【事件の表示】
　特許第３２８７９８０号「積層型コンデンサ」の請求項１に係る特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結　論】
　訂正を認める。
　特許第３２８７９８０号の請求項１に係る特許を維持する。
【理　由】
第１　手続きの経緯
本件特許第３２８７９８０号に係る手続きの主な経緯は次のとおりである。
　特許出願（特願平７−１９５２１４号）　　　　平成　７年　７月３１日
　特許権設定登録　　　　　　　　　　　　　　　平成１４年　３月１５日
　特許異議申立（異議申立人：雨山範子）　　　　平成１４年１２月　４日
　取消理由通知　　　　　　　　　　　　　　　　平成１５年　３月２０日
　特許異議意見書・訂正請求書　　　　　　　　　平成１５年　６月　２日
　
第２　訂正の適否についての判断
　１　訂正の内容
　（１）　訂正事項ａ
　特許請求の範囲の請求項１に
「積層してなる積層型コンデンサであって」とあるのを、　
「積層してなり、還元雰囲気焼成後、酸化処理して作製されてなる積層型コンデンサであって」と訂正する。
　（２）　訂正事項ｂ
　明細書の段落【０００８】に
「積層してなり、」とあるのを、　
「積層してなり、還元雰囲気焼成後、酸化処理して作製され、」と訂正する。
　（３）　訂正事項ｃ
　明細書の段落【０００９】に
「積層してなる積層型コンデンサであって」とあるのを、　
「積層してなり、還元雰囲気焼成後、酸化処理して作製されてなる積層型コンデンサであって」と訂正する。
　（４）　訂正事項ｄ
　明細書の段落【００２１】及び段落【００２３】に
「非還元性雰囲気」とあるのを、　
「還元性雰囲気」と訂正する。
　
　２　訂正の目的の適否、新規事項の有無及び拡張・変更の存否
　（１）　訂正事項ａ
　訂正事項ａについては、特許請求の範囲の請求項１における積層型コンデンサの作製方法を限定して「還元雰囲気焼成後、酸化処理して作製されてなる積層型コンデンサ」とするものであるから、特許請求の範囲の減縮に当たる。
　さらに、訂正事項ａにおける「還元雰囲気焼成」は、特許明細書の段落【００２１】及び段落【００２３】（なお、後述（３）のように、「非還元性雰囲気」は、「還元性雰囲気」の誤記である。）に記載されており、「酸化処理」は、【表１】に「酸化処理条件」と記載されているので、新規事項には当たらない。
　したがって、訂正事項ａは、願書に添付した明細書又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、かつ実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではない。
　
　（２）　訂正事項ｂ，ｃ
　訂正事項ｂ，ｃは、特許請求の範囲の訂正に対応して、これと整合するように発明の詳細な説明の欄を訂正するものであるから、明りょうでない記載の釈明に当たる。
　さらに、訂正事項ｂ，ｃは、願書に添付した明細書又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、かつ実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではない。
　
　（３）　訂正事項ｄ
　本件発明のように卑金属からなる内部電極層を用いた場合に還元性雰囲気で焼成するのは常識であり、段落【００２１】及び段落【００２３】記載の酸素分圧も明らかに還元性雰囲気であるから、「非還元性雰囲気」は、「還元性雰囲気」の誤記であることは明らかである。
　ゆえに、訂正事項ｄは、誤記の訂正に当たる。
　さらに、訂正事項ｄは、願書に添付した明細書又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、かつ実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではない。
