【事件の表示】
　特許第３２０７８８２号「分光蛍光光度計のスペクトル補正方法及びスペクトル補正機能付分光蛍光光度計」の請求項１ないし４に係る特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結　論】
　訂正を認める。
　特許第３２０７８８２号の請求項１ないし４に係る特許を維持する。
【理　由】
１．手続の経緯
　特許３２０７８８２号の発明についての出願は、平成３年９月１３日に特許出願され、平成１３年７月６日にその発明について特許権の設定登録がなされ、その後、異議申立人大原一より特許異議の申立てがなされ、取消しの理由が通知され、その指定期間内である平成１４年１０月２１日に訂正請求がなされたものである。
２．訂正の適否
（１）訂正の内容
　特許明細書の記載を訂正請求書に添付した訂正明細書のとおりに訂正するもので、以下の訂正事項ａ〜ｃよりなる。（下線部は訂正個所を示す。）
　訂正事項ａ
　特許請求の範囲を次のとおりに訂正する。
　「【請求項１】　光源、励起側分光器、蛍光側分光器、蛍光検知器、蛍光信号値から測定結果を算出する演算器を備えた分光蛍光光度計のスペクトル補正を行う場合に、測定範囲の波長領域λを
一部が重なる
　第１の波長領域λ１の励起側光学系の波長特性Ｆｅｘ１（λＥＸ）を光量子計法により求める工程イ、
　第２の波長領域λ２の蛍光側光学系の波長特性Ｆｅｍ２（λＥＭ）を標準光源又は標準光源により校正された副標準光源を利用して求める工程ロ、
　第１の波長領域λ１及び第２の波長領域λ２の全波長領域について前記励起側分光器，蛍光側分光器により励起側，蛍光側の両波長を一致させながら同時走査して蛍光信号値を測定する工程ハ、
　前記工程ハで測定された蛍光信号値のうち第１の波長領域λ１に対応の測定値Ｆ１（λＥＸ，λＥＭ），第２の波長領域λ２に対応の測定値Ｆ２（λＥＸ，λＥＭ）を分けて、測定値Ｆ１（λＥＸ，λＥＭ）と前記工程イで求めた波長特性Ｆｅｘ１（λＥＸ）との比演算より第１の波長領域λ１の蛍光側光学系の波長特性Ｆｅｍ１（λＥＭ）を求め、一方、測定値Ｆ２（λＥＸ，λＥＭ）と前記工程ロで求めた波長特性Ｆｅｍ２（λＥＭ）との比演算により第２の波長領域λ２の励起側光学系の波長特性Ｆｅｘ２（λＥＸ）とを求める工程ニ、
　前記イ〜ニの工程により求まる各波長特性より第１，第２の波長領域λ１，λ２ごとの励起側，蛍光側各々のスペクトル補正関数Ｇｅｘ１（λＥＸ），Ｇｅｍ１（λＥＭ）とＧｅｘ２（λＥＸ），Ｇｅｍ２（λＥＭ）を求め、
これらの補正関数は、前記第１，第２の波長領域λ１，λ２の重なりに位置する一の波長λＡを選んで、このλＡにおける前記イ〜ニの工程で求めた各波長特性Ｆｅｘ１（λＡ），Ｆｅｍ１（λＡ），Ｆｅｘ２（λＡ），Ｆｅｍ２（λＡ）に対する前記各波長特性Ｆｅｘ１（λＥＸ），Ｆｅｍ１（λＥＸ），Ｆｅｘ２（λＥＸ），Ｆｅｍ２（λＥＸ）の比より求める
　　【請求項２】　前記工程イの光量子計の蛍光スクリーンとしてローダミンＢを用い、前記工程ロの標準光源又は副標準光源としてタングステンランプを用い、前記第１の波長領域は６００ｎｍ以下で２００ｎｍ以上の範囲の中から設定し、前記第２の波長領域は、前記第１の波長領域以上で９００ｎｍ以下の範囲を含むように設定した請求項１記載の分光蛍光光度計のスペクトル補正方法。
　　【請求項３】　前記工程ハでは光拡散素子を光路上にセットしてスペクトル測定を行う請求項１又は請求項２記載の分光蛍光光度計のスペクトル補正方法。
　　【請求項４】　光源、励起側分光器、蛍光側分光器、蛍光検知器、蛍光信号値から測定結果を算出する演算器を備えた分光蛍光光度計において、
　励起側光学系及び蛍光側光学系の波長特性に影響される見かけの蛍光スペクトル値を補正する手段を有し、このスペクトル補正手段は、測定範囲の波長領域λを
一部が重なる
【数１】
・λ１について　Ｆｅｘ１（λＥＸ）×Ｆｅｍ１（λＥＭ）＝Ｆ１（λＥＸ，λＥＭ）
・λ２について　Ｆｅｘ２（λＥＸ）×Ｆｅｍ２（λＥＭ）＝Ｆ２（λＥＸ，λＥＭ）
　ここで、Ｆｅｘ１（λＥＸ）：光量子計法により求めた第１の波長領域λ１の励起側光学系の波長特性
　Ｆ１（λＥＸ，λＥＭ）：第１の波長領域λ１において励起側波長と蛍光側波長を一致させつつ励起側分光器及び蛍光側分光器を同時に波長走査して得られたスペクトル測定値
　Ｆｅｍ１（λＥＭ）：Ｆ１（λＥＸ，λＥＭ）とＦｅｘ１（λＥＸ，λＥＭ）との比演算より得た第１の波長領域λ１の蛍光側光学系の波長特性
　Ｆｅｍ２（λＥＸ）：標準光源又は標準光源により校正された副標準光源を用いて求めた第２の波長領域λ２の蛍光側光学系の波長特性
　Ｆ２（λＥＸ，λＥＭ）：第２の波長領域λ２において励起側波長と蛍光側波長を一致させつつ励起側分光器及び蛍光側分光器を同時に波長走査して得られたスペクトル測定値
　Ｆｅｘ２（λＥＭ）：Ｆ２（λＥＸ，λＥＭ）とＦｅｍ２（λＥＸ，λＥＭ）との比演算より得た第２の波長領域λ２の励起側光学系の波長特性
・λ１について
　Ｇｅｘ１（λＥＸ）＝Ｆｅｘ１（λＡ）／Ｆｅｘ１（λＥＸ）
　Ｇｅｍ１（λＥＭ）＝Ｆｅｍ１（λＡ）／Ｆｅｍ１（λＥＭ）
・λ２について
