(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
動的信号干渉補償をしながら、複数の被試験無線データパケット信号送受信器装置（ＤＵＴ）を試験するためのシステムを含む装置であって、
複数の送信データパケット信号を前記複数のＤＵＴから搬送するとともに受信データパケット信号を前記複数のＤＵＴへ搬送することにより前記複数のＤＵＴと通信するための複数のデータパケット信号経路と、
前記複数のＤＵＴのうちの選択されたものからの複数の送信データパケット信号のうちの選択されたものを前記複数のデータパケット信号経路のうちの選択されたものを介して搬送し、前記複数のＤＵＴのうちの前記選択されたものへ前記受信データパケット信号を搬送することにより、１つ以上の経路制御信号に応答する信号ルーティング回路構成と、
前記信号ルーティング回路構成へ結合された信号測定回路であって、前記複数の送信データパケット信号のうちのそれぞれの受信を示す１つ以上の測定信号を提供することにより、前記複数の送信データパケット信号に応答する信号測定回路構成と、
前記複数の送信データパケット信号を受信し、前記受信データパケット信号に少なくとも１つの所定数のデータパケットを与えるための、前記複数のデータパケット信号経路へ結合された試験回路構成と
を含み、
前記試験回路構成は、
前記１つ以上の測定信号が、前記受信データパケット信号の現在のデータパケットと同期して、前記複数のＤＵＴのうちの前記選択されたもの以外からの前記複数の送信データパケット信号のうちの１つ以上のうちの少なくとも１つのデータパケットの受信を示すことと、
前記受信データパケット信号の前記現在のデータパケットに対応する前記複数の送信データパケット信号のうちの前記選択されたもののデータパケットを受信することに失敗したことと
に続いて、
前記受信データパケット信号内に１つ以上の追加データパケットを含めることにより、前記１つ以上の測定信号に応答する、装置。
【請求項２】
前記１つ以上の測定信号は前記複数の送信データパケット信号のそれぞれの開始、持続期間、および停止のうちの少なくとも１つを示す、請求項１に記載の装置。
【請求項３】
前記１つ以上の測定信号が、前記受信データパケット信号の現在のデータパケットと同期して、前記複数のＤＵＴのうちの前記選択されたもの以外からの前記複数の送信データパケット信号のうちの１つ以上のうちの少なくとも１つのデータパケットの受信を示すことと、
前記受信データパケット信号の前記現在のデータパケットに対応する前記複数の送信データパケット信号のうちの前記選択されたもののデータパケットを受信することに失敗したことと
の両方が発生した場合、
前記試験回路構成は、前記受信データパケット信号内に１つの追加のデータパケットを含めることにより、前記１つ以上の測定信号に応答する、請求項１に記載の装置。
【請求項４】
前記１つ以上の測定信号が、前記受信データパケット信号の現在のデータパケットと同期して、前記複数のＤＵＴのうちの前記選択されたもの以外からの前記複数の送信データパケット信号のうちの１つ以上のうちの少なくとも１つのデータパケットの受信を示すことと、
前記受信データパケット信号の前記現在のデータパケットに対応する前記複数の送信データパケット信号のうちの前記選択されたもののデータパケットを受信することに失敗したことと
のうち１つだけが発生した場合、
前記試験回路構成はさらに、前記受信データパケット信号内に追加データパケットを含めることをやめることにより、前記１つ以上の測定信号に応答する、請求項１に記載の装置。
【請求項５】
前記複数のＤＵＴのうちの前記選択されたものへ搬送される前記受信データパケット信号の各部分に対応する前記複数の送信データパケット信号のうちの前記選択されたものの前記部分のそれぞれは確認応答データパケットを含む、請求項１に記載の装置。
【請求項６】
前記複数のデータパケット信号経路は複数の導電性無線周波（ＲＦ）信号接続を含む、請求項１に記載の装置。
【請求項７】
前記信号ルーティング回路構成は無線周波（ＲＦ）信号マルチプレクサとＲＦ信号スイッチのうちの少なくとも１つを含む、請求項１に記載の装置。
【請求項８】
前記信号測定回路構成は、無線周波（ＲＦ）信号電力センサ、ＲＦ信号電力メータおよびデータパケット信号受信器のうちの少なくとも１つを含む、請求項１に記載の装置。
【請求項９】
