(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
走行する長尺帯状シートに一又は二以上の加工を行い長尺帯状加工品を製造し、然る後、該加工品をその長手方向と交差する方向に裁断又は打ち抜いて個々の製品を製造する装置を用い、
該装置は、該長尺帯状シートに含まれる欠陥を検出し、該欠陥を含む製品を、前記の裁断後に不良品として排出し、かつ製品の製造工程に連動してシフト信号を発生させるようになされており、
長尺帯状シートに欠陥が検出されたら、該装置の制御部に備えられたシフトレジスタに欠陥検出ビットを立て、
該シフトレジスタにおいて、前記シフト信号の発生ごとに、欠陥検出ビットを１ビットずつシフトさせていき、
シフトされた該欠陥検出ビットが、不良品の排出位置として予め該シフトレジスタに設定されたビットに到達したら、そのときに該装置の不良品排出位置にある製品を不良品として排出する、不良品の排出方法であって、
欠陥の検出位置から長尺帯状シートの加工位置までの走行距離と、搬送方向の製品の長さＬに基づき、検出された欠陥がどの製品のどこに位置するかを予想し、
（イ）製品中における予想された欠陥の位置に応じて、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタにのみ欠陥検出ビットを立てて不良品と設定するか、又は
（ロ−１）欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに欠陥検出ビットを立てるのに加え、その前側及び／又は後側に位置するシフトレジスタの１個又は２個以上に欠陥検出ビットを立てて不良品と設定し、下流の不良品排出位置で該不良品を排出するか、若しくは
（ロ−２）欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに欠陥検出ビットを立てるのに加え、該欠陥検出ビットが、不良品の排出位置として予め該シフトレジスタに設定されたビットに到達したときに、該欠陥検出ビットの前側及び／又は後側に位置するシフトレジスタの１個又は２個以上に欠陥検出ビットを立てて不良品と設定し、該不良品を排出し、
欠陥の検出位置から長尺帯状シートの加工位置までにおける長尺帯状シートの伸長又は収縮に起因する長さの変動量を予め測定しておき、
製品中における欠陥の位置と変動量との関係により下記の条件で不良品を排出する、不良品の排出方法。
Ａ：製品中における欠陥の位置であり、予想される製品の裁断位置の搬送方向の前側からの距離。
Ｂ１：予め測定した欠陥の検出位置から加工位置までの長尺帯状シートの伸長時の変動の最大値。
Ｂ２：予め測定した欠陥の検出位置から加工位置までの長尺帯状シートの収縮時の変動の最大値。
Ｌ：製品の長さ（規定値）。
（Ｂ１＋Ｂ２）≦Ｌのときは、
（ｉ−１）Ａ＞Ｂ２であり、かつ（Ｌ−Ａ）＞Ｂ１ならば、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタにのみ欠陥検出ビットを立てて１個の不良品を排出する。
（ｉ−２）Ａ≦Ｂ２ならば、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに加え、前記製品の搬送方向の前側（下流側）に対応するシフトレジスタにも欠陥検出ビット立て、合計２個を不良品として排出する。
（ｉ−３）（Ｌ−Ａ）≦Ｂ１ならば、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに加え、前記製品の搬送方向の後側（上流側）に対応するシフトレジスタにも欠陥検出ビット立て、合計２個を不良品として排出する。
【請求項２】
走行する長尺帯状シートに一又は二以上の加工を行い長尺帯状加工品を製造し、然る後、該加工品をその長手方向と交差する方向に裁断又は打ち抜いて個々の製品を製造する装置を用い、
該装置は、該長尺帯状シートに含まれる欠陥を検出し、該欠陥を含む製品を、前記の裁断後に不良品として排出し、かつ製品の製造工程に連動してシフト信号を発生させるようになされており、
長尺帯状シートに欠陥が検出されたら、該装置の制御部に備えられたシフトレジスタに欠陥検出ビットを立て、
該シフトレジスタにおいて、前記シフト信号の発生ごとに、欠陥検出ビットを１ビットずつシフトさせていき、
シフトされた該欠陥検出ビットが、不良品の排出位置として予め該シフトレジスタに設定されたビットに到達したら、そのときに該装置の不良品排出位置にある製品を不良品として排出する、不良品の排出方法であって、
欠陥の検出位置から長尺帯状シートの加工位置までの走行距離と、搬送方向の製品の長さＬに基づき、検出された欠陥がどの製品のどこに位置するかを予想し、
（イ）製品中における予想された欠陥の位置に応じて、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタにのみ欠陥検出ビットを立てて不良品と設定するか、又は
（ロ−１）欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに欠陥検出ビットを立てるのに加え、その前側及び／又は後側に位置するシフトレジスタの１個又は２個以上に欠陥検出ビットを立てて不良品と設定し、下流の不良品排出位置で該不良品を排出するか、若しくは
（ロ−２）欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに欠陥検出ビットを立てるのに加え、該欠陥検出ビットが、不良品の排出位置として予め該シフトレジスタに設定されたビットに到達したときに、該欠陥検出ビットの前側及び／又は後側に位置するシフトレジスタの１個又は２個以上に欠陥検出ビットを立てて不良品と設定し、該不良品を排出し、
欠陥の検出位置から長尺帯状シートの加工位置までにおける長尺帯状シートの伸長又は収縮に起因する長さの変動量を予め測定しておき、
製品中における欠陥の位置と変動量との関係により下記の条件で不良品を排出する、不良品の排出方法。
Ａ：製品中における欠陥の位置であり、予想される製品の裁断位置の搬送方向の前側からの距離。
Ｂ１：予め測定した欠陥の検出位置から加工位置までの長尺帯状シートの伸長時の変動の最大値。
