(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
操作面への操作に応じて静電容量が変化するセンサ電極と、
前記静電容量の変化をもとに前記操作面の操作ポイントの座標値を算出し、当該座標値の変位を前記操作ポイントの変位として検出する検出部と、
前記センサ電極の静電容量値の変位と、前記座標値の変位との相関をもとに、前記操作面への押圧を判定する判定部と
情報処理装置。
【請求項２】
請求項１に記載の情報処理装置であって、
前記判定部は、前記静電容量値と前記座標値との回帰直線の傾きをもとに前記押圧を判定する情報処理装置。
【請求項３】
請求項１に記載の情報処理装置であって、
前記判定部は、前記静電容量値と前記座標値との相関係数をもとに前記押圧を判定する情報処理装置。
【請求項４】
請求項１に記載の情報処理装置であって、
前記検出部は、複数の操作ポイントの各々について前記座標値を算出し、
前記判定部は、前記複数の操作ポイントの各々について前記押圧を判定する
情報処理装置。
【請求項５】
検出部が、操作面への操作に応じたセンサ電極の静電容量の変化をもとに前記操作面の操作ポイントの座標値を算出し、当該座標値の変位を前記操作ポイントの変位として検出し、
判定部が、前記センサ電極の静電容量値の変位と、前記座標値の変位との相関をもとに、前記操作面への押圧を判定する
情報処理方法。
【請求項６】
操作面への操作に応じたセンサ電極の静電容量の変化をもとに前記操作面の操作ポイントの座標値を算出し、当該座標値の変位を前記操作ポイントの変位として検出する検出部と、
前記センサ電極の静電容量値の変位と、前記座標値の変位との相関をもとに、前記操作面への押圧を判定する判定部と
としてコンピュータを機能させるプログラム。
【請求項７】
請求項６に記載のプログラムであって、
前記判定部は、前記静電容量値と前記座標値との回帰直線の傾きをもとに前記押圧を判定するプログラム。
【請求項８】
請求項６に記載のプログラムであって、
前記判定部は、前記静電容量値と前記座標値との相関係数をもとに前記押圧を判定するプログラム。
【請求項９】
請求項６に記載のプログラムであって、
前記検出部は、複数の操作ポイントの各々について前記座標値を算出し、
前記判定部は、前記複数の操作ポイントの各々について前記押圧を判定する
プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本技術は、静電容量方式のタッチセンサを有する情報処理装置、情報処理方法及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、静電容量方式のタッチデバイスが知られている。例えば特許文献１には、静電容量の変化により指の接触を検知可能なタッチパネルが開示されている。このタッチパネルでは、静電容量値について閾値が設定される。そして当該閾値を基準とした静電容量値の変化量をもとに、指の押圧操作が認識される。これにより、操作面から指を離すことなく、同一箇所における連続押圧操作が可能となる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１０−１１３４４５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら特許文献１に記載したタッチパネルでは、異なる位置にある複数のボタン等への連続した押圧操作を検出することは難しい。すなわち操作面上で指を移動させながら連続して押圧操作を行う場合、このような押圧操作を高精度に判定することは難しい。
【０００５】
以上のような事情に鑑み、本技術の目的は、押圧操作を高精度に判定することが可能な情報処理装置、情報処理方法及びプログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するため、本技術の一形態に係る情報処理装置は、センサ電極と、検出部と、判定部とを具備する。  
