(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
可変波長の放射ビームを発生する光源と、
上記可変波長の放射ビームを少なくとも第１放射ビームと第２放射ビームとに分割する第１スプリッタと、
第１の時間遅延により上記第１放射ビームを遅延させる第１遅延素子と、
遅延された上記第１放射ビームと遅延された上記第２放射ビームとが互いに対して干渉性を有さないように、第２の時間遅延により上記第２放射ビームを遅延させる第２遅延素子と、
遅延された上記第１放射ビームを入力として受け取る第１干渉計と、
遅延された上記第２放射ビームを入力として受け取る第２干渉計とを備えていることを特徴とする干渉計システム。
【請求項２】
上記第１の時間遅延と上記第２の時間遅延との差が、上記第１放射ビームに起因する多重散乱の非対称性の要因となるのに十分な大きさであることを特徴とする請求項１に記載の干渉計システム。
【請求項３】
上記第１干渉計が、遅延された上記第１放射ビームを分割して、第１試料放射ビームと第１参照放射ビームとを生成する第２混合スプリッタを備えていることを特徴とする請求項１に記載の干渉計システム。
【請求項４】
上記第１試料放射ビームが光干渉断層撮影放射ビームであることを特徴とする請求項３に記載の干渉計システム。
【請求項５】
上記第２干渉計が、遅延された上記第２放射ビームを分割して、第２試料放射ビームと第２参照放射ビームとを生成する第３混合スプリッタを備えていることを特徴とする請求項３に記載の干渉計システム。
【請求項６】
上記第２試料放射ビームが光干渉断層撮影放射ビームであることを特徴とする請求項５に記載の干渉計システム。
【請求項７】
上記第１スプリッタがさらに上記可変波長の放射ビームを分割して第３放射ビームを生成することを特徴とする請求項１に記載の干渉計システム。
【請求項８】
遅延された上記第３放射ビームが遅延された上記第１放射ビームに対して干渉性を有さず、かつ、遅延された上記第２放射ビームに対して干渉性を有さないように、第３の時間遅延により上記第３放射ビームを遅延させる第３遅延素子と、
遅延された上記第３放射ビームを入力として受け取る第３干渉計とをさらに備えていることを特徴とする請求項７に記載の干渉計システム。
【請求項９】
上記第３干渉計が、遅延された上記第３放射ビームを第３試料放射ビームと第３参照放射ビームとに分割する第３スプリッタを備えていることを特徴とする請求項８に記載の干渉計システム。
【請求項１０】
上記第３の時間遅延と上記第１の時間遅延との差が、遅延された上記第１放射ビームに起因する多重散乱の非対称性の要因となるのに十分な大きさであり、かつ、上記第３の時間遅延と上記第２の時間遅延との差が、遅延された上記第２放射ビームに起因する多重散乱の非対称性の要因となるのに十分な大きさであることを特徴とする請求項８に記載の干渉計システム。
【請求項１１】
上記第１の時間遅延がゼロであることを特徴とする請求項１に記載の干渉計システム。
【請求項１２】
放射ビームを発生する光源と、
上記放射ビームを第１放射ビームと第２放射ビームとに分割する第１スプリッタと、
上記第１放射ビームを少なくとも第３放射ビームと第４放射ビームとに分割する第２スプリッタと、
第１の時間遅延で上記第３放射ビームを遅延させる第１遅延素子と、
遅延された上記第３放射ビームと遅延された上記第４放射ビームとが互いに対して干渉性を有さないように、第２の時間遅延で上記第４放射ビームを遅延させる第２遅延素子と、
遅延された上記第３放射ビームを入力として受け取る第１干渉計と、
遅延された上記第４放射ビームを入力として受け取る第２干渉計とを備えていることを特徴とする干渉計システム。
【請求項１３】
上記第１の時間遅延と上記第２の時間遅延との差が、上記第３放射ビームに起因する多重散乱の非対称性の要因となるのに十分な大きさであることを特徴とする請求項１２に記載の干渉計システム。
【請求項１４】
上記第１干渉計が、遅延された上記第３放射ビームを受け取り、第１試料放射ビームを生成する混合スプリッタを備えていることを特徴とする請求項１３に記載の干渉計システム。
【請求項１５】
上記第１試料放射ビームが光干渉断層撮影放射ビームであることを特徴とする請求項１４に記載の干渉計システム。
【請求項１６】
上記第２干渉計が、遅延された上記第４放射ビームを受け取り、第２試料放射ビームを生成する混合スプリッタを備えていることを特徴とする請求項１２に記載の干渉計システム。
【請求項１７】
上記第２試料放射ビームが光干渉断層撮影放射ビームであることを特徴とする請求項１６に記載の干渉計システム。
【請求項１８】
可変遅延により上記第２放射ビームを遅延させる可変遅延素子と、
遅延された上記第２放射ビームを少なくとも第５放射ビームと第６放射ビームとに分割する第３スプリッタと、
上記第１の時間遅延により上記第５放射ビームを遅延させる第３遅延素子と、
上記第２の時間遅延により上記第６放射ビームを遅延させる第４遅延素子とをさらに備えていることを特徴とする請求項１６に記載の干渉計システム。
【請求項１９】
上記第１干渉計が遅延された上記第５放射ビームを基準入力としてさらに受け取ることを特徴とする請求項１８に記載の干渉計システム。
【請求項２０】
上記第２干渉計が遅延された上記第６放射ビームを基準入力としてさらに受け取ることを特徴とする請求項１８に記載の干渉計システム。
【請求項２１】
上記第２スプリッタが、上記第１放射ビームを第７放射ビームにさらに分割することを特徴とする請求項１８に記載の干渉計システム。
【請求項２２】
遅延された上記第７放射ビームが遅延された上記第３放射ビームおよび遅延された上記第４放射ビームに対して非干渉となるように、第３の時間遅延で上記第７放射ビームを遅延させる第５遅延素子と、
遅延された上記第７放射ビームを入力として受け取る第３干渉計とをさらに備えていることを特徴とする請求項２１に記載の干渉計システム。
【請求項２３】
上記第３の時間遅延と上記第１の時間遅延との差が、遅延された上記第３放射ビームに起因する多重散乱の非対称性の要因となるのに十分な大きさであり、かつ、上記第３の時間遅延と上記第２の時間遅延との差が、遅延された上記第４放射ビームに起因する多重散乱の非対称性の要因となるのに十分な大きさであることを特徴とする請求項２２に記載の干渉計システム。
【請求項２４】
