(57)【要約】【課題】摺動抵抗を低減させた計測機器用スタンドを提供すること。【解決手段】基台２に計測機器１０を支持する支持手段３を備えた計測機器用スタンド１において、基台２を石によって形成するとともに、基台２の底面２ａに、その底面２の周縁を除く部分に凹部４を形成したことを特徴とする。【選択図】  図２
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【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
基台に計測機器を支持する支持手段を備えた計測機器用スタンドにおいて、前記基台を石によって形成するとともに、前記基台の底面に、該底面周縁を除く部分に凹部を形成したことを特徴とする、計測機器用スタンド。
【請求項２】
前記基台を、花崗岩によって形成したことを特徴とする、請求項１に記載の計測機器用スタンド。
【請求項３】
前記基台の底面の平面度を、５μｍ以下としたことを特徴とする、請求項１または２に記載の計測機器用スタンド。
【請求項４】
前記基台の凹部の面積を、底面全面積の１０〜７０％としたことを特徴とする、請求項１〜３のいずれかに記載の計測機器用スタンド。
【請求項５】
前記凹部の深さを、２ｍｍ以上としたことを特徴とする、請求項１〜４のいずれかに記載の計測機器用スタンド。
【請求項６】
前記凹部の開口縁に、Ｒ加工を施したことを特徴とする、請求項１〜５のいずれかに記載の計測機器用スタンド。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本考案は、計測機器用スタンドに関するもので、詳しくは、ダイヤルゲージ等の小型の計測器を保持し、定盤上を移動することによってワークの平行度、平面度等を計測するのに適した計測機器用スタンドに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
花崗岩等の石によって形成された定盤上で使用する計測機器用スタンドには、定盤を損傷しないように、基台を花崗岩等の石によって形成したものがある。
【０００３】
このような計測機器用スタンドは、平行度、平面度等を計測するためのワークが金属の場合や、重量が重い場合等には、ワークを移動させることなく、計測機器用スタンドを定盤上で移動させることによって使用される。
【考案の開示】
【考案が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、計測機器用スタンドは、重量があるため、長時間計測する場合には、作業者の負担が大きい。
【０００５】
そこで、本考案者等は、上記した実情に鑑みて、鋭意研究の結果、摺動抵抗を低減させた計測機器用スタンドを見出した。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
すなわち、請求項１の本考案に係る計測機器用スタンドは、基台に計測機器を支持する支持手段を備えた計測機器用スタンドにおいて、前記基台を石によって形成するとともに、前記基台の底面に、該底面周縁を除く部分に凹部を形成したことを特徴とする。
【０００７】
また、請求項２の本考案に係る計測機器用スタンドは、上記請求項１の考案において、上記基台を、花崗岩によって形成したことを特徴とする。
【０００８】
また、請求項３の本考案に係る計測機器用スタンドは、上記請求項１または２の考案において、上記基台の底面の平面度を、５μｍ以下としたことを特徴とする。
【０００９】
また、請求項４の本考案に係る計測機器用スタンドは、上記請求項１〜３のいずれかの考案において、上記基台の凹部の面積を、底面全面積の１０〜７０％としたことを特徴とする。
【００１０】
また、請求項５の本考案に係る計測機器用スタンドは、上記請求項１〜４のいずれかの考案において、上記凹部の深さを、２ｍｍ以上としたことを特徴とする。
【００１１】
また、請求項６の本考案に係る計測機器用スタンドは、上記請求項１〜５のいずれかの考案において、上記凹部の開口縁に、Ｒ加工を施したことを特徴とする。
【考案の効果】
【００１２】
上記した請求項１の本考案によれば、摺動抵抗が小さいので、計測機器用スタンドを長時間にわたって摺動させて使用しても、作業者の負担が軽減される。
これは、基台の底面に形成した凹部内に空気が封入され、それが浮揚作用をするものと考えられる。
【００１３】
また、上記した請求項２の本考案によれば、基台が花崗岩によって形成されているので、定盤を傷つける虞がない。