前記試験回路構成はベクトル信号発生器（ＶＳＧ）とベクトル信号解析器（ＶＳＡ）のうちの少なくとも１つを含む、請求項１に記載の装置。
【請求項１０】
動的信号干渉補償をしながら、複数の被試験無線データパケット信号送受信器装置（ＤＵＴ）を試験するための方法であって、
複数の送信データパケット信号を複数のＤＵＴから搬送するとともに複数の受信データパケット信号を前記複数のＤＵＴへ搬送することにより前記複数のＤＵＴと通信するための複数のデータパケット信号経路を設ける工程と、
前記複数のＤＵＴのうちの選択されたものからの前記複数の送信データパケット信号のうちの選択されたものを前記複数のデータパケット信号経路のうちの選択されたものを介して搬送し、前記複数のＤＵＴのうちの前記選択されたものへ前記受信データパケット信号を搬送することにより１つ以上の経路制御信号に応答する工程と、
複数の送信データパケット信号のうちのそれぞれの受信を示す１つ以上の測定信号を提供することにより前記複数の送信データパケット信号に応答する工程と、
前記複数の送信データパケット信号を受信する工程と、
前記受信データパケット信号に少なくとも１つの所定数のデータパケットを与える工程と、
前記１つ以上の測定信号が、前記受信データパケット信号の現在のデータパケットと同期して、前記複数のＤＵＴのうちの前記選択されたもの以外からの前記複数の送信データパケット信号のうちの１つ以上の少なくとも１つのデータパケットの受信を示したことと、前記受信データパケット信号の前記現在のデータパケットに対応する前記複数の送信データパケット信号のうちの前記選択されたもののデータパケットを受信することに失敗したこととに続いて、前記受信データパケット信号内に１つ以上の追加データパケットを含めることにより１つ以上の測定信号に応答する工程と
を含む方法。
【請求項１１】
前記１つ以上の測定信号は、前記複数の送信データパケット信号のそれぞれの開始、持続期間、および停止のうちの少なくとも１つを示す、請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
前記受信データパケット信号内に１つ以上の追加データパケットを含めることにより前記１つ以上の測定信号に応答する前記工程は、
前記１つ以上の測定信号が、前記受信データパケット信号の現在のデータパケットと同期して、前記複数のＤＵＴのうちの前記選択されたもの以外からの前記複数の送信データパケット信号のうちの１つ以上のうちの少なくとも１つのデータパケットの受信を示すことと、
前記受信データパケット信号の前記現在のデータパケットに対応する前記複数の送信データパケット信号のうちの前記選択されたもののデータパケットを受信することに失敗したことと
の両方が発生した場合に、
前記受信データパケット信号内に１つの追加データパケットを含めることにより前記１つ以上の測定信号に応答する工程を含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項１３】
前記１つ以上の測定信号が、前記受信データパケット信号の現在のデータパケットと同期して、前記複数のＤＵＴのうちの前記選択されたもの以外からの前記複数の送信データパケット信号のうちの１つ以上のうちの少なくとも１つのデータパケットの受信を示すことと、
前記受信データパケット信号の前記現在のデータパケットに対応する前記複数の送信データパケット信号のうちの前記選択されたもののデータパケットを受信することに失敗したことと
のうちの１つだけが発生した場合に、
前記受信データパケット信号内に追加データパケットを含めることをやめることにより前記１つ以上の測定信号に応答する工程をさらに含む請求項１０に記載の方法。
【請求項１４】
前記複数のＤＵＴの前記選択された１つへ搬送される前記受信データパケット信号の各部分に対応する前記複数の送信データパケット信号のうちの前記選択されたものの前記部分のそれぞれは確認応答データパケットを含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項１５】
複数のデータパケット信号経路を設ける前記工程は複数の導電性無線周波（ＲＦ）信号接続を提供する工程を含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項１６】
