(57)【要約】検査ステーションに関して検査中に一以上の装置を整列配置するための配置装置であって、検査中に１以上の装置を運ぶために構成されるキャリアと、運搬装置と一致して前記キャリアを移動させるように構成される前記運搬装置と、前記運搬装置に対して前記キャリアを動かし、前記検査ステーションにおいて検査するために装置の少なくとも１つを整列配置するために、前記キャリアと係合可能な配置構造と、を有する配置装置。【選択図】図６
2014509751.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査ステーションに関して検査中に一以上の装置を整列配置するための配置装置であって、
検査中に１以上の装置を運ぶために構成されるキャリアと、
運搬装置と一致して前記キャリアを移動させるように構成される前記運搬装置と、
前記検査ステーションにおいて検査するために前記装置の少なくとも一つを整列配置して、前記運搬装置に対して前記キャリアを動かすために前記キャリアと係合可能な配置構造と、
を有する配置装置。
【請求項２】
前記キャリアは、前記運搬装置に非固定的に接続されており、前記運搬装置の移動に応答して前記運搬装置と共に移動可能であり、前記配置構造と前記キャリアとの係合に応答して前記運搬装置に対して移動可能であり、かつ前記配置構造と前記キャリアとの係合の後に前記運搬装置と共に移動可能となる請求項１に記載の配置装置。
【請求項３】
前記運搬装置は、第一の継手を含み、前記キャリアが前記運搬装置と一致して前記キャリアを動かすために前記第一の継手と係合可能である第二の継手を有する請求項１に記載の配置装置。
【請求項４】
前記運搬装置が第一の方向に前記運搬装置と一致して前記キャリアを動かし、前記配置構造は前記第一の方向に前記運搬装置に対して前記キャリアを動かす請求項３に記載の配置装置。
【請求項５】
前記第一の継手が、前記第一の方向に対して直角である第二の方向に前記第二の継手に対して移動可能である請求項４に記載の配置装置。
【請求項６】
前記第二の継手に対する前記第一の継手の動きが前記第一の継手と前記第二の継手との係合により制限される第一の位置と、前記配置構造と前記キャリアとの係合に応答して前記第一の継手が前記第二の継手に対して前記第一の方向に移動可能である第二の位置との間で、前記第一の継手が前記第二の継手に対して前記第二の方向に移動可能である請求項５に記載の配置装置。
【請求項７】
更に、
前記検査ステーションに隣接する前記運搬装置に沿って配置され、前記キャリアと係合可能であり、第一位置および第二位置との間で前記第一の継手に対して前記第一および前記第二の継手を動かす離脱構造を有する請求項６に記載の配置装置。
【請求項８】
前記離脱構造は、前記キャリアが前記検査ステーションに到達するにつれて、前記第一位置から前記第二位置まで前記第一の継手に対して前記第一および前記第二の継手を動かし、前記キャリアが前記検査ステーションから離れるにつれて、前記第二位置から前記第一位置まで前記第一の継手に対して前記第一および前記第二の継手を動かす、請求項７に記載の配置装置。
【請求項９】
前記離脱構造が前記運搬装置の回転方向に関して、前記第一位置および前記第二位置の間で前記第一および第二の継手を横に動かす、請求項７に記載の配置装置。
【請求項１０】
前記離脱構造が前記第一位置および前記第二位置の間で前記運搬装置の回転方向に関して上方に前記第二継手を動かす、請求項７に記載の配置装置。
【請求項１１】
前記第一の継手が可変的幅スロットを含み、前記第二の継手が前記可変的幅スロット内で受け取ることができる、請求項７に記載の配置装置。
【請求項１２】
前記キャリアは少なくとも一つの位置決め部を有し、前記配置構造は前記少なくとも一つの位置決め部と係合可能であり試験ステーションに関して試験中に前記装置の少なくとも一つを整列配置する、請求項１に記載の配置装置。
【請求項１３】
前記配置構造は前記試験ステーションに関して試験中に前記装置の少なくとも一つを整列配置するために前記キャリアの少なくとも一つの位置決め部と係合可能であるばねロード構造を有する、請求項１２に記載の配置装置。
【請求項１４】
前記配置構造は前記試験ステーションに関して試験中に前記装置の少なくとも一つを整列配置するために前記キャリアの少なくとも一つの位置を決め部品と係合可能である位置決めピンを有する、請求項１２に記載の配置装置。
【請求項１５】
前記配置構造はモーター駆動歯車を有し、前記キャリアの前記少なくとも一つの位置決め部はギヤラックを含み、前記モーター駆動歯車は、前記歯車の回転に応答して前記検査ステーションに関して検査中に前記装置の少なくとも一つを整列配置するために、前記ギヤラックに係合可能である、請求項１２に記載の配置装置。
【請求項１６】
前記キャリアは長手方向チャンネル有し、前記少なくとも一つの位置決め部は前記チャネルに沿って配置され、
