【事件の表示】
　特許第２８８３７４７号「画像形成装置」の特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結　論】
　訂正を認める。
　特許第２８８３７４７号の特許を維持する。
【理　由】
１．手続の経緯
　本件特許第２８８３７４７号の請求項１に係る発明についての出願は、平成３年２月２８日に特許出願され、平成１１年２月５日にその特許権の設定の登録がなされ、金谷昭三より特許異議の申し立てがなされ、取消理由通知がなされ、その指定期間内である平成１２年５月２日に訂正請求（後日取下げ）がなされた後、再度の取消理由通知がなされ、その指定期間内である平成１２年７月１３日に訂正請求がなされたものである。
２．訂正の適否
（１）訂正の内容
　特許権者の求めている訂正の内容は、以下のとおりである（訂正箇所にアンダーラインを付した。）。
　ａ．訂正事項ａ
　特許請求の範囲の
「【請求項１】　レーザビームを発生するレーザ発生源と、このレーザ発生源からのレーザビームを偏光する偏光手段と、この偏光手段により偏光されたレーザビームを受光する像担持体の近傍に配置された同期信号発生手段とを具備する画像形成装置において、
　前記レーザ発生源により発生されるレーザビームの光量に対応する電圧値を検出する検出手段と、
前記レーザ発生源により発生されるレーザビームの光量に対応した電圧値を種々設定する設定手段と、
　この設定手段で設定された電圧値と前記検出手段で検出した電圧値との差信号を出力する出力手段と、
　この出力手段からの出力信号をサンプルホールドするサンプルホールド手段と、
　このサンプルホールド手段により上記出力手段からの出力信号をホールドしている際、上記出力手段と上記サンプルホールド手段とを切断する切断手段と、
　前記像担持体にレーザビームが走査される際は、前記サンプルホールド手段によるサンプルホールド値に基づいた強度でレーザビームを発生させ、かつ、前記同期信号発生手段にレーザビームが走査される際は、このレーザビームの強度を一定に制御する制御手段と、
　を有することを特徴とする画像形成装置。」
を、
「【請求項１】　レーザビームを発生するレーザ発生源と、このレーザ発生源からのレーザビームを偏
向
向
向
向
　前記レーザ発生源により発生されるレーザビームの光量に対応する電圧値を検出する検出手段と、
　前記レーザ発生源により発生されるレーザビームの光量に対応した電圧値を種々設定する設定手段と、
　この設定手段で設定された電圧値と前記検出手段で検出した電圧値との差信号を出力する出力手段と、
　
サンプル信号をオンにする制御を行う第１の制御手段と、
この第１の制御手段で制御されるサンプル信号がオンとなった際、前記出力手段から出力される差信号を増幅するトランジスタと、　前記第１の制御手段で制御されるサンプル信号がオンとなった際、ゲートがオンとなる電界効果トランジスタと、　この電界効果トランジスタのゲートがオンとなった際、前記トランジスタで増幅された差信号を前記電界効果トランジスタを介してサンプルホールドするコンデンサと、　このコンデンサで前記差信号をサンプルホールドした際、前記第１の制御手段の制御でオンになっているサンプル信号をオフにして、前記電界効果トランジスタをオフにするとともに前記トランジスタもオフにする制御を行う第２の制御手段と、
前記コンデンサにサンプルホールドされたホールド
第３
を有することを特徴とする画像形成装置。」
と訂正する。
ｂ．訂正事項ｂ      
　段落番号００１９の
「【課題を解決するための手段】
　本発明の画像形成装置は、・・・とを具備している。」
を、
「【課題を解決するための手段】
　本発明の画像形成装置は、レーザビームを発生するレーザ発生源と、このレーザ発生源からのレーザビームを偏
向
向
向
向
サンプル信号をオンにする制御を行う第１の制御手段と、この第１の制御手段で制御されるサンプル信号がオンとなった際、前記出力手段から出力される差信号を増幅するトランジスタと、前記第１の制御手段で制御されるサンプル信号がオンとなった際、ゲートがオンとなる電界効果トランジスタと、この電界効果トランジスタのゲートがオンとなった際、前記トランジスタで増幅された差信号を前記電界効果トランジスタを介してサンプルホールドするコンデンサと、このコンデンサで前記差信号をサンプルホールドした際、前記第１の制御手段の制御でオンになっているサンプル信号をオフにして、前記電界効果トランジスタをオフにするとともに前記トランジスタもオフにする制御を行う第２の制御手段と、
コンデンサにサンプルホールドされたホールド
第３
と訂正する。
ｃ．訂正事項ｃ
　段落番号００２０の
「【作用】
　本発明は、・・・ようにしたものである。」を、
「【作用】
　本発明は、レーザ発生源により発生されるレーザビームの光量に対応する電圧値と、設定手段により設定された電圧値との差信号を出力手段で出力し、
第１の制御手段で制御されるサンプル信号がオンとなった際、前記出力手段から出力される差信号をトランジスタで増幅し、電界効果トランジスタのゲートがオンとなって前記トランジスタで増幅された差信号を前記電界効果トランジスタを介してコンデンサでサンプルホールドし、このコンデンサで前記差信号をサンプルホールドした際、前記サンプル信号をオフにして前記電界効果トランジスタをオフにするとともに前記トランジスタもオフにしてホールド値が放電されないようにし、
コンデンサにサンプルホールドされたホールド
と訂正する。
ｄ．訂正事項ｄ
　段落番号００２２の
「図２に示す本実施例・・・具備している。」を、
「図２に示す本実施例の画像形成装置におけるレーザ光学系は、従来例と同様な構成のレーザ発生源としての半導体レーザ１と、コリメータレンズ２、ポリゴンミラー３、非球面レンズ４および非球面トーリックレンズ５からなる偏
向
と訂正する。
（２）訂正の目的の適否、新規事項の有無及び拡張・変更の存否
　上記訂正事項ａにおける「偏光」（４箇所）を「偏向」と訂正することに関連する記載として、願書に添付した明細書（以下、特許明細書という。）には、「図２に示す本実施例の画像形成装置におけるレーザ光学系は、従来例と同様な構成のレーザ発生源としての半導体レーザ１と、コリメータレンズ２、ポリゴンミラー３、非球面レンズ４および非球面トーリックレンズ５からなる偏光手段と、水平同期反射ミラー６、同期信号発生手段としての水平同期受光部７および像担持体としての感光体１０を具備している。」（段落番号００２２）と記載され、図２に画像形成装置のレーザ光学系を説明するための図が記載されている。
　該記載により、「偏光手段」を構成するとされる、「コリメータレンズ２、ポリゴンミラー３、非球面レンズ４および非球面トーリックレンズ５」は、いずれも、レーザビームから直線偏光成分等を取り出す偏光手段ではなく、これらは、レーザ発生源としての半導体レーザ１からのレーザビームを、水平同期反射ミラー６、同期信号発生手段としての水平同期受光部７および像担持体としての感光体１０に入射させるためにその方向を曲げたりする偏向手段であることは、当業者にとって自明のことと認められるから、該記載における「偏光手段」は、「偏向手段」の誤記（該記載は、上記訂正事項ｄで訂正された）であることが明らかであり、また、該記載に対応している請求項１に記載の「偏光」も「偏向」の誤記であることは明らかである。
　また、上記訂正事項ａにおける「サンプル信号・・・第２の制御手段と、・・・コンデンサにサンプルホールドされたホールド」という事項に関する記載として、特許明細書には、「トランジスタＱ４のベースに制御部１１からのサンプル信号が入力されるようになっていて、サンプル信号がオフの時は強制的にオフになるようにしている。つまり、サンプル信号がオフの時は、トランジスタＱ４もオフ、トランジスタＦＥＴ１もオフとなり、トランジスタＦＥＴ１の中の寄生ダイオードＤは、トランジスタＱ４がオフ、すなわち、トランジスタＱ４のコレクタ電位がハイレベルのため同じくオフとなるので放電を防ぐことができる。こうしてサンプルホールド部１７内のトランジスタＦＥＴ１の寄生ダイオードＤによる放電を防ぐことができる。」（段落番号００３７）と記載されている。
