(57)【要約】人の眼の軸長を測定する装置であって、本装置は、低コヒーレンス光源と、ビームスプリッターと、干渉計の基準アームの範囲で迅速に経路長を変える高速変位モジュールと、前記低コヒーレンス光源からの光と共に伝播するレーザビームを前記変位モジュールに向けるレーザとを含む。【選択図】図３
2011520479.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
人の眼の軸長を測定する装置であって、本装置は、
a.低コヒーレンス光源と、
b.ビームスプリッターと、
c.干渉計の基準アームの範囲で迅速に経路長を変える高速変位モジュールと、
d.前記低コヒーレンス光源からの光と共に伝播するレーザビームを前記変位モジュールに向けるレーザと、
を含む、装置。
【請求項２】
人の眼の平均長とほぼ等しいオフセットだけ異なる経路長を有する２つの偏光ビームを供給するように配置される第１の偏光ビームスプリッターと第２の偏光ビームスプリッターとを含む光プローブを更に含む、請求項１に記載の装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一実施形態において、人の眼の軸長を測定する装置に関し、特に高精度で高速に作動する干渉計装置に関する（人の眼の軸長を測定する干渉計システム）。
【背景技術】
【０００２】
低コヒーレンス干渉法（LCI）は、強力な非接触測定技術である。それは、低コヒーレンス光を使用して、干渉法的に、弱い散乱信号を測定し、特性化するのに使用される。LCIは、顕微鏡検査、半導体と他の産業における品質管理のためのセンシングアプリケーション、そして、例えば、光コヒーレンス・トモグラフィー（OCT）などの医療アプリケーションで幅広く使用される。低コヒーレンス干渉法の原理を使用する測定システムが、商業的に販売されている。たとえば、ニューヨーク州、西ヘンリエッタのリューメトリックス(Lumetrics)社によって製造・販売されるOPTIGAGE（商標）は、LCIに基づいており、様々の多層材料、例えばレンズスタック、自動車用ガラス、ポリマー膜、医療用チューブ、及び他の物体の厚さを測定するのに使用してよい。
【０００３】
概して、低コヒーレンス干渉法において使用される２つの主要なアプローチがある。スペクトル領域干渉法（SDI）と時間領域干渉法（TDI）である。２つのアプローチは、速度、感度、及び測定範囲において異なる。SDIは、優れた感度と速度を有する。しかし、また、狭い測定範囲を有する。SDIは、主に光コヒーレンス・トモグラフィーにおいて使用され、そのトモグラフィーは、ビデオ速度（毎秒30フレームのオーダー）での画像取得を必要とし、一般に、広い測定範囲を含まない。TDIは、実質的に無制限のダイナミックレンジを有する。しかし、それは通常、感度があまりよくなく、SDIより非常に遅い。
【０００４】
軸方向の眼の長さの非侵襲性の測定は、広い測定範囲を必要とし、従って、SDIを使用して達成することはできない。TDI感度は、眼球界面で反射される光を検出するのに十分であるものの、その速度は眼の軸長測定を実施するのに十分ではない。一般に、被験者にとって、自分の眼をおよそ100ミリ秒以上の間静止した状態に維持することは難しい。従って、測定は10Hzより早い速度で、望ましくは少なくともおよそ15Hzより早い速度で行う必要がある。
【０００５】
その上、測定速度を増加させることは感度の減少を伴い、入射光の量が安全規則によって制限されているので、感度の減少は、単に光源の出力パワーを増やすことによって改善することはできない。光源は、測定サイクルの間、眼に損害を引き起こすほど強力であってはならない。
【０００６】
したがって、人の眼の軸長を測定する安価でロバストな方法であって、高速と高精度で長さ測定を実施するのに十分な感度を有する方法に対する必要性が残っている。
【発明の概要】
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、眼の軸長を測定する装置を提供することによってこの必要性を満たす。前記装置は、低コヒーレンス光源と、ビームスプリッターと、干渉計の基準アームの範囲内で迅速に経路長を変えるための高速変位モジュールと、前記変位モジュールに対して、前記低コヒーレンス光源からの光と共に伝播するレーザビームを向けるレーザとを含む。 本発明による装置は、異なる経路長を有する２つの偏光ビームを供給するように配置される第１の偏光ビームスプリッターと第２の偏光ビームスプリッターとから成る光プローブも含む。
