【事件の表示】
　特許第３３０３９９４号「Ｘ線ＣＴ装置」の請求項１に係る特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結　論】
　訂正を認める。
　特許第３３０３９９４号の請求項１に係る特許を取り消す。
【理　由】
１．手続の経緯
本件特許第３３０３９９４号の手続の経緯の概要は以下の通りである。
　平成５年３月３日　　　　　特許出願
　平成１４年５月１０日　　　特許権の設定の登録
　平成１４年７月２２日　　　特許掲載公報発行
　平成１５年１月２２日　　　特許異議の申立て
　平成１５年１２月１日付　　取消理由通知
　平成１６年２月５日　　　　意見書及び訂正請求書提出
　
　
２．訂正の適否
（１）訂正事項
　ａ．特許請求の範囲の請求項１において「複数のＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系シンチレータ素子から構成された検出器を有するＸ線ＣＴ装置であり」を「原料粉を焼結することにより得られた複数のＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系シンチレータ素子から構成された検出器を有するＸ線ＣＴ装置であり」と訂正する。
　ｂ．発明の詳細な説明の【０００７】において「複数のＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系シンチレータ素子から構成された検出器を有するＸ線ＣＴ装置であり」を「原料粉を焼結することにより得られた複数のＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系シンチレータ素子から構成された検出器を有するＸ線ＣＴ装置であり」と訂正する。
       
(２)新規事項の有無、訂正の目的の適否及び拡張・変更の存否
　上記訂正事項ａは、願書に添付した明細書の段落【０００９】の「 純度９９．９９％以上の、酸化ガドリニウム、リン酸ガドリニウム、酸化プラセオジム、硝酸第一セリウムと、純度９８％以上の炭酸ナトリウム、ピロリン酸ナトリウム、ホウ酸リチウム、ホウフッ化ナトリウム、リン酸三カリウム、イオウの混合粉をアルミナるつぼに入れ、密封し、温度１３００℃、保持時間６ｈの焼成を行なった。その後、ルツボから取りだし、塩酸と純水により良く洗浄した。こうして、平均粒径４０μｍのＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ（Ｃｅ、Ｆ）のシンチレータ原料粉を得た。次に、焼結助剤として、Ｌｉ２ＧｅＦ６を０．１ｗｔ％添加し、ＨＩＰ用カプセル（Ｓ１０Ｃ製）に充填した。そして、温度１４００℃、圧力１０８Ｐａ、保持時間２ｈの条件下で焼結した。」という記載に基づき、特許請求の範囲に記載された「複数のＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系シンチレータ素子」を、「原料粉を焼結することにより得られた複数のＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系シンチレータ素子」に限定するものであるから、願書に添付した明細書に記載された事項の範囲内の訂正であって、特許請求の範囲の減縮を目的とする訂正に該当し、また、実質上特許請求の範囲を拡張し又は変更するものでもない。
　また、上記訂正事項ｂは、上記訂正事項ａの訂正に伴い、特許請求の範囲と発明の詳細な説明との間に生じた不整合を解消するものであるから、願書に添付した明細書又は図面に記載された事項の範囲内の訂正であって、明りょうでない記載の釈明を目的とする訂正に該当し、また、実質上特許請求の範囲を拡張し又は変更するものでもない。
    　
(３)むすび
　以上のとおりであるから、上記訂正請求は、特許法等の一部を改正する法律（平成６年法律１１６号）附則第６条第１項の規定によりなお従前の例によるとされる、特許法第１２０条の４第３項において準用する平成６年法律第１１６号による改正前の特許法第１２６条第１項ただし書き、第２項及び第３項の規定に適合するので、当該訂正を認める。
