(57)【要約】  イオンビーム注入装置は、ビーム形成／案内装置と注入ステーションとを含み、注入ステーションにおいて、イオンビームのイオンが加工物に注入される。イオンビームは、イオン源から注入ステーションへと、排気された経路に沿って伝播する。注入ステーションは、可撓性のベローズ体により、注入ステーションがビーム形成／案内装置に対して回転可能となるように、ビーム形成／案内装置に結合される。それによって、イオンビームに対する加工物の注入角度が変更される。ベローズ体の内部領域には、ベローズ体の内面上に堆積する注入副産物の量を低減させるため、ベローズ体のための交換可能かつ可撓性のライナーが配置される。【選択図】図２Ａ
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
加工物にイオンビームを導くイオンビーム注入装置であって、
ａ）前記加工物が内部に支持される排気された注入チャンバーを形成する注入ステーションと、
ｂ）前記イオンビームが前記注入ステーションへと至る途中で通過する、排気されたイオンビーム注入装置の内部領域を形成するビーム形成／案内装置と、
ｃ）前記注入ステーションと前記ビーム形成／案内装置との間に、前記注入ステーションが前記ビーム形成／案内装置に対して移動可能となるように配置され、前記イオンビームが通過する排気された内部領域を形成する可撓性のベローズ体と、
ｄ）前記加工物への注入の間に発生する注入副産物を収集し、前記ベローズ体の内面上に堆積する前記注入副産物の量を低減するために、前記ベローズ体の内部領域に配置される可撓性のベローズ体のライナーと、
を含むことを特徴とするイオンビーム注入装置。
【請求項２】
前記ベローズ体のライナーは、前記注入ステーションに近接する前記ベローズ体の端部から、前記ベローズ体の内部領域に延在することを特徴とする請求項１に記載のイオンビーム注入装置。
【請求項３】
前記ベローズ体のライナーは、前記注入ステーションの壁に結合するフランジに固着されることを特徴とする請求項１に記載のイオンビーム注入装置。
【請求項４】
前記ベローズ体のライナーは、ポリイミド材料からなることを特徴とする請求項１に記載のイオンビーム注入装置。
【請求項５】
前記ベローズ体のライナーは、ポリイミドフィルムからなることを特徴とする請求項４に記載のイオンビーム注入装置。
【請求項６】
前記ベローズ体は略円筒形をなし、前記ベローズ体のライナーは、前記ベローズ体の軸方向の長さの少なくとも一部に沿って延在することを特徴とする請求項１に記載のイオンビーム注入装置。
【請求項７】
前記ベローズ体は、第１の端部が前記注入ステーションに結合され、反対側の第２の端部が前記イオンビーム形成／案内装置の分解ハウジングに結合されることを特徴とする請求項１に記載のイオンビーム注入装置。
【請求項８】
前記ベローズ体の前記第１の端部は、複数の締結具を用いて前記注入ステーションに固着されるフランジを含み、前記ベローズ体の前記第２の端部は、複数の締結具を用いて前記分解ハウジングに固着されるフランジを含むことを特徴とする請求項７に記載のイオンビーム注入装置。
【請求項９】
前記ベローズ体は、複数の折畳要素から形成されることを特徴とする請求項１に記載のイオンビーム注入装置。
【請求項１０】
前記ベローズ体のライナーは、交換可能であることを特徴とする請求項１に記載のイオンビーム注入装置。
【請求項１１】
イオンビーム注入装置の注入ステーションおよびイオンビーム形成／案内装置に回転可能に結合されるベローズ体であって、前記注入ステーション内に支持される加工物にはイオンビームの注入が実施され、前記加工物へのイオンビームの注入により注入副産物が発生するとともに、
ａ）前記ベローズ体により形成される、イオンビームが通過する排気された内部領域と、
ｂ）前記加工物への注入の間に発生する前記注入副産物を収集し、前記ベローズ体の内面上に堆積する前記注入副産物の量を低減するために、前記ベローズ体の内部領域に配置されるベローズ体のライナーと、
を含むことを特徴とするベローズ体。
