(57)【要約】空間比色測定装置は、三次元物体（２）の小起伏と比色座標を、多数の分析点に基づきデジタル処理でモデル化する。空間比色測定装置は、分析される三次元物体の小起伏を、立体効果を用いることで決定するために、照明装置と、少なくとも４つの光学的検出装置とを組合わせる。少なくとも２つの光学的検出装置は、互いに同じ光波長範囲に高感度のペア検出装置である。空間比色測定装置の検出ヘッド（４）は、三次元物体用の照明装置（１４）と、三次元物体（２）からの反射光を検出する少なくとも４つの検出装置（１６）とを備える。空間比色測定装置は、検出装置（１６）が受信した情報を処理する処理装置（８）を有する。少なくとも２つのペア検出装置（１６ｃ，１６ｅ）は、互いに同じ光波長範囲に高感度である。
2011510315.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
三次元物体（２）の空間比色測定装置であって、
前記空間比色測定装置は、検出ヘッド（４）と処理装置（８）を有し、
前記検出ヘッド（４）は、
物体照明装置（１４）と；、
前記三次元物体（２）からの反射光を検出する少なくとも４つの検出装置（１６）と
を備え、
前記処理装置（８）は、前記検出装置（１６）が受信したデータを処理し、
前記検出装置（１６）のうちの少なくとも２つは、互いに同じ光波長範囲に高感度なペア検出装置（１６ｃ，１６ｅ）である
ことを特徴とする、三次元物体の空間比色測定装置。
【請求項２】
それぞれ前記ペア検出装置（１６ｃ，１６ｅ）は、少なくとも１つのマトリクス光センサ（１６ｅ）に関連するペアフィルタリング部材（１６ｃ）を有する、
請求項１記載の空間比色測定装置。
【請求項３】
前記マトリクス光センサ（１６ｅ）は、前記ペアフィルタリング部材（１６ｃ）からの光線を受信する幾つかの領域に分割されている、
請求項２記載の空間比色測定装置。
【請求項４】
前記マトリクス光センサ（１６ｅ）は、ＣＭＯＳセンサである、
請求項３記載の空間比色測定装置。
【請求項５】
それぞれ前記ペア検出装置（１６ｃ，１６ｅ）は、緑色の波長範囲に等しい１つの波長範囲に高感度に構成されている、
請求項１〜４何れか一項記載の空間比色測定装置。
【請求項６】
前記検出装置（１６）のうちの２つは、第１主要検出装置（１６ｂ）と第２主要検出装置（１６ｅ）であり、
前記第１主要検出装置（１６ｂ）は、青色の波長領域範囲に高感度であり、
前記第２主要検出装置（１６ｅ）は、赤色の波長領域範囲に高感度に構成されている、
請求項１〜５何れか一項記載の空間比色測定装置。
【請求項７】
前記照明装置（１４）は、中央光源（１４ａ）であり、
前記検出装置（１６）は、前記中央光源（１４ａ）の周囲に配置されている、
請求項１〜６何れか一項記載の空間比色測定装置。
【請求項８】
前記照明装置（１４）は、前記検出装置（１６）の周囲に配置された環状照明光源（１４ａ）である、
請求項１〜６何れか一項記載の空間比色測定装置。
【請求項９】
前記空間比色測定装置は更に、前記検出ヘッド（４）を覆う蓋としての所定深さのエンドカバー（２０）を有する、
請求項１〜８何れか一項記載の空間比色測定装置。
【請求項１０】
三次元物体（２）の空間比色測定方法であって、前記空間比色測定方法は、
分析される予定の前記三次元物体（２）を照らすために、光線を放射する放射ステップと；
前記三次元物体（２）からの反射光線を、少なくとも４つの検出装置（１６）によって
受信する受信ステップと；
前記検出装置（１６）が収集した光情報を、処理装置（８）に転送する転送ステップとを有し、
少なくとも２つの前記検出装置は、互いに同じ光波長範囲に高感度のペア検出装置（１６ｃ，１６ｅ）である
ことを特徴とする、三次元物体（２）の空間比色測定方法。
【請求項１１】
前記空間比色測定方法は更に、
事前に前記検出装置（１６）を較正する較正ステップを有する、
請求項１０記載の空間比色測定方法。