前記センサ電極は、操作面への操作に応じて静電容量が変化する。  
前記検出部は、前記静電容量の変化をもとに、前記操作面の操作ポイントの変位を検出する。  
前記判定部は、前記センサ電極の静電容量値の変位と、前記操作ポイントの変位とをもとに、前記操作面への押圧を判定する。
【０００７】
この情報処理装置では、センサ電極の静電容量の変化から操作ポイントの変位が検出される。またセンサ電極の静電容量値の変位と、操作ポイントの変位とをもとに、操作面への押圧が判定される。これにより、高精度に押圧操作を判定することが可能となる。
【０００８】
前記検出部は、前記操作ポイントの座標値を算出してもよい。この場合、前記判定部は、前記静電容量値の変位と、前記座標値の変位との相関をもとに、前記押圧を判定してもよい。  
このように、静電容量値の変位と座標値の変位との相関に着目することで、高精度に押圧操作を判定することが可能となる。
【０００９】
前記判定部は、前記静電容量値と前記座標値との回帰直線の傾きをもとに前記押圧を判定してもよい。  
このように、静電容量値と座標値との回帰直線の傾きをもとに押圧操作が判定されてもよい。
【００１０】
前記判定部は、前記静電容量値と前記座標値との相関係数をもとに前記押圧を判定してもよい。  
このように、静電容量値と座標値との相関係数をもとに押圧操作が判定されてもよい。
【００１１】
前記検出部は、複数の操作ポイントについて前記座標値をそれぞれ算出してもよい。この場合、前記判定部は、前記複数の操作ポイントの押圧をそれぞれ判定してもよい。
この情報処理装置では、複数の操作ポイントの押圧操作をそれぞれ判定することが可能となる。
【００１２】
本技術の一形態に係る情報処理方法は、検出部が、操作面への操作に応じたセンサ電極の静電容量の変化をもとに、前記操作面の操作ポイントの変位を検出することを含む。
判定部により、前記センサ電極の静電容量値の変位と、前記操作ポイントの変位とをもとに、前記操作面への押圧が判定される。
【００１３】
本技術の一形態に係るプログラムは、検出部と、判定部ととしてコンピュータを機能させる。  
前記検出部は、操作面への操作に応じたセンサ電極の静電容量の変化をもとに、前記操作面の操作ポイントの変位を検出する。  
前記判定部は、前記センサ電極の静電容量値の変位と、前記操作ポイントの変位とをもとに、前記操作面への押圧を判定する。  
前記プログラムは、記録媒体に記録されていてもよい。
【発明の効果】
【００１４】
以上のように、本技術によれば、押圧操作を高精度に判定することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本技術の第１の実施形態に係る情報処理装置の外観を模式的に示す図である。
【図２】図１に示す情報処理装置の構成例を示すブロック図である。
【図３】図２に示すセンサを説明するための図であり、携帯端末の模式的な断面図である。
【図４】図３に示すセンサが有するセンサ電極の構成例を示す模式的な図である。
【図５】本実施形態に係るセンサにより検出された静電容量値の実測結果の一例を示すグラフである。
【図６】図５に示すグラフを上方から見た場合の図であり、操作面上の静電容量値の分布を示す図である。
【図７】本実施形態における静電容量値について説明するための図である。
【図８】指を移動させながら連続して行われる押圧操作の一例を示す模式的な図である。
【図９】本実施形態に係る操作面上で指を移動させながら連続して押圧操作が行われたときの、静電容量値と、座標値とを示すグラフである。
【図１０】図９のグラフの２点鎖線で囲われた部分の拡大図である。
【図１１】本実施形態に係る押圧判定処理の一例を示すフローチャートである。
【図１２】本実施形態に係る静電容量値と座標値との変位についての回帰直線について説明するための模式的なグラフである。
