【事件の表示】
　特許第３０１１５８９号「高電圧セラミックコンデンサ」の請求項１に係る特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結　論】
　特許第３０１１５８９号の請求項１に係る特許を維持する。
【理　由】
１．本件発明
　本件特許第３０１１５８９号（平成５年１０月１８日出願、平成１１年１２月１０日設定登録）の請求項１に係る発明（以下、本件発明という）は、特許明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１に記載した次のとおりのものと認める。　 
「ε≒２６００であり圧電性を有するφ＝３４mm，ｔ＝１９mmの円板状の誘電体セラミック素子と、その両端面に形成された円板状の電極層と、該電極層に固着された外部導出端子と、該外部導出端子の一部を外部に突出させて全体を被覆する絶縁性のモールド樹脂からなり雷インパルス電圧が繰り返し印加される回路に使用される高電圧セラミックコンデンサであって、前記電極層の外周部と前記誘電体セラミック素子の外周部が０.２〜０.６mm離れている高電圧セラミックコンデンサ。」
　
２．申立ての理由の概要
　申立人　大和田百合子は、甲第１号証ないし甲第３号証を提出し、本件発明は、甲第１号証ないし甲第３号証に記載された発明に基いて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定に違反して特許がなされたものであり、したがって、本件特許の請求項１に係る特許は取り消されるべきである旨主張している。
　
３．甲各号証
３−１．甲第１号証
　甲第１号証は、エレクトロニク・セラミクス　ｖｏｌ．２　９月号（１９７１年）の第７３〜７９頁に掲載された伊藤志郎による「高圧用磁器コンデンサの製造」と題する論文であり、以下の点が記載されている。
・「チタン酸バリウム磁器や酸化チタン磁器、アルミナ磁器などを誘電体とした磁器（セラミクス）コンデンサは、その特徴である熱的に安定している、緻密な磁器で被覆を施すことにより耐湿性が優れている、大量生産に適している、など種々の利点から電子機器に欠くことのできない部品となっている。」（第７３頁左欄第２〜７行）
・「設計手順としてはまず形状（ディップ形、モールド形、貫通形）により電極ギャップを設定する。本来磁気素体の貫通破壊電圧値は、電極ギャップを零にした形状（対向面に全面電極を施した）の場合最も高い値を示す。電極ギャップが大（ズレ）になるほど縁端部の電束密度が高くなり、ついには素体貫通破壊を生ずる（ｅｄｇｅ　ｅｆｆｅｃｔ）ためであろう（図１０参照）。しかし、単に磁器コンデンサとしての破壊内容をみると、図８点線部分のようになる。この原因としては、電極間の距離、被覆樹脂等の設定に不具合いがあるためといえる。」（第７４頁右欄第３〜１３行）
・第７４頁の図４、図５にはディップ形高圧用磁器コンデンサ、モールド形高圧用磁器コンデンサの一部断面とした構造図が示されており、また同頁の図８には、εｓ≒２６００、誘電体直径＝２２ｍｍ、厚さ＝７ｍｍとしたコンデンサの電極ギャップを０、１、２、３、４ｍｍと変化させたときの破壊電圧とコロナ発生電圧のデータを実線で滑らかに結んだ曲線、及び、ギャップ１ｍｍよりわずかに小さい位置で各実線から枝分かれし、ギャップ０の位置に至る点線がグラフ表示されている。
３−２．甲第２号証
　甲第２号証は、電気学会論文誌Ａ　１０９巻４号（１９８９年４月）の第１５７〜１６４頁に掲載された赤上陽出男他２名による「高電圧セラミックコンデンサの交流破壊電圧特性」と題する論文であり、以下の点が記載されている。
・「ＢａＴｉＯ３、ＳｒＴｉＯ３系のセラミックコンデンサは比誘電率が高く絶縁耐力が高いので小型化でき、化学的に安定で、大量生産が可能である。」（第１５７頁左欄２〜４行）
・「電極で全面が覆われているＧ＝０の場合は、平均的な破壊電圧は一般には高い。しかし、側面への電極の微視的な突起などが沿面放電電圧を大きく支配し、破壊電圧のばらつきが大きくなる。ギャップ長の増大とともに破壊電圧のばらつきが小さくなる。」（第１５７頁右欄第７〜１１行）
・「コンデンサの表面をエポキシ系の樹脂でモールド絶縁を行ったセラミックコンデンサの、交流５０Ｈｚによる破壊電圧を示した。このコンデンサは比誘電率εｓが１４６０、直径φが１８ｍｍのディスク形で、この材質をＡ材と称している。同図に形状の説明図を示した。電極は銀を主成分としたもので、ディスク形のセラミック素体に円形に焼き付けしている。実験は２５℃の気温のもとで、電圧の上昇率を２ｋｖ／ｓで行った。なお、電圧は実効値をもって表している。図１はコンデンサの厚さＴ（ｍｍ）をパラメータとし、横軸にギャップ長Ｇ（ｍｍ）をとっている。」（第１５７頁右欄第２１〜３１行）
・第１５８頁の第１図には、コンデンサの厚さＴを２ｍｍ、４ｍｍ、６ｍｍ、８ｍｍ、１０ｍｍとしたときのＡ材の交流破壊電圧とギャップ長の関係が示されている。
・「表１に、供試セラミックコンデンサの主成分、比誘電率εｓ、厚さＴ、ギャップ長Ｇおよびその破壊電圧ＶＢを示した。このコンデンサの直径φは１０ｍｍで、厚さＴは３ｍｍと４ｍｍの２種類である。また、Ｇは０．５ｍｍと１．０ｍｍあるいは１．１ｍｍである。」（第１５９頁右欄第１５〜２０行）
