(57)【要約】  記憶装置試験システム（１００）内で記憶装置（５００）を移す方法は、自動運搬装置（２００）を作動させて、試験のために提示された複数の記憶装置を回収する工程と、この自動運搬装置を作動させて、各回収された記憶装置をこの記憶装置試験システムのそれぞれの試験用スロット（３１０）へと届け、各記憶装置をそれぞれの試験用スロットに挿入する工程とを含む。
2011522345.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記憶装置試験システム（１００）内で記憶装置（５００）を移す方法であって、
自動運搬装置（２００）を作動させて試験のために提示された複数の記憶装置（５００）を回収する工程と、
前記自動運搬装置（２００）を作動させて、各回収された記憶装置（５００）を前記記憶装置試験システム（１００）のそれぞれの試験用スロット（３１０）へと届け、各記憶装置（５００）を前記それぞれの試験用スロット（３１０）に挿入する工程と
を含む、方法。
【請求項２】
前記自動運搬装置（２００）を作動させて複数の記憶装置運搬装置（５５０）を回収する工程と、
前記自動運搬装置（２００）を作動させて、前記記憶装置（５００）の各々をそれぞれの記憶装置運搬装置（５５０）を用いて運ぶことにより、試験のために提示された前記記憶装置（５００）を回収する工程と、
前記自動運搬装置（２００）を作動させて、各々が前記記憶装置（５００）のうちの１つを運ぶ前記記憶装置運搬装置（５５０）を前記それぞれの試験用スロット（３１０）へと届ける工程と、
をさらに含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記記憶装置運搬装置（５５０）の各々をそれぞれの試験用スロットの中へと挿入する工程と、
前記運ばれた記憶装置（５００）を前記記憶装置試験システム（３１０）のそれぞれのコネクタと係合する工程であって、前記挿入された記憶装置運搬装置（５５０）は、そのそれぞれの試験用スロット（３１０）の閉鎖をもたらす工程と、
をさらに含む、請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記記憶装置（５００）は、前記記憶装置試験システム（１００）に提示された少なくとも１つの記憶装置トート（６００）の中に存在する、請求項２または請求項３に記載の方法。
【請求項５】
前記自動運搬装置（２００）を作動させて、前記記憶装置運搬装置（５５０）を前記記憶装置（５００）の下に配置し、前記記憶装置トート（６００）の記憶装置支持体（６２２）から前記記憶装置（５００）を持ち上げ、そして前記記憶装置運搬装置（５５０）の中の前記記憶装置（５００）を前記記憶装置トート（６００）から離して運ぶことにより、前記記憶装置（５００）の各々を前記少なくとも１つの記憶装置トート（６００）から前記対応する記憶装置運搬装置（５５０）を用いて回収する工程をさらに含む、請求項４に記載の方法。
【請求項６】
前記自動運搬装置（２００）は、
マニピュレータ本体（７１０）と、
前記マニピュレータ本体（７１０）の上に配置されかつ互いに対して実質的にＶ字型構成で並べられた第１および第２のコネクタ（７４０）であって、各コネクタ（７４０）は、記憶装置運搬装置（５５０）に解放可能に取り付くように構成されている、第１および第２のコネクタ（７４０）と
を具えるマニピュレータ（７００）を具える、請求項１から請求項５のいずれか１項に記載の方法。
【請求項７】
記憶装置試験システム（１００）内で記憶装置（５００）を移す方法であって、
マニピュレータ（７００）を有する自動運搬装置（２００）を作動させて、試験のために提示された未試験の記憶装置（５００）を回収する工程であって、前記マニピュレータ（７００）は複数の記憶装置（５００）を運搬するように構成されている工程と、
前記自動運搬装置（２００）を作動させて、前記回収された未試験の記憶装置（５００）を、前記記憶装置試験システム（１００）のそれぞれの試験用スロット（３１０）へと届け、試験のために前記未試験の記憶装置（５００）をそのそれぞれの試験用スロット（３１０）に挿入する工程と、
を含む方法。
【請求項８】
前記マニピュレータ（７００）は、
マニピュレータ本体（７１０）と、
前記マニピュレータ本体（７１０）の上に配置されかつ互いに対して実質的にＶ字型構成で並べられた第１および第２のコネクタ（７４０）であって、各コネクタ（７４０）は、記憶装置運搬装置（５５０）に解放可能に取り付くように構成されている、第１および第２のコネクタ（７４０）と
を具える、請求項７に記載の方法。
【請求項９】
前記自動運搬装置（２００）を作動させて記憶装置運搬装置（５５０）を回収する工程と、
前記自動運搬装置（２００）を作動させて、前記記憶装置運搬装置（５５０）を用いて前記未試験の記憶装置（５００）を運ぶことにより、試験のために提示された前記未試験の記憶装置（５００）を回収する工程と、
前記自動運搬装置（２００）を作動させて、前記記憶装置運搬装置（５５０）を前記それぞれの試験用スロット（３１０）へと届ける工程と
をさらに含む、請求項７または請求項８に記載の方法。
【請求項１０】
前記記憶装置運搬装置（５５０）をそれぞれの試験用スロットの中へと挿入する工程と、
前記運ばれた記憶装置（５００）を前記記憶装置試験システム（３１０）のそれぞれのコネクタと係合する工程であって、前記挿入された記憶装置運搬装置（５５０）は、そのそれぞれの試験用スロット（３１０）の閉鎖をもたらす工程と、
をさらに含む、請求項９に記載の方法。
【請求項１１】
前記未試験の記憶装置（５００）は前記記憶装置試験システム（１００）に提示された記憶装置トート（６００）の中に存在する、請求項９に記載の方法。
【請求項１２】
前記自動運搬装置（２００）を作動させて、前記記憶装置運搬装置（５５０）を前記記憶装置（５００）の下に配置し、前記記憶装置トート（６００）の記憶装置支持体（６２２）から前記記憶装置（５００）を持ち上げ、そして前記記憶装置運搬装置（５５０）の中の前記記憶装置（５００）を前記記憶装置トート（６００）から離して運ぶことにより、前記記憶装置（５００）の各々を前記少なくとも１つの記憶装置トート（６００）から前記対応する記憶装置運搬装置（５５０）を用いて回収する工程をさらに含む、請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】
