(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
軸受等の機械部品またはその試験片からなる試験対象品を所定の環境条件においた状態を続ける寿命試験の結果として求められた、前記試験対象品の２ロットの各推定寿命である２水準の推定寿命に有意差があるか否かを判定する寿命試験の解釈装置において、
前記推定寿命は、各ロット毎に前記試験対象品に対して寿命試験を行い、その結果をワイブル分布の形式で表現した所定のパーセント寿命であり、
前記所定のパーセント寿命の所定のパーセント点ｎ％における、前記２水準の推定寿命に有意差があると判定するために必要な寿命差である必要寿命差ＬｎＲと、ワイブルスロープｅと、試験個数Ｎと、前記有意差の判定結果の信頼性を表す指標である信頼水準Ｃとの関係を定めた所定の近似式、
ＬｎＲ＝（ｅ，Ｎ，Ｃ）の所定の関数
を設定した近似式設定手段と、
前記寿命試験における前記ワイブルスロープｅ、試験個数Ｎ、および信頼水準Ｃ、および前記２水準の推定寿命またはこの２水準の推定寿命の差の入力を記憶する入力処理手段と、
前記近似式に、前記入力処理手段で記憶されたワイブルスロープｅ、試験個数Ｎ、および信頼水準Ｃを代入することで、前記必要寿命差ＬｎＲを求める必要寿命差計算手段と、
この求められた必要寿命差ＬｎＲと前記２水準の推定寿命の差とを比較して、前記２水準の推定寿命の差が前記必要寿命差ＬｎＲ以上であれば有意差があると判定する有意差有無判定手段とを備え、
前記近似式は、有意差有りと判定するための前記必要寿命差ＬｎＲを、ワイブル乱数を用いて計算し、この計算の結果を近似できる回帰式を用いて作成される近似式とする、
ことを特徴とする寿命試験の解釈装置。
【請求項２】
軸受等の機械部品またはその試験片からなる試験対象品を所定の環境条件においた状態を続ける寿命試験の結果として求められた、前記試験対象品の２ロットの各推定寿命である２水準の推定寿命に有意差があるか否かを判定する寿命試験の解釈装置において、
前記推定寿命は、各ロット毎に前記試験対象品に対して寿命試験を行い、その結果をワイブル分布の形式で表現した所定のパーセント寿命であり、
前記所定のパーセント寿命の所定のパーセント点ｎ％における、前記２水準の推定寿命に有意差があると判定するために必要な寿命差である必要寿命差ＬｎＲと、ワイブルスロープｅと、試験個数Ｎと、前記有意差の判定結果の信頼性を表す指標である信頼水準Ｃとの関係を定めた次のいずれかの関係式（１），（２），（３）を記憶した近似式設定手段と、
【数１】
0006482779.tif 000022
前記寿命試験における前記ワイブルスロープｅ、試験個数Ｎ、信頼水準Ｃ、前記パーセント点ｎ％、および前記２水準の推定寿命またはこの２水準の推定寿命の差の入力を記憶する入力処理手段と、
前記関係式（１），（２），（３）のうち、該当するパーセント点ｎ％の関係式を用い、この関係式に、前記入力処理手段に記憶されたワイブルスロープｅ、試験個数Ｎ、および信頼水準Ｃを代入することで、前記必要寿命差ＬｎＲを求める必要寿命差計算手段と、
この求められた必要寿命差ＬｎＲと前記２水準の推定寿命の差とを比較して、前記２水準の推定寿命の差が前記必要寿命差ＬｎＲ以上であれば有意差があると判定する有意差有無判定手段とを備える、
ことを特徴とする寿命試験の解釈装置。
【請求項３】
軸受等の機械部品またはその試験片からなる試験対象品を所定の環境条件においた状態を続ける寿命試験を行うにつき、求められた前記試験対象品の２ロットの各推定寿命である２水準の推定寿命に有意差があると判定できる結果が得られる必要な試験個数を求める寿命試験の試験個数設計装置において、
前記推定寿命は、各ロット毎に前記試験対象品に対して寿命試験を行い、その結果をワイブル分布の形式で表現した所定のパーセント寿命であり、
前記所定のパーセント寿命の所定のパーセント点ｎ％における、前記２水準の推定寿命に有意差があると判定するために必要な寿命差である必要寿命差ＬｎＲと、ワイブルスロープｅと、試験個数Ｎと、前記有意差の判定結果の信頼性を表す指標である信頼水準Ｃとの関係を定めた所定の関係式を記憶した所定の近似式、
ＬｎＲ＝（ｅ，Ｎ，Ｃ）の所定の関数
を記憶した近似式設定手段と、
前記寿命試験における前記ワイブルスロープｅ、信頼水準Ｃ、および必要寿命差ＬｎＲの入力を記憶する入力処理手段と、
前記近似式に、前記入力処理手段に記憶された必要寿命差ＬｎＲ、ワイブルスロープｅ、および信頼水準Ｃを代入することで、前記試験個数Ｎを求める試験個数計算手段とを備え、
前記近似式は、有意差有りと判定するための前記必要寿命差ＬｎＲを、ワイブル乱数を用いて計算し、この計算の結果を近似できる回帰式を用いて作成される近似式とする、
ことを特徴とする寿命試験の試験個数設計装置。
【請求項４】
軸受等の機械部品またはその試験片からなる試験対象品を所定の環境条件においた状態を続ける寿命試験を行うにつき、求められた前記試験対象品の２ロットの各推定寿命である２水準の推定寿命に有意差があると判定できる結果が得られる必要な試験個数を求める寿命試験の試験個数設計装置において、
前記推定寿命は、各ロット毎に前記試験対象品に対して寿命試験を行い、その結果をワイブル分布の形式で表現した所定のパーセント寿命であり、
前記所定のパーセント寿命の所定のパーセント点ｎ％における、前記２水準の推定寿命に有意差があると判定するために必要な寿命差である必要寿命差ＬｎＲと、ワイブルスロープｅと、試験個数Ｎと、前記有意差の判定結果の信頼性を表す指標である信頼水準Ｃとの関係を定めた次のいずれかの関係式（１），（２），（３）を記憶した近似式設定手段と、
【数２】
0006482779.tif 000023
前記寿命試験における前記ワイブルスロープｅ、信頼水準Ｃ、必要寿命差ＬｎＲ、およびパーセント点ｎ％の入力を記憶する入力処理手段と、
前記関係式（１），（２），（３）のうちの、前記入力処理手段に記憶されたパーセント点ｎ％に該当する関係式を用い、前記入力処理手段に記憶された必要寿命差ＬｎＲ、ワイブルスロープｅ、および信頼水準Ｃを代入することで、前記試験個数Ｎを求める試験個数計算手段とを備える、
ことを特徴とする寿命試験の試験個数設計装置。
【請求項５】
