(57)【要約】  本発明は、ストリップ（１）が、多数のローラ（２，３，４，５）を介して、少なくとも２つのローラ（２，３）間でストリップが十分平坦となるようなストリップ応力（Ｓ）下で案内及び移送方向（Ｆ）に移動される、ストリップ（１）を製造するための方法に関する。簡単かつ省スペースなやり方でストリップの検査を可能にするために、本発明によれば、引張応力下で十分平坦な少なくとも２つのローラ（２，３）間のストリップ（１）で、ストリップ（１）に作用する内部の引張応力が光学的に可視化され、このようにして確認された引張応力又は引張応力差がストリップ（１）の製造時に利用される。更に、本発明は、ストリップを製造するための装置に関する。
2008541074.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ストリップ（１）が、多数のローラ（２，３，４，５）を介して、少なくとも２つのローラ（２，３）間でストリップが十分平坦となるようなストリップ応力（Ｓ）下で案内及び移送方向（Ｆ）に移動される、ストリップ（１）を製造するための方法において、
引張応力下で十分平坦な少なくとも２つのローラ（２，３）間のストリップ（１）で、ストリップ（１）に作用する内部の引張応力が光学的に可視化され、確認された引張応力又は引張応力差がストリップ（１）の製造時に利用されることを特徴とする方法。
【請求項２】
ストリップ（１）に加えられるストリップ張力（Ｓ）が、確認されたストリップ（１）の引張応力に依存して選択されることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項３】
ストリップ（１）の引張応力が上昇した場合、ストリップ（１）に加えられるストリップ張力（Ｓ）が高められることを特徴とする請求項２に記載の方法。
【請求項４】
ストリップ（１）が、光源（６）によって光を照射され、２つのカメラ（７，８）によって２つの異なった方向から撮影されることを特徴とする請求項１〜３のいずれか１つに記載の方法。
【請求項５】
ストリップ（１）に作用する引張応力が何度も短い時間間隔で確認されることを特徴とする請求項１〜４のいずれか１つに記載の方法。
【請求項６】
ストリップ（１）に作用する引張応力の変化が、時間間隔内に確認された多数の引張応力の比較によって確認されることを特徴とする請求項５に記載の方法。
【請求項７】
多数のローラ（２，３，４，５）を介して、ストリップ（１）が、少なくとも２つのローラ（２，３）間でストリップが十分平坦となるようなストリップ応力（Ｓ）下で案内及び移送方向（Ｆ）に移動される、特に請求項１〜６のいずれか１つに記載の方法を実施するための、多数のローラ（２，３，４，５）を有するストリップ（１）を製造するための装置において、
２つのローラ（２，３）間にストリップ（１）に光を照射する少なくとも１つの光源（６）が配設されていること、光源（６）の領域に、光を照射されたストリップ（１）を撮影する少なくとも１つの、好ましくは２つのカメラ（７，８）が配設されており、光源（６）とカメラ（７，８）とから成るこのシステムが、ストリップ（１）に作用する引張応力を確認するために適していることを特徴とする装置。
【請求項８】
２つの異なった方向からストリップ（１）を撮影するように互いに間隔を置いて配設された２つのカメラ（７，８）が設けられていることを特徴とする請求項７に記載の装置。
【請求項９】
カメラ（７，８）によって撮影された画像を短い時間間隔で記憶する収容手段（９）が設けられていることを特徴とする請求項７又は８に記載の装置。
【請求項１０】
収容手段（９）が、カメラ（７，８）によって撮影された画像を比較するために適している評価手段（１０）と接続していることを特徴とする請求項９に記載の装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ストリップが、多数のローラを介して、少なくとも２つのローラ間でストリップが十分平坦となるようなストリップ応力下で案内及び移送方向に移動される、ストリップを製造するための方法に関する。更に、本発明は、ストリップを製造するための装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ストリップの圧延並びにスキンパス時に、平面度は、ストリップの厚さ及びクリーン度と並んで相応の品質要因である。従って、ストリップの製造時には、生産の品質確保のためにストリップの検査を行なうことが必要であるが、この場合、場合によっては確認された検査結果に基づいて製造プロセスに影響を及ぼす必要がある。