　Ｇｅｘ２（λＥＸ）＝Ｆｅｘ２（λＡ）／Ｆｅｘ２（λＥＸ）
　Ｇｅｍ２（λＥＭ）＝Ｆｅｍ２（λＡ）／Ｆｅｍ２（λＥＭ）
　ここで、
　Ｇｅｘ１（λＥＸ）：λ１の励起側光学系の補正スペクトル関数
　Ｇｅｍ１（λＥＭ）：λ１の蛍光側光学系の補正スペクトル関数
　Ｇｅｘ２（λＥＸ）：λ２の励起側光学系の補正スペクトル関数
　Ｇｅｍ２（λＥＭ）：λ２の蛍光側光学系の補正スペクトル関数
　λＡ：スペクトルの相対的形状を補正するために、見かけのスペクトル値のうちの一つを基準として適当に選んだ
ときのそのスペクトルが生じる位置の波長で、第１，第２の波長領域λ１，λ２の重なりに位置する
　前記記憶したλ１，λ２のいずれかの補正スペクトル関数を実測される蛍光スペクトル値の測定波長領域λ１，λ２に応じて読み出して見かけのスペクトル値の補正演算を行うように設定したことを特徴とするスペクトル補正機能付き分光蛍光光度計。」
　訂正事項ｂ
　【００１４】の記載を次のとおりに訂正する。
「すなわち、光源、励起側分光器、蛍光側分光器、蛍光検知器、蛍光信号値から測定結果を算出する演算器を備えた分光蛍光光度計のスペクトル補正を行う場合に、まず、測定範囲の波長領域λを
一部が重なる
　第１の波長領域λ１の励起側光学系の波長特性Ｆｅｘ１（λＥＸ）を光量子計法により求める工程イ、
　第２の波長領域λ２の蛍光側光学系の波長特性Ｆｅｍ２（λＥＭ）を標準光源又は標準光源により校正された副標準光源を利用して求める工程ロ、
　第１の波長領域λ１及び第２の波長領域λ２の全波長領域について前記励起側分光器、蛍光側分光器により励起側，蛍光側の両波長を一致させながら同時走査して蛍光信号値（蛍光スペクトル値）を測定する工程ハ、
　前記工程ハで測定された蛍光信号値のうち第１の波長領域λ１に対応の測定値Ｆ１（λＥＸ，λＥＭ），第２の波長領域λ２に対応の測定値Ｆ２（λＥＸ，λＥＭ）を分けて、測定値Ｆ１（λＥＸ，λＥＭ）と前記工程イで求めた波長特性Ｆｅｘ１（λＥＸ）との比演算より第１の波長領域λ１の蛍光側光学系の波長特性Ｆｅｍ１（λＥＭ）を求め、一方、測定値Ｆ２（λＥＸ，λＥＭ）と前記工程ロで求めた波長特性Ｆｅｍ２（λＥＭ）との比演算により第２の波長領域λ２の励起側光学系の波長特性Ｆｅｘ２（λＥＸ）とを求める工程ニ、
　前記イ〜ニの工程により求まる各波長特性より第１，第２の波長領域λ１，λ２ごとの励起側，蛍光側各々のスペクトル補正関数Ｇｅｘ１（λＥＸ），Ｇｅｍ１（λＥＭ）とＧｅｘ２（λＥＸ），Ｇｅｍ２（λＥＭ）を求め、
これらの補正関数は、前記第１，第２の波長領域λ１，λ２の重なりに位置する一の波長λＡを選んで、このλＡにおける前記イ〜ニの工程で求めた各波長特性Ｆｅｘ１（λＡ），Ｆｅｍ１（λＡ），Ｆｅｘ２（λＡ），Ｆｅｍ２（λＡ）に対する前記各波長特性Ｆｅｘ１（λＥＸ），Ｆｅｍ１（λＥＸ），Ｆｅｘ２（λＥＸ），Ｆｅｍ２（λＥＸ）の比より求める
　訂正事項ｃ
　【００２２】の記載を次のとおりに訂正する。
「【数４】
・λ１について
　Ｇｅｘ１（λＥＸ）＝Ｆｅｘ１（λＡ）／Ｆｅｘ１（λＥＸ）
　Ｇｅｍ１（λＥＭ）＝Ｆｅｍ１（λＡ）／Ｆｅｍ１（λＥＭ）
・λ２について
　Ｇｅｘ２（λＥＸ）＝Ｆｅｘ２（λＡ）／Ｆｅｘ２（λＥＸ）
　Ｇｅｍ２（λＥＭ）＝Ｆｅｍ２（λＡ）／Ｆｅｍ２（λＥＭ）
　λＡ：スペクトルの相対的形状を補正するために、見かけのスペクトル値のうちの一つを基準として適当に選んだ
ときのそのスペクトルが生じる位置の波長で、第１，第２の波長領域λ１，λ２の重なりに位置するもの
（２）訂正の目的の適否、新規事項の有無、及び特許請求の範囲の拡張・変更の存否についての判断
　訂正事項ａは、次のａ１〜ａ４からなるものである。
　ａ１．請求項１の「測定範囲の波長領域λを第１の波長領域λ１，第２の波長領域λ２に分け」を「測定範囲の波長領域λを
一部が重なる
　ａ２．請求項１の「スペクトル補正関数Ｇｅｘ１（λＥＸ），Ｇｅｍ１（λＥＭ）とＧｅｘ２（λＥＸ），Ｇｅｍ２（λＥＭ）を求める」を「スペクトル補正関数Ｇｅｘ１（λＥＸ），Ｇｅｍ１（λＥＭ）とＧｅｘ２（λＥＸ），Ｇｅｍ２（λＥＭ）を求め、
これらの補正関数は、前記第１，第２の波長領域λ１，λ２の重なりに位置する一の波長λＡを選んで、このλＡにおける前記イ〜ニの工程で求めた各波長特性Ｆｅｘ１（λＡ），Ｆｅｍ１（λＡ），Ｆｅｘ２（λＡ），Ｆｅｍ２（λＡ）に対する前記各波長特性Ｆｅｘ１（λＥＸ），Ｆｅｍ１（λＥＸ），Ｆｅｘ２（λＥＸ），Ｆｅｍ２（λＥＸ）の比より求める
　ａ３．請求項４の「測定範囲の波長領域λを第１の波長領域λ１と第２の波長領域λ２とに分けて」を「測定範囲の波長領域λを
一部が重なる
　ａ４．請求項４の「λＡ：スペクトルの相対的形状を補正するために、見かけのスペクトル値のうちの一つを基準として適当に選んだもの」を「λＡ：スペクトルの相対的形状を補正するために、見かけのスペクトル値のうちの一つを基準として適当に選んだ
ときのそのスペクトルが生じる位置の波長で、第１，第２の波長領域λ１，λ２の重なりに位置する
