(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定光を被検眼に照射することで得られる前記被検眼の網膜からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光とを合波した合波光により得られる前記被検眼の断層画像を補正する断層画像補正方法であって、
前記被検眼と対物レンズとの距離が第一の距離である時の前記被検眼の第一の断層画像を取得する工程と、
前記第一の距離に基づき、前記網膜の表面方向における異なる位置の画像であって前記第一の断層画像を構成する複数の画像の前記網膜の深さ方向における配置を補正する工程と、
を有することを特徴とする断層画像補正方法。
【請求項２】
計測した前記第一の距離に基づき、前記第一の断層画像を構成する前記複数の画像の各々の前記網膜の深さ方向における補正量を計算する工程を更に有し、
前記補正量が、前記第一の距離、前記測定光を前記網膜の上で走査する際に前記網膜から見た前記走査の回転中心から前記網膜までの距離、前記網膜から見た前記測定光を走査する際の走査角、および前記参照光の光路長により決まるコヒーレンスゲート位置、を用いて行われることを特徴とする請求項１に記載の断層画像補正方法。
【請求項３】
前記第一の距離および前記被検眼と前記対物レンズとの基準距離の差に基づいて、前記網膜の表面方向における異なる位置の画像である前記第一の断層画像を構成する複数の画像の前記網膜の深さ方向における位置を補正することを特徴とする請求項１に記載の断層画像補正方法。
【請求項４】
前記第一の断層画像を構成する複数の画像はそれぞれライン状の画像であることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の断層画像補正方法。
【請求項５】
測定光を被検眼で走査することで得られる前記被検眼の網膜からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光との合波光により得られる前記被検眼の断層画像を補正する断層画像補正方法であって、
異なる前記測定光の走査位置におけるコヒーレンスゲートの位置の差を取得する工程と、
前記差に基づいて、前記網膜の表面方向における異なる位置の画像であって前記断層画像を構成する複数の画像の前記断層画像の深さ方向における位置を補正する工程と、
を有することを特徴とする断層画像補正方法。
【請求項６】
請求項１乃至５のいずれか１項に記載の断層画像補正方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【請求項７】
測定光を被検眼に照射することで得られる前記被検眼の網膜からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光とを合波した合波光により得られる前記被検眼の断層画像を補正する断層画像補正装置であって、
前記被検眼と対物レンズとの距離が第一の距離である時の前記被検眼の第一の断層画像を取得する取得手段と、
前記第一の距離に基づき、前記網膜の表面方向における異なる位置の画像であって前記第一の断層画像を構成する複数の画像の前記網膜の深さ方向における配置を補正する補正手段と、
を有することを特徴とする断層画像補正装置。
【請求項８】
計測した前記第一の距離に基づき、前記第一の断層画像を構成する前記複数の画像の各々の前記網膜の深さ方向における補正量を計算する手段を更に有し、
前記補正量が、前記第一の距離、前記測定光を前記網膜の上で走査する際に前記網膜から見た前記走査の回転中心から前記網膜までの距離、前記網膜から見た前記測定光を走査する際の走査角、および前記参照光の光路長により決まるコヒーレンスゲート位置、を用いて行われることを特徴とする請求項７に記載の断層画像補正装置。
【請求項９】
前記補正手段は、前記第一の距離および前記被検眼と前記対物レンズとの基準距離の差に基づいて、前記網膜の表面方向における異なる位置の画像である前記第一の断層画像を構成する複数の画像の前記網膜の深さ方向における位置を補正することを特徴とする請求項７に記載の断層画像補正装置。
【請求項１０】
前記第一の断層画像を構成する複数の画像はそれぞれライン状の画像であることを特徴とする請求項７乃至９のいずれか１項に記載の断層画像補正装置。
【請求項１１】
測定光を被検眼で走査することで得られる前記被検眼の網膜からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光との合波光により得られる前記被検眼の断層画像を補正する断層画像補正装置であって、