前記自動運搬装置（２００）および前記マニピュレータ（７００）を作動させて、試験された記憶装置（５００）をそのそれぞれの試験用スロット（３１０）から回収し、前記試験された記憶装置（５００）を届け先場所へと運ぶ工程をさらに含む、請求項７から請求項１２のいずれか１項に記載の方法。
【請求項１４】
前記自動運搬装置（２００）を作動させて、前記マニピュレータ（７００）を作動させて、前記試験された記憶装置（５００）のそれぞれの記憶装置運搬装置（５５０）を係合し、前記試験された記憶装置（５００）をそのそれぞれの記憶装置運搬装置（５５０）を用いて前記届け先場所へと運ぶことにより、前記試験された記憶装置（５００）をそのそれぞれの試験用スロット（３１０）から回収する工程をさらに含む、請求項１３に記載の方法。
【請求項１５】
前記自動運搬装置（２００）を作動させて、そのそれぞれの記憶装置運搬装置（５５０）によって運ばれる前記記憶装置（５００）を届け先記憶装置トート（６００）の置き場（６２０）へと届ける工程をさらに含む、請求項１４に記載の方法。
【請求項１６】
記憶装置試験システム（１００）内で記憶装置（５００）を移す方法であって、
マニピュレータ（７００）を有する自動運搬装置（２００）を作動させて、前記記憶装置試験システム（１００）の第１の試験用スロット（３１０）の中に収容された第１の記憶装置（５００）を回収する工程であって、前記マニピュレータ（７００）は、複数の記憶装置（５００）を運搬するように構成されている工程と、
前記自動運搬装置（２００）を作動させて、前記回収された第１の記憶装置（５００）を第２の試験用スロット（３１０）へと届ける工程と、
前記自動運搬装置（２００）を作動させて、前記第１の記憶装置（５００）を運びつつ、第２の記憶装置（５００）を前記第２の試験用スロット（３１０）から回収する工程と、
前記自動運搬装置（２００）を作動させて、前記第２の記憶装置（５００）を運びつつ、前記第１の記憶装置（５００）を前記第２の試験用スロット（３１０）の中へと挿入する工程と
を含む、方法。
【請求項１７】
前記自動運搬装置（２００）を作動させて、前記回収された第２の記憶装置（５００）を前記第１の試験用スロット（３１０）へと届ける工程と、
前記自動運搬装置（２００）を作動させて、前記第２の記憶装置（５００）を前記第１の試験用スロット（３１０）の中へと挿入する工程と、
をさらに含む、請求項１６に記載の方法。
【請求項１８】
前記マニピュレータ（７００）は、
マニピュレータ本体（７１０）と、
前記マニピュレータ本体（７１０）の上に配置されかつ互いに対して実質的にＶ字型構成で並べられた第１および第２のコネクタ（７４０）であって、各コネクタ（７４０）は、記憶装置運搬装置（５５０）に解放可能に取り付くように構成されている、第１および第２のコネクタ（７４０）と
を具え、前記マニピュレータ（７００）は、対応する解放可能に取り付けられた記憶装置運搬装置（５５０）の中の前記第１および第２の記憶装置（５００）を運搬する、請求項１６または請求項１７に記載の方法。
【請求項１９】
前記記憶装置（５００）は、各々、対応する記憶装置運搬装置（５５０）の中で運ばれ、各記憶装置（５００）を前記試験用スロット（３１０）のうちの１つの中へと挿入する工程は、前記対応する記憶装置運搬装置（５５０）を前記それぞれの試験用スロット（３１０）の中へと挿入する工程と、前記運ばれた記憶装置（５００）を前記記憶装置試験システムのそれぞれのコネクタ（１００）と係合する工程であって、前記挿入された記憶装置運搬装置（５５０）はそのそれぞれの試験用スロット（３１０）の閉鎖をもたらす工程と、を含む、請求項１６から請求項１８のいずれか１項に記載の方法。
【請求項２０】
記憶装置試験システム（１００）であって、
自動運搬装置（２００）と、
前記自動運搬装置（２００）によるアクセスのために前記自動運搬装置（２００）の周りに並べられた少なくとも１つの架台（３００）と、
各架台（３００）によって収容された複数の試験用スロット（３１０）であって、各試験用スロット（３１０）は、試験のために記憶装置（５００）を受けるように構成されている、複数の試験用スロット（３１０）と、
前記自動運搬装置（２００）によるアクセスのために並べられた搬送ステーション（４００）であって、前記搬送ステーション（４００）は、試験のために複数の記憶装置（５００）を提示する、搬送ステーション（４００）と、
前記自動運搬装置（２００）に取り付けられたマニピュレータ（７００）であって、前記マニピュレータ（７００）は複数の記憶装置（５００）を運ぶように構成されている、マニピュレータ（７００）と
を具える、記憶装置試験システム（１００）。
【請求項２１】
前記マニピュレータ（７００）は、複数の記憶装置運搬装置（５５０）に解放可能に取り付くように構成されている、請求項２０に記載の記憶装置試験システム（１００）。
【請求項２２】
前記マニピュレータ（７００）は、
マニピュレータ本体（７１０）と、
前記マニピュレータ本体（７１０）の上に配置されかつ互いに対して実質的にＶ字型構成で並べられた第１および第２のコネクタ（７４０）であって、各コネクタ（７４０）は、記憶装置運搬装置（５５０）に解放可能に取り付くように構成されている、第１および第２のコネクタ（７４０）と
を具える、請求項２０または請求項２１に記載の記憶装置試験システム（１００）。
【請求項２３】
前記搬送ステーション（４００）は、前記自動運搬装置（２００）によるサービス提供のために、複数の記憶装置トート（６００）を提示位置で受けて支持するように構成された搬送ステーション筐体（４１０）を具え、各記憶装置トート（６００）は、各々記憶装置（５００）を収容するように構成された複数の記憶装置置き場（６２０）を画定するトート本体（６１０）を具える、請求項２０から請求項２２のいずれか１項に記載の記憶装置試験システム（１００）。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、記憶装置試験システム内で記憶装置を移すことに関する。
【背景技術】
【０００２】
