(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検眼の屈折力を測定することにより得られた測定情報をあらかじめ記憶する測定情報記憶部と、
光源からの光を前記被検眼に照射してその戻り光を検出することにより前記被検眼の眼軸長を測定する眼軸長測定部と、
前記測定情報記憶部に記憶された前記測定情報に基づいて前記眼軸長測定部を制御する制御部と
を含み、
前記眼軸長測定部は、
光源からの光を参照光と測定光とに分割し、前記測定光を前記被検眼に照射し、その戻り光と前記参照光との干渉光を生成する干渉光学系と、
前記干渉光を検出する検出部と、
前記検出部により得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記被検眼の眼軸長を算出する眼軸長算出部と
を含み、
前記制御部は、前記測定情報に基づいて、前記光源からの光の光量、前記検出部による前記干渉光の検出感度、及び前記検出部における前記干渉光の露光時間のうち少なくとも１つを変更する、
眼科装置。
【請求項２】
前記制御部は、前記測定情報に基づいて、前記眼軸長測定部に含まれる光学素子を制御する
ことを特徴とする請求項１に記載の眼科装置。
【請求項３】
前記測定情報は、前記屈折力の測定が行われたときの測定条件を含む
ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の眼科装置。
【請求項４】
前記被検眼に測定パターンを投影してその戻り光に基づくパターン像を解析することにより前記屈折力を測定する屈折力測定部を含む
ことを特徴とする請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の眼科装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、眼科装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
白内障は、レンズの役目を担う水晶体が混濁することにより徐々に視力が低下していく眼疾患である。白内障が進行した被検眼に対しては、一般的に、白内障手術が行われる。たとえば、白内障手術では、混濁した水晶体を取り除き、代わりに眼内レンズ（Ｉｎｔｒａｏｃｕｌａｒ  Ｌｅｎｓ：以下、ＩＯＬ）を挿入することが行われる。ＩＯＬには、球面度のみを有するものや、乱視の矯正が可能なトーリックＩＯＬや、遠方と近方の双方に焦点を合わせることが可能な多焦点ＩＯＬなどがある。白内障手術の前には、眼軸長などの被検眼の構造を表す眼球情報を眼科装置により測定し、測定された眼球情報からＩＯＬの度数を決定する必要がある。
【０００３】
このような眼科装置は、たとえば、特許文献１に開示されている。特許文献１には、眼軸長を測定するための光学系と、被検眼の屈折力を測定するための光学系とを備え、被検眼の眼軸長と屈折力との測定を実行可能な眼科装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特許第４５２３３３８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
白内障を伴う被検眼においては混濁によって水晶体の透過率が低下するため、当該被検眼に照射された測定用の光が拡散され、十分な光量が眼底に到達しなかったり、眼底からの戻り光を十分に検出することができなかったりする。それにより、被検眼に光を照射することにより得られる測定値の信頼性が低下したり、測定すらできなかったりする。従って、特許文献１に開示された眼科装置において白内障を伴う被検眼の眼軸長の測定を実行した場合、水晶体の混濁部分を避けるように測定用の光の入射位置を変更しながら測定位置を探す必要がある。そのため、測定回数が増加することにより測定時間が長くなり、被検者に負担をかけてしまうという問題がある。また、水晶体の混濁部分を特定するために、徹照像を取得するための構成を新たに設ける必要があり、眼科装置の構成の複雑化を招くという問題がある。
【０００６】
本発明は、上記の問題点を解決するためになされたものであり、簡素な構成で、白内障手術前に行われる測定の時間短縮が可能な眼科装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
実施形態に係る眼科装置は、被検眼の屈折力を測定することにより得られた測定情報をあらかじめ記憶する測定情報記憶部と、光源からの光を被検眼に照射してその戻り光を検出することにより被検眼の眼軸長を測定する眼軸長測定部と、測定情報記憶部に記憶された測定情報に基づいて眼軸長測定部を制御する制御部とを含む。
【発明の効果】
【０００８】
この発明に係る眼科装置によれば、簡素な構成で、白内障手術前に行われる測定の時間短縮が可能な眼科装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図である。
【図２】実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図である。
【図３】実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図である。
【図４】実施形態に係る眼科装置の動作例を示す動作説明図である。
【図５】実施形態に係る眼科装置の動作例を示す動作説明図である。
【図６】実施形態に係る眼科装置の動作例を示す動作説明図である。
【図７】実施形態に係る眼科装置の動作例を示す動作説明図である。
【図８】実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図である。
【図９】実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図である。
【図１０】実施形態に係る眼科装置の動作例を示すフロー図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
実施形態に係る眼科装置は、他覚屈折測定と光コヒーレンストモグラフィ（ＯＣＴ）を用いたＯＣＴ計測とを１台で実行可能な装置である。他覚屈折測定では、主として物理的な手法を用いて被検眼の屈折力の取得が行われる。ＯＣＴ計測では、眼軸長、角膜厚、前房深度、水晶体厚などの被検眼の構造を表す眼球情報の取得が行われる。以下、ＯＣＴ計測では眼球情報として眼軸長を取得する場合について説明する。なお、実施形態に係る眼科装置の構成は、以下に説明する構成に限定されるものではない。たとえば、他覚屈折測定を他の装置で行い、その測定結果の入力を受けて眼軸長測定を実行するよう構成してよい。また、ＯＣＴ以外の手法を用いて眼軸長測定を実行するよう構成してよい。
【００１１】
この実施形態では、ＯＣＴ計測においてフーリエドメインタイプのＯＣＴの手法を用いる場合について説明する。特に、この実施形態に係る眼科装置は、スペクトラルドメインＯＣＴの手法を用いてＯＣＴ計測を行うことが可能である。なお、ＯＣＴ計測は、スペクトラルドメイン以外のタイプ、たとえばスウェプトソースＯＣＴの手法を用いてもよい。また、この実施形態におけるＯＣＴ計測は、タイムドメインタイプのＯＣＴの手法を用いることも可能である。
