(57)【要約】【課題】磁気検出素子を配した箇所からの非磁性体で被覆された被覆体の内部のワイヤロープ端部の位置が適正な位置にあるのかどうかが検査できるワイヤロープ端部の非磁性体よりなる鋳込み被覆体の検査装置を提供すること。【解決手段】検査装置５は、ワイヤロープ２の端部の非磁性体よりなる鋳込み被覆体３を検査するものである。検査装置５は、ワイヤロープ２の端部が摺動して嵌脱自在の凹陥部６を有し、該凹陥部６の一部に臨んで磁気検出素子７を配してなる。【選択図】図１
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【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
ワイヤロープ端部が摺動して嵌脱自在の凹陥部を有し、該凹陥部の一部に臨んで磁気検出素子を配したことを特徴とするワイヤロープ端部の非磁性体よりなる鋳込み被覆体の検査装置。
【請求項２】
前記凹陥部の一部が前記凹陥部の底部であり、前記底部に臨んで前記磁気検出素子を配したことを特徴とする請求項１に記載のワイヤロープ端部の非磁性体よりなる鋳込み被覆体の検査装置。
【請求項３】
前記凹陥部の一部が前記凹陥部の側部であり、前記側部に臨んで前記磁気検出素子を配したことを特徴とする請求項１に記載のワイヤロープ端部の非磁性体よりなる鋳込み被覆体の検査装置。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本考案は、ワイヤロープ端部の非磁性体よりなる鋳込み被覆体の検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
金属ワイヤロープの端部に、例えば、亜鉛合金によるダイカスト端子（鋳込み被覆体）を設けた製品がある。ワイヤロープの端部には、ダイカストをする際に、ワイヤロープを抜け難くするために、ワイヤロープの端部を異形に変形させた膨出部（ヘッダといわれている）を形成する。
【０００３】
こうした製品において、ヘッダ無し、或いはダイカストによる被覆体内部に対するロープ深さ短等の不具合が発生すると、ワイヤロープが抜けて事故につながる。ダイカスト後は鋳込み被覆体内部のワイヤロープ端部の状態が判らず不安を抱えていた。従来の製品の良否の確認方法としては、抜き取りによる破壊検査・引張り検査があったが、この方法では全数検査ができない。また、ダイカストに対するワイヤロープの抜け強度を製品１本ずつ規定の荷重を加えて確認する方法もあるが、荷重を加えることで製品への負担と人的工数がかかるという難点がある。そこで、ワイヤロープ端部の鋳込み被覆体の検査手段として、ワイヤロープが磁性体であり、ダイカスト（鋳込み被覆体）が非磁性体であることから、磁性体を検出すると抵抗値を変動させる磁気検出素子を用いて検査を行う方法に至った。
【０００４】
なお、磁気検出素子を用いた変位検出装置は、特許文献１や特許文献２に開示されるように公知である。
【０００５】
【特許文献１】特開平９−２９７００３号公報
【特許文献２】特開平９−３２９４６３号公報
【考案の開示】
【考案が解決しようとする課題】
【０００６】
そこで、本考案は、これに鑑みてなされたもので、その目的は、磁気検出素子を配した箇所からの非磁性体で被覆された被覆体の内部のワイヤロープ端部の位置が適正な位置にあるのかどうかが検査できるワイヤロープ端部の非磁性体よりなる鋳込み被覆体の検査装置を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
請求項１に係るワイヤロープ端部の非磁性体よりなる鋳込み被覆体の検査装置は、ワイヤロープ端部が摺動して嵌脱自在の凹陥部を有し、該凹陥部の一部に臨んで磁気検出素子を配したことを特徴とする。
【０００８】
請求項２に係るワイヤロープ端部の非磁性体よりなる鋳込み被覆体の検査装置は、請求項１に係るワイヤロープ端部の非磁性体よりなる鋳込み被覆体の検査装置において、前記凹陥部の一部が前記凹陥部の底部であり、前記底部に臨んで前記磁気検出素子を配したことを特徴とするものである。
【０００９】
請求項３に係るワイヤロープ端部の非磁性体よりなる鋳込み被覆体の検査装置は、請求項１に係るワイヤロープ端部の非磁性体よりなる鋳込み被覆体の検査装置において、前記凹陥部の一部が前記凹陥部の側部であり、前記側部に臨んで前記磁気検出素子を配したことを特徴とするものである。
【考案の効果】
【００１０】
請求項１に係るワイヤロープ端部の非磁性体よりなる鋳込み被覆体の検査装置によれば、磁気検出素子を配した箇所からの非磁性体で被覆された被覆体の内部のワイヤロープ端部の位置が適正な位置にあるのかどうかが分かる。したがって、全数検査が行える。荷重を加える検査ではないので、製品への負担がなく、人的工数を大幅に削減できる。
