(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
映像信号に応じて表示デバイスを駆動する複数の駆動電圧を出力する表示ドライバであって、
テスト対象とする前記駆動電圧の出力チャネル数を指定するチャネル数指定情報、及びテスト対象とする輝度階調数を指定する階調数指定情報を記憶している記憶部と、
テスト信号の入力により、前記記憶部に記憶されている前記チャネル数指定情報及び前記階調数指定情報に基づいて、前記階調数指定情報の前記輝度階調数で各階調を示すテストデータ片を、階調毎に、前記チャネル数指定情報の前記出力チャネル数の数生成するテストデータ生成部と、
各々が前記映像信号に基づく各画素の輝度階調を示す画素データ片と、生成された前記テストデータ片とのうちの一方を選択するデータセレクタと、
前記画素データ片と前記テストデータ片とのうちで前記データセレクタによって選択された方を階調電圧に変換し、前記階調電圧を有する前記駆動電圧を出力する電圧変換出力部と、を有することを特徴とする表示ドライバ。
【請求項２】
前記テストデータ生成部は、生成した前記テストデータ片の各々を前記チャネル数指定情報にて示される前記出力チャネル数毎に前記データセレクタに送出することを特徴とする請求項１記載の表示ドライバ。
【請求項３】
前記テストデータ生成部は、前記出力チャネル数毎に前記出力チャネル数の前記テストデータ片の各々を互いに異なるタイミングで前記データセレクタに送出することを特徴とする請求項２記載の表示ドライバ。
【請求項４】
前記テストデータ生成部は、前記出力チャネル数毎に前記テストデータ片を前記データセレクタに送出し終える度にレディ信号を外部出力することを特徴とする請求項２又は３記載の表示ドライバ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、映像信号に応じて表示デバイスを駆動する表示ドライバに関する。
【背景技術】
【０００２】
表示装置としての例えば液晶表示装置には、液晶表示パネルと、映像信号に基づく各画素の輝度レベルに対応した階調電圧を液晶表示パネルに供給する表示ドライバとが設けられている。このような表示ドライバに対する製品出荷前のテストの１つとして、１水平応差ライン分の各画素に対応した階調電圧の各々が、階調毎にその階調に対応した適切な電圧値を有しているか否かをテストする階調テストが行われる。
【０００３】
なお、当該階調テストでは、テスタが送出したテストデータによって表示ドライバを動作させ、この際、表示ドライバの各出力チャネルを介して出力された階調電圧の各々をテスタで測定する（例えば特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００７−６５５３８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、このようなテスト方法によると、テスタ側で用意しなければならないテストデータのパターン数は、輝度階調数×出力チャネル数の結果となる。よって、液晶表示装置の大画面化及び高精細化に伴い、テスタ側で用意するテストデータのパターン数は膨大になる。また、テスト対象となる表示ドライバの仕様により、テスト対象とする出力チャネル数及び輝度階調数等が異なっている為、表示ドライバの仕様毎に専用のテストデータを用意する必要があった。
【０００６】
そこで、本発明は、製品出荷前のテストを容易化することが可能な表示ドライバを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明に係る表示デバイスのドライバは、映像信号に応じて表示デバイスを駆動する複数の駆動電圧を出力する表示ドライバであって、テスト対象とする前記駆動電圧の出力チャネル数を指定するチャネル数指定情報、及びテスト対象とする輝度階調数を指定する階調数指定情報を記憶している記憶部と、テスト信号の入力により、前記記憶部に記憶されている前記チャネル数指定情報及び前記階調数指定情報に基づいて、前記階調数指定情報の前記輝度階調数で各階調を示すテストデータ片を、階調毎に、前記チャネル数指定情報の前記出力チャネル数の数生成するテストデータ生成部と、各々が前記映像信号に基づく各画素の輝度階調を示す画素データ片と、生成された前記テストデータ片とのうちの一方を選択するデータセレクタと、前記画素データ片と前記テストデータ片とのうちで前記データセレクタによって選択された方を階調電圧に変換し、前記階調電圧を有する前記駆動電圧を出力する電圧変換出力部と、を有する。