　ａ１、ａ３は明細書の【００２９】【００３２】【００３３】【００３８】【００４１】の記載に基づき波長領域λについて限定をするものであり、特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。
　ａ２は、明細書の【００２２】【００３７】【００３８】の記載に基づいて、スペクトル補正関数について限定するものであり、特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。
　ａ４は、明細書の【００３７】【００３８】の記載に基づいて、補正スペクトル関数を求める際の基準となる波長λＡについて限定するものであり、特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。
　訂正事項ｂ，ｃは、訂正事項ａによる請求項１，４の訂正に対応して発明の詳細な説明の記載を訂正するものであり、明りょうでない記載の釈明を目的とするものである。
　訂正事項ａ〜ｃによる訂正は、いずれも、願書に添付した明細書又は図面に記載した事項の範囲内においてするものであり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではない。
　したがって、上記訂正は、特許法第１２０条の４第３項において準用する平成６年法律第１１６号による改正前の特許法第１２６条第１項ただし書、第２項及び第３項の規定に適合するので、当該訂正を認める。
３．特許異議の申立ての概要
　申立人は、証拠として、甲第１号証を提出して請求項１−４に係る発明の特許は、特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものであるから取り消されるべきである、と主張している。
４．特許異議の申立てについての判断
（１）本件発明
　訂正明細書の請求項１−４に係る発明（以下、それぞれを「本件発明１」−「本件発明４」という。）は、訂正明細書の特許請求の範囲の請求項１−４に記載されたとおりのものである（上記、２．（１）訂正事項ａ参照。）。
（２）引用刊行物
　取り消しの理由に引用した刊行物（木下、御橋編「日本分光学会測定法シリーズ３　蛍光測定−生物科学への応用」学会出版センター１９８３年１月２０日初版発行、第６３−第６９頁（申立人の提出した甲第１号証、以下、「引用例」という。））には、分光蛍光光度計のスペクトル補正に関する発明が記載されており、概略次の事項が記載されている。
　（ｉ）第６３頁、１１行−第６４頁、１３行
　励起スペクトルの補正について、蛍光分子を利用して入射光を特定の波長の光に変換し、その強度を測る方法（光量子計）があり、光量子計の蛍光スクリーンとして最もよく利用されるローダミンＢは６００ｎｍまでの波長領域において十分に高い吸光度を示し放射される蛍光強度は入射してくる光量子の数（単位時間当たり）に比例する、ことが記載されている。
　（ｉｉ）第６６頁、１行−第６７頁、４行
　励起スペクトルの自動補正について、自動補正の方法は２種類あり、その１つは、光検出器からの信号をデジタル化したのち、内蔵されているマイクロコンピューターに送り、スペクトルを記憶させる方法であり、もう１つは、蛍光スクリーン法を用いて励起光の強度を自動補正する方法である、ことが記載されている。
　（ｉｉｉ）第６７頁、５行−第６８頁、１３行
　発光スペクトルの補正について、標準タングステンランプを用いる方法があり、６００ｎｍより長波長側の領域での較正には、現在のところ信頼できる唯一の方法といえるが紫外域での較正にはあまり適さない、ことが記載されている。
　（ｉｖ）第６８頁、２０行−第６９頁、６行
　発光スペクトルの補正について、キセノン放電管−光量子計を用いる方法があり、光量子計が光を検知できる波長領域での較正が可能で、ローダミンＢ溶液を用いれば６００ｎｍまでの領域がカバーできる、ことが記載されている。この方法は、
　（ｉｖ−ａ）まず、励起スペクトルの較正で述べた要領で励起光の分光特性Ｉｅｘ（λ）を求める。
　（ｉｖ−ｂ）次に、試料ホルダーに鏡または水晶板を設置して、励起光を発光用分光器の入口スリットに導き、励起側と発光側の分光器を同じ波長に設定して検出器からの出力Ｈ’（λ）を測り、設定波長を次々と変えて同じ走査を繰り返す。
　（ｉｖ−ｃ）各波長で、Ｈ’（λ）とＩｅｘ（λ）の比を計算する。
ものであることが記載されている。
（３）比較判断
　本件発明１と引用例に記載された発明とを比較すると、６００ｎｍ以下の波長領域を第１の波長領域λ１，６００ｎｍ以上の波長領域を第２の波長領域λ２に対応させれば、引用例の記載事項（ｉ）（ｉｉｉ）からみて、引用例に記載された発明は、本件発明１の工程イ、ロに相当する工程を有するものということができる。また、引用例の記載事項（ｉｖ−ｂ）は本件発明１の工程ハに相当し、引用例の記載事項（ｉｖ−ｃ）は本件発明１の工程ニにほぼ相当する。
　しかしながら、本件発明１の構成要件である、「測定範囲の波長領域λを一部が重なる第１の領域λ１，第２の領域λ２に分け、各領域の重なりに位置する一の波長λＡを選んで、このλＡにおける前記イ〜ニの工程で求めた各波長特性Ｆｅｘ１（λＡ）〜Ｆｅｍ２（λＡ）に対する前記各波長特性Ｆｅｘ１（λＥＸ）〜Ｆｅｍ２（λＥＭ）の比よりスペクトル補正関数Ｇｅｘ１（λＥＸ）〜Ｇｅｍ２（λＥＭ）を求める」ことについて、引用例には何ら記載がなく示唆されてもいない。
