(57)【要約】【課題】実際に発生している散乱Ｘ線に基づいて、前記Ｘ線検出部の出力の補正を正確に行なう。【解決手段】Ｘ線ＣＴ装置におけるＸ線検出器は、前記Ｘ線ＣＴ装置のＸ線源１４から入射するＸ線を光に変換するシンチレータ１０２ａと、シンチレータ１０２ａにおける光を電気信号に変換するフォトダイオード１０１ｂとを有するＸ線検出部１０３と、Ｘ線検出部１０３の出力を補正するために、散乱Ｘ線を電気信号に直接変換することによって検出する散乱Ｘ線検出部１０４であって、シンチレータアレイ１０２におけるスライス方向の端部及びチャネル方向の端部の少なくとも一方に沿って配置された散乱Ｘ線検出部１０４と、を備えることを特徴とする。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線ＣＴ装置におけるＸ線検出器であって、
前記Ｘ線ＣＴ装置のＸ線発生部から入射するＸ線を光に変換するシンチレータと、該シンチレータにおける光を電気信号に変換する光電変換部とを有するＸ線検出部と、
該Ｘ線検出部の出力を補正するために、散乱Ｘ線を電気信号に直接変換することによって検出する散乱Ｘ線検出部と、
を備えることを特徴とするＸ線検出器。
【請求項２】
前記シンチレータは、チャネル方向及びスライス方向の両方向に複数設けられてシンチレータアレイを形成しており、
前記散乱Ｘ線検出部は、前記シンチレータアレイにおけるスライス方向の端部に沿って、一又は複数のチャネル毎に設けられていることを特徴とする請求項１に記載のＸ線検出器。
【請求項３】
前記シンチレータは、チャネル方向及びスライス方向の両方向に複数設けられてシンチレータアレイを形成しており、
前記散乱Ｘ線検出部は、前記シンチレータアレイのチャネル方向の端部に沿って、一又は複数のスライス毎に設けられていることを特徴とする請求項１又は２に記載のＸ線検出器。
【請求項４】
前記Ｘ線検出部と前記散乱Ｘ線検出部とを有する検出器モジュールがチャネル方向に複数配置されており、
前記散乱Ｘ線検出部は、前記各検出器モジュールにおけるチャネル方向の端部に配置されている
ことを特徴とする請求項３に記載のＸ線検出器。
【請求項５】
前記散乱Ｘ線検出部は、フォトダイオードであることを特徴とする請求項１〜４のいずれか一項に記載のＸ線検出器。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれか一項に記載のＸ線検出器を備えることを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項７】
前記散乱Ｘ線検出部で検出された散乱Ｘ線に基づいて、前記Ｘ線検出部の出力を補正する補正部を備えることを特徴とする請求項６に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項８】
前記シンチレータは、チャネル方向及びスライス方向の両方向に複数設けられてシンチレータアレイを形成しており、
前記散乱Ｘ線検出部は、前記シンチレータアレイにおけるスライス方向の端部に沿って、一又は複数のチャネル毎に設けられており、
前記補正部は、前記シンチレータの各々に対応する前記散乱Ｘ線検出部の検出データに基づいて補正を行なう
ことを特徴とする請求項７に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項９】
前記散乱Ｘ線検出部は、前記シンチレータアレイにおけるスライス方向の両端部に沿って一対設けられており、
前記補正部は、前記シンチレータの各々に対応する一対の前記散乱Ｘ線検出部の検出データに対し、前記シンチレータの各々から対応する前記各散乱Ｘ線検出部までの距離に応じた重み付けによる重み付け加算を行なって、前記補正を行なう
ことを特徴とする請求項８に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項１０】