【０００３】
ストリップは、このため圧延工程に続いてしばしば平面度測定を受け、ストリップの凹凸が確認されるべきである。このため、応力下で案内及び移動されるストリップに所定の予張力をもって押し付けられる平面度測定ローラが知られている。ストリップの凹凸による平面度測定ローラの圧痕の測定により、ストリップの凹凸を結論付けることができる。振動を介して応力差を可視化するシステムも知られている。
【０００４】
ストリップの凹凸は、接触式のローラによるばかりでなく、非接触でも確認することができる。このため、例えば特許文献１は、ストリップ用の照明装置とカメラを備える光学システムを開示する。従って、ストリップ表面を三次元測定し、測定結果を表示することが可能である。
【０００５】
ストリップの平面度は、特許文献２から公知であるような装置によって確認することもできる。ここでも平面度の偏差がカメラ（ＣＣＤカメラ：Charge-coupled-device カメラ）によって確認される。
【０００６】
同様のシステムは、特許文献３及び特許文献４からも公知である。
【０００７】
前記の全ての例で、ストリップ表面の凹凸が測定され、場合によってはプロセスパラメータを変更することによって対応が行なわれる。
【０００８】
ストリップに作用するストリップ張力に依存して平面度が変化するので、特に相応のストリップ張力下では測定結果の解釈が困難であることが分かった。これは、圧延物が圧延プロセス時にさらされるストリップ張力に基づいて、波もしくは起伏の形のストリップの幅に渡る応力差を全く識別できないか、識別が困難である。
【０００９】
特に、ストリップ品質を機能的に推論することができるように、ストリップの幅上の応力分布を可視化できることは望ましい。この場合、この確認用の装置は、できるだけ省スペースで、設置及び運転に際して何ら高い費用を必要としないものであるべきである。
【特許文献１】特開２０００−０４６７５２号公報
【特許文献２】欧州特許出願公開第１  ４１８  ４００号明細書
【特許文献３】独国特許出願公開第１９７  ５８  ４６６号明細書
【特許文献４】独国特許出願公開第１９９  ３２  ３２４号明細書
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
従って、本発明の根底にある課題は、高いストリップ応力下でも、ストリップ品質を最適化できるように製造プロセスの制御を可能にする情報を得ることが可能であるように、冒頭で述べた様式の方法及び付属の装置を発展させることにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
この課題は、方法の発明によれば、引張応力下で十分平坦な少なくとも２つのローラ間のストリップで、ストリップに作用する内部の引張応力が光学的に可視化され、このようにして確認された引張応力又は引張応力差がストリップの製造時に利用されることによって解決される。この場合、ローラとしては、既存のワークロールもローラと協力していると理解する。
【００１２】
即ち、公知の解決策とは違って、ストリップは、光学的に測定されるのではなく、むしろ光学的に可視のストリップ内の引張応力が測定され、ストリップ品質及び場合によっては製造プロセスの制御もしくは調整の判断をする時に利用される。この場合、即ちストリップの応力状態が異なっていることによるストリップの起伏が検出され、その点に限って起伏が直接応力を介して判断される。
【００１３】
発展形では、ストリップに加えられるストリップ張力が、確認されたストリップの引張応力に依存して選択される。この場合、好ましくは、ストリップの引張応力が上昇した場合、ストリップに加えられるストリップ張力が高められる。即ち、高い又は低い個別応力を割り当てることにより、平面度に影響を与えるための調整回路への直接介入を行なうことができる。
【００１４】
この場合、ストリップは、好ましくは光源によって光を照射され、２つのカメラによって２つの異なった方向から撮影される。
【００１５】
前記措置によって確認することができるストリップに作用する引張応力は、好ましくは何度も短い時間間隔で確認される。ストリップに作用する引張応力の変化は、時間間隔内に確認された多数の引張応力の比較によって確定することができる。即ち、短時間内の連続する多数の画像によって、応力画像は、高速で移動されるストリップを表現することもできる。
【００１６】
