(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
装置本体と、
所定の反射率を有し、原稿を載置する原稿載置領域に対して主走査方向に平行に隣接して配置される第１基準部材と、
前記所定の反射率を有し、前記原稿載置領域に対して副走査方向に平行に隣接して配置される第２基準部材と、を有し、
前記原稿載置領域及び前記第２基準部材を主走査方向に読取可能な長さ分、配列された複数の受光素子を有し、前記受光素子がその読取可能な長さ１ライン分読み取った各アナログ信号を順次出力する読取部と、
前記読取部を前記副走査方向に移動させる駆動回路と、
前記原稿載置領域及び前記第２基準部材を、前記読取部が主走査方向に該１ライン読み取るように制御する制御部と、
所定の周波数領域を周波数が単調減少と単調増加とを繰り返し、一定の周期で周波数が変化するスペクトラム拡散クロックを生成するスペクトラム拡散クロック生成部と、
前記読取部に対して前記アナログ信号の出力の開始が指示されてから前記スペクトラム拡散クロックの所定数のクロック経過した時点で、前記アナログ信号を取り込んでデジタル信号の読取画像信号に変換する変換部と、
前記変換部によって変換された前記第２基準部材を読み取った画像に対応する読取画像信号の各値である基準読取データと、前記基準読取データの各値における前記スペクトラム拡散クロックの周波数レベルと、前記基準読取データの各値が所定の一定値となるように、前記周波数レベルに応じて定められた補正係数と、で構成された補正テーブルを記憶する記憶部と、
ＣＰＵと、
を備え、
前記第２基準部材を読み取った読取画像信号は、少なくとも前記スペクトラム拡散クロ
ックの半周期分の読取画像信号を含んでおり、
前記ＣＰＵは、
前記駆動回路を用いて、前記第１基準部材の位置から、前記原稿載置領域に対して前記副走査方向に平行に移動させ、かつ、前記読取部が前記原稿載置領域及び前記第２基準部材を主走査方向１ラインとして読み取るように前記制御部に指示する読取処理と、
前記第２基準部材を読み取った読取画像信号における最大値、又は、最小値である読取画像信号を出力した受光素子を特定し、その特定された受光素子を基準として前記第２基準部材及び前記原稿載置領域に対応する各受光素子の前記周波数レベルを特定する特定処理と、
前記原稿載置領域の読取画像信号の各値を、前記特定処理によって特定された周波数レベルに応じて、前記補正テーブルに対応する補正係数を用いて補正する補正処理と、
実行することを特徴とする画像読取装置。
【請求項２】
請求項１に記載の画像読取装置であって、
原稿台を有する装置本体と、
前記原稿台を開閉可能に覆う原稿カバーと、
を備え、
前記読取部は、前記装置本体に設けられており、前記原稿台に静止して配置された原稿
を原稿台に沿って移動しながら読み取ること、
を特徴とする画像読取装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像読取装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、ＥＭＩ（電磁波干渉）対策の一環として、所定の周波数領域を一定の周期で周波数が変化するスペクトラム拡散クロックを用いる画像読取装置がある（例えば、特許文献１）。
ＣＩＳ等の読取部は、読み取った画像に対応するアナログ信号の出力を開始すると、そのアナログ信号はある程度の遅延時間を持って変化した後、安定期間に入る。そして、アナログ信号の出力を開始してから所定のクロック数経過後に、アナログ信号の値を取り込んでＡ／Ｄ変換回路がデジタル信号の読取画像信号に変換していた。そのため、スペクトラム拡散クロックの周波数の変化によってアナログ信号をデジタル信号にＡ／Ｄ変換するタイミングがずれ、Ａ／Ｄ変換回路によって変換されたデジタル信号の読取画像信号の値が異なる、可能性があった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１０−８７８０５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
従来技術では、スペクトラム拡散クロック信号の周波数の周波数レベルを検出する検出回路を設け、検出回路が検出した周波数レベルに応じて読取部が読み取る読み取りタイミングを遅延補正することによって、スペクトラム拡散クロック信号の周波数の変化の影響を受けずに、Ａ／Ｄ変換回路がアナログ信号の値を取り込むタイミングを一定とする技術が開示されている。しかし、従来技術では、周波数が変動するクロック信号の周波数の周波数レベルを検出するための検出回路を別途、設ける必要があった。