ディスクドライブ製造業者は、典型的には、一まとまりの必要条件の遵守について、製造されたディスクドライブを試験する。大量のディスクドライブを連続的にまたは並行して試験するための試験装置および技法が存在する。製造業者は、大量のディスクドライブを同時にバッチ式で試験する傾向がある。ディスクドライブ試験システムは、典型的には、試験のためにディスクドライブを受ける複数の試験用スロットを有する１以上の架台を具える。
【０００３】
そのディスクドライブのすぐ周りの試験環境は厳密に調節される。その試験環境の中の最小の温度変動が、正確な試験条件およびそのディスクドライブの安全性にとって非常に重要である。最新世代のディスクドライブはより高容量、より速い回転速度およびより小さいヘッドクリアランスを有するので、それらは振動により敏感である。過剰の振動は、試験結果の信頼性および電気的接続の完全性に影響を及ぼす可能性がある。試験条件下では、ドライブ自体が、支持構造体または隣接するユニットへの治具を通して振動を伝搬させる可能性がある。この振動の「クロストーキング」は、振動の外部供給源と一緒に、バンプエラー（ｂｕｍｐ  ｅｒｒｏｒｓ）、ヘッドスラップ（ｈｅａｄ  ｓｌａｐ）および回転非同期振れ（ｎｏｎ−ｒｅｐｅｔｉｔｉｖｅ  ｒｕｎ−ｏｕｔ、ＮＲＲＯ）に寄与し、これはより低い試験歩留まりおよび製造原価の上昇を生じる可能性がある。
【０００４】
現在のディスクドライブ試験システムは、オペレータ、ロボットアーム、またはコンベヤーベルトを使用して、試験のためにその試験システムの中へと投入するための搬送位置までディスクドライブを個々に供給する。試験システムのロボットアームは、個々に、その搬送位置からディスクドライブを回収し、試験のためにそれらを試験のためにスロットの中に投入する。
【発明の概要】
【課題を解決するための手段】
【０００５】
１つの態様では、記憶装置試験システム内で記憶装置を移す方法は、自動運搬装置（例えばロボットアーム、ガントリーシステム、または多軸リニアアクチュエータ）を作動させて、試験のために提示された複数の記憶装置を回収する工程と、この自動運搬装置を作動させて、各回収された記憶装置を当該記憶装置試験システムのそれぞれの試験用スロットへと届け、各記憶装置をそれぞれの試験用スロットに挿入する工程と、を含む。
【０００６】
本開示のこの態様の実施態様は、以下の特徴のうちの１以上を含んでいてもよい。いくつかの実施態様では、当該方法は、この自動運搬装置を作動させて複数の記憶装置運搬装置を回収する工程と、この自動運搬装置を作動させて、記憶装置の各々をそれぞれの記憶装置運搬装置を用いて運ぶことにより、試験のために提示された記憶装置を回収する工程と、自動運搬装置を作動させて各々が記憶装置のうちの１つを運ぶ記憶装置運搬装置をそれぞれの試験用スロットへと届ける工程と、を含む。いくつかの例では、この記憶装置運搬装置の各々はそれぞれの試験用スロットの中へと挿入され、運ばれた記憶装置を当該記憶装置試験システムのそれぞれのコネクタと係合させる。挿入された記憶装置運搬装置は、そのそれぞれの試験用スロットの閉鎖をもたらす。
【０００７】
いくつかの実施態様では、この記憶装置は当該記憶装置試験システムに提示された少なくとも１つの記憶装置トートの中に存在する。この自動運搬装置は、記憶装置運搬装置を記憶装置の下に配置し、記憶装置トートの記憶装置支持体から記憶装置を持ち上げ、そして記憶装置運搬装置の中の記憶装置を記憶装置トートから離して運ぶことにより、記憶装置の各々を少なくとも１つの記憶装置トートから対応する記憶装置運搬装置を用いて回収する。
【０００８】
この自動運搬装置は、好ましくは、複数の記憶装置を運搬するように構成されているマニピュレータを具える。例えば、自動運搬装置としてのロボットアームの場合、このマニピュレータはロボットアームの遠位端に固定される。いくつかの例では、このマニピュレータは、マニピュレータ本体の上に配置されかつ互いに対して実質的にＶ字型構成で並べられた第１および第２のコネクタを具える。このコネクタは記憶装置運搬装置に解放可能に取り付くように構成されている。
【０００９】
別の態様では、記憶装置試験システム内で記憶装置を移す方法は、マニピュレータを有する自動運搬装置を作動させて、試験のために提示された未試験の記憶装置を回収する工程を含む。このマニピュレータは複数の記憶装置を運搬するように構成されている。当該方法は、自動運搬装置を作動させて、回収された未試験の記憶装置を、当該記憶装置試験システムのそれぞれの試験用スロットへと届け、試験のためにこの未試験の記憶装置をそのそれぞれの試験用スロットに挿入する工程を含む。
【００１０】
本開示のこの態様の実施態様は、以下の特徴のうちの１以上を含んでいてもよい。いくつかの実施態様では、このマニピュレータは、マニピュレータ本体の上に配置されかつ互いに対して実質的にＶ字型構成で並べられた第１および第２のコネクタを具える。しかしながら、いくつかの例では、この第１および第２のコネクタは互いから１８０°で配置される。このコネクタは、記憶装置運搬装置に解放可能に取り付くように構成されている。
【００１１】
いくつかの例では、当該方法は、自動運搬装置を作動させて記憶装置運搬装置を回収する工程と、自動運搬装置を作動させて、記憶装置運搬装置を用いて未試験の記憶装置を運ぶことにより試験のために提示された未試験の記憶装置を回収する工程と、自動運搬装置を作動させて、記憶装置運搬装置をそれぞれの試験用スロットへと届ける工程とを含む。この記憶装置運搬装置は、試験用スロットの中へと挿入され、運ばれた未試験の記憶装置を当該記憶装置試験システムのそれぞれのコネクタと係合させる。この挿入された記憶装置運搬装置は、そのそれぞれの試験用スロットの閉鎖をもたらす。
【００１２】
いくつかの実施態様では、未試験の記憶装置は記憶装置試験システムに提示された記憶装置トートの中に存在する。この自動運搬装置は、記憶装置運搬装置を未試験の記憶装置の下に配置し、記憶装置トートの記憶装置支持体からこの未試験の記憶装置を持ち上げ、そして記憶装置運搬装置の中の未試験の記憶装置を記憶装置トートから離して運ぶことにより、未試験の記憶装置を記憶装置トートから対応する記憶装置運搬装置を用いて回収する。
【００１３】
