(57)【要約】  複数本の同心的トラックを画成する渦巻き状もしくは環状パターンの形態で光学的可読情報を記憶する形式の光ディスクの全体的品質を検査する方法が開示される。ディスク・プレーヤのレーザ・ピックアップからの信号が一定のスレッショルド値未満であり、ピックアップはトラックに対してロックされることが表されるときには、トラッキング式動作モードで測定が実施される。トラッキング式モードにおいて統計的に十分なデータが受信されたときには、ディスクの径方向に飛び越しが実施される。飛び越しの間において、ディスクの品質はオフ・トラッキング式モードで評価される。故にこれらの段階を反復することにより、ディスク全体の品質は、習用の方法または機器に依るよりも相当に高速に且つディスクの偏心性に依存せずに評価される。
2008500674.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数本の同心的トラック（３）を画成する渦巻き状もしくは環状パターン（２）の形態で光学的可読情報を記憶する形式の光ディスク（１）を品質検査する方法であって、
上記ディスク（１）を、該ディスク（１）に対する読取りデバイスを有するディスク・プレーヤにより異なる動作モードに交互に設定して、該ディスク（１）を光学的に読取る段階と、
上記ディスク（１）の品質検査のために、
ａ）上記読取りデバイスのトラッキング式動作モードにおいてはトラッキング式品質パラメータを決定するために上記渦巻き状もしくは環状パターン（２）の少なくとも一本の第１トラックを少なくとも部分的に読取る段階、および、
ｂ）上記ディスク（２）の径方向に飛び越しを実施し、且つ、同時に、該飛び越しの間におけるオフ・トラッキング式測定動作モードにおいてはオフ・トラッキング式品質パラメータを決定するために上記ディスク（１）を分析する段階、
を間欠的に交互実施する段階と、
により特徴付けられる品質検査方法。
【請求項２】
前記光ディスク（１）の最内側トラックから開始して該ディスク（１）の最外側トラックに至るべく、または逆の様式で、該ディスク（１）の全体的品質が検査されるまで、前記段階ａ）およびｂ）は反復される、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
読取りの間において前記読取りデバイス（２１、１４）から直接的に導出された信号（Ｐ）から現在の動作モードを決定する段階を備えて成る、請求項１または請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記現在の動作モードを決定するために前記信号（Ｐ）の信号振幅を分析する段階を備えて成る、請求項３に記載の方法。
【請求項５】
前記信号振幅が前記信号の所定スレッショルド値未満である場合に前記現在の動作モードはトラッキング式動作モードであると決定する段階と、
上記信号振幅が上記所定スレッショルド値を超過する場合に上記現在の動作モードはオフ・トラッキング式動作モードであると決定する段階と、
を備えて成る、請求項４に記載の方法。
【請求項６】
前記信号は径方向エラー信号（ＰＰ）である、請求項１から請求項５までのいずれか一項に記載の方法。
【請求項７】
段階ａ）におけるトラッキング式モードにおいて所定品質レベルに対して統計的に十分な量のデータが測定されたときに、段階ｂ）において前記飛び越しを実施することを前記ディスク・プレーヤに対して指示する段階を備えて成る、請求項１から請求項６までのいずれか一項に記載の方法。
【請求項８】
前記飛び越しは、前記ディスク（１）の径方向距離であって、前記品質検査の間において検出されるべき上記ディスク（１）内のまたは該ディスク上の所定サイズの最小欠陥を超過しない径方向距離に亙り実施される、請求項１から請求項６までのいずれか一項に記載の方法。
【請求項９】
前記飛び越しは、前記ディスク（２）上における前記第１トラックに隣接する少なくとも一本の第２トラックに亙り実施される、請求項１から請求項８までいずれか一項に記載の方法。
【請求項１０】
プロセッサ（４１）に関係付けられた内部メモリ（４５）内へと直接的に取込み可能なコンピュータ・プログラム製品を自身上に具現するコンピュータ可読媒体であって、
上記プロセッサは測定信号を生成するために、光学的読取りデバイス（２１）と、複数本の同心的トラック（３）を画成する渦巻き状もしくは環状パターン（２）の形態で光学的可読情報を記憶する形式の光ディスク（１）の表面の少なくとも一部に亙り径方向に上記光学的読取りデバイス（２１）を移動させ得る駆動機構（２２）とに対して作用的に連結され、
上記コンピュータ・プログラムは、上記プロセッサにより実行されたときに請求項１記載の方法を実施するコード・セグメントを備え、
上記コード・セグメントは、
上記ディスク（１）を、該ディスク（１）に対する読取りデバイスを有するディスク・プレーヤにより異なる動作モードに交互に設定して、該ディスク（１）を光学的に読取る第１コード・セグメント、および、
上記ディスク（１）の品質検査のために、
ａ）上記読取りデバイスのトラッキング式動作モードにおいてはトラッキング式品質パラメータを決定するために上記渦巻き状もしくは環状パターン（２）の少なくとも一本の第１トラックを少なくとも部分的に読取り、
ｂ）上記ディスク（２）の径方向に飛び越しを実施し、且つ、同時に、該飛び越しの間におけるオフ・トラッキング式測定動作モードにおいてはオフ・トラッキング式品質パラメータを決定するために上記ディスク（１）を分析する、
第２および第３コード・セグメントを間欠的に交互実施する、
コンピュータ可読媒体。
【請求項１１】
複数本の同心的トラック（３）を画成する渦巻き状もしくは環状パターン（２）の形態で光学的可読情報を記憶する形式の光ディスク（１）を品質検査する方法であって、
上記光ディスク（１）の読取りの間において上記読取りデバイスから直接的に導出された信号から現在の動作モードを決定する段階により特徴付けられ、
上記信号の振幅が所定スレッショルド値未満である場合に上記現在の動作モードはトラッキング式動作モードであると決定され、且つ、
上記信号振幅が上記所定スレッショルド値を超過する場合に上記現在の動作モードはオフ・トラッキング式動作モードであると決定される、品質検査方法。
【請求項１２】
請求項１乃至１１記載の方法を実施するそれ自体が公知のディスク・プレーヤの使用法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、概略的には光学的データ担体(optical data carrier)に対する品質検査機器および品質検査方法の分野に関し、より詳細にはディスク形状の光学的データ担体を品質検査する方法に関し、更に詳細には、複数本の同心的トラックを画成する渦巻き状もしくは環状のパターンの形態で光学的可読情報を記憶する形式の光ディスクの全体的品質を管理する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光学的データ担体は、たとえば音楽、ビデオ、画像、または、プログラム・ファイルおよびデータ・ファイルの如きデジタル・データを表す非常に大量のデジタル情報を記憶するために用いられる。最も一般的な形式の光学的データ担体は、幾つかの異なるデータ・フォーマットで利用可能なコンパクト・ディスク(CD)およびデジタル多用途ディスク(Digital Versatile Disc)(DVD)であり、これらのデータ・フォーマットの中でも、CD-Audio、CD-ROM、CD-ROM XA、CD-I、CD-R、CD-RW、DVD Video、DVD-R/+R/-RW/+RWおよびDVD-Audioが最も一般的である。コンパクト・ディスクに対する規格は一昔前に確立され、それ以来使用されている。DVDは近年に導入されており、更に高度な形式の光学的データ担体である。更に最近のフォーマットはスーパー・オーディオCD(SACD)であると共に、市場に出現した最近のフォーマットは、ブルーレイ・ディスク(BD)、次世代小型光ディスク(SFFO)、および、高解像度DVD(以前はAODと称されたHD-DVD)である。
