(57)【要約】  本発明は、有効大きさが実サイズより大きいため、必要な材料を減らして費用を節減する検出器アレイに関する。このような検出器アレイのチャネルの一部を放射線吸収材で充填するなどの方法によって無くし、スパースアレイというものを作る。一方、検出器アレイのチャネルが検知部とデッドスペース（例；放射線吸収材で充填された部分）とを有することもできる。または、このようなチャネルが間接変換検出器アレイのシンチレータの光を光検出器に集光する集光器を備えることもでき、この時、光検出器の検知面積はシンチレータの検知面積より小さい。【選択図】図１
2014510270.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
有効大きさが実サイズより大きい検出器アレイを含むことを特徴とするＸ線検査装置。
【請求項２】
前記検出器アレイが複数のチャネルと１つ以上のデッドスペースとからなり、前記チャネルとデッドスペースが一定パターンで配列されることを特徴とする、請求項１に記載のＸ線検査装置。
【請求項３】
前記チャネルとデッドスペースが碁盤の目状に配列されることを特徴とする、請求項２に記載のＸ線検査装置。
【請求項４】
前記デッドスペースが隣接した２つのチャネルの行と列のうち少なくとも１つの間に位置することを特徴とする、請求項２に記載のＸ線検査装置。
【請求項５】
第１デッドスペースは隣接した２つのチャネルの行の間に位置し、第２デッドスペースは隣接した２つのチャネルの列の間に位置することを特徴とする、請求項２に記載のＸ線検査装置。
【請求項６】
前記デッドスペースの深さと幅のうち少なくとも１つが隣接したチャネルの深さおよび幅と同じであることを特徴とする、請求項２に記載のＸ線検査装置。
【請求項７】
検出器アレイの実サイズと有効大きさの差を補正する補正器をさらに含むことを特徴とする、請求項１に記載のＸ線検査装置。
【請求項８】
前記補正器が、検出器アレイの実サイズと有効大きさの差を補正するために、デッドスペースに隣接したチャネルから取得した情報を用いた補間を行うことを特徴とする、請求項７に記載のＸ線検査装置。
【請求項９】
前記検出器アレイが複数のチャネルを有し、これらのチャネルの各々が検知部とデッドスペースとを有することを特徴とする、請求項１に記載のＸ線検査装置。
【請求項１０】
前記検知部が、チャネルのｘ−寸法より小さいｘ−寸法と、チャネルのｚ−寸法より小さいｚ−寸法のうち少なくとも１つを有することを特徴とする、請求項９に記載のＸ線検査装置。
【請求項１１】
輻射源をさらに含み、該輻射源上の少なくとも２ヶ所から放射線が放出されることを特徴とする、請求項９に記載のＸ線検査装置。
【請求項１２】
検出器アレイの実サイズと有効大きさの差を補正する補正器をさらに含むことを特徴とする、請求項１１に記載のＸ線検査装置。
【請求項１３】
前記補正器が検知された放射線から出た情報を用いて前記差を補正し、前記検知された放射線は検査中のオブジェクトを一度撮影して生じたものであり、検知された放射線が輻射源上の第１場所と第２場所から各々放出されることを特徴とする、請求項１２に記載のＸ線検査装置。
【請求項１４】
前記検出器アレイのチャネルと中心放射線が一致するように検出器アレイが中心放射線に対して移動することを特徴とする、請求項９に記載のＸ線検査装置。
【請求項１５】
検出器アレイが検査中のオブジェクトに対して第１位置にある間に検知された放射線から生じた情報と、検出器アレイが前記オブジェクトに対して第２位置にある間に検知された放射線から生じた情報を用いて、検出器アレイの実サイズと有効大きさの差を補正する補正器をさらに含み、前記第２位置はオブジェクトを中心に第１位置から１８０度離れていることを特徴とする、請求項１４に記載のＸ線検査装置。
【請求項１６】
前記検出器アレイがシンチレータと光検出器とからなる間接変換検出器アレイであることを特徴とする、請求項１に記載のＸ線検査装置。
【請求項１７】
前記間接変換検出器アレイが１つ以上の集光器を含み、該集光器はシンチレータと光検出器との間に位置することを特徴とする、請求項１６に記載のＸ線検査装置。
【請求項１８】
前記集光器がマイクロレンズを含むことを特徴とする、請求項１７に記載のＸ線検査装置。
【請求項１９】
前記シンチレータの検知面が第１面積を有し、光検出器の検知面が第２面積を有し、第１面積が第２面積より大きいことを特徴とする、請求項１６に記載のＸ線検査装置。
【請求項２０】
有効大きさが実サイズより大きい検出器アレイを含み、該検出器アレイは複数のチャネルと１つ以上のデッドスペースとを有し、デッドスペースが検出器アレイに挿入されることを特徴とするＸ線検査装置。
【請求項２１】
前記チャネルが検知部とデッドスペースとを有し、検知部は、チャネルのｘ−寸法より小さいｘ−寸法と、チャネルのｚ−寸法より小さいｚ−寸法のうち少なくとも１つを有することを特徴とする、請求項２０に記載のＸ線検査装置。
【請求項２２】
検出器アレイの実サイズと有効大きさの差を補正する補正器をさらに含むことを特徴とする、請求項２０に記載のＸ線検査装置。
【請求項２３】
前記補正器が放射線を電荷に直接変換する直接変換検出器アレイであることを特徴とする、請求項２０に記載のＸ線検査装置。
【請求項２４】
前記検出器アレイがシンチレータと光検出器を用いて放射線を各々光と電荷に変換する間接変換検出器アレイであることを特徴とする、請求項２０に記載のＸ線検査装置。
【請求項２５】
前記間接変換検出器アレイがシンチレータと光検出器との間に位置する１つ以上の集光器をさらに含み、該集光器は第１面積の検知面を有するシンチレータから生じた光を第２面積の検知面を有する光検出器に集光し、この時、第１面積が第２面積より大きいことを特徴とする、請求項２４に記載のＸ線検査装置。
【請求項２６】
間接変換検出器アレイを備えたＸ線検査装置であって、
前記間接変換検出器アレイが、輻射源から放出された放射線を光に変換するシンチレータ、シンチレータから生じた光を電荷に変換する光検出器、およびシンチレータから生じた光を光検出器に集光する１つ以上の集光器を含むことを特徴とするＸ線検査装置。
【請求項２７】
前記集光器がマイクロレンズであることを特徴とする、請求項２６に記載のＸ線検査装置。
【請求項２８】
シンチレータの検知面が光検出器の検知面より大きい面積を有し、集光器がこの差を補正することを特徴とする、請求項２６に記載のＸ線検査装置。
【請求項２９】
検出器アレイの検知面の実面積と有効面積の差を補正するステップを含むことを特徴とする方法。
【請求項３０】
前記差を補正するステップにおいて、
検出器アレイ内のデッドスペースに隣接したチャネルから情報を収集し、