【０００５】
本明細書では、スペクトラム拡散クロックの周波数変動の影響を受けずに読み取りを実行する技術を開示する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本明細書によって開示される画像読取装置は、所定の反射率を有し、原稿を載置する原稿載置領域に対して隣接して配置される基準部材と、前記原稿載置領域及び前記基準部材を主走査方向に読取可能な長さを有し、その読取可能な長さ１ライン分読み取った各アナログ信号を順次出力する読取部と、前記原稿載置領域及び前記基準部材を、前記読取部が主走査方向に該１ライン読み取るように制御する制御部と、所定の周波数領域を一定の周期で周波数が変化するスペクトラム拡散クロックを生成するスペクトラム拡散クロック生成部と、前記読取部に対して前記アナログ信号の出力の開始が指示されてから前記スペクトラム拡散クロックの所定数のクロック経過した時点で、前記アナログ信号を取り込んでデジタル信号の読取画像信号に変換する変換部と、前記変換部によって変換された前記所定の反射率を読み取った画像に対応する読取画像信号の各値である基準読取データと、前記基準読取データの各値における前記スペクトラム拡散クロックの周波数レベルと、前記基準読取データの各値が所定の一定値となるように、前記周波数レベルに応じて定められた補正係数と、で構成された補正テーブルを記憶する記憶部と、前記制御部の制御によって前記読取部が読み取った前記基準部材における読取画像信号の各値と、前記補正テーブルの前記基準読取データの各値と、を比較し、前記原稿載置領域における前記スペクトラ
ム拡散クロックの周波数レベルの分布を特定する特定部と、前記制御部の制御によって前記読取部が読み取り、前記変換部によって変換された前記原稿載置領域の読取画像信号の各値を、前記特定部が特定した前記周波数レベルの分布に応じて前記補正係数を用いて補正する補正部と、を備える。
【０００７】
また、上記の画像読取装置では、前記基準部材は、前記原稿載置領域に対して主走査方向に平行に隣接して配置される第１基準部材と、前記原稿載置領域に対して副走査方向に平行に隣接して配置される第２基準部材と、を有し、前記制御部は、前記第１基準部材を、前記読取部が読み取るように制御し、副走査方向に前記原稿に沿って移動した後に、前記読取部が前記原稿載置領域及び前記第２基準部材を主走査方向１ライン読み取るように制御し、前記補正テーブルは、前記制御部の制御によって前記読取部が前記第１基準部材を読み取った読取画像信号に基づいて作成される構成としても良い。
【０００８】
また、上記の画像読取装置では、前記第２基準部材を読み取った読取画像信号は、少なくとも前記スペクトラム拡散クロックの半周期分の読取画像信号を含んでおり、前記特定部は、前記制御部の制御によって前記第２基準部材を読み取った読取画像信号の各値における最大値と最小値の少なくとも一方を検出し、前記補正テーブルを用いて前記原稿載置領域における前記スペクトラム拡散クロックの周波数レベルの分布を特定する構成としても良い。
【０００９】
また、上記の画像読取装置では、前記特定部は、前記第２基準部材を読み取った読取画像信号のうち、第一の読取画像信号を選出し、前記読取画像信号のうち、前記第一の読取画像信号と異なる値の第二の読取画像信号を選出し、前記第一の読取画像信号の値と、前記第二の読取画像信号の値と、前記補正テーブルと、から、前記原稿載置領域における前記スペクトラム拡散クロックの周波数レベルの分布を特定する構成としても良い。
【００１０】
また、上記の画像読取装置では、原稿台を有する装置本体と、前記原稿台を開閉可能に覆う原稿カバーと、を備え、前記読取部は、前記装置本体に設けられており、前記原稿台に静止して配置された原稿を原稿台に沿って移動しながら読み取る構成としても良い。
【発明の効果】
【００１１】
本明細書によって開示される画像読取装置では、原稿配置領域に隣接して基準部材が配置されており、読取部はスペクトラム拡散クロックを用いて原稿配置領域及び基準部材を読み取る。この画像読取装置は補正テーブルを記憶しており、読取部が基準部材を読み取った場合の読取画像信号と補正テーブルに基づいて、当該読取画像信号と同時に読取部が原稿配置領域を読み取った読取画像信号を補正する。これにより、読取画像信号からスペクトラム拡散クロックの周波数変動の影響を除去することができ、スペクトラム拡散クロックの周波数変動の影響を受けずに読み取りを実行することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】複合機１の原稿カバー４８を上げた状態を示す図
【図２】複合機１の原稿カバー４８を下げた状態の断面図
