(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
デジタル加入者線電気通信システムのデジタル加入者通信回線に結合されたアナログフロントエンドをテストするための、診断ツールによって使用する方法において、
前記回線の前記アナログフロントエンドを介してシングルエンド回線テスト測定を適用し、それにより、シングルエンド回線テスト測定値を収集するステップと、
前記シングルエンド回線テスト測定値を解釈し、それにより、前記アナログフロントエンドのアナログコンポーネントのいずれかがハードウェア障害を有し、その結果、前記アナログフロントエンドを使用不能にさせていることを判断するステップと
を含み、
前記シングルエンド回線テスト測定が、周波数領域反射率法であること、および前記回線テスト測定値が、信号パワースペクトル密度であり、
前記解釈するステップが、前記受信したスペクトル密度に対する合計パワーを求めることと、前記合計パワーを所定の閾値と比較することと、前記合計パワーが、前記所定の閾値未満である場合、前記アナログフロントエンドの前記コンポーネントのいずれかがハードウェア障害を有し、その結果、前記アナログフロントエンドを使用不能にさせていると判断することと、整合インピーダンスの較正曲線の合計パワーに応じて前記所定の閾値を決定することとを含むことを特徴とする、方法。
【請求項２】
デジタル加入者線電気通信システムのデジタル加入者通信回線（ＬＩＮＥ）に結合されたアナログフロントエンド（ＡＦＥ）をテストするためのテストシステム（ＴＥＳＴ−ＡＦＥ）において、
前記回線（ＬＩＮＥ）の前記アナログフロントエンド（ＡＦＥ）を介してシングルエンド回線テスト測定を適用し、それにより、シングルエンド回線テスト測定値を収集するためのシングルエンド回線テスト測定モジュール（ＳＥＬＴ）であって、周波数領域反射率法を実行するように適合されており、前記回線テスト測定値が、信号パワースペクトル密度である、シングルエンド回線テスト測定モジュール（ＳＥＬＴ）と、
前記シングルエンド回線テスト測定値を解釈し、前記受信したスペクトル密度に対する合計パワーを求め、前記合計パワーを所定の閾値と比較し、前記合計パワーが、前記所定の閾値未満である場合、前記アナログフロントエンドのアナログコンポーネントのいずれかがハードウェア障害を有し、その結果、前記アナログフロントエンドを使用不能にさせていると判断するための処理手段（ＰＲＯＣ）であって、前記所定の閾値は、整合インピーダンスの較正曲線の合計パワーに応じて決定される、処理手段（ＰＲＯＣ）と、
前記シングルエンド回線テスト測定モジュール（ＳＥＬＴ）および処理手段（ＰＲＯＣ）を制御するための制御手段（ＣＴＲＬ）と
を備えることを特徴とする、テストシステム（ＴＥＳＴ−ＡＦＥ）。
【請求項３】
前記テストシステムが複数の通信回線に結合され、それにより、前記複数の通信回線のうちの１つに結合される各アナログフロントエンド（ＡＦＥ）をテストすることが可能になることを特徴とする、請求項２に記載のテストシステム（ＴＥＳＴ−ＡＦＥ）。
【請求項４】
前記テストシステムが、様々なネットワーク要素にわたり分散されることを特徴とする、請求項２に記載のテストシステム（ＴＥＳＴ−ＡＦＥ）。
【請求項５】
前記テストシステムが、少なくとも部分的にアクセスノードに含まれることを特徴とする、請求項２に記載のテストシステム（ＴＥＳＴ−ＡＦＥ）。
【請求項６】
前記テストシステムが、少なくとも部分的にネットワーク診断ツールに含まれることを特徴とする、請求項２に記載のテストシステム（ＴＥＳＴ−ＡＦＥ）。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電気通信システムにおける通信回線に結合されるアナログフロントエンドをテストするための方法およびテストシステムに関する。
【背景技術】
【０００２】
デジタル加入者線電気通信システムなどにおける電気通信システムでは、電子装置の大部分が、上位層プロトコルに専用のデジタル回路から作られる。しかし、物理層に関しては、デジタル信号プロセッサユニットに隣接して、結合された通信回線で送受信されるアナログ信号を増幅またはフィルタするために、デジタル信号とアナログ信号との間で変換を実際に行うのに使用されるいくつかのアナログコンポーネントがなお存在する。このような典型的なデジタル加入者線システムは、そのアナログフロントエンドに、以下のような典型的なコンポーネントを備えている：
