(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
静磁場空間においてＲＦパルスを被検体に送信する送信部と、
前記被検体から磁気共鳴信号を受信する受信部と、
前記受信部が受信した前記磁気共鳴信号について画像再構成処理を実施することにより、前記被検体について磁気共鳴画像を再構成する画像再構成部と、
前記画像再構成部により再構成された前記磁気共鳴画像を表示画面に表示させる表示部とを有する磁気共鳴イメージング装置であって、
前記送信部は、テスト画像が所定の図形を含む２次元画像となるテスト信号を出力するように構成され、
前記受信部は、前記送信部と接続されており、前記送信部から出力された前記テスト信号を受信し、
前記画像再構成部は、前記受信部により受信された前記テスト信号について画像再構成処理を実施することにより、テスト画像を再構成し、
前記表示部は、前記画像再構成部により画像再構成された前記テスト画像を前記表示画面に表示する、
磁気共鳴イメージング装置。
【請求項２】
前記送信部は、前記テスト画像に円形、楕円形又は四角形の画像が含まれる前記テスト信号を出力する、
請求項１に記載の磁気共鳴イメージング装置。
【請求項３】
前記送信部は、前記テスト画像にスリット画像が含まれる前記テスト信号を出力する、
請求項１に記載の磁気共鳴イメージング装置。
【請求項４】
前記送信部は、前記テスト画像にファントム画像が含まれる前記テスト信号を出力する、
請求項１に記載の磁気共鳴イメージング装置。
【請求項５】
静磁場空間においてＲＦパルスを被検体に送信する送信部と、
前記被検体から磁気共鳴信号を受信する受信部と、
前記受信部が受信した前記磁気共鳴信号について画像再構成処理を実施することにより、前記被検体について磁気共鳴画像を再構成する画像再構成部と、
前記画像再構成部により再構成された前記磁気共鳴画像を表示画面に表示させる表示部とを有する操作コンソールであって、
前記送信部は、テスト画像が所定の図形を含む２次元画像となるテスト信号を出力し、
前記受信部は、前記送信部と接続されており、前記送信部から出力された前記テスト信号を受信し、
前記画像再構成部は、前記受信部により受信された前記テスト信号について画像再構成処理を実施することにより、テスト画像を再構成し、
前記表示部は、前記画像再構成部により画像再構成された前記テスト画像を前記表示画面に表示する、
操作コンソール。
【請求項６】
前記送信部は、前記テスト画像に円形、楕円形又は四角形の画像が含まれる前記テスト信号を出力する、
請求項５に記載の操作コンソール。
【請求項７】
前記送信部は、前記テスト画像にスリット画像が含まれる前記テスト信号を出力する、
請求項５に記載の操作コンソール。
【請求項８】
前記送信部は、前記テスト画像にファントム画像が含まれる前記テスト信号を出力する、
請求項５に記載の操作コンソール。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気共鳴イメージング装置（ＭＲＩ：Ｍａｇｎｅｔｉｃ  Ｒｅｓｏｎａｎｃｅ  Ｉｍａｇｉｎｇ）および操作コンソール（ｃｏｎｓｏｌｅ）に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
磁気共鳴イメージング装置は、核磁気共鳴現象を利用して磁気共鳴信号を発生させ、被検体の断層画像を撮影する装置である。
【０００３】
撮影された断層画像は、被検体の体動、撮影パラメータ（ｐａｒａｍｅｔｅｒ）の設定ミスなどの様々な原因によりアーチファクト（ａｒｔｉｆａｃｔ）、ゴースト（ｇｈｏｓｔ）または歪みなどの画像の乱れが生じる（例えば、特許文献１参照）。
また、上記の画像の乱れは、磁気共鳴イメージング装置の構成機器の不具合により生じる場合もある。
【０００４】
【特許文献１】特開２００７−１４３６２６号公報（例えば、段落０００５参照。）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
