(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定するデータのパターン長に依存せず高速なサンプリングを行うために、測定対象となる被測定データ信号に含まれるジッタを測定するためのトリガパルスを発生するジッタ測定用トリガ発生器（２）を用いたジッタ測定装置（１）において、
前記被測定データ信号に同期したトリガクロックを入力とし、前記被測定データ信号のサンプルのトリガ周期が前記被測定データ信号の１ビットにつき１サンプルとなるように前記トリガクロックの位相を制御する位相可変器（２ａ）と、
前記被測定データ信号の波形パターンの中でサンプリングされる点であるサンプル位置を固定したタイミングで前記トリガパルスを発生するように分周比が設定可能な可変分周器（２ｂ）と、
前記被測定データ信号の測定パターン長と互いに素の関係になる離散値を用いて前記測定パターン長と同じサンプル数分データを取得するインターリーブ処理部（４ｄ）とを備えたことを特徴とするジッタ測定装置。
【請求項２】
前記ジッタ測定用トリガ発生器（２）が発生するトリガパルスに応じたタイミングで測定対象となる被測定データ信号をサンプリングするサンプラ（３）と、
前記サンプラでサンプリングされたデータを処理して遷移サンプルによるジッタ値をジッタ成分毎に分離してジッタ分析を行うデータ処理部（４）とを備えたことを特徴とする請求項１記載のジッタ測定装置。
【請求項３】
測定するデータのパターン長に依存せず高速なサンプリングを行うために、測定対象となる被測定データ信号に含まれるジッタを測定するためのトリガパルスを発生するジッタ測定用トリガ発生方法を用いたジッタ測定方法において、
前記被測定データ信号に同期したトリガクロックを入力とし、前記被測定データ信号のサンプルのトリガ周期が前記被測定データ信号の１ビットにつき１サンプルとなるように前記トリガクロックの位相を制御するステップと、
前記被測定データ信号の波形パターンの中でサンプリングされる点であるサンプル位置を固定したタイミングで前記トリガパルスを発生するように分周比を設定するステップと、
前記被測定データ信号の測定パターン長と互いに素の関係になる離散値を用いて前記測定パターン長と同じサンプル数分データを取得するステップとを含むことを特徴とするジッタ測定方法。
【請求項４】
前記トリガパルスに応じたタイミングで測定対象となる被測定データ信号をサンプリングするステップと、
前記サンプリングされたデータを処理して遷移サンプルによるジッタ値をジッタ成分毎に分離してジッタ分析を行うステップとを含むことを特徴とする請求項３記載のジッタ測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定対象となる被測定データ信号に含まれる位相の揺らぎ（ジッタ：Jitter）を測定するためのトリガパルスを発生するジッタ測定用トリガ発生器を用いたジッタ測定装置及びジッタ測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
データ伝送システムでは、伝送されるデータ信号の位相の揺らぎ、所謂ジッタが大きくなると、データ信号を正常に伝達できなくなる。このため、データ伝送システムやこのシステムを構築する機器のジッタ特性を予め測定しておく必要がある。特に、近年においては、デジタル通信の高速化に伴い、信号品質評価項目として、ジッタを規定する規格が多くなってきている。
【０００３】
ジッタは、信号遷移タイミングのゆらぎを意味しており、１分間の累積量を示すトータル・ジッタ（ＴＪ）は、ジッタの発生範囲が決まっている有界のデターミニスティック・ジッタ（ＤＪ：Deterministic jitter）と、累積するに連れてジッタ量が増す非有界のランダム・ジッタ（ＲＪ：Random jitter ）とに大別される。また、デターミニスティック・ジッタは、更に周期ジッタ（ＰＪ）、データ依存ジッタ（ＤＤＪ）、デューティ・サイクル・ジッタ（ＤＣＤ）に分類される。
【０００４】
