(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
管の内部に挿入される曲折可能な線状部材と、該線状部材の軸線方向に間隔を空けて取り付けられた、前記管の状況を検査する検査部材および該検査部材の軸線中心位置を調整する調芯部材と、を有する管検査装置を、前記管の直線部分を模擬するとともに校正用信号源を有する校正用試験片の内部に挿入して前記校正用信号源の検出信号によって前記検査部材の校正を行う校正方法であって、
前記管検査装置を挿入する前に、前記校正用試験片の内面に前記検出信号に影響を与えない材質で構成され、前記校正用試験片の内径および前記調芯部材の外径の差を調節する所定厚さの管状部材を装着することを特徴とする校正方法。
【請求項２】
前記管状部材の長さは、前記校正用試験片の長さよりも長くされていることを特徴とする請求項１に記載の校正方法。
【請求項３】
前記管状部材の長さは、前記検査部材が前記校正用信号源の近傍に位置している際、前記検査部材および前記線状部材の前後の前記線状部材に取り付けられた周辺機構が収容される大きさとされていることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の校正方法。
【請求項４】
前記管状部材は、軸方向に全通した切欠部が備えられていることを特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載の校正方法。
【請求項５】
前記管状部材は、外周面に凹部が形成されていることを特徴とする請求項４に記載の校正方法。
【請求項６】
前記管状部材は、軸線方向に複数に分割されていることを特徴とする請求項１から請求項５のいずれかに記載の校正方法。
【請求項７】
前記管状部材の一端部には、前記校正用試験片の外径よりも大きな外径の拡径部が備えられ、
該拡径部の他端側に前記校正用試験片が挿入される溝部が形成されており、
前記管状部材は、他端側から前記校正用試験片に挿入され、前記溝部が前記校正用試験片を受け入れている状態で、前記拡径部の外周を固定部材によって締め付けられて装着されることを特徴とする請求項１から請求項６のいずれかに記載の校正方法。
【請求項８】
管の内部に挿入される曲折可能な線状部材と、該線状部材の軸線方向に間隔を空けて取り付けられた、少なくとも前記管の状況を検査する検査部材および該検査部材の軸線中心位置を調整する調芯部材と、を有する管検査装置の校正を行う校正方法に用いられる校正用治具であって、
前記管の直線部分を模擬するとともに校正用信号源を有する校正用試験片と、
該校正用試験片の内面に装着され、前記検査部材における前記校正用信号源の検出信号に影響を与えない材質で構成され、前記校正用試験片の内径および前記調芯部材の外径の差を調節する所定厚さの管状部材と、が備えられていることを特徴とする校正用治具。
【請求項９】
前記管状部材の長さは、前記校正用試験片の長さよりも長くされていることを特徴とする請求項８に記載の校正用治具。
【請求項１０】
前記管状部材の長さは、前記検査部材が前記校正用信号源の近傍に位置している際、前記検査部材および前記線状部材の前後の前記線状部材に取り付けられた周辺機構が収容される大きさとされていることを特徴とする請求項８または請求項９に記載の校正用治具。
【請求項１１】
前記管状部材は、軸方向に全通した切欠部が備えられていることを特徴とする請求項８から請求項１０のいずれかに記載の校正用治具。
【請求項１２】
前記管状部材は、外周面に凹部が形成されていることを特徴とする請求項１１に記載の校正用治具。
【請求項１３】
前記管状部材は、軸線方向に複数に分割されていることを特徴とする請求項８から請求項１２のいずれかに記載の校正用治具。
【請求項１４】
前記管状部材の一端部には、前記校正用試験片の外径よりも大きな外径の拡径部が備えられ、
該拡径部の他端側に前記校正用試験片が挿入される溝部が形成され、
前記管状部材の前記溝部に前記校正用試験片が挿入されている状態で、前記拡径部の外周を締め付ける固定部材が備えられていることを特徴とする請求項８から請求項１３のいずれかに記載の校正用治具。
【請求項１５】
請求項１から請求項７のいずれかに記載の校正方法によって校正された管検査装置を用いて管の検査を行う管検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、校正方法、校正用治具および管検査方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
加圧水型原子力発電プラントの蒸気発生器、予熱除去冷却器、使用済み燃料ピット冷却器等、あるいはボイラ等の熱交換器には、たとえば、Ｕ字形に曲げられた曲部を有する伝熱管が多数備えられている。たとえば、蒸気発生器には数千本の伝熱管が備えられている。
