(57)【要約】  三次元基準表面との比較によるタイヤの表面の検査方法に関し、表面は、エンボスされた印を有する。本発明は、以下のステップ、即ち、被検査表面の三次元プロフィールを求めるステップ、図形要素の輪郭を抽出するステップ、被検査表面上の特徴点の存在場所を突き止めて特徴点を基準表面の対応の特徴点とペアリングしてペアリングした特徴点の１組のカップルを作るステップ、被検査表面の特徴点を第１のリセットＢ‐スプライン表面の制御点に関連付けることによって第１のリセットＢ‐スプライン表面を基準表面に関連付けるステップ及び第１のリセットＢ‐スプライン表面の制御点を移動させることによって基準表面を変形させて制御点が基準表面の特徴点とペアリングした被検査表面の特徴点上に重ね合わされるようにするステップを有する。【選択図】図９
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
三次元基準表面との比較によるタイヤの表面の検査方法であって、前記表面は、レリーフ状態の印を有し、
‐前記被検査表面の三次元プロフィールを求めるステップと、
‐図形要素の輪郭を抽出するステップと、
‐前記被検査表面上の特徴点の存在場所を突き止めて前記特徴点を前記基準表面の対応の特徴点とペアリングして、１組のペアリングした特徴点のカップルを作るステップとを有する、方法において、
‐前記被検査表面の前記特徴点を第１のリセットＢ‐スプライン表面の制御点に関連付けることによって前記第１のリセットＢ‐スプライン表面を前記基準表面に関連付けるステップと、
‐前記制御点を、前記基準表面の前記特徴点とペアリングした前記被検査表面の前記特徴点上に重ね合わせるように、前記第１のリセットＢ‐スプライン表面の前記制御点を移動させて前記基準表面を変形させるステップとを含む、方法。
【請求項２】
前記図形要素輪郭の抽出に先立って、前記被検査表面及び前記基準表面の半径方向プロフィールを平らにレイアウトする、請求項１記載の検査方法。
【請求項３】
前記図形要素輪郭の抽出に先立って、前記被検査表面及び前記基準表面の画像の、前記タイヤの回転軸線に対して表された極座標をデカルト座標に変換する、請求項１又は２記載の検査方法。
【請求項４】
前記図形要素輪郭の抽出に先立って、前記三次元画像の各々のレリーフに関するデータをグレーレベルに変換して前記被検査表面及び前記基準表面の二次元における前記画像を得る、請求項２又は３記載の検査方法。
【請求項５】
前記第１のリセットＢ‐スプライン表面の前記制御点を動かすことによって前記基準表面を変形させた後、前記基準表面及び前記被検査表面を図形要素に分割し、
‐第２の組をなす点を有する基本Ｂ‐スプライン表面を前記変換された基準表面の各図形要素に関連付け、
‐前記基準表面の前記図形要素の前記輪郭と、該輪郭に対応している前記被検査表面の前記図形要素の前記輪郭との間の距離を最小限に抑えるように、前記基本Ｂ−スプライン表面の前記第２の制御点の位置を変更して前記基準表面の各図形要素の前記輪郭の第２の変形を行う、請求項１〜４のうちいずれか一に記載の検査方法。
【請求項６】
前記基本Ｂ‐スプライン表面の前記第２の制御点組の助けにより前記基準表面の図形要素の前記輪郭の第２の変形後、制御点の数を増加させることによって前記基本Ｂ−スプライン表面を細分して第３の組をなす制御点を細分されたＢ‐スプライン表面に関連付ける、請求項５記載の検査方法。
【請求項７】
前記基本Ｂ−スプライン表面を前記第２の制御点組の助けにより前記図形要素の変形後に不正確にリセットされた前記基準表面の前記輪郭の一点に影響を及ぼす前記第２の制御点組のみの周辺で細分する、請求項６記載の検査方法。
【請求項８】
前記基準表面の前記図形要素の前記輪郭と、前記被検査表面の前記図形要素の前記輪郭との間の距離を最小限に抑えるように、前記細分した基本Ｂ−スプライン表面の前記第３の制御点組に属する制御点の位置を変更して、前記基準表面の前記図形要素の前記輪郭の第３の変形を実施する、請求項６又は７記載の検査方法。
【請求項９】
前記被検査表面を記述するディジタルデータを請求項１〜８のうちいずれか一に記載の方法によって変更された前記基準表面を記述するディジタルデータと比較することによって被検査ゾーンの一致性を評価する、請求項１〜８のうちいずれか一に記載の検査方法。
【請求項１０】
タイヤの表面を検査する装置であって、被検査表面の三次元プロフィールを求めることができる手段と、基準表面を記述するディジタルデータを格納する手段と、次のステップ、即ち、
‐前記被検査表面の三次元プロフィールを求めるステップと、
‐図形要素の輪郭を抽出するステップと、
‐前記被検査表面上の特徴点の存在場所を突き止めて前記特徴点を前記基準表面の対応の特徴点とペアリングして、１組のペアリングした特徴点のカップルを作るステップと、
‐前記基準表面の特徴点をＢ‐スプライン表面の制御点に関連付けることによって前記Ｂ‐スプライン表面を前記基準表面に関連付けるステップと、