前記配置構造は、前記キャリアのチャネル内で受け取られる伸長した部材と、前記伸長した部材上に配置され、前記少なくとも一つの一決め部品と係合可能であるばねロード構造を有する、請求項１２に記載の配置装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子装置の検査分野、より詳しくは、検査ステーションに対して検査中に一つ以上の電子装置を整列配置するための配置装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
多くの電子装置は、自動化した検査システムによって製造過程において、電気および光学特性について検査される。典型的な自動化検査システムは、装置の電気的および光学的特性に関連する値を見出し、測定された値によって、出力カテゴリに受け入れるか、拒絶するかまたは、種分けするために、精密な電気的または光学的検査機器を使用する。小規模な装置のために、自動化検査システムは大きな積載物を処理するようにしばしば設計されており、その製造プロセスによって大きさおよび形状は実質的に同一の機械的特徴を有するが、電気的または光学的に異なる特徴を有する装置を一定量生み出している。それは、一般に一定の範囲に入る電気的および光学的特性を有する装置を一定量製造し、類似の特徴をもつ商業的に有用なグループに装置を種分けするための検査に依存するのが一般的である。
【０００３】
これらの装置は、装置で満たされる容器として、検査機器にしばしば供給される。概して、検査機器は単一の装置を装置の大きな積載物から抽出し、検査機器は所望の検査を実行できるように装置を配置し、固定しなければならない。検査はしばしば装置を徹底的に検査することを必要とし、信号および電圧を装置に印加して入力に対する反応をモニタするために、電気的リードが装置と接触するように運ばれる。他の検査は、例えば特定の入力に対して応答するＬＥＤのような光デバイスから出力される測定光出力を含む。自動検査システムの機能は、装置の電気的または光学的特性を決定し、それらの特徴によって装置をグループに種分けすることにある。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
電子素子または装置用の自動化した検査システムは公知であるが、既存のシステムは通常ＬＥＤに関して有用でない。製造許容度の大きな違いと光出力の小さい変化に対する人間の目の感度が組み合わさって、ＬＥＤが検査され多数の出力グループに種分けすることが要求されるため、ＬＥＤを検査し種分けすることは特別な課題となっている。パッシブ電子装置が概して５または１０の出力カテゴリを必要とする一方で、ＬＥＤは概して５１２ものカテゴリまで３２以上の出力カテゴリを必要とするかもしれない。他の課題は、光出力検査装置がしばしば物理的に大きく、検査過程でＬＥＤの近傍に置く必要があり、そのため検査設備の物理的レイアウトに制約を及ぼすことである。加えて、同時に検査を実行する場合、複数の検査ステーションが同時に複数の装置を検査するように配列される場所で、複数の大きな光学検査ステーションのための空間が用意されることを必要とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本明細書において教示される１つの配置装置は、検査ステーションに関して検査中で一つ以上の装置を整列配置するのに適している。配置装置は、装置を運ぶために構成されるキャリアと運搬装置と一致して動くように構成されるキャリアを移動させるように構成される運搬装置を有する。配置構造は、運搬装置に対してキャリアを動かし、検査ステーションにおいて検査するために装置の少なくとも１つを整列配置するために、キャリアと係合可能である。
【図面の簡単な説明】
【０００６】
本願明細書において、添付の図面について引用するが、いくつかの図全体にわたって同じ符号は同じ部品を表す。
【０００７】
【図１】自動化した検査システムの実施形態を示す上面図である。
【図２】図１の自動化した検査システムのキャリアの実施形態の斜視図である。
【図３】図２のキャリアおよび図１の自動化した検査システムの運搬装置を示す端面断面図である。
【図４】図２のキャリアおよび図３の運搬装置のすべり止めを示す側面図である。
【図５】図１の自動化した検査システムの検査ステーションに関する電子装置の配列を示す図である。
【図６】図１の自動化した検査システムの配置構造の実施形態の斜視図である。
【図７】図６の配置構造の正面図である。
【図８】図６の配置構造の側面図である。
【図９】図１のオートメーション化した検査システムの第一の代替配置構造の斜視図である。
【図１０】図９の第一の代替配置構造の配列レールを示す斜視図である。
【図１１】第二の代替配置構造および図１の自動化した検査システムの切り離し構造を示している断面側面図である。
【図１２】図１の自動化した検査システムの第３の代替配置構造を示す側面断面図である。