ところで、データ伝送システムにおけるデータ信号は、Ｍａｒｋ「１」／Ｓｐａｃｅ「０」を識別できるだけの電圧であっても、ジッタの発生によって通信エラーが起こしてしまうことがある。そして、このジッタ発生の原因を分析するにあたっては、ジッタを特徴別に分離すること（規格にも盛り込まれている）が分析に大きなメリットがある。例えば、測定対象の二つのＤＵＴ（Device Under Test ）のジッタをそれぞれある特定時間だけ測定した時、両者のジッタ値が一緒であった場合でも、それぞれのジッタのランダム性の大きさの違いにより、測定時間を長くしたときのジッタ値が両者で異なってくる。このため、Ｆｉｂｅｒ−Ｃｈａｎｎｅｌなどの規格では、ジッタを分類して規定し、その測定を規定化している。
【０００５】
ところで、データ伝送システムにおけるデータ信号のジッタを測定する方法としては、データ信号を波形観測装置に入力してそのアイ（ｅｙｅ）パターンを表示させ、その表示されたアイパターンの立ち上がりと立ち下がりの交差部分の幅からデータ信号のジッタ量を把握する方法がある。例えば、下記特許文献１には、データ信号のアイパターンを観測してジッタを求める方法が開示されている。
【０００６】
しかしながら、上述した波形観測装置に表示されるアイパターンの幅に基づいてジッタを測定する方法では、データ信号のパターンに依存して発生するデータ依存ジッタ（ＤＤＪ）を把握することができなかった。
【０００７】
そして、データ信号のジッタを測定するにあたっては、データ信号のタイミングを捉えられるものであれば良く、測定器も様々あるが、ジッタ値が規定化され、より一般的になってきた今日では、サンプリングオシロスコープを用いてジッタ測定を行うことが主流になってきている。そのため、各種測定器メーカは、既存のサンプリングオシロスコープの追加機能としてジッタ測定機能を実現し、ジッタ測定に貢献している。
【０００８】
この種のサンプリングオシロスコープを用いた方法では、波形観測をベースとし取得した波形から予測演算を行うことでジッタ測定を実現している。そのため、より早く効率的にデータを取得することが非常に重要である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開平５−１４５５８２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
ところで、ジッタ測定において、必要なサンプルはデータ信号の遷移時のみのデータである。しかしながら、従来のサンプリングオシロスコープは、広帯域ではあるものの、基本的に波形を観測する機器なので、位相シフト量を１ＵＩ（ユニットインターバル）より小さく設定し、複数のサンプル点を取得して波形描画を行い、データ信号の遷移時以外のデータもサンプリングしている。このため、ジッタ測定に不要なデータもサンプルとして取得するので、ジッタデータを効率的に取得することができないという課題があった。
【００１１】
また、前述のように分類されるジッタの一種であって、データの歪みによって発生するデータ依存ジッタ（以下、ＤＤＪとも言う）を測定する場合は、波形パターンを認識した上でＤＤＪを測定する必要があり、測定する波形パターンの位置情報を測定するため、データパターン長に同期したトリガ周期になってしまう。このため、測定するデータ信号のパターンのパターン長が長くなればなるほど、ジッタ測定に有効なデータをサンプルとして得るのに時間を要し、サンプリング速度が遅くなるという課題があった。
【００１２】
そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、効率的にジッタデータを取得することができ、また、測定するデータのパターン長に依存せず高速なサンプリングを行うことが可能なジッタ測定用トリガ発生器を用いたジッタ測定装置及びジッタ測定方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記目的を達成するため、本発明の請求項１に記載されたジッタ測定装置は、測定するデータのパターン長に依存せず高速なサンプリングを行うために、測定対象となる被測定データ信号に含まれるジッタを測定するためのトリガパルスを発生するジッタ測定用トリガ発生器２を用いたジッタ測定装置１において、
前記被測定データ信号に同期したトリガクロックを入力とし、前記被測定データ信号のサンプルのトリガ周期が前記被測定データ信号の１ビットにつき１サンプルとなるように前記トリガクロックの位相を制御する位相可変器２ａと、
