(57)【要約】  高速光ドライブにおいてレーザ電流飽和（18）を防止する方法及び装置が提供される。高速光ドライブにおけるレーザ電流の飽和は、レーザパワーの極限が観測される前に防止され、システムがレーザパワーを増大させる要求を維持することを可能にする。高温及び高い書き込みパワーのとき、特にそれらが低い供給電圧と組み合わされたときに明白に現れるレーザ電流の飽和問題は、飽和の直前に保証されたレーザ動作によって回避される。レーザパワーを要求に応じて増大させ得ることが維持され、良好な書き込み品質が得られ、使用可能になる。レーザ電流飽和の潜在的な開始が検出され（34）、より低いレーザパワーを必要とする一層低い書き込み速度まで下げることによって回避され（36）、それにより、レーザ電流の飽和が防止される。
2008527705.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
回転する光媒体に照射されるレーザ光を用いる光記録システムにおいて、レーザの電流及びパワーを制御する方法であって：
少なくとも１つのレーザを監視し、該レーザによって作り出されているレーザパワーを表す信号を生成する監視段階及び生成段階；
レーザの飽和を表す所定値と対照して前記信号を測定する測定段階；並びに
前記レーザによって消費される電流がレーザ飽和領域又は電圧飽和領域に入らないように、前記レーザの電流を制御する制御段階；
を有する方法。
【請求項２】
前記制御段階は更に、前記少なくとも１つのレーザによって用いられる制御信号と電流との間の既知の関係を使用する段階を有する、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記少なくとも１つのレーザによって用いられる制御信号と電流との間の既知の関係を使用する前記段階は更に、レーザ飽和レベルが前記制御信号の所与のレベルで発生することを有する、請求項２に記載の方法。
【請求項４】
パワー設定点を低下させる段階が更に、書き込み速度を低下させる段階を有する、請求項１に記載の方法。
【請求項５】
前記監視段階は更に、前記少なくとも１つのレーザからの光を検出し、該レーザのパワーを表すフィードバックを生成する段階を有する、請求項１に記載の方法。
【請求項６】
前記制御段階は更に、前記少なくとも１つのレーザのパワー設定点を低下させる段階を有する、請求項１に記載の方法。
【請求項７】
前記監視段階は更に、電圧レベルを検出し、前記所定値と比較されるべき前記レーザによって消費されている電流を表すフィードバックを生成する段階を有する、請求項１に記載の方法。
【請求項８】
前記監視段階は更に、前記レーザの電流を監視し、前記所定値と比較されるべき該レーザによって消費されている電流を表すフィードバックを生成する電流レベルセンサーを有する、請求項１に記載の方法。
【請求項９】
前記制御段階は更に、前記回転する光媒体の速度を落とす段階を有する、請求項１に記載の方法。
【請求項１０】
前記制御段階は更に、前記所定値が超えられないように、前記回転する光媒体の速度を落とし、該回転する光媒体への書き込みを遅くする段階を有する、請求項１に記載の方法。
【請求項１１】
前記制御段階は更に、書き込みが持続されるように、前記回転する光媒体の速度を徐々に落とす段階を有する、請求項１に記載の方法。
【請求項１２】
前記制御段階は更に、線書き込み速度が一定に保持されるように、前記回転する光媒体の速度を落とす段階を有する、請求項１に記載の方法。
【請求項１３】
前記制御段階は更に、一組の所定のパラメータの少なくとも１つに従って前記所定値を変更する段階を有する、請求項１に記載の方法。
【請求項１４】
前記所定値を変更する前記段階は更に、前記一組の所定のパラメータの前記少なくとも１つに応答して前記所定値を実時間で変更する段階を有する、請求項１３に記載の方法。
【請求項１５】
集光された光スポットを光媒体上に位置付ける光学系とともに配置された少なくとも１つのレーザ；
前記少なくとも１つのレーザによって作り出されているパワーを検出し、該レーザによって作り出されているパワーを表す信号を生成するセンサー；
前記少なくとも１つのレーザが飽和しつつあることを前記信号が指し示しているかどうかを決定する測定デバイス；及び
前記少なくとも１つのレーザの電流が飽和に達しないように、該少なくとも１つのレーザの電流を維持するレーザ電流制御デバイス；
を有する光記録システム。
【請求項１６】
