(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像素子からの画素データを処理する画素データ処理装置であって、
撮像素子を構成する複数の画素の各々の画素データを設定順序に従って受け取る画素データ受取部と、
撮像素子の複数の画素のうちのいずれの位置の画素が欠陥画素であるかを示す情報である欠陥画素情報を記憶する欠陥画素情報記憶部と、
その欠陥画素情報記憶部に記憶された欠陥画素情報を参照して、画素データ受取部が受け取った画素データの中から欠陥画素の画素データを特定する欠陥画素データ特定部と、
欠陥画素データ特定部によって特定された欠陥画素の画素データを補正する欠陥画素データ補正部と
を備え、
前記欠陥画素データ特定部が、それぞれが前記設定順序に従って連続する設定数の画素からなる複数の画素群の各々ごとに、順次、欠陥画素の画素データを特定するように構成され、
前記欠陥画素情報記憶部が、それぞれが前記設定数の画素についての欠陥画素の情報である複数の画素群単位情報を、欠陥画素情報として記憶し、かつ、
その欠陥画素情報記憶部に記憶される前記複数の画素群単位情報の各々が、
前記複数の画素群のうちの欠陥画素が含まれている画素群である含欠陥画素群を特定するための含欠陥画素群特定情報と、
含欠陥画素群を構成する前記設定数の画素における欠陥画素の位置を特定するための欠陥画素群内位置特定情報と
を含み、
前記欠陥画素データ特定部が、
前記複数の画素群の１つについて、その画素群が含欠陥画素群であるかどうかを、前記複数の画素群単位情報の１つに含まれる前記含欠陥画素群特定情報に基づき判断し、その画素群が含欠陥画素群であると判断した場合に、その画素群単位情報に含まれる前記欠陥画素群内位置特定情報に基づいて、その画素群の欠陥画素の画素データを特定するように構成され、
さらに、
前記欠陥画素情報記憶部が、含欠陥画素群の数の前記複数の画素群単位情報を、前記設定順序に従って配列して記憶するように構成され、
前記欠陥画素データ特定部が、前記複数の画素群の１つについてその画素群が含欠陥画素群であると判断した場合に、前記複数の画素群の次の１つについて、その画素群が含欠陥画素群であるかどうかを、前記複数の画素群単位情報のうちの次に配列されている１つに含まれる前記含欠陥画素群特定情報に基づき判断するように構成された画素データ処理装置。
【請求項２】
撮像素子からの画素データを処理する画素データ処理装置であって、
撮像素子を構成する複数の画素の各々の画素データを設定順序に従って受け取る画素データ受取部と、
撮像素子の複数の画素のうちのいずれの位置の画素が欠陥画素であるかを示す情報である欠陥画素情報を記憶する欠陥画素情報記憶部と、
その欠陥画素情報記憶部に記憶された欠陥画素情報を参照して、画素データ受取部が受け取った画素データの中から欠陥画素の画素データを特定する欠陥画素データ特定部と、
欠陥画素データ特定部によって特定された欠陥画素の画素データを補正する欠陥画素データ補正部と
を備え、
前記欠陥画素データ特定部が、それぞれが前記設定順序に従って連続する設定数の画素からなる複数の画素群の各々ごとに、順次、欠陥画素の画素データを特定するように構成され、
前記欠陥画素情報記憶部が、それぞれが前記設定数の画素についての欠陥画素の情報である複数の画素群単位情報を、欠陥画素情報として記憶し、
当該画素データ処理装置が、
前記撮像素子の複数の画素のうちの欠陥画素の各々の位置を示す情報が前記設定順序に従って配列された原始欠陥画素情報を、前記複数の画素群単位情報によって構成される欠陥画素情報に変換する欠陥画素情報変換部をさらに備えた画素データ処理装置。
【請求項３】
撮像素子からの画素データを処理する画素データ処理装置であって、
撮像素子を構成する複数の画素の各々の画素データを設定順序に従って受け取る画素データ受取部と、
撮像素子の複数の画素のうちのいずれの位置の画素が欠陥画素であるかを示す情報である欠陥画素情報を記憶する欠陥画素情報記憶部と、
その欠陥画素情報記憶部に記憶された欠陥画素情報を参照して、画素データ受取部が受け取った画素データの中から欠陥画素の画素データを特定する欠陥画素データ特定部と、
欠陥画素データ特定部によって特定された欠陥画素の画素データを補正する欠陥画素データ補正部と
を備え、
前記欠陥画素データ特定部が、それぞれが前記設定順序に従って連続する設定数の画素からなる複数の画素群の各々ごとに、順次、欠陥画素の画素データを特定するように構成され、
前記欠陥画素情報記憶部が、それぞれが前記設定数の画素についての欠陥画素の情報である複数の画素群単位情報を、欠陥画素情報として記憶し、さらに、
前記画素データ受取部が、設定された単位受取数の画素についての画素データを、撮像素子から一度に受け取るように構成され、
