(57)【要約】  ディスクドライブ試験用スロット（５００）は、試験のためにディスクドライブ（６００）を運ぶディスクドライブ運搬装置（４００）を受けて支持するための試験区画（５６０）を画定する筐体（５５０）を具える。この筐体はまた、試験のためのディスクドライブを運ぶディスクドライブ運搬装置の挿入および取り出しのためのこの試験区画へのアクセスを提供する開口端（５６１）をも画定する。このディスクドライブ試験用スロットはまた、この筐体に連結された取付板（５０４）を具える。１以上の振動防止装置（５２０、５３０）が、この筐体と取付板との間に配置される。この１以上の振動防止装置は、この筐体と取付板との間での振動エネルギーの伝達を抑制するように動作可能である。
2011521388.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスクドライブ試験用スロット（５００）であって、
筐体（５５０）であって、
試験のためにディスクドライブ（６００）を運ぶディスクドライブ運搬装置（４００）を受けて支持する試験区画（５６０）と、
試験のためのディスクドライブを運ぶディスクドライブ運搬装置の挿入および取り出しのための前記試験区画へのアクセスを提供する開口端（５６１）と
を画定する筐体（５５０）と、
前記筐体に連結された取付板（５０４）と、
前記筐体と前記取付板との間に配置された１以上の振動防止装置（５２０、５３０）であって、前記１以上の振動防止装置は、前記筐体と前記取付板との間での振動エネルギーの伝達を抑制するように動作可能である、１以上の振動防止装置（５２０、５３０）と
を具える、ディスクドライブ試験用スロット（５００）。
【請求項２】
前記取付板は、前記取付板を前記１以上の振動防止装置のうちの少なくとも１つに連結する１以上のセルフクリンチングスタッド（５１２）を具える、請求項１に記載のディスクドライブ試験用スロット。
【請求項３】
前記１以上の振動防止装置は１以上のグロメット（５３０）を具え、前記１以上のグロメットは前記取付板に対して変位可能である、請求項１または請求項２に記載のディスクドライブ試験用スロット。
【請求項４】
前記筐体は、各々が前記グロメットのうちの対応するものと係合する複数の連結ピン（５６６）を具える、請求項３に記載のディスクドライブ試験用スロット。
【請求項５】
前記連結ピンは、前記開口端に対向して前記筐体の第１の端部（５６７）に配置される、請求項４に記載のディスクドライブ試験用スロット。
【請求項６】
前記取付板は、
主要本体部材（５０６）と、
主要本体部材に連結されかつ前記グロメットを受けて支持するように構成されているフランジ部材（５０８）と
を具える、請求項３から請求項５のいずれか１項に記載のディスクドライブ試験用スロット。
【請求項７】
前記フランジ部材は、前記主要本体部材から間隔を開けた位置で前記グロメットを支持するように構成されている、請求項６に記載のディスクドライブ試験用スロット。
【請求項８】
前記フランジ部材は、各々が前記グロメットのうちの１つを受けて支持するように構成されている複数の又状開口（５３２）を具える、請求項６または請求項７に記載のディスクドライブ試験用スロット。
【請求項９】
前記筐体は前記グロメットに前負荷をかけるようにして前記グロメットへと連結されている、請求項３から請求項８のいずれか１項に記載のディスクドライブ試験用スロット。
【請求項１０】
前記グロメットは熱可塑性ビニルから形成されている、請求項３から請求項９のいずれか１項に記載のディスクドライブ試験用スロット。
【請求項１１】
前記１以上の振動防止装置は、前記筐体と前記取付板との間に配置された１以上の嵌め込み型振動防止装置（５２０）を含む、請求項１から請求項１０のいずれか１項に記載のディスクドライブ試験用スロット。
【請求項１２】
前記１以上の振動防止装置は、各々が前記筐体と前記取付板との間に配置された複数の前記振動防止装置を含み、前記複数の振動防止装置は、各々、前記筐体と前記取付板との間での振動エネルギーの伝達を抑制するように動作可能である、請求項１から請求項１１のいずれか１項に記載のディスクドライブ試験用スロット。
【請求項１３】
ディスクドライブおよびディスクドライブ運搬装置の不存在下では、前記試験用スロット筐体は実質的に可動部を保有しない、請求項１から請求項１２のいずれか１項に記載のディスクドライブ試験用スロット。
【請求項１４】
ディスクドライブ試験システム（１０）であって、
複数の試験用スロット（５００）であって、各試験用スロットは、
筐体（５５０）であって、
試験のためにディスクドライブ（６００）を運ぶディスクドライブ運搬装置（４００）を受けて支持するための試験区画（５６０）と、
試験のためのディスクドライブを運ぶディスクドライブ運搬装置の挿入および取り出しのための前記試験区画へのアクセスを提供する開口端（５６１）と
を画定する筐体（５５０）と、
前記筐体に連結された取付板アセンブリ（５０２）と
を具える、複数の試験用スロット（５００）と、
各々が前記試験用スロットのうちの１つを受けて支持するように構成されている複数の試験用スロット置き場（１２２）を画定するシャーシー（１０２）であって、前記試験用スロット置き場の各々は前記取付板アセンブリのうちの１つを解放可能に係合するように構成された対応するカードガイドアセンブリ（１２４）を具える、シャーシー（１０２）と
を具える、ディスクドライブ試験システム（１０）。
【請求項１５】
前記取付板アセンブリは、前記試験用スロット筐体と前記シャーシーとの間の振動エネルギーの伝達を抑制するように動作可能である、請求項１４に記載のディスクドライブ試験システム。
【請求項１６】
前記取付板アセンブリのうちの少なくとも１つが、
取付板（５０４）と、
前記取付板と前記試験用スロット筐体のうちの関連付けられたものとの間に配置された１以上の振動防止装置（５２０、５３０）であって、前記１以上の振動防止装置は、前記試験用スロット筐体のうちの関連付けられたものと前記取付板との間での振動エネルギーの伝達を抑制するように動作可能である、１以上の振動防止装置（５２０、５３０）と
を具える、請求項１４または請求項１５に記載のディスクドライブ試験システム。
【請求項１７】
前記取付板は、前記カードガイドアセンブリのうちの１つのうちに嵌合し、これにより前記関連付けられた試験用スロットと前記シャーシーとの間の機械的な連結をもたらすような大きさである取り付けフランジ（５３４）を具える、請求項１６に記載のディスクドライブ試験システム。
【請求項１８】
前記１以上の振動防止装置は１以上のグロメット（５３０）を具え、前記グロメットは前記取付板に対して変位可能である、請求項１６または請求項１７に記載のディスクドライブ試験システム。
【請求項１９】
前記筐体は、各々が前記グロメットのうちの対応するものと係合する複数の連結ピン（５６６）を具える、請求項１８に記載のディスクドライブ試験システム。
【請求項２０】
前記試験用スロットは、各々独立に、前記シャーシーから取り出し可能である、請求項１４から請求項１９のいずれか１項に記載のディスクドライブ試験システム。
【請求項２１】
ディスクドライブ試験システム（１０）であって、
複数の試験用スロット（５００）であって、各試験用スロットは、
筐体（５５０）であって、
試験のためにディスクドライブ（６００）を運ぶディスクドライブ運搬装置（４００）を受けて支持するための試験区画（５６０）と、
試験のためのディスクドライブを運ぶディスクドライブ運搬装置の挿入および取り出しのための前記試験区画へのアクセスを提供する開口端（５６１）と
を画定する筐体（５５０）と、
取付板（５０４）と、
前記筐体と前記取付板との間に配置された１以上の振動防止装置（５２０、５３０）であって、前記１以上の振動防止装置は、前記試験用スロット筐体のうちの関連付けられたものと前記取付板との間での振動エネルギーの伝達を抑制するように動作可能である、１以上の振動防止装置（５２０、５３０）と
を具える、複数の試験用スロット（５００）と、
各々が前記試験用スロットのうちの１つを受けて支持するように構成されている複数の試験用スロット置き場（１２２）を画定するシャーシー（１０２）であって、前記試験用スロットは、各々独立に、前記シャーシーから取り出し可能である、シャーシー（１０２）と
を具える、ディスクドライブ試験システム（１０）。
【請求項２２】