【図３】複合機１の電気的構成を概略的に示す図
【図４】読取部３０の原稿データ取得領域Ｐと補正データ取得領域Ｑを概略的に示す図
【図５】アナログフロントエンド１３によるアナログ信号の電圧値ＶＡの取り込みを説明する図
【図６】スペクトラム拡散クロックの周波数領域Ｆと変調周期ＴＨを示す図
【図７】スペクトラム拡散クロックを用いてアナログ信号の電圧値ＶＡを取り込む場合の問題点を説明する図
【図８】実施形態１の補正テーブル生成処理を示すフローチャート
【図９】実施形態１の画像データ補正処理を示すフローチャート
【図１０】基準画像データＤを示す図
【図１１】補正テーブルＨを示す表
【図１２】実施形態１においてスペクトラム拡散クロックの変調度ＳＬの分布を特定する処理を説明する図
【図１３】実施形態２においてスペクトラム拡散クロックの変調度ＳＬの分布を特定する処理を説明する図
【図１４】実施形態２の画像データ補正処理を示すフローチャート
【図１５】読取部６０の原稿データ取得領域Ｐと補正データ取得領域Ｑを概略的に示す図
【発明を実施するための形態】
【００１３】
＜実施形態１＞
実施形態１を、図１ないし図１２を用いて説明する。
【００１４】
１．複合機の機械的構成
図１は、本発明の画像形成装置の一例である複合機１の外観を示す斜視図であり、原稿カバー４８を上げた開状態における複合機１の外観を示す。この複合機１は、プリンタ機能、スキャナ機能、コピー機能、ファクシミリ機能などを備えた多機能周辺装置である。図２は、原稿カバー４８を下げた閉姿勢における画像読取装置３の断面図である。
【００１５】
図１に示すように、複合機１は、装置本体２の上方に原稿を読み取るための画像読取装置３を備えている。画像読取装置３は、後述する読取部（読取部の一例）３０、原稿自動送り装置（ＡＤＦ）４０、及び原稿載置部５０等を含む。
【００１６】
原稿載置部５０は、台枠５１、透明なガラス板からなる第１プラテンガラス（原稿載置領域の一例）５２、第２プラテンガラス５３、及びこれらのガラス５２、５３の中間に配置された中間枠５４を含む。原稿載置部５０は、原稿カバー４８によって開閉可能に覆われている。
【００１７】
原稿カバー４８は、原稿載置部５０を覆う閉姿勢と原稿載置部５０を開放する開姿勢とに回動可能であり、操作部１１、表示部１２等が設けられる側を前側とする複合機１の装置本体２の後側に連結されている。原稿カバー４８には、ＡＤＦ４０が設けられている。
【００１８】
図２に示すように、ＡＤＦ４０は、ＡＤＦカバー４１、原稿トレイ４２、押圧部材４３、４４、各種ローラ４６、排紙トレイ４７、透明なガラス板からなる第３プラテンガラス５５、読取部６０等を含む。
【００１９】
ＡＤＦ４０には、ローラ４６等によって原稿が原稿トレイ４２から排紙トレイ４７へと搬送される経路である搬送路４５が設けられており、搬送路４５に隣接して読取部３０及び読取部６０が配置されている。
【００２０】
読取部３０は、装置本体２内に配置されており、図２の紙面垂直方向である主走査方向（図４の矢印８３参照）に広がって形成されているとともに、図２に矢印８４で示す副走査方向に移動可能に支持されている。読取部３０は、副走査方向に移動しながら第１プラテンガラス５２上に静止して載置された原稿を読み取る。また、図２に実線で示す第２プラテンガラス５３下の読取位置Ｌに移動し、搬送路４５を搬送される原稿を読み取る。この際、読取部３０は、搬送路４５を搬送される原稿が第２プラテンガラス５３上を通過する際に当該原稿を読み取る。押圧部材４４は、第２プラテンガラス５３を介して読取位置
Ｌに移動した状態の読取部３０と対向して配置され、第２プラテンガラス５３上を通過する原稿が第２プラテンガラス５３から浮かないように、原稿を第２プラテンガラス５３に押圧する。なお、以下の説明において、特に記載がない場合には、第１プラテンガラス５２に対向して配置された読取部３０の状態及び動作を説明しているものとする。
【００２１】
図４に、第１プラテンガラス５２、及び読取部３０を装置本体２内部から観察した図を示す。中間枠５４及び台枠５１の下部には、その表面がガラス５２、５３の下面と同一高さとなるように一定の反射率を有する基準白板（基準部材の一例）８１が配置されている。基準白板８１は、中間枠５４の下部に配置されており、第１プラテンガラス５２の主走査方向に平行に隣接して配置されている第１基準白板８１Ａと、台枠５１の下部に配置されており、第１プラテンガラス５２の副走査方向に平行に隣接して配置されている第２基準白板８１Ｂと、を含む。第２基準白板８１Ｂは、主走査方向において幅Ｗを有している。読取部３０は、副走査方向に移動することで第１基準白板８１Ａを読み取る。