異なる前記測定光の走査位置におけるコヒーレンスゲートの位置の差を取得する差取得手段と、
前記差に基づいて、前記網膜の表面方向における異なる位置の画像であって前記断層画像を構成する複数の画像の前記断層画像の深さ方向における位置を補正する補正手段と、
を有することを特徴とする断層画像補正装置。
【請求項１２】
コンピュータを、請求項７乃至１１のいずれか１項に記載の断層画像補正装置の各手段として実行させることを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、断層画像補正方法及び断層画像補正装置に関し、特に、眼科診療等に用いられる断層画像補正方法及び断層画像補正装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、光学機器を用いた眼科用機器として、様々なものが使用されている。例えば、前眼部撮影機、眼底カメラ、共焦点レーザー走査検眼鏡（ＳＬＯ：Ｓｃａｎｎｉｎｇ  Ｌａｓｅｒ  Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ）等である。中でも、低コヒーレンス光を利用した光コヒーレンストモグラフィ（ＯＣＴ：Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）による光断層画像撮像装置は、被検眼の断層画像を高解像度に得ることができる装置であり、眼科用機器として網膜の専門外来では必要不可欠な装置になりつつある。以下、これをＯＣＴ装置と記す。
【０００３】
特許文献１の眼底観察装置は、眼底カメラユニット、ＯＣＴユニット、演算制御装置を含んで構成されている。眼底カメラは眼底の２次元画像を取得し、ＯＣＴユニットは眼底の断層画像を取得する。さらに、眼底の特徴部位を特定し、測定光の照射位置を変更して測定することができる。そして、眼底の断層画像や３次元画像を形成することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００９−２７９０３１
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
眼科で使われるＯＣＴ装置は被検眼と対物レンズの間隔であるワーキングディスタンスが変わると得られた断層画像の形状が変わる。これは眼球の形状の変化などを調査する用途に使えないことを意味する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決してワーキングディスタンスの変化に依存しない断層画像を得るために、本発明に係る断層画像補正方法は、測定光を被検眼に照射することで得られる前記被検眼の網膜からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光とを合波した合波光により得られる前記被検眼の断層画像を補正する断層画像補正方法であって、前記被検眼と対物レンズとの距離が前記第一の距離である時の被検眼の第一の断層画像を取得する工程と、前記第一の距離に基づき、前記網膜の表面方向における異なる位置の画像であって前記第一の断層画像を構成する複数の画像の前記網膜の深さ方向における位置を第一の断層画像の曲率を補正する工程と、を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、ワーキングディスタンスの違いによる形状の違いを小さくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】ＯＣＴ装置を説明する図
【図２】ワーキングディスタンスと走査半径を説明する図
【図３】ワーキングディスタンスと回転中心−網膜距離の関係を示す図
【図４】ワーキングディスタンスの変化による断層画像と２次元像の変化を示す図
【図５】ワーキングディスタンスの変化による前眼部観察の変化を示す図
【図６】実施例１における信号処理の手順を示す図
【図７】補正量の概念図
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、本発明の一実施例につて、図面を用いて詳細に説明する。
【００１０】
［実施例１］
図１は、実施例１における光断層画像撮像装置の構成を示す図である。
【００１１】
（光学系）
光断層画像撮像装置は、マイケルソン干渉系で構成されている。光源１０１の出射光１０２はシングルモードファイバ１０７に導かれて光カプラ１０８に入射し、光カプラ１０８にて参照光１０３と測定光１０４とに分割される。そして測定光１０４は、観察対象の網膜１２５の測定個所によって反射あるいは散乱され、戻り光１０５となって光カプラ１０８に戻る。そして光カプラ１０８によって、参照光路を経由してきた参照光１０３と合波され合波光１０６となり、分光器１１９に到達する。