前記試験用スロット置き場は、各々、前記試験用スロット取付板のうちの１つを解放可能に係合し、これにより前記関連付けられた試験用スロットを前記シャーシーへと機械的に連結するように構成されている、請求項２１に記載のディスクドライブ試験システム。
【請求項２３】
前記振動防止装置は、前記試験用スロット筐体と前記シャーシーとの間の振動エネルギーの伝達を抑制するように動作可能である、請求項２１または請求項２２に記載のディスクドライブ試験システム。
【請求項２４】
前記振動防止装置はグロメット（５３０）を具える、請求項１４から請求項１７または請求項２０から請求項２３のいずれか１項に記載のディスクドライブ試験システム。
【請求項２５】
前記振動防止装置は嵌め込み型振動防止装置（５２０）を含む、請求項１４から請求項２４のいずれか１項に記載のディスクドライブ試験システム。
【請求項２６】
ディスクドライブおよびディスクドライブ運搬装置の不存在下では、前記試験用スロット筐体は実質的に可動部を保有しない、請求項１４から請求項２５のいずれか１項に記載のディスクドライブ試験システム。
【請求項２７】
前記試験用スロットは、前記試験用スロット置き場内で互いに交換可能である、請求項１４から請求項２６のいずれか１項に記載のディスクドライブ試験システム。
【請求項２８】
ディスクドライブ試験用スロット（５００）であって、
筐体（５５０）であって、
試験のためにディスクドライブ（６００）を運ぶディスクドライブ運搬装置（４００）を受けて支持するための試験区画（５６０）と、
試験のためのディスクドライブを運ぶディスクドライブ運搬装置の挿入および取り出しのための前記試験区画へのアクセスを提供する開口端（５６１）と
を画定する筐体（５５０）と、
前記筐体に連結された取付板（５０４）と、
前記筐体と前記取付板との間に配置されかつ前記筐体と前記取付板との間での振動エネルギーの伝達を抑制するように動作可能である複数の浮動接点（５３０、５３２）であって、前記浮動接点は前記取付板に対して変位可能である、複数の浮動接点（５３０、５３２）と
を具える、ディスクドライブ試験用スロット（５００）。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、ディスクドライブ試験システムの中で振動を絶縁することに関する。
【背景技術】
【０００２】
ディスクドライブ製造業者は、典型的には、一まとまりの必要条件の遵守について、製造されたディスクドライブを試験する。大量のディスクドライブを連続的にまたは並行して試験するための試験装置および技法が存在する。製造業者は、大量のディスクドライブを同時にバッチ式で試験する傾向がある。ディスクドライブ試験システムは、典型的には、試験のためにディスクドライブを受ける複数の試験用スロットを有する１以上の架台を具える。
【０００３】
そのディスクドライブのすぐ周りの試験環境は厳密に調節される。その試験環境の中の最小の温度変動が、正確な試験条件およびそのディスクドライブの安全性にとって非常に重要である。最新世代のディスクドライブはより高容量、より速い回転速度およびより小さいヘッドクリアランスを有するので、それらは振動により敏感である。過剰の振動は、試験結果の信頼性および電気的接続の完全性に影響を及ぼす可能性がある。試験条件下では、ドライブ自体が、支持構造体または隣接するユニットへの治具を通して振動を伝搬させる可能性がある。この振動の「クロストーキング」は、振動の外部供給源と一緒に、バンプエラー（ｂｕｍｐ  ｅｒｒｏｒｓ）、ヘッドスラップ（ｈｅａｄ  ｓｌａｐ）および回転非同期振れ（ｎｏｎ−ｒｅｐｅｔｉｔｉｖｅ  ｒｕｎ−ｏｕｔ、ＮＲＲＯ）に寄与し、これはより低い歩留まりおよび製造原価の上昇を生じる可能性がある。現在のディスクドライブ試験システムは、自動化および構造支持システムを用いるが、これらはそのシステムの中での過剰の振動に寄与し、かつ／または大きい設置面積を必要とする。
【０００４】
ある場合には、望ましくない振動を抑えるために、ディスクドライブは振動を抑制または減衰させるようにしてキャリアおよび／または試験機の架台へとクランプ止めされる。ディスクドライブで発生する振動の効果を抑制する周知の方法は、取り付け装置（例えば、キャリア）の回転の中心がディスクドライブの設置面積の外側にあるように、ディスクドライブを取り付け装置に取り付けることである。例えば、図１は、（例えば、ディスクドライブ試験装置５０用の）従来のディスクドライブ取り付け配置を示す。図１に示されるように、装置５０は、ディスクドライブ６００を中に受けるためのディスクドライブ受け部分５４を有するキャリア５２を具える。ディスクドライブ６００は、（例えば、締め具５６および／またはクランプ５７を用いて）キャリア５２に剛直に連結される。キャリア５２はシャーシー６０のベイ６２の中に受けられ、このシャーシー６０は複数のベイ（例えば、複数の横列および／または縦列のベイ）を具えていてもよい。取り付け配置は、キャリア５２の回転の中心５８がディスクドライブ受け部分５４およびディスクドライブ６００から離れてある距離の間隔を置くように、シャーシー６０内でキャリア５２を支持する。公知の取り付け配置としては、例えば、キャリア５２が周りを枢動できるピン６４を具える。矢印７０は、キャリア５２の中のディスクドライブ６００のディスク６２０の回転（矢印７２）によってもたらされる、シャーシー６０に対するキャリア５２の結果として生じる動きを図示する。
【発明の概要】
【課題を解決するための手段】
【０００５】
１つの態様では、ディスクドライブ試験用スロットは、試験のためにディスクドライブを運ぶディスクドライブ運搬装置を受けて支持するための試験区画を画定する筐体を具える。この筐体はまた、試験のためのディスクドライブを運ぶディスクドライブ運搬装置の挿入および取り出しのためのこの試験区画へのアクセスを提供する開口端をも画定する。このディスクドライブ試験用スロットはまた、この筐体に連結された取付板を具える。１以上の振動防止装置が、この筐体と取付板との間に配置される。この１以上の振動防止装置は、この筐体と取付板との間での振動エネルギーの伝達を抑制するように動作可能である。
【０００６】
実施形態は以下の特徴のうちの１以上を含んでもよい。
【０００７】
いくつかの実施形態では、主要本体部材は、この主要本体部材を上記１以上の振動防止装置のうちの少なくとも１つに連結する１以上のセルフクリンチングスタッドを具える。
【０００８】
いくつかの実施態様では、この１以上の振動防止装置は嵌め込み型（ｍａｌｅ−ｆｅｍａｌｅ）振動防止装置を含む。この嵌め込み型振動防止装置はウレタンエラストマーから形成される胴体を具えることができる．
【０００９】
いくつかの実施形態では、１以上の振動防止装置は１以上のグロメットを具える。ある場合には、この１以上のグロメットは、上記取付板に対して変位可能である。いくつかの例では、筐体は、各々がこのグロメットのうちの対応するものと係合する複数の連結ピンを具える。この連結ピンは、開口端に対向して筐体の第１の端部に配置することができる。取付板は、主要本体部材と、主要本体部材に連結されかつグロメットを受けて支持するように構成されているフランジ部材とを具えることができる。このフランジ部材は、上記主要本体部材から間隔を開けた位置で上記グロメットを支持するように構成されていてもよい。ある場合には、このフランジ部材は、各々がグロメットのうちの１つを受けて支持するように構成されている複数の又状開口を具える。筐体はグロメットに前負荷をかけるようにしてグロメットへと連結されることができる。このグロメットは熱可塑性ビニルから形成されていてもよい。いくつかの例では、１以上の振動防止装置はまた、筐体と取付板との間に配置された１以上の嵌め込み型振動防止装置を含む。
【００１０】
いくつかの実施形態では、１以上の振動防止装置は、各々が筐体と取付板との間に配置された複数の振動防止装置を含み、この複数の振動防止装置は、各々、筐体と取付板との間での振動エネルギーの伝達を抑制するように動作可能である。
【００１１】
いくつかの実施態様では、ディスクドライブおよびディスクドライブ運搬装置の不存在下では、当該試験用スロット筐体は実質的に可動部を保有しない。
【００１２】