−  デジタル信号プロセッサから送られたデジタル信号をアナログ信号に、すなわち、電圧信号に変換するＤ／Ａ変換器ＤＡＣ、
−  Ｄ／Ａ変換器ＤＡＣから送られた信号を、通信回線に送る前に増幅するラインドライバＬＤ、
−  受信した信号から、送られる信号を分離するハイブリッドＨｙｂ、
−  ｘＤＳＬ信号と電話信号との間の相互作用を阻止する高域通過フィルタＨＰＦ、
−  通信回線から受信した信号を増幅する低雑音増幅器ＬＮＡ、
−  範囲外信号のエイリアシングを阻止する低域通過フィルタＬＰＦであるアンチエイリアシングフィルタ、および
−  デジタル信号プロセッサＤＳＰに送るために、受信したアナログ信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器ＡＤＣ。
【０００３】
雷光に起因することが多いこれらのアナログコンポーネントのいずれかにおけるハードウェア障害により、アナログフロントエンドシステムが使用不能になる。
【０００４】
デジタル信号プロセッサ、または任意の他の上位層のデジタルプロセスなど、システムにおける他のいずれかのデジタルブロックの障害に関するものとは異なり、アナログフロントエンドが使用できなくなることは、ソフトウェアにより検出することができない。
【０００５】
現在まで、顧客が、その通信回線に関して苦情を訴えるとき、またアナログフロントエンドの障害が疑われる場合、これを検証する唯一の方法は、回線がサービスできる状態に戻るかどうかを検査するために、この顧客の通信回線をＤＳＬボードの他のポートに手動で再配線すること、またはこの回線を他のボードにも再配線してみることである。再配線の後、回線がサービスできる状態に戻った場合、問題は、実際に前のＤＳＬポートのフロントエンドにおける障害に起因している。しかし、再配線後に、回線がサービス可能状態に戻らない場合、問題は、通信回線それ自体にあることが疑われる。この再配線技法は、オペレータの手動の介入を必要とし、したがって、多くの時間を必要とし、コストもかかる。実際に、手動による再配線の介入には、フィールド技術者を適切な中央局（ｃｅｎｔｒａｌ  ｏｆｆｉｃｅ）または遠隔ユニットに派遣し、かつ回線を他のポートに実際に再配線し、さらにサービスが正しく回復したかどうかを検査するのに時間を要するため、数時間かかる可能性がある。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明の目的は、上述の弱点を含まない、上記の知られたタイプのテストなど、電気通信システムにおける通信回線に結合されたアナログフロントエンドをテストするための方法およびテストシステムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明によれば、この目的は、テストシステムが、通信回線のアナログフロントエンドを介してシングルエンド回線テスト測定を適用し、それにより、シングルエンド回線テスト測定値を収集するためのシングルエンド回線テスト測定モジュールと、シングルエンド回線テスト測定値を解釈し、それにより、アナログフロントエンドが故障していることを判断するための処理手段と、シングルエンド回線テスト測定モジュールおよび処理手段を制御するための制御手段とを備えることにより達成される。
【０００８】
本出願の基本的な概念は、アナログフロントエンドにおけるハードウェアの障害を検知するために反射率測定を使用することである。
【０００９】
反射率法は、シングルエンド回線テストＳＥＬＴとも呼ばれるが、すでに知られた技法であり、ｘＤＳＬシステムで使用されている。
【００１０】
シングルエンド回線テストは、バインダの通信回線における障害を識別するための方法であり、またバンドルの様々な回線に対して、シングルエンド回線テストＳＥＬＴを行うステップを含む。
【００１１】
シングルエンド回線テストのよく知られた技法は、時間領域反射率法ＴＤＲと呼ばれる。ＴＤＲは、ツイストペアを介して信号を送り、かつ時間経過と共に受信したエコーを測定することからなる。入射信号とも呼ばれる入力信号は、送信入力により通信回線に加えられ、受信出力によりエコー信号が測定される。得られた測定値は、反射率分布（ｒｅｆｌｅｃｔｏｇｒａｍ）と呼ばれる。回線の、たとえわずかであっても、任意のインピーダンス変化があると、反射されたエコーレベルが変化することになり、それは、エコー測定値における「ピーク」または「谷」として現れる。この技法を用いたとき、接触不良、ブリッジタップ、またはワイヤゲージの変化などのいずれかの障害が、反射率分布で見えるようになる。
