(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の行および複数の列を構成するように複数の単位セルが基板に配列された画素アレイを有する固体撮像装置であって、
前記複数の単位セルの各々は、画素を含み、前記画素は、光電変換素子と、前記光電変換素子で発生した電荷に応じた信号を出力する画素内読出回路とを含み、
前記複数の単位セルは、電源線および接地線を介して電力が供給され、
前記複数の単位セルの少なくとも１つの単位セルは、前記電源線に接続された第１電極と前記接地線に接続された第２電極とを有する容量素子の、前記第１電極と前記第２電極の少なくとも一部分を含み、
前記容量素子と前記光電変換素子とを電気的に分離する素子分離部が前記基板の表面に設けられている
ことを特徴とする固体撮像装置。
【請求項２】
複数の行および複数の列を構成するように複数の単位セルが配列された画素アレイを有する固体撮像装置であって、
前記複数の単位セルの各々は、画素を含み、前記画素は、光電変換素子と、前記光電変換素子で発生した電荷に応じた信号を出力する画素内読出回路とを含み、
前記複数の単位セルは、電源線および接地線を介して電力が供給され、
前記画素アレイには、前記電源線に接続された第１電極と前記接地線に接続された第２電極とを有する容量素子が配され、
前記容量素子が、前記複数の単位セルのうちの第１の単位セルの前記光電変換素子と、前記複数の単位セルのうちの前記第１の単位セルとは別の第２の単位セルの前記光電変換素子との間に設けられ、
前記容量素子と前記第１の単位セルの前記光電変換素子とを分離し、前記容量素子と前記第２の単位セルの前記光電変換素子とを分離する素子分離部が設けられていることを特徴とする固体撮像装置。
【請求項３】
複数の行および複数の列を構成するように複数の単位セルが配列された画素アレイを有する固体撮像装置であって、
前記複数の単位セルの各々は、画素を含み、前記画素は、光電変換素子と、前記光電変換素子で発生した電荷に応じた信号を出力する画素内読出回路とを含み、
前記複数の単位セルは、電源線および接地線を介して電力が供給され、
前記画素アレイには、前記電源線に接続された第１電極と前記接地線に接続された第２電極とを有する容量素子が配され、
前記容量素子が、前記複数の単位セルのうちの第１の単位セルの前記光電変換素子と、前記複数の単位セルのうちの前記第１の単位セルとは別の第２の単位セルの前記光電変換素子との間に設けられ、
前記画素アレイは、半導体基板に設けられ、
前記第１電極と前記第２電極との一方が、前記半導体基板内に設けられた不純物領域を含み、前記第１電極と前記第２電極との他方が、ポリシリコン電極を含み、
前記容量素子は、前記第１電極と前記第２電極との間に酸化膜を有することを特徴とする固体撮像装置。
【請求項４】
複数の行および複数の列を構成するように複数の単位セルが配列された画素アレイを有する固体撮像装置であって、
前記複数の単位セルの各々は、画素を含み、前記画素は、光電変換素子と、前記光電変換素子で発生した電荷に応じた信号を出力する画素内読出回路とを含み、
前記複数の単位セルは、電源線および接地線を介して電力が供給され、
前記複数の単位セルの少なくとも１つの単位セルは、前記電源線に接続された第１電極と前記接地線に接続された第２電極とを有する容量素子の少なくとも一部分を含み、
前記画素アレイは、前記画素によって駆動される複数の列信号線と、前記複数の列信号線のうち選択された列信号線に接続される水平信号線とを含み、
前記複数の単位セルは、前記水平信号線に出力された信号を増幅する出力アンプの少なくとも一部分および前記容量素子の少なくとも一部分を含む単位セルを含む
ことを特徴とする固体撮像装置。
【請求項５】
前記画素アレイの少なくとも１つの列を構成する単位セルのそれぞれが単位垂直走査回路の少なくとも一部分を含み、前記単位垂直走査回路の集合によって、前記複数の行を走査するための垂直走査回路が構成され、
前記複数の単位セルは、前記単位垂直走査回路の少なくとも一部分および前記容量素子の前記第１電極と前記第２電極との少なくとも一部分を含む単位セルを含む、
ことを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の固体撮像装置。
【請求項６】
前記画素アレイの少なくとも１つの行を構成する単位セルのそれぞれが単位水平走査回路の少なくとも一部分を含み、前記単位水平走査回路の集合によって、前記複数の列を走査するための水平走査回路が構成され、
前記複数の単位セルは、前記単位水平走査回路の少なくとも一部分および前記容量素子の前記第１電極と前記第２電極との少なくとも一部分を含む単位セルを含む、
ことを特徴とする請求項１乃至５に記載の固体撮像装置。
【請求項７】
前記画素アレイは、前記画素によって駆動される複数の列信号線と、前記複数の列信号線のうち選択された列信号線に接続される水平信号線とを含み、
前記複数の単位セルは、前記水平信号線に出力された信号を増幅する出力アンプの少なくとも一部分および前記容量素子の前記第１電極と前記第２電極との少なくとも一部分を含む単位セルを含む
ことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の固体撮像装置。
