(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線ビームを照射する照射システムと、
エラーを検出するエラー検出手段を備えた情報制御ユニットと、
前記情報制御ユニットのエラー情報を基に、エラーが生じた情報制御ユニットの再起動開始信号を送信する再起動制御部を有するユニット制御部と、
前記ユニット制御部からの再起動開始信号を検知し、再起動開始信号を検知した際に前記照射システムにビーム停止信号を送信する信号送信部と、を有する電子装置と、を備え、
前記情報制御ユニットにエラーが生じた際は、前記再起動開始信号により該情報制御ユニットが再起動されるとともに、前記信号送信部によって前記照射システムにビーム停止信号が送信され、前記照射システムの照射が停止されることを特徴とするソフトエラー耐性評価システム。
【請求項２】
前記再起動制御部は、再起動完了監視部を有し、
前記ビーム停止信号は、前記再起動開始信号のエッジを検出して出力が開始され、前記再起動完了監視部からの再起動完了信号のエッジを検出して出力を停止することを特徴とする請求項１記載のソフトエラー耐性評価システム。
【請求項３】
前記信号送信部は、時間計測手段を備え、
前記時間計測手段は、前記再起動制御部からの再起動開始信号を検知した際に、設定された時間情報分の時間を計測することを特徴とする請求項１及び２のいずれか１項に記載のソフトエラー耐性評価システム。
【請求項４】
前記再起動制御部は、前記情報制御ユニットへの再起動開始信号の送信を遅延させる遅延手段を有することを特徴とする請求項１に記載のソフトエラー耐性評価システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子装置、ソフトエラー耐性評価システム及び評価方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
半導体デバイスの微細化および高集積化に伴い、環境放射線ソフトエラーの問題が拡大している。環境放射線ソフトエラーとは、自然界に存在するアルファ線や中性子線といった放射線によって、ロジックやメモリが保持しているデータが反転してしまう現象である。ソフトエラーは一過性の不良であり、ハードウェアが永久的に故障するハードエラーとは区別される。従来のソフトエラーはメモリデバイスにおける１ビット反転が主な現象であったが、近年では一度に複数ビットが反転する現象やフリップフロップなどのロジック回路における保持データ反転といった現象が顕在化してきている。
【０００３】
また、ミッションクリティカルなシステムで稼動する電子装置においても上記の環境放射線ソフトエラーに起因する間欠的なシステム障害の増加が懸念されており、電子装置のソフトエラー耐性、すなわちソフトエラー率（ＳＥＲ：Soft Error Rate）はシステムの信頼性を示す重要な指標になりつつある。
【０００４】
ソフトエラー率を評価する方法には主にフィールド試験と、加速器による加速試験の二つが挙げられる。フィールド試験とは、一般的な設置環境で複数個および複数種類の評価対象を長時間稼動させて、実際のソフトエラー発生率を評価する方法である。一方、加速器による加速試験とは、粒子加速器を利用し、人工的に生成した多量の放射線を評価対象に強制照射することでソフトエラー率を短時間で評価する方法である。
【０００５】
上記ソフトエラー耐性評価に関する文献として、特開２００４−１２５６３３号公報（
特許文献１）がある。この公報には、「半導体デバイスの実使用環境に設置し動作させることによってソフトエラー率を求める第一の工程と、異なるエネルギーを有する中性子ビームを各々前記半導体デバイスに照射することによって各々のエネルギーに対応する前記半導体デバイスのソフトエラーの断面積を求める第二の工程と、前記半導体デバイスの構造並びに動作情報と前記実使用環境における宇宙線中性子のスペクトルから前記半導体デバイスのソフトエラー率を計算する工程と前記異なるエネルギーを有する中性子ビームのスペクトルとから前記半導体デバイスのソフトエラーの断面積を計算する工程からなる第三の工程と、前記第一の工程により求められた前記半導体デバイスのソフトエラー率と前記第三の工程により計算された前記半導体デバイスのソフトエラー率とを比較する第四の工程と、前記第二の工程により求められた前記半導体デバイスのソフトエラーの断面積と前記第三の工程により計算された前記半導体デバイスのソフトエラーの断面積とを比較する第五の工程と、前記第四の工程と前記第五の工程により第三の工程における計算方法及び結果の精度を確認する第六の工程と、前記第六の工程により精度を確認された第三の工程における計算方法により任意の半導体デバイスの構造並びに動作情報と任意の使用環境における宇宙線中性子のスペクトルから前記任意の半導体デバイスの前記任意の使用環境における宇宙線中性子起因のソフトエラー率を計算する第七の工程からなることを特徴とする半導体デバイスの宇宙線中性子起因のソフトエラー耐性評価方法。」と記載されている。
【０００６】
