(57)【要約】  光ディスク上へマークを記録する方法であって，当該光ディスクは情報層を有し，パルス化された照射ビームを前記情報層に照射することによって，当該マーク（I3, , I14）はnTなる時間長さを持ち，ここでnは１より大きい整数を表し，Tが基準クロックの1周期の長さを表し，当該マークは冷却期間によって隔てられたm個の書込みパルスを有するパルス列によって記録される。前記パルス列中で，この書込みパルスは異なる時間長を持つことが出来，パルス列中で，異なる時間長のマークに対応しているこの書込みパルスは異なる長さを持つことが出来，ここでmは関数Floor(n/α) で与えられる整数であって，ここでFloor(n/α)はn/αよりは小さな最大の整数を規定しており，αは2に等しいか，2より大きな整数である。本方法は，最長の書込みパルスを有するパルス列を，当該最長の書込みパルスが2個の書込みパルスに置換されるように少なくとも変更することを特徴とする。
2008542965.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスク上へマークを記録する方法であって，当該光ディスクは情報層を有し，パルス化された照射ビームを情報層に照射することによって当該マークはnTなる時間長さを持ち，ここでnは１より大きい整数を表し，Tが基準クロックの1周期の長さを表し，このマークは冷却期間によって隔てられたm個の書込みパルスを有するパルス列によって記録され，当該パルス列中では，この書込みパルスは異なる時間長を持つことができ，当該パルス列中で，異なる時間長のマークに対応しているこの書込みパルスは異なる長さを持つことができ，ここでmは関数Floor(n/α) で与えられる整数であって，ここでFloor(n/α)はn/αよりは小さな最大の整数を規定しており，αは2に等しいか，2より大きな整数である，光ディスク上へマークを記録する方法において，
最長の書込みパルスを有する前記パルス列を，当該最長の書込みパルスが2個の書込みパルスに置換されるように少なくとも変更する，光ディスク上へマークを記録する方法。
【請求項２】
α＝２と設定し，3T 長を持つI3マークが2個の書込みパルスを有するパルス列によって記録される，請求項１に記載のマークを記録する方法。
【請求項３】
α＝３と設定し，3T 長及び4T長を各々持つI3マーク及びI4マークが各々2個の書込みパルスを有するパルス列によって記録される，請求項１に記載のマークを記録する方法。
【請求項４】
前記パルス列内で，前記書込みパルスのメジアン長よりも長い書込みパルスを有する各パルス列は，このより長い書込みパルスが2個の書込みパルスによって置換されるよう変更される，請求項１，２又は３に記載のマークを記録する方法。
【請求項５】
長さnのマークを記録するのに用いられる前記パルス列中に在る書込みパルスの個数が，n/αよりは大きい最小の整数を規定している関数Ceiling(n/α)で与えられる，請求項４に記載のマークを記録する方法。
【請求項６】
前記パルス列内で，前記書込みパルスのメジアン長よりも少なくとも5%だけ長い書込みパルスを有する各パルス列は，このより長い書込みパルスが2個のパルスで置換するよう変更される，請求項４又は５に記載のマークを記録する方法。
【請求項７】
書込みパルスの前記パルス列の後に消去パルスが続いていて，当該消去パルスのパワーは書込みパルスのパワーよりも低い，請求項１ないし６のいずれか一項に記載のマークを記録する方法。
【請求項８】
少なくとも1個のパルスの前記パワーがnに依存して設定される，請求項１ないし７のいずれか一項に記載のマークを記録する方法。
【請求項９】
少なくとも1個のパルスの位置がnに依存して設定される，請求項１ないし８のいずれか一項に記載のマークを記録する方法。
【請求項１０】
光ディスク上へマークを記録する記録装置であって，当該光ディスクは情報層を有し，パルス化された照射ビームを前記情報層に照射することによって，nが１より大きい整数を表しTが基準クロックの1周期の長さを表す場合，nTなる時間長さを持つマークを記録する記録装置において，請求項１から９のいずれか一項に記載の方法を実行する手段を有する記録装置。
【請求項１１】