【０００３】
上記の光学的記憶ディスクの共通の特徴は、それらが非常に大量の情報を小さな面積内に記憶することである。デジタル情報はレーザ光線により高精度で読み取られるのであるが、光ディスク上に情報が誤り訂正符号化方法に従い記憶されるとしても、斯かる光ディスクの製造者および販売者の間では光ディスクの品質チェックを可能にしたいという強い要望がある。主に光学的記憶ディスクの情報担持層において該光学的記憶ディスクのエラーおよび欠陥の個数が最小であることを確認するために、CDに関してはフィリップス社(Philips)およびソニー社(Sony)からの仕様を、DVDおよびAOD/HD-DVDに関してはDVDフォーラムからの仕様を、且つ、BDに関してはソニー社からの仕様を満足することが絶対要件である。
【０００４】
故に、光学的記憶ディスクの品質は、ディスクの製造プロセスの間に評価される。(歪み、偏心性、クロストークなどの如き)物理的パラメータおよび論理エラー(種々の割合のビット・エラー、ブロック・エラーおよびバースト・エラー)の両方などの、種々のパラメータが測定かつ記録される。他の重要なパラメータは、光ディスクの透明プラスチック層における複屈折の度合い、および、所謂ジッタ、すなわち、光ディスクを読み取りまたは演奏するときに得られる信号における統計的時間変動である。更に、光ディスクの品質に関する非常に重要なパラメータは、光ディスクをレーザ・ピックアップにより読み取るときに得られる信号振幅である。
【０００５】
概略的に公知の如く、通常の光ディスクは8cmまたは12cmの直径を有する約1.2mm厚さのプラスチック・ディスクに基づいている。読取りレーザに対するCDフォーマットの基板厚さは、ラベル側における保護ラッカーを1.2mmから減じた差である。またDVDおよびHD-DVDは、相互に接着された２枚の0.6mm基板から成る。BDは1.1mmディスク上に接着もしくはスピンコートされた0.1mm基板から成り、その場合に0.1mm側が読取り側である。プラスチック・ディスクは通常は透明なポリカーボネート・プラスチックの射出成形片として製造されるが、ブルーレイ・ディスクに対しては0.1mm基板のスピンコートが一般的な製造方法である。薄寸の0.1mm基板を適用すべく使用されるひとつの技術は、該基板を薄膜として取付けることである。製造の間においてプラスチック・ディスクに対しては、CD上に記憶される情報を表す単一で連続的な渦巻きパターンとして配置された微視的な隆起部が刻印される。この微視的な隆起部の渦巻きパターンを刻印するためには、スタンパが使用される。ポリカーボネート・ディスクの透明片が一旦形成されたなら、該ディスク上には薄寸の反射アルミニウム層がスパッタリングされることで、上記隆起部の渦巻きパターンが覆われる。次に、上記アルミニウムに対しては薄寸のフォトポリマ層が適用されて該層を保護する。最後に、CDの場合には上記フォトポリマ層上にCDラベルが印刷される。もし上記ディスクがDVDまたはHD-DVDであれば、シリコーンなどの半反射的材料を用いることで、数枚の情報層が適用され得る。次に、片面もしくは両面上に情報を含む1.2mm厚さのディスクを形成するために、２枚の0.6mmディスクが相互に背面同士で接着される。ブルーレイ・ディスクに対する暫定的な製造技術は、1.1mmディスクを型成形し、反射層をスパッタリングしてから、0.1mm薄膜をスピンコートまたは取付けることにより0.1mm基板を適用することである。最後の段階は、保護被覆を付加することである。
【０００６】
渦巻きパターンにおける各隆起部は通常はピット(pit)と称される、と言うのも、これは該ピットがアルミニウム層から見たときの状態だからである。隣接するピット間の領域は通常、ランドもしくは平面領域と称される。
【０００７】
連続的な渦巻きパターンのひとつの回旋部もしくは周回部は本質的に、追随する渦巻きパターンの回旋部もしくは周回部と同心的な円形トラックを形成する。故にCDは多くの場合、当該円形トラックは実際には単一の連続的な渦巻きパターンで相互に連結されるとしても、複数本の円形トラックを有すると記述される。CDは約22,000本のトラックを有する一方、DVDは約47,000本のトラック、HD-DVDは約90,000本のトラック、および、BDは約110,000本のトラックを有する。
【０００８】
図１は、プリマスタリングされたディスクの場合にはピットおよび平面領域から成る単一の連続的な渦巻きパターン2を備えたCD、DVD、HD-DVDまたはブルーレイ・ディスクなどの光ディスク1を示している。記述された如く渦巻きパターン2は、本質的に同心的な複数本の円形トラック3を形成する。光ディスク1は、該光ディスク1を回転させる駆動スピンドルに係合するための中央開口5を有する。
【０００９】
図２は、当該トラック上にデジタル的に記録された情報を有する数本のトラック3を更に詳細に示している。上述された如く、情報は6により表されるピット(すなわち隆起部)に記憶されると共に、中間の平面領域(すなわちランド)は7により表される。
【００１０】
既に言及された如く、プリマスタリングされた光学媒体および記録可能な光学媒体の両方の光学媒体を作製するときにはスタンパが使用される。スタンパの幾何学的原盤はディスク・マスタであり、ガラス・ディスク上にフォトレジストまたは別の除去可能材料の薄層を適用することにより作製され得る。上記ガラス・ディスクの中央から周縁部に向けてはマスタリング・デバイスが連続的に径方向に移動されると共に、該デバイスは上記フォトレジスト層を、最終製品すなわち光ディスク上におけるピットおよび平面領域の所望の渦巻きパターンに対応するパターンで露光する。記録可能ディスク上では上記マスタリング・デバイスは、符号化されたセクタ情報を含む連続的なウォブル・パターン(wobble pattern)でフォトレジスト層を露光する。明らかに、光ディスク上でピットがランドから区別可能であることが非常に重要である。より詳細には、光ディスクを読み取るときに、異なるサイズのピットは適切に識別される必要がある。また記録可能ディスク上にては、記録器がディスクをトラッキングして記録し得るためには、ウォブル・グルーブ(wobble groove)が適切に画成されることが重要である。
【００１１】
スタンパのピットまたはウォブル・グルーブは読み取りに対して最適化されてはいないことから、スタンパを読み取るときに生成される信号は、結果的なディスクからの信号とは異なる。更に、光ディスクを製造する場合において各生産ラインは、スタンパとディスクとの間においてピットもしくはグルーブの構造が如何に影響されるかに関して生産ライン自体の特性を有している。故に、品質管理はディスク自体上で実施されねばならない。更に、ディスクの製造プロセスを迅速に調節し得るためには、製造されたディスクに関する高速で確実な品質フィードバックを提供することが重要である。この目的のために、ディスクはディスク・プレーヤで読み取られ、ディスクの品質が評価される。当然乍ら、概略的にディスク全体およびその品質が評価される必要があることから、これまでは、光ディスク全体に関係付けられた信号を測定するためにディスク全体が読み取られていた。
【００１２】
光学媒体に対する習用の検査機器は、プリマスタリング済みディスク、記録可能ディスクおよび再書込み可能ディスクの電気的および物理的な信号を測定して分析すべく設計される。公称速度(1×)における完全な検査は１時間以上に亙ると共に、今日における最高速の検査機器は公称速度の４倍(4×)で検査するときには約20分でディスク全体を測定する。今日においてこれは、製造の間において実施される光記憶ディスクの完全な評価を行う最も速い時間である。この時間の間に、製造されたディスクの品質が品質管理において悪すぎると判明したならば廃棄されるべき多数枚(典型的には約1,000枚)のディスクが生産ライン上で作製される。このことは、作製／検査／調節の多くのサイクルが必要とされる始動時において製造プロセスを調節する場合において特に煩わしい。故に当業界では、製造の間において光記憶ディスクの品質検査に必要とされる時間の短縮に対する強い要望が在る。
