(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
自発光型の複数の画素がマトリクス状に配置された表示部と、
前記画素ごとにおける輝度劣化度を測定または推定する検出部と、
前記測定または推定した輝度劣化度に基づき各画素の輝度劣化特性を補正する補正部と、を備える画像表示装置において、
前記複数の画素のうち、最も輝度劣化度が高い画素を第１画素とした場合、前記補正部は、前記第１画素の周辺に位置する他の画素を、該第１画素から離れるにつれて、前記輝度劣化度が小さくなるように補正し、
前記補正部は、各画素に流れる電流量を調整することにより輝度劣化度を補正し、
前記輝度劣化度の補正は、輝度劣化補正が必要な画素について電流量をＸ（Ｘは２以上の自然数）倍にし、デューティーを１／Ｘ（Ｘは２以上の自然数）倍して補正を行い、画素の時間平均輝度は変わらないが、劣化速度は変化し、
前記補正は、補正後の上下左右の画素との輝度劣化度の差が１４以下になるように、また、斜めの画素との輝度劣化度が２０以下となるようにデータを作成し、
前記輝度劣化度が１００ということは、５０％の輝度低下が起きたことを意味する
ことを特徴とする画像表示装置。
【請求項２】
自発光型の複数の画素がマトリクス状に配置された表示部と、
前記画素ごとにおける輝度劣化度を測定または推定する検出部と、
前記測定または推定した輝度劣化度に基づき各画素の輝度劣化特性を補正する補正部と、を備える画像表示装置において、
前記複数の画素のうち、最も輝度劣化度が高い画素グループを第１画素グループとした場合、前記補正部は、前記第１画素グループの周辺に位置する他の画素グループを、該第１画素グループから離れるにつれて、前記輝度劣化度が小さくなるように補正し、
前記補正部は、各画素に流れる電流量を調整することにより輝度劣化度を補正し、
前記輝度劣化度の補正は、輝度劣化補正が必要な画素グループについて電流量をＸ（Ｘは２以上の自然数）倍にし、デューティーを１／Ｘ（Ｘは２以上の自然数）倍して補正を行い、画素グループの時間平均輝度は変わらないが、劣化速度は変化し、
前記補正は、補正後の上下左右の画素グループとの輝度劣化度の差が１４以下になるように、また、斜めの画素グループとの輝度劣化度が２０以下となるようにデータを作成し、
前記輝度劣化度が１００ということは、５０％の輝度低下が起きたことを意味する
ことを特徴とする画像表示装置。
【請求項３】
自発光型の複数の画素がマトリクス状に配置された表示部と、
前記画素ごとにおける輝度劣化度を測定または推定する検出部と、
前記測定または推定した輝度劣化度に基づき各画素の輝度劣化特性を補正する補正部と、を備える画像表示装置において、
前記複数の画素のうち、１つの画素を第１画素とし、該第１画素から順に配列された画素をそれぞれ第２画素、第３画素とし、前記第１画素が最も輝度劣化度が高い場合、
前記補正部は、前記輝度劣化度が、
第１画素＞第２画素＞第３画素となるように前記第１画素の周辺に位置する他の画素を補正し、
前記補正部は、各画素に流れる電流量を調整することにより輝度劣化度を補正し、
前記輝度劣化度の補正は、輝度劣化補正が必要な画素について電流量をＸ（Ｘは２以上の自然数）倍にし、デューティーを１／Ｘ（Ｘは２以上の自然数）倍して補正を行い、画素の時間平均輝度は変わらないが、劣化速度は変化し、
前記補正は、補正後の上下左右の画素との輝度劣化度の差が１４以下になるように、また、斜めの画素との輝度劣化度が２０以下となるようにデータを作成し、
前記輝度劣化度が１００ということは、５０％の輝度低下が起きたことを意味する
ことを特徴とする画像表示装置。
【請求項４】
自発光型の複数の画素がマトリクス状に配置された表示部と、
前記画素ごとにおける輝度劣化度を測定または推定する検出部と、
前記測定または推定した輝度劣化度に基づき各画素の輝度劣化特性を補正する補正部と、を備える画像表示装置において、
前記複数の画素のうち、１つの画素グループを第１画素グループとし、該第１画素グループから順に配列された画素グループをそれぞれ第２画素グループ、第３画素グループとし、前記第１画素グループが最も輝度劣化度が高い場合、
前記補正部は、前記輝度劣化度が、
第１画素グループ＞第２画素グループ＞第３画素グループとなるように前記第１画素グループの周辺に位置する他の画素グループを補正し、