前記センサーは更に、レーザ光から前記少なくとも１つのレーザのパワーを表す電流を生成する光検出器を有する、請求項１５に記載のシステム。
【請求項１７】
前記センサーは更に、前記少なくとも１つのレーザによって消費されている電流を表す信号を生成する電圧レベルセンサーを有する、請求項１５に記載のシステム。
【請求項１８】
前記センサーは更に、前記少なくとも１つのレーザによって消費されている電流を表す信号を生成する電流レベルセンサーを有する、請求項１５に記載のシステム。
【請求項１９】
前記少なくとも１つのレーザが飽和しつつあることを前記測定デバイスが決定した場合に呼び出されるルーチンであり、回転する前記光媒体の速度を落とし、該光ディスク媒体への書き込みを遅くするルーチン、を更に有する請求項１５に記載のシステム。
【請求項２０】
前記ルーチンは更に、前記少なくとも１つのレーザが飽和しつつあることを決定する前記測定デバイスによって使用される一組の所定のパラメータの少なくとも１つを実時間で変更することを有する、請求項１９に記載のシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は半導体レーザの電圧−電流特性に関し、より具体的には、光ディスク技術にて使用される半導体レーザの書き込み中の飽和を防止することに関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクにて使用される半導体レーザは光学媒体への情報の書き込みを駆動する。半導体レーザはダイオードと同様の電圧−電流特性を有する。例えば、光ディスク読取機で用いられるレーザにおいては、約1mAの電流入力はレーザにて約0.7Vの電圧降下を生じさせる。この電圧降下はレーザの波長及び組成／構造に応じて一層大きくなり得る。レーザに加わる電圧はそれぞれの電流の増加に伴って上昇する。電気抵抗がレーザにかかる電圧の上記の上昇をすぐさま決定付け、この電気抵抗は一般的に微分抵抗と称される。半導体レーザはまた、或る電流レベル（閾値電流として知られる）に到達するまでレーザ光が放射されないこととなるパワー−電流特性を有する。閾値電流以上では、飽和に到達するまで、パワーレベルは対応する電流の増大に伴って実質的に線形に増大する。飽和は一層高いパワーレベルで起こり始め、レーザ特性をシフトさせ、レーザから同一のパワーを得るのに一層大きい電流が印加されることを必要とする。飽和の問題は温度が高いと起こりやすくなる。また、システムはレーザが長期にわたって飽和まで過度に駆動されることを許していない。何故なら、そのように駆動することはレーザの寿命に悪影響を及ぼすからである。
【０００３】
レーザは典型的に、供給レールに取り付けられた電流源を有するドライバによって駆動される。レーザのピーク電圧は、電流源がレーザパルスのピークにおける飽和限界に到達するレベルまで、供給レールへの対応するピーク電流入力の増大に伴って上昇する。飽和に到達すると、供給電圧が増大されない限り、電流源の駆動設定を変化させることによって電流を更に増大させることは不可能である。
【０００４】
従来のドライブは、いったん最適パワー較正（optimum  power  calibration；ＯＰＣ）が決定されるとＯＰＣによって決定されたレーザパワーが常に達成され得るという前提に基づいて設計されている。現在作成中の新たなクラスの光ドライブにおいては、上記の前提は妥当でないことに問題が存在する。これらの新たなドライブは、一般に、パーシャルＣＡＶ（角速度一定）（ＰＣＡＶ）書き込みプロファイルを採用している。ＰＣＡＶ書き込みプロファイルにおいては、ＯＰＣはディスクの外側に書き込む際の書き込み速度より遅い書き込み速度にて決定されるのが通常である。ディスクの外側に書き込むことは一層大きいレーザ電流を必要とする。これらの遅い書き込み速度において印加される書き込みパワーは非常に高く、書き込み処理中に温度がかなり上昇し、レーザ電流の要求を同様に急激に増大させることになり得る。１６倍速ドライブの開発における試験により、レーザパワーは或る特定の条件下では最大書き込み速度で減少し得ることが示されている。このレーザパワーの減少は１６倍速ドライブによっては検知不能であり、ドライブに未知の乏しい書き込み品質及び劣悪な記録をもたらす。
【０００５】
