(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
抵抗のオープン状態及びショート状態を検査するオープン／ショート検査回路であって、
一方向に流れる電流を前記抵抗に出力する電流源と、
前記抵抗に生じる電圧を増幅し、当該増幅結果に基準電圧が加算された電圧を出力する増幅回路と、
前記増幅回路の出力電圧と、前記オープン状態の判定条件として設定された第１しきい電圧とを比較する第１コンパレータと、
前記増幅回路の出力電圧と、前記ショート状態の判定条件として設定された第２しきい電圧とを比較する第２コンパレータと、
前記第１コンパレータの出力信号と前記第２コンパレータの出力信号とに基づいて、第１検査モードでは前記オープン状態の有無を判定し、第２検査モードでは前記ショート状態の有無を判定する判定回路とを有し、
前記増幅回路は、前記第１検査モードと前記第２検査モードとでゲインの極性を反転し、
前記基準電圧は、前記第１しきい電圧と前記第２しきい電圧との間の電圧である、
オープン／ショート検査回路。
【請求項２】
前記電流源は、前記第１検査モードにおいて第１定電流を前記抵抗に出力し、前記第２検査モードにおいて前記第１定電流より大きい第２定電流を前記抵抗に出力する、
請求項１に記載のオープン／ショート検査回路。
【請求項３】
前記増幅回路は、前記第１検査モードにおけるゲインの大きさを第１の値に設定し、前記第２検査モードにおけるゲインの大きさを前記第１の値より大きい第２の値に設定する、
請求項１又は２に記載のオープン／ショート検査回路。
【請求項４】
前記第１コンパレータ及び前記第２コンパレータは、それぞれヒステリシス特性を持つコンパレータであり、
前記第２コンパレータは、比較結果の出力信号の反転に必要な入力の電圧差であるヒステリシス幅が前記第１コンパレータに比べて大きい、
請求項２又は３に記載のオープン／ショート検査回路。
【請求項５】
負荷の駆動により流れる電流の経路に設けられた抵抗のオープン状態及びショート状態を検査可能な負荷駆動装置であって、
通常動作モードにおいて、入力信号に応じた電流を前記負荷に出力する電流出力回路と、
前記抵抗に生じる電圧を増幅し、当該増幅結果に基準電圧が加算された電圧を出力する増幅回路と、
前記増幅回路の出力電圧と、前記オープン状態の判定条件として設定された第１しきい電圧とを比較する第１コンパレータと、
前記増幅回路の出力電圧と、前記ショート状態の判定条件として設定された第２しきい電圧とを比較する第２コンパレータと、
前記第１コンパレータの出力信号と前記第２コンパレータの出力信号とに基づいて、第１検査モードでは前記オープン状態の有無を判定し、第２検査モードでは前記ショート状態の有無を判定する判定回路とを有し、
前記増幅回路は、前記第１検査モードと前記第２検査モードとでゲインの極性を反転し、
前記基準電圧は、前記第１しきい電圧と前記第２しきい電圧との間の電圧であり、
前記電流出力回路は、前記第１検査モード及び前記第２検査モードにおいて、一方向に流れる電流を前記抵抗に出力する電流源として動作する、
負荷駆動装置。
【請求項６】
前記電流出力回路は、前記第１検査モードにおいて、前記抵抗に第１定電流を出力する前記電流源として動作し、前記第２検査モードにおいて、前記抵抗に前記第１定電流より大きい第２定電流を出力する前記電流源として動作する、
請求項５に記載の負荷駆動装置。
【請求項７】
前記電流出力回路は、
前記通常動作モードにおいて、前記負荷に流れる電流を制御する少なくとも１つの出力トランジスタを含んだ出力段と、
前記通常動作モードにおいて、前記出力段に含まれる前記出力トランジスタをそれぞれ駆動する第１トランジスタ駆動回路と、
前記第１検査モード及び前記第２検査モードにおいて、前記出力段の前記出力トランジスタを前記第１トランジスタ駆動回路からそれぞれ切り離し、当該切り離した出力トランジスタの少なくとも一部を前記電流源として動作するように駆動する第２トランジスタ駆動回路とを含む、
請求項６に記載の負荷駆動装置。
【請求項８】
前記第２トランジスタ駆動回路は、前記第１検査モード及び前記第２検査モードにおいて、前記出力トランジスタと共にカレントミラー回路を構成するカレントミラー用トランジスタを含む、
請求項７に記載の負荷駆動装置。
【請求項９】
前記第２トランジスタ駆動回路は、前記第１検査モードにおいて、前記カレントミラー用トランジスタに流れる電流を第１参照電流に設定し、前記第２検査モードにおいて、前記カレントミラー用トランジスタに流れる電流を前記第１参照電流より大きい第２参照電流に設定する参照電流設定回路を含む、
請求項８に記載の負荷駆動装置。
【請求項１０】
前記増幅回路は、前記第１検査モードにおけるゲインの大きさを第１の値に設定し、前記第２検査モードにおけるゲインの大きさを前記第１の値より大きい第２の値に設定する、
請求項５乃至９の何れか一項に記載の負荷駆動装置。
【請求項１１】
前記第１コンパレータ及び前記第２コンパレータは、それぞれヒステリシス特性を持つコンパレータであり、
前記第２コンパレータは、比較結果の出力信号の反転に必要な入力の電圧差であるヒステリシス幅が前記第１コンパレータに比べて大きい、
請求項６乃至１０の何れか一項に記載の負荷駆動装置。
【請求項１２】
前記第１コンパレータ及び前記第２コンパレータに入力するしきい電圧を制御するしきい電圧制御回路であって、前記第１検査モード及び前記第２検査モードにおいて、前記第１コンパレータに前記第１しきい電圧を入力するとともに前記第２コンパレータに前記第２しきい電圧を入力し、前記通常動作モードにおいて、前記第１コンパレータに第３しきい電圧を入力するとともに前記第２コンパレータに第４しきい電圧を入力するしきい電圧制御回路を有し、
