(57)【要約】  記憶媒体は基板、基板の一面上に配設された反射層、及びデータを含み得る。基板は、熱可塑性樹脂及び熱可塑性樹脂と混合された光マーキング添加剤の少なくとも一部から形成された光マークを含み、光ドライブ読出し波長での光マーキング添加剤の光学的性質はマーク波長に接触させることで変化し得る。記憶媒体の使用方法は、読出しデバイスに指示して記憶媒体の検査領域を検出させる段階を含み得ると共に、真正媒体上の検査領域は光学的に誘起されるシグネーチャを形成する光マークを記憶媒体の基板中に有している。光学的に誘起されるシグネーチャをディジタル識別シグネーチャに変換することができ、ディジタル識別シグネーチャの真正性を検証することができる。【選択図】    図１０
2008515126.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
熱可塑性樹脂及び熱可塑性樹脂と混合された光マーキング添加剤の少なくとも一部から形成された光マークを含む基板であって、光ドライブ読出し波長での光マーキング添加剤の光学的性質がマーク波長に接触させることで変化し得ると共に、当該基板が０．３ｍｍ以上の厚さを有する基板、
基板の一面上に配設された反射層、並びに
データ
を含んでなる記憶媒体。
【請求項２】
光マーキング添加剤の光学的性質の変化が不可逆的である、請求項１記載の記憶媒体。
【請求項３】
さらに、基板と反射層との間に配設された記録可能な色素層を含む、請求項１記載の記憶媒体。
【請求項４】
データが、ピット、ランド、グルーブ及びこれらのの１以上を含む組合せからなる群から選択される、請求項１記載の記憶媒体。
【請求項５】
光マークに隣接した基板領域と光マークとの間における反射率の差が約１５％以上である、請求項１記載の記憶媒体。
【請求項６】
マーク波長と読出し波長との差が約±３０ｎｍ以上である、請求項１記載の記憶媒体。
【請求項７】
その差が約±１００ｎｍ以上である、請求項６記載の記憶媒体。
【請求項８】
基板が約０．６ｍｍ以上の厚さを有する、請求項１記載の記憶媒体。
【請求項９】
光マーキング添加剤が、アゾ色素、メチン色素、クマリン類、ピラゾロン類、キノフタロン類、キナクリドン類、ペリノン類、アントラキノン類、オキサジン類、アントラピリドン類、バット色素、フタロシアニン類、リレン誘導体、アリールカルボニウム色素前駆体、及び上述の光マーキング添加剤の１種以上を含む組合せからなる群から選択される、請求項１記載の記憶媒体。
【請求項１０】
光マーキング添加剤が、アントラキノン類、リレン誘導体、アリールカルボニウム色素前駆体、及び上述の光マーキング添加剤の１種以上を含む組合せからなる群から選択される、請求項９記載の記憶媒体。
【請求項１１】
光マーキング添加剤が、アリールメタン、アリールカルビノール、フタレイン、スルホンフタレイン、フルオラン、及び上述の光マーキング添加剤の１種以上を含む組合せからなる群から選択される、請求項１０記載の記憶媒体。
【請求項１２】
基板がさらに、光及び／又は熱への暴露後にその周囲の酸性度を局部的に変化させる化合物を含む、請求項１１記載の記憶媒体。
【請求項１３】
化合物がアリールスルホネート誘導体である、請求項１２記載の記憶媒体。
【請求項１４】
化合物が１，２，３−トリヒドロキシベンゼントリス−フェニルスルホニルエステルである、請求項１３記載の記憶媒体。
【請求項１５】
光マーキング添加剤がクリスタルバイオレットラクトンからなる、請求項１１記載の記憶媒体。
【請求項１６】
光マーキング添加剤が、１，５−アントラキノン類、１，４−アントラキノン類、１，８−アントラキノン類、アントラピリドン、及び上述の光マーキング添加剤の１種以上を含む組合せからなる群から選択される、請求項１０記載の記憶媒体。
【請求項１７】
光マーキング添加剤が、メチルグリーン、オルガニカ色素、テトラゾリウムブルークロリド、ベンゾイルロイコメチレンブルー、（４−｛シアノ［４−（ジブチルアミノ）フェニル］メチレン｝シクロヘキサ−２，５−ジエン−１−イル）マロノニトリル、ＩＲ７８６ヨージド、２−［２−［２−クロロ−３−［２−（１，３−ジヒドロ−１，３，３−トリメチル−２Ｈ−インドル−２−イリデン）エチリデン］−１−シクロヘキセン−１−イル］エテニル］−１，３，３−トリメチル−３Ｈ−インドリウムクロリド、ＩＲ７８０ヨージド、銅フタロシアニン、及び上述の光マーキング添加剤の１種以上を含む組合せからなる群から選択される、請求項１記載の記憶媒体。
【請求項１８】
熱可塑性樹脂が光学品質ポリカーボネートである、請求項１記載の記憶媒体。
【請求項１９】
基板がさらに、式Ｒ３ＳＯ２ＯＲ４（式中、Ｒ３はアルキル基、アリール基及びペルフルオロアルキル基からなる群から選択され、Ｒ４はアリール基からなる。）のスルホネート誘導体からなる光酸発生剤を含む、請求項１記載の記憶媒体。
【請求項２０】
光マークがレガシードライブで検出できる、請求項１記載の記憶媒体。
【請求項２１】
光マークがマスタリングで形成されたデータグルーブ中に配設される、請求項１記載の記憶媒体。
【請求項２２】
光マークを有する基板上の反射層が人間の目に見えるいかなる損傷も有していない、請求項１記載の記憶媒体。
【請求項２３】
光マークがデータの変化として検出できる、請求項１記載の記憶媒体。
【請求項２４】
記憶媒体の製造方法であって、
熱可塑性樹脂を光マーキング添加剤と合わせてブレンドを形成する段階、
ブレンドを射出成形して基板を形成する段階、
基板上に反射層を配設して媒体を形成する段階、及び
基板の一部をマーキング波長に暴露して基板中に光マークを形成する段階
を含んでなる方法。
【請求項２５】
さらに、光酸発生剤を光学品質ポリカーボネート及び光マーキング添加剤に合わせる段階を含む、請求項２４記載の方法。
【請求項２６】
さらに、基板と反射層との間において基板の表面にピット及びランドを形成する段階を含む、請求項２４記載の方法。
【請求項２７】
光マークを有する基板上の反射層が人間の目に見えるいかなる損傷も有していない、請求項２４記載の方法。
【請求項２８】
射出成形される場合、ブレンドが初期には約２７５℃以上の温度にある、請求項２４記載の方法。
【請求項２９】
温度が約３５０℃以上である、請求項２８記載の方法。
【請求項３０】
記憶媒体の使用方法であって、
読出しデバイスに指示して記憶媒体の検査領域を検出させる段階であって、真正媒体上の検査領域は光学的に誘起されるシグネーチャを形成する光マークを記憶媒体の基板中に有している段階、
光学的に誘起されるシグネーチャをディジタル識別シグネーチャに変換する段階、及び
ディジタル識別シグネーチャの真正性を検証する段階
を含んでなる方法。
【請求項３１】
さらに、
ディジタル識別シグネーチャをセントラルデータベースに送信する段階、
セントラルデータベースをチェックして、記憶媒体がソフトウェアのインストレーションのため以前に使用された回数を求める段階、及び
回数が所望の限界以下であれば、ソフトウェアをインストールするための信号を読出しデバイスに送る段階
を含む、請求項３０記載の方法。
【請求項３２】
インストールのための信号を読出しデバイスに送るならば、この記憶媒体がインストレーションのために使用されたことについてセントラルデータベースを更新する段階をさらに含む、請求項３０記載の方法。
【請求項３３】
回数が所望の限界を超えていれば、読出しデバイスに信号を送ってエラー信号を出させる段階をさらに含む、請求項３０記載の方法。
【請求項３４】
読出しデバイスが記憶媒体上のデータによって指示される、請求項３０記載の方法。
【請求項３５】
読出しデバイスが記憶媒体の外部のソフトウェアによって指示される、請求項３０記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、マーク付き物品及びその製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
コンパクトディスク（ＣＤ）、ディジタルバーサタイルディスク（ＤＶＤ）、エンハンストビデオディスク（ＥＶＤ）、記録型コンパクトディスク（ＣＤ−Ｒ）及び記録型ディジタルバーサタイルディスク（ＤＶＤ−Ｒ）のような非記録型及び記録型情報記憶媒体の様々なメーカー及びユーザーが直面している大きな問題は、無許可製造者、販売者及び／又はユーザーによる情報の無許可複製又はコピーである。情報記憶媒体のかかる無許可複製又はコピーは、しばしば海賊行為といわれる。海賊行為は、最終使用時点での消費者レベル海賊行為並びに商業レベルでのデータ、基板及び海賊行為防止情報の大規模な複製を含む様々な形態で起こり得る。その形態にかかわらず、情報記憶媒体の海賊行為は合法のディジタルコンテンツ供給者及び製造者から多大の収益及び利得を奪い去る。
【０００３】
消費者レベルで海賊行為を止めようとする試みとして、保護すべき情報と共に電子的な海賊行為防止信号を情報担持基板上に配置することが行われてきた。かかる情報記憶媒体の機械リーダー及びプレイヤーは、所望情報へのアクセスを許す前にかかる海賊行為防止信号の確認を要求するように構成されている。理論的には、消費者レベルの複製ではこれらの電子的な海賊行為防止信号を無許可コピー上に複写することができず、したがって得られる複製物及びコピーは使用できない。
【０００４】
しかし、かかる消費者レベルの海賊行為防止技術の裏をかくための多数の技術が開発されており、それは今も続いている。その上、商業レベルの複製は、無許可複製物が今では本来の電子的な海賊行為防止回路、コードなどを含む程度にまで進化している。例えば、商業レベルの複製方法には、ピットコピー、高周波（ＲＦ）コピー、「ビット・トゥー・ビット」コピー及び他の鏡像コピー技術があり、これらは保護すべき情報と共に海賊行為防止信号も複製物の情報担持基板上に配置する。ハッカーが常用する他の技術には、海賊行為防止（コピープロテクト又はコピー防止ともいう）用のフィーチャーを除去してデータへの無制限なアクセスを可能にするためにコンピューターコードを修正するものもある。
【０００５】
真正のものか海賊行為によるものかについて容易に識別できる情報記憶媒体が得られれば望ましいであろう。したがって、追跡及び在庫管理の目的で生産品に通し番号を付与することがますます重要になりつつある。通し番号の付与は、個別品目スケール、パッケージスケール、パレットスケールなどで実施でき、通例は生産日、有効期限、会社ロゴ又は他の情報を含むバーコードの形態を有する。特に光ディスク産業の場合には、ソフトウェアプログラム、ゲーム、音楽、映画などを含むディスクの多数のコピーが定期的に生産されている。
【０００６】
多数の媒体タイプ（例えば、ＣＤオーディオ、ＤＶＤビデオ、ＣＤロム、ＤＶＤロム、ＨＤ−ＤＶＤ、ＢＤなど）と適合性を有し、低コスト製造技術との適合性を有し（複製ライン中に統合できると共に標準的な複製サイクル時間に適合し）、消費者の（レガシー）ドライブ（例えば、商業的に入手できる（無改造又は正規の）光ドライブ）で読み出し得る通し番号又はユニーク識別子が得られれば望ましいであろう。
【特許文献１】米国特許第６６３８５９３号明細書
【特許文献２】米国特許第６５４５０６５号明細書
【特許文献３】米国特許第４４２８５２４号明細書
【特許文献４】米国特許第４８０９０２２号明細書
【特許文献５】米国特許第４８１３９７３号明細書
【特許文献６】米国特許第４８１６３７４号明細書
【特許文献７】米国特許第４９６１０７７号明細書
【特許文献８】米国特許第５０３０６９７号明細書
【特許文献９】米国特許第５１２８４１９号明細書
【特許文献１０】米国特許第５２０１９２１号明細書
【特許文献１１】米国特許第５３２９１２７号明細書
【特許文献１２】米国特許第５５５３７１４号明細書
【特許文献１３】米国特許第５７０３２２９号明細書
【特許文献１４】米国特許第５７８６１３２号明細書
【特許文献１５】米国特許第５８４４５９３号明細書