【図１３】図１１に示す判定閾値を基準とした判定処理を説明するための模式的なグラフである。
【図１４】本技術の第３の実施形態に係るセンサにより検出された２つの操作ポイントについての静電容量値の一例を示すグラフである。
【図１５】本技術の第４の実施形態に係る携帯端末において実行される押圧判定処理の一例を示すフローチャートである。
【図１６】図１５に示すアルゴリズムにより算出された押圧操作判定値の一例を示す模式的なグラフである。
【図１７】図１に示す携帯端末の変形例を示す模式的な斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、図面を参照しながら、本技術の実施形態を説明する。
【００１７】
＜第１の実施形態＞
［情報処理装置の構成］
図１は、本技術の第１の実施形態に係る情報処理装置の外観を模式的に示す図である。図２は、図１に示す情報処理装置の構成例を示すブロック図である。本実施形態では、情報処理装置として、スマートフォンやタブレット端末等の、タッチパネルを備えた携帯端末１００が用いられる。
【００１８】
携帯端末１００は、ユーザ３０に保持される筐体１と、筐体１の前面２に設けられた表示面３とを有する。筐体１の材料やサイズは適宜設定可能である。
【００１９】
表示面３には、例えば数字や文字等を入力するための複数のボタン４や画像５等が表示される。その他、表示面３には、種々のＧＵＩ（Graphical User Interface）が表示される。
【００２０】
図２に示すように、携帯端末１００は、表示部１０１と、センサ１０２と、ＣＰＵ（Central Processing Unit）１０３と、ＲＡＭ（Random Access Memory）１０４と、記憶部１０５とを有する。
【００２１】
表示部１０１は、例えば液晶、ＥＬ（Electro-Luminescence）等を用いた表示デバイスである。記憶部１０５は、不揮発性の記憶デバイスであり、例えばＨＤＤ（Hard Disk Drive）、フラッシュメモリ、その他の固体メモリである。
【００２２】
図３は、センサ１０２を説明するための図であり、携帯端末１００の模式的な断面図である。図３に示すように、携帯端末１００は、例えばガラス等の絶縁性の材料からなる表示カバー６を有する。表示カバー６は、上記した表示面３を構成するものであり、表示カバー６の上面が操作面７として機能する。
【００２３】
センサ１０２は、表示カバー６の下部に設けられる。センサ１０２は、ユーザ３０による操作面７への操作に応じて静電容量が変化するセンサ電極を有する。図４は、そのセンサ電極８の構成例を示す模式的な図である。
【００２４】
図４（Ａ）に示すように、例えばＰＥＴ基板等の透明な部材からなるＸ電極基板９ａ及びＹ電極基板９ｂの２つの基板が用いられる。そして双方の基板にセンサ電極８として、ＩＴＯ（Indium Tin Oxide）等の透明な導電性材料からなるＸ透明電極８ａ及びＹ透明電極８ｂがそれぞれ形成される。本実施形態では、Ｘ透明電極８ａ及びＹ透明電極８ｂとして、複数の電極パッド１０が形成される。
【００２５】
図４（Ｂ）に示すように、Ｘ電極基板９ａ及びＹ電極基板９ｂの２つの基板が積層されて、表示カバー６の下部に設けられる。センサ１０２は、図示しない回路部を有し、当該回路部によりＸ透明電極８ａ及びＹ透明電極８ｂにそれぞれ電圧が印加される。そして回路部により、Ｘ透明電極８ａ及びＹ透明電極８ｂのそれぞれの静電容量値が検出される。検出された静電容量値は、回路部からＣＰＵ１０３に送信される。
【００２６】
指３１等が操作面７に接触又は接近すると、指３１等と各透明電極８ａ及び８ｂとの静電誘導により、各透明電極８ａ及び８ｂのそれぞれの静電容量値が変化する。このような静電容量値の変化をもとにＣＰＵ１０３により、操作面７の操作ポイント１１の座標値が算出される。操作ポイント１１とは、指３１等が操作面７に接触又は近接するポイントである。
