(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
操作入力面における複数の箇所に対応して複数のセンサ入力値を検出し、上記センサ入力値と入力閾値との差異に基づき、上記操作入力面に対する入力操作の有無を判定する入力判定装置であって、
所定のタイミングでセンサ感度をキャリブレーションすることにより上記入力閾値を更新する校正部を備えており、
上記校正部は、上記複数のセンサ入力値のうち、上記入力閾値を超えない上記センサ入力値の平均値に基づいて、上記入力閾値の設定の基準となる基準値を更新し、さらに上記基準値が所定の範囲を超えて更新された場合、上記センサ感度をキャリブレーションすることを特徴とする入力判定装置。
【請求項２】
前記入力閾値は、タッチ閾値であり、
上記センサ入力値と前記タッチ閾値との差異に基づき、上記操作入力面に対するタッチ入力の有無を判定する入力判定装置であって、
上記校正部は、上記複数のセンサ入力値のうち、上記タッチ閾値を超えない上記センサ入力値の平均値に基づいて、上記センサ感度をキャリブレーションすることにより上記タッチ閾値を更新することを特徴とする請求項１に記載の入力判定装置。
【請求項３】
前記入力閾値は、キー閾値であり、
上記操作入力面にキーを備えており、上記キーの配置箇所に対応する上記センサ入力値と前記キー閾値との差異に基づき、上記操作入力面に対するキー入力の有無を判定する入力判定装置であって、
上記校正部は、上記複数のセンサ入力値のうち、上記キー閾値を超えない上記センサ入力値の平均値に基づいて、上記センサ感度をキャリブレーションすることにより上記キー閾値を更新することを特徴とする請求項１に記載の入力判定装置。
【請求項４】
コンピュータを請求項１〜３の何れか１項に記載の入力判定装置における校正部として機能させるための制御プログラム。
【請求項５】
複数のセンサ電極と、
上記センサ電極から上記センサ入力値を検出し、上記操作入力面に対する入力操作の有無を判定する請求項１〜３の何れか１項に記載の入力判定装置と、を備えることを特徴とする電子機器。
【請求項６】
操作入力面における複数の箇所に対応して複数のセンサ入力値を検出し、上記センサ入力値と入力閾値との差異に基づき、上記操作入力面に対する入力操作の有無を判定する入力判定装置の入力閾値校正方法であって、
所定のタイミングでセンサ感度をキャリブレーションすることにより上記入力閾値を更新する校正工程を含み、
上記校正工程では、上記複数のセンサ入力値のうち、上記入力閾値を超えない上記センサ入力値の平均値に基づいて、上記入力閾値の設定の基準となる基準値を更新し、さらに上記基準値が所定の範囲を超えて更新された場合、上記センサ感度をキャリブレーションすることを特徴とする入力判定装置の入力閾値校正方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、入力判定装置、制御プログラム、電子機器、及び入力判定装置の入力閾値校正方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
スマートフォンなどの電子機器は、タッチパネルに対するタッチ入力操作の有無を判定する入力判定装置を備えており、タッチ入力操作に応じた処理を実行する。入力判定装置は、タッチパネルに設けられた静電センサを介して検出されたセンサ入力値がタッチ閾値を超えた場合に、操作入力面に対してタッチによる入力操作がなされたと判定する。
【０００３】
しかしながら、静電センサの周囲の温度変化や、タッチパネルに触れる人の指の温度の影響を受けて、静電センサから得られるセンサ入力値が変化する。その結果、タッチ入力操作がされていないにも関わらずセンサ入力値がタッチ閾値を超えてしまい、タッチ入力操作がされていると誤判定してしまう。
【０００４】
そこで、従来の入力判定装置では、温度変化に基づくセンサ入力値の変化に応じてタッチ閾値を更新する機能を備えており、温度の影響による誤判定を防止している。
【０００５】