【図１３】図１の自動化した検査システムの第４の代替配置構造を示す端面断面図である。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
本実施形態における変形その他は、以下に詳細に記載する。
【０００９】
電子装置を検査するシステムによって成し遂げられる処理量は、電子装置を検査するに必要な時間並びに連続した試験の間の時間に依存する。検査が完了した後、新規な電子装置は検査ワークステーションにおいて検査システムを有する登録に運ばれる。検査システムを有する登録に新規な装置を運ぶために必要な時間が減ると、処理量は増加する。
【００１０】
しかしながら、電子装置は、電子装置が徹底調査されることができるために、検査シス
テムに関して、装置の反応を監視するために正確に整列配置されなければならない。これらの課題は、それらの多くの検査要件のためにＬＥＤにとって悪化する。
【００１１】
図１から始めて記載されるように、検査のためのオートメーション化した検査システム１０の実施例および本願明細書において教示されるミニチュア電子装置１１（図２）の種分けは処理量を増加させるために配列を最適化する方法を提供する。これは、特に装置１１、例えば多数の検査を含む発光ダイオード（ＬＥＤ）にとって望ましい。
【００１２】
検査システム１０は、運搬装置１２、および、例えば、転送部１８においてキャリア４０に電子装置１１を積む第一の装置ローダー１４および第二の任意の装置ローダー１６のような一つ以上の装填ステーションを含む。検査システム１０は、例えば、第一の検査ステーション２０および第二の検査ステーション２２のような一つ以上の検査ステーションを更に有する。キャリア４０は、本願明細書において詳細に後述するように検査ステーション２０（２２）の各々に位置する配置構造３０によって、第一および第二の検査ステーション２０、２２に関して整列配置される。荷降ろしステーション２５は、装置を降ろすために設けられている。コントローラ２８は、有線または無線で運搬装置１２、第一および第二の装置ローダー１４、１６、第一および第二の検査ステーション２０、２２および荷降ろしステーション２５に電気的に交信され、各々の動作を検出し制御する。
【００１３】
コントローラ２８は、従来の構造を備えていて、プロセッサ、メモリ、記憶媒体、通信装置および入出力装置を有することができる。例えば、コントローラ２８は、本願明細書において記載されるように、中央演算処理装置（ＣＰＵ）、ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）、読出し専用メモリ（ＲＯＭ）および入力信号を受信してシステムを制御し、特定のプロセスステップを実行するために必要である入出力ポートを有する標準マイクロコントローラでありえる。本願明細書において記載されている機能は、通常、メモリに保存されるプログラミング命令であって、ＣＰＵの論理によって実行される。もちろん、本願明細書において記載されている機能を実行するコントローラはマイクロプロセッサを使用している外部メモリまたは他の統合した論理回路と組み合わさったこの種のマイクロプロセッサまたはマイクロコントローラの組合せから成ることができる。マイクロプロセッサ２８は通常、工程制御装置のための命令を入力するためまたは工程制御装置をモニタするためキーボードまたはスクリーンのような力装置を有するパーソナル・コンピュータに組込まれるか、一体的に機能する。
【００１４】
第一の検査ステーション２０および第二の検査ステーション２２の一方または両方において、電子装置１１を検査するために、電子装置１１は、図２および３に示すようにキャリア４０に積まれる。各キャリア４０は、唯一の部分構造または複数の部分構造として作られることができる本体部または本体４２を備えている。本体４２は、第一の横方向の部分４４および中心部４８から外へ伸びる第二の横方向の部分４６を含む。第一の横方向の部分４４および第二の横方向の部分４６は、中央チャネル５０によって離間されて置かれる。中央チャネル５０は、中心部４８より上に位置する。中央チャネル５０は、第一の横方向の部分４４の上面５４および第二の横方向の部分４６の上面５６に関して下方に窪んでいるチャネル底面５２を含む。第一および第二のチャネル側５８、６０は、それぞれチャネル底面５２から第一および第二の横方向の部分４４、４６の上面５４、５６まで上方へ延びている。
【００１５】