収集された情報を用いた補間を行って、デッドスペースによる情報損失を補正することを特徴とする、請求項２９に記載の方法。
【請求項３１】
前記差を補正するステップにおいて、
輻射源上の第１場所から放出された放射線から生じた情報と、輻射源上の第２場所から放出された放射線から生じた情報を収集し、このように収集された情報がオブジェクトの同一画面を表わすようにし、
このように収集された情報を用いて、検出器アレイの検査面の実面積と有効面積の差を補正することを特徴とする、請求項２９に記載の方法。
【請求項３２】
前記差を補正するステップにおいて、
検出器アレイが検査中のオブジェクトに対して第１位置にある間に生じた情報と、検出器アレイが検査中のオブジェクトを中心に第１位置から１８０度離れている第２位置にある間に生じた情報を収集し、
このように収集された情報を用いて、検出器アレイの検査面の実面積と有効面積の差を補正することを特徴とする、請求項２９に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ｘ線画像システム（例；ラジオグラフィーやＣＴシステム）の検出器アレイに関する。本発明は、（長さが１ｍ以上であるか幅が１／２ｍ以上である）大型の検出器アレイを備えたＸ線画像システムに適用されるが、小型の検出器アレイにも適用されることができる。このような検出器アレイは、一般的に、医療分野、セキュリティ分野、または産業分野のＸ線画像システムに主に用いられる。
【背景技術】
【０００２】
投影ラジオグラフィーシステムやＣＴシステムやラインスキャナーのようなＸ線画像システムは、検査中のオブジェクトの内部に関する情報や画像を提供する。すなわち、Ｘ線画像システムによって検査中のオブジェクトが放射線に露出されれば、オブジェクトを透過する放射線量でなくオブジェクトが吸収した放射線に基づいて画像が形成される。一般的に、高密度のオブジェクトは低密度のオブジェクトより放射線をより多く吸収（減衰）し、このために骨や金属のような高密度のオブジェクトは脂肪組織や服のような低密度のオブジェクトとは異なるように表される。
【０００３】
伝統的に、Ｘ線画像はＸ線フィルムに形成される。フィルムと輻射源との間に増感紙を置き、放射線や放射線から生じた光にフィルムを露出させれば、フィルムに目で見ることができる金属性の白黒パターンが発生する。黒化度は放射線の強度（例；オブジェクトに吸収された放射線量）に左右される。したがって、検出器アレイは、基本的にＸ線フィルムと増感紙とからなる。
【０００４】
最近では、Ｘ線フィルムと増感紙を（ラジオグラフィーで見ることができる）デジタル検出器アレイに代替するが、このような検出器アレイは、放射線を電気信号を出すための電流に直接／間接に変換する。測定された電流量は、デジタル検出器アレイにぶつかる放射線の光子数に比例し、このような放射線は検査中のオブジェクトの画像を作るのに用いられる。
【０００５】
通常の専門家であれば、直接変換式と間接変換式の２つの基本形の検出器アレイをよく理解している。直接変換検出器アレイは、結晶質や非晶質の材料を用いて放射線を電荷に直接変換する。間接変換検出器アレイは、放射線を他の媒体、一般的に電荷を作る前の光に変換する。したがって、間接変換検出器アレイは、通常、シンチレータ（例；タングステン酸カドミウム、ゲルマン酸ビスマス、ヨウ化セシウム、ヨウ化ナトリウムなど）を用いて放射線を光に変換し、光検出器アレイ（例；複数のフォトダイオード）を用いて光を電荷に変換する。一般的に、直接変換式と間接変換式の両方とも電子式画素アレイ（例；２Ｄキャパシターアレイを有するＴＦＴアレイ）を用いて電荷を検知／測定する。
【０００６】
デジタル検出器アレイは、撮影をするのに効果的であり、Ｘ線フィルムより長所は多いものの、何よりもその大きさに応じて製造費が数万ドルさらに必要となる。１ｍ×０．５ｍ程度の大きさを測定する検出器アレイを備えた大型のＸ線画像システムは主に手荷物の検査台や工場の検査台に設けられ、総費用の３０％程度を検出器アレイが占める。このような高費用のため、ある場合にはＸ線画像システムの設置が困難である。
【発明の概要】
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、従来のこのような問題点を解決するＸ線検査装置を提供し、このような装置は、有効大きさが実サイズより大きい検出器アレイを備える。
【０００８】
本発明の検出器アレイは、複数のチャネルと１つ以上のデッドスペースとを有する。デッドスペースは意図的に検出器アレイ内に挿入される。
【０００９】
本発明のＸ線検査装置は間接変換検出器アレイを有することができる。間接変換検出器アレイは、輻射源から放出された放射線を光に変換するシンチレータと、この光を電荷に変換する光検出器とを含む。間接変換検出器アレイがシンチレータから生じた光を光検出器に集光する集光器をさらに含むことができる。
【００１０】
本発明は、検出器アレイの検知面の実面積と有効面積の差を補正する方法も提供する。
【００１１】
以下、添付図面を参照し、本発明について詳しく説明する。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】Ｘ線検査装置のブロック図である。
【図２】従来の間接変換検出器アレイの３チャネルの断面図である。
【図３】従来の検出器アレイの平面図である。
【図４】スパース（ｓｐａｒｓｅ）アレイ検出器の平面図である。
【図５】スパースアレイ検出器の平面図である。
【図６】スパースアレイ検出器の平面図である。
【図７】スパース区域と非スパース区域とを有するスパースアレイ検出器の平面図である。
【図８】スパース区域と非スパース区域とを有するスパースアレイ検出器の平面図である。
【図９】検出器アレイの実サイズと有効大きさの差を補正する方法のフローチャートである。
【図１０】検知部とデッドスペースとを有するチャネルを備えた検出器アレイの平面図である。
【図１１】スパース区域と非スパース区域とを有するチャネルの平面図である。
【図１２】スパース区域と非スパース区域とを有するチャネルの平面図である。
【図１３】スパース区域と非スパース区域とを有するチャネルの平面図である。
【図１４】シンチレータの光を光検出器に集光する集光器がチャネルごとに取り付けられた間接変換検出器アレイのチャネルの断面図である。
【図１５】コンピュータ命令語で本発明を実現するコンピュータ読み取り可能な媒体の一例を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、添付図面を参照して説明するが、このような説明はあくまでも例示したものに過ぎず、本発明の範囲を限定するものではないことを理解しなければならない。
【００１４】
