(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
可撓性を有するシート状のディスクに対して情報の再生及び記録の少なくとも一方を行うために、前記ディスクを回転させるディスク駆動装置であって、
前記ディスクのディスク面に対向して近接し、前記ディスクの面振れを抑制する安定化部材と、
前記安定化部材の表面と、回転している前記ディスクのディスク面とを所定幅毎に近接させる近接部材と、
前記安定化部材の表面と前記ディスク面との間隙部分における前記ディスクの回転により生じる気圧と、周辺大気圧との差圧を検出する差圧計と、
前記近接部材により、前記安定化部材の表面と前記ディスク面とを近接させた際の、前記差圧計により検出された差圧を基に、前記安定化部材の表面と前記ディスク面との間隙部分の幅を制御する制御部と、
を備えることを特徴とするディスク駆動装置。
【請求項２】
前記制御部は、前記安定化部材の表面と前記ディスク面とを近接させた際の、前記間隙部分の幅（Ｃ）の微小変化（ΔＣ）に対する前記差圧（Ｐ）の微小変化（ΔＰ）の割合である局所差圧勾配（Ｓｋ＝ΔＰ／ΔＣ）を基に、前記間隙部分の幅を制御することを特徴とする請求項１に記載のディスク駆動装置。
【請求項３】
前記制御部は、前記間隙部分の幅を、前記局所差圧勾配（Ｓｋ）が０以下になったときの前記間隙部分の幅以下に制御することを特徴とする請求項２に記載のディスク駆動装置。
【請求項４】
前記制御部は、前記安定化部材の表面と前記ディスク面とを近接させた際の、前記間隙部分の幅（Ｃ）の微小変化に対する前記差圧（Ｐ）の微小変化の割合である局所差圧勾配（Ｓｋ）と、前記間隙部分の幅（Ｃ）の変化全体に対する前記差圧（Ｐ）の変化の割合である全体差圧勾配（Ｓｔ）との勾配比（Ｓｋ）／（Ｓｔ）、
又は前記局所差圧勾配（Ｓｋ）と、前記間隙部分の幅の変化領域全体における各部分の局所差圧勾配（Ｓｋ）の平均値である平均差圧勾配（Ｓａ）との勾配比（Ｓｋ）／（Ｓａ）、
を基に前記間隙部分の幅を制御することを特徴とする請求項１に記載のディスク駆動装置。
【請求項５】
前記制御部は、前記間隙部分の幅を前記局所差圧勾配（Ｓｋ）と前記全体差圧勾配（Ｓｔ）との勾配比（Ｓｋ）／（Ｓｔ）、又は前記局所差圧勾配（Ｓｋ）と前記平均差圧勾配（Ｓａ）との勾配比（Ｓｋ）／（Ｓａ）が０．１以下となったときの前記間隙部分の幅以下に制御することを特徴とする請求項４に記載のディスク駆動装置。
【請求項６】
可撓性を有するシート状のディスクに対して情報の再生及び記録の少なくとも一方を行うために前記ディスクを回転させるディスク駆動方法であって、
前記ディスクの面振れを抑制する安定化部材と前記ディスクのディスク面とを対向させながら近接させる近接工程と、
周辺の大気圧と、前記安定化部材と前記ディスク面との間隙部分における前記ディスクの回転により生じる気圧との差圧を検出する差圧検出工程と、
検出された前記差圧に基づいて、前記安定化部材と前記ディスク面との間隙の幅を制御する制御工程と、
を有することを特徴とするディスク駆動方法。
【請求項７】
前記近接工程において、前記安定化部材と回転している前記ディスクの間隙を所定幅ずつ減少させていき、
前記制御工程において、差圧測定時における前記差圧の前記間隙の幅の変化に対する変化割合を算出し、前記間隙の幅を前記差圧の変化割合が所定値以下となったときの前記間隙の幅以下に制御することを特徴とする請求項６に記載のディスク駆動方法。
【請求項８】
前記近接工程において、前記安定化部材と回転している前記ディスクの間隙を減少させていき、
前記制御工程において、差圧測定時における前記差圧の前記間隙の幅の減少量に対する減少割合が、前記近接工程全体における前記差圧の前記間隙の幅の減少量に対する減少割合に対し、所定値以下となったときの前記間隙の幅以下を、前記ディスクの面振れ抑制領域として前記間隙を制御することを特徴とする請求項６に記載のディスク駆動方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ディスク駆動装置及びディスク駆動方法に関する、詳しくは、可撓性を有するシート状のディスクに対して情報の記録及び再生の少なくとも一方を行うディスク駆動装置及びディスク駆動方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、情報のデジタル化に伴い、光ディスクの大容量化、高密度化、高速記録・再生に対する要求が高まっている。これに対して、低コストで情報の大容量化、高密度記録が可能な光ディスクとして、可撓性を有する厚さ０．１〜０．２ｍｍ程度のシート状の光ディスクの開発が進められている。
【０００３】
本発明の説明においては、光ディスクを可撓性を有するシート状のディスクの代表例としてディスク駆動装置及びディスク駆動方法の説明をするが、本発明が対象とする記録／再生装置に用いられる可撓性を有するシート状のディスクは、相変化メモリ、光磁気メモリ、ホログラムメモリなどのディスク状の記録ディスクで活用するもの全てを対象にし、特に光ディスクに限定するものではない。
【０００４】
可撓性を有するシート状のディスク（光ディスク、又は単にディスクともいう。）をスピンドルモータに固定して回転させ、空気力学的な力を作用させる安定化板（安定化部材の一態様）により、ディスクの高速回転中の面振れを抑制して安定化させ、記録／再生ヘッドの走査によりディスクに情報の記録及び／又は再生を行う記録／再生装置（光ディスク装置）において、安定化板を少なくとも記録ディスクの記録領域を覆う平板状とし、ディスクのディスク面と安定化板とのディスク回転軸方向の相対距離を調整する位置調整手段を備えた記録／再生装置が知られている。
【０００５】
例えば、特許文献1に開示されている記録／再生方法では、可撓性ディスクと安定化板との相対距離を調整する位置調整手段を備え、ディスクの回転数に対する前記相対位置の調整パターンを装置内に記憶し、ディスクの回転数に応じて相対位置の調整を行う手法が示されている。
【０００６】
また、様々なディスクの基材や記録膜、保護膜の構成に対する前記相対位置の調整パターンも同様に装置内に記憶し、ディスクの構成に応じて相対位置の調整を行う手法が示されている。
【０００７】
さらに、ディスク外周部の半径方向チルト角を検出し、チルト角が零近傍となるように前記相対位置を調整することで、調整パターンを記憶することなく、相対位置の調整を行う手法が示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２００６−１０７６９９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
可撓性を有するシート状のディスク（以下では、便宜上、「可撓性ディスク」、「光ディスク」、又は「ディスク」と略述することがある。）に対して、情報の記録あるいは再生を行う光ディスク装置では、可撓性ディスクのディスク面に近接して安定化板を配置することにより、安定化板と可撓性ディスクとの間に可撓性ディスクが回転することによって生じる空気流が影響して可撓性ディスクの面振れを抑制している。この場合、この安定化板が面振れを抑制する効果を発揮するためには、可撓性ディスクと安定化板との距離を所定の範囲内に保つ必要がある。
【００１０】
しかしながら、前記可撓性ディスクと安定化板との適切な距離は、ディスク回転数や、ディスクの基材、記録膜、保護膜の構成等の機械特性などによって変化する。このため、安定化板が面振れを抑制する効果を発揮する可撓性ディスクと安定化板との距離を、所定の範囲に自動的に調整するためには、面振れが抑制されているか否かを調べる手段が必要であった。
【００１１】
面振れの抑制の有無を調べる手段として、ピックアップレンズのフォーカスエラー信号を利用する方法が知られている。従来のCDやDVDなどの光ディスク装置は、対物レンズの開口数（NA）が小さく、対物レンズとディスク記録面の距離が大きいので両者が接触する危険は少ない。しかし、大容量、高密度化されたBlu-ray Discに代表される光ディスク装置などは、対物レンズのNAが大きく、対物レンズとディスク記録面の距離が小さいため、ディスクの面振れが大きいと両者が接触してピックアップ故障の原因となる。このため、Blu-ray Disc装置に代表される対物レンズのNAが大きい光ディスク装置では、フォーカスエラー信号を用いて面振れが抑制されている状態の有無を調べることは困難である。
【００１２】
また、特許文献１に開示されている可撓性ディスクの構成に対する相対位置の調整パターンを装置内に記憶する方法は、あらかじめ構成を記憶している可撓性ディスク以外の可撓性ディスクに対しては、調整パターンが不明のため相対位置の調整が達成できない。また、特許文献１に示されている、ディスク外周部の半径方向チルト角を検出し、チルト角が零近傍となるように前記相対位置を調整する方法では、チルト角検出のための装置が必要となる。一般的に非接触でディスクのチルト角を検出可能な装置は高価なため、ディスク駆動装置の高コスト化を招来するという問題があった。
