(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
フィルム状基材の一端部に複数の電極パターンが配置され、複数の電極パターンより他端部に向け、配線パターンが配置され、複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間に線状の導体パターンよりなるコモンパターンが配置され、複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間を折り曲げたときにコモンパターンが配線パターン部端部と重なることによって、コモンパターンと電極パターンとの間の導通が測定され、配線パターン間のショートの有無が測定されることを特徴とするフィルム状タッチパネルセンサー。
【請求項２】
コモンパターンが、線部分と分離部分からなる破線状の導体パターンであって、線部分の長さが隣接した配線パターン間を接続する長さであることを特徴とする請求項１に記載のフィルム状タッチパネルセンサー。
【請求項３】
複数の配線パターン端部とコモンパターンとの間に切り目線が設けられたことを特徴とする請求項１または２に記載のフィルム状タッチパネルセンサー。
【請求項４】
請求項１に記載のフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法であって、
複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間を折り曲げ、配線パターン端部とコモンパターンとを接続する工程と、
電極パターン部とコモンパターン部との導通の有無を測定する工程とを有することを特徴とするフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法。
【請求項５】
請求項１に記載のフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法であって、
複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間をフィルム基材の裏面に向け折り曲げ、配線パターン端部とコモンパターンとを重ねる工程と、
電極パターン部とコモンパターン部との間の静電容量を求め、配線パターン間のショートの有無を測定する工程とを有する
ことを特徴とするフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法。
【請求項６】
請求項２に記載のフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法であって、
複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間を折り曲げ、配線パターン端部とコモンパターンとを接続する工程と、
コモンパターンで接続された隣接した複数の配線パターンの、電極パターン部間の導通の有無を測定する工程とを有する
ことを特徴とするフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法。
【請求項７】
複数の配線パターン端部とコモンパターンとの間に切り目線が設けられ、測定後に切り離す工程を有することを特徴とする請求項４〜６のいずれか１項に記載のフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、フィルム状タッチパネルセンサーおよびその検査方法に関し、特にその配線パターンの検査に関する。
【背景技術】
【０００２】
タッチパネルは、画面に表示された図や文字などのパターンを指やペンでタッチすることによって、装置の操作が出来るもので、近年特にモバイル装置を主とした表示装置に用いられるようになった。
【０００３】
図９は、従来の静電容量式のタッチパネルの一例を示した説明図で、（ａ）は上方から見た説明図、（ｂ）は、図（ａ）のＡＡ’部分を断面で見た説明図である。
【０００４】
静電容量タッチパネル１００は、横方向に平行に配置された複数の透明導電線（配線パターン）と、縦方向に平行に配置された複数の透明導電線（配線パターン）とを、マトリクス状にガラス基板に設けた構成をしている。それぞれの導電線は、タッチされたときの、透明導電間の静電容量、あるいは電界の変化を受ける電極となっている。図９では、横方向の透明導電線をドライブライン、縦方向の透明導電線をセンシングラインとしている。図１０は、ドライブ基板（Ｄ基板）とセンシング基板(Ｓ基板)とを上面で見た説明図である。ガラス基板にドライブライン電極を設けたドライブ基板に(図１０(ｂ))、ガラス基板にセンシングラインを設けたセンシング基板を(図１０(ａ))、ドライブライン電極とセンシング基板のガラス基板との間で、光学粘着シートＯＣＡ(Optically  Clear  Adhesive)で積層している。センシング基板の表面は、ＯＣＡを介してフロントガラス（図では表面硝子板と表示）で覆われている。フロントガラスは、静電容量タッチパネル１００の表面を形成し、保護する役目をしている。フロントガラスの裏面は、表示部分を除く周辺に、黒色の枠が設けられている。各電極は、黒枠の部分でセンシング電極部、ドライブ電極部としてまとめられ、表示装置と電気接続される。
