(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験物を配置する試験槽と、
前記試験槽と連通する低温槽と、
前記低温槽内の気体を冷却して予冷状態とする冷凍機と、
前記試験槽と連通する高温槽と、
前記高温槽内の気体を加熱して予熱状態とする高温槽側ヒータと、
前記予冷状態となった前記低温槽内の気体または、予熱状態となった高温槽内の気体を、前記試験槽内に配置された被試験物の周囲に送り込んで、高温試験および低温試験を一温度サイクルとして交互に行う送風部と、
今回の低温試験と同一温度サイクル内の高温試験中に、前記冷凍機を予備起動して、前記低温槽が予冷温度となるまでの経過時間および、温度変化から温度勾配を算出するとともに、前記冷凍機を一旦停止状態としてから、前記温度勾配に基づいて今回の低温試験の開始までに前記低温槽が予冷状態となるように再起動させる制御部とを有する、環境試験装置。
【請求項２】
前記制御部は、前記温度勾配を算出する際、前回の低温試験の終了時、前記冷凍機を予備起動して、前記低温槽が予冷温度に至るまでの時間と、前記予冷運転を開始した時点の低温槽温度および予冷温度の温度差とを用いる、請求項１に記載の環境試験装置。
【請求項３】
前記制御部は、前記温度勾配と現在の低温槽温度を用いて、予冷復帰所要時間を算出する、請求項２記載の環境試験装置。
【請求項４】
前記制御部は、算出された前記予冷復帰所要時間を用いて、現在の前記低温槽が安定した予冷温度に到達してから、今回の低温試験が開始されるまでの間の予想温度安定時間を算出して、前記低温槽温度が予冷温度に安定して、今回の低温試験が開始されるまでに必要とされる温度安定最低時間と比較して、前記予想温度安定時間が前記温度安定最低時間を切らないように前記冷凍機を再起動する、請求項３記載の環境試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、環境試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
本技術分野の背景技術として、下記特許文献１の要約書には、「低温槽の冷却能力と目標温度到達時間及び高温室の加熱能力と目標温度到達時間の関係を演算し、低温試験中は高温室の電気加熱器の運転を、また高温試験中は低温室の冷凍機及び電気加熱器の運転を制御することにより、消費電力量を節減する効果がある。」と記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０００−２４９６４３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
前記特許文献1には、高温試験（もしくは準備運転）に続けて低温試験を交互に繰返し一温度サイクルとして被試験物の冷熱衝撃試験などの環境試験を行う環境試験装置が記載されている。
このうち、低温試験は、予め前回の高温試験の終了手前の時点にて収集したデータを用いて、今回の低温試験開始時刻までに低温室が予冷温度となるように冷凍機を起動するいわゆる予冷が行われる。
低温室を予冷温度とするために必要とされる冷凍機の冷凍能力は、試験温度、低温室の熱容量などの試験条件により左右され、冷凍機の最適な起動タイミングは、各低温試験ごとに相違する。このため、予め前回の温度サイクルの低温試験のデータを収集して、低温槽が予冷温度となるまでの時間から冷凍機の起動タイミングを算出している。
しかしながら、前回の高温試験から今回の低温試験の予冷（以下、予冷運転とも記す）までの間に、低温槽の周囲から侵入する熱量や冷凍機の着霜状態などの外的要因が変化して、冷凍機の起動タイミングの予測精度が低下してしまうおそれがある。
また、一温度サイクルあたりの所要時間が長くなると、外的要因の変化による影響を受けやすくなり、さらに冷凍機の起動タイミングの予測精度が低下してしまう。
この発明は、試験条件に応じた最適な再起動タイミングを精度よく自動算出することができる環境試験装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記課題を解決するため本発明の環境試験装置は、制御部は、今回の低温試験と同一温度サイクル内の高温試験中に、冷凍機を予備起動して、低温槽が予冷温度となるまでの経過時間および、温度変化から温度勾配を算出する。
そして、冷凍機を一旦停止状態としてから、温度勾配に基づいて今回の低温試験の開始までに低温槽が予冷状態となるように再起動させる。
【発明の効果】
【０００６】
本発明によれば、試験条件に応じた最適な再起動タイミングを精度よく自動算出することができる環境試験装置を提供できる。
上記した以外の課題、構成および効果は、以下の実施の形態により明らかにされる。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】本発明の第1実施形態の環境試験装置の模式図。
【図２】第1実施形態の環境試験装置のブロック図。
【図３】第１実施形態の環境試験装置のフローチャート。
【図４】第１実施形態の環境試験装置において、一旦停止した冷凍機を高温試験中に再起動する様子を示すタイムチャートである。
【図５】第1実施形態の環境試験装置において、再起動が遅れて温度安定最低時間が確保されない様子を示すタイムチャートである。
【図６】第1実施形態の環境試験装置において、予想温度安定時間が温度安定最低時間と一致した時刻にて冷凍機を再起動させる様子を示すタイムチャートである。
【図７】第２実施形態の環境試験装置の構成を説明する模式図である。
【図８】第２実施形態の環境試験装置において、一旦停止した冷凍機を高温試験中に再起動する様子を示すタイムチャートである。
【図９】第２実施形態の環境試験装置において、予想温度安定時間が温度安定最低時間と一致した場合、冷凍機を再起動させる様子を示すタイムチャートである。
【図１０】第２実施形態の環境試験装置において、再起動が遅れて温度安定最低時間が確保されない様子を示すタイムチャートである。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
