(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
画面情報の描画周波数の推定対象となる表示装置から放射された電磁波を入力するアンテナ部と、
前記アンテナ部により入力した電磁波について所定の帯域の周波数成分の信号を出力するバンドパスフィルタ部と、
前記バンドパスフィルタ部により出力された信号を検波、復調する検波復調部と、
前記検波復調部から出力された信号を高速フーリエ変換することで周波数スペクトルを得る周波数特性確認部と、
前記周波数スペクトルにおいて、前記表示装置に表示される画面情報の水平方向の解像度と前記画面情報のリフレッシュレートとの積で示される第１の周波数の近傍、または前記表示装置に表示される画面情報の垂直方向の解像度と前記リフレッシュレートとの積で示される第２の周波数の近傍に、ノイズフロアより高い所定の電界強度レベルを有する周波数が存在する場合で、かつ、前記第１および第２の周波数の近傍の周波数およびこれらの高調波成分以外の周波数の電界強度レベルがノイズフロアより高い所定のレベルでない場合、前記存在する周波数のうち電界強度レベルのピークに対応する周波数を前記描画周波数の候補として推定し、前記所定の帯域を前記画面情報を含む電磁波の周波数の候補として推定する推定部と
を備えることを特徴とする電磁的情報漏洩評価装置。
【請求項２】
前記表示装置に表示させる画面情報の変更を制御する制御手段を備え、
前記推定部は、
前記変更された画面情報が表示される前記表示装置から放射される電磁波に基づいて前記周波数特性確認部が得る前記周波数スペクトルにおいて、前記放射される電磁波に前記画面情報が含まれる場合にノイズフロアより高い所定の電界強度レベルを有する周波数を、前記変更する前の画面情報の周期性と前記変更した後の画面情報の周期性との違いに基づいて推定し、前記周波数がノイズフロアより高い所定の電界強度レベルを有する場合に、前記変更する前の画面情報が表示される前記表示装置から放射される電磁波に基づく前記周波数スペクトルにおいて、前記高い電界強度レベルのピークに対応する周波数を前記描画周波数の候補として推定し、前記所定の帯域を前記画面情報を含む電磁波の周波数の候補として推定する
ことを特徴とする請求項１に記載の電磁的情報漏洩評価装置。
【請求項３】
電磁的情報漏洩評価装置に適用される方法であって、
画面情報の描画周波数の推定対象となる表示装置から放射された電磁波を入力し、
前記入力した電磁波について所定の帯域の周波数成分の信号を出力し、
前記出力された信号を検波、復調し、
前記検波、復調された信号を高速フーリエ変換することで周波数スペクトルを得て、
前記周波数スペクトルにおいて、前記表示装置に表示される画面情報の水平方向の解像度と前記画面情報のリフレッシュレートとの積で示される第１の周波数の近傍、または前記表示装置に表示される画面情報の垂直方向の解像度と前記リフレッシュレートとの積で示される第２の周波数の近傍に、ノイズフロアより高い所定の電界強度レベルを有する周波数が存在する場合で、かつ、前記第１および第２の周波数の近傍の周波数およびこれらの高調波成分以外の周波数の電界強度レベルがノイズフロアより高い所定のレベルでない場合、前記存在する周波数のうち電界強度レベルのピークに対応する周波数を前記描画周波数の候補として推定し、前記所定の帯域を前記画面情報を含む電磁波の周波数の候補として推定する
ことを特徴とする電磁的情報漏洩評価方法。
【請求項４】
前記表示装置に表示させる画面情報の変更を制御し、
前記変更された画面情報が表示される前記表示装置から放射される電磁波に基づいて得る前記周波数スペクトルにおいて、前記放射される電磁波に前記画面情報が含まれる場合にノイズフロアより高い所定の電界強度レベルを有する周波数を、前記変更する前の画面情報の周期性と前記変更した後の画面情報の周期性との違いに基づいて推定し、この周波数がノイズフロアより高い所定の電界強度レベルを有する場合に、前記変更する前の画面情報が表示される前記表示装置から放射される電磁波に基づく前記周波数スペクトルにおいて、前記高い電界強度レベルのピークに対応する周波数を前記描画周波数の候補として推定し、前記所定の帯域を前記画面情報を含む電磁波の周波数の候補として推定する
ことを特徴とする請求項３に記載の電磁的情報漏洩評価方法。
【請求項５】
請求項１に記載の電磁的情報漏洩評価装置の一部分として動作するコンピュータに用いられるプログラムであって、
前記コンピュータを、
前記アンテナ部、前記バンドパスフィルタ部、前記検波復調部、前記周波数特性確認部、および前記推定部
として機能させるための電磁的情報漏洩評価処理プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、電磁的情報漏洩評価装置、電磁的情報漏洩評価方法および電磁的情報漏洩評価処理プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
電子機器から放射される微弱な電磁波から情報を取得する電磁的盗聴の脅威が従来から指摘されている。例えば、ディスプレイ機器などからの漏洩電磁波を利用した画面盗視の脅威が懸念されてきた。この画面盗視の脅威は、電磁波の強度が比較的大きい据え置き型のディスプレイについて特に懸念されている。
【０００３】
画面情報をディスプレイ機器に転送するインタフェースが従来から用いられているアナログインタフェースである場合、機器内部、もしくはディスプレイ機器と電子機器とを接続する配線において、輝度情報を含むアナログ電圧値のｂｉｔ列として画面情報が伝送される。画面上に色彩変化や色の濃淡がある場合、上記のアナログ電圧値が変化するため、電磁界が少なからず発生し、所謂電磁波として外部に放射される可能性が有る。
【０００４】