検出器アレイやその製造技術上有効大きさが実サイズより大きい検出器アレイが提供される。ここでの実サイズは、製造時、Ｘ線検査装置の輻射源を向かい合う検知面の大きさ／面積をいう。例えば、検出器アレイにおいて１つ以上の画素が不良であったり、検出器アレイを含む材料の一部が破損するかスクラッチが発生したりしても、検出器アレイの実サイズ／面積は、このような欠陥や損傷のために減らない。有効大きさや有効面積は、（例えば、補間法や他の補正を行った後の）測定された面積である。したがって、測定された面積は、検出器アレイの実面積（例；放射線を検知し電荷を生成する部分）とデッドスペース（検知／測定ができない部分）とを含む。
【００１５】
図１は、（フラットパネル、デジタル検出器アレイなどを備えた）Ｘ線装置１０２から生じたデータを収集し、検査中のオブジェクト１０４の画像を放射線専門医や看護師のようなユーザ１３２が見ることができるようにモニター１２８にディスプレイするＸ線検査装置１００の一例を示す。このようなＸ線装置１０２は、一般病院や動物病院において患者の医療状態（例；骨折）を検査するのに用いられるか、セキュリティ検査台において爆発物や輸入禁止品のようなオブジェクト１０４を確認するのに用いられる。一方、取得方式に応じては、各オブジェクトの密度や理化学的性質を確認した後、所定品目（例；爆発物や武器のような禁止品目）に係る密度や有効原子数などのリストと比較し、検査オブジェクト１０４がこのような品目を含むか否かを判断することもできる。
【００１６】
以下の説明では、シングルＣＴスキャナーを例に挙げて説明するが、これはあくまでも例示したものに過ぎず、本発明はこれに限定されず、Ｘ線装置や、ラジオグラフィーや、ラインスキャナーや、マルチエネルギーＣＴスキャナーなどの他の分野にも適用することができる。例示した装置１００も本発明の範囲を限定するものではないことを理解しなければならない。例えば、図１のデータ取得器１２２がＸ線装置１０２の回転支持台１０６の一部分であるか、Ｘ線装置１０２の検出器アレイ１１８の一部分であってもよい。
【００１７】
例示した装置１００において、Ｘ線装置１０２は患者や空港の検査台のカバンや製材所の木材のようなオブジェクト１０４を検査することができ、回転支持台１０６と固定支持台１０８とを有する。検査中のオブジェクト１０４はベッドやコンベヤーベルトのような受け台１１０上に置かれ、該受け台は（回転支持台の中空部分である）検査区域１１２に選択的に位置し、固定支持台１０６は（モーター、駆動軸、チェーンなどの）回転器１１４によってオブジェクト１０４の周りを回転する。
【００１８】
回転支持台１０６は、検査区域１１２の一部分を囲み、Ｘ線源のような輻射源１１６と検出器アレイ１１８とを含み、検出器アレイは輻射源１１６の正反対側の回転支持台１０６に設けられる。
【００１９】
オブジェクト１０４を検査する間、（検出器アレイと輻射源とを含む）回転支持台１０６がオブジェクト１０４の周りを回転する一方で、輻射源１１６がオブジェクト１０４に向かって放射線１２０を放射する。一般的に、ＣＴスキャナーの場合、検査期間中に放射線１２０が連続的に放射される。しかし、あるＣＴスキャナーや他の放射線スキャナー（例；パルス式スキャナー）の場合、放射線１２０が回転期間中に断続的に放射されたりもする。
【００２０】
オブジェクト１０４を透過した放射線１２０はオブジェクト１０４の表面ごとに異なって減衰する。放射線１２０がオブジェクトの表面ごとに異なって減衰するため、減衰率や、むしろ検出器アレイ１１８が検知した光子数の変化に基づいて画像を再構成することができる。例えば、骨や金属板のように表面がより稠密なオブジェクト１０４の場合、皮膚や衣類のようにそれほど稠密でないオブジェクトに比べ、放射線１２０がより減衰し、検出器アレイ１１８にぶつかる光子数もより少なくなる。
【００２１】
ある場合にはオブジェクト１０４をスキャンしたり検査したりする間、図面で回転支持台１０６がｘ−ｙ平面で回転すれば、オブジェクト１０４はｚ軸方向に動くことができる。このようにして、オブジェクトを透過する放射線１２０のｚ−次元より大きいｚ−次元を有するオブジェクト１０４は（ステップ別照射のスキャン方式に比べて）遥かに迅速にスキャンされることができる。回転支持台１０６がｘ−ｙ平面で回転し、オブジェクト１０４がスキャンされながらｚ方向に動けば、螺旋状にスキャンが行われる。
【００２２】
検出器アレイ１１８は１つ以上のチャネルで構成され、これらのチャネルを以下では検出器チャネルや画素といい、このような検出器チャネルは、放射線を電荷に変換し、与えられた空間から生じた電荷量を測定するためのものである。このようなチャネルの位置に基づいて、検知された放射線をマッピングし、例えば、検知された放射線が透過するオブジェクト１０４の一部分を決定することができる。
【００２３】
後ほど図面を参照してより詳しく説明するが、検出器アレイ１１８は実際より大きい有効大きさ（例；測定大きさ）を有する。言い換えれば、輻射源１１６を向かい合う検知表面積が検査中のオブジェクトの画像を作るのに実際に用いられる表面積より小さい。
【００２４】
一例として、検出器アレイの実サイズは、検出器アレイ１１８内に戦略的に配置する（放射線の検知／測定用ではない）デッドスペース（ｄｅａｄ  ｓｐａｃｅ）だけ有効大きさより小さい。例えば、チャネルとデッドスペースが碁盤の目状に配列され、チャネルとデッドスペースが互いに隣接するように配置されることができる。この場合、チャネルとデッドスペースは、ｘ−方向とｚ−方向に類似する大きさの検知面を有してもよい。したがって、検出器アレイ１１８の検知面の全体が碁盤の目状を有すれば、検出器アレイ１１８の実際の検知面積は有効面積の半分程度しかならない。検知面の全体にチャネルとデッドスペースが分散している場合、（放射線を検知するか電荷を測定する総有効画素数のような）総チャネル数が従来の検出器アレイの総チャネル数に比べて減少する（図３参照）。例えば、１ｍ×０．５ｍ配列の従来の検出器アレイにおいては、チャネル数が５００，０００個であり、画素の間にデッドスペースは全くないが、類似する大きさの本発明の検出器アレイ１１８においては、チャネル数が２５０，０００個である。また、（隣接した２チャネルの中心点の間隔に該当する）ピッチも従来の検出器アレイに比べて大きくなる。例えば、従来の検出器アレイのピッチは、チャネルが１ｍｍ２の場合に１ｍｍであるが、本発明の検出器アレイ１１８のピッチは、チャネルが１ｍｍ２の場合に２ｍｍである。デッドスペースを補う技術については補正器１２４と関連づけて説明する。
【００２５】
