【事件の表示】
　特許第２７２７５７２号「光走査装置」の特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結論】
　訂正を認める。
　特許第２７２７５７２号の特許を維持する。
【理由】
（１）手続きの経緯
　本件特許第２７２７５７２号は昭和６３年７月２６日に出願され、平成９年１２月１２日に設定登録され、その後、井上春季及び株式会社ディスクより特許異議の申立てがなされ、取消理由通知がなされ、その指定期間内である平成１１年２月１日に訂正請求がなされ、訂正拒絶理由通知がなされ、その指定期間内である平成１１年５月１０日に訂正請求の補正がなされたものである。
（２）訂正請求の補正についての判断
　訂正請求の補正の内容は、特許請求の範囲の減縮を目的として、特許請求の範囲の請求項１及び請求項２、
「１　直線偏光のレーザー光束を導光手段により光偏向器に導光し、該光偏向器で偏向させたレーザー光束を走査レンズと光学部材を介して被走査面上に導光して走査する光走査装置においで、該走査レンズの透過率の角度特性によって走査端が中心部に比べて光強度が減少するときの該被走査面上におけるシェーディングを補正する為、走査レンズの光軸上に相当するレーザー光束を偏光方向が該光学部材に対してＰ偏光方向に偏光した状態で入射させ、該光学部材のＰ偏光とＳ偏光の反射又は透過特性ＸＰ、ＸＳがＸＰ＜ＸＳとなるように該光学部材の反射又は透過特性を構成した事を特徴とする光走査装置。
２　直線偏光のレーザー光束を導光手段により光偏向器に導光し、該光偏向器で偏向させたレーザー光束を走査レンズと光学部材を介して被走査面上に導光して走査する光走査装置において、該被走査面上におけるシェーディングを補正する為、走査レンズの光軸上に相当するレーザー光束を偏光方向が該光学部材に対してＳ偏光方向に偏光した状態で入射させ、該光学部材のＰ偏光とＳ偏光の反射又は透過特性ＸＰ、ＸＳがＸＰ＞ＸＳとなるように該光学部材の反射又は透過特性を構成した事を特徴とする光走査装置。」
を、
「１　直線偏光のレーザー光束を導光手段により光偏向器に導光し、該光偏向器で偏向させたレーザー光束を走査レンズと光学部材を介して被走査面上に導光して走査する光走査装置において、該走査レンズの透過率の角度特性によって走査端が中心部に比べて光強度が減少するときの該被走査面上におけるシェーディングを補正する為、走査レンズの光軸上に相当するレーザー光束を偏光方向が該光学部；材に対してＰ偏光方向に偏光した状態で入射させ、該光学部材のＰ偏光とＳ偏光の反射又は透過特性ＸＰ、ＸＳがＸＰ＜ＸＳとなり、走査端が中央部に比べて光強度が増加するように該光学部材の反射又は透過特性を構成した事を特徴とする光走査装置。
　２　直線偏光のレーザー光束を導光手段により光偏向器に導光し、該光偏向器で偏向させたレーザー光束を走査レンズと光学部材を介して被走査面上に導光して走査する光走査装置において、該被走査面上における該走査レンズで発生するシェーディングを補正する為、走査レンズの光軸上に相当するレーザー光束を偏光方向が該光学部材に対してＳ偏光方向に偏光した状態で入射させ、該光学部材のＰ偏光とＳ偏光の反射又は透過特性ＸＰ、ＸＳがＸＰ＞ＸＳとなり、被走査面上におけるシェーディングを補正するように該光学部材の反射又は透過特性を構成した事を特徴とする光走査装置。」
と補正し、明細書の記載もこれに合わせて補正するものであり、訂正請求の補正の要件を満足するので、これを認める。
（３）訂正の適否についての判断
　▲１▼訂正の内容
　　訂正請求の内容は、特許請求の範囲の減縮を目的として、特許請求の範囲の