読取部３０は、主走査方向において、第１プラテンガラス５２に対応し、第１プラテンガラス５２上に載置された原稿を読み取る原稿データ取得領域（原稿配置領域の一例）Ｐだけでなく、第２基準白板８１Ｂに対応した補正データ取得領域Ｑに亘って形成されている。つまり、読取部３０は、主走査方向において、原稿データ取得領域Ｐと補正データ取得領域Ｑを読取可能な長さを有しており、補正データ取得領域Ｑに配置された部分３０Ａを用いて第２基準白板８１Ｂを読み取る。読取部３０は基準白板８１を読み取ることで、シェーディング補正や色調補正等の補正処理の他、後述するスペクトラム拡散クロック（以下、ＳＳＣ）の変調度に対する補正処理に必要な読取結果を検出する。
【００２２】
読取部６０は、原稿カバー４８内に配置され、ＡＤＦ４０に対して移動不能に支持されている。読取部６０は、搬送路４５を搬送される原稿が第３プラテンガラス５５上を通過する際に当該原稿を読み取る。押圧部材４３は、第３プラテンガラス５５を介して読取部６０と対向して配置され、第３プラテンガラス５５上を通過する原稿が第３プラテンガラス５５から浮かないように、原稿を第３プラテンガラス５５に押圧する。
【００２３】
押圧部材４３の読取部６０に対向する面には、一定の反射率を有する白色テープ８０が貼り付けられており、読取部６０はこの白色テープ８０を用いて各種補正処理に必要な読取結果を検出する。
【００２４】
ＡＤＦ４０では、原稿トレイ４２に原稿が載置されたことを検知すると、ローラ４６を駆動して原稿トレイ４２に載置されている原稿を一枚ずつ搬送路４５に搬送する。搬送路４５に搬送された原稿は、搬送路４５上に位置する第３プラテンガラス５５及び第２プラテンガラス５３上を通過し、排紙トレイ４７に排出される。
【００２５】
次に、読取部３０の構造について説明する。読取部３０は、ＣＩＳ（Ｃｏｎｔａｃｔ  Ｉｍａｇｅ  Ｓｅｎｓｏｒ）を用いた、いわゆるＣＩＳ方式で第１プラテンガラス５２上に載置された原稿を読み取る。読取部３０は、複数の受光素子が主走査方向に直線状に配列されているリニアイメージセンサ（不図示）、発光ダイオードなどで構成される光源（不図示）、光源から照射される光を第１プラテンガラス５２上に配置された原稿等へと導く導光体（不図示）、原稿等で反射された反射光をリニアイメージセンサ（不図示）の各受光素子に結像させるロッドレンズアレイ（不図示）、これらが搭載されるキャリッジ３４を含む。  
【００２６】
読取部６０の構成も読取部３０の構成と基本的に同じものである。しかし、読取部３０及び６０の構造は、必ずしも同一の構造である必要はなく、例えば、読取部３０又は読取部６０のいずれか一方がＣＩＳであって、他方がＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ  Ｃｏｕｐｌｅｄ
Ｄｅｖｉｃｅ）であってもよい。
【００２７】
さらに、複合機１の前側には、各種のボタンからなり、ユーザからの操作指令を受け付ける操作部１１、複合機１の状態を表示する液晶ディスプレイからなる表示部１２が設けられている。
【００２８】
２．複合機の電気的構成
図３は、複合機１の電気的構成を概略的に示す図である。図３に示すように、複合機１は、複合機１の各部を制御するＡＳＩＣ（特定用途向け集積回路）１０を含む。ＡＳＩＣ１０は、ＣＰＵ２０、ＲＡＭコントローラ２１、ＲＯＭコントローラ２３、制御部２５、画像処理部２６、スペクトラム拡散クロック生成部（以下、ＳＳＣＧ）２８、駆動回路制御部１１１、ＵＩ制御部１１０、を備え、これらが内部バス２７を介してお互いに接続されている。
【００２９】
ＳＳＣＧ２８は、発振器２９と接続されており、スペクトラム拡散をかけたクロック１１２をＡＳＩＣ１０内部に分配している。画像処理部２６は、Ａ／Ｄ変換器を有するアナログフロントエンド（変換部の一例、以下ＡＦＥ）１３に接続されている。ＲＡＭ２２は、ＲＡＭバス１０１を介してＲＡＭコントローラ２１と接続されている。ＲＯＭ２４は、ＲＯＭバス１０２を介してＲＯＭコントローラ２３と接続されている。駆動回路１６は、駆動回路制御部１１１と接続されており、読取部３０を移動させている。操作部１１及び表示部１２は、ＵＩ制御部１１０と接続されている。
【００３０】
ＲＯＭ２４には、複合機１の動作を制御するための各種のプログラムが記憶されており、ＣＰＵ２０は、ＲＯＭコントローラ２３を介してＲＯＭ２４から読み出したプログラムに従って、特定部２０Ａ、補正部２０Ｂとして機能し、各部の制御を行う。
【００３１】