別の態様によれば、ディスクドライブ試験システムは複数の試験用スロットを具える。この試験用スロットの各々は筐体と、取付板アセンブリとを具える。この筐体の各々は、試験のためにディスクドライブを運ぶディスクドライブ運搬装置を受けて支持するための試験区画と、試験のためのディスクドライブを運ぶディスクドライブ運搬装置の挿入および取り出しのための前記試験区画へのアクセスを提供する開口端とを画定する。取付板アセンブリは筐体に連結される。当該ディスクドライブ試験システムはまた、各々が試験用スロットのうちの１つを受けて支持するように構成されている複数の試験用スロット置き場を画定するシャーシーを具える。この試験用スロット置き場の各々は取付板アセンブリのうちの１つを解放可能に係合するように構成された対応するカードガイドアセンブリを具える。
【００１３】
実施形態は以下の特徴のうちの１以上を含んでもよい。いくつかの実施形態では、この試験用スロットは、各々独立に、シャーシーから取り出し可能である。
【００１４】
いくつかの実施態様では、取付板アセンブリは、試験用スロット筐体とシャーシーとの間の振動エネルギーの伝達を抑制するように動作可能である。
【００１５】
いくつかの実施形態では、取付板アセンブリのうちの少なくとも１つは、取付板と、この取付板と上記試験用スロット筐体のうちの関連付けられたものとの間に配置された１以上の振動防止装置とを具える。この１以上の振動防止装置は、この筐体のうちの関連付けられたものと取付板との間での振動エネルギーの伝達を抑制するように動作可能である。この取付板は、カードガイドアセンブリのうちの１つの内部に嵌合して関連付けられた試験用スロットとシャーシーとの間の機械的な連結をもたらすような大きさである、取り付けフランジを具えることができる。この１以上の振動防止装置は１以上のグロメットを具えることができる。ある場合には、このグロメットは取付板に対して変位可能である。筐体は、各々がグロメットのうちの対応するものと係合する複数の連結ピンを具えることができる。この１以上の振動防止装置は１以上の嵌め込み型振動防止装置を含むことができる。
【００１６】
いくつかの実施態様では、このシャーシーは、試験用スロットのうちの１つの内部のディスクドライブに機能テストルーチンを伝えるように構成された試験用電子機器を具える。いくつかの例では、この試験用スロットのうちの少なくとも１つはまた、試験用電子機器と、試験用スロットの少なくとも１つの試験区画内のディスクドライブとの間の電気通信を提供するように構成された接続インターフェース回路をも具える。
【００１７】
いくつかの実施形態では、この試験用スロットは、試験用スロット置き場内で互いに交換可能である。
【００１８】
さらに別の態様では、ディスクドライブ試験システムは、複数の試験用スロットを具える。各試験用スロットは、試験のためにディスクドライブを運ぶディスクドライブ運搬装置を受けて支持するための試験区画と、試験のためのディスクドライブを運ぶディスクドライブ運搬装置の挿入および取り出しのための試験区画へのアクセスを提供する開口端とを画定する筐体を具える。各試験用スロットはまた、取付板と、筐体と取付板との間に配置された１以上の振動防止装置とを具える。この１以上の振動防止装置は、筐体と取付板との間での振動エネルギーの伝達を抑制するように動作可能である。当該ディスクドライブ試験システムはまた、各々が試験用スロットのうちの１つを受けて支持するように構成されている複数の試験用スロット置き場を画定するシャーシーを具えることができる。ある場合には、この試験用スロットは、各々独立にシャーシーから取り出し可能である。
【００１９】
実施形態は以下の特徴のうちの１以上を含んでもよい。いくつかの実施態様では、上記試験用スロット置き場は、各々、試験用スロット取付板のうちの１つを解放可能に係合し、これにより関連付けられた試験用スロットをシャーシーへと機械的に連結するように構成されている。
【００２０】
いくつかの実施形態では、振動防止装置は、試験用スロット筐体とシャーシーとの間の振動エネルギーの伝達を抑制するように動作可能である。
【００２１】
いくつかの実施態様では、この振動防止装置をグロメットを具える。
【００２２】
いくつかの実施形態では、この振動防止装置は嵌め込み型振動防止装置を含む。
【００２３】
いくつかの実施態様では、ディスクドライブおよびディスクドライブ運搬装置の不存在下では、当該試験用スロット筐体は実質的に可動部を保有しない。
【００２４】
いくつかの実施形態では、このシャーシーは、試験用スロットのうちの１つの内部のディスクドライブに機能テストルーチンを伝えるように構成された試験用電子機器を具える。ある場合には、この試験用スロットのうちの第１のものは、試験用電子機器と、試験用スロットのうちのその第１のものの試験区画内のディスクドライブとの間の電気通信を提供するように構成された接続インターフェース回路をも具える。
【００２５】
いくつかの実施形態では、この試験用スロットは、試験用スロット置き場内で互いに交換可能である。
【００２６】
別の態様では、ディスクドライブ試験用スロットは、試験のためにディスクドライブを運ぶディスクドライブ運搬装置を受けて支持するための試験区画と、試験のためのディスクドライブを運ぶディスクドライブ運搬装置の挿入および取り出しのための前記試験区画へのアクセスを提供する開口端とを画定する筐体を具える。このディスクドライブ試験用スロットはまた、この筐体に連結された取付板と、この筐体と取付板との間に配置されかつこの筐体と取付板との間での振動エネルギーの伝達を抑制するように動作可能である複数の浮動接点を具えることができる。この浮動接点は取付板に対して変位可能である。
【００２７】
本発明の１以上の実施形態の詳細は、添付の図面および以下の説明で示される。本発明の他の特徴、対象、および利点は、説明および図面から、ならびに特許請求の範囲から明らかとなろう。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】先行技術のディスクドライブ取り付け配置の概略図である。
【図２】ディスクドライブ試験システムの斜視図である。
【図３Ａ】試験架台の斜視図である。
【図３Ｂ】図２Ａの試験架台からのスロット列の詳細な斜視図である。
【図４】試験用スロットアセンブリの斜視図である。
【図５Ａ】搬送ステーションの斜視図である。
【図５Ｂ】トートおよびディスクドライブの斜視図である。
【図６Ａ】ディスクドライブ試験システムの上面図である。
【図６Ｂ】ディスクドライブ試験システムの斜視図である。
【図７Ａ】ディスクドライブ運搬装置の斜視図である。
【図７Ｂ】ディスクドライブ運搬装置の斜視図である。
【図８Ａ】ディスクドライブを支持するディスクドライブ運搬装置の斜視図である。
【図８Ｂ】試験用スロットの中への挿入のために整列されたディスクドライブを運ぶディスクドライブ運搬装置の斜視図である。
【図９】自己診断および機能試験電気回路の概略図である。
【図１０】自己診断および機能試験電気回路の概略図である。
【図１１】試験用スロットの斜視図である。
【図１２】取付板アセンブリの斜視図である。
【図１３】嵌め込み型振動防止装置の斜視図である。
【図１４Ａ】試験用スロット筐体の斜視図である。
【図１４Ｂ】試験用スロット筐体の斜視図である。
【図１４Ｃ】試験用スロット筐体の斜視図である。
【図１５Ａ】試験用スロットのアセンブリを図示する。
【図１５Ｂ】試験用スロットのアセンブリを図示する。
【図１５Ｃ】試験用スロットのアセンブリを図示する。
【図１５Ｄ】試験用スロットのアセンブリを図示する。
【図１６】試験用スロット筐体に取り付けられた接続インターフェースボードを示す試験用スロットの正面斜視図である。
【図１７】試験用スロット筐体に取り付けられた接続インターフェースボードを示す試験用スロットの後面斜視図である。
【図１８】カバーによって囲まれた試験用スロット筐体の後方部分を示す試験用スロットの斜視図である。
【図１９】ディスクドライブを中に有する試験用スロットの平面図である。
【図２０Ａ】図１９の試験用スロットの取付板アセンブリに対する試験筐体の動きを図示する。
【図２０Ｂ】図１９の試験用スロットの取付板アセンブリに対する試験筐体の動きを図示する。
【図２０Ｃ】図１９の試験用スロットの取付板アセンブリに対する試験筐体の動きを図示する。
【図２０Ｄ】図１９の試験用スロットの取付板アセンブリに対する試験筐体の動きを図示する。
【図２０Ｅ】図１９の試験用スロットの取付板アセンブリに対する試験筐体の動きを図示する。