情報が製造工程中に前記光ディスクに事前記録されており，当該情報が記録装置によって読取られたとき，この記録装置が請求項１から１０のいずれか一項に記載の方法に従ってマークをこの光ディスク上に記録することを可能にするような前記情報を有する光ディスク。
【請求項１２】
前記事前記録された情報は，所与の長さのマークを記録するためのパルス列中に在る書込みパルスの個数に関する情報を有している，請求項１１に記載の光ディスク。
【請求項１３】
前記事前記録された情報は，所与の長さのマークを記録するためのパルス列中に在る各書込みパルスの長さに関する情報を有している，請求項１１又は１２に記載の光ディスク。
【請求項１４】
前記光ディスクは書換え型のDVDディスクである，請求項１１，１２又は１３に記載の光ディスク。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は，nTなる時間長を持つマークを，パルス化された照射ビームを情報層に照射することによって作られた情報層を有する光ディスク上に記録する方法に関し，各マークはm個のパルス列によって記録され，nは1より大きな整数であり，Tは基準クロックの1周期の長さを表し，mは1以上n以下の整数を表す。
【０００２】
本発明は，前記方法を実施することが出来る，光ディスク上にマークを記録するための記録装置にも関する。本発明は，前記方法を実行する当該記録装置と共に動作するのに適している光ディスクにも関する。
【背景技術】
【０００３】
例えばDVD+RWのような書換え型の媒体は，何度も重ね書きが可能である。可逆的な記録プロセスは，アモルファス相と結晶相との間で可逆的に変化することの出来る相変化材料を有する情報層を用いることに基づいている。情報層の結晶の基盤内に，一連の短い照射パルス，例えば一連のレーザパルスを照射することにより，アモルファスのマークが記録される。この照射パルスは当該相変化材料を融解する。この照射ビームをターンオフした後の冷却が急速である場合は，前記アモルファス相は凍結される。この照射ビームをターンオフした後の冷却が緩慢である場合は，前記アモルファス相は再結晶し，結晶相を誘起する。従って斯様な相変化層は，照射ビームのパワーを書込みパワーレベルと消去パワーレベルとの間で変調することにより，情報が記録され，及び消去されることを可能にする。情報の読出し，即ち記録されている信号の再生は，前記相変化層のアモルファス相と結晶相との間の光学的な性質の変化を検知することによって行われる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
媒体の劣化が生じる前に同媒体に直接重ね書き（DOW）が出来る回数は，可能な限り多いことが望まれる。例えばDVD+RW規格においては，いかなる回数（500回）の直接重ね書きに対してもジッタは10%より低く留まらねばならないと義務付けられている。全てのパラメータが規格内に留まったまま，1000回の直接重ね書き（DOW）が出来ることが推奨されている。問題は，記録が繰り返される過程で，層状になった材料の積層を有する媒体が，相変化層は斯様な積層中の一つであるが，しばしば層の熱的内部拡散に起因してゆっくりと劣化することである。この劣化プロセスは，到達し得る直接重ね書き（DOW）の最大回数を制限する。到達し得る直接重ね書き（DOW）の回数を増すための既知の解は，相変化材料の周囲を，例えばSi3N4のような安定な材料のキャッピング層を使用することであり，斯様にして，異なる層間の内部熱拡散を減じる。安定材料のキャッピング層を用いる上記の解は，高価で技術的に実行が困難であるばかりか到達し得る直接重ね書き（DOW）の回数の充分な増加も提供せず，特に記録媒体が2層の情報層を使用する場合は当該規格によって義務付けられた到達し得る直接重ね書き（DOW）の回数に達しない。
【０００５】
