【事件の表示】
　特許第３３０９３２２号「プリント基板検査システム」の請求項１ないし７に係る特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結　論】
　訂正を認める。
　特許第３３０９３２２号の請求項１ないし５に係る特許を取り消す。
【理　由】
１
　本件特許３３０９３２２号の発明は、平成４年８月２１日に出願され、特許の設定登録（全７項）がなされ、その後、表記の異議申立人より特許異議の申立てがなされ、取消理由通知がなされ、訂正請求がなされたものである。
　
２
 (
1
　　　　（特許請求の範囲）
　ａ　請求項１の「回線」を、「ローカルエリアネットワーク」と訂正する。
　ｂ　請求項１の「該自動検査装置の検査結果」の前に、「さらに検査結果を格納するサーバが該ローカルエリアネットワークに接続され、」を挿入する。
　ｃ　請求項６に上記ａと同趣旨の訂正をする。
　ｄ　請求項７に上記ａ，ｂと同趣旨の訂正と「それぞれに付設されたデータ処理装置」の構成を加入する。
　ｅ　請求項２及び５を削除し、項番を順次繰り上げる。
　　　　（発明の詳細な説明）
　ｆ　明細書段落番号【００１１】，中の記載について、上記ｂと同じ趣旨の訂正をする。
　ｇ　明細書段落番号【００１１】の「光学式外観検査装置１，Ｘ線式自動検査装置２および外観検査装置３がローカルエリアネットワーク６により接続され、」を、「光学式外観検査装置１，Ｘ線式自動検査装置２および外観検査装置３にそれぞれ接続されたデータ処理装置５−１〜５−３はローカルエリアネットワーク６により接続され、」と訂正する。
　
 (
2
　　（特許請求の範囲）
　上記訂正事項ａないしｄについては、特許明細書の特許請求の範囲に記載された「回線」との接続形態をより具体的な構成に限定しようとするものである。
　したがって、上記訂正事項ａないしｄは、特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。
　上記訂正事項ｅについては、請求項を削除するものであり、特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。
　　（発明の詳細な説明）
　上記訂正事項ｆについては、明細書の記載と特許請求の範囲との整合を図るためのもので不明瞭な記載の釈明を目的とするものである。
　上記訂正事項ｇについては、「回線」との接続形態をより明確化したもので、不明瞭な記載の釈明を目的とするものである。　
　
　また上記訂正事項ａないしｇは、願書に添付した明細書又は図面に記載した事項の範囲内での訂正であり、実質上特許請求の範囲を拡張し又は変更するものでもない。
　
 (
3
　以上のとおりであるから、上記訂正は、特許法等の一部を改正する法律（平成６年法律１１６号。以下「平成６年改正法」という。）附則６条１項の規定によりなお従前の例によるとされる、特許法１２０条の四第３項において準用する平成６年改正法による改正前の特許法１２６条１項ただし書及び２項の規定に適合するので、当該訂正を認める。
　
３
 (
1
　上記
２
「　【請求項１】　プリント基板の部品搭載状況の不良箇所を検出する自動検査装置と、
　該不良箇所を目視により確認するための外観検査装置と、
　該自動検査装置，該外観検査装置で得られた検査結果を管理するデータ処理装置とを備え、
　該自動検査装置，該外観検査装置およびデータ処理装置が
ローカルエリアネットワーク
　
さらに検査結果を格納するサーバが該ローカルエリアネットワークに接続され、
該ローカルエリアネットワーク
　　【請求項
２
　　【請求項
３
　　【請求項
４
ローカルエリアネットワーク
　　【請求項
５
　該光学式外観検査装置で検査したプリント基板をＸ線影像で不良箇所を検出するＸ線式自動検査装置と、
　該Ｘ線式自動検査装置で検出された不良箇所を目視により確認するための外観検査装置とを備え、
　該光学式外観検査装置，該Ｘ線式自動検査装置および該外観検査装置に
それぞれに付設されたデータ処理装置は該ローカルエリアネットワークにより接続され、
　検査結果の不良箇所情報が
前記ローカルエリアネットワーク
　
 (
2
［
］
　基板を撮像して得られたデータを処理して前記基板上の部品を検査し、この検査結果を表示する基板検査装置に関する発明で、
　２頁左下欄８行ないし下から２行には、
「基板検査部１１は基準プリント基板１０−１を撮像して得られた《中略》（判定データ）と、《中略》（非検査データ）とを比較して《中略》位置ずれ等を起こしているときには、これを検出するようになっており、Ｘ−Ｙテーブル部１４と、撮像部１５と、処理部１６とを備えている。」と記載され、
　５頁左上欄３行ないし１０行には、
