(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定試料を作製する工程を備えた測定試料作製工程と、
該測定試料作製工程で作製された測定試料を、測定試料と測定試料環境測定保持工程における所定の位置と条件で適切にセッティングする測定試料セッティング工程と、
該測定試料セッティング工程を経た後の測定試料に放射線を照射するために、放射線を発生する工程を備えた放射線発生工程と、
該放射線発生工程で発生させた放射線を所定の条件の放射線に調節する工程を備えた放射線調節工程と、
該放射線調節工程で調節された放射線の強度（以下、測定試料前放射線強度とする。）を測定する測定試料前放射線強度測定工程と、
該測定試料前放射線強度測定工程で測定された測定試料前放射線強度で照射された測定試料とその測定試料がおかれた測定試料環境条件を測定すると同時に、測定試料におかれた環境を所定の条件に保持する測定試料環境測定保持工程を備えた測定試料と測定試料環境測定保持工程と、
該測定試料と測定試料環境測定保持工程における測定試料に測定試料前放射線強度で照射し、測定試料を通過した後の放射線の強度（以下、測定試料後放射線強度とする。）を測定する工程を備えた測定試料後放射線強度測定工程と、
該測定試料前放射線強度測定工程で測定された測定試料前放射線強度で、該測定試料環境測定保持工程下にある測定試料に照射し、測定試料によって散乱された放射線強度の二次元画像（以下、放射線強度の二次元画像とする。）を測定する工程を備えた放射線強度の二次元画像測定工程と、
該測定試料前放射線強度測定工程で測定された測定試料前放射線強度と、該測定試料後放射線強度測定工程で測定された測定試料後放射線強度と、該放射線強度の二次元画像測定工程で測定された放射線強度の二次元画像と、
測定試料作製工程、該測定試料セッティング工程、該放射線発生工程、該放射線調節工程、該測定試料と測定試料環境測定保持工程のそれぞれにおいて設定された所定の条件と工程管理結果および履歴を記憶する記憶工程と、
該記憶工程から放射線強度の二次元画像の画素位置におけるQ値が判明している物質が充填された容器（以下、Q値標準物質充填容器とする。）について測定された放射線強度の二次元画像を読み込み、該Q値標準物質充填容器の放射線強度の二次元画像の画素（ピクセル）位置と輝度からQ値を決定し、それをもとに測定試料それぞれの放射線強度の二次元画像の画素位置をQ値に、該画素位置の輝度を放射線強度の値に数値化し、数値化したQ値と該Q値における放射線強度の値を該記憶工程に記憶させる放射線強度の二次元画像数値化工程と、
該記憶工程から測定試料それぞれの測定ファイル名、測定開始時刻、測定終了時刻、測定時間、該測定試料前放射線強度測定工程で測定された測定試料前放射線強度、該測定試料後放射線強度測定工程で測定された測定試料後放射線強度を測定試料ごとに取得し一覧として表示する照射強度補正係数算出工程中の照射強度補正係数算定基礎値取得工程と、
該照射強度補正係数工程の中の照射強度補正係数値算定基礎値取得工程で取得された測定開始時刻と測定終了時刻をもとに、測定開始から終了までの測定時間と測定中央時刻を測定試料ごとに算出し、測定試料ごとの該測定試料前放射線強度測定工程で測定された測定試料前放射線強度を時間1秒あたりの測定試料前放射線強度を算出し、測定試料ごとの該測定試料後放射線強度測定工程で測定された測定試料後放射線強度を時間1秒あたりの測定試料後放射線強度に算出し、測定試料を該試料環境測定保持工程にセッティングしない状態で放射線を照射し、一定時間測定（つまり測定試料もなにもなく空気しかない状態で放射線を照射し一定時間測定）した時間1秒あたりの測定試料前放射線強度の値（以下、放射線のみ時間1秒あたりの測定試料前放射線強度値とする。）をもとにして、放射線のみ時間1秒あたりの測定試料前放射線強度値に測定試料それぞれの時間1秒あたりの測定試料前放射線強度の値を除算した係数（以下、照射強度補正係数とし、照射強度補正係数＝放射線のみ時間1秒あたりの測定試料前放射線強度値÷測定試料それぞれの時間1秒あたりの測定試料前放射線強度で計算される。）を算出し、算出されたすべての結果を一覧として表示し、記憶工程に記憶する照射強度補正係数算出工程中の照射強度補正係数算出結果工程と、
該記憶工程から散乱断面積の値が判明している物質（以下、強度標準物質とする。）を充填した容器（以下、強度標準物質充填容器とする。）を試料環境測定保持工程にセッティングした状態で放射線を照射し一定時間測定した結果（以下、強度標準物質充填容器測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、該記憶工程から強度標準物質を充填しない空の容器を試料環境測定保持工程にセッティングした状態で放射線を照射し一定時間測定した結果（以下、強度標準物質測定用空容器結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、測定試料を試料環境測定保持工程にセッティングしない状態で、それに加えて放射線を照射しない状態で、一定時間測定した結果（以下、自然放射線測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定時間、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、該記憶工程から測定試料を試料環境測定保持工程にセッティングしない状態で放射線を照射し一定時間測定した結果、つまり測定試料もなにもなく空気しかない状態で放射線を照射し一定時間測定結果（以下、放射線のみの測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示する強度標準物質切片算出工程中の強度標準物質切片算出基礎値取得工程と、
強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果、自然放射線測定結果、放射線のみの測定結果のそれぞれの結果のQ値の単位をオングストロームを底としたマイナス1乗（angstrom -1）に換算して、その結果を一覧として表示し、強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果、放射線のみの測定結果のそれぞれの結果のQ値における強度の値を下記の数１で計算して、その結果を一覧として表示し、自然放射線測定結果のQ値における強度の値を下記の数２で計算して、その結果を一覧として表示し、強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果、放射線のみの測定結果のすべての下記の数１計算後のQ値における強度の値と、自然放射線測定結果の下記の数２計算後のQ値における強度の値と、強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果の時間1秒あたりの測定試料前放射線強度と時間1秒あたりの測定試料後放射線強度の値を用いて、下記の数３で計算した結果である数３計算後の強度標準物質のみのQ値ごとの強度、強度標準物質充填容器の透過率、強度標準物質測定用空容器の透過率、強度標準物質の透過率の値と、数３で計算したデータ数を一覧として表示し、その後すべての結果を該記憶工程に記憶させる強度標準物質切片算出工程中の強度標準物質放射線強度補正計算工程と、
該強度標準物質切片算出工程中の強度標準物質放射線強度補正計算工程で計算された放射線のみの測定結果の単位換算後のQ値を横軸に、下記の数１計算後のQ値ごとの強度を縦軸とした散布図を作図し、放射線の強度を適正に検出しているQ値の範囲（以下、Q値適正範囲とする。）を判断し設定し、強度標準物質のみの単位換算後のQ値と下記の数３計算後のQ値ごとの強度を、Q値適正範囲で抽出し、一覧として表示し、該記憶工程に記憶させる強度標準物質切片算出工程中の強度標準物質Q値適正範囲設定工程と、
該強度標準物質切片算出工程中の強度標準物質Q値適正範囲設定工程で設定された強度標準物質のみの単位換算後のQ値を横軸に、下記の数３計算後のQ値ごとの強度を縦軸とした散布図を作図し、Q値の小さい領域で、単位換算後のQ値と下記の数３計算後のQ値ごとの強度を最小二乗法で一次関数（y = a3 x + b3、yを下記の数３計算後のQ値ごとの強度の値、xを単位換算後のQ値、a3は傾き、b3は切片）にあてはめ、切片b3を求め、この切片b3の値で強度標準物質の散乱断面積の値[SCS(0)standard]と設定する、つまりb3= SCS(0) standardと設定し、当該散布図に一次関数にあてはめた結果と最小二乗法であてはめたデータ範囲を表示し、これらすべての結果を該記憶工程に記憶させる強度標準物質切片算出工程中の強度標準物質切片作図算出工程と、
該記憶工程から測定者が測定したい試料溶液の溶媒を充填した容器を試料環境測定保持工程にセッティングした状態で放射線を照射し一定時間測定した結果（以下、試料溶媒充填容器測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、該記憶工程から試料溶媒充填容器の溶媒と溶媒が同じで、測定者が測定したい溶質を含んだ試料溶液を充填した容器（以下、試料溶液充填容器とする。）を試料環境測定保持工程にセッティングした状態で放射線を照射し一定時間測定した結果（以下、試料溶液充填容器測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、自然放射線測定結果の測定ファイル名、データ数、測定時間、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、該記憶工程から該強度標準物質切片算出工程中の強度標準物質Q値適正範囲設定工程で設定されたQ値適正範囲、該記憶工程から強度標準物質充填容器の厚さ、試料溶液充填容器の厚さ、強度標準物資の透過率、強度標準物質の切片b3、強度標準物質の散乱断面積の値を取得し、一覧として表示する試料溶液中溶質の散乱断面積算出工程の中の試料溶液中溶質の散乱断面積算出基礎値取得工程と、
該試料溶液中溶質の散乱断面積算出工程中の試料溶液中溶質の散乱断面積算出基礎値取得工程で取得された値を用いて、試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果、自然放射線測定結果のそれぞれの結果のQ値の単位をオングストロームを底としたマイナス1乗（angstrom -1）に換算して、その結果を一覧として表示し、試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果のそれぞれの結果のQ値における強度の値を下記の数１で計算して、その結果を一覧として表示し、自然放射線測定結果のQ値における強度の値を下記の数２で計算して、その結果を一覧として表示し、試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果のすべての数１計算後のQ値における強度の値と、自然放射線測定結果の数２計算後のQ値における強度の値と、試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果の時間1秒あたりの測定試料前放射線強度と時間1秒あたりの測定試料後放射線強度の値を用いて、下記の数４で計算した結果である数４計算後の試料溶液中溶質のみのQ値ごとの強度、試料溶液充填容器の透過率、試料溶媒充填容器の透過率、試料溶液中溶質の透過率の値と、下記の数４で計算したデータ数を一覧として表示し、試料溶液中溶質の散乱断面積算出工程中の試料溶液中溶質の散乱断面積算出基礎値取得工程で取得されたQ値適正範囲中の試料溶液中溶質の単位換算後のQ値と下記の数４計算後の強度の値を抽出し、一覧として表示し、該記憶工程に記憶させる試料溶液中溶質の散乱断面積算出工程中の試料溶液中溶質の放射線強度補正計算工程と、
該記憶工程もしくは試料溶液中溶質の散乱断面積算出工程の中の試料溶液中溶質の放射線強度補正計算工程から取得されたQ値適正範囲中のQ値、数４計算後の強度、強度標準物質充填容器の厚さ、試料溶液充填容器の厚さ、強度標準物資の透過率、強度標準物質の切片b3を用いて、下記の数５で計算した結果であるQ値適正範囲中のQ値ごとの数５計算後の試料溶液中溶質の散乱断面積の値を一覧として表示し、横軸にQ値適正範囲中のQ値とし、縦軸にQ値ごと下記の数５計算後の試料溶液中溶質の散乱断面積の値とした散布図を作図して表示し、これらすべての結果を該記憶工程に記憶させる試料溶液中溶質の散乱断面積算出工程の中の試料溶液中溶質の散乱断面積算出結果工程と、
を有する、
溶液散乱法における角度ごとの任意の大きさの放射線の強度を、物質の放射線に対する吸収と放射線の強度変動を考慮した溶液中の溶質の散乱断面積（絶対散乱光強度ともいう）に変換する方法。
【数１】
0005717159.tif 000012
【数２】
0005717159.tif 000013
【数３】
0005717159.tif 000014
【数４】
0005717159.tif 000015
【数５】
0005717159.tif 000016
【請求項２】
測定試料を作製する機構を備えた測定試料作製機構と、
該測定試料作製機構で作製された測定試料を、測定試料と測定試料環境測定保持機構における所定の位置と条件で適切にセッティングする測定試料セッティング機構と、
該測定試料セッティング機構を経た後の測定試料に放射線を照射するために、放射線を発生する機構を備えた放射線発生機構と、
該放射線発生機構で発生させた放射線を所定の条件の放射線に調節する機構を備えた放射線調節機構と、
該放射線調節機構で調節された放射線の強度（以下、測定試料前放射線強度とする。）を測定する測定試料前放射線強度測定機構と、
該測定試料前放射線強度測定機構で測定された測定試料前放射線強度で照射された測定試料とその測定試料がおかれた測定試料環境条件を測定すると同時に、測定試料におかれた環境を所定の条件に保持する測定試料環境測定保持機構を備えた測定試料と測定試料環境測定保持機構と、
該測定試料と測定試料環境測定保持機構における測定試料に測定試料前放射線強度で照射し、測定試料を通過した後の放射線の強度（以下、測定試料後放射線強度とする。）を測定する機構を備えた測定試料後放射線強度測定機構と、
該測定試料前放射線強度測定機構で測定された測定試料前放射線強度で、該測定試料環境測定保持機構下にある測定試料に照射し、測定試料によって散乱された放射線強度の二次元画像（以下、放射線強度の二次元画像とする。）を測定する機構を備えた放射線強度の二次元画像測定機構と、
該測定試料前放射線強度測定機構で測定された測定試料前放射線強度と、該測定試料後放射線強度測定機構で測定された測定試料後放射線強度と、該放射線強度の二次元画像測定機構で測定された放射線強度の二次元画像と、
測定試料作製機構、該測定試料セッティング機構、該放射線発生機構、該放射線調節機構、該測定試料と測定試料環境測定保持機構のそれぞれにおいて設定された所定の条件と機構管理結果および履歴を記憶する記憶機構と、
該記憶機構から放射線強度の二次元画像の画素位置におけるQ値が判明している物質が充填された容器（以下、Q値標準物質充填容器とする。）について測定された放射線強度の二次元画像を読み込み、該Q値標準物質充填容器の放射線強度の二次元画像の画素（ピクセル）位置と輝度からQ値を決定し、それをもとに測定試料それぞれの放射線強度の二次元画像の画素位置をQ値に、該画素位置の輝度を放射線強度の値に数値化し、数値化したQ値と該Q値における放射線強度の値を該記憶機構に記憶させる放射線強度の二次元画像数値化機構と、
該記憶機構から測定試料それぞれの測定ファイル名、測定開始時刻、測定終了時刻、測定時間、該測定試料前放射線強度測定工程で測定された測定試料前放射線強度、該測定試料後放射線強度測定工程で測定された測定試料後放射線強度を測定試料ごとに取得し一覧として表示する照射強度補正係数算出機構中の照射強度補正係数算定基礎値取得機構と、
該照射強度補正係数機構の中の照射強度補正係数値算定基礎値取得機構で取得された測定開始時刻と測定終了時刻をもとに、測定開始から終了までの測定時間と測定中央時刻を測定試料ごとに算出し、測定試料ごとの該測定試料前放射線強度測定工程で測定された測定試料前放射線強度を時間1秒あたりの測定試料前放射線強度を算出し、測定試料ごとの該測定試料後放射線強度測定工程で測定された測定試料後放射線強度を時間1秒あたりの測定試料後放射線強度に算出し、測定試料を該試料環境測定保持機構にセッティングしない状態で放射線を照射し、一定時間測定（つまり測定試料もなにもなく空気しかない状態で放射線を照射し一定時間測定）した時間1秒あたりの測定試料前放射線強度の値（以下、放射線のみ時間1秒あたりの測定試料前放射線強度値とする。）をもとにして、放射線のみ時間1秒あたりの測定試料前放射線強度値に測定試料それぞれの時間1秒あたりの測定試料前放射線強度の値を除算した係数（以下、照射強度補正係数とし、照射強度補正係数＝放射線のみ時間1秒あたりの測定試料前放射線強度値÷測定試料それぞれの時間1秒あたりの測定試料前放射線強度で計算される。）を算出し、算出されたすべての結果を一覧として表示し、記憶機構に記憶する照射強度補正係数算出機構中の照射強度補正係数算出結果機構と、
該記憶機構から散乱断面積の値が判明している物質（以下、強度標準物質とする。）を充填した容器（以下、強度標準物質充填容器とする。）を試料環境測定保持機構にセッティングした状態で放射線を照射し一定時間測定した結果（以下、強度標準物質充填容器測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、該記憶機構から強度標準物質を充填しない空の容器を試料環境測定保持機構にセッティングした状態で放射線を照射し一定時間測定した結果（以下、強度標準物質測定用空容器結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、測定試料を試料環境測定保持機構にセッティングしない状態で、それに加えて放射線を照射しない状態で、一定時間測定した結果（以下、自然放射線測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定時間、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、該記憶機構から測定試料を試料環境測定保持機構にセッティングしない状態で放射線を照射し一定時間測定した結果、つまり測定試料もなにもなく空気しかない状態で放射線を照射し一定時間測定結果（以下、放射線のみの測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示する強度標準物質切片算出機構中の強度標準物質切片算出基礎値取得機構と、
