(57)【要約】  記憶デバイス３８のためのテストキャリア１０は、キャリアベース１２と、その中に記憶デバイス３８を受けるための少なくとも１つの開口を有し、キャリアベース１２に滑動可能に装着されたスライダトレイ１６と、キャリアベース１２に接続された少なくとも１つの記憶デバイスコネクタ２０と、テスタインタフェース２２とからなり、スライダトレイ１６が第１の位置にあるとき、記憶デバイス３８は、スライダトレイ１６の少なくとも１つの開口内に受け入れられることができ、スライダトレイ１６が第２の位置にあるとき、記憶デバイス３８のインタフェースは、記憶デバイスコネクタ２０と結合し、キャリアベース１２内に含まれる適切な回路は、テスタインタフェース２２、記憶デバイスコネクタ２０とを接続し、その後、記憶デバイス３８がテスタインタフェース２２を介してテストされることを可能にする。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
記憶デバイスのためのテストキャリアであって、
キャリアベースと、
記憶デバイスをその中に受け入れるための少なくとも１つの開口を有し、前記キャリアベースに滑動可能に装着されたスライダトレイと、
前記キャリアベースに接続された少なくとも１つの記憶デバイスコネクタと、
テスタインタフェースとから成り、
前記スライダトレイが第１の位置にあるとき、前記記憶デバイスは、前記スライダトレイの前記少なくとも１つの開口内に受け入れることができ、前記スライダトレイが第２の位置にあるとき、前記記憶デバイスのインタフェースは、前記記憶デバイスコネクタと結合し、前記キャリアベース内に含まれる適切な回路は、前記テスタインタフェースと前記記憶デバイスコネクタとを接続し、その後、前記記憶デバイスが前記テスタインタフェースを介してテストされることを可能にするテストキャリア。
【請求項２】
前記テスタインタフェースは、３．５インチＨＤＤテスタベッド内に受け入れられるように構成された３．５インチＨＤＤインタフェースである請求項２に記載のテストキャリア。
【請求項３】
前記記憶デバイスコネクタが、ＳＦＦ記憶デバイスの適切なインタフェースとの結合を可能にするように構成された、請求項１〜２のいずれか一項に記載のテストキャリア。
【請求項４】
前記ＳＦＦ記憶デバイスが、コンパクトフラッシュ、マルチメディアカードのうちの１つである、請求項４に記載のテストキャリア。
【請求項５】
前記スライダトレイは、前記スライダトレイに接続された制動手段を有し、前記制動手段は、テストの間に前記記憶デバイスを機械的に制動するように動作可能である、請求項１〜４のいずれか一項に記載のテストキャリア。
【請求項６】
前記制動手段は、また、その結合を容易にするために、前記記憶デバイスコネクタ内で前記記憶デバイスのインタフェースを整列させるように動作する、請求項５に記載のテストキャリア。
【請求項７】
前記制動手段が、着脱可能である請求項５または６に記載のテストキャリア。
【請求項８】
前記制動手段が、弾性パッド制動器を含む請求項１〜７のいずれか一項に記載のテストキャリア。
【請求項９】
前記制動手段が、ウエッジアセンブリを含む請求項５〜８のいずれか一項に記載のテストキャリア。
【請求項１０】
前記キャリアベースは、所望の記憶デバイスをテストするために必要なように、前記テストインタフェースに接続されるか、または前記記憶デバイスコネクタに直接接続される内蔵テスト回路をさらに含む、請求項１〜９のいずれか一項に記載のテストキャリア。
【請求項１１】
前記キャリアベースは、前記キャリアベースに装着された少なくとも１つのスライダガイドを有し、前記スライダトレイの移動が、前記第１の位置と前記第２の位置との間の空間にスライダガイドの部分によって制限されるように、各スライダガイドの前記部分が、前記スライダトレイのセグメント間で受け入れられるように構成される、請求項１〜１０のいずれか一項に記載のテストキャリア。
【請求項１２】
前記スライダトレイの少なくとも１つのセグメントが、ハンドルとして作動する、請求項１〜１１のいずれか一項に記載のテストキャリア。
