(57)【要約】  観察角度の変化に伴って色ずれを呈する光学的可変実体の認証のための装置が開示され、装置は光屈折材料のプレートを備え、プレートは、２つの表面と、表面のうちの少なくとも一方における光屈折用の突出部または凹部の配列とを有するとともに、光学的可変実体の少なくとも一部に対する直接的な観察とプレートを通した観察とを互いに別個にもたらすように装置に配置され、プレートを通した観察は、突出部または凹部での光屈折によってもたらされる角度的に偏位された観察である。また、光学的可変実体を認証するための方法、および、２つの平行な表面と、光学的可変実体を認証するための表面のうちの少なくとも一方における光屈折用のプラスまたはマイナスの突出部または凹部の配列とを有するプレートの使用が更に開示される。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板（Ｓ）上の光学的可変実体（Ｏ）の機械認証のための装置であって、該装置が、
マイクロプリズムの配列を表面上に有する光屈折材料のプレート（Ｐ）と、
前記光学的可変実体（Ｏ）を直接的におよび／または前記プレート（Ｐ）を通して照明できる少なくとも１つの光源（Ｌ）と、
前記光学的可変実体（Ｏ）から直接的におよび／または前記プレート（Ｐ）を通して反射される光を受けることができる少なくとも１つの光検出器（Ｄ）と、
を備える装置。
【請求項２】
第１の光源（Ｌ）が、略直交する入射で前記プレート（Ｐ）を通して前記光学的可変実体（Ｏ）を照明するように配置され、当該装置が、略直交する入射で直接に前記光学的可変実体（Ｏ）を照明するように配置される第２の光源（Ｌ’）を更に備える、請求項１に記載の装置。
【請求項３】
第１の光検出器（Ｄ）が、前記光学的可変実体（Ｏ）から前記プレート（Ｐ）を通して略直交する入射で光を受けるように配置され、当該装置が、前記光学的可変実体（Ｏ）から直接に略直交する入射で光を受けるように配置される第２の光検出器（Ｄ’）を更に備える、請求項１または２に記載の装置。
【請求項４】
前記光源（Ｌ，Ｌ’）のうちの少なくとも１つが、白熱光源または白色ＬＥＤなどの広帯域放射体である、請求項１〜３のいずれか一項に記載の装置。
【請求項５】
前記光検出器（Ｄ，Ｄ’）のうちの少なくとも１つが、赤−緑−青カラーセンサである、請求項１〜４のいずれか一項に記載の装置。
【請求項６】
前記光検出器（Ｄ，Ｄ’）のうちの少なくとも１つが、２００ｎｍ〜２５００ｎｍの波長領域内の複数の波長／強度値を供給する広域スペクトルセンサである、請求項１〜４のいずれか一項に記載の装置。
【請求項７】
前記光検出器（Ｄ，Ｄ）のうちの少なくとも１つが広帯域光強度検出器であり、前記光源（Ｌ，Ｌ’）のうちの少なくとも１つがスペクトル的に可変の光源である、請求項１〜３のいずれか一項に記載の装置。
【請求項８】
前記スペクトル的に可変の光源が、順次にＯＮおよびＯＦＦに切り換えることができる赤、緑、および、青のＬＥＤを備え、前記広帯域光強度検出器が広帯域シリコンフォトセルである、請求項７に記載の装置。
【請求項９】
前記スペクトル的に可変の光源が、２００ｎｍ〜２５００ｎｍの波長領域内の赤、緑、および、青に対応する波長以外の波長を放射するＬＥＤを備える、請求項７に記載の装置。
【請求項１０】
光屈折材料の前記プレート（Ｐ）が、１次元構造の形態を成す若しくは２次元性状の形態を成す光屈折用のプラスまたはマイナスのエンボス加工部を支持する、請求項１〜９のいずれか一項に記載の装置。
【請求項１１】
観察角度の変化に伴って色ずれを呈する光学的可変実体を認証するための方法であって、当該方法が、光屈折材料のプレートを前記光学的可変実体上に配置するステップを備え、前記プレートが、前記光学的可変実体の少なくとも一部に対する直接的な観察と前記プレートを通した観察とを互いに別個にもたらすように、２つの表面および前記表面のうちの少なくとも一方における光屈折用の突出部または凹部の配列を有し、前記プレートを通した前記観察が、前記突出部または凹部での光屈折によってもたらされる角度的に偏位された観察である、方法。