【０００５】
このような構成で、フロントガラス上で、たとえば指で触れた場合、それにより接触した部位で静電容量の変化、あるいはそれによる電界の変化を、センシング電極と、ドライブ電極とに出力され、その座標値を知ることが出来る。これから、表示装置でその操作内容が特定される。すなわち、タッチパネルからの信号の読み取りは、ドライブラインからパルス波形を与え、センシングラインで感知する。両ラインをそれぞれ、スキャニングして信号を与え、感知して、変化した部位を読み取る。一般には、感知した信号を加工して検知する。
【０００６】
なお近年、実際のタッチパネルの構成としては、このようなドライブ基板やセンシング基板はフィルム状基材にパターンを形成しタッチパネルセンサーとし、ガラス基板に貼り付けた構成としているものが多い。また、フィルム状基材にパターン形成したそのものを基板として利用している場合もある。
【０００７】
このように配線された基板は、その配線パターンの断線や短絡を検査する必要がある。このため、例えば電極部の電極パターンと電極（配線パターン）端部とにプローブを当て、導通検査を行う。しかし、これでは時間がかかるため、たとえば、図１１に示すように隣接する配線パターンの端部を導電線からなる補助パターンで接続したものをタッチパネルセンサーとしておく。そして、隣接する配線パターンに接続された電極部の電極を、プローブを当て、導通検査を行う。この後、良好であれば、補助パターンを除去する。これは、エッチングによる方法や、補助パターンをフィルム状基材と共に切断する方法などに
よる。このように、いろいろな補助パターンを設け検査し、後にそれを除去する方法が採用されている(特許文献１)。
【０００８】
本従来例では、静電容量方式のタッチパネルで説明したが、この検査については、抵抗方式の配線パターンでも、同様の方法でタッチパネルセンサーの検査を実施している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開２０１３−１８７２９２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
このようにして配線パターンを検査する方法では、検査の後に配線パターンに接続した補助パターンを削除する必要がある。また削除することによって、補助パターンを形成する導体(金属)紛が発生し、配線パターンを毀損したり、ショートする恐れがある。
【００１１】
本発明は、このような問題を解決するもので、検査後、補助パターンを除去せずともよく、また除去しても導体（金属）粉の発生しないフィルム状タッチパネルセンサーおよびその検査方法を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明は係る課題に鑑みなされたものであり、請求項１の発明は、
フィルム状基材の一端部に複数の電極パターンが配置され、複数の電極パターンより他端部に向け、配線パターンが配置され、複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間に線状の導体パターンよりなるコモンパターンが配置され、コモンパターンは、複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間を折り曲げたときに配線パターン部端部と重なるように配置されたことを特徴とするフィルム状タッチパネルセンサー
としたものである。
【００１３】
本発明の請求項２の発明は、
コモンパターンが、線部分と分離部分からなる破線状の導体パターンであって、線部分の長さが隣接した複数の配線パターン間を接続する長さであることを特徴とする請求項１に記載のフィルム状タッチパネルセンサーとしたものである。
【００１４】
本発明の請求項３の発明は、
複数の配線パターン端部とコモンパターンとの間に切り目線が設けられたことを特徴とする請求項１または２に記載のフィルム状タッチパネルセンサーとしたものである。
【００１５】
本発明の請求項４の発明は、
請求項１に記載のフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法であって、