【００１３】
本発明は、上記問題点を踏まえ、可撓性ディスクの情報記録又は再生時に発生するディスクの回転に伴う面振れを、情報記録又は再生可能な状態に簡便に制御するディスク駆動装置又はディスク駆動方法の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明は、可撓性を有するシート状のディスクに対して情報の再生及び記録の少なくとも一方を行うために、前記ディスクを回転させるディスク駆動装置であって、前記ディスクのディスク面に対向して近接し、前記ディスクの面振れを抑制する安定化部材と、前記安定化部材の表面と、回転している前記ディスクのディスク面とを所定幅毎に近接させる近接部材と、前記安定化部材の表面と前記ディスク面との間隙部分における前記ディスクの回転により生じる気圧と、周辺大気圧との差圧を検出する差圧計と、前記近接部材により、前記安定化部材の表面と前記ディスク面とを近接させた際の、前記差圧計により検出された差圧を基に、前記安定化部材の表面と前記ディスク面との間隙部分の幅を制御する制御部と、を備えることを特徴とするディスク駆動装置である。
【００１５】
好ましい本発明は、前記制御部は、前記安定化部材の表面と前記ディスク面とを近接させた際の、前記間隙部分の幅（Ｃ）の微小変化（ΔＣ）に対する前記差圧（Ｐ）の微小変化（ΔＰ）の割合である局所差圧勾配（Ｓｋ＝ΔＰ／ΔＣ）を基に、前記間隙部分の幅を制御することを特徴とする前記ディスク駆動装置である。
【００１６】
好ましい本発明は、前記制御部は、前記間隙部分の幅を、前記局所差圧勾配（Ｓｋ）が０以下になったときの前記間隙部分の幅以下に制御することを特徴とする前記ディスク駆動装置である。
【００１７】
好ましい本発明は、前記制御部は、前記安定化部材の表面と前記ディスク面とを近接させた際の、前記間隙部分の幅（Ｃ）の微小変化に対する前記差圧（Ｐ）の微小変化の割合である局所差圧勾配（Ｓｋ）と、前記間隙部分の幅（Ｃ）の変化全体に対する前記差圧（Ｐ）の変化の割合である全体差圧勾配（Ｓｔ）との勾配比（Ｓｋ）／（Ｓｔ）、又は前記局所差圧勾配（Ｓｋ）と、前記間隙部分の幅の変化領域全体における各部分の局所差圧勾配（Ｓｋ）の平均値である平均差圧勾配（Ｓａ）との勾配比（Ｓｋ）／（Ｓａ）を基に前記間隙部分の幅を制御することを特徴とする前記ディスク駆動装置である。
【００１８】
好ましい本発明は、前記制御部は、前記間隙部分の幅を前記局所差圧勾配（Ｓｋ）と前記全体差圧勾配（Ｓｔ）との勾配比（Ｓｋ）／（Ｓｔ）、又は前記局所差圧勾配（Ｓｋ）と前記平均差圧勾配（Ｓａ）との勾配比（Ｓｋ）／（Ｓａ）が０．１以下となったときの前記間隙部分の幅以下に制御することを特徴とする前記ディスク駆動装置である。
【００１９】
本発明は、可撓性を有するシート状のディスクに対して情報の再生及び記録の少なくとも一方を行うために前記ディスクを回転させるディスク駆動方法であって、前記ディスクの面振れを抑制する安定化部材と前記ディスクのディスク面とを対向させながら近接させる近接工程と、周辺の大気圧と、前記安定化部材と前記ディスク面との間隙部分における前記ディスクの回転により生じる気圧との差圧を検出する差圧検出工程と、検出された前記差圧に基づいて、前記安定化部材と前記ディスク面との間隙の幅を制御する制御工程と、を有することを特徴とするディスク駆動方法である。
【００２０】
好ましい本発明は、前記近接工程において、前記安定化部材と回転している前記ディスクの間隙を所定幅ずつ減少させていき、前記制御工程において、差圧測定時における前記差圧の前記間隙の幅の変化に対する変化割合を算出し、前記間隙の幅を前記差圧の変化割合が所定値以下となったときの前記間隙の幅以下に制御することを特徴とする前記ディスク駆動方法である。
【００２１】
好ましい本発明は、前記近接工程において、前記安定化部材と回転している前記ディスクの間隙を減少させていき、前記制御工程において、差圧測定時における前記差圧の前記間隙の幅の減少量に対する減少割合が、前記近接工程全体における前記差圧の前記間隙の幅の減少量に対する減少割合に対し、所定値以下となったときの前記間隙の幅以下を、前記ディスクの面振れ抑制領域として前記間隙を制御することを特徴とする前記ディスク駆動方法である。
【発明の効果】
【００２２】
本発明によれば、可撓性ディスクの情報記録又は再生時に発生しやすい、ディスクの回転に伴う面振れを情報記録又は再生可能な状態に簡便に制御するディスク駆動装置又はディスク駆動方法を提供することができる。
【００２３】
例えば、本発明によれば、可撓性ディスクのチルト角を検出する装置を用いずに、ディスクの面振れが情報記録又は再生可能な状態に抑制されている状態と、面振れ量が情報記録又は再生可能な状態以上に増大している状態とを容易に経済的に判別することができる。そして、本発明によれば、ディスクの形状、構成や回転数に依存せず、面振れ量を情報記録又は再生可能な状態に制御し、安定した記録又は再生を実現するディスク駆動装置又はディスク駆動方法を提供することができる。さらに、ディスクの形状、構成や回転数が特定されれば、より厳密に情報記録又は再生可能な状態に面振れ量を制御し、安定した記録又は再生を実現するディスク駆動装置又はディスク駆動方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】本発明の一実施形態に係るディスク駆動装置を含む光ディスク装置の構成を表す断面模式図である。
【図２】図１に示した光ディスク装置の安定化板の平面図である。
【図３】本発明の実施形態例に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図４】外径１２０ｍｍ、厚さ０．１ｍｍの光ディスクを、ディスク駆動装置で回転数７，０００ｒｐｍで回転させた際の、カウンタのカウント値ｋに対応するディスクと安定化板の間隙部分の幅（間隙Ｃ（ｍｍ））と、ディスクの外周付近（中心から５９ｍｍの位置）の間隙部分の気圧と装置周辺の大気圧との差圧Ｐ（Ｐａ）、差圧Ｐと間隙Ｃの局所差圧勾配Ｓｋ（Ｐａ／ｍｍ）、差圧Ｐと間隙Ｃの全体差圧勾配Ｓｔ（Ｐａ／ｍｍ）、差圧Ｐと間隙Ｃの平均差圧勾配Ｓａ（Ｐａ／ｍｍ）、勾配比Ｓｋ／Ｓｔ、勾配比Ｓｋ／Ｓａ及びディスクの外周部（中心から５５ｍｍの位置）の面振れ（μｍ）の関係を表す表である。
【図５】図４における、ディスクと安定化板との間隙Ｃ（ｍｍ）と、ディスクの外周付近の間隙部分の気圧と装置周辺の大気圧との差圧Ｐ（Ｐａ）、との関係を示すグラフである。
【図６】外径１２０ｍｍ、厚さ０．１ｍｍの光ディスクを、ディスク駆動装置で回転数１０，０００ｒｐｍで回転させた際の、カウンタのカウント値ｋに対応するディスクと安定化板の間隙部分の幅（間隙Ｃ（ｍｍ））と、ディスクの外周付近（中心から５９ｍｍの位置）の間隙部分の気圧と装置周辺の大気圧との差圧Ｐ（Ｐａ）、差圧Ｐと間隙Ｃの局所差圧勾配Ｓｋ（Ｐａ／ｍｍ）、差圧Ｐと間隙Ｃの全体差圧勾配Ｓｔ（Ｐａ／ｍｍ）、差圧Ｐと間隙Ｃの平均差圧勾配Ｓａ（Ｐａ／ｍｍ）、勾配比Ｓｋ／Ｓｔ、勾配比Ｓｋ／Ｓａ及びディスクの外周部（中心から５５ｍｍの位置）の面振れ（μｍ）の関係を表す表である。
【図７】図６における、ディスクと安定化板の間隙Ｃ（ｍｍ）と、ディスクの外周付近の間隙部分の気圧と装置周辺の大気圧との差圧Ｐ（Ｐａ）、との関係を示すグラフである。
【図８】外径１２０ｍｍ、厚さ０．１ｍｍの光ディスクを、ディスク駆動装置で回転数１３，０００ｒｐｍで回転させた際の、カウンタのカウント値ｋに対応するディスクと安定化板の間隙部分の幅（間隙Ｃ（ｍｍ））と、ディスクの外周付近（中心から５９ｍｍの位置）の間隙部分の気圧と装置周辺の大気圧との差圧Ｐ（Ｐａ）、差圧Ｐと間隙Ｃの局所差圧勾配Ｓｋ（Ｐａ／ｍｍ）、差圧Ｐと間隙Ｃの全体差圧勾配Ｓｔ（Ｐａ／ｍｍ）、差圧Ｐと間隙Ｃの平均差圧勾配Ｓａ（Ｐａ／ｍｍ）、勾配比Ｓｋ／Ｓｔ、勾配比Ｓｋ／Ｓａ及びディスクの外周部（中心から５５ｍｍの位置）の面振れ（μｍ）の関係を表す表である。
【図９】図８における、ディスクと安定化板の間隙Ｃ（ｍｍ）と、ディスクの外周付近の間隙部分の気圧と装置周辺の大気圧との差圧Ｐ（Ｐａ）、との関係を示すグラフである。
【図１０】外径１２０ｍｍ、厚さ０．２ｍｍの光ディスクを、ディスク駆動装置で回転数７，０００ｒｐｍで回転させた際の、カウンタのカウント値ｋに対応するディスクと安定化板の間隙部分の幅（間隙Ｃ（ｍｍ））と、ディスクの外周付近（中心から５９ｍｍの位置）の間隙部分の気圧と装置周辺の大気圧との差圧Ｐ（Ｐａ）、差圧Ｐと間隙Ｃの局所差圧勾配Ｓｋ（Ｐａ／ｍｍ）、差圧Ｐと間隙Ｃの全体差圧勾配Ｓｔ（Ｐａ／ｍｍ）、差圧Ｐと間隙Ｃの平均差圧勾配Ｓａ（Ｐａ／ｍｍ）、勾配比Ｓｋ／Ｓｔ、勾配比Ｓｋ／Ｓａ及びディスクの外周部（中心から５５ｍｍの位置）の面振れ（μｍ）の関係を表す表である。
【図１１】図１０における、ディスクと安定化板の間隙Ｃ（ｍｍ）と、ディスクの外周付近の間隙部分の気圧と大気圧との差圧Ｐ（Ｐａ）、との関係を示すグラフである。
