(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の局所的に測定可能なループ特性と第１の組のパラメータとを用いて、第１のループ特徴値推定方法を較正するための較正方法であって、
第１の複数のループに対する前記第１の局所的に測定可能なループ特性を測定するステップと、
ループ特徴値の基準推定値を表す基準データセットを取得するステップであって、前記基準推定値は、第２の局所的に測定可能なループ特性と第２の組のパラメータとを用いて、較正された第２のループ特徴値推定方法を実行することによって取得される、取得するステップと、
前記基準推定値と、前記較正されたパラメータを前記第１の組のパラメータとして用いて前記第１のループ特徴値推定方法を前記測定値に適用することによって取得可能な推定値との間の偏差を最小化するように、較正されたパラメータを決定するステップと、
を含む、較正方法。
【請求項２】
前記第１の複数のループの特徴値の検証推定値を表す検証データセットを取得するステップを更に含み、前記検証推定値は、較正されていないパラメータを前記第１の組のパラメータとして用いて、前記第１のループ特徴値推定方法を前記測定値に適用することによって取得され、前記較正されたパラメータを決定する前記ステップは、前記検証推定値と前記基準推定値との間の偏差を最小化するように、前記較正されたパラメータを更新するステップを含む、請求項１に記載の較正方法。
【請求項３】
前記基準データセットを取得する前記ステップは、
第２の複数のループの特徴値を測定するステップと、
前記第２の複数のループの前記特徴値と、前記第２のループ特徴値推定方法を実行することによって取得された前記特徴値の推定値との間の偏差を最小化するように、前記第２の組のパラメータを決定するステップと、
を含み、前記第２の複数のループの電気的特性は、前記第１の複数のループの電気的特性を実質的に表す、請求項１または請求項２に記載の較正方法。
【請求項４】
前記第２の複数のループは前記第１の複数のループの部分集合である、請求項３に記載の較正方法。
【請求項５】
前記第１のループ特徴値推定方法または前記第２のループ特徴値推定方法はＭＥＬＴ法を含む、請求項１から４のいずれか一項に記載の較正方法。
【請求項６】
前記ＭＥＬＴ法は、単位長さ当たりの差動キャパシタンスと単位長さ当たりの同相キャパシタンスとを含むパラメータセットを用いる、請求項５に記載の較正方法。
【請求項７】
前記第１のループ特徴値推定方法または前記第２のループ特徴値推定方法はＳＥＬＴ法を含む、請求項１から４のいずれか一項に記載の較正方法。
【請求項８】
前記ＳＥＬＴ法は、単位長さ当たりの直列抵抗、単位長さ当たりの直列インダクタンス、単位長さ当たりの並列コンダクタンス、および単位長さ当たりの並列キャパシタンスを含むパラメータセット用いる、請求項７に記載の較正方法。
【請求項９】
前記ループ特徴値はループの長さを含む、請求項１から８のいずれか一項に記載の較正方法。
【請求項１０】
実行されると請求項１から９のいずれか一項に記載の較正方法を実行するプロセッサ実行可能な命令を含むコンピュータプログラム。
【請求項１１】
第１の局所的に測定可能なループ特性と第１の組のパラメータとを用いて、第１のループ特徴値推定方法を較正するためのシステムであって、
第１の局所的に測定可能な物理的特性を測定するための第１の測定デバイスと、
前記第１の測定デバイスと第１のパラメータメモリとに動作的に接続されており、前記第１の測定可能な物理的特性と前記第１のパラメータメモリの中に含まれる第１のパラメータセットとに基づき、第１のループ特徴値推定方法により、第１のループ特徴値の推定値を生じるように構成されている第１のループ特徴値推定プロセッサと、
第２の局所的に測定可能な物理的特性を測定するための第２の測定デバイスと、
前記第２の測定デバイスと第２のパラメータメモリとに動作的に接続されており、前記第２の測定可能な物理的特性と前記第２のパラメータメモリの中に含まれる第２のパラメータセットとに基づき、第２のループ特徴値推定方法により、第２のループ特徴値の推定値を生じるように構成されている第２のループ特徴値推定プロセッサと、
前記第１のループ特徴値の推定値と前記第２のループ特徴値の推定値とを用いて、前記第１のループ特徴値推定プロセッサによって以後に得られるループ特徴値の推定値と前記第２のループ特徴値推定プロセッサによって得られるループ特徴値の推定値とが実質的に一致するように、前記第１のパラメータセットを更新するための手段と、