また、近年ではエラーに対する高信頼性装置に関する文献として、特開平８−２８７０３０号公報（特許文献２）がある。この公報には、「多重系計算機システムにおいて、システムダウンが発生したとき、停止したＣＰＵを自動的に再起動し、システムの稼働率を上げ、信頼性を向上させる。」と記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００４−１２５６３３号公報
【特許文献２】特開平８−２８７０３０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
ここで、フィールド試験によれば自然界に存在する環境放射線を利用するため、評価対象が持っている真のソフトエラー率を求めることができる。しかし、信頼度に足りるデータ数（エラー数）を収集するためには大量の評価サンプルと、年単位の試験時間が必要となる。一方、加速試験では、照射する環境放射線の特性（エネルギー分布など）を完全には再現できないため、真のソフトエラー率は得られないが、数時間でおおよそのソフトエラー率を推定することができる。
【０００９】
現在でもサンプルを多量に用意できるメモリ系のデバイスでは長期に亘るフィールド試験が行われているが、あらゆる製品でフィールド試験をするのは困難であり、ソフトエラー耐性評価としては加速器による加速試験が一般的である。
【００１０】
評価対象が、電子装置であるとき、従来のソフトエラー耐性評価では、中性子ビーム１０５ａを照射し続け、システムエラーが発生した場合、手動で中性子ビーム１０５ａを停止し、装置を再起動する方法で計測していた。
【００１１】
また、装置レベルでのソフトエラー耐性評価が要求される一方で、特にミッションクリティカルな高信頼性装置では、冗長化構成を採用した装置が増えている。また、ＦＰＧＡなどのプログラミングデバイスにおいても、中性子ソフトエラー起因の障害を少なくするため、実装する論理部を冗長化構成にする例が増えてきている。
【００１２】
冗長化構成の一例としては２重系ホットスタンバイ構成が挙げられる。２重系ホットスタンバイ構成は、装置を２重化し、実行系と待機系として両装置が互いに同期制御を行いながら同一の動作を行う。通常は実行系で稼動しているが、実行系に異常が検出されると直ちに待機系の装置へ系切り替えを行い、エラーが検出された側の装置は再起動などで正常復帰させて再び待機系として稼動させることで、システムとしての正常動作を維持し、装置の信頼性を高めている。
【００１３】
また、ＦＰＧＡなどのプログラマブルデバイスにおける冗長化構成の一例としては、論理部をＴＭＲ（三重化多数決）化し、さらに部分再構成技術を組み合わせた高信頼化手法が挙げられる。本構成によれば、３重化している論理部のひとつがエラーになった場合も、多数決出力によって誤った出力はマスクされ、また、エラーとなった論理部についても部分再構成によって正常回路をプログラミングし直すことで高い信頼性を実現できる。
【００１４】
しかし、上記のような冗長化構成で、かつ、動作中に再起動や再構成が行われる装置については、従来の加速試験による評価方法では正しくソフトエラー率を測定できない問題がある。
ソフトエラーの加速試験では、中性子ビームの強制照射によってソフトエラーが発生するまでの時間を短縮しているが、再起動や再コンフィギュレーションなどの復帰処理はハードウェアに依存する一定の時間が必要なため、上記ホットスタンバイ構成では、系切り替えし、待機系となったユニットの正常復帰が完了する前に、実行系でエラーが発生してしまう場合や、再起動処理中のユニットが再度エラーになるなどの多重エラー現象が発生する可能性が高くなってしまい、ソフトエラー率を正しく評価できない。
【００１５】
また、従来の電子装置単体の評価方法では、システムエラーの度に手動で中性子ビームを停止し、装置の正常復帰を行っていたが、冗長化構成装置では内部の再起動や再コンフィギュレーションがいつ実行されたかが分からないため、正常復帰に合わせてビームを停止することができないという問題があった。
【００１６】
そこで本発明は、ソフトエラー耐性評価における信頼性を向上することができる電子装置、評価システム及び評価方法を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
上記課題を解決するために、特許請求の範囲に記載の構成をとるものである。その一例として、例えば、電子装置であって、エラーを検出するエラー検出手段を備えた情報制御ユニットと、前記情報制御ユニットのエラー情報を基に、エラーが生じた情報制御ユニットのリブート開始信号を送信するリブート制御部を有するユニット制御部と、前記ユニット制御部からのリブート開始信号を検知し、リブート開始信号を検知した際に外部に信号を送信する信号送信部と、を有し、前記情報制御ユニットにエラーが生じた際は、前記リブート開始信号により該情報制御ユニットがリブートされるとともに、前記信号送信部によって外部に信号が送信されることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば電子装置のソフトエラー耐性評価の信頼性を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明の実施の形態１である、２重系ホットスタンバイ構成装置を評価する場合のソフトエラー耐性評価システムの構成例を示した図である。
【図２】本発明の実施の形態１における情報制御ユニットの構成例を示した図である。