【特許文献１６】米国特許第５９２５７１６号明細書
【特許文献１７】米国特許第６０９９９３０号明細書
【特許文献１８】米国特許第６２５１６８０号明細書
【特許文献１９】米国特許第６２９７５０８号明細書
【特許文献２０】米国特許第６３５５４２０号明細書
【特許文献２１】米国特許第６４２３４７８号明細書
【特許文献２２】米国特許第６５１４６１７号明細書
【特許文献２３】米国特許第６５８９６２６号明細書
【特許文献２４】米国特許第６６００７０６号明細書
【特許文献２５】米国特許第６３８０５４７号明細書
【特許文献２６】米国特許第６６２７２９９号明細書
【特許文献２７】米国特許出願公開第２００２／０１０７３０５号明細書
【特許文献２８】米国特許出願公開第２００２／０１５５３８１号明細書
【特許文献２９】米国特許出願公開第２００３／０１４１４９１号明細書
【特許文献３０】米国特許出願公開第２００３／００９６１９２号明細書
【特許文献３１】米国特許出願公開第２００３／００１３０４１号明細書
【特許文献３２】米国特許出願公開第２００３／０００８２３４号明細書
【特許文献３３】米国特許出願公開第２００４／０００４９２２号明細書
【特許文献３４】米国特許出願公開第２００４／０１２１２６８号明細書
【特許文献３５】米国特許出願公開第２００４／０１５２００８号明細書
【特許文献３６】米国特許出願公開第２００４／０１１００８８号明細書
【特許文献３７】米国特許出願公開第２００４／０１２１２６２号明細書
【特許文献３８】米国特許出願公開第２００２／００４８２２５号明細書
【特許文献３９】国際公開第０２／０５３５５３号パンフレット
【特許文献４０】国際公開第０３／０８７８８８号パンフレット
【特許文献４１】国際公開第２００４／０５２６５４号パンフレット
【特許文献４２】国際公開第０３／１０７３３１号パンフレット
【特許文献４３】国際公開第９４／１２３５２号パンフレット
【特許文献４４】国際公開第９８／３１０１１号パンフレット
【特許文献４５】特開２００２−２７３８３２号公報
【特許文献４６】英国特許出願公開第２２６４５５８号明細書
【特許文献４７】英国特許出願公開第２３３０４０８号明細書
【非特許文献１】Ｙｖｅｓ  Ｇｅｅｒｔｓ  ｅｔ  ａｌ．，“Ｑｕａｔｅｒｒｙｌｅｎｅｂｉｓ（ｄｉｃａｒｂｏｘｉｍｉｄｅ）ｓ：ｎｅａｒ  ｉｎｆｒａｒｅｄ  ａｂｓｏｒｂｉｎｇ  ａｎｄ  ｅｍｉｔｔｉｎｇ  ｄｙｅｓ”，Ｊ．Ｍａｔｅｒ．Ｃｈｅｍ．，１９９８，８（１１），２３５７−２３６９
【非特許文献２】Ｗｉｌｌｉａｍ  Ｂ．  Ｔｕｅｍｍｌｅｒ  ｅｔ  ａｌ．，“Ｐｏｌｙｍｅｔｈｉｎｅ  Ｄｙｅｓ．Ｉ．Ａ  Ｃｏｍｐａｒｉｓｏｎ  ｏｆ  Ｓｅｖｅｒａｌ  Ｖｉｎｙｌｏｇｏｕｓ  Ｓｅｒｉｅｓ  ｉｎ  ｗｈｉｃｈ  ｔｈｅ  Ｐｏｌｙｍｅｔｈｉｎｅ  Ｃｈａｉｎｓ  ａｒｅ  Ｔｅｒｍｉｎａｔｅｄ  ｂｙ  Ａｒｙｌ  Ｇｒｏｕｐｓ”，Ｊｏｕｒｎａｌ  ｏｆ  ｔｈｅ  Ａｍｅｒｉｃａｎ  Ｃｈｅｍｉｃａｌ  Ｓｏｃｉｅｔｙ（１９５８），Ｖｏｌｕｍｅ  ８０，ｐｐ  ３７７２−３７７７
【非特許文献３】Ｊａｐａｎｅｓｅ  Ｐａｔｅｎｔ  Ｎｏ．２００２−２７３８３２；Ｐｕｂｌｉｃａｔｉｏｎ  ｄａｔｅ：２００２−０９−２５；Ａｂｓｔｒａｃｔ  Ｏｎｌｙ；１  ｐａｇｅ
【非特許文献４】Ｊａｐａｎｅｓｅ  Ｐａｔｅｎｔ  Ｎｏ．２００２−２７３８３２；Ｐｕｂｌｉｃａｔｉｏｎ  ｄａｔｅ：２００２−０９−２５；ＭＡＣＨＩＮＥ  ＴＲＡＮＳＬＡＴＩＯＮ；１４  ｐａｇｅｓ
【非特許文献５】ＭｃＫｅｅ，Ｔｅｒｒｙ；“Ｌａｓｅｒ  Ｍａｒｋｉｎｇ  ｏｆ  Ｐｏｌｙｅｔｈｙｌｅｎｅ  ａｎｄ  Ｏｔｈｅｒ  Ｐｏｌｙｏｌｅｆｉｎｓ  ｗｉｔｈ  Ａｄｄｉｔｉｖｅｓ”；Ｐｌａｓｔｉｃｓ  Ｆｏｒｍｕｌａｔｉｎｇ  ＆  Ｃｏｍｐｏｕｎｄｉｎｇ；Ｎｏｖｅｍｂｅｒ／Ｄｅｃｅｍｂｅｒ  １９９３；Ｖｏｌ．１；Ｎｏ．２；ｐｇｓ．２７−３０，３２
【発明の開示】
【０００７】
本明細書中には、光記憶媒体、光記憶媒体の製造方法、及び光記憶媒体の使用方法が開示される。一実施形態では、記憶媒体は基板、基板の一面上に配設された反射層、及びデータを含み得る。基板は、熱可塑性樹脂及び熱可塑性樹脂と混合された光マーキング添加剤の少なくとも一部から形成された光マークを含み、光ドライブ読出し波長での光マーキング添加剤の光学的性質はマーク波長に接触させることで変化し得る。
【０００８】
一実施形態では、記憶媒体の製造方法は、熱可塑性樹脂を光マーキング添加剤と合わせてブレンドを形成する段階、ブレンドを射出成形して基板を形成する段階、基板上に反射層を配設して媒体を形成する段階、及び基板の一部をマーキング波長に暴露して基板中に光マークを形成する段階を含み得る。
【０００９】
一実施形態では、記憶媒体の使用方法は、読出しデバイスに指示して記憶媒体の検査領域を検出させる段階を含み得ると共に、真正媒体上の検査領域は光学的に誘起されるシグネーチャを形成する光マークを記憶媒体の基板中に有している。光学的に誘起されるシグネーチャをディジタル識別シグネーチャに変換することができ、ディジタル識別シグネーチャの真正性を検証することができる。
【００１０】
上記その他の特徴は、添付の図面及び以下の詳しい説明によって例示される。
【００１１】
図面の簡単な説明
次に、例示的な実施形態を示す図面について説明する。図面中では、類似の構成要素には同じ番号が付けられている。
【００１２】
図１〜６は、基板中の可能な集束レーザーマークプロフィルを例示する図である。
【００１３】
図７は、ガルボミラーを用いるレーザーマーキングシステムの一実施形態を示す図である。
【００１４】
図８は、改造ドライブを用いるレーザーマーキングシステムの一実施形態を示す略図である。
【００１５】
図９は、色素１をドープしたポリカーボネートからなる光ディスクをＵＶ暴露した場合とＵＶ暴露しない場合とで比較して示すグラフである。
【００１６】
図１０は、色素２をドープしたポリカーボネートからなる光ディスクをＵＶ暴露した場合とＵＶ暴露しない場合とで比較して示すグラフである。
【００１７】
図１１は、ディスク上に配設されたメチレンブルーコーティングの漂白前及び漂白後において、ＰＯエラーの位置を論理ブロックアドレスの関数として示すＫプローブの結果を示すグラフである。
【００１８】
図１２は、クリスタルバイオレットラクトン及び光酸発生剤をドープしたポリカーボネートからなる光マーク付きＣＤのエラーシグネーチャを示している。
【００１９】
図１３は、黒色顔料を含むアルコール溶液でスポットを付けたＤＶＤの上面図である。
【００２０】
図１４は、図１３のＤＶＤに関するＫプローブの結果を示すグラフであって、ＰＩエラーの分布及び大きさを論理ブロックアドレスの関数として示している。
【００２１】
図１５は、黒色顔料を含むアルコール溶液でスポットを付けたＤＶＤの上面図である。
【００２２】
図１６は、図１３のＤＶＤに関するＫプローブの結果を示すグラフであって、ＰＩエラーの分布及び大きさを論理ブロックアドレスの関数として示している。
【００２３】
図１７は、黒色顔料を含むアルコール溶液でスポットを付けたＤＶＤに関する（Ｋプローブを用いて測定した）Ｃ１エラーを示すグラフである。
【００２４】
図１８は、図１７と同じＤＶＤに関する（Ｋプローブを用いて測定した）Ｃ２エラーを示すグラフである。
【００２５】
図１９は、透明ディスク上にマークしたパターンの略図である。
【００２６】
図２０は、１０６４ｎｍのＹＡＧレーザーでマークした図１９の透明ディスクに関し、反射率を角位置の関数として示すグラフである。
【００２７】
図２１は、図１９のパターンに従ってマークされ、図２１に示される反射率を有するディスクの上面図である。
【００２８】
図２２は、１０６４ｎｍのＹＡＧレーザーでマークした透明ディスクに関し、反射率を半径方向位置の関数として示すグラフである。
【００２９】
図２３は、０．６ｍｍの厚さで測定した、実施例６の配合物Ｂ及びＣに関する分光データを示すグラフである。
【００３０】
図２４は、配合物Ｂから形成され、図２５のパターンに従ってマークされ、図２６に示される反射率を有するディスクの上面図である。
【００３１】
図２５は、配合物Ｂの着色ディスク上にマークされたパターンの略図である。
【００３２】
図２６は、１０６４ｎｍのＹＡＧレーザーでマークした図２５の着色ディスクに関し、反射率を角位置の関数として示すグラフである。
【００３３】
図２７は、ＣＤ−ＲＯＭ、記録型ＣＤ−Ｒ又はＣＤＲＲＯＭの略図である。
【００３４】
図２８は、ディスクの成形後マーキングで生み出されたユニークＩＤを基板中に有するＣＤ−ＲＯＭの一実施形態の略図である。
【００３５】
図２９は、マークトスポットと「検査領域」との関係を示す、ユニークＩＤを有するＣＤ−ＲＯＭの一実施形態の略図である。
【００３６】
図３０は、ユニークＩＤを有する光ディスクを製造するための製造プロセスに関する流れ図の一実施形態である。
【００３７】
図３１は、ユニークＩＤ検出及びデコードプロセスに関する流れ図の一実施形態である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３８】
本明細書における「第一」、「第二」などの用語はいかなる数量、順序又は重要度も意味せず、むしろある構成要素を別のものから区別するために使用されることに注意すべきである。また、本明細書中に単数形で記載したものは数量の制限を意味するわけではなく、むしろ記載されたものの１以上が存在することを意味する。さらに、本明細書中に開示されるすべての範囲は、両端を含むと共に結合可能である（例えば、「２５ｗｔ％まで、望ましくは５〜２０ｗｔ％」という範囲は、端点を含むと共に、「５〜２５ｗｔ％」などの範囲内のすべての中間値を含む）。数量に関して使用される「約」という修飾語は、記載された値を含むと共に、（例えば、特定の数量の測定に関連する誤差の程度を含め）前後関係から指示される意味を有する。「±１０％」という表記は、表示される測定結果が記載値の−１０％の量から＋１０％の量までであり得ることを意味する。化合物は標準的な命名法を用いて記載される。例えば、表示された基で置換されていない位置は、表示された結合又は水素原子で満たされる原子価を有するものと理解される。２つの文字又は記号の間に位置しないダッシュ（「−」）は、置換基の結合点を表すために使用される。例えば、−ＣＨＯはカルボニル基の炭素を介して結合される。
【００３９】
製造業者（例えば、情報記憶ディスク製造業者）は、少なくとも追跡目的、通し番号の割当て及び／又は認証のため、製品のあるコピーが同じ製品の別のコピーから識別できることを望んでいる。追跡は、（例えば、データを樹脂装填手順、成形機運転パラメーター、ディスク品質データなどのような他の品質データと関連づけることができるようにするため）複製業者の所在地（即ち、コピーを作製する主体の所在地）、配給及び／又は小売りの場所、製造の日付及び／又は時間、コピーを作製するために使用した製造機械のような項目を含み得る。他方、通し番号の割当ては、例えば、それをセントラルデータベース上で製造業者に登録することで、認定された消費者にアップグレード、テクニカルサポート、ゲームや商品や歌や販売促進用提供品などのボーナス素材へのアクセスを受ける権利を与え得るので望ましい。セントラルデータベース（例えば、「プロダクト・アクティベーション」）上への登録は、ディスク上のコンテンツをロック解除するためのキーとしても役立ち得る。それにより、同じ通し番号を用いた複数の登録は問題があることを知らせるので、ディスクの偽造又はコンテントの不法コピーを防止できる。ユニークディスク識別子を使用することで、ディスクを認証したり、或いはコピー防止又はディジタル著作権管理（ＤＲＭ）ソフトウェアを機能させることもできる。即ち、検出されたパターンをコンテント又はファームウェアの指令と照合し、正確な一致が得られる場合にのみコンテントを表示することができる。
