(57)【要約】  本発明は、対象物(4)を画像化する画像化システムに関する。その画像化システムは、対象物(4)の投影データセット(Pi)を連続的に取得する検出ユニット(3)であって、少なくとも時間定数(τ)により特徴付けられる時間応答関数を持つ検出ユニット(3)と、投影データセット(Pi)が取得される間、原則的に一定の角速度(ω)で対象物(4)の周囲で検出ユニット(3)を動かす回転ユニットと、投影データセット(Pi)から対象物(4)の画像データセット(13)を計算する再構築ユニット(9)と、動作状態において、訂正を計算するため画像データセット(13)にフィルタ(f)を適用するフィルタユニット(10)とを有し、そのフィルタは、原則的に角速度の方向に対応する方向において、摂動画像に関する微分として機能し、原則的に時間定数(τ)に比例し、原則的に角速度(ω)に比例する。そのフィルタユニット(10)は、画像データセット(13)から訂正を引くよう配置される。
2008505678.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
対象物を画像化する画像化システムであって、
前記対象物の投影データセットを連続的に取得する検出ユニットであって、少なくとも１つの時間定数により特徴づけられる時間応答関数を持つ検出ユニットと、
前記投影データセットが取得される間、前記対象物の周りで前記検出ユニットを原則的に一定の角速度で動かす回転ユニットと、
前記投影データセットから前記対象物の画像データセットを計算する再構築ユニットと、
活動状態において、訂正を計算するため前記画像データセットにフィルタを適用するフィルタユニットとを有し、
前記フィルタが、
前記角速度の方向に対応する方向において、摂動画像への微分として原則的に機能し、
前記時間定数に原則的に比例し、
前記角速度に原則的に比例するものであり、
前記フィルタユニットは、前記画像データセットから前記訂正を引く、画像化システム。
【請求項２】
前記検出ユニットが、前記時間応答関数をもたらす少なくとも１つの変換層を持つX線検出器であることを特徴とする請求項１に記載の画像化システム。
【請求項３】
前記時間応答関数が、２つ又は複数の時間定数により特徴付けられ、前記フィルタは、それぞれが個別の時間定数に対する前記フィルタを表すフィルタ項に対する重み付き和であることを特徴とする請求項１又は２に記載の画像化システム。
【請求項４】
前記フィルタユニットが、前記画像化デバイスの他の要素から離れており、無線通信により前記画像データセットを受信することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一項に記載の画像化システム。
【請求項５】
対象物の画像データセットにおける時間的アーチファクトを訂正する方法において、
前記対象物の周りで異なる角度位置での投影データセットを連続的に取得するステップであって、前記角度位置における変化が、原則的に一定の角速度で発生し、前記投影データセットは、少なくとも１つの時間定数により特徴付けられる時間応答関数により劣化される、ステップと、
再構築処理を用いて、前記投影データセットから前記画像データセットを決定するステップと、
訂正を計算するため前記画像データセットにフィルタを適用するステップであって、前記フィルタが、
前記角速度の方向に対応する方向において、摂動画像への微分として原則的に機能し、
前記時間定数に原則的に比例し、
前記角速度に原則的に比例するものである、ステップと、
前記画像データセットから前記訂正を引くステップとを有する、方法。
【請求項６】
画像データセットにおける時間的アーチファクトを訂正するソフトウェアプログラムを有するコンピュータプログラムであって、処理デバイスにロードされるとき、画像データセットに対して、請求項５に記載の方法を実行する、プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、コンピュータ断層撮影(CT)又は同様の画像化技術において生じる時間的アーチファクト(temporal artifact)を訂正するシステム及び方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
