(57)【要約】【解決手段】テスト・アクセス・コントローラ（ＣＴＡＰ）のような制御回路がモード・コマンド信号（ＴＥＳＴ＿ＭＯＤＥ）を受信するときに、前記制御回路によって構成設定される複数のコンフィギュラブル・セル（２ａ，…，２Ｙ，２ｚ）を有する電子回路であって、前記モード・コマンド信号が第１の状態（非アクティブ）にあるならば、コンフィギュラブル・セルは、協働して少なくとも１つの論理回路を形成する論理セル（１０乃至１５）に機能上リンクされている機能状態にあり、又は、前記モード・コマンド信号が第２の状態（アクティブ）にあるならば、コンフィギュラブル・セルは、機能上鎖のように接続されてシフトレジスタを形成する連鎖状態にある。開示された電子回路は、コントローラが第１の状態にあるモード・コマンド信号を受信する間に、検出回路がコンフィギュラブル・セルの連鎖状態を検出したならば、アクティブ状態信号（ＳＴＡＴＥ）を生成するように構成された検出回路をさらに有する。【選択図】図１
2008541033.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
テスト・アクセス・コントローラ（ＣＴＡＰ）のような制御回路がモード・コマンド信号（ＴＥＳＴ＿ＭＯＤＥ）を受信するときに、前記制御回路によって構成設定される複数のコンフィギュラブル・セル（２ａ，…，２Ｙ，２ｚ）を有する電子回路であって、
・  前記モード・コマンド信号が第１の状態（非アクティブ）にあるならば、前記コンフィギュラブル・セルが、論理セル（１０乃至１５）に機能上リンクされ、前記論理セルと協働して、少なくとも１つの論理回路を形成する、機能状態にあり、又は、
・  前記モード・コマンド信号が第２の状態（アクティブ）にあるならば、前記コンフィギュラブル・セルが、機能上鎖のように接続されてシフトレジスタを形成する、連鎖状態にあり、
前記電子回路は、検出回路をさらに有し、前記検出回路は、前記コントローラが前記第１の状態にある前記モード・コマンド信号を受信する間に、前記コンフィギュラブル・セルの連鎖状態を検出したならば、アクティブ状態信号（ＳＴＡＴＥ）を生成するように構成された
ことを特徴とする電子回路。
【請求項２】
前記検出回路は、状態セル（４０；４０ａ乃至４０ｚ）を有し、
前記状態セルは、
・  前記コンフィギュラブル・セルが前記連鎖状態にあるならば、すぐ前のコンフィギュラブル・セル（２ｙ；２ａ，２ｘ）とすぐ後のコンフィギュラブル・セル（２ｚ；２ｂ，２ｙ）との間を機能上鎖のように接続し、前記鎖の内容を表す出力信号（ＯＵＴ；ＯＵＴａ乃至ＯＵＴｚ）を生成し、又は、
・  前記コンフィギュラブル・セルが機能状態にあるならば、機能上切り離され、基準値を表す出力信号を生成し、
前記検出回路は、前記モード・コマンド信号（ＴＥＳＴ＿ＭＯＤＥ）を受信したときに、前記出力信号（ＯＵＴ；ＯＵＴａ，…，ＯＵＴｚ）を基準値と比較し、前記出力信号の値が前記基準値と異なるならば、前記アクティブ状態信号（ＳＴＡＴＥ）を生成する比較回路（５０；６０）をさらに有する
ことを特徴とする請求項１に記載の電子回路。
【請求項３】
前記検出回路は、数個の状態セル（４０ａ乃至４０ｚ）を有し、
前記数個の状態セルは、
・  前記コンフィギュラブル・セルが前記連鎖状態にあるならば、前記コンフィギュラブル・セルに機能上鎖のように接続され、各状態セル（４０ａ，４０ｚ）は、すぐ前のコンフィギュラブル・セル（２ａ，２ｘ）とすぐ後のコンフィギュラブル・セル（２ｂ，２ｙ）との間に接続され、各状態セルは、前記鎖の内容を表す出力信号（ＯＵＴａ，…，ＯＵＴｚ）を生成し、又は、
・  前記コンフィギュラブル・セルが前記機能状態にあるならば、機能上切り離され、そして各状態セルは、基準値の組の中の１つの基準値を表す出力信号を生成し、
前記比較回路（６０）は、前記第１の状態にある前記モード・コマンド信号（ＴＥＳＴ＿ＭＯＤＥ）を受信するときに、各状態セルの前記出力信号（ＯＵＴＡ，…，ＯＵＴｚ）を基準値と比較し、前記出力信号の１つの値が、関連する前記基準値と異なるならば、アクティブ状態信号を生成する
ことを特徴とする請求項２に記載の電子回路。
【請求項４】
少なくとも１つの状態セルは、
第１の電位が中間の値である信号が印加される第１のデータ入力部と、
すぐ前のコンフィギュラブル・セルの出力部に接続された第２のデータ入力部と、
前記コントローラに接続された第３の選択入力部と、
第１に、すぐ後のコンフィギュラブル・セルに接続され、第２に、前記比較回路の第１のデータ入力部に接続された出力部と
を有し、
前記基準値は、前記比較回路の第２のデータ入力部に印加される
ことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の電子回路。
【請求項５】
前記コンフィギュラブル・セルは、
・  前記コンフィギュラブル・セルの出力部に接続された１つの出力部を有するフリップフロップ回路と、
・  マルチプレクサと
を有し、
前記マルチプレクサは、
それぞれが前記コンフィギュラブル・セルの前記第１の入力部及び前記第２の入力部に接続された第１のデータ入力部及び第２のデータ入力部と、
前記コンフィギュラブル・セルの前記第３の入力部に接続された選択入力部と、
前記フリップフロップ回路のデータ入力部に接続された出力部と
有する
ことを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の電子回路。
【請求項６】
前記比較回路は、
・  数個の状態セルからの前記出力信号を互いに組み合わせる組合せ論理回路と、
・  前記モード・コマンド信号（ＴＥＳＴ＿ＭＯＤＥ）を受信するときに、前記組合せの結果を前記基準値と比較し、前記組合せの結果が前記基準値と異なるならば、前記アクティブ状態信号（ＳＴＡＴＥ）を生成する手段と
を有することを特徴とする請求項４又は５のいずれか１項に記載の電子回路。
【請求項７】
少なくとも１つのコンフィギュラブル・セルが状態セルと同様に構成され、
前記コンフィギュラブル・セルの前記第１のデータ入力部は、そのコンフィギュラブル・セルが協働する論理セルの１つの出力部に接続される
ことを特徴とする請求項４乃至６のいずれか１項に記載の電子回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、概ね、組合せ論理手段、フリップフロップ回路、及びテスト手段を備えた同期電子集積回路に関する。
【０００２】
より具体的に言えば、本発明は、テスト・アクセス・コントローラのような制御回路がモード・コマンド信号を受信するときに、この制御回路によって構成設定される複数のコンフィギュラブル（構成変更可能）・セルを有する電子回路であって、
・  モード・コマンド信号が、第１の状態、例えば、非アクティブ状態にあるならば、コンフィギュラブル・セルが、論理セルに機能上リンクされ、論理セルと協働して、少なくとも１つの論理回路を形成する、機能状態にあり、又は、
・  モード・コマンド信号が、第２の状態、例えば、アクティブ状態にあるならば、コンフィギュラブル・セルが、機能上鎖のように接続されてシフトレジスタを形成する、連鎖状態にある
電子回路に関する。
【背景技術】
【０００３】
現在、集積回路の機能要素の適切な動作を試験する公知の方法がある。これは、既定の時点で、この集積回路のある内部の点に存在するデータの値の組み込み及び／又は測定によって、行われる。「スキャンパス」又は「内部スキャン法」として知られている集積回路の内部経路を試験するこの種の技術が、例えば、以下の文献に説明されている。
【非特許文献１】Ｍ．Ｗｉｌｌｉａｍｓ  ａｎｄ  Ｊ．Ａｎｇｅｌ（エム・ウィリアムズ及びジェイ・エンジェル）、  「Ｅｎｈａｎｃｉｎｇ  Ｔｅｓｔａｂｉｌｉｔｙ  ｏｆ  ＬＳＩ  Ｃｉｒｃｕｉｔｓ  Ｖｉａ  Ｔｅｓｔ  Ｐｏｉｎｔｓ  ａｎｄ  Ａｄｄｉｔｉｏｎａｌ  Ｌｏｇｉｃ（テスト・ポイントを介したＬＳＩ回路のテスト容易性の向上及び追加ロジック）」、  ＩＥＥＥ  Ｔｒａｎｓａｃｔｉｏｎｓ  ｏｎ  Ｃｏｍｐｕｔｅｒｓ、  Ｖｏｌ．Ｃ−２２、  Ｎｏ．１、  １９７３年１月
【０００４】
この技術においては、集積回路の標準的動作の期間に、状態を知り及び／又は内容を指令することが必要とされる、論理回路の各フリップフロップ回路は、１つの入力部に、マルチプレクサを備えている。そして、異なる複数のフリップフロップ回路と、それらに関係付けられる複数のマルチプレクサとは、そのアクセス・ポイントがこれらのマルチプレクサによって制御される、同じ数のコンフィギュラブル・セルとなる。
【０００５】
異なるコンフィギュラブル・セルのマルチプレクサは、ＴＡＰ（テスト・アクセス・ポート）コントローラによって、選択的に制御される。ＴＡＰコントローラは、選択された動作モードを規定するコマンド信号に応じて、コンフィギュラブル・セルの組を、複数の論理セルで形成する論理回路と統合された標準機能回路として、又は、テスト回路として、使用する。
【０００６】
これを行うために、ＴＡＰコントローラは、異なるコマンド用導線及び／又はアドレス用導線上の制御信号を受け取る。コマンド用導線及び／又はアドレス用導線によって、ＴＡＰコントローラは、異なるコンフィギュラブル・セルに接続される。これらのコマンド信号は、例えば、モード・コマンド信号、連鎖コマンド信号、又は、データ伝搬コマンド信号である。データ伝搬コマンド信号は、集積回路内のデータ循環径路の変更を許可し、及び／又は、積分回路内のデータ循環径路を変更し、並びに、コントローラが以降の分析用のデータを取得できるようにもする。