飽和の問題を補正するための試みが為されてきた。これらの試みは、書き込み処理中に媒体（メディア）を積極的に監視する技術を採用してきた。ゾーンＣＬＶ（線速度一定）（ＺＣＬＶ）を用いて書き込むドライブにおいては、これら従来技術は媒体を監視することを含んでいる。ＺＣＬＶを用いて監視する際、媒体への書き込み中にエラーが生じ始めると、駆動速度ひいては要求されるレーザパワーが低減され得る。ＺＣＬＶを用いると、従来技術は媒体の異なるゾーンでレーザパワーを低減させることを必要とする。ＣＡＶを用いて書き込むドライブにおいては、同様の技術が用いられるが、ゾーンにて調整が為される代わりに、このドライブはレーザパワー及び媒体速度を常に再調整する。加えて、ドライバ内の熱的回路の監視により、レーザ飽和が発生する可能性を正すための試みが為されてきた。熱的回路が作動すると、ドライブは書き込み速度及びレーザ強度を低減させる。これら従来技術の手法に伴う問題は、レーザ飽和の実際の閾値が考慮されず、レーザ飽和を防止するこれら作用が存在しないことであり、光ディスクに書き込みを行う真に効果的な手法を提供しない。
【０００６】
以上の議論から、レーザ飽和を一層効果的に防止することが可能な方法及び装置へのニーズが技術的に残されたままであることは明らかである。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明は、レーザ電流の飽和を防止するために従来技術の欠点を解消し、光ディスク媒体への書き込みに際し、飽和領域の境界で動作することを可能にする方法及び装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
飽和領域の境界での動作は、所与の時点で実用的であり且つその所与の時点で実用的な最大書き込み速度を実現する、最大限のピークレーザパワーが使用され得ることを意味する。書き込み中のレーザ電流の飽和による劣悪な記録の問題は、レーザ電流飽和の潜在的な発生を検出してレーザ電流飽和を回避し、より低速で書き込むこと、そして更に最適には、利用可能な飽和領域の境界でのピークレーザパワーに整合する速度で書き込むことによって防止される。
【０００９】
本発明は、差し迫ったレーザ電流飽和を検出し、書き込み速度を制御して低下させることにより、レーザ電流飽和に関する問題を回避するものである。
【００１０】
レーザ電流はレーザパワー制御ループの一部を用いて検知される。パワー制御ループ内の閾値検出レベルを設定し、電流又はパワーの飽和が起こらないようにレーザパワーを制御することにより、検出は達成される。本発明は、故に、電流又はパワーの飽和が起こらないように書き込み速度を閾値以下に維持することによって書き込み速度を最大化する。
【００１１】
閾値の超過を検出すると、ドライブのソフトウェアは該ドライバのデータパス部内でスピンダウンを開始する。この手順において、処理中のデータブロックはその時の書き込み速度で書き込まれ、リンク点が作り出され、書き込みがより低速で再開される。この低下された速度は直ちにレーザパワー要求の低下、故に、レーザ電流要求の低下をもたらす。
【００１２】
他の例では、ドライブは書き込み処理を中断させることなく書き込み速度を小さい（増分又は連続）量だけ低下させることにより反応することができる。他の一実施形態においては、ドライブは、書き込み速度をその時の値に保持して、所与の書き込み速度での（Ｐ）ＣＡＶ書き込みプロファイルからＣＬＶ書き込みプロファイルへと移ることにより反応する。
【００１３】
これらの本発明の目的は：レーザの電流を監視する段階；レーザの電流を所定の閾値と比較する段階；及びレーザの電流が所定の閾値を超えないようにレーザの電流を制御する段階；によって実現される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
図１を参照するに、レーザ電流（Ｘ軸）に対するレーザパワー及び電圧特性（Ｙ軸）が例示されている。レーザのパワー特性はPlaser(T1)14及びPlaser(T2)16として示されている。レーザ電圧はVlaser12により指し示されている。図１に示されるように、レーザによってパワーが出力されるには、ある一定量のレーザ電流（Ilaser）が必要とされる。このレーザのパワー−電流特性により、（閾値電流として知られる）或る電流レベルに到達するまでレーザ光は放射されないことになる。閾値電流に到達すると、飽和に到達するまで、レーザのパワーレベルは対応する電流増加に伴って線形に増加する。図１において、飽和は飽和ライン18として指し示された位置で起こり始めている。飽和ライン18のレベル以上では、飽和ライン18により指し示されるレベル未満で得られるのと同じパワー増加を得るために、より多量の電流が必要とされる。