(57)【要約】  調光フィルム（２２）の検査方法であって、頭上光源（２８）からの光を調光フィルムの第一の面で反射させて調光フィルム（２２）中の欠陥を検査する段階と、バックライト光源（１８）からの透過光を調光フィルム（２２）の第二の面から第一の面に導いて調光フィルム（２２）中の欠陥を検査する段階と、頭上光源（２８）からの光を調光フィルム（２２）の第二の面で反射させて調光フィルム（２２）中の欠陥を検査する段階と、バックライト光源（１８）からの透過光を調光フィルム（２２）の第一の面から第二の面に導いて調光フィルム（２２）中の欠陥を検査する段階と、調光フィルム（２２）中において検出された欠陥の各々の位置を測定する段階とを含んでなる方法。【選択図】    図１
2008514922.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
調光フィルムの検査方法であって、
頭上光源からの光を調光フィルムの第一の面で反射させて調光フィルム中の欠陥を検査する段階と、
バックライト光源からの透過光を調光フィルムの第二の面から第一の面に導いて調光フィルム中の欠陥を検査する段階と、
頭上光源からの光を調光フィルムの第二の面で反射させて調光フィルム中の欠陥を検査する段階と、
バックライト光源からの透過光を調光フィルムの第一の面から第二の面に導いて調光フィルム中の欠陥を検査する段階と、
調光フィルム中において検出された欠陥の各々の位置を測定する段階と
を含んでなる方法。
【請求項２】
調光フィルムを検査する段階が、調光フィルムの水平方向及び調光フィルムの深さ方向の各々において約０〜約９０°の視角にわたり調光フィルムを観察することを含む、請求項１記載の方法。
【請求項３】
さらに、検出された欠陥の各々を分類する段階を含む、請求項１記載の方法。
【請求項４】
さらに、分類された欠陥を所定の欠陥セットと比較して欠陥の原因を決定する段階を含む、請求項３記載の方法。
【請求項５】
調光フィルムが調光フィルムの第一の表面上に配設された光転向構造を含む、請求項１記載の方法。
【請求項６】
調光フィルムの検査システムであって、
第一のプレート表面及び第二のプレート表面を有する作業プレートと、
第二のプレート表面に近接して配設されて作業プレートと光学的に連絡しているバックライト光源であって、透過光が第二のプレート表面から第一のプレート表面にまで透過し得るような透過光源として作用し得るバックライト光源と、
第一のプレート表面に近接して配設された頭上光源であって、頭上光源及びバックライト光源は作業プレートの反対側に配設され、調光フィルムが第一のプレート表面と物理的に連絡した状態で配設された場合に反射光が調光フィルムから反射され得るような反射光源として作用し得る頭上光源と
を含んでなるシステム。
【請求項７】
作業プレートが光拡散性を有する、請求項６記載のシステム。
【請求項８】
作業プレートが目盛を含む、請求項６記載のシステム。
【請求項９】
さらに、頭上光源と光学的に連絡した状態で配設された頭上光拡散フィルムを含む、請求項６記載のシステム。
【請求項１０】
さらに、作業プレートと物理的に連絡した状態で配設された作業プレート支持体を含む、請求項６記載のシステム。
【請求項１１】
調光フィルムの製造方法であって、
調光フィルムの表面上に配設された光転向構造を含む調光フィルムを形成する段階と、
調光フィルムを検査する段階であって、
頭上光源からの光を調光フィルムの第一の面で反射させて調光フィルム中の欠陥を検査すること、
バックライト光源からの透過光を調光フィルムの第二の面から第一の面に導いて調光フィルム中の欠陥を検査すること、
頭上光源からの光を調光フィルムの第二の面で反射させて調光フィルム中の欠陥を検査すること、
バックライト光源からの透過光を調光フィルムの第一の面から第二の面に導いて調光フィルム中の欠陥を検査すること、及び
調光フィルム中において検出された欠陥の各々の位置を測定すること
を含む段階と、
検出された欠陥を分類する段階と、
分類された欠陥を所定の欠陥セットと比較して欠陥の原因を決定する段階と、