一つ以上の位置を決めている特徴または構造は、キャリア４０の本体４２の上に形成される。例えば、特徴の位置を決めることは、第一および第二のデテント６２、６４の対を含むことができる。各対の第一のデテント６２は一対の第二のデテント６４の反対側に第一チャンネル側５８に沿って形成される。そして、それはそれぞれの第一のデテント６２の反対側に第二のチャネル側６０に沿って形成される。第一のデテント６２および第二のデテント６４は第一および第二のチャネル側５８、６０に対して外へ伸びる表面によって規定され、それによって、第一および第二のデテント６２、６４の各対の領域における中央チャネル５０の断面幅を増加させる。例えば、第一および第二のデテント６２、６４のような位置決め構造は、第一の検査ステーション２０および第二の検査ステーション２２のような検査システム１０の特定の部分に対してキャリア４０の配列を促進するために設けられている。構造の位置を決める動作は、詳細に本願明細書において説明される。
【００１６】
キャリア４０において、本体４２の中心部４８は、第一の横方向の部分４４の底面６６および第二の横方向の部分４６の底面６８に対して下方へ延びる。中心部４８は、中央チャネル５０の下に直接位置することができて、中央チャネル５０の横方向の幅と同様の横方向の幅を有することができる。
【００１７】
キャリア４０が運搬装置１２の移動に応答して移動するように、キャリア４０は運搬装置１２に連結するように構成される。係合部材７０は、運搬装置１２を有するキャリア４０の操作可能な係合のためにキャリア４０の本体４２の上に形成される。係合部材７０は、運搬装置１２との係合を可能にするいかなる適切な外形も形成されえる。例えば、係合部材７０は、下方へ延びているタング、フランジ、突起、ロッド、ポスト、フックまたは他のいかなる適切な構造でもよい。
【００１８】
本体４２の第一および第二の横方向の部分４４、４６は、本体４２の第一および第二の外側縁部７２、７４に、中央チャネル５０から外へそれぞれ延びる。
【００１９】
少なくとも一つの装置容器７６は、本体４２によって規定される。例えば、一つ以上の装置容器７６は、本体４２の第一および第二の外側縁部７２、７４に沿って配置されることができる。装置容器７６は、本体４２の第一および第二の横方向の部分４４、４６の上面５４、５６に関してはめ込まれている。例えば、各装置容器７６は、実質的に平面ベース表面７８および、それぞれ、本体４２の第一および第二の横方向の部分によって規定される一つ以上の直立壁によって規定されることができる。各ベース表面７８は第一側縁７２のうちの１つまたは本体４２の第二の外側縁部７４まで延びる。それによって、第一側縁７２または第二の外側縁部７４のそれぞれの一つに沿って装置容器７６ごとに横方向の開口部８２を規定する。電子装置１１の検査を許容するために、一つ以上の検査開口は、各装置容器７６では本体４２によって形成される。特に、装置容器７６の位置に応じて、検査開口または穴８４は、各装置容器７６のベース表面７８から第一の横方向の部分４４または第二の横方向の部分４６のどちらのそれぞれの底面６６、６８まででも延びることができる。図示の実施例では、４つの検査開口８４は、装置容器７６ごとに設けられている。しかしながら、プローブ開口８４の数は、特定のアプリケーションに合うために変更されることができる。
【００２０】
電子装置１１を保持するために、キャリア４０は、複数の型締構造８６を有することができる。型締構造８６は、装置容器７６に対応して設けることができる。例えば、例示の実施例で、単一の型締構造８６は、各装置容器７６で設けられている。各型締構造８６の少なくとも一部は、本体４２に関してクランプ電子装置１１に適している方法の電子装置１１のそれぞれの一つを有する係合に、８６の付勢を構築する。例えば、これは、型締構造８６および装置容器７６を定める直立壁８０のうちの１枚との間に係合の電子装置１１を捕えることによってされることができる。他の構成は、しかしながら、利用されることができる。
【００２１】
図３および４に示すように、運搬装置１２は、連続回路のキャリア４０を支持して、動かすように構成されおり、いかなる適切な形状により形成することができる。運搬装置１２は、互いに関して離間して置かれる第一のレール９０および第二のレール９２を有することができる。第一および第二のレール９０、９２は、キャリア４０を係合して、支持するように構成されるそれぞれの上面９４、９６を含む。第一および第二のレール９０、９２の上面９４、９６は、実質的に連続的または、非連続的でありえる。また、第一および第二のレール９０、９２は、キャリア、例えばローラー（図示せず）を係合する追加構造を備えることができる。
【００２２】
ベルト１３は運搬装置１２の主要な可動構成要素として設けられており、運搬装置１２によって移動する対象物はベルト１３の移動に対応して移動する。本明細書では運搬装置１２の主要な移動部品としてベルト１３が記載されるが、チェーンまたはケーブルのような他の適切な構造を設けることができることを理解すべきである。
【００２３】
運搬装置１２は、モーター（図示せず）または他の適当手段の影響を受けているベルト１３の位置に指標付ける索引運搬装置である。すなわち、典型的には連続した運動間の遅延を伴って、ベルト１３は、段階的に予め定められた量を移動する。例えば、これによって、電子装置１１が、後述するように詳細に以下に、第一および第二の検査ステーション２０、２２を有する登録に持ってこられることができる。
