(57)【要約】  光ファイバの連続的測定システムは、光ファイバの長さ方向に沿った少なくとも一つの光学的特性を連続的に測定する。このシステムは、反射器が固定されている可回転体を備えている。上記反射器は、上記光ファイバの一端に光学的に結合され、これにより、上記光ファイバから上記反射器まで伝播する光が、上記光ファイバの長さ方向に沿って測定装置に向かって反射せしめられることを可能にしている。測定されるべき光学的特性は、上記光ファイバが一つの可回転体から他の可回転体に巻き取られるときに得られる。このシステムは、上記ファイバの長さ方向に沿って局部に限定された曲げ機構が採用された場合におけるマクロベンド損失を含む減衰の測定に特に適している。
2011515700.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ファイバの長さ方向に沿った少なくとも一つの光学的特性を連続的に測定する方法であって、
１本の光ファイバの第１の端部を反射器に光学的に結合し、この場合、該反射器は第１の可回転体に固定され、
前記光ファイバの第２の端部を光源および検出器に光学的に結合し、この場合、前記光源は、光を前記光ファイバ内へ入射させることが可能であり、かつ前記検出器は、前記光ファイバ内から出射する光を検出することが可能であり、
前記光ファイバから前記反射器へ伝播された前記光の少なくとも一部が前記光ファイバを通じて反射せしめられかつ該光ファイバを通じて反射せしめられた前記光の少なくとも一部が前記光ファイバを通じて前記検出器へ伝播されて該検出器により検出されるように、前記光の少なくとも一部を前記光源から前記光ファイバを通じて前記反射器まで伝播させ、かつ
前記第１の可回転体を回転させながら、前記少なくとも一つの光学的特性に関して前記検出された光を測定する、
ことを含むことを特徴とする方法。
【請求項２】
前記少なくとも一つの光学的特性がマクロベンド損失であり、かつ前記方法が、前記光ファイバを、少なくとも１個のプーリーの少なくとも一部分の周りを巡って通過させることを含むことを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項３】
前記光ファイバの前記第２の端部が、第２の可回転体上に固定されかつ回転する光カプラを介して前記光源に光学的に結合され、かつ
前記第２の可回転体は、前記光ファイバが前記第１の可回転体上に巻き取られるのにつれて前記第２の可回転体から繰り出されるように、前記第１の可回転体が回転せしめられている間に回転せしめられることを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項４】
請求項１の方法を実施することが可能な装置。
【請求項５】
請求項３の方法を実施することが可能な装置。
【発明の詳細な説明】
【関連出願の説明】
【０００１】
本願は、「光ファイバの連続的測定システム」と題して２００８年３月２７日付けで提出された米国仮特許出願第１２／０７９,４４０号の優先権を主張した出願である。
【技術分野】
【０００２】
本発明は、概して光ファイバの連続的測定に関し、特に曲げによる光の減衰（マクロベンド損失）の連続的測定を含む光ファイバの連続的減衰測定に関するものである。
【背景技術】
【０００３】
光ファイバの種々の特性の測定方法には、静止状態の光ファイバの比較的短いサンプルの試験が含まれることが多い。例えば、曲げによる光の減衰（マクロベンド損失）の測定方法には、一般に特定の直径を有するマンドレルに短い光ファイバを特定の巻き数だけ巻き付けるか、またはファイバを一連の案内溝に通して配置して、このファイバを特定の曲げ半径に保つかすることが含まれる。曲げの感度は、曲げられていないファイバと曲げられたファイバとのスペクトルパワーを比較することによって測定される。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
