【事件の表示】
　特許第３２３５２５５号「伝送線路の減衰定数簡易測定法及び測定治具」の請求項３に係る特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結　論】
　訂正を認める。
　特許第３２３５２５５号の請求項３に係る特許を維持する。
【理　由】
第１．手続の経緯
平成　５年　３月１８日　特許出願
平成１３年　９月２８日　特許権の設定登録（特許第３２３５２５５号）
平成１４年　６月　４日　萬年和子より特許異議の申立て（請求項３）
平成１４年　８月１５日　取消理由通知（同月２７日発送）
平成１４年１０月２８日　訂正請求（後日取下げ）
平成１５年１１月２８日　訂正拒絶理由通知（同年１２月９日発送）
平成１６年　２月　９日　意見書
平成１６年　４月２８日　取消理由通知（同年５月１４日発送）
平成１６年　５月２６日　平成１４年１０月２８日付の訂正請求取下
平成１６年　５月２６日　訂正請求
　
第２．訂正の適否について
１．訂正の内容
　平成１６年５月２６日付訂正請求において特許権者が求めている訂正の内容は以下のとおりである。
（１）訂正事項ａ．
　特許請求の範囲の請求項３における「接地導体と中心導体及び接地導体と中心導体との間を充填する誘電体からなり、前記接地導体、前記筐体、前記金具、前記同軸コネクタの外導体及び前記コネクタの外導体は電気的に接続され」を「一方の接地導体と前記中心導体及び他方の接地導体と前記中心導体との間を充填する誘電体からなり、前記接地導体、前記筐体、前記金具、前記入力側同軸コネクタの外導体及び前記出力側同軸コネクタの外導体は電気的に接続され」と訂正する。
　
（２）訂正事項ｂ．
　特許請求の範囲の請求項３における「前記同軸コネクタの芯線は前記伝送線路の中心導体の一方の端部とギャップを設けることによって容量結合され、他方の端部は前記同軸コネクタの芯線とギャップを設けることによって容量結合され」を「前記入力側同軸コネクタの芯線は前記伝送線路の中心導体の一方の端部と前記筐体の一方の孔として画成されたギャップを設けることによって容量結合され、他方の端部は前記出力側同軸コネクタの芯線と前記筐体の他方の孔として画成されたギャップを設けることによって容量結合され」と訂正する。
　
（３）訂正事項ｃ．
　明細書の段落【０００８】の「また、図２に示すように、測定のための信号を治具に入力する入力側同軸コネクタ１と、測定のための出力信号を取り出す出力側同軸コネクタ２と、この２つの同軸コネクタと電気的に結合される伝送線路３と、前記コネクタ１及び２とを固定するための導電性筐体４と、前記同軸コネクタ１及び２と前記伝送線路３との位置関係を維持するために前記伝送線路３を固定するための金具５とからなり、前記伝送線路３は、１対の向かいあった接地導体３１，３２と、その中心に設けられた中心導体３３と、接地導体３１と中心導体３３及び接地導体３２と中心導体３３との間を充填する誘電体３４及び３５からなり、前記接地導体３１及び３２、前記筐体４、前記金具５、前記同軸コネクタ１の外導体及び前記コネクタ２の外導体は電気的に接続され、前記同軸コネクタ１の芯線は前記伝送線路３の中心導体３３の一方の端部とギャップを設けることによって容量結合され、他方の端部は前記同軸コネクタ２の芯線とギャップを設けることによって容量結合されているマイクロストリップ伝送線路の測定用治具を用いることもできる。」