「この後、主制御部３１はステップＳＴ１８で前記メモリ２４から判定データファイル中の撮像エリア３３−１ａに関する各判定データを読み出すとともに、これらの各判定データと前記各被検査データとを各々比較して、被検査プリント基板１０−２上の部品１３−１ｂ〜１３−ｉｂが欠落、位置ずれ等を起こしているか否かを判定し、この判定結果をメモリ２４に記憶させる。」と記載され、
　５頁右上欄２行ないし１２行には、
「一方、前記検査結果表示部１２は、前記基板検査部１１において部品１３−１ｂ〜１３−ｎｂの少なくとも１つが欠落、位置ずれ等を起こしていると判定された被検査プリント基板（不良基板）１０−２ａが装着されたとき、この被検査プリント基板１０−２ａの不良箇所を光によって照明して、作業者にどの部品が不良なのかを一目で解らせるものであり、副制御部（ＳＵＢ・ＣＰＵ）４０と、キーボード４１と、メモリ４２と、Ｘ−Ｙステージコントローラ４３と、Ｘ−Ｙテーブル部４４と、投光器４５とを備えている。」と記載されている。
　そして、上記基板検査部１１は、本件特許発明の自動検査装置に該当し、上記Ｘ−Ｙテーブル部４４と投光器４５からなる検査結果表示部１２は、作業者が不良箇所を目視により確認する動作を伴うものと認定できるから、本件特許発明の「不良箇所を目視により確認するための外観検査装置」と看ることができる。
　そして、両者が回線で接続されていることは、図１より明白である。　
　よって、刊行物１には、以下のとおりの発明が記載されていると認められる。（以下、〈〉内には、本件請求項１に係る発明で相当している事項の用語を示す。）
「
」
　
［
］
　ワイヤハーネスの外観検査装置に関する発明で、
　実用新案登録請求の範囲には、
「検査エリアの設定と、各検査エリアと画像処理検査項目との対応づけとを行う第１の入力手段と、
　ワイヤハーネスを撮像する撮像手段と、撮像手段からのアナログ画像信号をデジタル化して記憶すると共に記憶したデータを読出し、設定された検査エリア毎に演算処理することにより、検査エリアに対応した画像処理検査項目の良否の判定を行う画像処理手段と、
　画像処理手段の少なくとも不良判定結果を表示する表示手段と、
　画像処理手段の不良判定結果を訂正する第２の入力手段と、
　目視検査項目毎に設けられた不良判定結果を入力する第３の入力手段と、
　第１の入力手段で設定された検査エリア及び画像処理検査項目、第２の入力手段による訂正後の画像処理手段の不良判定結果、並びに第３の入力手段からの不良判定結果を記憶する記憶手段と、
を具備するワイヤハーネスの外観検査装置。」と記載され、
　明細書２２頁下から４行ないし最下行には、「パソコン１６は押されたスイッチの信号を取込み、どの目視検査項目が不良であったかという不良判定結果の情報をディスケットに格納する。」と記載されている。
　
［
］
　プリント基板検査装置に関する発明で、
　（発明の実施例）中の２頁左下欄１０行ないし右下欄４行には、
「部品を実装したプリント基板にＸ線を照射して得られる透過像が金属部で厚いものがある部分程黒く現われ、従来の光学的な検出装置に比べて優れた品質の画像を得ることができることに着目して、この黒いレベル（階調値レベル）に基づいてプリント基板に係る各種検査を行うようにしたことにある。《中略》エリア状に多数のＸ線受光素子（画素）が設けられている構成で、例えばＸ線ビジュンやＸ線イメージインテンシファイア等を用いることができる。」と記載されている。
　また、３頁右下欄下から２行ないし４頁左上欄２行には、
「例えばチップ部品のパターンに対する取付不良、パターンの形成不良等の取付け不良状態があることを判断することができる。」と記載されている。
　
［
］
　プリント基板、セラミックス基板等の基板に、部品を装着する生産工程等における工程管理に適する生産管理システムに関する発明で、
［実施例］中の６頁左下欄８行ないし右下欄１２行には、
「製造ホストコンピュータ５３は、設計ホストコンピュータ５１、手配ホストコンピュータ５２および検査ホストコンピュータ５４と、基幹ＬＡＮ (Local Area Network) ５５を介して接続されている。
《中略》この製造ホストコンピュータ５３は、これらの実装情報（実装検査を含む）を、前記基幹ＬＡＮ５５を介して、設計ホストコンピュータ５１、手配ホストコンピュータ５２および検査ホストコンピュータ５４から、設計データ、必要部品等の発注データを受け取って、これらから、各生産ロット単位に生成する。
　製造ホストコンピュータ５３には、後述するバーコードをキーとして各端末の情報を管理する端末情報管理装置６１が接続される。この端末情報管理装置６１は、後述する各作業機の管理に必要な情報を処理する各作業機管理端末６２〜７１と共に、ショップＬＡＮ５６に接続されている。
　また、１１頁右上欄１６行ないし左下欄１４行には、
