(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
眼科用器具の物理的特性を測定するためのインライン装置であって、
参照ビームと検査ビームの間の干渉を撮像する検出器を含む振動不感型干渉計であって、前記眼科用器具の一定供給の物理的寸法を決定するように構成されている、振動不感型干渉計と、
前記眼科用器具の特徴の実際の位置を撮像するように構成され、かつ、前記振動不感型干渉計に対して既知のオフセットで位置づけられたカメラを含む、自動位置合わせシステムであって、前記自動位置合わせシステムは前記カメラ、及び、前記振動不感型干渉計又は前記眼科用器具の両方を位置決めするように構成されている、自動位置合わせシステムと、
前記自動位置合わせシステムと通信して前記振動不感型干渉計から測定値を受信する中央演算処理装置（ＣＰＵ）と、を含み、
前記眼科用器具の前記物理的寸法がリアルタイムに決定される、装置。
【請求項２】
前記振動不感型干渉計が動的干渉計を含む、請求項１に記載の装置。
【請求項３】
前記位置合わせシステムが、カメラ、ポジショナー、及び制御ループフィードバックを採用したコントローラを含み、前記カメラ、前記ポジショナー、及び前記コントローラは全て電気通信している、請求項１に記載の装置。
【請求項４】
前記カメラがディジタルカメラを含み、前記ポジショナーは、前記振動不感型干渉計が取り付けられる位置決めアーム、又は前記眼科用器具を移送するキャリアを含む、請求項３に記載の装置。
【請求項５】
前記位置合わせシステムが、前記振動不感型干渉計又は前記眼科用器具を所望のｘ、ｙ、及び／又はｚ座標に位置決めするのに有効である、請求項１に記載の装置。
【請求項６】
前記眼科用器具が、コンタクトレンズ用鋳型又はレンズである、請求項１に記載の装置。
【請求項７】
前記眼科用器具の前記物理的寸法が、前面湾曲半径、後面湾曲半径、アナログ表面情報、及び屈折力のうちの１つ又は２つ以上を含む、請求項１に記載の装置。
【請求項８】
前記振動不感型干渉計による前記物理的寸法のリアルタイムの連続的な計算が、２０〜４０μｓの範囲内の間隔で行われる、請求項１に記載の装置。
【請求項９】
前記眼科用器具の一定供給が、０．５〜６０秒の範囲内の間隔で生じる、請求項１に記載の装置。
【請求項１０】
コンタクトレンズ用鋳型又はレンズである眼科用器具の物理的特性を測定するためのインライン装置であって、
参照ビームと検査ビームの間の干渉を撮像する検出器を含む振動不感型干渉計であって、複数の眼科用器具の一定供給の物理的寸法を決定するように構成されている、振動不感型干渉計と、
カメラと、ポジショナーと、制御ループフィードバックを採用するコントローラとを含む自動位置合わせシステムであって、前記システムは前記振動不感型干渉計を位置決めするのに有効であり、前記カメラは前記振動不感型干渉計に対して既知のオフセットで位置づけられている、自動位置合わせシステムと、
前記自動位置合わせシステムと通信して前記振動不感型干渉計から測定値を受信する中央演算処理装置（ＣＰＵ）と、を含み、
前記眼科用器具の前面湾曲半径、後面湾曲半径、及び／又は屈折力がリアルタイムに決定される、装置。
【請求項１１】
眼科用器具の物理的特性をインラインで測定する方法であって、
複数の眼科用器具を連続的に供給することと、
前記複数の眼科用器具のうちのある眼科用器具の特徴の実際の位置を撮像するためにカメラを用いることと、
前記カメラと振動不感型干渉計との間の既知のオフセットを用いて、前記振動不感型干渉計を前記眼科用器具の位置に移動することと、
測定値を中央演算処理装置（ＣＰＵ）に送信する前記振動不感型干渉計を用いて、前記眼科用器具の前記測定値を得ることと、
前記振動不感型干渉計又は前記眼科用器具を、前記ＣＰＵと通信する自動位置合わせシステムで位置決めすることと、
前記眼科用器具の物理的寸法をリアルタイムに決定することと、を含む、方法。
【請求項１２】
前記振動不感型干渉計は動的干渉計を含む、請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】
前記自動位置合わせシステムは、カメラと、ポジショナーと、制御ループフィードバックを採用するコントローラとを含み、前記システムは前記振動不感型干渉計を位置決めするのに有効である、請求項１１に記載の方法。
【請求項１４】
前記位置決めすることが、前記カメラを第１の位置まで移動させることと、前記眼科用器具を撮像することと、調整位置を計算することと、前記振動不感型干渉計を測定位置まで移動させることと、を含む、請求項１３に記載の方法。
【請求項１５】
前記調整位置を計算した後に前記カメラを第２の位置まで移動させることと、前記眼科用器具を再度撮像することと、前記振動不感型干渉計を測定位置まで移動させる前に第２の調整位置を計算することと、を更に含む、請求項１４に記載の方法。
【請求項１６】
前記決定することは、前記眼科用器具の周囲の位置を特定することと、前記眼科用器具の直径を、円適合法を用いて計算することと、を更に含む、請求項１１に記載の方法。
【請求項１７】
前記眼科用器具の周囲の位置を特定することが、画像分割により行われる、請求項１６に記載の方法。
【請求項１８】
前記眼科用器具は乾燥したコンタクトレンズであり、前記周囲は、鋳型内にある間に測定される直径である、請求項１６に記載の方法。
【請求項１９】
前記眼科用器具は鋳型であり、前記周囲は、前記眼科用器具のフロントカーブのエッジである、請求項１６に記載の方法。
【請求項２０】
眼科用器具の物理的特性を測定するためのインラインシステムであって、
前記眼科用器具の特徴の実際の位置を撮像するように構成されているカメラと、
前記カメラに対して既知のオフセットで位置づけられ、かつ、ビームスプリッタを透過して前記眼科用器具上に至る波長を有する表面測定ビームを投射するように構成されている耐振動型干渉計であって、前記耐振動型干渉計は、測定値を中央演算処理装置（ＣＰＵ）に送信するように構成されている、耐振動型干渉計と、
前記耐振動型干渉計及び前記カメラを位置決めするのに有効である自動位置合わせシステムであって、前記自動位置合わせシステムは前記ＣＰＵと通信する、自動位置合わせシステムと、を含み、
前記カメラを前記眼科用器具の予想位置まで移動させ、前記予想位置と前記実際の位置の違いとしてオフセットを計算することによって、前記眼科用器具の最適なＸ、Ｙ位置が決定され、
レーザー測定装置が、Ｚ方向に移動して、前記表面測定ビームの焦点を前記計算したＸ、Ｙ位置に合わせ、前記眼科用器具の前記特徴のＺ位置を決定するように構成されており、
前記眼科用器具の前記測定が、前記耐振動型干渉計及び／又は前記眼科用器具を前記眼科用器具に関連する前記決定したＸ、Ｙ、Ｚ位置に基づいて移動させることによって完了する、眼科用器具の物理的特性を測定するためのインラインシステム。
【請求項２１】
前記眼科用器具に関連する第２のＺ位置を決定するために基準信号を使用するように構成されている中心厚測定システムを更に含み、
前記中心厚測定システムは、前記眼科用器具の厚さ及び高さ測定を完了するように構成されており、
前記耐振動型干渉計又は前記眼科用器具の一方が、前記完了した測定に基づいて移動される、請求項２０に記載のインラインシステム。
【請求項２２】
前記中心厚測定システムは、中心厚ビームを第２のビームスプリッタを介して前記眼科用器具まで伝送する中心厚干渉計であり、前記中心厚ビームは、前記耐振動型干渉計のレーザー波長と異なるレーザー波長を有し、前記中心厚ビームは、前記眼科用器具に到達する前に前記表面測定ビームと合流する、請求項２１に記載のインラインシステム。
【請求項２３】
前記中心厚ビームは、発散レンズの前で前記表面測定ビームと合流する、請求項２２に記載のインラインシステム。
【請求項２４】
前記中心厚干渉計は、前記中心厚測定が完了する前に前記眼科用器具より上のそれ自体の高さを測定し、かつ前記測定高さを予想値と比較し、前記中心厚測定は、前記測定高さを組み込むことに基づいている、請求項２２に記載のインラインシステム。
【請求項２５】
前記中心厚ビームが、最初に述べたビームスプリッタと異なる前記第２のビームスプリッタを介して投射されて前記測定ビームと合流し、
前記中心厚ビームの波長は前記表面測定ビームの波長と十分に異なるので、前記第２のビームスプリッタは、前記中心厚ビームを反射する一方で、前記眼科用器具から戻ってきた前記表面測定ビームを透過させる、請求項２２に記載のインラインシステム。
【請求項２６】
前記レーザー測定装置は、ＣＣＤ型反射型レーザー測定ヘッドである、請求項２０に記載のインラインシステム。
【請求項２７】
前記特徴は、前記眼科用器具の中心点である、請求項２０に記載のインラインシステム。
【請求項２８】
前記眼科用器具は乾燥したコンタクトレンズであり、前記特徴は、鋳型内にある間に測定されるコンタクトレンズの直径である、請求項２０に記載のインラインシステム。
【請求項２９】
前記眼科用器具は鋳型であり、前記特徴は、前記眼科用器具のフロントカーブのエッジである、請求項２０に記載のインラインシステム。
【請求項３０】
眼科用器具の物理的特性をインラインで測定する方法であって、
カメラを前記眼科用器具の予想位置まで移動させ、前記眼科用器具の実際の位置を撮像し、前記予想位置と前記実際の位置の違いとしてオフセットを計算し、かつ前記オフセットを前記予想位置に適用することによって、前記眼科用器具に関連するＸ、Ｙ位置を決定することと、
自動位置合わせシステム、前記計算されたオフセット、および、前記カメラの位置および耐振動型干渉計の位置の間の既知のオフセット、を使用して、前記耐振動型干渉計を前記眼科用器具に関連する前記Ｘ、Ｙ位置に位置決めすることであって、前記自動位置合わせシステムはポジショナーを含む、ことと、
