(57)【要約】本発明においては、電磁スペクトル領域の一部の強度を測定するための方法及びその方法を実施する電子装置が開示されている。その方法は、少なくとも第１液体（Ａ）を有し、センサ（１２０）の前に位置付けられている光学装置（１０）を有する電子装置を備える段階であって、光学装置（１０）は少なくとも第１液体（Ａ）の配向に依存する電磁スペクトル領域の前記一部の透過性を有する、段階と、電磁（ＥＭ）スペクトル領域の第１強度を測定する段階と、少なくとも第１液体（Ａ）の前記配向を変える段階と、電磁スペクトル領域の第２強度を測定する段階と、第１強度と前記第２強度との差から電磁スペクトル領域の一部の強度を計算する段階とを有する。したがって、ＥＭスペクトル領域の一部についての強度は、ＥＭスペクトル領域のこの一部に専用のセンサを必要とすることなく、測定される。特に、エレクトロウェッティングの原理に基づく光学要素を、ＵＶ放射の強度を測定するように携帯電話で用いることができる。
2008520994.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電磁スペクトル領域の一部の強度を測定するための方法であって：
少なくとも第１液体を有し、センサの前に位置付けられている光学装置を有する電子装置を備える段階であって、前記光学装置は、少なくとも前記第１液体の配向に依存する前記電磁スペクトル領域の前記一部の透過性を有する、段階；
前記電磁スペクトル領域の第１強度を測定する段階；
少なくとも前記第１液体の前記配向を変える段階；
前記電磁スペクトル領域の第２強度を測定する段階；及び
前記第１強度と前記第２強度との差から前記電磁スペクトル領域の前記一部の強度を計算する段階；
を有する方法。
【請求項２】
請求項１に記載の方法であって：
前記電磁スペクトル領域の前記一部の前記計算された強度を前記強度の所定の閾値と比較する段階；及び
前記計算された強度が前記閾値を上回る場合、信号を生成する段階；
を有する方法。
【請求項３】
電磁スペクトル領域の一部の強度を測定するための手段を有する電子装置であって：
電磁スペクトル領域の強度を測定するためのセンサ；
少なくとも第１液体を有し、前記センサの前に位置付けられている光学装置であって、該光学装置は、少なくとも前記第１液体の配向に依存する前記電磁スペクトル領域の前記一部の透過性を有する、光学装置；
少なくとも前記第１液体の前記配向を変えるための手段；
前記少なくとも第１液体の第１配向における前記電磁スペクトル領域の第１強度と、前記少なくとも第１液体の第２配向において前記電磁スペクトル領域の第２強度との間の差から前記電磁スペクトル領域の前記一部の強度を計算するための、前記センサと前記ドライバ回路との間に結合されている処理手段；
を有する電子装置。
【請求項４】
請求項３に記載の電子装置であって、前記光学装置は、前記第１液体と、電気的に影響を受け易い第２液体とを収容するコンテナを有し、前記第１液体及び第２液体は非混和性であり、界面により互いに接触していて、前記第１液体及び第２液体の少なくとも一は前記コンテナを通る光路において少なくとも一部が位置付けられていて、前記第１液体及び第２液体は前記電磁スペクトル領域の一部について異なる透過率を有する、電子装置。
【請求項５】
請求項３に記載の電子装置であって、前記第１液体は、前記電磁スペクトル領域の一部における吸収を有する発色団を有する液晶材料を有する、電子装置。
【請求項６】
請求項５に記載の電子装置であって、前記第１液体は、前記発色団を有する前記液晶材料はゲストホスト系を有する、電子装置。
【請求項７】
請求項３に記載の電子装置であって、感覚的に検知可能である出力を有する出力装置を更に有し、前記処理装置は、前記出力装置に前記計算された強度に関する信号を出力するようになっている、電子装置。
【請求項８】
請求項７に記載の電子装置であって、前記処理装置は、前記計算された強度を前記強度の所定の閾値と比較するようになっていて、前記信号は前記所定の閾値を上回る前記計算された強度を示す、電子装置。
【請求項９】
請求項７又は８に記載の電子装置であって、前記出力装置はディスプレイである、電子装置。
【請求項１０】
請求項７又は８に記載の電子装置であって、前記出力装置はスピーカである、電子装置。
【請求項１１】
請求項７又は８に記載の電子装置であって、前記出力装置は発光ダイオードである、電子装置。
【請求項１２】
請求項７又は８に記載の電子装置であって、前記出力装置は前記処理手段に対するアラームを有し、前記処理手段は、所定の時間の期間の後に、前記アラームを活性化するようになっていて、前記時間の期間は前記計算された強度の関数である、電子装置。
