(57)【要約】光ディスクドライブに影響を及ぼす機械的衝撃を検出する方法は、焦点誤差（ＦＥ）サーボループ信号及び／又はトラッキング誤差（ＴＥ）サーボループ信号に基づく。衝撃検出信号ＳＯは、例えば、サーボループ３０のＰＩＤ制御器４３の積分信号、又は低域通過フィルタ、又はデジタル信号処理装置（ＤＳＰ）１１０によるデジタル積分を使用することによって、サーボループ３０の重み付け時間積分として発生する。衝撃は、衝撃検出信号ＳＯが閾値を超える場合に検出されると考えられる。光ディスクにデータを記録する方法及び対応する光ディスクドライブが、また、開示される。衝撃信号は実時間で観察され、記録は、衝撃が検出される場合に中断される。記録は、衝撃信号が再びローになる場合に、最後の記録領域からつなげることによって再開される。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクからの情報を読み出し又は記録する際に使用されるレンズシステムと、サーボ信号を発生させ、前記光ディスクに対する前記レンズシステムの位置付けを制御するサーボ手段とを有する光ディスクドライブに影響を及ぼす機械的衝撃を、前記光ディスクに情報を読み出し又は記録する間に検出するための、
少なくとも１つのサーボ信号の使用に基づいて第１の衝撃検出信号を発生させるステップと、
前記第１の衝撃検出信号の値が第１の閾値を超える場合に、機械的衝撃が存在すると判断するステップとを有する方法であって、
前記第１の衝撃検出信号を発生させるよう、利用可能なサーボ信号から焦点誤差信号及び／又はトラッキング誤差信号を使用することと、
前記第１の衝撃検出信号が、前記焦点誤差信号及び／又は前記トラッキング誤差信号の重み付け時間積分に比例することとを特徴とする方法。
【請求項２】
使用されるサーボ信号の時間遅延された複製に比例するメモリループ信号を前記使用されるサーボ信号から減じるステップを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項３】
前記減算は、前記重み付け時間積分の後に実行されることを特徴とする請求項２記載の方法。
【請求項４】
前記メモリループ信号は、くし形フィルタに前記使用されるサーボ信号を通すことに対応することを特徴とする請求項２又は３記載の方法。
【請求項５】
前記第１の衝撃検出信号を発生させる際に前記焦点誤差信号を使用することを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項６】
トラッキング誤差信号を時間にわたって積分することに対応して、第２の衝撃検出信号を発生させるステップと、
前記第２の衝撃検出信号の値が第２の閾値を超えるか、あるいは前記第１の衝撃検出信号の値が前記第１の閾値を超える場合に、機械的衝撃が存在すると判断するステップとを特徴とする請求項５記載の方法。
【請求項７】
前記発生ステップで使用されるサーボ信号を、前記光ディスクドライブの機械的共振周波数を下回る遮断周波数を有する低域通過フィルタにかけるステップを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項８】
前記第１の衝撃検出信号を発生させるために使用される前記少なくとも１つのサーボ信号に基づいてスクラッチ検出信号を発生させるステップと、
同時に前記第１の衝撃検出信号の値が前記第１の閾値を上回り、且つ、前記スクラッチ検出信号の値がスクラッチ検出閾値を下回る場合に、機械的衝撃が存在すると判断するステップとを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項９】
前記スクラッチ検出信号として前記衝撃検出信号の特有の立ち上がり時間を使用することを特徴とする請求項８記載の方法。
【請求項１０】
前記スクラッチ検出信号の発生は、
前記第１の衝撃検出信号が低い欠陥閾値から高い欠陥閾値へ増大するために必要とされる時間に対応する立ち上がり時間を測定するステップと、
スクラッチ検出閾値に対して前記測定された立ち上がり時間を比較するステップとを有することを特徴とする請求項８記載の方法。
【請求項１１】
光ディスクからの情報を読み出し又は記録する際に使用され、電磁ビームを制御するレンズシステムと、
少なくとも焦点誤差信号及びトラッキング誤差信号を含むサーボ信号を発生させ、前記光ディスクに対する前記レンズシステムの位置付けを制御するサーボ手段と、
少なくとも１つのサーボ信号の使用に基づいて第１の衝撃検出信号を発生させる信号発生手段と、
前記第１の衝撃検出信号の値を第１の閾値と比較する比較手段と、
前記第１の衝撃検出信号の値が前記第１の閾値を上回る場合に、機械的衝撃が存在すると判断するよう配置される判断手段とを有する、光ディスクにデータを記録する装置であって、
前記信号発生手段は、前記第１の衝撃検出信号が前記焦点誤差信号及び／又は前記トラッキング誤差信号の重み付け時間積分に比例するように配置されることを特徴とする装置。
【請求項１２】
メモリループフィルタと、
使用されるサーボ信号を前記メモリループフィルタに通すことによって発生するメモリループ信号を前記使用されるサーボ信号から減じる減算手段とを更に有することを特徴とする請求項１１記載の装置。
【請求項１３】
前記減算は、前記重み付け時間積分の後に実行されることを特徴とする請求項１２記載の装置。
【請求項１４】
前記メモリループフィルタはくし形フィルタであることを特徴とする請求項１１又は１２記載の装置。
【請求項１５】
前記第１の衝撃検出信号は前記焦点誤差信号の時間積分に比例することを特徴とする請求項１１記載の装置。
【請求項１６】
前記トラッキング誤差信号の時間積分に比例する第２の衝撃検出信号を発生させる第２の信号発生手段と、
前記第２の衝撃検出信号の値が第２の閾値を超えるか、あるいは前記第１の衝撃検出信号の値が前記第１の閾値を超える場合に、機械的衝撃が存在すると判断するように配置される第２の判断手段とを更に有する、請求項１２記載の装置。
【請求項１７】
前記信号発生手段は、前記衝撃検出信号が、低域通過フィルタをかけられた焦点誤差信号及び／又はトラッキング誤差信号に比例するように配置され、