表面測定ビームを前記眼科用器具上に向けて投射することであって、前記表面測定ビームは、ビームスプリッタを透過する波長を有している、ことと、
レーザー測定装置を、前記計算したＸ、Ｙ位置において、前記表面測定ビームの方向に、前記眼科用器具に向けて移動させ、かつ前記表面測定ビームの焦点を前記眼科用器具の前記決定したＸ、Ｙ位置に合わせることによって、前記眼科用器具に関連するＺ位置を決定することと、
前記耐振動型干渉計及び／又は前記眼科用器具を前記決定したＸ、Ｙ、Ｚ位置に基づいて移動させることによって、前記眼科用器具の前記測定を完了することと、を含む方法。
【請求項３１】
中心厚測定システムを使用して、前記眼科用器具の厚さ及び高さ測定を完了することと、
既知のＺ位置を有する基準信号を使用して、前記眼科用器具に関連する第２のＺ位置を決定することと、
前記完了した測定に基づいて、前記耐振動型干渉計又は前記眼科用器具の一方を移動させることと、を更に含む、請求項３０に記載の方法。
【請求項３２】
前記中心厚測定システムは、中心厚ビームを前記眼科用器具に投射するように構成されている中心厚測定干渉計であり、前記中心厚ビームは、前記表面測定ビームと異なる波長を有している、請求項３１に記載の方法。
【請求項３３】
前記中心厚ビームが、最初に述べたビームスプリッタと異なる第２のビームスプリッタを介して投射されて前記表面測定ビームと合流し、
前記中心厚ビームの波長は前記表面測定ビームの波長と十分に異なるので、前記第２のビームスプリッタは、前記中心厚ビームを反射する一方で、前記眼科用器具から戻ってきた前記表面測定ビームを透過させる、請求項３２に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
（関連出願の相互参照）
本願は、２０１４年８月２８日に出願された米国特許仮出願第６２／０４３０３８号に対する優先権を主張するものであり、該特許仮出願は参照によりその全体が本明細書に組み込まれる。
【０００２】
（発明の分野）
本開示は、連続的又は半連続的な製造プロセスの間に、眼科用器具の物理的寸法をリアルタイムで測定するためのインライン装置に関する。
【背景技術】
【０００３】
品質管理を目的とした眼科用器具の物理的寸法を測定するためのオフライン分析装置は存在するが、そのような「事後」の結果は、製品の特定のロットを合格又は不合格と判定するためには適切であり得るが、規格外材料を低減するために製造中に改良を行うには十分でない。典型的には、オフライン分析では干渉計に依存して表面不規則性を検出する。そのような干渉計は、それ自体の内部位置合わせシステムに依存して測定を行う。
【０００４】
広くは、干渉計は、光線を２つの別々のビームに分割することによって機能する。２つのビームのうちの一方の参照ビームは「読取りセンサー」に直接送られ、他方の検査ビームは、目的のレンズ又はレンズ用鋳型に向けられた後、「読取りセンサー」に入る。その後、参照ビーム及び検査ビームは再結合される。参照ビームと検査ビームとの間の差は、目的のレンズ又はレンズ用鋳型によって作り出される干渉であるので、レンズ又はレンズ用鋳型が光線に及ぼす影響を表すアナログ信号を提供する。現在、干渉計は、干渉計からの光信号の一部を使用してスクリーン又は検出器上に投影画像を生成することによって、干渉計と目的のレンズ又はレンズ用鋳型とのアライメントを見出すためのツールとして使用することができる。参照ビームと検査ビームとの干渉は、検出器に表示され、画像化される。投影像は、光がレンズ又はレンズ用鋳型の中心上に位置付けられていない場合にこの光を片側に曲げることによって、目的のレンズ又はレンズ用鋳型によって歪められる。中心までの距離が増大するほど光はより大きく曲がり、光は、必要とされる動きの方向に関連して曲がる。次に、視覚システムを用いて投影像を視認し、この投影像を丸い縁の尖った円形と比較する。投影像がかかる丸い尖った円形と一致するまで、干渉計の位置をＸ、Ｙ、及びＺに移動させる。干渉計ビームを移動させることによって、放射体からの光が目的のレンズ又はレンズ用鋳型のちょうど中心を通過するときに、投影像は真円を形成する。干渉計がレンズ又はレンズ用鋳型の上方の最適な高さにない場合には、レンズ又はレンズ用鋳型によって「焦点」が変動するため、投影像は散乱して見える又はぼやけて見える場合もある。干渉計をレンズ又はレンズ用鋳型から適切な高さに位置付けることによって、光線は、光の散乱が最小限の状態でレンズ又はレンズ用鋳型の中心を通過する。すなわち、投影像のエッジは鮮明になり、寸法は小さくなる。最適な像は、円の縁の外側に突端又は歪みのない真円である。投影像が最も鮮明になる高さは１つであり、この高さは、干渉計を使用して最適な測定を行うためにシステムが存在しなければならない位置である。
【０００５】
しかしながら、現在採用されている干渉計法及び干渉計システムは、多くの欠点を有している。第１に、干渉計と目的のレンズ用鋳型又はレンズとは、非常によく位置合わせされていなければならない。現行方法は、干渉計の高さ及び中心点が目的のレンズ又はレンズ用鋳型と整列するように調節するために、投影像の形状に依存している。干渉計の適切な位置決めを達成するために、現行の干渉計システム及び方法は、レンズ又はレンズ用鋳型にビームを通過させることによって何らかのエラーを誘発する、干渉計ビームのための第２のビームスプリッタを必要とし、位置は、第２のビームスプリッタがビームに導入するエラーを考慮して調節される必要がある。加えて、第２のビームスプリッタを加えることによって、干渉計の読取りセンサーへの信号が減少する。したがって、「位置」スクリーンに送られる信号の割合がより多きいほど、位置を調節するためにコントラストがはっきりしたより良好な画像を提供するだけでなく、最終的な干渉計の像からコントラストを取り除く。現行のシステム及び方法はまた、像が楕円形になるのを防ぐために、投影スクリーンの位置がスプリットビームと垂直でなければならないことを要件としている。同様に、像が歪んで円形に見えないようになるのを防ぐために、カメラの位置はスクリーンと垂直でなければならない。カメラの位置がスクリーンと確実に垂直にならないと、調整不可能なエラーが生じ得る。更に、現行の複数部品からなるシステム及び方法では、第２のビームスプリッタ、投影スクリーン、及びカメラを含む複数の部品を使用することによって誤差が累積するので、累積公差の発生は避けられず、それによって、正しく位置合わせされていない各部品によって形成された歪みが累積し、その結果最終像が歪んだものとなる。よって、現行のシステム及び方法では、位置決めプロセスの各ステップにおいて累積公差を矯正しなければならない。加えて、現行の方法では、検出器又はスクリーンからの干渉計信号が急速に消失するので、位置合わせ能力は非常に限定的となる。
【０００６】
更に、従来の位相シフトレーザ干渉計では、環境要因によって引き起こされる振動及び乱流が測定結果の質を低下させるのに十分な時間である何ミリ秒にもわたって、複数のデータフレームが取得されるので、合否の結果を提供するために、干渉計をオフライン状態で使用するのが適切である。
【０００７】
現在、コンタクトレンズの直径は、水和、包装、及び滅菌を包含する製造の後に測定され得る。製造後の測定は、管理不能状態を修正するためのリアルタイムのフィードバックを製造担当者に提供しない。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
したがって、連続的又は半連続的な製造プロセスの間に製品製造ラインで使用して実施することができる、分析装置及び技術を提供することによって、製造製品の品質を改善することが、眼科業界において求められている。更に、コンタクトレンズの表面及び中心厚を測定するために、２つの測定システムが必要であり、それにより測定の複雑さが増す。多重測定システムでは、レンズ表面と中心厚測定装置との間の位置を特定することが求められている。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
一態様では、眼科用器具の物理的特性を測定するためのインライン装置は、眼科用器具の一定供給の物理的寸法を決定するように構成されている振動不感型（vibration insensitive）干渉計と；干渉計又は眼科用器具を位置決めする自動位置合わせシステムと；自動位置合わせシステムと通信して干渉計から測定値を受信する中央演算処理装置（ＣＰＵ）と、を含む。この態様では、眼科用器具の物理的寸法がリアルタイムに決定される。
【００１０】
別の態様では、コンタクトレンズ用鋳型又はレンズである眼科用器具の物理的特性を測定するためのインライン装置は、眼科用器具の一定供給の物理的寸法を決定するように構成されている振動不感型干渉計と；カメラと、ポジショナーと、制御ループフィードバックを採用するコントローラとを含む自動位置合わせシステムであって、システムは干渉計を位置決めするのに有効である、自動位置合わせシステムと；自動位置合わせシステムと通信して干渉計から測定値を受信する中央演算処理装置（ＣＰＵ）と、を含む。この態様では、眼科用器具の前面湾曲半径（front curve radius）、後面湾曲半径（back curve radius）、及び／又は屈折力がリアルタイムに決定される。
【００１１】