　
　３　訂正の適否のむすび
　以上のとおりであるから、上記訂正は、平成１１年改正前の特許法第１２０条の４第２項及び同条第３項において準用する特許法第１２６条第２項から第４項までの規定に適合するので、当該訂正を認める。
　
第３　特許異議申立及びこれについての判断
　１　本件発明
　上記第２で示したように上記訂正は認められるので、本件請求項１に係る発明（以下、「本件発明」という。）は、上記訂正請求に係る訂正明細書の特許請求の範囲の請求項１に記載された次のとおりのものである。
「チタン酸バリウムを主成分とし、このチタン酸バリウム１００モル部に対してマンガンを０．０４〜０．５モル部含有する厚み３〜１０μｍの誘電体磁器層と、卑金属からなる内部電極層とを交互に積層してなり、還元雰囲気焼成後、酸化処理して作製されてなる積層型コンデンサであって、前記誘電体磁器層の熱処理前後の重量変化から求められる酸素空孔補償量ΔＶo が０．００５〜０．５モル％であることを特徴とする積層型コンデンサ。」
　
　２　特許異議申立の理由及び取消理由の内容
　（１）　特許異議申立の理由
　特許異議申立人は、証拠として、
１．刊行物１（甲第１号証）：特開平３−１１９６０８号公報
２．刊行物２（甲第２号証）：JOURNAL of the American Ceramic Society,VOLUME64,1981,p.590-594
３．刊行物３（参考資料１）：特開平６−４５１８２号公報
４．刊行物４（参考資料２）：JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,VOL.33NO.9B（１９９４年９月）pp.5393-5396
５．刊行物５（参考資料３）：JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,VOL.32NO.9B（１９９３年９月）pp.4380-4383
を提出し、本件発明は、刊行物１、２に記載された発明に基づいて、その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものであり、特許を取り消すべき旨主張している。
　
　（２）　取消理由の内容
　取消理由の内容も特許異議申立の理由と同様である。
　
　３　刊行物に記載された発明
　（１）刊行物１に記載された発明
　刊行物１は、「非還元性誘電体磁器」に関するものであり、以下の点が記載されている。
「チタン酸バリウムを主成分とし、他に金属酸化物を含む非還元性誘電体磁器において、空気中、１０００℃での熱処理前後の重量差に基づいて算出される磁器中の酸素欠陥量が１０１７〜１０１９個／ｃｍ３であることを特徴とする非還元性誘電体磁器。」（特許請求の範囲）
「本発明は、〜、特にニッケル等の卑金属を内部電極とする積層型磁器コンデンサに好適な非還元性誘電体磁器に関する。」（第１頁左欄の第１２〜１４行目）
「本発明における酸素欠陥量は、熱重量法に基づくもので還元雰囲気下で焼成された磁器を１０００℃の大気中で熱処理を行い、その磁器に充分に酸素を供給させて飽和状態（この時の酸素欠陥濃度をゼロと考える）とし、熱処理前後の磁器の重量差（△ｍ）より、酸素欠陥量（Ｖ０）を次式（３）
　　　Ｖ０（個／ｃｍ３）＝ρ・ＮＡ・△ｍ／ｍ・１／Ｍｅ　−　（３）
　　　　　　式中、ρ：磁器密度（≒６ｇ／ｃｍ３）
　　　　　　ＮＡ：アボガドロ数（≒６．０２２×１０２２／ｍｏｌ）
　　　　　　Ｍｅ：酸素の原子量（１５．９９９ｇ／ｍｏｌ）
に基づいて算出したものである。」（第３頁右上欄の第３〜１３行目）　
「ＢａＴｉＯ３原料として〜結晶性に優れた粉末を用い、これに添加物としてＭｇＯ、ＭｎＯ、さらにＭｇＯ・ＺｒＯ２を用いて第１表の割合で秤量し、〜。」（第３頁左下欄の第１６〜１９行目）