前記補正部は、各画素に流れる電流量を調整することにより輝度劣化度を補正し、
前記輝度劣化度の補正は、輝度劣化補正が必要な画素グループについて電流量をＸ（Ｘは２以上の自然数）倍にし、デューティーを１／Ｘ（Ｘは２以上の自然数）倍して補正を行い、画素グループの時間平均輝度は変わらないが、劣化速度は変化し、
前記補正は、補正後の上下左右の画素グループとの輝度劣化度の差が１４以下になるように、また、斜めの画素グループとの輝度劣化度が２０以下となるようにデータを作成し、
前記輝度劣化度が１００ということは、５０％の輝度低下が起きたことを意味する
ことを特徴とする画像表示装置。
【請求項５】
前記輝度劣化度の補正は、１フレームにおける発光期間をＸ（Ｘは２以上の自然数）に分割して、それぞれの期間における輝度を、補正前における画素の時間平均輝度を同じにしつつ電流量を調整することにより補正を行うことを特徴とする請求項１乃至４にいずれかに記載の画像表示装置。
【請求項６】
前記検出部は、各画素に流れる電流量に基づいて前記輝度劣化特性を測定することを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の画像表示装置。
【請求項７】
前記検出部は、各画素の温度に基づいて前記輝度劣化特性を測定することを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の画像表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、アクティブマトリクス型有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）やＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）等の画像表示装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、主流である液晶ディスプレイに変わるフラットパネルディスプレイとして、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）ディスプレイの研究が進められている。
【０００３】
有機ＥＬディスプレイは、液晶ディスプレイと比べて、視野角が広いとともに応答速度が速く、高輝度、高コントラストであるというメリットがある。また、バックライトが不要であるため薄型化が可能であり、次世代表示ディスプレイとして期待されている。
【０００４】
ところが、有機ＥＬディスプレイやＰＤＰなどの自発光ディスプレイは、液晶ディスプレイと比較して、画素ごとに輝度が変化してしまい画像が見苦しくなる、いわゆる焼き付きが発生しやすいという問題がある。
【０００５】
当該焼き付きについて、有機ＥＬディスプレイを例にして以下に説明する。有機ＥＬディスプレイは、発光素子がその発光量や発行時間に比例して劣化することが知られている。その一方で、ディスプレイに表示される画像の内容は一様でなく、時間とともに変化する。そのため、発光量の大きい発光素子は、発光量の小さい発光素子と比較して劣化の進行が速く、焼き付きが発生する。
【０００６】
また、Ｒ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）のそれぞれを独立に有したカラー表示が可能な有機ＥＬディスプレイにおいては、ＲＧＢが均一に使用されない場合、各色が異なったスピードで劣化することとなり、ホワイトバランスがずれてしまうという問題が発生する。この現象は不可逆的であり、進行すれば画像表示の品位を著しく低下することとなる。
【０００７】
このような焼き付きを改善する方法として、有機ＥＬディスプレイにおいて、画像表示の位置を時間とともに変化させることにより、画像表示における焼き付きを緩和する技術が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００８】
また、ＰＤＰにおいて、長時間の点灯により輝度の低下した表示ドットを、補正輝度データにより点灯させることにより、輝度の低下分だけ輝度を増加させる技術が提案されている（例えば、特許文献２参照）。
【０００９】
さらに、有機ＥＬディスプレイにおいて、所定の発光期間において、補正対象画素と基準画素との間に発生する劣化量差を算出し、劣化が早い画素を低い輝度で発光させることにより、表示画面の劣化を均一化する技術が提案されている（例えば、特許文献３および特許文献４参照）。
