(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ファイバ心線のカットオフ波長より波長の短い可視光である試験光を出力する試験光光源と、
前記光ファイバ心線に配置され、前記光ファイバ心線を曲げて第１曲げ部を形成し、前記試験光光源からの前記試験光が前記光ファイバ心線の一方の方向へ伝搬するように、第１曲げ部に対して前記試験光の側方光入力を行う側方光入力部と、
前記側方光入力部が配置された位置から前記試験光が伝搬する方向の前記光ファイバ心線に配置され、前記光ファイバ心線を曲げて第２曲げ部を形成し、第２曲げ部の前記光ファイバ心線から前記試験光を漏洩させるとともに、第２曲げ部の前記光ファイバ心線から漏洩した前記試験光を外部から目視又はカメラで確認可能な構造を有する側方光出力部と、
を備える光ファイバ試験装置。
【請求項２】
前記側方光出力部の前記構造は、透明ブロックであることを特徴とする請求項１に記載の光ファイバ試験装置。
【請求項３】
前記側方光入力部が前記光ファイバ心線に形成する第１曲げ部と前記側方光出力部が前記光ファイバ心線に形成する第２曲げ部による前記光ファイバ心線を伝搬する通信光の合計の損失が２ｄＢ以下であることを特徴とする請求項１又は２に記載の光ファイバ試験装置。
【請求項４】
前記光ファイバ心線が複数であり、
前記側方光入力部は、第１曲げ部を前記光ファイバ心線の１つに形成し、
前記側方光出力部は、第２曲げ部を全ての前記光ファイバ心線に形成することを特徴とする請求項１から３のいずれかに記載の光ファイバ試験装置。
【請求項５】
前記光ファイバ心線が複数であり、
前記側方光入力部は、第１曲げ部を全ての前記光ファイバ心線に形成し、
前記側方光出力部は、第２曲げ部を全ての前記光ファイバ心線に形成し、
前記試験光光源は、前記光ファイバ心線毎に識別性を有する前記試験光を出力することを特徴とする請求項１から３のいずれかに記載の光ファイバ試験装置。
【請求項６】
光ファイバ心線を所定構造で曲げた曲げ部を所望の位置に２つ形成し、
前記曲げ部の一方において、前記光ファイバ心線のカットオフ波長より波長の短い可視光である試験光を前記光ファイバ心線に前記曲げ部の他方へ向けて側方光入力を行い、
前記曲げ部の他方において、前記光ファイバ心線から漏洩した前記試験光を前記所定構造の外部から目視又はカメラで確認する光ファイバ試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ファイバの側方から光を入出力する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ファイバの側方光入出力技術は、或る角度で曲げられた光ファイバの曲がり部分（曲げ部）の側面に別の光ファイバ（プローブファイバ）を突き当てるという構造により、２つの光ファイバ間での光信号の授受を可能にする技術である（特許文献１、特許文献２、及び非特許文献１を参照。）。以下、この明細書では「側方光入力」とはプローブファイバから光ファイバの曲げ部へ光を入力することを意味し、「側方光出力」とは光ファイバの曲げ部から光が外部へ漏洩することを意味する。
【０００３】
この側方光入出力技術は、多数の光ファイバの中から所望の光ファイバを特定する「心線対照」に適用されている。図１は、心線対照の作業を説明する図である。複数の光ファイバのうち、特定の光ファイバのみに試験光を結合する。そして、所望の位置で光ファイバに曲げを与え、試験光が漏洩する特定の光ファイバを識別する。光ファイバケーブルの開通／保守運用業務において、試験光を用いて現場作業者が行う心線対照は、心線の誤切断／誤接続を回避するための必要不可欠な業務である。
【０００４】