このような方法は冗長であり時間を要する。さらに、マクロベンド損失に対する耐性に関する試験の場合、実際問題として、そのような方法では、許容できないレベルのマクロベンド損失を誘発させ得る多くの要因を同時に考慮に入れることはできない。このような要因の例としては、製造工程のばらつき、光ファイバの不均一性に基づくばらつき、光ファイバの曲げ態様のばらつき、および施工において光ファイバが最終的に曲げられる部分に対する予測が不可能なことが挙げられる。このようなばらつきは、たとえ光ファイバの全体の長さの極めて僅かのみしか影響を受けないにしても、許容できないレベルの信号損失を招来し得る。したがって、光ファイバ全体の長さに亘ったマクロベンド損失に対する耐性を迅速かつ効率的に測定する方法の提供が望ましい。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明の一つの態様は、光ファイバの長さ方向に沿った少なくとも一つの光学的特性を連続的に測定する方法を含む。この方法は、１本の光ファイバの第１の端部を反射器に光学的に結合することを含み、この場合、上記反射器は第１の可回転体に固定されている。この方法はさらに、上記光ファイバの第２の端部を光源および検出器に光学的に結合することを含み、この場合、上記光源は、光を上記光ファイバ内へ入射させることが可能であり、かつ上記検出器は、上記光ファイバ内から出射する光を検出することが可能である。これに加えて、この方法は、上記光ファイバから上記反射器へ伝播された上記光の少なくとも一部が上記光ファイバを通じて反射せしめられかつこの光ファイバを通じて反射せしめられた上記光の少なくとも一部が上記光ファイバを通じて上記検出器へ伝播されてこの検出器により検出されるように、上記光の少なくとも一部を上記光源から上記光ファイバを通じて上記反射器まで伝播させることを含む。最終的に、この方法は、上記第１の可回転体が回転せしめられながら上記少なくとも一つの光学的特性に関して上記検出された光を測定することを含む。
【０００６】
一つの好ましい実施の形態において、上記方法は、上記光ファイバの上記第２の端部を第２の可回転体上に固定することをも含み、この場合、上記光ファイバの上記第２の端部は、回転する光カプラを介して上記光源に光学的に結合される。この実施の形態においては、上記光ファイバが上記第１の可回転体上に巻き取られるのにつれて上記第２の可回転体から繰り出されるように、上記第１の可回転体が回転せしめられている間に上記第２の可回転体が回転せしめられる。
【０００７】
別の好ましい実施の形態においては、上記第２の可回転体が静止状態に支持され、上記ファイバは上記可回転体のエッジを越えて繰り出される。この実施の形態においては、上記可回転体が回転しないために、上記試験される光ファイバの第２の端部に対して上記光が直接結合される。上記ファイバが上記可回転体のエッジを越えて繰り出されるのを容易にするために、案内機構が採用されてもよい。
【０００８】
一つの好ましい実施の形態において、上記測定される光学的特性は減衰である。特に好ましい実施の形態においては、上記測定される光学的特性はマクロベンド損失による減衰である。
【０００９】
上記測定される光学的特性がマクロベンディングによる減衰である場合に、上記方法は、測定されるべき或る長さのファイバを、局部に限定された曲げ機構を通して移動させ、その間、上記ファイバの上記曲げ機構内にある部分のみの局部的な曲げによって生じた付加的な光の減衰量を記録することを含む。上記ファイバの全体の長さが上記曲げ機構を通過せしめられるので、曲げによって誘発された光の減衰量を連続的に記録して、上記ファイバの全長における減衰の大きい部分または減衰の少ない部分を特定することが可能である。
【００１０】
本発明のさらなる態様は、上述の方法を実施することができる装置を含む。
【００１１】
本発明のさらなる特徴および効果は、後述の詳細な説明に記載されており、当業者には、その記載内容からその一部が直ちに明らかになり、または、後述の詳細な説明、請求項および図面を含む本発明の実施によって認識されるであろう。