特許文献１のタッチパネルの制御装置は、所定のスキャン回数前からの静電容量の減少が更新判定閾値以上であるか否かをセンサペア毎に判定し、静電容量の減少が更新判定閾値以上であったセンサペアを構成する２つのセンサに対して、保持されているベースライン値を更新することにより、タッチ閾値を更新する。これにより、周囲の温度変化や、人の指の温度の影響によるタッチ入力の有無の誤判定を防止することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０１５−１１５５８号公報（２０１５年１月１９日公開）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、特許文献１のタッチパネルの制御装置は、センサ毎にセンサ入力値と所定の基準値との差分を算出し、当該差分に基づいて閾値を更新するものである。そのため、あるセンサにおいて局所的かつ突発的なセンサ入力値の変化があった場合に、当該センサの閾値を大きく変動させることとなり、入力操作の検出精度および安定性が低下する。
【０００８】
また、閾値を大きく変動させた場合、センサ感度が意図せずキャリブレーションされてしまうことがある。
【０００９】
そこで、本発明は、上記の課題に鑑みなされたものであって、その目的は、入力閾値が大幅に変動することによる入力操作の誤判定を抑制した入力判定装置、制御プログラム、電子機器、及び入力判定装置の入力閾値校正方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係る入力判定装置は、操作入力面における複数の箇所に対応して複数のセンサ入力値を検出し、上記センサ入力値と入力閾値との差異に基づき、上記操作入力面に対する入力操作の有無を判定する入力判定装置であって、所定のタイミングでセンサ感度をキャリブレーションすることにより上記入力閾値を更新する校正部を備えており、上記校正部は、上記複数のセンサ入力値のうち、上記入力閾値を超えない上記センサ入力値の平均値に基づいて、上記センサ感度をキャリブレーションすることを特徴とする。
【００１１】
また、上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係る入力判定装置の入力閾値校正方法は、操作入力面における複数の箇所に対応して複数のセンサ入力値を検出し、上記センサ入力値と入力閾値との差異に基づき、上記操作入力面に対する入力操作の有無を判定する入力判定装置の入力閾値校正方法であって、所定のタイミングでセンサ感度をキャリブレーションすることにより上記入力閾値を更新する校正工程を含み、上記校正工程では、上記複数のセンサ入力値のうち、上記入力閾値を超えない上記センサ入力値の平均値に基づいて、上記センサ感度をキャリブレーションすることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明の一態様によれば、意図しないキャリブレーションによって入力閾値が大幅に変動することによる入力操作の誤判定を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の実施形態１に係る携帯電話の概略構成を示す平面図である。
【図２】入力部の構成を示す平面図であり、（ａ）はオーバーレイ及び操作キーであり、（ｂ）はキーシートであり、（ｃ）は絶縁基板であり、（ｄ）は静電センサである。
【図３】入力部の各構成の位置関係を示す断面図であり、（ａ）はオーバーレイ及び操作キーであり、（ｂ）はキーシートであり、（ｃ）は絶縁基板であり、（ｄ）は静電センサである。
【図４】本発明の実施形態１に係る携帯電話の構成の一部を示すブロック図である。
【図５】本発明の実施形態１に係る入力判定部において基準値を更新する更新工程を工程順に示すフローチャートである。
【図６】各電極間に対応するカウント値とタッチ閾値との関係を示す図であり、（ａ）はタッチ入力によりカウント値がタッチ閾値を超えた状態を示し、（ｂ）は周囲の温度の低下に伴ってカウント値が増大している状態を示す。
【図７】操作入力面にキー入力をしたときの携帯電話の断面図である。
【図８】各電極間に対応するカウント値とキー閾値との関係を示す図である。
【図９】各電極間に対応するカウント値とキー閾値との関係の一例を示す図である。
