【事件の表示】
　特許第２９４１３５９号「分散性に優れた非晶質シリカ系填料」の請求項１ないし３に係る特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結　論】
　特許第２９４１３５９号の請求項１ないし３に係る特許を維持する。
【理　由】
１．本件の手続きの経緯
　本件特許第２９４１３５９号は、平成２年５月２９日に出願され、平成１１年６月１８日に特許の設定登録がなされたものである。
　これに対し、その後、平成１２年２月１０日に日本化学工業株式会社から本件請求項１乃至３に係る特許について特許異議の申立がなされ、取消理由通知がなされ、その指定期間内に特許異議意見書が提出されたものである。
２．本件発明
　本件請求項１乃至３に係る発明は、本件特許明細書の特許請求の範囲の請求項１乃至３に記載された事項により特定される次のとおりのものである。
「【請求項１】コールター・カウンター法で測定した二次粒子の粒径８μｍ以下の粒度のものが全体の９５重量％以上であり、電子顕微鏡写真で測定した粒径３μｍ以下の粒度のものが全体の１０重量％以下である粒度分布を有し、且つ１００乃至５００ｍ２／ｇのＢＥＴ比表面積、０．８０乃至２．５０ｃｃ／ｇの細孔容積及び０．１０乃至０．３０ｇ／ｍｌのかさ比重を有する微粒子であることを特徴とする分散性に優れた非晶質シリカ系填料。
【請求項２】前記微粒子がアニオン系界面活性剤でコーテイング処理されていることを特徴とする請求項１記載の非晶質シリカ系填料。
【請求項３】前記アニオン系界面活性剤がポリカルボン酸型高分子化合物であることを特徴とする請求項２記載の非晶質シルカ系填料。」（以下、「本件発明１〜３」という）
３．特許異議の申立ての概要
  特許異議申立人日本化学工業株式会社は、甲第１〜２号証を提出して次のような主旨の主張をしている。
（１）本件発明１〜３は、本件特許の出願の日前の出願である甲第１号証に係る先願（特願平２−１７２８４４号）の当初の明細書または図面（特開平３−４５５１１号公報）に記載された発明と同一であり、しかも、本件特許の発明者は先願の発明者と同一ではないし、また、本件特許の出願の時に本件特許の出願人が先願の出願人と同一でもないから、本件発明１〜３は、特許法第２９条の２の規定により特許を受けることができないものである。
（２）本件発明１は、本件特許の出願前に頒布された刊行物である甲第２号証（特開平１−３２０２１５号公報）に記載された発明と同一であるから、特許法第２９条第１項第３号に該当し、特許を受けることができないものである。
（３）本件発明１〜３は、本件特許の出願前に頒布された刊行物である甲第２号証に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものである。
４．当審の判断
４−１．上記（１）の主張について
　甲第１号証（特開平３−４５５１１号公報）に係る先願の当初の明細書（以下単に先願明細書という。）の特許請求の範囲には、「２０〜３００ｍ２／ｇのＢＥＴ比表面積、１０〜２００ｍ２／ｇのＣＴＡＢ比表面積、８０〜４００ｃｍ３／１００ｇの油取込量（ＤＢＰ）、１〜１０ｃｍ３／ｇの細孔容積および１０〜５０ｎｍの平均細孔直径を有する沈降シリカ。」（特許請求の範囲第１項）や「凝集体の平均直径が０．５〜２０μｍ、特に１〜１０μｍであることを特徴とする請求項１〜５のいずれかに記載のシリカ。」（特許請求の範囲第７項）等が記載されている。また、その第３頁右上欄１８行から左下欄４行には、「凝集体の平均直径は通常０．５〜２０ｎｍ、好ましくは１〜１０μｍの間である。平均直径は、凝集体の５０重量％がこの平均直径よりも大きいか又は小さい直径を有するような直径である。この凝集体平均直径はコウルター（Ｃｏｕｌｔｅｒ）カウンターによって測定される。」とも記載されている。
　そこで、本件発明１と先願明細書に記載された「沈降シリカ」とを対比すると、先願明細書に記載の沈降シリカは、ＢＥＴ比表面積および細孔容積の点で本件発明１の非晶質シリカ系填料と重複しているものの、この沈降シリカの凝集体の平均直径については、凝集体の５０重量％がこの平均直径よりも大きいか又は小さい直径を有するような直径という程度の限定であるから、その凝集体（二次粒子）の粒径８μｍ以下の粒度のものが全体の９５重量％以上であるとは云えないし、しかも、先願明細書には、電子顕微鏡写真で測定した沈降シリカの粒度分布についてまで触れるところがないから、先願明細書に記載された沈降シリカは、本件発明１のような「コールター・カウンター法で測定した二次粒子の粒径８μｍ以下の粒度のものが全体の９５重量％以上であり、かつ、電子顕微鏡写真で測定した粒径３μｍ以下の粒度のものが全体の１０重量％以下である粒度分布」を有するとは解することができない。
　そして、このことは、両者の具体的な粉砕の仕方が相違している点からも確認することができる。すなわち、先願明細書に記載された実施例の例１〜６では、得られたケーキを噴霧乾燥しジェットビュルベライザー型粉砕機で粉砕したという程度であるが、本件特許明細書に記載された実施例のＩおよびＩＩでは、乾燥シリカゲルをジェットミル方式乾式粉砕機で粉砕した後、噴流式気流分散機で超微粒子を除去し粒度分布を調整したと明示されているから、先願明細書に記載された沈降シリカは、本件発明１の上記粒度分布を有していないことは明らかである。
　してみると、本件発明１は、先願明細書に記載された発明であるとは云えない。
