(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
金属箔の表面に合材層を形成して構成された電極用基材の品質を検査するための方法であって、
前記電極用基材の製造工程におけるプレス工程より前であって、かつ、前記電極用基材の製造工程における乾燥工程より後に測定した前記電極用基材における合材層の測色度と、
前記電極用基材の製造工程におけるプレス工程より後に測定した前記電極用基材における合材層の透気抵抗度と、
の関係を表す第一のマップ情報を予め求めておき、
前記電極用基材の製造工程の途中で測定した合材層の測色度に基づいて、
前記第一のマップ情報から、
前記電極用基材における合材層の透気抵抗度を導出する、
ことを特徴とする電極用基材の検査方法。
【請求項２】
前記測色度は、
Ｌ値のみを用いる、
ことを特徴とする請求項１に記載の電極用基材の検査方法。
【請求項３】
前記測色度は、
受光角度が７５度の場合におけるＬ値を用いる、
ことを特徴とする請求項２に記載の電極用基材の検査方法。
【請求項４】
前記電極用基材の製造工程におけるプレス工程より後に測定した前記電極用基材における合材層の透気抵抗度と、
前記電極用基材の製造工程におけるプレス工程より後に測定した前記電極用基材における合材層の水平電子抵抗と、
の関係を表す第二のマップ情報を予め求めておき、
前記測色度の測定結果に基づき、
第一および第二のマップ情報から、
電極用基材の品質の良否を判定する、
ことを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の電極用基材の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電極用基材の検査方法の技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
二次電池には、過充電になった場合に作動する安全機構として圧力型の電流遮断機構を備えるものがあり、このような二次電池では、正極もしくは電解液に、過充電時にガスを発生させるための過充電添加剤を添加するのが一般的である。
そして、このような二次電池においては、過充電時に電流遮断機構を作動させることができる所定量のガスを確実に発生させる必要がある。
また、二次電池における電極を構成する部材である電極用基材は、金属箔と合材層（塗工した活物質からなる層）からなる構成が一般的である。
【０００３】
本願発明者らは、電極（特に正極）を構成するための電極用基材において、合材層における活物質の目付量や密度が同じであっても、製造条件（プレス条件等）が異なれば、二次電池の性能に差異が生じる場合があることに気づいた。
【０００４】
具体的には、本願発明者らによって、二次電池の正極に用いる電極用基材の合材層における透気抵抗度（透気度とも呼ばれる）と、該正極において過充電添加剤により発生させるガス量との間には相関があり、透気抵抗度を管理することによって、ガス発生量を確保できる技術が開発されている。
そして、当該技術については、本願発明者らにより特許出願（特願２０１２−５９４１７）がなされ、該特許出願の明細書等にその技術が開示（本願出願時には未公開）されている。
【０００５】
そして、本願発明者らの研究によって、このような二次電池の性能の差異は、電極用基材における合材層の構造的差異に起因して生じていることが分かってきた。
尚、ここで言う「構造的差異」とは、合材層に含まれるバインダーと活物質の物理的な結合状況の差異や、合材層におけるバインダーの偏在度合の差異等を含む概念である。
【０００６】
より詳しくは、本願発明者らは、合材層のみの状態における透気抵抗度が、合材層の微細な構造的差異を表す代替パラメータとしての性質を有していることに気付き、合材層のみの状態（即ち、金属箔を除去した状態）における透気抵抗度に基づき、ガス発生量の良否（ひいては、電極用基材の良否）を判定する方法を提案している。
この技術は、合材層に含まれるバインダーと活物質の物理的な結合状況や、合材層におけるバインダーの偏在度合が異なると、合材層に空気を透過させるときの抵抗度が異なってくることを利用して、透気抵抗度を測定することで、合材層の構造的差異を検出しようとするものである。
【０００７】
そして、合材層の構造的差異（即ち、透気抵抗度の差異）は、ガス発生量のみならず、当該電極用基材を用いて製造する二次電池の性能にまで影響を与えることが分かってきた。
このため、電極用基材の製造工程において、合材層のみの状態における透気抵抗度を管理することで、より的確に二次電池の品質を管理することが可能になると期待されている。