ストリップを製造するための装置は多数のローラを有し、これらローラを介して、ストリップは、少なくとも２つのローラ間でストリップが十分平坦となるようなストリップ応力下で案内及び移送方向に移動される。本発明によれば、２つのローラ間にストリップに光を照射する少なくとも１つの光源が配設されており、光源の領域に、光を照射されたストリップを撮影する少なくとも１つの、好ましくは２つのカメラが配設されており、光源とカメラとから成るこのシステムは、ストリップに作用する引張応力を確認するために適している。
【００１７】
この場合、好ましくは、２つの異なった方向からストリップを撮影するように互いに間隔を置いて配設された２つのカメラが設けられている。カメラは、好ましくはデジタル構造である。
【００１８】
更に、カメラによって撮影された画像を短い時間間隔で記憶する収容手段を設けてもよい。
【００１９】
最後に、収容手段は、カメラによって撮影された画像を比較するために適している評価手段と接続していてもよい。
【００２０】
提案した措置により、圧延後のストリップを比較的高い応力下で、従って十分に平坦な状態で案内するにもかかわらず、−ストリップの高い応力を取り除いた時に−どのようにストリップの凹凸が引き起こされるかを確定することができる。確認された引張応力は、仕上がったストリップの品質に対する良好な指摘を与えるので、与えられた場合には、仕上げパラメータに影響を及ぼすことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
本発明の更なる特徴及び詳細は、請求の範囲と図面に図示した本発明の実施例の以下の説明から分かる。
【００２２】
ストリップ１は、図１の左側の領域の圧延領域で２つのバックアップロール１３及び１４によって支持された２つのワークロール１１及び１２によって圧延される。ストリップ１は、次に移送方向Ｆに所定の移送速度で移送され、一定のストリップ応力Ｓ下に保持される。ストリップ応力Ｓは、ストリップ１が図示したように案内されることによって、即ち、特に−図１の右側の−２つのローラ４及び５によってＳ字形に案内されることによって維持されるので、ストリップ応力Ｓの所望のレベルはロール１１，１２とローラ４，５間で維持することができる。
【００２３】
ストリップ応力Ｓに基づいて、ストリップ１は高い平面度を備えるので、表面の凹凸は僅かである。
【００２４】
従って、ローラ２と３間でストリップ１は十分平坦に案内される。そこには、ストリップ１の表面に光を照射することができる光源６が配設されている。更に、２つのカメラ７及び８は２つの異なった場所に取り付けられており、これらカメラはストリップ表面から２つの画像を撮影することができる。
【００２５】
本発明による措置を実施するために適している、光源６とカメラ７及び８から成るシステムは、例えば名称Ｑ−４００の下に、Firma DANTECH Ettemeyer GmbH, Elchingen, Deutschland (www.dantec-ettemeyer.com) のデジタル３Ｄコリレーションシステムとして公知であり、入手可能である。使用可能なこのシステムは、このために僅かな程度のストリップ張力の変動しか必要とされない場合でも、十分平坦なストリップの内部応力を可視化し、評価するために好適である。
【００２６】
カメラ７，８は、収容手段９と接続しており、このため、この収容手段は、多数の撮影物を短時間で記憶する状態にある。撮影された画像は、接続された評価手段１０で評価することができ、特に、ストリップ１での引張応力の分布とその時間的変化を観察することが可能である。これに依存して、ストリップ１用の製造プロセスに影響を及ぼすことができる。
【００２７】
好ましくは、応力を測定する際のストリップ１では、ストリップの材料の降伏点の少なくとも１０％に相当するストリップ張力が維持される。
【００２８】
確認されたストリップ１の応力又は応力差のストリップ１の製造時の使用は、ほとんどが、ストリップの応力が、観察され、必要な場合にだけ、即ちストリップの応力分布状況が許容不能な値を超えた場合にだけ、介入を受けることにその本質があると言える。
【００２９】
しかしながらまた、確認された値を閉じた調整回路内で直接ストリップの製造プロセスの制御に入れることもできる。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】ストリップを製造するための圧延装置の側面図を示す。
【符号の説明】
【００３１】
１      ストリップ
２      ローラ
３      ローラ
４      ローラ
５      ローラ
６      光源
７      カメラ
８      カメラ
９      収容手段
１０    評価手段
１１    ワークロール