【図３】本発明の実施の形態１における冗長ユニット制御部の構成例を示した図である。
【図４】本発明の実施の形態１におけるビーム停止信号生成部の構成例を示した図である。
【図５】本発明の実施の形態１におけるソフトエラー耐性評価方法の流れの例を示したフローチャートである。
【図６】本発明の実施の形態３におけるビーム停止信号生成部の構成例を示した図である。
【図７】本発明の実施の形態２であるＴＭＲ回路構成のＦＰＧＡを評価対象としたソフトエラー耐性評価システムの構成例を示した図である。
【図８】本発明の実施の形態２におけるビーム停止信号生成部の構成例を示した図である。
【図９】本発明の実施の形態２におけるソフトエラー耐性評価方法の流れの例を示したフローチャートである。
【図１０】電子装置を評価するときの、従来のソフトエラー耐性評価システム（ソフトエラー加速試験）の構成例を示す。
【図１１】電子装置を評価するときの、従来のソフトエラー耐性評価方法（ソフトエラー加速試験）の流れの例を示したフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
まずはじめに、加速器を用いたソフトエラー耐性評価システムについて図１０、図１１を用いて説明する。
一般的なソフトエラー加速試験での評価対象は主にＳＲＡＭやＤＲＡＭなどのメモリ系のデバイスが多く、その評価方法は、中性子を照射し続け、照射した中性子線量（フルエンス）とビット反転数（エラー数）からソフトエラー率を求める方法であり、近年はデバイス単体の評価だけではなく、システムとして組み上げられた電子装置全体のソフトエラー耐性評価が行われている。
【００２１】
図１０に、評価対象が情報制御装置などの電子装置であるときの、従来のソフトエラー耐性評価システム（ソフトエラー加速試験）の構成例を示す。また、照射する環境放射線は中性子線とした場合の例を示す。
【００２２】
本評価システムでは、電子装置２００に、照射系１０１で生成された中性子ビーム１０５ａを強制的に照射し、電子装置２００で発生するシステムエラーを観測（エラー種類および発生数を計測）することで、電子装置２００における中性子ソフトエラー率を評価する。
【００２３】
また、電子装置２００は診断部２０１を内蔵しており、ハードウェアの故障や一時的な動作異常を検出することができる。電子装置２００は、制御端末２０１のＧＵＩ画面を介して操作することができる。制御端末２０１からは電子装置２００のステータスやシステムエラーなどの情報を回収することができる。
【００２４】
図１０における照射系１０１は、中性子線ビームを生成するシステムであり、加速器１０２と、ビーム停止機構１０３と、検出器１０４と、ターゲット１０５と、図示しないコリメータで、構成される。
【００２５】
照射系１０１における加速器１０２は、図示していないが外部の発生源から入力された陽子を加速し、陽子ビーム１０２ａを生成する。加速された陽子ビーム１０２ａはターゲット１０５へ照射する。タングステンや鉛、リチウムなどで形成されたターゲット１０５に陽子が衝突すると、原子核のスパレーション（破砕）反応によって中性子ビーム１０５ａが生成される。
【００２６】
中性子ビーム１０５ａは、評価対象である電子装置２００に照射される。図示していないがコリメータと呼ばれる遮蔽物によって中性子線の照射形状を成形することで、部分的な照射も可能である。
【００２７】
また、陽子ビームライン上に配置されたビーム停止機構１０３は中性子ビームの出力を停止させるための機構である。本図では、制御端末１０７からのビーム停止信号１０７ａに従って、陽子ビーム１０２ａを遮断することで中性子ビーム１０５ａの出力を停止する。
【００２８】
本例では、ビーム停止信号１０７ａのレベルがハイ（Ｈ）レベルの時に、陽子ビーム１０２ａが遮断され、中性子ビーム１０５ａの出力が停止されるものとする。また、ビーム停止機構１０３のさらに下流に配置された検出器１０４によって、中性子ビーム１０５ａの照射フラックス量（フルエンス）を測定する。本図の検出器１０２は、ターゲット１０５に照射した陽子数を計測することで、ターゲット１０５と陽子の核反応後に出力される中性子ビーム１０５ａのフルエンスを推定する。
【００２９】
図１１に、評価対象が電子装置であるときの、従来のソフトエラー耐性評価の流れの例を示す。
フロー上に図示していないが、まず、照射系１０１からの中性子ビーム１０５ａは停止した状態で、評価対象である電子装置を起動させる（Ｓ３００）。
【００３０】
次に、装置の初期設定を行い、動作を開始させる（Ｓ３０１）。
ここで、動作というのは、実使用時と同じ負荷をかける動作が望ましいが、出荷検証用のテストプログラムや、一般的なベンチマークプログラムを実行した状態でも構わない。電子装置２００が正常に稼働したら、次に、制御端末１０７からビーム停止信号１０７ａを解除し、中性子ビーム１０５ａの照射を開始する（Ｓ３０２）。
【００３１】
中性子ビーム１０５ａの照射を開始したら、電子装置でシステムエラーなどの障害が発生するまで制御端末２０１から監視を続ける（Ｓ３０３）。
ここで、電子装置２００にシステムエラーが発生した場合、中性子ビーム１０５ａをすぐに停止する（Ｓ３０４）。
【００３２】
次に、電子装置２００からはその時のシステムのステータスを含め、エラーに関連する情報を全て回収する（Ｓ３０５）。