‐前記制御点を前記基準表面の前記特徴点とペアリングした前記被検査表面の前記特徴点上に重ね合わせるように前記Ｂ‐スプライン表面の前記制御点を移動させて、前記基準表面を変形させるステップとを有する計算アルゴリズムを適用することができるコンピュータ計算手段とを含む、装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、タイヤの製造分野に関する。特に、本発明は、タイヤがタイヤの使用目的に関して定められた対照（コントロール）基準に合致しているかどうかを判定する目的で製造プロセス中又は製造プロセス終了時にタイヤの目視検査を行う上での問題に関する。
【０００２】
これら処理を実施するために採用される方法では、通常、被検査タイヤの表面の二次元又は三次元画像をこのタイヤの表面の二次元又は三次元での基準画像と比較する。これら方法の一般原理は、被検査タイヤの画像又は表面とタイヤの画像又は基準表面との対応関係を例えばこれら２つの画像又は２つの表面の重ね合わせにより確立して２つの画像又は２つの表面相互間の差を分析することによって成形上の異常を突き止めることである。
【０００３】
タイヤの場合、表面の基準画像は、例えばタイヤの設計に由来するディジタルデータ又はより一般的には硬化モールドを記述してこれを製造するために用いられるディジタルデータから生じる場合があり、モールドそれ自体は、その最終的な形状をタイヤに与えるよう設計されている。
【０００４】
タイヤ表面の三次元レリーフを決定することができる収集システムの助けによりタイヤの表面の三次元画像を公知の仕方で得ることができる。
【０００５】
基準表面と評価されるべきタイヤの表面の照合では、この種の物体の特定の場合に適合させなければならない方法が利用される。
【０００６】
したがって、一例として、米国特許第５，７１５，１６６号明細書は、変換関数、例えば回転又は滑りを用いることによって基準表面を所与の物体の三次元画像と照合するために行われる変換を記載している。この方法を適用すると、被変形性中実物体、例えばこの場合無限に剛性であると考えられる金属部品を照合しようとした場合に良好な結果が得られる。この方法は、タイヤ状況には適合しない。というのは、この製品が性質上変形可能だからである。
【０００７】
特にタイヤの検査向きに設計された用途に関する欧州特許第１，７５０，０８９号明細書は、被検査表面及び基準表面を印要素、例えば１つの文字又は１組の文字の表面に実質的に対応した減少寸法の表面部分に分割し、次に基準表面及び被検査表面の表面部分の一方を他方上に滑らせて２つの表面部分のレリーフの輪郭相互間の最適照合を求めることを提案している。この局所リセットを実施した後、２つの表面部分を互いに比較して表面部分に対応したゾーン内において基準に対する被検査タイヤの一致性の度合いを求める。
【０００８】
この欧州特許明細書に記載されているアルゴリズムは、モデルと評価されるべき実際のタイヤの位置の差及び１つのケーシングと別のケーシングとの間における取り付け及びインフレーションの差を或る程度までなしで済ますことができるという利点を有するが、これらアルゴリズムは、これらアルゴリズムが又表面部分を剛性要素に同化させる点で、米国特許第５，７１５，１６６号明細書に記載されているアルゴリズムに近い。
【０００９】
具体的に説明すると、モールドから取り出したタイヤは、タイヤを構成する材料の弾性により成形及び硬化作業が実施されたモールドのネガの画像に正確には一致していない。タイヤは、これが硬化プレスから取り出されるや否や、冷却時の材料の熱的収縮の作用を受けて変形する。さらに、取り付けてインフレートさせたとき、補強プライは、これらの最終位置を取り、インフレートさせたタイヤの平衡曲線は、必ずしも、硬化モールドの曲率に一致するわけではない。
【００１０】
また、基準表面の画像及び被検査タイヤ表面の収集画像の極めて正確な小規模の調整を行うことが必要であることが判明しており、その目的は、これら画像から製造により得られたタイヤの一致性に関する関連情報を得る目的で２つの表面を互いに照合することにある。
【００１１】
国際公開第２００９／０７７５３９号パンフレットに記載されている方法は、この目的を達成するために、基準表面を被検査表面に一致させるために係数が１とは異なる基準表面のアフィン変換を行うことを提案しており、これは、被検査表面の特定の方向における可変弾性変形を行うことと等価であり、それにより、単純なスケールの変化とは異なっている。
【００１２】
しかしながら、この方法は、この方法が１つの好ましい方向でしか表面を変形させることができないので、表面の完全な重なり合いに必要な調整を行うことができないということが観察されており、他方、これら弾性変形は、タイヤの周囲上の走行時に互いに異なる方向で起こる場合があることが観察されている。この場合、この単純化により、被検査表面と基準表面の比較中に誤った判断が生じる場合がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１３】
【特許文献１】米国特許第５，７１５，１６６号明細書
【特許文献２】欧州特許第１，７５０，０８９号明細書
【特許文献３】国際公開第２００９／０７７５３９号パンフレット
【発明の概要】
【００１４】
本発明の方法は、三次元基準表面との比較によるタイヤの表面の一部分の検査向きに設計されており、表面は、レリーフ状態の印を有し、この方法は、
‐被検査表面の三次元プロフィールを求めるステップと、