【請求項８】
前記画素アレイは、前記単位セルの前記画素によって駆動される複数の列信号線を含み、
前記画素アレイの前記複数の列のうち１つの列を構成する単位セルのそれぞれが単位垂直走査回路の少なくとも一部分を含み、前記単位垂直走査回路の集合によって、前記複数の行を走査するための垂直走査回路が構成され、
前記画素アレイの前記複数の行のうち１つの行を構成する単位セルのそれぞれが単位水平走査回路の少なくとも一部分を含み、前記単位水平走査回路の集合によって、前記複数の列信号線が順に水平信号線に接続されるように前記複数の列を走査するための水平走査回路が構成され、
前記複数の単位セルは、
前記容量素子が配置されず、前記単位垂直走査回路、前記単位水平走査回路、および前記水平信号線に出力された信号を増幅する出力アンプの少なくとも１つの少なくとも一部分が配置された単位セルと、
前記単位垂直走査回路、前記単位水平走査回路および前記出力アンプのいずれも配置されず、前記容量素子の前記第１電極と前記第２電極との少なくとも一部分が配置された単位セルとを含む、
ことを特徴とする請求項１に記載の固体撮像装置。
【請求項９】
複数の行および複数の列を構成するように複数の単位セルが配列された画素アレイを有する固体撮像装置であって、
前記複数の単位セルの各々は、画素を含み、前記画素は、光電変換素子と、前記光電変換素子で発生した電荷に応じた信号を出力する画素内読出回路とを含み、
前記複数の単位セルは、電源線および接地線を介して電力が供給され、
前記複数の単位セルの少なくとも１つの単位セルは、前記電源線に接続された第１電極と前記接地線に接続された第２電極とを有する容量素子の少なくとも一部分を含み、
前記画素アレイは、前記単位セルの前記画素によって駆動される複数の列信号線を含み、
前記画素アレイの前記複数の列のうち１つの列を構成する単位セルのそれぞれが単位垂直走査回路の少なくとも一部分を含み、前記単位垂直走査回路の集合によって、前記複数の行を走査するための垂直走査回路が構成され、
前記画素アレイの前記複数の行のうち１つの行を構成する単位セルのそれぞれが単位水平走査回路の少なくとも一部分を含み、前記単位水平走査回路の集合によって、前記複数の列信号線が順に水平信号線に接続されるように前記複数の列を走査するための水平走査回路が構成され、
前記複数の単位セルは、
前記容量素子が配置されず、前記単位垂直走査回路、前記単位水平走査回路、および前記水平信号線に出力された信号を増幅する出力アンプの少なくとも１つの少なくとも一部分が配置された単位セルと、
前記単位垂直走査回路、前記単位水平走査回路および前記出力アンプのいずれも配置されず、前記容量素子の前記第１電極と前記第２電極との少なくとも一部分が配置された単位セルとを含む、
ことを特徴とする固体撮像装置。
【請求項１０】
前記容量素子は、第１導電型の第１半導体領域と、第１導電型とは逆の導電型の第２導電型の第２半導体領域とを有し、
前記第１半導体領域には、前記第１電極を介して前記電源線の電位が供給され、
前記第２半導体領域には、前記第２電極を介して前記接地線の電位が供給されることを特徴とする請求項１乃至９のいずれか１項に記載の固体撮像装置。
【請求項１１】
放射線を可視光に変換するシンチレータをさらに備え、
前記光電変換素子が、前記シンチレータから入射する前記可視光に基づいて電荷を生成することを特徴とする請求項１乃至１０のいずれか１項に記載の固体撮像装置。
【請求項１２】
請求項１乃至１１のいずれか１項に記載の固体撮像装置と、
前記固体撮像装置から出力される信号を処理するプロセッサと、
を備えることを特徴とする撮像システム。
【請求項１３】
請求項１１に記載の固体撮像装置と、
前記固体撮像装置から出力される信号を処理するプロセッサと、
を備えることを特徴とするＸ線撮像システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、固体撮像装置および撮像システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、撮像素子（画素のアレイ）の中に垂直シフトレジスタおよび水平シフトレジスタを配置した撮像素子が開示されている。特許文献１にはまた、垂直シフトレジスタの単位ブロック（一行を選択し駆動するための単位）を１つの画素回路とともに１つの領域に配置した構成が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００２−３４４８０９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１に開示された構成では、例えば、垂直シフトレジスタの単位ブロックが配置された列およびその周辺の列では、単位ブロックが動作することによる電源電位および接地電位の変動の影響を画素回路が受けやすい。電源電位および接地電位が変動すると、画素回路から出力される信号にノイズが生じ、画質を劣化させうる。
【０００５】
また、特許文献１に開示された構成に限られるものではないが、入射光量が大きい画素は、その画素に含まれる画素内読出回路が列信号線などの電位を大きく変化させるので、これによって電源電位および接地電位を変動させうる。この影響は、電源線および接地線を共通にする他の画素、特に電源線および接地線を共通にする周辺の画素につたわり、画質を劣化させうる。
