(57)【要約】  本発明は、対象（３）、特に 金属ストリップにおいて、周期的に発生する少なくとも１つの欠陥（８）を検出するための装置（１）および方法を示し、その場合、測定方法によって、 動く対象（３）から少なくとも１つの時間信号（７）を受信し、その時間信号（７）は、確率論的方法を使って品質関数（９）に変換され、この品質関数（９）を元に、時間信号中（７）の、１つあるいは複数の周期的信号（７’）が帰納的に推算され、それによって、対象において（３）周期的に発生する少なくとも１つの欠陥（８）を突き止めることができる。有利な方法特性を得るために、特に電磁気測定方法により受信された時間信号（７）が、モデルベースの推定方法、特に最尤法を用いて、品質関数（９）に変換されることが提案される。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
対象（３）、特に金属ストリップにおいて少なくとも１つの周期的に発生する欠陥（８）を検出するための方法であって、その場合、前記動く対象（３）の測定方法により、少なくとも１つの時間信号（７）が受信され、その時間信号（７）は確率論的方法を使用して、品質関数（９）に変換され、この品質関数（９）を元に、時間信号（７）中の１つあるいは複数の周期信号（７’）が帰納的に推算され、それによって、前記対象（３）において周期的に発生する少なくとも１つの欠陥（８）を突き止める方法であり、特に電磁気測定方法によって受信された前記時間信号（７）を、モデルベースの推定方法、特に最尤法を使用して、前記品質関数（９）に変換することを特徴とする方法。
【請求項２】
前記モデルベースの推定方法において、前記欠陥に特有の信号（７’）の少なくとも１つの特徴、特にその信号経過のための数学的モデル（ｆ欠陥）を考慮することを特徴とする、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記時間信号（７）に積分変換、特にフーリエ変換が施されることを特徴とする、請求項１または２に記載の方法。
【請求項４】
前記磁気誘導測定方法のために、電磁気センサ（４）が、少なくとも１つのエアクッション（１２）を使って前記対象（３）の上に配置されることを特徴とする、請求項１から３のいずれか一項に記載の方法。
【請求項５】
前記対象（３）から 測定された少なくとも２つの時間信号（７）、または、１つの時間信号（７）の少なくとも２つの異なる時間領域が使用され、２つの時間信号（７）の中に、または前記時間信号（７）の２つの期間に発生する、少なくとも１つ外乱を認識し、前記方法の中で抑制することを特徴とする、請求項１から４のいずれか１項に記載の方法。
【請求項６】
前記方法が、前記外乱を適応フィルタによって抑制することを特徴とする、請求項５に記載の方法。
【請求項７】
測定方法のために、前記センサ（４）が、前記対象（３）の幅（２０）に渡って移動し、そのとき前記センサ（４）の移動位置（２２）で、前記センサ（４）が再び移動する前に、少なくとも１つの時間信号（７）が受信されることを特徴とする、請求項１から６のいずれか１項に記載の方法。
【請求項８】
前記測定方法のために、複数の、互い違いに配置されたセンサ（４、２３）が前記対象（２３）に向き合って配列され、それぞれ前記対象（３）からの時間信号（７）を受信することを特徴とする、請求項１から７のいずれか１項に記載の方法。
【請求項９】
前記対象（３）上の周期的に発生する欠陥（８）を検出するために、動く対象（３）から電磁気測定方法を使用して受信した時間信号（７）の品質関数（９）を計算するための、モデルベースの推定方法、特に最尤法の使用。
【請求項１０】
動く対象（３）、特に金属ストリップにおいて周期的に発生する、少なくとも１つの欠陥（８）を検出するための装置であって、少なくとも１つの、前記対象（３）から測定された時間信号の受信のためのセンサ装置（４’）と、センサ装置と接続された、メモリ（１８）および演算部（５）を有する、確率論的方法を使用して、前記時間信号（７）を品質関数（９）に変換し、この品質満数（９）を元に、前記時間信号中の少なくとも１つの周期信号（７’）を帰納的に推算するための演算器（５’）を有し、それによって対象（３）に周期的に発生する少なくとも１つの欠陥（８）を突き止める装置であり、前記メモリ（１８）が、モデルベースの推定方法、特に最尤法のためのデータ（１６）を有することを特徴とし、そのとき前記演算部（５）は、特に電磁気測定方法によって受信された時間信号（７）を、前記モデルベースの推定方法、特に最尤法を適用して、品質関数（９）に変換するための前記メモリ（１８）と接続する装置。
【請求項１１】