‐図形要素の輪郭を抽出するステップと、
‐被検査表面上の特徴点の存在場所を突き止めて特徴点を基準表面の対応の特徴点とペアリングしてペアリングした特徴点の１組のカップルを作るステップとを有する。
【００１５】
この方法は、
‐被検査表面の特徴点を第１のリセットＢ‐スプライン表面の制御点に関連付けることによって第１のリセットＢ‐スプライン表面を基準表面に関連付けるステップと、
‐第１のリセットＢ‐スプライン表面の制御点を移動させて制御点を基準表面の特徴点とペアリングした被検査表面の特徴点上に重ね合わせることによって基準表面を変形させるステップとを有することを特徴とする。
【００１６】
「Ｂ‐スプライン表面」という表現は、ピエール・ベジェ（Pierre Bezier）及びポール・ド・カステルジョー（Paul de Casteljau）の業績に基づいて開発され、エリプス（Ellipses）社により発行された刊行物であるジー・デメンゲル（G. Demengel）及びジェイピー・パウジェ（JP Pouget），「モデルス・ド・ベジェ・デ・B ‐スプラインズ・エト・デ・ヌーブス（“Modeles de Bezier, des B-Splines et des NURBS）（ベジェ・B‐スプラインズ・アンド・エヌユーアールビーエス・モデルス（Bezier, B-Splines and URBS models）又は刊行物であるエル・ピーグル（L. Piegl）及びダブリュ・ティラー（W.Tiller），「ザ・ヌーブス・ブック・セカンド・エディション（The Nurbs Book 2nd ed.）」，スプリンガー（Springer），２‐３章において説明されているスプライン表面を意味している。また、拡張により、本発明の説明との関連におけるＢ‐スプライン表面は、例えばＮＵＲＢＳ（Non Uniform Rational Basis Splines：ノンユニフォーム有理ベーシック・スプライン）表面、Ｔ‐スプライン表面等のような制御点の助けによりパラメータ化された表面の全てを意味している。
【００１７】
基準画像の輪郭を変形させるためのＢ‐スプライン表面の使用により、被検査表面と基準表面の差による比較時に判断の誤りを最小限に抑える目的で、被検査表面の図形要素を基準表面の図形要素と照合することができる。
【００１８】
好ましくは、計算時間を短縮するため、図形要素輪郭の抽出に先立って、検査表面及び基準表面の半径方向プロフィールを平坦化することが推奨される。
【００１９】
また、被検査表面をディジタル化する手段に由来するデータの処理を減少させるため、図形要素輪郭の抽出に先立って、被検査表面及び基準表面の画像の、タイヤの回転軸線に対して表された極座標をデカルト座標に変換することも又可能である。
【００２０】
また、図形要素輪郭の抽出に先立つステップ中における計算作業のバルクを減少させるため、三次元画像の各々のレリーフに関するデータをグレーレベルに変換して被検査表面及び基準表面の二次元における画像を得ることが可能であって有用である。
【００２１】
このように、ディジタル処理を二次元空間で実施し、計算をそれに応じて減少させる。
【００２２】
基準表面の図形要素の輪郭の第１の変形を第１のリセットＢ‐スプライン表面の助けによりいったん実施すると、リセット差が存在することが可能である。
【００２３】
この場合、基準表面及び被検査表面を図形要素に分割する細かいリセットを実施することが可能であり、
‐第２の組をなす点を有する基本Ｂ−スプライン表面を変換された基準表面の各図形要素に関連付け、
‐基本Ｂ−スプライン表面の第２の制御点の位置を変更して基準表面の図形要素の輪郭と、この輪郭に対応していて、被検査表面の図形要素の輪郭との間の距離を最小限に抑えることによって基準表面の各図形要素の輪郭の第２の変形を行う。
【００２４】
位置決め上の差が存在する場合、制御点の数を増加させることによって基本Ｂ−スプライン表面を細分して第３の組をなす制御点を細分されたＢ‐スプライン表面に関連付けることも又可能である。
【００２５】
計算時間を短縮するため、第１の変形後に不正確にリセットされた基準表面の輪郭の一点に影響を及ぼす第２の制御点組のみの周辺でこの細分を実施することが可能であって有用である。
【００２６】
次に、細分した基本Ｂ−スプライン表面の第３の制御点組に属する制御点の位置を変更して基準表面の図形要素の輪郭と、被検査表面の図形要素の輪郭との間の距離を最小限に抑えることによって基準表面の図形要素の輪郭の第３の変形を実施する。
【００２７】
この場合、本発明の検査方法は、被検査表面を記述するディジタルデータを第１の変形、第２の変形及び第３の変形の助けにより変更された基準表面を記述するディジタルデータと比較することによって被検査ゾーンの一致性を評価することを提案する。
【００２８】
本発明は又、タイヤの表面を装置を検査する装置であって、被検査表面の三次元プロフィールを求めることができる手段と、基準表面を記述するディジタルデータを格納する手段と、次のステップ、即ち、
‐被検査表面の三次元プロフィールを求めるステップと、
‐図形要素の輪郭を抽出するステップと、
‐被検査表面上の特徴点の存在場所を突き止めて特徴点を基準表面の対応の特徴点とペアリングしてペアリングした特徴点の１組のカップルを作るステップと、