を備えている、システム。
【請求項１２】
前記第１のループ特徴値推定方法または前記第２のループ特徴値推定方法はＭＥＬＴ法を含む、請求項１１に記載のシステム。
【請求項１３】
前記ＭＥＬＴ法は、単位長さ当たりの差動キャパシタンスと単位長さ当たりの同相キャパシタンスとを含むパラメータセットを用いる、請求項１２に記載のシステム。
【請求項１４】
前記第１のループ特徴値推定方法または前記第２のループ特徴値推定方法はＳＥＬＴ法を含む、請求項１１に記載のシステム。
【請求項１５】
前記ＳＥＬＴ法は、単位長さ当たりの直列抵抗、単位長さ当たりの直列インダクタンス、単位長さ当たりの並列コンダクタンス、および単位長さ当たりの並列キャパシタンスを含むパラメータセットを用いる、請求項１４に記載のシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ループテスティングの分野に関し、詳細には、データ伝送に用いられるワイヤラインループの品質を評価するための較正方法の分野に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＩＰ−ＴＶ、ビデオオンデマンド、およびいわゆるトリプルプレイ（ブロードバンドリンク経由の高速インターネット、テレフォニ、およびデジタルＴＶ）の取り込みが増大していることにより、基礎となるネットワークインフラストラクチャに対する要求が更に切迫してきている。これらの増大する要求に対しては、サービスを提供するという観点、すなわち、要求されている性能を供給するように設計されたネットワークを提供することによってという観点と、顧客サポートという観点、すなわち、エンドユーザが受け取るサービスの品質に影響する性能上の問題を検出し改善するのに必要なツールを展開することによってという観点との両方から、アプローチがなされなければならない。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
局所的に測定可能な物理的特性に基づき、ループの長さや加入者線の欠陥の位置などの特徴値を推定するために用いられる方法の較正を容易にすることが、本発明の実施形態の目的である。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
本発明のある態様によると、第１の局所的に測定可能なループ特性と第１の組のパラメータとを用いて、第１のループ特徴値推定方法を較正するための較正方法であって：第１の複数のループに対する第１の局所的に測定可能なループ特性を測定するステップと；特徴値の基準推定値を表す基準データセットを取得するステップであって、この基準推定値は、第２の局所的に測定可能なループ特性と第２の組のパラメータとを用い、較正された第２のループ特徴値推定方法を実行することによって取得される、取得するステップと；基準推定値と、較正されたパラメータを第１の組のパラメータとして用いて第１のループ特徴値推定方法を測定値に適用することによって取得することができる推定値との間の偏差を最小化するように、較正されたパラメータを決定するステップと、を含む較正方法が提供される。
【０００５】
従って、第１のループ特徴値推定方法を、多数の伝統的な（すなわち、非局所的な）ループ特徴値の測定値に頼ることを要せずに、比較的大きな較正データセットを用いて、較正することができることが、本発明の利点である。上述の特徴値には、数ある中で、ループの長さ、短絡などの１つまたは複数の故障箇所、１つまたは複数のブリッジタップの位置、ゲージの変化、抵抗値の変化などが含まれうる。局所的に測定可能な特性には、抵抗値、キャパシタンス、インダクタンス、インパルス応答ダイアグラムなどのうちの１つ又は複数が含まれうる。
【０００６】
上述の利点は、前もって較正されている第２のループ特徴値推定方法により較正データセットを生成することによって、達成される。本発明による方法は、第２のループ特徴値推定方法の較正が過去に既に行われている場合、それがより正確である場合、または、それが第１のループ特徴値推定方法の直接的な較正よりも容易である場合に、特に有利である。
【０００７】