【請求項１２】
前記処理装置（８）は、反復計算によって、前記検出ヘッド（４）に対する複数の分析点の相対位置を決定する、
請求項１０または１１記載の空間比色測定方法。
【請求項１３】
前記処理装置（８）は、立体知覚によって、それぞれ前記分析点と前記検出装置（１６）の間の距離を判定する、
請求項１２記載の空間比色測定方法。
【請求項１４】
前記処理装置（８）は、前記分析点において、前記三次元物体（２）の表面の法線座標を決定する、
請求項１２または１３記載の空間比色測定方法。
【請求項１５】
前記反復計算は、エンドカバー（２０）の端部と、前記検出装置（１６）との間の距離に対応する最小深さと、最大深さとの間で遂行される、
請求項１２〜１４何れか一項記載の空間比色測定方法。
【請求項１６】
前記反復ピッチは、前記最小深さに対応する画素の、範囲寸法に等しい、
請求項１２〜１５何れか一項記載の空間比色測定方法。
【請求項１７】
前記処理装置（８）は、前記分析点のうち、較正によって予め定めた値を超える比色値の強度を有する分析点を破棄する、
請求項１０〜１６何れか一項記載の空間比色測定方法。
【請求項１８】
前記空間比色測定方法は更に、
比較検討した複数の前記分析点の比色座標を、前記分析点の位置に従って算出する算出ステップを有する、
請求項１３〜１７何れか一項記載の空間比色測定方法。
【請求項１９】
それぞれ前記分析点の比色座標は、双線形内挿によって調整される、
請求項１３〜１８何れか一項記載の空間比色測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、小起伏の三次元物体の非侵襲的な空間比色測定のための装置と方法に関する。この点で本発明は、比色計測分野とも呼ばれている空間比色診断分野に関する。
【背景技術】
【０００２】
二次元物体の比色特性の分析を可能にするさまざまな解決方法は、先行技術から知られている。たとえば歯科医と義歯技工士は、元の歯と同じ比色特性を示す義歯を作るために、歯の比色地図を正確に規定することを可能にする装置を使用している。これを行うために、複数の分析点に基づき歯の比色を正確に選択することが不可欠である。
【０００３】
この点について、特許文献１では、二次元空間の複数の点において歯の比色特性を測定する装置を示している。
同様に、特許文献２では、互いに異なる色の光線を物体上に放射する数個の発光ダイオードからなる装置を開示している。光線は、物体によって反射され、検出システムと中央画像処理装置によって受信される。その結果、発光ダイオードから放射される互いに異なる波長に対応する色のさまざまなレベルで構成されたスペクトルを決定するように、画像のそれぞれ点が分析される。
【０００４】
これらの色レベルに基づき、中央処理装置は、分析表面のそれぞれ点に対して、対応する比色座標を算出する。従ってこの文献に記載された装置は、分析物体の二次元比色地図の決定を可能にする。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】国際公開第０５／０８０９２９号
【特許文献２】国際公開第０６／００２７０３号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、測定中に分析物体の起伏またはトポロジーを考慮に入れない限り、これらの解決方法は十分ではない。このために、先行技術の装置は、近似的に平面とみなされる物体の比色座標を算出する。
【０００７】
更に、三次元物体に対する空間的測定と比色測定の組合せは、歯科分野、生体計測、産業面、または芸術面の計測などにおいて、さまざまな応用を提示している。更に具体的に述べると、分析物体の空間内の三方向に基づき空間的座標と比色座標を同時に測定するということは、結果の品質を向上させることができる。
【０００８】