【請求項１２】
前記プレートが、前記光学的可変実体に対して傾斜角を成して配置される、請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】
直接的な観察および角度的に偏位された観察における前記光学的可変実体の色が、光源（Ｌ）と、光検出器（Ｄ）と、メモリおよびプログラムを用いて認証作業を実行できるプロセッサ（μＰ）とを備える自動化装置によって評価される、請求項１１または１２に記載の方法。
【請求項１４】
前記光学的可変実体が、電気コンベアを用いて前記自動化装置により引き込まれる、請求項１３に記載の方法。
【請求項１５】
光学的可変実体を認証するための光屈折材料のプレートの使用であって、前記プレートが、前記光学的可変実体の少なくとも一部に対する直接的な観察と前記プレートを通した観察とを互いに別個にもたらすように、２つの表面および前記表面のうちの少なくとも一方における光屈折用の突出部または凹部の配列を有し、前記プレートを通した前記観察は、前記突出部または凹部での光屈折によってもたらされる角度的に偏位された観察である、プレートの使用。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、セキュリティー文書認証の分野に関する。特に、本発明は、観察角度（viewing  angle）を変化させる場合に色ずれを呈する光学的可変実体を認証するための簡単な装置および方法を対象とする。
【背景技術】
【０００２】
２つの異なる観察角度で光学的可変実体の異なる色を同時に確かめるための簡単な観察装置および方法が米国特許第５，５９６，４０２号明細書（Ｍａｒｋａｎｔｅｓ等）に開示されている。装置は、本質的にミラーを使用して、第１の観察角度での光学的可変実体の直接的な観察と、第２の観察角度でのミラーを介した同じ実体の間接的な観察とを同時に可能にする。光学的可変実体の認証は、知覚される２つの色と２つの基準色とを比較することによって行われる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
従来技術のこの装置は、２つの異なる視点での光学的可変実体の色の比較を必要とするという欠点を有する。すなわち、比較されるべき２つの画像は、１つの方向に沿って同じサイズを有さない。
【０００４】
この装置の更なる欠点は、前述した直接的および間接的な観察に関連する光路のために受け入れるべきそのかなり大きい体積要件である。
【０００５】
従来技術のこの装置の他の欠点は、装置が人の使用に制限され、容易な機械認証に役立たないという点である。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
従来技術に関連する前述の問題は、それぞれが光学的可変実体を認証するための、対応する添付の独立請求項に係る装置、対応する方法、および、装置の使用を提供する本発明によって克服される。
【０００７】
特に、観察角度の変化に伴って色ずれを呈する光学的可変実体の認証のための装置は光屈折材料のプレートを備え、プレートは、２つの表面と、表面のうちの少なくとも一方における光屈折用の突出部または凹部の配列とを有するとともに、光学的可変実体の少なくとも一部に対する直接的な観察（view）とプレートを通した観察とを互いに別個にもたらすように装置に配置され、プレートを通した観察は、突出部または凹部での光屈折によってもたらされる角度的に偏位された観察である。
【０００８】
したがって、光学的可変実体を認証するために、少なくとも２つの異なる観察角度に関して、好ましくは、実体の表面に対して略直交する第１の観察角度と表面に対して傾いた角度である第２の観察角度とに関して、光学的可変実体の色が評価されなければならない。光学的可変実体を両方の観察角度で同時に見るために、光学可変実体からの光の一部は、傾斜角から直交角に偏向されなければならない。従来技術では、偏向がプリズムまたはミラーによって引き起こされる可能性があり、そのため、対応する長さの光路を必要とする。本発明では、傾斜角から直交角への偏向をもたらすために、光屈折材料のプレートにおける突出部または凹部の平坦な配列が使用される。
