(57)【要約】【課題】簡単な構成で線量率の測定可能範囲を拡大することを目的とする。【解決手段】検出部１０は、検出された放射線に応じてパルス状の検出信号を増幅部１２に出力する。増幅部１２、波高弁別部１４、第１パルス整形部１６および第２パルス整形部２０は、検出部１０で放射線が検出されたことに応じてパルス幅が異なる第１パルス信号および第２パルス信号を生成するパルス生成部を構成する。第１計数部１８は、第１パルス信号の所定時間当たりの計数値である第１計数値を求める。第２計数部２２は、第２パルス信号の所定時間当たりの計数値である第２計数値を求める。線量率演算部２４は、第１計数値と前記第２計数値との差異を示す差異値に基づいて、検出部１０で検出された放射線についての線量率測定値を求める。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線を検出する検出部と、
前記検出部で放射線が検出されたことに応じて、パルス幅が異なる第１パルス信号および第２パルス信号を生成するパルス生成部と、
前記第１パルス信号の所定時間当たりの計数値である第１計数値を求める第１計数部と、
前記第２パルス信号の所定時間当たりの計数値である第２計数値を求める第２計数部と、
前記第１計数値と前記第２計数値との差異を示す差異値に基づいて、前記検出部で検出された放射線についての線量率測定値を求める線量率演算部と、
を備えることを特徴とする放射線測定装置。
【請求項２】
請求項１に記載の放射線測定装置において、
前記線量率演算部は、
前記第１計数値と前記第２計数値との差異が所定範囲外であるときに、前記差異値に基づいて前記線量率測定値を求め、
前記第１計数値と前記第２計数値との差異が所定範囲内であるときに、前記第１計数値または前期第２計数値の換算に基づいて前記線量率測定値を求めることを特徴とする放射線測定装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の放射線測定装置において、
前記線量率演算部は、
前記差異値に基づいて、前記第１計数値、前記第２計数値、または前記差異値のうちいずれかを選択する選択部と、
前記選択部によって選択された値に基づいて、前記線量率測定値を求める線量率決定部と、
を備えることを特徴とする放射線測定装置。
【請求項４】
請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の放射線測定装置において、
前記差異値および前記線量率測定値の関係を予め記憶する記憶部を備え、
前記線量率演算部は、
前記差異値と、前記差異値および前記線量率測定値の関係とに基づいて、前記線量率測定値を求めることを特徴とする放射線測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線測定装置に関し、特に、放射線の検出に応じてパルス信号を生成し、そのパルス信号の計数値に基づいて放射線測定を行う装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、放射線についての関心が高まり、放射線測定装置が広く用いられるに至っている。放射線測定装置には、ガイガーミュラー計数管、シンチレータ、半導体素子等を放射線検出デバイスとして用い、単位時間当たりに検出された放射線を示す線量率を測定するものがある。これらの放射線検出デバイスは、放射線が検出されると信号を発生する。放射線測定装置は、検出信号に基づいてパルス信号を生成し、パルス信号についての所定時間当たりの計数値に基づいて線量率を測定する。
【０００３】
以下の特許文献１〜３には、放射線測定装置が記載されている。特許文献１に記載の放射線測定装置は、放射線に応じて発生したアナログパルス信号のうち波高値が所定値を超えるものを波高弁別器によって弁別し、弁別されたアナログパルス信号を計数する。さらに、この放射線測定装置は、アナログパルス信号の波高スペクトルを多重波高弁別器によって測定し、アナログパルス信号についての計数値と波高スペクトルとに基づいて線量率を求める。このような処理によって、波高弁別レベルよりも低い波高値を有するアナログパルス信号のパイルアップによる誤差が補正される。