軸受等の機械部品またはその試験片からなる試験対象品を所定の環境条件においた状態を続ける寿命試験の結果として求められた、前記試験対象品の２ロットの各推定寿命である２水準の推定寿命に有意差があるか否かを判定する寿命試験の解釈方法において、
前記推定寿命は、各ロット毎に前記試験対象品に対して寿命試験を行い、その結果をワイブル分布の形式で表現した所定のパーセント寿命であり、
前記所定のパーセント寿命の所定のパーセント点ｎ％における、前記２水準の推定寿命に有意差があると判定するために必要な寿命差である必要寿命差ＬｎＲと、ワイブルスロープｅと、試験個数Ｎと、前記有意差の判定結果の信頼性を表す指標である信頼水準Ｃとの関係を定めた所定の近似式、
ＬｎＲ＝（ｅ，Ｎ，Ｃ）の所定の関数
を準備する近似式準備過程と、
前記近似式に、ワイブルスロープｅ、試験個数Ｎ、および信頼水準Ｃを代入することで、前記必要寿命差ＬｎＲを求める必要寿命差計算過程と、
この求められた必要寿命差ＬｎＲと前記２水準の推定寿命の差とを比較して、前記２水準の推定寿命の差が前記必要寿命差ＬｎＲ以上であれば有意差があると判定する有意差有無判定過程とを含み、
前記近似式は、有意差有りと判定するための前記必要寿命差ＬｎＲを、ワイブル乱数を用いて計算し、この計算の結果を近似できる回帰式を用いて作成される近似式とする、
ことを特徴とする寿命試験の解釈方法。
【請求項６】
軸受等の機械部品またはその試験片からなる試験対象品を所定の環境条件においた状態を続ける寿命試験の結果として求められた、前記試験対象品の２ロットの各推定寿命である２水準の推定寿命に有意差があるか否かを判定する寿命試験の解釈方法において、
前記推定寿命は、各ロット毎に前記試験対象品に対して寿命試験を行い、その結果をワイブル分布の形式で表現した所定のパーセント寿命であり、
前記所定のパーセント寿命の所定のパーセント点ｎ％における、前記２水準の推定寿命に有意差があると判定するために必要な寿命差である必要寿命差ＬｎＲと、ワイブルスロープｅと、試験個数Ｎと、前記有意差の判定結果の信頼性を表す指標である信頼水準Ｃとの関係を定めた次のいずれかの関係式（１），（２），（３）を準備する近似式準備過程と、
【数３】
0006482779.tif 000024
前記近似式に、ワイブルスロープｅ、試験個数Ｎ、および信頼水準Ｃを代入することで、前記必要寿命差ＬｎＲを求める必要寿命差計算過程と、
この求められた必要寿命差ＬｎＲと前記２水準の推定寿命の差とを比較して、前記２水準の推定寿命の差が前記必要寿命差ＬｎＲ以上であれば有意差があると判定する有意差判定過程とを含み、
前記近似式は、有意差有りと判定するための必要寿命差を、ワイブル乱数を用いて計算し、この計算の結果を近似できる回帰式を用いて作成した近似式とする、
ことを特徴とする寿命試験の解釈方法。
【請求項７】
軸受等の機械部品またはその試験片からなる試験対象品を所定の環境条件においた状態を続ける寿命試験を行うにつき、求められた前記試験対象品の２ロットの各推定寿命である２水準の推定寿命に有意差があると判定できる結果が得られる必要な試験個数を求める寿命試験の試験個数設計方法において、
前記推定寿命は、各ロット毎に前記試験対象品に対して寿命試験を行い、その結果をワイブル分布の形式で表現した所定のパーセント寿命であり、
前記所定のパーセント寿命の所定のパーセント点ｎ％における、前記２水準の推定寿命に有意差があると判定するために必要な寿命差である必要寿命差ＬｎＲと、ワイブルスロープｅと、試験個数Ｎと、前記有意差の判定結果の信頼性を表す指標である信頼水準Ｃとの関係を定めた所定の近似式、
ＬｎＲ＝（ｅ，Ｎ，Ｃ）の所定の関数
を準備する近似式準備過程と、
前記近似式に、必要寿命差ＬｎＲ、ワイブルスロープｅ、および信頼水準Ｃを代入することで、前記試験個数Ｎを求める試験個数計算過程とを含み、
前記近似式は、有意差有りと判定するための必要寿命差ＬｎＲを、ワイブル乱数を用いて計算し、この計算の結果を近似できる回帰式を用いて作成した近似式とする、
ことを特徴とする寿命試験の試験個数設計方法。
【請求項８】
軸受等の機械部品またはその試験片からなる試験対象品を所定の環境条件においた状態を続ける寿命試験を行うにつき、求められた前記試験対象品の２ロットの各推定寿命である２水準の推定寿命に有意差があると判定できる結果が得られる必要な試験個数を求める寿命試験の試験個数設計方法において、
前記推定寿命は、各ロット毎に前記試験対象品に対して寿命試験を行い、その結果をワイブル分布の形式で表現した所定のパーセント寿命であり、
前記所定のパーセント寿命の所定のパーセント点ｎ％における、前記２水準の推定寿命に有意差があると判定するために必要な寿命差である必要寿命差ＬｎＲと、ワイブルスロープｅと、試験個数Ｎと、前記有意差の判定結果の信頼性を表す指標である信頼水準Ｃとの関係を定めた次のいずれかの関係式（１），（２），（３）を用い、
【数４】
0006482779.tif 000025
前記近似式に、必要寿命差ＬｎＲ、ワイブルスロープｅ、および信頼水準Ｃを代入することで、前記試験個数Ｎを求める、
ことを特徴とする寿命試験の試験個数設計方法。
【請求項９】
コンピュータにより実行可能であり、軸受等の機械部品またはその試験片からなる試験対象品を所定の環境条件においた状態を続ける寿命試験の結果として求められた、前記試験対象品の２ロットの各推定寿命である２水準の推定寿命に有意差があるか否かを判定する寿命試験の解釈プログラムにおいて、
前記推定寿命は、各ロット毎に前記試験対象品に対して寿命試験を行い、その結果をワイブル分布の形式で表現した所定のパーセント寿命であり、
前記所定のパーセント寿命の所定のパーセント点ｎ％における、前記２水準の推定寿命に有意差があると判定するために必要な寿命差である必要寿命差ＬｎＲと、ワイブルスロープｅと、試験個数Ｎと、前記有意差の判定結果の信頼性を表す指標である信頼水準Ｃとの関係を定めた次のいずれかの関係式（１），（２），（３）を記憶した近似式設定情報と、
【数５】
0006482779.tif 000026
前記寿命試験における前記ワイブルスロープｅ、試験個数Ｎ、および信頼水準Ｃ、並びに有意差を求めるパーセント点ｎ％の入力を記憶する入力処理手順と、