【００１４】
また、上記した請求項３の本考案によれば、表面粗さが小さい、すなわち平面度が高いので、より摺動抵抗が小さくなり、計測機器用スタンドを滑らかに摺動させることができる。
【００１５】
また、上記した請求項４の本考案によれば、凹部の形成による摺動抵抗の低減効果が明瞭にあらわれ、計測機器用スタンドを滑らかに摺動させることができる。
【００１６】
また、上記した請求項５の本考案によれば、やはり、凹部の形成による摺動抵抗の低減効果が明瞭にあらわれ、計測機器用スタンドを滑らかに摺動させることができる。
【００１７】
また、上記した請求項６の本考案によれば、凹部を形成したことによる開口縁によって定盤を損傷する虞がない。
【考案を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下に、本考案に係る計測機器用スタンドの実施の形態を、図面を参照しながら詳細に説明する。
【００１９】
図示した計測機器用スタンド１は、基台２に、計測機器を支持するための支持手段３を備えている。
【００２０】
上記基台２は、花崗岩によって、直径１００ｍｍ，高さ４０ｍｍ程度の円柱台形に形成され、底面２ａは、表面粗さ（平面度）が３μｍ以下に研磨されている。また、この基台２の底面２ａの中央には、底面全面積の３６％程度にあたる、直径６０ｍｍ、深さ３ｍｍ程度の凹部４が形成されている。さらに、この基台２の底面２ａの外周縁２ｂおよび凹部４の開口縁４ａには、Ｒ加工が施されている。
【００２１】
一方、上記支持手段３は、支柱５の上端に、軸芯に対して垂直方向に軸（図示せず）が延設され、該軸にアーム６が回動自在に支持され、アーム６の先端にピボット継ぎ手７を介して機器支持部８が配設さている。この機器支持部８は、先端に機器ホルダー８ａを備え、基端に、微調整用ねじ８ｂを備えている。
【００２２】
上記した構造の支持手段３は、ピボット継ぎ手９を介して、上記基台２の上面中心に形成された雌ねじ２ｃに螺設され、本考案に係る計測機器用スタンド１が構成されている。
【００２３】
そして、上記計測機器用スタンド１のホルダー８ａに計測機器、例えば、ダイヤルゲージ１０を把持させ、基台２を花崗岩によって形成された定盤（図示せず）に載置するとともに、ワーク（図示せず）を定盤上に載置し、計測機器用スタンド１の基台２を定盤上を摺動させることによって、ワークの平行度、平面度等の測定を行なう。
【００２４】
この際、本考案に係る計測機器用スタンド１は、基台２の底面に形成した凹部４の存在によって、摺動抵抗が著しく低減され、定盤上を滑らかに摺動させることができ、作業者の負担が軽減される。
【００２５】
以上、本考案に係る計測機器用スタンドの実施の形態を説明したが、本考案は、何ら既述の実施の形態に限定されるものではなく、実用新案登録請求の範囲に記載した本考案の技術的思想の範囲内において、種々の変形及び変更が可能であることは当然である。
【００２６】
例えば、上記実施の形態において示した基台２の形状、また支持手段３の構造は、一例を示したに過ぎず、すでに公知の種々の形状の基台、また種々の構造の支持手段を本考案においても採用できる。また、基台２の底面に形成する凹部４の形状も、何ら実施の形態において示した円形に限らず、正方形、長方形、三角形、５角形、６角形等の形状であってもよい。さらに、計測機器用スタンド１に把持される計測機器は、ダイヤルゲージに限らず、例えばピックテスト、テストインジケータ、レバーテスト等であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】本考案に係る計測機器用スタンドを示した斜視図である。
【図２】本考案に係る計測機器用スタンドの基台を示した斜視図であり、（ａ）は上面側から見た斜視図を示し、（ｂ）は底面側から見た斜視図を示している。
【符号の説明】
【００２８】
１        計測機器用スタンド
２        基台
２ａ      底面
２ｂ      外周縁
２ｃ      雌ねじ
３        支持手段
４        凹部
４ａ      開口縁
５        支柱
６        アーム
７        ピボット継ぎ手
８        機器支持部
８ｂ      微調整用ねじ
９        ピボット継ぎ手
１０      ダイヤルゲージ
【図１】
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【図２】
0003139287.tif 000004