(57)【要約】  第1の透明電極層（104）と、第2の電極層（105）と、前記第1および第2の電極層（104；105）の間に挟まれた有機機能層（103）とを有する有機機能装置（101、201、401）内での、短絡不具合の発生を抑制する方法である。当該方法は、前記有機機能装置（101、201、401）の一部分を同定するステップ（301）であって、前記一部分は、短絡不具合の危険性の増大につながる欠陥（102a-g）を含有している、ステップ、前記第2の電極層（105）のセグメント（108a-g）を選定するステップ（302）であって、前記セグメントは、前記一部分に対応する、ステップ、ならびに前記セグメント（108a-g）を前記第2の電極層（105）の残り部から電気的に分離するステップ（303）であって、これにより前記欠陥（102a-g）に起因して生じる短絡不具合が排除されるステップ、を有する。
2008545232.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第1の透明電極層と、第2の電極層と、前記第1および第2の電極層の間に挟まれた有機機能層とを有する有機機能装置内での、短絡不具合の発生を抑制する方法であって、
−前記有機機能装置の一部分を同定するステップであって、前記一部分は、短絡不具合の危険性の増大につながる欠陥を含有している、ステップ、
−前記第2の電極層のセグメントを選定するステップであって、前記セグメントは、前記一部分に対応する、ステップ、ならびに
−前記セグメントを前記第2の電極層の残り部から電気的に分離するステップであって、これにより前記欠陥に起因して生じる短絡不具合が排除されるステップ、
を有する方法。
【請求項２】
前記一部分を同定するステップは、
−前記両電極層の間に電圧を印加するステップであって、前記電圧によって、前記欠陥のため前記両電極層の間に電流の流れが生じ、前記一部分に熱が生じるステップと、
−サーモグラフィック技術を用いて、前記一部分を同定するステップと、
を有することを特徴とする請求項1に記載の方法。
【請求項３】
前記電圧を印加するステップは、交流電圧を印加することにより行われ、これにより前記熱は、周期的に生じ、
前記一部分を同定するステップは、前記交流電圧の周波数に関連する周波数で作動するIR検出器を用いて行われることを特徴とする請求項2に記載の方法。
【請求項４】
前記セグメントを電気的に分離する前記ステップは、レーザ照射を用いて実施されることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一つに記載の方法。
【請求項５】
前記レーザ照射は、前記第1の透明電極層を介して適用されることを特徴とする請求項4に記載の方法。
【請求項６】
前記第1の透明電極層は、透明基板上に設置され、
前記レーザ照射は、前記基板を介して適用されることを特徴とする請求項5に記載の方法。
【請求項７】
前記第1および第2の電極層のそれぞれから、2つの対応するセグメントが選定されることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一つに記載の方法。
【請求項８】
前記対応するセグメントは、それぞれの電極層の前記残り部から、同時に電気的に分離されることを特徴とする請求項7に記載の方法。
【請求項９】
有機発光装置を製作するための、請求項1乃至8のいずれか一つに記載の方法の使用。
【請求項１０】
有機太陽電池を製作するための、請求項1乃至8のいずれか一つに記載の方法の使用。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、第1の透明電極層と、第2の電極層と、前記第1および第2の電極層の間に挟まれた有機機能層とを有する有機機能装置内での、短絡不具合の発生を抑制する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
有機発光ダイオード（OLED）、有機太陽電池、有機光起電力素子、有機光ダイオード、有機光センサ等の全ての有機機能装置の共通点は、少なくとも一つの有機層が、一組の電極層の間に挟まれ、これらと相互作用することである。OLEDでは、電極層間の電圧の印加によって、有機層による光の放射が生じ、有機太陽電池では、有機層による光吸収によって、電極層間に電圧が生じる。
【０００３】