強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果、自然放射線測定結果、放射線のみの測定結果のそれぞれの結果のQ値の単位をオングストロームを底としたマイナス1乗（angstrom -1）に換算して、その結果を一覧として表示し、強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果、放射線のみの測定結果のそれぞれの結果のQ値における強度の値を請求項１記載の数１で計算して、その結果を一覧として表示し、自然放射線測定結果のQ値における強度の値を請求項１記載の数２で計算して、その結果を一覧として表示し、強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果、放射線のみの測定結果のすべての請求項１記載の数１計算後のQ値における強度の値と、自然放射線測定結果の請求項１記載の数２計算後のQ値における強度の値と、強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果の時間1秒あたりの測定試料前放射線強度と時間1秒あたりの測定試料後放射線強度の値を用いて、請求項１記載の数３で計算した結果である数３計算後の強度標準物質のみのQ値ごとの強度、強度標準物質充填容器の透過率、強度標準物質測定用空容器の透過率、強度標準物質の透過率の値と、数３で計算したデータ数を一覧として表示し、その後すべての結果を該記憶機構に記憶させる強度標準物質切片算出機構中の強度標準物質放射線強度補正計算機構と、
該強度標準物質切片算出機構中の強度標準物質放射線強度補正計算機構で計算された放射線のみの測定結果の単位換算後のQ値を横軸に、請求項１記載の数１計算後のQ値ごとの強度を縦軸とした散布図を作図し、放射線の強度を適正に検出しているQ値の範囲（以下、Q値適正範囲とする。）を判断し設定し、強度標準物質のみの単位換算後のQ値と請求項１記載の数３計算後のQ値ごとの強度を、Q値適正範囲で抽出し、一覧として表示し、該記憶機構に記憶させる強度標準物質切片算出機構中の強度標準物質Q値適正範囲設定機構と、
該強度標準物質切片算出機構中の強度標準物質Q値適正範囲設定機構で設定された強度標準物質のみの単位換算後のQ値を横軸に、請求項１記載の数３計算後のQ値ごとの強度を縦軸とした散布図を作図し、Q値の小さい領域で、単位換算後のQ値と請求項１記載の数３計算後のQ値ごとの強度を最小二乗法で一次関数（y = a3 x + b3、yを請求項１記載の数３計算後のQ値ごとの強度の値、xを単位換算後のQ値、a3は傾き、b3は切片）にあてはめ、切片b3を求め、この切片b3の値で強度標準物質の散乱断面積の値[SCS(0)standard]と設定する、つまりb3= SCS(0) standardと設定し、当該散布図に一次関数にあてはめた結果と最小二乗法であてはめたデータ範囲を表示し、これらすべての結果を該記憶機構に記憶させる強度標準物質切片算出機構中の強度標準物質切片作図算出機構と、
該記憶機構から測定者が測定したい試料溶液の溶媒を充填した容器を試料環境測定保持機構にセッティングした状態で放射線を照射し一定時間測定した結果（以下、試料溶媒充填容器測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、該記憶機構から試料溶媒充填容器の溶媒と溶媒が同じで、測定者が測定したい溶質を含んだ試料溶液を充填した容器（以下、試料溶液充填容器とする。）を試料環境測定保持機構にセッティングした状態で放射線を照射し一定時間測定した結果（以下、試料溶液充填容器測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、自然放射線測定結果の測定ファイル名、データ数、測定時間、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、該記憶機構から該強度標準物質切片算出機構中の強度標準物質Q値適正範囲設定機構で設定されたQ値適正範囲、該記憶機構から強度標準物質充填容器の厚さ、試料溶液充填容器の厚さ、強度標準物資の透過率、強度標準物質の切片b3、強度標準物質の散乱断面積の値を取得し、一覧として表示する試料溶液中溶質の散乱断面積算出機構の中の試料溶液中溶質の散乱断面積算出基礎値取得機構と、
該試料溶液中溶質の散乱断面積算出機構中の試料溶液中溶質の散乱断面積算出基礎値取得機構で取得された値を用いて、試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果、自然放射線測定結果のそれぞれの結果のQ値の単位をオングストロームを底としたマイナス1乗（angstrom -1）に換算して、その結果を一覧として表示し、試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果のそれぞれの結果のQ値における強度の値を請求項１記載の数１で計算して、その結果を一覧として表示し、自然放射線測定結果のQ値における強度の値を請求項１記載の数２で計算して、その結果を一覧として表示し、試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果のすべての数１計算後のQ値における強度の値と、自然放射線測定結果の数２計算後のQ値における強度の値と、試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果の時間1秒あたりの測定試料前放射線強度と時間1秒あたりの測定試料後放射線強度の値を用いて、請求項１記載の数４で計算した結果である数４計算後の試料溶液中溶質のみのQ値ごとの強度、試料溶液充填容器の透過率、試料溶媒充填容器の透過率、試料溶液中溶質の透過率の値と、請求項１記載の数４で計算したデータ数を一覧として表示し、試料溶液中溶質の散乱断面積算出機構中の試料溶液中溶質の散乱断面積算出基礎値取得機構で取得されたQ値適正範囲中の試料溶液中溶質の単位換算後のQ値と請求項１記載の数４計算後の強度の値を抽出し、一覧として表示し、該記憶機構に記憶させる試料溶液中溶質の散乱断面積算出機構中の試料溶液中溶質の放射線強度補正計算機構と、
該記憶機構もしくは試料溶液中溶質の散乱断面積算出機構の中の試料溶液中溶質の放射線強度補正計算機構から取得されたQ値適正範囲中のQ値、数４計算後の強度、強度標準物質充填容器の厚さ、試料溶液充填容器の厚さ、強度標準物資の透過率、強度標準物質の切片b3を用いて、請求項１記載の数５で計算した結果であるQ値適正範囲中のQ値ごとの数５計算後の試料溶液中溶質の散乱断面積の値を一覧として表示し、横軸にQ値適正範囲中のQ値とし、縦軸にQ値ごと請求項１記載の数５計算後の試料溶液中溶質の散乱断面積の値とした散布図を作図して表示し、これらすべての結果を該記憶機構に記憶させる試料溶液中溶質の散乱断面積算出機構の中の試料溶液中溶質の散乱断面積算出結果機構と、
を有する、
溶液散乱法における角度ごとの任意の大きさの放射線の強度を、物質の放射線に対する吸収と放射線の強度変動を考慮した溶液中の溶質の散乱断面積（絶対散乱光強度ともいう）に変換する装置。
【請求項３】
測定試料を作製する機構を備えた測定試料作製機構と、
該測定試料作製機構で作製された測定試料を、測定試料と測定試料環境測定保持機構における所定の位置と条件で適切にセッティングする測定試料セッティング機構と、
該測定試料セッティング機構を経た後の測定試料に放射線を照射するために、放射線を発生する機構を備えた放射線発生機構と、
該放射線発生機構で発生させた放射線を所定の条件の放射線に調節する機構を備えた放射線調節機構と、
該放射線調節機構で調節された放射線の強度（以下、測定試料前放射線強度とする。）を測定する測定試料前放射線強度測定機構と、
該測定試料前放射線強度測定機構で測定された測定試料前放射線強度で照射された測定試料とその測定試料がおかれた測定試料環境条件を測定すると同時に、測定試料におかれた環境を所定の条件に保持する測定試料環境測定保持機構を備えた測定試料と測定試料環境測定保持機構と、
該測定試料と測定試料環境測定保持機構における測定試料に測定試料前放射線強度で照射し、測定試料を通過した後の放射線の強度（以下、測定試料後放射線強度とする。）を測定する機構を備えた測定試料後放射線強度測定機構と、
該測定試料前放射線強度測定機構で測定された測定試料前放射線強度で、該測定試料環境測定保持機構下にある測定試料に照射し、測定試料によって散乱された放射線強度の二次元画像（以下、放射線強度の二次元画像とする。）を測定する機構を備えた放射線強度の二次元画像測定機構と、
該測定試料前放射線強度測定機構で測定された測定試料前放射線強度と、該測定試料後放射線強度測定機構で測定された測定試料後放射線強度と、該放射線強度の二次元画像測定機構で測定された放射線強度の二次元画像と、
測定試料作製機構、該測定試料セッティング機構、該放射線発生機構、該放射線調節機構、該測定試料と測定試料環境測定保持機構のそれぞれにおいて設定された所定の条件と機構管理結果および履歴を記憶する記憶機構と、
該記憶機構から放射線強度の二次元画像の画素位置におけるQ値が判明している物質が充填された容器（以下、Q値標準物質充填容器とする。）について測定された放射線強度の二次元画像を読み込み、該Q値標準物質充填容器の放射線強度の二次元画像の画素（ピクセル）位置と輝度からQ値を決定し、それをもとに測定試料それぞれの放射線強度の二次元画像の画素位置をQ値に、該画素位置の輝度を放射線強度の値により数値化し、数値化したQ値と該Q値における放射線強度の値を該記憶機構に記憶させる放射線強度の二次元画像数値化機構と、
該記憶機構から測定試料それぞれの測定ファイル名、測定開始時刻、測定終了時刻、測定時間、該測定試料前放射線強度測定工程で測定された測定試料前放射線強度、該測定試料後放射線強度測定工程で測定された測定試料後放射線強度を測定試料ごとに取得し一覧として表示する照射強度補正係数算出機構中の照射強度補正係数算定基礎値取得機構と、
該照射強度補正係数機構の中の照射強度補正係数値算定基礎値取得機構で取得された測定開始時刻と測定終了時刻をもとに、測定開始から終了までの測定時間と測定中央時刻を測定試料ごとに算出し、測定試料ごとの該測定試料前放射線強度測定工程で測定された測定試料前放射線強度を時間1秒あたりの測定試料前放射線強度を算出し、測定試料ごとの該測定試料後放射線強度測定工程で測定された測定試料後放射線強度を時間1秒あたりの測定試料後放射線強度に算出し、測定試料を該試料環境測定保持機構にセッティングしない状態で放射線を照射し、一定時間測定（つまり測定試料もなにもなく空気しかない状態で放射線を照射し一定時間測定）した時間1秒あたりの測定試料前放射線強度の値（以下、放射線のみ時間1秒あたりの測定試料前放射線強度値とする。）をもとにして、放射線のみ時間1秒あたりの測定試料前放射線強度値に測定試料それぞれの時間1秒あたりの測定試料前放射線強度の値を除算した係数（以下、照射強度補正係数とし、照射強度補正係数＝放射線のみ時間1秒あたりの測定試料前放射線強度値÷測定試料それぞれの時間1秒あたりの測定試料前放射線強度で計算される。）を算出し、算出されたすべての結果を一覧として表示し、記憶機構に記憶する照射強度補正係数算出機構中の照射強度補正係数算出結果機構と、
該記憶機構から散乱断面積の値が判明している物質（以下、強度標準物質とする。）を充填した容器（以下、強度標準物質充填容器とする。）を試料環境測定保持機構にセッティングした状態で放射線を照射し一定時間測定した結果（以下、強度標準物質充填容器測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、該記憶機構から強度標準物質を充填しない空の容器を試料環境測定保持機構にセッティングした状態で放射線を照射し一定時間測定した結果（以下、強度標準物質測定用空容器結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、測定試料を試料環境測定保持機構にセッティングしない状態で、それに加えて放射線を照射しない状態で、一定時間測定した結果（以下、自然放射線測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定時間、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、該記憶機構から測定試料を試料環境測定保持機構にセッティングしない状態で放射線を照射し一定時間測定した結果、つまり測定試料もなにもなく空気しかない状態で放射線を照射し一定時間測定結果（以下、放射線のみの測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示する強度標準物質切片算出機構中の強度標準物質切片算出基礎値取得機構と、
強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果、自然放射線測定結果、放射線のみの測定結果のそれぞれの結果のQ値の単位をオングストロームを底としたマイナス1乗（angstrom -1）に換算して、その結果を一覧として表示し、強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果、放射線のみの測定結果のそれぞれの結果のQ値における強度の値を請求項１記載の数１で計算して、その結果を一覧として表示し、自然放射線測定結果のQ値における強度の値を請求項１記載の数２で計算して、その結果を一覧として表示し、強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果、放射線のみの測定結果のすべての請求項１記載の数１計算後のQ値における強度の値と、自然放射線測定結果の請求項１記載の数２計算後のQ値における強度の値と、強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果の時間1秒あたりの測定試料前放射線強度と時間1秒あたりの測定試料後放射線強度の値を用いて、請求項１記載の数３で計算した結果である数３計算後の強度標準物質のみのQ値ごとの強度、強度標準物質充填容器の透過率、強度標準物質測定用空容器の透過率、強度標準物質の透過率の値と、数３で計算したデータ数を一覧として表示し、その後すべての結果を該記憶機構に記憶させる強度標準物質切片算出機構中の強度標準物質放射線強度補正計算機構と、
該強度標準物質切片算出機構中の強度標準物質放射線強度補正計算機構で計算された放射線のみの測定結果の単位換算後のQ値を横軸に、請求項１記載の数１計算後のQ値ごとの強度を縦軸とした散布図を作図し、放射線の強度を適正に検出しているQ値の範囲（以下、Q値適正範囲とする。）を判断し設定し、強度標準物質のみの単位換算後のQ値と請求項１記載の数３計算後のQ値ごとの強度を、Q値適正範囲で抽出し、一覧として表示し、該記憶機構に記憶させる強度標準物質切片算出機構中の強度標準物質Q値適正範囲設定機構と、
該強度標準物質切片算出機構中の強度標準物質Q値適正範囲設定機構で設定された強度標準物質のみの単位換算後のQ値を横軸に、請求項１記載の数３計算後のQ値ごとの強度を縦軸とした散布図を作図し、Q値の小さい領域で、単位換算後のQ値と請求項１記載の数３計算後のQ値ごとの強度を最小二乗法で一次関数（y = a3 x + b3、yを請求項１記載の数３計算後のQ値ごとの強度の値、xを単位換算後のQ値、a3は傾き、b3は切片）にあてはめ、切片b3を求め、この切片b3の値で強度標準物質の散乱断面積の値[SCS(0)standard]と設定する、つまりb3= SCS(0) standardと設定し、当該散布図に一次関数にあてはめた結果と最小二乗法であてはめたデータ範囲を表示し、これらすべての結果を該記憶機構に記憶させる強度標準物質切片算出機構中の強度標準物質切片作図算出機構と、
該記憶機構から測定者が測定したい試料溶液の溶媒を充填した容器を試料環境測定保持機構にセッティングした状態で放射線を照射し一定時間測定した結果（以下、試料溶媒充填容器測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、該記憶機構から試料溶媒充填容器の溶媒と溶媒が同じで、測定者が測定したい溶質を含んだ試料溶液を充填した容器（以下、試料溶液充填容器とする。）を試料環境測定保持機構にセッティングした状態で放射線を照射し一定時間測定した結果（以下、試料溶液充填容器測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、自然放射線測定結果の測定ファイル名、データ数、測定時間、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、該記憶機構から該強度標準物質切片算出機構中の強度標準物質Q値適正範囲設定機構で設定されたQ値適正範囲、該記憶機構から強度標準物質充填容器の厚さ、試料溶液充填容器の厚さ、強度標準物資の透過率、強度標準物質の切片b3、強度標準物質の散乱断面積の値を取得し、一覧として表示する試料溶液中溶質の散乱断面積算出機構の中の試料溶液中溶質の散乱断面積算出基礎値取得機構と、