前記判定回路は、前記通常動作モードにおいて、前記第１コンパレータの出力信号と前記第２コンパレータの出力信号とに基づいて、前記増幅回路の出力電圧が前記第３しきい電圧から前記第４しきい電圧までの範囲から逸脱した場合に異常状態と判定する、
請求項５乃至１１の何れか一項に記載の負荷駆動装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、抵抗のオープン状態及びショート状態を検査するオープン／ショート検査回路と、負荷の駆動により流れる電流の経路に電流検出等のための抵抗が設けられた負荷駆動装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
回路の接続状態を検査する方法として、定電流源から一定の電流を回路に流し込み、その電流により生じた電圧を測定する方法が一般的に行われている。例えば下記の特許文献に記載される集積回路の検査方法では、回路基板に搭載された集積回路に定電流源を接続して一定の電流を供給し、その電流により生じた電圧を測定し、測定結果を予め定めた基準値と比較することにより、接続状態を含む回路の健全性が検査される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００７−１５５６４０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
例えば磁気平衡式電流センサのコイルを駆動する場合など、比較的大きな電流で負荷を駆動する場合、負荷に流れる電流を検出するための抵抗として、抵抗値の小さいシャント抵抗が用いられる。抵抗値の小さい抵抗についてオープン状態とショート状態を検査する場合、上述した従来の方法では、抵抗に生じる電圧がオープン状態とショート状態とで大きく異なるため、それぞれの検査を精度よく行うことが難しい。特に、ショート状態の検査では、正常な抵抗値とショート状態の異常な抵抗値との差が小さいため、抵抗に生じる電圧の差も小さくなり、検査の精度を高め難いという課題がある。オープン状態の検査とショート状態の検査とでそれぞれ専用の検査回路を設ける方法も考えられるが、これでは回路の規模が大きくなるという不利益がある。
【０００５】
本発明はかかる事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、簡易な構成で抵抗のオープン状態及びショート状態を精度よく検査できるオープン／ショート検査回路を提供すること、及び、負荷の駆動によって流れる電流の経路に設けられた抵抗のオープン状態及びショート状態を簡易な構成で精度よく検出することが可能な負荷駆動装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の第１の観点は、抵抗のオープン状態及びショート状態を検査するオープン／ショート検査回路に関する。このオープン／ショート検査回路は、一方向に流れる電流を前記抵抗に出力する電流源と、前記抵抗に生じる電圧を増幅し、当該増幅結果に基準電圧が加算された電圧を出力する増幅回路と、前記増幅回路の出力電圧と、前記オープン状態の判定条件として設定された第１しきい電圧とを比較する第１コンパレータと、前記増幅回路の出力電圧と、前記ショート状態の判定条件として設定された第２しきい電圧とを比較する第２コンパレータと、前記第１コンパレータの出力信号と前記第２コンパレータの出力信号とに基づいて、第１検査モードでは前記オープン状態の有無を判定し、第２検査モードでは前記ショート状態の有無を判定する判定回路とを有する。前記増幅回路は、前記第１検査モードと前記第２検査モードとでゲインの極性を反転する。前記基準電圧は、前記第１しきい電圧と前記第２しきい電圧との間の電圧である。
【０００７】
この構成によれば、前記オープン状態の判定と前記ショート状態の判定とにそれぞれ独立のコンパレータが使用され、この２つの判定が独立の検査モードで個別に行われる。そのため、それぞれの判定に適した条件を設定することが可能となり、判定の精度を高め易くなる。
【０００８】
また、この構成によれば、前記第１検査モードと前記第２検査モードとにおいて前記電流源、前記増幅回路及び前記判定回路が共通に使用される。そのため、前記オープン状態の判定と前記ショート状態の判定とにそれぞれ専用の検査回路を設ける場合に比べて、回路構成が簡易になる。
【０００９】
更に、この構成によれば、前記抵抗には前記電流源から一方向に電流が流れるのに対し、前記増幅回路のゲインの極性は、前記第１検査モードと前記第２検査モードとで反転する。そのため、この２つの検査モードにおける一方の検査モードでは、前記抵抗の抵抗値が大きくなるにつれて前記増幅回路の出力電圧が前記基準電圧に対して低くなり、前記基準電圧より高くならない。他方の検査モードでは、前記抵抗の抵抗値が大きくなるにつれて前記増幅回路の出力電圧が前記基準電圧に対して高くなり、前記基準電圧より低くならない。この基準電圧は、前記第１しきい電圧と前記第２しきい電圧との間の電圧であるため、前記第１コンパレータの出力信号により前記オープン状態の有無が判定される前記第１検査モードでは、前記増幅回路の出力電圧に関わらず、前記第２コンパレータの出力信号が常に一定の値となる。前記第２コンパレータの出力信号により前記ショート状態の有無が判定される前記第２検査モードでは、前記増幅回路の出力電圧に関わらず、前記第１コンパレータの出力信号が常に一定の値となる。すなわち、各検査モードでは、２つのコンパレータ（第１コンパレータ，第２コンパレータ）の何れか一方の出力信号が常に一定の値となる。従って、前記判定回路では、２つのコンパレータの出力信号に基づいて、簡単な回路構成で２つの検査モードの判定結果が得られる。
【００１０】
好適に、前記電流源は、前記第１検査モードにおいて第１定電流を前記抵抗に出力し、前記第２検査モードにおいて前記第１定電流より大きい第２定電流を前記抵抗に出力する。
【００１１】