また、磁気共鳴イメージング装置は、送信部および受信部の故障検出のための自己診断機能としてＲＦコイル（ｃｏｉｌ）を経由せずに送信部からテスト（ｔｅｓｔ）信号を直接受信部に入力させるループバック（ｌｏｏｐ  ｂａｃｋ）機能が設けられている場合がある。このループバック機能により、送信部から出力されるテスト信号は、直接受信部に入力され、制御部によりテスト信号の大きさが判断される。制御部が受信部にテスト信号が入力されているかを判断することにより、送信部および受信部における断線またはスイッチ（ｓｗｉｔｃｈ）の動作異常を検出することが可能である。また、受信部に入力されたテスト信号の大きさにより、増幅機能の故障を検出することが可能である。
【０００６】
しかし、実際に被検体についての画像再構成された画像に発生する画像の乱れを生じさせる、制御信号を制御したり、画像再構成等を実施するスキャンコントロール（ｓｃａｎ  ｃｏｎｔｒｏｌ）部の異常を検出することが難しい。また、Ｓ／Ｎ性能を判断することも難しい。
【０００７】
また、実際に被検体について再構成された画像に画像の乱れが発生した場合、スキャン（ｓｃａｎ）部に異常があるのか、スキャンコントロール部に異常があるのかを判断することが難しい。
【０００８】
したがって、本発明は、実際に磁気共鳴イメージを行わなくても、再構成画像に発生するアーチファクトなどを生じさせるスキャンコントロール部の異常を検出することができる磁気イメージング装置および操作コンソールを提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明は、静磁場空間においてＲＦパルス（ｐｕｌｓｅ）を被検体に送信する送信部と、前記被検体から磁気共鳴信号を受信する受信部と、前記受信部が受信した前記磁気共鳴信号について画像再構成処理を実施することにより、前記被検体について磁気共鳴画像を再構成する画像再構成部と、前記画像再構成部により再構成された前記磁気共鳴画像を表示画面に表示させる表示部とを有する磁気共鳴イメージング装置であって、前記送信部は、テスト信号を出力するように構成され、前記受信部は、前記送信部と接続されており、前記送信部から出力された前記テスト信号を受信し、前記画像再構成部は、前記受信部により受信された前記テスト信号について画像再構成処理を実施することにより、テスト画像を再構成し、前記表示部は、前記画像再構成部により画像再構成された前記テスト画像を前記表示画面に表示する。
【００１０】
好適には、前記送信部は、前記テスト画像が２次元画像となるように、前記テスト信号を出力する。
【００１１】
好適には、前記送信部は、前記テスト画像にスリット（ｓｌｉｔ）画像を含むように、前記テスト信号を出力する。
【００１２】
好適には、前記送信部は、前記テスト画像がファントム（ｐｈａｎｔｏｍ）画像となるように、前記テスト信号を出力する。
【００１３】
本発明は、静磁場空間においてＲＦパルスを被検体に送信する送信部と、前記被検体から磁気共鳴信号を受信する受信部と、前記受信部が受信した前記磁気共鳴信号について画像再構成処理を実施することにより、前記被検体について磁気共鳴画像を再構成する画像再構成部と、前記画像再構成部により再構成された前記磁気共鳴画像を表示画面に表示させる表示部とを有する操作コンソールであって、前記送信部は、テスト信号を出力し、前記受信部は、前記送信部と接続されており、前記送信部から出力された前記テスト信号を受信し、前記画像再構成部は、前記受信部により受信された前記テスト信号について画像再構成処理を実施することにより、テスト画像を再構成し、前記表示部は、前記画像再構成部により画像再構成された前記テスト画像を前記表示画面に表示する。
【００１４】
好適には、前記送信部は、前記テスト画像が２次元画像となるように、前記テスト信号を出力する。
【００１５】
好適には、前記送信部は、前記テスト画像にスリット画像を含むように、前記テスト信号を出力する。
【００１６】