【特許文献１】特開２００３−２７４３１５号公報
【特許文献２】特開２０００−１３２１３９号公報
【特許文献３】特開２００６−１９５３１０号公報
【特許文献４】特開２００６−２０１６２７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
ところが、特許文献１に記載の技術は、表示領域が小さい場合においてのみ可能あり、一般の携帯電話やパーソナルコンピュータのディスプレイのように全画面を使用する画像表示装置では使用できないという問題がある。
【００１１】
また、特許文献２〜４に記載の技術においては、結果的に最も劣化が速い画素の劣化を促進することとなり、画像表示装置しての寿命が短くなってしまうという問題がある。
【００１２】
その他に、全体的に輝度を抑制し、焼き付きのスピードを遅らせる方法や、非使用状態の間に、入力データによってばらついた累積発光量の差を埋めることにより、劣化を均一化する技術があるが、画像表示装置の寿命を効果的に増加させることができていない。
【００１３】
そこで、本発明は、上記問題に鑑みて、焼き付きによる視認性低下を緩和しつつ、全体が急速に劣化することを抑制し、寿命を効果的に増加させた画像表示装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明にかかる画像表示装置は、自発光型の複数の画素がマトリクス状に配置された表示部と、前記画素ごとにおける輝度劣化度を測定または推定する検出部と、前記測定または推定した輝度劣化度に基づき各画素の輝度劣化特性を補正する補正部と、を備える画像表示装置において、前記複数の画素のうち、最も輝度劣化度が高い画素を第１画素とした場合、前記補正部は、前記第１画素の周辺に位置する他の画素を、該第１画素から離れるにつれて、前記輝度劣化度が小さくなるように補正し、前記補正部は、各画素に流れる電流量を調整することにより輝度劣化度を補正し、前記輝度劣化度の補正は、輝度劣化補正が必要な画素について電流量をＸ（Ｘは２以上の自然数）倍にし、デューティーを１／Ｘ（Ｘは２以上の自然数）倍して補正を行い、画素の時間平均輝度は変わらないが、劣化速度は変化し、前記補正は、補正後の上下左右の画素との輝度劣化度の差が１４以下になるように、また、斜めの画素との輝度劣化度が２０以下となるようにデータを作成し、前記輝度劣化度が１００ということは、５０％の輝度低下が起きたことを意味することを特徴とする。
【００１５】
その他の本発明にかかる画像表示装置は、自発光型の複数の画素がマトリクス状に配置された表示部と、前記画素ごとにおける輝度劣化度を測定または推定する検出部と、前記測定または推定した輝度劣化度に基づき各画素の輝度劣化特性を補正する補正部と、を備える画像表示装置において、前記複数の画素のうち、最も輝度劣化度が高い画素グループを第１画素グループとした場合、前記補正部は、前記第１画素グループの周辺に位置する他の画素グループを、該第１画素グループから離れるにつれて、前記輝度劣化度が小さくなるように補正し、前記補正部は、各画素に流れる電流量を調整することにより輝度劣化度を補正し、前記輝度劣化度の補正は、輝度劣化補正が必要な画素グループについて電流量をＸ（Ｘは２以上の自然数）倍にし、デューティーを１／Ｘ（Ｘは２以上の自然数）倍して補正を行い、画素グループの時間平均輝度は変わらないが、劣化速度は変化し、前記補正は、補正後の上下左右の画素グループとの輝度劣化度の差が１４以下になるように、また、斜めの画素グループとの輝度劣化度が２０以下となるようにデータを作成し、前記輝度劣化度が１００ということは、５０％の輝度低下が起きたことを意味することを特徴とする。
【００１６】
その他の本発明にかかる画像表示装置は、自発光型の複数の画素がマトリクス状に配置された表示部と、前記画素ごとにおける輝度劣化度を測定または推定する検出部と、前記測定または推定した輝度劣化度に基づき各画素の輝度劣化特性を補正する補正部と、を備える画像表示装置において、前記複数の画素のうち、１つの画素を第１画素とし、該第１画素から順に配列された画素をそれぞれ第２画素、第３画素とし、前記第１画素が最も輝度劣化度が高い場合、前記補正部は、前記輝度劣化度が、第１画素＞第２画素＞第３画素となるように前記第１画素の周辺に位置する他の画素を補正し、前記補正部は、各画素に流れる電流量を調整することにより輝度劣化度を補正し、前記輝度劣化度の補正は、輝度劣化補正が必要な画素について電流量をＸ（Ｘは２以上の自然数）倍にし、デューティーを１／Ｘ（Ｘは２以上の自然数）倍して補正を行い、画素の時間平均輝度は変わらないが、劣化速度は変化し、前記補正は、補正後の上下左右の画素との輝度劣化度の差が１４以下になるように、また、斜めの画素との輝度劣化度が２０以下となるようにデータを作成し、前記輝度劣化度が１００ということは、５０％の輝度低下が起きたことを意味することを特徴とする。