【請求項１３】
前記スライダトレイおよび前記キャリアベースは、それぞれ保持手段を含み、前記保持手段は、前記第１の位置または前記第２の位置のいずれかに前記スライダトレイを結合・開放可能に保持するように作動する、請求項１〜１２のいずれか一項に記載のテストキャリア。
【請求項１４】
前記スライダトレイの前記保持手段は、クリップ機構体であり、前記キャリアベースの前記保持手段は、その中に前記クリップ機構体の一部を受け入れるように構成された開口である、請求項１３に記載のテストキャリア。
【請求項１５】
さらにコネクタシールドを含み、前記コネクタシールドは、前記スライダトレイが前記第１の位置にあるとき、前記記憶デバイスコネクタを保護するように配置される、請求項１〜１４のいずれか一項に記載のテストキャリア。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記憶デバイス（ｓｔｏｒａｇｅ  ｄｅｖｉｃｅ）のためのテストキャリアに関する。本発明は、３．５インチハードディスクドライブテスタにおける、１インチおよび１インチ以下の記憶デバイスをテストするために特に適している。以降、これらを、小形ファクタ（ＳＦＦ、Ｓｍａｌｌ−Ｆｏｒｍ−Ｆａｃｔｏｒ）記憶デバイスと称する。
【背景技術】
【０００２】
発明の背景における以下の議論は、本発明の理解を容易にするためのものである。しかしながら、この議論は、本出願の優先日の時点で、参照されるどの資料も法律上、公開され、公知であり、または共通の一般的な知識の一部であったということの単なる認知又は承認ではないということを理解するべきである。
【０００３】
全ての製造工程において、製造される製品は、所定の品質管理要件によるチェックを受ける。製品に関して、これは、一般的に１つ以上のテストデバイスを使用するテストを伴う。
【０００４】
記憶デバイス、特にＳＦＦ記憶デバイスの製造において、以下のような、製造者に与えられる多数の問題が存在する。
・テストベッドは、一般に３．５インチ記憶デバイスのために設計されている。代わりのサイズ用のテストベッドは、特別注文される必要があり、ＳＦＦ記憶デバイスの市場投入に遅延を引き起こす。
・既存のテストベッドは、テストされるべき記憶デバイスの迅速な接続および分離は容易ではない。
・既存のテストベッドは、あってもクランピングおよび制動特性を制限していた。これは、試験中の記憶デバイスの性能に悪影響を及ぼす。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明の目的は、ＳＦＦ記憶デバイスを含むどのようなサイズの記憶デバイスをもテストするために、既存の３．５インチＨＤＤテスタの使用を可能にするテストキャリアを提供することによって、上述の１つあるいはそれ以上の問題の少なくとも一部を解決または軽減することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
明細書全体を通して、文脈が他の意味を必要としないなら、「ｃｏｍｐｒｉｓｅ」あるいはその変形である「ｃｏｍｐｒｉｓｅｓ」または、「ｃｏｍｐｒｉｓｉｎｇ」などの「からなる」という用語は、記載された完全体または完全体のグループを含むことを意味するが、他のいかなる完全体または完全体のグループを排除することを意味するものではないことが理解されよう。
【０００７】
本発明の第１の態様によれば、記憶デバイスのためのテストキャリアがあり、このテストキャリアは、キャリアベースと、記憶デバイスをその中に受け入れるための少なくとも１つの開口を有し、キャリアベースに滑動可能に装着されたスライダトレイと、キャリアベースに接続された少なくとも１つの記憶デバイスコネクタと、テスタインタフェースとから成り、スライダトレイが第１の位置にあるとき、記憶デバイスは、スライダトレイの少なくとも１つの開口内に受け入れることができ、スライダトレイが第２の位置にあるとき、記憶デバイスのインタフェースは、記憶デバイスのコネクタと結合し、キャリアベース内に含まれる適切な回路は、テスタインタフェースと記憶デバイスコネクタとを接続し、その後、記憶デバイスがテスタインタフェースを介してテストされることを可能にする。