前記欠陥画素データ特定部が、前記単位受取数の整数倍の数の画素からなる画素群を、前記設定数からなる画素群として、その画素群ごとに、欠陥画素の画素データを特定するように構成された画素データ処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像素子からの画素データを処理する装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＣＣＤ，ＣＭＯＳ等の撮像素子は、製造方法の関係で、不可避的な欠陥画素が含まれる。このような欠陥画素の画素データを補正する方法として、下記特許文献に記載の技術が存在する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００８−１８７４０２号公報
【特許文献２】特開２０１０−１０７６０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
これまでの技術においては、一般に、欠陥画素に関する情報は、単に、欠陥画素の各々の位置が設定順序に従って配列された情報であり、その情報に基づいて欠陥画素の画素データを補正する場合、欠陥画素の画素データの特定のための処理に、比較的規模の大きな回路を用い、かつ、比較的長い時間を費やしていた（本明細書末尾の比較例を参照）。本発明はそのような実情に鑑みてさされたものであり、迅速に欠陥画素の画素データを補正することのできる画素データ処理装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記課題を解決するために、第１発明の画素データ処理装置は、
撮像素子からの画素データを処理する画素データ処理装置であって、
撮像素子を構成する複数の画素の各々の画素データを設定順序に従って受け取る画素データ受取部と、
撮像素子の複数の画素のうちのいずれの位置の画素が欠陥画素であるかを示す情報である欠陥画素情報を記憶する欠陥画素情報記憶部と、
その欠陥画素情報記憶部に記憶された欠陥画素情報を参照して、画素データ受取部が受け取った画素データの中から欠陥画素の画素データを特定する欠陥画素データ特定部と、
欠陥画素データ特定部によって特定された欠陥画素の画素データを補正する欠陥画素データ補正部と
を備え、
前記欠陥画素データ特定部が、それぞれが前記設定順序に従って連続する設定数の画素からなる複数の画素群の各々ごとに、順次、欠陥画素の画素データを特定するように構成され、
前記欠陥画素情報記憶部が、それぞれが前記設定数の画素についての欠陥画素の情報である複数の画素群単位情報を、欠陥画素情報として記憶し、かつ、
その欠陥画素情報記憶部に記憶される前記複数の画素群単位情報の各々が、
前記複数の画素群のうちの欠陥画素が含まれている画素群である含欠陥画素群を特定するための含欠陥画素群特定情報と、
含欠陥画素群を構成する前記設定数の画素における欠陥画素の位置を特定するための欠陥画素群内位置特定情報と
を含み、
前記欠陥画素データ特定部が、
前記複数の画素群の１つについて、その画素群が含欠陥画素群であるかどうかを、前記複数の画素群単位情報の１つに含まれる前記含欠陥画素群特定情報に基づき判断し、その画素群が含欠陥画素群であると判断した場合に、その画素群単位情報に含まれる前記欠陥画素群内位置特定情報に基づいて、その画素群の欠陥画素の画素データを特定するように構成され、
さらに、
前記欠陥画素情報記憶部が、含欠陥画素群の数の前記複数の画素群単位情報を、前記設定順序に従って配列して記憶するように構成され、
前記欠陥画素データ特定部が、前記複数の画素群の１つについてその画素群が含欠陥画素群であると判断した場合に、前記複数の画素群の次の１つについて、その画素群が含欠陥画素群であるかどうかを、前記複数の画素群単位情報のうちの次に配列されている１つに含まれる前記含欠陥画素群特定情報に基づき判断するように構成される。
また、第２発明の画素データ処理装置は、
撮像素子からの画素データを処理する画素データ処理装置であって、
撮像素子を構成する複数の画素の各々の画素データを設定順序に従って受け取る画素データ受取部と、
撮像素子の複数の画素のうちのいずれの位置の画素が欠陥画素であるかを示す情報である欠陥画素情報を記憶する欠陥画素情報記憶部と、
その欠陥画素情報記憶部に記憶された欠陥画素情報を参照して、画素データ受取部が受け取った画素データの中から欠陥画素の画素データを特定する欠陥画素データ特定部と、
欠陥画素データ特定部によって特定された欠陥画素の画素データを補正する欠陥画素データ補正部と
を備え、
前記欠陥画素データ特定部が、それぞれが前記設定順序に従って連続する設定数の画素からなる複数の画素群の各々ごとに、順次、欠陥画素の画素データを特定するように構成され、
前記欠陥画素情報記憶部が、それぞれが前記設定数の画素についての欠陥画素の情報である複数の画素群単位情報を、欠陥画素情報として記憶し、
当該画素データ処理装置が、
前記撮像素子の複数の画素のうちの欠陥画素の各々の位置を示す情報が前記設定順序に従って配列された原始欠陥画素情報を、前記複数の画素群単位情報によって構成される欠陥画素情報に変換する欠陥画素情報変換部をさらに備えるように構成される。
さらに、第３発明の画素データ処理装置は、
