(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
クロマトグラフ質量分析装置により時間経過に伴って繰り返し収集されたクロマトグラフ質量分析データを処理し測定結果を表示部の画面上に表示するクロマトグラフ質量分析用データ処理装置において、
a)保持時間若しくは該保持時間を含む所定の時間範囲に対応付けて、又は、該時間範囲及び該時間範囲に実施される質量分析の分析条件に対応付けて、その保持時間若しくは時間範囲における又はその分析条件の下での測定対象である化合物の名称を格納しておく化合物情報記憶手段と、
b)前記クロマトグラフ質量分析データに基づいて作成されたクロマトグラムを表示部の画面上の一部に表示する第１表示処理手段と、
c)該第１表示処理手段により表示画面上に表示されたクロマトグラム上で任意の時間位置を分析者が指示するための指示手段と、
d)該指示手段によりクロマトグラム上で指示された時間位置に対応した保持時間若しくは時間範囲、又は、該時間範囲及び該時間範囲におけるクロマトグラムを作成するためのクロマトグラフ質量分析データを取得する際の質量分析の分析条件、に対応付けられている化合物の名称を前記化合物情報記憶手段から取得し、該化合物の名称と、前記指示手段により指示された時間位置において設定されている、測定対象である化合物の分析に適切な分析条件を得るための複数の質量分析の分析条件の下で得られた質量分析データ、又は、該指示手段により指示された時間位置におけるクロマトグラムを作成するために用いられ且つその指示された時間位置において設定されている、測定対象である化合物の分析に適切な分析条件を得るための複数の質量分析の分析条件の下で得られた質量分析データに基づく複数のマススペクトルとを、前記クロマトグラムと同一画面上に表示する第２表示処理手段と、
を備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析用データ処理装置。
【請求項２】
請求項１に記載のクロマトグラフ質量分析用データ処理装置であって、複数回の測定においてそれぞれクロマトグラフ質量分析データが得られている場合に、
前記第２表示処理手段は、指示された時間位置でそれぞれ得られたクロマトグラフ質量分析データに基づく複数のマススペクトルを、質量軸の目盛り及び強度軸の目盛りを揃えて、前記クロマトグラムと同一画面上に上下方向に並べて配置して表示することを特徴とするクロマトグラフ質量分析用データ処理装置。
【請求項３】
請求項２に記載のクロマトグラフ質量分析用データ処理装置であって、
前記第２表示処理手段は、上下方向に並べて配置した複数のマススペクトルの質量軸及び／又は強度軸の拡大又は縮小操作を連動して行うことを特徴とするクロマトグラフ質量分析用データ処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ガスクロマトグラフ（ＧＣ）や液体クロマトグラフ（ＬＣ）等のクロマトグラフと質量分析装置とを組み合わせたクロマトグラフ質量分析装置で収集されたデータを処理して測定結果を表示画面上に表示するクロマトグラフ質量分析用データ処理装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
分子量が大きな化合物の同定やその構造解析、或いは定量などを行うために、質量分析の一つの手法としてＭＳ／ＭＳ分析（タンデム分析）と呼ばれる手法が広く用いられている。ＭＳ／ＭＳ分析を行うための質量分析装置としては種々の構成のものがあるが、装置構造が比較的簡単で操作や扱いも容易であるのがタンデム四重極型質量分析装置である。
【０００３】
一般的なタンデム四重極型質量分析装置では、イオン源で生成された試料成分由来のイオンが前段四重極マスフィルタ（しばしば慣用的にＱ１と表記される）に導入され、特定の質量電荷比m/zを有するイオンがプリカーサイオンとして選別される。このプリカーサイオンが、四重極型（又はそれ以上の多重極型）イオンガイド（しばしば慣用的にｑ２と表記される）が内装されたコリジョンセルに導入される。コリジョンセル内にはアルゴン等の衝突誘起解離（ＣＩＤ）ガスが供給され、プリカーサイオンはコリジョンセル内でＣＩＤガスに衝突して開裂し、各種のプロダクトイオンが生成される。このプロダクトイオンが後段四重極マスフィルタ（しばしば慣用的にＱ３と表記される）に導入され、特定の質量電荷比m/zを有するプロダクトイオンが選別されて検出器に到達し検出される。