【０００４】
特許文献２に記載の放射線測定装置は、放射線に応じて発生したアナログパルス信号のうち波高値が所定値を超えるものを波高弁別器によって弁別し、弁別されたアナログパルス信号を計数する。さらに、この放射線測定装置は、アナログパルス信号のうち波高値が所定値以下であり、かつ、ノイズ領域を含まない範囲のものをシングルチャネル波高分析器によって弁別し、弁別されたアナログパルス信号を計数する。そして、波高弁別器によって弁別されたアナログパルス信号に対する計数値と、シングルチャネル波高分析器によって弁別されたアナログパルス信号に対する計数値とに基づいて線量率を求める。このような処理によって、波高弁別レベルよりも低い波高値を有するアナログパルス信号のパイルアップによる誤差が補正される。
【０００５】
特許文献３に記載の放射線測定装置では、異なる有感面積を有する２つの半導体検出器を備える。各半導体検出器は、検出された放射線に応じてパルス信号を生成し、そのパルス信号を計数して線量率を出力する。この放射線測定装置は、２つの半導体検出器から出力された各線量率に基づいて、補正された線量率を求める。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０１２−７８９９号公報
【特許文献２】特開２０１２−１３５６３号公報
【特許文献３】特開平１１−１４２５２１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
一般に、放射線の検出に応じてパルス信号を発生し、そのパルス信号を計数する放射線測定装置では、放射線の検出頻度が高まると、複数のパルス信号が時間的に重なる。これによって、パルス信号を計数する際に数え落としが生じ、測定される線量率に誤差が生じる。引用文献３に記載の放射線測定装置では、このようなパルス信号の数え落としに基づく誤差を補正し、測定可能な線量率の範囲が拡大されている。しかし、引用文献３に記載されている放射線測定装置では、２つの半導体検出器が用いられるため、構造が複雑となるという問題がある。
【０００８】
本発明は、簡単な構成で線量率の測定可能範囲を拡大することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明は、放射線を検出する検出部と、前記検出部で放射線が検出されたことに応じて、パルス幅が異なる第１パルス信号および第２パルス信号を生成するパルス生成部と、前記第１パルス信号の所定時間当たりの計数値である第１計数値を求める第１計数部と、前記第２パルス信号の所定時間当たりの計数値である第２計数値を求める第２計数部と、前記第１計数値と前記第２計数値との差異を示す差異値に基づいて、前記検出部で検出された放射線についての線量率測定値を求める線量率演算部と、を備えることを特徴とする。
【００１０】
一般に、放射線の検出に応じてパルス信号を生成し、そのパルス信号の計数値に基づいて放射線測定を行う放射線測定装置では、放射線の検出頻度が高くなるにつれてパルス信号の数え落としの頻度が高くなって線量率の測定精度が低下し、測定可能な線量率の範囲が制限される。本発明においては、パルス幅の異なる第１パルス信号および第２パルス信号を生成し、第１パルス信号および第２パルス信号のそれぞれに対する第１計数値および第２計数値の差異に基づいて線量率測定値を求める。第１計数値および第２計数値については、数え落としについて一定の傾向があるため、これらの差異に基づいて線量率を測定することが可能となる。そのため、本発明によれば、各パルス信号に対する数え落としがある線量率の範囲においても、線量率測定を行うことができる。
【００１１】
望ましくは、前記線量率演算部は、前記第１計数値と前記第２計数値との差異が所定範囲外であるときに、前記差異値に基づいて前記線量率測定値を求め、前記第１計数値と前記第２計数値との差異が所定範囲内であるときに、前記第１計数値または第２計数値の換算に基づいて前記線量率測定値を求める。
【００１２】