「半田付け検査機９０は、半田付けが正常に行われているか、半田の形状をカメラ等で調べるものとする。半田付け検査機端末７０は、半田付け機端末６９同様、生産管理用に使用される。すなわち、ここでは、図示していないが、例えば、第１２図に示すファイルに、検査結果を書き込むことを行う。
　なお、今まで説明を省略してきたが、全ての端末は、生産管理用としても使用できる。
　次に、半田付け検査機を出た基板は、基板装着部品検査機に投入される。
　ここで基板は、基板上の正しい位置に正しい部品が装着されているか検査される。基板装着部品検査機端末７１はバーコードリーダ７３で基板バーコード９３を読み取ると、第１１図に示した情報を端末情報管理装置６１より受け取り、製造ホストコンピュータ５３より装着部品の品名と、装着部品の装着位置を示すＮＣデータを要求し、その情報を受け取る。」と記載されている。
　
［
］
　プリント基板等の製品検査エキスパートシステムに関する発明で、
　３頁左上欄１３行ないし右上欄１行には、
「ホストＭには第２記憶装置としてのＣＡＤ用データベース１２，第１記憶装置としての測定器データベース１３及び測定方法データベース１４が設けられている。ＣＡＤ用データベース１２には第５図に示すように基板Ｎｏに対するＣＡＤデータが記憶されており、このＣＡＤデータは第６図に示すように基板における各電気素子例えばトランジスタやコンデンサの配置を示す回路構成データである。」と記載され、
　４頁左上欄３行ないし１１行には、
「測定値が正常測定値以上となって異常と判断すると、部品データベース６から異常時の対策Ｎｏ「092」を検索して読み出す。第２推論機構３はこの対策Ｎｏ「092」に対応する測定器又は修理道具Ｎｏと測定又は測定方法Ｎｏを対策データベース５から読み出す。そして、この第２推論機構３で検索されて読み出された各データはそれぞれホストＭの第２制御部１１に送られる。」と記載されている。
　
　
［
］
　Ｘ線を用いてプリント基板を検査する装置に関する発明で、
　［発明の実施例］中の３頁左上欄１１行ないし１８行には、
「第１図において、１は強度を制御できるＸ線発生源（Ｘ線発生手段）、２はＸ線発生源１のＸ線をその表面（上面）側から照射される非検査物をしての両面実装プリント基板、３ａ、３ｂはそれぞれプリント基板２の表裏面に実装された電子部品としてのチップ抵抗及びＩＣ、４はプリント基板２のＸ線透過画像を生成するイメージインテシファイヤ（Ｘ線撮像手段）、」と記載され、
　同頁右上欄１６行ないし１９行には、
「１２は画像認識手段１１からの認識結果に基づきプリント基板２の各面における電子部品（チップ抵抗３ａ、ＩＣ３ｂ）を検査する良否判定手段である。」と記載され。
　同頁左下欄７行ないし１０行には、
「変換されたＸ線画像を、例えば512×512(画素)×８(bit)のデジタル画像として第１の画像メモリ手段８ａに格納する。これにより、プリント基板２のＸ線画像が取り込まれる」と記載されている。
　
 (
3
　本件請求項１に係る発明と刊行物１に記載された発明とを比較すると、両者は、
「
」
Ａ：本件請求項１に係る発明においては、データ処理装置が「外観検査装置で得られた検査結果を管理する」のに対して、刊行物１に記載された発明においては、該構成に言及されていない点及び、
Ｂ：本件請求項１に係る発明においては、各装置を結ぶ回線が検査結果格納用サーバを有するローカルエリアネットワークであるのに対し、刊行物１に記載の各装置は、格納用サーバを有するローカルエリアネットワークによって接続されているものではない点で相違する。
　
　しかしながら、該相違点Ａに関しては、外観検査装置で得られた検査結果を管理することは、極く、常識的な事項であり、刊行物２（甲第１号証）にも記載されている技術であるから、該技術を刊行物１の基板検査装置に用いることは当業者であれば容易になし得ることと認められる。
　また、Ｂの点に関しては、基板の検査装置においてローカルエリアネットワークを用いることは、刊行物４に示されており、ローカルエリアネットワークを用いた場合、データ蓄積用に格納用サーバを付属させることは、ローカルエリアネットワークを構築する際の慣用手段に過ぎないから、該相違点も、刊行物４に示されている技術から、当業者が容易に設計しうる程度のことと認められる。
　したがって本件請求項１に係る発明は、刊行物１，２，４及び慣用技術に基づいて当業者が容易に発明できたものと認められる。
　
 (
4
(
)
(
)
(
)
(
)
　
　以上の如く、請求項２ないし５に係る各発明は、前記(
3
　よって、本件請求項２ないし５に係る各発明も上記刊行物１ないし６及び慣用技術に基づいて当業者が容易に発明できたものと認められる。
　
 (
5
　以上のとおり、本件請求項１ないし５に係る各発明は、上記刊行物１ないし６に記載された発明及び慣用技術に基づいて当業者が容易に発明することができたものであるから、本件請求項１ないし５に係る各発明についての特許は特許法２９条２項の規定に違反してされたものである。