【００１２】
上述の概略説明および後述の本発明の実施の形態の詳細説明は、請求項に規定された本発明の性質および性格を理解するための概観または骨組みの提供を意図したものである。添付図面には、本発明のさらなる理解を提供することが含まれ、本明細書に組み入れられかつその一部を構成するものである。図面は本発明の種々の実施の形態を示し、記述内容とともに本発明の原理および動作の説明に資するものである。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】静止状態の繰出しスプールを有する本発明の第１の実施の形態の概略図
【図２】回転する繰出しスプールを有する本発明の第２の実施の形態の概略図
【図３】既知の低いマクロベンド損失特性を備えたファイバ内に接続された既知の高いマクロベンド損失特性を備えた部分を有する較正用模型のマクロベンド損失を示すグラフ
【図４】本発明の一実施の形態により測定された光ファイバの長さ方向に沿ったマクロベンド損失の値を示すグラフ
【図５】本発明の別の実施の形態により測定された光ファイバの長さ方向に沿ったマクロベンド損失の値を示すグラフ
【発明を実施するための形態】
【００１４】
添付図面に実施例が示されている本発明の好ましい実施の形態について以下に詳細に説明する。全図を通じて同一または類似の部品については、可能な限り同一の参照番号が用いられている。
【００１５】
本発明は、少なくとも一つの光学的特性についての光ファイバの連続的試験を提供することができる。好ましい実施の形態において、本発明は、試験中は光ファイバが静止状態にあった従来の試験方法の下に試験された光ファイバよりも実質的に長い光ファイバに沿った減衰、特にマクロベンド損失に基づく減衰の連続的な試験方法を提供することができる。例えば、従来のマクロベンド損失の試験方法は、一般に長さが１ｍ未満の光ファイバの試験を含むものであったが、本発明の実施の形態は、少なくとも１０ｍ、さらには少なくとも１００ｍ、少なくとも１キロメートルを含む、さらには少なくとも１０キロメートルを含む、さらには少なくとも１００キロメートルさえもの長さを有する光ファイバの試験方法を提供することができる。
【００１６】
これに加えて、本発明は、試験装置または試験システムの少なくとも一部分に沿って光ファイバが移動するときの光学的特性の少なくとも一つの連続的かつ反復的な測定を提供することができる。好ましい実施の形態においては、少なくとも毎秒０．１メートルの速度で、少なくとも毎秒０．５メートルの速度で、さらには少なくとも毎秒１メートルの速度で、さらには少なくとも毎秒５メートルの速度で、さらには少なくとも毎秒１０メートルの速度で、光ファイバが試験装置に沿ってまたはこれを通過して移動せしめられる。
【００１７】
マクロベンド損失の試験の場合には、試験装置の一部分に、１個または複数個のプーリーを備えた曲げ機構を備えることができ、そこで試験されるファイバは、各プーリーの少なくとも一部分の周りに転回せしめられる。好ましい実施の形態においては、試験されるファイバが各プーリーの周りに３６０°までの何れかの角度だけ転回せしめられ、かつ種々のプーリーにおいて種々の角度だけ転回せしめられる。例えば、試験される上記ファイバは、各プーリーの周りに（または転回の途中で）４分の１ターン（すなわち９０°転回）、２分の１ターン（すなわち１８０°転回）、４分の３ターン（すなわち２７０°転回）またはフルターン（すなわち３６０°転回）を行なう。さらなる好ましい実施の形態においては、試験されるファイバが１回転を超えて（すなわち３６０°を超えて）同じプーリーで転回せしめられる。例えば、試験されるファイバは、同じプーリーの周りに１回転半転回せしめられ、または同じプーリーに２回転以上転回せしめられる。
【００１８】