１２    ワークロール
１３    バックアップロール
１４    バックアップロール 
Ｓ      ストリップ応力
Ｆ      移送方向
【図１】
2008541074.tif 000003
【手続補正書】
【提出日】平成18年11月15日(2006.11.15)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ストリップ（１）が、多数のローラ（２，３，４，５）を介して、少なくとも２つのローラ（２，３）間でストリップが十分平坦となるようなストリップ応力（Ｓ）下で案内及び移送方向（Ｆ）に移動され、引張応力下で十分平坦な少なくとも２つのローラ（２，３）間のストリップ（１）で、ストリップ（１）に作用する内部の引張応力が光学的に可視化され、確認された引張応力又は引張応力差がストリップ（１）の製造時に利用される、ストリップ（１）を製造するための方法において、
ストリップ（１）が、光源（６）によって光を照射され、２つのカメラ（７，８）によって２つの異なった方向から撮影されることを特徴とする方法。
【請求項２】
ストリップ（１）に加えられるストリップ張力（Ｓ）が、確認されたストリップ（１）の引張応力に依存して選択されることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項３】
ストリップ（１）の引張応力が上昇した場合、ストリップ（１）に加えられるストリップ張力（Ｓ）が高められることを特徴とする請求項２に記載の方法。
【請求項４】
ストリップ（１）に作用する引張応力が何度も短い時間間隔で確認されることを特徴とする請求項１〜３のいずれか１つに記載の方法。
【請求項５】
ストリップ（１）に作用する引張応力の変化が、時間間隔内に確認された多数の引張応力の比較によって確認されることを特徴とする請求項４に記載の方法。
【請求項６】
多数のローラ（２，３，４，５）を介して、ストリップ（１）が、少なくとも２つのローラ（２，３）間でストリップが十分平坦となるようなストリップ応力（Ｓ）下で案内及び移送方向（Ｆ）に移動される、特に請求項１〜５のいずれか１つに記載の方法を実施するための、多数のローラ（２，３，４，５）を有するストリップ（１）を製造するための装置において、
２つのローラ（２，３）間にストリップ（１）に光を照射する少なくとも１つの光源（６）が配設されていること、光源（６）の領域に、光を照射されたストリップ（１）を撮影する２つのカメラ（７，８）が配設されており、光源（６）とカメラ（７，８）とから成るこのシステムが、ストリップ（１）に作用する引張応力を確認するために適しており、２つの異なった方向からストリップ（１）を撮影するように、両カメラ（７，８）が互いに間隔を置いて配設されていることを特徴とする装置。
【請求項７】
カメラ（７，８）によって撮影された画像を短い時間間隔で記憶する収容手段（９）が設けられていることを特徴とする請求項６に記載の装置。
【請求項８】
収容手段（９）が、カメラ（７，８）によって撮影された画像を比較するために適している評価手段（１０）と接続していることを特徴とする請求項７に記載の装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ストリップが、多数のローラを介して、少なくとも２つのローラ間でストリップが十分平坦となるようなストリップ応力下で案内及び移送方向に移動され、引張応力下で十分平坦な少なくとも２つのローラ間のストリップで、ストリップに作用する内部の引張応力が光学的に可視化され、確認された引張応力又は引張応力差がストリップの製造時に利用される、ストリップを製造するための方法に関する。更に、本発明は、ストリップを製造するための装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ストリップの圧延並びにスキンパス時に、平面度は、ストリップの厚さ及びクリーン度と並んで相応の品質要因である。従って、ストリップの製造時には、生産の品質確保のためにストリップの検査を行なうことが必要であるが、この場合、場合によっては確認された検査結果に基づいて製造プロセスに影響を及ぼす必要がある。
【０００３】
ストリップは、このため圧延工程に続いてしばしば平面度測定を受け、ストリップの凹凸が確認されるべきである。このため、応力下で案内及び移動されるストリップに所定の予張力をもって押し付けられる平面度測定ローラが知られている。ストリップの凹凸による平面度測定ローラの圧痕の測定により、ストリップの凹凸を結論付けることができる。振動を介して応力差を可視化するシステムも知られている。