　
　
３．本件特許
　上記のごとく、訂正は認められるので、本件請求項１に係る発明は、訂正請求書に添付された全文訂正明細書の特許請求の範囲の請求項１に記載された、以下のとおりのものである。（以下、「本件発明」という。）
「【請求項１】原料粉を焼結することにより得られた複数のＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系シンチレータ素子から構成された検出器を有するＸ線ＣＴ装置であり、前記シンチレータ素子の線質応答特性（Ｑ）を次式で定義したとき、
Ｑ＝７０００×logＩ１２０／Ｉ１００前記Ｘ線ＣＴ装置に用いられる前記シンチレータ素子の線質応答特性（Ｑ）の最大差が３．０以上であるＸ線ＣＴ装置において、個々に隣接するシンチレータ素子間の線質応答特性（Ｑ）の差を３．０以内になるように配列したことを特徴とするＸ線ＣＴ装置。」
　
　
４．取消理由通知の概要
　当審より平成１５年１２月１日付で通知した取消理由通知における理由は、請求項１に係る発明は、その出願前日本国内または外国において頒布された下記の刊行物１ないし２に記載された発明に基づいて、その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定に違反して特許されたものである、というものである。
　
  　　　　　　　　　　　　　記
　刊行物１：特開平３−１６３３９１号公報
　刊行物２：特開平２−１５１７８９号公報
　
　
５．刊行物記載の発明
刊行物１：
　刊行物１には、Ｘ線ＣＴ用検出器に関し、図面とともに、
（イ）産業上の利用分野について、「本発明は、Ｘ線ＣＴ装置に用いられ被写体を透過したＸ線を検出して被写体の断層層を得るためのＸ線ＣＴ用検出器に関する。」　　
（ロ）従来技術の課題について、「第７図はＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒセラミックから成るシンチレータへのＸ線照射線量と検出器の感度との関係を示す図である。第７図に示すように、シンチレータへのＸ線照射量が多いほど検出器の感度が低下する。そして、このようなシンチレータの放射線劣化による検出器の感度低下により、Ｘ線ＣＴ装置におけるＣＴ値の変動やアーチファクトが生じるという問題があった。
　例えば第８図に示すように、小さな被写体１１１を何回か撮影した後に大きな被写体１１２を撮影する場合には、まず小さな被写体１１１撮影時には、Ｘ線管球１１３から発生したＸ線は被写体１１１を通過して検出器１００を照射するが、このとき検出器１００において、被写体１１１を透過したＸ線が照射する小部分１００ａのＸ線照射線量はＸ線管球１１３からのＸ線が被写体１１１を通過せずに直接照射する部分１００ｂのＸ線照射量より少なくなり、検出器１００の感度分布はチャンネル間で段差を生じるようになる。この後大きな被写体１１２を撮影すると、検出器１００の感度分布に段差があるために表示画像にアーチファクトが現れる。」（第２頁左上欄下から第３行〜右上欄下から第２行）
と記載されている。
　
刊行物２：
　刊行物２には、多素子放射線検出器に関し、図面とともに、
（ハ）従来の技術について、「従来の多素子放射線検出器においては、・・・複数の蛍光体素子を有する素子ブロックを多角形状に並べている。」
（ニ）従来の技術の問題点について、「このような多素子放射線検出器およびＸ線ＣＴ装置においては、基板２０５が底面２０５ａを基準として固定枠２０８に取り付けられているから、第６図に示すように、隣接する基板２０５の厚さｔ１，ｔ２が相違していると隣接する素子ブロック２１０の上面の段差Δｈが生じ、この場合には隣接する素子ブロック２１０の入射Ｘ線１０１のエネルギースペクトル変化に対する応答特性すなわち線質特性が異なり、再生画画像上の素子ブロック２１０の境界に相当する部分にリング状のアーチファクトが発生するとともに、段差Δｈは素子ブロック２１０間のクロストーク発生の原因となる。」
