(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｖ溝ブロックの複数のＶ溝に複数の被測定用光ファイバを１心ずつ挿入し、一端側が測定器に接続された測定用光ファイバの他端を前記Ｖ溝に順次挿入し、前記被測定用光ファイバと突き合わせて伝送特定を測定する光ファイバの測定方法であって、
Ｎ心目の測定結果がＮ−１心目の測定結果と同等と認められる場合は、Ｎ心目とＮ−１心目を再測定要と判定し、再測定することを特徴とする光ファイバの測定方法。
【請求項２】
請求項１に記載の光ファイバの測定方法であって、
前記測定器は、ＯＴＤＲ測定器であり、Ｎ心目とＮ−１心目のＯＴＤＲの波形から測定される測定値の差が所定の範囲内である場合に同等と認め、再測定要と判定することを特徴とする光ファイバの測定方法。
【請求項３】
請求項２に記載の光ファイバの測定方法であって、
前記再測定要の判定は、前記ＯＴＤＲの波形から測定される複数の測定項目で同等と認めて判定することを特徴とする光ファイバの測定方法。
【請求項４】
請求項２または３に記載の光ファイバの測定方法であって、
前記Ｖ溝ブロックの最も外側のＶ溝において、前記ＯＴＤＲの波形から測定される接続損失の測定結果が所定の値以上の場合は、当該心を再測定要と判定し、再測定することを特徴とする光ファイバの測定方法。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれか一項に記載の光ファイバの測定方法によって光ファイバを測定する光ファイバ測定装置であって、
前記再測定要と判定をする機能を有していることを特徴とする光ファイバ測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ケーブルにおける伝送特性検査を行う光ファイバの測定方法及び光ファイバ測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ケーブルに収納されている光ファイバの伝送特性検査は、ＯＴＤＲ測定器（Optical Time Domain Reflectmeter）で行っているが、多心の光ファイバの場合は、測定補助装置（ＭＡＳ：Multiple Alignment System）を使用して効率良く測定している。
【０００３】
具体的には、測定用のダミーファイバと接続するために、ＭＡＳ上に並列状に位置決め固定されている複数の各Ｖ溝内に、被測定用ファイバである複数のテープ心線の端末を挿入する。次に、ＯＴＤＲ測定器に接続されたダミーファイバの逆端側をＭＡＳ上の可動ヘッドに挿入する。次に、可動ヘッドを位置制御して、被測定用ファイバがセットされている適切な各Ｖ溝内にダミーファイバを順次挿入する。これにより、被測定用ファイバの端部とダミーファイバの端部が突き合わさる。
【０００４】
次に、検査ソフトをインストールしたパソコンによりＯＴＤＲ測定器の動作を制御して、複数の各テープ心線における伝送特性の良否を自動判定する（特許文献１参照）。なお、検査ソフトは、ＯＴＤＲ測定器やＭＡＳの動作制御およびＯＴＤＲ測定器より取得した測定データの解析による良否判定を行う。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００６−  ９０７８７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上記光ファイバ測定装置による光ファイバの測定方法では、可動ヘッドにセットされたダミーファイバをＶ溝内に挿入する際に、ダミーファイバが適正なＶ溝位置に挿入されず、例えば、隣接する隣のＶ溝内に誤挿入される場合がある。この場合、正規の被測定用ファイバとのＶ溝接続が行われず、測定漏れとなる「軸ズレ」現象となり、正しい判定ができない。
【０００７】
例えば、４心テープ心線測定を一例に軸ズレの発生パターンを説明する。
発生パターンＡは、テープ両端心の外側のＶ溝位置に、ダミーファイバが誤挿入される場合である。この場合は、従来の検査ソフトでは、接続ロス異常と自動判定されるため、軸ズレの発生を検出できる可能性がある。