ＳＳＣＧ２８は、発振器２９に接続されている。図６に示すように、ＳＳＣＧ２８は、発振器２９から発振される一定周波数のクロック信号（４８ＭＨｚ）を一定周波数Ｆ０（９６ＭＨｚ）となるように逓倍し、さらにこのクロック信号をもとに、一定の周波数領域Ｆを一定の変調周期ＴＨで周波数が変化するＳＳＣを生成する。複合機１では、ＳＳＣＧ２８が生成したＳＳＣを読取部３０、６０の読取タイミングやＡＦＥ１４の変換タイミング等を決定するクロック信号として用いる。そのため、一定周波数Ｆ０のクロック信号を用いる場合に比べて、ＥＭＩによるノイズのピーク値を減少させることができる。本実施形態では、ＳＳＣＧ２８は、一定の変調周期ＴＨで一定周波数の±１．５％の範囲で周波数が変化するＳＳＣを生成している。
【００３２】
制御部２５は、読取部３０、６０に接続されており、ＣＰＵ２０からの命令に基づいて、読取部３０、６０にライン周期信号（以下、ＴＲＩＧ）及び、画素周期信号（以下、ＤＥＶＣＬＫ）を送信する。ＤＥＶＣＬＫは１画素周期でＨ／Ｌが切り替わる信号である。読取部３０、６０は、これらの信号に従って、ガラス５２、５５上に配置された原稿、基準白板８１及び白色テープ８０を読み取る。具体的には、読取部３０、６０のリニアイメージセンサ３３，６３は、ＴＲＩＧに従って、原稿等からの反射光を受光素子毎に検出して蓄積し、各受光素子が蓄積した光量に基づくアナログ信号をＤＥＶＣＬＫに同期して順次ＡＦＥ１３へ出力する。
【００３３】
画像処理部２６は、ＡＦＥ１３に接続されており、ＣＰＵ２０からの命令に基づいて、ＡＦＥ１３にＡＤＣＬＫを送信する。詳細には、後述して説明するように、ＡＦＥ１３は、この信号に従って、読取部３０、６０から受信したアナログ信号の電圧値を読み取ってデジタル信号の画像データ（読取画像信号の一例）Ｄに変換し、画像処理部２６に送信する。
【００３４】
また、画像処理部２６は、ＡＦＥ１３から画像データＤを受信すると、ＣＰＵ２０からの命令に基づいてＲＡＭコントローラ２１を介してＲＡＭ２２から補正テーブルＨを読み出し、この補正テーブルＨに基づいて画像データＤを補正する。画像処理部２６は、補正後の画像データＤを、ＲＡＭコントローラ２１を介してＲＡＭ２２に記憶する。
【００３５】
３．生成処理
次に、図５を参照して、ＡＦＥ１３における画像データＤの生成する処理について説明する。
【００３６】
図５は、ＡＦＥ１３においてアナログ信号を取り込むタイミングを説明する図面である。図５において、ＤＥＶＣＬＫは前述のリニアイメージセンサ３３の画素周期信号である。ＡＤＣＬＫは、リニアイメージセンサ３３からのアナログ信号をＡＤ変換するタイミング信号である。ＤＥＶＣＬＫとＡＤＣＬＫはともにＳＳＣに同期した信号である。ｔ０は、ＤＥＶＣＬＫがＨになるタイミングであり、リニアイメージセンサ３３の受光素子からアナログ信号の出力が開始される時間を示している。ＴＡは、ＤＥＶＣＬＫの１周期（本実施形態ではＳＳＣの４クロック分）であり、リニアイメージセンサ３３の各受光素子に応じたアナログ信号が出力される出力期間である。ｔ１は、ＡＤＣＬＫがＨになるタイミングであり、リニアイメージセンサ３３の受光素子からアナログ信号の出力をＡＤ変換する時間を示している。本実施形態では、ＤＥＶＣＬＫがＨになってから３クロック経過後にＨになるように制御している。従って、ＡＦＥ１３は、出力期間ＴＡ内において、ｔ０からＳＳＣの３クロック分経過した時点ｔ１のアナログ信号の電圧値ＶＡ、つまりｔ０から取込期間ＴＢ経過した時点でのアナログ信号の電圧値ＶＡを取り込み、デジタル信号の画像データＤに変換し、画像処理部２６に送信する。
【００３７】
４．補正処理
上述したように、ＳＳＣでは一定の変調周期ＴＨで周波数が変化しており、それに伴って取込期間ＴＢが変化する。そのため、図５に示すように、ｔ０から徐々に電圧値ＶＡが変化するアナログ信号を読み取る場合、読取部３０から同じアナログ信号が出力されているにも関わらず、取込期間ＴＢの変化に伴って取り込む電圧値ＶＡが変化する。
【００３８】
図７を用いて、取り込む電圧値ＶＡの変化について説明する。図７では、説明のため、ＳＳＣの周波数領域Ｆで、最も低い周波数で出力したクロック信号ＳＳＣ１（−１．５％）を用いてアナログ信号の電圧値ＶＡを取り込む場合と、最も高い周波数で出力したクロック信号ＳＳＣ２（＋１．５％）を用いてアナログ信号の電圧値ＶＡを取り込む場合と、を用いて説明を行う。
【００３９】
図７に示すように、クロック信号ＳＳＣ１を用いた場合の取込期間ＴＢ１は、クロック信号ＳＳＣ２を用いた場合の取込期間ＴＢ２に比べて長い。そのため、読取部３０から徐々に電圧値ＶＡが変化するアナログ信号が出力されていると、クロック信号ＳＳＣ１を用いた場合にＡＦＥ１３が取り込む電圧値ＶＡ１は、クロック信号ＳＳＣ２を用いた場合にＡＦＥ１３が取り込む電圧値ＶＡ２に比べてΔＶＡだけ大きくなる。この結果、読取部３０から同じアナログ信号が出力されているにも関わらず、ＡＦＥ１３から出力される画像データＤが変化してしまう。本実施形態では、ＳＳＣの周波数の変化に基づいて画像データＤを補正することで、読取部３０から同じアナログ信号が出力されている場合、同じ画像データＤが得られるようにする。