【００１７】
その他の本発明にかかる画像表示装置は、自発光型の複数の画素がマトリクス状に配置された表示部と、前記画素ごとにおける輝度劣化度を測定または推定する検出部と、前記測定または推定した輝度劣化度に基づき各画素の輝度劣化特性を補正する補正部と、を備える画像表示装置において、前記複数の画素のうち、１つの画素グループを第１画素グループとし、該第１画素グループから順に配列された画素グループをそれぞれ第２画素グループ、第３画素グループとし、前記第１画素グループが最も輝度劣化度が高い場合、前記補正部は、前記輝度劣化度が、第１画素グループ＞第２画素グループ＞第３画素グループとなるように前記第１画素グループの周辺に位置する他の画素グループを補正し、前記補正部は、各画素に流れる電流量を調整することにより輝度劣化度を補正し、前記輝度劣化度の補正は、輝度劣化補正が必要な画素グループについて電流量をＸ（Ｘは２以上の自然数）倍にし、デューティーを１／Ｘ（Ｘは２以上の自然数）倍して補正を行い、画素グループの時間平均輝度は変わらないが、劣化速度は変化し、前記補正は、補正後の上下左右の画素グループとの輝度劣化度の差が１４以下になるように、また、斜めの画素グループとの輝度劣化度が２０以下となるようにデータを作成し、前記輝度劣化度が１００ということは、５０％の輝度低下が起きたことを意味することを特徴とする。
【００１９】
また、上記発明において、前記検出部は、各画素に流れる電流量に基づいて前記輝度劣化特性を測定することが好ましい。
【００２０】
また、上記発明において、前記検出部は、各画素の温度に基づいて前記輝度劣化特性を測定することが好ましい。
【発明の効果】
【００２１】
本発明を用いることにより、輝度劣化度が高い画素における輝度の低下を、その周囲の画素によってぼかすことにより、目立たなくすることができる。そのため、画像表示装置全体としての寿命を低下させることなく、焼き付きによる視認性低下を緩和することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下に本発明の実施形態を、図面を参照して説明する。
【００２３】
実施例にかかる画像表示装置は、図１に示すように、携帯電話等の表示画面として使用される。この画像表示装置は、絵素（ピクセルとも称する）および画素（サブピクセルとも称する）の配列と同様に、各絵素が複数の画素によって構成されるとともに、複数の絵素が互いに略直交する複数の行ならびに複数の列状に並べられてマトリックス状（すなわち格子状）に配列された画素などが挙げられる。以下では、図１に示したような絵素および画素配列を有する画像に係る信号を携帯電話が受信して画像を再生する例を挙げて説明する。
【００２４】
携帯電話機１００は、表示制御部（図示せず）と表示部２００とを備えた形態可能な電子機器であり、動画をはじめとした各種画像を表示部で表示する画像表示装置としても機能する。
【００２５】
表示制御部（図示せず）は、携帯電話機で受信された画像信号に基づいて、表示部における画像表示を制御する部位である。
【００２６】
表示部２００は、例えば、略長方形の輪郭を有する有機ＥＬディスプレイ（organic electroluminescence display）と、表示制御部より供給される各種信号が入力されるドライバ手段とを備えている。
【００２７】
有機ＥＬディスプレイは、有機材料に電流を流すことで材料自ら発光する自発光型の発光素子を有するディスプレイである。
【００２８】
また、有機ＥＬディスプレイは、互いに異なる色を表示するＮ個（Ｎは２以上の自然数）の画素によって構成された複数の絵素を行列状に配列した構成を有している。1つの絵素を構成するＮ個の画素は、互いに異なる色に発光する自発光素子を有している。なお、本実施形態においては、Ｎ＝３とし、１つの絵素がＲ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）を表示する３つの画素により構成されている。