【０００８】
前記高速変位モジュールによって引き起こされる経路長における変化が眼の光路長より大きいならば、前記ビームスプリッターを使わずに眼全体を測定することが可能である。前記ビームスプリッターによって引き起こされる経路長における変化が（図３の場合のように）眼の光路長より小さいならば、前記ビームスプリッターは記載された寸法を得るために眼（または眼の選択された部分）の全長に沿って測定セグメントを移動させるのに使用してよい。
【０００９】
本発明は以下の図面を参照して説明される。なお、同様の番号は同様の要素を示している。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】時間領域干渉法を使用する眼の測定システムの概略図である。
【図２】図１のシステムを使用して得られる人の眼のインターフェログラムである。
【図３】高速に軸方向の眼の測定を実行する眼測定システムの概略図である。
【図４Ａ】回転する立方体を含む、図３のシステムの変位モジュールの概略図である。
【図４Ｂ】回転ミラーアセンブリを含む、図３のシステムの変位モジュールの概略図である。
【図４Ｃ】図4Aの高速変位モジュールの立方体の回転角に対するモジュールを通る経路長の依存関係のグラフ表示である。
【図４Ｄ】図4Bの高速変位モジュールのミラーアセンブリの回転角に対するモジュールを通る経路長の依存関係のグラフ表示である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
本発明は、好適な実施形態に関連して説明される。しかし、説明される実施形態に発明を限定する意図はないことが理解されよう。それとは逆に、発明は特許請求範囲だけによって規定され、限定される。
【００１２】
本発明の一般的な理解のために、図面が参照される。図において、同様の参照記号が、同一又は同等の要素を示すのに終始使用されている。明細書では、本発明を説明する際に、様々な用語が使用される。
【００１３】
本明細書では、用語「測定システム」と「測定装置」とは交換可能に使用され、測定のために使用可能な構成部品からなるアセンブリを示すことになっている。
【００１４】
本明細書では、用語「低コヒーレンス光源」は測定対象の構造の分解能を可能にするのに十分短いコヒーレンス長を有する光源を意味する。好ましくは、これは、測定対象の最も薄い解剖学的構造の厚さ以下である。50ミクロン未満のコヒーレンス長は、この目的のために大抵の場合十分である。
【００１５】
図１は、眼の軸の測定を実行するために時間領域干渉法を使う眼測定システムの概略図である。システムは、マイケルソン干渉計の原理に基づく。システム10は、低コヒーレンス光源12と、ビームスプリッター14と、可動ミラー16と、検出器18と、構成要素間で光をガイドする様々光ファイバーとから成る。
【００１６】
動作では、光源12から放射される光は、ビームスプリッター14で２つのビームに分割される。そのスプリッターは、光ファイバーカプラーであってよい。２つのビームのうちの１つは、矢印90で示されるように、可動ミラー16に向けられ、干渉計の基準アーム20を形成する。他のビームは、矢印91で示されるように、測定対象の物体、このケースでは、人間の患者の眼２に向けられる。眼は角膜4、眼内レンズ6、及び網膜8からなる。それらは、反射する界面を含む。こうして、眼２にそして中に向けられる光のいくらかは、反対方向に反射される。眼の内部の様々な界面からのこの反射光と、ミラー16による反射光とは次に再結合され、矢印92で示されるように、検出器18に向けられる。
【００１７】
基準アーム20の光路長が、光源12からの光のコヒーレンス長の範囲内で眼２の中の反射面に対する光学距離に等しいとき、干渉信号が生じる。矢印93で示されるように基準ミラー16がモータ駆動のリニアステージ22または他の適切な手段で動かされるとき、基準アーム20の長さの変化によって、眼２の様々な界面からの反射光とミラーからの反射光間で干渉が生じる。システム10は、検出器18と連絡をとっているコンピュータ24を更に含む。コンピュータ24はミラー16の走査動作の間、検出器18から信号を受け取り、アルゴリズムを使用して、総軸長を含め、眼の層状構造の寸法情報一式を計算する。