【００４０】
通し番号又はユニーク識別子（ＩＤ）を使用すれば、無許可のソフトウェアインストレーション或いはディスク上にローカル記憶され又はサーバー上に外部記憶されたデータへのアクセスを防止できる。一実施形態では、ディスクを認証するために使用されたユニークＩＤ又は他のデータを製品のインストレーション中に検索でき、或いはディスクの使用中に間欠的に検索できる。ユニークＩＤは、ウェブサイト又は外部データにアクセスするユーザー又はコンピューターを識別するための永久的な「クッキー」として使用できる。ユニークＩＤの構造は、マスタリング又は記録プロセスによるユニークＩＤの容易な複写を回避するため、先行記録型又は記録型ディスクフォーマット中の標準的なデータ構造と異なることが好ましい。
【００４１】
本明細書中には、射出成形可能かつ光マーキング可能（レーザーマーキング可能）で光学的に透明な熱可塑性樹脂組成物、光媒体物品、バルク熱可塑性樹脂組成物中（例えば、基板中）に様々なタイプの光マーク（例えば、スポット）を形成するためのシステム及び方法、データをエンコードする方法、並びにエンコードされたデータをリードバックしてユニーク識別シーケンスを形成する方法が開示される。本明細書中では、記載を簡明にするため、熱可塑性樹脂組成物を光媒体用途のためのポリカーボネートとして記載するが、特定の用途（例えば、光媒体用途、保安識別カードなど）のために適した任意の光学品質熱可塑性樹脂（例えば、約２％以下の曇り度、読出し波長で約８０％以上の透過率、及び低いエラーカウントを有するもの）が使用できることはいうまでもない。低いエラーカウントは媒体のタイプに依存する。ＣＤはディスク全体にわたる平均ブロックエラーレート（ＢＬＥＲ）が１００未満であれば低いエラーレートを有すると見なされるのに対し、ＤＶＤは８ビット内部パリティエラー（ＰＩｓｕｍ８）が２８０未満であれば低いエラーレートを有すると見なされる。さらに詳しくは、光学品質熱可塑性樹脂は、ＣＤ用であればディスク全体にわたり約５０以下、さらに一段と詳しくは約５．０以下のＢＬＥＲを有し得るのに対し、ＤＶＤ用であれば約１５０以下、さらに一段と詳しくは約５０以下の８ビット内部パリティエラー（ＰＩｓｕｍ８）を有し得る。若干の使用可能な熱可塑性樹脂には、例えば、ポリカーボネート、ポリアクリレート、環状ポリオレフィンなど、並びに上述の熱可塑性樹脂の1種以上を含む組合せがある。
【００４２】
ポリカーボネート組成物は、読出し波長での媒体の光学的性質の変化（吸収の増加又は減少或いは散乱特性の変化）を誘起する光マークを形成するため、マーキング波長で十分なエネルギー吸収量（波長及び出力の関数）を有し得る。通例、マーキング波長は読出し波長と異なるが、場合によっては、マーキング波長は読出し波長と同じであり得る。例えば、マーク波長と読出しは波長との差は約±３０ｎｍ以上、さらに詳しくは約±１００ｎｍ以上であり得る。換言すれば、読出し波長が６５０ｎｍであれば、マーク波長は約６８０ｎｍ以上又は約６３０ｎｍ以下であり得る。ポリカーボネート組成物（即ち、光マーキング添加剤を含むポリカーボネート）は光学的に透明であって、ＢＹＫ  Ｇａｒｄｎｅｒ社から入手できるＨａｚｅＧａｒｄ又はＨａｚｅＧａｒｄ  Ｐｌｕｓを用いて厚さ２．５ミリメートル（ｍｍ）のカラープラークについて測定して約２％以下、詳しくは約１．５％以下、さらに詳しくは約１％以下の曇り度を有し得る。光学的に透明な射出成形基板は、当該フォーマット用の適当な条件を用いて成形した場合、特定のディスクフォーマットに関する規格内の電気的エラーカウントを有する。エラーカウントには、ＰＩＳｕｍ８、ＢＬＥＲ、ＰＯエラー、ＰＩエラーなどがある。これらのポリカーボネート組成物は、光媒体基板に関して使用される透明度及び機械的性質を維持する。
【００４３】
ポリカーボネート組成物は十分な安定性を有し得る。例えば、（ｉ）リードバック波長での透過特性が、媒体フォーマットによって画定される適正な基板厚さでの基板成形後の透過率の約６０％以上、詳しくは約７５％以上、さらに詳しくは約８５％以上に保持される安定性、（ii）プロセス条件を調整しなくても、基板の厚さ及び複製の品質の変動を最小限に抑えながらディスクの一貫した成形を可能にする、ポリマー分子量又はポリマー溶融粘度の安定性、及び／又は（iii）例えば、３０分の滞留時間後における３００℃での溶融粘度シフトが約１５％以下、さらに詳しくは約１０％以下、さらに詳しくは約５％以下である平行板レオロジーが、光媒体複製のために適している。
【００４４】
ポリカーボネートは、任意の光学的に透明なポリカーボネート、さらに詳しくは射出成形可能で光学的に透明なポリカーボネートであり得る。ポリカーボネート組成物は、用途に応じて様々な分子量を有し得る。例えば、ポリカーボネートは約１６０００〜約２００００原子質量単位（ａｍｕ）、さらに詳しくは約１７５００〜約１８５００ａｍｕの重量平均分子量（Ｍｗ）を有し得る。
【００４５】
ポリカーボネート組成物の光マーキング添加剤は、ポリカーボネート中に分散し得る任意の物質、例えば、透過型電子顕微鏡を用いて測定して約５０ナノメートル（ｎｍ）以下、さらに詳しくは約２５ｎｍ以下、さらに一段と詳しくは約１０ｎｍ以下の粒度を有する物質からなり得る。光マーキング添加剤は、読出し波長での透明度に影響を及ぼさないが、続いて（例えば、光、レーザーなどに由来する）マーキング波長に接触させた後には読出し波長でのエネルギーの反射（及び／又は（該当する場合には）透過）を変化させる（例えば、エネルギー（例えば、光）を吸収し、光を屈折し、及び／又はエネルギーを散乱する）物質であり得る。かかる変化は光マークされた領域での反射の増加又は減少であり得るが、これは本質的に熱可塑性樹脂基板のマーキングに由来するものであって、メタライズ層（例えば、反射層）の損傷に由来するものではない。例えば、かかる物質は光学的性質を変化し得る（例えば、マーキング波長による刺激及び／又はマーキング波長で励起される組成物中の二次成分による刺激を受けて状態を変化し得る）。例えば、マーキング波長での光の吸収は、吸光度単位として約０．５以上、さらに詳しくは約１．０以上、さらに一段と詳しくは約２．０以上であり得る。吸光度は、分光光度計を用いてカラープラークについて測定できる。このような吸収は、光マーク領域における読出し波長での反射率の変化をもたらす永久的な状態変化を可能にする（即ち、その状態変化は（例えば、吸収状態と非吸収状態との間で）容易に可逆的でない）。苛酷な暴露条件（例えば、長時間の日光暴露）にさらして退色させた場合でも、光マークは永久的に残存する。即ち、光マークは読出し波長での十分な変化をもたらし、元の状態に戻ることはない。反射率及び透過率は、バルク光学材料（即ち、基板の非マーク領域）とは異なるように光を吸収、屈折及び／又は散乱する光マークによって変化する。例えば、その反射率がバルク光学材料より十分に低いか又は十分に高ければ、光マークはドライブで読取り可能なエラーを生み出すことができる。
【００４６】
例示的な光マーキング添加剤は、アゾ色素、メチン色素、クマリン類、ピラゾロン類、キノフタロン類、キナクリドン類、ペリノン類、アントラキノン類、オキサジン類、アントラピリドン類、バット色素、フタロシアニン類及びリレン誘導体（例えば、ペリレン類やクアテルリレン類）のような有機色素及び顔料を含む群中に見出すことができる。例えば、アントラキノン類、さらに詳しくはアルキルアミノアントラキノン類が使用できる。アントラキノン誘導体の非限定的な例には、化合物（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）及び（Ｄ）がある。他方、（Ｅ）、（Ｆ）及び（Ｇ）はリレン誘導体（ペリレン類（ｎ＝０）、テルリレン類（ｎ＝１以上）及びクアテルリレン類（ｎ＝２））を例示している。
【００４７】
【化１】
2008515126.tif 000003
【００４８】
【化２】
2008515126.tif 000004
【００４９】
【化３】
2008515126.tif 000005
式中、Ｒ１〜Ｒ４は個別にアルキル基、アルキルエーテル基、シクロアルキル基、環状エーテル基、アリール基、アリールエーテル基、複素環式基、カルボニル基、エステル基又はカーボネート基である。Ｒ５及びＲ６は個別に水素、アルキル基、アルキルエーテル基、シクロアルキル基、環状エーテル基、アリール基、アリールエーテル基、複素環式基、カルボニル基、エステル基、カーボネート基などを表す。Ｒは、特に限定されないが、水素、ヒドロキシ基、及び線状又は環状基（例えば、アルキル、アルコール、アルコキシ、アリール、スルホニル、ケトン、ウレタン、エステル、エーテル及びチオエーテル官能基）を含む１種又は数種の置換基を表す。リレン誘導体の例及びその合成法は、Ｋ．Ｍｕｅｌｌｅｎ及び共同研究者らの論文（Ｊｏｕｒｎａｌ  ｏｆ  Ｍａｔｅｒｉａｌｓ  Ｃｈｅｍｉｓｔｒｙ（１９９８），ｖｏｌｕｍｅ  ８（１１），ｐｐ  ２３５７−２３６９）中に報告されている。
【００５０】
四置換アントラキノン類も、近赤外域（ＮＩＲ）中又はその縁に吸収を有するので、マーキング用として使用できる。ＮＩＲ吸収性の四置換アントラキノン類の例には、ニューアーク（米国ニュージャージー州）を拠点とするＥｐｏｌｉｎ社から市販されている色素（例えば、Ｅｐｏｌｉｎ  ９１５１及び９１９４）がある。アリールポリメチン色素もマーキング用として使用できる。アリールポリメチン色素の例には、Ｔｕｅｍｍｌｅｒ，Ｗ．Ｂ．  ａｎｄ  Ｗｉｌｄｅ，Ｂ．Ｓ．，Ｊｏｕｒｎａｌ  ｏｆ  ｔｈｅ  Ａｍｅｒｉｃａｎ  Ｃｈｅｍｉｃａｌ  Ｓｏｃｉｅｔｙ（１９５８），Ｖｏｌｕｍｅ  ８０，ｐｐ  ３７７２−３７７７に記載されたものがある。光マーキング添加剤は、アリールカルボニウム色素の前駆体（例えば、アリールメタン、アリールカルビノール、フタレイン、スルホンフタレイン、フルオランなど、並びにこれらの１種以上を含む組合せ）であり得る。アリールカルボニウム色素前駆体は、通例、光及び／又は熱への暴露後にその周囲の酸性度を局部的に変化させる化合物（例えば、潜在性酸としても知られる光酸発生剤）と共に添加される。これらの構造を下記に示す。フタレイン誘導体の例には、クリスタルバイオレットラクトン、フェノールフタレインなどがある。アリールメタンの例には、ロイコクリスタルバイオレット、ロイコマラカイトグリーンなどがある。
【００５１】
【化４】
2008515126.tif 000006
アリールメタン色素については、ＺはＨであり得る。アリールカルビノール色素については、ＺはＯＨであり得る。置換アリールメタン色素については、ＺはＯ−アシル、Ｏ−アリール、Ｏ−アルキル、Ｏ−シリル、Ｓ−アルキル、Ｓ−アリール、Ｓｉ−アルキル、Ｓｉ−アリール又はＳｉ−アルコキシであり得る。
【００５２】
【化５】
2008515126.tif 000007
アリールカルボニウム色素前駆体は、（左から右に向かって）フタレイン誘導体、スルホンフタレイン誘導体及びフルオランである。式中、ＸはＯ又はＳであり得る。
【００５３】
【化６】
2008515126.tif 000008
