【事件の表示】
　特許第２８７９０６５号「電極間の短絡検出方法及びその装置」の請求項１、２に係る特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結　論】
　特許第２８７９０６５号の請求項１ないし２に係る特許を取り消す。
【理　由】
１．手続の経緯
　特許第２８７９０６５号の請求項１，２に係る発明は、平成１年６月２９日に出願され、平成１１年１月２９日に設定登録され、その後、異議申立人　太田　恵三より特許異議の申立てがなされ、取消理由通知がなされ、その指定期間内である平成１２年４月３日に訂正請求がなされ、訂正拒絶理由通知がなされ、その後２度目の取消理由通知がなされ、その指定期間内である平成１２年１０月２４日に、平成１２年４月３日付訂正請求が取り下げられると共に新たな訂正請求がなされ、平成１２年１２月１５日に訂正拒絶理由通知がなされたものである。
　
２．平成１２年１２月１５日付訂正拒絶理由通知の概要
Ａ．訂正明細書の請求項１，２に係る発明
　訂正明細書の請求項１及び２に係る発明（以下、本件訂正発明１及び２という。）は、上記訂正請求書の特許請求の範囲の請求項１及び２に記載された下記のとおりのものである。
　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　記
　（１）帯状に並んだ複数の電極を有する少なくとも１枚の基板内で近接した電極間の短絡（ＴＦＴのゲート電極が接続されたスキャンバスラインとＴＦＴのドレイン電極が接続されたスキャンバスラインとの短絡は除く）を検出する方法であって、前記電極のうちから選ばれた第１の電極の両端部をＰ１、Ｐ２とし、第１の電極との短絡の有無を検出されるべき第２の電極のＰ１に近接する端部をＰ３、他端をＰ４とし、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４のそれぞれにプローブを接触させ、お互いに１次独立な抵抗値である、Ｐ１とＰ２との間の抵抗値Ｒ、Ｐ１とＰ３との間の抵抗値Ｒ１３およびＰ１とＰ４との間の抵抗値Ｒ１４をそれぞれ測定し、Ｐ１とＰ２との間の距離に対するＰ１から短絡部までの距離の比率ｘを、式ｘ＝（Ｒ１３−Ｒ１４＋Ｒ）／２Ｒに基づいて演算して検出することを特徴とする電極間の短絡検出方法。
　（２）帯状に並んだ複数の電極を有する少なくとも１枚の基板内で近接した電極間の短絡（ＴＦＴのゲート電極が接続されたスキャンバスラインとＴＦＴのドレイン電極が接続されたスキャンバスラインとの短絡は除く）を検出する装置であって、前記電極のうちから選ばれた第１の電極の両端部をＰ１、Ｐ２とし、第１の電極との短絡の有無を検出されるべき第２の電極のＰ１に近接する端部をＰ３、他端をＰ４とし、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４のそれぞれに接触させるプローブと、Ｐ１とＰ２との間の抵抗値Ｒ、Ｐ１とＰ３との間の抵抗値Ｒ１３およびＰ１とＰ４との間の抵抗値Ｒ１４をそれぞれ測定する手段と、Ｐ１とＰ２との間の距離に対するＰ１から短絡部までの距離の比率ｘを、式ｘ＝（Ｒ１３−Ｒ１４＋Ｒ）／２Ｒに基づいて演算して検出する演算装置とを有することを特徴とする電極間の短絡検出装置。
　
Ｂ．先願明細書の記載事項
　上記本件訂正発明１及び２に対して、平成１２年１２月１５日付訂正拒絶理由通知書で引用した先願の明細書又は図面には下記のとおりの記載がある。
　
先願：特願昭６３−９８９８１号（特開平１−２６９９９２号公報参照）
イ．「本願発明は液晶表示パネルの欠陥検出方法に関する。