対象物の医療X線検査において、X線源は、コリメーションユニットにより平行化(collimated)されるX線放射線を放出する。X線放射線は、検査される対象物を横切り、送信されたX線放射線は、X線感知検出器で検出される。X線感知検出器を用いる送信データの取得は、結果として、X線投影画像を生じさせる。斯かる医療X線検査が、系列状の連続取得を含む場合、後に取得されたX線画像は、X線検出器の時間的な動作により劣化される場合がある。そこでは、時間的な動作は、受信X線信号の電荷への変換(のマルチステップ処理)が即座には起こらず、以下に述べられるように時間にわたり広がっていることを意味する。
【０００３】
典型的なX線検出器要素は、X線量子を光学的な光子に変換する変換層(シンチレータとも言う)と、光学的な光子を電荷に変換するフォトダイオードとを有する。短X線パルスにより照射されると、斯かる検出器要素は、それぞれが崩壊時間定数により特徴付けられる１つ又は複数(a sum of)の指数的な崩壊曲線によりモデル化されることができる信号応答を示す。例えば、もし、連続取得において、検査される対象物の投影が以前の取得より大きい場合、以前に完全照射された領域は、その対象物による減衰が原因で、減じられたX線強度に対してのみさらされる(exposed)。以前には隠されていなかった検出器領域において、この領域における検出器要素の遅延時間応答に端を発する残余信号が検出される。この残余信号は、コントラスト解像度を劣化させ、劣化がないとしたら実際になるであろうより高い値へと平均信号レベルをシフトする。同様に、すべての信号に対して、例えば信号ぼやけ(signal blur)のような以前の取得と連続取得との間での強度変化が起こるが、その差が大きくなればなるほど、その影響が大きくなる。検査される対象物の断面画像の断層撮影再構築に連続取得が使用されると、検出器の時間応答が、再構築画像における時間的なアーチファクトをもたらす。断層撮影画像は、コンピュータ断層撮影(CT)スキャナ、又は他のデバイスにおいて生成され、そこでは、異なる方向からの投影画像を取得するようX線源及び／又は検出器がその対象物の周りを回転するよう配置され、その結果対象物の断面画像又はボリューム画像が再構築されることができる。
【０００４】
米国特許第5,249,129号から、投影画像に再帰フィルタを適用することによりCT検出器の時間応答を訂正し、対象物の断面画像を再構築するのにそのフィルタ後の投影画像を使用することが知られる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明の目的は、時間的アーチファクト訂正に対する代替的な概念のためのシステム及び方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は、対象物を画像化する画像化システムにより達成され、その画像化システムは、対象物の投影データセットを連続的に取得する検出ユニットであって、少なくとも時間定数により特徴付けられる時間応答関数を持つ検出ユニットと、投影データセットが取得される間、対象物の周囲で検出ユニットを原則的に一定の角速度で動かす回転ユニットと、投影データセットから対象物の画像データセットを計算する再構築ユニットと、活動状態において訂正を計算するため画像データセットにフィルタを適用するフィルタユニットとを有し、そこでは、フィルタが、角速度の方向に対応する方向において、摂動(perturbed)画像の微分として原則的に機能し、時間定数に原則的に比例するものであり、及び角速度に原則的に比例するものである。そのフィルタユニットは、画像データセットから訂正を引くよう配置される。
【０００７】
上述されたシステムは、再構築された画像にフィルタを適用する。これは、フィルタユニットが検出ユニット自身からは離れた位置にあることを可能にする。新しい画像がすでに検出ユニットにより取得されている間、画像が訂正されることができる。再構築画像に訂正を適用することにより、訂正処理の回数も削減される。訂正自身も、サイノグラムデータ(投影画像)とは独立したものとなる。更に、フィルタパラメタを把握することなく訂正を適用することも可能である。訂正された画像が最良の視覚結果を与えると人間により判断されるまで又は所与のシャープネスが達成されるまで、訂正は繰り返されることができる。
【０００８】
その目的は、対象物の画像データセットにおいて時間的なアートファクトを訂正する方法によっても達成され、その方法は、対象物の周囲の異なる角度位置で投影データセット(Pi)を連続的に取得するステップであって、そこでは、角度位置における変化が原則的に一定の角速度で起こり、その投影データセットは、少なくとも１つの時間定数により特徴付けられる時間応答関数により劣化される、ステップと、再構築処理を用いて投影データセットから画像データセットを決定するステップと、訂正を計算するため画像データセットにフィルタを適用するステップとを有する。そこでは、フィルタが、角速度の方向に対応する方向において、摂動画像の微分として原則的に機能し、時間定数に原則的に比例するものであり、及び角速度に原則的に比例するものである。そのフィルタユニットは、画像データセットから訂正を引くよう配置される。