Ｂ２：予め測定した欠陥の検出位置から加工位置までの長尺帯状シートの収縮時の変動の最大値。
Ｌ：製品の長さ（規定値）。
（Ｂ１＋Ｂ２）＞Ｌの場合は（ただしＢ１及びＢ２はそれぞれＬ以下）、
（ii−１）Ａ＜Ｂ２かつ（Ｌ−Ａ）＜Ｂ１ならば、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに加え、前記製品の搬送方向の後側（上流側）および前側（下流側）に対応するシフトレジスタにも欠陥検出ビット立て、合計３個を不良品として排出する。
（ii−２）Ａ＞Ｂ２ならば、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに加え、前記製品の搬送方向の後側（上流側）に対応するシフトレジスタにも欠陥検出ビット立て、合計２個を不良品として排出する。
（ii−３）（Ｌ−Ａ）＞Ｂ１ならば、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに加え、前記製品の搬送方向の前側（下流側）に対応するシフトレジスタにも欠陥検出ビット立て、合計２個を不良品として排出する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、連続的に製造される個々の製品から不良品を排出する不良品の排出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般的に帯状シートに、例えば、介在物を貼付したり、シールや裁断をする等の加工をする場合、シートは巻回されたロールから巻き出されて供給される。巻き出されたシートには、目的とする個々の製品ピッチに対応するようなマークなどが付されていない場合が多い。個々の製品の加工では、最初に加工した位置を基準にして、次工程の加工位置を合わせて加工する。原反シートに含まれる不良部の検査は、最初の加工前に行われるのが通常なので、不良部がどの製品に入るかは、検査位置から最初の加工位置までのシート長さで決まる。ところが、シートがその搬送途中に伸縮する場合はこの長さが変化するので、シートの不良部が含まれる製品を確実に排出するために、１カ所の不良部に対して３〜５個以上の製品を不良品として排出している。この排出された不良品中には実際には良品が多数含まれている。不良率が０．１％程度であれば、不良品１個に対して良品を３〜４個を排出しても、経済的に大きな問題にはならないが、不良率が例えば２％程度に高くなると、良品の排出は無視できない数になる。
【０００３】
各工程の品質検査は、最終製品でどれが不良なのかが判ればよいので、不良部にマーキングを施して、不良品排出部でその不良マークを検出して排除することが行われている。例えば本出願人は先に、不良品を検出する検出手段と、検出手段で検出された不良品を含む所定数の製品を排出品として排出する排出手段と、排出手段で排出された排出品に排出順位を示す符号を付するマーキング手段とを備えた不良品の排出システムを提案した（特許文献１参照）。この排出システムによれば、不良品の排出タイミングを、手間をかけずに容易に調整することができるという利点がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００２−７９１８７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、不良品を確実に排除するためには、各検査機位置に対応した数の確実なマーキング装置とその検出装置が必要であり、その結果、製造装置が高価になり、またマーキングしてもそれが製品内部に入ってしまった場合には、後からの検出が容易でないことも多い。更に、マーキングする位置は、製品中で欠陥が実際に存在している位置とは無関係である。
【０００６】
したがって本発明の課題は、前述した従来技術の改良にある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、走行する長尺帯状シートに一又は二以上の加工を行い長尺帯状加工品を製造し、然る後、該加工品をその長手方向と交差する方向に裁断又は打ち抜いて個々の製品を製造する装置を用い、
該装置は、該長尺帯状シートに含まれる欠陥を検出し、該欠陥を含む製品を、前記の裁断後に不良品として排出し、かつ製品の製造工程に連動してシフト信号を発生させるようになされており、
長尺帯状シートに欠陥が検出されたら、該装置の制御部に備えられたシフトレジスタに欠陥検出ビットを立て、
該シフトレジスタにおいて、前記シフト信号の発生ごとに、欠陥検出ビットを１ビットずつシフトさせていき、
シフトされた該欠陥検出ビットが、不良品の排出位置として予め該シフトレジスタに設定されたビットに到達したら、そのときに該装置の不良品排出位置にある製品を不良品として排出する、不良品の排出方法であって、
欠陥の検出位置から長尺帯状シートの加工位置までの走行距離と、搬送方向の製品の長さＬに基づき、検出された欠陥がどの製品のどこに位置するかを予想し、
（イ）製品中における予想された欠陥の位置に応じて、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタにのみ欠陥検出ビットを立てて不良品と設定するか、又は
（ロ−１）欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに欠陥検出ビットを立てるのに加え、その前側及び／又は後側に位置するシフトレジスタの１個又は２個以上に欠陥検出ビットを立てて不良品と設定し、下流の不良品排出位置で該不良品を排出するか、若しくは
（ロ−２）欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに欠陥検出ビットを立てるのに加え、該欠陥検出ビットが、不良品の排出位置として予め該シフトレジスタに設定されたビットに到達したときに、該欠陥検出ビットの前側及び／又は後側に位置するシフトレジスタの１個又は２個以上に欠陥検出ビットを立てて不良品と設定し、該不良品を排出し、
欠陥の検出位置から長尺帯状シートの加工位置までにおける長尺帯状シートの伸長又は収縮に起因する長さの変動量を予め測定しておき、