実際に、物体が受ける光量は、物体と照明装置の間の距離の二乗に比例するように減少する。このため比色座標の値は、これらの照明装置に対する測定物体の位置に、直接依存する。同様に光線と、物体の法線との間の角度が大きくなるほど、乱反射の範囲内の反射光量は、少なくなる。このために、先行技術の装置によって実行された近似は、実行された比色分析の品質を少なくとも部分的に変性させる著しい誤差を生じる。
【０００９】
比色測定に関連する他の問題は、分析される予定の物体の照明の選択に由来する。実際に、幾何学的基準と色彩基準に従って光束を分割することができる照明装置を使用することが好ましい。しかしこの選択は、品質、費用、障害、および寿命の基準に依存している
。
【００１０】
本発明は、三次元物体の小起伏と比色座標を、多数の分析点に基づきデジタル処理によってモデル化することができる、三次元物体の空間比色測定のための装置と方法を提供することによって、先行技術の上述の欠点を克服することを目的としている。
【００１１】
また本発明の目的は、測定装置のパラメータを考慮することによって三次元物体の比色地図を算出するための方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
これを行うために、本発明の測定装置は、分析される物体の小起伏を立体効果を用いることによって決定するために、照明装置と単色検出装置の組合せを提供する。この単色検出装置のうち、少なくとも２つのペア検出装置は、互いに同じ光波長範囲に高感度である。
【００１３】
更に具体的に述べると、本発明の目的は、物体照明装置と、物体からの反射光を検出する少なくとも４つの検出装置とによって構成された検出ヘッドを有する、三次元物体の空間比色測定装置である。空間比色測定装置は、検出装置が受信したデータを処理する処理装置を更に有する。少なくとも２つのペア検出装置は、互いに同じ光波長範囲に高感度である。
【００１４】
互いに同じ光波長範囲に高感度の少なくとも２つのペア検出装置を使用し、且つ立体知覚を用いることによって、検出装置に対する分析点の距離の算出が可能になる。従って空間内の三方向に基づき、物体の空間的座標を決定しても良い。また検出ヘッドに対する分析点の位置（距離、および表面に対する法線）に基づき、比色座標を補正しても良い。
【００１５】
更に、可視波長領域の一部に対して、それぞれ相補的に高感度の数個の単色検出装置を同時に実行することによって、計算アルゴリズムを用いることによる分析物体のデジタルカラー像を構成することが可能になる。この方法は、カラーマトリクス光センサよりも良好な精度と、逐次マルチスペクトル単色光検出システムよりも速い捕捉速度とをもたらす。
【００１６】
本発明の他の特徴と利点は、図面を参照しながら下記の詳細な実施形態を読むことによって、明らかになるであろう。
具体的な実施形態によれば、
−２つのペア検出装置は、少なくとも１つのマトリクス光センサに関連するペアフィルタリング部材を有する。
【００１７】
−マトリクス光センサは、ペアフィルタリング部材のそれぞれから来る光線をそれぞれ受信する幾つかの領域に分割されている。従って光センサ領域は、互いに同期している必要がない。
【００１８】
−マトリクス光センサは、ＣＭＯＳセンサである。画素が光子によって著しい飽和状態になっても、その画素は、隣接する画素にはほとんど何の影響も与えない。それでもなお、得られた結果を平滑化するために、分析点を取囲む画素の比色値を考慮する双線形内挿を提供している。
【００１９】
−２つのペア検出装置は、緑色の波長領域に等しい波長範囲に高感度であり、それによって、分析される物体のトポロジーについて特に関連する結果を得ることができる。
−２つの主要検出装置のうち、一方は、青色の波長領域範囲に高感度であり、もう一方
は、赤色の波長領域範囲に高感度である。
【００２０】
−照明装置は、中央照明光源によって構成され、この中央照明光源の周囲には、検出装置が配置されている。