該試料溶液中溶質の散乱断面積算出機構中の試料溶液中溶質の散乱断面積算出基礎値取得機構で取得された値を用いて、試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果、自然放射線測定結果のそれぞれの結果のQ値の単位をオングストロームを底としたマイナス1乗（angstrom -1）に換算して、その結果を一覧として表示し、試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果のそれぞれの結果のQ値における強度の値を請求項１記載の数１で計算して、その結果を一覧として表示し、自然放射線測定結果のQ値における強度の値を請求項１記載の数２で計算して、その結果を一覧として表示し、試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果のすべての数１計算後のQ値における強度の値と、自然放射線測定結果の数２計算後のQ値における強度の値と、試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果の時間1秒あたりの測定試料前放射線強度と時間1秒あたりの測定試料後放射線強度の値を用いて、請求項１記載の数４で計算した結果である数４計算後の試料溶液中溶質のみのQ値ごとの強度、試料溶液充填容器の透過率、試料溶媒充填容器の透過率、試料溶液中溶質の透過率の値と、請求項１記載の数４で計算したデータ数を一覧として表示し、試料溶液中溶質の散乱断面積算出機構中の試料溶液中溶質の散乱断面積算出基礎値取得機構で取得されたQ値適正範囲中の試料溶液中溶質の単位換算後のQ値と請求項１記載の数４計算後の強度の値を抽出し、一覧として表示し、該記憶機構に記憶させる試料溶液中溶質の散乱断面積算出機構中の試料溶液中溶質の放射線強度補正計算機構と、
該記憶機構もしくは試料溶液中溶質の散乱断面積算出機構の中の試料溶液中溶質の放射線強度補正計算機構から取得されたQ値適正範囲中のQ値、数４計算後の強度、強度標準物質充填容器の厚さ、試料溶液充填容器の厚さ、強度標準物資の透過率、強度標準物質の切片b3を用いて、請求項１記載の数５で計算した結果であるQ値適正範囲中のQ値ごとの数５計算後の試料溶液中溶質の散乱断面積の値を一覧として表示し、横軸にQ値適正範囲中のQ値とし、縦軸にQ値ごと請求項１記載の数５計算後の試料溶液中溶質の散乱断面積の値とした散布図を作図して表示し、これらすべての結果を該記憶機構に記憶させる試料溶液中溶質の散乱断面積算出機構の中の試料溶液中溶質の散乱断面積算出結果機構と、
を有する、
溶液散乱法における角度ごとの任意の大きさの放射線の強度を、物質の放射線に対する吸収と放射線の強度変動を考慮した溶液中の溶質の散乱断面積（絶対散乱光強度ともいう）に変換するシステム。
【請求項４】
請求項２記載の記憶機構もしくは記憶媒体に保存されている放射線強度の二次元画像の画素位置におけるQ値が判明している物質が充填された容器（以下、Q値標準物質充填容器とする。）について測定された放射線強度の二次元画像を読み込み、該Q値標準物質充填容器の放射線強度の二次元画像の画素（ピクセル）位置と輝度からQ値を決定し、それをもとに測定試料それぞれの放射線強度の二次元画像の画素位置をQ値に、該画素位置の輝度を放射線強度の値により数値化し、数値化したQ値と該Q値における放射線強度の値を請求項２記載の記憶機構もしくは記憶媒体に記憶させる放射線強度の二次元画像数値化機構と、
請求項２記載の記憶機構もしくは記憶媒体から測定試料それぞれの測定ファイル名、測定開始時刻、測定終了時刻、測定時間、該測定試料前放射線強度測定工程で測定された測定試料前放射線強度、該測定試料後放射線強度測定工程で測定された測定試料後放射線強度を測定試料ごとに取得し一覧として表示する照射強度補正係数算出機構中の照射強度補正係数算定基礎値取得機構と、
該照射強度補正係数機構の中の照射強度補正係数値算定基礎値取得機構で取得された測定開始時刻と測定終了時刻をもとに、測定開始から終了までの測定時間と測定中央時刻を測定試料ごとに算出し、測定試料ごとの該測定試料前放射線強度測定工程で測定された測定試料前放射線強度を時間1秒あたりの測定試料前放射線強度を算出し、測定試料ごとの該測定試料後放射線強度測定工程で測定された測定試料後放射線強度を時間1秒あたりの測定試料後放射線強度に算出し、測定試料を該試料環境測定保持機構にセッティングしない状態で放射線を照射し、一定時間測定（つまり測定試料もなにもなく空気しかない状態で放射線を照射し一定時間測定）した時間1秒あたりの測定試料前放射線強度の値（以下、放射線のみ時間1秒あたりの測定試料前放射線強度値とする。）をもとにして、放射線のみ時間1秒あたりの測定試料前放射線強度値に測定試料それぞれの時間1秒あたりの測定試料前放射線強度の値を除算した係数（以下、照射強度補正係数とし、照射強度補正係数＝放射線のみ時間1秒あたりの測定試料前放射線強度値÷測定試料それぞれの時間1秒あたりの測定試料前放射線強度で計算される。）を算出し、算出されたすべての結果を一覧として表示し、記憶機構に記憶する照射強度補正係数算出機構中の照射強度補正係数算出結果機構と、
請求項２記載の記憶機構もしくは記憶媒体から散乱断面積の値が判明している物質（以下、強度標準物質とする。）を充填した容器（以下、強度標準物質充填容器とする。）を試料環境測定保持機構にセッティングした状態で放射線を照射し一定時間測定した結果（以下、強度標準物質充填容器測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、請求項２記載の記憶機構もしくは記憶媒体から強度標準物質を充填しない空の容器を試料環境測定保持機構にセッティングした状態で放射線を照射し一定時間測定した結果（以下、強度標準物質測定用空容器結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、測定試料を試料環境測定保持機構にセッティングしない状態で、それに加えて放射線を照射しない状態で、一定時間測定した結果（以下、自然放射線測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定時間、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、請求項２記載の記憶機構もしくは記憶媒体から測定試料を試料環境測定保持機構にセッティングしない状態で放射線を照射し一定時間測定した結果、つまり測定試料もなにもなく空気しかない状態で放射線を照射し一定時間測定結果（以下、放射線のみの測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示する強度標準物質切片算出機構中の強度標準物質切片算出基礎値取得機構と、
強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果、自然放射線測定結果、放射線のみの測定結果のそれぞれの結果のQ値の単位をオングストロームを底としたマイナス1乗（angstrom -1）に換算して、その結果を一覧として表示し、強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果、放射線のみの測定結果のそれぞれの結果のQ値における強度の値を請求項１記載の数１で計算して、その結果を一覧として表示し、自然放射線測定結果のQ値における強度の値を請求項１記載の数２で計算して、その結果を一覧として表示し、強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果、放射線のみの測定結果のすべての請求項１記載の数１計算後のQ値における強度の値と、自然放射線測定結果の請求項１記載の数２計算後のQ値における強度の値と、強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果の時間1秒あたりの測定試料前放射線強度と時間1秒あたりの測定試料後放射線強度の値を用いて、請求項１記載の数３で計算した結果である数３計算後の強度標準物質のみのQ値ごとの強度、強度標準物質充填容器の透過率、強度標準物質測定用空容器の透過率、強度標準物質の透過率の値と、数３で計算したデータ数を一覧として表示し、その後すべての結果を請求項２記載の記憶機構もしくは記憶媒体に記憶させる強度標準物質切片算出機構中の強度標準物質放射線強度補正計算機構と、
該強度標準物質切片算出機構中の強度標準物質放射線強度補正計算機構で計算された放射線のみの測定結果の単位換算後のQ値を横軸に、請求項１記載の数１計算後のQ値ごとの強度を縦軸とした散布図を作図し、放射線の強度を適正に検出しているQ値の範囲（以下、Q値適正範囲とする。）を判断し設定し、強度標準物質のみの単位換算後のQ値と請求項１記載の数３計算後のQ値ごとの強度を、Q値適正範囲で抽出し、一覧として表示し、請求項２記載の記憶機構もしくは記憶媒体に記憶させる強度標準物質切片算出機構中の強度標準物質Q値適正範囲設定機構と、
該強度標準物質切片算出機構中の強度標準物質Q値適正範囲設定機構で設定された強度標準物質のみの単位換算後のQ値を横軸に、請求項１記載の数３計算後のQ値ごとの強度を縦軸とした散布図を作図し、Q値の小さい領域で、単位換算後のQ値と請求項１記載の数３計算後のQ値ごとの強度を最小二乗法で一次関数（y = a3 x + b3、yを請求項１記載の数３計算後のQ値ごとの強度の値、xを単位換算後のQ値、a3は傾き、b3は切片）にあてはめ、切片b3を求め、この切片b3の値で強度標準物質の散乱断面積の値[SCS(0)standard]と設定する、つまりb3= SCS(0) standardと設定し、当該散布図に一次関数にあてはめた結果と最小二乗法であてはめたデータ範囲を表示し、これらすべての結果を請求項２記載の記憶機構もしくは記憶媒体に記憶させる強度標準物質切片算出機構中の強度標準物質切片作図算出機構と、
請求項２記載の記憶機構もしくは記憶媒体から測定者が測定したい試料溶液の溶媒を充填した容器を試料環境測定保持機構にセッティングした状態で放射線を照射し一定時間測定した結果（以下、試料溶媒充填容器測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、請求項２記載の記憶機構もしくは記憶媒体から試料溶媒充填容器の溶媒と溶媒が同じで、測定者が測定したい溶質を含んだ試料溶液を充填した容器（以下、試料溶液充填容器とする。）を試料環境測定保持機構にセッティングした状態で放射線を照射し一定時間測定した結果（以下、試料溶液充填容器測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、自然放射線測定結果の測定ファイル名、データ数、測定時間、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、請求項２記載の記憶機構もしくは記憶媒体から該強度標準物質切片算出機構中の強度標準物質Q値適正範囲設定機構で設定されたQ値適正範囲、請求項２記載の記憶機構もしくは記憶媒体から強度標準物質充填容器の厚さ、試料溶液充填容器の厚さ、強度標準物資の透過率、強度標準物質の切片b3、強度標準物質の散乱断面積の値を取得し、一覧として表示する試料溶液中溶質の散乱断面積算出機構の中の試料溶液中溶質の散乱断面積算出基礎値取得機構と、
該試料溶液中溶質の散乱断面積算出機構中の試料溶液中溶質の散乱断面積算出基礎値取得機構で取得された値を用いて、試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果、自然放射線測定結果のそれぞれの結果のQ値の単位をオングストロームを底としたマイナス1乗（angstrom -1）に換算して、その結果を一覧として表示し、試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果のそれぞれの結果のQ値における強度の値を請求項１記載の数１で計算して、その結果を一覧として表示し、自然放射線測定結果のQ値における強度の値を請求項１記載の数２で計算して、その結果を一覧として表示し、試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果のすべての数１計算後のQ値における強度の値と、自然放射線測定結果の数２計算後のQ値における強度の値と、試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果の時間1秒あたりの測定試料前放射線強度と時間1秒あたりの測定試料後放射線強度の値を用いて、請求項１記載の数４で計算した結果である数４計算後の試料溶液中溶質のみのQ値ごとの強度、試料溶液充填容器の透過率、試料溶媒充填容器の透過率、試料溶液中溶質の透過率の値と、請求項１記載の数４で計算したデータ数を一覧として表示し、試料溶液中溶質の散乱断面積算出機構中の試料溶液中溶質の散乱断面積算出基礎値取得機構で取得されたQ値適正範囲中の試料溶液中溶質の単位換算後のQ値と請求項１記載の数４計算後の強度の値を抽出し、一覧として表示し、請求項２記載の記憶機構もしくは記憶媒体に記憶させる試料溶液中溶質の散乱断面積算出機構中の試料溶液中溶質の放射線強度補正計算機構と、
請求項２記載の記憶機構もしくは記憶媒体もしくは試料溶液中溶質の散乱断面積算出機構の中の試料溶液中溶質の放射線強度補正計算機構から取得されたQ値適正範囲中のQ値、数４計算後の強度、強度標準物質充填容器の厚さ、試料溶液充填容器の厚さ、強度標準物資の透過率、強度標準物質の切片b3を用いて、請求項１記載の数５で計算した結果であるQ値適正範囲中のQ値ごとの数５計算後の試料溶液中溶質の散乱断面積の値を一覧として表示し、横軸にQ値適正範囲中のQ値とし、縦軸にQ値ごと請求：項１記載の数５計算後の試料溶液中溶質の散乱断面積の値とした散布図を作図して表示し、これらすべての結果を請求項２記載の記憶機構もしくは記憶媒体に記憶させる試料溶液中溶質の散乱断面積算出機構の中の試料溶液中溶質の散乱断面積算出結果機構と、
を有する、
溶液散乱法における角度ごとの任意の大きさの放射線の強度を、物質の放射線に対する吸収と放射線の強度変動を考慮した溶液中の溶質の散乱断面積（絶対散乱光強度ともいう）に算出し、結果表示させるプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、溶液散乱法における角度ごとの任意の大きさの放射線の強度を、物質の放射線に対する吸収と放射線の強度変動を考慮した溶液中の溶質の散乱断面積（絶対散乱光強度ともいう）に変換する方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
溶液には、溶質と溶媒（代表的なものとして水、アルコールなど）がある。溶液散乱法は、溶液中に溶けている溶質の形と大きさ（代表的なものとしては、界面活性剤が凝集して形成されるミセルといわれるもの、プラスチックなどの高分子化合物の分子のとけている状態、タンパク質がどのような形で溶けているかの状態）を決定できるものとして使用されている。
【０００３】
溶液散乱法は、中性子線もしくはX線が用いられる。中性子線は原子炉で発生させた中性子線を用いる。また、X線はX線管から発生したX線もしくは放射光から得られたX線を用いる。中性子線に比べてX線は使いやすいので、X線が非常に多く用いられている。X線管から発生したX線よりも放射光から得られたX線（以下、放射光X線とする。）は、強力で指向性がある性質をもつのが利点である。放射光は加速器から一定のエネルギーまで加速させた電子をストレージリング（蓄積リングともいう。）にいれて回し続け、そのストレージリングからX線を取り出し、分光器で特定の波長とビームサイズといわれる放射光X線の断面の四角形の大きさを調整し、測定試料に照射して、測定試料によって吸収された後の強度と、同時に測定試料によって散乱された強度を散乱された角度ごとに検出しているのである。とくに散乱された角度が10度以下の小さい領域の場合において小角といわれ、測定試料が溶液である場合に溶液小角散乱法といわれる。（詳細は非特許文献1参照）。散乱角度は、測定試料から測定試料によって散乱されたX線の強度を散乱された角度ごとに検出する検出器までの距離で決まり、検出器で検出された画像の画素（ピクセルともいう）の位置で散乱角度が何度としている。（詳細は非特許文献2参照）。
【０００４】
溶液散乱法に関する技術的問題点は下記に示すとおり3つある。
問題点1としては、放射光X線は、加速器から電子をストレージリングにいれて回し続け、そのストレージリングからX線を取り出している。溶液小角散乱装置ばかりでなく、溶液小角散乱装置以外の放射光を利用した様々な実験装置にも、その装置の目的にあったX線もしくはX線以外の様々な電磁波の光を供給していることから、ストレージリングの電子のエネルギーは時間とともに減衰していくに伴い取り出したX線の強度も時間とともに減衰していくのである。したがって、測定試料に照射したX線の強度が時間とともに減衰していくことが難点であり、測定した測定試料ごとに照射したX線の強度が異なるという問題点がある。しかし、現在においてはストレージリング中の電子のエネルギーを一定に保つために、一定のエネルギー減少が確認されるか、またはある一定の時間ごとに、加速器から一定のエネルギーまで加速させた電子をストレージリングに入射している連続入射が行われている。しかし、それでも測定試料に照射したX線の強度に変動幅が小さいながらも測定した測定試料ごとに照射したX線の強度が異なるという問題点が残る。放射光を供給する方法を、ストレージリングの電子のエネルギーを時間とともに減衰させた方法にするのか、一定のエネルギー減少が確認またはある一定の時間ごとに、加速器から一定のエネルギーまで加速させた電子をストレージリングにいれている連続入射の方法にするのかは、放射光施設の運用によって異なっている。
【０００５】
それに対する今までの対策としては、測定試料の前に放射線強度測定装置を設置して、測定試料に照射するX線の強度（測定試料前放射線強度とする。）を検出して、その検出されたX線の強度を用いて補正していた。具体的には、第1番目に試料溶液中溶媒だけの測定試料に照射させるX線の強度を検出すると同時に、試料溶液溶媒だけの測定試料によって散乱された強度を散乱された角度ごとに検出を一定時間行って、その結果を保存しておく。そして第2番目に試料溶液の測定試料（つまり溶質と溶媒が混ざっている測定試料）についても同様に測定試料に照射させるX線の強度を検出すると同時に、試料溶液だけの測定試料によって散乱された強度を散乱された角度ごとに検出を一定時間行って、その結果を保存しておく。第3番目に計算上、それぞれの散乱角度を変換したQ値に変換し[Q = (4π / λ ) sin θ ここで、πは円周率、λは波長、θは散乱角度の半分の角度、散乱角度は2θ、単位は、最近ナノメートルを底としたマイナス1乗(nm-1)が多く用いられるが、発明者の場合はオングストロームを底としたマイナス1乗（angstrom -1）を用いる。]、後述する数1の式を用いて、溶質だけの実験試料によって散乱された角度ごとに検出された強度[I(Q)solute]を算出していた（後述する数1参照）。
