(57)【要約】  磁気的に解放可能なタック保持システムを有する電子的物品監視セキュリティ（１０２）及びそれに用いる磁気取り外しデバイスのためのシステム、装置（１００）、及び方法を説明する。他の実施態様も説明し請求されている。【選択図】図５
2008523462.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
セキュリティタグであって、
タック保持システムを保持する第１の区画を有する取り付け端部であり、前記タック保持システムは楔及びラバースプリングを含み、これら楔及びラバースプリングは、タックアセンブリを保持すると共に、前記取り付け端部が磁界に晒されると前記タックアセンブリを解放するように構成されている取り付け端部と、
電子的物品監視センサを収容するための第２の区画を有する検出端部とを備えるセキュリティタグ。
【請求項２】
請求項１のセキュリティタグにおいて、第１の区画が壁を有し、前記楔が第１及び第２の端部を有し、前記ラバースプリングが第２の端部を前記壁に対して付勢するように配置されているセキュリティタグ。
【請求項３】
請求項１のセキュリティタグにおいて、第１の区画が楔止めを有し、前記ラバースプリングが前記第１の端部を前記楔止めに対して付勢するセキュリティタグ。
【請求項４】
請求項２のセキュリティタグにおいて、第１の端部がタック保持縁部に向かってテーパーをなす傾斜面を有するセキュリティタグ。
【請求項５】
請求項４のセキュリティタグにおいて、前記タックアセンブリがタックシャフトを有し、前記タックシャフトが溝を有し、前記タックシャフトが前記取り付け端部内に挿入されると前記溝が前記タック保持縁部に接触するセキュリティタグ。
【請求項６】
請求項５のセキュリティタグにおいて、前記タック保持縁部が、前記タックシャフトの前記溝の周囲に窪んだ半円状の棚を形成するセキュリティタグ。
【請求項７】
請求項５のセキュリティタグにおいて、前記溝が溝リップを有し、前記タックシャフトが前記取り付け端部内に挿入されると、前記ラバースプリングが前記タック保持縁部を前記溝内に付勢し、前記溝リップが前記タック保持縁部に接触することにより、前記タックアセンブリが前記取り付け端部から抜けないように係止状態を形成するセキュリティタグ。
【請求項８】
請求項５のセキュリティタグにおいて、前記磁界が第１の端部を前記溝から磁気面に向けて引き離すことによって前記タックシャフトを解放するセキュリティタグ。
【請求項９】
請求項５のセキュリティタグにおいて、前記タック保持システムが再利用型として構成されているセキュリティタグ。
【請求項１０】
請求項９のセキュリティタグにおいて、前記楔が第１のアクセル突起及び第２のアクセル突起を更に備え、第１の区画が、第１及び第２のアクセル突起をそれぞれ受け入れるための第１の凹部及び第２の凹部を有するセキュリティタグ。
【請求項１１】
請求項１０のセキュリティタグにおいて、前記タックシャフトを保持するために第２の端部を中心として前記楔を枢動させ、前記タックシャフトが前記取り付け端部から取り外された後は前記ラバースプリングが前記楔を押して休止状態にさせるように、第１の凹部及び第２の凹部が第１及び第２のアクセル突起を収容するセキュリティタグ。
【請求項１２】
請求項５のセキュリティタグにおいて、前記タック保持システムが使い捨て型として構成されているセキュリティタグ。
【請求項１３】
請求項１２のセキュリティタグにおいて、前記磁界が第２の端部を前記壁から引き離し、前記ラバースプリングが第２の端部を前記タックシャフトに向けて押すことによって、第２の端部が前記壁のレッジを越えるセキュリティタグ。
【請求項１４】
請求項１３のセキュリティタグにおいて、前記磁界が磁気面に実質的に直交する位置まで前記楔を引き寄せるセキュリティタグ。
【請求項１５】
請求項２のセキュリティタグにおいて、第１の端部が磁気取り外しデバイスに対する取り外しデバイス界接面を有するセキュリティタグ。
【請求項１６】
請求項１５のセキュリティタグにおいて、前記取り外しデバイス界接面が前記磁気取り外しデバイスのタグ界接面に対応しているセキュリティタグ。
【請求項１７】
請求項１のセキュリティタグにおいて、前記楔が、枢支縁を実質的に中心として揺動するための充分な隙間をもって第１の区画内に配設されているセキュリティタグ。
【請求項１８】
楔及びラバースプリングが内部に配設された第１の区画を備えるタック保持システムであって、
前記ラバースプリングが、前記楔を付勢してタックアセンブリを保持し、前記取り付け端部が磁界に晒されると前記タックアセンブリを解放するように構成されているタック保持システム。
【請求項１９】
請求項１８のタック保持システムにおいて、第１の区画が壁を有し、前記楔が第１及び第２の端部を有し、前記ラバースプリングが第２の端部を前記壁に対して付勢するように配置されているタック保持システム。
【請求項２０】
請求項１８のタック保持システムにおいて、第１の区画が楔止めを有し、前記ラバースプリングが第１の端部を前記楔止めに対して付勢するタック保持システム。
【請求項２１】
請求項１９のタック保持システムにおいて、第１の端部がタック保持縁部に向かってテーパーをなす傾斜面を有するタック保持システム。
【請求項２２】
請求項２０のタック保持システムにおいて、前記タックアセンブリがタックシャフトを有し、前記タックシャフトが溝を有し、前記タックシャフトが前記取り付け端部に挿入されると前記溝が前記タック保持縁部に接触するタック保持システム。
【請求項２３】
請求項２２のタック保持システムにおいて、前記溝が溝リップを有し、前記ラバースプリングが前記タック保持縁部を前記溝内に付勢し、前記溝リップが前記タック保持縁部に接触することによって係止状態を形成するタック保持システム。
【請求項２４】
請求項２２のタック保持システムにおいて、前記磁界が第１の端部を前記溝から磁気面に向けて引き離すことによって前記タックシャフトを解放するタック保持システム。
【請求項２５】
請求項２２のタック保持システムにおいて、前記タック保持システムが再利用型として構成されているタック保持システム。
【請求項２６】
請求項２５のタック保持システムにおいて、前記楔が第１のアクセル突起及び第２のアクセル突起を更に備え、第１の区画が、第１及び第２のアクセル突起をそれぞれ受け入れるための第１の凹部及び第２の凹部を有するタック保持システム。
【請求項２７】
請求項２６のタック保持システムにおいて、前記タックシャフトを保持するために第２の端部を中心として前記楔を枢動させ、前記タックシャフトが取り外された後は前記ラバースプリングが前記楔を押して休止状態にさせるように、第１の凹部及び第２の凹部が第１及び第２のアクセル突起を収容するタック保持システム。
【請求項２８】
請求項２２のタック保持システムにおいて、前記タック保持システムが使い捨て型として構成されているタック保持システム。
【請求項２９】
請求項２８のタック保持システムにおいて、前記磁界が第２の端部を前記壁から引き離し、前記ラバースプリングが第２の端部を前記タックシャフトに向けて押すことによって、第２の端部が前記壁のレッジを越えるタック保持システム。
【請求項３０】
請求項２９のタック保持システムにおいて、前記磁界が磁気面に実質的に直交する位置まで前記楔を引き寄せるタック保持システム。
【請求項３１】
磁気取り外しデバイスであって、
磁界を発生させる磁石と、
前記磁石を収納するハウジングとを備え、前記ハウジングは、タック保持システムを有するセキュリティタグのタグ界接面に対応する取り外しデバイス界接面を含み、前記タック保持システムは楔及びラバースプリングを含み、これら楔及びラバースプリングは、タックアセンブリを保持し、前記取り付け端部が前記磁界に晒されると前記タックアセンブリを解放するように構成されている磁気取り外しデバイス。
【請求項３２】
請求項３１の取り外しデバイスにおいて、前記タグ界接面が前記セキュリティタグのためのタグ突起を含む取り外しデバイス。
【請求項３３】
請求項３２の取り外しデバイスにおいて、前記取り外しデバイス界接面が前記タグ突起を受け入れるように構成されている取り外しデバイス。
【請求項３４】
請求項３３の取り外しデバイスにおいて、前記タグ界接面及び前記取り外しデバイス界接面が、前記セキュリティタグの前記タック保持システムを前記磁石の前記磁界内に位置付けるように構成されている取り外しデバイス。
【発明の詳細な説明】
【関連出願】
【０００１】
本出願は、米国仮特許出願第６０／６２８，７３０号（２００４年１１月１７日出願、発明の名称"Ｍａｇｎｅｔｉｃａｌｌｙ  Ｒｅｌｅａｓａｂｌｅ  Ｇｒｏｏｖｅｄ  Ｔａｃｋ  Ｃｌｕｔｃｈ  Ｆｏｒ  Ｒｅｕｓａｂｌｅ  Ａｎｄ  ＮｏｎＲｅｕｓａｂｌｅ  Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎｓ"）の優先権を主張しており、その内容全体が参照によってあらゆる目的のために本願に組み込まれている。
【背景技術】
【０００２】
電子的物品監視（ＥＡＳ）システムは、管理区域からの物品の不正な持ち出しを防止するために設計される。一般的なＥＡＳシステムは、監視システムと、一つ又は複数のセキュリティタグとを備えている。この監視システムは、管理区域に対するアクセス点に監視領域を形成する。衣類又は衣料品などの監視対象物品には、セキュリティタグが留め付けられる。監視対象物品が監視領域に入ると、管理区域からの監視対象物品の不正持ち出しを通知する警報が発動される。
【０００３】
衣料品へセキュリティタグを取り付けるには、代表的には、大きな頭部を有する金属タックが用いられている。取り付け操作時は、生地を通してタックをセキュリティタグのタック軸穴に挿入することによって、タックシャフトが確実に保持される。取り外し操作時には、売り場でタグをセキュリティタグ及び衣類から取り外す。
【０００４】
セキュリティタグは、二種類のうちの一方からなるのが通例である。一方のタイプのセキュリティタグは、再利用可能型セキュリティタグとして設計できる。例えば、セキュリティタグの完全性を外部的又は内部的に実質的に損なわずに、セキュリティタグを売り場で監視対象の物品から取り外せる。取り外した再利用可能型タグは、別の物品に再び取り付けることができる。他方のタイプのセキュリティタグは、使い捨て型セキュリティタグとして設計される。例えば、セキュリティタグを売り場で監視対象物品から取り外すと、通常はセキュリティタグの完全性が損なわれる。一旦取り外した使い捨て型セキュリティタグは、他の物品に再び取り付けることはできない。
【０００５】
両タイプのセキュリティタグは、幾つかの理由により不具合なこともある。例えば、従来の再利用可能型セキュリティタグは、監視対象の物品へ連続的に取り付け及び取り外す過酷な条件に充分に耐えられるように製造されるため、比較的高価になり得る。但し、使い捨て型セキュリティタグは、所定のセキュリティシステムに対する設計制約条件を満たすほど安全又は経済的でないこともある。従って、これらの問題及び他の問題を解決するために改良されたＥＡＳシステムに対する要請がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００６】
一部の実施形態は、セキュリティシステムを対象とする。このセキュリティシステムは、例えばＥＡＳシステムを含む。ＥＡＳシステムは、セキュリティタグと、取り外しデバイスと、監視システムとを含み得る。通常の運用において、セキュリティタグは、セキュリティタグが監視対象の監視領域内にあるときに検出可能な信号を発信するためのセンサを含んでもよい。このセキュリティタグは、衣類又は衣料品などの監視対象の物品に取り付けられる。このセキュリティタグは、取り外しデバイスによって物品から取り外せる。監視システムは、管理区域でこの信号を監視することによって、セキュリティタグの付いた監視対象の物品が管理区域から持ち出されていないことを確認できる。
【０００７】
様々な実施形態は、再利用可能型及び使い捨て型の両セキュリティタグの使用に対応できるシステムを含む。近代的なハイパーマーケットタイプの小売店に対しては、両タイプのタグの使用に対応できるシステムが望ましいこともあろう。安価な物品の所在の監視は安価な使い捨て型セキュリティタグで経済的になす一方で、高価な物品の所在はより高価な再利用可能型タイプのセキュリティタグで監視できる。両タイプのセキュリティタグは、本願明細書の同一の取り外しデバイスによって物品から取り外すことも可能である。
【０００８】
図１Ａは、一実施形態によるセキュリティタグとタックアセンブリとを示す。図１Ａは、セキュリティタグ１００とタックアセンブリ１０２とを示す。セキュリティタグ１００は、タック保持システムを備える。タック保持システムとは、セキュリティタグ１００に挿入されたタックアセンブリ１０２を保持するように構成された１つ又は複数の要素を指し得る。セキュリティタグ１００は、セキュリティタグ１００に対して実装されるタック保持システムのタイプに応じて、再利用可能型セキュリティタグ又は使い捨て型セキュリティタグとして実現し得る。これらの実施形態は、そのような状況に限定されるものではない。
【０００９】
一実施形態において、例えば、セキュリティタグ１００は、再利用可能型のタック保持システムを用いて実現し得る。再利用可能型セキュリティタグは、セキュリティタグの完全性が外部的又は内部的に実質的に損なわれない方法で、監視対象物品から取り外し得る。取り外した再利用可能型セキュリティタグは、通常、別の物品に再び取り付け得る。取り外しとは、タグが係止解除された状態になることを示す。
【００１０】
一実施形態においては、例えば、使い捨て型のタック保持システムを用いてセキュリティタグ１００を実現し得る。使い捨て型セキュリティタグは、一般にセキュリティタグの完全性を損なう方法で、監視対象の物品から取り外し得る。いったん取り外した使い捨て型セキュリティタグは、通常、別の物品に再び取り付けることができない。取り外しとは、タグが永久的に係止解除された状態になることを示す。
【００１１】
一実施形態において、タックアセンブリ１０２は、大きなタック頭部１０４と細長いタックシャフト１０６とを備える。タックシャフト１０６は、１つ又は複数の溝１０８と尖った端部１１２とを有し得る。一実施形態においては、例えば、タック頭部１０４の直径を約０．５インチ（約１．３ｃｍ）、厚みを約０．０５インチ（約０．１３ｃｍ）にし得る。タックシャフト１０６を小さな尖った釘と同様の形状にし得る。一実施形態においては、例えば、タックシャフト１０６の長さを０．７５インチ（約１．９ｃｍ）、直径を０．０４６インチ(約０．１２ｃｍ）とすることができる。溝１０８の直径は０．０３８インチ（約０．１ｃｍ）とすることができる。これらの実施形態は、そのような関係に限定されるものではない。
【００１２】
セキュリティタグ１００は、各種の金属及びプラスチックを含む様々な材料を用いて実現できる。例えば、タック頭部１０４をプラスチック及び／又は鋼材を用いて形成してもよい。タックシャフト１０６は、一般に鋼材を用いて形成する。セキュリティタグ１００の設計制約条件には、セキュリティタグ１００に使用する磁気材料の量がある。その理由は、その磁気によって一部のセンサの感知範囲が狭まるためである。従って、タックアセンブリ１０２の総鋼材量を減らすために、タックアセンブリ１０２のタック頭部１０４はプラスチック材料を用いて実現してもよい。別の可能な選択肢は、非磁性ステンレス鋼を用いてタックアセンブリ１０２を製造することである。但し、これらの実施形態は、セキュリティタグ１００とセンサとが相互に連係するように設計されている限りは、特定の材料のタックアセンブリ１０２に限定されるものではない。
【００１３】
一実施形態においては、セキュリティタグ１００を物品に取り付けるためにタックアセンブリ１０２を用いてもよい。物品には、衣類、衣料品、梱包材料、デジタル多用途ディスク（ＤＶＤ）ケース、コンパクトディスク（ＣＤ）ケース、眼鏡、箱などの何れの商品も含み得る。物品が衣類又は衣料品の場合は、尖った端部１１２を衣類に通してセキュリティタグ１００に挿入できる。取り付け操作の詳細については以下に説明する。
【００１４】
一つの実施形態におけるタックアセンブリ１０２には、タック頭部１０４に取り付けられた吊り紐又はセキュリティストラップなどの特徴を更に含めてもよい。吊り紐又はセキュリティストラップを使用すれば、貫通させることは好ましくない物品、若しくは不可能な物品に対してもセキュリティタグ１００を使用し得る。例えば、スポーツ用品、電子機器、及び他の何れかの製品など梱包された物品は、梱包又は製品自体の安定した部分に吊り紐を通すことによって取り付け得る。これらの実施形態は、そのような関係に限定されるものではない。
【００１５】
一つの実施形態におけるセキュリティタグ１００は、一部の従来型セキュリティタグよりも小型化できる。一つの実施形態においては、例えば、セキュリティタグ１００の長さを約２．６インチ（約６．６ｃｍ）、幅を約０．８インチ（約２．０ｃｍ）、厚みを約０．２５インチ（約０．６ｃｍ）とすることができる。タックアセンブリ１０２をセキュリティタグ１００に挿入すると、厚みは約０．６７インチ（約１．７ｃｍ）に増加し、総重量は約６グラムとなり得る。これらの実施形態は、これらの特定寸法に限定されるものではない。