【０００４】
上記のようなタンデム四重極型質量分析装置は単独で使用される場合もあるが、しばしばガスクロマトグラフ（ＧＣ）や液体クロマトグラフ（ＬＣ）等のクロマトグラフと組み合わせて使用される。特に近年、食品中の残留農薬の検査、環境中の汚染物質の検査、医薬品の血中濃度検査、或いは、薬毒物のスクリーニングといった、多数の化合物が含まれる試料や雑多な夾雑物が混入している試料などを対象とする微量分析の分野では、クロマトグラフタンデム四重極型質量分析装置が必要不可欠なものとなりつつある。
【０００５】
クロマトグラフタンデム四重極型質量分析装置におけるＭＳ／ＭＳ分析には、ＭＲＭ（Multiple Reaction Monitoring：多重反応モニタリング）測定モード、プリカーサイオンスキャン測定モード、プロダクトイオンスキャン測定モード、ニュートラルロススキャン測定モード、といった測定モードがある（特許文献１参照）。このうち、ＭＲＭ測定モードでは、前段四重極マスフィルタと後段四重極マスフィルタとを通過し得るイオンの質量電荷比をそれぞれ固定し、特定のプリカーサイオンの開裂により生じた特定のプロダクトイオンの強度（量）を測定する。したがって、ＭＲＭ測定では、２段階のマスフィルタによって非測定対象成分や夾雑成分由来のイオン或いは中性粒子が除去され、高いＳＮ比のイオン強度信号を得ることができる。そのため、ＭＲＭ測定は特に微量成分の定量分析に威力を発揮する。例えばガスクロマトグラフタンデム四重極型質量分析装置（ＧＣ／ＭＳ／ＭＳ）では、ごく微量である成分の定量性が要求される残留農薬の多成分一斉定量分析などにＭＲＭ測定がよく用いられる。
【０００６】
ＭＲＭ測定による高い定量精度を確保するには、化合物毎に適切なＭＲＭ測定パラメータ、具体的には、プリカーサイオン質量電荷比、プロダクトイオン質量電荷比、コリジョンエネルギなどを設定する必要がある。定量分析のための質量電荷比としては、通常、当該化合物に対して検出されるイオン強度が最大になる質量電荷比が選ばれる。こうして選ばれる質量電荷比を持つイオンは定量イオンと呼ばれる。また、マススペクトル上で上記定量イオンと同じ質量電荷比にピークを有し、さらに保持時間もほぼ同じであるような夾雑成分が存在した場合、定量イオンだけでは目的化合物と夾雑成分とを区別することは困難である。そこで一般に、目的化合物に由来するイオンの中で定量イオンとは別の質量電荷比を有するイオンを確認イオンとして指定しておき、定量イオンにおけるマスクロマトグラムに現れたピークを代表するマススペクトル上で、確認イオンに対するピーク強度と定量イオンに対するピーク強度との相対比率（確認イオン比）を求め、確認イオン比が所定範囲内に収まっていれば、そのマスクロマトグラムのピークが目的化合物由来のものであると判断するようにしている。
【０００７】
化合物毎に最適な定量イオン、確認イオン、或いはコリジョンエネルギを決定するためには、クロマトグラフタンデム四重極型質量分析装置により、目的化合物を含む試料に対しコリジョンエネルギを変えながら複数回のＭＳ／ＭＳ分析を実行する。そして、目的化合物が現れる保持時間付近における異なるコリジョンエネルギに対する複数のマススペクトル（プロダクトイオンスペクトル）を比較することにより、適切な定量イオン、確認イオン、コリジョンエネルギなどを決める。こうした一連の作業や判断は分析者により行われる。
【０００８】
即ち、従来のクロマトグラフタンデム四重極型質量分析用データ処理装置では、上記のようなＭＳ／ＭＳ分析による測定データが収集された後に、分析者が再解析対象の測定データを指定すると、指定されたデータが読み込まれ、トータルイオンクロマトグラムが作成されて表示画面上に表示される。分析者は、そのトータルイオンクロマトグラム上で目的化合物に対応すると推測される任意のピークや任意の位置をポインティングデバイスなどにより指定する。すると、その指定位置に応じた時間における実測のマススペクトルが作成され、表示画面上の別の領域に表示される。同様にして、異なるコリジョンエネルギの下で得られた別の測定データを指定してデータの読み込みを実行することより、指定された時間における別のマススペクトルが同じ表示画面上に表示される。こうして異なるコリジョンエネルギの下で得られた複数のマススペクトルを同じ表示画面上に表示させることで、分析者が適切な定量イオン及び確認イオン、或いはコリジョンエネルギを選択することができるようにしている。