（第１実施の形態）
（全体構成）
以下、図１に示す構成の模式図、図２に示すブロック図を参照し、本発明の第１実施形態による環境試験装置1の構成を説明する。
図１において、環境試験装置１は、被試験物７０を配置する試験槽１０と、前記試験槽１０に通風口２８，２９を介して連通する低温槽２０と、低温槽２０内に設けられた冷凍機２４と、低温槽送風部２７と、試験槽１０に通風口３８，３９を介して連通する高温槽３０と、高温槽３０内に設けられた高温槽側ヒータ３６と、高温槽送風部３７とを有する。
【０００９】
また、図２に示すように制御部４０は、冷凍機２４，高温槽側ヒータ３６，高温槽送風部３７，低温槽側送風機５２，高温槽側送風機６２および試験槽温度センサ１２，低温槽温度センサ２２，高温槽温度センサ３２とそれぞれ接続されている。なお、制御部４０の詳細な構成については後述する。
前記試験槽１０は、前記試験槽１０内の気体（雰囲気）の温度を検出する試験槽温度センサ１２を備える。試験槽温度センサ１２は試験槽１０内の気体の温度データを検出して前記制御部４０に出力する。
前記低温槽２０は、低温槽温度センサ２２を備える。低温槽温度センサ２２は、前記低温槽２０内の気体の温度を検出して、検出した気体の温度データを前記制御部４０に出力する。
【００１０】
第１実施形態の低温槽２０内には、冷凍機２４とともに低温槽側ヒータ２６が備えられている。低温槽側ヒータ２６は、冷凍機２４の冷力を補正する。冷凍機２４は、制御部４０により制御されて低温槽側ヒータ２６とともに、もしくは単独で起動して、運転状態および停止状態となるように交互に切替える。運転状態では、低温槽２０内の気体を冷却して予冷（予熱の蓄積）に必要な温度である予冷温度ＴＬとするほか、低温試験ＣＬが行われている状態では、試験槽温度（Ａ）が低温試験槽（Ｂ）の温度に保たれる。
【００１１】
前記低温槽送風部２７は、低温槽側送風機５２と、通風口２８，２９を開閉可能とする低温側吹出開閉ダンパ５０，低温側吸込開閉ダンパ５１とを備えている。この実施の形態の低温側吹出開閉ダンパ５０，低温側吸込開閉ダンパ５１は、圧縮空気や電動モータなどで作動するアクチュエータ５４，５５を有する。アクチュエータ５４，５５は、制御部４０からの制御信号に応じて前記低温側吹出開閉ダンパ５０，低温側吸込開閉ダンパ５１を開閉する方向へ駆動して、前記通風口２８，２９を開閉する。
【００１２】
制御部４０は、前記低温槽側送風機５２を駆動している状態で低温側吹出開閉ダンパ５０，低温側吸込開閉ダンパ５１を開いて、通風口２８，２９を介して低温槽２０内に冷却された気体を送りこみ急冷する。低温槽側送風機５２の駆動により、試験槽１０内に配置された被試験物７０の周囲には、低温槽２０，通風口２８，試験槽１０および通風口２９を介して気体が循環して、試験槽１０内の温度が低温試験温度（Ｃ）に近付けられる。また、制御部４０は、低温槽側送風機５２を駆動している状態で、低温側吹出開閉ダンパ５０，低温側吸込開閉ダンパ５１を閉じることにより予冷状態（冷熱の蓄積状態）における低温槽２０内の気体を低温槽２０内にて循環させることができる。
【００１３】
前記低温槽側送風機５２の駆動制御は単独で行われても、または同期させて低温側吹出開閉ダンパ５０，低温側吸込開閉ダンパ５１を開閉させてもよい。例えば、低温槽側送風機５２の駆動に同期させて低温側吹出開閉ダンパ５０，低温側吸込開閉ダンパ５１を開放するように構成してもよい。また、低温槽側送風機５２の駆動停止に同期させて低温側吹出開閉ダンパ５０，低温側吸込開閉ダンパ５１を閉じて、試験槽１０と低温槽２０との間の気体の流通を遮断するようにしてもよい。この場合、アクチュエータ５４，５５を省略することもできる。さらに、前記低温側吹出開閉ダンパ５０，低温側吸込開閉ダンパ５１の機構および動作は、第１実施形態の構成に限定されるものではなく、さらに簡略化もしくは省略された機構としてもよい。
【００１４】
前記制御部４０は、高温槽３０内に設けられた高温槽側ヒータ３６を制御して運転状態および停止状態を交互に切替える。運転状態では、高温槽３０内の気体を加熱して予熱状態とすることができる。
前記高温槽送風部３７は、高温槽側送風機６２と、前記通風口３８，３９を開閉可能とする高温側吹出開閉ダンパ６０，高温側吸込開閉ダンパ６１と、圧縮空気や電動モータなどで作動するアクチュエータ６４，６５とを備える。また、制御部４０は、高温槽側送風機６２を駆動している状態で高温側吹出開閉ダンパ６０，高温側吸込開閉ダンパ６１を開き、通風口３８，３９を介して試験槽１０内に配置された被試験物７０の周囲に予熱状態となった高温槽３０内の気体を送り込んで循環させることができる。そして、さらに制御部４０は、高温槽側送風機６２を駆動している状態で、高温側吹出開閉ダンパ６０，高温側吸込開閉ダンパ６１を閉じることにより予熱状態における高温槽３０内の気体を高温槽３０内にて循環させることができる。
【００１５】
また、この第１実施形態では、圧縮空気や電動モータなどで作動するアクチュエータ５４，５５および６４，６５を用いて、低温側吹出開閉ダンパ５０，低温側吸込開閉ダンパ５１および高温側吹出開閉ダンパ６０，高温側吸込開閉ダンパ６１を開閉させているが、どのような構成および駆動方式のアクチュエータでもよい。例えば、低，高温槽側送風機５２，６２の駆動により生じる風力によって受動的に開閉動作させるものでもよい。また、油圧などを用いて、低温側吹出開閉ダンパ５０，低温側吸込開閉ダンパ５１および高温側吹出開閉ダンパ６０，高温側吸込開閉ダンパ６１を開閉動作させるものでもよく、駆動力を発生・伝達するために用いる駆動源および伝達部材の形状、数量および材質が第１実施形態のアクチュエータ５４，５５および６４，６５に限定されない。
【００１６】
（制御部４０の構成）
前記制御部４０は、前記低温槽側送風機５２および高温槽側送風機６２の運転状態および停止状態を交互に切替える。すなわち、制御部４０は、前記試験槽温度センサ１２，低温槽温度センサ２２，高温槽温度センサ３２で検出されたデータに基づいて、主に前記冷凍機２４，低温槽側ヒータ２６，低温槽送風部２７を用いた予冷状態を利用する低温試験、および主に前記高温槽側ヒータ３６，高温槽送風部３７を用いた予熱状態を利用する高温試験を交互に行うことができる。
