(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造は、第一規格に符合するプローブカード、第二規格に符合する強化部品、及び両者間に装置する規格変更インターフェース装置により構成し、
前記規格変更インターフェース装置の一側面上には、プローブカードに向かい、第一種規格に符合する内部電気的連接部を形成し、反対の一側面上には、強化部品方向に向かい、第二種規格に符合する外部電気的連接部を形成し、
且つ、前記規格変更インターフェース装置は、少なくとも規格変更回路板を備え、
前記規格変更回路板上には、プローブカードの方向に向かい、第一種規格に基づき、外周定位リングを形成し、
前記外周定位リングの外周に近い位置には、プローブカードに向かうフランジを立設し、
前記外周定位リングは中空に形成し、中空の内周に対応する規格変更回路板上には、別に内周定位リングを設置し、
前記外周定位リングの上には、プローブカード方向に向かい、プローブ台を結合し、
前記外周定位リング及びプローブ台上には共に、第一種規格に符合する接続回路或いは接点を形成することを特徴とする異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造。
【請求項２】
前記規格変更回路板の一側面は、強化部品に向かい組合せを形成し、反対の一側面は、プローブカードに向かい組合せを形成することを特徴とする請求項１に記載の異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造。
【請求項３】
前記規格変更回路板は、強化部品の側面上に向かい、第二種規格に符合する外部電気的連接部を設置し、別にプローブカードの側面に向かい、第一種規格に符合する内部電気的連接部を設置し、
前記内、外電気的連接部の間には、電気的連接を形成することを特徴とする請求項２に記載の異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造。
【請求項４】
前記プローブカード上には、規格変更インターフェース装置の方向に向かい、配線回路板を形成し、
前記配線回路板上には、第一種規格に符合する外部電気接点を形成することを特徴とする請求項１或いは２或いは３に記載の異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造に関し、特に異なるICテスターに同時に適用可能な単一プローブカード構造設計である異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造に関する。
【背景技術】
【０００２】
図１に示すように、従来のICテスターに使用するプローブカード構造は、配線回路板１、固定リング２、プローブ固定装置３、及び配線回路板１を安定させる強化部品４を備える。
しかも、上記した各部品は、使用するテスター規格の差異に応じて、それぞれ異なる形状、大きさ、探触方式を対応させて設計する必要がある。
そのため、一般的には、ICテスターはそれぞれ、それに専属のプローブカードを設置する必要があり、さもなければ規格の互換性がなく使用できないと考えられている。
【０００３】
しかし現在、電子製品の機能はますます複雑になり、ICをテストするテスターの信号テスト能力も、それに対応して拡張し、256個のテストチャンネル(channel)を備える比較的小さい規格のテスターを、512個のテストチャンネルを備えるより大きい規格のテスターに拡張するなど処理能力を拡大させる必要がある。
【０００４】
このため、ICテストメーカーでは通常、より大きい規格のテスターを新たに調達し対応しているが、メーカーの一部には、比較的小さい規格のもともとのテスターのソフト／ハードウェアを修正して、日増しに拡大する処理能力への需要に対応しているところもある。
そうでなければ、規格が小さい旧型のテスターは、ただ捨て置かれ徐々に淘汰されて行くだけで、設備費用の大幅な浪費となってしまう。
しかし、処理能力をアップグレードした規格の大きい機種を新たに調達する場合にも、処理能力の規格が小さい機種を調整し、より大きい規格の処理能力を発揮させる場合にも、共に非常に大きなコスト支出を必要としており、これが完璧な解決方式でないことは疑いがない。
【０００５】
よって、もし、新、旧テスターの間で、良好な協調メカニズムを運用し、転換インターフェースを採用することで、さまざまな規格を備えるテスト機能を兼ね備えさせることができる。
これにより、旧式、或いは規格が小さいテスターが日々淘汰されて行くという問題を解決でき、新旧テスターに最大の処理能力と性能を発揮させ、その稼働率を向上させることができる。