・・・
　ＴＦＴを用いたアクティブマトリクス型液晶パネルにおいては、画素を選択するための行方向または列方向の走査ライン（スキャンバスライン）と、画素ごとの表示データを供給する列方向または行方向の信号ライン（データバスライン）の配設方向が交差する。この交差する２組のバスラインを従来の液晶パネルは同一基板上に形成していたため、その交差部で２組のバスライン間に短絡が発生しやすいという問題があった。
・・・
　上記方式では走査ラインはＴＦＴ基板上に、信号ラインは対向基板上に配設されるが、ＴＦＴ基板上には走査ラインのほか接地ライン（コモンバスライン）が存在するため、これとドレイン電極の引き出し線との交差部が存在し、この交差部で短絡が発生する危険性が残っている。
・・・
　第３図（ａ），（ｂ）に上記ゲート接続方式の液晶パネルの等価回路図とパネルの構成を模式的に示す。この構造では交差する走査ラインＳＢと信号ラインＤＢ間の短絡は、液晶層に導電性異物が混入しない限り発生しない。しかしＴＦＴ４のゲートＧとドレインＤ間が短絡した場合の隣接走査ライン間短絡の発生は防止できない。
・・・
　そこで本発明においては、ゲート接続方式で且つＴＦＴ冗長構造とした場合に、短絡欠陥ＴＦＴを的確且つ容易に検出し得るようにすることを目的とする。」
（参照公報第２頁右上欄第１３行〜第３頁右上欄第６行）
　
ロ．「本発明の短絡欠陥ＴＦＴの検出方法の原理を第１図により説明する。
　ゲート接続方式では、ＴＦＴのゲート電極Ｇとドレイン電極Ｄは、それぞれ隣接する２本のスキャンバスラインＳＢｎとＳＢｎ＋１に接続されている。そのため一つのＴＦＴが短絡欠陥を有する場合には、そのＴＦＴのゲート電極Ｇとドレイン電極Ｄが接続されている２本のスキャンバスラインＳＢｎとＳＢｎ＋１間は短絡または通常より低い抵抗値を示す。
　従って、隣接する２本のスキャンバスラインの間の抵抗値を順次調べることによって、短絡スキャンバスラインの検出は容易である。このようにして、先ず、短絡ＴＦＴが接続されているスキャンバスラインを検出する。
　次いで、各スキャンバスラインＳＢｉ（但し、ｉ＝１，２，・・・ｎ，ｎ＋１，・・・）から導出された端子Ａ−Ａ’間，Ａ−Ｂ間，Ａ−Ｂ’間の抵抗ＲＡＡ’，ＲＡＢ，ＲＡＢ’を測定し、スキャンバスラインＳＢの抵抗ＲＳＢ＝ＲＡＢと短絡部の抵抗ＲＳＮ＝ＲＡＢ’−ＲＡＢであることから、（ＲＡＡ’−ＲＳＮ）／２を求めれば、この値と上記ＲＡＢとの比から、図の右側の端子Ａ，Ｂから欠陥ＴＦＴまでの画素数が求まるので、短絡欠陥ＴＦＴが存在する大まかな場所を割り出すことが出来る。」
（参照公報第３頁右上欄第８行〜同頁左下欄第１３行）
　
ハ．「２本のスキャンバスラインＳＢとＳＢ’の間で短絡が生じたとすると、前述した如く、スキャンバスラインＳＢの一方の端子Ａと他方の端子Ａ’間の抵抗ＲＡＡ’，および上記ＡとスキャンバスラインＳＢ’の他方の端子Ｂ’間の抵抗ＲＡＢ’を測定して、スキャンバスライン１本の抵抗ＲＳＢ並びに短絡欠陥ＴＦＴの抵抗ＲＳＮを求め、更にスキャンバスラインＳＢ，ＳＢ’の一方の端子Ａ，Ｂ間の抵抗ＲＡＢを測定し、これと上記ＲＳＮから、上述した如く、（ＲＡＢ−ＲＳＮ）／２なる演算を行って、短絡欠陥ＴＦＴの大まかな位置を求める。」
（参考公報第４頁右上欄第１８行〜同頁左下欄第８行）
　
Ｃ．対比・判断
ａ．請求項１について