光マーキング添加剤は、ウレタン基及び／又はカーボネート基を有する分子であり得る。アントラキノン族、ペリレン族、テルリレン族及びクアテルリレン族中の色素は、母体上に存在するアミン官能基を有している。この場合、アミノ官能基を改変して（例えば、アルカリ性条件下でクロロホルメート（Ｒ２ＯＣＯＣｌ）を色素（−ＮＨ−Ｒ１）と反応させて）ウレタン結合を形成することで、分子の共役に影響を及ぼす熱不安定基を生成する（−ＮＨ−Ｒ１を−ＮＲ１−ＣＯ−Ｏ−Ｒ２に変換する）ことができる。通例、かかる熱不安定基は電子吸引基として作用し、それによって色素の最大吸収ピークを低い波長にシフトさせる。（例えば、色素自体又は補助吸収剤によるレーザー光の吸収で間接的に誘起される）熱暴露時には、熱不安定基は分子から離脱し、分子の吸収は高い波長に向かってシフトする。Ｒ２置換基は、押出し及び成形には耐えて残存するが、光マーキング段階に際しては離脱するように設計できる。一般に、第三アルキル置換基はｎ−ブチル基のような第一アルキル基に比べて最低の熱安定性を示す（例えば、ｔ−ブチル基の場合）。Ｒ２がベンジル誘導体（特にニトロ置換ベンジル基）であるならば、色素はＵＶ域内で光不安定であり得る。その場合には、レーザーを用いて不安定基を直接に除去し、かくして色素の最大吸収をシフトさせることができる。同様に、熱不安定性カーボネート官能基は、系の電子共役を改変して光マーキングに対する感受性を付与するため、光マーキング添加剤に添加できる。かかる官能化は、マーキング感度（マーキング中の吸収の変化）をさらに高めるため、化学還元のような第一段階を含み得る。
【００５４】
例示的な光マーキング添加剤には、オキサジン類、ジアリールエテン、スピロナフトキサジン類、ナフトピラン類、フルギド類、スピロピラン類、アントラキノン類、ジ−及びトリアリールメチン、チアジン類、アントロキノン類、アザ及びアゾ色素、キノン類、インジゴなどがある。これらの添加剤の若干例には、クリスタルバイオレットラクトン（例えば、ＣＡＳ  １５５２−４２−７）、メチルグリーン（例えば、メチルグリーン塩化亜鉛塩（ＣＡＳ  ７１１４−０３−６））、Ｏｒｇａｎｉｃａ  Ｆｅｉｎｃｈｅｍｅ  Ｗｏｌｆｅｎの「Ｄｙｅ  １０９３」、テトラゾリウムブルークロリド（例えば、ＣＡＳ  １８７１−２２−３）、ホトクロミック色素（例えば、Ｊａｍｅｓ  Ｒｏｂｉｎｓｏｎ  Ｌｔｄ．から商業的に入手できるＲｅｖｅｒｓａｃｏｌ（登録商標）Ｐａｌａｔｉｎａｔｅ  Ｐｕｒｐｌｅ、Ｃｏｌｏｒ  Ｃｈａｎｇｅ  Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎから商業的に入手できるＰｌｕｍ１、Ｍａｔｓｕｉ  Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ  Ｃｏｍｐａｎｙ  Ｉｎｃ．から商業的に入手できるＰｈｏｔｏｐｉａ  Ｂｌｕｅなど）、保護された形態のロイコメチレンブルー（例えば、ベンゾイルロイコメチレンブルー）、還元形のメチレンブルー、ブリリアントクレジルブルー、ベーシックブルー３、トルイジンブルー、（４−｛シアノ［４−（ジブチルアミノ）フェニル］メチレン｝シクロヘキサ−２，５−ジエン−１−イル）マロノニトリル、ＩＲ７８６ヨージド（例えば、ＣＡＳ  ５６２７８−６７−９）、ＩＲ７７５クロリド（２−［２−［２−クロロ−３−［２−（１，３−ジヒドロ−１，３，３−トリメチル−２Ｈ−インドル−２−イリデン）エチリデン］−１−シクロヘキセン−１−イル］エテニル］−１，３，３−トリメチル−３Ｈ−インドリウムクロリド）、ＩＲ７８０ヨージド（例えば、ＣＡＳ  ２０７３９９−０７−３）、銅フタロシアニン（例えば、Ｃｉｂａ  Ｓｐｅｃｉａｌｔｙ  Ｃｈｅｍｉｃａｌ社から商業的に入手できるＵｌｔｒａｇｒｅｅｎ  ＭＸ（商標））などがある。所望の光マークを形成し得る上述の光マーキング添加剤のいずれか１種以上を含む組合せも使用できる。
【００５５】
ポリカーボネート（及び／又は他の材料）中に配合した後の光マーキング添加剤の粒度は、基板の光学的透明度を維持するのに十分な程度に小さくすべきである。添加剤が例えば無機物であれば、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）により主軸に沿って測定した粒度は、光学的に透明であるためには約５０ナノメートル（ｎｍ）以下、さらに詳しくは約２５ｎｍ以下、さらに一段と詳しくは約１０ｎｍ以下であり得る。ポリカーボネート母材の外部における無機ナノ粒子の小さい初期粒度は、ナノ粒子が凝集する傾向を有するため、母材中に分散させた場合に必ずしも同じ粒度を保証しないことがある。かかる場合には、特別な対策（例えば、被覆及び／又は表面官能化）が使用できる。
【００５６】
ポリカーボネート及び光マーキング添加剤に加えて、基板は照射又は加熱後にその周囲の酸性度を局部的に変化させる光酸発生剤（例えば、潜在性酸としても知られる）を含み得る。特にポリカーボネート用途で使用される場合、光酸発生剤は非イオン性であり得る。好適な光酸発生剤には、例えば、スルホネート誘導体（Ｒ３ＳＯ２ＯＲ４）など、並びにスルホネート誘導体（Ｒ３ＳＯ２ＯＲ４）を含む組合せがある。Ｒ３は、Ｒ３ＳＯ３Ｈが強いブレンステッド酸となるように設計された置換基であり得る（Ｒ３は通例アルキル基、アリール基、ペルフルオロアルキル基などの電子吸引基を含む）。Ｒ４は、光を吸収して光酸発生剤の感受性を生み出すように設計された基であり得る。したがって、Ｒ４はアリール基などの芳香族基であり得る。光酸発生剤は多官能性であり得る。一実施形態では、Ｒ４はフェニル環の１位、３位及び５位に位置する３つのスルホネート基を有する三置換フェニル部分であり得る。光酸発生剤の例には、Ｎ−ヒドロキシフタルイミドトリフレート、Ｎ−ヒドロキシナフタルイミドトリフレート、（例えば、Ｓｉｇｍａ−Ａｌｄｒｉｃｈ社から商業的に入手できる）Ｎ−ヒドロキシ−５−ノルボルネン−２，３−ジカルボキシミドペルフルオロ−１−ブタンスルホネート、（例えば、Ｓｔｒｅｍ  Ｃｈｅｍｉｃａｌｓ社（米国マサチューセッツ州）から商業的に入手できる）１，１’−ビ−２−ナフトールビス（トリフルオロメタンスルホネート）、１，２，３−トリヒドロキシベンゼントリス−フェニルスルホニルエステルなどがある。潜在性酸は、ポリマーに共有結合させるか、或いはその他の方法で固定化することもできる（例えば、シェル中に封入し、熱、圧力及び／又は光への暴露でシェルから放出させることもできる）。
【００５７】
ポリカーボネート組成物の各種成分の量は、光マーキング添加剤が金属層の損傷を最小限に抑えながら（例えば、ディスクの非読出し側又はラベル側（即ち、マークと反対の側）からは金属層の損傷が人間の目に見えず、マークと同じ側からは光学顕微鏡を用いてもメタライズ層の損傷が見えないように）基板のマーキングを可能にするのに十分であると共に、任意には光酸発生剤が光マーキング添加剤と反応するのに十分であることに依存する。光マーキング添加剤の量は、マーキング波長での添加剤の吸光係数に依存し、また読出し波長でのマークされた化学種の吸光係数にも依存する。マークされた場合、マークがドライブレーザーで検出できるように（例えば、反射率の十分な変化が存在するように）、十分な量の光マーキング添加剤が存在し得る。若干の光マーキング添加剤については、存在する量は基板の総重量を基準にして約０．００１ｗｔ％以上であり得る。光マーキング添加剤の量は、約５ｗｔ％以下、さらに詳しくは約３ｗｔ％以下、さらに一段と詳しくは約１ｗｔ％以下、さらになお詳しくは約０．５ｗｔ％以下であり得る。通例、等モル比の光マーキング添加剤及び光酸発生剤（例えば、光マーキング添加剤１モル当たり０．９〜１．１モル％の光酸官能基）が使用できる。
【００５８】
ポリカーボネート、光マーキング添加剤及び光酸発生剤に加えて、基板は光媒体中に使用できる追加の添加剤（例えば、充填材又は補強材、熱安定剤、着色剤、酸化防止剤、光安定剤、可塑剤、帯電防止剤、離型剤、追加の樹脂、発泡剤、難燃剤など、並びに上述の追加の添加剤の１種以上を含む組合せ）を含み得る。
【００５９】
上述の通り、基板は光媒体（例えば、コンパクトディスク（ＣＤ）（例えば、追記型コンパクトディスク（ＣＤ−Ｒ）、書換型コンパクトディスク（ＣＤ−ＲＷ）など）、光磁気ディスク、ディジタルバーサタイルディスク（例えば、ＤＶＤ−５、ＤＶＤ−９、ＤＶＤ−１０、ＤＶＤ−１８、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＨＤ−ＤＶＤなど）、ブルーレイディスク（ＢＤ）、エンハンストビデオディスク（ＥＶＤ）、追記型及び書換型ブルーレイディスクなど）として使用できる。この場合、基板は約０．３ミリメートル（ｍｍ）以上、さらに詳しくは約０．６ｍｍ以上、そして任意には約１．０ｍｍ以上の厚さを有する。
【００６０】
（独立した層からなるか、及び／又は基板表面のピット及びランドからなり得る）データ層の可読性を可能にするためには、非マーク領域の電気反射率は３０％以上、さらに詳しくは４５％以上、そして若干の用途では６５％以上であり得る。反射率とは、通例、ＣＤ  Ａｓｓｏｃｉａｔｅｓ社製のＣＤ−ＣＡＴＳ、ＡｕｄｉｏＤｅｖ社製のＤＶＤ−Ｐｒｏ、などのテスターを用いて測定される電気反射率をいう。マークが十分に大きければ（１ミリメートル（ｍｍ）を超えるならば）、反射率は光学的方法（例えば、Ｄｒ．Ｓｃｈｅｎｋ社製のＰｒｏｔｅｍｅｕｓ  ＭＴ−１４６、ＭＴ−１３６などの光学テスター）を用いて測定できる。
【００６１】
光マーク（その１以上が任意に暗号化されていてもよい）は光媒体を構成する１以上の基板中に形成できると共に、例えば、光マークと基板の非マーク領域との間の反射率の差のために光ディスクドライブで検出できる。反射率の差は、例えば、１５％以上、さらに詳しくは３０％以上、さらに一段と詳しくは４５％以上であり得る。
【００６２】
光マークのパターン（例えば、１つの光マークの長さ及び／又は幅、及び／又は複数の光マークの長さ、幅及び／又は間隔）は、ユニークな反射率パターン（例えば、正弦波、階段状変化など、並びにこれらのパターンの１以上を含む組合せ）を生み出すように調整できる。例えば、ディスク基板内部でのレーザー空間プロフィルは光マークのシグネーチャであり得る。集束レンズに入射するレーザービームに応じ、ディスク基板中の集束光マークは、例えば、ガウス形、エアリー形（ｓｉｎｃ関数）、フラットトップ形など、並びにこれらの１以上を含む組合せであり得る（図１〜６を参照されたい）。光マークは不明確な幾何学的形状を有することができ、或いは特別なパターン（例えば、ロゴ、商標、語、形状など、並びにこれらの１以上を含む組合せ）を形成することもできる。加えて、光マークはＣＤ−Ｒグルーブのような特定の経路に沿うことができ、或いは特別な周期性をもった独自の経路を形成することもできる。後者の場合、レーザー（又は光）出力を変調して高反射率及び低反射率の領域が交代するウォブル経路を生み出すことができ、かかる周期性はある形態のトラッキングを可能にするであろう。
【００６３】
微視的又は巨視的であり得る光マークのサイズは、光マークを形成するために使用するデバイスに依存する。例えば、光マークは（主軸（即ち、最長の軸）に沿って測定して）直径１マイクロメートルほどに小さいこともあり、これは（例えば、顕微鏡で）拡大しなければ見えない。例えば、光マークの直径は０．１〜１００マイクロメートルであり得る。基板表面上では、光マークのサイズは０．５ミリメートル（ｍｍ）程度に大きいこともある。局在アドレス（例えば、１以上の隣接論理ブロックアドレス）の内容を光マークするためには、光マークは小さい（例えば、約１００マイクロメートル以下である）と共に、反応層に近い深さにあり得る。例えば、光マークはディスクの一領域及び／又はマスタリングで形成されたデータグルーブ中に配設できる。一連の光マークが（例えば、個々の光マークが特別なフィーチャーをもった）パターンを形成することもできる。例えば、パターンは複数の光マークで形成された会社ロゴであり得る（例えば、ロゴマークなどである）。
【００６４】