　してみると、上記訂正事項ａは、特許明細書に記載されていた範囲内で、特許請求の範囲の誤記を訂正すると共に特許請求の範囲の「サンプルホールド手段」の各構成要素を特定することにより、前記「サンプルホールド手段」を限定したものと認められる。
　また、上記訂正事項ｂ〜ｄは、上記訂正事項ａ伴い、特許請求の範囲の記載と発明の詳細な説明の記載との整合を図るため、発明の詳細な説明の記載を訂正したものである。
　したがって、上記訂正は、特許請求の範囲の減縮、誤記の訂正および不明りょうな記載の釈明に該当し、新規事項の追加に該当せず、実質的に特許請求の範囲を拡張または変更するものでない。
（３）独立特許要件の判断
　訂正明細書の請求項１に係る発明は、下記３．（４）で示すように、特許出願の際独立して特許を受けることができるものと認める。   
（４）むすび
　以上のとおりであるから、上記訂正は、平成６年改正法附則第６条第１項の規定によりなお従前の例によるとされる、平成６年改正法による改正前の特許法第１２６条第１項ただし書、第２項及び第３項の規定に適合するので、当該訂正を認める。
３．特許異議申し立てについての判断
（１）申立の理由の概要
  特許異議申立人金谷昭三は、甲第１号証（特開昭６０−２３３９７８号公報）、甲第２号証（特開昭５８−１３４６６８号公報）及び甲第３号証（特開平１−２０９８７１号公報）を提出し、本件請求項１に係る発明は、これらに記載された発明から当業者が容易に発明をすることができたものである旨の主張（主張Ａ）をすると共に、請求項１における「偏光」という記載は、発明の詳細な説明における偏向手段である「ポリゴンミラー」に対応しなく、請求項１に発明の構成に欠くことができない事項のみが記載されていないから、明細書の記載が不備である旨の主張（主張Ｂ）をしている。
（２）本件請求項１に係る発明
　本件請求項１に係る発明（以下、「本件発明」という。）は、上記訂正によって訂正された上記１．（１）で記載したとおりのものである。
（３）甲各号証とその記載事項
　甲第１号証：特開昭６０−２３３９７８号公報
  第１頁右下欄第７行〜第９行には、「レーザービームにより記録感光体上を走査して外部装置からの情報を前記記録感光体上に記録する記録装置」と記載されている。
　第２頁左下欄第２行〜第４行には、「３０１は、レーザービームによって情報を記録するための感光体」と記載されている。
　第２頁右下欄第６行〜第１７行には、「３１１はデータ制御部より入力されるビデオデータを、前記感光体３０１上にレーザービームを走査、変調して記録するためのレーザースキャナユニット、３１２はレーザーダイオードよりのレーザービームを前記感光体３０１上に導くための８面体のポリゴンミラー、３１３は前記ポリゴンミラー３１２を高速で回転させるための、スキャンモータ、３１４は前記感光体３０１上でのレーザービームの走査速度を一定にするためのｆ・θレンズである。３１５及び３１６は前記スキャナユニット３１１よりのレーザービームを前記感光体３０１に導くための反射ミラーである。」と記載されている。
　第３頁左下欄第３行〜同右下欄第１行には、「第３図に於いて、半導体レーザー３４４より出たレーザービームは、コリメータレンズ３４３によって平行光に補正され、その平行光が、ポリゴンミラー３１３の８面体のある１面に当てられる。ポリゴンミラー３１３は、スキャンモー夕３１２によって、矢印方向に高速回転しているので、前記ポリゴンミラーに入射したレーザービームは、ｆ・θレンズ３１４を通して、ビーム走査範囲３４８の範囲を、左から右方向に走査される。ビーム走査範囲３４８内の一部のレーザービームは、反射ミラー３４５によって、ビーム検出器３４６に導かれる。従って、前記ポリゴンミラー３１３の１面による１回の水平走査毎に前記ビーム検出器３４６は、走査されているレーザービームを検出する。またビーム走査範囲３４８内の反射ミラー３４５に入射されないレーザービームは、前記感光体３０１に照射される。第３図中感光体３０１上のレーザービームが走査される所を３４９に示す。」と記載されている。
　第１７頁右上欄第６行〜第１１行には、「３４４は半導体レーザーダイオードでその構成は発光するレーザーダイオード本体２５９と、レーザーダイオード２５９からの出力ビーム強度をモニターする光検出手段であるモニター用フォトダイオード２６０から成っている。」と記載されている。
　第１７頁左下欄第５行〜同右下欄第３行には、「レーザー２５９からの出力パワーは本レーザープリンタの場合３つのレベルを持っている。第１は用紙上での白地に相当する部分で感光体３０１の帯電された電荷をほぼ完全に除去するための出力Ｐ（ＯＮ）でアナログスイッチ２５４をＯＮすることによりレーザーダイオード２５９は、前記出力Ｐ（ＯＮ）となる。第２は用紙上での黒地に相当する部分で、感光体３０１上の帯電された電荷はそのままにするため出力’０’状態すなわち出力Ｐ（ＯＦＦ）で、アナログスイッチ２５６をＯＮすることにより、レーザ−ダイオード２５９は出力ＯＦＦすなわちＰ（ＯＦＦ）となる。第３は前記第１の出力Ｐ（ＯＮ）と第２出力Ｐ（ＯＦＦ）の間の出力Ｐ（ＳＨ）で１ドットラインの印字濃度を上げるためのものであり、アナログスイッチ２５５をＯＮすることによりレーザーダイオード２５９は、前記出力Ｐ（ＳＨ）となる（Ｐ（ＳＨ）の詳細については後述する）。」と記載されている。
　第１８頁右上欄第１２行〜同左下欄第９行には、「ＡＮＡＬＯＧ−ＩＮＰＵＴはサンプルするアナログ電圧入力、ＳＡＭＰＬＥＣはホールド用コンデンサＣ０８の接続端子、ＳＴＲＯＢＥはサンプリングのストローブ信号端子であり、サンプルストローブ信号Ｓ４６に接続されている。２３７はＦＥＴ入力のオペアンプでありボルテージフォロア回路を構成している。Ｄ０３はツェーナダイオードでレーザーダイオード２５９の出力が最大定格以内になるように規制している。また抵抗Ｒ４０とコンデンサＣ０７で積分回路を構成しており、抵抗Ｒ４１は前記コンデンサＣ０７の電荷を一定の割合で放電させる放電用抵抗である。２３６はアナログスイッチでありそのゲート（Ｇ）はバッファ２４４に接続されておりバッファ２４４の入力にはサンプル信号Ｓ４５が入力される。２５３はレベル変換用のトランジスタ、Ｒ３９は前記コンデンサＣ０７への充電時の電流制限抵抗として働く。」と記載されている。
　第１８頁左下欄第１５行〜同右下欄第２行には、「２３２は、レーザーダイオード２５９からの光出力を検出するフォトダイオード２６０の出力の増幅器であり、電流−電圧変換手段として供するものである。抵抗Ｒ３２、Ｒ３３、ＶＲＯ１は前記オペアンプ２３２の増幅度を規制する抵抗である。従って、ボリュームＶＲＯ１を変化することによりオぺアンプ２３２の増幅度を変化させることができる。」と記載されている。
　第１９頁左上欄第９行〜同右上欄第１０行には、「設定電圧は、アナログスイッチ２４０又は２４１のどちらか一方から与えられる。すなわち、アナログスイッチ２４０は前記レーザー出力Ｐ（ＯＮ）の設定時にＯＮとなりボルテージフォロア２３９の出力電圧が前記コンパレータ２３４の一側入力に印加される。ボルテージフォロア２３９の入力端子には、第１の電圧可変手段であるメイン露光調整ボリューム３６０と抵抗Ｒ４５によって分圧されて電圧が入力されており、前記メイン露光調整ボリューム３６０を可変することによりコンパレー夕２３４の一側端子の電圧も変化する。またアナログスイッチ２４１は前記レーザー出力Ｐ（ＳＨ）の設定時にＯＮとなり、前記ボルテージフォロア２３９の出力電圧を抵抗Ｒ４６と第２の電圧可変手段であるシャドウ露光調整ボリューム３６１によって分圧された電圧が前記コンパレータ２３４の一側入力端子に与えられる。上記のボルテージフォロア２３９、アナログスイッチ２４０、２４１、メイン露光調整ボリューム３６０、抵抗Ｒ４５，シャドウ露光調整ボリューム３６１、抵抗Ｒ４６で光出力設定手段を構成している。」と記載されている。