前記シンチレータは、チャネル方向及びスライス方向の両方向に複数設けられてシンチレータアレイを形成しており、
前記散乱Ｘ線検出部は、前記シンチレータアレイにおけるチャネル方向の端部に沿って、一又は複数のスライス毎に設けられており、
前記補正部は、前記シンチレータの各々に対応する前記散乱Ｘ線検出部の検出データに基づいて補正を行なう
ことを特徴とする請求項７〜９のいずれか一項に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項１１】
前記Ｘ線検出部と前記散乱Ｘ線検出部とを有する検出器モジュールがチャネル方向に複数配置されており、
前記散乱Ｘ線検出部は、前記検出器モジュールの前記シンチレータアレイにおけるチャネル方向の両端部に沿って一対設けられており、
前記補正部は、前記シンチレータの各々に対応する一対の前記散乱Ｘ線検出部の検出データに対し、前記シンチレータの各々から対応する前記各散乱Ｘ線検出部までの距離に応じた重み付けによる重み付け加算を行なって、前記補正を行なう
ことを特徴とする請求項１０に記載のＸ線ＣＴ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、散乱Ｘ線を検出することができるＸ線検出器及びＸ線ＣＴ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
Ｘ線ＣＴ装置においては、被検体を透過したＸ線をＸ線検出器で検出している。被検体を透過したＸ線には、例えば被検体内で散乱し進行方向が変化した散乱Ｘ線が含まれている。
【０００３】
前記Ｘ線検出器で検出されたＸ線に、散乱Ｘ線が含まれていると、Ｘ線ＣＴ画像の劣化が生じる。そこで、Ｘ線検出器には、散乱Ｘ線を除去するためのコリメータ（ｃｏｌｌｉｍａｔｏｒ）が設けられている（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１３−１９０３１０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、前記コリメータ板によって完全に散乱Ｘ線を除去できるわけではない。そこで、Ｘ線を検出する検出素子の各々の検出データに対して補正を行なう散乱Ｘ線補正が行われている。
【０００６】
この散乱Ｘ線補正は、各検出素子の検出データに対し、一律に同じ値を減算している。しかし、各検出素子に入射する散乱Ｘ線の量は常に同じではないので、正確な補正が行われていないおそれがある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前記課題を解決するためになされた発明は、Ｘ線ＣＴ装置におけるＸ線検出器であって、前記Ｘ線ＣＴ装置のＸ線発生部から入射するＸ線を光に変換するシンチレータと、このシンチレータにおける光を電気信号に変換する光電変換部とを有するＸ線検出部と、このＸ線検出部の出力を補正するために、散乱Ｘ線を電気信号に直接変換することによって検出する散乱Ｘ線検出部と、を備えることを特徴とするＸ線検出器である。
【発明の効果】
【０００８】
上記観点の発明によれば、前記散乱Ｘ線検出部によって散乱Ｘ線が検出されるので、実際に発生している散乱Ｘ線に基づいて、前記Ｘ線検出部の出力の補正を正確に行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明の実施の形態の一例であるＸ線ＣＴ装置の概略構成を示す機能ブロック図である。
【図２】図１に示すＸ線ＣＴ装置におけるＸ線検出器の概略構成を示す一部拡大平面図である。
【図３】図２の正面図である。
【図４】図２のＡ−Ａ線における一部省略断面図である。
【図５】一つのチャネルに対応する散乱Ｘ線検出部を説明する図である。
【図６】重み付け加算を説明する図である。
【図７】第一実施形態の変形例における散乱Ｘ線補正を説明する図である。
【図８】第二実施形態におけるＸ線検出器の概略構成を示す一部拡大平面図である。
【図９】第二実施形態の変形例における散乱Ｘ線補正を説明する図である。