前記低域通過フィルタの遮断周波数は、前記光ディスクドライブの機械的共振周波数を下回ることを特徴とする請求項１５記載の装置。
【請求項１８】
前記衝撃検出信号を発生させる際に使用される少なくとも１つのサーボ信号に基づいてスクラッチ検出信号を発生させる手段と、
同時に前記第１の衝撃検出信号の値が前記第１の閾値を上回り、且つ、前記スクラッチ検出信号の値がスクラッチ検出閾値を下回る場合に、機械的衝撃が存在すると判断されるように配置される第２の判断手段とを更に有することを特徴とする請求項１５記載の装置。
【請求項１９】
前記スクラッチ検出信号は、前記第１の衝撃検出信号の特有の立ち上がり時間に対応することを特徴とする請求項１８記載の装置。
【請求項２０】
前記第１の衝撃検出信号が低い欠陥閾値から高い欠陥閾値へ増大するために必要とされる時間に対応する立ち上がり時間を測定し、
スクラッチ検出閾値に対して前記測定された立ち上がり時間を比較する
ための手段を更に有することを有することを特徴とする請求項１８記載の装置。
【請求項２１】
前記信号発生手段は、前記使用されるサーボ信号を積分するよう配置されるデジタル信号処理装置を有することを特徴とする請求項１５記載の装置。
【請求項２２】
前記衝撃検出信号は、デジタル信号処理装置によって発生することを特徴とする請求項１５記載の装置。
【請求項２３】
前記デジタル信号処理装置は、更に、前記第１の衝撃検出信号を前記第１の閾値と比較するよう配置されることを特徴とする請求項２２記載の装置。
【請求項２４】
前記デジタル信号処理装置は、更に、機械的衝撃が存在するかどうかを判断するよう配置されることを特徴とする請求項２２記載の装置。
【請求項２５】
前記スクラッチ検出信号は、デジタル信号処理装置によって発生することを特徴とする請求項２０記載の装置。
【請求項２６】
光ディスクにデータを記録するステップと、
機械的衝撃が光ディスクドライブに影響を及ぼすかどうかを検出するステップと、
機械的衝撃が検出される場合に前記記録を中断するステップと、
衝撃が検出されない場合に適切な連結方法に従って前記記録を再開するステップとを有する、前記光ディスクドライブにおいて前記光ディスクにデータを記録する記録方法であって、
請求項１乃至１１のうちいずれか一項記載の方法に従って機械的衝撃が前記光ディスクドライブに影響を及ぼすかどうかを検出するステップを特徴とする記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、概して、光ディスクの読み出し又は記録の間に光ディスクドライブに影響を及ぼす機械的衝撃を検出するための方法に関する。本発明は、また、光ディスクにデータを記録するための装置及び方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、ノートパソコンにおける記録用の様々な種類のコンパクトディスク（ＣＤ）及びデジタルバーサトルディスク（ＤＶＤ）など、携帯システムでの光ディスク記録の使用は、近年、広く知られるようになった。振動及び機械的衝撃の多数の原因を含め、多岐にわたる環境でのそれらの使用は、焦点合わせ誤差又はトラックの喪失に起因して記録中にエラーを生じさせることがある。結果として、記録装置は、記録品質が影響を及ぼされないように、振動及び機械的衝撃の影響を最小限とするためのある方法を使用することが望ましい。
【０００３】
１つの選択肢は、記録装置に影響を及ぼす外的衝撃を検出する外部衝撃センサを使用することである。この解決法は、より高い製造費用及びより複雑な組み立て手順により、それほど魅力的ではない。公開米国特許出願番号２００４／００６９９６２Ａ１は、外的衝撃の存在を検出するための、現在の光ディスクドライブで既に発生した幾つかのサーボフィードバック信号の使用を開示する。それは、３つの独立した衝撃検出ユニットの併用を開示する。衝撃は、それら３つの検出ユニットの夫々が同時に衝撃信号を発生させる場合に検出される。第１の検出ユニットは、トラッキング誤差（ＴＥ）センサ若しくは焦点誤差（ＦＥ）センサ又は中心誤差（ＣＳ）センサのいずれか１つと、緩衝装置用ゴムの共振周波数に中心がある帯域通過フィルタと、２つの比較器とを有する。第２の検出ユニットは、サブビーム和（ＳＢＡＤ）センサ又はＲＦリップルセンサ（ＲＦＲＳ）のいずれか一方と、低域通過フィルタと、減算器と、ヒステリシス比較器とを有する。第３の検出ユニットは、スピンドルモータの回転周波数識別信号を発生させる手段と、平均化ユニットと、ヒステリシス比較器とを有する。
【０００４】
衝撃検出システムの必須パラメータは、固有応答時間である。望ましくは、衝撃は、記録プロセスが如何なる記録誤りも生ずる前に中断されるように、十分に速く検出されるべきである。ＵＳ２００４／００６９９６２Ａ１は、衝撃検出の際に同時に動作すべき３つの独立した衝撃検出ユニットの使用を開示し、従って、提案される方法の固有応答時間は、各検出ユニットの応答時間のうち最も遅い応答時間によって与えられる。
【特許文献１】公開米国特許出願番号２００４／００６９９６２Ａ１
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明は、光ディスクに情報を読み出し又は記録する間に光ディスクドライブに影響を及ぼす機械的衝撃を検出するための改善された方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的は、請求項１の特徴記載部に挙げられているように特徴付けられる本発明に従う方法によって達成される。当該方法は、極めて高速な固有応答時間及び良好な検出精度の組合せを提供する。更に、それは、実施が比較的単純且つ容易であるという更なる利点を有する。例えばＴＥ、ＦＥ、ＣＳ、ＳＢＡＤ、ＲＦＲＳ又はＦＧのような利用可能な制御（サーボ）信号から、最も速い応答時間は、ディスク面に垂直な衝撃に関しては焦点誤差（ＦＥ）信号によって、及び、ディスクの面での衝撃に関してはトラッキング誤差（ＴＥ）によって与えられる。結果として、焦点誤差（ＦＥ）及び／又はトラッキング誤差（ＴＥ）の選択は、高速な応答時間を可能にする。応答時間を更に改善するために、閾値を極めて低く設定しても良い。しかし、このような制御（サーボ）信号の内部雑音に起因して、機械的衝撃の間違った検出による誤警報がもたらされる。時間積分の使用は、極めて速い応答時間を保ちながら、雑音を低減し、更に、結果として、信号雑音による検出誤りを除外する。