【００２７】
図５は、センサ１０２により検出された静電容量値の実測結果の一例を示すグラフである。図６は、図５に示すグラフを上方から見た場合の図であり、操作面７上の静電容量値の分布を示す図である。図５に示すように、本実施形態では、操作面７上の操作ポイント１１において、静電容量値が高くなる。図６に示すように、静電容量値が高くなった部分Ｈの位置をもとに、操作ポイント１１の座標値が算出される。
【００２８】
図７は、本実施形態における静電容量値について説明するための図である。本実施形態では、操作ポイント１１における静電容量ピーク値と、当該操作ポイント１１の周辺１２における値との合算値をもって、操作ポイント１１の静電容量値としている。図７（Ａ）及び（Ｂ）に示すように、操作ポイント１１の周辺１２をどのように選択するかは適宜設定可能である。
【００２９】
後述するように本技術では、押圧操作にともなう操作ポイント１１の変位に着目している。例えば操作ポイント１１がわずかに変位するときに、センサ電極８に対する指３１のまたぎ具合により、静電容量ピーク値が大きく変化してしまうことがある。従って、上記合算値を操作ポイント１１の静電容量値とすることにより、安定して静電容量値を検出することが可能となる。しかしながら操作ポイント１１の静電容量値として、静電容量ピーク値がそのまま用いられてもよい。
【００３０】
また本実施形態では、静電容量値として、フィルタ処理等の信号処理が行われた後の値が用いられる。このような信号処理等を行うことで、例えば操作ポイントの変位検出処理や押圧判定処理等を高精度に行うことが可能となる。しかしながらフィルタ処理等が行われなくてもよい。その他、静電容量値の定義については適宜設定可能である。
【００３１】
ユーザ３０が指３１等を移動させた場合、Ｘ透明電極８ａ及びＹ透明電極８ｂのそれぞれの静電容量値も変化する。すなわち図５に示す静電容量値の高い部分Ｈの位置が変化する。この部分Ｈの位置の変化をもとに、ＣＰＵ１０３により、操作ポイント１１の変位が検出される。すなわち本実施形態では、ＣＰＵ１０３は、検出部として機能する。
【００３２】
また本実施形態では、後述するように、ＣＰＵ１０３により、センサ電極８の静電容量値の変位と、操作ポイント１１の変位とをもとに、操作面７への押圧が判定される。すなわち本実施形態では、ＣＰＵ１０３は、判定部としても機能する。
【００３３】
携帯端末１００による上記した操作ポイント１１の変位検出処理や押圧判定処理等は、記憶部１０５や図示しないＲＯＭ（Read Only Memory）等に記憶されたソフトウェアと、携帯端末１００のハードウェア資源との協働により実現される。具体的には、ＣＰＵ１０３が記憶部１０５等に記憶された、ソフトウェアを構成するプログラムをＲＡＭ１０４にロードして実行することにより、各種の情報処理が実現される。
【００３４】
［押圧判定処理］
押圧判定処理について説明する。例えば図８のように、操作面７上で指３１を離すことなく数字１〜４の順番で押圧操作が入力されたとする。このような場合、特許文献１に記載した押圧判定技術では、当該押圧操作を精度よく判定することは難しい。
【００３５】
図９は、操作面７上で指を移動させながら連続して押圧操作が行われたときの、静電容量値と、座標値とを示すグラフである。図９に示す静電容量値とは、操作ポイントにおける静電容量値である。すなわち、図５に示す部分Ｈにおける静電容量値の、時間に沿った変位である。この「操作ポイントの静電容量値」の変位が、「静電容量値の変位」に相当する。
【００３６】
図９に示す座標値の変位は、操作ポイント１１のＸ軸に関しての変位（Ｘ座標の変位）である。すなわち図５に示す静電容量値の高い部分Ｈが、Ｘ軸に沿って図９に示すように移動する。本実施形態では、静電容量値の変位と操作ポイントのＹ軸に関しての変位（Ｙ座標の変位）とについての情報も取得される。