【００１８】
システム10は、サーキュレータ26を更に含み、眼２の軸に沿って光ビームを集束する少なくとも１つのレンズ29を含むことができるプローブ28も含んでよい。低コヒーレンス光源12は、高輝度発光ダイオード（SLED）、例えばExalos EXS8510-1411であってよい。SLEDは、眼が十分に透過性であり、且つ患者が不快を経験しない波長で、発光する必要がある。波長の好ましい範囲は、600mm〜1200mmである。
【００１９】
発明者は、時間領域干渉法に適切なシステム10の実施例を作成した。それでは、ミラー16の総移動距離が50ミリメートル（mm）であり、移動は一定速度で実行され、最大限の前方位置と最大限の後方位置間の移動時間はおよそ１秒である。これによって１Hzの測定速度が提供される。この例示的なシステムでは、眼２の網膜８に入射する光のパワーは、およそ350マイクロワットである。これは、（ANSI規格Z136.1-2000によって規定されているような）一般に認められた安全限度をはるかに下回る。 図１のシステム10を使用して、幾人かの人間の被験者に関する臨床試験が実施された。被験者の眼の測定された軸長は、23.4mmから28.06mmまでの幅があり、標準偏差は0.03mm未満であった。
【００２０】
図２は、ミラー16による一回の走査の間に、生体の人の眼に対して得られる代表的インターフェログラムを表す。インターフェログラム30の各々のピークは、角膜、水晶体、及び網膜によって形成される反射界面に対応する。ピークの間の距離は、それぞれの界面間の光学距離に対応し、これによって、総軸長と同時に角膜の厚さ、水晶体の厚さ、及び前房深度の測定が可能になる。図２に関して、左から右にピークの第１のグループ32は角膜に、第２及び第３のグループ34と36は水晶体に、そして、第４のグループ38は網膜に対応する。
【００２１】
システム10は、眼の軸長の正確な測定を行うことができるが、およそ１Hzの測定速度は、所望より低いので、このシステムは、最適ではない。システムは、ミラー16を、その最大限の前方位置からその最大限の後方位置まで走査させることができる速度によって制限される。
【００２２】
この問題に対処するために、発明者は高速の軸方向の眼の測定を実行する測定システムを開発した。発明者のシステム100の概略図が図３に示されている。システム100は、図１のシステム10の対応する構成要素と同様の、低コヒーレンス光源112と、ビームスプリッター114と、検出器118と、コンピュータ124と、構成要素間で光をガイドする様々な光ファイバーを含む。しかし、システム10の構成と異なる３つの主要構成要素がある。
【００２３】
第１に、システム100の光プローブ128は、第１の偏光ビームスプリッター102と第２の偏光ビームスプリッター104を含む。プローブ128の低コヒーレンス光は、２つの直交する偏光に分けられる。偏光ビーム106のうちの１つは、人の眼の平均長にほぼ等しい分枝(offset)中を進む。このように、角膜４と網膜８の位置を検査するために、システム100の基準アーム120の非常により狭い走査範囲が必要になる。眼内レンズ６と網膜８の間の眼２の相当な部分は、有用な情報を含まず、したがって検査する必要はない。システム100の構成によって、この無意味な硝子体のスペースをスキップできる、すなわち、その中の測定は実行されない。したがって、基準アーム120の走査範囲は、 図１のシステム10より非常に短い。その上、また、分割した通常のパワーの代わりに分割した偏光を使うことは、硝子体から光損失を最小にすることによってシステムの感度を維持するのに役立つ。
【００２４】
第２に、基準アーム120の走査範囲に対する要件を減らすことによって、（図１のモータ駆動のリニアステージ22以外の）いくつかの代わりの変位技術の使用が可能になる。その変位技術は、より速い走査速度で機能できる。再び図３を参照するに、迅速に基準アーム120の経路長を変える手段を含む「高速変位モジュール」108が設けられている。このような手段の２つの例が、図4Aと4Bを参照して、後述する。
【００２５】
