(57)【要約】【課題】調整作業の短縮化を図ることができ、かつ、製造コストアップを抑制することができる光走査装置および画像形成装置を提供する。【解決手段】複数の発光点を有する光源５２と、光源５２の各発光点から出射された複数の光束を偏向して光走査するポリゴンスキャナなどの偏向器とを備えた書込装置などの光走査装置において、光源５２の複数の発光点の並び方向を確認しながら光源５２を光軸回りに回転させて、光源５２の複数の発光点の並び方向を規定の方向となるように調整するときに、光源５２の複数の発光点の並び方向が規定の方向になったことが確認できる基準マーク１１０を光源５２が取り付けらる光源取り付け部１０１に設けた。【選択図】図８
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の発光点を有する光源と、
前記光源の各発光点から出射された複数の光束を偏向して光走査する偏向器とを備えた光走査装置において、
前記光源の複数の発光点の並び方向を確認しながら光源を光軸回りに回転させて、前記光源の複数の発光点の並び方向を規定の方向となるように調整するときに、前記光源の複数の発光点の並び方向が規定の方向になったことが確認できる基準マークを前記光源が取り付けらる光源取り付け部に設けたことを特徴とする光走査装置。
【請求項２】
請求項１の光走査装置において、
前記基準マークが、前記規定の方向と平行なリブまたは切り欠きであることを特徴とする光走査装置。
【請求項３】
請求項１または２に記載の光走査装置において、
前記規定の方向に複数の発光点の並び方向を調整したとき、前記複数の発光点の並び方向の延長線上に、前記基準マークを配置したことを特徴とする光走査装置。
【請求項４】
請求項１乃至３いずれかに記載の光走査装置において、
前記基準マークと、前記光源の複数の発光点を有する基板とを光軸方向同一の位置に位置させたことを特徴とする光走査装置。
【請求項５】
請求項１乃至４いずれかに記載の光走査装置において、
前記光源取り付け部は、前記光源および前記偏向器が収納される光学ハウジングに取り付けられる光源保持部材に設けたことを特徴とする光走査装置。
【請求項６】
請求項１乃至５いずれかに記載の光走査装置において、
前記光源を、前記光源取り付け部に圧入固定したことを特徴とする光走査装置。
【請求項７】
請求項１乃至６いずれかに記載の光走査装置において、
光源の複数の発光点の並び方向がおおまかに規定の方向に合うように、前記光源取り付け部に前記光源を取り付けるための仮合わせ手段を設けたことを特徴とする光走査装置。
【請求項８】
請求項１乃至７いずれかに記載の光走査装置において、
前記光源の複数の発光点を有する基板が、長方形状であることを特徴とする光走査装置。
【請求項９】
画像情報に応じた走査光で光走査装置により感光体を走査して感光体上に潜像を形成し、潜像を現像することにより得た画像を最終的に記録材上に転移させて該記録材上に画像を形成する画像形成装置において、
上記光走査装置として、請求項１乃至８いずれかの光走査装置を用いたことを特徴とする画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光走査装置および画像形成装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
潜像担持体である感光体上に画像情報に応じた書込光を偏向走査することにより照射して感光体上に潜像を形成し、この潜像を現像して画像を得るものが知られている。書込光を偏向走査する光走査装置は、一般に、レーザーダイオード（ＬＤ）などの光源から照射された光ビームは、コリメートレンズやアパーチャーによって所定の形状に成形されてポリゴンミラーに入射する。ポリゴンミラーに入射した光は、ポリゴンミラーで偏向走査され、感光体表面に結像される。
【０００３】
特許文献１には、複数の発光点を有する光源を用いた光走査装置が記載されている。複数の発光点を有する半導体レーザーなどの光源を用いた光走査装置においては、各発光点から発光される光ビームのポリゴンミラーの回転軸方向（以下、副走査方向という）の間隔を所定の間隔にする必要がある。
【０００４】