‐基準表面の特徴点をＢ‐スプライン表面の制御点に関連付けることによってＢ‐スプライン表面を基準表面に関連付けるステップと
‐Ｂ‐スプライン表面の制御点を移動させて制御点を基準表面の特徴点とペアリングした被検査表面の特徴点上に重ね合わせることによって基準表面を変形させるステップとを有する計算アルゴリズムを適用することができるコンピュータ計算手段とを有することを特徴とする装置に関する。
【００２９】
以下の説明の目的は、図に基づき且つ例示の図表１〜８に基づいて本発明の方法を適用する主要なステップを詳細に説明することにある。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】基準表面のレリーフ状態の要素の輪郭の２Ｄ画像及びこの画像の展開画像を示す図である。
【図２】平坦化プロフィールを求めるためのステップの略図である。
【図３】アジマスリセットステップを示す図である。
【図４】アジマスリセットステップを示す図である。
【図５】特徴点の選択の仕方を示す図である。
【図６】第１の組をなす制御点を形成する特徴点のペアリングの仕方を示す図である。
【図７】基本Ｂ−スプライン表面及び第２の組をなす制御点の一例を示す図である。
【図８】制御点の第２の組に属する制御点の位置を変更することによって要素表面中に含まれる図形要素の輪郭の変形状態を示す図である。
【図９】本発明の方法を具体化する主要ステップの略図である。
【発明を実施するための形態】
【００３１】
本発明の検査方法は、レリーフ状態の印（以下、「レリーフ印」という）を含むタイヤの表面部分に関する。「レリーフ印」という用語は、サイドウォール又は内面上に施された要素、例えば図柄（図形）又は英数字、言葉を形成する文字列又は数、比喩的文字、例えば表意文字、装飾パターン又は図面、溝又はトレッドのパターンを意味している。
【００３２】
知られているように、ユーザは、検査されるべき表面の三次元表面を特徴付けることができるデータを得ようとする。この作業を実施するため、被検査表面を白色光又はレーザビームから生じた光によって形成される所与の波長の光で照明し、被検査表面により反射された光をマトリックスアレイカメラにより収集する。また、レーザ三角測量方式の三次元センサを用いることが可能であり、この原理は、二次元において、リニアアレイカメラの原理に同化可能である。
【００３３】
被検査タイヤは、これを収集システムに対して回転させることができる手段に取り付けられる。タイヤを収集システムに対してその回転軸線回りに丸一回転させることにより、適当な且つ公知の計算手段による処理後に、被検査表面の三次元座標を表わすディジタルデータが得られ、次に、この表面を三次元空間内における１組の点によって実現する。
【００３４】
以下に説明する本発明の例示の実施形態は、特に、通常全種類の印及び図形パターンで満たされたタイヤサイドウォールの検査に関する。しかしながら、用いられる技術は、これらの順序変更を行った場合であっても、内側部分又はトレッドの検査にとって同一の仕方で使用できる。
【００３５】
基準として役立つ表面は、三次元におけるタイヤの設計データ又は好ましくは硬化モールドの設計及び製造データ、特に、サイドウォールを成形するために用いられるシェルをエッチングし、凹んだ印を備えるデータから得られる。
【００３６】
上述したように、本方法の有効な具体化のために、幾つかの先行する単純化ステップを実施することにより行われるべき計算を単純化することが有意義である。
【００３７】
例えば、基準面及び被検査表面の点の三次元座標が表わされる座標系を適当に選択して空間の次元数を減少させることができる簡単な投影を検討することができるようにすることが可能である。
【００３８】
また、分析されるべき表面の３つの次元ｘ，ｙ，ｚの座標をＯＸ，ＯＹ，ＯＺ直交座標系で表わすような構成がなされており、かかる座標系では、ＯＺ軸は、タイヤの回転軸線から実質的に識別できない。
【００３９】
この場合、被検査表面及び基準表面のρ，θ形式の極座標をＯＸ，ＯＹ軸に関するデカルト座標に変換することが可能であり、これは、図１に示されているように表面を展開することから成る。このためには、ρの値がＯＹ′軸上の値に一致し、値θがＯＸ′軸上の座標に一致することを考えれば十分である。座標系ＯＸ′Ｙ′それ自体は、直交座標系である。
【００４０】
別の単純化では、三次元表面を平坦化する。したがって、表面の曲線の平均プロフィールを半径方向平面内に求める。図２に示されているように、ＯＺ，ＯＸ′軸により形成される平面内の点の全てを投影するだけで良く、この投影像は、半径方向平面内における投影像に一致する。平均半径方向プロフィールの形状は、この半径方向平面内における点群の形状によって与えられ、これから、方向ＯＺにおける値の平均値を求めることにより平均曲線を抽出することが可能である。この場合も又、この平均半径方向プロフィールを展開することにより得られる表面は、レリーフ印が見えないタイヤの表面に実質的に相当する。
【００４１】
この場合、角度θの各値に関し、平面ＯＸ′Ｚで表わされた座標のこの平均半径方向プロフィールの値を差し引くだけで十分であり、その目的は、上述した展開表面の平坦化を得ることにあり、この場合、レリーフ状態の要素のみが、ＯＺ軸に沿う値を持つ。