前記メモリ（１８）が、前記欠陥特有の信号（７’）の少なくとも１つの特徴のデータ（１７）、特に、前記欠陥特有の信号（７’）の前記信号経過の数学的モデル（ｆ欠陥）を有し、そのとき前記演算部（５）が、周期的に発生する欠陥（８）の検出方法の際に、この特徴を考慮するための前記メモリ（１８）と接続していることを特徴とする、請求項１０に記載の装置。
【請求項１２】
前記センサ装置（４’）が前記対象（３）の少なくとも２つの時間信号（７）を測定し、前記装置（１）が、前記センサ装置（４’）と接続した、２つの時間信号（７）に発生する外乱の少なくとも１つを抑制する適応フィルタ（２８）を有することを特徴とする、請求項１０または１１に記載の装置。
【請求項１３】
前記装置（１）が、前記センサ（４）と接続した、前記センサ（４）の前記時間信号（７）の少なくとも２つの異なる時間領域（３３、３４）のためのメモリ（３２）を含み、前記装置（１）が、前記メモリ（３２）と接続した、前記時間信号（７）の２つの時間領域（３３、３４）に発生する外乱の少なくとも１つを抑制するための適応フィルタ（３５）を有することを特徴とする、請求項１０または１１に記載の装置。
【請求項１４】
前記センサ（４）が、少なくとも前記センサ（４）と前記対象（３）間のエアクッション（１２）を生成するための圧力出口（１４）を有するスライドシュー（１３）中に設けられることを特徴とする、請求項１から１３のいずれか１項に記載の装置。
【請求項１５】
前記センサ装置（４’）が、磁気誘導センサ（４）を含むことを特徴とする、請求項１から１４のいずれか１項に記載の装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、対象、特に 金属ストリップにおいて、少なくとも１つの周期的に発生する欠陥を検出するための装置および方法に係わり、その場合、１つの測定方法により、動く対象から少なくとも１つの時間信号を受信し、その時間信号は、確率論的方法を用いて品質関数に変換され、この品質関数を元に、時間信号中の１つあるいは複数の周期信号が帰納的に推算され、それによって対象において少なくとも１つの周期的に発生する欠陥を突き止める。
【背景技術】
【０００２】
金属ストリップ上に周期的に発生する圧延疵を検出するために、独国特許第３８５５９１３Ｔ２号明細書（特許文献１）は、カメラで光学的に撮影される測定信号あるいは時間信号に、自己相関法を受けさせることを提案する。このような確率論的方法は、このときこの時間信号を品質関数に変換し、それによって周期信号を認識し、圧延疵、あるいはストリップの欠陥を帰納的に推算することができる。品質関数は、試験されるべきパラメータの真の値に従い、帰無仮説を棄却する確率を提示し、つまり間違った仮説を誤として、あるいは正しい仮説を正として認識するパラメータ試験の能力を示すことが、一般に言及されている。このような自己相関法の欠点は、行程中に生じる変動が、自己相関法の検出率に重大な影響を及ぼしうることである。このとき、金属ストリップのストリップ速度を考慮しても、実質的な検出率の改善はもたらされない。また、自己相関法は、幾何学的測定における比較的小さなストリップの欠陥の検出の際、および、１つ以上の周期的に発生する欠陥の検出の際、重大な問題を有し、そのため安定した方法が確立されない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】独国特許第３８５５９１３Ｔ２号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
したがって、本発明は、冒頭に記述された種類のストリップの欠陥の検出法を、その方法に僅かな変更を加え、ストリップの欠陥を比較的高い精度と信頼性を以て認識することができるように、改善することを課題としている。さらに、この方法は、複数の周期的に生じる欠陥の検出でも、高い安定性を有することができる。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明は、特に電磁気測定法によって受信された時間信号を、モデルベースの推定方法、特に最尤法を使用して品質関数に変換することによって、提起された課題を解決する。
【発明の効果】
【０００６】