【００２９】
また、有機ＥＬディスプレイは、発光輝度に対するデータ信号（以下「画素データ信号」とも称する）を各画素に配給するためのデータ信号線と、当該データ信号線に略直交するように設けられ、各画素に走査信号を供給するための走査信号線とを有している。なお、走査信号とは、各画素にデータ線信号を介して画素データ信号を供給するタイミングを制御するための信号である。
【００３０】
一方、ドライバ手段は、上記データ信号線に電気的に接続され、画素データ信号を上記データ信号線に供給するタイミングを制御するＸドライバ（データ線駆動回路）と、上記走査信号線に電気的に接続され、走査信号を走査信号線に供給するタイミングを制御するＹドライバ（走査信号線駆動回路）とを備えている。
【００３１】
（有機ＥＬディスプレイの概略構成）
有機ＥＬディスプレイの断面構造の概略構成を模式的に示したものを図２に示す。ここでは、有機ＥＬディスプレイがトップエミッションタイプであるものとして説明する。
【００３２】
図２に示すように、例えば、ガラス基板（下面ガラス）２１上に、各種トランジスタを含む画素回路（ここではＴＦＴ回路）が形成された回路層２２と、当該回路層２２を被覆する平坦化層２６と、該平坦化層２６上に配置され、複数の有機ＥＬ素子を有する素子層２４とが、順次積層されている。回路層２２と素子層２４とは、平坦化層２６のコンタクトホール内に設けられ、導電材料からなる複数のコンタクト層２３（接続部）によって電気的に接続されている。そして、素子層２４上にはシール材もしくは空隙（本実施形態においてはシール材２７）を介してガラス基板（上面ガラス）２５が配置されている。つまり、２枚のガラス基板２１、２５間に、回路層２２、コンタクトホール層２３、素子層２４、および平坦化層２６が配置されている。
【００３３】
素子層２４は、アノード電極と、カソード電極と、両電極の間に配置される有機層と、を有する複数の有機ＥＬ素子（すなわち発光素子）を画素ごとに配置した構成を有している。
【００３４】
回路層２２は、発光素子の発光を画素ごとに制御する複数の画素回路を含んで構成されている。つまり、画素回路が画素単位で配列されている。
【００３５】
そして、素子層２４を構成する各発光素子と、回路層２２を構成する各画素回路とは、コンタクト層２３によって導通接続されており、各発光素子から発せされる光は上面ガラス２５を透過して、図２の矢印で示すように、有機ＥＬディスプレイの外部に出射される。
【００３６】
（画像表示装置の概略構成）
図３は、実施形態にかかる画像表示装置の機能構成を例示するブロック図である。本発明の特徴的な機能・構成を有する表示部について主に示されている。
【００３７】
本体部１００は、送受信部１０１、バッテリー１０２、および操作部１０３を備えて構成される。
【００３８】
送受信部１０１は、画像データなどの各種データを外部装置との間で相互に伝達するものであり、当該送受信部１０１で取得された画像データは、適宜表示パネル２０３（具体的には、Ｘドライバ２０１）に対して出力される。
【００３９】
バッテリー１０２は、本体部１００や表示部２００の各部に電力を供給するものである。
【００４０】
操作部１０３は、各種操作ボタンなどを有し、ユーザーによって各種操作ボタンが適宜操作されることで、種々の入力を行うことができる。
【００４１】
表示部２００は、タイマー２１１、電流計２１２、電流計インターフェイス（Ｉ／Ｆ）部２１３、電流量更新部２２３、プロセッサ部２２４、Ｘドライバ２０１、Ｙドライバ２０２、表示パネル２０３、記憶部２２１、および記憶インターフェイス（Ｉ／Ｆ）部２２２、を備えている。
【００４２】
タイマー２１１は、所定のタイミングからの時間経過を計るもので、例えば、表示パネル２０３における画像表示中において、所定時間が経過する度に各画素の電流量を電流計Ｉ／Ｆ部２１３に対して出力する。
【００４３】
電流計２１２は、各画素の電流量を検出（測定）するものである。また、電流計２１２は、所定量（例えば０．０１μＡ）刻みで各画素の電流量を検出する。
【００４４】
