(57)【要約】  本発明は、光ファイバ温度センサの光ファイバ（１０）が備えられる、光ファイバ温度センサの温度を校正するための装置（１００）に関する。装置（１００）は、光ファイバ（１０）が通過する通路（１０９）を有する装置本体（１０１）と、熱エネルギーを伝達するための手段とを包含する。装置（１００）はさらに、第１材料の状態が変化する少なくとも一つの第１所定温度を有する第１材料で作成される、第１固定点と称される少なくとも一つの部分（１６０ａ）を包含する。光ファイバ（１０）が装置（１００）に備えられると、第１固定点（１６０ａ）が光ファイバ（１０）に熱的接続される。熱エネルギー伝達手段は、作動中に、第１所定温度で状態変化を発生させるため熱エネルギー伝達手段が第１固定点（１６０ａ）と熱エネルギーを交換するように装置本体（１０１）に配設される。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ファイバ温度センサの光ファイバ（１０）を備える、光ファイバ温度センサの温度を校正するための装置（１００）であって、
前記光ファイバ（１０）が通過する通路（１０９）を有する装置本体（１０１）と、
熱エネルギーを伝達するための熱エネルギー伝達手段と、
を包含する装置（１００）において、
第１材料の状態が変化する少なくとも一つの第１所定温度（Ｔｐｄ１）を有する第１材料で作成される、第１固定点と称される少なくとも一つの部分（１６０ａ）を包含し、前記光ファイバ（１０）が前記装置（１００）に備えられた時に前記第１固定点（１６０ａ）が前記光ファイバ（１０）と熱的に接続され、前記熱エネルギー伝達手段が、作動中に、前記第１所定温度（Ｔｐｄ１）で状態の変化を発生させるため前記第１固定点（１６０ａ）と熱エネルギーを交換するように前記装置本体（１０１）に配設されることを特徴とする、
装置（１００）。
【請求項２】
熱伝導材料で作成される部分（１５０）をさらに備え、前記光ファイバ（１０）が前記装置（１００）に備えられた時に前記第１固定点（１６０ａ）と前記光ファイバとの間に熱的接続を用意するため前記部分（１５０）が前記装置本体（１０１）に配設される、請求項１に記載の装置（１００）。
【請求項３】
前記熱伝導材料で製作された部分（１５０）が長尺形状のものであり、前記通路（１０９）が、前記熱導電材料で製作された部分（１５０）に切り抜かれた長手方向通路である、請求項２に記載の装置（１００）。
【請求項４】
前記通路（１０９）への光ファイバ（１０）の横方向導入を可能にするのに適した横方向導入システムを前記通路（１０９）が有し、前記導入システムがさらに、前記通路（１０９）への導入の後に前記光ファイバ（１０）を定位置に維持するのに適している、請求項３に記載の装置（１００）。
【請求項５】
前記熱伝導材料で製作された部分（１５０）および／または前記第１固定点（１６０ａ）の温度を測定するように配設された温度測定手段をさらに備え、前記温度測定手段が好ましくは絶対温度測定を実行するのに適している、請求項１から４のいずれか一項に記載の装置（１００）。
【請求項６】
前記第１固定点（１６０ａ）が前記光ファイバ（１０）の一部で前記光ファイバ（１０）に熱的接続され、前記熱的接続が、前記第１固定点（１６０ａ）との熱的接続状態にある前記光ファイバ（１０）の一部の長さが前記光ファイバ温度センサの空間分解能より大きいか等しくなるのに適している、請求項１から５のいずれか一項に記載の装置（１００）。
【請求項７】
前記熱エネルギー伝達手段が、前記熱エネルギー伝達手段と前記第１固定点（１６０ａ）との間で交換される熱エネルギーを調整するのに適した熱エネルギー調整手段を包含する、請求項１から６のいずれか一項に記載の装置（１００）。
【請求項８】
熱閉じ込め手段を備え、前記熱閉じ込め手段が、前記熱エネルギー伝達手段と前記第１固定点（１６０ａ）との間における熱エネルギーの交換の間の熱損失を制限するように配設される、請求項１から７のいずれか一項に記載の装置（１００）。
【請求項９】
前記第１所定温度（Ｔｐｄ１）と異なる、第２材料の状態が変化する少なくとも一つの第２所定温度（Ｔｐｄ２）を有する第２材料で製作された、第２固定点と称される少なくとも一つの部分（１６０ｂ）も備え、前記光ファイバ（１０）が前記装置（１００）に備えられる時に前記第２固定点（１６０ｂ）が前記光ファイバ（１０）に熱的に接続され、前記熱エネルギー伝達手段が、作動中に前記熱エネルギー伝達手段が前記第２固定点（１６０ｂ）と熱エネルギーを交換して前記第２所定温度（Ｔｐｄ２）で状態変化を発生させるように、前記装置本体（１０１）に配設される、請求項１から９のいずれか一つに記載の装置（１００）。
【請求項１０】
前記第１および第２所定温度（Ｔｐｄ１，Ｔｐｄ２）と異なる、第３材料の状態が変化する少なくとも一つの第３所定温度を有する第３材料で作成される、第３固定点と称される少なくとも一つの部分（１６０ｃ）を備え、前記第３固定点（１６０ｃ）が、前記光ファイバ（１０）が前記装置（１００）に備えられる時に前記光ファイバ（１０）に熱的に接続され、前記熱エネルギー伝達手段が、作動中に、前記熱エネルギー伝達手段が前記第３固定点（１０６ｃ）と熱エネルギーを交換して前記第３所定温度で状態変化を発生させるように装置本体（１０１）に配設され、前記第１材料が９９．７８重量％のガリウムと０．２２重量％のビスマスとで構成され、前記第２材料が４９％重量％のビスマスと２１重量％のインジウムと１８重量％の鉛と１２重量％のスズとで構成され、前記第３材料が６６．７重量％のインジウムと３３．３重量％のビスマスとで構成される、請求項９に記載の装置。
【請求項１１】
請求項１から１０のいずれか一項に記載の装置（１００）を起動させるステップを含む光ファイバ温度センサの温度を校正する方法において、
請求項１から１０のいずれか一項に記載の装置（１００）を提供するステップと、
前記光ファイバセンサの光ファイバ（１０）を前記装置（１００）に装着するステップであって、前記光ファイバ（１０）が前記通路（１０９）上に配設されるように前記光ファイバ（１０）の装備が実現されるステップと、
前記第１所定温度（Ｔｐｄ１）で前記第１固定点（１０６ａ）の状態変化を発生させるように前記装置（１００）の前記熱エネルギー伝達手段を起動させるステップと、
前記光ファイバセンサを起動させて前記光ファイバ（１０）上の箇所での温度変化を検出するステップと、
前記光ファイバ（１０）の前記箇所で測定された前記温度の安定化まで待機して、前記箇所で測定された前記温度を前記第１所定温度（Ｔｐｄ１）について校正するステップと、
を備えることを特徴とする、光ファイバ温度センサの温度を校正する方法。
【請求項１２】
前記第１固定点（１６０ａ）との熱エネルギーの交換を停止または逆転させるために前記熱エネルギー伝達手段の起動を停止または修正し、前記停止または逆転が、前記第１固定点（１６０ａ）が状態逆変化に対応する温度に達するように実行されるステップと、