モデルベースの推定方法を使用して、時間信号が品質関数に変換されるならば、従来技術とは異なり、周期的に発生するストリップの欠陥は特に確実に認識されることができる。モデルベース推定法を使用して、すなわち非常に感度の高い確率論的方法を生み出すことができ、それによって、比較的ノイズの強い時間信号の中にも周期信号を認識することができる。それによって、１つの時間信号のみを使用した、比較的高い証明感度を保証することができ、そのとき、場合により、空転、ストリップの長さの変化などの、種々のモデルの非確実性が考慮されうる。この方法は電磁気測定法の際にも、特に有利な方法条件を提供することができる。すなわち、センサと動く金属ストリップ間の間隔の変動のため、強く変動する雑音比、およびそれによって隠された周期信号を有する時間信号が、確実に周期成分あるいは周期信号において分析されることができる。そのためこの方法は、分析されるべき時間信号への不利な測定影響に対して、比較的寛大かつ安定しているのみならず、ストリップの欠陥の際の、比較的高い認識率のための、改善された分解能を提供できる。特に、動く対象あるいは金属ストリップ上の欠陥の検出には、最尤法が優れている。この方法は、それを介して、時間信号中の、周期性が未知である１つまたは複数の周期的信号を、帰納的に推算できるところの、推定方法を導出するために特に好適でありうる。非周期的な干渉信号は、それによって特に抑制可能であり、それによって、識別可能なストリップの欠陥の数を簡単に増やすことができる。また、本発明の方法は、対象における複数の周期的に発生する欠陥が、それらが互いに妨げ合うことなく、同時に検出される可能性を開く。そのため、本発明の方法は安定しているだけではなく、特に柔軟かつ簡単に適用できる。
【０００７】
時間信号の品質関数への変換は、例えば
・フーリエ変換によって、時間信号から二乗振幅スペクトルを計算し、
・次いで、すべての可能な基本周期／基本周波数について、基本周波数とすべての整数倍における二乗振幅スペクトルの合計である、品質関数が決定されることで、
可能になることが、一般に言及されている。
【０００８】
時間信号中の周期的に発生する欠陥についての方法の感度は、モデルベースの推定方法において、欠陥特有の信号の少なくとも１つの特徴を考慮することで、さらに向上させることができる。それによって、本発明により、すなわち品質関数の重みが付き、品質関数のための新たな計算規則を生み出し、または新たな数学的構造につながり、そのようにして、対象に周期的に発生する欠陥の最高の検出率を可能にする。特に信号経過の数学的モデルは、品質関数を周期的に発生する欠陥に対して増感するための、この重みの形成において、優れている。しかし、信号の他の特徴をモデルベースの推定方法において考慮することも想定できる。したがって、本発明による方法は、外乱に対して特に安定的に形成され、金属ストリップ、特にシートメタルにおける圧延疵あるいは欠陥を、最高の再現性で認識することができる。
【０００９】
単純な方法条件は、時間信号に積分変換、特にフーリエ変換が施されるときにも成立する。また、それによって極めて迅速な方法を確保することができる。
【００１０】
磁気誘導測定法のために、電磁気センサが少なくとも１つのエアクッションを用いて対象の上に配置されたとき、それによって分解能は明らかに向上される。センサから、またはセンサへのストリップの動きによって生じる間隔の変動は、エアクッションによって調整することができるため、測定によって生じる雑音比の変動の数は削減することができる。
【００１１】
対象において測定された少なくとも２つの時間信号が使用され、両方の時間信号中に生じる少なくとも１つの外乱を認識し、方法中で抑制することにより、方法の再現性をさらに向上することができる。つまり、周期的に発生する欠陥に影響が、両方の時間信号のうちの１つの中だけにあると仮定することができる。しかし、外乱が両方の時間信号中に同様に発生した場合も、認識されることができる。代替案として、時間信号の少なくとも２つの異なる時間領域を使用し、時間信号の両方の時間領域に発生する、少なくとも１つの外乱を認識し、方法のなかで抑制することも考えられる。したがって、本発明によると、欠陥に特有な信号を有する時間信号中の外乱信号は抑制されることができ、それによって方法の分解能をさらに高めることができる。金属ストリップ、特にシートメタル上の圧延疵あるいは欠陥は、この方法によって極めて安定的に認識されることができる。
【００１２】
外乱が適応フィルタによって抑制されるとき、簡単な方法条件が成立しうる。
【００１３】
この測定方法のために、センサが対象の幅上を移動させられるとき、比較的幅の広い対象において、簡単な方法で欠陥を検査することができる。この目的のために、センサの移動位置で、センサが再び移動する前に、ただ、少なくとも１つの時間信号が受信されなければならない。これによって、その周期性によって、短冊状に、対象の長手方向に配列された欠陥が、単純な方法段階によって検出される。また、１つのセンサによって、センサ間の調整を省略することができ、本発明の方法も比較的簡単に取り扱うことができる。
【００１４】
この測定方法のために、複数の互い違いにずらして取り付けられたセンサを、対象に向かい合わせて配置し、金属ストリップのそれぞれの時間信号を受信することもできる。信号評価、あるいは信号査定を同時に行うことができるので、それによって、欠陥を迅速に検出することができる。このような方法は、特にメタルシートの連続製造方法において優れている。