【請求項１２】
前記ベローズ体のライナーは、前記注入ステーションに近接する前記ベローズ体の端部から、前記ベローズ体の内部領域に延在することを特徴とする請求項１１に記載のベローズ体。
【請求項１３】
前記ベローズ体のライナーは、前記注入ステーションの壁に結合するフランジに固着されることを特徴とする請求項１１に記載のベローズ体。
【請求項１４】
前記ベローズ体のライナーは、ポリイミド材料からなることを特徴とする請求項１１に記載のベローズ体。
【請求項１５】
前記ベローズ体のライナーは、ポリイミドフィルムからなることを特徴とする請求項１４に記載のベローズ体。
【請求項１６】
前記ベローズ体は略円筒形をなし、前記ベローズ体のライナーは、前記ベローズ体の軸方向の長さの少なくとも一部に沿って延在することを特徴とする請求項１１に記載のベローズ体。
【請求項１７】
前記ベローズ体は、一端部が前記注入ステーションに結合され、反対側の端部が前記イオンビーム形成／案内装置の分解ハウジングに結合されることを特徴とする請求項１１に記載のベローズ体。
【請求項１８】
前記ベローズ体の第１の端部は、複数の締結具を用いて前記注入ステーションに固着されるフランジを含み、前記ベローズ体の第２の端部は、複数の締結具を用いて前記分解ハウジングに固着されるフランジを含むことを特徴とする請求項１７に記載のベローズ体。
【請求項１９】
前記ベローズ体は、複数の折畳要素から形成されることを特徴とする請求項１１に記載のベローズ体。
【請求項２０】
前記ベローズ体のライナーは、交換可能であることを特徴とする請求項１１に記載のベローズ体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一般的には、イオンビーム注入装置に関し、より詳しくは、イオンビーム注入装置の２つの領域を相対的に動くように結合するベローズ体のための可撓性ライナーに関する。
【背景技術】
【０００２】
イオンビーム注入装置は、半導体ウエハのドーピング処理で広く使用されている。イオンビーム注入装置は、所望の化学種の正イオンからなるイオンビームを生成するものであり、このイオンビームは、半導体ウエハ加工物の露出面に衝突し、それによって、「ドーピング」、すなわち所望のイオンの加工物表面への注入が実施される。
【０００３】
ある種のイオンビーム注入装置では、回転および平行移動するディスク型の支持体が使用され、この支持体上に加工物が装着される。ディスク型支持体上には、複数の半導体加工物が装着され、この支持体は、イオンビーム注入装置のエンドステーションまたは注入ステーションの注入チャンバー内に支持される。支持体を回転させることによって、１回の製造運転の間に、複数の加工物のそれぞれに対してイオンビームを照射することができる。
【０００４】
適切な注入深度および注入線量を達成し、例えばチャネリングのような有害な作用を回避するために、加工物の注入方向は、イオンビームの方向に直交する２軸に関して調整可能である必要がある。イオンビームがｚ軸方向に沿って伝播すると仮定すれば、加工物をｘ（水平）軸およびｙ（垂直）軸の両方に関して傾けることまたは角度を持たせることができる必要がある。加工物の注入面をｘ軸に関して傾けることを、加工物のアルファ（α）角を変更するといい、加工物の注入面をｙ軸に関して傾けることを、加工物のベータ（β）角を変更するという。
【０００５】
注入方向を変更するために、注入ステーションは、注入装置のイオンビーム形成／案内装置に対して回転可能でなければならない。イオンビーム形成／案内装置は、注入装置の一部であって、イオンビームが注入ステーションの内部領域に入る前に、イオンビームを形成して案内する部分である。注入ステーションを、イオンビーム形成／案内装置に対して動かす必要があり、さらに、注入ステーションの内部領域およびビーム形成／案内装置によって形成される内部領域は、ともに排気しなければならないため、注入ステーションとビーム形成／案内装置との間に、可撓性の真空シールであるベローズ体を設ける必要がある。
【０００６】