しかしながら、接続ロス異常の本来の検出対象としては、ファイバ端面の異常（欠け、傾斜）、異物混入や異種ファイバの混入検出に対してであり、軸ズレ現象は想定していない。従って、従来システムでは接続ロス異常と自動判定された場合でも、軸ズレなのか他の要因なのかの判断がつかない。
【０００８】
発生パターンＢは、テープ両端心の内側のＶ溝位置に、ダミーファイバが誤挿入される場合である。この場合は、同一心が連続して測定されことになる。従って、被測定用ファイバとの突き合わせ接続は確立されているので、従来の検査ソフトでは接続ロス異常にはならなく、軸ズレを全く検出できない。
【０００９】
上記軸ズレの主な発生要因としては、下記１〜３が想定される。
発生要因１は、ＭＡＳの老朽化に伴う可動ヘッドの移動精度不足。即ち、Ｖ溝の谷中心からのズレや移動ピッチの精度低下に因る。
発生要因２は、ダミーファイバの曲がりによる先端部の大きなぶれ量に因る。
発生要因３は、可動ヘッドへのダミーファイバのセット不備に因る。
【００１０】
本発明の目的は、上記課題に鑑みてなされたものであり、軸ズレ現象を確実に検出することができる光ファイバの測定方法及び光ファイバ測定装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的は、本発明に係る下記構成の光ファイバの測定方法及び光ファイバ測定装置により達成される。
（１）Ｖ溝ブロックの複数のＶ溝に複数の被測定用ファイバを１心ずつ挿入し、一端側が測定器に接続された測定用光ファイバの他端を前記Ｖ溝に順次挿入し、前記被測定用ファイバと突き合わせて伝送特定を測定する光ファイバの測定方法であって、
Ｎ心目の測定結果がＮ−１心目の測定結果と同等と認められる場合は、Ｎ心目とＮ−１心目を再測定要と判定し、再測定することを特徴としている。
【００１２】
例えば、被測定用ファイバの両端心が挿入されている両Ｖ溝のいずれかの内側にダミーファイバが誤挿入された場合は、同一心が連続測定される可能性があり、誤測定であるにもかかわらずダミーファイバと被測定用ファイバのＮ心目との接続は確立されている。このため、接続ロス異常とは判定されず、Ｎ心目とその直前のＮ−１心目の測定結果は、一致或いは類似している可能性が極めて高い特異パターンとなる。
従って、上記構成の光ファイバの測定方法によれば、Ｎ心目の測定結果がＮ−１心目の測定結果と同等と認められる場合は、Ｎ心目とＮ−１心目を再測定要と判定して再測定するので、テープ両端心の内側のＶ溝位置に、ダミーファイバが誤挿入される軸ズレ現象を確実に検出することができる。
【００１３】
（２）上記（１）に記載の光ファイバの測定方法であって、前記測定器は、ＯＴＤＲ測定器であり、Ｎ心目とＮ−１心目のＯＴＤＲの波形から測定される測定値の差が所定の範囲内である場合に同等と認め、再測定要と判定することが好ましい。
【００１４】
前記構成の光ファイバの測定方法によれば、Ｎ心目とＮ−１心目との測定値差が所定範囲内であれば同等と判定するので、疑惑軸ズレも確実に検出することができる。
【００１５】
（３）上記（２）に記載の光ファイバの測定方法であって、前記再測定要の判定は、前記ＯＴＤＲの波形から測定される複数の測定項目で同等と認めて判定することが好ましい。
【００１６】
前記構成の光ファイバの測定方法によれば、段差量や傾き異常値等の測定項目を複数設定することで、予め設定された各判定指標の基準値と比較・照合させることができ、軸ズレ発生を自動検出することができる。また、適切な判定指標をできるだけ多く設定することにより、軸ズレの検出精度の向上と過剰判定率の低減を図ることができる。
【００１７】
（４）上記（２）又は（３）に記載の光ファイバの測定方法であって、前記Ｖ溝ブロックの最も外側のＶ溝において、前記ＯＴＤＲの波形から測定される接続損失の測定結果が所定の値以上の場合は、当該心を再測定要と判定し、再測定することが好ましい。
【００１８】