【図２０Ｆ】図１９の試験用スロットの取付板アセンブリに対する試験筐体の動きを図示する。
【図２１Ａ】筐体の浮動中心の動きを図示する。
【図２１Ｂ】筐体の浮動中心の動きを図示する。
【図２１Ｃ】筐体の浮動中心の動きを図示する。
【図２２Ａ】試験架台のスロット列内での試験用スロットの取り付けを図示する。
【図２２Ｂ】試験架台のスロット列内での試験用スロットの取り付けを図示する。
【図２２Ｃ】試験架台のスロット列内での試験用スロットの取り付けを図示する。
【図２２Ｄ】試験架台のスロット列内での試験用スロットの取り付けを図示する。
【００２９】
種々の図面における同じ参照記号は、同じ要素を示す。
【発明を実施するための形態】
【００３０】
システムの概観
図２に示すように、ディスクドライブ試験システム１０は、複数の試験架台１００（例えば、１０個の試験架台が示されている）、搬送ステーション２００、およびロボット３００を具える。図３Ａおよび図３Ｂに示すように、各試験架台１００は通常、シャーシー１０２を具える。シャーシー１０２は、一緒に固定されて一緒に複数のスロット列１１０を画定する複数の構造部材１０４（例えば、押し出しアルミニウム、鋼管および／または複合部材）から構築することができる。各スロット列１１０は複数の試験用スロットアセンブリ１２０を支持することができる。図４に示すように、各試験用スロットアセンブリ１２０はディスクドライブ運搬装置４００および試験用スロット５００を具える。ディスクドライブ運搬装置４００は、（例えば、搬送ステーション２００から）ディスクドライブ６００を捕捉するため、および試験のためにディスクドライブ６００を試験用スロット５００のうちの１つへ運搬するために使用される。
【００３１】
図５Ａを参照すると、いくつかの実施態様では、搬送ステーション２００は、搬送ステーション筐体２１０および搬送ステーション筐体２１０の上に配置された複数のトート（ｔｏｔｅ）提示支持システム２２０を具える。各トート提示支持システム２２０は、ロボット３００によるサービス提供（ｓｅｒｖｉｃｉｎｇ）のために提示位置でディスクドライブトート２６０を受けて支持するように構成されている。
【００３２】
いくつかの実施態様では、トート提示支持システム２２０は、各々搬送ステーション筐体２１０の同じ側に配置され、互いに対して鉛直方向に並べられている。各トート提示支持システム２２０は他に対して異なる高さ位置を有する。いくつかの例では、図５Ａに示すように、トート提示支持システム２２０は、ディスクドライブトート２６０によって画定されるそれぞれのアームの溝２６６（図５Ｂ）によって受けられるように構成されたトート支持アーム２２６を具える。
【００３３】
トート移動装置２３０は、搬送ステーション筐体２１０上に配置され、搬送ステーション筐体２１０に対して移動するように構成されている。トート移動装置２３０は、（例えばロボット３００による）ディスクドライブ試験システム１０によるサービス提供のためのトート提示支持システム２２０と集結領域２５０（ここで、トート２６０は（例えば、オペレータにより）搬送ステーション２００の中へ入れられ、そして搬送ステーション２００から出されることができる）との間でトート２６０を移すように構成されている。
【００３４】
図５Ｂに図示されるように、トート２６０は、各々がディスクドライブ６００を収容するように構成された複数のディスクドライブ置き場２６４（例えば、１８個が示されている）を画定するトート本体２６２を具える。ディスクドライブ置き場２６４の各々は、受けられたディスクドライブ６００の中央部分を支持するように構成されたディスクドライブ支持体２６５を具え、これにより非中央部分に沿ったディスクドライブ６００の取扱いが可能になる。トート本体２６２はまた、搬送ステーション筐体２１０のトート支持アーム２２６（図５Ａ）と係合して、これにより（例えば、ロボット３００（図２）によるサービス提供のために）トート２６０を支持するように構成されているアームの溝２６６を画定する。
【００３５】
図６Ａおよび図６Ｂに示すように、ロボット３００は、ロボットアーム３１０およびロボットアーム３１０の遠位端に配置されたマニピュレータ３１２（図６Ａ）を具える。ロボットアーム３１０は、床面３１６に対して法線方向の第１の軸３１４を画定し、かつ第１の軸３１４の周りで所定の弧を通して回転するように動作可能であり、第１の軸３１４から半径方向に延在する。ロボットアーム３１０は、搬送ステーション２００と試験架台１００との間でディスクドライブ６００を移すことにより独立に各試験用スロット５００にサービス提供するように構成されている。特に、ロボットアーム３１０は、マニピュレータ３１２を用いて試験用スロット５００のうちの１つからディスクドライブ運搬装置４００を取り出し、次に搬送ステーション２００でディスクドライブ置き場２６４のうちの１つからディスクドライブ運搬装置４００を用いてディスクドライブ６００を持ち上げ、次いでディスクドライブ６００の試験のために、ディスクドライブ６００が中に入っているディスクドライブ運搬装置４００を試験用スロット５００まで戻すように構成されている。試験後、ロボットアーム３１０は、ディスクドライブ運搬装置４００の操作により（すなわち、マニピュレータ３１２を用いて）、当該試験用スロット５００のうちの１つから、支持されたディスクドライブ６００とともにディスクドライブ運搬装置４００を回収し、それを搬送ステーション２００のディスクドライブ置き場２６４のうちの１つに戻す。
【００３６】
図７Ａおよび図７Ｂを参照すると、ディスクドライブ運搬装置４００は、フレーム４１０およびクランプ機構４５０を具える。フレーム４１０は面板４１２を具える。図７Ａに示すように、第１の表面４１４に沿って、面板４１２はくぼみ４１６を画定する。くぼみ４１６は、ロボットアーム３１０のマニピュレータ３１２（図６Ａ）によって解放可能に係合することができ、これによってロボットアーム３１０が運搬装置４００を掴んで移動させることができるようになる。図７Ｂに示すように、面板４１２は傾斜したエッジ４１７をも具える。フレーム４１０が試験用スロット５００のうちの１つに挿入されるとき、面板４１２の傾斜したエッジ４１７は、試験用スロット５００の相補的な傾斜したエッジ５６２（図１４Ａ）に接してシールを形成し、これは、後述するように、試験用スロット５００の中へのおよび試験用スロット５００から外への空気の流れを抑制するのに役立つ。これは、例えば、ディスクドライブ運搬装置４００がロボット３００を介して試験用スロット５００の中へと挿入されるとき、および試験用スロット５００の中から外へ取り出されるとき、特に有益である場合がある。使用時には、ディスクドライブ運搬装置４００のうちの１つは、ロボット３００を用いて（例えば、ロボット３００のマニピュレータ３１２を用いて運搬装置４００のくぼみ４１６を掴むことにより、または別の態様で係合することにより）試験用スロット５００のうちの１つから取り出される。フレーム４１０は、側壁４１８および底板４２０によって形成される実質的にＵ字型の開口４１５を画定する。この側壁４１８および底板４２０は、フレーム４１０がトート２６０（図５Ｂ）の中でディスクドライブ支持体２６５（図５Ｂ）の周りに嵌合することを共同で可能にし、そのためディスクドライブ運搬装置４００は（例えば、ロボットアーム３００を介して）、トート２６０のディスクドライブ置き場２６４のうちの１つの中に収容されたディスクドライブ６００のうちの１つの下の位置へと移動できる。次にディスクドライブ運搬装置４００は、トート２６０の中でのディスクドライブ支持体２６５からの取り外しのためにディスクドライブ６００を係合する位置まで（例えば、ロボットアーム３１０によって）持ち上げられることができる。
【００３７】