前記複数のＤＵＴのうちの選択されたものからの複数の送信データパケット信号のうちの選択されたものを前記複数のデータパケット信号経路のうちの選択されたものを介して搬送し、前記複数のＤＵＴのうちの前記選択されたものへ前記受信データパケット信号を搬送することにより１つ以上の経路制御信号に応答する前記工程は、前記複数の送信データパケット信号のうちの前記選択されたものと前記受信データパケット信号を無線周波（ＲＦ）信号マルチプレクサとＲＦ信号スイッチのうちの少なくとも１つを介して搬送する工程を含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項１７】
前記複数の送信データパケット信号のうちのそれぞれの受信を示す１つ以上の測定信号を提供することにより前記複数の送信データパケット信号に応答する工程は前記複数の送信データパケット信号のそれぞれの信号電力を測定する工程を含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項１８】
前記複数の送信データパケット信号を受信する前記工程はベクトル信号解析器（ＶＳＡ）により前記複数の送信データパケット信号を受信する工程を含み、
前記受信データパケット信号を提供する前記工程はベクトル信号発生器（ＶＳＧ）により前記受信データパケット信号を提供する工程を含む、請求項１０に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、データパケット信号送受信器を試験することに関し、特に、１つ以上の他のＤＵＴからの信号干渉の存在下で被試験データパケット信号送受信器装置（ＤＵＴ）を試験することに関する。
【背景技術】
【０００２】
今日の電子装置の多くは、接続目的と通信目的の両方のために無線信号技術を使用する。無線装置は電磁エネルギーを送受信するので、そして２つ以上の無線装置はそれらの信号周波数およびスペクトル密度により互いの動作と干渉する可能性を有するので、これらの装置およびそれらの無線信号技術は様々な無線信号技術標準規格に従わねばならない。
【０００３】
このような無線装置を設計する際、技術者は、「このような装置が装置に含まれる無線信号技術規定標準規格のそれぞれを満足するまたは越える」ことを保証するために特別の注意を払う。さらに、これらの装置が後で量産される際、これらの装置は、含まれる無線信号技術標準規格に従うことを保証するとともに製造欠陥が不適切な動作を引き起こさないということを保証するために試験される。
【０００４】
これらの装置の製造および組立に続きこれらの装置を試験するために、現在の無線装置試験システムは通常、各被試験装置（ＤＵＴ）へ試験信号を提供するとともに、各ＤＵＴから受信された信号を解析するための試験サブシステムを採用する。いくつかのサブシステム（しばしば「テスター」と呼ばれる）は、ＤＵＴへ送信されるソース信号を提供するための少なくとも１つのベクトル信号発生器（ＶＳＧ：ｖｅｃｔｏｒ  ｓｉｇｎａｌ  ｇｅｎｅｒａｔｏｒ）と、ＤＵＴにより生成される信号を解析するためのベクトル信号解析器（ＶＳＡ：ｖｅｃｔｏｒ  ｓｉｇｎａｌ  ａｎａｌｙｚｅｒ）とを含む。ＶＳＧによる試験信号の生成とＶＳＡにより行われる信号解析は通常、それぞれが、異なる周波数範囲、帯域幅および信号変調特性を有する多種多様な無線信号技術標準に多種多様な装置が準拠するかを試験するために使用され得るように、プログラム可能である（例えば、パーソナルコンピュータなどの内部プログラム可能コントローラまたは外部プログラム可能コントローラの使用により）。
【０００５】
無線通信装置の製造の一部として、製造費用の１つの重要な要素はこれらの製造試験に関連する費用である。通常、試験の費用と試験を行うために必要とされる試験装置の高性能化との間に直接的相関がある。したがって、装置費用（例えば、必要な試験装置またはテスターの高性能化を増すための費用の増加）を最小化する一方で試験精度を維持し得る技術革新が、重要であり、特に製造および試験される多数のこのような装置を考慮すると著しい費用節約をもたらし得る。
【０００６】