有機機能装置の製造の際、ある確率で欠陥が生じる。いくつかの欠陥は、あまり重要ではなく、そのような場合、装置が顧客に供給されても、顧客側ではいかなる不満も生じない。他の欠陥は、顧客が装置を使用することを不可能にする場合があり、そのような装置は、結果的に発送されないことになる。特に重要なのは、製造段階で視認することのできない欠陥であり、この欠陥は、装置使用の際の誤動作につながり、通常の場合、短絡の不具合が生じる。顧客側で不満が生じること以外にも、そのような誤動作が保証期間内に生じた場合、これにより、製造会社に相当の直接コストが生じる。通常、作動中に短絡不具合の生じる確率が高い装置は、出荷前に識別され廃棄される。しかしながら、ある場合には、そのような手順は、許容できない低い生産歩留まりにつながる恐れがある。
【０００４】
これに関連して、日本特許出願第2004／199970号が参照される。この文献には、エレクトロルミネッセンス（EL）ディスプレイ内の短絡を検出し、補修する方法が示されている。この方法では、2つの顕微鏡を使用し、高精度で短絡位置が検出される−一つは光学顕微鏡であり、もう一つは、赤外線顕微鏡である。この検出の後、短絡位置がレーザで照射され、「焼失」される。
【０００５】
日本特許出願第2004／199970号の方法の問題は、短絡場所を正確に突き止めこれを除去するため、極めて高い精度が必要となることである。通常、精度を高めるには、高額な装置および／または長い時間が必要となる。また、日本特許出願第2004／199970号の方法は、点欠陥に由来する短絡にしか適さないように思われる。
【０００６】
従って、短絡不具合の発生を抑制する、改良されたコスト効果のある方法に対して要望がある。
【特許文献１】特開2004−199970号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明の全般的な目的は、従来技術の前述のおよび他の問題に鑑み、有機機能装置内での短絡不具合の発生を抑制する改良された方法を提供することである。
【０００８】
本発明の別の目的は、そのような短絡不具合の発生を、よりコスト効果のある方法で抑制することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明では、これらのおよび他の目的は、第1の透明電極層と、第2の電極層と、前記第1および第2の電極層の間に挟まれた有機機能層とを有する有機機能装置内での、短絡不具合の発生を抑制する方法であって、
−前記有機機能装置の一部分を同定するステップであって、前記一部分は、短絡不具合の危険性の増大につながる欠陥を含有している、ステップ、
−前記第2の電極層のセグメントを選定するステップであって、前記セグメントは、前記一部分に対応する、ステップ、ならびに
−前記セグメントを前記第2の電極層の残り部から電気的に分離するステップであって、これにより前記欠陥に起因して生じる短絡不具合が排除されるステップ、
を有する方法によって達成される。
【００１０】
有機機能装置の一例には、有機発光ダイオード（OLED）、有機光電セル、有機光起電力素子、有機光ダイオードおよび有機光センサが含まれる。
【００１１】
「電極層」という用語は、光に対して透明または不透明な導電性の層であっても良いことを理解する必要がある。
【００１２】
例えば、透明電極層は、いかなる材料で製作されても良く、この材料は、元来導電性で透明なものであっても良く、あるいは透明導電層または透明非導電層と組み合わされた、十分に薄い金属層で構成されても良い。
【００１３】
有機機能層は、異なる機能（例えば、ホール注入、ホール輸送、ホール遮蔽、励起遮蔽、電子遮蔽、電子輸送、電子注入、発光、または光吸収の各層）またはこれらが組み合わされた機能を有する多くの異なる有機層で構成されるが、これは、三重項エミッタのような金属−有機材料、誘電体のような無機材料、または半導体もしくは金属の量子ドットもしくはナノ粒子を含んでも良い。
【００１４】
特定される欠陥は、既に形成された短絡であっても、あるいは後の段階で短絡不具合の発生につながり得る欠陥であっても良い。そのような欠陥は、例えば、一辺の埃、製造中に装置内部に取り込まれた他の異物材料、またはピンホール等であっても良い。
【００１５】
そのような欠陥は、装置に含まれるいかなる層で生じても良く、あるいは層間で生じても良い。通常の場合、欠陥は、装置の2次元的な一部分として特定される。
【００１６】
本発明による方法を用いて、短絡につながり得る欠陥および実際の短絡欠陥が管理される。従って、有機機能装置の動作中の短絡不具合の発生を、有意に抑制することができる。
【００１７】
また、本発明による方法を用いることにより、得られる信頼性が向上する。同定された欠陥は、ピンポイントで正確に「焼失」されるのではなく、同定された欠陥に対応する電極層セグメントが電気的に分離されるためである。