ディスクドライブ６００がディスクドライブ運搬装置４００のフレーム４１０内の適所にある図８Ａおよび図８Ｂに図示されるように、ディスクドライブ運搬装置４００およびディスクドライブ６００は一緒に、試験用スロット５００のうちの１つ内での配置のために、ロボットアーム３１０（図６Ａ）によって移動させることができる。マニピュレータ３１２（図６Ａ）はまた、ディスクドライブ運搬装置４００の中に配置されたクランプ機構４５０の作動を開始するようにも構成される。本願明細書に記載されるものと組み合わせることができるマニピュレータならびに他の細部および特徴部の詳細な説明は、本願と同時に出願された以下の米国特許出願、代理人整理番号：１８５２３−０７３００１、発明者：Ｅｖｇｅｎｙ  Ｐｏｌｙａｋｏｖらで、割り当てられた出願番号第１２／１０４，５３６号を有する発明の名称「Ｔｒａｎｓｆｅｒｒｉｎｇ  Ｄｉｓｋ  Ｄｒｉｖｅｓ  Ｗｉｔｈｉｎ  Ｄｉｓｋ  Ｄｒｉｖｅ  Ｔｅｓｔｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍｓ（ディスクドライブ試験システム内でのディスクドライブの移動）」に見出すことができる。上述の出願の内容全体は、参照により本願明細書に援用したものとする。これにより、運搬装置４００がトート２６０から試験用スロット５００へと移動される前のクランプ機構４５０の作動によって、その移動の間、ディスクドライブ運搬装置４００に対するディスクドライブ６００の移動が抑制されるようになる。試験用スロット５００での挿入の前に、マニピュレータ３１２は、クランプ機構４５０を再度作動させてフレーム４１０内でディスクドライブ６００を解放することができる。これにより、ディスクドライブコネクタ６１０が試験用スロットコネクタ５７４（図１６）と係合している試験位置にディスクドライブ６００があるまで、ディスクドライブ運搬装置４００を試験用スロット５００のうちの１つへと挿入することが可能になる。クランプ機構４５０はまた、試験用スロット５００を係合して，ひとたび中に受けられると、試験用スロット５００に対するディスクドライブ運搬装置４００の移動を抑制するように構成されてもよい。このような実施態様では、ひとたびディスクドライブ６００が試験位置にあると、クランプ機構４５０は（例えば、マニピュレータ３１２によって）再度係合され、試験用スロット５００に対するディスクドライブ運搬装置４００の移動が抑制される。このような運搬装置４００のクランプ止めは、試験の間の振動を減少させるのに役立つ可能性がある。本願明細書に記載されるものと組み合わせることができるクランプ機構４５０ならびに他の細部および特徴部の詳細な説明は、以下の米国特許出願、代理人整理番号：１８５２３−０６７００１、発明者：Ｂｒｉａｎ  Ｍｅｒｒｏｗらで、割り当てられた出願番号第１１／９５９，１３３号を有する、２００７年１２月１８日出願の発明の名称「ＤＩＳＫ  ＤＲＩＶＥ  ＴＲＡＮＳＰＯＲＴ，ＣＬＡＭＰＩＮＧ  ＡＮＤ  ＴＥＳＴＩＮＧ（ディスクドライブの運搬、クランプ止めおよび試験）」に見出すことができる。この特許出願の内容全体を、参照により本願明細書に援用したものとする。
【００３８】
図９を参照すると、いくつかの実施態様では、当該ディスクドライブ試験システム１０はまた、試験用スロット５００と通信している少なくとも１つのコンピューター１３０をも具える。コンピューター１３０は、ディスクドライブ６００の在庫管理および／またはディスクドライブ試験システム１０を制御するための自動化インターフェースを提供するように構成されてもよい。試験用電子機器１６０は各試験用スロット５００と通信している。試験用電子機器１６０は、試験用スロット５００内に受けられたディスクドライブ６００と通信するように構成されている。
【００３９】
図１０を参照すると、電気系統１７０はディスクドライブ試験システム１０に電力を供給する。電気系統１７０は、試験用スロット５００の中の受けられたディスクドライブ６００への電力をモニターおよび／または調節してもよい。図１０に図示される例では、各試験架台１００内の試験用電子機器１６０は、少なくとも１つの試験用スロット５００と通信している少なくとも１つの自己診断システム１８０を具える。自己診断システム１８０は、試験架台１００および／または試験用スロット５００などの特定のサブシステムが適正に機能しているかどうかを試験する。自己診断システム１８０は、クラスターコントローラ１８１、各々が試験用スロット５００内に受けられたディスクドライブ６００と電気通信している１以上の接続インターフェース回路１８２、および接続インターフェース回路１８２と電気通信している１以上のブロックインターフェース回路１８３を具える。クラスターコントローラ１８１は、いくつかの例では、ディスクドライブ６００のおよそ１２０の自己診断および／または６０の機能性試験の能力で１以上のテストプログラムを実行するように構成されている。接続インターフェース回路１８２およびブロックインターフェース回路１８３（１つまたは複数個）は、自己診断するように構成されている。しかしながら、自己診断システム１８０は、ディスクドライブ試験システム１０の１以上の構成要素に対して自己診断ルーチンを実行しかつ制御するように構成された自己診断回路１８４を具えてもよい。クラスターコントローラ１８１は、イーサネット（登録商標）（例えばギガビットイーサネット）を介して自己診断回路１８４と通信してもよく、自己診断回路１８４は、汎用非同期送受信機（ＵＡＲＴ）シリアルリンクを介してブロックインターフェース回路（１つまたは複数個）１８３とおよび接続インターフェース回路（１つまたは複数個）１８２およびディスクドライブ（１つまたは複数個）６００へと通信してもよい。ＵＡＲＴは通常は、コンピューターまたは周辺機器シリアルポートにわたってシリアル通信のために使用される個々の集積回路（または集積回路の一部）である。ブロックインターフェース回路（１つまたは複数個）１８３は、試験用スロット５００への電力および試験用スロット５００の温度を制御するように構成されており、各ブロックインターフェース回路１８３は１以上の試験用スロット５００および／またはディスクドライブ６００を制御してもよい。
【００４０】
いくつかの例では、試験用電子機器１６０はまた、少なくとも１つの試験用スロット５００と通信している少なくとも１つの機能試験システム１９０をも具えることができる。機能試験システム１９０は、ディスクドライブ運搬装置４００によって試験用スロット５００の中に保持および／または支持された、受けられたディスクドライブ６００が適正に機能しているかどうかを試験する。機能性試験は、ディスクドライブ６００によって受けら取られる電力量、動作温度、データを読取りおよび書き込みする能力、ならびに異なる温度でデータを読取りおよび書き込みする（例えば熱いときに読取って冷たいときに書き込むか、または熱いときに書き込んで冷たいときに読取る）能力を試験することを含んでもよい。この機能性試験は、ディスクドライブ６００のあらゆるメモリセクタを、または無作為抽出でのみ試験してもよい。この機能性試験は、ディスクドライブ６００の周りの空気の動作温度を、およびまたディスクドライブ６００との通信のデータの完全性をも試験してもよい。機能試験システム１９０は、クラスターコントローラ１８１およびクラスターコントローラ１８１と電気通信している少なくとも１つの機能インターフェース回路１９１を具える。接続インターフェース回路１８２は、試験用スロット５００内に受けられたディスクドライブ６００および機能インターフェース回路１９１と電気通信している。機能インターフェース回路１９１は、機能テストルーチンをディスクドライブ６００へと伝えるように構成されている。機能試験システム１９０は、クラスターコントローラ１８１と１以上の機能インターフェース回路１９１との間の電気通信を提供するための通信スイッチ１９２（例えばギガビットイーサネット）を具えてもよい。好ましくは、コンピューター１３０、通信スイッチ１９２、クラスターコントローラ１８１、および機能インターフェース回路１９１は、イーサネットネットワーク上で通信する。しかしながら、他の形態の通信が使用されてもよい。機能インターフェース回路１９１は、Ｐａｒａｌｌｅｌ  ＡＴ  Ａｔｔａｃｈｍｅｎｔ（ＩＤＥ、ＡＴＡ、ＡＴＡＰＩ、ＵＤＭＡおよびＰＡＴＡとしても知られるハードディスクインターフェース）、ＳＡＴＡ、またはＳＡＳ（シリアル接続ＳＣＳＩ）を介して接続インターフェース回路１８２へと通信してもよい。
【００４１】
試験用スロット