【０００９】
実用的理由のため、プレートは、２つの巨視的に平行な表面を有する平坦プレートであることが好ましい。プレートの表面における光屈折用の突出部および凹部はそれぞれ、直交入射光の直交方向から離れる偏向を得るのに役立つ。そのような突出部または凹部の例は、マイクロプリズムの１次元または２次元の配列、または、１次元または２次元のレンズ配列である。マイクロプリズムがそれらの面で直交入射光を直交以外の定められた別個の方向へ屈折させる一方で、レンズは、直交入射光を直交以外の連続方向へ屈折させる。両方の実施形態は、本発明との関連で光学的可変実体に対する特定の“角度的な観察”またはある種の平均化された“角度的な観察”を得るために有用である。
【００１０】
本発明の更なる実施形態および利点は、従属請求項によって与えられる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】屈折のスネルの法則を例示する。
【図２】本発明の作用原理を概略的に描く。
【図３】光学的可変実体の視覚的な認証のための本発明に係る認証装置を概略的に示す。
【図４】光学的可変実体を機械によって認証するための本発明に係る認証装置を概略的に示す。
【図５ａ】本発明の実施形態に係る１次元的にエンボス加工されたプレートを示し、対称な“屋根構造”を示している。
【図５ｂ】本発明の実施形態に係る１次元的にエンボス加工されたプレートを示し、非対称な“屋根構造”を示す。
【図６ａ】本発明の実施形態に係る２次元的にエンボス加工されたプレートを示し、正方形プリズムの配列を示している。
【図６ｂ】本発明の実施形態に係る２次元的にエンボス加工されたプレートを示し、三角形プリズムの配列を示す。
【図７ａ】本発明の実施形態に係るレンズ配列プレートを示し、１次元的なレンズ配列を示している。
【図７ｂ】本発明の実施形態に係るレンズ配列プレートを示し、２次元的なレンズ配列を示す
【図８】角度的な偏位を増大させるための２つの積層配列プレートの使用を概略的に描く。
【図９】光学的可変実体の視覚的な認証のための本発明に係る別の認証装置を概略的に示す。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
本発明は光屈折の原理に基づく。図１を参照すると、第１の屈折率ｎ１を有する第１の媒体と第２の屈折率ｎ２を有する第２の媒体との間の境界面を横切る光ビームは、屈折のスネルの法則、すなわち、ｎ１×ｓｉｎ（α１）＝ｎ２×ｓｉｎ（α２）にしたがってその伝搬方向を変える。ここで、第１の媒体中および第２の媒体中の光ビームの角度α１，α２はそれぞれ、境界面と直交する方向に対して測定される。
【００１３】
図２は、直交観察位置から基板Ｓ上に配置される光学的可変実体Ｏに対する角度的な観察を得るために屈折のスネルの法則が本発明の典型的な実施形態においてどのように利用されるのかを示す。プリズムプレートＰは、光学的可変実体Ｏの表面に対して９０°の直交角度を成してＰに入射する光線１を９０°よりも小さい入射角θで光学的可変実体Ｏへ向かって落ちるように屈折させる。同様に、光学的可変実体Ｏの表面に対して９０°よりも小さい角度θで光学的可変実体Ｏから反射される光線２は、プリズムプレートＰによって光学的可変実体の表面と直交する方向へ再び方向付けられる。
【００１４】
図３は、２つの部分Ｏ１，Ｏ２を有するとともに板Ｓ上に配置される光学的可変実体Ｏの、肉眼による視覚的な認証のための、本発明に係る認証装置の第１の主な実施形態を示す。認証装置はプレートＰを備え、該プレートＰは、その表面にマイクロプリズムの配列を有するとともに、光学的可変実体Ｏに対する相対的な移動を可能にするように光学的可変実体Ｏの上方に近接して配置される。略直交する視点で光学的可変実体を見る観察者、すなわち、認証人は、このときに、プレートＰが存在しない直交視点で見られる、すなわち、光学的可変実体の部分Ｏ１において基板の表面に対して９０°の角度で見られる光学的可変実体Ｏの第１の色と、光学的可変実体の部分Ｏ２において９０°よりも小さい観察角度θでプレートＰを通して見られる光学的可変実体Ｏの第２の色とを判断することができ、また、必要に応じて基準色と比較することができる。