【図１０】本発明の実施形態２に係るスマートフォンの概略構成を示す図であり、（ａ）は平面図であり、（ｂ）は断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
〔実施形態１〕
以下、本発明の実施形態１の電子機器について、図１〜１０に基づいて詳細に説明する。以下の説明では、電子機器として、携帯電話を例に挙げて説明する。
【００１５】
＜携帯電話＞
図１は、本実施形態の携帯電話の概略構成を示す平面図である。携帯電話１００（電子機器）は、ユーザによる操作を入力可能な操作入力面１０を有する入力部１と、画像などを表示する表示部２と、を備えている。操作入力面１０には操作キー１１（キー）が配置されており、携帯電話１００は、操作入力面１０に対するユーザによるキー入力及びタッチ入力を検出し、キー入力操作及びタッチ入力操作に応じた所定の処理を行う。
【００１６】
図２は、入力部１の構成を示す平面図であり、（ａ）はオーバーレイ及び操作キーであり、（ｂ）はキーシートであり、（ｃ）は絶縁基板であり、（ｄ）は静電センサである。
【００１７】
図３は、入力部１の各構成の位置関係を示す断面図であり、（ａ）はオーバーレイ及び操作キーであり、（ｂ）はキーシートであり、（ｃ）は絶縁基板であり、（ｄ）は静電センサである。
【００１８】
図２及び３に示すように、入力部１は、オーバーレイ１２及び操作キー１１と、キーシート２０と、絶縁基板３０と、静電センサ４０とがこの順に積層された構造を有している。
【００１９】
＜操作入力面＞
図２の（ａ）に示すように、入力部１の表面側にはオーバーレイ１２が設けられており、オーバーレイ１２に形成された開口部から操作キー１１が入力部１の表面に露出している。オーバーレイ１２の表面及び操作キー１１の表面は、操作入力面１０を構成している。図３の（ａ）に示すように、操作キー１１は、背面側に突起する突起部１３を有している。
【００２０】
＜キーシート＞
図３の（ｂ）に示すように、操作入力面１０の背面側には、キーシート２０が設けられている。図２の（ｂ）に示すように、キーシート２０には、操作キー１１に対応する位置（操作キー１１の直下）に、ドーム形状を有する凸部２１が形成されている。凸部２１は導電性材料によって形成されている。凸部２１は、可撓性を有しており、操作キー１１が押下されることに応じて圧力を受けて変形する。
【００２１】
＜絶縁層＞
図３の（ｃ）に示すように、キーシート２０の背面側には、キーシート２０と対向するように絶縁基板３０が設けられている。
【００２２】
＜静電センサ＞
図３の（ｄ）に示すように、絶縁基板３０の背面側には、静電センサ４０が設けられている。図２の（ｄ）に示すように、静電センサ４０は、検出基板４１と、検出基板４１上に形成された複数本のＸ検出電極４２（センサ電極）及びＹ検出電極４３（センサ電極）とを備えており、検出電極間の静電容量の変化に基づいて、操作入力面１０に対する物体の近接又は接触（タッチ入力）及び操作キー１１の押下（キー入力）を検出する。これにより、携帯電話１００は、操作入力面１０に対する操作入力の有無を検出することができる。
【００２３】
Ｘ検出電極４２及びＹ検出電極４３は、平面視において互いに交差するように、操作入力面１０に対向する面内に一様に配されている。Ｘ検出電極４２とＹ検出電極４３とは、検出基板４１における同一平面上に形成されていてもよいし、検出基板４１の表面側と背面側とにそれぞれ形成されていてもよい。
【００２４】
操作入力面１０にユーザの指などが接触又は接近すると、Ｘ検出電極４２とＹ検出電極４３とが交差する箇所における電極間の静電容量が小さくなる。また、操作キー１１が押下されると、キーシート２０の凸部２１が変形して静電センサ４０に近づき、電極間の静電容量は大きくなる。
【００２５】
携帯電話１００では、Ｘ検出電極４２とＹ検出電極４３の交差部に対応して検出される静電容量の値の変化に基づいて、タッチ入力及びキー入力を検出することができる。
【００２６】
＜ブロック図＞
図４は、本実施形態の携帯電話１００の構成の一部を示すブロック図である。図４に示すように、携帯電話１００は、ＣＰＵ３と、静電キー・タッチ制御部４と、静電センサ４０とを備えている。