分類された欠陥を所定の欠陥セットと比較した結果に基づいて調光フィルムを形成する際の作業条件を修正する段階と
を含んでなる方法。
【請求項１２】
調光フィルムを検査する段階が、調光フィルムの水平方向及び調光フィルムの深さ方向の各々において約０〜約９０°の視角にわたり調光フィルムを観察することを含む、請求項１１記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、調光フィルムの検査システム及び検査方法並びに調光フィルムの製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
フラットパネルディスプレイ（例えば、バックライト型コンピューターディスプレイ）では、例えば光の誘導、拡散及び／又は偏光を行うために調光フィルム（シート、層、フォイルなどということもある）が常用されている。例えば、バックライト型ディスプレイでは、光転向構造を含む調光フィルム（輝度増強フィルムということもある）は光転向構造（例えば、プリズム構造）の使用で視軸（即ち、ディスプレイに対して垂直な軸線）に沿って光を導くことができる。これは、ディスプレイのユーザーが観察する光の輝度を増強すると共に、所望の軸上照明レベルを生み出すために装置が消費する電力の低減を可能にする。かかるフィルムは、投写型ディスプレイ、交通標識及び照明看板のような広範囲の他の光学的デザインでも使用できる。
【０００３】
光転向構造を含む調光フィルムの製造及び／又は取扱いに際しては、調光フィルムに様々な欠陥が付与されることがある。調光フィルムの光転向性は、調光フィルム中のこれらの欠陥の検査を困難にすることがある。例えば、調光フィルムの光転向性は焦点の合わない像（例えば、ぼけた像、ゆがんだ像など）を引き起こすことがある。人間又はカメラによる典型的な検査は、所定の調光フィルム中におけるすべての関連した欠陥を高い信頼性で捕獲し得るほど完全ではない。これは、限られた組合せの視角及び照明角の下でフィルムを検査することを含んでいる。
【特許文献１】米国特許第５１７５０３０号明細書
【特許文献２】米国特許第５１８３５９７号明細書
【特許文献３】米国特許第５２７１９６８号明細書
【特許文献４】米国特許第５４６８５４２号明細書
【特許文献５】米国特許第５６２６８００号明細書
【特許文献６】米国特許第６２８００６３号明細書
【特許文献７】米国特許出願公開第２００３／０１０８７１０号明細書
【特許文献８】特開２００２−１４８１４２号公報
【特許文献９】特開２００２−３６５２２１号公報
【非特許文献１】ＡＳＴＭ  Ｄ  １００３−００  ｐａｇｅｓ  １−６
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
当技術分野で要望されているのは、調光フィルムを検査するための改良されたシステム及び方法である。さらに詳しくは、当技術分野で要望されているのは、光転向構造を含む調光フィルムを検査するための改良されたシステム及び方法である。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本明細書中には、調光フィルムの検査システム及び検査方法並びに調光フィルムの製造方法が開示される。
【０００６】
調光フィルムの検査方法の一実施形態は、頭上光源からの光を調光フィルムの第一の面で反射させて調光フィルム中の欠陥を検査する段階と、バックライト光源からの透過光を調光フィルムの第二の面から第一の面に導いて調光フィルム中の欠陥を検査する段階と、頭上光源からの光を調光フィルムの第二の面で反射させて調光フィルム中の欠陥を検査する段階と、バックライト光源からの透過光を調光フィルムの第一の面から第二の面に導いて調光フィルム中の欠陥を検査する段階と、調光フィルム中において検出された欠陥の各々の位置を測定する段階とを含んでなる。
【０００７】