【００３７】
本実施形態では、操作面７に押圧操作が入力されると、静電容量値が瞬間的に大きくなる。従って、図９に示す静電容量値のグラフで、急激に山なりに変位している部分Ｍにおいて、押圧操作が入力された可能性がある。
【００３８】
図１０は、図９のグラフの２点鎖線で囲われた部分Ｓの拡大図である。この部分Ｓ内のグラフは、ユーザ３０により実際に押圧操作が入力された瞬間のグラフである。このグラフの破線で囲われた部分Ｔに示すように、操作面７に押圧操作が入力されると、座標値も山なりに変位している。すなわち、押圧操作にともなって静電容量値が変位するとともに、座標値も変位する。これは例えば押圧操作にともなう指のずれや、接触面積の変化等が要因であると考えられる。
【００３９】
本実施形態では、静電容量値の変位のみを判定基準とするのではなく、静電容量値の変位と座標値の変位とを判定基準として押圧操作を判定する。具体的には、静電容量値の変位と、座標値の変位との相関に着目することで、高精度に押圧操作を判定可能とする。
【００４０】
図１１は、本実施形態に係る押圧判定処理の一例を示すフローチャートである。
【００４１】
図９に示した静電容量値と座標値とが入力される（ステップ１０１）。入力された静電容量値及び座標値に、フィルタ処理が行われる（ステップ１０２）。フィルタ処理は、例えば入力された静電容量値及び座標値についてノイズを除去するために実行される。これにより押圧判定処理の精度が向上する。なおステップ１０２は必須のステップではなく、必要に応じて行われればよい。
【００４２】
静電容量値と座標値との変位について回帰直線を引き、その傾きが算出される。本実施形態では、座標値のＸ軸での変位における回帰直線と、Ｙ軸での変位における回帰直線とがそれぞれ引かれる。そして２つの回帰直線のそれぞれの傾きが算出される（ステップ１０３）。
【００４３】
図１２は、静電容量値と座標値との変位についての回帰直線について説明するための模式的なグラフである。図１２に示すように、本実施形態では、座標値の変位に対する静電容量値の変位について回帰直線Ｌが引かれる。そして当該回帰直線Ｌの傾きが算出される。
【００４４】
Ｘ軸での変位についての回帰直線の傾きと、Ｙ軸での変位についての回帰直線の傾きとの平均値が算出される（ステップ１０４）。
【００４５】
算出された平均値にフィルタ処理が行われる（ステップ１０５）。そしてステップ１０６において正規化処理が行われる。本実施形態では、正規化された値を、押圧操作判定値とする。しかしながらステップ１０５及び１０６のフィルタ処理及び正規化処理が行われなくてもよい。この場合、ステップ１０４にて算出された平均値がそのまま押圧操作判定値として用いられる。
【００４６】
押圧操作判定値が押圧操作判定の閾値を超えているかが判定される（ステップ１０７）。図１３は、ステップ１０７の判定処理を説明するための模式的なグラフである。図１３に示すように、押圧操作判定値が閾値よりも超えている場合、その時間での押圧操作の入力が検出される（ステップ１０８）。図１３のグラフでは、時間Ｐ1、Ｐ2、Ｐ3において押圧操作が判定されている。一方、押圧操作判定値が閾値よりも超えていない場合、押圧操作の入力は検出されない（ステップ１０９）。
【００４７】
図１０に示すように、押圧操作が入力されると、静電容量値と座標値とがともに山なりに変位する。また座標値の変位と比べて、静電容量値の変位は大きい。従って、上記した回帰直線の傾きを押圧操作判定値として採用可能である。なお閾値は、センサ１０２の構成や感度等に基づいて適宜設定可能である。
【００４８】