　第２１頁右下欄第１７行〜第２２頁左上欄第２行には、「サンプルタイマーは後述するレーザービーム検出信号が来るたびに一定の周期Ｔで次々にトリガーされ、前記印字データの書込み動作以外の部分すなわち第２０図ａの区間のみサンプリング信号Ｓ４５を出力する。」と記載されている。
　甲第２号証：特開昭５８−１３４６６８号公報
　第３頁右上欄第１９行〜同左下欄第２行には、「フォトダイオード１１を有する光量測定部１０によって測定されたレーザビームの光量は、誤差検出部２０において基準値と比較されて誤差が検出され、」と記載されている。
　第３頁右下欄第１０行〜第１５行には．「この誤差検出部２０は、前記光量測定部１０からの信号を電源２４の基準電圧から差し引く減算を行い、測定した光量が必要とされるレーザビームの光量からどの程度ずれているか検出する機能を有している。」と記載されている。
　甲第３号証：特開平１−２０９８７１号公報
　第３頁左下欄第５行〜第１１行には、「１１は光出力高レベル判定部、１２は光高出力制御部であってその構成は、それぞれ従来例の光出力レベル判定部６，光出力制御部７と同じであるが、前者は光出力設定レベルとして印加される電圧Ｖ２は前記電圧Ｖ１より十分高い所要レベルの値が設定されており、後者はタイミング信号Ｂが印加される。」と記載されている。
　第３頁右下欄第６行〜第１５行には、「タイミング信号Ｂはレーザプリンタ装置が１ライン毎に走査するに際し、用紙左端の書きだし位置を検知するために１ライン毎に出力されるタイミング信号Ａに追加されたパルス信号であって、このタイミング信号Ｂが有効レベルとなった時点のみ前記レーザ光の出射レベルすなわち、光出力レベル検知部５の出力が前記光出力設定レベルＶ２に等しくなるように光高出力制御部１２はレベル制御を行い、ドライバアンプ８を介して半導体レーザ１から高レベルの出射光を出力させる。」と記載されている。
　第４頁左上欄第１３行〜第１８行には、「本方式の採用により印字時には半導体レーザは印字濃度に応じた低出力レベルで発光し、用紙左端の書きだし位置においては高出力レベルで発光するためＳ／Ｎの良好な検知信号が得られ、さらに高出力レベル発光時においても光出力制御が行われるため安定した検知信号が得られる。」と記載されている。
（４）対比・判断
　本件請求項１に係る発明と異議申立人が提出した甲各号証記載の発明と対比すると、甲各号証のいずれにも、本件発明の構成要件である「サンプルホールドするコンデンサで差信号をサンプルホールドした際、オンになっているサンプル信号をオフにして、サンプル信号がオンとなった際、ゲートがオンとなる電界効果トランジスタをオフにするとともに差信号を増幅するトランジスタもオフにする制御を行う第２の制御手段」を有する点について、記載も示唆もされていない。
　そして、本件発明は、かかる点により、「トランジスタで増幅された差信号を電界効果トランジスタを介してコンデンサでサンプルホールドし、このコンデンサで前記差信号をサンプルホールドした際、サンプル信号をオフにして前記電界効果トランジスタをオフにするとともに前記トランジスタもオフにしてホールド値が放電されないようにし、像担持体にレーザビームが走査される際は、前記コンデンサにサンプルホールドされたホールド値に基づいた強度でレーザビームを発生させ」るという甲各号証に記載されていない作用効果を生じるものと認められる。
　ところで、この点に関して、異議申立人は、「甲第２号証において、サンプルホールド部３０のＯＰアンプ３２はタイミング発生部４０の信号に応じてサンプルとホールドを切り替え可能なこと、ホールド時はＯＰアンプ側からコンデンサ３６の電流の流出がなく、ＦＥＴ３５の側からのみ微少な電流の流出があると記載されていることから、ＯＰアンプ３２は内部にＦＥＴのスイッチを含み、タイミング発生部４０の出力に応じて動作とＨｉ−Ｚを切り替え可能な構成となっているとは同業者であれば容易に類推可能であり、切断手段の構成として、寄生ダイオードによる放電防止を含む構成を含ませたとしても進歩性をでるものでない。」（特許異議申立書第１２頁第６〜１４行）と主張している。
　そこで、この主張についても検討すると、甲第２号証には、「ＯＰアンプ３２」の内部にＦＥＴのスイッチを含む構成は示唆されているといえても、差信号を増幅するトランジスタを備え、該トランジスタを、サンプルホールド時に、ＦＥＴのスイッチをオフにするとともにオフにすることが記載も示唆もされおらず、しかも、ＦＥＴに寄生ダイオードが発生して、「コンデンサ３６」の電荷が放電してしまうという問題自体の認識も記載も示唆もされていない。
　それゆえ、上記異議申立人の主張は妥当なものといえない。
　したがって、本件発明は、甲各号証に記載されたものから当業者が容易に発明をすることができたものといえず、異議申立人の上記主張Ａは採用することができない。
（５）主張Ｂについて
　本件請求項１に係る発明は上記ａ、ｂ、ｄの訂正により明確となったから、本件請求項１に係る発明の特許は、特許法第３６条第５項第２号に規定する要件を満たす特許出願に対してなされたものである。
　ゆえに、この主張Ｂも採用することができない
４．むすび
　以上のとおりであるから、特許異議の申立ての理由によっては本件発明についての特許を取り消すことはできない。
　また、他に本件発明についての特許を取り消すべき理由を発見しない。
　したがって、本件発明についての特許は拒絶の査定をしなければならない特許出願に対してされたものと認めない。
　よって、特許法等の一部を改正する法律（平成６年法律第１１６号）附則第１４条の規定に基づく、特許法等の一部を改正する法律の施行に伴う経過措置を定める政令（平成７年政令第２０５号）第４条第２項の規定により、上記のとおり決定する。　　
【異議決定日】
平成１２年７月２７日（２０００．７．２７）
【訂正の要旨】
　訂正の要旨
ａ．訂正事項ａ
　特許請求の範囲の
「【請求項１】　レーザビームを発生するレーザ発生源と、このレーザ発生源からのレーザビームを偏光する偏光手段と、この偏光手段により偏光されたレーザビームを受光する像担持体の近傍に配置された同期信号発生手段とを具備する画像形成装置において、
　前記レーザ発生源により発生されるレーザビームの光量に対応する電圧値を検出する検出手段と、
前記レーザ発生源により発生されるレーザビームの光量に対応した電圧値を種々設定する設定手段と、
　この設定手段で設定された電圧値と前記検出手段で検出した電圧値との差信号を出力する出力手段と、
　この出力手段からの出力信号をサンプルホールドするサンプルホールド手段と、
　このサンプルホールド手段により上記出力手段からの出力信号をホールドしている際、
上記出力手段と上記サンプルホールド手段とを切断する切断手段と、
　前記像担持体にレーザビームが走査される際は、前記サンプルホールド手段によるサンプルホールド値に基づいた強度でレーザビームを発生させ、かつ、前記同期信号発生手段にレーザビームが走査される際は、このレーザビームの強度を一定に制御する制御手段と、
　を有することを特徴とする画像形成装置。」
を、
「【請求項１】　レーザビームを発生するレーザ発生源と、このレーザ発生源からのレーザビームを偏向する偏向手段と、この偏向手段により偏向されたしレザビームを受光する像担持体の近傍に配置された同期信号発生手段とを具備する画像形成装置において、
　前記レーザ発生源により発生されるレーザビームの光量に対応する電圧値を検出する検出手段と、
　前記レーザ発生源により発生されるレーザビームの光量に対応した電圧値を種々設定する設定手段と、
　この設定手段で設定された電圧値と前記検出手段で検出した電圧値との差信号を出力する出力手段と、
　サンプル信号をオンにする制御を行う第１の制御手段と、
　この第１の制御手段で制御されるサンプル信号がオンとなった際、前記出力手段から出力される差信号を増幅するトランジスタと、
　前記第１の制御手段で制御されるサンプル信号がオンとなった際、ゲートがオンとなる電界効果トランジスタと、
　この電界効果トランジスタのゲートがオンとなった際、前記トランジスタで増幅された差信号を前記電界効果トランジスタを介してサンプルホールドするコンデンサと、