図１１に示されるように、試験用スロット５００の各々は、取付板アセンブリ５０２に取り付けられかつそれによって支持されている筐体５５０を具える。図１２に示されるように取付板アセンブリ５０２は、主要本体部材５０６、フランジ部材５０８、および取っ手５１０を具える取付板５０４を具える。主要本体部材５０６はまた、ペンシルベニア州、ダンボロ（Ｄａｎｂｏｒｏ）のペンエンジニアリング（ＰｅｎｎＥｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇ）から入手できるもののような一対のセルフクリンチングスタッド５１２（１つが示されている）をも具える。このセルフクリンチングスタッド５１２は、主要本体部材５０６にある貫通孔５１４の中へと圧力嵌め（ｐｒｅｓｓ  ｆｉｔ）される。セルフクリンチングスタッド５１２は通常、ねじ山が付いたねじ部分５１６およびねじ部分５１６の第１の端部５１７に配置されたヘッド５１８を具える。図１２に図示されるように、このねじ山が付いたねじ部分は、主要本体部材５０６にある貫通孔５１４を通り、ヘッド５１８は圧力嵌めの様式で主要本体部材５０６と係合し、これによりセルフクリンチングスタッド５１２を主要本体部材５０６に対する移動から固定する。
【００４２】
取付板アセンブリ５０２はまた、一対の振動防止装置（例えば、嵌め込み型振動防止装置５２０）を具える。図１３に示されるように、嵌め込み型振動防止装置５２０は一般に、例えば約４５ショアＡ〜約６０ショアＡのデュロメーターを有する機械的な振動を防止する材料（例えば、ウレタンエラストマーなど）から形成される胴体部分５２２を具える。胴体部分５２２は、胴体部分５２２の第１の端部５２５に配置された雌ねじの締め具５２４と、胴体部分５２２の第２の端部５２７に配置された雄ねじの締め具５２６との間に挟まれている。図１２に図示されるように、嵌め込み型振動防止装置５２０は、嵌め込み型振動防止装置５２０の雌ねじの締め具５２４をセルフクリンチングスタッド５１２のうちの１つへとねじ込むことにより、主要本体部材５０６に固定される。
【００４３】
図１２をさらに参照すると、取付板アセンブリ５０２はまた、一対の振動防止装置（例えば、グロメット５３０）をも具える。グロメット５３０は、例えば約４５ショアＡ〜約６０ショアＡのデュロメーターを有する機械的な振動を防止する材料（例えば、熱可塑性ビニルなど）から形成されてもよい。
【００４４】
この複数の振動防止装置配置はまた、注目する特定の周波数および軸をより良好に絶縁されるように、（例えば、振動防止装置の選択を介して）試験用スロット５００を調整する能力を提供する。例えば、ドライブがｙ回転（ｙ−ｒｏｔａｒｙ）（このドライブの長軸の周りの回転）に敏感であるなら、この振動防止装置（例えば、嵌め込み型振動防止装置５２０および／またはグロメット５３０）は、ｙ回転を制限するためにより堅くされてもよい（例えば、より硬い構成要素で置き換えられる）。図１２に示されるように、フランジ部材５０８は一対のＵ字型のへこみまたは又状開口５３２を画定し、この一対のＵ字型のへこみまたは又状開口５３２の各々は、グロメット５３０のうちの１つを受けて支持するように構成されている。主要本体部材５０６はまた一対の取り付けフランジ５３４を画定し、この一対の取り付けフランジ５３４は、後で論じられるように、試験架台シャーシー１０２との取り付け連結を形成するように構成されている。
【００４５】
図１４Ａおよび図１４Ｂを参照すると、これまでに触れたように、試験用スロット５００の各々は、基部５５２、第１および第２の直立壁５５３ａ、５５３ｂならびに第１および第２のカバー５５４ａ、５５４ｂを有する筐体５５０を具える。図示された実施形態では、第１のカバー５５４ａは基部５５２および直立壁５５３ａ、５５３ｂと一体成形されている。筐体５５０は、後方部分５５７と前方部分５５８とを具える内部空洞５５６を画定する。前方部分５５８は、ディスクドライブ運搬装置４００のうちの１つを受けて支持するための試験区画５６０を画定する。基部５５２、直立壁５５３ａ、５５３ｂ、および第１のカバー５１４ａは一緒に、（例えば、ディスクドライブ運搬装置４００を挿入しおよび取り出すために）試験区画５６０へのアクセスを提供する第１の開口端５６１と、試験用スロット５００の中に挿入されたディスクドライブ運搬装置４００の面板４１２に接して、第１の開口端５６１を経由した試験用スロット５００の中へおよびそこから外への空気の流れを抑制するためのシールを提供する傾斜したエッジ５６２とを画定する。第１の直立壁５５３ａは注入口開口部５５１および排出口開口部５５５を画定する。注入口開口部および排出口開口部５５１、５５５は、筐体５５０の外部表面５５９（図１４Ｂおよび図１４Ｃ）と内部空洞５５６との間に延在する。
【００４６】
図１４Ａに示されるように、内部空洞５５６の後方部分５５７は、嵌め込み型振動防止装置５２０の雄ねじの締め具５２６（例えば、図１２および図１３を参照）を中に受けるように構成されている一対の貫通孔５６３を具える。図１４Ｂに示されるように、貫通孔５６３は、内部空洞５５６から、筐体５５０の基部５５２の底面５６５に沿って形成される一対の座ぐり凹部５６４を通って延在する。後により詳細に論じられるように、座ぐり凹部５６４は、各々、対応する嵌め込み型振動防止装置５２０の胴体部分５２２を中に受けるように構成されている。筐体５５０はまた、第２のカバー部材５５４ｂおよび接続インターフェースボード５７０（後述される；例えば、図１６も参照）を筐体５５０へと取り付けるための取り付け機材（例えば、ねじ）を受けるための複数の取り付け穴５４９を具える。
【００４７】
図１４Ｃを参照すると、筐体５５０はまた、筐体５５０の第２の端部５６７に沿って配置された一対の連結ピン５６６を具える。連結ピン５６６は、取付板アセンブリ５０２のグロメット５３０を係合するような大きさである。筐体５５０は、図１５Ａに示されるように、まずグロメット５３０を連結ピン５６６の周りに置くことによって、取付板アセンブリ５０２へと取り付けられる。次いで、筐体５５０の第２の端部５６７は、図１５Ｂに示されるように、連結ピン５６６およびグロメット５３０がフランジ部材５０８にある又状開口５３２と実質的に整列しているように、取付板５０４と整列される。適正に整列されると、嵌め込み型振動防止装置５２０は座ぐり凹部５６４（図１４Ｂ）内に少なくとも部分的に収まることになる。図１５Ｃに図示されるように、整列後、筐体５５０は矢印５６８によって示されるように取付板５０４に対して変位され、その結果、グロメット５３０および連結ピン５６６は又状開口５３２に支えられるようになり、雄ねじの締め具５２６は貫通孔５６３を通り内部空洞５５６の中へと延在する。図１５Ｄに示されるように、グロメット５３０および連結ピン５６６は又状開口５３２内に配置され、かつ振動防止装置５２０の雄ねじの締め具５２６は内部空洞５５６の中へと延在して、ねじ山が付いたナット５６９は雄ねじの締め具５２６へと固定され、これにより筐体５５０と取付板アセンブリ５０２との間のしっかりとした機械的連結がもたらされる。
【００４８】
図１６に示されるように、内部空洞５５６の後方部分５５７は接続インターフェースボード５７０を収容し、この接続インターフェースボード５７０は接続インターフェース回路１８２（図９および図１０）を有する。接続インターフェースボード５７０は試験区画５６０と筐体５５０の第２の端部５６７との間に延在する。複数の電気コネクタ５７２が接続インターフェースボード５７０の遠位端５７３に沿って配置される。電気コネクタ５７２は、接続インターフェース回路１８２と関連付けられた試験架台１００の中の試験用電子機器１６０（例えば、自己診断システム１８０および／または機能試験システム１９０）との間の電気通信を提供する。接続インターフェースボード５７０はまた、接続インターフェース回路１８２と試験用スロット５００の中のディスクドライブ６００との間の電気通信を提供する接続インターフェースボード５７０の近位端５７５に並べられた試験用スロットコネクタ５７４をも具える。図１６に示されるように、試験用スロット筐体５５０はまた、内部空洞５５６内に配置される通気用導管５４０をも具えることができる。通気用導管５４０は、注入口開口部５５１から、すなわち筐体５５０の外部の供給源から、試験区画５６０に向かって空気の流れを運搬するように構成されている。通気用導管５４０は、試験区画５６０内に配置されたディスクドライブ６００の下に空気の流れを導くように構成されており、戻りの空気の流れは、ディスクドライブ６００にわたってかつ排出口開口部５５５に向かって戻るように流れる。電熱アセンブリ７２６は通気用導管５４０にある第１の開口５４２内に配置され、かつ通気用導管５４０を通して運搬されている空気の流れを加熱するように構成されている。電熱アセンブリ７２６は、加熱器ヒートシンク７２８および電熱装置（例えば、抵抗加熱器７２９）を具える。