光マークは、例えば、２つの基本的なカテゴリー（即ち、小さいもの及び大きいもの）に分類できる。小さい光マークの各々は、データセクション中に存在し得るようにするため、可読ビットストリームを修正するのに十分なサイズを有し得る。例えば、小さい光マークはピット、グルーブ及び／又はランド（即ち、ディスク上のデータ）のサイズに類似したサイズを有し得る。例えば、ＣＤに関しては、ピットのサイズは約０．８３マイクロメートル（３Ｔ）ないし約３．０５マイクロメートル（１１Ｔ）であるのに対し、ＤＶＤに関しては、ピットサイズは約０．４マイクロメートル以下であり得る。これらの光マークは、データフォーマットに従うならばデータとして検出され得るか（及び／又は（例えば、１から０への）データの変化であり得るか）、及び／又は無効であって再生時にエラーをもたらし得る。換言すれば、光マークはエラーとして又はデータの変化として検出されることがある。これらのエラー生成光マークは、標準的でないピットやランドの寸法及び／又はピットやランドの無効なシーケンスの形態を有し得る。「エラー」及び／又は「隠しビット」の位置は、光媒体中にユニーク識別子を組み込むための別の方法である。例えば、ディスクのバーストカッティングエリア（ＢＣＡ）領域中に光マークされるバーコード又は他のフィーチャーと対照的に、ユニークシグネーチャをディスクのデータセクション中に隠すことができる。例えば、論理ブロックアドレス（ＬＢＡ）１０００での修正可能なビットは、それをユニークにする２つの情報を有し得る。即ち、１）ビットは１又は０であると共に、２）位置は奇数チェックサム又はエラー状態を有する。かくして、ただ１つのビットで、光媒体のピースは４つの可能な状態［０，０］［１，０］［０，１］［１，１］（ここでは、［ビット，エラーの有無］を表す）で光マークされる。
【００６５】
大きい光マークの各々は、大きすぎてデータセクション中に「隠す」ことができない。例えば、大きい光マークは２以上のピット及びランドをカバーし、及び／又は複数の論理ブロックアドレスにわたることがある。大きい光マークは、光ドライブで検出できるエラーを生み出すために使用できる。ＣＤ上での若干の光マークタイプを表１に示す。
【００６６】
【表１】
2008515126.tif 000009
ＣＤ及びＤＶＤは、エラー訂正方式を用いてディスク中又はディスク上の欠陥（例えば、複写欠陥、ダスト、指紋、及びデータの不良マスタリング）を訂正する。ＣＤについて使用されるエラー検出及び訂正符号は、クロス・インターリーブド・リードソロモン・コード（ＣＩＲＣ）と呼ばれる。ＣＤは、データ冗長及びインターリービングを用いてエラーの検出及び訂正を行う。ＣＤドライブ及びプレーヤーで使用されるＣＩＲＣは、Ｃ１及びＣ２と呼ばれる２つのステージ並びにステージ間でのデータのデインターリービングから構成される。一般に、ドライブは第一のステージでブロック当たり２つの不良シンボルを検出し、（ドライブに応じて）第二のステージでブロック当たり３又は４の不良シンボルを検出できる。したがって、エラーは第一のステージで訂正されるならばＣ１訂正可能として記載でき、第二のステージで訂正されるならばＣ２訂正可能として記載できる。Ｅ１１エラーは第一のステージで１つの不良シンボルが訂正されたことを意味し、Ｅ２１エラーは第一のステージで２つの不良シンボルが訂正されたことを意味する。Ｅ３１は第一のステージで３つの不良シンボルが存在していたことを意味するが、このブロックはＣ１ステージでは訂正できず、したがって第二のステージに送られる。Ｅ１２は第二のステージで１つの不良シンボルが訂正されたことを意味し、Ｅ２２は第二のステージで２つの不良シンボルが訂正されたことを意味する。Ｅ３２は、第二のステージで３以上の不良シンボルが存在していたことを意味する。若干のドライブは、第二のステージで４までの不良シンボルを訂正できる。エラーが第二のステージで訂正できなければ、それは一般に訂正不可能エラーを生じる。
【００６７】
ＤＶＤプレーヤーは、リードソロモン積符号方式に基づく別のエラー訂正プロトコルを使用する。パリティ行及び列を用いてデータブロックを検査する。この場合、行中に６つの不良バイトがあれば、その行にはＰＩ（内部パリティ）障害又はエラーとしてのフラグが立てられる。それでも、生データは外部パリティバイトを用いて回収できる。列中に７を超える不良バイトが存在すれば、その列にはＰＯ（外部パリティ）障害又はエラーとしてのフラグが立てられる。ＰＯ障害としてフラッグが立てられたブロックは使用できず、データは失われる。
【００６８】
エラータイプ（ＣＤの場合にはＣ１、Ｃ２又は訂正不可能エラー、ＤＶＤの場合にはＰＩ又はＰＯ障害エラー）に対する光マークの影響は、ディスクフォーマット、光マークの数、並びに光マークの密度及び物理的配置の関数である。したがって、光マーク（例えば、光学的に誘起されるシグネーチャ）はＣ１エラー、Ｃ２エラー、ＰＩエラー、ＰＯエラー、訂正不可能エラー、不良セクターなど、並びにこれらの１以上を含む組合せであり得る。光学的に誘起されるシグネーチャはまた、光マークの存在のために所定のデータ状態に比べて変化したデータ状態を有する１以上のデータビットでもあり得る。
【００６９】
光記憶ディスクに対してユニークな通し番号を生み出すための一方法は、各ディスクが識別子（例えば、通し番号）に変換されるユニークなパターンの光マークを有するようにディスク上の光マークの配置、サイズ及び／又はデザインを制御することである。図３０に示すように、ユニークＩＤは、所望のデータ及び検査データ（例えば、ユニークＩＤに関する情報（例えば、位置など））を含むディスクを成形することで形成できる。成形ディスクは、データ層、反射層及び任意には他の層を含んでいる。次いで、ディスクを光（例えば、レーザー光）に接触させることで成形ディスク中にユニークＩＤを形成できる。光は基板中の光マーキング添加剤に接触し、検査データと一致した位置にマーク又は一連のマークを成形後に形成する。
【００７０】
光マークは、レーザー（例えば、（ＹＡＧ、ＨｅＮｅ、ＨｅＣｄ、ＣＯ２、Ｎ２、Ａｒ、エキシマーなどの）ガスレーザー、ポンプト固体レーザー、色素レーザー及び半導体ダイオードレーザー）及び／又は他の光源（例えば、ホトマスク、空間光変調器などと共に使用されるＵＶランプ）のようなエネルギー源、並びに上述のエネルギー源の１以上を含む組合せのようなエネルギー源を用いて形成できる。低出力レーザーダイオードは、少ない資本投資、少ない保守や作業休止時間、並びに他の利点をもたらす。使用する光マーキング添加剤の感度及び所望のマーキング時間に応じ、レーザーは約２００ミリワット（ｍＷ）以下、さらに詳しくは約１５０ｍＷ以下、さらに一段と詳しくは約１００ｍＷ以下（例えば、約３０〜約１００ｍＷ）の出力を有し得る。レーザーの非限定的な例を表２に示す。
【００７１】
【表２】
2008515126.tif 000010
光ドライブ及びテスターでの読出し及びトラッキングのために使用可能なレーザーダイオードには、例えば、青色レーザー（４０５±３０ｎｍ）、赤色レーザー（６５０±３０ｎｍ）及び近ＩＲレーザー（７８０±３０ｎｍ）がある。一実施形態では、光マークは、基板中に位置すると共にディスクの他の部分（例えば、メタライズ層や表面）には物理的な損傷を与えず、それでも周囲の非マーク領域から十分な反射率の差（例えば、高い反射率又は低い反射率）を与えて明確な（即ち、測定可能な）パターン（即ち、識別子）を生み出し得るように形成できる。物品（又は組成物）の光マークと非マーク領域との間の反射率の差は、読出しデバイスが光マークを非マーク領域から識別し得るのに十分なものである。大きい光マークは、検出可能で訂正不可能なエラーが生み出されるように複数の小さい光マークを設けることで形成できる。小さい光マークが単独で配設されるか、又は低い密度で配設されれば、これらは光ドライブで訂正可能と解釈されるであろう。しかし、複数の光マークが互いに近接して配設されるので、これらは訂正不可能なエラーを生じる。
【００７２】
基板を光マークするためには（例えば、基板中にマークを配置するためには）、基板を、光マーキング添加剤が基板中にマークを形成する（例えば、エネルギーを吸収してスポットを形成する）のに十分なエネルギー（例えば、レーザーエネルギー）に接触させる。望ましくは、エネルギーは基板（例えば、ポリカーボネート）又は金属層に損傷を与える（例えば、それを焼くなどする）のに十分でない。例えば、レーザーは（１０〜１００キロヘルツ（ｋＨｚ）で進行する）パルス波、連続波（ＣＷ）又は準ＣＷであり得る。準ＣＷは非常に早いパルス繰返し速度（通例は１００メガヘルツ（ＭＨｚ）以上）で進行するパルスレーザーであって、典型的な運動系に対してはＣＷレーザーのように動作する。レーザー波長は、紫外（ＵＶ）（例えば、ＵＶレーザー、ダイオードポンプト固体レーザーなど）、可視（例えば、固体レーザー、ダイオードなど）、赤外（例えば、ダイオード、固体レーザー、二酸化炭素（ＣＯ２）レーザーなど）などであり得る。望ましくは、レーザー波長は添加剤の化学的及び／又は物理的性質の変化を引き起こすのに十分な程度に光マーキング添加剤の吸収波長に一致している。
【００７３】
各種のレーザー集束方式を用いて基板内部の様々な深さにレーザーマークを集束させることができる。なお、ディスクドライブの読出しレーザーは反射層又はメタライズ層上に焦点を有する。例えば、光マークされた色素パターンが基板内部で漏斗状になるようにマーキングレーザーを集束させることができる。光マークのサイズが大きい（例えば、約１００マイクロメートルである）場合には、平行化レーザービームを用いて、光マークされた添加剤がディスク全体を通して同じ光マークサイズを有するようにすることができる。別法として、非線形吸収色素（例えば、色素の吸収特性がレーザー出力の線形関数でないもの）をコンテント層に集束させたレーザーと共に使用することで、基板内部にサブマイクロメートルのフィーチャーを書き込むこともできる。
【００７４】
図７に示すような例示的な光マーキングシステムは、ガルボミラーを用いてディスク上に光マークを配設する。このシステムの利点はその速度である。脚を非常に長くできるので、ミラーのいかなる角運動もディスク上では大きな運動を引き起こす。しかし、このシステムはディスク上に１０マイクロメートル未満のフィーチャーを書き込むことができない。
【００７５】
別の例示的な光マーキングシステムを図８に示す。このシステムは、光ディスクを運動させかつ回転させる。このシステムでは、大きいフィーチャーについては、ｘ−ｙ線形ステージを運動させる。例えば、Ａｅｒｏｔｅｃｈ  Ｉｎｃ．又はＮｅｗｐｏｒｔ  Ｃｏｒｐ．製の光学エンコーダー付き空気軸受式線形ステージは０．１マイクロメートルの精度を達成し得る。小さいフィーチャーについては、オートフォーカシング及びトラッキングシステムが使用できる。線形ステージを用いて光ディスクのコンテントをｘ−ｙ次元でマッピングすることで書込みを行うことができる。
【００７６】
次いで、（例えば、標準的なレガシードライブでの）ディスクリードバック中に識別子を認識し、それを解読してコードを得ることができる（例えば、数字ストリング、ユニーク通し番号などに変換できる）。例えば、このコードを１組のコードと比較することでディスクの真正性を判定できる。加えて、識別子の構造を、ある種の通し番号ジェネレーターと同様な、真正コードを生成する特定のアルゴリズムにまでトレースすることができる。例えば、一実施形態では、光マークを光ディスクドライブによりエラーとして検出でき、エラーの位置を通し番号にコード化できる。光情報記憶ディスクからのデータ読出しに関するエラーは、通例、３つの起源（フォーカシングエラー、トラッキング／同期化エラー及び読出しエラー）に由来する。光マークを使用すれば、ドライブは光マークの位置にエラーを検出することができる。別の実施形態では、一連のマークによって生み出されるパターンはデータ又はデータとエラー（例えば、グルーブ上方のポリカーボネート中に設けられたマーク）の組合せに相当し得るか、或いはパターンがウォブリンググルーブを形成し得る。識別子が可読データの形態を有する場合には、それが標準的でないフォーマットをなすように構造化することで、公知技術による複写を回避できる。ウォブリング経路の特殊な周期性を、ユニークＩＤの出所を確認するための識別子として使用できることも考えられる。
【００７７】