　このコンデンサで前記差信号をサンプルホールドした際、前記第１の制御手段の制御でオンになっているサンプル信号をオフにして、前記電界効果トランジスタをオフにするとともに前記トランジスタもオフにする制御を行う第２の制御手段と、
　前記像担持体にレーザビームが走査される際は、前記コンデンサにサンプルホールドされたホールド値に基づいた強度でレーザビームを発生させ、かつ、前記同期信号発生手段にレーザビームが走査される際は、このレーザビームの強度を一定に制御する第３の制御手段と、
を有することを特徴とする画像形成装置。」
と訂正する。
ｂ．訂正事項ｂ
　段落番号００１９の
「【課題を解決するための手段】
　本発明の画像形成装置は、・・・とを具備している。」
を、
「【課題を解決するための手段】
　本発明の画像形成装置は、レーザビームを発生するレーザ発生源と、このレーザ発生源からのレーザビームを偏向する偏向手段と、この偏向手段により偏向されたレーザビームを受光する像担持体の近傍に配置された同期信号発生手段とを具備する画像形成装置において、前記レーザ発生源により発生されるレーザビームの光量に対応する電圧値を検出する検出手段と、前記レーザ発生源により発生されるレーザビームの光量に対応した電圧値を種々設定する設定手段と、この設定手段で設定された電圧値と前記検出手段で検出した電圧値との差信号を出力する出力手段と、サンプル信号をオンにする制御を行う第１の制御手段と、この第１の制御手段で制御されるサンプル信号がオンとなった際、前記出力手段から出力される差信号を増幅するトランジスタと、前記第１の制御手段で制御されるサンプル信号がオンとなった際、ゲートがオンとなる電界効果トランジスタと、この電界効果トランジスタのゲートがオンとなった際、前記トランジスタで増幅された差信号を前記電界効果トランジスタを介してサンプルホールドするコンデンサと、このコンデンサで前記差信号をサンプルホールドした際、前記第１の制御手段の制御でオンになっているサンプル信号をオフにして、前記電界効果トランジスタをオフにするとともに前記トランジスタもオフにする制御を行う第２の制御手段と、前記像担持体にレーザビームが走査される際は、前記コンデンサにサンプルホールドされたホールド値に基づいた強度でレーザビームを発生させ、かつ、前記同期信号発生手段にレーザビームが走査される際は、このレーザビームの強度を一定に制御する第３の制御手段とを具備している。」
と訂正する。
ｃ．訂正事項ｃ
　段落番号００２０の
「【作用】
　本発明は、・・・ようにしたものである。」
を、
「【作用】
　本発明は、レーザ発生源により発生されるレーザビームの光量に対応する電圧値と、設定手段により設定された電圧値との差信号を出力手段で出力し、第１の制御手段で制御されるサンプル信号がオンとなった際、前記出力手段から出力される差信号をトランジスタで増幅し、電界効果トランジスタのゲートがオンとなって前記トランジスタで増幅された差信号を前記電界効果トランジスタを介してコンデンサでサンプルホールドし、このコンデンサで前記差信号をサンプルホールドした際、前記サンプル信号をオフにして前記電界効果トランジスタをオフにするとともに前記トランジスタもオフにしてホールド値が放電されないようにし、像担持体にレーザビームが走査される際は、前記コンデンサにサンプルホールドされたホールド値に基づいた強度でレーザビームを発生させ、かつ、同期信号発生手段にレーザビームが走査される際は、このレーザビームの強度を一定に制御するようにしたものである。」
と訂正する。
ｄ．訂正事項ｄ
　段落番号００２２の
「図２に示す本実施例・・・具備している。」とを、
「図２に示す本実施例の画像形成装置におけるレーザ光学系は、従来例と同様な構成のレーザ発生源としての半導体レーザ１と、コリメータレンズ２、ポリゴンミラー３、非球面レンズ４および非球面トーリックレンズ５からなる偏向手段と、水平同期反射ミラー６、同期信号発生手段としての水平同期受光部７および像担持体としての感光体１０を具備している。」
と訂正する。
（５４）【発明の名称】
画像形成装置
（５７）【特許請求の範囲】
　【請求項１】　レーザビームを発生するレーザ発生源と、このレーザ発生源からのレーザビームを偏
向
向
向
向
　前記レーザ発生源により発生されるレーザビームの光量に対応する電圧値を検出する検出手段と、
　前記レーザ発生源により発生されるレーザビームの光量に対応した電圧値を種々設定する設定手段と、
　この設定手段で設定された電圧値と前記検出手段で検出した電圧値との差信号を出力する出力手段と、
　
サンプル信号をオンにする制御を行う第１の制御手段と、
　
この第１の制御手段で制御されるサンプル信号がオンとなった際、前記出力手段から出力される差信号を増幅するトランジスタと、
　
前記第１の制御手段で制御されるサンプル信号がオンとなった際、ゲートがオンとなる電界効果トランジスタと、
　
この電界効果トランジスタのゲートがオンとなった際、前記トランジスタで増幅された差信号を前記電界効果トランジスタを介してサンプルホールドするコンデンサと、
　
このコンデンサで前記差信号をサンプルホールドした際、前記第１の制御手段の制御でオンになっているサンプル信号をオフにして、前記電界効果トランジスタをオフにするとともに前記トランジスタもオフにする制御を行う第２の制御手段と、
　前記像担持体にレーザビームが走査される際は、前記
コンデンサにサンプルホールドされたホールド
第３の
　を有することを特徴とする画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
　【０００１】
　【産業上の利用分野】
　本発明は、レーザプリンタ，レーザ複写機等に適用される画像形成装置に関する。
　【０００２】
　【従来の技術】
　レーザプリンタ，レーザ複写機等のレーザビームを用いる画像形成装置では、レーザビームをオン，オフして感光体表面に静電潜像を形成し、電子写真方式により画像形成を行なっている。
　【０００３】
　図１２に従来の画像形成装置内部のレーザ光学系を示す。同図において半導体レーザ５１からのレーザビームは、コリメータレンズ５２によって楕円形の平行ビームに拡大され、ポリゴンミラー５３に入射する。
　【０００４】
　ポリゴンミラー５３はミラーモータ（図示していない）によって矢印方向に回転し、このポリゴンミラー５３からの反射光は非球面レンズ５４，非球面トーリックレンズ５５を通って５０ないし８０μｍ程度のレーザビームにしぼられ、ポリゴンミラー５３の回転に伴って非画像領域を通り次に水平同期反射ミラー５６で反射され、水平同期受光部５７に入射する。
　【０００５】
　次に、ポリゴンミラー５３の回転に伴ってレーザビームは画像領域にある感光体６０に入射し、さらに非画像領域を通過していく。
　【０００６】
　なお、レーザビームは図１２において左から右に走査されるものとする。
　【０００７】
　ここで、前記非球面レンズ５４は、ポリゴンミラー５３からの反射光の角速度の相違を補正するものであり、また、前記非球面トーリックレンズ５５はポリゴ
ンミラー５３の各面の精度（垂直性等）の違いによる反射ずれを補正するものである。
　【０００８】
　前記ポリゴンミラー５３の各面ごとに、レーザビームは図１３に示すタイミングチャートに従って制御され、非画像領域から、画像領域、非画像領域の順に走査される。
　【０００９】
　次に図１３に示すタイミングチャートについて説明する。前記ポリゴンミラー５３が回転し始めたときは、その反射面がどこを向いているかわからない。非画像領域を向いている場合もあるし、画像領域を向いている場合もある。
　【００１０】
　そこで、まず半導体レーザ５１をオン（図１３のレーザ強制点灯）させてから水平同期信号（ＨーＳＹＮＣ）が発生するまでオン状態を続け、水平同期信号発生後レーザ強制点灯信号をオフにする。
　【００１１】
　次に、画像データを前記半導体レーザ５１へ送り、この画像データに従って半導体レーザ５１をオン，オフさせて感光体６０上に静電潜像を形成する。これは前記ポリゴンミラー５３の反射面と画像データとの同期を取るために行ない、一度水平同期信号が発生した段階で非画像領域においてレーザ強制点灯を行ない、画像領域では画像データに従ってレーザをオン，オフさせる動作を繰り返す。