【発明の効果】
【０００８】
本発明に係る表示ドライバによれば、テスト時には、当該表示ドライバに記憶されている階調数指定情報及びチャネル数指定情報に基づき、この表示ドライバの仕様（輝度階調数、出力チャネル数）に対応したテストデータが当該表示ドライバ内で自動生成される。従って、テスタ側において表示ドライバの各種仕様に対応した専用のテストデータを用意する必要がなくなり、製品出荷前のテストを容易化することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明に係る表示ドライバを含む表示装置１００の概略構成を示す図である。
【図２】データドライバ１３の内部構成を示すブロック図である。
【図３】階調テストの概要を示すタイムチャートである。
【図４】第１及び第２の階調テスト工程ＧＴ１及びＧＴ２各々でのテスト動作を示すタイムチャートである。
【図５】テスタ２００と、テスト対象となるデータドライバ１３との接続形態を示す図である。
【図６】データドライバ１３の内部構成の他の一例を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、本発明の実施例を図面を参照しつつ詳細に説明する。
【００１１】
図１は、本発明に係る表示ドライバを含む表示装置１００の概略構成を示す図である。図１において、表示デバイス２０は、例えば液晶又は有機ＥＬパネル等からなる。表示デバイス２０には、２次元画面の水平方向に伸張するｍ個（ｍは２以上の自然数）の水平走査ラインＳ1〜Ｓmと、２次元画面の垂直方向に伸張するｎ個（ｎは２以上の自然数）のデータラインＤ1〜Ｄnとが形成されている。水平走査ライン及びデータラインの各交叉部には、画素を担う表示セルが形成されている。尚、表示デバイス２０の水平走査ラインＳ1〜Ｓmは走査ドライバ１２と接続されており、データラインＤ1〜Ｄnはデータドライバ１３と接続されている。
【００１２】
駆動制御部１１は、映像信号ＶＤ中から水平同期信号を検出して走査ドライバ１２に供給する。また、駆動制御部１１は、映像信号ＶＤに基づき各画素の輝度レベルを例えば８ビットの輝度階調で表す画素データＰＤの系列を生成してデータドライバ１３に供給する。
【００１３】
走査ドライバ１２は、駆動制御部１１から供給された水平同期信号に同期したタイミングで、水平走査パルスを表示デバイス２０の水平走査ラインＳ1〜Ｓmの各々に順次印加する。
【００１４】
データドライバ１３は、半導体ＩＣ（integrated circuit）チップに形成されている。データドライバ１３は、この半導体ＩＣチップの外部から供給されたテスト信号ＴＥＳが通常モードを示す場合には、駆動制御部１１から供給された画素データＰＤを１水平走査ライン分、つまりｎ個毎に、各画素データＰＤにて示される輝度階調に対応した階調電圧を有する画素駆動電圧Ｇ1〜Ｇnに変換する。そして、データドライバ１３は、当該画素駆動電圧Ｇ1〜Ｇnを表示デバイス２０のデータラインＤ1〜Ｄnに印加する。すなわち、データドライバ１３は、ｎ個の出力チャネルを介して画素駆動電圧Ｇ1〜Ｇnを表示デバイス２０のデータラインＤ1〜Ｄnに夫々供給する。
【００１５】
