ｌ−ｚ’）      （式６）
Ｙ＝ｙ’・ｆ／（Ｌ−ｚ’）      （式７）
よって、荷重の印加により構造物１５がたわむことでの座標Ｐ１（ｘ１，ｙ１，ｚ１）から座標Ｐ２（ｘ２，ｙ２，ｚ２）への変位による、Ｘ方向の面外変位δｘｉ、Ｙ方向の面外変位δｙｉは、各々、式８、式９で示される（図９中でＹ成分は図示せず）。
δｘｉ＝ｘ２ｉ−ｘ１ｉ＝ｘ２・ｆ／（Ｌ−ｚ２）−ｘ１・ｆ／（Ｌ−ｚ１）      （式８）
δｙｉ＝ｙ２ｉ−ｙ１ｉ＝ｙ２・ｆ／（Ｌ−ｚ２）−ｙ１・ｆ／（Ｌ−ｚ１）      （式９）
図９では、Ｙ軸を軸として、構造物１５の表面の法線が撮像部１１の撮像方向の中心の光軸に対してθだけ回転している場合を取り扱ったが、Ｘ軸やＺ軸を軸とする場合も同様に考えて、補正を行うことができる。
【００４９】
傾斜測定部１３は、ＭＥＭＳ（Ｍｉｃｒｏ  Ｅｌｅｃｔｒｏ  Ｍｅｃｈａｎｉｃａｌ  Ｓｙｓｔｅｍｓ）技術による静電容量型加速度センサを用い、重力方向を検出することで傾斜測定することができる。また、傾斜が測定できるのであれば、他の方式の各種加速度センサや各種ジャイロセンサを用いてもよい。
【００５０】
変位補正部４の出力である構造物表面の面内変位は、微分変位算出部５で構造物表面の歪に置き換えられる。構造物表面の歪にヤング率を乗ずると応力となるので、このことから構造物表面の応力場が求まる。変位補正部４で得られた変位情報と、微分変位算出部５で得られた歪情報は、異常判定部６に入力される。
【００５１】
異常判定部６は、変位補正部４で得られた変位情報や微分変位算出部５で得られた歪情報に対して、欠陥の種類と場所を特定するために、２次元空間分布情報解析部７と時間変化情報解析部８とに、予め、欠陥を判定するための閾値や、欠陥の種類に対応した特徴的な変位や歪のパタンを備えている。そして、２次元空間分布情報解析部７と時間変化情報解析部８とは、変位情報や歪情報と前記閾値との比較や、前記パタンとのパタンマッチングにより、図４Ａ〜図４Ｄで示したような、健全な状態、もしくは、ひび割れや剥離や内部空洞といった欠陥を判定する。
【００５２】
図８Ａは、Ｙ方向に沿ったひび割れが存在する場合の、荷重による構造物のＸ方向の表面の面内変位の例を示している。ひび割れ部では、不連続な２０μｍの急激な面内変位が生じていることが分かる。このような急激な変位は、欠陥の無い健全な状態では生じない。よって、予め不連続な変位の大きさに閾値を設けておくことで、これを上回る変位が確認されることでひび割れを検出することが可能である。
【００５３】
図１０Ａと図１０Ｂは、Ｙ方向に沿ったひび割れがある場合の、微分変位算出部５で算出されるひび割れ部の周りの応力場の分布を示した図である。図１０Ａに示すように、ひび割れにより応力方向が曲げられるため、図１０ＡにおけるＸ方向に引張応力が構造体の両端に働いている場合でも、ひび割れ近傍の応力方向は図１０Ｂに示すようにＹ方向の成分が発生する。したがって、このＹ方向の成分の有無の検出によってもひび割れを検出できる。なお、このようなひび割れ周りの応力場は、線形応答を示す弾性体においては応力拡大係数としてその分布が知られているので、その情報を利用することも可能である。
【００５４】
図１１Ａ〜１１Ｄに、ひび割れ周りの変位量の２次元変位分布の例を示す。図１１Ａと図１１Ｂは、それぞれ、図４Ｂにおける水平方向（Ｘ方向）と図４Ｂにおける紙面に垂直な方向（Ｙ方向）の変位量等高線である。図１１Ａに示すように、Ｘ方向に関して、ひび割れがない領域よりひび割れ周りでは変位量等高線の密度が疎となる。これは、図８Ａに示したひび割れ部分での急激な変位の、外側の緩やかな変位の部分に相当する。この部分での変位は、ひび割れが無いときの変位よりも緩やかとなる。
【００５５】
また、図１１Ｂに示すように、Ｙ方向に関して、ひび割れ部分の周辺に変位のＹ方向の成分が生じる。これは、図１０Ｂに示した、応力場（歪）のＹ方向の成分に対応する。
【００５６】
図１１Ｃと図１１Ｄは、それぞれ、図１１Ａと図１１Ｂの場合よりひび割れが深い場合を示す。この場合、Ｘ方向、Ｙ方向それぞれに関してひび割れ周りでは変位量等高線の密度がより疎になる。この疎密の情報から、ひび割れの深さを知ることも可能である。
【００５７】
以上のひび割れの判定は、図２における異常判定部６内の２次元空間分布情報解析部７で行われる。
【００５８】
ひび割れがある場合、図８Ａに示したように、ひび割れ部では、ひび割れの開きが大きくなることに対応して変位量が急増する。よって、Ｘ方向もしくはＹ方向の単位長さ当りの変位量の閾値を、各々、予め設けておくことで、閾値を超える変位量が検出された場所にひび割れがあると推定することができる。
【００５９】
また、Ｘ方向の歪は、ひび割れ部では急激に増大する。このことから、Ｘ方向の歪の値に閾値を予め設けておくことで、閾値を上回る歪が検出された場所にひび割れがあると推定することができる。
【００６０】