【００１６】
一実施形態におけるセキュリティタグ１００は、上側ハウジング１１４と下側ハウジング１１６とを備える。上側ハウジング１１４と下側ハウジング１１６とを継ぎ目１１８で接合することによって、閉止したセキュリティタグ１００を形成することができる。一実施形態においては、ハウジング１１４及び１１６を半硬質又は硬質の材料で製造してもよい。使用可能な硬質又は半硬質材料として、射出成形アクリロニトリルブタジエンスチレン（ＡＢＳ）プラスチックなどの硬質プラスチック、又はポリカーボネートなどのプラスチックが挙げられる。プラスチック材料を使用する場合、ハウジング１１４及び１１６の嵌め合わせは、超音波溶接、スナップ嵌合、又は所定の実装に望ましい他の何れか適切な接合機構を用いて実現できる。これらの実施形態は、そのような関係に限定されるものではない。
【００１７】
一実施形態において、セキュリティタグ１００は、第１の端部１３０と第２の端部１３２とを備える。第１の端部１３０及び第２の端部１３２を部分的に中空にして、各端部に区画を設けることができる。第１の端部１３０は、タック保持システムを収容するための第１の区画を備える。一実施形態において、タック保持システムは、タックアセンブリ１０２のタックシャフト１０６を保持するために、例えば楔形の鋼製部材と付勢用のラバースプリングとを含めてもよい。本願明細書において、第１の端部１３０は、「取り付け端部」又は「タック保持システム端部」とも称する。第２の端部１３２は、監視システムによって検出可能な信号を発信するセンサを収容するための第２の区画を備える。セキュリティタグ１００に適したセンサの例として、Ｓｅｎｓｏｒｍａｔｉｃ（登録商標）  Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ  Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ製のＥＡＳ  Ｕｌｔｒａ−Ｍａｘ（登録商標）狭ラベルセンサ（「ＵｌｔｒａＭａｘ  Ｓｅｎｓｏｒ」）が挙げられる。本願明細書において、第２の端部１３２は、「検出端部」とも称する。
【００１８】
一実施形態において、第１の端部１３０はタグ頭部１２６を備える。タグ頭部１２６は、上側ハウジング開口部１２０と同心ランパート１２２とを更に備える。第１の端部１３０は、長さを約０．９インチ（約２．３ｃｍ）、幅を０．８２５インチ（約２．１ｃｍ）とすることができる。形状は、直径が約０．８２５インチ（約２．１ｃｍ）の半円と同様にすることができる。これらの実施形態は、そのような関係に限定されるものではない。
【００１９】
一実施形態において、第１の端部１３０は、図６を参照して説明するような磁気取り外しデバイス６０２などの取り外しデバイスに対する取り外しデバイス界接面を更に備える。例えば、第１の端部１３０は、外壁１３４を有する突起１２４を含んでもよい。突起１２４は、取り外しデバイスに適切に界接する形状であれば、望ましい任意の形状としてもよい。一実施形態において、例えば、図１Ａに示すように、突起１２４を円筒形状とすることができる。これらの実施形態は、そのような関係に限定されるものではない。
【００２０】
一実施形態において、第２の端部１３２は、長さを約１．８インチ（約４．６ｃｍ）、幅を約０．６２インチ（約１．６ｃｍ）、厚みを約０．２２インチ（約０．５６ｃｍ）とすることができる。形状は矩形と同様な形状にすることができる。第２の端部１３２の形状及び寸法によって、第２の端部１３２は、本願明細書の磁気取り外しデバイスに突起１２４を取り付けるためのハンドルとして機能し得る。
【００２１】
図１Ｂは、一実施形態によるセキュリティタグアセンブリを示す。図１Ｂは、図１Ａを参照して説明した実施形態と同様なセキュリティタグ１００の別の可能な実施形態を示す。図１Ｂに示すように、第２の端部１３２を第１の端部１３０に対して９０°に形成してもよい。これらの実施形態は、そのような関係に限定されるものではない。
【００２２】
図１Ａ及び１Ｂに示すように、セキュリティタグ１００は、幾つかの異なる外部形状又は構成を用いて実現できる。但し、所定の一連の設計制約条件に対して任意の数の外部構成を用いてセキュリティタグ１００を実現できることが理解されよう。特定の実装に使用される外部構成は、セキュリティタグ１００を監視対象の物品から取り外すために使用される対応する磁気取り外しデバイスの設計及び構成に応じてなす必要がある。一実施形態において、例えば、セキュリティタグ１００全体に対して示されている外部構成、具体的には第１の端部１３０は、図６を参照して説明するような磁気取り外しデバイス６０２の実施形態に界接するように設計されている。これらの実施形態は、そのような関係に限定されるものではない。
【００２３】
一実施形態において、第１の端部１３０の上側ハウジング開口部１２０は、取り付け操作時にタックシャフト１０６を受け入れるために使用し得る。取り付け操作時にタックシャフト１０６を挿入しやすくするために、上側ハウジング開口部１２０の直径をタックシャフト１０６の直径より若干大きくしてもよい。
【００２４】
一実施形態において、同心ランパート１２２は、タック頭部１０４を受け入れるスペースを画定するランパートとし得る。取り付け操作時にタック頭部１０４が正しく着座するように、同心ランパート１２２の直径をタック頭部１０４の直径より若干大きくしてもよい。一実施形態においては、例えば、同心ランパート１２２の内径を約０．６６インチにし得る。同心ランパート１２２の１つの用途は、物品をタック頭部１０４とセキュリティタグ１００との間により良好に固定することである。結果として、この構成は、タックアセンブリ１０２をセキュリティタグ１００から強引に取り外そうとする不正な試みに対して一層に強固に耐え得る。タック頭部１０４のサイズ及び構成、ならびに相手方ランパート１２２の形状及びサイズはそのような関係に限定されるものではない。
【００２５】
図２は、一実施形態によるセキュリティタグと、タックアセンブリと、留め付けられていない状態の物品とを示す。図２は、セキュリティタグ１００を衣料品などの物品に留め付ける取り付け操作の開始を示し得る。取り付け操作時、タック本体１０６の尖った端部１１２を物品２０２に挿通し得る。タック頭部１０４のサイズにより、物品２０２を傷つけずには物品２０２をタックアセンブリ１０２から外せないようになる。
【００２６】
図３は、一実施形態によるセキュリティタグと、タックアセンブリと、留め付けられた状態の物品とを示す。図３は、セキュリティタグ１００を物品２０２などの物品に留め付ける取り付け操作の終了時を示す。タックシャフト１０６の尖った端部１１２を物品２０２に挿通すると、尖った端部１１２が上側ハウジング開口部１２０に挿入され得る。タック頭部１０４が同心ランパート１２２に着座するまで、タック頭部１０４に力を加え得る。タックアセンブリ１０２をセキュリティタグ１００に取り付けた状態は、タック保持システムによって保持される。一実施形態において、例えば、タック保持システムは、以下により詳細に説明するように、ラバースプリングによって付勢される楔を含んでもよい。いったん着座したタックアセンブリ１０２とセキュリティタグ１００とは、物品２０２に確実に取り付けられ得る。取り付け操作が正しくなされると、物品２０２からのセキュリティタグ１００の取り外しは、磁気取り外しデバイス６０２を用いて実行できる。
【００２７】
図４は、一実施形態によるセキュリティタグの第１の分解斜視図を示す。図４は、再利用可能型セキュリティタグとしての使用に適したセキュリティタグ１００を分解した状態の第１の斜視図を示す。第１の斜視図は、特に上側ハウジング１１４の外側と、下側ハウジング１１６の内側とを示す。
【００２８】
一実施形態におけるセキュリティタグ１００はセンサ４０２を含んでもよい。センサ４０２としては、検出可能な信号を生成可能な任意のセンサ、例えば磁気センサ、音響磁気センサ、無線周波（ＲＦ）センサ、又は他の種類のセンサなどがある。一実施形態においては、センサ４０２は、例えばＵｌｔｒａＭａｘ  Ｓｅｎｓｏｒを備える。信号は、ＥＡＳ監視システムによって検出し得る。ＥＡＳ監視システムは、信号を検出し、監視領域におけるセキュリティタグ１００の有無を監視システムに通知するために、例えば送信機／受信機（「トランシーバ」）を含んでもよい。
【００２９】
一実施形態において、下側ハウジング１１６は、センサ用区画４０４を備える。センサ用区画４０４は、例えば、図１Ａを参照して説明した第２の区画を表す。センサ用区画４０４は、所定のセンサに充分な大きさの領域を規定するために複数の壁４１６を備える。一実施形態において、センサ４０４は、例えば長さ１．７３インチ(約４．４ｃｍ）、幅０．４６インチ（約１．２ｃｍ）、厚み０．０８５インチ（０．２ｃｍ）の寸法のＵｌｔｒａＭａｘ  Ｓｅｎｓｏｒとすることができる。他の長さ及びサイズにすると、他の検出技術を収容できる。壁４１６は、上側ハウジング１１４の同様の壁に対応させることができる。
【００３０】
一実施形態において、下側ハウジング１１６は、図１１を参照して説明するように、ポケット１１１０を更に備え得る。ポケット１１１０は、図１３を参照してより詳細に説明するように、ラバースプリング１３０２に対する支承面１１１１Ｂを提供し得る。上側ハウジング１１４と下側ハウジング１１６とを相互に接合してセキュリティタグ１００を形成するとき、円筒状の内壁１１１３は、上側ハウジング１１４の円筒状の突起８０９を案内して固定し得る。
【００３１】
図５は、一実施形態によるセキュリティタグの第２の分解斜視図を示す。図５は、再利用可能型セキュリティタグとしての使用に適したセキュリティタグ１００を分解した状態の第２の斜視図を示す。第２の斜視図は、特に上側ハウジング１１４の内側と、下側ハウジング１１６の外側とを示す。
【００３２】
一実施形態において、上側ハウジング１１４は、図８Ａを参照してより詳細に説明するように、突起８０９内に形成された楔用区画８０２を含んでもよい。楔用区画８０２は、例えば、図１Ａを参照して説明した第１の区画を表す。楔用区画８０２は、図１２Ａを参照してより詳細に説明するような楔１２０２Ｒと、図１３を参照してより詳細に説明するようなラバースプリング１３０２とのために充分な大きさの領域を規定するための複数の側壁８０３を備える。例えば、楔用区画８０２は、楔１２０２Ｒ及びラバースプリング１３０２を収容して緩く拘束するように設計してもよい。区画８０２は、複数の支柱、窪み、又は楔１２０２Ｒとラバースプリング１３０２とを収容する領域を規定するための他の構造によって規定してもよい。ハウジング１１４及び１１６を継ぎ目１１８でいったん接合すると、第１及び第２の区画が閉じられて密閉される。センサ４０２は、センサ用区画４０４内に緊密に、しかし変形しないように、収容される。楔１２０２Ｒとラバースプリング１３０２とを楔用区画８０２内に確実に収容することによって、タック保持システムを形成できる。
【００３３】
ラバースプリング１３０２を楔の面１２０５Ｒと支承面１１１１Ｂとの間に配置することによって、楔１２０２Ｒを楔用区画８０２の内側に付勢できる。タックアセンブリ１０２を線４１２に沿って上側ハウジング開口部１２０に挿通すると、タックシャフト１０６が楔１２０２Ｒのタック保持縁部１２１３Ｒと交わるため、楔１２０２Ｒは、ラバースプリング１３０２の付勢に抗して、枢支縁部１２１５Ｒを概ね中心として枢動する。タックシャフト１０６は、タック保持縁部１２１３Ｒに沿って摺動し、ラバースプリング１３０２によって付勢されて、通過するタックシャフト１０６のタック溝１０８に入り得る。取り付け操作時、タックシャフト１０６の一部は、下側ハウジングの軸穴１１１５に入り得る。タック保持縁部１２１３Ｒが付勢されてタック溝１０８に入り、タックリップ１０７で止まると（図８Ｄ及び９Ａ参照）、タック保持システムのタック保持強さに打ち勝たない限り、タックシャフト１０６を開口部１２０から引き抜くことはできない。このようにして、セキュリティタグ１００とタックアセンブリ１０２とを相互に係止するか、又は留め付けることによって、取り付け操作を完了し得る。本願明細書においては、これを「係止状態」又は「被係止状態」と称する。
【００３４】
一実施形態において、下側ハウジング１１６は面５０８を有する。面５０８には、突起１２４を一体に形成できる。突起１２４の直径は、タグ頭部１２６のサイズより小さくすることができる。一実施形態においては、突起１２４の直径を約０．５５インチ(約１．４ｃｍ）、突出高さを０．４５インチ（約１．１ｃｍ）としてもよい。突起１２４のサイズを小さくすることによって、肩領域５０４を形成できる。肩領域５０４を比較的に平坦にすることは、取り外し操作時に第１の端部１３０及び突起１２４の磁気取り外しデバイスへの着座を容易にすることができる。
【００３５】
一実施形態において、取り外し操作とは、タックアセンブリ１０２をセキュリティタグ１００の楔１２０２Ｒから取り外すこと、即ち解放することを意味する。タックアセンブリ１０２を楔１２０２Ｒから解放すると、タックアセンブリ１０２をセキュリティタグ１００から引き抜ける。タックアセンブリ１０２をセキュリティタグ１００から引き抜くと、物品２０２をタック本体１０６から外しせる。これで取り外し操作が完了する。本願明細書においては、これを「係止解除状態」と称する。取り外し操作の詳細については、図６を参照して説明する。
【００３６】
図６は、一実施形態による磁気取り外しデバイスに位置合わせされたセキュリティタグとタックアセンブリの切開図を示す。図６は、磁気取り外しデバイス６０２の上に位置合わせされているセキュリティタグ１００を示す。磁気取り外しデバイス６０２は、明確化のために切開図で示してある。磁気取り外しデバイス６０２は、例えば、磁石アセンブリ６０３とハウジング６１０とを備える。ハウジング６１０は、例えば、タグ受け入れ穴６１１をカウンタートップの表面上に設け、カウンタートップ装着に適したものにすることができる。タグ受け入れ穴６１１の開口がカウンタートップの表面と面一又は概ね面一になるようにするには、カウンタートップの穴に装着するためのベゼル付きの他のハウジングが適するであろう。これらの実施形態は、そのような関係に限定されるものではない。
【００３７】
一実施形態において、磁気取り外しデバイス６０２は、タグ界接面を備える。このタグ界接面は、セキュリティタグ１００の取り外しデバイス界接面と界接するように構成できる。一実施形態において、例えば、タグ界接面は、タグ受け入れ穴６１１を備える。タグ受け入れ穴６１１の開口の直径は、利用者が挿入しやすいようにタグ突起１２４を緩く受け入れると共に、取り外しのための正しいタグ位置を保証するように設計できる。タグ受け入れ穴６１１の深さは、一般にタグ突起１２４の長さよりも僅かに短くし、タックをタグから正しく取り外せるように構成できる。一実施形態において、例えば、磁気取り外しデバイス６０２のための図示されている外部構成は、図１Ａ及び１Ｂを参照して説明したセキュリティタグ１００の各実施形態と界接するように設計されている。但し、取り外しデバイス界接面とタグ界接面とが連係可能である限りは、これらの実施形態はそのような関係に限定されるものではない。
【００３８】
図７は、一実施形態による磁気取り外しデバイスに挿入されたセキュリティタグを示す。図７は、磁気取り外しデバイス６０２内に据えられたセキュリティタグ１００を示す。より具体的には、図７は、磁気取り外しデバイス６０２の内部又は上に着座しているセキュリティタグ１００とタックアセンブリ１０２とを示す。この姿勢は、セキュリティタグ１００からのタックアセンブリ１０２の取り外しを容易にする。
【００３９】
図８Ａは、一実施形態によるセキュリティタグの上側ハウジングの内面図を示す。図８Ａは、上側ハウジング１１４の楔用区画８０２、特に、端部１３０内に構成されたタック保持システムのための楔用区画８０２の詳細図を示す。この構成は、再利用可能型セキュリティタグ又は使い捨て型セキュリティタグのどちらにも適する。この二つの実装の一つつの違いは、楔の形状である。再利用可能型セキュリティタグには、図１２Ａに示すように楔に複数のアクセル突起が設けられている。図１２Ｂに示すように、使い捨て型セキュリティタグ用の楔には、これらのアクセル突起がない場合もある。楔の識別符号に付けられた接尾辞「Ｒ」は、再利用可能型セキュリティタグ用のタック保持システムを指す（例えば、１２０２Ｒ、１２１３Ｒなど）。楔の識別符号に付けられた接尾辞「Ｓ」は、使い捨て型セキュリティタグ用のタック保持システムを指す（例えば、１２０２Ｓ、１２１３Ｓなど）。楔の識別符号に何も接尾辞が付いていない場合（例えば１２０２、１２１３など）、その説明は再利用可能型楔１２０２Ｒ及び使い捨て型楔１２０２Ｓの一方又は両方に関連する。これらの実施形態は、そのような関係に限定されるものではない。
【００４０】
図８Ａに示すように、楔用区画８０２は、幾つかの内壁を備える。タック軸穴８０７は、タックシャフト１０６が、図２に示すように線４１２に沿って移動し占有できる空間を備え得る。タック軸穴８０７は、上側ハウジング１１４を貫通して延在する。即ち、開口部１２０から天壁８０８Ａを貫通し、楔用区画８０２に入り、また部分的に前壁８０３Ｃを貫通し、突起８０９の天面８１４に達する。