【０００９】
しかしながら、上記のような作業に際し、試料が目的化合物のみを含むものであれば問題はないが、通常は、複数の目的化合物に対する測定パラメータを並行して決めるために、複数の化合物が含まれる試料が用いられる。そのため、トータルイオンクロマトグラムに現れるピークが、分析者が意図している目的化合物であるか否かを確認する必要があり、そのために、例えば化合物テーブルなどの別の情報を参照しなければならなかった。特に多成分一斉定量分析を行う場合には、多数の化合物について上記のような確認作業を行う必要が生じるため、その作業は煩雑であって作業効率を低下させる一因となっていた。
【００１０】
なお、上記問題は、クロマトグラフタンデム四重極型質量分析装置におけるＭＲＭ測定パラメータの決定時のみならず、クロマトグラフ四重極型質量分析装置におけるイオン輸送光学系の設定電圧の決定時などでも同様である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１１】
【特許文献１】特開２０１１−２４９１０９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
本発明は上記課題を解決するために成されたものであり、例えばクロマトグラフタンデム四重極型質量分析装置において、化合物毎の定量イオン、確認イオン、コリジョンエネルギなどの測定パラメータを決定する際に、分析者の目視による作業の負担を軽減し、作業効率の向上を図るとともに作業ミスを軽減することを主たる目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記課題を解決するために成された本発明は、クロマトグラフ質量分析装置により時間経過に伴って繰り返し収集されたクロマトグラフ質量分析データを処理し測定結果を表示部の画面上に表示するクロマトグラフ質量分析用データ処理装置において、
a)保持時間若しくは該保持時間を含む所定の時間範囲に対応付けて、又は、該時間範囲及び該時間範囲に実施される質量分析の分析条件に対応付けて、その保持時間若しくは時間範囲における又はその分析条件の下での測定対象である化合物の名称を格納しておく化合物情報記憶手段と、
b)前記クロマトグラフ質量分析データに基づいて作成されたクロマトグラムを表示部の画面上の一部に表示する第１表示処理手段と、
c)該第１表示処理手段により表示画面上に表示されたクロマトグラム上で任意の時間位置を分析者が指示するための指示手段と、
d)該指示手段によりクロマトグラム上で指示された時間位置に対応した保持時間若しくは時間範囲、又は、該時間範囲及び該時間範囲におけるクロマトグラムを作成するためのクロマトグラフ質量分析データを取得する際の質量分析の分析条件、に対応付けられている化合物の名称を前記化合物情報記憶手段から取得し、該化合物の名称と、前記指示手段により指示された時間位置において設定されている、測定対象である化合物の分析に適切な分析条件を得るための複数の質量分析の分析条件の下で得られた質量分析データ、又は、該指示手段により指示された時間位置におけるクロマトグラムを作成するために用いられ且つその指示された時間位置において設定されている、測定対象である化合物の分析に適切な分析条件を得るための複数の質量分析の分析条件の下で得られた質量分析データに基づく複数のマススペクトルとを、前記クロマトグラムと同一画面上に表示する第２表示処理手段と、
を備えることを特徴としている。
【００１４】