別の態様では、眼科用器具の物理的特性を測定するためのインラインシステムは、眼科用器具の特徴の実際の位置を撮像するように構成されているカメラと；ビームスプリッタを透過して眼科用器具上に至る波長を有する表面測定ビームを投射するように構成されている耐振動型干渉計であって、耐振動型干渉計は、測定値を中央演算処理装置（ＣＰＵ）に送信するように更新されている、耐振動型干渉計と；干渉計及びカメラを位置決めするのに有効である自動位置合わせシステムであって、ＣＰＵと通信する自動位置合わせシステムと、を含む。この態様では、カメラを眼科用器具の予想位置まで移動させ、予想位置と実際の位置の違いとしてオフセットを計算することによって、眼科用器具の最適なＸ、Ｙ位置が決定される。この態様では、レーザー測定装置は、Ｚ方向に移動して、表面測定ビームの焦点を計算したＸ、Ｙ位置に合わせ、眼科用器具の特徴のＺ位置を決定するように構成されている。この態様では、眼科用器具の測定は、耐振動型干渉計及び／又は眼科用器具を決定したＸ、Ｙ、Ｚ位置に基づいて眼科用器具に関連して移動させることによって完了する。
【００１２】
本発明の追加の特徴、利点、及び態様は、以下の詳細な説明、図面、及び特許請求の範囲を考慮することによって示される又は明らかとなる。更に、前述の本発明の概要及び以下の詳細な説明はどちらもが例示であり、特許請求される本発明の範囲を限定することなく更なる説明を提供することを意図していることが理解されるべきである。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の一実施形態による、眼科用器具の物理的特性を測定するためのインライン装置を示す。
【図２Ａ】本発明の一実施形態による、自動位置合わせシステムをインライン装置の構成要素と共に示す概略図である。
【図２Ｂ】本発明の一実施形態による、自動位置合わせシステムをインライン装置の構成要素と共に示す概略図である。
【図３】本発明の一実施形態による、インライン干渉計の基本操作のフローチャートである。
【図４】本発明の一実施形態による、インライン干渉計の反復操作のフローチャートである。
【図５】本発明の一実施形態による、自動位置合わせシステムの概略図である。
【図６】本発明の一実施形態による、インライン干渉計の反復操作のフローチャートである。
【００１４】
本発明の例示の実施形態を幾つか説明するに先立ち、本発明が次の説明において明らかにされる構成や処理工程の詳細に限定されない点に留意すべきである。本発明は、他の実施形態が可能であり、かつ様々な手法で実践又は実行できる。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
本発明のいくつかの実施形態について以下に更に詳細に述べる。記載される実施形態では、明瞭化のために特定の用語が使用される。しかしながら、本発明は、選択された特定の用語に限定されるように意図されていない。関連分野の当業者であれば、他の同等の構成要素を使用することができ、また、本発明の広い概念から逸脱することなく他の方法を開発することができることを認識するであろう。発明の背景及び発明を実施するための形態を含む、本明細書のいずれかにおいて引用される全ての参照文献は、それぞれが個別に組み込まれているかのように参照により組み込まれる。
【００１６】
眼科用器具のインライン分析を可能にする装置が提供される。眼科用器具は、コンタクトレンズ、眼内レンズ、眼球インサート、又は前述のいずれかを製造するための鋳型であり得る。騒がしい環境の中で分析装置が眼科用器具の物理的寸法を測定するのを可能にするために、全ての位相データを最小限の時間で同時に取得することができる干渉測定装置を使用することによって、振動又は乱気流があるにもかかわらず、鋳型及びコンタクトレンズなどの眼科用器具の製造が改良される。分析機器及び技術は、このように用いられると、プロセス性能に迅速なフィードバックを提供することができる。フィードバックが提供されることで、生産担当者は、必要な場合、プロセスを即座に修正することができる。場合によっては、フィードバックは機械に再び向けられてもよく、自動的に修正を行ってもよい。これは閉回路プロセス制御と呼ばれる。この技法を用いて、リアルタイムのプロセス制御によって製品品質を連続的に制御し、そうすることで一貫して高いレベルの製品品質を生み出し、製品が廃棄されるのを防ぎ、時間と費用を節約する。
【００１７】
レンズ又はレンズ用鋳型の品質に関する典型的な測定は、屈折力及び半径に関する具体的な情報を含み、これら情報は本明細書に記載される装置によってリアルタイムに提供され得る。レンズ表面全体をアナログ詳細（analog detail）に記述するために、更なるデータを得てもよい。情報により、例えば、波面偏差、つまり、シュトレール比及び山対谷の比を含む高次収差への理解をより深めることができる。これらのレンズ変化の分析は、表面データなしでは容易に理解できない更なる品質改良をもたらす。
【００１８】
第１の態様では、眼科用器具の一定供給の物理的特性を測定するためのインライン装置が提供され、その装置は、振動不感型干渉計と；干渉計又は眼科用器具を位置決めする自動位置合わせシステムと；自動位置合わせシステムと通信して干渉計から測定値を受信する中央演算処理装置（ＣＰＵ）と、を含む。眼科用器具の物理的寸法はリアルタイムに決定される。振動不感型干渉計は動的干渉計であってもよい。位置合わせシステムは、カメラと、ポジショナーと、制御ループフィードバックを採用したコントローラとを含み得、これらは全て電気通信している。カメラは、ディジタルカメラ、電荷結合素子（ＣＣＤ）、又は相捕型金属酸化膜半導体（ＣＭＯＳ）であり得る。ポジショナーは、干渉計が取り付けられる位置決めアーム、又は眼科用器具を移送するキャリアであり得る。位置合わせシステムは、干渉計又は眼科用器具を所望のｘ、ｙ、及び／又はｚ座標に位置決めするのに有効である。眼科用器具は、コンタクトレンズ、眼内レンズ、眼球インサート、又は前述のいずれかを製造するための鋳型であり得る。眼科用器具の物理的寸法は、前面湾曲半径、後面湾曲半径、アナログ表面情報（analog surface information）、直径、及び屈折力のうちの１つ又は２つ以上を含み得る。物理的寸法は、振動不感型干渉計によってリアルタイムに連続的に計算され得、約２０〜４０μｓの範囲内の間隔で行われ得る。眼科用器具の一定供給は、約０．５〜６０秒の範囲内の間隔で起こり得る。
【００１９】
別の態様では、コンタクトレンズ用鋳型又はレンズである眼科用器具の一定供給の物理的特性を測定するためのインライン装置は、振動不感型干渉計と；カメラと、ポジショナーと、制御ループフィードバックを採用するコントローラとを含む自動位置合わせシステムと、を含む。システムは、干渉計、及び自動位置合わせシステムと通信して干渉計から測定値を受信することができる中央演算処理装置（ＣＰＵ）を位置決めするのに有効である。装置は、眼科用器具の前面湾曲半径、後面湾曲半径、及び／又は屈折力をリアルタイムに決定することができる。
【００２０】
更に別の態様では、眼科用器具の物理的特性をインラインで測定する方法が提供され、その方法は、眼科用器具を連続的に供給することと、測定値を中央演算処理装置（ＣＰＵ）に送信する振動不感型干渉計を得ることと、干渉計又は眼科用器具を、ＣＰＵと通信する自動位置合わせシステムで位置決めすることと、眼科用器具の物理的寸法をリアルタイムに決定することと、を含む。決定ステップは、眼科用器具の周囲の位置を特定することと、眼科用器具の直径を、円適合法（fit circle technique）を用いて計算することと、を更に含み得る。眼科用器具の周囲の位置を特定するステップは、画像分割により行われ得る。
【００２１】
位置決めステップは、カメラを第１の位置まで移動させることと、眼科用器具を撮像することと、調整位置を計算することと、干渉計を測定位置まで移動させることと、を含み得る。加えて、方法は、調整位置を計算した後にカメラを第２の位置まで移動させることと、眼科用器具を再度撮像することと、干渉計を測定位置まで移動させる前に第２の調整位置を計算することと、を含み得る。
【００２２】
自動位置合わせシステムと、干渉計と、中央演算処理装置（ＣＰＵ）とを有する、眼科用器具の一定供給を評価する装置が提供される。眼科用器具は、コンタクトレンズ、眼内レンズ、眼球インサート、又は前述のいずれかを製造するための鋳型であり得る。製品製造ラインの振動に対する感受性が低い干渉計を使用することによって、眼科用器具の物理的寸法のリアルタイム測定に必要な精度及び正確さがもたらされることが見出された。振動不感型干渉計を使用して、全ての位相データを同時に取得することができる。例示的な振動不感型干渉計は、動的干渉計、例えば、４Ｄ  Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙから市販されているものなど、ＥＳＤＩから入手可能なＤｉｍｅｔｉｏｒ  ＶＢ  Ｓｉｍｕｌｔａｎｅｏｕｓ  Ｐｈａｓｅ−Ｓｈｉｆｔｉｎｇ  Ｆｉｚｅａｕ  Ｉｎｔｅｒｆｅｒｏｍｅｔｅｒ、又はＺｙｇｏ  Ｃｏｒｐ．から入手可能なＤｙｎａＦｉｚ  ｉｎｓｔａｎｔａｎｅｏｕｓ  Ｆｉｚｅａｕ−ｔｙｐｅ  ｉｎｔｅｒｆｅｒｏｍｅｔｅｒであり得る。米国特許第６，３０４，３３０号、同第６，５５２，８０８号、及び同第７，２３０，７１７号に開示されているもののような振動不感型干渉計を使用して、わずか３０マイクロ秒以内に全ての位相データを同時に取得することができる。この速度は、振動（vibration solation）又は乱気流があるにもかかわらず、騒がしい環境の中で振動不感型干渉計が物理的特性を測定するのを可能にする。鋳型及びコンタクトレンズなどの眼科用器具の製造を改良するために、そのような干渉計が、自動位置合わせシステムと共に、本発明で開示される。振動不感型干渉計の最大寸法は、５１ｃｍ未満（２０インチ未満）、又は３８ｃｍ未満（１５インチ未満）、又は更には２５ｃｍ未満（１０インチ未満）であり得る。眼科用器具（ophthalmic devises）を分析するために使用される既存の干渉計システムとは対照的に、本明細書において提供される装置は、位置合わせシステムを干渉計から分離することに基づいた以下の利益を有する。