ある場合には、検出器アレイ１１８の実サイズが、チャネルの一部の検知部を縮小させ、有効大きさより小さいこともある。すなわち、検出器アレイ１１８の各々のチャネルの一部の検知部がデッドスペースと検知部とからなり、この時のデッドスペースはチャネルの外辺に隣接する。したがって、一例として、デッドスペースが各チャネルの４辺の全体にあって検知部を囲むことができ、この場合には、検知部がチャネル外縁部に接触せずに中心部に島のように孤立する。従来の検出器アレイと以前の実施形態の検出器アレイと本実施形態の検出器アレイ１１８とを比較すると明らかな違いが分かるはずである。例えば、各々のチャネルの大きさ（例；検知面積）は変わることなく検査部だけが縮小されるため、検出器アレイ１１８内の総チャネル数は従来の検出器アレイの総チャネル数と同じである。例えば、従来の検出器アレイと大きさが約１ｍ×０．５ｍである本実施形態の検出器アレイ１１８はいずれもチャネル数が５００，０００個である。また、隣接したチャネルの間の間隔（すなわち、チャネル中心部の間の間隔）に影響がないので、ピッチも同じである。しかし、各チャネルの一部の検査部に（放射線を検知／測定しない）デッドスペースがあるため、検出器アレイ１１８の実サイズは有効大きさより小さい。このようなデッドスペースを補う技術については補正器１２４と関連づけて説明する。
【００２６】
一方、例えば、間接変換式の検出器アレイ１１８の実サイズが、光を集中するための焦点機構（例；マイクロレンズ）を用いて、有効大きさより小さいこともあるが、この時の光は、第１検知材料（例；シンチレータ）から発生して第２検知材料（例；光検出器や光検出器アレイ）に向かい、第２検知材料の検知面積は第１検知材料の検知面積より小さい。すなわち、例えば、シンチレータと光検出器アレイとの間にマイクロレンズを配置することができる。後ほどより詳しく説明するが、シンチレータから生じた光は、検知面積がより小さい（複数の光検出器からなる）光検出器アレイに向かって集中する。したがって、シンチレータの検知面積は従来の検出器のシンチレータの検知面積と同じであるが、光検出器アレイの検知面積は従来の検出器アレイの光検出器アレイの検知面積より小さい。また、当業者であれば分かるように、放出された放射線のほぼ全部がシンチレータによって検知されるため、焦点機構（例；マイクロレンズ）を有する検出器アレイ１１８の場合、何の補正も行われないので補正器１２４が不要であることもある。しかし、本実施形態（例；マイクロレンズ）が他の実施形態（例；デッドスペースや縮小された検知部）と組み合わされる場合、補正が行われなければならない。
【００２７】
別途の言及がない限り、以上で説明した検出器アレイ１１８は、特定の種類や形状のデジタル検出器アレイに限定されない。例えば、検出器アレイ１１８が直接変換式や間接変換式であってもよく、その違いは何よりも放射線が電荷に変換される方式にある。一般的に、直接変換検出器アレイは、流入する放射線を半導体結晶材料（例；テルル化カドミウム亜鉛、テルル化カドミウム）や非晶質セレニウムのような非晶質材料のような直接変換物質を用いて電荷に直接変換する。これに対し、間接変換検出器アレイは、流入する放射線をシンチレータを用いて光のような他の媒体に変換し、電荷は、光検出器（例；フォトダイオード）を用いて（例；検知された光量に基づいた）他の媒体の検知によって生成される。また、検出器アレイ１１８は、２次元形態として、平板型であるか、曲面型であるか（円筒形や球形や円弧形）、その他の形状を取ってもよい。
【００２８】
検出器アレイ１１８のチャネルにぶつかる放射線１２０は電荷を生成し、この電荷はチャネルの検知／測定部分において検知される（例；薄膜トランジスタ、金属−酸化物−半導体、その他の電荷を収集／測定する他の電気要素）。チャネルごとに（例えば、流入放射線によって生じた）検知された電荷に比例する信号を生成し、このような信号はデータ取得器１２２に送られるが、このようなデータ取得器はＸ線装置１０２や検出器アレイ１１８の一部分であってもよい。チャネルによって検知された電荷は、検知された放射線の光子数や光子エネルギーと直接関連するため、電荷の出力はオブジェクト１０４を透過する放射線１２０の減衰量を示す。一例として、電荷を収集／測定しないチャネルは何の電荷も検知できなかったことを示すベースライン信号を生成してもよい。一方、電荷を検知できなかったか、電荷を検知するまでにチャネルがいかなる信号も生成できないこともある。
【００２９】
検出器アレイ１１８や輻射源１１６の他の特徴については他の図面を参照して説明する。例えば、後述するように、輻射源１１６の（放射線が放出される）焦点が移動するか、検出器アレイ１１８がその特性を考慮して（例えば、回転支持台の回転軸を横切る放射線の中心に対して）検出器チャネルのｘ−寸法の１／４程度移動してもよい。
【００３０】
データ取得器１２２は、検出器アレイ１１８によって検知される放射線に関する情報やデータを収集する。一例として、データ取得器１２２は、検知された放射線を表示する検出器アレイ１１８から生じたアナログ信号を受信し、この信号をＡＤ変換技術を利用してデジタルドメインに変換することができる。また、データ取得器１２２は、例えば、検出器アレイ１１８の複数のチャネルから生じたデジタルデータを１つ以上の投影画像にコンパイルしてもよい。
【００３１】
補正器１２４は、検出器アレイの検知面の実際領域と有効領域との間の差を補正するものであり、例えば、当業界で周知の補間法や他の分析法や反復技術を利用して検出器アレイを補正する。例えば、デッドスペースに隣接したチャネルの情報を用いて、どのようなデッドスペースが測定されたかを予想／推定する。一方、補正器１２４は、補正中の情報を生産する検出器アレイ１１８の位置から約１８０度離れた位置において、検出器アレイ１１８から収集された情報を用いて検出器アレイや各々のチャネル内のデッドスペースを補正したりもする。言い換えれば、検出器アレイ１１８がシステムのアイソセンターに対して（例えば、検出器チャネルのｘ−寸法の１／４だけ）移動すれば、検出器アレイ１１８が検査中のオブジェクト１０４に対して第２位置にある間に生成された情報を用いて検出器アレイが第１位置にある間に生じた情報／データ（例；投影データ）を補うことができる。例えば、検出器アレイの移動距離がチャネルの１／４程度であれば、回転支持台から１８０度離れた投射点がオブジェクトのサンプリング観点ではチャネルの１／２程度離れることができる。このようなチャネルは、物理的に１つのチャネルであるか、チャネルとデッドスペースの組み合わせであってもよい。一方、補正器は、輻射源上の２ヶ所から放射された放射線から収集された情報を用いて、検出器アレイやチャネル内のデッドスペースを補正することもできる。言い換えれば、検査中に焦点が（ｘ方向やｙ方向に）移動すれば、オブジェクトの１回撮影を示す情報（そのうちの一部は輻射源の第２場所から放射された放射線を示す）を用いて、検出器アレイやチャネル内のデッドスペースを補正することができる。