調光フィルムの検査システムの一実施形態は、第一のプレート表面及び第二のプレート表面を有する作業プレートと、第二のプレート表面に近接して配設されて作業プレートと光学的に連絡しているバックライト光源であって、透過光が第二のプレート表面から第一のプレート表面にまで透過し得るような透過光源として作用し得るバックライト光源と、第一のプレート表面に近接して配設された頭上光源であって、頭上光源及びバックライト光源は作業プレートの反対側に配設され、調光フィルムが第一のプレート表面と物理的に連絡した状態で配設された場合に反射光が調光フィルムから反射され得るような反射光源として作用し得る頭上光源とを含んでなる。
【０００８】
調光フィルムの製造方法の一実施形態は、調光フィルムの表面上に配設された光転向構造を含む調光フィルムを形成する段階と、調光フィルムを検査する段階であって、頭上光源からの光を調光フィルムの第一の面で反射させて調光フィルム中の欠陥を検査すること、バックライト光源からの透過光を調光フィルムの第二の面から第一の面に導いて調光フィルム中の欠陥を検査すること、頭上光源からの光を調光フィルムの第二の面で反射させて調光フィルム中の欠陥を検査すること、バックライト光源からの透過光を調光フィルムの第一の面から第二の面に導いて調光フィルム中の欠陥を検査すること、及び調光フィルム中において検出された欠陥の各々の位置を測定することを含む段階と、検出された欠陥を分類する段階と、分類された欠陥を所定の欠陥セットと比較して欠陥の原因を決定する段階と、分類された欠陥を所定の欠陥セットと比較した結果に基づいて調光フィルムを形成する際の作業条件を修正する段階とを含んでなる。
【０００９】
上記その他の特徴は、当業者には、以下の詳しい説明、添付の図面及び特許請求の範囲から容易に理解されよう。
【００１０】
図面の簡単な説明
次に、例示的な実施形態を示す図面について説明する。図面中では、類似の構成要素には同じ番号がつけられている。
【００１１】
図１は、調光フィルムの検査システムの一実施形態を示す略図である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
最初に、本明細書における「第一」、「第二」などの用語はいかなる順序、数量又は重要度も意味せず、むしろある構成要素を別のものから区別するために使用されることに注意すべきである。また、本明細書中に単数形で記載したものは、数量の制限を意味するわけではなく、むしろ記載されたものの１以上が存在することを意味する。さらに、本明細書中に開示されるすべての範囲は、両端を含むと共に結合可能である（例えば、「約２５重量％（ｗｔ％）まで、望ましくは約５〜約２０ｗｔ％、さらに望ましくは約１０〜約１５ｗｔ％」という範囲は、端点を含むと共に、範囲内のすべての中間値（例えば、「約５〜約２５ｗｔ％」、「約５〜約１５ｗｔ％」など）を含む）。
【００１３】
本明細書中には、調光フィルムの検査システム及び検査方法並びに調光フィルムの製造方法が開示される。調光フィルムは単に説明の便宜上からバックライト型ディスプレイに関連して記載されるが、他の用途も本発明の技術的範囲内に含まれると想定されていることを理解すべきである。その上、調光フィルムは光転向構造を含む調光フィルムに関して説明されるが、本システム及び本方法は他の調光フィルム（例えば、プリズム状の第一の表面及びテクスチャー化された第二の表面を有する多機能性輝度増強フィルムなど）に対する使用にも適応し得ることを理解すべきである。
【００１４】
一実施形態では、調光フィルムは、視軸（即ち、ディスプレイに対して垂直な軸線）に沿って光を導くための光転向構造（例えば、プリズム構造（角錐状構造）、キューブコーナー、球体、エッジなど）を含み得る。一般に、調光フィルムは基礎フィルムを含み、その上に任意の硬化性コーティングを配設することができる。光転向構造は、例えば、基礎フィルムに硬化性コーティングを塗布して硬化性コーティング中に所望の光転向構造のキャスティングを行うこと、基礎フィルム上に該構造を直接に熱間エンボス加工すること、などで形成できる。基礎フィルム材料は用途に応じて変化し得るが、好適な材料には、米国特許出願公開第２００３／０１０８７１０号（Ｃｏｙｌｅら）に記載された透明基礎フィルム材料がある。さらに詳しくは、調光フィルムの基礎フィルム材料には、アクリル樹脂、ポリカーボネート、フェノール樹脂、酢酸酪酸セルロース、酢酸プロピオン酸セルロース、ポリ（エーテルスルホン）、ポリ（メチルメタクリレート）、ポリウレタン、ポリエステル、ポリ（塩化ビニル）、ポリエチレンテレフタレートなど、並びに上述のものの１種以上を含むブレンド、コポリマー、反応生成物及び組合せがある。
