(57)【要約】  本発明によれば、流量計アセンブリ（１０）内の残留材料を検出する流量計電子機器（２０）及び方法が提供される。流量計電子機器（２０）は、流量計アセンブリ（１０）を振動させ、流量計アセンブリ（１０）から振動応答（３１）を受け取るように流量計（５）に指示するように適合された処理システム（２２）を含む。流量計電子機器（２０）は、流量計パラメータ及びデータを格納するように構成された記憶システム（２４）をさらに含む。流量計電子機器（２０）はさらに、振動応答（３１）を所定の残留材料しきい値（３０）と比較して残留材料を検出するように構成された処理システム（２２）を特徴とする。
2008503755.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
流量計アセンブリ（１０）内の残留材料を検出するように適合された流量計電子機器（２０）であって、前記流量計アセンブリ（１０）を振動させ、前記流量計アセンブリ（１０）から振動応答（３１）を受け取るように流量計（５）に指示するように適合された処理システム（２２）と、流量計パラメータ及びデータを格納するように構成された記憶システム（２４）とを備える流量計電子機器（２０）において、
前記処理システム（２２）が、前記振動応答（３１）を所定の残留材料しきい値（３０）と比較し、前記残留材料を検出するように構成されることを特徴とする流量計電子機器（２０）。
【請求項２】
前記所定の残留材料しきい値（３０）がユーザ設定可能である、請求項１に記載の流量計電子機器（２０）。
【請求項３】
さらに、前記処理システム（２２）が残留材料質量値（３６）を予測するように構成される、請求項１に記載の流量計電子機器（２０）。
【請求項４】
さらに、前記振動応答（３１）が前記所定の残留材料しきい値（３０）を超過する場合、前記処理システム（２２）が警報状態（３４）を生成するように構成される、請求項１に記載の流量計電子機器（２０）。
【請求項５】
さらに、前記振動応答（３１）が所定の残留材料しきい値（３０）を超過しない場合、前記処理システム（２２）が流量計アセンブリ（１０）内の空き状態（３３）を決定するように構成される、請求項１に記載の流量計電子機器（２０）。
【請求項６】
さらに、前記処理システム（２２）が、追加的に駆動振幅（３７）と駆動利得（３８）とを追加的に比較し、前記振動応答（３１）が前記所定の残留材料しきい値（３０）を超過し、かつ前記駆動利得（３８）が前記駆動振幅（３７）を利得しきい値（３９）だけ超過する場合、残留材料を検出するように構成される、請求項１に記載の流量計電子機器（２０）。
【請求項７】
前記流量計（５）がコリオリ流量計を含む、請求項１に記載の流量計電子機器（２０）。
【請求項８】
さらに、前記処理システム（２２）が、最初に前記流量計アセンブリ（１０）に関する基本振動数を格納し、前記基本振動数から前記所定の残留材料しきい値（３０）を決定するように構成され、前記所定の残留材料しきい値（３０）が、前記基本振動数からの所定の周波数オフセット（４１）を有する、請求項１に記載の流量計電子機器（２０）。
【請求項９】
さらに、前記処理システム（２２）が、
前記振動応答（３１）から補償済み周波数（４２）を求め、
前記補償済み周波数（４２）と前記流量計アセンブリ（１０）の基本振動数との周波数差（４３）を計算し、
前記周波数差（４３）に質量−周波数関係係数（４４）を乗じ、前記流量計アセンブリ（１０）に関する残留材料質量値（３６）を得る
ように構成され、
前記比較することが、前記残留材料質量値（３６）を前記所定の残留材料しきい値（３０）と比較することを含む、
請求項１に記載の流量計電子機器（２０）。
【請求項１０】
前記所定の残留材料（３０）が前記流量計アセンブリ（１０）の校正密度値を含み、
さらに、前記処理システム（２２）が、前記振動応答（３１）を補償して補償済み密度値（６１）を生成するように構成され、
前記比較することが、前記補償済み密度値（６１）を前記校正密度値と比較することを含み、
前記検出することが、前記補償済み密度値（６１）が前記校正密度値とほぼ合致する場合に、前記残留材料を検出することを含む、
請求項１に記載の流量計電子機器（２０）。
【請求項１１】
更に前記処理システム（２２）が、
前記振動応答（３１）を補償して補償済み密度値（６１）を生成し、
残留材料質量値（３６）を生成するために、前記補償済み密度値（６１）に、流管体積（６２）と、流動媒体粘性結合特性を定義する結合係数（６３）と、方向係数（６４）とを乗じるように構成され、
前記所定の残留しきい値（３０）が所定の残留質量しきい値を含み、
前記比較することが、前記残留材料質量値（３６）を前記所定の残留材料しきい値（３０）と比較することを含む、
請求項１に記載の流量計電子機器（２０）。
【請求項１２】
さらに、前記補償することが、周囲温度及び周囲圧力に関して振動応答（３１）を補償することを含む、請求項１１に記載の流量計電子機器（２０）。
【請求項１３】
流量計アセンブリ内の残留材料を検出する方法であって、流量計アセンブリを振動させるステップと、前記流量計アセンブリの振動応答を測定するステップとを含む方法において、
さらに、前記振動応答を所定の残留材料しきい値と比較し、前記残留材料を検出するステップによって特徴付けられる方法。
【請求項１４】
前記所定の残留材料しきい値がユーザ設定可能である、請求項１３に記載の方法。
【請求項１５】
さらに、前記検出するステップが、残留材料質量値を実質的に決定するステップを含む、請求項１３に記載の方法。
【請求項１６】
さらに、前記振動応答が前記所定の残留材料しきい値を超過した場合、警報状態を生成するステップを含む、請求項１３に記載の方法。
【請求項１７】
さらに、前記振動応答が所定の残留材料しきい値を超過しない場合、空き状態を決定するステップを含む、請求項１３に記載の方法。
【請求項１８】
さらに、駆動振幅と駆動利得を比較するステップを含み、
前記検出するステップが、前記振動応答が前記所定の残留材料しきい値を超過し、かつ前記駆動利得が前記駆動振幅を利得しきい値だけ超過する場合、前記残留材料を検出するステップを含む、請求項１３に記載の方法。
【請求項１９】
前記流量計がコリオリ流量計を含む、請求項１３に記載の方法。
【請求項２０】
さらに、最初に前記流量計アセンブリに関する基本振動数を格納するステップを含み、
前記決定するステップが、前記基本振動数から前記所定の残留材料しきい値を求めるステップを含み、