特許文献１に記載の光走査装置は、光源が取り付けられる孔形状の光源取り付け部を有し、光学ハウジングに対して、光源を中心にして回動可能に設けられた光源ホルダを備えている。光源ホルダの光源取り付け部には、光源取り付け部の内周面から突出し、光源の円柱形状のステムに設けられた切り欠きに嵌る位置決め突起部が設けられている。位置決め突起部が、ステムに設けられた切り欠きに嵌るように、光源を孔形状の光源取り付け部に挿入する。次に、光源を光軸回りに回動させて、ステムの切り欠きの光軸回り方向一端に位置決め突起部を当接させ、光源を光源ホルダに位置決めした後、光源を光源取り付け部に固定する。その後、光源ホルダを、光源とともに光学ハウジングに対して、光軸回りに回動させて、微調整を行うことで、各発光点から発光される光ビームの副走査方向の間隔（以下、副走査ビームピッチという）が調整される。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従来、次のようにして、副走査ビームピッチを調整していた。まず、光源を点灯制御する装置および光ビームが照射され、照射された光ビームの位置を検出して副走査ビームピッチを計測する計測装置を備えた専用の機器に、光走査装置をセットする。次に、光源の各発光点を発光させ、各発光点から発光された光ビームを、上記計測装置に照射して、副走査ビームピッチを計測する。次に、その計測結果に基づいて、光源を光軸回りに回転させる。次に、光源を回転させた後、光源を再度、点灯させて、副走査ビームピッチが規定のピッチになっているか否かを確認する。規定のピッチでなかったら、再び、計測結果に基づいて光源を回転させる作業を繰り返し行い、副走査ビームピッチを規定のピッチに調整する。
【０００６】
このように、従来の調整方法においては、副走査ビームピッチが規定のピッチになるまで、光源の点灯→副走査ビームピッチの計測→光源の回転という調整作業を繰り返し行うため、調整作業に時間を要していた。また、光源を点灯制御する装置と、光ビームが照射され、照射された光ビームの位置を検出して副走査ビームピッチを計測する計測装置とを備える高額な専用の機器を用意する必要があり、製造のコストアップに繋がるという課題もあった。
【０００７】
ところで、光源としての半導体レーザーにおいては、複数の発光点を備えた発光チップを、上記ステムに組み付けることにより製造されている。従って、組み付け誤差などによりステムの切り欠きと発光点の並び方向との光軸回りの位置関係が精度よく決まらない。
【０００８】
よって、特許文献１に記載の光走査装置のように、光源ホルダの位置決め突起で光源を光源ホルダに対して光軸回りに位置決めしただけでは、副走査ビームピッチが規定のピッチにはならない。そのため、特許文献１に記載されているように、光源を光源ホルダに対して位置決めした後、光源ホルダとともに光源を回転させて、副走査ビームピッチを規定のピッチにする微調整が必要となる。
【０００９】
特許文献１に記載の光走査装置においても、上記微調整において、上述した従来の調整方法で調整が行われることになる。よって、特許文献１に記載の光走査装置においても、光源の点灯→副走査ビームピッチの計測→光源の回転という繰り返しの調整作業を行うことになり、調整作業の短縮化を図ることができない。また、光源を点灯制御する装置および光ビームが照射され、照射された光ビームの位置を検出して副走査ビームピッチを計測する計測装置を備えた高額な専用の機器を用いて微調整を行う必要があり、製造のコストアップに繋がるという課題も解決できない。
【００１０】
本発明は以上の課題に鑑みなされたものであり、その目的は、調整作業の短縮化を図ることができ、かつ、製造コストアップを抑制することができる光走査装置および画像形成装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成するために、請求項１の発明は、複数の発光点を有する光源と、前記光源の各発光点から出射された複数の光束を偏向して光走査する偏向器とを備えた光走査装置において、前記光源の複数の発光点の並び方向を確認しながら光源を光軸回りに回転させて、前記光源の複数の発光点の並び方向を規定の方向となるように調整するときに、前記光源の複数の発光点の並び方向が規定の方向になったことが確認できる基準マークを前記光源が取り付けらる光源取り付け部に設けたことを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、特許文献１に記載の光走査装置によりも調整作業の短縮化を図ることができ、かつ、製造コストアップを抑制することができる
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本実施形態に係る画像形成装置としてのプリンタを示す模式図。
【図２】第１の書込装置の周辺を示す斜視図。
【図３】第１の書込装置の断面図。
【図４】ＬＤユニットの周辺を示す拡大斜視図。
【図５】光源の正面図。
【図６】光源の平面図。
【図７】光源の発光チップ付近の拡大図。
【図８】ＬＤユニットの光源取り付け部を光束出射面側から見た斜視図。
【図９】光源取り付け部を光束出射面側から見た正面図。
【図１０】変形例１の構成を示す斜視図。
【図１１】図１０のＡ−Ａ断面図。
【図１２】光源取り付け部の光源挿入側に、仮基準マークを設けた形態を示す図。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、本発明を、電子写真方式の画像形成装置である複写機に適用した一実施形態について説明する。