前記第１固定点（１６０ａ）の状態変化が逆転し始めるように、前記第１固定点（１６０ａ）と前記熱エネルギー伝達手段との間で交換されるエネルギーの一部の散逸まで待機するステップと、
前記箇所で測定される前記温度の安定化まで待機するステップと、
前記第１固定点（１６０ａ）の前記状態逆変化温度から、前記箇所で測定される温度の校正を補正するステップと、
をさらに備える、請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】
請求項１から１０のいずれか一項に記載の装置を起動させるステップを含む光ファイバ温度センサの距離校正方法において、
請求項１から９のいずれか一項に記載の装置（１００）を提供するステップと、
前記光ファイバセンサの光ファイバ（１０）を前記装置（１００）に装着するステップであって、前記光ファイバ（１０）が前記通路（１０９）上に配設されるように前記光ファイバ（１０）の装備が実現され、前記光ファイバ（１０）上の箇所で前記装備が形成されるステップと、
前記光ファイバ（１０）の基準位置について前記装置（１０）の箇所の距離（３００）を測定する手段を用意するステップであって、前記基準位置が、具体的には請求項１から９のいずれか一つに記載の別の装置（１００′）の位置または前記光ファイバ（１０）の端部の位置により提供されるステップと、
前記第１所定温度（Ｔｐｄ１）での前記第１固定点（１６０ａ）の状態変化を発生させるように前記装置（１００）の前記熱エネルギー伝達手段を起動させるステップと、
前記光ファイバセンサを起動させて前記光ファイバ（１０）上の箇所での温度変化の位置を検出するステップと、
前記センサにより測定される位置を、前記距離（３００）を測定する手段から測定される前記位置と対応させるため前記光ファイバセンサを距離校正するステップと、
を備えることを特徴とする、光ファイバ温度センサの距離校正方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ファイバ温度測定の分野と、かかる測定中に温度および距離を校正するのに使用される方法とに関する。
【０００２】
土木工学構造物の観察および監視は、温度および温度差である重要パラメータについての充分な知識を必要とし、これは以下の目的を持つ。
１．環境熱変動と相関性のない構造物の作用を解析すること。
２．堤防や水力発電ダムなどの大規模水利構造物、または廃棄物貯蔵・閉じ込め構造物、高速道路、またはある種のトンネルなどの実用的構造物における温点または流体の漏出など、経時的な変化を検出すること。
【０００３】
ゆえにこれらの構造物は、構造物全体にわたって一定間隔で自動測定を実行するため、適応性があり、気象学的見地から信頼でき、アラームおよび分解距離に代わることが証明されている温度測定監視方法を必要とする。
【０００４】
このような方法は、次のタイプのエネルギー回収・分配設備の監視にも必要である。ドリル管、輸送管、強制流送水管、地域暖房供給管、および地熱エネルギー用エネルギー回収システム。
【０００５】
数十キロメートルを超えうるカバーが必要な距離と、監視対象ゾーンのいくつかへのアクセスが不可能であることにより、光ファイバ温度センサを起動させる温度測定方法を使用することは周知である。事実、このような光ファイバ温度センサは、採用される方法論に応じて、１０キロメートル程度以上の距離にわたって光ファイバ上で規則的に温度測定を実行することを可能にする。
【０００６】
すべての光ファイバ温度測定方法について、温度測定は相対的である。ゆえに、光ファイバ温度センサの設置時および使用中に、このようなセンサの温度校正を実行するための備えが必要であろう。事実、このような校正は、補正動作を確認すること、および／またはセンサの温度ドリフトを推定することを可能にする。
【０００７】
ここで、また残りの説明で、絶対温度測定および相対温度測定は、それぞれ、温度差を含まず温度単位で表現される熱力学的温度測定、および基準温度に対する差または経時温度変化でありうる温度差の測定を意味するものと解釈される。
【０００８】
より正確に述べると、本発明は、光ファイバ温度センサの温度を校正するための装置と、光ファイバ温度センサの温度校正方法および距離校正方法に関する。
【背景技術】
【０００９】
異なるタイプの光ファイバ温度センサが存在し、温度センサのタイプは概して、空間および温度測定分解能、温度監視が行われなければならない距離、または監視対象の構造物の変形など他のパラメータを監視する可能性のように、熱測定の後に求められるものの特性によって決定される。
【００１０】
ゆえに、光刻印式（ファイバブラッググレーティングの頭字語であるＦＢＧでよく知られる）であっても、または幾何学的（長周期ファイバーグレーティングの頭字語ＬＰＧでよく知られる）であっても、ブラッググレーティングタイプの「スポット」センサと称される光ファイバセンサを定位置に置くことによって、温度測定が実行され、これらは、温度測定が必要である箇所に、熟考により、またはファイバ上で発生しうる光の後方散乱という非線形現象の一つ、すなわちレイリー、ブルリアン、およびラマン後方散乱現象を利用することにより載置される。
【００１１】
いかなるタイプの光ファイバセンサが使用されるのであっても、センサの光ファイバは１０年程度を充分に超える期間にわたって大型構造物に装備されることが予定されるので、温度測定の経時ドリフトの問題を呈しがちである。このようなドリフトは無視することができず、ゆえに光ファイバセンサの定期的な校正を必要とする。同様に、このようなセンサによる測定は、レーザおよび光検出器など使用される装置に依存し、例えば破損後のその交換は、温度測定の系統誤差をもたらしうる。
【００１２】
これらの多様な問題に対応することを目的として、光ファイバセンサの温度を校正する多様な方法論が導入されている。
【００１３】
特許文献１および特許文献２に開示されている第一の方法論は、同一の光ファイバでいくつかのタイプの測定を組み合わせて光ファイバ温度センサを校正することに存する。こうして、特許文献１に開示されているように、ラマン後方散乱の現象を使用する温度測定をブルリアン後方散乱のものと組み合わせることが可能である。多様な波長の二つの光源からの同じ後方散乱現象つまり特許文献２のラマン後方散乱を使用する測定を組み合わせることも、可能である。この方法論は、校正に光ファイバ自体を使用するため、光ファイバのいかなる箇所でも温度校正を実行することを可能にする。
【００１４】
にもかかわらず、光ファイバ温度センサの光ファイバでの二つの温度測定方法の組み合わせが、これらの技術に固有のドリフト問題を軽減できるようにする場合には、空間的に、また温度についてこれらの測定を相関させることが必要である。この二重相関は、温度測定に関する不確実性を発生させる。加えて、これらの技術には、これらの測定が絶対温度測定の実施を可能にしない相対温度測定であるという事実が残っている。