【００２７】
静電キー・タッチ制御部４は、静電センサ４０のＸ検出電極４２及びＹ検出電極４３を駆動する。具体的には、静電キー・タッチ制御部４は、Ｙ検出電極４３にパルス状の電圧を印加し、Ｘ検出電極４２から電極間の静電容量に応じた検出値を読み出す。
【００２８】
静電キー・タッチ制御部４は入力判定部５（入力判定装置）を備えている。入力判定部５は、静電センサ４０から読み出した検出値の値（静電センサ４０のカウント値）と、タッチ閾値およびキー閾値との差異に基づいて、タッチ入力及びキー入力の有無を判定する。具体的には、入力判定部５は、カウント値（センサ入力値）がタッチ閾値を超えた場合には、操作入力面１０における当該カウント値に対応する箇所に対してタッチ入力されたと判定するとともに、操作キーの配置箇所に対応するカウント値がキー閾値を超えた場合には、当該操作キーに対してキー入力されたと判定する。
【００２９】
なお、本実施形態の携帯電話１００では、操作入力面１０に対してタッチ入力された場合にはカウント値は増大し、操作入力面１０に対してキー入力された場合にはカウント値は減少するものとする。
【００３０】
ＣＰＵ３は、静電キー・タッチ制御部４の動作を制御するとともに、静電キー・タッチ制御部４が検出したタッチ入力操作及びキー入力操作に応じた所定の処理を行う。
【００３１】
また、静電キー・タッチ制御部４の入力判定部５は、校正部６を備えており、校正部６は所定のタイミングでセンサ感度をキャリブレーションすることにより、タッチ閾値およびキー閾値を更新する。
【００３２】
＜平均値の算出＞
以下、本実施形態の携帯電話１００の入力判定部５における基準値の更新方法について説明する。
【００３３】
入力判定部５は、基準値を更新する際、全ての電極交差部に対応するカウント値のうち入力閾値（タッチ閾値およびキー閾値）を超えないカウント値の平均値を算出するとともに、算出された平均値に基づいて基準値を更新する。以下、具体的に説明する。
【００３４】
入力判定部５は、例えば１５ｍ秒の周期で、全ての電極交差部に対応するカウント値のうち入力閾値（タッチ閾値およびキー閾値）を超えないカウント値の平均値を算出する。これにより、操作入力面１０におけるカウント値の平均値を得る。
【００３５】
上記平均値は、移動平均値であってもよい。この場合、移動平均値Ｎｅｗ＿Ａｖｅは、過去に算出された過去移動平均値Ｏｌｄ＿Ａｖｅと、直近で算出されたカウント値の平均値Ａｖｅとを用いて、以下の式で表される。
Ｎｅｗ＿Ａｖｅ＝（１５／１６）×Ｏｌｄ＿Ａｖｅ＋（１／１６）×Ａｖｅ
上記式に示すように、移動平均値Ｎｅｗ＿Ａｖｅは、過去移動平均値Ｏｌｄ＿Ａｖｅと、直近で算出されたカウント値の平均値Ａｖｅとを、１５：１の比で重み付けした値として算出される。
【００３６】
なお、上記式は一例であり、移動平均値Ｎｅｗ＿Ａｖｅを算出する際の、過去移動平均値Ｏｌｄ＿Ａｖｅと平均値Ａｖｅの重み付けの比率はこれに限定されない。
【００３７】
本実施形態の携帯電話１００の入力判定部５は、上記式によって算出された、操作入力面１０におけるカウント値の移動平均値Ｎｅｗ＿Ａｖｅに基づいて、基準値を更新する。
【００３８】
＜基準値更新のフロー＞
図５は、本実施形態の入力判定部において基準値を更新する更新工程（校正工程、入力閾値校正方法）を工程順に示すフローチャートである。
【００３９】
図５に示すように、本実施形態の更新工程では、入力判定部５がタッチ入力の有無を判定する（ステップ１）。
【００４０】
ステップ１でタッチ入力が検出された場合、変数を初期化する（ステップ２）。具体的には過去に設定された各電極交差部における基準値の平均値（平均基準値：Ｓｔｏｒｅｄ）と、移動平均値Ｎｅｗ＿Ａｖｅと、過去移動平均値Ｏｌｄ＿Ａｖｅとを初期化（リセット）する。
【００４１】
その後、再度、入力判定部５がタッチ入力の有無を判定する（ステップ３）。
【００４２】
ステップ３でタッチ入力が検出された場合、入力判定部５は、例えば１５ｍ秒の周期で、全ての電極交差部に対応するカウント値のうち入力閾値を超えないカウント値の移動平均値Ｎｅｗ＿Ａｖｅを算出する（ステップ４）。
【００４３】