なお、電流計２１２による各画素の電流量の検出態様は、1つの電流計によって各画素に順番に切り替えることにより、順次各画素の電流量を測定する方法や、１つの画素に１つの電流計を備える方法でもよい。また、画素の電流量を直接的に測定する態様に限られず、例えば画素の電圧又は抵抗を測定し算出したり、他の部材を介して画素の電流量を測定したりすることで、各画素の電流量を間接的に測定する態様であっても良い。したがって、本明細書において「各画素の電流量を検出する」とは、画素の電流量を直接的または間接的に検出する両方の態様を含む意味で使用している。
【００４５】
電流計Ｉ／Ｆ部２１３は、タイマー２１１からの所定信号に応答して、電流計２１２で検出される各画素の電流量を読み込むもので、所定時間が経過する度に、読み込んだ各画素の電流量を電流量更新部２２３に出力する。
【００４６】
電流量更新部２２３は、各画素の電流量のモニタ結果をメモリに記憶および更新するとともに、当該モニタ結果をプロセッサ部２２４に対して出力する。
【００４７】
プロセッサ部２２４は、前記モニタ結果に基づき、所定の輝度劣化特性を補正する補正データ作成する。そして、当該補正データに基づきＸドライバ２０１から輝度劣化補正を行う。具体的な補正方法については、下記の輝度劣化度の補正工程において詳しく説明する。
【００４８】
上記実施形態においては、輝度劣化度を直接測定する方法を例示したが、輝度劣化度を送信した画像データに基づいて推定し、補正データを作成することもできる。
【００４９】
なお、本発明における検出部２１０は、電流計２１２、電流計Ｉ／Ｆ部２１３、およびタイマー２１１が該当し、補正部２２０は、電流量更新部２２３、プロセッサ部２２４、記憶部２２１、および記憶部Ｉ／Ｆ部２２２が該当する。しかしながら、本発明における検出部２１０、補正部２２０はこれらの構成を全て備える必要はなく、検出部２１０については、電流計２１２を例示しているが、画素ごとにおける輝度劣化度を測定または推定できれば良く、例えば画素ごとの温度を測定または推定できる機能に置き換えることが可能である。また、補正部２２０についても輝度劣化度のデータに基づいて、各画素の輝度劣化度を補正できれば良く、電流量を制御する方法以外にも、温度や輝度を調整する方法に置き換えることができる。
【００５０】
（素子層における画素配列）
図４には、表示パネルの素子層における絵素および発行素子の開口部である画素の配列を例示する模式図であり、有機ＥＬディスプレイの表面から見た配列状態を示している。なお、表示部には、一般的に数万から数百万の画素が配列されているが、図４においては、画素の数を少なくして本発明が分かりやすくなるように画素配列を簡易的に示している。また、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の３つの画素によって形成された部分（図４において太線で囲まれた部分）を絵素ＰＳと称する。
【００５１】
素子層は、ＲＧＢの３色の光を画素単位でそれぞれ発光する発光素子によって構成された画素が多数配列された構成を有している。具体的には、素子層は、Ｒ色の光を発する発光素子によって構成された画素Ｐｒと、Ｇ色の光を発する発光素子によって構成された画素Ｐｇと、Ｂ色の光を発する発光素子によって構成された画素Ｐｂと、を含む多数の画素を格子状に配列させている。
【００５２】
画素Ｐｒ、Ｐｇ、Ｐｂは、それぞれ略長方形状の輪郭を有し、この順番でＸ方向に沿って配列されている。つまり、画素Ｐｒの長辺と画素Ｐｇの長辺とが全長に渡って隣接し、画素Ｐｇの長辺と画素Ｐｂの長辺とが全長に渡って隣接し、画素Ｐｂの長辺と画素Ｐｒの長辺とが全長に渡って隣接している。
【００５３】
各絵素ＰＳは、３個の画素Ｐｒ、Ｐｇ、Ｐｂがこの順番でＸ方向に向けて相互に隣接配置されて構成されている。そして、多数の絵素がそれぞれ列方向（Ｘ方向）および行方向（Ｙ方向）に沿って格子状に配列されている。
【００５４】
（輝度劣化度の補正工程）
実施形態にかかる画像表示装置のうち、表示部の一部である５×５画素領域を示した概念図を図５に示す。なお、各画素の内部に記載された数値０〜１００は、輝度を示している。図５に示すように、画素領域の中央部には、縦方向に一列の線が表示されている。このとき、輝度に応じて各画素部は劣化するため、輝度が１００である５つの画素は他の画素と比較して劣化が進むこととなる。
【００５５】