【００１５】
任意の硬化性コーティングは、一般に重合性化合物を含む硬化性組成物からなり得る。本明細書中で使用する重合性化合物は、ラジカル重合、カチオン重合、アニオン重合、熱重合及び／又は光化学重合を受けることができる１以上の官能基を含むモノマー又はオリゴマーを包含する。好適な官能基には、例えば、アクリレート、メタクリレート、ビニル、エポキシドなどがある。
【００１６】
例えば、硬化性組成物は単量体及び二量体のアクリル酸エステルを含み得る。かかるアクリル酸エステルには、例えば、シクロペンチルメタクリレート、シクロヘキシルメタクリレート、メチルシクロヘキシルメタクリレート、トリメチルシクロヘキシルメタクリレート、ノルボルニルメタクリレート、ノルボルニルメチルメタクリレート、イソボルニルメタクリレート、ラウリルメタクリレート、２−エチルヘキシルメタクリレート、２−ヒドロキシエチルメタクリレート、ヒドロキシプロピルアクリレート、ヘキサンジオールアクリレート、２−フェノキシエチルアクリレート、２−ヒドロキシエチルアクリレート、２−ヒドロキシプロピルアクリレート、ジエチレングリコールアクリレート、ヘキサンジオールメタクリレート、２−フェノキシエチルメタクリレート、２−ヒドロキシエチルメタクリレート、２−ヒドロキシプロピルメタクリレート、ジエチレングリコールメタクリレート、エチレングリコールジメタクリレート、エチレングリコールジアクリレート、プロピレングリコールジメタクリレート、プロピレングリコールジアクリレート、アリルメタクリレート、アリルアクリレート、ブタンジオールジアクリレート、ブタンジオールジメタクリレート、１，６−ヘキサンジオールジアクリレート、１，６−ヘキサンジオールジメタクリレート、ジエチレングリコールジアクリレート、トリメチルプロパントリアクリレート、ペンタエリトリトールテトラアクリレート、ヘキサンジオールジメタクリレート、ジエチレングリコールジメタクリレート、トリメチロールプロパントリアクリレート、トリメチルプロパントリメタクリレート、ペンタエリトリトールテトラメタクリレート、及び上述のアクリル酸エステルの１種以上を含む組合せがある。
【００１７】
基礎フィルム（基材）の表面を硬化性組成物で被覆する方法は、例えば、米国特許第５１７５０３０号（Ｌｕら）、同第５１８３５９７号（Ｌｕ）、同第５２７１９６８号（Ｃｏｙｌｅら）、同第５４６８５４２号（Ｃｒｏｕｃｈ）、同第５６２６８００号（Ｗｉｌｌｉａｍｓら）及び同第６２８００６３号（Ｆｏｎｇら）、並びに米国特許出願公開第２００３／０１０８７１０号（Ｃｏｙｌｅら）に記載されている。例えば、基礎フィルム上にコーティングを配設するための好適な方法には、特に限定されないが、吹付け、はけ塗り、電着、浸し塗り、流し塗り、ロール塗り、グラビア印刷及びスクリーン印刷がある。
【００１８】
他の実施形態では、光転向構造は基礎フィルムの熱間エンボス加工で形成できる。例えば、この方法は、基礎フィルムを軟化させるのに十分な温度に基礎フィルムを加熱し、所望の構造を基礎フィルム中にエンボス加工することからなり得る。所望の光転向構造（たと、プリズム）を基礎フィルム中にエンボス加工するためには、ロールエンボシング、スタンピングなどを使用し得ることに注意されたい。さらに詳しくは、エンボシングツールは所望表面の陰型を含んでいる。
【００１９】
調光フィルムの製造方法にかかわらず、製造プロセス及び／又は取扱いプロセスの一部として各種の欠陥が調光フィルムに付与されることがある。下記に一層詳しく記載される通り、広範囲の視角にわたり透過光及び反射光を用いて調光フィルムの欠陥を検出できる調光フィルムの検査システム及び検査方法を発見した。
【００２０】