最長の時間長を持っているマークの記録は，光ディスクの積層中に在る情報層に対して最も有害であるかも知れないと予想する。この予想は以下の理由に基づく。情報層の品質の劣化は，積層を形成している他の層との内部熱拡散によって生じる。より高い熱の存在は積層中の材料の内部拡散を加速し，それ故，到達し得る直接重ね書き（DOW）の回数にマイナスに影響する。アモルファスのマークは，情報層の結晶基盤内に書き込みパルスとして知られる一連の短いパルス列を同情報層に照射することによって書かれる。書込みパルスは同程度の長さであり，熱は繰り返されるパルスによって蓄積されるので，積層内の最高温度は最も長いマークの記録中に到達されると予想される。これゆえ，情報層の一番高い温度及び最も強い劣化は，この最長マークの記録時に生じると予想される。これらの予測の正当性は，光ディスクが固定長をもつマークによって一律に記録されたときの，直接重ね書き（DOW）の回数の関数として測定されたジッタの依存性を解析することにより調べることが出来る。ジッタはマーク長のバラツキに起因していて，情報の読出しに対する最も有力なノイズ源であり，それゆえ，ジッタは書かれたデータの品質の尺度である。例えば，DVD規格はジッタに対する最大許容値を9%と特定している。I4，I8，I14のマークの結果が比較されると，より長いマークが記録されたときにより速い劣化を情報層は示し，より長いパルスに生じる，より高い平均温度の否定的な影響を示唆している。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記の問題の解決策を提供し，到達可能な直接重ね書き（DOW）の回数を増加させることが本発明の目的である。請求項1に記載の方法によって光ディスク上へマークを記録することにより，本発明の目的が達せられる。この特許請求された方法は，少なくとも最長書込みパルスを2個のより短い書込みパルスに置換することによって，到達可能な直接重ね書き（DOW）の回数を顕著に改善できるよう書込みストラテジを一部変更するという知見の結果である。この知見は，最長の時間長を持っている記録マークが情報層に対して最も有害であろうという予想に反して，到達できる直接重ね書き（DOW）の回数の決定において最も関係する要素はマーク長ではなく，最長書込みパルスの時間長であるという予期しなかった発見に基づく。最長の書込みパルスを2個のより短い書込みパルスに置換することにより，このパルス継続時間長さを減じることは，到達可能な直接重ね書き（DOW）の回数を顕著に改善する。
【０００７】
例えば2層のDVD+RW媒体の場合，通常のDVDデータを記録するときの到達可能な直接重ね書き（DOW）の回数は，図5に示されるように長いマークの記録に起因するのではなく，I3マークの記録に起因する到達可能な直接重ね書き（DOW）の回数によって限定される。明らかに，大変長い書込みパルスを有するこれらのI3マークは，いかなる他のマークよりも記録材料層に対して有害である。観測された現象に対する解釈は次のようである，即ち，従来の書込みストラテジによればI3マークは比較的長い1個の書込みパルスによって記録されている。照射ビームが集束しているスポットにおける記録材料層の温度は，パルス列からの最初の書込みパルスが在ると急速に増加する。最初の書込みパルスが終えた後，スポットの温度は，同スポットの外側の熱拡散に起因する冷却期間中の時間関数として急激に降下する。この冷却期間の終わりでの温度は，パルス列の始まる前の温度よりも高いが，書込みパルスの終わりに到達したピーク温度に比べると大変低い。次の書込みパルスが在ると，この温度は再度急速に上昇し，当該書込みパルスが終わると温度は急激に降下する。パルス列が進むと，記録材料層の平均温度は上昇する。しかし，記録材料層内の最高温度は平均温度とは全く異なり，恐らく最高温度へは最長の書込みパルスの終了点で到達する。従って，マークを記録する際の材料層の破壊は，請求項1に従った記録方法を一部変更することによって限定されることが可能である。もしも，冷却パルスにより隔てられた2個の短いパルスが最長の単一照射パルスに代わって使われたとすると，到達可能な直接重ね書き（DOW）の回数は著しく増加する。
【０００８】
請求項2の手段によって，有利な実施例が得られる。α＝２と設定し，1個の長い書込みパルスを有する書込みパルス列によってI3マークの記録をすることは，例えばDVD+RWの8x媒体又は多層のRW媒体のような高速の記録型光ディスクの記録のための技術的に好ましい書込みストラテジである。これらのタイプの媒体に対して，請求項2の手段によった書込みストラテジを一部変更することは到達可能な直接重ね書き（DOW）の回数の著しい増加になる。