【００２４】
第一および第二のレール９０、９２との間に配置されるベルト９８がそうするにつれて、運搬装置１２の第一および第二のレール９０、９２は運搬装置１２によって規定される回路周辺で伸びる。ベルト９８の長手方向は、ベルト９８が運搬装置１２によって規定される回路周辺で伸びる方向として規定される。
【００２５】
ベルト９８の主要な表面１００が実質的にまっすぐであるように、ベルト９８は正しい位置に置かれる。例えば、９８が方向において延長するベルトの主要な表面１００に対して直角で作成される行が通常、非常に水平であるように、ベルト９８は正しい位置に置かれることができる。
【００２６】
運搬装置１２は、ベルト９８に沿って互いに関して間隔を置かれた場所に置かれる複数のすべり止め１０２を有する。各すべり止め１０２は、ベルト９８に安全に固定される。
特に、各すべり止め１０２はベルト９８の主要な表面１００に係合し、各すべり止め１０２は固定化手段、例えばネジ、接着剤または他の適当手段を使用してベルト９８に固定することができる。各すべり止め１０２およびベルト９８間の接続は、すべり止め１０２がベルト９８に対して移動可能ではなく、むしろ、それに対して一定の関係を維持してベルト９８と一致して移動する。
【００２７】
各キャリア４０がベルト９８およびすべり止め１０２の移動に応答して移動するように、各すべり止め１０２は一つ以上のキャリア４０と係合するように構成される。これは、分岐した上端部１０４を各すべり止め１０２に提供することによって達成されることができる。各すべり止め１０２の分岐した上端１０４は、カップリング凹部１０６を定めるどの係合部材７０のキャリア４０は、受け取られる。カップリング凹部１０６の範囲内で配置されている係合部材７０により、ベルト９８およびすべり止め１０２の指示移動によって係合部材７０とすべり止め１０２の分岐した上端部１０４の係合が生じ、それによって、ベルト９８およびすべり止め１０２の移動に応答してキャリア４０を動かす。
【００２８】
図４に示すように、すべり止め１０２のカップリング凹部１０６は、互いに関して長手方向に間隔を置かれる第一表面１０８および第二表面１１０によって規定される。長手方向に間隔を置かれた第一および第二の表面１０８、１１０は、通常、まっすぐで、カップリング凹部１０６の一番下を定めるベース表面１１２によって、互いから離れて間隔を置かれる。
【００２９】
キャリア４０の係合部材７０は、すべり止め１０２のカップリング凹部の範囲内で受け取られ、堅くない継手がキャリア４０およびすべり止め１０２との間で。係合部材７０がカップリング凹部１０６の範囲内で受け取られるときに、第一表面１１４および係合部材７０の第二表面１１６はカップリング凹部１０６の第一および第二の表面１０８、１１０に隣接してそれぞれ配置される。第一および第二の表面１１４、１１６は、それぞれ、カップリング凹部１０６の第一および第二の表面１０８、１１０に直接面することができ、それと係合可能であり得る。
【００３０】
係合部材７０およびカップリング凹部１０６間の堅くない継手は、係合部材７０の第一および第二の表面１１４、１１６との間の幅より大きいカップリング凹部１０６の第一および第二の表面１０８、１１０との間の幅を提供することによって規定されることができる。これらの２つの幅の差異は、キャリア４０がすべり止め１０２に対して移動することが可能であるフロート距離を規定する。特に、カップリング凹部１０６の第一および第二の表面１０８、１１０並びに係合部材７０の第一および第二の表面１１４、１１６の全てが運搬装置１２に沿ったキャリア４０の縦の移動方向に対して実質的に直角である場合、フロート距離はキャリア４０の縦の移動方向において確立されるだろう。このように、キャリア４０は、すべり止め１０２に対するキャリア４０の移動によって、フロート距離によって運搬装置１２の進行方向に、運搬装置１２に対して移動可能である。
【００３１】
係合部材７０およびカップリング凹部１０６は、キャリア４０がすべり止め１０２に非固定的に結合され得る典型的な第一および第二の連結部品である。他の構造も利用され得ることを理解すべきである。例えば、カップリング凹部１０６および係合部材７０の位置は逆転することができ、すべり止め１０２の一部はキャリア４０に部分内で受け取られる。また、凹部に配置されている係合部材とは別の構造を設けることができる。例えば、キャリア４０およびすべり止め１０２のうちの１つは開口を備えることができる。その一方で、他方はその開口を通って延びる長手方向に伸びているロッドを備えている。もちろん、上記のすべり止め１０２およびキャリア４０間の堅くない継手が得られる限り、他のいかなる構造も利用されることができる。
【００３２】
