(57)【要約】【課題】複数の光源で像担持体を露光する方式の画像形成装置において、各光源の光量補正を高精度に行う。【解決手段】レーザ（２ビーム半導体レーザ１２３）により感光ドラム１１１を露光させた際の表面電位センサ１１３の測定結果に基づいて、ＶＬ１４１（露光後電位）と、Ｖｄ１４３（帯電電位）との差が所定値となるように、レーザで出射される光量の大きさである設定値を補正する補正動作を、各レーザに対してそれぞれ独立して実行可能な制御手段を備え、制御手段は、１つのレーザにより感光ドラム１１１を露光させる際、感光ドラム１１１の表面の電位が均一となるように、感光ドラム１１１の回転速度を画像形成時よりも遅くすることを特徴とする。【選択図】図２
2015087645.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
像担持体と、
前記像担持体の表面における副走査方向の異なる位置をそれぞれ露光する複数の光源と、
を備え、
一様に帯電された前記像担持体の表面を前記複数の光源により露光して前記像担持体に潜像を形成し、前記潜像を現像して画像を形成する画像形成装置において、
前記像担持体の表面の電位の大きさを測定する測定手段と、
前記光源により前記像担持体を露光させた際の前記測定手段の測定結果に基づいて、露光後の前記像担持体の表面の電位の大きさと、露光前の前記像担持体の帯電電位の大きさとの差が所定値となるように、前記光源で出射される光量の大きさである設定値を補正する補正動作を、各光源に対してそれぞれ独立して実行可能な制御手段と、
を備え、
前記制御手段は、１つの前記光源により前記像担持体を露光させる際、前記像担持体の表面の電位が均一となるように、前記像担持体の回転速度を画像形成時よりも遅くすることを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
画像形成時よりも遅くなるように制御される前記像担持体の回転速度は、画像形成時の回転速度を前記光源の数で除算した値に設定されていることを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】
像担持体と、
前記像担持体の表面における副走査方向の異なる位置をそれぞれ露光する複数の光源と、
を備え、
一様に帯電された前記像担持体の表面を前記複数の光源により露光して前記像担持体に潜像を形成し、前記潜像を現像して画像を形成する画像形成装置において、
前記像担持体の表面の電位の大きさを測定する測定手段と、
前記光源により前記像担持体を露光させた際の前記測定手段の測定結果に基づいて、露光後の前記像担持体の表面の電位の大きさと、露光前の前記像担持体の帯電電位の大きさとの差が所定値となるように、前記光源で出射される光量の大きさである設定値を補正する補正動作を、各光源に対してそれぞれ独立して実行可能な制御手段と、
を備え、
前記制御手段は、１つの前記光源により前記像担持体を露光させる際、前記像担持体の表面の電位が均一となるように、前記光源が前記像担持体を露光するときの光のスポット径の副走査方向の大きさを、画像形成時よりも大きくすることを特徴とする画像形成装置。
【請求項４】
前記光源が前記像担持体を露光するときの光のスポット径の副走査方向の大きさを、画像形成時よりも大きくするための光学部材が移動可能に設けられ、
前記光学部材は、画像形成時には、前記光源により出射される光の光路の外側に位置しており、
前記制御手段は、前記光源により前記像担持体を露光させる際、前記光路上に前記光学部材を位置させることを特徴とする請求項３に記載の画像形成装置。
【請求項５】
画像形成時よりも大きくなるように制御される前記スポット径の副走査方向の大きさは、画像形成時の大きさを前記光源の数で乗算した値に設定されていることを特徴とする請求項３又は４に記載の画像形成装置。
【請求項６】
像担持体と、
前記像担持体の表面における副走査方向の異なる位置をそれぞれ露光する複数の光源と、
を備え、
一様に帯電された前記像担持体の表面を前記複数の光源により露光して前記像担持体に潜像を形成し、前記潜像を現像して画像を形成する画像形成装置において、
前記像担持体の表面の電位の大きさを測定する測定手段と、
１つの前記光源により複数の異なる大きさの光量で前記像担持体をそれぞれ露光させた際の前記測定手段の測定結果に基づいて、前記光源で出射される光量の大きさと、前記像担持体の表面の電位の大きさとの間の関係を導出する導出手段と、
露光前の前記像担持体の帯電電位の大きさから露光後の前記像担持体の表面の電位の大きさの目標値を求め、その目標値から前記導出手段により導出された関係を用いて、前記光源で出射すべき光量の目標値を求め、その光量の目標値に応じて前記光源で出射される光量の大きさである設定値を補正する補正動作を、各光源に対してそれぞれ独立して実行可能な制御手段と、
を備えることを特徴とする画像形成装置。
【請求項７】
前記測定手段は、前記像担持体の回転方向の長さが、１つの前記光源により前記像担持体が露光されたときに測定を行った測定結果が安定するような長さに設定された測定部を備えることを特徴とする請求項６に記載の画像形成装置。
【請求項８】
前記測定手段は、１つの前記光源により前記像担持体が露光されたときに測定を行う際、複数回測定を行い、そのときの各値を演算処理して得られた結果を測定結果とすることを特徴とする請求項６に記載の画像形成装置。
【請求項９】
前記光源の数よりも少なく設けられ、前記光源から出射された光の一部を受光する受光部と、
前記受光部で受光される光量の大きさに基づいて、前記光源で出射される光量の大きさを前記設定値になるように調整する調整手段と、
を備えることを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項１０】
前記補正動作が実行されることで補正された前記設定値の情報を各光源ごとに記憶する記憶手段を備え、
前記制御手段は、
所定の条件となったときに、全ての前記光源に対してそれぞれ前記補正動作を実行するものであり、