また、図１０Ａ、図１０Ｂに示したように、ひび割れがある場合、Ｙ方向の歪が生じる。よって、Ｙ方向の歪の値に閾値を予め設けておくことで、閾値を上回る歪が検出された場所にひび割れがあると推定することができる。
【００６１】
以上の各閾値は、構造物と同様の寸法や材質を用いてのシミュレーションや、縮小模型による実験などにより設定することができる。さらに、実際の構造物を長期間にわたって測定し蓄積されたデータから設定することもできる。
【００６２】
以上の判定は、以上のような数値による比較によらずとも、以下に説明する様なパタンマッチング処理によっても可能である。
【００６３】
図１２Ａ〜１２Ｃは、２次元空間分布情報解析部７による変位分布のパタンマッチング処理を説明する図である。変位補正部４や微分変位算出部５によれば、図１１Ａ〜１１Ｄに示したように、Ｘ−Ｙ平面に変位量を変位分布図として表すことができる。２次元空間分布情報解析部７は、図１２Ａに示すように、予め記憶されたひび割れ周りの変位のＸ方向のパタンを回転、拡大縮小して、変位補正部４で得られた変位分布図とのパタンマッチングにより、ひび割れの方向と深さを判定することができる。ここで、予め記憶されたひび割れ周りの変位のＸ方向のパタンは、ひび割れの深さや幅ごとに予めシミュレーションなどにより作成しておくことができる。
【００６４】
また、２次元空間分布情報解析部７は、図１２Ｂに示すように、予め記憶されたひび割れ周りの変位のＹ方向のパタンを回転、拡大縮小して、変位補正部４で得られた変位分布図とのパタンマッチングにより、ひび割れの方向と深さを判定する。ここで、予め記憶されたひび割れ周りの変位のＹ方向のパタンは、ひび割れの深さや幅ごとに予めシミュレーションなどにより作成しておくことができる。
【００６５】
また、２次元空間分布情報解析部５は、図１２Ｃに示すように、予め記憶されたひび割れ周りの変位の微分ベクトル場のパタンを回転、拡大縮小して、微分変位算出部５で得られた微分ベクトル場（応力場に相当）とのパタンマッチングにより、ひび割れの方向と深さを判定する。ここで、予め記憶されたひび割れ周りの変位の微分ベクトル場のパタンは、ひび割れの深さや幅ごとに予めシミュレーションなどにより作成しておくことができる。
【００６６】
前記パタンマッチングには相関演算を用いている。パタンマッチングにはその他の各種統計的演算手法を用いてもよい。
【００６７】
以上、構造物１５がひび割れを有する場合について説明を行ってきたが、以下に、内部空洞を有する場合と剥離を有する場合とについて説明を行う。
【００６８】
図１３Ａと図１３Ｂは、図４Ｄに示すような内部空洞が存在する場合の撮像方向から見た面の応力の２次元分布を示す。図１３Ａは斜視図であり、図１３Ｂは平面図である。図１３Ｂに示すように、荷重によって図のＸ方向に応力が働くが、空洞部分では応力場が曲がるため、応力に図のＹ方向の成分が存在する。
【００６９】
図１４Ａ〜１４Ｃは、内部空洞が存在する場合の撮像方向から見た面の変位の等高線及び応力場を示した図であり、変位のＸ成分の等高線を図１４Ａに、変位のＹ成分の等高線を図１４Ｂに、応力場を図１４Ｃにそれぞれ示す。
【００７０】
空洞部分では、図４Ｄの説明で述べた通り歪量が小さくなるので、図１４Ａに示す変位のＸ成分の等高線の密度が小さくなる。また、図１４Ｂに示す変位のＹ成分の等高線は閉じた曲線となる。さらに、図１４Ｃに示す、変位の微分である応力場は空洞部分で曲がることとなる。表面の応力場は空洞部分が表面に近いほどその影響が顕著になるため、応力場の曲がり方から空洞部分の表面からの深さを推定することもできる。
【００７１】
ここで、２次元空間分布情報解析部７で予め記憶された空洞周りの変位のＸ方向の変位のパタン、空洞周りの変位のＹ方向の変位のパタン、および微分ベクトル場（応力場に相当）を、ひび割れを判定した時と同様に、図１２Ａに図１４Ａを、図１２Ｂに図１４Ｂを、図１２Ｃに図１４Ｃを適用すると、内部空洞の位置および深さの状態判定をすることができる。前記パタンマッチングには相関演算を用いているが、その他の統計的演算手法を用いてもよい。
【００７２】
また、内部空洞を有する場合も、Ｙ方向の変位量やＹ方向の歪の特徴から、これらの変位量や歪に閾値を予め設けて、これを上回る場合に内部空洞があると推定することもできる。
【００７３】
図１５Ａと図１５Ｂは、内部空洞がある構造体に荷重を短時間与えた場合（インパルス刺激という）の応答を説明する図である。インパルス刺激は、例えば、荷重を掛ける位置に掛けることができる。このインパルス刺激に対する、図１５Ａに示すＡ、Ｂ、Ｃの表面の各点での変位の時間応答を、図１５Ｂに示す。内部空洞がないＡ点では、応力伝達が早く変位の振幅も大きい。一方、Ｃ点では、内部空洞中は応力が伝達しないため、応力は空洞の周辺から伝達するため、応力伝達が遅くかつ変位の振幅が小さい。また、Ａ点とＣ点の中間点あるＢ点での応力伝達時間と振幅は、Ａ点とＣ点の中間の値となる。従って、構造体を撮像方向から見た面の面内における変位分布を、異常判定部６内の時間変化情報解析部８で周波数解析をすると、共振周波数近傍の振幅と位相とから内部空洞の領域を特定できる。また、共振周波数のずれから内部空洞を判定してもよい。