と記載されている
　
　
６．当審における判断
６．１．本件発明について
(１)刊行物１の摘記事項（ロ）にあるように、あるいは、本件明細書の段落【０００４】に「Ｇｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系のセラミックスシンチレータとシリコンフォトダイオードを組み合わせたＸ線検出器の開発が進められている（例えば特開昭６２−５２４８１号）。このセラミックスシンチレータを用いたＸ線検出器では、検出素子を小型化し、チャンネル数を増やすことが容易であることから、高解像度のＣＴ装置を得ることが可能となる。」と記載されているように、複数のＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系セラミックスから成るシンチレータ素子から構成された検出器を有するＸ線ＣＴ装置自体は、本件出願前にすでに周知であり、また、該セラミックスからなるシンチレータは、原料粉を焼結して得られることも自明である。
　以上のことを大前提として、本件発明について以下に検討する。
　
(２)本件明細書の段落【０００５】、【０００６】及び【００１２】には、それぞれ以下のように記載されている。
　「【発明が解決しようとする課題】しかし、Ｘ線ＣＴ装置の多数のＸ線検出素子にセラミックスシンチレータを用いると、人体断面を画像処理する場合、アーチファクトと呼ばれるリング状の虚像を生じやすいという問題があった。したがって本発明は以上の従来の問題に鑑みてなされたものであって、アーチファクトを生じることがないＸ線ＣＴ装置を提供することを目的とする。」
　「【課題を解決するための手段】Ｘ線ＣＴ装置においては、Ｘ線源から発せられたＸ線が人体を通過すると、人体の各組織ごとにＸ線の吸収がことなるため、個々のシンチレータ素子には、線質の異なるＸ線が入射する。そのために異なる線質に対する応答特性が個々のシンチレータ素子でそろっていることが重要となる。そこで、線質をＸ線管電圧の変化により与え、その出力比を各シンチレータ素子について求め、隣接するシンチレータ素子間のばらつきを一定レベル以下に抑えることがＸ線ＣＴ装置のアーチファクト低減に有効であることを見出し本発明を創出するに至った。
　本発明において、線質応答特性（Ｑ）は、
Ｑ＝７０００×ｌｏｇＩ１２０／Ｉ１００と定義し、Ｉ１２０は、Ｘ線管電圧が１２０ｋＶのときのシンチレータ素子の発光出力、Ｉ１００は、Ｘ線管電圧が１００ｋＶのときのシンチレータ素子の発光出力である。」
「【発明の効果】以上のように、本発明では、・・・隣接するＸ線検出素子間の線質応答特性（Ｑ）の差を３．０以内にすることによりばらつきを抑えアーチファクトの発生を抑制することができる。」
　
(３)これらの明細書の記載からみて、本件発明は、本件出願前に既に周知である「原料粉を焼結することにより得られた複数のＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系シンチレータ素子から構成された検出器を有するＸ線ＣＴ装置」（以下、「周知なＣＴ装置」という。）において、従来技術における課題である「アーチファクト」を生じることがないＸ線ＣＴ装置を提供することを目的とするものであって、
「前記シンチレータ素子の線質応答特性（Ｑ）を次式で定義したとき、
　Ｑ＝７０００×logＩ１２０／Ｉ１００前記Ｘ線ＣＴ装置に用いられる前記シンチレータ素子の線質応答特性（Ｑ）の最大差が３．０以上であるＸ線ＣＴ装置において、個々に隣接するシンチレータ素子間の線質応答特性（Ｑ）の差を３．０以内になるように配列」することにより上記従来技術における課題を解決し、本件発明の目的を達成するものである。
　
６．２．当該技術分野における「アーチファクト」及びその原因の周知性について