　したがって、本件請求項１ないし５に係る各発明についての特許は、拒絶の査定をしなければならない特許出願に対してされたものと認める。
　よって、特許法の一部を改正する法律（平成６年法律第１１６号）附則１４条の規定に基づく特許法の一部を改正する法律の施行に伴う経過措置を定める政令（平成７年政令２０５号）４条２項の規定により、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
平成１５年９月５日（２００３．９．５）
【訂正の要旨】
審決（決定）の【理由】欄参照。
（５４）【発明の名称】
プリント基板検査システム
（５７）【特許請求の範囲】
　【請求項１】　プリント基板の部品搭載状況の不良箇所を検出する自動検査装置と、
　該不良箇所を目視により確認するための外観検査装置と、
　該自動検査装置，該外観検査装置で得られた検査結果を管理するデータ処理装置とを備え、
　該自動検査装置，該外観検査装置およびデータ処理装置が
ローカルエリアネットワーク
　
さらに検査結果を格納するサーバが該ローカルエリアネットワークに接続され、
　該自動検査装置の検査結果の不良箇所情報を該
ローカルエリアネットワーク
　【請求項
２
１記
　【請求項
３
線式
１記
　【請求項
４
ローカルエリアネットワーク
１記
　【請求項
５
　該光学式外観検査装置で検査したプリント基板をＸ線影像で不良箇所を検出するＸ線式自動検査装置と、
　該Ｘ線式自動検査装置で検出された不良箇所を目視により確認するための外観検査装置とを備え、
　該光学式外観検査装置，該Ｘ線式自動検査装置および該外観検査装置
にそれぞれ付設されたデータ処理装置は該ローカルエリアネットワーク
　
さらに検査結果を格納するサーバが前記ローカルエリアネットワークに接続され、
　検査結果の不良箇所情報が
前記ローカルエリアネットワーク
【発明の詳細な説明】
　【０００１】
　【産業上の利用分野】
　本発明は、複数の部品を実装されたプリント板ユニットにおける外観検査を行なうプリント基板検査システムに関する。
　【０００２】
　【従来の技術】
　従来のプリント基板検査装置としては、例えば特開平２−３１１４４号公報に記載された「プリント基板検査装置」や特開昭６２−１６９０４０号公報に記載された「プリント基板パターン検査装置」が挙げられる。前者の特開平２−３１１４４号公報に記載された「プリント基板検査装置」では、両面実装プリント板ユニットおよび基板を検査するために、Ｘ線方式と光学方式の光源およびカメラを１台の検査装置に内蔵するようにして構成されている。このような構成により、Ｘ線画像と光学画像を同一視野で取り込み、各々の画像特徴量を抽出して、それらを比較、照合し、表面か裏面かの画像を認識して、最後に良否判定を行なう。このようにして、Ｘ線画像に写った部品像の実装面の表裏を自動的に判定し、正確で、信頼性の高い検査が可能となる。
　【０００３】
　後者の特開昭６２−１６９０４０号公報に記載された「プリント基板パターン検査装置」は、プリント基板の配線パターンを検査するために、プリント基板の外観を撮像する手段とパターン欠陥を検出する画像処理手段と欠陥が真か偽かを判定する手段とを備えたパターン検査装置において、偽の判定を計数する手段，ある値以上を検出する誤検出監視手段，それに基づき警報を出す警報手段をそなえるようにして構成されている。このような構成により、回路パターンを２次元画像として撮像した後、画像処理を施して、マスター基板の画像と比較して欠陥を判定する。もし、不良の場合は、計３回の検査を検出場所で行ない、真の不良か偽の不良かを欠陥判定手段で自動判定し、虚報件数が設定値以上になったとき、警報を発生する。このようにして、機械的振動やノイズおよびゴミの影響などの偶発的原因による誤検出の増加を即座に自動検出して、作業者に通知することによって、検査装置、プリント基板を良好に管理できるとともに、検査結果の信頼性が向上する。
　【０００４】
　【発明が解決しようとする課題】
　しかしながら、上述に挙げた２つの従来の技術を例として、一般に高密度実装されたプリント板ユニット（ＳＭＴユニット）の実装状態や半田付検査を行なう場合、従来では拡大鏡を用いた目視検査と自動検査装置とを用いていたが、現状の技術では一方式の検査装置のみでは、全検査項目を自動検査することは困難である。
　【０００５】
　すなわち、前者の特開平２−３１１４４号公報に記載されたプリント基板検査装置においては、光学方式の画像は表／裏を判断するために用いるものであり、検査は全てＸ線方式によるため、検査時間がかかり、また不良判定箇所の確認はマニュアルでデータを見て行なうため、その工数が大きいという課題がある。また、後者の特開昭６２−１６９０４０号公報に記載された「プリント基板パターン検査装置」においては、プリント板ユニット実装検査に適用する場合、マスターとなるユニットの制作が難しいため、マスター画像が画一的でなく、適用は困難であるという課題がある。