【００７４】
なお、荷重を長時間与えた場合であっても、荷重を与えた初期段階では図１５Ｂに相当する変位の変動が確認される。但しこの場合、変位の収束値はゼロではなく荷重にバランスする値となる。よって、荷重を長時間与えた場合も、時間変化情報解析部８により内部空洞の領域を特定できる。
【００７５】
以上の変位の時間応答の処理は、時間変化情報解析部８において高速フーリエ変換を用いた周波数解析により行われる。また、周波数解析にはウェーブレット変換等の各種周波数解析法を用いてもよい。
【００７６】
図１６Ａ〜１６Ｃは、剥離が存在する場合の撮像方向から見た面の変位の等高線及び応力場を示した図であり、変位のＸ成分の等高線を図１６Ａに、変位のＹ成分の等高線を図１６Ｂに、応力場を図１６Ｃにそれぞれ示す。
【００７７】
図４Ｃに示すように、剥離が存在する場合、梁状の構造物の下面から見た外観ではひび割れと同様の外観が観察される。しかしながら、剥離部分とその上部との間には応力伝達がないため、荷重前後の変位は剥離部分において一定方向に一定量が平行移動するだけであり、その空間微分値である歪は発生しない。
【００７８】
図１６Ａは、変位のＸ成分の等高線を示す。剥離部分は歪がなく一定方向に異動するため等高線が存在しない。この特徴を用いて、異常判定部６は剥離が存在すると判定する。また、図中のＡ点の部分は剥離による断裂で応力が伝達しづらいので、健全部分であるＢ点に比べて等高線が疎になる。異常判定部６はこの性質を用いて剥離部分と健全部分とを判定してもよい。
【００７９】
図１６Ｂは、変位のＹ成分の等高線を示す。剥離部分の外周の外側にはＹ方向の変位が生じる。この特徴を用いて、異常判定部６は剥離が存在すると判定することができる。また、図１６Ｃに示す変位の微分である応力場は、剥離部分では０かその近傍の値となる。この特徴を用いて、異常判定部６は剥離が存在すると判定することができる。
【００８０】
ここで、２次元空間分布情報解析部７で予め記憶された剥離周りの変位のＸ方向の変位のパタン、空洞周りの変位のＹ方向の変位のパタン、および微分ベクトル場（応力場に相当）を、ひび割れの深さを判定した時と同様に、図１２Ａに図１６Ａを、図１２Ｂに図１６Ｂを、図１２Ｃに図１６Ｃを適用すると、剥離の位置の判定をすることができる。前記パタンマッチングには相関演算を用いているが、その他の統計的演算手法を用いてもよい。
【００８１】
図１７は、剥離を有する構造体がインパルス刺激を受けた場合の時間応答を示す図である。時間応答では、剥離部分と健全部分とでは変位の方向が逆、すなわち位相が１８０°異なる波形となる。また、剥離部分は軽くなっているため振幅が大きい。構造体を撮像方向から見た面の面内における変位分布を時間変化情報解析部８で周波数解析をすることで、振幅と位相から剥離部分を特定できる。また、剥離部分は構造体全体から浮いているため、構造体全体とは別の周波数成分を含んでいる場合があるため、共振周波数のずれから剥離部分を判定してもよい。
【００８２】
以上の処理において時間変化情報解析部８における周波数解析は高速フーリエ変換を用いている。周波数解析にはウェーブレット変換等の各種周波数解析法を用いてもよい。
【００８３】
図１８は、図２の状態判定装置１の状態判定方法を示すフローチャートである。
【００８４】
ステップＳ１で、状態判定装置１の変位算出部２は、撮像部１１で撮像された荷重を印加する前後での構造物１５の表面の時系列画像において、荷重を印加する前後での変位量を算出する基準となる荷重印加前のフレーム画像を取り込み、さらに、荷重印加後のフレーム画像を時系列に取り込む。
【００８５】
さらに、変位算出部２は、基準となる荷重印加前の画像に対する荷重印加後の画像のＸ、Ｙ方向の変位量を算出する。さらに、算出した変位量の２次元分布をＸ−Ｙ平面に表示した変位分布図（変位量の等高線）としてもよい。さらに、変位算出部２は、算出した変位量もしくは変位分布図を変位補正部４に入力する。
【００８６】
ステップＳ２で、補正量算出部３は、距離測定部１２と傾斜測定部１３から、それぞれ、撮像部１１と構造物１５の表面との間の距離情報と、撮像部１１の光軸と構造物１５の表面の法線とのなす角度の角度情報とを取得する。
【００８７】
ステップＳ３で、補正量算出部３は、距離情報と角度情報とから、面外変位を算出する。
【００８８】
ステップＳ４で、変位補正部４は、変位算出部２で得られた変位量から補正量算出部３で得られた面外変位を減算して面内変位を抽出する。すなわち、変位補正部４は、基準となる荷重印加前に対する、荷重印加後の構造物１５の表面のＸ−Ｙ方向の面内変位を算出する。さらに、算出した面内変位の２次元分布をＸ−Ｙ平面に表示した変位分布図（変位量の等高線）としてもよい。変位補正部４は、算出した結果を微分変位算出部５と異常判定部６に入力する。
