(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光軸と略直交する方向に移動可能な補正レンズ群と、
前記補正レンズ群の位置を検出するレンズ位置検出装置と、
前記レンズ位置検出装置が前記補正レンズ群の位置を検出するための磁界を発生させる永久磁石と、
角度振れを検出する角度振れ検出装置と、
前記永久磁石の磁力を用いて前記補正レンズ群を移動するレンズ駆動装置と、
前記角度振れ検出装置により検出された振れの信号から算出された前記補正レンズ群の目標位置と、前記レンズ位置検出装置により検出された前記補正レンズ群の現在位置から、前記補正レンズ群の目標位置までの差分を算出し、ＰＩＤ制御により前記レンズ駆動装置を制御する像振れ補正制御装置と
磁気回路を構成する前記永久磁石と接した第１のヨークと、前記永久磁石に対してギャップを設けて対向する第２のヨークと、
を備え、
前記第２のヨークは、レンズ位置検出装置の位置検出範囲の１倍から１．８倍の長さを一辺とする略正方形の穴を有し、
前記穴の中心は、前記補正レンズ群が、前記レンズ駆動装置によって移動させられていない定常時の位置にある状態において、前記レンズ位置検出装置の中心と対向する位置である
ことを特徴とする
光学式像振れ補正機構。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一眼レフカメラ等に搭載される像振れ補正機構に関し、特にレンズ等をシフトさせて、光学的に像振れの補正を行う光学式像振れ補正機構に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年の撮像装置、とりわけ一眼レフカメラ、コンパクトカメラ、ビデオカメラにおいては、撮影における像振れを補正する機構が搭載されているものがある。
【０００３】
撮影における像振れは、例えば撮影者の手振れ等に起因するカメラの振動によって結像面の像が動いてしまうことにより発生する。
【０００４】
上記のような像振れを補正する補正機構には、光学装置側でレンズ光学系の一部のレンズ群を駆動して像振れ補正を行う光学式像振れ補正機構がある。
【０００５】
光学式像振れ補正機構は、一般に、像振れを補正するために光軸と直交する方向に移動することで結像位置をシフト可能なレンズ群（以下、補正レンズ群）と、カメラの振れを角速度として検出する角速度センサと、補正レンズ群の現在位置を検出するホール素子を有している。
【０００６】
つまり、光学式の像振れ補正機構においては、ホール素子の出力から補正レンズ群の現在位置を検出し、また、角速度センサの出力から像振れ量を算出する。そして、レンズの制御を行うＣＰＵが、ホール素子が検出した補正レンズ群の現在位置と角速度センサの出力から算出された像振れ量に基づいて、その像振れを打ち消す方向に補正レンズ群を駆動制御することで結像位置を調整する。
【０００７】
上記の通り、光学式の像振れ補正機構においては補正レンズ群の現在位置検出にホール素子を用いている。
【０００８】
ホール素子は、磁束密度を検出し、その大きさに比例したアナログ信号を出力する。そのため、ホール素子位置に対し、測定物の位置に比例した磁束密度がかかるように配置設計することで、ホール素子は移動量に比例したアナログ信号を出力し、補正レンズ群の制御装置は、かかるホール出力の変化から、測定物の位置を検出することができる。
【０００９】
上記のようなホール素子は、例えば測定物の移動範囲が１ｍｍであった場合、測定物の移動距離を数μｍ単位で検出することが可能である。
【００１０】
ただし、ホール素子による精度の高い位置検出が可能な範囲は通常１ｍｍ（±０．５ｍｍ）程度であり、範囲が狭い。
【００１１】
そのため、マクロレンズ等、補正レンズ群の移動量が大きなレンズにおいては、ホール素子による位置検出では十分なリニアリティが確保できないという問題があった。