【００３２】
補正器１２４がデータ取得期１２２の投影データを補正すると説明したが、これに限定されるものではない。すなわち、信号を画像に変換する経路に沿って他の場所に補正器１２４を配置して他種類のデータを補正することもできる。例えば、画像合成器１２６の後ろに補正器１２４を配置して、（投影データと逆である）画像データを補正するか、補正器１２４を独立機器でないデータ取得器１２２の一部分にすることもできる。
【００３３】
画像合成器１２６は、データ取得器１２２から投影データを受け、補正器１２４から補正された投影データを受ける。画像合成器はＸ線画像を作り、ユーザがこの画像を見て理解することができる。すなわち、画像合成器１２６は、当業界で周知の分析法や反復法や他の画像合成法（例；２Ｄ  ＦＢＰ（ｆｉｌｔｅｒｅｄ  ｂａｃｋｐｒｏｊｅｃｔｉｏｎ）、画像合成法など）を利用して、投影空間の画像を画像空間に変換することができる。
【００３４】
画像合成器１２６によって合成された画像はコンピュータ端末のようなワークステーション１３０に送られ、ここで画像がモニター１２８に表示され、医師や保安要員のようなユーザ１３２に見られる。このように、ユーザ１３２は、画像を検査してオブジェクト１０４内部の関心部分を確認することができる。ワークステーション１３０は、例えば、Ｘ線装置１０２に放射線量や回転速度のようにユーザが直接入力する入力値を受けることもできる。
【００３５】
ワークステーション１３０に連結されるコントローラ１３４は、ワークステーション１３０からユーザの入力値を受け、Ｘ線装置１０２に実行する動作を表示する命令語を生成する。例えば、ユーザ１３２が放射線量や放射線の種類を変えてオブジェクトを再スキャンしようとする時、コントローラ１３４は、輻射源１０６に所望の放射線量や放射線エネルギーを放出しろという命令語を出す。
【００３６】
図２は、図１の検出器アレイ１１８に対応する従来の間接変換式の検出器アレイ２００の３チャネルの断面図である。このような検出器アレイ２００は、マンモグラフィースキャナー、ラインスキャナー、ＣＴスキャナーなどの画像検出器である。この検出器アレイ２００の各々のチャネルは、側壁２０４と透明底部２０６に囲まれたシンチレータ２０２と、光検出器２０８とを有する。入射放射線２１０がシンチレータ２０２と作用して光２１２を出す。この光２１２は光検出器２０８に吸収されて電荷に変わり、この電荷が光検出器２０８や他の測定器によって測定される。
【００３７】
シンチレータ２０２は、入射放射線２１０を光２１２に変換し、タングステン酸カドミウム、タングステン酸亜鉛、ヨウ化セシウムのような結晶質、セラミック材料、またはその他の公知のシンチレータからなることができる。一般的に、このようなシンチレータは４００〜６００ｎｍ程度の可視光を放出するが、これに限定されず、例えば、４００ｎｍ未満や６００ｎｍ以上の光を放出することもできる。
【００３８】
光検出器２０８は、光に露出されれば電荷を生成する。一般的に、光検出器は結晶質や非晶質シリコンから製作され、光によって半導体に生じた別の電荷を検知するｐ−ｎ接合電場が内蔵されている。すなわち、光２１２が光検出器２０８に入れば、光検出器の電子が励起される。この時、光２１２のエネルギーが光検出器２０８のバンドギャップエネルギーより大きければ、電子が価電子帯から伝導帯に移動し、電子正孔対が生じる。電子正孔対によって生じた自由電子は光検出器２０８のエッジに移って出力信号に変換され、この信号はデータ取得器１２２に出力される。
【００３９】
検出器アレイ２００の各々の光検出器２０８は、当業界で周知のシリコンや他の材料からなるが、例えば、厚さ２５０〜５００μｍの高抵抗シリコンウェハーで構成され、当業界で周知の平板技術を利用して製作される。
【００４０】
直接変換検出器アレイの組成は説明しなかったが、その構造は間接変換検出器アレイと類似するが、材料だけが異なる。例えば、シンチレータ２０２を直接変換検出器材料であるテルル化カドミウム亜鉛、テルル化カドミウム、ヨウ化鉛、ヨウ化水銀、非晶質セレニウム、非晶質シリコンなどに代替することができる。また、直接変換検出器アレイが放射線を（光や他の媒体ではない）電荷に直接変換するため、光検出器２０８が不要である。したがって、直接変換検出器アレイの各々のチャネルが、例えば、直接変換検出器材料と薄膜トランジスタのみからなってもよく、これは、間接変換チャネルに含まれるシンチレータ２０２と光検出器２０８とは対照的である。直接や間接検出器アレイに含まれた物質は、関連の費用と材料量が減少するため、他の物質より費用をさらに節減することができる。
【００４１】
図３は、従来の検出器アレイ３００の平面図であり、例えば、輻射源側からみた図面である。このような角度から見れば、間接変換検出器アレイと直接変換検出器アレイの特徴が明確に区分される。したがって、従来の検出器アレイ３００は間接式であってもよく、直接式であってもよい。
【００４２】
この検出器アレイ３００をなす複数のチャネル３０２の各々は、検出器アレイ３００の特定部分にぶつかる放射線を検知する。各々のチャネル３０２は、所定のｘ寸法３０４とｚ寸法３０６とを有し、これらの寸法は、大部分は互いに同じであるが、異なってもよい。例えば、寸法３０４，３０６が１ｍｍと同じであれば、チャネルの検知面積（例；輻射源を向かい合う面積）は１ｍｍ２である。
【００４３】
状況や所望の解像度に応じてチャネル３０２の寸法３０４，３０６が変わることができる。例えば、セキュリティ検査台や産業用検査台に見られる検出器アレイのチャネル３０２の検知面の面積は、医療用より解像度が低くてもよいため、医療用に見られる検出器アレイのチャネル３０２の検知面の面積より大きくてもよい。
【００４４】
この検出器アレイ３００においては、隣接したチャネル３０２が互いに直接に接しているため、チャネルの間に（例えば、検出器アレイにぶつかる放射線が検知／測定されない）デッドスペースがほぼ／全くない。すなわち、輻射源から放出された放射線のほぼ全体が（検出器アレイに到達する前に散乱しない限り）チャネルによって検知される。したがって、このような従来の検出器アレイ３００においては、放射線がチャネルに検知されずに検出器アレイにぶつかるデッドスペースがほぼない。
【００４５】
また、隣接したチャネルの中心の間の間隔（ピッチ）であるｘ寸法３０８とｚ寸法３１０も従来の検出器アレイ３００のチャネルのｘ寸法３０４およびｚ寸法３０６と同じである。例えば、各チャネル３０２のｘ寸法３０４が１ｍｍであれば、ｘ方向ピッチも１ｍｍであり、チャネルのｚ寸法３０６が１ｍｍであれば、ｚ方向ピッチも１ｍｍである。このようにして、検出器アレイ３００の実サイズと有効大きさが同じであることができる。