ベローズ体は、注入ステーションに近接しているため、時間の経過とともに、ベローズ体の内部領域は、注入副産物によって被膜されていく。注入副産物は、注入プロセスにより発生し、その後、注入ステーションおよびビーム形成／案内装置の内部領域を浮遊する不要な粒子および物質の破片である。このような注入副産物には、加工物およびイオンビームが衝突する他の面からスパッタリング現象により跳ね飛んだ物質が含まれる。その後、ベローズ体を使用または屈曲して注入ステーションの位置を変更すると、ベローズ体の内部に堆積した注入副産物は、離脱または除去されて、注入ステーションおよびビーム形成／案内構造体の内部領域を浮遊する。このような除去された破片および粒子である副産物は、最終的には加工物上に堆積し、加工物の汚染並びに注入の均一性および品質の劣化の要因となる。さらに、ベローズ体の折畳要素（convolutions）には、破損した加工物片がしばしば捕捉され、この加工物片は、シリコン・ダストという形での副産物の別の発生源になる。このような加工物片は、加工物上に堆積される可能性のある粒子を発生することに加えて、真空漏れの要因となるおそれもある。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ベローズ体をクリーニングすることは困難であるとともに、多くの場合、有効ではない。さらに、ベローズ体の交換には、高いコストがかかる。したがって、注入副産物からベローズ体を遮蔽する装置に対する要望がある。また、注入副産物を要因とする加工物の汚染を低減する装置も必要とされており、さらに、ベローズ体の寿命を延長する装置が必要とされている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明に従って、イオンビーム中のイオンを加工物に注入するためのイオンビーム注入装置が開示される。イオンビーム注入装置は、排気された注入チャンバーを形成する注入ステーションを含み、注入チャンバー内に配置された支持体上には、１つまたは複数の加工物が支持される。イオンビーム注入装置は、さらに、イオン源から注入ステーションへとイオンビームを形成して導くビーム形成／案内装置を含む。ビーム形成／案内装置は、イオン源から注入ステーションへと至るイオンビームが通過する、排気された内部領域を形成する。
【０００９】
イオンビーム注入装置は、さらに、注入ステーションとビーム形成／案内装置とを結合する、可撓性の真空シールまたはベローズ体を含む。好ましくは、ベローズ体は、可撓性を有する円筒形をなし、ベローズ体がその中心軸に対して曲線をなすことが可能なように屈曲する、溶接された一連の折畳要素からなるものである。
【００１０】
イオンビームは、ベローズ体の開いた内部領域を通過する。ベローズ体が可撓性を有することによって、注入ステーションがビーム形成／案内装置に対して相対的に移動可能となる。イオンビーム注入装置は、有利なことに、ベローズ体のための可撓性のライナーまたはスリーブをさらに含んでいる。ライナーは、ベローズ体の内部領域に配置される。ライナーは、注入処理の間に発生する注入副産物からベローズ体を遮蔽し、それによって、ベローズ体の耐用寿命を延長するものである。ライナーは、ベローズ体と同様に可撓性を有しているが、ベローズ体の動作と連動するものではない。
【００１１】
注入の間、ベローズ体のライナーは、ライナーに接触する注入副産物を収集し、それによって、加工物の汚染を低減するとともに、ベローズ体の内面上に堆積する注入副産物の量を低減する。有利なことに、ベローズ体のライナーは、注入副産物によって被膜された後、イオンビーム注入装置の定期保守作業により容易に交換することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
本発明の上記目的および他の目的、特徴、および利点は、添付図面と共に説明される本発明の好ましい実施形態の詳細な説明により、明らかになるであろう。
【００１３】