【０００７】
有利な実施形態で、当該方法は、使用されるサーボ信号がメモリループフィルタを通されることによって発生するメモリループ信号を前記使用されるサーボ信号から減じるステップを更に有する。光ディスクドライブで、雑音はディスクの角／回転周波数に結合され、雑音はトラックごとにゆっくりと変化する。この雑音は、当該分野ではディスク雑音と呼ばれる。ディスク雑音は別として、また、ディスクの偏心及び歪みによって引き起こされる反復的な外乱が存在する。本発明に従う方法は、また、かかる外乱に対処する。雑音サーボ誤差信号ＦＥ及びＴＥがメモリループに記憶される場合、それらは実際のＦＥ及びＴＥサーボ信号から減じられ得る。その結果は、実質的に雑音のないサーボ誤差信号である。技術的には、基本ディスク周波数及び高調波での雑音成分は著しく低減される。
【０００８】
有利に、本発明に従う方法で、前記減算は、重み付け時間積分の後に実行される。これは、回転ごとのサンプル数が、時間の重み付け積分信号を使用する場合に低減され得るので、メモリ使用量に関してより効率的且つ安価な実施に対応する。
【０００９】
有利に、くし形フィルタは前記メモリループフィルタのために使用され得る。如何なるフィードバック経路も有さない単純なメモリループフィルタの代わりのくし形フィルタの使用は、反復的な雑音成分のみが扱われることを確実にする点でよりロバストである。
【００１０】
有利な実施形態で、焦点誤差（ＦＥ）信号はサーボ信号として使用される。例えば書換可能な形式のメディアなど、位相変化技術を使用する光ディスクは、単位面積ごとのレーザ出力の変化に反応する。このことは、単位面積ごとの有効レーザ出力に影響を及ぼす焦点誤差へのより高い感度をもたらす。従って、焦点誤差（ＦＥ）信号は有利に使用され、記録プロセスが最も反応する機械的衝撃の種類へ最も速い応答時間を提供する。
【００１１】
有利な実施形態は、請求項６に従う実施例で得られる。焦点誤差（ＦＥ）信号及びトラッキング誤差（ＴＥ）信号の同時使用は、全ての方向における衝撃に対する高い感度の利点を有する。
【００１２】
ＵＳ２００４／００６９９６２Ａ１は、焦点誤差（ＦＥ）、又はトラッキング誤差（ＴＥ）若しくは中心誤差のいずれか１つを、同時に使用される３つの検出ユニットのうちの１つの検出ユニットとしての、光ディスクの機械的共振周波数に中心がある帯域通過フィルタと組み合わせることを開示する。帯域通過フィルタは、実施するのは困難且つ費用がかかるという事実に起因するのみならず、帯域幅が、例えばドライブの温度の変化に起因する機械的共振周波数の変化を補償するようむしろ大きく保たれるべきであるという事実によっても、それ程有利でない。大きな帯域幅は、信号雑音に対するより高い感度を暗示し、結果として、信号対雑音比は低減され、固有応答時間はより少ない。
【００１３】
有利な実施形態は、光ディスクドライブの機械的共振周波数を下回る遮断周波数を有する低域通過フィルタによってＦＥ／ＴＥ誤差信号にフィルタをかけることによっても得られる。このことは、衝撃検出信号に関して良好な信号対雑音比を達成することを可能にする。望ましくは、遮断周波数は、１５Ｈｚを下回って選択される。
【００１４】
改善された実施形態は、最大焦点誤差（ＦＥ）信号の２％に閾値を設定することによっても達成される。低い値の閾値を設定することは、信号雑音による誤った衝撃検出信号警報をもたらす。より高い値の閾値を設定することは、応答時間を低減し、且つ、誤りが記録プロセスの間に生ずるという危険性を増大させる。最大焦点誤差（ＦＥ）信号の２％の閾値の値は、信号対雑音比と応答時間との間の最適条件を与える。
【００１５】
有利な実施形態は、請求項９によって得られる。ＦＥ／ＴＥ誤差信号に基づくスクラッチ検出信号の発生は、それが、ディスク表面のひっかき傷（スクラッチ）又は汚れによるディスクの損傷と機械的衝撃との間を区別することを可能にするという利点を有する。ディスク表面上のひっかき傷及び汚れは、反射されたレーザビーム及び、相応してＦＥ／ＴＥ誤差信号に影響を及ぼし、誤った衝撃検出警報を引き起こしうる。機械的衝撃は、ディスク欠陥よりも低い固有外乱周波数をサーボループ信号で生じさせ、従って、適切な信号解析によって、ディスクの損傷と機械的衝撃との間が分けられる。最も単純な実施形態は、前記衝撃検出信号の特有の立ち上がり時間を測定することに対応する。前記立ち上がり時間が閾値よりも速い場合、前記衝撃検出信号は機械的衝撃ではなく、ディスク欠陥に起因する。好ましい実施形態は、立ち上がり時間が請求項９によって測定される場合に得られる。２つの閾値レベルの間の立ち上がり時間の測定は、デジタル信号処理装置で実施されるソフトウェアであっても良く、従って、費用のかかるハードウェア変更は必要とされない。
【００１６】
本発明は、また、請求項１１の特徴部に従う光ディスクの記録装置に関する。
【００１７】
一実施形態で、前記時間積分は、対応するＦＥ／ＴＥサーボループのＰＩＤ制御器の積分部分を使用することによって得られる。それは、外部部品が光ディスクドライブに加えられることを必要とせずにＦＥ／ＴＥ誤差信号の時間積分を提供するという利点を有する。
【００１８】
改善された実施形態は、請求項１１の方法に従って得られる。デジタル信号処理装置によって実行される時間積分は、それがファームウェアによって実施され得、費用がかかるハードウェア変更が光ディスクドライブに対してなされる必要がないという利点を有する。更なる改善は、前記閾値との前記衝撃検出信号の比較と、機械的衝撃が存在するという相応の判断とが同じデジタル信号処理装置によって実行される場合に、得られる。これは、それがファームウェアによって実施され得、費用のかかるハードウェア変更が光ディスクドライブに対してなされる必要がないという同じ利点を有する。
【００１９】
本発明は、また、請求項２４に従う光ディスクの記録方法に関する。機械的衝撃が本発明の手段に従って検出される場合に光ディスクへのデータ記録のプロセスを中断し、その後、適切な連結方法を介して記録を再開することは、機械的衝撃による記録誤りが回避されるという利点を有する。