この構成によれば、前記ショート状態の有無が判定される前記第２検査モードにおいて前記抵抗に流れる電流が大きくなり、前記増幅回路の出力電圧の振幅が大きくなるため、前記基準電圧に対する前記第２しきい電圧の差を大きくすることが可能となり、前記ショート状態の判定の精度が向上する。
【００１２】
好適に、前記増幅回路は、前記第１検査モードにおけるゲインの大きさを第１の値に設定し、前記第２検査モードにおけるゲインの大きさを前記第１の値より大きい第２の値に設定する。
【００１３】
この構成によれば、前記ショート状態の有無が判定される前記第２検査モードにおいて前記増幅回路のゲインが大きくなり、前記増幅回路の出力電圧の振幅が大きくなるため、前記基準電圧に対する前記第２しきい電圧の差を大きくすることが可能となり、前記ショート状態の判定の精度が向上する。
【００１４】
好適に、前記第１コンパレータ及び前記第２コンパレータは、それぞれヒステリシス特性を持つコンパレータであり、前記第２コンパレータは、比較結果の出力信号の反転に必要な入力の電圧差であるヒステリシス幅が前記第１コンパレータに比べて大きい。
【００１５】
この構成によれば、前記第２検査モードにおいて前記増幅回路の出力電圧の振幅が大きくなることによりノイズの振幅が大きくなっても、前記第２コンパレータの前記ヒステリシス幅が大きいため、ノイズに対する前記第２コンパレータの感度が低くなり、前記ショート状態の有無の誤判定が生じ難くなる。
【００１６】
本発明の第２の観点は、負荷の駆動により流れる電流の経路に設けられた抵抗のオープン状態及びショート状態を検査可能な負荷駆動装置に関する。この負荷駆動装置は、通常動作モードにおいて、入力信号に応じた電流を前記負荷に出力する電流出力回路と、前記抵抗に生じる電圧を増幅し、当該増幅結果に基準電圧が加算された電圧を出力する増幅回路と、前記増幅回路の出力電圧と、前記オープン状態の判定条件として設定された第１しきい電圧とを比較する第１コンパレータと、前記増幅回路の出力電圧と、前記ショート状態の判定条件として設定された第２しきい電圧とを比較する第２コンパレータと、前記第１コンパレータの出力信号と前記第２コンパレータの出力信号とに基づいて、第１検査モードでは前記オープン状態の有無を判定し、第２検査モードでは前記ショート状態の有無を判定する判定回路とを有する。前記増幅回路は、前記第１検査モードと前記第２検査モードとでゲインの極性を反転する。前記基準電圧は、前記第１しきい電圧と前記第２しきい電圧との間の電圧である。前記電流出力回路は、前記第１検査モード及び前記第２検査モードにおいて、一方向に流れる電流を前記抵抗に出力する電流源として動作する。
【００１７】
この構成によれば、前記通常動作モードにおいて前記負荷に電流を出力する前記電流出力回路が、前記第１検査モード及び前記第２検査モードにおいて前記負荷に電流を出力する電流源として動作する。そのため、検査モードのために独立の電流源を設ける場合に比べて回路構成を簡易化できる。
【００１８】
好適に、前記電流出力回路は、前記第１検査モードにおいて、前記抵抗に第１定電流を出力する前記電流源として動作し、前記第２検査モードにおいて、前記抵抗に前記第１定電流より大きい第２定電流を出力する前記電流源として動作する。
【００１９】
好適に、前記電流出力回路は、前記通常動作モードにおいて、前記負荷に流れる電流を制御する少なくとも１つの出力トランジスタを含んだ出力段と、前記通常動作モードにおいて、前記出力段に含まれる前記出力トランジスタをそれぞれ駆動する第１トランジスタ駆動回路と、前記第１検査モード及び前記第２検査モードにおいて、前記出力段の前記出力トランジスタを前記第１トランジスタ駆動回路からそれぞれ切り離し、当該切り離した出力トランジスタの少なくとも一部を前記電流源として動作するように駆動する第２トランジスタ駆動回路とを含む。
【００２０】
この構成によれば、前記通常動作モードにおいて前記負荷に流れる電流を制御する前記出力段の前記出力トランジスタが、前記第１検査モード及び前記第２検査モードにおいて前記電流源として動作するように駆動される。そのため、検査モードのために独立の電流源を設ける場合に比べて回路構成を簡易化できる。
【００２１】
好適に、前記第２トランジスタ駆動回路は、前記第１検査モード及び前記第２検査モードにおいて、前記出力トランジスタと共にカレントミラー回路を構成するカレントミラー用トランジスタを含む。
【００２２】
この構成によれば、カレントミラー回路によって正確な電流が前記抵抗に供給される。
【００２３】
好適に、前記第２トランジスタ駆動回路は、前記第１検査モードにおいて、前記カレントミラー用トランジスタに流れる電流を第１参照電流に設定し、前記第２検査モードにおいて、前記カレントミラー用トランジスタに流れる電流を前記第１参照電流より大きい第２参照電流に設定する参照電流設定回路を含む。
【００２４】
この構成によれば、前記カレントミラー用トランジスタに流れる電流が前記第１参照電流と前記第２参照電流とに切り替わることで、前記抵抗に流れる電流が前記第１定電流と前記第２定電流とに切り替わる。
【００２５】
好適に、前記増幅回路は、前記第１検査モードにおけるゲインの大きさを第１の値に設定し、前記第２検査モードにおけるゲインの大きさを前記第１の値より大きい第２の値に設定する。
【００２６】
好適に、前記第１コンパレータ及び前記第２コンパレータは、それぞれヒステリシス特性を持つコンパレータであり、前記第２コンパレータは、比較結果の出力信号の反転に必要な入力の電圧差であるヒステリシス幅が前記第１コンパレータに比べて大きい。
【００２７】
