(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
接触を検出する接触検出部と、
前記接触検出部により検出される接触の位置を取得する制御部と、
を備える電子機器であって、
前記制御部は、
前記接触検出部が接触を検出している所定時間内に取得する接触の位置のばらつきが所定の範囲内であれば、前記取得された接触の位置に基づいて算出した位置を前記接触検出部が検出する接触の位置として記憶し、
前記接触検出部が接触を検出している所定時間内に取得する接触の位置のばらつきが所定の範囲を超えたら、前記算出された位置を前記接触検出部が検出する接触の位置とするように制御することを特徴とする、電子機器。
【請求項２】
前記接触検出部が接触を検出している所定時間内に取得する接触の位置のばらつきが所定の範囲内である場合に、前記取得された接触の位置に基づいて算出した位置を記憶する記憶部をさらに備え、
前記制御部は、前記接触検出部が接触を検出している所定時間内に取得する接触の位置のばらつきが所定の範囲を超えたら、前記記憶部に記憶された位置を前記接触検出部が検出する接触の位置とするように制御する、請求項１に記載の電子機器。
【請求項３】
前記制御部は、前記接触検出部が接触を検出している所定時間内に取得する接触の位置のばらつきが所定の範囲を超えている場合に、当該取得された接触の位置に基づいて算出した位置が所定の距離を超えて変位したら、当該変位に基づいて前記記憶部に記憶された位置を変位させたものを前記接触検出部が検出する接触の位置とするように制御する、請求項２に記載の電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子機器に関するものである。より詳細には、本発明は、タッチセンサなどの接触検出部に対する操作に基づいて、アプリケーションソフトウェアを実行させるなど所定の処理を行う電子機器に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、携帯電話等の携帯端末において、操作者による操作を検出する部材として、タッチパネルやタッチスイッチ等のタッチセンサを備える電子機器が増えている。また、携帯端末以外に、電卓、券売機等の機器や、電子レンジ、テレビ、照明器具等の家電製品、産業用機器（ＦＡ機器）等、タッチセンサを備える電子機器は広く使用されている。
【０００３】
このようなタッチセンサには、抵抗膜方式、静電容量方式、光学式等の種々の方式が知られている。いずれの方式のタッチセンサも、操作者の指やスタイラスペン等による接触を検出する。タッチセンサを備えた電子機器は、一般的に、タッチセンサの裏面側に配置した表示部の表示画面上に、操作キーやボタンなどの画像（以下、「オブジェクト」と記す）を表示する。このような電子機器は、表示画面上に表示されたオブジェクトを操作者が押圧すると、当該押圧の位置における接触を、タッチセンサが検出するようになっている。
【０００４】
従来、タッチセンサは、種々のものが提案されている（例えば、特許文献１参照）。この特許文献１は、生産コストが安価であり小型化が可能なアナログタイプの抵抗膜式タッチパネルを提案している。特許文献１に記載されているようなタッチパネルは、スペーサにより僅かな間隔を空けた２枚の導電膜により構成される。このタッチパネルは、導電膜が押圧されて接触した位置を、一方の導電膜にかけられた電圧勾配により、他方の導電膜で電圧として読み取る構成になっている。
【０００５】
ところで、上述したようなタッチセンサを備えた電子機器は、タッチセンサが検出する接触の位置に応じて、所定の異なる処理を行うものが多い。すなわち、表示部に表示されたオブジェクトの領域に対応するタッチセンサには、オブジェクトごとに異なる処理が割り当てられていることが多い。例えば、このような電子機器は、メニューボタンのオブジェクトに対応する位置のタッチセンサに接触が検出されると、メニュー画面を表示したり、方向キーのオブジェクトに対応する位置のタッチセンサに接触が検出されると、カーソルを移動させたりする。このように、例えば複数のオブジェクトに対する操作に応じて開始する処理を区別する場合などは、タッチセンサが接触を検出する際、当該接触の位置を検出する精度は極めて重要である。そこで、タッチセンサを用いて接触の位置を検出する際に、当該接触の位置を精度良く検出する技術も提案されている（例えば、特許文献２参照）。
【０００６】
特許文献２に記載のタッチパネル装置においては、タッチパネルを構成する２枚の導電膜の一方の抵抗値に依存した電圧降下が生じても、接点位置の検出結果に影響しない。すなわち、接点位置の検出結果から、２枚の導電膜の一方における電圧降下の影響を排除することができる。したがって、押下位置を正確に特定することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００３−２４１８９８号公報
