【事件の表示】
　特許第２８５２８３８号「誘導結合プラズマ質量分析装置」の特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結　論】
　訂正を認める。
　特許第２８５２８３８号の請求項１に係る特許を維持する。
【理　由】
１．手続きの経緯
　特許第２８５２８３８号の請求項１に係る発明についての出願は、平成４年９月１０日に特許出願され、平成１０年１１月２０日にその発明について特許の設定登録がなされ、その後、清水宏一より特許異議の申立てがなされ、取消理由通知がなされ、その指定期間である平成１２年８月２９日に訂正請求がなされたものである。
　
２．訂正の適否についての判断
（ア）訂正の内容
　特許権者が求めている訂正の内容は、以下のＡ，Ｂのとおりである。
Ａ．特許請求の範囲に記載されている「中心」を「中心の管」に訂正する。
Ｂ．特許請求の範囲に記載されている「第二ガス流量制御部を設置して」を 「前記三重管構造の中心の管に資料が流入する前に当該資料にガスを付加する第二ガス流量制御部を設置して」に訂正する。
　
（イ）訂正の目的の適否、新規事項の有無及び拡張・変更の存否
　上記Ａの訂正事項に関連する記載として、願書に添付した明細書（以下、「特許明細書」という）には「プラズマトーチ７は３重管構造をしている。プラズマトーチ７の中心の管はスプレーチャンバー５に接続されており、」（特許明細書第２頁第１４〜１５行（特許公報第３欄第１８〜２１行））と記載されていることから、「中心の管」は特許明細書に記載されているものと認める。そうすると、上記Ａの訂正は、特許明細書に記載された事項の範囲内において、プラズマトーチ７の部分である「中心」を具体的に「中心の管」と限定したものといえるから、特許請求の範囲の減縮を目的とするものであり、新規事項の追加にも該当しない。
　また、上記Ｂの訂正事項に関連する記載として、特許明細書には「そして流量制御部１３で流量制御されたガス（スプレーチャンバーガスと呼ぶことにする）は、…スプレーチャンバー５内に流入する。即ち試料溶液１（の一部）は、…スプレーチャンバーガスと共にスプレーチャンバー５を通してプラズマトーチ１の中心の管に導入される。」（特許明細書第４頁第１７〜２２行（特許公報第４欄第４４〜第５欄第１行））と記載されていることから、「前記三重管構造の中心の管に資料が流入する前に当該資料にガスを付加する第二ガス流量制御部を設置して」は特許明細書に記載されているものと認められる。そうすると、上記Ｂの訂正は、特許明細書に記載された事項の範囲内において、第二ガス流量制御部を機能的に限定したものといえるから、特許請求の範囲の減縮を目的とするものであり、新規事項の追加にも該当しない。
　そして、上記いずれの訂正も実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものでもない。
　
（ウ）独立特許要件の判断
　訂正明細書の請求項１に係る発明は、その特許請求の範囲の請求項１に記載された次の事項により特定されるとおりのものである。
【請求項１】「液体試料中の微量不純物の同定・定量をする目的として、試料溶液を霧状に噴霧するネブライザーと前記ネブライザーで前記試料溶液を霧状に噴霧させるためのガスを制御して供給するガス流量制御部と、前記ネブライザーで噴霧された前記試料溶液の分級を行なうスプレーチャンバーと、三重管構造をしていて中心の管が前記スプレーチャンバーに接続されたプラズマトーチと、前記プラズマトーチでプラズマを発生・維持するためのエネルギーを供給する高周波電源およびワークコイルと、前記プラズマトーチで維持されたプラズマ中でイオン化した前記微量不純物を質量分離して検出する質量分析部からなる誘導結合プラズマ質量分析装置において、
