(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも左眼の光ビームおよび右眼の光ビームを含む立体光を出力するように構成された立体画像形成サブシステムと、
少なくとも前記左眼の光ビームと前記右眼の光ビームの間の光強度の差を求めて、前記求めた光強度の差の絶対値が閾値量を超過する場合には、前記左眼の光ビームまたは前記右眼の光ビームの強度を変化させるように前記立体画像形成サブシステムを制御するように構成された光強度補正サブシステムとを備え、
前記立体画像形成サブシステムは、前記左眼の光ビームおよび前記右眼の光ビームの方向を変更可能な光ビーム方向変更手段を有し、前記光ビーム方向変更手段による光ビームの方向の変更により、前記立体光の前記左眼の光ビームと前記右眼の光ビームを交互に出力するように構成され、前記左眼または前記右眼の光ビームの一方が前記立体光用に出力されているとき、前記光ビーム方向変更手段を介して前記左眼または前記右眼の光ビームの他方がビームダンプへの光ダンプ経路に沿って透過され、
前記左眼の光ビームおよび前記右眼の光ビームの光強度を検知する光強度センサが前記光ダンプ経路に設けられる、
ことを特徴とする立体光投影システム。
【請求項２】
請求項１に記載のシステムであって、前記立体画像形成サブシステムが、少なくとも複数の色チャンネルの立体光を出力するように構成され、前記左眼および右眼の光ビームが、前記複数の色チャンネルの１つの色チャンネルの立体光であることを特徴とする立体光投影システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一般に、光投影システムにおける光強度の監視および制御に関する。
【背景技術】
【０００２】
大きな会場で、改善された視覚的経験を消費者に提供するために、３次元（３Ｄ）コンテンツまたは知覚される立体コンテンツを表示する高品質の投影システムに関心が高まっている。複数の娯楽会社が、映画館、テーマパークおよび他の会場で立体的コンテンツを提供しているが、これらの会社は、立体的画像表現のために主としてフィルム媒体を用いている。立体画像を生成するために、２つの別々の投影装置に、各眼に対して１組で、２組のフィルムが装着される。次いで、左眼画像および右眼画像が、偏光を用いて同時に投影される。１つの偏光が、左眼に表示される画像に用いられ、次いで、直交偏光の光が、右眼に表示される画像に用いられる。視聴者は、対応する直交偏光メガネを着用し、これが、各眼に対して１つの偏光画像を阻止する一方で、その直交偏光画像を透過する。
【０００３】
デジタル画像に対する映画産業の継続している変化において、アイマックスなどのいくつかのベンダは、高品質の立体画像を提供するために２つの投影システムを利用し続けている。しかし、より一般的には、３Ｄ投影を可能にするために従来型のプロジェクタが改造されている。
【０００４】
マルチカラーのデジタル映画を投影するためのこれらの従来型投影の解決策の中で最も有望なのは、画像を形成するデバイスとして２つの基本的タイプの空間光変調器（ＳＬＭ）のうちの１つを使用するものである。第１のタイプの空間光変調器は、テキサス州ダラスのテキサスインスツルメンツ社が開発したデジタルマイクロミラーデバイス（ＤＭＤ）のデジタル光プロセッサ（ＤＬＰ）である。ＤＬＰは、デジタル投影システムにうまく使用されている。ＤＬＰデバイスは、例えば米国特許第４，４４１，７９１号、米国特許第５，５３５，０４７号、米国特許第５，６００，３８３号といった複数の特許（すべてホーンベックのもの）に説明されている。
【０００５】
デジタル投影に使用される第２のタイプの空間光変調器に、ＬＣＤ（液晶デバイス）がある。ＬＣＤは、対応する各ピクセルの入射光の偏光状態を選択的に変調することにより、ピクセルの配列として画像を形成する。ＬＣＤは、高品質のデジタル映画投影システム用の空間光変調器として、いくつかの利点を有するように思われる。これらの利点には、比較的大きなデバイスサイズ、良好なデバイス歩留まり、およびより高解像度のデバイス、例えばソニーおよびＪＶＣの両社から市販されている４０９６×２１６０の解像度のデバイスを製作する能力が含まれる。ＬＣＤ空間光変調器を利用する電子的投影装置の実例には、（シモムラらの）米国特許第５，８０８，７９５号などに開示されたものがある。ＬＣＯＳ（シリコン上の液晶）デバイスは、大規模な画像投影向けに特に有望に思われる。しかし、ＬＣＤ素子では、高輝度投影の大きな熱負荷がこれらのデバイスの偏光品質に影響を及ぼすので、特に色およびコントラストに関して、デジタル映画の高品質の要求を維持するのは困難なことがある。
【０００６】
従来型のマイクロディスプレイ（ＤＬＰまたはＬＣＯＳ）に基づくプロジェクタから立体画像を形成するための従来方式は、左右の眼のコンテンツ間を弁別する２つの主要な技法のどちらかを用いる。マクシマスらによる米国特許出願公開第２００７／０１２７１２１号などに説明されるように、ドルビー研究所によって利用されたもう１つのあまり一般的でない技法に、例えば色空間分離を用いるものがある。フレーム時間の一部分に対して、原色のそれぞれの部分を瞬間的に遮るために、白色光照明システムにおいてフィルタが利用される。例えば、左眼に対して、赤、青、および緑（ＲＧＢ）のより短い波長のスペクトルが、ある期間にわたって阻止される。これが、右眼に対して、赤、青、および緑（ＲＧＢ）のより長い波長のスペクトルを阻止することと交番する。次いで、各眼に関連づけられた適切な色調整された立体コンテンツが、その眼向けの各変調器に表示される。視聴者は、２組の３色（ＲＧＢ）スペクトルのうちの１つだけを同様に透過する対応するフィルタを着用する。
【０００７】
別々の立体画像を形成する第２の方法は、偏光を用いるものである。スバーダルらの米国特許第６，７９３，３４１号などの例示的実施形態では、２つの直交偏光状態のそれぞれが、２つの別々の空間光変調器の対応する１つに配送される。次いで、両方の変調器からの偏光が同時に投影される。視聴者は、互いに対して直交して配向された左右の眼用の偏光透過軸を有する偏光メガネを着用する。
【０００８】
カリフォルニア州ビバリーヒルズのＲｅａｌ−Ｄ社によって商品化されている別の手法は、交互に急速に切り換えられる交番する偏光状態を変調するように改造された従来型のプロジェクタを用いるものである。これは、例えば、ＤＬＰプロジェクタが、光の出力経路に設置された偏光子を有するとき行なうことができる。ＤＬＰは、デバイスパッケージのウィンドウが、応力で誘起される複屈折によって偏光を解消するので、一般に偏光されていない入力光の偏光を維持するようには元来設計されていないため、偏光子が必要である。ロビンソンらによる米国特許出願第２００６／０２９１０５３号に説明されているタイプに類似の収色偏光スイッチャを、偏光子の後に配置することができる。このタイプのスイッチャは、２つの別個の画像を各眼に１つ表示することを可能にするために、直線偏光状態などの２つの直交偏光状態間で偏光を交互に回転させ、一方、ユーザは偏光メガネで見ている。
【０００９】
立体画像と平面画像のどちらが形成されるかということにかかわらず、デジタル投影システムは、最近、ソリッドステート光源、特にＬＥＤおよびレーザ、ならびにこれらの光源の配列を組み込んでいる。これらのソリッドステート光源には、以前の色投影に使用されたランプベースの照明光源に対して複数の利点がある。このような利点の中には、素子の寿命、スペクトル特性、輝度、および全体的効率がある。例えば、単一白色光源を使用するアークランプおよび他の解決策と比較したとき、ソリッドステート光源は、投影に利用可能な色の範囲全体を拡張する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】米国特許第４，４４１，７９１号
【特許文献２】米国特許第５，５３５，０４７号
【特許文献３】米国特許第５，６００，３８３号
【特許文献４】米国特許第５，８０８，７９５号
【特許文献５】米国特許出願公開第２００７／０１２７１２１号
【特許文献６】米国特許第６，７９３，３４１号
【特許文献７】米国特許出願公開第２００６／０２９１０５３号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
ソリッドステート光源を使用することによって提起される問題の１つに、各色チャンネルからの光出力の適切なバランスを達成することに関連するものがある。ソリッドステート光源用の駆動回路は、プロジェクタから目標の白色点または色バランスを得るように工場で較正され得る。しかし、素子の老化およびドリフトなどの要因により、初期の色調節が劣化する可能性があり、その結果、もはや色バランスが許容できなくなる。この問題は、立体結像に関して、さらに顕著になる可能性がある。全体の輝度および色バランスに関して、視聴者の左眼向けに形成される画像は、視聴者の右眼向けに形成される対応画像と密接に一致するべきである。左眼向け画像の色チャンネル強度と右眼向け画像の色チャンネル強度の互換性を達成しそこなうと、投影された立体画像が魅力のないものになるか、最悪の場合、視聴者に対して視覚的に妨害する可能性がある。
【００１２】
したがって、平面投影ならびに立体投影に関して、光投影システムによる出力の光強度に対する制御の、より優れた方策を提供する必要性がある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
