(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
感光体上に静電潜像を形成するために、供給される駆動電流に応じた光量のレーザ光を出射する半導体レーザと、
前記半導体レーザから出射される前記レーザ光が前記感光体上を走査するように、前記レーザ光を偏向する偏向手段と、
前記偏向手段によって偏向された前記レーザ光を前記感光体の表面上に導く光学部材と、
前記半導体レーザから出射されたレーザ光を受光する受光手段と、
前記受光手段の受光結果に基づいて、前記受光手段に入射するレーザ光の光量が目標光量になるように電流設定データを設定する設定手段と、
前記レーザ光が前記感光体を走査する走査方向の複数の位置それぞれに対応し、かつ複数の参照電流値それぞれに対応する複数の補正データであって、前記光学部材によって前記感光体の表面上の前記複数の位置それぞれに導かれるレーザ光の光量を前記感光体の表面上での目標光量に補正するための前記複数の補正データを記憶する記憶手段と、前記複数の参照電流値に対応し、前記複数の位置それぞれに対応する前記補正データに基づいて、前記複数の参照電流値の間の電流値に対する補間データを前記複数の位置それぞれに対して生成するデータ生成手段と、
前記設定手段によって設定された前記電流設定データに基づく電流値と、当該電流設定データに基づく電流値に対応する前記補間データと、に基づいて前記複数の位置それぞれに対して前記半導体レーザに供給する前記駆動電流の値を制御する制御手段と、を備えることを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
前記記憶手段は、前記複数の補正データとして前記複数の参照電流値である第１の参照電流値に対応する第１の補正データ、前記第１の参照電流値よりも小さい第２の参照電流値に対応する第２の補正データ、及び前記第２の参照電流値よりも小さい第３の参照電流値に対する第３の補正データを記憶し、
前記データ生成手段は、前記第１の参照電流値と前記第２の参照電流値の間の電流値に対する前記補間データとしての第１の補間データを前記第１の補正データと前記第２の補正データとに基づいて生成し、前記第２の参照電流値と前記第３の参照電流値の間の電流値に対する前記補間データとしての第２の補間データを前記第２の補正データと前記第３の補正データとに基づいて生成し、
前記制御手段は、前記設定手段によって設定された前記電流設定データが前記第１の参照電流値と前記第２の参照電流値との間である場合、前記設定手段によって設定された前記電流設定データと前記第１の補間データとに基づいて前記半導体レーザに供給する前記駆動電流の値を制御し、前記設定手段によって設定された前記電流設定データが前記第２の参照電流値と前記第３の参照電流値との間である場合、前記設定手段によって設定された前記電流設定データと前記第２の補間データとに基づいて前記半導体レーザに供給する前記駆動電流の値を制御することを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記第１の補間データは、前記第１の参照電流値と前記第２の参照電流値との間の電流値に対応する直線近似式であり、前記第２の補間データは、前記第２の参照電流値と前記第３の参照電流値との間の電流値に対応する直線近似式であることを特徴とする請求項２に記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記偏向手段によって偏向された前記レーザ光を受光することに応じて同期信号を生成する信号生成手段を備え、
前記制御手段は、前記感光体上に前記静電潜像を形成するために、前記信号生成手段によって生成される前記同期信号の生成タイミングに基づくタイミングで入力画像データに基づく前記駆動電流を前記半導体レーザに供給し、