を「また、図２に示すように、測定のための信号を治具に入力する入力側同軸コネクタ１と、測定のための出力信号を取り出す出力側同軸コネクタ２と、この２つの同軸コネクタと電気的に結合される伝送線路３と、前記コネクタ１及び２とを固定するための導電性筐体４と、前記同軸コネクタ１及び２と前記伝送線路３との位置関係を維持するために前記伝送線路３を固定するための金具５とからなり、前記伝送線路３は、１対の向かいあった接地導体３１，３２と、その中心に設けられた中心導体３３と、一方の接地導体３１と中心導体３３及び他方の接地導体３２と中心導体３３との間を充填する誘電体３４及び３５からなり、前記接地導体３１及び３２、前記筐体４、前記金具５、前記入力側同軸コネクタ１の外導体及び前記出力側同軸コネクタ２の外導体は電気的に接続され、前記入力側同軸コネクタ１の芯線は前記伝送線路３の中心導体３３の一方の端部と前記筐体４の一方の孔として画成されたギャップを設けることによって容量結合され、他方の端部は前記出力側同軸コネクタ２の芯線と前記筐体４の他方の孔として画成されたギャップを設けることによって容量結合されているマイクロストリップ伝送線路の測定用治具を用いることもできる。」と訂正する。
　
２．検討
　そこで、訂正の目的の適否、新規事項の有無、及び、特許請求の範囲の拡張・変更の存否について検討すると、以下のとおりである。
（１）訂正事項ａ．
　訂正事項ａ．は、用語の不統一を正すとともに部材の表現を改めることによって、部材の異同を明らかにしたものであるから、明りょうでない記載の釈明を目的とした明細書の訂正に該当し、新規事項の追加に該当しない。また、実質的に特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでもない。
　
（２）訂正事項ｂ．
　訂正事項ｂ．のうち「同軸コネクタ」を「入力側同軸コネクタ」及び「出力側同軸コネクタ」とする訂正は、部材の表現を改めることによって部材の異同を明らかにしたものであるから、明りょうでない記載の釈明を目的とした明細書の訂正に該当し、新規事項の追加に該当しない。また、実質的に特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでもない。
　訂正事項ｂ．のうち「ギャップ」を「前記筐体の一方の孔として画成されたギャップ」とする訂正は、ギャップの構成を限定するものであるから、特許請求の範囲の減縮を目的とした明細書の訂正に該当する。また、この点については願書に添付された明細書の段落【０００８】の記載及び【図２】からみて自明であり、新規事項の追加に該当しない。また、実質的に特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでもない。
　
（３）訂正事項ｃ．
　訂正事項ｃ．は上記訂正事項ａ．及び訂正事項ｂ．との整合を図るものであるから、明りょうでない記載の釈明を目的とした明細書の訂正に該当し、新規事項の追加に該当しない。また、実質的に特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでもない。
　
３．訂正の適否についてのむすび
　以上のとおりであるから、上記訂正は、平成１５年法律第４７号による改正前の特許法第１２０条の４第３項において準用する平成６年法律第１１６号による改正前の特許法第１２６条第１項ただし書、第２項及び第３項の規定に適合するので当該訂正を認める。
　
第３．特許異議の申立てについての判断
１．申立ての理由の概要
　特許異議申立人萬年和子は、本件特許の請求項３に係る発明は、以下の甲第１号証及び甲第２号証に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明することができたものであって特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであり、特許を取り消すべきと主張している。
　また、「投波コネクタ」という用語の意味を明らかにするため、以下の甲第３号証を示している。
　
甲第１号証　American Society for Testing and Materials編、
　　　　　　「D3380-82 Standard Test Method for PERMITTIVITY 
　　　　　　(DIELECTRIC CONSTANT) AND DISSIPATION FACTOR OF 
　　　　　　PLASTIC-BASED MICROWAVE CIRCUIT SUBSTRATES」、