　【０００６】
　一般に、プリント板ユニットの実装検査を行なう場合、一方式の検査装置のみでは、全検査項目を自動検査することは困難であり、また、検査装置の信頼性においては、真の不良の１０倍以上（全検査ポイントの０．１％以上）の誤判定（不良判定）をするため、検査装置の不良判定箇所を再度目視で確認し、障害診断を行なう必要がある。
　【０００７】
　検査装置のテストデータ作成は、光源／カメラ性能に左右されるパラメータが多く実機によるティーチングが必要であり、かつデータ作成工数も８〜１０時間／図番と多い。以上のように、工数・品質の面において多くの課題があった。本発明は、このような課題に鑑み創案されたもので、光学式およびＸ線式の異なる検査装置と、不良箇所を確認・判断する不良診断装置と、得られたデータを一括して管理するサーバとを組み合わせることによって、プリント板ユニット外観検査の合理化および効率化を図るとともに、プリント板ユニットの品質向上を実現できるようにした、プリント基板検査システムを提供することを目的とする。
　【０００８】
　【課題を解決するための手段】
　図１は本発明の原理ブロック図で、この図１において、１は光学式外観検査装置であり、この光学式外観検査装置は、プリント基板の部品搭載状況の不良箇所を光学影像で検出する光学式外観検査装置であり、プリント基板の部品搭載状況の不良箇所を検出する自動検査装置として機能する。２はＸ線式外観検査装置であり、このＸ線式外観検査装置２は、プリント基板の部品搭載状況の不良箇所をＸ線影像で検出するＸ線式自動検査装置であり、プリント基板の部品搭載状況の不良箇所を検出する自動検査装置として機能する。
　【０００９】
　３は不良診断装置であり、この不良診断装置３は、光学式外観検査装置１，Ｘ線式外観検査装置２およびデータ処理部装置５−１〜５−３とローカルエリアネットワーク６を介して接続され、ローカルエリアネットワーク６を介して得られる光学式外観検査装置１，Ｘ線式外観検査装置２における検査結果からプリント基板の不良箇所を目視により確認するための外観検査装置として機能する。４はサーバであり、このサーバ４は、光学式外観検査装置１，Ｘ線式外観検査装置２，不良診断装置３で得られた測定データを一括して管理するものである。更に詳細には、サーバ４に光学式外観検査装置１およびＸ線式外観検査装置２で不良判定とした部分を不良診断装置３で確認した結果で修正したデータが格納される。また、光学式外観検査装置１で不良判定とした部分については、Ｘ線式外観検査装置２で再検査するようになっている。
　【００１０】
　５−１，５−２，５−３はデータ処理装置であり、このデータ処理装置５−１，５−２，５−３は、光学式外観検査装置１，Ｘ線式外観検査装置２，不良診断装置３で得られた検査結果を管理するものである。そして、光学式外観検査装置１，Ｘ線式外観検査装置２および不良診断装置３がローカルエリアネットワーク６を介して接続され、このデータ処理装置５−１，５−２，５−３が、さらに、不良診断装置３にて得られた検査結果を管理するようになっている。７は設計データ供給装置であり、この設計データ供給装置７は、ローカルエリアネットワーク６に、自動検査すべきプリント基板に関するＣＡＤデータを供給するものである。
　【００１１】
　なお、光学式外観検査装置１およびＸ線式外観検査装置２がそれぞれ自動検査装置として構成されるとともに、不良診断装置３が手動検査装置として構成される。すなわち、本発明のプリント基板検査システムは、プリント基板の部品搭載状況の不良箇所を検出する光学式外観検査装置１およびＸ線式外観検査装置２と、その不良箇所を目視により確認するための不良診断装置３と、光学式外観検査装置１およびＸ線式外観検査装置２，不良診断装置３で得られた検査結果を管理するデータ処理装置５−１〜５−３とを備え、光学式外観検査装置１，Ｘ線式外観検査装置２，不良診断装置３およびデータ処理装置５−１〜５−３がローカルエリアネットワーク６を介して接続されてなり、
さらに検査結果を格納するサーバ４がローカルエリアネットワーク６に接続され、
にそれぞれ付設されたデータ処理装置５−１〜５−３は
さらに検査結果を格納するサーバ４がローカルエリアネットワーク６に接続され、
　【００１２】
　【作用】
　上述の本発明のプリント基板検査システムでは、複数の部品を実装されたプリント板ユニットの外観検査において、Ｘ線式外観検査装置２はプリント基板の部品搭載状況の不良箇所をＸ線影像で検出する。光学式外観検査装置１はＸ線式外観検査装置２で検査したプリント基板の部品搭載状況の不良箇所を光学影像で検出する。不良診断装置３を用いて光学式外観検査装置１，Ｘ線式外観検査装置２で検出された不良箇所を目視により確認する。このとき、光学式外観検査装置１，Ｘ線式外観検査装置２および不良診断装置３がローカルエリアネットワーク６により接続されているので、光学式外観検査装置１およびＸ線式外観検査装置２の検査結果の不良箇所情報をローカルエリアネットワーク６を介して得て、不良箇所を不良診断装置３により再確認することができる。
