【事件の表示】
　特許第２６７５５２８号「投影露光方法」の特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結　論】
　訂正を認める。
　特許第２６７５５２８号の特許を維持する。
【理　由】
１．本件特許第２６７５５２８８号は、昭和５７年９月２１日の特許出願（以下、「原々出願」という。）の一部を、特許法第４４条第１項の規定により、新たに平成４年９月１８日にした特許出願（以下、「原出願」という。）の一部を、さらに、特許法第４４条第１項の規定により、新たに平成６年９月３０日にした特許出願であって、平成９年７月１８日にその特許権の設定登録がなされ、その後、キャノン株式会社より、特許異議の申立てがなされ、取消理由通知がなされ、その指定期間内である平成１０年１２月１４日に特許異議意見書の提出とともに訂正請求がなされ、この訂正請求に対して訂正拒絶理由通知がなされ、その指定期間である平成１１年３月８日に特許異議意見書が提出されたものである。
　
２．本件特許に対し、異議申立人キャノン株式会社は、甲第１号証として特開昭５５−４１７３９号公報を、甲第２号証として特開昭５７−８０７２４号公報を、甲第３号証として特開昭５９−５４２２５号公報（原々出願の公開公報）を、甲第４号証として特開平６−２０９２１号公報（原出願の公開公報）を、及び甲第５号証として特開平７−１８３２１３号公報（本件特許に係る出願の公開公報）を提示し、本件特許発明は、甲第１号証及び甲第２号証に記載された発明に基いて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定に違反して特許されたものであり（以下、「理由１」という。）、本件特許発明は、原出願に開示がなく、本件特許にかかる出願に対し、平成６年１０月３１日に提出された手続補正書によって追加された「被露光物に転写された少なくとも直線上にない３個の第１の原画模様位置を投影レンズを介して検出」して「直交度誤差を補正する」こと及び、「最小２乗法を用いてチップ配列が決定できる」ことを要旨とするものであるから、本件特許にかかる出願の出願日は、平成６年１０月３１日、又は原出願の出願日である平成４年９月１８日であり、甲第３号証に記載された発明に基いて当業者が容易に発明をすることができたものであって、特許法第２９条第２項の規定に違反して特許されたものであり（以下、「理由２」という。）、前記平成６年１０月３１日に提出された手続補正書は新規事項を追加するものであるから特許法第１７条の２第３項に違反して特許されたものである（以下、「理由３」という。）旨主張している。
　
３．当審で通知した取消理由は、異議申立人の提示した甲第１号証乃至甲第３号証を引用し、前記理由１及び理由２により本件特許は取消されるべきというものである。
　
４．上記訂正拒絶理由は、
　この訂正は、「願書に添付された明細書又は図面（以下、「特許明細書」という。）には、直交度エラーを求めるためのチップとして、中心に位置するチップを中心として互いに直角をなす方向にあり、かつ、このチップから等距離に位置する４個のチップを用いるものしか記載されていないから、訂正された明細書の請求項１の『被露光物に転写された第１の原画模様のうち、ある原画模様を中心として互いに直角をなす方向に位置する少なくとも直線上にない４個の第１の原画模様の位置を投影レンズを介して検出し、その検出結果に基づいて前記転写された第１の原画模様の配列の直交度誤差を補正する』は、特許明細書に記載された事項と認めることはできない。」
から、願書に添付された明細書又は図面に記載した事項の範囲内においてしたものとは認められず、特許法第１２０条の４第３項で準用する同法第１２６条第２項に適合しない、というものである。
　
５．上記訂正請求の適否について判断する。
（１）上記訂正請求により訂正された明細書に係る発明（以下、「訂正発明」という。）の要旨は、その特許請求の範囲に記載された以下のとおりのものである。