【００２０】
本発明の上記及び他の態様は、以下に記載される実施形態から明らかであり、それらを参照して説明される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
本発明の特徴及び利点は、添付の図面を参照して認識されるであろう。
【００２２】
典型的な光ディスクドライブのブロック図は図１に示される。光ディスク１に記憶される符号化情報は読み出され、あるいは、符号化情報は、光ピックアップユニット（ＯＰＵ）６を用いてディスク上に記録される。光ピックアップユニット６は、レーザビームを発生させて、光ディスクに焦点を合わせ、更に、光ピックアップユニット６は、光ディスク１上の周期構造によって光学的に変調された反射レーザビームを受け取る。光ピックアップユニット６は、数ある構成要素の中でも、レーザビームを発生させる半導体レーザと、ディスクにビームの焦点を合わせるレンズシステム６０と、受け取った反射レーザビームを光電流に変換する幾つかのフォトダイオードを有する検出システムとを有する。レーザの出力電力は、レーザ制御器１０によって制御される。一方、レーザ制御器１０は、デジタル信号処理装置１１によって制御される。当業者に知られる方法に従って光電流を適切に処理することによって、数ある中でもサーボ信号の名で知られる信号を含む幾つかの制御信号と、光ディスク１に記録される符号化情報を含む高周波（ＨＦ）信号とが得られる。当該技術において知られるこのような制御信号の例は、トラッキング誤差信号（ＴＥ）、焦点誤差信号（ＦＥ）、中心誤差（ＣＥ）信号（主要プッシュプル信号ＭＰＰとも呼ばれる。）、合計ビーズ信号（ＳＢＡＤ）、及びＲＦリップル信号（ＲＦＲＳ）である。
【００２３】
全ての電気機械部品の機能は、通常はデジタル信号処理装置（ＤＳＰ）１１を有するマイクロコントローラで実行されるファームウェアプログラムによって制御される。
【００２４】
光ディスク１は、回転台モータ７によって回転させられる。回転台モータ７による回転速度は、回転台モータドライバ８によって制御される。回転台モータドライバ８は、デコーダユニット１２から制御信号を受信する。
【００２５】
光ピックアップユニット（ＯＰＵ）６によって発生する制御信号及び高周波（ＨＦ）信号は、前処理ユニット９へ送られる。前処理ユニット９は、かかる信号を予め増幅して、随意的にフィルタ処理する。予め処理された高周波（ＨＦ）信号は、デコーダユニット１２へ送られる。デコーダユニット１２は、入来する高周波（ＨＦ）信号を復号して、ディスクに記憶される情報を得る。デコーダユニット１２は、また、誤差検出及び補正を実行しうる。復号された情報は、マイクロコントローラ１１へ供給される。マイクロコントローラ１１は、復号された情報を更に処理しうる。
【００２６】
軸方向及び半径方向に沿ったレンズシステム６０の微細移動及び光ディスク１に対する光ピックアップユニット（ＯＰＵ）６全体の粗移動は、サーボモータシステム２によって達成される。サーボモータシステム２は、また、２段階サーボシステム若しくはスレッジアクチュエータサーボシステムとしても当該技術において知られる。サーボモータシステム２は、対応するサーボ出力ドライバ５によって制御される。サーボ出力ドライバ５は、サーボユニット４から制御信号を受信する。サーボユニット４は、前処理ユニット９から予め処理されたサーボ信号を受信し、マイクロコントローラ１１によって制御される。
【００２７】
例えば、トラッキング誤差信号（ＴＥ）、焦点誤差信号（ＦＥ）、中心誤差（ＣＥ）信号、合計ビーズ信号（ＳＢＡＤ）及びＲＦリップル信号（ＲＦＲＳ）のような各制御信号に関して、別個の制御ループが存在する。制御信号がサーボ信号（ＦＥ／ＴＥ）である場合に、制御ループはまた、サーボループとしても知られる。光ピックアップユニット６、前処理ユニット９、サーボユニット４、サーボ出力ドライバ５及びサーボモータシステム２によって形成されるシステムは、サーボループ３０の名で当該技術において知られており、光ディスク１に対するＯＰＵ６又はレンズシステム６０の位置付けを制御する役目を負う。図１で、各サーボループの詳細は、簡単のために図示されない。
【００２８】
特定のサーボ信号に対応するサーボループの更なる詳細は、図２を参照して説明される。全ての図面を通して、同じ機能要素が幾つかの図に表される場合、同じ参照番号が理解を簡単化するために使用される。
［実施例１］
【００２９】
図２ａは、本発明の第１の実施例に夫々従うサーボループ３０及び衝撃検出システム２０のブロック図を図式的に示す。
【００３０】
サーボループ３０は、光学的画像システム６２と、サーボセンサ６３と、位置アクチュエータ６１と、前置増幅器９と、可変利得増幅器４１と、オフセット比較器４２と、ＰＩＤ制御器４３と、サーボ出力ドライバ５と、デジタル信号処理装置１１０とを有する。デジタル信号処理装置１１０は、概して、マイクロコントローラ１１の一部である。光学的画像システム６２、サーボセンサ６３及び位置アクチュエータ６１は、ＯＰＵ６内に含まれる。可変利得増幅器４１、オフセット比較器４２及びＰＩＤ制御器４３は、サーボユニット４内に含まれる。
【００３１】
光学的画像システム６２はレンズシステム６０を有し、レーザビームを発生させ、そのレーザビームの焦点をディスクに合わせ、ディスクによって反射されたレーザビームの焦点を、幾つかのフォトダイオードを有する検出システムに合わせる。サーボセンサ６３は、検出システムによって発生した光電流を処理することによってサーボ信号ＳＳを発生させる。次いで、サーボ信号ＳＳは、前置増幅器９によって予め増幅される。次いで、予め増幅されたサーボ信号ＰＡＳＳは、可変利得増幅器４１によって増幅される。可変利得増幅器４１の利得は、デジタル信号処理装置（ＤＳＰ）１１０によって制御される。可変利得増幅器４１の役割は、サーボループ３０の全体の利得を制御することである。増幅されたサーボ信号ＡＳＳに存在する如何なるオフセットも、オフセット比較器４２によって除去される。オフセット比較器４２は、また、デジタル信号処理装置（ＤＳＰ）１１０によって制御される。代替の実施例で、オフセット比較器４２及び前置増幅器９は、同じ増幅ユニットに一体化されても良い。次いで、零オフセットループ信号ＺＯＳＳは、比例・積分・微分（ＰＩＤ）制御器４３へ送信される。ＰＩＤ制御器４３の役割は、サーボ信号ＳＳの値がある範囲内に保たれるようにフィードバックを供給することである。代替の実施例で、ＰＩＤ制御器４３の機能は、部分的にデジタル信号処理装置（ＤＳＰ）１１０に一体化される。ＰＩＤ制御器４３によって発生したフィードバック信号ＦＢＳＳの比例、積分及び微分成分の値は、デジタル信号処理装置（ＤＳＰ）１１０によって制御される。ＰＩＤ制御器４３によって発生したフィードバック信号ＦＢＳＳは、サーボ出力ドライバ５へ送られる。サーボ出力ドライバ５は、対応するアクチュエータ６の動作を引き起こす。アクチュエータの位置の変化は、検出システムによって検出されるレーザビームの強さの対応する変化及び、結果として、サーボセンサ６３によって発生するサーボ信号ＳＳを生成して、サーボループを閉じる。