【０００４】
ストリップの凹凸は、接触式のローラによるばかりでなく、非接触でも確認することができる。このため、例えば特許文献１は、ストリップ用の照明装置とカメラを備える光学システムを開示する。従って、ストリップ表面を三次元測定し、測定結果を表示することが可能である。
【０００５】
ストリップの平面度は、特許文献２から公知であるような装置によって確認することもできる。ここでも平面度の偏差がカメラ（ＣＣＤカメラ：Charge-coupled-device カメラ）によって確認される。
【０００６】
同様のシステムは、特許文献３及び特許文献４からも公知である。更に、特許文献５及び特許文献６は、ストリップの引張応力を確認するために方法を開示する。この場合、ストリップの理想位置からの偏差の効果が期待され、偏差が測定され、この偏差からストリップを支配する応力が結論付けられる。
【０００７】
前記の全ての例で、ストリップ表面の凹凸が測定され、場合によってはプロセスパラメータを変更することによって対応が行なわれる。
【０００８】
ストリップに作用するストリップ張力に依存して平面度が変化するので、特に相応のストリップ張力下では測定結果の解釈が困難であることが分かった。これは、圧延物が圧延プロセス時にさらされるストリップ張力に基づいて、波もしくは起伏の形のストリップの幅に渡る応力差を全く識別できないか、識別が困難である。
【０００９】
特に、ストリップ品質を機能的に推論することができるように、ストリップの幅上の応力分布を可視化できることは望ましい。この場合、この確認用の装置は、できるだけ省スペースで、設置及び運転に際して何ら高い費用を必要としないものであるべきである。
【特許文献１】特開２０００−０４６７５２号公報
【特許文献２】欧州特許出願公開第１  ４１８  ４００号明細書
【特許文献３】独国特許出願公開第１９７  ５８  ４６６号明細書
【特許文献４】独国特許出願公開第１９９  ３２  ３２４号明細書
【特許文献５】独国特許出願公開第１９９  １９  ８０１号明細書
【特許文献６】独国特許出願公開第１９７  １９  ９９４号明細書
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
従って、本発明の根底にある課題は、高いストリップ応力下でも、ストリップ品質を最適化できるように製造プロセスの制御を可能にする情報を得ることが可能であるように、冒頭で述べた様式の方法及び付属の装置を発展させることにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
この課題は、方法の発明によれば、ストリップが、光源によって光を照射され、２つのカメラによって２つの異なった方向から撮影されることによって解決される。
【００１２】
即ち、公知の解決策とは違って、光学的に可視のストリップ内の引張応力が測定され、ストリップ品質及び場合によっては製造プロセスの制御もしくは調整の判断をする時に利用される。この場合、即ちストリップの応力状態が異なっていることによるストリップの起伏が検出され、その点に限って起伏が直接応力を介して判断される。
【００１３】
発展形では、ストリップに加えられるストリップ張力が、確認されたストリップの引張応力に依存して選択される。この場合、好ましくは、ストリップの引張応力が上昇した場合、ストリップに加えられるストリップ張力が高められる。即ち、高い又は低い個別応力を割り当てることにより、平面度に影響を与えるための調整回路への直接介入を行なうことができる。
【００１４】
前記措置によって確認することができるストリップに作用する引張応力は、好ましくは何度も短い時間間隔で確認される。ストリップに作用する引張応力の変化は、時間間隔内に確認された多数の引張応力の比較によって確定することができる。即ち、短時間内の連続する多数の画像によって、応力画像は、高速で移動されるストリップを表現することもできる。
【００１５】
ストリップを製造するための装置は多数のローラを有し、これらローラを介して、ストリップは、少なくとも２つのローラ間でストリップが十分平坦となるようなストリップ応力下で案内及び移送方向に移動される。本発明によれば、２つのローラ間にストリップに光を照射する少なくとも１つの光源が配設されており、光源の領域に、光を照射されたストリップを撮影する２つのカメラが配設されており、光源とカメラとから成るこのシステムは、ストリップに作用する引張応力を確認するために適しており、２つの異なった方向からストリップを撮影するように、両カメラが互いに間隔を置いて配設されている。