これらの伝熱管は、たとえば、蒸気発生器では内部を原子炉で加圧された高温の冷却材が流れ高温に加熱される。
【０００３】
原子力発電プラントでは、たとえば、蒸気発生器の伝熱管が破損すると、放射性物質が２次系に漏出することになるので、破損という事態に至らないようにする必要がある。このため、破損の要因となる管のキズ入りの有無について定期的に検査されている。
この検査は、曲折可能なケーブルの先端部分に、管の状況を検査するセンサの軸線中心位置を調整する調芯部材を備えた管検査装置を伝熱管の内部に挿入して行われる（特許文献１、特許文献２参照）。センサとしては超音波、渦電流を用いたものが用いられる。
【０００４】
ケーブルが挿入されるとセンサが管内部を移動し、センサが発信した信号に対する検出信号を受信する。この検出信号を評価することにより、管のキズの有無、形状等が検査される。
評価に先立ち、センサが管と略同径を持つ直管に所定形状のキズを形成した校正用試験片の内部に挿入され、このキズの検出信号が所定の振幅、または位相角になるように感度または位相角の調整を行う。言い換えれば、管検査装置は、校正用試験片によって位相や感度の校正が行なわれている。
【０００５】
数千本の伝熱管の検査を行うため、管検査時間が多くかかる。このため、たとえば、原子力分野ではこの校正は管を所定時間検査する都度、行われるように規定されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平１０−６２０９３号公報
【特許文献２】特開平１０−１４２２０２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ところで、Ｕ字形等に曲げられた曲部を有する伝熱管を検査する場合、曲部での通過性を向上させるために調芯部材の外径は管の内径よりも小さくされている。
このため、管と略同径を持つ直管である校正用試験片を用いて校正を行うと、校正用試験片の内径は調芯部材の外径よりも大きいので、校正用試験片の内部でセンサが揺動する。このようにセンサが揺動すると、検出信号が変動するので、基準データが不良となる可能性が高い。
たとえば、所定形状のキズとして校正用試験片の円周上に1箇所に設けられた貫通穴を用いるものでは、センサの偏りによって感度の変動が大きくなる。また、たとえば、周方向に複数のセンサを備えるマルチセンサ型の管検査装置では、センサの偏心によって均一な校正がおこなえない。
また、管検査装置は、通過性向上のために、センサ周辺にガイド玉等の種々の周辺機構を配置しているが、これらは校正用試験片の入り口で引っかかりやすい。センサがキズ部分を通過している時に、周辺機構が校正用試験片の入り口で引っかかると、センサが振れるので、検出信号が乱れることになる。
【０００８】
本発明は、このような事情に鑑み、校正用試験片内で、センサの軸線方向に交差する方向での移動および校正用試験片の軸線中心からの偏心量を抑制し、安定した校正を行える校正方法、校正用治具および管検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決するために、本発明は以下の手段を採用する。
すなわち、本発明の第一態様は、管の内部に挿入される曲折可能な線状部材と、該線状部材の軸線方向に間隔を空けて取り付けられた、前記管の状況を検査する検査部材および該検査部材の軸線中心位置を調整する調芯部材と、を有する管検査装置を、前記管の直線部分を模擬するとともに校正用信号源を有する校正用試験片の内部に挿入して前記校正用信号源の検出信号によって前記検査部材の校正を行う校正方法であって、前記管検査装置を挿入する前に、前記校正用試験片の内面に前記検出信号に影響を与えない材質で構成され、前記校正用試験片の内径および前記調芯部材の外径の差を調節する所定厚さの管状部材を装着する校正方法である。
【００１０】
本態様によると、校正用試験片の内面に所定厚さの管状部材が装着された後で、管検査装置が管状部材の内部に挿入されて校正が行われる。このように、校正用試験片の内面に所定厚さの管状部材が装着されるので、管状部材の内径と調芯部材の外径との差は、校正用試験片の内径と調芯部材の外径との差よりも小さくすることができる。このため、管検査装置が管状部材の内部を軸線方向に移動する際に、検査部材が校正用試験片の軸線方向に交差する方向（以下、「横断面内」ということもある。）での移動量および校正用試験片の軸線中心からの偏心量を抑制することができる。
また、管状部材は検査部材の検出信号に影響を与えない材質で構成されているので、検査部材の検出信号の外乱とならない。
したがって、安定した校正を行うことができる。
【００１１】
なお、渦電流を用いる検査部材の場合、管状部材としては、たとえば、非金属の不伝導体が用いられる。