【００１５】
図１は、本実施形態に係る画像形成装置としてのプリンタ１０を示す模式図である。
このプリンタ１０は、主に、イエロー（以下「Ｙ」と記載し、イエロー用の部材の符号には色別符号として「Ｙ」を付す。シアン、マゼンタ、ブラックについても同様。）用の作像部４Ｙ、Ｍ（マゼンタ）用の作像部４Ｍ、Ｃ（シアン）用の作像部４Ｃ、ＢＫ（ブラック）用の作像部４ＢＫの４つの作像部と、中間転写材である中間転写ベルト１とを有している。また、作像部４Ｙ，Ｍ，Ｃ，ＢＫの上には、第１の書込装置５ａ、第２の書込装置５ｂの一部が重なるようにして横並びに配置されている。
【００１６】
各書込装置５ａ，５ｂは、パーソナルコンピュータ、ワードプロセッサ等から入力される色分解された画像データを、光源駆動用の信号に変換し、それに従い各レーザ光源ユニット内の半導体レーザを駆動して光ビームを出射するようになっている。
【００１７】
各作像部４Ｙ，４Ｍ，４Ｃ，４ＢＫは、それぞれ、回転駆動される潜像担持体としての感光体４１Ｙ，４１Ｍ，４１Ｃ，４１ＢＫを有している。また、それぞれの感光体４１Ｙ，４１Ｍ，４１Ｃ，４１ＢＫの周囲に配置される帯電部４２Ｙ，４２Ｍ，４２Ｃ，４２ＢＫ、現像部４３Ｙ，４３Ｍ，４３Ｃ，４３ＢＫ、クリーニング部４４Ｙ，４４Ｍ，４４Ｃ，４４ＢＫ等を有している。感光体４１Ｙ，４１Ｃ，４１Ｍ，４１ＢＫは、円筒状に形成された感光体ドラムであり、図示しない駆動源により回転駆動される。各帯電部４２Ｙ，４２Ｍ，４２Ｃ，４２ＢＫは、それぞれ対応する感光体４１Ｙ，４１Ｍ，４１Ｃ，４１ＢＫ４１の表面を所定電位となるように一様帯電するものである。本実施形態の帯電部４２Ｙ，４２Ｍ，４２Ｃ，４２ＢＫは、帯電ローラ等の帯電部材を感光体４１Ｙ，４１Ｍ，４１Ｃ，４１ＢＫの表面に接触又は近接させて帯電処理する接触帯電方式のものを採用しているが、これに限られない。
【００１８】
第１の書込装置５ａから出射された光ビームが帯電部４２Ｂｋ，４２Ｃにより一様帯電された感光体４１Ｂｋ，４１Ｃの表面にスポット照射されることにより、感光体４１Ｂｋ，４１Ｃ表面にはそれぞれの画像情報に応じた静電潜像が書き込まれる。また、第２の書込装置５ｂから出射された光ビームが帯電部４２Ｍ，４２Ｙにより一様帯電された感光体４１Ｍ，４１Ｙの表面にスポット照射されることにより、感光体４１Ｍ，４１Ｙ表面にはそれぞれの画像情報に応じた静電潜像が書き込まれる。
【００１９】
各現像部４３Ｙ，４３Ｍ，４３Ｃ，４３ＢＫは、感光体４１Ｙ，４１Ｍ，４１Ｃ，４１ＢＫ上の静電潜像にトナーを付着させることにより、その静電潜像をトナー像として顕像化させるものである。本実施形態では、感光体４１Ｙ，４１Ｍ，４１Ｃ，４１ＢＫに対して非接触状態でトナーを供給する非接触現像方式のものが採用されている。各クリーニング部４４Ｙ，４４Ｍ，４４Ｃ，４４ＢＫは、感光体４１Ｙ，４１Ｍ，４１Ｃ，４１ＢＫの表面に付着している転写残トナー等の不要物を除去するもので、感光体表面にブレード部材を接触させてクリーニングするブレード方式のものが採用されている。
【００２０】
作像部４Ｙ，４Ｍ，４Ｃ，４ＢＫの鉛直方向下方には、無端状の中間転写ベルト１を張架しながら図中反時計回り方向に無端移動せしめる転写ユニット１２が配設されている。転写手段たる転写ユニット１２は、中間転写ベルト１の他に、テンションローラ２、２次転写対向ローラ３、４つの１次転写ローラ６Ｙ，６Ｍ，６Ｃ，６ＢＫ、２次転写ローラ７、不図示のベルトクリーニング装置などを備えている。
【００２１】
転写ユニット１２の鉛直方向下方には、シートを複数枚重ねた紙束の状態で収容している給紙カセット１３が配設されている。この給紙カセット１３は、シート束の一番上のシートに給紙ローラ１３ａを当接させており、これを所定のタイミングで図中反時計回り方向に回転させることで、そのシートを送り出す。
【００２２】
各感光体４１Ｙ，４１Ｍ，４１Ｃ，４１ＢＫ上に形成された各色トナー像が、各一次転写ローラ６Ｙ，６Ｍ，６Ｃ，６ＢＫによって、順次中間転写ベルト１に互いに重なり合うように転写される。このように重なった中間転写ベルト１上の画像は、２次転写ローラ７によってシートに転写される。
画像が転写されたシートは、その後に定着器１４に搬送され、熱と圧力によって画像がシートに定着される。その後、シートは、排紙ローラ対１５により排紙カバー１６へ排出される。
【００２３】
次に、書込装置５ａ，５ｂについて説明する。第１，第２の書込装置５ａ，５ｂは、排紙カバー１６の傾斜に略平行に対向するように傾いて設置されていて、両者がプリンタ１０の排紙側から見て一部重なるように配置されている。もちろん略平行でなかったり、重なりがなかったりしても問題ないが、重なる部分をもつことでプリンタ１０を小型化することができる。
【００２４】
第１の書込装置５ａ、第２の書込装置５ｂの構成は、同じであるので、以下の説明では、第１の書込装置５ａについて説明する。