以上、本実施形態に係る情報処理装置としての携帯端末１００では、センサ電極８の静電容量の変化から操作ポイント１１の変位が検出される。またセンサ電極８の静電容量値の変位と、操作ポイント１１の変位とをもとに、操作面７への押圧が判定される。これにより、高精度に押圧操作を判定することが可能となる。例えば図８のように、操作面７上で指３１等を移動させながら連続して押圧操作が行われる場合に、当該押圧操作を精度よく判定することができる。
【００４９】
また、上記した静電容量値を適宜定義することで、静電容量の変化をもとに操作ポイント１１の座標値を検出する静電容量方式のタッチパネルを用いて、押圧操作の判定も可能となる。
【００５０】
また操作面７への押圧操作の入力を検出するために、メカニカルスイッチや圧力センサ等のデバイスを用いる必要がない。従って、携帯端末１００の小型化や、コストの削減等を図ることができる。
【００５１】
＜第２の実施形態＞
本技術の第２の実施形態について説明する。上記した第１の実施形態では、押圧操作判定値として、静電容量値と座標値との変位についての回帰直線の傾きが用いられた。しかしながら、静電容量値の変位と座標値の変位との相関に関する情報として、相関係数が算出されてもよい。そして当該相関係数が押圧操作判定値として用いられてもよい。すなわち相関係数が閾値を超えたときに、押圧操作の入力が検出される。
【００５２】
＜第３の実施形態＞
本技術の第３の実施形態について説明する。本実施形態では、静電容量方式のセンサとして多点検出型のセンサが用いられる。
【００５３】
図１４は、本実施形態に係るセンサにより検出された２つの操作ポイント２１１Ａ及び２１１Ｂについての静電容量値の一例を示すグラフである。
【００５４】
本実施形態では、操作ポイント２１１Ａ及び２１１Ｂのそれぞれについて、静電容量値と座標値とが算出される。そして操作ポイント２１１Ａ及び２１１Ｂのそれぞれについて、図１１に示す押圧判定処理が実行される。これにより、多点検出型のセンサにおいて、複数の操作ポイント２１１Ａ及び２１１Ｂの押圧操作をそれぞれ判定することが可能となる。なお、操作ポイントの数は２つに限られない。
【００５５】
＜第４の実施形態＞
本技術の第４の実施形態について説明する。本実施形態に係るセンサも、図１４に示すような複数の操作ポイント２１１Ａ及び２１１Ｂにおける静電容量値を出力する。そして以下に示すように、当該２つの操作ポイント２１１Ａ及び２１１Ｂについて押圧操作が判定される。
【００５６】
図１５は、本実施形態の携帯端末において実行される押圧判定処理の一例を示すフローチャートである。図１５に示すステップ２０１〜ステップ２０８は、図１１に示すステップ１０１〜ステップ１０７、及びステップ１０９と同様の処理である。
【００５７】
ステップ２０７において、押圧操作判定値が閾値よりも超えている場合、その時点で検出されている操作ポイントの数が１つか否か判定される（ステップ２０９）。操作ポイントの数は、例えば図１４に示すような静電容量値から判定されればよい。
【００５８】
操作ポイントの数が１つであると判定された場合、当該操作ポイントにおける押圧操作の入力が検出される（ステップ２１０）。
【００５９】
操作ポイントの数が１つではないと判定された場合、図１４に示す操作ポイント２１１Ａ及び２１１Ｂのうち操作ポイント２１１Ａの押圧操作判定値の方が、操作ポイント２１１Ｂの押圧操作判定値よりも大きいか否かが判定される（ステップ２１１）。
【００６０】
操作ポイント２１１Ａの押圧操作判定値の方が大きいと判定された場合、当該操作ポイント２１１Ａにおける押圧操作の入力が検出される（ステップ２１２）。一方、操作ポイント２１１Ａの押圧操作判定値の方が小さいと判定された場合、操作ポイント２１１Ｂにおける押圧操作の入力が検出される（ステップ２１３）。すなわち複数の操作ポイント２１１Ａ及び２１１Ｂのうち、押圧操作判定値が大きい方の操作ポイントにおける押圧操作の入力が検出される。
【００６１】
図１６は、図１５に示すアルゴリズムにより算出された押圧操作判定値の一例を示す模式的なグラフである。ここでは、左右の２つの指Ｌ及びＲが操作面上でそれぞれ移動させられる。そしていずれか一方の指による押圧操作が繰り返し入力される。