管状部材の厚さは、管状部材の外径が、校正用試験片の内径と略等しく、内径が調芯部材の外径と略等しくなる厚さとするのが、検査部材の横断面内における移動および偏心がほぼ無くなるので、好ましい。
管状部材は、校正用試験片への挿入時、外周面が校正用試験片の内周面と摺動し、校正作業中には、内周面が調芯部材等と摺動するので、摩擦係数が低い材料で形成することが好ましい。
【００１２】
上記態様では、前記管状部材の長さは、前記校正用試験片の長さよりも長くされていてもよい。
【００１３】
このようにすると、管検査装置は、確実に管状部材の内部のみを移動することになる。たとえば、校正用試験片から管状部材に移動する際の径変動による影響を排除することができる。
【００１４】
上記態様では、前記管状部材の長さは、前記検査部材が前記校正用信号源の近傍に位置している際、前記検査部材および前記線状部材の前後の前記線状部材に取り付けられた周辺機構が収容される大きさとされていることが好ましい。
【００１５】
管検査装置は、曲部での通過性向上のために、検査部材の周辺である前後にガイド玉等の種々の周辺機構が取り付けられているものがある。
管状部材の長さは、検査部材が校正用信号源の近傍に位置している際、検査部材および線状部材の前後の線状部材に取り付けられた周辺機構が収容される大きさとされているので、検査部材が校正用信号源の近傍に位置している際、周辺機構は全て管状部材の内部に位置していることになる。
したがって、検査部材が校正用信号源の近傍を通過する際、周辺機構が管状部材の入口に引っかかって検査部材が振れるのを防止できるので、校正作業時の検出信号の乱れを防止することができる。
【００１６】
上記態様では、前記管状部材は、軸方向に全通した切欠部が備えられている構成としてもよい。
【００１７】
このようにすると、たとえば、外周側から力を加えることよって、切欠部の幅を調整することができる。切欠部の幅を調整すると、管状部材の周長、すなわち、外径を調整することができる。これにより、管状部材は、厚さを設定するだけで、外径の寸法精度に気を付ける必要を少なくできる。
したがって、管状部材の外径を小さくした状態で校正用試験片の内部に挿入することができるので、挿入作業を容易に行うことができる。
たとえば、通常状態で管状部材は、その外径が校正用試験片の内径よりも大きくなるようにしておけば、管状部材は校正用試験片に確実に固定した状態で装着することができる。
【００１８】
上記構成では、前記管状部材は、外周面に凹部が形成されていてもよい。
【００１９】
校正用信号源として、校正用試験片の内周面から内側に向けて突起しているものがある。管状部材の径を縮小させて校正用試験片に挿入し、凹部がこの校正用信号源に一致する位置で元に戻すと、校正用信号源が凹部に収まるので、管状部材を校正用試験片に装着することができる。
【００２０】
上記態様では、前記管状部材は、軸線方向に複数に分割されていてもよい。
【００２１】
このようにすると、たとえば、校正用試験片の内周面から内側に向けて突起している校正用信号源の突起量が管状部材の厚さよりも大きい場合にも、校正用試験片の両側からそれぞれ分割された管状部材を挿入することで校正用信号源の両側をカバーするように管状部材を装着することができる。
【００２２】
上記態様では、前記管状部材の一端部には、前記校正用試験片の外径よりも大きな外径の拡径部が備えられ、該拡径部の他端側に前記校正用試験片が挿入される溝部が形成されており、前記管状部材は、他端側から前記校正用試験片に挿入され、前記溝部が前記校正用試験片を受け入れている状態で、前記拡径部の外周を固定部材によって締め付けられて装着されるようにしてもよい。
【００２３】
このようにすると、管状部材は校正用試験片に固定した状態で取り付けられることになる。管状部材の抜け落ちが許容されない環境であっても管検査装置の校正を行うことができる。
【００２４】
本発明の第二態様は、管の内部に挿入される曲折可能な線状部材と、該線状部材の軸線方向に間隔を空けて取り付けられた、前記管の状況を検査する検査部材および該検査部材の軸線中心位置を調整する調芯部材と、を有する管検査装置の校正を行う校正方法に用いられる校正用治具であって、前記管の直線部分を模擬するとともに校正用信号源を有する校正用試験片と、該校正用試験片の内面に装着され、前記検査部材における前記校正用信号源の検出信号に影響を与えない材質で構成され、前記校正用試験片の内径および前記調芯部材の外径の差を調節する所定厚さの管状部材と、が備えられている校正用治具である。
【００２５】