前記所定の残留材料しきい値が、前記基本振動数からの所定の周波数オフセットを有する、
請求項１３に記載の方法。
【請求項２１】
さらに、比較する前記ステップが、
前記振動応答から補償済み周波数を決定するステップと、
前記補償済み周波数と前記流量計アセンブリの基本振動数との周波数差を計算するステップと、
前記周波数差に質量−周波数関係係数を乗じて前記流量計アセンブリに関する残留材料質量値を得るステップと、
を含み、
前記比較するステップが、前記残留材料質量値を前記所定の残留材料しきい値と比較するステップを含む、
請求項１３に記載の方法。
【請求項２２】
前記所定の残留材料しきい値が前記流量計アセンブリの校正密度値を含み、
さらに、前記振動応答を補償して補償済み密度値を生成するステップを含み、
前記比較するステップが、前記補償済み密度値を前記校正密度値と比較するステップを含み、
前記検出するステップが、前記補償済み密度値が前記校正密度値と実質的に合致する場合に、前記残留材料を検出するステップを含む、
請求項１３に記載の方法。
【請求項２３】
さらに、前記比較するステップが、
前記振動応答を補償して補償済み密度値を生成するステップと、
残留材料質量値を生成するために、前記補償済み密度値に、流管体積と、流動媒体粘性結合特性を定義する結合係数と、前記流量計アセンブリの設置方向に関係する方向係数とを乗じるステップと、
を含み、
前記所定の残留しきい値が所定の残留質量しきい値を含み、
前記比較するステップが、前記残留材料質量値を前記所定の残留材料しきい値と比較するステップを含む、
請求項１３に記載の方法。
【請求項２４】
さらに、前記補償するステップが、周囲温度及び周囲圧力に関して振動応答を補償するステップを含む、請求項２３に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は流量計の分野に関し、詳細には、流量計の流量計アセンブリ内の残留材料を検出することに関する。
課題の陳述
流量計は、流動材料の質量流速、密度、及びその他の特性を測定するのに使用される。流動材料は、液体、気体、液体と気体の組合せ、液体中に懸濁した固体、並びに気体及び懸濁固体を含む液体を含むことができる。例えば、流量計は、流量を測定することによって（すなわち、流量計を通る質量流量を測定することによって）原料の量及び得られる製品の量を測定する工業プロセスで使用される。
【０００２】
１つのタイプの流量計はコリオリ流量計である。Ｊ．Ｅ．スミス等に１９８５年１月１日に発行された米国特許第４４９１０２５号と、Ｊ．Ｅ．スミスに１９８２年２月１１日に発行されたＲｅ．３１４５０号で開示されているように、コリオリ質量流量計を使用して、パイプラインを流れる質量流量及び材料の他の情報を測定することは公知である。これらの流量計は、異なる構成の１つ又は複数の流管を有する。各管路構成は、単純曲げモード、ねじりモード、半径方向モード、及び結合モードを含む１組の固有振動モードを有すると考えることができる。典型的なコリオリ質量流量測定応用例では、材料が管路を流れるときに管路構成が１つ又は複数の振動モードで励振され、管路の運動が、管路から間隔を置いて配置された地点で測定される。材料充填系の振動モードは、流管と流管内の材料の組合せ質量によって部分的に定義される。流量計を流れる材料が存在しないとき、流管に沿ったすべての地点は同一の位相で振動する。材料が流管を流れ始めるとき、コリオリの加速度により、流管に沿った各地点は、流管に沿った他の地点に対して異なる位相を有する。流管の入口側の位相は駆動部より遅れ、出口側の位相は駆動部より先行する。センサが流管上の様々な地点に配置され、様々な地点での流管の運動を表す正弦信号が生成される。センサから受領される信号の位相差が時間の単位で計算される。センサ信号間の位相差は、流管を流れる材料の質量流量に比例する。
【０００３】
従来技術には、何らかの残留材料が流量計内に残っているかどうかを決定する際の問題が存在する。流量計が自己排出することが可能であるとき、何らかの湿気が流管内に残る可能性がある。これは特に閉じた環境に当てはまる。流量計は、直線的流管装置を使用する流量計を含むことがあり、ある量の残留材料が流管装置に残り、排出されない可能性がある。或いは、流量計は、円弧又はループ形の流管機器を使用することもある。そのような流管機器の形状は、著しい量の残留材料を閉じ込める可能性があり、プロセス流体が流量計から完全に排出されたことを保証する際に追加の問題を提示する可能性がある。さらに、流量計の設置向きが、残留材料の保持に寄与する可能性があり、残留材料が流量計の外に十分又は完全に排出することができない。
【０００４】
幾つかの応用分野、特に製薬業界、バイオテクノロジー業界、食品及び飲料業界では、流量計が完全に自己排出し、流動媒体がないことを保証することが重要である。
解決手段の概要
本発明は、流量計アセンブリ内の残留材料を検出する流量計電子機器及び方法を提供することによって上記の問題を解決することを助ける。
【０００５】
本発明の一つの実施の形態によれば、流量計アセンブリ内の残留材料を検出するように適合された流量計電子機器が提供される。流量計電子機器は、流量計アセンブリを振動させ、流量計アセンブリから振動応答を受け取るように流量計に指示するように適合された処理システムを備える。流量計電子機器は、流量計パラメータ及びデータを格納するように構成された記憶システムをさらに備える。さらに、流量計電子機器は、振動応答を所定の残留材料しきい値と比較して残留材料を検出するように構成された処理システムによって特徴付けられる。
【０００６】
本発明の一つの実施の形態によれば、流量計アセンブリ内の残留材料を検出する方法が提供される。この方法は、流量計アセンブリを振動させること、及び流量計アセンブリの振動応答を測定することを含む。この方法はさらに、振動応答を所定の残留材料しきい値と比較して残留材料を検出することによって特徴付けられる。
【０００７】
本発明の一態様では、所定の残留材料しきい値はユーザ設定可能である
本発明の別の態様では、検出することは、実質的に残留材料質量値を求めることをさらに含む。
【０００８】
本発明の別の態様では、処理システムがさらに、振動応答が所定の残留材料しきい値を超過した場合に、警報状態を生成するように構成される。
本発明の別の態様は、処理システムがさらに、振動応答が所定の残留材料しきい値を超過しない場合に、流量計アセンブリ内の空き状態を決定するように構成される。
【０００９】