【００１７】
図２に示す第１実施形態の制御部４０は、入力部４１と、演算部４２と、タイマ部４４と、記憶部４６と、出力部４８とを有していて、ＲＡＭに展開されたアプリケーションプログラムによって実現される機能をブロック図として示しているものである。
入力部４１は、前記試験槽温度センサ１２，低温槽温度センサ２２および高温槽温度センサ３２により検知された温度データが入力される。この他にも入力部４１は、図示しないキーボード、あるいは通信装置等の外部入力装置を接続して、例えば試験状況や試験結果に関するデータ、高，低温試験繰返し回数、あるいは２ゾーン（高温試験・低温試験）または３ゾーン試験（高温試験・常温試験・低温試験）の切替えや高，低温設定温度などの試験条件のデータが入力されるように構成してもよい。
【００１８】
演算部４２は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＡＭ（Random Access Memory）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）等、一般的なコンピュータとしてのハードウエアを備えており、ＨＤＤには、ＯＳ（Operating System）、アプリケーションプログラム、各種データ等が格納されている。ＯＳおよびアプリケーションプログラムは、ＲＡＭに展開され、ＣＰＵによって実行され、タイマ部４４および記憶部４６とともに入力部４１に入力されたデータに応じて演算処理を行う。
タイマ部４４は、試験条件のデータに基づいて制御が行われる低温試験時間および高温試験時間を計時、または所望の温度に到達してからの経過時間などを計測する。
記憶部４６は、試験条件データを記憶し、あるいは一時的に、試験槽温度センサ１２， 低温槽温度センサ２２，高温槽温度センサ３２により検出された温度データを記憶するとともに、演算部４２により読み書きされるメモリまたはバッファ（いずれも図示しない）を含む。
【００１９】
出力部４８は、演算処理結果を制御部４０に接続される前記冷凍機２４，低温槽側ヒータ２６，低温槽側送風機５２，高温槽側ヒータ３６，高温槽側送風機６２にそれぞれ出力する。そして、前記冷凍機２４，低温槽側ヒータ２６，低温槽側送風機５２，高温槽側ヒータ３６，高温槽側送風機６２は、それぞれ制御信号に応じて駆動または駆動を停止させるように構成されている。
このように制御部４０は、制御信号を出力することにより、低温槽送風部２７，高温槽送風部３７によって予冷状態となった低温槽２０内の気体または、予熱状態となった高温槽３０内の気体を、試験槽１０内に配置された被試験物７０の周囲に送り込み、高温試験および低温試験を行う。環境試験装置１は、一温度サイクルを構成する高温試験および低温試験を交互に複数回繰返すことにより、高温試験および低温試験とを連続させて行うことができる。
【００２０】
なお、この第１実施形態では、図２に示す制御部４０の出力部４８から出力された制御信号に応じて、アクチュエータ５４，５５，６４，６５の駆動を制御することにより、低温側吹出開閉ダンパ５０，高温側吹出開閉ダンパ６０、低温側吸込開閉ダンパ５１，高温側吸込開閉ダンパ６１を能動的に開閉させている。
たとえば、高温試験では、低温側吹出開閉ダンパ５０，低温側吸込開閉ダンパ５１が閉じられて、高温側吹出開閉ダンパ６０，高温側吸込開閉ダンパ６１が開放される。
また、低温試験では、高温側吹出開閉ダンパ６０，高温側吸込開閉ダンパ６１が閉じられて、低温側吹出開閉ダンパ５０，低温側吸込開閉ダンパ５１が開放される。
【００２１】
そして、制御部４０は、低温側吹出開閉ダンパ５０，低温側吸込開閉ダンパ５１および、高温側吹出開閉ダンパ６０，高温側吸込開閉ダンパ６１の開閉を交互に行う。
これにより、予熱状態となった高温槽３０内の気体は、低温試験が行われていた試験槽１０内の被試験物７０の周囲に送り込まれて、急加熱により熱衝撃を与える高温試験が行われる。
また、予冷状態となった低温槽２０内の気体は、高温試験が行われていた試験槽１０内の被試験物７０の周囲に送り込まれて、急冷却により冷却衝撃を与える低温試験が行われる。
このような冷熱衝撃を含む高温試験または、冷却衝撃を含む低温試験を一温度サイクルとして交互に繰返すことにより、環境試験装置１は、冷熱衝撃を被試験物７０に与えることができる。
【００２２】
また、制御部４０は、試験槽温度センサ１２， 低温槽温度センサ２２，高温槽温度センサ３２により検出された温度データに基づいて、前記冷凍機２４，低温槽側ヒータ２６，低温槽側送風機５２，高温槽側ヒータ３６，高温槽側送風機６２の駆動を制御するものであれば、これらの制御は、専用のハードウェア（電子回路など）によって実現されることができ、ソフトウエアによって実現されることもできる。
制御部４０は、前回の低温試験終了後、今回の高温試験が開始される際に、低温側吹出開閉ダンパ５０，低温側吸込開閉ダンパ５１を閉じる。これにより、今回の低温試験と同一温度サイクル内の高温試験を行う際に、低温槽２０と試験槽１０との間の通風口２８，２９は閉じられて遮断された状態となる。したがって、冷凍機２４の起動により、低温槽２０内の気体を効率よく予冷することができる。
また、制御部４０は、予冷運転状態では、低温試験が開始されるまで低温槽２０が一定の予冷温度に保たれるように、前記冷凍機２４および前記低温槽側ヒータ２６の駆動を制御する。
【００２３】
この第１実施形態の制御部４０は、今回の低温試験と同一温度サイクル内の高温試験中に冷凍機２４の運転を起動して（以下、「予備起動」と記す。）、低温槽２０が予冷温度となるまでの経過時間および温度変化から算出された温度勾配αを求める。そして、制御部４０は、低温槽２０の低温槽温度Ｂが予冷温度ＴＬに到達すると冷凍機２４を一旦停止させる。さらに制御部４０は、一旦停止状態となっている冷凍機２４を、低温槽２０が予冷温度となるまでの経過時間および温度変化から算出された温度勾配αに基づいて再起動する。