【請求項１３】
請求項１２に記載の電子装置であって、前記前記時間の期間は前記計算された強度及びユーザが規定するパラメータの関数である、電子装置。
【請求項１４】
請求項３乃至７の何れ一項に記載の電子装置であって、前記電磁スペクトル領域の前記一部は前記電磁スペクトルの紫外部分の少なくとも一部を有する、電子装置。
【請求項１５】
請求項４に記載の電子装置であって、前記の透過率の差は、前記第１液体及び第２液体の一に溶解された前記電磁スペクトル領域の一部における吸収を有する発色団により少なくとも一部がもたらされる、電子装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電磁（ＥＭ）スペクトル領域の強度を測定するための方法に更に関する。
【０００２】
本発明は、電磁（ＥＭ）スペクトル領域の一部の強度を測定するための電子装置に更に関する。
【背景技術】
【０００３】
構成要素の小型化のような技術的進展は、例えば、携帯電話のような電子装置における新しい機能の統合を容易にする。そのような新しい機能の例については、中国特許第１４４００１７８号明細書に記載されていて。その特許文献において、紫外（ＵＶ）線に対する過度の露出について携帯電話のユーザに警告することを可能にするＵＶ線測定機能を有する携帯電話について開示している。この機能を実現するように、処理器に関連するＵＶセンサが携帯電話に付加される。そのようなＵＶセンサには、特開２００３−０４６１１２号明細書に開示されている光検出器があり、その特許文献においては、ＵＶ光検出器は可視光−光検出器と組み合わされている。
【０００４】
それらの解決方法は、対象のＥＭスペクトルの一部、即ち、ＵＶ放射の強度の測定に対して専用の付加ハードウェアが必要とされるために、理想的ではなく、それ故、電子装置のコストが追加される。電子スペクトルのＵＶ部分及び可視部分の両方に対して感応するセンサは既知であるが、それらのセンサにより測定される光強度は、電磁スペクトルのＵＶ部分及び可視部分の両方の結合された強度であり、それらの成分の一の強度を分離して決定することを妨げる。
【特許文献１】中国特許第１４４００１７８号明細書
【特許文献２】特開２００３−０４６１１２号明細書
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明の目的は、専用のセンサを必要としない、冒頭の段落にしたがった方法を提供することである。
【０００６】
本発明の目的は更に、専用のセンサを必要としない、冒頭の段落にしたがった電子装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の第１特徴にしたがって、電磁（ＥＭ）スペクトル領域の一部の強度を測定するための方法であって、少なくとも第１液体を有し且つセンサの前に位置付けられている光学装置を有する電子装置を備える段階と、電磁スペクトル領域の第１強度を測定する段階と、電磁スペクトル領域の第２強度を測定する段階と、第１強度と第２強度との間の差から電磁スペクトル領域の一部の強度を計算する段階と、を有する方法が与えられる。
【０００８】
本発明の方法は、液体に基づく光学装置は製造することが安価であり、機械的可動部分を有しないために、液体に基づく光学装置は、例えば、携帯電話のような電子装置で用いるために益々一般的になってきているという有利点を有する。そのような光学装置の例には、国際公開第０３／０６９３８０号パンフレットに開示されている可変焦点レンズ、米国特許出願公開第２００１／００１７９８５号明細書に開示されているダイヤフラム又はシャッタのように機能する光学装置及び国際公開第２００４／０３８４８０号パンフレット又は国際公開第２００４／０７７１２６号パンフレットに開示されているズームレンズがある。それらの装置の共通の特徴は、液体の配向が光学装置の光学的機能を調節するように２つの液体間の界面の位置を変えることにより、変えられることである。そのような位置の変化は、並進、形状変化又は並進及び形状変化の組み合わせであることが可能である。位置変化は、光路内の液体成分における変化をもたらす。本発明は、液体成分におけるこの変化が光学装置の背後のセンサにより捕捉される全ＥＭスペクトル幅の一部の強度を測定するように用いられることができるという実現性に基づいている。このために、第１液体及び第２液体は、それらの液体が、センサが感応するＥＭスペクトル領域の強度の一部において異なる透過率を有するように選択される。これは、液体を注意深く選択することにより、又は前記ＥＭスペクトル領域の対象部分で吸収を有する発色団を複数の液体の一に溶解させることにより達成されることが可能である。光路中で異なる液体成分においてスペクトル領域の強度を測定することにより、ＥＭスペクトル領域の対象部分における異なる透過率の関数としての強度の変化が、電磁スペクトルのこの部分に対して専用のセンサを必要とすることなく、得られる。