そこで、検出部２１０において、タイマー２１１による所定のタイミングで各画素の輝度劣化度を所定の手段（実施形態においては、電流計２１２による電流測定）により測定し、電流計Ｉ／Ｆ部２１３が当該情報を読み込む。そして、電流量更新部２２３は、各画素の電流量のモニタ結果をメモリに記憶および更新するとともに、当該モニタ結果をプロセッサ部２２４に対して出力する。プロセッサ部２２４は、前記モニタ結果に基づき、所定の輝度劣化特性を補正する補正データ作成する。当該作成される補正データは、記憶部２２１における情報を基に、前記劣化が進んだ５つの画素を基準に離れるにつれて輝度劣化度が高くなるように算出される。
【００５６】
そして、プロセッサ部２２４から送信される補正データを基にＸドライバ２０１より表示パネル２０３への輝度劣化度の補正が行われる。
【００５７】
すなわち、図６に示すように輝度が１００であった５つの画素は大きく劣化しているため、当該輝度が１００であった画素を第１画素とした場合、隣り合う第２画素を７５に、該第２画素と隣り合う第３画素を５０となるように輝度劣化度を補正する（なお、図６における数値は、輝度劣化度）。これにより、前記最も劣化が進んでいる第１画素の劣化を促進することなく、その周囲の画素によってぼかすことにより、目立たなくすることができる。
【００５８】
輝度劣化度の補正について、文字表示を例にして具体的に説明する。図７は、表示部の一部である３０×３０の画素表示おいて、「あ」の文字を表示した概念図である。また、図８は、図７における輝度を０〜２５５の階調で示したものである。なお、図７における白表示の部分は階調が２５５であり、グレー表示の部分は階調が１９２であり、黒表示の部分は階調が０となっている。
【００５９】
ここで、上記の通り、有機ＥＬディスプレイは電流のｎ乗（一般的なｎの値としては、１．３〜２程度）に比例して劣化する。また、画素の輝度は、電流に比例するとともに、デューティーに比例する。ここで、デューティーとは、１フレームにおいて画素が発光している時間の比率を表したものである。例えば、１フレームが１６．６μｓであった場合に、発光期間が８．３μｓであったならデューティーは５０％となる。
【００６０】
上記実施形態において、ｎ＝１．５であり、デューティーが一定であった場合に、画素の輝度が２倍になったとすると、画素の輝度劣化度は、約２．８３倍になる。また、画素の輝度は、階調のγ（一般的なγの値は２．２程度）に比例する。そのため、γ＝２．２、ｎ＝１．５とした場合、図８における１９２階調の画素は２５５階調の画素と比べて（１９２／２５５）２．２×１．５＝０．３９倍の速さで劣化することとなる。図８での点灯後における輝度劣化度を最大を１００として表したものを図９に示す。
【００６１】
図９において、輝度劣化度が１００の画素において、５０％の輝度低下が起きたと仮定する。この場合において、画像全体に白を表示した概念図を図１０に示す。図１０から分かるように、「あ」の文字が表示されていた輝度の高い画素が焼きついて、目視でも劣化が確認できる。
【００６２】
そこで、電流計２１２の検出値を利用し電流量更新部２２３において、表示パネル２０３における輝度劣化度を算出し、プロセッサ部２２４において、劣化が進んでいる画素の周囲の画素によってぼかすような補正データを生成する。
【００６３】
具体的には、図１１に示すように、補正後の上下左右の画素との輝度劣化度の差が１４以下になるように、また、斜めの画素との輝度劣化度が２０以下となるように、補正データを作成する。そして、プロセッサ部２２４から、上記補正データに基づく電流を流す信号をＸドライバ２０１に送信し、Ｘドライバ２０１より表示パネル２０３に対する補正が行われる。
【００６４】
図１２に、補正後における画素の輝度劣化度を示す。また、図１３に、補正後における表示部の概念図を示す。図１３と図１０を比較すると分かるように、劣化した画素の周囲の画素によってぼかすことにより、画素の劣化を目立たなくすることができ、焼き付きによる視認性低下を緩和できる。
【００６５】
（補正データの作成方法）
１つの画素を基準に、該画素の上下左右の画素との輝度劣化度の差が１４以下になるように、また、該画素の斜めの画素との輝度劣化度の差が２０以下なるように作成される補正データは、輝度劣化補正が必要な画素について電流量をＸ倍に、それに対応させて、デューティーを１／Ｘ倍なるように作成される。
【００６６】