【００４０】
図８ないし図１２を参照して、複合機１を用いて第１プラテンガラス５２に載置された原稿を読み取る場合の、ＣＰＵ２０における処理について説明する。
（補正テーブル生成処理）
ＣＰＵ２０は、画像データＤを補正するに先だって、画像データＤの補正に用いられる
補正テーブルＨを生成する処理を実行する。図８に、ＣＰＵ２０が所定のプログラムに従って実行する読取部３０の補正テーブル生成処理のフローチャートを示す。なお、読取部６０の補正テーブルＨを生成する処理も読取部３０における処理と基本的に同じものである。ＣＰＵ２０は、ユーザによって電源がオンされると、処理を開始する。ＣＰＵ２０は、処理を開始すると、駆動制御部１１１、駆動回路１６を介して読取部３０を図４に示す第１基準白板８１Ａに対応する位置に移動させる（Ｓ２）。ＣＰＵ２０は、読取部３０を用いて第１基準白板８１Ａを読み取り（Ｓ４）、この際にＡＦＥ１３から送信される基準画像データＤをＲＡＭ２２に記憶する（Ｓ６）。
【００４１】
図１０に、Ｓ４で取得された基準画像データＤ（基準読取データの一例）の一部を示す。図１０において、縦軸は各基準画像データＤの値を示し、横軸は各基準画像データＤが取得された時間を示す。
第１基準白板８１Ａは、一定の反射率を有しており、読取部３０のリニアイメージセンサに含まれる各受光素子には、同一量の反射光が蓄積され、ＡＦＥ１３には各受光素子に応じた同一のアナログ信号が順次出力される。しかし、上述したように、ＳＳＣの周波数の変化に基づいて、ＡＦＥ１３で取得される電圧値ＶＡが変化することで、変換されて出力される画像データＤが変化する。本実施形態では、ＳＳＣの周波数の変化に基づいて、ＡＦＥ１３から出力される画像データＤの１０進数における値が８０１から８４０まで変化している。予め、この所定の反射率を有する第１基準白板８１Ａを、読取部３０が読み取った基準画像データＤがＲＡＭ２２に記憶されている。
【００４２】
ＣＰＵ２０は、ＲＡＭ２２に記憶された基準画像データＤから最小値Ｄｍｉｎ及び最大値Ｄｍａｘを検出する（Ｓ８、Ｓ１０）。具体的には、基準画像データＤの値が８０１及び８４０となる画像データＤを検出する。図７を用いて説明したように、基準画像データＤが最小値Ｄｍｉｎとなるのは、ＳＳＣの周波数が最も高い（＋１．５％）場合である。また、基準画像データＤが最大値Ｄｍａｘとなるのは、ＳＳＣの周波数が最も低い（−１．５％）場合である。そのため、Ｓ４において、最小値Ｄｍｉｎが取得されてから最大値Ｄｍａｘが取得されるまでの期間ＴＣ１と、最大値Ｄｍａｘが取得されてから最小値Ｄｍｉｎが取得されるまでの期間ＴＣ２の和は、ＳＳＣの周波数が最も高くなってから再びＳＳＣの周波数が最も高くなるまでの期間、つまり変調周期ＴＨに相当する。
【００４３】
図１１に示すように、ＣＰＵ２０は、期間ＴＣ１に亘る基準画像データＤを選出する（Ｓ１２）。図１０、１１に示すように、ＣＰＵ２０は、基準画像データＤの最小値Ｄｍｉｎから最大値Ｄｍａｘまでの範囲を、データレベル（周波数レベルの一例）ＤＬ０〜ＤＬ７に８等分し（Ｓ１４）、各データレベルＤＬ０〜ＤＬ７における基準画像データＤの中間値ＤＭ０〜ＤＭ７を選出する（Ｓ１６）。ＣＰＵ２０は、各中間値ＤＭ０〜ＤＭ７を中間値ＤＭ０（一定値の一例）へと補正する補正係数ＨＶ０〜ＨＶ７を算出する（Ｓ１８）。例えば、データレベルＤＬ７の中間値ＤＭ７は８０３であり、中間値ＤＭ７に乗じて中間値ＤＭ０である８３８とする場合における補正係数ＨＶ７は、１．０４３となる。
【００４４】
次に、ＣＰＵ２０は、Ｓ１２で選出された各基準画像データＤの変調度ＳＬを推定し（Ｓ２０）、補正テーブルＨを生成する。ＣＰＵ２０は、基準画像データＤが最小値Ｄｍｉｎである場合の変調度ＳＬを「＋１．５％」と推定し、基準画像データＤが最大値Ｄｍａｘである場合の変調度ＳＬを「−１．５％」と推定する。ＣＰＵ２０は、この他の基準画像データＤについて、その基準画像データＤと最大値Ｄｍａｘ及び最小値Ｄｍｉｎの差分値に基づいて変調度ＳＬを推定する。ＣＰＵ２０は、図１１に示す補正テーブルＨを生成後、その補正テーブルＨをＲＡＭ２２に記憶し（Ｓ２２）、処理を終了する。
【００４５】
（画像データ補正処理）
次に、画像データＤの補正処理について説明する。図９に、ＣＰＵ２０が所定のプログ