パワーレベルが飽和ライン18により示されるレベルを上回ると、レーザ特性にズレが生じ、レーザから同一のパワーレベルを得るためには一層大きい電流が印加されることを必要とする。飽和が開始するとはこういうことである。図１に例示されるように、レーザパワー特性Plaser(T1)14及びPlaser(T2)16は互いに対してオフセットされている。このオフセットは、第１の温度T1でのPlaser(T1)14と第２の温度T2、ただしT2＞T1、での同一のレーザの特性Plaser(T2)16とを説明している。図１に示されるように、Plaser(T2)16は絶えず、同一のパワーレベルを得るために一層多くの電流を必要とし、飽和問題は温度が高いほど容易に発生する。
【００１５】
図１から明らかなように、レーザに基づくドライバシステムは飽和ライン18により示されるレベル以上で問題となり、所望の書き込みパワーを生成するのに必要なレーザ電流が大き過ぎてレーザ電圧を更に増大させられないレベルに到達した状態となる。このとき、システムは更なる電流の増加に応答できなくなり始め、レーザはレーザパワーの増大要求にもはや応じることができない状況になる。正確な書き込みが保証されるべき場合、書き込みは低減されたレーザ電流を用いて行われなければならない。書き込み速度を低下させることは、書き込みに必要なパワー、及びその書き込みパワーを生成するのに必要なレーザ電流を低下させる効果を有する。なお、簡単にするため唯一の電圧ラインVlaser12のみが図示されているが、より高温ではレーザの閾値電圧及び抵抗が小さくなり、該ラインを典型的に、傾きを低下させながら下方にシフトさせることになる。
【００１６】
大きいレーザ電流は主として温度の上昇と書き込み速度の上昇とによって引き起こされる。パーシャル一定角速度（ＰＣＡＶ）プロファイルを用いるシステムの場合、書き込みは媒体の中心近くでの低めの初期速度で開始し、媒体の外端部に向かって高めの最終速度まで上昇し、温度と書き込み速度とを同時に上昇させることになる。さらに、ＰＣＡＶプロファイルは、媒体の外側での書き込みがシステムにて使用される最大書き込み速度で行われることを必要とする。これはレーザの最適パワー較正（ＯＰＣ）範囲の極限状態である。
【００１７】
一定線速度（ＣＬＶ）プロファイルを用いるシステムにおいては、温度と書き込み速度との上昇に関する問題は上記のような程度までは発生しない。何故なら、書き込みパワーはＯＰＣに固定されるからである。ＣＬＶプロファイルでは、記録中の温度上昇のみが飽和問題を生じさせ得る。
【００１８】
図３は、レーザが飽和に近付いていることを検査するためにレーザ電流を調べる、本発明が用いる好適手法を例示するフローチャートである。本発明は、レーザパワーが飽和限界に到達した、あるいは到達しようとしている瞬間を検出する飽和安全策がシステム内に構築されることを意図するものである。この安全策ルーチンは、過大なレーザ電流30に入ることにより開始し、実デルタ検査（Check_Delta_Actual）32が、好ましくはほぼ毎秒、使用中のレーザ電流の検査を実行する。実デルタ検査ルーチンは図４に詳細に示されている。この安全策は、好適な実施形態において８ビットのデジタルシステムにおける値250によって表されるピークレーザ電流の最大レベルとして、最大許容値（Max_Allowable_Value）と呼ばれるプログラム可能な値を用いる。最大許容値は典型的に約2.5mAになるであろう。ＬＤＤには電流傾斜（I_slope）の値がレーザの最大要求値K×I_slopeに適合されることを可能にするスケーリングＤＡＣが存在する。典型的な動作では、Ｋの最大値は120であるが、40から120の範囲内で安全に設定されることが可能である。斯くして、ここではI_slopeと呼ばれる参照値は典型的に0から2.5mAの間で作用し、ＬＤＤは閾値を上回るピークレーザ電流を生成する好適な実施形態においてI_slopeの値を係数Kだけ増幅する。ピーク電流はピークレーザパルスパワーを生成するのに必要な電流である。実デルタの最大許容値が到達されると、レーザ電流が大きく、飽和に達したことは明らかであるとの決定が為され、またルーチンは、コールバック機構を介してデータパスからスピンダウンアルゴリズムを起動するコールバック・ツー・データパス（Callback  to  Datapath）36を開始する。ここで呼ばれるように、データパスはホスト（典型的に、パーソナルコンピュータに基づく処理要素）から符号器への情報の流れを制御するドライバにおける処理である。