(57)【要約】      （修正有）【課題】導線の脱落を防止可能で、測定の正確さが向上できる回路基板測定ジグの底板構造を提供する。【解決手段】底板４の導線穴４１内に膠８を設けることによって導線１を導線穴４１に挿入してから熱風で固化させて緊密に底板４に固着し、導線１の導線芯１１の頂端を底板４と平面になるように研磨してプローブを挿入したバネの底端と直接接触させる。導線１の外膠層の耐熱度を考慮して、ブロクの上熱風源の温度を下熱風源より低くして、膠が過熱して導線を害さないようにコントロールしておく。【選択図】図４Ａ
0003145882.tif 000002
【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
回路基板にある測定対象線路の位置に合わせて予め少なくとも一つの対応し合うピンホールが開けてある一つのピンボードと、
前記ピンボード上にある前記ピンホールと対応する定位穴が開けてあり、前記ピンボードの上を覆う一つの弾性布と、
前記ピンボード上にある前記ピンホールと対応する定位穴が開けてあり、前記ピンボード及び前記弾性布の上方に固着される少なくとも一つの定位板と、
前記ピンボード上にある其々の前記ピンホールの中に取り付けてある少なくとも一つのバネと、
前記ピンホール内にある前記バネの頂端に取り付けられ、前記弾性布及び前記定位板の上にある前記定位穴を貫通して前記回路基板にある測定ポイントと接触する少なくとも一つのプローブと、
前記ピンボードの下側に固定され、前記ピンボードの前記ピンホールと対応し合う導線穴が開けてあり、前記導線穴は一つの導線部及び芯部を有する一つの底板と、
一端は露出した導電芯になり、前記底板の前記導線穴に挿入されて前記バネと接触可能であり、もう一端は回路基板測定設備まで接続される少なくとも一つの導線と、
を備える回路基板測定ジグであって、
前記導線の前記導線芯は前記導線穴の前記芯部と同じか或いはややより長い長さにカットされ、倒置される前記底板の表面に膠を塗って更に前記導線穴に滲ませ、前記導線芯のある前記導線の一端を前記導線穴内に満遍なく塗られた前記膠のある前記導線部及び前記芯部に挿入し、熱風によって前記膠を固化させ、前記導線を前記底板に固着させ、また前記導線芯のカット面を前記底板と一致する平面まで研磨して前記プローブが挿入してある前記バネの底端と直接接触可能であることを特徴とする回路基板測定ジグ。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本考案は、一種の回路基板測定ジグに関し、特に、一種の底板の導線穴の中に膠が設けてあるため、導線をその導線穴に挿入してから熱風で固化することにより、緊密に該底板に固定できてその脱落が防止でき、そして該導線の導線芯の頂端を底板と平面になるように研磨してプローブのあるバネの底端と直接接触させることにより、その測定の正確さが向上する一方、製造コスト及び仕事時間を減少させる回路基板測定ジグに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来のプリント回路基板測定では、通常、専用のジグを用いて測定して正常或いは短絡現象の有無を確認する。この種の従来からよく利用されている測定方法については、その導線が底板を貫通してからバネの底端に引っ掛けられるか或いは溶接されるものであるため、時間と人力がかかるだけではなく、導線が弛んで脱落しやすいために測定の正確さに影響を与える。従来の回路基板測定ジグは、図１に示すように、主として、複数個の導線Ｃを底板Ａの導線穴Ａ１を貫通して設けて、導線Ｃの一端を回路基板測定設備に接続し、もう一端の露出した導線芯をバネＤと溶接し、測定対象回路基板Ｆを載せるためにピンボードＢを底板Ａの上に置く。