(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象の微弱信号を含む入力信号を取り込み、当該入力信号にノイズを加算したノイズ加算信号を第１の閾値で閾値処理し、前記第１の閾値を超えた前記微弱信号がパルス波形として含まれる第１の閾値処理信号を出力する第１の検出部と、
前記入力信号を前記第１の検出部と並列に取り込み、当該入力信号を第２の閾値で閾値処理し、前記第２の閾値を超えた前記微弱信号がパルス波形として含まれる第２の閾値処理信号を出力する第２の検出部と、
前記第１の閾値処理信号及び前記第２の閾値処理信号に含まれたパルス波形成分を特定するパラメータを有し、前記パラメータに基づいて、前記第１の閾値処理信号、前記第２の閾値処理信号に含まれたパルス波形成分が前記微弱信号に対応した信号であるかを判別する判別部と、を具備し、
前記第１の検出部及び前記第２の検出部は、前記微弱信号の出現期間に対応して単一のパルス波形を形成するヒステリシス特性を有するコンパレータでそれぞれ構成されていることを特徴とする信号処理装置。
【請求項２】
前記判別部は、前記第１の閾値処理信号と前記第２の閾値処理信号とに同じタイミングで前記パルス波形が表れた場合、前記第２の閾値処理信号に含まれたパルス波形を優先的に選択することを特徴とする請求項１に記載の信号処理装置。
【請求項３】
前記判別部で微弱信号として判別された前記第１の閾値処理信号に含まれたパルス波形成分と、前記第２の閾値処理信号に含まれたパルス波形成分とを、個別にカウントするパルスカウント部を具備したことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の信号処理装置。
【請求項４】
入射する放射線のエネルギーに応じた微弱信号を含む検出信号を出力する放射線検出部と、
前記放射線検出部から前記検出信号を取り込んで、前記検出信号から微弱信号を検出する信号処理部と、
前記信号処理部から出力される出力信号に基づいて放射線量を計測する線量換算部と、を具備した放射線測定装置であって、
前記信号処理部は、測定対象の微弱信号を含む入力信号を取り込み、当該入力信号にノイズを加算したノイズ加算信号を第１の閾値で閾値処理し、前記第１の閾値を超えた前記微弱信号がパルス波形として含まれる第１の閾値処理信号を出力する第１の検出部と、
前記入力信号を前記第１の検出部と並列に取り込み、当該入力信号を第２の閾値で閾値処理し、前記第２の閾値を超えた前記微弱信号がパルス波形として含まれる第２の閾値処理信号を出力する第２の検出部と、前記第１の閾値処理信号及び前記第２の閾値処理信号に含まれたパルス波形成分を特定するパラメータを有し、前記パラメータに基づいて、前記第１の閾値処理信号、前記第２の閾値処理信号に含まれたパルス波形成分が前記微弱信号に対応した信号であるかを判別する判別部と、を備え、
前記第１の検出部及び前記第２の検出部は、前記微弱信号の出現期間に対応して単一のパルス波形を形成するヒステリシス特性を有するコンパレータでそれぞれ構成され、
前記線量換算部は、前記第１の検出部と前記第２の検出部での前記微弱信号のそれぞれの増幅度に対応した個別の換算係数を適用して放射線量を計測することを特徴とする放射線測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、微弱信号を検出する信号処理装装置及び放射線測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、背景ノイズに埋もれた微弱信号を検出するために確率共鳴（ＳＲ：Stochastic  Resonance）を用いる方法が研究されている。例えば、微弱信号が含まれる入力信号に対してノイズを加算することで、微弱信号に確率共鳴を発現させる方法が知られている（例えば、特許文献１）。かかる確率共鳴の発現方法においては、ノイズが加算されたノイズ加算信号を閾値処理して２値化信号に変換し、微弱信号を再生する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１３−１３５２４４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、特許文献１に記載された確率共鳴回路は、微弱信号が含まれる入力信号に対してノイズを加算するため、検出対象の微弱信号と背景ノイズとの比で表されるＳＮ比によっては、ノイズを加算することでかえって微弱信号のＳＮ比が悪化する問題がある。例えば、検出対象となる微弱信号の信号レベルが背景ノイズよりも十分に大きい場合に、入力信号にノイズを印加して確率共鳴を発現させてしまうと、微弱信号のＳＮ比が悪化して再生不能になる可能性があった。