従来の心線対照法は、通信ビル内にあらかじめ設置されている統合光配線架（Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｄｉｓｔｒｉｂｕｔｉｏｎ  Ｍｏｄｕｌｅ：ＩＤＭ）を介して、試験光を通信ビルから光アクセス網へ送信する。ところが、ＰＯＮ（Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）方式を用いたアクセス網では、通信ビルから送信した試験光がスプリッタを通過すると、試験光が分岐され、複数の心線に試験光が伝搬するため、１心を識別することが困難である（図２参照。）。そこで、通信ビルに人員を配置せず、光スプリッタより下流において側方光入力技術で特定の光ファイバに試験光を結合し、所望の場所で側方光出力技術で心線対照をすることが検討されてきた（図３、特許文献１、特許文献２、及び非特許文献１を参照。）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００４−３２５３１０号公報
【特許文献２】特開２００９−０２５２１１号公報
【非特許文献】
【０００６】
【非特許文献１】廣田他，「側方光入力技術を用いた心線対照送信部の検討」，電子情報通信学会技術研究報告．  ＯＰＥ，  光エレクトロニクス  １１２（４４９），  ５５−５８，  ２０１３−０２−２１
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、従来の側方入力技術を用いた心線対照方法では、試験光入力装置と受光装置によって形成される２か所の曲げによって曲げ損失が大きくなり、通信光に影響を及ぼしてしまうという課題があった。
【０００８】
そこで、本発明は、光ファイバ心線を通過する通信光に影響を及ぼすことなく心線対照を行うことができる光ファイバ試験装置及び光ファイバ試験方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明に係る光ファイバ試験装置は、漏洩しやすい波長の試験光を用いることで、光ファイバ心線の曲げ量を低減することとした。
【００１０】
具体的には、本発明に係る光ファイバ試験装置は、
光ファイバ心線のカットオフ波長より波長の短い試験光を出力する試験光光源と、
前記光ファイバ心線に配置され、前記光ファイバ心線を曲げて第１曲げ部を形成し、前記試験光光源からの前記試験光が前記光ファイバ心線の一方の方向へ伝搬するように、第１曲げ部に対して前記試験光の側方光入力を行う側方光入力部と、
前記側方光入力部が配置された位置から前記試験光が伝搬する方向の前記光ファイバ心線に配置され、前記光ファイバ心線を曲げて第２曲げ部を形成し、第２曲げ部の前記光ファイバ心線から前記試験光を漏洩させる側方光出力部と、
を備える。
【００１１】
また、本発明に係る光ファイバ試験方法は、光ファイバ心線を曲げた曲げ部を所望の位置に２つ形成し、
前記曲げ部の一方において、前記光ファイバ心線のカットオフ波長より波長の短い試験光を前記光ファイバ心線に前記曲げ部の他方へ向けて側方光入力を行い、
前記曲げ部の他方において、前記光ファイバ心線から漏洩した前記試験光を検出する。
【００１２】
光ファイバ心線のカットオフ波長より短い波長の光を使用することで、試験光は光ファイバ心線を基本モードと高次モードで伝搬する。光ファイバを高次モードで伝搬する光は外部へ漏洩しやすいので、心線対照を行う部分の光ファイバ心線の曲げ量を低減することができる。このため、基本モードで伝搬する通信光は、曲げ部が２つ形成されていたとしても曲げ部で受けるトータルの損失は小さくなる。
【００１３】
具体的には、前記側方光入力部が前記光ファイバ心線に形成する第１曲げ部と前記側方光出力部が前記光ファイバ心線に形成する第２曲げ部による前記光ファイバ心線を伝搬する通信光の合計の損失が２ｄＢ以下であることが好ましい。
【００１４】
従って、本発明は、光ファイバ心線を通過する通信光に影響を及ぼすことなく心線対照を行うことができる光ファイバ試験装置及び光ファイバ試験方法を提供することができる。
【００１５】
また、従来の心線対照で用いる試験光（波長１６５０ｎｍ）の光源は高価である上、試験光を検知するための受光装置も必要である。このため、従来の心線対照方法には、光ファイバケーブルの開通／保守運用業務にコストがかかるという課題もあった。
【００１６】