上記第３干渉計が、遅延された上記第７放射ビームを受け取り、第３試料放射ビームを生成する混合スプリッタを備えていることを特徴とする請求項２２に記載の干渉計システム。
【請求項２５】
上記第３スプリッタが、遅延された上記第２放射ビームを第８放射ビームにさらに分割することを特徴とする請求項２４に記載の干渉計システム。
【請求項２６】
上記第３の時間遅延で上記第８放射ビームを遅延させる第６遅延素子をさらに備えていることを特徴とする請求項２５に記載の干渉計システム。
【請求項２７】
上記第３干渉計が遅延された上記第８放射ビームを基準入力としてさらに受け取ることを特徴とする請求項２６に記載の干渉計システム。
【請求項２８】
上記第１の時間遅延がゼロであることを特徴とする請求項１２に記載の干渉計システム。
【請求項２９】
可変波長を有する光源放射ビームを発生するステップと、
上記光源放射ビームを少なくとも第１放射ビームと第２放射ビームとに分割するステップと、
第１の時間遅延で上記第１放射ビームを遅延させるステップと、
遅延された上記第１放射ビームと遅延された上記第２放射ビームとが互いに対して干渉性を有さないように、第２の時間遅延で上記第２放射ビームを遅延させるステップと、
遅延された上記第１放射ビームを第１干渉計に入力するステップと、
遅延された上記第２放射ビームを第２干渉計に入力するステップとを含むことを特徴とする方法。
【請求項３０】
上記第１の時間遅延と上記第２の時間遅延との差が、上記第１放射ビームに起因する多重散乱の非対称性の要因となるのに十分な大きさであることを特徴とする請求項２９に記載の方法。
【請求項３１】
遅延された上記第１放射ビームを上記第１干渉計によって分割し、第１試料放射ビームと第１参照放射ビームとを生成するステップと、
遅延された上記第２放射ビームを上記第２干渉計によって分割し、第２試料放射ビームと第２参照放射ビームとを生成するステップとをさらに含むことを特徴とする請求項２９に記載の方法。
【請求項３２】
上記第１試料放射ビームおよび第２試料放射ビームが、光干渉断層撮影放射ビームであることを特徴とする請求項３１に記載の方法。
【請求項３３】
上記光源放射ビームをさらに第３放射ビームに分割するステップと、
遅延された上記第３放射ビームが遅延された上記第１放射ビームに対して干渉性を有さず、かつ、遅延された上記第２放射ビームに対して干渉性を有さないように、第３の時間遅延で上記第３放射ビームを遅延させるステップと、
遅延された上記第３放射ビームを第３干渉計に入力するステップと、
遅延された上記第３放射ビームを上記第３干渉計によって分割し、第３試料放射ビームと第３参照放射ビームとを生成するステップとをさらに含むことを特徴とする請求項３１に記載の方法。
【請求項３４】
上記第３の時間遅延と上記第１の時間遅延との差が、遅延された上記第１放射ビームに起因する多重散乱の非対称性の要因となるのに十分な大きさであり、かつ、上記第３の時間遅延と上記第２の時間遅延との差が、遅延された上記第２放射ビームに起因する多重散乱の非対称性の要因となるのに十分な大きさであることを特徴とする請求項３３に記載の方法。
【請求項３５】
上記第１の時間遅延がゼロであることを特徴とする請求項２９に記載の方法。
【請求項３６】
光源放射ビームを発生するステップと、
上記光源放射ビームを第１放射ビームと第２放射ビームとに分割するステップと、
上記第１放射ビームを少なくとも第３放射ビームと第４放射ビームとに分割するステップと、
第１の時間遅延により上記第３放射ビームを遅延させるステップと、
遅延された上記第３放射ビームと遅延された上記第４放射ビームとが互いに対して干渉性を有さないように、第２の時間遅延により上記第４放射ビームを遅延させるステップと、
遅延された上記第３放射ビームを第１干渉計に入力するステップと、
遅延された上記第４放射ビームを第２干渉計に入力するステップとを含むことを特徴とする方法。
【請求項３７】
上記第１の時間遅延と上記第２の時間遅延との差が、上記第３放射ビームに起因する多重散乱の非対称性の要因となるのに十分な大きさであることを特徴とする請求項３６に記載の方法。
【請求項３８】
遅延された上記第３放射ビームを用いて、上記第１干渉計によって第１試料放射ビームを生成するステップと、
遅延された上記第４放射ビームを用いて、上記第２干渉計によって第２試料放射ビームを生成するステップとをさらに含むことを特徴とする請求項３６に記載の方法。
【請求項３９】
上記第１試料放射ビームおよび第２試料放射ビームが、光干渉断層撮影放射ビームであることを特徴とする請求項３８に記載の方法。
【請求項４０】
可変遅延により上記第２放射ビームを遅延させるステップと、
遅延された上記第２放射ビームを少なくとも第５放射ビームと第６放射ビームとに分割するステップと、
上記第１の時間遅延により上記第５放射ビームを遅延させるステップと、
遅延された上記第５放射ビームを上記第１干渉計に第１参照放射ビームとして入力するステップと、
上記第２の時間遅延により上記第６放射ビームを遅延させるステップと、
遅延された上記第６放射ビームを上記第２干渉計に第２参照放射ビームとして入力するステップとをさらに含むことを特徴とする請求項３６に記載の方法。
【請求項４１】
上記第１放射ビームをさらに第７放射ビームに分割するステップと、
遅延された上記第７放射ビームが遅延された上記第３放射ビームおよび遅延された上記第４放射ビームに対して非干渉となるように、第３の時間遅延によって上記第７放射ビームを遅延させるステップと、
遅延された上記第７放射ビームを第３干渉計に入力するステップと、
遅延された上記第７放射ビームを用いて、上記第３干渉計によって、第３試料放射ビームを生成するステップをさらに含むことを特徴とする請求項４０に記載の方法。
【請求項４２】
上記第３の時間遅延と上記第１の時間遅延との差が、上記第３放射ビームに起因する多重散乱の非対称性の要因となるのに十分な大きさであり、かつ、上記第３の時間遅延と上記第２の時間遅延との差が、上記第４放射ビームに起因する多重散乱の非対称性の要因となるのに十分な大きさであることを特徴とする請求項４１に記載の方法。
【請求項４３】
遅延された上記第２放射ビームをさらに第８放射ビームに分割し、
遅延された上記第８放射ビームが遅延された上記第５放射ビームおよび遅延された上記第６放射ビームに対して干渉性を有さないように、上記第３の時間遅延によって上記第８放射ビームを遅延させるステップと、