撮像素子からの画素データを処理する画素データ処理装置であって、
撮像素子を構成する複数の画素の各々の画素データを設定順序に従って受け取る画素データ受取部と、
撮像素子の複数の画素のうちのいずれの位置の画素が欠陥画素であるかを示す情報である欠陥画素情報を記憶する欠陥画素情報記憶部と、
その欠陥画素情報記憶部に記憶された欠陥画素情報を参照して、画素データ受取部が受け取った画素データの中から欠陥画素の画素データを特定する欠陥画素データ特定部と、
欠陥画素データ特定部によって特定された欠陥画素の画素データを補正する欠陥画素データ補正部と
を備え、
前記欠陥画素データ特定部が、それぞれが前記設定順序に従って連続する設定数の画素からなる複数の画素群の各々ごとに、順次、欠陥画素の画素データを特定するように構成され、
前記欠陥画素情報記憶部が、それぞれが前記設定数の画素についての欠陥画素の情報である複数の画素群単位情報を、欠陥画素情報として記憶し、さらに、
前記画素データ受取部が、設定された単位受取数の画素についての画素データを、撮像素子から一度に受け取るように構成され、
前記欠陥画素データ特定部が、前記単位受取数の整数倍の数の画素からなる画素群を、前記設定数からなる画素群として、その画素群ごとに、欠陥画素の画素データを特定するように構成される。
【発明の効果】
【０００６】
上記第１ないし第３の各発明の画素データ処理装置では、画素群単位情報、つまり、欠陥画素の画素データの特定処理を行う単位である画素群に応じて単位化された欠陥画素情報を用いて、欠陥画素の画素データが特定されるため、比較的規模の小さい回路で、迅速に、欠陥画素の画素データを補正することが可能となる。
その上、第１発明の画素データ処理装置によれば、効率よく、欠陥画素の画素データを特定することが可能となる。
また、第２発明の画素データ処理装置によれば、欠陥画素情報が自身によって作成できることから、迅速な欠陥画素データ特定処理が担保されることになる。
さらに、第３発明の画素データ処理装置によれば、画素データの受取りのタイミングと整合したタイミングで処理を行うことができ、効率のよい画素データの処理が可能となる。
【発明の態様】
【０００７】
以下に、本願において特許請求が可能と認識されている発明（以下、「請求可能発明」という場合がある）の態様をいくつか例示し、それらについて説明する。各態様は請求項と同様に、項に区分し、各項に番号を付し、必要に応じて他の項の番号を引用する形式で記載する。これは、あくまでも請求可能発明の理解を容易にするためであり、それらの発
明を構成する構成要素の組み合わせを、以下の各項に記載されたものに限定する趣旨ではない。つまり、請求可能発明は、各項に付随する記載，実施例の記載等を参酌して解釈されるべきであり、その解釈に従う限りにおいて、各項の態様にさらに他の構成要素を付加した態様も、また、各項の態様から何某かの構成要素を削除した態様も、請求可能発明の一態様となり得るのである。なお、以下の各項において、（４）項ないし（６）項の各々が、請求項１ないし請求項３の各々に相当する。
【０００８】
（１）撮像素子からの画素データを処理する画素データ処理装置であって、
撮像素子を構成する複数の画素の各々の画素データを設定順序に従って受け取る画素データ受取部と、
撮像素子の複数の画素のうちのいずれの位置の画素が欠陥画素であるかを示す情報である欠陥画素情報を記憶する欠陥画素情報記憶部と、
その欠陥画素情報に記憶された欠陥画素情報を参照して、画素データ受取部が受け取った画素データの中から欠陥画素の画素データを特定する欠陥画素データ特定部と、
欠陥画素データ特定部によって特定された欠陥画素の画素データを補正する欠陥画素データ補正部と
を備え、
前記欠陥画素データ特定部が、それぞれが前記設定順序に従って連続する設定数の画素からなる複数の画素群の各々ごとに、順次、欠陥画素の画素データを特定するように構成され、
前記欠陥画素情報記憶部が、それぞれが前記設定数の画素についての欠陥画素の情報である複数の画素群単位情報を、欠陥画素情報として記憶する画素データ処理装置。
【０００９】
本項の態様の画素データ処理装置は、請求可能発明の基本的態様の装置である。本画素データ処理装置では、撮像素子から送られてくる画素データの中から、欠陥画素の画素データを特定するための処理（欠陥画素データ特定処理）が、送られてくる順序つまり設定順序に従って、設定数の画素群ごとに行われる。その際、参照される欠陥画素情報が、画素群に対応した画素群ごとの欠陥情報である上記画素群単位情報によって構成されており、その画素群単位情報に基づいて欠陥画素の画素データの特定が行われることから、その処理は、迅速なものとなる。
【００１０】
本装置が対象とする撮像素子は、特に限定されず、ＣＣＤ素子，ＣＭＯＳ素子等、種々の素子が対象となり得る。また、それらの素子は、カラー画像の画素データを得ることのできる素子であってもよく、モノクロ画像の画素データを得ることのできる素子であってもよい。また、画素データは、撮像素子の各画素によって得られた光学的特性値であり、輝度，明度，彩度，色相等を示す各種の値によって構成される画素データが、本装置の対象とする画素データとなり得る。