【特許文献２】特開２００５−２７５９３４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
ところで、上記特許文献２に記載のタッチパネル装置は、スタイラスペン等のポインタ部材の接触により、タッチパネルに得られる接点の位置を検出することを想定したものである。しかしながら、近年普及している携帯端末に備えられたタッチパネル装置は、操作者がスタイラスペン等を用いずに、操作者自らの指により直接操作を行うことを想定したものが多い。タッチセンサに対して操作者が指で操作を行う場合、スタイラスペン等の先細の部材を用いる場合とは異なり、タッチセンサが検出する接触の位置は、ある程度の面積を有するようになる。このように、タッチセンサが比較的大きな面積で接触されると、２枚の導電膜が接続される部分が大きくなる。タッチセンサ上で接触される部位がある程度の面積を有する場合、タッチセンサにより検出される接触位置は、接触されている部分のいずれかの位置となるため、当該検出される接触位置は所定の面積内においてばらつくようになる。このため、導電膜における抵抗値の分布が部分的に不均一となり、タッチセンサが接触の位置を検出する精度が低下する。
【０００９】
以下、従来のタッチセンサにおいて操作者の接触を検出する際の様子を説明する。図６は、従来のタッチパネル装置におけるタッチセンサ４００を正面から平面視した概略図である。図６に示すように、タッチセンサ４００において位置を検出するために、仮想的にｘｙ座標系を規定する。
【００１０】
このような状態において、操作者が自らの指によりタッチセンサ４００の表面を接触すると、操作者の指がタッチセンサ４００に接触する部分は、図中に示すαのような面積を有することになる。このように接触される部位が面積を有する場合、所定の短時間にタッチセンサ４００が検出する接触位置は、図にバツ印で示すように、ある程度の面積にわたってばらつくようになる。なお、このようなタッチセンサを用いて接触位置を検出すると、図に示すように、接触の位置は、実際に接触されている面積α内から少し外れた（はみ出した）箇所においても検出される。すなわち、操作者が実際にタッチセンサ４００において接触していない箇所においても、接触位置のばらつきが見られる。これは、操作者の指がタッチセンサ４００に触れる面積よりも、タッチセンサ４００の導電膜同士が接触する部分の面積の方が若干大きくなること等が、要因として挙げられる。以下、このような現象についてさらに説明する。
【００１１】
図７は、図６において説明した従来のタッチパネル装置におけるタッチセンサ４００の要部断面図である。図７（Ａ）に示すように、タッチセンサ４００は、上側の導電膜４００ａおよび下側の導電膜４００ｂにより構成されている。操作者が指により上側の導電膜４００ａを上方から押圧すると、図７（Ｂ）に示すように、上側の導電膜４００ａが撓むことにより、下側の導電膜４００ｂに接触する。操作者の指が上側の導電膜４００ａに接触しているのは面積αの部分のみであるが、図示のように、面積αの周囲の導電膜４００ａも同時に撓むため、上側の導電膜４００ａが下側の導電膜４００ｂに接触する面積βは、面積αよりも大きくなる。したがって、この場合タッチセンサ４００が検出する接触の位置は面積β内のいずれかの位置となり、面積β内において接触の位置がばらつくようになる。
【００１２】
このように、接触の位置にばらつきが生じると、操作者は所定のオブジェクトに対応する位置のタッチセンサに接触しているつもりであっても、当該オブジェクトとは異なる位置において接触が検出されるという不都合が生じる。このような接触位置のばらつきは、操作者が強い押圧力によってタッチセンサを押圧すると、導電膜の接触面積がより大きくなるため、さらに顕著なものとなる。また、操作者による押圧力が比較的強い場合、上側の導電膜４００ａが下側の導電膜４００ｂを押圧することにより、下側の導電膜４００ｂも若干撓むことがある。このような場合、タッチセンサ４００が検出する接触の位置は、さらに複雑な態様でばらつくことがある。さらに、このような接触位置のばらつきは、タッチセンサの構成態様、および導電膜が筐体などに配設される態様など種々の要因によっても影響を受ける。
【００１３】
したがって、かかる事情に鑑みてなされた本発明の目的は、接触検出部が接触の位置を検出する精度を向上させる電子機器を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上記目的を達成する第１の観点に係る発明は、
接触を検出する接触検出部と、
前記接触検出部により検出される接触の位置を取得する制御部と、
を備える電子機器であって、
前記制御部は、