【００１３】
習用の検査は、２つの主要方法に基づいている：トラッキング式(Tracked)測定、および、(オフ・トラッキング式(Off-Tracked)測定もしくは開ループとも称される)非トラッキング式(Non-Tracked)測定である。トラッキング様式で測定する場合にレーザ・ピックアップは、ブランクのトラック、記録されたトラック、または、プリマスタリングされたトラックを追随すると共に、径方向サーボおよびフォーカス・サーボはそのトラックに対してロックされる。
【００１４】
オフ・トラッキング式測定において、先行技術に依れば、径方向サーボは無効化されると共に、レーザ・ピックアップはひとつの径方向位置に固定される。光ディスクの偏心性の故に、ピックアップ・ヘッドを数本のトラックが通過すると共に、今日において最も一般的には４分割光検出器(quadrant photo detector)であるレーザ・ピックアップからの信号の幾つかの組み合わせを測定し得る。しかしこれは時間の掛かる方法である、と言うのも、多くの位置が測定されるべきであり、且つ、現在の技術に依れば各位置は少なくとも５秒を要するからである。故に今日まで、ディスク全体をオフ・トラッキング式モードで完全に測定して評価することは実際的には不可能であった。たとえば、偏心性によりピックアップ・ヘッドを約５本のトラックが通過する場合には10,000個の測定位置が必要であり、その場合に測定毎に約５秒を要する。故に、オフ・トラッキング式測定では単一のディスクを検査するために約14時間を要する。偏心性が更に低い場合に上記プロセスは更に長時間を要する、と言うのも、全てのトラックが評価されるべきだからである。また、同心的なディスク、すなわち、ディスクは偏心性を有さないか偏心性が非常に低いディスクの場合、習用のオフ・トラッキング式測定システムにより何らかのオフ・トラッキング式測定を行うことは可能でない、と言うのも、ひとつの径方向位置に固定されたピックアップ・ヘッドを通過するトラックは無いからである。最近において典型的な検査の場合にオフ・トラッキング式測定に対して10〜20個の位置が実施され、夫々が位置決めを含めて1分までを要している。但しこの場合には、ディスク全体の一部のみが検査される。
【００１５】
故に、今日において実施される光記憶ディスクの品質検査には幾つかの不都合が在る。先ず、全てのトラック上ですなわち各トラックの全体に亙り連続的に信号が測定される場合、品質評価プロセスは相当の時間を要する。更に、もしディスクが偏心性を何ら有さなければ、オフ・トラッキング式モード(開ループ)において信号を高い精度および反復性を以て測定することは非常に困難である。故に、複数本の同心的トラックを画成する渦巻き状もしくは環状のパターンの形態で光学的可読情報を記憶する形式の光ディスクの全体的品質を検査する新たな更に高速の手法に対する要望が在る。また、偏心性が低いディスク上で開ループ測定を実施可能にするという要望も在る。
【発明の開示】
【課題を解決するための手段】
【００１６】
本発明は、添付の特許請求項に係る方法およびコンピュータ可読媒体を提供することにより、当業界における上述の欠点を克服すると共に、少なくとも上述の問題を解決する。
【００１７】
本発明に係る包括的解決策は、たとえばディスクの表面上の擦過痕、ディスクの透明プラスチック材料内の気泡、または、ディスク上に記憶される特性パターンにおけるスタンプ成形プロセスに起因する凹凸状態などの殆どの欠陥は約50〜100μm(人間の髪の毛の太さの約10〜20％)という一定の最小測定値を超える大きさを有するという事実に基づく。本発明の方法に関してこのことは、常に全てのトラックもしくは半径全体を測定することは必要でないことを意味する。以下の例が示す様に、いずれにしても欠陥は見出される。たとえばトラッキング式モードにおいて100番目毎のトラックが読み取られるなら、オフ・トラッキング式で100本のトラックに亙る飛び越しであって一枚のDVDに対しては約500回の飛び越しが実施される。DVDの100本のトラックは、約74μm離間している。故に、上述の50〜100μmのサイズの欠陥は、トラッキング式モードの間、オフ・トラッキング式モードにおける飛び越しの間、または、飛び越しの後における次のトラッキング式モードの間のいずれかにおいて検出される。
【００１８】
本発明の見地に依れば、複数本の同心的トラックを画成する渦巻き状もしくは環状パターンの形態で光学的可読情報を記憶する形式の光ディスクの全体的品質を検査する方法およびコンピュータ可読媒体が開示される。
【００１９】
本発明のひとつの見地に依れば、以下の段階を備える方法が提供される。
最初に上記光ディスクは、該ディスクに対する読取りデバイスを有するディスク・プレーヤにより異なる動作モードに交互に設定されて光学的に読取られる。引き続き、上記ディスクの品質検査のために以下の段階が間欠的に交互実施される：
ａ）上記読取りデバイスのトラッキング式動作モードにおいてはトラッキング式品質パラメータを決定するために上記渦巻き状もしくは環状パターンの少なくとも一本の第1トラックが少なくとも部分的に読取られ、且つ、
ｂ）上記ディスクの径方向に飛び越しが実施され、且つ、同時に、該飛び越しの間におけるオフ・トラッキング式測定動作モードにおいてはオフ・トラッキング式品質パラメータを決定するために上記ディスクが分析される。
【００２０】
本発明の更なる見地に依れば、コンピュータによる処理のためのコンピュータ・プログラムを自身上に具現するコンピュータ可読媒体が提供される。上記コンピュータ・プログラムは本発明に係る上記方法を実施するコード・セグメント、すなわち、上記ディスクを、該ディスクに対する読取りデバイスを有するディスク・プレーヤにより異なる動作モードに交互に設定して、該ディスクを光学的に読取る第1コード・セグメントであるコード・セグメントを備える。上記ディスクの品質検査のために、第2および第3コード・セグメントが間欠的に交互実施される。更に正確には、上記第2コード・セグメントは、上記読取りデバイスのトラッキング式動作モードにおいてトラッキング式品質パラメータを決定するために上記渦巻き状もしくは環状パターンの少なくとも一本の第1トラックを少なくとも部分的に読取り、且つ、上記第3コード・セグメントは、上記ディスクの径方向に飛び越しを実施すると同時に、該飛び越しの間におけるオフ・トラッキング式測定動作モードにおいてオフ・トラッキング式品質パラメータを決定するために上記ディスクを分析する。
【００２１】
本発明は先行技術と比較して、本発明が上述の形式のプリマスタリングされた光学的記憶媒体、記録可能な光学的記憶媒体および再書込み可能な光学的記憶媒体に対する時間節約的な検査および品質管理を実現するという利点を有する。本発明に依れば更に、たとえばDVD-5、DVD-9、DVD-10、DVD-14、DVD-18などの単層もしくは多層構造を備えて複製された光学的記憶媒体の検査が許容される。本発明に係る方法は、実質的に読取り速度に依存せず、且つ、光ディスクに対する“高速走査”の故に公知方法と比較して検査時間を少なくとも85％だけ短縮する。更に本方法は、たとえばDVDフォーラムなどの既存のおよび将来的な規格に従う。本発明に係る上記方法に依れば、ディスクの品質に対する概要が迅速に与えられる。欠陥を有する領域が特定されると共に、他の品質検査システムにより更に分析され得る。故に斯かる光学的記憶媒体の製造業者は自身のフィードバック時間を改善し得ると共に、製造の間においては、製造プロセスを更に迅速に最適化でき、歩留まりが高められると共に生産ラインは更に良好に使用される。
【００２２】