【００１５】
好ましい実施形態では、光屈折用の突出部または凹部の配列をその表面に有するプレートが、プラスエンボス加工（突出部用）およびマイナスエンボス加工（凹部用）のそれぞれが施されたポリカーボネート（ＰＣ）プラスチックプレートとして具現化され得る。ポリカーボネートは１．５８〜１．６０の範囲の屈折率ｎを有する。１．５０〜１．８０の範囲の屈折率を有する他の熱可塑性ポリマー、特に、ポリエーテルエーテルケトン（ＰＥＥＫ）、ポリスルホン（ＰＳＵ）、ポリエチレンナフタレートポリエステル（ＰＥＮ）、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリスチレン（ＰＳ）、ポリ塩化ビニル（ＰＶＣ）、ポリアミド（ＰＡ）、ポリエチレン（ＰＥ）、ポリウレタン（ＰＵＲ）、ポリプロピレン（ＰＰ）、および、様々なアクリルポリマーを使用することもできる。ただし、それらが４００ｎｍ〜７００ｎｍの可視スペクトル範囲内で透過する場合に限る。熱可塑性ポリマーは、個々の粒子で光散乱効果を防止するための２．０以上の屈折率と５０ナノメートル未満の粒径とを有するナノ結晶ＴｉＯ２などの屈折率を増大する無機ナノ粒子材料と共に、有機ポリマーのうちの１つまたは有機ポリマーの混合物を備える複合材料であってもよい。
【００１６】
熱可塑性ポリマーは、そのガラス転移温度を超えて形成され、すなわち、エンボス加工され得る。ガラス転移温度（Ｔｇ）は、この温度を超えると熱可塑性ポリマーが半固体（硬質）状態から半液体（成形可能）状態へ変化する温度として当業者に知られている。したがって、例えば基礎となる性状をその表面に有するホットローラーを用いて、マイクロプリズムの配列などの突出部または凹部の所要の表面性状を熱可塑性プレートに形成できる、すなわち、エンボス加工できる。エンボス加工にとって有用なガラス転移温度は、一般に、６０℃を上回る、好ましくは８０℃を上回る温度にある。ポリカーボネート（ＰＣ、“Ｌｅｘａｎ”、“Ｍａｃｒｏｌｏｎ”）は１５０℃のガラス転移温度Ｔｇを有し、一方、ＰＥＴは約７０℃のＴｇを有し、また、ＰＶＣは約８０℃のＴｇを有する。
【００１７】
この実施形態の別の変形が図９に示される。基板Ｓ上の光学的可変実体Ｏの視覚的な認証のためのこの実施形態に係る認証装置は、マイクロプリズムの配列をその表面に有するプレートＰを備え、該プレートは、光学的可変実体Ｏに対して傾斜角Φを成して配置される。略直交する視点で光学的可変実体を見る観察者、すなわち、認証人は、このときに、プレートＰが存在しない直交視点の視点２から（すなわち、光学的可変実体Ｏの部分Ｏ１において基板Ｓの表面に対して９０°の角度で）見られる光学的可変実体の第１の色と、光学的可変実体Ｏの部分Ｏ２において９０°よりも小さい観察角度θでプレートＰを通して視点１から見られる光学的可変実体の第２の色とを判断することができ、また、必要に応じて基準色と比較することができる。プレートＰと基板Ｓの表面との間の傾斜角Φにとって最も有用な値は、０°〜６０°の範囲内にある。傾斜プレートＰを伴う“開放”実施形態は、プレートを通してだけではなく、照明光が光学的可変実体に到達して該実体を照明する前に最初にプレートを通過する必要がない側方からの正反射状態でも、光学的可変実体Ｏの照明を可能にする。これは、光学的可変実体を直接に照らす光の強度が最大となって、それにより、光学的可変実体の認証が依存する光学的効果についての認証装置のユーザによる知覚が高められるという利点を与え、したがって、ユーザがより最適な照明状態を最初に適用する必要なく非常に信頼できる素早い認証を確保する。したがって、例えば、照明が乏しい場所でも認証を行うことができる。