ピンボードＢの上には測定対象回路基板Ｆにある測定ポイントの位置に合わせて対応し合うピンホールＢ１が設けてあり、バネＤをピンホールＢ１の中に挿入して設け、プローブＧの下端をバネＤの頂端に被せて設けて、上端を定位板Ｅの定位穴Ｅ１から貫通させて回路基板Ｆの測定ポイントと接触させるものである。回路基板ＦをピンボードＢの上に載せると、プローブＧは回路基板Ｆの重量を受けて下へ押えられてピンホールＢ１内に沈んでいき、バネＤの弾力によって回路基板Ｆの測定ポイントに当たるため、テストシグナルがプローブ、バネ及び導線を経由して測定設備まで伝導され、回路基板の回路測定を行う。回路基板ＥをピンボードＢから移すとプローブＦの頂端はバネＤの弾力によって元の位置に戻る。
【０００３】
しかしながら、このような従来の回路基板測定ジグでは、使用するとき、通常次のような欠点が生じる。（１）導線とバネの底端との溶接点の寸法は導線の脱落を防止するために必ず底板の導線穴より大きくするので該溶接点の寸法によってピンホールの寸法に影響をもたらす。つまり其々のピンホールの間は密集させることができず、回路基板の過密した測定ポイントに合わせ難くなる。その点について目下の解決方法としては、一般的には多層のピンボードを利用して傾斜させて形成することで過密した回路基板測定ポイントを探知して測定する。このような方法では、該傾斜したプローブが回路基板と接触するとき、傾斜が生じやすいため、測定の精密さに影響を与えるほか、プローブと其々のピンボードのピンホールとの間にも摩擦ポイントになるため、プローブの抵抗が増えたり壊れて変形したりする。（２）導線とバネの寸法は極めて小さいため、手作業による溶接では時間および人力がかかり、また溶接の不良によって測定結果にも影響をもたらす。
【０００４】
上記のような従来利用される回路基板測定ジグの欠点を改善するため、近年、図２に示す回路基板測定ジグが提案され、それは主としてピン受台Ｈ、底板Ｉ、上プローブ定位板Ｊ、下プローブ定位板Ｋ及び弾性布Ｌからなる。その中において、ピン受台Ｈ及び底板Ｉの上には回路基板Ｐの上にある測定ポイントと対応するピンホールＨ１及び導線穴Ｉ１が設けてあり、そして上プローブ定位板Ｊ、下プローブ定位板Ｋ及び弾性布Ｌの上には回路基板Ｐの上にある測定ポイントと対応する定位穴Ｊ１、Ｋ１、Ｌ１が設けられている。ピン受台ＨのピンホールＨ１内にバネＭがあり、導線Ｎの一端は露出の導線芯になり、プレスで外径が導線穴Ｉ１より大きいＴ型導線ヘッドＮ１にプレスしてバネＭの底端に引っ掛かるようにし、導線Ｎのもう一端は底板の導線穴Ｉ１を貫通して測定設備に接続される。プローブＯは其々ピンホール内のバネＭの頂端に取り付けられ、その上端は上プローブ定位板Ｊ、下プローブ定位板Ｋ及び弾性布Ｌにあるガイドとして使われる定位穴Ｊ１、Ｋ１、Ｌ１を貫通して回路基板Ｐにある測定ポイントと接触する。
【０００５】
この種の回路基板測定ジグでは、導線とバネの底端とを手作業により溶接するのにかかる時間と人力の浪費及び溶接不良による測定結果への影響などの欠点は解決できるが、依然として次のような欠点がある。（１）導線は極めて小さいため、その一端の導線芯をＴ型導線ヘッドにプレスするとき、誤差或いは変形がよく発生するため、バネ底端に引っ掛かる導線は弛んで脱落しやすいことによって測定結果に影響をもたらす。（２）脱落しないように該導線のＴ型導線ヘッドの外径を導線穴より大きくしなければならないため、ピンホールの寸法は依然として制限されるのでその種の回路基板測定ジグでは測定ポイントが密集しすぎる回路基板を測定することができない。
【考案の開示】
【考案が解決しようとする課題】
【０００６】
本考案は、従来使われている回路基板測定ジグの底板構造では依然として改善すべき欠点が多くあることを痛感したため、長年以来該製品の設計製造に従事して積み重ねた経験によって絶えずにその改良を重ねて考えてやっとより使用者のニーズに合う回路基板測定装置の底板構造を設計した。