　また、本件発明２及び３も、本件請求項１を引用するものであるから、同様の理由により、先願明細書に記載された発明であるとは云えない。
　したがって、特許異議申立人の上記（１）の主張は理由がない。
４−２．上記（２）の主張について
　甲第２号証（特開平１−３２０２１５号公報）には、「ストラクチャー度の高い細粒沈降ケイ酸、その製造方法およびこれからなる塗料用艶消剤」に関し、「ＢＥＴ表面積（ＤＩＮ６６１３２）：１５０〜３５０ｍ２／ｇ、嵩密度（ＤＩＮ５３１９４）：６０〜１２０ｇ／ｌ、ＤＢＰ価：３．０〜４．０ｍｌ／ｇ、粒度分布：１〜６μｍが少なくとも７０％、を有するストラクチャー度の高い細粒沈降ケイ酸」（特許請求の範囲第１項）が記載されており、そして、この「沈降ケイ酸」は塗料に使用されるから、この甲第２号証には、「ＢＥＴ表面積：１５０〜３５０ｍ２／ｇ、嵩密度：６０〜１２０ｇ／ｌ、ＤＢＰ価：３．０〜４．０ｍｌ／ｇ、粒度分布：１〜６μｍが少なくとも７０％、を有するストラクチャー度の高い細粒沈降ケイ酸の非晶質シリカ系填料」の発明（以下、「甲２発明」という）が記載されていると云える。
　そこで、本件発明１と甲２発明とを対比すると、両者は、そのＢＥＴ比表面積やかさ比重の点で重複するところがあるから、次の（イ）及び（ロ）の点で相違していると云える。
（イ）本件発明１は、「コールター・カウンター法で測定した二次粒子の粒径８μｍ以下の粒度のものが全体の９５重量％以上であり、電子顕微鏡写真で測定した粒径３μｍ以下の粒度のものが全体の１０重量％以下である粒度分布」を有するのに対し、甲２発明は、「粒度分布：１〜６μｍが少なくとも７０％」である点
（ロ）本件発明１は、「０．８０乃至２．５０ｃｃ／ｇの細孔容積」であるのに対し、甲２発明は、この点が明らかでない点
　次に、これら相違点について検討する。
相違点（イ）について
　甲第２号証の第８頁表１には、甲２発明の物理化学的データの詳細が示されており、そのデータの一つの粒度分布（コールターカウンター）をみると、例３〜例５は、６μｍ以下の粒度が９５％以上であるから、本件発明の「粒径８μｍ以下の粒度のものが全体の９５重量％以上」という条件を満足するものの、「電子顕微鏡写真で測定した粒径３μｍ以下の粒度のものが全体の１０重量％以下」という条件まで満足するものは記載されていない。すなわち、甲第２号証の表１の例３は、「＜１μｍが１０（％）」であるが、この例３の粒度は、あくまでコールターカウンターで測定されたものであり、甲第２号証には、これを「電子顕微鏡写真で測定」したとする記載はない。そして、コールター・カウンター法で測定した粒子の粒径と、電子顕微鏡写真により測定した粒子の粒径とは、その測定原理が異なるから、表１の例３は「電子顕微鏡写真で測定した粒径３μｍ以下の粒度のものが全体の１０重量％以下」という条件まで満足するものではない。
　してみると、上記相違点（ロ）について検討するまでもなく、本件発明１は、甲第２号証に記載された発明であるとすることができないから、特許異議申立人の上記（２）の主張は、理由がない。
４−３．上記（３）の主張について
　本件発明１と甲２発明とは、上記４−２の項で既に検討したとおり、「電子顕微鏡写真で測定した粒径３μｍ以下の粒度のものが全体の１０重量％以下である粒度分布」の点で相違しているから、この相違点について甲第２号証との関係でさらに検討すると、甲第２号証に記載されている「沈降ケイ酸」は、そもそも「塗料用艶消剤」に使用されるものであるから、その粒度分布を「１〜６μｍが少なくとも７０％」と限定する理由も、「１μｍより小さい粒子は艶消しのための効果がなく、原則として望ましくない塗料の増粘を引き起こす。一方で大きすぎる粒子は仕上がった塗料において表面の望ましくない粗面化を引き起こす。」（甲第２号証第３頁右上欄第１９行〜左下欄第３行）というものであり、本件発明１の「分散性」とは全く別異のものである。
　してみると、甲第２号証には、本件発明１の如き「填料の分散性」の改善について、具体的には非晶質シリカの微細粒子群が袋詰されて貯蔵もしくは輸送で圧密状態に置かれて二次凝集物（粗粒子）が発生しても、配合使用に際して製品中に容易に分散するという「分散性」の改善については何ら記載がないから、この分散性の改善の解決手段である「電子顕微鏡写真で測定した粒径３μｍ以下の粒度のものが全体の１０重量％以下である粒度分布」の点は、この甲第２号証の記載からでは容易に想到することができないと云うべきである。
　また、本件発明２及び３は、本件請求項１を引用するものであるから、これら発明も、甲第２号証に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものとすることはできない。
　したがって、特許異議申立人の上記（３）の主張も理由がない。
５．むすび
　以上のとおり、特許異議の申立の理由および証拠によっては、本件請求項１〜３に係る特許を取り消すことはできない。
　また、他に本件請求項１〜３に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。
　よって、特許法等の一部を改正する法律（平成６年法律第１１６号）附則第１４条の規定に基づく、特許法等の一部を改正する法律の施行に伴う経過措置を定める政令（平成７年政令第２０５号）第４条第２項の規定により、上記のとおり決定する。
【異議決定日】
平成１３年９月２６日（２００１．９．２６）