前記制御手段は、前記信号生成手段が前記同期信号を生成してから次の同期信号を生成するまでの期間における前記感光体上に前記静電潜像の形成を行う期間以外の期間に前記半導体レーザから前記レーザ光を出射させ、前記設定手段は、当該レーザ光を受光した前記受光手段の受光結果に基づいて前記電流設定データを設定することを特徴とする請求項１乃至３いずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項５】
測定用光量検出手段によって検出される前記感光体上に相当する位置での前記複数の位置における前記レーザ光の光量の中で最も低いレーザ光の光量を基準光量とし、前記補正データは、前記複数の位置のうち測定用光量検出手段によって最も低いレーザ光の光量が検出された位置以外の位置における前記レーザ光の光量と前記基準光量との差分に応じて、前記複数の位置それぞれに対して生成され、前記記憶手段に記憶されることを特徴とする請求項１乃至４いずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項６】
前記半導体レーザと、前記記憶手段と、前記光学部材と、前記記憶手段とを備える光走査装置を有し、
前記画像形成装置の本体には、前記光走査装置の外部に前記データ生成手段と、前記補間データを格納する格納手段と、が備えられ、
前記データ生成手段は、前記光走査装置に備えられた前記記憶手段から前記補正データを読み出し、前記記憶手段から読み出した前記補正データに基づいて生成した前記補間データを前記格納手段に格納し、
前記制御手段は、前記設定手段によって設定された前記電流設定データと前記格納手段に格納された前記補間データとに基づいて前記複数の位置それぞれに対して前記半導体レーザに供給する前記駆動電流の値を制御することを特徴とする請求項１乃至５いずれか１項に記載の画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、帯電された感光体表面にレーザ光を照射し静電潜像を形成して画像を形成する画像形成装置及びその制御方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
電子写真方式により画像を形成する画像形成装置では、感光ドラムの感光面を一様に帯電する帯電装置、その帯電された感光面に画像情報に応じた静電潜像を形成する潜像形成装置、その静電潜像を現像する現像装置を備える。更に、その現像された潜像を記録紙に転写する転写装置を備えており、感光ドラムの感光面を回転させながら逐次的に画像形成処理を行っている。
【０００３】
このような画像形成装置においては、感光ドラムに感光膜の厚さのバラツキがあると感度ムラを有することになり、この感度ムラは帯電や露光特性に影響し、感光膜の感度ムラが画像の濃度ムラとして発生していた。
【０００４】
また、感光ドラムの感度ムラだけでは無く、潜像形成装置内の光学ユニットのバラツキによっても画像の濃度ムラが発生していた。ここで言う光学ユニットのバラツキとは、光学ユニット内のレンズ及びミラーの取り付けや加工精度によるもので、複数レーザを備える光学ユニットでは、これらレーザ間の照射パターンのずれや光軸のずれとなって現れる。
【０００５】
従来は、このような濃度ムラは問題の無いレベルであったが、近年の高画質化の要求に伴って市場で許容できない問題として浮上してきた。
【０００６】
このような問題点に対して、従来は、光学ユニット自体のバラツキを抑える、つまり、光学ユニット内のレンズ及びミラーの取り付け精度を高めてバラツキを抑えていた。また製造された製品の中から条件を満足する製品を選別することによって、バラツキをある予め設定した値以下とし、各部品の仕上がり精度を向上させていた。
【０００７】
しかしながら、感光ドラムのムラを抑えたり、光学系ユニットを高精度にしたり調整や選別を行うことにより、装置の高コスト化を招くという問題がある。
【０００８】
また、光学ユニットでは、レーザを走査する際に、感光ドラムの端部、つまり走査開始側と走査終了側で光量が落ちてしまう傾向（以下、光量端部落ちと称する）がある。このような現象により、画像の主走査方向の端部では濃度が薄くなり、これも画像品位を低下させる原因となっていた。
【０００９】