一般に、第１計数値および第２計数値についての数え落としの頻度が十分に小さい場合には、第１計数値および第２計数値の差異によらず、第１計数値または第２計数値に基づいて直接的に線量率測定値を求めた方が、処理は単純となる。そこで、本発明においては、第１計数値と第２計数値との差異が所定範囲内であり、第１計数値および第２計数値についての数え落としの頻度が小さい場合には、第１計数値または第２計数値の換算に基づいて線量率測定値を求める。
【００１３】
望ましくは、前記線量率演算部は、前記差異値に基づいて、前記第１計数値、前記第２計数値、または前記差異値のうちいずれかを選択する選択部と、前記選択部によって選択された値に基づいて、前記線量率測定値を求める線量率決定部と、を備える。
【００１４】
本発明においては、第１計数値と第２計数値との差異を示す差異値に基づいて、第１計数値、第２計数値、または差異値のうちいずれかが選択され、選択された値に基づいて、線量率測定値が求められる。これによって、第１計数値、第２計数値、または差異値のうち適切な値を用いた線量率測定が容易となる。
【００１５】
望ましくは、前記差異値および前記線量率測定値の関係を予め記憶する記憶部を備え、前記線量率演算部は、前記差異値と、前記差異値および前記線量率測定値の関係とに基づいて、前記線量率測定値を求める。
【００１６】
本発明においては、第１計数値と第２計数値との差異を示す差異値と、線量率測定値との関係が予め記憶されており、その記憶内容に基づいて線量率測定値が求められる。これによって線量率測定が容易となる。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、簡単な構成で線量率の測定可能範囲を拡大することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】放射線測定装置の構成を示す図である。
【図２】計数値と測定対象の線量率との関係を表す計数値特性を示す図である。
【図３】レスポンス値と測定対象の線量率との関係を表す計数値特性を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
図１には、本発明の実施形態に係る放射線測定装置の構成が示されている。放射線測定装置は、放射線の検出に応じてパルス幅の異なる２種類のパルス信号を生成し、各パルス信号の計数値に基づいて線量率を測定する。
【００２０】
検出部１０は、検出された放射線に応じてパルス状の検出信号を増幅部１２に出力する。検出部１０には、例えば、半導体素子、ガイガーミュラー計数管、シンチレータ等が放射線検出デバイスとして用いられる。シンチレータを放射線検出デバイスとして用いる場合、放射線の検出に応じてシンチレータが発生する光を電気信号に変換する光電子増倍管が用いられる。
【００２１】
増幅部１２、波高弁別部１４、第１パルス整形部１６および第２パルス整形部２０は、検出部１０で放射線が検出されたことに応じてパルス幅が異なる第１パルス信号および第２パルス信号を生成するパルス生成部を構成する。
【００２２】
増幅部１２は、検出部１０から出力された検出信号を増幅し、波高弁別部１４に出力する。波高弁別部１４は、増幅部１２から出力された検出信号の波高値が所定の閾値より大きい場合には、その検出信号を第１パルス整形部１６および第２パルス整形部２０に出力する。
【００２３】
放射線が存在する環境下において、検出部１０は次々と放射線を検出し、放射線が検出されるごとに検出信号を増幅部１２に出力する。増幅部１２は、検出部１０から順次出力される検出信号を増幅し、波高弁別部１４に出力する。波高弁別部１４は、増幅部１２から出力される検出信号のうち、波高値が閾値より大きいものを弁別して出力する。これによって、波高弁別部１４からは、波高値に応じて弁別された検出信号が次々と第１パルス整形部１６および第２パルス整形部２０に出力され、検出部１０から出力されるノイズが放射線測定に寄与することが抑制される。
【００２４】
第１パルス整形部１６は、波高弁別部１４から検出信号が出力されたタイミングに応じたタイミングで、パルス幅がＴ１である第１パルス信号を生成し、第１計数部１８に出力する。パルス幅Ｔ１は、検出部１０の反応時間（放射線が検出された後における検出信号の減衰時間）に対し十分大きい値とする。検出部１０にＳｉ半導体素子、ＮａＩシンチレータ等が用いられた場合、反応時間は数１００ｎｓｅｃである。この場合には、例えば、パルス幅Ｔ１を数μｓｅｃ程度とする。また、第２パルス整形部２０は、波高弁別部１４から検出信号が出力されたタイミングに応じたタイミングで、パルス幅がＴ２である第２パルス信号を生成し、第２計数部２２に出力する。パルス幅Ｔ１はパルス幅Ｔ２よりも長く、Ｔ１＞Ｔ２の関係が成立する。パルス幅Ｔ１は、例えば、パルス幅Ｔ２の２０倍程度とする。