【図１２】外径１２０ｍｍ、厚さ０．２ｍｍの光ディスクを、ディスク駆動装置で回転数１０，０００ｒｐｍで回転させた際の、カウンタのカウント値ｋに対応するディスクと安定化板の間隙部分の幅（間隙Ｃ（ｍｍ））と、ディスクの外周付近（中心から５９ｍｍの位置）の間隙部分の気圧と装置周辺の大気圧との差圧Ｐ（Ｐａ）、差圧Ｐと間隙Ｃの局所差圧勾配Ｓｋ（Ｐａ／ｍｍ）、差圧Ｐと間隙Ｃの全体差圧勾配Ｓｔ（Ｐａ／ｍｍ）、差圧Ｐと間隙Ｃの平均差圧勾配Ｓａ（Ｐａ／ｍｍ）、勾配比Ｓｋ／Ｓｔ、勾配比Ｓｋ／Ｓａ及びディスクの外周部（中心から５５ｍｍの位置）の面振れ（μｍ）の関係を表す表である。
【図１３】図１２における、ディスクと安定化板の間隙Ｃ（ｍｍ）と、ディスクの外周付近の間隙部分の気圧と装置周辺の大気圧との差圧Ｐ（Ｐａ）、との関係を示すグラフである。
【図１４】外径１２０ｍｍ、厚さ０．２ｍｍの光ディスクを、ディスク駆動装置で回転数１３，０００ｒｐｍで回転させた際の、カウンタのカウント値ｋに対応するディスクと安定化板の間隙部分の幅（間隙Ｃ（ｍｍ））と、ディスクの外周付近（中心から５９ｍｍの位置）の間隙部分の気圧と装置周辺の大気圧との差圧Ｐ（Ｐａ）、差圧Ｐと間隙Ｃの局所差圧勾配Ｓｋ（Ｐａ／ｍｍ）、差圧Ｐと間隙Ｃの全体差圧勾配Ｓｔ（Ｐａ／ｍｍ）、差圧Ｐと間隙Ｃの平均差圧勾配Ｓａ（Ｐａ／ｍｍ）、勾配比Ｓｋ／Ｓｔ、勾配比Ｓｋ／Ｓａ及びディスクの外周部（中心から５５ｍｍの位置）の面振れ（μｍ）の関係を表す表である。
【図１５】図１４における、ディスクと安定化板の間隙Ｃ（ｍｍ）と、ディスクの外周付近の間隙部分の気圧と装置周辺の大気圧との差圧Ｐ（Ｐａ）、との関係を示すグラフである。
【図１６】光ディスク装置が上位装置から情報記録要求又は再生要求を受けたときの、光ディスク装置が、可撓性ディスクの面振れを所定の範囲内に抑制した状態で、記録要求又は再生の動作を実行するステップを説明するためのフロー図の一例である。
【図１７】光ディスク装置が上位装置から情報記録要求又は再生要求を受けたときの、光ディスク装置が、可撓性ディスクの面振れを所定の範囲内に抑制した状態で、記録要求又は再生の動作を実行するステップを説明するためのフロー図の他の例である。
【図１８】光ディスク装置が上位装置から情報記録要求又は再生要求を受けたときの、光ディスク装置が、可撓性ディスクの面振れを所定の範囲内に抑制した状態で、記録要求又は再生の動作を実行するステップを説明するためのフロー図の、さらに他の例である。
【発明を実施するための形態】
【００２５】
（ディスク駆動装置）
図１〜３に、本発明のディスク駆動装置の一実施形態を含む光ディスク装置１００を示す。図１は、本実施形態例の光ディスク装置の主要部を表す断面図である。図１において、可撓性ディスク（可撓性を有するシート状のディスク、光ディスク、ディスクということもある。）１０の外径と内径はそれぞれ１２０ｍｍ（半径６０ｍｍ）と１５ｍｍ（半径７．５ｍｍ）である。ディスク装着部４０は、直径が３３ｍｍであり、可撓性ディスク１０を装着し、スピンドルモータ３０により高速で定速回転させることができる。安定化板（安定化部材の一態様）５０は、可撓性ディスク１０のディスク面に対向する面が平滑なドーナツ状の円板で、回転している可撓性ディスク１０と平行に配置されている。安定化板５０の外径と内径は、それぞれ１２２ｍｍ（半径６１ｍｍ）と３５ｍｍ（半径１７．５ｍｍ）である。昇降部（近接部材の一態様）７０は、安定化板５０を昇降させることができる。特に、昇降部７０は、所定量ずつ制御しながら安定化板５０を、回転している可撓性ディスク１０の表面に対向するように配置して安定化板５０と可撓性ディスク１０とを徐々に近接させることができる。
【００２６】
なお、可撓性ディスク１０の表面と安定化板５０の可撓性ディスク１０との対向面の近接操作は、可撓性ディスク１０又は安定化板５０のいずれかを移動させることでも、両者を移動させることでも可能である。また、各々の部材等の寸法は、これに限定するものではないが、安定化板５０の外径は可撓性ディスク１０の外径より少し大きいことが好ましい。
【００２７】
安定化板５０の外周部付近には、差圧計（差圧センサともいう。）６０が設置されている。差圧計６０は、可撓性ディスク１０と安定化板５０との間隙部分８０の圧力（気圧）と、この光ディスク装置周辺の大気圧との差圧を検出する差圧センサ(差圧計)である。
【００２８】
図２は、上記光ディスク装置の安定化板５０の平面図である。差圧計６０は、安定化板５０の外周付近（本実施形態では中心から５９ｍｍの位置）の位置に等間隔に３個設けてある。差圧計６０は、安定化板５０と可撓性ディスク１０との間の空気圧と大気圧との差を測定する装置であり、可撓性ディスク１０の面振れ量の増大の影響を顕著に受け易いディスク外周部付近と対向する位置に設けることが好ましい。また、差圧計６０は、安定化板５０に最低限１つ設ければよいが、複数個設けることにより、可撓性ディスク１０の面振れ量の変化をより精密に検知することができる。差圧計６０は、回転している可撓性ディスク１０の空気流の影響を受けない周辺部分の圧力(大気圧)と、可撓性ディスク１０と安定化板５０との間隙部分の気圧との差圧を測定できればよく、可撓性ディスク１０と安定化板５０との間隙部分の気圧そのものを測定する必要はない。このため、本発明における差圧センサ(差圧計)６０は簡易な装置が利用できる。差圧センサ(差圧計)６０は、例えばダイアフラム差圧計や液柱差圧計を利用したものなどが使用できる。
【００２９】
図３は、本実施形態の光ディスク装置（ディスク駆動装置を含んでいる。）１００の制御部を中心としたブロック図である。光ディスク装置１００は、例えば、画像収録・再生装置や音楽収録・再生装置などの上位装置２００との信号授受をするインターフェース９２、各種の情報を記憶するメモリ９１、光ピックアップ２０のレーザ出力を制御するレーザ制御回路２１、光ピックアップ２０の駆動を制御する駆動制御回路２２、昇降部７０を介して安定化板５０の昇降を制御する昇降制御回路７１、差圧センサ６０による間隙８０における差圧Ｐの検出動作を制御する測定回路６１、スピンドルモータ３０の回転を制御するモータードライバ３１を備えている。
【００３０】
本実施形態の光ディスク装置１００においては、回転中の可撓性ディスク１０と安定化板５０の間隙部分の気圧と大気圧との差圧Ｐと、可撓性ディスク１０のディスク面とこれに対向する安定化板５０表面との間隙部分の間隙の幅Ｃ（図１における間隙８０の幅、間隙Ｃと略称することもある。）とは、対応関係がある。このため、可撓性ディスク１０の面振れを制御するには、間隙Ｃに替えて上記差圧Ｐを制御してもよい。
【００３１】
（間隙Ｃと差圧Ｐと面振れの関係）
図４〜１５は、図１〜３に記載した光ディスク装置１００を用いて、厚さの異なる光ディスク（可撓性ディスク）１０を異なる回転数（それぞれ７，０００ｒｐｍ、１０，０００ｒｐｍ、１３，０００ｒｐｍ）で回転させながら、光ディスク１０と安定化板５０を所定幅ずつ近接させたときの間隙Ｃと、装置周辺の気圧（大気圧）に対する回転中の光ディスク１０と安定化板５０の間隙８０の気圧の差圧（差圧Ｐと略称する。）と、光ディスク１０の面振れ量との関係を測定した測定データとその一部のグラフである。それぞれの図を参照しながら、光ディスク装置１００における間隙Ｃと差圧Ｐと面振れ量の関係から、それぞれの条件において光ディスク１０の面振れ量を光ディスク１０に対する記録・再生可能な範囲内に制御する方法について述べる。
【００３２】
（実施例１）
図４は、外径１２０ｍｍ（半径６０ｍｍ）、厚さ０．１ｍｍの光ディスク１０を、回転数７，０００ｒｐｍで回転させたときのディスク１０と安定化板５０の間隙Ｃ（ｍｍ）、ディスク１０の外周部（中心から５９ｍｍの位置）の間隙部分の気圧と装置周辺部の大気圧との差圧Ｐ（Ｐａ）、間隙Ｃの値が所定値（図４におけるカウンタの値がｋ）のときの間隙Ｃｋ（ｍｍ）の微小変化ΔＣｋ（ｍｍ）に対する差圧Ｐｋ（Ｐａ）の微小変化量ΔＰｋ（Ｐａ）を表す局所差圧勾配Ｓｋ（＝ΔＰ／ΔＣ（Ｐａ／ｍｍ））、間隙Ｃが初期値から所定値まで（図４におけるカウンタの値ｋが０からｋまで）変化したときの、間隙Ｃの変化全体に対応する差圧Ｐの変化量である全体差圧勾配Ｓｔ（Ｐａ／ｍｍ）、間隙Ｃが初期値から所定値まで（図４におけるカウンタの値ｋが０からｋまで）変化したときの、それぞれのカウンタの値ｋにおける前記局所差圧勾配Ｓｋの平均値である平均差圧勾配Ｓａ（Ｐａ／ｍｍ）、局所差圧勾配Ｓｋと全体差圧勾配Ｓｔの比である勾配比Ｓｋ／Ｓｔ、局所差圧勾配Ｓｋと平均差圧勾配Ｓａとの比である勾配比Ｓｋ／Ｓａ、及びディスク１０の外周部（中心から５５ｍｍの位置）の面振れ量（μｍ）を示す表である。
【００３３】
間隙Ｃｋにおける局所差圧勾配Ｓｋは、光ディスク１０を所定回転数で回転させながらディスクと安定化板の間隙Ｃを初期値から所定量ずつｋ回狭めていったときに、ｋ番目に設定した間隙Ｃｋにおける間隙Ｃの局所的な変化量ΔＣｋと、間隙部分の圧力（気圧）と大気圧との差圧Ｐｋの局所的な変化量ΔＰｋの比、すなわち、下式（１）で表される。
Ｓｋ＝ΔＰｋ／ΔＣｋ・・・・・・（１）
【００３４】