【０００６】
本発明は、電源線および接地線の電位変動に起因する画質の劣化を抑制するために有利な技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の１つの側面は、複数の行および複数の列を構成するように複数の単位セルが基板に配列された画素アレイを有する固体撮像装置に係り、前記複数の単位セルの各々は、画素を含み、前記画素は、光電変換素子と、前記光電変換素子で発生した電荷に応じた信号を出力する画素内読出回路とを含み、前記複数の単位セルは、電源線および接地線を介して電力が供給され、前記複数の単位セルの少なくとも１つの単位セルは、前記電源線に接続された第１電極と前記接地線に接続された第２電極とを有する容量素子の、前記第１電極と前記第２電極の少なくとも一部分を含み、前記容量素子と前記光電変換素子とを電気的に分離する素子分離部が前記基板の表面に設けられている。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、電源線および接地線の電位変動に起因する画質の劣化を抑制するために有利な技術が提供される。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明の実施形態の固体撮像装置の概略構成例を説明する図。
【図２】本発明の実施形態の撮像ブロックの構成例を説明する図。
【図３】本発明の実施形態の画素の構成例を説明する図。
【図４】本発明の実施形態のシフトレジスタの構成例を説明する図。
【図５】本発明の実施形態のタイミングチャートの一例を説明する図。
【図６】単位セルの種類を例示する図。
【図７】単位セルの種類を例示する図。
【図８】光電変換素子および容量素子の構成例を示す図。
【図９】光電変換素子および容量素子の構成例を示す図。
【図１０】放射線撮像システムを例示する図。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
図１を参照しながら本発明の１つの実施形態としての固体撮像装置１００の概略構成を説明する。固体撮像装置１００は、例えば、複数の撮像ブロック１０１を配列して構成されうる。この場合、複数の撮像ブロック１０１の配列によって１つの撮像領域を有するセンサパネルＳＰが形成されうる。複数の撮像ブロック１０１は、支持基板１０２の上に配置されうる。固体撮像装置１００が１つの撮像ブロック１０１で構成される場合には、当該１つの撮像ブロック１０１によってセンサパネルＳＰが形成される。複数の撮像ブロック１０１の各々は、例えば、半導体基板に回路素子を形成したものであってもよいし、ガラス基板等の上に半導体層を形成し、その半導体層に回路素子を形成したものであってもよい。複数の撮像ブロック１０１の各々は、複数の行および複数の列を構成するように複数の画素が配列された画素アレイを有する。
【００１１】
固体撮像装置１００は、例えば、Ｘ線等の放射線の像を撮像する装置として構成されてもよいし、可視光の像を撮像する装置として構成されてもよい。固体撮像装置１００が放射線の像を撮像する装置として構成される場合は、典型的には、放射線を可視光に変換するシンチレータ１０３がセンサパネルＳＰの上に設けられうる。シンチレータ１０３は、放射線を可視光に変換し、この可視光がセンサパネルＳＰに入射し、センサパネルＳＰ（撮像ブロック１０１）の各光電変換素子によって光電変換される。
【００１２】
次に、図２を参照しながら各撮像ブロック１０１の構成例を説明する。なお、固体撮像装置１００が１つの撮像ブロック１０１で構成される場合には、１つの撮像ブロック１０１を固体撮像装置として考えることができる。撮像ブロック１０１は、複数の行および複数の列を構成するように複数の画素２０１が配列され、複数の列信号線２０８ａが配置された画素アレイＧＡを有する。複数の画素２０１の各々は、光電変換素子（例えば、フォトダイオード）２０２と、光電変換素子２０２で発生した電荷に応じた信号（光信号）を列信号線２０８ａに出力する画素内読出回路２０３とを含む。画素アレイＧＡには、複数の列信号線２０８ｂが更に配置されてもよく、画素内読出回路２０３は、画素内読出回路２０３のノイズを列信号線２０８ｂに出力するように構成されうる。行方向に沿って隣接する２つの画素２０１のそれぞれにおける画素内読出回路２０３は、例えば、当該２つの画素２０１の境界線を対称軸として線対称に配置されうる。
【００１３】
撮像ブロック１０１は、垂直走査回路２０４と水平走査回路２０５とを含む。垂直走査回路２０４は、例えば、隣接する２つの列の光電変換素子２０２の間に配置されうるが、画素アレイＧＡにおける最も外側の列の光電変換素子２０２の外側に配置されてもよい。垂直走査回路２０４は、例えば、第１クロックＣＬＫ１に従ってシフト動作する垂直シフトレジスタを含み、垂直シフトレジスタによるシフト動作に応じて画素アレイＧＡにおける複数の行を走査する。垂直シフトレジスタは、複数のレジスタを直列接続して構成され、初段のレジスタによって取り込まれたパルスが第１クロックＣＬＫ１に従って順次次段のレジスタに転送される。パルスを保持しているレジスタに対応する行が、選択されるべき行である。
【００１４】