本発明に係る光ファイバ試験装置は、前記試験光光源が出力する前記試験光の波長が可視光である。可視光を発生させる光源は高価ではない。また、可視光なので、受光装置が不要である。従って、本発明に係る光ファイバ試験装置は、光ファイバケーブルの開通／保守運用業務のコストを低減することができる。
【００１７】
さらに、従来の心線対照で用いる受光装置は光ファイバ心線を１本ずつ挟み込み、曲げを付与する。そのため、１本ずつしか検知できないため、心線対照の作業効率が悪いことが課題である。
【００１８】
本発明に係る光ファイバ試験装置は、前記光ファイバ心線が複数であり、前記側方光入力部は、第１曲げ部を前記光ファイバ心線の１つに形成し、前記側方光出力部は、第２曲げ部を全ての前記光ファイバ心線に形成することを特徴とする。
【００１９】
本光ファイバ試験装置では、第１曲げ部において所望の１本の光ファイバ心線だけに試験光を入力する。このため、第２曲げ部において当該１本の光ファイバ心線からのみ試験光が漏洩するので、光ファイバ心線の数が多くても容易に所望の光ファイバ心線を認定することができ、作業効率を向上させることができる。
【００２０】
また、本発明に係る光ファイバ試験装置は、前記光ファイバ心線が複数であり、前記側方光入力部は、第１曲げ部を全ての前記光ファイバ心線に形成し、前記側方光出力部は、第２曲げ部を全ての前記光ファイバ心線に形成し、前記試験光光源は、前記光ファイバ心線毎に識別性を有する前記試験光を出力することを特徴とする。
【００２１】
本光ファイバ試験装置では、第１曲げ部において光ファイバ心線毎に波長の異なる試験光を入力する。このため、第２曲げ部において光ファイバ心線から漏洩した試験光の波長を確認することで容易に光ファイバ心線を識別することができ、作業効率を向上させることができる。なお、「識別性を有する試験光」とは、上記のように「波長が異なる試験光」の他に「点滅速度が異なる試験光」や「パターンの異なる信号で変調された試験光」でもよい。
【発明の効果】
【００２２】
本発明は、光ファイバ心線を通過する通信光に影響を及ぼすことなく心線対照を行うことができる光ファイバ試験装置及び光ファイバ試験方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】心線対照の作業を説明する図である。
【図２】ＰＯＮ方式を用いたアクセス網での心線対照作業を説明する図である。
【図３】ＰＯＮ方式を用いたアクセス網での心線対照作業を説明する図である。
【図４】本発明に係る光ファイバ試験装置を説明する図である。
【図５】本発明に係る光ファイバ試験装置の側方光入力部を説明する図である。
【図６】本発明に係る光ファイバ試験装置の側方光出力部を説明する図である。
【図７】本発明に係る光ファイバ試験装置の側方光出力部を説明する図である。
【図８】本発明に係る光ファイバ試験装置の側方光出力部から漏洩する試験光（波長６５０ｎｍの可視光）を撮影した写真である。
【図９】本発明に係る光ファイバ試験装置を説明する図である。
【図１０】本発明に係る光ファイバ試験装置を説明する図である。
【図１１】本発明に係る光ファイバ試験装置を説明する図である。
【図１２】本発明に係る光ファイバ試験装置の側方光入力部を説明する図である。
【図１３】本発明に係る光ファイバ試験装置の側方光出力部を説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【００２４】
添付の図面を参照して本発明の実施形態を説明する。以下に説明する実施形態は本発明の実施形態であり、本発明は、以下の実施形態に制限されるものではない。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。
【００２５】
（実施形態１）
図４は、本実施形態の光ファイバ試験装置３０１を説明する概念図である。光ファイバ試験装置３０１は、
光ファイバ心線５０のカットオフ波長より波長の短い試験光を出力する試験光光源１０と、