【００１５】
第二の方法は、特許文献３に開示されているように、絶対温度測定を実施できる二次温度センサをファイバ上で規則的に設置することに存し、光ファイバの校正は、二次測定センサにより測定される温度で実行される。
【００１６】
このような温度センサは光ファイバの温度校正のための基準を提供することを可能にするが、熱ドリフトも呈し、ゆえに温度校正に関して限定的な再現性を有する。加えて、このような二次センサは、光ファイバを多様な温度で校正することを可能にせず、この校正は必ず、校正の瞬間に光ファイバの温度で実行される。
【００１７】
第二の方法論から派生した第三の方法論は、特許文献４に開示されているように、加熱システムおよび／または冷却システムなど熱エネルギー伝達システムと二次センサを校正装置の形で組み合わせることに存する。このような校正装置は、光ファイバが通過する通路を包含する装置本体を包含し、熱エネルギーを光ファイバに伝達するためのシステムが、熱エネルギー伝達システムの温度を調整する手段および二次センサと組み合わされる。伝達システムは光ファイバに熱的接続され、二次センサは、熱交換システムの近傍において光ファイバの高さで温度を測定するように本体に配設される。
【００１８】
こうして、光ファイバは、センサの校正中に装置本体の通路に収容される部分を有し、熱交換システムは所定温度に調整するように起動される。光ファイバの一部は所定温度まで加熱され、光ファイバセンサを用いる温度の測定は、校正を行うことを可能にする。
【００１９】
にもかかわらず、このような方法はいかなる温度でも校正を可能にするが、経時安定性に関する問題を引き起こす。事実、熱エネルギー伝達手段と二次センサとは経時ドリフトを示し、ゆえに光ファイバセンサの校正誤差を招く。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００２０】
【特許文献１】米国特許第７，５２９，４３４号明細書
【特許文献２】国際公開第２０１０／０３６３６０号パンフレット
【特許文献３】英国特許第２４０７６３７号明細書
【特許文献４】中国特許第１０１３８７５６２号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００２１】
本発明は、この欠点を克服することを目的とする。
【００２２】
ゆえに本発明の目的の一つは、光ファイバ温度センサの現場での温度校正を可能にするとともに、１０年程度を超えうる期間にわたって耐久性および再現性を持つ方法で絶対温度校正を可能にする、光ファイバ温度センサの温度を校正するための装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００２３】
この目的のため、本発明は、光ファイバ温度センサの光ファイバを装備することが予定される、光ファイバ温度センサの温度を校正するための装置に関し、かかる装置は、
光ファイバが通過する通路を有する装置本体と、
熱エネルギーを伝達するための熱エネルギー伝達手段と、
を包含し、
かかる装置は、状態が変化する少なくとも一つの第１所定温度を有する第１材料で作成される、第１固定点と称される少なくとも一つの部分を包含し、第１固定点は、装置が光ファイバを装備する時に光ファイバに熱的接続され、熱エネルギー伝達手段は、作動中に、第１所定温度で状態変化を発生させるため熱エネルギー伝達手段が熱エネルギーを第１固定点と交換するように、装置本体に配設される。
【００２４】
ここで、また本書の残りにおいて、固定点の状態変化は、固定点を構成する材料の状態変化を意味するものと解釈される。
【００２５】
ここで、また本書の残りにおいて、材料の状態変化は、固体状態から液体状態への移行に相当する融解、液体状態から固体状態への移行に相当する凝固、または固体状態から気体状態への移行に相当する昇華など、一つの状態から別の状態への材料の移行を意味するものと解釈される。
【００２６】
このような装置は、光ファイバが監視対象の構造物または機器を装備している時には、現場での設置の前の生産時の光ファイバの校正中であれ、または現場であれ、光ファイバを装備しうる。この装置はまた、第１固定点の状態変化に対応する温度を使用するので、またこの所定温度は固定点を構成する材料の組成にのみ依存するので耐久性のある方法で、所定温度での良好な分解能の校正を可能にする。ゆえに、１０年程度より長い期間にわたってであっても経時ドリフトの危険を伴わずに被制御温度で光ファイバセンサを温度校正することがこのような装置では可能である。
【００２７】
第１材料は、金属の合金など、単一の元素またはいくつかの元素の化合物で構成されうる。
【００２８】
熱エネルギーを伝達するための熱エネルギー伝達手段は、抵抗加熱素子などの加熱システム、および／またはペルチェモジュールなどの冷却システムにより提供されうる。
【００２９】
熱伝導材料で作成される部分にはさらなる条件があり、この部分は、光ファイバの装備が装置で行われる時に第１固定点と光ファイバとの間に熱的接続を用意するため装置本体に配設される。
【００３０】
このような伝導材料は、固定点が光ファイバと直接接触した場合よりも大きな寸法を持つ光ファイバの一部を接続することを可能にする方法で、装置が光ファイバセンサの光ファイバを装備する時に、光ファイバの間に熱橋（熱の逃げ道）が備えられることを可能にする。
【００３１】
熱伝導材料は、銅、テルル銅などの銅合金、アルミニウム、およびアルミニウム合金を包含するグループから構成要素の少なくとも一つが選択される材料でありうる。
【００３２】
このような熱伝導材料は、熱エネルギー伝達手段と光ファイバとの間の熱交換を最適化することを可能にする高い熱伝導率を有する。
【００３３】
伝導材料で製作される部分は長尺形状のものであり、通路は、この伝導材料で製作される部分に切り抜かれた長手方向通路である。
【００３４】
このようにして、光ファイバが装置に装備されると、ファイバは通路に配設され、熱伝導材料の部分を通る熱交換は、この通路に配設される光ファイバの部分の表面全体で行われる。
【００３５】
発明の変形例によれば、通路は、通路への光ファイバの横方向導入を可能とするのに適した横方向導入システムを有し、導入システムはまた、通路への導入後に光ファイバを定位置に維持するのに適している。
【００３６】
このような導入システムは、すでに定位置にある光ファイバへの装置の設置を可能にし、この設置は横方向導入により行われる。
【００３７】
伝導材料製の部分および／または第１固定点の温度を測定するように配設された温度測定手段のための条件がさらにあり、温度測定手段は、絶対温度測定を実行するのに適していることが好ましい。
【００３８】