一方、テスト信号ＴＥＳがテストモードを示す場合には、データドライバ１３は、自己故障診断テスト（後述する）を実行する。尚、自己故障診断テストでは、データドライバ１３は、外部から供給された極性切替信号ＰＯＬに基づき階調電圧の極性を正極から負極、又は負極から正極に変更する。また、この自己故障診断テストにおいて、データドライバ１３は、外部から供給されたデータロード信号ＬＮに応じて、テストデータ（後述する）に基づいて生成された画素駆動電圧Ｇ1〜Ｇnを出力する。
【００１６】
図２は、データドライバ１３の内部構成を示すブロック図である。図２において、レジスタ１３０には、テスト対象とする出力チャネルの数を指定するチャネル数指定情報ＣＮ、及びテスト対象とする輝度階調数を指定する階調数指定情報ＧＮが予め記憶されている。
【００１７】
例えば、画素駆動電圧Ｇ1〜Ｇnに夫々対応したｎ個の出力チャネルを全てテスト対象とする場合には、"ｎ"を示すチャネル数指定情報ＣＮを予めレジスタ１３０に記憶しておく。一方、輝度階調数として階調数Ｋ（Ｋは２以上の整数）で表される第１〜第Ｋの各階調をテスト対象とする場合には、"Ｋ"を示す階調数指定情報ＧＮを予めレジスタ１３０に記憶しておく。例えば画素データ片が８ビットで２５６階調の輝度を表す場合には"２５６"、また、画素データ片が６ビットで６４階調の輝度を表す場合には、"６４"を示す階調数指定情報ＧＮを予めレジスタ１３０に記憶しておく。
【００１８】
レジスタ１３０は、上記のように記憶されているチャネル数指定情報ＣＮ及び階調数指定情報ＧＮをテストデータ生成部１３１に供給する。
【００１９】
テストデータ生成部１３１は、テスト信号ＴＥＳがテストモードを示す例えば論理レベル１の状態にある場合には、チャネル数指定情報ＣＮ及び階調数指定情報ＧＮに基づき、テスト用データとして画素毎の輝度階調を表すテストデータＴＤの系列を生成し、当該テストデータＴＤの系列をデータセレクタ１３２に送出する。
【００２０】
すなわち、テストデータ生成部１３１は、階調数Ｋを指定する階調数指定情報ＧＮに基づき、第１〜第Ｋの階調に夫々対応した、図３に示す第１〜第Ｋの階調テスト工程ＧＴ１〜ＧＴ（Ｋ）を順に実行する。例えば、階調数Ｋが"２５６"を示す場合、テストデータ生成部１３１は、第１〜第２５６の階調テスト工程ＧＴ１〜ＧＴ２５６を順に実行する。また、例えば階調数Ｋが"６４"を示す場合、テストデータ生成部１３１は、第１〜第６４の階調テスト工程ＧＴ１〜ＧＴ６４を順に実行する。
【００２１】
テストデータ生成部１３１は、第１〜第Ｋの階調テスト工程ＧＴ１〜ＧＴ（Ｋ）の各々において、その階調の値を表すテストデータＴＤを、チャネル数指定情報ＣＮにて指定された出力チャネル数の分だけ繰り返し生成し、生成されたテストデータＴＤの系列をデータセレクタ１３２に送出する。
【００２２】
すなわち、テストデータ生成部１３１は、階調数指定情報（ＧＮ）にて指定されている階調数に基づく各階調を表すテストデータ片（ＴＤ）を、階調毎に、上記したチャネル数指定情報（ＣＮ）にて指定されている出力チャネル数の分だけ生成する。
【００２３】
更に、テストデータ生成部１３１は、第１〜第Ｋの階調テスト工程ＧＴ１〜ＧＴ（Ｋ）の各々において、テストデータＴＤを送出している期間に亘り、テストデータの送出が完了していないことを表す論理レベル０のレディ信号ＲＤＹを外部に出力する。そして、第１〜第Ｋの階調テスト工程ＧＴ１〜ＧＴ（Ｋ）の各々で、テストデータＴＤを全て送出し終える度に、テストデータ生成部１３１は、所定期間に亘り論理レベル１となるレディ信号ＲＤＹを外部に出力する。
【００２４】
尚、テストデータ生成部１３１は、テスト信号ＴＥＳが通常モードを示す場合には動作停止状態となる。
【００２５】
データセレクタ１３２は、テストデータ生成部１３１から送出されたテストデータＴＤによる系列と、駆動制御部１１から供給された画素データＰＤの系列とのうちから、テスト信号ＴＥＳに応じた方を選択し、これをデータ取込部１３３に供給する。すなわち、データセレクタ１３２は、テスト信号ＴＥＳが通常モードを示す場合には駆動制御部１１から供給された画素データＰＤの系列を選択し、選択した画素データＰＤの系列をデータ取込部１３３に供給する。一方、テスト信号ＴＥＳがテストモードを示す場合には、データセレクタ１３２は、テストデータＴＤの系列を選択し、選択したテストデータＴＤの系列をデータ取込部１３３に供給する。