前記構成の光ファイバの測定方法によれば、テープ両端心の外側のＶ溝位置にダミーファイバが誤挿入された場合は、ダミーファイバと被測定用ファイバが全く接続されていないので、他ケースと比較して極端に接続ロス値が高くなる特異パターンとなる。従って、新たに軸ズレ検出専用の基準値を追加することで、測定結果が所定の基準値以上の場合は、当該心を再測定要と判定して、確実に軸ズレを検出することができる。
【００１９】
（５）上記（１）〜（４）のいずれか一項に記載の光ファイバの測定方法によって光ファイバを測定する光ファイバ測定装置であって、前記再測定要と判定をする機能を有していることを特徴としている。
【００２０】
前記構成の光ファイバ測定装置によれば、Ｎ心目の測定結果がＮ−１心目の測定結果と同等と認められる場合は、Ｎ心目とＮ−１心目を再測定要と判定して再測定するので、テープ両端心の内側のＶ溝位置にダミーファイバが誤挿入される軸ズレ現象を確実に検出することができる。
また、Ｎ心目の測定結果が所定の基準値以上の場合は、新たに軸ズレ検出専用の基準値を追加することで当該心を再測定要と判定して、確実に軸ズレを検出することができる。
【発明の効果】
【００２１】
本発明に係る光ファイバの測定方法及び光ファイバ測定装置によれば、Ｎ心目の測定結果がＮ−１心目の測定結果と同等と認められる場合は、Ｎ心目とＮ−１心目を再測定要と判定して再測定するので、軸ズレ現象を確実に検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本発明に係る光ファイバ測定装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１のＭＡＳの要部を示す拡大図である。
【図３】図２のＭＡＳのＶ溝ブロック上での光ファイバの接続端部を示す概略図である。
【図４】図３の軸ズレ発生の説明図である。
【図５】本発明に係る光ファイバの測定方法を示すフローチャート１である。
【図６】本発明に係る光ファイバの測定方法を示すフローチャート２である。
【図７】本発明に係る光ファイバの測定方法を示すフローチャート３である。
【図８】本発明に係る光ファイバの測定方法を示すフローチャート４である。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
以下、本発明の光ファイバの測定方法及び光ファイバ測定装置の一実施形態を図１〜図８に基づいて説明する。本実施形態は、被測定用ファイバが４心テープ心線の場合を一例に説明する。
【００２４】
図１に示すように、本実施形態の光ファイバ測定装置１０は、主にダミーファイバＦ０の一端側が接続されたＯＴＤＲ測定器１１と、Ｖ溝ブロック１４上でダミーファイバＦ０と被測定用ファイバＦ１とを突き合わせる測定補助装置（ＭＡＳ）１２と、ＯＴＤＲ測定器１１およびＭＡＳ１２を動作制御する制御装置１３とを備えている。
【００２５】
被測定用ファイバＦ１は、４本のファイバ心線が平面上に接触した状態で並列状に配置されており、その外周がテープ心線樹脂によって一体的に被覆されている。１本のファイバ心線は、中心にコアとクラッドから成るガラスファイバが配置され、その外周が着色層を含むファイバ樹脂で被覆されている。
【００２６】
ＯＴＤＲ測定器１１は、被測定用ファイバＦ１に光パルスを入射し、各部位からの後方散乱光の戻り時間と光量を測定することで、被測定用ファイバＦ１上の損失分布や損失値（ロス値）、欠陥位置等を算出する。被測定用ファイバＦ１自体に局所的にロスが高い箇所があると、ＯＴＤＲ波形上では傾きの変化（段差量、区間ロス値）として現れ、このような傾きの変化を段差異常や区間ロス異常として認識する。
【００２７】
制御装置１３は、伝送特性検査用の検査ソフトがインストールされており、ＯＴＤＲ測定器１１へ制御信号１５を発信して、測定器自体の動作制御を行うとともに、ＯＴＤＲ測定器１１から取得した測定データ１６を受信して、測定データ１６を解析して良否判定を行う。同時に、ＭＡＳ１２へ制御信号１７を発信して、後述する可動ヘッド２０の動作制御を行って、Ｖ溝ブロック１４上の接続部Ｐに位置決めされている各被測定用ファイバＦ１に、ダミーファイバＦ０の他端側を突き合わせる。