【０００５】
本発明は、かかる点に鑑みてなされたものであり、入力信号に含まれる測定対象の微弱信号のＳＮ比が悪い状態からＳＮ比が十分に良い状態までの広い範囲で対応でき、微弱信号の検出精度を改善できる信号処理装置及び放射線測定装置を提供することを目的の一つとする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の信号処理装置は、測定対象の微弱信号を含む入力信号を取り込み、当該入力信号にノイズを加算したノイズ加算信号を第１の閾値で閾値処理し、前記第１の閾値を超えた前記微弱信号がパルス波形として含まれる第１の閾値処理信号を出力する第１の検出部と、前記入力信号を前記第１の検出部と並列に取り込み、当該入力信号を第２の閾値で閾値処理し、前記第２の閾値を超えた前記微弱信号がパルス波形として含まれる第２の閾値処理信号を出力する第２の検出部と、前記第１の閾値処理信号及び前記第２の閾値処理信号に含まれたパルス波形成分を特定するパラメータを有し、前記パラメータに基づいて、前記第１の閾値処理信号、前記第２の閾値処理信号に含まれたパルス波形成分が前記微弱信号に対応した信号であるかを判別する判別部と、を具備し、前記第１の検出部及び前記第２の検出部は、前記微弱信号の出現期間に対応して単一のパルス波形を形成するヒステリシス特性を有するコンパレータでそれぞれ構成されていることを特徴とする。
【０００７】
また、本発明の放射線測定装置は、入射する放射線のエネルギーに応じた微弱信号を含む検出信号を出力する放射線検出部と、前記放射線検出部から前記検出信号を取り込んで、前記検出信号から微弱信号を検出する信号処理部と、前記信号処理部から出力される出力信号に基づいて放射線量を計測する線量換算部と、を具備した放射線測定装置であって、前記信号処理部は、測定対象の微弱信号を含む入力信号を取り込み、当該入力信号にノイズを加算したノイズ加算信号を第１の閾値で閾値処理し、前記第１の閾値を超えた前記微弱信号がパルス波形として含まれる第１の閾値処理信号を出力する第１の検出部と、
前記入力信号を前記第１の検出部と並列に取り込み、当該入力信号を第２の閾値で閾値処理し、前記第２の閾値を超えた前記微弱信号がパルス波形として含まれる第２の閾値処理信号を出力する第２の検出部と、前記第１の閾値処理信号及び前記第２の閾値処理信号に含まれたパルス波形成分を特定するパラメータを有し、前記パラメータに基づいて、前記第１の閾値処理信号、前記第２の閾値処理信号に含まれたパルス波形成分が前記微弱信号に対応した信号であるかを判別する判別部と、を備え、前記第１の検出部及び前記第２の検出部は、前記微弱信号の出現期間に対応して単一のパルス波形を形成するヒステリシス特性を有するコンパレータでそれぞれ構成され、前記線量換算部は、前記第１の検出部と前記第２の検出部での前記微弱信号のそれぞれの増幅度に対応した個別の換算係数を適用して放射線量を計測することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、入力信号に含まれる測定対象の微弱信号のＳＮ比が悪い状態からＳＮ比が十分に良い状態までの広い範囲で、測定対象の微弱信号の検出確率の改善を図ることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】第１の実施の形態に係る信号処理装置の構成を示すブロック図である。
【図２】第１の実施の形態に係る信号処理装置の構成を示す回路構成図である。
【図３】第１の比較部におけるノイズ加算信号と出力信号の関係を示す模式図である。
【図４】第２の比較部における微弱信号を含む入力信号と出力信号の関係を示す模式図である。
【図５】第２の実施の形態に係る放射線測定装置の構成を示すブロック図である。
【図６】第１の実施の形態に係る信号処理装置の別の例を示す回路構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、本発明の実施の形態について添付図面を参照して詳細に説明する。
【００１１】
（第１の実施の形態）