製品中における欠陥の位置と変動量との関係により下記の条件で不良品を排出する、不良品の排出方法を提供するものである。
Ａ：製品中における欠陥の位置であり、予想される製品の裁断位置の搬送方向の前側からの距離。
Ｂ１：予め測定した欠陥の検出位置から加工位置までの長尺帯状シートの伸長時の変動の最大値。
Ｂ２：予め測定した欠陥の検出位置から加工位置までの長尺帯状シートの収縮時の変動の最大値。
Ｌ：製品の長さ（規定値）。
（Ｂ１＋Ｂ２）≦Ｌのときは、
（ｉ−１）Ａ＞Ｂ２であり、かつ（Ｌ−Ａ）＞Ｂ１ならば、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタにのみ欠陥検出ビットを立てて１個の不良品を排出する。
（ｉ−２）Ａ≦Ｂ２ならば、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに加え、前記製品の搬送方向の前側（下流側）に対応するシフトレジスタにも欠陥検出ビット立て、合計２個を不良品として排出する。
（ｉ−３）（Ｌ−Ａ）≦Ｂ１ならば、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに加え、前記製品の搬送方向の後側（上流側）に対応するシフトレジスタにも欠陥検出ビット立て、合計２個を不良品として排出する。
また本発明は、走行する長尺帯状シートに一又は二以上の加工を行い長尺帯状加工品を製造し、然る後、該加工品をその長手方向と交差する方向に裁断又は打ち抜いて個々の製品を製造する装置を用い、
該装置は、該長尺帯状シートに含まれる欠陥を検出し、該欠陥を含む製品を、前記の裁断後に不良品として排出し、かつ製品の製造工程に連動してシフト信号を発生させるようになされており、
長尺帯状シートに欠陥が検出されたら、該装置の制御部に備えられたシフトレジスタに欠陥検出ビットを立て、
該シフトレジスタにおいて、前記シフト信号の発生ごとに、欠陥検出ビットを１ビットずつシフトさせていき、
シフトされた該欠陥検出ビットが、不良品の排出位置として予め該シフトレジスタに設定されたビットに到達したら、そのときに該装置の不良品排出位置にある製品を不良品として排出する、不良品の排出方法であって、
欠陥の検出位置から長尺帯状シートの加工位置までの走行距離と、搬送方向の製品の長さＬに基づき、検出された欠陥がどの製品のどこに位置するかを予想し、
（イ）製品中における予想された欠陥の位置に応じて、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタにのみ欠陥検出ビットを立てて不良品と設定するか、又は
（ロ−１）欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに欠陥検出ビットを立てるのに加え、その前側及び／又は後側に位置するシフトレジスタの１個又は２個以上に欠陥検出ビットを立てて不良品と設定し、下流の不良品排出位置で該不良品を排出するか、若しくは
（ロ−２）欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに欠陥検出ビットを立てるのに加え、該欠陥検出ビットが、不良品の排出位置として予め該シフトレジスタに設定されたビットに到達したときに、該欠陥検出ビットの前側及び／又は後側に位置するシフトレジスタの１個又は２個以上に欠陥検出ビットを立てて不良品と設定し、該不良品を排出し、
欠陥の検出位置から長尺帯状シートの加工位置までにおける長尺帯状シートの伸長又は収縮に起因する長さの変動量を予め測定しておき、
製品中における欠陥の位置と変動量との関係により下記の条件で不良品を排出する、不良品の排出方法を提供するものである。
Ａ：製品中における欠陥の位置であり、予想される製品の裁断位置の搬送方向の前側からの距離。
Ｂ１：予め測定した欠陥の検出位置から加工位置までの長尺帯状シートの伸長時の変動の最大値。
Ｂ２：予め測定した欠陥の検出位置から加工位置までの長尺帯状シートの収縮時の変動の最大値。
Ｌ：製品の長さ（規定値）。
（Ｂ１＋Ｂ２）＞Ｌの場合は（ただしＢ１及びＢ２はそれぞれＬ以下）、
（ii−１）Ａ＜Ｂ２かつ（Ｌ−Ａ）＜Ｂ１ならば、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに加え、前記製品の搬送方向の後側（上流側）および前側（下流側）に対応するシフトレジスタにも欠陥検出ビット立て、合計３個を不良品として排出する。
（ii−２）Ａ＞Ｂ２ならば、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに加え、前記製品の搬送方向の後側（上流側）に対応するシフトレジスタにも欠陥検出ビット立て、合計２個を不良品として排出する。
（ii−３）（Ｌ−Ａ）＞Ｂ１ならば、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに加え、前記製品の搬送方向の前側（下流側）に対応するシフトレジスタにも欠陥検出ビット立て、合計２個を不良品として排出する。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、不良品排出の制御を行いながら、排出された製品に含まれる良品の排出数を最小限にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】図１は、本発明の方法を実施することで得られる製品の一例を示す一部破断斜視図である。
【図２】図２には、本発明の方法を実施するために用いられる好適な装置の一例を示す模式図である。
【図３】図３（ａ）〜（ｃ）は、本発明の方法の基本となる制御方法の概念図である。
【図４】図４（ａ）〜（ｃ）は、シフトレジスタにおける欠陥検出ビットの位置と、第１原反シートにおける欠陥の存在する位置との関係を示す模式図である。
【図５】図５は、長尺帯状シートの伸長又は縮小が小さい場合における、予想された欠陥の位置と、実際の欠陥の位置との関係を説明するための図である。