【００１２】
＜外観構成＞
図１に、実施形態に係る眼科装置の外観構成を示す。眼科装置１０００は、ベース２００と、架台３００と、ヘッド部４００と、顔受け部５００と、ジョイスティック８００と、表示部１０とを有する。
【００１３】
架台３００は、ベース２００に対して前後左右に移動可能とされる。ヘッド部４００は、架台３００と一体的に構成されている。顔受け部５００は、ベース２００と一体的に構成されている。
【００１４】
顔受け部５００には、顎受け６００と額当て７００とが設けられている。顔受け部５００により被検者（図示を略す）の顔が固定される。検者は、たとえば、眼科装置１０００を挟んで被検者の反対側に位置して検査を行う。ジョイスティック８００及び表示部１０は、検者側の位置に配置されている。ジョイスティック８００は、架台３００上に設けられている。表示部１０は、ヘッド部４００の検者側の面に設けられている。表示部１０は、たとえば、液晶ディスプレイなどのフラットパネルディスプレイである。表示部１０は、タッチパネル式の表示画面１０ａを有する。
【００１５】
ヘッド部４００は、ジョイスティック８００の傾倒操作によって前後左右に移動される。また、ヘッド部４００は、ジョイスティック８００をその軸に対して回転させることにより上下方向に移動される。これら操作によって、顔受け部５００に保持されている被検者の顔に対するヘッド部４００の位置が変わる。なお、左右方向の移動は、たとえば、眼科装置１０００による検査対象を左眼から右眼にまたは右眼から左眼に切り替えるために行われる。
【００１６】
眼科装置１０００には外部装置９００が接続されている。外部装置９００は、任意の装置であってよく、また、眼科装置１０００と外部装置９００との間の接続態様（通信形態など）も任意であってよい。外部装置９００は、たとえば、レンズの光学特性を測定するための眼鏡レンズ測定装置を含む。眼鏡レンズ測定装置は、被検者が装用する眼鏡レンズの度数などを測定し、この測定データを眼科装置１０００に入力する。また、外部装置９００は、他の任意の眼科装置であってよい。また、外部装置９００は、記録媒体から情報を読み取る機能を有する装置（リーダ）や、記録媒体に情報を書き込む機能を有する装置（ライタ）であってよい。
【００１７】
外部装置９００の他の例として、当該医療機関内にて使用されるコンピュータがある。このような院内コンピュータは、たとえば、病院情報システム（Ｈｏｓｐｉｔａｌ  Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ  Ｓｙｓｔｅｍ：ＨＩＳ）サーバ、ＤＩＣＯＭ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｉｍａｇｉｎｇ  ａｎｄ  Ｃｏｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎｓ  ｉｎ  Ｍｅｄｉｃｉｎｅ）サーバ、医師端末などを含む。外部装置９００は、当該医療機関の外部にて使用されるコンピュータを含んでよい。このような院外コンピュータは、たとえば、モバイル端末、個人端末、眼科装置１０００のメーカ側のサーバや端末、クラウドサーバなどがある。
【００１８】
＜光学系の構成＞
眼科装置１０００は被検眼の検査を行うための光学系を有する。この光学系の構成例について図２〜図７を参照して説明する。光学系はヘッド部４００内に設けられている。光学系は、Ｚアライメント投影系１と、ＸＹアライメントスポット投影系２と、固視系３と、観察系４と、レフ測定投影系５と、レフ測定受光系６と、眼軸長測定系７とを含む。処理部９は、各種の処理を実行する。
【００１９】
Ｚアライメント投影系１及びＸＹアライメントスポット投影系２は、被検眼Ｅに対する光学系の位置合わせ（ＸＹＺアライメント）を行うために必要な光を投影するための光学系である。Ｚアライメント投影系１は、観察系４の光軸に沿う方向（前後方向）のアライメントを行うための機能を有する。ＸＹアライメントスポット投影系２は、観察系４の光軸に直交する方向（上下方向、左右方向）のアライメントを行うためのスポットを投影する機能を有する。固視系３は、被検眼Ｅに固視標を呈示するための光学系である。観察系４は、被検眼Ｅの前眼部を観察するための光学系である。レフ測定投影系５は、眼屈折力を他覚的に測定するための光束を被検眼に投影するための光学系である。レフ測定受光系６は、レフ測定投影系５により被検眼に投影された光の眼底反射光を受光するための光学系である。眼軸長測定系７は、ＯＣＴ計測により被検眼Ｅの眼軸長を測定するための光学系である。眼軸長測定系７は、ＯＣＴ光源から出力された測定光を眼底Ｅｆに投影する機能と、この測定光の戻り光を検出する機能とを有する。
【００２０】
（Ｚアライメント投影系１及びＸＹアライメントスポット投影系２）
Ｚアライメント投影系１は、観察系４の光軸前後方向のアライメントに用いられる。Ｚアライメント投影系１は、Ｚアライメント光源１１を有する。Ｚアライメント光源１１からの光（赤外光）は、被検眼Ｅの角膜Ｋに投影される。角膜Ｋに投影された光は、角膜Ｋで反射し、結像レンズ１２を経由してラインセンサー１３上に投影される。角膜頂点の位置が観察系４の光軸上に対し前後方向に移動するとラインセンサー１３上に投影された光束の位置が変化する。この位置の変化を解析することにより、対物レンズ４１に対する被検眼Ｅの角膜頂点の位置を計測し、その計測値に基づいてアライメントを行うことができる。
【００２１】
ＸＹアライメントスポット投影系２は、ハーフミラー４５を介して観察系４から分岐した光路を形成している。ＸＹアライメントスポット投影系２は、上下方向及び左右方向のアライメントに用いられる。ＸＹアライメントスポット投影系２は、ＸＹアライメント光源２１を有する。ＸＹアライメント光源２１から出力された光（赤外光）は、その一部がハーフミラー４５にて反射されて絞り４４を通過し、ダイクロイックミラー４３を透過し、ダイクロイックミラー４２、対物レンズ４１を通過して被検眼Ｅに投影される。被検眼Ｅに投影された光は、角膜Ｋで反射され、対物レンズ４１を通過して、観察系４と同じ光路を経由して撮像素子４９に投影される。
【００２２】
図２に示すように、表示画面１０ａには、前眼部像Ｅ’とともに、アライメントマークＡＬと角膜で反射した輝点像Ｂｒとが表示される。手動でアライメントを行う場合、ユーザは、たとえば、表示画面１０ａに表示されている情報を参照しつつジョイスティック８００を操作してヘッド部４００の位置調整を行う。このとき、処理部９は、たとえば、アライメントマークＡＬと角膜Ｋで反射した輝点像Ｂｒのずれ量で上下左右方向のずれ量を算出し、表示画面１０ａに表示させてよい。また、Ｚアライメント投影系１からの処理情報を基に光軸方向のずれ量を表示画面１０ａに表示させてよい。処理部９は、アライメントが完了したことに対応して測定を開始するように制御を行うことができる。