このような温度測定手段は、校正装置の補正動作を確認することを可能にし、装置は概して、監視対象構造において低いアクセス可能性で光ファイバと一体化されることが意図される。
【００３９】
第１固定点は光ファイバの一部で光ファイバと熱的接続され、第１固定点との熱的接続状態にある光ファイバの一部の長さは、光ファイバ温度センサの空間分解能より大きいか等しくなるのに適している。
【００４０】
このような第１固定点と光ファイバとの熱的接続は、装置のレベルで光ファイバ温度センサにより温度測定が確実に行われることを可能にし、これは、温度センサの校正のための装置の起動の間に、光ファイバ上の装置の箇所の近傍で光ファイバの環境の影響を軽減することにより最も正確に可能となる。
【００４１】
熱エネルギーを伝達するための熱エネルギー伝達手段は、熱エネルギーを伝達するための熱エネルギー伝達手段と第１固定点との間で交換される熱エネルギーを調整するのに適した熱エネルギー調整手段を包含する。
【００４２】
このような熱エネルギー調整手段は、充分に制御された温度交換を可能にすることにより、起動中に装置によって消費されるエネルギーを制限するとともに第１固定点の状態変化の時間を最大化することで、校正中の光ファイバの温度の安定化を最適にする。
【００４３】
熱閉じ込め手段が設けられ、この閉じ込め手段は、熱エネルギー伝達手段と第１固定点との間の熱エネルギーの交換の間の熱損失を制限するように配設される。
【００４４】
このような閉じ込め手段は、装置の起動中に熱エネルギーの損失を軽減することにより、温度を安定化させる間に装置のエネルギー消費を制限する。
【００４５】
第１所定温度と異なる、状態が変化する少なくとも一つの第２所定温度を有する第２材料で作成される、第２固定点と称される少なくとも一つの部分についても条件が設けられ、第２固定点は、装置が光ファイバを装備する時に光ファイバに熱的接続され、熱エネルギー伝達手段は、作動中に、熱エネルギー伝達手段が第２固定点と熱エネルギーを交換して第２所定温度で状態変化を発生させるように、装置本体に配設される。
【００４６】
このような第２部分は、少なくとも二つの所定温度で光ファイバの校正を可能にすることにより、どのような測定温度であれ可能な限り最も正確であるセンサの温度測定を行うことを可能にする。
【００４７】
本体は、装置が光ファイバを装備する時に気密シールされ、この気密シールは、通路の入口に配設されるシールを用いて得られることが好ましい。
【００４８】
０から１００℃に及ぶ温度範囲にわたって機能することが予定される光ファイバの校正に装置が適している特定用途によれば、第１および第２所定温度と異なる、状態が変化する少なくとも一つの第３所定温度を有する第３材料から製作された、第３固定点と称される少なくとも一つの部分のための用意も設けられ、装置が光ファイバを装備する時に第３固定点が光ファイバに熱的接続され、熱エネルギー伝達手段は、作動中に、第３所定温度で状態変化を発生させるため熱エネルギー伝達手段が熱エネルギーを第３固定点と交換するように装置本体に配設され、第１材料は９９．７８重量％のガリウムと０．２２重量パーセントのビスマスとで構成され、第２材料は４９重量％のビスマスと２１重量％のインジウムと１８重量パーセントの鉛と１２重量パーセントのスズとで構成され、第３材料は６６．７重量％のインジウムと３３．３重量％のビスマスとで構成される。
【００４９】
本発明は、光ファイバ温度センサの温度を校正する方法に関し、かかる方法は、本発明による装置を起動させ、
本発明による装置を提供するステップと、
光ファイバセンサの光ファイバを装置に装備するステップであって、光ファイバの装備が、光ファイバが装置の通路に配設されるように実現されるステップと、
第１所定温度で第１固定点の状態変化を発生させるように装置の熱エネルギー伝達手段を起動させるステップと、
光ファイバセンサを起動させて、光ファイバ上の箇所での温度変化を検出するステップと、
光ファイバの箇所で測定される温度の安定化まで待機して、この箇所で測定された温度を第１所定温度について校正するステップと、
を備える。
【００５０】
このような方法は、光ファイバセンサを絶対的な方法で温度校正することを可能にし、第１固定点の状態変化温度によって校正温度が提供される。
【００５１】
第１固定点との熱エネルギーの交換を停止または逆転するように熱エネルギー伝達手段の起動を停止または修正するステップであって、この停止または逆転は、状態逆転温度と称される状態の逆変化に対応する温度に第１固定点が達するように実行されるステップと、
第１固定点の状態変化が逆転し始めるように、第１固定点と熱エネルギー伝達手段との間で交換されるエネルギーの一部の散逸まで待機するステップと、
この箇所で測定される温度の安定化まで待機するステップと
第１固定点の状態逆変化の温度から、この箇所で測定される温度の校正を補正するステップと、を備える条件がさらに設けられうる。
【００５２】
このようなステップは光ファイバセンサの校正改良を可能にし、光ファイバセンサの校正は、第１固定点を構成する材料の状態変化の間と同じ材料の状態の逆変化の間の両方で実行される。
【００５３】
本発明はまた、光ファイバセンサの距離校正の方法にも関し、このような方法は本発明による装置を起動させ、
本発明による装置を提供するステップと、
装置の光ファイバセンサに光ファイバを装備するステップであって、光ファイバの装備が、装置の通路に光ファイバが配設されるように実現され、この装置が光ファイバ上の箇所に形成されるステップと、
装置の箇所の距離を光ファイバの基準位置について測定する手段を用意するステップであって、この基準位置が、具体的には本発明による別の装置の位置または光ファイバの端部の位置により提供されるステップと、
第１所定温度で第１固定点の状態変化を発生させるため装置の熱エネルギー伝達手段を起動させるステップと、
光ファイバセンサを起動させて光ファイバ上の箇所で温度変化の位置を検出するステップと、
光ファイバセンサにより測定される位置を距離測定手段から測定される位置と対応させるため光ファイバセンサを距離校正するステップと、
を備える。
【００５４】
このような方法は、光ファイバセンサの距離校正を可能にする。
【図面の簡単な説明】
【００５５】
【図１】光ファイバ温度センサの光ファイバを装備する本発明による校正装置を図示する。
【図２】装置の加熱システムにより印加されて固定点の一つのレベルで測定される温度の変動の例を図示する。
【図３】光ファイバ熱センサの距離校正中に起動される本発明によるいくつかの装置を包含する設備例を図示する。
【図４】装置が横方向導入システムを有する本発明の可能性を概略的に図示する。
【００５６】
異なる図の同一、類似、または同等の部分は、一つの図から次の図への移動を容易にするように同じ参照番号を備えている。
【００５７】
異なる可能性（変形例および実施形態）は相互排除的ではないと理解されるべきであって、一緒に組み合わされうる。