遅延された上記第８放射ビームを第３参照放射ビームとして上記第３干渉計に入力するステップとをさらに備えることを特徴とする請求項４１に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、光干渉断層撮影の分野に関連する。
【背景技術】
【０００２】
本願は、２０１５年７月２２日出願の米国特許出願第６２／１９５，５７３号に対して優先権の利益を請求するものであり、該仮出願は、参照によりその全体が本書に組み込まれる。
【０００３】
光干渉断層撮影（ＯＣＴ）は、広帯域光源と干渉計型検出システムとを用いて、高解像度で軸情報を提供することが可能な医用画像を生成するための技術である。光干渉断層撮影（ＯＣＴ）は、心臓学から眼科学、そして婦人科学に至るまで幅広く利用され、さらに、生体物質のインビトロの断面研究用に幅広く利用されている。
【０００４】
軸情報は、干渉法を用いてＯＣＴにおいて取得される。組織の組織学的画像（２Ｄ）および体積表現（３Ｄ）を生成するための１つのアプローチとして、対象領域に対して横（左右）方向にビームを移動させるものがある。従来、この移動は、上記システム内のある光学素子（例えば、ファイバによるシステムの場合の導波管）を機械的に変位させることによって、行われてきた。代替的に、固定ビームの下で試料を移動することも可能である。最も一般的な方法では、干渉計のサンプルアームにおけるビーム路中で移動鏡を利用する。この方法は効果的であるが、特に、信頼性、製造コスト、維持コスト、調整の複雑さ、最終的なシステムの大きさなどの観点において欠点がある。カテーテルまたは腹腔鏡手術器械における場合など、従来の鏡が許容されない状況に対して、ＭＯＥＭＳの使用が実証されている。しかし、これらの装置は、巨視的な場合のものが抱える問題の多くを抱えており、また、これらの装置独自にカプセル化、不胎化などに関する課題がある。
【０００５】
サンプルに対して左右走査をするための１つのアプローチは、複数のビームを用いることである。この一例が、国際特許出願公開公報第ＷＯ２０１０／１３４６２４号に提案された。光源のみを共有する、並列に動作する複数の完全な干渉計が記載されている。そのため、各干渉計のサンプルアームは単一光学経路で構成されており、構造的に複雑なシステムとなってしまう。
【０００６】
高速光干渉断層撮影（ＯＣＴ）イメージングは、大きな組織の体積の３Ｄ走査に重要である。これは上記試料における高速動力学の評価および機械的不安定性または体の動きに起因して動きアーチファクトになりやすい現象における高速動力学の評価のためである。この目的を満たすには、十分に高い標本抽出率にするために、（外部空洞の物理的性質または遅延線によって決定される）単一軸スキャナのライン速度を超えて、実際の取得速度を大幅に増加させることが求められ得る。また、上記システムの信号対雑音比を向上させて、高速にもかかわらず良好な画質を確保する必要があり得る。これは、システム光学およびシステム電子工学の最適化および周波数走査ＯＣＴ（ＳＳ−ＯＣＴ) または時間領域ＯＣＴ（ＴＤ−ＯＣＴ）の実装の既存の利用を経て、工学エテンデュ（Ｅｔｅｎｄｕｅ：ＥはＥの上にアキュートアクセント）の拡張による最大許容光学的放射上限値の増大につながる。
【０００７】
フルフィールドＯＣＴシステムは、先験的にその構造により上記目的を満たし得る。しかし、フルフィールドＯＣＴシステムは、隣接チャネル間のクロストークおよび画質の問題を抱える場合がある。さらに、フルフィールドＯＣＴ（ＦＦ−ＯＣＴ）システムは、２Ｄイメージングセンサをも必要とする。これにより、フルフィールド ＯＣＴ（ＦＦ−ＯＣＴ）システムは、そのようなセンサが対応可能であり、十分な解像度を有する波長（現在、＜１μｍのみ）に実質的に限定され得る。このようなセンサも撮像装置のフレームレートに画像取得速度を限定してしまう。ライン走査ＯＣＴは、並列取得を単一線に限定してしまい、かつ、追加の方向を得るのに走査素子を使用する。クロストークはＦＦ−ＯＣＴの場合よりも良好なものの、画質は、標準ＯＣＴよりも大幅に低い。
【０００８】
国際特許出願公開公報第ＷＯ２０１４／０８９５０４号に記載される解決法は、機械的に作動するマスクを用いて複数の個別ビームに適合した空間的に拡張された光源を用いる。そして、画像を生成するために、分析対象組織の表面に対して前記ビームが走査される。これらのビームが大きく分離される（標本抽出がまばらに行われる）限り、クロストークは効果的に低減できる。このアプローチにより起こる問題は、上記光源がマスクされた場合の光学的スループットの損失と、（特により長い波長で）２Ｄ撮像装置が必要となることと、高密度の標本抽出とクロストークとのトレードオフとである。
【０００９】
日本特許出願公開公報第ＪＰ２０１０２７６４６２号に記載される別のアプローチでは、時間領域（Ｔｉｍｅ  Ｄｏｍａｉｎ）構成用の複数の干渉計であって、１個または２個のスーパールミネッセントダイオード（ＳＬＥＤＳ）を有する干渉計を備えたＯＣＴシステムを用いる。しかし、このアプローチでも多重散乱クロストークは回避されない。
【発明の概要】
【００１０】
抑制された多重散乱クロストークを有する複数の干渉計を用いる高速ＯＣＴを行うためのシステムおよび方法が開示される。
【００１１】
一実施形態において、干渉計システムは、可変波長の光線を発生するように構成された光源を備えていてもよい。第１スプリッタは、上記可変波長の光線を少なくとも第１光線と第２光線とに分割するように構成されていてもよい。第１遅延素子は、第１の時間遅延により上記第１光線を遅延させるように構成されていてもよい。第２遅延素子は、遅延された上記第１光線と遅延された上記第２光線とが互いに対して干渉性を有さないように、第２の時間遅延により上記第２光線を遅延させるように構成されていてもよい。第１干渉計は、遅延された上記第１光線を入力として受け取るように構成されていてもよい。第２干渉計は、遅延された上記第２光線を入力として受け取るように構成されていてもよい。
【００１２】