【図１０】Ｘ線検出器の他例の概略構成を示す一部拡大平面図である。
【図１１】実施形態の他例におけるシンチレータアレイのスライス方向の端部の拡大断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、本発明の実施形態について図面に基づいて詳細に説明する。
（第一実施形態）
先ず、第一実施形態について説明する。図１に示すように、Ｘ線ＣＴ装置１０は、ガントリ（ｇａｎｔｒｙ）１２を有している。ガントリ１２は、Ｘ線源１４を有しており、このＸ線源１４からガントリ１２の相対する側にあるＸ線検出器１８に向かってＸ線ビーム（ｂｅａｍ）１６が投射される。Ｘ線検出器１８は、複数の検出器モジュール１００によって形成され、撮影対象２２を透過する投射Ｘ線を前記検出器モジュール１００の各々が検出する。前記各検出器モジュール１００は、入射するＸ線ビームの強さおよび前記撮影対象２２を透過したＸ線ビームの減衰を表す電気信号を出す。Ｘ線投射データを収集する走査の間、ガントリ１２とそれに搭載された構成部品が回転の中心２４を中心にして回転する。
【００１１】
ガントリ１２の回転およびＸ線源１４の作動は、Ｘ線ＣＴ装置１０の制御機構２６により支配される。制御機構２６は、Ｘ線源１４に電力とタイミング（ｔｉｍｉｎｇ）信号を供給するＸ線制御装置（ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）２８およびガントリ１２の回転速度と位置を制御するガントリ・モータ（ｍｏｔｏｒ）制御装置３０を含んでいる。制御機構２６のデータ収集システム（ＤＡＳ）３２は、検出器モジュール１００からのデータを収集する。
【００１２】
補正部３３は、後述のＸ線検出部１０３で検出されたＸ線検出データ（ｄａｔａ）及び後述の散乱Ｘ線検出部１０４で検出された散乱Ｘ線検出データを前記ＤＡＳ３２から受ける。前記補正部３３は、前記散乱Ｘ線検出データに基づいて、前記Ｘ線検出データの散乱Ｘ線補正を行ない、補正済Ｘ線検出データを作成する。詳細は後述する。前記補正部３３は、本発明における補正部の実施の形態の一例である。
【００１３】
前記画像再構成装置３４は、前記補正部３３から出力された前記補正済Ｘ線検出データに基づいて、高速画像再構成を行う。再構成された画像は、画像を記憶装置３８に記憶するコンピュータ（ｃｏｍｐｕｔｅｒ）３６に入力として加えられる。
【００１４】
コンピュータ３６はまた、オペレータ（ｏｐｅｒａｔｏｒ）からのコマンド（ｃｏｍｍａｎｄ）と走査パラメータ（ｐａｒａｍｅｔｅｒ）をキーボード（ｋｅｙｂｏａｒｄ）付きのオペレータ・コンソール（ｃｏｎｓｏｌｅ）４０を介して受け取る。結合されたディスプレイ（ｄｉｓｐｌａｙ）４２によりオペレータはコンピュータ３６からの再構成された画像および他のデータを見ることができる。オペレータ供給のコマンドとパラメータは、コンピュータ３６によって制御信号と情報をＤＡＳ３２、Ｘ線制御装置２８およびガントリ・モータ制御装置３０に供給するために使われる。さらに、コンピュータ３６は、撮影テーブル４６を制御して撮影対象２２をガントリ１２内の位置に着けるテーブル・モータ制御装置４４を操作する。これにより、撮影テーブル４６における撮影対象２２が移動する。ただし、図１では、説明の便宜上、撮影テーブル４６と撮影対象２２とが別々に示されている。
【００１５】
コンピュータ３６はまた、フレキシブル・ディスク（ｆｌｅｘｉｂｌｅｄｉｓｋ）やＣＤ−ＲＯＭ、ＵＳＢメモリ（ｍｅｍｏｒｙ）のようなコンピュータ読出し可能な記憶媒体５２から命令やデータを読み出したり、逆に記憶媒体５２にデータ等を記憶したりするためのデバイス（ｄｅｖｉｓｅ）５０を含んでいる。
【００１６】
前記Ｘ線検出器１８について図２〜図４に基づいて説明する。なお、各図は説明図であり、実物とは異なっている場合があるものとする。
【００１７】