間隙Ｃｋにおける全体勾配Ｓｔは、光ディスク１０を所定回転数で回転させながら光ディスク１０と安定化板５０の間隙Ｃを初期値から所定量（一定量でなくてもよい。）ずつ狭めていったときに、間隙部分の気圧と大気圧との差圧Ｐが負の値になる直前の間隙Ｃの値Ｃ０と差圧Ｐの値Ｐ０を基準（Ｃ０、Ｐ０が初期値に相当する。）にして、所定の間隙Ｃｋに変化したときの差圧Ｐｋの変化量から求めた勾配であり、下式（２）で表される。
Ｓｔ＝（Ｐ０−Ｐｋ）／（Ｃ０−Ｃｋ）・・・・・（２）
【００３５】
なお、可撓性ディスクを高速で回転させながら安定化板をディスク面に近接させてディスクの面振れを抑制する光ディスク駆動装置においては、安定化板がディスク面から十分に離れていれば。安定化板とディスク面との間の間隙部分(間隙Ｃ)の気圧は、光ディスク駆動装置周辺の大気圧と変わらない。安定化板とディスク面との間の間隙を次第に狭くしていくと、間隙Ｃの気圧は一時的に大気圧より若干高くなることもあるが、さらに安定化板とディスク面とを近づけていくと、間隙Ｃの気圧が装置周辺の大気圧より低くなり、大気圧に対する間隙Ｃの気圧（差圧Ｐ）が負の値（装置周辺の大気圧を０とする。）となる。このような状態では、光ディスクの面振れに対して安定化板が影響を及ぼし、光ディスクの面振れ量が小さくなってくる。本願発明においては、安定化板とディスク面とを近づける際に、間隙Ｃの差圧Ｐが負の値に変化する寸前の状態の測定値を基準として、カウンタ値ｋ＝０に対応させ、それぞれ間隙Ｃ、差圧Ｐの初期値Ｃ０、Ｐ０としている。
【００３６】
局所差圧勾配Ｓｋと平均差圧勾配Ｓａの勾配比Ｓｋ／Ｓａは、以下のようにして算出する。平均差圧勾配Ｓａは、光ディスク１０を所定回転数で回転させながらディスクと安定化板の間隙Ｃを所定量ずつ狭めていったときに、間隙部分の気圧と大気圧との差圧Ｐが負の値になった時点の直前を０回目（カウンタｋ＝０）と数えてｋ回目まで間隙Ｃを所定量ずつ狭めていってそれぞれＰｋを測定し、１番目の局所差圧勾配Ｓ１から、ｋ番目の測定点における局所差圧勾配Ｓｋまでのｋ個の局所差圧勾配Ｓｉの平均値である。すなわち、平均差圧勾配Ｓａは下式（３）で表される。
【００３７】
【数１】
0005812697.tif 000002
【００３８】
従って、局所差圧勾配Ｓｋと全体差圧勾配Ｓｔとの勾配比は、Ｓｋ／Ｓｔで表され、局所差圧勾配Ｓｋと平均差圧勾配Ｓａとの勾配比は、Ｓｋ／Ｓａで表される。
【００３９】
図５は、図４における光ディスク１０と安定化板５０の間隙Ｃ（ｍｍ）に対する、ディスクの外周部の間隙部分の気圧と大気圧との差圧Ｐ（Ｐａ）と、光ディスク１０の面振れ量の関係の主要部分を示したグラフである。
【００４０】
図４、５から判るように、光ディスク１０のディスク面と安定化板５０の表面の間隙Ｃが狭くなると、光ディスク１０の外周部の間隙部分の気圧と大気圧との差圧Ｐは負の値となる。そして、間隙Ｃをさらに狭めると、光ディスク１０の差圧Ｐはさらに小さくなっていく。図４、５に示す実施例１では、差圧Ｐは、間隙Ｃが０．６０ｍｍ付近から負の値となり、間隙Ｃが０．４０ｍｍ付近まで１３〜２５Ｐａ／ｍｍ程度の勾配でほぼ単調に低下していく。間隙Ｃが０．４０ｍｍ以下になると、差圧Ｐは、０．４４Ｐａ／ｍｍ程度でほとんど低下しなくなる。
【００４１】
一方、光ディスク１０の面振れ量は、間隙Ｃが０．４０ｍｍを超える領域では、５０μｍを超えているが、０．４０ｍｍ付近で急速に低下し、間隙Ｃが０．４０ｍｍで１０μｍ、間隙Ｃが０．３９ｍｍで８μｍとなり、その後は間隙Ｃが小さくなるに連れてゆっくりと低下する。なお、面振れ量は光学的に測定した値である(以下の説明で同じ)。
【００４２】
なお、間隙Ｃが０．１ｍｍになるまで安定化板５０を光ディスク１０に近づけているが、実用上では、光ディスク１０の面振れが所定値以下になれば、それ以上安定化板５０を可撓性ディスク１０に近づけることは、安定化板５０と光ディスク１０の接触の恐れが増加するので実行する必要はない。このため、光ディスク１０の面振れが小さくなり、一旦安定した後は、間隙Ｃをそれ以上小さくすることは実用上不必要であり、間隙Ｃが０．１５ｍｍ以下の領域の面振れ量が３μｍ以下おける差圧Ｐは急降下傾向を示すことがある。しかし、一旦面振れ量が２０μｍ、好ましくは１０μｍ以下となれば、面振れ量は増加することはないので、この領域の測定はあまり意味がなく無視できる。この傾向は、後述する実施例２〜６においても同じである。
【００４３】
通常、光ディスク１０の面振れ量は、２０μｍ以下、好ましくは１０μｍ以下であれば使用可能である。このため、０．１ｍｍ厚の光ディスク１０を７，０００ｒｐｍで回転させて使用するこの実施例の光ディスク装置においては、間隙Ｃが０．４０ｍｍ以下とすればよい。また、間隙Ｃの代わりに、差圧Ｐを−４．４Ｐａ以下に制御すればよいことが判る。光ディスク１０の面振れ量を制御するために、間隙Ｃの代わりに、差圧Ｐを制御指標とすることで、間隙Ｃの測定が不用となり、光ディスク装置を簡単なものとすることができる。
【００４４】
図４において、間隙Ｃの減少に伴う光ディスク１０の面振れ量（μｍ）の変化、及び差圧Ｐｋ、局所差圧勾配Ｓｋ、全体差圧勾配Ｓｔ、局所差圧勾配Ｓｋと全体差圧勾配Ｓｔの勾配比Ｓｋ／Ｓｔ、局所差圧勾配Ｓｋと平均差圧勾配Ｓａの勾配比Ｓｋ／Ｓａを観察すると、面振れ量が確実に所定値２０μｍ以下とするための制御条件として、差圧Ｐｋを−４．４Ｐａ以下とする方法以外に、以下の制御条件を選択すればよいことが判る。
（１）局所差圧勾配Ｓｋが１．０Ｐａ／ｍｍ以下、好ましくは０．０Ｐａ／ｍｍ以下である。
（２）局所差圧勾配Ｓｋと全体差圧勾配Ｓｔの勾配比Ｓｋ／Ｓｔが０．２未満、好ましくは０．１以下、さらに好ましくは０．０以下である。
（３）局所差圧勾配Ｓｋと平均差圧勾配Ｓａの勾配比Ｓｋ／Ｓａが０．２未満、好ましくは０．１以下、さらに好ましくは０．０以下である。
【００４５】
（実施例２）
図６、７は、ディスク１０の外周部（中心から５９ｍｍの位置）の間隙部分の気圧と大気圧との差圧Ｐ（Ｐａ）、差圧Ｐと間隙Ｃの局所差圧勾配Ｓｋ（Ｐａ／ｍｍ）、差圧Ｐと間隙Ｃの全体差圧勾配Ｓｔ（Ｐａ／ｍｍ）、平均差圧勾配Ｓａ（Ｐａ／ｍｍ）、局所差圧勾配Ｓｋと全体差圧勾配Ｓｔの勾配比Ｓｋ／Ｓｔ、局所差圧勾配Ｓｋと平均差圧勾配Ｓａとの勾配比Ｓｋ／Ｓａの関係、及びディスクの外周部（中心から５５ｍｍの位置）の面振れ（μｍ）を表す表及びグラフである。
【００４６】
図６は、実施例１において、光ディスク１０を回転数７，０００ｒｐｍから１０，０００ｒｐｍに変更して回転させた以外は、実施例１と同様にして測定及び算出した光ディスク１０と安定化板５０の間隙Ｃ（ｍｍ）、ディスク１０の外周部（中心から５９ｍｍの位置）の間隙部分の気圧と大気圧との差圧Ｐ（Ｐａ）、差圧Ｐと間隙Ｃの局所差圧勾配Ｓｋ（Ｐａ／ｍｍ）、差圧Ｐと間隙Ｃの全体差圧勾配Ｓｔ（Ｐａ／ｍｍ）、平均差圧勾配Ｓａ（Ｐａ／ｍｍ）、局所差圧勾配Ｓｋと全体差圧勾配Ｓｔの勾配比Ｓｋ／Ｓｔ、局所差圧勾配Ｓｋと平均差圧勾配Ｓａとの勾配比Ｓｋ／Ｓａの関係、及びディスクの外周部（中心から５５ｍｍの位置）の面振れ（μｍ）を表す表である。
【００４７】
図７は、図６における光ディスク１０と安定化板５０の間隙Ｃ（ｍｍ）に対する、ディスクの外周部の間隙部分の気圧と大気圧との差圧Ｐ（Ｐａ）と、光ディスクの面振れ量の関係を示したグラフである。
【００４８】
図６、７から判るように、実施例２は、実施例１と同様の傾向を示しており、光ディスク１０のディスク面と安定化板５０の表面の間隙Ｃが狭くなると、光ディスク１０の外周部の間隙部分の気圧と大気圧との差圧Ｐは負の値となる。そして、光ディスク１０のディスク面と安定化板５０の表面の間隙Ｃをさらに狭めると、差圧Ｐは小さくなっていく。図６、７に示す実施例では、差圧Ｐは、間隙Ｃが０．２３ｍｍ付近から負の値となり、間隙Ｃが０．２０ｍｍ付近までほぼ２００〜２５０Ｐａ／ｍｍ程度の勾配で単調に低下していく。間隙Ｃが０．２０〜０．１５ｍｍでは、差圧Ｐの低下傾向は小さくなる。
【００４９】
一方、光ディスク１０の面振れ量は、間隙Ｃが０．２４ｍｍを超える領域では、５０μｍ以上であるが、間隙Ｃの減少と共に急速に減少し、間隙Ｃが０．２０ｍｍで１４μｍ、間隙Ｃが０．１９ｍｍで１０μｍとなり、その後は間隙Ｃが小さくなるに連れてゆっくりと低下する。
【００５０】
光ディスク１０の面振れ量は、２０μｍ以下、好ましくは１０μｍ以下であれば使用可能である。このため、０．１ｍｍ厚の光ディスク１０を１０，０００ｒｐｍで回転させて使用するこの実施例においては、間隙Ｃを０．２０ｍｍ以下とすればよい。また、間隙Ｃの代わりに、差圧Ｐが−９．３Ｐａ以下となればよいことが判る。
【００５１】
図６において、間隙Ｃの減少に伴う可撓性ディスク１０の面振れ量の変化、及び差圧Ｐ、局所差圧勾配Ｓｋ、全体差圧勾配Ｓｔ、局所差圧勾配Ｓｋと全体差圧勾配Ｓｔの勾配比Ｓｋ／Ｓｔ、局所差圧勾配Ｓｋと平均差圧勾配Ｓａの勾配比Ｓｋ／Ｓａを観察すると、面振れ量が所定値以下となるための制御条件として、差圧Ｐｋを−９．０Ｐａ以下とする方法以外に、以下の制御条件を選択すればよいことが判る。