この際、冷凍機２４は、今回の低温試験の開始までに低温槽２０が予冷状態となって安定状態が保たれる十分な時間を確保しつつ、実際の冷凍機２４の駆動時間を減少させて熱効率を向上させるように再起動のタイミングが設定される。
このように制御部４０は、高温試験および低温試験を繰り返す一温度サイクルを複数回、連続して行う試験の制御を実行している。
【００２４】
図３に示すフローチャートは、制御部４０にて行われる処理のうち、今回行われる低温試験の制御部４０の処理動作を中心として説明している。同時に行われている高温試験については説明を省略している。また、常温試験は行わず、高温試験および低温試験を交互に行う２ゾーンサイクルの試験を用いて説明する。
このうち、ステップＳ１からステップＳ４は、前回の低温試験終了を受けて、今回の低温試験の予冷制御の温度勾配αを算出するために必要とされる冷凍機２４の予冷までの到達時間を計測する処理を示している。
【００２５】
ステップＳ１にて、制御部４０は、低温槽２０の温度の設定を予冷温度（ＴＬ）に変更する。
ステップＳ２にて、前回の低温試験が終了して高温試験が開始される時刻ａ（図４参照）となると、制御部４０は、タイマ部４４による計時をスタートする。このとき、制御部４０のタイマ部４４によって計時された時刻ａのデータが記憶部４６に保存される。
ステップＳ３にて、制御部４０の演算部４２は、現在の低温槽温度（Ｂ）と予冷温度（ＴＬ）とを比較する。
ここで制御部４０の出力部４８からの制御信号は、高温試験ＣＨを行うために高温槽側ヒータ３６をオン制御し、かつアクチュエータ６４，６５を駆動して通風口３８，３９の高温側吹出開閉ダンパ６０，高温側吸込開閉ダンパ６１を開放する。そして、制御部４０は、高温槽側送風機６２を駆動して、加熱により予熱状態となっている高温槽３０内の気体を開放されている通風口３８，３９から被試験物７０の周囲に送り込む。
このとき、制御部４０は、アクチュエータ５４，５５を駆動することにより通風口２８，２９の低温側吹出開閉ダンパ５０および低温側吸込開閉ダンパ５１が閉じられて、低温槽２０と試験槽１０との間の気体の流通は遮断される。
この第1実施形態の制御部４０は、今回の低温試験ＣＬの予冷運転中、低温槽側送風機５２を駆動させて低温槽２０の内部の気体を低温槽２０内で循環させて蓄冷する。
【００２６】
ステップＳ３にて、現在の低温槽温度（Ｂ）が予冷温度（ＴＬ）に到達するまで（ステップＳ３にてＮＯ）は、演算部４２はステップＳ３を繰返し、現在の低温槽温度（Ｂ）が予冷温度（ＴＬ）に到達すると（ステップＳ３にてＹＥＳ）、制御部４０は、ステップＳ４に処理を進める。
ステップＳ４にて、制御部４０は、タイマ部４４による計時を停止させる。このとき、制御部４０のタイマ部４４によって計時された時刻ｂのデータが記憶部４６に保存される。
【００２７】
ステップＳ５にて、制御部４０は、低温槽２０の温度制御を停止させる。具体的には、出力部４８から出力されていた予備起動に伴う冷凍機２４の制御信号により、冷凍機２４の駆動は一旦停止される。
ステップＳ６にて、低温槽２０の低温槽温度（Ｂ）が予冷温度（ＴＬ）となると、制御部４０の演算部４２は、予備起動時の時刻ａから予冷温度（ＴＬ）となる時刻（ｂ：以下、予冷温度到達時刻とも記す。）までの経過時間（時刻ａ〜時刻ｂ）を記憶部４６から読出して、単位時間当たりの温度変化量である温度勾配α（α＝（Ｃ−ＴＬ℃）/（ｂ−ａ））を算出する（数式１）。
［数１］
α＝（Ｃ−ＴＬ）/（ｂ−ａ）
ここで、低温試験温度（Ｃ）は、予め設定された低温試験中の気体（雰囲気）の温度を示し、前回の低温試験温度（Ｃ）が時刻ａ（ａ：低温試験開始、高温試験終了時刻）における低温槽温度Ｂと一致して、予備起動時の低温槽温度Ｂの温度変化の起点と同一温度であることを用いて、温度データとして設定される低温試験温度（Ｃ）を採用することにより、低温槽２０内の気体の温度検出によるデータ収集を簡略化している。
次のステップＳ７，ステップＳ８にて、制御部４０は、低温試験を再開する（高温試験終了）タイミングを算出する。
【００２８】
すなわち、ステップＳ７にて、演算部４２は、低温槽温度（Ｂ）と算出された温度勾配αから予冷復帰所要時間（ｅ−ｄ）を算出する。低温槽現在温度（Ｂｎ）は、現在の時刻での温度（例えば、時刻ｄ１では、Ｂｎ＝Ｂ１）であり、温度勾配αの算出に使用される。このため、予冷復帰所要時間（ｅ−ｄ）は、現在の時刻ｄ１で冷凍機２４を再起動した場合に、低温槽温度（Ｂ１：時刻ｄ１における低温槽温度）が予冷温度（ＴＬ）に到達するまでの時間となる。
【００２９】
ステップＳ８にて、低温槽２０の温度制御を再開して低温試験を実施する時刻となったか否かが判定される。予想温度安定時間（ｇ−ｅ）は、低温試験再開の時刻ｇと、現在の時刻ｄから予測される予冷復帰所要時間（ｅ−ｄ）とを用いて求められる。
また、温度安定最低時間（ｇ−ｆ）は、低温槽温度（Ｂ）が予冷温度（ＴＬ）に到達した後、温度の上下動が減少して予冷温度（ＴＬ）から所定の幅以内に収まることにより低温試験に適した状態となるまでの緩衝時間を示しており、実験やシミュレーションなどにより定められているものとする。
【００３０】
制御部４０は、算出された予冷復帰所要時間（ｅ−ｄ）を用いて、現在の低温槽温度Ｂが予冷温度（ＴＬ）に到達する時刻ｅを算出する。また、到達する時刻ｅから今回の低温試験が開始されるまでの間を示す予想温度安定時間（ｇ−ｅ）を算出する。また、今回の低温試験が開始されるまでに温度を安定させるために必要とされる温度安定最低時間（ｇ−ｆ）を算出する。
【００３１】
そして、また、今回の低温試験が開始されるまでに必要とされる温度安定最低時間（ｇ−ｆ）と、前記予想温度安定時間（ｇ−ｅ）とを比較する。
このような演算を制御部４０の演算部４２にて随時実行することにより、低温槽温度（Ｂ）が予冷温度（ＴＬ）を中心とする所定の幅内に収まり、安定した状態にて最も早い冷凍機２４の再起動タイミングが算出される。
【００３２】