尚、ここで言う「二次電池の性能」としては、過充電添加剤との化学的反応により電極用基材から発生させることができるガスの発生能力や、二次電池の充放電特性等が挙げられる。
【０００８】
ここで、合材層の構造的差異によって、二次電池の性能に差異が生じることを確認した実験結果を例示する。
【０００９】
図１０には、合材層の密度は同じであり、かつ、合材層に構造的差異（即ち、透気抵抗度の差異）が生じるように製造した各電極用基材を用いて構成した二次電池について、放電時における電圧降下を測定した結果を示している。
ここで準備した３種類の電極用基材は、合材層の密度は共通（ここでは、２．９ｇ／ｃｍ3としている）しているが、プレス条件が異なっている。
さらに、ここでの実験条件について詳述すると、３種類の電極用基材における各プレス条件は、それぞれ、プレス回数を、１回、１０回、２０回としており、その結果、各電極用基材における透気抵抗度が異なるものとなっている。
【００１０】
電極用基材は、より多くのプレス回数で（即ち、ギャップ量を小さくして）所望する密度に成形する場合のほうが、より少ないプレス回数で（即ち、ギャップ量を大きくして）所望する密度に成形する場合に比して、透気抵抗度が大きくなる（即ち、通気性がよい）性質を有していることが、本願発明者らの研究により判明している。
即ち、電極用基材は、製造方法の如何によって（例えば、プレス方法の違いによって）、合材層における構造的差異が生じるものであり、また、その他の合材層における構造的差異が生じる要因としては、例えば、ペーストの製造方法の違いや、合材層の乾燥方法の違い等が挙げられる。
【００１１】
そして、本実験で使用するプレス回数１回の電極用基材（サンプルＸ）では、透気抵抗度が３９１（ｓｅｃ／１００ｍＬ）となり、プレス回数１０回の電極用基材（サンプルＹ）は、透気抵抗度が２９２（ｓｅｃ／１００ｍＬ）となり、プレス回数２０回の電極用基材（サンプルＺ）は、透気抵抗度が２３７（ｓｅｃ／１００ｍＬ）となっている。
また本実験では、３種類（各サンプルＸ〜Ｚ）の電極用基材を備える二次電池をそれぞれ２個ずつ（合計６個）準備して、放電させた結果を記録した。
【００１２】
図１０では、このような透気抵抗度が異なる３種類の電極用基材（正極）を用いて製造した６個の二次電池について、３．６（Ｖ）から２．０（Ｖ）まで放電させたときの電圧降下に要した時間を比較して表示している。
【００１３】
そして、図１０によれば、合材層の密度が同じであっても、構造的差異（即ち、透気抵抗度の差異）があれば、放電特性に差異が生じていることが分かる。
さらに、図１０によれば、合材層の密度が同じであれば、より透気抵抗度が小さい合材層を有する電極用基材（ここでは、サンプルＺ）を使用した二次電池のほうが、より透気抵抗度が大きい合材層を有する電極用基材（ここでは、サンプルＸ）を使用した二次電池に比して、放電時の電圧降下が生じにくい（即ち、出力特性がよい）ことが分かる。
【００１４】
また従来、電極用基材の透気抵抗度を測定し、測定した透気抵抗度に基づいて、電極用基材の良否を判定する構成とした電極用基材の検査方法が知られており、例えば、以下に示す特許文献１に開示され、公知となっている。
【００１５】
特許文献１に開示されている従来技術では、多孔質性の金属箔に活物質を塗工して生成された電極用基材を対象としており、電極用基材全体（即ち、金属箔と活物質層（以下、合材層と呼ぶ）を合わせた全体）における透気抵抗度を測定することによって、当該電極用基材に適したプレドープ時間を判断するようにしている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１６】
【特許文献１】特開２００９−１９９９６３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１７】
本願発明者らが提案する従来の合材層のみの透気抵抗度を測定する技術においては、透気抵抗度を測定するために、合材層の一部を切り出す必要があった。
このため、電極用基材の一部を切り出して透気抵抗度を測定する方法では、電極用基材の製造後にならないと、その良否を判定することができず、また、電極用基材の製造工程の途中で電極用基材の透気抵抗度を測定して、該電極用基材の良否を判定することが困難であった。
さらに、従来の方法では、電極用基材の製造後（特にプレス加工後）にその不良が判明したとしても、その不良がどの工程に起因して生じたものかを特定することが困難になってしまうため、製造工程に対して不良原因をフィードバックすることが困難であった。