【００１１】
本装置では、画素群ごとの処理が行われる。つまり、複数の画素の画素データが並列的に処理される。その処理単位の画素の数が、上記設定数である。具体的には、８画素，１６画素，３２画素，６４画素，１２８画素等、その数は特に限定されない。
【００１２】
欠陥画素の画素データは、本来取得されるべき画素値となっていないため、本装置では、本来取得されるべき値、若しくは、それを近似する値に補正されることが望ましい。詳しく言えば、本装置による欠陥画素の画素データの補正は、例えば、欠陥画素に隣接する若しくは欠陥画素の近傍の１以上の画素の画素値を基に、それらを補間するように、欠陥画素の画素値を作成するようにして行えばよい。具体的には、例えば、隣接する複数の画素の平均値，近傍の画素の画素値に重み付けを施した平均値等、種々の値を補正後の値として作成すればよい。
【００１３】
本装置は、専用の電子回路を主体に、若しくは、ゲートアレイ等の汎用のデバイスを用いて専用化させた電子回路を主体に構成された装置であってもよく、コンピュータを主体として、専用のプログラムの実行によって上記機能が実現されるような装置であってもよい。また、本装置は、撮像素子を有するカメラ等の撮像装置に内蔵されるようなものであってもよく、撮像装置とは別体とされた装置であってもよい。
【００１４】
（２）前記欠陥画素情報記憶部に記憶される前記複数の画素群単位情報の各々が、
前記複数の画素群のうちの欠陥画素が含まれている画素群である含欠陥画素群を特定するための含欠陥画素群特定情報と、
含欠陥画素群を構成する前記設定数の画素における欠陥画素の位置を特定するための欠陥画素群内位置特定情報と
を含む(1)項に記載の画素データ処理装置。
【００１５】
本項の態様は、欠陥画素情報が有する画素群単位情報についての限定を加えた態様である。本項における「含欠陥画素群特定情報」は、欠陥画素データ特定処理の対象となる画素群が、含欠陥画素群であるか否かを認定できる情報であればよく、その具体的な態様は特に限定されない。例えば、複数の画素群を上記設定順序に従って便宜的に番号付けした場合のその番号のデータ等を採用することができる。また、例えば、画素群を構成する複数の画素を代表する画素（例えば「先頭画素」等）の画素番号，撮像素子内における位置に関するデータ等を採用することもできる。本項における「欠陥画素群内位置特定情報」は、画素群内においてどの画素が欠陥画素であるかを特定できる情報であればよく、その具体的な態様は特に限定されない。例えば、画素群を構成する複数の画素に、上記設定順序に従った便宜的な番号付けを施した場合においては、その番号のデータを採用することができる。また、画素群を構成する画素の数、つまり、上記設定数のビットからなるデータであって、上記設定順序に従って各画素に各ビットが割り当てられるとともに、あるビットが“０”若しくは“１”となっている場合に、そのビットに対応する画素が欠陥画素ではなく、逆に、“１”若しくは“０”となっている場合に欠陥画素であると認定できるようなデータを採用することもできる。なお、本項にいう「画素群内の欠陥画素の位置」とは、物理的な位置のみを意味するのではなく、「順位」等をも含む広い概念である。
【００１６】
本項で限定されている画素群単位情報を採用すれば、欠陥画素情報は、含欠陥画素群の数だけの画素群単位情報を含んでいればよく、欠陥画素情報のデータ量が比較的少なくて済む。また、上記設定数のビットからなる欠陥画素群内位置特定情報を採用すれば、各画素群単位情報のデータ量を相当に小さくすることができ、欠陥画素情報のデータ量を小さくすることに大きく貢献することになる。
【００１７】
（３）前記欠陥画素データ特定部が、
前記複数の画素群の１つについて、その画素群が含欠陥画素群であるかどうかを、前記複数の画素群単位情報の１つに含まれる前記含欠陥画素群特定情報に基づき判断し、その画素群が含欠陥画素群であると判断した場合に、その画素群単位情報に含まれる前記欠陥画素群内位置特定情報に基づいて、その画素群の欠陥画素の画素データを特定するように構成された(2)項に記載の画素データ処理装置。
【００１８】
（４）前記欠陥画素情報記憶部が、含欠陥画素群の数の前記複数の画素群単位情報を、前記設定順序に従って配列して記憶するように構成され、
前記欠陥画素データ特定部が、前記複数の画素群の１つについてその画素群が含欠陥画素群であると判断した場合に、前記複数の画素群の次の１つについて、その画素群が含欠陥画素群であるかどうかを、前記複数の画素群単位情報のうちの次に配列されている１つに含まれる前記含欠陥画素群特定情報に基づき判断するように構成された(3)項に記載の画素データ処理装置。
【００１９】
上記２つの項の態様は、先の項において限定した「画素群単位情報」によって構成される欠陥画素情報を用いた欠陥画素データ特定処理において、その処理の具体的なプロセスを限定するものである。それらの態様において限定される欠陥画素データ特定処理によれば、効率よく、欠陥画素の画素データを特定することが可能となる。