一つの好ましい実施の形態においては、試験装置が少なくとも２個のプーリーを備え、さらなる好ましい実施の形態においては、試験装置が少なくとも４個のプーリーを備えている。少なくとも１個のプーリーは、他の少なくとも１個のプーリーに対して傾斜していてもよい。例えば、好ましい実施の形態においては、少なくとも１個のプーリーの軸が、他の少なくとも１個のプーリーの軸に対して直交して（すなわち９０°の角度をなして）いてもよい。さらなる好ましい実施の形態においては、少なくとも１個のプーリーの軸が、他の少なくとも１個のプーリーの軸に対して別の角度、例えば４５°をなしていてもよい。
【００１９】
プーリーの直径が何れかの特定の値に限定されていると考えてはならないが、好ましい実施の形態においては、少なくとも１個のプーリーの直径は、３０ｍｍ以下、さらには１５ｍｍ以下等の６０ｍｍ以下である。例えば、少なくとも１個のプーリーの直径は、１０ｍｍから２０ｍｍまでを含む１０ｍｍから３０ｍｍまでとすることができる。好ましい実施の形態においては、２個またはそれ以上のプーリーが用いられる場合には（少なくとも１個のプーリーが他の少なくとも１個のプーリーに対し直角の場合を含むが、それに限定されない）、各プーリーが１５ｍｍ以下等の３０ｍｍ以下の直径を有する。例えば、各プーリーの直径は、１０ｍｍから２０ｍｍまでを含む１０ｍｍから３０ｍｍまでとすることができる。
【００２０】
一つの好ましい実施の形態において、２個またはそれ以上のプーリーが用いられる場合、これらのプーリーは、光ファイバの比較的短い部分が、上記プーリー・システムにおいて任意の時間に試験されるように、これらのプーリーが互いに比較的接近して配置されている（上記プーリー・システムにおける光ファイバの長さは、ファイバが第１のプーリーに入る地点と最後のプーリーを出る地点との間のファイバの長さである）。例えば、好ましい実施の形態においては、５０ｍｍから３５０ｍｍまで、さらには１００ｍｍから２５０ｍｍまで等の、５００ｍｍまでのファイバが、任意の所定の時間にプーリー・システム内にある。
【００２１】
複数の好ましい実施の形態において、この試験装置は、少なくとも一つの光学的特性を規則的な時間間隔で測定することが可能な測定装置を備えることができる。例えば、一つの実施の形態において、この測定装置は、少なくとも一つの光学的特性を、少なくとも毎秒１０回、さらには少なくとも毎秒１００回、さらには毎秒１０００回をも含む、少なくとも毎秒１回測定することができる。好ましい実施の形態においては、上記少なくとも一つの光学的特性がマクロベンド損失である。
【００２２】
したがって、光ファイバが試験装置に沿ってまたはこれを通って移動する速度に応じて、ならびに少なくとも一つの光学的特性を上記測定装置が測定する速度に応じて、任意の長さのファイバが上記装置に沿ってまたはこれを通って移動する各時点において少なくとも一つの光学的特性に関する測定が実施されることが可能である。例えば、もし光ファイバが一つの試験装置を通って毎秒１メートルの速度で移動し、上記測定装置が、少なくとも一つの光学的特性を毎秒１００回測定するとした場合には、上記測定装置を通って移動するこの光ファイバの百分の一メートル（すなわち１ｃｍ）毎に、上記少なくとも一つの光学的特性が測定されることになる。好ましい実施の形態においては、光ファイバが上記測定装置を通って１０ｃｍまで移動する各時点毎に、さらには光ファイバが上記測定装置を通って１ｃｍまで移動する各時点毎に、さらには光ファイバが上記測定装置を通って１ｍｍまで移動する各時点毎にというように、光ファイバが上記測定装置を通って１ｍまで移動する各時点毎に上記少なくとも一つの光学的特性が測定される。特に好ましい実施の形態においては、光ファイバが上記測定装置を通って３ｍｍから５ｍｍまで移動する各時点を含む、光ファイバが上記測定装置を通って２ｍｍから６ｍｍまで移動する各時点のように、光ファイバが上記測定装置を通って１ｍｍから１ｃｍまで移動する各時点毎に上記少なくとも一つの光学的特性が測定される。
【００２３】
