【事件の表示】
　特許第２８５０６１２号「Ｆｅ−Ｎｉ系シャドウマスク用薄板およびその製造方法」の請求項１に係る特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結　論】
　特許第２８５０６１２号の請求項１に係る特許を維持する。
【理　由】
１．本件発明　
　本件特許第２８５０６１２号の請求項１および２に係る発明（平成３年１２月１８日出願、平成１０年１１月１３日設定登録）は、特許明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１および２にそれぞれ記載されたとおりのものであり、そして、その請求項１に係る発明（以下、「本件発明」という。）は次のとおりである。
「【請求項１】鋼板の表面粗さを０．３μｍ≦Ｒａ≦０．８μｍとし、かつ＋０．５≦Ｒsk≦＋１．２とし、かつＲskの板面内異方性を｜Ｒsk（Ｌ）−Ｒsk（Ｃ）｜≦０．３としたことを特徴とするＦｅ−Ｎｉ系シャドウマスク用薄板。
　但し、Ｒsk（Ｌ）は圧延方向、Ｒsk（Ｃ）は圧延方向と直角をなす方向で測定されたスキューネスの値である。」
　
２．特許異議申立の理由の概要
　特許異議申立人　日立金属株式会社は、甲第１〜３号証及び参考資料１を提示し、本件発明は、甲第１号証に記載のものと同一であり、また、甲第２号証および甲第３号証に記載されたものに基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、その特許は、特許法第２９条第１項あるいは同法第２９条第２項の規定に違反してされたものであり、特許法第１１３条第１項第２号の規定により取り消されるべき旨主張する。
　
３．甲各号証及び参考資料１の記載事項
　特許異議申立人が提示した甲各号証及び参考資料１には、それぞれ以下の事項が記載されている。
（１）甲第１号証（「特殊鋼」第３２巻第３号、昭和５８年３月１日社団法人特殊鋼倶楽部発行、Ｐ４２〜４５）
「２．表面状態
　表面の錆、汚れ、キズなどが認められないことはもちろん、表面粗度についてもＲａで０．６μｍ前後、Ｒmaxで３〜４μｍ以下という制限があり、そのプロフィルも上に凸で均一であることが好ましい（粗度が高いと孔一つ一つのキレが悪くなり、低いとアニール中にシャドウマスク同士が密着する）。」（第４４頁右欄第３行〜第９行）
　
（２）甲第２号証（「特殊鋼」第３９巻第５号、平成２年５月１日社団法人特殊鋼倶楽部発行、Ｐ２８〜３１）
「３．表面状態
　素材表面の錆、汚れ、きず等が認められないことはもちろん、表面粗度についても様々な規定がある。シャドウマスク原板製造工程でのフォトレジストの密着性、シャドウマスクパターン露光時の真空密着性、シャドウマスクムラレベル（孔形状への影響）、さらにはチューブメーカーでのアニール時のマスク同士の密着、黒化膜密着性等への対応として、Ｒａで０．５μｍ前後の管理、Ｒsk（スキューネス；粗度パターンの突起状態の指標）の管理、さらにＳｍ（ピーク間距離）の管理等が行われている。」（第３０頁右欄第１０行〜第２１行）
　
（３）甲第３号証（特開平２−２５２０１号公報）
「シャドウマスク用金属板において、その表面粗さＲａ及び表面粗さの高さ方向の相対性を示す値であるＲskが、下記の値を満足することを特徴とするシャドウマスク用金属板。
　　Ｒａ：０．２μｍ〜２．０μｍ
    Ｒsk：　−０．２以上 　　　　　　　　」（特許請求の範囲第１項）、
「第１図において、表面粗度における山、谷の高さ方向の形が違う２つの粗さ曲線Ａ，Ｂがある場合、粗さ曲線Ａを有するシャドウマスク用金属板と、Ｂを有するシャドウマスク用金属板を比較すると、粗さ曲線Ａを有するシャドウマスク用金属板は粗さ曲線の山の形が台形状であり、Ｒskが負の値であるために、重ね合わせた時の板相互の接触面における接触面積が広くなり、焼鈍密着しやすくなる。それに比べて、粗さ曲線Ｂを有するシャドウマスク用金属板は、粗さ曲線の山の形が鋭角でありＲskが正の値であるために接触面の接触面積が狭くなり焼鈍密着しにくくなる。
　つまり、粗さ曲線の山の形が鋭角であり、Ｒskが正の方向に大きい値を有するシャドウマスク用金属板は焼鈍密着の軽減に大きな効果を発揮する。」（第２頁右下欄第９行〜第３頁左上欄第３行）
　
（４）参考資料１（特開平３−１９３８４７号公報）
「シャドウマスク素材の表面粗さ曲線を儀式的に第１図に示す。ここに、（ａ）はＲskが正の例そして（ｂ）はＲskが負の例である。この図からわかるように、Ｒskが正になると凸部が鋭くとがった形状になり、Ｒskが負になると凹部が鋭くなり、凸部はなだらかになる。焼鈍時の密着を防ぐには重ねたときできるだけ接触面積が小さいことが重要であり、そのためには表面の凸部が鋭くとがっている必要がある。したがって、Ｒskを正に限定した。なお、さらに好ましい範囲はプラス０．４以上である。」（第３頁左下欄第３行〜第１３行）、
「Ｆｅ−Ｎｉ合金としてはＦｅ−３６％Ｎｉ合金を用いた。最終的にダル圧延によりＲskが様々な値を持つ板厚０．２５ｍｍの薄板にした。