前記記憶手段により、全ての前記光源に対して前記補正動作がそれぞれ実行されることで補正された各設定値の情報が前記記憶手段に記憶された後に、前記設定値を補正する場合、前記所定の条件となるまでは、
１つの前記光源に対しては、前記補正動作を実行することで設定値を補正し、
該補正動作が実行された該光源以外の光源に対しては、該補正動作により補正された設定値と、前記記憶手段に記憶されている各設定値の情報とから設定値を補正することを特徴とする請求項１乃至９のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、シート等の記録材上に画像を形成する機能を備えた、例えば、複写機、プリンタなどの画像形成装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
感光ドラム上に形成される潜像のコントラストは、帯電、露光後の感光ドラムの電位（以下、ＶＬ）と現像バイアス（以下、Ｖｄｃ）との電位差で決まる。このコントラストは環境、感光ドラムの膜厚などにより変動するため補正を行う必要がある。
近年、デジタル複写機やレーザビームプリンタなどの電子写真式画像形成装置においては、プロセススピード（画像形成速度）の高速化に伴い、光源としてマルチビーム方式を採用する場合が増えている。
光源からの照射光が感光ドラムを露光する系を少なくとも１つ備える画像形成装置において、ＶＬの検知を通して得られたコントラストの変動に応じて、光源の光量を補正することにより、所望のコントラストを得る構成が例えば特許文献１に開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平４−５２６６５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、マルチビーム方式においては、マルチビーム個々の光量を適切に検出することが困難とされていた。そのため、感光ドラムのコントラストの変動に対してマルチビームの光量を高精度に補正することにより、所望のコントラストを得る方法が求められていた。
【０００５】
本発明は上記したような事情に鑑みてなされたものであり、複数の光源で像担持体を露光する方式の画像形成装置において、各光源の光量補正を高精度に行うことを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するために本発明にあっては、
像担持体と、
前記像担持体の表面における副走査方向の異なる位置をそれぞれ露光する複数の光源と、
を備え、
一様に帯電された前記像担持体の表面を前記複数の光源により露光して前記像担持体に潜像を形成し、前記潜像を現像して画像を形成する画像形成装置において、
前記像担持体の表面の電位の大きさを測定する測定手段と、
前記光源により前記像担持体を露光させた際の前記測定手段の測定結果に基づいて、露光後の前記像担持体の表面の電位の大きさと、露光前の前記像担持体の帯電電位の大きさとの差が所定値となるように、前記光源で出射される光量の大きさである設定値を補正する補正動作を、各光源に対してそれぞれ独立して実行可能な制御手段と、
を備え、
前記制御手段は、１つの前記光源により前記像担持体を露光させる際、前記像担持体の表面の電位が均一となるように、前記像担持体の回転速度を画像形成時よりも遅くすることを特徴とする。
【０００７】
像担持体と、
前記像担持体の表面における副走査方向の異なる位置をそれぞれ露光する複数の光源と、
を備え、
一様に帯電された前記像担持体の表面を前記複数の光源により露光して前記像担持体に潜像を形成し、前記潜像を現像して画像を形成する画像形成装置において、
前記像担持体の表面の電位の大きさを測定する測定手段と、
前記光源により前記像担持体を露光させた際の前記測定手段の測定結果に基づいて、露光後の前記像担持体の表面の電位の大きさと、露光前の前記像担持体の帯電電位の大きさとの差が所定値となるように、前記光源で出射される光量の大きさである設定値を補正する補正動作を、各光源に対してそれぞれ独立して実行可能な制御手段と、
を備え、
前記制御手段は、１つの前記光源により前記像担持体を露光させる際、前記像担持体の表面の電位が均一となるように、前記光源が前記像担持体を露光するときの光のスポット径の副走査方向の大きさを、画像形成時よりも大きくすることを特徴とする。
【０００８】
像担持体と、
前記像担持体の表面における副走査方向の異なる位置をそれぞれ露光する複数の光源と、
を備え、
一様に帯電された前記像担持体の表面を前記複数の光源により露光して前記像担持体に潜像を形成し、前記潜像を現像して画像を形成する画像形成装置において、
前記像担持体の表面の電位の大きさを測定する測定手段と、
１つの前記光源により複数の異なる大きさの光量で前記像担持体をそれぞれ露光させた際の前記測定手段の測定結果に基づいて、前記光源で出射される光量の大きさと、前記像担持体の表面の電位の大きさとの間の関係を導出する導出手段と、
露光前の前記像担持体の帯電電位の大きさから露光後の前記像担持体の表面の電位の大きさの目標値を求め、その目標値から前記導出手段により導出された関係を用いて、前記光源で出射すべき光量の目標値を求め、その光量の目標値に応じて前記光源で出射される光量の大きさである設定値を補正する補正動作を、各光源に対してそれぞれ独立して実行可能な制御手段と、
を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、複数の光源で像担持体を露光する方式の画像形成装置において、各光源の光量補正を高精度に行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】実施例１の画像形成装置の制御について説明するためのブロック図
【図２】実施例１の画像形成装置の要部の概略構成を示す断面図
【図３】実施例１の画像形成装置の要部の概略構成を示す図
【図４】プリント動作時の感光ドラムの表面電位の状態遷移について説明する図
【図５】実施例１の２ビーム半導体レーザモジュールの概略構成を示す外観図
【図６】実施例１の２ビーム半導体レーザとその周辺の構成を説明する拡大図
【図７】実施例１のレーザドライバ内の回路ブロック図と周辺回路図
