(57)【要約】本発明は、正確な反射の基準として光ディスクの空気−ポリカーボネートインタフェースを利用する。空気−ポリカーボネートインタフェースは、光ディスクの製造の間又は光ディスクドライブの通常の動作の間の両者で使用される。空気−ポリカーボネートの反射の測定値は、通常動作の間に光ディスクを識別し、使用の間に光ディスクの汚れを検出し、製造の間に光ディスクを検査するプロセスを含めて、多数の用途で使用される。
2008536246.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに入射する光ビームから反射の測定を行う方法であって、
前記光ディスクの空気−基板のインタフェースからの反射を測定するステップと、
前記ディスクに関連する他の反射測定の反射の基準として前記空気−基板のインタフェースからの反射を使用するステップと、
を含む方法。
【請求項２】
前記光ディスク内のレイヤからの反射を測定するステップと、
前記光ディスク内のレイヤからの反射を前記空気−基板のインタフェースからの反射と比較するステップと、
前記比較ステップ及び前記光ディスクの基板の推定される屈折率から光ディスクのタイプを識別するステップと、
を更に含む請求項１記載の方法。
【請求項３】
前記光ディスク内のレイヤから反射を測定するステップと、
前記光ディスク内のレイヤからの反射を、前記空気−基板のインタフェースからの反射と比較するステップと、
前記比較ステップに基づいて前記光ディスクが有効であるかを判定するステップと、
を更に含む請求項１記載の方法。
【請求項４】
前記ディスクが有効であるかを判定するステップは、前記空気−基板のインタフェースからの反射に対する前記光ディスク内のレイヤからの反射の割合が予め決定された許容されるウィンドウ内にあるかを判定するステップを更に含む、
請求項３記載の方法。
【請求項５】
基準のディスクの前記空気−基板インタフェースからの反射を測定するステップと、
前記光ディスクの前記空気−基板インタフェースからの反射を、前記基準のディスクの前記空気−基板のインタフェースからの反射と比較するステップと、
前記比較ステップに基づいて、前記ディスクが有効であるかを判定するステップと、
を更に含む請求項１記載の方法。
【請求項６】
前記光ディスクの前記空気−基板インタフェースに関連する反射係数を取得するステップと、
前記空気−基板インタフェースから測定された反射及び前記空気−基板インタフェースの反射係数に基づいて、入射する光ビームの電力を判定するステップと、
を更に含む請求項１記載の方法。
【請求項７】
前記光ディスクの前記空気−基板インタフェースに関連する反射係数を取得するステップと、
入射する光ビームの電力を測定するステップと、
入射する光ビームの電力、前記空気−基板インタフェースから反射された光及び前記空気−基板インタフェースの反射係数に基づいて前記光ディスクは汚れているかを判定するステップと、
を更に含む請求項１記載の方法。
【請求項８】
前記反射係数は、前記光ディスクに記憶された情報から取得される、
請求項６又は７記載の方法。
【請求項９】
前記反射係数は、インターネットを介してデータベースから取得される、
請求項６又は７記載の方法。
【請求項１０】
入射する光ビームを光ディスクに照射する手段、前記光ディスクから反射された光を検出する手段を有する光ディスクドライブ装置であって、
当該光ディスクドライブは、光ディスクの空気−基板インタフェースから反射された光を測定するために調整され、前記空気−基板インタフェースから反射された光に従って前記ディスクドライブの動作を制御するために調整される、
光ディスクドライブ装置。
【請求項１１】
当該光ディスク内のレイヤから反射された光を測定する手段と、
当該光ディスク内のレイヤから反射された光を、前記空気−基板のインタフェースから反射された光と比較する手段と、
前記光ディスク内のレイヤからの反射と前記空気−基板のインタフェースからの反射との間の比較に基づいて、光ディスクのタイプを識別する手段と、
を更に含む請求項１０記載の光ディスクドライブ。
【請求項１２】
前記光ディスクの前記空気−基板のインタフェースに関する反射係数を取得する手段と、
前記空気−基板のインタフェースから反射された光及び前記空気−基板のインタフェースの反射係数に基づいて、入射する光ビームの電力を判定する手段と、
を更に含む請求項１０記載のディスクドライブ装置。
【請求項１３】
前記光ディスクの前記空気−基板のインタフェースに関する反射係数を取得する手段と、