【発明を実施するための形態】
【００５８】
純粋に指示として、またいかなる点でも限定的でなく挙げられた実施形態例の説明を、添付の図を参照しながら読むことで、本発明がより良く理解されるだろう。
図１は、光ファイバ１０以外によっては図示されていない光ファイバセンサの光ファイバ１０を装備する光ファイバセンサの温度を校正するための装置１００を図示する。
【００５９】
温度測定にいかなる方法が採用されるのであっても、装置１００は何らかのタイプの光ファイバセンサを装備しうる。ゆえに光ファイバセンサは、ブラッググレーティングを使用する光ファイバセンサ（ＦＢＧおよびＬＰＧ）ばかりでなく、ラマン、ブルリアン、およびレイリー後方散乱などの後方散乱現象を使用する光ファイバセンサでもある。
【００６０】
図示されていないブラッググレーティングを使用する光ファイバセンサについては、光ファイバ１０に配設されるブラッググレーティングの一つのレベルに装置が載置される。
【００６１】
このような装置１００は
空洞１２７と、
三つのチャンバー１５１ａ，ｂ，ｃを画定する熱伝導材料製のブロック１５０であって、光ファイバセンサの光ファイバ１０のための通路１０９を画定する管１５２を包含するブロック１５０と、
第１、第２、および第３ブロック１６０ａ，ｂ，ｃであって、固定点の各々が伝導材料１５０のブロックのチャンバー１５１ａ，ｂ，ｃの一つに配設され、固定点１６０ａ，ｂ，ｃの各々が、二つの他の固定点１６０ａ，ｂ，ｃのものと異なる、状態が変化する際の所定温度を有する材料で作成される、第１、第２、および第３ブロックと、
伝導材料で製作されたブロック１５０の周囲に配設される抵抗加熱素子二重システム１４０と、
不図示の外部制御システムに装置を接続するのに適した接続システム１０５と、
を包含する装置本体１０１の形で見られる。
【００６２】
伝導材料のブロック１５０と三つの固定点１６０ａ，ｂ，ｃの各々が、装置本体１０１の一部分を形成する。
【００６３】
装置本体１０１はまた、円筒体の二つの上ぞり底面を備える略回転円筒体形状を有する外側ケーシング１１０を包含する。ゆえに、装置本体１０１は回転軸における軸方向対称を有する。このような形状により、装置本体１０１は凸角を有さず、こうして装置１００が装置本体１０１を膨張させる装置１００の起動の間に光ファイバ１０の環境に対して装置１００により印加されうる応力を制限する。
【００６４】
ケーシング１１０は、これらの底面の各々に光ファイバ１０のための入口１１１ａ，ｂを有し、この入口１１１ａ，ｂは、底面の各々と回転軸１０６との間の交点のレベルで切り抜かれている。
【００６５】
ケーシング１１０を破損させずに装置本体１０１の熱膨張を可能にするため、ケーシング１１０は、図１に図示されているように、伸縮継手１１３により一緒に結合される円筒形部分などのケーシング１１２のいくつかの部分で構成される。この可能性によれば、ケーシング１１２の各部分はステンレス鋼などの金属材料で製作される。
【００６６】
伸縮継手１１３は、エラストマ、シリコーン、天然か合成のゴム、または金属などの弾性変形材料で作成されるストリップでありうる。
【００６７】
伸縮が含まれたままである別の可能性によれば、ケーシング１１０は伸縮継手が存在しない単純な金属ケーシングでありうる。前出の可能性と同一の方法で、金属材料は、この可能性により、例えばステンレス鋼でありうる。
【００６８】
ケーシング１１０は、接続システム１０５を載置するための側壁の第１接続オリフィス１１４を包含する。
【００６９】
本体はまた、光ファイバ１０の環境で存在しうる圧力に耐えることができるように装置本体１０１を強化することを可能にするケーシングの補強材１２１，１２２ａ，ｂを包含する。優れた強化を得るため、補強材１２１，１２２ａ，ｂは補強材に収容されるケーシング１１０との接触状態にある。
【００７０】
補強材１２１，１２２ａ，ｂは、図１に図示されているように、数は３個で、空洞１２７を画定する中央補強材１２１と、二つの側方補強材１２２ａ，ｂでありうる。
【００７１】
中央補強材１２１は略円筒形状を有し、空洞１２７を形成するくり抜き円筒形を有する。円筒体の端部の各々において、対応の底面のレベルでは、円筒体の側壁は側方補強材１２２ａ，ｂの取り付けのためのねじ切りを有する。
【００７２】
中央補強材１２１は、ケーシング１１０の第１接続オリフィス１１４に対応する同一の第２接続オリフィス１２３を包含する。ゆえに、接続システム１０５は、空洞１２７との連通状態にある第１および第２接続オリフィス１１４，１２３により形成される中空部に収容される本体に一体化される。
【００７３】
第１および第２接続オリフィス１１４，１２３により形成される中空部が密閉されて漏出が防止されるように、接続システム１０５は装置本体１００に配設される。
【００７４】
中央補強材１２１の底面の各々は、対応の底面と回転軸１０６との間の交点のレベルに光ファイバ１０のための入口を有する。
【００７５】
側方補強材１２２ａ，ｂの各々は中空の平坦円筒形状を有し、その底面は、側方補強材１２２ａ，ｂと関連するケーシング１１０の底面と同一の方法で上ぞりにされ、ケーシングの他の底面は開口している。側方補強材１２２ａ，ｂの各々の内壁は、中央補強材１２１のものと相補形のねじ切りを有する。こうして、側方補強材１２２ａ，ｂの各々は中央補強材１２１にねじ結合される。
【００７６】
装置本体１０１は、光ファイバ１０が装置１００に装備された時に装置本体１０１の漏出を防止する二つのシール１０８ａ，ｂも包含し、各シール１０８ａ，ｂは中央補強材１２１の入口と、中央補強材１２１の入口に対応する底面のレベルでねじ結合される側方補強材１２２ａ，ｂの入口とに対応する。シール１０８ａ，ｂの各々は、シール１０８ａ，ｂに対応する入口を包含する中央補強材１２１の底面と、対応の側方補強材１２２ａ，ｂとの間で、装置本体１０１に圧入される。このようにして、装置１００が光ファイバ１０を装備した時には、図１に図示されているように空洞１２７の漏出が防止される。
【００７７】
抵抗加熱素子二重システム１４０の起動の間に熱損失を制限するため、空洞１２７は、図１に図示されているように、反射スクリーン１２５，１２６ａ，ｂを包含しうる。このような反射スクリーン１２５，１２６ａ，ｂは、伝導材料のブロック１５０の方向にはない抵抗加熱素子二重システム１４０により放射される熱エネルギーの一部を反射して空洞１２７の方向に戻すことを可能にする。
【００７８】
反射スクリーン１２５，１２６ａ，ｂの数は３個であり、中央スクリーン１２５は空洞１２７の内壁の側面に沿っており、二つの側方スクリーン１２６ａ，ｂの各々は空洞１２７の二つの底面の一つの表面に沿っている。二つの側面スクリーン１２６ａ，ｂの各々は管１５２が通過するためのオリフィスを有し、このオリフィスは側方スクリーン１２６ａ，ｂと回転軸１０６との交点のレベルに配置されている。