【００４１】
前壁８０３Ｃの位置は、所望の実装に応じて変化させてもよい。例えば、前壁８０３Ｃを、図８Ａに示す位置より更に後壁８０３Ｄから離して位置付けてもよい。図８Ａでは、前壁８０３Ｃの位置は、壁８０３Ｔの位置に一致している。図８Ａに示すように、壁８０３Ｃは、壁８０３Ｔより約０．０１６インチ（約０．０４ｃｍ）後壁８０３Ｄに近い。更に、壁８０３Ｃは、タック軸穴８０７のための空間を設けるために切り抜かれた半円面を備える。後壁８０３Ｄから最も遠いタックシャフト支承面８０３Ｓの部分は、支承壁８０３Ｔを備え得る。この半円面は、幾つかの利点を提供する。例えば、挿入時にタックシャフト１０６を案内しやすくするほか、円柱状のタックシャフト１０６に対して半円形の支承面８０３Ｓを提供するため、平坦な支承面を有する場合に比べ、若干大きい引抜力（Ｆｐｏ）を提供する。引抜力Ｆｐｏとは、タックアセンブリ１０２をセキュリティタグ１００から力ずくで引き抜くときに必要な、セキュリティタグ１００とタックアセンブリ１０２との間の分離力の量を指する。壁８０３Ｃの位置決めに関しては、以下に説明するように、他の要因も存在する。
【００４２】
下側ハウジング１１６を上側ハウジング１１４に接合すると、タック軸穴８０７は更に下側ハウジングの軸穴１１１５の中まで延在し、そこで穴８０７が終端する（図４参照）。タック軸穴８０７が塞がっていないとき、楔１２０２の面１２０３は天壁８０８Ａに平らに接し、タック保持縁部１２１３は前壁８０３Ｃに接触しているか、又は概ね接触している。楔１２０２は、楔用区画８０２に緊密に、しかし楔１２０２が枢支縁部１２１５を概ね中心として自由に枢動できる充分な隙間を設けて嵌合させることができる。例えば、楔の側面１２１１は、側壁８０３Ｅに可動に近接し、楔の側面１２１４は、側壁８０３Ｊに可動に近接し、楔の枢軸側面１２０７は、後壁８０３Ｄに可動に近接又は接触し、タック保持縁部１２１３は前壁８０３Ｃに可動に近接してタック穴８０７の大部分を覆う。再利用可能型セキュリティタグでは、楔のアクセル突起１２２１Ｒ及び１２２２Ｒが実質的な抵抗を受けずに枢動できるように、アクセル突起１２２１Ｒ及び１２２２Ｒをそれぞれの凹部８２１及び８２２に緩く嵌合させる。
【００４３】
図８Ｂは、一実施形態によるセキュリティタグの、楔が挿入された上側ハウジングの内面図を示す。図８Ｂは、楔用区画８０２に挿入され、天壁８０８Ａ上に平らに載っている楔１２０２を示す。楔１２０２を所定の位置に配置してから、ラバースプリング１３０２を楔用区画８０２のその部分に配置する。再利用可能型セキュリティタグでは、突起１２２１Ｒ及び１２２２Ｒをそれぞれの凹部８２１及び８２２に配置する。
【００４４】
図８Ｃは、一実施形態によるセキュリティタグの、楔とラバースプリングとが挿入された上側ハウジングの内面図を示す。図８Ｃは、一実施形態による楔用区画８０２内に配置された楔１２０２とラバースプリング１３０２とを示す。ラバースプリングの面１３０８Ｄを後壁８０３Ｄに隣接させて、ラバースプリング１３０２の側面１３０４Ａを楔用区画８０２に挿入する。ラバースプリングの側面１３０４Ａが楔１２０２の面１２０５に載るまで、ポケットの側壁８０３Ｆ、８０３Ｇ、８０３Ｈ、及び８０３１によってラバースプリング１３０２を更に案内する。一実施形態においては、楔用区画８０２の側壁８０３Ｇから側壁８Ｏ３Ｈまでの延在部分にラバースプリング１３０２が緊密に嵌入するように、ラバースプリング１３０２の幅を楔１２０２の幅より大きくする。この方法で、楔１２０２上のラバースプリング１３０２の位置を制御する。これらの実施形態は、そのような関係に限定されるものではない。
【００４５】
ラバースプリング１３０２の位置を制御すると、楔１２０２に対するラバースプリングの付勢が再現可能になるので、生産環境で組み立てられるタグの取り外しの信頼性と一貫性とを保証する。ラバースプリング１３０２の位置によって、使い捨て型セキュリティタグにおける「激突」の影響も低減又は防止する。激突とは、利用者が突起１２４の底を硬い表面に打ち当てることを指する。この激突によって、磁気取り外しデバイス６０２を使用せずに、使い捨て型セキュリティタグを永久的な係止解除状態にする。これは、ラバースプリング１３０２の付勢が楔１２０２Ｓの一方の端部に向かうことによって生じる。激突による鉛直力が楔１２０２Ｓの重心に作用すると、楔１２０２Ｓは激突力の存在下で捩れるか、又は回転する。但し、図３１を参照して説明するように、ラバースプリング１３０２の付勢を楔１２０２Ｓの重心に移動することによって激突の影響を低減又は排除する。これらの実施形態は、そのような関係に限定されるものではない。
【００４６】
一実施形態において、楔の面１２０５から支承面１１１１Ｂまでの距離は、ラバースプリング１３０２の高さより短い。従って、上側ハウジング１１４と下側ハウジング１１６とを接合してセキュリティタグ１００を構成すると、ラバースプリング１３０２は圧縮され得る。この結果、楔１２０２は、楔用区画８０２の天壁８０８Ａに対して付勢され得る。再利用可能型セキュリティタグでは、更にアクセル突起１２２１Ｒ及び１２２２Ｒがそれぞれの凹部８２１及び８２２内に付勢される。
【００４７】
図８Ｄは、一実施形態によるセキュリティタグの、楔と、ラバースプリングと、タックシャフトとが挿入された上側ハウジングの内面図を示す。図８Ｄは、楔用区画８０２の別の内視図を示す。この図は、あたかも透明な下側ハウジング１１６が上側ハウジング１１４に接合されているように示されている。従って、楔の面１２０３は、セキュリティタグ１００が完成したときのように、楔用区画８０２の天壁８０８Ａに対して付勢されている。
【００４８】
図９Ａは、一実施形態による図８Ｄの部分断面Ａ−Ａを示す。アクセル突起１２２１Ｒが参考のために示されている。図９Ａは、セキュリティタグ１００へのタックアセンブリ１０２の挿入操作の説明に役立つ。図８Ｄ及び図９Ａに示すように、タックシャフト１０６の尖った端部１１２を開口部１２０からセキュリティタグ１００に差し込み、タック穴８０７に挿入する。挿入時、尖った端部１１２が楔１２０２の傾斜面１２０９に接触すると、楔１２０２が、ラバースプリング１３０２の付勢に抗して、楔の縁部１２１５を概ね中心として反時計方向に枢動するので、タックシャフト１０６は楔１２０２のタック保持縁部１２１３の脇を摺動し始める。更に深く挿入すると、タックシャフト１０６のタック溝１０８及びリップ１０７がタック保持縁部１２１３に近接するので、タック保持縁部１２１３はラバースプリング１３０２によってタック溝１０８内に付勢されてリップ１０７に当接する。従って、タック保持縁部１２１３がタック溝１０８内に位置付けられるため、タック保持システムの保持強さに打ち勝たない限り、タックアセンブリ１０２をセキュリティタグ１００から引き抜くことはできない。この状態で、タックアセンブリ１０２をセキュリティタグ１００に留め付けるか、又は係止すると、係止状態が達成される。一実施形態においては、例えば、係止状態における楔の角度θを約３４°にする。
【００４９】
図９Ａは、再利用可能型タック保持システムの取り外し工程に関する特徴も示している。図９Ａは、突起１２２１Ｒが収まる凹部８２１を示しているが、突起１２２２Ｒが収まる対称凹部８２２は図示されていない。凹部８２１／８２２の深さは、壁８０３Ｌ／８０３Ｋの鉛直寸法である。取り外し時、図６のようにタグ１００を取り外しデバイスに近づけると、楔１２０２Ｒが付勢されて、縁部１２１５Ｒを概ね中心として反時計方向に回転する。タグが取り外しデバイス内の座に更に近づくと、磁気引力がより強まるので、楔１２０２Ｒが更に回転し、縁部１２１３Ｒがリップ１０７を越えるために、タックがタグから解放される。タグが取り外しデバイスに完全に着座する直前に（図７参照）、タックを解放する。一般には、タグが取り外しデバイスに完全に着座し、楔１２０２Ｒを引き寄せる磁気力によってタグが取り外しデバイス内に保持されてから、タックをタグから取り外す。タグの着座時に、与えられる磁気強度「Ｓ」がタックを解放するのに（係止解除状態）充分になったとき、又は磁気強度が値「Ｓ」を例えば２５％超えたときに、タック保持システムがタックを解放するように、タック保持システムを設計してもよい。取り外しデバイスの磁気強度が値「Ｓ」を大幅に超えると、運用上の問題が発生する。楔が更に回転すると、ラバースプリング１３０２が更に圧縮され、楔が鉛直に近づき、楔１２０２Ｒの縁部１２１３Ｒが引き寄せられて壁１１１１Ｂに接触する。この結果、突起１２２１Ｒ及び１２２２Ｒがそれぞれの凹部８２１及び８２２から引き出され、膨張するラバースプリング１３０２によって縁部１２１６Ｒの突起部分が壁８１６／８１８に押し付けられて永久的な係止解除状態になり得る。この状態を是正するには、壁８０３Ｌ及び８０３Ｋを鉛直に充分に長くし、かつ楔の長さを充分にし、縁部１２１３Ｒが壁１１１１Ｂに接触したときに、突起１２２１Ｒ及び１２２２Ｒがそれぞれの凹部８２１及び８２２から引き出されないように、タック拘束システムの寸法設計をなす。
【００５０】
図９Ａを再び参照すると、セキュリティタグの設計上の１つの制約条件は、取り外しデバイス６０２を使わずにアセンブリ１０２をセキュリティタグ１００から力ずくで引き離すために必要な引張力（Ｆｐ）の量を含み得る。この力は、「引抜力」（Ｆｐｏ）と称する。例えば、タックアセンブリ１０２をセキュリティタグ１００の面１３８から引き離そうとするときに「タックを引き抜く」方向の引張力（Ｆｐ）がタックアセンブリ１０２に加えられると想定する。これは、人間が布２０２とタックアセンブリ１０２とをセキュリティタグ１００から鉛直方向に引っ張ろうとしたときに発生する。タック溝１０８の溝リップ１０７はタック保持縁部１２１３に係合しているので、鉛直力によってタック保持縁部１２１３が引っ張られると、楔１２０２が縁部１２１５を概ね中心として時計方向に枢動しようとする。但し、楔１２０２が時計方向に枢動すると、タック保持縁部１２１３がタック穴８０７の中に入ろうとするが、そこにはタックシャフト１０６が依然として存在する。従って、タックシャフト１０６はセキュリティタグ１００に食い込む。本願明細書において、これを「楔効果」と称する。タック保持システムのタック保持強さが打破されない限り（例えば、Ｆｐ＞Ｆｐｏ）、楔１２０２はタックアセンブリ１０２をセキュリティタグ１００内に保持する。
【００５１】
図９Ａに示すように、タック保持縁部１２１３がリップ１０７に接触し、タックアセンブリ１０２がセキュリティタグ１００内に係止されているとき、タック頭部１０４の下端とタグ面１３８との間には若干の鉛直距離が存在する。この距離を「タックの初期」隙間と称する。Ｆｐを増やすと、タック保持システムの構成要素の多少の撓み及び／又は変形が生じることによって、「タックの付加隙間」（ＡＴＣ）がタックの初期隙間に追加され得る。これらの構成要素の撓み又は変形が生じなかった場合は、タックの付加隙間は発生しない。タックの付加隙間は一般に望ましくない。その理由は、曲げ又は切断される。タックシャフト１０６の部分が増えることによって、セキュリティタグ１００がより脆弱化し、打破されやすくなるからである。以下に詳細に説明するように、タックの付加隙間を減らすか、又は吸収するための設計技法が幾つかある。
【００５２】
図９Ｂは、一実施形態による図９のタック保持システムの構成要素の静的示力図を示す。Ｆｐによってタックアセンブリ１０２がセキュリティタグ１００から引き抜かれないようにするには、タックアセンブリ１０２をセキュリティタグ１００内に保持するＦｐ’が等しい強度で反対方向に存在する必要がある。これは、静的即ち非移動状態を表する。Ｆｐがタックを係止状態のタグから引き抜くに充分な大きさになると、このＦｐ値は前述のように引抜力Ｆｐｏと称される。
【００５３】
図９Ｂに示す静的示力図において、Ｆｐは、タックアセンブリ１０２をセキュリティタグ１００から引き抜くためにタックアセンブリ１０２に加わる引張力を示し、Ｐｔ−Ｗは、タック保持縁部１２１３が溝１０８の溝リップ１０７に係合する点を指する。更に、この静的示力図及び導出された静力学式は、タック拘束システムの壁８０３Ｄ、８０８Ａ、８０３Ｔ、楔１２０２、及びタックシャフト１０６を含む全ての構成要素が撓みも変形もしないことを想定している。
【００５４】
静的力学に従って、以下の式を導出する。
【００５５】
Ｆｐ’＝Ｆｐ＝Ｆｖ＋Ｆｆ、
Ｆｖ＝Ｆａ×ｓｉｎφ、
Ｆｆ＝β×Ｆｈ、及び
Ｆｈ＝Ｆａ×ｃｏｓφ
式中、βは、タックシャフトと壁８０３Ｓ／８０３Ｔとの間の静的摩擦係数を表する。例えば、βは、４ポンド（ｌｂｓ）及び２６ｌｂｓのＦｈで測定された実験によって求めると、０．５に近似する。これらの式は、以下の形に書き直する。
【００５６】
Ｆｆ＝β×Ｆａ×ｃｏｓφ、
Ｆｐ＝Ｆｖ＋Ｆｆ＝Ｆａ×ｓｉｎφ＋β×Ｆａ×ｃｏｓφ＝Ｆａ（ｓｉｎφ＋β×ｃｏｓφ）、及び
Ｆａ＝Ｆｐ／（ｓｉｎφ＋β×ｃｏｓφ）
楔の角度φが３４°の場合は、以下の式を導出する。
【００５７】
Ｆｐ’＝Ｆｐ＝Ｆｖ＋Ｆｆ、
Ｆａ＝１．０２７×Ｆｐ、
Ｆｈ＝Ｆａ×ｃｏｓφ＝０．８５１×Ｆｐ、
Ｆｆ＝β×Ｆｈ＝β×Ｆａ×ｃｏｓφ＝０．４２６×Ｆｐ、及び
Ｆｖ＝Ｆａ×ｓｉｎφ＝０．５７４×Ｆｐ
これらの式に基づき、ＦｐにはＦｐに等しいＦｐ’が必ず対抗するので、Ｆｐ値が増加してもタックアセンブリ１０２の移動が引き起こされないため、タックの付加隙間は発生しない。図１０の曲線Ａは、このような理想的制約条件の場合のＦｐとタックの付加隙間との関係を示す。図８Ｄに示されている実施形態についてのテストでは、引張力Ｆｐが増え続けると、タック保持システムの構成要素が徐々に撓み、ついにはタックアセンブリ１０２が強制的にセキュリティタグ１００から解放されることが示された。図１０の曲線Ｃは、増加するＦｐの重圧下でタック拘束構成要素が徐々に撓むことによってタックの付加隙間が発生する様子を示す例である。曲線Ｃをもたらす図８Ｄの実施形態に対して改良を幾つか行うことによって、以下に説明するように、理想曲線Ａに大幅に近づいた曲線Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈ、及びＩなどの曲線を得られる。図１０の曲線Ａ及びＣは、これらの曲線が提供する情報において相対的である。例えば、Ｆｐのスケールが１６０ポンドまででなく、０．５ポンドまでであったら、曲線Ａと曲線Ｃとはよく似ているように見えるであろう。また、Ｆｐのスケールが百万ポンドまでであったら、曲線Ａと曲線Ｃとは約０ｌｂｓで解放するように見えるであろう。ここで使用する各スケールは、小売フロアにおいて人間が試みる大半の盗みに対して商品を保護するために好ましい値の範囲を包含する。例えば、人間が両手を使って素手で発生できる引張力は、約８０ポンドである。従って、衣類に付けるセキュリティタグのＦｐｏは、タックがタグから素手で引き抜かれることを打破モード候補とするならば、少なくとも８０ポンドにする必要がある。通常、セキュリティタグのＦｐｏが高いほど、知覚されるタグ品質は高くなる。別の品質要素は、Ｆｐによって生じるタックの付加隙間であり、これは小さいほど良い。タックの付加隙間によって、窃盗候補者はタックシャフト（１０６）又はタック頭部を例えば曲げ、梃子、又は切断装置によってより一層攻撃しやすくなる。今日の業界における各種のセキュリティタグにおいて、所与のＦｐに対するタックの付加隙間の量は大幅に異なる。タグ実施形態のＦｐ及びタックの変位に関する良好な性能とは、曲線が図１０の曲線Ａと曲線Ｂとの間になるものであろう。セキュリティタグのための良好なＦｐｏは、例えば少なくとも１２５ポンドの仕様値を有する。
【００５８】
上述のように、特定の理想的制約条件下では、Ｆｐの増加によってタックの付加隙間は生じえない。図９Ａの構成の場合、これらの理想的制約条件は、以下の条件を含み得る。（１）後壁８０３Ｄからタック支承壁８０３Ｔまでの距離が増加しない、（２）タック溝１０８の直径が減らない、（３）枢支縁部１２１５からタック保持縁部１２１３までの楔１２０２の長さが減らない、（４）壁９０１の厚さが減らない、及び（５）面１３６と面１３８との間の鉛直距離が減らない。但し、これらの条件だけに限定されるものではない。但し、力が加わると、全ての材料は或る程度は撓むので、実際の実装ではこれらの理想的制約条件を維持することは難しい。
【００５９】