前記入射する光ビームの電力、前記空気−基板のインタフェースから反射された光及び前記空気−基板のインタフェースの反射係数に基づいて、前記光ディスクが汚れているかを判定する手段と、
を更に含む請求項１０記載のディスクドライブ装置。
【請求項１４】
前記空気と前記光ディスクの基板との間のインタフェースでの反射係数に関するパラメータであって、光ディスクの反射係数を示すパラメータを含む光ディスク。
【請求項１５】
前記反射係数は、前記光ディスクのＢＣＡ、ＡＤＩＰ又はＡＴＩＰに記憶される、
請求項１４記載の光ディスク。
【請求項１６】
当該光ディスクに含まれる屈折率情報を更に含む、
請求項１４又は１５記載の光ディスク。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクでの反射測定を実行する方法及び装置に関し、特に、反射基準としての大気とディスク基板との間のインタフェースでの反射の測定の使用（すなわち、反射基準として空気−ポリカーボネートインタフェースの使用）に関する。
【背景技術】
【０００２】
光記録の分野では、規則的に光ディスクの反射を判定することを望む幾つかの状況が存在する。たとえば、光ディスクの反射は、光ディスクの特性を評価するため、製造プロセスの間に光ディスクの反射が判定される。また、光ディスクの反射は、たとえば、ディスクドライブに挿入された光ディスクのタイプを識別する初期ステップの間、又は光ディスクで付随して起こる電力を推定するためのディスクドライブの通常の動作の間、ディスクドライブの通常の動作の間に判定される。正確な結果のため、利用される方法は、再現可能であること、すなわち（製造の間のディスク評価について）異なるサイトで同じ結果をもたらすこと、又は（ディスクドライブの通常の動作の間に使用されたとき）異なるディスクドライブにおいて同じ結果をもたらすことが重要である。
【０００３】
再現可能な測定を行うため、光ディスクの絶対反射を測定するために高価かつ複雑なソリューションが現在適所に行われている。光ディスクの絶対反射を測定することは、たとえば平行なビームを使用して入射光及び反射光の電力を測定して、良好に定義された条件下での緻密な手順を通常含む。
【０００４】
図１は、ターゲット情報レイヤ３を有する光ディスク１の絶対反射を測定する係る構成を示す。対物レンズ５は、ターゲット情報レイヤ３に向けて方向“ｘ”で立ち上がり、収束する光ビームは、ターゲット情報レイヤ３のスポット７として照射される。ビームスプリッタ９は、反射された光ビームを受け、出力信号を検出器１１に供給する。このように、検出器は、反射の絶対測定を提供することができる。しかし、上述されたように、この技術は、入射する光ビームについて使用された電力の極端に正確な情報、及び、反射されたビームの電力を測定する正確な方法を必要とする問題を抱える。また、この方法は、ディスクの任意の汚れにより不正確な測定となるという問題を抱える。
【０００５】
製造の間に光ディスクを評価するために使用される代替的な技術は、リファレンスディスク又はミラーを利用することである。図１に示される構成は、幾つかの緻密な方法を使用してリファレンスディスクの絶対反射率を測定するために使用され、この反射率と、ターゲットディスクの反射率とが比較される。この技術によれば、図１の装置は、対物レンズ５が方向“ｘ”で上昇し、フォーカスされたスポット７が情報レイヤ３に向かってディスクの深さを通して移動するように動作する。図２に示されるように、検出器は、ポイントｘtarget、すなわちフォーカスされたスポット７が既知のリファレンスディスクの情報レイヤ３で照射されるときに対応する、ピークを有する出力信号２１を生成する。次いで、同じ動作は、ポイントｘtargetの近くでピークを有する、検出器からの出力信号２３を生成するターゲットディスクで繰り返される。ターゲットディスクの反射は、リファレンスディスク２１の反射をターゲットディスク２３の反射と比較することで決定される。
【０００６】
このアプローチの問題は、異なる会社又は向上での使用のために多くの係るリファレンスディスク又はミラーを必要とすることである。さらに、リファレンスディスクの使用は、以下に記載されるように、ディスクドライブの通常の動作の間、正確な反射の測定が必要とされない場合には適さない。
【０００７】