ある実施形態では、本発明による較正方法は、第１の複数のループの特徴値の検証推定値を表す検証データセットを取得するステップを更に含み、この検証推定値は、較正されていないパラメータを第１の組のパラメータとして用い、第１のループ特徴値推定方法を測定値に適用することによって得られる。そして、較正されたパラメータを決定するステップは、検証推定値と基準推定値との間の偏差を最小化するように、較正されたパラメータを更新するステップを含む。
【０００８】
第１のループ特徴値推定方法のパラメータを較正するための反復的アルゴリズムは、それに対して演算を行う何らかの初期値を要求する。従って、実際のパラメータの粗い推定値に対応しうる所定の組のパラメータを用いるのが有利である。なお、この粗い推定値は、ループの理論物理モデルから導くことができる。
【０００９】
本発明による較正方法のある実施形態では、第２のデータセットを取得するステップは、第２の複数のループの特徴値を測定するステップと、第２の複数のループの特徴値と、第２のループ特徴値推定方法を実行することによって取得された特徴値の推定値との間の偏差を最小化するように、第２の組のパラメータを決定するステップと、を含み、第２の複数のループの電気的特性は、第１の複数のループの電気的特性を実質的に表している。
【００１０】
第２のループ特徴値推定方法の較正を含むことが、この実施形態の利点である。なお、この第２のループ特徴値推定方法の較正は、オプションでループの異なる組を用いる場合もあるが、第１のループ特徴値推定方法の較正と実質的に同様に効率的に行われる。
【００１１】
ある特定の実施形態では、第２の複数のループは、第１の複数のループの部分集合である。
【００１２】
本発明による較正方法のある実施形態では、第１のループ特徴値推定方法または第２のループ特徴値推定方法は、ＭＥＬＴ法を含む。
【００１３】
ある特定の実施形態では、ＭＥＬＴ法は、単位長さ当たりの差動キャパシタンスと単位長さ当たりの同相キャパシタンスとを含むパラメータセットを用いる。
【００１４】
ＭＥＬＴは、この明細書でより詳細に説明されるが、広く知られ正確なループ長推定方法であり、比較的小さな組のパラメータを用いて較正されうるので有利である。
【００１５】
本発明による較正方法のある実施形態では、第１のループ特徴値推定方法または第２のループ特徴値推定方法は、ＳＥＬＴ法を含む。
【００１６】
ある特定の実施形態では、ＳＥＬＴ法は、単位長さ当たりの直列抵抗値、単位長さ当たりの直列インダクタンス、単位長さ当たりの並列コンダクタンス、および単位長さ当たりの並列キャパシタンスを含むパラメータセットを用いる。
【００１７】
ＳＥＬＴは、合計ループ長、ループ分岐トポロジ、欠陥位置、および終端抵抗値などの特徴値を推定するための広く知られ正確な別の方法である。ＳＥＬＴについては、この明細書でより詳細に説明される。ＳＥＬＴは、比較的小さな組のパラメータを用いて較正されうるので有利である。
【００１８】
本発明による較正方法のある実施形態では、ループ特徴は、ループ長を含む。
【００１９】
本発明の別の態様によると、実行されると以上で説明した本発明による較正方法を行うプロセッサ実行可能な命令を含むコンピュータプログラム製品が提供される。
【００２０】
本発明の別の態様によると、第１の局所的に測定可能なループ特性と第１の組のパラメータとを用いて、第１のループ特徴値推定方法を較正するためのシステムであって、第１の局所的に測定可能な物理的特性を測定するための第１の測定デバイスと、第１の測定デバイスと第１のパラメータメモリとに動作的に接続されており、第１の測定可能な物理的特性と第１のパラメータメモリの中に含まれる第１のパラメータセットとに基づき、第１のループ特徴値推定方法により、第１のループ特徴値の推定値を生じるように構成されている第１のループ特徴値推定プロセッサと、第２の局所的に測定可能な物理的特性を測定するための第２の測定デバイスと、第２の測定デバイスと第２のパラメータメモリとに動作的に接続されており、第２の測定可能な物理的特性と第２のパラメータメモリの中に含まれる第２のパラメータセットとに基づき、第２のループ特徴値推定方法により、第２のループ特徴値の推定値を生じるように構成されている第２のループ特徴値推定プロセッサと、第１のループ特徴値の推定値と第２のループ特徴値の推定値とを用いて、第１のループ特徴値推定プロセッサによって以後に得られるループ特徴値の推定値と第２のループ特徴値推定プロセッサによって得られるループ特徴値の推定値とが実質的に一致するように、第１のパラメータセットを更新するための手段と、を備えているシステムが提供される。