【００１２】
他の知られたシングルエンド回線テスト法は、周波数領域反射率法ＦＤＲと呼ばれる。この技法は、周波数に応じて、エコー信号の振幅および位相を測定することからなる。実際には、エコーは、周波数スイープと呼ばれる各必要な周波数に対して別々に、または１度にすべての周波数に対して測定することができるが、その場合、放射された信号は広帯域信号である。得られたグラフは、周波数に対する振幅および位相の反射係数によるボーデ線図である。このような線図は、単一の障害が、エコー振幅において、一連の規則的に間隔のある隆起または穴として出現することになるので、解釈するのが多少複雑である。
【００１３】
時間領域と周波数領域の反射率法の場合、結果は、接触不良、またはケーブル中の水分などの障害により影響を受けるが、ワイヤゲージの変化またはブリッジタップなどのいわゆる通常の欠陥によっても影響される。これらの技法に基づいて、ループ終端を決定するために、またはブリッジタップなどの他の障害を検出するために、ループ長を測定することが知られている。
【００１４】
本出願の原理は、通信回線で信号を送り、かつ回線から戻る信号の反射を観察する、すなわち、エコーを観察することである。アナログフロントエンドが故障したｘＤＳＬポートに接続されている通信回線に対して反射率測定が行われたとき、観察される測定は、実際には通信回線から戻ってくるエコーではなく、環境の背景雑音に非常に近いものとなる。
【００１５】
したがって、反射率測定が、エコー信号ではなく非常に低い雑音だけを含む場合、入射信号が回線上で送られておらず、障害がアナログフロントエンドの送信部にあることを示している可能性があるが、あるいは入射信号を正しく測定できておらず、障害がアナログフロントエンドの受信部にあることを示している可能性もある。
【００１６】
したがって、シングルエンド回線テスト測定から取得された情報は、ポートのアナログ回路で生ずる可能性のあるハードウェア障害を診断するために使用される。
【００１７】
本出願の価値は、手動の介入を行う必要なく、故障したアナログフロントエンドが自動的に検出されることである。こうすることにより、ネットワークを維持しているオペレータに時間およびコストの利点を与え、したがって、この機能を電気通信ネットワークの診断ツールに統合することは、非常に価値がある。実際に、上記で述べたように、手動の再配線の介入には数時間かかる可能性があるが、反射率測定、ならびにテスト結果の自動処理および解釈は、１分未満で行われる。様々な配線およびｘＤＳＬボードが、同じ会社に属していないアンバンドル型シナリオではより一層の価値がある。その場合、実際に、障害がボード上にあるのか、それとも回線それ自体にあるのかを判定することは、２つの異なる会社の責任を示唆するので、重大なことである。
【００１８】
本出願の好ましい実装形態は、シングルエンド回線テスト測定モジュールが、周波数領域反射率法ＦＤＲを実施すること、およびそれによる回線テスト測定値が、信号のパワースペクトル密度であることである。
【００１９】
このようなＦＤＲ実装形態の他の特性的な特徴は、処理手段が、所定の較正曲線を、信号パワースペクトル密度のグラフにより比較するように構成されることである。このようないわゆる「較正曲線」は、結果の正しい解釈を行うのに必要であるため、シングルエンド回線テストモジュールの設計時に、または初期化時に常に実施される。通常、３種類の較正測定が行われる。第１の較正測定は開放回路で行われ、第２のものは短絡回路で行われ、かつ第３のものは、デジタル加入者線システムで通常１００オームである整合インピーダンスで行われる。これらの較正測定は、ＤＳＬボードの設計時に行われるが、より確度を高めるために、生産ラインから出た各ＤＳＬボードに対して繰り返すことができる。このように、較正曲線は、ＤＳＬボードがフィールドで展開される時点には知られている。
【００２０】
故障したアナログフロントエンドを潜在的に検出する目的で、シングルエンド回線テスト測定値における異常値を判定する他の方法は、処理手段が、受信したスペクトル密度に対する合計パワーを求め、かつその合計パワーを所定の閾値と比較するようにテストシステム中でさらに構成されることである。本明細書による処理手段は、合計パワーが所定の閾値未満であった場合、アナログフロントエンドは故障していると判断するように設計される。