【０００９】
本発明は更に、コンピュータプログラムにも関する。そのコンピュータプログラムは、本発明の画像化システムの一部である処理デバイスへダウンロードされることができるソフトウェアを含み、上述された方法によるステップを実行する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
本発明のこれら及び他の側面は、本書に述べられる実施形態及び図面から明らかとなり及びそれらを参照して説明されることとなる。
【００１１】
図１は、時間定数τにより特徴付けられる例示的な時間応答関数R(t)=αexp(-t/τ)を示す。斯かる時間応答関数は、インパルス関数(ディラックデルタ関数)による励起(excitation)後のシステムの動作を表す。そのシステムが、放射線を検出し、かつ放射線の強度を示す電気信号を生成する検出ユニットである場合、時間応答関数は、時間的に劣化する電気信号をもたらす。放射線から電気信号への変換は遅延される。uが位置パラメタであり、tが時間であるとき放射線信号s(u,t)と表すと、検出ユニットにより生成される電気信号
2008505678.tif 000003
は、
2008505678.tif 000004
により与えられる。ここで、χは、比例定数である。検出ユニットが、まずシンチレータ層においてX線を光学量子へ変換し、次にフォトダイオードにより光学量子を電気信号へ変換することにより、衝突するX線をX線の強度を示す電気信号へ変換するX線検出器である場合、従来技術において知られるように、時間応答関数は、シンチレータ層及び／又はフォトダイオードによりもたらされることができる。シンチレータ層の時間応答関数は、通常シンチレータ余韻(scintillator afterglow)と呼ばれ、フォトダイオードの時間応答関数は、通常フォトダイオード遅延(photodiode lag)と呼ばれる。これらの影響は、例えば、J.H.Siewersen及びD.A.Jaffrayによる「A ghost story: Spatio temporal response characteristics of an indirect-detection flat-panel imager」、Med.Phys 26 (1999) 1624-1641に記載される。
【００１２】
図２は、例えばX線強度を表す入力信号s(u=u0,t)(完全な線)に関する時間応答関数の影響を表す。例えば検出ユニットにより生成される電気信号を表す、結果として生じる時間的に劣化する出力信号
2008505678.tif 000005
(点線)は、明確化のため入力信号に対して正規化される(χ = 1)。図２において、Iは、任意のユニットにおける強度を示す。入力信号s(u,t)は、t = t1でより高い強度値へと急激に増加し、t = t2で低い強度へ再度急激に減少し、及びt = t3で開始強度へ再度急激に増加する特定の開始強度レベルを持つことが想定される。t1に先立ち、時間応答は、平衡状態にあるよう想定される。なぜなら、信号強度は、時間期間ΔT長の間、特徴を左右する(characterizing)時間定数τに関して不変であることが想定されるからである(例えば、ΔT = 100 ms >> τ = 1 ms)。結果として、現在の入力強度に対する応答の遅延が、初期の入力信号からの残余信号により平衡化される。それは、図２から分かるように、出力信号が入力信号の後についていくことを意味する。t1において、入力信号強度は、より高い値へと急激に上昇する。時間応答関数R(t)によりもたらされる遅延のため、式１に基づき、出力信号は入力信号の後を追う。これは、図２において点線により概略的に示される。t2において、入力信号強度は、開始強度未満の強度値へ急激に降下する。出力信号は再度式１に基づき時間的遅延を示す。t3において、入力信号強度は、再びその元の開始強度レベルへ急激に上昇する。時間t3において、出力信号(点線)は、時間間隔[t2,t3]の間入力信号レベルにまだ到達していない。その後出力信号は、それが、入力信号の強度レベルに到達するまでまた上昇する。この概略図から、時間応答関数が時間方向において入力信号を平滑化することは明らかである。図２に示されるように、入力信号変化が、高い時間周波数又は高い振幅で起こると、高速な変化及び大きな変化が時間応答関数により平滑化される。