図２は、第１の書込装置５ａの周辺を示す斜視図であり、図３は、第１の書込装置５ａを側方から見た断面図である。
第１の書込装置５ａは、ＢＫ色の感光体４１ＢＫとＣ色の感光体４１Ｃとに走査光線Ｌを照射するものである。図２、図３に示すように、ＬＤユニット１００、ポリゴンスキャナ５３、走査レンズ（ｆθレンズ）５４、反射ミラー５５Ｃ，５５ＢＫ，５６ＢＫ、シリンドリカルレンズ５７ＢＫ，５７Ｃなどを有し、これらが光学ハウジング５００に収納されている。光学ハウジング５００は、上面が開放した箱型の形状であり、上面がカバー部材５０５で覆われていて、書込装置内への塵芥の侵入を防いでいる。ＬＤユニット１００、ポリゴンスキャナ５３は、光学ハウジング５００の一端側に収納されている。光学ハウジング５００は、ガラス繊維を含有した熱可塑性樹脂で構成され、底面および底面の４辺に設けられた側面とが一体成形されている。
【００２５】
ＬＤユニット１００は、感光体４１ＢＫに走査光線ＬＢｋを照射するための半導体レーザからなるＢＫ用の光源５２ＢＫ（図５参照）、感光体４１Ｃに走査光線Ｌｃを照射するための半導体レーザからなるＣ用の光源５２Ｃ（図５参照）を備えている。ＬＤユニット１００は、光源５２ＢＫから出射された光束とＣ色用の光源５２Ｃから出射された光束とがポリゴンミラー５３ａの同じ位置に照射するようにＢＫ色用光源５２ＢＫ及びＣ色用光源５２Ｃを保持している。また、ＬＤユニット１００は、Ｂｋ色用のコリメートレンズ５１Ｂｋ、Ｃ色用のコリメートレンズ５１Ｃ（図５参照）、Ｂｋ色用のシリンドリカルレンズ５９Ｂｋ、Ｃ色用のシリンドリカルレンズ５９Ｃ（図５参照）も保持している。なお、ＬＤユニット１００の詳細については、後述する。
【００２６】
偏向器としてのポリゴンスキャナ５３は、正多角柱形状からなる回転多面鏡たるポリゴンミラー５３ａと、不図示のポリゴンモータと、ポリゴンモータの駆動を制御するための電子部品を搭載した回路基板５３ｂとで構成されている。ポリゴンスキャナ５３は、光学ハウジング５００の底面の一端部にネジによって締結されている。ポリゴンミラー５３ａは、その６つの側面に反射鏡を有している。本実施形態においては、ポリゴンミラー５３ａを正六角柱形状として、側面に６つの反射鏡を有しているが、これに限定されるものではない。
【００２７】
ＬＤユニット１００に固定されたＢＫ色用の光源５２ＢＫから出射された光束は、ＬＤユニット１００とポリゴンスキャナ５３との間の光路上に配置されたコリメートレンズ５１Ｂｋにより、発散光束が平行光束に変換される。その後、シリンドリカルレンズ５９Ｂｋを透過することで、副走査方向（感光体表面上における感光体表面移動方向に相当する方向）に集光せしめられ、ポリゴンミラー５３ａに入射する。ポリゴンミラー５３ａに入射した光は、ポリゴンミラー５３ａの反射鏡に反射しながら主走査方向（感光体表面上における軸線方向に相当する方向）に偏向せしめられる。次に、ポリゴンミラー５３ａによって一定の角速度で主走査方向に偏向せしめられる光束の偏向方向の移動速度を等速に変換する走査レンズ５４、図３に示すように、第１反射ミラー５５ＢＫ、第２反射ミラー５６ＢＫを順次経由する。そして、シリンドリカルレンズ５７ＢＫによりポリゴンミラーの面倒れが補正された後、光学ハウジング５００の底面に形成された開口部５０４ＢＫを覆うようにして設けられた防塵ガラス５８ＢＫを透過して感光体４１ＢＫの表面を光走査する。
【００２８】
また、ＬＤユニット１００に固定されたＣ色用の光源５２Ｃから出射された光束は、同様にコリメートレンズ５１Ｃやシリンドリカルレンズ５９Ｃなどの複数の光学素子を通過して、ポリゴンミラー５３ａのＢＫ色の光束と、同一の位置に入射する。そして、ポリゴンミラー５３ａの反射鏡に反射しながら主走査方向に偏向せしめられ、走査レンズ５４、第１反射ミラー５５Ｃ、シリンドリカルレンズ５７Ｃ，防塵ガラス５８Ｃを透過して感光体４１Ｃの表面を光走査する。本実施形態においては、１枚の走査レンズ５４を使用する構成であるが、ＢＫ色用、Ｃ色用それぞれの走査レンズを有する構成でもよい。また、走査レンズ５４として、副走査方向にパワーを持つ走査レンズを用いて、シリンドリカルレンズ５７ＢＫ，５７Ｃを無くしてもよい。
【００２９】
次に、ＬＤユニット１００について、説明する。
図４は、ＬＤユニット１００の周辺を示す拡大斜視図である。
ＬＤユニット１００は、Ｂｋ色とＣ色用の光源５２、コリメートレンズ５１、シリンドリカルレンズ５９をそれぞれ保持するユニットである。以下の説明では、適宜、色符号を省略して説明する。
ＬＤユニット１００は、光源５２、コリメートレンズ５１、シリンドリカルレンズ５９を保持するための保持部材１０４を備えている。保持部材１０４は、Ｂｋ色とＣ色用の２つの光源５２が、副走査方向に並んで取り付けられる光源取り付け部１０１、Ｂｋ色とＣ色用の２つのコリメートレンズ５１が取り付けられる副走査方向に対して垂直な板状のコリメートレンズ取り付け部１０２を有している。また、Ｂｋ色とＣ色用の２つのシリンドリカルレンズ５９が取り付けられる光学ハウジング５００の開放面に対して垂直な板状のシリンドリカルレンズ取り付け部１０３を有している。