【図６】図６は、長尺帯状シートの伸長又は縮小が小さい場合における、予想された欠陥の位置と、実際の欠陥の位置との関係を説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下本発明を、その好ましい実施形態に基づき図面を参照しながら説明する。図１には、本発明の方法を実施することで得られる製品の一例が示されている。同図に示す製品１は、第１シート１ａと、第２シート１ｂと、両シート間に配置された介在物１ｃとを備えている。第１シート１ａ及び第２シート１ｂは、同形のものであり、例えば各種の合成樹脂フィルムや、各種の繊維シートなどから構成されている。両シート１ａ，１ｂは同一の材料から構成されていてもよく、あるいは異なる材料から構成されていてもよい。第１シート１ａ及び／又は第２シート１ｂは、伸長性及び／又は収縮性を有している場合がある。なお、巻回体より繰り出されたシートは加工のための搬送中に、巻回体の状態、シートの材料、搬送テンション等の要因により、伸長してしまう場合、収縮してしまう場合、伸長及び収縮の両方の挙動が生じる場合があり、以降、搬送によるシートの伸長性及び収縮性の両方を説明する場合には、便宜的にこれらを総称して「伸縮性」と表わすこともある。
【００１１】
介在物１ｃとしては、製品１の具体的な用途に応じて各種の材料が用いられる。介在物１ｃは、所定の厚みを有しており、第１シート１ａ及び第２シート１ｂよりも小型のものである。第１シート１ａ及び第２シート１ｂは、介在物１ｃの周縁から外方に延出しており、両シート１ａ，１ｂの延出部が互いに接合されて、介在物１ｃを両シート１ａ，１ｂ間に形成される空間内に密封している。
【００１２】
介在物１ｃとしては、例えば粉粒体と液体との混練成形物、粉粒体の圧縮成形物、繊維積繊体、１プライ又はマルチプライの紙、金属板や木材板等の剛直体、それらの２種以上の組み合わせなどが用いられる。
【００１３】
図２には、本発明の方法を実施するために用いられる好適な装置の一例が示されている。同図に示す装置１０は、第１原反シート供給部２０、第２原反シート供給部３０、介在物供給部４０、シート重合部５０、封止部６０、裁断部７０及び不良品排出部８０を備えている。
【００１４】
第１原反シート供給部２０においては、第１原反シート２１の巻回体からなる繰り出しロール２２から連続帯状の第１原反シート２１が繰り出される。第１原反シート２１は、先に述べた図１に示す第１シート１ａの原料となるものである。繰り出された第１原反シート２１は、第１欠陥検出部２３を通過する。第１欠陥検出部２３は、光源２４と受光センサ２５との組み合わせを備えている。光源２４と受光センサ２５とは、第１原反シート２１を挟んで対向する位置に配置されている。第１欠陥検出部２３は主として、第１原反シート２１に存在するピンホール、異物混入等の欠陥を検出するために用いられる。受光センサ２５によって欠陥が検出された場合、欠陥の検出を知らせる信号が、受光センサ２５より装置１０の制御部（図示せず）に送信される。
【００１５】
第１欠陥検出部２３を通過した第１原反シート２１は、次にダンサーロール２６を通過する。ダンサーロール２６は、上下方向に移動が可能な構造になっており、第１原反シート２１の張力を一定にする目的で用いられる。
【００１６】
第２原反シート供給部３０は、上述した第１原反シート供給部２０とほぼ同様の構成になっている。すなわち、第２原反シート３１の巻回体からなる繰り出しロール３２から連続帯状の第２原反シート３１が繰り出される。第２原反シート３１は、先に述べた図１に示す第２シート１ｂの原料となるものである。繰り出された第２原反シート３１は、光源３４と受光センサ３５との組み合わせを備えた第２欠陥検出部３３を通過する。受光センサ３５によって欠陥が検出された場合、欠陥の発生を知らせる信号が、受光センサ３５より装置１０の制御部（図示せず）に送信される。第２欠陥検出部３３を通過した第２原反シート３１は、ダンサーロール３６を通過する。
【００１７】
介在物供給部４０は、介在物１ｃの製造部（図示せず）において製造された介在物１ｃが、無端ベルト４１によって所定の間隔をおいて搬送されるようになっている。無端ベルト４１上に載置された介在物１ｃは、第１原反シート２１と合流し、第１原反シート２１の面上に乗り移る。第１原反シート２１の幅は、介在物１ｃの幅よりも大きくなっている。介在物１ｃは、第１原反シート２１の幅方向の中央部に載置される。第１原反シート２１は介在物供給部４０の位置で介在物１ｃと合体するのでこの位置で裁断部が決定される。
【００１８】
シート重合部５０においては、介在物１ｃを所定の間隔で載置した第１原反シート２１の上面に、第２原反シート供給部３０から繰り出された第２原反シート３１が重ね合わされる。第２原反シート３１の幅は、第１原反シート２１の幅と同じになっており、第２原反シート３１の重ね合わせによって、介在物１ｃはその全体が両原反シート２１，３１によって被覆される。第２原反シート３１は、シート重合部５０の位置で介在物１ｃと合体するので、この位置でも裁断部が決定される。
【００１９】
封止部６０においては、両原反シート２１，３１によって被覆された状態の介在物１ｃの周縁外方の位置において、両原反シート２１，３１が接合される。接合は、両原反シート２１，３１の材質に応じて適切な手段が用いられる。接合手段としては、熱融着、超音波接合、接着剤による接着などの公知の方法が挙げられる。両原反シート２１，３１の接合は、介在物１ｃの周縁外方の位置において連続接合線が形成されるように行ってもよく、あるいは接合線が不連続に形成されるように行ってもよい。いずれの接合形態を採用する場合であっても、接合線は、介在物１ｃの周縁外方の位置において、該介在物１ｃを取り囲むように、実質的に閉じた形状となるように形成される。
【００２０】
封止部６０における加工によって、両原反シート２１，３１と、その間に所定の間隔をおいて配置された複数の介在物１ｃとから構成される長尺帯状加工品１００が形成される。この長尺帯状加工品１００は、先に述べた図１に示す製品１が一方向に複数個連続して結合した状態のものに対応する。
【００２１】