本発明の複数の実施の形態は、光ファイバの長さ全体に亘って少なくとも一つの光学的特性を測定することができる。例えば、上記ファイバの長さ全体に亘る離れた個々の点がプーリーまたはプーリー・システム内にある場合、マクロベンド損失に対する耐性を少なくとも１回測定することが可能である。例えば、もし任意の所定の時間に長さ２００ミリメートルのファイバがプーリー・システム内にあり、このファイバが毎秒２メートルの速度で上記試験装置を通過して移動し、かつ上記測定装置が毎秒１００回の割合で測定を行うとすると、上記測定装置が１０回測定を行う間に、このファイバの長さ方向に沿った個々の点は、０．１秒間プーリー・システム内にある。好ましい実施の形態においては、ファイバの全長に亘る個々の点がプーリー・システム内にある各時間内に１０回から２５回までの測定が行なわれるように、ファイバの全長に亘る個々の点がプーリー・システム内にある各時間内に１回から１００回までの測定が行なわれる。
【００２４】
好ましい実施の形態においては、試験される光ファイバが当初は第１の可回転体上に巻かれており、この場合、この第１の可回転体がスプール（すなわち、「繰出しスプール」）である。試験される光ファイバは、次にこのファイバの外端すなわち前端を試験装置または試験システムに最初に通し、かつそれを第２の可回転体に固定することによって、上記試験装置または試験システムに沿って移動せしめられ、この場合、この第２の可回転体もスプール（すなわち、「巻取りスプール」）である。次に、所望の量のファイバが上記第１の可回転体から繰り出され、上記試験装置または試験システムに沿って移動せしめられ、少なくとも上記第２の可回転体（この第２の可回転体には上記ファイバの外端すなわち前端が固定されている）を回転させることによって、第２の可回転体上に巻き取られる。この光ファイバが上記試験装置または試験システムに沿ってまたはこれを通過して移動せしめられるのにつれて、少なくとも一つの光学的特性が反復して測定されかつ記録される。
【００２５】
好ましい実施の形態においては、もし少なくとも一つの光学的特性が、所定の値または範囲の上または下であると測定されたとすると、上記試験装置または試験システムに沿ってまたはこれを通過して移動せしめられる光ファイバの移動を停止させることができる。例えば、もし上記少なくとも一つの光学的特性がマクロベンド損失である場合、もしこのマクロベンド損失が所定の値を超えていることが測定されると、上記試験装置または試験システムを通過して移動せしめられている光ファイバの移動を停止させることができる。これにより、ユーザーは、装置が停止せしめられた時点において、プーリーまたはプーリー・システム内にあるファイバの長さを観察することによって、マクロベンド損失に対する耐性に関する所定の仕様を満足しないことを正確に突き止めることができる。この長さ（またはその一部分）は随意的に除去されかつ試験される。
【００２６】
好ましい実施の形態においては、上記少なくとも一つの光学的特性がマクロベンド損失である場合には、少なくとも１個のプーリーの一部分を巡って通過する光ファイバの長さのうちのこの光ファイバに沿った位置を、マイクロベンド損失が測定される各時点において記録することができる。これによりユーザーは、光ファイバの全体の長さが試験装置または試験システムを通過する間、または通過した後、光ファイバのその区域がマイクロベンド損失に対する耐性に関する所定の仕様を満足しないまたは満足するかを正確に突き止めることができる。これらの区域（またはその部分）は、随意的に除去されかつ試験される。
【００２７】
ここで図１を参照すると、本発明の第１の実施の形態が示されており、この場合、光ファイバの機械的強度試験に一般的に用いられる選別装置１０が、光ファイバの連続的マクロベンド損失の試験のために変更されている。図示の実施の形態においては、試験される光ファイバ１２は、装置１０の繰出し側に配置された取付け具１６上に取り付けられた繰出しスプール１４上に巻き取られている。取付け具１６は、装置を通って試験されるファイバ１２の通路に対してハブ１８が平行になるように繰出しスプール１４を支持している。試験されるファイバ１２の内端すなわち後端２０は、繰出しスプール１４のスロット２２を通過し、かつ試験されるファイバ１２に接続点２８において溶融接続された短いピグテール・ファイバ２６によって光サーキュレータ２４に光学的に結合されている。