(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
回転する記録媒体表面で浮上する浮上スライダと、
上記浮上スライダの浮上に必要な荷重を印加するサスペンションと、
上記浮上スライダと接合され、情報記録時に上記記録媒体を加熱するための光源と、
上記光源への注入電流を制御する光源制御部とを備える情報記録ヘッドにおいて、
上記光源が半導体レーザーダイオードであり、
上記光源制御部が、
上記光源の抵抗値を測定する光源抵抗値測定手段と、
上記光源の抵抗値と上記光源の温度との関係を記憶する第１記憶手段と、
上記第１記憶手段に記憶された上記関係に基づいて、上記光源抵抗値測定手段による測定によって得られた上記抵抗値から上記光源の温度を算出する温度算出手段とを有しており、
上記光源抵抗値測定手段が、上記半導体レーザーダイオードのレーザー発振閾値未満の電流値で抵抗値を測定することを特徴とする情報記録ヘッド。
【請求項２】
上記光源抵抗値測定手段が、上記光源をパルス駆動する際にバイアスとして印加するバイアス電流により、上記光源の抵抗値を測定することを特徴とする請求項１に記載の情報記録ヘッド。
【請求項３】
上記光源制御部が、
上記光源の温度と所定光出力が得られるときの上記光源への注入電流量との関係を記憶する第２記憶手段をさらに有しており、
前記第２記憶手段に記憶された上記関係及び上記温度算出手段により算出された温度に基づいて、上記光源から上記所定光出力が得られるように上記注入電流を調整することを特徴とする請求項１又は２に記載の情報記録ヘッド。
【請求項４】
上記温度算出手段により算出された上記光源の温度が予め定められた一定値を超えた際、上記光源の温度が一定値を下回るまで、上記光源制御部が上記光源の使用を停止することを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の情報記録ヘッド。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれか１項に記載の情報記録ヘッドと、
上記情報記録ヘッドによって情報が記録される記録媒体と、
上記記録媒体を回転させる駆動機構とを備えていることを特徴とする情報記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、情報記録ヘッドおよび情報記録装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、ストレージデバイスのさらなる高記録密度化を目指して、光の回折限界を超える微小な光スポットを形成可能な近接場光を利用した記録方式が検討されている。近接場光記録では、近接場光を利用して、光記録媒体の微小領域を加熱し、情報を書き込むことが可能なため、従来の光記録よりも高い記録密度を実現可能である。また、近接場アシスト磁気記録では、近接場光により一時的に磁気記録媒体を加熱して保磁力を低下させた後、磁界により情報を記録するため、従来の磁気記録媒体よりも高い保磁力を持ち、高記録密度を実現可能な磁気記録媒体を採用することができる。これら近接場光を利用した記録方式では、高い効率で近接場光を発生させ、近接場光を記録媒体に可能な限り近づける必要がある。そのためには、近接場光を発生するための光源を、記録媒体上をｎｍオーダーで浮上する浮上スライダに搭載した情報記録ヘッドを採用することが好ましい。
【０００３】
ところが、一般的に光源となるデバイスは光と同時に熱を発生し、しかも熱によって光出力低下や短寿命化といった問題が発生する。さらに、浮上スライダを構成する部材は、一般的に熱伝導性が高くなく、光源に熱がたまりやすい。そのため、光源を浮上スライダに搭載した情報記録ヘッドでは、光源の温度を測定し、その測定値に応じて動作電流の最適化や使用の停止といった動作を行うことが重要である。
【０００４】
例えば特許文献１では、光源の近傍に温度センサを設置し、温度センサから得られた温度情報に基づいて光出力の制御を行っている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００９−４３３７７
