(57)【要約】【課題】傾斜つまみを回す際に、使用者が複雑な演算を行うことを不要にできる表面粗さ測定機を提供すること。【解決手段】表面粗さ測定機は、基線Ｋが形成され、支持脚を伸縮させる傾斜つまみ４３と、目盛Ｄが形成された調整つまみ４４とを備える。支持脚を縮める場合、例えば、調整つまみ４４の０目盛Ｄを傾斜つまみ４３の基線Ｋに合わせた後に、スタイラスの移動方向と被測定面とが平行となるように本体２を傾斜させる傾斜つまみ４３の回転量である補正量分、傾斜つまみ４３を単に右回りに回転させる。支持脚を伸長させる場合、目盛Ｄが補正量の小数部の値となるように調整つまみ４４を回転させ、傾斜つまみ４３を０目盛Ｄまで単に左周りに回転させた後に、補正量の整数部の分、傾斜つまみ４３を単に左回りに回転させる。これにより、本考案によれば、従来のような複雑な計算無しに支持脚を目的の長さまで正確に伸縮させることができる。【選択図】図２
0003145854.tif 000002
【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
本体と、
この本体に軸方向に移動可能に設けられ、先端に被測定面に接触するスタイラスを有するアームと、
前記本体の傾きを変化させる姿勢調整機構とを備えた表面粗さ測定機において、
前記姿勢調整機構は、
前記本体の下面から突出するとともに伸縮可能に設けられ、前記本体を傾斜させる支持脚と、
前記本体に回転自在に設けられ、外面部に基線が形成されるとともに、回転することで前記支持脚を伸縮させる傾斜つまみと、
前記傾斜つまみの回転軸線を中心に回転自在に構成されるとともに、前記回転軸線を中心とした周方向に沿って前記基線に指示される目盛が形成された調整つまみとを備えている
ことを特徴とする表面粗さ測定機。
【請求項２】
請求項１に記載の表面粗さ測定機において、
前記傾斜つまみおよび前記調整つまみは、前記本体の上面に配置され、
前記姿勢調整機構は、前記本体の内部に設けられ、前記傾斜つまみの回転に伴って前記支持脚を伸縮させる伸縮機構を備え、
前記伸縮機構は、
外周面に雄ねじが形成され、前記傾斜つまみと一体に回転する回転伝達部と、
一端側にねじ孔が形成され、前記ねじ孔に前記回転伝達部が螺合する送りナット部と、
保持部と、
前記送りナットの他端側から垂下するとともに前記保持部に軸線方向のみに移動可能に保持され、前記支持脚を上下動させる垂下部とを備え、
前記伸縮機構の内側には、前記アームの基端部が進退可能な空間が形成されている
ことを特徴とする表面粗さ測定機。
【請求項３】
請求項２に記載の表面粗さ測定機において、
前記伸縮機構は、一端が前記垂下部に接続され、他端から前記支持脚が垂下する連結部を備え、略Ｕ字状に形成されている
ことを特徴とする表面粗さ測定機。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本考案は、表面粗さ測定機に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、テーブル上に載置された本体と、本体により進退するアームとを備えた表面粗さ測定機が知られている（例えば、特許文献１参照）。アームの先端部には検出器が設けられている。検出器は、被測定面に接触するスタイラスを上下動可能に保持している。特許文献１の表面粗さ測定機では、アームを進退させ、スタイラスを被測定面に沿って進退させることで、スタイラスの上下変位量を検出し、被測定面の表面粗さを測定している。
【０００３】
このような表面粗さ測定機では、被測定面がスタイラスの進退方向に対して傾斜している場合、スタイラスの上下変位量が、正確に測定することができる最大変位量を超えてしまうおそれがある。このような問題に対し、従来、スタイラスの進退方向が被測定面と平行になるように本体を傾斜させることにより、スタイラスの上下変位量が最大変位量を超えてしまうことを防止する表面粗さ測定機が開発されている。
【０００４】
図８は、従来の表面粗さ測定機１を示す斜視図である。