　したがって、本件発明１は、引用例に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。
　本件発明２，３は、本件発明１の構成要件をすべて含み、さらに他の構成要件を付加したものであるから同様の理由により、引用例に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。
　本件発明４は、本件発明１の方法を実施するための装置の発明であり、本件発明１で求めたスペクトル補正関数と同様の補正関数を用いてスペクトル補正をすることを構成要件として含むものであるが、そのようなスペクトル補正関数を求めることについて、引用例には何ら記載がなく示唆されてもいないことは本件発明１についてした上記判断のとおりである。したがって、本件発明４は、引用例に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。
５．むすび
　以上のとおりであるから、特許異議申立ての理由及び証拠によっては、請求項１−４に係る発明の特許を取り消すべき理由を発見しない。
　また、他に、請求項１−４に係る発明の特許を取り消すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
平成１６年５月２４日（２００４．５．２４）
【訂正の要旨】
審決（決定）の【理由】欄参照。
（５４）【発明の名称】
分光蛍光光度計のスペクトル補正方法及びスペクトル補正機能付分光蛍光光度計
（５７）【特許請求の範囲】
　【請求項１】　光源、励起側分光器、蛍光側分光器、蛍光検知器、蛍光信号値から測定結果を算出する演算器を備えた分光蛍光光度計のスペクトル補正を行う場合に、測定範囲の波長領域λを
一部が重なる
　第１の波長領域λ１の励起側光学系の波長特性Ｆｅｘ１（λＥＸ）を光量子計法により求める工程イ、
　第２の波長領域λ２の蛍光側光学系の波長特性Ｆｅｍ２（λＥＭ）を標準光源又は標準光源により校正された副標準光源を利用して求める工程ロ、
　第１の波長領域λ１及び第２の波長領域λ２の全波長領域について前記励起側分光器，蛍光側分光器により励起側，蛍光側の両波長を一致させながら同時走査して蛍光信号値を測定する工程ハ、
　前記工程ハで測定された蛍光信号値のうち第１の波長領域λ１に対応の測定値Ｆ１（λＥＸ，λＥＭ），第２の波長領域λ２に対応の測定値Ｆ２（λＥＸ，λＥＭ）を分けて、測定値Ｆ１（λＥＸ，λＥＭ）と前記工程イで求めた波長特性Ｆｅｘ１（λＥＸ）との比演算より第１の波長領域λ１の蛍光側光学系の波長特性Ｆｅｍ１（λＥＭ）を求め、一方、測定値Ｆ２（λＥＸ，λＥＭ）と前記工程ロで求めた波長特性Ｆｅｍ２（λＥＭ）との比演算により第２の波長領域λ２の励起側光学系の波長特性Ｆｅｘ２（λＥＸ）とを求める工程ニ、
　前記イ〜ニの工程により求まる各波長特性より第１，第２の波長領域λ１，λ２ごとの励起側，蛍光側各々のスペクトル補正関数Ｇｅｘ１（λＥＸ），Ｇｅｍ１（λＥＭ）とＧｅｘ２（λＥＸ），Ｇｅｍ２（λＥＭ）を求め
、これらの補正関数は、前記第１，第２の波長領域λ１，λ２の重なりに位置する一の波長λＡを選んで、このλＡにおける前記イ〜ニの工程で求めた各波長特性Ｆｅｘ１（λＡ），Ｆｅｍ１（λＡ），Ｆｅｘ２（λＡ），Ｆｅｍ２（λＡ）に対する前記各波長特性Ｆｅｘ１（λＥＸ），Ｆｅｍ１（λＥＸ），Ｆｅｘ２（λＥＸ），Ｆｅｍ２（λＥＸ）の比より求め
　【請求項２】　前記工程イの光量子計の蛍光スクリーンとしてローダミンＢを用い、前記工程ロの標準光源又は副標準光源としてタングステンランプを用い、前記第１の波長領域は６００ｎｍ以下で２００ｎｍ以上の範囲の中から設定し、前記第２の波長領域は、前記第１の波長領域以上で９００ｎｍ以下の範囲を含むように設定した請求項１記載の分光蛍光光度計のスペクトル補正方法。
　【請求項３】　前記工程ハでは光拡散素子を光路上にセットしてスペクトル測定を行う請求項１又は請求項２記載の分光蛍光光度計のスペクトル補正方法。
　【請求項４】　光源、励起側分光器、蛍光側分光器、蛍光検知器、蛍光信号値から測定結果を算出する演算器を備えた分光蛍光光度計において、
　励起側光学系及び蛍光側光学系の波長特性に影響される見かけの蛍光スペクトル値を補正する手段を有し、このスペクトル補正手段は、測定範囲の波長領域λを
一部が重なる
　【数１】
・λ１について　Ｆｅｘ１（λＥＸ）×Ｆｅｍ１（λＥＭ）＝Ｆ１（λＥＸ，λＥＭ）
・λ２について　Ｆｅｘ２（λＥＸ）×Ｆｅｍ２（λＥＭ）＝Ｆ２（λＥＸ，λＥＭ）
　ここで、Ｆｅｘ１（λＥＸ）：光量子計法により求めた第１の波長領域λ１の励起側光学系の波長特性
　　　　　Ｆ１（λＥＸ，λＥＭ）：第１の波長領域λ１において励起側波長と蛍光側波長を一致させつつ励起側分光器及び蛍光側分光器を同時に波長走査して得られたスペクトル測定値
　　　　　Ｆｅｍ１（λＥＭ）：Ｆ１（λＥＸ，λＥＭ）とＦｅｘ１（λＥＸ，λＥＭ）との比演算より得た第１の波長領域λ１の蛍光側光学系の波長特性