【０００６】
【数１】
0005717159.tif 000002
【０００７】
しかしそれでも、上記０００４段落で述べた放射光を供給する方法を、ストレージリングの電子のエネルギーは時間とともに減衰させた方法にするのか、一定のエネルギー減少が確認またはある一定の時間ごとに、加速器から一定のエネルギーまで加速させた電子をストレージリングにいれている連続入射の方法にするかによって、測定した測定試料ごとに照射したX線の強度が異なるという問題点が残っていた。放射光を供給する方法を、ストレージリングの電子のエネルギーは時間とともに減衰させた方法の場合には、時間とともに測定した測定試料ごとに照射したX線の強度が減衰していくので、測定試料ごとに照射したX線の強度が異なるという問題点がある。また、一定のエネルギー減少が確認またはある一定の時間ごとに、加速器から一定のエネルギーまで加速させた電子をストレージリングにいれている連続入射の方法では、測定試料に照射したX線の強度に変動幅が小さいので、上記０００５の段落で述べた方法で計算をしても影響は小さいと思われるが、どの程度を誤差範囲とみるかで異なると思うが、若干の影響は避けられない。したがって、いずれかにおいても測定した測定試料ごとに照射したX線の強度が異なるという問題点が残る。
【０００８】
問題点2としては、日本語でも英語でも散乱法が説明されている文献ないし電子資料（例えば、非特許文献3から6参照）については、散乱現象つまり弾性散乱とは、「光などの波や粒子（溶液中の溶質）が衝突するとき、これら粒子（溶液中の溶質）の内部状態になんらの変化を起こさせず，進行方向を変える現象のことをいう。」についてだけに基づいて説明されている。しかしながら実際問題として、X線は、元素によってX線吸収エネルギー（非特許文献7参照）が異なっており、試料溶液を構成している元素が光などの電磁波（X線など）のエネルギーを吸収している。そればかりでなく、容器、試料溶液中の溶媒、試料溶液中の溶質のそれぞれを構成している元素もまた光などの電磁波（X線など）のエネルギーを吸収している。したがって、それらすべてについて、それぞれ考慮しなければならないのにかかわらず、吸収は同じであるとして上記０００５段落の方法で実験結果を処理しているのが問題点である。
【０００９】
問題点3としては、際立って日本語で説明されている文献ないし電子資料に多いが、X線の強度が任意の大きさで表されていることが多く、単位は任意の大きさを表す(a.u)である(非特許文献5参照)。海外では任意のX線の強度を散乱断面積に変換していることが普通である。単位はセンチメートルを底としたマイナス1乗(cm-1)が一般的に用いられているが(非特許文献8から9参照)、発明者の場合は化学物質の化合物の分子の原子間の結合距離の単位がオングストローム（angstrom）で表記されていることに対応させるために、単位はオングストロームを底としたマイナス1乗（angstrom -1）を用いる。一般的な方法として用いられている任意のX線の強度を散乱断面積に変換する方法については、第1番目に散乱断面積の値が判明している物質（以下、強度標準物質とする。）を用いてX線の任意の大きさの強度を散乱角度ごとに測定する。第２番目に縦軸に任意の大きさの強度を、横軸にQ値とした散布図を作図し、Q値の小さい領域で、Q値と縦軸に任意の大きさの強度を最小二乗法で一次関数（y = a1 x + b1、yを任意の大きさの強度の値、xをQ値、a1は傾き、b1は切片）にあてはめ、切片b1を求める。この切片b1の値でその強度標準物質の散乱断面積の値[SCS(0)standard]とする。つまりb1= SCS(0) standardとする。またこれの別法としては、縦軸に任意の大きさの強度の自然対数[ln(強度)]をとり、横軸にQ値の2乗をとった散布図を作図し（通常、このグラフはギニエプロットといわれる。）、このQ2値の小さい領域で、Q2値と縦軸に任意の大きさの強度の自然対数[ln(強度)]を最小二乗法で一次関数（y = a2 x + b2、yをln(強度)の値、xをQ2値、a2は傾き、b2は切片）にあてはめ、切片b2を求める。この切片b2の自然対数の逆数つまりネイピア数eを底とした（あるいはexp関数）b2乗でその強度標準物質の散乱断面積の値[SCS(0) standard]とする。つまりexp(b2) standard = SCS(0) standardとする。この値をもとに、それぞれの測定試料において測定されたX線の任意の大きさの強度を散乱角度ごとに測定し、縦軸に任意の大きさの強度を前述したb1= SCS(0) standardもしくはexp(b2) =  SCS(0) standardの値と比例計算をすることにより、任意のX線の強度を散乱断面積に変換しているのである。ここで、強度標準物質としては、日本における中性子線を用いた小角中性子散乱に関しては、ドイツユーリッヒ研究所のSchwahn 博士がもたらしたポリエチレンの商品名Lupolen（Lupolenの商品名でポリエチレン化合物はいくつか売られているが型番は不明である）（詳細は、特許文献10から11などを参照）が使われている。なお、これら資料を著した人物でさえもSchwahn 博士が教えてもらったポリエチレンの散乱断面積を標準値として使用しており、どのようにしてこのポリエチレンの値が決定されたかは知らないことが、これら資料からうかがえる。日本におけるX線を用いた多くの場合は、X線の強度が任意の大きさである単位(a.u)で表わされていることが多い。最近では、外国人研究者がもたらしたガラス繊維が使用されてきている（非特許文献8と11参照）。海外においては、過去においては、ポリエチレンの商品名Lupolenが用いられていたが（非特許文献3）、現在においてはガラス繊維（非特許文献8と11）が用いられている。なお実際のところ中性子線においてもX線においては、強度標準物質は水である（非特許文献8と10と13参照）。しかしながら、前述した任意のX線の強度を散乱断面積に変換方法では、強度標準物質と試料溶液の溶質のX線もしくは中性子線などの放射線に対する吸収の違いを、それぞれ考慮しなければならないのに、吸収は同じであるとして上記の方法で実験結果を処理しているという問題点が残る。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
なし
【非特許文献】
【００１１】
【非特許文献１】ホームページ「Wikipedia」  ホームページ題目「Small-angle X-ray scattering」  ホームページアドレス「http://en.wikipedia.org/wiki/Small-angle_X-ray_scattering」
【非特許文献２】Yukihiro Nishikawa、 Tetsuro Fujisawa著  ホームページ題目「Camera Length Calculator」  ホームページアドレス「http://beamline.harima.riken.jp/bl45xu/BL_Info/Tools/CameraCalc.html」
【非特許文献３】O.Glatter、O.Kratky著 書名「Small Angle X-ray Scatering」  1982年
【非特許文献４】L.A.Feigin、 D.I.Svergun  著  書名「Structure Analysis by Small-Angle X-ray and Neutron Scattering」  1987年
【非特許文献５】竹中幹人著 ホームページ題目「SAXSで何がわかるのか」  ホームページアドレス「http://support.spring8.or.jp/Doc_workshop/PDF_090123/TAKENAKA.pdf#search='SAXS'」
【非特許文献６】大沼正人著  ホームページ題目「X線・中性子小角散乱で何がわかるか? 」 ホームページアドレス「http://www.spring8.or.jp/ext/ja/iuss/htm/text/06file/sp8_indu_appl_mtg-26/ohnuma.pdf#search='%E5%B0%8F%E8%A7%92X%E7%B7%9A%E6%95%A3%E4%B9%B1'」
【非特許文献７】日本化学会編  書名「化学便覧基礎編II改訂5版」  ページII-785  2004年
【非特許文献８】Cecile A. Dreiss、 Kevin S. Jackb、Andrew P. Parkerc 著  雑誌記事題名「On the absolute calibration of bench-top small-angle X-ray scattering instruments: a comparison of different standard methods」  雑誌名「Journal of Applied Crystallography」  39巻  ページ32-38  2006年
【非特許文献９】D. Orthaber、 A. Bergmann、 O. Glatter著  雑誌記事題名「SAXS experiments on absolute scale with Kratky systems using water as a secondary standard」  雑誌名「Journal of Applied Crystallography」  33巻  ページ 218-225 2000年
【非特許文献１０】長尾  道弘、柴山  充弘著  ホームページ題目「散乱強度から散乱断面積へ」  ホームページアドレス「http://www.issp.u-tokyo.ac.jp/labs/neutron/inst/sans-u/Analysis/absolute/IntToCrosSection.pdf」
【非特許文献１１】柴山、狩野、岡部  参加  ホームページ題目「SANS-U のルポレンの絶対強度補正係数に関するディスカッション」ホームページアドレス「http://www.issp.u-tokyo.ac.jp/labs/neutron/inst/sans-u/Analysis/absolute/AbsIntatSANSU.pdf」
【非特許文献１２】Fan Zhang、Jan Ilavsky、Gabrielle G. Long、John P. G. Quintana、Andrew J. Allen、Pete R. Jemian 著  雑誌記事題名「Glassy Carbon as an Absolute Intensity Calibration Standard for Small-Angle Scattering」  雑誌名「Metallurgical and Materials Transactions A」 41巻  ページ1151-1158 2010年
【非特許文献１３】David J. Cookson  著  ホームページ題目「Saxs15ID - Software for acquiring,  processing and viewing SAXS/WAXS  image data at ChemMatCARS」  ホームページアドレス「http://cars9.uchicago.edu/chemmat/documents/saxswaxs/saxs15id_27dec07.pdf#search='Saxs15IDSoftware+for+acquiring'」
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
本発明が解決しようとする課題は、上述した問題点1から3の問題点を解決した溶液散乱法における角度ごとの任意の大きさの放射線の強度を物質の放射線に対する吸収と放射線の強度変動を考慮した溶液中の溶質の散乱断面積（絶対散乱光強度ともいう）に変換する方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明の態様は、
溶液散乱法における角度ごとの任意の大きさの放射線の強度を、物質の放射線に対する吸収と放射線の強度変動を考慮した溶液中の溶質の散乱断面積（絶対散乱光強度ともいう）に変換する方法であって、
測定試料を作製する工程を備えた測定試料作製工程と、
該測定試料作製工程で作製された測定試料を、測定試料と測定試料環境測定保持工程における所定の位置と条件で適切にセッティングする測定試料セッティング工程と、
該測定試料セッティング工程を経た後の測定試料に放射線を照射するために、放射線を発生する工程を備えた放射線発生工程と、
該放射線発生工程で発生させた放射線を所定の条件の放射線に調節する工程を備えた放射線調節工程と、
該放射線調節工程で調節された放射線の強度（以下、測定試料前放射線強度とする。）を測定する測定試料前放射線強度測定工程と、
該測定試料前放射線強度測定工程で測定された測定試料前放射線強度で照射された測定試料とその測定試料がおかれた測定試料環境条件を測定すると同時に、測定試料におかれた環境を所定の条件に保持する測定試料環境測定保持工程を備えた測定試料と測定試料環境測定保持工程と、
該測定試料と測定試料環境測定保持工程における測定試料に測定試料前放射線強度で照射し、測定試料を通過した後の放射線の強度（以下、測定試料後放射線強度とする。）を測定する工程を備えた測定試料後放射線強度測定工程と、
該測定試料前放射線強度測定工程で測定された測定試料前放射線強度で、該測定試料環境測定保持工程下にある測定試料に照射し、測定試料によって散乱された放射線強度の二次元画像（以下、放射線強度の二次元画像とする。）を測定する工程を備えた放射線強度の二次元画像測定工程と、
該測定試料前放射線強度測定工程で測定された測定試料前放射線強度と、該測定試料後放射線強度測定工程で測定された測定試料後放射線強度と、該放射線強度の二次元画像測定工程で測定された放射線強度の二次元画像と、
測定試料作製工程、該測定試料セッティング工程、該放射線発生工程、該放射線調節工程、該測定試料と測定試料環境測定保持工程のそれぞれにおいて設定された所定の条件と工程管理結果および履歴を記憶する記憶工程と、
該記憶工程から放射線強度の二次元画像の画素位置におけるQ値が判明している物質が充填された容器（以下、Q値標準物質充填容器とする。）について測定された放射線強度の二次元画像を読み込み、該Q値標準物質充填容器の放射線強度の二次元画像の画素（ピクセル）位置と輝度からQ値を決定し、それをもとに測定試料それぞれの放射線強度の二次元画像の画素位置をQ値に、該画素位置の輝度を放射線強度の値により数値化し、数値化したQ値と該Q値における放射線強度の値を該記憶工程に記憶させる放射線強度の二次元画像数値化工程と、
該記憶工程から測定試料それぞれの測定ファイル名、測定開始時刻、測定終了時刻、測定時間、該測定試料前放射線強度測定工程で測定された測定試料前放射線強度、該測定試料後放射線強度測定工程で測定された測定試料後放射線強度を測定試料ごとに取得し一覧として表示する照射強度補正係数算出工程中の照射強度補正係数算定基礎値取得工程と、
該照射強度補正係数工程の中の照射強度補正係数値算定基礎値取得工程で取得された測定開始時刻と測定終了時刻をもとに、測定開始から終了までの測定時間と測定中央時刻を測定試料ごとに算出し、測定試料ごとの該測定試料前放射線強度測定工程で測定された測定試料前放射線強度を時間1秒あたりの測定試料前放射線強度を算出し、測定試料ごとの該測定試料後放射線強度測定工程で測定された測定試料後放射線強度を時間1秒あたりの測定試料後放射線強度に算出し、測定試料を該試料環境測定保持工程にセッティングしない状態で放射線を照射し、一定時間測定（つまり測定試料もなにもなく空気しかない状態で放射線を照射し一定時間測定）した時間1秒あたりの測定試料前放射線強度の値（以下、放射線のみ時間1秒あたりの測定試料前放射線強度値とする。）をもとにして、放射線のみ時間1秒あたりの測定試料前放射線強度値に測定試料それぞれの時間1秒あたりの測定試料前放射線強度の値を除算した係数（以下、照射強度補正係数とし、照射強度補正係数＝放射線のみ時間1秒あたりの測定試料前放射線強度値÷測定試料それぞれの時間1秒あたりの測定試料前放射線強度で計算される。）を算出し、算出されたすべての結果を一覧として表示し、記憶工程に記憶する照射強度補正係数算出工程中の照射強度補正係数算出結果工程と、
該記憶工程から散乱断面積の値が判明している物質（以下、強度標準物質とする。）を充填した容器（以下、強度標準物質充填容器とする。）を試料環境測定保持工程にセッティングした状態で放射線を照射し一定時間測定した結果（以下、強度標準物質充填容器測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、該記憶工程から強度標準物質を充填しない空の容器を試料環境測定保持工程にセッティングした状態で放射線を照射し一定時間測定した結果（以下、強度標準物質測定用空容器結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、測定試料を試料環境測定保持工程にセッティングしない状態で、それに加えて放射線を照射しない状態で、一定時間測定した結果（以下、自然放射線測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定時間、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、該記憶工程から測定試料を試料環境測定保持工程にセッティングしない状態で放射線を照射し一定時間測定した結果、つまり測定試料もなにもなく空気しかない状態で放射線を照射し一定時間測定結果（以下、放射線のみの測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示する強度標準物質切片算出工程中の強度標準物質切片算出基礎値取得工程と、