本発明に係るクロマトグラフ質量分析用データ処理装置においては、クロマトグラフ質量分析装置により目的試料に対するクロマトグラフ質量分析データが収集された状態で分析者が所定の指示を行うと、第１表示処理手段は、収集されているクロマトグラフ質量分析データに基づいて作成されたクロマトグラムを、表示部の画面上の一部に表示する。質量分析装置が単一の四重極マスフィルタを備える四重極型質量分析装置である場合、クロマトグラフ質量分析データは、質量分析装置において所定の質量電荷比範囲のスキャン測定を繰り返すことにより得られたデータ、又は質量分析装置において複数の所定の質量電荷比に対するＳＩＭ（選択イオンモニタリング）測定を繰り返すことにより得られたデータなどである。また質量分析装置が前後二段の四重極マスフィルタを備えるタンデム四重極型質量分析装置である場合には、クロマトグラフ質量分析データは、例えば質量分析装置において所定の質量電荷比範囲のプロダクトイオンスキャン測定を繰り返すことにより得られたデータ、又は質量分析装置において複数の所定の質量電荷比に対するＭＲＭ測定を繰り返すことにより得られたデータなどである。いずれにしても、クロマトグラムは各測定時点で得られたイオン強度を合算して求めたトータルイオンクロマトグラム又は特定の質量電荷比におけるマスクロマトグラムとすればよい。
【００１５】
分析者は、表示画面上に表示されたクロマトグラム上で任意の時間位置を指示手段により指示する。例えば目的化合物を特徴付けるマススペクトルを観察したい場合には、通常、分析者はクロマトグラム上で目的化合物に対応したピークを推測し、該ピークの最大強度付近の時間位置を指示する。この指示を受けて第２表示処理手段は、化合物情報記憶手段にアクセスし、指示された時間位置に対応した保持時間若しくは時間範囲、又は、該時間範囲及び該時間範囲におけるクロマトグラムを作成するためのクロマトグラフ質量分析データを取得する際の質量分析の分析条件、に対応付けられている化合物名称を取得する。また同時に、指示された時間位置において得られたクロマトグラフ質量分析データ、又は、指示された時間位置におけるクロマトグラムを作成するために用いられ且つその指示された時間位置で得られたクロマトグラフ質量分析データ、を取得し、これに基づくマススペクトルを作成する。そして、クロマトグラムが表示されている画面上の例えば別の領域に、化合物名称とマススペクトルとをそれぞれ表示する。なお、化合物名称については、クロマトグラムの表示枠内に重ねて表示するようにしてもよい。
【００１６】
これにより、クロマトグラム上で分析者が指示したピークに対応した化合物名称が即座に画面上に表示されるので、例えば、指示したピークが本当にそのときに定量イオンや確認イオンを求めようとしている化合物であるか否かを分析者は容易に且つ確実に確認することができる。
【００１７】
なお、本発明に係るクロマトグラフ質量分析用データ処理装置において「質量分析の分析条件」とは、後述する実施例においては「イベント番号」である。
【００１８】
また本発明に係るクロマトグラフ質量分析用データ処理装置では、複数回の測定においてそれぞれクロマトグラフ質量分析データが得られている場合に、前記第２表示処理手段は、指示された時間位置でそれぞれ得られたクロマトグラフ質量分析データに基づく複数のマススペクトルを、質量軸の目盛り及び強度軸の目盛りを揃えて、前記クロマトグラムと同一画面上に上下方向に並べて配置して表示する構成とすることが好ましい。
【００１９】
ここで、複数回の測定においてそれぞれ得られているクロマトグラフ質量分析データとは、例えば上述したように、コリジョンエネルギ等の測定条件が変更された状態でそれぞれ同一試料中の同一化合物に対して得られたクロマトグラフ質量分析データである。上記構成によれば、同じ時間位置でそれぞれ得られたクロマトグラフ質量分析データに基づく複数のマススペクトルが、質量軸の目盛り及び強度軸の目盛りが揃った状態で上下に並べて配置されるので、分析者は複数のマススペクトル上の同一質量電荷比におけるピーク強度を表示上で直感的に比較することができる。
【００２０】
さらにまた、前記第２表示処理手段は、上下方向に並べて配置した複数のマススペクトルの質量軸及び／又は強度軸の拡大又は縮小操作を連動して行う構成とするとよい。即ち、分析者が、表示されている複数のマススペクトルの中の１つのマススペクトルで質量軸及び／又は強度軸を拡大したり縮小したりする操作を行うと、他のマススペクトルの質量軸及び／又は強度軸も拡大又は縮小する。それにより、どのような拡大・縮小操作を行っても複数のマススペクトル上の同一質量電荷比におけるピーク強度を常に比較することができるので、分析者の操作ミスや勘違いなどによる誤った判断を防止するのに有効である。
【発明の効果】
【００２１】