すなわち、ステップＳ８にて、制御部４０は、温度安定最低時間（ｇ−ｆ）が予想温度安定時間（ｇ−ｅ）よりも長く、現在も復帰に適した時刻に到達してない場合（ステップＳ８にてＮＯ）は、ステップＳ７に戻り演算部４２による予冷復帰所要時間（ｅ−ｄ）の算出してステップＳ７，ステップＳ８の処理を再度行う。
温度安定最低時間（ｇ−ｆ）が予想温度安定時間（ｇ−ｅ）に到達した場合（ステップＳ８にてＹＥＳ）は、制御部４０は、ステップＳ９に処理を進めて、前記予想温度安定時間（ｇ−ｅ）が前記温度安定最低時間（ｇ−ｆ）よりも短くならないように、一致した時点にて前記冷凍機２４を再起動する。
【００３３】
このように第1実施形態の環境試験装置１は、今回の高温試験の開始と同時に予備起動により予冷運転の温度勾配αのデータ取得を行った後、低温槽２０の温度制御を一旦停止させる。温度制御の停止により、低温槽２０の温度が例えば上昇しても、常に現在の低温槽温度（Ｂ）を用いて、試験条件に応じた最適な再起動タイミングを精度よく自動算出される。
【００３４】
これにより予冷運転中、従来は駆動により予冷状態を維持し続けていた前記冷凍機２４および前記低温槽側ヒータ２６の駆動を比較的長い時間、停止させることが可能となり、エネルギ効率を向上させることができる。
また、低温試験を行う前に、冷凍機２４を予備起動して低温槽２０を予冷温度（ＴＬ）まで一旦予冷する際、低温槽側送風機５２を駆動して予冷状態と同様に低温槽２０内の気体を循環させることができ、さらに温度勾配αの算出精度を向上させて試験条件に応じた最適なタイミングで冷凍機２４を再起動することができる。
【００３５】
そして、同一温度サイクル内の高温試験開始時に収集された予備起動時のデータを用いて温度勾配αを得て（ステップＳ６）、制御部４０は演算部４２により予冷復帰所要時間（ｅ−ｄ）と、温度安定最低時間（ｇ−ｆ）との比較を繰返し行う（ステップＳ７，Ｓ８）。
このため、制御部４０は、算出予定復帰時間が低温試験開始時刻と一致すると冷凍機２４の運転を再開して、低温槽２０を予冷温度（ＴＬ）まで最適なタイミングで冷却できる。
【００３６】
また、一温度サイクルあたりの所要時間が長くなる試験条件では、さらに冷凍機２４の再起動のタイミングを予測する算出精度に与える影響が大きくなるおそれがある。しかしながら、第１実施形態の環境試験装置1は、今回の低温試験と同一温度サイクル内で行われる高温試験の開始と同時に、予冷運転に用いる温度勾配αのデータ取得を行う。
このため、一温度サイクルを超えて、データ取得から活用まで時間が経過してしまう従来のものと比べて、予冷運転と同じ温度サイクル内でかつ、同じ低温試験の始期にデータ取得されるため、時間の経過が少ない。よって、周囲から低温槽２０に侵入する熱量や冷凍機２４の着霜状態の変化の影響を受けにくくなり、予冷状態とするタイミングの予測精度を向上させることができる。
【００３７】
そして、従来例のように、高温試験を行っている全期間において低温槽２０の温度を予冷温度（ＴＬ）に維持し続けることは、冷凍機２４の起動時間の増大とともに、低温槽側ヒータ２６の不必要な起動が生じるおそれもあり、エネルギ効率が良好であるとは言い難い。
【００３８】
これに対して、第１実施形態の環境試験装置１では、同一温度サイクル内の高温試験開始時に制御部４０は、冷凍機２４を予備起動して、温度勾配αを算出するための予冷運転に相当する運転を行った後、予冷温度（ＴＬ）に到達すると、冷凍機２４を一旦停止させる。
このため、冷凍機２４を今回の低温試験ＣＬが開始される直前まで起動させる必要がなく、低温槽側ヒータ２６も起動しないため、エネルギ効率が良好である。
また、前回の温度サイクル時にデータを収集する場合、低温試験中に起動している冷凍機２４の周囲へ着霜するおそれがあるが、この第１実施形態の環境試験装置１は、同一温度サイクル内の高温試験開始時に冷凍機２４を予備起動させるため、着霜している可能性を減少させることができる。また、比較的短い時間にて冷凍機２４を予備起動するため、新たな着霜は抑制されて、外乱要因の変化による影響を減少させることができる。
【００３９】
図４は、第1実施形態の環境試験装置１で、一旦停止した冷凍機２４を高温試験中の何れかの時点において再起動する様子を示すタイムチャートである。
図４のタイムチャートは、時刻ａから時刻ｉまでを一温度サイクルＣ１として、低温試験ＣＬと高温試験とを交互に繰返す、いわゆる２ゾーンサイクル（高温試験ゾーン，低温試験ゾーン）の試験モードを示している。
ここで、縦軸は温度（Ｔ）であり、横軸は時間（Ｈ）を示す。一温度サイクルＣ１中の試験槽温度（Ａ）は、高温試験中（時刻ａ〜時刻ｇ）は、図示しない高温槽温度と等しくなり、低温試験ＣＬ中（時刻ｇ〜時刻ｉ）は、低温槽温度（Ｂ）と等しくなるように変化している様子が示されている。
【００４０】
図１，図２を参照しつつ、環境試験装置１の図４のタイムチャートを時間順に説明すると、まず、前回の温度サイクルＣ０の低温試験ＣＬが時刻ａに至るまで実行されている。このため、試験槽温度（Ａ）は、低温槽温度（Ｂ）と同じ一定の低温試験温度（Ｃ）となっている。
次に、今回の温度サイクルＣ１が開始される。今回の温度サイクルＣ１の高温試験が開始される時刻ａにて、前回の温度サイクルＣ０の低温試験ＣＬの終了とともに、低温槽２０では、一旦予冷運転と同様に冷凍機２４の予備起動とともに、通風口２８，２９は、低温側吹出開閉ダンパ５０，低温側吸込開閉ダンパ５１により遮断されて、低温槽２０の冷却が開始される。
【００４１】
この際、前回の温度サイクルＣ０の低温試験ＣＬ終了直後であり、かつ、今回の高温試験ＣＨの開始時であるため、低温槽温度（Ｂ）は、一定の低温試験温度（Ｃ）となっている。よって、時刻ａにおける低温槽温度（Ｂ）は、予め設定されている記憶部４６内の低温試験温度（Ｃ）のデータから容易に収集できる。
冷凍機２４の予備起動により、低温槽２０の低温槽温度（Ｂ）は、予冷温度（ＴＬ）まで低下する。時刻ｂにて、予冷温度（ＴＬ）に到達すると、制御部４０は、冷凍機２４を停止して温度勾配αの算出を開始する。温度勾配αは、前回の低温試験ＣＬの終了時、冷凍機２４を予備起動して、低温槽２０が予冷温度（ＴＬ）に至るまでの時間と、予冷運転を開始した時点の低温槽温度（Ｂ）および予冷温度（ＴＬ）の温度差とが用いられて算出される。