「直線偏光のレーザー光束を導光手段により光偏向器に導光し、該光偏向器で偏向されたレーザー光束を走査レンズと光学部材を介して被走査面上に導光して光走査する光走査装置において、該走査レンズの光軸上に相当するレーザー光束を偏光方向が該光学部材に対してＰ偏光方向に偏光した状態で入射させる場合には該光学部材のＰ偏光とＳ偏光の反射又は透過特性ＸＰ、ＸＳがＸＰ＜ＸＳとなるようにし、逆に該光学部材に対してＳ偏光方向に偏光した状態で入射させる場合にはＸＰ＞ＸＳとなるように該光学部材の反射又は透過特性を構成したことを特徴とする光走査装置。」
を、上記（２）に記載したように訂正し、明細書の記載を特許請求の範囲の記載と合致させるため、不明瞭な記載の釈明を目的として明細書を訂正するものである。
▲２▼訂正の目的の適否、新規事項の有無及び拡張
　・変更の存否
　特許請求の範囲の訂正は、訂正前の請求項１に選択的に記載された２つの条件を分離して２つの請求項とし、かつ、訂正後の請求項１では、「走査レンズの透過率の角度特性によって走査端が中心部に比べて光強度が減少するときの該被走査面上におけるシェーディングを補正する為」、「走査端が中央部に比べて光強度が増加するように」と限定し、訂正後の請求項２では、「被走査面上における該走査レンズで発生するシェーディングを補正する為」、「被走査面上におけるシェーディングを補正するように」と限定したものであるから、特許請求の範囲の減縮に該当し、明細書の訂正は不明瞭な記載の釈明を目的としており、共に、新規事項の追加には該当せず、実質的に特許請求の範囲を拡張・変更するものではない。
　以下、訂正明細書の請求項１及び請求項２に記載された発明（以下、訂正発明１及び訂正発明２という。）の独立特許要件について検討する。
▲３▼独立特許要件について
　（引用例）
　取消理由通知に示した、本願の出願の目前の他の出願であって、その出願後に出願公開された特願昭６２−３７０４３号（特開昭６３−２０４２２２号公報参照）の願書に最初に添付された明細書又は図面（以下、先願明細書という。）には、
　「第７図において、１は光源から発生されたレーザビームを偏向する光ビーム偏向器、２ａ、２ｂは結像レンズ、３は偏向されたレーザビーム４を出射窓５を介して感光体６の走査面に入射する折り曲げ鏡である。第８図は第７図の構成を光学的に展開して表わした概念図であり、光源８から発生されたレーザビームは偏向器１で偏向され、結像レンズ２ａ、２ｂを介して折り曲げ鏡３に入射される。このとき、レーザビーム４は有効偏向走査角αで折り曲げ鏡３の鏡面内で走査されるが、α＝０゜の走査角中央を通るレーザビームは折り曲げ鏡３に対し入射角βで入射される。すなわち、折り曲げ鏡３は副走査方向に傾き角βで保持されている。・・・レーザビーム４はその偏向方向（電界成分方向）Ｅが第７図に示すように偏向走査面に対して略垂直になるようにＳ偏光によって偏向される。これは、偏向器１におけるレーザビームの入射角の変化に対し、Ｓ偏向の方がＰ偏向に比べて反射率が高く、しかも変動が少ないためである。・・・レーザビーム４のα＝０゜の偏向方向を非偏向走査方向Ｙまたは偏向走査方向Ｘに一致させ折り曲げ鏡３の傾き角βをβ＝４５゜としてもその反射率Ｒは第９図の特性カーブ１３に示すように非偏向走査方向Ｙについて８０％程度しかならず、また偏向走査方向Ｘについては走査角αの増加につれて反射率Ｒが低下する傾向となり、光源８から感光体６に至るまでのレーザビーム４の伝達損失が大きいという問題がある。」（公報第１頁右欄第１５行〜第２頁右上欄第１３行）と記載されており、
したがって、先願明細書には、
「レーザビームを光源から光偏向器に入射し、光偏向器で偏向されたレーザービームを結像レンズと折り曲げ鏡からなる光学部材を介して感光体の走査面上に導光して光走査する光走査装置であって、レーザビームを偏光方向が偏向走査面に対してＳ偏光方向に偏光した状態で折り曲げ鏡に入射させ、Ｓ偏光の反射率がＰ偏光の反射率より大きい光走査装置。」の発明（以下、先願発明という。）が記載されている。