いくつかの実施態様では、当該方法は、自動運搬装置およびマニピュレータを作動させて、試験された記憶装置をそのそれぞれの試験用スロットから回収する工程と、試験された記憶装置を届け先記憶装置トートなどの届け先場所へと運ぶ工程とを含む。当該方法は、自動運搬装置を作動させて、マニピュレータを作動させて、試験された記憶装置のそれぞれの記憶装置運搬装置を係合し、試験された記憶装置をそのそれぞれの記憶装置運搬装置を用いて届け先場所へと運ぶことにより、試験された記憶装置をそのそれぞれの試験用スロットから回収する工程を含んでもよい。当該方法は、自動運搬装置を作動させて、そのそれぞれの記憶装置運搬装置によって運ばれる記憶装置を届け先記憶装置トートの置き場へと届ける工程を含んでもよい。
【００１４】
別の態様では、記憶装置試験システム内で記憶装置を移す方法は、マニピュレータを有する自動運搬装置を作動させて、当該記憶装置試験システムの第１の試験用スロットの中に収容された第１の記憶装置を回収する工程を含む。このマニピュレータは、複数の記憶装置を運搬するように構成されている。当該方法は、自動運搬装置を作動させて、回収された第１の記憶装置を第２の試験用スロットへと届ける工程と、自動運搬装置を作動させて、第１の記憶装置を運びつつ、第２の記憶装置を第２の試験用スロットから回収する工程と、自動運搬装置を作動させて、第２の記憶装置を運びつつ、第１の記憶装置を第２の試験用スロットの中へと挿入する工程とを含む。
【００１５】
本開示のこの態様の実施態様は、以下の特徴のうちの１以上を含んでいてもよい。いくつかの実施態様では、当該方法は、自動運搬装置を作動させて、回収された第２の記憶装置を第１の試験用スロットへと届ける工程と、自動運搬装置を作動させて、第２の記憶装置を第１の試験用スロットの中へと挿入する工程とを含む。このマニピュレータは、マニピュレータ本体と、このマニピュレータ本体の上に配置された第１および第２のコネクタとを具える。このコネクタは、互いに対して実質的にＶ字型構成で並べられており、各々、記憶装置運搬装置に解放可能に取り付くように構成されている。このマニピュレータは、対応する解放可能に取り付けられた記憶装置運搬装置の中に第１および第２の記憶装置を運搬する。記憶装置が各々対応する記憶装置運搬装置の中で運ばれる例では、各記憶装置を試験用スロットのうちの１つの中へと挿入する工程は、その対応する記憶装置運搬装置をそれぞれの試験用スロットの中へと挿入する工程と、運ばれた記憶装置を当該記憶装置試験システムのそれぞれのコネクタと係合する工程であって、挿入された記憶装置運搬装置はそのそれぞれの試験用スロットの閉鎖をもたらす工程と、を含む。
【００１６】
さらに別の態様では、記憶装置試験システムは、自動運搬装置と、この自動運搬装置によるアクセスのためのこの自動運搬装置の周りの少なくとも１つの架台と、各架台によって収容された複数の試験用スロットを具える。各試験用スロットは、試験のために記憶装置を受けるように構成されている。自動運搬装置によるアクセスのために並べられた搬送ステーションは、試験のために複数の記憶装置を提示する。自動運搬装置に取り付けられたマニピュレータは、複数の記憶装置を運ぶように構成されている。
【００１７】
本開示のこの態様の実施態様は、以下の特徴のうちの１以上を含んでいてもよい。いくつかの実施態様では、このマニピュレータは、複数の記憶装置運搬装置に解放可能に取り付くように構成されている。このマニピュレータは、マニピュレータ本体の上に配置されかつ互いに対して実質的にＶ字型構成で並べられた第１および第２のコネクタを具える。このコネクタは、記憶装置運搬装置に解放可能に取り付くように構成されている。
【００１８】
いくつかの例では、搬送ステーションは、当該自動運搬装置によるサービス提供のために、複数の記憶装置トートを提示位置で受けて支持するように構成された搬送ステーション筐体を具える。各記憶装置トートは、各々記憶装置を収容するように構成された複数の記憶装置置き場を画定するトート本体を具える。
【００１９】
本開示の１以上の実施態様の詳細は、添付の図面および以下の説明で示される。他の特徴、対象、および利点は、説明および図面から、ならびに特許請求の範囲から明らかとなろう。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】記憶装置試験システムおよび搬送ステーションの斜視図である。
【図２】記憶装置試験システムおよび搬送ステーションの上面図である。
【図３】記憶装置試験システムおよび搬送ステーションの斜視図である。
【図４】記憶装置試験システムの試験用スロットの中へと挿入されている記憶装置の斜視図である。
【図５】記憶装置運搬装置の斜視図である。
【図６】記憶装置を運ぶ記憶装置運搬装置の斜視図である。
【図７】記憶装置を運ぶ記憶装置運搬装置の底面斜視図である。
【図８】マニピュレータが遠位端に固定されているロボットアームの斜視図である。
【図９】ロボットアームのためのマニピュレータの上方正面斜視図である。
【図１０】図９に示されるマニピュレータの上方後面斜視図である。
【図１１】ロボットアームのためのマニピュレータの上方正面斜視図である。
【図１２】投入位置にある記憶装置トートの斜視図である。
【図１３】提示位置にある記憶装置トートの斜視図である。
【図１４】搬送ステーションの斜視図である。
【図１５】搬送ステーションのトート提示支持システム上に配置するための提示位置にあるトートの斜視図である。
【００２１】
種々の図面における同じ参照記号は、同じ要素を示す。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
記憶装置試験システムにおける記憶装置のバルク供給は、とりわけ記憶装置試験システムの処理量および効率の増加を与えることにより、記憶装置の手作業による個々の供給よりも有利である。詳細に論じられることになろうが、複数の記憶装置を保持する複数の記憶装置トート（トートとも呼ばれる）を記憶装置試験システムに提示することは、とりわけ現在のシステムに勝って連続的な記憶装置試験、複数の記憶装置トートの中でのディスクの並べ替え、最小のユーザの介入および効率の増加を可能にする。記憶装置トートの中での記憶装置のバルク供給は、（例えば、固定式のコンベヤーを別経路に変えることに対して、記憶装置トートまたは記憶装置トートを運ぶ手押し車もしくは台車の方向を簡単に変える能力を提供することにより）工場の作業現場の融通性という利点をもたらす。オペレータは（例えば、上記記憶装置トートを介して）ドライブの処理単位をこの記憶装置試験システムへと提示することができ、次いで別のシステムにサービスを提供するために遠ざかることができる。記憶装置トートの中での記憶装置のバルク供給はまた、記憶装置トートを用いた試験されるドライブの自動の並べ替えも可能にする。これは後述されることになる。