第３に、変位モジュール108の走査距離を精密に測定するために、システム100はレーザ130を更に含む。レーザ130からの光は、矢印190と191で示されるように、低コヒーレンス光の経路に沿って共に伝播される。変位モジュール108から反対方向に反射されるレーザ光はそれからカプラー132を通り、そして、別の干渉計134にガイドされる。その干渉計の基準アームは反射体138に接続されている光ファイバー136によって形成される。コンピュータ124は、干渉計134から信号を受け取り、それによって、サブマイクロメートルの精度で基準アーム120の経路長の変化をモニタリングすることが可能になる。レーザの波長は、低コヒーレンス光源112のスペクトルと異なる必要がある。一実施形態においては、低コヒーレンス光源は、約850nmを中心とするスペクトルを有するSLEDであってよく、レーザは、633ナノメートルのビームを放射するヘリウムネオンレーザであってよい。
【００２６】
一般に、人の眼の軸長が母集団の98%に対して6mmの範囲内で変化することは知られている。Stenstrom S.、American Journal of Optometry、Vol.25、pp. 340-350（1948）を参照されたい。眼組織、水晶体、及び体液の1.35という平均屈折率を仮定して、基準ビーム経路長の必要な最小限の変化の総計は、8.1mmである。周辺効果を除き、且つ角膜信号と網膜信号間の可能な重なりを回避するために、高速変位モジュール108によってもたらされる、基準ビーム経路長の総動作範囲は、およそ10mmでなければならない。
【００２７】
10mmの経路長の変化に対して望ましい15Hzの測定速度を達成するためには、必要な移動速度は150mm/秒である。これは、図１のシステム10で使用される速度より３倍速い。より早い移動速度は、広帯域の検出電子機器を必要とし、したがって電子雑音がより大きくなり感度の低下となることに留意する。十分な感度を維持するために、眼に入射する光の量を700マイクロワットまで増加することが好ましい。
【００２８】
迅速に基準アーム120の経路長を変える様々な適切な手段を高速変位モジュール108に設けてよく、それら手段は、必要な15Hzの速度で10mmの変位または経路長の変化を達成する。これら手段には、ファイバー・ストレッチャーを含めてよい。発明者は、回転ベースのデバイスがより費用効果がよくなる可能性が高いことを見出した。高速変位モジュール108の２台の例示的な装置が、図4Aと4Bに示されている。図4Aは、屈折によって機能する高速変位モジュールを示す。図4Bは、反射によって機能する高速変位モジュールを示す。
【００２９】
図4Aは、回転する立方体140から成る高速変位モジュール107の概略図である。図4Cは、図4Aのモジュールで使用してよい１つの例示的な立方体の場合の立方体の回転角に対するモジュール107を通る経路長の依存関係のグラフ表示である。図4Aに関して、立方体140が回転して、入射ビーム142は立方体140によって屈折され、それから静止した平面ミラー144によって反対方向に反射される。立方体がその軸のまわりに回転するとき、光ビーム142は、先ずミラー144に向けて立方体140を通って内部へ伝播し、それから、立方体140を通り反対方向に外部へ伝播する間に、光ビーム142が進行する総距離は増加する。ガラスの屈折率が空気の屈折率より大きいので、総経路長も増加する。回転角に対する基準アーム120を通る総経路長の変化の計算値が、図4Cに示されている。限定するわけではないが、例として、合計18mmの経路長の変化が、１インチの立方で可能である。図4Bに関して、１インチの立方140がおよそ70度の角変位に亘って回転するとき、基準アーム120による総経路長は、およそ75mmからおよそ93mmまで増加することが分かる。これは、その70度回転の期間中の立方体140による18mmという経路長の変化の結果である。実際の範囲は、経路長のカーブの非線形性のためにより少ない恐れがあることに留意する。また、立方体の各側面が経路長の調整のために使用してよいことに留意する。こうして、立方体の回転頻度はわずかおよそ4Hzに限定してよく、これは、16Hzの測定速度を与る。
【００３０】