　【００１２】
　ここで、レーザビームは、そのレーザ強度を図１３に示すレーザ制御電圧に従って変えることにより、従来においてはユーザが好みの画像の濃さに設定できるようになっており、上述した非画像領域、画像領域ともレーザ制御電圧は同じであった。
　【００１３】
　このため、レーザ制御電圧を下げていくと図１２に示す水平同期受光部５７に入射するレーザビームも画像領域と同じように弱くなり、このため、前記水平同期信号が発生しない場合があった。たとえば、線の太いゴシック文字の場合、線
をつぶさずに印字するためには、レーザ制御電圧を２Ｖ以下に下げる必要があり、逆に水平同期受光部が水平同期信号を発生するためには、レーザ制御電圧を２〜３Ｖ以上にする必要があった。また、ＣＡＤ装置の出力用としてレーザプリンタを使用した場合、図形を鮮明に印字するためには、濃度を上げる必要がありレーザ制御電圧として８〜１０Ｖが必要で、レーザ制御電圧を上げていくと水平同期反射ミラー以外の迷光により水平同期信号の波形が乱れるという問題があった。
　【００１４】
　そこで、この対策として水平同期受光部５７に入射するレーザビーム強度を画像領域とは別にして設定することが考えられる。この場合、半導体レーザの温度補正をするため、レーザビームが走査する間の非画像領域のいずれかでレーザビーム強度をサンプリングして、それを基準値と比較して補正し、画像領域でのレーザビーム強度を一定にする必要がある。前述のように水平同期受光部５７に入射するレーザビーム強度を独立に設定した場合、従来はサンプリングを非画像領域のどこでも行なえたが、独立に設定することにより、どこでサンプリングを行なうかの問題がある。
　【００１５】
　また図１４は従来のレーザサンプリング回路で、半導体レーザによって発生さ
れるレーザビームの光量に対応する電圧値と、ユーザにより設定される濃度に対
応して出力される基準光量としての基準電圧とを比較部６１で比較し、その差を
増幅部６２で増幅し、サンプルホールド部６３内のトランジスタＦＥＴ１をオン
にして、サンプルホールド用コンデンサＣ２に充電して保持していた。ところが、トランジスタＦＥＴ１には寄生ダイオード６４があり、トランジスタＦＥＴ１をオフにしてもレーザビームが基準値より大きい場合は、増幅部６２のトランジスタＱ４がオンし、サンプルホールド部６３のコンデンサＣ２の電荷を放電してしまうという、寄生ダイオード６４による放電が大きな問題になる。この結果、ユーザが設定した濃度よりも薄く印字されてしまうという問題があった。
　【００１６】
　【発明が解決しようとする課題１
　従来は、上述のように、レーザ制御電圧の可変範囲（下限）が水平同期信号を
水平同期受光部が発生できる下限電圧で決まっていたため、ユーザが画像濃度を下げるにも限界があり、たとえば、線の太いゴシック文字は、濃度が下げられないため、文字がつぶれるなどの問題があった。また、ＣＡＤ装置の出力用としてレーザプリンタを使用した場合、図形を鮮明に印字するためには、濃度を上げる必要がありレーザ制御電圧として８〜１０Ｖが必要であるが、これだけレーザ制御電圧を上げると水平同期反射ミラー以外の迷光により水平同期信号の波形が乱れるという問題があった。
　【００１７】
　また、画像領域と非画像領域とをそれぞれ独立させてレーザビーム強度を設定した場合、レーザビーム強度を一定にするためのサンプリングの実行の問題と、寄生ダイオードによる放電の問題がある。特に寄生ダイオードによる放電によってユーザが設定した濃度よりも薄く印字されてしまうという問題があった。
　【００１８】
　そこで、本発明は、水平同期信号を適確に得て、ユーザが、レーザビームの強度を画質の劣化を招かない範囲で種々に可変でき、なおかつ、適正な印字濃度を確保することのできる画像形成装置を提供することを目的とする。
　【００１９】
　【課題を解決するための手段】
　本発明の画像形成装置は、レーザビームを発生するレーザ発生源と、このレーザ発生源からのレーザビームを偏
向
向
向
向
サンプル信号をオンにする制御を行う第１の制御手段と、この第１の制御手段で制御されるサンプル信号がオンとなった際、前記出力手段から出力される差信号を増幅するトランジスタと、前記第１の制御手段で制御されるサンプル信号がオンとなった際、ゲートがオンとなる電界効果トランジスタと、こ
の電界効果トランジスタのゲートがオンとなった際、前記トランジスタで増幅された差信号を前記電界効果トランジスタを介してサンプルホールドするコンデンサと、このコンデンサで前記差信号をサンプルホールドした際、前記第１の制御手段の制御でオンになっているサンプル信号をオフにして、前記電界効果トランジスタをオフにするとともに前記トランジスタもオフにする制御を行う第２の制御手段と、
コンデンサにサンプルホールドされたホールド
第３の
　【００２０】
　【作用】
　本発明は、レーザ発生源により発生されるレーザビームの光量に対応する電圧値と、設定手段により設定された電圧値との差信号を出力手段で出力し、
第１の制御手段で制御されるサンプル信号がオンとなった際、前記出力手段から出力される差信号をトランジスタで増幅し、電界効果トランジスタのゲートがオンとなって前記トランジスタで増幅された差信号を前記電界効果トランジスタを介してコンデンサでサンプルホールドし、このコンデンサで前記差信号をサンプルホールドした際、前記サンプル信号をオフにして前記電界効果トランジスタをオフにするとともに前記トランジスタもオフにしてホールド値が放電されないようにし、
コンデンサにサンプルホールドされたホールド
　【００２１】
　【実施例】
　以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明する。
　【００２２】
　図２に示す本実施例の画像形成装置におけるレーザ光学系は、従来例と同様な構成のレーザ発生源としての半導体レーザ１と、コリメータレンズ２、ポリゴン
ミラー３、非球面レンズ４および非球面トーリックレンズ５からなる偏向手段と、水平同期反射ミラー６、同期信号発生手段としての水平同期受光部７および像担持体としての感光体１０を具備している。
　【００２３】
　図１は、本発明に係る半導体レーザ１を制御するレーザ制御回路の構成を示すものである。このレーザ制御回路は全体のシーケンスを制御するマイクロプロセッサにより構成した制御手段を構成する制御部１１を具備し、画像領域と水平同期検出領域におけるレーザビーム強度を別にしている。すなわち、制御部１１は、ミラーモータ１２をオン，オフ制御するとともに、第１の基準光量設定部１３に設定用パルスを送り、レーザ制御電圧を設定するようになっている。
　【００２４】
　まず、画像領域でのレーザビーム強度の設定について説明する。すなわち、第１の基準光量設定部１３は、後述する積分回路で前記パルレス信号を直流信号に変換して第１の比較部１４に送るとともに、その積分回路からの直流信号を制御部１１へ返送するようになっている。制御部１１は、やはり図示しないＡ／Ｄコンバータで所定のレーザ制御電圧になっているか否かをチェックするようになっている。
　【００２５】
　第１の比較部１４は、半導体レーザ１のレーザビーム（光出力）とレーザ制御電圧とを比較し、両電圧の差を第１の増幅部１５に出力する。第１の増幅部１５は、第１の比較部１４からの出力を増幅する。
　【００２６】
　半導体レーザ１からのレーザビームは、この半導体レーザ１と一体になっている後述する光量検出部１６のフォトダイオードＰＤに送られ、電圧に変換された後、第１の比較部１４に与えられるようになっている。
　【００２７】
　第１の比較部１４と半導体レーザ１との間には、第１の増幅部１５、オペアンプからなるサンプルホールド部１７、第１の電流増幅部１８および第１のレーザスイッチング部１９が接続されている。サンプルホールド部１７は、図２に示す