【００１３】
図３は、特徴を左右する２つの時間定数τ1及びτ2により特徴付けられる例示的な時間応答関数を示す。第１の時間定数τ1は、時間的動作の高速な崩壊部分を表し、第２の時間定数τ2は時間的動作の低速な崩壊部分を表す。実際には、典型的なX線検出器要素の時間的な動作が３つ又は４つの特徴を左右する時間定数により表されることができることが示される。特定の目的に対して又は訂正の後特定の残余アーチファクトレベルが許されるとき、時間的な動作がそれにもかかわらず１つ又は２つ定数により説明されることができる、又はある者がより多くの時間定数を使いたいと欲することができる。
【００１４】
時間応答関数により出力信号にもたらされる劣化に対する訂正は、従来において知られている。例えば、Jiang HsiehによるIEEE Transactions on Medical Imaging, Vol.19, No.9, September 2000, p.930-940により記載され、そこでは、再帰時間フィルタが出力信号に直接適用される。
【００１５】
図４は、固定部分と回転部分とを持つ例示的な画像化デバイス１(説明される実施形態においてこれはCTスキャナである)を示す。回転部分の上にX線源２と検出ユニット３(説明される実施形態においてこの検出ユニットはX線検出器である)とが固定して取り付けられる。X線源２と検出ユニット３とは、患者支持台５の上に配置される対象物４の周りを回転する。X線源２は、ビーム形成器又はコリメータデバイス(図示省略)によりファンビーム(fan beam)７の中に形成されるX線を放出する。対象物４はファンビーム７の中へ位置し、X線により照射される。送信されたX線は、検出ユニット３により測定され、検出ユニットに衝突するX線強度を示す電気信号へ変換される。方向Aに回転する間、検出ユニット３が連続的に読み出される。各読み出しサイクルにおいて、電気信号から得られる投影データセットが検出ユニット３から読み出される。検出ユニットがD個の検出器要素を持つ単一ライン検出器である場合、投影データセットは連続するD個の投影値である。示された実施形態において、投影データセットの投影方向は、X線源２の焦点スポットを起源とし、画像化デバイス１の回転中心６を通る線により規定される方向である。図４において、図４の右側に描かれる投影データセットP1に対して投影方向p1が示される。時間t1で測定される投影データセットP1が、検出ユニット３における位置uに対して測定される強度値として示される。検出ユニット３の中心位置は、値u = 0を持ち、境界値は、位置u = -U/2及びu = U/2にそれぞれある。すると、検出ユニット３の全長はUである。
【００１６】
図５において、図４と同じ画像化デバイス１が示されるが、これは後の時間瞬間tiにおけるものである。固定的に取り付けられるX線源２と検出ユニット３とが、対象物４の周りを異なる位置へ回転される。斯かる回転位置は、回転中心６を中心とする画像化デバイス固定座標系に関して、X線源の回転角により一意に規定されることができる。投影データセットPiが時間tiで測定される。結果として生じる測定強度値が再度図５の右側に表される。所与の検出器要素に対して、位置u = u0で、衝突するX線の強度が時間にわたり変化することが見られることができる。なぜなら、回転により、対象物４に対する、X線管２と検出ユニット３との相対的な位置が変化するからである。もし検出ユニットが時間応答関数を持つならば、当然測定された強度信号は、図２に示される劣化と同様、時間的に劣化することになる。
【００１７】
従来技術において知られているように、対象物の空間的に解像されたX線減衰特性を示す、照射された対象物４の断面画像データセットは、少なくとも回転角180度とファン角とを加えたもの覆う投影データセットから再構築されることができる。図４及び図５に示されるようなCTスキャナに対して、X線ファンビーム７の角度は約60度である。投影データセットの時間劣化が原因で、結果として生じる再構築された断面画像データセットもまた、検出ユニットの時間応答関数のため劣化される。時間応答関数が、出力信号における高周波数を時間に対して平滑化するので、再構築された画像データセットにおけるコントラスト差が、回転方向における画像データセットにおいて汚される(smeared)。例示的な時間的に劣化する画像詳細が図８ａ及び図８ｂに示され、それは時間的な動作を考慮に入れたシミュレーションの結果である。画像詳細は、一様な物質(水)により囲まれる十字型アルミニウム構造を示す。この画像詳細における回転方向は、下から上への垂直バーに沿っている。垂直バーの上端エッジ及び下端エッジだけでなく、検出器の時間応答動作により、十字構造の水平バーがひどくぼやけることがわかる。その画像詳細は3 cm幅である。その画像詳細はシミュレーションから生成され、そこでは、単一崩壊定数が1 msであると仮定される。それは、時間応答関数の効果を概略的に示すにすぎない。