【０００７】
したがって、標準動作モードにおいて、ＴＡＰコントローラは、コンフィギュラブル・セルのマルチプレクサを駆動させ、その結果、これらコンフィギュラブル・セルのフリップフロップ回路は、集積回路の１又は複数の機能サブユニットを規定する周囲の論理セルに接続する。
【０００８】
通常、ＴＡＰコントローラによる、テストモードへの移行を指令するコマンド信号の受信時に、作動させられるテストモードにおいて、このコントローラは、連鎖コマンド信号を生成して、シフトレジスタを形成するように、コンフィギュラブル・セルのフリップフロップ回路の直列接続を設定する。
【０００９】
特に、このレジスタは、ＴＡＰコントローラの１つの出力部及び１つの入力部にそれぞれ接続された直列入力部及び直列出力部を有し、また、データストリームの速度を設定するためにクロック信号を受信するクロック入力部を有する。
【００１０】
最初、ＴＡＰコントローラは、これらのコンフィギュラブル・セルによって形成されたシフトレジスタの入力部を通して、コンフィギュラブル・セルのフリップフロップ回路に、順次、データをロードする。
【００１１】
そして、ＴＡＰコントローラは、マルチプレクサの切り換えを変更して機能回路を形成し、この機能回路によって、１又は複数クロック周期の実行を指令する。この段階においては、コンフィギュラブル・セルのフリップフロップ回路にロードされたデータは、機能回路によって処理される。
【００１２】
そして、コントローラは、マルチプレクサの切り換えをもう１度変更してシフトレジスタをもう１度形成し、そして、最後のクロック周期の間、コンフィギュラブル・セルのフリップフロップ回路に格納されたデータを、このシフトレジスタの出力部で、順次検索する。
【００１３】
この試験技術の確認値にもかかわらず、その実際の適用は、ある環境において、特に、秘密データを処理する集積回路において、問題になることがある。
【００１４】
テストモードの作動により、不正を行う人が、コンフィギュラブル・セルのフリップフロップ回路の内容を読み取ることができるようになるかもしれないので、このテストは、原理的に、それらの回路を、不正使用に対して非常に脆弱にするという欠点を有する。
【００１５】
例えば、いろいろな時点において、集積回路に秘密データを内部ロードするプロセスを停止させることによって、及び、シフトレジスタの内容をアンロードすることによって、不正を行う人は、秘密データに関する情報を取得できたり、又は、この秘密データを再構築さえできたりするかもしれない。
【００１６】
テストモードを作動することによって、不正を行う人は、コンフィギュラブル・セルのフリップフロップ回路に対する書き込みアクセスを取得して、不正なデータを挿入し、又は、そうではなく、権限を与えられていない構成内に集積回路を置くかもしれない。したがって、不正を行う人は、例えば、センサのようなセキュリティ素子を制御するレジスタにアクセスし、それを非アクティブにすることができるかもしれない。不正を行う人は、秘密データの一部に関する情報を取得するために、誤ったデータの一部を挿入することもできるかもしれない。
【００１７】
不正を行う人は、２つの異なる方策を実際に適用することもできる。第１の方策は、ＴＡＰコントローラの制御を取得し、外部パッドにおいてシフトレジスタのセルの内容を観察することであり、第２の方策は、ＴＡＰコントローラによって出力されるコマンド信号によるこれらのセルの駆動をシミュレートするように、マイクロプロービングによってコンフィギュラブル・セルを動作させることによって、コンフィギュラブル・セルの制御を取得することである。
【００１８】
本発明の目的は、正確には、上記第２の方策を用いる不正の試みを妨げるように設計された電子回路を提案することである。
【００１９】
この目的を達成するために、本発明の回路は、上記導入部においてそれに与えられる一般的な定義を満たし、本質的には、コントローラが第１の状態にあるモード・コマンド信号を受信する間に、検出回路がコンフィギュラブル・セルの連鎖状態を検出したならば、アクティブ状態信号を生成するようにレイアウトされる検出回路を有する。
【００２０】
モード・コマンド信号が第１の状態、例えば、非アクティブ状態にあるとき、コンフィギュラブル・セルは、標準モードにあるべきである。もしも検出回路が、コンフィギュラブル・セルが連鎖状態にあることを検出したならば、このことは、検出回路がアクティブ状態信号によって報告する、侵入の試みを意味する。