【００２３】
自動でアライメントを行う場合、上述のずれ量がキャンセルされるように電動の機構を制御してヘッド部４００を移動させる。この機構は、駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力をヘッド部４００に伝達する部材とを含む。処理部９は、アライメントが完了したことに対応して測定を開始するように制御を行うことができる。
【００２４】
（固視系３）
固視系３は、固視標ユニット３１と、リレーレンズ３２、３３と、反射ミラー３４とを含む。固視系３は、更に、ダイクロイックミラー４３、４２と、対物レンズ４１とを含んでもよい。固視標ユニット３１は、固視光源３１Ａと、波長フィルター３１Ｂと、コンデンサレンズ３１Ｃと、固視標板３１Ｄとを含む。
【００２５】
固視標ユニット３１は、固視系３の光軸に沿って移動可能に構成されている。固視光源３１Ａから出力された光（可視光）は、波長フィルター３１Ｂ、コンデンサレンズ３１Ｃを通過して、固視標板３１Ｄに照射される。波長フィルター３１Ｂは、固視光源３１Ａから出力された光の波長成分のうち所定の波長帯の波長成分のみを透過させる。固視標板３１Ｄは、風景チャートなどの固視標を表示し、固視光源３１Ａから出力された光を透過させる。固視標板３１Ｄを透過した光は、リレーレンズ３２、３３を透過し、反射ミラー３４にて反射され、ダイクロイックミラー４３にて反射される。ダイクロイックミラー４３にて反射された固視光源３１Ａからの光は、ダイクロイックミラー４２を透過し、対物レンズ４１を通過して、被検眼Ｅの眼底Ｅｆに投影される。それにより、固視標板３１Ｄに表示された風景チャートなどの固視標が被検眼Ｅに呈示される。他覚屈折測定においては、眼底Ｅｆに投影された風景チャートを被検者に凝視させつつアライメントが行われ、雲霧視状態で眼屈折力が測定される。
【００２６】
（観察系４）
観察系４は、照明光源４０と、対物レンズ４１と、ダイクロイックミラー４２、４３と、絞り４４と、ハーフミラー４５と、リレーレンズ４６、４７と、結像レンズ４８と、撮像素子（ＣＣＤ）４９とを含む。照明光源４０は、被検眼Ｅの前眼部を照明するための光源である。撮像素子４９の出力は、処理部９に入力される。処理部９は、撮像素子４９から入力された信号に基づいて、表示部１０に前眼部像Ｅ’を表示させる。
【００２７】
Ｚアライメント光源１１、ＸＹアライメント光源２１、及び照明光源４０は、レフ測定光源５１やＯＣＴ光源８１と異なる波長（たとえば、中心波長が９２０〜９８０ｎｍ）の光を出力することにより、他覚測定と眼軸長測定とを同時に実行することが可能となる。Ｚアライメント光源１１、ＸＹアライメント光源２１、及び照明光源４０は、たとえばＬＥＤ（ｌｉｇｈｔｅｍｉｔｔｉｎｇｄｉｏｄｅ）を含んで構成される。
【００２８】
（レフ測定投影系５、レフ測定受光系６）
レフ測定投影系５とレフ測定受光系６とによりレフ測定系が構成される。レフ測定投影系５は、レフ測定光源５１から出力された光（赤外光）をリング状の測定パターン光束として被検眼Ｅの眼底Ｅｆに投影する機能を有する。レフ測定受光系６は、レフ測定投影系５により被検眼Ｅに投影された測定パターン光束の戻り光を受光する機能を有する。
【００２９】
レフ測定投影系５は、レフ測定光源５１と、コンデンサレンズ５２と、反射ミラー５３と、円錐プリズム５４Ａと、リレーレンズ５４Ｂと、リング絞り５４Ｃと、穴開きプリズム５５と、クイックリターンミラー５７とを含む。また、レフ測定投影系５は、更に、ダイクロイックミラー４２と、対物レンズ４１とを含んでもよい。レフ測定光源５１は、レフ測定投影系５の光軸に沿って移動可能に構成される。
【００３０】
レフ測定受光系６は、リレーレンズ６１と、合焦レンズ６２と、結像レンズ６３と、撮像素子（ＣＣＤ）６４とを含む。レフ測定受光系６は、更に、対物レンズ４１と、ダイクロイックミラー４２と、クイックリターンミラー５７と、穴開きプリズム５５とを含んでもよい。合焦レンズ６２は、レフ測定受光系６の光軸に沿って移動可能に構成される。合焦レンズ６２とレフ測定光源５１と固視標ユニット３１とは、連係してそれぞれの光軸方向に移動される。撮像素子６４の出力は、処理部９に入力される。対物レンズ４１と、ダイクロイックミラー４２と、クイックリターンミラー５７と、穴開きプリズム５５とは、レフ測定投影系５と共用される。
【００３１】
レフ測定光源５１から出力された光は、コンデンサレンズ５２を通過し、反射ミラー５３にて反射され、円錐プリズム５４Ａ、リレーレンズ５４Ｂを透過してリング絞り５４Ｃに導かれる。リング絞り５４Ｃに導かれた光は、リング状のパターン部分を通過してリング状の測定パターン光束となる。この測定パターン光束は、穴開きプリズム５５の反射面にて反射され、クイックリターンミラー５７に導かれる。
【００３２】
クイックリターンミラー５７は、他覚屈折測定と眼軸長測定とを切り換えるために用いられる。他覚屈折測定を実行するとき、クイックリターンミラー５７は、ダイクロイックミラー４２により観察系４の光路から分岐された光路上に反射面を配置させる。それにより、レフ測定投影系５の光路及びレフ測定受光系６の光路の双方は、観察系４の光路に結合される。眼軸長測定を実行するとき、クイックリターンミラー５７は、ダイクロイックミラー４２により観察系４の光路から分岐された光路から退避される。それにより、眼軸長測定系７の光路は、観察系４の光路に結合される。
【００３３】
ここでは、クイックリターンミラー５７は、ダイクロイックミラー４２により観察系４の光路から分岐された光路上に反射面を配置させる。穴開きプリズム５５からクイックリターンミラー５７に導かれた測定パターン光束は、クイックリターンミラー５７にて反射され、ダイクロイックミラー４２にて反射され、対物レンズ４１を通過して被検眼Ｅに投影される。
【００３４】
被検眼Ｅに投影された測定パターン光束の戻り光は、対物レンズ４１を通過し、ダイクロイックミラー４２及びクイックリターンミラー５７にて反射され、穴開きプリズム５５の中心部を通過する。穴開きプリズム５５の中心部を通過した光は、リレーレンズ６１、合焦レンズ６２を透過し、結像レンズ６３により撮像素子６４の撮像面に結像される。
【００３５】
（眼軸長測定系７）
眼軸長測定系７は、ＯＣＴユニット８０と、コリメータレンズ７１と、合焦レンズ７２と、リレーレンズ７３と、反射ミラー７４と、瞳レンズ７５とを含む。眼軸長測定系７は、更に、ダイクロイックミラー４２と、対物レンズ４１とを含んでもよい。ＯＣＴユニット８０は、ＯＣＴ光源８１と、ファイバーカプラー８２と、光路長変更ユニット９０とを含む。ＯＣＴユニット８０は、更に、分光器８３を含んでもよい。ダイクロイックミラー４２と、対物レンズ４１とは、観察系４と共用される。合焦レンズ７２は、眼軸長測定系７の光軸に沿って移動可能に構成される。合焦レンズ７２は、固視標ユニット３１と合焦レンズ６２とレフ測定光源５１と連係してそれぞれの光軸方向に移動されてよい。