【図８】図４におけるＶＬ（露光後電位）１４１の状態を説明するための図
【図９】実施例１の光量補正制御の説明のためのフローチャートを示す図
【図１０】実施例３の光量補正制御の説明のためのフローチャートを示す図
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下に図面を参照して、この発明を実施するための形態を例示的に詳しく説明する。ただし、この実施の形態に記載されている構成部品の寸法、材質、形状それらの相対配置などは、発明が適用される装置の構成や各種条件により適宜変更されるべきものであり、この発明の範囲を以下の実施の形態に限定する趣旨のものではない。
【００１２】
［実施例１］
以下に、実施例１について説明する。
図１は、本実施例の画像形成装置としてのレーザビームプリンタ１００の制御について説明するためのブロック図である。
図１に示すように、ホストＰＣ１０１は、画像コントローラ１０２からレーザビームプリンタ１００の状態（エラーの有無や種類、給送トレイ（不図示）内の記録材の有無、トナーカートリッジ（不図示）のトナー残量など）に関する情報を取得する。そしてホストＰＣ１０１は、画像コントローラ１０２へプリント指示コマンドや画像データを送出する。
【００１３】
画像コントローラ１０２は、制御手段としてのエンジン制御部１０３内のＣＰＵ１３９からプリンタエンジンの状態（エラーの有無や種類、給送トレイ内の記録材の有無、トナーカートリッジのトナー残量など）に関する情報を取得する。そして画像コントローラ１０２は、ＣＰＵ１３９へプリント指示コマンド等、エンジン制御部１０３内のＡＳＩＣ（不図示）へプリンタエンジン用に展開した画像データ等を送出する。
【００１４】
ＣＰＵ１３９は、プリント指示コマンドを受けると、プリンタエンジンにエラーが無くプリント可能状態であることを確認した後、次のような制御を行う。すなわち、定着器温調制御部１０９への給電により定着器（不図示）の加熱を開始する。そして、記録材搬送制御部１０４のモータ（不図示）、光学系制御部１０７のスキャナモータ（不図示）、感光ドラム回転制御部１０５の感光ドラム１１１を一定速度で回転させるモータ（不図示）を起動する。ここで、感光ドラム１１１は像担持体に相当する。
そして、給送可能状態になった後、記録材搬送制御部１０４の給送クラッチ（不図示）をオンすることで給送トレイ内の記録材をピックアップする。又は、エンジン制御部１０３は、給送オプション制御部１１０へタイミングを指示して給送させ、プリンタエンジン内へ記録材を搬送する。
【００１５】
図２は、図１に示す制御部の要部１３８について説明するための図であって、感光ドラム１１１の回転軸の軸方向に直交する断面をとったときのレーザビームプリンタ１００の要部の概略構成を示す図である。図２においては、光学系制御部１０７、高圧制御部１０６の内部構成について詳細に示しており、また、要部１３８と、要部１３８を制御するエンジン制御部１０３との接続をブロック図として示している。
給送された記録材の先端がセンサ入力部１０８のＴＯＰセンサ（不図示）で検知されると、高圧制御部１０６の帯電バイアス印加回路１１６により生成された高電圧で、帯電手段としての帯電ローラ１１２により感光ドラム１１１表面が一様に帯電される。これにより、感光ドラム１１１表面は、Ｖｄ１４３（帯電後電位、帯電電位、露光前のドラム電位）に帯電される。
【００１６】
光学系制御部１０７の２ビーム半導体レーザモジュール１２０は、エンジン制御部１０３から送出された画像データに従って、感光ドラム１１１に対し、２ビーム半導体レーザ１２３からフロント光束１２４を照射（露光）する。このことで、フロント光束１２４が照射された感光ドラム１１１表面の部分（画像部）は、ＶＬ１４１（露光後電位）まで除電され、潜像（静電潜像、静電潜像画像）が形成されることとなる。感光ドラム１１１上のフロント光束１２４が照射された潜像には、Ｖｄｃ１４２（現像バイアス）が印加され
た現像スリーブ１１４からトナー（現像剤）が供給される。このことで、感光ドラム１１１上の潜像がトナーにより現像され、トナー画像が感光ドラム１１１上に形成される。ここで２ビーム半導体レーザ１２３は、複数の光源として２つのレーザ（以下、ＬＤ１_１
９３、ＬＤ２_１９４）を備え、感光ドラム１１１に対しそれぞれフロント光束１２４（
後述するＬＤ１フロント光束１２４ａ、ＬＤ２フロント光束１２４ｂ）を照射する。
【００１７】
そして、高圧制御部１０６の転写バイアス印加回路１１８によって生成された高電圧が、搬送される記録材と感光ドラム１１１に対して印加されることで、感光ドラム１１１上のトナー画像が記録材に転写される。トナー画像が転写された記録材は、定着器温調制御部１０９において加圧、加熱されることで定着され、排出トレイ（不図示）へ排出される。
【００１８】
図４は、プリント動作時（プリント時、画像形成時）に、図２における感光ドラム１１１の表面電位がどのような状態遷移を行うかについて説明するための図である。以下に、図４を用いて、図２で説明した感光ドラム１１１表面の電位の大小関係について説明する。
トナー画像が転写された後の表面電位が不均一の感光ドラム１１１は、帯電ローラ１１２によって−６００Ｖ（＝Ｖｄ１４３）で均一になるように帯電される。その後、フロント光束１２４による照射によって照射された部分は−２００Ｖ（＝ＶＬ１４１）にまで除電され、潜像となる。
【００１９】
その後、感光ドラム１１１表面の電位がＶＬ１４１となる部分は、−４００Ｖ（＝Ｖｄｃ１４２）が印加された現像スリーブ１１４と対向する。このとき、ＶＬ１４１とＶｄｃ１４２の電位差２００Ｖ（コントラスト１４４）によって、感光ドラム１１１表面の電位がＶＬ１４１の部分にトナーが付着することとなる。また、Ｖｄ１４３とＶｄｃ１４２の電位差２００Ｖ（バックコントラスト１４５）によって、感光ドラム１１１表面の電位がＶｄ１４３の部分には、トナーは付着しない。
このコントラスト１４４、バックコントラスト１４５を安定させることで、記録材への転写、定着後の画像を安定的に高品質に保つことができる。
【００２０】