【００２１】
本発明によるシステムのある実施形態では、第１のループ特徴値推定方法または第２のループ特徴値推定方法は、ＭＥＬＴ法を含む。
【００２２】
ある特定の実施形態では、ＭＥＬＴ法は、単位長さ当たりの差動キャパシタンスと単位長さ当たりの同相キャパシタンスとを含むパラメータセットを用いる。
【００２３】
本発明によるシステムのある実施形態では、第１のループ特徴値推定方法または第２のループ特徴値推定方法は、ＳＥＬＴ法を含む。
【００２４】
ある特定の実施形態では、ＳＥＬＴ法は、単位長さ当たりの直列抵抗値、単位長さ当たりの直列インダクタンス、単位長さ当たりの並列コンダクタンス、および単位長さ当たりの並列キャパシタンスを含むパラメータセットを用いる。
【００２５】
本発明によるコンピュータプログラム製品とシステムとの様々な実施形態の利点は、本発明による方法との関係で上述した利点と必要な変更を加えることによって対応する。
【００２６】
次に、本発明の実施形態による装置および／または方法の実施形態が、単なる例示により、以下の添付の図面を参照して説明される。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】ＭＥＬＴ法で用いられる低周波電送線モデルを概略的に表す図である。
【図２】ＳＥＬＴ法で用いられる高周波電送線モデルを概略的に表す図である。
【図３】本発明の実施形態による方法の流れ図である。
【図４】本発明の実施形態によるシステムのブロック図である。
【図５】２つの異なるループ長推定方法を適用することによって得られるループ長推定値の対を表す散乱プロット図である。
【発明を実施するための形態】
【００２８】
ネットワーク診断ツールは、物理的問題の原因を遠隔的に診断することができ、性能を向上させるための措置を講じることもできる、という両方の能力を備えているのが理想的である。そうであれば、多くの問題のために人が介在することが回避されて、オペレータがサービスの質の向上を享受し、時間と費用とを節約することの助けになる。
【００２９】
本発明は、ループの特徴値の推定に関するものである。この特徴値とは、他のものに加え、ループの長さ、短絡など１つまたは複数の欠陥の位置、１つまたは複数のブリッジタップの位置、ゲージの変化、抵抗値の変化などでありうる。ループプラントのこのような性質は、「現場で」測定することが非常に困難であるのが通常であるから、局所的に測定可能な物理的特性の測定値に基づく推定が非常に好ましい。
【００３０】
様々なｘＤＳＬフレーバに用いられるツイストペア電話線などのメタルワイヤラインチャネル経由で提供されるサービスでは、リモートテスティングの鍵となる特徴は、ループ長の推定にある。このループ長が、送信側と受信側との間の信号の減衰を決定し、従って、達成可能なビットレートを、重要性を有する程度まで決定する。ループ長を推定する技術には、「メタルラインテスティング」（ＭＥＬＴ）と「シングルエンドラインテスティング」（ＳＥＬＴ）とが含まれる。
【００３１】
以下では、本発明の実施形態を、ループ長を推定する方法というコンテキストに即して説明する。これは、目的を明確化するという目的だけのためになされるのであって、本発明を限定するものと理解すべきではない。ループ長推定方法を較正する目的で説明されるすべての実施形態は、ループの他の特徴値を推定する方法を較正する目的を有する類似の実施形態を含むものと理解されるべきである。
【００３２】
ＭＥＬＴは基本的に、低周波モデルに従って、電気的パラメータの測定値に基づく推定を行う。このモデルは、図１に概略的に図解されている。特に、単位長さ当たりの同相キャパシタンス（Ｃｌ，ｃｍ）と単位長さ当たりの差動キャパシタンス（Ｃｌ，ｄｉｆｆ）とは、関心対象であるケーブルタイプに対して経験的に決定され、特定のケーブルの長さ（ｌ）は、そのケーブルの測定された同相キャパシタンス（Ｃｃｍ，ｍｅａｓｕｒｅｄ）と差動キャパシタンス（Ｃｄｉｆｆ，ｍｅａｓｕｒｅｄ）とから、次の数式に従って推定することができる。
【００３３】
Ｃｄｉｆｆ，ｍｅａｓｕｒｅｄ＝ｌ×Ｃｌ，ｄｉｆｆ＋Ｃｔｅｒｍ
Ｃｃｍ，ｍｅａｓｕｒｅｄ＝ｌ×Ｃｌ，ｃｍ