前述の問題が対処され、技術的解決法が、本発明の様々な実施形態による光強度を監視するかまたは制御するためのシステムおよび方法により、当技術分野で達成される。本発明の一実施形態では、光投影システムは、画像形成サブシステムおよび投影サブシステムを含む。画像形成サブシステムは、複数の光変調チャンネルを含むことができる。各光変調チャンネルは、特定の色チャンネルのコヒーレント光を生成する光源サブシステムを含むことができる。発生した光は、少なくとも画像データと一致するように、コヒーレント光と相互作用するように構成された光変調サブシステムへの結像経路に沿って進むことができる。光変調サブシステムは、受け取る光を、画像データ次第で、投影のために投影サブシステムへ通すか、またはダンプ経路に沿ってビームダンプする。
【００１４】
光投影システムは、光強度補正サブシステムを含むことができる。光強度補正サブシステムは、画像経路、ダンプ経路、または画像形成サブシステムの光学素子から漏れた光を受け取る位置に、光強度センサを含むことができる。画像形成サブシステムが立体光を生成する実施形態では、このようなイメージセンサは、（光変調サブシステムに関連した光ダンプ経路と対比されるように）光源サブシステムに関連した光ダンプ経路に配置され得る。光強度補正サブシステムは、光源サブシステムの個々のレーザによって出力される光の強度、各光変調チャンネル向け色チャンネルの光強度、左眼／右眼の光ビームバランス、白色点、またはこれらの組合せを監視し、かつ制御するように構成することができる。
【００１５】
これらの組合せが監視し、かつ制御される実施形態では、光強度補正サブシステムは、１つ以上の色チャンネルによる出力の強度を、別の色チャンネルがその出力を増加することができないとき低下させることにより、白色点、色チャンネル強度、またはその両方をバランスさせるようにさらに構成され得る。このような機構により、レーザの出力の強度が老化または故障で低下したときさえ、白色点および色チャンネル強度のバランスが保たれる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明の利点は、ドリフトおよび素子の老化または故障を補償するために、レーザ、色チャンネル、左／右の立体画像、および白色点といった複数のレベルで、出力強度の自動微調整が可能になることである。
【００１７】
本発明の、これらおよび他の目的、特徴、および利点が、以下の詳細な説明を、本発明の例示的実施形態を示して説明している図面とともに理解し、読み取ることにより、当業者には明らかになるであろう。
【００１８】
本発明は、以下に示された例示的実施形態の詳細な説明を添付図面とともに検討すれば、より容易に理解されよう。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明の様々な実施形態に共通であり得る光投影システムの光学素子を示す図である。
【図２】本発明のいくつかの実施形態による、レーザ光の強度制御サブシステムを有する平面光源サブシステムを示す図である。
【図３】本発明のいくつかの実施形態による、レーザ光の強度制御サブシステムを有して立体光および平面光を生成することが可能な光源サブシステムを示す図である。
【図４】本発明のいくつかの実施形態による、レーザ光の強度制御サブシステムを有して立体光および平面光を生成することが可能な光源サブシステムを示す図である。
【図５】本発明のいくつかの実施形態による、レーザ光の強度制御サブシステムを有して立体光および平面光を生成することが可能な光源サブシステムを示す図である。
【図６】本発明のいくつかの実施形態による、結像経路に少なくとも部分的に配置された光強度検知サブシステムを有する、色チャンネル強度制御サブシステムを示す図である。
【図７】本発明のいくつかの実施形態による、色チャンネル強度を監視し、かつ制御する方法を示す図である。
【図８】本発明のいくつかの立体的実施形態による、左眼の光ビームと右眼の光ビームの間の強度バランスを監視し、かつ制御する方法を示す図である。
【図９】光学素子から漏れた光を測定する位置に少なくとも部分的に配置された光強度検知サブシステムを有する本発明のいくつかの実施形態による色チャンネル強度制御サブシステムを示す図である。
【図１０】光学素子から漏れた光を測定する位置に少なくとも部分的に配置された光強度検知サブシステムを有する本発明のいくつかの実施形態による色チャンネル強度制御サブシステムを示す図である。
【図１１】光変調システムに関連する光ダンプ経路に少なくとも部分的に配置された光強度検知サブシステムを有する本発明のいくつかの実施形態による色チャンネル強度制御サブシステムを示す図である。
【図１２】シャッタの結像経路に少なくとも部分的に配置された光強度検知サブシステムを有する本発明のいくつかの実施形態による色チャンネル強度制御サブシステムおよび白色点制御サブシステムを示す図である。
【図１３】シャッタの結像経路に少なくとも部分的に配置された光強度検知サブシステムを有する本発明のいくつかの実施形態による色チャンネル強度制御サブシステムおよび白色点制御サブシステムを示す図である。
【図１４】本発明のいくつかの実施形態による、白色点を監視し、かつ制御する方法を示す図である。
【図１５】シャッタの結像経路に少なくとも部分的に配置された光強度検知サブシステムを有する本発明のいくつかの実施形態による白色点制御サブシステムを示す図である。
【図１６】本発明のいくつかの実施形態による、個々のレーザ、色チャンネル、および白色点制御ループの階層を示す図である。
【図１７】本発明のいくつかの実施形態による、レーザ光の強度制御サブシステムのハードウェア実装形態を示す図である。
【図１８】本発明のいくつかの実施形態による、色チャンネル強度制御サブシステムのハードウェア実装形態を示す図である。
【図１９】本発明のいくつかの実施形態による、白色点制御サブシステムのハードウェア実装形態を示す図である。
【図２０】本発明のいくつかの実施形態による、個々のレーザ、色チャンネル、および白色点制御ループの階層に関連した相対的サンプリング周波数を示す図である。
【図２１】本発明の特定の実施形態を実施するのに使用することができる特定の回路レイアウトの１つを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
本説明は、本発明による装置に対して、その一部分を形成するかまたはより直接的に協働する要素を特に対象とする。具体的に示されることまたは説明されることのない要素は、当業者に周知の様々な形態をとり得ることを理解されたい。
【００２１】
本明細書に示されて説明される図は、本発明による動作原理を示すために提供されるものであり、実際のサイズまたは縮尺を示す目的で描かれたものではない。本発明のレーザ配列の構成部品の寸法が相対的なものであるため、基本構造、形状、および動作原理を強調するためにいくらかの誇張が必要とされる。
【００２２】
本発明は、本明細書で説明される実施形態の組合せを含む。「特定の実施形態」などの参照は、本発明の少なくとも１つの実施形態に存在する特徴を表す。「実施形態」または「特定の実施形態」などの個別の参照は、必ずしも１つまたは複数の同じ実施形態を参照するものではないが、このような実施形態は、そのように示されるかまたは当業者にとって容易に明らかでないならば、互いに排他的ではない。「方法」または「諸方法」などの単一および／または複数の参照の使用は、限定するものではない。
【００２３】
明確に示されるかまたは文脈によって必要とされるのでなければ、単語「または」は、本開示では非排他的な意味で用いられることに留意されたい。
【００２４】
本発明の実施形態は、コヒーレント光投影システムにおける改善された光強度の監視および制御の必要性に対処するものである。例えば、本発明の実施形態は、立体投影システムにおける左眼画像と右眼画像の間の改善された強度バランスを提供する。別の実例に関して、本発明の実施形態は、設計上の選択に基づいて好ましい構成を選択することを可能にする様々な光強度センサの構成を提供する。さらに別の実例に関して、本発明の実施形態は、フィードバックシステムを有する改善されたシステムレベルの強度制御を提供する。このフィードバックシステムは、色チャンネル強度制御システムからのフィードバックを介して白色点の強度制御を管理し、レーザ強度制御システムからのフィードバックを介して色強度制御を管理する。またさらに別の実例に関して、本発明の実施形態は、光出力強度の閾値を達成するために、１つ以上の光源が無能になることを考えるやり方で光強度を調節する故障応答プロシージャを含んでいる。これらおよび他の能力および利点は、この説明の残りで、より詳細に説明されることになる。
【００２５】
本発明の様々な実施形態をよりよく理解するために、このような様々な実施形態に共通であり得る例示的構成要素を最初に説明することが有益である。これらの例示的構成要素は、図１に示されており、本発明の実施形態に使用することができる光投影システム１０を示す。しかし、本発明は、図１に示された特定の光学素子および構成に限定されず、その他の光学素子、構成、またはその両方が使用され得ることを当業者なら理解するであろう。
【００２６】
光投影システム１０は、光１５を出力する画像形成システム１１（画像形成サブシステムとも称される）を含む。画像形成サブシステム１１が、平面画像と立体画像のどちらを当技術分野で既知の技法を使用して形成するシステムに構成されているかということ次第で、光１５は、平面的かまたは立体的であり得る。したがって、画像形成サブシステム１１の構成次第で、光投影システム１０は、平面的かまたは立体的なものであり得る。
【００２７】
画像形成サブシステム１１から出力された光１５は、画像形成サブシステム１１の構成次第で、平面画像または立体画像を投影する投影システム１３（投影サブシステムとも称される）によって受け取られる。この点に関して、当技術分野で知られているように、投影サブシステム１３は、１つ以上のレンズ要素を含むことができる。いくつかの実施形態では、投影サブシステム１３は、表示面８０に向けて平面画像または立体画像を投影する。