　Ｘ線ＣＴ装置においては、表示画像に「アーチファクト」とよばれるリング状の虚像が現れて画質が低下するため、その対策が必要であること、及び該「アーチファクト」は、検出素子の検出特性に段差がある場合、それに相当する部分に発生するものであることは、本件出願前に既に周知であり（以下、「周知な課題及び原因」という。）、特に、上記刊行物１には、本件発明と同様の「複数のＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系シンチレータ素子から構成された検出器を有するＸ線ＣＴ装置」において、表示画像に、「アーチファクト」とよばれるリング状の虚像が現れること、及びその原因が、隣接する素子の検出特性の差にあることが記載されている。
　すなわち、刊行物１には、シンチレータ素子の放射線劣化に関するものではあるが、第６図とともに、「検出器１００において、被写体１１１を透過したＸ線が照射する小部分１００ａのＸ線照射線量はＸ線管球１１３からのＸ線が被写体１１１を通過せずに直接照射する部分１００ｂのＸ線照射量より少なくなり、検出器１００の感度分布はチャンネル間で段差を生じるようになる。この後大きな被写体１１２を撮影すると、検出器１００の感度分布に段差があるために表示画像にアーチファクトが現れる。」（摘記事項（ロ）参照）と記載されている。第６図には符号１０１ａを付した小部分の記載のみで、符号１０１ｂを付した小部分については図示されていないが、被写体１１１を透過したＸ線が照射する小部分１００ａと、被写体１１１を通過せずに直接照射する部分１００ｂとが隣接していることは自明であるから、刊行物１には、隣接するシンチレータ素子の間で感度の段差が生じると、表示画面にアーチファクトが現れることが記載されているといえる。
　また、上記刊行物２には、「隣接する素子ブロック２１０の入射Ｘ線１０１のエネルギースペクトル変化に対する応答特性すなわち線質特性が異なり、再生画画像上の素子ブロック２１０の境界に相当する部分にリング状のアーチファクトが発生するとともに、」（摘記事項（ニ）参照）と記載されている。該刊行物の記載は、素子ブロック間に関するものであって、個々のシンチレータ素子間に関するものではないが、アーチファクトとは、隣接する素子で検出特性に差があると、その境界に相当する部分に発生するものであることが記載されているといえる。
　なお、本件出願前に頒布された刊行物である特開昭６１−１７３１８６号公報にも、図面とともに、従来技術について、「ＥＣＴ装置のシンチレーションカメラは被検体の周囲のステップ回転または連続回転することによって所定の断層像を得ることができるが、従来のＥＣＴ装置ではシンチレーションカメラのコリメータを含む検出器の特性に不均一性がある場合、断層像にリング状のアーチファクトが生じる欠点がある。・・・第４図は検出器の検出特性が不均一であることを示す図、第５図は検出器の検出特性に均一性を欠く場合、断層像にリング状のアーチファクトが生じることを示す図である。・・・いま検出器３のある幅をもつ部分（スライス）に注目し（第３図）、その部分のｂ点が他の点（ａ，ｃ，・・・）に比較して検出特性が異なるものとする（第４図）。断層像の作成は第３図に示すように検出器３を３６０°回転しながら検出データを足し込むことにより行われ、検出器３のｂ点のデータは常に中心ａからｂだけ離れた部分に足し込まれる。従って検出器のｂ点における特性の不均一性が断層像のリング状のアーチファクトＡＦとして表われる。」（第１頁右下欄第３行〜第２頁左上欄第５行）と記載されている。
　
６．３．本件発明と周知の技術的事項との対比　
　そこで、本件発明と上記「周知なＣＴ装置」とを対比すると、「周知なＣＴ装置」は本件発明における課題の具体的な解決手段である以下のａないしｃの点を有していない点で相違しているといえる。また、上記刊行物１ないし２のいずれにも、これらの点についての記載はない。
ａ：シンチレータ素子の検出特性を示す値として、下記の式で定義される線　　質応答特性（Ｑ）を用いる点
　　　Ｑ＝７０００×logＩ１２０／Ｉ１００  
ｂ：シンチレータ素子の上記線質応答特性（Ｑ）の最大差が３．０以上であ　　るＸ線ＣＴ装置である点
ｃ：個々に隣接するシンチレーション素子間の上記線質応答特性（Ｑ）の差　　を３．０以内になるように配列する点。
　
６．４．相違点についての判断