「被露光物を移動させて原画模様を投影レンズを介して被露光物に順次転写する露光方法において、被露光物に転写された第１の原画模様のうち、ある原画模様を中心として互いに直角をなす方向に位置する少なくとも直線上にない４個の第１の原画模様の位置を投影レンズを介して検出し、その検出結果に基づいて前記転写された第１の原画模様の配列の直交度誤差を補正するように前記被露光物を移動させて、第２の原画模様を前記投影レンズを介して前記被露光物に転写された第１の原画模様に順次重ね合わせ転写することを特徴とする投影露光方法。」
　
（２）上記訂正請求は、特許明細書を以下のａ〜ｅのとおり訂正するものである。
ａ．特許請求の範囲について
　「少なくとも直線上にない３個の第一の原画模様の位置」を「第１の原画模様のうち、ある原画模様を中心として互いに直角をなす方向に位置する少なくとも直線上にない４個の第１の原画模様の位置」と訂正する。
ｂ．発明の詳細な説明について
　段落【０００６】中の「少なくとも直線上にない３個の第一の原画模様の位置」を「第１の原画模様のうち、ある原画模様を中心として互いに直角をなす方向に位置する少なくとも直線上にない４個の第１の原画模様の位置」と訂正する。
ｃ．発明の詳細な説明について
　段落【０００７】中の「原画模様の少なくとも２個の位置」を「原画模様の少なくとも４個の位置」と訂正する。
ｄ．発明の詳細な説明について
　段落【０００８】中の「第１の原画模様のうちの少なくとも２個の原画模様が選択され」を「第１の原画模様のうち、ある原画模様を中心として互いに直角をなす方向に位置する少なくとも直線上にない４個の第１の原画模様が選択され」と訂正する。
ｅ．発明の詳細な説明について
　段落【００１９】の記載を削除する。
　
（３）上記訂正のうち、
　特許請求の範囲の訂正についてみると、直交度誤差を補正するための検出する原画模様が「少なくとも３個」であったのを、４個と限定し、さらにその位置を「ある原画模様を中心として互いに直角をなす方向に位置する」ものに限定するものであるから、特許請求の範囲の減縮に相当する。
　ｂの訂正事項についてみると、この訂正事項は、特許請求の範囲の訂正に伴い、発明の詳細な説明の【課題を解決するための手段】の欄の記載をこれに整合させたものであるから、明りょうでない記載の釈明に相当する。
　ｃ及びｄの訂正事項についてみると、この訂正事項は、特許請求の範囲の訂正に伴い、発明の詳細な説明の【作用】の欄の記載をこれに整合させたものであるから、明りょうでない記載の釈明に相当する。
　ｅの訂正事項についてみると、この訂正事項は、特許請求の範囲の訂正に伴い、発明の詳細な説明の【実施例】の欄の記載をこれに整合させたものであるから、明りょうでない記載の釈明に相当する。
　そして、これらの訂正により、発明の目的が変更されるものでもないから、前記訂正事項は、いずれも、実質上特許請求の範囲を拡張するものでもなく、また、変更するものでもない。
　
（４）次に、これらの訂正が特許明細書に記載された事項の範囲内においてされたものであるか否かについて判断する。
　特許法第１２６条第２項にいう、「願書に添付した明細書又は図面に記載された事項」とは、願書に添付された明細書に文言どおり記載された事項の他、当業者の技術常識をもってその明細書又は図面を読むとき、その明細書に記載されているに等しい事項をも含むと解すべきである。
　そして、特許明細書の発明の詳細な説明及び図面に記載された実施例が複数の構成要件を組み合わせたものである場合、そのうちの一部の構成要件からなる発明を特許請求の範囲に記載するような訂正であるときには、その一部の構成によって、特許明細書に記載された目的又は作用効果を奏することが、当業者であれば特許明細書から明らかに認識できる場合に、はじめて、特許明細書に記載されているに等しい事項ということができる。