【００１６】
カメラは、好ましくはデジタル構造である。
【００１７】
更に、カメラによって撮影された画像を短い時間間隔で記憶する収容手段を設けてもよい。
【００１８】
最後に、収容手段は、カメラによって撮影された画像を比較するために適している評価手段と接続していてもよい。
【００１９】
提案した措置により、圧延後のストリップを比較的高い応力下で、従って十分に平坦な状態で案内するにもかかわらず、−ストリップの高い応力を取り除いた時に−どのようにストリップの凹凸が引き起こされるかを確定することができる。確認された引張応力は、仕上がったストリップの品質に対する良好な指摘を与えるので、与えられた場合には、仕上げパラメータに影響を及ぼすことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
本発明の更なる特徴及び詳細は、請求の範囲と図面に図示した本発明の実施例の以下の説明から分かる。
【００２１】
ストリップ１は、図１の左側の領域の圧延領域で２つのバックアップロール１３及び１４によって支持された２つのワークロール１１及び１２によって圧延される。ストリップ１は、次に移送方向Ｆに所定の移送速度で移送され、一定のストリップ応力Ｓ下に保持される。ストリップ応力Ｓは、ストリップ１が図示したように案内されることによって、即ち、特に−図１の右側の−２つのローラ４及び５によってＳ字形に案内されることによって維持されるので、ストリップ応力Ｓの所望のレベルはロール１１，１２とローラ４，５間で維持することができる。
【００２２】
ストリップ応力Ｓに基づいて、ストリップ１は高い平面度を備えるので、表面の凹凸は僅かである。
【００２３】
従って、ローラ２と３間でストリップ１は十分平坦に案内される。そこには、ストリップ１の表面に光を照射することができる光源６が配設されている。更に、２つのカメラ７及び８は２つの異なった場所に取り付けられており、これらカメラはストリップ表面から２つの画像を撮影することができる。
【００２４】
本発明による措置を実施するために適している、光源６とカメラ７及び８から成るシステムは、例えば名称Ｑ−４００の下に、Firma DANTECH Ettemeyer GmbH, Elchingen, Deutschland (www.dantec-ettemeyer.com) のデジタル３Ｄコリレーションシステムとして公知であり、入手可能である。使用可能なこのシステムは、このために僅かな程度のストリップ張力の変動しか必要とされない場合でも、十分平坦なストリップの内部応力を可視化し、評価するために好適である。
【００２５】
カメラ７，８は、収容手段９と接続しており、このため、この収容手段は、多数の撮影物を短時間で記憶する状態にある。撮影された画像は、接続された評価手段１０で評価することができ、特に、ストリップ１での引張応力の分布とその時間的変化を観察することが可能である。これに依存して、ストリップ１用の製造プロセスに影響を及ぼすことができる。
【００２６】
好ましくは、応力を測定する際のストリップ１では、ストリップの材料の降伏点の少なくとも１０％に相当するストリップ張力が維持される。
【００２７】
確認されたストリップ１の応力又は応力差のストリップ１の製造時の使用は、ほとんどが、ストリップの応力が、観察され、必要な場合にだけ、即ちストリップの応力分布状況が許容不能な値を超えた場合にだけ、介入を受けることにその本質があると言える。
【００２８】
しかしながらまた、確認された値を閉じた調整回路内で直接ストリップの製造プロセスの制御に入れることもできる。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】ストリップを製造するための圧延装置の側面図を示す。
【符号の説明】
【００３０】
１      ストリップ
２      ローラ
３      ローラ
４      ローラ
５      ローラ
６      光源
７      カメラ
８      カメラ
９      収容手段
１０    評価手段
１１    ワークロール
１２    ワークロール
１３    バックアップロール
１４    バックアップロール
Ｓ      ストリップ応力
Ｆ      移送方向
【国際調査報告】
2008541074.tif 000004
2008541074.tif 000005
2008541074.tif 000006
2008541074.tif 000007
2008541074.tif 000008
2008541074.tif 000009