　上記先願明細書の「ＴＦＴ基板上には走査ライン」、「ＴＦＴ４のゲートＧとドレインＤ間が短絡した場合の隣接走査ライン間短絡の発生は防止できない。」、「短絡欠陥ＴＦＴを的確且つ容易に検出し得るようにすることを目的とする。」（上記イ）及び「隣接する２本のスキャンバスラインの間の抵抗値を順次調べることによって、短絡スキャンバスラインの検出は容易である。このようにして、先ず、短絡ＴＦＴが接続されているスキャンバスラインを検出する。」（上記ロ）なる記載より、上記先願明細書に記載された発明（以下、先願発明という）は「帯状に並んだ複数の電極を有する少なくとも１枚の基板内で近接した電極であるスキャンバスライン間の短絡を検出する方法」に係るものである。
　上記先願明細書には抵抗値を検出するときに格別プローブを接触させることが記載されていない。ところで、抵抗を検出するために通電を行うとき、何らかの電極を通電したい箇所の両端に接触させることは当然行われることである。このとき、微細なものに対して上記電極を接触させる場合には、この電極がプローブ状となることも自明なことである。
　
　また、上記先願明細書の「２本のスキャンバスラインＳＢとＳＢ’の間で短絡が生じたとすると、前述した如く、スキャンバスラインＳＢの一方の端子Ａと他方の端子Ａ’間の抵抗ＲＡＡ’，および上記ＡとスキャンバスラインＳＢ’の他方の端子Ｂ’間の抵抗ＲＡＢ’を測定して、スキャンバスライン１本の抵抗ＲＳＢ並びに短絡欠陥ＴＦＴの抵抗ＲＳＮを求め」（上記ハ）なる記載より、ＲＳＢ＝ＲＡＡ’、ＲＳＮ＝ＲＡＢ’−ＲＳＢであることは当業者には自明であるから、上記先願明細書の「（ＲＡＢ−ＲＳＮ）／２なる演算」（上記ハ）は、「（ＲＡＢ−ＲＡＢ’＋ＲＳＢ）／２なる演算」であることは当業者に自明なことである。
　更に、上記ロの記載と上記ハの記載とは「（ＲＡＡ’−ＲＳＮ）／２」と「（ＲＡＢ−ＲＳＮ）／２」と行う演算が相違したものであるが、第１図の各端子の定義を参酌するとともに各抵抗の物理的意味を考慮すれば、上記ハの記載が正しく、上記ロの記載は、端子Ａ’と端子Ｂの位置を取り違えたことによる誤記であるものと認められるから、上記先願明細書の「（ＲＡＡ’−ＲＳＮ）／２を求めれば、この値と上記ＲＡＢとの比から、図の右側の端子Ａ，Ｂから欠陥ＴＦＴまでの画素数が求まるので、短絡欠陥ＴＦＴが存在する大まかな場所を割り出すことが出来る。」（上記ロ）との記載は、「欠陥ＴＦＴが存在する大まかな位置を割り出す」ために「（ＲＡＢ−ＲＳＮ）／２」の誤記である「（ＲＡＡ’−ＲＳＮ）／２」なる演算結果と、「スキャンバスライン１本の抵抗ＲＳＢ」を表す「抵抗ＲＡＡ’」の誤記である「ＲＡＢ」との比をとることが記載されているから、上記先願発明には「（ＲＡＢ−ＲＡＢ’＋ＲＳＢ）／２なる演算」の結果とＲＳＢとの比をとることにより、「短絡欠陥ＴＦＴが存在する大まかな場所を割り出す」ことを記載したものである。
　
　したがって、上記先願明細書には「帯状に並んだ複数の電極を有する少なくとも１枚の基板内で近接した電極であるスキャンバスライン間の短絡を検出する方法であって、前記スキャンバスラインのうちから選ばれた第１のスキャンバスラインの両端部をＡ、Ａ’とし、第１のスキャンバスラインとの短絡の有無を検出されるべき第２のスキャンバスラインのＡに近接する端部をＢ、他端をＢ’とし、Ａ、Ａ’、Ｂ、Ｂ’のそれぞれにプローブを接触させ、お互いに１次独立な抵抗値である、ＡとＡ’との間の抵抗値ＲＡＡ（＝ＲＳＢ）、ＡとＢとの間の抵抗値ＲＡＢおよびＡとＢ’との間の抵抗値ＲＡＢ’をそれぞれ測定し、（ＲＡＢ−ＲＡＢ’＋ＲＳＢ）／２ＲＳＢに基づいて短絡欠陥ＴＦＴが存在する大まかな場所を割り出すことを特徴とする電極間の短絡検出方法。」が記載されている。