【００３０】
光源取り付け部１０１には、２個の取り付け孔１０１ａ（ひとつは不図示）が副走査方向並んで設けられている。図中上側の取り付け孔１０１ａには、Ｋ色用の光源が取り付けられ、不図示の下側の取り付け孔には、Ｃ色用の光源が取り付けられる。本実施形態においては、光源５２を取り付け孔に圧入することで、光源５２を光源取り付け部１０１に取り付けている。しかし、例えば、板バネにより光源５２を光源取り付け部１０１に取り付けてもよい。
【００３１】
また、光源取り付け部１０１の光束出射面側の壁面には、光源の発光点の並び方向を調整するための基準マーク１１０が形成されている。
【００３２】
コリメートレンズ取り付け部１０２は、光源取り付け部１０１の副走査方向に並べて設けられた２個の取り付け孔１０１ａの間を仕切るように設けられている。一方の面（光学ハウジング５００の開放面と対向する面）にＢｋ色用のコリメートレンズ５１が接着固定され、他方の面（光学ハウジング５００の底面と対向する面）にＣ色用のコリメートレンズが接着固定される。また、本実施形態では、各コリメートレンズ５１を直接、コリメートレンズ取り付け部１０２に接着固定しているが、各コリメートレンズ５１を保持する中間部材を介して、コリメートレンズ取り付け部１０２に接着固定してもよい。
【００３３】
コリメートレンズ取り付け部１０２の光束進行方向下流端の主走査方向中央部には、副走査方向に並べて２個のアパーチャー５０が形成されたアパーチャー壁１０５が設けられている。図中上側のアパーチャーがＢｋ色用で、下側のアパーチャーがＣ色用である。
【００３４】
シリンドリカルレンズ取り付け部１０３は、アパーチャー壁１０５の主走査方向一端から光束進行方向に延びている。シリンドリカルレンズ取り付け部１０３ａに、Ｂｋ色用のシリンドリカルレンズ５９とＣ色用のシリンドリカルレンズ５９とが副走査方向に並んで接着固定されている。
【００３５】
図５は、光源５２の正面図であり、図６は、光源５２の平面図であり、図７は、光源５２の発光チップ５２１付近の拡大図である。
本実施形態の光源５２は、図７に示すように、複数の発光点５２１ａを有する半導体レーザであり、図５、図６に示すように、複数の発光点を有する発光チップ５２１やヒートシンク５２２が搭載されるステム５２ａを有している。また、光源５２は、発光チップ５２１やヒートシンク５２２を覆うキャップ５２ｂ、発光チップ５２１に電力を供給するためのリード端子５２ｃなどを備えている。
【００３６】
本実施形態においては、複数の発光点を有する光源を用いることで、感光体表面に２本の光ビームを走査するマルチビーム化することができる。マルチビーム化することにより、ポリゴンスキャナの回転数を上げずに、画像形成装置の高速化を図ることができる。これにより、ポリゴンスキャナの回転数ＵＰによる不具合、すなわち、ポリゴンスキャナの温度上昇、振動悪化を抑えて、画像形成装置の高速化を図ることができる。
【００３７】
しかしながら、マルチビーム化を採用した場合には、ビーム間の副走査ビームピッチを調整する必要がある。従来、副走査ビームピッチ調整は、専用の装置により光源５２を点灯させ、書込装置から出射した２本の光ビーム位置を検知し、その検知結果から副走査ビームピッチが規定のビームピッチか否かをチェックする。規定のビームピッチでない場合は、光源５２を回転させた後、専用の装置により、再び光源５２を点灯させて、ビームピッチが規定のビームピッチか否かをチェックする。上記作業を繰り返し行って、規定のビームピッチに調整していく。このように、従来の副走査ビームピッチ調整は、２本の光ビームを検知し、その検知結果から副走査ビームピッチが規定のビームピッチか否かをチェック可能なような高額な装置が必要であり、また、調整時間がかかるというデメリットがあった。
【００３８】
副走査ビームピッチは、走査レンズ５４の姿勢、成形状態などによっても変化するが、最も大きな影響を及ぼすのは、発光点５２１ａの並び方向と、上下方向（副走査方向）とのなす角度であることがわかっている。この角度が所望の角度であれば、副走査ビームピッチはほぼ狙い通りにすることができる。すなわち、、専用の装置を用いて光源を点灯させてビームピッチを計測せずとも、上記角度にできれば、容易に副走査ビームピッチを調整することができる。
【００３９】
そこで、本実施形態においては、高額な専用の装置を用意せずにビームピッチの調整が行え、かつ、調整時間を従来よりも短縮化することができるようにした。以下に、図面を用いて具体的に説明する。
【００４０】
図８は、ＬＤユニット１００の光源取り付け部１０１を光束出射面側から見た斜視図であり、図９は、光源取り付け部１０１を光束出射面側から見た正面図である。