前記接触検出部が接触を検出している所定時間内に取得する接触の位置のばらつきが所定の範囲内であれば、前記取得された接触の位置に基づいて算出した位置を前記接触検出部が検出する接触の位置として記憶し、
前記接触検出部が接触を検出している所定時間内に取得する接触の位置のばらつきが所定の範囲を超えたら、前記算出された位置を前記接触検出部が検出する接触の位置とするように制御することを特徴とするものである。
【００１５】
第２の観点に係る発明は、第１の観点に係る電子機器において、
前記接触検出部が接触を検出している所定時間内に取得する接触の位置のばらつきが所定の範囲内である場合に、前記取得された接触の位置に基づいて算出した位置を記憶する記憶部をさらに備え、
前記制御部は、前記接触検出部が接触を検出している所定時間内に取得する接触の位置のばらつきが所定の範囲を超えたら、前記記憶部に記憶された位置を前記接触検出部が検出する接触の位置とするように制御するものである。
【００１６】
第３の観点に係る発明は、第２の観点に係る電子機器において、
前記制御部は、前記接触検出部が接触を検出している所定時間内に取得する接触の位置のばらつきが所定の範囲を超えている場合に、当該取得された接触の位置に基づいて算出した位置が所定の距離を超えて変位したら、当該変位に基づいて前記記憶部に記憶された位置を変位させたものを前記接触検出部が検出する接触の位置とするように制御するものである。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、電子機器において、接触検出部が接触の位置を検出する精度を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明の第１実施形態に係る電子機器の概略構成を示す機能ブロック図である。
【図２】第１実施形態に係る電子機器の処理を説明するフローチャートである。
【図３】第１実施形態に係る電子機器の処理を説明する図である。
【図４】第２実施形態に係る電子機器の処理を説明するフローチャートである。
【図５】第２実施形態に係る電子機器の処理を説明する図である。
【図６】従来のタッチセンサにおいて検知される接触の位置を説明する図である。
【図７】従来のタッチセンサにおいて接触が検出される際の様子を説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
（第１実施形態）
以下、本発明の第１実施形態について、図面を参照して説明する。
【００２０】
図１は、本発明の第１実施形態に係る電子機器の概略構成を示すブロック図である。図１に示すように、第１実施形態に係る電子機器１は、制御部１０、表示部３０、接触検出部４０、振動部５０、および記憶部８０を備えている。
【００２１】
制御部１０は、電子機器１を構成する各機能部を制御することにより、電子機器１の全体を制御および管理する。また、制御部１０は、上記制御に関する各種の演算を行う機能、および検出機能を有する要素によって検出されたデータに基づいて各種の値を算出する機能も有する。制御部１０が行う処理のうち、本実施形態に特有のものについては後述する。
【００２２】
表示部３０は、各種情報の表示を行い、例えば押しボタンスイッチ（プッシュ式ボタンスイッチ）等のようなオブジェクトを画像で表示する。このオブジェクトは、接触検出部４０のタッチ面上において接触すべき領域を操作者に示唆する画像である。また、押しボタンスイッチとは、操作者が操作に用いるボタンやキー等（以下、単に「キー等」と総称する）である。表示部３０は、例えば、液晶表示パネル（ＬＣＤ）や有機ＥＬ表示パネル等を用いて構成する。
【００２３】
接触検出部４０は、通常は表示部３０の前面側に配置して、表示部３０に表示したオブジェクトに対する操作者の指やスタイラスペン等（以下、単に「接触物」と総称する）による接触を、対応する位置の接触検出部４０のタッチ面において検出する。また、接触検出部４０は、タッチ面に対する接触物の接触の位置を検出し、当該検出した接触の位置を出力することができる。このような出力により、制御部１０は、接触検出部４０が検出する接触の位置を取得することができる。この接触検出部４０は、例えば抵抗膜方式、静電容量方式、光学式等の方式のもので構成されたタッチセンサを用いることができる。
【００２４】
振動部５０は、例えば圧電素子等を用いて構成し、接触検出部４０を振動させる。この振動部５０は、所定の振動パターンによる振動を発生させることにより、タッチ面に接触している接触物に対して触感を呈示する。本実施形態において、振動部５０は、制御部１０から供給される駆動信号に基づいて振動を発生する。
【００２５】