本発明は、従来のICテスターに使用するプローブカード構造の上記した欠点に鑑みてなされたものである。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明が解決しようとする課題は、第一種規格プローブカードの配線回路板において、第二種規格テスターの機台上の強化部品との間に、規格変更インターフェース装置を設置し、規格変更インターフェース装置中には、規格変更回路板を設置し、規格変更回路板は強化部品の一側面上に向かい、第二種規格に対応する外部電気的連接部を設置し、配線回路板の一側面上に向かい、配線回路板の各外部電気接点に相対する第一種規格内部電気的連接部を設置し、これにより規格変更インターフェース装置を利用し、もともとはテスターとは異なる規格であるプローブカードを、規格変更回路板の規格転換を通して、テスター上に直接装置し使用し、これにより単一規格のプローブカードは、プローブカードがもともと適用する規格のテスターに適用可能である他に、規格変更インターフェース装置を通して、別の異なる規格のテスター上に兼用可能で、これによりプローブカードが適用可能な機種を広げ、各異なる規格プローブの運用率を高めることができる異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するため、本発明は下記の異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造を提供する。
異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造は、規格変更回路板をプローブカードの一側面上に向かわせ、外周定位リングを設置し、
該外周定位リングの外周に近い位置には、軸方向フランジを備え、これによりプローブ台の外縁を精密に限定し、
該外周定位リング外の内縁内には、内周定位リングを結合させ、これによりプローブカードの配線回路板は、簡単、かつ正確に外周定位リングのフランジ内に設置され、
該プローブ台及び該外周定位リングを通して、該規格変更回路板上の各内部電気的連接部が設置する接続回路或いは接点は、該配線回路板の各外部接点と電気的連接を形成し、
これによりもともとプローブカード規格とは異なるテスターは、該規格変更インターフェース装置の転換を通して、異なる規格のプローブカードも直接設置して対応し、相互に対応するICに対してテストを行うことができる。
【発明の効果】
【０００８】
本発明の異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造は、規格変更インターフェース装置を利用し、もともとはテスターとは異なる規格であるプローブカードを、規格変更回路板の規格転換を通して、テスター上に直接装置し使用し、これにより単一規格のプローブカードは、プローブカードがもともと適用する規格のテスターに適用可能である他に、規格変更インターフェース装置を通して、別の異なる規格のテスター上に兼用可能で、これによりプローブカードが適用可能な機種を広げ、各異なる規格プローブの運用率を高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】従来の単一規格プローブカード構造の断面模式図である。
【図２】本発明実施例の立体分解模式図である。
【図３】図２に示す実施例の立体組合せ図である。
【図４】図３に示す組合せ状態の構造断面模式図である。
【図５】図４のＡ部分における拡大模式図である。
【図６】本発明組合せプローブカードの実施型態の立体分解模式図である。
【図７】図６に示す組合せ状態の構造断面模式図である。
【図８】図７のＡ部分における拡大模式図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下に図面を参照しながら本発明を実施するための最良の形態について詳細に説明する。
【実施例】
【００１１】
図２〜７に示すように、本発明は、第一種規格に符合するプローブカードの配線回路板１０(図６参照)と第二種規格テスターの機台上に装置する強化部品４０との間に、規格変更インターフェース装置５を設置する。
プローブカードの構造は、図に示す型式で、配線回路板１０、固定リング２０及びプローブ固定装置３０を備える。
【００１２】
規格変更インターフェース装置５は、規格変更回路板５０、外周定位リング５１、内周定位リング５２及びプローブ台５３により構成する。
規格変更回路板５０は、第二種規格に符合する強化部品４０の一側面５０１上に向かい、第二種規格テスターに対応して設置する第二種規格の外部電気的連接部５０２を設置する。
また、配線回路板１０の一側面５０３上に向かい、第一種規格に符合する配線回路板１０上の各外部電気接点１０１に対応する内部電気的連接部５０４を設置する。
しかも、内、外電気的連接部５０２、５０４の間には、電気的連接５０５を形成する。