エラー情報を回収したら、次に電子装置２００をリブートする（Ｓ３０６）。
【００３３】
なお、本発明におけるリブートとは、再起動や再構成等を含み、エラーを回復し正常復帰する動作をさすものであり、以下の実施例でも同様の意味をもつものである。
【００３４】
次に、再計測を判断し、再計測するのであれば、Ｓ３０１へ戻って計測を継続する。一般的にはこのルーチンを数回〜数十回繰り返し、エラー情報を取得する。再計測をしない場合は、そのまま本加速試験を終了とする（Ｓ３０７）。
【実施例１】
【００３５】
以下、本発明の実施例１について図１〜５を用いて説明する。なお、実施例を説明するための全図において、同一部には原則として同一符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。
【００３６】
本発明の実施例１においては、評価対象とする冗長化構成の電子装置の例として、２重系ホットスタンバイ構成の装置を対象とし、この装置のソフトエラー耐性評価の信頼性を向上することを可能とするソフトエラー耐性評価における電子装置、評価システム及び評価方法の例について説明する。
【００３７】
図１は、本発明の実施例１にかかる２重系ホットスタンバイ構成装置を評価対象としたソフトエラー耐性評価システムの構成例を示した図である。
【００３８】
本ソフトエラー耐性評価システムは、評価対象である電子装置１と、中性子ビームを生成して評価対象に照射する照射系１０１で構成され、さらに、電子装置１から出力されるビーム停止信号４ａを照射系１０１のビーム停止機構１０３に入力することで、電子装置１の動作に同期して中性子ビーム１０５ａを制御できる点を特徴としている。
【００３９】
本システムによるソフトエラー評価方法の概要としては、稼動中の電子装置１に中性子ビーム１０５ａを照射し、システムエラーの発生を制御端末６によって観測し、最終的に計数されたエラー回数と、照射系１０１の検出器１０４で計測した中性子線量（フルエンス）を基に電子装置１のソフトエラー率を推定することができる。
【００４０】
照射系１０１の構成は、前述した図１０の構成と同じであるためここでは説明を省略する。なお、ビーム停止機構１０３については、ビーム停止信号４ａ以外に、制御端末１０６からのビーム停止信号１０６ａによっても中性子ビーム１０５ａを停止することができる。
【００４１】
２重系ホットスタンバイ構成の電子装置１は、同一の２台の情報制御ユニット２〜２'
と、冗長ユニット制御部３、ビーム停止信号生成部４によって構成される。初期状態として、ここでは情報制御ユニット２を実行系ユニット、もう一方のユニット２'を待機系ユニットとして動作させているものとする。ホットスタンバイ方式のため、両ユニットは互いに同期制御を行いながら同一の動作を行っているものとする。
【００４２】
ここで、情報制御ユニットとは、ルータやサーバのような情報処理機能や、列車やエレベータの監視制御機能を持ったハードウェアシステムを指す。情報制御ユニットの一例として、図２にルータ機能を持ったユニットの構成を示す。ルータ機能とは、二つ以上のネットワークを相互接続し、ネットワーク間で情報パケットのやりとりをする機能である。
【００４３】
本ユニットは、主にネットワークプロセッサ２１とパケット送受信部２２、メモリ２３、汎用プロセッサ２４で構成される。図示していないがあるネットワークから入力された情報パケット２２ａは、パケット送受信部２２で受信した後、ネットワークプロセッサ２１でパケットに付加されたヘッダ情報を解析し、ネットワークの経路情報が格納されたメモリ２３を参照しながら再度ヘッダ情報を付加して、パケット送受信部２２より次のネットワークへ送出する。
【００４４】
汎用プロセッサ２４は、ルータ間やネットワークの接続確認や自身の動作状態の診断・監視などを行う。ユニット内部で検出されたエラー情報や、自身のユニットがどちらの系で稼動しているかを示す系情報などは、汎用プロセッサ内部のステータスレジスタ２５に格納されるものとする。
【００４５】
情報制御ユニット内部のエラー情報には、例えばパケット輻輳によるタイムアウトエラーや、経路情報メモリデータの異常（パリティエラー）、プロセッサのスタックによる制御不能状態などのエラー情報が含まれる。これらのエラーのうち、ハードウェア故障起因のエラー以外は再起動または装置電源の再投入によって正常復帰することができる。
【００４６】
冗長ユニット制御部３は、情報制御ユニット２〜２'のエラー情報を常時監視し、エラー発生時はユニットの系切替制御とエラーユニットの再起動制御を行う。図３に冗長ユニット制御部３の構成例を示す。冗長ユニット制御部３はエラー監視部３１と、ユニット切替部３２、再起動制御部３３で構成される。
【００４７】
エラー監視部３１は、両ユニット内部のステータス情報を常時監視し、エラー情報２ａ、２ａ'を取得する。エラー情報を検出した場合、ユニットの切替信号３１ａをユニット切替部３２に出力する。
【００４８】
ユニット切替部３２は、エラー監視部３１からの切替信号３１ａを基に、ユニット２、２'のどちらが実行系かを示す選択信号２ｂ、２ｂ'を出力し、エラー状態のユニットの再起動を示す再起動信号３２ａを再起動制御部３３に出力する。
【００４９】