他の実施形態において、干渉計システムは、光線を発生するように構成された光源を備えていてもよい。第１スプリッタは、上記光線を第１光線と第２光線とに分割するように構成されていてもよい。第２スプリッタは、上記第１光線を少なくとも第３光線と第４光線とに分割するように構成されていてもよい。第１遅延素子は、第１の時間遅延で上記第３光線を遅延させるように構成されていてもよい。第２遅延素子は、遅延された上記第３光線と遅延された上記第４光線とが互いに対して干渉性を有さないように、第２の時間遅延で上記第４光線を遅延させるように構成されていてもよい。第１干渉計は、遅延された上記第３光線を入力として受け取るように構成されていてもよい。第２干渉計は、遅延された上記第４光線を入力として受け取るように構成されていてもよい。
【００１３】
一実施形態において、方法は、可変波長を有する光源光線を発生するステップを含んでいてもよい。上記方法は、上記光源光線を少なくとも第１光線と第２光線とに分割するステップと、第１の時間遅延で上記第１光線を遅延させるステップと、遅延された上記第１光線と遅延された上記第２光線とが互いに対して干渉性を有さないように、第２の時間遅延で上記第２光線を遅延させるステップとを含んでいてもよい。上記方法は、遅延された上記第１光線を第１干渉計に入力するステップと、遅延された上記第２光線を第２干渉計に入力するステップとをさらに含んでいてもよい。
【００１４】
他の実施形態において、方法は、光源光線を発生するステップと、上記光源光線を第１光線と第２光線とに分割するステップと、上記第１光線を少なくとも第３光線と第４光線とに分割するステップとを含んでいてもよい。上記方法は、第１の時間遅延により上記第３光線を遅延させるステップと、遅延された上記第３光線と遅延された上記第４光線とが互いに対して干渉性を有さないように、第２の時間遅延により上記第４光線を遅延させるステップとをさらに含んでいてもよい。また、上記方法は、遅延された上記第３放射ビームを第１干渉計に入力するステップと、遅延された上記第４放射ビームを第２干渉計に入力するステップとをさらに含んでいてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
添付の図面は、本明細書に組み込まれるとともに明細書の一部をなすものであり、本発明の実施形態を示すものである。さらに、添付の図面は、記述とともに本発明の基本原理の説明に供され、本発明を当業者が実施して使用することを可能とするものである。 
【図１】図１は一実施形態に係るＯＣＴシステムのブロック図である。
【図２】図２は一実施形態にかかる周波数走査ＯＣＴシステムのブロック図である。
【図３】図３は一実施形態に係る時間領域ＯＣＴシステムのブロック図である。
【図４】図４は一実施形態に係る方法例のフローチャートである。
【図５】図５は一実施形態に係る方法例のフローチャートである。
【図６】図６は、２つの出力開口からの光を組織に集める光システムを示す。
【図７】図７は、各種光システムにおける最大ポテンシャルイメージング深度を示す。
【図８】図８は、同時に有効となっているチャネルビーム間にクロストークを発生させる多重散乱光子を示す。
【図９Ａ】図９Ａは、各種光システムにおける横方向に並んだビームからの（準）拡散光子の伝播を示す。
【図９Ｂ】図９Ｂは、各種光システムにおける横方向に並んだビームからの（準）拡散光子の伝播を示す。
【図９Ｃ】図９Ｃは、各種光システムにおける横方向に並んだビームからの（準）拡散光子の伝播を示す。
【００１６】
本発明の実施形態を、添付の図面を参照しつつ説明する。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
特定の構成および配置を述べるが、これは例示のみを目的とするものであると理解されるべきである。当業者であれば、本発明の精神および範囲を逸脱することなく、他の構成および配置を用いることが可能なことを認識するであろう。当業者にとって、本発明を種々の用途においても用いることができることは明らかである。
【００１８】
なお、本明細書における「１つの実施形態」「一実施形態」「一例の実施形態」等の記載は、当該実施形態はある特定の特徴、構造、あるいは特性を包含するが、全ての実施形態が必ずしも当該特定の特徴、構造、あるいは特性を包含するとは限らないことを示している。さらに、そのような表現は、必ずしも同じ実施形態を指すとは限らない。また、一実施形態に関してある特定の特徴、構造あるいは特性が記載されている場合は、他の実施形態に関してもそのような特徴、構造あるいは特性がもたらされることは、明確に記載されていなくても当業者であれば理解できる。
【００１９】
図１は一実施形態に係るＯＣＴシステム１０１を示す。ＯＣＴシステム１０１は補償素子１１２を備え、サンプル１１０をイメージングするために用いられる。補償素子１１２は可変遅延システムであり得る。例えば、補償素子１１２は、複屈折の影響を補償しながら、ＯＣＴシステム１０１内で光に可変遅延を与えるために用いられてもよい。「光」との用語は、任意の範囲の電磁スペクトルを指し得る。用いられ得る光の波長の例としては、約１．３μｍの波長の赤外線が挙げられる。
【００２０】
ＯＣＴシステム１０１は、更に、光源１０２、混合スプリッタ１０４、サンプルアーム１０６、参照アーム１０８、および、検出器１１４を備える。一実施形態において、検出器１１４は一対の平衡検知器である。
【００２１】
本実施形態において、補償素子１１２は参照アーム１０８内に配置されている。しかしながら、補償素子１１２はサンプルアーム１０６にも配置されていてもよいことは理解されるべきである。また、補償素子１１２の各種構成要素は、サンプルアーム１０６および参照アーム１０８の両方にあってもよい。例えば、補償素子１１２の、光に可変遅延を導入する構成要素がサンプルアーム１０６に配置されており、光の様々な偏光モードを変調して複屈折を低減させる構成要素が参照アーム１０８に配置されていてもよい。一例において、サンプルアーム１０６および参照アーム１０８は、パターン形成された導波路または光ファイバ等の光導波路である。一実施形態において、ＯＣＴシステム１０１の構成要素の全ては、平面光波回路（ＰＬＣ）上に集積されている。別の実施形態において、少なくとも補償素子１１２内の全ての構成要素が、ＰＬＣと同じ基板上に集積されている。例えば、ファイバ光システム、フリースペース光システム、フォトニック結晶システム等の他の態様も同様に考えられ得る。
【００２２】