従来、光量端部落ちを補正する方式として、１走査を主走査方向に複数ブロックで分割し、各ブロックに応じた光学系の光量端部落ちを補正する補正量（以後、プロファイルデータと称する）を記憶手段に持たせた提案がある。走査中にそのブロックのプロファイルデータと、隣接するブロックのプロファイルデータを読み出し、読み出したプロファイルデータを線形補間したデータを用いて、レーザの駆動電流を制御することによって光量端部落ちを補正している。（特許文献１）
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特開２００５−２６２４８５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
しかしながら、レーザや光学ユニットの特性において、レーザの発光強度に対するＦＦＰ（ファーフィールドパターン）のばらつき、光軸のばらつきといった光学特性差を有している。図１４にレーザの発光強度に対するＦＦＰ（水平）プロポーションの変動を表す図を記す。レーザの発光強度の低下に伴いＦＦＰプロポーションが、発光強度の変化量に相関性なく、細ることがわかる。図１４に従来例の補正方法を用いた実際に必要な補正量との関係を示すグラフを記す。実際に必要な補正量に対する補正残差が、レーザの発光強度によって大きくなるケースが発生する。
【００１２】
一方、レーザの内部構造や発光強度の使用範囲の違いによっては光学ばらつきの比較的少ない場合も想定され、補正方法の複雑化はプログラム量、格納データの増加に伴う信頼性低下してしまうという問題がある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
かかる課題を解決するために、本発明の画像形成装置は、感光体上に静電潜像を形成するために、供給される駆動電流に応じた光量のレーザ光を出射する半導体レーザと、前記半導体レーザから出射される前記レーザ光が前記感光体上を走査するように、前記レーザ光を偏向する偏向手段と、前記偏向手段によって偏向された前記レーザ光を前記感光体の表面上に導く光学部材と、前記半導体レーザから出射されたレーザ光を受光する受光手段と、
前記受光手段の受光結果に基づいて、前記受光手段に入射するレーザ光の光量が目標光量になるように電流設定データを設定する設定手段と、前記レーザ光が前記感光体を走査する走査方向の複数の位置それぞれに対応し、かつ複数の参照電流値それぞれに対応する複数の補正データであって、前記光学部材によって前記感光体の表面上の前記複数の位置それぞれに導かれるレーザ光の光量を前記感光体の表面上での目標光量に補正するための前記複数の補正データを記憶する記憶手段と、前記複数の参照電流値に対応し、前記複数の位置それぞれに対応する前記補正データに基づいて、前記複数の参照電流値の間の電流値に対する補間データを前記複数の位置それぞれに対して生成するデータ生成手段と、前記設定手段によって設定された前記電流設定データに基づく電流値と、当該電流設定データに基づく電流値に対応する前記補間データと、に基づいて前記複数の位置それぞれに対して前記半導体レーザに供給する前記駆動電流の値を制御する制御手段と、を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
以上説明してきたように、本発明によれば、感光体表面に導かれるレーザ光の光量を半導体レーザに供給する電流の値に拘わらず、感光体表上での目標光量に制御することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本実施形態における光学走査装置を含む画像形成装置の抜粋構成図
【図２】本実施形態における光学走査装置の構成図
【図３】本実施形態におけるレーザ駆動部１１のブロック図
【図４】本実施形態におけるレーザ駆動回路２１の状態遷移を記すタイムチャート
【図５】本実施形態におけるレーザ駆動回路２１の動作機能表
【図６】像面照度測定装置５１の概略構成図
【図７】照度補正データの生成原理を記すグラフ図