【００６２】
図１６に示す矢印Ｌは、左の指Ｌにより押圧操作が入力された瞬間を示している。矢印Ｒは、右の指Ｒにより押圧操作が入力された瞬間を示している。
【００６３】
図１６に示すように、矢印Ｌ及びＲの押圧操作のときに、押圧操作判定値が増加している。また矢印Ｌの押圧操作のときには、左の指Ｌについての押圧操作判定値として検出されている。一方、矢印Ｒの押圧操作のときには、右の指Ｒについての押圧操作判定値として検出されている。すなわち押圧操作判定値の閾値を適宜設定することで、複数の操作ポイント２１１Ａ及び２１１Ｂの押圧操作を高精度に判定可能であることが分かった。
【００６４】
なお第３及び第４の実施形態において、押圧操作判定値として、第２の実施形態で説明した相関係数が用いられてもよい。
【００６５】
＜変形例＞
本技術に係る実施形態は、上記で説明した実施形態に限定されず種々変形される。
【００６６】
例えば図１７は、図１に示す携帯端末１００の変形例を示す模式的な斜視図である。携帯端末３００は、タッチパッド３０２と、上下左右キー３１０と、操作ボタン３２０と、表示画面３３０とを有する。このような携帯端末３００のタッチパッド３０２に対する操作について、上記した各実施形態で説明したアルゴリズムが適応されてもよい。これによりタッチパッド３０２に対する1以上の操作ポイントの押圧操作が高精度に判定可能となる。
【００６７】
本技術の実施形態に係る情報処理装置として、タッチパネルやタッチパッド等を有するノート型ＰＣ（personal computer）等の電子機器が用いられてもよい。その他、タッチパネルやタッチパッド等を有するコンピュータが用いられてもよい。
【００６８】
上記では、投射型静電容量方式のセンサが用いられた。しかしながら、静電容量値を適宜定義できるのであれば、静電容量方式で駆動するセンサの構造等は限定されない。また静電容量値の定義及び算出方法も限定されない。
【００６９】
図１０では、押圧操作にともない座標値が山なりに変位している。これはＸ軸方向の正の向きに操作ポイントが若干移動したことを示す。しかしながら、押圧操作にともなって、操作ポイントがＸ軸方向の負の向きに移動することも考えられる。この場合、座標値は凹状に変位する。このような場合でも、例えば座標値の変位量の絶対値等を用いることで、押圧操作を高精度に判定することが可能となる。
【００７０】
上記では、センサからＣＰＵに静電容量値が出力され、ＣＰＵにより位置検出処理及び押圧判定処理が実行された。しかしながらセンサがＣＰＵ等の制御部を有しており、センサにより位置検出処理及び押圧判定処理が実行されてもよい。また静電容量値及び座標値をもとに押圧判定処理を行うブロックが、別途設けられてもよい。すなわち検出部及び判定部は、ソフトウェアにより実現されてもよいし、ハードウェアにより実現されてもよい。
【００７１】
上記では、指等による操作が行われている間中、図１１に示す押圧判定処理が実行された。しかしながら、センサから出力される静電容量値について閾値が設定され、静電容量値が閾値を超えたときに、図１１に示す押圧判定処理が開始されてもよい。
【００７２】
図１１のステップ１０３において、Ｘ軸及びＹ軸についての、２つの回帰直線の傾きがそれぞれ算出された。そしてステップ１０４において、２つの傾きの平均値が算出された。しかしながら、平均値ではなく合算値が用いられてもよい。また、Ｘ軸及びＹ軸のいずれか一方のみについて回帰直線が引かれ、その傾きが算出されてもよい。そして当該一方の軸についての傾きをもとに押圧操作が判定されてもよい。これにより演算量の軽減や、コストの削減を図ることができる。
【００７３】