すなわち、発光時における画素に流れる電流をＩ［Ａ］、電流発光率をｅ［ｃｄ／Ａ］、デューティーをｄとした場合、画素の時間平均輝度はＩ×ｅ×ｄ［ｃｄ］となる。そして、輝度劣化速度は、比例例数をｋとすると、ｋ×Ｉｎ×ｄとなる。ここで、電流をＩ［Ａ］をＸ倍し、同時にデューティーｄを１／Ｘ倍すると、画素の時間平均輝度は、Ｉ×ｅ×ｄ［ｃｄ］で変わらないが、劣化速度は、ｋ×（Ｘ×Ｉ）ｎ×ｄ／Ｘとなる。この式を変形すると、ｋ×（Ｘ×Ｉ）ｎ×ｄ／Ｘ＝ｋ×Ｉｎ×ｄ×Ｘｎ−１となり、一般にｎ−１＞０であるため、Ｘ＞１ならば輝度劣化速度が速くなる。そのため、上記補正データの作成方法によれば、視認される輝度を変化させることなく画素の劣化を促進することができ、発光期間とは別に劣化期間を設ける必要がない。
【００６７】
なお、デューティーを調整する方法としては、電源で調整する、若しくは補正部よりＹ  ドライバに補正データを送ることにより調整することが考えられる。
【００６８】
また、上記式を利用し、１フレームにおける発光期間を２つに分割して、それぞれの期間における輝度を適宜設定し、画素の時間平均輝度を同じにしつつ劣化速度を調整する方法も考えられる。
【００６９】
例えば、１フレームにおける発光期間を同じ長さの複数の期間に分割し、画素をどちらの期間も電流Ｉ［Ａ］で発光させる場合、画素の時間平均輝度はＩ×ｅ×ｄ［ｃｄ］となる。そして、輝度劣化速度は、比例例数をｋとすると、ｋ×Ｉｎ×ｄとなる。この場合において、前半の電流を２×Ｉ［Ａ］と２倍にし、後半の電流を０［Ａ］とすることのより、輝度は変わらないが、劣化速度は、ｋ×Ｉｎ×ｄ×２ｎ−１なる。当該補正データの作成方法においては、画素ごとにデューティーを変化させることがなく、調整が行い易い電流で補正できるため、補正を容易に行うことができる。また、前記期間の分割は２以上の自然数であれば適宜設定可能である。
【００７０】
なお、上記実施形態においては、各画素の配列を用いて説明したが、いくつかの画素を1つの画素グループとして、最も劣化している第１画素グループとし、該第１画素グループと隣り合う第２画素グループの輝度劣化度を第１画素グループより小さくし、第２画素グループと隣り合う第３画素グループを第２画素グループの輝度劣化度が小さくなるよう（つまり順次輝度劣化度が小さくなるよう）に補正を加えるといった応用も可能である。
【００７１】
また、有機ＥＬディスプレイを例示して説明したがＰＤＰに応用することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００７２】
【図１】本発明にかかる画像表示装置の概略図である。
【図２】有機ＥＬディスプレイの断面構造を例示する断面図である。
【図３】実施形態にかかる画像表示装置の機能構成を例示するブロック図である。
【図４】表示部における素子層の画素配列を例示する模式図である。
【図５】表示部の一部である５×５画素領域における輝度を示す模式図である。
【図６】表示部の一部である５×５画素領域における輝度劣化度を示す模式図である。
【図７】画素表示おいて、「あ」の文字を表示した概念図である。
【図８】表示部の一部である３０×３０の画素表示における階調を示す概念図である。
【図９】表示部の一部である３０×３０の画素表示における輝度劣化度を示す概念図である。
【図１０】画素表示おいて、「あ」の文字の表示後における焼き付きを表示した概念図である。
【図１１】表示部の一部である３０×３０の画素表示における画像補正データを示す概念図である。
【図１２】表示部の一部である３０×３０の画素表示における補正後の輝度劣化度を示す概念図である。
【図１３】表示部の一部である３０×３０の画素表示における補正後の概念図である。
【符号の説明】
【００７３】
１００  携帯電話機（本体部）
１０１  送受信部
１０２  バッテリー
１０３  操作部
２００  表示部
２０１  Ｘドライバ
２０２  Ｙドライバ
２０３  表示パネル
２１０  検出部
２１１  タイマー
２１２  電流計
２１３  電流計Ｉ／Ｆ部
２２０  補正部
２２１  記憶部
２２２  記憶部Ｉ／Ｆ部
２２３  電流量更新部
２２４  プロセッサ部
２１  ガラス基板（下面ガラス）
２２  回路層
２３  コンタクトホール層
２４  素子層
２５  ガラス基板（上面ガラス）
２６  平坦化層
２７  シール材
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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