ＯＣＴシステム１０１は、明瞭さのために示されていない他の光学素子を任意の数だけ含み得ることは理解されるべきである。例えば、ＯＣＴシステム１０１は、サンプルアーム１０６または参照アーム１０８の経路に沿って、ミラー、レンズ、回折格子、スプリッタ、マイクロメカニカル素子等を備えていてもよい。
【００２３】
混合スプリッタ１０４は、光源１０２から受け取った光をサンプルアーム１０６および参照アーム１０８の両方に送るために用いられる。混合スプリッタ１０４は、例えば、双方向性カプラ、光スプリッタ、または、一条の光線を二条以上の光線に変換するその他の光変調デバイスであり得る。
【００２４】
サンプルアーム１０６を進む光は、最終的にサンプル１１０に当たる。サンプル１１０は、組織等の、イメージ化に適した任意のサンプルであり得る。ＯＣＴの工程において、光はサンプル１１０内をある一定の深さで走査し、散乱線はサンプルアーム１０６に集約される。別の実施形態において、散乱線は送信導波路とは異なる導波路に集約される。走査の深度は、補償素子１１２内で光に対して加えられた遅延によって選択されてもよい。
【００２５】
サンプルアーム１０６内および参照アーム１０８内の光は、検出器１１４で受け取られる前に、再結合される。本実施形態において、光は混合スプリッタ１０４によって再結合される。別の実施形態において、光は混合スプリッタ１０４とは異なる光結合素子で再結合される。
【００２６】
明確さのため、補償素子１１２を、可変遅延を導入するだけではなく複屈折を低減させる構成要素を説明するために用いる。補償素子１１２内において、可変遅延の導入に関する構成要素一式を可変遅延ユニットとして分類し、複屈折の低減に関する構成要素一式を光変調ユニットとして分類してもよい。
【００２７】
高速ＯＣＴは、多重干渉計を用いてシステムのエテンデュを大きくすることにより達成できる。通常、多重散乱に起因するチャネル間のクロストークが原因で、隣接する干渉分光信号が干渉することがある。このような干渉は画質を低下させるおそれがある。具体的には、広角多重散乱は、２つ以上の同期光学的開口を有するＯＣＴシステムにおいて、クロストークを引き起こす。図６は、２つの出力開口６０２および６０４からの光を組織６０６に集める光システム６００の例を示す。図６は、多重散乱現象、すなわち、ビーム１チャネルにおける励起によって生じる（準拡散レジームの）多重散乱光子６０８が、ビーム２チャネルによって集約され、ビーム２チャネルに対する干渉信号に寄与し得る様子を示す。
【００２８】
強い散乱異方性を伴う典型的な組織光学設定（例えば、異方性因子ｇ＞０．８）では、隣接するビーム間のクロストークを発生させる広角散乱光子強度は、単一散乱よりも、浸入度とともに、緩やかに低下する。これは、ランバート‐ベールの法則によると、単一散乱弾道光子の光路長と比べて、拡散光または準拡散光の伝播の特性距離が長いためである。
【００２９】
また、広角散乱光子強度に起因する隣接するビーム間のクロストークは、集約に用いられるものと同じ開口から来る励起光の（非拡散レジームの）小角多重散乱よりも緩やかに減少する。これにより、単一散乱寄与と比べて、実際の最大イメージング深度が減少する。イメージング深度は、単一散乱光子および多重散乱光子のＯＣＴ信号への寄与が等しい、組織中の深さと定義され得る。図７はこの概念を示す。図７に示すように、集束作用を無視すると、開口間の多重散乱クロストークが起こると、最大ポテンシャルイメージング深度ｚ２がｚ１に低下する。
【００３０】
この多重散乱クロストーク現象を図８に更に示す。図８において、拡散光子または準拡散光子が横方向に並んだ２つのビーム８０４から伝播することにより、パワーが中央のビーム８０８に集約される。一定フルエンスライン８０２は、２つの独立した励起口により発生した拡散場または準拡散場に対応する。図８では、一定フルエンスライン８０２が、対応する励起ビーム８０４および集約中間ビーム８０８の像に重畳されている。光子輸送の拡散距離よりも短い距離で集約と焦点を共有しない励起光源からの多重散乱寄与が加わることにより、イメージング深度およびコントラストが更に減少する。
【００３１】
図９Ａ、図９Ｂ、および、図９Ｃは、組織中の一定深度にある差反射面によって生成された干渉信号に対する、様々な多重散乱寄与の影響を示す。情報伝達単一散乱成分は、分散調整ＯＣＴシステムにおける光源の可干渉距離に関連する幅を有する。図９Ａは、遅延を加えて、干渉性を有さないように多重散乱に起因するバックグラウンド干渉をシフトさせる前の、光子の伝播の強度の例を示す。図９Ｂは、一方の隣接するチャネルに遅延を導入した後の、光子の伝播の強度の例を示す。図９Ｃは、図９Ｂに示された集約チャネルにおける励起に対する、遅延が導入された隣接するチャネルにおける光子の伝播の強度の相互作用の例を示す。
【００３２】
図９Ａから図９Ｃに示すように、集約に用いられるものと同じ開口による励起によって引き起こされる小角多重散乱を、単一散乱寄与から引き離すことはできず、該小角多重散乱は、集約された信号に、コントラストを低下させ、最終的にシステムイメージング深度を制限するテールをもたらす。集約口と焦点を共有しない隣接する開口からの多重散乱寄与は、より光路長のばらつきを増大させるとともにバックグラウンド干渉をもたらす。このような散乱の更なる説明については、Ｂ．  Ｋａｒａｍａｔａによる「Ｍｕｌｔｉｐｌｅ  Ｓｃａｔｔｅｒｉｎｇ  ｉｎ  Ｗｉｄｅ−Ｆｉｅｌｄ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ」Ｔｈｅｓｉｓ  ＥＰＦＬ（２００４）で見られる（なお、参照により本明細書にその全体が組み込まれる）。
【００３３】
本明細書で説明する本発明の実施形態において、隣接する開口からの多重散乱寄与を互いに対して干渉性を有さないようにシフトさせることによって、マルチ干渉計システムにおける隣接するチャネル間のクロストークが減少する。これにより、浸入度および画像コントラストを低下させることなく、イメージング体積に密にビームを集中させることが可能になる。このような干渉性を有さないようにするシフトは、本明細書においていくつかの実施形態に関して説明するように、異なる有効な開口間に遅延を加えることにより、達成され得る。このようなシフトが起こる場合、励起ビームと集約ビームとの間の相互作用を考慮すべきである。これは、（図９Ａから図９Ｃに示すような）多重散乱バックグランドの光子の伝播の強度が、非対称であり、隣接する開口からの多重散乱寄与に応じて前進する（遅延しない）ためである。したがって、多重散乱寄与は、一般的に、光路長に対して非対称であるため、最低速度で減衰するテールが、チャネル間において要求される相対的な遅延を算出するために用いられ得る。