強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果、自然放射線測定結果、放射線のみの測定結果のそれぞれの結果のQ値の単位をオングストロームを底としたマイナス1乗（angstrom -1）に換算して、その結果を一覧として表示し、強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果、放射線のみの測定結果のそれぞれの結果のQ値における強度の値を下記の数２で計算して、その結果を一覧として表示し、自然放射線測定結果のQ値における強度の値を下記の数３で計算して、その結果を一覧として表示し、強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果、放射線のみの測定結果のすべての下記の数２計算後のQ値における強度の値と、自然放射線測定結果の下記の数３計算後のQ値における強度の値と、強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果の時間1秒あたりの測定試料前放射線強度と時間1秒あたりの測定試料後放射線強度の値を用いて、下記の数４で計算した結果である数４計算後の強度標準物質のみのQ値ごとの強度、強度標準物質充填容器の透過率、強度標準物質測定用空容器の透過率、強度標準物質の透過率の値と、数４で計算したデータ数を一覧として表示し、その後すべての結果を該記憶工程に記憶させる強度標準物質切片算出工程中の強度標準物質放射線強度補正計算工程と、
該強度標準物質切片算出工程中の強度標準物質放射線強度補正計算工程で計算された放射線のみの測定結果の単位換算後のQ値を横軸に、下記の数２計算後のQ値ごとの強度を縦軸とした散布図を作図し、放射線の強度を適正に検出しているQ値の範囲（以下、Q値適正範囲とする。）を判断し設定し、強度標準物質のみの単位換算後のQ値と下記の数４計算後のQ値ごとの強度を、Q値適正範囲で抽出し、一覧として表示し、該記憶工程に記憶させる強度標準物質切片算出工程中の強度標準物質Q値適正範囲設定工程と、
該強度標準物質切片算出工程中の強度標準物質Q値適正範囲設定工程で設定された強度標準物質のみの単位換算後のQ値を横軸に、下記の数４計算後のQ値ごとの強度を縦軸とした散布図を作図し、Q値の小さい領域で、単位換算後のQ値と下記の数４計算後のQ値ごとの強度を最小二乗法で一次関数（y = a3 x + b3、yを下記の数４計算後のQ値ごとの強度の値、xを単位換算後のQ値、a3は傾き、b3は切片）にあてはめ、切片b3を求め、この切片b3の値で強度標準物質の散乱断面積の値[SCS(0)standard]と設定する、つまりb3= SCS(0) standardと設定し、当該散布図に一次関数にあてはめた結果と最小二乗法であてはめたデータ範囲を表示し、これらすべての結果を該記憶工程に記憶させる強度標準物質切片算出工程中の強度標準物質切片作図算出工程と、
該記憶工程から測定者が測定したい試料溶液の溶媒を充填した容器を試料環境測定保持工程にセッティングした状態で放射線を照射し一定時間測定した結果（以下、試料溶媒充填容器測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、該記憶工程から試料溶媒充填容器の溶媒と溶媒が同じで、測定者が測定したい溶質を含んだ試料溶液を充填した容器（以下、試料溶液充填容器とする。）を試料環境測定保持工程にセッティングした状態で放射線を照射し一定時間測定した結果（以下、試料溶液充填容器測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、自然放射線測定結果の測定ファイル名、データ数、測定時間、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、該記憶工程から該強度標準物質切片算出工程中の強度標準物質Q値適正範囲設定工程で設定されたQ値適正範囲、該記憶工程から強度標準物質充填容器の厚さ、試料溶液充填容器の厚さ、強度標準物資の透過率、強度標準物質の切片b3、強度標準物質の散乱断面積の値を取得し、一覧として表示する試料溶液中溶質の散乱断面積算出工程の中の試料溶液中溶質の散乱断面積算出基礎値取得工程と、
該試料溶液中溶質の散乱断面積算出工程中の試料溶液中溶質の散乱断面積算出基礎値取得工程で取得された値を用いて、試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果、自然放射線測定結果のそれぞれの結果のQ値の単位をオングストロームを底としたマイナス1乗（angstrom -1）に換算して、その結果を一覧として表示し、試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果のそれぞれの結果のQ値における強度の値を下記の数２で計算して、その結果を一覧として表示し、自然放射線測定結果のQ値における強度の値を下記の数３で計算して、その結果を一覧として表示し、試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果のすべての数２計算後のQ値における強度の値と、自然放射線測定結果の数３計算後のQ値における強度の値と、試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果の時間1秒あたりの測定試料前放射線強度と時間1秒あたりの測定試料後放射線強度の値を用いて、下記の数５で計算した結果である数５計算後の試料溶液中溶質のみのQ値ごとの強度、試料溶液充填容器の透過率、試料溶媒充填容器の透過率、試料溶液中溶質の透過率の値と、下記の数５で計算したデータ数を一覧として表示し、試料溶液中溶質の散乱断面積算出工程中の試料溶液中溶質の散乱断面積算出基礎値取得工程で取得されたQ値適正範囲中の試料溶液中溶質の単位換算後のQ値と下記の数５計算後の強度の値を抽出し、一覧として表示し、該記憶工程に記憶させる試料溶液中溶質の散乱断面積算出工程中の試料溶液中溶質の放射線強度補正計算工程と、
該記憶工程もしくは試料溶液中溶質の散乱断面積算出工程の中の試料溶液中溶質の放射線強度補正計算工程から取得されたQ値適正範囲中のQ値、数５計算後の強度、強度標準物質充填容器の厚さ、試料溶液充填容器の厚さ、強度標準物資の透過率、強度標準物質の切片b3を用いて、下記の数６で計算した結果であるQ値適正範囲中のQ値ごとの数６計算後の試料溶液中溶質の散乱断面積の値を一覧として表示し、横軸にQ値適正範囲中のQ値とし、縦軸にQ値ごと下記の数６計算後の試料溶液中溶質の散乱断面積の値とした散布図を作図して表示し、これらすべての結果を該記憶工程に記憶させる試料溶液中溶質の散乱断面積算出工程の中の試料溶液中溶質の散乱断面積算出結果工程と、
を有する。
【００１４】
【数２】
0005717159.tif 000003
【数３】
0005717159.tif 000004
【数４】
0005717159.tif 000005
【数５】
0005717159.tif 000006
【数６】
0005717159.tif 000007
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、溶液散乱法における角度ごとの任意の大きさの放射線の強度を物質の放射線に対する吸収と放射線の強度変動を考慮した溶液中の溶質の散乱断面積（絶対散乱光強度ともいう）に変換することができる。この溶質の散乱断面積（絶対散乱光強度ともいう）をもとに、特許4598899号の方法を用いて溶質の形と大きさと分子量などを求める計算ができるようになる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の溶液散乱法における角度ごとの任意の大きさの放射線の強度を物質の放射線に対する吸収と放射線の強度変動を考慮した溶液中の溶質の散乱断面積（絶対散乱光強度ともいう）に変換する方法の全体工程を表したブロック図である。
【図２】溶液散乱法における角度ごとの任意の大きさの放射線の強度を物質の放射線に対する吸収と放射線の強度変動を考慮した溶液中の溶質の散乱断面積（絶対散乱光強度ともいう）に変換する方法の全体工程を表したブロック図中の照射強度補正係数算出工程を表したブロック図である。
【図３】本発明の溶液散乱法における角度ごとの任意の大きさの放射線の強度を物質の放射線に対する吸収と放射線の強度変動を考慮した溶液中の溶質の散乱断面積（絶対散乱光強度ともいう）に変換する方法の全体工程を表したブロック図中の強度標準物質切片算出工程を表したブロック図である。
【図４】本発明の溶液散乱法における角度ごとの任意の大きさの放射線の強度を物質の放射線に対する吸収と放射線の強度変動を考慮した溶液中の溶質の散乱断面積（絶対散乱光強度ともいう）に変換する方法の全体工程を表したブロック図中の試料溶液中溶質の散乱断面積算出工程のブロック図である。
【図５】本発明の溶液散乱法における角度ごとの任意の大きさの放射線の強度を物質の放射線に対する吸収と放射線の強度変動を考慮した溶液中の溶質の散乱断面積（絶対散乱光強度ともいう）に変換する方法のフローチャート図１（図中では散乱断面積変換処理フローチャート図１とする。）である。
【図６】本発明の溶液散乱法における角度ごとの任意の大きさの放射線の強度を物質の放射線に対する吸収と放射線の強度変動を考慮した溶液中の溶質の散乱断面積（絶対散乱光強度ともいう）に変換する方法のフローチャート図２（図中では散乱断面積変換処理フローチャート図２とする。）である。
【図７】Q値標準物質充填容器の散乱角度ごと強度の二次元画像図と画素位置でのQ値などの決定後の二次元画像図である。
【図８】放射線二次元画像図とマスク処理後放射線二次元画像図と二次元画像を数値化後の数値データの一部を抽出した図である。
【図９】放射線のみについてのQ値適正範囲設定グラフである。
【図１０】強度標準物質である純水についてのQ値適正範囲設定後標準物質の欄の設定後Q値を横軸に、設定後の強度を縦軸にとして作図したグラフである。
【図１１】胆汁酸ミセルおける横軸をQ値、縦軸を散乱断面積で作図したグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明の実施形態に沿って詳しく説明する。
【００１８】
以下、本発明の溶液散乱法における角度ごとの任意の大きさの放射線の強度を物質の放射線に対する吸収と放射線の強度変動を考慮した溶液中の溶質の散乱断面積（絶対散乱光強度ともいう）に変換する方法の実施形態について図面を参照しながら説明をする。図1は、本発明の実施形態における溶液散乱法における角度ごとの任意の大きさの放射線の強度を物質の放射線に対する吸収と放射線の強度変動を考慮した溶液中の溶質の散乱断面積（絶対散乱光強度ともいう）に変換する方法の全体工程を表したブロック図である。
図1に示すように、当該方法1は、測定試料作製と測定試料充填容器セッティング部2、放射線発生および調節部3、放射線測定部4、コンピュータ部5を有する。
【００１９】
測定試料作製と測定試料充填容器セッティング部2は、測定試料作製工程6と、測定試料充填容器セッティング工程7を有する。
測定試料作製工程6は測定試料を作製し、作製された測定試料を容器に充填する工程である。
測定試料を作製する工程では、試料を作製し容器に充填するためのあらゆる方法をもった装置を用いて測定試料を作製する。測定試料の状態もしくは品質ならびに、容器に充填された状態を検査するためにあらゆる検査方法を用いて、測定試料を検査する。後述するコンピュータ部5の中の記憶工程14において、当該測定試料作製に関する様々な設定条件と当該装置の動作確認検査結果と測定試料状態もしくは品質検査結果とその履歴などの情報を記憶する。
測定試料充填容器セッティング工程7は、測定試料作製工程6で作製充填された測定試料を後述する測定試料と測定試料環境測定保持工程11に適切な位置、条件、調子、状態（つまり適切なコンディション）でセッティングする工程である。
測定試料作製工程6で作製充填された測定試料を測定試料と測定試料環境測定保持工程11の適切な位置に適切な条件で、適切な状態（つまり適切なコンディション）でセッティングするためのあらゆる方法もった装置を用いてセッティングし、そのセッティング状態を検査するためにあらゆる検査方法を用いてセッティング状態を検査する。後述するコンピュータ部5の中の記憶工程14において、当該セッティング工程に関する様々な設定条件と当該工程の工程検査結果とセッティング状態検査結果とその履歴などの情報を記憶する。
【００２０】
放射線発生および調節部3は、放射線発生工程8と、放射線調節工程9を有する。
放射線発生工程8は、主に中性子線、X線、可視光などの放射線を発生する工程である。放射線を発生するためのあらゆる方法をもった装置を用いて放射線を発生し、放射線の発生状態を検査するためにあらゆる検査方法を用いて放射線発生状態を検査する。後述するコンピュータ部5の中の記憶工程14において、当該放射線発生装置に関する様々な設定条件と当該装置の動作確認検査結果と放射線状態検査結果とその履歴などの情報を記憶する。
放射線調節工程9は、放射線発生工程8で発生した放射線のビームサイズといわれる放射線の断面の縦と横の大きさ、放射線の強度などの放射線に関するさまざまな条件を調節する工程である。
放射線を調節する工程は、放射線を調節するためのあらゆる方法をもった装置を用いて放射線を調節し、放射線の調節状態を検査するためにあらゆる検査方法を用いて放射線の状態を検査する。後述するコンピュータ部5の中の記憶工程14において、当該放射線調節装置に関する様々な設定条件と当該装置の動作確認検査結果と放射線の状態検査結果とその履歴などを情報が記憶する。
【００２１】
放射線測定部4は、測定試料前放射線強度測定工程10と、測定試料と測定試料環境測定保持工程11と、測定試料後放射線強度測定工程12と、放射線強度の二次元画像測定工程13を有する。
測定試料前放射線強度測定工程10は、放射線調節工程9で調節された放射線で、測定試料と測定試料環境測定保持工程11に照射される前の放射線の強度を測定する工程である。その放射線の強度を測定するためのあらゆる方法をもった装置を用いて放射線の強度を測定し、後述するコンピュータ部5の中の記憶工程14で、当該放射線の強度測定結果とその履歴などの情報を記憶する。
測定試料と測定試料環境測定保持工程11は、測定試料充填容器セッティング工程7によって、測定試料と測定試料環境測定保持工程11の適切な位置に、適切な条件で、適切な状態（つまり適切なコンディション）でセッティングされた測定試料の環境、たとえば温度や湿度などのあらゆる環境条件を測定し、その測定結果を踏まえて測定環境条件が一定条件になるように保持する工程である。測定試料が充填されたいる容器は測定試料を保存するためのあらゆる材質、形状、大きさからなる容器であり、測定試料容器の測定試料の環境つまり温度や湿度などのあらゆる環境条件を測定するためのあらゆる方法をもった装置を用いて測定され、その測定結果を踏まえて測定環境条件が一定条件になるようにあらゆる方法をもった装置を用いて測定環境条件が一定条件になるように保持する。後述するコンピュータ部5の中の記憶工程14において、当該工程にかかわる測定試料環境測定装置および測定試料環境保持装置に関する様々な設定条件と当該装置の動作確認検査結果と測定試料環境測定結果とその保持状態結果とその履歴などの情報を記憶する。
測定試料後放射線強度測定工程12は、放射線が測定試料と測定試料環境測定保持工程11の測定試料容器ならびに測定試料によってあらゆる角度に散乱されずに、それに加えて測定試料容器ならびに測定試料によって放射線が吸収されずに通過して出てきた放射線の強度を測定する工程である。その放射線の強度を測定するためのあらゆる方法をもった装置を用いて放射線の強度を測定し、後述するコンピュータ部5の中の記憶工程14において、当該放射線の強度測定結果とその履歴などの情報を記憶する。
放射線強度の二次元画像測定工程13は、放射線が測定試料と測定試料環境測定保持工程11の測定試料容器の中の測定試料によって散乱された角度ごとの放射線の強度を測定する工程である。その放射線の散乱角度ごとの放射線の強度を測定するためのあらゆる方法をもった装置を用いて放射線の散乱角度ごとの放射線の強度を測定し、後述するコンピュータ部5の中の記憶工程14において、当該放射線の強度測定結果とその履歴などの情報を記憶する。
【００２２】
コンピュータ部5は、記憶工程14、放射線強度の二次元画像数値化工程15、照射強度補正係数算出工程16、強度標準物質切片算出工程17、試料溶液中溶質の散乱断面積算出工程18、結果表示工程19を有する。
【００２３】
記憶工程14は、上述したとおり、
測定試料作製工程6における当該測定試料作製に関する様々な設定条件と当該装置の動作確認検査結果と測定試料状態もしくは品質検査結果とその履歴などの情報と、
測定試料充填容器セッティング工程7における測定試料充填容器セッティング装置に関する様々な設定条件と当該装置の動作確認検査結果とセッティング状態検査結果とその履歴などの情報と、
放射線発生工程8における当該放射線発生装置に関する様々な設定条件と当該装置の動作確認検査結果と放射線発生状態検査結果とその履歴などの情報と、
放射線調節工程9における当該放射線調節装置に関する様々な設定条件と当該装置の動作確認検査結果と調節した放射線の状態検査結果とその履歴などの情報と、
測定試料前放射線強度測定工程10における当該放射線の強度測定結果とその履歴などの情報と、
測定試料と測定試料環境測定保持工程11における当該測定試料環境測定装置および測定試料環境保持装置に関する様々な設定条件と当該装置の動作確認検査結果と測定試料環境測定結果とその保持状態結果とその履歴などの情報と、
測定試料後放射線強度測定工程12における当該放射線の強度測定結果とその履歴などの情報と、
放射線強度の二次元画像測定工程13における当該放射線の強度測定結果とその履歴などの情報と、
さらに、後述のとおり、
放射線強度の二次元画像数値化工程15において決定された放射線強度の二次元画像の画素位置におけるQ値が判明している物質が充填された容器（以下、Q値標準物質充填容器とする。）の散乱角度ごと強度の二次元画像の各画素の位置でのQ値と、すべての測定試料それぞれの放射線の二次元画像を数値化したQ値、放射線強度の値、二次元画像の回折像の中心位置、測定試料容器から検出器までの距離などの計算結果と、