次に図１を参照すれば、調光フィルムを検査するための例示的なシステム１００が示されている。システム１００は、第一のプレート表面１４及び第二のプレート表面１６を有すると共に、バックライト光源１８と光学的及び／又は物理的に連絡している作業プレート（フィルム）１２を含んでいる。例えば、バックライト光源１８は、作業プレート１２の第二のプレート表面１６から、光が第二のプレート表面１６及び第一のプレート表面１４を透過し得るのに十分な距離「ｄ」に配設できる。任意には、第二のプレート表面１６とバックライト光源１８との間に距離「ｄ」を生み出すため、作業プレート１２は支持体２０（例えば、ラックなど）と物理的に連絡した状態で配設できる。さらに別の実施形態では、バックライト光源は、コンピューターディスプレイで使用されるもののような液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）バックライトアセンブリであり得る。この場合には、調光フィルムが取り除かれ、加工物（例えば、調光フィルム２２）で置き換えられる。
【００２１】
検査に際しては、加工物（例えば、第一の調光フィルム表面２４及び光転向構造を含む第二の調光フィルム表面２６（以後は光転向表面２６という）を有する調光フィルム２２）は、作業プレート１２の第一のプレート表面１４と光学的及び／又は物理的に連絡した状態で配設できる。一般に、作業プレート１２は、調光フィルム２２の総合サイズ及び形状以上のサイズ及び形状を有している。例えば、作業プレート１２は長方形などの形状を有し得る。
【００２２】
さらに、調光フィルム２２と光学的に連絡した状態で頭上光源２８が配設されている。任意には、頭上光源２８からの光を調光フィルム２２に分配するのを助けるため、光源２８と物理的及び／又は光学的に連絡した状態で光拡散フィルム３０を配設できる。頭上光源２８は、調光フィルム２２及び作業プレート１２に対し、調光フィルム２２の検査のための反射光源を提供し得るように配置できる。さらに詳しくは、頭上光源２８は、バックライト光源１８に近接した作業プレート１２の面（例えば、第二のプレート表面１４）と反対側の作業プレート１２の面（例えば、第一のプレート表面１４）に近接して配設できる。
【００２３】
さらに頭上光源２８は、それが反射光源として作用し得るようにするため、作業プレート１２及び調光フィルム２２から角度方向に片寄った位置に配置できる。換言すれば、頭上光源２８は、水平方向（「ｘ」方向）において調光フィルム２２の縁端及び／又は作業プレート１２の縁端からの距離「ｄ２」に配設できると共に、鉛直方向において調光フィルム２２の縁端及び／又は作業プレート１２の縁端からの距離「ｄ３」に配設できる。距離「ｄ２」及び「ｄ３」は、単に説明を容易にするため図１中に示されていることに注意されたい。光源２８が反射光源として作用し得るように光源２８を配置するためには、光源２８及び調光フィルムに対して任意の基準点を使用できることを理解すべきである。
【００２４】
例えば、一実施形態では、頭上光源２８は調光フィルム２２に対し、水平方向（例えば、「ｘ」方向）において調光フィルム２２の縁端から約２．０フィート（ｆｔ）（約０．６１メートル（ｍ））以下の距離「ｄ２」及び鉛直方向（例えば、「ｙ」方向）において調光フィルム２２の縁端から約２．０ｆｔ（約０．６１ｍ）以下の距離「ｄ３」に配設される。さらに詳しくは、頭上光源２８は、水平方向において調光フィルム２２の縁端から約１．５〜約２．０ｆｔ（約０．４６〜約０．６１ｍ）の距離及び鉛直方向において調光フィルム２２の縁端から約１．５〜約２．０ｆｔ（約０．４６〜約０．６１ｍ）の距離に配設される。
【００２５】
ビューア３２は、調光フィルム２２に対し、調光フィルム２２中の欠陥を水平方向（「ｘ」方向）及び深さ方向（例えば、「ｚ」方向）の両方において約０〜約９０°の視角で検出（観察）できるように配置されている。ビューア３２は若干の実施形態では装置（例えば、光学カメラなど）であり得るが、ビューア３２は望ましくは人間である。人間は（例えば）光学カメラより迅速に欠陥を観察できるので有利であることに注意されたい。さらに詳しくは、ある種の欠陥は特定の視角でしか検出（観察）できない。人間はカメラ系よりも視角を変化させるのが容易である。
【００２６】