【００１８】
このセグメントの電気的な分離により、従来技術に比べて、精度に対する要求が緩和される。これにより、それほど精密ではない機器を用いて、本発明による方法を迅速に実施することが可能となる。結果的に、設備投資および処理時間の両方に関して、コストが削減される。
【００１９】
本発明による方法は、OLED照明装置、比較的大きな画素を有するOLEDディスプレイ（例えば、テレビジョンディスプレイ）、有機太陽電池等のような大面積有機機能装置の製作に特に有益である。これらの装置では、より小型のセルまたは画素を有する装置に比べて、短絡欠陥の影響がより深刻であるからである。例えば、通常ある数の欠陥は、微細な画素を有する高解像度ディスプレイでは許容される。ユーザが欠陥の影響を識別することができないからである。一方、大面積OLED照明装置（ランプ）では、わずかの短絡欠陥が、全体的な異常につながる可能性がある。
【００２０】
ある実施例では、一部分を同定するステップは、
前記両電極層の間に電圧を印加するステップであって、この電圧によって、前記欠陥のため前記両電極層の間に電流の流れが生じ、前記欠陥を含む前記一部分に熱が生じるステップと、
サーモグラフィック技術を用いて、前記一部分を同定するステップと、
を有しても良い。
【００２１】
有機機能装置の電極層の間に電圧が印加されると、通常、有機機能装置が欠陥を含む部分では、周囲領域に比べて電場がより不均一になり、より大きくなる。局部的に不均一で大きな電場により、装置のこの部分の電極層間には、周囲部分に比べてより多くの電流が流れる。電流の流れは、熱発生につながるため、IRサーモグラフィ、液晶顕微鏡技術、蛍光ミクロサーマル結像技術またはシュリーレン（Schlieren）結像技術のようなサーモグラフィック技術を用いて、欠陥を含む部分を局部的な熱源として同定することができる。
【００２２】
別の実施例では、電圧を印加するステップは、交流電圧を印加することにより実施され、これにより熱が周期的に発生しても良く、前記一部分を同定するステップは、交流電圧の周波数に関連する周波数で作動するIR検出器を用いて実施されても良い。
【００２３】
通常の場合、IR検出器の作動周波数は、交流電圧の周波数の倍数の周波数である。換言すれば、交流電圧がfRの場合、IR検出器周波数は、n＝1，2，…として、nfRであることが好ましい。
【００２４】
ロックインIR検出と称されるこの方法により、欠陥を含む部分の位置に関するより多くの情報を得ることができる。
【００２５】
特に、振幅画像に加えて、位相画像を取得することができる。
【００２６】
位相画像を用いることにより、装置の各種層での熱放射および熱拡散の影響がフィルタ除去され、より高い精度で欠陥を含む位置を同定することが可能となる。
【００２７】
本発明のさらに別の実施例では、装置の欠陥を含む部分に対応するセグメントを電気的に分離するステップは、レーザ照射を用いて実施されても良い。
【００２８】
レーザ照射の使用により、いかなる電極層にも接触せずに、短絡不具合の発生する可能性を取り除くことができる。従って、そのようなセグメントを電気的に分離する間に、装置が損傷する危険性が緩和される。
【００２９】
また、完成した有機機能装置の評価および修理が可能となり、これにより、クリーンルーム、不活性ガス、真空等のような特別な処理環境を実際に設ける必要がなくなる。
【００３０】
レーザ照射は、連続的であっても良いが、パルス状であることが好ましく、レーザには、電気的分離の実施に適した設定に調整可能な、いかなるレーザを使用しても良い。そのようなレーザには、CO2−レーザおよびエキシマレーザのようなガスレーザ、またはNd−YAG−レーザおよびファイバレーザのような固体状態レーザなど、様々な種類のものが含まれる。
【００３１】
レーザ照射は、第1の透明電極層の側から、有機機能装置に適用することが有意である。
【００３２】
これにより、レーザパラメータの適切な選択により、透明であっても不透明であっても良い第2の電極層を、個々にまたは第1の透明電極層ととともにパターンすることができる。
【００３３】
レーザ照射は、基板を介して適用されても良く、この場合、第1の透明電極は、この基板の上に設置される。
【００３４】
基板は、例えば、ガラスまたは適当なプラスチックの薄膜シートであり、これは、硬質なものであっても可撓性のあるものであっても良い。
【００３５】
この方法では、密閉製品の処理を行うことも可能であり、これにより、クリーンルーム、不活性ガス、真空等の特別な処理環境の必要性がなくなる。これにより、処理を安価で信頼性の高いものにすることができる。