好適に、上記負荷駆動装置は、前記第１コンパレータ及び前記第２コンパレータに入力するしきい電圧を制御するしきい電圧制御回路を有する。前記しきい電圧制御回路は、前記第１検査モード及び前記第２検査モードにおいて、前記第１コンパレータに前記第１しきい電圧を入力するとともに前記第２コンパレータに前記第２しきい電圧を入力し、前記通常動作モードにおいて、前記第１コンパレータに第３しきい電圧を入力するとともに前記第２コンパレータに第４しきい電圧を入力する。前記判定回路は、前記通常動作モードにおいて、前記第１コンパレータの出力信号と前記第２コンパレータの出力信号とに基づいて、前記増幅回路の出力電圧が前記第３しきい電圧から前記第４しきい電圧までの範囲から逸脱した場合に異常状態と判定する。
【００２８】
上記の構成によれば、前記第１検査モード及び前記第２検査モードにおいて前記オープン状態及び前記ショート状態の判定を行う前記判定回路が、前記通常動作モードにおいて前記増幅回路の出力電圧の判定にも兼用される。これにより、前記通常動作モードにおいて前記増幅回路の出力電圧の判定用に専用の回路を設ける場合に比べて構成が簡易になる。
【発明の効果】
【００２９】
本発明によれば、抵抗のオープン状態及びショート状態を簡易な構成で精度よく検査できる。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】本発明の実施形態に係る負荷駆動装置の構成の一例を示す図であり、第１検査モード及び第２検査モードにおける回路の状態を示す。
【図２】本発明の実施形態に係る負荷駆動装置の構成の一例を示す図であり、通常動作モードにおける回路の状態を示す。
【図３】増幅回路の構成の一例を示す図であり、第１検査モード及び第２検査モードにおける回路の状態を示す。
【図４】増幅回路の構成の一例を示す図であり、通常動作モードにおける回路の状態を示す。
【図５】第１検査モード及び第２検査モードにおける増幅回路の出力電圧と判定結果との関係を説明するための図である。
【図６】通常動作モードにおける増幅回路の出力電圧と判定結果との関係を説明するための図である。
【図７】本発明の実施形態に係るオープン／ショート検出回路の構成の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００３１】
図１及び図２は、本発明の実施形態に係る負荷駆動装置１の構成の一例を示す図である。図１及び図２に示す負荷駆動装置１は、駆動対象の負荷Ｌ１に電流ＩＬを供給する装置であり、電流出力回路１０と、検出回路２０と、抵抗Ｒｓを有する。図示の例において負荷Ｌ１はインダクタであるが、他の種類の負荷でもよい。
【００３２】
電流出力回路１０と検出回路２０は、例えば半導体チップ上に形成された集積回路である。電流出力回路１０と検出回路２０は、同じ半導体チップ上に形成されてもよいし、異なる半導体チップ上に形成されてもよい。
【００３３】
抵抗Ｒｓは、負荷Ｌ１の駆動により流れる電流ＩＬの経路上に設けられている。負荷駆動装置１は、この抵抗Ｒｓに生じる電圧に基づいて、電流ＩＬを検出する。負荷駆動装置１は、負荷Ｌ１の駆動を行う通常動作モードに加えて、抵抗Ｒｓの状態を検査する２つの検査モード（第１検査モード，第２検査モード）を持つ。負荷駆動装置１は、第１検査モードにおいて抵抗Ｒｓのオープン状態を検査し、第２検査モードにおいて抵抗Ｒｓのショート状態を検査する。図１は第１検査モード及び第２検査モードにおける回路の状態（スイッチ，しきい電圧など）を示し、図２は通常動作モードにおける回路の状態を示す。
【００３４】
電流出力回路１０は、通常動作モードにおいて、入力信号Ｖｉｎに応じた電流ＩＬを負荷Ｌ１に出力し、第１検査モード及び第２検査モードにおいて、一方向に流れる電流を抵抗Ｒｓに出力する。電流出力回路１０は、抵抗Ｒｓのオープン状態を検査する第１検査モードにおいて第１定電流Ｉ１を出力し、抵抗Ｒｓのショート状態を検査する第２検査モードにおいて第２定電流Ｉ２を出力する。第２定電流Ｉ２は第１定電流Ｉ１よりも大きい。ショート状態の検査時には、オープン状態の検査時よりも大きな電流ＩＬが抵抗Ｒｓに流れる。
【００３５】
図示の例において、電流出力回路１０は、出力段１１と、第１トランジスタ駆動回路１２と、第２トランジスタ駆動回路１３を有する。
【００３６】
出力段１１は、通常動作モードにおいて負荷Ｌ１に流れる電流を制御する４つの出力トランジスタＭ１〜Ｍ４を含む。図示の例において、出力トランジスタＭ１〜Ｍ４はＨブリッジを構成しており、負荷Ｌ１に双方向の電流ＩＬを流すことができる。出力トランジスタＭ１及びＭ３はｐ型ＭＯＳトランジスタであり、出力トランジスタＭ２及びＭ４はｎ型ＭＯＳトランジスタである。出力トランジスタＭ１及びＭ２が電源ＶＤＤとグランドとの間に直列接続され、その接続中点（出力トランジスタＭ１及びＭ２のドレイン）が端子Ｔ３に接続される。出力トランジスタＭ１のソースが電源ＶＤＤに接続され、出力トランジスタＭ２のソースがグランドに接続される。出力トランジスタＭ３及びＭ４が電源ＶＤＤとグランドとの間に直列接続され、その接続中点（出力トランジスタＭ３及びＭ４のドレイン）が端子Ｔ４に接続される。出力トランジスタＭ３のソースが電源ＶＤＤに接続され、出力トランジスタＭ４のソースがグランドに接続される。端子Ｔ３と端子Ｔ４との間に、負荷Ｌ１と抵抗Ｒが直列接続される。
【００３７】
第１トランジスタ駆動回路１２は、通常動作モードにおいて、出力段１１に含まれる４つの出力トランジスタＭ１〜Ｍ４をそれぞれ駆動する。第１トランジスタ駆動回路１２は、Ｈブリッジを構成する出力トランジスタＭ１〜Ｍ４の各ゲートに駆動電圧を供給する。第１トランジスタ駆動回路１２は、端子Ｔ１−Ｔ２間に入力される信号Ｖｉに応じた電流が負荷Ｌ１に流れるように、出力トランジスタＭ１〜Ｍ４を制御する。
【００３８】
第２トランジスタ駆動回路１３は、第１検査モード及び第２検査モードにおいて、出力段１１の出力トランジスタＭ１〜Ｍ４を第１トランジスタ駆動回路１２からそれぞれ切り離す。そして第２トランジスタ駆動回路１３は、第１トランジスタ駆動回路１２から切り離した出力トランジスタＭ１及びＭ４が抵抗Ｒｓに一方向の電流を流す電流源として動作するように、この２つのトランジスタを駆動する。