本発明に係るクロマトグラフ質量分析用データ処理装置によれば、クロマトグラム上の任意の時間位置に保持時間を持つ測定対象化合物の名称をごく簡単な操作で確認することができる。それによって、例えばクロマトグラフタンデム四重極型質量分析装置において、定量イオン、確認イオン、コリジョンエネルギなどの測定パラメータを化合物毎に決定するためにクロマトグラム上のピークを指定して実測マススペクトルを確認する際に、クロマトグラム上のピークが確かに目的化合物に対応したピークであることを分析者が容易にチェックすることができ、作業効率が向上するとともに作業ミスを軽減することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本発明に係るクロマトグラフ質量分析用データ処理装置を備えたＧＣ／ＭＳ／ＭＳの一実施例の概略構成図。
【図２】本実施例のＧＣ／ＭＳ／ＭＳにおけるＭＲＭ測定パラメータ決定処理の際の表示画面の一例を示す図。
【図３】本実施例のＧＣ／ＭＳ／ＭＳにおいて測定実行のために設定されるセグメント及びイベントの概念図。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
以下、本発明に係るクロマトグラフ質量分析用データ処理装置を備えたガスクロマトグラフタンデム四重極型質量分析装置（ＧＣ／ＭＳ／ＭＳ）の一実施例について、添付図面を参照して詳細に説明する。
【００２４】
図１は本実施例によるＧＣ／ＭＳ／ＭＳの概略構成図である。ガスクロマトグラフ（ＧＣ）部１では、カラムオーブン１３により適度の温度に加熱されるカラム１４の入口端に試料気化室１０が設けられ、試料気化室１０にはキャリアガス流路１２を通して所定流量でキャリアガスが供給されカラム１４へと流れ込む。その状態でマイクロシリンジ１１により試料気化室１０中に微量の液体試料が注入されると、液体試料は即座に気化しキャリアガス流に乗ってカラム１４中に送られる。そして、カラム１４を通過する間に試料ガス中の各種化合物は時間的に分離されてその出口に到達し、加熱ヒータ等を含むインターフェイス部２を経て、質量分析（ＭＳ）部３において真空チャンバ３０内に配設されたイオン化室３１に導入される。
【００２５】
イオン化室３１に導入された化合物分子は電子イオン化（ＥＩ）法や化学イオン化法（ＣＩ）などによりイオン化される。発生したイオンはイオン化室３１の外側に引き出され、イオンレンズ３２により収束されて４本のロッド電極から構成される前段四重極マスフィルタ３３の長軸方向の空間に導入される。前段四重極マスフィルタ（Ｑ１）３３には、図示しない電源から直流電圧と高周波電圧とを重畳した電圧が印加され、その印加電圧に応じた質量電荷比を有するイオンのみがその長軸方向の空間を通過し、コリジョンセル３４に導入される。
【００２６】
コリジョンセル３４の内部には、高周波電場の作用によりイオンを収束させる多重極型イオンガイド（ｑ２）３５が設置され、また、コリジョンセル３４内には連続的に又は間欠的に外部よりＡｒガス等のＣＩＤガスが導入される。コリジョンセル３４に導入されたイオンはＣＩＤガスに接触して開裂を生じ、その開裂により生成されたプロダクトイオンが収束されつつ後段四重極マスフィルタ（Ｑ３）３６の長軸方向の空間に導入される。後段四重極マスフィルタ３６は前段四重極マスフィルタ３３と同様に４本のロッド電極から成り、図示しない電源から直流電圧と高周波電圧とを重畳した電圧がそれらロッド電極に印加され、その印加電圧に応じた質量電荷比を有するプロダクトイオンのみがその長軸方向の空間を通過してイオン検出器３７に到達する。
【００２７】
イオン検出器３７による検出信号はＡ／Ｄ変換器３８によりデジタルデータに変換されてデータ処理部４に送られる。データ処理部４は、本発明に特徴的な表示処理を行うために、測定データ記憶部４１、測定条件情報記憶部４２、表示処理部４３などの機能ブロックを含む。ＧＣ部１、インターフェイス部２、及びＭＳ部３に含まれる各部の動作は、分析制御部５によりそれぞれ制御される。また、中央制御部６にはキーボードやマウス等のポインティングデバイスを含む入力部７や表示部８が接続され、中央制御部６は入出力制御や分析制御部５よりも上位の基本的なシステム制御を担う。なお、データ処理部４、分析制御部５、及び中央制御部６は、パーソナルコンピュータをハードウエア資源とし、該パーソナルコンピュータにインストールされた専用の制御／処理ソフトウエアをパーソナルコンピュータ上で実行することにより具現化されるものとすることができる。