次に、入力判定部５は、所定の周期で、平均基準値Ｓｔｏｒｅｄと、ステップ４で算出された移動平均値Ｎｅｗ＿Ａｖｅとを比較するが、上記比較をするタイミングであるか否かを判断する（ステップ５）。ステップ５で比較タイミングでないと判断された場合（ステップ５でＮＯ）、ステップ３の処理に戻る。
【００４４】
本実施形態の入力判定部５は、比較周期として、１秒の周期で平均基準値Ｓｔｏｒｅｄと移動平均値Ｎｅｗ＿Ａｖｅとを比較するが、上記比較周期は限定されず、例えば０．５秒周期でもよいし、１０秒周期でもよい。なお、温度変化が大きい環境下では、温度変化による入力操作の誤判定をより確実に防止するために、上記比較周期を短くすることによって基準値の更新周期を短くしてもよい。また、温度変化が小さい環境下では、消費電力を低減するために、上記比較周期を長くすることによって基準値の更新周期を長くしてもよい。
【００４５】
ステップ５で比較タイミングであると判断された場合（ステップ５でＹＥＳ）、入力判定部５は、移動平均値Ｎｅｗ＿Ａｖｅから平均基準値Ｓｔｏｒｅｄを差し引いた差分値が、更新閾値を超えているか否かを判断する（ステップ６）。更新閾値は、基準値を更新するか否かを決めるための閾値であり、適宜設定することができる。上記差分値が更新閾値を超えていない場合（ステップ６でＮＯ）、ステップ３の処理に戻る。
【００４６】
ステップ５で上記差分値が更新閾値を超えていると判断された場合（ステップ６でＹＥＳ）、入力判定部５は、上記差分値を、各電極交差部に対応して設定されている基準値に加算する（ステップ７）。また、平均基準値Ｓｔｏｒｅｄを、移動平均値Ｎｅｗ＿Ａｖｅの値で更新する。
【００４７】
このように、入力判定部５は、全ての電極交差部に対応するカウント値のうち入力閾値を超えないカウント値の平均値を算出し、移動平均値Ｎｅｗ＿Ａｖｅから平均基準値Ｓｔｏｒｅｄを差し引いた差分値が更新閾値を超えている場合に、算出された平均値に基づいて基準値を更新する。
【００４８】
そして、ステップ７で更新した基準値が、ターゲット値を中心とする所定の範囲を超えて更新された場合には、センサ感度をキャリブレーションする。
【００４９】
＜タッチ入力＞
図６は、各電極間に対応するカウント値とタッチ閾値との関係を示す図であり、（ａ）はタッチ入力によりカウント値がタッチ閾値を超えた状態を示し、（ｂ）は周囲の温度の低下に伴ってカウント値が増大している状態を示す。
【００５０】
なお、図６では、一方向に沿って並ぶ電極交差部ごとに得られるカウント値を示す。
【００５１】
図６の（ａ）中、基準値（ＬＴＡ）は、操作入力面１０に入力操作がなされていない状態のカウント値と同値となるように設定された値であり、タッチ閾値は基準値に所定の大きさの値を加えた値として設定されている。すなわち、入力判定部５は、カウント値と基準値との差分が上記所定の大きさを超えたとき（カウント値がタッチ閾値を超えたとき）、操作入力面１０にタッチ入力がなされたと判定する。
【００５２】
図６の（ａ）に示すように、携帯電話１００の操作入力面１０に人の指が近接すると、近接箇所の直下の電極交差部に対応するカウント値は増大する。入力判定部５は、カウント値がタッチ閾値を超えた場合には、当該カウント値が検出された電極交差部上の位置に人の指が近接したと判定する。
【００５３】
図６の（ｂ）に示すように、静電センサ４０の周囲の温度が変動すると、電極間の静電容量が変動し、電極間に対応するカウント値が変動する。
【００５４】
本実施形態の入力判定部５は、タッチ入力されているか否かに関わらず、全ての電極交差部に対応するカウント値のうち入力閾値を超えないカウント値の移動平均値を算出し、算出された移動平均値に基づいて基準値を更新する。これにより、入力閾値（タッチ閾値およびキー閾値）が更新される。
【００５５】
そのため、タッチ入力状態が継続している場合であっても、静電センサ４０の周囲の温度が低下して複数の電極間に対応するカウント値が増大した場合、図６の（ｂ）に示すように、温度低下によるカウント値の増大に追従するようにして、基準値を増大させる。基準値を増大させることにより、タッチ閾値も増大する。
【００５６】