大抵の場合、外部（遠方）まで放射される漏洩電磁波は、上記のアナログ電圧値の変化により発生する電磁界の高調波成分である。このため、漏洩電磁波をアンテナで受信し、検波、復調することで、元の画面情報を含むアナログ電圧値のｂｉｔ列を得ることができる。さらに、このｂｉｔ列を、アナログインタフェースに対応したモニタのＲＧＢ入力端子に入力し、画面盗視対象のディスプレイ機器に固有の垂直同期信号と水平同期信号とを同時に入力することで、表示画面内容を再現することができる（例えば非特許文献１参照）。
【０００５】
アナログインタフェースはラスタスキャン（Raster scan）方式で描画を行なうＣＲＴディスプレイ（ブラウン管型ディスプレイ）のためのインタフェースである。現在主流のＬＣＤディスプレイ（液晶ディスプレイ）においても、インタフェースの互換性を保つためにアナログインタフェースを備えているディスプレイは多い。
【０００６】
また、デジタルインタフェースを用いるＬＣＤディスプレイやタブレット端末においても、データがシリアルに処理および伝送される部分が機器内に存在すれば、画面情報を含む電磁波が液晶駆動部から漏洩する可能性があり、アナログインタフェースを備えたディスプレイと同様に画面盗視の脅威が懸念されている（例えば非特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００７】
【非特許文献１】鈴木康直，田島公博，馬杉正男，山根  宏、「ＰＣから放射される電磁波による情報漏洩への対策技術」、ＮＴＴ技術ジャーナル（2008.8月号）、p.11-15、２０１６年１月２５日検索、インターネット＜ＵＲＬ：http://www.ntt.co.jp/journal/0808/files/jn200808011.pdf＞
【非特許文献２】Y. Hayashi, N. Homma, M. Miura, T. Aoki, H. Sone, "A Threat for Tablet PCs in Public Space: Remote Visualization of Screen Images Using EM Emanation,” 21st ACM Conference on Computer and Communications Security (CCS'14),PP.954-965,2014.、２０１６年１月２５日検索、インターネット＜ＵＲＬ：http://dl.acm.org/citation.cfm?id=2660292＞
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
上記のような情報漏洩への対策としては、電子機器から漏洩する電磁波を遮断することが考えられる。しかし、通常、ディスプレイを備える電子機器から放射される電磁波をアンテナで受信した場合、この受信される電磁波は、電子機器内部で発生している信号成分や、この信号成分の高調波成分を含んでおり、広帯域な周波数成分を有することが多い。つまり、ディスプレイ上の表示画面とは関連しない周波数成分もあわせて受信されるため、ディスプレイ上の表示画面と関連する周波数成分のみを特定して、これを遮断することは困難である。
【０００９】
そのため、漏洩電磁波を介した画面盗視の脅威に対する対策を実施するためには、広帯域の電磁波を遮断するシールド対策等が必要となるが、対策法により対応周波数帯域が異なるため、広帯域の電磁波への対応は困難である。
【００１０】
また、漏洩電磁波の中で画面情報に相当する周波数が分かれば、対象周波数領域についての遮断対策が可能となるが、そもそも、電子機器から画面情報が漏洩しているかどうかを評価する方法や、画面情報が漏洩している場合に、どの周波数帯に対して漏洩対策を行えばよいかを適切に評価する方法がなかった。
【００１１】
また、情報漏洩の脅威を低減させるために、電子機器外部に画面情報を含む電磁波を漏洩させないための対策を行う際、どの周波数帯に画面情報が含まれているのかを特定するのに非常に時間がかかるため、効率的に電磁波遮断シールド等の対策を行うことができなかった。
【００１２】
本発明の目的は、画面情報を含む電磁波の周波数帯を短時間で適切に推定することができる電磁的情報漏洩評価装置、電磁的情報漏洩評価方法および電磁的情報漏洩評価処理プログラムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記目的を達成するために、本発明の実施形態における電磁的情報漏洩評価装置の第１の態様は、画面情報の描画周波数の推定対象となる表示装置から放射された電磁波を入力するアンテナ部と、前記アンテナ部により入力した電磁波について所定の帯域の周波数成分の信号を出力するバンドパスフィルタ部と、前記バンドパスフィルタ部により出力された信号を検波、復調する検波復調部と、前記検波復調部から出力された信号を高速フーリエ変換することで周波数スペクトルを得る周波数特性確認部と、前記周波数スペクトルにおいて、前記表示装置に表示される画面情報の水平方向の解像度と前記画面情報のリフレッシュレートとの積で示される第１の周波数の近傍、または前記表示装置に表示される画面情報の垂直方向の解像度と前記リフレッシュレートとの積で示される第２の周波数の近傍に、ノイズフロアより高い所定の電界強度レベルを有する周波数が存在する場合で、かつ、前記第１および第２の周波数の近傍の周波数およびこれらの高調波成分以外の周波数の電界強度レベルがノイズフロアより高い所定のレベルでない場合、前記存在する周波数のうち電界強度レベルのピークに対応する周波数を前記描画周波数の候補として推定し、前記所定の帯域を前記画面情報を含む電磁波の周波数の候補として推定する推定部とを有する装置を提供する。
【００１４】
上記構成の電磁的情報漏洩評価装置の第２の態様は、第１の態様において、前記表示装置に表示させる画面情報の変更を制御する制御手段を備え、前記推定部は、前記変更された画面情報が表示される前記表示装置から放射される電磁波に基づいて前記周波数特性確認部が得る前記周波数スペクトルにおいて、前記放射される電磁波に前記画面情報が含まれる場合にノイズフロアより高い所定の電界強度レベルを有する周波数を、前記変更する前の画面情報の周期性と前記変更した後の画面情報の周期性との違いに基づいて推定し、前記周波数がノイズフロアより高い所定の電界強度レベルを有する場合に、前記変更する前の画面情報が表示される前記表示装置から放射される電磁波に基づく前記周波数スペクトルにおいて、前記高い電界強度レベルのピークに対応する周波数を前記描画周波数の候補として推定し、前記所定の帯域を前記画面情報を含む電磁波の周波数の候補として推定する装置を提供する。