【００３９】
第２トランジスタ駆動回路１３は、図示の例において、スイッチＳＷ１〜ＳＷ６と、カレントミラー用トランジスタＭ５と、参照電流設定回路１２１を有する。
【００４０】
スイッチＳＷ１〜ＳＷ４は、第１トランジスタ駆動回路１２から出力トランジスタＭ１〜Ｍ４へ駆動電圧を入力する経路に設けられており、第１検査モード及び第２検査モードにおいてオフし（図１）、通常動作モードにおいてオンする（図２）。
【００４１】
カレントミラー用トランジスタＭ５は、第１検査モード及び第２検査モードにおいて、出力トランジスタＭ１と共にカレントミラー回路を構成する。図示の例において、カレントミラー用トランジスタＭ５はｐ型ＭＯＳトランジスタであり、ソースが電源ＶＤＤに接続され、ドレインとゲートがスイッチＳＷ５を介して出力トランジスタＭ１のゲートに接続される。スイッチＳＷ５は、第１検査モード及び第２検査モードにおいてオンし（図１）、通常動作モードにおいてオフする（図２）。
【００４２】
参照電流設定回路１２１は、第１検査モードにおいて、カレントミラー用トランジスタＭ５に流れる電流を第１参照電流Ｉｒ１に設定し、第２検査モードにおいて、カレントミラー用トランジスタＭ５に流れる電流を第１参照電流Ｉｒ１より大きい第２参照電流Ｉｒ２に設定する。参照電流設定回路１２１は、例えば、カレントミラー用トランジスタＭ５のドレインに第１参照電流Ｉｒ１又は第２参照電流Ｉｒ２を流す定電流回路を含んで構成される。
【００４３】
スイッチＳＷ６は、出力トランジスタＭ４のゲートと電源ＶＤＤとの間に接続されており、第１検査モード及び第２検査モードにおいてオンし（図１）、通常動作モードにおいてオフする（図２）。
【００４４】
検出回路２０は、抵抗Ｒｓの電圧に基づいて電流ＩＬを検出するとともに、この抵抗Ｒｓの電圧に基づいて抵抗Ｒｓのオープン状態やショート状態などの異常の有無を判定する。検出回路２０は、図示の例において、増幅回路２１と、第１コンパレータＣＰ１と、第２コンパレータＣＰ２と、判定回路２２と、しきい電圧制御回路２３を有する。
【００４５】
増幅回路２１は、抵抗Ｒｓに生じる電圧を増幅し、この増幅結果に所定の基準電圧が加算された電圧Ｖａｍｐを出力する。一例において、増幅回路２１は、第１検査モード及び第２検査モードの基準電圧を「Ｖｒｅｆ」とし、通常動作モードの基準電圧を「Ｖｃｏｍ」とする。基準電圧ＶｒｅｆとＶｃｏｍは同じ値でもよい。
【００４６】
増幅回路２１は、第１検査モードと第２検査モードとでゲインの極性を反転するとともに、第２検査モードにおけるゲインの大きさ「Ａ２」を第１検査モードにおけるゲインの大きさ「Ａ１」より大きい値に設定する。増幅回路２１は、通常動作モードにおけるゲインの大きさを「Ａｎ」に設定する。
【００４７】
各動作モードにおける増幅回路２１の出力電圧Ｖａｍｐは、例えば次の式で表される。ただし、「Ｒｓ」は抵抗Ｒｓの抵抗値を示し、「ＩＬ」は通常動作モードにおいて抵抗Ｒｓに流れる電流を示す。
【００４８】
第１検査モード（オープン状態の検査モード）：
Ｖａｍｐ  ＝  Ｖｒｅｆ−Ａ１・Ｉ１・Ｒｓ    …（１）
【００４９】
第２検査モード（ショート状態の検査モード）：
Ｖａｍｐ  ＝  Ｖｒｅｆ＋Ａ２・Ｉ２・Ｒｓ    …（２）
【００５０】
通常動作モード：
Ｖａｍｐ  ＝  Ｖｃｏｍ＋Ａｎ・ＩＬ・Ｒｓ    …（３）
【００５１】
図３及び図４は、増幅回路２１の構成の一例を示す図である。図３は第１検査モード及び第２検査モードにおける回路の状態を示し、図４は通常動作モードにおける回路の状態を示す。図示の例において、増幅回路２１は、オペアンプＯＰ１と、極性反転回路Ｘ１と、抵抗Ｒ１〜Ｒ６と、スイッチＳＷ７〜ＳＷ１２を有する。
【００５２】
オペアンプＯＰ１の反転入力端子（−）と出力端子との間に、抵抗Ｒ３とスイッチＳＷ７が直列接続されるとともに、抵抗Ｒ４とスイッチＳＷ８が直列接続される。
【００５３】
オペアンプＯＰ１の非反転入力端子（＋）とノードＮ１との間に、抵抗Ｒ５とスイッチＳＷ９が直列接続されるとともに、抵抗Ｒ６とスイッチＳＷ１０が直列接続される。
【００５４】
ノードＮ１には、スイッチＳＷ１１を介して基準電圧Ｖｒｅｆが印加されるか、又は、スイッチＳＷ１２を介して基準電圧Ｖｃｏｍが印加される。
【００５５】
オペアンプＯＰ１の反転入力端子（−）は、抵抗Ｒ１及び極性反転回路Ｘ１を介して、端子Ｔ５又はＴ６に接続される。オペアンプＯＰ１の非反転入力端子（＋）は、抵抗Ｒ２及び極性反転回路Ｘ１を介して、端子Ｔ５又はＴ６に接続される。端子Ｔ５及びＴ６は、抵抗Ｒｓの両端に接続される。
【００５６】
極性反転回路Ｘ１は、端子Ｔ５及びＴ６と抵抗Ｒ１及びＲ２の一端とを一対一に接続するスイッチであり、第１検査モードと第２検査モードとで接続関係を反転させる。
【００５７】
極性反転回路Ｘ１は、第１検査モード（オープン状態の検査モード）において、抵抗Ｒ１の一端を端子Ｔ５に接続するとともに、抵抗Ｒ２の一端を端子Ｔ６に接続する。他方、極性反転回路Ｘ１は、第２検査モード（ショート状態の検査モード）において、抵抗Ｒ１の一端を端子Ｔ６に接続するとともに、抵抗Ｒ２の一端を端子Ｔ５に接続する。また極性反転回路Ｘ１は、通常動作モードにおいて、抵抗Ｒ１の一端を端子Ｔ６に接続するとともに、抵抗Ｒ２の一端を端子Ｔ５に接続する。
【００５８】
第１検査モード及び第２検査モードでは、図３に示すように、スイッチＳＷ７，ＳＷ９，ＳＷ１１がオンし、スイッチＳＷ８，ＳＷ１０，ＳＷ１２がオフする。この場合、ノードＮ１に基準電圧Ｖｒｅｆが印加され、オペアンプＯＰ１には抵抗Ｒ３，Ｒ５が接続される。抵抗Ｒ３，Ｒ５は可変抵抗であり、第２検査モードのときの抵抗値が第１検査モードに比べて大きくなる。これにより、第２検査モードにおけるゲインの大きさ「Ａ２」は第１検査モードにおけるゲインの大きさ「Ａ１」より大きい値となる。