　　　　　　1983年 ANNUAL BOOK OF ASTM STANDARDS VOLUME 10.02、
　　　　　　第４３４−４４１頁
　
甲第２号証　H Tanaka 他、「Precise Measurements of Dissipation 
　　　　　　Factor in Microwave Printed Circuit Boards」、
　　　　　　IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND
　　　　　　MEASUREMENT、VOL.38,NO.2,APRIL 1989、第５０９−５１４頁
　
甲第３号証　岡村総吾監訳、「ＩＥＥＥ　電気・電子用語辞典」、
　　　　　　丸善株式会社発行、第５０７頁
　
２．本件発明
　前示のとおり本件明細書の訂正は認められるので、本件特許の請求項３に係る発明は、訂正後の明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲に記載された下記のとおりのものである（以下、「本件発明」という。）。
　
　　　　　　　　　　　　　　　　　記
　
　測定のための信号を治具に入力する入力側同軸コネクタと、測定のための出力信号を取り出す出力側同軸コネクタと、この２つの同軸コネクタと電気的に結合される伝送線路と、前記コネクタを固定するための導電性筐体と、前記同軸コネクタと前記伝送線路との位置関係を維持するために前記伝送線路を固定するための金具とからなり、前記伝送線路は、１対の向かいあった接地導体と、その中心に設けられた中心導体と、一方の接地導体と前記中心導体及び他方の接地導体と前記中心導体との間を充填する誘電体からなり、前記接地導体、前記筐体、前記金具、前記入力側同軸コネクタの外導体及び前記出力側同軸コネクタの外導体は電気的に接続され、前記入力側同軸コネクタの芯線は前記伝送線路の中心導体の一方の端部と前記筐体の一方の孔として画成されたギャップを設けることによって容量結合され、他方の端部は前記出力側同軸コネクタの芯線と前記筐体の他方の孔として画成されたギャップを設けることによって容量結合されていることを特徴とする伝送線路の減衰定数簡易測定治具。
　
３．甲号各証の記載
（１）甲第１号証
　甲第１号証には図１ないし３とともに以下の記載がある。
　ア　「合成樹脂製マイクロ波回路基板の誘電率及び誘電正接の規準試験」（タイトルの和訳）
　イ　「ストリップライン−幅が実質的に広い２枚の誘電板の間にクランプ又は接着された平坦なストリップ導体を用いたマイクロウェーブ伝送線路。両誘電板の外面は、導体箔又は板（接地面）に接着され、又は接触している。ストリップラインは、円筒形の同軸ケーブルの平坦化されたバージョンとして考えることもできる。」（第４３５頁左欄５．１．２項の和訳）
　ウ　第１図には、マイクロ波共振ストリップライン印刷回路の寸法図として、幅6.35mmの共振伝送線路、共振伝送線路の一方の端部と2.54mmのギャップを設けることによって容量結合する幅2.18mmの入力側ストリップライン、及び、共振伝送線路の他方の端部と2.54mmのギャップを設けることによって容量結合する幅2.18mmの出力側ストリップラインが見て取れる。
　エ　第２図及び第３図には、マイクロ波ストリップライン試験治具として、２つのコネクタ（OSM TYPE 248）、コネクタが取り付けられるブロック状部材、コネクタに接続された一対の向かい合った銅箔、両銅箔の中心に設けられた共振回路、アルミニウム製のクランプブロックが見て取れる。
　
（２）甲第２号証
　甲第２号証には、Ｆｉｇ．１とともに以下の記載がある。
　ア　第１図からは、ストリップ導体の上下に誘電体があり、誘電体の上下に接地面があり、ストリップ導体は両端近傍にギャップを有していることが見て取れる。
　イ　「５００Ｎ／ｃｍ2の締め付け圧力をかけると１％未満のＱ0のエラーが繰り返し生じた。この圧力値は、誘電体プレートの間のエアーギャップ（隙間）を閉じるのに充分な値であった。」（第５１０頁右欄第１ないし４行）