前記被測定データ信号の波形パターンの中でサンプリングされる点であるサンプル位置を固定したタイミングで前記トリガパルスを発生するように分周比が設定可能な可変分周器２ｂと、
前記被測定データ信号の測定パターン長と互いに素の関係になる離散値を用いて前記測定パターン長と同じサンプル数分データを取得するインターリーブ処理部４ｄとを備えたことを特徴とする。
【００１５】
請求項２に記載されたジッタ測定装置は、請求項１記載のジッタ測定装置において、
前記ジッタ測定用トリガ発生器２が発生するトリガパルスに応じたタイミングで測定対象となる被測定データ信号をサンプリングするサンプラ３と、
前記サンプラでサンプリングされたデータを処理して遷移サンプルによるジッタ値をジッタ成分毎に分離してジッタ分析を行うデータ処理部４とを備えたことを特徴とする。
【００１６】
請求項３に記載されたジッタ測定方法は、測定するデータのパターン長に依存せず高速なサンプリングを行うために、測定対象となる被測定データ信号に含まれるジッタを測定するためのトリガパルスを発生するジッタ測定用トリガ発生方法を用いたジッタ測定方法において、
前記被測定データ信号に同期したトリガクロックを入力とし、前記被測定データ信号のサンプルのトリガ周期が前記被測定データ信号の１ビットにつき１サンプルとなるように前記トリガクロックの位相を制御するステップと、
前記被測定データ信号の波形パターンの中でサンプリングされる点であるサンプル位置を固定したタイミングで前記トリガパルスを発生するように分周比を設定するステップと、
前記被測定データ信号の測定パターン長と互いに素の関係になる離散値を用いて前記測定パターン長と同じサンプル数分データを取得するステップとを含むことを特徴とする。
【００１８】
請求項４に記載されたジッタ測定方法は、請求項３のジッタ測定方法において、
前記トリガパルスに応じたタイミングで測定対象となる被測定データ信号をサンプリングするステップと、
前記サンプリングされたデータを処理して遷移サンプルによるジッタ値をジッタ成分毎に分離してジッタ分析を行うステップとを含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、被測定データ信号においてジッタ測定に不要な非遷移のデータを極力省くことができ、効率的にジッタデータを取得することができる。
【００２０】
被測定データ信号のパターンのパターン長数と同じサンプル数分のデータを取得することにより、１周期のデータを全て取得することができる。そして、データ信号のパターンのパターン長が長い場合であっても、可変分周器の分周比がある程度任意に設定可能となり、サンプリング速度の向上を図ることができる。これにより、測定する被測定データ信号のパターンのパターン長に依存せず、高速なサンプリングが行え、ＤＤＪを高速に測定でき、結果としてジッタ測定の高速化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明に係るジッタ測定装置の第１実施の形態の概略構成を示すブロック図である。
【図２】本発明に係るジッタ測定装置の第２実施の形態の概略構成を示すブロック図である。
【図３】（ａ）本発明に係るジッタ測定装置によるジッタ測定のためのサンプル取得方法の説明図である。  （ｂ）従来のジッタ測定装置によるジッタ測定のためのサンプル取得方法の説明図である。
【図４】（ａ）本発明に係る第１実施の形態のジッタ測定装置でジッタ解析を行った場合の具体的数値例を示す図である。  （ｂ）本発明に係る第２実施の形態のジッタ測定装置でジッタ解析を行った場合の具体的数値例を示す図である。  （ｃ）従来のジッタ測定装置によるサンプリング手法でジッタ解析を行った場合の具体的数値例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。尚、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではなく、この形態に基づいて当業者などによりなされる実施可能な他の形態、実施例及び運用技術などはすべて本発明の範疇に含まれる。
【００２３】