−照明装置は、検出装置の周囲に配置された環状照明光源によって構成され、それによって、分析点の組に対して照明が均質になるため有利である。
【００２１】
−検出ヘッドは、方法の計算時間を短縮するために、所定深さのエンドカバーによって蓋を被せてある。従って実際に反復計算は、エンドカバーの深さに対応する最小距離と、観測範囲の深さに対応する最大距離との間で遂行される。
【００２２】
また他の態様によれば、本発明は、分析される予定の物体を照らすために少なくとも光を放射するステップと、物体からの反射光線を少なくとも４つの検出装置が受信するステップと、検出装置によって収集された光情報を処理装置に向かって転送するステップとを有する、三次元物体の空間比色測定方法に関する。物体からの反射光線は、互いに同じ光波長範囲に高感度の少なくとも２つのペア検出装置によって検出される。
【００２３】
具体的な実施形態によれば、
−方法は、事前に検出装置を較正するステップを有する。
−処理装置は、光源と検出装置とに対する複数の分析点の位置を考慮に入れて分析物体の比色座標を調整するために、検出ヘッドに対するこれらの複数の分析点の相対位置を、反復計算を用いることによって決定する。
【００２４】
−処理装置は、立体知覚を用いることによって、検出装置に対する複数の分析点の距離を決定する。
−処理装置は、複数の分析点において、物体表面に対する法線の座標を決定する。
【００２５】
−深さの反復計算は、エンドカバーの端部と、検出装置との間の距離に対応する最小深さと、決定された最大深さとの間で実行される。
−反復ピッチは、最小深さに対応する画素の範囲寸法に等しい。従って測定値は、等方的である。
【００２６】
−処理装置は、鏡面反射に起因する誤差を特定するために、較正によって予め定めた値を超えるような比色値の強度を有する分析点を破棄する。
−方法は、比較検討された複数の分析点の比色座標を、前記分析点の位置に従って算出するステップを有する。
【００２７】
−それぞれ点の比色座標は、双線形内挿を用いることによって、分析物体の比色の線形性に留意するように調整される。
「等方的な測定」という用語は、測定分解能が空間内の三方向に互いに同じであることを意味することに注目すべきである。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】本発明の測定装置の、模式図。
【図２ａ】環状照明装置を有する、本発明の検出ヘッドの第１実施形態の模式図
【図２ｂ】環状照明装置を有する、本発明の検出ヘッドの第１実施形態の模式図。
【図３ａ】中央照明装置を有する、本発明の検出ヘッドの第２実施形態の模式図。
【図３ｂ】中央照明装置を有する、本発明の検出ヘッドの第２実施形態の模式図。
【図４】ペア検出装置の、動作の模式図。
【発明を実施するための形態】
【００２９】
図１は、本発明の測定装置の実施形態を説明する。この実施形態では、装置は、三次元物体２（この場合は歯）の空間比色測定を達成することができる。
またもちろん、他の任意の小起伏の三次元物体２、すなわちその物体のトポロジーには、いかなる隙間も無いような物体も、このような空間比色測定の対象になる可能性がある。たとえば測定される三次元物体２は、絵画、工業的に生産された部品、チケットなどがあり得る。
【００３０】
本発明の装置は、検出ヘッド４と、検出ヘッド４から来るデータを処理する処理装置８に接続された支持ハウジング６とを有することが好ましい。
処理装置８は、支持ハウジング６とは分かれ、通信装置１０を用いることによって支持ハウジング６に接続されている。またこの構成は、支持ハウジング６の大きさの縮小化と、測定装置の生産費の低減とを可能にする。従って測定装置は、コンパクトであり、操作者が片手によって容易に取り扱うことができる。また処理装置８は、結果の精度を向上させるために、およびより大量の物体２を測定するために、より安定した支持部（８）の中に組込んでも良い。
【００３１】