Ｃｌ，ｄｉｆｆとＣｌ，ｃｍとに対する値は、例えば、５０ｎＦ／ｍでありうる。ＳＥＬＴは、回線の特性を推定するのに、反射率測定に依存する。推定の信頼性は、回線の較正に左右される。テスト信号の様々な検出された「反射」のタイミングがどのように回線の長さ（または、それ以外のトポロジカルな特徴）を表すのかを決定するには、信号が回線を伝播する速度について仮定しなければならない。この速度の仮定には較正が必要となる。図２を参照すると、ＳＥＬＴの方法論の基礎となる高周波伝送回線モデルは、次のように表すことが可能である：
ｌ＝ｖ×ｔｒ
【００３４】
【数１】
0005759016.tif 000002
ここで、
【００３５】
【数２】
0005759016.tif 000003
および
【００３６】
【数３】
0005759016.tif 000004
とすると、ν（ｆ）＝Ｆ（Ｒ（ｆ），Ｌ（ｆ），Ｃ（ｆ），Ｇ（ｆ））となる。
なお、νは、媒体における電気信号の速度であり；ｔｅｎｄは、時刻ｔ０において送信され時刻ｔｒにおいて反射が生じたインパルスの、ループの端部によって生成された反射の局所的な検出の時刻を表し；ｆは、抵抗値Ｒ、インダクタンスＬ、キャパシタンスＣ、およびコンダクタンスＧが測定された周波数を表し、ｆと環状周波数ωとはω＝２πｆという関係を有しており；α、β、およびγは、上に示されているＲ、Ｌ、Ｇ、およびＣの関数において定義される補助変数である。
【００３７】
典型的には、較正は、データから時空モデルを作成するために異なるループ長の回線と終端インピーダンスとがテストされる実験室での測定を通じて実行される。較正方法の手動での調整も、精度を得るために、現場において特定のループについて直接に行われることがある。その結果として、正確な実験室でのテストと現場での介入とが必要になるこの方法は、時間を要するものとなる。
【００３８】
これらのアプローチは共に、現実世界の状況とモデル化されたパラメータ値との間での不完全な較正または齟齬の結果として生じるシステム的な誤差を含む多くのタイプの誤差の影響を受ける。従って、本発明の実施形態の目的は、自動的な相互較正を実行することによって、これらの誤差を部分的に縮小することである。この自動的な相互較正は、較正の欠陥を検出し補償することによって、ループ長の推定および／またはモデルパラメータを著しく改善する機能を有するのである。
【００３９】
図３は、本発明による方法の実施形態を図解している。本発明の基本的な部分は、１１０−１５０とラベル付けされているステップによって表されている。２００および３００とラベル付けされているブロックは、オプションのブロックを表す。様々なステップが表されている順序は、別のステップが終了するまでは特定のステップが生じることがありえないことが以下の説明から明確でない限り、純粋に例示的であって、本発明を限定しない。また、複数のステップの組み合わせが可能であること、そして、入力データに対して異なる演算を実行することによって、組み合わされた結果を数学的に同等な方法で達成できることを、当業者であれば想到しうる。そのような実施形態も、本発明の範囲に含まれる。
【００４０】
図解されている実施形態の目的は、第１のパラメトリックなループ長推定方法において用いられるパラメータを決定することである。この第１のループ長推定方法は、第１のステップ１１０に図解されているように、局所的に測定可能な物理的特性を測定することによって、１つまたは複数のループすなわちターゲットセットの長さを決定するように機能する。
【００４１】
パラメータの決定は、図解されている第４のステップ１４０において実行される。この決定を行うためには、図解されている第２のステップ１２０における第１のループ長推定方法を通じて得られるループ長の推定値が、オプションのブロック２００から得られる基準推定値と、図解されている第３のステップ１３０において比較される。ブロック２００については、より詳しく後述する。オプションのブロック２００が存在しない場合には、より早い時点で確立されている基準推定値を例えばメモリから取得できることを、当業者であれば想到しうる。
【００４２】
第２のステップ１２０で第１のループ長推定方法によって得られた推定値と基準推定値２００との比較１３０は、線形回帰係数の決定で構成される。このアプローチがとられる場合には、線形回帰係数が１に近づくように、パラメータが決定される（１４０）。当業者であれば、推定された長さと基準推定値との間の測定された偏差１３０から適切なパラメータを得る（１４０）ために他の適切なアルゴリズムを用いることができることを、想到できる。ステップ１２０、１３０および１４０の複数回の反復を、十分に信頼できるパラメータを得る前に、適用しなければならない場合がある。