水平走査回路２０５は、例えば、隣接する２つの行の光電変換素子２０２の間に配置されうるが、画素アレイＧＡにおける最も外側の行の光電変換素子２０２の外側に配置されてもよい。水平走査回路２０５は、例えば、第２クロックＣＬＫ２に従ってシフト動作する水平シフトレジスタを含み、水平シフトレジスタによるシフト動作に応じて画素アレイＧＡにおける複数の列を走査する。水平シフトレジスタは、複数のレジスタを直列接続して構成され、初段のレジスタによって取り込まれたパルスが第２クロックＣＬＫ２に従って順次次段のレジスタに転送される。パルスを保持しているレジスタに対応する列が、選択されるべき列である。
【００１５】
垂直走査回路２０４は、垂直シフトレジスタを構成するための１つのレジスタをそれぞれ含む複数の単位垂直走査回路ＶＳＲを垂直方向に配列して構成されうる。各単位垂直走査回路ＶＳＲは、ある列（図２では、最も左側の列（即ち、第１列）。）に属する画素の光電変換素子２０２とその列に隣接する列（図２では、左側から２番目の列（即ち、第２列）。）に属する画素の光電変換素子２０２とによって挟まれる領域に配置されうる。各単位垂直走査回路ＶＳＲは、垂直シフトレジスタを通してパルスが転送されてくると、それが属する行の画素２０１が選択されるように、行選択信号ＶＳＴをアクティブレベルに駆動する。選択された行の画素２０１の光信号、ノイズは、それぞれ列信号線２０８ａ、２０８ｂに出力される。ここで、図２では、列信号線２０８ａと列信号線２０８ｂとが１本の線で示されている。水平走査回路２０５、垂直走査回路２０４の不図示の入力端子には、パルス信号（スタートパルス）ＰＵＬＳＥ１、ＰＵＬＳＥ２がそれぞれ供給される。
【００１６】
水平走査回路２０５は、水平シフトレジスタを構成するための１つのレジスタをそれぞれ含む複数の単位水平走査回路ＨＳＲを水平方向に配列して構成されうる。各単位水平走査回路ＨＳＲは、１つの行（図２では、上から４番目の行（即ち、第４行）。）に属する隣接する２つの画素からなる各対（第１列の画素と第２列の画素からなる対、第３列の画素と第４列の画素からなる対、・・・。）における２つの光電変換素子２０２によって挟まれる領域に配置されている。しかし、各単位水平走査回路ＨＳＲは、列方向に隣接する２つの画素における２つの光電変換素子２０２によって挟まれる領域には配置されていない。このような構成は、列方向における光電変換素子２０２間の隙間を小さくするために有利である。単位水平走査回路ＨＳＲは、水平シフトレジスタを通してパルスが転送されてくると、それが属する列が選択されるように、即ち、当該列の列信号線２０８ａ、２０８ｂが水平信号線２０９ａ、２０９ｂに接続されるようにスイッチ２０７を制御する。即ち、選択された行の画素２０１の光信号、ノイズが列信号線２０８ａ、２０８ｂに出力され、選択された列（即ち、選択された列信号線２０８ａ、２０８ｂ）の信号が水平信号線２０９ａ、２０９ｂに出力される。これによりＸＹアドレッシングが実現される。水平信号線２０９ａ、２０９ｂは、出力アンプ２１０ａ、２１０ｂの入力に接続されていて、水平信号線２０９ａ、２０９ｂに出力された信号は、出力アンプ２１０ａ、２１０ｂによって増幅されてパッド２１１ａ、２１１ｂを通して出力される。
【００１７】
画素アレイＧＡは、それぞれ画素２０１を含む複数の単位セル２００が複数の行および複数の列を構成するように配列されたものとして考えることができる。単位セル２００は、いくつかの種類を含みうる。ある単位セル２００は、単位垂直走査回路ＶＳＲの少なくとも一部分を含む。図２に示す例では、２つの単位セル２００の集合が１つの単位垂直走査回路ＶＳＲを含んでいるが、１つの単位セル２００が１つの単位垂直走査回路ＶＳＲを含んでもよいし、３以上の複数の単位セル２００の集合が１つの単位垂直走査回路ＶＳＲを含んでもよい。他の単位セル２００は、単位水平走査回路ＨＳＲの少なくとも一部分を含む。図２に示す例では、１つの単位セル２００が１つの単位水平走査回路ＨＳＲを含んでいるが、複数の単位セル２００の集合が１つの単位水平走査回路ＶＳＲを含んでもよい。他の単位セル２００は、単位垂直走査回路ＶＳＲの少なくとも一部分および単位水平走査回路ＨＳＲの少なくとも一部分を含む。他の単位セル２００としては、出力アンプ２１０ａの少なくとも一部分を含む単位セル、出力アンプ２１０ｂの少なくとも一部分を含む単位セル、スイッチ２０７を含む単位セルなどを挙げることができる。
【００１８】
図３を参照しながら各画素２０１の構成例を説明する。前述のとおり、画素２０１は、光電変換素子２０２と、画素内読出回路２０３とを含む。光電変換素子２０２は、典型的にはフォトダイオードでありうる。画素内読出回路２０３は、例えば、第１増幅回路３１０、クランプ回路３２０、光信号サンプルホールド回路３４０、ノイズサンプルホールド回路３６０、第２増幅回路のＮＭＯＳトランジスタ３４３、３６３、行選択スイッチ３４４、３６４を含みうる。
【００１９】
