(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
オペアンプの入出力端子間に帰還抵抗が並列接続されて構成され、入力される電流を電圧に変換してＩＶ変換電圧として出力するＩＶ変換部と、
前記ＩＶ変換部の動作基準電圧を発生する動作基準電圧発生部と、
較正電圧を発生する較正電圧発生部と、
前記動作基準電圧が印加されて前記オペアンプのオフセット電圧との差分電圧によるオフセット電流を流す、前記帰還抵抗の抵抗値と等しい抵抗値を有するオフセット基準抵抗部と、
前記較正電圧が印加されて較正電流を流す、前記帰還抵抗の抵抗値と等しい抵抗値を有する較正基準抵抗部と、
前記ＩＶ変換部への入力を被測定電流または前記オフセット電流または前記較正電流のいずれかに切り替えるＩＶ変換入力切替部と、
前記ＩＶ変換電圧、前記動作基準電圧および前記較正電圧をそれぞれアナログ値からデジタル値に変換してＡＤ変換値として出力するＡＤ変換部と、
前記ＩＶ変換部に前記被測定電流を入力させたときの前記ＩＶ変換電圧のＡＤ変換値から前記動作基準電圧のＡＤ変換値を減算して前記被測定電流のＩＶ変換電圧値Ａを算出し、前記ＩＶ変換部に前記オフセット電流を入力させたときの前記ＩＶ変換電圧のＡＤ変換値から前記動作基準電圧のＡＤ変換値を減算してオフセット電圧補正値Ｂを算出し、前記較正電圧および前記動作基準電圧の各ＡＤ変換値の差分から較正基準電圧値Ｃを算出し、前記ＩＶ変換部に前記較正電流を入力させたときの前記ＩＶ変換電圧のＡＤ変換値から前記動作基準電圧のＡＤ変換値を減算して前記較正電流のＩＶ変換電圧値Ｄを算出し、式Ｋ＝Ｃ÷（Ｄ−Ｂ）よりゲインエラー補正係数Ｋを算出し、前記較正基準抵抗部の抵抗値をｒとしたときに式Ｅ＝｛（Ａ−Ｂ）×Ｋ｝÷ｒより前記被測定電流の補正測定値Ｅを算出する演算処理部と
を備える微弱電流測定装置。
【請求項２】
前記較正電圧発生部は、前記被測定電流の前記ＩＶ変換電圧に等しい値の前記較正電圧を発生することを特徴とする請求項１に記載の微弱電流測定装置。
【請求項３】
前記較正電圧発生部は、入力されるデジタル値をアナログ値に変換して出力するＤＡ変換部から構成されることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の微弱電流測定装置。
【請求項４】
前記ＡＤ変換部はマイクロ・コントロール・ユニット内に構成され、前記ＡＤ変換部固有の予め測定されたゲインエラー補正値が前記マイクロ・コントロール・ユニットに記憶され、
前記演算処理部は前記補正測定値Ｅを前記ゲインエラー補正値に基づいてさらに補正する
ことを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の微弱電流測定装置。
【請求項５】
前記ＡＤ変換部はマイクロ・コントロール・ユニット内に構成され、前記ＡＤ変換部のＡＤ変換に用いられる基準電圧の予め測定された基準電圧誤差補正値が前記マイクロ・コントロール・ユニットに記憶され、
前記演算処理部は前記補正測定値Ｅを前記基準電圧誤差補正値に基づいてさらに補正する
ことを特徴とする請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の微弱電流測定装置。
【請求項６】
生体の化学反応を微弱電流に変換して前記ＩＶ変換入力切替部へ前記被測定電流として出力するセンサ部と、
前記センサ部へ印加する電圧を発生する測定用印加電圧発生部とを備える
ことを特徴とする請求項１から請求項５のいずれか１項に記載の微弱電流測定装置。
【請求項７】
前記較正電圧発生部および前記測定用印加電圧発生部は、入力されるデジタル値をアナログ値に変換して出力する１つのＤＡ変換部から構成されることを特徴とする請求項６に記載の微弱電流測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、微弱な被測定電流を電圧に変換し、この変換電圧をアナログ値からデジタル値に変換して出力する微弱電流測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、この種の微弱電流測定装置としては、例えば、特許文献１に開示された血糖値測定装置がある。【０００３】
この血糖値測定装置では、同文献の図１１および図１２に示されるように、血糖値センサと並列に擬似抵抗が接続される。擬似抵抗は、血糖値センサの電気特性を擬似したものであり、血糖値センサの両端に印加される電圧と等しい電圧が印加されたときに、血糖値センサに流れる電流と等しい電流が流れるように、抵抗値が選択される。この擬似抵抗は、血糖値測定装置の製品検査時および毎回の装置立ち上げ時に用いられる。【０００４】
製品検査時には、擬似抵抗に電流を流した状態での測定値と、擬似抵抗の抵抗値に対応した血糖値とが一致するように、血糖値測定装置の各種パラメータが決定される。これにより、ＩＶ変換回路およびＡＤ変換回路を構成する半導体集積回路の製造ばらつき等による特性変動が補正される。また、毎回の装置立ち上げ時には、擬似抵抗としてサーミスタが設けられ、このサーミスタに流れる電流が測定されて、測定値がゼロとなるように各種パラメータが初期化される。その後、このパラメータ値に基づいて実際の血糖値の測定結果が補正され、動作環境に応じた特性変動が補正される。【０００５】
また、血糖値の測定に際しては、ＩＶ変換回路を構成するオペアンプの入出力間をスイッチによって短絡して、オペアンプのオフセット電圧を測定する。そして、スイッチを開いてオペアンプの入出力間に帰還抵抗を並列接続した時の測定値からオフセット電圧を引くことで、血糖値測定の精度を高めている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００２−３４０８５３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