図８、図９に示すように、光源取り付け部１０１には、リブ状の基準マーク１１０が形成されている。基準マーク１１０は、取り付け孔１０１ａを挟んで設けられている。また、図９に示すように、ビームピッチが規定の関係となる位置で、光源５２を位置決めしたとき、図中鎖線で示す発光点５２１ａの並び方向と、平行に基準マーク１１０が延びている。また、図中鎖線で示す発光点を結んだ線分上に、基準マーク１１０が形成されている。
【００４１】
本実施形態における副走査ビームピッチの調整は、以下のようにして行うことができる。
まず、ＬＤユニット１００の光源取り付け部１０１を光束出射面側から顕微鏡などで光源の発光チップ５２１と基準マーク１１０との位置関係を観察しながら、取り付け孔１０１ａに挿入された光源５２を光軸回りに回転させる。本実施形態においては、長方形の発光チップ５２１の形状から、光源５２の複数の発光点の並び方向を確認できる。上記発光チップ５２１は、光束出射側から見たとき、長方形状であり、長辺が、発光点５２１ａの並び方向と平行である。そして、図９に示すように、発光チップ５２１の長辺が２つの基準マーク１１０と平行、かつ、短辺が基準マーク１１０に対して直交する位置まで回転させる。これにより、発光点５２１ａの並び方向が規定の方向になり、副走査ビームピッチが規定のピッチに調整され、調整作業が終了する。調整終了後は、取り付け孔１０１ａに光源５２を圧入して固定する。
【００４２】
本実施形態においては、副走査ビームピッチの調整において、顕微鏡など発光チップ５２１を観察する光学機器が必要である。しかし、光源を点灯させる装置、２本の光ビーム位置を検知して、副走査ビームピッチを計測する装置などが必要な従来の調整に比べて、安価な機器を用いて副走査ビームピッチを調整することができる。また、顕微鏡で発光チップ５２１とを基準マーク１１０との位置関係を観察しながら、光源５２を光軸回りに回転させるだけで、副走査ビームピッチの調整を行うことができる。これにより、何度も光源を点灯させて、副走査ビームピッチを計測しながら、調整を行う従来の調整よりも短い時間で調整を終了することができる。これにより、製造コストを下げることができ、高品質且つ低コストの書込装置を提供することができる。
【００４３】
また、本実施形態においては、基準マーク１１０をリブ形状にしている。リブ形状にすることにより、視認性が高まり、より高精度な調整を行うことができる。
【００４４】
また、本実施形態においては、光源５２は、光学ハウジングに対して着脱可能な光源保持部材としてのＬＤユニット１００に取り付けられる。これにより、光学ハウジングよりも小型で取り扱いの容易なＬＤユニット１００に取り付けられた光源５２を回転させて、副走査ビームピッチの調整を行うことができる。これにより、光学ハウジングに直接、光源が取り付けられる構成に比べて、副走査ビームピッチの調整を容易に行うことができる。
【００４５】
また、本実施形態においては、光源５２を、取り付け孔１０１ａに圧入で固定している。光源５２をネジにより固定する場合、ネジの締結時に光源５２が光軸回りに回動して、発光点５２１ａの並び方向が規定の方向からずれてしまうおそれがある。また、接着により光源５２を固定する場合は、接着材乾燥時の収縮に伴って光源が光軸回り回動して、発光点５２１ａの並び方向が規定の方向からずれてしまうおそれがある。
一方、圧入による固定においては、ネジや接着に比べて固定時に光源が回転方向に回転するのを抑制することができ、発光点５２１ａの並び方向の規定の方向に対するずれを抑制して固定できる。また、板バネで押圧して、光源を固定してもよい。この場合も、ネジや接着固定に比べて、発光点５２１ａの並び方向の規定の方向に対するずれを抑制して固定できる。
【００４６】
次に、変形例について説明する。
図１０は、変形例１の構成を示す斜視図であり、図１１は、図１０のＡ−Ａ断面図である。
この変形例においては、基準マーク１１０を切り欠き形状にしたものである。図１１に示すように、切り欠きの底面の光軸方向の位置を、光源５２の発光チップ５２１と同じ位置にしている。かかる構成とすることにより、顕微鏡で発光チップ５２１と基準マークとの位置関係を確認しながら、光源を光軸回りに回動する際、発光チップ５２１と基準マーク１１０と顕微鏡等の光学系に対する焦点がほぼ同じとなる。これにより、基準マーク１１０、発光チップ５２１いずれもピントが合った状態で、調整を行うことができ、ピントずれによる調整誤差を防止することができる。これにより、より高精度に副走査ビームピッチの調整を行うことができる。
【００４７】