封止部６０よりも下流側の位置には、位置合わせセンサ６１ａ，６１ｂが設置されている。位置合わせセンサ６１ａ，６１ｂは、長尺帯状加工品１００の上側に位置している。位置合わせセンサ６１ａ，６１ｂは、例えば長尺帯状加工品１００における介在部１ｃの前端縁又は後端縁の位置を検出して制御部（図示せず）に送信する。制御部（図示せず）では、位置合わせセンサ６１ａ，６１ｂからの検出信号に基づき、位置合わせセンサ６１ａ，６１ｂが位置する箇所よりも下流の位置において長尺帯状加工品１００に対して行われる裁断等のタイミングを制御する。すなわち、裁断等の位置合わせを制御する。位置合わせセンサ６１ａ，６１ｂによって検出される介在部１ｃの前端縁又は後端縁の位置は、目的とする製品１の長さの基準位置となる。つまり、一つの介在部１ｃの前端縁から、それに隣り合う別の介在部１ｃの前端縁までの距離が、搬送方向における製品１の長さＬに相当する。
【００２２】
長尺帯状加工物１００に対する前記の裁断は、例えば介在物１ｃと、それに隣り合う介在物１ｃとの中間の位置で行われる。位置合わせセンサ６１ａ，６１ｂはこの裁断の位置合わせの目的で用いられる。この裁断は一定間隔で行われるのではなく、位置合わせセンサ６１ａ，６１ｂからの検出信号に基づき、適正な位置での裁断が行われるように裁断ごとにタイミングが調整されている。このように、位置合わせセンサ６１ａ，６１ｂは、長尺帯状加工物１００に施す裁断等のタイミングを合わせる目的で用いられる。
【００２３】
裁断部７０は、カッターロール７１とアンビルロール７２とを備えている。カッターロール７１及びアンビルロール７２は、長尺帯状加工品１００を挟んで対向する位置において、それらのロールの回転軸が、長尺帯状加工品１００の搬送方向と直交するように配置されている。裁断部７０においては長尺帯状加工品１００が裁断される。裁断は、長尺帯状加工品１００において、搬送方向に前後する介在物１ｃの間の略中央部の位置において行われる。裁断は、長尺帯状加工品１００の長手方向と交差する方向に行われる。この裁断は、搬送方向と直交する方向でも斜めに交差する方向でもよい。また、直線状の裁断だけでなく、波状等の裁断形状をしていてもよい。裁断部７０における長尺帯状加工品１００の裁断によって、目的とする製品１が製造される。この裁断と同時に、裁断部７０から信号が発生し、制御部へと送信される。以下、この信号のことを「シフト信号」と呼ぶ。シフト信号は、裁断ごとに発生するので、シフト信号間の時間は、製品１が長さＬだけ移動するのに要する時間である。
【００２４】
このようにして得られた製品１は、無端ベルト８１によって搬送されて不良品排出部８０に向かう。製品１を挟んで無端ベルト８１の上側には複数の監視センサ８２ａ，８２ｂ，８２ｃが設置されている。これらの監視センサ８２ａ，８２ｂ，８２ｃは、無端ベルト８１上を搬送される製品１の数に対応する数が設置されている。これらの監視センサ８２ａ，８２ｂ，８２ｃによって、無端ベルト８１上を搬送される製品１のピッチずれが正確に測定される。
【００２５】
不良品排出部８０においては、先に述べた第１原反シート供給部２０及び第２原反シート供給部３０にそれぞれ設置されている受光センサ２５，３５から制御部（図示せず）に送信された欠陥の検出信号に基づき、該制御部が、欠陥を含む製品１’を排出する命令を発する。この排出命令に基づき、公知の排出装置（図示せず）によって欠陥を含む製品、すなわち不良品１’が排出される。欠陥を含まない製品１は、梱包等の後工程へと搬送される。
【００２６】
次に、以上の装置１０を用いた不良品の排出方法について説明する。まず、基本となる制御方法について説明する。図３には、基本となる制御方法の概念図が示されている。なお、以下の説明は、第１原反シート２１に欠陥が検出された場合を例にとり説明するが、第２原反シート３１に欠陥が検出された場合も同様の制御が行われる。
【００２７】
第１原反シート２１に欠陥が検出されると、その検出信号が、第１欠陥検出部２３から装置１０の制御部（図示せず）に送信される。制御部においては、欠陥の検出信号を受信すると、図３（ａ）に示すように、該制御部に備えられた演算手段におけるシフトレジスタの０ビット目に欠陥検出ビットを立てる。すなわちシフトレジスタの０ビット目の状態を１にしてフラグを立てる。図３（ａ）において、黒く塗りつぶされた位置が、欠陥検出ビット（フラグ）が立っているビットである。
【００２８】
シフトレジスタに記憶された検欠陥出ビットは、制御部がシフト信号を受信するごとに１ビットずつ上位ビットにシフトしていくようになっている。シフト信号は、上述したとおり、裁断部７０において長尺帯状加工品１００を裁断するたびに発生するようになっている。図３（ｂ）には、図３（ａ）に示す状態を基準として、シフト信号が１回発生した後のシフトレジスタの状態が示されている。同図から明らかなように、図３（ａ）に示す状態のシフトレジスタと比較して、欠陥検出ビットが立っている位置が、上位側に１ビットシフトしている。なお、短い間隔で複数の欠陥があり、次のシフト信号の間において複数の検出信号があった場合には、シフト信号の間であれば、発生ずる欠陥検出ビットは１つである。
【００２９】
シフト信号の発生ごとに欠陥検出ビットがシフトしていくことから明らかなように、シフトレジスタにおける欠陥検出ビットは、第１原反シート２１における欠陥が、装置１０の製造ラインのどの位置に対応しているかを表している。具体的には、欠陥検出ビットがシフトレジスタの０ビット目に記憶されている場合は、第１原反シート２１における欠陥は、第１欠陥検出部２３に位置している。欠陥検出ビットがシフトレジスタの１ビット目に記憶されている場合は、欠陥は、製品１の長さＬを基準として第１欠陥検出部２３の位置から１ピッチ下流側に位置している。したがって、第１欠陥検出部２３の位置から、不良品排出部８０の位置までの長さが決定されれば、その長さと、製品１の長さとの関係から、シフトレジスタの最上位ビットが決定される。図３（ａ）〜（ｃ）では、シフトレジスタの最上位ビットは１３３となっている。したがって、欠陥検出ビットがシフトしていき、シフトレジスタの１３３ビット目に位置するとき、第１原反シート２１における欠陥が、不良品排出部８０に到達していることになる。この状態を図３（ｃ）に示す。このように、シフトされた欠陥検出ビットが、不良品の排出位置として予めシフトレジスタに設定されたビット（図３では１３３ビット）に到達したら、そのときに装置１０の不良品排出部８０にある製品１を不良品１’として排出する。