具体的に、図８に示すように、この表面粗さ測定機１は、本体２と、スタイラス３１１を保持する検出器３１を有するアーム３と、姿勢調整機構４と、本体２にケーブル５１により接続された表示手段５２とを備えている。姿勢調整機構４は、本体２の下面２１から突出し、本体２を支持する一対の前足４１および後足４２と、本体２の下部に設けられた傾斜つまみ４３とを備えている。後足４２は、傾斜つまみ４３が回されることで伸縮するように構成されている。傾斜つまみ４３には、目盛Ｄが０．０から０．９（図１０参照、図１０では、．０〜．４と図示）まで時計回りに形成されている。本体２には、前記目盛Ｄを指示する基線Ｋが形成されている。
【０００５】
図９は、従来の表面粗さ測定機１を示す側面図である。
このような表面粗さ測定機１では、被測定物６の被測定面６１の傾斜角度を予備測定し、予備測定の結果から被測定面６１の傾斜角度と平行に傾斜する傾斜つまみ４３の回転量を算出し、表示手段５２に表示する。そして、使用者が表示手段５２に表示された回転量分だけ傾斜つまみ４３を回して後足４２を伸縮させることで、図９に示すように、スタイラス３１１の進退方向と被測定面６１とが平行となるように本体２が傾斜し、被測定面６１の測定を正確に行うことができるようになる。
【０００６】
【特許文献１】実開平７−２９０８号公報
【考案の開示】
【考案が解決しようとする課題】
【０００７】
図１０は、傾斜つまみ４３および基線Ｋを示す平面図である。
しかしながら、このような表面粗さ測定機１では、図１０に示すように、傾斜つまみ４３の現在目盛位置（基線Ｋに指示されたつまみの目盛Ｄであり、例えば０．１６）と、表示手段５２に表示された回転量（例えば０．５７回転、すなわち左回りに０．５７回転）とから、使用者が傾斜つまみ４３の最終目標位置（例えば０．７３）を演算しなければならず、つまり、現在目盛位置０．１６と、表示手段５２に表示された回転量０．５７とを足して最終目標位置０．７３を演算しなければならず、当該演算が煩雑であるという問題がある。
【０００８】
本考案の目的は、傾斜つまみを回す際に、使用者が複雑な演算を行うことを不要にできる表面粗さ測定機を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本考案の表面粗さ測定機は、本体と、この本体に軸方向に移動可能に設けられ、先端に被測定面に接触するスタイラスを有するアームと、前記本体の傾きを変化させる姿勢調整機構とを備えた表面粗さ測定機において、前記姿勢調整機構は、前記本体の下面から突出するとともに伸縮可能に設けられ、前記本体を傾斜させる支持脚と、前記本体に回転自在に設けられ、外面部に基線が形成されるとともに、回転することで前記支持脚を伸縮させる傾斜つまみと、前記傾斜つまみの回転軸線を中心に回転自在に構成されるとともに、前記回転軸線を中心とした周方向に沿って前記基線に指示される目盛が形成された調整つまみとを備えていることを特徴とする。
【００１０】
本考案によれば、基線が形成され、支持脚を伸縮させる傾斜つまみに加え、目盛が形成された調整つまみを備えている。従って、例えば、傾斜つまみが、右回りに回転することで支持脚を縮め、左回りに回転することで支持脚を伸張させるように構成されているとともに、調整つまみの目盛が０．０から０．９まで右回りに順に付されている場合において、支持脚を縮める場合、調整つまみの０目盛を傾斜つまみの基線に合わせた後に、予備測定などにおいて求められた回転量（以降、補正量）分だけ傾斜つまみを単に右回りに回転させることで、スタイラスの移動方向と被測定面とが平行となるように本体を傾斜できる。すなわち、使用者は、従来のような複雑な計算無しに傾斜つまみを補正量分回転させることができ、支持脚を目的の長さまで正確に縮めることができる。