【００２３】
記憶装置は、本願明細書で使用する場合、ディスクドライブ、ソリッドステートドライブ、メモリ素子、および検証のために非同期の試験を必要とするいずれかの装置を包含する。ディスクドライブは、一般に、磁気表面を有する高速で回転するプラッタ上に数字でコード化されたデータを保存する、不揮発性記憶装置である。ソリッドステートドライブ（ＳＳＤ）は、永続的データを保存するためにソリッドステートメモリを使用するデータ記憶装置である。（フラッシュメモリの代わりに）ＳＲＡＭまたはＤＲＡＭを使用するＳＳＤは、ＲＡＭドライブと呼ばれることが多い。用語「ソリッドステート」は、一般にソリッドステート電子機器と電気機械装置とを区別する。
【００２４】
図１〜図３を参照すると、いくつかの実施態様では、記憶装置試験システム１００は、床面１０に対して実質的に法線方向の第１の軸２０５（図３を参照）を画定する少なくとも１つの自動運搬装置２００（例えばロボットアーム、ガントリーシステム、または多軸リニアアクチュエータ）を具える。示される例では、自動運搬装置２００は、第１の軸２０５の周りで所定の弧を通して回転しかつ第１の軸２０５から半径方向に延在するように動作可能であるロボットアーム２００を具える。ロボットアーム２００は第１の軸２０５の周りで３６０°回転するように動作可能であり、１以上の記憶装置５００および／または記憶装置５００を運ぶための記憶装置運搬装置５５０（例えば図５〜図６を参照）を取り扱うためにロボットアーム２００の遠位端に配置されたマニピュレータ７００を具える。複数の架台３００は、ロボットアーム２００によるサービス提供のためにロボットアーム２００の周りに配置される。各架台３００は、試験のために記憶装置５００を受けるように構成された複数の試験用スロット３１０を収容する。ロボットアーム２００は実質的に円筒形の作業用安全運行範囲容積２１０を画定し、架台３００は、ロボットアーム２００によるサービス提供のために、各試験用スロット３１０のアクセスのしやすさのためにその作業用安全運行範囲２１０内に配置されている。実質的に円筒形の作業用安全運行範囲容積２１０は、コンパクトな設置面積を提供し、一般に高さの制約により容量が制限されるだけである。いくつかの例では、ロボットアーム２００は、床面１０上の台座またはリフト２５０によって持ち上げられ、その上に支持される。台座またはリフト２５０は、ロボットアーム２００が上方向だけではなく下方向にも到達して試験用スロット３１０にサービスを提供できるようにすることにより、作業用安全運行範囲容積２１０のサイズを増大させる。作業用安全運行範囲容積２１０のサイズは、鉛直方向アクチュエータを台座またはリフト２５０に加えることにより、さらに増大させることができる。
【００２５】
自動運搬装置２００（例えば、ロボットアーム）は、各試験用スロット３１０に独立にサービスを提供するように構成されており、試験システム１００を通る記憶装置５００の連続流を提供する。試験システム１００を通る個々の記憶装置５００の連続流は各記憶装置５００に対して成り行き任せの開始および停止時間を許容するが、記憶装置５００の処理単位が投入された試験全体として一斉に実行されることを必要とする他のシステムは、すべて同じ開始および終了時間を有しなければならない。それゆえ、連続流を用いると、異なる容量の記憶装置５００を、必要に応じて、同時に実行しサービス提供する（投入される／取り出される）ことができる。
【００２６】
図３〜図４を参照すると、記憶装置試験システム１００は、自動運搬装置２００（例えば、示されるようなロボットアーム）への記憶装置５００のバルク供給用に構成された搬送ステーション４００を具える。自動運搬装置２００は、記憶装置５００を搬送ステーション４００と試験用スロット３１０との間で移すことにより、各試験用スロット３１０に独立にサービスを提供する。搬送ステーション４００は、自動運搬装置２００によるサービス提供のために提示される複数の記憶装置５００を運ぶ１以上のトート６００を収容する。搬送ステーション４００は、記憶装置試験システム１００へ記憶装置５００を届け、かつ記憶装置試験システム１００から記憶装置５００を回収するためのサービス提供する地点である。トート６００は、オペレータが一まとまりの記憶装置５００を搬送ステーション４００へと届け、および搬送ステーション４００から回収することを可能にする。図３に示された例では、各トート６００は、提示位置にあるそれぞれのトート提示支持システム４２０からアクセス可能であり、それは試験のために一まとまりの記憶装置５００を供給するための供給源トート６００として、または試験された記憶装置５００を受けるための届け先トート６００として（またはその両方として）指定されてもよい。届け先トート６００は、それぞれ機能性試験に合格したかまたは不合格であったかいずれかのそれぞれの記憶装置５００を受けるための「合格した戻りのトート」または「不合格の戻りのトート」と分類されてもよい。
【００２７】
記憶装置５００を操作するために記憶装置運搬装置５５０を用いる実施態様では、図４に示されるように、ロボットアーム２００は、マニピュレータ７００を用いて試験用スロット３１０のうちの１つから記憶装置運搬装置５５０を取り出して、搬送ステーション４００で提示されたトート６００のうちの１つから記憶装置運搬装置５５０を用いて記憶装置５００を持ち上げ、次いで記憶装置５００の試験のために、記憶装置５００が中に入っている記憶装置運搬装置５５０を試験用スロット３１０まで戻すように構成される。試験後、ロボットアーム２００は、試験された記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を試験用スロット３１０から（すなわち、マニピュレータ７００を用いて）取り出し、記憶装置運搬装置５５０の中の試験された記憶装置５００を搬送ステーション４００まで運び、そして記憶装置運搬装置５５０を操作して試験された記憶装置５００を搬送ステーション４００でトート６００のうちの１つに戻すことにより、試験された記憶装置５００を試験用スロット３１０から回収する。