更に、本発明に係る上記方法は評価されるディスクの偏心性に何ら依存しない。上述された如く、完全にまたは殆ど同心的なディスクすなわち高速ディスクによるとオフ・トラッキング式測定は通常は可能でない、と言うのも、この場合には径方向に関して固定されたピックアップ・ヘッドを通過するトラックが無いからである。しかし本方法に依れば、飛び越しの間においてオフ・トラッキング式測定を実施することが完全に可能である、と言うのも、実施される飛び越しの間においては径方向において複数のトラックが上記読取りデバイスを通過することが確実とされるからである。
【００２３】
更に、従来における光ディスク全体上の数個の径方向箇所と比較して、ディスクの相当の割合に対してオフ・トラッキング式測定が行われることは更に別の利点である。
【００２４】
本発明の更なる目的、特徴および利点は、以下において添付図面を参照した本発明の好適実施例の説明から明らかとなる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
次に、図３乃至図９を参照して本発明の好適実施例が詳述される。
【００２６】
基本的に、ディスク・プレーヤはトラッキング式動作モードおよび非トラッキング式動作モードの間で交互的に切換えられており、すなわちプレーヤはディスク上で径方向位置を変更するための径方向飛び越しを間欠的に実施する。プレーヤがディスクをトラッキングする間、すなわちトラッキング式動作モードの間は、少ないサンプル数のデータが測定される。次にデータは、プレーヤの径方向位置の変更の間、すなわち“オフ・トラッキング式”動作モードにおいても測定される。このことは、ピックアップ・ヘッドの径方向位置を固定するという習用のオフ・トラッキング式測定と対照的に、本発明に関するオフ・トラッキング式測定はピックアップ・ヘッドの径方向位置を“非固定”として実施されることを意味する。故に、光ディスクの偏心性が非常に低い場合でも、ピックアップ・ヘッドは該ディスク上のトラックに対して移動する。
【００２７】
制限された期間に対してディスクをトラッキングすると共に多数回の径方向位置変更を実施することにより、獲得されたサンプルはディスク全体の完全測定を表すが、習用の測定よりは相当に短時間で実施される。径方向位置同士の間における例えば75μmなどの短距離を飛び越すことにより、ディスク上の全ての主要欠陥は検出される。その結果、ディスク全体が略々２〜３分未満で測定され得る。
【００２８】
上記測定システムは、ディスク・プレーヤのレーザ・ピックアップから直接的に導出される信号を監視することにより、現在の読取り動作モードがトラッキング式であるか非トラッキング式であるかを非常に迅速に決定する方法を使用する。この決定は、ディスク・プレーヤが自身の径方向サーボ機構から上記形式の情報を供給し得るのではあるが、ディスク・プレーヤからの上記情報を待機せずに行われる。すなわち、径方向サーボ機構は、ディスク・プレーヤのレーザ・ピックアップからの信号の直接的分析と比較して非常に遅いのである。ディスク・プレーヤの径方向サーボ機構がその様に遅いのは、該機構は基本的に、現在モードがトラッキング式であることを該機構が確認する前に、数本のトラックが読み取られるまで待機するからである。故に、飛び越しの後でディスク・プレーヤのハードウェアがトラッキング式動作モードを確認するのを待機するならば、ディスク・プレーヤがトラッキング式動作モードを確認するのを待機するときの時間の浪費の故に、本発明の品質管理方法は不必要に低速とされてしまう。
【００２９】
より詳細には、本発明の本実施例に依れば、現在のトラック観測モード、すなわちトラッキング式動作モードまたはオフ・トラッキング式動作モードを決定するために、レーザ・ピックアップの径方向エラー信号が使用される。但し他の実施例においては径方向エラー信号の代わりに、現在のトラック観測モードを直接的に決定するに適した他のピックアップ信号も使用され得る。もし径方向エラー信号が、所定の振幅すなわちピーク・ピーク値、または、所定スレッショルド値を超える振幅を有する場合、これは、現在の動作モードがオフ・トラッキング式であることを表している。他の場合、すなわち信号振幅が所定スレッショルド値より小さい場合、現在の動作モードはトラッキング式動作モードであると決定される。上記スレッショルド値は適切に選択される。これは、図７に関して更に詳細に示される。現在の動作モードのこの即時的フィードバックに依り、今や実質的に一切の時間遅延なしで２つの動作モード間での切換えが可能である。故に、本方法を実施する測定システムは、トラッキング式またはオフ・トラッキング式動作モードを決定する非常に迅速な手法を有している。故に、これらの２つのモードにおける測定は‘相次いで’実施され得ることから、全体的測定時間が更に短縮される。また、現在のハードウェアの径方向の速度、加速度および減速度は概略的に既知であることから、飛び越し毎の時間が既知であることも指摘される。これは、ディスク・プレーヤの径方向アクチュエータに対して付与されるパルスは、当該確定的時間長の間にオフ・トラッキング式測定が実施されるという確定的時間長を有することを意味する。パルスが衰退した直後、トラッキング式動作モードが開始することが期待される。故に、上述された信号の振幅は、上記方法の信頼性を高めるための確定的な時間窓にすぎないとも見做され得る。
【００３０】
次に測定自体に関し、上記測定はトラッキング式またはオフ・トラッキング式モードのいずれかで開始され得る。図４、図６および図９に示される以下の例において、測定はトラッキング式モードにおいて開始されると仮定される：
【００３１】
１．(ディスク・プレーヤの径方向サーボではなく)ディスク・プレーヤのレーザ・ピックアップからの信号16を監視することにより、測定システムのトラック観測アルゴリズムは、図４において17により表される如くトラック観測モードがトラッキング式であると決定する。上記測定システムが、トラック観測モードがトラッキング式であることを検出すると直ちに、トラッキングされたパラメータの測定が開始される。
【００３２】
２．トラック3aのパラメータのトラッキング式の測定は、t0において開始することで実施される。
【００３３】
３．統計的に十分な量のデータがトラッキング式モードにおいて測定されたとき、上記測定システムはt1において径方向位置を変更すること、すなわち、ディスクを横断して径方向に短い飛び越しを行うことをディスク・プレーヤに命令する。
【００３４】
４．ディスク・プレーヤのレーザ・ピックアップからの信号を監視することにより、測定システムのトラック観測アルゴリズムは、ディスクがオフ・トラッキング式モードに在る時間、すなわち短い飛び越しの間の時間を決定する。
【００３５】
５．上記ディスクがオフ・トラッキング式モードに在るときには、パラメータのオフ・トラッキング式の測定がt2まで実施される。
【００３６】
６．その後において上記時点２．〜５．のシーケンスは、評価されるべきディスクの一部分またはディスクの全体の品質が評価されるまで、上記ディスク部分またはディスク全体に亙り反復される。
【００３７】
両方の動作モードの各々において測定されるべきパラメータの例は、本明細書の一部である添付書類において与えられる。図５には、レーザ・ピックアップの４分割光検出器14が概略的に示される。該検出器は、読取時に光記憶ディスクから反射されたレーザ光を相互から独立して受信する４個の検出部分A、B、CおよびDを備える。４分割光検出器14は、トラッキング式動作モードにおいてはトラック3に対して相対的に移動し、且つ、オフ・トラッキング式動作モードにおいてはトラックの接線方向に直交する方向、すなわち図５に示された如く径方向12に移動する。本実施例と異なる実施例においては、他の光検出器が使用され得る。
【００３８】