【０００８】
テスタインタフェースは、任意のサイズまたは構成であることができる。しかしながら、理想的には、テスタインタフェースは、３．５インチＨＤＤテスタベッド内に受け入れられるように構成された３．５インチＨＤＤインタフェースである。
【０００９】
記憶デバイスコネクタは、また、任意のサイズまたは構成であることができる。好ましくは、記憶デバイスコネクタは、コンパクトフラッシュおよびＭＭＣ記憶デバイスなどのＳＦＦ記憶デバイスの適切なインタフェースとの結合を可能にするように構成される。好ましくは、スライダトレイは、スライダトレイに接続された制動手段を有し、制動手段は、テストの間に記憶デバイスを機械的に制動するように動作可能である。
【００１０】
より好ましくは、制動手段は、また、その結合を容易にするために、記憶デバイスコネクタ内で記憶デバイスのインタフェースを整列させるように動作する。
【００１１】
より好ましくは、制動手段が、着脱可能であり得る。このように、各記憶デバイスに対して１つの制動手段を使用することに制限されるよりむしろ、テストされる記憶デバイスに適する制動手段が、使用されることができる。これは、また、様々なサイズおよび構成の記憶デバイスが、スライダトレイの開口内に保持されることを可能にする。
【００１２】
より好ましくは、制動手段は、弾性パッド制動器を含む。
【００１３】
さらにより好ましくは、制動手段は、ウエッジアセンブリを含む。
【００１４】
好ましくは、キャリアベースは、所望の記憶デバイスをテストするために必要なように、テスタインタフェースに接続されるか、または記憶デバイスコネクタに直接接続される内蔵テスト回路をさらに含む。
【００１５】
好ましくは、キャリアベースは、キャリアベースに装着された少なくとも１つのスライダガイドを有し、スライダトレイの移動が、第１の位置と第２の位置との間の空間にスライダトレイの部分によって制限されるように、各スライダガイドの部分が、スライダトレイのセグメント間で受け入れられるように構成される。
【００１６】
より好ましくは、スライダトレイの少なくとも１つのセグメントが、ハンドルとして作動する。
【００１７】
好ましくは、スライダトレイおよびキャリアベースは、それぞれ保持手段を含み、保持手段は、第１の位置または第２の位置のいずれかにスライダトレイを結合・開放可能に保持するように結合して作動する。
【００１８】
より好ましくは、スライダトレイの保持手段は、クリップ機構体であり、キャリアベースの保持手段は、その中にクリップ機構体の一部を受け入れるように構成された開口である。
【００１９】
好ましくは、テストキャリアは、コネクタシールドを含み、コネクタシールドは、スライダトレイが第１の位置にあるとき、記憶デバイスコネクタを保護するように配置される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
本発明の第１の実施形態によれば、図１に示されるように単一ユニットのテストキャリア１０がある。テストキャリア１０は、キャリアベース１２、スライダガイド１４ａ、１４ｂ、スライダトレイ１６、インタフェースＰＣＢＡ１８、記憶デバイスコネクタ２０、およびテスタ／ホストインタフェースＰＣＢＡ２２からなる。
【００２１】
各スライダガイド１４は、第１の端部２４でキャリアベース１２に装着される。スライダガイド１４ａは、側壁２６に隣接する第１の端部２４でキャリアベース１２に装着される。スライダガイド１４ｂは、側壁２８に隣接する第１の端部２４でキャリアベース１２に装着される。スライダトレイ１６は、スライダガイド１４ａ、１４ｂ間に配置され、かつスライダトレイ１６が、第１の端部２４から第２の端部３０へ向かう方向に移動することが可能な方法でそこに接続される。これは、図２および図３に示されている。
【００２２】