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１の技術では、温度センサを設置するために、情報記録ヘッドの構造が複雑化し且つ製造が煩雑となるという問題がある。特に、微小な領域の温度測定に使用される測温抵抗体には高価なＰｔを使用するため、材料コスト増につながる。また、微細な温度センサを形成するためには、リソグラフィに代表される微細加工プロセスが必要であり、製造が煩雑となる。また、温度センサとの接続のために、電極および配線を一組増やす必要があり、ヘッド部分のみならず、配線を備えるサスペンションの構造も複雑なものとなる。
【０００７】
さらに、特許文献１の技術では、光源の温度を温度センサを介して測定しているため、温度センサを介して間接的にしか光源の温度を評価することができない。そのため、光源の温度変化が温度センサに伝わるまでにタイムラグが生じ、光源出力制御等へのフィードバックに遅れが生じる。
【０００８】
本発明の目的は、構造が複雑でなく且つ製造しやすい、光源の温度をタイムラグなしに測定可能な情報記録ヘッドおよびこれを備えた情報記録装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の情報記録ヘッドは、回転する記録媒体表面で浮上する浮上スライダと、上記浮上スライダの浮上に必要な荷重を印加するサスペンションと、上記浮上スライダと接合され、情報記録時に上記記録媒体を加熱するための光源と、上記光源への注入電流を制御する光源制御部とを備える情報記録ヘッドにおいて、上記光源制御部が、上記光源の抵抗値を測定する光源抵抗値測定手段と、上記光源の抵抗値と上記光源の温度との関係を記憶する第１記憶手段と、上記第１記憶手段に記憶された上記関係に基づいて、上記光源抵抗値測定手段による測定によって得られた上記抵抗値から上記光源の温度を算出する温度算出手段とを有している。
【００１１】
上記構成によると、光源の抵抗値から光源の温度を算出できるので、温度センサを設置する必要がなくなる。そのため、構造が複雑でなく且つ製造しやすい情報記録ヘッドが得られる。また、光源の抵抗値から光源の温度をリアルタイムで算出できるので、温度測定にタイムラグがなく精度の高い測定結果が得られる。
【００１２】
上記光源は半導体レーザーダイオードである。
【００１３】
上記構成によると、小型かつ高出力のレーザー光を照射可能な半導体レーザーダイオードを光源として使用することで、情報記録ヘッドに比較的自由な配置で搭載できるとともに、記録媒体の加熱を十分かつ効率的に行うことができる。
【００１４】
上記光源抵抗値測定手段が、上記半導体レーザーダイオードのレーザー発振閾値未満の電流値で抵抗値を測定する。
【００１５】
上記構成によると、光源制御部が抵抗値を測定する際に、半導体レーザーダイオードがレーザー発振し、記録媒体が過熱され、データが消失するといった誤動作を防止することができる。また、抵抗値を測定する際の電流による半導体レーザーダイオードの加熱を抑えることができる。
【００１６】
上記光源抵抗値測定手段が、上記光源をパルス駆動する際にバイアスとして印加するバイアス電流により、上記光源の抵抗値を測定してよい。
【００１７】
上記構成によると、光源のパルス応答性を向上させるバイアスとして常に印加されるバイアス電流により、光源抵抗値測定手段が抵抗値を測定するため、記録動作を阻害することなく、光源の温度を算出することができる。また、記録媒体を加熱し記録を行うためのパルスを発信する直前まで、バイアス電流により抵抗値を測定し、光源の温度を測定することができるため、１パルス毎に光源の温度を算出して、光源の制御にフィードバックすることができる。
【００２０】
上記光源制御部が、上記光源の温度と所定光出力が得られるときの上記光源への注入電流量との関係を記憶する第２記憶手段をさらに有しており、前記第２記憶手段に記憶された上記関係及び上記温度算出手段により算出された温度に基づいて、上記光源から上記所定光出力が得られるように上記注入電流を調整することが好ましい。