【００１２】
光源１０１は代表的な低コヒーレント光源であるＳＬＤ光源（Ｓｕｐｅｒ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ  Ｄｉｏｄｅ）である。波長は眼を測定することを鑑みると、近赤外光が適する。さらに波長は、得られる断層画像の横方向の分解能に影響するため、なるべく短波長であることが望ましく、ここでは中心波長８４０ｎｍ、波長幅５０ｎｍとする。当然観察対象の測定部位によっては、他の波長を選んでも良い。なお光源の種類は、ここではＳＬＤ光源を選択したが、低コヒーレント光が出射できればよく、ＡＳＥ光源（Ａｍｐｌｉｆｉｅｄ  Ｓｐｏｎｔａｎｅｏｕｓ  Ｅｍｉｓｓｉｏｎ）等も用いることができる。
【００１３】
次に、参照光１０３の参照光路について説明する。光カプラ１０８によって分割された参照光１０３は、レンズ１０９−１にて略平行光となって出射される。その後参照光１０３は分散補償用ガラス１１０を通過してミラー１１１にて方向を変える。そして再び光カプラ１０８を介して分光器１１９に導かれる。なお、分散補償用ガラス１１０は被検眼１２４および走査光学系を測定光１０４が往復した時の分散を、参照光１０３に対して補償するものである。ここでは、その長さは、日本人の平均的な眼球の直径として代表的な値を想定し２４ｍｍとする。参照光の光路長は電動ステージ１１２で矢印の方向に移動することによってコヒーレンスゲートの位置を調整することができる。コヒーレンスゲートとは、測定光の光路上において、参照光の光路の長さと等距離になる位置のことである。電動ステージ１１２の制御はコンピュータ１２０によって行われる。
【００１４】
次に、測定光１０４の測定光路について説明する。光カプラ１０８によって分割された測定光１０４は、レンズ１０９−２にて、略平行光となって出射され、走査光学系を構成するＸＹスキャナ１１３のミラーに入射される。図１においてＸＹスキャナ１１３は一つのミラーとしているが、実際にはＸスキャン用ミラーとＹスキャン用ミラーとの２枚のミラーが近接して配置されている。測定光はレンズ１１４、ダイクロイックミラー１１５、対物レンズ１２８を介して被検眼１２４に到達する。
【００１５】
ここで、前眼部すなわち角膜１２２の観察について説明する。前眼部の観察のための証明光は対物レンズの外側のリング状の光源（不図示）が使われる。この照明光が角膜１２２で反射し、その反射光が対物レンズ１２８を再度通過し、ダイクロイックミラー１１５で反射され、スプリットプリズム１１６、光学系１１７を介し、観察システム１１８に到達する。なお、スプリットプリズム１１６は、角膜１２２と共役の位置に配置されている。
【００１６】
また、対物レンズ１２８は被検眼１２４に向かい合って配置され、被検眼１２４に測定光を導く際にその形状を整形する。
【００１７】
（ワーキングディスタンス）
次にワーキングディスタンスについて説明する。ここでは、ワーキングディスタンス１２６を角膜１２２表面と対物レンズ１２８表面との長さ（距離）とする。この長さは、本発明における第一の距離に対応する。まず、一般的なＯＣＴ装置の光学系は、被検眼１２４の瞳孔１２９が、測定光１０４の走査の回転中心となるように設計されている。そのためワーキングディスタンスを設計値になるように、対物レンズ１２８と被検眼１２３の距離を調整してＯＣＴ測定を行うことが望ましい。ただし、ＯＣＴ装置は光学系のＮＡが小さいため焦点深度が深く、その結果、ワーキングディスタンスが設計値からはずれても問題なく撮像できる。なお、設計値から大きくはずれると光彩１２７によって光がブロックされたり、焦点がぼけたりすることになる。
【００１８】
ここで図２の眼の模式図を用いてワーキングディスタンスと測定光の走査の回転中心２０２およびコヒーレンスゲートの軌跡２０５の関係について説明する。これらにおいて横軸がファストスキャンのｘ軸、縦軸が深さ方向のｚ軸とする。そして回転中心の原点を設計値である瞳孔の位置とする。なおこの図において回転中心２０２は、網膜２０１に入射する光線をそのまま延長したものが結んだ点であって、角膜や水晶体１２３で屈折した光が結ぶ点ではない。
【００１９】
測定光の走査の回転中心２０２はワーキングディスタンス１２６の変化に伴って移動する。さらに測定光１０４を走査するときの走査半径２０４、走査角２０６もワーキングディスタンス１２６の変化に伴って変わる。また、ｘｙスキャナ１１３は２枚のミラーからなることが多い。例えばｙ軸の回転中心は例えば１ｍｍ対物レンズ側にあるとする。このような場合、３Ｄ測定によるｙ軸方向の移動は別途補正をする必要がある。ここではｘ軸とｙ軸の回転中心が同じとして話を進める。