図１は、本発明の第１の実施の形態に係る信号処理装置の構成を示すブロック図である。本実施の形態に係る信号処理装置は、確率共鳴を利用して微弱信号を検出する各種装置に適用可能である。
【００１２】
図１に示すように、第１の実施の形態に係る信号処理装置１は、測定対象の微弱信号を含む入力信号Ｖｉｎに対してノイズを印加して確率共鳴を発現させる確率共鳴部として機能する第１の検出部１０と、測定対象の微弱信号を含む入力信号Ｖｉｎを第１の検出部１０と並列に取り込んで、ノイズ印加せずに閾値処理する第２の検出部２０と、第１の検出部１０及び第２の検出部２０からの出力信号に再生された微弱信号が含まれているか判別して、判別した微弱信号に対応したパルス波形成分を含む信号を出力する判別部３０と、判別部３０からの出力信号に含まれる微弱信号に対応したパルス数をカウントするカウント部４０と、を備える。
【００１３】
図２は、第１の実施の形態に係る信号処理装置１の回路構成図である。図２に示すように、第１の検出部１０は、ノイズを生成するノイズ生成部１１と、入力信号Ｖｉｎに対してノイズ生成部１１によって生成されたノイズを加算してノイズ加算信号を出力するノイズ加算部１２と、一方の入力端子にノイズ加算信号が入力され、他方の入力端子に第１の閾値ｒｅｆ１が与えられ、ノイズ加算信号を第１の閾値ｒｅｆ１と比較して第１の閾値処理信号を生成する第１の比較部１３と、第１の比較部１３に他方の入力端子に第１の閾値ｒｅｆ１となる参照電圧を供給する電圧源１４と、を備える。なお、ノイズ生成部１１は、生成ノイズのノイズ強度を設定可能である。また、第１の比較部１３はヒステリシス特性を有するコンパレータで構成されている。ノイズ生成部１１が生成するノイズは、少なくとも測定対象信号の周波数よりも広帯域において同じ強度となるノイズであってもよい。ノイズ生成部１１が生成するノイズとしてはホワイトノイズ、ガウシアンノイズ（ホワイトガウスノイズ）、１／ｆ揺らぎノイズなどを用いることができる。
【００１４】
第２の検出部２０では、第２の比較部２３の一方の入力端子に入力信号Ｖｉｎが入力され、他方の入力端子に第２の閾値ｒｅｆ２が与えられる。第２の閾値ｒｅｆ２は電圧源２４から参照電圧として供給される。第２の比較部２３は、ノイズが印加されていない入力信号Ｖｉｎを第２の閾値ｒｅｆ２と比較して第２の閾値処理信号を生成する。なお、第２の比較部２３はヒステリシス特性を有するコンパレータで構成されている。
【００１５】
次に、第１の実施の形態に係る信号処理装置の動作について説明する。
【００１６】
図３は、第１の比較部１３に入力されるノイズ加算信号と、第１の比較部１３から出力される出力信号の関係を示す模式図である。同図に示すノイズ加算信号は、ノイズ生成部１１で生成されたノイズを、測定対象の微弱信号を含む入力信号Ｖｉｎに加算した信号である。ノイズ加算信号の区間ｔ１には測定対象の微弱信号に対応したパルス波形成分が表れている。
【００１７】
第１の比較部１３は、ノイズ加算信号と第１の閾値ｒｅｆ１を比較し、ノイズ加算信号が第１の閾値ｒｅｆ１より大きい場合にハイレベル信号（例えば１）を出力し、ノイズ加算信号が第１の閾値ｒｅｆ１より小さい場合にローレベル信号（例えば０）を出力する。このように、第１の比較部１３は、入力されたノイズ加算信号を、第１の閾値ｒｅｆ１で閾値処理し、微弱信号に対応したパルス波形成分を有する第１の閾値処理信号を出力する。第１の検出部１０は第１の比較部１３の出力端からの第１の閾値処理信号を判別部３０に入力する。
【００１８】
ここで、第１の検出部１０では、ノイズ加算部１２において、入力信号Ｖｉｎに所定強度のノイズが加算されるため、確率共鳴現象が発現する。この確率共鳴現象により、入力信号Ｖｉｎのうち測定対象の微弱信号が存在する区間ｔ１においては、微弱信号が存在していない区間ｔ１以外の信号レベルと比べてある閾値を超える信号レベルの確率が急激に高くなる。第１の比較部１３には、微弱信号が存在する区間ｔ１の信号レベルと、微弱信号が存在していない区間ｔ１以外の信号レベルとのレベル差に着目し、微弱信号が存在する区間ｔ１（すなわち微弱信号自体）を取り出すのに適した第１の閾値ｒｅｆ１が設定される。第１の比較部１３はヒステリシス特性を有するコンパレータであるため、第１の比較部１３の出力信号は、図３に示すように測定対象の微弱信号に対応した区間ｔ１がハイレベルとなるパルス波形成分を含んだ信号となる。
【００１９】