複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間を折り曲げ、配線パターン端部とコモンパターンとを接続する工程と、
電極パターン部とコモンパターン部との導通の有無を測定する工程とを有する
ことを特徴とするフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法としたものである。
【００１６】
本発明の請求項５の発明は、
請求項１に記載のフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法であって、
複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間をフィルム基材の裏面に向け折り曲げ、配線パターン端部とコモンパターンとを重ねる工程と、
電極パターン部とコモンパターン部との静電容量を求め、配線パターン間のショートの有無を測定する工程とを有する
ことを特徴とするフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法としたものである。
【００１７】
本発明の請求項６の発明は、
請求項２に記載のフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法であって、
複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間を折り曲げ、配線パターン端部とコモンパターンとを接続する工程と、
コモンパターンで接続された隣接した複数の配線パターンの、電極パターン部間の導通の有無を測定する工程とを有する
ことを特徴とするフィルム状タッチパネルセンサーとしたものである。
【００１８】
本発明の請求項７の発明は、
複数の配線パターン端部とコモンパターンとの間に切り目線が設けられ、測定後に切り離す工程を有することを特徴とする請求項４〜６のいずれかに記載のフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法としたものである。
【発明の効果】
【００１９】
本発明の請求項１に記載のフィルム状タッチパネルセンサーは以上のような構成であって、複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間に線状の導体パターンよりなるコモンパターン（補助パターン）が配置され、コモンパターンは、複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間を折り曲げたときに配線パターン部端部と重なるように配置されている。
【００２０】
これから、複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間を折り曲げ、配線パターン部端部と重ねることによって、コモンパターンで複数の配線パターン端部を接続できる。これにより、各配線パターンに接続された電極パターンとコモンパターンとの間の導通状態を測定し、配線パターンの断線を検査できる。そして、コモンパターンと配線パターンは折り曲げない状態では、接続されておらず絶縁されているので、検査後にコモンパターン部分を分離する必要が無い。この場合、従来より、工程数を減少できる。また、分離しても、コモンパターンと複数の配線パターン端部との間には接続パターンが形成されておらず、フィルム状基材のみを切断・分離するので、金属粉などが発生しない、などの効果が得られるフィルム状タッチパネルセンサーである。
【００２１】
本発明の請求項２に記載のフィルム状タッチパネルセンサーは以上のような構成であって、コモンパターンが、線部分と分離部分からなる破線状の導体パターンで、線部分の長さが隣接した複数の配線パターン間を接続する長さである請求項１に記載のフィルム状タッチパネルセンサーとしている。
【００２２】
これから、複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間を折り曲げ、配線パターン部端部と重ねることによって、コモンパターンで隣接する複数の配線パターン端部を接続できる。これにより、コモンパターンで接続された隣接する複数の配線パターンに接続された電極パターン間の導通状態を測定し、配線パターンの断線を検査できる。これにより、検査回数を減少できる。そして、コモンパターンと配線パターンは折り曲げない状態では、接続されておらず絶縁されているので、検査後にコモンパターン部分を分離する必要が無い。また、分離しても、コモンパターンと複数の配線パターン端部との間には接続パターンが形成されて折らず、フィルム状基材のみを切断・分離するので、金属粉などが発生しない、などの効果が得られるフィルム状タッチパネルセンサーである。