６．４．１．上記ａ及びｃの点について
(１)前述のとおり、アーチファクトの発生が、シンチレータ素子の検出特性の段差に起因することが本件出願前に既に周知の技術事項である以上、たとえ上記刊行物１ないし２のいずれにも具体的な記載がなくとも、上記「周知なＣＴ装置」において、隣接する個々のシンチレータ素子の検出特性の差をできるだけ少なくなるように配列すればアーチファクトの発生が生じないこと、言い換えれば、アーチファクトの発生を防止するには、隣接する個々のシンチレータ素子の検出特性の差が少なくなるように配列すればよいことは、当業者には自明の技術事項であるといえる。
　
(２)本件発明では、シンチレータの検出特性として、「Ｑ＝７０００×logＩ１２０／Ｉ１００」で定義される線質応答特性（Ｑ）を用いるとともに、個々の隣接するシンチレータ素子のその差が３．０以内と特定している。
　しかしながら、刊行物２に、Ｘ線ＣＴ装置について、「隣接する素子ブロック２１０の入射Ｘ線１０１のエネルギースペクトル変化に対する応答特性すなわち線質特性が異なり、再生画像上の素子ブロック２１０の境界に相当する部分にリング状のアーチファクトが発生する」（第４頁右上欄第６行〜第１０行）と記載されているように、シンチレータの検出特性を表すものとして「線質応答特性」が用いられることは、本件出願前にすでに知られているところであり、また本件発明で定義する「線質応答特性（Ｑ）」なる値は単に、検出器に通常入射される放射線のエネルギー範囲における、入射エネルギー最大時の検出器出力と入射エネルギー最小時の検出器出力の比を表す値であって、それ以上の技術的意義があるとは認められない。
　このことは、本件明細書段落【０００６】において、線質応答特性（Ｑ）に関し、「本発明において、線質応答特性（Ｑ）は、Ｑ＝７０００×ｌｏｇＩ１２０／Ｉ１００と定義し、Ｉ１２０は、Ｘ線管電圧が１２０ｋＶのときのシンチレータ素子の発光出力、Ｉ１００は、Ｘ線管電圧が１００ｋＶのときのシンチレータ素子の発光出力である。ここで、Ｘ線管電圧１２０ｋＶを用いた理由は一般的Ｘ線ＣＴ装置の設定管電圧であることから、また、Ｘ線管電圧１００ｋＶを用いた理由はＸ線管電圧１２０ｋＶのＸ線が人体を通過したときのスペクトルがＸ線管電圧１００ｋＶのスペクトルに近いためである。」と記載されていることからも明らかである。
　そして、上記「線質応答特性（Ｑ）」の差が、個々の隣接するシンチレータ素子間でどの程度であれば、アーチファクトの発生を防止できるかについては、当業者であれば、適宜実験を繰り返すことにより決定しうるものである。　
　
(３)したがって、上記の線質応答特性（Ｑ）なる値を採用するとともに、個々に隣接するシンチレータ素子間のその差を３．０以内とすることは、格別な創意を要することなく、当業者が適宜なしうる事項であって、そのことにより、予想し得ない特段の効果が奏されるものとは認められない。
　
６．４．２．上記ｂの点について
(１)上記「周知なＣＴ装置」において、全てのシンチレータ素子の線質応答特性（Ｑ）が均一であること、言い換えれば、シンチレータ素子の線質応答特性（Ｑ）の最大差は小さければ小さいほど好ましいことは、敢えていうまでなく当然であるところ、本件発明では、その最大差「３．０以上」であるとしているので、その点について、何等かの技術的意義があるか否かについて検討する。
　まず、本件明細書の記載を検討するに、本件明細書には、「シンチレータ素子の上記線質応答特性（Ｑ）の最大差が３．０以上」であるとしている理由については何ら記載がない。
　
(２)この点について、特許権者は意見書において次のように主張している。
　「本件特許発明は各シンチレータ素子の線質応答特性を全て測定し、個々に隣接するシンチレータ素子間の線質応答特性を、その最大差を３．０以内になるように配列すれば、原料粉を焼結した製法で製造して全体で線質応答特性のバラツキが３．０以上であるシンチレータ素子を用いても、アーチファクトの発生を抑制することができることを知見したものです。」（第４頁下から第１０〜６行）