【００１８】
図４を参照すると、本発明に係る認証装置の第２の主な実施形態が開示される。この認証装置は、例えば自動通貨受容器において、基板Ｓ上の光学的可変実体Ｏの機械認証のために使用できる。この実施形態に係る認証装置は、略直交する入射でマイクロプリズムの配列をその表面に有するプレートＰを通して光学的可変実体Ｏを照明するように配置される第１の光源Ｌであって、プレートＰが光学的可変実体Ｏの上側に近接して配置される、第１の光源Ｌと、光学的可変実体ＯからプレートＰを通して略直交する入射で光を受けるように配置される第１の光検出器Ｄと、略直交する入射で直接に光学的可変実体Ｏを照明するように配置される第２の光源Ｌ’と、光学的可変実体Ｏから直接に略直交する入射で光を受けるように配置される第２の光検出器Ｄ’とを備える。光源Ｌ，Ｌ’および光検出器Ｄ，Ｄ’は、認証作業を行うためにメモリと１つ以上のプログラムとを有するプロセッサμＰに接続される。
【００１９】
この実施形態の変形では、単一の光源Ｌが、プレートＰを通した照明および光学的可変実体Ｏの直接的な照明の両方のための照明源としての機能を果たしてもよい。
【００２０】
同様に、この実施形態の更なる変形では、単一の光検出器Ｄが、光学的可変実体ＯからプレートＰを通して反射される光を受けるとともに、光学的可変実体Ｏから直接に反射される光を受ける役目を果たしてもよい。
【００２１】
この実施形態の更なる変形によれば、単一の光源Ｌと単一の光検出器Ｄとを使用して、例えばプレートＰを前後に移動させることにより、プレートＰを通して反射される光および直接に反射される光の連続的な評価を具現化することができる。
【００２２】
好ましくは、１つ以上の光源Ｌ，Ｌ’のうちの少なくとも１つは、白熱光源または白色ＬＥＤなどの広帯域放射体である。
【００２３】
また、好ましくは、１つ以上の光検出器Ｄ，Ｄ’のうちの少なくとも１つは、赤−緑−青（ＲＧＢ）カラーセンサであり、例えば、人の知覚のＣＩＥ１９７６（ＣＩＥＬＡＢ）色空間において色を評価するために使用される。
【００２４】
あるいは、１つ以上の光検出器Ｄ，Ｄ’のうちの少なくとも１つは、例えば人の知覚の波長領域内（４００ｎｍ〜７００ｎｍ）の複数の波長／強度値を提供するマイクロスペクトロメータによって具現化される更に広域なスペクトルセンサであってもよい。この実施形態の変形において、１つ以上の光センサは、２００ｎｍ〜２５００ｎｍの広域な光学波長領域内の複数の波長／強度値を提供する。
【００２５】
この実施形態の更なる他の変形では、１つ以上の光検出器Ｄ，Ｄ’のうちの少なくとも１つが広帯域光強度検出器であり、また、１つ以上の光源Ｌ，Ｌ’のうちの少なくとも１つがスペクトル的に可変の光源である。この変形の第１の部分変形において、１つ以上の光源のうちの少なくとも１つは、順次にＯＮおよびＯＦＦに切り換えられる赤、緑、および、青のＬＥＤを備え、また、この少なくとも１つの光源に対応する１つ以上の光検出器が広帯域シリコンフォトセルである。このようにすると、赤、緑、および、青の照明で反射光強度を測定することにより、人の知覚のＣＩＥ１９７６（ＣＩＥＬＡＢ）色空間に相当する色を評価できる。この変形の第２の部分変形において、１つ以上の光源のうちの少なくとも１つは、２００ｎｍ〜２５００ｎｍの光学波長領域内のＵＶスペクトル範囲および／またはＩＲスペクトル範囲内の可視スペクトル外を含むＲＧＢに対応する波長以外の波長で放射するＬＥＤを備え、また、対応する１つ以上の光検出器は、それぞれのＬＥＤごとに相対的な反射光強度を測定するためにＬＥＤにより放射される光に対して感度が良くなるように選択される。
【００２６】
光学的可変実体Ｏは、認証装置が光学的可変実体Ｏをその基板Ｓ上で走査できるように、プレートＰ、１つ以上の光源Ｌ，Ｌ’、１つ以上の光検出器Ｄ，Ｄ’、および、プロセッサμＰを備える認証装置に対して移動可能にその基板Ｓ上に配置されてもよい。そのような走査は、光学的可変実体を認証装置により引き込むことにより手動で行うことができ、あるいは、電気コンベアを用いて行うことができ、この後者の選択は、自動通貨受容器の場合において好ましい選択である。