図２及び図３に示すように、Ｘ線検出器１８は、複数の検出器モジュール１００を含んでいる。この複数の検出器モジュール１００は、長方形状であり、その長手方向と直交する方向であるチャネル（ｃｈａｎｎｅｌ）方向（Ｘ方向、対軸方向）に配置されている。前記検出器モジュール１００は、Ｘ方向に延びる円弧状の図示しないレール部材に固定される。
【００１８】
前記検出器モジュール１００は、フォトダイオードアレイ１０１とシンチレータアレイ１０２とを有する。前記フォトダイオードアレイ１０１は、板状の直方形状である。前記フォトダイオードアレイ１０１は、図４に示すように、シリコン（ｓｉｌｉｃｏｎ）で形成された基板１０１ａとこの基板１０１ａ内に設けられた複数のフォトダイオード１０１ｂとを含んでいる。前記フォトダイオード１０１ｂは、チャネル方向およびスライス（ｓｌｉｃｅ）方向（Ｚ方向、体軸と直交する方向）にマトリクス状に高密度で配列されている。前記フォトダイオード１０１ｂは、図２及び図４では、一部のみ（後述の第二フォトダイオード１０１ｂ−２のみ）図示されている。前記フォトダイオード１０１ｂは、受光した光のエネルギーに応じた電気信号に変換し、これを出力する。
【００１９】
前記フォトダイオードアレイ１０１の受光面には、前記シンチレータアレイ１０２が設けられている。このシンチレータアレイ１０２は、板状の直方形状であり、チャネル方向およびスライス方向にマトリクス状に高密度で配列された複数のシンチレータ１０２ａを含んでいる。前記シンチレータ１０２ａは、入射したＸ線のエネルギーに応じた光量の光を発する。
【００２０】
ここで、前記フォトダイオード１０１ｂとしては、図４に示すように、第一フォトダイオード１０１ｂ−１と第二フォトダイオード１０１ｂ−２とがある。前記第一フォトダイオード１０１ｂ−１は、前記シンチレータ１０２ａの各々の直下に配置され、これらシンチレータ１０２ａの各々と、互いに対応する位置関係で配列されている。これにより、互いに対応する前記シンチレータ１０２ａと前記第一フォトダイオード１０１ｂ−１とは、光学的に結合され、個々の検出素子を形成し、Ｘ線検出部１０３を構成する。なお、１個の検出素子は、例えば１〔ｍｍ〕角以下、あるいは０．５〔ｍｍ〕角以下のサイズである。
【００２１】
前記第一フォトダイオード１０１ｂ−１は、本発明における光電変換部の実施の形態の一例である。前記シンチレータ１０２ａは、本発明におけるシンチレータの実施の形態の一例である。また、前記Ｘ線検出部１０３は、本発明におけるＸ線検出部の実施の形態の一例である。
【００２２】
一方、前記第二フォトダイオード１０１ｂ−２は、前記シンチレータアレイ１０２におけるスライス方向の両端部に沿ってこの両端部の近傍に配置されている。前記第二フォトダイオード１０１ｂ−２は、チャネル毎にチャネル方向に配置されている。従って、前記第二フォトダイオード１０１ｂ−２は、前記シンチレータアレイ１０２におけるスライス方向の両端部に沿って、チャネル毎に一対ずつ設けられている。
【００２３】
前記第二フォトダイオード１０１ｂ−２は、上述した位置に配置されているので、前記シンチレータ１０２ａの直下に配置されておらず、前記シンチレータ１０２ａの光を電気信号に変換するために設けられていない。前記第二フォトダイオード１０１ｂ−２は、散乱Ｘ線を検出するために設けられている。前記第二フォトダイオード１０１ｂ−２には、散乱Ｘ線が直接入射する。前記第二フォトダイオード１０１ｂ−２は、散乱Ｘ線が直接入射すると、わずかな電荷が発生し電気信号を出力する。前記第二フォトダイオード１０１ｂ−２は、散乱Ｘ線を、光を介さずに直接電気信号に変換することによって散乱Ｘ線を検出する散乱Ｘ線検出部１０４を構成する。散乱Ｘ線を、光を介さずに直接電気信号に変換する。
【００２４】