　ウ　「ネットワーク分析器とトリプレート線路との間の結合のために、２つのＳＭＡ投波コネクタが用いられる。」（第５１０頁第１６ないし１９行）
　
（３）甲第３号証
　甲第３号証には「投波器（導波管構成部品）」の語義として、「導波管や伝送線路に接続して、電波を空間に放射させたり取り入れたりする電波の出入口の役目を果す部品。」と記載されている。
　
４．対比、判断
　本件発明と甲号各証に記載されたものとを対比すると、甲号各証には本件発明の構成要件である、「前記入力側同軸コネクタの芯線は前記伝送線路の中心導体の一方の端部と前記筐体の一方の孔として画成されたギャップを設けることによって容量結合され、他方の端部は前記出力側同軸コネクタの芯線と前記筐体の他方の孔として画成されたギャップを設けることによって容量結合されている」点が記載されていない（以下、「相違点に係る構成」という。）。
　すなわち、甲第１号証又は甲第２号証には、試験対象物であるマイクロ波回路基板の上に、共振伝送線路及びストリップラインとがギャップを設けて形成され、両者が容量結合されている構成は記載されている。しかし、同軸コネクタの芯線と伝送線路の中心導体の端部とが筐体の孔として画成されたギャップを設けることによって容量結合されている構成は記載されていない。また、甲第１号証又は甲第２号証には相違点に係る構成を示唆する記載は見受けられないし、マイクロ波回路基板の伝送特性試験の分野において「同軸コネクタの芯線」、「伝送線路の中心導体の端部」、及び、「筐体の孔として画成されたギャップ」により容量結合を構成することが周知又は慣用されているとも認められない。したがって、甲第１号証又は甲第２号証から、相違点に係る構成が示唆されているとも認められない。
　甲第３号証は「投波器」の語義が記載されているにすぎない。
　そして、本件発明は、相違点に係る構成により明細書記載の作用、効果を奏し、伝送線路の減衰定数測定治具として「簡易」なものとなっている。
　
　したがって、本件発明は、甲号各証に記載された発明に基いて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。
　
第４．むすび
　以上のとおりであるから、特許異議の申立ての理由及び証拠によっては本件請求項３に係る特許を取り消すことができない。
　また、他に本件請求項３に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
平成１６年６月３日（２００４．６．３）
【訂正の要旨】
審決（決定）の【理由】欄参照。
（５４）【発明の名称】
伝送線路の減衰定数簡易測定法及び測定治具
（５７）【特許請求の範囲】
　【請求項１】　中心導体と、この中心導体と並列に配置した接地導体とを有する伝送線路と、前記中心導体の両端のそれぞれから離間させた一対の芯線を有し、この一対の芯線のそれぞれと中心導体の両端のそれぞれとの間にギャップを画成して、中心導体と容量結合させた一対のコネクタと、前記コネクタを固定する共に、前記接地導体と前記コネクタとを導通させ且つ前記芯線と絶縁させた筐体と、を備えた測定システムを用い、その一対のコネクタに、一定の大きさの信号を与え、周波数に対する出力信号の大きさを測定し、出力信号の極大側の包絡線と、出力信号の極小側の包絡線とを求め、その差Ｐ（ｄＢ）を求めることによって、減衰定数α（ｄＢ／ｍ）を
数
ただし、Ｕ＝１０（Ｐ／２０）と求めることを特徴とする伝送線路の減衰定数の簡易測定法。
　【請求項２】　両端を有する導体を備えた伝送線路と、前記導体の両端のそれぞれから離間させた一対の芯線を有すると共に、この一対の芯線のそれぞれと導体の両端のそれぞれとの間にギャップを画成して導体と容量結合するコネクタと、を備えた測定システムを用い、前記コネクタに、一定の大きさの信号を与え、周波数に対する出力信号の大きさを測定し、出力信号の極大側の包絡線と、出力信号の極小側の包絡線とを求め、その差Ｐ（ｄＢ）を求めることによって、減衰定数α（ｄＢ／ｍ）を数式１から【数２】