【００１８】
以下、再構築された画像に関する時間フィルタリングの影響が推定される。この推定に関して、投影データセットは、次のようにして処理される必要がある：再構築に先立ち、各投影データセットを表す信号値が、画像化される対象物なしの状態で取得される信号値へ正規化される。これは、従来技術において知られる標準的な処理である。正規化に使用される対応する投影データセットは、s0(u,t)で表され、基準投影データセットと呼ばれる。検出ユニットの時間応答関数は、s0に関して何ら影響を及ぼさないと考えられる。なぜなら、s0が測定されるとき検出ユニットは平衡状態にあると考えられるからである。これは、基準投影データセットが読み出される前の検出ユニットの先行照射により達成されることができる。従って、∂s0(u,t)/∂t = 0が成立し、
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が有効である。正規化が、
2008505678.tif 000007
に関して行われる。
【００１９】
境界条件がs(u,0) = 0の下、式１は式２の解である。
【００２０】
正規化の後、正規化された式２の両辺の対数を取り、その後、再構築処理
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が適用される。非劣化再構築画像を
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と表し、時間劣化した画像データセットを
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と表すことにより、時間劣化した画像と非劣化画像との間の差が、
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であることがわかる。ここで、
2008505678.tif 000012
が成り立つ。時間に関する微分は、角速度
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を導入することにより、角微分として書き換えられることができる。すると、
2008505678.tif 000014
及び
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となる。Δbに対する推定は、対数が線形化されることができると仮定すると、即ち
2008505678.tif 000016
を仮定すると、直接発見されることができる。すると、非劣化画像データセットと劣化画像データセットとの間の差が、再構築処理が線形である事実及び
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が成立するという事実を利用することにより、結果として、
2008505678.tif 000018
を生じさせる。τは再構築処理の前に抽出されるので、τは検出器ユニットの検出器要素の時間応答関数を一般的に表すものであり、従って、すべての検出器要素に対して不変である(実際小さな偏差は特定の長さまでは無視されることができる)ことが黙示的に仮定される。同様に、回転の間、角速度ωが時間に関して一定であることが黙示的に仮定される(ここでも、小さな変化は無視されることができる)。最終的に再構築処理と微分処理とがその線形性を理由に交換されることができると仮定することにより、非劣化画像データセットbが
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を読み出して計算される。ここで、fは、劣化画像
2008505678.tif 000020
から引かれる訂正cを決定するため、時間劣化した画像に適用される時間訂正フィルタである。言い換えると、訂正された画像データセットbは、
2008505678.tif 000021
である訂正cを劣化された画像データセット
2008505678.tif 000022