様々な実施形態では、作業プレート１２は、望ましくは調光フィルム２２に光を分配するのを助けるために光拡散性を有し得る。換言すれば、作業プレート１２は光拡散フィルムとして作用し得る。光拡散性をもったフィルムを得るためには各種の技術が使用できることを簡単に述べておく。例えば、フィルムの物理的改変により、光を拡散させるためのテクスチャーをフィルムの表面に刻印することができる（例えば、テクスチャード光拡散フィルム）。他の実施形態では、光拡散粒子をフィルム中に埋め込んでフィルムに光拡散性を付与することができる（例えば、バルク光拡散フィルム）。さらに別の実施形態では、両方法の組合せ（即ち、フィルムの表面へのテクスチャーの刻印及びフィルム中への光拡散粒子の埋込みの両方）を使用することができる。
【００２７】
例示的な実施形態では、作業プレート１２はバックライト型ディスプレイデバイスで使用される「下部」光拡散フィルムの光拡散性をモデル化するように選択できる。さらに詳しくは、作業プレート１２は９０％以上、さらに詳しくは９５％以上のヘイズを有し得る。
【００２８】
％ヘイズは、下記の式から予測し算出できることに注意されたい。
【００２９】
【数１】
2008514922.tif 000003
式中、全光線透過率は積分した透過率であり、全散乱光線透過率はＡＳＴＭ  Ｄ１００３で定義されるようにフィルムで散乱された光透過率である。
【００３０】
さらに、作業プレート１２は望ましくは目盛付き作業プレートであり得る。さらに詳しくは、作業プレート１２は例えば作業プレート１２の周囲に配置された目盛を含み得る。目盛は、調光フィルム２２中の欠陥の位置を測定するために使用できる。加えて、及び／又は代わりに、目盛は作業プレート１２から独立していてもよい。例えば、目盛は透明な定規などであり得る。様々な実施形態では、定規を調光フィルム２２よりも高くして調光フィルム２２の引っかきを防止するため、定規の両端に支持パッドを配設することができる。下記に一層詳しく記載される通り、調光フィルム中の欠陥の位置を正確に測定することで、複数のフィルム中に繰り返して現れる欠陥を確認することができる。
【００３１】
バックライト光源１８及び頭上光源２８は、高輝度光源及び低輝度光源のいずれであってもよい。高輝度光源には、特に限定されないが、冷陰極蛍光灯、蛍光灯などがある。低輝度光源には、特に限定されないが、発光ダイオードがある。バックライト光源１８は透過光（例えば、調光フィルムを通過する光）の光源であり得るのに対し、頭上光源２８は反射光（例えば、調光フィルムの表面から反射される光）の光源であり得ることに注意されたい。
【００３２】
光転向構造を含む調光フィルムの検査方法の一実施形態では、かかる方法は、１）光転向構造が上方を向いている場合（即ち、ビューアと反対の方向を向いている場合）、反射光を用いながら「ｘ」方向及び／又は「ｚ」方向において約０〜約９０°の視角で調光フィルムを検査する段階、２）光転向構造が上方を向いている場合、透過光を用いながら「ｘ」方向及び／又は「ｚ」方向において約０〜約９０°の視角で調光フィルムを検査する段階、３）光転向構造が下方を向いている場合（即ち、ビューアの方向を向いている場合）、反射光を用いながら「ｘ」方向及び／又は「ｚ」方向において約０〜約９０°の視角で調光フィルムを検査する段階、並びに４）光転向構造が下方を向いている場合、透過光を用いながら「ｘ」方向及び／又は「ｚ」方向において約０〜約９０°の視角で調光フィルムを検査する段階を含んでいる。
【００３３】
本方法の例示的な実施形態を以下に記載するに当たっては、単に説明の便宜上から上述の段階について言及が行われる。しかし、これらの段階の順序は、例えば調光フィルムを検査する所定の検査員などに応じて変化し得ることに注意されたい。さらに、調光フィルムを「ｘ」方向又は「ｚ」方向において観察する実施形態が想定されているが、当業者であれば、「ｘ」方向及び「ｚ」方向の両方において調光フィルムを観察することで、ただ１つの方向のみにおいて調光フィルムを観察する場合に比べて多くの欠陥を確認し得ることが理解されるはずである。
【００３４】