　さらに、第４頁第１表から試料番号１（ＭｎＯを０．１モル％添加）の酸素欠陥量を見ると５．５７×１０１８個／ｃｍ３であることが分かる。
　
　（２）刊行物２に記載された発明
　刊行物２には、以下の点が記載されている。
「アクセプターを添加したセラミックスの特性は、内部電極に卑金属を用いた積層コンデンサに適している。」（第５９０頁左欄第１１〜１３行目）
「それゆえ重量変化はＢａＴｉＯ３母格子での酸素空孔の生成もしくは消滅によるものであると断定できる。酸素空孔濃度の変化は（１）式で示される。
△［Ｖ０］＝△ｍ（ρＮＡ／ｍＭ０）　　（１）
ここで、ρ＝６ｇ・ｃｍ−３（試料の密度），ＮＡ＝６×１０２３ｍｏｌ−１（アボガドロ数），Ｍ０＝１６ｇ・ｍｏｌ−１（酸素の原子量），△ｍ／ｍ＝重量変化率である。）」（第５９１頁右欄第１３〜２０行目）
　さらに第５９３頁のＦｉｇ．６には、ＢａＴｉＯ３にＭｎを０．２，０．５，１．０ｍｏｌ％添加した組成物の酸素空孔濃度Ｖ０が記載されている。
　
　（３）刊行物３に記載された発明
　刊行物３の第８頁の段落【０１０４】には「〜、誘電体層３の厚みは６μｍ、〜。」と記載されている。
　
　（４）刊行物４に記載された発明
　刊行物４の第５３９６頁のＴａｂｌｅＩ．には「セラミック層５．０μｍ」と記載されている。
　
　（５）刊行物５に記載された発明
　刊行物５の第４３８２頁のＴａｂｌｅＩ．には「セラミック層７．１μｍ，６．８μｍｍ」と記載されている。
　
　４　本件発明と刊行物に記載された発明との対比・判断
　本件発明と刊行物１、２に記載された発明とを対比すると、刊行物１、２には、本件発明の構成要素である「還元雰囲気焼成後、酸化処理して作製されてなる積層型コンデンサであって、前記誘電体磁器層の熱処理前後の重量変化から求められる酸素空孔補償量ΔＶo が０．００５〜０．５モル％である」点が記載されていない。
　異議申立人は、刊行物１の「酸素欠陥量」及び刊行物２の「酸素空孔濃度」が、本件発明の「酸素空孔補償量」に相当し、その数値範囲に含まれていると主張している。
　しかし、本件発明は、還元雰囲気焼成後、酸化処理して作製されてなる積層型コンデンサであって、その「酸素空孔補償量」は、酸化処理（熱処理）前後の重量変化により求められたものであり、酸化処理による酸素空孔の減少量を特定したものである。これに対して、刊行物１は、製品としては酸化処理していず、単に測定のためだけに酸素欠陥濃度をゼロにするべく熱処理を行い、その熱処理前後の重量変化により製品の「酸素欠陥量」を求めたものであり、製品の酸素空孔の総量を特定したものである。さらに、刊行物２も、重量変化により酸素空孔濃度、すなわち酸素空孔の総量を特定したものである。
　ゆえに、本件発明の「酸素空孔補償量」（酸素空孔の減少量）と刊行物１の「酸素欠陥量」及び刊行物２の「酸素空孔濃度」（酸素空孔の総量）とは、異なるパラメータであり、前記主張は採用できない。
　したがって、本件発明は、刊行物１、２に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものとすることはできない。
　なお、刊行物３〜５を参酌しても、上記の結論は変わらない。
　
　５　特許異議申立についての判断のむすび
　以上のとおりであるから、特許異議の申立ての理由及び取消理由によっては本件発明についての特許を取り消すことはできない。
　また、他に本件発明についての特許を取り消すべき理由を発見しない。
　したがって、本件発明についての特許は拒絶の査定をしなければならない特許出願に対してされたものと認めない。
　よって、特許法等の一部を改正する法律（平成６年法律第１１６号）附則第１４条の規定に基づく、特許法等の一部を改正する法律の一部の施行に伴う経過措置を定める政令（平成７年政令第２０５号）第４条第２項の規定により、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