【００３０】
本方法においては、第１原反シート２１に欠陥が検出されたとき、その欠陥が、どの製品のどの位置に入るかを予想する点に特徴の一つを有する。具体的には、欠陥の検出位置である第１欠陥検出部２３の位置から、加工工程の一つである第１原反シート２１と介在物１ｃとの合体工程が行われる位置Ｇ1（図２参照）までの走行距離、及び製品１の長さＬ（製品１の搬送方向に沿う長さ）に基づき、第１原反シート２１に検出された欠陥が、製品中のどこに位置するかを、装置１０の制御部（図示せず）によって予想する。
【００３１】
検出された欠陥が製品中のどこに位置するか予想するために、具体例を説明する。まず、加工機の状態及びシートの伸縮率が通常生産時の平均と考えられる標準状態において、基準信号(通常はシフト信号を使用)が出力された時の、検出部２３の位置から加工位置までの第１原反シート２１の走行距離Ｄを求める。ここでは加工位置は合体位置Ｇ1（図２参照）とし、また切断予定位置は、製品１の搬送方向に沿って隣り合う２個の介在物１ｃの中間位置（製品の前端となる）とした。このＤを製品１の長さＬで割った商Ｎと剰余Ｍを算出しておく。そして、第１欠陥検出部２３から出力された欠陥の検出を知らせる信号と基準信号との距離的な差をＰとした場合に、この欠陥が合体位置Ｇ1に来たときの、裁断予定位置から欠陥位置までの距離はＰ＋Ｍと予測できる。このＰ＋Ｍを、製品における欠陥位置Ａとする。また、検出部２３から不良品排出位置までの欠陥検出ビットがシフトする個数は、合体位置Ｇ1から不良品排出位置までのシフト数にＮを加えたものとなる。なお、Ｐ＋ＭがＬを超えたときは（Ｐ＋Ｍ−Ｌ）を欠陥位置Ａとし、シフト数はＮ＋１を欠陥位置Ａのシフト数に加えた数になる。
【００３２】
同様に、欠陥の検出位置である第２欠陥検出部３３の位置から、加工工程の一つである第２原反シート３１と介在物１ｃとの合体工程が行われる位置Ｇ2（図２参照）までの走行距離、及び製品１の長さＬ（製品１の搬送方向に沿う長さ）に基づき、第２原反シート３１に検出された欠陥が、製品中のどこに位置するかを、装置１０の制御部（図示せず）によって予想する。具体的には前述の第１原反シート２１と同様に行う。以下、の説明においては、位置Ｇ1及び位置Ｇ2を総称して「合体位置」と言う。
【００３３】
本明細書で言う前記の「走行距離」とは、走行経路中にダンサーロールが存在していない場合には、装置１０の設計上の走行距離に相当するが、図２に示すように走行経路中にダンサーロールが存在している場合には、該ダンサーロールの上下動に起因して変化する実際の走行距離のことを言う。例えば第１原反シート２１の走行中にダンサーロール２６がｘ（ｍｍ）下降した場合には、第１原反シート２１の走行距離は、装置１０の設計上の走行距離に２ｘを加えた値となり、ｘ（ｍｍ）上昇した場合には、第１原反シート２１の走行距離は、装置１０の設計上の走行距離に２ｘを引いた値となる。また、第２原反シート３１の走行中にダンサーロール３６がｘ（ｍｍ）上昇した場合には、第２原反シート３１の走行距離は、装置１０の設計上の走行距離に２ｘを加えた値となり、ｘ（ｍｍ）下降した場合には、第２原反シート３１の走行距離は、装置１０の設計上の走行距離に２ｘを引いた値となる。ダンサーロール２６、３６の上下動の程度は、その位置をセンサによって監視することで測定することができる。
【００３４】
予想された欠陥の位置が、製品１の搬送方向の中央域であれば、ダンサーロールの上下動の程度が、製品ピッチ（製品の長さＬ）の１／２に近い値であっても、隣の製品に欠陥が入ることがないため、欠陥検出ビットが、不良品の排出位置として予めシフトレジスタに設定されたビットに到達したときに、装置１０の不良品排出部８０にある製品１のみを排出する。なお、製品ピッチの１／２と比較するダンサーロールの上下動は２ｘである。この状態を図４（ａ）に示す。第１欠陥検出部２３で検出された第１原反シート２１の欠陥ＤPは、シフトレジスタの０ビット目に欠陥検出ビットとして記憶され、それがシフト信号の発生に連れてシフトしていき、シフトレジスタの１３３ビット目までシフトすると、第１原反シート２１の欠陥ＤPは不良品排出部８０に到達している。
【００３５】
これに対して、予想された欠陥ＤPの位置が、製品１の搬送方向の前端側に偏倚していた場合には、ダンサーロールの変位が僅かな場合であっても、隣の製品に欠陥が入る可能性がある。そこで、シフトレジスタの最上位ビットに欠陥検出ビットが立ったとき、不良品排出部８０にある製品１を排出するとともに、それに先だって、該製品１の搬送方向の前側に位置する１又は２以上の製品１も排出するようにすれば、不良品１’を確実に排出することができる。一方、予想された欠陥の位置が、製品１の搬送方向の後端側に偏倚していた場合には、シフトレジスタの最上位ビットに欠陥検出ビットが立ったとき、不良品排出部８０にある製品１を排出するとともに、該製品１の搬送方向の後側に位置する１又は２以上の製品１も引き続き排出するようにすれば、不良品１’を確実に排出することができる。
【００３６】
ダンサーロール２６，３６の基準位置は、装置１０の定常運転状態でのダンサーロール２６，３６のロール位置と定める。その状態での第１欠陥検出部２３の位置からシート重合部５０の位置までの原反シート２１，３１の走行距離を、装置１０の設計上の走行距離とする。
【００３７】
以上の制御方法によって、欠陥を含む製品１を不良品１’として確実に排出することができる。しかも、不良品１’の前側及び／又は後側に位置する良品の製品１の排出数を必要最低限にとどめることができる。
【００３８】
