(57)【要約】  本発明は電子部品に関連する特性の動的測定の分野に関し、この測定は連続的（ＣＷ）又はパルスの動作モードに対して実行され得る。その主題は以下のステップ、ａ）その間に持続時間ＴのＣＷ信号が、発生時点ｔ０に構成部品の入力へ加えられる、構成部品を刺激するためのステップと、ｂ）刺激された入力において、構成部品に対する入力信号と反射信号との振幅及び位相を測定するためのステップと、ｃ）測定された信号の振幅及び位相から始まる、構成部品の瞬時インピーダンスを計算するためのステップと、ｄ）該刺激を停止するためのステップとを含む電子部品の動的インピーダンスを測定するための方法である。この方法はステップａ）〜ｄ）が、刺激の持続時間Ｔ及び時間間隔Δｔの値が各反復の際に増加し、２つの連続する反復はその間に内部温度が周囲温度に戻るような方法で該構成部品の電圧が断たれる中間ステップにより分離される、反復的方法で繰り返されるという点で特徴付けられる。本発明は特に、例えばダイオード又はトランジスタのようなマイクロ波電子部品の非線形インピーダンスの動的測定に適用可能である。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子部品の瞬時インピーダンスを測定するための方法であって、以下のステップ、
ａ）持続時間Ｔの刺激が前記構成部品の入力に加えられる、前記構成部品を刺激するためのステップと、
ｂ）前記刺激された入力において、前記構成部品に対する入力信号と反射信号との振幅及び位相を測定するためのステップと、
ｃ）前記測定された信号の振幅及び位相から始まる、前記構成部品の瞬時インピーダンスを計算するためのステップと、
ｄ）前記刺激を停止するためのステップと
を含む方法において、
前記ステップａ）〜ｄ）が反復的方法で繰り返され、前記刺激の持続時間Ｔ及び時間間隔Δｔの値が各反復の際に増加し、２つの連続する反復が、その間に内部温度が周囲温度に戻るような方法で前記構成部品の電圧が断たれる中間ステップにより分離されることを特徴とする方法。
【請求項２】
それに対する前記構成部品の動的インピーダンスを知ることが望まれる動作のモードに対応した停止条件が確認されたときに、前記反復が中断される請求項１に記載の方法。
【請求項３】
持続時間Ｔが、それに対して供試の前記構成部品が最適化されることが望まれる信号のパルスの持続時間よりも長くなった場合、又は前記計算されたインピーダンスが実質的に一定になった場合に、前記停止条件が満足される請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記計算された動的インピーダンスの値を記憶するためのステップｅ）を更に含む請求項１〜３のいずれか一項に記載の方法。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれか一項に記載の方法を実行する構成部品の動的インピーダンスを測定するための装置であって、少なくとも、
−周波数ＦＲＦのＣＷ波の発生装置と、
−その瞬時インピーダンスの測定が望まれる前記構成部品のアクティブインピーダンス整合を実行するための手段と、
−ＣＷ波の開始の瞬間後の所与の時点における、前記構成部品の入力での入力信号及び反射信号の測定を実行するための手段と
を含むことを特徴とする装置。
【請求項６】
−周波数ＦＲＦの高調波を生成させる非線形要素と、
−各高調波が別個のチャンネルに沿って進む、前記高調波を分離する手段と、
−瞬時インピーダンスの測定が望まれる前記構成部品のアクティブ整合を、各高調波別に実行する手段と、
−前記構成部品の入力において、様々な高調波を搬送するチャンネルを再結合する手段とを更に備える、請求項５に記載の装置。
【請求項７】
電子部品の入力及び出力動的インピーダンスを同時に測定するためのシステムであって、  それが同時に動作する請求項６に記載の２つの装置を組み入れ、前記装置の１つは前記構成部品の入力に適用され、もう一方の装置は前記構成部品の出力に適用されることを特徴とするシステム。
【請求項８】
前記２つの装置が単一のＣＷ発生装置を共有する請求項７に記載のシステム。
【請求項９】
−請求項７に記載の測定システムと、
−請求項１〜４のいずれか一項に記載の方法を自動的に実行するための手段と
を含む、自動測定試験装置。 