【００２８】
光１５は、光の複数の色チャンネルを含むことができる。図１で、光１５は、それぞれ光変調チャンネル４０ｒ、４０ｇ、および４０ｂからの赤色、緑色、および青色の変調された光の色チャンネルを含んでいる。しかし、当業者なら、本発明が、色チャンネルのいかなる特定の数または構成にも限定されないことを理解するであろう。図１で、赤色、緑色、および青色の色チャンネルは、２色性コンバイナ１７によって結合されて、画像形成システム１１から出力される光１５を形成する。
【００２９】
図１の実例では、各光変調チャンネル４０ｒ、４０ｇ、および４０ｂは、コヒーレント光源システム４２（コヒーレント光源サブシステムまたは単に光源サブシステムとも称される）を含む。図１は、明瞭さのために、赤色光の変調チャンネル４０ｒの構成要素に関する参照数字だけを含むことに留意されたい。しかし、参照数字がないとはいえ、他の光変調チャンネル４０ｇおよび４０ｂの同じ構成要素も図１の中に表されていることを理解されたい。
【００３０】
各コヒーレント光源サブシステム４２は、この場合、赤色、緑色、または青色の光の複数の色チャンネルのうち１つの色チャンネルを発する。したがって、各コヒーレント光源サブシステム４２は、結像経路２１に沿ってコヒーレント光４１を発し、この光は、任意選択で、偏光を維持する任意選択の光導波路５２に光を向けるレンズ５０に入る。図１では、結像経路２１が一直線に示されているが、そうである必要性はない。また、光ガイド５２は、話を簡単にするために長方形で示されているが、当業者なら、光ガイドが先細り形状など別の形状をとることが多いことを理解するであろう。次いで、レンズ５４は、光導波路５２の出力で、そうでなければレンズ５０または光源システム４２から光を直接受け取って、例えば当技術分野で既知のハエの眼インテグレータまたは積分バーなどのインテグレータ５１を通して光を向ける。インテグレータ５１を出る光は、結像経路２１に沿って下流に、光変調システム（またはサブシステム）６０へ進む。光変調サブシステム６０は、当技術分野で既知の空間光変調器を含むことができる。
【００３１】
各光変調サブシステム６０は、映画の画像フレームを表す画像データなどの画像データと一致するように、それが受け取る光（元は対応する光源サブシステム４２からのもの）と相互作用する。この点に関して、各光変調器サブシステム６０を制御する制御システムなどのデータ処理システム（図示せず）により、当技術分野で既知の技法および装置を使用して、画像データと一致するように各光変調サブシステム６０に制御信号が供給される。具体的には、光変調サブシステム６０は、画像データ信号に従って入射光を変調するアドレス指定可能な変調器ピクセル（図示せず）の２次元配列を含むことができる。光の変調は、マイクロミラー（ＤＬＰ）を傾けることによる方向変更、偏光回転（ＬＣＯＳまたはＬＣＤ）、光の散乱、吸収、または回折を含む様々なデバイスによってもたらされ得る。
【００３２】
それぞれの光源サブシステム４２から発生した光は、各光変調サブシステム６０により、画像データと一致するように、結像経路２１またはそれぞれの光ダンプ経路１９のいずれかをたどる。光ダンプ経路１９は、それぞれのビームダンプ２２に至り、投影サブシステム１３には至らない。一方、結像経路２１は投影サブシステム１３に至る。例えば、画像データが、特定のピクセルを完全に明るくする、すなわち最大強度にすることを示す場合、このようなピクセルに関連した光は、それぞれの光変調サブシステム６０により、完全に結像経路２１に沿って通る。一方、画像データが、特定のピクセルを完全にオフにする、すなわち光の強度をなくすことを示す場合、このようなピクセルに関連した光は、それぞれの光変調サブシステム６０により、完全に光ダンプ経路１９に沿って通る。画像データが、特定のピクセルに適度な強度を持たせる、すなわち完全オンまたは完全オフにはしないことを示す場合、このようなピクセルに関連した光は、それぞれの光変調サブシステム６０により、いくらかが結像経路２１に沿って通り、いくらかが光ダンプ経路１９に沿って通る。図１は、各光変調チャンネルに対して別々の光ダンプ経路１９とビームダンプ２２を示しているが、光変調チャンネル４０のいくつかまたはすべてが、設計上の選択次第で光ダンプ経路１９とビームダンプ２２を共有することができる。
【００３３】
光変調サブシステム６０によって結像経路２１を通るかまたは結像経路２１に向けられる光は、２色性コンバイナ１７により、もう一方の光変調チャンネル４０ｇ、４０ｂからの対応する光と結合される。２色性コンバイナ１７（この実例では結果的に画像形成サブシステム１１）によって出力される結合された光１５は、（開位置にあるときの）任意選択のシャッタ６５を通過して投影サブシステム１３上に進む。特定の状況では、光投影システム１０が暖機中であるかあるいは光強度測定または他の診断の状態にあるなど、シャッタ６５が閉位置にあることがある。シャッタ６５が閉位置にあるとき、平面的なものであろうと立体的なものであろうと、下流に進む光のさらなる投影が防止される。換言すれば、画像形成サブシステム１１から光が出ず、すなわち結果的に光投影システム１０から光が出ない。シャッタ６５は、電動機６６および当技術分野で既知のさらなる機械的構成要素（図示せず）により、開位置および閉位置に移動する。
【００３４】
投影サブシステム１３は、画像形成サブシステム１１から出力された変調光を表示面８０へ向ける。上記で論じられたように、光投影サブシステム１３は、画像形成サブシステム１１の設計次第で、平面画像、立体画像、またはその両方を投影することができる。本発明は、平面光または立体光を生成するのに、画像形成サブシステム１１のいかなる特定の構成にも限定されないが、図２は平面光を生成する光源サブシステム４２の単なる一例を示し、図３〜図５は、立体光を生成する光源サブシステム４２の単なる一例を示す。
【００３５】
図２で、複数の個々のレーザ２６（明瞭さのために、図２ではすべてに参照数字が付いているわけではない）から平面光が発生する。この実例では、個々のレーザ２６は、ソリッドステートレーザの配列４４で形成されており、レーザ駆動回路９４、９４’によって駆動される。図２では、レーザ駆動回路９４、９４’は単に表象的に示されており、示されているようにレーザ配列４４と一体化して形成する必要はないことに留意されたい。レーザ駆動回路は当技術分野で周知であり、本発明はいかなる特定の構成にも限定されない。類似の注釈が、以下で説明される図３に適する。レーザ配列４４’から発せられたコヒーレント光は、ミラー４６で方向を変えられ、その結果、レーザ配列４４から発せられたコヒーレント光と結合される。図２（および図３および図４）に示されるレーザ光強度測定システム４９は、以下で説明される。
【００３６】
図３で、偏光されたソリッドステートレーザ配列４４ａ、４４ｂの２つのバンク（明瞭さのために、図３ではすべてに参照数字が付いているわけではない）から立体光が発生する。偏光されたレーザ配列４４ａ、４４ｂは、レーザ駆動回路９４ａ、９４ｂによって駆動され、それぞれの光を当技術分野で既知の光の方向を変えるプリズム３１に供給する。光の方向を変えるプリズム３１は、受け取る光の方向を、回転式シャッタ７１に向けて変える。半波長板６４は、レーザ配列４４ａからの光を、レーザ配列４４ｂからの光に対して直交偏光状態に変換する。半波長板６４によって出力される光は右眼の光ビーム５８を表し、これは、左眼の光ビーム５７に対して直交偏光状態を有する。
【００３７】
回転式シャッタ７１は、直交偏光状態間で合流する光学軸の経路に配置される。回転式シャッタ７１の位置は、電動機７２を制御する制御回路７４によって制御される。図４に示される回転式シャッタ７１は、少なくとも２つのセグメントを有する透過性ディスクを有する。第１のセグメント７１ａは、入射する光を実質的にすべて透過するように設計されている。代替セグメント７１ｂは、入射する光を実質的にすべて反射するように設計されている。透過セグメント７１ａが光学軸に沿って存在するとき、レーザ配列４４ｂは、画像形成サブシステム１１の残りへ透過し、一方、レーザ配列４４ａは、光ダンプ経路７６に沿って透過されてビームダンプ７３によって吸収されることになる。いくつかの実施形態では、光源サブシステムの光ダンプ経路７６は、光変調サブシステムの光ダンプ経路１９と対比されることになる。具体的には、光ダンプ経路７６は、いくつかの立体的実施形態用の光源サブシステム４２と関連づけられ、左眼の光ビームまたは右眼の光ビームを、図５のどちらがオフ状態であってもダンプする。一方、いくつかの実施形態では、光ダンプ経路１９は、光変調サブシステム６０と関連づけられ、画像データに従って画像を形成するのに不要な光を（平面的でも立体的でも）ダンプする。
【００３８】
任意選択の個々のレーザ光強度センサ９３が後に説明される。交互に、反射性セグメント７１ｂ（図４）が光学軸に沿って存在しているとき、レーザ配列４４ａからの光（図３）が画像形成サブシステム１１の残りへ反射され、レーザ配列４４ｂからの光がビームダンプ７３へ向けられる。このように、図１に示されるように、交番する直交偏光の出力光４１（図１、図３）が、結像経路２１沿って空間光変調サブシステム６０に配送される。空間光変調サブシステム６０は、この光４１から、左眼の画像データと右眼の画像データが一致するように立体画像を生成する。
【００３９】