【００１２】
従来、上記のような問題に対応するため、高いリニアリティを確保する技術として、例えば以下の特許文献に記載されているものがある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１３】
【特許文献１】特開２００５−２７５３７９号公報
【００１４】
引用文献１には、補正レンズ群の水平方向位置検出のため、ホール素子が検出する磁界を発生させる、２つで１組の磁石を有しており、かかる２つの磁石が、お互い離れて配置され、また同様に、補正レンズ群の鉛直方向位置検出のため、ホール素子が検出する磁界を発生させる、２つで１組の磁石を有しており、かかる２つの磁石が、お互い離れて配置されることで精度の高い位置検出可能範囲を確保する技術が記載されている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
しかしながら、引用文献１に記載された発明においては、リニアリティ向上のために検討されているのが、お互い離れて配置される２つで１組である磁石のお互いの距離についてのみであり、他の構成要素の位置関係、構成、距離、位置検出精度については未検討であった。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
第１の発明は、光軸と略直交する方向に移動可能な補正レンズ群と、前記補正レンズ群の位置を検出するレンズ位置検出装置と、前記レンズ位置検出装置が前記補正レンズ群の位置を検出するための磁界を発生させる永久磁石と、角度振れを検出する角度振れ検出装置と、前記永久磁石の磁力を用いて前記補正レンズ群を移動するレンズ駆動装置と、前記角度振れ検出装置により検出された振れの信号から算出された前記補正レンズ群の目標位置と、前記レンズ位置検出装置により検出された前記補正レンズ群の現在位置から、前記補正レンズ群の目標位置までの差分を算出し、ＰＩＤ制御により前記レンズ駆動装置を制御する像振れ補正制御装置と磁気回路を構成する前記永久磁石と接した第１のヨークと、前記永久磁石に対してギャップを設けて対向する第２のヨークと、を備え、前記第２のヨークは、レンズ位置検出装置の位置検出範囲の１倍から１．８倍の長さを一辺とする略正方形の穴を有し、前記穴の中心は、前記補正レンズ群が、前記レンズ駆動装置によって移動させられていない定常時の位置にある状態において、前記レンズ位置検出装置の中心と対向する位置であることを特徴とする光学式手振れ補正機構とした。
【発明の効果】
【００１７】
高いリニアリティを確保でき、また、位置検出誤差が少ない、精度の高い像振れ補正制御が可能な光学式像振れ補正機構を提供する。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明に係る実施例におけるカメラシステムを示すブロック図。
【図２】本発明に係る実施例の像振れ補正機構の分解斜視図。
【図３】像振れ補正時に働く推力と、２つの永久磁石の間隔の関係を示す模式図
【図４】本発明に係る実施例の像振れ補正機構の第２のヨーク部材５の斜視図。
【図５】本発明に係る実施例の像振れ補正機構を像面側から見た斜視図。
【図６】第２のヨーク部材５に穴を設けた場合の例と穴を設けなかった場合の例の磁束密度の変化を比較する模式図。
【図７】第２のヨーク部材５に穴を設けた場合の例と穴を設けなかった場合の例の位置検出誤差を比較する模式図。
【図８】第２のヨーク部材５に設けた穴が、１辺が６．５ｍｍの略正方形の場合の例と、１辺が４．５ｍｍの略正方形の場合の例と、１辺が３ｍｍの略正方形の場合の例の磁束密度の変化を比較する模式図。
【図９】第２のヨーク部材５に設けた穴が、１辺が６．５ｍｍの略正方形の場合の例と、１辺が４．５ｍｍの略正方形の場合の例と、１辺が３ｍｍの略正方形の場合の例の位置検出誤差の大きさを比較する模式図。