【００３４】
本明細書におけるいくつかの実施形態は、画像速度の増加を、多重散乱によって引き起こされるクロストークに起因する画像劣化から、切り離している。多重散乱の存在により引き起こされ得る、このクロストークを抑制することにより、実施形態は、速度増加と潜在的なＳＮＲの利点を保ち、最適な画質を取り戻す。
【００３５】
一実施形態は、ひとつの波長可変装置から複数の別個の走査干渉計を生成する一方、多重散乱によるそれらの間のクロストークを最小に保つようにするＯＣＴシステムを備える。実施形態は、周波数走査（ＳＳ）または時間領域（ＴＤ）システムを含み、周波数走査（ＳＳ）または時間領域（ＴＤ）システムに適用され得る。
【００３６】
多重干渉計を用いることにより、有効ライン速度を複製干渉計の数だけ増倍させてもよい。本明細書で説明するいくつかの実施形態において、チャネル間のクロストークは、チャネル間における周波数分割多重化または時分割多重化などの多重化によって抑制される。いくつかの実施形態では、ビーム／開口からの明らかな多重散乱寄与が互いに対して干渉性を有さないように、隣接する干渉信号を互いに対して干渉性を有さないようにシフトさせる。実施形態において、時間遅延はこのようなシフトを提供する。例えば、適切な時間遅延は、集約に用いられるものと同じ開口からのビームによる励起によって引き起こされる多重散乱の非対称性を考慮に入れることにより、決定されてもよい。これらの相対的な時間遅延は、異なるビームの幾何学的形態およびサンプル特性に依存してもよく、実験に基づいて、または、（モンテカルロ法のように）シミュレーションツールによって決定することができる。
【００３７】
図２は、一実施形態に係るマルチ干渉計周波数走査ＯＣＴシステム２００のブロック図を示す。ＯＣＴシステム２００は可変波長光源２０２、スプリッタ２０６、および、干渉計２０８を備える。
【００３８】
ビーム路２０４は可変波長光源２０２をスプリッタ２０６に接続する。一実施形態では、ビーム路２０４は導波路であってもよい。スプリッタ２０６は、可変波長光源２０２によって発生した放射ビームを、経路２０７＿１、２０７＿２、２０７＿３、…、２０７＿Ｎに応じて、複数のビームに分割する。スプリッタ２０６は、例えば、双方向性カプラ、光スプリッタ、または、一条の光線を二条以上の光線に変換するその他の光デバイスであり得る。
【００３９】
一実施形態によると、スプリッタ２０６の各出力は、複数の干渉計２０８のうち１つの干渉計によって受信される。スプリッタ２０６の各出力は、対応する干渉計に対して、光源、例えば、光源１０２、と同じ機能性を有していてもよい。例えば、経路２０７＿１上の、スプリッタ２０６の第１出力は、干渉計２０８＿１によって受信される。経路２０７＿２上の、スプリッタ２０６の第２出力は、干渉計２０８＿２によって受信される。経路２０７＿３上の、スプリッタ２０６の第３出力は、干渉計２０８＿３によって受信される。経路２０７＿Ｎ上の、スプリッタ２０６の第Ｎ出力は、干渉計２０８＿Ｎによって受信される（なお、Ｎは整数である）。
【００４０】
一実施形態によると、スプリッタ２０６の各出力ビームは、遅延素子を用いて遅延される。例えば、経路２０７＿１上のビームは遅延素子２１０＿１を用いて時間遅延τ１だけ遅延されてもよく、経路２０７＿２上のビームは遅延素子２１０＿２を用いて時間遅延τ２だけ遅延されてもよく、経路２０７＿３上のビームは遅延素子２１０＿３を用いて時間遅延τ３だけ遅延されてもよく、経路２０７＿Ｎ上のビームは遅延素子２１０＿Ｎを用いて時間遅延τＮだけ遅延されてもよい。
【００４１】
一実施形態によると、遅延素子２１０＿１、２１０＿２、２１０＿３、および、２１０＿Ｎは、対応する干渉計の一部として実現されてもよい。別の実施形態において、遅延素子２１０＿１、２１０＿２、２１０＿３、および、２１０＿Ｎは、対応する干渉計の外部で、各ビーム路上に実現されてもよい。
【００４２】
図１の一例の実施形態は、異なる遅延τ１、τ２、τ３、…、τＮによりもたらされる干渉性のシフトをそれぞれ利用して経路２０７＿１、２０７＿２、２０７＿３、…、２０７＿Ｎ上のビームの分離をおこなうＳＳ‐ＯＣＴ用に、マルチ干渉計２０８の構成に組み込まれてもよい。遅延τ１、τ２、τ３、…、τＮによって遅延された光信号間の時差は、多重散乱の状態に応じて、断層撮影が行われている組織における使用波長での光の縮小平均自由行程だけ増加した光源の可干渉時間より大きくてもよい。
【００４３】
実施形態において、遅延τ１、τ２、τ３、…、τＮのうち任意の対の間の差は十分大きいため、上述のように、隣接する干渉信号を互いに対して干渉性を有さないようにシフトすることができる。例えば、時間遅延τｉ（ここで、１≦ｉ≦Ｎ）は、干渉計２０８＿ｉによって引き起こされ、そして、検出される多重散乱の非対称形状を考慮に入れることにより決定されてもよい。例えば、第１ビームに適用される第１時間遅延と第２ビームに適用される第２時間遅延との間の差は、当該第１および第２ビームの可干渉時間より大きくてもよい。
【００４４】
一実施形態において、スプリッタ２０６の出力２０７は、遅延素子２１０によって遅延された後、それぞれの干渉計における混合スプリッタ２１６に供給される。そして、混合スプリッタ２１６は、サンプルアーム２１２上でサンプル信号を生成し、参照アーム２１４上で参照信号を生成する。例えば、混合スプリッタ２１６＿１は、干渉計２０８＿１のアーム２１２＿１上でサンプル信号を生成し、干渉計２０８＿１のアーム２１４＿１上で参照信号を生成する。
【００４５】
参照信号、および、断層撮影が行われている組織によって散乱された後のサンプル信号は、各干渉計における検知素子２２０に接続された混合スプリッタ２１８に供給される。検知素子２２０はそれぞれ、平衡型の２つの検出器を備えていてもよい。サンプルアームおよび参照アームの各対の長さは、各チャネル内の実際の干渉を決定し得る。アームの長さは、すべての複製について等しくてもよく、また、画質が最高となるよう調整することができる。サンプルアームおよび参照アーム上の遅延素子は、調整のために用いられてもよい。
【００４６】