ディスクドライブの通常の動作の間、正確な反射測定は、ディスクドライブの初期動作又はスタートアップフェーズの間にディスク認識プロセスを実行するときに必要とされる。これは、光ディスクドライブがディスクドライブにロードされたディスクのタイプを認識するのを試みる期間であり、これに応じて、ディスクドライブのコンフィギュレーションが設定される。コンフィギュレーションプロセスは、（フォーカス及びトラッキングサーボのような）様々な種類のサーボシステムにおける最適なパラメータを設定すること、又はレーザパワーを調整することを含む。この動作は、できるだけ迅速に実行されることが重要である。これは、ユーザが光ディスクの大部分瞬間的なプレイバックを望み、ディスクドライブが光ディスクのタイプを識別するのを試みる間に初期のスタートアップフェーズの間の遅延を嫌うためである。
【０００８】
このプロセスは、益々異なるタイプの光ディスクが導入されるので更に重要になる。たとえば、早期のディスクドライブは、一握りの異なるタイプの光ディスクの間で区別する必要があり、ＣＤ、ＤＶＤ、＋Ｒ、−Ｒ、＋ＲＷ、−ＲＷ、両面ディスク、結合ＣＤ／ＤＶＤディスク、多層ディスク等の存在は、多くの異なるタイプの光ディスクが現在存在し、この数が更に高くなる可能性があることを意味する。
【０００９】
ディスクドライブにロードされているディスクのタイプを識別するため、ディスクの情報レイヤからの反射率の絶対測定を行うことが知られている。ＵＳ２００２／０１５９３６３Ａ１は、別のタイプの光ディスクから一方のタイプの光ディスクを識別するため、反射率の絶対測定が様々な閾値と共に使用される例である。しかし、これらのシステムは、複雑かつ正確な手段が反射率の絶対測定を決定するために設けられる必要がある点で、上述された問題点を抱える。また、これらの技術は、ディスクの汚れにより引き起こされる問題を抱える。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
本発明の目的は、光ディスクの反射を測定する改善された方法及び装置を提供することにある。  
特に、本発明の目的は、好適な実施の形態を参照して更に詳細に記載されるように、他の反射測定及び使用のために反射の基準として空気から基板インタフェースへの反射を利用することになる。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明の第一の態様によれば、光ディスクに入射する光ビームからの反射の測定を行い方法が提供され、当該方法は、光ディスクの空気−基板インタフェースへの反射を測定し、ディスクに関連する他の反射測定のための反射の基準として空気−基板のインタフェースからの反射を使用するステップを含む。  
空気−基板インタフェースでの反射特性の使用は、特定の実施の形態に関して説明されるように、多くの利点を有する。
【００１２】
本発明の１態様によれば、反射測定は、光ディスクのタイプを識別する助けとなるために行われ、当該方法は、光ディスク内のレイヤから反射を測定するステップ、光ディスク内のレイヤからの反射を空気−基板インタフェースからの反射と比較し、比較ステップ及び光ディスクの基板の推定される屈折率から光ディスクのタイプを識別するステップを含む。  
これは、ディスクのアイデンティティが比較ステップに基づいて判定されるのを可能にするという利点を有し、これにより、非常に正確な絶対測定と関連される複雑さが回避される。
【００１３】
本発明の別の態様によれば、反射測定は、製造プロセスの間に行われ、当該方法は、光ディスク内のレイヤから反射を測定し、空気−基板のインタフェースからの反射と光ディスク内のレイヤからの反射を比較し、比較ステップに基づいて光ディスクが有効であるかを判定するステップを含む。  
さらに、本発明のこの態様は、ディスクの品質が比較ステップに基づいて判定されるのを可能にするという利点を有し、これにより、非常に精度の高い絶対測定に関連される複雑さが回避される。また、これにより、リファレンスディスクの必要が回避される。
【００１４】
本発明の別の態様によれば、製造プロセスの間に反射測定が行われ、当該方法は、リファレンスディスクの空気−基板インタフェースからの反射を測定し、リファレンスディスクの空気−基板インタフェースからの反射と光ディスクの空気−基板インタフェースからの反射を比較し、比較ステップに基づいてディスクが有効であるかを判定するステップを含む。  
本発明のこの態様は、ディスク製造業者が精巧な装置を使用することなしにディスク基板の屈折率を正確に判定するのを可能にするという利点を有する。
【００１５】
本発明の別の態様によれば、反射の測定は、入射する光ビームの電力を判定するために行われ、当該方法は、光ディスクの空気−基板のインタフェースに関連する反射係数を取得し、空気−基板インタフェースから測定された反射及び空気−基板のインタフェースの反射係数に基づいて入射する光ビームのパワーを判定するステップを含む。  