【００４３】
オプションで反復的なプロセスを通じて、いったんパラメータが決定されると（１４０）、第１のループ長推定方法に対するパラメータの較正が完了したと見なされる（１５０）。
【００４４】
第１のループ長推定方法に関するいくつかの選択肢については、基準推定値と測定された物理的特性とから直接的に第１のパラメータセットを数学的に導くことが効率的でありうる。従って、図解されているステップ１２０−１４０を単一で必ずしも反復的ではない動作にまとめることが効率的でありうる。
【００４５】
オプションのブロック２００は、基準推定値がどのようにして得られるかを図解している。有利には、第２のパラメトリックループ長推定方法が適用されるが、これは、ループの第２の局所的に測定可能な物理的特性に依存する。第２のループ長推定方法は、前もって較正がなされているものと仮定される。この較正は、オプションのブロック３００の中に示されているステップを通じて行われうる。ブロック３００についての詳細は後述する。当業者であれば、他の知られている較正手順を適用しても同じ効果が得られることを想到することができる。
【００４６】
ターゲットセットのそれぞれのループの第２の物理的特性が、ステップ２１０で測定される。これらの特性に基づき、ステップ２２０において、ループ長推定値が、第２のループ長推定方法によって得られる。これらの推定値は、上述したように、第１のループ長推定方法の較正のために、基準推定値として機能する。
【００４７】
第１のループ長推定方法はＳＥＬＴ法であってもよく、第２のループ長推定方法はＭＥＬＴ法であってもよい。その逆も可能である。本発明の基礎となる洞察から離れずに、他のループ長推定方法を、第１および／または第２のループ長推定方法として用いることが可能であることは、当業者であれば想到するであろう。
【００４８】
第１のループ長推定方法は、多数の伝統的（すなわち、非局所的）なループ長測定に頼る必要がなくして、比較的大きな較正データセットを用いて較正することが可能であるというのは、本発明の利点である。この利点は、前もって較正されている第２のループ長推定方法による構成データセットを生成することにより、達成される。本発明によるプロセスは、第２のループ長推定方法の較正が既に過去に行われている場合、それがより正確である場合、または、それが第１のループ長推定方法の直接的な較正よりも容易である場合に、本発明によるプロセスは特に有利である。
【００４９】
第２のループ長推定方法は、オプションのブロック３００に図解されているステップによって、既に較正されている。この較正は、ループの代表的なセットの知られているループ長に依存している。これらの知られているループ長は、局所的でない測定方法によって、例えば、伝統的な測定用ロッドの使用、光学的測定その他、または、ループの製造および／もしくは設置の最中の測定によって、得ることができる。ループの実際の長さを得るためのこれらの方法は、測定ステップ４１０によって象徴されている。代表セットの知られているループ長は、ステップ３２０において得られた第１のループ長測定方法により得られた推定されたループ長を検証するための基準として、用いられる。ステップ３２０において第１のループ長推定方法によって得られた推定されたループ長の推定値は、ステップ３１０において実行される第２の物理的特性の局所的な測定に依存する。ステップ１２０−１４０に図解されている第１のループ長推定方法に関して説明された較正と完全に類似した方法において、第２のループ長推定方法は、知られているループ長に基づいて較正される。
【００５０】
代表セットは、ターゲットセットの部分集合でありうる。しかし、代表セットは、ループの完全に異なったセットである場合、例えば、特に較正の目的に用いられる研究室で利用可能なループのセットである場合もある。代表セットは、好ましくは、ターゲットセットと同じタイプおよび／またはゲージのループを含む。代表セットは、好ましくは、その長さの範囲がターゲットセットの長さの範囲と実質的に一致するループを含む。
【００５１】