【００１５】
上記目的を達成するために、本発明の実施形態における電磁的情報漏洩評価方法の態様は、画面情報の描画周波数の推定対象となる表示装置から放射された電磁波を入力し、前記入力した電磁波について所定の帯域の周波数成分の信号を出力し、前記出力された信号を検波、復調し、前記検波、復調された信号を高速フーリエ変換することで周波数スペクトルを得て、前記周波数スペクトルにおいて、前記表示装置に表示される画面情報の水平方向の解像度と前記画面情報のリフレッシュレートとの積で示される第１の周波数の近傍、または前記表示装置に表示される画面情報の垂直方向の解像度と前記リフレッシュレートとの積で示される第２の周波数の近傍に、ノイズフロアより高い所定の電界強度レベルを有する周波数が存在する場合で、かつ、前記第１および第２の周波数の近傍の周波数およびこれらの高調波成分以外の周波数の電界強度レベルがノイズフロアより高い所定のレベルでない場合、前記存在する周波数のうち電界強度レベルのピークに対応する周波数を前記描画周波数の候補として推定し、前記所定の帯域を前記画面情報を含む電磁波の周波数の候補として推定する方法を提供する。
【００１６】
上記の電磁的情報漏洩評価方法の第２の態様は、第１の態様において、前記表示装置に表示させる画面情報の変更を制御し、前記変更された画面情報が表示される前記表示装置から放射される電磁波に基づいて得る前記周波数スペクトルにおいて、前記放射される電磁波に前記画面情報が含まれる場合にノイズフロアより高い所定の電界強度レベルを有する周波数を、前記変更する前の画面情報の周期性と前記変更した後の画面情報の周期性との違いに基づいて推定し、この周波数がノイズフロアより高い所定の電界強度レベルを有する場合に、前記変更する前の画面情報が表示される前記表示装置から放射される電磁波に基づく前記周波数スペクトルにおいて、前記高い電界強度レベルのピークに対応する周波数を前記描画周波数の候補として推定し、前記所定の帯域を前記画面情報を含む電磁波の周波数の候補として推定する方法を提供する。
【００１７】
上記目的を達成するために、本発明の実施形態における電磁的情報漏洩評価処理プログラムの態様は、第１の態様における電磁的情報漏洩評価装置の一部分として動作するコンピュータに用いられるプログラムであって、前記コンピュータを、前記アンテナ部、前記バンドパスフィルタ部、前記検波復調部、前記周波数特性確認部、および前記推定部として機能させるためのプログラムを提供する。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、画面情報を含む電磁波の周波数帯を短時間で適切に推定することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明の第１の実施形態における電磁的情報漏洩評価装置の構成を説明する図。
【図２】本発明の第１の実施形態における電磁的情報漏洩評価装置の周波数特性確認部の構成を説明する図。
【図３】本発明の第１の実施形態における電磁的情報漏洩評価装置による処理動作の一例を示すフローチャート。
【図４】本発明の第１の実施形態における電磁的情報漏洩評価装置による画面情報の描画周波数の推定対象となる対象ディスプレイに表示される画面の一例を示す図。
【図５】本発明の第１の実施形態における電磁的情報漏洩評価装置による画面情報の描画周波数の推定対象となる対象ディスプレイに表示される画面の一例を示す図。
【図６】本発明の第１の実施形態における電磁的情報漏洩評価装置による画面情報の描画周波数の推定対象となる対象ディスプレイに表示される画面の情報を含む電磁波の周波数特性の一例を示す図。
【図７】本発明の第１の実施形態における電磁的情報漏洩評価装置による画面情報の描画周波数の推定対象となる対象ディスプレイに表示される画面の情報を含む電磁波の周波数特性の一例を示す図。
【図８】本発明の第２の実施形態における電磁的情報漏洩評価装置の周波数特性確認部の構成を説明する図。
【図９】本発明の第２の実施形態における電磁的情報漏洩評価装置による処理動作の一例を示すフローチャート。
【図１０】本発明の第２の実施形態における電磁的情報漏洩評価装置による画面情報の描画周波数の推定対象となる対象ディスプレイに表示される画面の一例を示す図。
【図１１】本発明の第２の実施形態における電磁的情報漏洩評価装置による画面情報の描画周波数の推定対象となる対象ディスプレイに表示される画面の一例を示す図。
【図１２】本発明の第２の実施形態における電磁的情報漏洩評価装置による画面情報の描画周波数の推定対象となる対象ディスプレイに表示される画面の情報を含む電磁波の周波数特性の一例を示す図。
【図１３】本発明の第２の実施形態における電磁的情報漏洩評価装置による画面情報の描画周波数の推定対象となる対象ディスプレイに表示される画面の情報を含む電磁波の周波数特性の一例を示す図。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
以下、この発明に係わる実施形態を説明する。  
（第１の実施形態）
まず、第１の実施形態について説明する。  
この第１の実施形態では、ディスプレイ機器（表示装置）から放射される電磁波の周波数成分のうち、画面情報を含む電磁波の周波数成分のみを特定する。  
この第１の実施形態では、ディスプレイ機器から放射される電磁波を取得し、この取得した電磁波に対し検波、復調を行い、特定の周波数成分の有無を判定する。この取得した電磁波に画面情報が含まれている場合、この電磁波を検波、復調すると描画周波数の信号を観測することができる。  