【００１１】
請求項２に係るワイヤロープ端部の非磁性体よりなる鋳込み被覆体の検査装置によれば、磁気検出素子を配した凹陥部の底部からの非磁性体で被覆された被覆体の内部のワイヤロープ端部の位置が適正な位置にあるのかどうかが分かる。
【００１２】
請求項３に係るワイヤロープ端部の非磁性体よりなる鋳込み被覆体の検査装置によれば、磁気検出素子を配した凹陥部の側部からの非磁性体で被覆された被覆体の内部のワイヤロープ端部の位置が適正な位置にあるのかどうかが分かる。また、ワイヤロープ端部の凹陥部に対する摺動に応じて凹陥部の側部に配した磁気検出素子が応答するので、ワイヤロープ端部の位置、形状、方向を調べることが可能である。
【考案を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本考案の実施の形態を図面を参照して説明する。図１は本考案の第１実施形態に係るワイヤロープ端部の非磁性体よりなる鋳込み被覆体の検査装置を示す斜視図であり、図２は本考案の第１実施形態に係るワイヤロープ端部の非磁性体よりなる鋳込み被覆体の検査装置の側部断面図である。
【００１４】
図１乃至図２において、符号１は検査体としての製品であり、符号５は検査装置である。検査体１は、磁性体よりなる金属製のワイヤロープ２と、ワイヤロープ２の端部を被覆する非磁性体（例えば、亜鉛合金や合成樹脂）よりなる鋳込み被覆体３からなる。ワイヤロープ２を鋳込み被覆体３から抜け難くするために、ワイヤロープ２の端部を異形に変形させたヘッダ４が形成された後、ダイカストによって鋳込み被覆体３によって被覆される。
【００１５】
本考案の検査装置５は、ワイヤロープ２の端部の鋳込み被覆体３が摺動して嵌脱自在の凹陥部６を有し、該凹陥部６の一部に臨んで磁気検出素子７を配したことを特徴とする。凹陥部６は検査装置５の一面（上面）に設けられた所謂丸穴（一端が外部に対して開口６ａに形成され、他端が底部６ｂに形成された円筒状の穴）よりなる。本考案の第１実施形態に係る検査装置５は、磁気検出素子７を凹陥部６の底部６ｂに臨んで検査装置５の内部に配されている。
【００１６】
本実施形態の磁気検出素子６は、例えば、ＩｎＳｂの単結晶よりなるものを用いている。検査測定は、ワイヤロープ２が磁性体であり、鋳込み被覆体３が非磁性体であることから、磁性体を検出すると抵抗値を変動させる磁気検出素子７を用い、ワイヤロープ２の端部の鋳込み被覆体３を検査装置５の凹陥部６内に挿入し、摺動させて嵌脱することにより行う。鋳込み被覆体３を凹陥部６に対して嵌脱することにより、鋳込み被覆体３の内部のワイヤロープ２の端部の位置が変化し、即ち、ワイヤロープ２の端部の磁気検出素子７からの距離が変化する。磁気検出素子７からのワイヤロープ２の端部の距離の変化は、磁気検出素子７に対する磁束の変化となる。このため、磁気検出素子７の抵抗値が変化する。
【００１７】
図３は検査装置５に用いる検出回路の回路図である。図３に示すように、検出回路は磁気検出素子７（その抵抗をｒ１とする）と３つの抵抗ｒ２〜ｒ４と電流計８（μＡ計）とからなるホイートストンブリッジ回路で構成されている。磁気検出素子７の一端と抵抗ｒ２の一端とは共通接続されて＋５Ｖの電源端子に接続され、磁気検出素子７の他端と抵抗ｒ３の一端とは接続点９に接続され、抵抗ｒ２の他端と抵抗ｒ４の一端とは接続点１０に接続され、抵抗ｒ３の他端と抵抗ｒ４の他端は共通接続されて接地されている。電流計８の入力端子と出力端子は接続点１０及び接続点９にそれぞれ接続されている。
【００１８】
検出回路の動作について説明する。図３において、磁気検出素子７に流れる電流をＩ１、抵抗ｒ２に流れる電流をＩ２、電流計８に流れる電流をＩ０とすると、抵抗ｒ３に流れる電流は（Ｉ１＋Ｉ０）となり、抵抗ｒ４に流れる電流は（Ｉ２−Ｉ０）となる。測定する前に、電流計８に流れる電流Ｉ０が「０」となる（電流計８に電流が流れない）ように、抵抗ｒ２、ｒ３、ｒ４を調整する。
【００１９】
磁気検出素子７は、印加磁界が増加すると抵抗値が増加する。図２に示すように、鋳込み被覆体３の内部のヘッダ４は磁性体であるから、鋳込み被覆体３を検査装置５の凹陥部６内に挿入していくにつれて、ヘッダ４の位置が磁気検出素子７に近づいていくために磁気検出素子７への印加磁界が増加していく。鋳込み被覆体３が凹陥部６の底部６ｂに当接した場合に、ヘッダ４が磁気検出素子７に最も接近したことになり、磁気検出素子７への印加磁界がもっとも大きい状態となる。
【００２０】