【００２３】
本発明の請求項３に記載のフィルム状タッチパネルセンサーは、複数の配線パターン端
部とコモンパターンとの間に切り目線が設けられたことを特徴とする請求項１または２に記載のフィルム状タッチパネルセンサーとしている。
【００２４】
複数の配線パターン端部とコモンパターンとの間に切り目線が設けられたことによって、さらに、分離が容易であるという効果を有する。
【００２５】
本発明の請求項４に記載のフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法は、請求項１に記載のフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法であって、複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間を折り曲げ、配線パターン端部とコモンパターンとを接続する工程と、電極パターン部とコモンパターン部との導通の有無を測定する工程とを有する。
【００２６】
このような方法により、コモンパターンと配線パターンは折り曲げない状態では、接続されておらず絶縁されているので、検査後にコモンパターン部分を分離する必要が無い。また、分離しても接続パターンが形成されて折らずフィルム状基材のみを切断・分離するので、金属粉などが発生しない、などの効果が得られるフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法である。
【００２７】
本発明の請求項５に記載のフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法は、請求項１に記載のフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法であって、
複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間をフィルム基材の裏面に向け折り曲げ、配線パターン端部とコモンパターンとを重ねる工程と、
電極パターン部とコモンパターン部との静電容量を求め、配線パターン間のショートの有無を測定する工程と、を有する。
【００２８】
このように裏面に向け折り曲げ、電極パターン部とコモンパターン部とで基材フィルムを挟む事によって容易に静電容量を形成でき、そしてこの容量値を計測することにより、配線パターン間のショートの有無を判断できる。すなわち、配線パターンがショートした場合、静電容量を形成する電極パターンが変化するので、容量値が変化し、ショートの有無を判断できる。
【００２９】
本発明の請求項６のフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法は、
請求項２に記載のフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法であって、
複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間を折り曲げ、配線パターン端部とコモンパターンとを接続する工程と、
コモンパターンで接続された隣接した複数の配線パターンの、電極パターン部間の導通の有無を測定する工程と、を有する。
【００３０】
このようにして、隣接した複数の配線パターンの電極パターン部間の導通の有無を測定することによって、隣接した複数の配線パターン両方の断線を判断できる。このため、全配線パターンの半分の回数で測定し、段線の判断できる。
【００３１】
本発明の請求項７のフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法は、
複数の配線パターン端部とコモンパターンとの間に切り目線が設けられ、測定後に切り離す工程を有する請求項４〜６のいずれかに記載のタッチパネルセンサーの検査方法である。
【００３２】
複数の配線パターン端部とコモンパターンとの間に切り目線が設けられたことによって、さらに、分離が容易であるという効果を有する。
【００３３】
以上のように、本発明のフィルム状タッチパネルセンサー及びその検査方法では、フィルム状基材にコモンパターンという補助パターンを設けるが、これは配線パターンをフィルム状基材に形成する工程で同時に設けることができる。例えば、別途、フィルム基材にコモンパターンを設け、検査時にこれを接触して測定することもあるが、フィルム上タッチパネルセンサーとは別途製造するため、工程数が増えてしまう。また接触する手段が本発明に比べて容易でない。さらに、そのようなコモンフィルムを幾度か利用した場合、汚れて使用できなくなるが、本発明ではこのような欠点が生じない。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１】本発明のフィルム状タッチパネルセンサーの第１の実施形態例を上から見た説明図である。