【００２１】
上記構成によると、温度算出手段により算出される温度に基づき注入電流を調整することで、温度に依存して変化する光源の光出力を所定の光出力に保つことが可能となる。
【００２２】
上記温度算出手段により算出された上記光源の温度が予め定められた一定値を超えた際、上記光源の温度が一定値を下回るまで、上記光源制御部が上記光源の使用を停止することが好ましい。
【００２３】
上記構成によると、光源の温度が予め定められた一定値を超えた場合、光源の使用を停止するため、温度の上昇による光源の短寿命化を抑えることができる。
【００２４】
本発明の情報記録ヘッドの製造時に、個々の情報記録ヘッドについて複数の温度において光源の抵抗値を測定することで得られた関係を第１記憶手段に記憶させることが好ましい。上記構成によると、温度と抵抗値の関係に個体差を持つ光源を使用した場合でも、高い精度での光源の温度算出が可能となる。
【００２５】
本発明の情報記録装置は、上述した情報記録ヘッドと、上記情報記録ヘッドによって情報が記録される記録媒体と、上記記録媒体を回転させる駆動機構とを備えている。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１】本発明の実施形態に係る情報記録ヘッドを含む情報記録装置の概略構成を示す斜視図である。
【図２】図１に描かれた情報記録ヘッドにおける光源の抵抗値と温度との関係の一例を示すグラフである。
【図３】図１に描かれた情報記録ヘッドにおける記録動作を示すフローチャートである。
【図４】抵抗値測定と記録媒体への情報記録とを短い周期で交互に行う場合において、光源への注入電流の３つのパターンを示すグラフである。
【図５】抵抗値測定と記録媒体への情報記録とを同時に行う場合において、光源への注入電流の２つのパターンを示すグラフである。
【図６】本発明の参考例に係る情報記録ヘッドを含む情報記録装置の概略構成を示す斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００３５】
〔第１実施形態〕
図１には、本発明の実施形態に係る情報記録ヘッド１０を含む情報記録装置１００が描かれている。情報記録装置１００は、情報記録ヘッド１０のほか、情報記録ヘッド１０によって情報が記録されるディスク状の記録媒体８０と、記録媒体８０を回転させる駆動機構９０とを有している。情報記録ヘッド１０は、光源２０、近接場光発生素子２１、光源用配線２２、浮上スライダ３０、サスペンション４０、光源制御部５０を含んでいる。
【００３６】
光源２０は、電流を注入することにより光を発生する素子である。本実施形態では、光源２０として半導体レーザーダイオードを用いているが、それ以外に例えばＬＥＤを使用することができる。半導体レーザーダイオードは、共振器を利用したレーザー発振により、高い効率で、高強度の光（レーザー光）を発生することができるため、記録媒体を加熱する光源に適している。半導体により構成されたレーザーダイオード及びＬＥＤは、一般的に、温度上昇に伴いキャリア密度が増加し、抵抗値が低下する。小型かつ高出力のレーザー光を照射可能な半導体レーザーダイオードを光源として使用することで、情報記録ヘッドに比較的自由な配置で搭載できるとともに、記録媒体の加熱を十分かつ効率的に行うことができる。なお、半導体レーザーダイオードなどの光源２０は、通常非常に小さく熱伝導性も高いので、光源２０の温度は光源内で均一であるとみなして、応用上問題ない。
【００３７】
図１では、浮上スライダ３０のトレーリング側の端面に光源２０が接合されているが、浮上スライダ３０とサスペンション４０との間など、別の場所に光源２０接合されていてもよい。また、浮上スライダ３０に直接光源２０が接合されている必要はなく、形状変化しない部材を介して、間接的に浮上スライダ３０と光源２０とが接合されていてもよい。
【００３８】
近接場光発生素子２１は、光源２０から照射される光を近接場光に変換する素子である。本実施形態では、一般的な微小開口や微小金属片が使用されている。