検出ヘッド４によって収集されたデジタルデータは、通信装置１０によって、反復計算を用いることによって分析物体の空間比色座標を再構成することができる処理装置８に伝達されることが有利である。これらの通信装置１０は、有線または無線のどちらでも良い。
【００３２】
検出ヘッド４は、測定される三次元物体２の大きさに適した寸法を示し、検出ヘッド４によって処理装置８に提供されるデータを処理する時間を減少させることに注目すべきである。
【００３３】
図２ａと図２ｂは、本発明の検出ヘッド４の第１実施形態の模式図である。この実施形態では、検出ヘッド４は、中央の光学的検出装置１６と、周囲に配置された環状照明装置１４とを有する。
【００３４】
環状照明装置１４は、可視領域におけるワイドスペクトル光源１４ａを有する。より多くの、またはより少ない光源１４ａを使用する可能性を検討しても良い。しかし、実験結果によれば、８つの光源１４ａから始めると、それぞれの分析点での分解能は、相対的に一定であることが分かった。従って環状照明装置１４によって提供される照明は、連続的であり、測定要件に合わせて出力を調整しやすい。また環状照明装置１４は、照明の均一性を向上させるために、光源１４ａの下流に位置する擦りガラスまたは、ホログラフィックガラス１４ｂを有することが有利である。
【００３５】
他の実施形態によれば、環状光源１４は、円形ネオン管によって構成されていても良い。
光学的検出装置１６は、赤外線擾乱を除去する赤外フィルタ１６ａを有することが有利であり、ＣＭＯＳ型光センサは、この赤外線擾乱に高感度である（後述する）。実施形態によれば、赤外フィルタ１６ａは、スコット社のフィルタＢＧ４０である。
【００３６】
検出装置１６は、環状照明装置１４の中心の、光学部材１６ａの後方に配置された４つのフィルタリング部材１６ｂ，１６ｃを更に有する。フィルタリング部材１６ｂ，１６ｃは、分析物体から来る光線を同時にフィルタリングし、光センサに向かって集束させることができるレンズであることが好ましい（後述する）。
【００３７】
これらの４つのフィルタリング部材１６ｂ，１６ｃの光軸は、互いに平行であり、環状
照明装置１４の伝搬軸線と同じ方向に従っている。
また一方、さまざまな代替装置によれば、フィルタリング部材１６ｂ，１６ｃは、互いに同じ点に向かって集まる光軸、もしくは互いに異なる点に向かって集まる光軸を示しても良く、またはこれらのさまざまな可能性の合成でも良い。
【００３８】
１ペアの主要フィルタリング部材１６ｂのうちの１つ（第１主要フィルタリング部材１６ｂ）は、ＨＯＹＡ社の参照番号Ｂ４４０の青色フィルタリングレンズであり、他方（第２主要フィルタリング部材１６ｂ）は、ショット社の参照番号ＤＧ５７０の赤色フィルタリングレンズである。１ペアの主要フィルタリング部材１６ｂは、環状照明装置１４の中心軸に関して対称的に配置することが好ましい。
【００３９】
また更に、検出装置１６は、互いに同じ帯域幅を示す１対つまり１ペアのペアフィルタリング部材１６ｃを有する。これらのペアフィルタリング部材１６ｃは、たとえばＨＯＹＡ社の参照番号Ｇ５５０のレンズなどの緑色レンズであることが有利である。これらのペアフィルタリング部材１６ｃは、環状照明装置１４の中心軸の周囲に回転対称に配置することが有利である。
【００４０】
４つのフィルタリング部材１６ｂ，１６ｃに対応するように、光センサ１６ｅは４つの四分円に細分され、そしてフィルタリング部材１６ｂ，１６ｃの後方に配置される。光センサ１６ｅは、これらのフィルタリング部材１６ｂ，１６ｃを通って伝搬する光線を、受信する。この光センサ１６ｅは、ＣＭＯＳセンサであることが好ましい。
【００４１】
ペアフィルタリング部材１６ｃと、対応する光センサ領域１６ｅとの組合せは、第１ペア検出装置（１６ｃ，１６ｅ）を形成する。同様に、主要フィルタリング部材１６ｂと、対応する光センサ領域１６ｅとの組合せは、第２主要検出装置（１６ｂ，１６ｅ）を形成する。
【００４２】