【図１０】第２のヨーク部材５に１辺が４．５ｍｍの略正方形の穴を設けた場合の例と、１辺が４．５ｍｍの略正方形の凹みを設けた場合の例の磁束密度の変化を比較する模式図。
【図１１】第２のヨーク部材５に１辺が４．５ｍｍの略正方形の穴を設けた場合の例と、１辺が４．５ｍｍの略正方形の凹みを設けた場合の例の位置検出誤差の大きさを比較する模式図。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
まず、像振れ補正機構が搭載された光学装置と撮像装置の構成について説明する。図１は、像振れ補正機構を搭載したカメラシステム（撮像装置と光学装置）の構成を示すブロック図である。
【００２０】
図１において、２００は撮像装置、１００は光学装置である。
【００２１】
まず、光学装置１００の構成要素について説明する。
【００２２】
１０１は光学系、１０３は絞りユニット、１０５は絞りユニットを駆動する絞り駆動回路、１１７はフォーカスレンズ群、１１９はフォーカスレンズ群１１７を駆動するフォーカスレンズ駆動装置である。
【００２３】
更に、１２１は補正レンズ群、１２３は角度振れ検出装置、１２５はレンズ位置検出装置、１２７はレンズ駆動装置、１２９は像振れ補正ＣＰＵである。
【００２４】
角度振れ検出装置１２３は、光学装置１００内に２つ備えられており、光学装置１００のピッチ方向とヨー方向の回転を検知する。前述の通り、これらの角度振れ検出装置１２３から検出された情報は、像振れ補正ＣＰＵ１２９に入力される。角度振れ検出装置１２３としては例えばジャイロセンサなどが用いられる。
【００２５】
また、レンズ駆動装置１２７は補正レンズ群１２１を移動させるためのアクチュエータである。かかるレンズ駆動装置１２７として、本実施例ではボイスコイルモータ（ＶＣＭ）が用いられる。かかるＶＣＭは一対のコイルと永久磁石から成る。本実施例におけるコイルと永久磁石について詳しくは後述する。
【００２６】
また、レンズ位置検出装置１２５は、レンズ駆動装置１２７を構成する永久磁石の磁束密度から補正レンズ群１２１の現在位置を検出する。前述の通り、レンズ位置検出装置１２５から出力された情報は、像振れ補正ＣＰＵ１２９に入力される。本実施例においてはレンズ位置検出装置１２５として、後述するホール素子１０が３つ用いられる。すなわち、本実施例におけるレンズ位置検出装置１２５は３つのホール素子から成る。
【００２７】
また、像振れ補正ＣＰＵ１２９は、角度振れ検出装置１２３の情報を取得し、かかる情報を用いて補正レンズ群１２１を移動させる方向と距離の情報である目標位置を算出し、レンズ位置検出装置１２５から補正レンズ群１２１の位置情報を取得し、かかる情報を用いてＰＩＤ制御を行う。
【００２８】
更に、１３１はロック機構、１３３はロック駆動回路、１３５はロック検出装置、１３７は像振れ補正スイッチである。
【００２９】
ロック機構１３１は補正レンズ群１２１を機械的に捕捉し、ロック駆動回路１３３はロック機構１３１を駆動する。ロック検出装置１３５はロック機構が正常に補正レンズ群１２１を捕捉しているか否か検出する。像振れ補正スイッチ１３７は外部より操作可能な像振れ補正スイッチであり、像振れ補正を行うか否か、また複数の像振れ補正の制御方法のうちいずれの制御を用いるかを撮影者の操作によって切り替えることができる。
【００３０】
本発明の像振れ補正機構は、補正レンズ群１２１、角度振れ検出装置１２３、レンズ位置検出装置１２５、レンズ駆動装置１２７、像振れ補正ＣＰＵ１２９、ロック機構１３１、ロック駆動回路１３３、ロック検出装置１３５、像振れ補正スイッチ１３７を有している。本発明の像振れ補正機構の詳しい構成については後述する。
【００３１】
更に、１３９はレンズＣＰＵ、１４１はレンズ接点、１４３はレンズマウントである。