本発明の別の態様では、処理システムがさらに、駆動振幅と駆動利得を追加的に比較し、振動応答が所定の残留材料しきい値を超過し、かつ駆動利得が駆動振幅を利得しきい値だけ超過する場合に、残留材料を検出するように構成される。
【００１０】
本発明の別の態様では、流量計はコリオリ流量計を含む。
本発明の別の態様では、処理システムがさらに、最初に流量計に関する基本振動数を格納し、基本振動数から所定の残留材料しきい値を求めるように構成され、所定の残留材料しきい値は、基本振動数からの所定の周波数オフセットを有する。
【００１１】
本発明の別の態様では、処理システムがさらに、振動応答から補償済み周波数を求め、補償済み周波数と流量計の基本振動数との周波数差を計算し、周波数差に質量−周波数関係係数を乗じて流量計アセンブリに関する残留材料質量値を得るように構成され、比較することは、残留材料質量値を所定の残留材料しきい値と比較することを含む。
【００１２】
本発明の別の態様では、所定の残留材料しきい値は流量計アセンブリの校正密度値を含み、処理システムがさらに、振動応答を補償して補償済み密度値を生成するように構成され、比較することは、補償済み密度値を校正密度値と比較することを含み、検出することは、補償済み密度値が校正密度値と実質的に合致する場合に、残留材料を検出することを含む。
【００１３】
本発明の別の態様では、処理システムがさらに、振動応答を補償して補償済み密度値を生成し、残留材料質量値を生成するために、補償済み密度値に、流管体積と、流動媒体粘性結合特性を定義する結合係数と、方向係数とを乗じるように構成される。所定の残留しきい値は所定の残留質量しきい値を含む。比較することは、残留材料質量値を所定の残留材料しきい値と比較することを含む。
【００１４】
本発明の別の態様では、補償することは、周囲温度及び周囲圧力に関して振動応答を補償することをさらに含む。
すべての図面において、同一の参照番号は同一の要素を表す。
【００１５】
発明の詳細な説明
図１〜図８及び以下の説明は、本発明の最良の形態をどのように作成し、使用するかを当業者に教示するための特定の例を示す。本発明の原理を教示する目的で、本発明の一部の従来の態様が単純化又は省略されている。本発明の範囲内に包含されるこうした例の変形形態を当業者は理解されよう。以下で説明される特徴を本発明の複数の変形形態を形成するために様々な方式で組み合わせることができることを当業者は理解されよう。その結果、本発明は、以下で説明される特定の例に限定されず、特許請求の範囲及びその均等物によってのみ限定される。
【００１６】
流量計―――図１
図１は、本発明の一つの実施の形態による流量計アセンブリ１０及び流量計電子機器２０を備えるコリオリ流量計５を示す。コリオリ流量計５は一例として与えたに過ぎず、本発明は他の流量計構成及び他の流量計タイプにも当てはまることを理解されたい。流量計アセンブリ１０は、プロセス材料の質量流量及び密度に応答する。流量計電子機器２０がリード１００を介して流量計アセンブリ１０に接続され、経路２６を介して密度、質量流量、及び温度情報並びに他の情報が提供される。コリオリ流量計構造を説明するが、コリオリ質量流量計で提供される追加の測定機能を用いずに、振動管密度計として本発明を実施できることは当業者には明らかである。さらに、本発明は他の流量計タイプにも適用することができる。
【００１７】
流量計アセンブリ１０は、１対のマニホルド１５０及び１５０’、フランジネック１１０及び１１０’を有するフランジ１０３及び１０３’、１対の平行流管１３０及び１３０’、駆動機構１８０、温度センサ１９０、並びに１対のピックオフセンサ１７０Ｌ及び１７０Ｒを含むことができる。流管１３０及び１３０’は、２つの本質的に直線的な入口脚部１３１及び１３１’並びに出口脚部１３４及び１３４’を有し、それらは流管装着ブロック１２０及び１２０’で互いに集束する。流管１３０及び１３０’は、その長さに沿って２つの対称な位置で曲がり、その長さ全体にわたって本質的に平行である。ブレースバー１４０及び１４０’は、各流管が振動する軸Ｗ及びＷ’を定義する働きをする。
【００１８】
流管１３０及び１３０’のサイド脚部１３１、１３１’及び１３４、１３４’は流管装着ブロック１２０及び１２０’に固定式に取り付けられ、これらのブロックはマニホルド１５０及び１５０’に固定式に取り付けられる。これにより、コリオリ流量計アセンブリ１０を通る連続的な閉じた材料経路が与えられる。
【００１９】
穴１０２及び１０２’を有するフランジ１０３及び１０３’が、入口端部１０４及び出口端部１０４’を介して、測定されるプロセス材料を搬送するプロセスライン（図示せず）に接続されたとき、材料は、フランジ１０３内のオリフィス１０１を通じて流量計の端部１０４に進入し、マニホルド１５０を通じて、表面１２１を有する流管装着ブロック１２０に伝達される。マニホルド１５０内では、材料が分割され、流管１３０及び１３０’を通じて送られる。流管１３０及び１３０’を出ると、プロセス材料はマニホルド１５０’内の単一の流れとして再結合され、その後、ボルト穴１０２’を有するフランジ１０３’によってプロセスライン（図示せず）に接続された出口端部１０４’に送られる。
【００２０】
流管１３０及び１３０’は、それぞれ曲げ軸Ｗ−Ｗ及びＷ'−Ｗ'の周りにほぼ同一の質量分布、慣性モーメント、及びヤング率を有するように選択され、適切に流管装着ブロック１２０及び１２０’に装着される。これらの曲げ軸はブレースバー１４０及び１４０’を通る。
【００２１】
流管のヤング率は温度と共に変化し、この変化が流量及び密度の計算に影響を及ぼすので、流管の温度を測定するために、抵抗温度検出器（ＲＴＤ）などの温度センサ１９０を流管１３０’に装着することができる。流管の温度は、流管を通る材料の温度に左右される。測定温度は、流量計電子機器２０による周知の方法で使用され、流管温度の変化による流管１３０及び１３０’の弾性率の変化が補償される。温度センサ１９０は、リード１９５によって流量計電子機器２０に接続される。
【００２２】
流管１３０及び１３０’は共に、駆動部１８０によってそれぞれの曲げ軸Ｗ及びＷ’の周りに逆方向に、流量計の第１位相外れ曲げモードと呼ばれるモードで駆動される。この駆動機構１８０は、流管１３０’に装着された磁石と、両方の流管を振動させるために交流が通る、流管１３０に取り付けられた対向コイルなどの多数の周知の構成のうちのいずれか１つを含むことができる。適切な駆動信号は、流量計電子機器２０により、リード１８５を介して駆動機構１８０に印加される。