【００３２】
機械的衝撃が光ディスクドライブに影響を及ぼす場合、光ディスク１に対するレンズシステム６０の位置は影響を及ぼされる。サーボセンサ６３によって発生するサーボ信号ＳＳの値も変更され、結果として、機械的衝撃を検出するために使用され得る。例えばＴＥ、ＦＥ、ＣＳ、ＳＢＡＤ、ＲＦＲＳ又はＦＧのような利用可能なサーボ信号から、最も速い応答時間は、（ディスク面に直交する）軸方向における衝撃に関しては焦点誤差（ＦＥ）信号によって、及び、ディスクの面における衝撃に関してはトラッキング誤差（ＴＥ）によって与えられる。従って、焦点誤差（ＦＥ）サーボ信号又はトラッキング誤差（ＴＥ）サーボ信号のいずれか一方は、望ましくは、機械的衝撃を検出する際に使用されるべきである。光ディスク１が、書換可能なディスク（例えば、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＷ。）で通常使用される技術である位相変化記録技術を使用する場合、このことは、極めて狭いレーザ出力が記録のために利用可能であることを暗示する。レンズシステム６０と光ディスク１との間の有効距離が機械的衝撃により変化する場合、このことは、焦点誤差と、有効スポットサイズの変化とをもたらす。焦点誤差によるスポットサイズの変化は、単位面積ごとの有効レーザ出力の変化に等しい。結果として、位相変化記録技術を使用する光ディスク１は、レンズシステム６０と光ディスク１との間の有効距離に影響を及ぼす軸方向における機械的衝撃に記録の間最も反応しやすい。かかるディスクに関して、焦点誤差（ＦＥ）信号は、望ましくは、衝撃検出のために使用されるサーボ信号として選択される。
【００３３】
ＦＥ／ＴＥ誤差信号は、機械的衝撃の間違った検出により誤警報を引き起こしうる内部雑音を有する。雑音を低減する既知の方法は、積分器フィルタを使用することである。
【００３４】
時間領域では、ｓ（ｔ）が期間Δｔにわたって積分されるべき信号である場合、それは、出力信号ｓｏｕｔ（ｔ）
【数１】
2008537278.tif 000003
に対応する。
【００３５】
これに対して、周波数領域では、ω／２πが周波数である場合に入力信号がｓ（ω）であるならば、積分器フィルタの出力は単純にｓｏｕｔ（ω）＝１／（Δｔ・ｓ（ω））である。
【００３６】
一次低域通過フィルタの場合、周波数領域の式はｓｏｕｔ（ω）＝１／（１＋τ・ｓ（ω））に対応する。なお、τは遮断周波数の逆数である。積分器は零周波数で無限の利得を有し、一方、低域通過フィルタは、遮断周波数よりも相当に低い周波数に関して利得１を有する。
【００３７】
図２ａは、本発明の第１の実施例に従うサーボループ３０及び衝撃検出システム２０のブロック図を図式的に示す。ＰＩＤ制御器４３によって発生したフィードバックサーボ信号ＦＢＳＳの積分部分ＩＮＴは、対応するサーボループの出力部３１へタップされ得る。出力部３１は、衝撃検出システム２０の信号入力部２１へ接続される。入力信号ＳＩＮは、信号比較器２２へ送信される。信号比較器２２は、入力信号ＳＩＮを閾値と比較し、衝撃検出信号ＳＯを出力部２９へ出力する。入力信号ＳＩＮが閾値を超える場合、信号比較器２２は、検出された機械的衝撃に対応して、衝撃検出信号ＳＯの高値を出力する。
【００３８】
衝撃検出信号のための方法に関して、第１の実施例は、機械的衝撃が光ディスクドライブに影響を及ぼすかどうかを判断するよう、時間期間にわたってサーボ信号を積分して、閾値に対して積分ステップの出力を比較することに対応する。
【００３９】
図２ａには図示されない、第１の実施例に対する２つの代替の実施形態が可能である。代替の実施形態で、サーボ信号ＳＳの積分はデジタル信号処理装置（ＤＳＰ）１１０によって実行される。積分された信号は出力部３１へ送られ、一方、衝撃検出システム２０は、第１の実施例と同じままである。他の代替の実施形態で、信号比較器２２を有する衝撃検出システム２０全体の機能は、衝撃検出信号ＳＯがデジタル信号処理装置（ＤＳＰ）１１０によって直接に発生するように、デジタル信号処理装置（ＤＳＰ）１１０に組み込まれる。
［実施例２］
【００４０】
図２ｂは、本発明の第２の実施例に従うサーボループ３０及び衝撃検出システム２０のブロック図を図式的に示す。ここで、零オフセットサーボ信号ＺＯＳＳはタップされ、サーボループ３０の出力部３１へ送られる。この信号は、衝撃検出システム２０の入力部２８へ送られる。
【００４１】
衝撃検出システム２０は、入力部２８と、積分器２１と、信号比較器２２と、出力部２９とを有する。比較器は、衝撃検出信号ＳＯをその出力部へ発生させる。衝撃検出信号ＳＯの高値は、検出された機械的衝撃に対応し、それは、入力信号ＳＩＮが閾値を超える場合に発生する。
【００４２】
随意的に、積分器２１は、また、低域通過フィルタ（図示せず。）を有しても良い。この低域通過フィルタは、単純なＲＣフィルタとして実施されても良い。あるいは代替的に、積分器及び低域通過フィルタ２１並びに信号比較器２２の機能は、適切なファームウェアを介してデジタル信号処理装置（ＤＳＰ）１１０によって実行されても良い。
【００４３】
低域通過フィルタ２１の遮断周波数は、光ディスクドライブの固有の機械的共振周波数を下回って選択される。このことは、衝撃検出信号ＳＯに関して最大の信号対雑音比の達成を可能にする。典型的な光ディスクドライブでは、これは、その質量と、ゴム製の緩衝装置の剛性とに依存し、それは１００Ｈｚ程度の大きさである。結果として、望ましくは、遮断周波数は１５Ｈｚ下回って選択される。