図１には、イオンビーム注入装置１０が示されている。注入装置１０は、Ｌ字形の支持体１３に取り付けられたイオン源１２を含む。イオン源１２は、イオンビーム１４を形成するイオンを供給し、イオンビーム１４は、ビーム経路に沿って伝播して注入ステーションまたはエンドステーション１６に至る。注入ステーション１６の排気された注入領域または注入チャンバー２２内の複数の加工物２１（例えば半導体ウエハ加工物）が受けるイオン線量を監視および制御するために、制御用電子装置２０（図１に図式的に示されている）が設けられている。制御用電子装置２０への操作者からの入力は、ユーザーコンソール６７を介して実施される。
【００１４】
イオン源ハウジング１２はイオンビーム１４を発生させ、このイオンビーム１４は、注入チャンバー２２内の、回転および平行移動するディスク型支持体９０上に配置されたウエハ加工物２１に衝突する。本明細書では、回転および平行移動する支持体９０が開示されているが、本発明は、「直列型」のイオンビーム注入装置にも適用可能なものである。「直列型」のイオンビーム注入装置では、静止した加工物の表面上を走査するようにイオンビームが案内される。イオンビーム１４中のイオンは、イオン源１２と注入ステーション１６との間を伝播するにつれて分散する傾向を示す。イオン源１２は、イオン源材料が注入される内部領域を形成するプラズマチャンバー２８を含んでいる。イオン源材料は、イオン化可能ガスまたは気化されたイオン源材料を含むものであってもよい。固体のイオン源材料が気化器内に配置され、その後、プラズマチャンバーに注入される。イオン源からは正イオンが射出し、これらの正イオンから形成されるイオンビーム１４は、ビーム形成／案内装置５０によって、排気された領域を通じて注入ステーション１６に導かれる。
【００１５】
製造運転の間、イオンビーム１４が伝播するビーム経路１５は、１対の真空ポンプ３１からなる圧力調整システム５５により排気される。本発明に従って構成されるイオン源１２は、一例として、低エネルギー注入装置に適用される。この種の注入装置におけるイオンビーム１４は、そのビーム経路に沿って拡散する傾向を示すため、注入装置１０は、イオン源１２から注入チャンバー２２までの経路が比較的短くなるように設計されている。
【００１６】
プラズマチャンバー２８中のイオンは、プラズマチャンバーの開口部から引き出されてイオンビーム１４として形成され、このイオンビームは、ビーム形成／案内装置５０によって、イオン源１２と注入ステーション１６との間を伝播する。ビーム形成／案内装置５０は、質量分析磁石または質量分解磁石３２と１組の電極３４とを含んでいる。プラズマチャンバーのイオンは、プラズマチャンバー近傍の１組の電極３４によって、支持体１３に固定された質量分析磁石３２に向けて加速される。１組の電極３４は、プラズマチャンバーの内部からイオンを引き出し、そのイオンを、質量分析磁石３２に囲まれた領域へ加速するものである。イオンビーム経路１５の磁石領域を通過する部分は、アルミニウム製のビームガイド３６に囲まれている。製造運転の間、ビーム形成／案内装置５０によって形成される内部領域５２は、ポンプ３１により排気されている。
【００１７】
イオンビーム１４を構成するイオンは、イオン源１２から、質量分析磁石３２によって発生する磁界中に移動する。質量分析磁石３２によって発生する磁界の強さおよび方向は、磁石の界磁巻線を流れる電流を調整するための磁石コネクタ４０に結合された制御用電子装置２０によって制御される。
【００１８】
質量分析磁石３２によって、適正な質量対電荷比を有するイオンのみがイオン注入ステーション１６に到達する。プラズマチャンバー２８において、イオン源材料をイオン化することにより所望の原子質量を有する正に帯電したイオン種が発生する。しかし、このイオン化工程では、所望のイオン種に加えて、適正な原子質量以外の原子質量を有するイオンも一定の割合で発生する。適正な原子質量を超える原子質量または適正な原子質量未満の原子質量を有するイオンは、注入に適さない。
【００１９】
