【事件の表示】
　特許第３２８０３７２号「ニッケル粉及び導電ペースト」の請求項１、２に係る特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結　論】
　特許第３２８０３７２号の請求項１、２に係る特許を維持する。
【理　由】
１．手続の経緯
　本件特許第３２８０３７２号の請求項１、２に係る発明についての出願は、平成１２年１１月１０日（優先権主張平成１１年１１月１２日）に特許出願され、平成１４年２月２２日にその特許の設定登録がなされ、その後、雨山範子より特許異議の申立てがなされ、取消理由の通知がなされ、意見書が提出されたものである。
　
２．本件発明
　特許第３２８０３７２号の請求項１、２に係る発明（以下、それぞれ「本件発明１」、「本件発明２」という。）は、その特許請求の範囲の請求項１、２に記載された事項により特定される次のとおりのものである。
　「【請求項１】ＳＥＭ観察による平均粒子径の１．２倍以上の粒子径を持つ粒子個数が全粒子個数の５％以下であり、該平均粒子径の０．８倍以下の粒子径を持つ粒子個数が全粒子個数の５％以下であり、タップ密度が２．５ｇ／ｃｍ３以上であり、且つ各々の粒子内の平均結晶子径が４００Å未満であることを特徴とするニッケル粉。
【請求項２】請求項１記載のニッケル粉を含有することを特徴とする積層セラミックコンデンサ用導電ペースト。」
　
３．特許異議申立てについての判断
３−１．異議申立人の申立ての理由の概要
　特許異議申立人は、証拠方法として甲第１、２号証を提出して、本件発明１、２は、甲第１、２号証に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本件発明１、２に係る特許は、特許法第２９条第２項の規定に違反してなされたものである旨主張している。
　
３−２．甲第１、２号証に記載された事項
　異議申立人が提出した甲第１、２号証には、次のとおりの事項が記載されている。
甲第１号証：特開平８−２４６００１号公報
（摘示1-1）「【請求項１】　平均粒径が ０．１〜１．０μm で、かつタップ密度が（１）式で表される条件を満足する積層セラミックコンデンサー用ニッケル超微粉。
　タップ密度≧−2.5 ×（平均粒径)2＋ 7.0×（平均粒径）＋ 0.6　
　・・・（１）式　
【請求項２】  粒度分布の幾何標準偏差が２．０以下、かつ平均結晶子径が平均粒径の０．２倍以上であることを特徴とする請求項１記載の積層セラミックコンデンサー用ニッケル超微粉。」（特許請求の範囲の請求項１、２）
（摘示1-2）「平均粒径は電子顕微鏡写真を画像解析して求めた個数基準の粒度分布における５０％粒子径（ｄ50）である。」（【０００９】）
（摘示1-3）「粒度分布の幾何標準偏差が ２．０を超えると粗大な粒子が混入するので、膜厚が不均一となってクラックの原因となり好ましくない。結晶子径は結晶性を意味し、粒子の焼結の難易と関係する。すなわち、結晶子径が小さいほど粒子は焼結しやすく、積層セラミックスコンデンサーの焼成時、結晶子径が小さいニッケル粉を電極層として用いた場合、ニッケル層が過焼結により収縮してしまうのである。発明者らは、許容結晶子径を求めるべく実験を繰り返した結果、平均粒径が０．１〜１．０μｍの範囲で粒度分布の幾何標準偏差が ２．０以下、かつ平均結晶子径が平均粒径の ０．２倍以上であれば、焼成時にデラミネーションやクラックが発生しないことを見い出した。ここで、粒度分布の幾何標準偏差は個数基準の粒度分布における５０％粒子径（ｄ50）と積算ふるい下８４．３％径（ｄ84.3）の比（ｄ84.3／ｄ50）で求められ・・・」（【００１２】）
（摘示1-4）【表１】には、実施例１〜５、８の粒度分布の幾何標準偏差が１．４〜１．９であることが記載され、また、平均粒径（μｍ）、平均結晶子径（μｍ）、タップ密度（ｇ／ｃｍ３）のそれぞれの値が、以下のように記載されている。
　　　　　　　　平均粒径　　　　平均結晶子径　　　　タップ密度
　実施例１　　　０．２５　　　　０．２　　　　　　　２．５
　　　　２　　　０．４　　　　　０．２　　　　　　　３．７
　　　　３　　　０．８　　　　　０．２５　　　　　　４．６
　　　　４　　　０．６　　　　　０．２　　　　　　　４．２
　　　　５　　　０．４５　　　　０．１５　　　　　　４．０
　　　　・・・
　　　　８　　　０．９　　　　　０．０９　　　　　　４．９
甲第２号証：Effects of Ni Powder Properties on Ni Paste for MLC's Internal Electrode.“IMC 1996 Proceedings ”(April 24〜April 26,1996)
　積層セラミックコンデンサは内部電極と誘電体が交互に積層された単体構造を有するものであって（第４６頁左欄第２〜４行）、この内部電極にはＮｉ粉を用いたＮｉペーストが用いられるところ（第４６頁左欄第２１〜２４行）、第１〜３図には、Ａ、Ｂ、Ｃの３種類のＮｉ粉のＳＥＭ画像が示され、Table１には、ニッケル粉Ｃのタッピング密度が３．２ｇ／ｃｃ、結晶子径が１５２Åであることが記載されている。
　
３−３．当審の判断
（１）本件発明１について