【００３９】
光源用配線２２は、光源２０と光源制御部５０とを電気的に接続する配線である。本実施形態では、サスペンション４０に備え付けられたフレキシブル配線が用いられている。
【００４０】
浮上スライダ３０は、適切な荷重が与えられることで、回転する記録媒体上を数ｎｍから数１０ｎｍの高さで浮上する部材である。本実施形態において、浮上スライダ３０は、一般的に、ＡｌＴｉＣにより構成されている。浮上スライダ３０の記録媒体側の面（ＡＢＳ面）には、微細なパターンが形成されている。このパターンにより、回転する記録媒体上で浮上するための浮力が浮上スライダ３０に発生する。
【００４１】
サスペンション４０は、浮上スライダ３０に適切な荷重を与えるための部材である。本実施形態において、サスペンション４０は、ステンレスにより形成された板ばねである。
【００４２】
光源制御部５０は、光源２０に注入する電流及びパルスを制御する部材である。光源制御部５０を構成する部材としては、たとえば、ＩＣチップ、ＬＳＩチップを使用することができる。なお、図１では、光源制御部５０とサスペンション４０とを分けて描写しているが、光源制御部５０をサスペンション４０に搭載することも可能である。また、光源制御部５０は、配線で接続された複数のＩＣチップ、あるいはＬＳＩチップにより構成されていてもよい。
【００４３】
光源制御部５０は、光源抵抗値測定部５０ａと、第１記憶部５０ｂと、温度算出部５０ｃと、第２記憶部５０ｄとを有している。光源抵抗値測定部５０ａは、光源２０の抵抗値を測定する。第１記憶部５０ｂは、光源２０の抵抗値と光源２０の温度との関係を予め記憶している。
【００４４】
図２は、第１記憶部５０ｂに記憶された光源２０の抵抗値と光源２０の温度との関係の一例を示している。図２に示されている例においては、光源２０の温度が上昇するほど光源２０の抵抗値が低下する。つまり、両者は逆相関関係にある。具体的には、光源２０の抵抗値Ｒ１のときの光源２０の温度Ｔ１は、光源２０の抵抗値Ｒ２（＜Ｒ１）のときの光源２０の温度Ｔ２よりも低い。なお、第１記憶部５０ｂは、上記関係を、等式として記憶していてもよいし、光源２０の抵抗値と光源２０の温度とが複数ポイントにおいて対応付けられたテーブルとして記憶していてもよい。後者の場合、対応付けられたポイント以外では内挿法などの演算を行ってそれ以外のポイントでの光源２０の温度が算出される。
【００４５】
当該関係は、たとえば、複数の光源２０について抵抗値と温度の関係を調査した結果の平均値であってよい。また、当該関係は、情報記録ヘッド１０の製造時に第１記憶部５０ｂに記憶させればよい。好ましくは、情報記録ヘッド１０の組立てが終了したのち、組み立て終わった情報記録ヘッド１０について複数の温度における光源２０の抵抗値を測定し、光源２０の抵抗値と温度の関係として当該情報記録ヘッド１０の第１記憶部５０ｂに記憶させておけばよい。こうすることで、温度と抵抗値の関係に個体差を持つ光源２０を使用している場合でも、それぞれの個体に適切な抵抗値と温度の関係を記憶させておくことができる。
【００４６】
光源２０の抵抗値と光源２０の温度の関係は、特に限定されるものではないが、例えば以下のような測定を行うことによって得られる。なお、以下のいずれの測定手法も、光源と温度センサを完全に接触させるものではないが、ＣＡＮパッケージの温度、銅製の板の温度、もしくは恒温槽の温度がほぼＬＤの温度となるため、実用上の支障はない。
・ＣＡＮパッケージにレーザーダイオード（ＬＤ）を接合し、ペルチェ素子で温度制御を行いながら、ＣＡＮパッケージに温度センサを接触させて、ＬＤの抵抗値の温度依存性を測定
・温度制御した銅製の板にＬＤチップを押し付けて、ＬＤの抵抗値の温度依存性を測定
・組立て終わった記録ヘッドを、恒温槽のような温度を一定に保った空間に放置した後、ＬＤの抵抗値を測定
【００４７】
温度算出部５０ｃは、第１記憶部５０ｂに記憶された関係に基づいて、光源抵抗値測定部５０ａによる測定によって得られた抵抗値から光源２０の温度を算出する。第２記憶部５０ｄは、光源２０の温度と所定光出力が得られるときの光源２０への注入電流量との関係を記憶している。この関係も複数の光源２０について予め測定した平均値であってもよく、個々の光源２０について予め測定したものであってもよい。