【００２１】
さらに、本出願のテストシステムは、複数の通信回線に結合することができ、それにより、テストシステムと、複数の通信回線のうちの１つとの間で結合された各アナログフロントエンドのそれぞれ１つのものをテストできるようになる、すなわち、１つのテストシステムを用いて、異なるアナログフロントエンドを、その適正な動作に関してテストすることができる。様々な回線をすべて１つの、同じボードに結合することができるが、異なるボードにも同様に結合することができ、それにより、１つのテストシステムが、様々なボードにもサービスできることに留意する必要がある。
【００２２】
テストシステムは、少なくとも部分的にアクセスノードに含めることができるが、あるいは少なくとも部分的にネットワーク診断ツールに含めることができる。これは、本出願の可能な実装形態は、テストシステムが、ＤＳＬボード中に完全に実装される、または診断ツール中に完全に実装される実装形態を含むことを意味している。
【００２３】
最後に、テストシステムの様々な機能ブロックは、１つの、同じネットワーク要素中に集中化することができるが、アクセスノードおよび／または診断ツールなどの様々なネットワーク要素にわたり分散させてもよい。
【００２４】
特許請求の範囲で使用される用語「備える／含む（ｃｏｍｐｒｉｓｉｎｇ）」は、その後に列挙される手段に限定されるものと解釈すべきではないことに留意されたい。したがって、表現「手段ＡおよびＢを備える装置」の範囲は、構成要素ＡおよびＢだけからなる装置に限定されるべきではない。それは、本発明に関して、単に関連する装置の構成要素が、ＡおよびＢであることを意味している。
【００２５】
同様に、特許請求の範囲で使用される用語「結合される」はまた、直接接続されるものだけに限定されると解釈すべきではないことに留意されたい。したがって、表現「装置Ｂに結合された装置Ａ」の範囲は、装置Ａの出力が、装置Ｂの入力に直接接続される装置またはシステムに限定されるべきではない。それは、他の装置または手段を含む経路でありうる、Ａの出力とＢの入力との間に経路が存在することを意味する。
【００２６】
添付図面と併せて以下の一実施形態の以下の記述を参照することにより、本発明の上記のならびに他の目的および特徴がより明らかとなり、本発明それ自体が最もよく理解されよう。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】デジタル加入者線ボードＤＳＬ−Ｂｏａｒｄを表す図である。
【図２】開放、短絡、および整合の終端に関して、反射率測定値の比較を較正曲線により示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００２８】
図１で示すその電気通信環境における本発明による装置の動作は、そこで示された様々なブロックの機能的な記述により説明される。この説明に基づけば、ブロックの実際的な実装形態は当業者には自明のものとなるので、それを詳細に説明しないものとする。加えて、アナログフロントエンドをテストするための方法の原理的な動作がさらに詳細に説明される。
【００２９】
図１を参照すると、ＤＳＬ  Ｂｏａｒｄの１つのポートが示されている。ＤＳＬのポートは、デジタル部分ＤＩＧＩＴＡＬとアナログ部分ＡＮＡＬＯＧＵＥとを備える。両方の部分の間の境界は、Ｄ／Ａ変換器ＤＡＣ、およびＡ／Ｄ変換器ＡＤＣにより形成される。アナログ部分は、述べられる順序で互いに結合された以下のコンポーネントを有するアナログフロントエンドＡＦＥを備える：
−  デジタル信号プロセッサから送られたデジタル信号をアナログ信号に、すなわち、電圧信号に変換するＤ／Ａ変換器ＤＡＣ、
−  Ｄ／Ａ変換器ＤＡＣから送られた信号を、通信回線に送る前に増幅するラインドライバＬＤ、
−  受信信号から、送られた信号を分離するハイブリッドＨｙｂ、
−  ｘＤＳＬ信号と電話信号との間の相互作用を阻止する高域通過フィルタＨＰＦ、
−  通信回線から受信した信号を増幅する低雑音増幅器ＬＮＡ、
−  範囲外信号のエイリアシングを阻止する低域通過フィルタＬＰＦであるアンチエイリアシングフィルタ、および
−  デジタル信号プロセッサＤＳＰに送るために、受信したアナログ信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器ＡＤＣ。