【図８】照度補正データの生成方法を記すフローチャート図
【図９】１５番目の像高ブロック（Ｎｏ．１４）における各光量設定に対する補正データを記すグラフ図
【図１０】１５番目の像高ブロック（Ｎｏ．１４）における補正近似式算出方法を記すグラフ図
【図１１】エンジン制御部３における照度補正のフローチャート図
【図１２】第２実施形態における１５番目の像高ブロック（Ｎｏ．１４）における補正近似式算出方法を記すグラフ図
【図１３】第２実施形態におけるエンジン制御部３の照度補正のフローチャート図
【図１４】レーザの発光強度に対するＦＦＰ（水平）プロポーションの変動を表す図
【図１５】従来例の補正方法を用いた実際に必要な補正量との関係を示すグラフ
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、添付図面を参照して本発明の好適な実施の形態を詳しく説明する。
【００１７】
［実施の形態１］
図１は、本発明の実施の形態に係る光学走査装置２を含む画像形成装置１の抜粋構成図、図２は、光学走査装置２の構成図である。
【００１８】
光学走査装置は、レーザ駆動部１１、半導体レーザ１２及びコリメートレンズ１３から構成されるレーザユニットを有している。
【００１９】
半導体レーザによる一走査中での非画像領域において、レーザユニット内の半導体レーザ１２から出射したレーザービームＬ１はシリンドリカルレンズ１４を入射しポリゴンミラー１５に到達する。ポリゴンミラー１５は、スキャナモータユニット１６によって等角速度で回転している。ポリゴンミラー１５に到達したレーザービームは、ポリゴンミラー１５によって偏光され、ｆ−θレンズ１７によって感光ドラム１９の回転方向と直角方向に等速走査となるように変換され、反射ミラー１８にて反射し、ビーム検出（以下ＢＤと略す）センサ２０に受光させる。
【００２０】
半導体レーザによる一走査中での画像領域では、レーザービームＬ２はレーザービームＬ１同様にｆ−θレンズ１７を出射した後、反射ミラー１８を経由して感光ドラム１９上を照射することにより潜像形成を行う。感光ドラム１９に形成された潜像は、トナーで現像された後、用紙に転写・定着することにより画像印字される。
【００２１】
図３は、本実施形態におけるレーザ駆動部１１の構成を表すブロック図である。２１は、レーザ駆動回路であり、半導体レーザ１２の駆動電流を制御することにより、半導体レーザ１２を所定光量（強度）で一定に発光させる。
【００２２】
半導体レーザ１２は、レーザダイオード（以下ＬＤと略す）１２ａ及び、このＬＤ１２ａ出力されるレーザ光をモニタするフォトダイオード（以下ＰＤと略す）１２ｂにて構成される。ＰＤ１２ｂはモニタするレーザービームの光量に応じた電流を出力する。符号２３は、ＬＤ１２ａが所定の光量で発光するように調整する光量調整可変抵抗である。ＰＤ１２ｂから出力される、レーザービームの光量に応じたＰＤ電流２２は光量調整可変抵抗２３で電圧変換され、ＰＤ電圧信号２４として出力する。ＰＤ電圧信号２４は、基準電圧発生回路（Ｖｒｅｆ）２５で生成される基準電圧２６と共に光量制御回路（ＡＰＣ  ＣＴＬ）２７に入力される。
【００２３】
光量制御回路２７は、エンジン制御部３から入力されるサンプル・ホールド（以下Ｓ／Ｈと略す）制御信号２９がサンプル要求時は、ＰＤ電圧信号２４と基準電圧２６を比較し、電流設定値２８を加減制御することにより半導体レーザ１２を所定光量とする。Ｓ／Ｈ制御信号２９がホールド要求時は、サンプル要求時に得られた結果に基づいた電流設定値２８を保持する。
【００２４】
符号３１は、電流制御回路（ＣＵＲＲＥＮＴ  ＣＴＬ）であり、エンジン制御部３から入力されるデータ出力（ＤＡＴＡ  ＯＵＴ）制御信号２９により、データ出力要求時は光量制御回路２７から出力される電流設定値２８にパラレル補正データ４５を演算し、その結果に応じた駆動電流３２を出力する。データ出力禁止時は光量制御回路２７から出力される電流設定値２８に応じた駆動電流３２を出力する。
【００２５】