当業者であれば、様々な上述した方法のステップはプログラムされたコンピュータによって実行できることを容易に想到するであろう。本出願では、いくつかの実施形態は、マシンまたはコンピュータ可読であり、前記上述の方法のステップのうちの一部またはすべてを実行する命令のマシン実行可能またはコンピュータ実行可能なプログラムを符号化する、プログラム記憶装置、例えば、デジタルデータ記憶媒体、に及ぶことも意図されている。プログラム記憶装置は、例えば、デジタルメモリ、磁気ディスクや磁気テープ、ハードディスクなどの磁気記憶媒体、または光学的に読み取り可能なデジタルデータ記憶媒体でありうる。これらの実施形態は、また、上述の方法の前記ステップを実行するようにプログラムされたコンピュータにも及ぶことが意図されている。
【００５２】
本発明の実施例によるシステムが、図４に図解されている。図４は、加入者の装置をアクセスノード６００に接続するのに用いられうる複数のメタルツイストペア回線６５０を含む、メタルアクセスネットワークの一部を示している。図３に図解されている本発明による方法の実施形態に関する上述した説明を参照し、図解されているツイストペア回線６５０は、ターゲットセットのループであると仮定する。
【００５３】
一般性を失うことなく、測定ユニット５００は、アクセスノード６００の中に一体化されているものとして図解されている。ただし、このユニット５００は、スタンドアロン型の装置または他のデバイスの中に一体化されていてもかまわない。測定ユニット５００は、ターゲットセットのループのそれぞれに対して、少なくとも、第１の測定可能な物理的特性を測定する第１の測定デバイス５１０と、第２の測定可能な物理的特性を測定する第２の測定デバイス５２０とを含む。
【００５４】
測定ユニット５１０、５２０のそれぞれは、それぞれが第１および第２のループ長推定方法を実行する対応のループ長推定プロセッサ５１１、５２１に接続されている。
【００５５】
第１のループ長推定プロセッサ５１１は、第１のパラメータメモリ５１２に記憶されているパラメータの組に依存する。このメモリは、当初は空であるか、または、例えば、粗く推定されたパラメータの組を用いて予めプログラムされている場合もある。
【００５６】
第２のループ長推定プロセッサ５１２は、第２のパラメータメモリ５２２に記憶されているパラメータの組に依存する。このメモリには、正確なパラメータの組が記憶されていると仮定される。すなわち、第２のループ長推定プロセッサ５１２は、十分な較正がなされているのである。
【００５７】
第１のパラメータメモリ５１２と第２のパラメータメモリ５２２とは、１つの同じ物理メモリに、または、複数の異なる物理メモリに、異なる組の変数が記憶されているものとして実装することができることは、当業者であれば想到できるであろう。
【００５８】
両方のループ長推定プロセッサ５１１、５２１は、較正プロセッサ５３０に動作的に結合されている。較正プロセッサ５３０は、両方のループ長推定方法によって得られた推定値を比較し、較正がなされるプロセッサ５１１の結果と予め較正されているプロセッサ５２１の基準値とのベストフィットが得られるパラメータの組を決定するように構成されている。更新されたパラメータは、第１のパラメータメモリ５１２に記憶される。第１のループ長推定プロセッサのための更新されたパラメータの決定は、反復的な方法で実行されうる。
【００５９】
より一般的に述べるならば、較正プロセッサ５３０は、実際、（第１のループ長推定プロセッサ５１１から得られた）第１のループ長推定値と（第２のループ長推定プロセッサ５２１から得られた）第２のループ長推定値とを用い、第１のループ長推定プロセッサ５１１によって後で得られたループ長推定値が第２のループ長推定プロセッサ５２１によって得られたループ長推定値と実質的に一致するように、第１のパラメータセットを更新する特定の手段である。これは、第２のプロセッサ５２１から得られた推定値が、第１のプロセッサ５１１によって用いられるパラメータを較正するために用いられることを意味する。
【００６０】
一般性を失うことなく、プロセッサ５１１、５２１、および５３０は、別々のブロックとして図解されている。これは、別個のコンポーネントとして実装される必要があることを意味しない。
【００６１】
特に、ブロック５１１および５３０は、演算としては異なった方法で数学的に同等の結果を生じるように機能的に統合されることもありうる。従って、第１のループ長推定方法の選択に応じて、第１のパラメータセットを、利用可能なデータから、すなわち第１の測定デバイス５１０から得られた測定データと第２のループ長推定プロセッサ５２１から得られた基準推定値とから、直接的に導くことが計算的に効率的な場合がある。そのような構成もまた本発明の範囲に属する。