再起動制御部３３は、再起動開始命令部３４と、再起動完了監視部３５、遅延部３６で構成され、エラーユニットの再起動制御を行う。
【００５０】
再起動開始命令部３４は、ユニット切替部３２から受信した再起動信号３２ａを基にエラー状態のユニットへ再起動開始信号２ｃまたは２ｃ'を出力する。この時、再起動開始タイミングを調整するための遅延部３６を介して出力される。さらに、再起動開始命令部３４は、再起動が開始されたことを示す再起動開始信号３ａを再起動完了監視部３５とビーム停止信号生成部４へ出力する。
【００５１】
再起動完了監視部３５は、開始信号３ａを受信すると両ユニット内部のステータスレジスタ情報の監視を開始し、再起動の完了を監視する。再起動完了が検出されたら、再起動完了信号３ｂをビーム停止信号生成部４へ出力する。
【００５２】
また、再起動完了信号を受信し、両ユニットにエラーが無いことが確認できた場合、実行系と待機系のユニット間で同期動作を開始する。ここで、電子装置１全体の再起動以外に、情報制御ユニット２、２'が同時に再起動されることはないものとする。
【００５３】
次に、装置内のビーム停止信号生成部４について説明する。ビーム停止信号生成部４は、エラーユニットの再起動開始タイミングと再起動終了タイミングを基に、再起動期間をパルス幅で表したパルス信号を生成し、その信号をビーム停止信号４ａとして照射系１０１のビーム停止機構１０３に出力するものである。
【００５４】
図４に、ビーム停止信号生成部４の構成の一例を示す（クロックの図示は省略する）。ここでは、再起動開始信号３ａおよび再起動完了信号３ｂの立ち上がりがそのタイミングを示すものとする。パルス生成部４１は、２つの立上り検出回路４２とスタートストップ回路４３で構成される。
【００５５】
立上り検出回路４２は、それぞれ入力される再起動開始信号３ａと、再起動完了信号３ｂの立上りエッジを検出し、そのＨｉレベルを保持することができる。スタートストップ回路４３は、スタート信号を受信してからストップ信号を受信するまでの間、Ｈｉレベルのパルス信号を生成する。パルス生成までの動作例を図中のタイミングチャートに示す。これによりビーム停止信号生成部４では、再起動に要した時間をパルス幅で表したビーム停止信号４ａとして出力する。
【００５６】
また、照射系１０１のビーム停止機構１０３にはさまざまなタイプがあり、停止信号を受信してから完全にビームを停止するまでの時間（停止時間）が異なる。本実施例でのビーム停止機構１０３は、電磁石式のビームシャッターを想定しており、陽子ビームに強磁界をかけて陽子ビームをはじき飛ばすことで中性子ビームの出力を停止する。この場合、停止信号を受信してから数マイクロ秒オーダーでビームを停止することができる。
【００５７】
しかし、機械式のコンクリートシャッターなどでは、数秒オーダーの時間が必要な場合もある。そのため、上記の冗長ユニット制御部３で生成された再起動開始信号３ａのタイミングより、実際に中性子ビームが完全に止まるタイミングが遅れる場合があり、その場合、まだ照射されている間にリブートが開始されるため、先述した多重障害が発生してしまう可能性がある。
【００５８】
そこで、図３に示すように情報制御ユニットの再起動開始信号２ｃ、２ｃ'を生成する再起動制御部３３の出力には、任意の遅延時間を設定可能な遅延素子３６を設ける。もし、ビーム停止機構１０３の停止時間が、リブート開始タイミングより遅い場合、遅延素子３６にはビーム停止機構１０３の応答時間を考慮した遅延時間を入力することで、完全にビームが停止した状態でリブートを開始することができる。
【００５９】
ただし、上記構成においては遅延素子を設けることに限らず、例えば冗長ユニット制御部３の再起動制御部３３をビームが完全に停止した後に再起動を開始するように制御して、再起動対象ユニットに再起動開始信号を送信するようにした構成でもよい。
【００６０】
図５は、本実施の形態（図１）におけるソフトエラー耐性評価方法の流れの例を示したフローチャートである。
まず、図示していないが、照射系１０１において中性子ビーム１０５ａの出力条件を設定し、中性子ビーム１０５ａの出力は停止した状態とする。
【００６１】
次に、中性子ビームライン下流に評価対象である電子装置１を設置し、電子装置１を起動する（Ｓ１００）。
次に、必要に応じて初期設定などを行い、電子装置１の動作を開始する（Ｓ１０１）。ここで、動作というのは、実使用時と同様の処理を継続している状態を指す。また、出荷検証用のテストプログラムや、一般的なベンチマークプログラムを用いた動作状態も含まれる。
【００６２】
次に、制御端末１０６にてビーム停止信号１０６ａを解除し、電子装置１への中性子ビーム１０５ａの照射を開始する（Ｓ１０２）。照射中は、制御端末１０を介して中性子ビーム１０５ａが照射されている電子装置１の動作状態およびシステムエラー発生の有無を監視する（Ｓ１０３）。
ここで、ビーム照射中に、電子装置内の情報制御ユニット２または２'でエラーを検出した場合、電子装置１はエラーとなったユニットを特定し（Ｓ１０９）、例えばエラーのユニットが実行系の場合、待機系ユニットを実行系ユニットへ系切替を行う（Ｓ１１０）。
【００６３】
次に、電子装置１は、特定したエラーユニットの再起動処理を開始する。同時に、再起動開始信号のタイミングで、ビーム停止信号生成部４から出力されるビーム停止信号４ａがＨｉレベルとなり、照射系１０１のビーム停止機構１０３では中性子ビームの出力を停止する（Ｓ１１１）。