データパス処理は、ホストデータが符号化される速度を決定することを含め、書き込み速度を制御することができる。本発明は、レーザ電流が過大であるためデータパスが動作の進行を決定できる状況が発生したことをデータパス処理に指し示す。コールバックへのデータパスの反応はスピンダウンアルゴリズムによることが非常に多い。何故なら、典型的な用途では、データパスはディスクの回転速度を低下させ、より低速で光ディスク媒体に書き込むことによって書き込み速度を低下させるからである。より短いディスク書き込み時間によってスループットを増大させることを可能にする一層こじつけ的な方法を含め、更なる方法がデータパスによって行われ得る。ＣＡＶ的な書き込みモードにおける一手法は、現時の書き込み速度を保持する（この時点から基本的にＣＬＶ書き込みモードに入る）ことであり、記録を中断する必要なく回転速度が自動的且つ円滑に低下させられる。ＣＬＶ／ＺＣＬＶ記録モードにおける他の一手法は、記録処理を中断することなく、より低い新たな速度まで回転速度を徐々に低下させることである。
【００１９】
本発明の好適な実施形態においては、スピンダウンアルゴリズムが最小限の頻度で起動することを保証するように手順が設定される場合、製品性能は最大化されることが可能である。レーザ飽和の決定が最小限の頻度で発生することを確保するため、ドライバ内のレーザパワー調整（Laser  Power  Adjustment；ＬＰＡ）は、先ず、検出レベルに留意しながら10％と同程度の調整の広がりを可能にする程度に再定義される。これらの広がりは、ドライバ、及びI_slopeとレーザパワーとの間の関係における調整公差に起因するものである。以上は、オーブンを用いた開発段階で行われた測定に基づいて決定されたものである。これら検査に基づいて、（各々且つ全ての色の）レーザパワーのＬＰＡ設定は、これを達成するように調整された。この手順は、誤ったスピンダウンの潜在原因としての調整広がりを排除する働きをする。
【００２０】
図２Ａは、本発明によって意図される、レーザパワーを検知するために使用されるフィードバックループを有するレーザ駆動システムを示している。これは本発明に係る現時点での構成である。レーザパワーの検出は前方センス（ＦＳ）27によって行われ、ＦＳ27はレーザパワー制御（ＬＰＣ）23への帰還信号28を生成する。前方センス27は、好ましくは、レーザ出力の線形な割合を有する小さい部分を検出してその時のレーザパワーを表す帰還信号28を送る光検出器である。レーザパワーの決定のために用いられ得る検出手法は更に数多く存在する。前方センス制御は直接的にＬＰＣ23に進んでもよいし、あるいはＬＤＤ24を介してもよい。他の一変形例は、ＦＳ27がＰＤＩＣによって形成され、直接の電圧又は差動電圧をＬＰＣに供給する。なお、進行中の、あるいは差し迫ったレーザ飽和状態の決定を行うためにレーザパワーを表すフィードバックを伝達する手法は数多く存在する。“過大なレーザ電流”の決定を行うために使用されるレーザ電流の検出は次のようにして行われる。ＬＰＣはＦＳ帰還信号によって供給される情報を用いて、レーザがパワーを生成することを確実にする。これは制御器の出力信号（閾値電流I_threshold、電流傾斜I_slope）によって行われる。好適な実施形態において、信号I_slopeはレーザ閾値以上で必要とされる実際のレーザ電流に正比例する。故に、“過大なレーザ電流”は、制御器がI_slopeに設定したこの値を観察し、それが所定値を超えたときに反応することによって検出される。当業者に明らかなように、例えば電流検知デバイス等の他の検出手法もレーザ飽和レベルを決定するために使用され得る。さらに、当業者に理解されるように、光ディスク記録システムにおいては複数のレーザが使用されてもよく、そのような例では、前方センス27はその時のレーザのレーザパワーを検出することになる。複数のレーザ光源の一実施形態における前方センスは、複数のレーザの全てに対して単一の検出素子としてもよいし、あるいは複数の検知素子としてもよい。ＬＰＣ23内の回路はI_slope及びI_thresholdの信号を、ＰＣの５Ｖ電源22によって給電されるレーザデバイスドライバ（ＬＤＤ）24に供給する。
【００２１】