ここで、シリコンで形成された前記基板１０１ａにおいて前記シンチレータアレイ１０２が設けられていない部分にＸ線が入射すると、光電効果によって電荷が発生する。この電荷が前記第一フォトダイオード１０１ｂ−１に入力するとノイズ源となる。しかし、本例では、前記基板１０１ａにおいて前記シンチレータアレイ１０２が設けられていない部分には前記第二フォトダイオード１０１ｂ−２が設けられている。従って、前記基板１０１ａにおいて前記シンチレータアレイ１０２が設けられていない部分で発生した前記電荷は、前記第二フォトダイオード１０１ｂ−２に入力するので、前記Ｘ線検出部１０３におけるノイズを減らすことができる。
【００２５】
散乱Ｘ線検出部１０４による散乱Ｘ線の検出データは、前記補正部３３において散乱Ｘ線補正に用いられる。具体的に説明する。前記補正部３３には、前記ＤＡＳ３２を介して、前記Ｘ線検出部１０３で検出されたＸ線の検出データと、前記散乱Ｘ線検出部１０４で検出された散乱Ｘ線の検出データとが入力される。前記補正部３３は、前記Ｘ線検出部１０３の各検出素子で検出された前記Ｘ線の検出データの各々について、対応する散乱Ｘ線検出部１０４の検出データ値に応じた散乱Ｘ線補正を行なう。前記補正部３３は、例えば前記Ｘ線の検出データ値に対し、散乱Ｘ線の検出データ値に応じた減算処理を行なう。
【００２６】
ここで、前記散乱Ｘ線検出部１０４は、前記Ｘ線検出部１０３のチャネル毎に、前記シンチレータアレイ１０２におけるスライス方向の両端部に沿って一対設けられている。「チャネル毎に設けられている」とは、一つのチャネルのＸ線検出部１０３のスライス方向の延長線上に設けられていることを意味する。前記補正部３３は、一つのチャネルにおける前記Ｘ線検出部１０３の各々の検出データに対し、そのチャネルにおける一対の散乱Ｘ線検出部１０４の検出データを用いて、散乱Ｘ線補正を行なう。例えば図５において、一点鎖線で囲まれた一つのチャネルの前記Ｘ線検出部１０３の各々の検出データに対しては、一点鎖線内の一対の散乱Ｘ線検出部１０４の検出データを用いて散乱Ｘ線補正が行われる。
【００２７】
前記補正部３３は、各チャネルにおいて、スライス方向に配置された複数の前記Ｘ線検出部１０３の各々の出力を補正する。前記補正部３３は、各チャネルにおける一対の前記散乱Ｘ線検出部１０４の検出データに対し、前記各Ｘ線検出部１０３から前記各散乱Ｘ線検出部１０４までの距離に応じた重み付けによる重み付け加算を行なって、各チャネルの補正を行なう。例えば、図６に示すように、斜線で示された一つのＸ線検出部１０３の検出データの散乱Ｘ線補正を行なう場合、一対の前記散乱Ｘ線検出部１０４のうち、前記Ｘ線検出部１０３からの距離が近い方の散乱Ｘ線検出部１０４の検出データの重み付け係数を、距離が遠い方の散乱Ｘ線検出部１０４の検出データの重み付け係数よりも重くして、一対の前記散乱Ｘ線検出部１０４の検出データ値を重み付け加算する。そして、前記補正部３３は、重み付け加算によって得られたデータ値に比例した値を用いて、前記Ｘ線検出部１０３の検出データに対する減算処理を行なうことにより、前記Ｘ線検出部１０３の検出データを補正する。
【００２８】
以上説明した本例によれば、前記散乱Ｘ線検出部１０４によって検出された散乱Ｘ線に基づいて、前記Ｘ線検出部１０３の検出データが補正されるので、実際に発生している散乱Ｘ線に基づいた正確な散乱Ｘ線補正を行なうことができる。
【００２９】
また、一対の前記散乱Ｘ線検出部１０４がチャネル毎に設けられ、チャネル毎に検出された散乱Ｘ線に基づいて、対応するチャネルにおけるＸ線検出部１０３の検出データが補正されるので、より正確な散乱Ｘ線補正を行なうことができる。さらに、一対の前記散乱Ｘ線検出部１０４の検出データが、前記各Ｘ線検出部１０３からの距離に応じて重み付け加算されて得られたデータに基づいて補正が行われるので、より正確な散乱Ｘ線補正を行なうことができる。
【００３０】
次に、第一実施形態の変形例について説明する。この変形例では、複数チャネル毎に、同じ散乱Ｘ線のデータを用いて散乱Ｘ線補正を行なってもよい。具体的には、前記補正部３３は、複数の散乱Ｘ線検出部１０４の検出データの平均値を算出し、この平均値に比例した値を用いて、前記複数の散乱Ｘ線検出部１０４に対応するチャネルのＸ線検出部１０３の検出データに対する散乱Ｘ線補正を行なう。