　これを、エッチングによりフラットマスクにした後、マスクを３０枚重ねて８％Ｈ２−残Ｎ２雰囲気中で１０００℃×３０分焼鈍した。そのときのＲskと密着の有無を第１表に示す。」（第３頁右下欄第１０行〜末行）と記載され、そして、第１表には、Ｒsk：０．３〜１．０の本発明例では焼鈍密着が発生しないが、Ｒsk：−０．３〜−０．１の比較例では焼鈍密着が発生したこと、が示されている。
　
４．対比・判断
　本件発明と甲第１〜３号証、参考資料１に記載のものとを対比すると、甲第１号証に記載のものは、鋼板の表面粗さをＲａ　０．６μｍ前後としたＦｅ−Ｎｉ系シャドウマスク用薄板の点で、甲第２号証に記載のものは、鋼板の表面粗さをＲａで０．５μｍ前後とし、かつＲskを管理したＦｅ−Ｎｉ系シャドウマスク用薄板の点で、また、甲第３号証に記載のものは、金属板の表面粗さを０．２μｍ〜２．０μｍとし、かつＲskを−０．２以上としたシャドウマスク用薄板の点で、さらに参考資料１に記載のものは、Ｒskを正の値（好ましくはプラス０．４以上）としたＦｅ−Ｎｉ系シャドウマスク用薄板の点で、それぞれ本件発明と共通するといえるが、本件発明のＦｅ−Ｎｉ系シャドウマスク用薄板は「Ｒskの板面内異方性を｜Ｒsk（Ｌ）−Ｒsk（Ｃ）｜≦０．３」としている（以下、「相違点」という）のに対して、甲第１〜３号証、参考資料１のいずれにも、Ｒskの板面内異方性について記載されていない。
　そこで、上記相違点について検討すると、本件特許明細書の「さらには、Ｒskの面内異方性を特定値以内とし、上記したエッチングむら及び焼き付きの局部的発生を抑制する。」（本件明細書【００１１】参照）、「これに対してＥは、Ｒskの板面内異方性が本発明を越える場合であり、焼き付きが一部発生しておりエッチングむらも本発明例と比べてやや劣っている。」（本件明細書【００２２】参照）との記載、さらには、Ｒskの面内異方性だけが本件発明の規定範囲外である符号Ｅについて、焼き付き一部発生、エッチングむらなし、と具体的な実験データが明記されている（本件明細書の表１参照）ように、本件発明では前記相違点をその構成として備えることにより、Ｆｅ−Ｎｉ系シャドウマスク用薄板の焼き付き性及びエッチング性の改善を図るものであるところ、甲第１号証には、シャドウマスク表面プロフィルは上に凸で均一であることが好ましい旨、甲第２号証には、Ｒskの管理が行われる旨、さらに、甲第３号証、参考資料１には、Ｒskが正の値であると焼鈍密着の軽減に大きな効果を発揮する旨、夫々記載されているが、これらの記載は何れも、Ｒskの面内異方性を特定数値範囲内に規制することを開示乃至示唆するものであるとは認められない。
　したがって、上記相違点は、甲第１〜３号証、参考資料１の記載に基づいて当業者が容易に想到し得たとすることはできない。
　なお、特許異議申立人は、本件発明はＲskの板面内異方性を圧延方向とその直角をなす方向にて規定するも、何等特別の効果を求めて規定するものではない旨、および、甲第１号証における前記「そのプロフィルは上に凸で均一であることが好ましい」の記載は、Ｒskを正に大きく調整することに加えてその異方性をも小さく（すなわち｜Ｒsk（Ｌ）−Ｒsk（Ｃ）｜≒０）することに等価の表現である旨、主張している（特許異議申立書第９頁下から第７行〜下から第３行、第１０頁下から第６行〜第１１頁第３行参照）。
　しかしながら、本件発明におけるＲskの板面内異方性の規定に関する作用効果は、前記したように本件明細書に明記され、かつそれは甲各号証や参考資料１に記載のものから予測し得ないものであるから、Ｒskの板面内異方性は、何等特別の効果を求めて規定するものではないとの特許異議申立人の主張は採用できない。
　また、甲第１号証の「そのプロフィルは上に凸で均一であることが好ましい」との記載は、シャドウマスク表面粗度の粗さ曲線が上に凸で均一であることを意味するとしても、粗さ曲線の下側（谷側）については明らかにするところはないから、粗さ曲線の上下の相対性（言い換えると凸部と凹部の非対称性）を示す特性値であるＲｓｋについて説明しているとは認め難く、ましてや、Ｒskの圧延方向とその直角方向との板面内異方性を特定数値範囲内に規制することを示唆するとはいえないから、この点についての特許異議申立人の主張も採用できない。
　よって、本件発明は、甲第１〜３号証及び参考資料１に記載された何れのものとも同一とすることはできず、また、それらの記載に基づいて当業者が容易に発明をすることができたとすることもできない。
　
５．むすび
　以上のとおりであるから、特許異議申立の理由及び証拠によっては、本件発明に係る特許を取り消すことはできない。
　また、他に本件発明に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。
　
　よって、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
平成１３年７月５日（２００１．７．５）