図４に示されるように、偏光状態の間に遷移領域７１ｃが存在することに留意されたい。２つの領域７１ａと７１ｂの間の光７５は両方の偏光状態を含む。この状況は、２つの眼の画像の間にクロストーク（ゴーストとしても知られている）をもたらす。若干のクロストークは許容され得る。過度のクロストークが存在する場合、この過渡期を通じて空間光変調サブシステム６０がオフ状態にされてよく、いくらかの光が失われるという犠牲を払ってクロストークを除去する。左眼の光ビームの生成と右眼の光ビームの生成の間で空間光変調サブシステム６０がオフになる時間は、ブランキング期間と称される。したがって、遷移領域を７１ｃ縮小するのが望ましいことであり得る。このような縮小は、光７５のスポットサイズを縮小するか、または、シャッタ車輪７１を大きくして、光７５を、外径の方へ実用的な範囲で遠く離して配置するよりことにより達成することができる。
【００４０】
図３の実施形態の非立体的な用途については、偏光されたレーザ配列４４ａと４４ｂの両方のバンクからの光が、より明るい平面画像をもたらすために（偏光の交番にかかわらず）一緒に使用されてよい。レーザ配列４４ａ、４４ｂは、各レーザ光源の寿命をバランスさせ、かつ立体画像と同程度に明るい平面画像を生成するために、半分の電力で使用することができる。この点に関して、光源サブシステム４２は、単一構成で平面画像および立体画像を生成することができることが理解され得る。
【００４１】
図２に戻って、本発明の一実施形態による、平面光源サブシステム４２の中にレーザ光強度制御サブシステム４９（「Ｌ１」または「Ｌ１サブシステム」と称されることがある）を含む光強度補正サブシステム２３が示されている。しかし、当業者なら、サブシステム４９は、図２に示されたものに加えて他の平面の実装形態とともに使用することができることを理解するであろう。レーザ光強度制御システム４９は、各レーザ２６からの出力光の強度を監視し、かつ制御する。レーザ光強度制御システム４９、またはレーザ光強度制御システム２３が、その点に関して監視機能しか含まない実施形態では、このようなシステムは、本明細書では「制御」システムではなく「測定」システムと称されることがある。
【００４２】
各レーザ２６からの出力光の強度監視は、任意数のやり方で起こり得る。例えば、レーザ２６の光強度の監視が、当技術分野で既知の技法を用いて、対応するレーザ配列４４の中で起こり得る。この場合、フィードバックループ（図示せず）が、各レーザ配列４４をＬ１サブシステム４９に接続することになる。個々のレーザの光強度を監視するための別の技法は、レーザから生じる光を受け取って測定する位置に光ダイオードなどの光強度センサを設置するものであるが、画像形成サブシステムの光学素子から漏れたものである。例えば、光ダイオードを、ミラー（ミラー４６のうちの１つなどの）またはこのようなレーザ光線を反射する他の実質的に反射性の光学素子の背後に設置することができる。一般に、最善のミラーコーティングでさえ、入射光の約０．２％から０．５％が漏れることになる。このような漏れ光が、対応するレーザ光線の強度を求めるために測定され得る。この点に関して、ミラー４６のうちの１つの背後の、レーザ２６のうちの１つからのレーザビームから、または実質的に同レーザビームから漏れた光を測定することになる位置に、光ダイオード（図示せず）を設置することができる。このような技法も、以下で説明される色チャンネル強度および白色点を測定するのに用いることができる。
【００４３】
本発明のいくつかの実施形態によれば、Ｌ１サブシステム４９は、各レーザ配列４４、４４’に関連したレーザ駆動回路９４、９４’の電圧または電流を増減するか、またはデューティサイクル（オン／オフ時間の繰返し）を調節することにより、各レーザ２６からの出力光の強度を制御する。当技術分野で既知のこのような駆動回路９４は関連した回路（図示せず）を有し、この回路により、関連するレーザ配列４４、４４’の個々のレーザ２６の出力光の強度制御が可能になる。
【００４４】
図３および４は、本発明の一実施形態による、立体光源サブシステム４２の中にレーザ光強度制御サブシステム４９を含む光強度補正サブシステム２３を示す。しかし、当業者なら、サブシステム４９は、図３および図４に示されたものに加えて他の立体の実装形態とともに使用することができることを理解するであろう。
【００４５】
図２の平面の実施形態の場合と同様に、レーザ光強度制御システム４９は、各レーザ２６からの出力光の強度を監視し、かつ制御する。この点に関して、いかなる技法も用いることができるが、各レーザ２６からの出力光の強度は、対応するレーザ配列４４ａ、４４ｂによって内部で測定することができる。別の実例に、対応する個々のレーザ光強度センサ９３を使用して、各レーザ２６からの出力光の強度をビームダンプ７３上で測定するものがある。この場合、レーザ配列４４ａまたは４４ｂのいずれかからの光が回転式シャッタ７１によってビームダンプへ通されるとき、個々のレーザ光の強度が測定され得る。したがって、図３に示されていない何らかの通信接続により、センサ９３からのフィードバックをＬ１サブシステム４９に供給することができる。これも図２の実施形態の場合と同様に、レーザ光強度制御システム４９は、各レーザ２６からの出力光の強度を監視し、かつ制御する。
【００４６】
図６〜図１３は、本発明の様々な実施形態による色チャンネルレベルの強度の監視および制御を示す。具体的には、図６は、本発明の一実施形態による、赤信号変調チャンネル４０ｒ用の光強度補正サブシステム２３を示す。図６に示される光強度補正サブシステム２３は、他の色チャンネルのそれぞれに対して繰り返すことができる。いくつかの実施形態では、光強度補正サブシステム２３は、色チャンネル強度制御サブシステム４７（「Ｌ２」または「Ｌ２サブシステム」と称されることがある）および光強度検知サブシステム９２を含む。この検知サブシステム９２は、光強度を測定する光ダイオードなどの１つ以上のセンサを含むことができる。光強度補正サブシステム２３は、光源サブシステム４２によって生成されたコヒーレント光４１を必要に応じて調節するために、レーザ駆動回路９４（図６には示されていない）を直接的または間接的に制御するように、当技術分野で既知の適切な接続および制御回路を含むことができる。
【００４７】
図６で、結像経路２１に検知サブシステム９２を配置することができる。この点に関して、検知サブシステム９２は、例えば検知サブシステム９２を結像経路２１に出し入れする機械的デバイス（図示せず）および電動機（図示せず）に取り付けることができる。検知サブシステム９２は、例えばシャッタ６５が閉まっているとき、結像経路２１に移動され得て、その結果、強度測定が行なわれ得る。例えばシャッタ６５が開いているとき、画像形成サブシステム１１（図１に示されているが、明確にするために図６には示されていない）によって可視画像が生成されていると、検知サブシステム９２を結像経路２１から除去することができる。
【００４８】
図７は、本発明の実施形態によって、色チャンネル強度を監視し、かつ調節するためにＬ２サブシステム４７によって遂行される方法１００を示す。プロセス状態１０２で、Ｌ２サブシステム４７は、検知サブシステム９２から受け取った情報から色チャンネル強度１０３を求める。図６の実例では、Ｌ２サブシステム４７は、検知サブシステム９２から受け取った情報から赤色の色チャンネル強度を求める。プロセス状態１０４で、Ｌ２サブシステム４７は、色チャンネル強度１０３を所定の色チャンネル強度１０５と比較する。所定の色チャンネル強度１０５は、例えば、（ａ）製造で設定されたもの、（ｂ）ユーザによってユーザ入力を介して構成されたもの、（ｃ）光投影システム１０の現在の使用によって求められたもの（例えば、主要作品のフィルムの表示は関連する第１の色チャンネル強度を有することができ、主要作品のフィルムの間の宣伝の表示は、第１の色チャンネル強度未満の関連する第２の色チャンネル強度を有することができる）、（ｄ）他の色チャンネルの現在の強度に左右されるもの、（ｅ）以下で論じられる、白色点制御サブシステム５９によって制御されるもの、または（ｆ）それらの組合せであり得る。
【００４９】
プロセス状態１０６で、Ｌ２サブシステム４７は、色チャンネル強度１０３と所定の色チャンネル強度１０５の間の差１０７の絶対値が閾値量１０９より大きいかどうか判断する。このような閾値量１０９は、光投影システム１０の要件次第で非常に小さなもの（例えば１％よりはるかに小さいもの）であり得る。
【００５０】
プロセス状態１０６で答えが「ｎｏ」と見なされると、通常の色チャンネル強度と想定され、処理は継続的な監視用のプロセス状態１０２に戻る。プロセス状態１０６で答えが「ｙｅｓ」と見なされると、Ｌ２サブシステム４７は、プロセス状態１０８で、差１０７を閾値量１０９内にするように色チャンネル強度１０３を調節することができるかどうか判断する。例えば、レーザ配列４４の個々のレーザ２６が故障しているか故障しつつある場合、対応する光源サブシステム４２によって生成されるコヒーレント光４１は、閾値量１０９より大きな量だけ所定の色チャンネル強度１０５を下回る可能性がある。また、レーザ２６が故障しているか故障しつつあるために、光源サブシステム４２によって出力される光４１の強度を増加することができない可能性がある。したがって、Ｌ２サブシステム４７は、プロセス状態１０８で、差１０７を閾値量１０９内にするように色チャンネル強度１０３を増加することができないと判断することができる。以下でより詳細に説明されるように、プロセス状態１０８における判断は、Ｌ１サブシステム４９によってもたらされるフィードバックに少なくとも部分的に基づくことができる。しかし、Ｌ１サブシステム４９とＬ２サブシステム４７は共存する必要はなく、本発明のいくつかの実施形態はＬ２サブシステム４７なしでＬ１サブシステム４９を有し、その逆の場合もあり得る。同じことが、以下で説明される白色点制御サブシステム５９にも当てはまる。
【００５１】