【００２８】
このＧＣ／ＭＳ／ＭＳのＭＳ部３において実施可能な測定モードとしては、コリジョンセル３４内でのＣＩＤ操作を伴うＭＳ／ＭＳ分析のモードとして、ＭＲＭ測定モード、プリカーサイオンスキャン測定モード、プロダクトイオンスキャン測定モード、ニュートラルロススキャン測定モード、がある。また、コリジョンセル３４内でのＣＩＤ操作を行わないモードとして、Ｑ１ＳＩＭ測定モード、Ｑ３ＳＩＭ測定モード、Ｑ１スキャン測定モード、Ｑ３スキャン測定モード、がある。
【００２９】
本実施例のＧＣ／ＭＳ／ＭＳでは、上述のような様々な測定モードによる測定を適宜切り替えながら実行できるように、又は、同じ測定モードでも測定条件（測定パラメータ）を適宜切り替えながら実行できるように、以下に説明するような手法で測定モードや測定条件を設定するようにしている。図３は時間経過に伴うセグメント及びイベントの概念図である。
【００３０】
図３に示すように、分析開始（試料注入）時点から終了時点までの時間範囲は、分析者が自由に設定可能なセグメントと呼ばれる時間単位に区分けされる。セグメントは重なりさえしなければ、連続的であっても不連続であってもよい。こうしたセグメント毎の時間範囲はセグメント情報データとして集約される。各セグメントの時間範囲（開始時間及び終了時間）の設定はユーザが自由に行うことができるが、ＭＲＭ測定やＳＩＭ測定を用いた定量分析の際には、マスクロマトグラム上で分離されている測定対象化合物毎にそれぞれセグメントが割り当てられるように各セグメントの時間範囲が設定されるのが好ましい。
【００３１】
実施したい測定モードとその測定モードにおける測定条件（例えばＭＲＭ測定モードであれば、前段四重極マスフィルタ３３で選択される質量電荷比値及び後段四重極マスフィルタ３６で選択される質量電荷比値など）とはイベントと呼ばれる単位で規定され、セグメント毎に１乃至複数のイベントを設定できるようにしている。また、各イベントに対しては、ＭＲＭ測定モードなどの測定モード、その測定モードを実行するために必要な測定条件（パラメータ値）のほか、そのイベントにより測定したい測定対象化合物の名称、などが設定可能となっている。図３に示した例では、時間範囲がｔ1〜ｔ2であるセグメント１に対してテーブル＃１で示されるイベント情報が設定され、より具体的には、そのテーブル＃１に含まれるイベント番号が１及び２である２つのイベントが設定されている。また、このセグメント１におけるイベント１は測定対象化合物がａａａａであり、イベント２は測定対象化合物がｂｂｂｂである。当然のことながら、これら測定対象化合物ａａａａやｂｂｂｂは、既知である保持時間（或いは保持指標）に基づいて、セグメント１で規定される時間範囲ｔ1〜ｔ2内にカラム１４から溶出する、つまりはクロマトグラム上でピークが現れることが推測される化合物である。したがって、図３に示した例によれば、ｔ1〜ｔ2の時間範囲内では、測定対象化合物ａａａａ及びｂｂｂｂについての定量情報等を取得するために、テーブル＃１中のイベント１及びイベント２にそれぞれ定められている条件に従った分析が１つずつ順に（つまりは交互に）実行されるというサイクルが繰り返されることになる。
【００３２】
次に、本実施例のＧＣ／ＭＳ／ＭＳおいて、或る化合物に対するＭＲＭ測定の最適パラメータを決定するための処理を例に挙げて、本発明に特徴的な表示処理について説明する。
１つの化合物に対するＭＲＭ測定の最適パラメータ、具体的には、プリカーサイオンの質量電荷比、プロダクトイオンの質量電荷比、及びコリジョンエネルギを求める際には、例えばプリカーサイオンの質量電荷比を固定し、コリジョンエネルギを複数段階に変化させながら、それぞれ目的の化合物を含む試料に対するプロダクトイオンスキャン測定を実行することにより、クロマトグラフ質量分析データを収集する。もちろん、この測定の際に、分析者は、既知である目的化合物の保持時間を考慮してセグメントを設定し、且つそのセグメントの時間範囲では、プリカーサイオンの質量電荷比が所定値でプロダクトイオンスキャンの質量電荷比範囲が所定範囲である測定パラメータに従ったプロダクトスキャン測定モードを実行するように、且つその目的化合物を測定対象化合物とするように、イベントを設定する。
【００３３】