特許文献１に開示された上記従来の微弱電流測定装置では、血糖値センサと並列に擬似抵抗が接続されて上記のように測定されることで、半導体集積回路の製造ばらつきやオペアンプのオフセット電圧が測定値から除去されて、補正される。しかしながら、半導体集積回路に外付けされる帰還抵抗等のその他の部品の製造ばらつきや、オペアンプおよびＡＤ変換回路で発生する測定誤差は、擬似抵抗の値による較正ポイントのみについては補正できるが、測定範囲全域については、補正することが出来ない。さらに、温度変動等による構成部品のパラメータ変動によるズレ分についても、補正することが出来ない。従って、上記従来の微弱電流測定装置では、微弱電流の測定精度がまだ十分に高められていない。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明はこのような課題を解決するためになされたもので、
オペアンプの入出力端子間に帰還抵抗が並列接続されて構成され、入力される電流を電圧に変換してＩＶ変換電圧として出力するＩＶ変換部と、
ＩＶ変換部の動作基準電圧を発生する動作基準電圧発生部と、
較正電圧を発生する較正電圧発生部と、
動作基準電圧が印加されてオペアンプのオフセット電圧との差分電圧によるオフセット電流を流す、帰還抵抗の抵抗値と等しい抵抗値を有するオフセット基準抵抗部と、
較正電圧が印加されて較正電流を流す、帰還抵抗の抵抗値と等しい抵抗値を有する較正基準抵抗部と、
ＩＶ変換部への入力を被測定電流またはオフセット電流または較正電流のいずれかに切り替えるＩＶ変換入力切替部と、
ＩＶ変換電圧、動作基準電圧および較正電圧をそれぞれアナログ値からデジタル値に変換してＡＤ変換値として出力するＡＤ変換部と、
ＩＶ変換部に被測定電流を入力させたときのＩＶ変換電圧のＡＤ変換値から動作基準電圧のＡＤ変換値を減算して被測定電流のＩＶ変換電圧値Ａを算出し、ＩＶ変換部にオフセット電流を入力させたときのＩＶ変換電圧のＡＤ変換値から動作基準電圧のＡＤ変換値を減算してオフセット電圧補正値Ｂを算出し、較正電圧および動作基準電圧の各ＡＤ変換値の差分から較正基準電圧値Ｃを算出し、ＩＶ変換部に較正電流を入力させたときのＩＶ変換電圧のＡＤ変換値から動作基準電圧のＡＤ変換値を減算して較正電流のＩＶ変換電圧値Ｄを算出し、式Ｋ＝Ｃ÷（Ｄ−Ｂ）よりゲインエラー補正係数Ｋを算出し、較正基準抵抗部の抵抗値をｒとしたときに式Ｅ＝｛（Ａ−Ｂ）×Ｋ｝÷ｒより被測定電流の補正測定値Ｅを算出する演算処理部と
を備える微弱電流測定装置を構成した。【０００９】
本構成によれば、ＩＶ変換部に被測定電流を入力させたときにＡＤ変換部から出力されるＡＤ変換値から動作基準電圧のＡＤ変換値を減算することで、動作基準電圧を基準に振幅する被測定電流のＩＶ変換電圧値Ａが算出される。また、ＩＶ変換部にオフセット電流を入力させたときにＡＤ変換部から出力されるＡＤ変換値から動作基準電圧のＡＤ変換値を減算することで、ＩＶ変換部のオフセット電圧補正値Ｂが算出される。そして、被測定電流のＩＶ変換電圧値Ａからオフセット電圧補正値Ｂを減算することで、ＩＶ変換部およびＡＤ変換部のオフセット電圧に起因する測定誤差が除去された値のオフセット除去測定値（Ａ−Ｂ）が求められる。【００１０】
また、ＩＶ変換部に較正電流を入力させたときにＡＤ変換部から出力されるＡＤ変換値から動作基準電圧のＡＤ変換値を減算することで、較正電流を測定した値に相当する較正電流のＩＶ変換電圧値Ｄが動作基準電圧を基準に算出される。そして、この較正電流のＩＶ変換電圧値Ｄからオフセット電圧補正値Ｂを減算することで、ＩＶ変換部およびＡＤ変換部のオフセット電圧に起因する測定誤差が除去された値のオフセット除去較正値（Ｄ−Ｂ）が求められる。また、ＡＤ変換部に較正電圧および動作基準電圧をそれぞれ入力させたときにＡＤ変換部から出力される各ＡＤ変換値の差分を算出することで、動作基準電圧を基準にする較正電圧の値が較正基準電圧値Ｃとして求められる。オフセット除去較正値（Ｄ−Ｂ）は、ＩＶ変換部のゲインエラーの影響を含んでいるが、ＡＤ変換部に直接入力される較正電圧および動作基準電圧の差に相当する較正基準電圧値Ｃには、ＩＶ変換部のゲインエラーの影響が含まれていない。【００１１】
一方、オフセット除去測定値（Ａ−Ｂ）も、ＩＶ変換部のゲインエラーの影響を含んでいるが、ＩＶ変換部のゲインエラーの影響が含まれていない較正基準電圧値Ｃのオフセット除去較正値（Ｄ−Ｂ）に対する比Ｋ（＝Ｃ÷（Ｄ−Ｂ））をゲインエラー補正係数として算出し、このゲインエラー補正係数Ｋをオフセット除去測定値（Ａ−Ｂ）に乗算することで、ＩＶ変換部のゲインエラーの影響が除去された値の測定電圧値（＝（Ａ−Ｂ）×Ｋ）が算出される。オフセット除去測定値（Ａ−Ｂ）はこの測定電圧が較正基準抵抗部に印加されて流れる較正電流を測定した値に相当する。従って、この測定電圧値を較正基準抵抗部の抵抗値ｒで除算することで、正確な被測定電流の補正測定値Ｅ（＝｛（Ａ−Ｂ）×Ｋ｝÷ｒ）を求めることが可能になる。この結果、構成部品の製造ばらつきによるパラメータ変動に起因して発生する測定誤差、すなわち、ＩＶ変換部およびＡＤ変換部のオフセット電圧に起因する測定誤差、並びにＩＶ変換部のゲインエラーに起因する測定誤差を被測定電流の測定値から除去することが出来る。この際、較正基準抵抗部に高精度な抵抗を用い、較正基準抵抗部の抵抗値ｒを正確なものとすることで、被測定電流の補正測定値Ｅはより正確なものになる。【００１２】