【００５９】
図３，図４の例では、端子Ｔ６の電位を基準として抵抗Ｒｓの電圧Ｖｒが規定されている。第１検査モードでは、極性反転回路Ｘ１によって抵抗Ｒ１の一端が端子Ｔ５に接続されるとともに、抵抗Ｒ２の一端が端子Ｔ６に接続されるため、電圧Ｖｒを増幅する増幅回路２１のゲインの極性は負となり、極性を含むゲインは「−Ａ１」となる（式（１））。一方、第２検査モードでは、極性反転回路Ｘ１によって抵抗Ｒ１の一端が端子Ｔ６に接続されるとともに、抵抗Ｒ２の一端が端子Ｔ５に接続されるため、電圧Ｖｒを増幅する増幅回路２１のゲインの極性は正となり、極性を含むゲインは「＋Ａ２」となる（式（２））。
【００６０】
通常動作モードでは、図４に示すように、スイッチＳＷ７，ＳＷ９，ＳＷ１１がオフし、スイッチＳＷ８，ＳＷ１０，ＳＷ１２がオンする。この場合、ノードＮ１に基準電圧Ｖｃｏｍが印加され、オペアンプＯＰ１には一定の抵抗値を持つ抵抗Ｒ４，Ｒ６が接続される。抵抗Ｒ４，Ｒ６の抵抗値は、例えば、増幅回路２１のゲインの大きさが「Ａ１」から「Ａ２」までの範囲に含まれるように設定される。通常動作モードでは、極性反転回路Ｘ１によって抵抗Ｒ１の一端が端子Ｔ６に接続されるとともに、抵抗Ｒ２の一端が端子Ｔ５に接続されるため、電圧Ｖｒを増幅する増幅回路２１のゲインの極性は正となり、極性を含むゲインは「＋Ａｎ」となる（式（３））。
【００６１】
第１コンパレータＣＰ１及びＣＰ２は、しきい電圧制御回路２３から入力されるしきい電圧と増幅回路２１の出力電圧Ｖａｍｐとを比較し、その比較結果に応じた信号を出力する。
【００６２】
第１コンパレータＣＰ１は、第１検査モード及び第２検査モードにおいて、増幅回路２１の出力電圧Ｖａｍｐと、抵抗Ｒｓのオープン状態の判定条件として設定された第１しきい電圧Ｖｏとを比較する（図１）。第１コンパレータＣＰ１は、電圧Ｖａｍｐが第１しきい電圧Ｖｏに比べて高い場合にハイレベルの信号を出力し、電圧Ｖａｍｐが第１しきい電圧Ｖｏに比べて低い場合にローレベルの信号を出力する。抵抗Ｒｓがオープン状態の場合、第１検査モードにおいて第１コンパレータＣＰ１の出力信号がローレベルとなる。
【００６３】
第１コンパレータＣＰ１は、通常動作モードにおいて、増幅回路２１の出力電圧Ｖａｍｐと、低電圧側の第３しきい電圧ＶＬとを比較する（図２）。第１コンパレータＣＰ１は、電圧Ｖａｍｐが第３しきい電圧ＶＬに比べて高い場合にハイレベルの信号を出力し、電圧Ｖａｍｐが第３しきい電圧ＶＬに比べて低い場合にローレベルの信号を出力する。通常動作モードにおいて電圧Ｖａｍｐが正常範囲を逸脱して低くなった場合、第１コンパレータＣＰ１の出力信号がローレベルとなる。
【００６４】
第２コンパレータＣＰ２は、第１検査モード及び第２検査モードにおいて、増幅回路２１の出力電圧Ｖａｍｐと、抵抗Ｒｓのショート状態の判定条件として設定された第２しきい電圧Ｖｓとを比較する（図１）。第２コンパレータＣＰ２は、電圧Ｖａｍｐが第２しきい電圧Ｖｓに比べて低い場合にハイレベルの信号を出力し、電圧Ｖａｍｐが第２しきい電圧Ｖｓに比べて高い場合にローレベルの信号を出力する。抵抗Ｒｓがショート状態の場合、第２検査モードにおいて第２コンパレータＣＰ２の出力信号がハイレベルとなる。
【００６５】
第２コンパレータＣＰ２は、通常動作モードにおいて、増幅回路２１の出力電圧Ｖａｍｐと、高電圧側の第４しきい電圧ＶＨとを比較する（図２）。第２コンパレータＣＰ２は、電圧Ｖａｍｐが第４しきい電圧ＶＨに比べて低い場合にハイレベルの信号を出力し、電圧Ｖａｍｐが第４しきい電圧ＶＨに比べて高い場合にローレベルの信号を出力する。通常動作モードにおいて電圧Ｖａｍｐが正常範囲を逸脱して高くなった場合、第２コンパレータＣＰ２の出力信号がローレベルとなる。
【００６６】
本実施形態において、第１コンパレータＣＰ１及び第２コンパレータＣＰ２は、それぞれヒステリシス特性を持つコンパレータである。ショート状態の判定を行う第２コンパレータＣＰ２は、比較結果の出力信号の反転に必要な入力の電圧差であるヒステリシス幅が第１コンパレータＣＰ１に比べて大きい。第２コンパレータＣＰ２は第１コンパレータＣＰ１に比べてヒステリシス幅が大きいため、ノイズに対する感度が低い。
【００６７】
しきい電圧制御回路２３は、第１コンパレータＣＰ１及び第２コンパレータＣＰ２に入力するしきい電圧を制御する。しきい電圧制御回路２３は、第１検査モード及び第２検査モードにおいて、第１コンパレータＣＰ１に第１しきい電圧Ｖｏを入力するとともに第２コンパレータＣＰ２に第２しきい電圧Ｖｓを入力し、通常動作モードにおいて、第１コンパレータＣＰ１に第３しきい電圧ＶＬを入力するとともに第２コンパレータＣＰ２に第４しきい電圧ＶＨを入力する。
【００６８】
判定回路２２は、第１コンパレータＣＰ１の出力信号と第２コンパレータＣＰ２の出力信号とに基づいて、第１検査モードでは抵抗Ｒｓのオープン状態の有無を判定し、第２検査モードでは抵抗Ｒｓのショート状態の有無を判定する。具体的には、判定回路２２は、第１検査モードにおいて第１コンパレータＣＰ１の出力信号がローレベルの場合に抵抗Ｒｓがオープン状態であると判定し、第２検査モードにおいて第２コンパレータＣＰ２の出力信号がハイレベルの場合に抵抗Ｒｓがショート状態であると判定する。
【００６９】
また、判定回路２２は、通常動作モードにおいて、第１コンパレータＣＰ１の出力信号と第２コンパレータＣＰ２の出力信号とに基づいて、増幅回路２１の出力電圧Ｖａｍｐが第３しきい電圧ＶＬから第４しきい電圧ＶＨまでの範囲から逸脱した場合に異常状態と判定する。具体的には、判定回路２２は、第１コンパレータＣＰ１の出力信号及び第２コンパレータＣＰ２の出力信号の少なくとも一方がローレベルの場合に異常状態と判定する。
【００７０】