ただし、Ｕ＝１０（Ｐ／２０）と求めることを特徴とする伝送線路の減衰定数の簡易測定法。
　【請求項３】測定のための信号を治具に入力する入力側同軸コネクタと、測定のための出力信号を取り出す出力側同軸コネクタと、この２つの同軸コネクタと電気的に結合される伝送線路と、前記コネクタを固定するための導電性筐体と、前記同軸コネクタと前記伝送線路との位置関係を維持するために前記伝送線路を固定するための金具とからなり、前記伝送線路は、１対の向かいあった接地導体と、その中心に設けられた中心導体と、
一方の
前記
他方の
前記
入力側
出力側同軸
入力側
前記筐体の一方の孔として画成された
出力側
前記筐体の他方の孔として画成された
【発明の詳細な説明】
　【０００１】
　【産業上の利用分野】本発明は、伝送線路、特にマイクロ波に用いる伝送線路の減衰定数簡易測定法及び測定治具に関する。
　【０００２】
　【従来の技術】従来、ストリップライン、マイクロストリップラインあるいは同軸線路のような伝送線路の減衰定数を測定する方法としては、これらの長さのみがそれぞれ異なる線路を３つ以上準備し、各線路の入力信号に対する出力信号の差を測定して求めるのが通常であった。
　【０００３】
　【発明が解決しようとする課題】ところで、これらの測定を行う場合、入力と出力にそれぞれ測定器の同軸ケーブルに接続するために、同軸コネクタを図７に示すように接続しなければならず、当然ながら接続したために損失が発生する。この損失は、周波数特性を持っていることから、長さの異なる線路で測定した結果、誤差が生じる。
　【０００４】本発明は、このような従来の測定法の課題を解決し、複数の伝送線路を用いることなく、かつ簡便に伝送線路の減衰定数を測定する方法及びそのための測定治具を提供することを目的とする。
　【０００５】
　【課題を解決するための手段】本発明の伝送線路の減衰定数を測定する方法は、中心導体と、この中心導体と並列に配置した接地導体とを有する伝送線路と、前記中心導体の両端からそれぞれ離間させた一対の芯線を有し、この一対の芯線のそれぞれと中心導体の両端のそれぞれとの間にギャップを画成して、中心導体と容量結合させた一対のコネクタと、前記コネクタを固定する共に、前記接地導体と前記コネクタとを導通させ且つ前記芯線と絶縁させた筐体と、を備えた測定システムを用い、その一対のコネクタに、一定の大きさの信号を与え、周波数に対する出力信号の大きさを測定し、出力信号の極大側の包絡線と、出力信号の極小側の包絡線とを求め、その差Ｐ（ｄＢ）を求めることによって、減衰定数α（ｄＢ／ｍ）を式１から
　【０００６】
　【数２】
と求めることを特徴とする。
　【０００７】このような測定を行うためには、図１に示すように、測定のための信号を治具に入力する入力側同軸コネクタ１と、測定のための出力信号を取り出す出力側同軸コネクタ２と、この２つの同軸コネクタと電気的に結合される伝送線路３と、前記コネクタ１及び２とを固定するための導電性筐体４と、前記同軸コネクタ１及び２と前記伝送線路３との位置関係を維持するために前記伝送線路３を固定するための金具５とからなり、前記伝送線路３は、接地導体３１と、接地導体３１と並列に配置された中心導体３３と、この中心導体３３と接地導体３１との間に設けられた誘電体３４と、からなり、前記接地導体３１、前記筐体４、前記金具５、前記同軸コネクタ１の外導体及び前記コネクタ２の外導体は電気的に接続され、前記同軸コネクタ１の芯線は前記伝送線路３の中心導体３３の一方の端部とギャップを設けることによって容量結合され、他方の端部は前記同軸コネクタ２の芯線とギャップを設けることによって容量結合されているストリップ伝送線路の減衰定数を測定する治具を用いることができる。