また、被測定電流である微弱電流の測定の都度、被測定電流の補正測定値Ｅを上記のように算出することで、温度等の測定環境の変動および電源電圧の変動などによる測定装置の特性変化分を含めて補正することが可能になる。このため、演算処理部によって算出される微弱電流の測定精度を従来よりもさらに高めることが可能になる。また、擬似抵抗を用いた従来の微弱電流測定装置のように、較正ポイントが擬似抵抗の値の１ポイントに限定されるようなことはなく、被測定電流の測定範囲全域にわたって被測定電流の測定値を精度良く補正することができる。【００１３】
また、本発明は、較正電圧発生部が、被測定電流のＩＶ変換電圧に等しい値の較正電圧を発生することを特徴とする。【００１４】
本構成によれば、微弱電流の測定の都度実測される被測定電流のＩＶ変換電圧に等しい値が較正電圧の値として用いられるので、被測定電流の実測値に近い電流を生じさせる較正電圧に基づいて、被測定電流の補正測定値Ｅが算出される。このため、被測定電流の補正測定値Ｅはより正確なものになる。また、ゲインエラー補正係数として用いられる、オフセット除去較正値（Ｄ−Ｂ）に対する較正基準電圧Ｃの比Ｋは、被測定電流のＩＶ変換電圧に等しい較正電圧によって流れる１つの電流入力について求められるので、ＩＶ変換部のゲインエラーがその入力に対して非線形に変化する場合であっても、被測定電流を正確に補正することが出来る。【００１５】
また、本発明は、較正電圧発生部が、入力されるデジタル値をアナログ値に変換して出力するＤＡ変換部から構成されることを特徴とする。【００１６】
本構成によれば、ＤＡ変換部にデジタル値を入力するだけの簡単な処理で、所望のアナログ値の較正電圧を簡単に発生させることができる。特に、被測定電流のＩＶ変換電圧に等しい値の較正電圧を発生させる場合、被測定電流のＩＶ変換電圧値Ａに等しい値のデジタル値をＤＡ変換部に単に入力することで、被測定電流のＩＶ変換電圧に等しい値の較正電圧を簡単に発生させることができる。【００１７】
また、本発明は、  
ＡＤ変換部がマイクロ・コントロール・ユニット（以下、ＭＣＵと記す）内に構成され、ＡＤ変換部固有の予め測定されたゲインエラー補正値がＭＣＵに記憶され、
演算処理部が、補正測定値Ｅをゲインエラー補正値に基づいてさらに補正する
ことを特徴とする。【００１８】
本構成によれば、ＡＤ変換部がＭＣＵ内に構成されることで、微弱電流の測定時にＡＤ変換部固有のゲインエラーの影響を除去する補正は出来ないが、予め測定されてＭＣＵに記憶されたＡＤ変換部固有のゲインエラー補正値の初期値を、被測定電流の補正測定値Ｅに反映させることが出来る。このため、演算処理部で算出される被測定電流の補正測定値Ｅはより正確なものになる。【００１９】
また、本発明は、
ＡＤ変換部がＭＣＵ内に構成され、ＡＤ変換部のＡＤ変換に用いられる基準電圧の予め測定された基準電圧誤差補正値がＭＣＵに記憶され、
演算処理部が、補正測定値Ｅを基準電圧誤差補正値に基づいてさらに補正する
ことを特徴とする。【００２０】
本構成によれば、予め測定されてＭＣＵに記憶されたＡＤ変換用基準電圧の基準電圧誤差補正値の初期値を、被測定電流の補正測定値Ｅに反映させることが出来る。このため、演算処理部で算出される被測定電流の補正測定値Ｅはより正確なものになる。【００２１】
また、本発明は、
生体の化学反応を微弱電流に変換してＩＶ変換入力切替部へ被測定電流として出力するセンサ部と、
センサ部へ印加する電圧を発生する測定用印加電圧発生部とを備える
ことを特徴とする。【００２２】
本構成によれば、生体の化学反応を微弱電流として測定する際、測定用印加電圧発生部で発生する電圧をセンサ部に印加することで、ＩＶ変換入力切替部に生体の化学反応に応じた被測定電流を出力させることが出来る。ＩＶ変換入力切替部によってこの被測定電流が選択されてＩＶ変換部に入力され、演算処理部によって上記の演算処理が行われることで、生体の化学反応に応じた微弱電流を正確に測定することが出来る。【００２３】
また、本発明は、較正電圧発生部および測定用印加電圧発生部が、入力されるデジタル値をアナログ値に変換して出力する１つのＤＡ変換部から構成されることを特徴とする。【００２４】
本構成によれば、測定用印加電圧発生部の構成を較正電圧発生部に兼ねることが出来るので、微弱電流測定装置の構成を簡素化することが出来、微弱電流測定装置の製造原価を抑制することが出来る。
【発明の効果】
【００２５】
本発明によれば、温度等の測定環境の変動および電源電圧の変動などによる測定装置の特性変化分を含めて補正することが可能で、微弱電流の測定精度をさらに高めることが可能な、しかも、被測定電流の補正測定範囲が限定されることのない微弱電流測定装置を提供することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】本発明の一実施の形態による血糖値測定装置の回路ブロック図である。
【図２】一実施の形態による血糖値測定装置において、血糖値センサから入力される血糖値電流を測定して補正する処理手順を示すフローチャートである。
【図３】一実施の形態による血糖値測定装置を構成するＡＤ変換部へ入力されるアナログ電圧値とこのＡＤ変換部のデジタル出力電圧値との関係を示すグラフである。
【図４】一実施の形態による血糖値測定装置によって補正されて得られる血糖値電流の測定誤差を、この補正が行われないで得られる血糖値電流の測定誤差と比較して示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００２７】
次に、本発明による微弱電流測定装置を血糖値測定装置に適用した一実施の形態について説明する。
【００２８】
図１は、本実施の形態による血糖値測定装置１の回路ブロック図である。