フロート距離は、問題のシステムの必要に従って確立される。一般に、フロート距離は、キャリア４０が長手方向の所望の位置のキャリア４０を整列配置するためにすべり止め１０２に関して移動することができる最大距離に関して選択される。典型的な用途において、フロート距離は１〜２ｍｍのオーダーである。
【００３３】
キャリア４０およびすべり止め１０２間の堅くない継手は、ワークステーション、例えば第一の検査ステーション２０または第二の検査ステーション２２に関して、キャリア４０の配列を許容する。図５に示すように、電子装置１１は、第一の検査ステーション２０の近くのまたはその中の登録に指標される。運搬装置１２の指示運動は、第一の検査ステーション２０の配列軸１２０と関連して、予め定められた捕獲距離の範囲内で電子構成部品１１を配置する。例示のシステムにおいて、この捕獲距離は１〜２ｍｍのオーダーでもよく、他方で、１００ミクロン（±５０ミクロン）のオーダーでの配列許容度は第一の検査ステーション２０の電子構成部品１１の検査を許容することが望まれる。これらの距離は説明のためだけの実施例として役立つものであり、捕獲距離および配列許容度の実際の距離は用途によって変化する。
【００３４】
例えば、第一の検査ステーション２０で実行される検査は光学機器１２２および検査・アクチュエータ１２８の影響下でキャリア４０の検査開口８４との間で移動する、例えばケルヴィン・コネクタのような一対の検査リード１２４、１２６を含む。検査リード１２４、１２６は、電子装置１１に電圧を供給して、電子装置１１の電子特性を測定するために電気測定装置１３０と電気的に導通状態にある。光学機器１２２は、検査リード１２４、１２６によって供給される電圧に応答して電子装置１１から発される光を測定するように構成されることができる。もちろん、他の検査機器は光学機器１２２の代わりに設けることができ、または、省略することができる。
【００３５】
配列軸１２０は、光学機器１２２および検査リード１２４、１２６の一方または両方の位置によって規定することができる。電子装置１１が配列軸１２０を有する配列運ばれるときに、電気測定装置１３０による検査のために検査リードを電子装置１１のリード１３２、１３４を接触させるように、検査リード１２４、１２６は検査・アクチュエータ１２８によって延長される。加えて、配列軸１２０の光学器械１２２に関する電子装置１１の配列は、例えば、電子装置１１によって発光される光が光学機器１２２で測定されるのを可能にする。しかしながら、第一の検査ステーション２０の構成が典型例であり、第一の検査ステーション２０に関して説明される原理が、例えばワークステーションに対して電子装置１１のような装置を整列配置するための他の検査ステーションなどの様々な形のワークステーションに適用されることができることを理解すべきである。
【００３６】
上記したように、例えば、第一の検査ステーション２０または第二の検査ステーション２２のようなワークステーションに関して電子装置１１を整列配置するために、配置構造３０は、１以上のワークステーションに設けることができる。図６〜８に示すように、配置構造３０は、支持部材１４０、付勢部材１４２および係合部材１４４を有する。
【００３７】
配置構造３０の支持部材１４０は、運搬装置１２より上の固定位置で、そして、ワークステーション、例えば第一または第二の検査ステーション２０、２２のうちの１つに隣接してした位置で、付勢部材１４２および係合部材１４４を支持するように適用される。支持部材１４０は、実質的に堅い構造であり、適切な剛性材料、例えば金属またはプラスチックで製作される。支持部材１４０は、単一部片構造または複数部分構造でありえ、付勢構造１４２が接続される表面１４６を有する。表面１４６は、上方へ対向する表面であり得る。
【００３８】
付勢部材１４２は、支持部材１４０および係合部材１４４に接続しており、キャリア４０を有する係合の方へ係合部材１４４に付勢するのに役立つ。付勢部材１４２は、支持部材１４０の表面１４６に接続している第一端部１４８から係合部材１４４に接続する第二端部１５０まで伸びる平坦なばねであり得る。細長い中間部１５２は、付勢部材１５２の第一端部１４８および第二の端１５０の間に位置して、部分的に、または、完全に表面１４６の上に横たわることができる。例えとして、表面１４６がキャリア４０との係合に応答して支持部材１４０に関して上方へ偏向することが可能であるように、表面１４６は反対のキャリア４０に配置され、支持部材１４０に接続されてもよい。この種の構成において、支持部材１４０の表面１４６と付勢部材１４２の係合は、キャリア４０の方へ係合部材１４４の移動を制限するのに役立つ。
【００３９】
付勢部材１４２の第二の端１５０は、支持部材１４０の表面１４６の上に横たわらず、むしろ係合部材１４４に接続している。係合部材１４４は、支持部材１４０と隣接しているヨーク１５４およびヨーク１５４で支えられるローラー１５６を含む。ローラー１５６は、第一のテーパー側１５８および第二のテーパー側１６０を有する。ヨーク１５６の第一および第二のテーパー側面１５８、１６０は、キャリア４０を整列配置するために、キャリア４０の第一および第二のデテント６２、６４で係合可能である。