図３は一実施形態に係る時間領域ＯＣＴシステム３００のブロック図を示す。ＯＣＴシステム３００は、光源３０２、第１スプリッタ３０６、第２スプリッタ３０８、可変遅延素子３１０、第３スプリッタ３１２、および、干渉計３１４を備える。
【００４７】
光源３０２は放射ビームを発生させる。一実施形態において、光源３０２はスーパールミネッセントダイオード（ＳＬＥＤ）である。ビーム路３０４は、光源３０２をスプリッタ３０６に接続していてもよい。一実施形態では、ビーム路３０４は導波路であってもよい。スプリッタ３０６は、光源３０２によって発生した放射ビームを、経路３０７＿１および３０７＿２の２つのビームに分割する。スプリッタ３０６は、例えば、双方向性カプラ、光スプリッタ、または、一条の光線を二条以上の光線に変換するその他の光変調デバイスであり得る。
【００４８】
一実施形態によると、経路３０７＿１に対するスプリッタ３０６の出力はスプリッタ３０８によって受信され、経路３０７＿２に対するスプリッタ３０６の出力は可変遅延素子３１０によって受信される。
【００４９】
一実施形態において、経路３０７＿１上のビームは干渉分光法用のサンプルビームを発生させるために用いられ、経路３０７＿２上のビームは干渉分光法用の参照ビームを発生させるために用いられる。このようにサンプル信号および参照信号を分割することにより、各干渉計において遅延ラインの必要性がなくなる。
【００５０】
一実施形態において、可変遅延素子３１０は、経路３０７＿２上のビームに共通の可変遅延をもたらす。可変遅延素子３１０は、群遅延変調をもたらしてもよい。可変遅延素子３１０の出力は、スプリッタ３１２を用いて、出力経路３１３の複数の出力ビームに分割されてもよい。スプリッタ３１２は、例えば、双方向性カプラ、光スプリッタ、または、一条の光線を二条以上の光線に変換するその他の光変調デバイスであり得る。
【００５１】
経路３１３上の各ビームは、それぞれの干渉計３１４によって受け取られてもよい。例えば、経路３１３＿１上の、スプリッタ３１２の第１出力は、干渉計３１４＿１によって受け取られてもよい。経路３１３＿２上の、スプリッタ３１２の第２出力は、干渉計３１４＿２によって受け取られてもよい。経路３１３＿３上の、スプリッタ３１２の第３出力は、干渉計３１４＿３によって受け取られてもよい。経路３１３＿Ｎ上の、スプリッタ３１２の第Ｎ出力は、干渉計３１４＿Ｎによって受け取られてもよい（なお、Ｎは整数である）。
【００５２】
一実施形態において、スプリッタ３０８は、経路３０７＿１上のビームを、経路３０９の複数の出力ビームに分割する。経路３０９上の各ビームは、それぞれの干渉計３１４によって受け取られてもよい。例えば、経路３０９＿１上の、スプリッタ３０８の第１出力は、干渉計３１４＿１によって受け取られてもよい。経路３０９＿２上の、スプリッタ３０８の第２出力は、干渉計３１４＿２によって受け取られてもよい。経路３０９＿３上の、スプリッタ３０８の第３出力は、干渉計３１４＿３によって受け取られてもよい。経路３０９＿Ｎ上の、スプリッタ３０８の第Ｎ出力は、干渉計３１４＿Ｎによって受け取られてもよい（なお、Ｎは整数である）。
【００５３】
一実施形態によると、スプリッタ３１２の各出力ビームは、遅延素子を用いて遅延される。例えば、経路３１３＿１上のビームは遅延素子３１８＿１を用いて時間遅延τ１だけ遅延されてもよく、経路３１３＿２上のビームは遅延素子３１８＿２を用いて時間遅延τ２だけ遅延されてもよく、経路３１３＿３上のビームは遅延素子３１８＿３を用いて時間遅延τ３だけ遅延されてもよく、経路３１３＿Ｎ上のビームは遅延素子３１８＿Ｎを用いて時間遅延τＮだけ遅延されてもよい。
【００５４】
一実施形態によると、スプリッタ３０８の各出力ビームは、遅延素子３２０を用いて遅延される。例えば、経路３０９＿１上のビームは遅延素子３２０＿１を用いて時間遅延τ１だけ遅延されてもよく、経路３０９＿２上のビームは遅延素子３２０＿２を用いて時間遅延τ２だけ遅延されてもよく、経路３０９＿３上のビームは遅延素子３２０＿３を用いて時間遅延τ３だけ遅延されてもよく、経路３０９＿Ｎ上のビームは遅延素子３２０＿Ｎを用いて時間遅延τＮだけ遅延されてもよい。
【００５５】
一実施形態において、同じ遅延が、経路３０９上のビームと、同じ干渉計に対応する経路３１３上のビームとに、適用されてもよい。例えば、遅延素子３１８＿１によって経路３１３＿１上のビームに対して導入される遅延は、遅延素子３２０＿１によって経路３０９＿１上のビームに対して導入される遅延と同じであってもよい。
【００５６】
実施形態において、遅延τ１、τ２、τ３、…、τＮのうち任意の対の間の差は十分に大きいため、チャネル間のどの重大なクロストークも防ぐことができる。遅延τ１、τ２、τ３、…、τＮによって遅延された光信号間の時差は、多重散乱の状態に応じて、断層撮影が行われている組織における使用波長での光の縮小平均自由行程だけ増加した光源の可干渉時間より大きくてもよい。
【００５７】
実施形態において、遅延τ１、τ２、τ３、…、τＮのうち任意の対の間の差は十分に大きいため、上述のように、隣接する干渉信号を互いに対して干渉性を有さないようにシフトすることができる。例えば、時間遅延τｉ（ここで、１≦ｉ≦Ｎ）は、干渉計２０８＿ｉによって引き起こされ、そして、検出される多重散乱の非対称形状を考慮に入れることにより決定される。例えば、第１ビームに適用される第１時間遅延と第２ビームに適用される第２時間遅延との間の差は、当該第１および第２ビームの可干渉時間より大きくてもよい。
【００５８】
一実施形態によると、遅延素子３１８および３２０は、対応する干渉計の一部として実現されてもよい。別の実施形態において、遅延素子３１８および３２０は、対応する干渉計の外部で、それぞれのビーム路上に実現されてもよい。
【００５９】
一実施形態において、各経路３０９上のビームは、遅延素子３２０によって遅延された後、出力混合スプリッタ３２２に供給される。混合スプリッタ３２２はサンプルに光を送り、サンプルから戻ってきた反射を混合スプリッタ３２４の第１入力に送る。例えば、経路３０９＿１上のビームは、遅延素子３２０＿１によって遅延された後、干渉計３１４＿１からサンプル光を発生させるため、出力混合スプリッタ３２２＿１に供給される。そして、サンプル光の反射は混合スプリッタ３２４＿１の第１入力に供給される。
【００６０】