本態様によると、校正用試験片の内面に所定厚さの管状部材が装着された後で、管検査装置が管状部材の内部に挿入されて校正が行われる。このように、校正用試験片の内面に所定厚さの管状部材が装着されるので、管状部材の内径と調芯部材の外径との差は、校正用試験片の内径と調芯部材の外径との差よりも小さくすることができる。このため、管検査装置が管状部材の内部を軸線方向に移動する際に、検査部材が校正用試験片の軸線方向に交差する方向での移動量および校正用試験片の軸線中心からの偏心量を抑制することができる。
また、管状部材は検査部材の検出信号に影響を与えない材質で構成されているので、検査部材の検出信号の外乱とならない。
したがって、安定した校正を行うことができる。
【００２６】
なお、渦電流を用いる検査部材の場合、管状部材としては、たとえば、非金属の不伝導体が用いられる。
管状部材の厚さは、管状部材の外径が、校正用試験片の内径と略等しく、内径が調芯部材の外径と略等しくなる厚さとするのが、検査部材の横断面内における移動および偏心がほぼ無くなるので、好ましい。
管状部材は、校正用試験片への挿入時、外周面が校正用試験片の内周面と摺動し、校正作業中には、内周面が調芯部材等と摺動するので、摩擦係数が低い材料で形成することが好ましい。
【００２７】
上記態様では、前記管状部材の長さは、前記校正用試験片の長さよりも長くされていてもよい。
【００２８】
このようにすると、管検査装置は、確実に管状部材の内部のみを移動することになる。たとえば、校正用試験片から管状部材に移動する際の径変動による影響を排除することができる。
【００２９】
上記態様では、前記管状部材の長さは、前記検査部材が前記校正用信号源の近傍に位置している際、前記検査部材および前記線状部材の前後の前記線状部材に取り付けられた周辺機構が収容される大きさとされていてもよい。
【００３０】
管検査装置は、曲部での通過性向上のために、検査部材の周辺である前後にガイド玉等の種々の周辺機構が取り付けられているものがある。
管状部材の長さは、検査部材が校正用信号源の近傍に位置している際、検査部材および線状部材の前後の線状部材に取り付けられた周辺機構が収容される大きさとされているので、検査部材が校正用信号源の近傍に位置している際、周辺機構は全て管状部材の内部に位置していることになる。
したがって、検査部材が校正用信号源の近傍を通過する際、周辺機構が管状部材の入口に引っかかって検査部材が振れるのを防止できるので、校正作業時の検出信号の乱れを防止することができる。
【００３１】
上記態様では、前記管状部材は、軸方向に全通した切欠部が備えられている構成としてもよい。
【００３２】
このようにすると、たとえば、外周側から力を加えることよって、切欠部の幅を調整することができる。切欠部の幅を調整すると、管状部材の周長、すなわち、外径を調整することができる。これにより、管状部材は、厚さを設定するだけで、外径の寸法精度に気を付ける必要を少なくできる。
したがって、管状部材の外径を小さくした状態で校正用試験片の内部に挿入することができるので、挿入作業を容易に行うことができる。
たとえば、通常状態で管状部材は、その外径が校正用試験片の内径よりも大きくなるようにしておけば、管状部材は校正用試験片に確実に固定した状態で装着することができる。
【００３３】
上記構成では、前記管状部材は、外周面に凹部が形成されていてもよい。
【００３４】
校正用信号源として、校正用試験片の内周面から内側に向けて突起しているものがある。管状部材の径を縮小させて校正用試験片に挿入し、凹部がこの校正用信号源に一致する位置で元に戻すと、校正用信号源が凹部に収まるので、管状部材を校正用試験片に装着することができる。
【００３５】
上記態様では、前記管状部材は、軸線方向に複数に分割されていてもよい。
【００３６】
このようにすると、たとえば、校正用試験片の内周面から内側に向けて突起している校正用信号源の突起量が管状部材の厚さよりも大きい場合にも、校正用試験片の両側からそれぞれ分割された管状部材を挿入することで校正用信号源の両側をカバーするように管状部材を装着することができる。
【００３７】
上記態様では、前記管状部材の一端部には、前記校正用試験片の外径よりも大きな外径の拡径部が備えられ、該拡径部の他端側に前記校正用試験片が挿入される溝部が形成され、前記管状部材の前記溝部に前記校正用試験片が挿入されている状態で、前記拡径部の外周を締め付ける固定部材が備えられていてもよい。
【００３８】
このようにすると、管状部材は校正用試験片に固定した状態で取り付けられることになる。管状部材の抜け落ちが許容されない環境であっても管検査装置の校正を行うことができる。
【００３９】
本発明の第三態様は、上述の校正方法によって校正された管検査装置を用いて管の検査を行う管検査方法である。
【００４０】
このようにすると、適正に校正が行われた管検査装置を用いて管を検査することができる。
【発明の効果】
【００４１】