製造試験に関連する費用および時間を低減するために使用される１つの技術は、１つ以上のテスターを組み立て、受信（ＲＸ）信号をＤＵＴへ提供しＤＵＴにより生成された送信（ＴＸ）信号を受信し、解析するために必要な追加の信号ルーティング回路（例えば、電力分割器、電力合成器、信号スイッチ、マルチプレクサなど）と接続することにより複数のＤＵＴを同時に試験することである。このような製造試験環境では、テスターおよびＤＵＴはすべて高周波（ＲＦ）信号をしばしば同時に放出し、これにより高い確率で信号干渉が生じる。例えば、１つのＤＵＴを対象としたテスターからの信号は、別のＤＵＴにより誤って受信され、そのＤＵＴに作用し得る。または、複数のＤＵＴにより発生された信号は、互いに絶縁状態に保つ様々な信号遮蔽機構の使用にもかかわらず、互いに干渉するだけでなく、テスターにこのような信号を有効または無効と（実際は逆に無効または有効である場合に）誤って識別させ得る。
【０００７】
例えば、１つのＤＵＴへのまたはそれからの信号による干渉が、第２のＤＵＴにより受信されたデータパケット信号を「不良」と識別させると、第２のＤＵＴはパケットエラーを示すことになる。しかし、このようなエラー指示は干渉パケットに起因する誤ったものであり、したがって測定パケット誤り率（ＰＥＲ：ｐａｃｋｅｔ  ｅｒｒｏｒ  ｒａｔｅ）を実際のＰＥＲより高く見せるであろう。測定ＰＥＲについて試験の失敗が非常に高くなると、試験システムは通常、試験を繰り返しまたはＤＵＴを不良品として識別する必要がある。しかし、干渉のために、このような測定ＰＥＲは不正確であり、ＤＵＴに関する問題を真に示さない。したがって、試験の繰り返しは、不要であり、試験を繰り返すために必要な時間のために追加の試験費用を生じ、またはＤＵＴを不良として誤って識別することによりさらに大きな費用を生じる。
【０００８】
したがって、信号干渉のインスタンス（事実）をリアルタイムで検知し、そうでなければ延長され不必要に繰り返される試験を生じるであろう不正確な試験測定とＤＵＴを不良として誤って識別することとを防止するための簡単な改善工程を取ることができることが望ましい。
【発明の概要】
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明に従って、動的信号干渉補償をしながら複数の被試験無線データパケット信号送受信装置（ＤＵＴ）を試験するためのシステムと方法が提供される。他のＤＵＴからの送信データパケットは、送信および受信データパケットの同時発生があるかどうかが、選択されたＤＵＴの受信信号試験中に監視される。これから、選択されたＤＵＴからの確認応答などの応答データパケットの受信の失敗が、別のＤＵＴからの送信データパケット（選択されたＤＵＴが応答するであろう受信データパケットと少なくともほぼ同時である）からの干渉による可能性があるかどうかが判断され得る。そうすることで、全試験の繰り返しを必要とすることなく、試験を拡張し正確なパケット誤り率（ＰＥＲ）を判断するために、１つ以上の受信データパケットが受信信号シーケンスへ追加され得る。
【００１０】
本発明の一実施形態に従って、動的信号干渉補償をしながら、複数の被試験無線データパケット信号送受信装置（ＤＵＴ）を試験するためのシステムは、以下のものを含む：
複数の送信データパケット信号を複数のＤＵＴから搬送するとともに受信データパケット信号を複数のＤＵＴへ搬送することにより複数のＤＵＴと通信するための複数のデータパケット信号経路と、
複数のＤＵＴのうちの選択されたものからの複数の送信データパケット信号のうちの選択されたものを、複数のデータパケット信号経路のうちの選択されたものを介して搬送し、複数のＤＵＴのうちの選択されたものへ受信データパケット信号を搬送することにより、１つ以上の経路制御信号に応答する信号ルーティング回路と、
信号ルーティング回路へ結合された信号測定回路であって、複数の送信データパケット信号のうちのそれぞれの受信を示す１つ以上の測定信号を提供することにより、複数の送信データパケット信号に応答する信号測定回路と、
複数の送信データパケット信号を受信し、受信データパケット信号に少なくとも１つの所定数のデータパケットを与える、複数のデータパケット信号経路へ結合された試験回路であって、以下の事象に続いて、受信データパケット信号内に１つ以上の追加データパケットを含めることにより１つ以上の測定信号に応答する試験回路。
【００１１】
１つ以上の測定信号が、受信データパケット信号の現在のデータパケットと同期して、複数のＤＵＴのうちの選択されたもの以外からの複数の送信データパケット信号のうちの１つ以上のうちの少なくとも１つのデータパケットの受信を示すことと、
受信データパケット信号の現在のデータパケットに対応する複数の送信データパケット信号のうちの選択されたもののデータパケットを受信することに失敗したこと。