【００４６】
図４〜８は、図１の検出器アレイ１１８のような色々な検出器アレイ４００，５００，６００，７００，８００の平面図であり、複数のチャネルをデッドスペースに代替した。説明の便宜上、チャネル空間の一部をデッドスペースが占めるこのような検出器アレイをスパース（ｓｐａｒｓｅ）検出器アレイやスパースアレイ検出器という。このような検出器アレイ４００，５００，６００，７００，８００は直接変換式であるか間接変換式であり、有効大きさが実際より大きいと言える。
【００４７】
図４に示されたスパース検出器アレイのチャネル４０４中の一部は、デッドスペース４０２によって隣接したチャネルから分離される。デッドスペース４０２にぶつかる放射線は検知されるか測定されないため、検査中のオブジェクトの画像を作るのに用いられない。このようなデッドスペース４０２は鉛や酸化物のように放射線を吸収する性質を有する充填材で充填される。このような充填材は、一般的に放射線を検知する物質より安価である。
【００４８】
デッドスペース４０２のｘ−寸法４０６は、チャネル４０４のｘ−寸法４０８と同じである。すなわち、デッドスペースとチャネルは幅が互いに同じである。しかし、デッドスペース４０２の幅とチャネル４０４の幅が異なってもよい。例えば、デッドスペース４０２のｘ−寸法４０６がチャネル４０４のｘ−寸法４０８の２倍または半分であってもよい。すなわち、デッドスペース４０２のｘ−寸法４０６がチャネル４０４のｘ−寸法４０８と同じであるか、大きいか、小さくもてよい。
【００４９】
また、デッドスペース４０２のｚ−寸法４１０も検出器アレイ４００の深さ（ｚ−寸法）とほぼ同じであるが、異なってもよい。すなわち、デッドスペースのｚ−寸法４１０の範囲は、チャネルのｚ−寸法より小さい値から検出器アレイ５００の深さと同じである値までである。
【００５０】
デッドスペース４０２に隣接したチャネルのｘ−方向ピッチ４１２は、デッドスペースのためにチャネル４０４のｘ−寸法４０８とは異なり得る。また、デッドスペースを間に置かずに隣接したチャネルのｘ−方向ピッチ４１４は、デッドスペースを間に置いた隣接したチャネルのピッチとは異なり得る。例えば、チャネル４０４のｘ−寸法４０８が１ｍｍであり、デッドスペース４０２のｘ−寸法４０６がチャネル４０４のｘ−寸法４０８と同じであれば、デッドスペース４０２を間に置いた２チャネルのｘ方向ピッチ４１２は２ｍｍであるが、デッドスペースを間に置かない隣接した２チャネルのｘ方向ピッチ４１４は１ｍｍである。
【００５１】
周知の通り、あるチャネルはデッドスペースによって分離され、あるチャネルは分離されない。
【００５２】
図５に示されたスパース検出器アレイ５００のチャネル５０４は行方向に配列され、いくつかのチャネルが行方向のデッドスペース５０２によって分離される。同じく、デッドスペース５０２にぶつかった放射線は検知／測定されない。
【００５３】
例示した実施形態においてデッドスペース５０２のｚ−寸法５０６がチャネル５０４のｚ−寸法５０８とほぼ同じである。すなわち、デッドスペース５０２の深さがチャネル５０４の深さと同じである。しかし、デッドスペース５０２のｚ−寸法がチャネルのｚ−寸法と異なって、２倍であるか、半分であってもよい。すなわち、デッドスペースのｚ−寸法はチャネルのｚ−寸法より小さいか、同じであるか、大きい。
【００５４】
また、例示した実施形態においてデッドスペース５０２のｘ−寸法５１０も検出器アレイ５００の幅とほぼ同じであるが、場合によっては異なってもよい。すなわち、デッドスペース５０２のｘ−寸法５１０の範囲は、チャネルのｘ−寸法より小さい値から検出器アレイ５００の幅と同じ値までである。
【００５５】
デッドスペース５０２に隣接したチャネルのｚ−方向ピッチ５１２は、デッドスペースのためにチャネル５０４のｚ−寸法５０８とは異なり得る。例えば、チャネル５０４のｘ−寸法５０８が１ｍｍであり、デッドスペース５０２のｚ−寸法がチャネル５０４のｘ−寸法５０８と同じであれば、デッドスペース５０２を間に置いた２チャネルのｚ方向ピッチ５１２は２ｍｍである。
【００５６】
本実施形態においては、チャネル５０４はデッドスペース５０２によって分離されるが、チャネルの間にデッドスペースがなくてもよい。すなわち、２行以上のチャネルがデッドスペースによって分離されずに直接に接するか、正常なデッドスペースによって分離されてもよい。
【００５７】
図６のまた他の検出器アレイ６００は、碁盤の目状のチャネル６０４とデッドスペース６０２とを有する。勿論、デッドスペース６０２にぶつかる放射線は検知／測定されない。
【００５８】
デッドスペース６０２のｚ−寸法６０６とｘ−寸法６１０がチャネル６０４のｚ−寸法６０８およびｘ−寸法６１２と各々同じである。また、ｘ方向ピッチ６１４やｚ方向ピッチ６１６がチャネル６０４のｘ−寸法６１２およびｚ−寸法６０８より大きくてもよい。例えば、チャネルの大きさが１ｍｍ×１ｍｍであれば、このチャネル６０４のｘ方向ピッチ６１４は２ｍｍ以上であり、ｚ方向ピッチ６１６も２ｍｍ以上である。したがって、チャネルのｘ方向ピッチ６１４やｚ方向ピッチ６１６がチャネルのｘ−寸法６１２およびｚ−寸法６０８より大きい。
【００５９】
図４〜６においては、検出器アレイ４００、５００、６００の全体にかけて連続するデッドスペースを例に挙げて説明したが、これに限定されるものではない。例えば、図７〜８に示すように、検出器アレイ７００の全体ではない一部分７０４にのみデッドスペース７０２があり、一部分７０６には放射線を検知／測定するチャネル７０８があってもよい。したがって、このような検出器アレイ７００は、スパース区域と非スパース区域である均一区域とを有する。
【００６０】
このような検出器アレイ７００がＣＴスキャナーにある場合、スパース区域と均一区域は、検出器アレイが撮影する検査区域の大きさを定める視野やスキャンサークルを基準に定められることができる。例えば、検査区域は、検査をする間、放射線に連続的に露出される区域である。すなわち、検出器アレイ７００において、視野を透過する放射線を検知する部分はチャネル７０８のみからなる均一な部分であり、視野を透過しない放射線を検知する部分はチャネルとデッドスペースを両方とも有するか、デッドスペースのみを有するスパース部分である。このようにして、検出器アレイ７００の内部部分（例；７０６）は空間解像度が大きい均一区域であり、外郭部分（例；７０４）は解像度が低いスパース区域である。したがって、スパース区域に対する補正がほぼなくても、空間解像度や画質にほぼ影響を与えない安価なスパース検出器アレイを実現することができる。
【００６１】
図９は、検出器アレイがスパース区域を有する時に投影データや画像を補正する方法９００のフローチャートである（図４〜８参照）。この方法９００は、図１の補正器１２４のような装置のマイクロプロセッサーによって実行される。