質量分析磁石３２によって発生する磁界により、イオンビーム１４中のイオンは、曲線状の軌跡に沿って移動する。この磁界は、制御用電子装置２０により、所望のイオン種の原子質量に等しい原子質量を有するイオンのみが、曲線状のビーム経路に沿って移動して注入ステーションの注入チャンバー２２に至るように設定される。
【００２０】
質量分析磁石３２の下流には、分解ハウジング６０が配置されており、この分解ハウジングも、ビーム形成／案内装置５０の一部をなすものである。分解ハウジング６０は、ガラス質グラファイトからなる分解プレート６２を支持するとともに、イオンビーム１４中のイオンが通過する細長い開口部を形成する。分解プレート６２において、イオンビームの分散、すなわち、イオンビームの包絡線の幅は、製造運転のための最小値となる。
【００２１】
分解プレート６２は、質量分析磁石３２とともに機能して、所望のイオン種の原子質量に近いけれども同一ではない原子質量を有する不要のイオン種を、イオンビーム１４から除去するものである。上述したように、質量分析磁石の磁界の強さおよび方向は、所望のイオン種の原子量に等しい原子量を有するイオンのみが、既定かつ所望のビーム経路に沿って注入ステーション１６へ移動するように、制御電子装置２０により設定される。所望の原子質量よりも非常に大きいかまたは非常に小さい原子質量を有するイオン種は、鋭く偏向し、ビームガイド３６または分解プレート６２によって形成されるスリットの境界に衝突する。
【００２２】
分解ハウジング６０には、イオンビーム１４が通過するプラズマ電子シャワー７０も支持されている。プラズマチャンバー２８から引き出されたイオンは、正に帯電している。加工物２１への注入の前にイオンの正電荷を中性化しなかった場合、ドーピングされたウエハは正味の正電荷を帯びることになる。このように加工物２１が正味の正電荷を帯びることは、望ましくない特性である。
【００２３】
プラズマシャワー７０の延長管は、後述する可撓性のベローズ体１００を通じて延び、その下流端７４が、加工物２１にイオンを注入するための注入チャンバー２２に近接する。注入チャンバー内には、加工物用のディスク型支持体９０が支持されている。処理される加工物２１は、支持体９０の外縁付近に配置されており、支持体は、モーター９２により一定の角速度で回転する。イオンビーム１４は、円形の経路を回転している加工物２１に衝突する。また、支持体９０は、ステッピングモーターが送りネジを駆動することによって、平行移動する。これによって、１回の製造運転の間に、複数行に配列された加工物に対して注入を実施することができる。加工物２１が受けるイオン線量は、支持体９０の平行移動速度によって決定され、この平行移動速度は、制御用電子装置２０によって制御される。
【００２４】
（可撓性のベローズ体１００）
ビーム形成／案内装置５０は、さらに、可撓性のベローズ体１００を含んでおり、注入ステーション１６を分解ハウジング６０に機械的に結合するとともに、注入ステーション１６を、ビーム形成／案内装置５０、特に分解ハウジング６０に対して回転可能とするものである。ベローズ体１００は、排気された真空チャンバーおよびビーム形成／案内装置５０の排気された内部領域と、外部環境との間の真空シールをなす。
【００２５】
注入ステーション１６を分解ハウジング６０に対して回転させることにより、加工物２１を、イオンビーム１４に対して、ビームライン１５に直交する２方向（ｘ軸およびｙ軸）に傾けることができ、それによって、加工物２１の注入方向のα角およびβ角（図２）の両方を変更することができる。
【００２６】
ベローズ体１００は、好ましくは、成形された金属からなる複数の折畳要素（convolutions）１０２を溶接により一体化し、アコーディオンのような形（図３参照）をなすように形成される。好ましくは、ベローズ体は、ステンレス鋼から形成される。アコーディオン形に形成することにより、ベローズ体１００に可撓性を付与することができ、長手軸（図３にＡ−Ａで示す）に関して、ベローズ体１００を限定的に屈曲させることができる。注入ステーション１６が駆動系（図示は省略する）によって分解ハウジング６０に対して回転すると、ベローズ体１００は、その回転移動が可能となるように屈曲する。ベローズ体１００は、必要に応じて、ベローズ体の折畳要素の一方の側を圧縮し、反対側を伸長することによって屈曲する。ベローズ体１００の長手軸Ａ−Ａは、ビームライン１５に一致する。