また、支持脚を伸長させる場合において、予備測定などにおいて求められた補正量が１回転以上の場合、まず、基線に指示される目盛が補正量の小数部の値となるように調整つまみを回転させた後に、傾斜つまみを０目盛まで単に左周りに回転させる。すなわち、傾斜つまみを補正量の小数部の分、左回りに回転させる。そして、その状態から、補正量の整数部の分、傾斜つまみを単に左回りに回転させる。これにより、使用者は、従来のような複雑な計算無しに、傾斜つまみを補正量分回転させることができ、支持脚を目的の長さまで正確に伸長させることができる。なお、予備測定などにおいて求められた補正量が１回転より小さい場合、補正量の整数部の分、傾斜つまみを左回りに回転させる工程は省略される。
【００１１】
本考案の表面粗さ測定機では、前記傾斜つまみおよび前記調整つまみは、前記本体の上面に配置され、前記姿勢調整機構は、前記本体の内部に設けられ、前記傾斜つまみの回転に伴って前記支持脚を伸縮させる伸縮機構を備え、前記伸縮機構は、外周面に雄ねじが形成され、前記傾斜つまみと一体に回転する回転伝達部と、一端側にねじ孔が形成され、前記ねじ孔に前記回転伝達部が螺合する送りナット部と、保持部と、前記送りナットの他端側から垂下するとともに前記保持部に軸線方向のみに移動可能に保持され、前記支持脚を上下動させる垂下部とを備え、前記伸縮機構の内側には、前記アームの基端部が進退可能な空間が形成されていることが好ましい。
【００１２】
本考案によれば、傾斜つまみおよび調整つまみが本体の上面に配置されているので、傾斜つまみが本体の下部に配置されていた従来に比べ、操作性を向上できる。
垂下部が、保持部に軸線方向のみに移動可能に保持されているので、この垂下部と連結する送りナット部が回り止めされることとなり、回転伝達部が回転すると、送りナット部および垂下部が上下に移動し、垂下部により支持脚が上下動することとなる。従って、傾斜つまみおよび調整つまみを本体の上面に配置しても、支持脚を上下動させることできる。
また、送りナット部および垂下部はＬ字状に形成され、その内側には、アームの基端部が進退可能な空間が形成されているので、伸縮機構をアームと干渉させることなく、かつ平面視でアームと重なり合うように本体内に設けることができる。従って、伸縮機構を、アームの軸線方向上に、アームと重ならないように設けることを不要にでき、伸縮機構を本体の全長を増すことなく本体内に設けることができる。
【００１３】
本考案の表面粗さ測定機では、前記伸縮機構は、一端が前記垂下部に接続され、他端から前記支持脚が垂下する連結部を備え、略Ｕ字状に形成されていることが好ましい。
本考案によれば、伸縮機構は、一端が前記垂下部に接続され、他端から前記支持脚が垂下する連結部を備え、略Ｕ字状に形成されている。また、伸縮機構の内側には、アームの基端部が進退可能な空間が形成されている。このような構成により、伸縮機構は、簡素な構成で確実に支持脚を上下動させることできる。
【考案を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本考案の一実施形態を図面に基づいて説明する。
図１は、本実施形態に係る表面粗さ測定機１を示す外観図である。なお、以下では、前述した図に対応する要素に同一の符号を付して説明する。
表面粗さ測定機１（以下、測定機１と記載）は、被測定物６の被測定面６１に沿ってスタイラス３１１を進退させ、スタイラス３１１の上下変位量を検出することで、被測定面６１の表面粗さを測定するものである。この測定機１は、図１に示すように、本体２と、アーム３と、姿勢調整機構４と、演算手段としてのＰＣ５（Personal Computer）とを備えている。
【００１５】
本体２は、被測定物６と共に載置面７上に載置されている。この本体２は、アーム３を当該アーム３の軸方向に進退させるための図示しない駆動装置を備えている。駆動装置は、例えばモータと、モータにより回転駆動し、アーム３の側面に取り付けられたラックと噛み合う歯車と、を備えている。この駆動装置は、モータを駆動し、歯車を回転させることにより、アーム３を軸方向に進退させる。なお、本体２は、ＰＣ５により操作されるように構成されていてもよいし、本体２に図示しない操作部が設けられ、この操作部により操作されるように構成されていてもよい。また、アーム３を進退させる駆動装置の構成は任意である。