図６に概略的に示された検査対象DVDの実際的で非限定的な例においては、t1においてステップ３に進展すべく統計的に十分なデータが存在するまで、ステップ２に従いt0にて開始するトラッキング式モードにおいて(図示目的で１本のトラックとして示された)３本〜４本のトラック3aが読み取られる。プレーヤは、径方向において(点線として示された)約100本のトラックを飛び越すこと、すなわちディスクを横断して約50〜70μmを飛び越すことを指示される。たとえばディスク上またはディスク内における塵埃の粒子などのディスク内またはディスク上の殆どの欠陥は、少なくともこの程度の大きさである。上記の飛び越しの間において品質パラメータは、オフ・トラッキング式モードで評価される(ステップ５)。これは、約20ミリ秒、または、ディスクの１〜２回転を要する。t2においてディスク・プレーヤのレーザ・ピックアップからの信号が、トラッキング式モードが再度確立されたことを表したとき、上記測定プロセスは、約500回の飛び越しの後で又は３分未満でディスクの端部に到達するまで反復される。但しこの時間は、たとえばプレーヤの速度および／またはピックアップ・デバイスの径方向速度を増大することにより更に短縮され得る。図６において太線で示された矢印は、ピックアップ・ヘッドがディスクに対して進展するときに該ピックアップ・ヘッドが測定信号を収集する“仮想的な”相対方向を表している。実際には、ディスクが回転すると共にピックアップ・ヘッドは径方向12にのみ移動する。
【００３９】
図７は、上述の方法を実施する品質検査装置の概観を与えている。スピンドル・モータ9および回転可能スピンドル10の形態のディスク駆動器9、10は、図３、図６および図７において11により表された方向において業界公知の様式で光ディスク1を回転させ得る。光ディスク1の一方の表面に接近してレーザ・ピックアップ・ユニット20が位置されると共に、該ユニットは、図３における矢印12により表される如く光ディスク1の径方向に移動可能である。レーザ・ピックアップ・ユニット20は、レーザ光により光ディスク1を照射し、光ディスクからの反射を検出し、それに応じて測定信号を生成し、且つ、図面において(ピックアップ)Pと参照符号を付された信号を提供する。上述の品質検査方法が進行する間において光ディスク1は、上記ディスク駆動器、すなわちスピンドル・モータ9およびスピンドル10により、回転して維持される。
【００４０】
上述された如くレーザ・ピックアップ・ユニット20は、該レーザ・ピックアップ・ユニット20の光学的アセンブリすなわち光学的読取りデバイス21を、図３に示された矢印12の方向において光ディスク1の表面に沿い異なる径方向位置間で間欠的に径方向に移動させる機械的駆動手段22を備える。但し当技術分野において斯かる機械的駆動手段22はそれ自体が公知であり、実際の用途に依存して電気モータおよび機械的キャリッジ機構の如き適切な機械的および電気的構成要素を選択することは当業者に委ねられる。本質的には、レーザ・ピックアップ・ユニット20の光学的構成要素21を高精度で所望の径方向に移動させ得る任意の機器で十分である。更にレーザ源は、種々の市販の構成要素から選択され得ると共に、たとえばCDに対する約800nm、DVDに対する650nmまたはBDに対する405nmなどの所望の波長範囲で動作し得る。
【００４１】
レーザ・ピックアップ・ユニット20からの出力信号Pは、光ディスク1のトラックと交差してその表面上で該レーザ・ピックアップ・ユニット20が径方向に移動するときに該ユニットにより投射されるスポットからの反射ビームの強度変動から生ずる低周波のフィルタリング済み信号から成る。この信号は図８に示される。上記スポットが、ピット6の中央、または、未だ記録されていない記録可能ディスクの弱いウォブルが付けられたトラックに在るときに反射ビームの強度は最小であり、且つ、上記スポットが隣接するピット6間またはトラック3間の中間平坦領域の中央に在るときに反射ビームの強度は最大である。図８には、光学的ユニット21の上記４分割光検出器から導出された(径方向)プッシュ・プル信号(A+B)-(C+D)も示される。この信号は径方向エラー信号とも称され、本発明に係る種々の動作モードを区別すべく使用される。
【００４２】
トラック3に実際のピット6およびランド7の領域が存在する場合、それらの吸収および反射からは高周波(HF)の情報信号が生ずるが、ディスク内にまたはディスク上に例えば擦過痕もしくは他の欠陥が存在する場合以外、このHF情報信号は概略的に存在しない。但し、この信号は図示されない。
【００４３】
図８は、上記P信号を生成する基礎となる原理の更に詳細な図である。レーザ・ピックアップ・ユニット20の径方向起動機構が光学的読取りデバイス21を光ディスク1の表面を横断して移動させるとき、レーザ・ピックアップ・ユニット20からの結果的出力は、(低域通過フィルタリングされた範囲で示される)交互的信号Pである。これは矢印54aにより示される。
【００４４】
好適には信号Pは、サンプリングされると共に、更なる処理の前にアナログ／デジタル変換器(ADC)30によりデジタル形態へと変換される。その様にすることで上記システムの融通性は高められる、と言うのも、信号の引き続く処理はアナログ領域におけるよりもデジタル領域における方が更に容易に実施されるからであり、これは、デジタル領域においてはハードウェアの改変なしで新たな関数および計算アルゴリズムが実現され得るからである。
【００４５】
次に信号Pは、図７に示された如くプロセッサ41とメモリ45とを備える処理デバイス40において受信される。プロセッサ41はまた、キーボード46およびマウス47などの入力デバイス、ならびに、ディスプレイ48などの出力デバイスに対しても接続され得る。プロセッサ41はメモリ45に記憶されたプログラム命令を実行することにより、上述の品質検査方法を実施する。故に上記品質検査方法は、レーザ・ピックアップ・ユニット20により獲得された測定信号Pに応じたパラメータに関して光ディスク1の品質に関する測定値を決定する。
【００４６】
プロセッサ41は、任意の市販マイクロプロセッサにより実現され得る。代替的にコントローラ41は、例えば特定用途集積回路(ASIC)またはフィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ(FPGA)などの別の適切な形式の電子論理回路機構により置き換えられ得る。対応して、上記メモリ、入力デバイス46、47および出力デバイス48は全て、市販の構成要素により実現され得ると共に、本明細書では詳細には記述されない。
【００４７】
明瞭化のために、上述の品質検査方法は図９に示された如き種々の機能ブロックへと分割される。但し、これらのブロックはハードウェアおよびソフトウェアにおいて実現され得ることが強調される。
【００４８】
正しい測定値を達成するために、光ディスク1の回転速度は光学的読取りデバイス21の径方向位置に適合されねばならない。その理由は、光学的読取りデバイス21はディスク1の中央から外方に移動することから各ピットは上記光学的読取りデバイスを更に高速で通過移動する(各ピットの接線方向速度は、半径と、ディスクが回転する速度との積に比例する)からである。代替策として、接線方向速度と径方向位置との間の関係は既知であることから、処理デバイス40は引き続き、異なる径方向位置における読み取りから生ずる影響を補償し得る。
【００４９】
ADC30からの信号は選択ブロック42に対して供給され、其処で適切な情報信号部分が信号Pから抽出される。次のブロックすなわち測定ブロック43は、上記適切な信号部分の信号レベルを測定するために、選択ブロック42からの一連の適切な信号情報を受信する。サンプリングされた情報信号の測定値は好適には、メモリ45内に記憶される。上記処理デバイスにおける識別ブロック44は上記信号から、付録中に記述された信号成分を決定する。
【００５０】
図７のプロセッサ41は、メモリ45に記憶された一群のプログラム命令を読み取ると共に該プロセッサ41において順次的に上記プログラム命令を実行することにより、上述の品質検査方法を実施すべくプログラムされる。図９のフローチャートにおいては、上述の方法に対応するステップが示されており、すなわち以下の如くである。
【００５１】
ステップ６０：測定手順の開始。
【００５２】
ステップ６１：トラッキングされたパラメータの測定。
【００５３】