【００２９】
血糖値測定装置１は、回路基板２上に電子部品が実装されて構成されており、血糖値電流Ｉを被測定電流である微弱電流として測定する。回路基板２にはセンサコネクタ３が設けられており、センサコネクタ３は血糖値センサ４とコネクタ接続される。血糖値センサ４は、血液が付着された状態で所定のセンサ印加電圧Ｖsが印加されると、センサ内の酵素と血液中のブドウ糖とが化学反応を起こし、血糖値に応じた血糖値電流Ｉを流す。
【００３０】
回路基板２には、入力切替回路５、ＩＶ変換回路６、およびＭＣＵ７が実装されている。入力切替回路５は第１スイッチ５ａ，第２スイッチ５ｂ，第３スイッチ５ｃ，および第４スイッチ５ｄ、ＩＶ変換回路６はＩＶ変換部６ａおよび電圧反転部６ｂから構成される。血糖値センサ４は、生体の化学反応を微弱電流に変換して入力切替回路５の第１スイッチ５ａへ被測定電流として出力するセンサ部を構成する。また、ＭＣＵ７は演算処理部７ａおよびメモリ７ｂを備え、演算処理部７ａは、回路各部の統括制御および所定の演算処理を実行する。
【００３１】
ＭＣＵ７内には、ＡＤＣ部７ｃ、並びに、第１ＤＡＣ部７ｄおよび第２ＤＡＣ部７ｅが構成されている。ＡＤＣ部７ｃは、ＩＶ変換回路６から出力されるＩＶ変換電圧Ｖをアナログ値からデジタル値にＡＤ変換するＡＤ変換部を構成し、第１ＤＡＣ部７ｄおよび第２ＤＡＣ部７ｅは、デジタル値をアナログ値にＤＡ変換するＤＡ変換部をそれぞれ構成している。これらは、基準電圧生成部７ｆが生成する基準電圧Ｅ０を基準に、ＡＤ変換およびＤＡ変換する。ＡＤＣ部７ｃへの入力は、マルチプレクサ７ｇによってＡＤＣ０，ＡＤＣ１，またはＡＤＣ２いずれかの入力端子からの入力に切り替えられる。また、第１ＤＡＣ部７ｄおよび第２ＤＡＣ部７ｅはＤＡＣ０およびＤＡＣ１をそれぞれ出力端子とする。制御ＩＯポートであるＧＰＩＯ７ｈは、演算処理部７ａの制御に応じ、入力切替回路５の４つの各スイッチ５ａ，５ｂ，５ｃ，５ｄの切り替えを制御する。
【００３２】
ＩＶ変換部６ａは、オペアンプ８、並びにこのオペアンプ８の反転入力端子および出力端子間に並列に設けられた帰還抵抗Ｒ２から構成される。オペアンプ８の反転入力端子には被測定電流である血糖値電流Ｉが入力される。このＩＶ変換部６ａは、非反転入力端子に入力される電流を電圧にＩＶ変換する。電圧反転部６ｂは、抵抗Ｒ４、帰還抵抗Ｒ５およびオペアンプ９から構成される。オペアンプ９は、反転入力端子に抵抗Ｒ４を介してＩＶ変換部６ａの出力が入力される。帰還抵抗Ｒ５は、このオペアンプ９の反転入力端子および出力端子間に並列に設けられている。抵抗Ｒ４と帰還抵抗Ｒ５との各抵抗値は等しく設定される。
【００３３】
第１ＤＡＣ部７ｄは、演算処理部７ａの制御に応じ、オペアンプ８，９の動作基準電圧Ｅ１を発生して各オペアンプ８，９の非反転入力端子へ出力する動作基準電圧発生部を構成している。この動作基準電圧Ｅ１は、抵抗Ｒ３を介して入力切替回路５の第３スイッチ５ｃにも出力されると共に、マルチプレクサ７ｇのＡＤＣ１入力端子にも出力される。抵抗Ｒ３は、動作基準電圧Ｅ１が印加されてオペアンプ８，９のオフセット電圧Ｖoffとの差分電圧によるオフセット電流を流す、帰還抵抗Ｒ２の抵抗値と等しい抵抗値を有するオフセット基準抵抗部を構成する。ＩＶ変換部６ａは、オペアンプ８の非反転入力端子に入力される電流を動作基準電圧Ｅ１を基準にＩＶ変換し、電圧反転部６ｂは、ＩＶ変換部６ａから出力されるＩＶ変換電圧Ｖの極性を反転させて正極性電圧にし、ＡＤＣ部７ｃにおけるＡＤ変換に適したプラス極性にする。動作基準電圧Ｅ１は、オペアンプ８，９で負極性のオフセット電圧Ｖoffが発生する可能性もあるため、このマイナスオフセット電圧Ｖoffの吸収分を考慮した任意の電圧値に固定される。
【００３４】
第２ＤＡＣ部７ｅは、演算処理部７ａによって制御され、血糖値センサ４に血糖値電流Ｉを生じさせるセンサ印加電圧Ｖsを発生する測定用印加電圧発生部を構成する。センサ印加電圧Ｖsは、第４スイッチ５ｄを介して血糖値センサ４に印加される。本実施形態では、この第２ＤＡＣ部７ｅは、較正電圧Ｖcを発生する較正電圧発生部をも構成し、測定用印加電圧発生部および較正電圧発生部は、入力されるデジタル値をアナログ値に変換して出力する１つの第２ＤＡＣ部７ｅから構成される。較正電圧Ｖcは、キャリブレーション抵抗Ｒ１を介して入力切替回路５の第２スイッチ５ｂへ出力される。キャリブレーション抵抗Ｒ１は、較正電圧Ｖcが印加されて較正電流を流す、帰還抵抗Ｒ２の抵抗値と等しい抵抗値を有する較正基準抵抗部を構成する。ＩＶ変換部６ａの帰還抵抗Ｒ２は、入力切替回路５の第１スイッチ５ａが閉じて血糖値電流Ｉの最大電流がオペアンプ８の反転入力端子に入力されたときにＩＶ変換部６ａから出力される電圧が、ＡＤＣ部７ｃの入力許容電圧範囲内に収まる抵抗値に設定される。高精度なキャリブレーションを行うため、キャリブレーション抵抗Ｒ１には、抵抗値許容差および抵抗温度係数が低い高精度抵抗が用いられる。この他の抵抗Ｒ２〜Ｒ５には汎用抵抗が用いられる。
【００３５】
また、入力切替回路５の第１スイッチ５ａ，第２スイッチ５ｂ，および第３スイッチ５ｃは、演算処理部７ａの制御に応じて、オペアンプ８の反転入力端子への入力を被測定電流である血糖値電流Ｉ、または動作基準電圧Ｅ１とオフセット電圧Ｖoffとの差分電圧によって流されるオフセット電流、または較正電圧Ｖcによって流される較正電流のいずれかに切り替えるＩＶ変換入力切替部を構成する。第１スイッチ５ａは血糖値電流Ｉ、第２スイッチ５ｂは較正電流、第３スイッチ５ｃはオフセット電流の入力を切り替える。第４スイッチ５ｄは、演算処理部７ａの制御に応じて、第２ＤＡＣ部７ｅから出力されるセンサ印加電圧Ｖsを血糖値センサ４へ印加する。また、マルチプレクサ７ｇは、ＡＤＣ部７ｃへの入力をＩＶ変換電圧Ｖまたは動作基準電圧Ｅ１または較正電圧Ｖcのいずれかに切り替えるＡＤ変換入力切替部を構成する。ＩＶ変換電圧Ｖは入力端子ＡＤＣ０、動作基準電圧Ｅ１は入力端子ＡＤＣ１、較正電圧Ｖcは入力端子ＡＤＣ２に入力される。ＡＤＣ部７ｃは、ＩＶ変換電圧Ｖ、動作基準電圧Ｅ１および較正電圧Ｖcをそれぞれアナログ値からデジタル値に変換してＡＤ変換値として出力するＡＤ変換部を構成する。