　本件特許明細書には、本件発明の実施例として、段落【００１３】には、「図７はこの投影露光方法の一実施例を実施する装置の要部の概略説明図を示すもので、１４及び１５はウエハで、５個のチップを用いる場合のチップ配列と、、この方法で検出マークの位置が検出されるチップの位置が示してあり、５個のチップは、中心に位置するチップと、このチップを中心として互いに直角をなす方向にあり、かつこのチップから等距離に位置する４個よりなっている。マークの位置は図１の投影露光装置の検出系照明系１１及び１２のパターン検出器１１ｂ及び１２ｂによって求められる。なお、チップに付した符号は、図２〜６と同じにしてある。そして、・・・２０は、（ｘｄ、ｙｄ）、（ｘｃ、ｙｃ）、（ｘａ、ｙａ）、（ｘｂ、ｙｂ）のデータが入力し直行度誤差（「直交度誤差」の誤りと認められる。）を求める直行度誤差（「直交度誤差」の誤りと認められる。）補正回路で、」と記載されており、直交度誤差を、（ａ）中心に位置するチップから互いに直角をなす方向にあり、かつ、（ｂ）このチップから等距離に位置する（ｃ）４個のチップの位置によって求める実施例が記載されている。
　これに対し、前記訂正事項ａで訂正された特許請求の範囲には、「被露光物に転写された第１の原画模様のうち、ある原画模様を中心として互いに直角をなす方向に位置する少なくとも直線上にない４個の第１の原画模様の位置を投影レンズを介して検出し、その検出結果に基づいて前記転写された第１の原画模様の配列の直交度誤差を補正する」と記載されていることから、訂正された発明の直行度誤差を求めるためのチップの構成は、（Ａ）ある原画模様を中心として互いに直角をなす方向に位置する（Ｃ）４個の原画模様の位置を検出しては直交度誤差を求めるものであって、特許明細書に記載された実施例における直交度誤差を求めるためのチップの構成のうち、（ｂ）中心に位置するチップから等距離に位置する構成を欠いているから、訂正事項ａは、特許明細書又は図面に文言とおりに記載されたものではない。
　ところで、段落【００１４】、【００１５】及び【００１６】には、「一例として、図２〜６に示されるように、チップが５行５列に配列されている場合は、中心のチップとこの中心のチップからＸ軸方向、Ｙ軸方向にそれぞれ１個のチップを置いて選んだ５チップを検出用チップとして用いることができる。この場合、中心のチップの座標が（ｘ０、ｙ０）、Ｘ軸方向の二つのチップの座標がそれぞれ（ｘａ、ｙａ）、（ｘｂ、ｙｂ）、Ｙ軸方向の二つのチップの座標がそれぞれ（ｘｃ、ｙｃ）、（ｘｄ、ｙｄ）と検出されたとすると、・・・・さらに、図６に示す直行度エラー（「直交度エラー」の誤りと認められる。）がある場合には、（ｘａ、ｙａ）、（ｘｂ、ｙｂ）、（ｘｃ、ｙｃ）、（ｘｄ、ｙｄ）の４点の座標を求めると、これらの座標より
　【数１】
　Δθ＝ｔａｎ−１（ｘｄ−ｘｃ／｜ｙｄ−ｙｃ｜）−
　　　　　ｔａｎ−１（−（ｙｂ−ｙａ）／｜ｘｂ−ｘａ｜）
として直交度エラーが求まり、５行５列の配列が決まる。」と記載されている。
　そして、上記Δθを求める式において、ｔａｎ−１（ｘｄ−ｘｃ／｜ｙｄ−ｙｃ｜）の項は、は、２つのチップ（ｘｃ、ｙｃ）、（ｘｄ、ｙｄ）のＹ軸方向の距離とＸ軸方向のずれから、２つのチップを結ぶ直線がＹ軸に対してどの程度傾いているかを求めるものであり、また、ｔａｎ−１（−（ｙｂ−ｙａ）／｜ｘｂ−ｘａ｜）の項は、は、２つのチップ（ｘａ、ｙａ）、（ｘｂ、ｙｂ）のＸ軸方向の距離とＹ軸方向のずれから、２つのチップを結ぶ直線がＸ軸に対してどの程度傾いているかを求めるものである。中心のチップを挟む２つのチップ（ｘｃ、ｙｃ）、（ｘｄ、ｙｄ）及び（ｘａ、ｙａ）、（ｘｂ、ｙｂ）がそれぞれ中心のチップから等距離になければＹ軸に対する角度又はＸ軸に対する角度が求められないというものではないことは、当業者であれば容易に理解できるところである。
　そうすると、（ｂ）中心に位置するチップから等距離に位置する構成が、直交度誤差を求めるための構成として必須でないことは、当業者であれば特許明細書から認識し得る程度のことであるから、前記訂正事項ａで訂正された特許請求の範囲に記載された「被露光物に転写された第１の原画模様のうち、ある原画模様を中心として互いに直角をなす方向に位置する少なくとも直線上にない４個の第１の原画模様の位置を投影レンズを介して検出し、その検出結果に基づいて前記転写された第１の原画模様の配列の直交度誤差を補正する」の構成は、特許明細書に記載された事項から当業者であれば認識できる程度の事項であるというべきである。