【００３６】
ＯＣＴ光源８１から出力された光（赤外光）は、ファイバーカプラー８２により測定光ＬＳと参照光ＬＲとに分割される。測定光ＬＳは、ＯＣＴユニット８０から出力され、光ファイバーによりコリメータレンズ７１に導光される。参照光ＬＲは、光ファイバーにより光路長変更ユニット９０に導光される。光路長変更ユニット９０は、参照光ＬＲの光路長を変更する。
【００３７】
ここでは、クイックリターンミラー５７は、ダイクロイックミラー４２により観察系４の光路から分岐された光路から退避される。測定光ＬＳは、コリメータレンズ７１により平行光束とされ、合焦レンズ７２、リレーレンズ７３を通過し、反射ミラー７４にて反射され、瞳レンズ７５を通過し、ダイクロイックミラー４２に導かれる。ダイクロイックミラー４２に導かれたＯＣＴユニット８０からの測定光ＬＳは、ダイクロイックミラー４２にて反射され、対物レンズ４１を通過して被検眼Ｅの眼底Ｅｆに投影される。
【００３８】
眼底Ｅｆに投影された測定光の戻り光は、対物レンズ４１を通過し、測定光と同じ経路でＯＣＴユニット８０に導かれる。ＯＣＴユニット８０は、ファイバーカプラー８２によって光路長変更ユニット９０により光路長が変更された参照光と測定光の戻り光とを干渉させて干渉光ＬＣを生成する。光路長変更ユニット９０は、コリメータレンズ９１と、ビームスプリッター９２と、網膜用シャッター９３と、網膜用参照ミラーユニット９４と、角膜用シャッター９５と、角膜用参照ミラーユニット９６とを含む。網膜用参照ミラーユニット９４は、結像レンズ９４Ａと、参照ミラー９４Ｂとを含む。角膜用参照ミラーユニット９６は、結像レンズ９６Ａと、参照ミラー９６Ｂとを含む。ビームスプリッター９２は、ファイバーカプラー８２によって分割された参照光ＬＲが導かれた参照光路を網膜測定用の参照光路と角膜測定用の参照光路とに分割する。干渉光ＬＣは、光ファイバーにより分光器８３に導光される。分光器８３では、空間的に波長分離された光がラインセンサーに投影される。処理部９は、このラインセンサーから出力された信号に対し公知のＦＦＴ（Ｆａｓｔ  Ｆｏｕｒｉｅｒ  Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ：以下、ＦＦＴ）等の信号処理を施すことにより深さ方向の情報を取り出すことができる。
【００３９】
眼科装置１０００の各部は処理部９によって制御される。処理部９は、Ｚアライメント光源１１、ＸＹアライメント光源２１、固視光源３１Ａ、レフ測定光源５１、ＯＣＴ光源８１、固視標ユニット３１、レフ測定光源５１、合焦レンズ６２、７２、光路長変更ユニット９０、表示部１０などを制御する。
【００４０】
（他覚測定機能）
他覚屈折測定を実行する場合、処理部９は、レフ測定光源５１を点灯させる。レフ測定光源５１からの光は、上記のようにリング状の測定パターン光束となって被検眼Ｅに投影される。被検眼Ｅが正視（＝０Ｄ）の場合には、レフ測定光源５１と被検眼Ｅの眼底Ｅｆが共役となる位置がレフ測定光源５１と合焦レンズ６２の基準位置となっている。この状態で眼底Ｅｆに投影された光束は眼底Ｅｆで反射され、眼底Ｅｆからの戻り光に基づくリング像が撮像素子６４に結像される。また、結像されたリング像から算出される測定値（屈折値）に基づき、レフ測定光源５１と眼底Ｅｆが略共役となる位置にレフ測定光源５１と合焦レンズ６２とが移動される。処理部９は、撮像素子６４により検出された眼底Ｅｆからの戻り光に基づく像を解析し、レフ測定光源５１の移動量を加味することにより、被検眼Ｅの屈折力として球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ、及び乱視軸角度Ａを求める。
【００４１】
レフ測定光源５１は、たとえばＳＬＤ（Ｓｕｐｅｒ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ  Ｄｉｏｄｅ）のような広帯域の低コヒーレンス光を出力する。レフ測定光源５１は、たとえば、中心波長が８２０ｎｍ〜８８０ｎｍの範囲に含まれる低コヒーレンス光源である。これにより、測定光が視認されることによる被検者の負担を軽減しつつ、他覚屈折測定が可能になる。
【００４２】
（眼軸長測定機能）
眼軸長測定を実行する場合、処理部９は、光路長変更ユニット９０を制御しつつ被検眼Ｅの角膜頂点から網膜までの距離を眼軸長として測定する。まず、処理部９は、ＯＣＴ光源８１を点灯させる。ＯＣＴ光源８１の点灯に同期して、光路長変更ユニット９０が制御される。具体的には、角膜用シャッター９５がビームスプリッター９２と角膜用参照ミラーユニット９６との間の光路に挿入され、網膜用シャッター９３がビームスプリッター９２と網膜用参照ミラーユニット９４との間の光路から退避される。ＯＣＴ光源８１からの光Ｌ０は、ファイバーカプラー８２により測定光ＬＳと参照光ＬＲとに分割される。測定光ＬＳは、上記のように被検眼Ｅの眼底Ｅｆに投影される。このとき、クイックリターンミラー５７は、光路外に退避されている。また、前述の被検眼Ｅの屈折力測定結果より、ファイバー端面は被検眼Ｅの眼底Ｅｆと共役となるように合焦レンズ７２が移動されている。眼底Ｅｆで反射された光は同光路を戻りファイバー端面に投影され、ファイバーカプラー８２に到達する。
【００４３】
一方、参照光ＬＲは、コリメータレンズ９１により平行光となり、５０：５０のビームスプリッター９２により２つの光束（角膜用、網膜用）に分割される。ビームスプリッター９２により分割された網膜用の光束は、結像レンズ９４Ａにより参照ミラー（反射ミラー）９４Ｂに集光される。ビームスプリッター９２により分割された角膜用の光束は、結像レンズ９６Ａにより参照ミラー（反射ミラー）９６Ｂに集光される。ここで、前述のように、角膜用シャッター９５が光路に挿入され、且つ、網膜用シャッター９３が光路から退避されているので、参照ミラー９４Ｂから反射した光のみが、同光路を戻りファイバーカプラー８２に到達する。眼底Ｅｆ及び参照ミラー９４Ｂで反射した光は、ファイバーカプラー８２で合波され干渉信号（干渉光ＬＣ）として、分光器８３に導かれる。分光器８３では、空間的に波長分離された光がラインセンサーに投影される。処理部９は、このラインセンサーから出力された信号に対し公知のＦＦＴ等の信号処理を施すことにより深さ方向の情報を取り出すことができる。
【００４４】
網膜用参照ミラーユニット９４と角膜用参照ミラーユニット９６とは、被検眼Ｅの眼軸長に合わせて、干渉信号の位置が深さ方向で所定位置となるように移動される。たとえば、深さ方向に対するＦＦＴ後の干渉信号の強度変化を図５のように表す。この場合、図４に示すように網膜用参照ミラーユニット９４を光軸方向に移動させることにより、図５に示すように所定範囲内の所定位置となるように網膜による干渉信号ＳＣ０の位置を移動することができる。ここで、参照ミラー９６Ｂの位置については、固定されていてもよい。
【００４５】