【発明の開示】
【課題を解決するための手段】
【００２１】
本発明による検出回路は、状態セルを有し、
前記状態セルは、
・  前記コンフィギュラブル・セルが連鎖状態にあるならば、すぐ前のコンフィギュラブル・セルとすぐ後のコンフィギュラブル・セルとの間を機能上鎖のように接続し、前記鎖の内容を表す出力信号を生成し、又は、
・  前記コンフィギュラブル・セルが機能状態にあるならば、機能上切り離され、基準値を表す出力信号を生成し、
検出回路は、状態信号を受信したときに、出力信号を基準値と比較し、前記出力信号の値が前記基準値と異なるならば、アクティブ状態信号を生成する比較回路をさらに有することが好ましい。
【００２２】
第１の実施形態によれば、検出回路は、１つの状態セルと、この１つの状態セルによって生成される信号を処理する適切な比較回路とを有する。
【００２３】
他の実施形態によれば、検出回路は、数個の状態セルを有し、
前記数個の状態セルは、
・  コンフィギュラブル・セルが連鎖状態にあるならば、コンフィギュラブル・セルに機能上鎖のように接続され、各状態セルは、すぐ前のコンフィギュラブル・セルとすぐ後のコンフィギュラブル・セルとの間に接続され、各状態セルは、前記鎖の内容を表す出力信号を生成し、又は、
・  前記コンフィギュラブル・セルが前記機能状態にあるならば、機能上切り離され、そして各状態セルは、基準値の組の中の１つの基準値を表す出力信号を生成し、
検出回路は、比較回路をさらに有し、
前記比較回路は、第１の状態にあるモード・コマンド信号を受信するときに、前記出力信号を基準値と比較し、前記出力信号の１つの値が、関連する前記基準値と異なるならば、アクティブ状態信号を生成する。
【００２４】
少なくとも１つの状態セルは、
第１の電位が中間の値である信号が印加される第１のデータ入力部と、
すぐ前のコンフィギュラブル・セルの前記出力部に接続された第２のデータ入力部と、
前記コントローラに接続された第３の選択入力部と、
第１に、すぐ後のコンフィギュラブル・セルに接続され、第２に、前記比較回路の第１のデータ入力部に接続された出力部と
を有し、
前記基準値は、前記比較回路の第２のデータ入力部に印加される。
【００２５】
前記コンフィギュラブル・セルは、
・  前記コンフィギュラブル・セルの出力部に接続された１つの出力部を有するフリップフロップ回路と、
・  マルチプレクサと
を有し、
前記マルチプレクサは、それぞれが前記コンフィギュラブル・セルの前記第１の入力部及び前記第２の入力部に接続された第１のデータ入力部及び第２のデータ入力部と、前記コンフィギュラブル・セルの前記第３の入力部に接続された選択入力部と、前記フリップフロップ回路のデータ入力部に接続された出力部と有する
ことが好ましい。
【００２６】
前記比較回路は、その主要な構成として、
・  数個の状態セルからの前記出力信号を互いに組み合わせる組合せ論理回路と、
・  前記モード・コマンド信号（ＴＥＳＴ＿ＭＯＤＥ）を受信するときに、前記組合せの結果を前記基準値と比較し、前記組合せの結果が前記基準値と異なるならば、前記アクティブ状態信号（ＳＴＡＴＥ）を生成する手段と
を有してもよい。
【００２７】
最後に、少なくとも１つのコンフィギュラブル・セルが状態セルと同様に構成され、
前記コンフィギュラブル・セルの前記第１のデータ入力部は、このコンフィギュラブル・セルが協働する論理セルの１つの出力部に接続されることが望ましいこともある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２８】
本発明による安全なテストモードを有する回路の典型的な実施の以下の説明から、本発明はより明りょうに理解され、他の特徴及び利点は、一層明らかになるであろう。説明は、本発明の範囲を決して制限しない例示として提供されており、添付図面を参照して読まれなければならない。添付図面の中で、
・  図１は、本発明の第１の実施形態の電子回路図であり、
・  図２は、本発明の第２の実施形態の電子回路図である。
【００２９】
上述したように、本発明は、内部テスト手段を備える電子回路に関する。
【００３０】
その回路は、典型的には、セル１０乃至１５のような複数の論理セルと、セル２ａ乃至２ｙ，２ｚのような複数のコンフィギュラブル（構成変更可能）・セルと、導線Ｋ１乃至Ｋ３のような複数のコマンド用導線と、もしも必要であれば、アクセス・ポート・コントローラＣＴＡＰのようなコントローラとを有する。しかし、このコントローラは、当該電子回路の外部にあることもできる。
【００３１】
コンフィギュラブル・セル２ａ乃至２ｚのそれぞれは、
・  回路ＬＯＧの論理セル１０乃至１５の内の少なくとも１つに接続された第１のデータ入力部と、