プロセス状態１０８で「ｎｏ」と判断されると、Ｌ２サブシステム４７は、可能であれば、差１０７を最小化するかまたは実質的に最小化する強度に色チャンネル強度を調節する。この場合、プロセス状態１１０で、ユーザまたは以下で説明される是正処置をとることができる白色点制御システム５９などの別の制御システムに、誤差を報告することができる。このような是正処置は、現在の色チャンネルおよび他の色チャンネル向けの所定の色チャンネル強度１０５を、より低強度に設定することであり得る。例えば、赤色の色チャンネル強度が閾値量１０９より大きな量だけ所定の色チャンネル強度１０５を下回り、Ｌ２サブシステム４７が赤色の色チャンネル強度を増加することができない場合、この色チャンネルおよび任意選択で少なくとも１つの他の色チャンネル向けの所定の色チャンネル強度１０５を、低下することができる。プロセス状態１１０の後、処理は、監視を継続するようにプロセス状態１０２に戻る。
【００５２】
プロセス状態１０８で「ｙｅｓ」と判断されると、Ｌ２サブシステム４７は、差１０７がプロセス状態１１２で閾値量１０９内になるように、色チャンネル強度１０３を調節するかまたはその調節を指示する。いくつかの実施形態では、光源サブシステム４２は、製造するとき、出力光の強度の可能な最大出力未満（例えば９０％）を出力するように設定され、個々のレーザ２６が老化するかまたは故障したとき上方への調節を可能にする。プロセス状態１１２の後、処理は、監視を継続するようにプロセス状態１０２に戻る。
【００５３】
図８は、立体結像を含む本発明の実施形態によって、左眼および右眼の色チャンネル強度を監視し、かつ調節するためにＬ２サブシステム４７によって遂行される方法２００を示す。立体投影の場合には、視聴者に対して投影される左眼画像と右眼画像を区別するために偏光またはスペクトルの差が用いられると、左右の眼向け光強度の間の知覚可能な差が容易に生じる可能性がある。偏光分離デバイスを使用すると、各眼向けの画像に使用する光源が同一のものであろうとなかろうと、この強度差が生じる可能性がある。偏光素子を使用するとき、何らかの避けられない量の光漏れがあるので、この強度差が生じる。強度差が極めて大きいと、視聴者の画像に妨げまたは不快が生じる可能性がある。
【００５４】
プロセス状態２０２で、Ｌ２サブシステム４７は、検知サブシステム９２から受け取った情報から、左眼の光ビームの色チャンネル強度２０１および右眼の光ビームの色チャンネル強度２０３を求める。この点に関して、検知サブシステム９２またはＬ２サブシステム４７は、どちらの測定値が左眼の光ビームまたは右眼の光ビームに対応するかＬ２サブシステム４７に通知するタイミング回路を有することができる。
【００５５】
プロセス状態２０４で、Ｌ２サブシステム４７は、左眼の色チャンネル強度２０１と右眼の色チャンネル強度２０３を比較する。プロセス状態２０６で、Ｌ２サブシステム４７は、左眼の色チャンネル強度２０１と右眼の色チャンネル強度２０３の間の差２０７の絶対値が閾値量２０９より大きいかどうか判断する。
【００５６】
プロセス状態２０６で答えが「ｎｏ」と見なされると、通常の色チャンネル強度差が左眼の光ビームと右眼の光ビームの間にあると想定され、処理は継続的な監視用のプロセス状態２０２に戻る。プロセス状態２０６で答えが「ｙｅｓ」と見なされると、Ｌ２サブシステム４７は、プロセス状態２０８で、差２０７を閾値量２０９内にするように左眼の色チャンネル強度２０１または右眼の色チャンネル強度２０３を増加することができるかどうか判断する。したがって、これらの実施形態は、プロセス状態２０８で、強度差を調整するために強度を増加する選好を行なうことが理解され得る。しかし、本発明はこのような選好に限定されず、強度を低下させるのが好ましいことがある。
【００５７】
より低強度の光ビーム（左または右）を増加することができない場合、プロセス状態２０８で「ｎｏ」が正しいと見なされる。この場合、光強度補正サブシステム２３は、プロセス状態２１０で、画像形成サブシステム１１が、より詳細には画像形成サブシステム１１の対応する光源サブシステム４２が、左眼の色チャンネル強度２０１または右眼の色チャンネル強度２０３を、どちらがより大きな強度を有しても低下させるように制御する。プロセス状態２１０の後、処理は、監視を継続するようにプロセス状態２０２に戻る。
【００５８】
より低強度の光ビーム（左または右）を増加することができる場合、プロセス状態２０８で「ｙｅｓ」が正しいと見なされる。この場合、光強度補正サブシステム２３は、プロセス状態２１２で、画像形成サブシステム１１が、より詳細には画像形成サブシステム１１の対応する光源サブシステム４２が、左眼の色チャンネル強度２０１または右眼の色チャンネル強度２０３を、どちらがより小さな強度を有しても増加させるように制御する。プロセス状態２１２の後、処理は、監視を継続するようにプロセス状態２０２に戻る。
【００５９】
図８は、左眼の色チャンネル強度２０１または右眼の色チャンネル強度２０３のいずれかが差２０７を低下するために増加されるかまたは減少される実施形態を示しているが、本発明はそのようには限定されない。当業者なら、差２０７を低下するために、色チャンネル強度（左または右）の一方を増加し他方を減少することができることを理解するであろう。
【００６０】
図９および図１０は、本発明の実施形態による、インテグレータ５１の側面５６に配置された少なくとも１つの光強度センサ９１を有する光強度検知サブシステム９２を含む光強度補正サブシステム２３を示す。側面５６は、結像経路２１またはインテグレータ５１の光学軸の比較的平行な方向に伸びている。インテグレータ５１の側面が、結像経路２１に向かって、または結像経路２１から遠ざかる方向に先細りになり得ることを想起されたい。
【００６１】
図９および図１０に基づく実施形態では、検知サブシステム９２は、インテグレータ５１から結像経路２１に沿って漏れた光からの光強度を監視するように位置決めされる。この点に関して、図９および図１０は、光強度センサが、画像形成サブシステム１１の光学素子、この場合インテグレータ５１から漏れた光を受け取って測定することができる位置にある実施形態を示す。インテグレータ５１から漏れた光を測定する場合には、強度および偏光において実質的に均一な光を監視するのが望ましいものであり得る。したがって、必須のことではないが、検知サブシステム９２（またはそのセンサ）を、インテグレータ５１を通る光が実質的に均一になるインテグレータ５１の一部分、例えばインテグレータ５１の下流の部分上に設置するのが好ましいことであり得る。
【００６２】
図１０は、インテグレータ５１が、側面５６上のセンサ９１の下に透光性カバー５３を有する実施形態を示す。図１０には１つのセンサ９１だけが示されているが、さらなるセンサを使用することができる。透光性カバー５３は、インテグレータ５１を包むことができ、インテグレータ５１が作製されている材料より低い屈折率を有する。このような屈折率の差により、透光性カバー５３が、インテグレータ５１の内部の内部全反射を改善し、結果的に均一化を改善することができる。しかし、インテグレータ５１上の面欠陥が、依然として、センサ９１で測定するための、インテグレータ５１の側面を出て透光性カバー５３を通過する何らかの小レベルの漏れ光をもたらす。光漏れは、透光性カバー５３を通過するときさらに拡散され、センサ９１に対して、測定用のさらに均一な光をもたらす。
【００６３】
図９および図１０の実施形態は、色チャンネル強度１０３、２０１、２０３がインテグレータ５１からの漏れ光から判断されることを除けば、図７および図８のプロシージャを用いて動作することができる。センサ９１の位置にある漏れ光の量を求めるために較正プロシージャを用いることができる。
【００６４】
図１１は、光ダンプ経路１９に配置された、光強度検知サブシステム９２を含む光強度補正サブシステム２３を示す。検知サブシステム９２が、結像経路２１と干渉せず、その代わりに、そうでなければ浪費される可能性がある光の強度を測定することができるので、このような機構は有利であり得る。これらの実施形態では、図７および図８のプロシージャは、色チャンネル強度１０３、２０１、２０３が光ダンプ経路１９に入る光から求められることを除けば、Ｌ２サブシステム４７によって用いられ得る。この点に関して、検知サブシステム９２は、空間光変調器６０が既知の位置、例えば、すべての光を光ダンプ経路１９に向ける完全にオフの位置、較正位置、または他のいくつかの既知の位置にある期間を通じて強度を測定する。
【００６５】
この点に関して、図１１の実施形態だけでなく、本発明の実施形態のあらゆるものに対して、光投影システム１０向けに特定の強度測定期間を生成することができる。例えば、このような測定期間は、（ａ）画像形成システム１１の構築を通じて、または完成と同時に、（ｂ）画像形成システム１１を電源オンにするかまたは再起動することによって開始されるスタートアッププロシージャを通じて、またはそれと同時に、（ｃ）投影システム１３で映像を投影する直前に、（ｄ）シャッタ６５が閉まっている間に、またはこれらを組み合わせたもので生じ得る。いくつかの立体光投影システム１０に関して、左眼の光ビームと右眼の光ビームの間のブランキング期間の一部分を、強度測定期間として利用することができる。
【００６６】
図１２および図１３は、本発明のいくつかの実施形態によって、色チャンネル強度制御サブシステム４７、白色点制御サブシステム５９（「Ｌ３サブシステム」とも称される）、またはその両方を含む光強度補正サブシステム２３を示す。これらの実施形態では、光強度補正サブシステム２３は、シャッタ６５上に配置された少なくとも１つの光強度センサ９１を有する光強度検知サブシステム９２も含む。検知サブシステム９２は、２色性コンバイナ１７の下流に配置され、したがって、すべての色チャンネル強度を測定することができる位置にあることに留意されたい。この配置により、各色チャンネル用の別々の検知サブシステム９２の必要性がなくなる。したがって、個々の色チャンネル強度ならびに白色点を（すべての色チャンネルを同時に）測定し、かつ制御することができる。個々の色チャンネル強度は、色チャンネル強度制御サブシステム４７により、図７および図８のプロセスを用いて監視し、かつ制御することができる。白色点は、以下で説明される図１４のプロセスを用いて、白色点制御サブシステム（Ｌ３サブシステム）５９によって測定し、かつ制御することができる。