【００６４】
エラーユニットの再起動が完了すると（Ｓ１１２）、電子装置１のビーム停止信号生成部から出力されるビーム停止信号４ａがＬｏレベルとなり、照射系１０１のビーム停止機構１０３では中性子ビームの出力を再開し（Ｓ１１３）、ソフトエラーの観測を継続する。
つまり、エラーユニットの再起動が行われる場合、再起動時間をパルス幅で表したビーム停止信号７７ａに従って、自動で中性子ビームの照射を停止する。
【００６５】
次に、照射中に、電子装置１において多重障害など、再起動でも復旧できないシステムエラーが発生した場合（Ｓ１０４）、制御端末１０６にてビーム停止信号１０６ａを照射系１０１のビーム停止機構１０３へ送信し、中性子ビームの出力を停止する（Ｓ１０５）。また、ソフトエラーの観測を一旦中断する。
【００６６】
次に、電子装置１からその時のシステムのステータスを含め、エラーに関連する情報を全て回収する（Ｓ１０６）。エラー情報を回収したら、電子装置全体を再起動する（Ｓ１０７）。
【００６７】
次に、再度計測を実施するのであれば、Ｓ１０１へ戻ってソフトエラー評価を継続する（Ｓ１０８）。一般的には、このフローを繰り返し、数回〜数十回のエラー情報を取得する。再計測をしない場合は、本ソフトエラー評価を終了とする。
【００６８】
なお、本実施例における冗長化構成の電子装置は、本実施例で示した筐体内部の情報制御ユニットが冗長化されている装置の他に、単体ボックス筐体型の装置のように、電子装置自体を複数台相互接続した冗長化構成も含まれる。
【００６９】
以上に説明したように、本発明の実施例１であるソフトエラー耐性評価における電子装置、評価システム、および当該システムでソフトエラーを観測する方法によれば、中性子ビームの照射によって電子装置の内部ユニットでエラーが発生し、部分的な再起動処理が発生した場合に、電子装置側からその再起動期間をパルス幅で表したビーム停止信号を出力し、その信号に同期して照射系の中性子ビーム出力を自動停止することで、ソフトエラー加速試験特有の再起動中の多重エラーの発生を抑制し、ソフトエラー耐性評価の信頼性を向上することができる。
【００７０】
さらに、装置の優劣やソフトエラー対策の効果を短時間で正しく評価できることで、装置の信頼性向上につながる。また、装置の信頼性が上がることで保守コスト低減も期待できる。また、従来に比べて加速試験中に無駄にする多重エラー時の照射時間を削減できることで試験効率を向上し、つまりは評価コストの削減に貢献することができる。
【実施例２】
【００７１】
以下では、ＦＰＧＡ（Field-Programmable Gate Array）において、内部の論理部を３重化多数決（ＴＭＲ：Triple Modular Redundancy）構成とし、さらに、部分再構成機能によってエラーとなった論理部の自動復旧が可能な高信頼性ＦＰＧＡについて、そのソフトエラー率を適切に測定することを可能とするソフトエラー耐性評価システムの例について図７〜９を用いて説明する。
【００７２】
図７は、本発明の実施例２である高信頼性ＦＰＧＡを評価対象とした場合のソフトエラー耐性評価システムの構成例を示した図である。
本ソフトエラー耐性評価システムは、評価対象であるＦＰＧＡ７と、中性子ビームを生成して評価対象に照射する照射系１０１で構成され、さらに、ＦＰＧＡ７から出力されるビーム停止信号７７ａを照射系１０１のビーム停止機構１０３に入力することで、ＦＰＧＡ内部の部分再構成の動作に同期して中性子ビーム１０５ａを制御できる点を特徴としている。
【００７３】
また、本ＦＰＧＡ７で生成されるビーム停止信号７７ａは、実施例１のように再構成（実施例１では再起動）の完了に従い、当該再構成が完了するまでの間生成するのではなく、事前に再構成に要する時間を設定しておくタイマ方式で生成する点を特徴とする。
ソフトエラー評価方法の概要については実施例１と同じであるためここでは説明を省略する。また、照射系１０１の構成についても、実施例１の構成と同じであるためここでは説明を省略する。
【００７４】
本評価対象のＦＰＧＡ７は、３重化された同一の論理部７１と、多数決判定部７４と、部分再構成制御部７５と、ビーム停止信号生成部７７と、遅延部７８と、再構成時間設定レジスタ７６によって構成され、論理部７１と、多数決判定部７４でＴＭＲを構成している。論理部７１は３つとも同一の論理回路であり、具体的な処理についてはここでは省略するが、各論理部は入力信号７ａに対して同一の処理を行う。各論理部の処理結果７１ａ、７１ｂ、７１ｃは多数決判定部７４に入力され、多数決の結果が出力信号７ｂとしてＦＰＧＡ７の外部に出力される。
【００７５】
また、多数決判定部７４はエラー検出機能を有する。各論理部からの入力データの多数決をとるが、３つの入力データをそれぞれ比較することで、異常データを出力している論理回路部がどれかを特定できる。多数決判定部７４においてエラー状態の論理部が検出された場合、その論理部を特定できる情報を含んだエラー検出信号７４ａを再構成制御部７５へ送信する。
【００７６】