【００２６】
データ取込部１３３は、データセレクタ１３２から供給された画素データＰＤの系列又はテストデータＴＤの系列を順次取り込む。データ取込部１３３は、１水平走査ライン分のｎ個、つまり全出力チャネル分の画素データＰＤ又はテストデータＴＤの取り込みが完了する度に、取り込んだｎ個のデータ片（ＰＤ又はＴＤ）を画素データＲ1〜Ｒnとしてデータラッチ部１３４に供給する。
【００２７】
データラッチ部１３４は、テスト信号ＴＥＳが通常モードを示す場合には、画素データＲ1〜Ｒnを夫々異なるタイミングで取り込み、夫々を取り込んだタイミングで画素データＱ1〜Ｑnとして階調電圧変換部１３３に供給する。また、テスト信号ＴＥＳがテストモードを示す場合には、データラッチ部１３４は、外部供給されたデータロード信号ＬＮに応じて、画素データＲ1〜Ｒnを夫々異なるタイミングで取り込み、夫々を取り込んだタイミングで画素データＱ1〜Ｑnとして階調電圧変換部１３３に供給する
階調電圧変換部１３３は、データラッチ部１３４から供給された画素データＱ1〜Ｑnを、その画素データＱによって示される輝度階調に対応した正極性の電圧値を有する正極性の階調電圧Ｐ1〜Ｐnに変換する。更に、階調電圧変換部１３３は、これら画素データＱ1〜Ｑnの各々を、その画素データＱによって示される輝度階調に対応した負極性の電圧値を有する負極性の階調電圧Ｎ1〜Ｎnに変換する。
【００２８】
階調電圧変換部１３３は、正極性の階調電圧Ｐ1〜Ｐn及び負極性の階調電圧Ｎ1〜Ｎnを極性切替部１３６に供給する。
【００２９】
極性切替部１３６は、テスト信号ＴＥＳが通常モードを示す場合には、正極性の階調電圧Ｐ1〜Ｐnと、負極性の階調電圧Ｎ1〜Ｎnとを所定の周期にて交互に選択し、選択した方を階調電圧Ａ1〜Ａnとして出力部１３７に供給する。一方、テスト信号ＴＥＳがテストモードを示す場合には、極性切替部１３６は、外部供給された極性切替信号ＰＯＬに応じて正極性の階調電圧Ｐ1〜Ｐnと、負極性の階調電圧Ｎ1〜Ｎnとのうちの一方を選択し、選択した方を階調電圧Ａ1〜Ａnとして出力部１３７に供給する。
【００３０】
出力部１３７は、階調電圧Ａ1〜Ａnを夫々個別に増幅して得られた画素駆動電圧Ｇ1〜Ｇnを送出する。
【００３１】
以下に、製造後、製品出荷前のデータドライバ１３に対して実施される階調テストについて説明する。尚、当該階調テストを実施するにあたり、図５に示すように、テスタ２００をテスト対象となるデータドライバ１３に接続する。
【００３２】
テスタ２００は、先ず、図３に示すように、テストモードを示す論理レベル１のテスト信号ＴＥＳをデータドライバ１３に供給する。テスト信号ＴＥＳに応じて、テストデータ生成部１３１は、レジスタ１３０に記憶されているチャネル数指定情報ＣＮ及び階調数指定情報ＧＮに基づきテストデータＴＤの系列を生成する。すなわち、テストデータ生成部１３１は、階調数指定情報ＧＮにて指定された階調数Ｋに対応した、図３に示す第１〜第Ｋの階調テスト工程ＧＴ１〜ＧＴ（Ｋ）の各々で、その階調の値を表すテストデータＴＤを、レジスタ１３０に記憶されているチャネル数指定情報ＣＮにて指定された出力チャネル数の分だけ繰り返し生成する。
【００３３】
例えば、データドライバ１３の全ての出力チャネル数である"ｎ"を示すチャネル数指定情報ＣＮが供給された場合、テストデータ生成部１３１は、例えば第１の階調テスト工程ＧＴ１では、図４に示すように、第１階調を８ビットのデータ［００］ｈで表すテストデータＴＤがｎ個だけ連続する系列を生成し、データセレクタ１３２に送出する。また、例えば第２の階調テスト工程ＧＴ２では、テストデータ生成部１３１は、図４に示すように、第２階調を８ビットのデータ［０１］ｈで表すテストデータＴＤがｎ個だけ連続する系列を生成し、データセレクタ１３２に送出する。
【００３４】