【００４４】
閾値の選択に関して、より高い値の閾値を設定することは時間応答を低減するが、それは、誤りが記録プロセスの間に発生しうる危険性を高める。ＦＥ信号の場合に、最適な信号対雑音比は、最大焦点誤差（ＦＥ）信号の２％までの閾値によって得られる。低い値の閾値を設定することは、信号雑音に起因して誤った衝撃検出警報をもたらす。最大焦点誤差（ＦＥ）信号の２％の閾値の値は、信号対雑音比とセンサの応答時間との間の最適条件を与える。
【００４５】
ほとんどのサーボ信号ＳＳは、正及び負の値をとりうる。例えば、焦点誤差（ＦＥ）信号の場合に、正の値は、ディスクから遠すぎることに対応し、負の値は、ディスクに近すぎることに対応する。結果として、信号比較器２２によって受信される入力信号ＳＩＮは、オフセットを補償するよう、２つの異なる閾値、即ち、入力信号ＳＩＮの負の値に関する第１の閾値及び正の値に関する第２の閾値と比較される。信号比較器２２によって受信される入力信号ＳＩＮが、負であって、第１の閾値を下回るか、あるいは、正であって、第２の閾値を上回る場合に、機械的衝撃が検出されるように、衝撃検出システム２０は実施され得る。第１及び第２の閾値は、同じであるよう選択され得、結果として、受信される信号の絶対値は閾値と比較され得る。
［実施例３］
【００４６】
衝撃検出システム２０及び対応する光ディスクドライブの第３の実施例は、図３を参照して説明される。光ディスク上のひっかき傷、黒点又は埃のようなディスク欠陥は、また、サーボ信号ＳＳの変動を生じうるので、ディスク欠陥による誤った警報が発生することがある。しかし、ディスク欠陥による焦点誤差（ＦＥ）信号又はトラッキング誤差（ＴＥ）信号の変動は、機械的衝撃による変動とは異なる周波数成分を有する。通常、機械的衝撃は、ドライブに存在するゴム製のダンピングにも起因して、より一層低い周波数成分を導入する。従って、同じ焦点誤差（ＦＥ）信号又はトラッキング誤差（ＴＥ）信号は、ディスク欠陥と機械的衝撃との間を区別するために使用され得る。所望のサーボ信号（ＦＥ又はＴＥ）は、衝撃検出システム２０の信号入力部２８へ送られる。入力信号ＦＥ／ＴＥは、同時に２つの検出ユニットへ送られる。第１の検出ユニットは、第２の実施例と同様の積分器２１１及び信号比較器２２１を有する。入力信号ＦＥ／ＴＥが閾値を超える場合、信号比較器２２１は、検出された衝撃に対応する高値を出力する。第２の検出ユニットは、フィルタリングユニット２５及びディスク欠陥検出比較器２６を有する。ディスク欠陥検出比較器２６は、入力信号がディスク欠陥検出値を下回る場合（これは、ディスク欠陥が検出されなかったことを意味する。）に、高値を出力する。信号比較器２２１及びスクラッチ検出比較器２６の出力は、ＡＮＤ回路２３の入力部へ送られる。ＡＮＤ回路は、同時に機械的衝撃が信号比較器２２１によって検出され、且つ、ディスク欠陥がディスク欠陥検出比較器２６によって検出されなかった場合に、衝撃検出信号ＳＯを出力する。代替の実施形態で、２つのフィルタ２１１及び２５、２つの比較器２２１及び２６、並びに論理ＡＮＤ回路２３の機能は、例えば適切なファームウェアを用いて、デジタル信号処理装置（ＤＳＰ）１１０によって実行されても良い。
【００４７】
代替の実施形態で、フィルタリングユニット２５は、信号の特有の立ち上がり時間を取り出す高域通過フィルタ又は微分フィルタを有しても良い。
［実施例４］
【００４８】
衝撃検出システム２０及び対応する光ディスクドライブの第４の実施例は、図４を参照して説明される。ディスク面に直交する衝撃に対する最大感度は、ディスクの面での衝撃に関する焦点誤差（ＦＥ）信号によって及びトラッキング誤差（ＴＥ）信号によって与えられるので、有利にこれら２つの信号を結合しても良い。焦点誤差（ＦＥ）信号及びトラッキング誤差（ＴＥ）信号は、同時に、夫々その対応するサーボループから得られ、衝撃検出システム２０の２つの入力部２８１、２８２の１つへ夫々送られる。焦点誤差信号ＦＥは、第１の積分器２０１１を通され、第１の信号比較器２０１２へ送られる。第１の信号比較器２０１２は、フィルタ処理された焦点誤差信号ＦＦＥが第１の閾値を超える場合に、信号を発生させる。トラッキング誤差信号ＴＥは、第２の積分器２０２１を通され、第２の信号比較器２０２２へ送られる。第２の信号比較器２０２２は、フィルタ処理されたトラッキング誤差信号ＦＴＥが第２の閾値を超える場合に、信号を発生させる。２つの信号比較器２０１２、２０２２の出力は、ＯＲ回路２４の入力部へ送られる。ＯＲ回路２４は、光ディスク１に関する半径方向又は軸方向での機械的衝撃の検出に対応して、いずれか一方の信号比較器２０１２又は２０２２が信号を発生させる場合に衝撃検出信号ＳＯを発生させる。代替の実施形態で、２つの積分器２０１１及び２０２１、２つの信号比較器２０１２及び２０２２並びにＯＲ回路２４の機能は、例えば適切なファームウェアを用いて、デジタル信号処理装置（ＤＳＰ）１１０によって実行されても良い。
［実施例５及び実施例６］
【００４９】
明らかなように、多くのシステムで、十分な余裕をもった実際的な閾値は、望ましい閾値が雑音レベルに近いか、あるいはそれを下回りうるので、見つけることが困難である。衝撃検出システム及び対応する光ディスクドライブの第５の実施例は、図５ａ及び５ｂを参照して説明される。ここで、雑音の特別な特性が使用される。即ち、雑音は反復的である。雑音はディスクの角／回転周波数へ結合され、雑音はトラックごとにゆっくりと変化する。かかる雑音はディスク雑音と呼ばれる。ディスク雑音は別として、また、ディスクの偏心及び歪みによって引き起こされる反復的な外乱が存在する。本発明は、また、かかる外乱に対処する。
【００５０】
図５ａの実施例で、所望のサーボ信号ＦＥ又はＴＥは、衝撃検出システム２０の信号入力部２８へ送られる。ここで、所望のサーボ信号ＦＥ又はＴＥの複製は、メモリループフィルタ３３を通される。メモリループフィルタ３３の出力は、減算器３２を介して元の信号から減じられる。減算器３２の出力は積分器２１へ送られ、積分器２１の出力は比較器２２へ送られる。随意的に、積分器２１は低域通過フィルタによって置換されても良い。雑音サーボ誤差信号ＦＥ及びＴＥがメモリループに記憶される場合、それらは実際のＦＥ及びＴＥ信号から減じられ得る。その結果は、実質的に雑音のないサーボ誤差信号である。即ち、具体的には、基本ディスク周波数及び高調波での雑音成分は著しく低減される。