【００３２】
レンズＣＰＵ１３９は光学装置１００内の種々の回路の動作を制御すると共に、撮像装置２００の装着時にはレンズ接点１４１と後述するカメラ接点２４５が接続されて、後述するカメラＣＰＵ２０１との通信を行うものである。１４３はレンズマウントであり、後述するカメラマウント２４３と結合して撮像装置２００と光学装置１００とを機械的に連結する。
【００３３】
次に、撮像装置２００の構成要素について説明する。
【００３４】
２０１はカメラＣＰＵである。カメラＣＰＵ２０１は、撮像装置２００内の種々の回路の動作を制御すると共に、光学装置１００の装着時にはレンズ接点１４１とカメラ接点２４５が接続されて、レンズＣＰＵ１３９との通信を行う。２０３は外部より操作可能な電源スイッチであり、カメラＣＰＵ２０１を立ち上げてシステム内の各アクチュエータやセンサ等への電源供給及びシステムの動作を可能な状態とするためのスイッチである。
【００３５】
２０５は外部より操作可能な２段ストローク式のレリーズスイッチ、２０７はカメラ本体の各種設定を切り替えるモードダイヤル、２０９はカメラシステム全体の動作に供する電源、２１１はカメラ本体の各種設定や撮影した画像を表示するためのＬＣＤ等を有する表示装置である。
【００３６】
２２１はオートフォーカスセンサ２１９から出力された信号から焦点を検出する焦点検出回路、２２５は光学装置１００から入射される光線をファインダ光学系２３７に導くためのミラーユニット、２２７はミラーユニットを駆動するためのミラー駆動装置、２２９はミラー駆動装置を制御するミラー駆動回路である。２３１はシャッタユニット２３３を駆動するシャッタ駆動回路である。２３５はミラーユニット２２５によって導かれた光線をファインダ光学系２３７に導くペンタダハプリズムである。２３９は測光センサである。測光センサ２３９は測光を行うために複数の測光領域を有しており、各分割測光領域に導かれる被写体光の照度に応じた測光データを出力する。測光演算回路２４１は測光センサ２３９から出力される測光データを処理する測光演算回路である。２４３はカメラマウントである。カメラマウント２４３は、レンズマウント１４３と結合して撮像装置２００と光学装置１００とを機械的に連結する。２４７はフィルムカメラにおけるフィルムあるいはデジタルカメラにおける固体撮像素子が位置する撮像面である。
【００３７】
次に、本実施例の光学装置１００中の像振れ補正機構について、詳しく説明する。
【００３８】
図２は本発明に係る実施例の像振れ補正機構の分解斜視図である。
【００３９】
まず、図２を用いて、像振れ補正機構の各部材について説明する。１はベース部材、２は補正レンズ群１２１を保持するレンズ保持部材、３は後述する支持部材６が移動できる範囲を制限するための凹部を有し、後述する第１のフレキシブルプリント基板４の取り付けのための座面を有したガイド部材である。
【００４０】
４は後述するコイル９及びホール素子１０が取り付けられる第１のフレキシブルプリント基板、５は透磁率の高い鋼板で形成された第２のヨーク部材、６は金属製または硬質な樹脂製の球状で、レンズ保持部材２を像面側および被写体側から挟み、支持する支持部材である。
【００４１】
７は第２のヨーク部材５と同様に透磁率の高い鋼板で形成された第１のヨーク部材、８は互いに離れた位置に固定された６つの永久磁石、９は導線を巻き重ねて形成されたコイルである。第１のフレキシブルプリント基板４のコイル９が取り付けられている面と反対側の面には不図示のホール素子１０が取り付けられている。かかるホール素子１０は永久磁石８の磁束密度を検出する。
【００４２】
１１はレンズ保持部材２から延出されたロック軸およびスイング軸を捕捉するための溝部を有したロック部材、１２はベース部材１に固定され、ロック部材の光軸方法における移動を制限するためのカバー部材である。