【００１８】
また、特許文献１に開示されている従来技術では、電極箔が多孔質性の素材によって構成され、電極箔の透気抵抗度を含めて、電極用基材全体としての透気抵抗度を評価して電極用基材の品質を管理するものであり、斯かる従来技術においては、合材層のみの透気抵抗度を用いて、電極用基材の品質を管理する技術の開示は何らなされていなかった。
【００１９】
即ち従来は、透気抵抗度の測定を、製造工程においてインラインで行うことが困難であったため、合材層のみの状態における透気抵抗度に基づいて電極用基材の品質を検査する方法を、実際の製造工程に適用することが困難であった。
【００２０】
本発明は、斯かる現状の課題を鑑みてなされたものであり、合材層のみの透気抵抗度に基づく電極用基材の良否判定を、電極用基材の切り出しを要することなく、製造工程においてインラインで行うことができる電極用基材の検査方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００２１】
本発明の解決しようとする課題は以上の如くであり、次にこの課題を解決するための手段を説明する。
【００２２】
即ち、請求項１においては、金属箔の表面に合材層を形成して構成された電極用基材の品質を検査するための方法であって、前記電極用基材の製造工程におけるプレス工程より前であって、かつ、前記電極用基材の製造工程における乾燥工程より後に測定した前記電極用基材における合材層の測色度と、前記電極用基材の製造工程におけるプレス工程より後に測定した前記電極用基材における合材層の透気抵抗度と、の関係を表す第一のマップ情報を予め求めておき、前記電極用基材の製造工程の途中で測定した合材層の測色度に基づいて、前記第一のマップ情報から、前記電極用基材における合材層の透気抵抗度を導出するものである。
【００２３】
請求項２においては、前記測色度は、Ｌ値のみを用いるものである。
【００２４】
請求項３においては、前記測色度は、受光角度が７５度の場合におけるＬ値を用いるものである。
【００２５】
請求項４においては、前記電極用基材の製造工程におけるプレス工程より後に測定した前記電極用基材における合材層の透気抵抗度と、前記電極用基材の製造工程におけるプレス工程より後に測定した前記電極用基材における合材層の水平電子抵抗と、の関係を表す第二のマップ情報を予め求めておき、前記測色度の測定結果に基づき、第一および第二のマップ情報から、電極用基材の品質の良否を判定するものである。
【発明の効果】
【００２６】
本発明の効果として、以下に示すような効果を奏する。
【００２７】
請求項１においては、電極用基材の切り出しを要することなく、製造工程の途中で、容易に合材層のみの状態における透気抵抗度を導出することができる。
【００２８】
請求項２および請求項３においては、合材層の測色度を測定することにより、合材層の微細な構造的差異を確実に検出することができる。
【００２９】
請求項４においては、合材層における微細な構造的差異の検出結果に基づいて、的確に電極用基材の品質管理を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】従来の電極用基材の検査方法の流れを示す模式図。
【図２】フリーフィルムに対する透気抵抗度の測定方法を示す斜視模式図。
【図３】電極用基材の合材層に対する水平電子抵抗の測定方法を示す斜視模式図。
【図４】本発明の一実施形態に係る電極用基材の検査方法（準備段階）の流れを示す模式図。
【図５】本発明の一実施形態に係る電極用基材の検査方法（本稼働段階）の流れを示す模式図。
【図６】電極用基材の合材層に対する測色度の測定方法を示す模式図。
【図７】測色度により合材層の構造的差異を検出する原理を説明するための図、（ａ）バインダーの偏在が生じていない場合における合材層の構造を示す模式図、（ｂ）バインダーの偏在が生じている場合における合材層の構造を示す模式図。
【図８】測色度により合材層の構造的差異を検出する原理を説明するための図、（ａ）活物質の表面における光の反射状況を示す模式図、（ｂ）バインダーの表面における光の反射状況を示す模式図。
【図９】電極用基材の合材層における測色度（即ち、Ｌ７５）と透気抵抗度との相関を表す図。
【図１０】電極用基材の構造的差異による二次電池における自己放電量の差異を表す図。
【発明を実施するための形態】
【００３１】
次に、発明の実施の形態を説明する。
まず始めに、従来の電極用基材の検査方法について、図１を用いて、説明をする。