【００８９】
ステップＳ５で、微分変位算出部５は、変位補正部４から入力された面内変位もしくは変位分布図を空間微分して、微分変位量（応力値）もしくは微分変位分布図（応力場）を算出する。微分変位算出部５は、算出した結果を異常判定部６に入力する。
【００９０】
以下のステップＳ６、ステップＳ７、ステップＳ８は、異常判定部６の２次元空間分布情報解析部７が構造体の欠陥であるひび割れ、剥離、内部空洞を判定するステップである。判定方法としては、前述したパタンマッチングによる方法と、閾値による方法を挙げて説明する。
【００９１】
ステップＳ６で、異常判定部６の２次元空間分布情報解析部７は、入力されたＸ方向の変位量もしくは変位分布図から、ひび割れ、剥離、内部空洞の状態を判定する。
【００９２】
まず、パタンマッチングによる判定方法を説明する。２次元空間分布情報解析部７は、図１２Ａ、図１４Ａ、図１６Ａに示すような、ひび割れや内部空洞や剥離の幅や深さなどに対応して予め作成された変位分布パタンをデータベースとして備えている。２次元空間分布情報解析部７は、変位補正部４から入力されたＸ方向の変位分布図に対して、これらの変位分布パタンを回転、拡大縮小してパタンマッチングし、Ｘ−Ｙ平面における欠陥の位置や種類を判定する。
【００９３】
次に、変位量の閾値による判定方法を説明する。２次元空間分布情報解析部７は、入力されたＸ方向の変位量に基づいて、例えば、変位量の連続性を判定する。すなわち、図８Ａに示したように、変位量の閾値以上の急峻な変化の有無により、連続性の無し有りを判定する。２次元空間分布情報解析部７は、Ｘ−Ｙ平面上のいずれかの箇所に連続性が無い急峻な変化がある場合、当該箇所にひび割れや剥離が存在する可能性があると判定し、不連続フラグＤｉｓＣ（ｘ，ｙ，ｔ）に１をセットするとともに、急峻な変化がある箇所の変位量データを数値情報として記録する。ここでｔは、ステップＳ１で取り込んだフレーム画像の時系列画像上の時刻である。
【００９４】
異常判定部６は、パタンマッチングにより判定した欠陥の情報、もしくは、変位量の閾値により判定した不連続フラグＤｉｓＣ（ｘ，ｙ，ｔ）や数値情報を、異常マップ作成部９に入力する。
【００９５】
ステップＳ７で、異常判定部６の２次元空間分布情報解析部７は、入力されたＹ方向の変位量もしくは変位分布図から、ひび割れ、剥離、内部空洞の状態を判定する。
【００９６】
まず、パタンマッチングによる判定方法を説明する。２次元空間分布情報解析部７は、図１２Ｂ、図１４Ｂ、図１６Ｂに示すような、ひび割れや内部空洞や剥離の幅や深さなどに対応して予め作成された変位分布パタンをデータベースとして備えている。２次元空間分布情報解析部７は、変位補正部４から入力されたＹ方向の変位分布図に対して、これらの変位分布パタンを回転、拡大縮小することによってパタンマッチングし、Ｘ−Ｙ平面における欠陥の位置や種類を判定する。
【００９７】
次に、変位量の閾値による判定方法を説明する。ひび割れ、剥離、内部空洞の欠陥がある場合、Ｙ方向にも変位量が発生する。よって、２次元空間分布情報解析部７は、予め定められた閾値より大きい変位量を検知した場合、当該箇所に欠陥があると判定して、直交フラグｏｒｔｈｏ（ｘ，ｙ，ｔ）に1をセットするとともに、閾値より大きい変位量を検知した箇所の変位量データを数値情報として記録する。
【００９８】
異常判定部６は、パタンマッチングにより判定した欠陥の情報、もしくは、変位量により判定した直交フラグｏｒｔｈｏ（ｘ，ｙ，ｔ）や数値情報を、異常マップ作成部９に入力する。
【００９９】
ステップＳ８で、異常判定部６の２次元空間分布情報解析部７は、入力された微分変位量（応力値）もしくは微分変位分布図（応力場）から、ひび割れ、剥離、内部空洞の状態を判定する。
【０１００】
まず、パタンマッチングによる判定方法を説明する。２次元空間分布情報解析部７は、図１２Ｃ、図１４Ｃ、図１６Ｃに示すような、ひび割れや内部空洞や剥離の幅や深さなどに対応して予め作成された変位分布パタンをデータベースとして備えている。２次元空間分布情報解析部７は、微分変位算出部５から入力された微分変位分布図に対して、これらの変位分布パタンを回転、拡大縮小することによってパタンマッチングし、Ｘ−Ｙ平面における欠陥の位置や種類を判定する。
【０１０１】
次に、微分変位量の閾値による判定方法を説明する。例えば、Ｘ方向の歪は、ひび割れ部では変位の微分値が発散するため、急増する。このことから、歪の値に閾値を予め設けておくことで、閾値を上回る歪が検出された箇所にひび割れがあると判定することができる。２次元空間分布情報解析部７は、入力された微分変位量に基づいて、当該箇所にひび割れが存在すると判定し、微分値フラグＤｉｆｆ（ｘ，ｙ，ｔ）に１をセットするとともに、欠陥箇所の微分変位量データを数値情報として記録する。
【０１０２】