【００４２】
この平坦化は、この表面上に作られたレリーフ印を表すプロフィールの局所ばらつきを検出することによりこの表面のプロフィールを決定された道筋、例えば半径方向線に沿って辿ることによっても実施可能である。この場合、フィルタを適用して異常な変化及び曲率の変化とのみ関連した遅い変化をなくして印に対応したレリーフ要素のみが現れる平坦な表面上のこれらの変化を再現するだけで十分である。
【００４３】
また、計算を単純化するため、グレーレベル値をＯＺ軸に沿う値に割り当てることが可能である。これにより、レリーフ要素が平均表面の輪郭に対して視覚的に取り外された表面の二次元画像が与えられる。グレーレベルの強度は、この表面の平均レリーフに対する点の高さに比例する。後者の単純化は、上述の方法のうちの１つに従って平坦化表面について実施でき、同様な結果が得られる。
【００４４】
図３は、特にタイヤのサイドウォールの処理に合わされると共に展開され、平坦化され、グレーレベル画像に変換された被検査表面に利用されるこれら単純化の結果を示している。図４は、その一部において、被検査表面の展開されて平坦化された画像を示している。
【００４５】
また、被検査表面の画像に対して基準表面の画像をリセットすることも又可能である。したがって、表面上にのみいったん存在する英数字又はパターンの集まりが図３及び図４に示されているようにあらかじめ決定される。これら英数字の存在場所を２つの画像中に突き止めると、これら２つの英数字又は英数字列相互間の角度差Δαを評価し、これら角度値の原点がこれら英数字を通るようにすることによってＯＸ′軸（角度の値θを表す）に関して座標の変更を実施する。
【００４６】
これらの単純化がいったん完了すると、基準表面及び被検査表面上に存在する各図形要素の輪郭のマップを作る。従来型Dericheアルゴリズムは、“Using Canny’s criteria to derive a recursively implemented optimal edge detector”という題名で見える１９８７年４月の刊行物であるコンピュータ・ビジョン（Computer Vision）ｐ．１６７‐１８７を参照すべきこの操作を実施するために用いられる。
【００４７】
ユーザは、次に、第１の組をなす制御点を定めることによって基準表面を表す第１のＢ‐スプライン表面を定めようとする。
【００４８】
これを行うため、被検査表面の容易に認識可能なパターンと関連した特徴点の存在場所を被検査表面上について突き止める。表面上に存在する英数字及び関連のテキストを識別してこれらの存在場所を突き止める目的で、例えば、ＯＣＲ（Optical Character Recognition：光学式文字認識）としてよく知られている従来型光学文字認識法を利用することが可能であろう。
【００４９】
基準表面の画像上及び被検査表面の画像上の英数字、テキスト又はパターンの存在場所を突き止めた後、２つの表面上に存在する英数字、テキスト又はパターンを互いに関連付ける。
【００５０】
かくして、図５を参照すると、基準画像上のビードの近くに位置する言葉“RADIAL”を被検査画像の同一領域内に位置する言葉が“RADIAL”に関連させる。
【００５１】
各文字又は各パターン上に存在する１組の特徴点Ｐを求める。これら特徴点は、一例として、スケルトンラインの枝の交差部又はこれら枝の終点によって形成される。これら点の存在場所は、図５に示されているように正確であり、この場合、基準画像“RADIAL”のうちのＬの左下コーナー部と関連した特徴点を被検査画像の“RADIAL”の最初のＬの左下コーナー部に関連付ける。
【００５２】
次に、基準表面の画像及び被検査表面の画像の特徴点を２つずつ関連付けてペアリングした特徴点のカップルを形成する。
【００５３】
ペアリングした特徴点の数は、一つの次元と別の次元では様々であって良く、かかる数は、レリーフ印上に見受けられる考えられる異常に応じて、しかしながら、認識基準が全く満たされない場合にそれ自体異常を生じさせる光学式文字認識方法の適用ステップの各々のところで行われる場合のある連続拒絶のために、同一タイヤの２つの連続した分析相互間で変更可能である。
【００５４】
理想的には、対をなす特徴点は、図６に示されているように、被検査表面全体にわたって分布して配置される。
【００５５】
次に、第１のリセットＢ‐スプライン表面を基準表面の特徴点の全てに関連付け、但し、これら特徴点がこのリセットＢ‐スプライン表面の第１の組をなす制御点を形成することを考慮に入れる。基準表面の各特徴点を次に、第１のリセットＢ‐スプライン表面の制御点の位置の一次結合としてパラメータ化する。
【００５６】
Ｐ1は、第１の組をなす制御点を形成する制御点の全てを表しており、ｐ1は、基準表面の特徴点の位置を定める座標系中のこれら制御点の位置を定めるパラメータの組である。
【００５７】
次に、基準表面の輪郭を規則的サンプリングによって点の有限集合´Ω1に離散化する。
【００５８】
次に、これら点の各々の位置を第１のリセットＢ‐スプライン表面の制御点の位置の一次結合として規定する。
【００５９】