【００２３】
流量計電子機器２０は、リード１９５上の温度信号を受け取り、左及び右ピックオフ信号が、それぞれリード１６５Ｌ及び１６５Ｒ上に現れる。流量計電子機器２０は、リード１８５上に現れる駆動信号を生成して、要素１８０を駆動し、管１３０及び１３０’を振動させる。流量計電子機器２０は、左及び右ピックオフ信号並びに温度信号を処理し、流量計アセンブリ１０を通る材料の質量流量（任意選択では密度）を計算する。この情報が、他の情報と共に、流量計電子機器２０によって経路２６を介して印加される。
【００２４】
流量計電子機器―――図２
図２は、本発明の一つの実施の形態による流量計電子機器２０の図である。流量計電子機器２０は、処理システム２２と、処理システム２２に接続された記憶システム２４とを含む。インターフェース２６を流量計電子機器２０に含めることができ、インターフェース２６も処理システム２２に接続される。
【００２５】
流量計電子機器２０は、流量計アセンブリ１０（図１参照）から流量計信号を受け取り、流量計アセンブリ１０が空きであるか否かを決定することができる。一つの実施の形態では、本発明は振動数応答３１を得ることができ、流量計アセンブリ１０の空き状態又は非空き状態を決定するために、振動応答３１を周波数しきい値又は範囲と比較する（図４及び付随する検討を参照）。別の実施の形態では、振動応答３１を使用して残留材料質量を決定することができ、空き状態又は非空き状態を決定するために、残留材料を質量しきい値又は範囲と比較することができる（図４及び付随する検討を参照）。この質量を追加的に使用して、流量計アセンブリ１０内の残留材料の量を決定することができる。さらに、空き状態又は非空き状態を決定するために、残留材料密度を密度しきい値又は範囲と比較することができる（図６及び付随する検討を参照）。
【００２６】
残留材料の検出はいくつかの用途を有する。１つの用途は、流量計アセンブリ１０が空きであるときを決定する際のものであり、この場合、流量計５が、何らかの方式の流体処理システムで流体供給を測定するのに使用される。例えば、流量計５が流体リザーバの出力を測定する場合、流量計電子機器２０及び方法を使用して、リザーバからの流体の流れがいつ遮断されたかを決定することができる。別の用途は、流体の流れの終わりを検出し、したがってリザーバが空きとなるときを検出することである。さらに別の用途は、流量計５が空きであるかどうかを決定するための流量計５の瞬間的操作である。
【００２７】
インターフェース２６は他の装置との通信を実施する。インターフェース２６は、１つ又は複数の流量計と通信することのできる任意の装置を備える。さらに、インターフェース２６は、電話システム及び／又はデジタルデータ網を介する通信を可能にすることができる。したがって、流量計電子機器２０は、遠隔の流量計、遠隔のメモリ媒体、及び／又は遠隔のユーザと通信することができる。
【００２８】
一つの実施の形態では、インターフェース２６は、流量計５の振動応答３１を表す信号を含む流量計アセンブリ１０から信号を受け取る。したがって、流量計電子機器２０は、流量計アセンブリ１０と同じ場所に配置することができ、又は流量計アセンブリ１０から離れていてよい。別の実施の形態では、インターフェース２６は、人間のオペレータが流量計電子機器２０と対話することを可能にする。その結果、インターフェース２６はオペレータ入力を受容することができ、オペレータに出力を送ることができる。
【００２９】
一つの実施の形態では、インターフェース２６は、流量計アセンブリ１０が空きであるか否かを決定するのに使用される残留材料しきい値３０を含むオペレータ入力を受け取ることができる。したがって、この実施の形態での残留材料しきい値３０はユーザ設定可能である。或いは、残留材料しきい値３０は固定値又は工場設定値でもよい。
【００３０】
一つの実施の形態では、インターフェース２６は追加的にオペレータに出力を生成することができる。出力は、流量計アセンブリ１０が空きであるか否かの決定を含むことができる。出力は、流量計アセンブリ１０の残留材料の近似質量を含むことができる。出力は、流量計アセンブリ１０内の残留材料をオペレータに警報する警報状態を含むことができる。流量計アセンブリ１０内の残留材料が残留材料しきい値３０よりも大きいときに警報状態を生成することができる。出力は、任意の方式の視覚情報、音声情報、又はテキスト情報を含むことができる。
【００３１】
処理システム２２は、流量計電子機器２０の操作を実施する。処理システム２２は、汎用コンピュータ、マイクロ処理システム、論理回路、或いはその他の汎用処理装置又はカスタマイズされた処理装置を含むことができる。処理システム２２は複数の処理装置間に分散することができる。処理システム２２は、記憶システム２４などの任意の方式の一体型電子記憶媒体又は独立した電子記憶媒体を含むことができる。
【００３２】
記憶システム２４は任意の方式のデジタル記憶媒体を含むことができる。記憶システム２４は、流量計パラメータ及びデータ、ソフトウェア・ルーチン、一定値、並びに可変値を格納することができる。一つの実施の形態では、記憶システム２４は、残留材料しきい値３０、振動応答３１、残留材料検出ルーチン３２、空き状態３３、警報状態３４、振動応答オフセット３５、残留材料質量値３６、駆動振幅３７、駆動利得３８、及び利得しきい値３９を含む。
【００３３】
処理システム２２は、残留材料検出ルーチン３２を実行し、それによって流量計アセンブリ１０が空きであるか否かを決定する。一つの実施の形態では、残留材料検出ルーチン３２は、図示するように、流量計電子機器２０の一部である。残留材料検出ルーチン３２は、処理システム２２によって実行されたとき、処理システム２２が振動応答３１を残留材料しきい値３０と比較するように構成する。したがって、残留材料検出ルーチン３２は、振動応答３１が残留材料しきい値３０を超過した場合に、流量計アセンブリ１０内の残留材料を検出する。
【００３４】
別の実施の形態では、残留材料検出ルーチン３２は、外部装置（図示せず）上で動作するソフトウェア・プラットフォームに組み込まれるデータ及び命令を含む。この外部装置は、通信経路２６を介して流量計電子機器２０と通信することが可能である。例えば、外部装置は、ＰｒｏＬｉｎｋ（商標）又はＰｒｏＬｉｎｋ  ＩＩ（商標）などのソフトウェアを実行する外部コンピュータを含むことができる。ＰｒｏＬｉｎｋ（商標）ソフトウェアは、流量計と通信し、流量計出力のログを取り、流量計出力を操作するように設計され、コロラド州ボールダーのマイクロモーション社から入手可能である。ＰｒｏＬｉｎｋ（商標）ソフトウェアは、単なる１つの有用なソフトウェア・プラットフォームに過ぎず、本発明による残留材料検出を任意の適切なソフトウェア言語又はプラットフォームとして、かつ任意の適切な外部装置上で実装できることを理解されたい。