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は電子部品に関連する特性の動的測定の分野に関する。本発明は特に、例えばダイオード又はトランジスタのようなマイクロ波電子部品の非線形インピーダンスの動的測定に適用可能であり、この測定は連続的（ＣＷ）又はパルスの動作モードに対して実行され得る。
【背景技術】
【０００２】
これまで、研究室で行なわれた測定は出力、効率、又はより一般的にゲインに関するその性能を最適化するために供試される電子部品、例えばダイオード又はトランジスタに与えられるべき最適インピーダンスの決定を可能にしている。このタイプの測定は当業者によく知られている、例えばロードプル・タイプの試験装置の使用に基づいている。そのような試験装置は一般的に、そのために供試構成部品の最適化が望まれる信号の基本周波数において作動する。それらは機械的、又は時々電子的タイプの調整手段を利用する。
【０００３】
パルスモードで動作する構成部品に関して、インピーダンスの決定は供試構成部品に加えられる信号の固定パルス持続時間及び一定反復周期を用いて常に行なわれる。更に、この決定は供試の構成部品が熱力学的平衡に達したとき、言い換えればその接合部温度が実際的に安定したときにのみ行なわれる。最後に、前述のように、インピーダンス測定は一般的に信号の基本周波数において実行される。
【０００４】
現在の測定は、従って試験される構成部品のインピーダンスのパルスにおける平均値が決定されることのみを可能にする。それらは例えば、供試構成部品を最適化することが求められる信号の基本周波数及び高調波周波数において、１パルス内の構成部品のインピーダンスの動的変動に対する何らの表示も生み出さない。
【０００５】
更に、パルス持続時間及び反復周期が固定されている一様な刺激の使用は、構成部品の実際の動作がこの単純な図式と異なる場合に、構成部品のインピーダンスの決定に対して特に不都合であることを証明する。これはとりわけ、所与の瞬間において実行される動作モードに従って、伝送又は受信されるパルスの持続時間及び反復周期が変動する、レーダー送信又は受信システムにおいて適用されるマイクロ波構成部品の場合である。
【０００６】
現在の測定は、更に、評価されるべき構成部品の接合部の温度が急速に変化している一方で、最初の数パルスの伝送の間に、前記構成部品の出力アップに対するインピーダンスの変動を可能にしない。この温度の測定は、それが試験されている構成部品を統合する部分組立品の、パルスからパルスへの安定性、位相及び振幅特性に結び付いているため、実際には非常に重要である。
【０００７】
これまでに行なわれて来たインピーダンス測定は、従って所与の構成部品のインピーダンスの、限られた特徴付けを可能にするのみである。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本発明の目的の一つは所与の信号、特に可変の持続時間及び反復周期のパルス信号の存在下で、その動作を特徴付けることが望まれる、電子部品のインピーダンスの決定を改善することである。本発明の別の目的は、信号が構成部品に加えられる時に、このインピーダンスの時間に対する変動曲線の確立を可能にすることである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
このため、本発明の主題の一つは次のステップ、
ａ）その間に持続時間ＴのＣＷ信号が、発生時点ｔ０に構成部品の入力へ加えられる、構成部品を刺激するためのステップと、
ｂ）刺激された入力において、構成部品に対する入力信号と反射信号との振幅及び位相を測定するためのステップと、
ｃ）測定された信号の振幅及び位相から始まる、構成部品の瞬時インピーダンスを計算するためのステップと、
ｄ）刺激を停止するためのステップと
を含む電子部品の動的インピーダンスを測定するための方法である。
【００１０】
この方法はステップａ）〜ｄ）が、刺激の持続時間Ｔ及び時間間隔Δｔの値が各反復の際に増加し、２つの連続する反復はその間に内部温度が周囲温度に戻るような方法で該構成部品の電圧が断たれる中間ステップにより分離される、反復方法で繰り返されるという点で更に特徴付けられる。
【００１１】
本発明によれば、本方法は構成部品の動的インピーダンスが確認されるのを知ることが望まれる、動作モードに対応する停止条件を含み得る。該反復はその条件が確認された時に中断される。