ステップ６２：トラッキング式モードにおいて統計的に十分な量のデータが測定されたか(すなわちデータの量は所定の標準偏差などの統計的要件を満足するに十分であるかなど)の判断。もしそうでければ、ステップ６１においてトラッキング式動作モードが継続する。
【００５４】
ステップ６４：トラッキング式モードにおいて十分な量のデータが測定されたとき、上記測定システムはディスク・プレーヤに対し、ディスクを横断する短い飛び越しを実施することを命令する。
【００５５】
ステップ６６：パラメータのオフ・トラッキング式の測定が開始されると共に、該測定は、ステップ６８においてトラック観測モードがオフ・トラッキング式であることを測定システムが検出する限り継続する。
【００５６】
ステップ６８：ディスク・プレーヤのレーザ・ピックアップからの信号を監視することにより測定システムのトラック観測アルゴリズムは、ディスクがオフ・トラッキング式モードに在る時間、すなわち上記の短い飛び越しの間における時間を決定し得る。ディスクがオフ・トラッキング式モードに在る間、パラメータのオフ・トラッキング式の測定が実施され、これはステップ６９の照会により確実とされる。
【００５７】
ステップ６２〜６９の上記シーケンスは引き続き、ディスク全体の品質を評価する速度走査ルーチンがステップ７２を以て終了するまで、ディスクの残部の全体に亙り反復される(ステップ７０からステップ６１へとループ・バックされる)。代替的に、ディスク全体の代わりに、選択されたディスクの一部分のみが測定されても良い。
【００５８】
もし上記信号がディスク製造者の一定の品質要件を満足しないなら、コントローラ40は警報を生成するか、または、たとえばディスプレイ48を介して別の形式の出力を提供し得る。代替的にコントローラ40は、検出された全てのエラーおよび他の出力データを、後時におけるオフラインでの使用のために例えばハードディスクなどに単に経過記録しても良い。
【００５９】
本発明に係る方法の上述の実施例の用途および用法は多様であると共に、プリマスタリングされた又は記録可能なブランクの光記憶ディスクの製造などの分野を包含する。
【００６０】
本発明は特定実施例に関して記述された。しかし添付の各請求項の有効範囲内において、上記における好適実施例以外の他の実施例であって、上述された以外でハードウェアまたはソフトウェアなどにより上記方法を実施する例えば異なるディスク・フォーマット、径方向飛び越しの長さおよび方向、ピックアップ原理などの他の実施例が等しく可能である。
【００６１】
上述された如く、本明細書の枠組み内におけるディスクは、たとえばCD、DVD、BD、または、概略的に任意の光ディスクである。故にディスク・プレーヤは、斯かるディスクを読み取り得るプレーヤである。
【００６２】
上記説明が、単一の連続的な渦巻きパターンのピットおよび平面領域を有することで本質的に多数本の同心的な相互接続トラックを形成する光ディスクに言及したとしても、本発明は、単一の渦巻きパターンではなく接続されない円形もしくは環状の複数本の情報トラックを含む他の光学媒体に対しても適用され得ることは想起される。
【００６３】
また、本発明の品質検査方法は、(光ディスクもしくは光磁気ディスク、磁気ハードディスク、電子メモリなどの)適切な記録媒体上においてコンピュータ可読形態で記憶され且つ／又はコンピュータ化ネットワークを介して光学的、電気もしくは電磁信号として転送されるコンピュータ・プログラム製品であって、コンピュータ・ユニットより読み取られて実行されたときに本発明に係る方法を実施する複数のプログラム命令を含むというコンピュータ・プログラム製品として具現され得ることも想起される。
【００６４】
更に、本明細書において使用された場合に“から成る(comprises)／から成っている(comprising)”という語句は他の要素もしくは段階を除外するものでなく、“ひとつの(a)”もしくは“ひとつの(an)”という語句は複数を除外するものでなく、且つ、各請求項中に記載された幾つかのユニットもしくは回路の機能は単一のプロセッサもしくは他のユニットが達成し得る。
【００６５】
付録：
４分割光検出器：
図５に示された如き４つの検出部分の出力信号A、B、CおよびDの異なる種類の組み合わせは種々の異なるパラメータに帰着するが、それらの内で最も重要なパラメータは、明細書において説明されたトラッキング式動作モードおよびオフ・トラッキング式動作モードの両方に対して以下に与えられる。
【００６６】
A)トラッキング式モード：
HFパラメータ(A+B+C+D)
R14H
R14HはI14H(以下を参照)と同一であり、反射率が百分率単位で表現されているだけである。R14Hは、最低周波数の頂部振幅である。
【００６７】
I14/I14H
I14ピット／ランドのピーク・ピーク値とI14Hとの間の比率。これは、ピットの鮮鋭度の尺度、すなわち、ピット同士がどれほどの干渉を引き起こすかの尺度である。このパラメータは一定の場合、I14変調と称される。
【００６８】
I3/I14
ディスク上における最短のピット／ランドのピーク・ピーク値(I3)と細長のピット／ランドのピーク・ピーク値(I14)との間の比率。これは、I3ピットがI14と比較して如何に良好に形成されているかの尺度を与える。I3は重要な信号キャリヤを表すことから、大きなI3信号を有することが非常に重要である(全てのピットの約30％はI3である)。
【００６９】
ASYM
HF信号の非対称／対称。この尺度は、HF信号においてI3およびI14が異なるオフセットを有するか否かを表す。ディスク・プレーヤは、デジタル・エラーが生ずる前にHF信号における一定量の非対称さに対処し得る。
【００７０】
DCジッタ
ジッタ、すなわちクロックに対するデータ。基準クロックの縁部と比較された全てのデータ(ピットおよびランドは組み合わされる)の縁部間の時間の標準偏差に関する尺度。システムのビット・クロック期間の百分率として表される。
【００７１】
Rb
記録前におけるグルーブの反射率。記録前においてグルーブから検出器に対して戻し反射される光の量。小さな値は薄寸の反射層を表し得る。
【００７２】
デコーダからの出力結果であるデジタル・エラー
PIE
パリティ内部エラー。これは、デコーダの初回通過において内部パリティ補正コードを用いて為されたエラー補正の回数である。到来するデータ列が補正されている。PIEは１個のBCCブロックに対して測定される。最大で列毎に１PIE。
【００７３】
PIF
パリティ内部障害。これは、初回通過において生じたエラー補正障害の回数である。PIFは１個のECCブロックに対して測定される。最大で列毎に１PIF。
【００７４】
径方向プッシュ・プル(A+B)-(C+D)
Rad1b、Rad1a
径方向トラッキングのために基準サーボを用いて測定された1.1kHz未満での許容残留エラー信号。大きな信号レベルは物理的な径方向トラック逸脱を表し得る(たとえばマスタリングの間における振動、スタンパの隆起部、または、摩耗したスタンパ)。該パラメータは記録の前および後において測定される。
【００７５】
Rad2b、Rad2a
1.1〜10kHzの間の周波数帯域における残留エラー信号の二乗平均許容ノイズ値。大きな信号レベルは物理的な径方向トラック逸脱を表し得る(たとえばマスタリングの間における振動、スタンパの隆起部、または、摩耗したスタンパ)。該パラメータは記録の前および後において測定される。
【００７６】
WOSNRb、WOSNRa、WOCNRb、WOCNRa
記録の前および後におけるウォブル・キャリヤ対ノイズ比。記録の前におけるグルーブ・ウォブル信号のキャリヤ対ノイズ比。該パラメータは、ウォブル・キャリヤ信号が駆動スピンドル速度を制御するために十分にクリアであることをチェックすべく測定される。このパラメータは、駆動器がプッシュ・プル・トラッキングを使用しているときに測定される。
【００７７】
ADERb