図4Bは、回転ミラーアセンブリ146を含む別の高速変位モジュール109の概略図である。図4Dは、図4Bのモジュール109で使用してよい１つの例示的なミラーアセンブリの場合のミラーアセンブリの回転角に対するモジュール109を通る経路長の依存関係のグラフ表示である。ミラーアセンブリ146は、平行な回転ミラーの対を含む。図4Bに示されている実施形態において、ミラーアセンブリ146は、３対の平行な回転ミラーを含む。ミラーアセンブリ146は、ミラー側面150、152及び154を有する三角形ミラー148を備えている。三角形ミラー148は、回転ディスク156上に配置され、その回転軸に中心が合わせられる。ミラーアセンブリ146は、さらにミラー158、160及び162を含み、それらミラーは、回転ディスク156に結合され、そして、三角形ミラー148のミラー側面150、152及び154にそれぞれ平行である。このように、３対の平行なミラーは、三角形ミラー148とミラー158、160及び162によって形成される。変位モジュール109は、基準アーム120の経路を終結するミラー149を更に含む。
【００３１】
高速変位モジュール109は、反射ユニットとして、経路較正を必要としないので、図4Aの変位モジュール107と比較してより有利である。レーザ130からの共に伝播するビームは、直接、経路長の変化を測定するのに使用してよい。変位モジュール109の回転角に対する基準アーム120を通る総経路長の変化の計算値が、図4Dに示されている。回転角に関して、近似的に一次従属性があることが分かる。これは、経路長の走査に沿って等しい感度を維持する場合に有利である。限定するわけではないが、例として、３インチ直径の回転ディスクに対して、16mmという総変位を得ることができる。図4Dを参照するに、３インチ直径のミラーアセンブリ146がおよそ45度の角変位に亘って回転するとき、基準アーム120による総経路長は、およそ71mmからおよそ87mmまで増加することが分かる。これは、その45度回転の期間中のミラーアセンブリ146による16mmという経路長の変化の結果である。３本の同一の反射経路が、経路長の調整のために使用してよいので、15Hzの測定速度は、5Hzでディスク156を回転させることによって達成してよい。
【００３２】
再び図３を参照するに、高速変位モジュール108が一回の走査を完了するとき、眼２の２つの10ミリメートルの領域が同時に検査される。これは、光プローブ128に第１の偏光ビームスプリッター102と第２の偏光ビームスプリッター104を設けた結果である。２つの偏光ビームが生成され、眼に向けられ、それらのビームは、人の眼の平均長さだけ経路長が異なる。検査される眼２の２つの領域は、角膜領域５と網膜領域７である。
【００３３】
このように、眼２の走査からのデータは、角膜と網膜に対応する２組のピークを含む。システム100によって走査される領域の間の距離は、２つの直交する偏光によって移動される２本の経路間のオフセットによって制御される。オフセットが、人の眼の平均軸長になるように慎重に選択され、検査される領域が角膜領域５と網膜領域７となる。図３のシステム100の全体構成は、この距離が望ましい高精度と高速で測定されるのを可能にする。
【００３４】
たとえば、変位モジュール109の走査範囲がさらに20mmまでに増加される更なる実施形態においては、眼の内部のすべての反射面を検出できることは、重要な留意事項である。この実施形態では、前房深度と水晶体の厚さ距離を、眼の角膜厚さと総軸長に加えて測定してよい。
【００３５】
したがって、本発明による人の眼の軸長を測定する装置が示されたことは、明らかである。本発明がその好適な実施形態とともに説明されたとは言え、多くの選択肢、修正、及び変形が、当業者にとって明白であることはあきらかである。したがって、添付の特許請求範囲の精神と幅広い範囲に含まれるすべてのそのような選択肢、修正、及び変形を包含することが意図されている。  
【図１】
2011520479.tif 000003
【図２】
2011520479.tif 000004
【図３】
2011520479.tif 000005
【図４Ａ】
2011520479.tif 000006
【図４Ｂ】
2011520479.tif 000007
【図４Ｃ】
2011520479.tif 000008
【図４Ｄ】
2011520479.tif 000009
【手続補正書】
【提出日】平成23年1月5日(2011.1.5)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
人の眼の軸長を測定する装置であって、本装置は、
低コヒーレンス光源と、
ビームスプリッターと、
第１の干渉計の基準アームの範囲内で迅速に経路長を変える高速変位モジュールと、