このように、第１の検出部１０においては、測定対象の微弱信号を含む入力信号に対して所定強度のノイズを加算して確率共鳴を発現させてから閾値処理することで、微弱信号が背景ノイズに埋もれているような測定環境、例えばＳＮ比＜１（ＳＮ比は微弱信号と背景ノイズの信号の強度比を表す）において、測定対象の微弱信号を再生して取り出すことができる。第１の比較部１３は、測定対象の微弱信号に対応する期間ｔ１がハイレベルとなるパルス波形成分を含んだ第１の閾値処理信号を出力する。
【００２０】
一方、第２の検出部２０においては、入力信号Ｖｉｎに対してノイズ加算することなく、入力信号Ｖｉｎから測定対象の微弱信号を取り出すのに適した第２の閾値ｒｅｆ２を用いて閾値処理している。図４は、第２の検出部２０に取り込まれる入力信号Ｖｉｎと、第２の比較部２３から出力される出力信号を示す模式図である。同図に示す入力信号Ｖｉｎは、測定対象の微弱信号の信号レベルが背景ノイズよりも相対的に十分に大きい状態である。区間ｔ１に測定対象の微弱信号であるパルスが含まれている。
【００２１】
第２の比較部２３は、入力された入力信号Ｖｉｎと第２の閾値ｒｅｆ２を比較し、入力信号Ｖｉｎが第２の閾値ｒｅｆ２より大きい場合にハイレベル信号（例えば１）を出力し、入力信号Ｖｉｎが第２の閾値ｒｅｆ２より小さい場合にローレベル信号（例えば０）を出力する。ここで、測定対象の微弱信号が背景ノイズに埋もれないような測定環境、例えばＳＮ比＞１において、確率共鳴現象を利用しなくても、入力信号Ｖｉｎのうち測定対象の微弱信号が存在する区間ｔ１においては、微弱信号が存在していない区間ｔ１以外の信号レベルと比べ、ある閾値を超える信号レベルになっている。このようなＳＮ比が良好な入力信号Ｖｉｎにノイズを印加して確率共鳴を発現させてしまうと、却って測定対象の微弱信号が歪んでしまって検出精度が劣化する。
【００２２】
そこで、ノイズ印加による確率共鳴を発現させていない入力信号Ｖｉｎにおける、測定対象の微弱信号と背景ノイズの信号レベルの差に着目して第２の閾値ｒｅｆ２を決定している。本例では、第２の閾値ｒｅｆ２は、第２の検出部２０に取り込まれる入力信号Ｖｉｎの背景ノイズ（予想される平均的な背景ノイズ）より大きく、かつ、測定対象の微弱信号のピーク値（予想される平均的な微弱信号ピーク値）より小さい値に設定することが好ましい。このように第２の閾値ｒｅｆ２を設定することで、入力信号Ｖｉｎに含まれる背景ノイズよりも微弱信号の信号レベルが高い測定環境において、ノイズ印加による信号歪を生じさせることなく、第２の閾値ｒｅｆ２を用いて測定対象の微弱信号を再生して取り出すことができる。第２の比較部２３は、測定対象の微弱信号に対応する期間ｔ１がハイレベルとなるパルス波形成分を含んだ第２の閾値処理信号を出力する。
【００２３】
判別部３０は、第１の検出部１０と第２の検出部２０から並列に第１の閾値処理信号及び第２の閾値処理信号を取り込み、入力信号Ｖｉｎに含まれる測定対象の微弱信号であるかどうかを判別する。第１の閾値処理信号及び第２の閾値処理信号には測定対象の微弱信号に対応したパルス波形成分の他にもノイズに起因したパルス成分が含まれる。判別部３０は、測定対象の微弱信号に対応したパルス波形成分を特定するためのパラメータ（パルス幅等）を有している。判別部３０は、入力された第１の閾値処理信号及び第２の閾値処理信号に含まれたパルス波形成分が測定対象の微弱信号に対応したパルス波形成分であるか上記パラメータに基づいて判別する。また、判別部３０は、第１の閾値処理信号と第２の閾値処理信号とで同時に測定対象の微弱信号に対応したパルス波形成分を検出した場合は、第２の閾値処理信号で検出された微弱信号を選択する。すなわち、ノイズ加算していない第２の検出部２０による閾値処理で再生された微弱信号（パルス波形）を優先して選択する。
【００２４】
そして、判別部３０は、第１の閾値処理信号、第２の閾値処理信号から検出された微弱信号の判別信号をカウント部４０に出力する。この時、判別部３０は、後工程での処理のために判別信号とは別に、又は判別信号に追加する形で第１の閾値処理信号と第２の閾値処理信号のうちどちらから微弱信号を判別したのかを示す情報を出力する。
【００２５】