から引くことにより計算される。フィルタfは、角速度の方向に対応する方向において、摂動画像に関する微分として原則的に機能し、時間定数τに原則的に比例するものであり、及び角速度ωに原則的に比例するものである。そこでは、「原則的に」とは、回転中の角速度において及び／又は検出器に関する時間定数の均一性において僅かな変化が生じるかもしれないが、フィルタがその平均値に基づき動作する限りこれらの変化が無視できることを意味する。
【００２１】
上記から得られることと同様に、フィルタ処理は、時間応答関数が１つ以上の時間定数により特徴付けられる場合に対して計算されることができる。一般的にN個の特徴を左右する時間定数に対して、
2008505678.tif 000023
がインパルス関数による励起の後の時間応答を表すと考えられる。重み係数は、
2008505678.tif 000024
が成立するよう正規化される。すると、上述した処理を繰り返すことにより、
2008505678.tif 000025
が訂正された画像を計算するのに未訂正画像に適用される事になるフィルタ処理を表すことになる。これは、
2008505678.tif 000026
を生み出すよう再度簡単化されることができる。
【００２２】
D個の別個の検出器要素を備える単一ラインを伴う図４及び図５に表される画像化デバイスに関して、投影データセットPiは、D個の測定値Pi=(V1,i,V2,i,…,VD,i)の１次元ベクトルである。少なくとも180度にファン角度を加えた範囲に含まれる(covering)異なる角度で取得される複数の斯かる投影データセットが、従来技術において知られているように、例えばフィルタ逆投影アルゴリズム(filtered back projection algorithm)により、再構築のために使用される。すると投影データセットから、画像データセットIが再構築される。所与の実施形態において、Iは実空間における個別箇所で照射された対象物４の減衰特性を表すN x N画像データ値の行列である。当然、画像データセットは、N x N行列に限定されるものではなく、N x M行列又は非直交行列(例えば、六角(hexagonally)分布画像値を含む)であってもよい。表示されるとき、画像データ値はピクセルとも呼ばれる。ピクセルは、２次元拡張を持つ。直交行列において、ピクセルはx方向における拡張とy方向における拡張とを持つ。再構築処理に基づき、画像データ値は、所与のピクセルの中心位置における対象物の減衰特性又はピクセルの拡張に対して平均化される平均減衰値を表すことができる。
【００２３】
図６は、画像化デバイス１と、対象物の周囲のソース検出器装置の角度的に間隔を空けられた位置で取得される投影画像から対象物の断面画像を再構築する再構築ユニット９と、上述されたフィルタリングが再構築されたスライス画像に適用される訂正ユニット１０と、対象物の訂正されたスライス画像１２が示されるディスプレイ１１とを有する、対象物を画像化する画像化システムを概略的に示す。訂正ユニット１０は、画像化デバイス１の処理ユニットの一部であるとすることができるが、結合８を用いて再構築ユニット９に結合される個別のデバイスとすることもできる。その結合８は、有線結合又は無線結合とすることができる。ここで、無線結合は、データ担体を介した接続だけでなく、赤外線通信又はblutooth接続のような技術を含むことになろう。データ担体を介した接続は、未訂正のスライス画像を運ぶデータ担体が書き込まれ、このデータ担体が訂正ユニット１０に情報を運ぶのに使用されることを意味する。回転速度、特徴的な時間定数などに関する必要な情報が、訂正ユニット１０により知られることでき、又は有線又は無線結合８を用いて訂正ユニットへ送信される情報の一部とすることができる。
【００２４】
図７は、画像データセット１３が表示される。図７の上側右部分に示されるように、画像データセットは画像データ値の直交ピクセル行列からなる。そこでは、各ピクセルがΔxにより与えられるx方向における拡張と、Δyで与えられるy方向における拡張とを持つ。画像データセットにおいて、画像化される対象物スライス１４のX線減衰値の断面画像表現が表示される。時間訂正フィルタfが、例えば、CTシステムの回転中心に対応する点に対する距離
2008505678.tif 000027
で座標xi,yiでのピクセル値に適用される。直交座標系のx軸に関するベクトルrの相対角は、θで表される。ここで、画像座標系のx及びy軸は、それらが実空間における座標系に一致するよう選択される。その結果、回転中心が画像座標系の原点に一致する。
【００２５】
直交画像値行列に関して上記で得られる一般的な時間フィルタfを適用するために、式３に基づくフィルタ処理が離散化され(discretized)、全体の訂正式は、