　ここで、上記先願発明と本件訂正発明１とを対比すると、上記先願発明の「帯状に並んだ複数の電極を有する少なくとも１枚の基板内で近接した電極であるスキャンバスライン間の短絡を検出する方法」は、本件訂正発明１の「帯状に並んだ複数の電極を有する少なくとも１枚の基板内で近接した電極間の短絡を検出する方法」に対応する。また、上記先願発明の各端子「Ａ，Ａ’，Ｂ，Ｂ’」はそれぞれ、本件訂正発明１の各端子「Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４」に対応するから、上記先願発明の各抵抗「ＲＡＡ’（＝ＲＳＢ），ＲＡＢ，ＲＡＢ’」はそれぞれ、本件訂正発明１の各抵抗「Ｒ，Ｒ１３，Ｒ１４」に対応し、上記先願発明の「（ＲＡＢ−ＲＡＢ’＋ＲＳＢ）／２ＲＳＢ」なる演算は、本願訂正発明１の演算「（Ｒ１３−Ｒ１４＋Ｒ）／２Ｒ」に対応する。
　したがって、本件訂正発明１と上記先願発明とは「帯状に並んだ複数の電極を有する少なくとも１枚の基板内で近接した電極間の短絡を検出する方法であって、前記電極のうちから選ばれた第１の電極の両端部をＰ１、Ｐ２とし、第１の電極との短絡の有無を検出されるべき第２の電極のＰ１に近接する端部をＰ３、他端をＰ４とし、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４のそれぞれにプローブを接触させ、お互いに１次独立な抵抗値である、Ｐ１とＰ２との間の抵抗値Ｒ、Ｐ１とＰ３との間の抵抗値Ｒ１３およびＰ１とＰ４との間の抵抗値Ｒ１４をそれぞれ測定し、Ｐ１とＰ２との間の距離に対するＰ１から短絡部までの距離の比率ｘを、ｘ＝（Ｒ１３−Ｒ１４＋Ｒ）／２Ｒに基づいて演算して検出することを特徴とする電極間の短絡検出方法。」の点で一致する。
　また、上記先願発明と本件訂正発明１に係る発明とはともに、「帯状に並んだ複数の電極を有する少なくとも１枚の基板内で近接した電極間の短絡」を検出するために電極端部間の抵抗値を測定するものであり、検出対象となる電極の種類、短絡の原因により、上記検出のための構成が変更されるものとは認められないので、「ＴＦＴのゲート電極が接続されたスキャンバスラインとＴＦＴのドレイン電極が接続されたスキャンバスラインとの短絡は除く」ことにより、実質的な差異は認められない。
　
　したがって、上記先願明細書に記載された発明と、本件訂正明細書の請求項１に係る発明とを対比すると異なるところはないから、上記先願明細書に記載された発明と本件訂正明細書の請求項１に係る発明に係る発明とは同一である。
　
ｂ．請求項２について
　上記「ａ．請求項１について」に記載したとおり、上記先願明細書には「帯状に並んだ複数の電極を有する少なくとも１枚の基板内で近接した電極であるスキャンバスライン間の短絡を検出する方法であって、前記スキャンバスラインのうちから選ばれた第１のスキャンバスラインの両端部をＡ、Ａ’とし、第１のスキャンバスラインとの短絡の有無を検出されるべき第２のスキャンバスラインのＡに近接する端部をＢ、他端をＢ’とし、Ａ、Ａ’、Ｂ、Ｂ’のそれぞれにプローブを接触させ、お互いに１次独立な抵抗値である、ＡとＡ’との間の抵抗値ＲＡＡ（＝ＲＳＢ）、ＡとＢとの間の抵抗値ＲＡＢおよびＡとＢ’との間の抵抗値ＲＡＢ’をそれぞれ測定し、（ＲＡＢ−ＲＡＢ’＋ＲＳＢ）／２ＲＳＢに基づいて短絡欠陥ＴＦＴが存在する大まかな場所を割り出すことを特徴とする電極間の短絡検出方法。」が記載されている。