【０００９】
有利な実施例が請求項3の手段によって得られる。α＝3と設定し，1個の長い書込みパルスを有するパルス列によってI3マーク及びI4マークの記録をすることは，高速の書換え型ブルーレイディスク（BD）で使われることが期待されている技術的に知られた方法である。各々3T長及び4T 長を持つI3マーク及びI4マークの記録を2個の書込みパルスを有する書込みパルス列によって行うことにより，到達可能な直接重ね書き（DOW）の回数の増加が得られる。
【００１０】
最長の書込みパルスを有するパルス列のみを一部変更することで，よい結果が既に得られるのであるが，請求項4による方法の好ましい実施例においては，更なる改善が手に入る。ここでは，パルス列中の書込みパルスのメジアン長よりもより長い書込みパルスを有する各パルス列で，より長い書込みパルスを2個の書込みパルスに置換するよう変更する。好ましくは，パルス列中の書込みパルスのメジアン長よりも少なくとも5%より長い書込みパルスを有する各パルス列が，当該より長い書込みパルスを2個の書込みパルスに置換するよう変更される。
【００１１】
書込みパルスのパルス列の後に消去パルスが続くことが望ましく，消去パルスのパワーは書込みパルスのパワーよりも低い。
【００１２】
本発明に従ってマークnTがm個の書込みパルスのパルス列によって記録されるとき，異なる時間長のマークが同一の個数のパルスを有するパルス列によって記録されることが出来る。例えば，αが２と設定されたとき， I3マーク及びI4マークは2個のパルスを有するパルス列によって各々記録される。この理由により，照射パルスのパルス列の追加の微調整が必要となることであろう。本発明の実施例においては，パルス列中の少なくとも1個の照射パルスの位置がnに依存して設定される。本発明に従った他の実施例においては，少なくとも1個の照射パルスのパワーがnに依存して設定される。
【００１３】
本発明は，請求項11に従う光ディスクも含む。好ましくは，情報が光ディスクの製造工程で事前に光ディスクに記録されていて，記録装置によってこの情報が読取られたとき，当該記録装置が請求項1乃至9の何れかの方法に従って光ディスク上にマークを記録することが可能になるような，格納された情報を有する光ディスクが在る。
【００１４】
本発明は請求項10に従う光ディスクドライブも含む。
【００１５】
本発明のこれらの態様及び他の態様は明らかであり，これ以降，以下に記述されている幾つかの実施例のより特定の記述を参照して説明されよう。
【００１６】
本発明の特徴及び長所は，図を参照して理解されよう。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
図1aは，「高い」部分101と「低い」部分102とを持つ基準クロックのクロック信号10を示す。一つの「高い」部分と一つの「低い」部分との組み合わせが，この基準クロックの1周期（T）になる。図1bは，記録担体の情報層に記録されるべき信号11を示す。この信号11の「高い」部分111は，この「高い」部分の継続時間に相当する物理的な長さを持つマークとして情報層中に記録される。従って，マークの長さは対応する基準クロックの周期Tの倍数としてしばしば表現される。本例においては，記録されるべきマークの長さ，つまり信号111の「高い」部分が5Tである。このマークは従来からI5マークとも呼ばれている。
【００１８】
記録されるべき信号11は，情報層に照射ビームを照射することによって結晶相とアモルファス相との間で可逆的に変化できる相を持つ情報層に記録される。この照射ビームは制御信号12，13によって制御されている照射源によって生成される。制御信号のパワーレベルは，前記照射源によって生成された照射ビームのパワーに対応する。従って，この制御信号は，マークを記録するときに用いられる書込みパルスのパルス列に対応する。図1cは，N/2書込みストラテジ又は2T書込みストラテジとして知られる従来技術の方法によって5T 長のマーク(I5)を記録するためのパルス状の制御信号を例示する。I5マークを記録するとき，書込みパルスのパルス列は書込みパワーレベル121を持つ制御パルス列中に，2個の照射パルスを有する。