【００４３】
１３は後述するアクチュエータ１４及びフォトインタラプタ１５を固定するためのモータベース部材、１４は通常ステッピングモータやＤＣモータが用いられ、ロック部材１１を駆動するアクチュエータ、１５はロック部材１１の位置を検出するためのフォトインタラプタ、１６はレンズ鏡筒とアクチュエータ１４並びにフォトインタラプタ１５とを電気的に接続するための第２のフレキシブルプリント基板である。
【００４４】
１７〜２１は先述した各部材を締結する、締結部材である。
【００４５】
次に、ホール素子１０が検出する磁気回路を構成する、第１のヨーク部材７、第２のヨーク部材５、永久磁石８と、永久磁石８の発生させる磁界で推力を発生するコイル９について説明する。
【００４６】
永久磁石８はホール素子１０の位置検出用及び、コイル推力の磁界を発生させる。前述の通り、本実施例の像振れ補正機構は、６つの永久磁石を有している。かかる永久磁石は２つで一組となり、２つの永久磁石は互いに一定の間隔を持って配置される。
【００４７】
コイル９及び、ホール素子１０は第１のフレキシブルプリント基板４に固定され、また、これらは電気的に接続されている。
【００４８】
第１のヨーク部材７、第２のヨーク部材５は外部への磁束の漏れを防ぎ、磁気回路を構成する。また、コイルに鎖交する磁束を増やす。
【００４９】
次に、２つの永久磁石の配置間隔と、ホール素子１０の位置検出範囲について説明する。
【００５０】
特許文献１にもある通り、２つの永久磁石の配置間隔は、広ければ広いほど位置検出範囲が広くなる。ただし、２つの永久磁石の間隔を広く取りすぎれば、像振れ補正機構のサイズの増大を招き、好ましくない。
【００５１】
本実施例においては、レンズ保持部材２の移動量、すなわちホール素子１０の位置検出範囲は３．２ｍｍに設定されている。これをうけ、本実施例では２つの永久磁石の間隔を移動量の半値以上の２ｍｍに設定している。これは、永久磁石８の間隔が移動量の半値以下の間隔であると、前記移動量が最大となった場合に、推力が低下するためである。
【００５２】
２つの永久磁石の間隔が狭いために推力が低下する現象について、図３を用いて以下に説明する。
【００５３】
図３は、像振れ補正時に働く推力と、２つの永久磁石の間隔の関係を示す模式図である。
【００５４】
図３の（Ｂ）は十分に２つの永久磁石の間隔が１．６ｍｍ以上離れている場合を示しており、（Ｂ’）はレンズ保持部材２を大きく移動させた状態を示している。（Ｂ’）からわかる通り、２つの永久磁石の間隔が離れていれば、推力は正常に働く。
【００５５】
一方、（Ａ）は２つの永久磁石の間隔が１．６ｍｍ以下の場合を示しており、（Ａ’）はレンズ保持部材２を大きく移動させた場合を示している。（Ａ’）からわかる通り、レンズ保持部材２を大きく移動させた場合、コイル９が永久磁石８ｂの一部である斜線部分の逆側の磁界を受けることにより、逆側の推力が発生する。これにより、推力が低下してしまうため、２つの磁石の間隔は狭すぎても好ましくない。
【００５６】
ただし、コイルの大きさによってはこの限りではない。例えば、コイル９が小さい場合には永久磁石８ａと８ｂの間隔が１．６ｍｍ以上であったとしても、レンズ保持部材２が大きく移動された際にコイル９が永久磁石８ｂの一部である斜線部分の逆側の磁界を受けることはなく、逆側の推力が発生することがないという場合が考えられる。
【００５７】
次に、本実施例において、第２のヨーク部材５に設けられた穴とその位置について説明する。
【００５８】
図４は本発明に係る実施例の像振れ補正機構の第２のヨーク部材５の斜視図であり、図５は本発明に係る実施例の像振れ補正機構を像面側から見た斜視図である。
【００５９】
図４と図５が示す通り、第２のヨーク部材５には３つの穴が設けられている。
【００６０】