図３は、図１に示す制御部の要部１３８について説明するための図であって、図２に示した構成に光学系部品を加えた構成を、レーザビームプリンタ１００の上方から見たときの図である。
図２が感光ドラム１１１の回転軸方向から見た図だったのに対して、図３では、レンズやミラーなどの光学系部品を上方から見た上方図となっている。また、図３においても、要部１３８と、要部１３８を制御するエンジン制御部１０３との接続をブロック図として示している。
【００２１】
フロント光束１２４は２ビーム半導体レーザ１２３から照射され、平行光にするためのコリメータレンズ１３０、光路の走査面に対する傾きを補正するためのシリンドリカルレンズ１３１を経由し、一定速度で回転するポリゴンミラー１３２によって走査される。回転多面鏡としてのポリゴンミラー１３２により走査された角速度一定の光（光束）は、ｆθレンズ１３３を通って感光ドラム１１１上を等速で走査される。以下の説明において、ポリゴンミラー１３２によって光が偏向走査される方向を主走査方向といい、主走査方向と実質的に直交する方向であって、ポリゴンミラー１３２の回転軸と実質的に平行な方向を副走査方向という。また、レーザビームプリンタ１００の構成、光学部品の配置の都合によっては、折り返しミラー１３４を備える場合もある。また、光学部材として図３に示す移動可能なレンズ１３７は本実施例で用いるものではなく、後述の実施例２で用いるものであり、本実施例では、フロント光束１２４の光路の外側に位置している。
【００２２】
水平同期信号ＩＣ１３５に入射した光によって生成される水平同期信号（不図示）はＣＰＵ１３９に送出され、ＣＰＵ１３９はこの水平同期信号（不図示）に同期して画像データ（図７の説明で詳細後述）をレーザドライバ１１９へ送出する。
レーザドライバ１１９は、この画像データに応じて２ビーム半導体レーザ１２３を点滅制御することで、感光ドラム１１１上に水平同期のとれた潜像を形成する。
【００２３】
一般的に、半導体レーザは、環境温度だけではなく自己発熱を含む熱や寿命などによって、一定光量を保つために必要な電流が変化する。よって、フロント光束１２４から感光ドラム１１１上に結像したスポットの光量を所望範囲内に保つためには、規定時間内に光量調整（以下、ＡＰＣ）を行い続ける必要がある。
ＡＰＣとは具体的には、レーザ発光させ、バック光束１２２によってフォトダイオード１２１で発生する電流を一定に保つよう、半導体レーザへ注入する電流を調整することによって、フロント光束１２４の光量を一定に保つことである。ここで、フォトダイオード１２１は、バック光束１２２（レーザから出射された光の一部）を受光する受光部（受光素子）に相当する。
そのため、フォトダイオード１２１が１個の２ビーム半導体レーザ１２３のＡＰＣを行うためには、１ビームごとにＡＰＣを行う必要がある。２ビームを同時に照射させた場合には、個々の光量差を１個のフォトダイオードで測定（検出）することはできず、２ビームの合計光量を測定することになり、個々の光源に対して高精度に光量調整を行うことができないことが懸念される。
【００２４】
図５は、図２，３に示す光学系制御部１０７を構成する２ビーム半導体レーザモジュール１２０の概略構成を示す外観図である。
金属製のレーザケース缶１５０は、４本の金属製の端子１５１，１５２，１５３，１５４と、ＬＤ１フロント光束１２４ａ、ＬＤ２フロント光束１２４ｂを照射する窓部と、を備える。４本の金属製の端子１５１，１５２，１５３，１５４は、図２のレーザドライバ１１９と同じプリント基板へ半田で実装され、レーザドライバ１１９と電気的に接続される。
【００２５】
図６は、図５に示す２ビーム半導体レーザモジュール１２０内部の２ビーム半導体レーザ１２３とその周辺の構成を説明するための拡大図である。
２ビーム半導体レーザ１２３は、図５の電源端子１５１、レーザ接続端子１_１５２，
レーザ接続端子２_１５３にワイヤ接続され、レーザドライバ１１９によってそれぞれ電
流が供給され発光する。２ビーム半導体レーザ１２３の前方端部には、半導体プロセスによって高精度に２つの発光点（ＬＤ１フロント光発光点１５７ａとＬＤ２フロント光発光点１５７ｂ）が数μｍ〜数１００μｍの間隔１５５を介して形成されている。また、２ビーム半導体レーザ１２３の内部には、導波路１５９、後方端部にはＬＤ１バック光発光点１５８ａ、ＬＤ２バック光発光点１５８ｂが形成されている。そして、この２ビーム半導体レーザ１２３の前後の端面に備わる反射膜によって前方に放射されるフロント光束１２４ａ，１２４ｂと後方に放射されるバック光束１２２ａ，１２２ｂの光量比を決定している。
ＬＤ１バック光発光点１５８ａ、ＬＤ２バック光発光点１５８ｂから出射された光束は、１個のフォトダイオード１２１上に照射される。フォトダイオード１２１はＰＤ端子１５４にワイヤ接続され（不図示）、レーザドライバ１１９によって発生した電流がモニタされる。ＬＤ１フロント光発光点１５７ａ、ＬＤ１バック光発光点１５８ａは、ＬＤ１_
１９３を構成し、ＬＤ２フロント光発光点１５７ｂ、ＬＤ２バック光発光点１５８ｂは、ＬＤ２_１９４を構成している。
【００２６】
図７は、図２，３に示す光学系制御部１０７を構成するレーザドライバ１１９内の回路ブロック図と周辺回路図である。
ＣＰＵ１３９は、レーザドライバ１１９のロジック部１８３からドライブ電流源１７９又は１８０、レーザスイッチング部１８６又は１８７を介してＬＤ１_１９３、又はＬＤ
２_１９４へ電流１８４又は１８５を注入開始することで発光開始する。
図５で説明したＰＤ端子１５４を経由してレーザドライバ１１９へ流れるフォトダイオード１２１からの電流は、ＰＤモニタ１７０を介して抵抗１７６又は１７７へ流れることで電圧へ変換される。変換された電圧は、電流１８４又は１８５が増加されることで光量も増大され、最終的には安定的に基準電圧Ｖｒｅｆ１７８になるように電流、すなわち光量が調整される。この時の電流を電圧変換しサンプルホールド回路１７１又は１７２に接続したコンデンサ１７３又は１７４へチャージし記憶する。