【００７９】
中央スクリーン１２５は、接続システム１１４と抵抗加熱素子二重システム１４０との間のコネクタ１０５ａのための第３接続オリフィスを包含する。
【００８０】
反射スクリーン１２５，１２６ａ，ｂのセットは、抵抗加熱素子二重システム１４０と伝導材料ブロック１５０との間の熱エネルギーの交換の間に熱損失を制限するように配設される熱閉じ込め手段を形成する。
【００８１】
抵抗加熱素子二重システム１４０は、二つの抵抗加熱素子１４１と、抵抗加熱素子１４１の出力を調整する機構１４２とで構成されるセットである。調整機構１４２は、抵抗加熱素子１４１と３個の固定点１６０ａ，ｂ，ｃとの間で交換される熱エネルギーを調整する手段を形成する。
【００８２】
抵抗加熱素子二重システム１４０は、抵抗加熱素子二重システム１４０が起動される時に、抵抗加熱素子二重システムが伝導材料製ブロック１５０を通して固定点１６０ａ，ｂ，ｃの各々と熱エネルギーを交換するように、伝導材料ブロック１５０の周囲に配設される。
【００８３】
このようにして、抵抗加熱素子二重システム１４０は、熱エネルギーを伝達するための熱エネルギー伝達手段を形成する。
【００８４】
伝導材料製ブロック１５０は、回転軸１０６に沿った管１５２の形である、光ファイバ１０のための通路１０９の切抜きによる略回転円筒体形状を有する。
【００８５】
管１５２は、実質的に管形の形状を有する。管１５２と光ファイバ１０との間の熱交換を最適にするため、管１５２は光ファイバ１０外径と実質的に等しい内径を有する。
【００８６】
管１５２は、中央補強材１２１の通過のためのオリフィスまでいずれの側でも伝導材料ブロック１５０の残部に延在する。
【００８７】
管１５２は、光ファイバ１０と熱的接触状態にある。管１５２の長さは光ファイバ１０の一部を被覆して、光ファイバ１０のこの一部を固定点１６０ａ，ｂ，ｃと熱的接続する。良品質の校正を行うため、管１５２の長さは、管１５２により被覆される光ファイバ１０の一部の長さが光ファイバセンサの空間分解能より大きくなるように規定されることが好ましい。こうして、この原理によれば、レイリー後方散乱の現象を使用する光ファイバセンサについては、管の長さは３ｍｍを上回るように選択されなければならないのに対して、ラマン後方散乱の現象を用いるセンサについては、この同じ長さが１ｍを上回るように選択されなければならない。
【００８８】
管１５２は、伝導材料ブロック１５０の残部と同じ材料で作成されることが好ましいが、本発明の範囲を逸脱することなく異なる材料から製作されてもよい。
【００８９】
同様に、図１では、管１５２と伝導材料製ブロック１５０の残部とは二つの別々の要素であるが、伝導材料製ブロック１５０は本発明の範囲を逸脱することなく一つの部材であってもよい。
【００９０】
三つのチャンバー１５１ａ，ｂ，ｃは、管１５２の近傍で伝導ブロック１５０に沿って広がり、チャンバー１５１ａ，ｂ，ｃの各々は第１、第２、および第３固定点１６０ａ，ｂ，ｃの一つを含む。
【００９１】
固定点１６０ａ，ｂ，ｃの各々を構成する材料は、光ファイバセンサの動作温度と相関させて選択される。ゆえに、以下の表は、固定点で使用されうる既存の標準的な材料とその対応の状態変化温度とを示す。
【００９２】
【表１】
2014528065.tif 000003
【００９３】
０から１００℃に及ぶ温度範囲にわたって機能することが意図される光ファイバセンサを装備するのに装置が適した特定の用途によれば、状態変化温度がこの範囲に包含されるような材料を使用する必要がある。表１では、ガリウムのみがこの基準を満たしている。
【００９４】
ゆえに、この特定用途によるこのような装置１００は、いくつかの固定点１６０ａ，ｂ，ｃが装備される時に、いくつかの元素による合金で製作されるこれらの固定点１６０ａ，ｂ，ｃのいくつかを必然的に包含する。例えば、三つの固定点１６０ａ，ｂ，ｃを包含するこのような装置１００は、以下の固定点を包含しうる。
９９．７８重量％のガリウムと０．２２重量％のビスマスとで構成される材料を包含して、その第１所定状態変化温度Ｔｐｄ１が２９．７℃である第１固定点１６０ａと、
４９重量％のビスマスと２１重量％のインジウムと１８重量％の鉛と１２重量％のスズとで構成される材料を包含して、その第２所定状態変化温度Ｔｐｄ２が５８℃である第２固定点１６０ｂと、
６６．７重量％のインジウムと３３．３重量％のビスマスとを包含して、その第３所定状態変化温度が７２．７℃である第３固定点１６０ｃ。
【００９５】
異なる温度範囲にわたって機能することが意図される光ファイバ１０の校正に適した装置１００が、表１に挙げられたものと上に引用されたものに限定されない温度範囲に適した固定点を包含することは自明である。
【００９６】
チャンバー１５１ａ，ｂ，ｃの各々はさらに、対応の固定点１６０ａ，ｂ，ｃの温度を測定するのに適した温度プローブ１６１ａ，ｂ，ｃを含む。各温度プローブ１６１ａ，ｂ，ｃは、温度の絶対測定を実施する温度プローブであることが好ましい。
【００９７】
各温度プローブ１６１ａ，ｂ，ｃは、例えば白金プローブ、熱電対、発振コードタイプの温度センサ、または当業者に周知の他の測定システムであるとよく、固定点１６０ａ，ｂ，ｃおよび／または伝導材料ブロック１５０の温度を測定するのに適している。
【００９８】
各温度プローブ１６１ａ，ｂ，ｃは、固定点１６０ａ，ｂ，ｃの温度を測定するように配設された温度測定手段を形成する。
【００９９】
各温度プローブ１６１ａ，ｂ，ｃと各抵抗加熱素子１４１と調整機構１４２とは、コネクタ１０５ａを用いて接続システムに接続される。
【０１００】
このような装置１００は、こうして光ファイバ１０を装備して光ファイバセンサの校正を可能にする。
【０１０１】
本実施形態による装置１００では、光ファイバ１０への装置１００の設置は、光ファイバ１０の設置の間に実行されることが好ましい。事実、装置１００を設置するため、光ファイバ１０は通路１０９を通されなければならず、これは、少なくとも光ファイバ１０の端部から装置１００の光ファイバ１０上の箇所まで延在する光ファイバ１０の長さへのアクセスを必要とする。
【０１０２】
にもかかわらず、すでに定位置にある光ファイバ１０に装置１００を設置することも可能である。このような設置は、装備されなければならない光ファイバ１０のゾーンへの独自のアクセスによって達成されうる。
【０１０３】
このような装置は、最低の所定温度に相当する第１固定点１６０ａの使用のみについては、
抵抗加熱素子二重システム１４０を起動させるステップであって、第１所定温度で第１固定点１６０ａの状態変化を発生させるのに充分な温度を印加するため調整機構１４２が指令を受けるステップと、
光ファイバセンサを起動させて光ファイバ１０上の箇所での温度変化を検出するステップであって、この箇所が装置１００の箇所に対応していなければならないステップと、