この具体的な例では，パルス列からの2個の書込みパルスは異なる時間長を持ち，2番目の書込みパルス長が1番目の書込みパルス長よりも長い。この書込みパルスは冷却期間125によって隔てられている。この冷却期間においては，前記照射ビームは書込みパワーレベルよりも低い冷却パワーレベル122を持つことが出来る。書込みパルスの前後では，前記制御信号は，従前に記録されたマークを消去するのに充分な消去パワーレベル123を持つ。この消去信号のパワーは，冷却期間のパワーよりも高く，書込みパルスのパワーよりも低い。この既知の2T法の更なる詳細は，後ほど図2を参照して議論されよう。
【００１９】
図1dは，本発明による方法で，同じ5Tマークを記録するために用いられるパルス状の制御信号13を例示している。ここにおいて，書込みパルスのパルス列は，既知の2T書込みストラテジで使われている2個の書込みパルスの代わりに3個の書込みパルスを有している。既知の書込み方法の変更は，図1cに例示されている従来の照射パルスのパルス列で，2番目の書込みパルスが1番目の書込みパルスよりも非常に長いという事実の結果であって，それ故2個のより短い書込みパルスにて置換されている。従って，5Tマークを記録している間に材料層が到達する最高温度は，本発明による方法ではより低いのである。
【００２０】
図2は，N/2書込みストラテジ又は2T書込みストラテジとして知られるマークを記録する従来の方法を更に例示している。図2においては，3T長から14T 長のマークの記録に用いられる書込みパルスのパルス列が例示されている。この範囲のマーク長は，DVD媒体の記録で用いられているEFM+エンコード・ストラテジに対応する。しかしながら，他のエンコード・ストラテジも当業者によって知られており，対応するマーク長の範囲も異なることであろう。例えばブルーレイディスク（BD）の場合では，2T長から9T長のマークが記録される。
【００２１】
長さnのマークは，Floor(n/2)で表される個数の書込みパルスを有する書込みパルスのパルス列によって記録され，ここに関数Floor(n/2)はn/2より小さい最大の整数を表す。例えば，3T長のマークI3は1個の書込みパルスを有するパルス列によって記録される。前記N/2書込みストラテジは，例えば8x DVD+RW媒体の場合のような高速の書換え形の媒体の記録に対して好ましい書込みストラテジである。
【００２２】
あるパルス列中に在る書込みパルスの時間長，二つの書込みパルスの間の冷却期間，及び書込みパルスのパルス列の全長は異なることが出来る。図2は，前記異なる時間長に関する代表例を例示している。一般に，前記N/2書込みストラテジの中では，最長の単一書込みパルスはI3マークの記録に用いられている1個の書込みパルスである。更に，奇数の長さの記録マーク（I5，I7，I9，I11及びI13）で使われているパルス列での最後の書込みパルスは，対応しているパルス列内の残りの書込みパルスに比べてより長いこともあるが，しかしI3マークの記録に使われている単一の書込みパルスよりは短い。
【００２３】
ここで例示されているN/2書込みストラテジ又は2T書込みストラテジは，N/α書込みストラテジという名で知られている，より一般的なストラテジの特定の実施例である。N/α書込みストラテジによれば，長さNのマークは，Floor(N/α)で表される個数の書込みパルスを有するパルス列によって記録され，ここでFloor(N/α)はN/αより小さい最大の整数である。
【００２４】
本発明の第1の実施例に従ったマークの記録方法が図3に例示されている。図2に例示された従来の方法に比較して，全てのパルス列で最長の単一書込みパルスを有する書込みパルスのパルス列に対応している本発明に従う方法においては，最短長のマーク(I3)は2個の書込みパルスを有するパルス列によって記録される。他の長さのマークの記録に使われるパルス列は，従来の方法と同じ長さのままである。この書込みストラテジの変更は，最長の単一書込みパルスが材料層に対して最も有害であるという新たな予期されなかった知見に基づいている。本発明に従ったマークの記録の方法は，これらのマークの記録をより損壊の少ないものにし，斯様に到達可能な直接重ね書き（DOW）の回数を著しく増加させるのに貢献している。この新しい知見は図5及び図6を参照して後ほど更に議論されよう。N/2ストラテジ又は2Tストラテジに関して具体的な実施例が例示されてきたが，本発明の教示はいかなる書込みストラテジにも適用することが出来る。