ダンサーロール２６，３６の上下動に起因して原反シート２１，３１の実際の走行距離が変動することに加え、原反シート２１，３１が伸長性又は収縮性を有している場合には、上述したダンサーロール２６，３６の上下動に起因する原反シート２１，３１の走行距離の変動を加味した制御だけでは、不良品１’を確実に排出できない場合がある。例えば第１原反シート２１が伸長した場合には、図４（ｂ）に示すように、欠陥検出ビットがシフトレジスタの最上位ビットまでシフトしたときに、実際の欠陥の位置ＤRが、予想された欠陥の位置ＤPよりも上流側にあり、不良品排出部８０に未だ到達していない状態が生じる。一方、第１原反シート２１が収縮した場合には、図４（ｃ）に示すように、欠陥検出ビットがシフトレジスタスタの最上位ビットまでシフトしたときに、実際の欠陥の位置ＤRが、予想された欠陥の位置ＤPよりも下流側にあり、不良品排出部８０を既に通過してしまっている状態が生じる。欠陥検出ビットがシフトレジスタの最上位ビットまでシフトしたときに、図４（ｂ）及び（ｃ）に示す状態になっていると、不良品１’が排出されず、その代わりに、該不良品１’の前側又は後側に位置する良品の製品１が排出されてしまう。したがって、排出されなかった不良品１’は良品の製品として販売されてしまう。
【００３９】
そこで、第１原反シート２１（及び／又は第２原反シート３１）が、伸長性又は収縮性を有している場合には、上述の制御に加えて、以下に述べる制御を行うことが好ましい。すなわち、欠陥の検出位置である欠陥検出部２３，３３の位置から、加工位置である合体位置Ｇ1，Ｇ2までにおける原反シート２１，３１の伸長又は収縮に起因する長さの変動量を予め測定しておく。具体的には、使用される原反シートから引っ張り強度の高いシート、小さいシート、平均的なシートを抽出し、予め一定ピッチでマークを付けておき、それぞれ装置にセットし、生産状態で許容される範囲の張力（最大値、平均値、最小値）を与え、検出位置から合体位置までの走行距離における伸長及び収縮の度合いを求める。平均値の張力と比べた伸長及び収縮のそれぞれ最大値を求め、更に安全率を加味して、合体位置までの原反シートの長さの変動量の最大値を決定し、欠陥検出部（欠陥の検出位置）から合体位置（加工位置）までの長尺帯状シートの伸長時の変動の最大値をＢ１とし、収縮時の変動の最大値をＢ２とする。そして、この変動量Ｂ１、Ｂ２と、製品１中における予測された欠陥の位置Ａとの大小関係に基づき、不良品の排出を制御する。具体的な排出の制御は以下のとおりである。なお、製品１中における予測された欠陥の位置Ａは、製品１の搬送方向前側（下流）からの距離で表される（後述する図５及び図６参照）。
【００４０】
まず、（Ｂ１＋Ｂ２）≦Ｌのときについて、図５を用いて説明する。製品長さＬ内に伸縮の変動が収まる場合である。図５のように、製品１をその上流側よりｂ１、ｂ３、ｂ２の３つの領域にわける。領域ｂ１は上流の切断予定位置Ｓ１から伸長時の変動の最大値Ｂ１で確定され、領域ｂ２は下流の切断予定位置Ｓ２から収縮時の変動の最大値Ｂ２で確定され、領域ｂ１と領域ｂ２の間を領域ｂ３とする。欠陥が領域ｂ１にある場合には、搬送方向下流に最大量の収縮（Ｂ２）が発生しても、欠陥は下流側の製品１Ｂに入ることはないが、搬送方向上流に最大量の伸長（Ｂ１）が発生した場合には、欠陥は上流側の製品１Ａに入る可能性がある。欠陥が領域ｂ２にある場合には、搬送方向上流に最大量の伸長（Ｂ１）が発生しても、欠陥は上流側の製品１Ａに入ることはないが、搬送方向下流に最大量の収縮（Ｂ２）が発生した場合には、欠陥は上流側の製品１Ａに入る可能性がある。一方、欠陥が領域ｂ３にある場合には、搬送方向下流に最大量の収縮（Ｂ２）が発生しても、あるいは搬送方向上流に最大量の伸長（Ｂ１）が発生しても、欠陥は下流側の製品１Ｂや上流側の製品１Ａに入ることはない。
【００４１】
したがって、欠陥が領域ｂ３に位置する、Ａ＞Ｂ２かつ（Ｌ−Ａ）＞Ｂ１を満たす関係にある場合には、欠陥の検出位置に対応する１つのシフトレジスタにのみ欠陥検出ビットを立てておき、シフト後、不良品排出位置で、その製品１個のみを不良品として排出する。
【００４２】
これに対して、欠陥が領域ｂ２に位置する、Ａ≦Ｂ２である場合には、該欠陥は、搬送方向下流に収縮が発生した場合には、下流の裁断予定位置Ｓ２を越えて下流側の製品１Ｂに入る可能性があるため、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに加え、製品の搬送方向の前側（下流側）に対応するシフトレジスタにも欠陥検出ビット立てておき、該ビットが不良品の排出位置として予めシフトレジスタに設定されたビットにシフトしたら、不良品排出位置で合計２個の製品１を不良品として排出する。
【００４３】
一方、欠陥が領域ｂ１に位置する、（Ｌ−Ａ）≦Ｂ１ならば、該欠陥は、搬送方向上流に伸長が発生した場合には、上流の裁断予定位置Ｓ１を越えて上流側の製品１Ａに入る可能性があるため、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに加え、前記製品の搬送方向の後側（上流側）に対応するシフトレジスタにも欠陥検出ビット立てておき、該ビットが不良品の排出位置として予めシフトレジスタに設定されたビットにシフトしたら、不良品排出位置で合計２個の製品１を不良品として排出する。
【００４４】
次に、変動量の最大値が大きい場合、例えば（Ｂ１＋Ｂ２）＞Ｌのときについて図６を用いて説明する。このとき、Ｂ１及びＢ２はそれぞれＬ以下とする。前述と同様に、製品１中における予測された欠陥の位置Ａは、製品１の搬送方向前側（下流）からの距離で表される。図６に示すように、製品１をその上流側よりｃ１、ｃ３、ｃ２の３つの領域にわける。上流の切断予定位置Ｓ１から伸長時の変動の最大値Ｂ１と下流の切断予定位置から収縮時の変動の最大値Ｂ２とで確定された中央の領域を領域ｃ３とする。上流の切断予定位置Ｓ１から伸長時の変動の最大値Ｂ１の範囲であり、かつ領域ｃ３を除いた領域を領域ｃ１とする。また、下流の切断予定位置Ｓ２から収縮時の変動の最大値Ｂ２の範囲であり、かつ領域ｃ３を除いた領域を領域ｃ２とする。
【００４５】
欠陥が領域ｃ１にある場合は、最大量の収縮（Ｂ２）が発生しても下流側の製品１Ｂに欠陥が入ることはなく、また欠陥が領域ｃ２にあるときは、最大量の伸長（Ｂ１）が発生しても上流の製品１Ａに欠陥が入ることはない。一方、欠陥が領域ｃ３にある場合には、搬送方向下流に最大量の収縮（Ｂ２）が発生すると欠陥は下流側の製品１Ｂに入る可能性があり、搬送方向上流に最大量の伸長（Ｂ１）が発生すると欠陥は上流側の製品１Ａに入る可能性がある。
【００４６】