　ここで、上記先願発明と本件訂正発明２とを対比すると、上記先願発明の「帯状に並んだ複数の電極を有する少なくとも１枚の基板内で近接した電極であるスキャンバスライン間の短絡を検出する方法」は、本件訂正発明２の「帯状に並んだ複数の電極を有する少なくとも１枚の基板内で近接した電極間の短絡を検出する装置」に対応する。また、上記先願発明の各端子「Ａ，Ａ’，Ｂ，Ｂ’」はそれぞれ、本件訂正発明２の各端子「Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４」に対応するから、上記先願発明の各抵抗「ＲＡＡ’（＝ＲＳＢ），ＲＡＢ，ＲＡＢ’」はそれぞれ、本件訂正発明１の各抵抗「Ｒ，Ｒ１３，Ｒ１４」に対応し、上記先願発明の「（ＲＡＢ−ＲＡＢ’＋ＲＳＢ）／２ＲＳＢ」なる演算は、本願訂正発明１の演算「（Ｒ１３−Ｒ１４＋Ｒ）／２Ｒ」に対応する。また、プローブ、抵抗値を測定する手段、演算装置を有することは、その機能より自明である。
　したがって、本件訂正発明２と上記先願発明とは「帯状に並んだ複数の電極を有する少なくとも１枚の基板内で近接した電極間の短絡を検出する装置であって、前記電極のうちから選ばれた第１の電極の両端部をＰ１、Ｐ２とし、第１の電極との短絡の有無を検出されるべき第２の電極のＰ１に近接する端部をＰ３、他端をＰ４とし、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４のそれぞれに接触させるプローブと、Ｐ１とＰ２との間の抵抗値Ｒ、Ｐ１とＰ３との間の抵抗値Ｒ１３およびＰ１とＰ４との間の抵抗値Ｒ１４をそれぞれ測定する手段と、Ｐ１とＰ２との間の距離に対するＰ１から短絡部までの距離の比率ｘを、ｘ＝（Ｒ１３−Ｒ１４＋Ｒ）／２Ｒに基づいて演算して検出する演算装置とを有することを特徴とする電極間の短絡検出装置。」の点で一致する。
　また、上記先願発明と本件訂正発明２に係る発明とはともに、「帯状に並んだ複数の電極を有する少なくとも１枚の基板内で近接した電極間の短絡」を検出するために電極端部間の抵抗値を測定するものであり、検出対象となる電極の種類、短絡の原因により、上記検出のための構成が変更されるものとは認められないので、「ＴＦＴのゲート電極が接続されたスキャンバスラインとＴＦＴのドレイン電極が接続されたスキャンバスラインとの短絡は除く」ことにより、実質的な差異は認められない。
　
　したがって、上記先願明細書に記載された発明と、本件訂正明細書の請求項２に係る発明とを対比すると異なるところはないから、上記先願明細書に記載された発明と本件訂正明細書の請求項２に係る発明に係る発明とは同一である。
　また、本件訂正発明１及び２の発明者が上記先願明細書に記載された発明の発明者と同一であるとも、また、本件の特許出願時の時に、その出願人が上記他の出願の出願人と同一であるとも認められないので、本件訂正発明１及び２の特許は、特許法第２９条の２の規定により特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　
３．訂正についての当審の判断
  前記訂正拒絶理由において期間を指定して特許権者に意見書を提出する機会を与えたが、特許権者からは何の応答もない。
　そして、前記訂正拒絶理由は妥当なものである。
　よって、上記訂正は、特許法第１２０条の４第３項で準用し、平成６年改正特許法附則第６条第１項の規定によりなお従前の例とされる改正前の特許法第１２６条第３項の規定に適合しないので、当該訂正は認められない。
　
４．特許異議の申し立てについての判断
Ａ．本件発明
　上記のとおり、訂正請求は認められないこととなったから、本件請求項１，２に係る発明（以下本件発明１，２という。）は、特許明細書の特許請求の範囲の請求項１，２に記載された次のとおりの事項により特定されるものである。