電極用基材は、図１に示すように、ペースト製造工程（ＳＴＥＰ−１０１）、塗工工程（ＳＴＥＰ−１０２）、乾燥工程（ＳＴＥＰ−１０３）、プレス工程（ＳＴＥＰ−１０４）等の各工程を、図１に記載した順序で経て製造されるのが一般的であって、金属箔の表面に合材層を形成して構成されるものである。
【００３２】
ペースト製造工程（ＳＴＥＰ−１０１）は、合材層を形成するための活物質およびバインダー等を含むペーストを製造する工程であり、塗工工程（ＳＴＥＰ−１０２）は、製造したペーストを金属箔に対して均等な厚さで塗工して、金属箔の表面に合材層を形成する工程である。
また、乾燥工程（ＳＴＥＰ−１０３）は、塗工したペースト（即ち、合材層）を乾燥させる（ペーストに含まれる溶剤成分を揮発させる）工程であり、プレス工程（ＳＴＥＰ−１０４）は、乾燥済みの合材層をプレスして所定の厚みにまで圧縮することによって、合材層の密度を所定の密度にまで増大させる工程である。
【００３３】
そして、従来の電極用基材の検査方法では、プレス工程（ＳＴＥＰ−１０４）の後（即ち、電極用基材が出来上がった後）で、製造した電極用基材からサンプルを切り出して（ＳＴＥＰ−１２０）、当該サンプルを用いて透気抵抗度の測定（ＳＴＥＰ−１３０）および水平電子抵抗の測定（ＳＴＥＰ−１４０）を行うようにしている。
【００３４】
ここで、合材層の透気抵抗度の測定方法について、図２および図３を用いて説明をする。
図３に示すような電極用基材１における合材層３の透気抵抗度を測定するためには、まず電極用基材１から金属箔２を除去した態様の（即ち、合材層３のみとした）、図２に示すような部材３ａ（以下、フリーフィルム３ａと呼ぶ）を生成しておく。
このようにして得たフリーフィルム３ａは、通気性がある多孔質性の素材となっている。
【００３５】
フリーフィルム３ａの透気抵抗度の測定は、ＪＩＳＰ８１１７の規格（ガーレー法）に従って、所定の測定機器（所謂デンソメータ）を用いて行う。
より詳しくは、図２に示すように、軸心を鉛直方向に向けて配置される内径２８．６ｍｍの筒部１０の下端をフリーフィルム３ａで塞ぐ状態としておき、この状態で筒部１０の内径に隙間なく接触する、重量が５６７ｇであるおもり１１を、上端側から自由落下させる。そして、フリーフィルム３ａにおける直径２８．６ｍｍの円の範囲で、おもり１１により圧縮されるエアーを通過させて、１００ｍＬのエアーが通過するのに要する時間（ｓｅｃ）を測定する。
そして、このようにして測定された時間を、透気抵抗度（ｓｅｃ／１００ｍＬ）として規定している。
【００３６】
またここで、合材層の水平電子抵抗の測定方法について、図３を用いて説明をする。
図３に示すような電極用基材１における合材層３に対する水平電子抵抗の測定は、電極用基材１を構成する合材層３に粘着テープを貼り付けて凝集力を付与した後、金属箔２を１０ｍｍ幅で除去して、図３に示すような態様のテストサンプル４をまず作成しておく。
【００３７】
そして、このようにして得たテストサンプル４において、金属箔２を除去した部位の両側に残った金属箔２Ａ・２Ｂを端子として、テスター１２により、合材層３の抵抗値を測定する。
このようにして測定された抵抗値を、水平電子抵抗（Ω・ｃｍ）として規定している。
【００３８】
そして、図１に示す如く、電極用基材（例えば、図３に示すような電極用基材１）に対する従来の検査方法においては、図２および図３のようにして測定した透気抵抗度と水平電子抵抗の測定結果に基づいて、当該電極用基材の品質の良否を判定する（ＳＴＥＰ−１５０）ようにしている。
また従来、電極用基材の品質の良否を判定する工程（ＳＴＥＰ−１５０）では、透気抵抗度と水平電子抵抗の二つの指標に基づいて判定する構成としており、これにより、電極用基材の品質の良否判定をより的確に行うことが可能になっている。
【００３９】
次に、本発明の一実施形態に係る電極用基材の検査方法について、図４〜図９を用いて、説明をする。
尚、本発明の一実施形態に係る電極用基材の検査方法における検査の対象物たる電極用基材は、従来の検査方法における検査の対象物たる電極用基材（例えば、図３に示す電極用基材１）と同じであって、金属箔の表面に合材層を形成して構成されるものである。
また、本発明の一実施形態に係る電極用基材の検査方法の適用対象たる電極用基材は、従来と変わらず、ペースト製造工程（ＳＴＥＰ−１０１）、塗工工程（ＳＴＥＰ−１０２）、乾燥工程（ＳＴＥＰ−１０３）、プレス工程（ＳＴＥＰ−１０４）等の各工程を順に経て製造される。
【００４０】