　また、同じく本件出願前公知である特開昭６０−１８９７２３号公報（以下、第１引用例という。）には、
「走査光学装置１８は、第４図に示すようにビーム発生源としての半導体レーザ１、コリメータレンズ２８、多面体鏡３、および第３図に示す走査レンズ４、レーザ反射用の第１第２のミラー２９、３０を有した構成となっている。」（公報第２頁左下欄第７行〜第１２行）、
「半導体レーザ１から発振したレーザビーム２はコリメータレンズ２８により平行ビームになるように集光された後、多面体鏡３に入射される。ついで、多面体鏡３で反射されて走査レンズ４を透過した後、レーザ反射用ミラー２９、３０で反射して感光体５上に導かれるようになっている。」（公報第２頁右下欄第１行〜第７行）、
「レーザビーム２は多面体鏡３面にビームとして入射されるがコリメートされたレーザビーム２は楕円状の光強度分布をしているため、その楕円の短軸方向が多面体鏡３の回転軸方向と一致するようにレンズ枠３２を回転させ、調製する。このようにした場合、鏡面に当るレーザビーム２は、第４図に示す如く、短軸側が鏡面の厚さ方向と一致することになり、このため鏡面の中を最も小さくすることが可能となる。」（公報第３頁右上欄第１５行〜左下欄第４行）、
　したがって、第１引用例には、
「半導体レーザから発振したレーザビームをコリメータレンズを介して多面体鏡に入射させ、多面体鏡で反射されて走査レンズを透過した後、レーザ反射用ミラーで反射して感光体上に導く光走査装置において、レーザビームの光強度分布の楕円の短軸方向が多面体鏡の回転軸方向と一致する光走査装置。」
の発明（以下、第１引用発明という。）が記載されている。
　また、同じく、特開昭６１−１２６５２８号公報（以下、第２引用例という。）には、
「第１図は、レーザビームプリンタにおける光走査装置の概略構成を示している。入力映像信号に応じたパルス変調により、半導体レーザ（１）からレーザ光（Ｂ０）が発振される。この時レーザ光（Ｂ０）は第２図に示すようなファーフィールドパターンを持ったものであり、半導体レーザ（１）は、接合面と直交する方向（図中Ｙ方向）が感光体ドラム上での副走査方向（第１図中Ｓ方向）と一致するようにセットされている。発振されたレーザ光（Ｂ０）は、コリメータレンズ（２）によって平行光にされ、高速回転するポリゴンミラー（３）の１つの鏡面で反射される。・・・反射後のレーザ光（Ｂ０）は、露光体の一例である感光体ドラム（４）の長手方向に向かって走査される。このレーザ光（Ｂ０）は、結像レンズの一例であるｆθレンズ（５）によって収束され、一様に帯電された感光体ドラム（４）上に結像してその位置の帯電電位を減少させる。」（公報第３頁右上欄第１３行〜左下欄第１３行）、
「本発明による光走査装置においては、上述したレーザ光の光路に、アナモフィックズームレンズ（２）を設けてある。第１図に示すように、このアナモフィックズームレンズ（２）は、各別がレーザ光（Ｂ０）の伝播方向（図中Ｐ方向）に対して位置変更固定自在な、アナモフィックズームレンズの一例である第１と第２のシリンドリカルレンズ（Ｌ１）、（Ｌ２）からなる可動レンズユニット（ＵＭ）、及び、位置固定されたアナモフィックズームレンズの一例である第３のシリンドリカルレンズ（Ｌ３）からなる固定レンズユニット（Ｕｒ）によって構成されている。可動レンズユニット（ＵＭ）は、コリメータレンズ（２）とポリゴンミラー（３）との間に介装され、固定レンズユニット（Ｕｒ）は、ｆθレンズ（５）と感光体ドラム（４）との間の光路に介装されている。」（公報第３頁右下欄第４行〜第１９行）、
「本発明による光走査装置は、半導体レーザの接合面に直交する方向、アナモフインクズームレンズによる屈折力の大きい方向、及び、副走査方向とを一致させ、」（公報第５頁左上欄第２０行〜右上欄第３行）と記載されている。
　したがって、第２引用例には、