この態様は、レーザパワーに関する大きな許容度が存在する状況で入射電力を容易に推定することができる利点を有する。
【００１６】
本発明の別の態様によれば、反射測定は、光ディスクに汚れが存在するかを判定するために行われ、当該方法は、光ディスクの空気−基板のインタフェースに関する反射係数を取得し、入射する光ビームのパワーを測定し、入射する光ビームのパワー、空気−基板のインタフェースから反射された光、及び空気−基板のインタフェースの反射係数に基づいて光ディスクが汚れているかを判定するステップを含む。  
本発明のこの態様は、リファレンスとして空気−基板インタフェースでの反射を使用してディスクの汚れを容易に識別することができる。
【００１７】
本発明の別の態様によれば、光ディスクに入射の光ビームを照射する手段、光ディスクから反射された光を検出する手段を有する光ディスクドライブ装置が提供され、当該光ディスクドライブは、光ディスクの空気−基板インタフェースから反射された光を測定するために調節され、空気−基板インタフェースから反射された光に従ってディスクドライブの動作を制御するために調整される。
【００１８】
本発明の別の態様によれば、そこに記憶される光ディスクの反射係数を示すパラメータを有する光ディスクが提供され、パラメータは、空気と光ディスクの基板の間のインタフェースでの反射係数に関連する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
本発明の良好な理解のため、また、本発明がどのように実施されるかを明らかに示すため、添付図面を通して実施の形態が説明される。  
本発明は、様々な用途向けの反射のリファレンスとして、空気とディスク基板との間のインタフェースでの反射を使用することで、従来技術に関連される問題を回避する。言い換えれば、本発明は、反射のリファレンスとして空気−ポリカーボネートインタフェースでの反射を使用する。
【００２０】
以下に記載される好適な実施の形態は空気−ポリカーボネートインタフェース（air-polycarbonate  interface）と呼ぶが、本発明は、空気と、たとえばガラス又は他の材料といった任意のディスク基板との間のインタフェースにも同様に適用可能である。
【００２１】
本発明の重要な態様は、正確に同じ屈折率ｎをもつ多数の光ディスク基板を製造することが非常に容易であるという事実に関連する。製造業者は、小数点以下３又は４桁を使用して屈折率“ｎ”を規定することがある。さらに、これらの基板は、この精度のレベルで製造するのが安価である。
【００２２】
空気−ポリカーボネートインタフェースの反射係数ｒは、以下に与えられる。
ｒ＝（（ｎ−１）／（ｎ＋１））2
ここでｎはディスクの基板の屈折率である。基板がポリカーボネートである典型的なＣＤ又はＤＶＤについて、ｎの値は１．６に近く、５．３％に等しい反射係数ｒを与える。これは、ｎの推定される屈折率に基づいて、多数の同一、正確及び非常に安価な反射のリファレンスの可用性をもたらす。
【００２３】
本発明は、はじめに、たとえばディスクドライブにロードされた光ディスクのタイプを識別又は判別するとき、光ディスクドライブの通常の動作の間の空気−ポリカーボネートインタフェースの反射リファレンスの使用に関連して記載される。
【００２４】
図３は、本発明のこの態様に含まれるステップを示す。図１に関して上述されるように、対物レンズ５は、入射の光ビームがターゲットの光ディスクに向かって照射されるように、方向“Ｘ”に上昇される。しかし、図１と異なり、装置は、空気−ポリカーボネートインタフェースでの反射がステップ３０１で判定されるように構成される。空気−ポリカーボネートインタフェースでの反射を判定することに加えて、ターゲット情報レイヤからの反射もステップ３０３で判定される。次いで、空気−ポリカーボネートインタフェースからの反射は、ステップ３０５でターゲット情報レイヤからの反射との比較のために反射の基準として使用される。空気−ポリカーボネートインタフェースからの反射とターゲット情報レイヤからの反射の間の比較に基づいて、ステップ３０７で光ディスクの反射特性が推測される。これにより、ディスクドライブは、迅速及び効率的な方式でディスクのタイプを識別することができる。これは、上述されたように、空気−ポリカーボネートインタフェースでの反射が既知である事実のために可能にされる。この値は、ディスクのアイデンティティが判定されるのを可能にするため、たとえば１．６といった推定される屈折率として使用される。
【００２５】