パラレル補正データ４５は、エンジン制御部３から入力されるシリアル補正データ（ＣＯＲＲＥＣＴ  ＤＡＴＡ）４３を補正データ変換回路（Ｃ．ＤＡＴＡ  ＣＯＮＶＥＲＴ）４４にて変換した信号である。
【００２６】
符号３５は、差動入力を有する差動レシーバ（ＬＶＤＳ）であり、画像制御部５から入力される非反転データ（以下ＤＡＴＡと略す）信号３３、反転データ信号（以下／ＤＡＴＡと略す）信号３４を受信する。出力選択回路３８は、Ｓ／Ｈ制御信号２９またはデータ出力制御信号３０に依って決定されたスィッチング信号ａ３９及びスィッチング信号ｂ４０を出力する。
【００２７】
符号４１は、電流ドライバであり、トランジスタａ（４１ａ）及びトランジスタｂ（４１ｂ）のエミッタ端子を接続した差動増幅の構成としている。トランジスタａ（４１ａ）は、駆動電流３２を以ってスィッチング信号３９ａに基づいて、ＬＤ１２ａをスィッチング駆動する。同様にトランジスタｂ（４１ｂ）は、駆動電流３２を以ってスィッチング信号３９ｂに基づいて、負荷抵抗４２をスィッチング駆動する。
【００２８】
不揮発性メモリ（以下ＥＥＰＲＯＭと略す）４６は、シリアル補正データ４３を生成するためのデータが格納する。エンジン制御部３はＥＥＰＲＯＭ４６と通信制御を行い、ＥＥＰＲＯＭ４６に格納されたデータをシリアルデータ出力信号（ＤＯ）４９を経由して読み出す。
【００２９】
図４は、レーザ駆動回路２１の画像形成時の状態遷移を記すタイムチャート、図５は、レーザ駆動回路２１の動作機能表である。レーザ駆動回路２１の動作はＢＤセンサ２０出力信号の立ち下がりエッジを基準に、光量制御（ＡＰＣ）→レーザ強制消灯（ＯＦＦ）→データ出力（ＤＡＴＡ  ＯＵＴ）→レーザ強制消灯（ＯＦＦ）→光量制御（ＡＰＣ）の順にシーケンシャルに制御される。データ出力は、用紙の印字範囲となる、画像領域である。
【００３０】
（１）光量制御（ＡＰＣ）
光量制御回路２７をサンプル状態、出力選択回路２８は、レシーバ非反転出力信号３６、レシーバ反転出力信号３７の出力の如何に因らず、半導体レーザ１２が発光するよう強制的にＯＮデータを出力する。ＰＤ電圧信号２４と基準電圧２６の差分に応じた信号を以って、以下により半導体レーザ１２の発光光量を所定光量とする制御を行う。
・ＰＤ電圧信号２４＞基準電圧２６：半導体レーザ１２の発光光量が所定光量より大きいと判断し、電流設定値２８、レーザ駆動電流３２を減少することにより半導体レーザ１２の発光光量を低下する。
・ＰＤ電圧信号２４＜基準電圧２６：半導体レーザ１２の発光光量が所定光量より小さいと判断し、電流設定値２８、レーザ駆動電流３２を増加することにより半導体レーザ１２の発光光量を上昇する。
・ＰＤ電圧信号２４＝基準電圧２６：半導体レーザ１２の発光光量が所定光量と同一判断し、電流設定値２８、レーザ駆動電流３２共に増加減はしない。
【００３１】
（２）レーザ強制消灯（ＯＦＦ）
光量制御回路２７にて設定された電流設定値２８を保持し、出力選択回路２５は、レシーバ非反転出力信号３６、レシーバ反転出力信号３７の出力の如何に因らず、半導体レーザ１２が消灯するよう強制的にＯＦＦデータを出力する。
【００３２】
（３）データ出力（ＤＡＴＡ  ＯＵＴ）
光量制御回路２７にて設定された電流設定値２８を以って、出力選択回路３１は、レシーバ非反転出力信号３６、レシーバ反転出力信号３７に応じた信号を出力する。
【００３３】
（４）リセット
（図３不示図）リセット状態となり、光量制御回路２７にて設定された電流値を初期化し且つ、出力選択回路３８から半導体レーザ１２が消灯するよう強制的にＯＦＦデータを出力する。
【００３４】
［照度補正データ生成］
図６は、像面照度測定装置５１の概略構成図である。像面照度測定装置５１は光学ユニット５２、測定用フォトダイオード５３及び光学駆動部５４で概略構成される。測定用フォトダイオード（以下ＡＰＤと略す）５３はアバランシェ・フォトダイオード（ＡＰＤ）を用い、光学ユニット５２上、感光ドラム１９の照射位置相当に配備する。光学駆動部５４は光学ユニット５２を主走査方向、感光ドラム１９の回転方向と直角方向に稼動可能な構成としている。像面照度測定に使用する光学走査装置２のレーザユニット内の半導体レーザ１２から出射したレーザービームＬ２は走査光或いは静止光の何れでもよい。