本発明の別の実施形態に従って、動的信号干渉補償をしながら複数の被試験無線データパケット信号送受信装置（ＤＵＴ）を試験するための方法は、以下の工程を含む：
複数の送信データパケット信号を複数のＤＵＴから搬送するとともに受信データパケット信号を複数のＤＵＴへ搬送することにより複数のＤＵＴと通信するための複数のデータパケット信号経路を設ける工程と、
複数のＤＵＴのうちの選択されたものからの複数の送信データパケット信号のうちの選択されたものを複数のデータパケット信号経路のうちの選択されたものを介して搬送し、複数のＤＵＴのうちの選択されたものへ受信データパケット信号を運ぶことにより１つ以上の経路制御信号に応答する工程と、
複数の送信データパケット信号のうちのそれぞれの受信を示す１つ以上の測定信号を提供することにより前記複数の送信データパケット信号に応答する工程と、
複数の送信データパケット信号を受信する工程と、
受信データパケット信号に少なくとも１つの所定数のデータパケットを与える工程と、
以下の事象に続いて、受信データパケット信号内に１つ以上の追加データパケットを含むことにより１つ以上の測定信号に応答する工程とを含む。
１つ以上の測定信号が、受信データパケット信号の現在のデータパケットと同期して、複数のＤＵＴのうちの選択されたもの以外からの複数の送信データパケット信号のうちの１つ以上のうちの少なくとも１つのデータパケットの受信を示すことと、
受信データパケット信号の現在のデータパケットに対応する複数の送信データパケット信号のうちの選択されたもののデータパケットを受信することに失敗したこと。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】図１は、本発明の例示的実施形態による、１つ以上の他のＤＵＴからの信号干渉の存在下で被試験データパケット信号送受信器装置（ＤＵＴ）を試験するための試験環境を描写する。
【図２】図２は、本発明の例示的実施形態による、１つ以上の複数の他のＤＵＴからの信号干渉の存在下で被試験データパケット信号送受信器装置（ＤＵＴ）を試験する際に生成される例示的信号の信号タイミング図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下の詳細説明は、添付図面を参照した本発明の例示的実施形態である。このような説明は、本発明の範囲に対する制限ではなく例示的となるように意図されている。このような実施形態は、当業者に本発明を実施できるようにするのに十分に詳細に説明され、本発明の思想または範囲から逸脱することなくいくつかの変形と共に他の実施形態が実施され得るということが理解される。
【００１４】
本開示全体にわたって、別途明示しない限り、説明される個別回路要素は単数または複数であり得るということが理解される。例えば、用語「回路」、「回路構成」は、単一部品、または能動および／または受動のいずれかであり、説明される機能を提供するために接続されるまたはそうでなければ連結される（例えば、１つ以上の集積回路チップとして）複数の部品のうちのいずれかを含み得る。加えて、用語「信号」は１つ以上の電流、１つ以上の電圧またはデータ信号を指し得る。添付図面内では、同様なまたは関連要素は同様なまたは関連英数字表記を有する。さらに、本発明は個別電子回路構成（好適には１つ以上の集積回路チップの形式の）を使用する実施形態の文脈で論述されたが、このような回路構成の任意の部品の機能は代替的に、処理される信号周波数またはデータ速度に依存して、１つ以上の適切にプログラムされたプロセッサを使用することにより実現され得る。さらに、添付図面が様々な実施形態の機能ブロックの線図を示す限りでは、機能ブロックはハードウェア回路間の分割を必ずしも示さない。
【００１５】
以下にさらに詳細に記述されるように、本発明の例示的実施形態に従って、起こり得る信号干渉のインスタンス（事実）をリアルタイムで検知することと、１つ以上の現在の試験結果を無視するようにテスターに警告することと、あり得る干渉エラーを補償するために改善策を取ることとが可能である。例えば、試験中に提供される試験データパケットの数は、「ＤＵＴが所望数のデータパケットを受信する追加機会」を提供するために、増加され得る。その結果、ＤＵＴが実際には不良でなければ、若干拡張された試験は成功し、不必要な試験の繰り返しの必要性を回避し得る。したがって、試験時間および費用を最小化する一方で測定試験結果の妥当性は増加される。