【００２７】
光屈折材料のプレートは、その表面のうちの少なくとも１つにプラスまたはマイナスのエンボス加工部を支持する。エンボス加工部は、例えば図５ａに示されるような１次元的な対称“屋根”構造、または、例えば図５ｂに示されるような１次元的な非対称“屋根”構造の形態を成してもよい。
【００２８】
あるいは、プレートは、図６ａに示される正方形プリズムの配列、または、図６ｂに示される三角形プリズムの配列などの２次元性状を有する。プレートの１次元的な光屈折構造は、光をプレートから一方向で偏向させあるいは光をプレートに対して直交する入射に偏向させるのに対し、２次元的な性状は、光をプレートから複数方向で偏向させあるいは光をプレートに対して直交する入射に偏向させる。特定の実施形態では、両方の特徴を好適に利用できる。特に、１次元的な性状は図９の実施形態において好ましく、一方、２次元的な性状は、図２および図８の実施形態において正反射照明を向上させる。
【００２９】
しかしながら、本発明は、平坦な表面を有する幾何学的な形態を伴うエンボス加工に限定されない。例えば、例を挙げると図７ａに示されるような１次元的なレンズ配列、または、例えば図７ｂに示されるような２次元的なレンズ配列などの非平坦面を有する他の適した構造も、本発明を実施するために必要とされる光屈折材料のプレートを具現化するのに適する。
【００３０】
また、本発明は、光屈折材料の単一のプレートの使用に限定されない。図８を参照すると、直交入射光ビームのより強力な偏向を得るために、したがって、より小さい観察角度で光学的可変実体Ｏの色がその基板Ｓ上で分かるように、２つ以上のそのようなプレートＰ１，Ｐ２を組み合わせることができる、すなわち、互いに上下に積み重ねることができる。
【００３１】
本発明の更なる態様では、観察角度の変化に伴って色ずれを呈する光学的可変実体を認証するための方法が開示され、該方法は、光屈折材料のプレートを光学的可変実体上に配置するステップを備え、プレートは、光学的可変実体の少なくとも一部に対する直接的な観察とプレートを通した観察とを互いに別個にもたらすように、２つの表面および表面のうちの少なくとも一方における光屈折用の突出部または凹部の配列を有し、プレートを通した観察は、突出部または凹部での光屈折によってもたらされる角度的に偏位された観察である。
【００３２】
光学的可変実体は、直接的な観察およびプレートを通した角度的に偏位された観察におけるその色を対応する基準色と比較することによって認証されるのが好ましい。
【００３３】
方法の他の実施形態において、直接的な観察および角度的に偏位された観察における光学的可変実体の色は、光源Ｌ，Ｌ’と、光検出器Ｄ，Ｄ’と、メモリおよび１つ以上のプログラムを用いて認証作業を実行できるプロセッサμＰとを備える自動化装置によって評価される。この場合も先と同様、本発明に係る認証装置の第２の主な実施形態に関連して前述したように、単一の光源および／または単一の光検出器が使用されてもよい。
【００３４】
最後に、本発明の他の態様では、光学的可変実体を認証するための光屈折材料のプレートの使用が開示され、プレートは、光学的可変実体の少なくとも一部に対する直接的な観察とプレートを通した観察とを互いに別個にもたらすように、２つの表面および表面のうちの少なくとも一方における光屈折用の突出部または凹部の配列を有し、プレートを通した観察は、突出部または凹部での光屈折によってもたらされる角度的に偏位された観察である。
【００３５】
例
以下、認証装置のための２つの選択された例を使用して本発明を更に実証する。しかしながら、これらの例は、本発明を更に例示する目的のためだけに役立つにすぎず、決して本発明の範囲をこれらの例に限定しようとするものではない。
【００３６】