　甲第１号証の摘示1-1には、「平均粒径が０．１〜１．０μｍ、タップ密度が（１）式で表される条件を満足し、粒度分布の幾何標準偏差が２．０以下、かつ平均結晶子径が平均粒径の０．２倍以上である積層セラミックコンデンサー用ニッケル超微粉」が記載されており、摘示1-4の実施例１〜５、８には、タップ密度が２．５〜４．９ｇ／ｃｍ３のニッケル超微粉が開示されている。これらの事項を本件発明１の記載ぶりに則って整理すると、甲第１号証には、「粒度分布の幾何標準偏差が２．０以下、タップ密度が２．５ｇ／ｃｍ３以上であり、且つ平均結晶子径が、平均粒径（０．１〜１．０μｍ）の０．２倍以上である積層セラミックコンデンサー用ニッケル超微粉」の発明（以下、「甲１発明」という。）が記載されているといえる。
　本件発明１と甲１発明とを対比すると、甲１発明の「平均結晶子径」、「平均粒径」、「積層セラミックコンデンサー用ニッケル超微粉」は、それぞれ本件発明１の「各々の粒子内の平均結晶子径」、「平均粒子径」、「ニッケル粉」に相当するから、両者は、「タップ密度が２．５ｇ／ｃｍ３以上であるニッケル粉」で一致し、以下の点で相違する。
　
相違点１：本件発明１は、ＳＥＭ観察による平均粒子径の１．２倍以上の粒子径を持つ粒子個数が全粒子個数の５％以下であり、該平均粒子径の０．８倍以下の粒子径を持つ粒子個数が全粒子個数の５％以下であるのに対し、甲１発明は、粒度分布の幾何標準偏差が２．０以下である点。
相違点２：各々の粒子内の平均結晶子径が、本件発明１は４００Å未満であるのに対し、甲１発明は、平均粒子径（０．１〜１．０μｍ）の０．２倍以上である点。
　
　そこで、上記相違点１について検討する。
　甲１発明の「平均粒子径（平均粒径）」は、摘示1-2によると、電子顕微鏡写真を画像解析して求めた個数基準の粒度分布における５０％粒子径（ｄ50）であるから、ＳＥＭ観察による平均粒子径であるといえ、また、「粒度分布の幾何標準偏差」は、摘示1-3によると、個数基準の粒度分布における５０％粒子径（ｄ50）と積算ふるい下８４．３％径（ｄ84.3）の比（ｄ84.3／ｄ50）で求められるものである。そうすると、甲１発明の「粒度分布の幾何標準偏差が２．０以下」は、「ｄ84.3／ｄ50≦２．０」と言い換えることができる。そして、個数基準の粒度分布における積算ふるい下９５．５％径（ｄ95.5）と平均粒子径ｄ50の比「ｄ95.5／ｄ50」の値は、「ｄ84.3／ｄ50」の値よりも大きいことは明らかなことであるから、甲１発明の「ｄ84.3／ｄ50≦２．０」の条件を満たす粒度分布は、１＜ｄ84.3／ｄ50＜ｄ95.5／ｄ50＜１．２である粒度分布を包含する。「ｄ95.5／ｄ50＜１．２」である粒度分布は、個数基準の粒度分布における積算ふるい下９５．５％径が、ＳＥＭ観察による平均粒子径の１．２倍より小さい粒度分布といえるから、ＳＥＭ観察による平均粒子径の１．２倍以上の粒子径を持つ粒子個数は、残りの部分、すなわち、全粒子個数の５％未満であるといえる。
　してみると、甲１発明は、「ＳＥＭ観察による平均粒子径の１．２倍以上の粒子径を持つ粒子個数が全粒子個数の５％未満」である点で、本件発明１と重複するから、この点で、本件発明１は、甲１発明と相違しないものといえる。
　しかしながら、甲１発明は、ＳＥＭ観察による平均粒子径の０．８倍以下の粒子径を持つ粒子個数が全粒子個数の何％であるか全く明らかでないから、甲１発明は、本件発明１の相違点１の「ＳＥＭ観察による平均粒子径の０．８倍以下の粒子径を持つ粒子個数が全粒子個数の５％以下である」点を何ら教示するものではない。
　次に、甲第２号証の記載事項によれば、甲第２号証には、タップ密度が３．２ｇ／ｃｃ、結晶子径が１５２Åのニッケル粉が記載されているにとどまり、本件発明１の相違点１を示唆する記載がない。
　してみると、本件発明１の相違点１は、甲第１、２号証に記載されたものから当業者が容易に想到し得ることではない。
　そして、本件発明１は、相違点１、２に係る発明特定事項により、ニッケル微粉の粒子径を無用に小さくすることなしで、クラックやデラミネーションの発生なしで、且つ内部電極層の表面の突起形成が一層充分に防止されて、極めて均質かつ緻密で薄い内部電極膜を形成することが可能であるという本件特許明細書に記載されるとおりの優れた効果を奏するものである（【００４９】）。
　したがって、相違点２について検討するまでもなく、本件発明１は、甲第１、２号証に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたということはできない。
　
（２）本件発明２について
　本件発明２は、本件発明１のニッケル粉を含有する積層セラミックコンデンサ用導電ペーストに係る発明であって、本件発明１を引用するものであるから、本件発明１と同様の理由により、甲第１、２号証に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものではない。
　
４．むすび
　以上のとおりであるから、特許異議申立ての理由及び証拠方法によっては本件発明１、２に係る特許を取り消すことはできない。
　また、他に本件発明１、２に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり決定する
【異議決定日】
平成１６年１０月１５日（２００４．１０．１５）