【００２８】
図２に示すように、ＭＡＳ１２は、ガイドレール２２上を移動する可動ヘッド２０と、４心の被測定用ファイバＦ１を保持するテープホルダ２３と、該テープホルダ２３毎に被測定用ファイバＦ１を配置する複数列のステージ２４とを備えている。各ステージ２４の前方には、複数のＶ溝３０（図３参照）を有するＶ溝ブロック１４が設けられている。ステージ２４は、Ｖ溝ブロック１４に向かって所定角度だけ傾斜している。
【００２９】
可動ヘッド２０は、ガイドレール２２によって矢印２５方向に所定距離ずつ移動可能なように設定されている。この所定距離は、Ｖ溝ブロック１４上の隣接するＶ溝３０のピッチに相当する長さである。可動ヘッド２０上には、ダミーファイバＦ０を保持するダミーホルダ２１を備えている。このダミーホルダ２１は、ガイドレール２２に沿った可動ヘッド２０の移動方向２５に対して直角な矢印２６方向に所定距離だけ移動可能なように設定されている。
【００３０】
図３に示すように、Ｖ溝ブロック１４のＶ溝３０は、谷部３１と山部３２が交互に形成されることで、第１溝部３０ａ、第２溝部３０ｂ、第３溝部３０ｃおよび第４溝部３０ｄを含む８又は１２の溝部が形成されている。このＶ溝３０のピッチＸは、４心の被測定用ファイバＦ１を構成する被測定用ファイバ心線Ｆ１’の着色層を含む所定長さのファイバ樹脂を剥くことで露出した被測定ガラスファイバＧ１〜Ｇ４の隣接するガラスファイバ間隔、例えば、第１ガラスファイバＧ１と第２ガラスファイバＧ２の中心軸間の間隔Ｗに一致する。従って、可動ヘッド２０の矢印２５方向への最小移動距離は、Ｖ溝３０のピッチＸに一致するように設定される。
【００３１】
ダミーファイバＦ０は、ダミーホルダ２１への取付け前にダミーファイバ心線Ｆ０’の先端部分のファイバ樹脂を剥いで所定長さのダミーガラスファイバＧ０を露出させる。このダミーファイバＦ０は可動ヘッド２０上のダミーホルダ２１の所定位置に取付けられる。従って、ダミーホルダ２１の矢印２６方向への移動距離は、ダミーガラスファイバＧ０の先端部と、突き合わせ相手の例えば、Ｖ溝ブロック１４上に配置された第１ガラスファイバＧ１の先端部との間隔Ｙに一致するように設定される。
【００３２】
軸ズレ発生の原因を図４に基づいて説明する。
なお、ダミーガラスファイバＧ０のガラス径Ｄ０（例えば、１２５μｍ）、可動ヘッド２０の最小移動距離に一致するＶ溝ブロック１４のＶ溝３０のピッチＸ（例えば、２５０μｍ、）との関係が、Ｘ＝２Ｄ０である場合を一例に説明する。
【００３３】
図４に示すように、ダミーガラスファイバＧ０は、例えば、第１溝部３０ａ内での１心目の検査測定終了後、次の２心目の検査測定を行うために第２溝部３０ｂ内に動作制御される。この場合、ダミーガラスファイバＧ０は、２５０μｍピッチの可動ヘッド２０によってＶ溝ブロック１４の第２溝部３０ｂ内の谷部３１中央に位置制御される。
【００３４】
第２溝部３０ｂ内に位置制御させるための許容範囲は、谷部３１の中心位置前後の±１２５μｍとなる。この許容範囲（±１２５μｍ）をオーバすると、ダミーガラスファイバＧ０は、第１溝部３０ａまたは第３溝部３０ｃ内に入ってしまい「軸ズレ」発生となる。例えば、ダミーガラスファイバＧ０が図中左側に１２５μｍ以上ずれると第１溝部３０ａ内に誤挿入される。また、ダミーガラスファイバＧ０が図中右側に１２５μｍ以上ずれると第３溝部３０ｃ内に誤挿入される。
【００３５】
次に、本実施形態の光ファイバの測定方法について説明する。
軸ズレ発生時の特異パターンを把握して、検査ソフトへ判定ロジックを組み込むことにより、自動検出が可能となる。以下、組み込む判定ロジックを説明する。なお、本実施形態は、被測定用ファイバが４心テープ心線の場合を一例に説明し、第１心目、第２または第３心目、第４心目（最終心）の場合の３段階に分けて説明する。
【００３６】
（第１心目）