抵抗加熱器７２９は、接続インターフェースボード５７０へと電気的に接続され、かつ（例えば、接続インターフェース回路１８２を介する）試験用電子機器１６０との電気通信用に構成される。抵抗加熱器７２９は、（例えば、試験用電子機器１６０により供給される）電流を熱エネルギーへと変換するように動作可能である。この熱エネルギーは加熱器ヒートシンク７２８を加熱するために使用され、この加熱器ヒートシンク７２８は次に通気用導管５４０を通る空気の流れを加熱するために使用される。ディスクドライブ６００およびディスクドライブ運搬装置４００の不存在下では、筐体５００は実質的に可動部を保有しない。本願明細書に記載されるものと組み合わせることができる電熱アセンブリ７２６ならびに他の細部および特徴部の詳細な説明は、本願と同時に出願された以下の米国特許出願、代理人整理番号：１８５２３−０６３００１、発明者：Ｂｒｉａｎ  Ｍｅｒｒｏｗで、割り当てられた出願番号第１２／１０５，１０３号を有する発明の名称「Ｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅ  Ｃｏｎｔｒｏｌ  ｗｉｔｈｉｎ  Ｄｉｓｋ  Ｄｒｉｖｅ  Ｔｅｓｔｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍｓ（ディスクドライブ試験システム内での温度制御）」に見出すことができ、この出願の内容全体を、参照により本願明細書に援用したものとする。
【００４９】
図１７に示されるように、接続インターフェースボード５７０は筐体５５０の第２の端部５６７に沿ってグロメット５３０と重なり、これによりフランジ部材５０８と接続インターフェースボード５７０との間でグロメット５３０、または少なくともその一部分を挟む。接続インターフェースボード５７０は、グロメット５３０に前負荷をかける（ｐｒｅｌｏａｄ）ようにして、例えば締め具５７６を用いて筐体５５０へと固定される。グロメット５３０は、振動および衝撃に対する抵抗の最適の性能を達成するために、機械的に前負荷がかけられる。振動および衝撃の最適の性能は、一般にグロメット５３０の最高５％の前負荷を用いて成し遂げられる。
【００５０】
図１８を参照すると、ひとたび組み立てられると、嵌め込み型振動防止装置５２０（図１２）は、全６自由度（すなわち、Ｘ、Ｙ、Ｚ、ロール（横揺れ、Ｒｏｌｌ）、ピッチ（縦揺れ、Ｐｉｔｃｈ）およびヨー（偏揺れ、Ｙａｗ））において、取付板５０４に対する筐体５５０の動きを許容する。グロメット５３０は、負のＹ方向を除いてすべての方向で、又状開口５３２内に実質的に拘束されている。図２０Ａに示されるように、グロメット５３０および又状開口５３２は一対の浮動接点（ｆｌｏａｔｉｎｇ  ｃｏｎｔａｃｔ）（１つが図２０Ａに示される）、すなわち第１および第２の浮動接点５８０ａ、５８０ｂ（例えば、図１９を参照）、を効果的に形成し、当該筐体はこれらの浮動接点の周りで取付板５０４に対して（例えば、揺動運動で）動くことができる。
【００５１】
図１９を参照すると、振動は、ディスクドライブ６００内でのディスク６２０（例えば、磁気ディスク）の、矢印５８１によって示されるような回転の結果として生じることが多い。結果として、試験中には、試験されているディスクドライブ６００の中のディスク６２０の回転およびヘッドの移動が筐体５５０の動きを誘発する。図２０Ａ〜図２０Ｃに図示されるように、この構成によって、グロメット５３０および連結ピン５６６が対応する又状開口５３２（図１２も参照）内で動くことが可能になり、これにより取付板５０４に対する筐体５５０の位置の変位が可能になる。特に、グロメット５３０は、又状開口５３２内で例えば（図２０Ａに矢印５３５によって示されるように）Ｘ軸に沿って左右に、かつ／または（図２０Ｂに矢印５３６によって示されるように）Ｙ軸に沿って前後に直線的な動きで移動することができる。グロメット５３０はまた、図２０Ｃに矢印５３７によって示されるように、対応する又状開口５３２のエッジ５３３に沿って移動することもできる。これは、グロメット５３０および振動防止装置５２０の柔軟性と一緒になって、取付板５０４に対する筐体５５０の位置の変位、および取付板５０４に対する筐体５５０の回転を許容する。例えば、図２０Ｄ〜図２０Ｆに図示されるように、それぞれ、この構成によって、筐体５５０が取付板５０４に対してＸ軸（図２０Ｄに矢印５３８によって示されるとおり）、Ｙ軸（図２０Ｅに矢印５３９によって示されるとおり）、および／またはＺ軸（図２０Ｆに矢印５４１によって示されるとおり）に沿ってまたはこれらの軸の周りで回転できるようになる。この結果は、図２０Ａ〜図２０Ｆに関して示され説明されるすべての動きを包含する、取付板５０４に対する筐体５５０の複雑な動きである。この従順性は、試験用スロット５００のうちの１つから他の、隣接する試験用スロット５００への振動の伝搬を抑制するのに役立つ。しかしながら、図示された構成には、取付板５０４に対する筐体５５０のいずれかの可能な動きをいずれかの特定の軸の周りまたはいずれかの固定点の周りの回転のうちの１つに制限する可能性がある単一の拘束は、ない。
【００５２】
例えば、図２１Ａ〜図２１Ｃは、筐体５５０が、Ｘ軸およびＹ軸に沿ったまたはこれらの軸の周りでの取付板５０４に対する筐体５５０の並進運動に一部は起因してＺ軸に沿ったまたはこの軸の周りで回転的に振動するにつれて、回転の中心は浮動位置を採るため、どのようにしてＸ−Ｙ平面において単一のまたは固定された回転の中心が存在しないかを図示する。図２１Ａ〜図２１Ｃに図示されるように、筐体５５０は、矢印５８２（図２１Ａ）、５８４（図２１Ｂ）、および５８６（図２１Ｃ）によって示されるように、第１および第２の浮動接点５８０ａ、５８０ｂの間で前後に揺れ動くにつれて、筐体５５０の回転の中心は、第１の点Ｐ１（図２１Ａに示される）から第２の点Ｐ２（図２１Ｂに示される）へ、次いで第３の点Ｐ３（図２１Ｃに示される）などへとシフトする。取付板５０４に対する筐体５５０の動きは、Ｘ軸および／もしくはＹ軸に沿ってまたはＸ軸および／もしくはＹ軸の周りの筐体５５０の回転（それぞれ図２０Ｄおよび図２０Ｅに図示される）によってさらに現実化されることができ、その結果は三次元で浮動する回転運動となる。
【００５３】
さらに、グロメット５３０および連結ピン５６６を正のＹ方向に拘束することによって、フランジ部材５０８は一組の固定表面をも提供し、ディスクドライブ運搬装置４００（中にまたはディスクドライブ６００がある場合もあればない場合もある）を筐体５５０の試験区画５６０に挿入している間、この固定表面に対して上記筐体は接することができ、その試験用筐体内での回転の機会はない。図２２Ａ〜図２２Ｃに図示されるように、スロット列１１０の各々は、各々が試験用スロット５００のうちの１つを受けて支持するように構成されている複数の試験用スロット置き場１２２を具える。試験用スロット置き場１２２の各々は、一対のカードガイドアセンブリ１２４を具える。カードガイドアセンブリ１２４は、中に取付板５０４の取り付けフランジ５３４（例えば、図１８を参照）を受けるような大きさである。カードガイドアセンブリ１２４は、カードガイドアセンブリ１２４と取付板アセンブリ５０２との間の機械的連結をもたらし、これにより取付板アセンブリ５０２を地面に結び付けるための、例えば、カムロック（ｃａｍ  ｌｏｃｋ）または蝶ねじを具えることができる。カードガイドアセンブリ１２４は取付板アセンブリ５０２とのみ係合し、試験用スロット筐体５５０とは係合しないため、筐体５５０は、それぞれの取付板５０４に対して動くことができるだけでなく、試験架台シャーシー１０２に対しても動くことができる。このようにして、取付板アセンブリ５０２は、振動防止装置（例えば、嵌め込み型振動防止装置５２０およびグロメット５３０）を介して、試験架台シャーシー１０２とそれぞれの試験用スロット５００との間の絶縁を支持するように動作し、これら２つの間には剛直な連結はない。結果として、共通の試験架台１００内での１つの試験用スロット５００から他の試験用スロット５００への振動の伝達は低減される。このような振動は、例えば、１つの試験用スロット５００内でのディスクドライブ６００の回転から、または試験用スロット５００のうちの１つへの、および／もしくは試験用スロット５００のうちの１つからのディスクドライブ運搬装置４００（中にまたはディスクドライブ６００がある場合もあればない場合もある）の挿入および／もしくは取り出しから発出する可能性がある。例えば試験架台１００内での冷却用ファンの回転の結果として試験架台１００自体の内で発生する振動も、試験用スロット５００内の個々の試験区画５６０に到達する前に絶縁または減衰される。この構成により、図２２Ｄに図示されるように、試験架台１００へのおよび試験架台１００からの試験用スロット５００の個々の挿入および取り出しが可能になる。