【００２５】
第１パルス整形部１６および第２パルス整形部２０には、波高弁別部１４から検出信号が入力されると共に出力電圧が立ち上がり、所定時間だけその出力電圧を維持した後、出力電圧が立ち下がる単安定マルチバイブレータ回路を用いてもよい。
【００２６】
第１パルス信号および第２パルス信号は、例えば、時間波形が矩形である信号とする。その他、第１パルス信号および第２パルス信号の波形は、台形、三角形等であってもよい。これらのパルス信号のパルス幅は、例えば、信号レベルが波高値の半分まで立ち上がった時から、波高値の半分まで立ち下がった時までの時間として定義される。
【００２７】
第１計数部１８は、第１パルス信号を計数し、所定時間当たりの計数値を第１計数値Ｃ１として求め、第１計数値Ｃ１を線量率演算部２４に出力する。第２計数部２２は、第２パルス信号を計数し、所定時間当たりの計数値を第２計数値Ｃ２として求め、第２計数値Ｃ２を線量率演算部２４に出力する。
【００２８】
線量率演算部２４が実行する処理について説明するため、ここでは、第１計数値Ｃ１および第２計数値Ｃ２の特性について説明する。図２には、計数値と測定対象の線量率Ｇ（測定環境下の線量率）との関係を表す計数値特性が概念的に示されている。横軸は測定対象の線量率Ｇ［ｍＧｙ／ｈ］を表し、縦軸は計数値Ｃを表す。横軸および縦軸は共に対数スケールである。
【００２９】
第１計数値Ｃ１は、線量率Ｇが第１飽和値Ｇ１以下の範囲では、線量率Ｇに一定比率Ａを乗じた値Ａ・Ｇを有する。線量率Ｇが飽和値Ｇ１より大きくなると第１計数値Ｃ１は飽和し、線量率Ｇの増加に対する増加が小さくなる。さらに線量率Ｇが大きくなると、線量率Ｇの増加に対して第１計数値Ｃ１は減少する。このように、第１計数値Ｃ１が飽和特性を有する理由は、線量率Ｇが飽和値Ｇ１より大きくなると、複数の第１パルス信号が時間的に重なる頻度が高くなり、第１計数部１８による第１パルス信号の数え落としの頻度が高くなるためである。線量率ＧをＡ倍した値Ａ・Ｇは、数え落としがない場合の理想的な計数値を表すため、以下の説明では、Ａ・Ｇを理想計数値と称する。
【００３０】
同様に、第２計数値Ｃ２は、線量率Ｇが第２飽和値Ｇ２以下の範囲では、理想計数値Ａ・Ｇである。ただし、第２飽和値Ｇ２は第１飽和値Ｇ１よりも大きい。線量率Ｇが飽和値Ｇ２より大きくなると、第２計数値Ｃ２は飽和し、線量率Ｇの増加に対する増加が小さくなる。さらに線量率Ｇが大きくなると、線量率Ｇの増加に対して第２計数値Ｃ２は減少する。このように、第２計数値Ｃ２が飽和特性を有する理由は、線量率Ｇが飽和値Ｇ２より大きくなると、複数の第２パルス信号が時間的に重なる頻度が高くなり、第２計数部２２による第２パルス信号の数え落としの頻度が高くなるためである。
【００３１】
また、第１計数値Ｃ１に対する飽和値Ｇ１は、第２計数値Ｃ２に対する飽和値Ｇ２よりも小さい。これは、第１パルス信号の方が第２パルス信号に比べてパルス幅が長く、同一の線量率Ｇに対し、複数のパルス信号が時間的に重なる頻度が高いためである。
【００３２】
図３には、図２の縦軸の値を理想計数値Ａ・Ｇで割ったレスポンス特性が概念的に示されている。レスポンス特性の横軸は、測定対象の線量率Ｇを表し、縦軸は、計数値Ｃを理想計数値Ａ・Ｇで割った値であるレスポンス値Ｒを表す。ただし、横軸は対数スケールであり、縦軸は真数スケールである。
【００３３】
レスポンス値Ｒは理想計数値Ａ・Ｇに対する計数値Ｃの比率を表す。レスポンス値が１に近い程、パルス信号の数え落としの頻度が低い。一方、レスポンス値が１より小さい程、パルス信号の数え落としの頻度が高い。
【００３４】
第１計数値Ｃ１を理想計数値Ａ・Ｇで割った第１レスポンス値Ｒ１は、線量率Ｇが第１飽和値Ｇ１以下の範囲では１となる。線量率Ｇが飽和値Ｇ１より大きくなると第１レスポンス値Ｒ１は１よりも小さくなり、線量率Ｇが増加するにつれて減少する。