この間、データセレクタ１３２は、テストモードを示す論理レベル１のテスト信号ＴＥＳに応じて、テストデータＴＤの系列を順次、データ取込１３３に供給する。よって、第１〜第Ｋの階調テスト工程ＧＴ１〜ＧＴ（Ｋ）の各々において、データ取込１３３は、ｎ個のテストデータＴＤの系列を取り込み、画素データＲ1〜Ｒnとしてデータラッチ部１３４に供給する。
【００３５】
更に、テストデータ生成部１３１は、階調テスト工程ＧＴ１〜ＧＴ（Ｋ）の各々において、例えば図４に示すように、ｎ個のテストデータＴＤの系列を送出している期間中は論理レベル０、送出を完了したら所定の期間ＴＰの間だけ論理レベル１となるレディ信号ＲＤＹをテスタ２００に供給する。
【００３６】
テスタ２００は、階調テスト工程ＧＴ１〜ＧＴ（Ｋ）の各々において、図４に示すように、レディ信号ＲＤＹが論理レベル０から論理レベル１に遷移したら、論理レベル０の状態から論理レベル１に遷移するデータロード信号ＬＮをデータドライバ１３に供給する。更に、テスタ２００は、レディ信号ＲＤＹが論理レベル１の状態にある期間ＴＰを第１の期間ＴＳＰ１と、それに後続する第２の期間ＴＳＰ２とに分割した際の期間ＴＳＰ１では論理レベル０を有し、期間ＴＳＰ２では論理レベル１を有する極性切替信号ＰＯＬをデータドライバ１３に供給する。
【００３７】
よって、例えば第１の階調テスト工程ＧＴ１では、データドライバ１３は、図４に示すように、データロード信号ＬＮに応じて、テストデータＴＤにて示される第１階調（［００］ｈ）に対応した階調電圧値を有するｎ個の画素駆動電圧Ｇ1〜Ｇnを出力する。この際、データドライバ１３は、極性切替信号ＰＯＬに基づき、図４に示す期間ＴＳＰ１では正極性の階調電圧を有する画素駆動電圧Ｇ1〜Ｇnを出力し、期間ＴＳＰ２では負極性の階調電圧を有する画素駆動電圧Ｇ1〜Ｇnを出力する。
【００３８】
そこで、テスタ２００は、第１の階調テスト工程ＧＴ１の期間ＴＳＰ１内において、第１〜第ｎの出力チャネルに夫々対応した正極性の画素駆動電圧Ｇ1〜Ｇnを取り込み、出力チャネル毎に、画素駆動電圧Ｇの電圧値が第１階調（［００］ｈ）に対応した適正な正極性の階調電圧値を有するか否かを判定する。そして、引き続きテスタ２００は、期間ＴＳＰ２内において、第１〜第ｎの出力チャネルに夫々対応した負極性の画素駆動電圧Ｇ1〜Ｇnを取り込み、出力チャネル毎に、画素駆動電圧Ｇの電圧値が第１階調（［００］ｈ）に対応した適正な負極性の階調電圧値を有するか否かを判定する。
【００３９】
テスタ２００及びデータドライバ１３は、上記した第１の階調テスト工程ＧＴ１と同様な動作を、階調テスト工程ＧＴ２〜ＧＴ（Ｋ）の各々において繰り返し実行する。
【００４０】
よって、上記した第１〜第Ｋの階調テスト工程ＧＴ１〜ＧＴ（Ｋ）にて、データドライバ１３の各出力チャネルに対して個別に、第１〜第Ｋの各階調に対応した適正な正極性及び負極性の階調電圧値を有する画素駆動電圧Ｇが得られたか否かを判定する階調テストが為される。
【００４１】
このように、データドライバ１３では、外部供給されたテスト信号ＴＥＳに応じて、当該データドライバ１３内に形成されているテストデータ生成部１３１が自動的に各階調を表すテストデータを生成し、このテストデータに基づき階調テストを実行する。これにより、テスタ２００側においてテストデータを用意しておく必要がなくなるので、テスト容易化が図られる。
【００４２】
更に、データドライバ１３には、階調テストを実施する際のテスト対象として、輝度階調数を指定する階調数指定情報ＧＮ、及び画素駆動電圧の出力チャネル数を指定するチャネル数指定情報ＣＮを記憶するレジスタ１３０が設けられている。テストデータ生成部１３１は、テストモードを示すテスト信号ＴＥＳに応じて、先ず、レジスタ１３０から階調数指定情報ＧＮ及びチャネル数指定情報ＣＮを読み出す。そして、テストデータ生成部１３１は、この階調数指定情報ＧＮにて指定された輝度階調数に基づく各階調を示すテストデータ片（ＴＤ）を、階調毎に、チャネル数指定情報ＣＮにて指定されている出力チャネル数の数だけ自動生成する。