本発明によれば、校正用試験片の内面に所定厚さの管状部材が装着された後で、管検査装置が管状部材の内部に挿入されて校正が行われるので、安定した校正を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】本発明の第一実施形態にかかる校正方法で校正される管検査装置の構成を示す側面図である。
【図２】図１の管検査装置の校正を行う校正用治具を示す斜視図である。
【図３】校正作業中における校正用治具の縦断面である。
【図４】本発明の第二実施形態にかかる校正方法の校正作業中における校正用治具の縦断面図である。
【図５】本発明の第三実施形態にかかる校正用治具を示す斜視図である。
【図６】本発明の第四実施形態にかかる校正用治具の校正用試験片を示す斜視図である。
【図７】本発明の第四実施形態にかかる校正用治具の管状部材を示す斜視図である。
【図８】本発明の第四実施形態にかかる校正用治具の組立中の状態を示す縦断面図である。
【図９】本発明の第四実施形態にかかる校正方法の校正作業中における校正用治具の縦断面図である。
【図１０】本発明の第五実施形態にかかる校正用治具の組立中の状態を示す縦断面図である。
【図１１】本発明の第五実施形態にかかる校正方法の校正作業中における校正用治具の縦断面図である。
【図１２】本発明の第六実施形態にかかる校正用治具の組立中の状態を示す縦断面図である。
【図１３】本発明の第六実施形態にかかる校正方法の校正作業中における校正用治具の縦断面図である。
【図１４】本発明の第六実施形態にかかる校正用治具を示す斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００４３】
以下、本発明の実施形態を、添付図面を用いて詳細に説明する。
［第一実施形態］
以下、本発明の第一実施例にかかる校正方法について図１〜図３を参照して説明する。
図１は、本発明の第一実施形態にかかる校正方法で校正される管検査装置１の構成を示す側面図である。図２は、図１の管検査装置１の校正を行う校正用治具３を示す斜視図である。図３は、校正作業中における校正用治具３の縦断面である。
【００４４】
管検査装置１は、たとえば、Ｕ字形に曲げられた曲部を有する伝熱管（管）の状況を渦電流によって検査するものである。
管検査装置１には、伝熱管に沿って挿入されるケーブル（線状部材）５と、ケーブル５の先端に取り付けられた先端ガイド７と、ケーブル５に取り付けられたセンサ（検査部材）９と、センサ９の前後に取り付けられたスタビライザ（調芯部材、周辺機構）１１と、スタビライザ１１の前後に間隔を空けて複数取り付けられたガイド玉（周辺機構）１３と、が備えられている。
【００４５】
ケーブル５は、可撓性を有し、曲折可能である。センサ９は、磁界を発生させるコイルを備えている。
スタビライザ１１は、外周部が伝熱管の内周面に案内されることによって伝熱管内でのケーブル５、すなわち、センサ９の軸線中心位置を調整するものである。
ガイド玉１３は、略球形状をし、ケーブル５に回転可能に取り付けられている。ガイド玉１３は、ケーブル５が曲部を通過しやすくする通過支援機構である。通過支援機構としては、ガイド玉１３に限定されず、種々の機構が用いられる。
【００４６】
校正用治具３には、校正用試験片１５と、管状部材１７と、が備えられている。
校正用試験片１５は、伝熱管の直線部分を模擬するものであり、円筒形状をしている。校正用試験片１５は、検査対象となる伝熱管と同じ材料、たとえば、オーステナイト系ステンレス鋼で形成され、かつ、内外径が同じとされている。たとえば、校正用試験片１５の外径は、１９ｍｍ、内径は、略１６ｍｍとされている。校正用試験片１５の肉厚は略１．５ｍｍである。校正用試験片１５の長さは、仕様される環境に応じて制限されるが、３００〜８００ｍｍとされる。図２では、３００ｍｍとされている。
【００４７】
校正用試験片１５の軸方向略中間位置には、周方向における１箇所に校正用のキズを模擬する貫通孔（校正用信号源）１９が肉部を貫通するように備えられている。
【００４８】
管状部材１７は、円筒形状をし、その外径は、校正用試験片１５の内径と略同一、たとえば、略１６ｍｍとされている。管状部材１７の内径は、校正する管検査装置１のスタビライザ１１の外径と略同一、たとえば、略１４ｍｍとされている。したがって、管状部材１７の肉厚（厚さ）は、伝熱管の内径と、スタビライザ１１の外径との差の１／２である略１ｍｍとされている。
管状部材１７の長さは、校正用試験片１５と略同じである３００ｍｍとされている。
管状部材１７は、渦電流に影響を与えない材質である樹脂、たとえば、ポリテトラフルオロエチレンで形成されている。ポリテトラフルオロエチレンは、摩擦係数が低い材料である。
【００４９】
この校正用治具３を用いた管検査装置１の校正方法について説明する。この校正では、管検査装置１が校正用試験片１５の貫通孔１９を検出し、その検出信号が所定の振幅、または位相角になるように感度または位相角の調整を行う。