　したがって、上記訂正事項ａ〜ｅは、いずれも特許明細書に記載された事項の範囲内のものである。
　
（５）次に、独立特許要件について判断する。
　本件特許に係る出願が、適法にされた特許法第４４条第１項に規定する出願であるか否かについて判断する。
　異議申立人は、原出願の出願当初の明細書又は図面には、ａ．本件発明の要旨である「被露光物に転写された少なくとも直線上にない３個の第１の原画模様の位置を投影レンズを介して検出」して「直交度誤差を補正する」ことは記載されておらず、また、ｂ．特許明細書の段落【００１４】の「うねりの場合は、（ｘ０、ｙ０）、（ｘａ、ｙａ）、（ｘｂ、ｙｂ）の３点の検出座標から良く知られている最小２乗法を用いて（ｘ１、ｙ１）、（ｘ２、ｙ２）を求めることにより５行５列のチップの配列が決定でき、図３に示されるうねりの場合も図２と同様の考え方でチップ配列が決定できる。」との記載があり、配列誤差を補正するように被露光物を移動するためのチップ配列の決定には最小２乗法を利用することも要旨としているが、この要旨も原々出願には記載されていない旨主張する。
　しかしながら、前記訂正事項ａにより４個の原画模様によって直交度誤差を補正するものに限定され、かつ、３個の原画模様によって直交度誤差を補正する実施例は、前記訂正事項ｃによって削除されたから、ａの理由は、解消した。
　また、「最小２乗法」とは、複数の測定点から曲線の方程式を求める際に一般的に使用される方法であり、訂正された明細書に記載されたものは、単にこの「最小２乗法」をチップ配列の決定に使用することを示唆するものであって、最小２乗法の特別の使用形態を具体的に記載したものでもないから、本件特許の願書に最初に添付した明細書又は図面の記載から自明なものであるというべきである。（なお、訂正発明は、直交度誤差の補正を要旨とするものであるところ、訂正された明細書の段落【００１４】の記載は、図２及び図３に示されるうねり誤差の補正の際に最小２乗法の使用を示唆するものであって、直交度誤差を補正する際に最小２乗法を使用することまでをもを示唆するものではないから、このような記載が明細書の要旨を変更するものであるとすることもできない。）
　そして、訂正発明のその余の構成については、原出願の願書に最初に添付した明細書又は図面に記載されているものと認められる。
　したがって、本件特許に係る出願は、特許法第４４条第１項に規定する要件を満たす出願であるから、特許法第４４条第２項の規定により原出願の出願日である昭和５７年９月２１日に出願されたものである。
　
　甲第３号証は、昭和５９年３月２９日に出願公開されたものであり、甲第４号証は、平成６年１月２８日に出願公開されたものであるから、いずれも本件特許に係る出願の出願前に頒布された刊行物であるとは認められない。　
　本件特許に係る出願の出願前に頒布された刊行物である甲第１号証及び甲第２号証には、それぞれ、以下、次の事項が記載されている。
　甲第１号証；縮小投影式マスクアライメント装置に関し、「そしてアライメントパターン７ａと３５ａの結像を検出器４５ａによってスリット２３ａを走査して受光素子２４によって検出すると、ｘ軸方向のマスク１とチップ８ｘ１との相対的変位量Δｘ１が高精度に求まり、上記アライメントパターン７ａと３５ａに対して光軸３４を中心にして９０度位置をずらして設置されたアライメントパターン７ｂと３５ｂの結像を検出器４５ｂによってスリット２３ｂを走査して受光素子２５によって検出するとｙ軸方向のマスク１とチップ８ｘ１との相対的変位量ΔＸ２が高精度に求まる。次にアライメントパターンへの照明を中止して制御装置（図示せず）からの指令でＸテーブル２８ａを左方向へ２Ｎ×Ｐなる距離レーザ測長器を用いて高精度に移動させて停止させる。すると光軸３４上には、チップ８ｘｎが位置することになり、このチップ８ｘｎの線状ウエハアライメントパターン３５ａとマスクアライメントパターン７ａ及び線状ウエハアライメントパターン３５ｂとマスクアライメントパターン７ｂとの像が第７図に示すように重畳された形となる。