被測定用ファイバＦ１の両端心である第１ガラスファイバＧ１が挿入されている第１溝部３０ａの外側の溝部にダミーガラスファイバＧ０が誤挿入される場合（発生パターンＡ）が想定される。この場合、ダミーガラスファイバＧ０と接続相手のガラスファイバが全く接続されていないので、他ケースと比較して極端に接続ロス値が高くなるのが特異パターンとなる。
【００３７】
ファイバ端面への異物付着やカッティング状態による接続ロス異常の実績値や未接続状態での接続ロス値（約３１ｄＢ）に基づいて、「完全軸ズレ」の判定基準値を３０ｄＢ以上とする。従って、新たに軸ズレ検出専用のこの判定基準値（３０ｄＢ以上）を追加することで、確実に軸ズレを検出することができる。なお、ここで云う完全軸ズレとは、軸ズレの可能性が略１００％であることを意味する。また、使用するＯＴＤＲ測定器によっては、判定基準値を２０ｄＢ以上とする場合もある。
【００３８】
図５に示すように、第１心目の測定手順としては、先ず、仮突き合わせ状態で接続ロスを測定して、一時的に接続ロス値を保持する事前測定処理（ステップＳ１）を行う。
【００３９】
次に、判定基準値（３０ｄＢ以上）に基づいて第１の接続ロス判定（ステップＳ２）を行う。接続ロス値が３０ｄＢ以上の場合は、軸ズレ対応処理（ステップＳ３）として、「完全軸ズレ」であることを表示する。
【００４０】
接続ロス値が３０ｄＢ未満の場合は、第２の接続ロス判定（ステップＳ４）を行う。接続ロス値が基準値の上限を超え且つ３０ｄＢ未満の場合は、再接続処理（ステップＳ５）として、登録された再接続回数だけ再接続を行い、基準値に満たない場合に「接続ロス異常」を表示する。なお、再接続を行って基準値を満たした場合は、次述の通常測定を行う。
接続ロス値が基準値を満たす場合は、通常測定（ステップＳ６）にて、全長ロス、接続ロス、区間ロス、異常点情報、終端反射量を取得し、データベースへ格納するＤＢ登録（ステップＳ７）を行う。
【００４１】
次に、第２心目の事前測定処理に移行する。
【００４２】
（第２心目、第３心目）
被測定用ファイバＦ１の両端心である第１ガラスファイバＧ１または第４ガラスファイバＧ４が挿入されている第１溝部３０ａまたは第４溝部３０ｄのいずれかの内側の溝部にダミーガラスファイバＧ０が誤挿入される場合（発生パターンＢ）が想定される。この場合、同一心が連続測定される可能性が大きいので、誤測定であるにもかかわらずダミーガラスファイバＧ０と接続相手のガラスファイバとの接続は確立されている。
【００４３】
そのため、接続ロス異常とは判定されず、誤挿入を検出できない。このパターンでは、同一心が連続測定されるため、測定心（Ｎ心目）とその直前の測定心（Ｎ−１心目）の測定結果は、一致或いは類似している可能性が極めて高く、これが特異パターンとなる。従って、例えば、下記のような新たな判定指標を設ける。
【００４４】
判定指標１：異常点情報１（段差量、段差位置）
判定指標２：異常点情報２（傾き異常値、傾き異常位置）
判定指標３：全長ロス値
判定指標４：終端側の数百メートルの区間ロス値
判定指標５：終端反射量（被測定用ファイバの終端がガラスの屈折率と大きく異なる空気と接するため、フレネル反射が発生する）
判定指標６：ダミーファイバと被測定用ファイバとの接続ロス値
【００４５】
なお、上記判定指標例において、段差量(dB)とは、後方散乱光レベル(dB)を縦軸、距離(km)を横軸に採ったＯＴＤＲ波形上の被測定用ファイバで、被測定用ファイバ上の特定区間（段差異常区間）の２点間（始点、終点）の後方散乱光レベルの変化量（差）である。
全長ロス値(dB／km)とは、被測定用ファイバ全長に対する後方散乱光レベルのkm当たりの変化傾きである。
区間ロス値(dB／km)とは、被測定用ファイバ上の特定区間（ロス異常区間）における後方散乱光レベルのkm当たりの変化傾きである。
終端反射量(dB)とは、被測定用ファイバの終端部分で急増する後方散乱光レベルの変化量である。
接続ロス値(dB)とは、ダミーファイバと突き合わさる被測定用ファイバの始端部分で発生する後方散乱光レベルの変化量である。
【００４６】