【００５１】
図５ｂは、図５ａの実施例の代替実施を示す。図５ｂで、積分器２１は、メモリループフィルタ３３の前で入力部２８へ接続される。図５ｂの実施は、回転ごとのサンプル数が低減され得るので、メモリ使用量に関してより効率的にされ得る。一実施形態で、メモリループフィルタ３３及び減算器３２はデジタル信号処理装置（ＤＳＰ）１１０に組み込まれる。
【００５２】
留意すべきは、図５ａ及び５ｂに関して記載される実施例は、図３に関して記載されるような欠陥検出、及び、図４に関して記載されるＦＥ及びＴＥの雑音の同時検出と組み合わされ得る点である。かかる組合せは、全体的な衝撃検出効率を改善する。
【００５３】
図６は、メモリループフィルタのブロック図を図式的に示す。遅延要素３４３は、例えば、ｎタップ・シフトレジスタ（ＦＩＦＯ）である。ディスクの回転ごとに、ｎ個のサンプルが採られる。サンプルは、各サンプルがディスク上で２π／ｎラジアンの角度に対応するように分配される。要素３４１及び３４４は増幅器であって、夫々δ及び１−δの利得を有する。なお、利得δは０から１の間の定数である。要素３４２は信号加算器である。
【００５４】
かかるメモリフィルタの閉ループ伝達関数Ｇ（ｚ）は
【数２】
2008537278.tif 000004
によって与えられる。
【００５５】
ディスクの回転周波数の基本モード及び高調波モードでの周波数に関して、ｚｎは１に等しい。故に、この場合、伝達関数は、
【数３】
2008537278.tif 000005
である。
【００５６】
他の周波数成分は減衰する。このフィルタはくし形フィルタである。それは、その中に如何なるフィードバック経路も含まない、考慮に値する単純なメモリループフィルタであるが、くし形フィルタの使用は、反復的な雑音成分のみが扱われることを確実にする。くし形フィルタの使用は、よりロバストである。他方で、くし形フィルタは学習フィルタである。故に、記録開始後、ディスクの最初の回転の間、閾値レベルは、最適な雑音低減が達成されるまでいくらか時間がかかるので、より高くなければならない。しかし、ドライブが使用される場合、それは常にディスクからのデータ読み出しから始まり、従って、この期間は、書き込みの間の学習効果がより短いように、学習を開始するためにくし形フィルタによって使用され得る。
【００５７】
必要とされるタップの数は用途の必要性に依存する。タップ数の増加は、雑音が低減され得るところの最大周波数成分を増やす。通常、低域通過フィルタの遮断周波数を上回る周波数成分を低減することも必要である。
［実施例７］
【００５８】
本発明に従う記録方法の実施例は、図７を参照して説明される。
【００５９】
当該方法は、衝撃検出メカニズムが始動し、記録プロセスが光ディスクドライブに挿入された光ディスク（１）の種類に適した既知の記録方法に従って開始されるところの開始ステップ５０から始まる。衝撃検出システム（２０）によって出力される衝撃検出信号（ＳＯ）は、ステップ５１（ＳＯ＿ＨＧＨ；信号ＳＯはハイか？）で連続的に観察される。機械的衝撃が検出されない限り、記録プロセスは記録ステップ５５で中断されずに続けられる。機械的衝撃が衝撃検出システム（２０）によって検出され、衝撃検出信号（ＳＯ）が出力される場合、記録プロセスはステップ５２で中断される。記録プロセスの中断（５２）は、例えば、書き込み電力レベルから読み出し電力レベルへとレーザ出力を低減することによって得られる。記録プロセスが中断された場合のディスク上の正確なレーザビーム位置は記憶される。衝撃検出信号（ＳＯ）はステップ５３（ＳＯ＿ＨＧＨ；信号ＳＯはハイか？）で連続的に観察される。機械的衝撃が検出されない場合（即ち、衝撃検出信号（ＳＯ）がロー（Ｌｏｗ）である場合）、ドライブに挿入された光ディスクの種類に適した記録プロセス連結方法が記録を再開するために使用される。望ましくは、この連結方法は、記録が、記録が中断されたところの正確な位置から再開されることを可能にする。ビットレベルに至るまで記録が中断されたところの正確な位置から記録を再開することを可能にする連結方法は、本願に参照することによって援用される米国特許番号６，６９７，２０９から知られる。連結プロセスの後、記録プロセスはステップ５５で続けられる。
【００６０】
本発明に従う装置の有利な実施形態は、図３及び４の実施例が組み合わされる場合に得られる。即ち、ＦＥ誤差信号及びＴＥ誤差信号に夫々対応する各衝撃検出ブロック（２０１及び２０２）は、図３の実施例によって置換される。この実施形態は、ディスク欠陥と機械的衝撃との間を判別しながら、軸方向及び面内方向の両方向での衝撃に対する感度の結合を可能にする。好ましい実施形態は、デジタル信号処理装置（１１０）にかかる実施形態の全ての機能ブロックを組み込むことに対応する。
［実施例８］
【００６１】
衝撃検出信号を発生させる好ましい方法は、図８及び９を参照して説明される。
【００６２】
衝撃検出信号を発生させる方法は、プロセスが始動するところのステップ５１０１で始まる。積分されたサーボ誤差信号（Ｓ＿ＩＮ）の値は、ステップ５１０２で連続的に確認される。積分されるサーボ誤差信号（Ｓ＿ＩＮ）の値が低い欠陥閾値（ＤＦ＿ＬＷ）を超える場合に、欠陥観察は、ステップ５１０４でクロックカウンタを起動することによって開始される。積分されるサーボ誤差信号（Ｓ＿ＩＮ）の値は、ステップ５１０５で連続的に確認される。ステップ５１０７でかかる値が低い欠陥閾値（ＤＦ＿ＬＷ）を下回る場合、クロックカウンタはリセットされ、当該方法はステップ５１０２に戻る。かかる値は、それがステップ５１０６で高い欠陥閾値（ＤＦ＿ＨＧＨ）を超えるかどうか比較される。もし超えるならば、クロックカウンタは停止され、ステップ５１０８で閾値（ＦＡＳＴ）と比較する。クロックカウンタが閾値（ＦＡＳＴ）を下回るならば、速い立ち上がり時間は、機械的衝撃ではなく欠陥に対応し、当該方法はステップ５１０９に続く。ここで、積分されたサーボ誤差信号（Ｓ＿ＩＮ）の値は連続的に観察され、その後、低い欠陥閾値（ＤＦ＿ＬＷ）に対する比較ステップ５１１０が続く。