「半導体レーザから発振されたレーザ光は、コリメータレンズ、アナモフィックズームレンズを介してポリゴンミラーで反射され、アナモフィックズームレンズ、結像レンズを介して感光体ドラム上に結像する光走査装置において、半導体レーザの接合面に直交する方向、アナモフィックズームレンズによる屈折力の大きい方向、及び、副走査方向とを一致させた光走査装置。」
の発明（以下、第２引用発明という。）が記載されている。
（対比・判断）
　訂正発明１及び訂正発明２と先願発明、第１引用発明及び第２引用発明とを対比すると、
先願明細書及び両引用例には、
訂正発明１の構成要件である、
「走査レンズの透過率の角度特性によって走査端が中心部に比べて光強度が減少するときの該被走査面上におけるシェーディングを補正する為」、「走査端が中央部に比べて光強度が増加するように」した点、
訂正発明２の構成要件である、
「被走査面上における該走査レンズで発生するシェーディングを補正する為」、「被走査面上におけるシェーディングを補正するように」した点、
について記載されておらず、走査レンズによってシェーディングが発生するという問題点が示唆されてもいない。
　そして、訂正発明１及び訂正発明２は、上記構成要件を具備することにより、明細書に記載の、
「走査レンズの透過率の角度特性によって走査端は中心部に比べて光強度が減少し、例えば第６図に示すようなシェーディングと呼ばれる光強度の角度依存性が生じてくる」という問題点を解決し、「電気的に複雑な回路を用いずに被走査面全体にわたり、均一な光量分布で光走査することのできる簡易な構成の光走査装置を達成することができる」という作用効果を奏するものである。
　よって、訂正発明１及び訂正発明２が、先願発明と同一である、あるいは第１引用発明及び第２引用発明に基づいて容易に発明をすることができたものである、とすることはできない。
　したがって、訂正発明１及び訂正発明２は特許出願の際独立して特許を受けることができないものである、とすることはできない。
　▲４▼結論
　　以上のとおりであるから、本件訂正請求は、特許法等の一部を改正する法律（平成６年法律第１１６号）附則第６条第１項の規定によりなお従前の例によるとされる、特許法第１２０条の４第２項及び同条第３項で準用する第１２６条第２項乃至第４項の規定に適合するので、当該訂正を認める。
（４）特許異議申立について
（本件発明）
　本件特許第２７２７５７２号の請求項１及び請求項２に係る発明は、訂正された特許明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１及び請求項２に記載されたとおりのものと認める。
（特許異議申立人の主張の概要）
　これに対して、特許異議申立人井上春季は、甲第１号証として特開昭６０−１８９７２３号公報、甲第２号証として特開昭６１−１２６５２８号公報を提示して、本件発明は、甲第１号証及び甲第２号証に記載された発明に基づいて当業者が容易になし得た発明であるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものである、旨主張し、また、特許異議申立人株式会社ディスクは、甲第１号証として特開昭６３−２０４２２２号公報（特願昭６２−３７０４３号）を提示して、本件発明は、本願の出願日前の他の出願であって、本願の出願後に出願公開された甲第１号証の願書に最初に添付した明細書又は図面に記載された発明と同一であるから、特許法第２９条の２の規定により特許を受けることができないものである、旨主張している。
（引用例）
　特許異議申立人井上春季の提示した甲第１号証及び甲第２号証は、取消理由で通知した第１引用例及び第２引用例であるから、上記（３）▲３▼（引用例）において記載した発明が記載されており、
　また、特許異議申立人株式会社ディスクの提示した甲第１号証は、取消理由で通知した先願明細書であるから、上記（３）▲３▼（引用例）において記載した発明が記載されている。