照射強度補正係数算定基礎値取得工程16-1と照射強度補正係数算出結果工程16-2において、測定試料測定結果を保存したファイル名と、測定開始時刻と、測定終了時刻と、測定時間と、測定試料前放射線強度の値と、測定試料後放射線強度の値と、測定試料ごとの測定開始時刻と測定終了時刻をもとに測定開始から終了までの測定時間と、測定試料ごとの測定中央時刻と、測定試料ごとの時間1秒あたりの測定試料前放射線強度の値と、測定試料ごとの時間1秒あたりの測定試料後放射線強度の値と、測定試料ごとの照射強度補正係数の値と、
強度標準物質放射線強度補正計算工程17-2において、強度標準物質充填容器についてのQ値と単位換算後のQ値と強度の値と数2で計算後強度の値と、強度標準物質測定用空容器についてのQ値と単位換算後のQ値と強度の値と数2で計算後の強度の値と、放射線のみについてのQ値と単位換算後のQ値と強度の値と数2で計算後の強度の値と、自然放射線についてのQ値と単位換算後のQ値と強度の値と数3で計算後の強度の値と、強度標準物質についてのQ値と数4で計算後の強度の値と数4で計算後の強度標準物質の透過率とデータ数と、
強度標準物質切片算出基礎値取得工程17-1から強度標準物質Q値適正範囲設定工程17-3における強度標準物質放射線強度補正計算工程17-2で計算された放射線のみの単位換算後のQ値と数2で計算後の強度をもとに、縦軸を強度で横軸をQ値としてプロットした散布図と、放射線の強度を適正に検出しているQ値の範囲（以下、Q値適正範囲とする。）を判断し設定した結果と、Q値適正範囲で強度標準物質のQ値と強度の値を抽出し、Q値適正範囲で抽出した強度標準物質のQ値と強度と、
強度標準物質切片作図算出工程17-4において、強度標準物質Q値適正範囲設定工程17-3で設定されたQ値適正範囲で抽出した強度標準物質のQ値と強度をもとに、縦軸に抽出後の強度、横軸を抽出後Q値として散布図を作図した散布図と、抽出後Q値の小さい領域で、当該作図された散布図に一次関数にあてはめた結果と、最小二乗法であてはめたデータ範囲を表示した結果と、
試料溶液中溶質の散乱断面積算出基礎値取得工程18-1において、記憶工程14から放射線強度の二次元画像数値化工程15で数値化された試料溶液充填容器のQ値と強度の値、試料溶媒充填容器のQ値と強度の値、自然放射線のQ値と強度の値と、試料溶液充填容器測定結果と試料溶媒充填容器測定結果のそれぞれの測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料容器前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料容器後放射線強度と、自然放射線測定結果の測定ファイル名、データ数、測定時間と、Q値適正範囲設定、強度標準物質充填容器の厚さ、試料溶液充填容器の厚さ、強度標準物資の透過率、強度標準物質の切片b3、強度標準物質の散乱断面積の値を取得した結果と、
試料溶液中溶質の放射線強度補正計算工程18-2において、試料溶液中溶質の散乱断面積算出基礎値取得工程18-1で取得された値を用いて、試料溶液充填容器のQ値と強度の値、試料溶媒充填容器のQ値と強度の値それぞれについて、数2に基づいた計算を行ったのち、一覧として表示した結果と、自然放射線のQ値と強度の値それぞれについて、数3の式に基づいた計算を行ったのち一覧として表示した結果と、
試料溶液充填容器、試料溶媒充填容器、自然放射線のそれぞれの単位換算後のQ値と、試料溶液充填容器と試料溶媒充填容器については数2で計算後強度、自然放射線については数3で計算後強度を用いて、数5に基づいた計算を行ったのち、試料溶液中溶質Q値と数5で計算後の強度の値を一覧として表示した結果と、数5から計算された試料溶液中溶質の透過率とデータ数をそれぞれ表示した結果と、試料溶液中溶質の散乱断面積算出基礎値取得工程18-1で設定されたQ値適正範囲の範囲で、試料溶液中溶質のQ値と強度の値を抽出し、一覧として表示した結果と、
試料溶液中溶質の散乱断面積算出結果工程18-3において、試料溶液中溶質の放射線強度補正計算工程18-2からもしくは記憶工程14から、試料溶液中溶質の散乱断面積算出基礎値取得工程18-1で抽出されたQ値との強度、強度標準物質充填容器の厚さ、試料溶液充填容器の厚さ、強度標準物資の透過率、強度標準物質の切片b3をもとに、数6の式に基づいた計算を行い、一覧として表示した結果と、
を記憶する。
【００２４】
放射線強度の二次元画像数値化工程15は、記憶工程14から放射線強度の二次元画像測定工程13で測定されたQ値標準物質充填容器の放射線強度の二次元画像を読み込み、その二次元画像における輝度が高く示す画素（ピクセル）の位置を基準として、その二次元画像における各画素の位置でのQ値[単位を、ナノメートルを底としたマイナス1乗（nm -1）とする。]、二次元画像の回折像の中心位置、測定試料容器から検出器までの距離などパラメータを計算して決定し、その決定された各画素の位置でのQ値を記憶工程14に記憶する。
さらに、その決定された各画素の位置でのQ値をもとに、記憶工程14から測定したすべての測定試料それぞれについて、放射線強度の二次元画像測定工程13で、測定した放射線の二次元画像を読み込み、その読み込んだ二次元画像それぞれおける特定の画素（ピクセル）の位置をQ値に、その特定の画素（ピクセル）の位置における輝度を放射線強度の値に数値化し、数値化したQ値と放射線強度の値を記憶工程14に記憶する。
【００２５】
照射強度補正係数算出工程16については、図2に示す本発明の溶液散乱法における角度ごとの任意の大きさの放射線の強度を物質の放射線に対する吸収と放射線の強度変動を考慮した溶液中の溶質の散乱断面積（絶対散乱光強度ともいう）に変換する方法の全体工程を表したブロック図中の照射強度補正係数算出工程を表したブロック図を参照しながら説明する。
照射強度補正係数算出工程16は、照射強度補正係数算定基礎値取得工程16-1、照射強度補正係数算出結果工程16-2を有する。
照射強度補正係数算定基礎値取得工程16-1は、記憶工程14から測定試料それぞれの測定ファイル名、測定開始時刻、測定終了時刻、測定時間、測定試料前放射線強度測定工程10で測定された測定試料前放射線強度、測定試料後放射線強度測定工程12で測定された測定試料後放射線強度を測定試料ごとに取得し一覧として、結果表示工程19に表示する。
照射強度補正係数算出結果工程16-2は、照射強度補正係数算定基礎値取得工程16-1で一覧として表示後、測定開始時刻と測定終了時刻をもとに測定開始から終了までの測定時間と測定中央時刻を測定試料ごとに算出し、
測定試料前放射線強度測定工程10で測定された測定試料ごとの測定試料前放射線強度を時間1秒あたりの測定試料前放射線強度に算出し、
測定試料後放射線強度測定工程12で測定された測定試料ごとの測定試料後放射線強度を時間1秒あたりの測定試料後放射線強度に算出し、
測定試料を該試料環境測定保持工程にセッティングしない状態で放射線を照射し、一定時間測定（つまり測定試料もなにもなく空気しかない状態で放射線を照射し一定時間測定）した時間1秒あたりの測定試料前放射線強度の値（以下、放射線のみ時間1秒あたりの測定試料前放射線強度値とする。）をもとにして、
放射線のみ時間1秒あたりの測定試料前放射線強度値に測定試料それぞれの時間1秒あたりの測定試料前放射線強度の値を除算した係数（以下、照射強度補正係数とし、照射強度補正係数＝放射線のみ時間1秒あたりの測定試料前放射線強度値÷測定試料それぞれの時間1秒あたりの測定試料前放射線強度で計算される。）を算出し、
算出されたすべての結果を一覧として結果表示工程19に表示し、記憶工程14に記憶する。
【００２６】
強度標準物質切片算出工程17については、図3に示す本発明の溶液散乱法における角度ごとの任意の大きさの放射線の強度を物質の放射線に対する吸収と放射線の強度変動を考慮した溶液中の溶質の散乱断面積（絶対散乱光強度ともいう）に変換する方法の全体工程を表したブロック図中の強度標準物質切片算出工程を表したブロック図を参照しながら説明する。
強度標準物質切片算出工程17は、強度標準物質切片算出基礎値取得工程17-1、強度標準物質放射線強度補正計算工程17-2、強度標準物質Q値適正範囲設定工程17-3、強度標準物質切片作図算出工程17-4を有する。
強度標準物質切片算出基礎値取得工程17-1は、記憶工程14から強度標準物質充填容器測定結果の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、
記憶工程14から強度標準物質測定用空容器結果の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、
自然放射線測定結果の測定ファイル名、データ数、測定時間、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、記憶工程14から放射線のみの測定結果の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として結果表示工程19に表示する。
強度標準物質放射線強度補正計算工程17-2は、強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果、自然放射線測定結果、放射線のみの測定結果のそれぞれの結果のQ値の単位をオングストロームを底としたマイナス1乗（angstrom -1）に換算して、その結果を一覧として表示工程19に表示し、
強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果、放射線のみの測定結果のそれぞれの結果のQ値における強度の値を数２で計算して、その結果を一覧として表示工程19に表示し、
自然放射線測定結果のQ値における強度の値を数３で計算して、その結果を一覧として表示工程19に表示し、
強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果、放射線のみの測定結果のすべての数２計算後のQ値における強度の値と、自然放射線測定結果の数３計算後のQ値における強度の値と、強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果の時間1秒あたりの測定試料前放射線強度と時間1秒あたりの測定試料後放射線強度の値を用いて、
数４で計算した結果である数４計算後の強度標準物質のみのQ値ごとの強度、強度標準物質充填容器の透過率、強度標準物質測定用空容器の透過率、強度標準物質の透過率の値と、数４で計算したデータ数を一覧として表示工程19に表示し、その後すべての結果を記憶工程14に記憶する。
強度標準物質Q値適正範囲設定工程17-3は、強度標準物質放射線強度補正計算工程17-2で計算された放射線のみの測定結果の単位換算後のQ値を横軸に、下記の数２計算後のQ値ごとの強度を縦軸とした散布図を作図し、Q値適正範囲を判断し設定し、強度標準物質のみの単位換算後のQ値と下記の数４計算後のQ値ごとの強度を、Q値適正範囲で抽出し、一覧として表示工程19に表示し、その後記憶工程14に記憶する。
強度標準物質切片作図算出工程17-4は、強度標準物質放射線強度補正計算工程17-2で抽出された強度標準物質のみの単位換算後のQ値を横軸に、数４計算後のQ値ごとの強度を縦軸とした散布図を作図し、Q値の小さい領域で、単位換算後のQ値と数４計算後のQ値ごとの強度を最小二乗法で一次関数（y = a3 x + b3、yを数４計算後のQ値ごとの強度の値、xを単位換算後のQ値、a3は傾き、b3は切片）にあてはめ、切片b3を求め、この切片b3の値で強度標準物質の散乱断面積の値[SCS(0)standard]と設定する、つまりb3= SCS(0) standardと設定し、当該散布図に一次関数にあてはめた結果と最小二乗法であてはめたデータ範囲を表示し、これらすべての結果を表示工程19に表示し、その後記憶工程14に記憶する。
【００２７】
試料溶液中溶質の散乱断面積算出工程18については、溶液散乱法における角度ごとの任意の大きさの放射線の強度を物質の放射線に対する吸収と放射線の強度変動を考慮した溶液中の溶質の散乱断面積（絶対散乱光強度ともいう）に変換する方法の全体工程を表したブロック図中の試料溶液中溶質の散乱断面積算出工程のブロック図4を参照しながら説明する。
試料溶液中溶質の散乱断面積算出工程18は、試料溶液中溶質の散乱断面積算出基礎値取得工程18-1、試料溶液中溶質の放射線強度補正計算工程18-2、試料溶液中溶質の散乱断面積算出結果工程18-3を有する。
試料溶液中溶質の散乱断面積算出基礎値取得工程18-1は、記憶工程14から測定者が測定したい試料溶液の溶媒を充填した容器を試料環境測定保持工程にセッティングした状態で放射線を照射し一定時間測定した結果（以下、試料溶媒充填容器測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示工程19に表示し、
記憶工程14から試料溶媒充填容器の溶媒と溶媒が同じで、測定者が測定したい溶質を含んだ試料溶液を充填した容器（以下、試料溶液充填容器とする。）を試料環境測定保持工程にセッティングした状態で放射線を照射し一定時間測定した結果（以下、試料溶液充填容器測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示工程19に表示し、
記憶工程14から自然放射線測定結果の測定ファイル名、データ数、測定時間、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、
記憶工程14から強度標準物質Q値適正範囲設定工程17-3で設定されたQ値適正範囲、強度標準物質充填容器の厚さ、試料溶液充填容器の厚さ、強度標準物資の透過率、強度標準物質の切片b3、強度標準物質の散乱断面積の値を取得し、一覧として表示工程19に表示する。
試料溶液中溶質の放射線強度補正計算工程18-2は、試料溶液中溶質の放射線強度補正計算工程18-2で取得された値を用いて、試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果、自然放射線測定結果のそれぞれの結果のQ値の単位をオングストロームを底としたマイナス1乗（angstrom -1）に換算して、その結果を一覧として表示工程19に表示し、
試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果のそれぞれの結果のQ値における強度の値を下記の数２で計算して、その結果を一覧として表示工程19に表示し、
自然放射線測定結果のQ値における強度の値を下記の数３で計算して、その結果を一覧として表示工程19に表示し、
試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果のすべての数２計算後のQ値における強度の値と、自然放射線測定結果の数３計算後のQ値における強度の値と、試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果の時間1秒あたりの測定試料前放射線強度と時間1秒あたりの測定試料後放射線強度の値を用いて、
数５で計算した結果である数５計算後の試料溶液中溶質のみのQ値ごとの強度、試料溶液充填容器の透過率、試料溶媒充填容器の透過率、試料溶液中溶質の透過率の値と、数５で計算したデータ数を一覧として表示工程19に表示し、
強度標準物質Q値適正範囲設定工程17-3で設定されたQ値適正範囲中の試料溶液中溶質の単位換算後のQ値と数５計算後の強度の値を抽出し、一覧として表示工程19に表示し、記憶工程14に記憶する。
試料溶液中溶質の散乱断面積算出結果工程18-3は、試料溶液中溶質の放射線強度補正計算工程18-2から、もしくは記憶工程14から、Q値適正範囲中のQ値、数５計算後の強度、強度標準物質充填容器の厚さ、試料溶液充填容器の厚さ、強度標準物資の透過率、強度標準物質の切片b3を用いて、数６で計算した結果であるQ値適正範囲中のQ値ごとの数６計算後の試料溶液中溶質の散乱断面積の値を一覧として表示工程19に表示し、横軸にQ値適正範囲中のQ値とし、縦軸にQ値ごとの数６計算後の試料溶液中溶質の散乱断面積の値とした散布図を作図して表示し、これらすべての結果を記憶工程14に記憶する。
【００２８】
次に、本発明の溶液散乱法における角度ごとの任意の大きさの放射線の強度を物質の放射線に対する吸収と放射線の強度変動を考慮した溶液中の溶質の散乱断面積（絶対散乱光強度ともいう）に変換する方法について、図5と図6を参照しながら説明する。図5と図6は本発明の一実施形態である本発明の溶液散乱法における角度ごとの任意の大きさの放射線の強度を物質の放射線に対する吸収と放射線の強度変動を考慮した溶液中の溶質の散乱断面積（絶対散乱光強度ともいう）に変換する方法のフローチャートである。
【００２９】
S1において、本発明の溶液散乱法における角度ごとの任意の大きさの放射線の強度を物質の放射線に対する吸収と放射線の強度変動を考慮した溶液中の溶質の散乱断面積（絶対散乱光強度ともいう）に変換する装置の電源スイッチ（図示略）がON か否かが判断される。電源スイッチについては、当該装置全体で一つの電源スイッチでもよいし、当該装置全体を構成する測定試料作製、充填ならびに測定試料充填容器セッティング部2、放射線発生および調節部3、放射線測定部4、コンピュータ部5の各部ごとに電源スイッチがあってもよい（図1参照）。
実施例においては、当該装置の各部ごとに電源スイッチがあり、手動でスイッチをONにした。
【００３０】
そして、S1の操作終了後、S2において装置初期設定値入力画面（図示略）が表示される。
ここで、
測定試料作製工程6（図1参照）における測定試料作製装置に関する様々な設定条件と当該装置の動作確認検査条件と測定試料状態もしくは品質検査条件とその履歴の収集条件などと、充填装置に関する様々な設定条件と当該装置の動作確認検査条件と測定試料充填状態検査条件とその履歴の収集条件などを、
測定試料充填容器セッティング工程7（図1参照）におけるセッティング装置に関する様々な設定条件と当該装置の動作確認検査条件とセッティング状態検査条件とその履歴の収集条件などを、
放射線発生工程8（図1参照）における当該放射線発生装置に関する様々な設定条件と当該装置の動作確認検査条件と放射線状態検査条件とその履歴の収集条件などを、
放射線調節工程9（図1参照）における放射線調節装置に関する様々な設定条件と当該装置の動作確認検査条件と放射線の状態検査条件とその履歴の収集条件などを、