光電変換素子２０２は、電荷蓄積部を含み、該電荷蓄積部は、第１増幅回路３１０のＰＭＯＳトランジスタ３０３のゲートに接続されている。ＰＭＯＳトランジスタ３０３のソースは、ＰＭＯＳトランジスタ３０４を介して電流源３０５に接続されている。ＰＭＯＳトランジスタ３０３と電流源３０５とによって第１ソースフォロア回路が構成されている。ＰＭＯＳトランジスタ３０３によってソースフォロア回路を構成することは、１／ｆノイズの低減に有効である。ＰＭＯＳトランジスタ３０４は、そのゲートに供給されるイネーブル信号ＥＮがアクティブレベルになるとオンして第１ソースフォロア回路を動作状態にするイネーブルスイッチである。第１増幅回路３１０は、電荷電圧変換部ＣＶＣの電位に応じた信号を中間ノードｎ１に出力する。
【００２０】
図３に示す例では、光電変換素子２０２の電荷蓄積部およびＰＭＯＳトランジスタ３０３のゲートが共通のノードを構成していて、このノードは、該電荷蓄積部に蓄積された電荷を電圧に変換する電荷電圧変換部ＣＶＣとして機能する。即ち、電荷電圧変換部ＣＶＣには、該電荷蓄積部に蓄積された電荷Ｑと電荷電圧変換部ＣＶＣが有する容量値Ｃとによって定まる電圧Ｖ（＝Ｑ／Ｃ）が現れる。電荷電圧変換部ＣＶＣは、リセットスイッチとしてのＰＭＯＳトランジスタ３０２を介してリセット電位Ｖｒｅｓに接続されている。リセット信号ＰＲＥＳがアクティブレベルになると、ＰＭＯＳトランジスタ３０２がオンして、電荷電圧変換部ＣＶＣの電位がリセット電位Ｖｒｅｓにリセットされる。
【００２１】
クランプ回路３２０は、リセットした電荷電圧変換部ＣＶＣの電位に応じて第１増幅回路３１０によって中間ノードｎ１に出力されるノイズをクランプ容量３２１によってクランプする。つまり、クランプ回路３２０は、光電変換素子２０２で光電変換により発生した電荷に応じて第１ソースフォロア回路から中間ノードｎ１に出力された信号から、このノイズをキャンセルするための回路である。この中間ノードｎ１に出力されるノイズはリセット時のｋＴＣノイズを含む。クランプは、クランプ信号ＰＣＬをアクティブレベルにしてＰＭＯＳトランジスタ３２３をオン状態にした後に、クランプ信号ＰＣＬを非アクティブレベルにしてＰＭＯＳトランジスタ３２３をオフ状態にすることによってなされる。クランプ容量３２１の出力側は、ＰＭＯＳトランジスタ３２２のゲートに接続されている。ＰＭＯＳトランジスタ３２２のソースは、ＰＭＯＳトランジスタ３２４を介して電流源３２５に接続されている。ＰＭＯＳトランジスタ３２２と電流源３２５とによって第２ソースフォロア回路が構成されている。ＰＭＯＳトランジスタ３２４は、そのゲートに供給されるイネーブル信号ＥＮ０がアクティブレベルになるとオンして第２ソースフォロア回路を動作状態にするイネーブルスイッチである。
【００２２】
光電変換素子２０２で光電変換により発生した電荷に応じて第２ソースフォロア回路から出力される信号は、光信号として、光信号サンプリング信号ＴＳがアクティブレベルになることによってスイッチ３４１を介して容量３４２に書き込まれる。電荷電圧変換部ＣＶＣの電位をリセットした直後にＰＭＯＳトランジスタ３２３をオン状態とした際に第２ソースフォロア回路から出力される信号は、ノイズである。このノイズは、ノイズサンプリング信号ＴＮがアクティブレベルになることによってスイッチ３６１を介して容量３６２に書き込まれる。このノイズには、第２ソースフォロア回路のオフセット成分が含まれる。
【００２３】
垂直走査回路２０４の単位垂直走査回路ＶＳＲが行選択信号ＶＳＴをアクティブレベルに駆動すると、容量３４２に保持された信号（光信号）が第２増幅回路のＮＭＯＳトランジスタ３４３および行選択スイッチ３４４を介して列信号線２０８ａに出力される。また、同時に、容量３６２に保持された信号（ノイズ）が第２増幅回路のＮＭＯＳトランジスタ３６３および行選択スイッチ３６４を介して列信号線２０８ｂに出力される。第２増幅回路のＮＭＯＳトランジスタ３４３は、列信号線２０８ａに設けられた不図示の定電流源とソースフォロア回路を構成する。同様に、第２増幅回路のＮＭＯＳトランジスタ３６３は列信号線２０８ｂに設けられた不図示の定電流源とソースフォロア回路を構成する。
【００２４】
画素２０１は、隣接する複数の画素２０１の光信号を加算する加算スイッチ３４６を有してもよい。加算モード時には、加算モード信号ＡＤＤがアクティブレベルになり、加算スイッチ３４６がオン状態になる。これにより、隣接する画素２０１の容量３４２が加算スイッチ３４６によって相互に接続されて、光信号が平均化される。同様に、画素２０１は、隣接する複数の画素２０１の光信号をノイズを加算する加算スイッチ３６６を有してもよい。加算スイッチ３６６がオン状態になると、隣接する画素２０１の容量３６２が加算スイッチ３６６によって相互に接続されて、ノイズが平均化される。
【００２５】
画素２０１は、感度を変更するための機能を有してもよい。画素２０１は、例えば、第１感度変更スイッチ３８０および第２感度変更スイッチ３８２、並びにそれらに付随する回路素子を含みうる。第１変更信号ＷＩＤＥ１がアクティブレベルになると、第１感度変更スイッチ３８０がオンして、電荷電圧変換部ＣＶＣの容量値に第１付加容量３８１の容量値が追加される。これによって画素２０１の感度が低下する。第２変更信号ＷＩＤＥ２がアクティブレベルになると、第２感度変更スイッチ３８２がオンして、電荷電圧変換部ＣＶＣの容量値に第２付加容量３８３の容量値が追加される。これによって画素２０１の感度が更に低下する。
【００２６】