平成１６年２月３日（２００４．２．３）
【訂正の要旨】
審決（決定）の【理由】欄参照。
（５４）【発明の名称】
積層型コンデンサ
（５７）【特許請求の範囲】
　【請求項１】チタン酸バリウムを主成分とし、このチタン酸バリウム１００モル部に対してマンガンを０．０４〜０．５モル部含有する厚み３〜１０μｍの誘電体磁器層と、卑金属からなる内部電極層とを交互に積層
してなり、還元雰囲気焼成後、酸化処理して作製されてなる
【発明の詳細な説明】
　【０００１】
　【発明の属する技術分野】本発明は、チタン酸バリウムを主成分とし、マンガンを含有する誘電体磁器層と、ニッケル等の卑金属からなる内部電極を有する積層型コンデンサに関するものである。
　【０００２】
　【従来技術】従来、積層型コンデンサ等の積層型電子部品を得るにあたっては、内部電極を構成する電極材料と誘電体セラミックスとを一体焼成して得られた焼結体が用いられている。ところで積層コンデンサを製作する場合、従来のＢａＴｉＯ３を主成分とする誘電体材料では、１３００〜１５００℃で焼成するため、内部電極材料としては、このような温度で溶融しないＰｔ，Ｐｄ等の貴金属が使用されていた。
　【０００３】しかしながら、これらの貴金属は高価であるという問題があり、高容量化を図るために内部電極数を増加させた場合にはコストが著しく高くなる。そこで、安価なニッケル等の卑金属を内部電極材料として用いることが試みられている。
　【０００４】しかしながらニッケル等の卑金属からなる内部電極を用いた場合には、内部電極材料が酸化しやすいため還元雰囲気中で焼成しなければならず、そのような雰囲気下で焼成すると、セラミックスが還元され絶縁性を失ってしまうという問題があった。このような問題を解決するものとして、例えばＢａＴｉＯ３にＭｇＯやＭｎＯを添加したり（特開昭５７−７１８６６号公報参照）、さらにこの系にＣａＺｒＯ３を添加したり（特開昭６２−１５７６０３号公報参照）することが提案されていた。
　【０００５】
　【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記のような従来の組成を用いた積層型コンデンサでは、高温，高電圧の環境で用いられる場合には製品寿命が短いという問題があった。その原因は、高温，高電圧の環境においては、誘電体磁器自体の電気伝導性が高くなって誘電体としての機能を果たさなくなり、即ち、高温，高電圧環境においては誘電体としての寿命が短くなり、その実用化に際して障害となっていた。特に、高容量化のために誘電体層を薄層化する傾向にあるが、従来のグリーンシートを用いた方法では薄層化に限界があった。また、誘電体層が薄くなる程、高温，高電圧環境においては電気伝導性が高くなり易いという問題があった。
　【０００６】また、上記のような従来の組成を用いた積層型コンデンサでは、高温と低温が交互に生じるような環境で使用される場合、内部電極層と誘電体層との接合強度が低下して境界部分にクラック等が生じ易くなり、熱衝撃性が低いという問題があった。
　【０００７】
　【発明の目的】本発明は、誘電体磁器層の厚みが３〜１０μｍと薄い場合でも、高温，高電圧の環境下における寿命を向上することができるとともに、熱衝撃性を向上することができる積層型コンデンサを提供することを目的とする。
　【０００８】
　【課題を解決するための手段】本発明者等は、上記問題点に関して鋭意検討した結果、ＢａＴｉＯ３１００モル部に対してマンガンを０．０４〜０．５モル部含有する厚み３〜１０μｍの誘電体磁器層と、卑金属からなる内部電極層とを交互に積層してなり、
還元雰囲気焼成後、酸化処理して作製され