ディスプレイ機器に表示される画面情報に関わるデータは、解像度に依存した周期性を有している。このため、情報が漏洩している周波数チャネルでは、復調データに周期性が観測されることから、この周期性を有する周波数を描画周波数と呼ぶ。また、この描画周波数はアナログインタフェースの水平同期信号に相当する。  
従って、検波、復調後の信号を解析し、この解析した信号において、画面情報の解像度とリフレッシュレートとから算出した周波数付近の周波数成分を調べることで、上記の取得した電磁波に画面情報が含まれているか否かを推定することが出来る。
【００２１】
上記により、検波、復調後の信号が、上記の算出した周波数付近の所定以上の電界強度レベルを有する周波数成分を含まない場合は、取得した電磁波に画面情報が含まれない、つまり画面情報が漏洩していないと判定できる。
【００２２】
これに対し、検波、復調後の信号が、上記の算出した周波数付近の所定以上の電界強度レベルを有する周波数成分を含む場合において、取得した電磁波に画面情報が含まれるとただちに判定することは適切でなく、この取得した電磁波に画面情報が含まれない場合がある。
【００２３】
具体的には、ノイズなどにより画面情報がつぶされてしまっていることが原因で、上記の取得した電磁波に画面情報が含まれない可能性がある。この、画面情報がつぶされてしまっている事とは、例えば、ディスプレイ機器内の電子部品等から生じるノイズにより画面情報が正常に再現できない事を指す。
【００２４】
そこで、第１の実施形態では、上記の算出した周波数付近およびその高調波成分以外の周波数成分の電界強度レベルに基づいて、取得した電磁波における画面情報の有無を判定する。
【００２５】
具体的には、第１の実施形態では、検波、復調後の信号が、上記の算出した周波数付近の所定以上の電界強度レベルを有する周波数成分を含む場合において、検波、復調後の信号における上記の算出した周波数付近及びその高調波成分以外の周波数成分の電界強度レベルが所定のレベル以下であれば、取得した電磁波に画面情報が含まれており、画面情報が漏洩している可能性が高いと判定する。  
一方、第１の実施形態では、検波もしくは復調後の信号が、検波、復調後の信号が、上記の算出した周波数付近の所定以上の電界強度レベルを有する周波数成分を含む場合において、検波、復調後の信号における上記の算出した周波数付近及びその高調波以外の周波数成分の電界強度レベルが上記の所定のレベルを超えていれば、ノイズなどにより画面情報がつぶされているため、取得した電磁波に画面情報は含まれておらず（正常に再現できておらず）、画面情報は漏洩していないと判定する。
【００２６】
次に、第１の実施形態の具体例について説明する。  
図１は、本発明の第１の実施形態における電磁的情報漏洩評価装置の構成を説明する図である。  
図１に示すように、第１の実施形態における電磁的情報漏洩評価装置は、画面情報の描画周波数の推定対象となる対象ディスプレイ端末１０から放射される電磁波に画面情報が含まれるか否かを評価するもので、アンテナ部１１、アンプ部１２、バンドパスフィルタ部（ＢＰＦ）１３、検波復調部１４、周波数特性確認部（スペクトラムモニタ）１５、制御部１６、記憶装置１７を備える。
【００２７】
アンテナ部１１は、対象ディスプレイ端末１０から放射されるできるだけ広帯域の電磁波を受信する。アンプ部１２は、アンテナ部１１により受信して得た電波信号を後続の処理に十分なレベルまで増幅する。バンドパスフィルタ部１３は、アンプ部１２により増幅された電波信号のうち、特定の周波数成分の信号のみを通過させる。  
検波復調部１４は、バンドパスフィルタ部１３を通過した信号に対し検波、復調を行う。  
周波数特性確認部１５は、検波復調部１４から入力された信号をＦＦＴ（高速フーリエ変換）解析することで周波数領域の信号である周波数スペクトルを得て、この周波数スペクトルを、内蔵するモニタに表示する。  
図２は、本発明の第１の実施形態における電磁的情報漏洩評価装置の周波数特性確認部の構成を説明する図である。  
周波数特性確認部１５は、入力部１５ａ、ＦＦＴ解析部１５ｂ、描画周波数候補判定部１５ｃ、高周波成分外レベル判定部１５ｄ、記憶部１５ｅ、出力部１５ｆを有する。記憶部１５ｅは、例えば不揮発性メモリなどの記憶媒体である。
【００２８】
制御部１６は、バンドパスフィルタ部１３を通過させる信号の周波数帯域や、周波数特性確認部１５で確認する周波数などを制御し、また、測定結果と測定進行状況とを記憶装置１７に記録する。記憶装置１７は、例えば不揮発性メモリなどの記憶媒体である。  
上記の構成はハードウエア、ソフトウエアのいずれで構成されても良く、スペクトラムアナライザやパーソナルコンピュータ等の機器の機能を用いて構成されても良い。
【００２９】
次に、対象ディスプレイ端末１０から放射される電磁波において、画面情報を含む電磁波の周波数の候補および描画周波数の候補を特定する手順について説明する。図３は、本発明の第１の実施形態における電磁的情報漏洩評価装置による処理動作の一例を示すフローチャートである。  
まず、制御部１６は、対象ディスプレイ端末１０における画面の水平方向の解像度がＸ（ｄｐｉ）で、垂直方向の解像度がＹ（ｄｐｉ）で、画面のリフレッシュレートがＺ（Ｈｚ）で、それぞれが既知であるときの、画面情報の描画周波数の暫定的な候補値、いわゆる大まかな候補値となる周波数ｆ１，ｆ２を計算し、これら計算したｆ１，ｆ２を周波数特性確認部１５に設定し、また、記憶装置１７に記録する（Ｓ１）。  
ｆ１はＸ×Ｚで求められ、ｆ２はＹ×Ｚで求められる。ｆ１，ｆ２については、制御部１６によらず、別途計算された値が記憶装置１７に予め記録されていてもよい。
【００３０】
次に、制御部１６は、周波数特性確認部１５により測定する周波数範囲の下限値をｆｌとして、また、上限値をｆｈとして、これらの値を記憶装置１７に記録する。ｆｌおよびｆｈは、使用する測定構成機器としての電磁的情報漏洩評価装置が対応する範囲内で設定される。  