【００３６】
演算処理部７ａは、第１スイッチ５ａを閉じて入力切替回路５の切り替えを血糖値電流Ｉにする。この状態で、マルチプレクサ７ｇの切り替えをＡＤＣ０入力端子に入力される被測定電流のＩＶ変換電圧ＶにしてＡＤＣ部７ｃから出力されるＡＤ変換値から、マルチプレクサ７ｇの切り替えをＡＤＣ１入力端子に入力される動作基準電圧Ｅ１にしてＡＤＣ部７ｃから出力されるＡＤ変換値を減算して、被測定電流である血糖値電流ＩのＩＶ変換電圧値Ａを算出する。本実施形態では、較正電圧発生部を構成する第２ＤＡＣ部７ｅは、このＩＶ変換電圧値Ａに等しいデジタル値を入力してＤＡ変換したアナログ値の較正電圧Ｖcを出力する。また、演算処理部７ａは、第３スイッチ５ｃを閉じて入力切替回路５の切り替えを第１ＤＡＣ部７ｄによって出力されるオフセット電流にする。この状態で、マルチプレクサ７ｇの切り替えをＡＤＣ０入力端子に入力される被測定電流のＩＶ変換電圧ＶにしてＡＤＣ部７ｃから出力されるＡＤ変換値から、マルチプレクサ７ｇの切り替えをＡＤＣ１入力端子に入力される動作基準電圧Ｅ１にしてＡＤＣ部７ｃから出力されるＡＤ変換値を減算して、オフセット電圧補正値Ｂを算出する。そして、被測定電流である血糖値電流ＩのＩＶ変換電圧値Ａからオフセット電圧補正値Ｂを減算して、オフセット除去測定値（Ａ−Ｂ）を算出する。
【００３７】
また、演算処理部７ａは、第２スイッチ５ｂを閉じて入力切替回路５の切り替えを第２ＤＡＣ部７ｅによって出力される較正電圧Ｖcにする。この状態で、マルチプレクサ７ｇの切り替えをＡＤＣ０入力端子に入力されるＩＶ変換電圧ＶにしてＡＤＣ部７ｃから出力されるＡＤ変換値から、マルチプレクサ７ｇの切り替えをＡＤＣ１入力端子に入力される動作基準電圧Ｅ１にしてＡＤＣ部７ｃから出力されるＡＤ変換値を減算して、較正電流のＩＶ変換電圧値Ｄを算出する。そして、このＩＶ変換電圧値Ｄからオフセット電圧補正値Ｂを減算して、オフセット除去較正値（Ｄ−Ｂ）を算出する。
【００３８】
また、演算処理部７ａは、マルチプレクサ７ｇの切り替えを、ＡＤＣ２入力端子に入力される較正電圧Ｖc、および、ＡＤＣ１入力端子に入力される動作基準電圧Ｅ１にそれぞれしたときに、ＡＤＣ部７ｃからそれぞれ出力される各ＡＤ変換値の差分から、較正基準電圧値Ｃを算出する。そして、オフセット除去較正値（Ｄ−Ｂ）に対する較正基準電圧値Ｃの比Ｋ（＝Ｃ÷（Ｄ−Ｂ））を被測定電流ＩＶ変換電圧のオフセット除去測定値（Ａ−Ｂ）に乗算して測定電圧値（＝（Ａ−Ｂ）×Ｋ）を算出し、この測定電圧値をキャリブレーション抵抗Ｒ１の抵抗値ｒで除算することで、血糖値電流Ｉの補正測定値Ｅ（＝｛（Ａ−Ｂ）×Ｋ｝÷ｒ）を算出する。
【００３９】
このような血糖値測定装置１の構成において、血糖値センサ４から入力される血糖値電流Ｉを測定して補正する処理手順は、図２のフローチャートに示される。
【００４０】
最初にステップ（以下、Ｓと記す）１の処理手順において、血糖値センサ４から入力される血糖値電流Ｉを測定するシーケンスが次のように行われる。
【００４１】
この血糖値電流測定シーケンスでは、まず、演算処理部７ａのＧＰＩＯ７ｈに対する制御により、入力切替回路５の第４スイッチ５ｄが閉じられる。引き続き、演算処理部７ａの第２ＤＡＣ部７ｅに対する制御により、第２ＤＡＣ部７ｅのＤＡＣ１端子からセンサ印加電圧Ｖsが出力され、第４スイッチ５ｄおよびセンサコネクタ３を介して血糖値センサ４へセンサ印加電圧Ｖsが印加される。次に、演算処理部７ａの第１ＤＡＣ部７ｄに対する制御により、第１ＤＡＣ部７ｄから動作基準電圧Ｅ１が出力される。この動作基準電圧Ｅ１の出力は、血糖値電流Ｉの測定中、および次述するＳ２，Ｓ３のキャリブレーション中、一定値に固定される。
【００４２】
次に、演算処理部７ａのＧＰＩＯ７ｈに対する制御により、入力切替回路５の第１スイッチ５ａが閉じられる。第１スイッチ５ａが閉じられると、血糖値センサ４に流れる血糖値電流ＩがＩＶ変換部６ａのオペアンプ８に入力されてＩＶ変換される。このＩＶ変換電圧は、次段の電圧反転部６ｂによって極性が反転されて、ＩＶ変換回路６からＩＶ変換電圧Ｖとして出力される。このＩＶ変換電圧Ｖは、ＭＣＵ７におけるマルチプレクサ７ｇのＡＤＣ０入力端子に与えられ、演算処理部７ａのマルチプレクサ７ｇに対する制御により、ＡＤＣ０入力端子の入力が選択されることで、ＡＤＣ部７ｃに与えられる。従って、ＡＤＣ部７ｃからは、血糖値電流Ｉの測定値がＡＤ変換値として出力される。また、演算処理部７ａのマルチプレクサ７ｇに対する制御により、ＡＤＣ１入力端子の入力が選択されることで、動作基準電圧Ｅ１がＡＤＣ部７ｃに与えられる。このとき、ＡＤＣ部７ｃからは、動作基準電圧Ｅ１のＡＤ変換値が出力される。
【００４３】
引き続いて、ＡＤＣ部７ｃから出力される血糖値電流Ｉの測定値から動作基準電圧Ｅ１のＡＤ変換値が減算されて、動作基準電圧Ｅ１を基準に振幅する血糖値電流ＩのＩＶ変換電圧値Ａが算出される。このＩＶ変換電圧値Ａは演算処理部７ａによりメモリ７ｂに記憶される。次に、演算処理部７ａのＧＰＩＯ７ｈに対する制御により、入力切替回路５の第４スイッチ５ｄが開かれて、血糖値センサ４への電圧印加が停止される。これにより、Ｓ１の血糖値電流測定シーケンスが終えられる。