この一連の動作が具体的なＡＰＣ制御であり、ＡＰＣを行うための発光をＡＰＣ発光と呼ぶ。プリント時には、非画像領域１４０を照射するタイミングでＡＰＣ発光を行い、そこで記憶された光量に従い上述のように図７の画像データ１９０、１９１に基づき点滅制御することで、画像領域１３６へ所望の潜像を形成する。ここで、画像領域１３６は、感光ドラム１１１の回転軸方向において、感光ドラム１１１表面のうち潜像が形成され得る領域であり、非画像領域１４０は、感光ドラム１１１の回転軸方向において、感光ドラム１１１表面のうち画像領域１３６以外の領域である。
【００２７】
ここで、測定手段としての表面電位センサ１１３について説明する。
表面電位センサ１１３は、非画像領域１４０に配置された場合には、プリント動作中に感光ドラム１１１の表面電位を測定（検出）することができる。しかし、プリント中に表面電位を測定する必要がない場合には、表面電位センサ１１３の設置位置は画像領域１３６内でも良い。このような場合、表面電位センサ１１３を画像領域１３６内に配置することで、感光ドラム１１１の回転軸方向の長さが長くなるのを抑えることができる。また、専用の表面電位センサ１１３を用いずに、感光ドラム１１１から帯電ローラ１１２又は転写ローラ１１５へ流れる放電電流を基に表面電位を測定しても良い。
表面電位センサ１１３によってＶＬ１４１を測定可能な場合、本実施例では、その測定した値を基に、ＬＤ１フロント光束１２４ａの光量を、所望のコントラスト１４４を得るための光量に補正する補正動作（以下、光量補正）を実行可能に構成されている。換言すると、表面電位センサ１１３の測定結果に基づいて、ＶＬ１４１とＶｄ１４３との差が所定値（本実施例では４００Ｖ）となるように、ＬＤ１フロント光束１２４ａの光量の大きさである設定値を補正することで、所望のコントラスト１４４が得られる。
【００２８】
図８は、図４におけるＶＬ１４１の状態を説明するための図である。
ＬＤ１フロント光束１２４ａとＬＤ２フロント光束１２４ｂが照射された場合の感光ドラム１１１上の１ｄｏｔスポット径は円形又は楕円形であり、連続照射することで横線状の潜像が形成される。このとき、ＬＤ１フロント光束１２４ａとＬＤ２フロント光束１２４ｂは、感光ドラム１１１の表面における副走査方向の異なる位置をそれぞれ照射（露光）するように構成されている。
【００２９】
図８（ａ）には、感光ドラム１１１が感光ドラム回転制御部１０５によってプリント時と同じ速度で回転（以下、全速回転）している状態で、ＬＤ１フロント光束１２４ａとＬＤ２フロント光束１２４ｂを同時に照射し続けたときに形成される潜像を示す。
この場合、感光ドラム１１１表面が全面にわたって均一に露光されるので、感光ドラム１１１表面には、隙間なく均一な電位（ＶＬ１４１）の潜像が形成される。
ここで、図８においては、感光ドラム１１１上で電位がＶＬ１４１の部分を黒色（べた画像）で示し、Ｖｄ１４３の部分を白色（白抜き画像）で示している。
【００３０】
図８（ｂ）は、ＬＤ１フロント光束１２４ａだけで照射し続けた時の図であり、このような場合には、ＶＬ１４１の部分とＶｄ１４３の部分が交互に形成された横縞状の潜像となる。
このように、感光ドラム１１１上に、電位がＶＬ１４１の部分とＶｄ１４３の部分が周期的に形成され横縞状の潜像が形成された場合には、ＶＬ１４１を正確に測定することができず、光量補正を行うことができないことが懸念される。
【００３１】
そこで、本実施例では、ＬＤ１フロント光束１２４ａだけを照射し、所望のコントラスト１４４を得る為の光量補正を行う場合、感光ドラム１１１の表面電位が均一となるように、感光ドラム１１１の回転速度を全速回転より遅い速度に減速する。
すなわち、本実施例では、図８（ｃ）に示すように、ＬＤ１_１９３だけＡＰＣ発光を
行いながらＬＤ１フロント光束１２４ａを照射し、全速回転時のおよそ１／２の速度で感光ドラム１１１を回転するように感光ドラム回転制御部１０５で制御している。
これにより、隙間なく均一な電位（ＶＬ１４１）の潜像を感光ドラム１１１上に形成することができ、表面電位センサ１１３によって均一なＶＬ１４１を測定可能となる。したがって、所望のコントラスト１４４を得る為のＬＤ１フロント光束１２４ａの光量補正を行うことができる。
同様の方法で、ＬＤ２フロント光束１２４ｂについても光量補正を行う。このように、上述した光量補正を、各レーザ（各光源）に対してそれぞれ独立して実行することで、プリント時に所望のコントラスト１４４、バックコントラスト１４５を得ることができる。
【００３２】
図９は、本実施例において、ＣＰＵ１３９が実行する具体的な光量補正のシーケンスを示すフローチャートである。
まずＣＰＵ１３９は、ステップ（以下、Ｓ）３０２でレーザビームプリンタ１００が備える光量設定等を記憶する記憶手段としてのＥＥＰＲＯＭ（不図示）の情報を基に、光学系制御部１０７で過去に一度でも高精度に光量補正が行われたかどうかを判断する。ここで、ＥＥＰＲＯＭは、電気的に書き換え可能で不揮発性なメモリであるとよい。
Ｓ３０２で否定判断の場合は、Ｓ３１２へ進み、前述のように１つのレーザごとに独立して、ＡＰＣ発光を行いながら全速回転時のおよそ１／２の速度で感光ドラム１１１を回転することで光量補正を行う。そして、この光量補正の結果、及び光量補正時の条件をＥＥＰＲＯＭに記憶する。光量補正時の条件とは、例えばプリント枚数、感光ドラム１１１の積算回転量、環境（温度、湿度等）、ＬＤ１_１９３、ＬＤ２_１９４各々の積算発光時間、各レーザへ注入する電流１８４，１８５の値、ＰＤモニタ１７０における電流電圧変換結果等である。
【００３３】
一方、Ｓ３０２で過去に光量補正を行ったことが記憶されていたと判断した場合は、Ｓ３０３に進む。Ｓ３０３では、前回光量補正を行ってからのＬＤ１_１９３、ＬＤ２_１９４各々の積算発光時間を記憶手段から確認し、規定より長い時間が経過したかどうかを判断する。規定より長い時間が経過していたと判断した場合には、経年変化によって閾値電流（レーザ発光開始電流）や微分効率（光量／電流の傾き）が変化している可能性があると判断し、Ｓ３１２に進み、ＬＤ１_１９３、ＬＤ２_１９４各々の光量補正を行う。
【００３４】