記憶部８０は、例えばフラッシュメモリ等によって構成し、電子機器１において実行する各種のアプリケーションソフトウェア（以下、単に「アプリケーション」と記す）を記憶するのみならず、各種の情報を記憶することができる。特に、本実施形態において、記憶部８０は、接触検出部４０が検出する接触の位置を、任意のタイミングで記憶することができる。また、本実施形態において、記憶部８０は、接触検出部４０が検出する接触の位置に基づいて、所定の演算を施すことにより算出した位置を記憶することもできる。
【００２６】
次に、本実施形態に係る電子機器１が操作者の操作による接触を検出する際の処理について説明する。
【００２７】
本実施形態において、電子機器１は、接触を検出している所定の短時間に取得される接触の位置のばらつきが所定の範囲内であれば、当該ばらつきの平均の位置などを算出して出力する。その後、接触が検出されたまま前記ばらつきが所定の範囲を超えても、電子機器１は、先に算出した平均の位置などを出力する。
【００２８】
図２は、矩形状のタッチセンサで構成される接触検出部４０を操作者の指が操作する様子を示している。図２（Ａ）〜（Ｃ）のそれぞれにおいて、図の上半分には、操作者の指Ｆが接触検出部４０に接触する操作を行う様子の斜視図を示す。また、図２（Ａ）〜（Ｃ）のそれぞれにおいて、図の下半分には、操作者の指Ｆが接触検出部４０に接触している状態を、接触検出部４０の上方から見た図を示している。なお、図２（Ａ）は操作者の指Ｆが接触検出部４０に接触する前の状態を示し、図２（Ｂ）は操作者の指Ｆが接触検出部４０に接触した直後の状態を示し、図２（Ｃ）は操作者の指Ｆが接触検出部４０に接触してから力が加えられた状態を示している。また、図２（Ｂ）および（Ｃ）の各図の下半分に示す領域α１およびα２は、操作者の指Ｆが実際に接触検出部４０に接触している領域を表している。
【００２９】
一般的に、操作者が通常の操作として接触検出部４０を押す動作を行う際は、瞬間的に見ると、まず操作者の指先Ｆが接触検出部４０に軽く接触する（図２（Ａ）から（Ｂ）に示す）。それから操作者の押圧力が増すと、指先Ｆが接触検出部４０に接触する面積が大きくなる（図２（Ｂ）から（Ｃ）に示す）。なお、図２（Ａ）〜（Ｃ）に示す動作は、実際には一連の動作として短時間で行われることが多い。
【００３０】
図２（Ｂ）に示すように、操作者の指Ｆが接触検出部４０に接触した直後においては、指Ｆが接触検出部４０に接触している領域α１の面積は小さく、この時点で検出される接触の位置のばらつきも比較的小さい。なお、接触検出部４０によって検出される「接触の位置のばらつき」とは、接触検出部４０が接触を検出している状態で接触検出部４０から出力される接触の位置を例えば非常に短い時間ごとに制御部１０が順次取得（すなわちサンプリング）したものとすることができる。
【００３１】
ここで、本実施形態では、例えば図２（Ｂ）に示すように、操作者の指Ｆが接触検出部４０に接触している状態で検出される接触の位置のばらつきが比較的小さい範囲β１を規定する。この範囲β１の大きさは、範囲β１において検出される接触の位置のばらつきを取得して例えば平均化する等の所定の演算を行った場合に、操作者が接触検出部４０に接触している位置として妥当な位置（点）γ１が算出されるような大きさとするのが好適である。
【００３２】
前述したように、操作者が実際に接触している領域α１の外側にも接触検出部４０による接触の位置は検出されることがある。このため、図２（Ｂ）においては、範囲β１をα１よりのも大きな領域としてある。しかしながら、必要とされる判定の精度に応じて、範囲β１を領域α１と同じ大きさの範囲とすることもできるし、範囲β１を領域α１よりも小さい範囲とすることもできる。
【００３３】
図３は、第１実施形態に係る電子機器１の処理を説明するフローチャートである。
【００３４】
本実施形態による処理を開始するに際し、電子機器１は、アプリケーションの開始など所定の処理に関連付けられたキーやアイコンなどのオブジェクトを、少なくとも１つ予め表示部３０に表示しておくのが好適である。
【００３５】
本実施形態による処理は、接触検出部４０が操作者の指やスタイラスなど接触物の接触を検出した時点から開始する。接触が検出されて本実施形態による処理が開始すると、電子機器１の制御部１０は、所定の短時間内に接触検出部４０が検出した接触の位置を取得する（ステップＳ１１）。ここで、所定の短時間とは、ステップＳ１１において接触検出部４０が接触の検出を開始してから、図２（Ｂ）に示したように操作者の指Ｆが接触検出部４０に軽く接触するまでの時間とするのが好適である。すなわち、この所定の短時間は、操作者の指Ｆが接触検出部４０に接触を開始してから、接触検出部４０に接触している領域α１の面積があまり大きくならないような（操作者が接触検出部４０を押し込む前までの）期間を設定するのが望ましい。
【００３６】