　【００１３】
　また、サーバ４は光学式外観検査装置１，Ｘ線式外観検査装置２，不良診断装置３で得られた測定データを一括して管理する。更に詳細には、サーバ４に光学式外観検査装置１およびＸ線式外観検査装置２で不良判定とした部分を不良診断装置３で確認した結果で修正したデータが格納されている。さらに、光学式外観検査装置１，Ｘ線式外観検査装置２，不良診断装置３にそれぞれ付設されたデータ処理装置５−１，５−２，５−３とサーバ４とがローカルエリアネットワーク６を介して接続されているため、このローカルエリアネットワーク６を介して、これらのデータ処理装置５−１，５−２，５−３は、光学式外観検査装置１，Ｘ線式外観検査装置２と不良診断装置３とで取得されたデータを管理する。設計データ供給装置７は、ローカルエリアネットワーク６に、自動検査すべきプリント基板に関するＣＡＤデータを供給する。
　【００１４】
　なお、光学式外観検査装置１およびＸ線式外観検査装置２はそれぞれ自動検査装置として機能し、不良診断装置３は手動検査装置として機能する。
　【００１５】
　【実施例】
　以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。図２は本発明の一実施例を示すブロック図であるが、この図２に示すプリント板ユニット外観検査システムは、光学式検査装置（光学式外観検査装置，光学式自動検査装置）１１，Ｘ線式検査装置（Ｘ線式外観検査装置，Ｘ線式自動検査装置）１２，不良診断装置（〔外観検査装置〕ステレオスコープ）１３，サーバ（パソコン）１４，データ処理装置（パソコン）１５−１〜１５−３，ローカルエリアネットワークとしてのＤＳＬＩＮＫ１６，ＣＡＤ／ＣＡＭマシン１７，設計データ供給装置（〔設計データ変換装置〕パソコン）１８をそなえて構成されている。
　【００１６】
　ここで、光学式検査装置１１は、プリント基板の部品搭載状況の不良箇所を光学影像で検出するものであり、Ｘ線式検査装置１２は、プリント基板の部品搭載状況の不良箇所をＸ線影像で検出するものである。不良診断装置１３は、光学式検査装置１１，Ｘ線式検査装置１２で検出された不良箇所を目視により確認するためのものである。
　【００１７】
　また、サーバ１４としては、パソコンを用いており、このサーバ１４は光学式検査装置１１，Ｘ線式検査装置１２，不良診断装置１３で得られた測定データを一括して管理するものである。データ処理装置１５−１，１５−２，１５−３としても、パソコンが使用されており、このデータ処理装置１５−１，１５−２，１５−３はそれぞれ光学式検査装置１１，Ｘ線式検査装置１２，不良診断装置１３に付設されていて、光学式検査装置１１，Ｘ線式検査装置１２および不良診断装置１３で得られた検査結果を管理するものであり、このデータ処理装置１５−１，１５−２，１５−３とサーバ１４とは、ローカルエリアネットワーク（ＬＡＮ）として構成されたＤＳＬＩＮＫ１６を介して相互に接続されている。
　【００１８】
　設計データ供給装置１８としても、パソコンを用いており、この設計データ供給装置１８は、検査すべきプリント板ユニットに関するテストプログラムを作成（データ変換）し、それぞれの検査装置に供給するものであり、ＣＡＤ／ＣＡＭマシン１７からの設計情報と、検査装置データを組み合わせてテストデータを作成し、管理するようになっている。すなわち、設計データ供給装置１８は、自動検査すべきプリント基板に関するＣＡＤデータを供給するものである。そして、設計データ供給装置１８もＤＳＬＩＮＫ１６に接続されている。
　【００１９】
　なお、光学式検査装置１１およびＸ線式検査装置１２は自動検査装置として構成されるとともに、不良診断装置１３は手動検査装置として構成されている。上述の構成により、本発明の実施例においては、図３に示すようなＳＭＴユニットの外観検査フローチャートに従って、検査が行なわれる。まず、ステップＳ１で、ＳＭＴユニットのＬｎ（ｎは２以上の自然数）面（Ｌ１面をＳＭＴユニットの裏面とすると、Ｌｎ面はＳＭＴユニットの表面を意味する）に部品が搭載され、リフロー半田付けが施される。
　【００２０】
　ついで、ステップＳ２で、Ｘ線式検査装置１２による自動検査が行なわれる。このＸ線式検査装置１２は主として不可視領域部分の外観検査を行なう。詳細には、検査部品としてＱＦＰ，Ｊリード部品を対象とし、検査項目として半田量、半田ブリッジ、リード浮きがあり、微細リード部品下部の半田付け検査を特徴とする。