インタフェースＰＣＢＡ１８は、キャリアベース１２上の中心に装着される。インタフェースＰＣＢＡ１８は、スライダガイド１４ａ、１４ｂに当接し、側壁２６と側壁２８との間に延びる。記憶デバイスコネクタ２０は、インタフェースＰＣＢＡ１８に装着される。
【００２３】
テスタ／ホストインタフェースＰＣＢＡ２２は、またキャリアベース１２に取り付けられる。テスタ／ホストインタフェースＰＣＢＡ２２は、３．５インチハードディスクドライブインタフェース（例えば、ＰＡＴＡ、ＳＡＴＡ、またはＳＣＳＩなど）を収容するように設計されたコネクタ部分３２を有する。コネクタ部分３２は、第２の端部３０に位置する。キャリアベース１２は、テスタ／ホストインタフェースＰＣＢＡ２２と記憶デバイスコネクタ２０との間に適切な接続を提供するために、当業者に知られているような回路を含む。この回路は、実装されるコネクタ部分３２のタイプが必要とする、適切な通信プロトコルを処理することができなければならない。
【００２４】
テストキャリア１０は、以下の実施例に照らして詳細に記載される。
【００２５】
スライダトレイ１６は、スライダレール３４およびコネクタストラット３６からなる。各スライダレール３４ａ、３４ｂは、それぞれ対応するスライダガイド１４ａ、１４ｂの一部に接続される。
【００２６】
コネクタストラット３６ａ、３６ｂは、スライダレール３４を接続する。コネクタストラット３６ａは、第１の端部２４近くのその端部でスライダレール３４を接続する。コネクタストラット３６ｂは、インタフェースＰＣＢＡ１８を当接する端部でスライダレール３４を接続する。それぞれの場合において、コネクタストラット３６は、それらの間に含まれる対応するスライダガイド１４の部分を維持するように、スライダレール３４より高い。
【００２７】
さらに、コネクタストラット３６間の空間およびスライダレール３４間の空間は、テストされるように設計される記憶デバイス３８が、図２に示されるようにその間に固定して取り付けられることができるようなものであるべきである。
【００２８】
図２は、また第１の位置（以降、「取り出し位置」と呼ばれる）にあるスライダトレイ１６を有するテストキャリア１０を示す。テストされるように設計された記憶デバイス３８は、次に、コネクタストラット３６とスライダレール３４との間の空間内に保持される。コネクタストラット３６ａに装着された弾性パッドの形態の制動器４０は、スライダトレイ１６内に保持されるとき、記憶デバイス３８に機械的な制動を与え、前記記憶デバイス３８をスライダトレイ１６内に固定して保持することを支援する。
【００２９】
さらに、スライダトレイ１６が、取り出し位置から第２の位置（以降、「取り込み位置」と呼ばれる）へ移動されるとき、制動器４０は、記憶デバイス３８を移動することを支援する。同時に、コネクタストラット３６内に含まれるスライダガイド１４の一部を有することによって、スライダトレイ１６の移動の程度は、適切なレベルに制限することができる。
【００３０】
図３は、取り込み位置にあるスライダトレイ１６を有するテストキャリア１０を示す。この図により明らかに示されるように、コネクタストラット３６ｂは、キャリアベース１２から上昇する。このように、コネクタストラット３６ｂは、スライダトレイ１６が取り込み位置に向かって移動するとき、記憶デバイスコネクタ２０の頂部を越えて移動することができる。
【００３１】
取り込み位置から取り出し位置へスライダトレイ１６の移動およびその逆の移動を容易にするために、コネクタストラット３６ｂは、ハンドル部分４２を含む。
【００３２】
同様に、図３は、記憶デバイスコネクタ２０が、コネクタストラット３６に平行に配置され、かつスライダレール３４間の空間に等しい長さであることを示す。このように、テストされるべき記憶デバイス３８のインタフェースは、適切なインタフェースを作るために記憶デバイスコネクタ２０と結合することができる。
【００３３】
記憶デバイスコネクタ２０と結合された記憶デバイス３８を用いて、テストキャリア１０は、記憶デバイス３８をテストするために３．５インチＨＤＤテストベッド（図示せず）内に挿入することができる。
【００３４】