第１の制約条件は、後壁８０３Ｄからタック支承壁８０３Ｔまでの距離を含む。引張力Ｆｐが加わると、溝リップ１０７はタック保持縁部１２１３を天壁８０８Ａに向けて引っ張る。これによって、楔１２０２が付勢されて時計方向に枢動し、タック挿入前の楔位置に戻り得る。但し、タック保持縁部１２１３がリップ１０７で溝１０８に係合しているので、タック１０８によって縁部１２１３の水平移動が防止され、縁部１２１３が溝１０８の中実金属に入り込まないため、楔１２０２は枢動してタック挿入前の位置に戻ることができない。これによって、引っ掛かり効果即ち楔効果が生じるので、タック溝１０８へのタック保持縁部１２１３の何らかの水平運動が同時に生じない限り、タック保持縁部１２１３の鉛直方向の「タック引き抜き」運動は生じない。結果として、タック保持縁部１２１３に作用するＦｐによって溝１０８に対して水平力（Ｆｈ）が生じ、タックシャフト１０６がタック支承壁８０３Ｔ（支承面８０３Ｓ）に押し付けられ、楔枢支縁部１２１５が後壁８０３Ｄに押し付けられ得る。生じた鉛直力（Ｆｖ）によって、楔の縁部１２１６が天壁８０８Ａに押し付けられ得る。別の鉛直力として摩擦力（Ｆｆ）も生じ得る。摩擦力Ｆｆは支承壁８０３Ｔ（支承面８０３Ｓ）に鉛直に掛かり得る。これらの壁はすべて、一般にＡＢＳプラスチックなどの材料でできた中実成形部品である上側ハウジング１１４の構成部分である。或いは、これらの部品を上記材料の中実片から機械加工してもよい。ＡＢＳプラスチックはある程度弾力性があるが、力が加わると永久的変形がある程度生じ得る。従って、楔１２０２に接触している楔用区画壁８０３Ｄと、タックシャフト１０６に接触している楔用区画壁８０３Ｔ／８０３Ｓとが応力Ｆｐ下で若干撓むことによって、タックの付加隙間が僅かに生じる。
【００６０】
第２の制約条件は、タック溝１０８の直径を含む。一実施形態において、タックシャフト１０６は、例えば鋼材などの材料を備え得る。鋼製シャフトは、タック保持縁部１２１３によって溝１０８に加えられる力Ｆｈの存在下での変形を防止できるほど充分に硬質にする。例えば、ロックウェル硬度が約ＲＣ４８の硬化鋼を用いてタックシャフト１０６を実現する。従って、タック保持縁部１２１３がＲＣ４８より充分に軟質であれば、例えばＲＣ４０であれば、タック溝１０８の撓みは無視できる。タックシャフト１０６／溝１０８の硬度が縁部１２１３より充分に軟質であれば、更に撓むので、更なるタックの付加隙間がこの発生源から予想される。これは、リップ１０７でのタックシャフト１０６の押し出し、及び／又は溝１０８でのシャフト１０６の切断を含み得る。
【００６１】
第３の制約条件は、枢支縁部１２１５からタック保持縁部１２１３までの楔１２０２の長さＬｗを含む。一部の実施形態は、硬度が約ＲＣ４０の楔と、硬度が約ＲＣ４８のより硬質なタックとを有する。更に、一部の実施形態においては、タック保持縁部１２１３の角度が約３０°（１２２０）であり、先端部の半径が０．００２”以下であるため、タック溝１０８とタックリップ１０７との交差部に良好に嵌合する。リップ１０７と溝１０８との交差は約９０°であり、内半径は０．００２”以下であり、図９Ｂによるタック接触点Ｐｔ−Ｗとして画定される。各寸法はそのような関係に限定されないが、タック保持縁部１２１３がＰｔ−Ｗに適切に嵌入する必要がある。加えられたＦｐの影響と生じた力成分Ｆｈとの存在下で、Ｐｔ−Ｗでタックと接触しているタック保持縁部１２１３の部分が変形する。一般により軟質のタック保持縁部１２１３は、一般により硬質のタック接触点Ｐｔ−Ｗの上／中に押しやられるので、Ｆｐが増すほど、縁部１２１３がＰｔ−Ｗの周囲及び内部に形成され、タックのＰｔ−Ｗ接触領域の逆形状となる。この結果、半円形の凹状レッジがタック保持縁部１２１３に形成される。この半円形の凹状レッジはタックリップ１０７の最大１／２と、シャフト１０６の一部の周囲と、接触領域の溝１０８の一部とに合わさって嵌る。基本的に、楔及びタックシャフトの硬度及び相対硬度が適正であれば、タックリップ１０７に合った形状の座が形成され得る。半円レッジ（座）のサイズと深さとは、加わる最大Ｆｐの他、楔及びタックのために選択された硬度値により異なる。加わるＦｐが大きいほど、形状に合わせて形成される座は大きくなり（タックリップ１０７の最大１／２）、一般にタック保持システムの保持強さも大きくなる。楔１２０２がＲＣ５８などのより硬質の材料でできていると、接触領域の周囲にタック保持縁部１２１３が形成されないこともある。代わりに、Ｆｖの影響下でＲＣ５８の楔１２０２がより軟質のタック（ＲＣ４８）をＰｔ−Ｗでせん断する。楔ひいては縁部１２１３の硬度がＲＣ３０の場合は、半円レッジは形成されるが、縁部１２１３が軟質すぎるために、より低いＦｐ値で剥ぎ取られるか、又は押し出される可能性がある。楔の硬度が約ＲＣ４８であり、タックの硬度が約ＲＣ４０である場合は、半円レッジがある程度形成されるが、Ｆｐが増加すると、タックが部分的に押し出される。楔１２０２及びタックシャフト１０６の硬度及び相対硬度をそれぞれ異なる値にしてもよく、タグ／タックは最大約１５ポンドのＦｐまでは正常に機能するが、Ｆｐ／タックの付加隙間曲線が大きく変化する。一実施形態においては、楔の硬度がＲＣ４０、タックの硬度がＲＣ４８の場合に、均衡の取れた結果を達成する。均衡した望ましい結果が他の硬度によってもたらされることもあり、値はそのような関係に限定されるものではない。このように、形成された半円レッジの深さによって楔の長さＬｗが短縮するため、タックの永久的な付加隙間が形成される。
【００６２】
第４の制約条件は、壁９０１の厚さを含む。一般に中実プラスチック壁９０１の圧縮は、＞２００ポンドまでのＦｐ値では比較的小さいため、タックの付加隙間の増加は無視できるほど小さい。生じた力Ｆｖの一部によって縁部１２１６は壁８０８Ａに押し付けられるが、タックの付加隙間に対する影響は比較的小さく、楔の角度が０°になると完全に消失する。正味分離力Ｆｐの存在下での壁９０１の圧縮は、タックの正味付加隙間に比べると、重大ではない。
【００６３】
第５の制約条件は、面１３６と面１３８との間の鉛直距離を含む。面１３８全体とタック頭部１０４の裏面全体との間に分離力Ｆｐがあり、タックシャフト１０６が面１３６の下のプラスチック壁（例えば、８０８Ａ及び８０３Ｓ）に係合するため、面１３６と面１３８との間の距離がわずかに縮小する傾向がある。面１３６及び１３８はランパート１２２で食い違っているので、ハウジングはこの食い違い位置において弾性的な撓み及び／又は変形を起こす傾向があり、面１３６及び１３８が力Ｆｐの存在下で互いに引き寄せられる傾向がある。ランパート１２２の直径及び壁厚を適正に設計すると、Ｆｐ値が１００ポンドを優に超える場合でも、この問題によって、タックの正味付加隙間に比べ、相当量のタックの付加隙間が増加することを防止する。ランパート１２２がなければ、このような問題はない。
【００６４】
図９Ｃは、一実施形態による図９Ａの構成要素の寸法図を示す。図９Ｃは、セキュリティタグ１００とタックアセンブリ１０２とが係止状態にあり、タック保持縁部１２１３をリップ１０７に係合させるために正に充分な小さなＦｐ値が加えられているときの寸法及び初期状態を示す。より具体的には、図９Ｃは、楔用区画８０２の様々な寸法、例えば、縁部１２１５から、溝リップ１０７の下のタック溝１０８内のＰｔ−Ｗまでの楔１２０２の長さ（Ｌｗ）、及び後壁８０３ＤからＰｔ−Ｗの直下の点までの水平長（Ｌａ）などの寸法を示す。水平長（Ｌａ）は、図８Ｄ及び９Ａの実施形態に対しては設計上０．１９５インチに設定されている。これらの所与の寸法から、楔の角度θは３４°であると計算され、可能なタックの付加隙間は０．１３１インチであり、以下に更に説明する過回転の問題が防止される。タックの付加隙間の大きさ０．１３１インチは、図１０の曲線Ｃの切り込みに概ね一致することに留意されたい。タックの付加隙間０．１３１インチを実現するには、楔１２０２が壁８０８Ａに平らに接触する必要があり得る。これに応じて、楔１２０２は、縁部１２１５を概ね中心としてθ＝３４°からθ＝０°まで枢動する必要がある。つまり、０．２３５インチのＬｗが、０．１９５インチに設定された長さＬａに平らになる。これは、一部の制約条件を譲歩しない限り、二分状態である。実際、６５ポンドのＦｐが加えられた場合、図８Ｄの実施形態において楔は壁８０８Ａに対して平らになる。６５ポンドのＦｐでは、タック溝１０８、溝リップ１０７、及びタックシャフト１０６の周囲に、深さ約０．０２０インチの半円レッジがタック保持縁部１２１３に形成される。つまり、Ｌｗが０．２３５インチから０．２１５インチに減る。Ｆｐが６５ポンドのとき、約０．０１０インチのくぼみが壁８０３Ｔ（８０３Ｓ）に生じ、更に縁部１２１５及び楔の面１２０７によって作られる約０．０１０インチの窪みが壁８０３Ｄに生じる。この結果、Ｌａの寸法が０．１９５インチから０．２１５インチに増加する。従って、Ｆｐが６５ポンドに等しいとき、タック保持縁部１２１３、壁８０３Ｔ（８０３Ｓ）、及び後壁８０３Ｄの正味撓みにより、楔１２０２は壁８０８Ａに平らに嵌合する。
【００６５】
タック保持システムの全構成要素の総撓み量は、加わる力Ｆｐの増分ごとに増える。従って、Ｆｐ値０からの第１の増分によって、タックの付加隙間の第１の増分が引き起こされる。例えば、Ｆｐが０ポンドから５ポンドに増えると、タックの隙間は０インチから０．００３３インチに増える。以降も同様である。この結果、図１０の直線Ｂになる。この曲線率１５００ポンド／インチは、従来の一部のセキュリティタグの曲線に近似する。但し、タックの付加隙間の増分は、一般に、Ｆｐが大きくなるにつれ、Ｆｐの同じ増分に対してより大きくなる。図１０の曲線Ｃは、この非直線性を示する。
【００６６】
タックアセンブリ１０２をタグ１００から力ずくで引き離そうとすると、タック保持システムの１つ又は複数の構成要素がわずかに撓むことによって、タックの付加隙間が多少生じ得る。一般に２種類の撓みが存在する。これらは、「弾性」撓み及び「永久」撓みと称される。金属要素（例えば、金属タック及び／又は金属楔）の撓みは、前述のように、ほとんどが永久的な撓みである。金属は永久的に変形するので、この撓みによるタックの付加隙間の増加は永久的である。但し、プラスチック要素の撓みは弾性成分と永久成分とを有する。Ｆｐを除くと、プラスチック要素の撓みによって増加したタックの付加隙間の一部は回復可能であり、一部は回復不能である。従って、所与の引張力Ｆｐに対するタックの正味付加隙間は、永久成分と回復成分とを有する。例えば、引張力ＦｐがＦｐｏ以下の５０ポンドであると、タックの付加隙間は約０．０４０インチになり得る。但し、Ｆｐを除くと、タックの付加隙間は０．０２０インチに復帰する。即ち、タックの永久的な付加隙間は０．０２０インチ、タックの弾性的な（回復可能な）付加隙間は０．０２０インチである。第２のＦｐが加えられても、この第２のＦｐが第１のＦｐより大きくなければ、タックの永久的な付加隙間が更に増えることはないはずである。一般に、通常使用時の最大Ｆｐは２０ポンド未満であり、タックの永久的な付加隙間は０．００７インチ未満である。一般に０．０４０インチであるタックの初期隙間に追加されたとしても、このタックの永久的な付加隙間は問題にならない。一部の実施形態では、加えられたＦｐに応じて、タックの永久的な付加隙間がタックの正味付加隙間の２５〜８０％になることが実験により証明されている。
【００６７】
加えられた力Ｆｐとタックの付加隙間との関係は、図１０の曲線Ｃとして表されている。曲線Ｃが曲線Ａと曲線Ｂとの間の望ましい領域の外側にあることに留意されたい。加えられた力Ｆｐが約６５ポンドであると、タックの付加隙間は０．１３１インチになり、曲線Ｃの切り込みに対応する。曲線Ｃにおける切り込みから折点までのタックの付加隙間は、Ｆｐがわずかに増加したためにタックが楔の角度０°の位置を越えて更に０．０３２インチ移動した結果である。これが発生する理由は、楔が縁部１２１５を概ね中心として時計方向に０°まで回転して楔が壁８０８Ａに接触した後、縁部１２１７を中心として時計方向に更に回転して楔の面１２０９が壁８０８Ａに対して平らになるからである。縁部１２１７を中心としたこの回転は、本願明細書において、「過回転」と称される。これによって、リップ１０７に接触している縁部１２１３が更に下方へ移動するため、タックの付加隙間が生じ、曲線Ｃの切り込みと折点との間が最大０．０３２インチになる。このタックの付加隙間が生じると、縁部１２１５は鉛直に移動して壁８０８Ｄをこするため、過回転に対していくらかの抵抗を生じ得る。曲線Ｃにおいて折点位置の６５ポンドからＦｐｏ位置の１０５ポンドまでの部分は、過回転のために楔の角度が０°又はそれ以下であるときに、溝１０８及びリップ１０７が、楔のタック保持縁部１２１３に形成された半円レッジと面８０３Ｓとの間の開口に押し込まれた結果である。楔の角度が約０°のとき、タック保持縁部１２１３の半円レッジは、タック溝１０８の一方の側の周囲のリップ１０７の下に充分に形成されるので、反対側のタック溝１０８とリップ１０７とは面８０３Ｓに押し込まれて面８０３Ｓを或る程度に変形させる。従って、タックシャフト１０６を「溝１０８のサイズ」の開口から引き抜くには、開口を強制的に拡大する必要がある。従って、図８Ｄ、９Ａ、９Ｂ、及び９Ｃを参照して説明した実施形態において、タックシャフト１０６を「溝１０８のサイズ」の開口から引き抜くために必要な引張力Ｆｐは、約１０５ポンド（曲線Ｃの解放点）に等しくなり得る。タックシャフト１０６と、溝１０８と、溝リップ１０７とを「溝１０８のサイズ」の開口から引き抜く工程は、半円レッジの一部又は全体をタック保持縁部１２１３から押し出すステップか、面８０３Ｓの一部又は全体を押し出すステップか、溝リップ１０７の一部又は全体を押し出すステップか、又はプラスチック壁を楔１２０２に接触させて更に撓ませるステップを含み得る。折点からＦｐｏまでの正味撓みは、図１０の曲線Ｃに示すように約０．０３０インチのタックの付加隙間である。
【００６８】
図８Ａ、８Ｂ、８Ｃ、８Ｄ、９Ａ、９Ｂ、９Ｃ、及び図１０の曲線Ｃを参照して説明した実施形態をＥＡＳセキュリティシステムに使用してもよいが、この実施形態は改良可能な幾つかの特性を有する。これらの特性は以下を含む。即ち、（１）図１０の曲線Ｃが曲線Ａと曲線Ｂとの間の望ましい領域の外側にある。（２）Ｆｐｏが望ましい値である１２５ポンド以下である。（３）主として以下に説明する摩擦力Ｆｆの作用によって、Ｆｐによって引っ張られた楔１２０２が約２５°又はそれ以下にしかならないと、楔１２０２とタック１００とが実質的に引っ掛かるので、図６の取り外しデバイスでは取り外すことができない。（４）特定のＦｐ値を超えるＦｐを加えてからこのＦｐを除いた後に、タグの「引っ掛かりを解消する」と、楔はタックの溝リップ１０７を再捕捉しない。（５）楔１２０２の角度が０°に達した後に、過回転によってタックの付加隙間が生じる。（６）使い捨て型構成は、少なくとも強度「Ｓ」より弱い磁気取り外しデバイスによって永久的な係止解除状態にする。
【００６９】
タック１００をタグ１０２から取り外すには、楔１２０２を「自由状態」にする必要がある。「自由状態」とは、図６の取り外しデバイスの影響下で自由に回転することを指する。保護されている衣類によって、楔の自由状態への移行が多少邪魔されることもある。例えば、保護されている衣類がタック頭部とタグ（図３参照）との間にぴったりと嵌ると、小さな「タック引き抜き」圧力がタックにかかり、タック保持縁部１２１３がリップ１０７で溝１０８内に保持されるため、図６の取り外しデバイスがタック保持システムを容易に解放できない。タック頭部に対してわずかな「タック押し込み」指圧（Ｆｉ）を加えてタックを０．００３”から０．００４”移動させるだけで楔を自由状態に解放できるようになるので、タグが図７の取り外しデバイスに据えられていれば、楔の縁部１２１３は係止解除位置に回転する。タック頭部に小さなＦｉを加えるだけでタックをタグから取り外せることは、今日のセキュリティタグに使用されている磁気的に解放可能な殆ど全てのボールクラッチに特徴的であり、問題があるとしても稀である。衣類によって提供されるこの「タック引き抜き」圧力は、本願明細書においては「衣類圧力」と称する。
【００７０】
自由状態において楔１２０２の回転を妨げている唯一のタック保持システム要素はラバースプリング１３０２の付勢であるが、この付勢に図６の取り外しデバイスが打ち勝つことができればタックが解放される。手でタック頭部を押してタックシャフト１０６をタグ１０２に押し込むことによって、引っ掛かっている楔１２０２を自由状態にさせることができる。必要な押し込み力（Ｆｉ）は、複数の要因によって決まるが、主として加えられるＦｐ量によって決まる。楔の角度が約３４°のとき、楔は自由状態になり得る。Ｆｐを加えるにつれて楔の角度が小さくなるので、プラスチック壁及び楔の弾性的な撓み及び／又は変形が生じる。前に導出した式から、摩擦力Ｆｆ（Ｆｆ＝Ｆｐ×β×ｃｏｓθ／ｓｉｎθ＋β×ｃｏｓθ）はタックの何れの移動をも妨げ、鉛直力Ｆｖ（Ｆｖ＝Ｆｐ×ｓｉｎθ／ｓｉｎθ＋β×ｃｏｓθ）はタックを引っ張ってタグ内に保持する。これらの力は、「タック押し込み」方向に効果的に働き、加えられたＦｐに対抗する。ある点でＦｐが除かれる。ここで、正味撓みの弾性部分が回復しようとする。この回復力Ｆｈ’は主として水平であり（プラスチックは引っ張られる前の元の位置に向かって回復する）、生じた力が楔とタックとに加えられる。ここで、タックの何れの移動をも妨げる新しいＦｆ’（Ｆｆ’＝Ｆｈ’×β）が存在する。ここで、新しいＦｖ’（Ｆｖ’＝Ｆｈ’×ｔａｎθ）が「タック押し込み」方向に存在する。Ｆｖ’がＦｆ’より大きい場合は、正味力は「タック押し込み」方向であるので、手でタック頭部に押し込み力（Ｆｉ）を一切加えなくとも、タック及び楔は移動して自由状態になる。Ｆｆ’がＦｖ’より大きい場合は、正味力によってタック及び楔が移動されないので、タック保持システムは自動的に自由状態に移動せず、自由状態に達する（例えば、タックの引っ掛かりを外す）には、いくらかの量のＦｉをタック頭部に加える必要がある。約１５ｌｂｓのＦｐを加えてからこのＦｐを除くと、例えば、手による押し込みＦｉをタックに加えなくても、自由状態に到達できることが複数のテストで証明されている。２０ポンドのＦｐの後に自由状態に達するために必要なＦｉは約５ポンドである。４０ｌｂｓから５０ｌｂｓのＦｐの後に自由状態に達するには、約１５ｌｂｓのＦｉが必要である（楔の角度は約２０°）。６５ｌｂｓ（楔の角度＝０°）のＦｐの後に自由状態に達するには、約３５ｌｂｓのＦｉが必要である。