　前記三重管構造の中心の管に試料が流入する前に当該試料にガスを付加する第二ガス流量制御部を設置して、前記プラズマトーチの中心の管に流すガスを前記ネブライザーを通して行なう前記ガス流量制御部および前記第二ガス流量制御部により制御し、
　かつ前記第二ガス流量制御部で制御するガスにアルゴンを使用したことを特徴とする誘導結合プラズマ質量分析装置。」
　
　これに対して、当審が通知した取り消し理由通知書で引用した刊行物１（特開平０４−１３２９５２号公報）には、次の事項が第２図及び第３図とともに記載されている。
（１）「本発明は、サンプル導入装置に関し、更に詳しくは、高周波誘導結合プラズマ質量分析計（以下、「ＩＣＰ−ＭＳ」と略す）に装着されＩＣＰ−ＭＳのプラズマトーチ内管にエアロゾル試料を供給する試料導入の効率を改善したサンプル導入装置に関する。
〈従来の技術〉
　ＩＣＰ−ＭＳは、高周波誘導結合プラズマを用いて試料を励起させ、生じたイオンをノズルとスキマーからなるインターフェースを介して質量分析計に導いて電気的に検出し該イオン量を精密に測定することにより、試料中の被測定元素を高精度に分析するように構成されている。第２図は、このようなＩＣＰ−ＭＳの従来例構成説明図である。
　この図において、プラズマトーチ１の外側管１ｂと最外側管１ｃにはガスコントローラ２を介してアルゴンガス供給源３からアルゴンガスが供給され、内側管１ａには試料槽４内の試料が霧化部５で霧化されてのちアルゴンガスによって搬入されるようになっている。また、プラズマトーチ１に巻回された高周波誘導コイル６には高周波電源１０によって高周波電流が流され、該コイル６の周囲に高周波磁界（図示せず）が形成されている。」（第１頁右欄第１行〜第２頁左上欄第４行）
（２）「一方、第３図にはＩＣＰ−ＭＳの試料導入部を詳しく説明するための従来例要部説明図であり、…ガスコントローラ２からネブライザ５ａにＡｒガスが供給されると、ネブライザ５ａのエジェクタ機能などにより試料が試料槽４から吸引されて霧化される。このような霧化によってエアゾル試料となった後、スプレーチャンバー５ｂによって大粒のエアロゾルが分離・除去され、その後、プラズマトーチ１の内管１ａに導入される。」（第２頁右上欄第１１行〜同左下欄第１行）
　
　この記載事項によると、刊行物１には、
「液体試料中の被測定元素の分析をする目的として、試料溶液を霧状に噴霧するネブライザ５ａと前記ネブライザ５ａで前記試料溶液を霧状に噴霧させるためのＡｒガスを制御して供給するガスコントローラ２と、前記ネブライザ５ａで噴霧された前記試料溶液の分級を行なうスプレーチャンバー５と、三重管構造をしていて内管１ａが前記スプレーチャンバー５に接続されたプラズマトーチ１と、前記プラズマトーチ１でプラズマを発生・維持するためのエネルギーを供給する高周波電源１０および高周波誘導コイル６と、前記プラズマトーチ１で維持されたプラズマ中でイオン化した前記被測定元素を質量分離して検出する質量分析計からなる誘導結合プラズマ質量分析計において、
　前記プラズマトーチ１の内管１ａに流すガスを前記ネブライザ５ａを通して行なう前記ガスコントローラ２により制御することを特徴とする誘導結合プラズマ質量分析計。」
が記載されていると認められる。
　
　同じく刊行物２（原口紘´き｀「ＩＣＰ発光分析の基礎と応用」（１９８６−１０−１）講談社）には、次の事項が図３．２４とともに記載されている。
（１）「１．５節で述べたように、ＩＣＰ中では多くの元素は９０％以上イオン化されている。このことは、ＩＣＰは光学的励起源であるだけでなく、有効なイオン源でもあることを示している。そこで、この特徴を生かしてＩＣＰを質量分析装置と結合して、ＩＣＰ−ＭＳ（質量分析法）が新しい質量分析法として開発されつつある。」（第９９頁第２９行〜第１００頁第３行）