【００３６】
電極層セグメントは、第2の電極層から選択されても良い。
【００３７】
あるいは、第1および第2の電極層のそれぞれから、2つの対応するセグメントが選択され、レーザの設定は、これらの対応するセグメントを、それぞれの電極層の残りの部分から、同時に電気的に分離するように選定されても良い。
【００３８】
これにより、より信頼性のある短絡不具合の除去が可能となる。
【００３９】
また、レーザ処理窓が増加し、よりロバスト性のある処理が提供される。
【００４０】
以下、本発明の現時点での好適実施例を示した添付図面を参照して、本発明のこれらのおよび他の態様をより詳しく説明する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４１】
以下の記載では、発光パネルを例に本発明について説明する。これは、本発明の範囲を限定するものではなく、本発明は、同様の構造を有する多くの有機機能スタックに等しく適用することができ、例えば、有機太陽電池または有機光ダイオードに使用できることに留意する必要がある。
【００４２】
図1a乃至1cには、有機発光パネル101の第1の例が示されている。図1aには、発光パネル101の上面図が概略的に示されており、この発光パネルは、位置（xa，ya）乃至（xｇ，yｇ）に、短絡不具合の危険性を助長する多くの欠陥102a乃至102gを有する。
【００４３】
図1bには、図1aのI−I線に沿った断面図を示すが、この図では、有機機能装置101の層状構造が視認され、位置（xｄ，yｄ）、（xe，ye）に、欠陥102d、102eが示されている。有機機能層103は、第1の透明電極相104と第2の電極層105間に挟まれている。また、第2の電極層105内には、セグメント108a乃至108g（図1bでは、108dおよび108eが視認できる）が形成されており、これらは、装置の欠陥102a乃至102gを含む部分に対応する。有機機能層103と、第1および第2の電極層104、105とにより構成された有機機能スタックは、支持および保護のため、基板106および保護カバー109によって取り囲まれている。このカバー109と第2の電極層105の間には、キャビティ107が形成されている。（ここでは、装置101の一部が示されている。従ってキャビティ107は、開口に見える。しかしながら、これは装置101の境界で閉止されている。）基板106は、ガラスまたは適当なプラスチック材料であることが好ましく、カバー109は、ガラス、プラスチックまたは金属で構成されても良い。キャビティ107には、ガスが充填され、このガスは，通常窒素ガスである。
【００４４】
適当なセグメント108a乃至108gの配置をより明確に説明するため、図1cには、発光パネル101の斜視図が概略的に示されている。
【００４５】
図2a乃至2cには、有機機能装置201の第2の例が示されている。この有機機能装置は、有機発光パネル201の形態であり、第1の透明電極層104内に、追加のセグメント202a乃至202g（図2bでは、202dおよび202eが視認できる）が示されている点が、図1a乃至1cに示した有機発光パネル101とは異なっている。この差異を除き、図2a乃至2cの装置201は、図1a乃至1cに示した装置101と同じ構成であり、同じ欠陥102a乃至102gが示されている。
【００４６】
通常、有機機能層103は、いくつかの有機層を有する。有機機能装置101、201が高分子発光ダイオード（LED）である場合、有機機能層103は、ホール伝導層と発光高分子層の、実質的に2つの層スタックを有するが、さらに、発光高分子上の蒸着有機ホール遮蔽層のような、いくつかの追加層を有しても良い。
【００４７】
有機機能装置101、201が微小分子OLEDの場合、通常、有機機能層103は、より複雑なスタックとして形成され、このスタックは、ホール注入層、ホール輸送層、電子遮蔽層、発光層、ホール遮蔽層、電子輸送層、および電子遮蔽層等を有する。
【００４８】
第1の透明電極104は、インジウムスズ酸化物（ITO）、インジウム亜鉛酸化物（IZO）等により適正に構成され、あるいは透明基板上に形成された薄膜金属層で構成される。そのような金属層は、十分に薄く透明である必要があり、厚さは、5から30nmの範囲である。
【００４９】
第2の電極層105は、バリウム（Ba）、カルシウム（Ca）、アルミニウム（Al）、銀（Ag）、もしくはセレン化亜鉛（透明で導電性のもの）等、またはこれらのスタックの一つであることが好ましく、追加でフッ化リチウム（LiF）等のような注入層を有しても良い。