Ｓ３０３で積算発光時間が規定以内の時間だった場合には、Ｓ３０４へ進む。Ｓ３０４では、Ｓ３０２，３０３以外の要因でＬＤ１_１９３、ＬＤ２_１９４の光量の相対差が拡大する要因が規定以内かどうかを判断し、規定以内でない場合にはＳ３１２に進みＬＤ１_１９３、ＬＤ２_１９４各々の光量補正を行う。拡大する要因としては、例えばポリゴンミラー１３２の積算回転数が規定より長い時間に達し、外部から吸い込む微小な塵埃などがレンズや絞り部などの光学系の透過率を変化させることなどが考えられる。
【００３５】
次に、拡大要因が規定以内だった場合には、Ｓ３０５へ進み、Ｓ３０５では、ＣＰＵ１３９はレーザビームプリンタ１００に備わるセンサ入力部１０８によって環境を測定し、環境の変化量が規定以内かどうかを判断する。環境の変化量が規定以内でない場合には、Ｓ３１３へ進む。Ｓ３１３では、感光ドラム１１１（画像領域１３６）上を走査している
期間は、ＬＤ１_１９３、ＬＤ２_１９４同時に強制発光を行う。そして、感光ドラム１１１（画像領域１３６）を走査していない期間では、ＬＤ１_１９３、ＬＤ２_１９４各々で毎走査ごと、又は数走査に一度、ＡＰＣを行う。このような短いインターバルでＡＰＣを行うことで、熱ドループやサンプルホールドされたコンデンサ１７３，１７４の電荷がリークによって規定より大きく変化しないように、光量を保持する。
ここで、強制発光とは、フォトダイオード１２１に流れる電流を基にせず、ＡＰＣでコンデンサ１７３又は１７４に記憶された値でＬＤ１_１９３又はＬＤ２_１９４を強制的に発光することをいう。よって、問題なくＬＤ１_１９３、ＬＤ２_１９４を同時に発光することができる。
【００３６】
Ｓ３０５で環境変化が規定以内だった場合、Ｓ３０６に進み、Ｓ３０６では、感光ドラム１１１を保持するカートリッジ（不図示）が備えるＥＥＰＲＯＭなどの記憶手段（不図示）からの情報を基に感光ドラム１１１が新品かどうかを判断する。新品と判断した場合には、Ｓ３１３に進み、ＬＤ１_１９３、ＬＤ２_１９４同時に強制発光することによって感光ドラム１１１を照射し、ＶＬ１４１の測定を行う。そして、所望のコントラスト１４４を得る為に必要な光量変更割合を算出し、ＬＤ１_１９３、ＬＤ２_１９４の光量を算出した一定の割合で光量補正する。光量を補正する方法としては、例えば全ての光源に対する（サンプルホールド回路１７１又は１７２で）サンプルホールドした電圧をＰＷＭ信号やＤＡコンバータ（不図示）を用いて一定の割合で変圧するなどの方法がある。
【００３７】
Ｓ３０６で感光ドラム１１１が新品でない（使用済みである）と判断した場合にはＳ３０７に進む。Ｓ３０７では、感光ドラム１１１の積算回転量を、感光ドラム１１１を保持するカートリッジが備える記憶手段から確認し、積算回転量が規定以内かどうかを判断する。積算回転量が規定以内でない（規定より長い時間に達している）と判断した場合、感光ドラム１１１の膜圧が減少し感光特性が変化している可能性があると判断し、Ｓ３１３へ進みＬＤ１_１９３、ＬＤ２_１９４同時に強制発光を行うことで光量補正を行う。ＣＰＵ１３９はＬＤ１_１９３、ＬＤ２_１９４同時に強制発光によって光量補正を行った後においても同様に、その結果や条件を、感光ドラム１１１を保持するカートリッジが備える記憶手段に記憶する。
【００３８】
以上で光量補正は完了し、光量に関してはプリント可能状態であるＳ３０８へ進み、その他の機能もプリント可能な状態ならば、Ｓ３０９でＣＰＵ１３９が画像コントローラ１０２からプリント指示を受信すると、Ｓ３１０へ進みプリント動作を開始する。
その後、Ｓ３１１へ進み、プリントジョブが１枚だった場合にはＳ３１５に進み、このシーケンスを終了しスタート３０１に戻る。プリントジョブが複数枚だった場合、Ｓ３１４に進み、所定枚数以上連続的にプリントされた場合には、プリントジョブを一旦中断し、シーケンスを終了した後、スタート３０１に戻る。そして、再度、光量補正を行った後に、プリントジョブを再開することで、所望のコントラスト１４４を維持することができる。
【００３９】
ここで、Ｓ３１３においては、ＬＤ１_１９３、ＬＤ２_１９４同時に強制発光するものでなくてもよく、次のようにしてＬＤ１_１９３、ＬＤ２_１９４の光量補正を行っても良い。
まず、ＬＤ１_１９３だけＡＰＣ発光を行いながらプリント時のおよそ１／２の速度で
感光ドラム１１１を回転させることでＬＤ１_１９３の光量補正を行う。その後、ＬＤ１_１９３の今回の光量補正結果と過去の光量補正結果を比較し、ＬＤ１_１９３とＬＤ２_１９４における記憶済のＰＤ電流の比率から、ＬＤ２_１９４の所望の光量を算出する。こ
こで、ＰＤ電流は、ＰＤ端子１５４を経由してレーザドライバ１１９へ流れるフォトダイオード１２１からの電流である。また、ＬＤ２_１９４は、光量補正（補正動作）が実行
された光源以外の光源に相当する。
このような光量補正を、所定の条件（Ｓ３０２〜Ｓ３０４のいずれかで否定判断）となるまで行うものであってもよい。そして、所定の条件となったときには、全てのレーザに対して高精度に光量補正が行われる。
【００４０】
以上説明したように、本実施例によれば、ＬＤ１_１９３、ＬＤ２_１９４の各々の光量補正を独立して、より高精度に行うことが可能となる。これにより、より安定したコントラスト１４４を得ることができる。
更に、光学系制御部１０７、ポリゴンミラー１３２、ｆθレンズ１３３等レンズ系を備えるレーザスキャナユニット１４６を組立・製造する工程において、ＬＤ１_１９３、Ｌ
Ｄ２_１９４の各々について高精度に光量を調整する必要が無くなる。これにより、高精
度に光量を調整する分の製造コストを削減できるという効果も得られる。
また、上述したシーケンスを実行することで、自動的に光量補正を行うことができる。これにより、故障等のためレーザスキャナユニット１４６を交換する際においても、交換後に光量が自動調整され、メンテナンスも簡便になるという効果も得ることができる。
【００４１】
ここで、本実施例では、２ビーム半導体レーザ１２３、１個のフォトダイオード１２１を備えた２ビーム半導体レーザモジュール１２０について述べてきた。しかしながら、本発明は、感光ドラム１１１表面における副走査方向の異なる位置をそれぞれ露光する複数の光源を備えた構成であれば、好適に適用することができる。複数の光源を備えた構成において、１つの光源ごとに光量補正を行い、その際、感光ドラム１１１の表面の電位が均一となるように、感光ドラム１１１の回転速度を画像形成時よりも遅くすることで、各光源の光量補正を高精度に行うことが可能となる。