【００１５】
モデルベースの推定方法、特に最尤法を使用することは、対象における周期的に発生する欠陥を検出するために、動く対象から電磁気測定方法を用いて受信する時間信号の、品質関数の計算において特に優れている。
【００１６】
本発明はまた、高い証明感度で、特に小さな欠陥を安定的に検出することができる、冒頭で述べられた種類の装置を提供するという課題を与えられている。また、その装置は構造的に単純でなければならない。
【００１７】
メモリがモデルベースの推定方法、特に最尤法のためのデータを有し、そのとき演算部は、特に電磁気測定方法によって受信された時間信号を、モデルベースの推定方法、特に最尤法を用いて、品質関数に変換するためのメモリと接続することにより、本発明は与えられた課題を解決する。
【００１８】
メモリがモデルベースの推定方法のためのデータを有し、そのとき演算部が、電磁気測定方法によって受信された時間信号を、モデルベースの推定方法、特に最尤法を用いて、品質関数に変換するためのメモリに接続するなら、通常肉眼では認識できないほど小さな欠陥も、対象において確実に検出されることができる。比較的小さな構造的変更、すなわち演算部のメモリのデータのみの変更によって、このような高感度な装置が製造されることができる。
【００１９】
メモリが欠陥に特徴的な信号の少なくとも１つの特徴であるデータを有し、そのとき演算部が、周期的に発生する欠陥の検出方法の際の、この特徴を考慮するメモリと接続することで、方法の安定性はさらに改善されることができる。それによって、品質関数には、周期的に発生する欠陥の感度を高めることができる重みが付くため、それによってすなわち最も小さい周期的信号さえも、測定ノイズから分離あるいは識別されることができる。この重み付けのために、欠陥に特有の信号の信号過程のための数学的モデルが有利に使用されることができる。そのためこの装置は、動く対象において周期的に発生する欠陥を、特に確実に認識できる。
【００２０】
センサ装置が、対象からの少なくとも２つの時間信号を測定し、この装置がセンサ装置に接続された、２つの時間信号中に発生する外乱の、少なくとも１つを抑制する適応フィルタを有するとき、この装置の、動く対象において周期的に発生する欠陥に関する感度はさらに改善されることができる。
【００２１】
代替案として、装置が、センサと接続された、センサの時間信号の少なくとも２つの異なる時間領域のためのメモリを含み、装置が、メモリと接続された、時間信号の２つの時間領域に発生する外乱の少なくとも１つを抑制する適応フィルタを有するときも、装置の感度は向上される。
【００２２】
センサ装置が少なくとも２つの互い違いに配列されたセンサを有し、対象から同時に２つの時間信号を受信することにより、装置の構造的な単純さが生じうる。
【００２３】
センサが、少なくともセンサと対象の間にエアクッションを生成するための圧力出口を有するスライドシューの中に設けられるとき、動く品物の上にセンサを設置するための単純な構成関係が生じうる。
【００２４】
センサ装置が磁気誘導センサを含むとき、外乱に対して極めて堅牢な装置が生じうる。また、そのようなセンサを使用して、構造的な単純さが確保されうる。
【００２５】
図の中で、本発明が１つの実施例を元に示される。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】図１は、方法の遂行のための装置を金属ストリップとともに縮小図で示し、
【図２】図２は、図１の装置のセンサの測定信号を示し、
【図３】図３は、本発明の方法の時間信号を示し、
【図４】図４は、図３の時間信号の振幅スペクトルの拡大された断片を示し、
【図５】図５は、周期的に発生する欠陥の検出のための、図４で測定された時間信号からの品質関数を示し、
【図６】図６は、別の測定された時間信号の品質関数を示し、
【図７】図７は、図６によって表示された品質関数とは相違する、重み付けされた品質関数を示し、
【図８】図８は、金属ストリップに向き合って設置されたセンサの拡大図を示し、
【図９】図９は、金属ストリップに向き合うセンサ装置の配列の変形を示し、
【図１０】図１０は、図１の装置を全体図で示し、
【図１１】図１１は、図１０で示されたセンサ装置の代替的なセンサ装置を示す。
【発明を実施するための形態】
【実施例１】
【００２７】