【００４８】
本実施形態の情報記録ヘッド１０における記録動作について、さらに図３を参照して説明する。まず、駆動機構９０で記録媒体８０を回転させ、浮上スライダ３０を記録媒体８０上に浮上させる。次に、光源抵抗値測定部５０ａが光源用配線２２を介して光源２０への注入電流の供給を開始する（Ｓ１）。これによって、近接場光発生素子２１が近接場光を発生させ、記録媒体８０の微小領域を加熱する。記録媒体８０の加熱された領域が記録ビットとなり、情報が記録される。また、情報記録と共に、光源抵抗値測定部５０ａが光源２０の抵抗値を測定し、温度算出部５０ｃが得られた抵抗値から光源２０の温度を算出する（Ｓ２）。たとえば、図２のような関係が第１記憶部５０ｂに記憶されている場合、抵抗値がＲ１と測定された場合、光源２０の温度はＴ１と算出される。また、抵抗値がＲ２と測定された場合、光源２０はＴ２と算出される。
【００４９】
本実施形態では、抵抗値測定と記録媒体８０への情報記録とを短い周期で交互に、又は、同時に行う。図４は、抵抗値測定と記録媒体８０への情報記録とを短い周期で交互に行う場合において、光源２０への注入電流の３つのパターンを例示している。図４（ａ）に示す例（記録前測定）では、光源２０である半導体レーザーダイオードのレーザー発振閾値未満の電流値を有する抵抗値を測定するためのパルスと、このパルスの直後に連続して配置された、レーザー発振閾値以上の電流値を有する記録媒体８０への情報記録を行うためのパルスとが一体となった複数の電流パルスが所定周期で注入電流として光源２０に供給される。図４（ｂ）に示す例（記録後測定）では、光源２０である半導体レーザーダイオードのレーザー発振閾値以上の電流値を有する記録媒体８０への情報記録を行うためのパルスと、このパルスの直後に連続して配置された、レーザー発振閾値未満の電流値を有する抵抗値を測定するためのパルスとが一体となった複数の電流パルスが所定周期で注入電流として光源２０に供給される。図４（ｃ）に示す例（記録間測定）では、光源２０である半導体レーザーダイオードのレーザー発振閾値以上の電流値を有する記録媒体８０への情報記録を行うための一定周期を有する複数パルスと、これらパルスの間にバイアス電流として配置された、レーザー発振閾値未満の電流値を有する抵抗値を測定するためのパルスとが一体となった電流信号が注入電流として光源２０に供給される。
【００５０】
図４（ａ）〜（ｃ）の３つのパターンのいずれについても、光源抵抗値測定部５０ａが光源２０の抵抗値を測定する際に、半導体レーザーダイオードがレーザー発振して記録媒体が過熱され、データが消失するといった誤動作を防止することができる。また、抵抗値を測定する際の一定電流による半導体レーザーダイオードの加熱を抑えることができる。また、記録媒体８０を加熱し記録を行うためのパルスを発信する直前まで抵抗値を測定し、光源２０の温度を算出することができるため、１パルス毎に光源２０の温度をフィードバックすることができる。
【００５１】
また、図４（ｃ）のように、光源２０のパルス応答性を向上するバイアスとして印加されるバイアス電流により光源抵抗値測定部５０ａが抵抗値を測定する場合、光源２０のパルス応答性を向上するバイアスとして、常に印加されているバイアス電流により、光源抵抗値測定部５０ａが抵抗値を測定するため、記録動作を阻害することなく、光源２０の温度を算出することができる。
【００５２】
図５は、抵抗値測定と記録媒体８０への情報記録とを同時に行う場合において、光源２０への注入電流の２つのパターンを例示している。図５（ａ）に示す例では、光源２０である半導体レーザーダイオードのレーザー発振閾値以上の電流値を有する、記録媒体８０への情報記録を行い且つ抵抗値を測定するための複数パルスが所定周期で注入電流として光源２０に供給される。図５（ｂ）に示す例では、光源２０である半導体レーザーダイオードのレーザー発振閾値以上の電流値を有する、記録媒体８０への情報記録を行い且つ抵抗値を測定するための一定電流信号が連続発振（ＣＷ）用の注入電流として光源２０に供給される。なお、この場合、情報記録は磁界変調などの、光源２０の光出力以外の変調によって行われる。