また、制御部１６は、対象ディスプレイ端末１０から放射される電磁波の周波数帯域のうちバンドパスフィルタ部１３を通過させる周波数帯域の中心周波数ｆｍの初期値を上記の下限値ｆｌとして、この値をバンドパスフィルタ部１３および周波数特性確認部１５に設定し、また、記憶装置１７に記録する（Ｓ２）。上記の周波数ｆｍは、１０ＭＨｚや２０ＭＨｚといった所定の幅を有してバンドパスフィルタ部１３を通過する周波数帯域の中心周波数である。
【００３１】
次に、制御部１６は、対象ディスプレイ端末１０による画像表示を制御することで、この対象ディスプレイ端末１０に任意の画像を表示させる（Ｓ３）。なお、対象ディスプレイ端末１０に表示させる画像は、ホワイトノイズ画面ではなく、文字や図形等、人間の視覚で有意と判断できる画像とする。
【００３２】
次に、対象ディスプレイ端末１０から放射される電磁波をアンテナ部１１で受信する。この受信した電波はアンプ部１２で増幅された後、バンドパスフィルタ部１３を通過することにより、上記のように設定された中心周波数ｆｍから上記の所定の幅の帯域に属する周波数成分の信号のみが検波復調部１４へ伝送される（Ｓ４）。検波復調部１４は、バンドパスフィルタ部１３から入力された信号に対し検波、復調を行う（Ｓ５）。
【００３３】
次に、周波数特性確認部１５の入力部１５ａは、Ｓ５で得られた信号を入力する。ＦＦＴ解析部１５ｂは、この入力した信号に対しＦＦＴ解析を行うことで周波数領域の信号を得て（Ｓ６）、この信号を、上記のように設定された下限値ｆｌから上限値ｆｈの範囲内で内蔵のモニタに表示させる。
【００３４】
そして、周波数特性確認部１５の描画周波数候補判定部１５ｃは、この周波数領域の信号における、Ｓ１で設定された周波数ｆ１の近傍または周波数ｆ２の近傍に、ノイズフロア(Noise floor)に比べて高い所定の電界強度レベルを有する周波数成分が存在するか否かを判定する（Ｓ７）。ノイズフロアのレベルは、上記の高い電界強度レベルの周波数成分が観測されていない他の周波数帯の電界強度レベル、もしくは、対象ディスプレイ端末１０の表示をＯＦＦにしているときに観測される電界強度レベルのいずれかを指す。また、上記の他の周波数帯の電界強度レベルとは、周波数ｆ１もしくはｆ２から所定の周波数だけ離れた周波数を中心とし、この周波数から所定の周波数範囲における電界強度レベルを平均した値を指す。
【００３５】
周波数ｆ１の近傍もしくはｆ２の近傍に、ノイズフロアに比べてＡｄｂ以上高い電界強度レベルを有する周波数成分が存在すれば（Ｓ７のＹｅｓ）、周波数特性確認部１５の高周波成分外レベル判定部１５ｄは、上記の周波数領域の信号における下限値ｆｌから上限値ｆｈの範囲内における、上記の周波数ｆ１およびｆ２の近傍の周波数成分の高調波成分以外の周波数帯の全てにおける周波数成分の電界強度レベルがノイズフロアに比べて高い所定のレベル以下であるか否かを判定する（Ｓ８）。ＡやＣは検出閾値であり例えばノイズフロアと明確に区別できる値に設定される。
【００３６】
上記の高調波成分以外の周波数帯の全てにおける周波数成分の電界強度レベルがノイズフロアに比べてＣｄｂだけ高いレベル以下のレベルであれば（Ｓ８のＹｅｓ）、周波数特性確認部１５の高周波成分外レベル判定部１５ｄは、上記の取得した電磁波に画面情報が含まれているとみなし、制御部１６から設定された中心周波数ｆｍを、対象ディスプレイ端末１０から放射される、画面情報を含む電磁波の周波数の候補として推定して記憶部１５ｅに記録する。出力部１５ｆは、この記録された周波数の値を記憶装置１７に記録する。
【００３７】
さらに、中心周波数ｆｍの記録に加え、Ｓ７にて、周波数ｆ１の近傍に、ノイズフロアに比べてＡｄｂ以上高い電界強度レベルを有する周波数成分が存在すれば、周波数特性確認部１５の高周波成分外レベル判定部１５ｄは、この存在する周波数成分におけるピークの電界強度レベルを有する周波数を、対象ディスプレイ端末１０から放射される電磁波に含まれる画面情報の描画周波数の候補として推定して記憶部１５ｅに記録する。出力部１５ｆは、この記録された周波数の値を記憶装置１７に記録する。Ｓ７にて、周波数ｆ２の近傍に、ノイズフロアに比べてＡｄｂ以上高い電界強度レベルを有する周波数成分が存在する場合も同様である（Ｓ９）。
【００３８】
周波数ｆ１およびｆ２の近傍の周波数の電界強度レベルが、ノイズフロアに比べてＡｄｂ以上高いレベルでない場合は（Ｓ７のＮｏ）、Ｓ９を経ることなく、周波数特性確認部１５の描画周波数候補判定部１５ｃは、取得した電磁波に画面情報が含まれていないとみなし、このことを示す情報を記憶部１５ｅに記録する。出力部１５ｆは、この記録された情報を制御部１６に通知する。  
また、上記の高調波成分以外の周波数帯において、ノイズフロアに比べてＣｄｂだけ高いレベルを超える電界強度レベルを有する周波数成分が認められる場合（Ｓ８のＮｏ）は、Ｓ９を経ることなく、周波数特性確認部１５の高周波成分外レベル判定部１５ｄは、対象ディスプレイ端末１０に本来表示される画面情報がノイズでつぶされてしまっている可能性があるため、取得した電磁波に画面情報が正しい状態で含まれていないとみなし、このことを示す情報を記憶部１５ｅに記録する。出力部１５ｆは、この記録された情報を制御部１６に通知する。  
また、Ｓ９の後についても、出力部１５ｆは、このＳ９で記憶部１５ｅに記録された情報を制御部１６に通知する。
【００３９】
上記の通知を受けた制御部１６は、バンドパスフィルタ部１３による通過帯域の中心周波数ｆｍをｆｍ＋αに変更する（Ｓ１０）。αは測定ステップであり、任意に定めてよい。制御部１６は、この変更した中心周波数ｆｍを、バンドパスフィルタ部１３および周波数特性確認部１５に設定し、また、記憶装置１７に記録する。
【００４０】
次に、制御部１６は、Ｓ１０で変更されたｆｍと記憶装置１７に記録されるｆｈとを比較する。ｆｍ＞ｆｈでなければ（Ｓ１１のＮｏ）、Ｓ１０で変更された中心周波数ｆｍに基づくＳ４以降の動作に移る。また、現在設定される中心周波数ｆｍ＞ｆｈであれば（Ｓ１１のＹｅｓ）、制御部１６は、処理を終了する。  