【００２３】
干渉計の位置に関連する自動位置合わせシステムのカメラの位置を、既知のオフセットとして管理することができる。カメラは、レンズを直接撮像した後、レンズに関連して配置することができる。ソフトウェアは、その位置から干渉計の位置にオフセットさせることができる。これら２つは同じではないので、オフセットが必要となり得、このオフセットは、実際のシステムジオメトリと一致するように変化させることができる。
【００２４】
振動不感型干渉計は、製造業者から提供されたままの状態で使用されてもよく、本明細書に開示されるように、位置合わせシステムには、例えば、光学カメラを追加してもよい。したがって、干渉計は変化しない。カメラは、カメラ軸と干渉計軸が平行になるように取り付けられ得る。
【００２５】
干渉計及びカメラを保持している単一部品（位置決めアーム）は１つの部品であり得るので、位置合わせの際のカメラアングルの管理は容易であり得る。１つの部品の精密な加工は正確な公差を達成し、大きな累積公差が発生するのは組み立てられた複数の部品においてである。カメラ軸が干渉計軸と完全に平行でない場合には、カメラにおいて観察された円形レンズの特徴の形状は、わずかに楕円形になる。形状に重点を置くのではなく、中心に依存することができる。すなわち、これが厳密で再現可能な限りにおいて、このプロセスは、楕円形の中心からレンズの中心を容易に見つけることができる。カメラと干渉計との間の標準オフセットは、位置又は角度のあらゆる変化を調整することができる。
【００２６】
本明細書に開示される装置の分解及び再組み立ては、概して、次の２つの変数の変化をもたらすことができる：撮像したレンズの中心から干渉計ビームの中心までの距離、並びにレンズからカメラまでの垂直距離及び干渉計の最適な焦点高さ。これらの変数を排除するようにシステムを設計することができない場合には、簡単な較正及びオフセットを行うことにより、システムは、カメラと干渉計との新たなオフセットを学習し、その後通常通りに動作できるようになり得る。変化を簡単に較正するために、クリティカルなセットアップは必要ない。
【００２７】
特定の用語が本開示において使用されることが理解されるので、以下にそれら特定の用語を定義する。
【００２８】
用語「一定供給」は、例えば、連続的若しくは半連続的又はバッチ式に操作される製造プロセスの結果として、規則的又は予測可能な間隔で眼科用器具が存在することを指すことができる。連続的又は半連続的に動作する機械装置を使用するプロセスなど、全てのタイプの製造プロセスが含まれる。
【００２９】
用語「物理的寸法」は、眼科用器具の寸法及び形状を反映した、眼科用器具の測定値を指すことができる。典型的には、物理的寸法を決定するために、干渉計などの分析装置によって複数のデータ点が収集される。物理的寸法としては、半径及びトポグラフィー、より具体的には、アナログ表面情報、前面湾曲の鋳型の半径、後面湾曲の鋳型の半径、及び／又はレンズ（例えば、前面湾曲の鋳型内の未水和状態のレンズ）の半径が挙げられるが、これらに限定されない。コンタクトレンズ用鋳型の物理的寸法は、他の働きの中でもとりわけ、得られるコンタクトレンズの半径及び屈折力と相関して、設計意図からのずれを判定するため、及び／又は連続的又は半連続的プロセスの間にプロセス又は品質管理に関する決定を下すために使用することができる。コンタクトレンズの物理的寸法は、包装などの更なる処理のために製品を合格とするため、及び製造プロセスにおいて製品が先に進む前に製品を不合格とするために使用され得る。
【００３０】
用語「リアルタイム」とは、製造中を意味することができる。所望により、規格外製品の頻度及び／又は多発を減少させるために、及び／又は規格外製品を避けるために、プロセス及び／又は品質管理に関するリアルタイム動作を取ることができる。
【００３１】
用語「自動位置合わせシステム」は、センサー（例えばカメラ）と、位置決めアーム又はキャリアなどの機械装置との組み合わせを指すことができ、そのシステムは、干渉計が眼科用器具の測定を瞬時かつ確実に行うことができるように、干渉計などの分析装置の範囲内に眼科用器具を位置付ける。位置合わせシステムは初期「グロス位置」を提供すると考えられ得るが、たとえそうであっても、位置合わせシステムは、干渉計が所望の眼科用器具のターゲットポイントの位置を非常に短い期間に特定することができるように、優れた公差を示すことができる。公差±２５μｍへの言及は、位置合わせシステムが眼科用器具を、正確なターゲットの±２５μｍ以内の同じ位置に毎回位置付けることを意味する。自動位置合わせシステムは、カメラ（ディジタルカメラなど）、電荷結合素子（ＣＣＤ）、又は相捕型金属酸化膜半導体（ＣＭＯＳ）を含むことができ、これらは、ポジショナー、及び制御ループフィードバックを採用するコントローラと電気通信する。システムは、ポジショナーとして、干渉計が取り付けられる位置決めアーム、又は眼科用器具用キャリアを含むことができる。ポジショナーは、累積公差を低減するために、一体型ユニットとして提供され得る。１つの代表的な例として、パレットは、眼科用器具の１つ又は２つ以上の鋳型のためのキャリアである。別の代表的な例は、レンズのキャリアである鋳型である。
【００３２】
三次元（３Ｄ）センサーを使用する位置合わせシステムは当該技術分野において既知であるが、三次元センサーの出力は、人によって行われる手動移動調整のための方向データの形態である。しかしながら、製造目的のために、リアルタイムの測定を実施するためのより単純で簡単な方法が求められている。本明細書に記載されるシステムのいくつかの実施形態は、「複雑な」三次元データセンサーではなく、二次元（２Ｄ）カメラを使用する。また、いくつかの実施形態は、電荷結合素子（ＣＣＤ）、又は相捕型金属酸化膜半導体（ＣＭＯＳ）を使用してもよい。本明細書に記載される装置によって提供されるデータ及び計算により自動精密アクチュエータが駆動されて、眼用装置を所望のＸ、Ｙ、及びＺ座標に位置決めする。当該技術分野において現在使用されているシステムは、自動モーションではないので、生産プロセスが常に又は連続的に繰り返される場合には配備することができない。当該技術分野において現在使用されている、３Ｄセンサーに依存するシステムと対照的に、特許請求される発明のいくつかの実施形態は、最初に二次元カメラシステムを使用して位置決めアーム又はキャリアをＸ、Ｙ、Ｚ位置に位置決めし、その後装置は干渉計データを使用してデータを認証し、微調整する。この二次システムは、位置決め精度を更に向上させる。本明細書に記載される位置合わせシステムは、２Ｄ画像のカメラシステムを使用して３Ｄ位置を得て干渉計の使用を開始するので、当該技術分野において現在使用されているように３Ｄ空間を分析する必要がないため、計算がより簡単になり、その結果、位置合わせがより簡単、迅速、かつ正確になる。
【００３３】
一実施形態は、まだ前面湾曲の鋳型内にある状態の乾燥したコンタクトレンズの直径を測定するために、２Ｄビジョンカメラを利用する。この測定値は、完成したレンズの直径と相関関係があり得、製造担当者が傾向分析及び管理不能状態に反応するのを可能にし得る。乾燥したレンズの直径を測定するための代替方法は、注入（dosing）の前に前面湾曲のナイフエッジを測定することであり得る。これも同様に、完成したレンズの直径と相関関係があり得る。
【００３４】
一般的概念として、位置合わせシステムと干渉計は互いから分離され、累積公差の発生を低減又は排除するために、位置合わせシステムの軸と干渉計の軸が平行になるように取り付けられ得る。干渉計の位置に関連する位置合わせシステムの位置は、固定距離で設定されることができ、これは既知のオフセットとして管理される。位置合わせシステムは、レンズを直接撮像し、次にレンズの位置特定に進み、それによってシステムの効率を高めることができる。カメラと干渉計との間の既知のオフセットの測定値に基づく位置又は角度のあらゆる変動に関し、ソフトウェアを使用して干渉計の位置を計算し、調整することができる。位置合わせシステムと干渉計との間の既知のオフセットは、実際のシステムジオメトリ（位置合わせシステム及び干渉計の位置及び角度など）と一致させるために、変化させてもよい。
【００３５】
用語「容易に特定可能な特徴」は、後から特定する目的で眼科用器具に加えられる固定参照点を指すことができる。１つ又は２つ以上の実施形態では、容易に特定可能な特徴は、限定するものではないが、タブ、ノッチ、ゲート、直径方向のエッジ、及び／又はフランジなどの任意の形態とすることができる。例えば、容易に特定可能な特徴は、光学的に撮像する際に眼科用器具の実際の中心の位置が分かるように、レンズの中心から既知の距離に位置付けられてもよい。容易に特定可能な特徴は、製品がＳＫＵ（最小在庫管理単位）番号などの固有のコードによって特定されるという点で、製品固有であってもよい。
【００３６】
１つ又は２つ以上の実施形態では、円形又は球面レンズの容易に特定可能な特徴は、レンズの外径又は鋳型の直径である特徴の形態であり、その特徴は、その上にＸ−Ｙ位置を合わせるための、最も見やすく、最も正確な特徴である。他の特徴が選択されてもよく、その場合、その特徴は、レンズ用鋳型の重要部分（例えばオプティカルゾーンなど）と類似の特徴でなければならず、対象特徴は、累積公差誤差を最小にするために一緒に製造される。選択された容易に特定可能な特徴は、特定の製品の容易に特定可能な特徴に対する対象表面の位置に関するサグデータを含めて、Ｚ軸に対して位置合わせするためにも有用であり得る。