・  すぐ前のコンフィギュラブル・セルの出力部に接続された第２のデータ入力部と、
・  信号ＣＬＫが印加されるクロック入力部及びスキャンイネーブル信号ＳＣＡＮ＿ＥＮＡＢＬＥが印加されるコマンド入力部と、
・  すぐ後のコンフィギュラブル・セルの第２の入力部に接続され、回路ＬＯＧの論理セル１０乃至１５の内の少なくとも１つに接続された１つの出力部と
を有する。
【００３２】
各コンフィギュラブル・セルは、少なくとも１つのマルチプレクサ２１と、少なくとも１つのフリップフロップ回路２２とを有する。マルチプレクの２つの入力部は、コンフィギュラブル・セルの入力部に接続され、マルチプレクサの１つの出力部は、フリップフロップ回路２２の入力部に接続され、フリップフロップ回路２２の１つの出力部は、コンフィギュラブル・セルの出力部を形成する。
【００３３】
コマンド用導線Ｋ１乃至Ｋ３の少なくとも数個はコンフィギュラブル・セル２ａ乃至２ｙ，２ｚに接続されており、コマンド用導線Ｋ１乃至Ｋ３は、コントローラＣＴＡＰによって、動作中に、選択的に受信され及び／又は送信されるコマンド信号を伝送するのに使われる。このコマンド信号は、コントローラＣＴＡＰを作動させるテストモードへの移行を指令するコマンド信号ＴＥＳＴ＿ＭＯＤＥ、コンフィギュラブル・セルを鎖のように繋いでシフトレジスタの形にする連鎖コマンド信号ＳＣＡＮ＿ＥＮＡＢＬＥ、及びコンフィギュラブル・セルにおけるデータの伝搬を可能にするコマンド信号ＳＨＩＦＴ＿ＤＲなどである。
【００３４】
コマンド信号によって又はそれらの少なくとも数個によって、コンフィギュラブル・セル２ａ乃至２ｙ，２ｚは、
・  コンフィギュラブル・セルが協働して論理回路ＬＯＧを形成する論理セル１０乃至１５の内の少なくとも数個に、コンフィギュラブル・セルが機能上リンクされる標準動作モード、又は、
・  これらのコンフィギュラブル・セル２ａ乃至２ｚが、互いに機能上鎖のように接続されて、シフトレジスタを形成するテストモード
のいずれかを採用する。
【００３５】
標準動作モードからテストモードへのコンフィギュラブル・セルの移行は、コントローラＣＴＡＰによって供給されるコマンド信号ＳＣＡＮ＿ＥＮＡＢＬＥを用いるマルチプレクサ２１の駆動によって実行される。
【００３６】
特に、シフトレジスタ２ａ乃至２ｚは、コントローラＣＴＡＰの１つの出力部によって駆動されるデータ入力部ＳＲＩと、コントローラＣＴＡＰの１つの入力部に接続されたデータ出力部ＳＲＯと、このシフトレジスタにおけるデータフローの速度を設定することができるクロック信号ＣＬＫを受信する１つのクロック入力部（具体的に図示されていない）とを有する。
【００３７】
テストを開始するために、テストモードへの移行を指令する信号ＴＥＳＴ＿ＭＯＤＥは、最初に、コントローラＣＴＡＰに送信されなければならない。そして、コントローラＣＴＡＰは、連鎖コマンド信号ＳＣＡＮ＿ＥＮＡＢＬＥを送信することによって、コンフィギュラブル・セル２ａ乃至２ｚをシフトレジスタとして構成設定する。
【００３８】
そして、伝搬コマンド信号ＣＬＫを出力することによって、コントローラＣＴＡＰは、シフトレジスタの入力部ＳＲＩを通して、これらのコンフィギュラブル・セルのフリップフロップ回路２２にテスト・データを順次ロードする。
【００３９】
そして、連鎖コマンド信号ＳＣＡＮ＿ＥＮＡＢＬＥを非アクティブすることによって、コントローラＣＴＡＰは、論理回路ＬＯＧの機能要素にコンフィギュラブル・セル２ａ乃至２ｚを再構成設定し、テスト・データを処理するこの機能要素によって１又は複数クロック周期の実行を指令する。
【００４０】
連鎖コマンド信号ＳＣＡＮ＿ＥＮＡＢＬＥを再びアクティブにすることによって、コントローラＣＴＡＰは、コンフィギュラブル・セル２ａ乃至２ｚをシフトレジスタに再び構成設定する。
【００４１】
最後に、伝搬コマンド信号ＣＬＫを送信することによって、コントローラＣＴＡＰは、このレジスタの出力部ＳＲＯにおいて、フリップフロップ回路２２に記憶され、論理回路ＬＯＧによるテスト・データの処理から発生するデータを、回収する。
【００４２】
特に、導線Ｋ１乃至Ｋ３にコマンド信号を、及び／又は、入力部ＳＲＩにデータを、直接与えることによって、不正を行う人が、この種のテスト手順をシミュレートすることができという状況を回避し、それによって、論理回路ＬＯＧによるテスト・データの処理から発生し、フリップフロップ回路２２に記憶されたデータを回復することを、不正を行う人にできないようにするために、本発明の電子回路は、状態検出回路３０を有する。
【００４３】