【００２７】
ベローズ体１００の端部は、取付フランジ１０４、１０６を含んでいる。ベローズ体１００の下流側の取付フランジ１０４は、注入ステーション１６の壁１７の上流対向側１７ｂにボルト締めされる。一方、ベローズ体１００の上流側の取付フランジ１０６は、分解ハウジング６０の端部６４にボルト締めされる。注入ステーションの壁１７の上流対向側１７ｂの溝１９中には、気密シールを形成するためにＯリング１０８ａが嵌め込まれており、ベローズ体１００が注入ステーション１６に装着されると、Ｏリング１０８ａは、ベローズ体の取付フランジ１０４と注入ステーションの壁１７との間で圧縮される。
【００２８】
同様に、気密シールを形成するため、分解ハウジング６０の端部６４の溝６６中には、Ｏリング１０８ｂが嵌め込まれており、ベローズ体１００が分解ハウジング６０に装着されると、Ｏリング１０８ｂは、ベローズ体の取付フランジ１０６と分解ハウジング６０との間で圧縮される。
【００２９】
ベローズ体１００の下流側の取付フランジ１０４は、複数のボルト１０９ａによって、注入ステーションの壁１７に固着される。同様に、ベローズ体１００の上流側の取付フランジ１０６は、複数のボルト１０９ｂによって、分解ハウジング６０の端部６４に固着される。
【００３０】
有利なことに、ベローズ体１００の内部領域１１０には、可撓性のライナーまたはスリーブ１５０が配置されており、ライナー１５０に接触する注入副産物を収集するものである。加工物２１およびイオンビーム１４が衝突する他の面からスパッタリング現象により跳ね飛んだ物質を含む、注入副産物の小さな粒子は、ベローズ体１００の内面１０１の代わりに、ライナー１５０上に堆積する。例えば破損した加工物のような注入副産物の比較的大きな粒子は、ベローズ体１００の折畳要素１０２中に落下する代わりに、ライナー１５０の底部付近に着地する。
【００３１】
ライナー１５０により注入副産物を収集することによって、注入チャンバー２２内およびビーム形成／案内装置５０の内部領域５２を浮遊する副産物の量が低減するとともに、ベローズ体１００の内面１０１に堆積する副産物の量が低減する。ベローズ体１００の内面１０１上に副産物が堆積すると、ベローズ体の耐用寿命が短縮する傾向があり、また、ベローズ体の漏れの要因となるおそれがある。ベローズ体１００は、アコーディオン形に形成されているため、このような注入副産物の堆積物を除去することは困難である。
【００３２】
加えて、ベローズ体１００を屈曲すると、ベローズ体の内面１０１上に堆積した副産物は離脱してビーム形成／案内装置５０の内部領域５２および注入チャンバー２２に沿って移動する。注入チャンバー２２またはビーム形成／案内装置の内部領域５２を副産物が浮遊することは、加工物２１に接触して付着する副産物が、加工物の汚染および注入線量の均一性の劣化の要因となるため、望ましくない。
【００３３】
したがって、ライナー１５０は、注入の間に加工物２１上に堆積される望ましくない副産物または汚染物質の量を低減することによって、注入処理を改善するとともに、ベローズ体の内面１０１を被覆する副産物の量を低減することによって、ベローズ体１００の耐用寿命を延長するものである。
【００３４】
図３に最も分かり易く示されているように、注入ステーション１６の壁１７の処理対向側または下流対向側１７ａには、注入ステーションのフランジ２３の大径環状部２４がボルト締めされている。注入ステーションのフランジ２３は、イオンビーム１４が通過するとともに電子シャワーの延長管の端部７４が延びる中央開口部１８を形成するものである。図３に最も分かり易く示されているように、ライナー１５０は、注入ステーションのフランジ２３に支持されている。この点を詳述すれば、次の通りである。すなわち、注入ステーションのフランジ２３の大径ヘッド部２４から上流方向に小径環状部２６が延びている。小径環状部２６は、段差付きの末端部２７を有している。ライナー１５０の下流側の端部１５４は、この段差付きの末端部に装着され、３個の締結具１５６によって段差付きの末端部２７に締結される。図３に示すように、注入ステーションのフランジ２３を注入ステーションの壁１７に固着すると、ライナー１５０は、ベローズ体の内部領域１１０中を上流方向に延びることになる。