【００４０】
図８を参照すると、運搬装置１２が指標を付けるときに、第一および第二のデテント６２、６４の一対は配置構造３０のローラー１５６と係合するように運ばれる。この点で、キャリア４０は、予め定められた捕獲距離の範囲内にあるが、配置構造３０が取り付けられるワークステーションに関して十分に整列配置されることができない。しかしながら、電子装置１１の所望の一つがワークステーションを有する配列に運ばれるように、第一および第二のデテント６２、６４とローラー１５６の係合をキャリア４０に運搬装置１２に関して移動させる。
【００４１】
ローラー１５６および第一および第二のデテント６２、６４の間の係合に応答してキャリア４０の変化を引き起こすために、第一および第二のデテント６２、６４は、ローラー１５６の第一および第二のテーパー面１５８、１６０と相補的で輪郭を示される。第一および第二のデテント６２、６４の輪郭は、位置決め力の所望のレベルを提供するように選択される。付勢部材１４２によって印加されるスプリング力に由来する、そして、デテント６２、６４の輪郭を示された形状がこのスプリング力から位置決め力に変換され、それがワークステーションに配列されて運ばれるように、運搬装置１２に対してキャリア４０を動かすものと理解されよう。
【００４２】
配置構造３０は、キャリア４０の中央チャネル５０に沿って配置される第一および第二のデテント６２、６４と係合するローラーを含むと記載したが、他の配置構造が利用されることができると考えられる。特に、運搬装置１２に対して長手方向にキャリア４０を動かすキャリア４０と係合することができるいかなる構造も、ワークステーション、例えば第一の検査ステーション２０または第二の検査ステーション２２に対してキャリア４０上の少なくとも一つの電子装置１１を整列配置するために利用されることができる。
【００４３】
図９および１０に示すように、第一の代替配置構造２００は、支持構造２０４によって運搬装置１２より上に支持されて、支持構造２０４から下方へ従属する配列レール２０２を含む。運搬装置１２の長手方向に伸び、キャリア４０の中央チャネル５０の中に受け入れられることが可能である。配置レール２０２は、キャリア４０より長くすることができる。
【００４４】
係合部材２０６は、付勢部材２０８、例えば平坦なばねによって、配列レール２０２に接続している。係合部材２０６は、開口２１２配列レール２０２の空腔２１０から拡張可能である。係合部材２０６が第一および第二のデテント６２、６４のうちの１つと隣接していないように、配列レール２０２がキャリア４０の中央チャネル５０に配置されるが、配置されるときに、係合部材２０６は第一チャンネル側５８または第二のチャネル側６０のうちの１つを有する係合によって付勢部材２０８によって印加される力に対して空腔２１０に押し込まれる。係合部材２０６が第一および第二のデテント６２、６４のうちの１つと隣接するときに、付勢部材２０８によって印加した力に応答して係合部材２０６は開口２１２を貫通して空腔２１０から第一および第二のデテント６２のそれぞれの一つに延びる。係合部材２０６は、第一および第二のデテント６２、６４を有する係合がキャリア４０、例えばカーバイド小塊またはローラーを整列配置するために適しているいかなる構造でもある。
【００４５】
図１１に示すように、第二の代替配置構造３００は支持されたばねロードアーム３０２を含み、固定支持構造体３０４に関して枢支して、キャリア３０８と係合して偏る係合部材３０６、例えばローラーを含む。キャリア３０８は、キャリア４０と類似しているが、デテント３１０が中央チャネル３１４のチャネル一番下３１２に沿って長手方向に間隔を置かれた場所に置かれるという点で異なる。前述の実施例のように、デテント３１０と係合部材３０６との係合は、キャリア３０８を整列配置するように機能する。
【００４６】
図１１は、運搬装置３２０に関してキャリア３０８の部分的な切り離しを許容するように構成されるすべり止め３２２を有する運搬装置３２０を示す。すべり止め３２０は、少なくとも２つの異なった幅を有する可変的幅スロットの形で、各々カップリング凹部３２４を含む。例えば、少なくとも、各カップリング凹部を定める一部の表面は、カップリング凹部３２４を広げるために、各々から離れてテーパーがつくことができる。キャリア３０８はすべり止め３２２に関して第一フロート距離が確立されるキャリア３０８の第一位置および第二フロート距離が確立されるキャリア３０８の第二位置を定めるためにカップリング凹部３２４の範囲内で受け取ることができる係合部材を有する。第一のフロート距離は実質的にゼロでありえ、その一方で、第二フロート距離は所望の捕獲距離に従ってセットされることができる。