【００２０】
（５）当該画素データ処理装置が、
前記撮像素子の複数の画素のうちの欠陥画素の各々の位置を示す情報が前記設定順序に従って配列された原始欠陥画素情報を、前記複数の画素群単位情報によって構成される欠陥画素情報に変換する欠陥画素情報変換部をさらに備えた(1)項ないし(4)項のいずれか１つに記載の画素データ処置装置。
【００２１】
個々の撮像素子に対する欠陥画素の情報は、その撮像素子の製造者によって提供される場合が多く、その場合、欠陥画素情報は、一般に、欠陥画素の各々の画素位置（画素順位）が上記設定順序に従って単に配列されただけのデータとして、提供される。本項の態様の装置は、そのような欠陥画素情報を、上記画素群単位情報によって構成された欠陥画素情報に変換する機能を有する装置である。本項の態様の装置によれば、上記欠陥画素情報が自身によって作成できることから、上記迅速な欠陥画素データ特定処理が担保されることになる。
【００２２】
（６）前記画素データ受取部が、設定された単位受取数の画素についての画素データを、撮像素子から一度に受け取るように構成され、
前記欠陥画素データ特定部が、前記単位受取数の整数倍の数の画素からなる画素群を、前記設定数からなる画素群として、その画素群ごとに、欠陥画素の画素データを特定するように構成された(1)項ないし(5)項のいずれか１つに記載の画素データ処理装置。
【００２３】
本項の態様によれば、撮像装置から一度に送られてくる画素データの整数倍の画素データが１回の処理単位となるため、その画素データの受取りのタイミングと整合したタイミングで処理を行うことができ、効率のよい画素データの処理が可能となる。なお、「単位受取数の整数倍の数の画素からなる画素群ごとに」とは、「単位受取数と同じ数の画素からなる画素群ごとに」を含む概念である。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】請求可能発明の画素データ処理装置の機能部を示すブロック図である。
【図２】撮像素子の画素とそれらの画素のうちの欠陥画素を示す概念図である。
【図３】画素データ処理装置の画素データ受取部が有する画素値格納バッファを示す概念図である。
【図４】画素データ処理装置の欠陥画素情報記憶部に記憶されている欠陥画素情報を示す概念図である。
【図５】画素データ処理装置の欠陥画素データ特定部および欠陥画素データ補正部において行われる処理を説明するための概念図である。
【図６】画素データ処理装置の欠陥画素情報変換部において変換に供される原始欠陥画素情報を示す概念図である。
【図７】比較例の欠陥画素データ特定処理を行うために欠陥画素データ特定部において採用される回路を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００２５】
以下、請求可能発明を実施するための形態として、請求可能発明の一実施例である画素データ処理装置を、図を参照しつつ詳しく説明する。なお、請求可能発明は、下記実施例の他、前記〔発明の態様〕の項に記載された形態を始めとして、当業者の知識に基づいて種々の変更、改良を施した種々の形態で実施することができる。
【実施例】
【００２６】
図１に示すように、実施例の画素データ処理装置１０は、ＣＣＤカメラ１２からの画素データ、詳しくは、ＣＣＤカメラが１２有する撮像素子であるＣＣＤ素子１４の各画素の画素データを処理する装置であり、各種機能部として、画素データを受け取る画素データ受取部１６と、ＣＣＤ素子１４の複数の画素のうちのいずれの位置の画素が欠陥画素であるかを示す情報である欠陥画素情報を記憶する欠陥画素情報記憶部１８と、その欠陥画素情報を参照して画素データ受取部１６が受け取った画素データの中から欠陥画素の画素データを特定する欠陥画素データ特定部２０と、特定された欠陥画素の画素データを補正する欠陥画素データ補正部２２と、補正された欠陥画素の画素データを含む各画素の画素データを当該画素データ処理装置１０の外部に出力する画素データ出力部２４と、当該画素データ処理装置１０に入力された欠陥画素についての情報（以下、「原始欠陥画素情報」と言う場合がある）を上記欠陥画素情報に変換する欠陥画素情報変換部２６とを含んで構成されている。ちなみに、当該画素データ処理装置１０は、ゲートアレイ等を含む電子回路によって構成されている。
【００２７】
ＣＣＤ素子１４は、モノクロ画像を取得するための素子であり、図２に示すように、Ｘ行，Ｙ列のマトリクス状に配置された複数の画素を有している。ちなみに、Ｘは１６の倍数であり、図２に、黒い四角で示した画素が、欠陥画素である。
【００２８】