上記判定指標１〜６を設けることにより、測定心（Ｎ心目）とその直前の測定心（Ｎ−１心目）の判定指標に該当する測定データの差異を、予め設定された各判定指標の基準値と比較・照合させることで、軸ズレ発生を自動検出することができる。なお、適切な判定指標をできるだけ多く設定することにより、軸ズレの検出精度の向上と過剰判定率の低減を図ることができる。
【００４７】
図６に示すように、第２心目及び第３心目の測定手順としては、第１心目と同様に仮突き合わせ状態で接続ロスを測定して、一時的に接続ロス値を保持する事前測定処理（ステップＳ１１）を行う。
【００４８】
次に、接続ロスの基準値に基づいて接続ロス判定（ステップＳ１２）を行う。接続ロス値が基準値を満足しない場合は、再接続処理（ステップＳ１３）として、登録された再接続回数だけ再接続を行い、基準値に満たない場合に「接続ロス異常」を表示する。なお、再接続を行って基準値を満たした場合は、次述の通常測定を行う。
【００４９】
接続ロス値が基準値を満足する場合は、通常測定（ステップＳ１４）にて、全長ロス、接続ロス、区間ロス、異常点情報、終端反射量を取得し、データベースへ格納するＤＢ登録（ステップＳ１５）を行う。
【００５０】
次に、直前心（Ｎ−１心目）のデータとの差異を判定基準に基づいて比較する比較処理（ステップＳ１６）を行う。このときの判定基準は、例えば、上記判定指標１〜６に基づいて以下の優先順位で比較処理する。
【００５１】
第１優先：段差量と段差位置
第２優先：傾き異常値と傾き異常区間の中心位置
第３優先：全長ロス値
第４優先：終端側Ｌｍの区間ロス
第５優先：終端反射量
第６優先：接続ロス値
なお、第１優先から第６優先の各判定指標の判定値は、テーブル内で距離レンジ毎に個別に設定可能である。また、第１優先と第２優先は、それぞれ異常値と異常位置をセットで判定する。また、第４優先のＬｍとしては、例えば終端から３００メートルが用いられる。具体的な判定基準値テーブルの一例を表１に示す。
【００５２】
【表１】
0005655701.tif 000002
【００５３】
次に、前記比較処理に基づいて判定基準を満たしているかどうかを判定する判定処理（ステップＳ１７）を行う。第１・第２優先のいずれか又は第３〜第６優先の全ての判定基準を満たしている場合は、「疑惑軸ズレ」を表示する疑惑軸ズレ処理（ステップＳ１８）を行う。なお、ここで云う疑惑軸ズレとは、軸ズレの可能性が高いことを意味する。
【００５４】
その後、測定心が第３心目であるかを確認する確認処理（ステップＳ１９）を行い、第２心目の場合には第３心目の事前測定処理に移行して、同様なフローを実行する。
【００５５】
（第４心目）
被測定用ファイバＦ１の最終心である第４ガラスファイバＧ４が挿入されている第４溝部３０ｄの外側又は内側の溝部にダミーガラスファイバＧ０が誤挿入される場合（発生パターンＡ又は発生パターンＢ）が想定される。なお、発生パターンＡ、Ｂに関しては、上記第１〜第３心目で説明しているので、ここでの説明は省略する。
【００５６】
図７に示すように、最終心である第４心目の測定手順としては、第１〜第３心目と同様に仮突き合わせ状態で接続ロスを測定して、一時的に接続ロス値を保持する事前測定処理（ステップＳ２１）を行う。
【００５７】
次に、判定基準値（３０ｄＢ以上）に基づいて第１の接続ロス判定（ステップＳ２２）を行う。接続ロス値が３０ｄＢ以上の場合は、軸ズレ対応処理（ステップＳ２３）として、「完全軸ズレ」であることを表示する。
【００５８】
接続ロス値が３０ｄＢ未満の場合は、第２の接続ロス判定（ステップＳ２４）を行う。接続ロス値が基準値の上限を超え且つ３０ｄＢ未満の場合は、再接続処理（ステップＳ２５）として、登録された再接続回数だけ再接続を行い、基準値に満たない場合に「接続ロス異常」を表示する。なお、再接続を行って基準値を満たした場合は、次述の通常測定を行う。
【００５９】
接続ロス値が基準値を満たす場合は、通常測定（ステップＳ２６）にて、全長ロス、接続ロス、区間ロス、異常点情報、終端反射量を取得し、データベースへ格納するＤＢ登録（ステップＳ２７）を行う。