【０００９】
しかしながら、本発明の方法は、２液体系又は液体−流体系を有する光学装置の使用に限定されず、そして、例えば、ＥＭスペクトル領域の一部における吸収を有する発色団を有する光学装置に基づく液晶（ＬＣ）のような他の光学装置が考えられる。第１配向から第２配向へのＬＣ材料の切り換えは、発色団の遷移双極子が入射光に対して異なる配向に適合するために、ＥＭスペクトルの一部の吸収において変化をもたらす。そのような光学装置については、光が、入射に先立って、偏光されることが有利である。
【００１０】
有利であることに、その方法は、強度の所定の閾値と電磁スペクトル領域の一部の計算された強度を比較する段階と、計算された強度が閾値を上回る場合に、信号を生成する段階とを更に有する。このように、電子装置のユーザは、ＥＭスペクトル領域の一部における光強度、例えば、ＵＶ強度が高過ぎて暴露されないかどうかを通知されることが可能である。
【００１１】
本発明の方法は、本発明の他の特徴にしたがった電子装置により実施されることが可能であり、その電子装置はＥＭスペクトル領域の一部の強度を測定するための手段を有し、前記手段は、ＥＭスペクトル領域の強度を測定するためのセンサと；少なくとも第１液体を有し、センサの前に位置付けられている光学装置であって、その光学装置は、少なくとも第１液体の配向に依存して電磁スペクトル領域の一部の透過性を有する、光学装置と；少なくとも第１液体の第１配向における電磁スペクトル領域の第１強度と少なくとも第１液体の第２配向における電磁スペクトル領域の第２強度との間の差から電磁スペクトル領域の一部の強度を計算するためのドライバ回路とセンサとの間に結合されている処理手段と；を有する。
【００１２】
好適な実施形態においては、液体に基づく光学装置は、第１液体及び電気的に影響を受け易い第２液体を収容するコンテナを有し、前記第１液体及び第２液体の少なくとも一はコンテナを通る光路中に少なくとも一部を位置付けられ、第１液体及び第２液体は、電磁スペクトル領域の一部について異なる透過率を有する。そのような光学装置は、典型的には、エレクトロウェッティングの原理に基づき、光学的機能を有する電子装置において標準的な機能になる可能性が高く、その場合、そのような電子装置に本発明を実施するために、付加部品を付加する必要はない。
【００１３】
代替として、第１液体は、電磁スペクトル領域の一部において吸収を有する発色団を有する液晶材料を有する。液晶材料及び発色団はゲストホスト系であることが可能である。
【００１４】
有利であることに、電子装置は、感覚的に検出可能な出力を有する出力装置を更に、有し、処理手段は、出力装置に対して計算された強度に関連付けられる信号を出力するようになっている。感覚的に検出可能な出力、即ち、視覚又は聴覚のような人間の感覚の一により捉えられることができる出力を有する出力装置を有することにより、電子装置のユーザは測定された強度に関する情報を与えられることができる。例えば、出力装置は、ディスプレイ、スピーカ又は発光ダイオードであることが可能である。
【００１５】
好適には、処理手段は、強度の所定の閾値と計算された強度を比較するようになっていて、信号は、所定の閾値を上回る計算された強度を示す。このように、ユーザは、閾値を上回るかどうかの警告を受けることができ、そのことは、ＥＭスペクトル領域の一部、例えば、ＥＭスペクトル領域のＵＶ領域に対して、過度に暴露されないようにするためには好ましい。
【００１６】
一実施形態においては、出力装置は、処理手段に反応する警告を有し、処理手段は、所定の時間の期間の後に警告を発するようになっていて、前記時間の期間は計算された強度の関数である。典型的には、ＥＭスペクトル領域の一部に対して許容される暴露時間は、この一部の強度に依存する。警告を受けることは、ユーザが許容される暴露時間が終わったことを情報通知されることを可能にする。
【００１７】
有利であることに、その時間の期間は、計算された強度及びユーザの所定のパラメータの関数である。そのようなパラメータは、皮膚の種類又は皮膚の状態であり、その時間の期間の更に個人に合った決定を可能にする。
【００１８】