校正用試験片１５の内面に管状部材１７を挿入して、校正用治具３を完成させる。この作業は、管検査装置１の校正作業の前であればいつでもよく、校正作業の直前であっても、校正用試験片１５が製造された時点であっても、この間の任意の時点であってもよい。
管状部材１７は摩擦係数が低い材料で形成されているので、校正用試験片１５の内面に管状部材１７を挿入する作業は、校正用試験片１５の内面と管状部材１７の外面の摩擦抵抗が少なく、容易に行うことができる。
【００５０】
校正用治具３が整うと、管検査装置１の校正作業に入る。すなわち、管検査装置１が管状部材１７の内部に挿入されて校正が行われる。
センサ９のコイルに電流が流され、磁界が形成された状態で、管検査装置１を管状部材１７の内部に挿入する。センサ９が挿入されると、校正用試験片１５に渦電流が励起される。センサ９が貫通孔１９の位置を通過すると、渦電流が貫通孔１９の影響を受けて変化する。その変化に応じてその渦電流に依存する磁界も変化するので、磁界の変化に伴い変化するコイルの誘起電力の変化を検出信号として検出する。
【００５１】
このとき、スタビライザ１１は、その外周部が、管状部材１７の内周面に接触した状態で移動するので、センサ９は、その軸線中心が校正用試験片１５の軸線中心と略同位置を維持した状態で移動することになる。言い換えると、管検査装置１は、スタビライザ１１が管状部材１７の内面に案内されて軸線方向に移動する。
したがって、センサ９は、軸線方向に交差する方向で移動することもないし、校正用試験片１５の軸線中心から偏心した位置に位置することもないので、センサ１１から校正用試験片１５の内周面までの距離を一定とすることができる。
【００５２】
また、管状部材１７は不伝導体材料で形成されているので、渦電流を変化させることはない。言い換えれば、管状部材１７は、センサ９の検出信号の外乱とならない。
したがって、安定した校正を行うことができる。
なお、センサ９のコイルに供給する電流は、時分割で周波数を変化させ、複数の周波数に対応する検出信号を取得する。
貫通孔１９の大きさは所定の大きさとされているので、この検出信号は、実際のキズの大きさを判定する時の、基準信号として用いることができる。
【００５３】
管状部材１７は摩擦係数が低い材料で形成されているので、管状部材１７の内面に沿ってスタビライザ１１が移動する際の摩擦抵抗は小さくなる。このため、管検査装置１は、管状部材１７の内部を滑らかに移動することができる。
【００５４】
このようにして校正された管検査装置１を用いて伝熱管の検査が行われる。検査される伝熱管は、たとえば、数千本あるため、管の検査には時間が多くかかる。このため、たとえば、原子力分野ではこの校正は管を所定時間検査する都度、行われるように規定されているので、所定時間、たとえば、２時間の管検査が行われると、再度上述の手順で、管検査装置１の校正が行われる。
【００５５】
なお、本実施形態では、管状部材１７の内径とスタビライザ１１の外径とが略同一寸法とされているが、これに限定されない。すなわち、安定した検出信号が得られる範囲であれば、管状部材１７とスタビライザ１１との間に小さな隙間が存在してもよい。
【００５６】
［第二実施形態］
次に、本発明の第二実施形態にかかる校正方法について、図４を用いて説明する。
本実施形態は、管状部材１７の構成が第一実施形態のものと異なるので、ここではこの異なる部分について主として説明し、前述した第一実施形態のものと同じ部分については重複した説明を省略する。
なお、第一実施形態と同じ部材には同じ符号を付している。
【００５７】
図４は、本実施形態にかかる校正方法の校正作業中における校正用治具３の縦断面図である。
本実施形態では、管状部材１７は、その長さが校正用試験片１５の長さよりも長くされている。管状部材１７の長さは、図４に示されているように、センサ９が貫通孔１９の位置にあるとき、全てのガイド玉１３が管状部材１７の内部に位置する程度の長さとされている。
【００５８】
このように管状部材１７が、校正用試験片１５よりも長くすると、管検査装置は、確実に管状部材１７の内部のみを移動し、校正用試験片１５に接触することがなくなる。
このため、たとえば、管検査装置１が校正用試験片１５から管状部材１７に移動する際の径変動による影響を排除することができる。
【００５９】
また、スタビライザ１１およびガイド玉１３は、ケーブル５から径方向に突出しているので、管状部材１７に挿入する際、端部に引っかかり易い。
本実施形態では、管状部材１７の長さは、センサ９が貫通孔１９の位置にあるとき、全てのガイド玉１３が管状部材１７の内部に位置する程度の長さとされているので、センサ９が貫通孔１９の近傍に位置している際、ケーブル５から径方向に突出しているスタビライザ１１およびガイド玉１３は全て管状部材１７の内部に位置していることになる。