いま、ここでは、異なるコリジョンエネルギに対してそれぞれ得られたデータを測定Ａデータ、測定Ｂデータ、測定Ｃデータとする。これら測定データは、測定データ記憶部４１内にそれぞれ独立したデータファイルとして保存される。また、上記のように設定されたセグメント及びイベントに関する情報は、測定条件情報記憶部４２に格納される。
【００３４】
或る化合物に対するＭＲＭ測定の最適パラメータを決定するために分析者が入力部７で所定の操作を行うと、中央制御部６を介してその指示を受け取った表示処理部４３は、図２に示すようなＭＲＭ測定パラメータ決定処理用画面１００を表示部８の画面上に表示させる。このＭＲＭ測定パラメータ決定処理用画面１００上には、クロマトグラム表示領域１０２中に表示させるクロマトグラムを分析者が選択指示するためのボタンやテキストボックスなどが配置された表示クロマトグラム選択指示領域１０１が設けられている。そうしたボタンの中にイベント番号を指定するためのボタンがあり、例えば分析者がイベント番号「１」を指示すると、各セグメントにおいて番号が「１」であるイベントに規定された測定により収集されたデータに基づくクロマトグラムが作成され、クロマトグラム表示領域１０２中に表示される。なお、例えばクロマトグラフ質量分析データが格納されているデータファイルのファイル名などを選択指示することで、表示するクロマトグラムを選択できるようにしてもよい。また、通常、表示されるクロマトグラムは測定モードに応じてトータルイオンクロマトグラム又はマスクロマトグラムのいずれかであるが、複数の質量電荷比に対してそれぞれＳＩＭ測定やＭＲＭ測定が実施された場合に、その複数の質量電荷比に対するイオン強度のみを合算したクロマトグラムを表示できるようにしてもよい。
【００３５】
分析者が表示クロマトグラム選択指示領域１０１で適当な選択指示を行うと、表示処理部４３は選択指示されたデータを測定データ記憶部４１から読み出し、クロマトグラムを作成してクロマトグラム表示領域１０２に描出する。目的化合物が含まれる試料に対して測定が行われた結果に基づくクロマトグラムを表示するように適切な指示を行えば、その目的化合物由来のピークがクロマトグラムに現れる筈である。そこで分析者は、その目的化合物の保持時間付近に現れるピークが表示枠中に入るように、表示される時間範囲を適宜調節する。
【００３６】
図２中に示しているように、目的化合物由来であると推測し得るクロマトグラムピークが表示された状態で、分析者はそのクロマトグラム上の任意の時間位置をポインティングデバイスで指示する。すると、表示処理部４３は指示された時間位置にマーカー１０３を重畳して表示させる。また、指示された時間位置が時間範囲に含まれるセグメントを特定し、図３に示したようなセグメント情報及びイベント情報を参照して、特定されたセグメントに対応付けられ且つその時間位置におけるクロマトグラムを表示するために指定されているイベント番号に対応している測定対象化合物名を読み出す。そして、ＭＲＭ測定パラメータ決定処理用画面１００の化合物名表示領域１０４中にその化合物名を文字で表示する。さらにまた、測定データ記憶部４１に格納されている複数のデータファイルから、指示された時間位置及びイベントにおけるマススペクトルデータを読み出し、それぞれマススペクトルを作成する。そして、クロマトグラム表示領域１０２の下のマススペクトル表示領域１０５中に、それら複数のマススペクトルを、質量軸（m/z軸）及び強度軸の目盛りを同一とし、且つ質量軸の目盛りの位置を上下方向で揃えて、上下に並べて配置し表示する。
【００３７】
上述したように、クロマトグラム上で指定した時間位置及び該時間位置におけるクロマトグラムに関連したイベントに予め対応付けられている化合物名が化合物名表示領域１０４中に表示されることで、分析者は、確認しようとしているクロマトグラムピークが確かに目的化合物であるか否かを即座に確認することができる。このとき、分析者が意図しない化合物名が表示された場合には、観察しているクロマトグラムピークが目的化合物由来のものでない、或いは、セグメントやイベントの設定自体が誤っているなど作業ミスのおそれがある。そこで、分析者は例えば別のクロマトグラムピークを探索する等、適宜の作業・操作を行うことにより、問題の原因を見つけるようにすればよい。
【００３８】