【００３１】
例えば、複数の散乱Ｘ線検出部１０４に対応するチャネルのＸ線検出部１０３は、前記検出器モジュール１００の単位で設定されていてもよい。具体的に説明すると、図７に示すように、検出器モジュール１００ＡにおけるＸ線検出部１０３に対応する複数の散乱Ｘ線検出部１０４は、前記検出器モジュール１００Ａに設けられ、一点鎖線で囲まれた散乱Ｘ線検出部１０４である。前記補正部３３は、前記検出器モジュール１００ＡにおけるＸ線検出部１０３の各々の検出データに対し、前記検出器モジュール１００Ａにおける散乱Ｘ線検出部１０４の検出データの平均を算出して散乱Ｘ線補正を行なう。
【００３２】
前記補正部３３は、前記シンチレータアレイ１０２におけるスライス方向の両端部に沿って設けられた散乱Ｘ線検出部１０４のうち、一端部側の複数の散乱Ｘ線検出部１０４の検出データの平均と、他端部側の複数の検出データの平均とを求めてもよい。この場合、前記補正部３３は、前記一端側の平均と前記他端側の平均に対し、前記各Ｘ線検出部１０３から前記一端部側と前記他端部側までの距離に応じた重み付け加算を行なって得られたデータ値に応じて散乱Ｘ線補正を行なう。
【００３３】
ただし、前記補正部３３は、複数の散乱Ｘ線検出部１０４の加算のみを行ない、この加算値に応じた散乱Ｘ線補正を行なってもよい。
【００３４】
この変形例では、前記各検出器モジュール１００において、前記一端部側の複数の散乱Ｘ線検出部１０４の各々を互いに接続して出力ラインを一つにし、前記他端部側の複数の散乱Ｘ線検出部１０４の各々を互いに接続して出力ラインを一つにしてもよい。これにより、配線を減らすことが出来る。
【００３５】
（第二実施形態）
次に、第二実施形態について説明する。ただし、第一実施形態と同一の構成については、同一の符号を付して説明を省略する。
【００３６】
本例においては、図８に示すように、前記第二フォトダイオード１０１ｂ−２は、前記各検出器モジュール１００のチャネル方向の両端部に設けられている。より詳細には、前記第二フォトダイオード１０１ｂ−２は、前記シンチレータアレイ１０２におけるチャネル方向の両端部に沿ってこの両端部の近傍に配置されている。前記第二フォトダイオード１０１ｂ−２は、スライス毎にスライス方向に配置されている。従って、前記第二フォトダイオード１０１ｂ−２は、前記シンチレータアレイ１０２におけるチャネル方向の両端部に沿って、スライス毎に一対ずつ設けられている。
【００３７】
本例では、前記補正部３３は、前記各検出器モジュール１００の一つのスライスにおける前記Ｘ線検出部１０３の各々の検出データに対し、そのスライスにおける一対の散乱Ｘ線検出部１０４（前記第二フォトダイオード１０１ｂ−２）の検出データを用いて、散乱Ｘ線補正を行なう。「そのスライスにおける一対の散乱Ｘ線検出部１０４」とは、一つのスライスのＸ線検出部１０３のチャネル方向の延長線上に設けられた散乱Ｘ線検出部１０４である。例えば図８において、一点鎖線で囲まれた一つのスライスの前記Ｘ線検出部１０３の各々の検出データに対しては、一定鎖線内の一対の散乱Ｘ線検出部１０４の検出データを用いて散乱Ｘ線補正が行われる。
【００３８】
本例においても、前記補正部３３は、前記第一実施形態と同様に、一対の前記散乱Ｘ線検出部１０４の検出データに対し、前記Ｘ線検出部１０３の各々から前記各散乱Ｘ線検出部１０４までの距離に応じた重み付けによる重み付け加算を行なう。そして、前記補正部３３は、重み付け加算によって得られたデータ値に応じて、前記各スライスにおける前記Ｘ線検出部１０３の各々の散乱線補正を行なう。
【００３９】
以上説明した本例によれば、スライス毎に設けられた前記散乱Ｘ線検出部１０４の検出データに基づく散乱Ｘ線補正が行われることにより、第一実施形態と同様の効果を得ることができる。
【００４０】