　【００２１】
　さらに、ステップＳ３で、光学式検査装置１１による自動検査が行なわれる。光学式検査装置１１は０．０５Ｓｅｃ／部品の高速検査であり、主として可視領域部分の実装、半田付け検査を行なう。このときの検査部品としてはチップＣ，Ｒ（コンデンサ，抵抗部品），ミニトランジスタ，ＳＯＰを対象とし、検査項目としては部品の有無、位置ずれ、部品浮き、極性、半田量、半田ブリッジがある。
　【００２２】
　なお、ステップＳ２のＸ線式検査装置１１とステップＳ３の光学式検査装置１１とを適用する順序は自由である。なぜなら、基板識別コードを基に、測定データがサーバ１４としてのパソコンに一元管理されているからである。例えば、光学式検査装置１１による検査を行なった後に、Ｘ線式検査装置１２による検査を行なうように運用順序を決めた場合、光学式検査装置１１で不良と判定された部分もＸ線式検査装置１２で検査できるため、光学式検査装置１１の虚報を低減することが可能となる。すなわち、本検査システムは、光学式検査装置１１で検査したプリント基板をＸ線影像で不良箇所を検出するＸ線式検査装置１２と、このＸ線式検査装置１２で検出された不良箇所を目視により確認するための不良診断装置１３とを有することになる。
　【００２３】
　つぎに、ステップＳ４で、ステップＳ２およびステップＳ３での検査結果が良であるか不良であるかを判定する。ステップＳ４で不良の場合は、ステップＳ５で、不良診断装置（ステレオスコープ）１３による目視検査を行なう。不良診断装置１３は光学式検査装置１１，Ｘ線式検査装置１２で不良判定とした部分を再確認する。以上、ステップＳ２〜ステップＳ５までがプリント板ユニットのＬｎ面検査の処理フローである。
　【００２４】
　次に、ステップＳ６で、リード部品を挿入して、Ｌ１面に部品を搭載してフロー半田付けを行なった後、ステップＳ７，ステップＳ８で、Ｌ１面の検査を行なう。すなわち、ステップＳ７では、光学式検査装置１１による自動検査を行なう。このときの検査の内容は前述のステップＳ３と同様である。また、ステップＳ８では、不良診断装置（ステレオスコープ）１３による目視検査を行なう。このときの検査の内容はステップＳ５とほぼ同様であるが、その他に基板全体の汚れや割れ、また部品が間違っている場合には抜き取る等を調べ、自動化検査が困難な領域を検査する。
　【００２５】
　つぎに、本実施例におけるデータフローを図４に示すが、この場合は、被検査対象ユニット４１をバーコードで読み取り、図番と製造番号を認識する。そして、認識した図番に対応したテストプログラム（ＴＰ）をサーバ（パソコン）１４のＴＰ管理ファイル４４−１，４４−２，４４−３から各検査装置１１，１２，１３がローディングして検査を行なう。検査結果はサーバ１４の検査結果格納ファイル４５−１，４５−２に各々格納される。
　【００２６】
　不良診断装置１３は、Ｘ線式検査装置１２の検査結果格納ファイル４５−２および光学式検査装置１１の結果ファイル４５−１を読み出して、不良箇所の確認を行ない、真の不良のみをサーバ１４の診断結果格納ファイル４６に格納する。従って、本プリント基板システムは、プリント基板の部品搭載状況の不良箇所を検出する光学式検査装置１１およびＸ線式検査装置１２と、その不良箇所を目視により確認するための不良診断装置１３と、光学式検査装置１１およびＸ線式検査装置１２，不良診断装置１３で得られた検査結果を管理するデータ処理装置５−１〜５−３とを備え、光学式検査装置１１およびＸ線式検査装置１２、不良診断装置１３およびデータ処理装置１５−１〜１５−３がローカルエリアネットワーク６を介して接続されてなり、光学式検査装置１１およびＸ線式検査装置１２の検査結果の不良箇所情報をローカルエリアネットワーク６を介して得て、不良箇所を不良診断装置１３により再確認するように構成されていることになる。また、従って、本プリント基板システムは、プリント基板の部品搭載状況の不良箇所を検出する光学式検査装置１１およびＸ線式検査装置１２と、光学式検査装置１１およびＸ線式検査装置１２とローカルエリアネットワーク６を介して接続され、ローカルエリアネットワーク６を介して得られる光学式検査装置１１およびＸ線式検査装置１２における検査結果を管理するデータ処理装置１５−１〜１５−３と、光学式検査装置１１，Ｘ線式検査装置１２およびデータ処理装置１５−１〜１５−３とローカルエリアネットワーク６を介して接続され、ローカルエリアネットワーク６を介して得られる光学式検査装置１１およびＸ線式検査装置１２における検査結果からプリント基板の不良箇所を目視により確認するための不良診断装置１３とを備え、データ処理装置１５−１〜１５−３が、さらに、不良診断装置１３にて得られた検査結果を管理するように構成されていることになる。結果データは、図番，図番番号，良／否，不良部品，不良位置座標，不良内容で構成されている。なお、図４において、４２は運用管理ファイル、４３は進捗管理ファイルである。