【００１６】
アーム３は、検出器３１と、上下動ガイドバー３２と、基準ガイド３３とを備えている。
検出器３１は、被測定面６１に接触するスタイラス３１１を上下動可能に保持しており、このスタイラス３１１の上下変位量を検出し、ＰＣ５に出力する。
上下動ガイドバー３２は、検出器３１を保持する。この上下動ガイドバー３２は、上下送りつまみ３２１を有し、この上下送りつまみ３２１が回されることで検出器３１を上下動する。
【００１７】
基準ガイド３３は、軸方向に移動可能に本体２に保持されている。この基準ガイド３３の側面には、前述したように、例えばラックが取り付けられ、本体２内に設けられた駆動装置により軸方向に駆動される。このような基準ガイド３３の先端には上下動ガイドバー３２が接続されており、基準ガイド３３は、この上下動ガイドバー３２を介して検出器３１を当該基準ガイド３３の軸方向に沿って進退させる。また、この基準ガイド３３の側面には、長手方向に沿ってスケール（目盛）が設けられている。このスケールは、本体２内に設けられた図示しない検出装置によって読み取られる。そして、検出装置は、このスケールから、基準ガイド３３の軸方向の変位を検出し、ＰＣ５に出力する。
【００１８】
姿勢調整機構４は、スタイラス３１１の進退方向と被測定面６１とが平行となるように本体２を傾斜させることで、正確な被測定面６１の表面粗さ測定を可能とする。この姿勢調整機構４は、本体２の下面２１から突出し、本体２を支持する一対の前足４１および支持脚としての後足４２と、本体２の上面２２に設けられた傾斜つまみ４３および調整つまみ４４と、本体２内部に設けられ、傾斜つまみ４３の回転により後足４２を伸縮させる伸縮機構４５（図３参照）とを備えている。
【００１９】
図２は、傾斜つまみ４３および調整つまみ４４を示す斜視図である。
傾斜つまみ４３は、伸縮機構４５を構成する軸４５１（図３参照）を有し、回転自在に構成されている。この傾斜つまみ４３の上面には、図２に示すように、基線Ｋが形成されている。傾斜つまみ４３は、この軸４５１を回転させることにより後足４２を伸縮させる。具体的には、傾斜つまみ４３は、測定機１の上方から見て右回りに回転した場合、後足４２を縮め、左回りに回転した場合、後足４２を伸張させる。
【００２０】
調整つまみ４４は、傾斜つまみ４３の下側に配置されており、前記軸４５１上に遊嵌され、傾斜つまみ４３の回転軸線４３Ａを中心に回転自在に設けられている。この調整つまみ４４の上面には、前記基線Ｋに指示され、小数点以下の数値を示す目盛Ｄが、前記回転軸線４３Ａを中心とした周方向に沿って形成されている。目盛Ｄは、５つごとに長くなっており、当該長くされた目盛Ｄには、時計回りに０．０から０．９までの数字（．０〜．９と図示）が付されている。
本実施形態では、各つまみ４３，４４が、前述したように本体２の上面２２に配置されているので、傾斜つまみが本体の下部に配置されていた従来に比べ、操作性を向上できる。各つまみ４３，４４による本体２の傾斜角度調整については後述する。
【００２１】
図３は、本体２内部を示す斜視図である。
伸縮機構４５は、傾斜つまみ４３が回転することにより後足４２を伸縮させる。この伸縮機構４５は、図３に示すように、回転伝達部としての軸４５１と、送りナット部４５２と、保持部４５３と、垂下部４５４と、連結部４５５とを備えている。
軸４５１は、前述したように傾斜つまみ４３の軸であり、先端に雄ねじ４５１１が形成され、傾斜つまみ４３と一体に回転する。
送りナット部４５２の一端側には、ねじ孔４５２１が形成され、前記軸４５１が螺合する。また、送りナット部４５２の他端側には垂下部４５４が接続されている。
【００２２】
保持部４５３は、本体２のフレーム２３の一部であり、貫通孔４５３１を有する。
垂下部４５４は、送りナット部４５２の他端側から垂下し、貫通孔４５３１を挿通する。これにより垂下部４５４は、保持部４５３に、当該垂下部４５４の軸線方向のみに移動可能に保持される。