（１）局所差圧勾配Ｓｋが２２０Ｐａ／ｍｍ未満、好ましくは１８０Ｐａ／ｍｍ以下、さらに好ましくは２０Ｐａ／ｍｍ以下となる。
（２）局所差圧勾配Ｓｋと全体差圧勾配Ｓｔの勾配比Ｓｋ／Ｓｔが１．０未満、好ましくは０．８以下になる。
（３）局所差圧勾配Ｓｋと平均差圧勾配Ｓａの勾配比Ｓｋ／Ｓａ１．０未満、好ましくは０．８以下になる。
【００５２】
（実施例３）
図８は、実施例１において、光ディスク１０を回転数７，０００ｒｐｍから１３，０００ｒｐｍに変更して回転させた以外は、実施例１と同様にして測定及び算出したディスクと安定化板の間隙Ｃ（ｍｍ）、ディスク１０の外周部（中心から５９ｍｍの位置）の間隙部分の気圧と大気圧との差圧Ｐ（Ｐａ）、差圧Ｐと間隙Ｃの局所差圧勾配Ｓｋ（Ｐａ／ｍｍ）、差圧Ｐと間隙Ｃの全体差圧勾配Ｓｔ（Ｐａ／ｍｍ）、平均差圧勾配Ｓａ（Ｐａ／ｍｍ）、局所差圧勾配Ｓｋと全体差圧勾配Ｓｔの勾配比Ｓｋ／Ｓｔ、局所差圧勾配Ｓｋと平均差圧勾配Ｓａとの勾配比Ｓｋ／Ｓａの関係、及びディスクの外周部（中心から５５ｍｍの位置）の面振れ（μｍ）を表す表である。
【００５３】
図９は、図８における光ディスク１０と安定化板５０の間隙Ｃ（ｍｍ）と、ディスクの外周部の間隙部分の気圧と大気圧との差圧Ｐ（Ｐａ）、との関係を示したグラフである。
【００５４】
図８、９から判るように、実施例３は、実施例１とほぼ同様の傾向を示しており、光ディスク１０のディスク面と安定化板５０の表面の間隙Ｃが狭くなると、光ディスク１０の外周部の間隙部分の気圧と大気圧との差圧Ｐは負の値となる。そして、光ディスク１０のディスク面と安定化板５０の表面の間隙Ｃをさらに狭めると、差圧Ｐは小さくなっていく。図８、９に示す実施例では、差圧Ｐは、間隙Ｃが０．１３０ｍｍ付近から負の値となり、間隙Ｃが０．１２５ｍｍ付近までほぼ１５００〜２５００Ｐａ／ｍｍ程度の勾配で低下していく。間隙Ｃが０．１２５ｍｍ以下になると、差圧Ｐは低下率が減少する。
【００５５】
一方、光ディスク１０の面振れ量は、間隙Ｃが０．１３０ｍｍ以上の領域では、３０μｍ以上であるが、間隙Ｃが０．１２５ｍｍで１０μｍ、間隙Ｃが０．１２０ｍｍで６μｍとなり、その後は間隙Ｃが小さくなるに連れてゆっくりと低下する。
【００５６】
光ディスク１０の面振れ量は、２０μｍ以下、好ましくは１０μｍ以下であれば使用可能である。このため、０．１ｍｍ厚の可撓性ディスク１０を１３，０００ｒｐｍで回転させて使用するこの実施例においては、間隙Ｃを０．１２５ｍｍ以下とすればよい。また、間隙Ｃの代わりに、差圧Ｐが−２０Ｐａ以下とすればよいことが判る。
【００５７】
図８、９において、間隙Ｃの減少に伴う可撓性ディスク１０の面振れ量の変化、及び差圧Ｐ、局所差圧勾配Ｓｋ、全体差圧勾配Ｓｔ、局所差圧勾配Ｓｋと全体差圧勾配Ｓｔの勾配比Ｓｋ／Ｓｔ、局所差圧勾配Ｓｋと平均差圧勾配Ｓａの勾配比Ｓｋ／Ｓａを観察すると、面振れ量が所定値以下となるための制御条件として、差圧Ｐｋを−２０．０Ｐａ以下とする方法以外に、以下の制御条件を選択すればよいことが判る。
（１）局所差圧勾配Ｓｋが２５００Ｐａ／ｍｍ未満、好ましくは１５００Ｐａ／ｍｍ以下となる。
（２）局所差圧勾配Ｓｋと全体差圧勾配Ｓｔの勾配比Ｓｋ／Ｓｔが０．８以下、好ましくは０．２以下、さらに好ましくは０．１以下となる。
（３）局所差圧勾配Ｓｋと平均差圧勾配Ｓａの勾配比Ｓｋ／Ｓａが０．８以下、好ましくは０．２以下、さらに好ましくは０．１以下となる。
【００５８】
このように、厚さが０．１ｍｍの光ディスク１０においては、差圧の正負の符号と、間隙Ｃに対する差圧の勾配の大きさの変化から、面振れ抑制状態を判別することが可能とである。差圧の符号と差圧の勾配と面振れ状態の定性的な関係を表１に整理する。
【００５９】
【表１】
0005812697.tif 000003
【００６０】
（実施例４）
図１０は、実施例１において、光ディスク１０の厚さを０．１ｍｍから０．２ｍｍに変更した以外は、実施例１と同様にして測定及び算出したディスクと安定化板の間隙Ｃ（ｍｍ）、ディスク１０の外周部（中心から５９ｍｍの位置）の間隙部分の気圧と大気圧との差圧Ｐ（Ｐａ）、差圧Ｐと間隙Ｃの局所差圧勾配Ｓｋ（Ｐａ／ｍｍ）、差圧Ｐと間隙Ｃの全体差圧勾配Ｓｔ（Ｐａ／ｍｍ）、平均差圧勾配Ｓａ（Ｐａ／ｍｍ）、局所差圧勾配Ｓｋと全体差圧勾配Ｓｔの勾配比Ｓｋ／Ｓｔ、局所差圧勾配Ｓｋと平均差圧勾配Ｓａとの勾配比Ｓｋ／Ｓａの関係、及びディスクの外周部（中心から５５ｍｍの位置）の面振れ（μｍ）を表す表である。
【００６１】
図１１は、図１０における光ディスク１０と安定化板５０の間隙Ｃ（ｍｍ）と、ディスクの外周部の間隙部分の気圧と大気圧との差圧Ｐ（Ｐａ）、との関係を示したグラフである。
【００６２】
図１０、１１から判るように、実施例４は、実施例１とほぼ同様の傾向を示しており、光ディスク１０のディスク面と安定化板５０の表面の間隙Ｃが狭くなると、光ディスク１０の外周部の間隙部分の気圧と大気圧との差圧Ｐは負の値となる。そして、光ディスク１０のディスク面と安定化板５０の表面の間隙Ｃをさらに狭めると、光ディスク１０の差圧Ｐはさらに小さくなっていく。
【００６３】
図１０、１１に示す実施例では、差圧Ｐは、間隙Ｃが０．７ｍｍ付近から負の値となり、間隙Ｃが０．４５ｍｍ付近までほぼ７〜５０Ｐａ／ｍｍ程度の勾配で低下していく。間隙Ｃが０．４４ｍｍ以下になると、差圧Ｐは、僅かな上昇傾向に転ずる。
【００６４】
一方、光ディスク１０の面振れ量は、間隙Ｃが０．４６ｍｍ以上の領域では、９０μｍを超えているが、０．４５ｍｍ付近で急激に低下し、間隙Ｃが０．４５ｍｍで１７μｍ、間隙Ｃが０．２５ｍｍで１５μｍとなり、その後は間隙Ｃが小さくなるに連れてゆっくりと低下し、間隙Ｃが０．１５ｍｍで９μｍとなる。
【００６５】
光ディスク１０の面振れ量は、２０μｍ以下、好ましくは１０μｍ以下であれば使用可能である。このため、０．２ｍｍ厚の光ディスク１０を７，０００ｒｐｍで回転させて使用するこの実施例の場合は、間隙Ｃを０．４５ｍｍ以下、好ましくは０．１５ｍｍ以下とすればよい。また、間隙Ｃの代わりに、差圧Ｐが−８．２Ｐａ以下となればよいことが判る。
【００６６】
図１０、１１において、間隙Ｃの減少に伴う光ディスク１０の面振れ量の変化、及び差圧Ｐ、局所差圧勾配Ｓｋ、全体差圧勾配Ｓｔ、局所差圧勾配Ｓｋと全体差圧勾配Ｓｔの勾配比Ｓｋ／Ｓｔ、局所差圧勾配Ｓｋと平均差圧勾配Ｓａの勾配比Ｓｋ／Ｓａを観察すると、面振れが所定値以下となるための制御条件として、差圧Ｐｋを−７．９Ｐａ以下とする方法以外に、以下の制御条件を選択すればよいことが判る。
（１）局所差圧勾配Ｓｋが７．０Ｐａ／ｍｍ未満、好ましくは０．０Ｐａ／ｍｍ以下となる。
（２）局所差圧勾配Ｓｋと全体差圧勾配Ｓｔの勾配比Ｓｋ／Ｓｔが０．５未満、好ましくは０．０以下となる。
（３）局所差圧勾配Ｓｋと平均差圧勾配Ｓａの勾配比Ｓｋ／Ｓａが０．６以下、好ましくは０．０以下となる。
【００６７】
（実施例５）
図１２は、実施例４において、光ディスク１０を回転数７，０００ｒｐｍから１０，０００ｒｐｍに変更して回転させた以外は、実施例４と同様にして測定及び算出したディスクと安定化板の間隙Ｃ（ｍｍ）、ディスク１０の外周部（中心から５９ｍｍの位置）の間隙部分の気圧と大気圧との差圧Ｐ（Ｐａ）、差圧Ｐと間隙Ｃの局所差圧勾配Ｓｋ（Ｐａ／ｍｍ）、差圧Ｐと間隙Ｃの全体差圧勾配Ｓｔ（Ｐａ／ｍｍ）、平均差圧勾配Ｓａ（Ｐａ／ｍｍ）、局所差圧勾配Ｓｋと全体差圧勾配Ｓｔの勾配比Ｓｋ／Ｓｔ、局所差圧勾配Ｓｋと平均差圧勾配Ｓａとの勾配比Ｓｋ／Ｓａの関係、及びディスクの外周部（中心から５５ｍｍの位置）の面振れ（μｍ）を表す表である。
【００６８】
図１３は、図１２における光ディスク１０と安定化板５０の間隙Ｃ（ｍｍ）と、ディスクの外周部の間隙部分の気圧と大気圧との差圧Ｐ（Ｐａ）、との関係を示したグラフである。
【００６９】
図１２、１３から判るように、実施例５は、実施例４とほぼ同様の傾向を示しており、光ディスク１０のディスク面と安定化板５０の表面の間隙Ｃが狭くなると、光ディスク１０の外周部の間隙部分の気圧と大気圧との差圧Ｐは負の値となる。そして、光ディスク１０のディスク面と安定化板５０の表面の間隙Ｃをさらに狭めると、光ディスク１０の差圧Ｐは小さくなっていく。しかし、光ディスク１０の面振れ量が十分小さくなると差圧Ｐは若干上昇する傾向にある。図１２、１３に示す例では、差圧Ｐは、間隙Ｃが０．５ｍｍ付近から負の値となり、間隙Ｃが０．３３ｍｍ付近まで２０〜３８０Ｐａ／ｍｍ程度の勾配で低下していく。間隙Ｃが０．３３〜０．２０ｍｍにおいては、差圧Ｐは、少しずつ上昇する傾向にある。
【００７０】
一方、光ディスク１０の面振れ量は、間隙Ｃが０．３４ｍｍ以上の領域では、１００μｍを超えているが、間隙Ｃが０．３３ｍｍで１８μｍ、その後は間隙Ｃが小さくなるに連れてゆっくりと低下し、間隙Ｃが０．２５ｍｍ以下で１０μｍ以下となる。
【００７１】
光ディスク１０の面振れ量は、２０μｍ以下、好ましくは１０μｍ以下であれば使用可能である。このため、０．２ｍｍ厚の光ディスク１０を１０，０００ｒｐｍで回転させて使用するこの実施例においては、間隙Ｃを０．３３ｍｍ以下、好ましくは０．２５ｍｍ以下とすればよい。また、間隙Ｃの代わりに、差圧Ｐが−１５．７Ｐａ以下となればよいことが判る。