【００１２】
一つの変形実施形態によれば、該停止条件は刺激の持続時間Ｔが、それに対して供試の構成部品の最適化が望まれる、信号のパルス持続時間よりも長くなった場合に確認される。
【００１３】
本発明による方法の別の変形例に従えば、該停止条件は計算されたインピーダンスが実質的に一定になった場合に満足される。
【００１４】
別の変形例によれば、本発明による方法は時間に対するインピーダンスの変動が決定されることを可能にする、計算されたインピーダンスの動的な値を記憶するためのステップｅ）を更に含む。
【００１５】
この方法は加えられた信号及び反射信号の、振幅と位相における時間的解析を有利に実施する。この時間的解析は、例えば多重高調波ロードプル・タイプの整合試験装置と関連し得る。
【００１６】
本発明の別の主題は、少なくとも
−周波数ＦＲＦのＣＷ波の発生装置と、
−その瞬時インピーダンスの測定が望まれる構成部品のアクティブインピーダンス整合を実行するための手段と、
−ＣＷ波の開始の瞬間後の所与の時点における、構成部品の入力での入力信号及び反射信号の時間的測定を実行するための手段と
を含む、請求項の方法を実行する構成部品の動的インピーダンスを測定する装置であり、該構成部品のインピーダンスは測定された入力信号及び反射信号から始まって計算される。
【００１７】
本発明によれば、該装置はまた、
−周波数ＦＲＦの高調波が生成されることを可能にする非線形要素と、
−各高調波が別個のチャンネルに沿って進む、高調波を分離する手段と、
−瞬時インピーダンスの測定が望まれる構成部品のアクティブ整合を、各高調波別に実行する手段と、
−構成部品の入力において、様々な高調波を搬送するチャンネルを再結合する手段とを備えることができる。
【００１８】
本発明による装置は従って、例え供試の構成部品のインピーダンスが同時に幾つかの周波数と整合しても、それが決定されることを有利にも可能にする。
【００１９】
本発明の更なる主題は、
−本発明による測定装置と、
−本発明による方法を自動的に実行する手段と
を備えた自動測定試験装置である。
【００２０】
その他の特徴及び利点は添付図を参照した説明の間に明らかになるであろう。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
まず図１が参照される。後述のように、図は本発明による方法の主要ステップの概略フローチャートを示す。
【００２２】
本発明による方法の目的は、とりわけ複合したマイクロ波信号が加えられる構成部品のインピーダンスの変動が、構成部品への信号付加の開始の瞬間に続く様々な時点に測定されるのを可能にすることである。例えば可変の持続時間及び反復周期のパルス信号であり得るこの複合信号は、非常に長い期間にわたり試験されるべき電子部品に対し、反復的方法で加えられるチョッピングされたＣＷ刺激信号を用いてシミュレートされる。該刺激の付加の間、構成部品の瞬時インピーダンスは所与の時点において計算される。
【００２３】
本発明による方法は主として、試験される構成部品の刺激用の第１ステップ１１、刺激の間に構成部品の入力において存在する入力信号及び反射信号の測定用の第２ステップ１２、及び刺激を停止するための第３ステップ１３を含む。これら３つのステップは反復的方法で繰り返される。
【００２４】
ステップ１１はチョッピングされたＣＷ信号の形で、期間Ｔ１＝Δｔ＋Ｔ０にわたって、測定される構成部品の入力に刺激を加えることにある。
【００２５】
期間Ｔ１はここで、可変時間間隔Δｔと固定時間間隔Ｔ０との合計に等しいと定義される。
【００２６】
本発明によれば、時間間隔Δｔは値Δｔ０にリセットされる。Ｔ０の値に関して、これはステップ１２の測定を行なうために要する時間の関数として決定される。
【００２７】
ステップ１２はステップ１１の実行中に行なわれる。このステップは前項に定義された時間Δｔの後に、供試の電子部品の入力において存在する入力信号及び反射信号の振幅及び位相を測定することにある。待機ループ１４がそれに先行する。振幅及び位相のこれらの測定を行なうために要する時間は、少なくともこの測定時間に等しくなければならない期間Ｔ０を決定する。ここで、入力信号及び反射信号の測定は、非常に短い時間枠にわたる速いデジタル化及び、デジタル化信号のメモリ内への記憶により達成される。測定の瞬間の構成部品のインピーダンス計算は、そのとき該デジタル化信号から始まって従来式に行なわれる。