このように、ステップＳ１１において、制御部１０は、上述した所定の短時間内に接触検出部４０により検出される接触の位置のばらつきを取得すなわちサンプリングする。前述したように、タッチパネルで構成される接触検出部４０が接触を検出している状態において、当該接触の位置は、ばらつきを有することがある。したがって、本実施形態において、制御部１０は、このようにばらつく接触の位置を取得するために、所定のタイミングで接触検出部４０に検出される接触の位置を順次取得し続けるようにする。
【００３７】
ステップＳ１１において所定の短時間内に検出された接触の位置が取得されたら、制御部１０は、当該所定の時間内に取得された接触の位置のばらつきが所定の範囲を超えるか否かを判定する（ステップＳ１２）。ここで、所定の範囲とは、図２（Ｂ）において説明した範囲β１のように、操作者の指Ｆが接触検出部４０の領域α１に接触している状態で検出される接触の位置のばらつきが比較的小さい範囲とするのが好適である。
【００３８】
ステップＳ１２において、所定の時間内に取得された接触の位置のばらつきが所定の範囲（例えば図２（Ｂ）のβ１）を超えない場合、制御部１０は、ステップＳ１３に進んで処理を行う。ここで、操作者が通常の操作として最初に接触検出部４０を押す動作を行う際、ステップＳ１２においてＮｏに進みステップＳ１３の処理が行われるように、ステップＳ１１における所定の短時間およびステップＳ１２における所定の範囲を適宜設定するのが好適である。
【００３９】
ステップＳ１３において、制御部１０は、ステップＳ１１において所定の短時間内に取得された接触の位置を平均化する等の演算を行い、当該演算により算出された位置（点）を、接触検出部４０が検出している接触の位置として処理するように制御する。すなわち、本実施形態において、制御部１０は、接触検出部４０が接触を検出している所定時間内に取得する接触の位置のばらつきが所定の範囲内であれば、前記取得された接触の位置に基づいて算出した位置を接触検出部４０が検出する接触の位置とするように制御する。要するに、ステップＳ１３においては、所定の短時間内に取得された接触の位置に基づいて、接触検出部４０が検出している接触の位置が１つの点として決定される。このようにして算出された位置は、例えば図２（Ｂ）における位置γ１とすることができる。
【００４０】
なお、ステップＳ１３において、所定の短時間内に取得された接触の位置について行う演算は、平均化のような演算に限定されるものではない。例えば、このような演算は、所定の短時間内で取得された接触の位置について、検出が開始された接触の位置が最も重い値となるようにして、徐々に軽い値になるように重み付けするような演算などとすることもできる。
【００４１】
また、ステップＳ１３においては、制御部１０は、上述のようにして算出した位置（点）を、記憶部８０に記憶するように制御するのが好適である。この場合、記憶部８０は、接触検出部４０が接触を検出している所定時間内に取得する接触の位置のばらつきが所定の範囲内である場合に、前記取得された接触の位置に基づいて算出した位置を記憶するようにする。
【００４２】
ステップＳ１３において、算出された位置を接触検出部４０が検出している接触の位置としたら（および当該位置を記憶部８０に記憶したら）、制御部１０は、接触検出部４０に対する接触が解除されたか否かを判定する（ステップＳ１４）。要するに、ステップＳ１４においては、操作者の指などが、まだ接触検出部４０に接触しているか否かを判定する。
【００４３】
ステップＳ１４において接触が解除されていない、すなわち操作者の指などがまだ接触検出部４０に接触している場合、制御部１０は、ステップＳ１１に戻って処理を続行する。一方、ステップＳ１４において接触が解除されている、すなわち操作者の指などが接触検出部４０から離れた場合、制御部１０は、本実施形態の処理を終了する。
【００４４】
ステップＳ１４を経た後のステップＳ１１において、接触検出部４０により検出された接触の位置を取得する際の所定の短時間とは、前回のステップＳ１１で規定した所定の短時間の後の時間を表している。したがって、操作者が通常の操作により接触検出部４０に接触している場合、前回のステップＳ１１において接触が検出された際よりも、今回のステップＳ１１において検出される接触にかかる押圧は大きくなっているものと想定される。このため、図２（Ｃ）に示すように、操作者の指などが接触検出部４０に接触している範囲α２は、図２（Ｂ）に示した操作者の指などが接触していた範囲α１よりも大きくなる。ステップＳ１１において、制御部１０は、所定の短時間内に接触検出部４０により検出される、このような接触の位置のばらつきを取得、すなわちサンプリングする。
【００４５】