更に、前述のＺアライメント投影系１を用いて角膜頂点座標が検出されるため、角膜頂点と対物レンズ４１の距離（作動距離）を常に一定距離内に合わせることが可能となる。ここで、角膜用シャッター９５が光路から退避されると、被検眼Ｅに投影された光のうち、被検眼Ｅの角膜Ｋで反射した光との干渉信号が分光器８３に同時に投影される。作動距離が所定範囲内である場合、参照ミラー９６Ｂは、網膜による干渉信号ＳＣ１と重ならないように角膜位置とは距離ｄだけ離れた位置になるように配置されている（図６）。従って、図７（図５と同様に深さ方向に対するＦＦＴ後の干渉信号の強度変化を表す）に示すように、干渉信号計測範囲Ｒ内で、同時に２つの干渉信号（網膜による干渉信号ＳＣ１及び角膜による干渉信号ＳＣ２）を取得することが可能となる。特に、図７に示すように信号感度ＳＣが変化する場合、信号成分の弱い網膜による干渉信号ＳＣ１を信号感度の高い計測範囲Ｒ１で検出し、信号成分の強い角膜による干渉信号ＳＣ２を信号感度の弱い計測範囲Ｒ２で検出する。それにより、２つの干渉信号を高精度に同時に取得することができる。
【００４６】
なお、ＯＣＴユニット８０がスウェプトソースタイプのＯＣＴ装置と同様の構成を有する場合、低コヒーレンス光を出力するＯＣＴ光源８１の代わりに波長掃引光源が設けられるとともに、干渉光をスペクトル分解する光学部材が設けられない。ＯＣＴユニット８０の構成については、ＯＣＴのタイプに応じた公知の技術を任意に適用することができる。
【００４７】
ＯＣＴ光源８１は、たとえばＳＬＤ（Ｓｕｐｅｒ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ  Ｄｉｏｄｅ）のような広帯域の低コヒーレンス光Ｌ０を出力する。ＯＣＴ光源８１は、たとえば、中心波長が８２０ｎｍ〜８８０ｎｍまたは１０４０〜１０６０ｎｍの範囲に含まれる低コヒーレンス光源である。これにより、測定光が視認されることによる被検者の負担を軽減しつつ、他覚屈折測定及びＯＣＴ計測の双方が可能になる。
【００４８】
なお、コリメータレンズ９１と参照ミラー９４Ｂ、９６Ｂとの間の参照光ＬＲの光路に、ガラスブロックや濃度フィルターが配置されていてもよい。ガラスブロックや濃度フィルターは、参照光ＬＲと測定光ＬＳの光路長（光学距離）を合わせるための遅延手段として作用する。また、ガラスブロックや濃度フィルターは、参照光ＬＲと測定光ＬＳの分散特性や網膜用参照ミラーユニット９４と角膜用参照ミラーユニット９６との分散特性を合わせるための手段として作用する。
【００４９】
分光器８３は、たとえば、コリメータレンズ、回折格子、結像レンズ、ＣＣＤを含んで構成される。分光器８３に入射した干渉光ＬＣは、コリメータレンズにより平行光束とされた後、回折格子によって分光（スペクトル分解）される。分光された干渉光ＬＣは、結像レンズによってＣＣＤの撮像面上に結像される。ＣＣＤは、この干渉光ＬＣを受光して電気的な検出信号に変換し、この検出信号を処理部９に出力する。処理部９は、ＣＣＤからの検出信号に基づいて、被検眼Ｅの断層のＯＣＴ情報（たとえば、画像データなど）を生成する。この処理には、従来のスペクトラルドメインタイプのＯＣＴと同様に、ノイズ除去（ノイズ低減）、フィルター処理、ＦＦＴなどの処理が含まれている。
【００５０】
また、ＯＣＴユニット８０がスウェプトソースタイプのＯＣＴ装置と同様の構成を有する場合、分光器８３は、たとえば、光分岐器と、バランスドフォトダイオード（Ｂａｌａｎｃｅｄ  Ｐｈｏｔｏ  Ｄｉｏｄｅ：ＢＰＤ）とを含んで構成される。分光器８３に入射した干渉光ＬＣは、光分岐器により分割され、一対の干渉光に変換される。ＢＰＤは、一対の干渉光をそれぞれ検出する一対のフォトディテクタを有し、これらによる検出信号（検出結果）の差分を処理部９に出力する。
【００５１】
なお、この実施形態ではマイケルソン型の干渉計を採用したが、たとえばマッハツェンダー型など任意のタイプの干渉計を適宜採用することが可能である。
【００５２】
この実施形態において、Ｚアライメント投影系１及びＸＹアライメントスポット投影系２の構成、眼屈折力の測定原理などは公知であるので、詳細な説明は省略する。
【００５３】
（情報処理系の構成）
眼科装置１０００の情報処理系について説明する。眼科装置１０００の情報処理系の機能的構成の例を図８及び図９に示す。情報処理系は、制御部１１０と、演算処理部１２０と、表示部１７０と、操作部１８０と、通信部１９０とを含む。制御部１１０は、演算処理部１２０、Ｚアライメント投影系１、ＸＹアライメントスポット投影系２、固視系３、観察系４、レフ測定投影系５、レフ測定受光系６、眼軸長測定系７、表示部１７０及び通信部１９０を制御する。処理部９は、たとえば、制御部１１０と、演算処理部１２０とを含んで構成される。
【００５４】
（制御部１１０）
制御部１１０は、主制御部１１１と、記憶部１１２とを有する。制御部１１０は、たとえば、マイクロプロセッサ、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）、ハードディスクドライブ等を含んで構成される。
【００５５】
（主制御部１１１）
主制御部１１１は、眼科装置１０００の各種制御を行う。主制御部１１１は、Ｚアライメント投影系１のＺアライメント光源１１やラインセンサー１３、ＸＹアライメントスポット投影系２のＸＹアライメント光源２１を制御する。それにより、Ｚアライメント光源１１やＸＹアライメント光源２１の点灯や非点灯が切り換えられる。また、ラインセンサー１３により検出された信号が取り込まれ、取り込まれた信号に基づくアライメント制御等が行われる。
【００５６】
主制御部１１１は、固視系３の固視標ユニット３１、固視光源３１Ａ、及び固視標板３１Ｄを制御する。それにより、固視標ユニット３１は光軸方向の位置が変更されたり、固視光源３１Ａの点灯や非点灯が切り換えられたり、固視標板３１Ｄに表示される固視標が変更されたりする。
【００５７】
主制御部１１１は、観察系４の照明光源４０や撮像素子４９を制御する。それにより、照明光源４０の点灯や非点灯が切り換えられたり、撮像素子４９により取得された信号が取り込まれ、演算処理部１２０により画像の形成等が行われたりする。
【００５８】
主制御部１１１は、レフ測定投影系５のレフ測定光源５１、クイックリターンミラー５７を制御する。それにより、レフ測定光源５１をレフ測定投影系５の光軸に沿って移動させたり、レフ測定光源５１の点灯や非点灯が切り換えられたり、クイックリターンミラー５７により光路が切り換えられたりする。また、主制御部１１１は、レフ測定受光系６の合焦レンズ６２や撮像素子６４を制御する。主制御部１１１は、合焦レンズ６２を固視標ユニット３１に連動してレフ測定受光系６の光軸に沿って移動させる。それにより、レフ測定受光系６の合焦位置が変更されたり、撮像素子６４により取得された信号が取り込まれ、演算処理部１２０により画像の形成等が行われたりする。
【００５９】