Ｂ‐スプライン表面の制御点´Ω1（ｐ1）によりパラメータ化されている点のこの集合´Ω1は、パラメータ組ｐ1についての´Ω1の点によって取られる形態を表している。Ｂ‐スプライン表面の制御点の位置（及びかくしてｐ1の）変更により、これに関連付けられたＢ‐スプライン表面の受ける変形とほぼ同じ基準面の変形を生じさせる。この変形は、´Ω1のＢ‐スプライン変形と呼ばれる。
【００６０】
次のステップでは、基準表面の特徴点に対応したリセットＢ‐スプライン表面の制御点の第１の組に属する制御点の位置を変更して制御点を基準表面の特徴点とペアリングした被検査表面の特徴点上に重ね合わせることによって基準表面を変形させる。
【００６１】
この第１の変形は、実施するのが比較的簡単であるが、上述したように、制御点の選択において特定の注意が必要である。具体的に説明すると、制御点は、数が十分であること及び制御点を表面上に一様に分布させて基準表面及び被検査表面を最も良く重ね合わせることができるようにする変形を保証することが重要である。
【００６２】
これがそうでない場合、必要ならば、基準表面の図形要素と被検査表面の図形要素との間の細かいリセットを実施することが可能である。
【００６３】
このステップにより、基準表面の図形要素の形状を被検査表面中に含まれるこの同じ図形要素の正確な形状に合わせて正確に調整することが可能である。
【００６４】
最初に、基準表面を１つ又は２つ以上の図形要素を含む要素表面に分割する。「図形要素」という用語は、この場合、文字、装飾パターン又は小さな寸法の１組の文字を意味している。
【００６５】
基本Ｂ−スプライン表面を図７に示されているように各図形要素を完全に覆う各図形要素に関連付ける。この表面をＮ×Ｍ制御点を定めるＮ個の行及びＭ個の列で構成された制御格子によってパラメータ化する。制御点は、基準表面に属する。一般に、これら行及びこれら列は、均等に分布して配置される。一例として、これら行及び列は、図形要素が正方形の形をした要素表面中に含まれる場合、４×４又は５×５型の減少寸法の格子を形成する。
【００６６】
以下の方程式において、指数２は、これが第２の組をなす制御点及び要素表面の細かいリセットを実施するよう設計された第２の変形を含むことを意味している。
【００６７】
以下において、Ｐ2は、第２の組をなす制御点を形成する制御点の全てを意味し、ｐ2は、基準表面の特徴点の位置を定める座標系においてこれら制御点の位置を定めるパラメータの組を示している。
【００６８】
上述のリセットステップの場合と同様、この場合図７に示されている要素表面中に位置した図形要素の輪郭、即ち、文字Ｄの輪郭を規則的サンプリングによって点の有限集合´Ω2に離散化する。これら点の各々にこの点における輪郭の向きに関する情報を追加する。
【００６９】
次に、これら向きが付けられた点の各々の位置をＢ‐スプライン表面の制御点の位置の一次結合として定める。同様に、これら点の各々の向きをＢ‐スプライン表面の制御点の位置に従って表す。
【００７０】
向きが付けられた点のこの集合´Ω2は、Ｂ‐スプライン表面の制御点によりパラメータ化されているので、´Ω2（ｐ2）は、パラメータの組ｐ2に関する´Ω2の箇所によって取られる形態を表している。
【００７１】
次のステップでは、基本Ｂ−スプライン表面の第２制御点組に属する制御点の位置を変更して、第１の変形とは異なり、基準表面の図形要素の輪郭と、この輪郭に対応した被検査表面の図形要素の輪郭との間の距離を最小限に抑えることによって基準表面の各図形要素の輪郭を変形させる。図８に示されているように、Ｂ‐スプライン表面の制御点の位置（及びかくしてｐ2の）変更により、これに関連付けられたＢ‐スプライン表面の受ける変形とほぼ同じ基準面の変形を生じさせる。この変形は、´Ω2のＢ‐スプライン変形と呼ばれる。
【００７２】
この最適化を効率的に実施するため、図形要素の各輪郭について、画像の画素の値がこの画素から画像中に存在する輪郭の最も近い画素までの距離を表す距離のマップを定めることが賢明である。この方法は、エイチ・ジー・バロウ（H.G. Barrow）、ジェイ・エム・テネンバウム（J.M.Tenenbaum）、アール・シー・バウム（R.C. Baum）、エイチ・シー・ウルフ（H.C. Wolf）共著，「パラメトリック・コレスポンダンス・アンド・チャンファー・マッチング；トゥー・テクニークス・フォー・イメージ・マッチング（Parametric correspondence and chamfer matching; two techniques for image matching）」，プロシーディングス・インターナショナル・ジョイント・カンファレンス・アーティフィシャル・インテリジェンス・９７７（Proc. Int. Joint Conf. Artificial Intelligence 977），ｐ．６５９〜６６３に記載されている。この最適化アルゴリズムの価値は、これが簡単であるということにある。
【００７３】