ステップＳ１１において所定の短時間内における接触の位置が取得されたら、制御部１０は、当該所定の時間内に取得された接触の位置のばらつきが所定の範囲を超えるか否かを判定する（ステップＳ１２）。図２（Ｃ）に示すような状態においては、操作者の指などが接触検出部４０に接触している面積が大きいため、所定の時間内に取得された接触の位置のばらつきは、前述した所定の範囲β１を超えることが想定される。このような場合、制御部１０は、ステップＳ１５に進んで処理を行う。
【００４６】
ステップＳ１５において、制御部１０は、記憶部８０に記憶された接触の位置が存在するか否かを確認する。ここで、記憶された接触の位置とは、前述したステップＳ１３において算出した位置を記憶部８０に記憶したものである。ステップＳ１５において記憶された接触の位置が存在しない場合はステップＳ１３の処理を行うが、一度ステップＳ１３を経た後であれば記憶部８０に記憶された接触の位置が存在する。このように、ステップＳ１５において、記憶された接触の位置が存在する場合、制御部１０は、当該記憶された接触の位置を、検出した接触の位置として処理するように制御する（ステップＳ１６）。
【００４７】
すなわち、図２（Ｃ）に示すように、操作者の指などが接触検出部４０において領域α２に接触している場合、所定の短時間内に取得された、ばらつきを有する接触の位置を平均化すると、例えば位置γ２のように、当初のγ１からずれた位置が算出される。このように、位置γ２を接触検出部４０が検出した接触の位置として処理すると、操作者が最初に接触を開始した状態から接触の位置がずれて検出されることになる。しかしながら、操作者としては、最初に接触を開始した位置を接触することを所望しており、その後押圧を強めた際に接触の位置をずらすことは意図していないものと考えられる。そこで、本実施形態では、図２（Ｃ）に示すような操作者が押圧を強めた状態においても、図２（Ｂ）で説明したように接触が検出された直後に算出して記憶した位置γ１を、接触検出部４０が検出した接触の位置として扱う。
【００４８】
ステップＳ１６の後は、制御部１０は、接触検出部４０に対する接触が解除されたか否かを判定するが（ステップＳ１４）、これ以降の処理は上述した通りである。
【００４９】
このように、本実施形態において、制御部１０は、接触検出部４０が接触を検出している所定時間内に取得する接触の位置のばらつきが所定の範囲を超えたら、前記取得された接触の位置に基づいて算出された位置を接触検出部４０が検出する接触の位置とするように制御する。この際、制御部１０は、記憶部８０に記憶された位置を接触検出部４０が検出する接触の位置とするように制御するのが好適である。
【００５０】
このように、本実施形態による電子機器１は、操作者の指などがタッチセンサに接触した後に押圧が強まることにより、取得される接触の位置がずれたとしても、接触検出当初に近い時点の接触に基づいて接触の位置を決定する。したがって、操作者の指などがタッチセンサに接触した後に押圧が強まることにより、取得される接触の位置がずれたとしても、これによる接触の位置のずれは抑制されるため、接触検出部４０が接触の位置を検出する精度を向上させることができる。
【００５１】
なお、一般的に、タッチセンサを備える電子機器において、タッチセンサに対して接触操作が行われても、タッチセンサは押しボタンスイッチのようには物理的に変位しないため、操作者が当該操作に対するフィードバックを得ることができない。このため、本実施形態による電子機器１は、接触検出部４０が検出した接触に基づいて、振動部５０により接触検出部４０を振動させて、操作者の指先に振動を発生させることができる。このようにすれば、接触操作を行う操作者は、接触検出部４０に対して行った操作が機器に正しく認識されたことを、触覚により認識することができる。
【００５２】
ところが、接触検出部４０が操作者の接触を検出している最中に振動を発生させるということは、すなわち、操作者の接触を検出しているセンサを振動させることに他ならない。接触検出部４０が操作者の接触を検出している最中に振動を発生させることにより、接触検出部４０そのものが動くことはもちろん、接触している操作者の指も動くことになり、さらには図７にて説明したような２枚の導電膜の接触状態も細かく変化することになる。このため、接触検出部４０が振動している間、接触検出部４０が検出する接触の位置は、ますますばらつくことになる。したがって、接触検出部４０が接触の位置を検出する精度の観点からすると、このように接触の検出中に接触検出部４０を振動させると、接触の位置を正確に検出することはますます困難になる。しかしながら、本実施形態による電子機器１によれば、このような場合でも、取得される接触の位置のずれを抑制することができるため、接触検出部が接触の位置を検出する精度を向上させることができる。
【００５３】
（第２実施形態）
次に、本発明の第２実施形態に係る電子機器について説明する。
【００５４】