【００５０】
電極層（アノードおよびカソード）間に電圧が印加されると、電子は、カソード層からOLED装置の方に移動する。同時に、ホールは、アノード層からOLED装置の方に移動する。
【００５１】
正および負の電荷が合体すると、これらが再結合して光子が生じる。光子の波長および結果としてのその色は、光子が生じる位置の有機材料の特性に依存する。OLED装置では、カソード層もしくはアノード層のいずれかまたはその両方が、発生した光子に対して透明であり、このため装置から外界に光が放射される。
【００５２】
従って、有機発光パネル101、201において発光を可能にするためには、電極層104、105の間に十分な電圧が存在する必要がある。有機発光パネル101、201、および有機太陽電池のような他の種類の有機機能装置の製造の際、例えば、ピンホール、埃、または他の異物の形態で、欠陥が導入される場合がある。そのような欠陥は、それ自身が、例えば電極層104、105間の短絡102eとして現れ、または有機発光パネル101、201の作動中に、短絡を生じさせる可能性のある粒子102dとして出現し得る。
【００５３】
顧客に発光パネル101、201の発送を行うことを可能にするため、結果的に、前述の種類の欠陥102d、102e、および他の種類の欠陥に対処して、これを処理する必要がある。
【００５４】
図3には、本発明の方法が示されている。
【００５５】
最初のステップ301では、欠陥102a乃至102gを含む、有機機能装置101、201の1または2以上の部分が同定される。後続のステップ302では、第1および第2の電極層104、105の少なくとも一つのセグメント108d乃至108e、202d乃至202eが選定される。選定されたセグメント108d、202d：108e、202eは、有機機能装置101；201の欠陥含有部分102d；102eに対応する。
【００５６】
次のステップ303では、選定されたセグメント108d、202d；108e、202eが、対応する電極層105；104の残りの部分から電気的に分離される。
【００５７】
本発明による方法の第1の例では、第2の電極層のセグメント108a乃至108gがステップ302で選定され、これらのセグメントの各々は、発光パネル101の以前に同定された欠陥含有部分102a乃至102gの少なくとも一つに対応する。ステップ302での選定に続き、ステップ303では、セグメント108a乃至108gが、第2の電極層の残り部分から電気的に分離される。ステップ303での電気的分離は、レーザを用いて実施されることが好ましい。レーザは、レーザ照射が基板106を通って発光パネル101に侵入し、さらに第1の透明電極104および有機機能層103を通るように調整され、これらの層の特性は、レーザが第2の電極層105で吸収される前で変化しない。このレーザ照射により、第2の電極層内の選定されたセグメント108a乃至108gは、第2の電極層105の残りの部分から電気的に分離される。レーザ照射の一つの効果は、セグメント108a乃至108gと第2の電極層105の残りの部分との間の境界で、材料が切除されることであり、これによりセグメントと残り部分との間の電気的接続が切断される。レーザ処理の間の熱発生という別の効果により、レーザスポットの周囲で金属が溶融し、これが乾燥処理により除去され、これにより、セグメントと残りの部分の間の電気的接続が切断される。通常、第2の電極層内のセグメントの電気的分離は、これらの効果のいずれかまたは組み合わせにより得られる。
【００５８】
前述の結果を得るための適当なレーザパラメータの例は：
a）パルスNd−YAGレーザ、λ＝1064nm、パルス長：約100ns、パルス周波数5kHz、エネルギー分散：ガウス分布、平均パルスエネルギー密度1.1J／cm2、単位位置当たりのパルス数5。
b）パルスエキシマレーザ、λ＝351nm、パルス長：約20ns、パルス周波数100Hz、エネルギー分散：トップハット型、平均パルスエネルギー密度0.4J／cm2、単位位置当たりのパルス数16、
である。
【００５９】
前述の電気的分離ステップ303により、第1および第2の電極層104、105間に電圧が維持され、発光パネルが、セグメント108a乃至108gに対応する微細な非放射スポットの形態の軽微な欠陥のみを含むようにすることができる。
【００６０】