【００６０】
したがって、センサ９が貫通孔１９の近傍を通過する際、スタビライザ１１およびガイド玉１３が管状部材１７の入口に引っかかることがないので、この衝突に伴う衝撃によってセンサ９が振れるのを防止することができる。これにより、校正作業時の検出信号の乱れを防止することができ、安定した校正を行うことができる。
なお、校正作業および管検査作業については、第一実施形態と同様であるので、ここでは重複した説明を省略する。
【００６１】
［第三実施形態］
次に、本発明の第三実施形態にかかる校正方法について、図５を用いて説明する。
本実施形態は、管状部材１７の構成が第二実施形態のものと異なるので、ここではこの異なる部分について主として説明し、前述した実施形態のものと同じ部分については重複した説明を省略する。
なお、上述の実施形態と同じ部材には同じ符号を付している。
【００６２】
図５は、本実施形態にかかる校正用治具を示す斜視図である。
本実施形態では、管状部材１７に、全長に亘って（全通するように）軸線方向に延在するように、一定の幅を有する貫通スリット（切欠部）２１が形成されている。管状部材１７の外径は、校正用試験片１５の内径よりも少し大きくされている。
【００６３】
このように、貫通スリット２１が設けられていると、管状部材１７に外周側から力を加え、弾性変形させることよって、貫通スリット２１の幅を調整することができるので、管状部材１７の周長、すなわち、外径を調整することができる。
管状部材１７を校正用試験片１５に装着する場合、管状部材１７の外径を小さくした状態で校正用試験片１５の内部に挿入できるので、管状部材１７の挿入作業を容易に行うことができる。
【００６４】
管状部材１７が所定位置に挿入された後、管状部材１７に作用させた外力を取り除くと、管状部材１７は弾性力によって拡径するので、外径が校正用試験片１５の内径よりも大きい管状部材１７は校正用試験片１５に確実に固定した状態で装着することができる。
これにより、管状部材１７は、厚さを設定するだけで、外径の寸法精度に気を付ける必要を少なくできる。
【００６５】
本実施形態では、貫通スリット２１は軸線方向に延在するように設けられているので、校正作業時に内部を摺動するスタビライザ１１の移動方向と一致している。このため、貫通スリット２１がスタビライザ１１の移動に影響することを小さくすることができる。
校正作業および管検査作業については、第一実施形態と同様であるので、ここでは重複した説明を省略する。
【００６６】
なお、本実施形態では、切欠部としての貫通スリット２１が軸線方向に延在するように設けられているが、切欠部としては管状部材１７の径を調整できればよいので、軸線方向に一致させる必要はなく、軸線方向に進むにつれて周方向位置が異なるようにしてもよい。
【００６７】
［第四実施形態］
次に、本発明の第四実施形態にかかる校正方法について、図６〜図９を用いて説明する。
本実施形態は、校正用治具３の構成が第三実施形態のものと異なるので、ここではこの異なる部分について主として説明し、前述した実施形態のものと同じ部分については重複した説明を省略する。
なお、上述の実施形態と同じ部材には同じ符号を付している。
【００６８】
図６は、本実施形態にかかる校正用治具３の校正用試験片１５を示す斜視図である。図７は、本実施形態にかかる校正用治具３の管状部材１７を示す斜視図である。図８は、本実施形態にかかる校正用治具３の組立中の状態を示す縦断面図である。図９は、本実施形態にかかる校正方法の校正作業中における校正用治具３の縦断面図である。
【００６９】
本実施形態の校正用試験片１５には、図６および図８、図９に示されるように、校正用試験片１５の軸方向略中間位置における内面に、全周に亘り周方向に延在する突起部（校正用信号源）２３が設けられている。突起部２３は、校正用試験片１５の外周側から変形させて形成するため、校正用試験片１５の外周側は突起部２３に対応する部分が凹んでいる。全周変形は、渦電流の校正基準として一般的であり、突起部２３はこの全周変形を模擬するものである。
【００７０】
管状部材１７には、図７および図８、図９に示されるように、外周面に、全周に亘り周方向に延在する凹部２５が設けられている。凹部２５は、略矩形断面とされ、深さは突起部２３の高さ（校正用試験片１５の内面から突起部２３の先端部までの距離）と同等以上とされ、軸方向長さは、突起部２３の軸方向長さと同等以上とされている。言い換えれば、凹部２５は突起部を完全に収容できる大きさとされている。
【００７１】