光ファイバ心線５０に配置され、光ファイバ心線５０を曲げて第１曲げ部５１を形成し、試験光光源１０からの前記試験光が光ファイバ心線５０の一方の方向へ伝搬するように、第１曲げ部５１に対して前記試験光の側方光入力を行う側方光入力部２０と、
側方光入力部２０が配置された位置から前記試験光が伝搬する方向の光ファイバ心線５０に配置され、光ファイバ心線５０を曲げて第２曲げ部５２を形成し、第２曲げ部５２の光ファイバ心線５０から前記試験光を漏洩させる側方光出力部３０と、
を備える。
【００２６】
光ファイバ心線５０を高次モードで試験光を伝搬させるため、試験光光源１０は光ファイバ心線のカットオフ波長より波長の短い光を出力する。ここで、試験光光源１０が出力する前記試験光の波長が可視光（例えば波長６５０ｎｍ）であることが好ましい。
【００２７】
図５は、側方光入力部２０を説明する図である。光ファイバ心線５０が円筒状の剛体である円筒部２に押し当てられ、第１曲げ部５１が形成される。透明のゲル状部材である屈折率整合剤４が、円筒部２に密着する第１曲げ部５１を覆うように或る程度の厚みを持って盛り上げ形成される。この屈折率整合剤４に差し込むようにプローブファイバ５の端面が第１曲げ部５１に突き当てられて、側方光入力部２０の光学系が形成される。ここでプローブファイバ５は、光ファイバ心線５０に試験光が最も効率よく入光できるような位置に調心される。
【００２８】
また、第１曲げ部５１の形成は、光ファイバ心線５０を伝搬する通信光に影響を与えない（損失を与えない）程度に曲げる。例えば、波長１５５０ｎｍの通信光の損失が１ｄＢ以下となる曲げを光ファイバ心線５０に与え、第１曲げ部５１を形成する。
【００２９】
図６は、側方光出力部３０を説明する図である。たとえば、凹凸形状の可視光を透過する透明ブロック（３１Ａ、３１Ｂ）で光ファイバ心線５０を挟み込み、第２曲げ部５２を形成する。第２曲げ部５２から漏洩する試験光を受光器で検知する。試験光が可視光であれば、作業者は試験光の漏洩を視認できる。漏洩光が微弱であれば、高感度なＣＣＤカメラを用いてもよい。
【００３０】
なお、透明ブロック（３１Ａ、３１Ｂ）は、光ファイバ心線５０を伝搬する通信光に影響を与えない（損失を与えない）程度に曲げて第２曲げ部５２を形成するように成形されている。例えば、透明ブロック（３１Ａ、３１Ｂ）は、波長１５５０ｎｍの通信光の損失が１ｄＢ以下となる曲げを光ファイバ心線５０に与えるように成形されている。
【００３１】
光ファイバ試験装置３０１は、光ファイバ心線５０に２つの曲げ部（５１、５２）を与える。そこで、光ファイバ試験装置３０１では、側方光入力部２０が光ファイバ心線５０に形成する第１曲げ部５１と側方光出力部３０が光ファイバ心線５０に形成する第２曲げ部５２による光ファイバ心線５０を伝搬する波長１５５０ｎｍの通信光の合計の損失を２ｄＢ以下としている。
【００３２】
つまり、第１曲げ部５１と第２曲げ部５２での曲げ量を小さくし、通信光への損失を避けている。一方、試験光は光ファイバ心線５０を基本モード以外に高次モードでも伝搬するため、第２曲げ部５２での曲げ量が小さくても漏洩する。光ファイバ試験装置３０１は、第１曲げ部５１と第２曲げ部５２による通信光の損失が小さいため心線対照作業中であっても通信に影響を与えない。
【００３３】
従って、光ファイバ試験装置３０１は、光ファイバ心線５０を通過する通信光に影響を及ぼすことなく作業現場だけで心線対照を低コストで行うことができる。
【００３４】
［側方光出力部の例］
図７は、具体的な側方光出力部３０の構成を説明する図である。図７（Ａ）は側方光出力部３０の斜視図である。図７（Ｂ）は側方光出力部３０の側面図（図７（Ａ）のα方向から見た図）である。透明ブロック（３１Ａ、３１Ｂ）は、例えば、アクリルなどで形成されている。透明ブロック（３１Ａ、３１Ｂ）の矢印で示したような角には、マイクロベンド損失が生じないようにＲ３０ｍｍの丸みをつけてある。
【００３５】