前記関係式（１），（２），（３）のうち、前記入力処理手順に記憶したパーセント点ｎ％の関係式を用い、この関係式に、前記入力処理手段に記憶されたワイブルスロープｅ、試験個数Ｎ、および信頼水準Ｃを代入することで、前記必要寿命差ＬｎＲを求める必要寿命差計算手順と、
この求められた必要寿命差ＬｎＲと入力処理手順で入力された前記２水準の推定寿命または前記２水準の推定寿命から求まる前記２水準の推定寿命の差とを比較して、前記２水準の推定寿命の差が前記必要寿命差ＬｎＲ以上であれば有意差があると判定する有意差有無判定手順とを含む、
ことを特徴とする寿命試験のプログラム。
【請求項１０】
コンピュータにより実行可能であり、軸受等の機械部品またはその試験片からなる試験対象品を所定の環境条件においた状態を続ける寿命試験を行うにつき、求められた、前記試験対象品の２ロットの各推定寿命である２水準の推定寿命に有意差があると判定できる結果が得られる必要な試験個数を求める寿命試験の試験個数設計プログラムにおいて、
前記推定寿命は、各ロット毎に前記試験対象品に対して寿命試験を行い、その結果をワイブル分布の形式で表現した所定のパーセント寿命であり、
前記所定のパーセント寿命の所定のパーセント点ｎ％における、前記２水準の推定寿命に有意差があると判定するために必要な寿命差である必要寿命差ＬｎＲと、ワイブルスロープｅと、試験個数Ｎと、前記有意差の判定結果の信頼性を表す指標である信頼水準Ｃとの関係を定めた次のいずれかの関係式（１），（２），（３）を記憶した近似式設定情報と、
【数６】
0006482779.tif 000027
前記寿命試験における前記ワイブルスロープｅ、信頼水準Ｃ、必要寿命差ＬｎＲ、およびパーセント点ｎ％の入力を記憶する入力処理手順と、
前記関係式（１），（２），（３）のうちの、前記入力処理手段に記憶されたパーセント点ｎ％に該当する関係式を用い、前記入力処理手段に記憶された必要寿命差ＬｎＲ、ワイブルスロープｅ、および信頼水準Ｃを代入することで、前記試験個数Ｎを求める試験個数計算手順とを含む、
ことを特徴とする寿命試験の試験個数設計プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、軸受等の機械部品やその試験片からなる試験対象品の寿命試験において、試験結果からほんとうに有為差があるか否かの判定等を行う方法、装置、プログラム、および前記寿命試験を行う場合の必要試験個数の設計を行う方法、装置、プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、寿命試験は経験を積んだ熟練者が行っており、試験条件や試験個数を決める寿命試験の設計と寿命試験結果の解釈に対して経験的に確からしい判断ができたと考えられる。
現在、寿命試験において経験的に判断されているものの詳細を、表１に示す。
【０００３】
【表１】
0006482779.tif 000002
【０００４】
なお、ワイブル分布を機械部品の寿命判断に用いるものは、種々の特許文献，非特許文献に提案されている。
【０００５】
従来は、表１に詳細を示すように、(1) 寿命試験に必要な試験個数の設定、(2) 打切り試験における打切り時間の設定、(3) 試験結果の解釈（有意差の判断）等を熟練者が経験的に行ってきた。しかし、どれだけの試験個数を用意して、どの程度の寿命差があれば、寿命の有為差が判断できるのかという寿命試験の設計指針、打切り時間が何時間ならばどの程度のＬ１０（Ｌ５０）寿命が保証できるのか、あるいは、どの程度の寿命差があれば寿命の有為差を判断できるのかという寿命試験結果の解釈を、都度熟練者に相談しなければ決定できないという点は大きな問題である。また、これらは、寿命試験の熟練者でもしばしば判断することが難しいものであり、寿命試験の経験が少ない技術者にとっては、寿命試験の設計と寿命試験結果の解釈が困難な状況が発生すると考えられる。
【０００６】
加速試験では、試験個数の設計を試験前に設計しなければならない。加速試験では、試験個数が多いほど、算出される寿命の信頼性は高くなるが（ここでいう信頼性が高いとは、寿命のばらつきが小さいことをいう）、使用できる試機の台数や、ロットから抜き出した試験対象品を破損させてしまうことから、際限なく試験個数を増やすことはできない。加速試験の試験個数を決定する際に重要なことは、試験個数をどの程度多くすれば、どの程度信頼性の高い算出寿命が得られるかという点である。
上記のように、従来は、試験個数を決める設計を熟練者が経験的に行っており、また信頼性の確保できる試験個数を定めるには、長い時間がかかっていた。
【０００７】
また、加速試験は、上記のように破損時間から寿命を算出し、その算出寿命から性能の優劣を判定する試験であるが、２ロットの寿命試験結果から求めた算出寿命の間に、本当に有為差があるかどうかを確かめたい状況が多くある。
従来より、算出寿命の有為差判定は信頼幅という概念を使って行われてきた。しかし、この判定方法には、次のようにいくつかの問題がある。
【０００８】
まず、信頼幅は、２水準間での寿命の有意差を判断できないという問題がある。その理由は、どの程度信頼幅が重なっていたら寿命に優位差があるのかということを定量的に判断できないためである。
【０００９】
レオナード・ジー・ジョンソン（LEONARD G. JOHNSON）は、ワイブルスロープごと、試験個数ごとに、２水準間の平均寿命とＬ１０寿命の有意差を判定する方法を提案している）。しかし、その方法も、実際には使われていないのが現状である。これは、手軽な形で優位差検定を行うツールを残していないことに原因がある。
【００１０】
このように、寿命試験の設計と寿命試験結果の解釈は、熟練者を要するうえ、判断が迅速に行えず、また設定の基準が明確でなくて、試験結果の信頼性の面で不十分である。
【００１１】
従来技術を纏め直すと、転動疲労寿命試験（以下、寿命試験）では、ワイブルプロットで求まる推定寿命から寿命の優劣を判定する試験がある。寿命試験では、データは正規分布でなくワイブル分布にしたがうため、得られた推定寿命の有意差検定では、Ｆ検定による等分散の検定やt 検定による平均値の差の検定を適用できない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１２】