【００２０】
図２（ａ）は、ワーキングディスタンス１２６が設計値より短いため、回転中心２０２が瞳孔１２９に対して網膜２０１の方にある場合である。当然回転中心２０２と網膜２０１の距離は設計値より短くなる。なお、ＯＣＴ測定において、コヒーレンスゲートは網膜２０１を観察できるように硝子体側に配置する。コヒーレンスゲートの軌跡２０５の位置はリファレンスミラー１１１によって変えることができる。図２（ｂ）は、ワーキングディスタンス１２６が設計値とほぼ一致する時である。回転中心２０２と網膜２０１の距離は設計値である。図２（ｃ）は、ワーキングディスタンス１２６が設計値より長く、回転中心２０２が瞳孔１２９に対して対物レンズ１２８側にある場合である。
【００２１】
これら図２（ａ）〜（ｃ）のように走査半径２０４が長くなるほどその軌跡は平坦になる。つまりＯＣＴ装置では網膜２０１とコヒーレンスゲートの軌跡２０５の差が像となって表示される。そのため、走査半径２０４が長くなるほど見かけ上の湾曲が大きくなる。ただし、ワーキングディスタンス１２６が変化しても、光軸に対して同じ角度で入射する光同士は眼球の同じところに結像するという特性があるため、走査範囲２０７は大きく変わらない。
【００２２】
ここでさらに、ワーキングディスタンス１２６の距離変化と回転中心２０２の位置の関係について説明する。なお、ワーキングディスタンス１２６の設計値からの差２１０を空間距離で変数ｇとして表す。原点を瞳孔１２９にしているので、変数ｇの値はｚ軸の値である。また、基準のワーキングディスタンスは、本発明の第二の距離に相当し、例えば設計値（ｇ＝０）である。ここで回転中心２０２から網膜２０１までの空間距離は、変数ｇを用いてｆ（ｇ）と表す。またコヒーレンスゲートは標準的な眼の網膜位置を基準とし、具体的には瞳孔から２４ｍｍの位置となる。その基準からｚ軸上の差２０３を空間距離で変数ｓとして表す。これらを用いて走査半径２０４Ｌ（ｇ）は数式１のように表わされる。
【数１】
0005782262.tif 000002
【００２３】
コヒーレンスゲートの移動は、リファレンスミラー１１１の移動量ΔＭに換算すると被検眼の屈折率ｎｈを用いて数式２のように表わされる。
【数２】
0005782262.tif 000003
【００２４】
ところで、回転中心２０２から網膜２０１までの空間距離ｆ（ｇ）の変化は、ワーキングディスタンス１２６の変化に比例していない。その理由は角膜１２２や水晶体１２３で屈折するためである。図３に回転中心２０２から網膜２０１までの空間距離ｆ（ｇ）のシミュレーション結果を示す。横軸はワーキングディスタンス１２６の設計値からの変化ｇである。縦軸は回転中心２０２から網膜２０１までの空間距離である。ワーキングディスタンス１２６がマイナス側の時は、ワーキングディスタンス１２６の変化量より回転中心の移動が小さいことがわかる。逆にプラス側の時は、ワーキングディスタンス１２６の変化量より回転中心の移動が大きいことがわかる。このシミュレーションは眼軸長が２４ｍｍのモデルを使ったが、眼軸長が変わる場合はｆ（ｇ）も当然変わる。この場合、それぞれの眼軸長のモデルに対してシミュレーションが必要となる。またｘ軸とｙ軸で回転中心が異なる場合はさらにシミュレーションが必要になる。
【００２５】
ここで、ＯＣＴ装置によって模型眼を撮像した例について図４を用いて説明する。この模型眼は、網膜に相当する部分に放射状および円の模様が配置されている。網膜に相当する部分とはガラスの表面である。これらの撮像は、ワーキングディスタンス１２６を変化させ、断層画像において模型眼の網膜位置の頂点がコヒーレンスゲートから等距離になるように調整して測定した。図４（ａ）はワーキングディスタンス１２６が設計値より４ｍｍ短い場合の断層画像、図４（ｂ）はその２次元投影像、図４（ｃ）はワーキングディスタンス１２６が設計値の場合の断層画像、図４（ｄ）はその２次元投影像、図４（ｅ）はワーキングディスタンス１２６が設計値より４ｍｍ長い場合の断層画像、図４（ｆ）はその２次元投影像である。なお、各断層画像には、模型眼の網膜が異なる曲率の円弧として撮像されている。また、投影像の同心円及び放射線は、模型眼の網膜位置に記された同心円及び放射線が撮像されそれが投影されている。円と直線の交点４０４に着目して、その補助線４０５を対応する断層画像に引くと図４（ａ）では補助線の下側、図４（ｅ）では上側に、網膜の像が移動していることがわかる。ただし、図４（ｂ）、（ｄ）、（ｆ）のように測定範囲はほぼ変化がない。