対応参照ライン３１３は、遅延素子３１８によって遅延された後、混合スプリッタ３２４の第２入力にそれぞれ供給される。各干渉計３１４において、混合スプリッタ３２４の出力は検知素子３２６にそれぞれ接続されている。検知素子３２６はそれぞれ、平衡型の２つの検出器を備えていてもよい。例えば、経路３１３＿１上のビームは、遅延素子３１８＿１によって遅延された後、出力が検知素子３２６＿１に接続されている混合スプリッタ３２４＿１の第２入力に供給される。
【００６１】
必要であれば、干渉計の組み合わせによって扱うことができる拡大最大許容パワーから利益が得られるよう、光源３０２のパワーは光増幅器（例えば、ＳＯＡまたはドープされたファイバー増幅器）によって増幅されてもよい。
【００６２】
図４は一実施形態に係る方法例４００のフローチャートを示す。ステップ４０２で、可変波長を有する光源光線を発生させる。ステップ４０４で、当該光源光線を複数の光線に分割する。ステップ４０６で、上述のように、遅延された光線からの明らかな多重散乱寄与がいずれも互いに対して干渉性を有さないように、各光線を時間遅延で遅延させる。
【００６３】
ステップ４０８で、各遅延された光線を干渉計に入力する。
【００６４】
ステップ４１０で、上記干渉計は上記遅延された光線をそれぞれ分割して、各対応する干渉計用のサンプル光線と参照光線とを発生させる。
【００６５】
このような方法の結果、複数のサンプル光線が同時に存在するが、当該光線同士が干渉性を有さないようにすることにより多重散乱に起因するクロストークの影響を最小限に抑えているため、最適な画質が維持されつつ、サンプルに対する走査時間が削減される。
【００６６】
図５は一実施形態に係る方法例５００のフローチャートを示す。ステップ５０２で、光源光線を発生させる。ステップ５０４で、当該光源光線を第１光線と第２光線とに分割する。ステップ５０６で、当該第１光線を第１の一連の光線に分割する。この際、当該第１の一連の光線における各光線が一連の干渉計におけるひとつの干渉計に対応するように分割する。
【００６７】
ステップ５０８で、上述のように、遅延された光線からの明らかな多重散乱寄与がいずれも互いに対して干渉性を有さないように、上記第１の一連の光線における各光線を時間遅延により遅延させる。ステップ５１０で、上記第１の一連の光線における各遅延された光線を、対応する干渉計に入力する。ステップ５１２で、各干渉計は、干渉計に入力された上記遅延された光線を用いて、サンプル光線を発生させる。
【００６８】
ステップ５１４で、上記第２光線を可変時間遅延で遅延させる。ステップ５１６で、上記遅延された第２光線を第２の一連の光線に分割する。当該第２の一連の光線における各光線は一連の干渉計におけるひとつの干渉計に対応する。
【００６９】
ステップ５１８で、上記第２の一連の光線におけるひとつの干渉計に対応する各光線が、上記第１の一連の光線における同じ干渉計に対応する光線と同じ時間遅延だけ遅延されるように、上記第２の一連の光線における光線を時間遅延により遅延させる。ステップ５２０で、上記第２の一連の光線における各遅延された光線を、参照信号として、対応する干渉計に入力する。
【００７０】
このような方法の結果、先の方法の場合と同様に、複数のサンプル光線が同時に存在するが、当該光線同士が干渉性を有さないようにすることにより多重散乱に起因するクロストークの影響を最小限に抑えているため、最適な画質が維持されつつ、サンプルに対する走査時間が削減される。
【００７１】
他の実施形態は、空間密度２Ｄ変調器によって適用される群遅延または位相の変調を用いる自由空間光通信ＯＣＴの実装（フルフィールド）を含んでいてもよい。実施形態において、導波路を光ビーム部に変えてもよい。
【００７２】
他の実施形態は、同一のサンプルに対して一体となって動作し、対象のサンプル体積を分割して走査する、複数の完全に独立したＯＣＴシステムを含んでいてもよい。実施形態において、光源は互いに非干渉性のものであり、２つのシステムからの光信号は、電気信号帯域に寄与するような方法で互いに干渉しないものであり得る。周波数走査システムにおいて、瞬間的な波長は全く同じ走査機能に付随しなくてもよく、または、光源間の光学遅延は可干渉距離を超えてもよい。
【００７３】
概要および要約の項目でなく、発明の詳細な説明の項目が、特許請求の範囲を解釈するために用いられることを意図していることは理解されたい。概要および要約の項目は、発明者（ら）によって意図される本発明の１以上の、しかし全てではない典型的な実施形態を示し得る。そのため、概要および要約の項目は、本発明および添付された特許請求の範囲の制限を全く意図していない。
【００７４】
本発明の実施形態を、特定の機能およびそれらの関係性の実施を示す機能的構成要素を使って述べた。これら機能的構成要素の境界を、説明の都合上、本明細書において任意に定義した。特定の機能およびそれらの関係性が適切に機能する限り、代替となる境界を定義することができる。
【００７５】
特定の実施形態についての上述の説明は、本発明の本質を十分に示しているため、当業者は、その知識を応用することによって、本発明の一般概念から逸脱することなく、過度の実験を行わずに、そのような特定の実施形態を容易に変更、および／または、様々な用途に適用できるであろう。そのため、このような適用および変更は、本明細書において示す教示および指針に基づき、開示された実施形態の均等物の意味および範囲内に入ることが意図される。本明細書における表現および用語は、説明を目的とするものであって、限定を目的とするものではなく、本願明細書の表現および用語は、本明細書において示す教示および指針を考慮したうえで当業者によって解釈されるものである、と理解されるべきである。
【００７６】
本発明の外延および範囲は、上述の典型的な実施形態のいずれによっても限定されるべきではなく、以下の特許請求の範囲およびこれらの均等物によってのみ、定義されるべきである。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９Ａ】
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【図９Ｂ】
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【図９Ｃ】
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