非画像領域における半導体レーザ１の光出力の温度補正を行なうために、第１の増幅部１５の出力をサンプルホールドするようになっている。第１の電流増幅部１８は、サンプルホールド部１７からの電流を増幅するようになっている。第１のレーザスイッチング部１９は、制御部１１からの画像データまたは第１のレーザ強制点灯信号に従って半導体レーザ１に流れる電流をオン，オフするようになっている。
　【００２８】
　また、制御部１１からのサンプル信号は、第１の増幅部１５と第１のサンプルホールド部１７の両方をオン，オフさせるようになっている。サンプル信号がアクティブになった場合、第１の比較部１４の出力が、第１の増幅部１５で増幅されてサンプルホールド部１７へ送られるようになっている。
　【００２９】
　制御部１１に接続された操作手段としての操作部２０は、ユーザが印字濃度を変える場合に操作信号を入力するオペレーションパネルである。
　【００３０】
　次に、水平同期受光部７に入射するレーザビーム強度の設定について説明する。すなわち、第２の基準光量設定部２１は、水平同期信号を発生させるとき半導体レーザ１に与える電圧を設定する部分で、水平同期受光部７の水平同期信号発生に適当な電圧が設定されている。第２の基準光量設定部２１の出力は、第２の比較部２２に送られる。第２の比較部２２は、第２の基準光量設定部２１の設定電圧と光量検出部１６からの電圧とを比較し、両電圧の差を第２の増幅部２３に出力する。第２の増幅部２３は、第２の比較部２２の出力を増幅する。第２の増幅部２３の出力は、第２の電流増幅部２４で電流増幅されて第２のレーザスイッチング部２５に送られるようになっている。
　【００３１】
　第２のレーザスイッチング部２５は、水平同期信号発生領域で半導体レーザ１をオンさせるためのものである。
　【００３２】
　以上、説明したように、水平同期受光部７に入射するレーザビーム強度の設定
は、画像領域と違いレーザビーム強度をサンプルホールドせずに光量検出部１６の出力を常にフィードバックするようになっている。これは、画像領域と水平同期信号発生領域では、基準光量が違うためで、水平同期信号発生領域用のサンプルホールド領域を別に設けたいが、サンプルホールドのための非画像領域がないため、光量検出部１６の出力と基準値の比較結果を第２のレーザスイッチング部２５にフィードバックしている。水平同期受光部７は、ある一定のレーザビーム強度以上が与えられれば水平同期信号が得られるので、画像領域のように、常に一定のレーザビーム強度である必要はない。画像領域と水平同期信号発生領域でレーザドライブ回路がそれぞれ必要なのは、基準光量が違うためと、画像領域では一定光量にするためのサンプルホールド回路を設けるためである。
　【００３３】
　次に、レーザ制御回路の詳細を図３を参照して説明する。すなわち、第１の基準光量設定部１３は、制御部１１からの設定用パルスを取り込んで、抵抗Ｒ３０，コンデンサＣ３０で積分処理し、さらにオペアンプＩＣ３で増幅してレーザ制御電圧を作成するようになっている。第１の基準光量設定部１３からのレーザ制御電圧は、コンパレータ構成の第１の比較部１４に送られるとともに、制御部１１のＡ／Ｄ入力（アナログーディジタル変換入力）端子にも送られ、これにより制御部１１は、前記設定用パルスが所望の値になるようにこの設定用パルスのデューティ比を調整するようになっている。
　【００３４】
　第１の比較部１４は、第１の基準光量設定部１３からのレーザ制御電圧と光量検出部１６の出力電圧とを比較し、両電圧の差を第１の増幅部１５に出力するようになっている。第１の増幅部１５は、第１の比較部１４の出力をトランジスタＱ４で増幅している。
　【００３５】
　光量検出部１６は、半導体レーザ１と一体になっているフォトダイオードＰＤの出力信号をオペアンプＩＣ４で増幅して第１の比較部１４と第２の比較部２２に出力するようになっている。なお、光量検出部１６のボリュームＶＲ２は、フォトダイオードＰＤの光入力、電流出力のばらつき補正を行なうためのもので
ある。
　【００３６】
　サンプルホールド部１７は、制御部１１から出力されるサンプル信号でトランジスタＦＥＴ１のゲードをオンし、コンデンサＣ２に第１の増幅部１５の出力をホールドするようになっている。サンプルホールド部１７は、トランジスタＦＥＴ１，抵抗Ｒ７，抵抗Ｒ２０，コンデンサＣ２等により構成されている。ただし、寄生ダイオードＤが、トランジスタＦＥＴ１に発生している。この寄生ダイオードＤは、前記コンデンサＣ２にホーノレドした第１の増幅部１５の出力をトランジスタＦＥＴ１をオフにしてもレーザビーム強度が基準値より大きい場合、第１の増幅部１５のトランジスタＱ４を介して放電してしまう。
　【００３７】
　そこで、本実施例では、トランジスタＱ４のベースに制御部１１からのサンプル信号が入力されるようになっていて、サンプル信号がオフの時は強制的にオフになるようにしている。つまり、サンプル信号がオフの時は、トランジスタＱ４もオフ、トランジスタＦＥＴ１もオフとなり、トランジスタＦＥＴ１の中の寄生ダイオードＤは、トランジスタＱ４がオフ、すなわち、トランジスタＱ４のコレクタ電位がハイレベルのため同じくオフとなるので放電を防ぐことができる。こうしてサンプルホールド部１７内のトランジスタＦＥＴ１の寄生ダイオードＤによる放電を防ぐことができる。
　【００３８】
　ここで、寄生ダイオードのあるトランジスタＦＥＴをなぜ用いるのかを説明すると、メカニカルリレーやアナログスイッチを使用すれば確かに寄生ダイオードは発生しないが、大きさ、コスト、動作速度等の別の問題が発生することになる。これらを総合すると、結局、トランジスタＦＥＴを用いることが本実施例のような回路の場合、最適となる。
　【００３９】
　第１の電流増幅部１８は、トランジスタＱ２を含んで構成されている。第１のレーザスイッチング部１９は、トランジスタＱ１，トランジスタＱ５を含んで構成されている。
　【００４０】
　以上が画像領域に対するレーザ制御回路部であるが、水平同期信号発生領域については第２の比較部２２、第２の増幅部２３、第２の電流増幅部２３、第２のレーザスイッチング部２５は、第１の比較部１４、第１の増幅部１５、第１の電流増幅部１８、第１のレーザスイッチング部１９の回路と、それぞれ同じ構成になっているので説明を省略する。こちらの回路構成でサンプルホールド部がないのは、上述したように非画像領域が狭く画像領域のサンプルホールドしかできないためである。非画像領域を広くするためには、図１におけるポリゴンミラー３から感光ドラムまでの光路長をもっと長くすれば良いのであるが、光路長を長くするためにはレーザプリンタ自体を大きくしなければならなくなり、小形化志向に反することになる。本発明のように画像領域のみサンプルホールドすれば、光路長を長くする必要はなくなる。
　【００４１】
　次に、水平同期受光部７について図４，図５を参照して説明する。すなわち、レーザビームは、フォトダイオード３１に入射し、オペアンプ３２，３３により増幅されるようになっている。オペアンプ３２，３３の増幅率は、ゲイン抵抗Ｒ０で決定される。ゲイン抵抗Ｒ０の抵抗値は、小さいほうがオペアンプ３２，３３を飽和させずに使用できることになる。したがって、図５に示すゲイン抵抗Ｒ０の抵抗値とレーザビームの光強度との特性において、ゲイン抵抗Ｒ０の抵抗値は、小さい値に設定される。
　【００４２】
　なお、第１の基準光量設定部１３の設定値は、半導体レーザ１の光出力が３ｍＷ程度になるように選ばれるが、水平同期受光部７においては、半導体レーザ１からのレーザビームは、ポリゴンミラー３，非球面レンズ４，非球面トーリックレンズ５を通過して弱められるので、０．７ｍＷ程度になる。本実施例においては、水平同期受光部７のレーザビーム強度は、第２基準光量設定部２１により適正値に保たれるので従来例と異なり水平同期信号を適確に発生させることができる。
　【００４３】
　ここで、半導体レーザ１の温度補正について説明する。
　【００４４】