【００７１】
従って、タックシャフト１０６と面８０３Ｓ／壁８０８Ｔとの間の摩擦力Ｆｆによって楔１２０２とタックアセンブリ１０２とが必ずしも自動的に自由状態になるとは限らないことが分かる。むしろ、楔１２０２を自由状態にするには、摩擦力Ｆｆに勝る力Ｆｉをタック頭部に加える必要があり得る。タック保持システムを自由状態にさせるために必要なＦｉの具体値は、加えられたＦｐと、対応する楔の角度θと、ある程度まではリップ１０９の傾斜及び形状とによって異なり得る。他の要素として、Ｆｐ及びＦｉを加えた時点間の経過時間と、Ｆｐ及びＦｉを加えた時点間の温度差とが含まれることもある。従って、望ましい特性は、Ｆｐが２０ｌｂｓから３０ｌｂｓに達する通常使用時に、又は更に大きなＦｐが加えられたときに、必要なＦｉが皆無か又は小さいことである（例えば、必要なＦｉを最小化する必要がある）。
【００７２】
上記の引っ掛かり特性（３）の説明では、図８Ｄ及び９Ａの主題の実施形態についての一般的な結果を記述している。この実施形態では、ハウジング１１４及び１１６がＡＢＳプラスチック製であり、タックシャフト１０６がタックシャフト１０６の周りに２つの円周溝１０８を有し、これらの溝１０８の長さが約０．０４０インチであり、溝１０８間の間隔が約０．０４０インチであり、タックシャフトの硬度が約ＲＣ４０、楔の硬度が約ＲＣ４５、溝１０８の表面がシャフト１０６の表面に平行であり、深さが０．００３”／０．００４”、シャフト１０６の表面に対する両溝リップ１０７及び１０９の角度が９０°、及び第１の溝リップ１０７が先端から約０．１２インチの位置にある。
【００７３】
一部の実施形態においては、例えば、楔の角度を約１５°又はそれ以上に限定することが望ましいこともある。楔の角度が約１５°又はそれ以下のときに半円レッジが形成されてから、タックアセンブリがＦｉによって自由状態に押し戻されると、半円レッジが溝リップ１０７を「再捕捉」しないため、タックをタグから手で簡単に取り外せるようになる。これは、不正な利用者が充分な力でタックアセンブリ１０２を引っ張って楔の角度を約１５°又はそれ以下にすることができれば、簡単に打破されることになる。この問題が発生する一つの理由は、楔のタック拘束縁部１２１３に形成される面の長さが半円レッジの下約０．０１１インチになるためである。タックアセンブリ１０２をセキュリティタグ１００内に押し戻すと、プラスチックの撓みがいくらか回復するので、形成された半円レッジの端部がタック溝１０８に係合する角度が形成時の角度と異なる。溝リップ１０７の深さは約０．００３インチである。つまり、楔の角度をアークタンジェント０．００３／０．０１１＝１５°より小さくすることができない。この値は、タックアセンブリ１０２及び楔１２０２のそれぞれの硬度値ごとに、及びそれぞれのプラスチック撓みの回復量ごとに異なる。
【００７４】
一部の実施形態においては、例えば、０°を超える楔１２０２の枢動を防止することが望ましいこともある。楔１２０２が時計方向に３４°から０°まで回転すると、楔１２０２と楔の縁部１２１７とが天壁８０８に対して平らになる。充分なＦｐが追加されると、楔１２０２が縁部１２１７を中心として更に時計方向に回転する。結果として、楔１２０２は縁部１２１７を中心として時計方向に更に枢動することによって、縁部１２１５が主に鉛直に移動して、後壁８０３Ｄをこする。縁部１２１７を中心とした枢動が始まると、縁部１２１３の半円レッジは楔１２０２の厚み分だけ下に移動してタックリップ１０７／溝１０８から僅かに遠ざかるので、タック溝１０８に対する把持圧力が減り、引き抜きに必要な壁８０８Ｓ及び縁部１２１３の半円レッジの押し出しが小さくなる。縁部１２１７を中心とした枢動によって、タック保持システムのタックの付加隙間が更に０．０３２インチ増え、引抜力がより小さくなり得る。図１０の曲線Ｃは、このタックの付加隙間を切り込みと折点との間の距離として示している。楔の角度が例えば１５°又はそれ以上に制限され、及び／又は楔の面９０１が完全に支持されていれば、縁部１２１７を中心とした枢動は発生せず、Ｆｐｏが影響されることもない。
【００７５】
再び図８Ｄ、９Ａ、及び９Ｉを参照すると、図９Ｉは、使い捨て型の一実施形態による図８Ｄの部分断面Ａ−Ａを示す。図９Ｉは、使い捨て型タック保持システムにおけるラチェッティング効果の説明を助け得る。図８Ｄ及び図９Ｉの実施形態の潜在的に望ましくない特性は、使い捨て型タック保持システムがタック操作によって打破されやすいことである。図９Ａの構成は、再利用可能型（Ｒ）タック保持システムのみとして想定されたい。楔１２０２Ｒは、アクセル突起１２２１Ｒ及び１２２２Ｒを中心とした回転運動を強いられる。タグ１００が少なくとも充分な強度「Ｓ」の磁気取り外しデバイスに据えられると、楔はラバースプリング１３０２の付勢に充分抗って回転するので（場合によっては衣類圧力を抑えるためにタック頭部をわずかに押し下げる必要がある）、タック保持縁部１２１３Ｒがリップ１０７を越えるため、タック１０２をタグ１００から引き抜くことができる。タグを磁気取り外しデバイスから取り出すと、タグは休止状態に戻る。
【００７６】
図９Ｉの使い捨て型構成では、少なくとも充分な強度「Ｓ」の磁気取り外しデバイスにタグ１００を据えることによってタックアセンブリ１０２をタグ１００から解放することが望ましい。楔１２０２Ｓが回転し、縁部１２１６Ｓがラバースプリング１３０２の付勢に充分抗って平行移動すると（場合によっては衣類圧力を抑えるためにタック頭部をわずかに押し下げる必要がある）、タック保持縁部１２１３Ｓがリップ１０７を越え、楔１２０２Ｓが回転してタックシャフト１０６と平行になるので、タック１０２をタグ１００から引き抜けるようになる（タグは係止状態から永久的な係止解除状態になる）。タグを磁気取り外しデバイスから取り出すと、タグは永久的な係止解除状態になる。
【００７７】
再利用可能型構成と使い捨て型構成との間の一つの違いは、永久的な係止解除状態にするために必要な楔１２０２Ｓの平行移動である。図９Ｉから分かるように、楔の縁部１２１６Ｓの右への移動を抑制するものは、楔の縁部１２１６Ｓが壁８０８Ａに寄り掛かっている接触点における摩擦力のみである。この摩擦力は、ラバースプリング１３０２の圧縮力による付勢の鉛直成分と、関連する摩擦係数ωとに応じて決まる。更に、ラバースプリング１３０２の圧縮力の水平成分が存在する。この水平成分は、楔の縁部１２１６Ｓをその第１の位置から右方に押す傾向があるので、摩擦力と圧縮力の水平成分とが等しくなるまで縁部１２１６Ｓは右方に移動する。タックが係止状態を超えるまで押し込まれて溝１０８が縁部１２１３Ｓ上を摺動し、その後に更にリップ１０９が縁部１２１３Ｓを溝１０８の深さだけ左方に押すと、縁部１２１６Ｓは僅かに右方に移動して第２の位置に達する。この点において、タックを「タック引き抜き」方向に引っ張ると、縁部１２１３Ｓがリップ１０７に引っ掛かるので、更に引っ張ると、縁部１２１６Ｓは、図９Ｉに示すように、縁部１２１５Ｓが壁８０８Ｄに接触する点まで戻る。但し、タックが引っ張られても縁部１２１３Ｓが溝１０８に戻るだけでは、縁部１２１３Ｓは第２の位置に留まる。この結果、タックの操作によって、縁部１２１３Ｓは右方にわずかに移動している。強度が「Ｓ」未満の取り外し用磁石にタグを据え、タックに対してこの簡単な押し引き操作を繰り返して縁部１２１３Ｓをリップ１０９を越えて上下させると、より弱い磁石の磁気バイアスによって縁部１２１６Ｓが右方に「徐々に動き」、ついには楔１２０２Ｓが永久的な係止解除状態まで進む。このように、ラチェッティングは「激突」と同様に打破の一形態であるので、修正が必要である。
【００７８】
タックを挿入する前は、楔１２０２Ｓの面１２０３Ｓが壁８０８Ａに対して平らであり、ラバースプリング１３０２の圧縮力によって壁８０８Ａに向かって付勢されていることに留意されたい。楔が約３４°になる点までタックを挿入すると、楔１２０２Ｓに対するラバースプリングの圧縮力の相対的な鉛直及び水平成分のために、縁部１２１５Ｓがわずかに壁８０８Ｄの右方になり得る。この状態が存在すると、縁部１２１６Ｓの第１の位置は、図９Ｉに示すように、縁部１２１５Ｓが壁８０８Ｄに接触する位置ではなく、わずかに右方に寄り得る。
【００７９】
この問題の１つの特徴は、タックの操作によって縁部１２１６が水平面８０８Ａに沿って移動すると、少なくとも強度「Ｓ」を有する適正な取り外しデバイスより強度が弱い取り外しデバイスを用いて永久的な係止解除状態に到達させることが可能になるため、楔１２０２Ｓの位置の不安定性が存在することである。
【００８０】
図９Ｄは、一実施形態による図９Ａの構成要素の第２の寸法図を示す。図９Ｄは、図８Ａ、８Ｂ、８Ｃ、８Ｄ、９Ａ、９Ｂ、９Ｃ、９Ｉ、及び図１０の曲線Ｃに示した実施形態の動作を改良するために実現した幾つかの可能な修正のうちの最初のものを説明するために役立ち得る。例えば、楔１２０２の到達角度１５°又はそれ以下に依存する特性である再捕捉特性（４）と過回転特性（５）とを排除し、引っ掛かり特性（３）を大幅に向上させるために、第１の修正は、楔の角度が２２°未満にならないようにするための楔止め（例えば、図９Ｄ及び他の図に示し、以下に説明する楔止め９０２）の据え付けを含む。楔止め９０２は、図９ＤにＡＴＣ２として示されているように、タックの付加隙間を０°における０．１３１インチから２２°における０．０４３インチに低減させる。（０．１３１インチ−０．２３５インチ×ｓｉｎ２２°＝０．１３１インチ−０．０８８インチ＝０．０４３インチ）。タック保持システムの構成要素の製造公差及び撓み公差のため、ここで論じる導出寸法は近似値であることに留意されたい。楔止め９０２の追加が唯一行われる修正である場合は、Ｆｐｏが低減する。楔の面１２０５の角度が２２°までしか回転しない場合に比べ、楔の面１２０５の角度が０°まで回転する図９Ｄについて考える。タック保持システムの水平撓みの正味量は、タックを楔の縁部１２１３と壁８０３Ｔとの間に保持する力の大きさである。例えば、楔１２０２が３４°から０°まで回転すると、正味水平撓みは０．２３５インチ×ｃｏｓ０°−０．２３５インチ×ｃｏｓ３４°＝０．２３５インチ−０．１９５インチ＝０．０４０インチになる（図９ＤのＨＹ１を参照）。楔１２０２が３４°から２２°まで回転するときの楔止め９０２付きタック保持システムの水平撓みの正味量は、０．２３５インチ×ｃｏｓ２２°−０．２３５インチ×ｃｏｓ３４°＝０．２１８インチ−０．１９５インチ＝０．０２３インチになり得る（図９ＤのＨＹ２を参照）。従って、課せられる総水平撓みが０．０４０インチから０．０２３インチに減るので、リップ１０７／溝１０８に対して縁部１２１３に形成される座のサイズが小さくなり、ひいてはタックを解放するために必要な押し出し量が減るため、例えば引抜力Ｆｐｏが減り得る。この構成によって、特性（４）及び（５）の問題が解決され、特性（３）が改良されるが、可能な引抜力が更に小さくなるので、Ｆｐｏを改良するための他の修正によって相殺する必要がある。
【００８１】
図９Ｅは、第２の実施形態によるセキュリティタグの上側ハウジングの内面図を示す。図９Ｅは、上側ハウジング１１４の改良後の楔用区画８０２の詳細図を示す。特に、楔止め９０２が図示され、「くり抜き」領域及び以下に説明する幾つかの他の特徴が示されている。この構成は、再利用可能型タグにも使い捨て型タグにも適する。図９Ｆは、第２の実施形態によるセキュリティタグの楔と、ラバースプリングと、タックシャフトとが挿入された、改良後の上側ハウジングの内面図を示す。図９Ｆでは、あたかも下側ハウジング１１６が好適な上側ハウジング１１４に取り付けられて完全なタック保持システムが形成されているかのように、ラバースプリング１３０２が圧縮された状態で示されている。
【００８２】
図９Ｇは、第２の実施形態による図９Ｆの構成要素の寸法図を示す。図９Ｇは、図９Ｆの部分断面Ａ−Ａであり、一部の寸法が示されており、図８Ａ、８Ｂ、８Ｃ、８Ｄ、９Ａ、９Ｂ、９Ｃ、９Ｉ、及び図１０の曲線Ｃの実施形態に加えられた改良点を説明するための助けとなり得る。上記の曲線Ｃの特性（１）及びＦｐｏの特性（２）を向上させるため、及び楔止め９０２の導入によって引き起こされたＦｐｏの損失を相殺するために、第２の修正を実施する。曲線Ｃ及びＦｐｏを更に改良するには、Ｌａを図９Ｄの０．１９５インチから図９Ｇの０．１８５インチに減らすと、楔の初期角度θがより大きい値に設定されやすくなる。更に、初期Ｌｗを図９Ｄの０．２３５インチから図９Ｇの０．２４０インチに増やする。この結果、楔の初期角度は３４°から３９．６°に増加した。これらの変更によって、楔止め９０２が組み込まれていなければ、最大可能なタックの付加隙間が図９Ｄの０．１３１インチから図９Ｇの０．１５３インチになった（前述の過回転の問題が防止される）。これで、楔１２０２が３９．６°から２２°に回転したときの正味水平撓みは０．０３８インチ（０．２４０インチ×ｃｏｓ２２°−０．０２４インチ×ｃｏｓ３９．６°＝０．２２３インチ−０．１８５インチ＝０．０３８インチ）に等しい（図９ＧのＨＹ３を参照）。これは、第１の修正による上述の０．０２３インチを超える改良である。更に別の改良点は、可能なタックの付加隙間が、楔の角度が図９Ｃによる３４°から０°に回転したときの０．１３１インチから、図９ＧにＡＴＣ３で示すように、楔の角度が３９．６°から２２°に回転したときのわずか０．０６３インチ（０．２４０インチ×ｓｉｎ３９．６°−０．２４０インチ×ｓｉｎ２２°＝０．１５３インチ−０．０９０インチ＝０．０６３インチ）に減ったことである。タック穴８０７の長さを長くし（図８Ａから図９Ｅ）、楔止め９０２を貫通して延在させるようにしたことにより、タックシャフト１０６が充分に支持されるので、壁８０３Ｃは図９Ｅに示すように壁８０３Ｔに一致している。別の際立った理由は、超音波溶接に関する問題の改良である。楔止め９０２の傾斜した天面は、タックが進入する前の楔の面１２０９を支持する。上記の特性（１）及び（２）を更に向上させ、楔止め９０２の導入によって引き起こされたＦｐｏの損失を相殺するために、第３の修正を実施してもよい。塑性降伏量を減らすことによって図１０の曲線Ｃ及びＦｐｏを更に改良するために、図９Ｅに示す実施形態を耐衝撃性ＡＢＳプラスチック又はポリカーボネートプラスチックを用いて成形してもよい。上記の特性（１）及び（２）を更に改良し、楔止め９０２の導入によって引き起こされたＦｐｏの損失を相殺するために、第４の修正を実施してタック及び楔の硬度を変えてもよい。今日使用されている一般的なセキュリティタックの硬度は、約ＲＣ４０である。図８Ｄの実施形態の楔の硬度は、約ＲＣ４５である。従って、より軟質のタックがＦｐの応力下で楔によって切断及び／又は押し出される傾向があり、半円レッジが縁部１２１３に充分に形成されないこともある。このため、レッジが良好に形成された場合に比べ、Ｆｐｏ値が低下する。タックの硬度が約ＲＣ５０で、��の硬度が約ＲＣ４３であれば、より高い値が可能であることがテストによって示されているので、この変更によって図１０の曲線Ｃを改良する。
【００８３】