　「原料粉を焼結する粉末冶金的な製法でシンチレータ素子を製造するとどうしてもボイドや組成ムラが発生し、Ｘ線ＣＴ装置について使用されるシンチレータ単位素子の線質応答特性（Ｑ）は３．０以上にばらついてしまいます。このばらついた線質応答特性をもつシンチレータ素子から、線質応答特性の差がすべて３．０以下のものを選別しＸ線ＣＴ装置に使用すれば、シンチレータ素子を並び替える必要もなくなります。しかしそのような選別は生産性を悪化させ、高コスト化しするため、現実の産業上で利用され得る有用な技術的思想とは言えません。よって、本件発明のようにシンチレータ単位素子の線質応答特性（Ｑ）が３．０以上にばらついたものを使用してもアーチファクトの発生を抑制できるＸ線ＣＴ装置の技術を発明したものです。このシンチレータ素子における製造上の不可避な線質応答特性バラツキを明確に「３．０」と数値化したものです。」（第６頁下から第８行〜第７頁３行）
「シンチレータ素子の線質応答特性（Ｑ）の最大差が局所的に集中しているからアーチファクトが発生するのか、シンチレータ素子の線質応答特性（Ｑ）の最大差が全体で所定以上の差を持った場合にアーチファクトが発生するのか、これらの原理は刊行物１，２には明確に記載されていません。」（第７頁第９行〜同第１２行）
　
(３)上記主張は、アーチファクトの原因が本件出願時において、知られていないことを前提とした主張であるが、前項「６．２．」で述べたとおり、検出特性に段差がある場合、それに相当する部分にアーチファクトが発生することは、Ｘ線ＣＴ装置の技術分野においては周知の技術事項であり、アーチファクトの発生を防止するという目的のみを達成するのであれば、全体としてばらつきがあっても、個々の隣接するシンチレータ素子の線質応答特性に所定以上の差がないように配列すれば充分であることは、容易に想到しうる事項にすぎない。
　また、特許権者は、訂正により「原料粉を焼結することにより得られた」と限定したことに関連づけて、「このシンチレータ素子における製造上の不可避な線質応答特性バラツキを明確に『３．０』と数値化したものです。」と主張するが、本件明細書中には、該主張を裏付ける記載はなく、該主張は、明細書の記載に基づかない主張であって、到底採用できないものである。
　
(４)以上のとおり、上記ｂの点には、格別な技術的な意義があるものとは認めない。
　特許権者の主張からみて、上記ｂの点は、単に、最大差が３．０以上にばらついたものを使用してもアーチファクトの発生を抑制できるという効果を記載したにすぎないものであり、しかも、その効果については「アーチファクト」の発生の防止という観点からだけのものであって、当業者が容易に予期し得るものである。
　
６．４．３．相違点についてのまとめ
　以上のとおり、上記ａないしｃの点については、いずれも、刊行物１、２に記載された発明及びＸ線ＣＴ装置における周知技術に基づいて容易になしうる技術的事項であって、それらにより、予期し得ない格別な効果を奏しているとすることもできない。
　　
　
７．むすび
　したがって、本件発明は、刊行物１，２に記載された発明及びＸ線ＣＴ装置における周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであって、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、本件発明についての特許は、拒絶の査定をしなければならない特許出願に対してなされたものと認める。
  よって、特許法等の一部を改正する法律（平成６年法律第１１６号）附則第１４条の規定に基づく、特許法等の一部を改正する法律の施行に伴う経過措置を定める政令（平成７年政令第２０５号）第４条第２項の規定により、結論のとおり決定する
【異議決定日】
平成１６年３月２９日（２００４．３．２９）
【訂正の要旨】
審決（決定）の【理由】欄参照。
（５４）【発明の名称】
Ｘ線ＣＴ装置
（５７）【特許請求の範囲】
　【請求項１】　
原料粉を焼結することにより得られた
【発明の詳細な説明】
　【０００１】
　【産業上の利用分野】