　図６に半導体レ「ザ１の光出力と順電流との関係を示す。半導体レーザ１の光出力が３ｍＷになるように第１の基準光量設定部１３の制御電圧Ｖ１＝６Ｖがユーザによって設定されていたとする。温度２５℃のとき４０ｍＡの半導体レーザ電流（順電流１Ｆ）で３ｍＷの出力が得られるが、温度５０℃になると約５０ｍＡの電流を流さないと３ｍＷが得られない。Ｏ℃になると上述した場合と逆に減らす必要がある。図１に示すレーザ制御回路の構成では、制御部１１が第１のレーザ強制点灯信号をオンし、第１のレーザスイッチング部１９をオンにする。この場合に第１のレーザスイッチング部１９は、半導体レーザ１に４０ｍＡの電流を流すように動作する。
　【００４５】
　半導体レーザ１が点灯し、これと一体になっているフォトダイオードＰＤを含む光量検出部１６から光出力に比例した電圧が第１の比較部１４に印加され、第１の増幅部１５で増幅される。サンプルホールド部１７には、制御部１１から第１のレーザ強制点灯信号と同タイミングのサンプル信号が出力され、この間サンプルホールド部１７は、出力信号をサンプリングする。第１の増幅部１５の出力信号は、温度が５０℃の場合半導体レーザ１の電流を増やす方向に変化し、第１の電流増幅部１８で増幅され、第１のレーザスイッチング部１９は、半導体レーザ１の電流を増加させる。温度が逆に低くなった場合には、光量検出部１６，第１の比較部１４，第１の増幅部１５，第１の基準光量設定部１３，サンプルホールド部１７，第１の電流増幅部１８および第１のレーザスイッチング部１９からなるフィードバック系が前記電流を減らす方向に動作し、半導体レーザ１は、第１の基準光量設定部１３に設定された電圧に対応する光量に保たれる。ここで温度補正のための光量サンプリングは、図７に示す主走査方向１ラインごとに行なわれる。
　【００４６】
　なお、図６においてユーザが、濃度調整を操作部２０から行なったとき、制御部１１から基準光量を設定するための設定用パルスが第１の基準光量設定部１３
へ出力され、さらに積分された基準電圧となる。その可変範囲は、図６に示すＶ１のように０ないし１０Ｖまで、光量で０ないし５ｍＷまでである。
　【００４７】
　一方、水平同期信号検出のための第２の基準光量設定部２１の基準電圧の範囲は、水平同期受光部７に適正な６Ｖ±０．５Ｖの範囲で微調整可能になっている。
　【００４８】
　図７は、印字方向と用紙Ｐとの関係を示すもので、非画像領域，画像領域，非画像領域は各々図１に示すものと対応している。用紙Ｐは矢印方向（紙搬送方向）に搬送されたおり、印字は水平同期信号に同期して画像データが送られ主走査方向に１ライン印字し次の水平同期信号で同様に印字する。用紙Ｐが矢印方向に移動しているため、印字動作は副走査方向に移動する形で実行される。図７には水平同期信号（ＩＨＳＹＮＯ）のようすをも示している。
　【００４９】
　ユーザによるレーザ制御電圧の可変は、図７に示す副走査方向に印字濃度が変わる形で表われることになる。これはユーザ可変が前述のように数秒かかるため水平同期信号１回分では済まないためである。水平同期信号は解像度４００ＤＰＩ，８枚／分（Ａ４）のレーザプリンタで周期約１ｍｓで、ユーザ可変に対して非常に速い。
　【００５０】
　次に、上述した構成の画像形成装置の作用を説明する。
　【００５１】
　まず、前記レーザ制御回路全体の動作を説明する。すなわち、画像形成するための手順は、ミラーモータ１２と半導体レーザ１をオンし、水平同期信号を発生させることから始まる。ミラーモータ１２が一定回転数に達したら、画像データに同期して半導体レーザ１をオン，オフさせることにより、感光体１０の表面上に静電潜像が形成される。そこで、まず制御部１１はミラーモータ１２を駆動するとともに第２のレーザ強制点灯信号を送出する。これにより、第２のレーザスイッチング部２２がオンし、半導体レーザ１が点灯する。ミラーモータ１２の回転によってポリゴンミラー３の反射面が回転し、水平同期受光部７にレーザビー
ムの反射光が入射し、水平同期信号が発生する。水平同期信号は、制御部１１へ入力され、これにより第２のレーザ強制点灯信号がオフする。制御部１１は、この時点から内部にある画像領域カウンタ（図示していない）を動作させ、一定時間カウントすると、第１のレーザ強制点灯信号をオンする。水平同期信号が発生してから前述の画像領域カウンタがカウントしている間が画像領域に対応する。しかし、ミラーモータ１２が一定回転数に達していない場合は、画像データは出力されず、このとき第１のレーザスイッチング部１８はオフで、半導体レーザ１は点灯しない。
　【００５２】
　また、第２のレーザ強制点灯信号がオンする領域は、図１の非画像領域に対応するが、ここではミラーモータ１２が一定回転に達していないため、その領域はずれている。
　【００５３】
　第１のレーザ強制点灯信号がオンすると、第１の基準光量設定部１３から記述した経路で半導体レーザ１に対し、ユーザによって設定されたレーザ制御電圧Ｖ１が加わる。
　【００５４】
　ここまでは、図８のタイミングチャートの最初の非画像領域イ、次の非画像領域ロ、画像領域ハおよび次の非画像領域二で示した領域の動作に対応する。
　【００５５】
　ミラーモータ１２が一定回転に達すると、ミラーモータ１２から制御部１１ヘレディ（ＲＥＡＤＹ）信号が出力される。一定回転数に達する時間は、約３ないし６秒位である。
　【００５６】
　制御部１１は、この後画像領域チで画像データを出力するようになり、この領域では第１の基準光量設定部１３からレーザ制御電圧Ｖ１が半導体レーザ１に加えられる。
　【００５７】
　次に、図８に示すタイミングチャートを用いて本実施例のレーザ制御法を説明
する。すなわち、ポリゴンミラー３が回転し始めるとともに半導体レーザ１を一定のレーザ制御電圧６Ｖでオンさせる。このときポリゴンミラー３の反射面はどこを向いているかわからない。当初仮に非画像領域イを向いていたとして、以下の説明を行なう。
　【００５８】
　図８に示す２番目の非画像領域口で水平同期信号が発生する。この非画像領域口では、レーザ制御電圧は水平同期信号を発生するのに適した６Ｖ（ここでは仮にＶＨとする）と一定である。画像領域ハでのレーザ制御電圧は、ユーザによって可変でき、ここでは仮にゴシック文字を鮮明に出すためにＶＨより低いＶ１（約２Ｖ）に設定されているものとする。
　【００５９】
　この画像形成装置の動作開始直後は、ミラーモータ１２の回転数が一定でないため、画像領域ハでも画像データは出力されない。水平同期信号を発生するための第２のレーザ強制点灯信号はここではオフである。
　【００６０】
　第２のレーザ強制点灯信号は、非画像領域ロで水平同期信号を発生させる信号であり、ミラーモータ１２の回転数が一定の同期回転数に達するとレーザビーム照射位置と第２のレーザ強制点灯信号の同期が取れ、図１に示す非画像領域にポリゴンミラー３の反射光が来るとき、第２のレーザ強制点灯信号がオンするようになるが、図８に示す場合は、ミラーモータ１２が回転し始めの状態のため、回転数が一定でなく第２のレーザ強制点灯信号と同期が取れていない。従って画像領域ハで第１，第２のレーザ強制点灯信号がオンするのは、水平同期信号が入力されるとカウントを開始するタイマーによって第１のレーザ強制点灯信号を管理することによって行なっている。
　【００６１】
　非画像領域へ以降ミラーモータ１２の回転数が一定回転数に達し、第２のレーザ強制点灯信号とポリゴンミラー３の反射光位置の同期が取れるようになる。
　【００６２】
　図８に示すミラーモータ１２の回転数が一定回転数に達した以降の第１のレー
ザ強制点灯信号は、図１の非画像領域に対応し、ここではレーザ制御電圧は図１に対応した画像領域と同じＶ１が与えられ温度補正のためのレーザ光量サンプリングを行なう。非画像領域ヌ，ワでは、従来はＶ１を与えていたが、本実施例では常に水平同期信号発生に適正なＶＨがレーザ制御電圧として与えられる。
　【００６３】
　図８に示す非画像領域リ，ヌ，ヲ等は図１の非画像領域に対応する。画像領域ルではユーザがレーザ制御電圧を印字が濃く出るように上げた場合でその電圧はＶ１´まで上昇するが、水平同期信号発生のための非画像領域ワでは一定のＶＨが与えられる。ユーザが実際にレーザ制御電圧を可変するのは数秒かかるため、画像領域ルのレーザ制御電圧の変化は次の画像領域カ以降も続く。
　【００６４】