【００５３】
図５（ａ）及び（ｂ）のように、情報記録のために光源２０を駆動するのと同時に抵抗値を測定する場合、記録動作を阻害することなく、光源２０の温度を算出することができる。また、記録動作中の光源２０の温度を逐次測定・フィードバックすることができるという利点がある。
【００５４】
図３で示す動作は、Ｓ２の温度算出のタイミングが上述した図４及び図５に示す５つのパターンごとに異なるものの、これら５つのパターンのすべてに当て嵌まる。
【００５５】
次に、光源制御部５０は、Ｓ２で算出された光源２０の温度と、第２記憶部５０ｄに記憶された関係とに基づいてフィードバック制御を行い、光源２０から上記所定光出力が得られるように注入電流を調整する（Ｓ３）。Ｓ３は、図３のフローチャートに含まれるループの１ステップとして周期的に行われるので、温度に依存して変化する半導体レーザーダイオードのレーザー光出力を所定の光出力に保つことができる。
【００５６】
Ｓ４では、Ｓ２で算出された光源２０の温度が予め定められた一定値を超えているかどうかが判断される。光源２０の温度が一定値を超えていれば（Ｓ４：ＹＥＳ）、Ｓ５に進んで光源制御部５０が注入電流を停止させる。光源２０の温度が一定値を超えていなければ（Ｓ４：ＮＯ）、Ｓ２に戻る。たとえば、上記一定値を図２におけるＴＳとした場合、算出された光源２０の温度がＴＳ以下の場合、光源２０の使用を続ける。一方、測定された光源２０の温度がＴＳを超えている場合、光源２０の使用を停止する。
【００５７】
続いて、Ｓ６では、上記閾値未満の注入電流を一時的に光源２０に供給して再度光源２０の抵抗値を測定し、これに基づいて光源２０の温度を算出する。そして、その結果得られた光源２０の温度が一定値（Ｓ４での一定値と同じでもよいし、それ未満でもよい）を超えているかどうかが判断される。つまり、光源２０の温度が一定値を下回るまで待機する。光源２０の温度が一定値を超えていれば（Ｓ６：ＹＥＳ）、Ｓ６を繰り返して行う。光源２０の温度が一定値を超えていなければ（Ｓ６：ＮＯ）、Ｓ３と同じ手順で調整された大きさを有する注入電流の供給を再開させてからＳ２に戻る。
【００５８】
一般的に、光源２０として使用される半導体レーザーダイオード及びＬＥＤは、動作時の温度が高温であるほど短寿命となる。そのため、本実施形態の情報記録ヘッド１０のように、予め定められた一定値以上の温度での光源２０の使用を禁止することで、温度上昇による光源２０の短寿命化を抑えることができる。
【００５９】
本実施形態の情報記録ヘッド１０の構成は、記録媒体を加熱するための光源を搭載する情報記録ヘッドとしては最少の構成である。この最少の構成で、温度センサ等の追加の部材を使用することなく、光源２０の抵抗値を測定し、光源２０の温度を算出することが可能であるため、構造が複雑でなく且つ製造しやすい情報記録ヘッド１０である。したがって、製造コストを抑えることができる。また、光源２０の抵抗値から光源２０の温度をリアルタイムで算出できるので、温度測定にタイムラグがなく精度の高い測定結果が得られる。さらに、算出された温度により、光源２０の種々の駆動制御を行うことができる。
【００６０】
なお、本実施形態に係る情報記録ヘッド１０は近接場光記録用の情報記録ヘッドであるが、情報記録ヘッド１０における光源２０の温度測定動作を、近接場アシスト磁気記録ヘッドに採用することもできる。
【００６１】
〔参考例〕
次に、本発明の参考例に係る情報記録再生ヘッド１１について、図６を参照して説明する。図６には、本参考例に係る情報記録ヘッド１１を含む情報記録装置２００が描かれている。情報記録装置２００は、情報記録ヘッド１１のほか、情報記録ヘッド１１によって情報が記録されるディスク状の記録媒体８０と、記録媒体８０を回転させる駆動機構９０とを有している。情報記録ヘッド１１は、光源２０、近接場光発生素子２１、光源用配線２２、浮上スライダ３０、サスペンション４０、記録再生制御部５１、磁気ポール６０、磁気ポール用配線６１、再生素子７０、再生素子用配線７１を含んでいる。本参考例において、情報記録再生ヘッド１１は、近接場アシスト磁気記録用の情報記録再生ヘッドである。