【００３０】
これらの機能のいくつかは単一のチップに統合することができるが、これらの機能の全てを統合することはできないことに留意すべきである。なぜならば、これらの機能は、他の技術を必要とする、またはインダクタ、変圧器、もしくは大型のコンデンサなどのように単により大型のコンポーネントであるからである。このようにＤ／Ａ変換器は、Ａ／Ｄ変換器と統合することができるが、ラインドライバは、電力半導体技術を必要とするので、他のコンポーネントとさらに統合することは難しく、また大型のコンデンサを必要とするフィルタもまた、他のコンポーネントとさらに統合することは困難である。
【００３１】
高域通過フィルタＨＰＦは、通信回線ＬＩＮＥに結合され、それは次いで、顧客の構内設備ＣＰＥに結合される。
【００３２】
デジタル部分は、Ｄ／Ａ変換器ＤＡＣおよびＡ／Ｄ変換器ＡＤＣの両方と、本出願のテストシステムＴＥＳＴ−ＡＦＥとに結合されるデジタル信号プロセッサＤＳＰを備える。
【００３３】
テストシステムＴＥＳＴ−ＡＦＥは、シングルエンド回線テスト測定モジュールＳＥＬＴ、プロセッサと呼ばれる処理手段ＰＲＯＣ、および制御器と呼ばれる制御手段ＣＴＲＬを備える。シングルエンド回線テストモジュールＳＥＬＴは、デジタル信号プロセッサＤＳＰ、プロセッサＰＲＯＣ、および制御器ＣＴＲＬに結合される。制御器はまた、プロセッサに結合される。
【００３４】
シングルエンド回線テスト測定モジュールＳＥＬＴは、アナログフロントエンドを介し、回線ＬＩＮＥに対してシングルエンド回線テスト測定を適用し、それによりシングルエンド回線テスト測定値を収集するために、テストシステムに含まれる。プロセッサＰＲＯＣは、シングルエンド回線テスト測定値を解釈し、それにより、アナログフロントエンドＡＦＥが故障しているかどうかを判断するために、テストシステムＴＥＳ−ＡＦＥに含まれる。制御器ＣＴＲＬは、シングルエンド回線テスト測定モジュールＳＥＬＴおよびプロセッサＰＲＯＣを制御するためにテストシステムＴＥＳＴ−ＡＦＥに含まれる。
【００３５】
顧客が、例えば、ＬＩＮＥなど、自分の通信回線に関して苦情を訴える状況を考える。本出願の方法は、アナログフロントエンドにおける障害が疑われうるかどうかを検証する方法を提供する。オペレータは、このような状況において、制御器ＣＴＲＬをトリガすることができ、制御器は、次いで、シングルエンド回線テスト測定モジュールおよびプロセッサを制御することになる。
【００３６】
第１の制御信号が、シングルエンド回線テスト測定モジュールに転送されてこのモジュールをトリガし、各回線ＬＩＮＥのアナログフロントエンドを介してシングルエンド回線テスト測定を適用し、かつそれにより、シングルエンド回線テスト測定値を収集する。
【００３７】
収集されたシングルエンド回線テスト測定値は、測定モジュールＳＥＬＴによりテストシステムのプロセッサＰＲＯＣへと転送される。
【００３８】
測定値を受信すると、プロセッサＰＲＯＣは、シングルエンド回線テスト測定値の解釈を開始し、かつそれにより、通信回線ＬＩＮＥに関する苦情が、関連するアナログフロントエンドが故障したことに起因しているかどうかを判断する。
【００３９】
制御器ＣＴＲＬにより、シングルエンド回線テスト測定モジュールＳＥＬＴおよびプロセッサＰＲＯＣを共に制御するための代替的な方法は、例えば、測定モジュールＳＥＬＴが、例えば、通常の方法でシングルエンド回線測定を行い、かつそれにより通常の方法で収集された測定値をプロセッサに送る場合に提供されることに留意されたい。オペレータが制御器ＣＴＲＬを開始した場合、制御器は、例えば、最近受信した測定値および判断の解釈の実行をトリガするために、第２の制御信号をプロセッサＰＲＯＣに送る。その目的は、制御器ＣＴＲＬを介して、外部のイベントが、その機能を実行するように装置ＳＥＬＴおよびＰＲＯＣの両方に転送されることにある。
【００４０】
例えば、ｘＤＳＬシステムでは、通常、周波数領域反射率法ＦＤＲが、シングルエンド回線テスト測定として使用されることに留意する必要がある。ＦＤＲを適用するとき、測定を反映する典型的なグラフは、周波数に応じた受信信号のパワーを、すなわち、受信した信号パワースペクトル密度ＰＳＤを実際に示している。
【００４１】