【００２６】
次に、ワーキングディスタンスの計測について図５を用いて説明する。図５は前眼部の観察システム１１８による角膜の像であり、瞳孔５０１、光彩５０２が観察されている状況である。瞳孔５０１の像はビームスプリットプリズムでｘ軸を境にｙ方向の正の領域と負の領域がそれぞれ分離されて観察システム１１８に結像するように設計されている。図５（ａ）はワーキングディスタンス１２６が設計値より短い場合、図５（ｂ）はワーキングディスタンス１２６が設計値とほぼ一致する場合、図５（ｃ）はワーキングディスタンス１２６が設計値より長い場合である。ワーキングディスタンス１２６が設計値とほぼ一致する場合には、瞳孔５０１は分離されていない像となる。一方ワーキングディスタンス１２６が設計値より短い場合には瞳孔の上の像は右側、長い場合には瞳孔の上の像は左側に移動する。この上下の瞳孔５０１の像の差５０３を計測することによってワーキングディスタンス１２６の長さを知ることができる。
【００２７】
ワーキングディスタンス１２６は上述した本発明における第一の距離に対応し、以上に述べたワーキングディスタンス１２６の長さを知る構成は、不図示の対物レンズ１２８の位置を調整する構成を加えて、本発明における第一の距離を調整及び計測する手段に対応する。或いは、このワーキングディスタンス１２６の長さを知る構成は、本発明における断層画像に対応する被検眼と対物レンズとの間の第一の距離を取得する取得手段に対応する。
【００２８】
ちなみに、ワーキングディスタンス１２６とミラー１１１の移動量を測定すれば、回転中心から網膜までの距離を知ることができる。すなわち、コヒーレンスゲートを設計値に配置し、網膜と一致すれば設計通り２４ｍｍの眼軸長であることがわかる。一致していなければコヒーレンスゲートを移動し、網膜と一致するところを探す。この移動量から真の眼軸長を知ることができる。なお、網膜は厚みがあるが、例えば硝子体と神経線維層の境を設計値と考える。
【００２９】
（信号処理）
ここで、ＯＣＴ測定の信号処理について図６を用いて説明する。
【００３０】
Ａ１工程で、測定を開始する。この状態はＯＣＴ装置が起動されていて、被検眼が測定位置に配置されている。
【００３１】
本発明における第１の工程に対応するＡ２工程で、ワーキングディスタンス（ＷＤ）１２６調整と計測を行う。ここでは瞳孔の位置を座標系の原点とする。アライメントは前眼部観察システム１１８によって角膜１２２を観察しながら行う。ワーキングディスタンス１２６は設計値に対して±５ｍｍ程度に入ることを目標に調整を行う。特に湾曲が大きい場合、具体的には湾曲の値が所定値よりも大きい場合には、測定光が光彩などでブロックされない範囲でさらに対物レンズを被検眼に近づけてもよい。これは、湾曲を測定する手段を設けて、その測定値に応じて被検眼に近づける操作となる。当該操作を加えることにより、網膜の湾曲が大きな被検眼に対しても、好適に断層画像を得て後述するＡ３工程及びそれ以降の工程を実行することが可能となる。なお、マイナスとは対物レンズが角膜に近づく方向である。当然ワーキングディスタンスの調整とともにコヒーレンスゲートおよびフォーカスの位置を調整する。
【００３２】
本発明における第２の工程に対応するＡ３工程で、ＯＣＴ測定を行う。走査範囲２０７は例えば黄斑を撮像する６ｍｍ、黄斑と乳頭を撮像する１０ｍｍなどである。ここでは、６ｍｍの範囲を撮像するものとして、ｘ方向には５１２ライン、ｙ方向には５１２ラインのデータを取得する。分光器１１９からはライン毎に一次元配列のライン状データ（１０２４画素）が取得され、コンピュータ１２０に順次送られる。そしてｘ方向の連続する５１２ライン分を、２次元配列のデータを単位として保存する。そのデータサイズは１０２４×５１２×１２ビットである。これがｙ方向に５１２枚できることになる。
【００３３】
測定した２次元配列のデータから、固定ノイズの除去、波長波数変換、フーリエ変換などを行って断層画像（Ｂ−Ｓｃａｎ像）を得ることができる。この断層画像を確認し、所望の測定ができたと判断すれば、被検眼を測定位置から外す。以上のＯＣＴ測定を行う構成は、本発明における複数のライン状データからなる被検眼の断層画像を生成するための情報を取得する手段に対応する。
【００３４】
次に、本発明における第３の工程に対応するＡ４工程で、補正量を計算する。まず、一般的な断層画像は、コヒーレンスゲートの位置を基準に相対的に表示されている。しかし、図７（ａ）に示すようにコヒーレンスゲートの軌跡２０５は扇形の弧を描く。点Ｂをｊライン目のスキャンであるとした時に、ｚ軸上に投影したところを点Ｃとする。コヒーレンスゲートがｚ軸上の点Ａに対してどれだけ変化するかの変化量ｄ（ｇ）を数式４で表わす。ここではワーキングディスタンスが設計値とｇ異なる場合の走査角（θ（ｇ））２０６を用いて、スキャナがθ（ｇ）／（Ｎ−１）ずつ回転するものとする。また、ｊは０〜Ｎ−１を満たす整数で、Ｎはｘ方向のライン数５１２である。