判定回路２２は、例えば、第１コンパレータＣＰ１の出力信号と第２コンパレータＣＰ２の出力信号との否定論理積を演算するＮＡＮＤ回路によって構成される。ＮＡＮＤ回路の出力信号Ｓｆは、第１検査モードにおいてハイレベルの場合に抵抗Ｒｓのオープン状態を示し、第２検査モードにおいてローレベルの場合に抵抗Ｒｓのショート状態を示し、通常動作モードにおいてハイレベルの場合に電圧Ｖａｍｐの異常を示す。
【００７１】
ここで、上述した構成を有する本実施形態に係る負荷駆動装置１の動作を説明する。
【００７２】
（第１検査モード、第２検査モード）
第１検査モード及び第２検査モードでは、図１に示すように、スイッチＳＷ１〜ＳＷ４がオフし、スイッチＳＷ５及びＳＷ６がオンする。これにより、カレントミラー用トランジスタＭ５と出力トランジスタＭ１によるカレントミラー回路が構成され、出力トランジスタＭ４がオン状態となる。カレントミラー回路による電流ＩＬは一方向であり、電源ＶＤＤから負荷Ｌ１及び抵抗Ｒｓを通ってグランドに流れる。増幅回路２１では、この電流ＩＬによって抵抗Ｒｓに生じた電圧Ｖｒが増幅され、その増幅結果に基準電圧Ｖｒｅｆを加算した電圧Ｖａｍｐが出力される。
【００７３】
図５は、第１検査モード及び第２検査モードにおける増幅回路２１の出力電圧Ｖａｍｐと判定結果との関係を説明するための図である。横軸は抵抗Ｒｓの抵抗値を示し、縦軸は増幅回路２１の出力電圧Ｖａｍｐを示す。直線Ｗ１は、第１検査モードにおける抵抗値Ｒｓと電圧Ｖａｍｐとの比例関係を示し、直線Ｗ２は、第２検査モードにおける抵抗値Ｒｓと電圧Ｖａｍｐとの比例関係を示す。
【００７４】
第１検査モードでは、増幅回路２１のゲインの極性が負となるため、図５の直線Ｗ１に示すように、抵抗値Ｒｓが大きくなるほど電圧Ｖａｍｐは基準電圧Ｖｒｅｆに対して低下する。電圧Ｖａｍｐは基準電圧Ｖｒｅｆより常に低い電圧となり、第２コンパレータＣＰ２の出力信号は常にハイレベルとなる。電圧Ｖａｍｐが第１しきい電圧Ｖｏより低くなると、抵抗値Ｒｓは「Ｒｏｐｅｎ」より大きくなる。この場合、第１コンパレータＣＰ１の出力信号がローレベルとなるため、判定回路２２からオープン状態を示すハイレベルの信号Ｓｆが出力される。
【００７５】
第２検査モードでは、増幅回路２１のゲインの極性が正となるため、図５の直線Ｗ２に示すように、抵抗値Ｒｓが大きくなるほど電圧Ｖａｍｐは基準電圧Ｖｒｅｆに対して上昇する。電圧Ｖａｍｐは基準電圧Ｖｒｅｆより常に高い電圧となり、第１コンパレータＣＰ１の出力信号は常にハイレベルとなる。電圧Ｖａｍｐが第２しきい電圧Ｖｓより低くなると、抵抗値Ｒｓは「Ｒｓｈｏｒｔ」より小さくなる。この場合、第２コンパレータＣＰ２の出力信号がハイレベルとなるため、判定回路２２からショート状態を示すローレベルの信号Ｓｆが出力される。
【００７６】
第２検査モードにおいて電流出力回路１０から出力される第２定電流Ｉ２は第１検査モードの第１定電流Ｉ１より大きく、また、第２検査モードにおける増幅回路２１のゲインの大きさ「Ａ２」は第２検査モードの「Ａ１」より大きい。そのため、図５に示すように、直線Ｗ１の傾きは直線Ｗ２より大きくなる。すなわち、第２検査モードでは微小な抵抗値Ｒｓの判定を行うため、増幅回路２１の出力電圧Ｖａｍｐの振幅（電圧Ｖｒの増幅結果の成分）が大きくなるように、増幅回路２１のゲインや電流出力回路１０の電流値が設定される。
【００７７】
（通常動作モード）
通常動作モードでは、図２に示すように、スイッチＳＷ１〜ＳＷ４がオンし、スイッチＳＷ５及びＳＷ６がオフする。これにより、第１トランジスタ駆動回路１２から出力トランジスタＭ１〜Ｍ４へそれぞれ駆動電圧が入力され、負荷Ｌ１には入力信号Ｖｉに応じた双方向の電流ＩＬが流れる。増幅回路２１では、この電流ＩＬによって抵抗Ｒｓに生じた電圧Ｖｒが増幅され、その増幅結果に基準電圧Ｖｃｏｍを加算した電圧Ｖａｍｐが出力される。
【００７８】
図６は、通常動作モードにおける増幅回路２１の出力電圧Ｖａｍｐと判定結果との関係を説明するための図である。横軸は時間を示し、縦軸は増幅回路２１の出力電圧Ｖａｍｐを示す。図６に示すように、電圧Ｖａｍｐが第３しきい電圧ＶＬより低くなる場合や第４しきい電圧ＶＨより高くなる場合、判定回路２２から電圧Ｖａｍｐの異常を示すハイレベルの信号Ｓｆが出力される。
【００７９】
以上説明したように、本実施形態によれば、オープン状態の判定とショート状態の判定とにそれぞれ独立のコンパレータが使用され、この２つの判定が独立の検査モードで個別に行われる。これにより、それぞれの判定に適した条件を設定できるため、判定の精度を高め易くなる。
【００８０】
本実施形態によれば、第１検査モードと第２検査モードとにおいて電流出力回路１０（電流ＩＬの電流源）、増幅回路２１及び判定回路２２が共通に使用される。そのため、オープン状態の判定とショート状態の判定とにそれぞれ専用の検査回路を設ける場合に比べて、回路構成を簡易化できる。
【００８１】
本実施形態によれば、第１検査モード及び第２検査モードにおいて抵抗Ｒｓには一方向に電流ＩＬが流れるのに対し、増幅回路２１のゲインの極性は、この２つの検査モードにおいて反転する。すなわち、第１検査モードでは、抵抗Ｒｓの抵抗値が大きくなるにつれて増幅回路２１の出力電圧Ｖａｍｐが基準電圧Ｖｒｅｆに対して低くなり、基準電圧Ｖｒｅｆより高くならない。第２検査モードでは、抵抗Ｒｓの抵抗値が大きくなるにつれて増幅回路２１の出力電圧Ｖａｍｐが基準電圧Ｖｒｅｆに対して高くなり、基準電圧Ｖｒｅｆより低くならない。基準電圧Ｖｒｅｆは、第１しきい電圧Ｖｏと第２しきい電圧Ｖｓとの間の電圧であるため、第１コンパレータＣＰ１の出力信号によりオープン状態の有無が判定される第１検査モードでは、増幅回路２１の出力電圧Ｖａｍｐに関わらず、第２コンパレータＣＰ２の出力信号が常にハイレベルとなる。第２コンパレータＣＰ２の出力信号によりショート状態の有無が判定される第２検査モードでは、増幅回路２１の出力電圧Ｖａｍｐに関わらず、第１コンパレータＣＰ１の出力信号が常にハイレベルとなる。すなわち、各検査モードでは、２つのコンパレータ（第１コンパレータＣＰ１，第２コンパレータＣＰ２）の何れか一方の出力信号が常にハイレベルとなる。従って、判定回路２２では、２つのコンパレータの出力信号に基づいて、簡単な回路構成で（図１の例では１つのＮＡＮＤ回路で）２つの検査モードの判定結果を得ることができる。