第２実施形態は、上述した第１実施形態に係る電子機器１において、制御部１０による処理を追加するものである。具体的には、第２実施形態に係る電子機器２は、第１実施形態に係る電子機器１において、操作者が指などを接触検出部４０に接触させたままスライドさせる操作（いわゆるドラッグ）を検出できるようにする。第２実施形態に係る電子機器２は、上記の点以外においては、上述した第１実施形態で説明した電子機器１と基本的に同じ機器構成および制御により実現することができる。このため、以下、第１実施形態において説明したのと同じ内容になる説明は、適宜省略する。
【００５５】
図４は、第２実施形態に係る電子機器２の処理を説明するフローチャートである。第２実施形態に係る処理は、図３で説明した第１実施形態に係る処理におけるステップＳ１５とステップＳ１４との間に、ステップＳ２１〜ステップＳ２３を挿入するものである。
【００５６】
第２実施形態では、ステップＳ１５において、すでに一度ステップＳ１３を経て記憶部８０に記憶された接触の位置が存在する場合、制御部１０は、ステップＳ１６にて当該記憶した接触の位置を検出された接触の位置とした後、ステップＳ２１の処理を行う。
【００５７】
ステップＳ２１では、制御部１０は、操作者が指などを接触検出部４０に接触させたままスライドさせる操作（いわゆるドラッグ）を検出する。このため、制御部１０は、接触検出部４０が検出した接触の位置を取得して平均化する等の演算を行い、当該演算により算出された位置（点）を、接触検出部４０が検出している接触の位置として処理するように制御する。
【００５８】
なお、ステップＳ２１の処理を行うのは、ステップＳ１２において取得される接触の位置が所定の範囲（例えばβ１）を超えている場合であり、操作者の指などが接触検出部４０に接触するのは、例えば図２（Ｃ）に示した領域α２のように比較的大きな領域となる。このため、ステップＳ１２において取得される接触の位置は比較的大きなばらつきを有するようになり、このようなばらつきを有する接触の位置を平均化すると、例えば位置γ２のようになる。
【００５９】
ステップＳ２１において、制御部１０は、このような平均の位置γ２が所定の距離を超えて変位しているか否かを判定する。上述したように、ステップＳ２１の処理を行うのは、ステップＳ１２において取得される接触の位置が比較的大きなばらつきを有する場合である。したがって、ステップＳ２１の判定を行う際の「所定の距離」を小さくし過ぎると、操作者が接触検出部４０に接触させた指などをスライドさせていないのに、ドラッグが行われたと誤判定されるおそれがある。このため、操作者が意図してドラッグを行った際に、ステップＳ２１において接触の位置の平均が所定の距離を超えて変位していると判定されるように、当該所定の距離を適切に設定するのが望ましい。
【００６０】
ステップＳ２１において接触の位置の平均が所定の距離を超えて変位していないと判定された場合、制御部１０は、ドラッグが行われていないと判断して、ステップＳ１４の処理に移行する。ステップＳ１４以降の処理は、第１実施形態で説明した通りである。
【００６１】
一方、ステップＳ２１において接触の位置の平均が所定の距離を超えて変位したと判定された場合、制御部１０は、記憶部８０に記憶された接触の位置を当該変位のぶんだけ変位させたものを、検出した接触の位置として処理するように制御する（ステップＳ２２）。
【００６２】
例えば、図５（Ａ）に示すように、操作者の指などが接触検出部４０において領域α２に接触している際に、所定の短時間内に取得されたばらつきを有する接触の位置を平均化したら、位置γ２が算出されたとする。ここで、記憶部８０には、すでに記憶された接触の位置として、位置γ１が存在するものとする。ここで、操作者の指などが接触検出部４０においてドラッグされて、接触検出部４０に接触している領域α２から、図５（Ｂ）に示す領域α２’に移動したとする。この場合、算出されていた位置γ２が、図５（Ｂ）に示すように所定の距離を超えて位置γ２’まで変位したと判定された場合（ステップＳ２１のＹｅｓ）、位置γ１を当該変位のぶん変位させた位置γ１’が、検出した接触の位置として処理される（ステップＳ２２）。
【００６３】
ステップＳ２２において、記憶された接触の位置を変位させたものを、検出した接触の位置としたら、制御部１０は、接触の位置の平均が所定の距離を超えて変位する操作が検出されなくなったか否かを判定する（ステップＳ２３）。すなわち、ステップＳ２３においては、操作者によるドラッグがまだ継続しているか否かを判定する。ステップＳ２３において、接触の位置の平均が所定の距離を超えて変位する操作がまだ停止していない場合、制御部１０は、当該操作が停止するまでステップＳ２２の処理を続行する。
【００６４】