記憶デバイス３８の挿脱、ならびに取り込み位置から取り出し位置へのスライダアレイ１６の移動は、ロボットアームによって実行されることができることが、この配列の利点である。したがって、テストに関する要件は、製造工程の一部を自動化することができる。
【００３５】
本発明の第２の態様によれば、図４に示されるように複数ユニットのテストキャリア１００がある。テストキャリア１００は、キャリアベース１０２、スライダトレイ１０４、インタフェースＰＣＢＡ１０６、記憶デバイスコネクタ１０８、およびテスタ／ホストインタフェースＰＣＢＡ１１２からなる。
【００３６】
スライダトレイ１０４は、キャリアベース１０２に滑動可能に装着される。スライダトレイは、それぞれその中に記憶デバイス１１６を受けるように構成された４つの開口１１４を有する。側方ガイド１１８、ウエッジアセンブリ１２０、および制動器１２２（再び弾性パッドの形態である）が、各開口１１４内に含まれる。側方ガイド１１８は、記憶デバイスコネクタ１０８を有するそのそれぞれの開口１１４内に含まれる記憶デバイス１１６を整列させる。側方ガイド１１８、ウエッジアセンブリ１２０、および制動器１２２の組合せは、次の段落に記載されるように、記憶デバイス１１６に対する機械的なクランピングおよび制動動作を提供するように作動する。
【００３７】
記憶デバイス１１６が、取り出し位置から取り込み位置へ移動すると、側方ガイド１１８は、記憶デバイスコネクタ１０８の側方レール（図示せず）内へ記憶デバイス１１６を整列させる。ウエッジアセンブリ１２０のテーパ状に形成された表面は、同様に、記憶デバイス１１６を側方レールに対して上方に押す。これら２つの作用の効果は、記憶デバイス１１６が、垂直方向軸Ｚに固定してクランプされることである。制動器１２２は、また、水平方向軸Ｘ、Ｙに記憶デバイス１１６を固定してクランプするように作動する記憶デバイスコネクタ１０８に対して記憶デバイス１１６を押す。
【００３８】
これらの特徴は、また、テストされるべき記憶デバイス１１６のサイズおよび設計を収容する必要に応じて置き換えられることができる。さらに、適切なデュロメータの材料製の制動器を選択することによって、制動力を変化させることができ、適切な制動力が決定される。
【００３９】
上述のように、スライダトレイ１０４は、キャリアベース１０２に滑動可能に装着される。この装着は、スライダトレイ１０４が、第１の位置（「取り込み位置」と呼ばれる）から第２の位置（「取り出し位置」と呼ばれる）へ、図４のＹの印が付けられた軸に沿って移動させるようにする。スライダトレイ１０４が、必要に応じて取り込み位置または取り出し位置のいずれかに固定して保持されることを確実にするために、スライダトレイ１０４が、保持開口１２６内に保持されるように構成されたクリップ機構体１２４を有する。
【００４０】
上述のように、この固定保持を達成するために、スライダトレイ１０４は、図７に示されるように一対のクリップ機構体１２４を有する。各クリップ機構体１２４は、保持部分１２８およびスプリングアーム１３０を備える。各保持部分１２８は、そのそれぞれのスプリングアーム１３０のためのヘッドを形成する。各スプリングアーム１３０は、スライダトレイ１０４の残りに接続する。
【００４１】
スプリングアーム１３０は、スライダトレイ１０４の残りに向かって保持部分１２８の必要な移動を可能にする薄い壁の取り合わせである。スプリングアーム１３０の厚みおよび長さは、所望の保持力を達成するために変更することができる。
【００４２】
キャリアベース１０２に面する保持部分１２８の側方は、スライダトレイ１０４が取り出し位置と取り込み位置との間で移動するとき、保持部分１２８が、保持開口１２６内におよび保持開口１２６外に移動することができるようにテーパ形成される。
【００４３】
コネクタシールド１１０は、キャリアベース１０２にクリップされる。キャリアベース１０２にクリップされるとき、コネクタシールド１１０の位置は、スライダトレイ１０４が、自由に下方に滑動できるようになっている。コネクタシールド１１０は、以下により詳細に説明される。
【００４４】