【００３５】
一つの実施の形態での残留材料しきい値３０は、残留材料検出ルーチン３２によって使用されて流量計アセンブリ１０内に残留材料が存在しているかどうかを決定するしきい値を含む。また、残留材料しきい値３０は、流量計アセンブリ１０内の残留材料の量が残留材料とみなすのに十分なほど有意であり、したがって空きでないかどうかを決定するのに使用される。
【００３６】
一つの実施の形態では、残留材料しきい値３０は、空き状態振動応答（すなわち流量計アセンブリ１０の基本振動数）からのオフセットを有する。空き状態振動応答は、特定の周囲気温及び特定の周囲空気圧（すなわち標準校正状態）で、空気で充填されたとき流量計アセンブリ１０の空き状態に関して記録された振動応答を含むことができる。したがって、流量計アセンブリ１０が特定の温度のクリーンで乾いた空気状態にあるときに、装置の基本／共振周波数を決定することができる。その後で、空き状態振動応答は、流量計アセンブリ１０の空き状態及び非空き状態を検出するために、後続の振動応答をそれと突き合わせて比較することのできる標準として働くことができる。したがって、適用の状況では、温度補正済み空気状態共振周波数からの著しい偏差は、プロセス材料の存在を示す。したがって、振動応答３１が残留材料しきい値３０を超過した場合、残留材料が検出される。或いは、残留材料しきい値３０は残留材料範囲を有し、振動応答がその範囲内にある場合、流量計アセンブリ１０は空きではないが、単に残留材料を含むだけであるほどに十分に空きである（すなわち、流量計アセンブリ１０は満杯ではない）。振動応答がこの範囲を超える場合、材料は、通常の使用の方式で流量計アセンブリ１０を流れている。
【００３７】
振動応答３１は流量計アセンブリ１０から受領される。振動応答３１は、駆動部１８０による流管の振動に対する測定応答又は検出応答を含む。振動応答３１は、流量計アセンブリ１０内に存在する材料の量と共に変化する。振動応答３１を、１つ又は複数のピックオフ・センサ１７０で測定されるアナログ周波数応答として格納することができる。
【００３８】
振動応答オフセット３５は、空き状態振動応答からのオフセットを含むことができる。したがって、振動応答オフセット３５は、空き状態からのオフセットを含み、振動応答３１が振動応答オフセット３５と空き状態振動応答との間にない場合、流量計アセンブリ１０は空きではない。振動応答オフセット３５は、例えば本明細書で論じ、図４〜図８に関連して以下で論じるような周波数オフセット、密度オフセット、又は質量値オフセットを含むことができる。
【００３９】
残留材料を検出する振動応答の使用に加えて、振動応答３１を使用して残留材料質量値３６を推定することもできる。残留材料質量値３６は、流量計アセンブリ１０に関して決定される実質的に現在の質量値を含む。さらに、残留材料質量値３６を使用して、流量計アセンブリ１０が空きであるか非空きであるかを決定することができる。さらに、残留材料の近似質量を示すために、残留材料質量値３６をオペレータなどに出力することができる。さらに、一つの実施の形態での残留材料質量値３６は、空き状態期間及び非空き状態期間の質量流量と、対応する期間の履歴を格納することができる。
【００４０】
空き状態３３は、例えば真の状態及び偽の状態などによって空き状態及び非空き状態を表すことのできる状態変数を含むことができる。したがって、流量計アセンブリ１０の現振動応答が空き状態であると決定される場合、空き状態３３を真、１、又は他の空き状態に設定することができる。逆に、流量計アセンブリ１０の現振動応答が非空き状態であると決定される場合、空き状態３３を偽、ゼロ、又は他の非空き状態に設定することができる。したがって、空き状態３３は、流量計アセンブリ１０の現在の空き状態又は非空き状態を反映する。さらに、一つの実施の形態での空き状態３３は、空き状態又は非空き状態と、対応する期間の履歴を格納することができる。
【００４１】
警報状態３４は、残留材料が残留材料しきい値３０を超過するときに生成することのできる状態変数を含むことができる。したがって、警報状態３４を使用して、流量計アセンブリ１０内の残留材料をユーザ又はオペレータに警報することができる。さらに、警報状態３４をプロセス制御変数として使用することができ、警報状態３４が設定される場合に後続プロセス動作を動作不能にすることができ、又は修正することができる。一つの実施の形態での警報状態３４は、警報状態又は非警報状態と、対応する期間の履歴を格納することができる。さらに、一つの実施の形態での警報状態３４はユーザ設定可能警報しきい値を包含し、ユーザは、流量計電子機器２０によって警報状態が設定される残留材料の量を決定することができる。
【００４２】
振動応答３１に加えて、本発明のこの実施の形態及び任意の実施の形態での流量計電子機器２０はさらに、駆動機構１８０に印加される駆動信号振幅を監視することができる。さらに、流量計電子機器２０は、ピックオフ１７０から受け取った駆動利得も監視することができ、駆動利得は、駆動機構１８０に印加された駆動信号振幅と、得られる振動応答３１との間の関係を含む。振幅及び利得は、残留材料で吸収される振動エネルギーの量を示し、それを使用して、残留材料検出をさらに改善することができる。したがって、駆動信号利得及び駆動信号振幅を使用して、残留材料質量値３６の決定をさらに改善することができる。したがって、一つの実施の形態での処理システム２２はさらに、振動応答３１が所定の残留材料しきい値３０を超過し、かつ駆動利得３８が利得しきい値３９だけ駆動振幅３７を超過する場合に、追加的に駆動振幅３７及び駆動利得３８を比較し、残留材料を検出するように構成される。
【００４３】
検出方法の流れ図―――図３
図３は、本発明の一つの実施の形態による流量計アセンブリ内の残留材料を検出する方法の流れ図３００である。ステップ３０１では、流量計アセンブリ１０が駆動部振動により振動させられる。振動は、流量計アセンブリ１０の基本周波数を含むことができる。したがって、駆動部振動は、流量計アセンブリ１０内の質量流量を検出するのに使用される典型的な振動を含むことができる。
【００４４】