図４は、図３の方法で使用される反射測定の値を示す。入射の光ビームはターゲット光ディスクに向かって上昇されるので、距離ｘ＝０に対応する、空気−ポリカーボネートインタフェースの間のインタフェースで、少量の光が反射される。これにより、空気−ポリカーボネートインタフェースからの反射に対応する第一のピーク３３が発生される。対物レンズはターゲットディスクの情報レイヤに向かって更に上昇されるので、ターゲット情報レイヤからの反射に対応する位置Ｘtargetで第二のピーク３１が生成される。ターゲット情報レイヤから反射された光の量は、空気−ポリカーボネートインタフェースから反射された光の量よりも多いとして図４に示されているが、これは常に起こることではないことが理解される。たとえば、デュアルレイヤＢＤ−Ｒ及びＢＤ−ＲＥメディアの情報レイヤの反射は、それら空気−ポリカーボネートインタフェースの反射よりも一般に低い。
【００２６】
空気−ポリカーボネートインタフェースで得られる反射とターゲット情報レイヤでの反射の間の比較は、光ディスクの反射特性を判定するために使用され、この光ディスクの反射特性は、ディスクドライブに挿入された光ディスクのタイプを検出するために使用することができる。
【００２７】
言い換えれば、情報レイヤの反射率“ｒ”がｒ＝Ｐr／Ｐe（すなわち情報レイヤで反射された電力／放出された電力）のように与えられ、空気−基板インタフェースの反射率“ｒ”がｒ’＝Ｐr’／Ｐe’（すなわち空気−基板インタフェースでの反射された電力／放出された電力）のように与えられる場合、ｒ：ｒ’＝Ｐr：Ｐr’であり、これは、情報レイヤからの反射ｒは、情報レイヤから測定された反射（Ｐr）、空気−基板インタフェース（Ｐr’）からの反射、及び基板の推定される屈折率（ｒ’）に基づいて決定される。
【００２８】
反射測定の値は、比較ステップ、すなわち一方の反射測定に関する他方の反射測定で使用されるので、入射の光ビームの実際の強度は、もはや問題ではなく、これにより測定のプロセスから複雑さを除くことができる。なお、本発明は、ディスクのタイプがその反射の測定からの確かさで判定されるのを必要としない。代わりに、反射測定は、ディスクタイプに依存する（たとえばゲイン、閾値等）よりはむしろ、反射に依存するパラメータを設定するために使用される。したがって、本発明は、試行錯誤に基づいた識別プロセスにおける正しい最初の推測を促すため、ディスク認識プロセスが迅速に行われるのを可能にする。これは、ディスクドライブは高い精度でｎの値を知る必要がないことを意味する。言い換えれば、本発明は、典型的なディスクについてｎの推定された値に依存する。本出願で後に説明されるように、ｎの更に正確な値を取得することに基づいて、更に正確な測定が可能である。
【００２９】
また、ピークの位置は、識別プロセスを支援するために使用され、相対的な位置は、ディスクの基板の厚さを判定するために使用される。  
また、上述された比較方法は、空気−ポリカーボネートインタフェースの反射測定及び情報レイヤでの反射の両方が同じ汚れを受けるため、光ディスクの汚れに影響されにくい。言い換えれば、汚れは、ディスクの表面で、又は光ピックアップにおいて、いずれかで生じる傾向があり、これは、空気−ポリカーボネートインタフェース及び情報レイヤでの反射が同じ汚れを受けることを意味する。
【００３０】
図４は第一のピーク３３及び第二のピーク３１のみを示しているが、更なるピークが検出される場合があることを理解されたい。たとえば、個別のＣＤ及びＤＶＤ情報レイヤを有する結合されたＣＤ／ＤＶＤディスクのようなマルチレイヤディスクでは、更なるピークが存在する場合がある。
【００３１】
上述された方法が光ディスクのタイプを識別するためにひとたび使用されると、ディスクドライブは、ディスクドライブの設定及びパラメータを構成又は調節することができ、ディスクのデータは、効率的に読み取ることができる。その後、ディスクが正しく識別されたことを確認し、必要な場合又は必要に応じて、ディスクドライブの設定に対する更なる変更又は調整をなすために、光ディスクのファームウェアが読み取られる。
【００３２】