【００２８】
ステップ１３は測定を中止するためのステップを構成する。このステップの間、刺激の生成は止まり、電圧は構成部品から取り除かれる。
【００２９】
構成部品の入力においてシミュレートすることが望まれる信号の形態によって、信号が続く期間にわたる構成部品のインピーダンスの変動を検討することが意図される場合、動作１１〜１３は様々な時点において一定の回数繰り返される必要がある。このために、本発明による方法はステップ１５、１６、及び１７から成る繰り返しループを含む。
【００３０】
ステップ１５は所定の期間τにより、その間にチョッピングされたＣＷ刺激が構成部品に加えられる期間Δｔを増すことにある。この期間τは特に、刺激を用いてシミュレートされる信号の持続時間にわたって得ることが望まれるインピーダンス測定点の数を定義される。
【００３１】
ステップ１６は刺激を停止し、供試の構成部品から電圧を取り除く段階１３の後に生じる待機ループから成る。このステップの目的は、新たなΔｔの値でステップ１１〜１３の新しい反復を用いて進める前に、構成部品が周囲温度に近い内部温度に戻るのを可能にすることである。
【００３２】
該待機ステップは、後に来る反復に対して行なわれる測定が、それに先行する反復、そして特にそれから生じる構成部品の発熱に依存しないことが保証されるのを有利にも可能にする。この発熱は実際、構成部品のインピーダンス値を変更するという既知の結果を有する。
【００３３】
本発明に従う方法により行なわれる反復の数は当然、シミュレートされる必要がある信号に依存する。期間Δｔを各反復に際して変化させることにより、増加する幅の連続パルスを形成し、刺激の開始時からより遠く離れた時点におけるインピーダンス測定を行なうことが可能である。従って、シミュレートされる信号の全体期間にわたって分布する、構成部品の瞬時インピーダンスの測定が得られる。それゆえ測定の全体集合は、刺激の持続時間がシミュレートすることを望まれる信号の持続時間に等しいときに得られる。該反復のプロセスはそのとき終了する。
【００３４】
この停止条件は、例えば、τだけ増加した後のΔｔの値がシミュレートされた信号の持続時間よりも大きいか、そうでないかを試験する試験ステップ１７により制御される。これが該当しない場合、新たな反復が行なわれる。さもなければ、該プロセスは終了する。
【００３５】
このように行なわれる測定を処理するために、本発明による方法は又、各反復に対して行なわれる測定値を記憶するためのステップ１８、及び記憶されたデータを処理するためのステップ１９も含むことができる。測定値の記憶は、シミュレートされる信号の持続時間にわたり、構成部品のインピーダンス値の時間に対する変動値のオフライン処理を有利にも可能にする。
【００３６】
図１に例示されるその基本形態における、本発明による方法は、特に正弦波信号ステップ、又は代わりにその反復周期が長いマイクロ波パルス信号がそれに加えられる時に、供試の構成部品の瞬時インピーダンスの変動の決定を取り扱う。
【００３７】
実際、正弦波信号ステップの場合、インピーダンスの変動は該ステップが適用された瞬間に続く所定の時間間隔内に生じる。この時間間隔の後、インピーダンスは所与の値において安定し、実質的に一定のままとなる。ステップ１７の停止条件は、従って信号の持続時間にわたるよりもむしろ、既知の方法で測定できる実質的に一定の値にインピーダンスが到達するために十分な期間にわたって適用される。
【００３８】
同様に、加えられる信号が幅の狭い、長い反復周期のパルス信号である場合、各々の新しいパルスの発生の際に、構成部品の温度は周囲温度に等しいか、又は固定された温度に等しく、そして構成部品のインピーダンスは各パルスに対する同一の変動に従うことが考えられ得る。ステップ１７の停止条件は、そのとき１パルスの持続時間にわたり適用される。
【００３９】
加えられる信号がより複雑な形をとる場合、構成部品のインピーダンス変動の決定はそれ自体で更に複雑になり得る。加えられる信号に対応するインピーダンスの変動法則を決定するため、例えば図１に説明されているステップのシーケンスを数回連鎖させることが必要かも知れない。
【００４０】
それにもかかわらず、図１に説明されている原理は有効なまま残る。
【００４１】
図２は例として時点ｔ０において加えられる信号が正弦波ステップ２１である場合の、本発明による方法の実行を例示している。