透明ブロック３１Ａと透明ブロック３１Ｂとの間には隙間３２を設ける。光ファイバ心線５０に側圧がかからないように隙間３２は０．２５ｍｍ以上とする（光ファイバ心線５０の直径（被覆を含む）が２５０μｍの場合）。透明ブロック３１Ａと透明ブロック３１Ｂは、光ファイバ心線５０を挟んだ時に光ファイバ心線５０の曲げ半径が２ｍｍ〜３０ｍｍとなるように波形状が形成されている。例えば、光ファイバ心線５０の曲げ半径が２ｍｍ以上且つ曲げ角度が１６０°以下であれば、波長１５５０ｎｍの通信光の損失は１ｄＢ以下となる。また、曲げ半径が１５ｍｍ以上であれば曲げ角度が９０°度でも波長１５５０ｎｍの通信光の損失は０．１ｄＢ以下となる。
【００３６】
このように設計した側方光出力部３０から漏洩する試験光（波長６５０ｎｍの可視光）を撮影した写真を図８に示す。波長１５５０ｎｍにおける損失が０．１ｄＢ程度の曲げ（通信に影響を与えない程度の曲げ）でも目視で確認できるほど試験光が漏洩している。
【００３７】
なお、作業者の目視作業でなく、ＣＣＤカメラで試験光の漏洩を検知する場合、測定精度を向上させるため、図７（Ｂ）に示すようにＣＣＤカメラの受光部以外の透明ブロック（３１Ａ、３１Ｂ）を遮光材で覆うことが望ましい。
【００３８】
（実施形態２）
図９は、本実施形態の光ファイバ試験装置３０２を説明する図である。光ファイバ試験装置３０２と実施形態１で説明した光ファイバ試験装置３０１との違いは、
光ファイバ心線５０が複数であり、
側方光入力部２０が、第１曲げ部５１を光ファイバ心線５０の１つに形成し、
側方光出力部３０が、第２曲げ部５２を全ての光ファイバ心線５０に形成すること
である。
【００３９】
側方光出力部３０において、側方光入力部２０で試験光を結合した光ファイバ心線５０のみから試験光が漏洩する。すなわち、複数の光ファイバ心線５０の中から、特定の光ファイバ心線５０を容易に認識することができる。なお、目視で認識しやすいように試験光を点滅させてもよい。従って、光ファイバ試験装置３０２は、光ファイバ心線５０を通過する通信光に影響を及ぼすことなく作業現場だけで心線対照を低コストで行うことができる。
【００４０】
（実施形態３）
図１０は、本実施形態の光ファイバ試験装置３０３を説明する図である。光ファイバ試験装置３０３と実施形態１で説明した光ファイバ試験装置３０１との違いは、
光ファイバ心線５０が複数であり、
側方光入力部２０は、第１曲げ部５１を全ての光ファイバ心線５０に形成し、
側方光出力部３０は、第２曲げ部５２を全ての光ファイバ心線５０に形成し、
試験光光源１０は、光ファイバ心線５０毎に識別性を有する前記試験光を出力すること
である。
【００４１】
光ファイバ試験装置３０３では、側方光入力部２０で各光ファイバ心線５０に波長の異なる（色の異なる）試験光を結合する。このため、側方光出力部３０において漏洩する試験光は光ファイバ心線５０毎に異なり、作業者は複数の光ファイバ心線５０の線番を容易に識別することができる。従って、光ファイバ試験装置３０３は、光ファイバ心線５０を通過する通信光に影響を及ぼすことなく作業現場だけで心線対照を低コストで行うことができる。
【００４２】
なお、ここでは、「識別性を有する試験光」として試験光の色を異なるものとして説明したが、複数の光ファイバ心線を一括して識別できればよいので、試験光の点滅速度を変化させる、試験光の点滅パターンを変える、あるいはこれらを組み合わせたものでもよい。
【００４３】
（実施例）
図１１は、光ファイバ試験装置３０１の実施例である。光ファイバ心線５０は、ＭＦＤ（モードフィールド径）９．３９μｍ、直径０．２５ｍｍの心線である。試験光光源１０の発光パワーは＋４ｄＢｍである。
【００４４】
図１２は、側方光入力部２０の構成を説明する図である。本実施例では透明ブロック（２１Ａ、２１Ｂ）を用いて光ファイバ心線５０に第１曲げ部５１を形成している。透明ブロック２１Ｂを用いているため、プローブファイバ５からの可視光は透明ブロック２１Ｂを透過して第１曲げ部５１に結合する。プローブファイバ５は、ＧＩ５０ファイバ（グレーデッドインデックスファイバ５０μｍ）である。第１曲げ部５１の形状は、曲げ半径Ｒ＝２ｍｍ、曲げ角度θ＝１６°（曲げ損失は０．９５ｄＢ）である。第１曲げ部５１における入力効率は、可視光０．６５μｍで−４１．５ｄＢである。