【００２８】
図４に示される試験用スロット３１０は、記憶装置運搬装置５５０を受けるように構成された開口３１２を画定する。この場合、記憶装置運搬装置５５０は試験用スロット３１０の閉鎖をもたらす。記憶装置運搬装置５５０は、図５に示されるように記憶装置５００を受けて、自動運搬装置２００により取り扱われるように構成される。使用時には、記憶装置運搬装置５５０のうちの１つは、ロボット２００を用いて（例えば、ロボット２００のマニピュレータ７００を用いて運搬装置５５０のくぼみ５５２を掴むことにより、または別の態様で係合することにより）試験用スロット３１０のうちの１つから取り出される。いくつかの例では、図５〜図７に図示されるように、記憶装置運搬装置５５０は、側壁５６２、５６４および底板５６６によって形成される実質的にＵ字型の開口５６１を画定するフレーム５６０を具える。この側壁５６２、５６４および底板５６６は、フレーム５６０がトート６００の中で記憶装置支持体（図示せず）の周りに嵌合することを共同で可能にし、そのため記憶装置運搬装置５５０は（例えば、ロボットアーム２００を介して）、トート６００によって画定される複数の記憶装置置き場６２０のうちの１つの中に収容された記憶装置５００のうちの１つの下の位置へと移動できる（例えば、図８〜図９を参照）。次に記憶装置運搬装置５５０は、トート６００からの取り外しのために記憶装置６００を係合する位置まで（例えば、ロボットアーム３１０によって）持ち上げられることができる。
【００２９】
記憶装置５００が記憶装置運搬装置５５０のフレーム５６０内の適所にあると、記憶装置運搬装置５５０および記憶装置５００は一緒に、図４に示されるように、試験用スロット３１０のうちの１つの内部での配置のために自動運搬装置２００によって動かされることができる。いくつかの実施態様では、マニピュレータ７００は、記憶装置運搬装置５５０の中に配置されたクランプ機構５７０の作動を開始するようにも構成される。これにより、運搬装置５５０がトート６００から試験用スロット３１０へと動かされる前のクランプ機構５７０の作動が可能になり、移動の間の記憶装置運搬装置５５０に対する記憶装置５００の移動が抑制される。試験用スロット３１０への挿入に先立って、マニピュレータ７００は、ここでも、クランプ機構５７０を作動させてフレーム５６０内の記憶装置５００を解放することができる。これにより、記憶装置コネクタ５１０が試験用スロットコネクタ（図示せず）と係合している試験位置に記憶装置５００があるまで、試験用スロット３１０のうちの１つへの記憶装置運搬装置５５０の挿入が可能になる。クランプ機構５７０はまた、ひとたび試験用スロット３１０の中に受けられると、試験用スロット３１０と係合して、試験用スロット３１０に対する記憶装置運搬装置５５０の移動を抑制するように構成されてもよい。このような実施態様では、ひとたび記憶装置５００が試験位置にあるとき、クランプ機構５７０は、（例えば、マニピュレータ７００によって）再度係合され、試験用スロット３１０に対する記憶装置運搬装置５５０の移動が抑制される。このような運搬装置５５０のクランプ止めは、試験の間の振動を減少させるのに役立つ可能性がある。いくつかの例では、挿入後、記憶装置運搬装置５５０およびその中で運ばれる記憶装置５００は、両方とも試験用スロット３１０内で組み合わせてまたは個々にクランプ止めまたは固定される。
【００３０】
図８〜図１１を参照すると、マニピュレータ７００はロボットアーム２００の遠位端２０２に固定される。マニピュレータ７００は、マニピュレータ本体７１０上に配置されかつ互いに対して実質的にＶ字型構成で並べられた第１および第２のアーム７２０、７３０を具える。いくつかの実施態様では、アーム７２０、７３０は、互いから１８０°またはそれらの間の何らかの他の角度などの他の配置で配置されてもよい。アーム７２０、７３０は各々、記憶装置運搬装置５５０に解放可能に取り付くように構成されているコネクタ７４０を有する。示される例では、各コネクタ７４０は、アーム７２０，７３０上に配置されるツメアクチュエータ７５０に対向して結合される第１および第２のツメ７４２、７４４を具える。ツメアクチュエータ７５０は、記憶装置運搬装置５５０を解放可能に係合および保持するためにその結合されたツメ７４２、７４４を反対の方向に移動させるように動作可能である。記憶装置運搬装置５５０を掴むために、ロボットアーム２００およびマニピュレータ７００は、コネクタ７４０のうちの１つを巧みに操作してツメ７４２、７４４を記憶装置運搬装置５５０のくぼみ５５２の中へと置くように作動され、次いでツメアクチュエータ７４０を作動させてツメ７４２、７４４を互いから離れるように移動させて、くぼみ５５２を記憶装置運搬装置５５０に解放可能に取り付くように係合させる。いくつかの例では、ツメ７４２、７４４は、フック形状であり、かつ／または記憶装置運搬装置５５０のくぼみ５５２を係合するための摩擦パッドを有する。マニピュレータ７００の各アーム７２０、７３０は、記憶装置運搬装置５５０のクランプ機構５７０を係合するように構成された第１および第２のクランプアクチュエータ７６２、７６４を有する。このクランプアクチュエータ７６２、７６４は、クランプ機構５７０を係合／解放するために、クランプ機構５７０上で押したり引いたりするように動作可能であってもよい。
【００３１】
図１２〜図１３に図示される例では、トート６００は、正面６１１、裏面６１２、上面６１３、底部側６１４、右側６１５および左側６１６を有するトート本体６１０を具える。トート本体６１０は、正面６１１に、各々が記憶装置５００を収容するように構成された複数の記憶装置置き場６２０を画定する。いくつかの例では、トート６００は、投入位置にある間は裏面６１２を下にして置かれ、そのため図１２に示されるように、記憶装置置き場６２０は実質的に鉛直方向であり、上方向を向く。他の例では、トート６００は投入位置にあるあいだ別の配向で、例えば斜めの配向で、または提示位置の場合のように鉛直方向の配向で保持される。提示位置では、トート６００はその底部側６１４を下にして置かれ、そのため記憶装置置き場６２０は、図１３に示されるように実質的に水平方向であり、横方向を向く。トート本体６１０は、トート本体６１０の右側および左側６１５、６１６に、トート６００を支持するように構成されたアームの溝６３０を画定する。