３−３．甲第３号証
　甲第３号証は、昭和６０年９月３０日〜１０月１日に開催された第１８回電気絶縁材料シンポジウムの予稿集の第１３３〜１３６頁に掲載された山極時生他３名による「高電圧セラミックコンデンサの絶縁特性」と題する予稿であり、以下の点が記載されている。
・「セラミックコンデンサの高耐電圧化に伴う問題点は大別して二つ上げられる。まず第一は、通常の絶縁材料と異なり極めて誘電率が大きいため（比誘電率　数１０００のオーダ）、電極端部等の電界集中が大きくなり、この緩和方法がむずかしくなる点である。第二は、強誘電体は少なからず圧電効果を有しており、機械力を与えると電圧が発生するが、この逆に電圧を印加すると機械的なひずみを生ずる逆圧電効果がある点である。一般にセラミックコンデンサは圧電素子とは異なり、圧電性を示す電気−機械結合係数は非常に小さい値に設定されているが、高電圧状態で使用される場合には逆圧電効果による機械的破壊も無視できないものになる。特に変電所用機器では確率的には少ないが、さい断波が加わる可能性があり、さい断波においてはこの機械的応力が一段と増すため、電気的絶縁破壊に先行して発生する機械的破壊が問題となる。本報では、第一点目の問題に対しては、セラミック素体及び電極形状と絶縁特性の関係を述べ、強誘電体の高耐電圧化技術について触れる。また、第二点目の問題に関しては、強誘電体特有の絶縁破壊形態（電圧印加により機械的破壊が先行し絶縁破壊する）について述べ、その高耐電圧化に関しても示す。」（第１３３頁第７〜２４行）
・「Ｆｉｇ．１はセラミックコンデンサの基本構造を示したものである。チタン酸バリウム、チタン酸ストロンチウム等の強誘電体を主成分とした円柱状のセラミック素体の両端面に銀電極を焼き付けコンデンサを構成している。ガス遮断器等に使用する場合には複数個直並列にして用いるため、銀電極面には端子が取り付けられている。また、セラミック素体を保護するため、周囲はエポキシ樹脂等による被覆が施されているのが普通である。」（第１３３頁第２７行〜第１３４頁第４行）
・「セラミックコンデンサの高耐電圧化においては、前述したように銀電極端部の電界緩和が重要となる。Ｆｉｇ．２は電極端部ギャップｇと電極端部電界Ｅの関係を示したものである。ｇを極力少なくすることにより大幅な電界緩和が可能となる。もう一点は素体側面を内側に削り込み、等電位線を素体中央に引き下げ電極端部を緩和する方法である。」（第１３４頁第５〜９行）
・第１３４頁のＦｉｇ．２には、電極端部ギャップｇと電極端部電界Ｅとの関係を示すグラフが、ｇ＝０から１．０を超える範囲で示されている。
　
４．対比・判断
　本件発明は、特許明細書及び図面の記載からみて「雷インパルス電圧が繰り返し印加される回路に使用される高電圧セラミックコンデンサ」にあっては、ギャップＧが０もしくは小さいと、高電圧大電流の雷インパルスが繰り返し印加される場合に劣化が進行し、これを防止するためにギャップＧを大きくすると、劣化は減少するが初期における電圧破壊レベルが低くなることを見出し、この観点から、特定の誘電率及び大きさのコンデンサについて、適切なギャップの値の範囲を規定したものであり、それにより当該特定の誘電率及び大きさのコンデンサについて、約２５年の雷インパルス繰り返しに相当する２０，０００回の保証が可能となるという効果を奏するものと認められる。
　一方、甲第１号証においてはその大きさが本件発明とは異なるコンデンサについて、ギャップと破壊電圧（コロナ発生電圧）との関係が示されているが、初期における電圧破壊レベルと雷インパルス電圧が繰り返し印加される場合の劣化との双方から適切なギャップ値を求めることはなされておらず、甲第２号証においても、その誘電率及び大きさが本件発明とは異なるコンデンサについて、ギャップと交流破壊電圧との関係が示されているが、初期における電圧破壊レベルと雷インパルス電圧が繰り返し印加される場合の劣化との双方から適切なギャップ値を求めることはなされていない。また、甲第３号証においても、その誘電率及び大きさに関して明記のないコンデンサについて、ギャップと電極端部電界との関係が示されているが、初期における電圧破壊レベルと雷インパルス電圧が繰り返し印加される場合の劣化との双方から適切なギャップ値を求めることはなされていない。甲第３号証では、雷インパルスさい断波印加時の絶縁特性に関する記述がみられるが、ギャップとの関連については記載されていない。
　したがって、甲第１号証ないし甲第３号証には、いずれも本件発明の構成及び効果が記載されておらず示唆もされていないから、本件発明は甲第１号証ないし甲第３号証に記載された発明に基いて当業者が容易に発明をすることができたものである、とは認めらない。
　
５．むすび
　以上のとおりであるから、特許異議申立ての理由及び証拠によっては本件請求項１に係る発明の特許を取り消すことはできない。
　また、他に本件請求項１に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
平成１２年１１月１４日（２０００．１１．１４）