これにより、タッチ入力状態継続中に温度変化があった場合であっても、温度変化の影響を受けて携帯電話１００の操作者が触れていない領域に対してタッチ入力がなされたと誤判定することを防止することができる。
【００５７】
また、入力判定部５は、基準値が所定の範囲を超えて更新された場合、センサ感度をキャリブレーションする。具体的には、基準値が、ターゲット値を中心とする所定の範囲を超えて更新された場合、センサ感度をキャリブレーションするとともに、基準値をターゲット値に合わせる。
【００５８】
＜キー入力＞
図７は、操作入力面にキー入力をしたときの携帯電話の断面図である。
【００５９】
図８は、各電極間に対応するカウント値とキー閾値との関係を示す図である。
【００６０】
なお、説明のため、図７では、図２を参照して説明したキーシート２０や絶縁基板３０の図示を省略している。
【００６１】
図７に示すように、操作入力面１０のキーを押下したとき、押下領域１０Ａにおいてオーバーレイ１２が変形する（または操作キー１１が引っ込む）。
【００６２】
このとき、図８に示すように、押下領域１０Ａの直下の電極交差部に対応するカウント値は減少する。そして、入力判定部５は、押下領域１０Ａの直下の電極交差部に対応するカウント値がキー閾値を超えた場合、押下領域１０Ａにおいてキー入力がなされたと判定する。
【００６３】
上述したように、入力判定部５は、基準値を更新する際、全ての電極交差部に対応するカウント値のうち入力閾値を超えないカウント値の平均値を算出するとともに、算出された平均値に基づいて基準値を更新する。これにより、温度変化があった場合であっても、温度変化の影響を受けて携帯電話１００の操作者がキー入力してない領域に対してキー入力がなされたと誤判定することを防止することができる。
【００６４】
ここで、図７に示すように、操作入力面１０のキーを押下したとき、押下領域１０Ａとともに、押下領域１０Ａの周辺領域１０Ｂにおいてオーバーレイ１２が変形することによって、周辺領域１０Ｂに対応するカウント値も減少する。しかしながら、周辺領域１０Ｂに対応するカウント値はキー閾値を超えないため、周辺領域１０Ｂの直下の電極交差部の位置座標においては、キー入力操作は検出されない。
【００６５】
図９は、各電極間に対応するカウント値とキー閾値との関係の一例を示す図である。
【００６６】
図９は、図７中の周辺領域１０Ｂの直下の電極交差部に対応するカウント値とキー閾値との関係を示す。
【００６７】
押下領域１０Ａの押下によって、図９に示すように、周辺領域１０Ｂに対応するカウント値も減少する。減少したカウント値に基づいて周辺領域１０Ｂに対応する基準値を更新した場合、周辺領域１０Ｂに対応する基準値は減少する。その結果、基準値が、ターゲット値を中心とする所定の範囲を超えて更新され、センサ感度が意図せずキャリブレーションされてしまう。このように、周辺領域１０Ｂにおける局所的な基準値の変動に応じてセンサ感度がキャリブレーションされると、キャリブレーション後は、周辺領域１０Ｂが不感領域となり、タッチ入力およびキー入力の有無を正常に判定することができなくなる。
【００６８】
これに対して、本実施形態の携帯電話１００の入力判定部５は、各電極交差部に対応するカウント値のうち入力閾値を超えないカウント値の平均値に基づいて基準値を更新するため、周辺領域１０Ｂに対応するカウント値がキー閾値を超えることなく減少した場合であっても、基準値を更新する際の基準値の増減幅において、周辺領域１０Ｂにおける局所的なカウント値の減少の影響は無視できる程度に緩和される。
【００６９】
そのため、周辺領域１０Ｂに対応するカウント値に基づいて周辺領域１０Ｂに対応する基準値を更新する更新方法に比べて、更新前後で基準値の変動を抑えることができる。
【００７０】
その結果、局所的なカウント値の変化の影響を受けることによる基準値の大幅な変動、および、これに伴う意図しないセンサ感度のキャリブレーションを防止することができる。
【００７１】
〔実施形態２〕
本発明の他の実施形態について、図１０に基づいて説明すれば、以下のとおりである。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。
【００７２】