本考案の目的は、一種の底板の導線穴内に膠を設けることによって導線を該導線穴に挿入してから熱風で固化させて緊密に該底板に固着してその脱落を防止することができ、且該導線の導線芯の頂端を底板と平面になるように研磨してプローブを挿入したバネの底端と直接接触させることにより、測定の正確さが向上できる回路基板測定ジグを提供することにある。
本考案のもう一つの目的とは、一種の導線を底板に固定させることによってバネと直接に接触でき、他に溶接による固定が要らず、有効に製造コスト及び工作時間が低下でき、同時にバネ及びプローブをより小さい寸法に製造できるため、密集する測定ポイントのある回路基板を測定することができる回路基板測定ジグを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するため、本考案に係る回路基板測定ジグは、回路基板にある測定対象線路の位置に合わせて予め少なくとも一つの対応し合うピンホールが開けてある一つのピンボードと、前記ピンボード上にある前記ピンホールと対応する定位穴が開けてあり、前記ピンボードの上を覆う一つの弾性布と、前記ピンボード上にある前記ピンホールと対応する定位穴が開けてあり、前記ピンボード及び前記弾性布の上方に固着される少なくとも一つの定位板と、前記ピンボード上にある其々の前記ピンホールの中に取り付けてある少なくとも一つのバネと、前記ピンホール内にある前記バネの頂端に取り付けられ、前記弾性布及び前記定位板の上にある定位穴を貫通して前記回路基板にある測定ポイントと接触する少なくとも一つのプローブと、前記ピンボードの下側に固定され、前記ピンボードの前記ピンホールと対応し合う導線穴が開けてあり、前記導線穴とは一つの導線部及び芯部を有する一つの底板と、一端は露出した導電芯になり、前記底板の前記導線穴に挿入されて前記バネと接触可能であり、もう一端は回路基板測定設備まで接続される少なくとも一つの導線と、を備え、前記導線の前記導線芯は前記導線穴の前記芯部と同じ或いはややより長い長さにカットされ、倒置される前記底板の表面に膠を塗って更に前記導線穴に滲ませ、前記導線芯のある前記導線の一端を前記導線穴内に満遍なく塗られた前記膠のある前記導線部及び前記芯部に挿入し、熱風によって前記膠を固化させ、前記導線を前記底板に固着させ、また前記導線芯のカット面は前記底板と一致する平面まで研磨されて前記プローブが挿入してある前記バネの底端と直接接触可能である。
【考案を実施するための最良の形態】
【０００８】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
（一実施形態）
本考案の一実施形態による回路基板測定ジグを図３〜図５に示す。回路基板測定ジグは、主として数個の導線１、数個のプローブ２、数個のバネ３、一つのピンボード５、一つの底板４、一つの弾性布６、上定位板７、及び下定位板７’からなる。ピンボード５は、回路基板９の上にある測定ポイントの位置に合わせて予め数個の対応し合うピンホール５１を開けて設け、また底板４、上定位板７、下定位板７’及び弾性布６の上には其々ピンボード５のピンホール５１と対応する導線穴４１及び定位穴７１、７１’、６１を開けて設け、下定位板７’及び底板４は其々ピンボード５の上下側に固着され、弾性布６は下定位板７’を覆って、且ピンボード５、上定位板７、下定位板７’及び弾性布６の表面及び開けて設ける貫通孔の周り縁には皆絶縁層が塗布してある。
【０００９】