一実施形態では、検査方法の段階１〜２に際しては、第一の調光フィルム表面２４はそれがビューア３２と反対の方向を向くように置かれる。さらに詳しくは、第一の調光フィルム表面２４は第一のプレート表面１４と物理的に連絡した状態で配置できる。段階３〜４では、第一の調光フィルム表面２４はそれがビューア３２の方向を向くように置かれる。換言すれば、光転向表面２６はビューア３２と反対の方向を向く。さらに詳しくは、光転向表面２６は第一のプレート表面１４と物理的に連絡した状態で配置できる。段階１及び段階３では、バックライト光源１８は「オフ」であり（即ち、バックライト光源１８は光を放射せず）、頭上光源２８は「オン」である（即ち、頭上光源２８は光を放射する）。逆に、段階２及び段階４では、バックライト光源は「オン」であり、頭上光源は「オフ」である。
【００３５】
理論に縛られることはないが、バックライト光源１８が「オフ」であり、頭上光源２８が「オン」である場合、調光フィルム２２に対する頭上光源２８の位置は、頭上光源２８が反射光源として作用することを可能にする。さらに、バックライト光源１８が「オン」であり、頭上光源２８が「オフ」である場合、バックライト光源１８は透過光源として作用し得る。したがって、この方法によれば、ビューア３２は反射光で観察可能な欠陥及び透過光で観察可能な欠陥の両方を検出することができる。ある種の欠陥は一方の光源を用いて観察できるが、他方の光源を用いては観察できないことがあるので、一方の光源のみ（例えば、バックライト光源のみ）を用いるシステム及び方法に比べて追加の欠陥を検出できる。
【００３６】
さらに、上記に略述したようにこのシステム及び方法は、ビューア３２が「ｘ」方向及び「ｚ」方向の両方において、しかもそれぞれの方向において約０〜約９０°の視角にわたり調光フィルム２２中の欠陥を検出することを可能にする。加えて、ある種の欠陥は特定の視角でしか検出（観察）できないことがある。このシステム及び方法は、ビューア３２が「ｘ」方向及び「ｚ」方向の両方において広範囲の視角にわたり欠陥を検出することを可能にする。したがって、ビューア３２が特定の視角（例えば、調光フィルムに対して垂直な視角）でしか欠陥を検出できないシステム及び方法に比べて多くの欠陥を検出できる。
【００３７】
段階１〜４では、上述のように目盛及び／又は定規を使用することで、調光フィルム中の欠陥の位置を容易に決定できる。調光フィルム中の欠陥の位置が決定されれば、調光フィルムの検査方法はさらに、欠陥をタイプ及び程度に従って分類する段階を含み得る。さらに詳しくは、欠陥タイプに関しては、欠陥を取扱い欠陥、加工欠陥などとして特徴づけることができる。その上、加工欠陥はさらに反復欠陥及び非反復欠陥として特徴づけ得ることに注意されたい。
【００３８】
理論に縛られることはないが、調光フィルムの製造に際して使用される回転加工ロールがその上に夾雑物（例えば、異物片など）を有し、その夾雑物が調光フィルムの表面に接触する場合に反復欠陥が生じ得る。さらに、反復欠陥はハードウェアの欠陥（例えば、摩滅したロールなど）の結果としても生じ得る。反復欠陥は調光フィルム上に所定の間隔で再現され得ることに注意されたい。例えば、反復欠陥には、スクラッチ、ディンプル、インプリント、直線、白斑点、しみなどがある。
【００３９】
反復欠陥とは対照的に、非反復欠陥は、加工ロールでは引き起こされない調光フィルム上の何らかの点欠陥である。非反復欠陥は、一般に調光フィルム中又は調光フィルム上の粒子汚染で引き起こされ、調光フィルム上に所定の間隔で再現されない。例えば、非反復欠陥には、黒スポット、白スポット、スクラッチ、オレンジピール、気泡、フレーク、フィルム表面上又はフィルム中の黒色／褐色領域、などがある。
【００４０】