図４および図５に示す如く、本発明の一実施形態に係る電極用基材の検査方法では、従来の電極基材の検査方法（図１参照）とは異なり、電極用基材を本格的に製造する前の段階と、電極用基材を本格的に製造する段階において、実施する検査内容が異なっている。
【００４１】
具体的には、電極用基材の本格的な製造を行う前の段階（以下、準備段階と呼ぶ）では、電極用基材の表面における測色度を測定しつつ、透気抵抗度の測定を行って、測色度と透気抵抗度の各データを蓄積するとともに、測色度と透気抵抗度の相関を表すマップ情報（以下、マップ情報Ａと呼ぶ）を生成するようにしている。
【００４２】
また、準備段階では、さらに、電極用基材を構成する合材層の水平電子抵抗の測定を行って、透気抵抗度と水平電子抵抗の各データを蓄積するとともに、透気抵抗度と水平電子抵抗の相関を表すマップ情報（以下、マップ情報Ｂと呼ぶ）を生成するようにしている。
【００４３】
そして、電極用基材の本格的な製造段階（以下、本稼働段階と呼ぶ）では、電極用基材の表面における測色度のみを測定し（即ち、透気抵抗度および水平電子抵抗の測定は行わずに）、測定した測色度と、予め求めておいて各マップ情報Ａ・Ｂから、電極用基材の品質の良否を判定する構成としている。
【００４４】
ここで、本発明の一実施形態に係る電極用基材の検査方法における準備段階での検査の流れについて、さらに詳細に説明をする。
図４に示す如く、本発明の一実施形態に係る電極用基材の検査方法では、準備段階においては、プレス工程（ＳＴＥＰ−１０４）を行うよりも前に、電極用基材の測色度を測定する工程（以下、測色度測定工程（ＳＴＥＰ−１１０）と呼ぶ）を実施している。
【００４５】
また、測色度測定工程（ＳＴＥＰ−１１０）は、乾燥工程（ＳＴＥＰ−１０３）の後に実施している。
【００４６】
そして、プレス工程（ＳＴＥＰ−１０４）の前に測定した測色度と、その電極用基材について、プレス工程（ＳＴＥＰ−１０４）の後に実施した透気抵抗度測定工程（ＳＴＥＰ−１３０）における透気抵抗度の測定結果とを関連付けて、マップ情報Ａを作成するようにしている。
【００４７】
また、準備段階においては、透気抵抗度測定工程（ＳＴＥＰ−１３０）における透気抵抗度の測定結果と、水平電子抵抗測定工程における水平電子抵抗の測定結果に基づいて、さらにマップ情報Ｂを作成するようにしている。
マップ情報Ｂは、透気抵抗度と当該透気抵抗度における良品基準となる水平電子抵抗との相関を表すものであり、ある透気抵抗度において電極用基材を良品と判定することができる水平電子抵抗の値を、予め蓄積しておくようにしている。
【００４８】
そして、準備段階では、透気抵抗度測定工程（ＳＴＥＰ−１３０）において測定した透気抵抗度と、水平電子抵抗測定工程（ＳＴＥＰ−１４０）において測定した水平電子抵抗に基づいて、電極用基材の品質の良否を判定する（ＳＴＥＰ−１５０）ようにしている。
【００４９】
尚、水平電子抵抗の値は、製造条件（即ち、ペーストの製造条件、塗工条件、乾燥条件、プレス条件等）が同じであれば略一定となるため、製造条件ごとに、そのときの水平電子抵抗の測定結果を記録するようにしている。
【００５０】
ここで、測色度測定工程（ＳＴＥＰ−１１０）における、測色度の測定方法について、説明をする。
本実施形態においては、測色度の測定を、図６に示すような分光測色計５を用いて行うようにしている。
【００５１】
分光測色計５は、物体の表面における測色度を測定するための装置であり、投光部５ａ、受光部５ｂ、演算部５ｃ等を備える構成としている。
分光測色計５では、投光部５ａから電極用基材１の合材層３に向けて照射された光が、合材層３において所定の反射角度θで反射して受光部５ｂに到達するように構成されており、受光部５ｂで受光した光に基づき演算部５ｃで演算を行って、Ｌ値、ａ値、ｂ値の３つの値により規定される合材層３の測色度を得ることができる。
尚、ここで言う「Ｌ値、ａ値、ｂ値」は、実際には、所謂ＣＩＥＬＡＢとして規定される色空間における値である、「Ｌ＊値、ａ＊値、ｂ＊値」を用いるようにしている。
但し、本説明においては、単に「Ｌ値、ａ値、ｂ値」と記載する。
【００５２】
Ｌ値は、受光した光の明度軸（Ｌ軸）における値であって、０〜１００の間の値をとり、０に近いほど黒色に近く、１００に近いほど白色に近い色であることを表している。
ａ値は、受光した光の赤さ度合を表す軸（ａ軸）における値であって、−６０〜＋６０の値をとり、−６０に近いほど緑色に近く、＋６０に近いほど赤色に近い色であることを表している。