本発明については、添付図を参照しながら、以下、非制限的な実施例として詳述する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
図は単に模式的であり、スケーリングして描かれていないことを理解する必要がある。同じ参照番号が、同じ又は類似する部分を示すように、図全部を通して用いられていることをまた、理解する必要がある。
【００２０】
図１は、画像センサ１２０の前に位置付けられた光学装置１０を示している。画像センサ１２０は、ＥＭスペクトルのスペクトル領域、例えば、Ａｔｍｅｌ社製のＴＨ７８１３Ａ画像センサのような２５０ｎｍ乃至１０００ｎｍのスペクトル領域に対して感応する。多くの他の例を容易に受け入れることが可能である。光学装置１０は、円筒形チャンバに収容された第１液体Ａ及び電気的に影響を受け易い第２液体Ｂを有する。それらの液体は非混和性であり、界面１４により分離されていて、好適には、それらの液体間の界面１４を含むそれらの液体の配向への配向依存性の重力の影響を回避するように同じ密度を有する。円筒形チャンバの内壁は、ＤｕＰｏｎｔ社製のＡＦ１６００（登録商標）のような疎水性コーティングにより覆われることが可能であり、その疎水性コーティングは、例えば、壁電極１２とそれらの液体Ａ及びＢとの間に絶縁性の誘電体層を生成するようにパリレン積層物を組み合わされることが可能である。壁電極１２及び環状電極２は、そのように指令される場合に、第１液体及び第２液体の位置を変化させるようにドライバ回路（図示せず）に結合されている。
【００２１】
本発明の方法を容易にするように、第１液体Ａ及び第２液体Ｂは、画像センサ１２０が感応するＥＭスペクトル領域の一部について異なる透過率を有する。このＥＭスペクトルの一部は、例えば、３００乃至４００ｎｍ、即ち、ＥＭスペクトルの近紫外部分であることが可能である。その透過率の違いは、それらの液体、固有の特徴である。例えば、第１液体Ａは、このＥＭスペクトルの一部に強い吸収帯を典型的に有する芳香族のオイルであることが可能である一方、第２液体Ｂは、このＥＭスペクトルの一部に実質的に弱い吸収を有する水であることが可能である。代替として、対象のＥＭスペクトルの部分に強い吸収を有する色素のような発色団は、それら２つの液体の一に溶解されることが可能である。
【００２２】
対象のＥＭスペクトルの部分の強度は次のように決定される。電磁スペクトル領域の第１強度は、第１配向、例えば、（Ａ）に示すような配向にある液体Ａ、Ｂを用いて画像センサ１２０により測定される。この実施例においては、第２液体Ｂは、ＥＭスペクトルの対象の部分において著しい吸収を有しない一方、第１液体Ｂは、ＥＭスペクトルのこの部分において吸収係数ｋを有する実質的な吸収を有する。入射光の強度（Ｉ０）に比較して、出力光の強度（Ｉ）は、次のように、ランバートの法則にしたがって、表される。
【００２３】
Ｉ＝Ｉ０ｅ−ｋｘ
ここで、ｋは吸収係数であり、ｘは第１液体を透過する距離である。ｘが十分に大きい場合、強度Ｉは事実上、０になる。これは、位置ｉに入射の矢印で示されるように、光学装置１０に入射する対象のＥＭスペクトルの部分における波長を有する光についての場合である。位置ｉｉにおいて光学装置に入射する光は、第１液体を透過する距離は小さく、そのことは、出射の矢印で示されるように、対象のスペクトル部分における光の一部が光学装置１０を出射することを意味する。矢印の長さは光線の強度に関連する。ｘは、界面１４の形及び位置に応じた分布関数である。したがって、ｘは、光学装置１０に印加される電圧の関数である。ｘの値は、例えば、較正処理により電子装置に記憶されることが可能である。
【００２４】
次の段階においては、液体Ａ及びＢの配向は、例えば、（Ｂ）に示すような配向に対して、光学装置１０の環状電極２及び壁電極１２における電圧を変えることにより変えられる。電圧の印加は、光学装置１０の内壁におけるコーティングの濡れ性を変え、そのことは、配向における変化をもたらす。続く段階において、光学装置１０を透過する光の第２強度が測定される。第１液体Ａが、ここで、光学装置１０の側壁に沿って更に配向されることのために、光学装置１０における光路の殆どは、ここでは、実質的に、第１液体はなく、入射及び出射の矢印により示されているように、対象のスペクトル部分における波長を有する光の多くの量は光学装置を通る。したがって、画像センサ１２０は、ＥＭスペクトルの上記の部分からの増加された強度によりもたらされる増加された光強度を測定する。それ故、測定された第１強度を測定された第２強度と比較することにより、対象のスペクトル部分についての強度が得られる。光学装置１０を通る光路は、測定間の差を増加させるように、強度測定の１つにおける光路の外側のＥＭスペクトル領域の一部における吸収を有する光の殆どを移動させるように、ストップ電極又は非透過性環状電極２により制限されることが可能である。