【００８２】
本実施形態によれば、ショート状態の有無が判定される第２検査モードにおいて抵抗Ｒｓに流れる電流が大きくなり、増幅回路２１の出力電圧Ｖａｍｐの振幅が大きくなる。そのため、基準電圧Ｖｒｅｆに対する第２しきい電圧Ｖｓの差を大きくすることが可能となり、ショート状態の判定の精度を向上できる。
【００８３】
本実施形態によれば、ショート状態の有無が判定される第２検査モードにおいて増幅回路２１のゲインが大きくなり、増幅回路２１の出力電圧Ｖａｍｐの振幅が大きくなるため、基準電圧Ｖｒｅｆに対する第２しきい電圧Ｖｓの差を大きくすることが可能となり、ショート状態の判定の精度を向上できる。
【００８４】
本実施形態によれば、第２検査モードにおいて増幅回路２１の出力電圧Ｖａｍｐの振幅が大きくなる（増幅回路２１の感度が高くなる）ことによりノイズの振幅が大きくなっても、第２コンパレータＣＰ２には比較的大きなヒステリシス幅が設定されているため、ノイズに対する第２コンパレータＣＰ２の感度が低くなる。これにより、ショート状態の有無の誤判定を生じ難くすることができる。
【００８５】
本実施形態によれば、通常動作モードにおいて負荷Ｌ１に電流ＩＬを出力する電流出力回路１０が、第１検査モード及び第２検査モードにおいて負荷Ｌ１に検査用の電流ＩＬを出力する電流源として動作する。そのため、検査モードのために独立の電流源を設ける場合に比べて回路構成を簡易化できる。
【００８６】
本実施形態によれば、通常動作モードにおいて負荷Ｌ１に流れる電流ＩＬを制御する出力段１１の出力トランジスタＭ１及びＭ４が、第１検査モード及び第２検査モードにおいて負荷Ｌ１に一方向の定電流（Ｉ１又はＩ２）を出力する電流源として動作するように駆動される。そのため、検査モードのために独立の電流源を設ける場合に比べて回路構成を簡易化できる。また、電流出力回路１０を半導体チップ上に集積回路として形成した場合、通常動作モードで電流ＩＬの制御に使用される出力トランジスタＭ１，Ｍ４には、高いＥＳＤ耐性が得られるように比較的大きなサイズを持つトランジスタが使用される。もし検査モードのために独立の電流源を設けたとすると、この大きなサイズのトランジスタを別途追加しなければならなくなる。これに対し、本実施形態によれば、出力トランジスタＭ１，Ｍ４が検査モードの電流源として兼用されるため、回路サイズの大型化を抑制できる。
【００８７】
本実施形態によれば、第１検査モード及び第２検査モードにおいてオープン状態及びショート状態の判定を行う判定回路２２が、通常動作モードにおいて増幅回路２１の出力電圧Ｖａｍｐの判定にも兼用される。これにより、通常動作モードにおいて電圧Ｖａｍｐの判定用に専用の回路を設ける場合に比べて回路構成を簡易化できる。
【００８８】
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記の実施形態に限定されるものではなく、種々のバリエーションを含んでいる。
【００８９】
上述した実施形態では、負荷駆動装置１の電流出力回路１０が第１検査モード及び第２検査モードにおける電流源として使用されているが、本発明はこの例に限定されない。すなわち本発明は、独立した電流源を持ち、任意の装置において抵抗のオープン状態及びショート状態の検査を行うオープン／ショート検査回路にも適用可能である。
【００９０】
図７は、本発明の実施形態に係るオープン／ショート検出回路２の構成の一例を示す図である。図７に示すオープン／ショート検出回路２は、負荷Ｌ１と直列に接続された抵抗Ｒｓのオープン状態及びショート状態を検出する。このオープン／ショート検出回路２は、通常動作モードにおいて入力信号Ｖｉに応じた電流ＩＬを負荷Ｌ１に出力する電流出力回路５とは独立に、第１検査モード及び第２検査モードにおいて負荷Ｌ１に電流ＩＬを出力する電流源Ｉ５を備える。電流源Ｉ５は、第１検査モードにおいて第１定電流Ｉ１を出力し、第２検査モードにおいて第２定電流Ｉ２を出力する。オープン／ショート検出回路２は、この電流源Ｉ５の他に、図１及び図２に示す負荷駆動装置１と同様な構成要素（増幅回路２１、第１コンパレータＣＰ１、第２コンパレータＣＰ２、しきい電圧制御回路２３、判定回路２２）を備える。図７に示すオープン／ショート検出回路２においても、上述した実施形態と同様の効果を奏することができる。
【００９１】
上述した実施形態における回路構成は一例であり、同等の機能を持つ別の回路に置き換えてもよい。
【符号の説明】
【００９２】
１…負荷駆動装置、１０…電流出力回路、１１…出力段、１２…第１トランジスタ駆動回路、１２１…参照電流設定回路、１３…第２トランジスタ駆動回路、２０…検出回路、２１…増幅回路、２２…判定回路、２３…しきい電圧制御回路、ＣＰ１…第１コンパレータ、ＣＰ２…第２コンパレータ、Ｍ１〜Ｍ４…出力トランジスタ、Ｍ５…カレントミラー用トランジスタ、ＳＷ１〜ＳＷ１２…スイッチ、Ｘ１…極性反転回路、ＯＰ１…オペアンプ、Ｒｓ…抵抗、Ｒ１〜Ｒ６…抵抗、Ｌ１…負荷、Ｖｏ…第１しきい電圧、Ｖｓ…第２しきい電圧、ＶＬ…第３しきい電圧、ＶＨ…第４しきい電圧、Ｉ１…第１定電流、Ｉ２…第２定電流、Ｉｒ１…第１参照電流、Ｉｒ２…第２参照電流、Ｖｒｅｆ，Ｖｃｏｍ…基準電圧。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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