図５は、本発明の別の態様を示し、ここでは、製造の間に光ディスクを検査するための反射の基準として、空気−ポリカーボネートインタフェースが使用される。ステップ５０１では、反射の測定値は、検査されているターゲットディスクの空気−ポリカーボネートインタフェースの反射から採取される。つぎに、ステップ５０３では、検査されているターゲットディスクの情報レイヤで反射が測定される。したがって、本発明のこの態様によれば、リファレンスディスクからの類似の反射とターゲット情報レイヤからの反射を比較する代わりに、本発明は、ステップ５０５で空気−ポリカーボネートインタフェースからの反射と情報レイヤからの反射を比較する。この比較に基づいて、検査装置は、ステップ５０７で情報レイヤからの反射が許容可能な制限内にあるかを判定することができる。制限内にない場合、ステップ５０９でディスクが取り出される。情報レイヤからの反射が許容可能な範囲内にあることを比較が示す場合、ステップ５１１でディスクが通過される。情報レイヤの反射をチェックするのに加えて、基板及び情報レイヤの両者のための処理条件が制限内にあることを確認するため、比較ステップが更に一般的に使用される。したがって、反射率が予め決定された許容のウィンドウの外になった場合、これは、情報レイヤ又は基板のいずれかに誤りが存在することを示す。
【００３３】
したがって、反射基準として空気−ポリカーボネートインタフェースを使用することで、製造における光ディスクの検査の間での個別のリファレンスディスクの必要が回避される。
【００３４】
先の実施の形態に対する代替的な実施の形態では、ターゲットディスクの空気−ポリカーボネートインタフェースからの反射は、リファレンスディスクの空気−ポリカーボネートインタフェースからの反射との比較において使用される。たとえば、図６に示されるように、リファレンスディスクの空気−ポリカーボネートインタフェースからの反射は、ピーク４３を与え、これは、ピーク４１を有するターゲットディスクの空気−ポリカーボネートインタフェースからの反射と比較される。このように、検査装置は、ターゲットディスク及びリファレンスディスクのそれぞれの空気−ポリカーボネートインタフェースからの反射をシンプルに比較することで、ターゲットディスクをチェックする。この実施の形態は、ディスクの製造業者が精密な機器を使用することなしにディスク基板の屈折率を正確に判定するのを可能にするという利点を有する。
【００３５】
さらに、光ディスクのバッチの検査の間、ディスク製造業者は、たとえば入射電力を反射された電力と正確に比較することで、ディスクのそのバッチの空気−ポリカーボネートインタフェースでの反射係数ｒbatchを判定する。そのバッチの反射係数ｒbatchは、たとえば、ＢＣＡ（Burst  Cutting  Area）又はそれぞれのディスクのＡＤＩＰ／ＡＴＩＰ（Address  in  Pregroove/Absolute  Time  in  Pregroove）、若しくは何処かで公開されたもの（たとえばインターネット又はウェブサイト）において、バッチにおけるそれぞれのディスクに記憶される。さらに、又は代替的に、製造業者は、先に指摘したように、レイヤ／基板の比率にターゲット及びリファレンスディスクの空気−基板の反射の比率を加えたものを決定及び記憶する。
【００３６】
反射係数がこのように既知である場合、ディスクドライブは、リファレンスとしてディスクそれ自身の空気−ポリカーボネートインタフェースを使用して、リファレンスディスクの使用なしに正確な反射測定を実行することができる。
【００３７】
先の実施の形態の１つの応用は、図７に示される。本発明のこの態様によれば、空気−ポリカーボネートインタフェースでの反射が光ディスクに入射する電力の予測値を提供するために使用される。光ビームの瞬間電力がディスクドライブの動作の間に決定されることが必要なことがある。たとえば、光ディスクの寿命が長くなるように、ディスクが廃棄される必要がある前に可能である読取り動作の数を増加することで、光ディスクは読取り電力に感度があるため、読み取り電力をできるだけ低く保持することが望まれる。通常、入射電力は、制御されるパワーループを有することで決定されるが、これは迷光により生じる問題を有する工場の設定に基づいており、センタースポットは正確ではない。
【００３８】
ステップ７０１では、空気−ポリカーボネートインタフェースからの反射が測定される。ディスクドライブは、次いで、ステップ７０３でその特定のディスクについて既知の反射係数ｒbatchを取得する。上述のように、ディスクの反射係数ｒbatchは、ディスク自身に記憶されたデータから取得されるか、インターネットのような別のソースから得られたデータから取得される。ステップ７０５では、ディスクドライブは、空気−ポリカーボネートインタフェースから測定された反射及びディスクの既知の反射係数ｒbatchに基づいて、入射電力を判定することができる。
【００３９】
言い換えれば、基板の反射率ｒbatchはｒbatch＝Ｐr／Ｐe（すなわち空気−基板インタフェースで反射された電力／放出された電力）として与えられる場合、Ｐe＝Ｐr／ｒbatchである。
【００４０】