図３１に示すように、ディスクを光ドライブ（例えば、場合に応じて標準的なＣＤ又はＤＶＤドライブ）に挿入できる。ディスク上の検査データに基づき、ドライブに指示してユニークＩＤを含むディスク上の位置から読出しを行うことができる。指定された位置からの読出しで得られたデータ及び／又はエラーに基づいてエラーディスクリプターを計算できる。次いで、ディスクリプターをディスク上の別の位置のデータ、検査データ中のデータ、（例えば、アルゴリズムに基づいて）計算されたデータなどと比較できる。ユニークＩＤをデコードし、それを用いて所望の情報（例えば、認証、アクティベーション合否など）を判定できる。次いで、得られた情報を用いていかに進行すべきか（例えば、ディスクを再生する、ディスクを拒絶する、偽造通告を送る、など）を決定できる。
【００７８】
基板に加えて、記憶媒体はデータ、データ層、潤滑層、保護層、接着剤層、誘電体層、反射層、絶縁層など、並びにこれらの層の１以上を含む組合せを任意に含み得る。データ記憶層はデータ記憶材料であり得るか、及び／又は基板中などに配設されたピット、グルーブ、ランドなど、並びにこれらの１以上を含む組合せからなり得る。データ記憶材料は、検索可能なデータを記憶し得る任意の材料であり得る。データ記憶層は６００Å以下、さらに詳しくは３００Å以下の厚さを有し得る。使用可能なデータ記憶材料には、酸化物（例えば、酸化ケイ素）、希土類元素−遷移金属合金、ニッケル、コバルト、クロム、タンタル、白金、テルビウム、ガドリニウム、鉄、ホウ素及びこれらのの１種以上を含む合金や組合せ、並びにその他の材料がある。その他の材料としては、有機色素（例えば、シアニン系又はフタロシアニン系色素）、無機相変化化合物（例えば、ＴｅＳｅＳｎ、ＩｎＡｇＳｂなど）、液晶物質、状態を変化する色素、ホトクロミック物質、結晶状態の変化のために色が変わる物質（例えば、Ｇｅ、Ｓｂ及びＴｅ材料、並びにこれらとＳｂ、Ｃｄ及びＴｎとの合金）、蛍光物質など、並びに上述のデータ記憶材料の１種以上を含む組合せがある。
【００７９】
しばしば熱制御体として使用される誘電体層は、通例、最大では約１０００Åを超え、最小では約２００Åの厚さを有し得る。使用可能な誘電体層には、環境中での適合性を有する材料のうち、窒化物（例えば、窒化ケイ素、窒化アルミニウムなど）、酸化物（例えば、酸化アルミニウム）、炭化物（例えば、炭化ケイ素）及び上述の誘電体層の１種以上を含む組合せがある。
【００８０】
反射層は、データ検索を可能にするのに十分な量のエネルギーを反射するのに十分な厚さを有するべきである。反射層は、７００Åまで、そして時には７００Åを超える厚さ、さらに詳しくは３００〜６００Åの厚さを有し得る。使用可能な反射層には、金属（例えば、アルミニウム、銀、金、チタンなど、並びに上述の金属の１種以上を含む合金や混合物、など）をはじめとして、特定のエネルギー場を反射し得る任意の材料がある。反射層は、スパッタリング、化学蒸着、電気めっきなどの各種技術で基板上に配設できる。
【００８１】
任意には、光学層とデータ記憶層との間、及び／又は他の層の間に、例えば光学層を基板で支持される他の層に付着させることができる接着剤層が配設される。接着剤層はディスクの制振を向上させるためにも使用でき、接着剤の厚さ及び性質が該層のもたらす制振の量を決定する。約７０マイクロメートル以下、詳しくは約３０〜約７０マイクロメートル（μｍ）、さらに詳しくは約４５〜約５５マイクロメートルの厚さを有し得る接着剤層は、ゴム系又はエラストマー系熱硬化性樹脂、軟質熱可塑性樹脂などからなり得る。典型的な接着剤は、ゴム系又はゴム状の材料（例えば、天然ゴム、シリコーンゴム又はアクリル酸エステルポリマー）などである。ゴム又はアクリルポリマーを基材とするものなどの軟質ポリマー接着剤は、たわみ性、耐クリープ性、レジリエンス及び弾性のようなエラストマーの性質のいくつかを有しており、情報記憶ディスクのプレイバックの品質を向上させるために有用な制振をもたらす。多層ディスクに対しては、特にレーザーが接着剤層を通して読出しを行う場合、アクリル系接着剤が使用できる。
【００８２】
データ記憶層、誘電体層、保護層及び反射層に加えて、潤滑層などの他の層が使用できる。有用な潤滑剤には、特にフルオロオイル及びグリースなどのフルオロ化合物がある。
【実施例】
【００８３】
実施例１：レーザーマーキング可能な色素を含むポリカーボネートフィルム
厚さ０．１ｍｍのポリカーボネートフィルムを製造するため、溶融ポリカーボネート試料をクロロホルム中に溶解し（約１０ｗｔ％）、約１〜５ｗｔ％（全溶液中のｗｔ％）のクリスタルバイオレットラクトンを添加してポリカーボネート組成物を調製した。ガラス基体上にフィルムを溶液流延した。溶媒蒸発後、１０ｃｍの距離でフィルムの表面に垂直に配置された３５５ｎｍレーザーを用いてフィルムに光マーキングを施した。レーザーは、１５ミリワット（ｍＷ）の平均レーザー出力を有しながら５キロヘルツ（ｋＨｚ）で動作する小形Ｎｄ：ＹＡＧレーザー（Ｎａｎｏｌａｓｅ社（フランス）から商業的に入手可能）であった。フィルムはＸＹステージ上に配置した。ステージは、所定パターンに従って１ミリメートル／秒（ｍｍ／ｓ）の速度で移動して光マークを形成するように作動された。得られたフィルムは、ポータブル光ファイバー分光分析システムで検出できる直径約１〜２ｍｍのマークを有していた。このシステムは、白色光源（ハロゲンランプ、Ｏｃｅａｎ  Ｏｐｔｉｃｓ，Ｉｎｃ．（ダニーディン、米国フロリダ州））及びポータブル分光計（Ｏｃｅａｎ  Ｏｐｔｉｃｓ社、モデルＳＴ２０００）を含んでいた。分光計には、２００μｍのスリット、４００ｎｍのブレーズ波長を有すると共に３０％を超える効率で２５０〜８００ｎｍのスペクトル範囲をカバーする６００本／ｍｍの回折格子、及び線形ＣＣＤアレイ検出器が備わっていた。光源からの光は、「シックス・アラウンド・ワン」二分岐型光ファイバー反射プローブ（Ｏｃｅａｎ  Ｏｐｔｉｃｓ，Ｉｎｃ．、モデルＲ４００−７−ＵＶ／ＶＩＳ）の一方のアームに集束させた。光ファイバープローブの共通端を表面に対する垂線から１０〜２０度の角度で試料の近くに配置した場合、フィルムからの反射光が試料から捕集された。プローブの第二のアームは分光蛍光計に結合した。
【００８４】
実施例２：色素ドープポリカーボネートからなる射出成形ディスク
ヘンシェルミキサー内で、ポリカーボネート粉末（５００グラム）を、ポリカーボネートの総重量を基準にして０．６７２ｗｔ％のクリスタルバイオレットラクトン（ＣＶＬ）及び０．３４ｗｔ％の光酸発生剤（ＰＡＧ）（１，２，３−トリヒドロキシベンゼントリス−フェニルスルホニルエステル）とブレンドした。２８０℃の射出温度を用いるＭｉｎｉ−ｊｅｃｔｏｒ射出成形機で、ブレンドを直径５７ｍｍで厚さ１．２ｍｍのディスクに成形した。３ｗｔ％のクリスタルバイオレットラクトンを含むが光酸発生剤を含まない比較試料及びクリスタルバイオレットラクトンも光酸発生剤も含まない試料も作製した。これらの試料を、３５５ｎｍのＵＶレーザー又はフラッシュＵＶランプ（Ｘｅｎｏｎ  Ｃｏｒｐ．）を用いて紫外線（ＵＶ）に３０秒間暴露した。ＵＶ暴露後、Ｏｃｅａｎ  Ｏｐｔｉｃｓ  ＵＶ−Ｖｉｓ分光光度計を用いて試料を測定した。ＰＡＧを含む試料及びＰＡＧを含まない試料のＵＶ−Ｖｉｓスペクトルをそれぞれ図９及び１０に示す。キセノンフラッシュランプを用いて３０秒のＵＶ暴露を施す前及び施した後の試料のスペクトルも、これらの図中に示してある。表３には、複数の波長での試料の吸光度をまとめて示す。これらのデータは、５３２ｎｍ及び６５０ｎｍでの吸光度の増加で示される通り、色素ドープポリカーボネートディスクがＵＶへの暴露に対して感受性を有していたことを表している。さらに、これらのデータは、クリスタルバイオレットラクトン及び光酸発生剤の両方を含む試料がＵＶ暴露後に６５０ｎｍでの吸光度の大幅な増加を示したことを表している。
【００８５】
【表３】
2008515126.tif 000011
実施例３：色素ドープポリカーボネートからなる射出成形ディスクの光マーキング
ヘンシェルミキサー内で、ポリカーボネート粉末（５００グラム）を、ポリカーボネートの総重量を基準にして０．０１〜０．３ｗｔ％の濃度の色素とブレンドした。上記の実施例と同じく、２８０℃の射出温度を用いるＭｉｎｉ−ｊｅｃｔｏｒ射出成形機で、ブレンドを直径５７ｍｍで厚さ１．２ｍｍのディスクに成形した。これらのディスクを、１５ミリワット（ｍＷ）の平均レーザー出力を有しながら９キロヘルツ（ｋＨｚ）及び４００ピコ秒（ｐｓ）のパルス幅で動作する３５５ｎｍのパルス式Ｎｄ：ＹＡＧレーザー、１５ｍＷの平均レーザー出力を有しながら５キロヘルツ（ｋＨｚ）及び４００ピコ秒（ｐｓ）のパルス幅で動作する５３２ｎｍのＮｄ：ＹＡＧレーザー、６０ｍＷの連続レーザー出力を有する６５０ｎｍレーザーダイオード、並びに８０ｍＷの連続レーザー出力を有する７８０ｎｍレーザーダイオードを含む各種の光源に暴露した。試料は、約１０ｃｍの距離で光源に垂直に配置した。光マーキング化合物（例えば、色素）には、アントラキノン類、ジ−及びトリ−アリールメチン類、オキサジン類、チアジン類、アントロキノン類、アザ及びアゾ色素、キノン類、インジゴ並びに他の色素が含まれていた。露光前及び露光後の成形品のＵＶ−可視吸光度スペクトルを測定した。
【００８６】
表４には、ＰＣ組成物中に使用した各色素に関するレーザー露光の効果をまとめて示す。色素に応じ、露光は光マーク（露光後に高い吸光度（「暗色化」）又は低い吸光度（「明色化」）のスポット）を生じたか、或いはこれら特定の条件下でマークを生じなかった（「効果なし」）。若干の試料（「分解」）については、色素は高温成形プロセス中に分解した。表４中に示したホトクロミック色素の多くはコーティングのような適当な母材中に配置した場合には吸収状態と非吸収状態との間で可逆的に切換え可能であることが知られているが、これらの色素をディスク基板（例えば、ポリカーボネート基板）中に配置した場合には、可逆的な挙動を示さずに意外にも安定な（「永久的な」）状態変化を示したことに注意されたい。
【００８７】
射出成形プロセスに耐え、低出力レーザーからの光に暴露した際に検出可能なマークを形成し得るポリカーボネート／色素組成物は、意外にも少数であることが容易に理解できよう。また、（レーザー波長及び出力を含む）今回の実験条件を用いて光マーキング可能でなかった下記色素の一部は、別の実験条件を使用すれば（例えば、高いレーザー出力又は長いマーキング時間を使用すれば）光マーキング可能になるかもしれないことが理解できよう。
【００８８】
【表４】
2008515126.tif 000012
実施例４：光マーキング可能な色素をドープしたポリカーボネート基板を含む射出成形ＣＤ
高剪断ミキサー（ヘンシェルミキサー、モデルＲＬ０８６２０２）内で、１２ｋｇの粉末ポリカーボネート樹脂（Ｌｅｘａｎ  ＯＱ１０３０Ｌ）と０．２０ｗｔ％のクリスタルバイオレットラクトン及び０．３０ｗｔ％の光酸発生剤（１，２，３−トリヒドロキシベンゼントリス−フェニルスルホニルエステル）との混合物をブレンドした。Ｗ＆Ｐ２８ｍｍ二軸押出機を用いて、ブレンドを約２６５℃で押し出した。押し出した樹脂系を細断して、光マーキング可能な色素／光酸発生剤系を含むペレットを形成した。Ｓｅｉｋｏｈ  Ｇｉｋｅｎ  Ｊ  Ｔｙｐｅ  ＣＤ  Ｍｏｌｄを備えたＳｕｍｉｔｏｍｏ  ＳＤ３０射出成形機を用いてペレットを約３３５℃でディスクに成形し、アルミニウムでメタライズし、Ｓｔｅａｇ  Ｕｎｉｊｅｔでラッカー塗装することで、再生可能なＣＤ−ＲＯＭディスクを形成した。
【００８９】