【００３５】
ライナー１５０は、真空に適合し、かつ、ライナー付近の構成要素の動作温度に適合する材料から作製する必要がある。好ましくは、ライナー１５０は、可撓性のポリアミドフィルムからなり、円筒形に巻かれて、重なり合った継目を一対のアルミニウム製リベット１６２により保持するものである。適切なポリアミドフィルムの一例は、イー・アイ・デュポン・ドゥ・ヌムール・アンド・カンパニー社（Ｅ．Ｉ  ｄｕ  Ｐｏｎｔ  ｄｅ  Ｎｅｍｏｕｒｓ  ａｎｄ  Ｃｏｍｐａｎｙ）が製造するＫＡＰＴＯＮ（登録商標）  ＨＰＰＳＴフィルムである。ライナー１５０の厚みは、応用例によるが、典型的には０．１７７８ｍｍ（０．００７インチ）である。他の適切なライナー用材料には、ポリテトラフルオロエチレン（ＰＴＦＥ）材料のような耐熱性および可撓性の材料が含まれる。
【００３６】
ライナー１５０がない場合にベローズ体の内面１０１に堆積する注入副産物の大部分は、注入ステーション１６に近接するベローズ体１００の端部領域付近に堆積する傾向がある。したがって、ベローズ体のライナー１５０は、有効に機能するために、ベローズ体１００の長手方向または軸方向の全長（すなわち、Ａ−Ａ軸に沿った全長）に沿って延在する必要はない。図４に示すように、ライナー１５０は、内面１０１の、注入ステーション１６に近接する部分のみに沿って延在するものである。
【００３７】
注入ステーション１６への開口部１８は、注入ステーションのフランジ２３により形成され、ライナー１５０はフランジ２３に固着されて上流方向に延びていることにより、ライナー１５０は、ベローズ体１００の内面に接触していなくとも、ベローズ体１００の内面１０１を保護するものである。一方、ライナー１５０を電子シャワー７０から半径方向外側に離隔して配置し、ベローズ体１００の屈曲が最大の場合でも（典型的には、Ａ−Ａ軸から７〜１１°）、ライナー１５０が電子シャワー７０により擦られた結果ライナー１５０に付着した注入副産物が払い落とされることがないようにすることは重要である。したがって、特定の応用例におけるベローズ体のライナー１５０の直径および長さは、ベローズ体１００および電子シャワー７０の特定のサイズ、配置および形状、並びに、注入ステーション１６の分解ハウジング６０に対する所望の回転移動によって決定される。
【００３８】
以上、本発明を、目下のところ望ましい実施形態に関連させて説明してきたが、本発明から逸脱することなく他の修正をなし得ることは、当業者には理解されるものであり、すべての修正例および変形例は、本発明の範囲に含まれる。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】図１は、本発明のイオンビーム注入装置を図式的に示す平面図である。
【図２】図２は、図１のイオンビーム注入装置の特定の構成要素を図示的に示す透視図である。
【図２Ａ】図２Ａは、図２を拡大および分解して示す透視図である。
【図３】図３は、イオンビーム注入装置の、図１の３−３線で示される平面から見たベローズ体およびベローズ体のライナーを含む一部を示す断面図である。
【図４】図４は、本発明のベローズ体のライナーを図式的に示す透視図である。
【図１】
2008516381.tif 000003
【図２】
2008516381.tif 000004
【図２Ａ】
2008516381.tif 000005
【図３】
2008516381.tif 000006
【図４】
2008516381.tif 000007
【国際調査報告】
2008516381.tif 000008
2008516381.tif 000009
2008516381.tif 000010