【００４４】
次に、Ｓ２の処理手順において、ＩＶ変換回路６で生じる測定誤差を補正するキャリブレーションシーケンスが行われる。
【００４５】
このキャリブレーションシーケンスでは、まず、ＩＶ変換回路６で生じるオフセット電圧Ｖoffを補正するため、演算処理部７ａのＧＰＩＯ７ｈに対する制御により、入力切替回路５の第３スイッチ５ｃが閉じられる。第３スイッチ５ｃが閉じられると、第１ＤＡＣ部７ｄのＤＡＣ０端子から出力される動作基準電圧Ｅ１によって抵抗Ｒ３を流れるオフセット電流が、ＩＶ変換部６ａのオペアンプ８に入力されてＩＶ変換される。このＩＶ変換電圧は、次段の電圧反転部６ｂによって極性が反転されて、ＩＶ変換回路６からＩＶ変換電圧Ｖとして出力される。このＩＶ変換電圧Ｖは、ＭＣＵ７におけるマルチプレクサ７ｇのＡＤＣ０入力端子に与えられ、演算処理部７ａのマルチプレクサ７ｇに対する制御によりＡＤＣ０入力端子の入力が選択されることで、ＡＤＣ部７ｃに与えられる。従って、ＡＤＣ部７ｃからは、動作基準電圧Ｅ１によって流れるオフセット電流の測定値がＡＤ変換値として出力される。また、演算処理部７ａのマルチプレクサ７ｇに対する制御によりＡＤＣ１入力端子の入力が選択されることで、動作基準電圧Ｅ１がＡＤＣ部７ｃに与えられる。このとき、ＡＤＣ部７ｃからは、動作基準電圧Ｅ１のＡＤ変換値が出力される。
【００４６】
引き続いて、第１ＤＡＣ部７ｄから出力される動作基準電圧Ｅ１によって流れるオフセット電流の測定値から、動作基準電圧Ｅ１のＡＤ変換値が演算処理部７ａにより減算されて、ＩＶ変換回路６で生じるオフセット電圧Ｖoffを補正するためのオフセット電圧補正値Ｂが算出される。そして、メモリ７ｂに記憶された血糖値電流ＩのＩＶ変換電圧値Ａからこのオフセット電圧補正値Ｂが減算されて、オフセット除去測定値（Ａ−Ｂ）が算出される。これらオフセット電圧補正値Ｂおよびオフセット除去測定値（Ａ−Ｂ）は演算処理部７ａによりメモリ７ｂに記憶される。
【００４７】
次に、ＩＶ変換回路６で生じるゲインエラーＧerrを補正するため、演算処理部７ａのＧＰＩＯ７ｈに対する制御により、入力切替回路５の第２スイッチ５ｂが閉じられる。また、演算処理部７ａの第２ＤＡＣ部７ｅに対する制御により、血糖値電流ＩのＩＶ変換電圧値Ａに等しいデジタル値が第２ＤＡＣ部７ｅに与えられ、ＩＶ変換電圧値Ａを出力させるＩＶ変換回路６の変換電圧出力と同じ電圧値の較正電圧Ｖcが第２ＤＡＣ部７ｅから出力させられる。
【００４８】
次に、演算処理部７ａのマルチプレクサ７ｇに対する制御によりＡＤＣ２入力端子の入力が選択されることで、較正電圧ＶcがＡＤＣ部７ｃに与えられ、ＡＤＣ部７ｃから較正電圧ＶcのＡＤ変換値が出力される。また、演算処理部７ａのマルチプレクサ７ｇに対する制御によりＡＤＣ１入力端子の入力が選択されることで、動作基準電圧Ｅ１がＡＤＣ部７ｃに与えられ、ＡＤＣ部７ｃから動作基準電圧Ｅ１のＡＤ変換値が出力される。引き続いて、ＡＤＣ部７ｃから出力される較正電圧ＶcのＡＤ変換値から動作基準電圧Ｅ１のＡＤ変換値が減算されて、動作基準電圧Ｅ１を基準にする較正電圧Ｖcの値が較正基準電圧値Ｃとして算出される。
【００４９】
また、第２スイッチ５ｂが閉じられるため、第２ＤＡＣ部７ｅから出力される較正電圧Ｖcがキャリブレーション抵抗Ｒ１へ印加されて較正電流が流れる。この較正電流はＩＶ変換部６ａのオペアンプ８に入力されて、ＩＶ変換される。このＩＶ変換電圧は、次段の電圧反転部６ｂによって極性が反転されて、ＩＶ変換回路６からＩＶ変換電圧Ｖとして出力される。このＩＶ変換電圧Ｖは、ＭＣＵ７におけるマルチプレクサ７ｇのＡＤＣ０入力端子に与えられ、演算処理部７ａのマルチプレクサ７ｇに対する制御によりＡＤＣ０入力端子の入力が選択されることで、ＡＤＣ部７ｃに与えられる。従って、ＡＤＣ部７ｃからは、較正電圧Ｖcによって流れる較正電流ＩＶ変換電圧の測定値が出力される。また、演算処理部７ａのマルチプレクサ７ｇに対する制御によりＡＤＣ１入力端子の入力が選択されることで、動作基準電圧Ｅ１がＡＤＣ部７ｃに与えられる。このとき、ＡＤＣ部７ｃからは、動作基準電圧Ｅ１のＡＤ変換値が出力される。
【００５０】
引き続いて、ＡＤＣ部７ｃから出力される較正電流ＩＶ変換電圧の測定値から動作基準電圧Ｅ１のＡＤ変換値が演算処理部７ａにより減算されて、動作基準電圧Ｅ１を基準とした較正電流のＩＶ変換電圧値Ｄが算出される。そして、このＩＶ変換電圧値Ｄからメモリ７ｂに記憶されたオフセット電圧補正値Ｂが減算されて、オフセット除去較正値（Ｄ−Ｂ）が算出される。そして、オフセット除去較正値（Ｄ−Ｂ）に対する較正基準電圧Ｃの比Ｋ（＝Ｃ÷（Ｄ−Ｂ））がＩＶ変換回路６で生じるゲインエラーＧerrを補正する係数として算出され、算出された比Ｋは演算処理部７ａによりメモリ７ｂに記憶される。
【００５１】
次に、Ｓ３の処理手順において、ＡＤＣ部７ｃで生じる測定誤差を補正するキャリブレーションが行われる。
【００５２】
ＡＤＣ部７ｃでは、例えば、図３に示すグラフのようにオフセット電圧ＶoffおよびゲインエラーＧerrが生じる。同グラフの横軸ｘはＡＤＣ部７ｃに入力されるアナログ入力電圧値、縦軸ｙは、各アナログ入力電圧値に対してＡＤＣ部７ｃから出力されるデジタル出力電圧値を表している。また、直線Ａは理想特性、直線Ｂは実際の特性、直線Ｃはオフセット電圧Ｖoffの除去後の特性を示している。直線Ａの傾きをａとすると直線Ａは式ｙ＝ａｘ、直線Ｂの傾きをｂとすると直線Ｂは式ｙ＝ｂｘ＋Ｖoff、直線Ｃは式ｙ＝ｂｘで、表される。
【００５３】
ＡＤＣ部７ｃで生じるオフセット電圧Ｖoffは、ＩＶ変換回路６で生じるオフセット電圧Ｖoffを補正するＳ２の上記のキャリブレーションシーケンスにより除去され、ＩＶ変換回路６で生じるオフセット電圧Ｖoffと共に補正される。