そして前記と同様にアライメントパターンに光を照射すると共に検出器４５ａ及び４５ｂによってｘ軸方向のパターンの相対的変位量Δｘ２とｙ軸方向のパターンの相対的変位量Δｙ２が高精度に求まる。そして（Δｙ２−Δｙ１）／２ＮＰ＝θがウエハ３の回転方向の位置ずれであり、これがなくなるようにウエハ３を載置した回転θテーブル２８ｃを回転させればマスクとウエハとは回転方向の位置ずれはなくなる。次にΔｙ１（またはΔｙ２）制御回路内に記憶されているＸ軸テーブル２８ａ、Ｙ軸テーブル２８ｂをステップアンドリピートさせる基準コントロール信号に上記で求められたｘ軸方向の誤差Δｘ１、Δｘ２及びｙ軸方向の誤差Δｙ１（またはΔｙ２）を補正すればウエハ３はマスク１に位置整合された形でステップアンドリピート（歩進）することになる。ウエハ３には拡散等の化学的処理が施され、延び縮みが生じるので、ｙ軸方向に配列されたステップ８１ｙとチップ８ｎｙについて相対的変位量Δｘ３，Δｙ３とΔｘ４，Δｙ４を求め、ｘ軸方向の延び縮み（Δｘ２−Δｘ１）、ｙ軸方向の延び縮み（Δｙ２−Δｙ１）からステップアンドリピートするピッチＰに補正を加えれば、マスクチップとは相対的に高精度に位置整合されることになる。（第５頁左上欄５行目−左下欄９行目）と記載されている。
　甲第２号証；ステップアンドリピート露光装置における、位置合わせ装置、特にウエハのアライメント装置に関し、「そこで、このようなウエハＷ２をステージＳ２に載せて、第２回目以降の露光を行なう場合、ステージ送り方向の座標系Ｘ−ＹとウエハＷ２のチップパターンの配列座標ξ−ηの、回転ずれが生じないようにウエハＷ２の回転補正を行なう。すなわち、ステージ送りのＸ軸と、配列方向のξ軸を平行に、同時にＹ軸とη軸も平行にすることが望ましいわけだが、実際には難しい。そこで、ウエハＷ２の回転補正は、以下のように行なう。まず、第１にアライメント光学系ＷＹでウエハＷ２上、最も左に位置するチップパターンのＹマーク３を検出（顕微鏡の観察中心に設定）しつつ、最も右に位置するチップパターンのθマーク４がアライメント光学系Ｗθで検出（顕微鏡の観察中心に設定）できるように、ウエハＷ２を回転させる。そしてＹマーク３の座標系Ｘ−ＹにおけるＹ座標が、Ｙ１として計測される。次にステージＳ２を移動（Ｘ軸方向）して、アライメント光学系ＷＹによってθマーク４を検出する。θマーク４座標系Ｘ−ＹにおけるＹ座標が、Ｙ２として計測される。このようにＹマーク３とθマーク４の位置は、アッベ誤差のないアライメント光学系ＷＹによって検出されるので、きわめて正確に計測される。そこで、ウエハＷ２上に設定したチップパターン配列の座標系ξ−ηと、ステージ送り方向の座標系Ｘ−Ｙの回転ずれθは次式で表される。
　　　δ＝Ｙ２−Ｙ１／ＹＬ２　ここで、ＹＬ２は、Ｙマーク３の中心とθマーク１３の中心間の距離、すなわち、ステージの送り量である。さらに、Ｘマーク６の位置検出はステージＳ２を移動して、アライメント光学系ＷＸによって行なう、以上の動作により、ウエハＷ２の回転ずれδは、正確に計測されるので、特定のチップパターンから、第２回目以降のパターンを、順次重ね焼きしていく時に、この回転ずれδに応じて、ステージＳ２の送りを補正すればよいことになる。すなわち、座標系Ｘ−Ｙを座標系ξ−ηに変換するように、ステージを送る。このような座標系の変換を、露光座標軸の回転とよぶ。一般に、直交座標系の変換は次式によって行なわれる。
　　Ｘ０＝ξ０ｃｏｓδ−η０ｓｉｎδ
　　Ｙ０＝ξ０ｓｉｎδ−η０ｃｏｓδ
　この様子を第５図に示す。上式は、原点０を代えずに、直交座標系Ｘ−Ｙから直交座標系ξ−ηに移る場合の変換式である。ここでη０とξ０は、座標系ξ−ηにおける特定のチップの配列座標（ξ０，η０）を表し、Ｘ０とＹ０は座標系におけるステージによる送りの位置座標（Ｘ０，Ｙ０）を表す。従って、ステージに対してウエハの回転ずれδが残っている場合、ステージは、配列座標（ξ０，η０）に対して、原点０からは位置座標（Ｘ０，Ｙ０）に移動すればよい。（第３頁右下欄６行目−第４頁左下欄６行目）」と記載されている。
　