本発明による方法の第2の例では、ステップ302において、第2の電極層のセグメント108a乃至108gと、第1の透明電極層のセグメント202a乃至202gとが選定され、これらのセグメントは、ステップ301において同定された、発光パネル201の少なくとも一つの欠陥含有部分102a乃至102gに対応する。選定ステップ302の後、セグメント108a乃至108g、202a乃至202gは、ステップ303において、それぞれ、第2および第1の電極層の残りの部分から電気的に分離される。ステップ303での電気的な分離は、レーザを用いて実施されることが好ましい。レーザは、レーザ照射が基板106を通って発光パネル101に侵入し、一部が第1の透明電極層104に吸収され、有機機能層103を通るように調整され、この層103の特性は、レーザが第2の電極層105で吸収される前で変化しない。このレーザ照射により、第2の電極層の選定されたセグメント108a乃至108gは、第2の電極層105の残りの部分から電気的に分離され、第1の透明電極層の選定されたセグメント202a乃至202gは、この層104の残りの部分から電気的に分離される。第1の電極層104の局部的な加熱により、第1の透明電極層の導電性が局部的に十分に低下し、第1の透明電極層内のセグメント202a乃至202gが、第1の電極層104の残りの部分から電気的に分離されるようになる。
【００６１】
前述の結果を得るための適当なレーザパラメータの一例は：
a）パルスNd−YAGレーザ、λ＝1064nm、パルス長：約100ns、パルス周波数5kHz、エネルギー分散：ガウス分布、平均パルスエネルギー密度9J／cm2、単位位置当たりのパルス数5。
b）パルスNd−YAGレーザ、λ＝532nm、パルス長：約80ns、パルス周波数4kHz、エネルギー分散：ガウス分布、平均パルスエネルギー密度0.8J／cm2、単位位置当たりのパルス数3、
である。
【００６２】
前述の記載では、選定するステップ302は、これらのセグメントをそれぞれの電極層105；104の残りの部分から電気的に分離するステップ302を実施する前に、全てのセグメント108a乃至108g；202a乃至202gを選定するステップを含む。必要に応じて、ステップ301において、一度に一つのセグメントを同定し、ステップ302においてこれを選択し、その後ステップ303で、各層の残りの部分からこれを電気的に分離しても良い。
【００６３】
図4には、本発明による方法の好適実施例のブロック図を示す。この実施例では、まずステップ501において、発光パネル101、201の電極層104，105の間に、交流電圧が印加される。電極層104、105の間に電圧が印加されると、有機発光パネル101、201の欠陥含有部分102a乃至102gにおいて、電極層104、105間にリーク電流が流れる。この電流の流れにより、欠陥含有部分102a乃至102gに熱が生じる。ステップ501での電極層104、105間の電流印加の結果、有機発光パネル101、201の欠陥含有部分102a乃至102gに対応する多数のパルス状の熱源が得られることになる。ステップ502では、これらの欠陥含有部分102a乃至102gがIR検出器を用いて同定される。この同定には、ロックインサーモグラフィ技術が利用されることが好ましい。
【００６４】
ロックインサーモグラフィ技術とは、被検査対象物内で逸散する電力を、周波数fRで周期的に振幅変調する技術を意味する。得られる表面温度変調は、周波数fRに関連したあるフレームレート（整数）で作動するIR検出器によって画像化され、生じたIR画像は、ロックイン方式によりデジタル処理される。従って、ロックインサーモグラフィ技術の効果は、IR画像の各画素が、2位相のロックインアンプで接続されている場合と同様のものとなる。このIR検出器からの画像は、電極層104、105の間に印加される交流電圧の周波数fRの倍数の周波数nfRと同期されたコンピュータで取り込まれることが好ましい。この方法により、パルス情報および振幅情報が得られ、これにより、振幅情報のみを使用した場合よりも高い精度で、欠陥含有部分102a乃至102gの位置（xa，ya）から（xg，yg）が定められる。ステップ502において、欠陥含有部分102a乃至102gが同定されると、ステップ302において、電極層104、105の少なくとも一つのセグメントが選定され、これらのセグメントは、局部的な熱源102a乃至102gに対応する。最後にステップ303では、レーザを用いて、選定されたセグメントがそれぞれの層の残りの部分から電気的に分離される。
【００６５】