次に、第二実施形態の変形例について説明する。この変形例では、複数スライス毎に、同じ散乱Ｘ線のデータを用いて散乱Ｘ線補正を行なってもよい。具体的には、前記補正部３３は、複数の散乱Ｘ線検出部１０４の検出データの平均値を算出し、この平均値を用いて、前記複数の散乱Ｘ線検出部１０４に対応するスライスのＸ線検出部１０３の検出データに対する散乱Ｘ線補正を行なう。
【００４１】
複数の散乱Ｘ線検出部１０４に対応するスライスのＸ線検出部１０３は、前記検出器モジュールの単位で、一つ又は複数設定されていてもよい。具体的に説明すると、図９に示すように、検出器モジュール１００ＡにおけるＸ線検出部１０３に対応する複数の散乱Ｘ線検出部１０４は、前記検出器モジュール１００Ａに設けられ、一点鎖線で囲まれた散乱Ｘ線検出部１０４である。前記補正部３３は、前記検出器モジュール１００Ａにおける各Ｘ線検出部１０３の検出データに対し、前記検出器モジュール１００Ａにおいて前記一点鎖線で囲まれた散乱Ｘ線検出部１０４の検出データの平均を算出して散乱Ｘ線補正を行なう。
【００４２】
前記補正部３３は、前記シンチレータアレイ１０２におけるチャネル方向の両端部に沿って設けられた散乱Ｘ線検出部１０４のうち、一端部側の複数の散乱Ｘ線検出部１０４の検出データの平均と、他端部側の複数の検出データの平均とを求めてもよい。この場合、前記補正部３３は、前記一端側の平均と前記他端側の平均に対し、前記各Ｘ線検出部１０３から前記一端部側と前記他端部側までの距離に応じた重み付け加算を行なって得られたデータ値に応じた散乱Ｘ線補正を行なう。
【００４３】
ただし、前記補正部３３は、複数の散乱Ｘ線検出部１０４の加算のみを行ない、この加算値に応じた散乱Ｘ線補正を行なってもよい。
【００４４】
以上、本発明を前記各実施形態によって説明したが、この発明はこれらに限られるものではなく、本発明の主旨を変更しない範囲で種々変更実施可能なことはもちろんである。例えば、前記第一実施形態において、複数チャネル毎に一つの散乱Ｘ線検出部１０４が設けられていてもよい。また、前記第二実施形態において、複数スライス毎に一つの散乱Ｘ線検出部１０４が設けられていてもよい。この場合においても、前記Ｘ線検出部１０３の各々に対応する散乱Ｘ線検出部１０４の検出データを用いて、散乱Ｘ線補正が行われる。
【００４５】
また、図１０に示すように、前記第二フォトダイオード１０１ｂ−２は、前記シンチレータアレイ１０２におけるチャネル方向の両端部とスライス方向の両端部の両方に沿って設けられていてもよい。この場合、前記補正部３３は、前記Ｘ線検出部１０３の各々の検出データを補正する前に、例えば補正対象のＸ線検出部１０３とスライス方向において対応する一対の散乱Ｘ線検出部１０４（前記第二フォトダイオード１０１ｂ−２）の検出データを重み付け加算して得られたデータ値と、チャネル方向において対応する一対の散乱Ｘ線検出部１０４の検出データを重み付け加算して得られたデータ値との平均値又は加算値を算出する。そして、前記補正部３３は、得られた前記平均値又は前記加算値に応じた散乱Ｘ線補正を行なう。
【００４６】
また、前記第二フォトダイオード１０１ｂ−２は、図１１に示すように、前記基板１０１ａの上に、独立した素子として設けられていてもよい。この図１１では、前記図４と同様に、前記シンチレータアレイ１０２におけるスライス方向の一端部に沿って設けられた前記第二フォトダイオード１０１ｂ−２が示されている。
【符号の説明】
【００４７】
１０  Ｘ線ＣＴ装置
１４  Ｘ線源（Ｘ線発生部）
１８  Ｘ線検出器
３３  補正部
１００  検出器モジュール
１０１  フォトダイオードアレイ
１０１ｂ  フォトダイオード
１０１ｂ−１  第一フォトダイオード
１０１ｂ−２  第二フォトダイオード（散乱Ｘ線検出部）
１０２  シンチレータアレイ
１０２ａ  シンチレータ
１０３  Ｘ線検出部
１０４  散乱Ｘ線検出部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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