　本発明はＸ線を検出する放射線検出器に用いられるシンチレータに関するものであり、特にＸ線ＣＴ装置に用いられる放射線検出器に適用されるシンチレータに関するものである。
　【０００２】
　【従来の技術】
　Ｘ線診断装置の一つにコンピュータ断層撮影装置（Ｃｏｍｐｕｔｅｄ　Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：以下ＣＴ装置と称する）がある。このＣＴ装置は扇状のファンビームＸ線を照射するＸ線管と多数のＸ線検出素子を併設したＸ線検出器を被検体の断層面の中央に対向配置して構成され、Ｘ線検出器に向けてＸ線管からファンビームＸ線を照射し、１回照射を行うごとに断層面に対して例えば角度を１度ずつ変えてゆくことによってＸ線吸収データを収集した後、このデ−タをコンピュータで解析することによって断層面の個々の位置のＸ線吸収率を算出し、その吸収率に応じた画像を構成するものである。
　【０００３】
　従来からこのＣＴ装置にはキセノンガス検出器が用いられている。このキセノンガス検出器はガスチャンバにキセノンガスを封入し、多数配列した電極間に電圧を印加すると共にＸ線を照射すると、Ｘ線がキセノンガスを電離し、Ｘ線の強度に応じた電流信号を取り出すことができ、それにより画像が構成される。しかし、このキセノンガス検出器では高圧のキセノンガスをガスチャンバに封入するため厚い窓が必要であり、そのためＸ線の利用効率が悪く感度が低いという問題がある。また、高解像度のＣＴ装置を得るためには電極板の厚みを極力薄くする必要があり、そのように電極板を薄くすると外部からの振動によって電極板が振動しノイズが発生するという問題がある。
　【０００４】
　そこでＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系のセラミックスシンチレータとシリコンフォトダイオードを組み合わせたＸ線検出器の開発が進められている（例えば特開昭６２−５２４８１号）。このセラミックスシンチレータを用いたＸ線検出器では、検出素子を小型化し、チャンネル数を増やすことが容易であることから、高解像度のＣＴ装置を得ることが可能となる。
　【０００５】
　【発明が解決しようとする課題】
　しかし、Ｘ線ＣＴ装置の多数のＸ線検出素子にセラミックスシンチレータを用いると、人体断面を画像処理する場合、アーチファクトと呼ばれるリング状の虚像を生じやすいという問題があった。したがって本発明は以上の従来の問題に鑑みてなされたものであって、アーチファクトを生じることがないＸ線ＣＴ装置を提供することを目的とする。
　【０００６】
　【課題を解決するための手段】
　Ｘ線ＣＴ装置においては、Ｘ線源から発せられたＸ線が人体を通過すると、人体の各組織ごとにＸ線の吸収がことなるため、個々のシンチレータ素子には、線質の異なるＸ線が入射する。そのために異なる線質に対する応答特性が個々のシンチレータ素子でそろっていることが重要となる。そこで、線質をＸ線管電圧の変化により与え、その出力比を各シンチレータ素子について求め、隣接するシンチレータ素子間のばらつきを一定レベル以下に抑えることがＸ線ＣＴ装置のアーチファクト低減に有効であることを見出し本発明を創出するに至った。本発明において、線質応答特性（Ｑ）は、Ｑ＝７０００×ｌｏｇＩ１２０／Ｉ１００と定義し、Ｉ１２０は、Ｘ線管電圧が１２０ｋＶのときのシンチレータ素子の発光出力、Ｉ１００は、Ｘ線管電圧が１００ｋＶのときのシンチレータ素子の発光出力である。ここで、Ｘ線管電圧１２０ｋＶを用いた理由は一般的Ｘ線ＣＴ装置の設定管電圧であることから、また、Ｘ線管電圧１００ｋＶを用いた理由はＸ線管電圧１２０ｋＶのＸ線が人体を通過したときのスペクトルがＸ線管電圧１００ｋＶのスペクトルに近いためである。なお、測定時の管電流はどちらも１００ｍＡであり、また、シンチレータ素子の厚さｔは１．１４ｍｍとして統一した。互いのシンチレータ間にはＭｏセパレータ板を挿入し、かつＸ線入射側にはＴｉＯ２光反射層を備えた。隣接するシンチレータ素子の線質応答特性の測定においては測定条件を同様に行ない、ｌｏｇＩ１２０／Ｉ１００の値に影響が無いようにした。発光強度の測定にはＸ線ＣＴ装置（日立メディコ製Ｗ６００）を用いた。ターゲット材としてタングステンターゲットを用いている。実際にはそれぞれのＸ線管電圧をかけた際のシリコンフォトダイオードの電流出力を測定し、電圧換算し、デジタルボルトメータの値（Ｖ）として読み取って、両者のＶ１２０／Ｖ１００をＩ１２０／Ｉ１００としている。