ｂ値は、受光した光の黄色さ度合を表す軸（ｂ軸）における値であって、−６０〜＋６０の値をとり、−６０に近いほど青色に近く、＋６０に近いほど黄色に近い色であることを表している。
また、ここで言う「測色度」は、「Ｌ値、ａ値、ｂ値」により規定される指標であり、「光沢度」とは異なるものである。
【００５３】
そして、本発明の一実施形態に係る電極用基材の検査方法では、分光測色計５による測定結果のうち、Ｌ値のみを用いて、電極用基材の構造的差異を評価する構成としている。
【００５４】
さらに、本発明の一実施形態に係る電極用基材の検査方法では、Ｌ値のうち、受光角度が７５度である場合におけるＬ値（以下、Ｌ７５と記載する）を用いて、電極用基材の構造的差異を評価する構成としている。
【００５５】
ここで、電極用基材の合材層における測色度に基づき電極用基材の構造的差異を検出する原理について、説明をする。
図７（ａ）（ｂ）に示す如く、合材層３には、活物質８やバインダー９等が含まれている。
活物質８は、一つの粒子として見たときには、その外形形状には角張っている部位が多数存在している。
一方、バインダー９は、樹脂等からなるものであり、一つの粒子として見たときには、その外形形状が、比較的球形に近い（表面に角張った箇所がほとんどない）形状となっている。
【００５６】
また、合材層３の組織の構造に注目すると、合材層３は、例えば、図７（ａ）のように、合材層３の厚み方向における表面近傍にバインダー９が多く存在する構造や、図７（ｂ）のように、均等にバインダー９が存在している構造となっている場合があり、このような合材層３の構造的差異は、製造方法の差異に起因して生じていることが分かっている。
【００５７】
合材層３の表面近傍にバインダー９が多く分布している場合とは、合材層３においてバインダー９の偏在が生じている場合が該当する。
そして、合材層３においてバインダー９が偏在するという現象は、例えば、ペーストの乾燥速度を速めた場合に生じやすく、この場合、バインダー９の集積している箇所ではバリア層が形成され、合材層３全体としての通気性が悪くなる（即ち、透気抵抗度が高くなる）ことが判明している。
【００５８】
一方、合材層３において均等にバインダー９を分布させる（バインダー９を偏在させない）ためには、例えば、ペーストの乾燥速度を長く（即ち、ゆっくりと乾燥させる）すればよく、この場合、バインダー９や活物質８の間に空間が確保され、通気性がよくなる（即ち、透気抵抗度が低くなる）ことが判明している。
即ち、合材層３のみの状態における透気抵抗度と、合材層３の組織の構造には相関が認められると考えられる。
【００５９】
ここで、活物質８とバインダー９の見え方の違いについて、説明をする。
図８（ａ）（ｂ）に示すように、活物質８とバインダー９に向けて光を照射するとき、表面に角張った箇所がないバインダー９の表面では、図８（ｂ）に示すように、乱反射（拡散反射）が起こりにくいが、表面が角張っている活物質８の表面では、図８（ａ）に示すように、乱反射が起こりやすい。
【００６０】
そして、物体（ここでは、活物質８）の表面で乱反射が生じると、当該物体は白くみえ、当該物体の測色度を測定する場合には、Ｌ値が大きくなる（即ち、１００に近い値をとる）。
一方、乱反射が生じにくい物体（ここでは、バインダー９）は、黒くみえるため、測色度を測定した場合には、Ｌ値が小さくなる（即ち、０に近い値をとる）。
【００６１】
このため、活物質８が合材層３の表面近傍に多く分布している場合（即ち、バインダー９の偏在がなく透気抵抗度が小さい場合）には、合材層３表面は白っぽく見え、また、バインダー９が合材層３の表面近傍に多く分布する場合（即ち、バインダー９の偏在があり透気抵抗度が大きい場合）には、合材層３表面が黒っぽく見える。
即ち、合材層３の測色度のＬ値と、合材層３の組織の構造にも相関が認められると考えられる。
【００６２】
そしてこのような各相関から、合材層３の測色度のＬ値と、合材層３のみの状態における透気抵抗度との間にも相関が認められるとの仮定が成り立つ。
そこで、本願発明者らが実験をした結果、図９に示すように、測色度のＬ値（ここでは、Ｌ７５）と透気抵抗度との間には相関があることが確認できた。
【００６３】
尚、本実施形態で使用した電極用基材１では、受光角度が７５度の場合のＬ値（即ち、Ｌ７５）で最も顕著に、合材層３の構造的差異を検出することができたが、本発明に係る電極用基材の検査方法を、使用する分光測色計の受光角度が７５度の場合に限定するものではない。