光ファイバ１０の箇所で測定される温度の安定化まで待機して、この箇所で測定される温度を記録するステップと、
光ファイバ１０の箇所で測定される温度が再び上昇し始めることにより、第１固定点１６０ａの状態変化が完全に実現されたことを示すまで待機するステップと、
調整機構１４２を用いて、抵抗加熱素子二重システム１４０により印加される出力を低下させるステップと、
光ファイバ１０の箇所で測定される温度の低下まで待機するとともに、これに続く安定化まで待機し、この安定化が第１固定点１６０ａの状態逆変化に対応し、対応の温度を記録するステップと、
状態変化および状態逆変化の間に測定される温度を使用して、光ファイバセンサから得られる温度測定値を校正するステップと、
を備える方法から、光ファイバセンサの校正中に起動されうる。
【０１０４】
この方法の実施中に、かなりの時間にわたって所定の温度を光ファイバ１０に印加することで、光ファイバ１０の熱的安定化に達しないという危険性を制限するため、調整機構１４２は第１所定温度を若干上回る温度を印加するのに適している。
【０１０５】
同様に、印加される出力の低下中に、調整機構１４２は、第１固定点１６０ａの状態逆変化温度を若干下回る温度を印加するのに適している。
【０１０６】
基準温度を若干上回るか下回る温度は、その温度が０．１℃程度、好ましくは０．１℃を下回る基準温度勾配を持つことを意味するものと解釈される。
【０１０７】
単一の固定点１６０ａを含む方法は、単一の温度シフトを補正することを可能にする。いくつかの固定点を使用する類似の方法により校正を実行することで、良好な校正が得られる。
【０１０８】
ゆえに、３個の固定点１６０ａ，ｂ，ｃを包含する装置１００については、図２に図示されているように、第１所定温度Ｔｐｄ１、次に第２所定温度Ｔｐｄ２、最後に第３所定温度を若干上回る温度を、調整機構１４２の調整により連続的に印加することによって、装置１００が起動される。
【０１０９】
このようにして、光ファイバの箇所での安定化温度は、第１固定点１６０ａの状態変化温度へ、第２固定点１６０ｂの状態変化温度へ、そして第３固定点１６０ｃの状態変化温度へ連続的に移行する。
【０１１０】
第１固定点１６０ａを独自に起動させるのと同じ方法で、装置１０１の冷却中に、第３固定点１６０ｃ、第２固定点１６０ｂ、および第１固定点１６０ａの逆状態変化の温度を若干下回る温度を抵抗加熱素子二重システム１４０が連続的に印加するように、調整機構１４２に指令を与えることが可能である。
【０１１１】
このようにして、光ファイバ１０の箇所での安定化温度は、第３固定点１６０ｃの第３状態逆変化温度へ、第２固定点１６０ｂの第２状態逆変化温度Ｔｉｎ２へ、そして第１固定点１６０ａの第１状態逆変化温度へ連続的に移行する。
【０１１２】
これらの温度差は、光ファイバセンサの起動によって測定され、測定された温度を異なる固定点１６０ａ，ｂ，ｃの状態変化温度と比較することにより光ファイバセンサを校正することが可能である。
【０１１３】
図２は、二つの固定点１６０ａ，ｂの作動による校正方法の起動の間に得られる、時間ｔに対する温度Ｔの測定値の例を図示し、点線は調整機構１４２の設定温度に対応し、実線は装置１００の箇所で光ファイバセンサにより測定される温度に対応する。
【０１１４】
こうして抵抗加熱素子１４０の二重システムが作動されないａ）と記された第１ステップでは、光ファイバセンサは装置１００の箇所での温度の変動を測定することが、図２から分かる。
【０１１５】
ステップｂ）では、抵抗加熱素子二重システム１４０が第１所定温度Ｔｐｄ１を下回る温度Ｔ２を伝導材料ブロック１５０に印加するようにプログラムされた調整機構によって、装置１０１が起動される。伝導材料ブロック１４０は次にＴ２の温度となり、これは光ファイバ温度センサにより測定される温度により確認される。
【０１１６】
ステップｃ）では、抵抗加熱素子二重システム１４０が、第１所定温度Ｔｐｄ１を上回るとともに第２所定温度Ｔｐｄ２を下回る温度Ｔ３を伝導材料ブロック１５０に印加するように、調整機構１４２がプログラムされる。こうして、抵抗加熱素子二重システム１４０は、第１所定温度Ｔｐｄ１で状態変化を発生させるのに充分な熱エネルギーを第１固定点１６０ａに伝達する。状態変化の間、図２に図示されているように、第１固定点１６０ａの状態変化により散逸されるエネルギーは、伝導材料で製作されたブロック１５０を第１所定温度Ｔｐｄ１に維持する。状態変化現象全体を通した温度の安定化に対応するこの第１温度が、光ファイバセンサにより測定される。第１固定点１６０ａの状態変化が完了すると、伝導材料で製作されたブロック１５０は温度Ｔ３を持つ。
【０１１７】
ステップｄ）では、抵抗加熱素子二重システム１４０が第２所定温度Ｔｐｄ２を上回る温度を伝導材料のブロック１５０に印加するように、調整機構がプログラムされる。その結果、第１固定点１６０ａに関するステップｃ）と同様に、光ファイバセンサにより測定される温度の安定化に対応する第２固定点１６０ｂの状態変化が検出され、次に対応の温度が光ファイバセンサにより測定される。
【０１１８】
第２固定点１６０ｂの状態変化が完了すると、調整機構は、ステップｅ）の間に、抵抗加熱素子二重システム１４０が伝導材料のブロック１５０に温度Ｔ３を再印加するようにプログラムされ、この温度も、第２固定点１６０ｂの状態逆変化温度Ｔｉｎ２を下回っている。続いて生じる伝導材料のブロック１５０の温度の低下は、初期状態を回復する第２固定点１６０ｂの状態逆変化を発生させる。状態逆変化の間、第２固定点１６０ｂの状態変化により提供されるエネルギーは、伝導材料製のブロック１５０を第２固定点１６０ｂの第２状態逆変化温度Ｔｉｎ２に維持し、この第２温度Ｔｉｎ２は、図２に図示されているように、第２所定温度Ｔｐｄ２の温度を下回っている。
【０１１９】
温度Ｔ２での調整機構のプログラミングにより、この同じ手順がステップｆ）でも採用される。このステップの間、第１固定点１６０ａは状態逆変化への移行中に初期状態を回復する。この第１固定点１６０ａの状態逆変化の間に、伝導ブロック１５０、ゆえに光ファイバは、第１固定点１６０ａの第１状態逆変化温度Ｔｉｎ１を持つ。
【０１２０】
第１固定点１６０ａの状態逆変化が完了すると、抵抗加熱素子二重システム１４０の起動が停止される。状態変化と状態逆変化の各々で光ファイバセンサにより測定される温度は、光ファイバセンサを校正するのに採用されうる。事実、状態変化温度Ｔｐｄ１，Ｔｐｄ２と状態逆変化温度Ｔｉｎ１，Ｔｉｎ２とは、固定点１６０ａ，ｂ，ｃの各々を構成する材料の選択により装置の製造中に規定され、ゆえに装置１００の周知かつ不変の特性である。
【０１２１】