積分されたサーボ誤差信号（Ｓ＿ＩＮ）の値がかかる閾値を下回る場合、当該方法はステップ５１０２に戻る。ステップ５１０８に戻って、クロックカウンタが閾値（ＦＡＳＴ）を上回る場合、このことは、機械的衝撃によるゆっくりとした立ち上がり時間に対応する。次に、積分されたサーボ誤差信号（Ｓ＿ＩＮ）の値は、ステップ５１１１で連続的に観察され、ステップ５１１２で衝撃閾値（ＥＲＲ）と比較される。かかる値が衝撃閾値を超える場合、機械的衝撃は存在し、衝撃検出信号（ＳＯ）はステップ５１１３でハイ（Ｈｉｇｈ）に設定される（ＳＯ＿ＨＧＨ）。結果として、ステップ５１１４で、中断信号（ＩＮＴＲ）は記録プロセスへ送信され得る。ステップ５１１２に戻って、積分されたサーボ誤差信号（Ｓ＿ＩＮ）の値が衝撃閾値（ＥＲＲ）を超えない場合、衝撃検出信号（ＳＯ）はステップ５１１６でロー（Ｌｏｗ）に保たれる（ＳＯ＿ＬＷ）。ステップ５１１６及びステップ５１１４は両方とも、その後にステップ５１１５が続く。ステップ５１１５で、積分されたサーボ誤差信号（Ｓ＿ＩＮ）の値は、低い欠陥閾値（ＤＦ＿ＬＷ）に対して確認される。かかる値が閾値を下回る場合、機械的衝撃は過ぎ去り、衝撃検出信号（ＳＯ）はロー（ＳＯ＿ＬＷ）に設定され、当該方法はステップ５１０２に戻る。そうでない場合、当該方法はステップ５１１１に戻る。
【００６３】
好ましい実施形態で、衝撃検出信号を発生させるプロセスは、デジタル信号処理装置（１１０）で実施される。対応する方法は図９を参照して説明される。デジタル信号処理装置（１１０）は、衝撃検出で使用される積分されたサーボ誤差信号５２１７を実時間で発生させ、クロックカウンタ５２１８と、２つの値、即ち、ハイ（ＳＯ＿ＨＩＧＨ）及びロー（ＳＯ＿ＬＷ）を有しうる衝撃信号フラグ５２１９と、２つの値、即ち、欠陥検出（ＯＮ）及び欠陥未検出（ＯＦＦ）を有しうる欠陥フラグ（図示せず。）とを保持する。最初に、カウンタは零に設定され、欠陥フラグはＯＦＦであり、衝撃信号はロー（ＳＯ＿ＬＷ）である。積分されたサーボ誤差信号５２１７の値は、連続的に観察される。かかる値が低い欠陥閾値（ＤＦ＿ＬＷ）を超える場合、カウンタは起動される（図９の時ｔ１）。かかる値が高い欠陥閾値（ＤＦ＿ＨＧＨ）を超える場合（図９の時ｔ２）、カウンタは停止され、その値は閾値（ＤＦ＿ＩＮＴ  ＴＨＲＳＨＬＤ）と比較される。かかる値がその閾値を下回る場合、欠陥フラグはＯＮに設定される。図９に図示される場合に、欠陥フラグはＯＦＦに保たれる。積分されたサーボ誤差信号５２１７の値が衝撃検出閾値（ＦＥ／ＴＥ  ＴＨＲＳＨＬＤ）を超える場合（図９の時ｔ３）に、欠陥フラグがＯＦＦであるならば、衝撃信号フラグ５２１９はハイ（ＳＯ＿ＨＧＨ）に設定され、結果として、記録プロセスは中断され得る。積分されたサーボ誤差信号５２１７の値が低い欠陥閾値（ＤＦ＿ＬＷ）を下回る場合はいつでも、カウンタ及びフラグは初期値にリセットされる。
【００６４】
留意すべきは、上記実施例は、本発明を限定するためではなく、説明するために示されている点である。更に、当業者は、添付の特許請求の範囲の適用範囲から逸脱することなく多数の代替の実施形態を設計することができるであろう。特許請求の範囲で、括弧内の如何なる参照符号も請求項を限定するよう解釈されるべきではない。語“有する”及び“含む”等の使用は、請求項に挙げられた以外の要素又はステップの存在を除外しているわけではない。要素の前に置かれた語“１つの”は、かかる要素の複数個の存在を除外しているわけではない。本発明は、幾つかの個別素子を有するハードウェアによって、及び、適切なファームウェアによって実施されても良い。ファームウェアは、例えば光学記憶装置のような適切な担体に記憶／割り当てをなされても、あるいは、ハードウェア部と共に供給されても良いが、例えば、インターネット又は有線若しくは無線の電気通信システムを介して配信されるような他の形態で割り当てられても良い。幾つかの手段を列挙するシステム／装置／機器クレームで、かかる手段の幾つかは、ハードウェア又はソフトウェアの同一の事項によって具体化されても良い。ある手段が相互に異なる従属請求項に挙げられている単なる事実は、かかる手段の組合せが有利に使用され得ないことを示しているわけではない。
【図面の簡単な説明】
【００６５】
【図１】典型的な光ディスクドライブのブロック図を図式的に示す。
【図２ａ】本発明の第１の実施例に従うサーボループ（３０）及び衝撃検出システム（２０）のブロック図を図式的に示す。
【図２ｂ】本発明の第２の実施例に従うサーボループ（３０）及び衝撃検出システム（２０）のブロック図を図式的に示す。
【図３】本発明の第３の実施例に従う衝撃検出システム（２０）のブロック図を図式的に示す。
【図４】本発明の第４の実施例に従う衝撃検出システム（２０）のブロック図を図式的に示す。
【図５ａ】本発明の第５の実施例に従う衝撃検出システム（２０）のブロック図を図式的に示す。
【図５ｂ】本発明の第６の実施例に従う衝撃検出システム（２０）のブロック図を図式的に示す。
【図６】メモリループフィルタのブロック図を図式的に示す。
【図７】本発明の実施例に従う光ディスクを記録する方法をフロー図を用いて表す。
【図８】本発明の実施例に従う衝撃検出信号の発生方法をフロー図を用いて表す。
【図９】本発明の好ましい実施例に従って、どのように積分誤差信号の時間展開に基づいて機械的衝撃が検出されるかを表す。
【図１】
2008537278.tif 000006
【図２ａ】
2008537278.tif 000007
【図２ｂ】
2008537278.tif 000008
【図３】
2008537278.tif 000009
【図４】
2008537278.tif 000010
【図５ａ】
2008537278.tif 000011
【図５ｂ】
2008537278.tif 000012
【図６】
2008537278.tif 000013
【図７】
2008537278.tif 000014
【図８】
2008537278.tif 000015
【図９】
2008537278.tif 000016
【国際調査報告】
2008537278.tif 000017
2008537278.tif 000018