好適には、前記送信部は、前記テスト画像がファントム画像となるように、前記テスト信号を出力する。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、実際に磁気共鳴イメージを行わなくても、再構成画像に発生するアーチファクトなどを生じさせるスキャンコントロール部の異常を検出することができる磁気イメージング装置および操作コンソールを提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下より、本発明に係る一実施形態について図面を参照して説明する。
【００１９】
＜第１の実施形態＞
（装置構成）
図１は、本発明に係る一実施形態における磁気共鳴イメージング装置の構成を示す構成図である。本装置は、本発明の実施形態の一例である。
【００２０】
図１に示すように、磁気共鳴イメージング装置１は、スキャン部２と、スキャンコントロール部３と操作コンソール部４とから構成されている。ここで、スキャン部２は、静磁場マグネット（ｍａｇｎｅｔ）部１２と、勾配コイル部１３と、ＲＦコイル部１４と、クレードル（ｃｒａｄｌｅ）１５とを有する。スキャンコントロール部３は、ＲＦ駆動部２２と、勾配駆動部２３と、データ収集部２４と、記憶部３１と、画像再構成部３３と、切替部３５とを有する。操作コンソール部４は、制御部３０と、操作部３２と、表示部３４とを有する。本実施形態におけるスキャンコントロール部３と操作コンソール部４とが、本発明の操作コンソールに相当する。
【００２１】
スキャン部２について説明する。
【００２２】
スキャン部２は、図１に示すように、被検体４０における撮影スライス（ｓｌｉｃｅ）領域が収容される静磁場空間１１を含んでいる。そして、スキャン部２は、スキャンコントロール部３からの制御信号に基づいて、その静磁場が形成される静磁場空間１１に収容した被検体４０の撮影領域にＲＦパルスを照射し、その撮影領域から磁気共鳴信号を取得するスキャンを実施する。
【００２３】
スキャン部２の各構成要素について、順次、説明する。
【００２４】
静磁場マグネット部１２は、被検体４０が収容される静磁場空間１１に静磁場を形成するために設けられている。静磁場マグネット部１２は、水平磁場型であって、被検体４０が収容される静磁場空間１１において載置される被検体４０の体軸方向（ｚ方向）に沿うように、超伝導磁石（図示なし）が静磁場を形成する。なお、静磁場マグネット部１２は、水平磁場型の他に、垂直磁場型であってもよく、永久磁石により構成されていてもよい。
【００２５】
勾配コイル部１３は、ＲＦコイル部１４が受信する磁気共鳴信号に３次元の位置情報を持たせるために、静磁場空間１１に勾配磁場を形成する。勾配コイル部１３は、スライス選択勾配磁場、読み取り勾配磁場、位相エンコード（ｅｎｃｏｄｅ）勾配磁場の３種類の勾配磁場を形成するために勾配コイルを３系統有する。
【００２６】
ＲＦコイル部１４は、たとえば、被検体４０を囲むように配置される。ＲＦコイル部１４は、静磁場マグネット部１２によって静磁場が形成される静磁場空間１１内において、制御部３０からの制御信号に基づいて、電磁波であるＲＦパルスを被検体４０に送信して高周波磁場を形成する。これにより、被検体４０の撮影スライス領域におけるプロトン（ｐｒｏｔｏｎ）のスピン（ｓｐｉｎ）を励起する。そして、ＲＦコイル部１４は、その励起された被検体４０の撮影スライス領域におけるプロトンのスピンが元の磁化ベクトル（ｖｅｃｔｏｒ）へ戻る際に生ずる電磁波を、磁気共鳴信号として受信する。ＲＦコイル部１４は、同一のＲＦコイルによりＲＦパルスの送受信を行ってもよい。
【００２７】
クレードル１５は、被検体４０を載置するテーブル（ｔａｂｌｅ）を有する。クレードル１５は、制御部３０からの制御信号に基づいて、静磁場空間１１の内部と外部との間でテーブルに載置された被検体４０を移動する。
【００２８】
スキャンコントロール部３について説明する。
【００２９】
図２は、本発明にかかる一実施形態におけるスキャンコンソール部と操作コンソール部を示すブロック図である。
【００３０】