【００２５】
光学装置がまた、レンズとして機能する場合、界面１４の第１位置において捕捉された画像の幅は、界面１４の第２位置において捕捉された画像の幅と異なり、その界面は、例えば、明るいオブジェクトが広角画像のフリンジに含まれる場合に、対象のスペクトル部分の強度の正確な測定を妨げる可能性がある。これは、画像センサ１２０の暴露領域は光学装置１０により捕捉される画像の幅の関数であるため、２つの強度測定の評価に含まれる画像センサ１２０の画素数を調節することにより、補正されることが可能である。このように、広角画像からの付加フリンジは無視されることが可能であり、それ故、両方の測定は実質的に同じ幅を有する画像に基づくことが確実にされる。界面の位置及び形と画像の幅との間の関係のために、各々の測定で考慮される必要がある画素数は電子装置に予めプログラムされていることが可能である。
【００２６】
本発明は、エレクトロウェッティングの原理を利用する光学装置を有する電子装置に限定されるものではない。図２は、本発明の方法に適する光学装置の他の実施形態を示している。光学装置２０は、電極の対２２、２４の間に挟まれている、液晶材料２６及び適切な色素である発色団２８を有する。発色団２８は、例えば、液晶材料２６の共有結合部分を形成するように、付けられることが可能である。代替として、液晶２６及び発色団分子２８は、ゲスト−ホスト系を較正する個別の実体であることが可能であり、そのゲスト−ホスト系において、発色団分子２８の配向は、液晶材料２６の配向により支配される。発色団２８のような分子による特定の波長の光の吸収強度は、光の偏光方向の配向と発色団２８の遷移双極子モーメントとの間の重なり合いにより支配される。この遷移双極子モーメントは、図２において、発色団２８の内側の矢印として示されている。
【００２７】
第１配向（Ａ）においては、発色団２８の遷移双極子モーメントは、光学装置２０においてランダムに分布していて、入射光の吸収は偏光配向依存性を有しない。しかしながら、適切な電圧が電極の対２２、２４により光学装置２０に印加されるとき、第２配向（Ｂ）に示すように、発色団２８は強く配向されるようになり、対象のＥＭスペクトルの部分についての偏光フィルタとして機能する。発色団２８の遷移双極子モーメントの配向に対して平行な偏光方向を有する入射光は、配向（Ａ）に比べて有効に吸収される一方、発色団２８の遷移双極子モーメントの配向に対して垂直な偏光方向を有する入射光は事実上、あまり吸収されない。
【００２８】
この効果は、光学装置２０の前又は背後に偏光子３０を位置付けることにより利用されることができる。後者の配向については示されていない。偏光子３０は切り換え可能な偏光子であることが可能である。配向（Ｂ）において発色団２８の遷移双極子モーメントの配向に対してそれぞれ平行な又は垂直な配向に光学装置２０に入射する又は出射する光を直線偏光することにより、ＥＭスペクトルの対象の部分は、第１配向において第２配向におけるのと異なる強度を有し、ＥＭスペクトルのこの部分の全体的な強度についての値は、図１についての詳細説明で説明した方法と類似する方法で抽出されることが可能である。
【００２９】
代替として、入射光の偏光方向に対する液晶の配向は、２つの測定間で変えられることが可能である。例えば、水平偏光方向から垂直偏光方向に又は非偏光状態から偏光状態に切り換えることができる構成化可能な偏光子を用いることが可能である。２つのそのような配向間で切り換えることにより、光学装置２０の内側の発色団２８及び液晶の配向は、アライメントされた状態で発色団２８の遷移双極子を留めたまま、変化しないことが可能であり、液体の配向における変化は、入射光の偏光状態に対する配向における変化を有する。
【００３０】
図３は、本発明の電子装置１００の実施例である。例えば、携帯電話であることが可能である電子装置１００は、センサ１２０の前に位置付けられた光学装置１０を有する。センサ１２０は、センサ１２０の出力信号を処理するようになっている処理器１４０に結合されている。ドライバ回路１３０は、第１液体Ａ及び第２液体Ｂ間の界面１４を整形することにより第１液体Ａ及び第２液体Ｂの配向を変えるように、光学装置１０の環状電極２及び壁電極１２において適切な電圧を印加するように備えられている。ドライバ回路１３０は、直流又は交流により、電極の対２、１２において電圧を印加することが可能であり、このことは本発明にとって、重要でない。