（対比・判断）
　本件請求項１及び請求項２に係る発明と甲各号証に記載された発明とを対比・判断すると、上記（３）▲３▼（対比・判断）において記載した理由により、本件請求項１及び請求項２に係る発明が、特許異議申立人株式会社ディスクの提示した甲第１号証に記載された先願発明と同一である、あるいは特許異議申立人井上春季の提示した甲第１号証及び甲第２号証に記載された発明に基づいて容易に発明をすることができたものである、とすることはできない。
（むすび）
　以上のとおりであるから、特許異議の申立ての理由及び証拠によっては、本件の請求項１及び請求項２に係る発明の特許を取り消すことはできない。
　また、他に本件の請求項１及び請求項２に係る発明の特許を取り消すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
平成１１年６月２４日（１９９９．６．２４）
【訂正の要旨】
１．訂正事項１
　特許請求の範囲の減縮を目的として、特許請求の範囲の請求項１、
「直線偏光のレーザー光束を導光手段により光偏向器に導光し、該光偏向器で偏向されたレーザー光束を走査レンズと光学部材を介して被走査面上に導光して光走査する光走査装置において、該走査レンズの光軸上に相当するレーザー光束を偏光方向が該光学部材に対してＰ偏光方向に偏光した状態で入射させる場合には該光学部材のＰ偏光とＳ偏光の反射又は透過特性ＸＰ、ＸＳがＸＰ＜ＸＳとなるようにし、逆に該光学部材に対してＳ偏光方向に偏光した状態で入射させる場合にはＸＰ＞ＸＳとなるように該光学部材の反射又は透過特性を構成したことを特徴とする光走査装置。」
を、
「１　直線偏光のレーザー光束を導光手段により光偏向器に導光し、該光偏向器で偏向させたレーザー光束を走査レンズと光学部材を介して被走査面上に導光して走査する光走査装置において、該走査レンズの透過率の角度特性によって走査端が中心部に比べて光強度が減少するときの該被走査面上におけるシェーディングを補正する為、走査レンズの光軸上に相当するレーザー光束を偏光方向が該光学部材に対してＰ偏光方向に偏光した状態で入射させ、該光学部材のＰ偏光とＳ偏光の反射又は透過特性ＸＰ、ＸＳがＸＰ＜ＸＳとなり、走査端が中央部に比べて光強度が増加するように該光学部材の反射又は透過特性を構成した事を特徴とする光走査装置。
　２　直線偏光のレーザー光束を導光手段により光偏向器に導光し、該光偏向器で偏向させたレーザー光束を走査レンズと光学部材を介して被走査面上に導光して走査する光走査装置において、該被走査面上における該走査レンズで発生するシェーディングを補正する為、走査レンズの光軸上に相当するレーザー光束を偏光方向が該光学部材に対してＳ偏光方向に偏光した状態で入射させ、該光学部材のＰ偏光とＳ偏光の反射又は透過特性ＸＰ、ＸＳがＸＰ＞ＸＳとなり、被走査面上におけるシェーディングを補正するように該光学部材の反射又は透過特性を構成した事を特徴とする光走査装置。」
と訂正する。
２．訂正事項２
　明細書の記載を特許請求の範囲の記載と整合させるため、不明りような記載の釈明を目的として、明細書第４頁第３行〜第１４行の、
「直線偏光のレーザー光束を導光手段により光偏向器に導光し、該光偏向器で偏向されたレーザー光束を走査レンズと光学部材を介して被走査面上に導光して光走査する光走査装置において、該走査レンズの光軸上に相当するレーザー光束を偏光方向が該光学部材に対してＰ偏光方向に偏光した状態で入射させる場合には該光学部材のＰ偏光とＳ偏光の反射又は透過特性ＸＰ、ＸＳがＸＰ＜ＸＳとなるようにし、逆に該光学部材に対してＳ偏光方向に偏光した状態で入射させる場合にはＸＰ＞ＸＳとなるように該光学部材の反射又は透過特性を構成したことである。」
を、