【００７２】
図１２、１３において、間隙Ｃの減少に伴う可撓性ディスク１０の面振れ量の変化、及び差圧Ｐ、局所差圧勾配Ｓｋ、全体差圧勾配Ｓｔ、局所差圧勾配Ｓｋと全体差圧勾配Ｓｔの勾配比Ｓｋ／Ｓｔ、局所差圧勾配Ｓｋと平均差圧勾配Ｓａの勾配比Ｓｋ／Ｓａを観察すると、面振れが所定値以下となるための制御条件として、差圧Ｐｋを−１３Ｐａ以下とする方法以外に、以下の制御条件を選択すればよいことが判る。
（１）局所差圧勾配Ｓｋが２０Ｐａ／ｍｍ未満、好ましくは−１０Ｐａ／ｍｍ以下、さらに好ましくは−２０Ｐａ／ｍｍ以下となる。
（２）局所差圧勾配Ｓｋと全体差圧勾配Ｓｔの勾配比Ｓｋ／Ｓｔが０．８未満、好ましくは−０．１以下、さらに好ましくは−０．２以下となる。
（３）局所差圧勾配Ｓｋと平均差圧勾配Ｓａの勾配比Ｓｋ／Ｓａが０．８以下、好ましくは−０．１以下、さらに好ましくは−０．２以下となる。
【００７３】
（実施例６）
図１４は、実施例４において、光ディスク１０を回転数７，０００ｒｐｍから１３，０００ｒｐｍに変更して回転させた以外は、実施例４と同様にして測定及び算出したディスクと安定化板の間隙Ｃ（ｍｍ）、ディスク１０の外周部（中心から５９ｍｍの位置）の間隙部分の気圧と大気圧との差圧Ｐ（Ｐａ）、差圧Ｐと間隙Ｃの局所差圧勾配Ｓｋ（Ｐａ／ｍｍ）、差圧Ｐと間隙Ｃの全体差圧勾配Ｓｔ（Ｐａ／ｍｍ）、平均差圧勾配Ｓａ（Ｐａ／ｍｍ）、局所差圧勾配Ｓｋと全体差圧勾配Ｓｔの勾配比Ｓｋ／Ｓｔ、局所差圧勾配Ｓｋと平均差圧勾配Ｓａとの勾配比Ｓｋ／Ｓａの関係、及びディスクの外周部（中心から５５ｍｍの位置）の面振れ（μｍ）を表す表である。
【００７４】
図１５は、図１４における光ディスク１０と安定化板５０の間隙Ｃ（ｍｍ）と、ディスクの外周部の間隙部分の気圧と大気圧との差圧Ｐ（Ｐａ）、との関係を示したグラフである。
【００７５】
図１４、１５から判るように、実施例６は、実施例４とほぼ同様の傾向を示しており、光ディスク１０のディスク面と安定化板５０の表面の間隙Ｃが狭くなると、光ディスク１０の外周部の間隙部分の気圧と大気圧との差圧Ｐは負の値となる。そして、光ディスク１０のディスク面と安定化板５０の表面の間隙Ｃをさらに狭めると、光ディスク１０の差圧Ｐは小さくなっていく。図１４、１５に示す実施例では、差圧Ｐは、間隙Ｃが０．３ｍｍ付近から負の値となり、間隙Ｃが０．２５ｍｍ付近まで１００〜７００Ｐａ／ｍｍ程度の勾配で低下していく。間隙Ｃが０．２５〜０．１５ｍｍにおいては、差圧Ｐは、変わらないか若干上昇する傾向にある。
【００７６】
一方、光ディスク１０の面振れ量は、間隙Ｃが０．２６ｍｍ以上の領域では、９５μｍ以上であるが、間隙Ｃが０．２５ｍｍで１２μｍ、０．２４ｍｍで１０μｍ、その後は間隙Ｃが小さくなるに連れてゆっくりと低下する。
【００７７】
光ディスク１０の面振れ量は、２０μｍ以下、好ましくは１０μｍ以下であれば使用可能である。このため、０．２ｍｍ厚の光ディスク１０を１３，０００ｒｐｍで回転させて使用するこの実施例においては、間隙Ｃを０．２５ｍｍ以下、好ましくは０．２４ｍｍ以下とすればよい。また、間隙Ｃの代わりに、差圧Ｐが−２６．２Ｐａ以下となればよいことが判る。
【００７８】
図１４、１５において、間隙Ｃの減少に伴う光ディスク１０の面振れ量の変化、及び差圧Ｐ、局所差圧勾配Ｓｋ、全体差圧勾配Ｓｔ、局所差圧勾配Ｓｋと全体差圧勾配Ｓｔの勾配比Ｓｋ／Ｓｔ、局所差圧勾配Ｓｋと平均差圧勾配Ｓａの勾配比Ｓｋ／Ｓａを観察すると、面振れが所定値以下となるための制御条件として、差圧Ｐｋを−２４Ｐａ以下とする方法以外に、以下の制御条件を選択すればよいことが判る。
（１）局所差圧勾配Ｓｋが１０３Ｐａ／ｍｍ未満、好ましくは０．０Ｐａ／ｍｍ以下となる。
（２）局所差圧勾配Ｓｋと全体差圧勾配Ｓｔの勾配比Ｓｋ／Ｓｔが１．６未満、好ましくは０．０以下となる。
（３）局所差圧勾配Ｓｋと平均差圧勾配Ｓａの勾配比Ｓｋ／Ｓａが１．３未満、好ましくは０．０以下となる。
【００７９】
このように、ディスク厚０．２ｍｍのディスクにおいても、間隙Ｃに対する差圧Ｐの勾配の大きさの変化から、面振れ抑制状態を判別することが可能となる。差圧Ｐの符号と差圧Ｐの勾配と面振れ状態の定性的な関係を表２に整理する。
【００８０】
【表２】
0005812697.tif 000004
【００８１】
（光ディスクの駆動方法）
上記実施例１〜６の結果を踏まえて、光ディスク１０の面振れ状態を抑えるための安定化板５０の配置、すなわち光ディスク１０と安定化板５０の間隙の設定の方法を定量的に考察する。
【００８２】
厚さが０．１〜０．２ｍｍ程度の可撓性ディスクでは、安定化板による高速回転中のディスクの面振れ抑制が必要である。ディスクの面振れ量は、２０μｍ以下、好ましくは１０μｍ以下とすることが求められる。そこで、実施例１〜６の結果を踏まえて、以下の光ディスクの駆動方法を発明した。
【００８３】
光ディスクを記録・再生等に必要な所定の回転数で回転させて、面振れが発生した状態において、安定化板を所定量ずつ光ディスクに近づける。安定化板が光ディスクの表面に近づくと、光ディスクと安定化板の間隙Ｃがある程度狭くなった段階で、この間隙Ｃの気圧がディスク駆動装置周辺の大気圧より低くなる。この大気圧と間隙Ｃの気圧との差圧Ｐが負の値になる付近から、光ディスクは安定化板の影響を受けて面振れが抑制されてくる。そして、間隙Ｃが所定値以下となると、差圧Ｐも所定値以下となり、間隙Ｃの減少量に対する差圧Ｐの減少量、すなわち間隙Ｃに対する差圧Ｐの減少勾配(局所差圧勾配)も急激に低下する。この差圧勾配の急激な減少点が面振れ量が、２０μｍ好ましくは１０μｍ以下となる点である。そこで、間隙Ｃを減少させながら差圧Ｐを測定し、この差圧Ｐを基にして、光ディスクの面振れ量を所望値に制御することができる。以下に、実施例１〜６を基にして、具体的な制御方法の例を示す(図４〜１５参照）。
【００８４】
（１）それぞれの光ディスク、及びその記録・再生回転数毎に、この条件に対応する光ディスクの面振れ量が２０μｍ、好ましくは１０μｍ以下となるとき差圧Ｐを測定して記憶しておく。そして、光ディスクによる記録・再生を開始する前に、光ディスクを所定回転数で回転させながら、間隙Ｃを徐々に減少させ記録・再生条件に対応して記憶しておいた差圧Ｐ以下となったときに間隙Ｃを固定するように制御して記録・再生を始める。
【００８５】
（２）光ディスクと安定化板の間隙Ｃは、間隙Ｃの変化に対する差圧Ｐの変化の勾配（局所差圧勾配Ｓｋ）が、所定値以下、好ましくは正の値から零又は負の値に変わったときの間隙Ｃ以下とすればよい。実施例１〜５において、間隙Ｃは好適な制御指標として光ディスクの面振れ量を制御することができる。但し、実施例３においては、局所差圧勾配Ｓｋの所定値を０とすると間隙Ｃを狭く制御しすぎている傾向がある。
【００８６】
（３）間隙Ｃを狭めていくに従って、差圧Ｐが負になってからｋ回の差圧Ｐの測定における、測定点毎の平均差圧勾配Ｓａに対する局所差圧勾配Ｓｋの勾配比Ｓｋ／Ｓａが、０．１以下、好ましくは０．１５未満となる間隙Ｃを選べば、ディスクの面振れ量は２０μｍ以下に制御することができる。ほとんどの場合は、勾配比Ｓｋ／Ｓａが０．５以下となれば問題ないが、厚さ０．１ｍｍの光ディスクの場合実施例１に示すように、勾配比Ｓｋ／Ｓａが０．１５４でもディスクの面振れ量が１００μｍ以上となることがある。しかし、厚さ０．２ｍｍの光ディスクの場合であれば、勾配比Ｓｋ／Ｓａが０．５以下、好ましくは０．０以下となるように制御すれば十分である。
【００８７】
（４）差圧Ｐが負になってからｋ回目の測定点における局所差圧勾配Ｓｋの値の、差圧Ｐが負になってからｋ回目の測定点までの全体差圧勾配Ｓｔに対する勾配比Ｓｋ／Ｓｔを指標として制御することもできる。前記の勾配比Ｓｋ／Ｓａと大きくは相違しないが、算出計算が簡単なので、制御における記憶装置や計算装置を簡略にしたり、演算速度を速める効果がある。勾配比Ｓｋ／Ｓｔが、０．１以下、好ましくは０．１５未満となったときの間隙Ｃを選べば、ディスクの面振れ量は２０μｍ以下に制御することができる。制御のための指標を勾配比Ｓｋ／Ｓｔとした場合も、厚さ０．１ｍｍの光ディスクの場合実施例１に示すように、勾配比Ｓｋ／Ｓｔが０．１５でもディスクの面振れ量が１００μｍ以上となることがある。しかし、厚さ０．２ｍｍの光ディスクの場合であれば、勾配比Ｓｋ／Ｓｔが０．５以下、好ましくは０．０以下となるように制御すれば十分である。
【００８８】
（可撓性ディスク駆動方法の実施形態）
（実施形態１）差圧Ｐｋを指標とする可撓性ディスク駆動方法