スキャンコントロール部３は、スキャン部２が被検体４０のスキャンを実施するための制御信号をスキャン部２に送信し、そのスキャン部２が実施したスキャンによって得られた磁気共鳴信号に基づいて、被検体４０の画像を生成する。
【００３１】
スキャンコントロール部３を構成する各部について、順次、説明する。
【００３２】
ＲＦ駆動部２２は、ＲＦコイル部１４を駆動させて静磁場空間１１内に高周波磁場を形成するために、図２に示すように、ＲＦ発振器２２１と信号送信部２２２とを有する。そして、ＲＦ発振器２２１からのＲＦ信号を信号送信部２２２を介して、ＲＦコイル部１４またはデータ収集部２４に出力する。
【００３３】
ＲＦ発振器２２１は、後述する制御部３０から入力されるパルスシーケンス（ｓｅｑｕｅｎｃｅ）データに基づいて、ＲＦ信号を発振し、信号送信部２２２に出力する。
【００３４】
信号送信部２２２は、デジタルダイレクトシンセサイザー（ｄｉｇｉｔａｌ  ｄｉｒｅｃｔ  ｓｙｎｔｈｅｓｉｚｅｒ）（以下、ＤＤＳとも称する）２２２ａとデジタル／アナログ（ｄｉｇｉｔａｌ／ａｎａｌｏｇ）変換器（以下、Ｄ／Ａ変換機とも称する）２２２ｂとを有する。
【００３５】
ＤＤＳ２２２ａは、ＲＦ駆動部２２と後述のデータ収集部２４の動作の基準信号となる参照信号を供給する。この参照信号がＲＦ信号および磁気共鳴信号の位相の基準となる。
【００３６】
Ｄ／Ａ変換機２２２ｂは、デジタル信号で表された時間領域の波形をサンプリング（ｓａｍｐｌｉｎｇ）周波数でアナログ信号に変換する。そして、Ｄ／Ａ変換機２２２ｂからの出力信号はＲＦ電力増幅器（図示なし）で増幅され、ＲＦコイル部１４に出力される。
【００３７】
勾配駆動部２３は、後述する制御部３０の制御信号に基づいて勾配コイル部１３を駆動させて、静磁場空間１１内に勾配磁場を発生させる。勾配駆動部２３は、勾配コイル部１３の３系統の勾配コイルに対応して３系統の駆動回路（図示なし）を有する。
【００３８】
データ収集部２４は、図２に示すように、ＲＦコイル部１４が受信する磁気共鳴信号を収集するために、アナログ／デジタル（ａｎａｌｏｇ／ｄｉｇｉｔａｌ）変換器（以下、Ａ／Ｄ変換機とも称する）２４１と位相検波器２４２とを有する。
【００３９】
Ａ／Ｄ変換機２４１は、位相検波器２４２により位相検波されたアナログ信号である磁気共鳴信号を、デジタル信号に変換して後述する画像再構成部３３に出力する。
【００４０】
位相検波器２４２は、ＲＦコイル部１４からの磁気共鳴信号を、ＤＤＳ２２２ａからの出力信号を参照信号として、位相検波する。
【００４１】
記憶部３１は、コンピュータとコンピュータに所定のデータ処理を実行させるプログラムを記憶するメモリとを有する。そして、記憶部３１は、データ収集部２４に収集された画像再構成処理前の磁気共鳴信号、後述する画像再構成部３３で画像再構成処理された画像データ等を記憶する。
【００４２】
画像再構成部３３は、コンピュータと、そのコンピュータを用いて所定のデータ処理を実行するプログラムを記憶するメモリとを有する。画像再構成部３３は、データ収集部２４に接続されており、データ収集部２４から出力される磁気共鳴信号に対して各種の画像処理をして、画像データを生成する。
【００４３】
切替部３５は、信号送信部２２２が出力したＲＦ信号をデータ収集部２４に直接入力させるか、ＲＦコイル部１４に入力させるかの切替えを行うスイッチである。
被検体４０の磁気共鳴イメージング画像を撮影する場合は、切替部３５におけるスイッチを端子３５ａに切替える。スイッチを端子３５ａに切り替えることにより信号送信部２２２から出力されたＲＦ信号は、ＲＦコイル部１４に入力される。
スキャンコントロール部３の不具合を確認する場合は、切替部３５におけるスイッチを端子３５ｂに切替える。スイッチを端子３５ｂに切り替えることにより信号送信部２２２から出力されたテスト信号は、データ収集部２４に入力される。
【００４４】
操作コンソール部４について説明する。
【００４５】
操作コンソール部４は、磁気共鳴イメージング装置を操作する操作部３２、画像を表示する表示部３４とを含む。
【００４６】
操作コンソール部４を構成する各部について、順次、説明する。