【００６２】
光源２０、近接場光発生素子２１、光源用配線２２、浮上スライダ３０、サスペンション４０に関しては、上述の実施形態と同様であるため、説明を省略する。
【００６３】
再生素子７０は、記録媒体８０に記録されている情報を再生する素子である。再生素子７０は光源２０に熱的に結合されるように隣接して（具体的には互いに接触して又は薄層を介して）設けられている。記録媒体８０が磁気記録媒体である場合、ＧＭＲ素子、ＴＭＲ素子といった磁気抵抗効果素子が再生素子７０として、使用される。ＧＭＲ素子は金属で構成されるため、一般的に、温度上昇に伴い格子振動が強まり、抵抗値が上昇する。一方、ＴＭＲ素子はトンネル効果を利用した素子であるため、一般的に、温度上昇に伴いトンネル確率が上昇し、抵抗値が減少する。
【００６４】
再生素子用配線７１は、再生素子７０と記録再生制御部５１を電気的に接続する配線である。本参考例において、再生素子用配線７１は、サスペンション４０に備え付けられたフレキシブル配線である。
【００６５】
記録再生制御部５１は、記録再生動作を行うために、光源２０、磁気ポール６０、再生素子７０の動作を制御する部材である。記録再生制御部５１は、光源２０を制御する光源制御部としての機能を含んでいる。記録再生制御部５１を構成する部材としては、例えば、ＩＣチップ、ＬＳＩチップを使用することができる。なお、図６では、記録再生制御部５１とサスペンション４０とを分けて描写しているが、記録再生制御部５１をサスペンション４０に搭載することも可能である。また、記録再生制御部５１は、配線で接続された複数のＩＣチップ、あるいはＬＳＩチップにより構成されていてもよい。
【００６６】
記録再生制御部５１は、再生素子抵抗値測定部５１ａと、第１記憶部５１ｂと、温度算出部５１ｃと、第２記憶部５１ｄとを有している。再生素子抵抗値測定部５１ａは、再生素子７０の抵抗値を測定する。第１記憶部５１ｂは、再生素子７０の抵抗値と再生素子７０の温度との関係を予め記憶している。
【００６７】
第１記憶部５１ｂに記憶された再生素子７０の抵抗値とその温度との関係は、たとえば、複数の再生素子７０について抵抗値と温度の関係を調査した結果の平均値であってよい。また、当該関係は、製造時に第１記憶部５１ｂに記憶させればよい。好ましくは、情報記録再生ヘッド１１の組立てが終了したのち、組み立て終わった情報記録再生ヘッド１１について複数の温度における再生素子７０の抵抗値を測定し、再生素子７０の抵抗値と温度の関係として当該情報記録再生ヘッド１１の第１記憶部５１ｂに記憶させておけばよい。こうすることで、温度と抵抗値の関係に個体差を持つ再生素子７０を使用している場合でも、それぞれの個体に適切な抵抗値と温度の関係を記憶させておくことができる。なお、測定の具体的な方法としては、光源について説明したのと同様の方法を用いることができる。
【００６８】
温度算出部５１ｃは、第１記憶部５１ｂに記憶された関係に基づいて、再生素子抵抗値測定部５１ａによる測定によって得られた抵抗値から再生素子７０の温度を算出し、さらに得られた再生素子７０の温度を光源２０の温度として算出する。再生素子７０の温度を光源２０の温度と同じであると見なすことができるのは、上述したように、再生素子７０が光源２０に熱的に結合されているからである。第２記憶部５１ｄは、光源２０の温度と所定光出力が得られるときの光源２０への注入電流量との関係を記憶している。この関係も複数の光源２０について予め測定した平均値であってもよく、個々の光源２０について予め測定したものであってもよい。
【００６９】
磁気ポール６０は、記録媒体に情報を記録するための磁場を印加する部材である。本参考例では、ＮｉＦｅやＣｏＦｅといった高磁化率の軟磁性体のポールとコイルで構成されている。コイルに電流を流すことで、ポールを磁化し、磁場を発生する。