【００１６】
以下にもさらに詳細に記述されるように、信号電力検出サブシステムは、ＤＵＴ送信（ＴＸ）信号を監視するとともに、パケット開始および停止のそれぞれの時間とパケットの期間とを特定するために、ＤＵＴとテスター間に接続される。このようなデータパケット信号情報は、第１のＤＵＴがテスターから試験パケットを活発に受信していると思われる期間中に、データパケットが第２のＤＵＴにより送信されたかどうかおよびそれがいつかを判断することを可能にする。この場合、テスターが、送信した試験パケットに応じていかなる確認パケットも受信しなければ、テスターは通常、ＲＸエラーを特定するだろう。しかし、隣接試験信号経路上の別のパケットが当該試験パケット受信期間中に送信されたということが分かれば、試験システムは、干渉が発生したかもしれないと推測し、当該単一試験インスタンスを無視し、別の試験パケットを所定数の試験パケットへ追加し得る。このための追加時間は単純に、追加データパケットを送信するために必要な時間であり、このことは、エラー（干渉により引き起こされる可能性が高いであろう）がＰＥＲを規定限界を越えるまで押し上げる試験を完全に繰り返す場合と比較してかなりの時間の節約となり、あるいはＤＵＴを不良と誤って識別することにより発生するであろう大きな費用の節約となる。
【００１７】
図１に示されているように、本発明の例示的実施形態による試験環境１０は、複数のＤＵＴ２２を試験するための図示のように実質的に相互接続されたテスター１２、信号ルーティング回路構成１４、電力測定回路構成１８、および制御回路構成２０を含む。さらに、ルーティング回路構成１４と電力測定回路構成１８間の信号レベルを制御するためのプログラム可能減衰回路１６が所望により含まれ得る。この例では、試験環境１０は４つのＤＵＴ２２ａ、２２ｂ、２２ｃ、２２ｄを試験するように構成される。しかし、このような試験環境１０は所望によりより少ない、またはより多いＤＵＴ２２を試験するために所望通りスケーリングされ得るということは容易に理解されよう。
【００１８】
テスター１２は通常、ＤＵＴへ受信信号ＲＸを提供するためのＶＳＧ１２ｇなどの信号源とＤＵＴ送信信号ＴＸを捕捉および解析するためのＶＳＡ１２ａなどの信号解析回路構成とを含む。テスター１２、信号ルーティング回路構成１４、信号減衰回路構成１６、電力測定回路１８およびＤＵＴ２２は、周知の原理に従ってそれぞれの信号経路１３、１５、１７、１９（例えば、同軸ＲＦケーブルおよびコネクタ）により相互接続される。信号減衰器１６は、プログラム可能であり、ＤＵＴ２２への／からのそれぞれの信号経路間の信号損失の変動を補償するのに役立ち、それぞれのＤＵＴ２２へ提供される受信信号ＲＸが試験信号規格に従って所望信号レベルであるということを保証するために、使用され得る。
【００１９】
信号スイッチ１４ａも、例えばテスター信号源１２ｇまたは受信器１２ａのいずれかとＤＵＴ２２との間の接続性を可能にするための信号ルーティング回路構成１４の一部として含まれる。または、このような信号スイッチ１４ａはテスター１２の一部として含まれ得る。または、複数の信号スイッチ１４ａが信号ルーティング回路構成１４と減衰器１６との当該組と共にテスター１２の一部として含まれ得る（例えば、ＶＳＧ１２ｇに１つの信号スイッチ１４ａおよびＶＳＡ１２ａに別の信号スイッチ１４ａ）。これにより、ＶＳＧ１２ｇとＶＳＡ１２ａが別個のテスターサブシステムとして分離され、コントローラ２０によりさらに個別化された制御を受けられるようになる。
【００２０】
コントローラ２０はまた、テスター１２の一部であってもよく、または試験環境１０の残りと共に同一場所に配置されたまたはそれから遠く離れた（例えば、ネットワークを介し通信する）別個のサブシステムであってもよい。コントローラ２０は、それぞれの制御信号インターフェース２１ｔ、２１ｍ、２１ａ、２１ｐ、２１ｄを介しテスター１２、信号ルーティング回路構成１４、信号減衰器１６、電力測定回路１８、およびＤＵＴ２２と通信する。したがって、コントローラ２０は、テスター１２の信号源１２ｇと受信器１２ａの制御を提供し、信号ルーティング回路構成１４により提供される様々な信号経路接続を使用可能および使用不能にし、信号減衰器１６のそれぞれの信号減衰レベルをプログラムし、電力測定回路１８から電力測定データ（例えば、ＤＵＴ  ＴＸデータパケットの開始時間、持続時間および終了時間を示すデータ）を受信し、ＤＵＴ２２を制御し（例えば、ＤＵＴ２２のそれぞれの試験モードをプログラムし）得る。