【００６７】
例えば図１３に示されるように、シャッタ６５は、電動機６６およびメカニカルアーム６９により、結像経路２１から離れた開位置６８または結像経路２１の中の閉位置６７に設置することができる。しかし、当業者なら、本発明が、シャッタ６５を結像経路２１に出し入れするためのいかなる特定の技法にも限定されないことを理解するであろう。シャッタ６５が閉位置６７にあるとき、光強度センサ９１は、測定のために結像経路２１の中に設置される。図１３には１つのセンサ９１だけが示されているが、複数のセンサを使用することができる。シャッタ６５が開位置６８にあるとき、センサ９１は結像経路２１の外にある。図１３に示されたものに類似の設計を、図６の実施形態に基づいて用いることができる。
【００６８】
シャッタ６５が閉位置にあるとき、画像形成システム１１（図１）は、投影サブシステム１３へ光を出力するのを妨げられる。その他のコンテンツがスクリーン８０に示されている間にプロジェクタがその動作を維持することができるように、シャッタ６５を閉めることは商用映写機で一般に行なわれる。この閉位置で、Ｌ２サブシステム４７によって図７および図８のプロセスを実行することができ、一方、光源サブシステム４２ｒ、４２ｇ、４２ｂのうち、１度に１つだけがオンになる。具体的には、各光源サブシステム４２ｒ、４２ｇ、４２ｂは、必要に応じて各色チャンネル強度を測定し、かつ調節することができるように、循環してオンになり、例えば１度に１つが完全にオンになってその他の色チャンネルがオフになる。
【００６９】
また、シャッタ６５が閉位置にある間、白色点制御サブシステム５９によって、図１４に示される白色点の監視および制御のプロセス３００を実行することができる。プロセス状態３０２で、白色点３０３は、色チャンネルがすべて同時にオン状態、例えば完全オン状態にあるとき検知サブシステム９２が受け取った強度測定値から求められる。プロセス状態３０４で、白色点３０３が所定の白色点３０５と比較される。所定の白色点３０５は、例えば、（ａ）製造で設定されたもの、（ｂ）ユーザによってユーザ入力を介して構成されたもの、（ｃ）光投影システム１０の現在の使用によって求められたもの（例えば、主要作品のフィルムの表示は関連する第１の白色点を有することができ、主要作品のフィルムの間の宣伝の表示は、第１の白色点に満たない関連する第２の白色点を有することができる）、（ｄ）光源サブシステム４２ｒ、４２ｇ、４２ｂの現在の能力（例えば図７のプロセス状態１０８および１１０に関して論じられたように、レーザ２６の老化または故障が白色点の強度能力に影響を与えることになる）、または（ｅ）それらの組合せであり得る。
【００７０】
プロセス状態３０６で、Ｌ３サブシステム５９は、白色点３０３と所定の白色点３０５の間の差３０７の絶対値が閾値量３０９より大きいかどうか判断する。プロセス状態３０６で答えが「ｎｏ」と見なされると、通常の白色点と想定され、処理は継続的な監視用のプロセス状態３０２に戻る。あるいは、シャッタ６５を開くことができるか、または他の措置が講じられる。プロセス状態３０６で答えが「ｙｅｓ」と見なされると、Ｌ２サブシステム４７は、プロセス状態３０８で、１つ以上の色チャンネル強度を増加することにより差３０７を閾値量３０９内に低下させることができるかどうか判断する。例えば、（図７の状態１０８および１１０に関して説明されたように）問題のある光源サブシステム４２は、最大の光強度を生成していても、他の色チャンネルより光強度が低い可能性がある。したがって、差３０７が閾値量３０９より大きい可能性がある。この問題のある光源サブシステム４２が既に最大の強度を生成しているので、差３０７が閾値量３０９内に低下するようにその色チャンネル強度を増加することができない。この場合、プロセス状態３０８で、Ｌ３サブシステム５９によって「ｎｏ」と判断される。白色点の問題を補正するために、色チャンネル強度を増加するように、プロセス状態３０８における解析がバイアスを反射することが理解され得る。しかし、当業者なら、このようなバイアスが不要であることを理解するであろう。
【００７１】
プロセス状態３０８で「ｎｏ」と判断されると、プロセス状態３１０で、差３０７が閾値量３０９内になるように、１つ以上の色チャンネル強度が低下される。Ｌ３サブシステム５９およびＬ２サブシステム４７の両方が存在する実施形態では、Ｌ３サブシステム５９は、図１４に示されるように、プロセス状態３１０で、１つ以上の色チャンネル用の所定の色チャンネル強度１０５を低下させることができる。
【００７２】
プロセス状態３０８で「ｙｅｓ」と判断されると、プロセス状態３１２で、差３０８が閾値量内になるように、１つ以上の色チャンネル強度が増加される。Ｌ３サブシステム５９およびＬ２サブシステム４７の両方が存在する実施形態では、Ｌ３サブシステム５９は、図１４に示されるように、プロセス状態３１０で、１つ以上の色チャンネル用の所定の色チャンネル強度１０５を上げることができる。プロセス状態３１０または３１２の最後に、処理は、監視を継続するようにプロセス状態３０２に戻る。あるいは、シャッタ６５を開くことができるか、または他の措置が講じられる。
【００７３】
図１５は、各色チャンネルが色チャンネル強度制御用にそれ自体の検知サブシステム９２を有し、２色性コンバイナ１７の下流に白色点を直接検知するためのセンサが必ずしも存在するわけではない実施形態のための白色点の測定および制御を示す。具体的には、図１５は、（それぞれの色チャンネル強度制御サブシステム４７ｒ、４７ｇ、４７ｂによって）色チャンネルを制御するために、（図６、図９、および図１１の場合と同様に）それ自体の光強度制御サブシステム２３ｒ、２３ｇ、２３ｂ部分を有する各色チャンネルを表す。また、図１５は、白色点制御用の白色点制御サブシステム（Ｌ３サブシステム）５９を含む光強度補正サブシステム２３ｗのさらなる部分を示す。Ｌ３サブシステム５９は、図１４のプロセスを実行し、プロセス状態３０２を遂行するとき、光強度補正サブシステムの２３ｒ、２３ｇ、２３ｂの部分のそれぞれから個々の色チャンネル強度の測定値を受け取る。
【００７４】
前述のように、本発明のいくつかの実施形態は、様々な強度制御サブシステムの間に階層的構造体を含む。図１５の場合、Ｌ３サブシステム５９は、Ｌ２サブシステム４７ｒ、４７ｇ、４７ｂからそれぞれの現在の出力強度レベルに関する情報を受け取る。Ｌ３サブシステム５９は、図１４のプロシージャについて適切なホワイトバランスを調べるのにこの情報を用いる。色チャンネルのうち１つの強度を調節する必要がある場合、Ｌ３サブシステム５９は、Ｌ２サブシステム４７ｒ、４７ｇ、４７ｂの１つ以上に、その所定の色チャンネル強度１０５をそれに応じて変化させるように指示する。Ｌ２サブシステム４７ｒ、４７ｇ、または４７ｂがその所定の色チャンネル強度１０５を満たすことができない場合、Ｌ２サブシステムは、この状況をＬ３サブシステム５９に報告することができる。本発明のいくつかの実施形態によるＬ２サブシステム４７とＬ１サブシステム４９の間に、類似の階層的構造体が存在し得る。これらの場合、Ｌ２サブシステム４７は、Ｌ１サブシステム４９に、そのレーザ２６の出力強度を変化させるように指示することができる。Ｌ１サブシステム４９はそうすることができない場合、対応するＬ２サブシステム４７にこのような状況を報告することができる。
【００７５】
この点に関して、図１６は、３レベルの強度制御がすべて存在する本発明の実施形態の制御ループＬ１、Ｌ２、Ｌ３（Ｌ１−レーザ、Ｌ２−色チャンネル、Ｌ３−白色点）の階層を示す。前述のように、本発明の実施形態には、１レベルのみ有する実施形態（例えばＬ１のみ有する図２〜図４の実施形態）、または２レベルのみ有する実施形態（例えばＬ１およびＬ２のみ有する図６、図９、図１１の実施形態）など、３レベルをすべて有するとは限らないものもある。図１６に示されるように、Ｌ１サブシステム４９からのフィードバックが色チャンネル強度制御用のＬ２サブシステム４７に供給され、Ｌ２サブシステム４７からのフィードバックが白色点制御用のＬ３サブシステム５９に供給される。この説明で以前に別々に説明されたように、Ｌ１サブシステム４９は、関連するレーザ駆動回路９４を制御することにより、各レーザ２６の出力強度を監視し、かつ制御する。Ｌ２サブシステム４７は、対応するレーザの現在の出力強度レベルおよび出力能力に関する情報をＬ１サブシステム４９から受け取る。Ｌ２サブシステム４７は、図７、図８のプロシージャ、またはその両方につき、適切な色チャンネル出力強度、左眼／右眼の出力強度バランス、またはその両方を調べるのにこの情報をそれぞれ用いる。光源サブシステム４２のレーザの強度を調節する必要がある場合、Ｌ２サブシステム４７は、Ｌ１サブシステム４９に、その１つ以上のレーザの強度出力をそれに応じて変化させるように指示する。Ｌ１サブシステム４９によってＬ２サブシステム４７に供給され得る情報には、図７のプロセス状態１０８または図８のプロセス状態２０８における問合わせについて、Ｌ１サブシステム４９が、Ｌ２サブシステム４７によって指示されたレーザ出力レベルを得るかまたは維持することができるかどうかの２進法の表示などを含むことができるものもある。他の情報には、レーザ動作電流、レーザ動作電圧、レーザ入力電力、レーザ出力電力、レーザおよび駆動回路動作温度、経過したレーザ動作時間、またはそれらの組合せが含まれ得る。Ｌ１サブシステム４９からＬ２サブシステム４７への情報供給の促進は、Ｌ２サブシステム４７によって必要なとき、Ｌ３サブシステム５９によって必要なとき、ユーザ要求により、所定期間の満了により、またはそれらの組合せによって開始され得る。