主制御部１１１は、眼軸長測定系７の合焦レンズ７２、ＯＣＴ光源８１、分光器８３、網膜用シャッター９３、角膜用シャッター９５、網膜用参照ミラーユニット９４、及び角膜用参照ミラーユニット９６を制御する。それにより、眼軸長測定系７の合焦位置が変更されたり、分光器８３により取得された信号が取り込まれ、演算処理部１２０により画像の形成等が行われたりする。主制御部１１１は、合焦レンズ７２を固視標ユニット３１、レフ測定光源５１及び合焦レンズ６２に連動して眼軸長測定系７の光軸に沿って移動させてもよい。
【００６０】
また、主制御部１１１は、記憶部１１２にデータを書き込む処理や、記憶部１１２からデータを読み出す処理を行う。
【００６１】
この実施形態では、主制御部１１１は、レフ測定投影系５及びレフ測定受光系６により当該被検眼に対して事前に行われた眼屈折力測定の測定情報を用いて眼軸長測定系７を制御する。測定情報は、眼屈折力の測定が行われた後に記憶部１１２に記憶される。測定情報は、この実施形態のように同一装置にて実行された眼屈折力測定により取得された情報であってもよいし、図１に示す外部装置９００によって送信された情報であってもよい。
【００６２】
測定情報は、眼屈折力の測定が行われたときのレフ測定投影系５及びレフ測定受光系６の測定条件、及び当該測定により得られた測定結果のうち少なくとも一方を含む。測定条件は、レフ測定投影系５及びレフ測定受光系６に含まれる光学素子の配置情報を含む。光学素子の配置情報には、たとえば、合焦レンズ６２の合焦位置（レフ測定受光系６の光軸上の位置）などがある。測定結果は、レフ測定投影系５により投影されたリング状の測定パターン光束の眼底Ｅｆからの戻り光に基づくリング像（パターン像）の形状を解析することにより得られた情報を含む。リング像の形状を解析することにより得られた情報は、取得されたリング像、その重心位置、形状、近似楕円の形状等の解析途中の結果や解析結果を含んでもよい。
【００６３】
主制御部１１１は、上記の測定情報に基づいて、眼軸長測定系７による眼軸長の測定条件を変更することが可能である。その具体例として、主制御部１１１は、測定情報に基づいて、眼軸長測定系７に含まれる光学素子の位置を制御する。たとえば、主制御部１１１は、測定情報に基づいて、測定光ＬＳのフォーカス位置を変更する合焦レンズ７２を眼軸長測定系７の光軸に沿って移動させる。たとえば、主制御部１１１は、測定情報に基づいて、固視標板３１Ｄ（固視標）の合焦位置に対応した位置に合焦レンズ７２を移動させる。
【００６４】
また、主制御部１１１は、測定情報に基づいて、被検眼Ｅに対する測定光ＬＳの照射条件や分光器８３による干渉光ＬＣの検出条件を制御することが可能である。たとえば、主制御部１１１は、測定情報に基づいて、ＯＣＴ光源８１から出力される光の光量を変更する。また、主制御部１１１は、測定情報に基づいて、測定光ＬＳの光路に配置された光量調整部材（たとえば、光減衰器）を制御するようにしてもよい。また、主制御部１１１は、分光器８３による干渉光ＬＣの検出感度や分光器８３における干渉光の露光時間を変更するようにしてもよい。
【００６５】
記憶部１１２には、眼軸長測定系７に対する制御情報が測定情報にあらかじめ対応付けられた対応情報が記憶されている。主制御部１１１は、対応情報を参照することにより、測定情報に対応した制御情報に基づいて眼軸長測定系７を制御することが可能である。
【００６６】
以上のように、この実施形態によれば、事前に取得された被検眼Ｅに対する測定情報を用いて眼軸長測定系７を制御することにより、事前に認識された当該被検眼の白内障の進行度合いに応じた測定環境で眼軸長を測定することが可能になる。
【００６７】
（記憶部１１２）
記憶部１１２は、各種のデータを記憶する。記憶部１１２に記憶されるデータとしては、たとえば、各モードにおける光学素子の設定情報、ＯＣＴ情報の画像データ、眼底像の画像データ、被検眼情報、上記の測定情報などがある。被検眼情報は、患者ＩＤや氏名などの被検者に関する情報や、左眼／右眼の識別情報などの被検眼に関する情報を含む。測定情報は、眼科装置１０００の内部または外部にて被検眼Ｅの眼屈折力測定が行われたときに記憶部１１２に記憶される。また、記憶部１１２には、眼科装置１０００を動作させるための各種プログラムやデータが記憶されている。
【００６８】
（表示部１７０、操作部１８０）
表示部１７０は、制御部１１０による制御を受けて情報を表示する。表示部１７０は、図１などに示す表示部１０を含む。
【００６９】
操作部１８０は、眼科装置１０００を操作するために使用される。操作部１８０は、眼科装置１０００に設けられた各種のハードウェアキー（ジョイスティック８００、ボタン、スイッチなど）を含む。また、操作部１８０は、タッチパネル式の表示画面１０ａに表示される各種のソフトウェアキー（ボタン、アイコン、メニューなど）を含む。
【００７０】
表示部１７０及び操作部１８０の少なくとも一部が一体的に構成されていてもよい。その典型例として、タッチパネル式の表示画面１０ａがある。
【００７１】
（通信部１９０）
通信部１９０は、図１に示す外部装置９００と通信するための機能を有する。通信部１９０は、たとえば処理部９に設けられていてもよい。通信部１９０は、外部装置９００との通信の形態に応じた構成を有する。
【００７２】
（演算処理部１２０）
演算処理部１２０は、眼屈折力算出部１２１と、眼軸長算出部１２２と、ＩＯＬ度数算出部１２３とを含む。また、演算処理部１２０は、ラインセンサー１３や撮像素子４９、６４や分光器８３により取得された信号を取り込み、各種の制御や画像の形成や解析等を行う。
【００７３】
眼屈折力算出部１２１は、被検眼Ｅに投影されたリング状の測定パターン光束の眼底Ｅｆからの戻り光に基づくリング像の形状を解析することにより被検眼Ｅの眼球光学系の眼屈折力を算出する。たとえば、眼屈折力算出部１２１は、戻り光に基づくリング像が描出された画像を解析し、リング像の重心位置を求める。眼屈折力算出部１２１は、画像内の画素値（輝度値）の分布を求めることによりリング像の重心に位置を求めることが可能である。次に、眼屈折力算出部１２１は、求められた重心位置を中心にリング像の外周方向に延びる複数の走査方向について画素値（輝度値）を走査し、各走査方向の輝度分布を求める。眼屈折力算出部１２１は、各走査方向の輝度分布から所定の輝度値の範囲内の中心位置を求めることによりリング像を特定し、特定されたリング像に対して楕円近似処理を行うことにより近似楕円を特定する。眼屈折力算出部１２１は、特定された近似楕円の長径の長さと短径の長さとを用いた公知の式に従って、球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ、及び乱視軸角度Ａを求める。
【００７４】
眼軸長算出部１２２は、眼軸長測定系７を用いて取得された図７に示す２つの干渉信号を用いて被検眼Ｅの眼軸長を算出する。
【００７５】
ＩＯＬ度数算出部１２３は、被検眼Ｅの眼屈折力と眼軸長とを用いて、公知の計算式によりＩＯＬの度数を求める。なお、ＩＯＬ度数算出部１２３は、眼屈折力や眼軸長以外の眼球情報を用いて、ＩＯＬの度数を求めてもよい。このような眼球情報として、角膜厚、前房深度、水晶体厚などがある。
【００７６】