　　　　　Ｆｅｍ２（λＥＸ）：標準光源又は標準光源により校正された副標準光源を用いて求めた第２の波長領域λ２の蛍光側光学系の波長特性
　　　　　Ｆ２（λＥＸ，λＥＭ）：第２の波長領域λ２において励起側波長と蛍光側波長を一致させつつ励起側分光器及び蛍光側分光器を同時に波長走査して得られたスペクトル測定値
　　　　　Ｆｅｘ２（λＥＭ）：Ｆ２（λＥＸ，λＥＭ）とＦｅｍ２（λＥＸ，λＥＭ）との比演算より得た第２波長領域λ２の励起側光学系の波長特性
・λ１について
　　Ｇｅｘ１（λＥＸ）＝Ｆｅｘ１（λＡ）／Ｆｅｘ１（λＥＸ）
　　Ｇｅｍ１（λＥＭ）＝Ｆｅｍ１（λＡ）／Ｆｅｍ１（λＥＭ）
・λ２について
　　Ｇｅｘ２（λＥＸ）＝Ｆｅｘ２（λＡ）／Ｆｅｘ２（λＥＸ）
　　Ｇｅｍ２（λＥＭ）＝Ｆｅｍ２（λＡ）／Ｆｅｍ２（λＥＭ）
　ここで、Ｇｅｘ１（λＥＸ）：λ１の励起側光学系の補正スペクトル関数
　　　　　Ｇｅｍ１（λＥＭ）：λ１の蛍光側光学系の補正スペクトル関数
　　　　　Ｇｅｘ２（λＥＸ）：λ２の励起側光学系の補正スペクトル関数
　　　　　Ｇｅｍ２（λＥＭ）：λ２の蛍光側光学系の補正スペクトル関数
　　　　　λＡ：スペクトルの相対的形状を補正するために、見かけのスペクトル値のうちの一つを基準として適当に選んだ
ときのそのスペクトルが生じる位置の波長で、第１，第２の波長領域λ１，λ２の重なりに位置するもの
　前記記憶したλ１，λ２のいずれかの補正スペクトル関数を実測される蛍光スペクトル値の測定波長領域λ１，λ２に応じて読み出して見かけのスペクトル値の補正演算を行うよう設定したことを特徴とするスペクトル補正機能付き分光蛍光光度計。
【発明の詳細な説明】
　【０００１】
　【産業上の利用分野】
　本発明は試料固有のスペクトル測定に用いる分光蛍光光度計に係り、特にそのスペクトル補正の技術に関する。
　【０００２】
　【従来の技術】
　分光蛍光光度計は、光源から放射される光線が励起側分光器にて波長設定され、その波長設定された単色光が試料セル内の測定試料を照射，励起し、試料から発光した蛍光を蛍光側分光器及び蛍光検知器を介して検出して、蛍光（励起・発光）スペクトルを測定する。
　【０００３】
　蛍光スペクトルは、励起光の強度ＩｅＸ（λ）と蛍光分子の吸光係数εｅｘ（λ）との積に比例するため、どの波長に設定しても一定の励起光強度が得られるような理想的な測定系で蛍光スペクトルを観察するのが望ましい。しかし、実際の測定系では励起光強度Ｉｅｘ（λ）は波長とともに変動し、その変動は光源や分光器の種類，装置の経年変化等いわゆる装置の個性に大きく依存する。このことは、励起側だけでなく、蛍光側においてもその分光器や検知器の感度特性等に個性があるため同様のことがいえる。従って、検知器に表れる蛍光スペクトルは見かけ上のものとなる。真のスペクトルを求めるには、上記の装置の個性（装置関数，波長特性ともいう）を考慮したスペクトル補正を行うことが必要となる。
　【０００４】
　この種のスペクトル補正の従来技術としては、例えば特開平２−２５９５３３号公報等に開示されるようにフォトダイオードを用いてスペクトル補正を行うもの等種々提案されているが、従来より最も高感度で信頼できるスペクトル補正技術として評価されているものに、木下、御橋編「蛍光測定」（学会出版センタ−）２章．４「見かけ」の蛍光スペクトルと「真」の蛍光スペクトル（６３頁から７０頁）において論じられているように、励起側については光量子計法、蛍光側については、光量子計法と標準光源を用いる方法を併用したものがある。
　【０００５】
　ここで、上記文献に記載されたスペクトル補正について説明する。
　【０００６】
〔励起側の補正〕
　励起側の補正に用いる光量子計法は、高濃度のローダミンＢの溶液が６００ｎｍまでの波長域において充分に高い吸光度を示す性質を利用する。実際には、ローダミンＢ溶液を三角セルに入れ試料ホルダーにセットし、蛍光側の分光器の波長を６１５ｎｍより長波長側に設定し（発光の内部遮蔽効果の影響を抑えるためである）、励起側分光器の波長を走査して光検出器からの信号を記録し励起光強度の波長特性を求め、これに基づき一定の励起光強度に相当する補正を行う。
　【０００７】
〔蛍光側の補正〕
　蛍光側の補正では、前記光量子計法と標準光源を用いる方法が併用される。標準光源を用いる方法は、黒体輻射を基準にして分光出力特性が正確に求められている標準タングステンランプ若しくはこのランプをもとに校正された二次標準ランプ（副標準光源）を用い、ランプの放射光を蛍光側分光器で波長走査しつつ検知することで、蛍光側の波長特性を求める。この標準光源方法は６００ｎｍより長波長側の領域の蛍光側の波長特性を知る上で現在のところ信頼できる唯一の方法とされている。
　【０００８】
　そして、６００ｎｍ以下の領域はローダミンＢ溶液を用いた光量子計法でカバーしている。すなわち、まず上記の励起側で用いたローダミンＢの要領で励起光の分光特性Ｉｅｘ（λ）を求める。次に試料ホルダー位置に光拡散素子をセットして、励起光を導きつつ励起側と蛍光側の分光器を同じ波長で走査して検出器の出力Ｈ（λｉ）を計る。このＨ（λｉ）とＩｅｘ（λ）の比から６００ｎｍ以下の蛍光側の波長特性が求まる。