【００６２】
両方のループ長推定プロセッサ５１１、５２１の出力を知られている態様でネットワーク管理ステーション６２０に結合することにより、ネットワークオペレータがこれらのプロセッサから得られた推定値から何らかの有用な結論を引き出すことが可能である。これは、較正プロセスの後、まだ較正に参加していないループに対して、ループ長推定値が生成されるときに特に関連する。
【００６３】
本発明の実施形態の方法およびシステムの一部であるループ長推定方法において用いられるパラメータの数は、実際に選択される方法に左右される。知られているＳＥＬＴおよびＭＥＬＴ法に用いられうる特定のパラメータセットについては、上述した。
【００６４】
第１のループ長推定方法が較正されるループのターゲットセットのサイズは、本発明の方法またはシステムのユーザにより、選択される方法の関数として、決定される必要があるパラメータの数に従い、賢明な方法で選択される。
【００６５】
図５は、２つの異なるループ長推定方法を適用することによって得られるループ長推定値の対を表す散乱プロットである。水平方向の軸は較正されたＭＥＬＴ法を適用することによって推定されるループ長であり、垂直方向の軸は較正されていないＳＥＬＴ法を適用することによって得られる対応のループ長を表す。一般性を失うことなく、両方の軸上の測定単位はメートルであると仮定される。理想的には、２つの方法によって得られる長さの推定値が同一であり、その結果として、原点を通過し勾配が１である直線が生じる。しかし、利用可能な例示的なデータセットの線形回帰によると、実際の関係は、ｙ軸との交点が約５００ｍであり勾配が１を僅かに超える直線によって、よりよく近似されることが明らかになる。ｙ軸との交点がゼロでないことは、ＳＥＬＴシステムのアナログフロントエンドの較正オフセットとして、物理的に説明することができる。勾配の誤差は、システムとしての較正誤差と考えなければならない。ここに図解されているような場合には、本発明による較正方法の目的は、得られる別の推定値が対応する較正済みのＭＥＬＴの推定値と実質的に一致するように、ＳＥＬＴシステムのパラメータを調整することであろう。
【００６６】
「プロセッサ」というラベル付けがなされている任意の機能ブロックを含めて、図面に示されている様々な要素の機能は、専用のハードウェアの使用に加え、適切なソフトウェアと関連してソフトウェアを実行することができるハードウェアの使用を通じて提供されることがある。プロセッサによって提供されると、単一の専用のプロセッサによって、単一の共有されるプロセッサによって、またはいくつかが共有可能であるような複数の個別のプロセッサによって、これらの機能が提供されうる。更に、「プロセッサ」または「コントローラ」という用語の明確な使用は、ソフトウェアを実行することができるハードウェアだけを排他的に意味するように解釈されるべきではなく、明示的ではないが、限定を意味せずに、デジタル信号プロセッサ（ＤＳＰ）ハードウェア、ネットワークプロセッサ、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）、フィールドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ）、ソフトウェアを記憶するリードオンリメモリ（ＲＯＭ）、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）、および不揮発性ストレージを含む。これ以外のハードウェアも、従来型および／またはカスタムもまた含まれうる。同様に、図に示されているスイッチはすべてが、概念的なものに過ぎない。それらの機能は、プログラムロジックの動作を通じて、専用ロジックを通じて、プログラム制御と専用ロジックとの相互作用を通じて、または更には手動でも実行されうる。特定の技術は、コンテキストからより特定して理解されるように、実装を行う者によって選択可能である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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