【００４５】
図１３は、側方光出力部３０の構成を説明する図である。本実施例では透明ブロック（３１Ａ、３１Ｂ）を用いて光ファイバ心線５０に第２曲げ部５２を形成している。透明ブロック３１Ｂを用いているため、第２曲げ部５２から漏洩した可視光は透明ブロック３１Ｂを透過して作業者が目視することができる。第２曲げ部５２の形状は、曲げ半径Ｒ＝２ｍｍ、曲げ角度θ＝１６°（曲げ損失は０．９５ｄＢ）である。
【００４６】
光ファイバ心線５０に側方光入力部２０と側方光出力部３０を設置し、１５５０ｎｍの光源から光を送信する。そして、パワーメータで光ファイバ心線５０を伝搬した光の強度を測定したところ、第１曲げ部５１と第２曲げ部５２の合計曲げ損失は２ｄＢ以下であった。
【００４７】
図１１から図１３で説明した実施例では、第１曲げ部５１と第２曲げ部５２の曲げ形状および曲げ角度を、第１曲げ部５１と第２曲げ部５２の合計曲げ損失が波長１５５０ｎｍで２ｄＢ以下となるようにしている。このため、光ファイバ試験装置３０１は通信に影響を及ぼさない。一方、プローブファイバから入射した可視光は光ファイバ心線５０を高次モード伝搬するため、第２曲げ部５２で容易に漏洩する。従って、目的とする光ファイバ心線から漏洩する可視光を目視で確認するだけで簡単に心線対照することができる。
【００４８】
［付記］
以下は、本実施形態の光ファイバ試験装置を説明したものである。
（目的）
従来の側方入力技術を用いた心線対照方法では、試験光入力装置と受光装置によって形成される２か所の曲げによって曲げ損失が発生し、通信に影響を及ぼしてしまう。また、従来の心線対照で用いる試験光（波長１６５０ｎｍ）の光源は高価であり、試験光を検知するためには受光装置が必要であるためコストがかかる。さらに、従来の受光装置では光ファイバ心線を１本ずつ挟み込み曲げを付与する。そのため、１本ずつしか検知できず作業効率が悪い。
【００４９】
（課題の解決）
本光ファイバ試験装置は、
（１）：光ファイバ心線のカットオフ波長（高次モードを遮断する最小の波長）より波長の短い試験光を、所望の位置で曲げ光ファイバ心線の曲げ部側方から入力するための曲げ部とプローブを有し、光ファイバ心線の2次以上の高次モードを伝搬させ、所望の位置で曲げた光ファイバ心線の曲げ部から漏洩した光検知することを特徴とする。
（２）：入力する試験光の波長を可視光（波長３６０ｎｍ以上８３０ｎｍ以下）とすることを特徴とする。
（３）：試験光を入出力する際の通信光の損失が２ｄＢ以下となることを特徴とする。
（４）：曲げ部から漏洩した試験光を目視またはカメラを通して確認することを特徴とする。
【００５０】
（発明の効果）
この発明によれば以下のような作用効果が呈せられる。
（１）試験光を検知するための受光装置が簡易になり、コストを削減できる。
（２）目視で確認できるため、心線対照作業が簡易で作業効率が向上する。
（３）通信に影響を与えずに所外（工事現場）だけで心線対照できる。
（４）可視光を光ファイバ心線の所望の位置から入力可能である。
（５）試験光光源より安価な可視光光源を用いるため経済的である。
（６）光スプリッタ下部の光ファイバ心線１心を容易に識別することができる。
（７）視覚的に確認するため複数の光ファイバ心線の中から１心を識別／選択が可能である。
（８）同時に複数の光ファイバ心線の識別が可能である。
（９）従来の側方光入出力技術を用いた心線対照作業より曲げ損失を低減でき、通信への影響を低減できる。
【符号の説明】
【００５１】
２：円筒部
４：屈折率整合剤
５：プローブファイバ
１０：試験光光源
２０：側方光入力部
２１Ａ：透明ブロック
２１Ｂ：透明ブロック
３０：側方光出力部
３１Ａ：透明ブロック
３１Ｂ：透明ブロック
３２：隙間
５０：光ファイバ心線
５１：第１曲げ部
５２：第２曲げ部
３０１、３０２、３０３：光ファイバ試験装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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