【００３５】
符号５６は、照度測定用制御ユニットであり、ＡＰＤ制御部５７、アナログ−デジタル変換機（以下ＡＤと略す）及び電流制御部で構成される。ＡＰＤ制御部５７はＡＰＤ５３と測定用フォトダイオード制御信号５５と接続されており、ＡＰＤ５３への電源供給及びＡＰＤ５３から出力される電流を電圧信号に変換する。ＡＤ５９はＡＰＤ電圧信号５８を所定のサンプリングレート及び分解能により量子化をする。
【００３６】
符号６１は電流制御部であり、半導体レーザ１２を所定の光量となるようレーザ駆動１１内のレーザ駆動回路２１に対してレーザ駆動回路制御信号６２によって制御する。レーザ駆動回路制御信号６２は、Ｓ／Ｈ制御信号２９、データ出力（ＤＡＴＡ  ＯＵＴ）制御信号３０及びシリアル補正データ４３で構成し、半導体レーザ１２を所定の光量とする設定値をシリアル補正データ４３によりレーザ駆動回路２１へ転送する。制御方法は画像形成装置１におけるそれと同一のため説明は省略する。
【００３７】
図７は照度補正データの生成の動作原理を説明するグラフ、図８は照度補正データの生成方法を記すフローチャートである。以下に補正データ生成仕様を記す。
【００３８】
【数１】
0005705195.tif 000002
【００３９】
１．光量調整
画像領域内像高（±１５０ｍｍ）を２５ｍｍ等間隔で計１３箇所で像面照度測定を行う。但し、像高の各位置の間隔は等間隔か否かは問わない。
１３箇所の像高での照度を測定、最低照度となる像高を検出し、その像高での照度が所定値となるようレーザ駆動回路２１を光量調整モードにし、光量調整可変抵抗２３にて調整する。以上によって得られた光量を１００％光量と定義し、この時に設定されるレーザ駆動電流３２を１００％光量駆動電流とする。
【００４０】
２．像面照度測定
光学駆動部５４にて光学ユニット５２上の測定用フォトダイオード５３を上記仕様に則って移動し、１３箇所の像高における像面照度を測定する。
【００４１】
３．補正前近似式の算出
像面照度測定で得られる１３箇所の像高における像面照度の測定値から４次近似式を生成する。
【００４２】
４．補正値算出
画像領域内像高（±１５０ｍｍ）を１２．５ｍｍ等間隔で計２５の補正ブロックで照度補正値の算出を行う。像高に対する補正ブロックの配置方法は像面照度測定時の像高と一致しなくともよい。４次近似式から、最低照度となる補正ブロックに対する他の２４ブロックの像面照度差（ΔＰ０〜ΔＰ２４）を算出する。像面照度差（ΔＰ０〜ΔＰ２４）を、レーザ駆動電流３２をフルスケールとして量子化し、補正データとする。
【００４３】
５．補正値格納
上記２〜４項についてレーザ駆動電流３２の各光量駆動電流を８０％、６０％、４０％及び２０％に設定した時の像面照度に対して、同様の方法で補正データを算出する。レーザ駆動電流３２の可変手段は、シリアル補正データ（ＣＯＲＲＥＣＴ  ＤＡＴＡ）４３を所定の光量駆動電流とする値を入力することで実行される。以上により得られた補正データは、シリアルデータ入力信号（ＤＩ）４８を経由してＥＥＰＲＯＭ４６に格納する。
【００４４】
［補正近似式／算出方法］
図９は１５番目の像高ブロック（Ｎｏ．１４）における各光量設定に対する補正データを記すグラフ、図１０は１５番目の像高ブロック（Ｎｏ．１４）における補正近似式算出方法を記すグラフである。
１００％電流設定値、８０％電流設定値、６０％電流設定値、４０％電流設定値及び２０％電流設定値での像面照度における最低値を１５番目の像高ブロックの像面照度の値との差分値を補正データとする。
【００４５】
【数２】
0005705195.tif 000003
【００４６】
光量設定値を以下の５個の領域に分割し、１５番目の補正データから補正近似式を求める。１００％発光設定から８０％光量設定値間の領域を１００％発光設定での補正値と８０％光量設定値での補正値を結んだ直線を近似式とする。以下同様にして近似式を求める。（係数はｄｅｃ値）