この状態検出回路３０は、集積回路が通常動作にあるときに（テストモード信号ＴＥＳＴ＿ＭＯＤＥが非アクティブである）、コンフィギュラブル・セルの非連鎖状態（異常が無いことを示す）、又は、コンフィギュラブル・セルの連鎖状態（侵入の試みを示す）、を表す信号ＯＵＴを送信する機能を持つ。
【００４４】
実際に、通常動作において、信号ＴＥＳＴ＿ＭＯＤＥは非アクティブであり、回路ＣＴＡＰは、非アクティブな連鎖コマンド信号ＳＣＡＮ＿ＥＮＡＢＬＥを送信し、コンフィギュラブル・セルは、通常、非連鎖状態にある。したがって、状態検出回路が、コンフィギュラブル・セルがシフトレジスタ（連鎖状態）として構成設定されたことを検出したならば，これは必然的に侵入の試みがあることを意味する。
【００４５】
本発明の第１の実施形態においては、状態検出回路３０は、状態セル４０と、検出回路５０とを有する。
【００４６】
セル４０は、コンフィギュラブル・セルの電子回路図と同様の電子回路図にしたがって作成されることが好ましい。２つの主要な相違点は、以下の通りである。
・  基準信号ＳＲＥＦは、状態セルの第１の入力部に印加され、したがって回路ＬＯＧの論理セルの１つに接続されていない、及び
・  状態セルの出力部は、比較回路５０の入力部に接続されており、回路ＬＯＧの論理セルの１つに接続されていない。
【００４７】
まさにコンフィギュラブル・セルと同じように、状態セルは、同様に接続された、マルチプレクサ２１及びフリップフロップ２２を有する。
【００４８】
信号ＳＣＡＮ＿ＥＮＡＢＬＥは、マルチプレクサ２１の選択入力部に印加され、クロック信号ＣＬＫは、フリップフロップ回路２２のクロック入力部に印加される。
【００４９】
こうして、状態セル４０は、
・  コンフィギュラブル・セルが連鎖状態にあるならば、すぐ前のコンフィギュラブル・セル２ｙとすぐ後のコンフィギュラブル・セル２ｚとの間を機能上鎖のように接続しており、この場合、前記状態セル４０は、連鎖の内容を示す出力信号ＯＵＴを生成し、又は、
・  コンフィギュラブル・セルが機能状態にあるならば、機能上切り離され、状態セル４０が、その第１のデータ入力部に印加される基準信号ＳＲＥＦの値（図１の例においては値“１”）を表す出力信号ＯＵＴを生成する。
【００５０】
比較回路５０は、状態セルの出力信号ＯＵＴが、その第１の入力部に印加される基準値に等しいことを確かめる機能と、信号が通常動作モードにあるときに（信号ＴＥＳＴ＿ＭＯＤＥが非アクティブ、ここでは、０であるときに）、
・  出力信号ＯＵＴが、予測値である（この例においては、値１）ならば、すなわち、この場合には、ＳＴＡＴＥ＝１、非アクティブであるならば、異常無しであることを、又は、
・  信号ＯＵＴが予測値と異なる値を持つならば、すなわち、この場合には、ＳＴＡＴＥ＝０、アクティブであるならば、侵入の試みがあることを
報告する機能とを有する。
【００５１】
第１の実施形態においては、図１に示されるように、比較回路５０は、ＯＲ（論理和）論理ゲートであり、このＯＲ論理ゲートは、セル４０の出力部に接続された第１の入力部と、信号ＴＥＳＴ＿ＭＯＤＥが印加される第２の入力部とを有する。
【００５２】
以下に、図１の検出回路の動作を示す。集積回路のテストモードにおいて、信号ＴＥＳＴ＿ＭＯＤＥは、アクティブ（以下、“１”においてアクティブ）である。この場合、ＯＲゲート５１は、非アクティブ信号ＳＴＡＴＥ＝１を生成する。
【００５３】
しかし、集積回路の標準動作モードにおいては、信号ＴＥＳＴ＿ＭＯＤＥは非アクティブである（ここでは、それは“０”において非アクティブである）。セル４０の出力部の信号ＯＵＴが“０”に等しければ（すなわち、それが、セル４０の第１の入力部に印加された信号ＳＲＥＦと異なるならば）、状態セルから出力された信号は、状態セル４０のすぐ前のコンフィギュラブル・セル２ｙの出力部から必然的に来ることを意味する。言い換えれば、コンフィギュラブル・セルと状態セルは、鎖のように（チェーン状に）繋がれている（連鎖）されていることを意味する。この場合には、ＯＲゲート５０は、侵入の試みを示すために、アクティブ信号ＳＴＡＴＥ＝０を出力する。
【００５４】
以上に説明されたもののような検出回路は、状態セルにすぐ前のコンフィギュラブル・セルに含まれるデータの部分が、状態セルの第１の入力部に印加された基準値（この場合には、“１”）以外の何かを含む場合にのみ、有効である、ということが特に注目される。
【００５５】
しかし、侵入の試みの間は、不正を行う人は、シフトレジスタにデータを入力しようとし、逆に、シフトレジスタからデータを出力させようとするであろう。いずれの場合にも、このことは、シフトレジスタ内のデータをシフトさせる。シフトレジスタからのデータの部分がすべて基準値に等しいことはほとんどあり得ないので、クロック信号の数個のアクティブ・エッジの後に、検出回路が速やかに有効になるであろう。