【図２】第１の実施形態例のフィルム状タッチパネルセンサーの基板のコモンパターンを折り畳んだ説明図である。
【図３】第１の実施形態例のフィルム状タッチパネルセンサーの基板のコモンパターンを裏面に折り畳んだ説明図である。
【図４】本発明のフィルム状タッチパネルセンサーの第２の実施形態例を上から見た説明図である。
【図５】第２の実施形態例のフィルム状タッチパネルセンサーの基板のコモンパターンを折り畳んだ説明図である。
【図６】第２の実施形態例のフィルム状タッチパネルセンサーの基板のコモンパターンを裏面に折り畳んだ説明図である。
【図７】本発明のフィルム状タッチパネルセンサーの第３の実施形態例を上から見た説明図である。
【図８】本発明のフィルム状タッチパネルセンサーの第２の実施形態例で、隣接した４つの配線パターンを接続した説明図である。
【図９】従来の静電容量式のタッチパネルの一例を示した説明図で、（ａ）は上方から見た説明図、（ｂ）は、図（ａ）のＡＡ’部分を断面で見た説明図である。
【図１０】従来の静電容量タッチパネルのドライブ基板とセンシング基板とを上面で見た説明図である。
【図１１】従来の静電容量タッチパネルのセンシング基板に補助パターンを設けた例の説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００３５】
以下本発明を実施するための形態につき説明する。図１は、本発明のフィルム状タッチパネルセンサーの第１の実施形態例を上から見た説明図である。
【００３６】
第１の実施他形態のフィルム状タッチパネルセンサー１０では、フィルム状基材２０の一端部に複数の電極パターンＰ１、Ｐ２、Ｐ３、・・・、Ｐ１２よりなる電極部８０が配置され、複数の電極パターンＰ１、Ｐ２、Ｐ３、・・・、Ｐ１２より他端部６０に向け、
配線パターン４０が配置されている。また、複数の配線パターン端部５０とフィルム状基材２０の他端部６０との間には補助パターンとして、線状の導体パターンよりなるコモンパターン３０が配置されている。コモンパターン３０は、複数の配線パターン端部５０とフィルム状基材２０の他端部６０との間を折り曲げたときに配線パターン部端部５０と重なるように配置されている。
【００３７】
本実施形態では、このような構成であるので、次のようにして検査を実施できる。
【００３８】
まず、複数の配線パターン端部５０とフィルム状基材２０の他端部６０との間を折り曲げ、配線パターン端部５０とコモンパターン３０とを接続する。図２は、第１の実施形態例のフィルム状タッチパネルセンサー１０の基板のコモンパターン３０を折り畳んだ説明図である。
【００３９】
つぎに、電極パターン部とコモンパターン部との導通の有無を測定する。測定は、電極パターンＰ１、Ｐ２、Ｐ３、・・・、Ｐ１２とコモンパターン３０との間をそれぞれ実施する。
【００４０】
これにより、各配線パターンに接続された電極パターンとコモンパターンとの間の導通状態を測定し、配線パターンの断線を検査できる。そして、コモンパターンと配線パターンは折り曲げない状態では、接続されておらず絶縁されているので、検査後にコモンパターン部分を分離する必要が無い。この場合、従来と比べ、工程数を減少できる。また、分離しても接続パターンが形成されておらずフィルム状基材のみを切断・分離するので、金属粉などが発生せず、配線パターンを毀損したり、ショートする恐れがない、などの効果が得られる。
【００４１】
また、本実施形態では、複数の配線パターン端部５０とコモンパターン３０との間に切り目線７０が設けられている。検査後に、不要となったコモンパターン部は切り離して処分することができるが、切り目線７０が設けられたことによって、さらに、分離が容易である。
【００４２】
第１の実施形態で、別の検査方法について説明する。図３は、第１の実施形態例のフィルム状タッチパネルセンサー１０のフィルム状基材２０のコモンパターン３０を裏面に折り畳んだ説明図である。
【００４３】
本検査方法では、まず、複数の配線パターン端部５０とフィルム状基材２０の他端部６０との間をフィルム基材２０の裏面に向け折り曲げ、配線パターン端部５０とコモンパターン３０とを重ねる。配線パターン端部５０とコモンパターン３０との間に、２枚分のフィルム基材が挟まれた、静電容量が形成される。つぎに、電極パターン部とコモンパターン部との静電容量を求め、配線パターン間のショートの有無を測定する。
【００４４】