このように画素２０１の感度を低下させる機能を追加することによって、より大きな光量を受光することが可能となり、ダイナミックレンジを広げることができる。第１変更信号ＷＩＤＥ１がアクティブレベルになる場合には、イネーブル信号ＥＮｗをアクティブレベルにして、ＰＭＯＳトランジスタ３０３に加えてＰＭＯＳトランジスタ３８５をソースフォロア動作させてもよい。
【００２７】
垂直走査回路２０４は、種々の構成を有しうるが、例えば、図４（ａ）に示された構成を有しうる。図４（ａ）に示された垂直走査回路２０４は、各単位垂直走査回路ＶＳＲが１つのＤ型フリップフロップ４０１を含み、Ｄ型フリップフロップ４０１のクロック入力に対して第１クロックＣＬＫ１が供給される。初段の単位垂直走査回路ＶＳＲのＤ型フリップフロップ４０１のＤ入力には、パルス信号ＰＵＬＳＥ１が供給され、第１クロックＣＬＫ１によって第１パルス信号ＰＵＬＳＥ１が取り込まれる。初段のＤ型フリップフロップ４０１は、第１クロックＣＬＫ１の１周期分の長さを有するパルス信号をＱ出力から出力する。各単位垂直走査回路ＶＳＲのＤ型フリップフロップ４０１のＱ出力は、その単位垂直走査回路ＶＳＲが属する行を選択するために使用され、例えば、バッファ４０２を介して行選択信号ＶＳＴとして出力される。各単位垂直走査回路ＶＳＲのＤ型フリップフロップ４０１のＱ出力は、次段の単位垂直走査回路ＶＳＲのＤ型フリップフロップ４０１のＤ入力に接続されている。
【００２８】
水平走査回路２０５は、種々の構成を有しうるが、例えば、図４（ｂ）に示された構成を有しうる。図４（ｂ）に示された水平走査回路２０５は、各単位垂直走査回路ＨＳＲが１つのＤ型フリップフロップ４１１を含み、Ｄ型フリップフロップ４１１のクロック入力に対して第２クロックＣＬＫ２が供給される。初段の単位水平走査回路ＨＳＲのＤ型フリップフロップ４１１のＤ入力には、第２パルス信号ＰＵＬＳＥ２が供給され、第２クロックＣＬＫ２によって第２パルス信号ＰＵＬＳＥ２が取り込まれる。初段の単位水平走査回路ＨＳＲは、第２クロックＣＬＫ２の１周期分の長さを有するパルス信号をＱ出力から出力する。各単位水平走査回路ＨＳＲのＱ出力は、その単位水平走査回路ＨＳＲが属する列を選択するために使用され、例えば、バッファ４１２を介して列選択信号ＨＳＴとして出力される。各単位水平走査回路ＨＳＲのＤ型フリップフロップ４１１のＱ出力は、次段の単位水平走査回路ＨＳＲのＤ型フリップフロップ４１１のＤ入力に接続されている。ここで、垂直走査回路２０４による走査期間である垂直走査期間は、水平走査回路２０５による水平走査期間に画素アレイＧＡの行数を乗じた時間である。そして、水平走査期間は、画素アレイＧＡの全ての列を走査するために要する期間である。よって、列を選択する列選択信号ＨＳＴを発生する水平走査回路２０５に供給される第２クロックＣＬＫ２の周波数は、行を選択する行選択信号ＶＳＴを発生する垂直走査回路２０４に供給される第１クロックＣＬＫ１の周波数よりも遙かに高い。
【００２９】
図５を参照しながら各画素２０１に供給される主な信号について説明する。リセット信号ＰＲＥＳ、イネーブル信号ＥＮ、クランプ信号ＰＣＬ、光信号サンプリング信号ＴＳ、ノイズサンプリング信号ＴＮは、ローアクティブの信号である。イネーブル信号ＥＮ０は、図５に示されていないが、イネーブル信号ＥＮと同様の信号でありうる。イネーブル信号ＥＮｗは、図５に示されていないが、第１変更信号ＷＩＤＥ１がアクティブにされる場合には、イネーブル信号ＥＮと同様に遷移しうる。
【００３０】
まず、画素アレイＧＡの全ての行についてイネーブル信号ＥＮがアクティブになり、次いで、光信号サンプリング信号ＴＳがパルス状にアクティブレベルになって、光信号が容量３４２に書き込まれる。次いで、リセット信号ＰＲＥＳがパルス状にアクティブレベルになって、電荷電圧変換部ＣＶＣの電位がリセットされる。次いで、クランプ信号ＰＣＬがパルス状にアクティブレベルになる。クランプ信号ＰＣＬがアクティブレベルであるときに、ノイズサンプリング信号ＴＮがパルス状にアクティブレベルになって、ノイズが容量３６２に書き込まれる。
【００３１】
その後、垂直走査回路２０４の第１行に対応する単位垂直走査回路ＶＳＲがその行選択信号ＶＳＴ（ＶＳＴ０）をアクティブレベルにする。これは、垂直走査回路２０４が画素アレイＧＡの第１行を選択することを意味する。この状態で、水平走査回路２０５の第１列から最終列に対応する単位水平走査回路ＨＳＲが列選択信号ＨＳＴ（ＨＳＴ０〜ＨＳＴｎ）をアクティブレベルにする。これは、水平走査回路２０５が画素アレイＧＡの第１列から最終列までを順に選択することを意味する。これにより、出力アンプ２１０ａ、２１０ｂから画素アレイＧＡの第１行における第１列から最終列までの画素の光信号、ノイズが出力される。その後、垂直走査回路２０４の第２行に対応する単位垂直走査回路ＶＳＲがその行選択信号ＶＳＴ（ＶＳＴ１）をアクティブレベルにする。水平走査回路２０５の第１列から最終列に対応する単位水平走査回路ＨＳＲが列選択信号ＨＳＴ（ＨＳＴ０〜ＨＳＴｎ）をアクティブレベルにする。このような動作を最終行まで行うことによって１つの画像が画素アレイＧＡから出力される。
【００３２】