異常判定部６は、パタンマッチングにより判定した欠陥の情報、もしくは、微分変位量により判定した微分値フラグＤｉｆｆ（ｘ，ｙ，ｔ）や数値情報を、異常マップ作成部９に入力する。
【０１０３】
ステップＳ９で、変位算出部２は、時系列画像の各フレーム画像の処理が完了したかを判定する。すなわち、時系列画像のフレーム数がｎ枚であった場合、ｎ枚目の処理が終わったか否かを判定する。処理がｎ枚に満たない場合（ＮＯ）、ステップＳ１からの処理を繰り返す。これをｎ枚が終了するまで繰り返す。なお、ｎは全フレーム数には限定されず、任意の数に設定することができる。処理がｎ枚を終了した場合（ＹＥＳ）、ステップＳ１０に進む。
【０１０４】
ステップＳ１０で、異常判定部６の時間変化情報解析部８は、ｎ枚のフレーム画像に対応した時系列の変位量もしくは変位分布図から、図１５Ｂや図１７に示したような変位の時間応答を解析する。すなわち、ｎ枚の変位分布図Ｉ（ｘ，ｙ，ｎ）から、時間周波数分布（時間周波数をｆとする）が振幅Ａ（ｘ，ｙ，ｆ）、位相Ｐ（ｘ，ｙ，ｆ）として算出される。時間変化情報解析部８は、時間周波数分布が図１５Ｂのように場所によって位相が異なる特徴を有する場合、位相ずれを生じている箇所に内部空洞があると判定する。また、図１７のように変位の極性が反転している場合、その間の箇所に剥離があると判定する。時間変化情報解析部８は、以上の時間周波数分布の算出結果と欠陥の判定結果を、異常マップ作成部９に入力する。
【０１０５】
ステップ１１で、異常マップ作成部９は、以上のステップで入力された情報に基づいて、異常マップ（ｘ，ｙ）を作成する。２次元空間分布情報解析部７および時間変化情報解析部８から送られた結果は、Ｘ-Ｙ座標上の点（ｘ，ｙ）に関与するデータ群である。これらのデータは、異常判定部６内の２次元空間分布情報解析部７および時間変化情報解析部８にて、構造物の状態が判定されている。
【０１０６】
これらの判定は、Ｘ方向の変位量もしくは変位分布図、Ｙ方向の変位量もしくは変位分布図、微分変位量もしくは微分変位分布図、さらには変位や微分変位の時間応答についてなされている。そのため、異常マップ作成部９は、例えば、Ｙ方向の変位量での判定が付かないなどのデータの欠落を生じたとしても、Ｘ方向の変位量と微分変位量での判定が付いていることによって、Ｘ−Ｙ座標中の当該の箇所の状態を決定できる。そして、この決定に基づいて、異常マップ（ｘ，ｙ）を作成することができる。
【０１０７】
また、欠陥状態の判定に際しては、Ｘ方向変位、Ｙ方向変位、微分変位の判定が喰い違った場合、多数決により決定しても良い。また、判定基準である閾値と最も差の大きい項目に決定しても良い。
【０１０８】
また、異常マップ作成部９は、前述の各種数値情報に基づいて、欠陥の程度を表現することができる。例えば、ひび割れの幅や深さ、剥離の寸法、内部空洞の寸法や表面からの深さなどを表現することができる。
【０１０９】
また、異常判定部６内の２次元空間分布情報解析部７および時間変化情報解析部８で行う構造物の欠陥状態の判定を、異常マップ作成部９が異常マップ（ｘ，ｙ）を作成する際に行うようにすることもできる。すなわち、２次元空間分布情報解析部７および時間変化情報解析部８からは解析データを入手し、解析データに基づく欠陥状態の判定を、異常マップ作成部９が行うようにしても良い。
【０１１０】
また、異常マップ作成部９の結果出力は、人が表示装置で直接可視化できる形態の情報でもよいし、機械が読み込むための形態の情報でもよい。
【０１１１】
本実施形態において、例えば、撮像部１１のレンズ焦点距離は５０ｍｍ、画素ピッチは５μｍとして、撮像距離５ｍにおいて５００μｍの画素分解能が得られるようにすることができる。撮像部１１の撮像素子は、モノクロで水平２０００画素、垂直２０００画素の画素数のものを使用し、撮像距離５ｍにおいて、１ｍ×１ｍの範囲が撮像できるようにすることができる。撮像素子のフレームレートは６０Ｈｚとすることができる。
【０１１２】
また、変位算出部２における画像相関では、２次曲線補間によるサブピクセル変位推定を使用し、１/１００画素まで変位推定ができるようにし、５μｍの変位分解能が得られるようにすることができる。画像相関におけるサブピクセル変位推定には、以下の各種方法を用いることができる。また、変位微分において微分時のノイズ削減のために平滑フィルタを使用することができる。
【０１１３】
サブピクセル変位推定には、２次曲面、等角直線などによる補間を使用してもよい。また、画像相関演算には、ＳＡＤ（Ｓｕｍ  ｏｆ  Ａｂｓｏｌｕｔｅ  Ｄｉｆｆｅｒｅｎｃｅ）法、ＳＳＤ（Ｓｕｍ  ｏｆ  Ｓｑｕａｒｅｄ  Ｄｉｆｆｅｒｅｎｃｅ）法、ＮＣＣ（Ｎｏｒｍａｌｉｚｅｄ  Ｃｒｏｓｓ  Ｃｏｒｒｅｌａｔｉｏｎ）法、ＺＮＣＣ（Ｚｅｒｏ−ｍｅａｎ  Ｎｏｒｍａｌｉｚｅｄ  Ｃｒｏｓｓ  Ｃｏｒｒｅｌａｔｉｏｎ）法などの各種方法を用いてもよい。また、これらの方法と前述のサブピクセル変位推定法とのいかなる組み合わせを用いてもよい。
【０１１４】