管状部材１７を校正用試験片１５に装着する場合、貫通スリット２１を用いて管状部材１７を弾性変形させ、管状部材１７の外径を突起部２３の先端部の径よりも小さくする。この状態で管状部材１７を校正用試験片１５の内部に挿入する（図８参照）。凹部２５が突起部２３の位置に至ったところで管状部材１７に作用させている外力を除き、管状部材１７を弾性力によって拡径させる。たとえば、一例として管状部材１７の外周面に、凹部２５が突起部２３に至ったときの校正用試験片１５の端部の位置に対応する位置に印を付けてく。
このように管状部材１７を拡径すると、突起部２３が凹部２５に収容されるので、管状部材１７を校正用試験片１５に装着することができる（図９参照）。
【００７２】
校正作業および管検査作業については、第一実施形態と同様であるので、ここでは重複した説明を省略する。
【００７３】
［第五実施形態］
次に、本発明の第五実施形態にかかる校正方法について、図１０および図１１を用いて説明する。
本実施形態は、校正用治具３の構成が第二実施形態のものと異なるので、ここではこの異なる部分について主として説明し、前述した実施形態のものと同じ部分については重複した説明を省略する。
なお、上述の実施形態と同じ部材には同じ符号を付している。
【００７４】
図１０は、本実施形態にかかる校正用治具の組立中の状態を示す縦断面図である。図１１は、本実施形態にかかる校正方法の校正作業中における校正用治具の縦断面図である。
本実施形態の校正用試験片１５には、第四実施形態と同様に突起部２３が備えられている。突起部２３の高さは、管状部材１７（１７Ａ，１７Ｂ）の厚さと同等以上の大きさとされている。
管状部材１７は軸線方向で２つに分割され、２つの管状部材１７Ａ，１７Ｂとされている。
【００７５】
このように２つの管状部材１７Ａ，１７Ｂが備えられているので、たとえ、突起部の高さが管状部材１７Ａ，１７Ｂの厚さと同等以上の大きさであっても、管状部材１７Ａ，１７Ｂを図１０に示されるように校正用試験片１５の両側から挿入することによって突起部２３の両側をカバーするように管状部材１７Ａ，１７Ｂを装着することができる。
この場合、管状部材１７Ａ，１７Ｂの端部と突起部２３との隙間は、スタビライザ１１およびガイド玉１３が落ち込まない程度の大きさにしておくことが望ましい。
【００７６】
校正作業および管検査作業については、第一実施形態と同様であるので、ここでは重複した説明を省略する。
【００７７】
［第六実施形態］
次に、本発明の第六実施形態にかかる校正方法について、図１２〜図１４を用いて説明する。
本実施形態は、管状部材１７の構成が第二実施形態のものと異なるので、ここではこの異なる部分について主として説明し、前述した実施形態のものと同じ部分については重複した説明を省略する。
なお、上述の実施形態と同じ部材には同じ符号を付している。
【００７８】
図１２は、本実施形態にかかる校正用治具３の組立中の状態を示す縦断面図である。図１３は、本実施形態にかかる校正方法の校正作業中における校正用治具３の縦断面図である。図１４は、本実施形態にかかる校正用治具３を示す斜視図である。
本実施形態では、管状部材１７の一端部に、校正用試験片１５の外径よりも大きな外径の拡径部２７が備えられている。
拡径部２７には、拡径部２７の他端側に開口した校正用試験片１５が挿入される形状の溝２９が全周に亘って設けられている。
【００７９】
この管状部材１７は、図１２に示されるように、拡径部２７が後部になるようにして校正用試験片１５に挿入される。管状部材１７は、図１３に示されるように溝２９が校正用試験片１５の端部を受け入れるまで校正用試験片１５の内部に挿入される。この状態で、拡径部２７の外周をバンド部材（固定部材）３１によって締め付ける。
これにより、管状部材１７は校正用試験片１５に固定した状態で取り付けられることになる。
【００８０】
校正作業および管検査作業については、第一実施形態と同様であるので、ここでは重複した説明を省略する。
このように、管状部材１７は校正用試験片１５に固定した状態で取り付けられるので、管状部材１７と校正用試験片１５とが分離することはなく、管状部材１５の抜け落ちが許容されない環境であっても管検査装置１の校正を行うことができる。
【００８１】
なお、本発明は以上説明した各実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の変形を行ってもよい。
【符号の説明】
【００８２】
１  管検査装置
３  校正用治具
５  ケーブル
９  センサ
１１  スタビライザ
１３  ガイド玉
１５  校正用試験片
１７（１７Ａ，１７Ｂ）  管状部材
１９  貫通孔
２１  貫通スリット
２３  突起部
２５  凹部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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