「【請求項１】帯状に並んだ複数の電極を有する少なくとも１枚の基板内で近接した電極間の短絡を検出する方法であって、前記電極のうちから選ばれた第１の電極の両端部のそれぞれに２つのプローブを接触させるとともに、第１の電極との短絡の有無を検出されるべき第２の電極の一方の端部または両方の端部であって、第１の電極に接触しているプローブに近接した位置にプローブを接触させ、上記のプローブのうちから選ばれた３種類の２つのプローブの間の抵抗値であって、お互いに１次独立である抵抗値を推定または測定することにより、第１の電極と第２の電極の間の短絡の有無及びその場所を検出することを特徴とする電極間の短絡検出方法。
【請求項２】帯状に並んだ複数の電極を有する少なくとも１枚の基板内で近接した電極間の短絡を検出する装置であって、前記電極のうちから選ばれた第１の電極の両端部にそれぞれ接触させる２つのプローブと、第１の電極との短絡の有無を検出されるべき第２の電極の一方の端部または両方の端部であって、第１の電極に接触しているプローブに近接した位置に接触させるプローブと、上記のプローブの間の抵抗値を測定する手段と、その抵抗値から第１の電極と第２の電極の間の短絡の有無及びその場所を演算して検出する演算装置とを有することを特徴とする電極間の短絡検出装置。」
　
Ｂ．先願明細書の記載事項
先願：特願昭６３−９８９８１号（特開平１−２６９９９２号公報参照）（甲第１号証）
上記先願の願書に最初に添付した明細書又は図面（以下、単に「先願明細書」という。）には、上記２．Ｂ．先願明細書の記載事項に記載したとおりの記載がある。
　
Ｃ．対比・判断
ａ．本件発明１について
　そして、上記先願明細書には上記２．Ｃ．ａ．に記載したとおり、下記の発明が実質的に記載されている。
　記
「帯状に並んだ複数の電極を有する少なくとも１枚の基板内で近接した電極であるスキャンバスライン間の短絡を検出する方法であって、前記スキャンバスラインのうちから選ばれた第１のスキャンバスラインの両端部をＡ、Ａ’とし、第１のスキャンバスラインとの短絡の有無を検出されるべき第２のスキャンバスラインのＡに近接する端部をＢ、他端をＢ’とし、Ａ、Ａ’、Ｂ、Ｂ’のそれぞれにプローブを接触させ、お互いに１次独立な抵抗値である、ＡとＡ’との間の抵抗値ＲＡＡ（＝ＲＳＢ）、ＡとＢとの間の抵抗値ＲＡＢおよびＡとＢ’との間の抵抗値ＲＡＢ’をそれぞれ測定し、（ＲＡＢ−ＲＡＢ’＋ＲＳＢ）／２ＲＳＢに基づいて短絡欠陥ＴＦＴが存在する大まかな場所を割り出すことを特徴とする電極間の短絡検出方法。」
　
　ここで、上記先願発明と本件発明１とを対比すると、上記先願発明の「帯状に並んだ複数の電極を有する少なくとも１枚の基板内で近接した電極であるスキャンバスライン間の短絡を検出する方法」は、本件発明１の「帯状に並んだ複数の電極を有する少なくとも１枚の基板内で近接した電極間の短絡を検出する方法」に対応する。また、上記先願発明の各端子「Ａ，Ａ’，Ｂ，Ｂ’」はそれぞれ、本件発明１の「第１の電極の両端部」、「第１の電極との短絡の有無を検出されるべき第２の電極の両方の端部」に対応するから、上記先願発明の「前記スキャンバスラインのうちから選ばれた第１のスキャンバスラインの両端部をＡ、Ａ’とし、第１のスキャンバスラインとの短絡の有無を検出されるべき第２のスキャンバスラインのＡに近接する端部をＢ、他端をＢ’とし、Ａ、Ａ’、Ｂ、Ｂ’のそれぞれにプローブを接触」は、本件発明１の「前記電極のうちから選ばれた第１の電極の両端部のそれぞれに２つのプローブを接触させるとともに、第１の電極との短絡の有無を検出されるべき第２の電極の一方の端部または両方の端部」「にプローブを接触」に対応し、上記先願発明の「お互いに１次独立な抵抗値である、ＡとＡ’との間の抵抗値ＲＡＡ（＝ＲＳＢ）、ＡとＢとの間の抵抗値ＲＡＢおよびＡとＢ’との間の抵抗値ＲＡＢ’をそれぞれ測定し、（ＲＡＢ−ＲＡＢ’＋ＲＳＢ）／２ＲＳＢに基づいて短絡欠陥ＴＦＴが存在する大まかな場所を割り出す」は、本件発明１の「上記のプローブのうちから選ばれた３種類の２つのプローブ間の抵抗値であって、お互いに１次独立である抵抗値を推定または測定することにより、第１の電極と第２の電極の間の短絡の有無及びその場所を検出する」に対応する。