【００４３】
例えば、階調数指定情報ＧＮにて指定された輝度階調数が"２５６"、チャネル数指定情報ＣＮにて指定された出力チャネル数が"１４４０"である場合、テストデータ生成部１３１は、第１〜第２５６の階調テスト工程ＧＴ１〜ＧＴ２５６の各々で、その階調を表すテストデータＴＤが１４４０個だけ連続するテストデータ片の系列を生成する。また、例えば階調数指定情報ＧＮにて指定された輝度階調数が"６４"、チャネル数指定情報ＣＮにて指定された出力チャネル数が"９６０"である場合、テストデータ生成部１３１は、第１〜第６４の階調テスト工程ＧＴ１〜ＧＴ６４の各々で、その階調を表すテストデータＴＤが９６０個だけ連続するテストデータ片の系列を生成する。
【００４４】
よって、上記した構成によれば、テスト対象とする出力チャネル数及び輝度階調数を指定する情報（ＣＮ、ＧＮ）をレジスタ１３０に記憶しておけば、テストモード時において、データドライバ１３の仕様（輝度階調数、出力チャネル数）に対応したテストデータが、当該データドライバ１３内で自動生成される。従って、データドライバの仕様（輝度階調数、出力チャネル数）に対応した専用のテストデータを用意する必要がなくなるので、製品出荷前のテストを容易化することが可能となる。
【００４５】
尚、上記実施例では、１水平走査ライン分、つまり出力チャネル数分のテストデータＴＤの系列をデータセレクタ１３２を介してシリアル形態にてデータ取込部１３３に供給するようにしている。しかしながら、出力チャネル数分のテストデータＴＤをデータ取込部１３３を介さずにパラレル形態にてデータラッチ部１３４に供給するようにしても良い。
【００４６】
図６は、かかる点に鑑みて為されたデータドライバ１３の内部構成の他の一例を示すブロック図である。
【００４７】
尚、図６に示す構成では、図２に示すテストデータ生成部１３１に代えてテストデータ生成部１４１を採用し、図２に示すデータセレクタ１３２に代えてデータセレクタ１４２を採用している。この際、図６に示されるレジスタ１３０、データラッチ部１３４、階調電圧変換部１３５、極性切替部１３６及び出力部１３７各々の動作については、図２に示されるものと同一である。
【００４８】
図６において、データ取込部１３３は、駆動制御部１１から供給された画素データＰＤの系列を順次取り込む。データ取込部１３３は、１水平走査ライン分のｎ個の画素データＰＤの取り込みが完了する度に、取り込んだｎ個のデータ片（ＰＤ）を画素データＲ1〜Ｒnとしてデータセレクタ１４２に供給する。
【００４９】
テストデータ生成部１４１は、テスト信号ＴＥＳがテストモードを示す場合には、レジスタ１３０に記憶されているチャネル数指定情報ＣＮ及び階調数指定情報ＧＮに基づき、テスト用データとして輝度階調を表すテストデータを生成する。尚、チャネル数指定情報ＣＮ及び階調数指定情報ＧＮに基づくテストデータの生成動作については、上記したテストデータ生成部１３１での動作と同様である。テストデータ生成部１４１は、生成したテストデータを、チャネル数指定情報ＣＮにて指定された出力チャネル数、例えばｎ個毎にテストデータＴＤ1〜ＴＤnとしてデータセレクタ１４２に供給する。この際、テストデータ生成部１４１は、テストデータＴＤ1〜ＴＤnの各々を互いに異なるタイミングでデータセレクタ１４２に送出する。
【００５０】
これにより、テストデータＴＤ1〜ＴＤnの供給に伴いデータセレクタ１４２内に流れ込む動作電流のタイミングが時間的に分散されるので、当該動作電流が同時に流れ込むことによって発生するノイズを抑制することが可能となる。
【００５１】
ここで、テストデータ生成部１４１は、出力チャネル数（例えばｎ個）毎に、その出力チャネル数のテストデータＴＤ1〜ＴＤnを送出している期間中は論理レベル０、テストデータＴＤ1〜ＴＤnを送出し終えると論理レベル１を有するレディ信号ＲＤＹを外部に出力する。
【００５２】
尚、テストデータ生成部１３１は、テスト信号ＴＥＳが通常モードを示す場合には動作停止状態となる。