記録の前におけるADIPエラー率。ADERbは指定されないが、フィリップス社の推奨に従い測定される。それは、８個のECCブロックに対し、エラーを有するADIPブロックの最大数を測定する。全てのECCブロックは４個のADIPブロックから成ることから、最大値は32である。+R/RWに対してのみ。
【００７８】
WOBeat
ウォブル・ビート。最大ウォブル振幅と最小ウォブル振幅との間の比率。ウォブル振幅の変化は、隣接するトラックにおけるウォブル信号に対する正または負の干渉の結果である。その値が大きすぎると、駆動器は過剰に変化するウォブル信号を認識する(隣接するグルーブからの過剰な干渉)。+R/RWディスクに対してのみ。
【００７９】
NWO
正規化ウォブル信号。正規化ウォブル振幅は、記録の前に測定されたグルーブ・ウォブル振幅のnm単位の測定値を与える。該パラメータは、ウォブル振幅を表す駆動器非依存信号を導出すべく用いられる。NWOは、測定領域の中央において測定される開ループでのRPP振幅から計算される。もしPPbがディスク上で変化し且つ測定領域が大寸であれば、NWOは測定領域の中央からかけ離れた不正確な値を示す。故に、大寸領域を測定する代わりに幾つかの小寸領域を測定することが更に望ましい。
【００８０】
PWP
位相ウォブル・プリピット。ランド・プリピットとウォブル・ゼロ交差部との間における“度”単位の位相差。このパラメータは、ランド・プリピットがウォブル信号の底部に配置されていることを確実とするために測定される。
【００８１】
LPPb
記録の前におけるランド・プリピット・レベル。ランド・プリピットは、現在位置に関する情報を獲得すべくトラック間に載置される。LPPbは、記録の前においてウォブル信号のゼロ交差部から測定されたプリピットの振幅(すなわちプリピット信号の強度)である。ランド・プリピットは、記録器に対するセクタ位置および情報(書き込み方法コード、最適な記録電力、アプリケーション・コードなど)の復号化のために使用される。
【００８２】
BLERb
記録の前におけるブロック・エラー率。記録の前におけるプリピット信号におけるエラーの量。該パラメータは、BLER値を決定するために測定される。小さなBLER値は、駆動器が正しい位置を見出し得ることを確実とする。1,000個のBCCブロック(約24秒)に亙る連続的時間枠として測定される。BLERは、それが1,000個のBCCブロックである如く常に正規化される。これは、最初の1,000個のECCブロック(最初の24秒)の間において値は無効であり(すなわち低すぎ)、且つ、早期段階における問題の検出を可能とするためにのみ利用可能であることを意味する。
【００８３】
フォーカス・エラー、(A+D)-(B+C)
FEb、FEa
フォーカス・エラー。10kHzより低い残留垂直エラーの尺度。該パラメータは、記録の前および後に測定される。
【００８４】
接線方向プッシュ・プル、(A+C)-(B+D)
TPP
接線方向プッシュ・プル(動作中のプッシュ・プル)。(トラックに沿う)接線方向のプッシュ・プル。光学機器により認識されるピットの前縁部および後縁部の光学的鋭さの尺度。
【００８５】
B)オフ・トラッキング式モードにおける信号パラメータ
HFパラメータ(A+B+C+D)
TCSb、TCSa
トラック交差信号。10kHz未満の周波数範囲でトラックと交差するときに全体的強度がどれだけ変化するかを表す。該パラメータは記録の前および後に測定される。
【００８６】
径方向プッシュ・プル(A+B)-(C+D)
PPb、PPa
記録の前および後におけるプッシュ・プル。記録の前および後においてトラックとの交差に対して測定されるRPP信号のピーク・ピーク値。該パラメータは、トラッキングを行う上でトラッキング信号が十分に良好であるか否かを決定するために測定される。一定のトラッキング特性を確実とすべく、該信号は指定範囲内に維持されねばならない。
【００８７】
差動位相検出、位相(A+D)−位相(B+C)
DPD Amp
DPD振幅。差動位相検出振幅。記録されたまたはプリマスタリングされた光ディスクのトラッキング特性を表す30kHz未満の信号。一定のトラッキング特性を確実とするために、該信号は指定範囲内に維持されねばならない。
【００８８】
DPD Asym
DPD非対称性。差動位相検出の非対称性。該パラメータは、不都合なトラッキング・オフセットに帰着し得るDPDトラッキング信号の非対称性を表す。
【図面の簡単な説明】
【００８９】
【図１】図１は、光ディスクと、複数本の同心的トラックを形成する連続的な渦巻きパターンとを示す概略図である。
【図２】図２は、図１の光ディスク上の小寸領域において例示的な情報が記録された数本のトラックの概略図である。
【図３】図３は、図１の光ディスクの完全な品質検査の間において本発明の実施例が進展する径方向の概略図である。
【図４】図４は、測定プロセスの種々の段階の間における測定信号の状態を示す図である。
【図５】図５は、トラック方向に関する４分割光検出器の概略図である。
【図６】図６は、本発明の好適実施例に係る品質検査方法により実施される測定の様式を示す概略図である。
【図７】図７は、本発明に係る光ディスク用の品質検査方法を実施し得る品質検査装置の概略的ブロック図である。
【図８】図８は、本発明の好適実施例に関連して用いられる動作モード検出原理を示す図である。
【図９】図９は、本発明の好適実施例に係る品質検査方法の概略的フローチャートである。
【図１】
2008500674.tif 000003
【図２】
2008500674.tif 000004
【図３】
2008500674.tif 000005
【図４】
2008500674.tif 000006
【図５】
2008500674.tif 000007
【図６】
2008500674.tif 000008
【図７】
2008500674.tif 000009
【図８】
2008500674.tif 000010
【図９】
2008500674.tif 000011
【手続補正書】
【提出日】平成19年1月30日(2007.1.30)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数本の同心的トラック（３）を画成する渦巻き状もしくは環状パターン（２）の形態で光学的可読情報を記憶する形式の光ディスク（１）を品質検査する方法であって、
上記ディスク（１）を、該ディスク（１）に対する読取りデバイスを有するディスク・プレーヤにより異なる動作モードに交互に設定して、該ディスク（１）を光学的に読取る段階と、
上記ディスク（１）の品質検査のために、
ａ）上記読取りデバイスのトラッキング式動作モードにおいてはトラッキング式品質パラメータを決定するために上記渦巻き状もしくは環状パターン（２）の少なくとも一本の第１トラックを少なくとも部分的に読取る段階、および、
ｂ）上記ディスク（１）の径方向に飛び越しを実施し、且つ、同時に、該飛び越しの間におけるオフ・トラッキング式測定動作モードにおいてはオフ・トラッキング式品質パラメータを決定するために上記ディスク（１）を分析する段階、
を間欠的に交互実施する段階と、
により特徴付けられる品質検査方法。
【請求項２】
前記光ディスク（１）の最内側トラックから開始して該ディスク（１）の最外側トラックに至るべく、または逆の様式で、該ディスク（１）の全体的品質が検査されるまで、前記段階ａ）およびｂ）は反復される、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
読取りの間において前記読取りデバイス（２１、１４）から直接的に導出された信号（Ｐ）から現在の動作モードを決定する段階を備えて成る、請求項１または請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記現在の動作モードを決定するために前記信号（Ｐ）の信号振幅を分析する段階を備えて成る、請求項３に記載の方法。
【請求項５】
前記信号振幅が前記信号の所定スレッショルド値未満である場合に前記現在の動作モードはトラッキング式動作モードであると決定する段階と、