ステップ３０２では、流量計アセンブリ１０の振動応答が決定される。振動応答は一般に電気信号の形態で受領されるが、信号振幅は、流量計アセンブリ１０内に存在する材料又は流量計アセンブリ１０内を流れる材料の質量に対して変化する。管内の材料に関する質量及び密度値を得るために電気信号を処理することができる。さらに、従来技術とは異なり、流量計アセンブリ１０内の残留材料の存在及び残留材料の近似の量を求めるために、電気的信号を処理することができる。
【００４５】
ステップ３０３では、残留材料を検出するために、流量計アセンブリ１０の振動応答が残留材料しきい値と比較される。一つの実施の形態では、残留材料しきい値は、流管空き状態振動応答を含むことができる。例えば工場で、流管に関する流管空き状態振動応答を測定することができる。流管空き状態振動応答は一般に、標準温度及び圧力に関して生成される。したがって、流管空き状態振動応答は、後続のすべての残留材料検出操作に関する基準値を含むことができる。或いは、残留材料しきい値は、先に検討したのと同様に、流管空き状態振動応答からのオフセットを含むことができ、周波数、密度、或いは質量値又は範囲を含むことができる。
【００４６】
ステップ３０４では、振動応答が残留材料しきい値を超過した場合、振動応答が非空き状態を示すと決定され、方法はステップ３０５に分岐する。或いは、振動応答が残留材料しきい値を超過しない場合、流量計アセンブリ１０が空きであると決定することができ、方法はステップ３０８に分岐する。
【００４７】
ステップ３０５では、振動応答が残留材料しきい値を超過するので、流量計アセンブリ１０内で残留材料が検出される。検出は、空き状態を非空きに設定することを含むことができる。さらに、検出は、非空き状態の発生と、対応する期間の履歴を記録することを含むことができる。その結果、非空き状態を使用して、流量計アセンブリ１０の検査、浄化、保守、修復などを行う必要があるかどうかを決定することができる。
【００４８】
ステップ３０６では、任意選択で警報状態を生成することができる。警報状態は、先に検討したのと同様に、ユーザ又はオペレータに提示される視覚警報、音声警報、又はテキスト警報を含むことができる。警報状態は、残留材料検出の始めに生じることができ、或いは、残留材料が流量計アセンブリ１０内に存在する限り継続することができる。
【００４９】
ステップ３０７では、方法は、任意選択で残留材料質量値を決定することができ、残留材料質量値を記録することができる。残留材料質量値を使用して、流量計５が空きであるか否かを決定することができる。
【００５０】
ステップ３０８では、流量計アセンブリ１０が空きであると決定された場合、空き状態状態を空きに設定することができる。さらに、検出は、空き状態の発生と、対応する期間の履歴を記録することを含むことができる。
【００５１】
流量計電子機器――−図４
図４は、本発明の一つの実施の形態による流量計電子機器２０の図である。流量計電子機器２０は、先に検討したのと同様に、処理システム４２２、記憶システム２４、及びインターフェース４２６を含むことができる。
【００５２】
記憶システム２４は、残留材料しきい値３０、周波数オフセット４１、補償済み周波数４２、周波数差４３、質量−周波数関係係数４４、残留材料質量値３６、及び周波数補償ルーチン４０を含むことができる。記憶システム２４は、先に検討したのと同様に、振動応答３１、残留材料検出ルーチン３２、空き状態３３、警報状態３４、駆動振幅３７、駆動利得３８、及び利得しきい値３９をさらに含むことができる。
【００５３】
動作の際に、流量計電子機器２０は振動応答３１を受け取り、振動応答３１が空き又は非空きの流量計アセンブリ１０を示すか否かを決定する。この実施の形態での流量計電子機器２０は、振動応答３１を周波数しきい値又は範囲と比較することにより、又は振動応答３１から質量値を求め、質量値を質量しきい値又は範囲と比較することにより、そのような決定を実現することができる。例えば、後者の実施の形態では、流量計電子機器２０は、流量計アセンブリ１０内の何らかの残留材料に関係する残留材料質量値３６を生成し、残留材料質量値３６が残留材料のレベルまで上昇するかどうかを決定する。残留材料質量値３６が非常に小さい場合、残留材料質量値３６は単に空きの流量計アセンブリ１０として扱うことができることを理解されたい。
【００５４】
コリオリ流量計の密度測定値は式
２πｆ＝２π／τ＝（ｋ／ｍ）１／２  （１）
に基づく。ただし、
ｋ＝流量計アセンブリの剛性
ｍ＝流量計アセンブリの質量
ｆ＝（振動応答の）振動数、及び
τ＝振動の周期である。
【００５５】
より具体的には、流量計アセンブリ１０の共振周波数は流管の剛性に比例し、組合せ質量（すなわち、流量計アセンブリ１０の質量と、流量計アセンブリ１０内の流体媒体、したがって流量計アセンブリ１０に結合される流体媒体の質量の和）に反比例する。
【００５６】
残留材料しきい値３０は、標準空気（空き）状態に関する流量計アセンブリ１０の基本振動数を格納する。これは、流量計アセンブリ１０に関する空き状態に対応する。
周波数オフセット４１は、基本（すなわち空き）振動数からの周波数オフセットしきい値である。周波数オフセット４１は、流量計アセンブリ１０が空きであるとみなされるのに十分なだけ振動応答３１が基本振動数に近いかどうかを決定するのに使用される。
【００５７】
振動応答３１が周囲温度及び周囲空気圧に関して補償された後では、補償済み周波数４２は、流量計アセンブリ１０の振動応答を含む。補償は、流管の幾何形状や特性などの他の係数に関して振動応答３１を追加的に補償することができる。この実施の形態での補償は、周波数補償ルーチン４０によって実施される（以下の検討を参照）。
【００５８】
周波数差４３は、補償済み周波数４２と残留材料しきい値３０との差を含む。周波数差４３は、残留材料質量値３６を決定するための準備として計算される。
質量−周波数関係係数４４は、周波数差４３を質量値と対応付ける数学的モデルである。質量−周波数関係係数４４は、一つの実施の形態では数式を含むことができる。別の実施の形態では、質量−周波数関係係数４４は、入力周波数差を出力質量値に対応付ける（すなわち、残留材料質量値３６を生成する）データテーブルなどのデータ構造を含むことができる。
【００５９】
流量計５で測定すべき材料に従って質量−周波数関係係数４４を選択することができる。したがって、質量−周波数関係係数４４は、異なる流体媒体間で変化する可能性がある。質量−周波数関係係数４４は、工場で、又は、流動材料を変更すべき場合にはオペレータによって、記憶システム２４にプログラムすることができる。