眼軸長測定系７及び眼軸長算出部１２２は、この実施形態に係る「眼軸長測定部」の一例である。制御部１１０（主制御部１１１）は、この実施形態に係る「制御部」の一例である。記憶部１１２は、この実施形態に係る「測定情報記憶部」の一例である。ＯＣＴユニット８０は、この実施形態に係る「干渉光学系」の一例である。分光器８３は、この実施形態に係る「検出部」の一例である。レフ測定投影系５、レフ測定受光系６、及び眼屈折力算出部１２１は、この実施形態に係る「屈折力測定部」の一例である。
【００７７】
＜動作例＞
この実施形態に係る眼科装置１０００の動作例について説明する。
【００７８】
図１０に、この実施形態に係る眼科装置１０００の動作例のフロー図を示す。
【００７９】
（Ｓ１）
まず、被検者の顔を顔受け部５００で固定した後、操作部１８０に対する検者の操作を受け、制御部１１０は、照明光源４０を点灯させるとともに、Ｚアライメント光源１１やＸＹアライメント光源２１や固視光源３１Ａを点灯させる。照明光源４０の点灯により被検眼Ｅの前眼部が照明され、観察系４の撮像素子４９の撮像面上に前眼部像が結像される。処理部９は、撮像素子４９の撮像面上に結像された前眼部像の撮像信号を取得し、表示部１７０（表示部１０の表示画面１０ａ）に前眼部像Ｅ’を表示させる。その後、ヘッド部４００が被検眼Ｅの検査位置に移動される。検査位置とは、被検眼Ｅの検査を行うことが可能な位置である。前述のアライメント（Ｚアライメント投影系１及びＸＹアライメントスポット投影系２と観察系４とによる）を介して被検眼Ｅが検査位置に配置される。ヘッド部４００の移動は、ユーザによる操作若しくは指示または制御部１１０による指示に従って、制御部１１０によって実行される。すなわち、被検眼Ｅの検査位置へのヘッド部４００の移動と、他覚測定を行うための準備とが行われる。Ｓ１のアライメント状態が適正になったとき、眼科装置１０００の動作はＳ２に移行する。Ｓ２への移行は、制御部１１０からの指示、または操作部１８０に対するユーザの操作若しくは指示により行われる。
【００８０】
（Ｓ２）
制御部１１０は、レフ測定光源５１と合焦レンズ６２とを光軸に沿って移動させることによりフォーカス調整を行う。フォーカス調整は、ユーザによる操作若しくは指示または制御部１１０による指示に従って、制御部１１０によって実行される。レフ測定光源５１及び合焦レンズ６２に連動して、固視標ユニット３１が固視系３の光軸に沿って移動される。Ｓ２のフォーカス状態が適正になったとき、制御部１１０は、固視系３やレフ測定受光系６に含まれる光学素子の配置を特定する配置情報を測定情報として記憶部１１２に保存する。この実施形態では、ユーザによってフォーカス調整のための操作または指示が終了したとき、Ｓ２のフォーカス状態が適正になったと判断される。或いは、制御部１１０によって公知の手法によりフォーカス調整が適正であると判定されたとき、Ｓ２のフォーカス状態が適正になったと判断される。Ｓ２のフォーカス状態が適正になったとき、眼科装置１０００の動作はＳ３に移行する。
【００８１】
（Ｓ３）
制御部１１０は、ダイクロイックミラー４２により観察系４の光路から分岐された光路上にクイックリターンミラー５７の反射面を配置させる。Ｓ３では、前述のように眼屈折力測定が行われ、眼屈折力算出部１２１は、眼屈折力を算出する。制御部１１０では、算出された眼屈折力や測定時に取得されたリング像等が測定情報として記憶部１１２に記憶される。眼屈折力測定が終了したとき、眼科装置１０００の動作はＳ４に移行する。Ｓ４への移行は、制御部１１０からの指示、または操作部１８０に対するユーザの操作若しくは指示により行われる。
【００８２】
（Ｓ４）
制御部１１０は、ダイクロイックミラー４２により観察系４の光路から分岐された光路からクイックリターンミラー５７を退避させる。続いて、制御部１１０は、記憶部１１２にあらかじめ記憶された対応情報を参照して、Ｓ２において保存された測定情報に対応した制御情報に基づいて眼軸長測定系７を制御する。たとえば、制御部１１０は、眼軸長測定系７に含まれる光学素子（合焦レンズ７２）の位置、ＯＣＴ光源８１から出力される光の光量、分光器８３による干渉光ＬＣの検出感度、及び分光器８３における干渉光の露光時間のうち少なくとも１つを変更する。Ｓ４では、前述のように眼軸長測定が行われ、眼軸長算出部１２２は、眼軸長を算出する。制御部１１０では、算出された眼球情報が記憶部１１２に記憶される。
【００８３】
Ｓ４では、Ｓ２及びＳ３で保存された測定情報を用いるようにしたので、眼屈折力測定時に認識された当該被検眼Ｅの白内障の進行度合いに応じた測定環境で眼軸長測定が可能になる。たとえば、ＯＣＴ光源８１から出力される光の光量を増大させたり、分光器８３による干渉光ＬＣの検出感度を高くしたり、干渉光ＬＣの露光時間を長くしたりすることで、ＩＯＬの度数計算に必要な眼軸長の測定エラーの発生を抑えることができる。また、眼屈折力測定前と眼軸長測定前に同様のシーケンスで行われるフォーカス調整等を眼軸長測定前に行う必要がなくなり、ＩＯＬ度数計算に必要な測定シーケンスを簡略化することが可能になる。それにより、測定時間の短縮化が可能となり、被検者の検査負担を軽減することができる。
【００８４】
眼軸長測定が終了したとき、眼科装置１０００の動作はＳ５に移行する。Ｓ５への移行は、制御部１１０からの指示、または操作部１８０に対するユーザの操作若しくは指示により行われる。
【００８５】
（Ｓ５）
演算処理部１２０は、Ｓ３及びＳ４で求められた被検眼Ｅの眼屈折力と眼軸長とを用いて、ＩＯＬの度数を求める。制御部１１０では、求められたＩＯＬ度数が記憶部１１２に記憶される。以上で、眼科装置１０００の動作は、終了となる（エンド）。
【００８６】
［作用・効果］
実施形態に係る眼科装置１０００の作用及び効果について説明する。
【００８７】
実施形態に係る眼科装置は、測定情報記憶部（たとえば、記憶部１１２）と、眼軸長測定部（たとえば、眼軸長測定系７及び眼軸長算出部１２２）と、制御部（たとえば、制御部１１０または主制御部１１１）とを含む。測定情報記憶部は、被検眼（たとえば、被検眼Ｅ）の屈折力を測定することにより得られた測定情報をあらかじめ記憶する。眼軸長測定部は、光源（たとえば、ＯＣＴ光源８１）からの光を被検眼に照射してその戻り光を検出することにより被検眼の眼軸長を測定する。制御部は、測定情報記憶部に記憶された測定情報に基づいて眼軸長測定部を制御する。
【００８８】
このような構成によれば、眼軸長測定に先立って行われた眼屈折力測定により得られた測定情報を当該被検眼の眼軸長測定にフィードバックすることができる。従って、被検眼が白内障を伴う場合、事前に認識された当該被検眼の白内障の進行度合いに応じた測定環境で眼軸長を測定することが可能になる。これにより、ＩＯＬの度数計算に必要な眼軸長の測定エラーの発生を抑えるとともに、眼屈折力測定前と眼軸長測定前に同様に行われるシーケンスを省略し、測定シーケンスを簡略化することが可能になる。その結果、測定時間の短縮化を図ることができ、被検者の検査負担を軽減することができる。