「請求項１の発明は、直線偏光のレーザー光束を導光手段により光偏向器に導光し、該光偏向器で偏向させたレーザー光束を走査レンズと光学部材を介して被走査面上に導光して走査する光走査装置において、該走査レンズの透過率の角度特性によって走査端が中心部に比べて光強度が減少するときの該被走査面上におけるシェーディングを補正する為、走査レンズの光軸上に相当するレーザー光束を偏光方向が該光学部材に対してＰ偏光方向に偏光した状態で入射させ、該光学部材のＰ偏光とＳ偏光の反射又は透過特性ＸＰ、ＸＳがＸＰ＜ＸＳとなり、走査端が中央部に比べて光強度が増加するように該光学部材の反射又は透過特性を構成した事を特徴としている。
　請求項２の発明は、直線偏光のレーザー光束を導光手段により光偏向器に導光し、該光偏向器で偏向させたレーザー光束を走査レンズと光学部材を介して被走査面上に導光して走査する光走査装置において、該被走査面上における該走査レンズで発生するシェーディングを補正する為、走査レンズの光軸上に相当するレーザー光束を偏光方向が該光学部材に対してＳ偏光方向に偏光した状態で入射させ、該光学部材のＰ偏光とＳ偏光の反射又は透過特性ＸＰ、ＸＳがＸＰ＞ＸＳとなり、被走査面上におけるシェーディングを補正するように該光学部材の反射又は透過特性を構成した事を特徴としている。」
と訂正する。
（５４）【発明の名称】
光走査装置
（５７）【特許請求の範囲】
（１）直線偏光のレーザー光束を導光手段により光偏向器に導光し、該光偏向器で偏向させたレーザー光束を走査レンズと光学部材を介して被走査面上に導光して走査する光走査装置において、該走査レンズの透過率の角度特性によって走査端が中心部に比べて光強度が減少するときの該被走査面上におけるシエーディングを補正する為、走査レンズの光軸上に相当するレーザー光束を偏光方向が該光学部材に対してＰ偏光方向に偏光した状態で入射させ、該光学部材のＰ偏光とＳ偏光の反射又は透過特性Ｘｐ，ＸｓがＸｐ＜Ｘｓとな
り、走査端が中心部に比べて光強度が増加す
（２）直線偏光のレーザー光束を導光手段により光偏向器に導光し、該光偏向器で偏向させたレーザー光束を走査レンズと光学部材を介して被走査面上に導光して走査する光走査装置において、該被走査面上における
該走査レンズで発生する
シェーディングを補正する為、走査レンズの光軸上に相当するレーザー光束を偏光方向が該光学部材に対してＳ偏光方向に偏光した状態で入射させ、該光学部材のＰ偏光とＳ偏光の反射又は透過特性Ｘｐ，ＸｓがＸｐ＞Ｘｓとな
り、被走査面上におけるシェーディングを補正す
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
　本発明は光走査装置に関し、特にレーザー光束を回転多面鏡等の光偏向器を介して記録媒体面である被走査面を光走査し、記録や読取り等を行うようにした例えば電子写真プロセスを有するレーザービームプリンター（ＬＢＰ）等の装置に好適な光走査装置に関するものである。
（従来の技術）
　従来よりレーザービームプリンター（ＬＢＰ）等の光走査装置においては、レーザー光束を用いて記録媒体面上を光走査して画像の読み込みや読み出しを行っている。
　一般に多くのＬＢＰ等ではレーザー発振器からのレーザー光束をコリメーターレンズにより平行光束とし、回転多面鏡である光偏向器の反射面に入射させている。そして光偏向器の反射面によって反射させたレーザー光束をｆ−θ特性を有する走査レンズ等で集光し、ミラーで反射させた後ドラム状感光体である被走査面上に導光している。
　そしてモーター等により光偏向器を回転させることにより被走査面上を光走査している。
　この装置においては走査レンズの透過率の角度特性によって走査端は中心部に比べて光強度が減少し、例えば第６図に示すようなシエーデインクと呼ばれる光強度の角度依存性が生じてくる。