【００２５】
本発明の第2の実施例に従ったマークの記録方法が図4に例示されている。本発明の第1の実施例と比較すると，全てのパルス列の最長の書込みパルスを有するパルス列に対応したマークのみが上で説明したように変更されているばかりでなく，前記パルス列中の書込みパルスのメジアン長よりも長い書込みパルスを有する各パルス列が2個のより短い書込みパルスに置換されている。図4に例示されている具体例においては奇数長のマーク（I5，I7，I9，I11及びI13）の記録に使われているパルス列が上記に従って変更されている。例示されているように，対応するパルス列の最後の書込みパルスが，2個の書込みパルスに置換されている。
【００２６】
本発明の第2の実施例に従ってマークを記録するとき，例えばα＝2と選んだ時の具体例においては，パルス列中に在る書込みパルスの数は関数Ceiling(n/m)によって与えられ，ここにCeiling(n/m)はn/mより大きな最小の整数値を規定している。
【００２７】
図4に例示されているように，ある一つのパルス列中で，又は種々異なる長さのマークのために使われている複数のパルス列中で，個々の書込みパルスの長さ及び二つの書込みパルス間の冷却期間は任意に変えることが出来る。例えばI5マークを記録するのに用いられるパルス列の場合，当該パルス列中の最初の書込みパルスは，それに続く書込みパルス43，44よりも長いし，冷却期間も異なる。当該冷却期間は異なる長さのマーク間で違って良いし，例えばマークI5を記録するために使われるパルス列中に在る書込みパルス43と44との間の冷却期間は，マークI7を記録するための使われるパルス列中に在る書込みパルス45と46との間の冷却期間とは異なる。
【００２８】
書込みパルスのパルス列の次に消去パルスが続き，当該消去パルスのパワーは書込みパルスのパワーよりも低い。一般的に，あるパルス列内での最後の書込みパルス，例えばI3マーク用のパルス41，又はI5マーク用のパルス44は，記録されるべきマークの時間長に依存して設定される。
【００２９】
（図3又は図4には例示されていないが）少なくとも一つのパルスのパワーはマーク(n)の時間長に依存して任意に設定されることが出来る。
【００３０】
あるパルス列中での書込みパルスのメジアン長よりも単一の書込みパルスが大変大きく，好ましくは2個の書込みパルスによって置換されるかどうかを決める閾値は，好ましくは当該パルス列中に在る書込みパルスのメジアン長の5%に設定される。
【００３１】
図5は，従来のN/2書込みストラテジに従って単一の長さのマークが記録されたときの，直接重ね書き（DOW）の回数を関数とする光ディスク上に記録されたデータのジッタの測定値の依存性を例示しており，この具体例において，
−  I3マークのみが記録された場合（白抜きの四角）
−  I4マークのみが記録された場合（黒塗りの三角）
−  I8マークのみが記録された場合（白抜きの円）
−  I14マークのみが記録された場合（黒塗りの四角）
−  代表的なDVDデータが記録された場合（黒塗りの円），である。
【００３２】
ジッタはマーク長の変動に起因し，ジッタは読み出された情報に対する最も有力なノイズ源で，それ故，書かれたデータの品質の尺度となる。例えば，DVD規格はジッタの最大許容値を9%と規定している。マークI4，マークI8及びマークI14 に対する結果が比較された場合，より長いマークが記録されたときに，速い劣化を記録材料層は示し，より長いパルス中に生じるより高い平均温度の否定的な影響を示している。この傾向は，より長いマークの記録が情報層をより損壊するという予想を裏付ける。しかしながら予想に反して，最短長のマークI3の記録が最も損壊が大きく，直接重ね書き（DOW）の回数を関数としたジッタの急激な増加を示す。より長いマークを記録するのに使われる書き込みパルスのパルス列と比較して，I3マークの記録に用いられる当該パルス列は最長の単一の書込みパルスを有する。従って，斯様なI3マークの記録時に到達するピーク温度は，より長いマークの書込みプロセス中に到達する最大温度よりも高く，材料層の最も激しい劣化となる。