光サーキュレータ２４は、このサーキュレータの通過ポートを通じて光源３０に光学的に結合され、これにより、光が光サーキュレータ２４およびピグテール・ファイバ２６を通じて光源３０から試験されるファイバ１２へ伝播する（すなわち順方向伝播）のを可能にしている。光サーキュレータ２４はまた、このサーキュレータの逆方向伝播ポートを通じて検出器３２に光学的に結合されており、これにより、ピグテール・ファイバ２６および光サーキュレータ２４を通じて試験されるファイバ１２から検出器３２へ光が伝播する（すなわち逆方向伝播）のを可能にしている。
【００２８】
好ましい実施の形態において、光源３０は、特定の波長（好ましくは１５５０ｎｍ）において動作する自然放射増幅（ＡＳＥ）源である。レーザーまたは濾波された白熱ランプを含む他の光源を用いてもよい。好ましい実施の形態においては、偏光に左右される損失効果を排除するために、偏光は一般に避けるべきである。
【００２９】
好ましい実施の形態においては、コンピュータまたはデジタルデータ収集システム３４が検出器３２からのデータを収集しかつ処理する。好ましい実施の形態においては、検出器３２が電力計である。
【００３０】
装置１０は、曲げ機構プーリー・システム３６（図では４個のプーリーとして示されている）を備えており、試験されるファイバ１２がこのプーリー・システム３６の周りを巡って巻き取られて、マクロベンド損失の試験のための強い曲げ状態を提供する。装置１０はさらに、この装置を通過する試験されるファイバ１２の正しい張力付与および案内を可能にするために、この装置に固有の１個または複数個の付加的プーリー３８を備えている。このようなプーリー３８は、試験されるファイバ１２がプーリー・システム３６内のプーリーに巻き付けられたことにより誘発されるマクロベンド損失に比較した場合に、プーリー３８に巻き付けられたことにより誘発されるマクロベンド損失が無視可能なように、プーリー・システム３６内のプーリーよりも実質的に大きい直径を有する。プーリー・システム３６内のプーリーは、プーリー・システム３６内の少なくとも１個のプーリーの軸が、プーリー・システム３６内の他の少なくとも１個のプーリーの軸に対して直角になるように配置しても差し支えない（不図示）。
【００３１】
図示の実施の形態においては、試験されるファイバ１２が、プーリー・システム３６および付加的プーリー３８を備えた装置１０に通され、かつ試験されるファイバ１２の外端すなわち前端４０は、巻取りスプール４４内のスロット４２に固定される。試験されるファイバ１２の前端４０は、試験されるファイバ１２に対する接合部５０において溶融接合された短いピグテール・ファイバ４８によって反射器４６に光学的に結合されている（もし安定であれば、機械的接合でもよい）。反射器４６および短いピグテール・ファイバ４８は、巻取りスプール４４が回転せしめられるときに、試験されるファイバ１２の前端４０、ピグテール・ファイバ４８および反射器４６の全てが巻取りスプール４４とともに回転するように、巻取りスプール４４に固定されている支持板５２に固定されている。
【００３２】
図示の実施の形態においは、試験されるファイバ１２が巻取りスプール４４に固定され、かつ反射器４６に光学的に結合されると、光源３０からの光が反射器４６までのファイバの全長に沿って伝播され、次いでファイバの全長に沿って検出器３２まで逆方向に反射せしめられる。次に巻取りスプール４４が回転せしめられるので、試験されるファイバ１２は繰出しスプール１４から連続的に繰り出され、装置１０を通過して、巻取りスプール４４上に巻き取られる。これにより、試験されるファイバ１２の全長に亘る各点がプーリー・システム３６を通過することが可能になり、この間に反射して検出器３２へ戻った光が連続的に、または規則的な間隔で測定されることが可能になる。この時間中、図１に示された実施の形態における繰出しスプール１４は回転しない。その代わりに、試験されるファイバ１２は、このスプールのフランジ５４を乗り越えることによって繰出しスプール１４から連続的に繰り出される。好ましい実施の形態においては、繰出しスプール１４の軸の周りで回転して、フランジ５４を乗り越えるファイバを案内する案内アーム（不図示）を繰出しスプール１４が備えていてもよい。