精度及び堅牢さを増大させるため、所与の方向に差し向けられた距離マップを用いることによって距離のマップの構成の際に特定の制約を追加するのが良い。この場合、考慮に入れられる距離は、この箇所からこの箇所が位置しているセグメントの方向に実質的に一致した所与の方向における最も近い輪郭までの距離に相当している。この手法は、クラーク・エフ・オルソン（Clark F, Olson）、ダニエル・ピー・ハッテンロッチャー（Daniel P Huttenlocher）共著，「ターゲット・レコグニション・バイ・マッチング・オリエンテッド・エッジ・ピクセルズ（Target Recognition by Matching Oriented Edge Pixels）」，アイイーイーイー（IEEE），トランザクション・オン・イメージ・プロセッシング（Transaction on Image Processing），第６巻，第１号，１９９７年１月に記載されている。この手法は、得られた結果を正確なリセットにとってそれほど適切とはいえない「フィルタリング」することにより一層信頼性の高いものにするために利用される。
【００７４】
Ｌ2は、位置が自由であり、即ち、位置をリセットの最適化アルゴリズムによって変更することができる基本Ｂ−スプライン表面の制御点の全てを表している。Ｆ2は、位置が固定され、即ち、位置をリセットの最適化アルゴリズムによって変更することができない基本Ｂ−スプライン表面の制御点の全てを表している。
【００７５】
次に、パラメータ組ｐ2をＬ2の制御点の位置を定めるパラメータ組ｌ2及びＦ2の制御点の位置を定めるパラメータ組ｆ2に分割する。しかる後、表記ｐ2（ｌ2，ｆ2）は、所与の時点におけるパラメータ組ｐの値を示すために用いられる。
【００７６】
さらに、Ｒ2は、位置がＬ2に属する少なくとも１つの制御点により影響を受ける´Ω2の点の全てを表している（´Ω2の点Ａは、Ａの位置を定める一次結合中のＰi,jと関連した係数がゼロではない場合に制御点Ｐi,jにより影響を受ける）。表記Ｒ2（ｐ2（ｌ2，ｆ2））は、パラメータｐ2（ｌ2，ｆ2）のＢ‐スプライン変形に関してＲ2の箇所の取る形態を示すために用いられる。
【００７７】
Ｌ2及びＦ2に属する点の位置の最適化は、次のように初期設定される。
【数１】
2014500484.tif 000003
したがって、Ｒ2＝´Ω2である。
【００７８】
さらに、最適化プロセスの繰り返し回数をカウントする変数は、ゼロに初期設定される。これにより、最適化プロセスの繰り返し回数を制限することが可能である。
【００７９】
リセット´Ω2（ｐ2（ｌ2，ｆ2））の最適化では、´Ω2（ｐ2（ｌ2，ｆ2））の点を収集の際にこれらの実際の位置の最も近くに投影するパラメータ組ｌを見出す。
【００８０】
現在のリセット´Ω2（ｐ2（ｌ2，ｆ2））を評価するため、以下の品質判定基準が定められる。
【数２】
2014500484.tif 000004
上式において、
‐Ｅd（Ｒ2（ｐ2（ｌ2，ｆ2）））：データにタグ付け可能な項。これは、Ｒ2（ｐ2（ｌ2，ｆ2））の点からこれらに対応した最も近い輪郭までの平均直交距離の測定値である。
‐Ｅr（ｐ2（ｌ2，ｆ2））：サイドウォールの性状に関してそれほど現実的ではない変形にペナルティを課すことを目的とする正則化の項。この項は、大きすぎる収縮／膨張又は大きすぎる曲率半径を有する変形にペナルティを課す。
‐λ：正則化の項の影響を調節するために用いられる重み係数。
【００８１】
データＥdにタグ付け可能な項に関し、Ｒ（ｐ（ｌ，ｆ））の点のリセット誤差は、同一の位置にあり且つ先に計算された距離マップ中の同一の向きを備えた画素の値に注目することによって直接得られる。
【００８２】
正則化の項Ｅrに関し、これは、次のように定められる。
【数３】
2014500484.tif 000005
上式において、
‐Ｐi,jは、Ｂ‐スプライン表面の制御格子の行ｉ及び列ｊと関連した制御点である。
‐ｐinit：初期Ｂ‐スプライン表面（即ち、変形していない）に対応したパラメータ組。
【００８３】
したがって、´Ω2のリセットを最適化することは、Ｅ（´Ω2，ｐ2（ｌ2，ｆ2））を最小限に抑えるパラメータ組ｌを見出すことである。この最適パラメータ組ｌを例えばLevenberg-Marquardtの非線形アルゴリズムの助けにより評価し、このLevenberg-Marquardtの原理は、一例として、ダブリュ・エフ・プレス（W.F. Press,），エス・エー・テウコイスキー（S. A. Teukoisky），ダブリュー・テー・ヴェッタリング（W. T. Vettering）及びビー・ピー・フランネリー（B.P. Flannery）によって「ノン・リニア・モデルス（Non linear Models）」の巻「ヌメリカル・レシピス・インー・シー（Numerical Recipies in C）」の題名で見える１５．５章に説明されている。
【００８４】
非線形最適化後、最適化プロセスの繰り返し回数をカウントする変数を１だけ増分する。
【００８５】
繰り返しは、停止基準に達すると停止する。このために、ユーザは、Ｒ2の点のうちで、繰り返し後のリセット誤差が固定されたしきい値δよりも大きい点の組Ｖ2を識別する。この組Ｖ2は、現在のリセット品質が不十分である´Ω2の点の全てに一致している。集合Ｖ2が空である場合又は最適化アルゴリズムの繰り返し回数が大きすぎる場合、最適化プロセスを中断する。もしそうでなければ、最適化プロセスを再開する。
【００８６】