図5には、本発明による方法の好適実施例を実施する配置が概略的に示されている。ここでは、有機機能装置は、有機発光パネル401の形態であり、図1a乃至1cおよび図2a乃至2cの有機機能装置が含むものと同様の、層103乃至107と、欠陥102a乃至102g（図4では、102dおよび102eが視認できる）とを有する。この有機発光パネル401の第1および第2の電極層104、105は、パルス電圧源402と接続され、この電圧源は、コンピュータ403により制御され、ある周波数fRでパルス作動される。コンピュータ403は、同様にレーザ404およびIR検出器405とも接続される。通常、有機発光パネル401とIR検出器405の間には、レンズ配置（特定の状況に依存して、負または正の倍率を有する）が設置され、これは、この例ではマクロレンズ406の形態である。
【００６６】
本発明が前述の好適実施例に限定されるものでないことは、当業者には明らかである。逆に、添付の特許請求の範囲内で、多くの修正および変更が可能である。例えば、欠陥102a乃至102gは、前述の「ロックインサーモグラフィ技術」以外の熱技術を用いて同定されても良い。別の技術には、液晶顕微鏡技術、蛍光マイクロサーマル結像技術およびシュリーレン結像技術が含まれる。
【００６７】
またカバーが透明な場合、レーザ照射は、有機機能装置401のカバー109の側から行っても良い。
【００６８】
またここでは、電気的に分離されたセグメント108a乃至108g；202a乃至202gは、環状で示されている。当然のことながら、特定の用途に適したいかなるセグメント形状も本発明の範囲に属する。
【００６９】
本願で示した各種有機機能装置は、全て、保護カバー109およびガス充填キャビティ107を用いてた「伝統的な」方法で製造される。本発明の方法は、薄膜タイプの有機機能装置、すなわち保護カバー109とガス充填キャビティ107とが、例えばプラスチック膜またはSixOyおよびSixNyの交互多層化層の形態の保護層で置換された有機機能装置にも、等しく適用することができる。この／これらの保護層は、本発明による導電性の局部的な変更の前または好ましくは後に、加えられても良い。
【図面の簡単な説明】
【００７０】
【図１ａ】多数の欠陥含有部分および電気的に分離されたセグメントを有する、有機機能装置の第1の例の概略平面図である。
【図１ｂ】図1aのI-I線に沿った、有機機能装置の概略断面図である。
【図１ｃ】図1a、1bの有機機能装置の概略斜視図である。
【図２ａ】多数の欠陥含有部分および電気的に分離されたセグメントを有する、有機機能装置の第2の例の概略平面図である。
【図２ｂ】図2aのII-II線に沿った、有機機能装置の概略断面図である。
【図２ｃ】図2a、2bの有機機能装置の概略斜視図である。
【図３】本発明による方法を示したフローチャートである。
【図４】本発明による方法の好適実施例を示したフローチャートである。
【図５】本発明による方法の好適実施例による方法を実施する配置の概略図である。
【図１ａ】
2008545232.tif 000003
【図１ｂ】
2008545232.tif 000004
【図１ｃ】
2008545232.tif 000005
【図２ａ】
2008545232.tif 000006
【図２ｂ】
2008545232.tif 000007
【図２ｃ】
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【図３】
2008545232.tif 000009
【図４】
2008545232.tif 000010
【図５】
2008545232.tif 000011
【手続補正書】
【提出日】平成20年1月11日(2008.1.11)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第1の透明電極層と、第2の電極層と、前記第1および第2の電極層の間に挟まれた有機機能層とを有する有機機能装置内での、短絡不具合の発生を抑制する方法であって、
−前記有機機能装置の一部分を同定するステップであって、前記一部分は、短絡不具合の危険性の増大につながる欠陥を含有している、ステップ、
−前記第2の電極層のセグメントを選定するステップであって、前記セグメントは、前記一部分に対応する、ステップ、ならびに
−前記セグメントを前記第2の電極層の残り部から電気的に分離するステップであって、これにより前記欠陥に起因して生じる短絡不具合が排除されるステップ、
を有し、
前記一部分を同定するステップは、
前記両電極層の間に交流電圧を印加するステップであって、前記電圧によって、前記欠陥のため前記両電極層の間に電流の流れが生じ、前記一部分に周期的に熱が生じるステップと、
前記交流電圧の周波数に関連する周波数で作動するIR検出器を用いて、前記一部分を同定するステップと、
を有する方法。
【請求項２】