図１は本発明に係るジッタ測定装置の第１実施の形態の概略構成を示すブロック図、図２は本発明に係るジッタ測定装置の第２実施の形態の概略構成を示すブロック図、図３（ａ）は本発明に係るジッタ測定装置によるジッタ測定のためのサンプル取得方法の説明図、図３（ｂ）は従来のジッタ測定装置によるジッタ測定のためのサンプル取得方法の説明図、図４（ａ）は本発明に係る第１実施の形態のジッタ測定装置でジッタ解析を行った場合の具体的数値例を示す図、図４（ｂ）は本発明に係る第２実施の形態のジッタ測定装置でジッタ解析を行った場合の具体的数値例を示す図、図４（ｃ）は従来のジッタ測定装置によるサンプリング手法でジッタ解析を行った場合の具体的数値例を示す図である。
【００２４】
第１実施の形態のジッタ測定装置１（１Ａ）は、図１に示すように、ジッタ測定用トリガ発生器２、サンプラ３、データ処理部４を備えて概略構成される。
【００２５】
ジッタ測定用トリガ発生器２は、ジッタ測定の対象となる被測定データ信号をサンプラ３でサンプリングする際のトリガパルスを発生するものであり、位相可変器２ａと可変分周器２ｂを備えて構成される。
【００２６】
位相可変器２ａは、被測定データ信号に同期したトリガクロックの位相を制御し、トリガクロックの出力タイミングの調整が可能な機器で構成される。位相可変器２ａでは、被測定データ信号に同期したトリガクロックを入力とし、被測定データ信号のサンプルのトリガ周期（サンプラ３によるサンプリング結果）が１ビットにつき１サンプルとなるようにトリガクロックの位相を制御し、この位相が制御されたトリガパルスを可変分周器２ｂに入力している。
【００２７】
可変分周器２ｂは、被測定データ信号の波形パターンの固定タイミングでトリガパルスを発生してサンプラ３に入力するように分周比が設定可能な分周器で構成される。可変分周器２ｂは、設定された分周比で位相可変器２ａからのトリガパルスを分周してサンプラ３に入力している。これにより、被測定データ信号をサンプラ３でトリガパルスに応じたタイミングでサンプリングする際、サンプリングされる点が固定タイミングになる。
【００２８】
このように、ジッタ測定用トリガ発生器２では、可変分周器２ｂの分周比の設定によりサンプル位置（サンプリングされる点）を固定タイミングとし、位相可変器２ａの制御によりサンプル位置を自由に操作することができるようになっている。
【００２９】
なお、図１のジッタ測定用トリガ発生器２は、入力側から位相可変器２ａ、可変分周器２ｂの順に直列接続された構成であるが、その順番を入れ替えた構成としても良い。
【００３０】
この場合、次のように考えることができる。例えば、ＰＲＢＳ７（パターン長１２７ビット）の場合は、可変分周器２ｂの分周比の設定は１２７となる。この場合、１２７ビットに１回だけサンプリングするので、特定のビットのみをサンプルし続けることになる。ここで、位相可変レンジが１ＵＩの位相可変器２ａを使用すれば、可変分周器２ｂで特定のビットに固定し続けているので位相変化量を１ＵＩと設定することで、サンプリングタイミングは１ＵＩずつスイープすることになる。結果として、１２７回サンプリングした結果は１２７ビット全てのパターンに対して１サンプル取得することになり、１ビットにつき１サンプルを実現することができる。
【００３１】
サンプラ３は、ジッタ測定の対象となる被測定データ信号が入力されるとともに、ジッタ測定用トリガ発生器２が発生するトリガパルスが入力される。サンプラ３では、被測定データ信号をトリガパルスに応じたタイミングでサンプリングしている。
【００３２】
データ処理部４は、サンプラ３でサンプリングされたデータを処理して遷移サンプルによるジッタ値をジッタ成分毎に分離してジッタ分析を行うもので、エッジ抽出処理部４ａ、電圧／ジッタ変換処理部４ｂ、ジッタ分析処理部４ｃを備えて構成される。なお、データ処理部４には、予め測定された被測定データ信号の波形の遷移形状が記憶されている。
【００３３】
エッジ抽出処理部４ａは、サンプラ３でサンプリングされたデータ列に関して、ジッタデータとして有効な遷移サンプルと非遷移サンプルとに分離し、遷移サンプルのみを抽出する処理を行っている。
【００３４】
電圧／ジッタ変換処理部４ｂは、エッジ抽出処理部４ａで抽出された遷移サンプルによるサンプリングデータ（電圧値）を周知の計算処理によってジッタ値（時間）に変換している。
【００３５】
ジッタ分析処理部４ｃは、電圧／ジッタ変換処理部４ｂで変換されたジッタ値（時間）における有効なジッタ値に基づいて各ジッタ成分に分離演算を行っている。
【００３６】