【００６２】
この方法は９０２ステップから始まり、９０４ステップにおいては、デッドスペース７０２に隣接したチャネル７０８から情報を受ける（図７〜８参照）。例えば、図１の補正器１２４がデッドスペースに隣接したチャネルから生じた投影データや画像データを受ける。各チャネルが検出器アレイの特定部分に配置されるため、このような投影データや画像データを確認することが比較的に容易である。すなわち、（デッドスペースに隣接した）特定チャネルから生じた情報を確認する技術は当業界で周知のものである。すなわち、関心チャネルから生じた情報を関心でないチャネルから生じた情報と分離乃至区分することができる。
【００６３】
例示した方法９００の９０６ステップにおいては、受信した情報を補間法を利用してデッドスペースによって失われた情報を補正する。このようなデッドスペースは検出器アレイに意図的に生成されるものであり、単に電子素子の故障や製造工程上の誤差によって生じるものではない。言い換えれば、デッドスペースにおいて検知／測定された放射線量を予想するか推定する分析法や補正法により、デッドスペースをチャネルに代替してデッドスペースを補正する。例えば、誤作動するかこれ以上作動しないデッドチャネルを補うのに用いられるものと類似する技術を利用する。このようにして、デッドスペースやバッドチャネル（ｂａｄ  ｃｈａｎｎｅｌ）によって生じたデータ内の穴を補間法によって生じた情報に基づいて充填することができる。
【００６４】
９０８ステップにおいて、この方法は終了する。すなわち、デッドスペースに対する補間法によって得られた情報を含む全ての情報が画像合成器に送られ、画像データを補正するのに用いられる。例えば、この方法９００をまだ画像データに変換されていない投影データとは対照的に、画像合成器において既に生成された画像データに実行する場合にそうである。すなわち、この方法９００を画像合成前に実行すれば、各チャネルの情報と補間法によって求めた情報を画像合成器に送り、ここではこのような情報を用いて検査中のオブジェクトの画像を作る。この方法が画像合成後に実行されれば、合成された画像を補間法によって求めた情報のみに基づいて補正する。
【００６５】
図１０は、また他の経済的なスパース検出器アレイ１０００の平面図であり、各チャネル１００２が２部分からなる。（影付きのない）第１部分１００４は検知部であり、影付きの第２部分１００６はデッドスペースである。したがって、検出器アレイの一部分において、各々のチャネルが検知部１００４とデッドスペース１００６とを有する。前述したように、鉛や酸化物のように安価な放射線吸収剤で充填されるデッドスペース１００６にぶつかった放射線は検知／測定されない。したがって、デッドスペースにぶつかった放射線は画像合成に用いられない。逆に、チャネル１００２の検知部１００４はここにぶつかった放射線を検知／測定して、オブジェクトの画像合成に用いられる。
【００６６】
一方、チャネル１００２の全体でない一部のみが検知部１００４とデッドスペース１００６とを有してもよい。すなわち、検出器アレイ１０００の一部のチャネル１００２は検知部１００４とデッドスペース１００６を両方とも有し、一部の他のチャネル１００２は検知部１００４やデッドスペースのみを有してもよい。この場合、検知部のみを有するチャネルの検知部１００４の（輻射源を向かい合う）検知面の面積は、チャネル１００２の検知面の面積と同じである。例えば、検出器アレイがＣＴスキャナーに入っている場合、検知部１００４とデッドスペース１００６を両方とも有するチャネル１００２は（図７〜８においてスパース区域が外縁に配置されたように）検出器アレイ１０００の外郭部に配置され、検知部１００４のみを有するチャネル１００２は検出器アレイ１０００の中央に配置される。
【００６７】
また、本実施形態においては、デッドスペース１００６が検知部１００４を囲むものを例に挙げたが、これに限定されるものではない。すなわち、チャネル内に検知部１００４とデッドスペース１００６を異なるように配列することもできる（図１１〜１３参照）。
【００６８】
図１１〜１３は、検知部の周りにデッドスペースが異なるように配列されたチャネル１００２の１つの拡大平面図である。例えば、図１１のデッドスペース１００６はチャネル１００２の１辺のみを占める。すなわち、検知部１００４の３辺がチャネル１００２の残りの辺をなす。図１２の場合、チャネル１００２の２辺にデッドスペース１００６が配置され、検知部１００４の２辺がチャネルの残りの辺をなす。また、図１３の場合、チャネル１００２の３辺にデッドスペース１００６が配置され、検知部１００４の１辺がチャネル１００２の残りの辺と接する。一方、他の構成も可能である。例えば、図１１の場合、デッドスペースが検知部１００４の左辺でない上方に位置することもできる。すなわち、チャネル内のデッドスペースと検知部をいかなる形式で配列してもよい。
【００６９】
図１０において、少なくとも一部のチャネルが検知部１００４とデッドスペース１００６とを有する特徴の検出器アレイ１０００は、図４〜８のスパースアレイや図３の従来の検出器アレイとの区分のために一例を挙げただけのものである。例えば、図１０〜１３の例とは異なり、一部のチャネルをデッドスペースに代替したスパースアレイ構造を採択することもできる。例えば、図４〜８に示されたスパースアレイのチャネル数は合計２５０，０００であるが、本実施形態の検出器アレイ１０００は、表面積は同じであってもチャネル数は５００，０００個として従来の検出器アレイと同じである。また、ｘ方向ピッチ１００８とｚ方向ピッチ１０１０もチャネル１００２のｘ方向ピッチ１０１２およびｚ方向ピッチ１０１４と同じであり、これは、図３の従来の検出器アレイと同様である。例えば、チャネル１００２のｘ−寸法とｚ−寸法がいずれも１ｍｍであれば、ｘ方向ピッチ１００８とｚ方向ピッチ１０１０も各々１ｍｍである。このようなピッチは、チャネルの間の（チャネルを代替した）デッドスペースのためにチャネルの寸法より大きいスパースアレイ内のピッチとは異なる。
【００７０】
隣接したチャネルの検知部１００４の間にデッドスペース１００６があれば、２チャネルの検知部が互いに接している従来のものに比べて検出効率が落ちることがある。したがって、ある場合には、サンプリング頻度がオブジェクトの最高撮影頻度の２倍を越えなければならないナイキスト基準を満たすために、ＦＦＳ（ｆｌｙｉｎｇ  ｆｏｃａｌ  ｓｐｏｔ）を利用するか（回転軸を透過する放射線の中心に対して）ｘ−寸法の１／４程度動くように検出器アレイを設けることができる。言い換えれば、場合によっては、ＣＴスキャナーにおいてナイキスト基準を満たすために、サンプリング頻度を高める技術を利用したりもする。