図３ａと図３ｂは、第２実施形態を示す。検出ヘッド４は、好ましくはホログラフィック型ディフューザフィルタ１４ｂの後方に位置決めされた中央照明装置１４と、中央照明装置１４の周囲に配置された４つのフィルタリング部材１６ｂ，１６ｃとからなる検出装置１６を有する。
【００４３】
この実施形態によれば、検出装置１６は、赤色の第１主要フィルタリング部材１６ｂと、青色の第２主要フィルタリング部材１６ｂと、緑色の２つのペアフィルタリング部材１６ｃとからなる。
【００４４】
これらの２つのペアフィルタリング部材１６ｃは、検出ヘッド４の回転軸に関して対称性を保持するように、２つの主要フィルタリング部材１６の間に挿入することが有利である。また一方、ペアフィルタリング部材１６ｃを隣合わせに配置しても良い。
【００４５】
またこの実施形態では、検出ヘッド４は、フィルタリング部材１６ｂ，１６ｃの後方に配置された４つの独立または同期している光センサ１６ｅを含んでおり、これらのフィルタリング部材１６ｂ，１６ｃを通って伝搬する光線を受信する。
【００４６】
検出ヘッド４は、分析物体が外部光によって擾乱されないような空洞（チャンバ）を形成できる所定深さのエンドカバー２０によって蓋を被せてあることが好ましい。エンドカバー２０の深さは、最小観測深さを規定する。実際に、分析物体２は、エンドカバー２０の公称距離の前方または後方の、許容距離に対応する、検出装置１６に対する可変距離には位置することができない。
【００４７】
このエンドカバー２０は、携帯測定装置の範囲内の数センチメートルの深さ、または支持部に取り付けられた装置の範囲内の数メートルの深さを示す。
エンドカバー２０の深さは、測定される予定の物体２の奥行きよりも５倍長いことが有利である。同様に、分析物体２の横と縦は、測定される予定の物体２の奥行きよりも約３倍大きいことが好ましい。
【００４８】
利用段階では、本発明の装置は、支持ハウジング６を用いることによって保持して、装置の制御回路９によって起動しても良い。
操作者は、白色表面をエンドカバー２０に接触させてセットすることによって、測定装置の較正を最初に遂行することが好ましい。測定の継続時間は、光センサの最大強度が許容最大強度の約８５％を超えないように決定される。従って測定値を取込むとき、起こり得る鏡面反射効果は、許容最大強度に等しい強度によって変換されるため、起こり得る鏡面反射効果は、検出可能であろう。
【００４９】
その後、外部の光から物体２を少なくとも部分的に保護するように、分析される予定の物体２に本発明の測定装置のエンドカバー２０を接触させてセットする。
その後、少なくとも１つの測定、または非常に短時間の非侵襲的なデジタル化を達成する際に、本発明の方法が成り立つ。実際に、この測定は、接触することなく、完全に無害な照明装置１４を使用することによって達成される。その一方で、測定時間は、０．１秒未満であっても良い。
【００５０】
この第２測定の間、照明装置１４から発生する光線は、検出装置１６に向かうように反射する前に、分析物体２に向かって伝搬する。
従ってこれらの反射光ビームは、マトリクス光センサ１６ｅに到達するまでに、光学部材１６ａを連続的に通過し、その後、フィルタリング部材１６ｂ，１６ｃを通過する。このようにして、分析点に対応する光学データは、マトリクス光センサ１６ｅを構成する画素のそれぞれによって収集される。その後、これらのデータは、分析物体２の空間比色地図を導くために、中央ユニット（１２）を有する通信装置１０を用いることによって処理装置８に伝達される。
【００５１】
ペアフィルタリング部材１６ｃとそれに対応するマトリクスセンサ１６ｅとによって構成されているペア検出装置は、処理装置８における立体計算を用いることによって、分析点のそれぞれの空間座標を決定できる。
【００５２】
実際に、ペア検出装置は、互いに同じスペクトル状態で物体２上で反射された光を受信する。これらの場合では、ペア検出装置によって得られる値は、等しいはずである。