【００４２】
この第1実施形態では、前記したように予冷が再開される時刻ｄから予冷温度（ＴＬ）に到達する時刻ｅ１を算出する際に、前回の低温試験終了後でかつ高温試験が開始された直後にて予備起動中に後述する温度勾配αのデータを収集している。温度勾配αのデータは、予冷される低温試験と同一温度サイクルＣ１内にて収集されたデータであるため、さらに精度よく最適な再起動タイミングを算出することができる。
時刻ｂにて、冷凍機２４が停止すると、低温槽温度（Ｂ）は、低温槽２０の外部から熱が侵入することにより徐々に上昇を開始し、予冷のため冷凍機２４の再起動が行われて、低温槽２０の温度制御が再開される時刻ｄ１では、予冷温度よりも高く、低温試験温度（Ｃ）よりも低い温度（Ｂ１）となる。
【００４３】
時刻ｄ１にて冷凍機２４の再起動により低温槽２０の低温槽温度（Ｂ）は、時刻ｅ１にて予冷温度（ＴＬ）まで低下して予冷運転を開始する。
時刻ｅ１から低温試験が開始される時刻ｇまでは、予冷運転期間である。予冷運転期間とは、再起動された冷凍機２４および低温槽側ヒータ２６により、低温槽２０の低温槽温度（Ｂ）が予冷温度（ＴＬ）に保たれている期間である。予冷運転期間（時刻ｅ１〜時刻ｇ）は短期間である程、冷凍機２４の起動時間および低温槽側ヒータ２６の起動を減少させることができ、熱効率を向上させることができる。
【００４４】
また、この第１実施形態では、前記したように温度勾配αと高温試験中の現在の低温槽温度（Ｂ１）とが用いられて、演算部４２により予冷復帰所要時間（ｅ−ｄ）が算出し続けられる。これにより、低温槽温度（Ｂ）が外乱要因により上下高低温方向へ変動しても、常に必要とされる正確な予冷温度（ＴＬ）に到達する時刻ｅ１が算出可能となる。
【００４５】
また、時刻ｇにて、今回の温度サイクルＣ１のうち、低温試験ＣＬが開始される。低温試験が行なわれる際、事前に予冷温度（ＴＬ）を一定期間継続した温度安定最低時間（ｇ−ｆ）が確保されている。このため、常に安定した低温槽２０の予冷温度（ＴＬ）から低温試験ＣＬを開始することができ環境試験装置１の試験信頼性を向上させることができる。
【００４６】
時刻ｇにて、低温試験が開始されると、制御部４０は、冷凍機２４，低温槽側ヒータ２６，低温槽送風部２７および高温槽側ヒータ３６を駆動して低温運転を行う（時刻ｇ〜時刻ｉ）。
【００４７】
時刻ｉにて低温試験ＣＬの終了が終了して、低温運転が停止されると、次の温度サイクルＣ２が開始される。温度サイクルＣ２は、温度サイクルＣ１と同様に、高温試験ＣＨおよび低温試験ＣＬを行い、以降複数の温度サイクル（図示せず）の高温試験ＣＨおよび低温試験ＣＬが交互に行われる。
【００４８】
図５は、第1実施形態の環境試験装置において、再起動が遅れて温度安定最低時間（ｇ−ｆ）が確保されていない様子を示すタイムチャートである。
図４との相違点を中心に説明すると、現在の時刻ｄ２および予冷復帰所要時間（ｅ−ｄ）から算出される低温槽２０の低温槽温度（Ｂ）は、時刻ｅ２にて予冷温度（ＴＬ）まで低下する。
【００４９】
しかしながら、予想温度安定時間（ｇ−ｅ２）が温度安定最低時間（ｇ−ｆ）に到達して超えてしまうと（時刻ｄ２）、再起動の時刻ｇまで、温度安定最低時間（ｇ−ｆ）よりも遅れてしまうため、試験性の保証が困難である。すなわち、再起動のタイミングが、時刻ｄ２となり、低温槽温度（Ｂ１）まで上昇すると適切な予冷が行えないおそれがある。
【００５０】
この第１実施形態の制御部４０は、まず、算出された予冷復帰所要時間（ｅ−ｄ）を用いて、現在の低温槽２０の低温槽温度（Ｂ）が安定した予冷温度（ＴＬ）に到達してから、今回の低温試験が開始されるまでの間の予想温度安定時間（ｇ−ｅ２）を算出する。
そして、制御部４０は、低温槽温度（Ｂ）が予冷温度（ＴＬ）に安定して、今回の低温試験が開始されるまでに必要とされる温度安定最低時間（ｇ−ｆ）と比較する。比較により、制御部４０は、予想温度安定時間（ｇ−ｅ２）が温度安定最低時間（ｇ−ｆ）を切らないように、一致したタイミングで冷凍機２４を再起動する。
【００５１】
このため、制御部４０は、冷凍機２４の再起動を行う際、温度安定最低時間（ｇ−ｆ）を確保して低温槽温度（Ｂ）を安定させることができ、今回の低温試験の試験信頼性を向上させることができる。
【００５２】
図６は、第1実施形態の環境試験装置１において、予想温度安定時間が温度安定最低時間と一致した際に冷凍機２４を再起動させる様子を示すタイムチャートである。
図６では、予想温度安定時間（ｇ−ｅ３）が温度安定最低時間（ｇ−ｆ）に到達すると（時刻ｄ３）、制御部４０は、前記冷凍機２４を再起動して、予冷運転を開始する。
【００５３】
このため、前記予想温度安定時間（ｇ−ｅ３）が前記温度安定最低時間（ｇ−ｆ）と一致して（時刻ｅ＝時刻ｆ）、必要な予冷時間（ｇ−ｆ）を確保できるタイミング（時刻ｄ）にて、冷凍機２４を再起動できる。
また、低温試験が開始される時刻ｇまでに低温試験に適した状態とすることができるため、制御部４０は、低温試験が始まる直前の時刻ｄまで冷凍機２４を再起動しない。
【００５４】
時刻ａにて一旦、予備起動された冷凍機２４は、予冷温度（ＴＨ）に低温槽温度（Ｂ）が到達した時刻ｂにて停止されている。このため、時刻ｂから時刻ｄ３に至るまでの間に、熱が低温槽２０内の気体と構成部材との間で移動する。低温槽２０の壁などの構成部材の温度は、時間の経過とともに再起動時の低温槽温度センサ２２の温度に近付いた状態となり低温試験が開始される。
したがって、低温試験開始時の低温槽温度センサ２２と周囲の構成部材とのかい離が減少して、さらに試験精度を向上させることができる。
【００５５】
（第２実施の形態）
図７〜図１０は、この発明の第２実施形態の環境試験装置１０１を示すものである。なお、前記第１実施形態の環境試験装置１と同一乃至均等な部分については、同一符号を付して説明する。
【００５６】