例１：セキュリティー文書上の光学的可変印刷特徴の視覚的な認証のための図３に係る装置は、以下のように構成された。すなわち、カリフォリニア州トランスにあるＬｕｍｉｎｉｔ  ＬＬＣから入手できる図５ｂに示される構造を有するプラスチックフィルムである“Ｌｕｍｉｎｉｔ  Ｄｉｒｅｃｔｉｏｎ  Ｔｕｎｉｎｇ  Ｆｉｌｍ  ２０°”の２つのシートが図８にしたがって互いに組み付けられ、それにより、直交入射からの４０°の全体偏位をもたらす光屈折プレートが得られた。そのように得られたプレートは、それを硬質に真っ直ぐに維持するために、また、それが光学的可変特徴を支持する銀行券の上でスライドできるように、支持構造体に取り付けられた。プレートを銀行券上の上でスライドさせることにより、垂直入射および４０°の入射における光学的可変特徴の色を視覚的に比較できる。
【００３７】
図９に概略的に示される例１の別の実施形態では、“Ｌｕｍｉｎｉｔ  Ｄｉｒｅｃｔｉｏｎ  Ｔｕｎｉｎｇ  Ｆｉｌｍ  ２０°”の２つのシートが図８にしたがって互いに組み付けられ、それにより、直交入射から４０°の全体偏位をもたらす光屈折プレートが得られた。プレートは、側方からの周辺光を用いた、すなわち、光学的可変実体に到達してそれにより該実体を照明する前にプレートを最初に通過する必要がない光による光学的可変実体の自由な照明を可能にするために、４５°の傾斜角Φで取り付けられた。
【００３８】
光学的可変印刷特徴は、例えば、欧州特許出願第０２２７４２３号明細書、米国特許第５，２７９，６５７号明細書、国際特許出願公開第９５／２９１４０号明細書、または、国際特許出願公開第２００７／１３１８３３号明細書にしたがってインクを印刷することによって得ることができ、また、インクは、米国特許第４，７０５，３００号明細書、米国特第４，７０５，３５６号明細書、米国特許第４，７２１，２１７号明細書、および、これに関連する開示内容に係るフレーク形状の薄膜光学干渉色素を備える。
【００３９】
例２：セキュリティー文書上の光学的可変特徴の機械認証のための図４に係る装置は、光源（Ｌ）としての白色ＬＥＤ（Ｒｏｉｔｈｎｅｒ  Ｌａｓｅｒ  Ｔｅｃｈｎｉｋ，  Ｖｉｅｎｎａ  Ｂ５−４３０−ＪＤ）と、光検出器（Ｄ）としてのＲＧＢカラーセンサ（Ｈａｍａｍａｔｓｕ  Ｓ９７０２）と、メモリおよびプログラムを用いて認証作業を実行できる処理ユニット（μＰ）としてのマイクロプロセッサ（Ａｎａｌｏｇ  Ｄｅｖｉｃｅｓ  ＡＤｕＣ８１２）とを合わせることによって例１の装置から得られた。
【図１】
2014532169.tif 000003
【図２】
2014532169.tif 000004
【図３】
2014532169.tif 000005
【図４】
2014532169.tif 000006
【図５ａ）】
2014532169.tif 000007
【図５ｂ）】
2014532169.tif 000008
【図６ａ）】
2014532169.tif 000009
【図６ｂ）】
2014532169.tif 000010
【図７ａ）】
2014532169.tif 000011
【図７ｂ）】
2014532169.tif 000012
【図８】
2014532169.tif 000013
【図９】
2014532169.tif 000014
【手続補正書】
【提出日】平成25年6月14日(2013.6.14)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板（Ｓ）上の光学的可変実体（Ｏ）の機械認証のための装置であって、該装置が、
マイクロプリズムの配列を表面上に有する光屈折材料のプレート（Ｐ）であって、前記光学的可変実体の少なくとも一部に対する直接的な観察と前記プレートを通した観察とを互いに別個にもたらし、前記プレートを通した前記観察が、突出部または凹部での光屈折によってもたらされる角度的に偏位された観察である、プレートと、
前記光学的可変実体（Ｏ）を直接的におよび／または前記プレート（Ｐ）を通して照明できる少なくとも１つの光源（Ｌ）と、
前記光学的可変実体（Ｏ）から直接的におよび前記プレート（Ｐ）を通して反射される光を受けることができる少なくとも１つの光検出器（Ｄ）と、