撮像部１１のレンズ焦点距離、撮像素子の画素ピッチ、画素数、フレームレートは、測定対象に応じて適宜変更してもよい。
【０１１５】
本実施形態において、例えば、梁状構造物は橋梁に、荷重は走行車両に相当するとすることができる。以上の説明では、梁状構造物上に荷重をかけて説明したが、荷重が走行車両のように橋梁上を移動する場合でも、同様に、ひび割れ、内部空洞、剥離の検出が可能である。また、材料力学的に以上の説明と同様の挙動を呈するものであれば、他の材料やサイズや形状を有する構造物、構造物に荷重を載せるのとは異なる荷重方法、例えば、荷重を吊り下げるなどの荷重方法によるものにも適用することができる。
【０１１６】
また、構造物の表面変位の空間２次元分布の時系列信号を計測できるものであれば、時系列画像に限らず、アレイ状のレーザドップラセンサや、アレイ状の歪ゲージ、アレイ状の振動センサ、アレイ状の加速度センサ等を用いてもよい。これらアレイ状のセンサから得られる空間２次元の時系列信号を画像情報として扱ってもよい。
【０１１７】
本実施形態では、構造物表面の法線方向への移動による面外変位を算出するための距離情報や傾斜情報を、構造物表面の画像を撮像する撮像方向と同じ方向から、撮像のタイミングに合わせて、取得することができる。構造物表面の法線方向への移動量は、構造物の側面方向から、荷重によるたわみ量を測定することによって得ることが原理的には可能である。しかしながら、例えば、構造物が橋梁などの場合、橋梁の側面からの測定は作業をする上で極めて困難であり、そのため、測定精度も低くなる。本実施形態は、この作業上の問題も解決できるので、構造物表面の画像の変位を高い精度で補正することができる。
【０１１８】
以上のように、本実施形態によれば、構造物表面の画像の荷重による変位から、構造物表面の法線方向への移動による面外変位を作業性良く分離して、構造物表面の面内変位を抽出できるようになる。これにより、構造物のひび割れや剥離や内部空洞などの欠陥を区別した検出を遠隔から非接触で精度良く行うことが可能となる。
【０１１９】
本発明は上記実施形態に限定されることなく、特許請求の範囲に記載した発明の範囲内で種々の変形が可能であり、それらも本発明の範囲内に含まれるものである。
【０１２０】
また、上記の実施形態の一部又は全部は、以下の付記のようにも記載され得るが、以下には限られない。
【０１２１】
付記
（付記１）
構造物表面の荷重印加前後の時系列画像から、前記時系列画像の変位の２次元空間分布を算出する変位算出部と、
前記時系列画像の撮像方向から測定した、前記荷重印加による前記構造物表面の法線方向の移動量、に基づく補正量を算出する補正量算出部と、
前記時系列画像の変位の２次元空間分布から前記補正量を差し引いて、前記構造物表面の変位の２次元空間分布を抽出する変位補正部と、
前記構造物表面の変位の２次元空間分布と、予め備えられた変位の空間分布との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する異常判定部と、を有する、状態判定装置。
（付記２）
前記補正量算出部は、前記構造物の傾斜角度を補正した前記移動量に基づいて前記補正量を算出する、付記１記載の状態判定システム。
（付記３）
前記構造物表面の法線方向の移動量、もしくは、前記構造物の傾斜角度は、前記時系列画像の撮像と同じタイミングで測定される、付記２記載の状態判定装置。
（付記４）
前記構造物表面の変位の２次元空間分布から２次元微分空間分布を算出する微分変位算出部を有し、
前記異常判定部は、前記２次元微分空間分布と、予め備えられた微分変位の微分空間分布との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、付記１から３の内の１項記載の状態判定装置。
（付記５）
前記異常判定部は、前記構造物表面の変位の２次元空間分布の時間変化に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、付記１から４の内の１項記載の状態判定装置。
（付記６）
前記異常判定部は、前記２次元微分空間分布の時間変化に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、付記４または５記載の状態判定装置。
（付記７）
前記異常判定部は、前記構造物表面の変位の変位量と、予め備えられた閾値との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、付記１から６の内の1項記載の状態判定装置。
（付記８）
前記異常判定部は、前記構造物表面の変位の微分変位量と、予め備えられた閾値との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、付記４から７の内の１項記載の状態判定装置。
（付記９）
前記異常判定部の判定結果に基づいて、前記欠陥の場所と種類を示す異常マップを作成する異常マップ作成部を有する、付記１から８の内の１項記載の状態判定装置。