前記低コヒーレンス光源からの光と共に伝播するレーザビームを前記変位モジュールに向けるレーザと、
前記レーザビームの前記経路長をモニターする第２の干渉計と、
を含む、装置。
【請求項２】
人の眼の平均の長さとほぼ等しいオフセットだけ異なる経路長を有する２つの偏光ビームを提供するように配置される第１の偏光ビームスプリッターと第２の偏光ビームスプリッターとを含む光プローブを更に含み、
前記第１及び第２の偏光ビームスプリッターが、前記低コヒーレンス光源と前記眼との間に配置される、請求項１に記載の装置。
【請求項３】
人の眼の軸長を測定する装置であって、本装置は、
低コヒーレンス光源と、
前記低コヒーレンス光を第１の部分と第２の部分に分割する第１のビームスプリッターと、
第１の干渉計と、
レーザと、
前記レーザ光を第１の部分と第２の部分に分割する第２のビームスプリッターと、
第２の干渉計と、を含み、
前記第１の干渉計は、
前記眼の中心軸に調心可能なプローブを含む測定アームと、
高速変位アームと、を含み、
前記第２の干渉計は、
終端経路の反射体を含む基準アームと、
前記高速変位アームと、を含み、
前記プローブは、第１の測定ビームスプリッターと第２の測定ビームスプリッターとを含み、
前記第１のビームスプリッターからの前記低コヒーレンス光の前記第１の部分は、前記プローブに向けられ、さらに、前記第１の測定ビームスプリッターと前記第２の測定ビームスプリッターとを通る第１の経路と、前記第１の測定ビームスプリッターと前記第２の測定ビームスプリッターとを通る第２の経路とに分割入力され、
前記第１及び第２の経路の長さは、およそ前記眼の平均軸長だけ異なり、
前記高速変位アームは、経路終端ミラーと、中心軸まわりに回転可能で外周を有するディスクと、前記ディスクの前記中心軸に中心を置かれ、前記中心軸から外に向けられている複数の反射面を含む多面反射体と、前記ディスクの外周近くに配置されている外側の複数のミラーとを、含み、
前記外側のミラーの数が前記多面反射体の面の数に等しく、前記外側のミラーの各々が、前記多面反射体の前記面と平行であり、
前記第１のビームスプリッターからの前記低コヒーレンス光の前記第２の部分は、前記多面反射体の前記面の１つに向い、前記外側のミラーの１つに向かい、前記経路終端ミラーに向かい、前記外側のミラーの前記１つに戻って、前記多面反射体の前記面の前記１つに向かい、そして前記第１のビームスプリッターに向かい、
前記第２のビームスプリッターからの前記レーザ光の前記第１の部分は、前記終端経路の反射体に向けられ、
前記第２のビームスプリッターからの前記レーザ光の前記第２の部分が、前記多面反射体の前記面の前記１つに向い、前記外側のミラーの前記１つに向かい、前記経路終端ミラーに向かい、前記外側のミラーの前記１つに戻って、前記多面反射体の前記面の前記１つに向かい、そして前記第２のビームスプリッターに向かう、装置。
【請求項４】
前記第１及び第２の測定ビームスプリッターが偏光ビームスプリッターである、請求項３に記載の装置。
【請求項５】
前記高速変位アームの前記反射体が３つの反射面を有する、請求項３に記載の装置。
【請求項６】
前記多面反射体の前記面の１つから前記外側のミラーまでの低コヒーレンス及びレーザ光の前記経路長が、前記ディスクの回転期間に少なくともおよそ１ｍｍだけ変化する、請求項５に記載の装置。
【請求項７】
前記ディスクがおよそ５Hzで回転する、請求項６に記載の装置。
【請求項８】
前記多面反射体の前記面の１つから前記外側のミラーまでの低コヒーレンス及びレーザ光の前記経路長が、前記ディスクの回転期間に少なくともおよそ２０ｍｍだけ変化する、請求項５に記載の装置。
【請求項９】
前記測定アームの前記第１及び第２の測定ビームスプリッターを通る第２の経路が、前記第１及び第２の測定ビームスプリッター間に配置される第１のミラーと第２のミラーとを含む、請求項３に記載の装置。
【請求項１０】
前記測定アームを通って反射して戻って来る低コヒーレンス光と、前記高速変位アームを通って反射して戻って来る低コヒーレンス光とを結合して第１の検出器に供給し、
前記測定アームを通って反射して戻って来るレーザ光と、前記基準アームを通って反射して戻って来るレーザ光とを結合して第２の検出器に供給する、請求項３に記載の装置。
【請求項１１】
前記第１及び第２の検出器がコンピュータと連絡を取っている、請求項１０に記載の装置。
【国際調査報告】
2011520479.tif 000010