調光フィルム中の欠陥の位置が決定されれば、本検査方法はさらに、第一のフィルム中の欠陥の位置を少なくとも第二のフィルム中の欠陥の位置と比較する段階を含み得る。複数のフィルム中の欠陥の位置を比較することで、反復欠陥を確認できる。さらに詳しくは、数理分析（例えば、統計的分析）を使用することで、例えば、複数のフィルムにわたる所定欠陥の出現頻度、特定の欠陥を有するフィルムの出現確率、などを求めることができる。さらに、調光フィルム中の欠陥の位置の分析を使用すれば、調光フィルム中の欠陥の根本原因を確認できることも見出された。さらに詳しくは、調光フィルム中の欠陥位置は上述のような様々な加工条件と関係づけることができる（例えば、反復欠陥は加工ロール上の夾雑物によって引き起こされる）。これらの欠陥は欠陥のタイプ及び程度に従ってグループ分けできると共に、数理分析を用いて所定タイプ及び程度の欠陥を所定の加工条件と関係づけることができる。所定グループの欠陥の根本原因が確認されたならば、所定グループの欠陥を軽減／排除するように加工条件を修正できる。したがって、加工条件を修正するために検査方法を使用しない従来のシステムに比べて調光フィルムの歩留りを高くすることができる。
【００４１】
一実施形態では、意図的に計画した実験を行うことで所定タイプ及び程度の欠陥の根本原因が決定される。これらの実験で所定タイプ及び程度の欠陥が加工条件と関係づけられれば（即ち、かかる決定グループの根本原因が決定されれば）、調光フィルムの製造で使用する加工条件を修正できる。さらに詳しくは、各グループの欠陥を所定の加工条件及び／又は加工条件セットと関連させる欠陥の分類方式が確立される。したがって、調光フィルムの製造方法は、上述のシステム及び／又は方法を用いて調光フィルムを検査する段階と、欠陥を加工条件に関連した所定タイプ及び程度の欠陥と比較する段階と、加工条件を修正する段階とを含み得る。
【実施例】
【００４２】
この実施例では、１３の異なるタイプの欠陥を確認した。表１には、これらの欠陥の定義を示す。
【００４３】
【表１】
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本明細書中に開示された検査方法とは対照的に、従来の検査方法は一般に上記に識別された欠陥の４種のみ（点欠陥、曲がり、スクラッチ及びしみ／傷／汚れ）しか検出しなかった。例えば、調光フィルムの従来の検査方法は、ＬＣＤバックライト型ディスプレイ内に調光フィルムを取り付け、透過光のみを用いてフィルムを検査することからなっていた。
【００４４】
有利なことには、本明細書中に開示された調光フィルムの検査システム及び検査方法は、ビューア（例えば、検査員）が反射光及び透過光の両方を用いて調光フィルム中の欠陥を検出することを可能にする。ある種の欠陥は一方の光源を用いて観察できるが、他方の光源を用いては観察できないことがあるので、一方の光源のみ（例えば、バックライト光源のみ）を用いるシステム及び方法に比べて追加の欠陥を検出できる。さらに、このシステム及び方法は、ビューアが「ｘ」方向及び「ｚ」方向の両方において広範囲の視角にわたり欠陥を検出することを可能にする。したがって、ビューアが特定の視角（例えば、調光フィルムに対して垂直な視角）でしか欠陥を検出できないシステム及び方法に比べて多くの欠陥を検出できる。その上、本検査方法はを使用すれば、欠陥の根本原因を突き止め、それにより加工条件を修正してそれ以上の欠陥を回避できる。
【００４５】
以上、若干の実施形態に関して本発明を説明してきたが、当業者であれば、本発明の技術的範囲から逸脱せずに様々な変更及び同等物による構成要素の置換を行い得ることが理解されよう。加えて、特定の状況又は材料を本発明の教示に適合させるため、本発明の本質的な範囲から逸脱せずに多くの修正を施すことができる。したがって、本発明はこの発明を実施するために想定される最良の形態として開示された特定の実施形態に限定されず、特許請求の範囲に含まれるすべての実施形態を包含するものである。
【図面の簡単な説明】
【００４６】
【図１】調光フィルムの検査システムの一実施形態を示す略図である。
【符号の説明】
【００４７】
１２  作業プレート
１４  第一のプレート表面
１６  第二のプレート表面
１８  バックライト光源
２０  支持体
２２  調光フィルム
２４  第一の調光フィルム表面
２６  第二の調光フィルム表面
２８  頭上光源
３０  光拡散フィルム
３２  ビューア
１００  システム
【図１】
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【国際調査報告】
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