　従来このようなシェーディング補正は該シェーディング補正データを光走査装置内のメモリーに記憶しておき、光走査装置内の走査位置検出手段によって検出した信号に同期させて、該シェーディング補正データに基づいて、例えばレーザー光源の注入電流を制御することによって被走査面上で一様な光量分布を得ていた。
しかしながらこの方法はメモリーや演算回路等の多くの電気回路を必要とし、装置全体が複雑化する傾向があった。
（発明が解決しようとする問題点）
　本発明は走査用光束としてレーザー光束を用い、光偏向器と被走査面との間の光路中に配置した光学要素の１つであるミラーや透過部材の偏光特性を入射レーザー光束の偏光状態に応じて適切に設定することにより、被走査面全体にわたり、均一な光量で光走査することのできる簡易な構成の光走査装置の提供を目的とする。
（問題点を解決する為の手段）
　請求項１の発明は、
　直線偏光のレーザー光束を導光手段により光偏向器に導光し、該光偏向器で偏向させたレーザー光束を走査レンズと光学部材を介して被走査面上に導光して走査する光走査装置において、該走査レンズの透過率の角度特性によって走査端が中心部に比べて光強度が減少するときの該被走査面上におけるシェーディングを補正する為、走査レンズの光軸上に相当するレーザー光束を偏光方向が該光学部材に対してＰ偏光方向に偏光した状態で入射させ、該光学部材のＰ偏光とＳ偏光の反射又は透過特性Ｘｐ，ＸｓがＸｐ＜Ｘｓとな
り、走査端が中心部に比べて光強度が増加す
　請求項２の発明は、
　直線偏光のレーザー光束を導光手段により光偏向器に導光し、該光偏向器で偏向させたレーザー光束を走査レンズと光学部材を介して被走査面上に導光して走査する光走査装置において、該被走査面上における
該走査レンズで発生する
り、被走査面上におけるシェーディングを補正す
（実施例）
　第１図は本発明をＬＢＰに適用したときの一実施例の要部概略図である。
　図中１は半導体レーザー等のレーザー発振器、２はコリメーターレンズであり、レーザー発振器１からのレーザー光束を平行光束としている。３はシリンドリカルレンズであり後述する被走査面上の走査方向と直角方向（副走査方向７ｂ）に屈折力を有している。
　４は回転多面鏡より成る光偏向器であり、矢印４ａ方向に一定速度で回転している。５はｆ−θ特性を有する走査レンズ、６はミラーであり、後述するように入射するレーザー光束の偏光状態によりＰ偏光とＳ偏光の偏光反射特性が設定されている。
　７はドラム状感光体８等の被走査面である。
　本実施例では光偏向器４の回転に伴って、被走査面７の走査方向ｌ〜−ｌ間を矢印７ａの方向に光走査している。
　本実施例ではミラー６にはレーザー光束の偏光方向が走査レンズ５の軸上の場合にのみＰ偏光状態となるように入射している。これは被走査面７でのレーザー光束のスポット形状等の制約から偏光方向が決められる場合が多い。
　一方光偏向器４によってレーザー光束が被走査面７を走査レンズ５の軸上から軸外にかけて順次光走査していくとレーザー光束の偏光方向はＰ偏光からずれていき、これは走査角度が増えるに従い増加し、Ｓ偏光成分の割合が増加してくる。
　第２図はこのときのレーザー光束のミラー６への入射状態を示す模式図である。
　同図においてはｘ軸、ｙ軸を含む平面を主走査方向を含む平面としている。走査用光束が点Ａから原点０に向ってｘ軸（軸上光束と同一方向）と角度αをもって進行しているとする。このときレーザ一光束の偏光方向は矢印ｂに示す方向のｚ軸に平行な方向である。ミラー６を含む平面は同図の斜線で示すようにｘ軸と角度φをもって配置されている。Ｐ偏光成分を含む平面はミラー６の法線と点Ａと点０を含む平面である。この平面ＨＡの方程式は同図に示す記号を用いると
　ｘ−ｙ／ｔａｎ　α　＋ｔａｎφ・ｚ＝０…………（１）
となる。この平面ＨＡの法線ベクトルをＡとすると
　Ａ（１，−１／ｔａｎ　α，ｔａｎ　φ）……（２）
となる。
　一方レーザー光束の進行方向（Ａ０）と矢印ｂで示す振動方向を含む平面ＨＢは