再構成制御部７５は、多数決判定部７４からのエラー検出信号７４ａを受信すると、まず再構成開始信号７５ｄをビーム停止信号生成部７７へ送信する。次に、エラーとなった論理部に対し再構成信号を、遅延部７８を介して送信し、エラー状態の論理部のみを部分再構成処理によって自動復旧させる。
【００７７】
再構成信号７５ａ〜７５ｃは、先述したように完全にビームが停止してから再構成を開始できるように、遅延部７８にはビーム停止機構の停止時間を考慮した遅延時間を設定する。例えば、論理部（１）７１の出力がエラーと判定された場合、論理部（１）７１に対して再構成信号７５ａを送信し、再構成を開始する。
【００７８】
図８は、本発明の実施例２におけるビーム停止信号生成部７７の構成例を示した図である。ビーム停止信号生成部７７は、パルス生成部８０とタイマ８１で構成される。ここでタイマ８１は設定された初期値から１クロックサイクル毎にダウンカウントするダウンカウンタとする。
【００７９】
タイマ８１には、再構成時間設定レジスタ７６に設定された時間情報７６ａが入力されており、この時間情報がカウンタの初期値となる。パルス生成部８０は、実施例１に示したパルス生成部４１と同じ動作をする。
【００８０】
パルス生成部８０は、再構成制御部７５からの再構成開始信号７５ｄを受信すると、ビーム停止信号７７ａの出力はＨｉレベルとなる。同時に再構成開始信号７５ｄを受信したタイマ８１はダウンカウントを開始し、カウンタが０になるとカウント終了信号８１ａがパルス生成部８０に入力され、ビーム停止信号７７ａがＬｏレベルに戻る。つまり、再構成を開始してからタイマに設定したサイクルだけビーム停止信号を生成する。パルス生成までの動作例を図中のタイミングチャートに示す。
【００８１】
また、図７に示すＦＰＧＡ７の入出力信号７ａ、７ｂは、図示していないが別の回路または制御端末７０に接続されている。制御端末７０からＧＵＩを介して、ＦＰＧＡのコンフィグレーションの他、内部のメモリや再構成時間設定レジスタ７６を含むレジスタへのリード／ライト、中性子ビーム照射中の動作状態の監視や、出力信号７ｂの期待値判定などを行う。
【００８２】
図９は、本実施例２におけるソフトエラー耐性評価方法の流れの例を示したフローチャートである。
まず、フロー上に図示していないが、照射系１０１において中性子ビーム１０５ａの出力条件を設定し、ビームは停止した状態とする。次に、中性子ビームライン下流に評価対象であるＦＰＧＡ７を設置し、ＦＰＧＡ７を起動する（Ｓ２００）。
【００８３】
次に、必要に応じてＦＰＧＡのプログラミングや初期設定などを行い、ＦＰＧＡ７の動作を開始する（Ｓ２０１）。ここで、動作というのは、実使用時と同様の処理を継続している状態を指す。また、出荷検証用のテストプログラムや、一般的なベンチマークプログラムを用いた動作状態も含まれる。
【００８４】
次に、制御端末１０７にてビーム停止信号１０７ａを解除し、ＦＰＧＡ７への中性子ビーム１０５ａの照射を開始する（Ｓ２０２）。ここで、照射中にＦＰＧＡ内部の論理部でエラーが検出された場合（Ｓ２０３）、ＦＰＧＡ７は、特定したエラー状態の論理部の部分再構成処理を開始する。同時に、再構成開始のタイミングで、ビーム停止信号生成部７７から出力されるビーム停止信号４がＨｉレベルとなり、照射系１０１のビーム停止機構１０３では中性子ビーム１０５ａの出力を停止する（Ｓ２０９）。
【００８５】
エラー状態の論理部の再構成が完了したら（Ｓ２１０）、次に、ビーム停止信号生成部７７から出力されるビーム停止信号７７ａがＬｏレベルとなり、照射系１０１のビーム停止機構１０３では中性子ビームの出力を再開し（Ｓ２１１）、ソフトエラーの観測を継続する。つまり、ＦＰＧＡ内部で再構成が行われる場合、再構成時間をパルス幅で表したビーム停止信号７７ａに従って、自動で中性子ビームの照射を停止する。
【００８６】
次に、照射中に、ＦＰＧＡ７のシステムエラーが発生した場合（Ｓ２０４）、制御端末１０７からビーム停止信号１０７ａを照射系１０１のビーム停止機構１０３へ送信し、中性子ビーム１０５ａの出力を停止する（Ｓ２０５）。また、ソフトエラーの観測を一旦中断する。
【００８７】
ここでのシステムエラーとは、多数決判定部７４からの出力が期待値と異なるようなエラーや、論理部の多重エラーなどを表す。ＦＰＧＡ特有のコンフィギュレーションメモリにおけるソフトエラーによってプログラミングされた回路情報が破壊されることで発生する。この場合、ＦＰＧＡ７の現行ステータスを含め、エラーに関連する情報を全て回収する（Ｓ２０６）。
【００８８】
エラー情報を回収したら、ＦＰＧＡ７の全体再構成を実行する（Ｓ２０７）。次に、再度計測を実施するのであれば、Ｓ２０１へ戻って同様にソフトエラー評価を継続する。一般的には、このフローを繰り返し、数回〜数十回のエラー情報を取得する。
再計測をしない場合は、本ソフトエラー評価を終了とする（Ｓ２０８）。
【００８９】
ここで、本実施例のビーム停止信号生成部７７におけるタイマ８１はダウンカウンタの他にアップカウンタで構成してもよい。またタイマに設定する時間情報７６ａは、複数の時間情報から選択できる構成でも良い。また、再構成時間設定レジスタは１つに限らず複数の時間を設定できる構成でも良い。
【００９０】