図９Ｈは、第２の使い捨て型実施形態による図８Ｄの部分断面Ａ−Ａを示す。図９Ｈは、使い捨て型実施形態における楔１２０２Ｓに対する傾斜面８０８ａの影響を説明するために役立ち得る。ラチェッティングは、図９Ｈ及び９Ｉにおける、また図９Ｅに一部関する、使い捨て型タック保持システムにのみ関係する。一実施形態において、天壁８０８Ａの一部を水平から約２２°に傾斜させてもよい（これと対照的に、図９Ｉでは表面が傾斜していない）。この傾斜部分は、図９Ｈに示すように後壁８０３Ｄから約０．０３２インチ離れた位置から始まる。タック１０２を挿入する前に、楔１２０２Ｓは、上記のようにラバースプリング１３０２の圧縮力によって付勢されて壁８０８Ａに平らに接触しているので、縁部１２１６Ｓは傾斜面８０８ａの直上にある壁８０８Ｄに接触しているか、又は概ね接触している。傾斜部分は、図９Ｈに示すように面８０８ａを含み得る。楔の角度が約３４°のところへタックシャフト１０６を挿入すると、楔の枢支端の縁部１２１６Ｓが傾斜面８０８ａにもたれる。タックシャフト１０６と楔１２０２Ｓとが係止状態のとき、縁部１２１６Ｓは後壁８０３Ｄから約０．０１８”の位置にある第１の位置で傾斜面８０８ａにもたれている。図９Ｉに関して上で説明したように、ラバースプリング１３０２の圧縮力は、縁部１２１６Ｓを右方に付勢する正味水平成分を有するほか、正味鉛直成分を有する。正味鉛直成分は、摩擦係数ωと結合されて、移動を付勢しない摩擦力を縁部１２１６Ｓにもたらす。水平力成分が摩擦力に打ち勝つと、縁部１２１６Ｓは、正味鉛直成分が漸減して摩擦力と正味水平力とが等しくなる位置まで、右方に移動する。傾斜面８０８ａを追加すると、縁部１２１６Ｓを付勢して左方に移動する別の力成分が縁部１２１６Ｓに加えられる。この左方への付勢は、少なくともラバースプリング１３０２の圧縮力の正味鉛直成分と、傾斜面８０８ａの角度と、摩擦係数ωとの関数である。左方への付勢と何れかの摩擦力とが、右方への付勢を打ち消する。傾斜面８０８ａの角度が充分であれば、左方への付勢が右方への付勢を圧倒する。充分な強度「Ｓ」の磁気取り外しデバイスにタグ１００を据えると、楔１２０２Ｓが回転して充分に引き寄せられるので、左方への正味付勢に打ち勝ち、縁部１２１６Ｓを傾斜面８０８ａから平坦面８０８Ａへと平行移動させ得る。平坦面８０８Ａでは、左方への付勢が排除されるので、縁部１２１６Ｓの平行移動に対する抵抗が大幅に減る。従って、縁部１２１６Ｓを傾斜面８０８ａから平坦面８０８Ａに平行移動させるには、磁気取り外しデバイスの強度として少なくとも「Ｓ」を必要とする条件が確立されている。この傾斜面は、図９Ｅ及び９Ｆの構成においても同様に有効であるので、この傾斜面を適合化させてもよい。唯一の違いは、係止状態における楔の角度（即ち、３４°に対して３９．６°）によって、縁部１２１６Ｓが表面８０８Ａに達するために面８０８ａ上の移動距離に小さな差が生じることである（図９Ｆの実施形態では０．０１６から０．０１３インチ）。壁９０１の全体又は一部を表面８０８Ａから取り除くか、又は「くり抜く」ことによって（図９Ｅ及び図２０の「ＣＯ」を参照）さらなる改良が導入される。この結果、縁部１２１６Ｓは、図Ｅに示す傾斜面８０８ａから平行移動した後に、表面８０８Ａ上を摺動せず、図９Ｅ及び図１４乃至３１に示すくり抜き穴に「落ちる」ので、縁部１２１６Ｓの平行移動又は楔１２０２Ｓの回転移動が一切の抵抗を受けないため、膨張するラバースプリングを中心として楔１２０２Ｓ全体が実質的に制約のない反時計方向の回転を直ちに開始して永久的な係止解除状態になる。従って、膨張するラバースプリング１３０２の助けによって縁部１２１６Ｓが傾斜面８０８ａ（レッジ８０８ｂ）の端部を越えて前進し、楔１２０２Ｓの無制約回転を引き起こし、永久的な係止解除状態に至らせるために必要な少なくとも強度「Ｓ」の磁気取り外しデバイスの閾値が設定されている。同じ傾斜面８０８ａによってラチェッティングを防止する。タックシャフト１０６が充分なタック隙間を有する場合にタックシャフト１０６が押し込まれてラチェッティングが試みられると、楔の縁部１２１６Ｓは、第１の位置からわずかに右方にある、傾斜面８０８ａ上にある第２の位置に移動する。タックシャフト１０６がその第１の位置に引き戻されると、傾斜面８０８ａの充分な傾斜により楔の縁部１２１６Ｓがその第１の位置に戻り得る。ラバースプリング１３０２の付勢は、図９Ｉに示すように水平面８０８Ａとの接触時に、縁部１２１６Ｓを第２の位置に保持する傾向がある一方で、傾斜面８０８ａの充分な傾斜により、同じ付勢によって縁部１２１６Ｓが押されて傾斜面８０８ａを下り、第１の位置に戻る傾向がある。このように、傾斜面８０８ａの傾斜が充分であれば、ラチェッティング特性が低減又は排除される。この実施形態においては、滑らかな傾斜面８０８ａの傾斜が２２°であれば充分である。組み立て時は、面８０８ａによって楔の枢支端もより良好に制御する。傾斜面８０８ａは、縁部１２１６Ｓのレッジ８０８ｂへの滑らかな走行を提供するための選択肢であることに留意されたい。この構成の代わりに、平坦面８０８ａと、楔１２０２Ｓが無制約回転を行い永久的な係止解除状態に至る前に、縁部１２１６Ｓが越えなくてはならない閾を提供するフェンス状の仕切りとを設けることもできる。傾斜面８０８ａは、縁部１２１６Ｓの滑らかな平行移動と、成形の容易さのために選択される。
【００８４】
一実施形態においては、上記のように使い捨て型タック保持システムの操作を容易にするために、天壁８０８Ａの表面から壁９０１の一部を取り除くか、又は「くり抜いて」もよい。再利用可能型タック保持システムにおいては必ずしも壁９０１の一部をくり抜く必要はない。その理由は、凹部８２１及び８２２に嵌っている突起１２２１Ｒ及び１２２２Ｒによって楔１２０２Ｒの回転が防止され、くり抜かれた領域に入ることがないからである。但し、壁９０１を図９Ｅ及び図１４乃至３１に示す程度までくり抜くことによって、タグの強度を実質的に弱めることなく成形工程を助けるので、以降の使い捨て型及び再利用可能型の両タック保持システムの図には、壁９０１のくり抜き領域が示されている。図９Ｅに見られる別の変更は、壁８１６及び８１８と、壁８０３Ｋ及び８０３Ｌの位置の改良である。壁８１６及び８１８は傾斜しているので、休止状態の楔の面１２０５と平行になるため、そこに押し当たるラバースプリングの表面１３０４Ａ全体に対して実質的に平らな表面を提供する。更に、再利用可能型の実施形態に関して、壁８０３Ｋ及び８０３Ｌは鉛直に延在し、それぞれの改良された位置において壁８１６及び８１８に交わる。この結果、より深い凹部８２１及び８２２が提供され、楔の突起１２２１Ｒ及び１２２２Ｒがより良好に収容される。
【００８５】
図１１は、一実施形態によるセキュリティタグの下側ハウジングの内面を示す。前述のように、下側ハウジング１１６にポケット１１１０を備え得る。ポケット１１１０は、図１３を参照してより詳細に説明するように、ラバースプリング１３０２に対して支承面１１１１Ｂを提供する。上側ハウジング１１４及び下側ハウジング１１６を互いに接合してセキュリティタグ１００を形成するときに、円筒状の内壁１１１３によって上側ハウジング１１４の円筒状の突起８０９を案内して固定する。
【００８６】
図１２Ａは、一実施形態によるセキュリティタグのための楔の第１の図を示す。図１２Ａは、再利用可能型のタック保持システムでの使用に適した楔１２０２Ｒを示す。一実施形態においては、例えば、磁気的に引き寄せられる鋼材を用いて楔１２０２Ｒを形成する。楔１２０２Ｒは、約０．２４０インチ×０．２４０インチ×０．０３２インチ厚の形状にする。突起１２２１Ｒ及び１２２２Ｒによって、楔１２０２Ｒの再利用が容易になり得る。突起１２２１Ｒ及び１２２２Ｒのそれぞれの寸法を０．０３２インチ×０．０３２インチ×０．０３２インチにする。これらの実施形態はそのような関係に限定されるものではない。
【００８７】
楔１２０２Ｒを代替的な構成にしてもよい。例えば、アクセル突起１２２１Ｒ及び１２２２Ｒを含む楔の枢軸側面１２０７Ｒの端部から端部までに丸みを付け、この丸みを帯びた枢軸側面１２０７Ｒが可動に嵌まるように、天壁８０８Ａと後壁８０３Ｄとの交差部に丸みを持たせてもよい。この構成は、丸みを帯びた枢軸側面１２０７Ｒに対してより良好な支承面を提供するが、楔の製造コストが増す。これらの実施形態はそのような関係に限定されるものではない。
【００８８】
図１２Ｂは、一実施形態によるセキュリティタグのための楔の第２の図を示す。図１２Ｂは、使い捨て型のタック保持システムでの使用に適した楔１２０２Ｓを示す。一実施形態において、例えば、楔１２０２Ｓを楔１２０２Ｒと同様にしてもよい。但し、楔１２０２Ｓにおいては、アクセル突起１２２１Ｒ及び１２２２Ｒを省き得る。楔１２０２Ｓはアクセル突起１２２１Ｒ及び１２２２Ｒを有しないので、セキュリティタグ１００の区画８０２は、アクセル突起１２２１Ｒ及び１２２２Ｒを保持するための対応する凹部８２１及び８２２は必要ない。これらの実施形態はそのような関係に限定されるものではない。
【００８９】
使い捨て型タック保持システムにおいては、例えば、楔１２０２Ｓは、磁気面に引き寄せられるばかりでなく、膨張しているラバースプリング１３０２を中心とした回転運動を付勢する磁気力によって鉛直姿勢に押しやられる。磁石の磁気引力の磁界方向は、一般に磁極面の面中心に直交するので、楔１２０２Ｓの長手方向が磁気引力の磁界に整合される。使い捨て型タック保持システムは、楔１２０２Ｓと磁気回転効果特性を利用することによって、セキュリティタグ１００の永久的な係止解除状態を達成する。
【００９０】
取り外し操作時に、タック保持縁部１２１３Ｓが回転し、タックシャフト１０６の溝リップ１０７の下から出るように、使い捨て型タック保持システムの１つ又は複数の要素に対して特定の寸法を選択してもよい。同時に、縁部１２１６Ｓを面８０８ａの縁部８０８ｂ（図２５及び２６を参照）から壁８０８ＡのＣＯ領域に押し出す必要がある。縁部１２１６Ｓの動きは、回転運動であり、更に面８０８ａ及び縁部８０８ｂからわずかに下方及び横に移動してＣＯに入る。
【００９１】
図１３は、一実施形態によるセキュリティタグのためのラバースプリングの図を示す。図１３は、再利用可能型セキュリティタグ又は使い捨て型セキュリティタグでの使用に適したラバースプリング１３０２を示す。一実施形態においては、ラバースプリング１３０２の形状を、幅ｗ、高さｈ、及び奥行きｔを有する矩形ブロックに近いものにする。ラバースプリング１３０２は、所与の一連の設計制約条件に対して望ましい他の形状を用いて実現してもよい。ラバースプリングの１つの特徴は、ゴムボールと同様にあらゆる方向に相対的に一様な弾力性のある付勢をもたらすことである。この特徴によって、タック保持システムの機能に基本的な鉛直及び水平の付勢成分が提供される。これらの実施形態は、そのような関係に限定されるものではない。
【００９２】
一実施形態において、ラバースプリング１３０２は、ゴム又は発砲ゴムなどの材料から作成してもよい。ゴム材料は、所与の実装に適した一定量の付勢（又は圧縮力）を与える。ラバースプリング１３０２によってもたらされる付勢量は、ラバースプリング１３０２の製造に使用するゴム製品の組成によって変えることができる。従って、磁気取り外しデバイス６０２に必要な磁気強度の量は、ラバースプリング１３０２によってもたらされる付勢量に応じて異なり得る。例えば、ラバースプリング１３０２を作っているゴム製品の保形性が低く、生じる付勢が小さい場合は、より低い磁気強度を用いて取り外し操作を行うように磁気装置６０２を構成する。別の例では、ラバースプリング１３０２を作っているゴム製品の保形性が高く、生じる付勢が大きい場合は、より高い磁気強度を用いて取り外し操作を行うように磁気装置６０２を構成する。これらの実施形態は、そのような関係に限定されるものではない。
【００９３】
一実施形態において、ラバースプリング１３０２は、幾つかの異なるゴム製品を用いて実現する。例えば、ゴム材料は、ＰＯＲＯＮ  Ｕｒｅｔｈａｎｅ  Ｆｏａｍ番号４７０１−４０  Ｓｏｆｔ、又は４７０１−５０  Ｆｉｒｍ、又は４７０１−６０  Ｖｅｒｙ  Ｆｉｒｍを含んでもよい。これらの製造元はすべてＲｏｇｅｒｓ  Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎである。上記の特性に加え、ラバースプリング１３０２用に選択された特定のゴム材料は、セキュリティタグ１００の所与の実装に望ましい充分な安定性と耐久性とを提供する必要がある。適正な取り外しのためには、ラバースプリング１３０２の寸法も重要である。ラバースプリング１３０２の一つ又は複数の特性の変更可能とすることにより設計上の柔軟性がもたらされるので、設計に拡張性を与えることが可能となり、様々なセキュリティタグ１００に対してそれぞれ異なる取り外し特性を持たせることが可能である。これらの実施形態は、そのような関係に限定されるものではない。
【００９４】
図９Ｅは、図１４乃至図３１で用いられている上側カバー構成を示す。壁８１６及び８１８と、壁８０３Ｋ及び８０３Ｌの改良後の位置は、再利用可能型タグの断面図１４乃至１９に参照用に示されている。図１４は、一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングとを備えた再利用可能型セキュリティタグの線Ｄ−Ｄに沿った第１の断面図を示す。図１４は、図１Ａの再利用可能型タック保持システムの部分断面Ｄ−Ｄであり、タックシャフト１０６がタック穴８０７に部分的に挿入された状態が示されている。この再利用可能型タック保持システムは、休止状態にあり、タックアセンブリ１０２をセキュリティタグ１００に取り付けるための操作が開始されたところである。尖った端部１１２を開口部１２０とタック穴８０７とに挿入する。尖った端部１１２は、楔１２０２Ｒの傾斜面１２０９Ｒに接近している。アクセル突起１２２１Ｒ及び１２２２Ｒは、それぞれの凹部８２１及び８２２に拘束されているが、凹部８２１及び８２２内で回転可能である。一実施形態においては、休止状態のとき、ラバースプリング１３０２によって楔１２０２Ｒを約２２°の楔の角度θに付勢し、面１２０９Ｒを楔止め９０２に当て、縁部１２１６Ｒを傾斜面８０８ａに当て得る。縁部１２１６Ｒは、後壁８０８Ｄから約０．０１２インチの位置にある。
【００９５】
図１５は、一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングとを備えた再利用可能型セキュリティタグの線Ｄ−Ｄに沿った第２の断面図を示す。図１５は、タックシャフト１０６が更にタック穴８０７に挿入され、尖った端部１１２は面１２０９Ｒに接触している状態を示す。このような接触によって、楔１２０２Ｒは、概ね縁部１２１５Ｒを中心として反時計方向に回転し始め、縁部１２１６Ｒは面８０８ａ上をわずかに摺動する。楔１２０２Ｒの回転中心が必ずしも縁部１２１５Ｒと後壁８０３Ｄとの接触点ではないことに留意されたい。楔の角度θが変わるにつれて、この接触点は壁８０８Ｄ上で少し移動する。楔の角度θが２２°から４０°に変わると、後壁８０３Ｄ上の移動は、合計で０．００２インチに近づき得る。この移動は、タックの初期隙間にわずかに影響する。尖った端部１１２は、面１２０９Ｒを摺動してタック保持縁部１２１３Ｒに接触する。ラバースプリング１３０２は、楔１２０２Ｒと面１１１１Ｂとの間で更に多少圧縮され得る。タックアセンブリ１０２がセキュリティタグ１００から依然として後退可能であるため、再利用可能型タック保持システムは必ずしも係止状態に入るとは限らない。
【００９６】
図１６は、一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングとを備えた再利用可能型セキュリティタグの線Ｄ−Ｄに沿った第３の断面図を示す。図１６は、タックシャフト１０６がタック穴８０７に更に挿入されてタック保持縁部１２１３Ｒに接触し、タック保持縁部１２１３Ｒの脇を摺動し始める状態を示す。楔の角度θは約４０°である。タックシャフト１０６を更に挿入すると、タック保持縁部１２１３Ｒが最初の溝１０８に隣接して位置付けられる。タック保持縁部１２１３Ｒがタックシャフト１０６に接触しているときは、楔１２０２Ｒはそれ以上反時計方向に回転しない。タックアセンブリ１０２がセキュリティタグ１００から依然として後退可能であるため、再利用可能型タック保持システムは係止状態にまだ達しえない。
【００９７】
図１７は、一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングとを備えた再利用可能型セキュリティタグの線Ｄ−Ｄに沿った第４の断面図を示す。図１７は、タックシャフト１０６が更にタック穴８０７に挿入され、タック溝１０８がタック保持縁部１２１３Ｒに隣接している状態を示す。この時点において、楔１２０２Ｒと壁１１１１Ｂ及び８０８Ｄとの間のラバースプリング１３０２の付勢によって、楔１２０２Ｒが時計方向に回転し、タック保持縁部１２１３Ｒがタック溝１０８に押し込まれ得る。楔の角度θは約３９．６°であり、縁部１２１６Ｒは後壁８０８Ｄから約０．０１９インチの位置にある。この時点では、タックアセンブリ１０２をセキュリティタグ１００から引き抜こうとしても、上記のように楔によって妨げられる。タック保持縁部１２１３Ｒの尖った先端部はラバースプリング１３０２によって付勢されて溝リップ１０７とタック溝１０８との交差部に入るので、タグ１００からのタック１０２の引き抜きが防止される。この時点において、再利用可能型タック保持システムは係止状態にある。
【００９８】
一実施形態においては、磁気取り外しデバイス６０２を用いて、再利用可能型タック保持システムを備えたセキュリティタグ１００からタックアセンブリ１０２を取り除くか、又は取り外する。タックアセンブリ１０２をセキュリティタグ１００から取り外すには、セキュリティタグ１００を磁気取り外しデバイス６０２に着座させるか、又は概ね着座させる必要がある。タックアセンブリ１０２をセキュリティタグ１００から取り外す際の再利用可能型タック保持システムに対する磁気取り外しデバイス６０２の効果を図１８及び１９を参照しながらより詳細に説明する。
【００９９】
図１８は、一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングと、磁気取り外しデバイスとを備えた再利用可能型セキュリティタグの線Ｄ−Ｄに沿った第１の断面図を示す。図１８は、図１７と同じ部分断面であるが、磁気取り外しデバイス６０２に着座している状態を示す。更に、タグ１００が磁気取り外しデバイス６０２に着座したときに楔１２０２Ｒの姿勢を係止状態に保持する充分なＦｐが加えられていると想定する。Ｆｐを除いたとき、タック保持縁部１２１３Ｒが充分に回転してタックシャフト１０６の溝リップ１０７から外れるように、磁気取り外しデバイス６０２は、ラバースプリング１３０２の付勢に抗して楔１２０２Ｒを引き寄せ、それぞれの凹部８２１及び８２２に収容されているアクセル突起１２２１Ｒ及び１２２２Ｒと縁部１２１５Ｒとを中心に楔１２０２Ｒを反時計方向に回転させるために充分な強度を有する必要がある。