そして、上記構成による第１実施の形態のジッタ測定装置１Ａでは、基本的に波形描画が不要なため、図３（ａ）に示すように、被測定データ信号のサンプルのトリガ周期が１ＵＩ（１ビット）につき１サンプルとなるようにトリガクロックの位相を制御しつつトリガパルスを必ず被測定データ信号のパターンの固定タイミングで発生させている。これにより、被測定データ信号のサンプリング結果も１ビットにつき１サンプルのみとなり、トリガパルスの位相を遷移時間に調整することで非遷移のデータを極力省くことが可能となる。その結果、従来のサンプリングオシロスコープと比較して、効率的にジッタデータを取得することができる。
【００３７】
なお、従来のサンプリングオシロスコープでは、波形描画が必要不可欠のため、例えば図３（ｂ）に示すように、被測定データ信号のサンプルのトリガ周期が１ＵＩ（１ビット）につき複数サンプル（図示の例では３サンプル）となるようにトリガクロックの位相を制御しつつトリガパルスを必ず被測定データ信号のパターンの固定タイミングで発生させている。
【００３８】
ところで、第１実施の形態のジッタ測定装置１Ａのように、被測定データ信号のサンプルのトリガ周期が１ＵＩ（１ビット）につき１サンプルであっても、ＤＤＪを測定する場合にはパターン位置を推定する必要がある。このため、トリガパルスを固定位置にする必要があり、可変分周器２ｂの分周比の設定が従来のサンプリングオシロスコープの波形観測時と同じになってしまい、長周期パターン測定時のサンプリング速度の低下を防ぐことができない。
【００３９】
さらに説明すると、従来のサンプリングオシロスコープによる通常の波形観測時では、集積するビットの位置が１→２→３→・・・といった固定順序になる。そして、ビットの位置が固定順序であれば、上述した第１実施の形態のジッタ測定装置１Ａのように、位相可変器２ａによってパターン位置を簡単に操作できるので、ＤＤＪを容易に測定することが可能である。
【００４０】
しかしながら、第１実施の形態のジッタ測定装置１Ａにおいて、ビットの位置を固定順序とするためには、可変分周器２ｂの分周比の設定でトリガパルスを複数パターンに１度となるように設定する必要がある。このため、被測定データ信号が長周期パターンになると測定に時間を要してしまう。例えば、通信で一般的に用いているＰＲＢＳ１５は１周期３２７６７ｂｉｔであるが、従来のサンプリングオシロスコープだと１周期の測定に７ｓ程度要してしまう。これは、図４（ｃ）の例に示すように、可変分周器の分周比が３２７６７と大きくなってしまい、サンプリング速度が約４．７ｋＨｚ付近に制限されてしまうためである。
【００４１】
そこで、以下に説明する本発明に係る第２実施の形態のジッタ測定装置１（１Ｂ）では、上記問題をインターリーブによって解消している。
【００４２】
第２実施の形態のジッタ測定装置１Ｂは、図２に示すように、第１実施の形態のジッタ測定装置１Ａの構成（ジッタ測定用トリガ発生器２、サンプラ３、データ処理部４）において、データ処理部４にインターリーブ処理部４ｄを付加したものである。なお、第１実施の形態のジッタ測定装置１Ａと同一の構成要素には同一番号を付し、その説明を省略している。
【００４３】
インターリーブ処理部４ｄは、サンプラ３とエッジ抽出処理部４ａとの間に設けられ、サンプラ３でのサンプリングによって得られた遷移サンプルをインターリーブ合成し、入力されたビットパターンを再生している。
【００４４】
さらに説明すると、インターリーブ処理部４ｄは、ビットの位置を固定順序としてデータを取得する場合の問題を解決するため、離散的にデータを取得している。
【００４５】
具体的には、図４（ｂ）の例に示すように、１→４９３２→９８６４→１４７９６→・・・といったビット順でインターリーブ処理部４ｂがサンプラ３からデータを取得している。この時、離散値は、被測定データ信号の測定パターン長と互いに素の関係になっている。インターリーブ処理部４ｄは、測定パターン長と同じサンプル数分データをサンプラ３から取得することによって１周期のデータをすべて取得することができる。そして、被測定データ信号のサンプルのトリガ周期が１ＵＩ（１ビット）につき１サンプルなので、その後は離散値よりインターリーブすることでデータが復元可能となる。
【００４６】