特に、複数の光源を有する半導体レーザモジュール（光源ユニット、露光手段）としては、少なくともｍ本の照射光と、照射光をモニタする為のｍよりも少ないｎ個の受光素子（光量モニタ素子）とから構成されるものであるとよい。すなわち、ｍビーム半導体レーザとｎ個のフォトダイオードとを有する半導体レーザモジュールであればよく、例えば、２個のフォトダイオードと３２個の照射光のマルチビーム半導体レーザを備える半導体レーザモジュールであってもよい。
【００４２】
また、本実施例の、２ビーム半導体レーザ１２３を備えた構成では、１レーザごとにＡＰＣ発光を行いながら光量補正を行う際、全速回転時のおよそ１／２の速度で感光ドラム１１１が回転するように制御するものであった。これに対して、ｍビーム半導体レーザを備えた構成の場合には、全速回転時のおよそ１／ｍ（プリント時の回転速度をレーザ（光源、光束）の数で除算した値）の速度で、感光ドラム１１１が回転するように制御するとよい。例えば、レーザビームプリンタ１００が４ビームレーザを備える場合には、全速回転時のおよそ１／４の速度で感光ドラム１１１を回転させることで、２ビームレーザの場合と同様に、１個のレーザごとに光量補正を行うことができる。
【００４３】
［実施例２］
以下に、実施例２について説明する。ここで、本実施例において、実施例１と同様の構成部分については同一の符号を付して、その説明は省略する。
実施例１においては、感光ドラム１１１の回転速度を遅くすることでＶＬ１４１を均一にした。しかしながら、レーザビームプリンタ１００に、感光ドラム１１１の回転速度を減速する手段が備えられていない場合がある。また、光量補正時に設定されるべき感光ドラム１１１の回転速度が、感光ドラム回転制御部１０５の減速可能な範囲より低速となってしまう場合もある。
【００４４】
これに対し本実施例では、光量補正を行う場合、図３のように移動可能なレンズ１３７をフロント光束１２４の光路上に移動させることで、図８（ｄ）のように、スポット径をプリント時よりも感光ドラム１１１の回転方向に拡大させることを特徴とする。ここで、
レンズ１３７は、ＣＰＵ１３９により制御される移動手段（移動機構）により移動可能に支持されており、プリント時には光路の外側に位置している。また、本実施例における光量補正を行う場合は、図９においては、Ｓ３１２で各光源ごとにＡＰＣ発光で光量補正を行う場合、又は、Ｓ３１３で１個の光源をＡＰＣ発光で光量補正を行う場合に対応する。
２ビームレーザのＬＤ１_１９３、ＬＤ２_１９４を備える場合には、感光ドラム１１１の回転方向（副走査方向）へスポット径をおよそ２倍に拡大し、１個のレーザだけＡＰＣ発光を行いながら走査させて光量補正を行う。このとき、感光ドラム１１１の回転速度は減速させず、プリント時と同じ速度で回転させる。これにより、実施例１と同様に均一な潜像を得ることができる。
このように、本実施例においても、上述した実施例１同様の効果を得ることができる。
【００４５】
ここで、感光ドラム１１１上の主走査方向に関しては、連続照射されたＬＤ１_１９３
又はＬＤ２_１９４によって走査されるため、走査される範囲（領域）はスポット径によ
るものではない。したがって、移動可能なレンズ１３７を透過したスポット径の主走査方向幅は拡大、縮小してもよく、任意である。
また、図３においては、スポット径を拡大する為に移動可能なレンズ１３７をシリンドリカルレンズ１３１とポリゴンミラー１３２の間に配置しているが、スポット径を拡大させるためのレンズの配置は光路内であれば任意である。
更に、レンズではなく、例えば折り返しミラー１３４の位置を変えることで光路長を変える、又はミラーの曲率が異なるものに切り替えることで、スポット径を拡大しても良い。
また、本実施例の、２ビーム半導体レーザ１２３を備えた構成では、各レーザごとに光量補正を行う際、感光ドラム１１１の回転方向へスポット径をおよそ２倍に拡大した。これに対して、ｍビーム半導体レーザを備えた構成の場合には、感光ドラム１１１の回転方向へスポット径をおよそｍ（プリント時の大きさをレーザの数で乗算した値）倍に拡大するとよい。
【００４６】
移動可能なレンズ１３７を光路上に移動させた場合にはレンズの透過率、折り返しミラー１３４を切り替えた場合には反射率によって誤差が発生する場合がある。この透過率又は反射率の誤差が既知で且つ安定しているならば、所望のコントラスト１４４を得る為に必要な光量を計算によって導出すればよい。透過率又は反射率の誤差が既知ではない又は安定していないならば、次のようにするとよい。すなわち、組立・製造工程で透過率又は反射率を測定するか、又は透過率の誤差が移動可能なレンズ１３７と同等、又は反射率の誤差が折り返しミラー１３４と同等の光減衰器を備え、切り替えることで補正する。
【００４７】
［実施例３］
以下に、実施例３について説明する。ここで、本実施例において、実施例１，２と同様の構成部分については同一の符号を付して、その説明は省略する。
図１０は、本実施例の光量補正制御について説明するためのフローチャートを示す図である。
本実施例においては、感光ドラム１１１の回転速度を減速せず、スポット径も拡大することなく、図８（ｂ）のように、横縞状にＶＬ１４１とＶｄ１４３が周期的に繰り返されている不均一な潜像を、ＬＤ１_１９３だけのＡＰＣ発光により形成する。
このとき、表面電位センサ１１３においては、感光ドラム１１１の表面電位を測定するためのセンサ部（測定部）が、電位測定結果が安定するほど十分大きな面積を有する（感光ドラム１１１の回転方向の長さが十分に長い）ように構成されているものとする。
【００４８】
前述の不均一な潜像を測定した平均電位と、帯電電位Ｖｄ１４３との差は、光量と比例する系の場合、２ビーム半導体レーザ１２３なので、式１のように２倍した結果が、ＶＬ１４１−Ｖｄ１４３ と等しくなる又は許容範囲内になる。ここで述べるＶＬ１４１は、
ＶＬ１４１−Ｖｄ１４３ が所望の電位差（所定値）となるような所望の値（Ｖｄ１４３
から求められる目標値）である。