【数３】
0005782262.tif 000004
【００３５】
なお、ワーキングディスタンス１２６の変化によって網膜２０１から見た回転中心２０２から網膜２０１の距離ｆ（ｇ）、走査角２０６は変化するが、走査範囲２０７（Ｗ）はほぼ変わらないので、網膜２０１から見た走査角θ（ｇ）は数式５のような関係がある。当然シミュレーションによってθ（ｇ）を求めてもよい。
【数４】
0005782262.tif 000005
【００３６】
ｆ（ｇ）は図３に示すようにあらかじめシュミレーションしておけばよいので、ｄｊ（ｇ）を求めることができる。この変化量ｄｊ（ｇ）を求める数式を用いることで、前述したライン状データ各々の補正が可能となる。また、Ａ４工程は、コンピュータ１２０により行われ、該コンピュータ１２０は本発明における複数のライン状データの各々における補正量を計算する手段に対応する。以上述べたように、Ａ３工程では、被検眼と対物レンズとの第一の距離（ｇ）、測定光を網膜の上で走査する際に網膜から見た走査の回転中心から網膜までの距離（ｆ（ｇ））、網膜から見た測定光を走査する際の走査角（θ（ｇ））、および参照光の光路長により決まるコヒーレンスゲート位置（ｓ）、に基づいてライン状データ各々の補正量が求められる。
【００３７】
更に、本発明の第４の工程に対応するＡ５工程で、断層画像を生成する。数式３は空間距離なので、屈折率ｎｈをかけたのち、ピクセル分解能で除算を行い、シフトするピクセル数を計算する。図７（ｂ）に、求めた補正量で各ライン７０１を補正した概念図を示す。この例は、ワーキングディスタンスの設計値に対して短い場合を示している。点線で示される全体の撮像範囲が、中心部分のラインを基準として画像を切り出されることを示している。データがない部分７０２はノイズレベルのデータを追加する。深さ方向にデータを余分に計算している場合にはそれを使って埋める。当然、基準となるワーキングディスタンスは設計値でなく、別の値であってもよい。
【００３８】
Ａ６工程で終了する。所望のデータが得られたことを確認して終了する。なお、以上の断層画像を生成する工程は、前述した第一の距離とは異なる被検眼と対物レンズとの基準のワーキングディスタンスである第二の距離に対応する断層画像に取得した断層画像を補正するコンピュータ１２０によって実施される。当該構成は、本発明における補正手段に対応する。
【００３９】
この結果、ワーキングディスタンスが設計値から異なるような場合であっても基準のワーキングディスタンスの画像を作ることができる。すなわち、湾曲の大きい人であっても湾曲を考慮した測定を行い、相対的に同じワーキングディスタンスの画像となる。
【００４０】
なお、前述したように、測定光は異なる回転軸すなわち回転中心をそれぞれ有する２つのｘスキャナ及びｙスキャナによって網膜上を操作される。従って、これらスキャナの回転中心の位置の相違を考慮して、断層画像の補正を行う必要がある。本発明では、第４の工程において、このような回転中心の違いをワーキングディスタンスに反映させた断層画像を生成することとしても良い。これにより、実際のＯＣＴ装置において、より適正な断層画像を得ることが可能となる。
【００４１】
以上説明のように本実施例によれば、被検眼と対物レンズのワーキングディスタンスの調整と計測を行い、画像を補正することによって、ワーキングディスタンスの違いによる形状の違いを小さくすることができる。また、湾曲が大きい被検眼の場合であっても、得られた断層画像を形状の解析に使うことができる。また、撮像時に、ワーキングディスタンスを設計値に合わせる必要がなくなるため測定時間の短縮が可能になる。
【００４２】
（その他の実施例）
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。
【図１】
0005782262.tif 000006
【図２】
0005782262.tif 000007
【図３】
0005782262.tif 000008
【図４】
0005782262.tif 000009
【図５】
0005782262.tif 000010
【図６】
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【図７】
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