【００７１】
一方、ナイキスト基準を満たすために、オブジェクトを中心に回転する間、輻射源の焦点を（１ｍｍ程度）動くこともできる。このようにする間、オブジェクトを２倍頻繁に見ることができる。すなわち、１度見る時間の間、２個のサンプルを得ることができる。１番目のサンプルは輻射源の第１場所から放出された放射線を与えられた撮影時間の間検知したものであり、２番目のサンプルは輻射源の第２場所から放出された放射線を同じ時間の間検知したものである。
【００７２】
一方、ナイキスト基準を満たすために、Ｘ線スキャナー１０２の回転支持台１０６の回転軸を通過する中心放射線に対して検出器アレイをチャネル１００２のｘ−寸法１０１２の１／４程度移すこともできる。このような移動を「クォーター−検出器シフト（ｑｕａｒｔｅｒ−ｄｅｔｅｃｔｏｒ  ｓｈｉｆｔ）」という。したがって、検出器アレイ１０００の中心が中心放射線と一致しない。このようにして、与えられたチャネルのサンプル半径が１８０方向からチャネル幅の半分程度移動するため、スキャンのサンプリング頻度が２倍となる。
【００７３】
ナイキスト基準を満たし、且つ、隣接したチャネルの検知部１００４の間にあるデッドスペース１００６の大きさは、ＦＦＳやクォーター−検出器シフト技術を利用するか否かに依存する。例えば、検出器１００４の間にデッドスペースがなければ画質が改善されると知られているが、焦点移動やクォーター−検出器シフトや他の補正法を利用してデッドスペースを補正さえできれば、各々のチャネルが（画質の低下なしで）ある程度のデッドスペースを有することができる。
【００７４】
一方、焦点移動とクォーター−検出器シフト方法を両方とも利用すれば、隣接したチャネルの間のデッドスペース１００４を、例えば、チャネルの全体にまで拡大しつつもナイキスト基準を満たすことができる。すなわち、上記の２つの方法を全て利用すれば、高画質を維持し、且つ、検知部１００４の大きさを（１つの方法だけを採択した時よりも）より減らすことができる。
【００７５】
図１の実施形態に戻り、チャネルが検知部１００４とデッドスペース１００６とを有すれば、補正器１２４が検知部から得た情報に基づいて各チャネル内部のデッドスペース１００６を補正する。例えば、補正器１２４がクォーター−検出器シフトおよび／またはＦＦＳ情報を考慮して、投影サンプリング頻度を改善し、追加の補間機能を実行して、例えば、デッドスペースを補正することができる。すなわち、補正器１２４は、検出器アレイの（チャネルの検知部を基準に測定した）実サイズと（デッドスペースを含む総面積を基準に測定した）有効大きさの差を補正する。
【００７６】
図１４は、有効面積が実面積より大きい他の検出器アレイの断面図であり、間接変換検出器アレイの３つのチャネル１４０２を示す。チャネルは、各々、（タングステン酸カドミウム、タングステン酸亜鉛、ヨウ化セシウムなどの）シンチレータ１４０４、光検出器１４０６およびマイクロレンズ１４０８を有する。このチャネル１４０２は例示したものに過ぎず、他の構成も可能であることは言うまでもない。
【００７７】
（輻射源方向から測定した）大面積のシンチレータ１４０４から小面積の光検出器１４０６に入射される光を集中する（マイクロレンズのような）集光器１４０８をシンチレータ１４０４と光検出器１４０６との間に配置する。すなわち、光を集光する集光器１４０８をシンチレータと光検出器との間に配置する。したがって、シンチレータ１４０４の検知面積が光検出器１４０６の検知面積より大きく、このために光検出器の材料が減って費用が節減される。
【００７８】
この場合、シンチレータ１４０４の実際の検知面積が検出器アレイの有効面積とほぼ同じになるが、光検出器１４０６の実際の検知面積は検出器アレイの有効面積より小さくなる。
【００７９】
また、この場合、ほぼ全ての放出された放射線が検知／測定されるため、検出器から得た情報に対する補正も不要である。シンチレータ１４０４から出た光が小面積の光検出器１４０６に集中し得るため、光検出器の大きさを従来に比べて減らすことができるということが本実施形態の特徴である。
【００８０】
以上、スパースアレイ、チャネルが検知部とデッドスペースを全て有するアレイ、および集光器を有するアレイの３つの構成の検出器アレイについて説明したが、有効大きさが実際より大きい検出器アレイのような他の構成も考慮することができる。例えば、直接変換検出器アレイにおいて、図４〜８で説明したスパースアレイの構成を図１０のチャネルに合わせて、検出器アレイの実サイズをいずれか１つの構成のみを有する構造に比べてより減らすことができる。
【００８１】
例えば、間接変換検出器アレイにおいて、１つの検出器アレイに上記の３つの構成を全て実現すれば、従来の検出器アレイの実面積とほぼ同じ有効面積を維持し、且つ、検出器アレイの実面積を大幅に減らすことができる。一方、図１０のようにチャネルが検知部とデッドスペースを全て有する構成に図４〜８のようなスパースアレイ構成だけを合わせることもできる。または、図１４のような集光構成に図４〜８のようなスパースアレイ構成を合わせることもできる。また、図１０の構成を図１４の構成に合わせることもできる。すなわち、検出器アレイの実サイズを有効大きさより小さくするのに様々な構成を利用することができる。
【００８２】
検出器アレイの実サイズを有効大きさより小さくすれば多くの長所が生じる。例えば、直接変換検知材料、シンチレータ、光検出器のような検知材料の量を減らして費用を節減することができる。また、放射線スキャナーの費用を節減して経済的に製作することができるため、経済的に困難な国でも購入することができる。
【００８３】
本発明は、以上で説明した技術を実現するプロセッサ−実行命令語を含むコンピュータ読み取り可能な媒体も提供する。図１５は、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ−Ｒ、ハードディスクドライバー、フラッシュドライブのようなコンピュータ読み取り可能な媒体１５０２においてコンピュータ読み取り可能なデータ１５０４を求める方法１５００のフローチャートである。コンピュータ読み取り可能なデータ１５０４は、以上で説明した原理に従って演算するコンピュータ命令語１５０６を含む。プロセッサ−実行コンピュータ命令語１５０６は、図９の方法９００のような方法１５０８を実行する。当業者が予想できる多くの種類のコンピュータ読み取り可能な媒体が本発明に応じて動作することができる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【国際調査報告】
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