図７は、第２実施形態の環境試験装置１０１の構成を説明する模式図である。まず、図１に示す第１実施形態の環境試験装置１との構成上の相違点について説明すると、この環境試験装置１０１は、低温槽送風部１２７の通風口２８，２９を開閉する低温側メカニカルダンパ１５０，１５１を有している。低温側メカニカルダンパ１５０，１５１は、第1実施形態の低温側吹出開閉ダンパ５０，低温側吸込開閉ダンパ５１に代えて設けられ、低温槽側送風機５２のオン，オフ制御に応じて風圧により受動的に通風口２８，２９を開閉可能に設けられている。
【００５７】
また、この環境試験装置１０１は、高温槽送風部１３７の通風口３８，３９を開閉する高温側メカニカルダンパ１６０，１６１を有している。高温側メカニカルダンパ１６０，１６１は、高温側メカニカルダンパ１６０，１６１は、第1実施形態の高温側吹出開閉ダンパ６０，高温側吸込開閉ダンパ６１に代えて設けられ、高温槽側送風機６２のオン，オフ制御に応じて、通風口３８，３９を開閉可能に設けられている。
【００５８】
さらに、この第２実施形態の環境試験装置１０１は、試験槽１０内の空間と外部空間とを連通する外部通風口１８０，１８１が試験槽１０の壁部に開口形成されている。
外部通風口１８０，１８１は、それぞれ低温槽送風部１２７の通風口３８，３９を開閉する常温ダンパ１７０，１７１を備えている。これらの常温ダンパ１７０，１７１は、いわゆる３ゾーンサイクル（高温試験ゾーン，常温試験ゾーン，低温試験ゾーン）の試験モードにて、常温試験を行っている状態で開放され、低温試験および高温試験を行っている状態で閉じられるように構成されている。
【００５９】
以下に示す図８〜図１０に示すタイムチャートは、時刻ａから時刻ｉまでを一温度サイクルＣ３として繰返す、いわゆる３ゾーンサイクル（高温試験ゾーン，常温試験ゾーン，低温試験ゾーン）の試験モードを実施している様子を示している。
【００６０】
図８は、停止した冷凍機２４を高温試験中の何れかの時点において再起動する様子を示すタイムチャートである。前回の低温試験ＣＬが終了した時刻ａから常温試験ＣＭ１が開始される。常温試験ＣＭ１では、図７に示す環境試験装置１０１の低温側メカニカルダンパ１５０，１５１が閉じられて、常温ダンパ１７０，１７１により外部通風口１８０，１８１が開放されている。これにより、試験槽１０内の気体は、外部通風口１８０，１８１を介して外部の空気と連通する。試験槽温度（Ａ）は上昇を開始して  外部と同じ常温Ｄに到達する。常温試験中、試験槽温度（Ａ）は、高温試験ＣＨが開始されるまでの間、常温（Ｄ）に保持される。
【００６１】
そして、高温試験ＣＨが終了すると再び常温試験ＣＭ２，低温試験ＣＬを繰返すことにより、時刻ａから時刻ｉまでを一温度サイクルＣ３として、低温試験，常温試験および高温試験を繰返す、いわゆる３ゾーンサイクル（高温試験ゾーン，常温試験ゾーン，低温試験ゾーン）の試験モードが行われる。
【００６２】
この第２実施形態の環境試験装置１０１では、時刻ａから時刻ｇまで、低温側メカニカルダンパ１５０，１５１が閉じられて低温槽２０と試験槽１０との間は遮断されている。
このため、同一温度サイクルＣ３内の低温試験ＣＬ時に予冷運転を開始する時刻ｄを算出するための温度勾配αを、前回の低温試験ＣＬが終了した時刻ａから予冷温度ＴＬになる時刻ｂまでの温度差を用いて算出することができる。
【００６３】
図８に示すように、例えば、冷凍機２４の再起動の時刻ｄ４の設定によっては、予想温度安定時間（ｇ−ｅ４）が温度安定最低時間（ｇ−ｆ）に到達せず、時刻ｅ４から時刻ｇまで比較的長い時間、予冷温度ＴＬを維持しなければならない。このため、冷凍機２４の起動時間および低温槽側ヒータ２６の起動が増大して熱効率が低下する。
【００６４】
図９に示すタイムチャートでは、第２実施形態の環境試験装置１０１において、予想温度安定時間（ｇ−ｅ５）と温度安定最低時間（ｇ−ｆ）とが一致するような条件（時刻ｅ５＝時刻ｆ）である時刻ｄ５にて冷凍機２４を再起動させている。
この第２実施形態では、いわゆる３ゾーンサイクルの試験モードが実施されて、仮に常温試験ＣＭ１，ＣＭ２の追加などにより一温度サイクルＣ３が比較的長く設定されていても、同一温度サイクルＣ３内の予備起動（時刻ａ〜時刻ｂ）により温度勾配αを算出することができる。このため、第１実施形態の作用効果に加えて、さらに試験条件に応じた最適な再起動の時刻ｄ５を精度よく自動算出できる。
【００６５】
図１０に示すタイムチャートは、第２実施形態の環境試験装置１０１において、再起動の時刻ｄ６が遅れて、予想温度安定時間（ｇ−ｅ６）が温度安定最低時間（ｇ−ｆ）を過ぎている。制御部４０は、時刻ｄ６に冷凍機２４を再起動しても、予冷温度に到達するのは時刻ｅ６となり、温度安定最低時間（ｇ−ｆ）が十分に確保されない。
【００６６】
第２実施形態の環境試験装置１０１の制御部４０は、予想温度安定時間（ｇ−ｅ６）が温度安定最低時間（ｇ−ｆ）と一致して（時刻ｅ６＝時刻ｆ）、必要な予冷時間（ｇ−ｆ）を確保できる時刻ｄ５に冷凍機２４を再起動する。このため、冷凍機２４の再起動を行う際、温度安定最低時間（ｇ−ｆ）を確保して低温槽温度（Ｂ）を安定させることができ、今回の低温試験の試験信頼性を向上させることができる。
【００６７】
また、この第２実施形態の環境試験装置１０１の常温ダンパ１７０，１７１は、外部通風口１８０，１８１を閉じることにより、前記第１実施形態の環境試験装置１と同様に２ゾーンサイクル（高温試験ゾーン，低温試験ゾーン）の試験モードを実施することが可能である。そして、２ゾーンサイクルの試験モードを実施する場合は、今回の低温試験と、同一温度サイクル内の高温試験開始時に収集されたデータを用いて温度勾配αを得て試験信頼性を向上させることができる。
【００６８】
以上のように、第１，第２実施形態における環境試験装置１，１０１によれば、同一温度サイクルＣ１またはＣ３内の高温試験開始時に、制御部４０は冷凍機２４を予備起動して、温度勾配αを算出する。このため、試験条件に応じた最適な再起動タイミングを精度よく自動算出することができる。
さらに、第２実施形態の環境試験装置１０１によれば、２ゾーンサイクル（高温試験ゾーン，低温試験ゾーン）の試験モードを実施する場合と３ゾーンサイクル（高温試験ゾーン，常温試験ゾーン，低温試験ゾーン）の試験モードを実施する場合とを試験条件に応じて変更することが可能である。