このように裏面に向け折り曲げ、電極パターン部とコモンパターン部とで基材フィルムを挟む事によって容易に静電容量を形成でき、そしてこの容量値を計測することにより、配線パターン間のショートの有無を判断できる。すなわち、配線パターンがショートした場合、静電容量を形成する電極パターンの面積が変化するので、容量値が変化し、ショートの有無を判断できる。
【００４５】
つぎに本発明の第２の実施形態について説明する。図４は、第２の実施形態例のフィルム状タッチパネルセンサーを、上から見た説明図である。
【００４６】
本実施形態のフィルム状タッチパネルセンサー１１では、実施形態１のコモンパターン
を、線部分と分離部分からなる破線状のコモンパターン３１としている。破線の線部分の長さが隣接配線パターン間を接続する長さで、破線のピッチが配線パターンのピッチと同じである。図では、最近接配線パターン間の長さとそれにマッチしたピッチとしている。
【００４７】
本実施形態では、このような構成であるので、次のようにして検査を実施できる。
まず、複数の配線パターン端部５０とフィルム状基材２０の他端部６０との間を折り曲げ、配線パターン端部５０とコモンパターン３１とを接続する。図５は、第２の実施形態例のフィルム状タッチパネルセンサー１１の基板のコモンパターン３１を折り畳んだ説明図である。これにより、近接配線パターン端部がコモンパターンで接続される。つぎに、コモンパターン３１で接続された隣接配線パターンの電極パターン部間の導通の有無を測定する。
【００４８】
このようにして、複数の配線パターン端部５０とフィルム状基材２０の他端部６０との間を折り曲げ、配線パターン部端部５０と重ねることによって、コモンパターン３１で隣接する配線パターン端部５０を接続できる。これにより、コモンパターン３１で接続された隣接する配線パターンに接続された電極パターン間の導通状態を測定し、配線パターンの断線を検査できる。図４、５で、たとえば電極パターンＰ１、Ｐ２にそれぞれ接続された配線パターンＭ１、Ｍ２を、電極パターンＰ１、Ｐ２間の導通状態を測定し、配線パターンの断線を検査できる。
【００４９】
第２の実施形態で、別の検査方法について説明する。図６は、第２の実施形態例のフィルム状タッチパネルセンサー１１のフィルム状基材２０のコモンパターン３１を裏面に折り畳んだ説明図である。
【００５０】
本検査方法では、まず、複数の配線パターン端部５０とフィルム状基材２０の他端部６０との間をフィルム基材２０の裏面に向け折り曲げ、配線パターン端部５０とコモンパターン３１とを重ねる。配線パターン端部５０とコモンパターン３１との間に、２枚分のフィルム基材が挟まれた、静電容量が形成される。つぎに、電極パターン部とコモンパターン部との静電容量を求め、配線パターン間のショートの有無を測定する。
【００５１】
このように裏面に向け折り曲げ、電極パターン部とコモンパターン部とで基材フィルムを挟む事によって容易に静電容量を形成でき、そしてこの容量値を計測することにより、配線パターン間のショートの有無を判断できる。すなわち、配線パターンがショートした場合、静電容量を形成する電極パターンの面積が変化するので、容量値が変化し、ショートの有無を判断できる。この場合、たとえば、電極パターンＰ２、Ｐ３間をショートし、Ｐ１、Ｐ４間の容量値(配線パターンＭ１、Ｍ２、Ｍ３、Ｍ４により形成される直列に接続された静電容量４個の値)を測定することにより、Ｐ１からＰ４間でのショートも検出できる。ショートが検出された場合、配線パターンＭ１、Ｍ２の間と、Ｍ３、Ｍ４の間とを測定することにより、ショート部位を絞り込むことができる。
【００５２】
第２の実施形態ではこのように、近接した配線パターンの検査が一度の測定でできるので、全配線パターンの多くとも半分の回数で測定し、断線の判断ができる。
【００５３】
そして実施形態１と同様に、コモンパターン３１と配線パターン４０は折り曲げない状態では、接続されておらず絶縁されているので、検査後にコモンパターン３１部分を分離する必要が無い。また、分離しても接続パターンが形成されておらずフィルム状基材のみを切断・分離するので、金属粉などが発生せず、配線パターンを毀損したり、ショートする恐れがない、などの効果が得られる。
【００５４】
また、本実施形態でも、複数の配線パターン端部５０とコモンパターン３１との間に切
り目線７０が設けられている。検査後に、不要となったコモンパターン部は切り離して処分することができるが、切り目線７０が設けられたことによって、さらに、分離が容易である。
【００５５】