　【０００８】また、図２に示すように、測定のための信号を治具に入力する入力側同軸コネクタ１と、測定のための出力信号を取り出す出力側同軸コネクタ２と、この２つの同軸コネクタと電気的に結合される伝送線路３と、前記コネクタ１及び２とを固定するための導電性筐体４と、前記同軸コネクタ１及び２と前記伝送線路３との位置関係を維持するために前記伝送線路３を固定するための金具５とからなり、前記伝送線路３は、１対の向かいあった接地導体３１，３２と、その中心に設けられた中心導体３３と、
一方の
他方の
入力側
出力側同軸
入力側
前記筐体４の一方の孔として画成された
出力側
前記筐体４の他方の孔として画成された
　【０００９】さらには、図３に示すように、測定のための信号を治具に入力する入力側同軸コネクタ１と、測定のための出力信号を取り出す出力側同軸コネクタ２と、この２つの同軸コネクタと電気的に結合される伝送線路３と、前記コネクタ１及び２とを固定するための導電性筐体４と、前記同軸コネクタ１及び２と前記伝送線路３との位置関係を維持するために前記伝送線路３を固定するための金具５とからなり、前記伝送線路３は、外導体３３１と、その中心に設けられた中心導体３３と、この中心導体３３と外導体３３１との間に充填された誘電体３３２と、からなる同軸ケーブルを用い、前記外導体３３１、前記筐体４、前記金具５、前記同軸コネクタ１の外導体及び前記コネクタ２の外導体は電気的に接続され、前記同軸コネクタ１の芯線は前記伝送線路３の中心導体３３の一方の端部とギャップを設けることによって容量結合され、他方の端部は前記同軸コネクタ２の芯線とギャップを設けることによって容量結合されている同軸線路の減衰定数測定用治具を用いることもできる。
　【００１０】
　【作用】本発明の測定原理を、図２に示すマイクロストリップ伝送線路の減衰定数測定用治具を用いて説明する。図２の伝送線路を等価回路で表すと、図４に示すようになる。記号はそれぞれ、以下に示すように定義する。
　【００１１】
　【数３】伝搬定数：γ＝α’＋ｊβ
　　減衰定数：α＝８．６８６＊α’（ｄＢ／ｍ）
　　位相定数：β＝２π／λ（ｒａｄ／ｍ）
　　線路波長：λ（ｍｍ）
　　伝送線路の特性インピーダンス：Ｚ００（Ω）
　　電源及び負荷のインピーダンス：Ｚ０（Ω）
　　ギャップによる静電容量：Ｃ（ｐＦ）
　　ｊＸ＝−ｊ／ωＣ
　【００１２】すると、入力側のギャップによる静電容量と出力側のギャップによる静電容量を、４端子定数で表すと、
　【００１３】
　【数４】
　【００１４】伝送線路を、４端子定数で表すと、
　【００１５】
　【数５】
　【００１６】となり、このギャップによる静電容量を含む伝送線路の４端子定数［Ｆ］は、
　【００１７】
　【数６】［Ｆ］＝［Ｆｃ］［ＦＬ］［Ｆｃ］
　【００１８】となるので、
　【００１９】
　【数７】
　【００２０】で表される。ここで、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを計算すると、
　【００２１】
　【数８】Ａ＝ｃｏｓｈγＬ＋（ｊＸ／Ｚ００）＊ｓｉｎｈγＬＢ＝（Ｚ００−Ｘ２／Ｚ００）＊ｓｉｎｈγＬ＋ｊ２ＸｃｏｓｈγＬＣ＝（１／Ｚ００）＊ｓｉｎｈγＬＤ＝Ａ
　【００２２】となる。次に、動作伝送量ＳＢを，この４端子定数を用いて表すと、
　【００２３】
　【数９】
　　ＳＢ＝（１／２）＊（Ａ＋Ｂ／Ｚ０＋Ｚ０＊Ｃ＋Ｄ）
　【００２４】となるので、この式に数式８を代入すると、
　【００２５】
　【数１０】
　　ＳＢ＝（１＋ｊ（Ｘ／Ｚ０））＊ｃｏｓｈγＬ＋［（１／２）＊（Ｚ０／Ｚ００＋Ｚ００／Ｚ０−（Ｘ２／Ｚ０＊Ｚ００）＋ｊ（Ｘ／Ｚ００））＊ｓｉｎｈγＬ
　【００２６】となり、動作伝送量ＳＢと伝送量Ｓ２１の関係は、
　【００２７】
　【数１１】｜Ｓ２１｜＝１／｜ＳＢ｜
　【００２８】であるから、
　【００２９】
　【数１２】１０＊ｌｏｇ（｜Ｓ２１｜２）＝−１０＊ｌｏｇ（｜ＳＢ｜２）（ｄＢ）