【００６０】
次に、直前心（Ｎ−１心目）のデータとの差異を判定基準に基づいて比較する比較処理（ステップＳ２８）を行う。このときの判定基準は、例えば、上記判定指標１〜６に基づいて上記優先順位で比較処理する。
【００６１】
次に、前記比較処理に基づいて判定基準を満たしているかどうかを判定する判定処理（ステップＳ２９）を行う。判定基準を全て満たしている場合は、「疑惑軸ズレ」を表示する疑惑軸ズレ処理（ステップＳ３０）を行う。
【００６２】
判定基準を満たしていない場合は、測定心がステージ上の最終心であることを確認する確認処理（ステップＳ３１）を行い、最終心でない場合には、次テープホルダの第１心目の事前測定処理へ移行する。
【００６３】
（再測定の確認処理）
次に、図８に示すように、ステージ上の各テープホルダの第１心目から第４心目の判定結果に基づいて、再測定の確認処理（ステップＳ３２）を行う。ここでの基本的な処理ステップは、第１ステップ、第２ステップ及び第３ステップを順次段階的に行っていく。
【００６４】
＜第１ステップ＞
第１ステップは、完全軸ズレを再測定して、良好、接続ロス異常、疑惑軸ズレのいずれかにする。図８に示すように、完全軸ズレが存在している場合であり、完全軸ズレ確認及び再測定処理（ステップＳ３３）を行う。先ず、ダミーファイバＦ０の断心の有無を確認する。なお、ここで云う断心とは、測圧や曲げ等の影響を受けて、ダミーファイバＦ０のガラス部分が完全に折れた状態である。
【００６５】
ダミーファイバＦ０の断心でない場合は、完全軸ズレと判断して、完全軸ズレのボタンを押すことで、自動運転されていた測定心の良好、接続ロス異常、疑惑軸ズレを完全軸ズレに変更する。その後、全心の再測定処理を行う。
【００６６】
ダミーファイバＦ０の断心である場合は、完全軸ズレではないと判断して、ダミー断心のボタンを押すことで、ダミー断心の表示に変更し、ダミー断心を修復後に、手動モード或いは自動モードにて全心の再測定を行う。
【００６７】
＜第２ステップ＞
第２ステップは、接続ロス異常を再測定して、全て良好にする。再測定前の段階で接続ロス異常の表示心とその前後心に対して、比較処理を実施し、新たに疑惑軸ズレが発生した場合には、次の第３ステップでまとめて再測定する。
【００６８】
完全軸ズレは存在しないが、接続ロス異常が存在している場合であり、接続ロス異常の再測定処理（ステップＳ３４）を行う。
【００６９】
以下の手順に従って処理を進める。
１）接続ロス異常の全心に対して、手動モード或いは自動モードにて再測定を行う。
２）再測定により全心を良好心とする。
３）再測定前の接続ロス異常の表示心とその前後心に対して比較処理を実施する。再測定作業時に軸ズレが発生していなくても、疑惑軸ズレ判定心は、全て再測定対象とする。数心を手動測定して、軸ズレが認められない場合は、自動測定へ移行する。
４）疑惑軸ズレが発生した場合は、第３ステップの疑惑軸ズレの処理ルールに従う。
【００７０】
＜第３ステップ＞
第３ステップは、疑惑軸ズレを再測定して、全て良好になれば再測定は終了する。完全軸ズレは存在しないが、疑惑軸ズレが存在している場合であり、疑惑軸ズレの確認及び再測定処理（ステップＳ３５）を行う。上記第２ステップで新たに疑惑軸ズレが発生した場合、疑惑軸ズレの数心を手動再測モードにてＶ溝接続状況を目視確認する。
【００７１】
軸ズレが確認できない場合は、疑惑軸ズレを誤判定と判断して、疑惑軸ズレ誤判定のボタンを押して、疑惑軸ズレが表示されている全心を良好心に変更し、再測定は不要にする。
【００７２】
軸ズレが確認された場合は、疑惑軸ズレの表示は全て正しいと判断して、疑惑軸ズレ正判定のボタンを押す。疑惑軸ズレが表示されている全心を、手動再測モードにてＶ溝接続状況を目視確認しながら再測する。なお、ダミー調整等により軸ズレが完全に解消された場合は、自動再測モードへ切り替える。
【００７３】