【００２１】
例えば、第１のＤＵＴ２２ａは、第２のＤＵＴ２２ｂが（例えば、コントローラ２１からその制御インターフェース２１ｄｂを介し）ロードされ、第３のＤＵＴ２２ｃがブートされ、第４のＤＵＴ２２ｄが次の試験の準備ができている間に、試験される。したがって、全てではないにしても殆どのＤＵＴ２２はいくつかの試験活動中ほぼ常時活性状態に保つことができ（例えば、他のものが受信試験を行っている間にいくつかは送信試験の準備をしている）、これにより複数の試験が同時に進行できるようにする。
【００２２】
または、コントローラ２０は１つ以上のコントローラユニットへ分離され得る（例えば、テスター１２に対し１つの制御システム２０ｔ（図示せず）、そしてＤＵＴ群２２に対し１つ以上の制御システム２０ｄ（図示せず））。複数のコントローラを使用する実施形態は、本発明からさらに多くの恩恵を受け得る。例えば、コントローラ２０がテスター１２とＤＵＴ２２の両方を制御する単一コントローラ２０の実施形態は、テスター１２と様々なＤＵＴ２２のそれぞれの状態をより認識し、したがって干渉を生じる試験動作を回避することにより容易に成功することができる。しかし、複数の独立コントローラが例えば非同期で動作する場合、各コントローラは、テスター１２および様々なＤＵＴ２２のそれぞれの状態の十分な認識を維持しなくなる可能性が高く、したがって干渉を生じる試験動作を促進する可能性が高い。
【００２３】
図２に、図１の試験環境１０の使用中の例示的信号が図示されている。この例では、テスター信号源１２ｇは、第１のＤＵＴ２２ａを試験するための（例えば、ＰＥＲ試験の目的のための）所定数の試験データパケット１１３ａ，１１３ｂ，．．．，１１３ｆを当初含むＤＵＴ受信ＲＸ信号１３ｇを提供する。したがって、信号ルーティング回路構成１４はテスター１２と第１のＤＵＴ２２ａ間の直接信号接続を提供するように構成される。一方、他のＤＵＴ２２ｂ、２２ｃ、２２ｄは、別のＤＵＴ２２の受信試験が完了し、次の試験のためにプログラムされ、試験環境１０へ物理的に接続され、試験環境１０から物理的に切断または除去される、等々の間に、出力信号電力レベルが定常状態レベルに静定できるようにするためにデータパケット転送を開始するなどにより、占有され得る。
【００２４】
これらの試験データパケット１１３に応答して（例えば、規定の試験ルーチンまたはシーケンスの一部として）、テスター１２はＤＵＴ２２ａから応答データパケットの組１１９ａを受信しようとする。したがって、予想されるように、第１の試験データパケット１１３ａの送信とその明らかに正常な（第１のＤＵＴ２２ａによる）受信および捕捉とに続いて、テスターは、試験信号１３ｇの後続の不活性（または非アサート）期間中に、応答データパケット１１９ａａ（例えば、第１の電力検出部１８ａにより測定される確認応答（ＡＣＫ）信号）を受信する。しかし、一方、第２のＤＵＴ２２ｂは、送信データパケットシーケンス１１９ｂ（第２の電力検出部１８ｂにより測定される）を含む自身のデータパケットの信号の１９ｂを送信し始める。
【００２５】
テスター１２による第２の試験データパケット１１３ｂの送信中、第２のＤＵＴ２２ａもまた、データパケット１１９ｂａを送信する。これらのデータパケット１１３ｂ、１１９ｂａは図示のように時間が重なる。その後、第１のＤＵＴ２２ａからの期待応答データパケット１１９ａｂはテスターにより受信されない。したがって、試験データパケット１１３ｂと第２のＤＵＴデータパケット１１９ｂａは同時に送信され（テスター１２により認識され、第２の電力検出部１８ｂにより測定され、コントローラ２０を介しテスター１２へそれぞれ報告される）、そしていかなる確認データパケット１１９ａｂも受信されなかったので、信号干渉が発生したと判断される可能性が高い。したがって、テスター１２は、第１のＤＵＴ２２ａが正確なＰＥＲ試験を行うのに十分な試験データパケット１１３を受信および確認する別の機会を有するように、送信されるべき本来スケジュールされたパケットシーケンス１１３へ別の試験データパケット１１３ｇを加える。
【００２６】