（青色レーザシステムに特に魅力的な）本発明の代替的な一実施形態は、電流シンク（sinking）ドライバを有するフローティング型レーザを使用する。これにより、ＬＤＤ自体は5V又はそれ未満を供給され、それによりもたらされる全ての利点を有したままで、青色レーザは高電圧（例えば、8V）に結合されることが可能になる。なお、I_slopeはＬＤＤによるレーザからのレーザ電流の減衰と関係を有する。当業者に明らかなように、図２Ａ（例えば、ＣＤ及びＤＶＤのレーザ）のようなソース電流及び図２Ｂ（例えば、青色レーザ）のようなシンク電流の何れかであるＬＤＤ出力を伴う複数出力のレーザドライバを有する複数レーザシステムでは、全ての場合にI_slopeが（ＬＤＤによってソースされるかシンクされるかの）レーザ電流を反映するとき、複合型システムが形成されることができ、故に、本発明は全てのレーザに対して機能する。
【００２２】
図２Ｂは、代替実施形態に従って意図される、本発明の集光及びトラッキング実施形態用の信号を生成するための半導体レーザ回路である。なお、本発明の将来的な構成は図２Ｂに示される構成に類似の代替構成を用いることになるであろう。従って、図２Ｂは本発明を実施するために意図されるベストモードを構成する。図２Ａに関連して詳述されたように、レーザパワーの検出は、レーザパワー制御（ＬＰＣ）への帰還信号を生成する前方センスによって行われる。前方センスは、好ましくは、レーザ出力の線形な割合の小さい部分を検出してその時のレーザパワーを表す帰還信号を送る光検出器である。この半導体レーザドライバ回路は、好ましくは、図２Ａに例示されたようなＬＤＤ24及びレーザ26のために使用される。図２Ｂの回路は電流源素子の代わりに電流シンク素子を用いている。レーザL1は、供給電圧VSOに接続されたアノードと、レーザ電流ドライバ10に接続されたカソードを有している。レーザ電流ドライバ10はレーザL1からの電流を電流シンク素子を介してグランドへと流す。レーザ電流ドライバ10の出力における電圧はVoutと称され、図３に矢印7で示されている。電圧VoutはレーザL1での電圧降下のため電圧VSOより小さい。
【００２３】
“過大なレーザ電流”の状況は、ここで説明されるように、実験に基づいて実証された存在である。これらの実験は、65℃のオーブン内の非常に高い温度を含め、通常の使用のための仕様の範囲外の温度で行われたものである。これらの実験により、システムは、レーザパワーとI_slopeとの間の関係が主パワー制御器の書き込みパワー制御信号（I_slope）の極限まで維持されるように設定され得ることが明らかにされている。好適な実施形態における主パワー制御器はメインのプリント回路基板（ＰＣＢ）上に配置される。書き込みパワー制御信号（I_slope）は通常、次の関係式に従って、レーザドライバ内で形成される閾値以上のピーク電流を制御する：
K×I_slope＝Ilaser_peak_total−I_threshold．
ただし、KはI_slopeとＬＤＤ出力との間の増幅率である。Ｋは典型的なレーザパワー出力を電流に対して測定することによって決定され、所与のＯＰＵ出力を所与のI_slope値に関連付けることによって、ドライバ較正中に微調整されることが可能である。Ilaser_peak_totalはレーザの最大電流であり、I_thresholdはレーザの閾値電流である。
【００２４】
好適な実施形態において、（バイアスパワーに対する）レーザピークパワーは、メインＰＣＢ上のＬＰＣから送られた書き込みパワー制御信号（I_slope）に関するアナログの参照値によって設定される。ＯＰＵ上で、書き込み方法生成器からの制御信号により駆動されるＤＡＣ機能によって、ピーク値とバイアスとの間の全ての他のパワー値が作り出される。これにより、エンジンがI_slopeの極限値を検出基準として使用することが可能になる。レーザパワー制御フィードバックループ28は、必要とされるレーザパワーがＬＰＣ23内にある制御器の設定点に従って作り出されることを確実にし、それによって、I_slopeは実時間で制御される。好適な実施形態においては、本発明による検出基準として、読み取られる実デルタ（Delta_Actual）のデジタル値が使用される。実デルタが最大許容値（Max_Allowable_Value）に達すると飽和の閾値限界が到達される。好適な実施形態における最大許容値は約2.5mAである。好適な実施形態において、最大許容値は８ビットシステムのバイナリー値250に設定される。これらに限られないが、様々なレーザに対する異なる最大許容値、最大許容値の異なるデジタル表記を含む数多くの変形例が、当業者に容易に明らかになるであろう。堅牢性を実現するため、所与の検査点の何れかに対して多数の実デルタサンプルが採られ、これらの或る一定の割合が最大許容値になった（あるいは上回った）後でのみ、“過大なレーザ電流”を指し示すことによってコールバックが起動される。好ましくは、多数の実デルタサンプルの平均値が導出され、最大許容値と比較される。他の例では、多数の実デルタサンプルの中央値も使用され得る。