【００３７】
本発明の一態様では、眼科用器具の物理的特性を測定するためのインライン装置が提供される。図１を参照すると、眼科用器具（２０）の一定供給を評価するためのインライン装置（１０）が提供され、このインライン装置は、振動不感型干渉計（３０）と、干渉計又は眼科用器具を位置決めする自動位置合わせシステム（４０）と、干渉計（３０）と通信して測定値を受信する中央演算処理装置（５０）（以下「ＣＰＵ」という）と、を備えている。ＣＰＵ（５０）は、通常、自動位置合わせシステム（４０）及び／又は干渉計（３０）の構成要素とも通信する。インライン装置は、眼科用器具の物理的寸法をリアルタイムで決定することができる。
【００３８】
１つ又は２つ以上の実施形態では、振動不感型干渉計（３０）は動的干渉計である。干渉計は、光源（長又は低コヒーレンス）と、鏡と、１つ又は２つ以上の検出器と、１つ又は２つ以上のコリメートレンズと、１つ又は２つ以上のビームスプリッタと、結像光学系と、参照面とを備えている。
【００３９】
図２Ａ及び図２Ｂは、図１に示した例示的な自動位置合わせシステム（４０）の概略図を、インライン装置の構成要素と共に提供する。１つ又は２つ以上の実施形態では、位置合わせシステム（４０）は、二次元カメラ（４４）などの位置特定光学装置（locating optical device）と、位置決めアーム（４２）又はキャリア（６０）（単独若しくはアクチュエータ、モーター、又はサーボ（４６）を有する）などのポジショナーと、制御ループフィードバック（４８）を採用するコントローラとを含んでよい。ＣＰＵ（５０）は、レンズの中心位置、及びこの中心位置からカメラまでの現在の距離を決定するために、計算を行える。システムのいくつかの実施形態は、眼科用器具の周囲を見つけ出すために、Ｓｏｂｅｌ又はＣａｎｎｙなどの市販の画像分割方法を使用してもよい。次に、円適合法を用いて、眼科用器具に適合する最も近い円を見つけてもよく、この円から眼科用器具の直径及び中心位置を計算することができる。ＣＰＵ（５０）は更に、通信プロトコルにより、自動アクチュエータ、モーター、又はサーボを、レンズの中心位置からカメラまでの計算された距離だけ駆動する。
【００４０】
１つ又は２つ以上の実施形態では、二次元カメラ（４４）などの位置決め光学装置は、画像中心を見つけるための処理を実行するそれ自体の処理装置を有し、この中心とその現在の位置を比較するためにＣＰＵにこのデータを提示することができる。１つ又は２つ以上の実施形態では、干渉計（３０）もまた、レンズの中心からの距離を決定した後、これをＣＰＵ（５０）に送るための、処理装置を有することができる。次に、ＣＰＵ（５０）は、このデータを、カメラの計算及び干渉計の計算に基づく決定木と共に使用して、位置決めアームを位置合わせ状態へと非常に正確に移動させることができる。位置合わせ状態になった後、ＣＰＵ（５０）は、干渉計（３０）から受信するデータをトリガー、記録、及び送信することによって、制御を継続する。複数の処理装置がシステム内に存在することが可能であり、各主要構成要素はいくらかの処理機能を有することができるが、用語「ＣＰＵ」は、インライン装置のカメラ、アクチュエータコントローラ、及び干渉計を統合するために使用される１つ又は２つ以上の個々の処理装置を包含し得ることが理解される。
【００４１】
自動位置合わせシステム（４０）は、干渉計又は眼科用器具を、Ｘ−Ｙ−Ｚ位置のいずれか１つ又はこれらの組み合わせの、±１２．５μｍの距離内に位置決めすることができる。すなわち、ｘ軸は、位置決めアームに平行な水平位置であり、ｙ軸は、位置決めアームに垂直な水平位置であり、ｚ軸は垂直位置である。Ｘ−Ｙ距離は、容易に特定可能な特徴（レンズの外径又は鋳型の直径など）の中心点、及びその現在の中心位置を知り、次に計算して、Ｘ距離及びＹ距離を整合するように移動させることによって見出すことができる。Ｚ高さは、狭被写界深度撮影を用いて所与の特徴の鮮鋭度を最大化することによって見出すことができる。容易に特定可能な特徴を撮像し、容易に特定可能な特徴が最も少ない遷移ピクセル、又は使用可能な焦点領域内で白色から黒色への最も鋭い遷移を有するまで、Ｚ方向に移動させることによって、「最適な焦点」の再現性の高い位置を特定し、常にそこに位置するようにこの位置を利用することができる。カメラは、ポジショナーと電気通信していてもよい二次元カメラを含むことができる。位置合わせシステムは、干渉計又は眼科用器具を所望のｘ、ｙ、及びｚ座標に位置決めするのに有効であり得る。
【００４２】
１つ又は２つ以上の実施形態では、眼科用器具は、コンタクトレンズ用鋳型又はレンズであり得る。眼科用器具の物理的寸法は、前面湾曲半径、後面湾曲半径、アナログ表面情報、及び屈折力のうちのうちの１つ又は２つ以上を含み得る。眼科用器具の一定供給は、．５〜６０秒、好ましくは３〜２０秒の範囲内の間隔で起こり得る。干渉計（３０）によってリアルタイムに行われる物理的寸法の連続した測定は、２０〜４０μｓの範囲内の間隔で行われ得る。
【００４３】
１つ又は２つ以上の実施形態では、図２Ａ及び図２Ｂに示すように、カメラ（４４）及び干渉計（３０）は、アクチュエータ、モーター、又はサーボなどの機構を動かすことによってＸ、Ｙ、及びＺ方向に移動させることができる移動可能な位置決めアーム（４２）に、互いから一定の距離で一緒に取り付けられる。眼科用器具は、位置決めアーム（４２）の下に、既知のＸ−Ｙピッチで、機械公差内で配置される。アクチュエータ、モーター、及び／又はサーボ（４６）は、位置決めアームを、各レンズの所望のＸ、Ｙ、及びＺ座標までＸ、Ｙ、及びＺ方向に移動させることができる。図２Ａでは、制御ループフィードバック（４８）を使用するコントローラが、位置決めアーム（４２）に固着されたカメラ（４４）とアクチュエータ（４６）との間にある。
【００４４】
図２Ｂでは、制御ループフィードバック（４８）を使用するコントローラが、キャリア（６０）に固着されたカメラ（４４）とアクチュエータ（４６）との間にある。
【００４５】
図３を参照すると、インライン干渉計の基本操作のフローチャートが提供されている。基本操作の方法では、ステップＳ３１０、Ｓ３２０、Ｓ３３０、Ｓ３４０、及びＳ３５０が実施される。具体的には、ステップＳ３１０において、位置決めアームを動かして、レンズ／鋳型の中心となることが予想される位置の近傍の初期Ｘ、Ｙ位置（以後（Ｘ、Ｙ）と称する）にカメラを位置付ける。ステップＳ３２０において、カメラは、レンズ／鋳型の光学画像を取り込む。ステップＳ３３０において、取り込んだ光学画像を中央演算処理装置（「ＣＰＵ」）に送り、もしあれば、レンズの中心の実際の位置から、予想されるレンズ中心位置までの距離（以後「（Ｘ１、Ｙ１）」と称する）を計算する。ステップＳ３４０において、次に、ＣＰＵは、光学カメラの中心と干渉計の中心との間の既知の一定距離（以後「（Ｘｃ、Ｙｃ）」と称する）を、計算された距離（Ｘ１、Ｙ１）に加える。ステップＳ３５０において、次に、位置決めアームを、干渉計の中心がレンズ／鋳型の中心と一致する位置まで移動させる。次の等式（１）に従って最終干渉計位置の座標を得る。
干渉計の最終Ｘ、Ｙ座標位置＝（Ｘ、Ｙ）＋（Ｘ１、Ｙ１）＋（Ｘｃ、Ｙｃ）  （１）
【００４６】
最終Ｘ−Ｙ位置が分かったら、干渉計の再現可能なＺ位置を見つけることができる。これは、眼科用器具の２つの画像を記録した後、カメラを動かして、撮像される特徴の白色と黒色との間の灰色領域を最小化することによって行われ得る。したがって、遷移が最も少ない画像が見出されるまで、又は白色から黒色への最も鋭い遷移を有する領域が見出されるまで、カメラをＺ軸において移動させることができる。Ｚ位置は、鋳型の既知の特徴の上の既知の位置を記述することができ、次に、これを用いてＺ軸における最終干渉計位置を指示することができる。このようにして、ステップＳ３６０に示されるように、予想されるＺ高さでレンズ／鋳型を撮像することができ、その後、カメラを移動させた後にレンズ／鋳型を再度撮像する。焦点の鮮鋭度を最適化するために、白色から黒色への遷移の比較を見ることができ、最適なＺ位置が見つかるまでこのプロセスを繰り返すことができる。Ｘ、Ｙを決定したのと同様に、Ｚ位置は、最適な光学位置に加えて既知の定数となり得るだけでなく、製品固有の識別番号を含んでいてもよい。焦点の特徴は、関心地点と同じＺ高さである必要はない。
【００４７】
干渉計の最終Ｚ高さ＝Ｚ（カメラ）＋Ｚ（一定のオフセット）＋Ｚ（製品固有）
【００４８】
ステップＳ３７０及びＳ３８０に記載するように、干渉計の中心がレンズ／鋳型の中心と一致し、干渉計を用いてデータを収集するために正しい高さとなるように、位置決めアームをこのＸ、Ｙ、及びＺ干渉計位置まで移動させることができる。１つ又は２つ以上の実施形態では、最終的なＸ、Ｙ、及びＺ位置の計算は、逐次プロセス又は同時プロセスで行うことができる。
【００４９】