図４に表した、特徴を示す本発明の測定装置の範囲内では、分析物体２の点によって再放射される光強度の値は、下記の関係式によって表しても良い。
【００５３】
【数１】
2011510315.tif 000003
【００５４】
【数２】
2011510315.tif 000004
【００５５】
ここで、
−ＬｏＤは、分析点によって再放射され、右センサに基づき決定される光強度の値を表す。
【００５６】
−ＬｏＧは、分析点によって再放射され、左センサに基づき決定される光強度の値を表す。
−ＬｐＤは、物体上での拡散反射の後に、右センサの画素が受信する光エネルギーを表す。
【００５７】
−ＬｐＧは、物体上での拡散反射の後に、左センサの画素が受信する光エネルギーを表す。
−ｂＤは、１つの画素における右センサの法線と、物体からの光線との間の角度を表す。
【００５８】
−ｂＧは、１つの画素における左センサの法線と、物体からの光線との間の角度を表す。
−ｄ２Ｄは、分析点から、右センサ上の対応する画素までの光路長を表す。
【００５９】
−ｄ２Ｇは、分析点から、左センサ上の対応する画素までの光路長を表す。
従って本発明の方法は、最小深さと最大深さの間に含まれる分析点のそれぞれ潜在的深さに対して、分析点によって再放射されペア検出装置に基づき算出される光強度の値（ＬＯＧ、ＬＯＤ）が最も近くなる深さを、反復的に計算することを提供する。
【００６０】
最小深さは、エンドカバー２０の深さに対応していることが有利である。一方、最大深さは、観測範囲の深さに対応していることに注目すべきである。反復ピッチは、最小深さに対応する画素の、範囲寸法に等しいことが好ましい。
【００６１】
処理装置８は、この段階で、複数の分析点の深さと、ペア検出装置の長さ範囲に対応する前記分析点によって再放射される光強度とに対応する２つのデータを決定する。このようにして、処理装置は、測定物体のそれぞれ分析点の座標（ｘ，ｙ，ｚ）を導く。
【００６２】
またこれらのデータに基づき、処理装置８は、それぞれ分析点における法線を決定し、この分析点における色を復元できるようにする。この演算は、それぞれ分析点を通る中央平面を算出することによって実行される。
【００６３】
最終的に、処理装置８は、主要検出装置１６ｂとペア検出装置１６ｃによって収集された光強度の値に基づき、分析物体２の比色地図を決定する。この地図は、分析点の空間位置に基づき、特に、検出装置１６に対するこれらの分析点の距離と、これらの分析点のそれぞれにおける物体表面に対する法線の方向とに基づき、比較検討される。
【００６４】
結果の精度を向上させるために、幾つかの測定の組を遂行できても良い。
本発明は、上述の実施形態に限定されない。特に、当業者は、本発明の枠組みの範囲内で上述の装置と方法のさまざまな代案を実現できる。
【００６５】
特に、単色フィルタリングレンズを使用することが好ましいが、色フィルタに組合わせたレンズによってフィルタリング部材１６ｂ，１６ｃを構成しても良い。また更に、本発明の装置は、特に、比色平面上での結果の品質を向上させるために、４ペア以上の検出装置１６によって構成しても良い。
【００６６】
またその一方で、ＣＭＯＳマトリクス光センサ１６ｅを、ＣＣＤセンサまたは、他の任意の種類の光センサに置換えることも可能と考えられるであろう。
【図１】
2011510315.tif 000005
【図２ａ】
2011510315.tif 000006
【図２ｂ】
2011510315.tif 000007
【図３ａ】
2011510315.tif 000008
【図３ｂ】
2011510315.tif 000009
【図４】
2011510315.tif 000010
【国際調査報告】
2011510315.tif 000011
2011510315.tif 000012
2011510315.tif 000013
2011510315.tif 000014