測定試料前放射線強度測定工程10（図1参照）における当該放射線の強度測定条件とその履歴の収集条件などを、
測定試料と測定試料環境測定保持工程11（図1参照）における測定試料環境測定装置および測定試料環境保持装置に関する様々な設定条件と当該装置の動作確認検査条件と測定試料環境
測定条件とその保持状態検査条件とその履歴の収集条件などを、
測定試料後放射線強度測定工程12（図1参照）における放射線の強度測定条件とその履歴の収集条件などを、
放射線強度の二次元画像測定工程13（図1参照）における放射線強度の二次元画像測定条件とその履歴の収集条件などを、
それぞれ入力し、保存する。
設定条件などについては、手動で入力してもよく、あらかじめ設定条件を設定していたものを、記憶工程14（図1参照）に記憶させたものを読み込んでおいて、そのまま設定を使用し、またその中でいくらかの設定を変更してもよい。
実施例において、それぞれの条件は実験の目的により異なり、かつその条件項目は多く多岐にわたるので、設定した条件のうち重要な項目の条件について述べると、
測定試料作製工程6（図1参照）における測定試料作製充填装置に関する様々な設定条件については、下記の表１に記載の順番どおりに下記の表１記載の測定試料を作製し、容器に充填する設定と、測定試料ごとのそれぞれの測定ファイル名などを、
放射線発生工程8（図1参照）における放射線発生条件は、波長1.488オングストローム（angstrom）のX線である放射線を発生させる条件などを、
放射線調節工程9（図1参照）における放射線調節装置に関する条件は、ビームサイズといわれる放射線の断面の縦を1mmと横を1mmとする条件などを、
測定試料前放射線強度測定工程10と測定試料後放射線強度測定工程12と放射線強度の二次元画像測定工程13（図1参照）それぞれにおける測定時間はすべての測定試料について300秒間測定するなどの条件などを、
測定試料と測定試料環境測定保持工程11（図1参照）における測定試料環境測定装置および測定試料環境保持装置に関する様々な設定条件については、下記の表1の測定順番1から5までの測定試料については、測定温度293K（20℃）に設定し、表1の測定順番6以降の測定試料については、測定温度310K（37℃）に設定する条件などを、
それぞれ入力し、保存した。
【表１】
0005717159.tif 000008
【００３１】
S2において装置初期設定値入力が完了すると、S3において測定試料準備開始ボタンをONにする。
なお、後述するS3に記載する操作をすべて手動でおこなうのであればこの操作をする必要はない。しかし、自動化する場合はこの操作は必要である。
実施例においては、S3に記載する操作をすべて手動でおこなったので、測定試料準備開始ボタンをONという操作はしなかった。
【００３２】
S3の操作後、S4において測定試料作製工程6における装置、容器、その他の器具などの洗浄が行われ、洗浄後乾燥もしくは共洗いされる。乾燥後、洗浄具合および乾燥あるいは共洗い具合を検査し、その検査結果を保存する。
また、測定試料作製工程6（図1参照）における装置、容器、その他の器具などの洗浄および乾燥方法は、測定者の実験の目的および実験環境にかなった洗浄および乾燥方法をとればよい。また、洗浄および乾燥操作については、自動化しても手動でおこなってもよい。乾燥後、洗浄具合および乾燥あるいは共洗い具合を検査は装置および測定状況に応じてしてもよくしなくてもよい。さらにその検査結果の保存も装置および測定状況に応じてしてもよくしなくてもよい。
なお、実施例において、当該装置、容器、その他の器具などを手洗い後共洗いし、その洗浄および共洗い具合を測定者が肉眼で検査した。また、表１の測定順番3のQ値標準物質充填容器のQ値標準物質として用いた試料は、べへン酸銀（The Gem Dugout社製、アメリカ合衆国）である。この試料は粉末なので取り扱いにくいので、表1記載のその他の測定試料とは別に測定容器を用意し、その容器に充填したものをあらかじめ用意していたので、このQ値標準物質充填容器を測定する際には、洗浄および乾燥操作および洗浄および乾燥もしくは共洗い具合検査は行わず、その検査結果についてはべへン酸銀状態を肉眼で確認し、実験用ノートに記録した。
【００３３】
S4の操作後、S5における測定試料作製が行われる。測定試料作製は表1の測定試料の順番通りの測定試料が作製される。測定試料作製は、測定者の実験の目的および実験環境にかなった測定試料作製方法をとればよい。また、測定試料作製操作については、自動化しても手動でおこなってもよい。
ここで、実施例においては、原則として表1の測定試料の順番通りの測定試料が作製した。ここで、Q値標準物質充填容器のQ値標準物質として用いた試料はべへン酸銀を、強度標準試料溶液には、大気圧下の温度20℃の純水を、試料溶液の溶媒には、リン酸緩衝生理食塩（Phosphate buffered saline、DSファーマバイオメディカル（株）製、大阪）を純水で溶解したものを、試料溶液には胆汁酸水和物（sodium taurocholate hydrate、シグマアルドリッチ社製、アメリカ合衆国）をリン酸緩衝生理食塩水に溶解して胆汁酸濃度を80mMに調製したものを、それぞれ用いた。Q値標準物質充填容器のQ値標準物質として用いた試料は、べへン酸銀である。この試料は粉末で取り扱いにくいので、表1記載のその他の測定試料とは別の容器を用意し、その容器に充填したものをあらかじめ用意しておいたものを用いた。強度標準試料溶液の純水は、超高純度Milli-Q純水システム（Merck Millipore、東京）で精製された水を用いた。試料溶液の溶媒と試料溶液については、手動で当該試薬をはかりとり、一定量の純水に溶解させることで作製した。
【００３４】
S5における測定試料作製が終了後、S6において測定試料容器に充填される。測定試料の充填は表１の測定試料の順番通りに測定試料が充填される。測定試料作製は、測定者の実験の目的および実験環境にかなった測定試料の充填方法をとればよく、充填後の検査についても測定者の実験の目的および実験環境にかなった検査方法で行えばよい。測定試料の充填操作および充填後検査については、自動化しても手動でおこなってもよい。
本実施例においては、測定者が手動で測定容器に充填し、肉眼で検査し、実験ノートに記録した。
【００３５】
S6における測定試料充填操作終了後、S7において測定試料を充填された容器を測定試料と測定試料環境測定保持工程11（図1参照）における所定の位置と条件で適切にセッティングされる。このセッティング作業は、自動化しても手動でおこなってもよい。
本実施例においては、測定者が手動で測定試料を測定試料と測定試料環境測定保持工程11（図1参照）における所定の位置にセッティングした。
表1の測定順番1の自然放射線と測定順番2の放射線のみと測定順番3のQ値標準物質充填容器のそれぞれについては、温度25℃下で、
表1の測定順番4の強度標準物質測定用空容器と測定順番5の強度標準物質充填容器のそれぞれについては、温度20℃下で、
表1の測定順番6の実験試料溶媒充填容器と測定順番7の試料溶液充填容器のそれぞれについては、温度37℃下で、測定試料環境を測定し保持した。各試料のセッティング状況については、測定者が肉眼で検査し、実験用ノートに記録した。
【００３６】
S7における測定試料充填操作終了後ただちに、S8において測定試料環境が設定した一定の温度もしくは、一定の湿度下などの環境条件下を保持するために、測定試料環境保持機能が働くとともに測定試料環境が測定される。その操作は、自動化しても手動でおこなってもよい。
本実施例においては、手動で測定試料環境保持装置を設定後作動させ、測定試料環境を測定した。
【００３７】
S8において測定試料環境が設定した測定試料環境が一定時間保持した後、S9において、測定者自身によって測定開始ボタンがONにされる。なお、S8において測定試料環境が設定した測定試料環境が一定時間保持した後測定者自身によって測定開始ボタンがONにしなくても、自動的に測定開始されてもよい。
S9において測定開始ボタンがONと確認されたら、放射線が発生し調節され、測定試料に照射されると同時にS11において放射線強度が測定される。
S12において各放射線強度測定結果と、試料環境測定結果と、それらの履歴などの記憶工程に自動的に記憶される。
S12において各放射線強度測定結果と、試料環境測定結果と、それらの履歴などの記憶後、S13においてすべての測定試料について測定終了されたかが判断される。すべての測定試料について測定終了していない場合は、S4にもどる。S4からS13までの操作が行われる。
S13においてすべての測定試料について測定終了と判断後、S14において測定者の選択により一旦すべての操作を終了するかどうかが判断される。一旦すべての操作を終了と選択された場合は、すべての操作が終了する。
【００３８】
S14において、測定者が操作継続と判断した場合は、S15においてQ値標準物質充填容器の二次元画像を読み込まれ表示される。
ここで、実施例としての図7の符号1の図に描かれている円つまり図7の符号3から5は、結晶学でいうQ値標準物質として用いたべへん酸銀の回折像つまりデバイ・シェラー環であり、図7の符号3は面間隔d が58.38オングストローム（angstrom）のデバイ・シェラー環、図7の符号4は面間隔d が29.19オングストローム（angstrom）のデバイ・シェラー環、図7の符号5は面間隔d が19.46オングストローム（angstrom）のデバイ・シェラー環のそれぞれ実際に測定されたデバイ・シェラー環を示す。
S16において、Q値標準物質充填容器の二次元画像の各画素位置でのQ値など決定するための諸条件設定画面（図示略）を表示され、測定者によってQ値を決定するための当該諸条件を設定する。当該設定条件は、放射線を検出する検出器によって異なるが、S16における実施例としては、図7の符号1の図のグラフの目盛の中の左端から右端までの画素数（ピクセル）を3000画素（ピクセル）と、上端から下端までの画素数（ピクセル）を3000画素（ピクセル）と、試料セルから検出器までの距離995mm（おおよその距離を設定すればよく、計算の結果正確に決定される値である。）、電磁波の波長 1.488 オングストローム（angstrom）（測定者の選択により、電磁波の波長を固定したり、実際に計算させたうえで決定させる値であるが、実施例においては波長を固定にした。）、1画素は拡大すると正方形でありその1画素あたりの実際の縦の長さ 100マイクロメートル（μm）と横の長さ 100マイクロメートル（μm）と設定する。
S17において、S15において読み込んだQ値標準物質の回折像と、S16において設定した設定条件をもとに、各画素位置のQ値と、回折像の中心位置と試料セルから検出器までの距離と、場合によっては測定波長と、検出器の水平面に対する傾きの角度と、検出器の傾きの角度のそれぞれを算定し、その後自動的に保存する。
S17における実施例においては、図7の符号2図のとおり各画素位置のQ値と、回折像の中心位置が回折像の座標軸の左の端から右に1500.500画素番目、下の端から上に1466.959画素番目にあり、試料セルから検出器までの距離981.236 mm、検出器の水平面に対する傾きの角度は121.873度、検出器の傾きの角度0.257度であることが算定された(図7の2の図参照)。図7の符号2の図に描かれている円つまり図7の符号6から13は、結晶学でいうQ値標準物質として用いたべへん酸銀の回折像つまりデバイ・シェラー環であり、図7の符号6は面間隔d が58.38オングストローム（angstrom）のデバイ・シェラー環、図7の符号7は面間隔d が29.19オングストローム（angstrom）のデバイ・シェラー環、図7の符号8は面間隔d が19.46オングストローム（angstrom）のデバイ・シェラー環のそれぞれについては、実際に測定したデバイ・シェラー環と理論的に算出したデバイ・シェラー環を重ね合わせたものを示し、図7の符号9は面間隔d が14.595オングストローム（angstrom）のデバイ・シェラー環、図7の符号10は面間隔d が11.676オングストローム（angstrom）のデバイ・シェラー環、図7の符号11は面間隔d が9.73オングストローム（angstrom）のデバイ・シェラー環、図7の符号12は面間隔d が8.34オングストローム（angstrom）のデバイ・シェラー環、図7の符号13は面間隔d が7.298オングストローム（angstrom）のデバイ・シェラー環のそれぞれについては、理論的に算出したデバイ・シェラー環を示す。
【００３９】
S18において、測定試料それぞれについての二次元画像を読み込み、必要に応じて後述するマスク処理をしたうえで、S19においてS17において算定された各画素位置のQ値、回折像の中心位置と試料セルから検出器までの距離、場合によっては測定波長、検出器の水平面に対する傾きの角度、検出器の傾きの角度をもとに、測定試料についての二次元画像を、Q値と強度の値に数値化し、その後自動もしくは手動操作で保存する。S18とS19において測定試料についての二次元画像一つ一つについて画像読み込み数値化をしてもよく、S18において、すべての測定試料についてのすべての二次元画像を読み込み、すべての二次元画像について一括して数値化してもよい。
実施例においては、図８の符号１の図の放射線二次元画像の中心部が白く、そのまわりに濃い黒色の領域があり、その外側において幾分黒色の濃さが薄くなっている。放射線二次元画像の中心部が白い部分は、放射線を直接検出器にいれると放射線強度が強すぎて検出器が故障してしまうため円形の鉛板で遮蔽して、放射線が直接検出器に入らないようにしている。この部分をビームストップ（もしくはビームストッパー）と呼ばれる部分である。放射線二次元画像の中心部が白い部分のまわりに濃い黒色の領域は、太陽が月によって覆われ、全く見えなくなる現象である日食のときに、太陽のまわりに見える散乱光（コロナ）に例えられるように、放射線が円形の鉛板によってさえぎられ、円形の鉛板まわりに見える散乱光によって、放射線強度が強く検出された領域である（コロナ領域とする）。
このコロナ領域は、放射線が測定試料にあたって散乱される光を測定する散乱光ではないので、二次元画像の数値化の精度を高めるためには、このコロナ領域を数値化しない処理（以下、マスク処理とする。）をする必要がある。
そこで実施例においては、測定試料についての二次元画像を一つ一つ読み込み、マスク処理（図8の符号3の黒点模様円の部分がマスク部分である。）をしたうえで、二次元画像をQ値(単位はナノメートルのマイナス１乗、nm-1)と強度の値に(単位を任意スケール)数値化した（図8の符号4の図参照）。なお、マスク処理については、実験および装置の状況に応じてマスク処理をしてもしなくてもよい。
S20において、全ての測定試料の二次元画像について数値化が完了したかが判断される。二次元画像一つ一つについて画像読み込み数値化した場合において全ての測定試料の二次元画像について数値化が完了していない場合においてはS17に戻る。全ての測定試料の二次元画像について数値化が完了した場合はS21に進む。
S21において、測定者の選択により一旦すべての操作を終了するかどうか。判断される。一旦すべての操作を終了と選択された場合は、すべての操作が終了する。
【００４０】
S22において、測定試料それぞれの測定ファイル名、測定開始時刻、測定終了時刻、測定時間、該測定試料前放射線強度測定工程で測定された測定試料前放射線強度、該測定試料後放射線強度測定工程で測定された測定試料後放射線強度を測定試料ごとに取得し一覧として表示する。
実施例としては、表1の測定試料一覧で示す順番のとおりに測定試料それぞれの測定ファイル名、測定開始時刻、測定終了時刻、測定時間、該測定試料前放射線強度測定工程で測定された測定試料前放射線強度、該測定試料後放射線強度測定工程で測定された測定試料後放射線強度を測定試料ごとに表2のとおり表示する。
S23において、測定開始時刻と測定終了時刻をもとに測定開始から終了までの測定時間と測定中央時刻を測定試料ごとに算出し、測定試料ごとの測定試料前放射線強度を時間1秒あたりの測定試料前放射線強度に換算し、測定試料ごとの測定試料後放射線強度を時間1秒あたりの測定試料後放射線強度に換算し、測定試料を該試料環境測定保持工程にセッティングしない状態で放射線を照射し、一定時間測定（つまり測定試料もなにもなく空気しかない状態で放射線を照射し一定時間測定）した時間1秒あたりの測定試料前放射線強度の値（以下、放射線のみ時間1秒あたりの測定試料前放射線強度値とする。）をもとにして、放射線のみ時間1秒あたりの測定試料前放射線強度値に測定試料それぞれの時間1秒あたりの測定試料前放射線強度の値を除算した係数（以下、照射強度補正係数とし、照射強度補正係数＝放射線のみ時間1秒あたりの測定試料前放射線強度値÷測定試料それぞれの時間1秒あたりの測定試料前放射線強度で計算される。）を算出し、算出されたすべての結果を一覧として表示する。
実施例としては、下記の表2中の測定順番2の放射線のみ時間1秒あたりの測定試料前放射線強度の値（表2中ではAとして表す。）を基準として、その値に下記の表2の測定順番3以降の時間1秒あたりの測定試料前放射線強度（表2中ではB,C,D,E,F,Dとして表す。）のそれぞれの値を除算した係数（照射強度補正係数とする。）を算出し、下記の表2中の照射強度補正係数の欄に照射強度補正係数の値（表2中の、A / B、A / C、A / Dなどの除算した結果の値として表す。）を一覧として、結果を下記の表2に表示し、自動もしくは手動操作で保存する。
【表２】
0005717159.tif 000009
【００４１】
S24において、記憶工程14（図１参照）から散乱断面積の値が判明している物質（以下、強度標準物質とする。）を充填した容器（以下、強度標準物質充填容器とする。）を試料環境測定保持工程にセッティングした状態で放射線を照射し一定時間測定した結果（以下、強度標準物質充填容器測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、
記憶工程14（図１参照）から強度標準物質を充填しない空の容器を試料環境測定保持工程にセッティングした状態で放射線を照射し一定時間測定した結果（以下、強度標準物質測定用空容器結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、