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となる。ここで、nとmとは、(2N+1)x(2M+1)画像データセットにおける位置nとmとでの画像データ値を示す。ここで、-N ≦ n ≦ N及び-M ≦ m ≦ Mであり、b(0,0)は中心ピクセルである。ここで、
2008505678.tif 000029
である。偶(even)ピクセル行列が使用される場合、同様の式が得られ、直交ピクセル行列以外のピクセル行列に対する式を得ることも可能である。訂正が各ピクセル値に対して計算され、その後劣化した画像ピクセル値から引かれるか、又は訂正画像を生成するためすべてのピクセルに対して訂正が計算され、その後劣化した画像から引かれるかどうかは、実現に依存する。
【００２６】
図８ｂは、図８ａと同じ詳細を示すが、式７に基づく時間応答関数の訂正に対するフィルタfが適用された後を示すものである。アルミニウム十字の等高線が原則的に再構築される。
【００２７】
これは、投影データセットにではなく、画像に適用されることができる時間訂正フィルタが得られることを示す。画像にフィルタを適用することができる利点の１つは、もはや以前の信号値を格納する必要がない点にある。投影データセットにフィルタを適用することは、米国特許第5,249,123号から知られるように再帰的なフィルタ処理を適用するため、以前の投影データセットの強度値の格納を必要とする。更に、画像ピクセルの数(例えば512 x 512)は、訂正される必要のある投影データ値の数(例えば、1000の検出器要素 x 回転あたり2000の取得)より通常は少ない。所与の値に対して、これは、因数８による訂正処理の削減を意味する。フィルタが再構築された画像に適用されるので、サイノグラムデータの利用可能性とは独立して使用されることができる。言い換えると、これは、訂正スキャナを独立したものとする。
【００２８】
上述された概念は、使用される補間が式１の積分で交換されることができる限り、らせんスキャニング技術を用いて生成される画像に対しても有効である。これは、例えば、線形又は双一次補間の場合である。
【００２９】
特徴時間定数(又は特徴時間定数のセット)は、様々な方法で決定されることができる。第１の方法は、短パルスを用いる検出器の照射と、高い時間分解能を備える検出器の時間応答の測定とであろう。それから、特徴時間定数を決定するのに、標準的な適合処理が使用されることができる。第２の方法においては、１つ又は複数の知られた基準対象物が画像化される。それから、例えば、シミュレーション等を用いて計算されることができる理想的な信号応答との比較により、測定された信号がその理想的な信号と比較されることができ、特徴時間定数が決定されることができる。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】時間応答関数を概略的に示す図である。
【図２】強度信号における時間応答関数の影響を概略的に示す図である。
【図３】異なる時間定数を持つ２つの時間応答関数から構成される時間応答関数を概略的に示す図である。
【図４】第１の時間瞬間に示される対象物の投影データセットを取得するのに使用される例示的な画像化デバイスと、結果として生じる投影データセットとを示す図である。
【図５】第２の時間瞬間における画像化デバイスと結果として生じる投影データセットとを示す図である。
【図６】画像化デバイスと共に、再構築ユニット、フィルタユニット及びディスプレイユニットを概略的に示す図である。
【図７】フィルタ処理の図と共に、再構築された画像データセットを概略的に示す図である。
【図８ａ】画像詳細への時間的な動作の効果を示すシミュレーション結果を示す図である。
【図８ｂ】図８ａと同じ画像詳細だが、本発明の訂正スキームが適用された後のシミュレーション結果を示す図である。
【図１】
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【図２】
2008505678.tif 000031
【図３】
2008505678.tif 000032
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８ａ】
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【図８ｂ】
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【国際調査報告】
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