【００４７】
制御部３０は、コンピュータ（ｃｏｍｐｕｔｅｒ）と、そのコンピュータを用いて所定のスキャンに対応する動作を各部に実行させるプログラム（ｐｒｏｇｒａｍ）を記憶するメモリ（ｍｅｍｏｒｙ）とを有する。そして、制御部３０は、後述する操作部３２に接続されており、操作部３２に入力された操作信号を処理し、クレードル１５とＲＦ駆動部２２と勾配駆動部２３とデータ収集部２４との各部に、制御信号を出力し制御を行う。また、制御部３０は、所望の画像を得るために、操作部３２からの操作信号に基づいて画像再構成部３３および後述する表示部３４を制御する。
【００４８】
また、制御部３０は、スキャンコントロール部３の動作を確認する際、画像再構成部３３が画像再構成する画像が所望の画像となるようなＲＦ信号をＲＦ発振器２２１が発振するためのパルスシーケンスを決定し、ＲＦ駆動部２２にパルスシーケンスデータとして出力する。
【００４９】
操作部３２は、キーボード（ｋｅｙｂｏａｒｄ）やマウス（ｍｏｕｓｅ）などの操作デバイス（ｄｅｖｉｃｅ）により構成されている。操作部３２を用いてオペレータ（ｏｐｅｒａｔｏｒ）が撮像プロトコル（ｐｒｏｔｏｃｏｌ）などのデータを入力し、イメージングシーケンス（ｉｍａｇｅ  ｓｅｑｕｅｎｃｅ）を実施する領域などの設定がされる。
【００５０】
また、操作部３２を用いてスキャンコントロール部３の動作を確認する際、ＲＦ発振器２２１が発振するＲＦ信号の波形を設定するためのパルスシーケンスが入力される。
【００５１】
表示部３４は、ディスプレイ（ｄｉｓｐｌａｙ）などの表示デバイスにより構成されており、制御部３０からの制御信号に基づいて、表示画面に画像を表示する。表示部３４は、例えば、オペレータによって操作部３２に操作データが入力される入力項目についての画像を表示画面に表示する。また、表示部３４は、画像再構成部３３が生成する被検体４０のスライス画像を表示する。
【００５２】
（動作）
以下より、本実施形態の磁気共鳴イメージング装置１を用いて撮像した画像に、スキャンコントロール部３が原因で発生するアーチファクト、歪み等を確認し、スキャンコントロール部３を評価するための画像を生成する際の動作について説明する。
【００５３】
図３は、本発明にかかる一実施形態において、スキャンコントロール部の不具合を確認するための画像を生成する際の動作を示すフロー図である。
【００５４】
図２に示すスキャンコントロール部３は、ＲＦ信号をスキャン部２に介さなくてもスキャンコントロール部３が原因で、画像再構成した断層画像にアーチファクト、ゴースト、歪みなどが発生するかの確認を行うことができる。
【００５５】
まず、図３に示すように、ループバック機能を使用するためのスイッチ切替えを行う（ＳＴ１０）。
【００５６】
ここでは、信号送信部２２２からデータ収集部２４にＲＦ信号を直接入力させるループバック機能を使用することができるように、切替部３５であるスイッチを端子３５ｂに切り替える。スイッチを端子３５ｂに切り替えることにより、信号送信部２２２から出力されたテスト信号を直接データ収集部２４に入力させることができる。
【００５７】
次に、図３に示すように、テスト信号のパルスシーケンスデータを決定する（ＳＴ２０）。
【００５８】
ここでは、オペレータが操作部３２により入力されたテスト信号の条件に基づいて、制御部３０がテスト信号のパルスシーケンスデータを決定する。
【００５９】
具体的には、オペレータが、例えば、画像再構成を実施することにより得たい画像の形状、またスピンエコーやグラディエントエコーなどのテスト信号のパルスシーケンスなどを入力し、その入力データにより制御部３０がＲＦ発振器２２１により発振させるテスト信号のパルスシーケンスデータを決定する。
【００６０】
次に、図３に示すように、ＲＦ発振器がテスト信号を発振する（ＳＴ３０）。
【００６１】
ここでは、ステップＳＴ２０において制御部３０が決定したパルスシーケンスデータに基づいて、ＲＦ発振器２２１がテスト信号を発振する。
【００６２】