電源線および接地線を介して電力が供給される単位セル２００が画素２０１以外の回路を含む場合において、当該回路が動作すると、それによって電源電位および接地電位が変動しうる。そうすると、当該単位セル２００および当該単位セル２００と電源線および接地線を共通にする他の単位セル２００（特に周辺の単位セル２００）から出力される信号にノイズが生じうる。また、入射光量が大きい画素２０１は、その画素２０１に含まれる画素内読出回路２０３が列信号線２０８の電位を大きく変化させたり、画素内読出回路２０３内の信号線の電位を大きく変化させたりしうる。これによって電源電位および接地電位が変動しうる。このような場合においても、電源電位および接地電位を変動させた画素２０１および当該画素２０１と電源線および接地線を共通にする他の画素２０１（特に周辺の画素２０１）から出力される信号にノイズが生じうる。そこで、この実施形態では、画素アレイＧＡ、より具体的には、画素アレイＧＡを構成する複数の単位セル２００の全部または一部が、電源線ＶＤＤと接地線ＧＮＤとの間に容量素子の少なくとも一部分を含む。ここで、単位セル２００は、容量素子の全体を含んでもよいし、容量素子の一部分を含んでもよい。後者の場合には、典型的には、複数の単位セル２００の集合が１つの容量素子を含みうる。容量素子は、第１電極および第２電極を有し、第１電極は電源線ＶＤＤに接続され、第２電極は接地線ＧＮＤに接続される。これにより、電源電位および接地電位の変動による画質の劣化を抑制することが可能となる。
【００３３】
前述のとおり、画素アレイＧＡを構成する複数の単位セル２００は、画素２０１の構成が異なるいくつかの種類を含みうる。図６に例示されるように、画素アレイＧＡを構成する複数の単位セル２００は、第１種類の単位セル２００ａ、第２種類の単位セル２００ｂ、第３種類の単位セル２００ｃ、第４種類の単位セル２００ｄ、第５種類の単位セル２００ｅなどを含みうる。
【００３４】
図６に示された例では、第１種類の単位セル２００ａは、画素２０１の他には回路素子、特にＭＯＳトランジスタ等の能動素子を有せず、容量素子ＣＡＰも有しない単位セルである。第２種類の単位セル２００ｂは、画素２０１の他に、単位垂直走査回路ＶＳＲの少なくとも一部分および容量素子ＣＡＰの少なくとも一部分を有する単位セルである。第３種類の単位セル２００ｃは、画素２０１の他に、単位水平走査回路ＨＳＲの少なくとも一部分および容量素子ＣＡＰの少なくとも一部分を有する単位セルである。第４種類の単位セル２００ｄは、画素２０１の他に、単位垂直走査回路ＶＳＲの少なくとも一部分、単位水平走査回路ＨＳＲの少なくとも一部分および容量素子ＣＡＰの少なくとも一部分を有する単位セルである。第５種類の単位セル２００ｅは、画素２０１の他に、出力アンプ２１０の少なくとも一部分および容量素子ＣＡＰの少なくとも一部分を有する単位セルである。図３に示された例では、水平走査回路２０５は、複数の列信号線（列信号線対）２０８ａ、２０８ｂが順に水平信号線２０９ａ、２０９ｂに順に接続されるように複数の列信号線（列信号線対）２０８ａ、２０８ｂを走査する。
【００３５】
図６に示す例は、電源線ＶＤＤおよび接地線ＧＮＤの電位に変動を与えやすい能動素子を含む単位セル２００ｂ〜２００ｅに容量素子ＣＡＰを配置した例である。ここで、図６に示す例では、ＭＯＳトランジスタ等の能動素子を有しない単位セル２００ａには容量素子ＣＡＰが配置されていないが、単位セル２００ａにも容量素子ＣＡＰを配置してもよい。
【００３６】
図７を参照しながら容量素子の配置ルールの他の例を説明する。図７に示された例では、第１種類の単位セル２００ａは、画素２０１の他には回路素子、特にＭＯＳトランジスタ等の能動素子を有しないが、容量素子ＣＡＰの少なくとも一部分を有する単位セルである。第２種類の単位セル２００ｂは、画素２０１の他に単位垂直走査回路ＶＳＲの少なくとも一部分を有するが、容量素子ＣＡＰを有しない単位セルである。第３種類の単位セル２００ｃは、画素２０１の他に単位水平走査回路ＨＳＲの少なくとも一部分および容量素子ＣＡＰを有するが、容量素子ＣＡＰを有しない単位セルである。第４種類の単位セル２００ｄは、画素２０１の他に単位垂直走査回路ＶＳＲの少なくとも一部分および単位水平走査回路ＨＳＲの少なくとも一部分を有するが、容量素子ＣＡＰを有しない単位セルである。第５種類の単位セル２００ｅは、画素２０１の他に出力アンプ２１０の少なくとも一部分を有するが、容量素子ＣＡＰを有しない単位セルである。図７に示す例は、単位垂直回路ＶＳＲ、単位水平回路ＨＳＲ、出力アンプ２１０の少なくとも１つの一部分が配置された単位セル２００ｂ〜２００ｅには容量素子ＣＡＰが配置されていない。また、単位垂直回路ＶＳＲ、単位水平回路ＨＳＲ、出力アンプ２１０のいずれも配置されない単位セル２００ａには容量素子ＣＡＰの少なくとも一部分が配置されている。このような容量素子の配置ルールは、容量素子の配置スペースに余裕がない場合に効果的である。なお、図７には、出力アンプ２１０の他に単位垂直回路ＶＳＲおよび単位水平回路ＨＳＲの少なくも一方の少なくとも一部分を含む単位セルは示されていない。しかし、そのような構成を有する単位セルを設けることも可能であり、図７に示す例に従えば、そのような単位セルには容量素子ＣＡＰが配置されない。
【００３７】