上記では、静電容量値が高い部分の位置の変化をもとに操作ポイントの変位が検出された。しかしながら操作ポイントの変位を検出するために静電容量値が用いられなくてもよい。すなわち、操作ポイントの変位は、センサ電極の静電容量の変化に基づいた種々の技術により検出される。そして押圧操作の判定のために、上記で説明したような静電容量値が算出されてもよい。
【００７４】
上記では、押圧操作判定値として、回帰直線の傾き、あるいは相関係数が用いられた。しかしこれらに限られず、静電容量値の変位と、座標値の変位との相関を表すパラメータとして他のものが用いられてよい。例えば上記した回帰直線の傾き及び相関係数の和や積等の、双方が適宜組み合わされたパラメータが用いられてもよい。
【００７５】
なお、本技術は以下のような構成を取ることができる。
【００７６】
（１）操作面への操作に応じて静電容量が変化するセンサ電極と、
前記静電容量の変化をもとに、前記操作面の操作ポイントの変位を検出する検出部と、
前記センサ電極の静電容量値の変位と、前記操作ポイントの変位とをもとに、前記操作面への押圧を判定する判定部と
を具備する情報処理装置。  
（２）前記（１）に記載の情報処理装置であって、
前記検出部は、前記操作ポイントの座標値を算出し、
前記判定部は、前記静電容量値の変位と、前記座標値の変位との相関をもとに、前記押圧を判定する
情報処理装置。  
（３）前記（２）に記載の情報処理装置であって、
前記判定部は、前記静電容量値と前記座標値との回帰直線の傾きをもとに前記押圧を判定する情報処理装置。  
（４）前記（２）に記載の情報処理装置であって、
前記判定部は、前記静電容量値と前記座標値との相関係数をもとに前記押圧を判定する情報処理装置。  
（５）前記（２）から（４）のうちいずれか１つに記載の情報処理装置であって、
前記検出部は、複数の操作ポイントについて前記座標値をそれぞれ算出し、
前記判定部は、前記複数の操作ポイントの押圧をそれぞれ判定する
情報処理装置。  
（６）検出部が、操作面への操作に応じたセンサ電極の静電容量の変化をもとに、前記操作面の操作ポイントの変位を検出し、
判定部が、前記センサ電極の静電容量値の変位と、前記操作ポイントの変位とをもとに、前記操作面への押圧を判定する
情報処理方法。  
（７）操作面への操作に応じたセンサ電極の静電容量の変化をもとに、前記操作面の操作ポイントの変位を検出する検出部と、
前記センサ電極の静電容量値の変位と、前記操作ポイントの変位とをもとに、前記操作面への押圧を判定する判定部と
としてコンピュータを機能させるプログラム。  
（８）前記（７）に記載のプログラムであって、
前記検出部は、前記操作ポイントの座標値を算出し、
前記判定部は、前記静電容量値の変位と、前記座標値の変位との相関をもとに、前記押圧を判定する
プログラム。  
（９）前記（８）に記載のプログラムであって、
前記判定部は、前記静電容量値と前記座標値との回帰直線の傾きをもとに前記押圧を判定するプログラム。  
（１０）前記（８）に記載のプログラムであって、
前記判定部は、前記静電容量値と前記座標値との相関係数をもとに前記押圧を判定するプログラム。  
（１１）前記（８）から（１０）のうちいずれか１つに記載のプログラムであって、
前記検出部は、複数の操作ポイントについて前記座標値をそれぞれ算出し、
前記判定部は、前記複数の操作ポイントの押圧をそれぞれ判定する
プログラム。
【符号の説明】
【００７７】
Ｌ…回帰直線
７…操作面
８…センサ電極
８ａ…Ｘ透明電極
８ｂ…Ｙ透明電極
８ａ…透明電極
９ａ…Ｘ電極基板
９ｂ…Ｙ電極基板
１０…電極パッド
１１、２１１Ａ、２１１Ｂ…操作ポイント
１００、３００…携帯端末
１０２…センサ
１０３…ＣＰＵ
３０２…タッチパッド
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図４】
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