　したがって、本件発明１と上記先願発明とは「帯状に並んだ複数の電極を有する少なくとも１枚の基板内で近接した電極間の短絡を検出する方法であって、前記電極のうちから選ばれた第１の電極の両端部のそれぞれに２つのプローブを接触させるとともに、第１の電極との短絡の有無を検出されるべき第２の電極の一方の端部または両方の端部にプローブを接触させ、上記のプローブのうちから選ばれた３種類の２つのプローブの間の抵抗値であって、お互いに１次独立である抵抗値を推定または測定することにより、第１の電極と第２の電極の間の短絡の有無及びその場所を検出することを特徴とする電極間の短絡検出方法。」の点で一致する。
　また、本件発明１は、第２の電極に接触させるプローブを「第１の電極に接触しているプローブに近接した位置に」接触させるのに対し、上記先願明細書には格別その記載がないが、上記先願明細書に記載された方法は、上記二つのスキャンバスラインの抵抗値を検出し、得られた抵抗値の比で短絡個所を特定するものであるり、上記二つのラインの抵抗値を検出するとき、その通電する長さが異なると、抵抗値に誤差が生じることは、当業者には自明のことでありこのことから見て、上記二つの電極のそれぞれにプローブを接触させる際には、互いに近接する部分にプローブを接触させる必要があることも自明のことである。
　
　したがって、本件明細書の請求項１に係る発明と、上記先願明細書に記載された発明とを対比すると異なるところはないから、本件明細書の請求項１に係る発明に係る発明と上記先願明細書に記載された発明とは同一である。
　しかも、本件発明の発明者が上記先願明細書に記載された発明の発明者と同一であるとも、また、本件の特許出願の時に、その出願人が上記他の出願の出願人と同一であるとも認められないので、本件請求項１に係る発明の特許は、特許法第２９条の２第１項の規定に違反してなされたものである。
　
ｂ．本件発明２について
　そして、上記先願明細書には上記２．Ｃ．ａ．に記載したとおり、下記の発明が実質的に記載されている。
　記
「帯状に並んだ複数の電極を有する少なくとも１枚の基板内で近接した電極であるスキャンバスライン間の短絡を検出する方法であって、前記スキャンバスラインのうちから選ばれた第１のスキャンバスラインの両端部をＡ、Ａ’とし、第１のスキャンバスラインとの短絡の有無を検出されるべき第２のスキャンバスラインのＡに近接する端部をＢ、他端をＢ’とし、Ａ、Ａ’、Ｂ、Ｂ’のそれぞれにプローブを接触させ、お互いに１次独立な抵抗値である、ＡとＡ’との間の抵抗値ＲＡＡ（＝ＲＳＢ）、ＡとＢとの間の抵抗値ＲＡＢおよびＡとＢ’との間の抵抗値ＲＡＢ’をそれぞれ測定し、（ＲＡＢ−ＲＡＢ’＋ＲＳＢ）／２ＲＳＢに基づいて短絡欠陥ＴＦＴが存在する大まかな場所を割り出すことを特徴とする電極間の短絡検出方法。」
　