このように、第２実施の形態のジッタ測定装置１Ｂでは、離散値を用いることにより、被測定データ信号の測定パターン長が長い場合でも可変分周器２ｂの分周比の値をある程度任意に設定することが可能になる。その結果、サンプリング速度が制限されなくなる。そして、第２実施の形態のジッタ測定装置１Ｂでは、図４（ｂ）に示すように、サンプリング速度が９６．８６９ｋＨｚとなり、図４（ｃ）に示す従来のサンプリングオシロスコープや図４（ａ）に示す第１実施の形態のジッタ測定装置１Ａと比較して、約２０倍速でジッタ測定が可能となる。
【００４７】
なお、図４（ａ）〜（ｃ）は、１０Ｇｂｉｔ／ｓの被測定データ信号であって、その測定パターン長を３２７６７ｂｉｔ、入力されるトリガクロックの分周比を６４としたときの具体的数値例を示している。
【００４８】
また、サンプラ３によってサンプリングしたデータは電圧値として得られるが、予め被測定データ信号の波形の遷移形状がデータ処理部４に記憶されているので、電圧／ジッタ変換処理部４ｂにおいて電圧をジッタ値に相互変換可能である。そして、この相互変換が占める時間は支配的ではないので、高速化の妨げにはならない。
【００４９】
以上説明したように、本発明に係るジッタ測定装置１（１Ａ，１Ｂ）では、可変位相シフト量として１ＵＩを１ビットに設定し、被測定データ信号のデータが１ビットにつき１つのサンプルしか存在しないため、被測定データ信号のパターン長数のデータのサンプルで１周期を表現することができる。すなわち、被測定データ信号のパターン長数と同じサンプル数分のデータを取得することにより、１周期の被測定データ信号のデータを全て取得することができる。これにより、被測定データ信号において測定に不要な非遷移のデータを極力省くことができ、ジッタデータを効率的に取得することができる。
【００５０】
なお、従来のサンプリングオシロスコープを用いたサンプリング方法の場合では、図３（ｂ）や図４（ｃ）に示すように、被測定データ信号のデータが１ビットにつき複数のデータのサンプルが存在する。このため、被測定データ信号の波形パターンのパターン長数のサンプルで１周期を表現することができなかった。
【００５１】
また、特に、本発明に係る第２実施の形態のジッタ測定装置１Ｂでは、データの取得に離散値を用いているので、被測定データ信号のパターン長が長い場合であっても、可変分周器２ｂの分周比の値をある程度任意に設定でき、サンプリング速度が制限されなくなり、測定する被測定データ信号のパターン長に依存せず高速なサンプリングが行え、サンプリング速度の向上を図ることができる。これにより、ＤＤＪを高速に測定でき、結果としてジッタ測定の高速化を図ることができる。
【００５２】
具体的には、図４（ａ）〜（ｃ）に示すように、サンプリング速度の上限値を１００ｋＨｚとし、１０Ｇｂｉｔ／ｓの被測定データ信号（測定パターン長：３２７６７ｂｉｔ）をサンプリングする場合、従来のサンプリングオシロスコープや第１実施の形態のジッタ測定装置１Ａではサンプリング速度が４．７６８ｋＨｚであるのに対し、第２実施の形態のジッタ測定装置１Ｂではサンプリング速度が９６．８６９ｋＨｚになる。
【００５３】
よって、第２実施の形態のジッタ測定装置１Ｂでは、従来のサンプリングオシロスコープや第１実施の形態のジッタ測定装置１Ａと比較して、約２０倍のサンプリング速度でジッタ測定が可能になる。
【００５４】
なお、上述した数値例では、システムのサンプリング速度の上限値を１００ｋＨｚとして説明したが、第２実施の形態のジッタ測定装置は、システムのサンプリング速度の上限値に応じて可変分周器２ｂの分周比を設定することが可能なので、システムのサンプリング速度の上限値が増加すれば、それに伴って可変分周器２ｂの分周比を小さく設定でき、さらにサンプリング速度の向上を図ることができる。
【符号の説明】
【００５５】
１（１Ａ，１Ｂ）  ジッタ測定装置
２  ジッタ測定用トリガ発生器
２ａ  位相可変器
２ｂ  可変分周器
３  サンプラ
４  データ処理部
４ａ  エッジ抽出処理部
４ｂ  電圧／ジッタ変換処理部
４ｃ  ジッタ分析処理部
４ｄ  インターリーブ処理部
【図１】
0005671075.tif 000002
【図２】
0005671075.tif 000003
【図３】
0005671075.tif 000004
【図４】
0005671075.tif 000005