また、上述では、リブや切り欠きなど、形状的に基準マークを形成しているが、光源取り付け部１０１に目立つ色でラインを引いて、基準マークを形成してもよい。しかし、この場合、樹脂の射出成形で形成する保持部材１０４の光源取り付け部１０１に対して、精度よくラインを引くという工程が加わる。一方、リブや切り欠きなど、形状的に基準マークを形成することで、保持部材１０４を射出成形で成形するときに、同時に基準マークを形成することができる。これにより、精度よくラインを引くという工程が不要となり、製造コストを低減することができる。
【００４８】
また、図１２に示すように、光源取り付け部１０１の光源挿入側（光束出射面側と反対側）に、仮基準マーク１１１を設けてもよい。この仮基準マーク１１１は、光束出射面側に設けられた図８に示した基準マーク１１０と同形状であり、傾斜角度も同じである。
【００４９】
ステム５２ａに設けられた三角形状の切り欠き５２５は、位置決め用の切り欠きである。上述したように、組み付け誤差によりステム５２ａの切り欠き５２５と、発光チップとの光軸回りの位置関係が規定の関係から多少ずれている場合があるが、おおまかには規定の関係にある。よって、図１２に示すように、三角形状の切り欠き５２５が、仮基準マーク１１１と対向するように、光源５２を、取り付け孔１０１ａに挿入することにより、発光点の並び方向をおおまかに規定の方向にあわせることができる。これにより、顕微鏡などで光源の発光チップ５２１と基準マーク１１０との位置関係を観察しながら、取り付け孔１０１ａに挿入された光源５２を光軸回りに回転させて、副走査ビームピッチを調整する際の光源５２の回転量を抑えることができる。これにより、調整時間の短縮化を図ることができる。
【００５０】
また、本実施形態においては、発光チップ５２１の形状に基づいて、発光点５２１ａの並び方向を把握して、調整を行っているが、各発光点を発光させて、調整してもよい。この場合は、例えば、発光チップ５２１の形状が円形や正方形など、発光チップ５２１の形状から発光点５２１ａの並び方向が特定できない場合でも、発光点の並び方向を確認しながら、調整することができる。
【００５１】
また、光学ハウジング５００に光源取り付け部１０１が直接設けられた書込装置にも、本発明を適用できる。
【００５２】
以上に説明したものは一例であり、本発明は、以下の態様毎に特有の効果を奏する。
（態様１）
複数の発光点を有する光源５２と、光源５２の各発光点から出射された複数の光束を偏向して光走査するポリゴンスキャナ５３などの偏向器とを備えた書込装置５などの光走査装置において、光源の複数の発光点の並び方向を確認しながら光源を光軸回りに回転させて、前記光源の複数の発光点の並び方向を規定の方向となるように調整するときに、前記光源の複数の発光点の並び方向が規定の方向になったことが確認できる基準マークを前記光源が取り付けらる光源取り付け部に設けたことを特徴とする光走査装置。
（態様１）によれば、基準マークと光源の複数の発光点の並び方向との関係を確認しながら、光源を光軸回りに回転させることで、発光点の並び方向を規定の方向となるように調整することができ、副走査ビームピッチを規定のピッチにすることができる。すなわち、（態様１）によれば、基準マークと光源の複数の発光点の並び方向との関係を確認しながら、光源を光軸回りに回転させるという作業だけで、発光点の並び方向を規定の方向となるように調整でき、副走査ビームピッチを規定のピッチにできるのである。これにより、光源の点灯→副走査ビームピッチの計測→光源の回転というを繰り繰り返しの調整作業を行って、副走査ビームピッチを規定のピッチするものに比べて調整作業の短縮化を図ることができる。
また、（態様１）では、光源を点灯制御する装置と、光束が照射され照射された光束の位置を検出して副走査ビームピッチを計測する計測装置とを備えた専用の機器を用いずに、副走査ビームピッチを規定のピッチにできる。また、仮に調整する際に、専用の機器を用いるとしても、光源の複数の発光点と基準マークとを拡大する光学機器だけでよい。従って、調整時に機器を用いたとしても、光源を点灯制御する装置と、光束が照射され照射された光束の位置を検出して副走査ビームピッチを計測する計測装置とを備えた専用の機器を用いる従来の調整に比べて、安価な機器で調整を行うことができる。よって、製造コストアップを抑制することができる。
【００５３】
（態様２）
（態様１）において、基準マーク１１０が、規定の方向と平行なリブまたは切り欠きである。
（態様２）によれば、基準マーク１１０が規定の方向に延びているので、発光点の並び方向が、基準マーク１１０と平行になったら、光源５２の複数の発光点５２１ａの並び方向が規定の方向になったことが確認することができる。また、リブや切り欠きなど、基準マーク１１０を形状的に構成することで、光源取り付け部１０１を射出成形で成形するときに、基準マーク１１０も形成することができる。これにより、光源取り付け部１０１にペイントにして基準マーク１１０を形成する場合に比べて、製造工程が削減でき、製造コストアップを抑えることができる。
【００５４】
（態様３）