上記から、空気−ポリカーボネートインタフェースからの反射が入射電力を判定するために反射の基準を提供することが分かり、レーザパワーに大きな耐性が存在する状況で有効である。
【００４１】
本発明の別の態様によれば、光ディスクの屈折率ｎは、製造の間に光ディスクに記憶される。屈折率ｎがこのように利用可能にされる場合、上述のように、ディスクの識別及び／又は入射電力の測定を更にエンハンスするために使用される。たとえば、ディスク識別プロセスはたとえばｎ＝１．６といったｎの推定される典型的な値に基づくので、識別プロセスは、ディスク自身からｎの実際の値を読み取ることでリファインされる。
【００４２】
したがって、屈折率ｎがディスクに記憶されるケースでは、上述したように、すなわち空気−ポリカーボネートインタフェースでの測定と情報レイヤでの測定との比を比較することで、ディスクのタイプを判定するために最初の測定が行われた後に、ディスクドライブをファインチューニングするため、この情報を使用することができる。かかる実施の形態では、ディスクのタイプは、２つのポイントでの反射の比をはじめに比較し、次いで、ディスクドライブの設定がファインチューニングされるのを可能にするため、ディスクのファームウェアから屈折率を読み取ることで決定される。
【００４３】
本発明の更に別の態様によれば、空気−ポリカーボネートインタフェースからの反射は、ディスクの表面の汚れを検出するために使用される。たとえば、反射係数ｒbatchが（ディスク自身から、又は別のソースから）既知である場合、この情報は、ディスクの汚れを検出するために使用される。
【００４４】
図８を参照して、ステップ８０１で空気−ポリカーボネートインタフェースからの反射が測定される。そのディスクの反射係数ｒbatchは、ステップ８０３で、ディスク自身又は別のソースのいずれかから取得される。空気−ポリカーボネートインタフェースから測定された反射は、ステップ８０５で、期待される反射と比較され、すなわち反射係数及び既知の入射電力とを使用して比較される。測定される反射が同じである場合、又は期待される反射の許容可能な制限内にある場合、ステップ８０７で、ディスクはファインであると考えられる。しかし、測定される反射が期待される反射と同じでない場合、ステップ８０９で、これはディスクが汚れていることを示す。係る状況では、ディスクをきれいにするか又は置き換えられるように、ディスクが汚れていることをユーザは警告される。
【００４５】
本発明は、正確、容易な再現可能かつ安価な反射リファレンスを提供するものであり、会社と製造業サイトの間の優れた再現性により、ディスク及びドライブ製造によるメディア認証のために使用することができる。
【００４６】
所定の方法ステップが情報レイヤでの反射の前に測定される空気−ポリカーボネートインタフェースでの反射を記載するとき、これらの測定は、逆に、すなわち好適な実施の形態で規定される順序ではなく実行されることを理解されたい。
【００４７】
上述した実施の形態は、本発明を限定するよりはむしろ例示するものであり、当業者は、特許請求の範囲から逸脱することなしに多くの代替となる実施の形態を設計することができる。単語「有する“comprising”」は、請求項で列挙された以外のエレメント又はステップの存在を排除するものではなく、単一のプロセッサ又は他のユニットは、請求項で引用された幾つかのユニットの機能を達成する。請求項における参照符号は、それらの範囲を制限するように解釈されるべきではない。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】光ディスクの反射率を測定する典型的なシステムの図である。
【図２】リファレンスディスクと共に使用されたとき、図１の検出器からの出力を示す図である。
【図３】本発明の第一の態様に係るディスクの反射特性を判定することに含まれるステップを示すフローチャートである。
【図４】図３の方法で使用される反射測定を示す図である。
【図５】本発明の第二の態様に係るディスクの反射特性を判定することに含まれるステップを示す図である。
【図６】本発明の別の態様で使用される反射測定を示す図である。
【図７】本発明の別の態様に係る光ディスクでの入射電力を判定することに含まれるステップを示す図である。
【図８】本発明の別の態様に係る方法を示す図である。
【図１】
2008536246.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【国際調査報告】
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