　【０００９】即ち、本発明の積層型コンデンサは、チタン酸バリウムを主成分とし、このチタン酸バリウム１００モル部に対してマンガンを０．０４〜０．５モル部含有する厚み３〜１０μｍの誘電体磁器層と、卑金属からなる内部電極層とを交互に積層
してなり、還元雰囲気焼成後、酸化処理して作製されてなる
　【００１０】
　【作用】本発明の積層型コンデンサでは、酸素空孔濃度が雰囲気によって変化することが、製品寿命を長くするために必要であるが、還元焼成後に熱処理を行ったとしても、酸素空孔濃度の変化がなければ製品寿命は変化しない。本願発明では、熱処理を行うことと、マンガン添加量を制御すること、および誘電磁器層用スリップを用いて３〜１０μｍの誘電体磁器層を作製することにより、酸素空孔濃度を変化させ、酸素空孔補償量ΔＶＯを０．００５〜０．５モル％とすることができるのである。
　【００１１】高温，高電圧の環境下における寿命は電子濃度の変化によって決まることから、電子濃度が添加物の価数変化によって補償されるならば寿命を長くすることができる。添加物の価数変化は、同時に酸素空孔濃度を変化させることから、酸素空孔濃度の変化する磁器は添加物が価数変化することを示しており、寿命を長くする傾向に一致する。即ち、酸素空孔補償量の大きい組成及びプロセスは、高温、高電圧の環境下における製品寿命を長くすることができる。
　【００１２】また、本願発明の積層型コンデンサでは、内部電極層と誘電体層との接合強度が向上し、高温と低温が交互に生じるような環境での使用でも、熱衝撃性が向上し、内部電極層と誘電体層との境界部分にクラック等が生じることがない。
　【００１３】
　【発明の実施の形態】本発明における積層型コンデンサの誘電体磁器層は、チタン酸バリウム（ＢａＴｉＯ３）を主成分とするもので、例えば、ＢａＴｉＯ３１００モル部に対して、ＭｇＯを０．２〜２．０モル部、Ｙ２Ｏ３を０．５〜１．５モル部、ＭｎＣＯ３を０．０４〜０．５モル部からなる成分１００重量部に対して、ＳｉＯ２２０〜７０モル％、Ｌｉ２Ｏ０〜５０モル％、ＢａＯ０〜４０モル％、ＣａＯ０〜４０モル％からなるガラス成分を０〜３重量部添加して構成される。この場合に、不純物としてＺｒＯ２，Ａｌ２Ｏ３，Ｆｅ２Ｏ３が混入する場合がある。
　【００１４】特には、静電容量温度特性の平坦化というためには、ＢａＴｉＯ３１００モル部に対して、ＭｇＯを０．５〜１．５モル部、Ｙ２Ｏ３を０．７５〜１．２５ル部、ＭｎＣＯ３を０．１〜０．３モル部からなる成分１００重量部に対して、ＳｉＯ２４０〜６０モル％、Ｌｉ２Ｏ１０〜２５モル％、ＢａＯ１５〜４０モル％、ＣａＯ０〜２５モル％からなるガラス成分を１〜２重量部添加して構成される。
　【００１５】誘電体磁器層の厚みを３〜１０μｍとしたのは、厚みを薄くし、高容量下を図るためである。厚みが３μｍよりも薄い場合には、ドクターブレード法による成形が困難となり、１０μｍよりも厚い場合には、静電容量が低くなるからである。誘電体磁器層の厚みは耐電圧という点から５〜１０μｍが望ましい。
　【００１６】マンガンをＢａＴｉＯ３１００モル部に対して０．０４〜０．５モル部含有させたのは、マンガン添加により酸素空孔補償量ΔＶＯを増加することができるからであり、マンガンが０．０４モル部よりも少ない場合には必要なΔＶＯが得られなくなり、マンガンが０．５モル部よりも多い場合には、エージング特性が悪化し、高温，高電圧の環境下における寿命が短くなるからである。マンガンは０．１〜０．３モル部含有することが高温，高電圧の環境下における寿命の確保という点から望ましい。
　【００１７】内部電極としてはＮｉ，Ｃｕ等の卑金属からなるものである。
　【００１８】酸素空孔補償量ΔＶＯとは、雰囲気の変化に対する酸素空孔濃度変化のうち、特に、添加物の価数変化に基づく変化分を示すものであり、この量が大きいほど、高温，高電圧の環境下における寿命が長くなる。酸素空孔補償量ΔＶＯは、例えば温度１０００℃、酸素分圧１０−４Ｐａの雰囲気中での熱処理前後の重量変化から求められる。