【００３３】
図6は，I3マークが従来のN/2ストラテジ（黒塗りの丸）に従って記録された場合か，又はI3マークが本発明に従って記録された場合（白抜きの四角）かのいずれかでの直接重ね書き（DOW）の回数を関数としたジッタの測定値の差を例示している。
【００３４】
明らかに，本発明による書込みストラテジが用いられたとき，ジッタはより安定になり，この特定の例ではI3マークの最長の単一書込みパルスを有するパルス列を一部変更するだけで到達可能な直接重ね書き（DOW）の回数は200回から600回へと3倍も改善する。上記の知見に基づき，I3マークの記録の際のピーク温度を制限するために， I3マークの記録に用いられたパルス列に在る当該書込みパルスの新しい持続時間を，他のパルス列中に在る書込みパルス（所謂マルチパルス）の持続時間と等しいか，又はより短く選択することが望ましい。当初のストラテジ中でI3マークを記録するための書込みパルスの時間長を単に減じることによって，I3マークの記録での長い書込みパルスの使用に起因する情報層の劣化を解決することは出来ない。当該時間長の減少は情報層で消費される熱エネルギ量の総量の減少となり，従ってマークはより短い長さを持つか，又はパワーが当該マークを記録するには不十分となるかの何れかとなる。
【００３５】
次に，本発明が実践されている記録装置の実施例が図7を参照して説明されよう。この記録装置70は，取り出し可能な記録媒体701を受領するための記録媒体受領手段704を有する。この記録媒体701は，DVD+RW，又はBD-REのような書換え型の光ディスクである。当該記録媒体701は回転手段704によって回転駆動される。この記録媒体の半径方向に移動可能な光ピックアップユニット706が，照射ビーム702を使って前記記録媒体上の螺旋トラック703に沿ってマークを記録するために用いられる。この目的のために前記記録媒体701は，結晶状態か又はアモルファス状態かの異なる光学的な性質を持った適切な相変化材料を有する情報層を備えている。前記照射ビーム702は記録手段707によって，記録されるべきデジタル情報信号に従って変調される。EFM又はEFM+及びCIRCエラーエンコーダのような既知の変調手段を使ったエンコード手段709にて，このデジタル信号情報は適切にエンコードされてきた。A/D変換手段及び/又は具体的なインターフェイス回路を有する入力手段711は，アナログ及び/又はデジタル情報を受領する。それに加え，アドレス検出手段713が，前記記録媒体701上に在るアドレス情報を決定するために備えられている。適切な読取り手段708によって同じ光ピックアップユニット706を介して，記録された媒体上のデジタル情報信号が読取られる。読取られた信号は，既知の方法によるデコーディング及びCIRCエラー訂正を行うためにデコーディング手段710に接続している。D/A変換手段及び/又は適切なインターフェイス回路を有する出力手段712を経由して，当該デコードされ訂正された信号，デジタル及び/又はアナログの情報信号として出力される。
【００３６】
この記録装置の全てのユニットは制御ユニット714によって制御される。本発明に従った方法を実施するために，この制御ユニット714は，メモリ手段中に搭載された具体的なプログラムに従って動作するプロセスユニットを有する。特に，記録手段707によって用いられる制御信号の生成，及び変調された照射ビーム702を生成する光ピックアップユニット702に対して，この制御ユニット714は責任を負う。
【００３７】
書換え型の光ディスクは，ユーザデータが連続した螺旋状のトラックに記録された情報ゾーンを有する。このトラックは，読取り/記録装置がクロック信号を生成するために用いるウォブルと言う名で知られる完璧な螺旋からの周期的なズレを示す。情報の幾つかは光ディスクの製造工程中に，当該光ディスク上に事前に記録することが出来る。例えば，DVD+RW光ディスクの場合は，前記情報は位相変調されたトラックのウォブル（Address-in-Pregroove - ADIP）によって格納されることが出来る。前記情報は光ディスクの記録時に用いられる，認可されている書込みストラテジ及び物理パラメータを引用している情報を有している。本発明の好ましい実施例において光ディスクは，これまで説明された本発明の方法に従って光ディスク上にマークを記録装置が記録出来るようにする，好ましくは製造中に事前記録された情報を有する。斯様な情報は以下のいずれか，及び/又は以下の組み合わせを有する；