　【０００９】
　【発明が解決しようとする課題】
　上記従来技術では、蛍光側については、ロ−ダミンＢを用いた光量子計法と標準光源を用いる方法との併用により、通常の分光蛍光光度計の測定波長域（２００〜９００ｎｍ）に対する光度計の波長特性を求めることができるが、励起側については、ロ−ダミンＢを用いた光量子計法以外、信頼できる有効な方法がないため、２００〜６００ｎｍの範囲外については波長特性を求めることができない。従って、装置全体としてみれば、６００ｎｍ以上の波長域で充分なスペクトル補正を伴いつつ試料分析を行うことができない。
　【００１０】
　本発明は以上の点に鑑みてなされ、その目的は、分光蛍光光度計において、前述したような励起側についても蛍光側と同様に例えば６００ｎｍ以上の波長特性を高精度に、しかも蛍光側の波長特性測定に用いた既存の標準光源又は副標準光源を利用して求め、測定対象波長ひいては試料の測定レンジを広げることができるスペクトル補正技術を提供することにある。
　【００１１】
　【課題を解決するための手段】
　本発明は上記目的を達成するために、基本的には次のようなスペクトル補正技術を提案する。
　【００１２】
　【００１３】
　【００１４】
　すなわち、光源、励起側分光器、蛍光側分光器、蛍光検知器、蛍光信号値から測定結果を算出する演算器を備えた分光蛍光光度計のスペクトル補正を行う場合に、まず、測定範囲の波長領域λを
一部が重なる
　第１の波長領域λ１の励起側光学系の波長特性Ｆｅｘ１（λＥＸ）を光量子計法により求める工程イ、
　第２の波長領域λ２の蛍光側光学系の波長特性Ｆｅｍ２（λＥＭ）を標準光源又は標準光源により校正された副標準光源を利用して求める工程ロ、
　第１の波長領域λ１及び第２の波長領域λ２の全波長領域について前記励起側分光器，蛍光側分光器により励起側，蛍光側の両波長を一致させながら同時走査して蛍光信号値（蛍光スペクトル値）を測定する工程ハ、
　前記工程ハで測定された蛍光信号値のうち第１の波長領域λ１に対応の測定値Ｆ１（λＥＸ，λＥＭ），第２の波長領域λ２に対応の測定値Ｆ２（λＥＸ，λＥＭ）を分けて、測定値Ｆ１（λＥＸ，λＥＭ）と前記工程イで求めた波長特性Ｆｅｘ１（λＥＸ）との比演算より第１の波長領域λ１の蛍光側光学系の波長特性Ｆｅｍ１（λＥＭ）を求め、一方、測定値Ｆ２（λＥＸ，λＥＭ）と前記工程ロで求めた波長特性Ｆｅｍ２（λＥＭ）との比演算により第２の波長領域λ２の励起側光学系の波長特性Ｆｅｘ２（λＥＸ）とを求める工程ニ、
　前記イ〜ニの工程により求まる各波長特性より第１，第２の波長領域λ１，λ２ごとの励起側，蛍光側各々のスペクトル補正関数Ｇｅｘ１（λＥＸ），Ｇｅｍ１（λＥＭ）とＧｅｘ２（λＥＸ），Ｇｅｍ２（λＥＭ）を求め
、これらの補正関数は、前記第１，第２の波長領域λ１，λ２の重なりに位置する一つの波長λＡを選んで、このλＡにおける前記イ〜ニの工程で求めた各波長特性Ｆｅｘ１（λＡ），Ｆｅｍ１（λＡ），Ｆｅｘ２（λＡ），Ｆｅｍ２（λＡ）に対する前記各波長特性Ｆｅｘ１（λＥＸ），Ｆｅｍ１（λＥＸ），Ｆｅｘ２（λＥＸ），Ｆｅｍ２（λＥＸ）の比より求め
　【００１５】
　さらにその応用として、上記第１の課題解決手段のようにして求めた各波長領域λ１，λ２ごとの補正関数、すなわちＧｅｘ１（λＥＸ），Ｇｅｍ１（λＥＭ）とＧｅｘ２（λＥＸ），Ｇｅｍ２（λＥＭ）を記憶し、実測される蛍光スペクトル値の所属する波長領域λ１，λ２に応じて上記補正関数Ｇｅｘ１（λＥＸ），Ｇｅｍ１（λＥＭ）或いはＧｅｘ２（λＥＸ），Ｇｅｍ２（λＥＭ）のいずれかを読み出して見かけのスペクトル値の補正演算を行う手段を備えたスペクトル補正機能付きの分光蛍光光度計を提案する（これを第２の課題解決手段とする）。
　【００１６】
　【００１７】
　【００１８】
　【作用】
　第１の課題解決手段の作用…工程イ〜ハで求めた、第１の波長領域λ１の励起側波長特性Ｆｅｘ１（λＥＸ）、第２の波長領域λ２の蛍光側波長特性Ｆｅｍ２（λＥＭ）、測定対象の全波長領域λ１，λ２の蛍光信号値Ｆ１（λＥＸ，λＥＭ），Ｆ２（λＥＸ，λＥＭ）は全て既存の信頼性の高い方法を用いて求めることができる。
　【００１９】
　上記の既知の実測データＦｅｘ１（λＥＸ）、Ｆｅｍ２（λＥＭ）、Ｆ１（λＥＸ，λＥＭ），Ｆ２（λＥＸ，λＥＭ）と、未知たる第１の波長領域λ１の蛍光側波長特性Ｆｅｍ１（λＥＭ）及び第２の波長領域λ２の励起側波長特性Ｆｅｘ２（λＥＸ）とには次式が成立する。
　【００２０】
　【数３】
λ１について　Ｆｅｘ１（λＥＸ）×Ｆｅｍ１（λＥＭ）＝Ｆ１（λＥＸ，λＥＭ）
λ２について　Ｆｅｘ２（λＥＸ）×Ｆｅｍ２（λＥＭ）＝Ｆ２（λＥＸ，λＥＭ）
　上記式から、工程ニのように、既知データのＦ１（λＥＸ，λＥＭ）とＦｅｘ１（λＥＸ）との比演算より第１の波長領域λ１の蛍光側波長特性Ｆｅｍ１（λＥＭ）を求め、既知データのＦ２（λＥＸ，λＥＭ）とＦｅｍ２（λＥＭ）との比演算により第２の波長領域λ２の励起側光学系の波長特性Ｆｅｘ２（λＥＸ）とが求められる。
　【００２１】