　【００１９】酸素空孔補償量ΔＶＯを０．００５〜０．５モル％としたのは、この範囲内であれば高温，高電圧下での寿命を十分に長くできるからである。即ち、酸素空孔補償量ΔＶＯが０．００５モル％よりも少ない場合や、０．５モル％よりも多い場合には、高温，高電圧下での寿命が短くなるからである。酸素空孔補償量ΔＶＯは寿命のバラツキを抑制するという点から０．０１〜０．３モル％含有することが望ましい。
　【００２０】本発明の積層型コンデンサは、先ず、例えば、上記したような組成からなる誘電体磁器層用スリップを作製するとともに、上記したような組成からなる内部電極層用スリップを作製する。
　【００２１】この後、台板に誘電体磁器層用スリップをドクターブレード法により複数回塗布し、厚みが５〜１３μｍの厚みの誘電体成形膜を形成し、この誘電体成形膜の表面に電極層用スリップをスクリーン印刷して所定形状の電極膜を形成する。この工程を所望の容量が得られるまで繰り返す。この積層体を酸素分圧が３×１０−５〜３×１０−３Ｐａの
還元性
　【００２２】
　【実施例】出発原料としてＢａＣＯ３粉末，ＴｉＯ２粉末を用い、混合後１１５０℃にて固相反応させＢａＴｉＯ３を合成し、粒径０．５μｍに微粉砕した。次にＢａＴｉＯ３，ＭｇＯ，Ｙ２Ｏ３，ＭｎＣＯ３を、表１の組成となるように調合し、さらに、この組成物１００重量部に対して、ＳｉＯ２５０モル％、Ｌｉ２Ｏ２０モル％、ＢａＯ２０モル％、ＣａＯ１０モル％からなるガラス成分を１．５重量部添加し、ＺｒＯ２ボールにより混合し、バインダー，可塑剤を加え、誘電体磁器層用スリップを得た。また、Ｎｉとテルピネオールを添加し、Ａｌ２Ｏ３ボールにより混合し、バインダー、可塑剤を加え、電極層用スリップを得た。
　【００２３】そして、誘電体磁器層用スリップを台板にドクターブレード法により塗布し、この誘電体成形膜の上面に、Ｎｉを主成分とする電極層用スリップをクシ型構造となるようにスクリーン印刷し、誘電体成形膜と電極膜の成形工程を５０回繰り返し、誘電体成形膜を５０層有する積層成形体を作製した。この積層成形体を熱圧着後、酸素分圧が３×１０−４Ｐａの
還元性
　【００２４】
　【表１】
　【００２５】このようにして得られた積層型コンデンサに対して、誘電体層厚みを測定するとともに、熱衝撃特性，容量，誘電体磁器中の酸素空孔補償量ΔＶＯを測定し、さらに、信頼性試験を行った。
　【００２６】誘電体層厚みは金属顕微鏡により測定した。熱衝撃特性は室温に保持した２００個の試料を３４０℃の半田槽中に浸漬し、表面にクラックが生じた個数で判断した。容量はＬＣＲメータで測定し、誘電体一層当たりの容量に換算した。
　【００２７】また、誘電体磁器中の酸素空孔補償量ΔＶＯは、上記表１の組成の誘電体磁器層用スリップをドクターブレード法により複数回塗布し、打ち抜き法により直径２０ｍｍ厚み１ｍｍの誘電体成形体を作製し、上記のような焼成条件で焼成した後、誘電体磁器の重量を測定し、表１のような熱処理を行った後の誘電体磁器の重量を測定し、熱処理前の重量に対する熱処理後の重量減少分を酸素空孔量の変化によるものとみなし、酸素空孔補償量を算出した。
　【００２８】信頼性試験は、上記のように作製した積層コンデンサの両端面にスパッタ法により金電極を形成し、これを３００℃の測定炉中で１０００Ｖの電圧を印加し、ショート故障に至るまでの時間を測定した。これらの結果を表２に示す。
　【００２９】
　【表２】
　【００３０】この表２より、本発明の積層型コンデンサでは、高温，高電圧の環境下における寿命（信頼性）を向上することができるとともに、熱衝撃性を向上することができる。
　【００３１】
　【発明の効果】本発明の積層型コンデンサでは、誘電体磁器層の厚みが１〜１０μｍと薄い場合でも、高温，高電圧の環境下における寿命を向上することができるとともに、熱衝撃性を向上することができる。