図４は、１つ又は２つ以上の反復を含む方法を示す。図３の基本操作と比べると、ステップＳ４３０Ａ、４３０Ｂ、及び４３０ＣがステップＳ４３０の後に追加されており、ステップＳ４４０がステップＳ３４０に取って代わっている。したがって、ステップＳ４１０において、基本操作に則して、位置決めアームを動かして、レンズ／鋳型の中心となることが予想される位置の近傍の初期Ｘ、Ｙ位置にカメラを位置付けることができる。ステップＳ４２０において、同様に基本操作に則して、カメラはレンズ／鋳型の光学画像を取り込むことができる。ステップＳ４３０において、取り込んだ光学画像をＣＰＵに送り、もしあれば、レンズの中心の実際の位置から、予想されるレンズ中心位置までの距離（Ｘ１、Ｙ１）を計算することができる。次に、更に精密にするために、ステップＳ４３０Ａにおいて、カメラを計算された距離（Ｘ１、Ｙ１）だけ移動させることができ、ステップＳ４３０Ｂにおいて、レンズ／鋳型を再度撮像して、新たな距離（Ｘ２、Ｙ２）を計算することができる。ステップＳ４３０Ａ及びＳ４３０Ｂは、考慮すべきあらゆる更なる差を決定するために、ステップＳ４３０Ｃに従って所望に応じて繰り返すことができる。望ましい反復が生じた後、ステップＳ４４０において、ＣＰＵは、次に、光学カメラの中心と干渉計の中心との間の既知の一定距離（Ｘｃ、Ｙｃ）を、計算された距離（Ｘ１、Ｙ１）及び（Ｘ２、Ｙ２）などに加える。ステップＳ４５０において、次に、位置決めアームを、干渉計の中心がレンズ／鋳型の中心と一致する位置まで移動できる。次の等式（２）に従って最終干渉計位置の座標を得る。
干渉計の最終Ｘ、Ｙ座標位置＝（Ｘ、Ｙ）＋（Ｘ１、Ｙ１）＋（Ｘ２、Ｙ２）．．．＋（Ｘｃ、Ｙｃ）  （２）
【００５０】
ステップＳ４５０において、次に、干渉計の中心がレンズ／鋳型の中心と一致する干渉計の最終Ｘ、Ｙ座標位置まで、位置決めアームを移動できる。干渉計の最終Ｚ高さは上述のように計算することができる。
【００５１】
任意追加的に、図４のステップＳ４４０Ｂに示すように、干渉計の位相角測定を用いて中心位置を微調整してもよい。獲得した干渉計の波面を用いて、検査を行っている部品に関連する干渉計の位置を微調整することができる。この微調整は、獲得した波面によって達成することができ、干渉計は、波面誤差を最小化するように移動させることができる。この方法は自動ゼロ化（autonulling）としても知られている。この実施形態では、レンズ／鋳型の光学画像の取り込み処理、及び実際のレンズ中心までの差の計算処理は、最適なレンズの中心を見つけるために、必要に応じて繰り返すことができる。次に、必要であれば干渉計の測定／移動を繰り返すことができ、レンズ／鋳型の測定値を得てＣＰＵに送ることができる。
【００５２】
二次元撮像カメラは、鋳型／レンズに関連する干渉計の位置決めを、眼科用器具の表面を読み取ることができるように達成することができる。眼科用器具の表面の読み取りを達成するためのアライメント精度は、Ｘ、Ｙ、Ｚ位置において約２５マイクロメートルである。干渉計の読み取りが、最適でないが、干渉計が読み取り可能な位置の限度内にある場合には、干渉計を最適な読み取り位置により完全に位置合わせするために、干渉計からのデータを使用してアクチュエータの位置を微調整することができる。例えば、位置合わせシステムに可能なのが、必要とされる±１２．５マイクロメートルではなく、±２５マイクロメートルである場合には、位置合わせシステムによって最初のポイントが特定され、干渉計が読み取り値を取り込もうと試みる。干渉計が読み取り値を取り込まない場合には、干渉計を１２．５マイクロメートル間隔で移動させて次の読み取り値を取り込み、読み取り位置を見つけるための方向データを干渉計に提供する。
【００５３】
１つ又は２つ以上の実施形態では、位置決めアーム及び／又はキャリアは、内部又は外部移動機構によって移動させることができる。１つ又は２つ以上の実施形態では、移動機構は、限定するものではないが、電磁アライメントモーター又はサーボ、ｘ軸アライメントプーリ、ｙ軸アライメントプーリ、及びｚ軸アライメントプーリなどの１つ又は２つ以上の要素を含み得る。ｘ軸アライメントプーリ、ｙ軸アライメントプーリ、及びｚ軸アライメントプーリは、アライメントモーター／サーボに接続されることができる。アライメントモーター／サーボが時計回り又は反時計回りに回転すると、干渉計とカメラをＣＰＵによって決定された通りに所望のＸ、Ｙ、又はＺ座標に沿って位置合わせするように、Ｘ、Ｙ、又はＺギアが回動することができる。１つ又は２つ以上の実施形態では、電気サーボモーター、及び閉ループを有するコントローラが、Ｘ、Ｙ、及びＺ位置のそれぞれを制御する。これらモーターは、最も典型的には、微細ピッチネジに取り付けられ、リニア軸受上に装着されたスライドに取り付けられた「固定」ナットを、ネジに沿って駆動する。ねじが回転するにつれて、ナットとスライドは、ネジのピッチによって表わされる速度で（軸受に装着されたまま）ネジに沿って移動する。正確な回転数によって、スライドによって動かされる距離が正確なものとなる。ネジの代わりに、ベルト又はケーブルを使用して、スライドを軸受けに沿って駆動してもよく、いずれの場合にも、見出された位置への駆動は、記載される位置決めシステムによって行われる。別の実施形態では、油圧アクチュエータ、空気圧式アクチュエータ、又は、電磁石が移動軸に沿って装着され、通電されて、回転することなく直接スライドの位置を操作するリニアモータ方式を適用することによって、非モーター式の他のシステムを使用することも可能である。更に別の実施形態では、動力モーターの回転に比べて位置運動が大幅に小さくなるギアボックスシステムを使用して、通常の電気モーターから正確なリニアーアクチュエータを得ることができる。更に別の実施形態では、干渉計の位置をＸ、Ｙ、及びＺ位置に関して完全に制御する多軸ロボットを使用してもよい。
【００５４】
１つ又は２つ以上の実施形態では、カメラ及び干渉計は、ネットワークを介して１つ又は２つ以上のＣＰＵに接続された、眼科用器具の一定供給の上に位置付けられた位置決めアームに取り付けられてもよい。ネットワークは、有線若しくは無線、又はネットワークの一部が有線で一部が無線であるハイブリッドな組み合わせであってもよい。１つ又は２つ以上のＣＰＵは、カメラ及び／又は干渉計から、有線若しくは無線ネットワーク、又は直接配線接続を介して情報を受信し、この情報を適切に処理することができる。例えば、ＣＰＵは、信号を自動位置合わせシステムまでネットワーク上で送信して、どのように調節すべきかをシステムに伝えることができる。また、ＣＰＵは、物理的寸法に関する情報を干渉計から受信することができる。干渉計にとって最適な読み取りポイントの位置は、測定される特定の製品についての知識によって決定され得る。この場合、再現可能なＺ位置が見つかったら、Ｚ高さで撮像された表面から目的の表面までの距離を記述する製品固有の駆動データを、Ｚ軸における標準オフセット距離に加える必要がある。更に、処理が実行されると、ソフトウェアは、過去のスタートポイントを傾向分析することによって、改善されたスタートポイントを学習するので、少ない読み取りで最適な位置を達成することができる。より有効なスタートポイントを生成し、それによって位置決めを完了するまでにかかる時間を減少させて、処理の全体的効率を高めるために、これを外挿して、特定の製品に関する最適な位置を記述する履歴データを含むようにしてもよい。
【００５５】
カメラは、画像をＣＰＵ（５０）にローカルに格納するように構成されてもよい。ＣＰＵ（５０）は、ディジタルカメラからネットワークを介して画像を受け取ってよい。ＣＰＵ（５０）は、画像毎に、眼科用器具／ホルダー上に位置する容易に特定可能な特徴を解析することができる。容易に特定可能な特徴のＸ、Ｙ、及び／又はＺ座標に基づいて、眼科用器具の中心の実際のＸ、Ｚ、及び／又はＺ（X, Z and/or Z）座標を決定することができる。そこから、図３〜図４に示すように、ＣＰＵは、調整されたＸ−Ｙ−Ｚ座標組を計算した後、この調整されたＸ−Ｙ−Ｚ座標組をネットワークを介して自動位置合わせシステムに送信することができ、これにより干渉計を再配置することができる。このようにして、ステップＳ４６０に記載されるように、レンズ／鋳型を予想されるＺ位置で撮像することができ、一定距離移動させて第２の画像を撮像した後、焦点の鮮鋭度を最適化するために、白色から黒色への遷移の比較を行うことができる。干渉計の適切な位置合わせが達成されるまで、このプロセスを繰り返すことができる。
【００５６】
１つ又は２つ以上の実施形態では、本発明のインライン装置によって得た物理的寸法測定値を、品質管理及び統計的工程管理用途で利用して、製造中に改良を行い、規格外材料を低減することができる。
【００５７】
干渉計がカメラを使用してそのＸ、Ｙ、Ｚ位置を最適化するこれまで記載してきた実施形態に加えて、干渉計に重点を置いた他の実施形態も、以下に開示される広範な発明原理の範囲内であることが意図される。こうした他の実施形態では、特に指定のない限り、これまで本明細書において使用されかつ記載された技術、実現形態、及び装置は、以降でも矛盾なく利用され得る。
【００５８】
本発明のいくつかの実施形態は、コンタクトレンズの表面及び中心厚を測定するために２つの測定システムを必要とする代わりに、１つの測定システムを、コンタクトレンズの表面測定値及び中心厚測定値の両方を提供するように設計する方法について説明する。
【００５９】
一実施形態では、眼科用器具（例えば、コンタクトレンズ）の表面及び中心厚を測定するために、２つの技術を組み合わせて１つの測定システムとすることができる。例えば、２つの干渉計（一方は表面で使用され、他方は中心厚で使用される）を組み合わせて、１つの測定システムとすることができる。中心厚測定システムのビーム経路を、表面測定システムのビーム経路に挿入することによって、２つの測定システムを組み合わせることができる。図５は、眼科用器具の物理的特性を測定するためのインラインシステムを有する１つの測定システム５００を示す。システムは、眼科用器具５８０の特徴の実際の位置を撮像するように構成されているカメラ５２２を含み得る。システムは、更に、ビームスプリッタ５２０を透過して眼科用器具５８０に至る波長を有する表面測定ビーム５１２を投射するように構成されている耐振動型干渉計５１６を含み得る。表面測定ビーム５１２はレーザー５１０から得てもよく、このレーザー５１０は、十分小型であり、かつ最適なＸ／Ｙ位置に対する初期カメラ測定及び処理によって適所に方向付けられることができる。耐振動型干渉計５１６は、測定値を中央演算処理装置（ＣＰＵ）に送信するように構成され得る。システムは、更に、耐振動型干渉計５１６及びカメラ５２２を位置付けるのに有効な自動位置合わせシステムを含むことができる。自動位置合わせシステムはＣＰＵと通信してもよい。