【００５４】
本願明細書に記載されるものと組み合わせることができる他の細部および特徴部は、２００７年１２月１８日出願の以下の米国特許出願、代理人整理番号：１８５２３−０６４００１、発明者：Ｅｄｗａｒｄ  Ｇａｒｃｉａらで、割り当てられた出願番号第１１／９５８，８１７号を有する発明の名称「ＤＩＳＫ  ＤＲＩＶＥ  ＴＥＳＴＩＮＧ（ディスクドライブ試験）」；および代理人整理番号：１８５２３−０６２００１、発明者：Ｅｄｗａｒｄ  Ｇａｒｃｉａらで、割り当てられた出願番号第１１／９５８，７８８号を有する「ＤＩＳＫ  ＤＲＩＶＥ  ＴＥＳＴＩＮＧ（ディスクドライブ試験）」に見出すことができる。本願明細書に記載されるものと組み合わせることができる他の細部および特徴部は、本願と同時に出願された以下の米国特許出願、代理人整理番号：１８５２３−０６５００１、発明者：Ｅｄｗａｒｄ  Ｇａｒｃｉａで、割り当てられた出願番号第１２／１０４，５９４号を有する発明の名称「Ｄｉｓｋ  Ｄｒｉｖｅ  Ｅｍｕｌａｔｏｒ  Ａｎｄ  Ｍｅｔｈｏｄ  Ｏｆ  Ｕｓｅ  Ｔｈｅｒｅｏｆ（ディスクドライブエミュレータおよびその使用方法）」；代理人整理番号：１８５２３−０７３００１、発明者：Ｅｖｇｅｎｙ  Ｐｏｌｙａｋｏｖらで、割り当てられた出願番号第１２／１０４，５３６号を有する「Ｔｒａｎｓｆｅｒｒｉｎｇ  Ｄｉｓｋ  Ｄｒｉｖｅｓ  Ｗｉｔｈｉｎ  Ｄｉｓｋ  Ｄｒｉｖｅ  Ｔｅｓｔｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍｓ（ディスクドライブ試験システム内でのディスクドライブの移動）」；代理人整理番号：１８５２３−０７６００１、発明者：Ｂｒｉａｎ  Ｍｅｒｒｏｗで、割り当てられた出願番号第１２／１０５，０６１号を有する発明の名称「Ｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅ  Ｃｏｎｔｒｏｌ  ｗｉｔｈｉｎ  Ｄｉｓｋ  Ｄｒｉｖｅ  Ｔｅｓｔｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍｓ（ディスクドライブ試験システム内の温度制御）」；代理人整理番号：１８５２３−０７７００１、発明者：Ｓｃｏｔｔ  Ｎｏｂｌｅらで、割り当てられた出願番号第１２／１０４，８６９号を有する「Ｂｕｌｋ  Ｆｅｅｄｉｎｇ  Ｄｉｓｋ  Ｄｒｉｖｅｓ  Ｔｏ  Ｄｉｓｋ  Ｄｒｉｖｅ  Ｔｅｓｔｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍｓ（ディスクドライブ試験システムへのディスクドライブのバルク供給）」；代理人整理番号：１８５２３−０７８００１、発明者：Ｂｒｉａｎ  Ｍｅｒｒｏｗらで、割り当てられた出願番号第１２／１０５，０６９号を有する発明の名称「Ｄｅｐｅｎｄｅｎｔ  Ｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅ  Ｃｏｎｔｒｏｌ  ｗｉｔｈｉｎ  Ｄｉｓｋ  Ｄｒｉｖｅ  Ｔｅｓｔｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍｓ（ディスクドライブ試験システム内での依存型温度制御）」；代理人整理番号：１８５２３−０７９００１、発明者：Ｂｒｉａｎ  Ｍｅｒｒｏｗで、割り当てられた出願番号第１２／１０５，０４１号を有する発明の名称「Ｅｎｃｌｏｓｅｄ  Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ  Ａｒｅａ  ｆｏｒ  Ｄｉｓｋ  Ｄｒｉｖｅ  Ｔｅｓｔｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍｓ（記憶装置試験システムのための囲まれた動作領域）」；および代理人整理番号：１８５２３−０８１００１、発明者：Ｂｒｉａｎ  Ｍｅｒｒｏｗで、割り当てられた出願番号第１２／１０５，１０７号を有する発明の名称「Ｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅ  Ｃｏｎｔｒｏｌ  ｗｉｔｈｉｎ  Ｄｉｓｋ  Ｄｒｉｖｅ  Ｔｅｓｔｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍｓ（ディスクドライブ試験システム内の温度制御）」にも見出すことができる。上述の出願のすべての内容全体を、参照により本願明細書に援用したものとする。
【００５５】
いくつかの実施態様が記載された。しかしながら、本開示の技術思想および範囲から逸脱することなく種々の改変がなされてもよいということを理解されたい。従って、他の実施態様は添付の特許請求の範囲の範囲内にある。
【図１】
2011521388.tif 000003
【図２】
2011521388.tif 000004
【図３Ａ】
2011521388.tif 000005
【図３Ｂ】
2011521388.tif 000006
【図４】
2011521388.tif 000007
【図５Ａ】
2011521388.tif 000008
【図５Ｂ】
2011521388.tif 000009
【図６Ａ】
2011521388.tif 000010
【図６Ｂ】
2011521388.tif 000011
【図７Ａ】
2011521388.tif 000012
【図７Ｂ】
2011521388.tif 000013
【図８Ａ】
2011521388.tif 000014
【図８Ｂ】
2011521388.tif 000015
【図９】
2011521388.tif 000016
【図１０】
2011521388.tif 000017
【図１１】
2011521388.tif 000018
【図１２】
2011521388.tif 000019
【図１３】
2011521388.tif 000020
【図１４Ａ】
2011521388.tif 000021
【図１４Ｂ】
2011521388.tif 000022
【図１４Ｃ】
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【図１５Ａ】
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【図１５Ｂ】
2011521388.tif 000025
【図１５Ｃ】
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【図１５Ｄ】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
2011521388.tif 000030
【図１９】
2011521388.tif 000031
【図２０Ａ】
2011521388.tif 000032
【図２０Ｂ】
2011521388.tif 000033
【図２０Ｃ】
2011521388.tif 000034
【図２０Ｄ】
2011521388.tif 000035
【図２０Ｅ】
2011521388.tif 000036
【図２０Ｆ】
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【図２１Ａ】
2011521388.tif 000038
【図２１Ｂ】
2011521388.tif 000039
【図２１Ｃ】
2011521388.tif 000040
【図２２Ａ】
2011521388.tif 000041
【図２２Ｂ】
2011521388.tif 000042
【図２２Ｃ】
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【図２２Ｄ】
2011521388.tif 000044
【国際調査報告】
2011521388.tif 000045
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