最後に、再測最終心の測定完了後に、再測定心の確認処理（ステップＳ３６）を行い、検査作業を終了する。この確認処理によって軸ズレまたは接続ロス異常が確認された場合は、再度、完全軸ズレ確認及び再測定処理（ステップＳ３３）、接続ロス異常の再測定処理（ステップＳ３４）または疑惑軸ズレ確認及び再測定処理（ステップＳ３５）へフィードバックして、再測定を行う。
【００７４】
上述したように本実施形態の光ファイバの測定方法によれば、Ｖ溝ブロック１４の複数のＶ溝３０に複数の被測定用ファイバＦ１を１心ずつ挿入し、一端側がＯＴＤＲ測定器１１に接続されたダミーファイバＦ０の他端をＶ溝３０に順次挿入し、被測定用ファイバＦ１と突き合わせて伝送特定を測定する光ファイバの測定方法であって、Ｎ心目の測定結果がＮ−１心目の測定結果と同等と認められる場合は、Ｎ心目とＮ−１心目を再測定要と判定して再測定する。これにより、テープ両端心の内側のＶ溝３０位置に、ダミーファイバＦ０が誤挿入される軸ズレ現象を確実に検出することができる。
【００７５】
また、本実施形態の光ファイバ測定方法によれば、前記ＯＴＤＲ測定器は、Ｎ心目とＮ−１心目のＯＴＤＲの波形から測定される測定値の差が所定の範囲内である場合に同等と認めて、再測定要と判定する。これにより、疑惑軸ズレも確実に検出することができる。
【００７６】
また、本実施形態の光ファイバ測定方法によれば、前記再測定要の判定は、ＯＴＤＲの波形から測定される複数の測定項目で同等と認めて判定する。これにより、段差量や傾き異常値等の測定項目を複数設定することで、予め設定された各判定指標の基準値と比較・照合させることができ、軸ズレ発生を自動検出することができる。また、適切な判定指標をできるだけ多く設定することで、軸ズレの検出精度の向上と過剰判定率の低減を図ることができる。
【００７７】
また、本実施形態の光ファイバ測定方法によれば、前記Ｖ溝ブロック１４の最も外側のＶ溝３０において、ＯＴＤＲの波形から測定される接続損失の測定結果が所定の値以上の場合は、当該心を再測定要と判定して再測定する。これにより、テープ両端心の外側のＶ溝位置にダミーファイバＦ０が誤挿入された場合は、ダミーファイバＦ０と被測定用ファイバＦ１が全く接続されていないので、他ケースと比較して極端に接続ロス値が高くなる特異パターンとなる。従って、新たに軸ズレ検出専用の基準値を追加することで、測定結果が所定の基準値以上の場合は、当該心を再測定要と判定して、確実に軸ズレを検出することができる。
【００７８】
また、本実施形態の光ファイバ測定装置によれば、Ｎ心目の測定結果がＮ−１心目の測定結果と同等と認められる場合は、Ｎ心目とＮ−１心目を再測定要と判定して再測定するので、テープ両端心の内側のＶ溝位置にダミーファイバＦ０が誤挿入される軸ズレ現象を確実に検出することができる。
【００７９】
なお、本発明の光ファイバの測定方法及び光ファイバ測定装置は、上述した実施形態に限定されるものではなく、適宜、変形、改良等が自在である。その他、上述した実施形態における各構成要素の材質、形状、寸法、数値、形態、数、配置場所等は本発明を達成できるものであれば任意であり、限定されない。
【符号の説明】
【００８０】
１０…光ファイバ測定装置、１１…ＯＴＤＲ測定器、１２…ＭＡＳ（測定補助装置）、１３…制御装置、１４…Ｖ溝ブロック、２０…可動ヘッド、２１…ダミーホルダ、２２…ガイドレール、２３…テープホルダ、２４…ステージ、３０…Ｖ溝、３１…谷部、３２…山部、Ｄ０…ガラス径、Ｆ０…ダミーファイバ（測定用ファイバ）、Ｆ１…被測定用ファイバ、Ｇ０…ダミーガラスファイバ、Ｇ１…被測定ガラスファイバ、Ｘ…Ｖ溝ピッチ
【図１】
0005655701.tif 000003
【図２】
0005655701.tif 000004
【図３】
0005655701.tif 000005
【図４】
0005655701.tif 000006
【図５】
0005655701.tif 000007
【図６】
0005655701.tif 000008
【図７】
0005655701.tif 000009
【図８】
0005655701.tif 000010