【００６０】
測定システム５００は、ポジショナーを備えた自動位置合わせシステムを含み得る。システムは、干渉計５１６を位置付けるのに有効であり得る。自動位置合わせシステムはＣＰＵと通信していてもよい。
【００６１】
カメラ５１８は、眼科用器具の予想位置までカメラを動かし、予想位置と実際の位置の違いとしてオフセットを計算することによって、眼科用器具５８０に関連して、眼科用器具の最適なＸ、Ｙ位置を決定することができる。
【００６２】
レーザー測定装置５４０は、表面測定ビームのＺ方向に移動して、表面測定ビーム５１２の焦点を計算したＸ、Ｙ位置に合わせ、眼科用器具の特徴のＺ位置を決定することができる。レーザー測定装置５４０は、ＣＣＤ（電荷結合素子）型の反射型レーザー測定ヘッドであり得る。耐振動型干渉計５１６及び／又は眼科用器具５８０を、眼科用器具に関連して決定されたＸ、Ｙ、Ｚ位置に基づいて移動させることによって、眼科用器具の測定を完了させることができる。
【００６３】
図５に示すように、測定システム５００は、第２のビームスプリッタ５６０を使用してトライマングリーンの発散レンズ５７０の前で中心厚測定ビーム５１４が表面測定ビーム５１２に挿入される、トワイマングリーン型の構成であり得る。この実施形態は、他のタイプの干渉計、また場合によっては干渉計経路内の他の位置を含むように拡大され得る。中心厚測定システム５１８は、基準信号を使用して、眼科用器具に関連する第２のＺ位置を解決するように構成され得る。中心厚測定システム５１８は、眼科用器具の厚さ及び高さ測定を完了して、耐振動型干渉計５１６及び／又は眼科用器具５８０を完了した測定に基づいて移動させるように構成され得る。
【００６４】
いくつかの実施形態では、中心厚測定システム５１８は、中心厚ビーム５１４を第２のビームスプリッタ５６０を介して眼科用器具５８０まで伝送する中心厚測定干渉計であり得る。中心厚ビーム５１４は、耐振動型干渉計５１６のレーザー波長と異なるレーザー波長を有し得る。中心厚ビーム５１４は、眼科用器具５８０に到達する前に表面測定ビーム５１４に合流し得る。一実施形態では、中心厚ビーム５１４は、発散レンズ５７０の前で表面測定ビームに合流し得る。
【００６５】
ビームスプリッタは、中心厚ビームを反射するが、被検査部品から戻ってきた表面測定ビームを透過させるようにコーティングされるので、表面測定干渉計のレーザー波長は中心厚干渉計と十分に異なっていてもよい。例えば、一実施形態では、中心厚ビームスプリッタつまり第２のビームスプリッタは、約１１００ｎｍ以上の波長を反射することができ、約６３０ｎｍ以下の波長を透過させることができる。よって、中心厚ビームは、最初に述べたビームスプリッタと異なる第２のビームスプリッタを介して投射されて、表面測定ビームと合流することができる。更に、中心厚ビームの波長は、表面測定ビームの波長と十分に異なり得るので、第２のビームスプリッタは、中心厚ビームを反射する一方で、眼科用器具から戻ってきた表面測定ビームを透過させる。
【００６６】
中心厚干渉計５１８は、中心厚測定を完了する前に、眼科用器具からのその高さを測定することができ、測定した高さを予想値と比較することができる。この点において、中心厚測定は、中心厚干渉計の測定高さを組み込むことに基づき得る。
【００６７】
眼科用器具は乾燥したコンタクトレンズであってもよく、眼科用器具のカメラが撮像する特徴は、鋳型内にある間に測定されるコンタクトレンズの直径であってもよい。特徴は、注入前に測定される、コンタクトレンズの前面湾曲のナイフエッジであってもよい。特徴は、眼科用器具の中心点であってもよい。
【００６８】
オンライン測定システムは、眼用レンズの正確な測定を可能にするために、測定器による迅速な取得及び位置特定を必要とする。一例は、耐振動型干渉計システム、及び、完全な位置（レンズからの高さを含む）がディジタルカメラの合焦処理によって決定されるディジタルカメラシステムである。この方法は機能的であるが、最終的に表面測定干渉計を最適に位置付けるために使用される複数の測定装置の組み合わせを使用して、垂直位置の位置決定を達成するより迅速な方法が存在する。目標は、大まかな位置から始め、次に、耐振動型表面測定干渉計を用いた読み取りを可能にする、非常に正確な位置にダイヤルを合わせることができる。
【００６９】
レーザーポイントが十分に小さく、ディジタルカメラの初期測定及び決定によってレーザーポイントを最適なＸ／Ｙ空間へと方向付けることができると仮定して、標準的なＣＣＤ型反射型レーザー測定ヘッドを使用する。ディジタルカメラを使用してレンズの中心を見つけた後、例えば、レーザービーム測定センサーを動かしてレーザー放射体５１０からレンズ表面５８０までの距離を測定することによって、最初は垂直軸における「最適な」位置から２．５ｍｍも外れている場合でも、垂直方向高さをマイクロメートルの範囲内で容易／迅速に計算することができる。したがって、このプロセスは、光学カメラが最適なＸＹ位置を決定するステップと、ＸＹＺポジショナーがレーザー測定ヘッドを動かしてレーザービームの焦点をレンズ中心点に合わせ、最適なＺ位置を測定するステップと、次に、耐振動型干渉計がこの正確なＸＹＺ位置に移動して表面及び半径測定を完了するステップと、を含み得る。
【００７０】
別の実施形態では、厚さ測定システム（一例は干渉計であり得る）は、部品又は眼科用器具を位置付けるために、Ｚ距離、つまり垂直距離に移動させることができる。既知のＺ位置からの基準信号を測定システム５００に含ませることによって、眼科用器具の表面の位置を決定することができる。上述した実施形態と同様に、厚さ測定システムは、精度の高いＸＹＺアクチュエータシステムを使用して、ディジタルカメラのＸＹ画像及び計算によって決定されたレンズの中心まで移動され得る。この干渉計ビーム５１４が眼科用器具の特徴（例えばレンズの中心）の上に位置付けられたら、既知の基準位置からの信号を、レンズ表面からの信号と組み合わせて、信号位置の違いを比較することによって、距離を決定することができる。レンズの中心厚を実際に測定するために干渉計をそのように使用することによって、既に定位置にある装置で中心厚を測定することで測定方法を実現して、別の測定装置を加えることなく正確な距離測定値を容易に得ることができる。よって、眼科用器具の測定シーケンスの使用は、１）ＸＹ位置を測定するためにディジタルカメラを使用することと、２）中心厚測定干渉計を正しいＸＹ位置、及びジオメトリによって厳密に推定されるＺ位置に移動させて、中心厚測定及び高さ測定を完了することと、３）カメラのＸＹ測定値及び中心厚（高さ）測定値を用いて耐振動型表面測定干渉計の動きを駆動して、レンズ（半径及び表面）の測定を完了することと、を含み得る。
【００７１】
中心厚測定を行う前に、中心厚干渉計５１８自体の垂直位置を最適化するために、中心厚干渉計を使用することができる。データは、Ｘ、Ｙ、又はＺの位置から外れると中心厚測定がエラーとなることを示す。最適な位置は最も正確で再現可能な結果をもたらすことができる（既知である場合）。したがって、カメラを使用して最適なＸＹ位置を見つけて中心厚干渉計をその位置に移動させ、次に、中心厚干渉計を使用してレンズからの中心厚干渉計の高さを測定した後、この値を最適な値と比較する処理が行われ、Ｚアクチュエータの最も最適な位置への移動が駆動された後、中心厚測定が完了する。このようにして、中心厚の精度を数マイクロメートル向上させることができる。求められる精度によって、数マイクロメートルは非常に重要であり得る。いくつかの実施形態では、カメラは光学カメラであり得る。
【００７２】
本発明がこの詳細な説明と関連して記載されると共に、前述の説明は本発明の範囲を例示したものであって、発明の範囲を限定することを意図したものではなく、発明の範囲は添付の特許請求の範囲により定義されると、理解される。他の態様、利点、及び変更は、特許請求の範囲内である。
【００７３】
〔実施の態様〕
（１）  眼科用器具の物理的特性を測定するためのインライン装置であって、
前記眼科用器具の一定供給の物理的寸法を決定するように構成されている振動不感型干渉計と、
前記干渉計又は前記眼科用器具を位置決めする自動位置合わせシステムと、
前記自動位置合わせシステムと通信して前記干渉計から測定値を受信する中央演算処理装置（ＣＰＵ）と、を含み、
前記眼科用器具の前記物理的寸法がリアルタイムに決定される、装置。
（２）  前記振動不感型干渉計が動的干渉計を含む、実施態様１に記載の装置。
（３）  前記位置合わせシステムが、カメラ、ポジショナー、及び制御ループフィードバックを採用したコントローラを含み、前記カメラ、前記ポジショナー、及び前記コントローラは全て電気通信している、実施態様１に記載の装置。
（４）  前記カメラがディジタルカメラを含み、前記ポジショナーは、前記干渉計が取り付けられる位置決めアーム、又は前記眼科用器具を移送するキャリアを含む、実施態様３に記載の装置。
（５）  前記位置合わせシステムが、前記干渉計又は前記眼科用器具を所望のｘ、ｙ、及び／又はｚ座標に位置決めするのに有効である、実施態様１に記載の装置。