【００３２】
示された例では、各記憶装置置き場６２０は、受けられた記憶装置５００の中央部分５０２（図７を参照）を支持するように構成された記憶装置支持体６２２を具え、これにより非中央部分に沿った記憶装置５００の操作が可能になる。いくつかの実施態様では、記憶装置支持体６２２は、トート６００が実質的に鉛直方向の配向にあるあいだ斜めに記憶装置５００を支持するように構成され、そのため、記憶装置５００は、記憶装置置き場６２０から外へではなく、記憶装置置き場６２０の中へより深く滑り落ちる傾向を有する。収容された記憶装置５００を記憶装置置き場６２０から取り出すために、記憶装置運搬装置５５０は（例えばロボットアーム２００によって）記憶装置置き場６２０の中の記憶装置５００の下に配置され、記憶装置支持体６２２から記憶装置５００を持ち上げるために上げられる。次いで記憶装置運搬装置５５０は、試験用スロット３１０などの届け先の目標へと届けるために記憶装置５００を保有したまま、記憶装置置き場６２０から取り出される。
【００３３】
図１４を参照すると、いくつかの実施態様では、搬送ステーション４００は搬送ステーション筐体４１０と、搬送ステーション筐体４１０上に配置された複数のトート提示支持システム４２０とを具える。各トート提示支持システム４２０は、記憶装置試験システム１００によるサービス提供のために記憶装置トート６００を提示位置で受けて支持するように構成されている。
【００３４】
いくつかの実施態様では、トート提示支持システム４２０は、各々、搬送ステーション筐体４１０の同じ側に配置され、互いに対して鉛直方向に並べられている。各トート提示支持システム４２０は他に対して異なる高さ位置を有する。いくつかの例では、図１５に示されるように、トート提示支持システム４２０は、記憶装置トート６００のトート本体６１０によって画定されるそれぞれのアームの溝６３０によって受けられるように構成されたトート支持アーム４２６の第１および第２の対向する対４２２、４２４を具える。
【００３５】
再度図１４を参照すると、トート移動装置４３０は搬送ステーション筐体４１０上に配置され、記憶装置トート６００を受けて支持するように構成された枢動可能に結合されたトート投入支持体４４０を動かすように構成されている。トート投入支持体４４０は、第１の位置と第２の位置との間で枢動および移動する。トート移動装置４３０は、記憶装置トート６００を（例えば、投入支持体の第１の位置で水平方向配向にある）投入位置で保持するための第１の位置と、（例えばロボットアーム２００による）記憶装置試験システム１００によるサービス提供のために記憶装置トート６００をトート提示支持システム４２０のうちの１つでの提示位置で（例えば実質的に鉛直方向配向にある）保持するための第２の位置との間で、トート投入支持体４４０を移動させるように構成されている。いくつかの例では、トート６００から外への偶発的な滑り落ちから記憶装置５００を守るために、トート提示支持システム４２０は、トート６００をわずかに斜めになった（例えば鉛直方向からずれた）配向で保持する。
【００３６】
記憶装置の試験を実施する方法は、試験のために複数の記憶装置５００を記憶装置試験システム１００に提示する工程と、自動運搬装置２００（例えばロボットアーム）を作動させて、記憶装置５００のうちの１つを記憶装置トート６００から回収し、この回収された記憶装置５００を記憶装置試験システム１００の架台３００の試験用スロット３１０へと届ける工程とを含む。当該方法は、自動運搬装置２００を作動させて記憶装置５００を試験用スロット３１０に挿入する工程と、試験用スロット３１０によって受けられた記憶装置５００上で機能性試験を実施する工程とを含む。当該方法はまた、自動運搬装置２００を作動させてこの試験された記憶装置５００を試験用スロット３１０から回収し、この試験された記憶装置５００を届け先場所へと戻すように届ける工程をも含んでよい。いくつかの実施態様では、当該方法は、複数の提示された記憶装置５００を回収する工程と、その記憶装置の各々をそれぞれの試験用スロット３１０へと届ける工程とを含む。他の実施態様では、当該方法は、自動運搬装置２００を作動させて第１の記憶装置５００を第１の試験用スロット３１０から取り出し、それをマニピュレータ７００の第１のアーム７２０を用いて運び、第２の試験用スロット３１０へと移動し、そして第２の記憶装置５００を取り出してそれをマニピュレータ７００の第２のアーム７３０を用いて運び、次いで第１の記憶装置５００を第２のスロット３１０の中へと挿入することにより、記憶装置５００を試験用スロット３１０の中で入れ替える工程を含む。当該方法は、自動運搬装置２００を作動させて第２の記憶装置を第１の試験用スロット３１０へと移動させ、第２の記憶装置５００を第１の試験用スロット３１０に挿入する工程をも含んでよい。この動作モード（記憶装置の入れ替え）については、当該２本アームのマニピュレータ７００は、記憶装置５００を第１の試験用スロット３１０から取り上げ、記憶装置５００を空のスロット３１０またはトート６００の中に置いておき、別の記憶装置５００を第２のスロット３１０から回収し、そしてその記憶装置５００を第１の試験用スロット３１０へと挿入し、次いで置いておいた記憶装置５００を回収してそれを第２のスロット３１０に挿入しなければならないことよりはむしろ、各停止における記憶装置５００の直接交換を可能にすることにより、１本アームのマニピュレータに勝る明確な利点をもたらす。この２本アームのマニピュレータ７００は、２つの試験用スロット３１０の間で記憶装置５００を取り換えている間、記憶装置５００のうちの１つを置いておくという工程をなくす。
【００３７】