【０１００】
図１８に示す状態は、係止状態を保持するためにＦｐを必ずしも加えなくても起こり得る。その理由は、タック頭部１０４とセキュリティタグ１００との間に衣類２０２を固定したときに衣類２０２によって充分なＦｐが既に加えられている可能性があり得るためである。場合によっては、セキュリティタグ１００を磁気取り外しデバイス６０２に着座させたときに、挿入力Ｆｉをタック頭部１０４に加えることによって、タックシャフト１０６をセキュリティタグ１００に充分に押し込み、タック保持縁部１２１３Ｒを溝リップ１０７から解放して取り外し操作を行い得る。一般に、タックシャフト１０６に必要な移動は、０．００４インチに近い。取り外しを助けるためのこの種の押し込み操作は、あらゆる磁気クラッチに対して一般にある程度存在する。但し、大部分の取り外しにおいては、単にセキュリティタグ１００を磁気取り外しデバイス６０２に着座させるだけでタックアセンブリ１０２がセキュリティタグ１００から自由になるので、取り外し操作が完了する。
【０１０１】
図１９は、一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングと、磁気取り外しデバイスとを備えた再利用可能型セキュリティタグの線Ｄ−Ｄに沿った第２の断面図を示す。図１９は、Ｆｐを除いた後の係止解除状態を示す。溝リップ１０７がタック保持縁部１２１３Ｒから外れているので、セキュリティタグ１００が磁気取り外しデバイス６０２に着座していれば、タックアセンブリ１０２をセキュリティタグ１００から引き抜くことができる。タックアセンブリ１０２を引き抜き、セキュリティタグ１００を磁気取り外しデバイス６０２から外すと、楔１２０２Ｒの状態が図１４に示す休止状態に戻る。タックシャフト１０６がタック穴８０７に残っている状態でセキュリティタグ１００を磁気取り外しデバイス６０２から外すと、楔１２０２Ｒは図１７に示す状態に戻り得る。但し、タックアセンブリ１０２をセキュリティタグ１００から取り外すことが目的であるので、この操作は逆効果となる。
【０１０２】
図２０は、一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングとを備えた使い捨て型セキュリティタグの線Ｄ−Ｄに沿った第１の断面図を示す。図２０は、図１Ａの使い捨て型タック保持システムの部分断面Ｄ−Ｄであり、タックシャフト１０６がタック穴８０７に部分的に挿入された状態を示す。図２０に示すように、この使い捨て型タック保持システムは、休止状態にあり、タックアセンブリ１０２をセキュリティタグ１００に取り付けるための取り付け操作が開始されている。尖った端部１１２が開口部１２０とタック穴８０７とに挿入されていてもよい。尖った端部１１２が楔１２０２Ｓの傾斜面１２０９Ｓに近づいていてもよい。ラバースプリング１３０２によって楔１２０２Ｓが付勢され、楔止め９０２と傾斜面８０８ａとに当たっていてもよい。休止状態においては、楔１２０２Ｓがラバースプリング１３０２によって約２２°の楔角度θに付勢され、面１２０９Ｓが楔止め９０２（完全には図示せず）に当たり、縁部１２１６Ｓが傾斜面８０８ａに当たっていてもよい。縁部１２１６Ｓは、後壁８０８Ｄから約０．０１２インチの位置にあり、レッジ８０８ｂから約０．０２０インチに位置にある。
【０１０３】
図２１は、一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングとを備えた使い捨て型セキュリティタグの線Ｄ−Ｄに沿った第２の断面図を示す。図２１は、タックシャフト１０６が更にタック穴８０７に挿入され、尖った端部１１２が面１２０９Ｓに接触している状態を示す。この接触によって、楔１２０２Ｓは縁部１２１５Ｓを概ね中心として反時計方向に回転し始め、縁部１２１６Ｓは面８０８ａ上をわずかに左方に摺動する。楔１２０２Ｓの回転中心が正確には必ずしも休止状態の縁部１２１５Ｓと後壁８０３Ｄとの接触点ではないことに留意されたい。角度θが変わるにつれて、この接触点は少し移動する。楔の角度が２２°から４０°に変わると、後壁８０３Ｄ上の総移動距離は、例えば０．００２インチ（約０．００６ｃｍ）となるであろう。この移動は、初期の追加タック隙間に多少影響する。尖った端部１１２は、面１２０９Ｓを摺動してタック保持縁部１２１３Ｓに接触する。ラバースプリング１３０２は、楔１２０２Ｓと面１１１１Ｂとの間で僅か和ウｚかではわずかではあるが、更に圧縮され得る。タックアセンブリ１０２がセキュリティタグ１００から依然として後退可能であるため、使い捨て型タック保持システムは依然として係止状態になりえない。
【０１０４】
図２２は、一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングとを備えた使い捨て型セキュリティタグの線Ｄ−Ｄに沿った第３の断面図を示す。図２２は、タックシャフト１０６がタック穴８０７に更に挿入されてタック保持縁部１２１３Ｓに接触し、タック保持縁部１２１３Ｓに沿って摺動し始めている状態を示す。タックシャフト１０６を更に挿入すると、タック保持縁部１２１３Ｓが最初のタック溝１０８に隣接する。タック保持縁部１２１３Ｓがタックシャフト１０６に接触しているときは、楔１２０２Ｓはそれ以上反時計方向に回転しえない。楔の角度θは約４０°である。タックアセンブリ１０２がセキュリティタグ１００から依然として後退可能であるため、使い捨て型タック保持システムは依然として係止状態になりえない。
【０１０５】
図２３は、一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングとを備えた使い捨て型セキュリティタグの線Ｄ−Ｄに沿った第４の断面図を示す。図２３は、タックシャフト１０６がタック穴８０７に更に挿入され、タック溝１０８がタック保持縁部１２１３Ｓに隣接している状態を示す。この時点において、楔１２０２Ｓと壁１１１１Ｂ及び８０８Ｄとの間のラバースプリング１３０２の付勢によって、楔１２０２Ｓが時計方向に回転し、タック保持縁部１２１３Ｓがタック溝１０８に押し込まれ得る。楔の角度θは約３９．６°である。縁部１２１６Ｓは、後壁８０８Ｄから約０．０１９インチの位置にあり、レッジ８０８ｂから約０．０１３インチ(約０．０３ｃｍ）の位置にある。この時点では、タックアセンブリ１０２をセキュリティタグ１００から引き抜こうとしても、上記のように楔１２０２Ｓによって妨げられる。タック保持縁部１２１３Ｓの尖った先端部が付勢されて溝リップ１０７とタック溝１０８の交差部に入り込むので、タグ１００からのタック１０２の引き抜きが防止される。これで、使い捨て型タック保持システムが係止状態になる。
【０１０６】
一実施形態においては、使い捨て型タック保持システムを備えたセキュリティタグ１００からタックアセンブリ１０２を取り除く、又は取り外すために、磁気取り外しデバイス６０２を使用する。タックアセンブリ１０２をセキュリティタグ１００から外すには、セキュリティタグ１００を磁気取り外しデバイス６０２内に着座させるか、又は概ね着座させる必要がある。タックアセンブリ１０２をセキュリティタグ１００から取り外す際の使い捨て型タック保持システムに対する磁気取り外しデバイス６０２の効果を図２４乃至図３０を参照しながらより詳細に説明する。
【０１０７】
図２４は、一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングと、磁気取り外しデバイスとを備えた使い捨て型セキュリティタグの線Ｄ−Ｄに沿った第１の断面図を示す。図２４は、図２３と同じ部分断面であるが、磁気取り外しデバイス６０２に着座している状態を示す。更に、タグ１００が磁気取り外しデバイス６０２に着座させたときに、楔１２０２Ｓの姿勢を係止状態に保持するために充分なＦｐが加えられていると想定する。Ｆｐを除くと、取り外しが始まる。磁気取り外しデバイス６０２は、ラバースプリング１３０２の付勢に抗して楔１２０２Ｓを引き寄せ始める。これによって、楔１２０２Ｓが縁部１２１５Ｓを概ね中心として反時計方向に付勢されて回転するため、縁部１２１６Ｓが左方に付勢されて傾斜面８０８ａ上をレッジ８０８ｂに向かって平行移動する。
【０１０８】
図２４に示す状態は、係止状態を保持するためのＦｐを加えなくても起こり得る。その理由は、タック頭部１０４とセキュリティタグ１００との間に衣類２０２が固定されたときに衣類２０２によって充分なＦｐが既に加えられている可能性があり得るためである。場合によっては、セキュリティタグ１００を磁気取り外しデバイス６０２に着座させたときに、挿入力Ｆｉをタック頭部１０４に加えてタックシャフト１０６をセキュリティタグ１００に充分に押し込み、溝リップ１０７からタック保持縁部１２１３Ｓを解放することによって取り外しを行い得る。場合によっては、タック保持縁部１２１３Ｓを解放するには、例えば、タックシャフト１０６を約０．００４インチだけ押すか、又は移動させる必要がある。場合に応じて追加の挿入力Ｆｉを用いて取り外しを補助することは、あらゆる磁気クラッチにおいて一般にある程度あり得る。但し、大部分の取り外しにおいては、セキュリティタグ１００を磁気取り外しデバイス６０２に据えるだけで、使い捨て型タック保持システムは永久的な係止解除状態になる。
【０１０９】
図２５は、一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングと、磁気取り外しデバイスとを備えた使い捨て型セキュリティタグの線Ｄ−Ｄに沿った第２の断面図を示す。図２５は、磁気アセンブリ６０３から楔１２０２Ｓに対する吸引力の効果を示す。この磁気吸引力によって楔１２０２Ｓがラバースプリング１３０２を図２４に示されている状態よりわずかに多く圧縮され、タック保持縁部１２１３Ｓがわずかに回転して溝リップ１０７の下から出て、磁気アセンブリの磁極面６０４に向かってわずかに引き寄せられ得る。概ね同時に、縁部１２１６Ｓが８０８ａを横切ってレッジ８０８ｂに到達する。再利用可能型タック保持システムの場合は、アクセル突起１２２１Ｒ及び１２２２Ｒの横移動はそれぞれの凹部８２１及び８２２によって規制されるため、楔の縁部１２１６Ｒは面８０８ａ上を横移動できないことに留意されたい。
【０１１０】
図２６は、一実施形態によるタックと、楔と、ラバースプリングと、磁気取り外しデバイスとを備えた使い捨て型セキュリティタグの線Ｄ−Ｄに沿った第３の断面図を示す。図２６は、楔１２０２Ｓのタック保持縁部１２１３Ｓが磁気アセンブリの面６０４に向かって引き寄せられる一方で、縁部１２１６Ｓがレッジ８０８ｂを越える状態を示す。また、ラバースプリング１３０２は、図２５に示された圧縮状態から膨張し始め、縁部１２１６Ｓをタックアセンブリ１０２に向かって押する。
【０１１１】
図２７は、一実施形態によるタックと、楔と、ラバースプリングと、磁気取り外しデバイスとを備えた使い捨て型セキュリティタグの線Ｄ−Ｄに沿った第４の断面図を示す。図２７は、楔１２０２Ｓの縁部１２１３Ｓが磁気アセンブリの面６０４に向かって更に引き寄せられる一方で、縁部１２１５Ｓがレッジ８０８ｂを越える状態を示す。更に、ラバースプリング１３０２は、図２６に示された圧縮状態から更に膨張し続け、縁部１２１６Ｓを更にタックアセンブリ１０２に向けて押する。
【０１１２】
図２８は、一実施形態によるタックと、楔と、ラバースプリングと、磁気取り外しデバイスとを備えた使い捨て型セキュリティタグの線Ｄ−Ｄに沿った第５の断面図を示す。図２８は、膨張状態のラバースプリング１３０２が楔１２０２Ｓを実質的に鉛直姿勢にさせる一方で、磁気アセンブリ６０３がタック保持縁部１２１３Ｓを磁気アセンブリの面６０４に向けて引き寄せ続けるので、楔１２０２Ｓは鉛直姿勢になる。
【０１１３】
図２９は、一実施形態によるタックと、楔と、ラバースプリングと、磁気取り外しデバイスとを備えた使い捨て型セキュリティタグの線Ｄ−Ｄに沿った第６の断面図を示す。図２９は、充分に膨張したラバースプリング１３０２の傍らで概ね鉛直姿勢になっている楔１２０２Ｓを示す。タック保持縁部１２１３Ｓは、可能な限り磁極面６０４に近づき、面１１１１Ｂに接触している。タックアセンブリ１０２は、一切の拘束から完全に自由であるので、セキュリティタグ１００から引き抜くことができる。これで、セキュリティタグ１００が永久的な係止解除状態になる。
【０１１４】
図３０は、一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングとを備えた使い捨て型セキュリティタグの線Ｄ−Ｄに沿った第７の断面図を示す。図３０は、セキュリティタグ１００を磁気取り外しデバイス６０２から取り外したときに、同じ永久的な係止解除状態が存在することを示す。タックアセンブリ１０２の引き抜きは、セキュリティタグ１００を磁気取り外しデバイス６０２から取り外す前でも後でも行い得る。図２９及び図３０に示す構成では、セキュリティタグ１００を分解して組み立てなおさない限り、楔１２０２Ｓを図２０の休止状態に戻すことができないので再利用はできない。
【０１１５】
図３１は、一実施形態による使い捨て型セキュリティタグの上側ハウジングの内面図を示す。図３１は、激突の影響を減らすか、又は排除するために、使い捨て型タック保持システムの区画８０２に可能な１つの構成を示す。比較のために、図３１の識別子は、図９Ｇに使用した識別子と同様である。ラバースプリング１３０２の位置を制御する壁が移動され、ラバースプリング１３０２の中心が基本的に楔１２０２Ｓの重心に合わせられていることに留意されたい。楔用区画８０２のこの構成によって、上で定義した激突の影響が実質的に排除される。
【０１１６】
図８Ｄの実施形態は、図１０のＦｐ−ＡＴＣ曲線Ｃになった。図８Ｄの実施形態は、Ｆｐ値が約２０ポンドを超えないときは実用的な機能を有するが、Ｆｐ値が２０ポンドを超えると、望ましくない特性を生じる。これらの望ましくない特性を克服するための改良を行った結果が図９Ｆのタック保持システムの実施形態である。セキュリティタグ１００及びタック１０２の外観及び基本的機能は変わっていないが、再利用可能型と使い捨て型の両セキュリティタグ１００に改良点が導入されている。これらの改良点は、主としてＦｐｏを増やし、各Ｆｐ値に対するタックの付加隙間を減らす手段を含むが、「激突」又は「ラチェッティング」による使い捨て型版の打破を防止することに特に注意が払われている。
【０１１７】
図８Ｄの第１のタック保持システムの実施形態を変更した結果である図９Ｆのタック保持システムの実施形態に所望の改良が実際にもたらされたことが確認するために、幾つかの「引っ張り」試験を実施した。６つの引っ張り試験のすべてと、対応する曲線に関する以降の考察は、図９Ｅ、９Ｆ、及び９Ｇに示す改良後のタック保持システムの実施形態に反映されている。各引っ張り試験では、Ｃｈａｔｉｌｌｏｎ  Ｍｏｄｅｌ  ＵＳＴＭ機を使用し、引っ張り速度を１分当たり３インチとした。引っ張り試験１〜６のそれぞれにおいて、４つの同じタグ及びタックを引っ張った。第１の引っ張り試験では１５ポンドまでのＦｐを加え、第２の引っ張り試験では５０ポンドまでのＦｐを加え、第３の引っ張り試験では１００ポンドまでのＦｐを加え、第４の引っ張り試験ではＦｐｏまでのＦｐを加えた。第５の引っ張り試験では、追加の引っ張りを２つ追加した。即ち、５番目の同じタグを２５ポンドまでのＦｐで引っ張り、６番目の同じタグを１２０ポンドまでのＦｐで引っ張った。第６の引っ張り試験でも、追加の引っ張りを２つ追加した。即ち、５番目の同じタグを２５ポンドまでのＦｐで引っ張り、６番目の同じタグを１４０ポンドまでのＦｐで引っ張った。タグハウジングは、後述のように、ＡＢＳプラスチック製又はポリカーボネートプラスチック製とした。得られたすべての曲線を図１０に示す。すべての引っ張り試験において、望ましくない特性番号（４）、（５）、及び（６）がそれぞれの対策によって完全に克服されたことが明らかになった。望ましくない特性（１）及び（２）に対する改良は、図１０の各曲線に直接示されている。（３）に対する改良については引っ張り試験ごとに論じる。永久的なＡＴＣ値についても論じる。
【０１１８】
引っ張り試験１の結果は、曲線Ｄに反映されている。曲線Ｄは、ＡＢＳプラスチック製ハウジングを備え、楔の硬度がＲＣ４７、タックの硬度がＲＣ４０の使い捨て型タック保持システムの実施形態の典型である。Ｆｐ＝１５ｌｂｓでの引っ張りによって永久的なＡＴＣが０．００７インチになり、自由状態に達するには「０」ポンドのＦｉを必要とした。Ｆｐ＝５０ｌｂｓでの引っ張りによって永久的なＡＴＣが０．０２５インチになり、自由状態に達するには２ポンドのＦｉを必要とした。Ｆｐ＝１００ｌｂｓでの引っ張りによって永久的なＡＴＣが０．０３８インチになり、自由状態に達するには５ポンドのＦｉを必要とした。第４の引っ張りテストでは、１１０ポンドのＦｐｏでＡＴＣが０．０９７インチになった。
【０１１９】