　【００３０】となる。ここで、ギャップによる静電容量Ｃは非常に小さいので、Ｘ＝−１／ωＣは大きな値となり、その結果、数式１０のうちＺ０／Ｚ００，Ｚ００／Ｚ０，Ｘ／Ｚ００，Ｘ／Ｚ０≪Ｘ２／Ｚ０＊Ｚ００となって、Ｚ０／Ｚ００，Ｚ００／Ｚ０，Ｘ／Ｚ００，Ｘ／Ｚ０を０とする近似が成立するので、数式１０は以下のように簡素化できる。
　【００３１】
　【数１３】ＳＢ≒−（１／２）＊（Ｘ２／Ｚ０＊Ｚ００）＊ｓｉｎｈγＬ＝−（１／２）＊（Ｘ２／Ｚ０＊Ｚ００）＊（ｓｉｎｈαＬ＊ｃｏｓβＬ＋ｊ＊ｃｏｓｈαＬ＊ｓｉｎβＬ）
　【００３２】ここで、線路長Ｌが半波長の整数倍のときは、Ｌ＝ｎ＊λ／２（ｎ；整数）、すなわちβＬ＝２π／λ＊ｎ＊λ／２＝ｎπであり、このときの動作伝送量ＳＢ１は、
　【００３３】
　【数１４】ＳＢ１≒（１／２）＊（Ｘ２／Ｚ０＊Ｚ００）＊ｓｉｎｈαＬ
　【００３４】であり、線路長Ｌが１／４波長の奇数倍のときは、Ｌ＝（２ｎ−１）＊λ／２（ｎ；整数）であり、このときの動作伝送量ＳＢ２は、
　【００３５】
　【数１５】ＳＢ２≒−ｊ（１／２）＊（Ｘ２／Ｚ０＊Ｚ００）＊ｃｏｓｈαＬ
　【００３６】となる。ここで、αが周波数に比例するものと仮定し、その比例定数を０．５０８とし、Ｚ０＝Ｚ００＝５０（Ω）、Ｌ＝４５．５ｍｍ、Ｃ＝０．００５（ｐＦ）としたときの計算結果は、図８の周期的曲線が数式１３で表されている。次に、この曲線の極大側と極小側のそれぞれの包絡線の数式を求め、その差を求めると、数式１２、１４、１５から以下のようになる。
　【００３７】
　【数１６】
　【００３８】したがって、Ｐ（ｄＢ）を求めることによって、減衰定数α（ｄＢ／ｍ）を以下の数式１から
　【００３９】
　【数１７】
を導くことができる。
　【００４０】
　【実施例】
実施例
ストリップ線路として、図１に示す測定治具を用い、以下の条件の伝送線路を測定した。
　　誘電体厚さ・・・・・・ｂ＝１．６ｍｍ
　　誘電体の誘電率・・・・εｒ＝２．５５
　　誘電体の誘電損失・・・ｔａｎδ＝０．００３５
　　中心導体の厚さ・・・・ｔ＝０．０３５ｍｍ
　　中心導体の導電率・・・σ＝５．３×１０７ｓ／ｍ
　　中心導体の線幅・・・・ｗ＝１．０ｍｍ
　　伝送線路の特性インピーダンスＺ０≒５０（Ω）
　　線路長Ｌ＝１００，５００，１０００ｍｍ
この結果、５つの周波数における線路長と損失の関係を図５に示す。また、式（１）による計算の結果を、同図に示す。
　【００４１】この実施例の結果は、図６に示すように、測定値と計算結果の誤差は、２５ＧＨｚにおいても、８％以内に収まることが分かった。この誤差は、前述の課題を解決するための手段の欄において述べた近似を行った結果生じたものである。
　【００４２】
　【発明の効果】以上に説明したとおり、本発明の測定治具によって、出力信号の極大側の包絡線と、出力信号の極小側の包絡線とを求め、その差Ｐ（ｄＢ）を求めれば、減衰定数α（ｄＢ／ｍ）を特定の数式によって計算して求めることができ、複数の伝送線路を用いることなく、かつ簡便に伝送線路の減衰定数を測定する方法及びそのための測定治具を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
　【図１】（ａ）は本発明の一実施例を示す治具の一部切欠き上面図であり、（ｂ）はこの治具の一部切欠き側面図である。
　【図２】（ａ）は本発明の他の実施例を示す治具の一部切欠き上面図であり、（ｂ）はこの治具の一部切欠き側面図である。
　【図３】（ａ）は本発明のさらに他の実施例を示す治具の一部切欠き上面図であり、（ｂ）はこの治具の一部切欠き側面図である。
　【図４】本発明の原理を説明する等価回路図である。
　【図５】本発明の一実施例の効果を説明するための測定結果並びに計算結果を示す線図である。
　【図６】本発明の他の実施例の効果を説明するための測定結果並びに計算結果を示す線図である。
　【図７】従来例を示す上面図である。
　【図８】本発明の原理を説明するための線図である。
　【符号の説明】
　１　入力側同軸コネクタ
　２　出力側同軸コネクタ
　３　伝送線路
　４　導電性筐体
　５　金具