かかる穴は、ホール素子１０が第２のヨーク部材５から受ける磁界の影響を小さくするために設けられたものである。そのため、図５が示す通り、かかる穴は第２のヨーク部材５上のホール素子１０と対向する位置に、それぞれ１つずつ設けられる。
【００６１】
また、かかる穴の中心は、補正レンズ群を保持するレンズ保持部材２がＶＣＭによって移動させられていない定常時の位置にある状態において、ホール素子１０の中心と光軸方向に対向する位置に設定される。
【００６２】
次に、かかる穴の必要性について詳しく説明する。
【００６３】
まず、磁束密度の変化について図６を用いて説明する。図６は第２のヨーク部材５に穴を設けた場合の例と穴を設けなかった場合の例の磁束密度の変化を比較する模式図である。図６において、縦軸は磁束密度であり、横軸はストロークである。
【００６４】
ここでホール素子の出力は磁束密度に比例するので、磁束密度の値をホール素子の出力、すなわち検出位置と考えて良い。
【００６５】
図６が示す通り、第２のヨーク部材５に穴を設けなかった場合の例の方が、穴を設けた例より、磁束密度の変化が急峻であり、リニアリティが低い。
【００６６】
次に、位置検出誤差について図７を用いて説明する。図７は第２のヨーク部材５に穴を設けた場合の例と穴を設けなかった場合の例の位置検出誤差を比較する模式図である。図７において、縦軸は位置検出誤差であり、横軸はストロークである。単位はそれぞれ、縦軸はμｍ、横軸はｍｍである。
【００６７】
図７が示すとおり、穴を設けた場合の方が穴を設けなかった場合に比べ、位置検出誤差が小さい。
【００６８】
したがって、本実施例では、ホール素子１０が第２のヨーク部材５から受ける磁界の影響を小さくすることで、リニアリティを高く確保し、位置検出誤差を小さくするために第２のヨーク部材５に穴を設けている。
【００６９】
また、第２のヨーク部材５の影響を小さくするために第２のヨーク部材５とホール素子を離して配置することが考えられるが、その場合には、永久磁石８と第２のヨーク部材５のギャップが大きくなる事によるＶＣＭの推力低下、及び振れ補正機構のサイズ増加を招き、望ましくない。
【００７０】
次に、かかる穴の大きさと形状について説明する。
【００７１】
本実施例において、かかる穴は、ホール素子１０の位置検出範囲の１倍から１．８倍の長さを一辺とする略正方形と規定されている。前述の通り、本実施例において、ホール素子１０の位置検出範囲は３．２ｍｍである。そのため、本実施例においてかかる穴の１辺の長さは３．２ｍｍから５．７６ｍｍが望ましい。
【００７２】
これは、かかる穴の大きさが小さすぎたり、大きすぎたりする場合に、位置検出誤差が大きくなったりするためである。これについて、図８と図９を用いて次に説明する。
【００７３】
図８は第２のヨーク部材５に設けた穴が、１辺が６．５ｍｍの略正方形の場合の例と、１辺が４．５ｍｍの略正方形の場合の例と、１辺が３ｍｍの略正方形の場合の例の磁束密度の変化を比較する模式図である。図８において、縦軸は磁束密度であり、横軸はストロークである。
【００７４】
図８が示す通り、磁束密度の変化は１辺が６．５ｍｍの略正方形の場合の例、１辺が４．５ｍｍの略正方形の場合の例、１辺が３ｍｍの略正方形の場合の例の順に緩やかであり、リニアリティが高い。
【００７５】
すなわち、第２のヨーク部材５に設けた穴は、大きければ大きいほどリニアリティが高くなる。
【００７６】
次に、図９は第２のヨーク部材５に設けた穴が、１辺が６．５ｍｍの略正方形の場合の例と、１辺が４．５ｍｍの略正方形の場合の例と、１辺が３ｍｍの略正方形の場合の例の位置検出誤差の大きさを比較する模式図である。図９において、縦軸は位置検出誤差であり、横軸はストロークである。単位はそれぞれ、縦軸はμｍ、横軸はｍｍである。
【００７７】