【００６０】
残留材料質量値３６は、現振動応答３１から決定される質量値を含む。残留材料質量値３６は、流量計アセンブリ１０内の残留材料の近似質量を反映する。
周波数補償ルーチン４０は振動応答３１上で動作し、流量計５の精度を向上させるために振動応答３１に対する補償を実行する。補償は、任意の方式の補償を含むことができる。一つの実施の形態では、補償は温度補償及び圧力補償を含み、振動応答３１が、温度及び圧力の標準状態の精度に近づけるために、周囲温度及び周囲圧力に関して補償される。さらに、周波数補償ルーチン４０は、その他の事前測定した校正係数及び事前記憶し校正係数を補償プロセスで利用することができる。
【００６１】
検出方法の流れ図――−図５
図５は、本発明の一つの実施の形態による流量計アセンブリ内の残留材料を検出する方法の流れ図５００である。一つの実施の形態での方法５００は、図４の流量計電子機器２０を操作する方法を含む。ステップ５０１では、残留材料しきい値が格納される。この方法実施の形態では、残留材料しきい値は基本振動数を含むことができる。以下のステップの前の任意の時間に、残留材料しきい値を格納することができる。
【００６２】
ステップ５０２では、先に検討したのと同様に、残留材料の存在を検出するために流管が振動する。ステップ５０３では、流量計５は、先に検討したのと同様に、振動応答を測定する。ステップ５０４では、振動応答から補償済み周波数が決定される。補償済み周波数は、温度、圧力、流管の幾何形状及び特性などに関して補償された振動数を含むことができる。さらに、振動応答に関して他のタイプ補償も実施することができる。
【００６３】
ステップ５０５では、流量計アセンブリ１０の補償済み周波数と基本振動数との周波数差が計算される。理想的には、流量計アセンブリ１０が完全に空きである場合、補償済み周波数は基本振動数に合致し、差はゼロとなる。しかし、流量計アセンブリ１０が実質的に空きであるときであっても、周波数差が非ゼロである確率が存在する。したがって、一つの実施の形態では、周波数差は、非空き状態を実際に決定することができる前に、しきい値を超過しなければならない。
【００６４】
ステップ５０６では、残留材料質量値を決定するために、補償済み周波数に質量−周波数関係係数が乗算される。ステップ５０７では、残留材料質量値が残留材料しきい値と比較される。この実施の形態では、残留材料しきい値は質量しきい値を含み、それ未満では残留材料質量値は空きであるとみなされる。残留材料質量値が残留材料しきい値を超過する場合、流量計アセンブリ１０が非空きであると決定される。
【００６５】
流量計電子機器――−図６
図６は、本発明の一つの実施の形態による流量計電子機器２０の図である。流量計電子機器２０は、先に検討したのと同様に、処理システム６２２、記憶システム２４、及びインターフェース６２６を含むことができる。
【００６６】
記憶システム２４は、残留材料しきい値３０、密度補償ルーチン６０、補償済み密度値６１、残留材料質量値３６、流管体積６２、結合係数６３、及び方向係数６４を含むことができる。記憶システム２４は、先に検討したのと同様に、振動応答３１、残留材料検出ルーチン３２、空き状態３３、警報状態３４、駆動振幅３７、駆動利得３８、及び利得しきい値３９をさらに含むことができる。
【００６７】
動作の際に、流量計電子機器２０は、振動応答３１を受け取り、流量計アセンブリ１０内の残留材料に関する補償済み密度値６１を生成し、補償済み密度値６１を密度しきい値又は範囲と比較する（図７参照）。
【００６８】
一つの実施の形態では、残留材料しきい値３０は校正密度値又は範囲を含む。校正密度値は、流量計アセンブリ１０を流れる材料の組成を反映する密度値又は密度範囲を含む。所与の流動材料に関して、かつ標準温度、圧力などの所与の１組の条件に関して校正密度値が与えられる。校正密度値は、一般に、標準条件下で測定され、工場で、又はフィールド校正操作中に事前記憶される。校正密度値からの変動を使用して非空き状態求めることができ、さらに、校正密度値からの変動を使用して、流量計アセンブリ１０内の予期しない流動媒体又は望ましくない流動媒体の存在を検出することができる。振動応答３１が補償済み密度値６１を生成するために処理されるとき、振動応答３１が残留材料しきい値３０と実質的に合致する場合、流量計アセンブリ１０が非空きであると決定することができる。
【００６９】
密度補償ルーチン６０は、流量計５の精度を向上させるために、測定した密度に対する密度補償操作を実行する。密度補償ルーチン６０は、振動応答３１から補償済み密度値６１を生成する。振動応答３１が周波数尺度当たりの密度の比率（すなわちδρ／δｆ）を含み、かつ密度（ρ）は体積で割った質量を含むので、質量に対する周波数の変化率（すなわちδｍ／δｆ）を代入によって決定することができる。したがって、振動応答３１は、流量計アセンブリ１０内の材料質量を表す周波数を有する電気信号を含む。
【００７０】
補償済み密度値６１は、上述のように、振動応答３１から得られる補償済み密度を含む。補償は、任意の方式の補償を含むことができ、流量計５の精度を向上させるために実施される。一つの実施の形態では、補償は温度補償及び圧力補償を含み、振動応答３１が周囲温度及び周囲圧力に関して補償される。さらに、密度補償ルーチン６０は、他の事前測定した及び事前記憶した校正係数を補償プロセスで利用することができる。
【００７１】
流量計アセンブリ１０が空きであるか非空きであるかを決定するために密度を使用することに加えて、密度を使用して、残留材料質量値３６を決定することができる（図８参照）。任意選択の質量決定を使用して、存在する残留材料の量を決定することができ、さらに流管体積６２、結合係数６３、及び方向係数６４を利用することができる。流管体積６２、結合係数６３、及び方向係数６４は、事前決定した及び／又は事前記憶した係数を含むことができる。
【００７２】
流管体積６２は流量計アセンブリ１０内の流管の体積を含む。流管体積６２は、流量計タイプ及びサイズの間で変化し得、特定の流量計５に対して固有であり得る。結合係数６３は、材料が流量計アセンブリ１０の内面に付着する傾向と相関する流動材料粘性係数を含み、すなわち、粘性の高い材料は、流量計アセンブリ１０に付着する可能性が高くなり、流量計アセンブリ１０から排出されない可能性が高くなる。したがって、結合係数６３は流動材料に従って変化する。