ＣＣＤカメラ１２から送られてくる画素データは、各画素が受光した光の強度を示す画素値、言い換えれば、各画素の輝度データであり、設定順序に従って、８画素単位で送られてくる。つまり、設定された単位受取数の画素として、８画素の画素の画素データを受け取るように構成されている（図２参照）。より詳しく言えば、１つの行ｙにおいて、列の先頭のにある画素から順に８画素分の画素データを受け取り、その行ｙの画素の画素データをすべて受け取った後に、次の行（ｙ＋１）の画素の画素データを、列の先頭の画素から順に８画素分受取り、順次、行ｙをカウントアップするように構成されているのである。具体的に言えば、画素位置を（ｘ，ｙ）、その画素位置の画素の画素データを画素値Ｐ（ｘ，ｙ）と表わせば、画素データは、Ｐ（０，０）〜Ｐ（７，０），Ｐ（８，０）〜Ｐ（１５，０），・・・，Ｐ（０，１）〜Ｐ（７，１），Ｐ（８，１）〜Ｐ（１５，１），・・・という具合に、順次、送られてくる。
【００２９】
画素データ受取部１６は、図３に示すような画素値格納バッファ２８を有している。画素値格納バッファ２８は、〔buffer１〕，〔buffer２〕，〔buffer３〕の３つのバッファから構成され、それらは、それぞれ、１６画素分の画素値Ｐを格納するために、１６の格納セルを有している。図を参照しつつ説明すれば、画素データ受取部１６が、１回に受け取った画素値Ｐは、〔buffer１〕のアドレス０〜７のセル，アドレス８〜１５のセルに交互に格納され、〔buffer１〕のアドレス８〜１５のセルに格納された後には、次のアドレス０〜７のセルへの格納に先立って、〔buffer２〕に格納されていた１６画素分の画素値Ｐは、〔buffer３〕の同じアドレスのセルに、〔buffer１〕の各セルに格納されていた１６画素分の画素値Ｐは、〔buffer２〕の同じアドレスのセルに、移動させられる。
【００３０】
ちなみに、後述する欠陥画素データ特定処理は、この１６画素を１単位として、つまり、設定数の画素である１６画素の画素群Ｇごとに行われる（図２参照）。今回行われる欠陥画素データ特定処理において対象となる画素群Ｇを今回対象画素群Ｇ0と、その群Ｇ0の先頭画素の画素位置を（ｘ0，ｙ0）と、定義すれば、本画素データ処理装置１０では、〔buffer２〕に格納された画素値Ｐ（ｘ0，ｙ0）〜画素値Ｐ（ｘ0＋１５，ｙ0）が、今回対象画素群Ｇ0の画素値Ｐとして扱われ、前回対象となった画素群Ｇである前回対象画素群Ｇ-1の画素値Ｐ（ｘ0−１６，ｙ0）〜画素値Ｐ（ｘ0−１，ｙ0）が、〔buffer３〕に、次回対象となる画素群Ｇである次回対象画素群Ｇ+1の画素値Ｐ（ｘ0＋１６，ｙ0）〜画素値Ｐ（ｘ0＋３１，ｙ0）は、〔buffer１〕に、それぞれ格納されていることになる。ちなみに、今回対象画素群Ｇ0が、行ｙ0の先頭の画素群Ｇである場合には、〔buffer３〕には、画素値Ｐ（Ｘ−１５，ｙ0−１）〜画素値Ｐ（Ｘ，ｙ0−１）が格納され、今回対象画素群Ｇ0が、行ｙ0の末尾の画素群Ｇである場合には、〔buffer１〕には、画素値Ｐ（０，ｙ0＋１）〜画素値Ｐ（１５，ｙ0＋１）が格納されることになる。
【００３１】
欠陥画素情報記憶部１８に記憶されている欠陥画素情報は、図４に示すように、それぞれが、１つの画素群Ｇに対応する情報であって、上記設定数の画素である１６画素についての情報、つまり、画素群単位情報から構成されている。図４の各行のデータが、画素群単位情報である。図４に示す欠陥画素情報は、図２に示すＣＣＤ素子１４に関しての情報であり、画素データ受取部１６が受け取る順序に従って配列されている。画素群単位情報は、欠陥画素を含む画素群（含欠陥画素群）についてのみ存在しており、欠陥画素を含まない画素群Ｇについては存在していない。なお、欠陥画素情報は、配列された複数の画素群単位情報のうち、欠陥画素データ特定処理において参照されるべき１つの画素群単位情報（参照用画素群単位情報）を示すためのポインタとなるポインタ情報（図における＊印）をも含んでいる。ちなみに、ポインタ（＊）は、欠陥画素データ特定処理が開始される時点では、一番先頭に配列された画素群単位情報を示すようにセットされている。
【００３２】
各画素群単位情報は、画素群Ｇの先頭に位置する画素位置（ｘ’，ｙ’）を示すデータ（含欠陥画素群先頭画素位置データ）を、含欠陥画素群を特定するための含欠陥画素群特定情報として有している（図４における一番左の列のデータ）。また、各画素群単位情報は、画素群Ｇ内における欠陥画素の画素位置を特定するための欠陥画素群内位置特定情報を有している（図４における左から２番目以降のデータ）。この欠陥画素群内位置特定情報は、１６ビットのデータであり、左のビットから順に、画素群Ｇ内における先頭位置から末尾位置にかけての画素が欠陥画素であるか否かを示している。ちなみに、ビット値が“１”である場合にはそのビットに対応する画素が欠陥画素であることを示し、“０”の場合にはそのビットに対応する画素が欠陥画素ではないことを示している。具体的には、図２に示すように、画素位置（０，０）の画素を先頭画素とする画素群Ｇでは、（６，０）の画素が、画素位置（１６，０）の画素を先頭画素とする画素群Ｇでは、（２７，０）の画素が、画素位置（０，１）の画素を先頭画素とする画素群Ｇでは、（８，１）の画素が、それぞれ欠陥画素となっており、それらの画素群に対応する画素群単位情報の欠陥画素群内位置特定情報では、欠陥画素の群内の位置に対応して、先頭から７番目のビット，１２番目のビット，９番目のビットのビット値が、それぞれ、“１”とされている。