【００４２】
図２に示すように、本発明による方法はここでＮ回の反復を含み、各反復は瞬時インピーダンス２２の測定をもたらす。各々の新たな反復の際、刺激の開始時点ｔ０と入力信号及び反射信号の取得の時点２４との間の遅れと同様に、ＣＷ刺激の持続時間２３は期間τだけ増加する。
【００４３】
図に例示されるように、瞬時インピーダンスの振幅及び位相における変動のグラフ２６及び２７は、従って刺激２１の印加の時点ｔ０から始まり、該瞬時インピーダンスの実質的に一定の値２５が確立される瞬間まで得られる。
【００４４】
この特定の例において、それに対し構成部品のインピーダンスを知ることが望まれる信号がステップであるため、図１に示される反復を停止するための条件１７は、インピーダンスの変動により表わされる現象に比べて理論的に無限又は最低限非常に長い、この信号の持続時間に対する条件ではない。この条件はここで所定の時間ΔｔＮの後のインピーダンス値の安定化に関する。
【００４５】
前述のように、２つの測定の間に、構成部品の内部温度が初期の周囲温度に戻ることを可能にするため設計される待機段階１６が生じることに注意されたい。
【００４６】
図３はまた例として、本発明による方法の第二の具体的な説明を示す。この例において、該方法は正弦波パルス３１が時点ｔ０から始まってそれに加えられる電子部品のインピーダンスの動的決定に適用される。このパルスは一定の持続時間及び反復周期のものである。
【００４７】
本発明による方法を行なう原理は図２の例におけるものと同一である。試験されるべき構成部品の入力に加えられる刺激は、この例において、増加して行く期間に対して不連続的方法で加えられるチョッピングされたＣＷ信号３２から成る。
【００４８】
この特定の例において反復を停止する条件１７は、１パルスの間のインピーダンス変動が、既に加えられたパルスの数にそれ自体依存する構成部品の内部温度の関数であることを考慮に入れて、構成部品のインピーダンスの完全な変動法則を説明するために、シミュレートすることが必要な多くのパルスに適用される。従って、構成部品がＰ個のパルス後にその平衡温度にある場合、インピーダンス変動の決定は、各サイクルが図１に例示されているような本発明による方法に従って行なわれるＰ個の連続的サイクルのＮ回の測定を必要とし得る。加えられた刺激は、そのとき図３に示すようなチョッピングされたＣＷ信号に相当する。
【００４９】
図３における例は、加えられる信号が一定のパルス持続時間及び反復周期のパルス状正弦波信号である場合の、本発明による方法の実行の条件を説明している。この特定のケースは、可変の持続時間及び反復周期のパルスを示すパルス状正弦波信号へ容易に一般化されることができる。図４に例示されている、このより一般的なケースは、ここで加えられる信号は異なる持続時間のパルス４１及び４２から成り、２つのパルスを分離している時間の間隔は一定ではない。
【００５０】
この例において、その間に瞬時インピーダンスの測定が行なわれる必要がある時間の間隔は、加えられる信号の持続時間及びこれらのパルスの反復周期に再度依存し、インピーダンスの変動法則は、内部温度が連続動作において平衡温度にある構成部品に対して測定が行なわれるときに完全に決定される。
【００５１】
次に本発明による方法が実行されることを可能にする装置の構造を概略的に示す図５が参照される。
【００５２】
図に示すように、この装置は供試の構成部品５２に加えられる刺激生成用の部分組立品５１を備える。該部分組立品５１は特に、インピーダンスＺｇ及び制御可能なチョッパ回路５３を有する、正弦波（ＣＷ）の発生装置Ｅｇを備える。
【００５３】
本発明による装置はまた、そのインピーダンスを知ることが望まれる構成部品の入力において存在する入力信号及び反射信号の測定から始まって、瞬時インピーダンス値の決定を可能にする取得手段５４を備える。
【００５４】
取得手段５４は、例えば入力信号及び反射信号の超高速サンプリングを行なう、時間的な取得システムを備えることができる。このサンプリングには、例えばこれらの信号のデジタル処理が続く。該取得手段のサンプリング周波数はシャノンの条件によるサンプリングを可能にするためには更に十分高い。
【００５５】
該取得は、特に取得の開始時点を定義する、取得コマンドにより制御される。
【００５６】