【００２５】
好ましくは、実デルタ検査32が実行された後、段階34にて、レーザ電流が過大である状態が存在するかどうかを検出するために、システムは多数の実デルタサンプルの平均値を閾値（最大許容値）と比較する。レーザ電流が過大である状態が存在する場合、コールバック・ツー・データパス36への分岐が為され、コールバック・ツー・データパス36はアプリケーション・プログラム・インターフェース（ＡＰＩ）インターフェースの“過大なレーザ電流”ビットによってデータパスにコールバックを送る。“過大なレーザ電流”を検出したことによりシステムがコールバックを開始すると、データパスはスピンダウン手順によって応答すべきである。
【００２６】
図４は、実デルタ検査40を実行する好適な手法を例示するフローチャートである。実デルタの読み取り・保管42は、15個の異なるレーザ電流サンプル毎にレーザ電流レベルをサンプリングする。15個のサンプルが採られると、決定ブロック44は処理を平均計算46へと渡し、平均計算46は15個のレーザ電流サンプルの平均値を計算する。平均値が所定の閾値より大きい場合、コールバック・ツー・データパス36はスピンダウンアルゴリズムを開始する。
【００２７】
図５は、図３にて開始されたコールバック・ツー・データパスによって実行される、本発明によって意図されるように光ディスクのスピンダウンを実行する方法のフローチャートである。レーザ電流がレーザを飽和状態に駆動しそうなレベルにある、あるいは既にそうしているレベルにあるとの決定を受け、コールバック・ツー・データパスは参照符号50に入る。スピンダウンアルゴリズムは50が入ると、潜在的なレーザ飽和状態が検出されたことを指し示す中断が設定されたかどうかを検証するために、過大電流中断設定52が検査を行う。過大電流中断設定52がこの中断が設定されたことを確認すると、スピンダウン実行54が実行される。スピンダウン実行54は、その光ディスク書き込みシステムで採用されている書き込み速度制御方式に従って書き込み速度を変化させる。ＣＡＶ方式の場合、好ましくは、その時の速度が保持され、ＣＬＶ書き込みモードへの移行が行われる。スピンダウン実行54が実行された後、“過大レーザ電流”中断解除が中断をリセットする。処理は終了58され、図３に示されるように戻される。
【００２８】
本発明は、光学書き込みシステム、特に、例えば青色レーザに基づくシステム等の高速データ書き込みシステムに適用される。本発明は単一の書込器に基づくシステム及び複数の書込器に基づくシステムにて実現され得るものである。さらに、複数の書込器に基づくシステムは、青色、緑色、赤色、赤外、又はレーザの任意の組み合わせを用いて実現されることが意図される。
【００２９】
以上の記載は、本発明者によって最も好ましいとされる本発明の実施形態を説明したものである。上述の実施形態の変形例が容易に当業者に明らかになるであろう。故に、本発明の範囲は添付の請求項によって判定されるべきものである。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】レーザのパワー特性を例示する図である。
【図２Ａ】レーザに電流を供給する古典的なドライバ構成を用いた、センサー及びフィードバックループを有するレーザを示す図である。
【図２Ｂ】レーザから電流を低減させるドライバ構成を用いた、センサー及びフィードバックループを有するレーザによる図２Ａの代替例を示す図である。
【図３】レーザ電流が過大であるかどうかを決定するためのフローチャートである。
【図４】レーザ電流を計算するためのフローチャートである。
【図５】本発明によって意図されるように光ディスクのスピンダウンを実行する方法を示す図である。
【図１】
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【図２Ａ】
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【図２Ｂ】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【国際調査報告】
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