【特許文献１】特開２００６−０４０２０３号公報
【特許文献２】特開２００２−２７７３８２号公報
【特許文献３】特開２００５−２２６８２９号公報
【特許文献４】特開２００６−３１０９２１号公報
【非特許文献】
【００１３】
【非特許文献１】真壁肇著、信頼性工学入門７９、１９９１年発行
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
最近、ワイブル分布に従うデータに対しても推定寿命の有意差検定を行うことができる方法が開発された（特許文献４）。しかし、それらの方法は、乱数を用いた計算であるため、乱数計算を行うプログラムが必要であり、計算時間が長いという問題があった。
【００１５】
この発明は上記課題を解消するものであり、２水準の推定寿命の有意差有無の判定を、簡単な計算式を使って誰でも簡単に精度良くかつ迅速に行える装置、方法、プログラムを提案することを目的とする。
この発明の他の目的は、適切な試験個数の設計を誰でも簡単に迅速に行える装置および方法を提案することである。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
この発明の寿命試験の解釈装置は、軸受等の機械部品またはその試験片からなる試験対象品を所定の環境条件においた状態を続ける寿命試験の結果として求められた前記試験対象品の２ロットの各推定寿命である２水準の推定寿命に有意差があるか否かを判定する寿命試験の解釈装置において、
前記推定寿命は、各ロット毎に前記試験対象品に対して寿命試験を行い、その結果をワイブル分布の形式で表現した所定のパーセント寿命であり、
前記所定のパーセント寿命の所定のパーセント点ｎ％（パーセント点は10％寿命の10の数値のことで、累積破損確率と同じ意味である）における、前記２水準の推定寿命に有意差があると判定するために必要な寿命差である必要寿命差（倍率）ＬｎＲと、ワイブルスロープｅと、試験個数Ｎと、信頼水準Ｃとの関係を定めた所定の近似式、
ＬｎＲ＝（ｅ，Ｎ，Ｃ）の所定の関数
を設定した近似式設定手段１１と、
前記寿命試験における前記ワイブルスロープｅ、試験個数Ｎ、および信頼水準Ｃ、および前記２水準の推定寿命またはこの２水準の推定寿命の差の入力を記憶する入力処理手段８と、
前記近似式に、前記入力処理手段８で記憶されたワイブルスロープｅ、試験個数Ｎ、および信頼水準Ｃを代入することで、前記必要寿命差ＬｎＲを求める必要寿命差計算手段９と、
この求められた必要寿命差ＬｎＲと前記２水準の推定寿命の差とを比較して、前記２水準の推定寿命の差が前記必要寿命差ＬｎＲ以上であれば有意差があると判定する有意差有無判定手段１０とを備え、
前記近似式は、有意差有りと判定するための前記必要寿命差ＬｎＲを、ワイブル乱数を用いて計算し、この計算の結果を近似できる回帰式を用いて作成される近似式とする、
ことを特徴とする。
なお、この明細書において、「信頼水準Ｃ」とは、有意差の判定結果の信頼性を表す指標のことである。
【００１７】
この構成によると、所定のパーセント点ｎ％における、前記２水準の推定寿命に有意差があると判定するために必要な寿命差である必要寿命差ＬｎＲと、ワイブルスロープｅと、試験個数Ｎと、信頼水準Ｃとの関係を定めた所定の近似式を求めておき、この近似式にワイブルスロープｅ、試験個数Ｎ、および信頼水準Ｃを代入することで、前記必要寿命差ＬｎＲを求める。この求められた必要寿命差ＬｎＲと前記２水準の推定寿命の差とを比較して、前記２水準の推定寿命の差が前記必要寿命差ＬｎＲ以上であれば有意差があると判定する。そのため、２水準の推定寿命の有意差有無の判定を、簡単な計算式を使って、熟練者でなくても誰でも簡単に、高度な信頼性を持ってかつ迅速に行える。
前記近似式は、有意差有りと判定するための前記必要寿命差ＬｎＲを、ワイブル乱数を用いて計算し、この計算の結果を近似できる回帰式であり、必要寿命差ＬｎＲを精度良く求めることができる。すなわち、軸受等の機械部品の寿命は、ワイブル分布に従うとされている。試験対象品に対等するワイブル分布に従ったワイブル乱数を発生させた場合、その発生させた乱数は、実際に試験を行った場合の寿命に相当する。したがって、試験個数と見立てた個数だけワイブル乱数を発生させ、その結果に基づいて前記近似式を作成することで、必要寿命差ＬｎＲを求めることができる。
【００１８】
この発明の寿命試験の解釈装置において、前記所定の近似式は、次のいずれかの関係式（１），（２），（３）であっても良い。
【数１】
0006482779.tif 000003
この関係式（１），（２），（３）によると、２水準の推定寿命の有意差有無の判定を、乱数を用いた方法よりも簡単に行うことができる。
【００１９】
この発明の試験個数設計装置は、軸受等の機械部品またはその試験片からなる試験対象品を所定の環境条件においた状態を続ける寿命試験を行うにつき、求められた前記試験対象品の２ロットの各推定寿命である２水準の推定寿命に有意差があると判定できる結果が得られる必要な試験個数を求める寿命試験の試験個数設計装置において、
前記推定寿命は、各ロット毎に前記試験対象品に対して寿命試験を行い、その結果をワイブル分布の形式で表現した所定のパーセント寿命であり、
前記所定のパーセント寿命の所定のパーセント点ｎ％における、前記２水準の推定寿命に有意差があると判定するために必要な寿命差である必要寿命差ＬｎＲと、ワイブルスロープｅと、試験個数Ｎと、信頼水準Ｃとの関係を定めた所定の関係式を記憶した所定の近似式、
ＬｎＲ＝（ｅ，Ｎ，Ｃ）の所定の関数
を記憶した近似式設定手段１１と、
前記寿命試験における前記ワイブルスロープｅ、信頼水準Ｃ、および必要寿命差ＬｎＲの入力を記憶する入力処理手段８と、
前記近似式に、前記入力処理手段８で記憶された必要寿命差ＬｎＲ、ワイブルスロープｅ、および信頼水準Ｃを代入することで、前記試験個数Ｎを求める試験個数計算手段１３とを備える、
ことを特徴とする。
【００２０】
この構成によると、所定のパーセント点ｎ％における、前記２水準の推定寿命に有意差があると判定するために必要な寿命差である必要寿命差ＬｎＲと、ワイブルスロープｅと、試験個数Ｎと、信頼水準Ｃとの関係を定めた所定の関係式を記憶した所定の近似式を求めておき、この近似式にワイブルスロープｅ、信頼水準Ｃ、および必要寿命差ＬｎＲを代入することで試験個数Ｎを求める。そのため、適切な試験個数の信頼性の高い設計を、誰でも簡単に、迅速に行える。