差圧Ｐｋを制御指標として、所定回転数で回転している可撓性ディスク（光ディスク）の面振れを所定値以下に安定させるには、安定化板５０を光ディスク１０に近づけるに従って、差圧Ｐと光ディスク１０の面振れ量が小さくなることを利用する。但し、差圧Ｐと光ディスク１０の面振れ量の定量的な関係は、光ディスク１０の厚さ、記録・再生時の回転数（記録・再生条件）により異なるので、それぞれの記録・再生条件に対応した好適な差圧Ｐを事前に測定しておく。最初に、所定の光ディスク１０を所定の回転数で回転させながら、間隙Ｃを初期状態（光ディスク１０に対して安定化板５０の影響がない程度に十分隔離された状態）から徐々に狭めていく。そして、図４に示したように、間隙Ｃを所定量変化させる毎に、差圧Ｐと面振れ量を測定する。面振れ量が２０μｍ以下、好ましくは１０μｍ以下となった時点の差圧Ｐを、この場合の面振れ量制御する臨界値として光ディスク装置の制御部に記憶しておく。
【００８９】
光ディスク１０に記憶・再生を行う場合は、差圧Ｐが光ディスク装置の制御部に記憶しておいた差圧となった時点の間隙Ｃ以下の間隙の幅で固定するように昇降部７０を制御すればよい。例えば、実施例１で示した、０．１ｍｍ厚の光ディスク１０を７，０００ｒｐｍで回転させて記録・再生する場合で説明すれば、臨界値としての差圧Ｐは、−０．４Ｐａとすればよい。
【００９０】
この実施形態においては、最初に光ディスク１０、及び記録・再生条件に対応して好適な差圧Ｐを求めておけば、同じ光ディスク１０、及び記録・再生条件の基では、間隙Ｃを狭めながら差圧Ｐを制御するだけで、光ディスク１０を好適な面振れ量に抑制することができる。
【００９１】
（実施形態２）局所差圧勾配Ｓｋを指標とする可撓性ディスク駆動方法
局所差圧勾配Ｓｋを指標として、所定回転数で回転している可撓性ディスク（光ディスク）の面振れを所定値以下に安定させるには、安定化板５０を光ディスク１０に近づけるに従って光ディスク１０の面振れ量が小さくなることを利用する。すなわち、光ディスク１０のディスク面と安定化板５０の表面の間隙の周辺大気圧との差圧Ｐを測定しながら、所定回転数で回転している光ディスク１０に安定化板５０を近づけていき、安定化板５０のそれぞれの位置における差圧Ｐの間隙Ｃの変化に対する変化量（局所差圧勾配Ｓｋ）を算出し、その局所差圧勾配Ｓｋが所定値以下となったときを光ディスク１０の面振れが所望値（通常は２０ｍｍ以下）となり、光ディスク１０は安定した記録・再生状態に制御される。
【００９２】
なお、実施例において説明したように、局所差圧勾配Ｓｋの所定値は、光ディスク１０の厚さ、回転数などの使用状態により大きく変化するので、それぞれの光ディスク１０の種類や使用状態に対応して局所差圧勾配Ｓｋを測定して求め、これを利用すれば、光ディスクの種類や回転数毎の緻密な面振れ抑制ができる。本実施形態では、使用した光ディスク装置について全ての光ディスク１０とその使用状態に対して適用可能な局所差圧勾配Ｓｋにより光ディスク１０の面ブレを安定化させる駆動方法を示す。
【００９３】
図１６は、回転している光ディスク１０の安定化板５０との間隙Ｃｋ（基準の間隙Ｃ０から回間隙の幅をｋ回減少させたときの間隙の幅）の変化量（ΔＣｋ＝Ｃｋ−１−Ｃｋ）に対する、大気圧と間隙Ｃｋにおける気圧の差である差圧Ｐｋの変化量（ΔＰｋ＝Ｐｋ−１−Ｐｋ）の比である局所差圧勾配Ｓｋ（＝（Ｐｋ−１−Ｐｋ）／（Ｃｋ−１−Ｃｋ））を指標として、この局所差圧勾配Ｓｋが零又は負の値となったことを確かめて、光ディスク１０の記録又は再生を行う可撓性ディスク駆動方法を示すフロー図である。
【００９４】
局所差圧勾配Ｓｋを指標とする可撓性ディスク駆動方法について、図１〜３を参照しながら、図１６に従って説明する。光ディスク装置１００に光ディスク１０の記録又は再生の動作の開始が指示されると、スピンドルモータ３０が回転し、ディスク装着部４０に装着されている光ディスク１０が所定の回転数で回転する（ステップＳ１０１）。
【００９５】
光ディスク１０の回転数が所定値で安定したら、制御装置であるＣＰＵ９０は、カウンタｋを初期化して０とする（ステップＳ１０３）。光ディスク１０のディスク面から隔離して配置されていた安定化板５０を、ステッピングモータ等を有する昇降部７０により所定の幅だけ光ディスク１０のディスク面に接近させる（ステップＳ１０５）。安定化板５０が所定量接近（降下）させたら、光ディスク１０と安定化板５０の間隙Ｃの幅（ｍｍ）を測定又は間隙Ｃの移動前の幅を基準値（例えば１．０ｍｍ）として相対的な間隙Ｃを算出し（ステップＳ１０７）、差圧計（差圧センサ）６０により間隙部分の大気圧に対する差圧Ｐ（Ｐａ）を測定する（ステップＳ１０９）。なお、昇降部７０は、差圧Ｐが最初から負の値にならない程度に、安定化板５０の位置を光ディスク１０から適度な間隔で隔離しておく。
【００９６】
差圧Ｐの値が負でなければ（ステップＳ１１１のＮ）、差圧Ｐ及び間隙Ｃの値を、それぞれＰ０、Ｃ０として、メモリ９１のメモリ領域ＭＰ０、ＭＣ０に格納し（ステップＳ１１３）、ステップＳ１０５に戻り、ステップＳ１０５からステップＳ１１１を繰り返す。
【００９７】
差圧Ｐの値が負になれば（ステップＳ１１１のＹ）、カウンタｋの値を１つ増加させてｋ＝１として、差圧Ｐ及び間隙Ｃの値を、それぞれ差圧Ｐ１、間隙Ｃ１とする（ステップＳ１１５）。
【００９８】
そして、生成した差圧Ｐ１、間隙Ｃ１を、カウンタｋに対応する差圧Ｐｋ、間隙Ｃｋとして、それぞれメモリ９１のメモリ領域ＭＰｋ、ＭＣｋに格納する（ステップＳ１１７）。
【００９９】
昇降部７０を所定量降下させ（ステップＳ１１９）、カウンタｋの値を１つ増加させて（ｋ＋１）とし（ステップＳ１２１）、間隙の幅Ｃｋを算出又は測定する（ステップＳ１２３）。差圧計６０により差圧Ｐを測定してＰｋとする（ステップＳ１２５）。
【０１００】
算出又は測定した間隙の値Ｃｋとメモリ９１に記憶していた間隙Ｃ（ｋ−１）、差圧Ｐｋとメモリ９１に記憶していたＰ（ｋ−１）から局所差圧勾配Ｓｋ（＝（Ｐ（ｋ−１）−Ｐｋ）／（Ｃ（ｋ−１）−Ｃｋ））を算出する（ステップＳ１２７）。
【０１０１】
局所差圧勾配Ｓｋが零又は負であれば（ステップＳ１２９のＹ）、光ディスク１０は面振れ量が所定内（例えば、２０μｍ以内）の領域にあるので、光ディスク装置は、そのまま光ディスク１０への情報の記録又は再生を開始する（ステップＳ１３１）。そして、記録又は再生を繰り返し、所定の記録又は再生が完了したら（ステップＳ１３３のＹ）、スピンドルモータ３０を停止する（ステップＳ１３５）と共に昇降部７０を上昇させて（ステップＳ１３７）、安定化板５０を光ディスク装置の運転開始前の元の位置に戻し、光ディスク装置の運転を終了する。
【０１０２】
局所差圧勾配Ｓｋが正の場合（ステップＳ１２９のＮ）は、ステップＳ１１７に戻り、新しいカウンタ値ｋに対する差圧Ｐｋ、間隙Ｃｋを、それぞれメモリ９１のメモリ領域ＭＰｋ、ＭＣｋに格納する（ステップＳ１１７）。そして、昇降部７０を所定量降下させ（ステップＳ１１９）、さらに次のステップへと進んでいく。昇降部７０の降下幅の所定量は、間隙Ｃｋの値又はカウンタｋの値に応じて別々に設定されていてもよい。
【０１０３】
なお、ステップＳ１２７においては、局所差圧勾配Ｓｋの値の臨界値を零としたが、光ディスク１０の厚さや回転数などが特定されている場合は、それぞれの条件に応じて他の値とすることもできる。この実施形態の特徴のひとつは、間隙Ｃの絶対値の測定や、面振れ量の測定が不用である。このため、光デスク装置の制御部を簡単なものとすることができる。
【０１０４】
また、光ディスク１０の種類及びその回転数が特定されていれば、最初にこの実施形態で測定した局所差圧勾配Ｓｋが臨界値零以下となったときの差圧Ｐｋを記憶しておき、次回の記憶・再生動作においては、ステップＳ１０３からステップＳ１２９までの工程に替えて、間隙Ｃを減少させていき、記憶しておいた差圧Ｐｋ以下になった時点の間隙Ｃを一定又はそれ以下に制御して(昇降部７０の位置を固定して)、記憶・再生動作をすることもできる。
【０１０５】
（実施形態３）局所差圧勾配Ｓｋと平均差圧勾配Ｓａとの勾配比Ｓｋ／Ｓａを指標とする可撓性ディスク駆動方法
局所差圧勾配Ｓｋと平均差圧勾配Ｓａとの勾配比Ｓｋ／Ｓａを指標として、所定回転数で回転している可撓性ディスク（光ディスク）の面振れを所定値以下に安定させるには、安定化板５０を光ディスク１０に近づけるに従って光ディスク１０の面ブレ量の変化量(差圧勾配)も小さくなることを利用する。すなわち、光ディスク１０のディスク面と安定化板５０の表面の間隙８０における気圧の大気圧との差圧Ｐを測定しながら、所定回転数で回転している光ディスク１０に安定化板５０を近づけていき、それぞれの安定化板５０の位置における差圧Ｐの間隙（の幅）Ｃに対する変化量（局所差圧勾配Ｓｋ）を算出し、その局所差圧勾配Ｓｋのそれまで安定化板５０を移動させてきた間全体(ｋ＝１〜ｋ)の局所差圧勾配Ｓｋの平均値（平均差圧勾配Ｓａ）に対する比率（勾配比＝（局所差圧勾配Ｓｋ）／（平均差圧勾配Ｓａ））が所定値以下となったときを光ディスク１０の面振れが所望値（通常は２０ｍｍ以下）となり、光ディスク１０は安定した記録・再生状態となることを利用して制御する。
【０１０６】
なお、実施例において説明したように、勾配比Ｓｋ／Ｓａの所定値は、光ディスク装置、光ディスク１０の厚さ、回転数などの使用状態により変化するので、それぞれの光ディスク１０の使用状態に対応して勾配比Ｓｋ／Ｓａを測定して求め、これを利用すればよい。本実施形態では、使用した光ディスク装置について全ての光ディスク１０の使用状態に対して適用可能な勾配比Ｓｋ／Ｓａにより光ディスク１０の面振れを安定化させる駆動方法を示す。