試験のために複数の記憶装置５００を提示する工程は、記憶装置５００を記憶装置トート６００によって画定される記憶装置置き場６２０の中へと投入し、そして記憶装置トート６０を搬送ステーション４００の中／上へと投入することによるように、複数の記憶装置５００を搬送ステーション４００の中／上へと投入することにより、成し遂げられてもよい。搬送ステーション４００のトート移動装置４３０は、記憶装置試験システム１００によるサービス提供のために、記憶装置トート６００を投入位置から提示位置へと移動させるように作動される。記憶装置トート６００は、搬送ステーション筐体４１０の上に配置されかつ互いに対して鉛直方向に並べられた複数のトート提示支持システム４２０のうちの１つによって、提示位置で支持される。各々が記憶装置５００を収容する複数の記憶装置トート６００は、連続的に、搬送ステーション４００上に投入位置で置かれ、記憶装置試験システム１００によるサービス提供のために、複数のトート提示支持システム４２０のうちの１つでのそのそれぞれの提示位置へとトート移動装置４３０によって移動されることができる。
【００３８】
試験のために提示された記憶装置５００のうちの１以上を回収する際には、当該方法は、好ましくは、自動運搬装置２００を作動させて（例えば架台３００の中に収容された試験用スロット３１０から）記憶装置運搬装置５５０を回収する工程と、自動運搬装置２００を作動させて搬送ステーション４００から記憶装置５００のうちの１つを回収し、記憶装置５００を記憶装置運搬装置５５０の中に運ぶ工程とを含む。当該方法は、受けられた記憶装置運搬装置５５０および試験用スロット３１０によって収容された記憶装置５００上で機能性試験を実施するために、自動運搬装置２００を作動させて記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を試験用スロット３１０へと届ける工程を含む。いくつかの例では、記憶装置運搬装置５５０を試験用スロット３１０へと届ける工程は、記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を架台３００の中の試験用スロット３１０の中へと挿入する工程と、記憶装置５００と架台３００との間の電気的接続を確立する工程とを含む。試験が記憶装置５００について完了した後は、当該方法は、自動運搬装置２００を作動させて、試験された記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を試験用スロット３１０から回収して、この試験された記憶装置５００を搬送ステーション４００上の届け先記憶装置トート６００などの届け先場所へと戻すように届ける工程を含む。いくつかの実施態様では、架台３００および２以上の関連付けられた試験用スロット３１０は、試験用スロット３１０が異なる種類の試験用に設定されている場合に備えて、記憶装置５００を１つの試験用スロット３１０から別の試験用スロット３１０へと内部で移動させるように構成される。
【００３９】
いくつかの例では、当該方法は、自動運搬装置２００を作動させて、届け先場所で（例えば届け先記憶装置トート６００の記憶装置置き場６２０の中に）試験された記憶装置５００を置いた後に試験用スロット３１０の中に記憶装置運搬装置５５０を置く工程か、または（例えば供給源記憶装置トート６００の記憶装置置き場６２０から）試験のために別の記憶装置５００を回収することにより、当該方法を繰り返す工程を含む。
【００４０】
いくつかの実施態様では、自動運搬装置２００は、自動運搬装置２００が複数の記憶装置５００および／または記憶装置運搬装置５５０を回収する、取り扱う、および届けることを可能にする上で論じたマニピュレータ７００を具える。例えば、自動運搬装置２００は、マニピュレータ７００の１本のアーム７２０、７３０によって保持された記憶装置運搬装置５００の中に１つの未試験の記憶装置５００を回収して運び、そして未試験の記憶装置５００を試験用スロット３１０へと届けることができる。試験用スロット３１０で、自動運搬装置２００は、現在試験用スロット３１０の中にある試験用記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を取り出し、その後で試験のために未試験の記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を試験用スロット３１０の中へと挿入する。次いで自動運搬装置２００は、試験された記憶装置５００を届け先記憶装置トート６００の置き場６２０などの届け先場所へと届ける。別の例では、自動運搬装置２００は、２つの未試験の記憶装置５００をマニピュレータ７００の各アーム７２０、７３０上に１つずつ回収して運び、次いで試験のためにこの２つの未試験の記憶装置５００をそれぞれの試験用スロット３１０へと届けることができる。次いで自動運搬装置７００は、２つの試験された記憶装置５００を（例えばそのそれぞれの記憶装置運搬装置５５０をマニピュレータ７００と係合して取り出すことにより）そのそれぞれのスロット３１０から回収し、試験された記憶装置５００を、１以上の届け先記憶装置トート６００の２つの置き場６２０などの届け先場所へと届けるように作動されることができる。一方の試験された記憶装置５００が記憶装置の試験に合格し、他方が不合格であった場合、それらは「合格した」記憶装置トート６００および「不合格の」記憶装置トート６００などの異なる届け先記憶装置トート６００の中に置かれてもよい。
【００４１】
マニピュレータ７００は、自動運搬装置２００が複数の記憶装置５００および／または記憶装置運搬装置５５０を記憶装置試験システム１００内で移動させて、一度に１つの記憶装置５００および／または記憶装置運搬装置５５０を取り扱うことしかできないマニピュレータによってこれまでに達成可能であったタスクよりも多くのタスクを成し遂げることを可能にする。増大した融通性によって、自動運搬装置２００の移動を最適化するための自動運搬装置２００の経路計画が可能になる。
【００４２】
いくつかの実施態様が記載された。しかしながら、本開示の技術思想および範囲から逸脱することなく種々の改変がなされてもよいということを理解されたい。従って、他の実施態様は添付の特許請求の範囲の範囲内にある。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【国際調査報告】
2011522345.tif 000018
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