【００７４】
（６）  前記眼科用器具が、コンタクトレンズ用鋳型又はレンズである、実施態様１に記載の装置。
（７）  前記眼科用器具の前記物理的寸法が、前面湾曲半径、後面湾曲半径、アナログ表面情報、及び屈折力のうちの１つ又は２つ以上を含む、実施態様１に記載の装置。
（８）  前記振動不感型干渉計による前記物理的寸法のリアルタイムの連続的な計算が、２０〜４０μｓの範囲内の間隔で行われる、実施態様１に記載の装置。
（９）  前記眼科用器具の一定供給が、０．５〜６０秒の範囲内の間隔で生じる、実施態様１に記載の装置。
（１０）  コンタクトレンズ用鋳型又はレンズである眼科用器具の物理的特性を測定するためのインライン装置であって、
前記眼科用器具の一定供給の物理的寸法を決定するように構成されている振動不感型干渉計と、
カメラと、ポジショナーと、制御ループフィードバックを採用するコントローラとを含む自動位置合わせシステムであって、前記システムは前記干渉計を位置決めするのに有効である、自動位置合わせシステムと、
前記自動位置合わせシステムと通信して前記干渉計から測定値を受信する中央演算処理装置（ＣＰＵ）と、を含み、
前記眼科用器具の前面湾曲半径、後面湾曲半径、及び／又は屈折力がリアルタイムに決定される、装置。
【００７５】
（１１）  眼科用器具の物理的特性をインラインで測定する方法であって、
前記眼科用器具を連続的に供給することと、
測定値を中央演算処理装置（ＣＰＵ）に送信する振動不感型干渉計を得ることと、
前記干渉計又は前記眼科用器具を、前記ＣＰＵと通信する自動位置合わせシステムで位置決めすることと、
前記眼科用器具の物理的寸法をリアルタイムに決定することと、を含む、方法。
（１２）  前記振動不感型干渉計は動的干渉計を含む、実施態様１１に記載の方法。
（１３）  前記自動位置合わせシステムは、カメラと、ポジショナーと、制御ループフィードバックを採用するコントローラとを含み、前記システムは前記干渉計を位置決めするのに有効である、実施態様１１に記載の方法。
（１４）  前記位置決めすることが、前記カメラを第１の位置まで移動させることと、前記眼科用器具を撮像することと、調整位置を計算することと、前記干渉計を測定位置まで移動させることと、を含む、実施態様１３に記載の方法。
（１５）  前記調整位置を計算した後に前記カメラを第２の位置まで移動させることと、前記眼科用器具を再度撮像することと、前記干渉計を測定位置まで移動させる前に第２の調整位置を計算することと、を更に含む、実施態様１４に記載の方法。
【００７６】
（１６）  前記決定することは、前記眼科用器具の周囲の位置を特定することと、前記眼科用器具の直径を、円適合法（fit circle technique）を用いて計算することと、を更に含む、実施態様１１に記載の方法。
（１７）  前記眼科用器具の周囲の位置を特定することが、画像分割により行われる、実施態様１６に記載の方法。
（１８）  前記眼科用器具は乾燥したコンタクトレンズであり、前記周囲は、鋳型内にある間に測定される直径である、実施態様１６に記載の方法。
（１９）  前記眼科用器具は乾燥したコンタクトレンズであり、前記周囲は、注入の前に測定される前記眼科用器具のフロントカーブのナイフエッジである、実施態様１６に記載の方法。
（２０）  眼科用器具の物理的特性を測定するためのインラインシステムであって、
前記眼科用器具の特徴の実際の位置を撮像するように構成されているカメラと、
ビームスプリッタを透過して前記眼科用器具上に至る波長を有する表面測定ビームを投射するように構成されている耐振動型干渉計であって、前記耐振動型干渉計は、測定値を中央演算処理装置（ＣＰＵ）に送信するように構成されている、耐振動型干渉計と、
前記干渉計及び前記カメラを位置決めするのに有効である自動位置合わせシステムであって、前記自動位置合わせシステムは前記ＣＰＵと通信する、自動位置合わせシステムと、を含み、
前記カメラを前記眼科用器具の予想位置まで移動させ、前記予想位置と前記実際の位置の違いとしてオフセットを計算することによって、前記眼科用器具の最適なＸ、Ｙ位置が決定され、
レーザー測定装置が、Ｚ方向に移動して、前記表面測定ビームの焦点を前記計算したＸ、Ｙ位置に合わせ、前記眼科用器具の前記特徴のＺ位置を決定するように構成されており、
前記眼科用器具の前記測定が、前記耐振動型干渉計及び／又は前記眼科用器具を前記眼科用器具に関連する前記決定したＸ、Ｙ、Ｚ位置に基づいて移動させることによって完了する、眼科用器具の物理的特性を測定するためのインラインシステム。
【００７７】
（２１）  前記眼科用器具に関連する第２のＺ位置を決定するために基準信号を使用するように構成されている中心厚測定システムを更に含み、
前記中心厚測定システムは、前記眼科用器具の厚さ及び高さ測定を完了するように構成されており、
前記耐振動型干渉計又は前記眼科用器具の一方が、前記完了した測定に基づいて移動される、実施態様２０に記載のインラインシステム。
（２２）  前記中心厚測定システムは、中心厚ビームを第２のビームスプリッタを介して前記眼科用器具まで伝送する中心厚測定干渉計であり、前記中心厚ビームは、前記耐振動型干渉計のレーザー波長と異なるレーザー波長を有し、前記中心厚ビームは、前記眼科用器具に到達する前に前記表面測定ビームと合流する、実施態様２１に記載のインラインシステム。
（２３）  前記中心厚ビームは、発散レンズの前で前記表面測定ビームと合流する、実施態様２２に記載のインラインシステム。
（２４）  前記中心厚干渉計は、前記中心厚測定が完了する前に前記眼科用器具より上のそれ自体の高さを測定し、かつ前記測定高さを予想値と比較し、前記中心厚測定は、前記測定高さを組み込むことに基づいている、実施態様２２に記載のインラインシステム。
（２５）  前記中心厚ビームが、最初に述べたビームスプリッタと異なる第２のビームスプリッタを介して投射されて前記測定ビームと合流し、
前記中心厚ビームの波長は前記表面測定ビームの波長と十分に異なるので、前記第２のビームスプリッタは、前記中心厚ビームを反射する一方で、前記眼科用器具から戻ってきた前記表面測定ビームを透過させる、実施態様２１に記載のインラインシステム。
【００７８】
（２６）  前記レーザー測定装置は、ＣＣＤ型反射型レーザー測定ヘッドである、実施態様２０に記載のインラインシステム。
（２７）  前記特徴は、前記眼科用器具の中心点である、実施態様２０に記載のインラインシステム。
（２８）  前記眼科用器具は乾燥したコンタクトレンズであり、前記特徴は、鋳型内にある間に測定されるコンタクトレンズの直径である、実施態様２０に記載のインラインシステム。
（２９）  前記眼科用器具は乾燥したコンタクトレンズであり、前記特徴は、注入の前に測定される前記コンタクトレンズのフロントカーブのナイフエッジである、実施態様２０に記載のインラインシステム。
（３０）  眼科用器具の物理的特性をインラインで測定する方法であって、
カメラを前記眼科用器具の予想位置まで移動させ、前記眼科用器具の実際の位置を撮像し、前記予想位置と前記実際の位置の違いとしてオフセットを計算し、かつ前記オフセットを前記予想位置に適用することによって、前記眼科用器具に関連するＸ、Ｙ位置を決定することと、
自動位置合わせシステムを使用して、振動不感型干渉計を前記眼科用器具に関連する前記Ｘ、Ｙ位置に位置決めすることであって、前記自動位置合わせシステムはポジショナーを含む、ことと、
表面測定ビームを前記眼科用器具上に向けて投射することであって、前記表面測定ビームは、ビームスプリッタを透過する波長を有している、ことと、
レーザー測定装置を、前記計算したＸ、Ｙ位置において、前記表面測定ビームの方向に、前記眼科用器具に向けて移動させ、かつ前記表面測定ビームの焦点を前記眼科用器具の前記決定したＸ、Ｙ位置に合わせることによって、前記眼科用器具に関連するＺ位置を決定することと、
前記耐振動型干渉計及び／又は前記眼科用器具を前記決定したＸ、Ｙ、Ｚ位置に基づいて移動させることによって、前記眼科用器具の前記測定を完了することと、を含む方法。
【００７９】
（３１）  中心厚測定システムを使用して、前記眼科用器具の厚さ及び高さ測定を完了することと、
既知のＺ位置を有する基準信号を使用して、前記眼科用器具に関連する第２のＺ位置を決定することと、
前記完了した測定に基づいて、前記耐振動型干渉計又は前記眼科用器具の一方を移動させることと、を更に含む、実施態様３０に記載の方法。
（３２）  前記中心厚測定システムは、中心厚ビームを前記眼科用器具に投射するように構成されている中心厚測定干渉計であり、前記中心厚ビームは、前記表面測定ビームと異なる波長を有している、実施態様３１に記載の方法。
（３３）  前記中心厚ビームが、最初に述べたビームスプリッタと異なる第２のビームスプリッタを介して投射されて前記表面測定ビームと合流し、
前記中心厚ビームの波長は前記表面測定ビームの波長と十分に異なるので、前記第２のビームスプリッタは、前記中心厚ビームを反射する一方で、前記眼科用器具から戻ってきた前記表面測定ビームを透過させる、実施態様３２に記載の方法。
【図１】
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【図２Ａ】
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【図２Ｂ】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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