第２の実施形態では、コモンパターンの破線を最近接する２本の配線パターンで例示したが、とくにこれにこだわらず、破線の線部分を複数の配線パターン間の長さとし、それに整合したピッチとしてもよい。図８は、第２の実施形態で、隣接した４つの配線パターンを接続した説明図である。４つの電極パターンＰ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４に接続された配線パターンＭ１、Ｍ２、Ｍ３、Ｍ４を、コモンパターンの線部分で接続している。この場合の測定方法を例示すれば、最近接間の配線パターンの組み合わせ（Ｍ１、Ｍ２）、（Ｍ３、Ｍ４）を、それぞれ電極パターン（Ｐ１、Ｐ２）、（Ｐ３、Ｐ４）間の導通状態を測定し、配線パターンの不具合を検査する。配線パターン（Ｍ３、Ｍ４）で不具合が見つかった場合、配線パターン（Ｍ２、Ｍ３）間を検査することで、不具合が配線パターンＭ３、Ｍ４のいずれが、不具合があったのか、絞り込むことができる。
【００５６】
本発明の第３の実施の形態として、第１の実施の形態と第２の実施の形態とを組み合わせたフィルム状タッチパネルセンサー１０を例示できる。図７は、第３の実施形態例のフィルム状タッチパネルセンサーを上から見た説明図である。
【００５７】
第３の実施他形態のフィルム状タッチパネルセンサー１２では、フィルム状基材２１の一端部に複数の電極パターンＰ１、Ｐ２、Ｐ３・・・Ｐ１２が配置され、複数の電極パターンより他端部６１に向け、配線パターン４０が配置されている。また、複数の配線パターン端部５０とフィルム状基材２１の他端部６１との間には直線状の導体パターンよりなるコモンパターン３２と、線部分と分離部分からなる破線状の導体パターンコモンパターン３３とが配置されている。破線の線部分の長さが隣接配線パターン間を接続する長さで、破線のピッチが配線パターンのピッチと同じである。図７では、最近接配線パターン間の長さとそれにマッチしたピッチとしている。コモンパターン３２、３３は、複数の配線パターン端部５０とフィルム状基材２１の他端部６１との間を折り曲げたときに配線パターン部端部５０と重なるように配置されている。
【００５８】
本実施形態では、このような構成であるので、次のような検査を実施できる。
【００５９】
まず、複数の配線パターン端部５０とフィルム状基材２１の他端部６１との間を折り曲げ、配線パターン端部５０とコモンパターン３２とを接続する。このようにして、第１の実施の形態例と同様の検査を実施できる。
【００６０】
つぎに、複数の配線パターン端部５０とフィルム状基材２１の他端部６１との間を折り曲げ、配線パターン端部５０とコモンパターン３３とを接続する。このようにして、第２の実施の形態例と同様の検査を実施できる。
【００６１】
たとえば、第２の実施形態で検査をし、不具合が検出された部位について、第１の実施形態の検査をし、不具合の検出された、複数接続された配線パターンを絞り込むことができる。
【００６２】
また、破線状のコモンパターン３３を複数の配線パターン端部５０とフィルム状基材２１の他端部６１との間を折り曲げ、配線パターン部端部５０と重ね、断線の検査を実施し、直線状のコモンパターン３２を複数の配線パターン端部５０とフィルム状基材２１の他端部６１との間をフィルム基材２１の裏面に向け折り曲げ、配線パターン部端部５０と重ね、ショートの検査を実施できる。
【００６３】
以上に記載したすべての実施形態で、配線パターン端部５０とフィルム状基材２０の他端部６０との間に、切り目線に替えて、折り目線を設け、折り易くしてもよい。
【００６４】
また、コモンパターン部と電極パターンには、それぞれに接続された測定用のパッドなどのパターンを設けて、測定を容易にしてよい。
【符号の説明】
【００６５】
１０、１１、１２・・・フィルム状タッチパネルセンサー
２０・・・フィルム状基材
３０、３１、３２、３３・・・コモンパターン
４０・・・配線パターン
５０・・・配線パターン端部
６０、６１・・・フィルム状基材他端
７０・・・切り目線
８０・・・電極部
Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、・・・、Ｐ１２・・・電極パターン
１００・・・静電容量タッチパネル
Ｄ電極Ｌ・・・左側ドライブライン
Ｄ電極Ｒ・・・右側ドライブライン
Ｓ電極Ｌ・・・左側センシングライン
Ｓ電極Ｒ・・・右側センシングライン
Ｄ基板・・・ドライブライン基板
Ｄ基板Ｌ・・・右側ドライブライン基板
Ｄ基板Ｒ・・・左側ドライブライン基板
Ｓ基板・・・センシングライン基板
Ｓ基板Ｌ・・・左側センシングライン基板
Ｓ基板Ｒ・・・右側センシングライン基板
【図１】
0006449599.tif 000002
【図２】
0006449599.tif 000003
【図３】
0006449599.tif 000004
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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