【００３３】
ここで図２を参照すると、本発明の別の実施の形態が示されている。図２においては、装置を通過して試験されるファイバ１２の通路に対して繰出しスプール１４の回転軸１８が直角になるように、繰出しスプール１４は繰出し側の支持軸５６上に取り付けられている。この繰出し側の支持軸５６は、軸の中心を通る光カプラ５８の回転を可能にするように変更されている（別の実施の形態は、インジェクション・デバイス（ＬＩＤ）または２個以上の回転式光カプラを備えることができる）。上記試験されるファイバの内端すなわち後端は、繰出しスプールの内部のスロットを通じて引き出され、短いピグテール・ファイバ（不図示）に溶融接続されている。このピグテール・ファイバは、繰出しスプールの背面上のバルクヘッド・コネクタを用いて、回転する光カプラ５８（繰出し軸は、機械加工されたスロットを介して上記ピグテール・ファイバへの結合を可能にするようにさらに変更されている）の内側リードに結合されている。回転する光カプラ５８は、短い外側ピグテール・ファイバ６０を通じて光サーキュレータ２４に光学的に結合されている。
【００３４】
図２に示された実施の形態においては、双方のスプールが回転するときに、試験されるファイバ１２が連続的に繰出しスプール１４から繰り出され、装置１０を通過し、巻取りスプール４４に巻き取られるように、繰出しスプール１４は、巻取りスプール４４が回転するのと同時に（同一またはほぼ同一速度で）回転することが可能である。本実施の形態においては、回転式光カプラ５８の使用により、繰出しスプール１４が回転しながら、光源３０からの光が試験されるファイバへ伝播されることが可能になり、かつ試験されるファイバからの光（すなわち反射器４６によって反射された光）が検出器３２へ伝播されることが可能になる。
【００３５】
図１に示された実施の形態または図２に示された実施の形態の何れにおいても、コンピュータすなわちデジタルデータ収集システム３４は、もし所定の値よりも高いマクロベンド損失の読みすなわち測定値が得られた場合には、巻取りスプール４４および／または繰出しスプール１４の回転を停止させる信号を発生させることができる。コンピュータすなわちデジタルデータ収集システム３４はまた、プーリー・システム３６を通過する試験されるファイバ１２の長さ方向に沿った位置を何時でも記録することができる。このことは、マクロベンド損失の読みすなわち測定値が所定の値よりも高くなったときのプーリー・システム３６内にある試験されるファイバ１２の部分をユーザーが正確に突き止められるようにする。
【００３６】
上述の実施の形態における光ファイバにおける光の減衰は、ファイバ減衰、結合損失、および反射器損失に左右される固定された損失に加えて、上記第２の可回転体から上記第１の可回転体まで移動する間においてファイバが上記曲げ機構を通過するときのファイバの長さ方向の任意の点における上記曲げ機構内のファイバの部分のマクロベンド感応度に左右される変動する損失がある。したがって、マクロベンド損失に起因する全体の減衰部分を特定するために、図１および図２に示された実施の形態は、減衰量測定のために２ステップの工程が採用され、第１ステップにおいては、プーリー・システム３６に巻き取られず、すなわちプーリー・システム３６を通らない状態で、試験されるファイバ１２を装置１０に通し、次いでこのファイバが巻取りスプール４４に巻き取られかつ繰出しスプール１４から繰り出される間に、反射されて検出器３２へ戻った光を連続的に、または規則的な間隔で測定することにより、マクロベンドによる減衰を伴わない減衰量が測定される。これにより、ユーザーは基準となるシステムの状態が寄与する平均減衰量を決定することが可能になる。