【００３１】
処理器１４０は、下記の方法でセンサ１２０のＥＭスペクトル領域の部分の強度を計算するようになっている。界面１４の第１配向について、センサ１２０は入射光を測定し、第１出力信号を生成し、その第１出力信号は、ＥＭスペクトル領域の第１強度を計算するように処理器１４０により処理される。処理器１４０は、界面１４の位置を変えるようにドライバ回路１３０に指令し、配向におけるこの変化の終了時に、センサ１２０は、入射光を測定し、第２出力信号を生成し、その第２出力信号は、ＥＭスペクトル領域の第２強度を計算するように処理器１４０により処理される。処理器１４０は、第１強度と第２強度との差を決定し、それに基づいて、ＥＭスペクトル、例えば、スペクトルのＵＶ部分の対象部分の強度を計算する。
【００３２】
処理器１４０は、計算された強度を所定の閾値と比較することが可能であり、この閾値を上回る場合に、警告信号を生成することが可能である。オプションとして、処理機１４０は、電子装置のユーザがＥＭスペクトル領域の対象部分の強度の測定を行うように用いることが可能であり、皮膚の種類又は皮膚の状態のようなユーザ特有のパラメータを入力するように更に用いることが可能であるキーパッド１７０に対して応答することが可能である。それらのパラメータは、個人に合わせた閾値を生成するように用いられることが可能である。
【００３３】
更なるオプションとして、電子装置１００は、ユーザのために測定された強度に関する感覚的に検出可能な警告信号又は他の信号を容易にするように、例えば、ディスプレイ、スピーカ又は発光ダイオードのような出力装置１５０を有することが可能である。可聴式の警告信号は、ユーザが電子装置１００をモニタリングする必要がない有利点を有する。このことは、電子装置１００が、処理器１４０に応答するアラーム１６０を更に有する場合に、特に有利である。処理器１４０は、所定時間の期間の後に、アラームを活性化することが可能であり、前記時間の期間は、計算された強度の関数である。この時間の期間はまた、上記のユーザにより規定されるパラメータの関数であることが可能である。
【００３４】
光学装置１０は、上記の先行技術において開示されているような機能を有するエレクトロウェッティングに基づく光学装置１０であることが可能であり、又は、本発明の強度測定のみのためのエレクトロウェッティング装置であることが可能であることを強調しておく。また、エレクトロウェッティングに基づく光学装置１０が示されているが、液晶に基づく光学装置２０のような他の液体に基づく光学装置が同様に適合可能である。
【００３５】
本発明に関連して、表現‘電気的に影響を受け易い液体’は、磁場に対して感応する液体ばかりでなく、導電性液体、極性液体及び極性化可能液体を含むように意図されている。
【００３６】
上記の実施形態は本発明を制限するものではなく、例示としてのものであり、当業者は、同時提出の特許請求の範囲から逸脱することなく多くの代替の実施形態をデザインすることができることに、留意する必要がある。用語“を有する”は、請求項に挙げられている要素又は段階以外の要素又は段階の存在を排除するものではない。要素の単数表現は、それらの要素の複数の存在を排除するものではない。本発明は、幾つかの別個の要素を有するハードウェアにより実施されることが可能である。幾つかの手段を列挙している装置請求項においては、それらの手段の幾つかは、同一のハードウェアにより実施されることが可能である。特定の手段が互いに異なる従属請求項に挙げられているということのみが、それらの手段の組み合わせが有利に用いられないことを示すものではない。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】液体に基づく光学装置を用いてＥＭスペクトルの部分の強度を測定する原理を示す図である。
【図２】他の液体に基づく光学装置を用いてＥＭスペクトルの部分の強度を測定する原理を示す図である。
【図３】本発明にしたがった電子装置を示す図である。
【図１Ａ】
2008520994.tif 000003
【図１Ｂ】
2008520994.tif 000004
【図２Ａ】
2008520994.tif 000005
【図２Ｂ】
2008520994.tif 000006
【図３】
2008520994.tif 000007
【国際調査報告】
2008520994.tif 000008
2008520994.tif 000009
2008520994.tif 000010
2008520994.tif 000011