【００２１】
この発明装置において、前記所定の近似式は、次のいずれかの関係式（１），（２），（３）であっても良い。
【数２】
0006482779.tif 000004
この関係式（１），（２），（３）によると、適切な試験個数をより一層精度良く求めることができる。
【００２２】
この発明の寿命試験の解釈方法は、軸受等の機械部品またはその試験片からなる試験対象品を所定の環境条件においた状態を続ける寿命試験の結果として求められた、前記試験対象品の２ロットの各推定寿命である２水準の推定寿命に有意差があるか否かを判定する寿命試験の解釈方法において、
前記推定寿命は、各ロット毎に前記試験対象品に対して寿命試験を行い、その結果をワイブル分布の形式で表現した所定のパーセント寿命であり、
前記所定のパーセント寿命の所定のパーセント点ｎ％における、前記２水準の推定寿命に有意差があると判定するために必要な寿命差である必要寿命差ＬｎＲと、ワイブルスロープｅと、試験個数Ｎと、信頼水準Ｃとの関係を定めた所定の近似式、
ＬｎＲ＝（ｅ，Ｎ，Ｃ）の所定の関数
を準備する近似式準備過程と、
前記近似式に、ワイブルスロープｅ、試験個数Ｎ、および信頼水準Ｃを代入することで、前記必要寿命差ＬｎＲを求める必要寿命差計算過程（Ｓ２）と、
この求められた必要寿命差ＬｎＲと前記２水準の推定寿命の差とを比較して、前記２水準の推定寿命の差が前記必要寿命差ＬｎＲ以上であれば有意差があると判定する有意差有無判定過程（Ｓ３）とを含み、
前記近似式は、有意差有りと判定するための前記必要寿命差ＬｎＲを、ワイブル乱数を用いて計算し、この計算の結果を近似できる回帰式を用いて作成される近似式とする、
ことを特徴とする。
【数３】
0006482779.tif 000005
この関係式（１），（２），（３）によると、２水準の推定寿命の有意差検定を、より一層精度良く行うことができる。
【００２３】
この方法によると、所定のパーセント点ｎ％における、前記２水準の推定寿命に有意差があると判定するために必要な寿命差である必要寿命差ＬｎＲと、ワイブルスロープｅと、試験個数Ｎと、信頼水準Ｃとの関係を定めた所定の近似式を求めておき、この近似式にワイブルスロープｅ、試験個数Ｎ、および信頼水準Ｃを代入することで、前記必要寿命差ＬｎＲを求める。この求められた必要寿命差ＬｎＲと前記２水準の推定寿命の差とを比較して、前記２水準の推定寿命の差が前記必要寿命差ＬｎＲ以上であれば有意差があると判定するそのため、２水準の推定寿命の有意差検定を、簡単な計算式を使って誰でも簡単に精度良くかつ迅速に行える。
【００２４】
この発明の寿命試験の解釈方法において、前記所定の近似式は、次のいずれかの関係式（１），（２），（３）であっても良い。
【数３】
0006482779.tif 000006
この関係式（１），（２），（３）によると、２水準の推定寿命の有意差検定を、より一層精度良く行うことができる。
【００２６】
この発明の試験個数設計方法は、軸受等の機械部品またはその試験片からなる試験対象品を所定の環境条件においた状態を続ける寿命試験を行うにつき、求められた前記試験対象品の２ロットの各推定寿命である２水準の推定寿命に有意差があると判定できる結果が得られる必要な試験個数を求める寿命試験の試験個数設計方法において、
前記推定寿命は、各ロット毎に前記試験対象品に対して寿命試験を行い、その結果をワイブル分布の形式で表現した所定のパーセント寿命であり、
前記所定のパーセント寿命の所定のパーセント点ｎ％における、前記２水準の推定寿命に有意差があると判定するために必要な寿命差である必要寿命差ＬｎＲと、ワイブルスロープｅと、試験個数Ｎと、信頼水準Ｃとの関係を定めた所定の近似式、
ＬｎＲ＝（ｅ，Ｎ，Ｃ）の所定の関数
を準備する近似式準備過程（Ｔ１）と、
前記近似式に、必要寿命差ＬｎＲ、ワイブルスロープｅ、および信頼水準Ｃを代入することで、前記試験個数Ｎを求める試験個数計算過程（Ｔ３）とを含み、
前記近似式は、有意差有りと判定するための必要寿命差ＬｎＲを、ワイブル乱数を用いて計算し、この計算の結果を近似できる回帰式を用いて作成した近似式とする、
ことを特徴とする。
【００２７】
この方法によると、所定のパーセント点ｎ％における、前記２水準の推定寿命に有意差があると判定するために必要な寿命差である必要寿命差ＬｎＲと、ワイブルスロープｅと、試験個数Ｎと、信頼水準Ｃとの関係を定めた所定の近似式を求めておき、この近似式に必要寿命差ＬｎＲ、ワイブルスロープｅ、および信頼水準Ｃを代入することで試験個数Ｎを求めるため、適切な試験個数の設計を誰でも簡単に迅速に行える。
【００２８】
この発明の試験個数設計方法において、前記所定の近似式は、次のいずれかの関係式（１），（２），（３）であっても良い。
【数４】
0006482779.tif 000007
この関係式（１），（２），（３）によると、試験個数をより一層精度良く求めることができる。
【００２９】
この発明の寿命試験の解釈プログラム１は、軸受等の機械部品またはその試験片からなる試験対象品を所定の環境条件においた状態を続ける寿命試験の結果として求められた、前記試験対象品の２ロットの各推定寿命である２水準の推定寿命に有意差があるか否かを判定する寿命試験の解釈プログラムにおいて、
前記推定寿命は、各ロット毎に前記試験対象品に対して寿命試験を行い、その結果をワイブル分布の形式で表現した所定のパーセント寿命であり、
前記所定のパーセント寿命の所定のパーセント点ｎ％における、前記２水準の推定寿命に有意差があると判定するために必要な寿命差である必要寿命差ＬｎＲと、ワイブルスロープｅと、試験個数Ｎと、信頼水準Ｃとの関係を定めた次のいずれかの関係式（１），（２），（３）を記憶した近似式設定情報１１Ａと、
【数５】
0006482779.tif 000008
前記寿命試験における前記ワイブルスロープｅ、試験個数Ｎ、および信頼水準Ｃ、並びに有意差を求めるパーセント点ｎ％の入力を記憶する入力処理手順Ｓ１と、