（２）「図３．２４に、ＩＣＰ−ＭＳ装置の概略図を示す。ＩＣＰはトーチを水平方向にして点灯され、質量分析装置の試料取入れ孔に吹き付けられる。試料溶液は発光分析の場合と同様に、ネブライザーを通して噴霧されるだけである。」
　
　この記載事項によると、刊行物２には、
「試料溶液中の被測定元素の分析をする目的として、試料溶液を霧状に噴霧するネブライザーと前記ネブライザーで前記試料溶液を霧状に噴霧させるためのＡｒガスを制御して供給するガス制御部と、前記ネブライザーで噴霧された前記試料溶液の分級を行なうスプレーチャンバーと、三重管構造をしていて中心の管が前記スプレーチャンバーに接続されたトーチと、前記トーチでプラズマを発生・維持するためのエネルギーを供給する高周波マッチングボックスおよび高周波誘導コイルと、前記トーチで維持されたプラズマ中でイオン化した前記被測定元素を質量分離して検出する質量分析装置からなる誘導結合プラズマ質量分析装置において、
　前記トーチの中心の管に流すガスを前記ネブライザーを通して行なう前記ガス制御部により制御することを特徴とする誘導結合プラズマ質量分析装置。」
が記載されていると認められる。
　
　同じく刊行物３（Frederick E Lichte,Allen L.Meier,James G.Grock“ＡＮＡＬＹＴＩＣＡＬ　ＣＨＥＭＩＳＴＲＹ”ＶＯＬ．５９，ＮＯ８，ＡＰＲＩＬ　１５，１９８７，ｐ．１１５０−１１５７）には、次の事項がFigure 2とともに記載されている。
（１）「プラズマボックスの外側に再配置される試料導入系は、Babington型式のネブライザーと真っ直ぐのスプレーチャンバを組み込んでいる。本研究で使用されるトーチは、図２に示されるように、トーチの試料注入管の最後の１センチメートルにわたって試料ガスの流れを鞘状に包む、別個のアルゴンガスの供給路を有する。これは通常の動作における補助ガス流を置き換える。我々はこの流れをシースガスと呼ぶ。シースガス流の主な用途は、ネブライザーの挙動や合計での試料供給速度に影響を及ぼすことなしに、プラズマ中への試料注入速度の調節をもたらすことである。…。ネブライザー及びシースガスについてのアルゴンガス流量は、Matheson Model 8209マスフローコントローラにより制御される。」（第１１５１頁左欄第１２行〜同右欄第１行）
（２）「図２．エアロゾル注入管に対するシースガス供給管の関係、及びアルゴンガス供給路と水冷ジャケットお位置を示す、本研究に用いたトーチの概略的断面図」
　
　この記載事項によると、刊行物３には、
「三重管構造の試料注入管（中心の管に相当。）に試料が流入した後試料注入管の最後の１センチメートルにわたって当該試料にシースガスを付加するマスフローコントローラ（第二ガス流量制御部に相当。）を設置して、トーチ（プラズマトーチに相当。）の試料注入管に流す試料ガスを前記マスフローコントローラにより制御し、かつマスフローコントローラで制御するシースガスにアルゴンを使用すること」
が記載されていると認められる。
　
　（対比・判断）
請求項１に係る発明と刊行物１あるいは２に記載された発明とを対比すると、請求項１に係る発明には、
「三重管構造の中心の管に資料が流入する前に当該資料にガスを付加する第二ガス流量制御部を設置して、前記プラズマトーチの中心の管に流すガスを前記第二ガス流量制御部により制御し、かつ前記第二ガス流量制御部で制御するガスにアルゴンガスを使用する」
構成があるのに対して、
刊行物１あるいは２に記載された発明には、かかる構成がない点、
で両者は相違する。
　
　上記相違点について検討するに、刊行物３には、
「プラズマトーチの中心の管に流すガスを制御する第二ガス流量制御部に対応するマスフローコントローラ、及び、前記マスフローコントローラで制御するガスにアルゴンガスを使用する」構成の記載はあるものの、
「三重管構造の試料注入管に試料が流入する前に試料にシースガスを付加する」構成については記載も示唆もされていない。