連結部４５５は、一端側が垂下部４５４に接続され、他端側には後足４２が接続している。後足４２は、当該連結部４５５の他端側から垂下している。
【００２３】
以上のような伸縮機構４５は、基準ガイド３３の軸方向と直交する平面方向において折曲し、略Ｕ字状に形成されている。また、その内側には、基準ガイド３３が軸方向に進退可能な空間Ｓが形成されている。これにより、本実施形態では、伸縮機構４５を基準ガイド３３と干渉させることなく、平面視で基準ガイド３３と重なり合うように本体２内に設けることができる。従って、伸縮機構４５を、基準ガイド３３の軸線方向上に、平面視で基準ガイド３３と重ならないように設けることを不要にでき、本体２の全長を増すことなく伸縮機構４５を本体２内に設けることができる。
【００２４】
このような伸縮機構４５において、傾斜つまみ４３が回転し、その軸４５１が回転した際には、送りナット部４５２と一体の垂下部４５４が保持部４５３によって上下方向のみ移動可能に保持されているので、送りナット部４５２は回り止めされ、上下方向に移動することとなる。これにより、送りナット部４５２と一体の垂下部４５４、連結部４５５、および後足４２も上下方向に移動することとなるので、傾斜つまみ４３が回転すると、後足４２が上下方向に移動し、本体２から突出する部分の長さが変わって後足４２が伸縮することとなる。なお、後足４２は、傾斜つまみ４３が１回転すると、当該傾斜つまみ４３の軸４５１に形成された雄ねじ４５１１のリード分だけ上下方向に移動することとなる。
【００２５】
ＰＣ５は、本体２にケーブル５１を介して接続され、表示手段５２を備えている。ＰＣ５は、被測定物６の被測定面６１に沿ってスタイラス３１１を進退させる後述する予備測定の際に、検出器３１から出力されるスタイラス３１１の上下変位量と、本体２内に設けられた図示しない検出装置から出力される基準ガイド３３の軸方向の変位量、すなわち、スタイラス３１１の軸方向の変位量とから、スタイラス３１１の進退方向に対する被測定面６１の傾斜角度を算出する。そして、ＰＣ５は、算出した被測定面６１の傾斜角度から、スタイラス３１１の進退方向と被測定面６１とが平行となるように本体２を傾斜させる傾斜つまみ４３の回転量を算出するとともに、前記回転量分、傾斜つまみ４３を回転させるための表示を表示手段５２に表示する。
【００２６】
以下、測定機１の動作を説明する。
まず、使用者に操作されることにより、測定機１は、被測定物６の被測定面６１に沿ってスタイラス３１１を進退させ、スタイラス３１１の進退方向に対する被測定面６１の傾斜角度を予備測定し、この予備測定の結果から、スタイラス３１１の進退方向と被測定面６１とが平行となるように測定機１を傾斜させる傾斜つまみ４３の回転量（以下、補正量と記載）を算出する。
【００２７】
図４は、調整つまみ４４の回し方を示す図である。
そして、測定機１は、被測定面６１が、測定機１と離隔する側に向かうに従ってスタイラス３１１の移動方向軸に近接するように傾斜する場合（図１）、まず、調整つまみ４４の０目盛Ｄを傾斜つまみ４３の基線Ｋに合わせる指示を表示手段５２に表示する。この表示から、使用者は、図４に示すように、調整つまみ４４の０目盛Ｄを傾斜つまみ４３の基線Ｋに合わせる。
【００２８】
図５は、傾斜つまみ４３の回し方を示す図である。
次に、測定機１は、補正量（例えば＋１．２８回転）分、傾斜つまみ４３を右回りに回転させる指示を表示手段５２に表示する。この表示から、使用者は、図５に示すように、傾斜つまみ４３を補正量分だけ右回りに回転させる。これにより、測定機１は、後足４２が縮んで被測定面６１の傾斜角度と平行に傾斜し、スタイラス３１１の進退方向と被測定面６１とが平行となり、被測定面６１の測定を正確に行うことができるようになる。
【００２９】
図６は、調整つまみ４４の回し方を示す図である。