変形ｐ2（ｌ2，ｆ2）が所望のリセット品質を提供せず、この場合、より複雑な変形のモデル化を可能にするためにリセット品質の自由度の数を増大させることが必要な場合が起こることがある。
【００８７】
この場合、微調整の最終ステップを想定することが可能であり、この最終微調整ステップでは、第２の組をなす制御点の助けにより変形すると共に図形要素を含む基本Ｂ−スプライン表面を細分し、その手段として、制御点の数を増大させて第２の変形に由来する基準表面の各図形要素を第３の組をなす制御点の助けにより形成されていて、図形要素の輪郭の特定の細部に関する細分されたＢ‐スプライン表面に関連付ける。
【００８８】
このために、図形要素と関連した基本Ｂ−スプライン表面を例えば、「リカーシバリ・ジェネレイテッド・ビー‐スプラインズ・サーフェーシズ・オン・アーバトレイ・サーフェーシズ（Recursively generated B-Splines surfaces on arbitrary topological surfaces）」，コンピュータ・エイデッド・デザイン（Computer-Aided design）１０（６），１９７８年９月、ｐ３５０‐３５５に記載されているCatmull-Clark型のアルゴリズムの助けにより細分する。この細分により、上述の表面を変更しないで制御点の数が増大する。したがって、この表面により定められる変形は、先のステップ後に得られた変形と同一である。
【００８９】
´Ω2と関連したＢ‐スプライン表面に置き換えてこの新たな細分Ｂ‐スプライン表面を用いる。この場合、´Ω2の点は、新たな細分されたＢ‐スプライン表面の表面点として表される。このことは、´Ω2の点の位置／向きが細分されたＢ‐スプライン表面の第３の組をなす制御点の第３の組に属する新たな制御点の位置の一次結合の形態で表されることを意味している。
【００９０】
計算時間を短縮するため、第２の変形後に不正確にリセットされた基準表面の第１制御点組の一輪郭点に影響を及ぼす第２の制御点組に属する制御点のみの周辺で細分する。ただし、Ｂ‐スプライン表面の制御点の影響が局所的であるので、´Ω2（ｐ2（ｌ2，ｆ2））の少なくとも１つの不正確にリセットされた点に影響を及ぼす制御点だけが最適化されることを必要とすることを考慮する。
【００９１】
したがって、これにより、細分された要素表面と同じ数の第３の変形が与えられる。
【００９２】
したがって、組Ｌ2，Ｆ2が以下のようにアップデートされる。
‐Ｌ2＝Ｖ2の少なくとも１つの点に影響を及ぼす制御点の全て
‐Ｆ2＝Ｐ2／Ｌ2
【００９３】
組Ｒ2も又、組Ｌ2，Ｆ2の新たな定義に基づいてアップデートされる。
【００９４】
最適化プロセスを先の段落に記載したように繰り返し、必要ならば表記が細分された要素の変形であることを意味するようにするために表記を採用し、次に指数３を用いる同じ計算プロセスを再使用する。
【００９５】
細分された表面の第３の変形により、基準表面の輪郭要素及び被検査表面の輪郭要素の重ね合わせの事実上完全なレベルを達成することが可能である。このことは、表面の極めて正確な重ね合わせにより、２つの表面相互間に依然としてあり得る差を検出しようとする欠陥の見かけのしきい値よりも遙かに小さく減少させることが可能である。
【００９６】
したがって、基準表面の点の各々は、最初に、第１のＢ‐スプライン変形により変換する。これら連続して行われるＢ‐スプライン変形の価値は、得られるリセットが好ましくは、大きな変形のゾーン内で達成される一方で、それほど満たされていないゾーン中において大きすぎる変形を回避することにある。
【００９７】
図９の流れ図は、本発明の好ましい具体化モードの主要なステップを一覧表示している。
【００９８】
基準に対する被検査表面の一致性の評価は、明示的には本発明の主題ではないが、先の段落に記載されたように本発明のリセット方法を具体化する予備ステップにより、被検査表面と基準表面との差のより適切な分析を行うことができる。この結果として、不正確な検出回数が相当減少すると共にレリーフを含んでいない表面の部分に存在する製造上の異常が良好に理解される。
【００９９】
言うまでもないこととして、本発明の検査方法の具体化は、この目的のためにプログラムされると共に以下のステップを有する計算アルゴリズムを実施することができる情報手段の使用に関連付けられ、計算アルゴリズムのステップは、次の通りである。
‐被検査表面の三次元プロフィールを求めるステップ、
‐図形要素の輪郭を抽出するステップ、
‐被検査表面上の特徴点の存在場所を突き止めて特徴点を基準表面の対応の特徴点とペアリングしてペアリングした特徴点の１組のカップルを作るステップ、
‐基準表面の特徴点をＢ‐スプライン表面の制御点に関連付けることによってＢ‐スプライン表面を基準表面に関連付けるステップ、及び
‐Ｂ‐スプライン表面の制御点を移動させて制御点を基準表面の特徴点とペアリングした被検査表面の特徴点上に重ね合わせることによって基準表面を変形させるステップである。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【国際調査報告】
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