図４（Ａ）、（Ｂ）に示すように、底板４にある導線穴４１には、一つの導線部４１１及び一つの芯部４１２がある。導線１の一端は先ず回路基板測定設備に接続しておいて、もう一端の露出した導線芯１１は導線穴の芯部４１２と同じか、ややより長い長さにカットしておく。それから底板４を倒置し、その表面に適当な粘度のある膠８を塗布して、膠８が底板４の導線穴４１に滲んだら導線芯１１のある導線１の一端を上から下へと底板４の導線穴４１に挿入する。導線１及び導線芯１１を其々導線穴４１内にある膠８を十分に塗った導線部４１１及び芯部４１２に挿入し、導線１の挿入を完成した底板４を上下に熱風源のある図示しないブロワの中に入れる。膠８が固化したら、導線１が底板４に固着される。導線１の外膠層の耐熱度を考慮して、ブロワの上熱風源の温度を下熱風源より低くして、膠が過熱して導線を害しないようにコントロールする。適当なサンドペーパー或いはその他のツールで導線芯１１のカット面を研磨し、その表面の膠を研ぎ除き、また導線芯１１のカット面を底板４と平面になるように研磨する。
【００１０】
図５に示すように、バネ３を其々ピンボード５の上にある其々のピンホール５１内に取り付ける。バネ３の底端は、導線１の挿入が完了しピンボード５の下側の底板４内に固定された導電芯１１の頂端と接触する。プローブ２は其々バネ３の頂端に置かれ、上定位板７、下定位板７’及び弾性布６の定位穴７１、７１’、６１を貫通して回路基板の上にある測定ポイントと接触する。また弾性布６にはプローブ２を保持する作用があり、それによってプローブ２がピンホール５１から落ちるのを防止でき、そして上定位板７、下定位板７’及び弾性布６の定位穴７１、７１’、６１にはプローブ２をガイドする機能がある。
【００１１】
測定対象回路基板を回路基板測定ジグに置いたら、プローブ２の頂端は回路基板９の重量を受けて下へ沈み、バネ３の弾力によって回路基板９にある測定ポイントと接触する。これにより、測定シグナルがプローブ２、バネ３及び導線１を経由して測定設備まで伝導して読み取りを行う。回路基板９をピンボード５から移すと、プローブ２の頂端は、バネ３の弾力によって元の位置まで復帰できる。
【００１２】
（考案の効果）
本考案の回路基板測定ジグの長所は、以下の通りである。（１）導線を底板にある膠を含んだ導線穴に挿入してから熱風で固化させて定位させるので、導線が脱落することが防止できるほか、導線の導線芯はバネと確実に接触できるため、回路基板測定の正確さが高められる。（２）導線を底板に固定して、当該導線の導線芯はバネと直接接触できるため、バネとの溶接が不要になるので、ピンボードの上にあるピンホールの外径は制限されなくなり、即ちバネ及びプローブはより小さい寸法に製造でき、回路基板にあるより密集する測定ポイントが測定できる。（３）導線とバネとの溶接によって時間と人力がかかり、また脱落しやすくなるために測定の正確さに影響をもたらすという欠点が改善でき、また導線の一端を予め回路基板測定設備に接続しておいてから導線挿入の固定と組立を行うことができるため、組立の仕事時間及び手間が簡易化できる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】従来の回路基板測定ジグを示す分解斜視図である。
【図２】従来の回路基板測定ジグを示す断面図である。
【図３】本考案の一実施形態による回路基板測定ジグを示す分解斜視図である。
【図４Ａ】本考案の一実施形態による回路基板測定ジグにおける導線と底板との組立て状態を示す部分断面図である。
【図４Ｂ】本考案の一実施形態による回路基板測定ジグにおける導線と底板との組立て状態を示す部分断面図である。
【図５】本考案の一実施形態による回路基板測定ジグを示す断面図である。
【符号の説明】
【００１４】
１：導線、１１：導電芯、２：プローブ、３：バネ、４：底板、４１：導線穴、４１１：導線部、４１２：芯部、５：ピンボード、５１：ピンホール、６：弾性布、６１：定位穴、７：上定位板、７’：下定位板、７１、７１’：定位穴、８：膠、９：回路基板
【図１】
0003145882.tif 000003
【図２】
0003145882.tif 000004
【図３】
0003145882.tif 000005
【図４Ａ】
0003145882.tif 000006
【図４Ｂ】
0003145882.tif 000007
【図５】
0003145882.tif 000008