第１の実施の形態においては、背景ノイズに比べて微弱信号の信号レベルが大きい場合（例えば、ＳＮ比＞１）、第２の比較部２３から出力される第２の閾値処理信号に再生されたパルス波形の方が、第１の比較部１３から出力される第１の閾値処理信号に含まれたパルス波形よりも微弱信号である信頼性が高い。一方、背景ノイズに比べて微弱信号の信号レベルが小さい場合（例えば、ＳＮ比＜１）、第１の比較部１３から出力される第１の閾値処理信号に再生されたパルス波形の方が、第２の比較部２３から出力される第２の閾値処理信号に含まれたパルス波形よりも微弱信号である信頼性が高い。
【００２６】
したがって、第１の検出部１０から出力される第１の閾値処理信号と、第２の検出部２０から出力される第２の閾値処理信号とから並列に微弱信号の有無を判別することで、入力信号Ｖｉｎに含まれる測定対象の微弱信号のＳＮ比が悪い状態からＳＮ比が十分に良い状態までの広い範囲で微弱信号の検出精度の改善を図ることができる。
【００２７】
（第２の実施の形態）
第２の実施の形態は、上述した第１の実施の形態に係る信号処理装置を放射線測定装置に適用した例である。
【００２８】
図５は、本発明の第２の実施の形態に係る放射線測定装置１００の全体構成を示すブロック図である。第２の実施の形態では、入力される測定対象の微弱信号である放射線のＳＮ比が悪い状態からＳＮ比が十分に良い状態までの広い範囲で放射線の検出確率の改善を図ることができる。
【００２９】
放射線測定装置１００は、入射した放射線量に応じたシンチレーション光を発生するシンチレータ１０１と、シンチレータ１０１で発生したシンチレーション光を反射させるライトガイド１０２と、ライトガイド１０２を介して導かれたシンチレーション光に応じた微弱信号を出力する光検出器１０３と、光検出器１０３から出力された微弱信号を入力する信号処理装置２と、信号処理装置２から出力された信号を入力する線量換算部１０４を有する。本例では、シンチレータ１０１、ライトガイド１０２及び光検出器１０３からなる構成要素を放射線検出部と呼ぶこととする。
【００３０】
シンチレータ１０１は、外部から放射線が入射すると、放射線がシンチレータ１０１に与えたエネルギーに応じたシンチレーション光（蛍光）を発生させる。シンチレータ１０１で発生したシンチレーション光は、ライトガイド１０２に入射し、ライトガイド１０２内で反射を繰り返し、光検出器１０３に到達する。光検出器１０３は、光電効果によりシンチレーション光の入射光量に応じた微弱信号を出力し、この微弱信号を含む入力信号Ｖｉｎを信号処理装置２に入力する。
【００３１】
信号処理装置２は、第１の実施の形態に係る信号処理装置１と基本構成は同じであるが、第１の閾値処理信号と第２の閾値処理信号に基づいたパルスカウントを別々に行うカウント部４１を有している。なお、信号処理装置２の構成要素のうち第１の実施の形態の信号処理装置１と同一機能を有する構成要素は同一符号を用いて説明する。
【００３２】
判別部３１は、第１の閾値処理信号と第２の閾値処理信号から別々に微弱信号に対応したパルス波形を検出してパルス判別結果をカウント部４１へ出力する。第１の閾値処理信号と第２の閾値処理信号で同時に微弱信号が検出された場合には、カウント部４１において第２の閾値処理信号のパルス判別結果のみを選択したことを通知するための選択情報がカウント部４１へ与えられる。
【００３３】
カウント部４１は、第１の検出部１０から出力される第１の閾値処理信号に基づいて再生された微弱信号のパルス数を計測する第１のパルスカウント部４２と、第２の検出部２０から出力される第２の閾値処理信号に基づいて再生された微弱信号のパルス数を計測する第２のパルスカウント部４３と、を有する。第１のパルスカウント部４２は、第１の閾値処理信号と第２の閾値処理信号から同時に微弱信号が検出された場合に、判別部３１から通知される選択信号によって第１の閾値処理信号に基づいたパルス判別結果を除外する。
【００３４】
具体的には、カウント部４１は、第１のパルスカウント部４２において第１の閾値処理信号のパルス判別結果からパルス数の計測を行い、第２のパルスカウント部４３において第２の閾値処理信号のパルス判別結果からパルス数の計測を行う。そして、カウント部４１は、第１のパルスカウント部４２、第２のパルスカウント部４３から出力されるパルスカウント数をそれぞれ線量換算部１０４に入力する。
【００３５】
線量換算部１０４は、第１のパルスカウント部４２で計測されたパルスカウント数と第２のパルスカウント部４３で計測されたパルスカウント数とを、それぞれに適合した線量換算用の換算係数をそれぞれ適用して放射線量に換算する。なお、換算係数とは、第１のパルスカウント部４２及び第２のパルスカウント部４３で計測されたパルス数からシンチレータ１０１に入射した放射線量に変換するための係数である。第１の検出部と第２の検出部とで微弱信号の増幅率が異なるので、第１の検出部と第２の検出部での微弱信号ぞれぞれの増幅度に対応する換算係数が準備される。