【００５６】
図２は、本発明による検出回路のより有効な第２の実施形態を示す。この検出回路は、複数の状態セル４０ａ，…，４０ｚ（簡素化のために、２つのみが示されている。）と、１つの比較回路６０とを有する。
【００５７】
状態セル４０ａ，…，４０ｚは、例えば、マルチプレクサ２１及びフリップフロップ回路２２を有する図１のセル４０と同じように作られており、また、同様に接続されている。状態セルの数の選択は、一方において、回路のセキュリティの点と、他方において、回路のサイズと速度の点との間の折衷点に基づいており、状態セルの数が増えるほど、侵入の試みをより速く検出できる。同時に、テストモードにおいて、回路はより大きく、より遅くなる。好ましい例において、選択された状態セルの数は、コンフィギュラブル・セルの数の約５％の範囲内の数である。
【００５８】
基準信号ＳＲＥＦａ乃至ＳＲＥＦｚは、状態セル４０ａ乃至４０ｚのそれぞれの第１の入力部に印加される。この基準信号ＳＲＥＦａ乃至ＳＲＥＦｚは、選択により、論理“１”又は“０”に等しく、状態セルごとに、与えられる値を異なるようにすることも可能である。各状態セルは、その制御入力部に印加されるコマンド信号ＳＣＡＮ＿ＥＮＡＢＬＥの値に応じて、その第１の入力部に印加された値、又は、すぐ前のコンフィギュラブル・セルの出力部に現れる値に等しい、出力信号ＯＵＴａ乃至ＯＵＴｚを生成する。
【００５９】
状態セルの位置が、不正を行う人によって特定され使用されないように、状態セルは、シフトレジスタのコンフィギュラブル・セルの間に、望ましくはランダムに、分布される。
【００６０】
比較回路６０は、それぞれの状態セルの出力信号ＯＵＴａ乃至ＯＵＴｚがその第１の入力部に印加される基準値に等しいことを確かめる機能と、出力信号が通常動作モードにあるときに（信号ＴＥＳＴ＿ＭＯＤＥ＝０、非アクティブ）、
・  出力信号ＯＵＴａ，…，ＯＵＴｚがすべて予測値に等しいときには、異常無し、すなわち、この場合には、ＳＴＡＴＥ＝１、非アクティブを、又は、
・  出力信号ＯＵＴａ，…，ＯＵＴｚの内の少なくとも１つが、この信号の予測値と異なる値を持つときには、侵入の試み有り、すなわち、この場合には、ＳＴＡＴＥ＝０、アクティブを、
報告する機能とを持つ。
【００６１】
２つの状態セル４０ａ及び４０ｚを有する図２の検出回路の場合には、比較回路は、２つの論理ゲート６２及び６３を持つことができる。
【００６２】
ゲート６３はＯＲゲートであり、それは信号ＯＵＴａが印加される非反転入力部と、信号ＯＵＴｚが印加される反転入力部とを有する。ゲート６３はＯＲゲートであり、それは、ゲート６２の出力部に接続された反転入力部と、信号ＴＥＳＴ＿ＭＯＤＥが印加される非反転入力部と、そこに信号ＳＴＡＴＥが生成される出力部とを有する。
【００６３】
もちろん、比較回路６０の実施形態は、選択された状態セルの数、状態セルの第１の入力部に印加された基準信号の値、それがアクティブであるときの信号ＴＥＳＴ＿ＭＯＤＥの値、取得された全体の回路のサイズと速度、などに特に依存する。
・  回路６０が、通常動作モードにおいてのみアクティブであり（ＴＥＳＴ＿ＭＯＤＥにおいて非アクティブ）、
・  回路６０が、当該基準値に個々に関する各信号ＯＵＴａ乃至ＯＵＴｚの値を確かめ、又は、各状態セルの第１の入力部のそれぞれに印加される基準値の組合せに関連する基準値に関する信号の組合せを確かめる
ように実施形態を簡単に選択する必要がある。
【００６４】
回路６０は、特に、適切なタイプの論理ゲートの組から構成されてもよく、又は、そのほかに、すべてのタイプのコンパレータから構成されてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００６５】
【図１】本発明の第１の実施形態の電子回路図である。
【図２】本発明の第２の実施形態の電子回路図である。
【図１】
2008541033.tif 000003
【図２】
2008541033.tif 000004
【手続補正書】
【提出日】平成19年2月27日(2007.2.27)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