（１）近似式Ｌ１（１００％≦Ｐｏ＜８０％）：ΔＰ１４（１００％−８０％）＝９０ＩＬＤ−２６
（２）近似式Ｌ２（８０％≦Ｐｏ＜６０％）：ΔＰ１４（８０％−６０％）＝３０ＩＬＤ＋２２
（３）近似式Ｌ３（６０％≦Ｐｏ＜４０％）：ΔＰ１４（６０％−４０％）＝５５ＩＬＤ＋７
（４）近似式Ｌ４（４０％≦Ｐｏ＜２０％）：ΔＰ１４（４０％−２０％）＝１００ＩＬＤ−１１
（５）近似式Ｌ５（２０％≦Ｐｏ）：ΔＰ１４（２０％）＝９ＩＬＤ
以上の方法で全像高ブロックに対する近似式を求める。
【００４７】
［照度補正方法］
図１１はエンジン制御部３における照度補正のフローチャートである。
【００４８】
１．初期シーケンス
画像形成装置１が電源投入時あるいはリセット後には初期シーケンスを実行する。エンジン制御部３は光学走査装置２内のＥＥＰＲＯＭ４６から１００％光量設定補正値、８０％光量設定補正値、６０％光量設定補正値、４０％光量設定補正値及び２０％光量設定補正値を読み出し、バックアップメモリ６に格納する。
補正近似式／算出方法に則って近似式Ｌｎを算出し、バックアップメモリ６に格納する。
【００４９】
２．照度補正
光量設定値Ｐは、例えば感光ドラム１９の分光感度ばらつきによる潜像ムラに対して最適なドラム面照度を得るため必要な半導体レーザ１２の光量である。光量設定値Ｐ入力後、これに対応した近似式を選択する。
選択された近似式に光量設定値を代入し設定電流値を算出する。
例えば、光量設定値Ｐを７２％とするとバックアップメモリ６から近似式Ｌ２が選択され、［補正近似式／算出方法］から得られた補正データを用いて以下の様に算出される。補正値ΔＰ１４：４３．６ｄｅｃ＝３０×０．７２＋２２（＝２Ｂｈ）
レーザ駆動電流ＩＬＤ：１４０．７２ｄｅｃ＝２５６×０．７２−４３．６（＝８Ｃｈ）以上の方法で、全像高ブロックの補正値ΔＰｎ及びレーザ駆動電流ＩＬＤを求める。
【００５０】
［実施の形態２］
図１１は第２の実施の形態における１５番目の像高ブロック（Ｎｏ．１４）における補正近似式算出方法を記すグラフである。１００％電流設定値、８０％電流設定値、６０％電流設定値、４０％電流設定値及び２０％電流設定値での像面照度における最低値を１５番目の像高ブロックの像面照度の値との差分値を補正データとする。
【００５１】
【数３】
0005705195.tif 000004
【００５２】
光量設定値を以下の５個の領域に分割し、１５番目の補正データから補正近似式を求める。１００％発光設定から８０％光量設定値間の領域を１００％発光設定での補正値と８０％光量設定値から全像高ブロックに対する１次近似式を生成する。近似式は１次以上で生成してもよいことは言うまでもない。
図１２は第２の実施の形態におけるエンジン制御部３の照度補正のフローチャートである。
【００５３】
３．初期シーケンス
画像形成装置１が電源投入時あるいはリセット後には初期シーケンスを実行する。エンジン制御部３は光学走査装置２内のＥＥＰＲＯＭ４６から１００％光量設定補正値、８０％光量設定補正値、６０％光量設定補正値、４０％光量設定補正値及び２０％光量設定補正値を読み出し、バックアップメモリ６に格納する。
１００％光量設定補正値、８０％光量設定補正値、６０％光量設定補正値、４０％光量設定補正値及び２０％光量設定補正値から１次近似式Ｌを算出し、バックアップメモリ６に格納する。
【００５４】
４．照度補正
光量設定値Ｐ入力後、１次近似式Ｌに光量設定値を代入し設定電流値を算出する。
例えば、光量設定値Ｐを７２％とすると補正値ΔＰｎ及びレーザ駆動電流ＩＬＤ以下の様に算出される。
補正値ΔＰ１４：４６．２ｄｅｃ＝６３．５×０．７２＋０．５（＝２Ｅｈ）
レーザ駆動電流ＩＬＤ：１３８．１ｄｅｃ＝２５６×０．７２−４６．２（＝８Ａｈ）以上の方法で全像高ブロックの補正値ΔＰｎ及びレーザ駆動電流ＩＬＤを求める。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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