この終了時において、Ｓ９における、画面情報を含む電磁波の周波数の候補や描画周波数の候補の記録が一度もなされなかった場合は、周波数特性確認部１５は、画面情報を含む漏洩電磁波が確認されないことを示すメッセージなどを内蔵のモニタに表示させてもよい。
【００４１】
図４および図５は、本発明の第１の実施形態における電磁的情報漏洩評価装置による画面情報の描画周波数の推定対象となる対象ディスプレイに表示される画面の一例を示す図である。図６および図７は、本発明の第１の実施形態における電磁的情報漏洩評価装置による画面情報の描画周波数の推定対象となる対象ディスプレイに表示される画面の情報を含む電磁波の周波数特性の一例を示す図である。  
図６は、図４に示すような画像が対象ディスプレイ端末１０で得られているときの周波数特性を示す。また、図７は、図５に示すような画像が対象ディスプレイ端末１０で得られているときの周波数特性を示す。  
図４、５に示す画像は、同じ対象ディスプレイ端末１０の再現画像であるが、上記の中心周波数ｆｍが異なる。図４では、画面情報が正しく表示されている画像を示し、図５では、画面情報がノイズなどによりつぶれて正しく表示されていない画像を示す。
【００４２】
図６では、図中左端側の周波数で観測される、ノイズフロアに対して高いレベル（以下、単に高いレベルと説明することがある）の周波数成分に対応する周波数（図６中のｆａ）を描画周波数の候補とし、この周波数の高調波に対応する周波数において高いレベルの周波数成分が観測される一方で、上記の描画周波数の候補およびその高調波でない周波数においては高いレベルの周波数成分が観測されない。つまり、放射される電磁波に画面情報が正しい状態で含まれていることを示す。
【００４３】
また、図７では、図中左端側の周波数で観測される高いレベルの周波数成分に対応する周波数（図７中のｆａ）を描画周波数の候補とし、この周波数の高調波に対応する周波数において高いレベルが観測され、上記の描画周波数の候補およびその高調波でない周波数においても高いレベルの周波数成分が観測される。この周波数成分はノイズの周波数成分ｆｎである。
【００４４】
このように描画周波数の候補およびその高調波以外の周波数に高いレベルの周波数成分が観測される場合で、このレベルが一定以上である場合、画面情報がノイズによりつぶされてしまっているため、放射される電磁波に画面情報が正しい状態で含まれないと判定できる。
【００４５】
以上の手順により、画面情報を含む電磁波の周波数の候補と画面情報の描画周波数の候補とを推定することが出来る。  
Ｓ１において、対象ディスプレイ端末１０の仕様に基づいて、描画周波数のおおよその推測値としての、描画周波数の暫定的な候補値である周波数ｆ１，ｆ２は、対象ディスプレイ端末１０が使用するクロックＩＣの動作周波数のばらつきを考慮したものでなく、この周波数の漏洩電磁波をもとに画面を再構成できない可能性が高い。したがって、漏洩電磁波をもとに画面を再構成するには、漏洩元である対象ディスプレイ端末１０の描画周波数を高精度に特定する必要がある。  
これに対し、第１の実施形態で説明した手法を用いれば、実際に動作中の対象ディスプレイ端末１０から漏洩した電磁波に基づいて、周波数ｆ１，ｆ２の近傍における、高い電界強度レベルを有する周波数を描画周波数の候補として推定することが出来るため、漏洩電磁波をもとに、画面を再構成するための十分な精度で描画周波数の候補を推定することができる。
【００４６】
本発明の第１の実施形態を実施することにより、画面情報を含む電磁波の周波数の推定と描画周波数の推定とを短時間で行うことが可能となり、盗視の脅威に対するリスクの評価や対策のための検討が容易に行えるようになる。
【００４７】
（第２の実施形態）
次に、第２の実施形態について説明する。なお、この実施形態においては、第１の実施形態と同様の説明は省略する。  
第１の実施形態で説明したように、検波、復調後の信号が、画面情報の解像度とリフレッシュレートとから算出した周波数付近の所定以上の電界強度レベルを有する周波数成分を含む場合において、取得した電磁波に画面情報が含まれるとただちに判定することは適切でなく、この取得した電磁波に画面情報が含まれない可能性がある。また、この第１の実施形態では、ノイズにより画面情報がつぶされてしまっていることが原因である可能性があると説明した。
【００４８】
しかし、これに限らず、例えば、描画のための制御信号のみが漏洩しているために、上記の取得した電磁波に画面情報が含まれない可能性がある。  
この、描画のための制御信号のみが漏洩している事とは、描画を制御するための、画像信号とは別の制御信号が、画像表示のタイミングと同期して対象ディスプレイ端末１０内で出力されており、対象ディスプレイ端末１０の構成などの影響により、この制御信号のみが電磁波として外部に漏洩していることを指す。この場合は、上記の取得される電磁波には画面情報は含まれない。
【００４９】
そこで、第２の実施形態では、周期性を有して（例えば水平方向および垂直方向に沿って異なる色が所定の間隔で交互に表示される）、第１の実施形態で説明したように画面情報の解像度とリフレッシュレートとに基づいて計算した、描画周波数の暫定的な候補値の近傍の周波数成分の電界強度レベルがノイズフロアに比べて高い画像を対象ディスプレイ端末１０に表示させ、この電界強度レベルがノイズフロアに比べて高いことを確認する。
【００５０】
そして、この確認の後で、この画像に対して周期性を変化させた（例えば上記の所定の間隔を２分の１とした）画像を対象ディスプレイ端末１０に新たに表示させる。この表示した時の、上記の周期性の変化に基づく、漏洩電磁波における電界強度レベルが変化（増加）すると予想される所定の周波数成分（例えば変更前の画像における上記の高い電界強度レベルの周波数の２倍の周波数の近傍）の電界強度レベルに基づいて、電磁波に画面情報が含まれているか否かを判定する。
【００５１】
画面情報を含む電磁波が漏洩していない場合は、対象ディスプレイ端末１０に表示される画像を上記のように変更しても、この取得する電磁波の周波数スペクトラムに変化は生じない。つまり、上記の予想される所定の周波数成分の電界強度レベルは変更前の画像と変更後の画像との間で変化しない。