前記関係式（１），（２），（３）のうち、前記入力処理手順Ｓ１で記憶したパーセント点ｎ％の関係式を用い、この関係式に、前記入力処理手段Ｓ１で記憶されたワイブルスロープｅ、試験個数Ｎ、および信頼水準Ｃを代入することで、前記必要寿命差ＬｎＲを求める必要寿命差計算手順Ｓ２と、
この求められた必要寿命差ＬｎＲと入力処理手順で入力された前記２水準の推定寿命または前記２水準の推定寿命から求まる前記２水準の推定寿命の差とを比較して、前記２水準の推定寿命の差が前記必要寿命差ＬｎＲ以上であれば有意差があると判定する有意差有無判定手順Ｓ３とを含む。
【００３０】
この構成のプログラム１によると、所定のパーセント点ｎ％における、前記２水準の推定寿命に有意差があると判定するために必要な寿命差である必要寿命差ＬｎＲと、ワイブルスロープｅと、試験個数Ｎと、信頼水準Ｃとの関係を定めた所定の近似式を求めておき、この近似式にワイブルスロープｅ、試験個数Ｎ、および信頼水準Ｃを代入することで、前記必要寿命差ＬｎＲを求める。この求められた必要寿命差ＬｎＲと前記２水準の推定寿命の差とを比較して、前記２水準の推定寿命の差が前記必要寿命差ＬｎＲ以上であれば有意差があると判定するそのため、２水準の推定寿命の有意差検定を、誰でも簡単に精度良くかつ迅速に行える。
【００３１】
この発明の試験個数設計プログラム２は、軸受等の機械部品またはその試験片からなる試験対象品を所定の環境条件においた状態を続ける寿命試験を行うにつき、前記試験対象品の２ロットの各推定寿命である求められた２水準の推定寿命に有意差があると判定できる結果が得られる必要な試験個数を求める寿命試験の試験個数設計プログラム２において、
前記推定寿命は、各ロット毎に前記試験対象品に対して寿命試験を行い、その結果をワイブル分布の形式で表現した所定のパーセント寿命であり、
前記所定のパーセント寿命の所定のパーセント点ｎ％における、前記２水準の推定寿命に有意差があると判定するために必要な寿命差である必要寿命差ＬｎＲと、ワイブルスロープｅと、試験個数Ｎと、信頼水準Ｃとの関係を定めた次のいずれかの関係式（１），（２），（３）を記憶した近似式設定情報１１Ａと、
【数６】
0006482779.tif 000009
前記寿命試験における前記ワイブルスロープｅ、信頼水準Ｃ、必要寿命差ＬｎＲ、およびパーセント点ｎ％の入力を記憶する入力処理手順Ｔ１と、
前記関係式（１），（２），（３）のうちの、前記入力処理手段に記憶されたパーセント点ｎ％に該当する関係式を用い、前記入力処理手段に記憶された必要寿命差ＬｎＲ、ワイブルスロープｅ、および信頼水準Ｃを代入することで、前記試験個数Ｎを求める試験個数計算手順Ｔ３とを含む。
【００３２】
この方法によると、所定のパーセント点％における、前記２水準の推定寿命に有意差があると判定するために必要な寿命差である必要寿命差ＬｎＲと、ワイブルスロープｅと、試験個数Ｎと、信頼水準Ｃとの関係を定めた所定の近似式を求めておき、この近似式に必要寿命差ＬｎＲ、ワイブルスロープｅ、および信頼水準Ｃを代入することで試験個数Ｎを求めるため、適切な試験個数の設計を誰でも簡単に迅速に行える。
【発明の効果】
【００３３】
この発明の寿命試験の解釈装置、方法、プログラムによると、２水準の推定寿命の有意差有無の判定を、誰でも簡単に精度良くかつ迅速に行える。
この発明の寿命試験の試験個数設計装置、方法、プログラムによると、適切な試験個数の設計を誰でも簡単に迅速に行える。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１】この発明の一実施形態に係る寿命試験の解釈方法，試験個数設計方法を示す概要の流れ図である。
【図２】同方法における近似式作成過程を示す流れ図である。
【図３】試験個数Ｎ、信頼水準Ｃ、パーセント点ｎの条件を変えたときのワイブルスロープｅと必要寿命差ＬｎＲの関係を、ワイブル乱数を用いて計算した結果のグラフである。
【図４】信頼水準Ｃ、各パーセント点ｎの条件を変えたときの試験個数Ｎと必要寿命差ＬｎＲの関係を、ワイブル乱数を用いて計算した結果（ｅ＝１．１）を示すグラフである。
【図５】試験個数Ｎ、各パーセント点ｎの条件を変えたときの信頼水準Ｃと必要寿命差ＬｎＲの関係を、ワイブル乱数を用いて計算した結果のグラフである。
【図６】ワイブル乱数を用いて計算した必要寿命差と（５）〜（７）式で計算した必要寿命差との相関図である。
【図７】同実施形態に係る解釈プログラムの流れ図である。
【図８】同実施形態に係る試験個数設計プログラムの流れ図である。
【図９】同実施形態に係る解釈および試験個数設計装置の概要の説明図である
【図１０】同解釈および試験個数設計装置の概念構成のブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００３５】
この発明の一実施形態に係る寿命試験の解釈および設計の方法，装置，プログラムにつき、図面と共に説明する。
この実施形態で対象とする寿命試験は、軸受等の機械部品またはその試験片からなる試験対象品を所定の環境条件においた状態を続ける試験であり、前記打切り試験および加速試験のいずれであっても良い。
この寿命試験の解釈および設計の方法は、図１に示すように、近似式作成過程Ｑ１と、近似式利用過程Ｑ２とを含む。この近似式利用過程Ｑ２に、寿命試験の解釈方法と寿命試験の試験個数設計方法とが含まれる。
【００３６】
近似式作成過程Ｑ１では、ワイブルプロットで求めた２水準の推定寿命に有意差があると判定するために必要な寿命差（以下、「必要寿命差」と称す場合がある）の近似式を導出する。近似式の導出は、図２に示す以下のステップＲ１〜Ｒ３で求める。
ステップＲ１では、ワイブル乱数を用いて必要寿命差を各種条件（試験個数等）で計算する。
ステップＲ２では、各種条件と必要寿命差の関係について考察し、近似式としてふさわしい式の形を決定する。
ステップＲ３では、ステップＲ２で得た式で必要寿命差を回帰分析し、近似式を得る。
【００３７】
ステップＲ１を具体的に説明する。
図３に、試験個数Ｎ、信頼水準Ｃ、パーセント点ｎの条件を変えたときのワイブルスロープｅと必要寿命差ＬｎＲの関係を、ワイブル乱数を用いて計算した結果を示す。同図から、必要寿命差はワイブルスロープが大きくなると１に近づくという性質があることが分かる。また、必要寿命差とワイブルスロープには、試験個数Ｎ、信頼頼水準Ｃ、各パーセント点ｎの値とは無関係に、１／ｅを指数としてｅが増加するに従って指数関数的に減少するという、以下の関係式が成立することを見出した。