図３の検出回路において、磁気検出素子７への印加磁界が大となるにつれてその抵抗値ｒ１が増加していく結果、磁気検出素子７を流れる電流Ｉ１が減少していく。磁気検出素子７を流れる電流Ｉ１が減少していくことにより、接続点９の電位が接続点１０の電位に対して低くなっていき、接続点１０から接続点９の向きに電流が流れ、電流計８により電流Ｉ０が検出される。したがって、電流計８によって測定される電流値によって、ワイヤロープ２の端部の有無、ヘッダ４の位置や形状が判断できる。
【００２１】
図４（ａ）は鋳込みによるヘッダ４の鋳込み被覆体３に対する位置が適正である場合の電流計８の電流値の例を示しており、図４（ｂ）は鋳込みによるヘッダ４の鋳込み被覆体５に対する位置が適正でない場合（ヘッダ４の位置が浅い場合）の電流計８の電流値の例を示している。
【００２２】
図５は、本考案の第２実施形態に係るワイヤロープ端部の非磁性体よりなる鋳込み被覆体の検査装置の側部断面図である。本考案の第２実施形態に係る検査装置５は、磁気検出素子７を凹陥部６の側部に臨んで検査装置５の内部に配されている。その他の構成は第１実施形態と同様である。検査装置５の凹陥部６に対して測定部分（鋳込み被覆体３）を縦方向に変更し、移動させながら測定することで、ヘッダ４の有無、位置、寸法、方向を判断することができる。また、第１実施形態の検査装置による測定結果と第２実施形態の検査装置による測定結果とを用いて、それぞれの検査装置の複数の測定箇所を組み合わせることで、ヘッダ４の立体形状や立体寸法を判断することが可能である。
【００２３】
図６は、本考案の第２実施形態の検査装置５による鋳込み被覆体３の内部のヘッダ４の測定例を示すグラフである。縦軸は磁気検出素子７の抵抗値（Ω）であり、横軸は鋳込み深さ（ｍｍ）である。図６に示すように、ヘッダ４の基端部の一番大きい部分において、磁気検出素子７の抵抗値がピークとなっている。なお、図６において、縦軸に磁気検出素子７の抵抗値をとっているが、磁気検出素子７の抵抗値に代えて縦軸に電流計の電流値をとってもよい。
【００２４】
図７は、本考案の第３実施形態に係るワイヤロープ端部の非磁性体よりなる鋳込み被覆体の検査装置の斜視図である。本考案の第３実施形態に係る検査装置１１は、全体として略直方体形状をなしている。凹陥部１２は、検査装置１１の上面１１ａの中央部から一側方、一側面１１ｂの中央部から上方および両部分の稜線を連続するように切り欠かれて形成され、上方に開口された上方開口１２ａ及び一側方に開口された側方開口１２ｂが連通されている。また、磁気検出素子７は検査装置１１の一側面１１ｂに開口する側方開口１２ｂに対抗する凹陥部１２の一側壁１２ｃに臨んで検査装置１１の内部に配されている。図７に示すように、検査測定は、ワイヤロープ２の端部の鋳込み被覆体３の側部を検査装置１１の凹陥部１２内にその上方開口１２ａから又はその側方開口１２ｂから挿入し、上下方向又は横方向に摺動させることにより、鋳込み被覆体３を磁気検出素子７に対して接近または離隔させることによって行う。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】本考案の第１実施形態に係るワイヤロープ端部の非磁性体よりなる鋳込み被覆体の検査装置を示す斜視図である。
【図２】本考案の第１実施形態に係るワイヤロープ端部の非磁性体よりなる鋳込み被覆体の検査装置の側部断面図である。
【図３】検査装置に用いる検出回路の回路図である。
【図４】鋳込みによるヘッダの鋳込み被覆体に対する位置を測定した場合の電流計の電流値の例を示す図である。
【図５】本考案の第２実施形態に係るワイヤロープ端部の非磁性体よりなる鋳込み被覆体の検査装置の側部断面図である。
【図６】第２実施形態の検査装置による鋳込み被覆体の内部のヘッダの測定例を示すグラフである。
【図７】本考案の第３実施形態に係るワイヤロープ端部の非磁性体よりなる鋳込み被覆体の検査装置の斜視図である。
【符号の説明】
【００２６】
１  検査体
２  ワイヤロープ
３  鋳込み被覆体
４  ヘッダ
５  検査装置
６  凹陥部
６ａ  開口
６ｂ  底部
７  磁気検出素子
８  電流計
９  接続点
１０  接続点
１１  検査装置（第３実施形態）
１１ａ  上面
１１ｂ  一側面
１２  凹陥部
１２ａ  上方開口
１２ｂ  側方開口
１２ｃ  一側壁
ｒ１  抵抗
ｒ２  抵抗
ｒ３  抵抗
【図１】
0003139915.tif 000003
【図２】
0003139915.tif 000004
【図３】
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【図４】
0003139915.tif 000006
【図５】
0003139915.tif 000007
【図６】
0003139915.tif 000008
【図７】
0003139915.tif 000009