以上に説明したように、本発明の実施例２に記載のソフトエラー耐性評価における電子装置、評価システム、および当該システムでソフトエラーを観測する方法によれば、中性子ビームを照射することで、ＴＭＲ構成のＦＰＧＡの論理部でエラーが発生し、部分的な再構成処理が発生した場合に、ＦＰＧＡ側からその再構成時間をパルス幅で表したビーム停止信号を出力し、その信号に同期して照射系の中性子ビーム出力を自動停止することで、ソフトエラー加速試験特有の再構成中の多重エラーの発生を抑制し、ソフトエラー耐性評価の信頼性を向上することができる。
【００９１】
さらに、装置の優劣やソフトエラー対策の効果を短時間で正しく評価できることで、装置の信頼性向上につながる。また、装置の信頼性が上がることで保守コスト低減も期待できる。また、従来に比べて加速試験中に無駄にする多重エラー時の照射時間を削減できることで試験効率を向上し、つまりは評価コストの削減に貢献することができる。
【実施例３】
【００９２】
本発明の実施例３においては、ソフトエラー耐性評価システムにおけるビーム停止信号生成部を高耐性化した例について説明する。
【００９３】
ソフトエラー耐性評価システムにおけるビーム停止信号生成部４は、加速された環境放射線の影響によって、評価中に誤ってビーム停止信号を出力するなどの誤作動をしない、つまり、その他の構成要素に比べてソフトエラー耐性が高いことが望ましい。
【００９４】
図６に、環境放射線に対する耐性を向上させたビーム停止信号生成部の構成の一例を示す。図６に示すビーム停止信号生成部４００はパルス生成部４１を３重化多数決（ＴＭＲ：Triple Modular Redundancy）構成としたもので、３つのパルス生成部４１と多数決判定部６０で構成する。１つのパルス生成部４１で誤作動しても、他の２つのパルス生成部４１'〜４１''が正常出力であれば多数決判定部６０によって誤った出力はマスクされ、正常なビーム停止信号を出力することができる。
【００９５】
また、図６では、ビーム停止信号生成部をＴＭＲ構成にすることで誤ったビーム停止信号が出力されることを抑制しているが、ビーム停止信号生成部４の機能を、情報制御ユニット２に比べて相対的にソフトエラーの起こりにくい半導体デバイスで構成しても良い。放射線起因のソフトエラーは半導体プロセスの微細化に伴い増加傾向にあるため、例えば、古い製造プロセス（数百ナノメートルオーダー）で製造された半導体デバイスで構成しても良い。また、ビーム停止信号生成部３を、ソフトエラー加速試験の際には中性子ビームが当たらない位置に離して配置できるよう、電子装置から着脱可能な外付けモジュールとして構成しても良い。
【００９６】
以上に説明したように、本発明の実施例３に記載のソフトエラー耐性評価における電子装置、評価システム、および当該システムでソフトエラーを観測する方法によれば、ビーム停止信号生成部自身の誤動作を低減することができ、ソフトエラー耐性評価の信頼性を向上することができる。
【００９７】
さらに、装置の優劣やソフトエラー対策の効果を短時間で正しく評価できることで、装置の信頼性向上につながる。また、装置の信頼性が上がることで保守コスト低減も期待できる。また、従来に比べて加速試験中に無駄にする多重エラー時の照射時間を削減できることで試験効率を向上し、つまりは評価コストの削減に貢献することができる。
【００９８】
なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。
【００９９】
また、上記の各構成、機能、処理部、処理手段等は、それらの一部又は全部を、例えば集積回路で設計する等によりハードウェアで実現してもよい。また、上記の各構成、機能等は、プロセッサがそれぞれの機能を実現するプログラムを解釈し、実行することによりソフトウェアで実現してもよい。各機能を実現するプログラム、テーブル、ファイル等の情報は、メモリや、ハードディスク、ＳＳＤ（Solid State Drive）等の記録装置、または、ＩＣカード、ＳＤカード、ＤＶＤ等の記録媒体に置くことができる。
【０１００】
また、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしも全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には殆ど全ての構成が相互に接続されていると考えてもよい。
【符号の説明】
【０１０１】
１，２００…電子装置、２…情報制御ユニット、３…冗長ユニット制御部、４，７７，４００…ビーム停止信号生成部、１０，７０，１０６，１０７，２０１…制御端末、７…ＦＰＧＡ、２１…ネットワークプロセッサ、２２…パケット送受信部、２３…メモリ、２４…汎用プロセッサ、２５…ステータスレジスタ、３１…エラー監視部、３２…ユニット切替部、３３…再起動制御部、３４…再起動開始命令部、３５…再起動完了監視部、３６，７８…遅延部、４１，８０…パルス生成部、４２…立上り検出回路、４３…スタートストップ回路、６０，７４…多数決判定部、７１…論理部、７５…再構成制御部、７６…再構成時間設定レジスタ、８１…タイマ、１０１…照射系、１０２…加速器、１０３…ビーム停止機構、１０４…検出器、１０５…ターゲット、２０２…診断部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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