図１０は、本実施形態のスマートフォンの概略構成を示す図であり、（ａ）は平面図であり、（ｂ）は断面図である。
【００７３】
図１０の（ａ）に示すように、本発明に係る入力判定部は、キー入力及びタッチ入力のうちタッチ入力のみを検出し、タッチ入力操作に応じた所定の処理を行うスマートフォン２００（電子機器）にも適用することができる。
【００７４】
スマートフォン２００は、操作入力面を有する入力部２０１と、画像などを表示する表示部２０２とが一体となっている。
【００７５】
図１０の（ｂ）に示すように、スマートフォン２００は、オーバーレイ２１２と静電センサ４０とが互いに対向するように設けられており、オーバーレイ２１２の上面が操作入力面１０を構成している。
【００７６】
また、図示を省略するが、スマートフォン２００は、実施形態１で説明した入力判定部５を備えている。
【００７７】
このように、タッチ入力のみを検出可能なスマートフォン２００においても、入力判定部を備えていることにより、図６を参照して説明したように、タッチ入力されている状態であっても、静電センサ４０の周囲の温度が低下して複数の電極間に対応するカウント値が増大した場合、図６の（ｂ）に示すように、温度低下によるカウント値の増大に応じて、基準値およびタッチ閾値を増大させる。
【００７８】
これにより、スマートフォン２００の操作者が触れていない領域に対してタッチ入力がなされたと誤判定することを防止することができる。
【００７９】
また、本発明の電子機器として、実施形態１では携帯電話１００を例に挙げ、実施形態２ではスマートフォン２００を例に挙げて説明した。しかしながら、これらは一例であり、本発明の電子機器には携帯型でない電子機器も含まれ、例えば、キー入力及びタッチ入力を検出し、キー入力操作及びタッチ入力操作に応じた所定の処理を行うキーボードなども含まれる。
【００８０】
〔ソフトウェアによる実現例〕
携帯電話１００およびスマートフォン２００の制御ブロック（特に入力判定部５）は、集積回路（ＩＣチップ）等に形成された論理回路（ハードウェア）によって実現してもよいし、ＣＰＵ（Central Processing Unit）を用いてソフトウェアによって実現してもよい。
【００８１】
後者の場合、携帯電話１００およびスマートフォン２００は、各機能を実現するソフトウェアであるプログラムの命令を実行するＣＰＵ、上記プログラムおよび各種データがコンピュータ（またはＣＰＵ）で読み取り可能に記録されたＲＯＭ（Read Only Memory）または記憶装置（これらを「記録媒体」と称する）、上記プログラムを展開するＲＡＭ（Random Access Memory）などを備えている。そして、コンピュータ（またはＣＰＵ）が上記プログラムを上記記録媒体から読み取って実行することにより、本発明の目的が達成される。上記記録媒体としては、「一時的でない有形の媒体」、例えば、テープ、ディスク、カード、半導体メモリ、プログラマブルな論理回路などを用いることができる。また、上記プログラムは、該プログラムを伝送可能な任意の伝送媒体（通信ネットワークや放送波等）を介して上記コンピュータに供給されてもよい。なお、本発明は、上記プログラムが電子的な伝送によって具現化された、搬送波に埋め込まれたデータ信号の形態でも実現され得る。
【００８２】
〔まとめ〕
本発明の態様１に係る入力判定装置（入力判定部５）は、操作入力面（１０）における複数の箇所に対応して複数のセンサ入力値（カウント値）を検出し、上記センサ入力値と入力閾値との差異に基づき、上記操作入力面に対する入力操作の有無を判定する入力判定装置であって、所定のタイミングでセンサ感度をキャリブレーションすることにより上記入力閾値を更新する校正部（６）を備えており、上記校正部は、上記複数のセンサ入力値のうち、上記入力閾値を超えない上記センサ入力値の平均値に基づいて、上記センサ感度をキャリブレーションすることを特徴とする。
【００８３】
上記の構成によれば、入力閾値を超えないセンサ入力値の平均値に基づいてセンサ感度をキャリブレーションするため、局所的なセンサ入力値の変化の影響を緩和したキャリブレーションをすることができる。これにより、入力閾値の大幅な変動による入力操作の誤判定を抑制することができる。
【００８４】