【００３３】
欠陥画素データ特定部２０は、上記画素群Ｇごとに、欠陥画素の画素データを特定するための処理（欠陥画素データ特定処理）を行う。欠陥画素データ特定部２０は、図５に示すように、カウンタ３０を有している。このカウンタ３０は、今回対象画素群Ｇ0の先頭画素の画素位置（ｘ0，ｙ0）が格納され、欠陥画素データ特定処理の進行に伴って、１つの画素群Ｇについての欠陥画素データ特定処理が終了するたびに、その格納されている画素位置（ｘ0，ｙ0）が１６画素ずつカウントアップされる。ちなみに、今回対象画素群Ｇ0が、行ｙ0の末尾の画素群Ｇである場合、つまり、ｘ0＝Ｘ−１５である場合には、ｘ0＝０，ｙ0＝ｙ0＋１となるようにカウントアップされる。
【００３４】
また、欠陥画素データ特定部２０は、図５に示すように、欠陥画素データ特定用バッファ３２を有している。この欠陥画素データ特定用バッファ３２は、１８セルのバッファであり、中央の連続した１６のセルには、今回対象画素群Ｇ0の画素の各画素値Ｐ、つまり、画素値値格納バッファ２８の〔buffer２〕に格納されている各画素の画素値Ｐが格納される。先頭の１つのセルには、前回対象画素群Ｇ-1の末尾の画素の画素値Ｐ、つまり、画素値値格納バッファ２８の〔buffer３〕の末尾のセルに格納されている各画素の画素値Ｐが、末尾の１つのセルには、次回対象画素群Ｇ+1の先頭の画素の画素値Ｐ、つまり、画素値格納バッファ２８の〔buffer１〕の先頭のセルに格納されている各画素の画素値Ｐが、それぞれ格納される。
【００３５】
さらに、欠陥画素データ特定部２０は、含欠陥画素群バッファ３４を有しており、この含欠陥画素群バッファ３４には、欠陥画素情報記憶部１８に記憶されている欠陥画素情報において上述のポインタ（＊）の示す１つの画素群単位情報に含まれる含欠陥画素群特定情報、つまり、１つの欠陥画素群の先頭画素位置（ｘ’，ｙ’）が格納される。さらにまた、欠陥画素データ特定部２０は、１つの画素群Ｇにおける欠陥画素の画素位置に関する情報を格納する欠陥画素群内位置バッファ３６を有しており、このバッファ３６には、１６ビットのデータが格納されるようになっている。
【００３６】
欠陥画素データ特定処理では、カウンタ３０の値つまり、今回対象画素群Ｇ0の先頭画素の画素位置（ｘ0，ｙ0）と、含欠陥画素群バッファ３４に格納されている欠陥画素群の先頭画素位置（ｘ’，ｙ’）とが比較される。比較の結果それらの値が一致していない場合には、今回対象画素群Ｇ0は、含欠陥画素群ではないと認定され、欠陥画素群内位置バッファ３６の１６ビットのすべてにビット値“０”が格納される。
【００３７】
一方、今回対象画素群Ｇ0の先頭画素の画素位置（ｘ0，ｙ0）と、含欠陥画素群バッファ３４に格納されている欠陥画素群の先頭画素位置（ｘ’，ｙ’）とが一致した場合には、今回対象画素群Ｇ0が含欠陥画素群であると認定され、欠陥画素群内位置バッファ３６に、欠陥画素情報記憶部１８に記憶されている欠陥画素情報において上述のポインタ（＊）の示す画素群単位情報に含まれる欠陥画素群内位置特定情報、つまり、画素群Ｇのどの位置の画素が欠陥画素であるかを示す１６ビット情報が格納される。そして、欠陥画素データ特定用バッファ３２の中央の１６セルに格納されている画素値Ｐ（ｘ0，ｙ0）〜画素値Ｐ（ｘ0＋１５，ｙ0）のうち、欠陥画素群内位置バッファ３６の１６ビットのうちのビット値が“１”となっているビットに対応する画素値Ｐが、欠陥画素の画素値Ｐであると特定される。なお、今回対象画素群Ｇ0が含欠陥画素群であると認定された場合には、欠陥画素情報記憶部１８に記憶されている欠陥画素情報における上記ポインタ（＊）が、次の画素群単位情報を示すようにシフトさせられる（図４参照）。
【００３８】
欠陥画素データ補正部３２では、欠陥画素の画素データ、つまり、欠陥画素の画素値Ｐが、自身を挟むようにして自身に近接する２つの画素の画素値Ｐを補間するようにして、補正される。詳しく説明すれば、欠陥画素データ補正部３２は、補正後画素値格納バッファ３８を有している。このバッファ３８は、欠陥画素データ特定用バッファ３２の中央の１６セルに対応した１６セルのバッファであり、各セルに補正後の画素値Ｐが格納されることによって、補正処理が行われる。具体的には、欠陥画素データ特定用バッファ３２の中央の１６セルに格納されている画素値Ｐ（ｘ0，ｙ0）〜画素値Ｐ（ｘ0＋１５，ｙ0）のうち、欠陥画素群内位置バッファ３６の１６ビットのうちのビット値が“０”となっているビットに対応する画素値Ｐは、そのまま、補正後画素値バッファ３８の対応するセルに格納される。その一方で、欠陥画素群内位置バッファ３６の１６ビットのうちのビット値が“１”となっているビットに対応する画素値Ｐは、前後のセルの画素値Ｐの平均の画素値Ｐが、当該画素値Ｐの補正後の画素値Ｐ’として格納される。つまり、画素値Ｐ’（ｘ，ｙ）＝｛Ｐ（ｘ−１，ｙ）＋Ｐ（ｘ＋１，ｙ）｝／２が、画素位置（ｘ，ｙ）の画素の画素値Ｐとされるのである。なお、詳しい説明は省略するが、補正の対象となる画素が行の先頭若しくは末尾の画素である場合、つまり、画素位置（０，ｙ）若しくは画素位置（Ｘ，ｙ）である場合には、前後の画素の画素値Ｐの平均ではなく、Ｐ（１，ｙ）若しくはＰ（Ｘ−１，ｙ）の画素の画素値Ｐが、画素位置（０，ｙ）若しくは画素位置（Ｘ，ｙ）の画素の補正後の画素値Ｐ’とされる。