図８を参照しながら光電変換素子２０２および容量素子ＣＡＰの構成例を説明する。まず、光電変換素子２０２の構成例を説明する。撮像ブロック１０１は、例えば、第１導電型（例えばＮ型）の半導体部材（不図示）の上に第１導電型の半導体層８２０をエピタキシャル成長させた基板に形成されうる。各素子は、素子分離部８３０によって相互に分離される。各画素２０１の光電変換素子２０２は、例えば、半導体層８２０の中に形成された第２導電型（例えばＰ型）の不純物領域（ウェル）８０１と、不純物領域８０１の中に配置された第１導電型の不純物領域８０２、８１６とを有する。不純物領域８０２は、第１導電型を形成するための不純物濃度が不純物領域８１６よりも高く、周囲が不純物領域８１６によって囲まれている。不純物領域８０２の中には、第１導電型の不純物領域８０３が配置されていて、不純物領域８０３は、第１導電型を形成するための不純物濃度が不純物領域８０２よりも高い。不純物領域８０２、８１６の上には第２導電型の不純物領域８０４が配置されている。第１導電型の不純物領域８０２、８１６、８０３と第２導電型の不純物領域８０１、８０３とによって埋め込み型のフォトダイオードが形成されている。第２導電型の不純物領域８０１の周囲のうち上側部分は第２導電型の不純物領域８０６によって囲まれている。不純物領域８０６には、第２導電型のコンタクト領域８０９が設けられている。不純物領域８０６の周囲には、第１導電型の不純物領域（ウェル）８１１が配置されている。光電変換素子２０２の１つの電極としての不純物領域８０１には、不純物領域８０６を介して所定の電位が印加される。光電変換素子２０２に光が入射し光電変換によって発生した電荷は、不純物領域８０２によって収集され、更に不純物領域８０３によって収集される。光電変換素子２０２ののもう１つの電極としての不純物領域８０３は、画素内読出回路２０３に接続されている。
【００３８】
次に、容量素子ＣＡＰについて説明する。ここでは、第１導電型をＮ型、第２導電型をＰ型として説明するが、第１導電型をＰ型、第２導電型をＮ型とすることもできる。容量素子ＣＡＰは、ゲート酸化膜の形成工程で形成される酸化膜を誘電体として利用して構成されうる。具体的には、容量素子ＣＡＰは、例えば、電源線ＶＤＤに接続される第１電極としての不純物領域８１６と、接地線ＧＮＤに接続される第２電極としてのポリシリコン電極８１５と、それらの間に配置された酸化膜８１４とによって構成されうる。酸化膜８１４は、例えば、ゲート酸化膜の形成工程で形成され、ポリシリコン電極８１５は、例えば、ゲート電極の形成工程で形成されうる。第１導電型の不純物領域８１６は、第１導電型の半導体層８２０に形成された第２導電型の不純物領域（ウェル）８１２に形成されうる。不純物領域８１２には、コンタクト領域８１３を介して接地線ＧＮＤが接続されうる。
【００３９】
次に、図９を参照しながら容量素子ＣＡＰの他の構成例を説明する。ここでは、第１導電型をＮ型、第２導電型をＰ型として説明するが、第１導電型をＰ型、第２導電型をＮ型とすることもできる。容量素子ＣＡＰは、第１導電型の半導体層（ウェル）８２０と第２導電型の不純物領域８５０とのＰＮ接合によって構成されうる。第１導電型の半導体層（ウェル）８２０は、第１導電型のコンタクト領域８５２を介して電源線ＶＤＤに接続され、第２導電型の不純物領域８５０は、第２導電型のコンタクト領域８５１を介して接地線ＧＮＤに接続されている。ＰＮ接合には逆バイアスが印加され、これによりＰＮ接合が容量素子ＣＡＰとして機能する。
【００４０】
図１０は本発明に係る固体撮像装置をＸ線診断システム（放射線撮像システム）応用した例を示した図である。放射線撮像システムは、放射線撮像装置６０４０と、放射線撮像装置６０４０から出力される信号を処理するイメージプロセッサ６０７０とを備える。放射線撮像装置６０４０は、前述の固体撮像装置１００を図１（ｂ）に例示されるように放射線を撮像する装置として構成したものである。Ｘ線チューブ（放射線源）６０５０で発生したＸ線６０６０は患者あるいは被験者６０６１の胸部６０６２を透過し、放射線撮像装置６０４０に入射する。この入射したＸ線には被験者６０６１の体内部の情報が含まれている。イメージプロセッサ（プロセッサ）６０７０は、放射線撮像装置６０４０から出力される信号（画像）を処理し、例えば、処理によって得られた信号に基づいて制御室のディスプレイ６０８０に画像を表示させることができる。
【００４１】
また、イメージプロセッサ６０７０は、処理によって得られた信号を伝送路６０９０を介して遠隔地へ転送することができる。これにより、別の場所のドクタールームなどに配置されたディスプレイ６０８１に画像を表示させたり、光ディスク等の記録媒体に画像を記録したりすることができる。記録媒体は、フィルム６１１０であってもよく、この場合、フィルムプロセッサ６１００がフィルム６１１０に画像を記録する。
【００４２】
本発明に係る固体撮像装置は、可視光の像を撮像する撮像システムに応用することもできる。そのような撮像システムは、例えば、固体撮像装置１００と、固体撮像装置１００から出力される信号を処理するプロセッサとを備えうる。該プロセッサによる処理は、例えば、画像の形式を変換する処理、画像を圧縮する処理、画像のサイズを変更する処理および画像のコントラストを変更する処理の少なくとも１つを含みうる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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