【００７３】
方向係数６４は、流量計アセンブリ１０の設置方向を反映する係数を含む。したがって、方向係数６４は流量計アセンブリ１０の設置方向と共に変化する。これは、方向が流量計アセンブリ１０の排出能力に影響を及ぼすからである。
【００７４】
検出方法流れ図――−図７
図７は、本発明の一つの実施の形態による流量計アセンブリ内の残留材料を検出する方法の流れ図７００である。方法７００は、図６の流量計電子機器２０を操作する方法の実施の形態を含む。ステップ７０１では、残留材料しきい値が格納される。この実施の形態では、残留材料しきい値は校正密度値を含むことができる。以下のステップの前の任意の時間に残留材料しきい値を格納することができる。
【００７５】
ステップ７０２では、先に検討したのと同様に、流量計アセンブリ１０が振動する。ステップ７０３では、先に検討したのと同様に、流量計５は振動応答を測定する。ステップ７０４では、先に検討したのと同様に、補償済み密度値が求められる。
【００７６】
ステップ７０５では、先に検討したのと同様に、補償済み密度値が校正密度値（すなわち残留材料しきい値）と比較される。補償済み密度値は校正密度値の所定のオフセット或いは密度範囲又は公差を含むことができる。ステップ７０６では、補償済み密度値が校正密度値と実質的に合致した場合、方法はステップ７０７に進む。そうでない場合、方法はステップ７０８に分岐する。
【００７７】
ステップ７０７では、補償済み密度値が校正密度値と実質的に合致する場合、流量計アセンブリ１０内に流動材料が存在すると決定することができる。したがって、先に検討したのと同様に、非空き状態を設定することができる。さらに、先に検討したのと同様に、警報状態を設定することができる。
【００７８】
ステップ７０８では、補償済み密度値が校正密度値と実質的に合致しない場合、流量計アセンブリ１０内に流動材料が存在しないと決定することができる。したがって、先に検討したのと同様に、空き状態を設定することができる。
【００７９】
検出方法流れ図――−図８
図８は、本発明の一つの実施の形態による流量計アセンブリ内の残留材料を検出する方法の流れ図８００である。方法８００は、図６の流量計電子機器２０を操作する別の方法の実施の形態を含む。ステップ８０１では、残留材料しきい値が格納される。この方法の実施の形態では、残留材料しきい値は残留材料質量しきい値を含むことができる。以下のステップの前の任意の時間に残留材料しきい値を格納することができる。
【００８０】
ステップ８０２では、先に検討したのと同様に、流量計アセンブリ１０が振動する。ステップ８０３では、先に検討したのと同様に、流量計５は振動応答を測定する。ステップ８０４では、先に検討したのと同様に、補償済み密度値が求められる。
【００８１】
ステップ８０５では、先に検討したのと同様に、補償済み密度値に流管体積、結合係数、方向係数が乗算される。乗算の積が残留材料質量値である。ステップ８０６では、残留材料質量値が残留材料質量しきい値と比較される。残留材料質量しきい値は質量範囲又は公差を含むことができる。ステップ８０７では、残留材料質量値が残留材料質量しきい値を超過する場合、方法はステップ８０８に進む。そうでない場合、方法は、ステップ８１０に分岐する。
【００８２】
ステップ８０８では、残留材料質量値が残留材料質量しきい値を超過する場合、流量計アセンブリ１０内に流動材料が存在すると決定することができる。したがって、先に検討したのと同様に、非空き状態を設定することができる。さらに、先に検討したのと同様に、警報状態を設定することができる。
【００８３】
ステップ８０９では、残留材料質量値が残留材料質量しきい値を超過しない場合、流量計アセンブリ１０内に流動材料が存在しないと決定することができる。したがって、先に検討したのと同様に、空き状態を設定することができる。
【００８４】
所望の場合、幾つかの利点を提供するために、実施の形態のいずれかに従って、本発明による流量計電子機器及び方法を使用することができる。流量計電子機器及び方法は、流量計内の残留材料を検出する能力を提供することができる。流量計は例えばコリオリ流量計を含むことができる。流量計電子機器及び方法は、流量計内の残留材料の残留材料質量を測定する能力を提供することができる。通常の材料の流れが終了した後の任意の時間に、残留材料を検出及び／又は測定することができる。例えば、残留材料を検出及び／又は測定するために、流量計を瞬間的又は周期的に活性化することができる。或いは、流量計を実質的に継続的に動作させることもでき、したがって、通常の流れが終了したときを検出することができる。したがって、流量計は、残留材料がまだ存在しているとき、又は十分に排出されたときを追加的に検出することができる。
【００８５】
本発明による流量計電子機器及び方法は、流量計内の残留材料を検出するためのしきい値を設定する能力を提供することができる。しきい値を事前構成することができ、又はユーザ設定可能とすることができる。
【００８６】
本発明による流量計電子機器及び方法は、残留材料がしきい値を超過するときに活性化される警報を与えることができる。警報を事前構成することができ、或いはオペレータによって構成又は設定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００８７】
【図１】本発明の一つの実施の形態による流量計アセンブリ及び流量計電子機器を備えるコリオリ流量計を示す図である。
【図２】本発明の一つの実施の形態による流量計電子機器の図である。
【図３】本発明の一つの実施の形態による流量計アセンブリ内の残留材料を検出する方法の流れ図である。
【図４】本発明の一つの実施の形態による流量計電子機器の図である。
【図５】本発明の一つの実施の形態による流量計アセンブリ内の残留材料を検出する方法の流れ図である。
【図６】本発明の一つの実施の形態による流量計電子機器の図である。
【図７】本発明の一つの実施の形態による流量計アセンブリ内の残留材料を検出する方法の流れ図である。
【図８】本発明の一つの実施の形態による流量計アセンブリ内の残留材料を検出する方法の流れ図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【国際調査報告】
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2008503755.tif 000012
2008503755.tif 000013