なお、図２に示した例では、マススペクトル表示領域１０５中に３つのマススペクトルを並べて表示しているが、表示すべきマススペクトルが多数である場合、１つのマススペクトルの縦方向のサイズを縮小して全てのマススペクトルが一度に表示できるようにしてもよいが、各マススペクトルの縦方向のサイズを変えずに上下スクロール操作によって全てのマススペクトルが表示できるようにしてもよい。
【００３９】
また、分析者がマーカー１０３の位置をドラッグ操作等により時間方向に移動させると、表示処理部４３は、そのマーカー１０３の移動後の時間位置に対応して上述したような処理を実行する。それによって、化合物名表示領域１０４中に表示される化合物名、及びマススペクトル表示領域１０５中に表示されるマススペクトルがそれぞれ適宜更新される。
また、マススペクトル表示領域１０５中に表示されるマススペクトルの質量軸及び強度軸はメニューリストからの選択操作又はドラッグ操作等により適宜に拡大又は縮小が可能であるが、或る１つのマススペクトルについてそうした操作が実施されると、表示処理部４３は、同時に表示されている他のマススペクトルについても質量軸や強度軸を連動して拡大又は縮小させる。これにより、マススペクトル表示領域１０５中に表示される複数のマススペクトルの質量軸及び強度軸は常に同一の目盛りに保たれる。これによって、分析者は、同じ時間位置において得られた複数のマススペクトル上のピークが同じ質量電荷比に対するピークであるか否かを直感的に確認することができ、また異なるマススペクトル間でピーク強度の大小を容易に判断することができる。
【００４０】
分析者は、そうして複数のマススペクトルを比較することで、その目的化合物について最適なコリジョンエネルギを決めることができる。また、そのコリジョンエネルギの下で得られたマススペクトルに基づいて、適切な定量イオン及び確認イオンを決めることができる。
【００４１】
なお、１つの試料に複数の化合物が含まれ、その化合物毎にＭＲＭ測定パラメータを決める必要がある場合には、別の化合物に対応したクロマトグラムピークが表示されるようにイベント番号の再指定を行うとともにクロマトグラムの時間軸を調整し、上述したような操作及び処理を繰り返せばよい。
【００４２】
なお、上記実施例は単に一例であり、本発明の趣旨の範囲で適宜変形や修正、追加を行っても本願特許請求の範囲に包含されることは明らかである。
【００４３】
例えば上記実施例では、時間範囲を規定したセグメントに対して設定されたイベント毎に測定対象化合物名を登録できるようにしていたが、より直接的に保持時間又は保持時間を含む時間範囲に対して設定されたイベント毎に測定対象化合物名を登録できるようにしたリストやテーブルを用いてもよい。また、セグメントとイベントとを分けることなく、イベント自体に、そのイベントを実行する時間範囲、測定モード、測定条件、測定対象化合物名などを登録できるようにしてもよい。
【００４４】
また、上記実施例は本発明に係るクロマトグラフ質量分析用データ処理装置をＧＣ／ＭＳ／ＭＳに適用したものであるが、本発明がＧＣ／ＭＳ／ＭＳだけでなくＬＣ／ＭＳ／ＭＳに適用可能であることは明らかである。また、上記実施例ではＭＳ部３はタンデム四重極型質量分析装置であったが、これが単一の四重極マスフィルタを搭載した四重極型質量分析装置でもよいことも明らかである。
【符号の説明】
【００４５】
１…ガスクロマトグラフ（ＧＣ）部
１０…試料気化室
１１…マイクロシリンジ
１２…キャリアガス流路
１３…カラムオーブン
１４…カラム
２…インターフェイス部
３…質量分析（ＭＳ）部
３０…真空チャンバ
３１…イオン化室
３２…イオンレンズ
３３…前段四重極マスフィルタ
３４…コリジョンセル
３５…多重極型イオンガイド
３６…後段四重極マスフィルタ
３７…イオン検出器
３８…Ａ／Ｄ変換器
４…データ処理部
４１…測定データ記憶部
４２…測定条件情報記憶部
４３…表示処理部
５…分析制御部
６…中央制御部
７…入力部
８…表示部
１００…ＭＲＭ測定パラメータ決定処理用画面
１０１…表示クロマトグラム選択指示領域
１０２…クロマトグラム表示領域
１０３…マーカー
１０４…化合物名表示領域
１０５…マススペクトル表示領域
【図１】
0005811023.tif 000002
【図２】
0005811023.tif 000003
【図３】
0005811023.tif 000004