式１：ＶＬ１４１−Ｖｄ１４３＝（測定した平均電位−Ｖｄ１４３）×２
このような系の場合には、ＬＤ１_１９３、ＬＤ２_１９４各々の光量を、表面電位センサ１１３で測定される各々の電位が、（ＶＬ１４１＋Ｖｄ１４３）／２になるように補正することで、所望のコントラスト１４４を得ることができる。
この場合には、実施例１、実施例２と同様、図９のシーケンスフローチャートに従って光量補正することができる。
【００４９】
しかし、感光ドラム１１１の帯電特性又は感光特性、表面電位センサ１１３の特性によっては、式１のような簡単な式で計算することができない系もある。例えば、比例関係にはならないが、ＶＬ１４１−Ｖｄ１４３ と、その（所望の）ＶＬ１４１を形成するため
の光量Ｐｖｌとの関係が切片を持つ一次関数で近似できる系の場合には、次のようにして、近似式（関係式）を求めることができる。
すなわち、少なくとも２種類の大小異なる大きさの光量でＡＰＣ発光を行い、各々の光量で形成されたＶＬ１４１の測定を行うことで近似式を求めることができる。
【００５０】
この点について以下に具体的に説明する。
小さい光量Ｐｓｍａｌｌで形成された露光後電位の測定結果をＶＬｓｍａｌｌ、大きい光量Ｐｂｉｇで形成された露光後電位の測定結果をＶＬｂｉｇとすると、所望のＶＬ１４１と光量Ｐｖｌとの間の関係を式２で表すことができる。したがって、ＶＬ１４１−Ｖｄ１４３ が所定値となるような所望のＶＬ１４１を得るために、式２を用いて、光量Ｐｖ
ｌ（光量の目標値）を求めることができる。そして、この光量Ｐｖｌの値に応じて、ＬＤ１_１９３で出射される光量の大きさである設定値を補正することで、光量補正を行う。
式２：ＶＬ１４１−Ｖｄ１４３
＝［｛（ＶＬｂｉｇ−Ｖｄ１４３）−（ＶＬｓｍａｌｌ−Ｖｄ１４３）｝／（Ｐｂｉｇ−Ｐｓｍａｌｌ）］×２×（Ｐｖｌ−Ｐｂｉｇ）＋（ＶＬｂｉｇ−Ｖｄ１４３）
【００５１】
更に、一次関数の式で表すことができず、２次以上の多次関数で表される場合には、２種類以上の大小異なる大きさの光量でＡＰＣ発光を行い、その結果を基に、式２の導出方法と同様に近似式を導出することで所望の光量を算出することができる。
【００５２】
近似式の係数はバラツキが小さく且つ変動が小さい系の場合には、設計時に予め求め、予め設定（記憶）しておくことができる。これに対し、バラツキ又は変動が大きい系においては、図１０のように近似式の係数をシーケンスの中で導出することで、所望のコントラストを得る為の光量補正を行うことができる。
【００５３】
以下、図１０を用いて、本実施例の光量補正制御について説明する。
図１０のシーケンスは図９と同様、エンジン制御部１０３の各制御を司るＣＰＵ１３９が実行する。図１０において、図９と同様のステップは同じ符号としている。ここで、ＣＰＵ１３９（エンジン制御部１０３）は、導出手段に相当する。
図１０に示すように、Ｓ３０２〜Ｓ３０４のいずれかで否定判断された場合には、Ｓ３１６へ進む。
Ｓ３１６では、光量補正を行う為の近似式（例えば式２）が、予め設定されていない、又は過去に導出されたことがない、又は再計算を行い導出し直す必要があるかどうかを判断し、肯定判断の場合、Ｓ３１７へ進む。ここで、近似式が未知とは、例えば、レーザスキャナユニット１４６の組立・製造後の未使用の状態や、メンテナンス時等にレーザスキャナユニット１４６が交換されたときの状態をいう。また、再計算が必要とは、積算プリント枚数が規定以上増えて感光ドラムなどの耐久が進んだとき等の、計算し直す必要がある状態をいう。
【００５４】
Ｓ３１７では、１つのレーザごとにＡＰＣ発光を行いながら、近似式を導出することで、光量補正を行う。このとき、１つのレーザ（例えばＬＤ１_１９３）のＡＰＣ発光を異
なる大きさの２種類の光量で行い、表面電位センサにより各光量に対する平均電位の測定をそれぞれ行うことで、近似式を導出する。そして、導出した近似式、この光量補正の結果、及び光量補正時の条件をＥＥＰＲＯＭに記憶し、Ｓ３０８へ進む。光量補正時の条件とは、例えばプリント枚数、感光ドラム１１１の積算回転量、環境（温度、湿度等）、ＬＤ１_１９３、ＬＤ２_１９４各々の積算発光時間、各レーザへ注入する電流１８４，１８５の値、ＰＤモニタ１７０における電流電圧変換結果等である。
【００５５】
Ｓ３１６で近似式が予め設定済みであり、且つ再計算による式の再導出は不要であると判断した場合にはＳ３１３へ進む。
Ｓ３１３では、実施例１で説明したように、ＬＤ１_１９３、ＬＤ２_１９４同時に強制発光を行うことで光量補正を行うが、次のようにしてＬＤ１_１９３、ＬＤ２_１９４の光量補正を行っても良い。
まず、ＬＤ１_１９３だけＡＰＣ発光を行いながら、上述のように近似式を導出するこ
とで、ＬＤ１_１９３の光量補正を行う。その後、ＬＤ１_１９３の今回の光量補正結果と過去の光量補正結果を比較し、ＬＤ１_１９３とＬＤ２_１９４における記憶済のＰＤ電流の比率から、ＬＤ２_１９４の所望の光量を算出する。
【００５６】
以上説明したように、本実施例においても、上述した実施例１同様の効果を得ることができる。
ここで、本実施例では、表面電位センサ１１３として、電位測定結果が安定するほど十分大きな面積を有するものを適用したが、これに限るものではない。表面電位センサ１１３が、短時間の測定で測定値が安定するほど十分大きな面積を確保することができない場合には、次のようにして、感光ドラム１１１の表面電位の測定を行うものであってもよい。すなわち、複数回測定した値を演算処理して得られた値、例えば５ｍｓｅｃ周期のサンプリング速度で１００回測定を行って求められた平均値を、表面電位センサ１１３により測定された測定結果として用いても良い。この結果を用いても、好適に光量補正を行うことができる。
【符号の説明】
【００５７】
１００…レーザビームプリンタ、１０３…エンジン制御部、１１１…感光ドラム、１１３…表面電位センサ、１３９…ＣＰＵ、１９３…レーザＬＤ１、１９４…レーザＬＤ２
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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