一方、ステップＳ２３において、接触の位置の平均が所定の距離を超えて変位する操作が停止した、すなわちもはやドラッグが行われていないと判定されたら、制御部１０は、ステップＳ１４の処理に移行する。ステップＳ１４以降の処理は、第１実施形態で説明した通りである。
【００６５】
このように、本実施形態において、制御部１０は、接触検出部４０が接触を検出している所定時間内に取得する接触の位置のばらつきが所定の範囲を超えている場合に、当該取得された接触の位置に基づいて算出した位置が所定の距離を超えて変位したら、当該変位に基づいて記憶部８０に記憶された位置を変位させたものを接触検出部４０が検出する接触の位置とするように制御する。
【００６６】
このように、本実施形態による電子機器２は、操作者がドラッグを行った際でも、適切にドラッグの操作として判定することができる。また、本実施形態による電子機器２は、操作者がドラッグを行ったと判定された場合、比較的大きなばらつきを有する接触の位置を変位の方向および距離の算出にのみ用いて、変位の起点となる位置は比較的ばらつきの小さな時点における接触の位置を利用する。このため、本実施形態による電子機器２は、操作者がドラッグを行った際でも、当該ドラッグが完了した際の接触の位置を検出する精度を向上させることができる。
【００６７】
なお、本発明は、上記実施形態にのみ限定されるものではなく、幾多の変形または変更が可能である。例えば、上述した各実施形態では、表示部３０にオブジェクトを表示して接触検出部４０が操作者の接触を検出する態様について説明した。しかしながら、本発明はこのような態様に限定されるものではなく、例えば表示部３０を有さずに、接触検出部４０のタッチ面上にオブジェクトがインクなどにより直接印刷されているような態様を想定することもできる。
【００６８】
また、本発明による電子機器は、上述した各実施形態において説明した構成に限定されるものではなく、設計の際の要求に応じて種々の構成を採ることができる。例えば、上述した各実施形態においては、記憶部８０を別個の要素とした構成について説明した。しかしながら、例えば、制御部１０が、自らのキャッシュメモリに記憶部８０の機能を含めるようにするなどの構成とすることもできる。
【００６９】
また、振動部５０は、任意の個数の圧電振動子を用いて構成したり、接触検出部４０の全面に透明圧電素子を設けて構成したり、偏心モータを駆動信号の１周期で１回転させるようにして構成したり、することもできる。なお、振動部５０は、振動モータ（偏心モータ）などを用いて電子機器１を振動させることにより、接触検出部４０を間接的に振動させるように構成してもよいし、接触検出部４０に圧電素子を配設することにより、接触検出部４０を直接的に振動させるように構成してもよい。
【００７０】
上述した実施形態においては、接触検出部４０を表示部３０の上面側に重ねて配置した構成を想定して説明した。本発明による電子機器は、このような構成にすることは必須ではなく、接触検出部４０と表示部３０とを離間した構成にすることもできる。しかしながら、接触検出部４０を表示部３０の上面に重ねて配置した構成とする方が、表示される画像と発生する振動との対応関係を、操作者に容易に認識させることができる。
【００７１】
また、本発明による電子機器は、接触検出部が接触を検出している所定時間内に取得する接触の位置のばらつきが所定の範囲内であるか、所定の範囲を超えたかを判定しているが、この判定は、電子機器が、所定時間内に取得する接触の位置に基づく分散値を算出し、この分散値が、所定値以下の場合に所定の範囲内であると判定し、所定値を超える場合に所定の範囲を超えると判定するようにしてもよい。
【００７２】
なお、接触検出部が接触を検出している所定時間内に取得する接触の位置のばらつきが所定の範囲内であるか、所定の範囲を超えたかの判定は、種々の方法を採用することができる。例えば、本発明の電子機器は、所定時間内に取得する複数の接触の位置のうち、１の接触の位置が、他の接触の位置（たとえば、他の接触の位置に基づく平均の位置）と大きく（所定の距離）離れているか否かに基づき、接触の位置のばらつきが所定の範囲内か、所定の範囲を超えているかを判定してもよい。
【００７３】
また、上記判定は、接触検出部が接触を検出していない状態から、接触検出部が接触を検出している状態となった際に、制御部が最初に取得した接触の位置を基点として、制御部が所定時間内に取得する接触が当該基点から所定距離内にあるか否かに基づき、接触の位置のばらつきが所定の範囲内か、所定の範囲を超えているかを判定してもよい。
【符号の説明】
【００７４】
１  電子機器
１０  制御部
３０  表示部
４０  接触検出部
５０  振動部
８０  記憶部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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