【００３８】
【数７】
0006482779.tif 000010
【００３９】
図４に、信頼水準Ｃ、各パーセント点ｎの条件を変えたときの試験個数Ｎと必要寿命差ＬｎＲの関係を、ワイブル乱数を用いて計算した結果を示す。同図から、必要寿命差は試験個数が多くなると１に近づくという性質があることが分かる。また、試験個数と必要寿命差の関係は（５）式で近似できることを見出した。（５）式のａ，ｂ，ｃの定数は信頼水準Ｃと各パーセント点nＮによって変化する定数である。
【００４０】
【数８】
0006482779.tif 000011
【００４１】
図５に、試験個数Ｎ、各パーセント点ｎの条件を変えたときの信頼水準Ｃと必要寿命差ＬｎＲの関係を、ワイブル乱数を用いて計算した結果を示す。図から、必要寿命差は信頼水準Ｃが１００％に近づくにつれて指数関数的に大きくなることが分かる。また、試験個数と必要寿命差の関係は（６）式で近似できることを見出した。
【００４２】
【数９】
0006482779.tif 000012
【００４３】
ステップＲ２では、ステップＲ１の結果を踏まえて、（４）〜（６）的の関係を全て満たすことができる必要寿命差ＬｎＲ、ワイブルスロープｅ、試験個数Ｎ、信頼水準Ｃの関係式を（７）と仮定する。
【００４４】
【数１０】
0006482779.tif 000013
【００４５】
ステップＲ３では、（７）式を使って、ワイブル乱数を用いて計算した必要寿命差を回帰分析した。なお、計算はワイブルスロープｅを０．５、１．０、２、３、５、８、１０試験個数Ｎを３〜５０、信頼水準Ｃを８０、９０、９２、９５、９８、９９に変化させて行った。
回帰分析の結果、それぞれのパーセント点に対して必要寿命差を計算できる（１）〜（３）式を得た。
【００４６】
【数１１】
0006482779.tif 000014
【００４７】
表２（表２Ａ、２Ｂ）〜表４（表４Ａ、４Ｂ）は、試験個数と必要寿命差の関係を、ワイブル乱数を用いて計算した結果と（１）〜（３）式を用いて計算した結果の両方を示した。また、表１、２、３は、パーセント点１０％、パーセント点５０％、パーセント点６３．２％に対する計算結果であり、各表には信頼水準を８０、９０、９９％の3種類の条件で計算した結果を示した。表２〜表４は、いずれも２つの表に分割した。紙面の都合ですべての計算結果を示すことはできないが、ワイブル乱数を用いた計算結果と（１）〜（３）式で得られた計算結果は、ほとんどの条件でほぼ一致している。図６にワイブル乱数を用いた計算で得られた必要寿命差と（１）〜（３）式で得られた必要寿命差との相関図を示す。相関図で見ても、両者の計算結果の差は極めて小さいことが分かる。
【００４８】
【表２Ａ】
0006482779.tif 000015
【００４９】
【表２Ｂ】
0006482779.tif 000016
【００５０】
【表３Ａ】
0006482779.tif 000017
【００５１】
【表３Ｂ】
0006482779.tif 000018
【００５２】
【表４Ａ】
0006482779.tif 000019
【００５３】
【表４Ｂ】
0006482779.tif 000020
【００５４】
上記の近似式（１）〜（３）は、信頼水準とワイブルスロープの値を設定すれば、必要寿命差と試験個数の関係を示すので、試験個数の目安を知りたいときにも利用できる。もしも、「ワイブルスロープが３程度のばらつきがある試験での寿命比較では、２倍以上の寿命差があれば、９０％の信頼水準で有意差有りと判定してもよいといえる程度のデータの信頼性がほしい」という考えがある場合、近似式のワイブルスロープに３、信頼水準に９０、必要寿命差に２を入力すれば試験個数が一義的に決まる。
【００５５】
つぎに、図１の近似式の利用仮定Ｑ２となる寿命試験の解釈方法および試験個数設計方法を、その実施に用いるプログラムおよび装置と共に説明する。
この寿命試験の解釈方法では、図７に示す寿命試験の解釈プログラム１を、この寿命試験の試験個数設計方法では、図８に示す寿命試験の試験個数設計プログラム２をそれぞれ用いる。これら寿命試験の解釈プログラム１および試験個数設計プログラム２は、いずれもコンピュータにより実行可能なプログラムであり、図９に示すように、コンピュータ３の記憶手段５にインストールされることなどで実行可能状態に記憶される。コンピュータ３はパーソナルコンピュータ等であり、中央処理装置（ＣＰＵ）４および記憶手段５を持ち、ＯＳ（オペレーションプログラム）（図示せず）を有する本体と、入力装置６と、出力装置７とを備える。前記記憶手段５は、ハードディスクやＳＳＤ（ソリッドステートドライプ）の他、メモリ素子等を含む。前記入力装置６は、キーボードやマウス等のオペレータが操作して入力する機器、および通信により入力する機器を含む。前記出力装置７は、液晶ディスプレイ等の画像を表示する表示装置や、プリンタ、通信により出力する機器等である。
【００５６】
図１０は、前記コンピュータ３に前記寿命試験の解釈プログラム１および試験個数設計プログラム２を実行可能に備えることで構成された寿命試験の解釈装置兼試験個数設計装置の概念構成を示す。同図の解釈装置兼試験個数設計装置は、寿命試験の解釈装置として機能するモードと、寿命試験の試験個数設計装置として機能するモードとに、入力装置６からの所定の入力により切換可能とされる。
【００５７】
図７において、寿命試験の解釈プログラム１は、寿命試験の結果として求められた２水準の推定寿命に有意差があるか否かを判定するプログラムであって、入力処理手順Ｓ１、必要寿命差計算手順Ｓ２、有意差有無判定手順Ｓ３、および判定結果出力手順Ｓ４を含み、必要寿命差計算手順Ｓ２で用いる近似式設定情報１１Ａを備えている。近似式設定情報１１Ａは、換言すれば必要寿命差計算手順Ｓ２の一部である。
【００５８】
前記入力処理手順Ｓ１、必要寿命差計算手順Ｓ２、有意差有無判定手順Ｓ３、および判定結果出力手順Ｓ４をそれぞれ実行する機能達成手段が、図１０の入力処理手段８、必要寿命計算手段９、有意差有無判定手段１０、および出力処理手順１０である。