該取得手段５４は実行される連続的測定の過程で、連続的に計算されるインピーダンスの値を記憶するための手段と、時間に対するインピーダンスの計算された変動の曲線を表示する手段とを更に備えることができる。
【００５７】
本発明による装置は又その直接的チャンネルが、部分組立品５１により生成される刺激をそのインピーダンスを知ることが望まれる構成部品の入力に加えることを可能にし、そして取得手段５４の入力に接続されているその切り離されたチャンネルが、入力（Ｉｅ）信号及び反射（Ｒｅ）信号の取得を同時に行なうことを可能にする、結合手段５５を備える。
【００５８】
図５が例示するように、本発明による装置は該取得手段が第２の結合手段５６により２つの測定チャンネルを備える限り、有利に完成され得る。この第２の結合手段の直接的チャンネルは、供試の構成部品５２の出力を整合負荷５７に接続するために用いられ、一方で切り離されたチャンネルは取得手段５４の入力に接続される。
【００５９】
そのような装置は、構成部品の入力及び出力インピーダンスの時間に対する変動が同時に決定されることを可能にするという利点を提示する。
【００６０】
図５に示される本発明による装置は手動又は自動のいずれかで使用でき、全ての測定、それらのパラメータ化、及び本発明による方法の実行は、そのとき制御コンピュータ５８により制御される。
【００６１】
本発明による装置の変形の実施形態を示す図６がここで参照される。好適な実施形態を形成するこの変形において、図５に例示される装置は、供試の構成部品の入力及び出力の動的整合を実施することにより、該構成部品５２の瞬時インピーダンスが決定されることを可能にする手段６１の追加によって完成される。整合はここで、それに対する構成部品のインピーダンスを知ることが望まれるパルス信号の（ＲＦ）周波数に対して行なわれるが、しかし又この信号の第二次高調波（Ｈ２）及び第三次高調波（Ｈ３）に対して、或いはより高次の高調波に対しても行なわれる。ここで、整合は適切な手段６２を用いることにより、構成部品の入力及び出力に加えられる信号の振幅及び位相を調整することによって実現される。振幅及び位相の整合は更に基本信号、第二次高調波、及び第三次高調波に対して別々に行なわれる。同様に、この整合は構成部品の入力及び出力に対して独立に行われる。従って構成部品の正しい整合を、問題のパルス信号の周波数においてだけでなく、このパルス信号を構成する最も近い高調波周波数においても達成することが可能である。
【００６２】
十分に高いレベルの高調波を含む刺激の生成は、例えば周波数逓倍器であり得る、非線形要素６３が関連する部分組立品５１を用いて達成される。要素６３により生み出される信号は次に、各々が信号の振幅及び位相を制御するための手段６２を含む様々なチャンネル６４にわたり分配される。これらの手段の各々は入力に対してフィルタ６５を有し、このフィルタはチャンネルが１つの周波数のみを処理すると考えられるような方法で調整される。このように処理された信号は実質的に再結合され、そして単一のカプラ６６を介して供試構成部品の入力及びその出力に直接加えられる。
【００６３】
動的整合手段の使用は、配線された電子部品による従来の整合の使用とは対照的に、本発明による装置を複数の構成部品及び様々な周波数の信号に対して利用出来るようにするという利点を有する。
【００６４】
本発明による、図６に例示されている実施形態における装置は勿論手動又は自動のやり方で使用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００６５】
【図１】本発明による方法のステップの概略フローチャートである。
【図２】時間的ステップ機能の形態を有する刺激を伴う、本発明による方法の実施図である。
【図３】一定の持続時間及び反復周期のパルス列の形態を有する刺激を伴う、本発明による方法の実施図である。
【図４】可変の持続時間のパルス列の形態を有する刺激を伴う、本発明による方法の実施図である。
【図５】本発明による方法の実行を可能にする装置の概略ブロック図である。
【図６】本発明による方法の実行を可能にする装置の一例の詳細ブロック図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【国際調査報告】
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