記憶デバイスコネクタ１０８は、キャリアベース１０２に装着される。各記憶デバイスコネクタ１０８は、それが開口１１４内にあるように配置される。さらに、記憶デバイスコネクタ１０８の位置は、スライダトレイ１０４が取り出し位置に保持されるとき、コネクタシールド１１０が、記憶デバイスコネクタ１０８を損傷から保護し、一方、スライダトレイ１０４が取り込み位置に保持されるとき、記憶デバイス１１６は、記憶デバイスコネクタ１０８と結合するように側方ガイド１１８によって案内されるようになっている。
【００４５】
テスタ／ホストインタフェースＰＣＢＡ１１２は、またキャリアベース１０２に取り付けられる。テスタ／ホストインタフェースＰＣＢＡ１１２は、３．５インチハードディスクドライブインタフェースを収容するように設計されたコネクタ部分１３２を有する。コネクタ部分１３２は、第１の端部１３４に位置決めされる。キャリアベース１０２は、テスタ／ホストインタフェースＰＣＢＡ１１２と記憶デバイスコネクタ１０８との間に適切な接続を提供するために当業者に知られているような回路を含む。この回路は、実装されるコネクタ部分１３２のタイプが必要とする、適切な通信プロトコルを処理できなければならない。
【００４６】
マルチユニットテストキャリア１００は、以下の例に照らして記載される。
【００４７】
ロボットアーム（図示せず）は、取り出し位置にスライダトレイ１０４を移動する。同一のロボットアームは、次に、スライダトレイ１０４内の各開口１１４内の４つの記憶デバイス１１６を個別に配置する。開口内に一旦配置されると、ロボットアームは、取り込み位置にスライダトレイ１０４を移動する。これは、記憶デバイス１１６を、それらのそれぞれの記憶デバイスコネクタ１０８と結合させる。
【００４８】
記憶デバイスコネクタ１０８と結合した記憶デバイス１１６とともに、テストキャリア１００は、記憶デバイス１１６をテストするために、３．５インチＨＤＤテストベッド（図示せず）内に挿入することができる。
【００４９】
本発明が、上述の実施形態に限定されないことは、当業者には理解されるべきである。特に、以下の修正は、本発明の範囲から逸脱することなく行われることができる。
【００５０】
１．記憶デバイスを効果的にテストするために必要な回路が、コネクタ部分３２、１３４の位置でテスタ／ホストインタフェースＰＣＢＡ２２、１１２に組み込まれることができるなら、コネクタ部分３２、１３４は、省略することができる。
【００５１】
２．テストキャリア１０、１００は、上述の３．５インチHDDテスタユニットより大きなまたはより小さなテストベッドサイズを有する、ＨＤＤテスタユニットで使用されるように構成されることができる。
【００５２】
３．クリップ機構体１２４は、それによってスライダトレイ１０４が、取り込み位置と取り出し位置の両方で固定して保持することができる他の機構体と置き換えられることができる。
【００５３】
４．第２の実施形態のスライダトレイ１０４は、キャリアベース１０２内に取り付けられることができる任意の数のＳＦＦ記憶デバイスに適応するように修正することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５４】
【図１】本発明の第１の実施形態によるテストキャリアユニットの等角図である。
【図２】第１の位置にあるスライダトレイを有する、図１のテストキャリアの等角図である。
【図３】第２の位置にあるスライダトレイを有する、図１のテストキャリアの等角図である。
【図４】本発明の第２の実施形態によるテストキャリアユニットの等角図である。
【図５】第１の位置にあるスライダトレイを有する、図４のテストキャリアの等角図である。
【図６】第２の位置にあるスライダトレイを有する、図４のテストキャリアの等角図である。
【図７】図４のテストキャリアのスライダトレイの等角図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【国際調査報告】
2008539501.tif 000010
2008539501.tif 000011
2008539501.tif 000012