受信信号、すなわち、ＳＥＬＴモジュールにより受信された信号は、エコー信号であることも、ないこともありうることに留意されたい。これは、アナログフロントエンドが実際に故障しているかどうかに依存しており、故障している場合には、故障している各コンポーネントにも依存する。
【００４２】
上記で述べたように、較正曲線は、結果の正しい解釈に必要であるため、シングルエンド回線テストモジュールＳＥＬＴの設計時に、または初期化時に常に生成される。これらの較正曲線が図２に示されている。設計時に生成される典型的な３種類の較正測定は：
−  開放回路で、
−  短絡回路で、かつ
−  デジタル加入者線システムでは通常１００オームである整合インピーダンスで
行われる。
【００４３】
伝統的な送信回路理論によれば、エコー信号の最大測定信号は、ポートが、開放回路または短絡回路により終端されたときに生ずる。これは、図２で、すなわち、最も高い曲線で示されている。これらの場合では、すべての信号パワーは放射源に戻る。さらに、エコー信号の最小の測定信号は、ポートが、負荷を加えるとも呼ばれる整合インピーダンスで終端されたときに生ずる。インピーダンスは、実際は、回線ＬＩＮＥのポートの内部ソースインピーダンスに等しい。この場合、図２を参照すると、すべての信号パワーは、負荷へと送信され、戻ってくる信号パワーはない。
【００４４】
プロセッサＰＲＯＣの解釈のタスクを、次にさらに詳細に述べるものとする。シングルエンド回線テストＳＥＬＴが、ＦＤＲを実施することにより提供され、かつそれにより信号パワースペクトル密度が測定されてグラフで提供されるｘＤＳＬ電気通信システムの場合、解釈するステップは、これらの所定の較正曲線を、測定された信号パワースペクトル密度のグラフにより比較するステップを含む。図２は、故障したアナログフロントエンドシステムに対する測定された信号パワースペクトル密度を示している。図示された故障したポートの「エコー」レベルは、正常なポートに対して生成された較正曲線のどれよりもはるかに低い。ポートが整合インピーダンスで負荷が加えられた場合であっても、故障したアナログフロントエンドを含む生成されたグラフは、はるかに低い。プロセッサＰＲＯＣの解釈は、較正曲線と比較したとき、ＳＥＬＴの実際の測定値が、図で実際にはるかに低い位置にあるかどうかを判定するステップからなる。実際の測定値が、実際にはるかに低い場合、プロセッサＰＲＯＣは、アナログフロントエンドが実際に故障していると判断／判定する。
【００４５】
さらなる、または代替の「解釈する」ステップは、受信したスペクトル密度に対する合計パワーを求め、この合計のパワーを所定の閾値と比較するステップを含む。スペクトル密度信号の合計パワーは、周波数にわたって受信したＰＳＤ信号を積分することにより求めることができる。
【００４６】
実際に、ＳＥＬＴモジュールの設計時に、例えば、整合インピーダンスの較正曲線に関する合計パワーを求めることができる。計算されたパワーの値は、例えば、プロセッサＰＲＯＣに記憶される閾値として定義される。アナログフロントエンドの適正な動作を疑う場合、プロセッサＰＲＯＣは、最近のＳＥＬＴ測定値に基づき、受信したスペクトル密度に対する合計パワーを計算し、この値を所定の閾値と比較する。受信したスペクトル密度の合計パワーが、所定の閾値よりも低い場合、プロセッサＰＲＯＣは、は、アナログフロントエンドが実際に故障していると判断する。
【００４７】
最後に、図１は、テストシステムが１つの通信回線ＬＩＮＥにだけ結合されていることを示すことに留意する必要がある。しかし、本テストシステムＴＥＳＴ−ＡＦＥは、そのアナログフロントエンドをそれぞれが備える複数の同様の通信回線に対して同様に結合され、かつサービスすることができる。
【００４８】
最後の留意点は、本発明の諸実施形態は、機能ブロックに関して上記で述べられていることである。上記で示されたこれらのブロックの機能的な説明から、電子装置を設計する当業者であれば、よく知られた電子コンポーネントを用いて、これらのブロックの実施形態をどのようにすれば製作できるかは明らかであろう。したがって、機能ブロックの内容の詳細なアーキテクチャは示さないものとする。
【００４９】
本発明の原理が、特有の装置と共に上記で述べられてきたが、この記述は、例示のために行われているに過ぎず、添付の特許請求の範囲で定義される本発明の範囲を限定するものではないことを明確に理解されたい。
【図１】
0005711823.tif 000002
【図２】
0005711823.tif 000003