【００６９】
また、低温試験、常温試験、高温試験のいづれかを含む一温度サイクルが長い時間となる試験でも、冷凍機２４の再起動タイミングなど、機器の動作タイミングの予測精度に与える影響を減少させて測定精度を向上させることができる。
他の構成、および作用効果については、前記第１実施形態と同一乃至均等であるので説明を省略する。
【００７０】
［変形例］
本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。上述した実施形態は本発明を理解しやすく説明するために例示したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施形態の構成の一部を他の実施形態の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施形態の構成に他の実施形態の構成を加えることも可能である。また、各実施形態の構成の一部について削除し、若しくは他の構成の追加・置換をすることが可能である。上記実施形態に対して可能な変形は、例えば以下のようなものである。
【００７１】
上記各実施形態においては、図１に示した環境試験装置１の構成において、前記低温槽側送風機５２の駆動制御と同期させて低温側吹出開閉ダンパ５０，低温側吸込開閉ダンパ５１を開閉させているが、低温槽側送風機５２の駆動および駆動の停止に伴って、試験槽１０と低温槽２０（または高温槽３０）との間の気体を流通および遮断するものであれば、どのような構成の送風部であってもよい。
【００７２】
また、図３に示した処理は、上記実施形態では、図２に示す制御部４０により実行されるプログラムを用いたソフトウエア的な処理として説明したが、その一部または全部をＡＳＩＣ(Application Specific Integrated Circuit；特定用途向けＩＣ)、あるいはＦＰＧＡ(field-programmable gate array)等を用いたハードウエア的な処理に置き換えても良い。
【００７３】
［構成・効果の総括］
以上のように、実施形態における環境試験装置によれば、同一温度サイクル内の高温試験開始時に、制御部４０は冷凍機２４を予備起動して、温度勾配αを算出する。このため、試験条件に応じた最適な再起動タイミングを精度よく自動算出することができる。
【００７４】
また、予冷中に予冷温度（ＴＬ）に到達する時刻ｅ１について環境試験装置1の制御部４０は、時刻ｅ１について温度勾配αとともに、現在の低温槽２０の温度を用いて逐次算出している。算出の根拠となる温度勾配αは、同一温度サイクルＣ１内にて高温試験ＣＨを開始する際、同時に開始される低温試験ＣＬの予備起動を利用して収集されている。このため、さらに精度よく最適な再起動タイミングを算出することができる。
【００７５】
そして、温度勾配αと高温試験ＣＨ中の現在の低温槽温度（Ｂ１）とを用いて、継続して予冷復帰所要時間（ｅ−ｄ）を算出し続けることにより、低温槽温度（Ｂ）が外乱要因により高，低温方向へ変動したとしても、直ちに正確な予冷を開始する時刻ｄ１から予冷温度（ＴＬ）へ到達する時刻ｅ１が算出し直される。
【００７６】
また、制御部４０は、算出された予冷復帰所要時間（ｅ−ｄ）を用いて、現在の低温槽２０の低温槽温度（Ｂ）が安定した予冷温度（ＴＬ）に到達してから、今回の低温試験が開始されるまでの間の予想温度安定時間（ｇ−ｅ２）を算出とともに、低温槽温度（Ｂ）が予冷温度に安定して、今回の低温試験が開始されるまでに必要とされる温度安定最低時間（ｇ−ｆ）と比較する。比較により、制御部４０は、予想温度安定時間（ｇ−ｅ２）が温度安定最低時間（ｇ−ｆ）を超えないように、予想温度安定時間（ｇ−ｅ２）と温度安定最低時間（ｇ−ｆ）とが一致したタイミングで冷凍機２４を再起動する。
【００７７】
このため、冷凍機２４の再起動を行う際に、温度安定最低時間（ｇ−ｆ）を確保して低温槽温度（Ｂ）を安定させることができ、さらに今回の低温試験の試験信頼性を向上させることができる。
【符号の説明】
【００７８】
１，１０１    環境試験装置
１０          試験槽
１２          試験槽温度センサ
２０          低温槽
２２          低温槽温度センサ
２４          冷凍機
２６          低温槽側ヒータ
２７，１２７  低温槽送風部
２８，２９，３８，３９    通風口
３０          高温槽
３２          高温槽温度センサ
３６          高温槽側ヒータ
３７，１３７  高温槽送風部
４０          制御部
４１          入力部
４２          演算部
４４          タイマ部
４６          記憶部
４８          出力部
５０          低温側吹出開閉ダンパ
５１          低温側吸込開閉ダンパ
５２          低温槽側送風機
５４，５５，６４，６５    アクチュエータ
６０          高温側吹出開閉ダンパ
６１          高温側吸込開閉ダンパ
６２          高温槽側送風機
７０          被試験物
１５０，１５１  低温側メカニカルダンパ
１６０，１６１  高温側メカニカルダンパ
１７０，１７１  常温ダンパ
１８０，１８１  外部通風口
【図１】
0006527403.tif 000002
【図２】
0006527403.tif 000003
【図３】
0006527403.tif 000004
【図４】
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【図５】
0006527403.tif 000006
【図６】
0006527403.tif 000007
【図７】
0006527403.tif 000008
【図８】
0006527403.tif 000009
【図９】
0006527403.tif 000010
【図１０】
0006527403.tif 000011