即ち、本発明に係る電極用基材の検査方法では、電極用基材の特性に応じて測色度の測定方法を変更することができ、受光角度が異なる（Ｌ７５以外の）Ｌ値（例えば、Ｌ２５やＬ４５等）を採用したり、あるいは、自然光に近い光（積分球で反射させた光）を投光するタイプの分光測色計を用いて、受光角度に係らない測色度のＬ値を採用したりしてもよい。
【００６４】
図９に示す如く、本実施形態に係る実験において用いた電極用基材１においては、測色度（Ｌ７５）と透気抵抗度との間には相関が認められる。
図９に示す実験結果に基づくと、透気抵抗度の２５０（ｓｅｃ／１００ｍＬ）は、測色度の２９．６程度に相当している。
このため、透気抵抗度が２５０（ｓｅｃ／１００ｍＬ）の電極用基材１を得るために、測色度を管理して、合材層３の測色度が、２９．６程度となる（ここでは、２９．６±１０％の範囲で管理する）電極用基材１を選択するようにしている。
【００６５】
そして、本発明の一実施形態に係る電極用基材の検査方法では、合材層３のみの状態における透気抵抗度を実際に測定する代わりに、合材層３の測色度（Ｌ７５）を測定することで、測色度の測定結果と測色度と透気抵抗度の相関を表すマップ情報Ａから透気抵抗度を導出する構成としている。
そして、導出した透気抵抗度に基づいて、電極用基材１の品質の良否、ひいては、当該電極用基材１を用いて製造した二次電池の品質の良否を判定する構成としている。
【００６６】
即ち、本発明の一実施形態に係る電極用基材の検査方法は、金属箔の表面に合材層を形成して構成された電極用基材（例えば、電極用基材１）の品質を検査するための方法であって、電極用基材１における合材層３の測色度と、電極用基材１における合材層３（より詳しくは、フリーフィルム３ａ）の透気抵抗度と、の関係を表す第一のマップ情報たるマップ情報Ａを予め求めておき、製造工程の途中（即ち、測色度測定工程（ＳＴＥＰ−１１０））で測定した合材層３の測色度に基づいて、マップ情報Ａから、透気抵抗度を導出するものである。
このような構成により、電極用基材１の切り出しを要することなく、製造工程の途中で、容易に合材層３のみの状態における透気抵抗度を導出することができる。
【００６７】
また、本発明の一実施形態に係る電極用基材の検査方法においては、測色度として、Ｌ値のみを用いるものであり、また、本発明の一実施形態に係る電極用基材の検査方法においては、測色度として、受光角度が７５度の場合におけるＬ値（Ｌ７５）のみを用いるものである。
このような構成により、合材層３の測色度（より詳しくは、Ｌ７５）を測定することにより、合材層３の微細な構造的差異を検出することができる。
【００６８】
ここで、合材層の測色度を測定するタイミングについて、説明をする。
合材層はプレス工程（ＳＴＥＰ−１０４）においてプレス加工すると、厚みが減少するが、このとき、合材層３（図７、図８参照）に含まれる活物質８は押しつぶされ、活物質８の表面に存在する角張った部位が細かく割れるため、プレス加工された合材層３においては、活物質８の表面における乱反射がさらに顕著に生じるようになる。
このようなプレス加工による活物質８における乱反射の増大は、バインダー９の偏在がない場合にも起こるため、バインダー９の偏在がない場合であっても、プレス加工後においては、合材層３の表面での乱反射が生じやすくなる。
このことは、プレス工程（ＳＴＥＰ−１０４）の後では、バインダー９の偏在がある場合とない場合で、合材層３の表面における乱反射の生じ方の差異が小さくなることにつながり、即ち、プレス加工後には、測色度の差異による合材層の構造的差異の検出が困難になってしまう。
【００６９】
即ち、プレス工程（ＳＴＥＰ−１０４）前の状態における合材層３の測色度を比較することによって、合材層３の構造的差異に起因する測色度の差異をより際立たせることができるため、測色度を測定するタイミングとしては、プレス工程（ＳＴＥＰ−１０４）前とするのが好適である。
【００７０】
また、合材層３が乾燥していないタイミング（即ち、乾燥工程（ＳＴＥＰ−１０３）の前）では、未だ合材層３に溶剤成分等が含まれている。このとき、合材層３の表面には光沢があり、測色度（より詳しくは、Ｌ値）に差異が生じにくい状態となっているため、合材層３の構造的差異を検出するべく測色度を測定するタイミングとしては適当ではない。
【００７１】
即ち、合材層３の構造的差異を検出するべく測色度を測定するタイミングとしては、乾燥工程（ＳＴＥＰ−１０３）よりも後であって、プレス工程（ＳＴＥＰ−１０４）よりも前のタイミングとするのが最も好適である。
【００７２】
そこで、本発明の一実施形態に係る電極用基材の検査方法では、このような考えに基づいて、図４に示すように、乾燥工程（ＳＴＥＰ−１０３）とプレス工程（ＳＴＥＰ−１０４）の間のタイミングで測色度測定工程（ＳＴＥＰ−１１０）を実施する構成としている。