具体的には、制御部３０から入力されたパルスシーケンスデータに基づいて、ＲＦ発振器２２１がテスト信号のパルスシーケンスを計算し、テスト信号を発振する。例えば、パルスシーケンスがスピンエコーであって、画像再構成を実施して生成される画像の形状が円形となるようなテスト信号を発振する。
【００６３】
次に、図３に示すように、信号送信部によるテスト信号の変換を実施する（ＳＴ４０）。
【００６４】
ここでは、ステップＳＴ３０においてＲＦ発振器２２１が発信したテスト信号を信号送信部２２２に入力し、信号送信部２２２が入力されたテスト信号を変換する。
【００６５】
具体的には、ＲＦ発振器２２１から信号送信部２２２にテスト信号を入力させ、信号送信部２２２におけるＤ／Ａ変換機２２２ｂによりテスト信号をデジタル信号からアナログ信号に変換する。また、ＤＤＳ２２２ａにおいて、参照信号を生成する。
【００６６】
次に、図３に示すように、データ収集部によるテスト信号の変換を実施する（ＳＴ５０）。
【００６７】
ここでは、ステップＳＴ４０においてＤ／Ａ変換機２２２ｂがアナログ変換したテスト信号をデータ収集部２４に入力し、データ収集部２４が入力されたテスト信号を変換する。
【００６８】
具体的には、ループバック機能を使用できるように切替部３５におけるスイッチが端子３５ｂに切り替えられているので、信号送信部２２２から出力されたテスト信号は、直接データ収集部２４に入力される。そして、データ収集部２４に入力されたアナログ変換されたテスト信号を、Ａ／Ｄ変換機２４１によりアナログ信号からデジタル信号に変換する。そして、デジタル変換されたテスト信号を、ＤＤＳ２２２ａからの出力信号を参照信号として、位相検波器２４２が位相検波する。
【００６９】
次に、図３に示すように、画像再構成部により画像再構成を実施する（ＳＴ６０）。
【００７０】
ここでは、ステップＳＴ５０において位相検波器２４２が位相検波したテスト信号を画像再構成部３３に入力し、画像再構成部３３が、入力されたテスト信号を画像再構成し、画像を生成する。
【００７１】
具体的には、アナログ変換されたテスト信号を信号送信部２２２から画像再構成部３３に入力させ、画像再構成部３３によりテスト信号に対して画像再構成を実施し、テスト画像を生成する。
【００７２】
図４は、テスト信号に対して画像再構成を実施したテスト画像を示す図である。図４（ａ）は、スキャンコントロール部３に不具合がない場合に生成されるテスト画像であり、図４（ｂ）は、スキャンコントロール部３に不具合がある場合に生成されるテスト画像である。
図５は、テスト信号に対して画像再構成を実施したテスト画像の他の例を示す図である。
テスト画像５０は、例えば２次元画像であり、例えば図４（ａ）に示すような円形の画像である。また、テスト画像５０は、円形に限らず、四角形の画像であってもよく、またファントムを撮像したときの画像と同様なファントム画像であってもよい。また、２次元画像に限らず、点で示す１次元画像であってもよい。また、テスト画像５０は、図５に示すようなスリット状のパターン画像であってもよく、円形の画像のような２次元画像などと同時に表示させてもよい。
【００７３】
次に、図３に示すように、再構成画像を表示部に表示する（ＳＴ７０）。
【００７４】
ここでは、ステップＳＴ６０において画像再構成部３３が画像再構成を実施して得られたテスト画像５０を表示部３４における表示画面６０に表示する。
【００７５】
以上のように表示画面６０に表示されたテスト画像５０に基づいて、スキャンコントロール部３の不具合を判断する。例えば、スキャンコントロール部３に不具合が無い場合のテスト信号に対して画像再構成を実施すると、表示画面６０に図４（ａ）のような円形のテスト画像５０が表示される場合において、データ収集部２４から出力されたテスト信号に対して画像再構成部３３が画像再構成を実施したら、表示画面６０に図４（ｂ）に示すような歪んだ円のテスト画像５０が表示された場合、スキャンコントロール部３に不具合があると判断する。また、画像再構成を実施することにより表示画面６０に表示されたテスト画像５０からＳ／Ｎ性能も判断する。