被測定面６１が、測定機１と近接する側に向かうに従ってスタイラス３１１の移動方向軸に近接するように傾斜する場合、測定機１は、まず、基線Ｋに指示される調整つまみ４４の目盛Ｄの値が、補正量（例えば−１．２８）における小数部の値（０．２８）となるように調整つまみ４４を回転させる指示を表示手段５２に表示する。この表示から、使用者は、図６に示すように、基線Ｋに指示される目盛Ｄの値が補正量における小数部の値となるように調整つまみ４４を回転させる。
【００３０】
図７は、傾斜つまみ４３の回し方を示す図である。
次に、測定機１は、基線Ｋが調整つまみの０目盛Ｄに合うように傾斜つまみ４３を左回りに回転させる指示を表示手段５２に表示する。この表示から、使用者は、図７に示すように、傾斜つまみ４３を、基線Ｋが調整つまみの０目盛Ｄに合うまで左回りに回転させる。すなわち、使用者は、傾斜つまみ４３を補正量の小数部の分（０．２８回転分）、左回りに回転させる。
【００３１】
そして、測定機１は、補正量（−１．２８）における整数部の分（１回転分）、傾斜つまみ４３を左回りに回転させる指示を表示手段５２に表示する。この表示から、使用者は、傾斜つまみ４３を、補正量の整数部の分（１回転分）、左回りに回転させる。
これにより、傾斜つまみ４３は、補正量の分（１．２８回転分）、左回りに回されることとなるので、測定機１は、後足４２が伸長して被測定面６１の傾斜角度と平行に傾斜し、被測定面６１の測定を正確に行うことができるようになる。なお、測定機１は、補正量が小数点以下の場合、傾斜つまみ４３を補正量の整数部の分、左回りに回転させる指示を表示する工程は省略する。
【００３２】
以上のような本実施形態によれば、以下の効果を奏することができる。
測定機１は、基線Ｋが形成され、後足４２を伸縮させる傾斜つまみ４３に加え、目盛Ｄが形成された調整つまみ４４を備えている。傾斜つまみ４３は、右回りに回転することで後足４２を縮め、左回りに回転することで後足４２を伸張させるように構成されている。また、調整つまみ４４の目盛Ｄは、０．０から０．９まで右回りに順に付されている。従って、後足４２を縮める場合、調整つまみ４４の０目盛Ｄを傾斜つまみ４３の基線Ｋに合わせた後に、予備測定において求められた傾斜つまみ４３の補正量（例えば＋１．２８回転）分、傾斜つまみ４３を単に右回りに回転させるだけで、スタイラス３１１の移動方向と被測定面６１とが平行となるように本体２を傾斜できる。すなわち、使用者は、従来のような複雑な計算無しに、傾斜つまみ４３を補正量分、右回りに回転させるだけで、後足４２を目的の長さまで正確に縮めることができる。
【００３３】
また、後足４２を伸長させる場合において、予備測定において求められた補正量が１回転以上の場合、まず、基線Ｋに指示される調整つまみ４４の目盛Ｄが、補正量（例えば−１．２８）の小数部の値（０．２８）となるように調整つまみ４４を回転させた後に、傾斜つまみ４３を、基線Ｋが調整つまみ４４の０目盛Ｄに合うように左回りに回転させる。すなわち、傾斜つまみ４３を補正量の小数部の分（０．２８回転分）、左回りに回転させる。そして、その状態から、傾斜つまみ４３を補正量の整数部の分（１回転分）左回りに回転させることで、傾斜つまみ４３を補正量分（１．２８回転分）左回りに回転させることとなるので、スタイラス３１１の移動方向と被測定面６１とが平行となるように本体２を傾斜できる。すなわち、使用者は、従来のような複雑な計算無しに、傾斜つまみ４３を補正量分、左回りに回転させるだけで、後足４２を目的の長さまで正確に伸長させることができる。また、複雑な計算無しに後足４２を目的の長さに調整できるので、後足４２の長さ調整にかかる時間を短縮できるうえ、後足４２の長さ調整のミスを無くすことができる。なお、予備測定において求められた補正量が１回転より小さい場合、補正量の整数部の分、傾斜つまみ２３を左回りに回転させる工程は省略される。
【００３４】
傾斜つまみ４３および調整つまみ４４が本体２の上面２２に配置されているので、傾斜つまみが本体の下部に配置されていた従来に比べ、操作性を向上できる。