ＣＤ−ＲＯＭディスクを３５５ｎｍレーザー（ＪＤＳ  Ｕｎｉｐｈａｓｅ社のモデルＮＶ−１０２１０−１００）で光マークして、約３５７×５４１マイクロメートルないし約５７９×８２５マイクロメートルの寸法を有する楕円形スポットを形成した。１枚のＣＤ−ＲＯＭディスクは、ＣＤ−ＲＯＭ上で８分及び１８分に相当する概略位置に、５４８×７４７マイクロメートルの概略寸法を有する２つのスポットで光マークした。このディスクをマークしながら、ディスク上に０，１及び２のスポットを光マークするたびに試験した。その際には、Ｃｌｏｖｅｒ  Ｓｙｓｔｅｍｓ社のＨｉｇｈ−Ｓｐｅｅｄ  ＣＤ  Ａｎａｌｙｚｅｒを用いて、光マークしたディスクのプレイバック中に生じるＣＩＲＣエラーの存在（又は不存在）を検出した。図１２は、１つの光マークされたスポットを含むディスク上にＥ２２エラーの１つのバンド（バンドはディスク上のある範囲の論理ブロックアドレス又はセクターに生じる複数のエラーとして定義される）が存在しており、２つの光マークされたスポットを含むディスク上にＥ２２エラーの２つのバンドが存在していたことを示している。
【００９０】
実施例５：「暗」スポットを有する被覆ＤＶＤ
黒色顔料を含むアルコール溶液でポリカーボネートＤＶＤにスポットを付けた。Ｋプローブ（Ｋプローブは光ディスクをドライブを用いて光ディスク上のエラーを検出する商業的に入手可能なソフトウェアツールである）を用いてデータエラーを測定したところ、スポットの数、スポットの配置、並びに得られるエラーの大きさ及び位置（論理ブロックアドレス）の間の相関関係が明らかになった。図１３及び１５はスポットの配置を示ししている一方、図１４及び１６はＰＩエラーの分布及び大きさを論理ブロックアドレスの関数として示している。図１４及び１６は、ディスク上でのスポットの半径方向配置が、どの論理ブロックアドレスがエラーを含むかに実質的な影響を及ぼすことを示している。
【００９１】
実施例６：「暗」スポットを有する被覆ＤＶＤ
黒色顔料を含むアルコール溶液でＣＤにスポットを付けた。ディスクの表面上に得られたスポットは直径約３ｍｍであった。Ｋプローブを用いてデータエラー（Ｃ１及びＣ２）を測定したところ、マークのサイズ、形状及び反射率並びにディスク上でのマークの位置に特有のエラーシグネーチャが明らかになった。図１７及び１８は、ディスク上でのＣ１及びＣ２分布のユニーク性を示している。ディスク上の複数のマークは一層複雑なシグネーチャを生み出すことがあるが、これらをエンコード技術と組み合わせれば、ドライブで検出し得ると共に、デコードしてユニーク識別子のようなデータを得ることができる。
【００９２】
実施例７：「明」スポットを有する被覆ＤＶＤ
Ｄｏｗａｎｏｌ  ＰＭ（商標）（Ｄｏｗ  Ｃｈｅｍｉｃａｌ社から商業的に入手できるメトキシ−プロパノール）中における０．１５ｗｔ％メチレンブルー色素及び１５ｗｔ％ポリメチルメタクリレートの溶液をＤＶＤの読出し側にスピンコートした。溶液が乾燥したとき、ＤＶＤのデータ側には青色フィルムが形成されたが、これはＤＶＤの平均反射率を６５％から４９％に低下させた（図９）。ディスクをマスクすることで、メチレンブルーフィルム上に直径４ｍｍのスポットを露出させた。マスクされない穴を白色光源からの可視光に１８時間暴露した。光はメチレンブルー色素を漂白し、直径約４ｍｍの無色スポットを残した。商業的に入手可能なソフトウェアツールであるＫプローブを用いてディジタル上のエラーを検出した。４ｍｍの漂白スポットを形成する前及び形成した後に、Ｋプローブを用いてメチレンブルー被覆ディスクのエラーを試験した。Ｋプローブ分析の結果（図１１）は、単一の４ｍｍスポットを形成する前の青色ディスク上には比較的少ないエラーが存在していたことを示している。スポットは、４ｍｍスポットの半径方向位置に相当する論理ブロックアドレスにおいて、ＤＶＤ上のＰＯ外部パリティエラーの数の劇的な増加を引き起こした。
【００９３】
実施例８：レーザーマークパターンを有するＤＶＤ
表５に略示した処方に従い、光学品質（ＯＱ）のポリカーボネートペレットを製造した。機械的タンブラーを用い、ＯＱポリカーボネート樹脂粉末を添加剤（熱安定剤及び離型剤）並びに色素と混合し、均質な混合物が得られるまで続けた（３０キログラム（ｋｇ）バッチについて通例３０〜４０分）。次いで、Ｗｅｒｎｅｒ  ＆  Ｐｆｌｅｉｄｅｒｅｒ  ＺＳＫ−３０モデル二軸押出機で混合物を押し出した。使用した押出条件は下記の通りであった。ゾーン１＝４８０°Ｆ（２４９℃）、ゾーン２＝５００°Ｆ（２６０℃）、ゾーン３＝５２０°Ｆ（２７１℃）、ゾーン４＝５４０°Ｆ（２８２℃）、ゾーン５＝５５０°Ｆ（２８８℃）、ダイヘッド＝５５０°Ｆ（２８８℃）、及びスクリュー速度＝毎分４００〜４５０回転（ｒｐｍ）。ダイヘッドから出て来るポリマーストランドを水浴で冷却し、ペレット化した。Ｓｅｉｋｏ  Ｇｅｉｋｅｎ  ＤＶＤ金型を備えたＳｕｍｉｔｏｍｏ  ＳＤ３０成形機を用いて、ペレット化材料からＤＶＤを成形した。Ｓｔｅａｇ  Ｈａｍａｔｅｃｈ  Ｕｎｌｉｎｅ  ３０００  ＤＶＤ  Ｂｏｎｄｅｒ及びＵｎａｘｉｓメタライザー上でメタリゼーション及び接合を完了した。
【００９４】
【表５】
2008515126.tif 000013
次いで、１０６４ｎｍのＹＡＧレーザーの第二高調波を用いてディスクにレーザーマーキングを施すことで、ディスクのハブと同心の破線からなる円形パターンを形成した。レーザー周波数、出力及び速度の様々な組合せを用いてディスクのマーキングの程度を調節した。周波数は１、５、１０、２０及び３０ｋＨｚであり、電流は５、１０、２０及び３０アンペア（Ａ）であり、速度は５０ミリメートル／秒（ｍｍ／ｓ）であった。配合物Ｂ及びＣから製造したディスクには、上記の周波数、出力及び速度の組合せと共に１０６４ｎｍのＹＡＧレーザーの第二高調波を用いてレーザーマーキングを施した。
【００９５】
図１９は透明ディスク（配合物Ａ）上にマークしたパターンを略示しており、図２０はＤｒ．Ｓｃｈｅｎｋ  ＰＲＯｍｅｔｅｕｓ  １４６上で測定した反射率を示している。ディスクの反射率を３つの半径（２５、３８及び４１ｍｍ）で測定し、ディスク上の角位置の関数としてプロットした。２５及び４１ｍｍの半径でのデータからわかる通り、ディスクの非マーク領域からの反射率は平均９０％であった。３８ｍｍの半径での破線同心円に沿ったレーザーマーキングは、反射率の周期的な変化を引き起こした。この場合、反射率は最小５６％から非マーク領域の９０％まで変動した。このような反射率の低下は、主としてマーキングレーザーがメタライズ層に引き起こした永久的な損傷に原因している。この例は、ディスクの読出し側及び非読出し側の両方からバーンマークとして認められるように金属層が損傷を受けるレーザーマーキング技術を示している。マークの長さに沿って反射率勾配も認められる。図２２は、光マークパターンのためにディスクの半径方向に沿って得られる反射率の変化を示している。図からわかるように、様々な組合せの周波数及び出力を用いることで、非マスク表面と比較した反射率の低下を調整することができる。しかし、いずれの場合にも、反射層に生じた永久的な損傷が存在する。反射層の損傷に加え、もう１つの欠点は図２１に示すようにディスクの表面の美観が損なわれることである。レーザーマーキングは、非マーク領域中にまで延在するマーク領域の周囲の汚れや気泡を伴った目に見える黒色の欠陥をディスク上に生じる。これはディスクを不良品にし、市場に通常見られるプレーヤー又はドライブでのデータリードバックに適さなくする可能性がある。
【００９６】
配合物Ａと共に使用した技術のこれらの欠点は、ディスク基板を成形するために使用する樹脂中に（例えば、マーキングレーザー波長で最大吸収を有する）光マーキング添加剤を混入することで解消できる。配合物Ｂ及びＣは、図２４（Ｇｒｅｔａｇ−Ｍａｃｂｅｔｈ  ７０００  Ｃｏｌｏｒ  Ｅｙｅ  Ｓｐｅｃｔｒｏｐｈｏｔｏｍｅｔｅｒで測定した、０．６ｍｍのカラーチップの透過スペクトル）に示すように５３２ｎｍで最大吸収を有するように特別に配合された。図２５は、配合物Ｂから製造したＤＶＤに図２４に示すパターンをマークした場合のレーザーマーキングの効果を示している。写真から直ちに明らかな通り、配合物Ｂから製造したディスクは透明ディスクに見られた損傷を示さない。レーザーマークはほとんど目に見えず、配合物Ａのディスクの場合に見られた汚れ、黒いしみ及び気泡も含まないが、ＰＲＯｍｅｔｅｕｓ  １４６上で同心光マークパターンに沿って測定した反射率データに見られる通り、マーキングの効率は損なわれていない。光学顕微鏡による観察も、金属層は損傷を受けていないことを示しており、反射率の変化はポリカーボネート中に形成されたレーザーマークに原因している（図２６）。配合物Ｂでは、マークされたパターンに沿った反射率の低下は周期的であり、マーク領域と非マーク領域との間にははるかに明確で鮮明な遷移を示した。
【００９７】
意外にも、マーキングレーザーエネルギーを吸収する（例えば、マーキングレーザーエネルギーの約９９％以上を吸収する）有機色素を含む熱可塑性樹脂組成物（例えば、ポリカーボネート組成物）は、金属層（即ち、反射層）を損傷から保護するばかりでなく、光ディスクの読出し側でのレーザーマーキングを可能にすることが判明した。かかるマーキングは、ドライブレーザーで反射率の局部変化として検出できる。局部的な反射率変化の組合せは一連の高反射性ゾーン及び低反射性ゾーンを与えるが、これらはドライブによりコード（又はＩＤ番号）として解釈できる。レーザーマーク領域は、一定量の情報（例えば、２５６又は５１２ビットのデータ）を暗号化するコードを形成し得る。このコード及びそれを形成するために使用する方法のユニーク性は、コピー防止の点で興味深い特徴を提供する。
【００９８】
実施例９：光マークされたメタライズドＣＤ及び非メタライズド基板
赤色ポリカーボネート（上記実施例に記載した配合物Ｂ）を用いてコンパクトディスクを製造した。２．５ｋＨｚのパルス速度を有する周波数２倍化Ｎｄ：ＹＡＧレーザーで試料に光マーキングを施すことで、約１５０〜３００マイクロメートルの範囲内の直径を有する実質的に円形のレーザーマークを形成した。光マーキング時間は０．０５秒（ｓｅｃ）から１．０秒まで変化させた。さらに、メタライズしない赤色ポリカーボネートＣＤ基板を成形し、同じレーザーを用いて同様な条件下で光マーキングを施した。メタライズド赤色ＣＤ及び非メタライズド赤色基板の両方について、スポットはポリカーボネート基板中にはっきりと見えた。メタライズドＣＤをディスクのラベル側（メタライズ及びラッカー塗布した側）から検査した場合、スポットは見えなかった。これは、実際のレーザーマークがＣＤのポリカーボネート基板中にあり、メタライズ層中にはないことを示唆している。さらに、ＣＤ及び非メタライズド基板の両方について、特定の光マーキング時間で形成されたスポットサイズは実質的に同じであり、ＣＤ中におけるメタライズ層の存在がＣＤ中への光マークの形成速度にほとんど影響を及ぼさないことを示している。表６には、赤色のＣＤ及び基板に関する光マーキング時間及びスポットサイズデータをまとめて示す。
【００９９】
【表６】
2008515126.tif 000014
無色ポリカーボネート（上記実施例８に記載した配合物Ａ）を用いてＣＤを製造した。上記実施例に記載したパルス式レーザーで試料に光マーキングを施した。しかし、本例の無色ポリカーボネートディスク中にレーザーマークを形成するためには、実質的に長い光マーキング時間が必要であることが判明した。同じレーザー出力で同様なサイズのスポットを形成するための光マーキング時間は、メタライズド赤色ＣＤの場合の０．０５ｓｅｃからメタライズド無色ＣＤの場合の０．２ｓｅｃに増加した（４倍長い）。さらに、スポットの品質は劣っていた。詳しく言えば、スポットは一般に非円形であり、黒いしみや気泡が存在していた。これらのレーザーマークは、一般に、実施例８に記載した無色ディスク中に形成されたマークと同じ劣った品質を有していた。さらに、ＣＤをディスクのラベル側（メタライズ及びラッカー塗布した側）から検査した場合、スポットが目に見えた。これは、上述の赤色メタライズドＣＤについて認められたこととは対照的に、レーザーが実際には金属層中にマークを形成したことを示唆している。
【０１００】