装置１００は、光ファイバセンサの距離校正方法を通しても起動されうる。このような起動は概して、光ファイバ上で二つの装置１００，１００′（図３参照）の間の距離を校正するために実行され、光ファイバの箇所を修正せずに構造物の表面でアクセス可能である二つの装置１００，１００′の間の距離を測定する手段を用意することを必要とする。このような距離測定手段３００，３００′は、例えば、装置１００，１００′の各々については、対応の装置１００，１００′のケーシング１１０と一体的な柱体３０１，３０１′でありうる。各柱体３０１，３０１′は、構造物を監視する光ファイバセンサの光ファイバ１０を対応の装置が装備する時に構造物の表面から突出する。この例によれば、各柱体３０１，３０１′は回転速度計との適合性を持つ反射プリズム３０２，３０２′を突出端部に包含しうる。
【０１２２】
こうして、距離３００，３００′を測定する手段も包含する場合には、各装置１００，１００′の相互に対する、および／または光ファイバの端部の一方に対する移動を表面上で監視することが可能である。
【０１２３】
このような方法は、図３に図示されているように、光ファイバ１０上に設置された二つの装置１００，１００′の間の距離を校正するのに使用された時に、
第１および第２装置１００，１００′の固定点１６０ａ，ｂ，ｃの各々について状態変化を発生させるように、第１および第２装置１００，１００′の調整機構１４２を同時に起動させるステップと、
光ファイバ温度センサを起動して、第１および第２装置１００，１００′に対応する光ファイバ１０上の箇所での温度変化の位置を検出するステップと、
光ファイバセンサにより測定される二つの装置１００，１００′の間の距離を距離３００，３００′を測定する手段から測定される距離と対応させるように、光ファイバセンサを距離校正するステップと、を備える。
【０１２４】
第１装置１００を第２装置１００′から正しく区別するため、他の装置１００，１００′により起動されるものと異なる固定点１６０ａ，ｂ，ｃに対応する温度で装置１００，１００′の各々の調整機構を起動させることが可能である。
【０１２５】
温度校正方法と距離校正方法とを相互に同時に実行することも可能である。この可能性によれば、二つの装置１００，１００′は温度校正のために同時に起動され、こうして二つの温度変動箇所の検出は距離校正を可能にし、固定点１６０ａ，ｂ，ｃの状態変化の各々に対応する温度値が温度校正を可能にする。
【０１２６】
上述した実施形態によれば、装置１００は通路１０９に光ファイバ１０を通す際に光ファイバに設置されなければならない。ゆえにこれは、装置１００が設置され、ゆえに構造物への設置中に光ファイバを装備するのに特に適していなければならない箇所への端部の一方のファイバのアクセスを必要とする。
【０１２７】
光ファイバ１０に用意された箇所の近傍で光ファイバ１０を切断することで、その一方がこの箇所を包含する光ファイバ１０の二つの部分を画定することにより二つの端部の一方へのアクセスを設けずに装置１００に光ファイバ１０を装備することも可能である。この箇所を包含する光ファイバ１０の部分は次に、通路１０９へ導入されうる。装置１００が定位置にあると、光ファイバ１０が一体性を回復するように二つの部分が一緒に溶着される。
【０１２８】
図４に概略図示された本発明の変形例によれば、通路１０９は装置の着脱可能な設置を可能にするのに適している。
【０１２９】
この変形例によれば、伝導材料のブロック１５０に切り抜かれる通路１０９は、全長にわたって、長手方向軸とも称される回転軸１０６に沿って切り抜かれ、光ファイバ１０の第１長手方向導入スロットは、通路１０９をケーシング１１０との連通状態に置くように設けられている。ケーシング１１０は補強材１２１，１２２ａ，ｂの周囲で回転移動可能であり、また回転軸に沿って移動可能である。ケーシング１１０自体は第２導入スロットを有し、第１導入スロットを第２導入スロットとの連通状態に置くことが可能である。
【０１３０】
こうして、本変形例による装置１００は、第１および第２導入スロットを通した光ファイバ１０の設置を可能にする。ケーシング１１０の回転は、この可能性によれば、通路１０９内に光ファイバ１０を維持しながら導入経路を閉じることを可能にする。光ファイバ１０の取り外しは、逆の動作によって達成されうる。
【０１３１】
補強材１２１，１２２ａ，ｂへのケーシング１１０の回転取り付けを含む第１および第２導入スロットは、通路１０９への光ファイバ１０の横方向導入を可能にするのに適した横方向導入システムを形成する。
【０１３２】
上述した実施形態では、伝導材料のブロック１５０を通過する管１５２を用いて装置１００の通路１０９が形成される場合には、この通路は、発明の範囲を逸脱することなく伝導材料のブロック１５０の周囲に巻かれた通路１０９など別の形状を取りうることにも注意すべきである。
【０１３３】
同様に、図示されていない本発明の別の可能性によれば、熱エネルギーを伝達するための熱エネルギー伝達手段は、ペルチェモジュール、冷却システム、または導電材料のブロック１５０に一体化された一連の熱抵抗など、伝導ブロック１５０の周囲に配設される熱抵抗システム１４１以外のエネルギー伝達システムによって提供されうる。
【０１３４】
最後に、図示されていない本発明の一つの可能性によれば、装置１００は、発明の範囲を逸脱することなく、伝導材料のブロック１５０のチャンバー１５１ａ，ｂ，ｃの各々に配設される温度プローブ１６１ａ，ｂ，ｃの代わりに、伝導材料のブロック１５０の温度を測定するため導電材料のブロック１５０に配設される単一の温度プローブを包含しうる。  
【符号の説明】
【０１３５】
１０  光ファイバ
１００，１００′  装置
１０１  装置本体
１０５  接続システム
１０５ａ  コネクタ
１０６  回転軸
１０８ａ，ｂ  シール
１０９  通路
１１０  外側ケーシング
１１１ａ，ｂ  入口
１１２  ケーシング
１１３  伸縮継手
１１４  第１接続オリフィス
１２１  中央補強材
１２２ａ，ｂ  側方補強材
１２３  第２接続オリフィス
１２５  中央スクリーン
１２６ａ，ｂ  側方スクリーン
１２７  空洞
１４０  抵抗加熱素子二重システム
１４１  抵抗加熱素子
１４２  調整機構
１５０  伝導材料ブロック
１５１ａ，ｂ，ｃ  チャンバー
１５２  管体
１６０ａ  第１ブロック、第１固定点
１６０ｂ  第２ブロック、第２固定点
１６０ｃ  第３ブロック、第３固定点
１６１ａ，ｂ，ｃ  温度プローブ
３００，３００′  距離
３０１，３０１′  柱体
３０２，３０２′  反射プリズム
【図１】
2014528065.tif 000004
【図２】
2014528065.tif 000005
【図３】
2014528065.tif 000006
【図４】
2014528065.tif 000007
【国際調査報告】
2014528065.tif 000008
2014528065.tif 000009
2014528065.tif 000010
2014528065.tif 000011