その後、第３の試験データパケット１１３ｃに続いて、第２のＤＵＴ２２ｂは別のデータパケット１１９ｂｂを送信する。しかし、このデータパケット１１９ｂｂは、その隣接試験データパケット１１３ｃ、１１３ｄのうちのいずれとも重ならない。しかし、いかなる応答データパケットも第１のＤＵＴ２２ａから受信されないとしても、検知された潜在的干渉（第２のＤＵＴデータパケット１１９ｂｂの発生に起因する）は送信試験データパケットシーケンス１１３との問題のある干渉の原因である可能性が低いと判断され、第１のＤＵＴ２２ａは単に、第３の試験データパケット１１３ｃを正しく受信できなかった可能性が高いことから、いかなる追加試験データパケットも提供されない。
【００２７】
その後に、第４の試験データパケット１１３ｄの送信に続いて、再び、第１のＤＵＴ２２ａからいかなる応答データパケットも受信されない。しかし、第２のＤＵＴ２２ｂからいかなる潜在的干渉データパケットも検知されていないので、いかなる追加試験データパケットも試験データパケットシーケンス１１３へ加えられない。
【００２８】
その後再び、次の試験データパケット１１３ｅの送信に続いて、第１のＤＵＴ２２ａからの応答データパケット１１９ａｃが、第２のＤＵＴ２２ｂからほぼ同時に送信された潜在的干渉データパケット１１９ｂｃの検出にもかかわらず、受信される。応答データパケット１１９ａｃが受信されたので、問題のある干渉が発生しなかったと（コントローラ２０を介し第１の電力検出部１８ａにより提供されるデータに基づきテスター１２により、再度）判断される。（例えば、測定された潜在的干渉信号は、より低い干渉信号レベルを有する異なるＤＵＴから、または異なる信号周波数における別のＤＵＴから発生した可能性がある。）
【００２９】
その後、最後の元の試験データパケット１１３ｆと追加試験データパケット１１３ｇの送信に続いて、当該応答データパケット１１９ａｄ、１１９ａｅが受信され、さらなる干渉は検知されない。したがって、試験は今や完了し、先の干渉が潜在的誤認パケットエラーを生じさせるにもかかわらず、正確な試験結果が最小限の追加試験時間という代償はあるが得られる。この特別な例では、少なくとも６つの試験データパケット期間の全試験費用の繰り返しがない限り、報告される誤った２／６のＰＥＲと比較して、１／６のＰＥＲが、ただ１つの追加試験データパケット期間という代償はあるが、報告される。
【００３０】
したがって、試験データパケットに相関がなく、かつ総数Ｎ個のパケットが干渉の存在しない状態で試験される限り、または、潜在的干渉が検知されたとき試験データパケットが応答データパケットを生成する限り、結果は、統計的観点から見て、総数Ｎ個のデータパケットを干渉の存在しない状態で試験するときと同じでなければならない。
【００３１】
これまでの記述は、ＤＵＴ送信（ＴＸ）信号を監視するとともに、パケット開始および停止のそれぞれの時間とパケットの持続時間とを特定するためのＤＵＴとテスター間の信号電力検出システムを使用する実施形態を参照したものであるが、しかし、このようなサブシステムは他の形式の信号検出サブシステムであってもよい（すなわち、信号を検知するために信号の電力を必ずしも測定する必要はない）ということを理解すべきである。例えば、別の信号検出サブシステムは、限定しないが、信号電圧または信号電流を検知するものだけでなく、有害な干渉を導入する可能性がある帯域内信号と有害な干渉を導入する可能性が低い帯域外信号とを検知することができるように周波数選択力を含む（例えば、低域通過、高域通過および／または帯域通過フィルタを使用する）ものも含み得る。このような周波数選択信号検出サブシステムは、所望の信号感度および周波数選択力を有するとともにまた潜在的干渉信号が出現するチャネルを特定し得る別個のまたは専用化されたデータパケット信号受信器（例えば、集積回路すなわち「チップ」ベースの受信器の形式のもの）を含み得る（例えば、参照としてその内容を本明細書に援用する米国特許出願第１３／４６７，５１８号明細書を参照）。
【００３２】
本発明の構造および動作方法における様々な他の変形および代替形態は本発明の範囲と思想から逸脱することなく当業者にとって明白である。本発明は特定の好ましい実施形態に関連して説明されたが、本発明は特定の実施形態へ不当に限定されるべきでないということを理解すべきである。以下の特許請求の範囲は本発明の範囲を定義し、これらの特許請求の範囲に含まれる構造および方法とそれらの同等物はこれによりカバーされるように意図されている。
【図１】
0006473747.tif 000002
【図２】
0006473747.tif 000003