【００７０】
磁気ポール用配線６１は、磁気ポール６０と記録再生制御部５１を電気的に接続する配線である。本参考例において、磁気ポール用配線６１は、サスペンション４０に備え付けられたフレキシブル配線である。
【００７１】
本参考例の情報記録再生ヘッド１１における記録動作について説明する。基本的な流れは、図３で説明したのと同様であるので、主に相違点について以下説明する。まず、駆動機構９０で記録媒体８０を回転させ、浮上スライダ３０を記録媒体８０上に浮上させる。次に、光源用配線２２を介して光源２０への注入電流の供給し、近接場光発生素子２１により近接場光を発生させ、記録媒体の微小領域を加熱する。加熱した微小領域に磁気ポール６０により磁場を印加することで、微小領域の磁化を任意の方向に固定する。磁化が固定された微小領域が記録ビットとなり、情報が記録される。
【００７２】
本参考例では、再生素子７０の抵抗値測定に基づいて光源２０の温度を算出するので、光源２０への注入電流は単純なパルス信号（例えば図５（ａ）に示したものと同様）としてよい。また、再生素子抵抗値測定部５１ａが再生素子用配線７１を介して、再生素子７０に一定の電流を印加し、再生素子７０の抵抗値を測定する。そして、情報記録と共に、再生素子抵抗値測定部５１ａが測定した再生素子７０の抵抗値に基づいて、温度算出部５１ｃが得られた抵抗値から第１記憶部５１ｂに記憶されている関係を用いて再生素子７０及び光源２０の温度を算出する。
【００７３】
本参考例の情報記録再生ヘッド１１は、記録媒体を加熱するための光源を搭載する情報記録再生ヘッドとしては最少の構成である。この最少の構成で、温度センサ等の追加の部材を使用することなく、光源２０に隣接する再生素子７０の抵抗値を測定し、光源２０の温度を算出することが可能であるため、構造が複雑でなく且つ製造しやすい情報記録ヘッド１０である。したがって、情報記録再生ヘッド１１の製造コストを抑えることができる。また、記録動作時には使用しない再生素子７０の抵抗値を利用し、光源２０の温度を算出するため、記録動作を阻害することなく、光源２０の温度を算出することができる。なお、記録動作時に再生素子７０をトラッキング用に利用している場合でも、トラッキング信号読取時の抵抗を測定し、光源２０の温度を評価することができるため、記録動作を阻害することはない。さらに、算出された温度により、光源２０の種々の駆動制御を行うことができる。
【００７４】
また、本参考例の情報記録再生ヘッド１１においても、上述の実施形態と同様に、測定された光源２０の温度に基づいて光源２０に注入する電流を調整することができる。したがって、温度に依存して変化する半導体レーザーダイオードのレーザー光出力を一定に保つことができる。
【００７５】
また、本参考例の情報記録再生ヘッド１１においても、上述の実施形態と同様に、測定された光源２０の温度が、予め定められた一定値を超えたときに、光源２０の使用を停止することができる。そのため、温度上昇による光源２０の短寿命化を抑えることができる。
【００７６】
本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態・参考例にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
【産業上の利用可能性】
【００７７】
本発明は、熱アシスト磁気記録方式の情報記録ヘッドおよび情報記録再生ヘッドに好適に用いることができる。
【符号の説明】
【００７８】
１０  情報記録ヘッド
１１  情報記録再生ヘッド
２０  光源
２１  近接場光発生素子
２２  光源用配線
３０  浮上スライダ
４０  サスペンション
５０  光源制御部
５１  記録再生制御部
６０  磁気ポール
６１  磁気ポール用配線
７０  再生素子
７１  再生素子用配線
１００、２００   情報記録装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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