【００３９】
本画素データ処理装置１０では、欠陥画素情報記憶部１８に記憶されている上述の欠陥画素情報（図４参照）は、欠陥画素情報変換部２６において、図６に示す原始欠陥画素情報に基づいて作成される。原始欠陥画素情報は、図６に示すように、欠陥画素の画素位置（ｘ’，ｙ’）が、画素データ受取部１６が受け取る順番、つまり、設定順序に従って配列されただけのデータである。欠陥画素情報変換部２６は、この原始欠陥画素情報を、上記画素群単位情報によって構成された上述の欠陥画素情報に変換する。
【００４０】
ここで、上記原始欠陥画素情報を直接参照して欠陥画素データ特定処理を行う処理を、比較例として紹介する。その処理では、例えば、１つの画素群Ｇを対象として欠陥画素データ特定処理を行う際、その画素群Ｇに含まれるであろう欠陥画素の最大数と同じ数の欠陥画素の画素位置（ｘ’，ｙ’）のデータが読み取られ、それらとその画素群Ｇの各画素の画素位置（ｘ，ｙ）とが比較されることによって、欠陥画素の画素データが特定されることとなる。この処理の場合、欠陥画素の画素位置（ｘ’，ｙ’）毎に、その画素位置（ｘ’，ｙ’）と画素群Ｇの各画素の画素位置（ｘ，ｙ）とを比較しなければならず、また、その画素群Ｇの欠陥画素データ特定処理において参照すべき欠陥画素の画素位置（ｘ’，ｙ’）のデータを、原始欠陥画素情報の中から特定しなけれならない。この特定にあたっては、前回の欠陥画素データ特定処理の対象となった画素群（Ｇ−１）の中に、欠陥画素が実際にいくつ含まれていたかを把握することが必要となる。つまり、今回の欠陥画素データ特定処理においていくつの画素位置（ｘ’，ｙ’）のデータが欠陥画素の画素データの特定に寄与したかを把握する必要があり、その寄与した欠陥画素の数を、シフト数として、その数に応じた原始欠陥画素情報のシフト処理を行って、次回の画素群（Ｇ＋１）の処理において用いる欠陥画素の画素位置（ｘ’，ｙ’）のデータを特定させなければならないのである。
【００４１】
上記処理を行うための回路は、図７に示すような回路となる。ちなみに、この回路は、画素位置（ｘ0，ｙ0）〜（ｘ＋７，ｙ0）の８つの画素から構成される画素群Ｇに対する処理を行う回路であり、その画素群Ｇに含まれるであろう欠陥画素の最大数が４つであるとして、原始欠陥画素情報において連続する４つの欠陥画素の画素位置（ｘ1’，ｙ1’）〜（ｘ4’，ｙ4’）とを比較するための回路である。この図からわかるように、当該回路では、欠陥画素の画素位置（ｘ’，ｙ’）毎に、その画素位置（ｘ’，ｙ’）と画素群Ｇの各画素の画素位置（ｘ，ｙ）とを比較するために、４つの対欠陥画素特定処理部（対第１欠陥画素特定処理部４１〜対第４欠陥画素特定処理部４４）が設けられ、また、上記シフト数を算出するために、５段にも及ぶ加算器４５の群が設けられている。そのような構成の回路である故、当該回路の規模（ロジック規模）は比較的大きく、例えばロジック数の大きなＦＰＧA（ゲートアレイ）を採用しなければならなず、コストアップ，発熱量の増加，回路パッケージの大型化等の問題を抱えることになる。また、数多い段数の加算処理を行ってシフト数４６を算出した後に原始欠陥画素情報のシフト処理４７を行わなければならないことから、回路遅延が生じ高速なクロックでの処理が困難、つまり、迅速な処理が困難となる。このことは、、撮像素子からの画像データの受取に対してタイミングが合わず、上記補正処理を適切に行い得ない事態に繋がり、その事態を避けるためには、撮像素子からの画像データの出力についてのクロック数を落とす必要に迫られることになるのである。
【００４２】
それに対し、本実施例の画素データ処理装置１０では、上記原始欠陥画素情報ではなく、上記画素群単位情報によって構成された欠陥画素情報を参照して、欠陥画素データ特定処理が行われるため、欠陥画素データ特定部２０に上記比較例に関して説明した上記構成を回路を採用する必要がなく、比較的規模の小さい回路で、迅速な画素データの処理が可能となっている。
【符号の説明】
【００４３】
１０：画素データ処理装置    １２：ＣＣＤカメラ    １４：ＣＣＤ素子（撮像素子）    １６：画素データ受取部    １８：欠陥画素情報記憶部    ２０：欠陥画素データ特定部    ２２：欠陥画素データ補正部    ２４：画素データ出力部    ２６：欠陥画素情報変換部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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