【００１３】
側面５０３上には、配線回路板１０の方向に向かい、外周定位リング５１を装置する。
外周定位リング５１の外周に近い位置には、プローブカードに向かうフランジ５１０を立設する。
しかも、外周定位リング５１全体の上は、規格変更回路板１０上の第一種規格に対応する内部電気的連接部５０４で、相互に対応する第一種規格に符合する接続回路或いは接点５１１を設置する。
別に、外周定位リング５１に形成する中空の内周位置には、内周定位リング５２を設置する。
【００１４】
プローブ台５３は、その外縁５３１により、フランジ５１０の内周に対応し、外周定位リング５１において配線回路板１０の一側面５１２上に向かい設置する。
しかも、プローブ台５３上には、第一種規格に符合する接続回路或いは接点５１１に対応し、相互に対応する第一種規格を備える接続回路或いは接点５３２を設置する。
これにより、強化部品４０の下方において、規格変更回路板５０、外周定位リング５１、内周定位リング５２及びプローブ台５３が共同で形成する規格変更インターフェース装置５を結合する。
【００１５】
図６〜図８に示すように、上記した規格転換インターフェース装置５により、規格転換回路板５０の下方において、使用者は、乃得配線回路板１０の外部電気接点１０１の規格を、符合する規格変更回路板５０の内部電気的連接部５０４或いはプローブ台５３の接続回路或いは接点５３２の第一種規格に設定する。
さらに、配線回路板１０の外周縁により、外周定位リング５１のフランジ５１０の内縁に対応させて、嵌めて組合せる。
これにより、配線回路板１０の各外部電気接点１０１は、内部電気的連接部５０４或いは各接続回路或いは接点５３２と、相互に対応する電気的連接を形成する。
こうして、プローブカードと規格変更インターフェース装置５の連結を完成する。
【００１６】
使用者は、上記に対応して結合した強化部品４０を、規格変更回路板５０上方の外部電気的連接部５０２に符合する第二種規格のテスター上に装置するだけで、第二種規格テスター上において、規格変更インターフェース装置により、そのテスト条件を変更でき、第一種規格に符合するICのテストを行うことができる。
【００１７】
すなわち、本発明の、配線回路板１０により構成する第一種規格プローブカードは、図１に示すように、相同規格の強化部品４０を直接対応させ相同規格のテスター上に装置し、テスト作業を行うことができる。
さらに本発明は、図７に示すように、第一種規格のプローブカードを、第一種規格を第二種規格に変更する規格変更インターフェース装置５を通して、さらに第二種規格に符合する強化部品４０を対応させ、第二種規格のテスター上に装置し、第一種規格に符合するICのテストを行うことができる。
【００１８】
こうして、第二種規格のテスターは、上記した２種規格のICテストを行う機能を兼ね備え、第一種規格プローブカードは、規格変更インターフェース装置５を組み合わせることで、２種の異なる規格のテスターにおいてそれぞれテストを行うことができる。
これにより、極めて便利に応用ででき、テスター或いはプローブカードの運用と組合せはよりフレキシブルになり、相互の稼働率を向上させることができる。
また、処理能力が比較的小さい旧型機の使用寿命を延長することができる。
【００１９】
上記したように本発明のプローブカード構造は、単一規格プローブカードの適用範囲を大幅に拡大し、プローブカードを繰り返し設定することによるコストと時間の浪費を確実に節減することができる。
【００２０】
上記の本発明名称と内容は、本発明技術内容の説明に用いたのみで、本発明を限定するものではない。本発明の精神に基づく等価応用或いは部品（構造）の転換、置換、数量の増減はすべて、本発明の保護範囲に含むものとする。
【産業上の利用可能性】
【００２１】
本発明は特許の要件である新規性を備え、従来の同類製品に比べ十分な進歩を有し、実用性が高く、社会のニーズに合致しており、産業上の利用価値は非常に大きい。
【符号の説明】
【００２２】
１、１０  配線回路板
１０１  外部電気接点
２、２０  固定リング
３、３０  プローブ固定装置
４、４０  強化部品
５  規格変更インターフェース装置
５０  規格変更回路板
５０１、５０３、５１２  側面
５０２  外部電気的連接部
５０４  内部電気的連接部
５０５  電気的連接
５１  外周定位リング
５１０  プローブカードフランジ
５１１  接続回路或いは接点
５２  内周定位リング
５３  プローブ台
５３１  外縁
５３２  接続回路或いは接点
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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