【００７６】
図１６のＬ２サブシステム４７とＬ３サブシステム５９の間の相互作用は、図１５に関して上記で説明されたものである。色チャンネルの出力強度を増加することができない場合、図１４のプロセス状態３０８における問合わせについて、Ｌ２サブシステムはこの事実をＬ３サブシステム５９に報告する。
【００７７】
制御ループＬ１、Ｌ２、Ｌ３は、本発明のいくつかの実施形態と相互関係があることが理解され得る。これらの制御ループのうちの１つの中の調節が、階層内の他の制御ループのステータスおよび制御に影響を与える。例えば、色チャンネル制御の強度制御ループＬ２を用いて赤色の色チャンネルの出力強度を制御すると、各赤色レーザ駆動回路９４用のレーザ強度制御ループＬ１ばかりでなく白色点制御ループＬ３にも影響を及ぼすことができる。この相互関係により、制御ループ内の素子の状況に対する補償の方策が可能になる。例えば、色チャンネルの特定のレーザの性能が不十分であると、老化している素子を補償するために電力を増強するなど、同一の色チャンネルの他のレーザに供給される電流に影響を与えることができる。同様に、白色点制御ループＬ３は、前述のように、所望の白色点を維持するために、他の色チャンネルの出力を低下することにより、より弱い色チャンネルを補償することができる。
【００７８】
図１７は、本発明のいくつかの実施形態による、単一レーザ２６を制御するＬ１サブシステム４９の一部分の、簡易化したハードウェア実装形態を示す。しかし、この設計が、複数のレーザ２６を制御するように拡張され得ることを当業者なら理解するであろう。図１７で、レーザダイオード１５５はレーザ２６を表すものとして示される。しかし、レーザ配列４４は、複数のレーザビームを生成するのに、一般に単一レーザダイオード１５５を使用する。しかし、明瞭さのために、図１７はレーザダイオード１５５を制御するものとして説明される。
【００７９】
レーザダイオード１５５を流れる電流は、レーザ電流源１５２により、制御信号１５８の関数として供給される。電流源１５２は、レーザ駆動回路９４の一部分であり、電圧制御の電流源、直接的アナログ電流フィードバックおよび内部アナログ制御ループを有する電圧制御の電圧源、または内部デジタル制御ループおよび間接的電流フィードバックによってもたらされるデジタル制御を有する電圧制御の電圧源であり得る。電流源１５２は、電流出力を生成するために適切な増幅器および回路を有するデジタルアナロク変換器から成り得、この手法では、（制御信号１５８の）制御電圧は、１つ以上の２進法の信号によって電流源１５２に送られた数学的構造として存在することになる。電流源１５２は、その代わりに、制御信号１５８の電圧値に対して直接応答する電流出力を生成するために、アナログ回路およびデジタル回路を備えることができる。
【００８０】
光ダイオード１５６は、この光の強度を求めるためにレーザダイオード１５５によって発せられた光をサンプリングする。光ダイオード１５６を流れる電流が、トランスインピーダンス（電流から電圧への）増幅器１５３に入力を供給する。増幅器１５３の出力は、光ダイオード１５６によってサンプリングされた光の電力（強度）に比例する電圧１５９である。加算デバイス１５４は、設定電圧１５７と増幅器１５３の出力電圧１５９との間の差に等しい誤差電圧１６０を供給する。この点に関して、設定電圧１５７は所定のレーザ光強度として働く。設定電圧１５７は、いくつかの実施形態では、Ｌ２サブシステム４７から受け取られた命令から導出される。制御およびＰＩＤ／ＰＷＭ計算回路１５１が、誤差電圧１６０の絶対値が所定の閾値量より大きいと判断した場合、このような差を閾値量の範囲内にするように制御信号１５８が調節される。ＰＩＤ／ＰＷＭ計算回路１５１は、より詳細には比例−積分−微分コントローラ／パルス幅変調計算回路１５１と称され、当技術分野で既知である。
【００８１】
加算デバイス１５４、誤差電圧１６０および設定電圧１５７は、離散的な物理的実態またはデジタル版の制御およびＰＩＤ／ＰＷＭ計算回路１５１内の数学的構造として存在し得る。実施されている実施形態次第で、制御およびＰＩＤ／ＰＷＭ計算回路１５１は、Ｌ２サブシステム４７から電力または強度出力の制御データなどの制御データを受け取り、電力の制御／ステータスのバス１６２を介してステータスをＬ２サブシステム４７に報告することができる。例えば、制御およびＰＩＤ／ＰＷＭ計算回路１５１は、（図７のプロセス状態１１０および図１４のプロセス状態３１０について）、別の色チャンネルからのレーザが最大出力であるとき、電力の制御／ステータスのバス１６２を介してレーザへの電力を低下させるように指示され得る。また、ＰＩＤ／ＰＷＭ計算回路１５１は、電力の制御／ステータスのバス１６２を介して、要求された（所定の）レーザ出力に到達できなかったことをＬ２サブシステム４７に報告することができる。立体的実施形態では、左／右信号１６１は、制御ループの階層の上部レベルから供給され、左右の画像データと同期して出力されるレーザ１５５の強度を変えるために、制御信号１５８を変更するように回路１５１によって用いられる。
【００８２】
図１８は、本発明のいくつかの実施形態によるＬ２サブシステム４７のハードウェア実装形態を示す。色チャンネル強度制御サブシステム（Ｌ２）４７用の制御およびＰＩＤ／ＰＷＭ計算回路１７１は、図１８のレーザ強度制御サブシステム４９内に示された単一色のレーザの全体の配列１７２の挙動を監視し、かつ制御する。これらの実施形態では、計算回路１７１は、コマンドデータがレーザ制御ループ１５０へ通されてステータスデータがレーザ制御ループ１５０から通される、レーザ制御ループ１５０のそれぞれの間の単一通信チャンネルとして働く。
【００８３】
図１８に基づくいくつかの実施形態では、光ダイオードなどの光強度センサ９１は、レーザ１７２の配列によって出力される色チャンネル強度を測定する。光強度センサ９１は、図６、図９、図１０、図１１、図１２、または図１３に示された光強度検知サブシステム９２によって表される位置を有することができる。色チャンネルの現在の強度を表す信号Ｖｐｏｗｅｒ  １７６を生成するために、センサ９１によって生成された電圧が、トランスインピーダンス増幅器１８０に渡される。Ｖｐｏｗｅｒ  １７６が加算デバイス１７３に渡され、加算デバイス１７３は、Ｖｐｏｗｅｒ  １７６を設定電圧１７５と比較して誤差電圧１７４を生成する。この点に関して、Ｖｐｏｗｅｒ  １７６は図７の色チャンネル強度１０３に相当し得て、設定電圧１７５は図７の所定の色チャンネル強度１０５に相当し得て、また、誤差電圧１７４は図７の差１０７に相当し得る。いくつかの実施形態では、設定電圧１７５は、Ｌ３サブシステム５９から電力の制御／ステータスのバス１７８を介して受け取られた命令から導出される。制御およびＰＩＤ／ＰＷＭ計算回路１７１によって、誤差電圧１７４の絶対値が所定の閾値量（例えば図７の閾値量１０９）より大きいと判断された場合、計算回路１７１によって、制御ループ１５０の１つ以上が、電力の制御／ステータスのバス１６２を介して、それらのレーザ光強度をそれに応じて調節するように指示される（例えば図７のプロセス状態１１２を参照されたい）。いくつかの実施形態によれば、誤差電圧１７４を所定の閾値量内に低下させるようにレーザ光の強度を調節することができない場合、エラーレポートが、電力の制御／ステータスのバス１７８を介してＬ３サブシステム５９に送られ得る（図７のプロセス状態１１０を参照されたい）。立体的実施形態では、計算回路１７１は、同回路が、現在、左眼の光ビームまたは右眼の光ビームの色チャンネル強度を測定し、かつ制御しているかどうか判断するのに左／右信号１７７を用いる。これらの例では、図８のプロセスを用いることができる。
【００８４】
図１８では、色チャンネル強度１７６がセンサ９１から導出されるように示されているが、いくつかの実施形態では、色チャンネル強度１７６が、電力の制御／ステータスのバス１６２を介して計算回路１７１に供給されるレーザ出力強度を加算して生成されることに留意されたい。換言すれば、例えば図６、図９、図１１および図１２に示されるものなど、色チャンネル強度の測定に別々の検知システム９２を用いる代わりに、個々のレーザ制御ループ１５０によって電力の制御／ステータスのバス１６２を介して計算回路１７１に供給される情報から色チャンネル強度を測定することができる。
【００８５】
一方、図１８のセンサ９１は、図１２および図１３に示されるものなど、センサ９１が２色性コンバイナ１７の下流にある場合、他の色チャンネルによって共有され得る。これらの実施形態では、各色チャンネルは、図１８に示されるそれ自体のセンサ９１を有するのでなく、単一のセンサまたは検知システムを共有する。
【００８６】
図１９は、本発明のいくつかの実施形態によるＬ３サブシステム５９のハードウェア実装形態を示す。白色点制御サブシステム（Ｌ３）５９用の制御およびＰＩＤ／ＰＷＭ計算回路１９１は、色チャンネル強度制御サブシステム（Ｌ２）４７の各色チャンネル制御ループ１７０の挙動を監視し、かつ制御する。これらの実施形態では、計算回路１９１は、コマンドデータが色チャンネル制御ループ１７０へ通されてステータスデータが色チャンネル制御ループ１５０から通される、チャンネル制御ループ１７０のそれぞれの間の単一通信チャンネルとして働く。
【００８７】