　【００２７】
　つぎに、このデータ内容とファイルの関連を図５に示す。この図５に示すように、Ｘ線式検査結果および光学式検査結果のファイル名が試験結果管理テーブル（ＲＤＢ）５１に示され、それぞれの結果ファイルはプロジェクタ１３−１〜１３−Ｎ（Ｎは自然数）に転送される。また、図番マスタ（ＲＤＢ）５２よりティーチングデータファイル５４も同様に転送される。さらに、プロジェクタ１３−１〜１３−Ｎによる診断結果は、データ処理装置１５−３−１〜１５−３−Ｎを介して、不良管理テーブル（ＲＤＢ）５３に格納される。
　【００２８】
　本実施例では、テストプログラムと試験結果データの格納は同一のサーバ１４としてのパソコンで行なっているが、別々のサーバとすることも可能である。また、データは全てＤＳＬＩＮＫ１６を介して送受され、システムは運用管理ファイル４２および進捗管理ファイル４３によって管理されている。以上のように、本実施例によれば、自動検査と目視検査とに役割を分担し、両者の補完作業によって検査の効率化を実現しているため、検査工数を削減できるほか、光学式検査装置１１での不良箇所をＸ線式検査装置で再度検査するため、誤判定である虚報を低減できる。
　【００２９】
　また、それぞれの検査装置間で不良・確認箇所のデータを送受するため、確認箇所を自動指示させることができ、不良確認作業をペーパーレス化して行なうことができる。さらに、それぞれの検査手法を最適に組み合わせるため、プリント板ユニットの実装、半田付けの品質が向上するのである。つぎに、前記した従来技術との差を簡単に記述しておく。
　【００３０】
　まず、従来技術▲１▼（特開平２−３１１４４号公報に記載されたもの）との差であるが、この従来技術▲１▼は、光学方式とＸ線方式の光源及びカメラを１台の検査装置に内蔵しているのに対し、本実施例は、各々個々の装置と不良診断装置とサーバから成る検査システムであり、前者には障害診断機能がない。また、前者の技術による判定方法は、光学式とＸ線式双方の画像と比較、照合し表面か裏面かを認識して最後に良否判定を行なうものであるが、本実施例では、検査対象備品を分担し各装置は別々の時間に検査をして各々良否判定を行ない、結果をサーバに送るものである。
　【００３１】
　次に、従来技術▲２▼（特開昭６２−１６９０４０号公報に記載されたもの）との差であるが、この従来技術▲２▼は、エラー箇所を再検査し歩留り向上を行なうため、検査装置がノイズ等の外的要因により誤判定をすることを防いだ高信頼の検査手法の提供を実現している。これに対し、本実施例では、検査装置そのものの誤判定は対象外であり、Ｘ線及び光学式検査装置の判定結果に対して、真の不良か偽かは不良診断装置を用いてマニュアルで判断している。また、本実施例は、光学式検査機とＸ線式検査機と不良診断装置とサーバの４つの装置からなる検査システムであり、トータルして検査工数の削減と信頼生の向上を図ったものである。
　【００３２】
　【発明の効果】
　以上詳述したように、本発明のプリント基板検査システムによれば、光学式自動検査，Ｘ線式自動検査および不良診断について、それぞれの検査の特徴に応じ、役割を分担し、相互に補完させることによって、外観検査の効率化を実現しているため、検査工数を削減できる利点がある。
　【００３３】
　また、光学式外観検査装置で不良判定とした部分については、Ｘ線式自動検査装置で再検査することによって、誤判定である虚報を低減できるほか、それぞれの検査を最適に組み合わせるため、プリント板ユニットの実装、半田付けの品質が向上するという利点もある。
【図面の簡単な説明】
　【図１】
　本発明の原理ブロック図である。
　【図２】
　本発明の一実施例を示すブロック図である。
　【図３】
　ＳＭＴユニットの外観検査を説明するためのフローチャートである。
　【図４】
　本発明の一実施例におけるデータフロー図である。
　【図５】
　ファイルの関連図である。
　【符号の説明】
　１　光学式外観検査装置
　２　Ｘ線式外観検査装置
　３，１３　不良診断装置
　４，１４　サーバ
　５−１〜５−３，１５−１〜１５−３，１５−１−１〜１５−３−Ｎ　データ処理装置
　６　ローカルエリアネットワーク
　７，１８　設計データ供給装置
　１１　光学式検査装置
　１２　Ｘ線式検査装置
　１３−１〜１３−Ｎ　プロジェクタ
　１５−１〜３，１８　パソコン
　１６　ＤＳＬＩＮＫ
　１７　ＣＡＤ／ＣＡＭマシン
　４１　被検査対象ユニット
　４２　運用管理ファイル
　４３　進捗管理ファイル
　４４−１〜４４−３　テストプログラム管理ファイル
　４５−１，４５−２　検査結果格納ファイル
　４６　診断結果格納ファイル
　５１　試験結果管理テーブル
　５２　図番マスタ
　５３　不良管理テーブル
　５４　ティーチングデータファイル