次に、第２ステップにおいては、試験されるファイバ１２がプーリー・システム３６に巻き付けられ、上述のような減衰量測定が実施され、この場合は、試験されるファイバ１２ファイバが巻取りスプール４４に巻き取られかつ繰出しスプール１４から繰り出される間に、ファイバ１２の各部分がプーリー・システム３６を通りかつ反射されて検出器３２へ戻った光が、連続的に、または規則的な間隔で測定される。これによりユーザーは、この第２ステップにおいて測定された減衰量から第１ステップにおいて測定され平均基準減衰量を差し引くことによって、ファイバの長さ方向に沿った任意の点におけるマクロベンド損失に起因する減衰量を測定することができる。
【００３７】
図１または図２に示された実施の形態において行われた何れの測定も、IEC 60793-1-47に記載されたサンプリング・マクロベンド損失測定法によって測定された既知のマクロベンド損失部分を備えた模型を作製することによって較正することができる。このような模型は、より良好な既知のマクロベンド損失特性を備えた長い部分内に、より劣悪な既知のマクロベンド損失特性を備えた短い部分を溶融接続することによって作製することができる。この模型は次にプーリー・システム３６に巻き付けられ、上述のように減衰量が測定され、その場合、上記模型が巻取りスプールに巻き取られかつ繰出しスプール１４から繰り出されるにつれて、上記模型の各部分がこのプーリー・システム３６を通過し、反射して検出器３２へ戻った光が連続的にまたは規則的な間隔で測定される。図３は、この方法を用いて、既知のマクロベンド損失の０．０１２ｄＢ／回（１５５０ｎｍにおいて直径１０ｍｍのプーリーの周りで）を備えたファイバ内に、既知のマクロベンド損失の０．４５ｄＢ／回（１５５０ｎｍにおいて直径１０ｍｍのプーリーの周りで）を備えたファイバ部分を接続することによって作製された較正用模型の長さ方向のマクロベンド損失を測定した結果を示す。
【実施例】
【００３８】
本発明は下記の実施例によってさらに明白になるであろう。
【００３９】
Agilent 社製の１５５０ｎｍにおける増幅された自然発生的輻射線源が、図１を参照して上述された実施の形態による光ファイバに光学的に結合され、このファイバは、毎秒０．５ｍの速度で走査された（すなわち、試験装置を通って移動せしめられた）。Newport 社製の2832-C 型出力計および818-IS-1 型検出器を用いて、反射出力が毎秒５００サンプルの割合で測定され、移動平均の５０サンプルが記録された。図４は、この方法による第１の長さの光ファイバ（「サンプル・ファイバＡ」）の試験結果を示す。図５は、この方法による第２の長さの光ファイバ（「サンプル・ファイバＢ」）の試験結果を示す。図４と図５との比較から明らかなように、サンプル・ファイバＢは、サンプル・ファイバＡよりも比較的悪いマクロベンド損失均一特性を有するものとして示されている。
【００４０】
本発明の精神および範囲から離れることなしに種々の変更および変形を行なうことが可能なことは当業者には明らかであろう。したがって、本発明は、添付の請求項およびそれらの均等物の範囲内でなされる変更および変形をも含むことを意図するものである。
【符号の説明】
【００４１】
１０  選別装置
１２  試験される光ファイバ
１４  繰出しスプール
１６  取付け具
１８  ハブ
２０  ファイバの内端すなわち後端
２２，４２  スロット
２４  光サーキュレータ
２６，４８，６０  ピグテール・ファイバ
２８，５０  接続点
３０  光源
３２  検出器
３４  コンピュータまたはデータ収集システム
３６  プーリー・システム
３８  付加的プーリー
４０  ファイバの外端すなわち前端
４４  巻取りスプール
４６  反射器
５２  支持板
５６  繰出し側支持軸
５８  光カプラ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【国際調査報告】
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