図９が示す通り、位置検出誤差は１辺が６．５ｍｍの略正方形の場合の例、１辺が３ｍｍの略正方形の例の場合、１辺が４．５ｍｍの略正方形の例の場合の順に大きい。
【００７８】
すなわち、第２のヨーク部材５に設けた穴は、大きすぎても小さすぎても位置検出誤差が大きくなってしまう。
【００７９】
そこで、本実施例は、第２のヨーク部材５に設けた穴の１辺の長さに上限をホール素子１０の位置検出範囲の１．８倍、下限をホール素子１０の位置検出範囲の１倍と設定することで、リニアリティを高くすることと、位置検出誤差を小さくすることを両立している。
【００８０】
また、本実施例では、ホール素子１０への第２のヨーク部材５の影響を小さくすることで、リニアリティを高くし、また、位置検出誤差を小さくするために第２のヨーク部材５に穴を設けている。しかしながら、第２のヨーク部材５の影響を小さくするために第２のヨーク部材５に、穴ではなく凹みを設ける構成とすることも考えられる。
【００８１】
そこで、本実施例において、第２のヨーク部材５に凹みではなく穴を設けている理由について、次に説明する。
【００８２】
図１０は、第２のヨーク部材５に１辺が４．５ｍｍの略正方形の穴を設けた場合の例と、１辺が４．５ｍｍの略正方形の凹みを設けた場合の例の磁束密度の変化を比較する模式図である。図１０において、縦軸は磁束密度であり、横軸はストロークである。
【００８３】
図１０が示す通り、磁束密度の変化は１辺が４．５ｍｍの略正方形の穴を設けた場合の例の方が、１辺が４．５ｍｍの略正方形の凹みを設けた場合の例に比べて緩やかであり、リニアリティが高い。
【００８４】
すなわち、同じ大きさであれば、凹みを設けるよりも穴を設けた方が、リニアリティが高くなる。
【００８５】
次に、図１１は第２のヨーク部材５に１辺が４．５ｍｍの略正方形の穴を設けた場合の例と、１辺が４．５ｍｍの略正方形の凹みを設けた場合の例の位置検出誤差の大きさを比較する模式図である。図１１において、縦軸は位置検出誤差であり、横軸はストロークである。単位はそれぞれ、縦軸はμｍ、横軸はｍｍである。
【００８６】
図１１が示す通り、位置検出誤差は１辺が４．５ｍｍの略正方形の穴を設けた場合の例の方が、１辺が４．５ｍｍの略正方形の凹みを設けた場合の例に比べて小さい。
【００８７】
すなわち、同じ大きさであれば、凹みを設けるよりも穴を設けた方が、位置検出誤差が小さく、精度の高い位置検出が可能となる。
【００８８】
以上の結果をふまえ、本実施例では第２のヨーク部材５に、凹みではなく穴を設ける構成としている。
【００８９】
以上の通り、本実施例では、３つのアクチュエータを有する像振れ補正機構において、磁気回路を構成するヨークに、ホール素子１０の位置検出範囲の１倍から１．８倍の長さを一辺とする略正方形の穴を設けることで、リニアリティが高く、また、位置検出誤差が小さい、精度の高い像振れ補正制御が可能な光学式像振れ補正機構を提供することができる。
【符号の説明】
【００９０】
１      ベース部材
２      レンズ保持部材
３      ガイド部材
４      第１のフレキシブルプリント基板
５      第２のヨーク部材
６      支持部材
７      第１のヨーク部材
８      永久磁石
９      コイル
１０    ホール素子
１１    ロック部材
１２    カバー部材
１３    モータベース部材
１４    アクチュエータ
１５    フォトインタラプタ
１６    第２のフレキシブルプリント基板
１７    締結部材
１８    締結部材
１９    締結部材
２０    締結部材
２１    締結部材
１００  光学装置
２００  撮像装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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