【００５２】
一方、画面情報を含む電磁波が漏洩している場合は、対象ディスプレイ端末１０に表示される画像を変更すると、この変更後の画像では、上記のように取得する電磁波の周波数スペクトラムが変化する。つまり、変更前と変更後の画像とを比較すると、上記の予想される周波数成分の電界強度レベルが異なる。
【００５３】
上記のように、第２の実施形態では、画面情報と相関がある電磁波の漏洩の有無を確認するために、電磁的情報の漏洩評価の途中において、対象ディスプレイ端末１０に表示される画像を変更した際の、この画像の周波数スペクトラムの変化の有無を測定する。
【００５４】
次に、第２の実施形態の具体例について説明する。  
図９は、本発明の第２の実施形態における電磁的情報漏洩評価装置の周波数特性確認部の構成を説明する図である。  
周波数特性確認部１５は、入力部１５ａ、ＦＦＴ解析部１５ｂ、描画周波数候補判定部１５ｃ、高周波成分外レベル判定部１５ｄ、記憶部１５ｅ、出力部１５ｆ、画像周波数成分比較部１５ｇを有する。
【００５５】
次に、対象ディスプレイ端末１０から放射される電磁波において、画面情報を含む電磁波の周波数の候補および描画周波数の候補を特定する手順について説明する。図１０は、本発明の第２の実施形態における電磁的情報漏洩評価装置による処理動作の一例を示すフローチャートである。  
まず、第１の実施形態で説明した、Ｓ１（周波数ｆ１，ｆ２の計算など）およびＳ２（周波数範囲の下限値ｆｌ、上限値ｆｈ、中心周波数ｆｍの初期値の設定など）の後で、制御部１６は、対象ディスプレイ端末１０に画像表示信号を送信して画像表示を制御することで、この対象ディスプレイ端末１０に任意の画像を表示させる（Ｓ２１）。以下、このＳ２１で表示させた画像を変更前画像と呼ぶことがある。
【００５６】
図１０は、本発明の第２の実施形態における電磁的情報漏洩評価装置による画面情報の描画周波数の推定対象となる対象ディスプレイに表示される画面の一例を示す図である。図１０に示した変更前画像は上記のように周期性を有し、水平方向および垂直方向に沿って色Ｃ１と色Ｃ２とが所定の間隔で交互に表示される。
【００５７】
次に、第１の実施形態で説明したＳ４（放射電磁波の測定など）、Ｓ５（検波、復調など）、Ｓ６（ＦＦＴ解析など）の後で、周波数特性確認部１５の描画周波数候補判定部１５ｃは、変更前画像に対応する周波数領域の信号を記憶部１５ｅに記憶した上で、上記のＦＦＴ解析により得た周波数領域の信号における、Ｓ１で設定された周波数ｆ１の近傍または周波数ｆ２の近傍に、ノイズフロアに比べて高い電界強度レベルを有する周波数成分が存在するか否かを判定する（Ｓ７Ａ）。
【００５８】
周波数ｆ１の近傍もしくはｆ２の近傍に、ノイズフロアに比べてＡｄｂ以上高い電界強度レベルを有する周波数成分が存在すれば（Ｓ７ＡのＹｅｓ）、周波数特性確認部１５の高周波成分外レベル判定部１５ｄは、上記の周波数領域の信号における下限値ｆｌから上限値ｆｈの範囲内における、上記の周波数ｆ１およびｆ２の近傍の周波数成分の高調波成分以外の周波数帯の全てにおける周波数成分の電界強度レベルがノイズフロアに比べてＣｄｂだけ高いレベル以下のレベルであるか否かを判定する（Ｓ８）。
【００５９】
上記の高調波成分以外の周波数帯の全てにおける周波数成分の電界強度レベルがノイズフロアに比べてＣｄｂだけ高いレベル以下のレベルであれば（Ｓ８のＹｅｓ）、周波数特性確認部１５の画像周波数成分比較部１５ｇは、上記の取得した電磁波に変更前画像の画面情報が含まれているとみなし、Ｓ３で対象ディスプレイ端末１０に表示させた画像の変更を出力部１５ｆを介して制御部１６に指示する。  
制御部１６は、この指示に従い、対象ディスプレイ端末１０による画像切替信号を出力することで、Ｓ３で対象ディスプレイ端末１０に表示させた変更前画像に代わる、周期性が異なる新しい画像を対象ディスプレイ端末１０に表示させる（Ｓ２２）。以下、このＳ２２で表示させた画像を変更後画像と呼ぶことがある。
【００６０】
図１１は、本発明の第２の実施形態における電磁的情報漏洩評価装置による画面情報の描画周波数の推定対象となる対象ディスプレイに表示される画面の一例を示す図である。図１１に示した変更後画像は、図１０に示した変更前画像に対し、２倍の画像周期を有し、水平方向および垂直方向に沿って色Ｃ１と色Ｃ２とが変更前画像と比較して２分の１の間隔で交互に表示される。
【００６１】
次に、周波数特性確認部１５の画像周波数成分比較部１５ｇは、変更前画像の画像周期と変更後画像の画像周期の違いに基づいて、変更後画像においてノイズフロアより高い電界強度レベルを有すると予想される所定の周波数を推測する。例えば、上記のように、変更後画像の画像周期が、変更前画像の２倍である場合、変更後画像における、高い電界強度レベルを有すると予想される周波数は、変更前画像における、高い電界強度レベルを有すると予想される周波数の２倍となる。
【００６２】
そして、画像周波数成分比較部１５ｇは、変更前画像に対応する周波数領域の信号を記憶部１５ｅから取得する。また、上記の画像の変更により、変更後画像の画面情報が表示される対象ディスプレイ端末１０から放射される電磁波の取得、検波、復調、ＦＦＴ解析がなされ、画像周波数成分比較部１５ｇは、この変更後画像に対応する周波数領域の信号をＦＦＴ解析部１５ｂから取得し、上記の推測した周波数における電界強度レベルを変更前画像と変更後画像との間で比較し、この比較による電界強度レベルの差分である、電界強度レベルの変化が所定の閾値であるＥｄＢ以上であるか否かを判定する（Ｓ２３）。
【００６３】
上記の電界強度レベルの変化がＥｄＢ以上である場合（Ｓ２３のＹｅｓ）、周波数特性確認部１５の画像周波数成分比較部１５ｇは、変更前画像について上記のように取得した電磁波に画面情報が含まれている可能性が高いとみなし、制御部１６から設定された中心周波数ｆｍを、対象ディスプレイ端末１０から放射される、画面情報を含む電磁波の周波数の候補として推定して記憶部１５ｅに記録する。出力部１５ｆは、この記録された周波数の値を記憶装置１７に記録する。