【０１０７】
図１７は、回転している光ディスク１０と安定化板５０の間隙Ｃｋを小さくしていったときに、差圧Ｐが負になった時点（ｋ＝１）からｋ個の間隙Ｃｋに対する局所差圧勾配Ｓｋ（＝（Ｐｋ−１−Ｐｋ）／（Ｃｋ−１−Ｃｋ））を算出し、差圧Ｐが負になった時点からのｋ個の局所差圧勾配Ｓ１からＳｋまでの平均値である平均値局所差圧勾配Ｓａを求め、間隙Ｃｋにおける勾配比Ｓｋ／Ｓａを制御指標として、勾配比Ｓｋ／Ｓａが所定値以下となったら光ディスク１０の記録又は再生を行う可撓性ディスク駆動方法を示すフロー図である。
【０１０８】
勾配比Ｓｋ／Ｓａを指標とする可撓性ディスク駆動方法について、図１〜３を参照しながら、図１７に従って説明する。本実施形態のステップＳ２０１からステップＳ２２７までは、実施形態１で説明したステップＳ１０１からステップＳ１２７までと同様であるので、実施形態１を参照することで説明を省略する。
【０１０９】
本実施形態においては、ステップＳ２２７で算出した局所差圧勾配Ｓｋをメモリ領域ＭＳｋに格納し（ステップＳ２２９）、メモリ領域ＭＳｋ(ｋ＝１〜ｋ)に格納してあった局所差圧勾配Ｓｋ（ｋ＝１〜ｋ）から平均差圧勾配Ｓａを算出する（ステップＳ２３１）。平均差圧勾配Ｓａは、カウンタｋが１からｋまでの局所差圧勾配Ｓｋの平均値であり、算出式は既に説明した式（３）を参照すればよい。
【０１１０】
局所差圧勾配Ｓｋと平均差圧勾配Ｓａから勾配比Ｓｋ／Ｓａを算出し、この勾配比Ｓｋ／Ｓａが０．１以下であれば（ステップＳ２３３のＹ）、光ディスク１０の面振れは所定値以内であり、光ディスク装置は記録・再生操作を実行する。勾配比Ｓｋ／Ｓａが０．１を超えていれば（ステップＳ２３３のＮ）、光ディスク１０の面振れは所定値を超えているとみなして、ステップＳ２１７に戻り、ステップＳ２１７からステップＳ２３３のステップを繰り返す。
【０１１１】
ステップＳ２３５からステップＳ２４１までの光ディスク１０の記録・再生及び光ディスク装置の停止操作は、実施形態１のステップＳ１３１からステップＳ１３７までと同様であるので、実施形態１を参照すればよいので説明を省略する。
【０１１２】
なお、ステップＳ２３３においては、勾配比Ｓｋ／Ｓａの値の臨界値を０．１としたが、ディスク駆動装置、光ディスク１０の厚さや回転数などの条件が特定されている場合は、それぞれの条件に応じて、他の値、例えば０．０、０．２、０．５などとすることもできる。この実施形態においても、間隙Ｃの絶対値の測定や、面振れ量の測定が不用である。このため、光デスク装置の制御部を簡単なものとすることができる。
【０１１３】
また、光ディスク１０の種類及びその回転数が特定されていれば、最初にこの実施形態で算出した勾配比Ｓｋ／Ｓａの値が臨界値、例えば０．１以下となったときの差圧Ｐｋを記憶しておき、次回の記憶・再生動作においては、ステップＳ２０３からステップＳ２３３までの工程に替えて、間隙Ｃを減少させていき、記憶しておいた差圧Ｐｋ以下になった時点の間隙Ｃを一定又はそれ以下に制御して(昇降部７０の位置を固定して)、記憶・再生動作をすることもできる。
【０１１４】
（実施形態４）局所差圧勾配Ｓｋと全体差圧勾配Ｓｔとの勾配比Ｓｋ／Ｓｔを指標とする可撓性ディスク駆動方法
局所差圧勾配Ｓｋと全体差圧勾配Ｓｔとの勾配比Ｓｋ／Ｓｔを指標として、所定回転数で回転している可撓性ディスク（光ディスク）の面振れを所定値以下に安定させる光ディスクの駆動方法は、実施形態２で説明した局所差圧勾配Ｓｋと平均差圧勾配Ｓａとの勾配比Ｓｋ／Ｓａを制御指標とする光ディスクの駆動方法と基本的考え方は同じである。この実施形態では、実施形態２で利用した平均差圧勾配Ｓａに替えて全体差圧勾配Ｓｔを利用する点が異なっている。この実施形態では、局所差圧勾配Ｓｋと全体差圧勾配Ｓｔとの勾配比Ｓｋ／Ｓｔが所定値以下となったときを光ディスク１０の面振れが所望値（通常は２０ｍｍ以下）となり、光ディスク１０は安定した記録・再生状態となることを利用して制御する。
【０１１５】
なお、既に実施例において説明したように、勾配比Ｓｋ／Ｓｔの所定値は、光ディスク１０の厚さ、回転数などの使用状態(条件)により変化するので、それぞれの光ディスク１０の使用状態等に対応して勾配比Ｓｋ／Ｓｔを測定して求め、これを利用すればよい。本実施形態では、使用した光ディスク装置について全ての光ディスク１０の使用状態(条件)に対して適用可能な勾配比Ｓｋ／Ｓｔにより光ディスク１０の面ブレを安定化させる駆動方法を示す。
【０１１６】
図１８は、回転している光ディスク１０と安定化板５０の間隙９０を、比較的離れた状態から徐々に小さくしていったときに、差圧Ｐが零又は正の値から負の値変化する直前の時点（カウンタｋ＝０）の間隙(の幅)Ｃ０に対応する差圧Ｐ０を基準として、安定化板５０を光ディスク１０に徐々に近づけていき、間隙をｋ回変化させた場合、カウンタｋが１からｋまでの局所差圧勾配Ｓｋ（＝（Ｐｋ−１−Ｐｋ）／（Ｃｋ−１−Ｃｋ））と全体差圧勾配Ｓｔ（＝（Ｐ０−Ｐｋ）／（Ｃ０−Ｃｋ））を算出し、局所差圧勾配Ｓｋと全体差圧勾配Ｓｔの勾配比Ｓｋ／Ｓｔを制御指標として、勾配比Ｓｋ／Ｓｔが所定値以下となったら光ディスク１０の記録又は再生を行う可撓性ディスク駆動方法を示すフロー図である。
【０１１７】
勾配比Ｓｋ／Ｓｔを指標とする可撓性ディスク駆動方法について、図１〜３を参照しながら、及び図１８に従って説明する。本実施形態のステップＳ３１１からステップＳ３２５までは、実施形態２で説明したステップＳ２１１からステップＳ２２５までと同様であるので、説明は実施形態２を参照することとし省略する。
【０１１８】
本実施形態においては、ステップＳ３２７において、算出若しくは測定してある、又は記憶している間隙Ｃｋ、Ｃ０、差圧Ｐｋ、Ｐ０などを基にして、局所差圧勾配Ｓｋ（＝（Ｐｋ−１−Ｐｋ）／（Ｃｋ−１−Ｃｋ））、全体差圧勾配Ｓｔ（＝（Ｐ０−Ｐｋ）／（Ｃ０−Ｃｋ））を算出する（ステップＳ３２７）。
【０１１９】
局所差圧勾配Ｓｋと全体差圧勾配Ｓｔから勾配比Ｓｋ／Ｓｔを算出し、この勾配比Ｓｋ／Ｓｔが０．１以下であれば（ステップＳ３２９のＹ）、光ディスク１０の面振れは所定値以内であり、記録・再生操作を実行する。勾配比Ｓｋ／Ｓｔが０．１を超えていれば（ステップＳ３２９のＮ）、光ディスク１０の面振れは所定値を超えているとみなして、ステップＳ３１７に戻り、ステップＳ３１７からステップＳ３２９のステップを繰り返す。
【０１２０】
ステップＳ３３１からステップＳ３３７までの光ディスク１０の記録・再生及び光ディスク装置の停止操作は、実施形態２のステップＳ２３５からステップＳ２４１までと同様であるので、それを参照して説明を省略する。
【０１２１】
なお、ステップＳ３３１においては、勾配比Ｓｋ／Ｓｔの値の臨界値を０．１としたが、光ディスク１０の厚さや回転数などが特定されている場合は他の値、例えば０、０．２、０．５などとすることもできる。この実施形態においても、間隙Ｃの絶対値の測定や、面振れ量の測定が不用である。このため、光デスク装置の制御部を簡単なものとすることができる。
【０１２２】
また、光ディスク１０の種類及びその回転数が特定されていれば、最初にこの実施形態で算出した勾配比Ｓｋ／Ｓｔの値が臨界値、例えば０．１以下となったときの差圧Ｐｋを記憶しておき、次回の記憶・再生動作においては、ステップＳ３０３からステップＳ３２９までの工程に替えて、間隙Ｃを減少させていき、記憶しておいた差圧Ｐｋ以下になった時点の間隙Ｃを一定又はそれ以下に制御して(昇降部７０の位置を固定して)、記憶・再生動作をすることもできる。
【０１２３】
実施形態１〜３において、光ディスク１０への記録・再生を実行するか否かの制御指標（局所差圧勾配Ｓｋ、勾配比Ｓｋ／Ｓａ、又は勾配比Ｓｋ／Ｓｔ）の臨界値は、実施例１〜６に示すように、光ディスク１０の面振れ量が２０ｍｍ以下となるときの間隙（の幅）Ｃの臨界値に対応する値より小さい場合もある。しかし、光ディスク１０の面振れ量は２０ｍｍ以下を満足しており、間隙Ｃが臨界値より大きく離れることはないので、実用上は問題がなく、むしろ測定精度等によるバラツキを吸収する余裕と考えることもできる。
【符号の説明】
【０１２４】
１０  ：可撓性ディスク（光ディスク、ディスク）
２０  ：光ピックアップ
２１  ：レーザ制御回路
２２  ：駆動制御回路
３０  ：スピンドルモータ
３１  ：モータードライバ
４０  ：ディスク装着部
５０  ：安定化板（安定化部材）
６０  ：差圧計（差圧センサ）
６１  ：測定回路
７０  ：昇降部
７１  ：昇降制御回路
８０  ：ディスク面と安定化板の間隙（間隙の幅Ｃを表す場合もある）
９０  ：ＣＰＵ（演算装置）
９１  ：インターフェース
９２  ：メモリ
１００  ：光ディスク装置(ディスク駆動装置)
２００  ：上位装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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