そこで、訂正発明と、前記甲第１号証及び甲第２号証に記載されたものとを対比すると、前記甲第１号証及び甲第２号証のいずれにも、訂正発明の必須の構成である「第１の原画模様のうち、ある原画模様を中心として互いに直角をなす方向に位置する少なくとも直線上にない４個の第１の原画模様の位置を投影レンズを介して検出し、その検出結果に基づいて前記転写された第１の原画模様の配列の直交度誤差を補正する」構成は記載されておらず、かつ、該構成を示唆する記載もない。
　なお、甲第１号証及び甲第２号証に記載されたものは、いずれも、検出した２つのチップの距離と位置座標から、露光装置に対するウエハの回転角度（露光装置のテーブルの送り方向に対する回転ずれ）を求めるものであって、被露光物（ウエハ）上に転写された原画模様（チップ）の配列の直交度誤差を求めるものではない。
　また、異議申立人は、甲第１号証に記載されたものは、チップの位置誤差からピッチ誤差を求めて補正するものが記載されているから、ピッチ誤差を補正する代わりに直交度誤差を補正することに何らの技術的困難性はない旨主張するが、甲第１号証には、ウエハ上のチップに直交度誤差が存在することも記載されておらず、かつ直交度誤差を求めるため検出すべき具体的なチップの配置を示唆する記載もないから、訂正発明の上記構成が甲第１号証に示唆されているとすることはできない。
　
（６）以上のとおりであるから、上記訂正請求は、特許法第１２０条の４第２項及び同条第３項で準用する同法第１２６条第２項〜第４項の規定に適合するので、当該訂正を認める。
６．次に、特許異議の申立てについて判断する。
（１）本件特許発明の要旨は、訂正された明細書の特許請求の範囲に記載されたとおりのものであって、上記５（１）で認定したとおりのものである。
　
（２）そして、上記５（６）で示したように、甲第３号証及び甲第４号証は、いずれも本件特許に係る出願の出願前に頒布された刊行物とは認められず、かつ、本件特許発明は、本件特許に係る出願前に頒布された刊行物である甲第１号証又は甲第２号証に記載されているとも、甲第１号証及び甲第２号証に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものとすることもできない。
　
（３）本件特許に係る出願の出願日は、前記５（３）で認定したとおり、昭和５７年９月２１日と認められるところ、当該出願日に係る特許に対しては、その特許異議の申立ての理由は、平成６年法律第１１６号附則第１４条の規定に基づく平成７年政令第２０５号（特許法等の一部を改正する法律の一部の施行に伴う経過措置を定める政令）第４条第１項の規定するところでは、「改正法の施行前にした出願であって、改正法第２条の規定の施行前に出願公告をすべき旨の決定の謄本の送達がされていないものに係る特許についての新特許法第１１３条の規定による特許異議の申立てについては、同条の規定にかかわらず、その特許が拒絶の査定をしなければならない特許出願（改正法第２条の規定による改正前の特許法第５５条第１項の規定による特許異議の申立てをすることができない理由により、又はその特許出願人が発明者でない場合において、その発明について特許を受ける権利を承継していないこと若しくは特許を受ける権利を他の者と共有する者が他の者と共同でなく特許出願を理由として拒絶の査定をしなければならない者を除く。次項において同じ。）に対してされたことを理由としてしなければならない。」とされており、昭和５７年９月２１日の特許出願に対しては、特許法第１７条の２第３項に規定する要件を満たしていない補正がされたことは、拒絶の査定をしなければならない理由とはされていないから、理由３に基づく特許異議の申立ては不適法な異議の申立てであって、その補正をすることができないものであるから、その部分については、特許法第１２０条の６第１項で準用する第１３５条の規定により却下すべきものである。
　
７．したがって、特許異議申立ての理由及び証拠によっては、本件特許を取り消すことはできない。
　また、他に、本件特許を取り消すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
平成１２年６月７日（２０００．６．７）