　ｘ−ｙ／ｔａｎ　α　＝０…………………（３）
となる。同様に法線ベクトルをＢとすると
　Ｂ＝（１，−１／ｔａｎα　，０）
となる。Ｓ偏光成分の割合を求める為には平面ＨＡと平面ＨＢとがなす角θのＳＩＮ成分を求める必要がある。この為にベクトルＡ、Ｂの内積を計算すると
となる。一般的に角度φは４５度にする場合が多いことから、この値を代入して
となる。
　走査角αを変化させたときのＳ偏光の割合を第３図に示す。
　同図から明らかのように走査角αが増加するとＳ偏光成分の割合が増加する。ミラーの反射率ＲはＰ偏光成分の反射率ＲＰとＳ偏光成分の反射率ＲＳとの合成であるから、その値は前述した変数θを関数として
で表わされる。（４）式より反射率ＲはＲＰ＝ＲＳであればＲ＝ＲＰ：ＲＳとなるがＲＰ≠ＲＳのときは（４）式に合成した値となる。
　本実施例ではこのときの関係を利用することにより、反射率ＲＰ、ＲＳの値をミラー作成時の成膜条件等により制御し、ＲＰ＜ＲＳとなるようにして、走査角αの増加に伴って合成の反射率Ｒを増加させている。
　これにより被走査面上におけるシェーディングを補正している。
　例えば走査角αを最大３０度とすると、θ＝２６．６度となる。今、ＲＰ＝６０％、ＲＳ＝９０％とすると（４）式より反射率Ｒ＝６６％となる。
　この方法を用いることにより第４図に示すように被走査面上の端部光量を１０％程度補正している。
　第５図は本発明をＬＢＰに適用したときの他の一実施例の概略図である。
　本実施例では半導体レーザー１２からのレーザー光束をコリメーターレンズ１３で平行光束とし、シリンドリカルレンズ１４で一次元方向に集光させて回転多面鏡より成る光偏向器１１に導光している。そして光偏向器１１で偏向されたレーザー光束ヲｆ−θ特性を有する走査レンズ１５で集光し、ミラー１６で反射させた後、防塵ガラス１７を介してドラム状感光体から成る被走査面１８上に入射させている。
　被走査面１８上の光走査は第１図に示す実施例と同様に光偏向器を回転させることにより行っている。
　防塵ガラス１７は現像器等からのトナーや紙粉等が走査光学系ユニット内に入るのを防止する為に設けられている。又、防塵ガラスには反射光防止の為の反射防止膜が施されている。
　本実施例ではこの反射防止膜を施す際に第１図に示した折り返しミラー６の反射特性と同様にＰ偏光成分とＳ偏光成分の透過率ＴＰ、ＴＳを制御することにより、即ち透過特性を周辺部で高く、中心部で低くなるようにして被走査面上の光量分布が均一となるようにしている。
　尚、第１図に示す実施例において走査レンズ５の軸上に相当するレーザー光束の偏光状態がミラー６に対してＳ偏光状態で入射する場合にはＰ偏光成分とＳ偏光成分の反射率ＲＰ、ＲＳがＲＰ＞ＲＳとなるようにすれば前述と同様に被走査面上を全体にわたり均一の光量分布で光走査することができる。
（発明の効果）
　本発明によれば前述の如く光偏向器と被走査面との間の光路中に配置する光学部材の反射又は透過偏光特性と適切に設定することにより、レーザー注入電流を制御するといった電気的に複雑な回路を用いずに被走査面全体にわたり、均一な光量分布で光走査することのできる簡易な構成の光走査装置を達成することができる。
【図面の簡単な説明】
　第１図は本発明をＬＢＰに適用したときの一実施例の要部概略図、第２図はレーザー光束とミラーとの関係を示す説明図、第３図は走査角とＳ偏光成分との関係を示す説明図、第４図は反射率と走査角との関係を示す説明図、第５図は本発明の他の一実施例の要部概略図、第６図は被走査面における走査角とシェーディングとの関係を示す説明図である。
　図中、１、１２はレーザー発振器、２、１３はコリメーターレンズ、３、１４はシリンドリカルレンズ、４、１１は光偏向器、５、１５は走査レンズ、６、１６はミラー、１７は防塵ガラス、８、１８はドラム状感光体、７は被走査面、である。