　してみれば、上記相違点は、刊行物３に記載の事項を刊行物１あるいは２に記載された発明に結合することにより当業者が容易になし得たものとはいえず、請求項１に係る発明は、分子イオンが低減でき、分子イオンの干渉を受ける鉄やカリウム等の元素の測定性能を大幅に向上できるという顕著な効果を奏するものである。
　
　したがって、請求項１に係る発明は、上記刊行物１〜３に記載された発明から容易に発明をすることができたものとすることができないから、請求項１に係る発明は、特許出願の際独立して特許を受けることができるものである。
　
（エ）むすび
　以上のとおりであるから、上記訂正は、特許法第１２０条の４第２項及び同条第３項において準用する第１２６条第２〜４項の規定に適合するもので、当該訂正を認める。
　
３．特許異議申立てについて
（ア）本件発明
　平成１２年８月２９日付けで提出された訂正明細書の請求項１に係る発明（以下、「本件発明」という。）は、その特許請求の範囲の請求項１に記載された事項により特定されるとおりのものである。
　
（イ）申立ての理由の概要
　特許異議申立人清水宏一は、本件発明は、甲第１号証（特開平０４−１３２９５２号公報）、甲第２号証（原口紘´き｀「ＩＣＰ発光分析の基礎と応用」（１９８６−１０−１）講談社　ｐ．２０−２６，９９−１０２）、甲第３号証（Shiun-jen jiang,R.S.Houk,Max A.Stevens“ＡＮＡＬＹＴＩＣＡＬ　ＣＨＥＭＩＳＴＲＹ”ＶＯＬ．６０，ＮＯ１１，ＪＵＮＥ　１，１９８８，ｐ．１２１７−１２２１）、甲第４号証（不破敬一郎，原口紘´き｀編「ＩＣＰ発光分析」（１９８０−４−３０）南江堂　ｐ．９−１２）、甲第５号証（実願昭６１−１５７７６４号（実開昭６３−６３７５６号公報）のマイクロフィルム）、甲第６号証（Frederick E Lichte,Allen L.Meier,James G.Grock“ＡＮＡＬＹＴＩＣＡＬ　ＣＨＥＭＩＳＴＲＹ”ＶＯＬ．５９，ＮＯ８，ＡＰＲＩＬ　１５，１９８７，ｐ．１１５０−１１５７）に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条の第２項の規定により、特許を受けることができないものであるから、特許を取り消すべきと主張している。
　
（ウ）判断
　本件発明が甲第１、２及び６号証に記載された発明から容易になし得たものでないことは、上記２．（ウ）で述べたとおりである。
　
　また、甲第３及び４号証にも、「三重管構造の中心の管に試料が流入する前に当該試料にガスを付加する」構成については記載も示唆もされていないし、甲第５号証には、「三重管構造のトーチ管１の中心の管に試料６が流入する前に当該試料６にネブライザーアダプター４から噴霧室２内に導入するガスを付加する」構成が記載されてはいるが、かかる構成は、本願発明と技術分野を異にする誘導結合プラズマ発光分光分析装置において、発光分析に最適な条件を得るためのものであって、本願発明のように質量分析に最適な条件を得るためのものではない。よって、本願発明は、甲第３〜５号証に記載の事項を甲第１あるいは２号証に記載された発明に結合することにより当業者が容易になし得たものともいえない。
　
　したがって、本件発明は、甲第１〜６号証に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものとすることはできない。
　
（エ）むすび
　以上のとおりであるから、特許異議申立ての理由及び証拠によっては、本件発明についての特許を取り消すことはできない。
　
　また、他に本件発明についての特許を取り消すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり決定する。　
【異議決定日】
平成１２年９月２７日（２０００．９．２７）