従って、欠陥が領域ｃ３に位置する、Ａ＜Ｂ２かつ（Ｌ−Ａ）＜Ｂ１を満たす関係にある場合には、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに加え、製品の搬送方向の後側（上流側）および前側（下流側）に対応するシフトレジスタにも欠陥検出ビットを立てておき、該ビットが不良品の排出位置として予めシフトレジスタに設定されたビットにシフトしたら、不良品排出位置で合計３個の製品１を不良品として排出する。
【００４７】
これに対して、欠陥が領域ｃ１に位置する、Ａ＞Ｂ２ならば、搬送方向上流に伸長が発生した場合には、該欠陥は上流の裁断予定位置Ｓ１を越えて上流側の製品１Ａに入る可能性があるため、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに加え、前記製品の搬送方向の後側（上流側）に対応するシフトレジスタにもビット立てておき、該ビットが不良品の排出位置として予めシフトレジスタに設定されたビットにシフトしたら、不良品排出位置で合計２個の製品１を不良品として排出する。
【００４８】
一方、欠陥が領域ｃ２に位置する、（Ｌ−Ａ）＞Ｂ１である場合には、搬送方向下流に収縮が発生した場合には、該欠陥は下流の裁断予定位置Ｓ２を越えて下流側の製品１Ｂに入る可能性があるため、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに加え、製品の搬送方向の前側（下流側）に対応するシフトレジスタにも欠陥検出ビット立てておき、該ビットが不良品の排出位置として予めシフトレジスタに設定されたビットにシフトしたら、不良品排出位置で合計２個の製品１を不良品として排出する。
【００４９】
この方法に従い、欠陥検出部２３から合体位置Ｇ1までの間における原反シート２１の伸長又は収縮に起因する長さの変動量Ｂ１，Ｂ２を予め測定しておき、その値と、予想された欠陥の位置Ａとの関係に基づき、排出する製品１を決定する。また、同様に欠陥検出部３３から合体位置Ｇ2までの間における原反シート３１の伸長又は収縮に起因する長さの変動量Ｂ１，Ｂ２を予め測定しておき、その値と、予想された欠陥の位置Ａとの関係に基づき、排出する製品１を決定する。そして、原反シート２１と原反シート３１のそれぞれの欠陥から設定された不良品を総合して、不良品排出位置で排出する。このように排出される不良品の数を制御することで、良品の製品１の排出数を必要最低限にとどめることができる。
【００５０】
前記の変動量Ｂ１，Ｂ２を求めるときの欠陥検出部２３，３３の位置から合体位置Ｇ1，Ｇ2の位置までの原反シート２１，３１の伸長又は収縮の程度は、例えば、原反シート２１，３１に何らかの手段でマーキングを施しておき、該マーキングが欠陥検出部２３，３３を通過するときにマーキングを検出し、かつ該マーキングが合体位置Ｇ1，Ｇ2を通過するときにもマーキングを検出することで測定することが好ましい。しかし、マーキングのための部材を装置１０に別途に付設することは経済的でない。そこで、原反シート２１，３１の継ぎ合わせ時（繰り出しロール２２，３２の取り替え時）に該シート２１，３１に貼付されるスプライシングテープを利用し、該テープをマーキングとして利用することが有利である。この観点から、スプライシングテープとして、その存在が光学的に容易に検出できる材料、例えばアルミニウムテープ等を用いることが好ましい。
【００５１】
以上の説明は、欠陥を検出したときに不良品に欠陥検出ビットを立てることを基本として、該欠陥検出ビットの前側及び／又は後側に位置するシフトレジスタの１個又は２個以上にも欠陥検出ビットを立てるものであるが、これに代えて、欠陥検出ビットが、不良品の排出位置として予め該シフトレジスタに設定されたビットに到達したときに、該欠陥検出ビットの前側及び／又は後側に位置するシフトレジスタの１個又は２個以上に欠陥検出ビットを立てて不良品と設定し、該不良品を排出するようにしてもよい。
【００５２】
以上、本発明をその好ましい実施形態に基づき説明したが、本発明は前記実施形態に制限されず、当業者の通常の知識の範囲内で適宜の改変が可能である。
【００５３】
例えば、変動量の最大値がさらに大きい場合、例えば（Ｂ１＋Ｂ２）＞２Ｌの場合や、Ｂ１，Ｂ２がそれぞれＬ以上の場合、同様の考え方で、不良品の排出のためシフトレジスタに立てる欠陥検出ビットは、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに加え、更に該シフトレジスタの前後の複数のシフトレジスタにも立てられる。
【００５４】
また、原反シートの変動量を予め測定しておくための、欠陥検出位置からの加工位置を、前記実施形態においては原反シートと介在物との合体位置としたが、これには制限されず、封止部等の他の位置を加工位置としてもよい。
【００５５】
また前記の実施形態においては、長尺帯状加工品１００をその長手方向と交差する方向に裁断して製品１を製造したが、これに代えて、長尺帯状加工品１００を打ち抜いて製品１を製造してもよい。
【００５６】
また前記の実施形態においては、長尺帯状加工品１００を裁断するたびにシフト信号を発生させたが、シフト信号の発生はこの場合に限られず、製品の製造工程に連動する限り、他の工程においてシフト信号を発生させてもよい。例えば、原反シート２１，３１を封止するときにシフト信号を発生させてもよい。
【符号の説明】
【００５７】
１  製品
１’不良品
１ｃ  介在物
１０  製造装置
２０  第１原反シート供給部
２１  第１原反シート
２５  受光センサ
３０  第２原反シート供給部
３１  第２原反シート
３５  受光センサ
４０  介在物供給部
５０  シート重合部
６０  封止部
６１ａ，６１ｂ  位置合わせセンサ
７０  裁断部
８０  不良品排出部
８２ａ，８２ｂ，８２ｃ  監視センサ
１００  長尺帯状加工物
ＤP  予想された欠陥
ＤR  実際の欠陥
Ｇ1，Ｇ2  合体位置
【図１】
0005658987.tif 000002
【図２】
0005658987.tif 000003
【図３】
0005658987.tif 000004
【図４】
0005658987.tif 000005
【図５】
0005658987.tif 000006
【図６】
0005658987.tif 000007