本発明の態様２に係る入力判定装置は、上記態様１において、上記センサ入力値とタッチ閾値との差異に基づき、上記操作入力面に対するタッチ入力の有無を判定する入力判定装置であって、上記校正部は、上記複数のセンサ入力値のうち、上記タッチ閾値を超えない上記センサ入力値の平均値に基づいて、上記センサ感度をキャリブレーションすることにより上記タッチ閾値を更新する構成であってもよい。
【００８５】
上記の構成によれば、センサ入力値の平均値を算出する際、タッチ入力によって変動したセンサ入力値を含めないことにより、タッチ入力操作を行っている期間であっても、温度変化などの環境の変化に応じてセンサ感度をキャリブレーションしてタッチ閾値を更新することができる。
【００８６】
本発明の態様３に係る入力判定装置は、上記態様１または２において、上記操作入力面にキー（操作キー１１）を備えており、上記キーの配置箇所に対応する上記センサ入力値とキー閾値との差異に基づき、上記操作入力面に対するキー入力の有無を判定する入力判定装置であって、上記校正部は、上記複数のセンサ入力値のうち、上記キー閾値を超えない上記センサ入力値の平均値に基づいて、上記センサ感度をキャリブレーションすることにより上記キー閾値を更新する構成であってもよい。
【００８７】
上記の構成によれば、センサ入力値の平均値を算出する際、キー入力によって変動したセンサ入力値を含めないことにより、キー入力操作を行っている期間であっても、温度変化などの環境の変化に応じてセンサ感度をキャリブレーションしてキー閾値を更新することができる。
【００８８】
さらに、センサ入力値の平均値に基づいてセンサ感度をキャリブレーションするため、押下されたキーの周囲におけるセンサ入力値の変化の影響を緩和してキャリブレーションをすることができる。これにより、キー閾値の大幅な変動によるキー入力の誤判定を抑制することができる。
【００８９】
本発明の態様５に係る電子機器（携帯電話１００・スマートフォン２００）は、複数のセンサ電極（Ｘ検出電極４２・Ｙ検出電極４３）と、上記センサ電極から上記センサ入力値を検出し、上記操作入力面に対する入力操作の有無を判定する上記態様１〜３の何れかの入力判定装置と、を備えることを特徴とする。
【００９０】
本発明の態様６に係る入力判定装置の入力閾値校正方法は、操作入力面における複数の箇所に対応して複数のセンサ入力値を検出し、上記センサ入力値と入力閾値との差異に基づき、上記操作入力面に対する入力操作の有無を判定する入力判定装置の入力閾値校正方法であって、所定のタイミングでセンサ感度をキャリブレーションすることにより上記入力閾値を更新する校正工程を含み、上記校正工程では、上記複数のセンサ入力値のうち、上記入力閾値を超えない上記センサ入力値の平均値に基づいて、上記センサ感度をキャリブレーションすることを特徴とする。
【００９１】
本発明の各態様に係る入力判定装置は、コンピュータによって実現してもよく、この場合には、コンピュータを上記入力判定装置が備える各部（ソフトウェア要素）として動作させることにより上記入力判定装置をコンピュータにて実現させる入力判定装置の制御プログラム、およびそれを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体も、本発明の範疇に入る。
【００９２】
本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。さらに、各実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を組み合わせることにより、新しい技術的特徴を形成することができる。
【符号の説明】
【００９３】
５  入力判定部（入力判定装置）
６  校正部
１０  操作入力面
１１  操作キー（キー）
４２  Ｘ検出電極（センサ電極）
４３  Ｙ検出電極（センサ電極）
１００  携帯電話（電子機器）
２００  スマートフォン（電子機器）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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