上記信号振幅が上記所定スレッショルド値を超過する場合に上記現在の動作モードはオフ・トラッキング式動作モードであると決定する段階と、
を備えて成る、請求項４に記載の方法。
【請求項６】
前記信号は径方向エラー信号（ＰＰ）である、請求項１から請求項５までのいずれか一項に記載の方法。
【請求項７】
段階ａ）におけるトラッキング式モードにおいて所定品質レベルに対して統計的に十分な量のデータが測定されたときに、段階ｂ）において前記飛び越しを実施することを前記ディスク・プレーヤに対して指示する段階を備えて成る、請求項１から請求項６までのいずれか一項に記載の方法。
【請求項８】
前記飛び越しは、前記ディスク（１）の径方向距離であって、前記品質検査の間において検出されるべき上記ディスク（１）内のまたは該ディスク上の所定サイズの最小欠陥を超過しない径方向距離に亙り実施される、請求項１から請求項６までのいずれか一項に記載の方法。
【請求項９】
前記飛び越しは、前記ディスク（１）上における前記第１トラックに隣接する少なくとも一本の第２トラックに亙り実施される、請求項１から請求項８までいずれか一項に記載の方法。
【請求項１０】
プロセッサ（４１）に関係付けられた内部メモリ（４５）内へと直接的に取込み可能なコンピュータ・プログラム製品を自身上に具現するコンピュータ可読媒体であって、
上記プロセッサは測定信号を生成するために、光学的読取りデバイス（２１）と、複数本の同心的トラック（３）を画成する渦巻き状もしくは環状パターン（２）の形態で光学的可読情報を記憶する形式の光ディスク（１）の表面の少なくとも一部に亙り径方向に上記光学的読取りデバイス（２１）を移動させ得る駆動機構（２２）とに対して作用的に連結され、
上記コンピュータ・プログラムは、上記プロセッサにより実行されたときに請求項１記載の方法を実施するコード・セグメントを備え、
上記コード・セグメントは、
上記ディスク（１）を、該ディスク（１）に対する読取りデバイスを有するディスク・プレーヤにより異なる動作モードに交互に設定して、該ディスク（１）を光学的に読取る第１コード・セグメント、および、
上記ディスク（１）の品質検査のために、
ａ）上記読取りデバイスのトラッキング式動作モードにおいてはトラッキング式品質パラメータを決定するために上記渦巻き状もしくは環状パターン（２）の少なくとも一本の第１トラックを少なくとも部分的に読取り、
ｂ）上記ディスク（１）の径方向に飛び越しを実施し、且つ、同時に、該飛び越しの間におけるオフ・トラッキング式測定動作モードにおいてはオフ・トラッキング式品質パラメータを決定するために上記ディスク（１）を分析する、
第２および第３コード・セグメントを間欠的に交互実施する、
コンピュータ可読媒体。
【請求項１１】
複数本の同心的トラック（３）を画成する渦巻き状もしくは環状パターン（２）の形態で光学的可読情報を記憶する形式の光ディスク（１）を品質検査する方法であって、
上記光ディスク（１）の読取りの間において上記読取りデバイスから直接的に導出された信号から現在の動作モードを決定する段階により特徴付けられ、
上記信号の振幅が所定スレッショルド値未満である場合に上記現在の動作モードはトラッキング式動作モードであると決定され、且つ、
上記信号振幅が上記所定スレッショルド値を超過する場合に上記現在の動作モードはオフ・トラッキング式動作モードであると決定される、品質検査方法。
【請求項１２】
請求項１乃至９又は１１記載の方法を実施するそれ自体が公知のディスク・プレーヤの使用法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２９】
より詳細には、本発明の本実施例に依れば、現在のトラック観測モード、すなわちトラッキング式動作モードまたはオフ・トラッキング式動作モードを決定するために、レーザ・ピックアップの径方向エラー信号ＰＰが使用される。但し他の実施例においては径方向エラー信号の代わりに、現在のトラック観測モードを直接的に決定するに適した他のピックアップ信号も使用され得る。もし径方向エラー信号が、所定の振幅すなわちピーク・ピーク値、または、所定スレッショルド値を超える振幅を有する場合、これは、現在の動作モードがオフ・トラッキング式であることを表している。他の場合、すなわち信号振幅が所定スレッショルド値より小さい場合、現在の動作モードはトラッキング式動作モードであると決定される。上記スレッショルド値は適切に選択される。これは、図７に関して更に詳細に示される。現在の動作モードのこの即時的フィードバックに依り、今や実質的に一切の時間遅延なしで２つの動作モード間での切換えが可能である。故に、本方法を実施する測定システムは、トラッキング式またはオフ・トラッキング式動作モードを決定する非常に迅速な手法を有している。故に、これらの２つのモードにおける測定は‘相次いで’実施され得ることから、全体的測定時間が更に短縮される。また、現在のハードウェアの径方向の速度、加速度および減速度は概略的に既知であることから、飛び越し毎の時間が既知であることも指摘される。これは、ディスク・プレーヤの径方向アクチュエータに対して付与されるパルスは、当該確定的時間長の間にオフ・トラッキング式測定が実施されるという確定的時間長を有することを意味する。パルスが衰退した直後、トラッキング式動作モードが開始することが期待される。故に、上述された信号の振幅は、上記方法の信頼性を高めるための確定的な時間窓にすぎないとも見做され得る。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３７】
両方の動作モードの各々において測定されるべきパラメータの例は、本明細書の一部である添付書類において与えられる。図５には、レーザ・ピックアップの４分割光検出器14が概略的に示される。該検出器は、読取時に光記憶ディスクから反射されたレーザ光を相互から独立して受信する４個の検出部分A、B、CおよびDを備える。４分割光検出器14は、トラッキング式動作モードにおいてはトラック3に対して相対的に移動し、且つ、オフ・トラッキング式動作モードにおいてはトラックの接線方向13に直交する方向、すなわち図５に示された如く径方向12に移動する。本実施例と異なる実施例においては、他の光検出器が使用され得る。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３８】
図６に概略的に示された検査対象DVDの実際的で非限定的な例においては、t1においてステップ３に進展すべく統計的に十分なデータが存在するまで、ステップ２に従いt0にて開始するトラッキング式モードにおいて(図示目的で２本のトラックとして示された)３本〜４本のトラック3a,3bが読み取られる。プレーヤは、径方向において(点線として示された)約100本のトラックを飛び越すこと、すなわちディスクを横断して約50〜70μmを飛び越すことを指示される。たとえばディスク上またはディスク内における塵埃の粒子などのディスク内またはディスク上の殆どの欠陥は、少なくともこの程度の大きさである。上記の飛び越しの間において品質パラメータは、オフ・トラッキング式モードで評価される(ステップ５)。これは、約20ミリ秒、または、ディスクの１〜２回転を要する。t2においてディスク・プレーヤのレーザ・ピックアップからの信号が、トラッキング式モードが再度確立されたことを表したとき、上記測定プロセスは、約500回の飛び越しの後で又は３分未満でディスクの端部に到達するまで反復される。但しこの時間は、たとえばプレーヤの速度および／またはピックアップ・デバイスの径方向速度を増大することにより更に短縮され得る。図６において太線で示された矢印は、ピックアップ・ヘッドがディスクに対して進展するときに該ピックアップ・ヘッドが測定信号を収集する“仮想的な”相対方向を表している。実際には、ディスクが回転すると共にピックアップ・ヘッドは径方向12にのみ移動する。
【国際調査報告】
2008500674.tif 000012
2008500674.tif 000013
2008500674.tif 000014