　【０００７】
　すなわち、本発明は、
原料粉を焼結することにより得られた
　【０００８】
　【実施例】
　線質応答特性は、図２に示すようにシンチレータの光全透過率と負の相関関係を示す。光全透過率は、密度・不純物含有率等により変化するため、線質応答特性の差を押さえるため、密度・不純物含有率のばらつきの少ないプロセス条件を検討した。次に本発明のシンチレータの実施例につき説明する。
　【０００９】
（実施例）純度９９．９９％以上の、酸化ガドリニウム、リン酸ガドリニウム、酸化プラセオジム、硝酸第一セリウムと、純度９８％以上の炭酸ナトリウム、ピロリン酸ナトリウム、ホウ酸リチウム、ホウフッ化ナトリウム、リン酸三カリウム、イオウの混合粉をアルミナるつぼに入れ、密封し、温度１３００℃、保持時間６ｈの焼成を行なった。その後、ルツボから取りだし、塩酸と純水により良く洗浄した。こうして、平均粒径４０μｍのＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ（Ｃｅ、Ｆ）のシンチレータ原料粉を得た。次に、焼結助剤として、Ｌｉ２ＧｅＦ６を０．１ｗｔ％添加し、ＨＩＰ用カプセル（Ｓ１０Ｃ製）に充填した。そして、温度１４００℃、圧力１０８Ｐａ、保持時間２ｈの条件下で焼結した。得られた焼結体試料の外皮金属層を除去後、外周スライサを用いて棒状試料（サイズ１．０×３０．０×ｔ１．１４ｍｍ）に加工し、Ａｒガス中で、温度１２００℃、保持時間０．５ｈの熱処理を行った。この結果、１台のＸ線ＣＴ装置に使用される試料数１０００本の線質応答特性の差は、最大４．２であった。この１０００本の試料を線質応答特性の大きい順に配列したときの隣接試料間の線質応答特性の差の最大値は１．１であった。この配列の試料を用いＸ線ＣＴ装置を試作し、水ファントムでアーチファクトの有無を確認したところ、アーチファクトは認められなかった。
　【００１０】
（比較例１）焼結助剤の添加率を０．０５ｗｔ％とした以外は実施例１と同様にして棒状試料を作製した。この結果、１台のＸ線ＣＴ装置に使用される試料数１０００本の線質応答特性の差は、最大で８．９であった。また、１０００本の試料を線質応答特性の大きい順に配列したときの隣接試料間の線質応答特性の差の最大値は３．５であった。この配列の試料を用いＸ線ＣＴ装置を試作し、水ファントムでアーチファクトの有無を確認したところ、アーチファクトが認められた。
　【００１１】（比較例２）ＨＩＰ焼結温度を１２５０℃とした以外は実施例１と同様にして棒状試料を作製した。この結果、１台のＸ線ＣＴ装置に使用される試料数１０００本の線質応答特性の差は、最大１６．３であった。また、１０００本の試料を線質応答特性の大きい順に配列したときの隣接試料間の線質応答特性の差の最大値は４．１であった。この試料を用いＸ線ＣＴ装置を試作し、水ファントムでアーチファクトの有無を確認したところ、アーチファクトが明瞭に認められた。
　【００１２】
　【発明の効果】
　以上のように、本発明では、複数のＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系シンチレータ素子から構成された検出器を有するＸ線ＣＴ装置において、隣接するシンチレータ素子間の線質応答特性（Ｑ）の差を３．０以内とすることによりばらつきを抑えアーチファクトの発生を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
　【図１】線質応答特性の測定系を示す模式図である。
　【図２】線質応答特性と光全透過率との関係を示す図である。
　【符号の説明】
　１　Ｘ線ビーム
　２　シンチレータウエハ
　３　シリコンフォトダイオード