を備える装置。
【請求項２】
第１の光源（Ｌ）が、略直交する入射で前記プレート（Ｐ）を通して前記光学的可変実体（Ｏ）を照明するように配置され、当該装置が、略直交する入射で直接に前記光学的可変実体（Ｏ）を照明するように配置される第２の光源（Ｌ’）を更に備える、請求項１に記載の装置。
【請求項３】
第１の光検出器（Ｄ）が、前記光学的可変実体（Ｏ）から前記プレート（Ｐ）を通して略直交する入射で光を受けるように配置され、当該装置が、前記光学的可変実体（Ｏ）から直接に略直交する入射で光を受けるように配置される第２の光検出器（Ｄ’）を更に備える、請求項１または２に記載の装置。
【請求項４】
前記光源（Ｌ，Ｌ’）のうちの少なくとも１つが、白熱光源または白色ＬＥＤなどの広帯域放射体である、請求項１〜３のいずれか一項に記載の装置。
【請求項５】
前記光検出器（Ｄ，Ｄ’）のうちの少なくとも１つが、赤−緑−青カラーセンサである、請求項１〜４のいずれか一項に記載の装置。
【請求項６】
前記光検出器（Ｄ，Ｄ’）のうちの少なくとも１つが、２００ｎｍ〜２５００ｎｍの波長領域内の複数の波長／強度値を供給する広域スペクトルセンサである、請求項１〜４のいずれか一項に記載の装置。
【請求項７】
前記光検出器（Ｄ，Ｄ）のうちの少なくとも１つが広帯域光強度検出器であり、前記光源（Ｌ，Ｌ’）のうちの少なくとも１つがスペクトル的に可変の光源である、請求項１〜３のいずれか一項に記載の装置。
【請求項８】
前記スペクトル的に可変の光源が、順次にＯＮおよびＯＦＦに切り換えることができる赤、緑、および、青のＬＥＤを備え、前記広帯域光強度検出器が広帯域シリコンフォトセルである、請求項７に記載の装置。
【請求項９】
前記スペクトル的に可変の光源が、２００ｎｍ〜２５００ｎｍの波長領域内の赤、緑、および、青に対応する波長以外の波長を放射するＬＥＤを備える、請求項７に記載の装置。
【請求項１０】
光屈折材料の前記プレート（Ｐ）が、１次元構造の形態を成す若しくは２次元性状の形態を成す光屈折用のプラスまたはマイナスのエンボス加工部を支持する、請求項１〜９のいずれか一項に記載の装置。
【請求項１１】
観察角度の変化に伴って色ずれを呈する光学的可変実体を認証するための方法であって、当該方法が、光屈折材料のプレートを前記光学的可変実体上に配置するステップを備え、前記プレートが、前記光学的可変実体の少なくとも一部に対する直接的な観察と前記プレートを通した観察とを互いに別個にもたらすように、２つの表面および前記表面のうちの少なくとも一方における光屈折用の突出部または凹部の配列を有し、前記プレートを通した前記観察が、前記突出部または凹部での光屈折によってもたらされる角度的に偏位された観察である、方法。
【請求項１２】
前記プレートが、前記光学的可変実体に対して傾斜角を成して配置される、請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】
直接的な観察および角度的に偏位された観察における前記光学的可変実体の色が、光源（Ｌ）と、光検出器（Ｄ）と、メモリおよびプログラムを用いて認証作業を実行できるプロセッサ（μＰ）とを備える自動化装置によって評価される、請求項１１または１２に記載の方法。
【請求項１４】
前記光学的可変実体が、電気コンベアを用いて前記自動化装置により引き込まれる、請求項１３に記載の方法。
【請求項１５】
光学的可変実体を認証するための光屈折材料のプレートの使用であって、前記プレートが、前記光学的可変実体の少なくとも一部に対する直接的な観察と前記プレートを通した観察とを互いに別個にもたらすように、２つの表面および前記表面のうちの少なくとも一方における光屈折用の突出部または凹部の配列を有し、前記プレートを通した前記観察は、前記突出部または凹部での光屈折によってもたらされる角度的に偏位された観察である、プレートの使用。
【国際調査報告】
2014532169.tif 000015
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