図１９に基づくいくつかの実施形態では、光ダイオードなどの光強度センサ９１が、画像形成システム１１の白色点を測定するように示される。この点に関して、光強度センサ９１は、図１２および図１３に示される光強度検知サブシステム９２によって表される位置に存在し得る。図１９では、白色点１９６がセンサ９１から導出されるように示されているが、いくつかの実施形態では、色チャンネル強度１９６が、電力の制御／ステータスのバス１７８を介して計算回路１９１に供給される色チャンネル出力強度を加算して生成される。換言すれば、白色点の測定に別々の検知システム９２を用いる代わりに、個々のレーザ制御ループ１７０によって電力の制御／ステータスのバス１７８を介して計算回路１９１に供給される情報から白色点を測定することができる。このような機構は図１５に対応し、図１９では、別々のセンサ９１を設けないことになる。
【００８８】
一方、図１８のセンサ９１は、図１２および図１３に示されるものなど、センサ９１が２色性コンバイナ１７の下流にある場合、色チャンネル強度制御サブシステム４７によって共有され得る。これらの実施形態では、各色チャンネルは、それ自体のセンサ９１を有するのではなく、個々の色チャンネル強度ならびに白色点を測定する単一のセンサまたは検知システムを共有する。
【００８９】
図１９の詳細に戻って、白色点の現在の強度を表す信号Ｖｐｏｗｅｒ  １９６を生成するために、センサ９１によって生成された電圧が、トランスインピーダンス増幅器１９０に渡される。Ｖｐｏｗｅｒ  １９６が加算デバイス１９３に渡され、加算デバイス１９３は、Ｖｐｏｗｅｒ  １９６を設定電圧１９５と比較して誤差電圧１９４を生成する。この点に関して、Ｖｐｏｗｅｒ  １９６は図１４の白色点３０３に相当し得て、設定電圧１９５は図１４の所定の白色点３０５に相当し得て、また、誤差電圧１９４は図１４の差３０７に相当し得る。制御およびＰＩＤ／ＰＷＭ計算回路１９１によって、誤差電圧１９４の絶対値が所定の閾値量（例えば図１４の閾値量３０９）より大きいと判断された場合、計算回路１９１によって、制御ループ１７０の１つ以上が、電力の制御／ステータスのバス１７８を介してそれらの色チャンネル強度をそれに応じて調節するように指示される（例えば図１４のプロセス状態３１０、３１２を参照されたい）。立体的実施形態では、計算回路１９１は、同回路が、現在、左眼の光ビームまたは右眼の光ビームの白色点を測定し、かつ制御しているかどうか判断するのに左／右信号１７７を用いることができる。これらの例では、左眼の光ビームおよび右眼の光ビームに対して白色点が別個に測定されて制御される場合を除けば、図８のものに類似のプロセスを用いることができる。
【００９０】
図２０は、制御階層のレベルＬ１、Ｌ２、Ｌ３のそれぞれの相対的サンプリング周波数を示す。本発明の実施形態では、制御ループＬ１、Ｌ２、およびＬ３は、互いに干渉しないように別々のレートで動作するが、所望の白色点および左眼と右眼のバランスを維持するように協働する。各ループの速度は、十分な投影品質を維持するのにどれくらい速く応答する必要があるかということによって変化する。
【００９１】
各レーザで適切な電力レベルを維持するために、レーザ制御ループＬ１は比較的高速で動作する。一実施形態では、レーザ制御ループＬ１は、約５０ｋＨｚから約２００ｋＨｚで動作する。色チャンネル制御ループＬ２は、同一色のすべてのレーザの出力を制御するのに、よりゆっくりではあるが、フレームのリフレッシュレートよりは十分に速く動作する。一実施形態では、色チャンネル制御ループＬ２は、約１ｋＨｚから約１０ｋＨｚで動作する。白色点制御ループＬ３は、フレームのリフレッシュレートをかなり下回る速度で動作する。一実施形態では、白色点制御ループＬ３は、約１Ｈｚから約２Ｈｚで、またはよりゆっくりと動作する。
【００９２】
図２１は、本発明の特定の実施形態を実施するのに使用することができる特定の回路レイアウトの１つを示す。この実施形態は、照明サブシステムコントローラ１３０の中にＬ２およびＬ３の制御ループを有する立体的実施形態である。Ｌ１サブシステムの制御は特に示されていない。図２１で、電力配分回路１１０は、レーザ駆動回路１２０ｒ、１２０ｇ、および１２０ｂとして示された各色チャンネルのレーザ駆動回路用の電源電力を供給する。この実施形態では、各レーザ駆動回路は、６個、１２個、１８個、または２４個のバンクのレーザを制御する。各色チャンネルの対応する光強度センサ１１２ｒ、１１２ｇ、１１２ｂが、光ダイオードとして示されている。コントローラ１３０は、レーザ電流の同期および制御ならびに検出された状況に基づく動作をもたらし、また、任意選択で、適切な色バランスまたは白色点を達成するために１つ以上の色チャンネルに補正信号を供給する。コントローラ１３０は、色バランスまたは白色点および初期の工場較正の設定を得るためのプログラムされた命令あるいは色バランスまたは白色点を調節するようにオペレータによって対話式に入力された命令などの命令に応答する。電動機駆動回路および信号調整回路１４０は、各色チャンネル用の立体セパレータ１３４ｒ、１３４ｇ、１３４ｂとして働くシャッタディスクの動作に必要とされる論理制御信号および同期信号を供給する。
【符号の説明】
【００９３】
１０  光投影システム、１１  画像形成サブシステム、１３  投影サブシステム、１５  画像形成サブシステムから出力された光、１７  ２色性コンバイナ、１９  光変調サブシステムの光ダンプ経路、２１  結像経路、２２  光変調サブシステム向けのビームダンプ、２３  光強度補正システム、２６  レーザ、３１  光の方向を変えるプリズム、４０ｒ，４０ｇ，４０ｂ  光変調チャンネル、４１  光源サブシステムによって生成されたコヒーレント光、４２  光源サブシステム、４４，４４’  ソリッドステートレーザ配列、４４ａ，４４ｂ  偏光されたレーザ配列のバンク、４５’，４５ｒ，４５ｇ，４５ｂ  照明コンバイナ、４６  ミラー、４７  色チャンネル強度制御サブシステム、４９  レーザ光強度制御サブシステム、５０  レンズ、５１  インテグレータ、５２  光ガイド、５３  透光性カバー、５４  レンズ、５５  インテグレータの下流の出口面、５６  インテグレータの側面、５７  左眼の光ビーム、５８  右眼の光ビーム、５９  白色点制御サブシステム、６０  光変調サブシステム、６２  偏光ビームスプリッタ、６４  半波長板、６５  シャッタ、６６  シャッタの電動機、６７  結像経路の中のシャッタ、６８  結像経路から除去されたシャッタ、６９  メカニカルアーム、７０  投影光学系、７１  回転式シャッタ、７１ａ  回転式シャッタの透過性セグメント、７１ｂ  回転式シャッタの反射性セグメント、７１ｃ  回転式シャッタの遷移領域、７２  回転式シャッタの電動機、７３  光源サブシステムのビームダンプ、７４  回転式シャッタの制御回路、７５  光、７６  光源サブシステムの光ダンプ経路、８０  表示面、９１  光強度センサ、９２  光強度検知サブシステム、９３  個々のレーザ光強度センサ、９４  レーザ駆動回路、１００  方法、１０２，１０４，１０６，１０８，１１０，１１２  方法状態、１０３  色チャンネル強度、１０５  所定の色チャンネル強度、１０７  差、１０９  閾値量、１１０  電力配分回路、１１２ｒ，１１２ｇ，１１２ｂ  センサ、１２０ｒ，１２０ｇ，１２０ｂ  レーザ駆動回路、１３０  コントローラ、１３４ｒ，１３４ｇ，１３４ｂ  立体セパレータ、１４０  電動機駆動回路および信号調整回路、１５０  レーザ制御ループ、１５１  制御およびＰＩＤ／ＰＷＭ計算回路、１５２  電流源、１５３  増幅器、１５４  加算デバイス、１５５  レーザダイオード、１５６  光ダイオード、１５７  設定電圧、１５８  制御信号、１５９  電圧出力、１６０  誤差電圧、１６１  左／右信号、１６２  電力の制御／状態バス、１７０  色チャンネル制御ループ、１７１  制御およびＰＩＤ／ＰＷＭ計算回路、１７２  レーザの配列、１７６  Ｖｐｏｗｅｒ、１７７  左／右信号、１７８  電力の制御／状態バス、１８０  トランスインピーダンス増幅器、１９１  制御およびＰＩＤ／ＰＷＭ計算回路、２００  方法、２０１  左眼の光ビームの色チャンネル強度、２０２，２０４，２０６，２０８，２１０，２１２  方法状態、２０３  右眼の光ビームの色チャンネル強度、２０７  差、２０９  閾値量、３００  方法、３０２，３０４，３０６，３０８，３１０，３１２  方法状態、３０３  白色点、３０５  所定の白色点、３０７  差、３０９  閾値量。
【図１】
0005816169.tif 000002
【図２】
0005816169.tif 000003
【図３】
0005816169.tif 000004
【図４】
0005816169.tif 000005
【図５】
0005816169.tif 000006
【図６】
0005816169.tif 000007
【図７】
0005816169.tif 000008
【図８】
0005816169.tif 000009
【図９】
0005816169.tif 000010
【図１０】
0005816169.tif 000011
【図１１】
0005816169.tif 000012
【図１２】
0005816169.tif 000013
【図１３】
0005816169.tif 000014
【図１４】
0005816169.tif 000015
【図１５】
0005816169.tif 000016
【図１６】
0005816169.tif 000017
【図１７】
0005816169.tif 000018
【図１８】
0005816169.tif 000019
【図１９】
0005816169.tif 000020
【図２０】
0005816169.tif 000021
【図２１】
0005816169.tif 000022