【００７３】
そして、このようなタイミングで測色度の測定をすることで、測色度の測定結果に基づいて、電極用基材の構造的相違を確実に検出できるようにしている。
また、測色度の測定は、電極用基材に対して非接触で行うことができるため、電極用基材の製造工程の流れを止めずに、インラインの測定で、電極用基材の透気抵抗度を導出することができる。
【００７４】
さらに、測定した測色度から透気抵抗度を導出する構成では、透気抵抗度の測定のために電極用基材の一部を切り出さなくてもよいため、検査に要する時間が短縮でき、また、検査のために費やして無駄になる電極用基材を低減させることができる。
【００７５】
またさらに、本発明の一実施形態に係る電極用基材の検査方法では、プレス工程（ＳＴＥＰ−１０４）よりも前に合材層の透気抵抗度を導出することができる。
このため、導出した透気抵抗度が、透気抵抗度に係る閾値から外れているような場合には、プレス工程（ＳＴＥＰ−１０４）の結果を待たずに、電極用基材が不良である旨の判定をすることも可能である。
このため、本発明の一実施形態に係る電極用基材の検査方法では、従来の検査方法に比して、早期に電極用基材１の品質の良否を判断することができ、不良が出た場合における前工程（即ち、ペースト製造工程（ＳＴＥＰ−１０１）、塗工工程（ＳＴＥＰ−１０２）、乾燥工程（ＳＴＥＰ−１０３）等）へのフィードバックが容易になる。
【００７６】
即ち、本発明の一実施形態に係る電極用基材の検査方法において、測色度は、電極用基材１の製造工程におけるプレス工程（ＳＴＥＰ−１０４）より前であって、かつ、電極用基材１の製造工程における乾燥工程（ＳＴＥＰ−１０３）より後に測定するものである。
このような構成により、合材層３における微細な構造的差異を確実に検出することができる。
【００７７】
次に、本発明の一実施形態に係る電極用基材の検査方法における本稼働段階での検査の流れについて、説明をする。
図５に示す如く、本発明の一実施形態に係る電極用基材の検査方法では、本稼働段階において、準備段階と同様に、乾燥工程（ＳＴＥＰ−１０３）の後であって、かつ、プレス工程（ＳＴＥＰ−１０４）の前に、測色度測定工程（ＳＴＥＰ−１１０）を実施している。
【００７８】
そして、プレス工程（ＳＴＥＰ−１０４）の前に測定した測色度を用いて、準備段階において作成しておいたマップ情報Ａに基づいて、電極用基材の透気抵抗度を導出するようにしている。
【００７９】
また、本発明の一実施形態に係る電極用基材の検査方法では、本稼働段階において、プレス工程（ＳＴＥＰ−１０４）の後で、導出した透気抵抗度と現在の製造条件における水平電子抵抗を用いて、マップ情報Ｂに基づいて、電極用基材の品質の良否を判定する（ＳＴＥＰ−１５０）構成としている。
【００８０】
このように、本発明の一実施形態に係る電極用基材の検査方法では、本稼働段階においては、測色度の測定結果のみを用いて、準備段階で予め求めておいたマップ情報Ａとマップ情報Ｂに基づいて電極用基材の品質の良否を判定する（ＳＴＥＰ−１５０）ことができるため、サンプルの切り出し（ＳＴＥＰ−１２０）を実施する必要がない。
【００８１】
また、測色度の測定（即ち、測色度測定工程（ＳＴＥＰ−１１０））は、電極用基材を傷つけることなく、非接触で行えるため、製造工程の途中で（即ち、インラインで）容易に行うことができ、また、製造ラインの改造も不要であるため、測色度測定工程（ＳＴＥＰ−１１０）を既存の製造工程に追加で導入することが、容易である。
【００８２】
即ち、本発明の一実施形態に係る電極用基材の検査方法においては、電極用基材１における合材層３の透気抵抗度と、電極用基材１における合材層３の水平電子抵抗と、の関係を表す第二のマップ情報たるマップ情報Ｂを予め求めておき、測色度の測定結果に基づき、第一および第二のマップ情報である各マップ情報Ａ・Ｂから、電極用基材１の品質の良否を判定する（ＳＴＥＰ−１５０）ものである。
このような構成により、合材層３における微細な構造的差異の検出結果に基づいて、的確に電極用基材１の品質管理を行うことができる。
【符号の説明】
【００８３】
１    電極用基材
２    金属箔
３    合材層
３ａ  フリーフィルム
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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