　ここで、上記先願発明と本件発明２とを対比すると、上記先願発明は「帯状に並んだ複数の電極を有する少なくとも１枚の基板内で近接した電極であるスキャンバスライン間の短絡を検出する方法」は、本件発明２の「帯状に並んだ複数の電極を有する少なくとも１枚の基板内で近接した電極間の短絡を検出する装置」に対応する。また、上記先願発明の各端子「Ａ，Ａ’，Ｂ，Ｂ’」はそれぞれ、本件発明２の「第１の電極の両端部」、「第１の電極との短絡の有無を検出されるべき第２の電極の両方の端部」に対応し、上記先願発明は「前記スキャンバスラインのうちから選ばれた第１のスキャンバスラインの両端部をＡ、Ａ’とし、第１のスキャンバスラインとの短絡の有無を検出されるべき第２のスキャンバスラインのＡに近接する端部をＢ、他端をＢ’とし、Ａ、Ａ’、Ｂ、Ｂ’のそれぞれにプローブを接触」するものであるから、本件発明２の「前記電極のうちから選ばれた第１の電極の両端部にそれぞれ接触させる２つのプローブと、第１の電極との短絡の有無を検出されるべき第２の電極の一方の端部または両方の端部」「に接触させるプローブ」に対応するプローブを有することは明らかである。そして、上記先願発明は「お互いに１次独立な抵抗値である、ＡとＡ’との間の抵抗値ＲＡＡ（＝ＲＳＢ）、ＡとＢとの間の抵抗値ＲＡＢおよびＡとＢ’との間の抵抗値ＲＡＢ’をそれぞれ測定し、（ＲＡＢ−ＲＡＢ’＋ＲＳＢ）／２ＲＳＢに基づいて短絡欠陥ＴＦＴが存在する大まかな場所を割り出す」ものであるから、本件発明２の「上記のプローブの間の抵抗値を測定する手段と、その抵抗値から第１の電極と第２の電極の間の短絡の有無及びその場所を演算して検出する演算装置とを有する」に対応する演算装置を有することも明らかである。
　したがって、本件発明２と上記先願発明とは「帯状に並んだ複数の電極を有する少なくとも１枚の基板内で近接した電極間の短絡を検出する装置であって、前記電極のうちから選ばれた第１の電極の両端部にそれぞれ接触させる２つのプローブと、第１の電極との短絡の有無を検出されるべき第２の電極の一方の端部または両方の端部に接触させるプローブと、上記のプローブの間の抵抗値を測定する手段と、その抵抗値から第１の電極と第２の電極の間の短絡の有無及びその場所を演算して検出する演算装置とを有することを特徴とする電極間の短絡検出装置。」の点で一致する。
　また、本件発明２は、第２の電極に接触させるプローブを「第１の電極に接触しているプローブに近接した位置に」接触させるのに対し、上記先願明細書には格別その記載がないが、上記先願明細書に記載された方法は、上記二つのスキャンバスラインの抵抗値を検出し、得られた抵抗値の比で短絡個所を特定するものであるり、上記二つのラインの抵抗値を検出するとき、その通電する長さが異なると、抵抗値に誤差が生じることは、当業者には自明のことでありこのことから見て、上記二つの電極のそれぞれにプローブを接触させる際には、互いに近接する部分にプローブを接触させる必要があることも自明のことである。
　
　したがって、本件明細書の請求項２に係る発明と、上記先願明細書に記載された発明とを対比すると異なるところはないから、本件明細書の請求項２に係る発明に係る発明と上記先願明細書に記載された発明とは同一である。
　しかも、本件発明の発明者が上記先願明細書に記載された発明の発明者と同一であるとも、また、本件の特許出願の時に、その出願人が上記他の出願の出願人と同一であるとも認められないので、本件請求項２に係る発明の特許は、特許法第２９条の２第１項の規定に違反してなされたものである。
　
Ｄ．むすび
　以上のとおり、本件請求項１および２に係る発明の特許は、特許法第２９条の２第１項の規定に違反してなされたものであるから、同法第１１３条第２号に該当し、取り消されるべきものである。
　よって結論のとおり決定する。　
【異議決定日】
平成１３年６月５日（２００１．６．５）