（態様１）または（態様２）において、規定の方向に複数の発光点の並び方向を調整したとき複数の発光点５２１ａの並び方向の延長線上に、基準マーク１１０を配置した。
（態様３）によれば、基準マーク１１０と発光点５２１ａの並び方向とが一致したら、光源５２の複数の発光点５２１ａの並び方向が規定の方向になったことが確認することができる。
【００５５】
（態様４）
（態様１）乃至（態様３）いずれかにおいて、基準マーク１１０と、光源５２の複数の発光点５２１ａを有する発光チップ５２１などの基板とを光軸方向同一の位置に位置させた。
（態様４）によれば、図１１を用いて説明したように、顕微鏡などの光学系を用いて、光源の複数の発光点の並び方向と、基準マーク１１０との位置関係を確認しながら光源を光軸回りに回転させるとき、光源の複数の発光点および基準マーク１１０いずれにもピントをあせることができる。これによりピントずれによる調整誤差を防止することができ、より高精度に副走査ビームピッチの調整を行うことができる。
【００５６】
（態様５）
（態様１）乃至（態様４）いずれかにおいて、光源取り付け部１０１は、光源５２およびポリゴンスキャナ５３などの偏向器が収納される光学ハウジング５００に取り付けられるＬＤユニット１００などの光源保持部材に設けた。
（態様５）によれば、多くの光学部品を収納する光学ハウジング５００よりも小型で取り扱いが容易なＬＤユニット１００などの光源保持部材に光源取り付け部１０１を設けることで、顕微鏡などの光学機器で、光源取り付け部１０１の光束出射側から光源の複数の発光点の並び方向と、基準マーク１１０との位置関係を容易に確認することができる。これにより、光学ハウジングに直接、光源が取り付けられる構成に比べて、副走査ビームピッチの調整を容易に行うことができる。
【００５７】
（態様６）
（態様１）乃至（態様５）いずれかにおいて、光源５２を、光源取り付け部１０１に圧入固定した
（態様６）によれば、実施形態で説明したように、ネジによる固定や接着による固定に比べて、固定時の光源が光軸方向に回転するのを抑制することができ、発光点５２１ａの並び方向の規定の方向に対するずれを抑制して固定できる。
【００５８】
（態様７）
（態様１）乃至（態様６）いずれかにおいて、光源５２の複数の発光点５２１ａの並び方向がおおまかに規定の方向に合うように、光源取り付け部１０１に光源５２を取り付けるための仮合わせ手段（本実施形態では、仮基準マーク１１１と、光源ステムの三角形状の切り欠き５２５とで構成）を設けた。
（態様７）によれば、図１２を用いて説明したように、仮合わせ手段により、光源５２の複数の発光点５２１ａの並び方向を、おおまかに規定の方向に合わせることができるので、光源５２の複数の発光点５２１ａの並び方向を規定の方向に合わせるときの光源の回転量が少なくなくて済む。これにより、調整時間の短縮化を図ることができる。
【００５９】
（態様８）
（態様１）乃至（態様７）いずれかにおいて、光源５２の複数の発光点５２１ａを有する発光チップ５２１などの基板が、長方形状である。
（態様８）によれば、長方形状の基板から、発光点の並び方向を把握することができ、発光点を発光させたりせずに、複数の発光点５２１ａの並び方向を、規定の方向に合わせることができる。
【００６０】
（態様９）
画像情報に応じた走査光で書込装置５などの光走査装置により感光体を走査して感光体上に潜像を形成し、潜像を現像することにより得た画像を最終的に記録材上に転移させて該記録材上に画像を形成する画像形成装置において、上記光走査装置として、（態様１）乃至（態様９）いずれかの光走査装置を用いた。
（態様９）によれば、製造コストを抑えた光走査装置を用いることができ、光ｓとアップを抑えた画像形成装置を提供することができる。
【符号の説明】
【００６１】
５ａ，５ｂ：書込装置
４１：感光体
５２：光源
５２ａ：ステム
５３：ポリゴンスキャナ
１００：ＬＤユニット
１０１：光源取り付け部
１０１ａ：取り付け孔
１０４：保持部材
１１０：基準マーク
１１１：仮基準マーク
５００：光学ハウジング
５２０：発光チップ
５２１ａ：発光点
【先行技術文献】
【特許文献】
【００６２】
【特許文献１】特開２００１−３６１７７号公報
【図１】
2015087580.tif 000003
【図２】
2015087580.tif 000004
【図３】
2015087580.tif 000005
【図４】
2015087580.tif 000006
【図５】
2015087580.tif 000007
【図６】
2015087580.tif 000008
【図７】
2015087580.tif 000009
【図８】
2015087580.tif 000010
【図９】
2015087580.tif 000011
【図１０】
2015087580.tif 000012
【図１１】
2015087580.tif 000013
【図１２】
2015087580.tif 000014