‐例えば好ましい実施例においては関数Ceiling(n/α)で与えられるnなる長さのマークを記録するのに用いられるパルスの数。
ここで，αは２より大きな整数である。
‐所与の長さのマークを記録するのに用いられる一連のパルス中の書込みパルスの最大幅の情報。
【００３８】
上記した実施例は本発明を限定するというよりはむしろ例示しようとしていることに留意されたい。及び当業者は添付の請求項の範囲から逸脱することなく複数の代替の実施例を設計することが可能であろう。本発明は多層記録での使用に限定されないことに特に留意すべきである。前に説明したように，本発明は高速の記録システムに適用されたときでも特に有利である。
【００３９】
請求項において，いかなる参照記号も当該請求項を限定するものとして解釈されるべきではない。動詞「有する」及び「含む」及びそれらの活用変化形の使用は，請求項中で述べられている以外のステップ又は要素の存在を排除するものではない。ある要素に先行する冠詞「a」及び「an」はこれらの要素の複数の存在を排除するものではない。本発明は幾つかの独自の要素を有するハードウエア及びソフトウエアにて実行されることが出来る。複数の手段を列挙しているシステム/装置/機器の請求項において，これらの手段の幾つかは一つの，及び同じ項目のハードウエア又はソフトウエアによって具体化できる。相互に異なる従属した請求項において特定の手段が繰り返されているという単なる事実は，これらの手段の組合わせを有利に使うことが出来ぬとは示していない。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１】5T マークが記録されるべき場合のクロック信号を表す図表を示す。
【図１ａ】基準クロック信号を示す。
【図１ｂ】5T マークを示す。
【図１ｃ】マークを記録する既知の方法を示す。
【図１ｄ】本発明に従ったマークの記録方法を示す。
【図２】3T長から14T長のマークを記録するためのN/2ストラテジの名前で知られるマーク記録の従来の方法を例示する。
【図３】本発明の第1の実施例に準拠したマークを記録する方法を例示する。
【図４】本発明の第2の実施例に準拠したマークを記録する方法を例示する。
【図５】従来のN/2書込みストラテジ，又は2T書込みストラテジに従ってマークが記録されたときの直接重ね書き（DOW）の回数に対するジッタの測定値の依存性を例示しており，ここで    −  I3マークのみが記録された場合（白抜きの四角）    −  I4マークのみが記録された場合（黒塗りの三角）    −  I8マークのみが記録された場合（白抜きの円）    −  I14マークのみが記録された場合（黒塗りの四角）    −  代表的なDVDデータが記録された場合（黒塗りの円）である。
【図６】従来のN/2ストラテジ（黒塗りの円），又は本発明による書込みストラテジ（白抜きの四角）のいずれかによってI3マークが記録されたときの，直接重ね書き（DOW）の回数を関数としたジッタの測定値の差を例示する。
【図７】本発明を用いるのに適した光ディスクドライブを示す。
【図１ａ】
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【図１ｂ】
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【図１ｃ】
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【図１ｄ】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【国際調査報告】
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