また、寿命試験の解釈方法を説明すると、前記近似式設定情報１１Ａを準備する過程が近似式準備過程、前記必要寿命差計算手順Ｓ２を実行する過程が必要寿命差計算手順、有意差有無判定手順Ｓ３を実行する過程が有意差有無判定過程である。
【００５９】
図７の近似式設定情報１１Ａは、所定のパーセント点ｎ％における、前記２水準の推定寿命に有意差があると判定するために必要な寿命差である必要寿命差ＬｎＲと、ワイブルスロープｅと、試験個数Ｎと、信頼水準Ｃとの関係を定めた所定の近似式、
ＬｎＲ＝（ｅ，Ｎ，Ｃ）の所定の関数
を定めた情報である。この近似式設定情報１１Ａを記憶した手段が、図１０の近似式設計手段１１である。
【００６０】
前記所定の近似式は、この実施形態では前記式（１）〜（３）を用いており、同近似式を再度示す。
【数１２】
0006482779.tif 000021
なお、前記所定の近似式は、前記式（１）〜（３）に限らず、有意差有りと判定するための前記必要寿命差ＬｎＲを、ワイブル乱数を用いて計算し、この計算の結果を近似できる回帰式を用いて作成される近似式であれば良い。
【００６１】
前記入力処理手順Ｓ１では、前記寿命試験における前記ワイブルスロープｅ、試験個数Ｎ、および信頼水準Ｃ、並びに有意差を求めるパーセント点ｎ％の入力を促す画面を出力装置７（図１０）となる画面表示装置に表示し、これに応じて入力された各値を記憶部８ａに記憶する。この入力を促す画面を出力する手段が入力促し画面出力部８ｂであり、入力された各値を記憶部８ａに記憶する手段が入力処理部８ｃである。入力処理手段８は、これら記憶部８ａ、入力促し画面出力部８ｂ、および入力処理部８ｃにより構成される。前記入力を促す画面は、例えばワイブルスロープｅ等の項目を示す文字と、ワイブルスロープｅ等の値を示す記入欄または選択欄等とされる。
【００６２】
図７の必要寿命差計算手順（Ｓ２）では、前記関係式（１），（２），（３）のうち、前記入力処理手順Ｓ１で記憶したパーセント点ｎ％の関係式（例えばパーセント点1０％であれば関係式（１））を用い、この関係式に、前記入力処理手段Ｓ１で記憶されたワイブルスロープｅ、試験個数Ｎ、および信頼水準Ｃを代入することで、前記必要寿命差ＬｎＲを求める。
【００６３】
有意差有無判定手順Ｓ３では、この求められた必要寿命差ＬｎＲと入力処理手順Ｓ１で入力された前記２水準の推定寿命または前記２水準の推定寿命から求まる前記２水準の推定寿命の差とを比較して、前記２水準の推定寿命の差が前記必要寿命差ＬｎＲ以上であれば有意差がありと判定し、必要寿命差ＬｎＲ未満であれば有意差無しと判定する。
判定結果出力手順Ｓ４では、このように判定した有意差有りまたは有意差無しの結果を、図１０の出力装置７となる画面表示装置に表示する。
【００６４】
このように、前記近似式（１）〜（３）を用いて必要寿命差ＬｎＲを求め、この求めた必要寿命差ＬｎＲと判断すべき２水準の推定寿命の差とを比較することで、２水準の推定寿命に有意差があるか否かの判定を、誰でも簡単に、高い信頼性を持って求めることができる。
【００６５】
前記近似式（１）〜（３）は、信頼水準Ｃとワイブルスロープｅの値を設定すれば、必要寿命差ＬｎＲと試験個数Ｎの関係を示すため、試験個数Ｎの目安を知りたいときにも利用できる。
そこで、この実施形態の装置では、同じ近似式（１）〜（３）を用い、モード切換により、有意差有無の判定と試験個数Ｎの設計との両方が行えるようにしている。
【００６６】
図８において、試験個数設計プログラム２は、寿命試験を行うにつき、求められた２水準の推定寿命に有意差があると判定できる結果が得られる必要な試験個数Ｎを求めるプログラムであって、入力処理手順Ｔ１と、試験個数計算手順Ｔ２と、試験個数出力手順Ｔ３とを備え、近似式設定情報１１Ａを備えている。近似式設定情報１１Ａは、換言すれば試験個数計算手順Ｔ２の一部である。近似式設定情報１１Ａは、前記寿命試験の解釈プログラム１（図７）における近似式設定情報１１Ａと同じである。
【００６７】
前記入力処理手順Ｔ１、試験個数計算手順Ｔ２、および試験個数出力手順Ｔ３をそれぞれ実行する機能達成手段が、図１０の入力処理手段８、試験個数計算手段１３、および出力処理手段１０である。同図の入力処理手段８および出力処理手段１０、並びに近似式設定手段１１は、寿命試験の解釈プログラム１の実行と試験個数設計プログラム２の実行との両方に用いられる手段となる。
また、寿命試験の設計方法を説明すると、前記近似式設定情報１１Ａを準備する過程が近似式準備過程であり、前記試験個数計算手順Ｔ２を実行する過程が試験個数計算過程である。
【００６８】
図８において、入力処理手順Ｔ３は、寿命試験における前記ワイブルスロープｅ、信頼水準Ｃ、必要寿命差ＬｎＲ、およびパーセント点ｎ％の入力を促す画面を出力装置７（図１０）となる画面表示装置に表示し、これに応じて入力された各値を記憶部８ａに記憶する。
【００６９】
試験個数計算手順Ｔ２では、前記関係式（１），（２），（３）のうちの、前記入力処理手順Ｔ１で記憶されたパーセント点ｎ％に該当する関係式を用い、前記入力処理手順Ｔ１で記憶された必要寿命差ＬｎＲ、ワイブルスロープｅ、および信頼水準Ｃを代入することで、前記試験個数Ｎを求める。
【００７０】
試験個数出力手順Ｔ３では、このように計算した試験個数を、図１０の出力装置７となる画面表示装置に表示する。
このようにして、寿命試験の試験個数Ｎを、だれでもが簡単に知ることができる。
【符号の説明】
【００７１】
１…解釈プログラム
２…試験個数設計プログラム
３…コンピュータ
６…入力装置
７…出力装置
８…入力処理手段
９…必要寿命計算手段
１０…有意差有無判定手段
１１…近似式設定手段
１１Ａ…近似式設定情報
１２…出力処理手段
１３…試験個数計算手段
【図１】
0006482779.tif 000028
【図２】
0006482779.tif 000029
【図３】
0006482779.tif 000030
【図４】
0006482779.tif 000031
【図５】
0006482779.tif 000032
【図６】
0006482779.tif 000033
【図７】
0006482779.tif 000034
【図８】
0006482779.tif 000035
【図９】
0006482779.tif 000036
【図１０】
0006482779.tif 000037