図１から１０に例示的に示されている装置１は、長手方向２に向かって動く対象３に向かい合って位置する、センサ装置４’の差動的に動作するセンサ４を有し、そのとき対象３は例えば金属ストリップ３である。センサ４は、演算器５’の演算部５と接続され、金属ストリップ３から測定技術的に受信される時間信号７に従属する測定データ６を送信する。動く金属ストリップ３はまた、これが特に図２で、振幅たわみｆ（ｔ）を元に認識されることができるように、センサ４を介し、測定方法の中で検出される、反復して生じるストリップの欠陥８を有する。時間信号７は、周期信号７’と外乱部分７’’の重なりから構成され、そのため、ストリップの欠陥８に従属する特徴も含む。確率論的方法を介して、時間信号７は品質関数９に変換される。この品質関数９を元にして、時間信号７中の周期信号７’が帰納的に推算され、それによって金属ストリップに周期的に発生する欠陥８が検出される。この欠陥は金属ストリップ３の表面および／または金属ストリップ３の中にも生じうる。本発明により、磁気誘導測定方法における測定技術的外乱に対する特に高い堅牢性、およびストリップの欠陥８における高い検出率を可能にするために、本発明では時間信号７を、最尤法を使用して品質関数９に変換することが提案される。特に磁気誘導測定方法による時間信号７のために、最尤法はモデルベースの推定方法として有利であることが判明した。
【００２８】
図３のガウスノイズ中の周期信号を検出するために、品質関数９を算出するための最尤法の適用の一例あるいは結果は、次の公式で示されることができる。（アンドレアス・ヤコブソン他「マルチピッチ推定」ＩＳＢＮ９７８１５９８２９８３８３を参照のこと）：
【００２９】
【数１】
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【００３０】
Ｘは時間信号７の積分変換としてのフーリエ変換を表し、好適には計算効率のために、高速フーリエ変換アルゴリズムが実装される。
Ｌは高調波の数であり、そのとき計算／Ｌの選択について様々な方法が、文献中で公知である。 
τは分析されるべき可能な期間の長さを表す。
【００３１】
品質関数９あるいはＪ（τ）は、したがって二乗振幅スペクトル、可能な期間に属する周波数、およびその高調波の入力の合計として計算され、全ての可能な期間について計算される。そのような振幅スペクトルの断片が図４に示され、そのときこの振幅スペクトルは正規化された周波数２４を介して、一方の側に、そして正規化された振幅スペクトル２５を介してもう一方の側に記載されている。間隔２６は１／正規化された期間を表す。可能な結果として生じる品質関数９は図５に示されている。
【００３２】
この図５の正規化された期間１０を通じて記載された、正規化された品質関数９は、最大値１１を有し、これに基づいて最大値１１が、時間信号７中の周期信号７’において、帰納的に推算されることができる。品質関数９の最大値１１の位置は信号７’の周期性についての情報を提供し、その一方で、品質関数９の高さは、周期信号７’の存在についての判断基準として利用されることができる。
【００３３】
そのため、図３が示す時間信号７中に存在する周期信号７’は、特に高い証明感度で検出されることができる。図３が示すように、信号７’中には、時間経過に従って減少する振幅最大値が検出可能なときも、同様である。この状況は、例えばストリップの振動によって、測定方法の境界条件が変化し、それによってまた不利に、雑音比を減少させうることで生じうる。本発明の確率論的方法にとって、この状況は方法技術的に簡単に考慮されることができるため、この方法は特に測定技術的外乱に対して安定している。
【００３４】
数学的モデル、例えば、ｆ欠陥=ｓｉｎ（ｔ）を欠陥に特徴的な信号７’の信号経過として、すなわちモデルベースの推定方法の際に考慮することにより、この方法の分解能は改善される。品質関数９あるいはＪ（τ）にはそれによって、例えば次のように表すことのできる重みが付けられている：
【００３５】
【数２】
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【００３６】
Ａは、例えば公知と仮定されうる、欠陥特有の信号７’のフーリエ変換から形成されることのできる、重み付けを表す。
【００３７】
欠陥に特有な信号７’の経過は図２に示されており、それによるとセンサ信号の微分波形信号の経過の近似として、正弦波が使用されている。しかし、欠陥特有の信号７’の他の特徴を、品質関数９あるいはＪ（τ）の重み付けの際に考慮することも充分考えうる。
【００３８】
図６と７を比較することによって、重み付けの長所がよりよく認識されることができる。正規化された期間１０を通じて記載された、正規化された品質関数２７において、図５に示された品質関数９と比較して、周期信号７’を指す最大値１１は、明確には認識されない。そのような品質関数２７は、例えば、強くノイズの入った時間信号を通して発生することがあり、その時間信号は、詳細に示されることができない。このとき品質関数２７に、欠陥特有の信号７’の特徴によって重み付けがなされると、この図７に示された品質関数９の中に、再び − 図５に相似して − 明確に最大値１１が認識され、それを元に、最大値１１を、時間信号７中の周期信号７’に帰納的に推算することができる。ここでも、品質関数９の最大値１１の位置は、信号７’の周期性について情報を提供し、その一方で、品質関数９の高さは、周期信号７’の存在についての判断基準として利用されることができる。品質関数２７をもたらす比較的強いノイズの入った時間信号は、重み付けされた品質関数９とともに、圧延疵あるいはストリップの欠陥に関して、再び成果ある分析をすることができる。