垂下部４５４が、保持部４５３に軸線方向のみに移動可能に保持されているので、この垂下部４５４と連結する送りナット部４５２が回り止めされることとなり、軸４５１が回転すると、送りナット部４５２および垂下部４５４が上下に移動し、垂下部４５４と一体に上下動する後足４２が上下動することとなる。従って、傾斜つまみ４３および調整つまみ４４を本体２の上面２２に配置しても、後足４２を上下動させることできる。
また、これら送りナット部４５２および垂下部４５４はＬ字状に形成され、その内側には、基準ガイド３３の基端部が進退可能な空間Ｓが形成されているので、伸縮機構４５を基準ガイド３３と干渉させることなく、平面視で基準ガイド３３と重なり合うように設けることができ、本体２の全長を増すことなく伸縮機構４５を本体２内に設けることができる。
【００３５】
伸縮機構４５は、一端が垂下部４５４に接続され、他端から後足４２が垂下する連結部４５５を備え、略Ｕ字状に形成されている。また、伸縮機構４５の内側には、アーム３の基端部が進退可能な空間Ｓが形成されている。このような構成により、伸縮機構４５は、簡素な構成で確実に後足４２を上下動させることできる。
【００３６】
〔実施形態の変形〕
なお、本考案は前述の実施形態に限定されるものではなく、本考案の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本考案に含まれるものである。
前記実施形態では、表面粗さ測定機１は、被測定物６の表面粗さを測定したが、表面粗さ測定機１は、被測定物６の輪郭形状を測定してもよい。すなわち、本考案の表面粗さ測定機は、輪郭形状測定機を含んだ概念である。
【００３７】
前記実施形態では、支持脚は後足４２であったが、支持脚は前足４１であってもよい。
前記実施形態では、調整つまみ４４は、傾斜つまみ４３の下側、かつ各つまみ４３，４４の上方から見た場合、傾斜つまみ４３の内側に配置されていたが、各つまみ４３，４４の位置、形状は逆に構成されていてもよく、調整つまみ４４は、傾斜つまみ４３の上側、かつ各つまみ４３，４４の上方から見た場合、内側に配置されていてもよい。
前記実施形態では、演算手段は、本体２に接続されたＰＣ５であったが、演算手段は、表示手段を有し、本体２に接続された小型の演算装置でもよい。そして、複雑な演算や解析を行う場合に、前記小型の演算装置にＰＣが接続されるように測定機は構成されていてもよい。
【産業上の利用可能性】
【００３８】
本考案は、表面粗さ測定機に利用できる。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】本考案の一実施形態に係る表面粗さ測定機を示す外観図。
【図２】傾斜つまみおよび調整つまみを示す斜視図。
【図３】本体の内部を示す斜視図。
【図４】調整つまみの回し方を示す図。
【図５】傾斜つまみの回し方を示す図。
【図６】調整つまみの回し方を示す図。
【図７】傾斜つまみの回し方を示す図。
【図８】従来の表面粗さ測定機を示す斜視図。
【図９】従来の表面粗さ測定機を示す側面図。
【図１０】従来の傾斜つまみおよび基線を示す平面図。
【符号の説明】
【００４０】
１…測定機、２…本体、３…アーム、７…姿勢調整機構、２２…上面、４２…後足（支持脚）、４５…伸縮機構、６１…被測定面、３１１…スタイラス、４５１…軸（回転伝達部）、４５２…ナット部、４５３…保持部、４５４…垂下部、４５５…連結部、４５２１…ねじ孔、Ｄ…目盛、Ｋ…基線、Ｓ…空間。
【図１】
0003145854.tif 000003
【図２】
0003145854.tif 000004
【図３】
0003145854.tif 000005
【図４】
0003145854.tif 000006
【図５】
0003145854.tif 000007
【図６】
0003145854.tif 000008
【図７】
0003145854.tif 000009
【図８】
0003145854.tif 000010
【図９】
0003145854.tif 000011
【図１０】
0003145854.tif 000012