【００４７】
少なくとも部分的にキャリア３０８およびすべり止め３２２を切り離すために、切り離し構造３２６が設けられる。構造３２６を切り離すことは、一番目と二番目の位置の間にすべり止め３２２に関してキャリア３０８を動かすように操作可能で、それができるいかなる適切な構造でもあってもよい。例えば、構造３２６を切り離すことは、高い方向にキャリア３０８を動かす構造、例えば、レール・ジオメトリのジオメトリの偏差、または運搬装置３０８に対してキャリア３０８を高い方向に動かす構造でありえる。構造３２６を切り離すこと、またはキャリア３０８の横方向の移動によって、長手方向に対して実質的に直角のいかなる方向の運搬装置３２０に関するキャリア３０８の横移動によっても切り離しを許容するように構成されることができることを理解すべきである。
【００４８】
図１２に示すように、第３の変形例配置構造４００は、それが支持したバネ・ロードしたアーム４０２を含み、固定支持構造体４０４に関して枢支して、センサ４０８、例えば機械視覚システムの光学センサに応答してアクチュエータアセンブリ４０７のもとで回転可能である歯車４０６の形の係合部材を有する。キャリア４１０は、中央チャネル４１６のチャネル底部４１４に沿って配置されるギヤラック４１２を含む。歯車４０６は、ギヤラック４１２と係合して、キャリア４１０を整列配置するために、センサ４０８に応答してアクチュエータアセンブリ４０７によって作動する。
【００４９】
図１３に示すように、第４の代替配置構造５００は、キャリア５０４の開口５０６と係合することによってキャリア５０４を整列配置する弾丸鼻のピン５０２の形の係合部材を有する。ピン５０２の位置を決めることは、キャリア５０４が位置に指標付けられた後、ピン５０２の位置を決めることはキャリア５０４を有する係合へ移動する。例えば、ピン５０２の位置を決めることは、検査リード１２４、１２６と一致して、運動のための検査・アクチュエータ１２８に取り付けられることができる。
【００５０】
動作において、電子装置１１は、装置ローダー１４に入れられ、それらが単一化される。単一化の後に、装置は、転送部１８で、装置ローダー１４、１６から運搬装置１２へ転送される。転送ステーション１８は、装置ローダー１４、１６から機械式又は空気式手段を使用してキャリア４０まで個々に電子装置１１を動かすように構成される。
【００５１】
運搬装置１２は予め定められた量、指標付するかまたは移動して、第一の検査ステーション２０および第二の検査ステーション２２の近傍に順次電子装置１１を動かす。装置１１は、配置構造３０を使用している第一および第二の検査ステーション２０、２２それぞれに対して整列配置される。第一および第二の検査ステーション２０、２２は、例えば、電子装置１１の前方の作動電圧および電気電流のようなパラメータを測定するように構成されることができる。例えば、電子装置１１がＬＥＤである場合、それらは光出力パラメータ、例えば、光束およびスペクトル光出力を測定することもできる。例えば、分光光度計および積分球を使用することもできる。これらの機能を実行することができる典型的な装置はＭｏｄｅｌ  ６１６  ＴｅｓｔおよびＭｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ  Ｓｏｕｒｃｅであり、ポートランド・オレゴンのＥｌｅｃｔｒｏ  Ｓｃｉｅｎｔｉｆｉｃ  Ｉｎｄｕｓｔｒｉｅｓ社によって製造される。
【００５２】
検査の後に、電子装置１１は、荷降ろしステーションで降ろされる。荷降ろしステーション２５は、ごみ箱アセンブリ２４および放出アセンブリ２６を使用する検査の結果に基づいて電子装置１１を種分けするように構成されることができる。ごみ箱アセンブリ２４は多数のごみ箱を含み、放出アセンブリ２４は、各電子装置１１を個々に、例えば、圧縮空気の選択的な用途を使用するごみ箱アセンブリ２４のごみ箱の選択された一つに放出する。
【００５３】
検査システムの典型的サイクル時間は、時間当たり３２００の処理を意図し、そのプロセスにおいて各ステップの1装置につき２２５ｍｓのサイクル時間を許容する。典型的システムにおいて、運搬装置１２は１つの位置から次の１００ｍｓまで指標付けられることができ、各ステップに１２５ｍｓを残す。
【００５４】
本発明が特定の実施例と関連して記載されるが、本発明が開示された実施例に限られず、むしろ、添付の請求の範囲に含まれるさまざまな変更態様および等価な構成を包含することを目的としていることを理解すべきであり、その範囲は、法律により許容される全ての変更及び等価な構造を包含するように最も広く解釈されるものである。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【国際調査報告】
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