　そして、以上の全ての波長特性が求まることで、第１の波長領域λ１の励起側の補正関数Ｇｅｘ１（λＥＸ），蛍光側の補正関数Ｇｅｍ１（λＥＭ）及び第２の波長領域λ２の励起側の補正関数Ｇｅｘ２（λＥＸ），蛍光側の補正関数Ｇｅｍ２（λＥＭ）を次のようにして求めることができる。
　【００２２】
　【数４】
・λ１について、
　　Ｇｅｘ１（λＥＸ）＝Ｆｅｘ１（λＡ）／Ｆｅｘ１（λＥＸ）
　　Ｇｅｍ１（λＥＭ）＝Ｆｅｍ１（λＡ）／Ｆｅｍ１（λＥＭ）
・λ２について
　　Ｇｅｘ２（λＥＸ）＝Ｆｅｘ２（λＡ）／Ｆｅｘ２（λＥＸ）
　　Ｇｅｍ２（λＥＭ）＝Ｆｅｍ２（λＡ）／Ｆｅｍ２（λＥＭ）
　λＡ：スペクトルの相対的形状を補正するために、見かけのスペクトル値のうちの一つを基準として適当に選んだ
ときのそのスペクトルが生じる位置の波長で、第１，第２の波長領域λ１，λ２の重なりに位置するもの
　【００２３】
　この課題解決手段によれば、従来の光量子計法，標準光源（又は副標準光源）を利用した方法に比べて、従来は２００〜６００ｎｍまでの励起側・蛍光側のスペクトル補正しかできなかったものを２００〜９００ｎｍまでの励起側・蛍光側のスペクトル補正を可能にする。
　【００２４】
　第２の課題解決手段の作用…上記の第１の課題解決手段で求めたスペクトル補正関数Ｇｅｘ１（λＥＸ），Ｇｅｍ１（λＥＭ）とＧｅｘ２（λＥＸ），Ｇｅｍ（λＥＭ）をスペクトル測定に用いた波長に応じて記憶部から読み出すことで、自動的なスペクトルデータ処理により真のスペクトルを演算できる。
　【００２５】
　【実施例】
　本発明の一実施例を図面に基づき説明する。
　【００２６】
　図１は本発明のスペクトル補正の一例を示すフローチャート、図２はそのスペクトル補正に用いる装置の波長特性を求めるための説明図、図３は図２に対応する波形説明図、図４は本発明の適用対象となる分光蛍光光度計の構成図である。
　【００２７】
　まず、図４により、分光蛍光光度計について説明する。
　【００２８】
　図４において、光源１から放射される光線は、励起側分光器２に入射する。励起側分光器２の設定波長は、パルスモ−タ３によって変えられる。パルスモ−タ３の動作は、コンピュ−タ４の中にあらかじめプログラムされており、インタフェ−ス５を介して制御される。所期の励起波長を操作パネル６でキ−インすることによって、励起側分光器２の波長が設定される。励起側分光器によって取り出された単色光は、試料セルフ内の測定試料８を照射し、試料８から放射された蛍光は蛍光側分光器９に入射する。蛍光側分光器９はパルスモ−タ１０によって駆動されるが、その動作はパルスモ−タ３と同様に、コンピュ−タ４により制御される。蛍光側分光器９により選択された波長の蛍光は、検知器１１に入射し、電気信号に変換される。その電気信号は、アナログ−デジタル変換器１２によってデジタル信号に変えられる。一方、励起側分光器２から取り出された単色光の一部は、光源光量モニタのためビ−ムスプリッタ１３を介して、モニタ検知器１４に入射し、電気信号に変換される。この電気信号も、アナログ−デジタル変換器１２によってデジタル信号に変えられる。検知器１１からのデジタル信号（Ｓ）と、モニタ検知器１４からのデジタル信号（Ｍ）は、コンピュ−タ４に送られ、比（Ｓ／Ｍ）が算出され、この比が各波長における蛍光強度として、コンピュ−タ４に記憶される。
　【００２９】
　コンピュータ４には、後述のロ−ダミンＢによる光量子計１５（図２）を用いて求める第１の波長領域λ１（λ１は２００〜６００ｎｍ）における励起側光学系の波長特性（励起側波長特性）、副標準光源（図３，標準光源により校正された２次ランプ）１６を用いて求める第２の波長領域λ２（λ２は５００〜９００ｎｍ）の蛍光側光学系の波長特性（蛍光側波長特性）、及びこれらの波長特性を利用して所定の関係式により第１の波長領域λ１の蛍光側波長特性，第２の波長領域λ２の励起側波長特性ひいてはスペクトル補正関数Ｇｅｘ１（λＥＸ），Ｇｅｍ１（λＥＭ），Ｇｅｘ２（λＥＸ），Ｇｅｍ２（λＥＭ）を求めるプログラムがコンピュ−タ４内に記憶されている。求められた各波長領域λ１，λ２の励起側、蛍光側の波長特性及び補正関数は、コンピュ−タ４内のＲＡＭに記憶され、未知試料の真のスペクトル測定、算出に使われる。
　【００３０】
　次に、装置の波長特性及びスペクトル補正関数を求める手順について、図１〜図３を用いて説明する。
　【００３１】
　図１のステップＳ１〜Ｓ４に示すように、波長特性及びスペクトル補正関数を求める手順は、４段階に大別される。
　【００３２】
　ステップＳ１では、ロ−ダミンＢを用いて第１の波長領域λ１（本例では２００〜６００ｎｍ）についての励起側波長特性を測定する。これに相当するのが図２の（ａ）で、ロ−ダミンＢを入れた三角セル（光量子計）１５を試料セル位置にセットし、蛍光波長を６４０ｎｍに固定しておく。このときに、励起側分光器２を波長走査して２００〜６００ｎｍについての励起スペクトルを測定すると、結果が図３（ａ）に示すような波長領域λ１の励起側波長特性Ｆｅｘ１（λＥＸ）となり、これをコンピュ−タ４に記憶する。
　【００３３】