【００８９】
また、制御部は、測定情報に基づいて、眼軸長測定部に含まれる光学素子を制御してもよい。
【００９０】
このような構成によれば、眼屈折力測定前と眼軸長測定前に同様に行われるフォーカス調整等を省略し、測定シーケンスを簡略化することが可能になる。
【００９１】
また、眼軸長測定部は、測定用の光のフォーカス位置を変更する合焦レンズ（たとえば、合焦レンズ７２）を含み、制御部は、測定情報に基づいて合焦レンズを光軸に沿って移動させてもよい。
【００９２】
このような構成によれば、眼屈折力測定により得られた測定情報に基づいて、測定光のフォーカス位置を変更する合焦レンズを制御するようにしたので、眼軸長測定前のフォーカス調整を省略することができる。
【００９３】
また、眼科装置は、固視系（たとえば、固視系３）を含んでもよい。固視系は、被検眼の眼底（たとえば、眼底Ｅｆ）に固視標を投影するために用いられる。制御部は、測定情報に基づいて、固視標の合焦位置に対応した位置に合焦レンズを移動させる。
【００９４】
このような構成によれば、固視標により固視させた状態で眼軸長を測定することができるため、眼軸長の測定光軸と被検眼の視軸との位置関係が一定の状態で眼軸長を測定することができる。従って、被検眼とその測定光学系との位置関係が適正な状態で、眼軸長を測定することが可能になる。これにより、眼軸長についての測定精度が向上し、ＩＯＬの度数を高精度に求めることができるようになる。
【００９５】
また、眼軸長測定部は、干渉光学系（たとえば、ＯＣＴユニット８０）と、検出部（たとえば、分光器８３）と、眼軸長算出部（たとえば、眼軸長算出部１２２）とを含んでもよい。干渉光学系は、光源（たとえば、ＯＣＴ光源８１）からの光を参照光（たとえば、参照光ＬＲ）と測定光（たとえば、測定光ＬＳ）とに分割し、測定光を被検眼に照射し、その戻り光と参照光との干渉光（たとえば、干渉光ＬＣ）を生成する。検出部は、干渉光を検出する。眼軸長算出部は、検出部により得られた干渉光の検出結果に基づいて被検眼の眼軸長を算出する。
【００９６】
このような構成によれば、事前に認識された当該被検眼の白内障の進行度合いに応じて、ＯＣＴにより眼軸長を測定することができるため、ＩＯＬの度数計算に必要な眼軸長の測定エラーの発生を抑え、且つ、眼軸長を高精度に測定することができる。
【００９７】
また、制御部は、測定情報に基づいて、光源からの光の光量、検出部による干渉光の検出感度、及び検出部における干渉光の露光時間のうち少なくとも１つを変更してもよい。
【００９８】
このような構成によれば、簡素な制御により、白内障を伴う被検眼を有する被検者の検査負担を軽減することが可能な眼科装置を提供することができる。
【００９９】
また、測定情報は、屈折力の測定が行われたときの測定条件を含んでもよい。
【０１００】
このような構成によれば、眼屈折力測定が行われたときの測定条件を用いて眼軸長測定部を制御することができるので、眼軸長測定前に行われるシーケンスを省略することができる。
【０１０１】
また、測定条件は、屈折力の測定が行われた測定系（たとえば、レフ測定投影系５、レフ測定受光系６、及び眼屈折力算出部１２１）の光学素子の配置情報を含んでもよい。
【０１０２】
このような構成によれば、眼屈折力測定において調整された光学素子の配置を流用して眼軸長測定を行うことで、シーケンスを省略することができる。
【０１０３】
また、測定情報は、被検眼に投影された測定パターンの戻り光に基づくパターン像を解析することにより得られた情報を含んでもよい。
【０１０４】
このような構成によれば、公知のパターン像の解析により得られた眼屈折力やその解析途中結果を用いて眼軸長測定部を制御することができるので、測定エラーの発生を抑えつつ、眼軸長を精度よく測定することができる。
【０１０５】
また、パターン像は、リング像であり、測定情報は、リング像の形状を解析することにより得られた情報を含んでもよい。
【０１０６】
このような構成によれば、公知のリング像の形状解析により得られた眼屈折力やその解析途中結果を用いて眼軸長測定部を制御することができるので、測定エラーの発生を抑えつつ、眼軸長を精度よく測定することができる。
【０１０７】
また、眼科装置は、屈折力測定部（たとえば、レフ測定投影系５、レフ測定受光系６、及び眼屈折力算出部１２１）を含んでもよい。屈折力測定部は、被検眼に測定パターンを投影してその戻り光に基づくパターン像を解析することにより屈折力を測定する。
【０１０８】
このような構成によれば、１つの眼科装置で眼屈折力測定と眼軸長測定の双方を実行可能となり、被検者の測定負荷を軽減し、白内障手術に好適な複合機を提供することができる。
【０１０９】
（その他の変形例）
以上に示された実施形態は、この発明を実施するための一例に過ぎない。この発明を実施しようとする者は、この発明の要旨の範囲内において任意の変形、省略、追加等を施すことが可能である。
【０１１０】
上記の実施形態では、演算処理部１２０が眼軸長を算出する例について説明したが、演算処理部１２０は、角膜厚や前房深度や水晶体厚についても同様に算出することが可能である。
【０１１１】
上記の実施形態において説明した光学素子やその配置に限定されるものではない。たとえば、上記の実施形態におけるハーフミラーに代えてビームスプリッターが設けられてもよい。
【０１１２】
眼圧測定機能、眼底撮影機能、前眼部撮影機能、光干渉断層撮影（ＯＣＴ）機能、超音波検査機能など、眼科分野において使用可能な任意の機能を有する装置に対して、上記の実施形態に係る発明を適用することが可能である。なお、眼圧測定機能は眼圧計等により実現される。眼底撮影機能は眼底カメラや走査型検眼鏡（ＳＬＯ）等により実現される。前眼部撮影機能はスリットランプ等により実現される。ＯＣＴ機能は光干渉断層計等により実現される。超音波検査機能は超音波診断装置等により実現される。また、このような機能のうち２つ以上を具備した装置（複合機）に対してこの発明を適用することも可能である。
【符号の説明】
【０１１３】
１  Ｚアライメント投影系
２  ＸＹアライメントスポット投影系
３  固視系
４  観察系
５  レフ測定投影系
６  レフ測定受光系
７  眼軸長測定系
９  処理部
１０、１７０  表示部
８０  ＯＣＴユニット
１１０  制御部
１１１  主制御部
１１２  記憶部
１２０  演算処理部
１２１  眼屈折力算出部
１２２  眼軸長算出部
１２３  ＩＯＬ度数算出部
１８０  操作部
１９０  通信部
２００  ベース
３００  架台
５００  顔受け部
６００  顎受け
７００  額当て
８００  ジョイスティック
９００  外部装置
１０００  眼科装置
Ｅ  被検眼
Ｅｆ  眼底
ＬＣ  干渉光
ＬＲ  参照光
ＬＳ  測定光
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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