メタライズしない無色ポリカーボネート基板を成形し、同じレーザーを用いて光マーキングを施した。しかし、一定のレーザー出力でも、メタライズした無色ポリカーボネートＣＤ試料の場合と同様なサイズのスポットを形成するための光マーキング時間は５ｓｅｃに増加した。これらの条件下で、ポリカーボネート基板中に光マークを形成した。これらの実験は、ここに記載した条件下で無色ポリカーボネートＣＤに光マーキングを施した場合、マークは一般に金属層中に形成されるが、高いレーザー出力又は長い光マーキング時間の下では若干のマークがポリカーボネート基板中に形成され得ることを示唆している。さらに、無色試料に関する結果は、メタライズ層が存在する場合、特定の光マーキング時間で形成されるスポットサイズが実質的に大きくなることを示している。これは、上記に示した赤色試料の結果と対照的である。表７には、無色ＣＤ及び基板に関する光マーキング時間及びスポットサイズデータをまとめて示す。
【０１０１】
【表７】
2008515126.tif 000015
実施例１０：光酸発生剤の熱安定性
８種の光酸発生剤（ＰＡＧ）の相対熱安定性を評価して、これらがＢＰＡポリカーボネート樹脂を成形するために通例使用される射出成形温度（即ち、２６０℃よりずっと高い温度）に耐える能力を判定した。光酸発生剤（０．０００１２モル）を、等モル量のクリスタルバイオレットラクトン（０．０００１２モル）と共に、塩化メチレン中の５ｗｔ％Ｌｅｘａｎ  １０１（ＢＰＡポリカーボネート）に溶解した。クリスタルバイオレットラクトンは、酸の存在下で無色から青色に変化するｐＨ指示薬である。溶液をガラス板上に流延し、溶媒を蒸発させて色素（ＣＶＬ）及び光酸発生剤を含む透明な無色ポリカーボネートフィルムを形成した。次いで、８種の光酸発生剤の各々について熱安定性に関するスクリーニングを行った。
【０１０２】
フィルムを２５０℃の高温ステージ上に３０秒間置き、青色の発生を監視した。これは、対応する光酸発生剤からの酸の生成（即ち、光酸発生剤の熱分解）を表す。青色以外の色の発生は、高温での光酸発生剤−色素−ポリマー系の不適合性を表す。
【０１０３】
熱処理の完了後、フィルムを水銀（Ｈｇ）フラッシュランプからの紫外線（ＵＶ）に２０秒間暴露した。熱暴露及びＵＶ暴露後のフィルムの色を表８に示す。ＵＶ暴露後の青色の発生は、光酸発生剤−色素−ポリマー系が熱処理で損なわれなかったことを表す。
【０１０４】
【表８】
2008515126.tif 000016
表８からわかる通り、多くの光酸発生剤は約２５０℃以上の温度で安定でない。試験した光酸発生剤のうち、かかる温度で安定な唯一の光酸発生剤は１，２，３−トリヒドロキシベンゼントリス−フェニルスルホニルエステルであった。１，２，３−トリヒドロキシベンゼントリス−フェニルスルホニルエステルが安定であったので、この光酸発生剤をさらに試験した。１，２，３−トリヒドロキシベンゼントリス−フェニルスルホニルエステルはＤＶＤ射出成形に際して３７０℃の温度（例えば、比較的無気条件下で３７０℃に約３〜約５秒間暴露されること）に耐え得ることが判明した。
【０１０５】
開示された方法は、基板中に配設されたユニーク識別子を有する記憶媒体の製造を可能にする。媒体のメタライズ層に損傷を与えることなく、基板中にマーク（例えば、識別子）を配置できる。さらに、若干の実施形態では、基板は高温での射出成形で形成できる。例えば、熱可塑性樹脂は、約２７５℃以上、さらに詳しくは約３００℃以上、さらに一段と詳しくは約３５０℃以上の温度で射出される。
【０１０６】
さらに、これらの識別子は基板の内部にあるので、媒体に永久的な損傷を与えることなしに除去することは（不可能でないにしても）困難である。ユニーク識別子がエラーに相当する場合には、記録型ディスク上への媒体のコピー中にそれを複写するのは一層困難である。これらの識別子は標準的なドライブシステム（レガシードライブ）で認証できるので、このシステムによる偽造コピーの使用は、ドライブ及び／又はサーバー中にソフトウェアを組み込むことで防止できる。
【０１０７】
ディスク上でのユニーク識別子の存在は、製品認証のために使用できる。ＩＤは、ディスク上或いはサーバー（インターネット又はイントラネット）上に常駐するコンピューターコードピースで分析できる。ＩＤの検証は、ローカルに記憶され或いは（インターネット又はイントラネットを介してアクセスできる）データベース上に記憶され得るリファレンス、アルゴリズムなどと比較して行うことができる。ＩＤが認証できなければ、ソフトウェアへのアクセスの拒否、インストレーションの停止、機械のシャットダウン、コピーの存在に関する信号の（例えば、インターネットによる）製造業者への送信などを行うことができる。ＩＤを使用すれば、特定のディスクがソフトウェアをインストールするために使用された回数を求め、その回数が所望の限界を超えているか否かを判定することもできる。回数が所望の限界以下であれば、読出しデバイスに信号を送ってソフトウェアをインストールさせることができる一方、回数が所望の限界を超えていれば、読出しデバイスに信号を送ってエラー信号を出させることができる。
【０１０８】
望ましくは、認証を実行するコンピューターコードは、ハッキング防止用フィーチャー（メモリ保護、暗号化、ハッキングツールやソフトウェアに対する保護など、並びにこれらの１以上を含む組合せ）を有する。これらのハッキング防止用フィーチャーは、ユニークＩＤの検出及び認証に関する情報（例えば、コード、アルゴリズムなど）を除去して無許可のアクセス又はインストレーションを可能にするように設計されたソフトウェアパッチ又は類似の技術の適用に対してディスクを保護できる。
【０１０９】
以上、好ましい実施形態に関して本発明を説明してきたが、当業者であれば、本発明の技術的範囲から逸脱せずに様々な変更及び同等物による構成要素の置換を行い得ることが理解されよう。さらに、本発明の本質的な範囲から逸脱することなく、特定の状況又は材料を本発明の教示に適合させるために多くの修正を行うことができる。したがって、本発明はこの発明を実施するために想定される最良の形態として開示された特定の実施形態に限定されず、特許請求の範囲に含まれるすべての実施形態を包含するものである。
【図面の簡単な説明】
【０１１０】
【図１】基板中の可能な集束レーザーマークプロフィルを例示する図である。
【図２】基板中の可能な集束レーザーマークプロフィルを例示する図である。
【図３】基板中の可能な集束レーザーマークプロフィルを例示する図である。
【図４】基板中の可能な集束レーザーマークプロフィルを例示する図である。
【図５】基板中の可能な集束レーザーマークプロフィルを例示する図である。
【図６】基板中の可能な集束レーザーマークプロフィルを例示する図である。
【図７】ガルボミラーを用いるレーザーマーキングシステムの一実施形態を示す図である。
【図８】改造ドライブを用いるレーザーマーキングシステムの一実施形態を示す略図である。
【図９】色素１をドープしたポリカーボネートからなる光ディスクをＵＶ暴露した場合とＵＶ暴露しない場合とで比較して示すグラフである。
【図１０】色素２をドープしたポリカーボネートからなる光ディスクをＵＶ暴露した場合とＵＶ暴露しない場合とで比較して示すグラフである。
【図１１】ディスク上に配設されたメチレンブルーコーティングの漂白前及び漂白後において、ＰＯエラーの位置を論理ブロックアドレスの関数として示すＫプローブの結果を示すグラフである。
【図１２】クリスタルバイオレットラクトン及び光酸発生剤をドープしたポリカーボネートからなる光マーク付きＣＤのエラーシグネーチャを示している。
【図１３】黒色顔料を含むアルコール溶液でスポットを付けたＤＶＤの上面図である。
【図１４】図１３のＤＶＤに関するＫプローブの結果を示すグラフであって、ＰＩエラーの分布及び大きさを論理ブロックアドレスの関数として示している。
【図１５】黒色顔料を含むアルコール溶液でスポットを付けたＤＶＤの上面図である。
【図１６】図１３のＤＶＤに関するＫプローブの結果を示すグラフであって、ＰＩエラーの分布及び大きさを論理ブロックアドレスの関数として示している。
【図１７】黒色顔料を含むアルコール溶液でスポットを付けたＤＶＤに関する（Ｋプローブを用いて測定した）Ｃ１エラーを示すグラフである。
【図１８】図１７と同じＤＶＤに関する（Ｋプローブを用いて測定した）Ｃ２エラーを示すグラフである。
【図１９】透明ディスク上にマークしたパターンの略図である。
【図２０】１０６４ｎｍのＹＡＧレーザーでマークした図１９の透明ディスクに関し、反射率を角位置の関数として示すグラフである。
【図２１】図１９のパターンに従ってマークされ、図２１に示される反射率を有するディスクの上面図である。
【図２２】１０６４ｎｍのＹＡＧレーザーでマークした透明ディスクに関し、反射率を半径方向位置の関数として示すグラフである。
【図２３】０．６ｍｍの厚さで測定した、実施例６の配合物Ｂ及びＣに関する分光データを示すグラフである。
【図２４】配合物Ｂから形成され、図２５のパターンに従ってマークされ、図２６に示される反射率を有するディスクの上面図である。
【図２５】配合物Ｂの着色ディスク上にマークされたパターンの略図である。
【図２６】１０６４ｎｍのＹＡＧレーザーでマークした図２５の着色ディスクに関し、反射率を角位置の関数として示すグラフである。
【図２７】ＣＤ−ＲＯＭ、記録型ＣＤ−Ｒ又はＣＤＲＲＯＭの略図である。
【図２８】ディスクの成形後マーキングで生み出されたユニークＩＤを基板中に有するＣＤ−ＲＯＭの一実施形態の略図である。
【図２９】マークトスポットと「検査領域」との関係を示す、ユニークＩＤを有するＣＤ−ＲＯＭの一実施形態の略図である。
【図３０】ユニークＩＤを有する光ディスクを製造するための製造プロセスに関する流れ図の一実施形態である。
【図３１】ユニークＩＤ検出及びデコードプロセスに関する流れ図の一実施形態である。
【図１】
2008515126.tif 000017
【図２】
2008515126.tif 000018
【図３】
2008515126.tif 000019
【図４】
2008515126.tif 000020
【図５】
2008515126.tif 000021
【図６】
2008515126.tif 000022
【図７】
2008515126.tif 000023
【図８】
2008515126.tif 000024
【図９】
2008515126.tif 000025
【図１０】
2008515126.tif 000026
【図１１】
2008515126.tif 000027
【図１２】
2008515126.tif 000028
【図１４】
2008515126.tif 000029
【図１６】
2008515126.tif 000030
【図１７】
2008515126.tif 000031
【図１８】
2008515126.tif 000032
【図１９】
2008515126.tif 000033
【図２０】
2008515126.tif 000034
【図２２】
2008515126.tif 000035
【図２３】
2008515126.tif 000036
【図２４】
2008515126.tif 000037
【図２５】
2008515126.tif 000038
【図２６】
2008515126.tif 000039
【図２７】
2008515126.tif 000040
【図２８】
2008515126.tif 000041
【図２９】
2008515126.tif 000042
【図３０】
2008515126.tif 000043
【図３１】
2008515126.tif 000044
【図１３】
2008515126.tif 000045
【図１５】
2008515126.tif 000046
【図２１】
2008515126.tif 000047
【国際調査報告】
2008515126.tif 000048
2008515126.tif 000049