【００３６】
このように、線量換算部１０４は、第１のパルスカウント部４２のパルスカウント数と、第２のパルスカウント部４３のパルスカウント数に対して、それぞれ異なる換算係数を適用するので、第１の検出部１０と第２の検出部２０といった増幅率の異なる２系統で微弱信号を検出しても、正確に入射放射線量を算出することができる。
【００３７】
なお、放射線測定装置１００に対して、基準放射線源などを用いて時間当たり一定量の放射線を入射させることにより、線量換算部１０４における換算係数を求めることが可能である。例えば、基準放射線源から一定の既知の割合で基準放射線が放射されている場合を考える。かかる場合、基準放射線から入射される放射線の一定時間あたりの入射放射線量や、微弱信号のパルス形状は既知である。そのため、当該放射線の入射時に第１のパルスカウント部４２と第２のパルスカウント部４３で一定時間あたりのパルス数をそれぞれ測定すれば、第１のパルスカウント部４２のパルスカウント数に対して適切な換算係数と、第２のパルスカウント部４３のパルスカウント数に対して適切な換算係数とを求めることができる。
【００３８】
また、換算係数は入射する放射線の核種や線種などに応じて適宜変更するようにしてもよい。
【００３９】
また、上述した実施の形態においては、第１の比較部１３及び第２の比較部２３において入力された信号が閾値以上の場合に１を出力し、信号が閾値未満の場合に０を出力したが、第１の比較部１３又は第２の比較部２３の出力はこれに限られない。例えば、第１の比較部１３又は第２の比較部２３は、入力された信号が閾値以上の場合に０を出力し、信号が閾値未満の場合に１を出力してもよい。
【００４０】
また、上述した実施の形態においては、第１の検出部１０と第２の検出部２０の２つの検出部を用いたが、検出部の数はこれに限らない。例えば、それぞれ２値化処理の閾値が異なる３つ以上の検出部を用いるようにしてもよい。また、判別部は上記の構成に限らない。
【００４１】
また、上述した実施の形態においては、第１の検出部１０を１つだけ備えた構成を例示したが、図６に示すように、複数の第１の検出部１０−１〜１０−Ｎを並列に設けて検出対象の微弱信号に対して独立したノイズを印加し、各第１の検出部１０−１〜１０−Ｎの出力信号を加算部５０で加算し、ローパスフィルターからなる波形整形部５１で矩形波に波形整形してから出力する構成としてもよい。このとき、電圧源１４に設定する第１の閾値ｒｅｆ１は共通の値としてもよいし又は個別に調整してもよい。このように複数の第１の検出部１０−１〜１０−Ｎにおいて独立したノイズを微弱信号に印加することで、ＳＮ比の改善をさらに図ることができる。
【００４２】
なお、本発明は上記実施の形態に限定されず、さまざまに変更して実施可能である。上記実施の形態において、添付図面に図示されている大きさや形状などについては、これに限定されず、本発明の効果を発揮する範囲内で適宜変更が可能である。その他、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施可能である。
【符号の説明】
【００４３】
１、２  信号処理装置
１０  第１の検出部
１１  ノイズ生成部
１２  ノイズ加算部
１３  第１の比較部
１４、２４  電圧源
２０  第２の検出部
２３  第２の比較器
３０、３１  判別部
４０、４１  カウント部
４２  第１のパルスカウント部
４３  第２のパルスカウント部
５０  加算部
５１  波形整形部
１００  放射線計測装置
１０１  シンチレータ
１０２  ライトガイド
１０３  光検出器
１０４  線量換算部
Ｖｉｎ  入力信号
ｒｅｆ１  第１の閾値
ｒｅｆ２  第２の閾値
【図１】
0006578817.tif 000002
【図２】
0006578817.tif 000003
【図３】
0006578817.tif 000004
【図４】
0006578817.tif 000005
【図５】
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【図６】
0006578817.tif 000007