【００３９】
磁気誘導測定方法のために、電磁気センサ４は、特に図８に見られるように、少なくとも１つのエアクッション１２を用いて、対象３あるいは金属ストリップの上に配置される。この目的のために、センサ４は、構造的に単純にスライドシュー１３の中に設けられる。スライドシュー１３は、センサ４と金属ストリップ３間のエアクッション１２を生成するための、図示されていない空気圧縮装置の圧縮空気管１５と接続した、圧力出口１４を有する。
【００４０】
構造の単純さは、演算部５が方法の遂行のためにとりわけ必要とする、データ１６、１７が、演算部５のメモリ１８の中に記憶されることで生じる。それによって、演算部５は、容易にメモリに接続され、データを最尤法のために検索し、あるいは、時間信号７を品質関数９に変換するために適用される。
【００４１】
メモリ１８は、欠陥に特有の信号７’の信号経過の数学的モデルｆ欠陥のためのデータ１７も有する。したがって演算部５も、周期的欠陥８の検出のための方法の際の、この数学的モデルｆ欠陥を考慮するためのメモリ１８と、構造的に単純な方法で接続されることができる。特に安定性のある装置１がこれによって製造されることができる。
【００４２】
金属ストリップ３の幅２０に渡って分配されて発生する欠陥８は、図９で、移動方向２１によって示されているように、測定方法の過程でセンサ４が、金属ストリップ３の幅２０に渡って移動することで、検出されることができる。このとき、そのように、センサ４の移動位置２２で時間信号７が受信され、それを金属ストリップ３上の周期的に発生する欠陥８において分析することができる。続いてセンサ４を別の移動位置２２’に動かすことができる。複数の互い違いに配置されたセンサ４、２３を金属ストリップ３に向かい合わせて配列し、それぞれ金属ストリップ３から時間信号７を受信し、その信号を周期的時間信号７’ごとに分析することを、それに関する組み合わせ、あるいはそれに関する代替案として考えることができる。
【００４３】
図１０は装置１の全体図を示す。ここに示されたセンサ装置４’は、センサ４の他に、第２のセンサ２３、および適応フィルタ２８を有する。２つのセンサ４と２３は、金属ストリップ３から測定信号２９および３０を受信し、これらを適応フィルタ２８に送り、それはまた測定データ６を演算装置に伝える。この測定データ６は、金属ストリップ３から測定技術的に受信された時間信号７への従属性を有する。測定信号２９および３０は、例えばストリップの振動によって引き起こされる外乱を均等に含むため、これらの測定信号２９および３０が減算されるとき、これらは測定データ６から排除することができる。この適切な減算のために、測定信号３０はさらに適切な手段２８’によって調整される。このとき、本発明により、測定データ６は、適応フィルタ２８により、２つの時間信号７に発生する外乱を抑制するように改善される。
【００４４】
図１１は、外乱減少のために、装置１の代替的センサ装置３１を示す。このセンサ装置３１は、センサ４に接続された、センサ４の時間信号７の少なくとも２つの異なる時間領域３３、３４を記録するメモリ３２を含む。この時間領域３３、３４は、このとき、時間信号の２つの時間領域のうちの１つに発生する外乱を抑制する適応フィルタ３５に供給され、それによって測定データ６を改善する。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2014521073.tif 000011
【図８】
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【図９】
2014521073.tif 000013
【図１０】
2014521073.tif 000014
【図１１】
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【国際調査報告】
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2014521073.tif 000017
2014521073.tif 000018
2014521073.tif 000019
2014521073.tif 000020
2014521073.tif 000021