【００５４】
ＡＤＣ部７ｃで生じるゲインエラーＧerrおよび基準電圧生成部７ｆで生成される基準電圧Ｅ０の誤差については、血糖値電流Ｉの測定時にキャリブレーションをかけられないため、血糖値測定装置１の生産時の調整工程で、ＡＤＣ部７ｃ固有のゲインエラーＧerrを補正するためのゲインエラー補正値Ｇh、および、基準電圧生成部７ｆが生成する基準電圧Ｅ０の誤差を補正するための基準電圧誤差補正値Ｅhの各初期値が、高精度な測定器を使用して予め測定される。この測定は、Ｓ３の処理手順における、ＡＤＣ部７ｃのキャリブレーションに相当する。ゲインエラー補正値Ｇhについては、図３に示すグラフにおける直線Ｂ，直線Ｃの傾きを表す定数ｂを、この測定によって求めることになる。予め測定されたこれらゲインエラー補正値Ｇhおよび基準電圧誤差補正値Ｅhは、ＭＣＵ７内のメモリ７ｂに予め記憶される。
【００５５】
次に、Ｓ４の処理手順において、Ｓ１の処理手順で測定した血糖値電流Ｉを補正する演算処理が演算処理部７ａによって行われる。
【００５６】
このＳ４の処理手順では、Ｓ２の処理手順でメモリ７ｂに記憶されたオフセット除去測定値（Ａ−Ｂ）および比Ｋの各値が、演算処理部７ａによって読み出される。そして、読み出されたこれら各値およびキャリブレーション抵抗Ｒ１の抵抗公称値ｒが次の（１）式に代入され、ＩＶ変換回路６およびＡＤＣ部７ｃで生じるオフセット電圧Ｖoff並びにＩＶ変換回路６で生じるゲインエラーＧerrが除去された補正測定値Ｅが、演算処理部７ａによって算出される。
Ｅ＝｛（Ａ−Ｂ）×Ｋ｝÷ｒ    …（１）
【００５７】
演算処理部７ａは、算出した上記の補正測定値Ｅを、Ｓ３の処理手順でメモリ７ｂに予め記憶しているゲインエラー補正値Ｇhおよび基準電圧誤差補正値Ｅhの各初期値に基づいてさらに補正する。これにより、（１）式で算出された補正測定値Ｅから、ＡＤＣ部７ｃ固有のゲインエラーＧerrおよび基準電圧生成部７ｆが生成する基準電圧Ｅ０の各初期誤差が除去される。
【００５８】
図４は、上記の補正が行われて得られる血糖値電流Ｉの測定誤差を、上記の補正が行われないで得られる血糖値電流Ｉの測定誤差と比較して示すグラフである。同グラフの横軸は血糖値測定装置１に入力される血糖値電流Ｉ、縦軸は各血糖値電流Ｉにおける測定誤差[％]を表す。また特性線Ｆは、上記の補正が行われないときの血糖値電流Ｉの測定誤差、特性線Ｇは、上記の補正が行われたときの血糖値電流Ｉの測定誤差を示す。同グラフに示されるように、補正が行われないときの特性線Ｆは５〜６[％]程度の測定誤差が生じているが、補正が行われたときの特性線Ｇはほぼ０[％]程度の測定誤差になっている。このことから、本実施形態による血糖値測定装置１の有効性を確認することが出来た。
【００５９】
このような本実施形態の血糖値測定装置１によれば、上記のように、図２，Ｓ１の処理手順で、ＩＶ変換回路６に血糖値電流Ｉを入力させたときにＡＤＣ部７ｃから出力されるＡＤ変換値から、ＡＤＣ部７ｃに動作基準電圧Ｅ１を入力させたときにＡＤＣ部７ｃから出力されるＡＤ変換値を減算することで、動作基準電圧Ｅ１を基準に振幅する血糖値電流ＩのＩＶ変換電圧値Ａが算出される。また、図２，Ｓ２の処理手順で、ＩＶ変換回路６に動作基準電圧Ｅ１によって流れるオフセット電流を入力させたときにＡＤＣ部７ｃから出力されるＡＤ変換値から、ＡＤＣ部７ｃに動作基準電圧Ｅ１を入力させたときにＡＤＣ部７ｃから出力されるＡＤ変換値を減算することで、ＩＶ変換回路６のオフセット電圧補正値Ｂが算出される。そして、血糖値電流ＩのＩＶ変換電圧値Ａからオフセット電圧補正値Ｂを減算することで、ＩＶ変換回路６およびＡＤＣ部７ｃのオフセット電圧Ｖoffの影響が除去された値のオフセット除去測定値（Ａ−Ｂ）が求められる。
【００６０】
また、較正電圧Ｖcによって流れる較正電流をＩＶ変換回路６に入力させたときにＡＤＣ部７ｃから出力されるＡＤ変換値から、ＡＤＣ部７ｃに動作基準電圧Ｅ１を入力させたときにＡＤＣ部７ｃから出力されるＡＤ変換値を減算することで、較正電流を測定した値に相当する較正電流のＩＶ変換電圧値Ｄが、動作基準電圧Ｅ１を基準に算出される。そして、このＩＶ変換電圧値Ｄからオフセット電圧補正値Ｂを減算することで、ＩＶ変換回路６およびＡＤＣ部７ｃのオフセット電圧Ｖoffの影響が除去された値のオフセット除去較正値（Ｄ−Ｂ）が求められる。また、ＡＤＣ部７ｃに較正電圧Ｖcおよび動作基準電圧Ｅ１をそれぞれ入力させたときにＡＤＣ部７ｃから出力される各ＡＤ変換値の差分を算出することで、動作基準電圧Ｅ１を基準にする較正電圧Ｖcの値が較正基準電圧Ｃとして求められる。オフセット除去較正値（Ｄ−Ｂ）は、ＩＶ変換回路６のゲインエラーＧerrの影響を含んでいるが、ＡＤＣ部７ｃに直接入力される較正電圧Ｖcおよび動作基準電圧Ｅ１の差に相当する較正基準電圧値Ｃには、ＩＶ変換回路６のゲインエラーＧerrの影響が含まれていない。
【００６１】
一方、オフセット除去測定値（Ａ−Ｂ）も、ＩＶ変換回路６のゲインエラーＧerrの影響を含んでいるが、ＩＶ変換回路６のゲインエラーＧerrの影響が含まれていない較正基準電圧Ｃの、オフセット除去較正値（Ｄ−Ｂ）に対する比Ｋ（＝Ｃ÷（Ｄ−Ｂ））をゲインエラー補正係数として算出し、このゲインエラー補正係数Ｋをオフセット除去測定値（Ａ−Ｂ）に乗算することで、ＩＶ変換回路６のゲインエラーＧerrの影響が除去された値の測定電圧値（＝（Ａ−Ｂ）×Ｋ）が算出される。オフセット除去測定値（Ａ−Ｂ）は、この測定電圧がキャリブレーション抵抗Ｒ１に印加されて流れる較正電流を測定した値に相当する。従って、図２，Ｓ４の処理手順で、この測定電圧値をキャリブレーション抵抗Ｒ１の抵抗値ｒで除算することで、正確な血糖値電流Ｉの補正測定値Ｅ（＝｛（Ａ−Ｂ）×Ｋ｝÷ｒ）を求めることが可能になる。この結果、ＩＶ変換回路６およびＡＤＣ部７ｃの構成部品の製造ばらつきによるパラメータ変動に起因して発生する測定誤差、すなわち、ＩＶ変換回路６およびＡＤＣ部７ｃのオフセット電圧Ｖoffに起因する測定誤差、並びにＩＶ変換回路６のゲインエラーＧerrに起因する測定誤差を血糖値電流Ｉの測定値から除去することが出来る。