【００５３】
データセレクタ１４２は、テストデータ生成部１４１から送出されたテストデータＴＤ1〜ＴＤnと、データ取込部１３３から供給された画素データＲ1〜Ｒnとのうちから、テスト信号ＴＥＳに応じた方を選択し、選択した方をデータラッチ部１３４に供給する。すなわち、データセレクタ１４２は、テスト信号ＴＥＳが通常モードを示す場合には画素データＲ1〜Ｒnを選択してデータラッチ部１３４に供給する。一方、テスト信号ＴＥＳがテストモードを示す場合にはデータセレクタ１４２は、テストデータＴＤ1〜ＴＤnを選択してデータラッチ部１３４に供給する。
【００５４】
このように、図６に示す構成では、テストデータ生成部１４１は、チャネル数指定情報ＣＮにて指定された出力チャネル数分の複数のテストデータＴＤをパラレル形態にて生成するようにしている。
【００５５】
よって、図６に示す構成を採用した場合には、図２に示す構成を採用した場合に必要となる、データ取込部１３３へのシリアル形態でのテストデータの転送期間、及びデータ取込部１３３でのデータ取込期間が不要となる。従って、図６に示す構成を採用した場合には、図２に示す構成を採用した場合に比べて階調テストに費やされるテスト期間を短縮することが可能となる。
【００５６】
また、上記実施例では、記憶部としてのレジスタ１３０に、チャネル数指定情報ＣＮ及び階調数指定情報ＧＮを記憶しているが、これらチャネル数指定情報ＣＮ及び階調数指定情報ＧＮをヒューズ型ＰＲＯＭ（Programmable Read Only Memory）等の不揮発性の記憶部に記憶しておくようにしても良い。
【００５７】
要するに、映像信号（ＶＤ）に応じて表示デバイス（２０）を駆動する複数の駆動電圧（Ｇ1〜Ｇn）を出力する表示ドライバ（１３）として、以下の記憶部（１３０）、テストデータ生成部（１３１、１４１）、データセレクタ（１３２、１４２）及び電圧変換出力部（１３５、１３７）を有するものであれば良いのである。
【００５８】
つまり、記憶部には、テスト対象とする出力チャネル数を指定するチャネル数指定情報（ＣＮ）、及びテスト対象とする輝度階調数を指定する階調数指定情報（ＧＮ）が記憶されている。テストデータ生成部は、テスト信号（ＴＥＳ）に応じて、記憶部に記憶されている階調数指定情報にて指定されている輝度階調数に基づく各階調を示すテストデータ片（ＴＤ）を、階調毎に、チャネル数指定情報にて指定されている出力チャネル数の数だけ生成する。データセレクタは、各々が映像信号に基づく各画素の輝度階調を示す画素データ片（ＰＤ）と、上記したテストデータ片とのうちの一方を選択する。電圧変換出力部は、データセレクタによって選択された方を階調電圧に変換し、当該階調電圧を有する駆動電圧を出力する。
【００５９】
よって、かかる構成によれば、テストモード時には、表示ドライバに設けられている記憶部に記憶されている階調数指定情報及びチャネル数指定情報に基づき、この表示ドライバの仕様（輝度階調数、出力チャネル数）に対応したテストデータが、当該表示ドライバ内で自動生成される。従って、表示ドライバの各種仕様に対応した専用のテストデータを用意する必要がなくなるので、製品出荷前のテストを容易化することが可能となる。
【符号の説明】
【００６０】
１３            データドライバ
２０            表示デバイス
１００          表示装置
１３０          レジスタ
131、141         テストデータ生成部
132、142         データセレクタ
【図１】
0006574632.tif 000002
【図２】
0006574632.tif 000003
【図３】
0006574632.tif 000004
【図４】
0006574632.tif 000005
【図５】
0006574632.tif 000006
【図６】
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