【００６４】
さらに、中心周波数ｆｍの記録に加え、Ｓ７Ａにて、周波数ｆ１の近傍に、ノイズフロアに比べてＡｄｂ以上高い電界強度レベルを有する周波数成分が存在すれば、周波数特性確認部１５の画像周波数成分比較部１５ｇは、この存在する周波数成分におけるピークの電界強度レベルを有する周波数を、対象ディスプレイ端末１０から放射される電磁波に含まれる画面情報の描画周波数の候補として推定して記憶部１５ｅに記録する。出力部１５ｆは、この記録された周波数の値を記憶装置１７に記録する。Ｓ７Ａにて、周波数ｆ２の近傍に、ノイズフロアに比べてＡｄｂ以上高い電界強度レベルを有する周波数成分が存在する場合も同様である（Ｓ９Ａ）。
【００６５】
上記の電界強度レベルの変化がＥｄＢ以上でない場合（Ｓ２３のＮｏ）、Ｓ９Ａを経ることなく、周波数特性確認部１５の画像周波数成分比較部１５ｇは、取得した電磁波に画面情報が含まれておらず、描画のための制御信号のみが漏洩している可能性が高いとみなし、このことを示す情報を記憶部１５ｅに記録する。出力部１５ｆは、この記録された情報を制御部１６に通知する。  
また、Ｓ９Ａの後についても、出力部１５ｆは、このＳ９Ａで記憶部１５ｅに記録された情報を制御部１６に通知する。
【００６６】
Ｓ７ＡのＮｏの場合、およびＳ８のＮｏの場合は第１の実施形態におけるＳ７のＮｏの場合、およびＳ８のＮｏの場合と同様に制御部１６への通知がなされる。
【００６７】
通知を受けた制御部１６は、バンドパスフィルタ部１３による通過帯域の中心周波数ｆｍをｆｍ＋αに変更する（Ｓ１０）。αは測定ステップであり、任意に定めてよい。制御部１６は、この変更した中心周波数ｆｍを、バンドパスフィルタ部１３および周波数特性確認部１５に設定し、また、記憶装置１７に記録する。
【００６８】
次に、制御部１６は、Ｓ１０で変更されたｆｍと記憶装置１７に記録されるｆｈとを比較する。ｆｍ＞ｆｈでなければ（Ｓ１１のＮｏ）、Ｓ１０で変更された中心周波数ｆｍに基づくＳ４以降の動作に移る。また、現在設定される中心周波数ｆｍ＞ｆｈであれば（Ｓ１１のＹｅｓ）、制御部１６は、処理を終了する。  
この終了時において、Ｓ９Ａにおける画面情報を含む電磁波の周波数の候補や描画周波数の候補の記録が一度もなされなかった場合は、周波数特性確認部１５は、画面情報を含む漏洩電磁波が確認されないことを示すメッセージなどを内蔵のモニタに表示させてもよい。
【００６９】
図１２および図１３は、本発明の第１の実施形態における電磁的情報漏洩評価装置による画面情報の描画周波数の推定対象となる対象ディスプレイに表示される画面の情報を含む電磁波の周波数特性の一例を示す図である。  
図１２は、図１０に示すような変更前画像が対象ディスプレイ端末１０で得られているときの周波数特性を示す。また、図１３は、図１１に示すような変更後画像が対象ディスプレイ端末１０で得られているときの周波数特性を示す。  
図１０に示した変更前画像の表示時には、図１２に示すように、描画周波数の候補となる周波数の近傍の周波数に最も強いピークＰ１を持ち、図１１に示した変更後画像の表示時には、図１３に示すように、上記の描画周波数の候補となる周波数の２倍の周波数帯の周波数成分に最も強いピークＰ２が生じることがわかる。このように、画像の変更に伴い周波数特性が大きく変化した場合は、表示画像と相関がある電磁波が漏洩していると推定し、画像の変更によっても周波数特性の上記の変化がみられない場合は、表示画像と相関がある電磁波が漏洩していないと推定することができる。
【００７０】
上記のように、本発明の第２の実施形態では、ディスプレイ端末について、画面情報を含む電磁波の周波数の候補と描画周波数の候補を短時間かつ精度よく推定することが可能となる。よって、盗視の脅威に対するリスクの評価や対策のための検討が容易に行える。
【００７１】
以上の各実施形態により、画面情報を含む電磁波の周波数の候補の推定と描画周波数の候補の推定とを短時間で行うことが可能となり、画面盗視の脅威に晒される様々なディスプレイ端末やディスプレイインタフェースについて、盗視の脅威に対するリスクの評価や対策のための検討が容易に行えるようになる。
【００７２】
なお、本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。
【００７３】
また、各実施形態に記載した手法は、計算機（コンピュータ）に実行させることができるプログラム（ソフトウエア手段）として、例えば磁気ディスク（フロッピー（登録商標）ディスク、ハードディスク等）、光ディスク（ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ、ＭＯ等）、半導体メモリ（ＲＯＭ、ＲＡＭ、フラッシュメモリ等）等の記録媒体に格納し、また通信媒体により伝送して頒布することもできる。なお、媒体側に格納されるプログラムには、計算機に実行させるソフトウエア手段（実行プログラムのみならずテーブルやデータ構造も含む）を計算機内に構成させる設定プログラムをも含む。本装置を実現する計算機は、記録媒体に記録されたプログラムを読み込み、また場合により設定プログラムによりソフトウエア手段を構築し、このソフトウエア手段によって動作が制御されることにより上述した処理を実行する。なお、本明細書でいう記録媒体は、頒布用に限らず、計算機内部あるいはネットワークを介して接続される機器に設けられた磁気ディスクや半導体メモリ等の記憶媒体を含むものである。
【符号の説明】
【００７４】
１０…対象ディスプレイ端末、１１…アンテナ部、１２…アンプ部、１３…バンドパスフィルタ部、１４…検波復調部、１５…周波数特性確認部、１６…制御部、１７…記憶装置。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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