（付記１０）
前記欠陥の種類は、ひび割れ、剥離、内部空洞を含む、付記１から９の内の１項記載の状態判定装置。
（付記１１）
前記予め備えられた変位の空間分布と前記予め備えられた微分変位の微分空間分布は、前記ひび割れ、前記剥離、前記内部空洞の情報に基づく、付記１０記載の状態判定装置。
（付記１２）
前記２次元空間分布は、前記変位のＸ−Ｙ平面におけるＸ方向の変位の分布、前記変位のＸ−Ｙ平面におけるＹ方向の変位の分布を含む、付記１から１１の内の１項記載の状態判定装置。
（付記１３）
構造物表面の荷重印加前後の時系列画像から前記時系列画像の変位の２次元空間分布を算出する変位算出部と、前記荷重印加による前記構造物表面の法線方向の移動量に基づく補正量を算出する補正量算出部と、前記時系列画像の変位の２次元空間分布から前記補正量を差し引いて、前記構造物表面の変位の２次元空間分布を抽出する変位補正部と、前記構造物表面の変位の２次元空間分布と予め備えられた変位の空間分布との比較に基づいて前記構造物の欠陥を特定する異常判定部と、を有する状態判定装置と、
前記時系列画像を撮像し前記状態判定装置に提供する撮像部と、
前記時系列画像の撮像方向から前記移動量を測定し前記状態判定装置に提供する距離測定部と、を有する、状態判定システム。
（付記１４）
前記構造物の傾斜角度を測定し前記状態判定装置に提供する傾斜測定部を有し、
前記補正量算出部は、前記傾斜角度を補正した前記移動量に基づいて前記補正量を算出する、付記１３記載の状態判定システム。
（付記１５）
前記距離測定部、もしくは、前記傾斜測定部は、前記構造物表面の法線方向の移動量、もしくは、前記構造物の傾斜角度を、前記時系列画像の撮像と同じタイミングで測定する、付記１４記載の状態判定システム。
（付記１６）
前記構造物表面の変位の２次元空間分布から２次元微分空間分布を算出する微分変位算出部を有し、
前記異常判定部は、前記２次元微分空間分布と、予め備えられた微分変位の微分空間分布との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、
付記１３から１５の内の１項記載の状態判定システム。
（付記１７）
前記異常判定部は、前記構造物表面の変位の２次元空間分布の時間変化に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、付記１３から１６の内の１項記載の状態判定システム。
（付記１８）
前記異常判定部は、前記２次元微分空間分布の時間変化に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、付記１６または１７記載の状態判定システム。
（付記１９）
前記異常判定部は、前記構造物表面の変位の変位量と、予め備えられた閾値との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、付記１３から１８の内の１項記載の状態判定システム。
（付記２０）
前記異常判定部は、前記構造物表面の変位の微分変位量と、予め備えられた閾値との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、付記１６から１９の内の１項記載の状態判定システム。
（付記２１）
前記異常判定部の判定結果に基づいて、前記欠陥の場所と種類を示す異常マップを作成する異常マップ作成部を有する、付記１３から２０の内の１項記載の状態判定システム。
（付記２２）
前記欠陥の種類は、ひび割れ、剥離、内部空洞を含む、付記１３から２１の内の１項記載の状態判定システム。
（付記２３）
前記予め備えられた変位の空間分布と前記予め備えられた微分変位の微分空間分布は、前記ひび割れ、前記剥離、前記内部空洞の情報に基づく、付記２２記載の状態判定システム。
（付記２４）
前記２次元空間分布は、前記変位のＸ−Ｙ平面におけるＸ方向の変位の分布、前記変位のＸ−Ｙ平面におけるＹ方向の変位の分布を含む、付記１３から２３の内の１項記載の状態判定システム。
（付記２５）
構造物表面の荷重印加前後の時系列画像から、前記時系列画像の変位の２次元空間分布を算出し、
前記時系列画像の撮像方向から測定した、前記荷重印加による前記構造物表面の法線方向の移動量、に基づく補正量を算出し、
前記時系列画像の変位の２次元空間分布から前記補正量を差し引いて、前記構造物表面の変位の２次元空間分布を抽出し、
前記構造物表面の変位の２次元空間分布と、予め備えられた変位の空間分布との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、状態判定方法。
（付記２６）
前記構造物の傾斜角度を補正した前記移動量に基づいて前記補正量を算出する、付記２５記載の状態判定方法。
（付記２７）
前記構造物表面の法線方向の移動量、もしくは、前記構造物の傾斜角度を、前記時系列画像の撮像と同じタイミングで測定する、付記２６記載の状態判定方法。