テスト・アクセス・コントローラ（ＣＴＡＰ）のような制御回路がモード・コマンド信号（ＴＥＳＴ＿ＭＯＤＥ）を受信するときに、前記制御回路によって構成設定される複数のコンフィギュラブル・セル（２ａ，…，２Ｙ，２ｚ）を有する電子回路であって、  ・  前記モード・コマンド信号が第１の状態（非アクティブ）にあるならば、前記コンフィギュラブル・セルが、論理セル（１０乃至１５）に機能上リンクされ、前記論理セルと協働して、少なくとも１つの論理回路を形成する、機能状態にあり、又は、  ・  前記モード・コマンド信号が第２の状態（アクティブ）にあるならば、前記コンフィギュラブル・セルが、機能上鎖のように接続されてシフトレジスタを形成する、連鎖状態にあり、  前記電子回路は、前記コントローラが前記第１の状態にある前記モード・コマンド信号を受信する間に、前記コンフィギュラブル・セルの連鎖状態を検出したならば、アクティブ状態信号（ＳＴＡＴＥ）を生成するように構成された、検出回路を有し、  前記検出回路は、基準電位を持つ信号が印加される第１のデータ入力部と、すぐ前のコンフィギュラブル・セルの出力部に接続された第２のデータ入力部と、前記コントローラに接続された第３の選択入力部と、すぐ後のコンフィギュラブル・セルに接続された出力部と、を有する状態セル（４０；４０ａ乃至４０ｚ）を有し、  前記状態セルは、  ・  前記コンフィギュラブル・セルが連鎖状態にあるならば、すぐ前のコンフィギュラブル・セル（２ｙ；２ａ，２ｘ）とすぐ後のコンフィギュラブル・セル（２ｚ；２ｂ，２ｙ）との間を機能上鎖のように接続し、前記鎖の内容を表す出力信号（ＯＵＴ；ＯＵＴａ乃至ＯＵＴｚ）を生成し、又は、  ・  前記コンフィギュラブル・セルが機能状態にあるならば、機能上切り離され、基準値を表す出力信号を生成し、  前記検出回路は、比較回路（５０；６０）を有し、  前記比較回路（５０；６０）は、前記状態セルの前記出力部に接続された第１のデータ入力部と、前記モード・コマンド信号が印加される第２のデータ入力部とを有し、前記モード・コマンド信号（ＴＥＳＴ＿ＭＯＤＥ）を受信したときに、前記出力信号（ＯＵＴ；ＯＵＴａ，…，ＯＵＴｚ）を基準値と比較し、前記出力信号の値が前記基準値と異なるならば、前記アクティブ状態信号（ＳＴＡＴＥ）を生成する  ことを特徴とする電子回路。
【請求項２】
前記検出回路は、数個の状態セル（４０ａ乃至４０ｚ）を有し、  前記数個の状態セルは、  ・  前記コンフィギュラブル・セルが前記連鎖状態にあるならば、前記コンフィギュラブル・セルに機能上鎖のように接続され、各状態セル（４０ａ，４０ｚ）は、すぐ前のコンフィギュラブル・セル（２ａ，２ｘ）とすぐ後のコンフィギュラブル・セル（２ｂ，２ｙ）との間に接続され、各状態セルは、前記鎖の内容を表す出力信号（ＯＵＴａ，…，ＯＵＴｚ）を生成し、又は、  ・  前記コンフィギュラブル・セルが前記機能状態にあるならば、機能上切り離され、そして各状態セルは、基準値の組の中の１つの基準値を表す出力信号を生成し、  前記比較回路（６０）は、前記第１の状態にある前記モード・コマンド信号（ＴＥＳＴ＿ＭＯＤＥ）を受信したときに、各状態セルの前記出力信号（ＯＵＴＡ，…，ＯＵＴｚ）を基準値と比較し、前記出力信号の１つの値が、関連する前記基準値と異なるならば、アクティブ状態信号を生成する  ことを特徴とする請求項１に記載の電子回路。
【請求項３】
前記コンフィギュラブル・セルは、  ・  前記コンフィギュラブル・セルの出力部に接続された１つの出力部を有するフリップフロップ回路と、  ・  マルチプレクサと  を有し、  前記マルチプレクサは、  それぞれが前記コンフィギュラブル・セルの前記第１の入力部及び前記第２の入力部に接続された第１のデータ入力部及び第２のデータ入力部と、  前記コンフィギュラブル・セルの前記第３の入力部に接続された選択入力部と、  前記フリップフロップ回路のデータ入力部に接続された出力部と  有する  ことを特徴とする請求項１又は２に記載の電子回路。
【請求項４】
前記比較回路は、  ・  数個の状態セルからの前記出力信号を互いに組み合わせる組合せ論理回路と、  ・  前記モード・コマンド信号（ＴＥＳＴ＿ＭＯＤＥ）を受信するときに、前記組合せの結果を前記基準値と比較し、前記組合せの結果が前記基準値と異なるならば、前記アクティブ状態信号（ＳＴＡＴＥ）を生成する手段と  を有することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の電子回路。
【請求項５】
少なくとも１つのコンフィギュラブル・セルが状態セルと同様に構成され、  前記コンフィギュラブル・セルの前記第１のデータ入力部は、そのコンフィギュラブル・セルが協働する論理セルの１つの出力部に接続される  ことを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の電子回路
【国際調査報告】
2008541033.tif 000005
2008541033.tif 000006
2008541033.tif 000007
2008541033.tif 000008