また、データ収集部２４から出力されたテスト信号に対して画像再構成を実施すると、表示画面６０に図５に示すようなスリット状のパターン画像が生成される場合、識別できる隣り合うパターンの間隔により解像度を判断する。
【００７６】
以上のように、本発明の一実施形態は、ループバック機能を使用するためにスイッチを切り替える。そして、オペレータが入力したテスト信号の条件から制御部３０がパルスシーケンスデータを決定し、ＲＦ発振器２２１がテスト信号のパルスシーケンスを発振する。そして、ＲＦ発振器２２１により発振されたテスト信号を信号送信部２２２がアナログ変換し、切替部３５におけるスイッチを介して直接データ収集部２４に入力される。そして、入力されたテスト信号をデータ収集部２４がアナログ信号からデジタル信号に変換し、位相検波する。そして、位相検波されたテスト信号を画像再構成部３３が画像再構成を実施し、テスト画像を生成する。そして、表示部３４における表示画面６０にテスト画像を表示させ、表示されたテスト画像からスキャンコントロール部３の不具合を判断する。
【００７７】
このように、被検体やファントムなどに対して実際にスキャンを実施して画像を生成することなしに、ループバック機能により信号送信部から直接データ収集部に入力されたテスト信号を画像再構成することによりスキャンコントロール部の不具合を検出することができる。
また、実際にスキャンを実施して画像を生成し、表示画面に表示した画像に歪みやアーチファクトが発生していた場合、スキャン部に不具合があるのか、スキャンコントロール部に不具合があるのかを判断することは難しいが、本実施形態により生成した画像に歪みやアーチファクトが発生していた場合、スキャンコントロール部に不具合があることが分かる。
【００７８】
なお、上記の本実施形態におけるＲＦ駆動部２２は、本発明の送信部に相当する。また、また、上記の本実施形態におけるデータ収集部２４は、本発明の受信部に相当する。また、上記の本実施形態におけるスキャンコントロール部３および操作コンソール部４は、本発明の操作コンソールに相当する。
【００７９】
なお、本発明の実施に際しては、上記した実施形態に限定されるものではなく、種々の変形形態を採用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００８０】
【図１】図１は、本発明に係る一実施形態における磁気共鳴イメージング装置の構成を示す構成図である。
【図２】図２は、本発明にかかる一実施形態におけるスキャンコントロール部と操作コンソール部とを示すブロック図である。
【図３】図３は、本発明にかかる一実施形態において、スキャンコントロール部の不具合を確認するための画像を生成する際の動作を示すフロー図である。
【図４】図４は、本発明に係る一実施形態におけるテスト信号に対して画像再構成を実施したテスト画像を示す図である。
【図５】図５は、本発明に係る一実施形態におけるテスト信号に対して画像再構成を実施したテスト画像を示す図である。
【符号の説明】
【００８１】
１：磁気共鳴イメージング装置    ２:スキャン部    ３：スキャンコントロール部    ４：操作コンソール部    １１：静磁場空間    １２：静磁場マグネット部    １３：勾配コイル部    １４：ＲＦコイル部    １５：クレードル    ２２：ＲＦ駆動部（送信部）    ２３：勾配駆動部    ２４：データ収集部（受信部）      ３０：制御部    ３１：記憶部    ３２：操作部    ３３：画像再構成部    ３４：表示部    ３５：切替部    ５０：テスト画像    ６０：表示画面    ２２１：ＲＦ発振器    ２２２：信号送信部    ２２２ａ：ＤＤＳ    ２２２ｂ:Ｄ／Ａ変換器    ２４１:Ａ／Ｄ変換器    ２４２：位相検波器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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