ラムに従って実行する読取部３０の画像データ補正処理のフローチャートを示す。なお、読取部６０の画像データＤを補正する処理も読取部３０における処理と基本的に同じものである。ＣＰＵ２０は、ユーザによって第１プラテンガラス５２に原稿が載置され、操作部１１または入力可能な表示部１２を介して原稿の読取指示が入力されると、処理を開始する。
【００４６】
ＣＰＵ２０は、処理を開始すると、図１２に示すように、読取部３０を用いて、第１プラテンガラス５２に対応した原稿データ取得領域Ｐを読み取るとともに、第２基準白板８１Ｂに対応した補正データ取得領域Ｑを読み取る（Ｓ３２）。ＣＰＵ２０は、原稿データ取得領域Ｐと補正データ取得領域Ｑを連続して読み取る。すなわち、ＣＰＵ２０は、原稿データ取得領域Ｐと補正データ取得領域Ｑを、連続するＳＳＣを用いて読み取り、この際にＡＦＥ１３から送信される画像データＤをＲＡＭ２２に記憶する（Ｓ３４）。以下、読取部３０を用いて原稿データ取得領域Ｐを読み取った際の画像データＤを原稿データＤＧと呼び、読取部３０を用いて補正データ取得領域Ｑを読み取った際の画像データＤを補正データＤＨと呼ぶ。
【００４７】
図１２に示すように、本実施形態の複合機１では、第２基準白板８１Ｂの主走査方向における幅Ｗが、ＳＳＣの変調周期ＴＨの半周期以上に亘って変化する程度に広がっている。つまり、補正データＤＨには、少なくともＳＳＣの半周期分のデータを含んでいる。そのため、ＲＡＭ２２に記憶された補正データＤＨには、第１基準白板８１Ａを読み取った場合の基準画像データＤにおける最大値Ｄｍａｘ又は最小値Ｄｍｉｎの少なくとも一方が含まれる。本実施形態では最小値Ｄｍｉｎが含まれていることとする。ＣＰＵ２０は、補正データＤＨから最小値を検出し、当該データを最小値Ｄｍｉｎと特定し（Ｓ３６）、当該最小値Ｄｍｉｎを読み取った受光素子ＰＡが、受光素子の中でどの位置にあたるかを特定する（Ｓ３８）。
【００４８】
次に、ＣＰＵ２０は、特定した受光素子ＰＡ及び補正テーブルＨを用いて、補正データＤＨの変調度ＳＬを特定する（Ｓ４０）。
【００４９】
次に、ＣＰＵ２０は、特定した補正データＤＨの変調度ＳＬ、及び補正テーブルＨを用いて、各原稿データＤＧの変調度ＳＬを特定する（Ｓ４２）。この際、ＣＰＵ２０は、特定部２０Ａとして機能する。上述したように、ＣＰＵ２０は、原稿データ取得領域Ｐと補正データ取得領域Ｑを、連続するＳＳＣを用いて読み取っており、特定した補正データＤＨの変調度ＳＬと連続するように、原稿データＤＧの変調度ＳＬを特定する。
【００５０】
ＣＰＵ２０は、特定した変調度ＳＬに基づいて、原稿データＤＧの補正係数ＨＶを決定する（Ｓ４４）。ＣＰＵ２０は、補正テーブルＨにおいて、Ｓ４２で特定した変調度ＳＬに対応して記憶されている補正係数ＨＶを、原稿データＤＧの補正係数ＨＶとして決定する。ＣＰＵ２０は、補正部２０Ｂとして機能し、ＲＡＭ２２に記憶された画像データＤに決定された補正係数ＨＶを乗じて画像データＤを補正（Ｓ４６）し、補正後の画像データＤをＲＡＭ２２に記憶する（Ｓ４８）。
【００５１】
５．本実施形態の効果
（１）本実施形態の複合機１では、第１プラテンガラス５２に隣接して第１基準白板８１Ａが配置されており、読取部３０はＳＳＣを用いて第１プラテンガラス５２に相当する原稿データ取得領域Ｐ及び基準白板８１に相当する補正データ取得領域Ｑを読み取る。複合機１は、補正テーブルＨを記憶しており、読取部３０が補正データ取得領域Ｑを読み取った画像データＤと補正テーブルＨに基づいて、当該補正データ取得領域Ｑと同時に読取部３０が原稿データ取得領域Ｐを読み取った画像データＤを補正する。これにより、画像データＤからＳＳＣの周波数変動の影響を除去することができ、ＳＳＣの周波数変動の影響
を受けずに読み取りを実行することができる。
【００５２】
（２）本実施形態の複合機１では、基準画像データＤを読み取るための第２基準白板８１Ｂを内在している。そのため、読取部３０は、原稿データ取得領域Ｐと同時に第２基準白板８１Ｂを読み取ることで、画像データＤからＳＳＣの周波数変動の影響を除去することができ、ＳＳＣの周波数変動の影響を受けずに読み取りを実行することができる。
【００５３】
（３）本実施形態の複合機１では、補正データＤＨが最小値Ｄｍｉｎである受光素子ＰＡを特定することで、補正データＤＨの変調度ＳＬを特定することができ、原稿データＤＧの変調度ＳＬを特定することができる。
【００５４】
（４）本実施形態の複合機１では、装置本体２に設けられ、第１プラテンガラス５２に静止された配置された原稿を読み取る読取部３０において、ＳＳＣの周波数変動の影響を除去することができ、ＳＳＣの周波数変動の影響を受けずに読み取りを実行することができる。
【００５５】
＜実施形態２＞