前記セグメントを電気的に分離する前記ステップは、レーザ照射を用いて実施されることを特徴とする請求項1に記載の方法。
【請求項３】
前記レーザ照射は、前記第1の透明電極層を介して適用されることを特徴とする請求項2に記載の方法。
【請求項４】
前記第1の透明電極層は、透明基板上に設置され、
前記レーザ照射は、前記基板を介して適用されることを特徴とする請求項3に記載の方法。
【請求項５】
前記第1および第2の電極層のそれぞれから、2つの対応するセグメントが選定されることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一つに記載の方法。
【請求項６】
前記対応するセグメントは、それぞれの電極層の前記残り部から、同時に電気的に分離されることを特徴とする請求項5に記載の方法。
【請求項７】
有機発光装置を製作するための、請求項1乃至6のいずれか一つに記載の方法の使用。
【請求項８】
有機太陽電池を製作するための、請求項1乃至6のいずれか一つに記載の方法の使用。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００１】
本発明は、第1の透明電極層と、第2の電極層と、前記第1および第2の電極層の間に挟まれた有機機能層とを有する有機機能装置内での、短絡不具合の発生を抑制する方法であって、前記有機機能装置の一部分を同定するステップであって、前記一部分は、短絡不具合の危険性の増大につながる欠陥を含有している、ステップ、前記第2の電極層のセグメントを選定するステップであって、前記セグメントは、前記一部分に対応する、ステップ、ならびに前記セグメントを前記第2の電極層の残り部から電気的に分離するステップであって、これにより前記欠陥に起因して生じる短絡不具合が排除されるステップ、を有する方法に関する。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００６】
従って、短絡不具合の発生を抑制する、改良されたコスト効果のある方法に対して要望がある。
【特許文献１】特開2004−199970号公報
【特許文献２】特開2002−260857号公報
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
本発明では、これらのおよび他の目的は、有機機能装置内での短絡不具合の発生を抑制する方法であって、前記一部分を同定するステップは、前記両電極層の間に交流電圧を印加するステップであって、前記電圧によって、前記欠陥のため前記両電極層の間に電流の流れが生じ、前記一部分に周期的に熱が生じるステップと、前記交流電圧の周波数に関連する周波数で作動するIR検出器を用いて、前記一部分を同定するステップと、を有する方法によって達成される。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２０】
一部分を同定するステップは、前記両電極層の間に電圧を印加するステップであって、この電圧によって、前記欠陥のため前記両電極層の間に電流の流れが生じ、前記欠陥を含む前記一部分に熱が生じるステップと、サーモグラフィック技術を用いて、前記一部分を同定するステップと、を有する。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２１】
有機機能装置の電極層の間に電圧が印加されると、通常、有機機能装置が欠陥を含む部分では、周囲領域に比べて電場がより不均一になり、より大きくなる。局部的に不均一で大きな電場により、装置のこの部分の電極層間には、周囲部分に比べてより多くの電流が流れる。電流の流れは、熱発生につながるため、IRサーモグラフィ、液晶顕微鏡技術、蛍光ミクロサーマル結像技術またはシュリーレン（Schlieren）結像技術のようなサーモグラフィック技術を用いて、欠陥を含む部分を局部的な熱源として同定することができる。電圧を印加するステップは、交流電圧を印加することにより実施され、これにより熱が周期的に発生する。前記一部分を同定するステップは、交流電圧の周波数に関連する周波数で作動するIR検出器を用いて実施されても良い。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２７】
本発明のある実施例では、装置の欠陥を含む部分に対応するセグメントを電気的に分離するステップは、レーザ照射を用いて実施されても良い。
【国際調査報告】
2008545232.tif 000012
2008545232.tif 000013
2008545232.tif 000014