引っ張り試験２の結果は、曲線Ｅに反映されている。引っ張り試験２は、再利用可能型楔を用いた以外は、基本的には引っ張り試験１の繰り返しである。唯一の重要な違いは、Ｆｐｏが１２０ポンドである点である。追加の１０ポンドは、再利用可能型楔が有する壁８０８Ｄに対するより大きな支承面のためである。ＦｐｏでのＡＴＣは０．０９７インチから０．１０２インチに増えた。
【０１２０】
引っ張り試験３の結果は、曲線Ｆに反映されている。引っ張り試験３は、ハウジングの材料がより硬質のポリカーボネートプラスチックである以外は、基本的には引っ張り試験１の繰り返しである。なお、大きな違いは、Ｆｐｏが１１０ポンドから１３０ポンドに増加し、ＡＴＣが０．０９７インチから０．１０４インチに増加したことである。永久的なＡＴＣは、各Ｆｐ値で約２０％向上し、Ｆｉは各Ｆｐ値で概ね同じであった。
【０１２１】
引っ張り試験４の結果は、曲線Ｇに反映されている。引っ張り試験４は、再利用可能型楔を用いた以外は、基本的には引っ張り試験３の繰り返しである。なお、大きな違いは、Ｆｐｏが１３０ポンドから１４０ポンドに増加し、ＦｐｏでのＡＴＣが０．１０４インチから０．１０７インチに増加したことである。
【０１２２】
引っ張り試験５の結果は、曲線Ｈに反映されている。引っ張り試験３は、楔の硬度が約ＲＣ４２であり、タックの硬度が約ＲＣ４８である以外は、基本的には引っ張り試験１の繰り返しである。Ｆｐｏが１１０ポンドから１２５ポンドに向上し、ＦｐｏでのＡＴＣが０．０９７インチから０．０８２インチに減った。Ｆｐ＝１５ｌｂｓでの引っ張りによって永久的なＡＴＣが０．００８インチになり、自由状態に達するには「０」ポンドのＦｉを必要とした。Ｆｐ＝２５ｌｂｓでの引っ張りによって永久的なＡＴＣが０．０１２インチになり、自由状態に達するには０．４ポンドのＦｉを必要とした。Ｆｐ＝５０ｌｂｓでの引っ張りによって永久的なＡＴＣが０．０２０インチになり、自由状態に達するには２ポンドのＦｉを必要とした。Ｆｐ＝１００ｌｂｓでの引っ張りによって永久的なＡＴＣが０．０２９インチになり、自由状態に達するには５ポンドのＦｉを必要とした。Ｆｐ＝１２０ｌｂｓでの引っ張りによって永久的なＡＴＣが０．０３４インチになり、自由状態に達するには６ポンドのＦｉを必要とした。第４の引っ張りテストでは、１２５ポンドのＦｐｏでＡＴＣが０．０８２インチになった。
【０１２３】
引っ張り試験６の結果は、曲線Ｉに反映されている。引っ張り試験６は、ハウジングの材料がより硬質のポリカーボネートプラスチックである以外は、基本的には引っ張り試験５の繰り返しである。Ｆｐｏが１２５ポンドから１４５ポンドに向上した。ＦｐｏでのＡＴＣは同じままであった。Ｆｐ＝１５ｌｂｓでの引っ張りによって永久的なＡＴＣが０．００４インチになり、自由状態に達するには「０」ポンドのＦｉを必要とした。Ｆｐ＝２５ｌｂｓでの引っ張りによって永久的なＡＴＣが０．００７インチになり、自由状態に達するには０．５ポンドのＦｉを必要とした。Ｆｐ＝５０ｌｂｓでの引っ張りによって永久的なＡＴＣが０．０１２インチになり、自由状態に達するには２ポンドのＦｉを必要とした。Ｆｐ＝１００ｌｂｓでの引っ張りによって永久的なＡＴＣが０．０２５インチになり、自由状態に達するには５ポンドのＦｉを必要とした。Ｆｐ＝１４０ｌｂｓでの引っ張りによって永久的なＡＴＣが０．０２６インチになり、自由状態に達するには７ポンドのＦｉを必要とした。第６の引っ張りテストでは、１４５ポンドのＦｐｏでＡＴＣが０．０８２インチになった。
【０１２４】
引っ張り試験６の結果は、望ましくない各特性を克服するためのすべての改良を反映している。Ｆｐｏは１２５ポンドを優に超え、曲線Ｉは曲線Ａと曲線Ｂとの間にあり、Ｆｉ要件が大幅に改良された。例えば、２０ポンドのＦｐではＦｉが７ポンドから０．５ポンド未満に減り、５０ポンドのＦｐではＦｉが１５ポンドから２ポンドに減り、６５ポンドのＦｐでは必要なＦｉが３５ポンドから約３ポンドに減った。要するに、曲線Ｃにおける主要な向上は、上記のように、楔止めと、係止状態における楔の角度の拡大と、より硬質の材料と、楔より硬質のタックとによってもたらされた。これらの曲線からは分からない操作上の機能拡張として以下が含まれた。即ち、（１）Ｆｉの向上は主として楔止めによるものであり、（２）永久的なＡＴＣの改良は、主としてより硬質のハウジング材料を使用したことにより、（３）ラチェッティングの低減又は排除は、傾斜面８０８ａと、縁部８０８ｂと、くり抜き領域とを組み込んだことにより、（４）激突の低減又は排除は、図３１に示すようにラバースプリングの位置を変えたことにより、（５）Ｆｐｏまでの強さでの引っ張りの後にタックが必ず楔を再捕捉することは、主として楔止めによるものであり、（６）過剰な回転の低減又は排除は楔止めによるものである。
【０１２５】
実施したこれらの６つの引っ張り試験から、生産環境に適した再利用可能型構成を導出する。一実施形態においては、例えば以下の構成と値とを使用してもよい。即ち、（１）ハウジングをポリカーボネートプラスチックで形成し、（２）タックシャフト１０６の硬度をＲＣ４７〜５０にし、（３）タック溝１０８及び溝リップ１０７の深さを０．００３インチから０．００４インチにし、溝の長さを最短でも０．０４０インチにし、間隔を約０．０４０インチにし、（４）楔の寸法を幅０．２３５インチから０．２４０インチ、厚みを０．０３２インチ＋／−０．００１インチにし、アクセル突起１２２１Ｒ及び１２２２Ｒを（図１２Ａに示すように）それぞれ約０．０３２インチの立方体にし、鋭角の縁部１２２０の角度を３０°＋／−１度、長さを０．２３６インチから０．２４２インチにし、楔１２０２Ｒの硬度をＲＣ４０からＲＣ４３にする。これらの実施形態は、そのような関係に限定されるものではない。
【０１２６】
上記の構成を使用した実施形態では、Ｆｐとタックの付加隙間との関係を示す曲線（図１０に曲線Ｉとして示す）がＦｐ値が０ポンドから１４５ポンドまでほとんど直線になり、Ｆｐｏでのタックの付加隙間は約０．０８０インチになり、約１８００ポンド／インチの比率となり得る。この比率及び引き抜き値に対する制限は、一次的には到達された。さらなる試験では、上記の構成を使用し、タックの硬度をＲＣ５０からＲＣ５２に変え、楔の測定硬度をＲＣ４５にしたところ、一般に０．０９０インチのＡＴＣにおいてＦｐｏが一般に１７０ｌｂｓになった。ハウジングにＡＢＳプラスチックを用いて同じ試験を実施したところ、一般に０．０９０インチのＡＴＣにおいて代表的なＦｐｏが１５０ｌｂｓになった。
【０１２７】
他の改良も可能であるが、対応するコスト上昇を考慮する必要がある。例えば、プラスチックの撓みを減らすにはポリカーボネートなどのより硬質のプラスチックを使用するが、より軟質でより安価なＡＢＳプラスチックを使用した場合のわずかに低いＦｐｏ（及びタックの付加隙間の多少の増加）も許容するので、コスト上昇は割に合わないであろう。ＡＢＳプラスチックで達成する１００ポンドのＦｐにおけるタックの付加隙間約０．０７０インチでの約１２５ポンドのＦｐｏは、従来の大半の再利用可能型セキュリティタグより優れている。別の例では、８０３Ｄと８０８Ａとの交差角の丸みに緩く嵌るように、楔１２０２Ｒの面１２０７Ｒに丸みを付けてもよい。この結果、Ｆｐｏが約５ポンド増加するが、この付加的な増加は面１２０７Ｒに丸みを付けるための追加コストに見合わないこともある。これらの実施形態は、そのような関係に限定されるものではない。
【０１２８】
本願明細書においては、各実施形態が完璧に理解されるように、多数の具体的な詳細を述べてきた。但し、これらの具体的な詳細がなくてもこれらの実施形態を実施することは当業者は明白であろう。他の例としては、各実施形態を不明瞭にしないように、周知の操作、構成要素、及び回路を詳細には説明しなかった。本願明細書に開示されている構造上及び機能上の具体的な詳細は代表的なものであり、必ずしも各実施形態の範囲を限定するものではないことは明らかである。
【０１２９】
「一つの実施形態」又は「一実施形態」への言及は、何れにおいても、その実施形態に関連して記述されている特定の特徴、構造、又は特性が少なくとも一つの実施形態に含まれることを意味することに留意されたい。明細書本文中の様々な個所において用いられる「一実施形態において」という句は、必ずしも全てが同一の実施形態を言及しているものではない。
【０１３０】
本願明細書では各実施形態の特定の特徴について図示及び説明したが、当業者は多くの修正、置換、変更、及び均等物を想到し得るであろう。従って、添付の特許請求の範囲は、各実施形態の真の目的に含まれるこれらの修正及び変更を全て包含することに留意されたい。
【図面の簡単な説明】
【０１３１】
【図１Ａ】一実施形態によるセキュリティタグとタックアセンブリとを示す。
【図１Ｂ】一実施形態によるセキュリティタグアセンブリを示す。
【図２】一実施形態によるセキュリティタグと、タックアセンブリと、留め付けられていない状態の物品とを示す。
【図３】一実施形態によるセキュリティタグと、タックアセンブリと、留め付けられた状態の物品とを示す。
【図４】一実施形態によるセキュリティタグの第１の分解斜視図を示す。
【図５】一実施形態によるセキュリティタグの第２の分解斜視図を示す。
【図６】一実施形態による磁気取り外しデバイスに位置合わせされたセキュリティタグとタックアセンブリの切開図を示す。
【図７】一実施形態による磁気取り外しデバイスに挿入されたセキュリティタグを示す。
【図８Ａ】一実施形態によるセキュリティタグの上側ハウジングの内面図を示す。
【図８Ｂ】一実施形態によるセキュリティタグの、楔が挿入された上側ハウジングの内面図を示す。
【図８Ｃ】一実施形態によるセキュリティタグの、楔とラバースプリングとが挿入された上側ハウジングの内面図を示す。
【図８Ｄ】一実施形態によるセキュリティタグの、楔と、ラバースプリングと、タックシャフトとが挿入された上側ハウジングの内面図を示す。
【図９Ａ】一実施形態による図８Ｄの部分断面Ａ−Ａを示す。
【図９Ｂ】一実施形態による図９Ａの構成要素の示力図を示す。
【図９Ｃ】一実施形態による図９Ａの構成要素の寸法図を示す。
【図９Ｄ】一実施形態による図９Ａの構成要素の第２の寸法図を示す。
【図９Ｅ】一実施形態によるセキュリティタグの上側ハウジングの内面図を示す。
【図９Ｆ】一実施形態によるセキュリティタグの、楔と、ラバースプリングと、タックシャフトとが挿入された上側ハウジングの内面図を示す。
【図９Ｇ】一実施形態による図９Ｆの構成要素の寸法図を示す。
【図９Ｈ】使い捨て型実施形態による図８Ｄの部分断面Ａ−Ａを示す。
【図９Ｉ】使い捨て型実施形態による図８Ｄの部分断面Ａ−Ａを示す。
【図１０】幾つかの実施形態による引抜力を表す曲線群を示す。
【図１１】一実施形態によるセキュリティタグの下側ハウジングの内面図を示す。
【図１２Ａ】一実施形態によるセキュリティタグの楔の第１の図を示す。
【図１２Ｂ】一実施形態によるセキュリティタグの楔の第２の図を示す。
【図１３】一実施形態によるセキュリティタグのラバースプリングの図を示す。
【図１４】一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングとを備えた再利用可能型セキュリティタグの線Ｄ−Ｄに沿った第１の断面図を示す。
【図１５】一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングとを備えた再利用可能型セキュリティタグの線Ｄ−Ｄに沿った第２の断面図を示す。
【図１６】一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングとを備えた再利用可能型セキュリティタグの線Ｄ−Ｄに沿った第３の断面図を示す。
【図１７】一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングとを備えた再利用可能型セキュリティタグの線Ｄ−Ｄに沿った第４の断面図を示す。
【図１８】一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングとを備えたセキュリティタグ及び磁気取り外しデバイスの線Ｄ−Ｄに沿った第１の断面図を示す。
【図１９】一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングとを備えたセキュリティタグ及び磁気取り外しデバイスの線Ｄ−Ｄに沿った第２の断面図を示す。
【図２０】一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングとを備えた使い捨て型セキュリティタグの線Ｄ−Ｄに沿った第１の断面図を示す。
【図２１】一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングとを備えた使い捨て型セキュリティタグの線Ｄ−Ｄに沿った第２の断面図を示す。
【図２２】一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングとを備えた使い捨て型セキュリティタグの線Ｄ−Ｄに沿った第３の断面図を示す。
【図２３】一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングとを備えた使い捨て型セキュリティタグの線Ｄ−Ｄに沿った第４の断面図を示す。
【図２４】一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングとを備えた使い捨て型セキュリティタグ及び磁気取り外しデバイスの線Ｄ−Ｄに沿った第１の断面図を示す。
【図２５】一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングとを備えた使い捨て型セキュリティタグ及び磁気取り外しデバイスの線Ｄ−Ｄに沿った第２の断面図を示す。
【図２６】一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングとを備えた使い捨て型セキュリティタグ及び磁気取り外しデバイスの線Ｄ−Ｄに沿った第３の断面図を示す。
【図２７】一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングとを備えた使い捨て型セキュリティタグ及び磁気取り外しデバイスの線Ｄ−Ｄに沿った第４の断面図を示す。
【図２８】一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングとを備えた使い捨て型セキュリティタグ及び磁気取り外しデバイスの線Ｄ−Ｄに沿った第５の断面図を示す。
【図２９】一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングとを備えた使い捨て型セキュリティタグ及び磁気取り外しデバイスの線Ｄ−Ｄに沿った第６の断面図を示す。
【図３０】一実施形態による、タックと、楔と、ラバースプリングとを備えた使い捨て型セキュリティタグの線Ｄ−Ｄに沿った第７の断面図を示す。
【図３１】一実施形態による使い捨て型セキュリティタグの上側ハウジングの内面図を示す。
【図１Ａ】
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【図１Ｂ】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８Ａ】
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【図８Ｂ】
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【図８Ｃ】
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【図８Ｄ】
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【図９Ａ】
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【図９Ｂ】
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【図９Ｃ】
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【図９Ｄ】
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【図９Ｅ】
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【図９Ｆ】
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【図９Ｇ】
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【図９Ｉ】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２Ａ】
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【図１２Ｂ】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【国際調査報告】
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