実施形態２を、図１３ないし図１４を用いて説明する。本実施形態では、補正データＤＨから受光素子ＰＢ、ＰＣを選出する。そして、選出した受光素子ＰＢ、ＰＣ及び補正テーブルＨを用いて、画像データ補正処理において各補正データＤＨの変調度ＳＬを特定する点で、実施形態１と異なる。以下の説明では、実施形態１と同一の内容については重複した記載を省略する。
【００５６】
１．補正処理
（画像データ補正処理）
図１３に示すように、ＣＰＵ２０は、原稿データＤＧと補正データＤＨをＲＡＭ２２に記憶する（Ｓ３４）と、ＲＡＭ２２に記憶した補正データＤＨから、任意の２つの補正データＤＨを選出する（Ｓ５２）。このとき、任意の２つの補正データＤＨの値が、同一の場合は、片方を再度選出し直す。続いて、当該２つの補正データＤＨを読み取った受光素子ＰＢ、ＰＣが、受光素子の中でどの位置にあたるかを特定する（Ｓ５４）。本実施形態の複合機１では、第２基準白板８１Ｂの主走査方向における幅Ｗが、必ずしもＳＳＣの変調周期ＴＨが半周期以上に亘って変化する程度に広がっている必要はない。つまり、補正データＤＨには、少なくともＳＳＣの半周期分のデータを含んでいる必要もない。そのため、上記選出した受光素子ＰＢ、ＰＣの補正データＤＨの値は、第１基準白板８１Ａを読み取った場合の基準画像データＤにおける最大値Ｄｍａｘ又は最小値Ｄｍｉｎを必ずしも含んでいない。
【００５７】
次に、ＣＰＵ２０は、特定した受光素子ＰＢ、ＰＣにおける変調度ＳＬを特定する（Ｓ５６）。ＣＰＵ２０は、受光素子ＰＢ、ＰＣの補正データＤＨの値を補正テーブルＨに含まれる基準画像データＤの値と比較し、最も近い基準画像データＤに対応付けられた変調度ＳＬを受光素子ＰＢ、ＰＣの変調度ＳＬとして特定する。
【００５８】
次に、ＣＰＵ２０は、特定した受光素子ＰＢ、ＰＣにおける変調度ＳＬ及び補正テーブルＨを用いて、データＤＨの変調度ＳＬを特定する（Ｓ５８）。
【００５９】
２．本実施形態の効果
本実施形態の複合機１では、読取部３０の異なる２つの受光素子ＰＢ、ＰＣで読み取られた補正データＤＨの変調度ＳＬを特定しておくことで、受光素子ＰＢ、ＰＣを基準として用いて、補正データＤＨの変調度ＳＬを特定することができ、原稿データＤＧの変調度ＳＬを特定することができる。
【００６０】
＜他の実施形態＞
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような種々の態様も本発明の技術的範囲に含まれる。
（１）上記実施形態では、複合機１を用いて説明を行ったが、本発明はこれに限られない。例えば、プリンタ機能、スキャナ機能、コピー機能、ファクシミリ機能の少なくとも１つの機能を備えた装置であっても良い。
【００６１】
（２）上記実施形態では、複合機１が１つのＡＳＩＣ１０を有し、特定部２０Ａ、補正部２０Ｂ等の機能をＡＳＩＣ１０が有する１つのＣＰＵ２０によって実行する例を用いて示したが、本発明はこれに限られない。例えば、お互いに異なるＣＰＵ、ＡＳＩＣなどによって各部が構成されても良い。
【００６２】
（３）上記実施形態では、読取部３０を用いて画像データＤの生成処理及び補正処理の説明を行ったが、読取部６０を用いた処理も読取部３０における処理と基本的に同じものである。図１５に、第３プラテンガラス５５、押圧部材４３、及び読取部６０を装置本体２側から観察した図を示す。押圧部材４３の読取部６０に対向する面に、白色テープ８０が貼り付けられている。読取部６０は、原稿が通過する原稿データ取得領域Ｐだけでなく、原稿が通過することがない補正データ取得領域Ｑに亘って形成されており、白色テープ８０は、原稿データ取得領域Ｐ及び補正データ取得領域Ｑに亘って押圧部材４３に貼り付けられている。読取部６０は、補正データ取得領域Ｑに配置された部分６０Ａを用いて白色テープ８０を読み取ることで、ＳＳＣの変調度に対する補正処理に必要な読取結果を検出する。
【符号の説明】
【００６３】
１：複合機、２：装置本体、３：画像読取装置、１３：ＡＦＥ、１６：駆動回路、２０：ＣＰＵ、２０Ａ：特定部、２０Ｂ：補正部、２２：ＲＡＭ、２４：ＲＯＭ、２５：制御部、２６：画像処理部、２８：ＳＳＣＧ、３０、６０：読取部、８０：白色テープ、８１：基準白板、Ｄ：画像データ、ＤＧ：原稿データ、ＤＨ：補正データ、ＤＬ：データレベル、Ｈ：補正テーブル、ＨＶ：補正係数、Ｐ：原稿データ取得領域、Ｑ：補正データ取得領域、ＳＬ：変調度、１１１：駆動回路制御部、１１０：ＵＩ制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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