　ステップＳ２では、副標準光源１６により、第２の波長領域λ２（本例では５００〜９００ｎｍ）についての蛍光側波長特性を測定する。すなわち図２の（ｂ）に示すように、副標準光源１６から放射される光線を蛍光側分光器９に入射させる。蛍光側分光器９により５００〜９００ｎｍまで波長走査して蛍光スペクトルを測定すると、結果は、副標準光源１６の波長特性Ｆｃ（λＥＭ）と蛍光側光学系の波長特性Ｆｅｍ２（λＥＭ）との積となる。ここで使用する副標準光源１６は、タングステンランプを用いたもので、その波長特性は２９９５°Ｋにおける黒体放射の式と一致することが確かめられているものである。このため、Ｆｃ（λＥＭ）は既知であり、比演算により図３の（ｂ）に示すようなＦｅｍ２（λＥＭ）を求めることができ、これをコンピュ−タ４内に記憶する。
　【００３４】
　ステップＳ３では、全波長域λ１，λ２について励起側、蛍光側両波長を、同一波長、同一速度で走査したスペクトルを測定する。すなわち図２の（ｃ）に示すように、この場合には試料セル位置に拡散素子１７をセットする。拡散素子１７それ自体は波長依存性を持たないため、結果は次式に示すように励起側分光器２の波長特性と蛍光側分光器９の波長特性の積となる。この測定結果は図３の（ｃ）に示す。
　【００３５】
　【数５】
　λ１＜５００ｎｍについて　Ｆｅｘ１（λＥＸ）×Ｆｅｍ１（λＥＭ）＝Ｆ１（λＥＸ，λＥＭ）
　λ２＞５００ｎｍについて　Ｆｅｘ２（λＥＸ）×Ｆｅｍ２（λＥＭ）＝Ｆ２（λＥＸ，λＥＭ）
　　λＥＸ＝λＥＭ
上記の内、Ｆｅｘ１（λＥＸ）とＦｅｍ２（λＥＭ）は前記の操作により既に求められているため、それらとＦ１（λＥＸ，λＥＭ），Ｆ２（λＥＸ，λＥＭ）の比演算によりＦｅｍ１（λＥＭ）とＦｅｘ２（λＥＸ）を求める。
　【００３６】
　ステップ４では、以上の操作により求められた波長特性から、励起側、蛍光側各々の全波長域λ１，λ２にわたるスペクトル補正関数Ｇｅｘ１（λＥＸ）、Ｇｅｍ１（λＥＭ）及びＧｅｘ２（λＥＸ），Ｇｅｍ２（λＥＭ）を求める。
　【００３７】
　これらのスペクトル補正関数は、未知試料について測定した見かけのスペクトルに乗じることにより、真のスペクトルを求めるためのものである。蛍光光度計で得られたスペクトルは、縦軸が任意単位であり、ここで補正スペクトルと言っている意味は、強度について絶対単位を与えるものではなく、スペクトルの相対的な形状を補正すると言うことである。しかし、補正後の値が補正前のものと大幅に違うことは好ましくないため、補正関数の値は１に近くなるように、適当な波長の値が１となるように規格化する。この場合には、５００ｎｍの値〔Ｆｅｘ１（５００）、Ｆｅｘ２（５００）、Ｆｅｍ１（５００）、Ｆｅｍ２（５００）〕で各関数を規格化し、次の式により補正関数を算出する。
　【００３８】
　【数６】
・λ１（５００ｎｍ以下）について
　　　　Ｇｅｘ１（λＥＸ）＝Ｆｅｘ１（５００）／Ｆｅｘ１（λＥＸ）
　　　　Ｇｅｍ１（λＥＭ）＝Ｆｅｍ１（５００）／Ｆｅｍ１（λＥＭ）
・λ２（５００ｎｍ以上）について
　　　　Ｇｅｘ２（λＥＸ）＝Ｆｅｘ２（５００）／Ｆｅｘ２（λＥＸ）
　　　　Ｇｅｍ２（λＥＭ）＝Ｆｅｍ２（５００）／Ｆｅｍ２（λＥＭ）
　以上のようにして求められたスペクトル補正関数は、コンピュ−タ４内に記憶される。
　【００３９】
　そしてステップ５にて未知試料測定後、次の式により補正スペクトルを求めるために使用される。
　【００４０】
　【数７】
・λ１について　Ｉｃ（λＥＸ、λＥＭ）＝Ｉ（λＥＸ、λＥＭ）×Ｇｅｘ１（λＥＸ）×Ｇｅｍ１（λＥＭ）
・λ２について　Ｉｃ（λＥＸ、λＥＭ）＝Ｉ（λＥＸ、λＥＭ）×Ｇｅｘ２（λＥＸ）×Ｇｅｍ２（λＥＭ）
上式でＩＣは補正スペクトル、Ｉは補正前のスペクトルである。
　【００４１】
　本実施例によれば、励起側，蛍光側の双方の波長特性を２００〜９００ｎｍにわたり信頼性の高い方法により求め、これに基づく励起側及び蛍光側双方のスペクトル補正関数をそれぞれ波長領域２００〜５００ｎｍと５００〜９００ｎｍとの領域に分けてきめ細かく設定して蛍光スペクトル値を精度良く補正演算でき、しかも、コンピュータのデータ処理により真のスペクトルを自動的に求める効果がある。
　【００４２】
　【発明の効果】
　以上のように本発明によれば、分光蛍光光度計の励起側、蛍光側における波長特性ひいてはそれに基づくスペクトル補正関数を従来以上に広く求めしかも信頼性の高い手法を用いて求めることができ、試料の測定レンジを高精度を保ちつつ広げることができる。
【図面の簡単な説明】
　【図１】
　本発明のスペクトル補正の一例を示すフローチャート。
　【図２】
　上記スペクトル補正に用いる装置の波長特性を求めるための説明図。
　【図３】
　図２に対応する波形説明図。
　【図４】
　本発明の適用対象となる分光蛍光光度計の構成図。
　【符号の説明】
　１…光源、２…励起側分光器、３…励起側パルスモータ、４…コンピュータ（スペクトル補正手段）、５…インターフェース、６…操作パネル、７…試料セル、８…測定試料、９…蛍光側分光器、１０…蛍光側パルスモータ、１１…検知器、１２…Ａ／Ｄ変換器、１３…ビームスプリッタ、１４…モニタ検知器、１５…光量子計、１６…副標準光源、１７…拡散素子。