（付記２８）
前記２次元空間分布から前記２次元空間分布の２次元微分空間分布を算出し、
前記２次元微分空間分布と、予め備えられた微分変位の微分空間分布との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、付記２５から２７の内の１項記載の状態判定方法。
（付記２９）
前記２次元空間分布の時間変化に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、付記２５から２８の内の１項記載の状態判定方法。
（付記３０）
前記２次元微分空間分布の時間変化に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、付記２８または２９記載の状態判定方法。
（付記３１）
前記構造物表面の変位の変位量と、予め備えられた閾値との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、付記２５から３０の内の１項記載の状態判定方法。
（付記３２）
前記構造物表面の変位の微分変位量と、予め備えられた閾値との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、付記２８から３０の内の１項記載の状態判定方法。
（付記３３）
前記判定結果に基づいて、前記欠陥の場所と種類を示す異常マップを作成する、付記２５から３２記載の状態判定方法。
（付記３４）
前記欠陥の種類は、ひび割れ、剥離、内部空洞を含む、付記２５から３３の内の１項記載の状態判定方法。
（付記３５）
前記予め備えられた変位の空間分布と前記予め備えられた微分変位の微分空間分布は、前記ひび割れ、前記剥離、前記内部空洞の情報に基づく、付記３４記載の状態判定方法。
（付記３６）
前記２次元空間分布は、前記変位のＸ−Ｙ平面におけるＸ方向の変位の分布、前記変位のＸ−Ｙ平面におけるＹ方向の変位の分布を含む、付記２５から３５の内の１項記載の状態判定方法。
【符号の説明】
【０１２２】
１、１００    状態判定装置
２    変位算出部
３    補正量算出部
４    変位補正部
５    微分変位算出部
６    異常判定部
７    ２次元空間分布情報解析部
８    時間変化情報解析部
９    異常マップ作成部
１０    状態判定システム
１１    撮像部
１２    距離測定部
１３    傾斜測定部
１４    欠陥
１５    構造物
１２１    信号発生器
１２２    送信機
１２３    受信機
１２４    時間比較器
１２５    距離算出器
【図１】
0006511892.tif 000002
【図２】
0006511892.tif 000003
【図３】
0006511892.tif 000004
【図４Ａ】
0006511892.tif 000005
【図４Ｂ】
0006511892.tif 000006
【図４Ｃ】
0006511892.tif 000007
【図４Ｄ】
0006511892.tif 000008
【図５Ａ】
0006511892.tif 000009
【図５Ｂ】
0006511892.tif 000010
【図６Ａ】
0006511892.tif 000011
【図６Ｂ】
0006511892.tif 000012
【図７】
0006511892.tif 000013
【図８Ａ】
0006511892.tif 000014
【図８Ｂ】
0006511892.tif 000015
【図９】
0006511892.tif 000016
【図１０Ａ】
0006511892.tif 000017
【図１０Ｂ】
0006511892.tif 000018
【図１１Ａ】
0006511892.tif 000019
【図１１Ｂ】
0006511892.tif 000020
【図１１Ｃ】
0006511892.tif 000021
【図１１Ｄ】
0006511892.tif 000022
【図１２Ａ】
0006511892.tif 000023
【図１２Ｂ】
0006511892.tif 000024
【図１２Ｃ】
0006511892.tif 000025
【図１３Ａ】
0006511892.tif 000026
【図１３Ｂ】
0006511892.tif 000027
【図１４Ａ】
0006511892.tif 000028
【図１４Ｂ】
0006511892.tif 000029
【図１４Ｃ】
0006511892.tif 000030
【図１５Ａ】
0006511892.tif 000031
【図１５Ｂ】
0006511892.tif 000032
【図１６Ａ】
0006511892.tif 000033
【図１６Ｂ】
0006511892.tif 000034
【図１６Ｃ】
0006511892.tif 000035
【図１７】
0006511892.tif 000036
【図１８】
0006511892.tif 000037