【００６２】
また、血糖値電流Ｉの測定の都度、血糖値電流Ｉの補正測定値Ｅを上記のように算出することで、温度等の測定環境の変動および電源電圧の変動などによる血糖値測定装置１の特性変化分を含めて補正することが可能になる。このため、本実施形態の血糖値測定装置１によれば、微弱電流である血糖値電流Ｉの測定精度を、特許文献１に開示された従来の血糖値測定装置よりも、さらに高めることが可能になる。また、擬似抵抗を用いた従来の血糖値測定装置のように、較正ポイントが擬似抵抗の値の１ポイントに限定されるようなことはなく、血糖値電流Ｉの測定範囲全域にわたって血糖値電流Ｉの測定値を精度良く補正することができる。
【００６３】
また、本実施形態の血糖値測定装置１では、血糖値電流Ｉの補正測定値Ｅは、（１）式のように、測定電圧値（＝（Ａ−Ｂ）×Ｋ）をキャリブレーション抵抗Ｒ１の値ｒで除算（＝｛（Ａ−Ｂ）×Ｋ｝÷ｒ）することで、算出される。従って、キャリブレーション抵抗Ｒ１に本実施形態のように高精度な抵抗を用い、キャリブレーション抵抗Ｒ１の抵抗値ｒを正確なものとすることで、血糖値電流Ｉの補正測定値Ｅはより正確なものになる。また、キャリブレーション抵抗Ｒ１だけに高精度な抵抗を用い、他の抵抗Ｒ２〜Ｒ５を汎用抵抗とすることで、高性能な血糖値測定装置１を安価に提供することが出来る。
【００６４】
また、本実施形態の血糖値測定装置１では、血糖値電流Ｉの測定の都度実測される血糖値電流ＩのＩＶ変換電圧Ｖに等しい値が較正電圧Ｖcの値として用いられるので、血糖値電流Ｉの実測値に近い電流を生じさせる較正電圧Ｖcに基づいて、血糖値電流Ｉの補正測定値Ｅが算出される。このため、血糖値電流Ｉの補正測定値Ｅはより正確なものになる。また、ゲインエラー補正係数として用いられる、オフセット除去較正値（Ｄ−Ｂ）に対する較正基準電圧Ｃの比Ｋは、血糖値電流ＩのＩＶ変換電圧Ｖに等しい較正電圧Ｖcによって流れる１つの電流入力について求められるので、ＩＶ変換回路６のゲインエラーＧerrがその入力に対して非線形に変化する場合であっても、血糖値電流Ｉを正確に補正することが出来る。
【００６５】
また、本実施形態の血糖値測定装置１では、較正電圧発生部が第２ＤＡＣ部７ｅから構成されるので、第２ＤＡＣ部７ｅにデジタル値を入力するだけの簡単な処理で、所望のアナログ値の較正電圧Ｖcを簡単に発生させることができる。特に、本実施形態のように血糖値電流ＩのＩＶ変換電圧Ｖに等しい値の較正電圧Ｖcを発生させる場合、血糖値電流ＩのＩＶ変換電圧値Ａに等しい値のデジタル値を第２ＤＡＣ部７ｅに単に入力することで、血糖値電流ＩのＩＶ変換電圧Ｖに等しい値の較正電圧Ｖcを簡単に発生させることができる。
【００６６】
また、本実施形態の血糖値測定装置１では、較正電圧発生部および測定用印加電圧発生部が１つの第２ＤＡＣ部７ｅから構成され、測定用印加電圧発生部の構成を較正電圧発生部に兼ねることが出来るので、血糖値測定装置１の構成を簡素化することが出来、血糖値測定装置１の製造原価を抑制することが出来る。
【００６７】
また、本実施形態の血糖値測定装置１では、ＡＤＣ部７ｃがＭＣＵ７内に構成されることで、血糖値電流Ｉの測定時に、ＡＤＣ部７ｃ固有のゲインエラーＧerr、および基準電圧生成回路７ｆの基準電圧誤差の各影響を除去する補正は、出来ない。しかし、図２，Ｓ３の処理手順で予め測定されてＭＣＵ７のメモリ７ｂに記憶されたＡＤＣ部７ｃ固有のゲインエラー補正値Ｇh、およびＡＤ変換用基準電圧Ｅ０の誤差補正値Ｅhの各初期値を、Ｓ４の処理手順において算出される血糖値電流Ｉの補正測定値Ｅに反映させることが出来る。このため、血糖値電流Ｉの補正測定値Ｅはより正確なものになる。
【産業上の利用可能性】
【００６８】
本実施形態では、第２ＤＡＣ部７ｅによって血糖値センサ４にセンサ印加電圧Ｖsを印加することで、血糖値センサ４に血糖値電流Ｉを被測定電流として生じさせ、演算処理部７ａによって上記の演算処理を行うことで、血糖値電流Ｉの正確な測定値を取得する場合について、説明した。しかし、被測定電流となる微弱電流は血糖値電流Ｉに限定されることはない。例えば、血液中のコレステロール値や、尿酸値、免疫値などに応じて生成される微弱電流を被測定電流とするように構成することもできる。このような微弱電流を被測定電流とする微弱電流測定装置においても、上記の本実施形態による血糖値測定装置１と同様な作用効果が奏される。
【符号の説明】
【００６９】
１…血糖値測定装置（微弱電流測定装置）
２…回路基板
３…センサコネクタ
４…血糖値センサ
５…入力切替回路
６…ＩＶ変換回路
６ａ…ＩＶ変換部
６ｂ…電圧反転部
７…マイクロ・コントロール・ユニット（ＭＣＵ）
７ａ…演算処理部
７ｂ…メモリ
７ｃ…ＡＤＣ部（ＡＤ変換部）
７ｄ…第１ＤＡＣ部（ＤＡ変換部）
７ｅ…第２ＤＡＣ部（ＤＡ変換部）
７ｆ…基準電圧生成部
７ｇ…マルチプレクサ
７ｈ…ＧＰＩＯ
Ｒ１…キャリブレーション抵抗（較正基準抵抗）  
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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