記憶工程14（図１参照）から測定試料を試料環境測定保持工程にセッティングしない状態で、それに加えて放射線を照射しない状態で、一定時間測定した結果（以下、自然放射線測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定時間、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、
記憶工程14（図１参照）から測定試料を試料環境測定保持工程にセッティングしない状態で放射線を照射し一定時間測定した結果、つまり測定試料もなにもなく空気しかない状態で放射線を照射し一定時間測定結果（以下、放射線のみの測定結果とする。）の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示する。
実施例としては、
記憶工程14（図１参照）から強度標準物質として20℃における純水を充填した容器を試料環境測定保持工程にセッティングした状態で放射線を照射し時間300秒測定した結果の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として下記の表３に表示し、
記憶工程14（図１参照）から強度標準物質を充填しない空の容器を試料環境測定保持工程にセッティングした状態で放射線を照射し時間300秒測定した結果の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として下記の表３に表示し、
記憶工程14（図１参照）から測定試料を試料環境測定保持工程にセッティングしない状態で、それに加えて放射線を照射しない状態で、時間300秒測定した結果の測定ファイル名、データ数、測定時間、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として下記の表３に表示し、
記憶工程14（図１参照）から測定試料を試料環境測定保持工程にセッティングしない状態で放射線を照射し時間300秒測定した結果の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として下記の表３に表示した。
S25において、強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果、自然放射線測定結果、放射線のみの測定結果のそれぞれの結果のQ値の単位をオングストロームを底としたマイナス1乗（angstrom -1）に換算して、その結果を一覧として表示し、
強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果、放射線のみの測定結果のそれぞれの結果のQ値における強度の値を数２で計算して、その結果を一覧として表示し、
自然放射線測定結果のQ値における強度の値を数３で計算して、その結果を一覧として表示し、
強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果、放射線のみの測定結果のすべての数２計算後のQ値における強度の値と、自然放射線測定結果の数３計算後のQ値における強度の値と、強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果の時間1秒あたりの測定試料前放射線強度と時間1秒あたりの測定試料後放射線強度の値を用いて、数４で計算した結果である数４計算後の強度標準物質のみのQ値ごとの強度、強度標準物質充填容器の透過率、強度標準物質測定用空容器の透過率、強度標準物質の透過率の値と、数４で計算したデータ数を一覧として表示し、その後すべての結果を手動的にもしくは自動的に保存する。
実施例としては、強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果、自然放射線測定結果、放射線のみの測定結果のそれぞれの結果のQ値の単位をオングストロームを底としたマイナス1乗（angstrom -1）に換算して、その結果を一覧として下記の表３に表示し、強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果、放射線のみの測定結果のそれぞれの結果のQ値における強度の値を数２で計算して、その結果を一覧として下記の表３に表示し、
自然放射線測定結果のQ値における強度の値を数３で計算して、その結果を一覧として下記の表３に表示し、
強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果、放射線のみの測定結果のすべての数２計算後のQ値における強度の値と、自然放射線測定結果の数３計算後のQ値における強度の値と、強度標準物質充填容器測定結果、強度標準物質測定用空容器結果の時間1秒あたりの測定試料前放射線強度と時間1秒あたりの測定試料後放射線強度の値を用いて、数４で計算した結果である数４計算後の強度標準物質のみのQ値ごとの強度、強度標準物質充填容器の透過率、強度標準物質測定用空容器の透過率、強度標準物質の透過率の値と、数４で計算したデータ数を一覧として下記の表３に表示し、その後すべての結果を保存した。
S26において、S25で計算された放射線のみの単位換算後のQ値と数2で計算後の強度をもとに、縦軸を強度とし、横軸をQ値とするQ値適正範囲設定散布図を作図し、S27において、放射線の強度を適正に検出しているQ値の範囲を判断し設定する。放射線の強度を適正に検出しているQ値の範囲を判断し設定は実験環境の状況装置の特性によって異なるので、実験環境の状況装置の特性に応じた放射線の強度を適正に検出しているQ値の範囲を判断し設定すればよい。
実施例においては、放射線のみについてのQ値適正範囲設定散布図は図9のとおりになる。放射線の強度を適正に検出しているQ値の範囲（Q値適正範囲）は、発明者の経験的に得られた知見によると、図中の灰色で表示された線の部分の折れ曲がっている箇所（図9中の符号1の基準矢印で示されている箇所）を基準に、Q値の小さい方へ黒の曲線にそって直線を引いた場合に直線と重なる範囲とQ値の大きい方へ黒の曲線にそって直線を引いた場合に直線と重なる範囲がQ値適正範囲である（図9参照）。
【００４２】
S28において、S27で設定されたQ値適正範囲で強度標準物質のみのQ値と強度の値を抽出し、一覧として表示させ、その後手動もしくは自動で保存する。
実施例においては、下記の表３の強度標準物質のみの欄の  Q値 (angstrom -1)の欄にあるQ値の値を抽出し、下記の表３のQ値適正範囲設定後  強度標準物質のみの欄のQ値適正設定後Q値 (angstrom -1) 欄に写し、下記の表３の強度標準物質のみの欄の数4で計算後強度 (s-1) 欄にある数4で計算後強度の値を抽出し、Q値適正設定後 強度 (s-1) 欄に写した。
S29において、S28で抽出されたQ値適正範囲で強度標準物質のみのQ値を横軸に、Q値適正範囲で強度標準物質のみの強度を縦軸にとして散布図を作図する。
実施例においては、下記の表３のQ値適正範囲設定後  強度標準物質のみの欄のQ値適正設定後Q値 (angstrom -1) 欄のQ値を横軸に、写し、下記の表３の強度標準物質のみのQ値適正設定後 強度 (s-1) 欄の強度を縦軸として、図１０のとおり作図した。
S30において、S29で作図された散布図におけるQ値の小さい領域で、Q値と縦軸に任意の大きさの強度を最小二乗法で一次関数（y = a3 x + b3、yを任意の大きさの強度の値、xをQ値、a3は傾き、b3は切片）にあてはめる領域を設定する。
実施例においては、図１０の黒線の白抜き（色合いによっては、灰色）をしている領域又は点線から点線で表されている領域を設定した。
S31において、Q値と縦軸に任意の大きさの強度を最小二乗法で一次関数（y = a3 x + b3、yを任意の大きさの強度の値、xをQ値、a3は傾き、b3は切片）にあてはめて、切片b3を求め、この切片b3の値でその強度標準物質の散乱断面積の値[SCS(0)standard]と設定する、つまりb3= SCS(0) standardと設定し、当該作図されたグラフに一次関数にあてはめた結果と最小二乗法であてはめたデータ範囲を表示し、かつ、切片の値を表示し、それら結果を表示し、その後手動的にもしくは自動的に保存する。
実施例においては、図１０に、一次関数（y = a3 x + b3、yを任意の大きさの強度の値、xをQ値、a3は傾き、b3は切片）にあてはめた結果を表示したものである。図10の中破線は最小二乗法で一次関数にあてはめた直線を表し、その一次関数の直線式は、y= -8.16x+14.85であり、a3は-8.16でb3は14.85である。決定係数R2は、実測の点と最小二乗法で一次関数にあてはめた直線のあてはめ具合を表す尺度を表し、その値が1であれば、実測点と一次関数にあてはめた直線はよく一致していることを示す。本実施例における決定係数R2が0.99であったので、非常によく一致していることを示している。ここで切片b3の値14.85における標準物質20℃における純水の散乱断面積の値[SCS(0)standard]は164 ピコオングストロームの-1乗（pangstrom-1）である。これらの値を下表３のように、一覧として表示した。
S32において、一旦終了するか測定者が判断する。一旦終了すると測定者が判断した場合は終了する。
【表３】
0005717159.tif 000010
【００４３】
S33において、
試料溶液充填容器測定結果の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、
記憶工程14（図１参照）から試料溶媒充填容器測定結果の測定ファイル名、データ数、測定波長、測定時間、照射強度補正係数、時間1秒あたりの測定試料前放射線強度、時間1秒あたりの測定試料後放射線強度、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、
記憶工程14（図１参照）から自然放射線測定結果の測定ファイル名、データ数、測定時間、Q値、該Q値における強度の値を取得し、一覧として表示し、
Q値適正範囲設定、強度標準物質充填容器の厚さ、試料溶液充填容器の厚さ、強度標準物資の透過率、強度標準物質の切片b3、強度標準物質の散乱断面積の値を取得して、一覧として表示する。
S34において、
試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果、自然放射線測定結果のそれぞれの結果のQ値の単位をオングストロームを底としたマイナス1乗（angstrom -1）に換算して、その結果を一覧として表示し、
試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果のそれぞれの結果のQ値における強度の値を下記の数２で計算して、その結果を一覧として表示し、自然放射線測定結果のQ値における強度の値を下記の数３で計算して、その結果を一覧として表示し、
試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果のすべての数２計算後のQ値における強度の値と、自然放射線測定結果の数３計算後のQ値における強度の値と、試料溶液充填容器測定結果、試料溶媒充填容器測定結果の時間1秒あたりの測定試料前放射線強度と時間1秒あたりの測定試料後放射線強度の値を用いて、数５で計算した結果である数５計算後の試料溶液中溶質のみのQ値ごとの強度、試料溶液充填容器の透過率、試料溶媒充填容器の透過率、試料溶液中溶質の透過率の値と、下記の数５で計算したデータ数を一覧として表示し、
Q値適正範囲中の試料溶液中溶質の単位換算後のQ値と下記の数５計算後の強度の値を抽出し、一覧として表示する。
S35において、
Q値適正範囲中のQ値、数５計算後の強度、強度標準物質充填容器の厚さ、試料溶液充填容器の厚さ、強度標準物資の透過率、強度標準物質の切片b3を用いて、数６で計算した結果であるQ値適正範囲中のQ値ごとの数６計算後の試料溶液中溶質の散乱断面積の値を一覧として表示し、横軸にQ値適正範囲中のQ値とし、縦軸にQ値ごとの数６計算後の試料溶液中溶質の散乱断面積の値とした散布図を作図して表示する。
S33からS35における実施例としては、試料溶液として胆汁酸水和物（sodium taurocholate hydrate、シグマアルドリッチ社製、アメリカ合衆国）をリン酸緩衝生理食塩水に溶解して胆汁酸濃度を80mMに調製したもの（胆汁酸溶液とする。）を測定し、試料溶液の溶媒には、リン酸緩衝生理食塩水（Phosphate buffered saline、DSファーマバイオメディカル（株）製、大阪）を測定し、それらの結果を下表4に示すとおりに一覧を表として表示する。
【表４】
0005717159.tif 000011
胆汁酸溶液の溶質である胆汁酸分子が会合してミセルを形成するので、その胆汁酸ミセルおける横軸をQ値、縦軸を散乱断面積でプロットしたグラフである（図11参照）。
S33からS35において試料溶液充填容器測定結果のQ値と強度の値、試料溶媒充填容器測定結果のQ値と強度の値、自然放射線測定結果のQ値と強度の値についてのデータ一つ一つについて読み込みS33からS35までの処理をしてもよく、S33において、すべてのデータを読み込み、すべてのデータについて一括して処理してもよい。
S36において、すべての試料溶液中溶質についての散乱断面積計算が完了されたか判断され、すべての試料溶液中溶質についての散乱断面積計算が完了していない場合は、S32にもどる。すべての試料溶液中溶質についての散乱断面積計算が完了した場合は終了する。
【００４４】
測定者の選択によりS1からS35の終了まで一連の操作として1回で実験試料の散乱断面積計算処理をしてもよいし、S1からS14まででの一連の操作、S15からS21まででの一連の操作、S22からS32まででの一連の操作、S33からS36まででの一連の操作のそれぞれの操作を別の機会におこなってもよい。
【００４５】
以上説明したように、本発明つまり本フローチャートに沿って処理すれば、溶液散乱法における角度ごとの任意の大きさの放射線の強度を物質の放射線に対する吸収と放射線の強度変動を考慮した溶液中の溶質の散乱断面積（絶対散乱光強度ともいう）に変換することができる。
【符号の説明】
【００４６】
以下、図１の符号について説明する。
１    溶質の任意の放射線強度から溶質の散乱断面積変換方法
２    測定試料作製、充填ならびに測定試料充填容器セッティング工程
３    放射線発生および調節工程
４    放射線測定工程
５    コンピュータ工程
６    測定試料作製工程
７    測定試料充填容器セッティング工程
８    放射線発生工程
９    放射線調節工程
１０    測定試料前放射線強度測定工程
１１    測定試料と測定試料環境測定保持工程
１２    測定試料後放射線強度測定工程
１３    放射強度の二次元画像測定工程
１４    記憶工程
１５    放射線強度の二次元画像数値化工程
１６    照射強度補正係数算出工程
１７    強度標準物質切片算出工程
１８    試料溶液中溶質の散乱断面積算出工程
１９    結果表示工程
【００４７】
以下、図７の符号について説明する。
１    Q値標準物質充填容器の放射線強度の二次元画像図
２    画素位置でのQ値などの決定後の二次元画像図
３    面間隔d が58.38オングストローム（angstrom）におけるブラッグ反射による同心円状の回折環（デバイ・シェラーリング環）を実測した円
４    面間隔d が29.19オングストローム（angstrom）におけるブラッグ反射による同心円状の回折環（デバイ・シェラーリング環）を実測した円
５    面間隔d が19.46オングストローム（angstrom）におけるブラッグ反射による同心円状の回折環（デバイ・シェラーリング環）を実測した円
６    面間隔d が58.38オングストローム（angstrom）におけるブラッグ反射による同心円状の回折環（デバイ・シェラーリング環）を実測した円と理論的に算出した円
７    面間隔d が29.19オングストローム（angstrom）におけるブラッグ反射による同心円状の回折環（デバイ・シェラーリング環）を実測した円と理論的に算出した円
８    面間隔d が19.46オングストローム（angstrom）におけるブラッグ反射による同心円状の回折環（デバイ・シェラーリング環）を実測した円と理論的に算出した円
９    面間隔d が14.595オングストローム（angstrom）におけるブラッグ反射による同心円状の回折環（デバイ・シェラーリング環）と理論的に算出した円
１０    面間隔d が11.676オングストローム（angstrom）におけるブラッグ反射による同心円状の回折環（デバイ・シェラーリング環）と理論的に算出した円
１１    面間隔d が9.73オングストローム（angstrom）におけるブラッグ反射による同心円状の回折環（デバイ・シェラーリング環）と理論的に算出した円
１２    面間隔d が8.34オングストローム（angstrom）におけるブラッグ反射による同心円状の回折環（デバイ・シェラーリング環）と理論的に算出した円
１３    面間隔d が7.298オングストローム（angstrom）におけるブラッグ反射による同心円状の回折環（デバイ・シェラーリング環）と理論的に算出した円
【００４８】
以下、図９の符号について説明する。
１  Q値適正範囲を設定するうえでの基準位置
【要約】
【課題】溶液散乱法における角度ごとの任意の大きさの放射線の強度を物質の放射線に対する吸収と放射線の強度変動を考慮した溶液中の溶質の散乱断面積（絶対散乱光強度ともいう）に変換する。
【解決手段】
本発明は、溶液散乱法における角度ごとの任意の大きさの放射線の強度を物質の放射線に対する吸収と放射線の強度変動を考慮した溶液中の溶質の散乱断面積（絶対散乱光強度ともいう）に変換するための溶液小角散乱測定結果の数的処理方法を発明することによって解決した。
【選択図】図１【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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