　上述したように、画像領域でのレーザ制御電圧と、水平同期信号発生領域のレーザ制御電圧を分けることにより、画像領域のレーザ制御電圧は、水平同期信号のレーザ制御電圧と無関係に設定することができる。これは画像形成装置として、たとえば、ゴシック文字の場合、ユーザが制御電圧を印字がつぶれない程度に低く設定でき、また、ＣＡＤ装置の出力とした場合、図形を鮮明に印字するために濃度を高めに設定することができるようになる。
　【００６５】
　また、サンプルホールド部におけるトランジスタＦＥＴの前段に設けられている第１の増幅部のトランジスタをサンプル信号に同期して強制的にオフし、第１の増幅部とサンプルホールド部とを切断することにより、トランジスタＦＥＴに発生する寄生ダイオードによる放電を防ぐことができる。こうしてユーザが設定した濃度より実際の印刷濃度が薄くなってしまうようなことがなくなる。
　【００６６】
　図９は、本発明の応用例を示すもので図１の構成に対して、第２の比較部２２、第２の増幅部２３を省略し、制御部１１が設定用パルスを第２の基準光量設定部２１に送りレーザ制御電圧を設定するようになっている。第２の基準光量設定部２１は、第１の基準光量設定部１３と同じ構成になっている。すなわち、制御部１１は、設定用パルスを第２の基準光量設定部２１に出力し、第２の基準光量設定部２１はこの設定用パルスを積分回路で直流信号に変換する。第２の基準光量設定部２１の直流信号は、第２の電流増幅部２４で電流増幅されて第２のレーザスイッチング部２５に送られる。第２のレーザスイッチング部２５は、水平同期信号発生領域で半導体レーザ１をオンさせる。この場合、水平同期受光部７の水平同期信号発生に適当なレーザ制御電圧が設定されているのは当然である。
　【００６７】
　本発明の他の応用例として、水平同期受光部７でもレーザビーム強度の温度補正を実行する構成も考えられる。図１０がこの構成で、図１の構成に対して、第２の基準光量設定部２１の後に比較増幅部２６と第２のサンプルホールド部２７を設けている。水平同期受光部７でのサンプルホールドは毎ラインごとに行なっても良いし、１ページの最初だけ行なっても、ページ内での温度変化は少ないので良好である。
　【００６８】
　また、図１１に示すように、第２の比較部２２，第２の増幅部２３，第２の電流増幅部２４，第２のレーザスイッチング部２５を省略し、第２の基準光量設定部２１の出力を第１の電流増幅部１８に送るようにして、水平同期信号発生時のみ、画像領域でのレーザ制御電圧を増やす方法もある。この方法だと第１の比較部１４，第１の増幅部１５，第１の電流増幅部１８，第１２のレーザスイッチング部１９が各々１つにできるので回路を簡略化できる利点がある。
　【００６９】
　また、ミラーモータ１２がオンしたときから非画像領域で半導体レーザ１をオンしているが、ミラーモータ１２が一定回転数に達してから半導体レーザ１をオンしても良い。このようにした場合の利点は、半導体レーザ１の寿命がオン時間で決まるため、その寿命を延ばすことができることにある。
　【００７０】
　さらに、レーザ光学系の調整のために、ユーザが操作部２０のキーを選択することにより、ミラーモータ１２がオン、第２のレーザ強制点灯信号がオンし、水平同期受光部７から水平同期信号が発生したとき、制御部１１が操作部２０上の発光素子（ここでは図示してない）を点灯させるような調整モードを持つことも
できる。
　【００７１】
　また、レーザプリンタでは、複数の解像度を持つ場合がある。例えば３００ＤＰ　Ｉ，４００ＤＰＩ，６００ＤＰＩを操作部２０からの制御によって変えるような場合である。プリントスピードがＡ４，８枚／分だとすると図１の感光体１０上を走査するレーザビームのスピードは、３００ＤＰＩで約２４３ｍｍ／ｓｅｃ，４００ＤＰＩで約３２４ｍｍ／ｓｅｃ，６００ＤＰＩで約４８６ｍｍ／ｓｅｃと解像度が大きくなるに従い速くなる。
　【００７２】
　水平同期受光部７で解像度によらず良好な水平同期信号を得るためには、単位時間あたりに受光するレーザビーム光量を増やす、すなわち、レーザ制御電圧を解像度が大きくなるに従って上げるようにすれば良い。そこで、第２の基準光量設定部２１の制御電圧を、３００ＤＰＩで６Ｖとした場合、４００ＤＰＩではその約１．３倍の約８Ｖ，６００ＤＰＩではその約２倍、ただし、半導体レーザ１の最大定格５ｍＷを超えないために約１．６倍の約１０Ｖにすれば単位時間あたりのレーザビーム光量を解像度によらず一定にできる。
　【００７３】
　さらに、上述したように半導体レーザ１には最大定格があるので、図６に示した光出力とレーザ制御電圧の関係から、図１の第１，第２の基準光量設定部１３，２１の最大電圧は１０Ｖを超えないよう制御部１１で制御すれば好適である。
　【００７４】
　また、水平同期信号発生時だけでなく、画像領域のレーザ制御電圧を既述した３００ＤＰＩ，４００ＤＰＩ，６００ＤＰＩの各解像度ごとに制御部１１からの信号によって自動的に変えることもできる。このようにすると、解像度によらず一定の画質のプリントをすることができる。
　【００７５】
　さらにまた、各解像度ごとに、図８のタイミングチャートに示す温度補正用サンプリング時間と水平同期信号検出のための時間の比率を変えて、解像度によらず余分なサンプリング時間を確保するようにもできる。すなわち、解像度が上が
ると走査速度が増すので、逆にサンプリング時間を増やしてやれば、サンプルホールド部１６の抵抗Ｒ２０，Ｒ７，コンデンサＣ３の定数を各解像度ごとに変えずにサンプルホールドすることができる。
　【００７６】
　また、応用例として、レーザ制御回路で光量検出部１６の出力が制御部１１のＡ／Ｄ入力に入力されているので、これを利用して、第１，第２の基準光量設定部１３，２１に対する設定を前記設定用パルスの積分出力をフィードバックするのではなく、光量検出部１６の出力をもとに制御することができる。このようにすると、直接光量をフィードバックするため、半導体レーザの発光ばらつき等を補正して制御することができるようになる。この場合、レーザビームの発光時間が、Ａ４，８枚／分のプリントスピードで約１ｍｓ以内であるため、水平同期信号に応じて、この短い時間内に制御する必要があるが、１命令実行時間が１μｓ程度の現行のマイクロプロセッサは充分に速いので、制御することが可能となる。
　【００７７】
　【発明の効果】
　以上詳述したように本発明によれば、水平同期信号を適確に得て、ユーザが、レーザビームの強度を画質の劣化を招かない範囲で種々に可変でき、なおかつ、適正な印字濃度を確保することのできる画像形成装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
　【図１】
　本発明の一実施例に係る画像形成装置のレーザ制御回路の構成を示すブロック
図。
　【図２】
　本発明の一実施例に係る画像形成装置のレーザ光学系を説明するための図。
　【図３】
　レーザ制御回路の回路図。
　【図４】
　水平同期受光部の回路図。
　【図５】
　ゲイン抵抗の抵抗値と光強度との関係を示す図。
　【図６】
　レーザの光出力と順電流とレーザ制御電圧との関係を示す図。
　【図７１】
　用紙の印字方向、画像領域、非画像領域を説明するための図。
　【図８】
　動作を示すタイミングチャート。
　【図９】
　他の実施例のレーザ制御回路の構成を示すブロック図。
　【図１０】
　他の実施例のレーザ制御回路の構成を示すブロック図。
　【図１１】
　他の実施例のレーザ制御回路の構成を示すブロック図。
　【図１２】
　レーザ光学系を説明するための図。
　【図１３】
　従来の動作を示すタイミングチャート。
　【図１４】
　従来レーザサンプリング回路を示す回路図。
　【符号の説明】
　１…半導体レーザ、２…コリメータレンズ、３…ポリゴンミラー、４…非球面レンズ、５…非球面トーリックレンズ、６…水平同期反射ミラー、７…水平同期受光部７、１０…感光体、１１…制御部、１４…第１の比較部、１５…第１の増幅部、１７…サンプルホールド部、１８…第１の電流増幅部、１９…第１のレーザスイッチング部、２２…第２の比較部、２３…第２の増幅部、２４…第２の電流増幅部、２５…第２のレーザスイッチング部。