【００３５】
第２計数値Ｃ２を理想計数値Ａ・Ｇで割った第２レスポンス値Ｒ２は、線量率Ｇが第２飽和値Ｇ２以下の範囲では１となる。線量率Ｇが飽和値Ｇ２より大きくなると第２レスポンス値Ｒ２は１よりも小さくなり、線量率Ｇが増加するにつれて減少する。
【００３６】
第１レスポンス値Ｒ１と第２レスポンス値Ｒ２との差異であるレスポンス差Ｄは、線量率Ｇが第１飽和値Ｇ１より大きくなると、線量率Ｇが増加するにつれて増加して最大値に達し、レスポンス差Ｄが最大値となるときの上限線量率Ｇｍを超える範囲では、レスポンス差Ｄは線量率Ｇが増加するにつれて減少する。
【００３７】
図１に示される線量率演算部２４が、このようなレスポンス特性に基づき線量率測定値を求める処理について説明する。線量率演算部２４は、プロセッサによって構成される。線量率演算部２４は、記憶部３２に記憶されたプログラムを読み込み実行することにより、計数比算出部２６、選択部２８および線量率決定部３０を構成する。
【００３８】
計数比算出部２６は、第２計数値Ｃ２を第１計数値Ｃ１で除した値を計数比γとして求め、選択部２８に出力する。計数比γは、第１計数値Ｃ１と第２計数値Ｃ２との差異を示す差異値としての意義を有する。計数比γは、第２レスポンス値Ｒ２を第１レスポンス値Ｒ１で除した比に等しく、上述のレスポンス差Ｄと同様の増減傾向を有する。すなわち、計数比γは、線量率Ｇが第１飽和値Ｇ１より大きくなると、線量率Ｇが増加するにつれて増加して最大値に達し、レスポンス差Ｄが最大値となるときの上限線量率Ｇｍを超える範囲では、線量率Ｇが増加するにつれて減少する。
【００３９】
選択部２８は、計数比γが第１閾値ＴＨ１以下であるときは、第１計数値Ｃ１、第２計数値Ｃ２、および計数比γのうち、第１計数値Ｃ１を選択し、線量率決定部３０に出力する。ここで、第１閾値ＴＨ１は、線量率Ｇが第１飽和値Ｇ１であるときの計数比であり、記憶部３２に予め記憶され、選択部２８によって読み出される。第１閾値ＴＨ１は理論的には１である。また、計数比γが第１閾値ＴＨ１以下であるときという条件は、理論的には、計数比γが１であるときという条件となる。線量率決定部３０は、第１計数値Ｃ１を単位時間当たりのシーベルト、単位時間当たりのグレイ等の単位を有する線量率に換算して線量率測定値を求める。
【００４０】
選択部２８は、計数比γが第１閾値ＴＨ１よりも大きく、かつ、第２閾値ＴＨ２以下であるときは、第１計数値Ｃ１、第２計数値Ｃ２、および計数比γのうち、第２計数値Ｃ２を選択し、線量率決定部３０に出力する。ここで、第２閾値ＴＨ２は、線量率Ｇが第２飽和値Ｇ２であるときの計数比であり、記憶部３２に予め記憶され、選択部２８によって読み出される。線量率決定部３０は、第２計数値Ｃ２を線量率に換算して線量率測定値を求める。
【００４１】
選択部２８は、計数比γが第２閾値ＴＨ２よりも大きく、かつ、最大値Ｍ以下であるときは、第１計数値Ｃ１、第２計数値Ｃ２、および計数比γのうち、計数比γを選択し、線量率決定部３０に出力する。ここで、最大値Ｍは、線量率Ｇが上限線量率Ｇｍであるときの計数比であり、記憶部３２に予め記憶され、選択部２８によって読み出される。線量率決定部３０は、計数比γおよび線量率測定テーブルに基づいて線量率測定値を求める。ここで、線量率測定テーブルは、計数比γに対して線量率測定値を対応付けたテーブルであり、予め記憶部３２に記憶されている。すなわち、線量率決定部３０は、線量率測定テーブルを参照し、計数比γに対応する線量率測定値を求める。
【００４２】
線量率決定部３０は、線量率測定値を表示部３４に出力する。表示部３４は、例えば、液晶パネル等を含むディスプレイである。表示部３４は線量率測定値を表示する。
【００４３】
このような処理によれば、線量率Ｇが第１飽和値Ｇ１以下であるときは、第１計数値Ｃ１に基づいて線量率測定値が求められる。また、線量率Ｇが第１飽和値Ｇ１より大きく、かつ、第２飽和値Ｇ２以下であるときは、第２計数値Ｃ２に基づいて線量率測定値が求められる。そして、線量率Ｇが第２飽和値Ｇ２より大きく、かつ、上限線量率Ｇｍ以下であるときは、計数比γと線量率測定テーブルとに基づいて線量率測定値が求められる。
【００４４】
図３に示されるように、第１パルス信号に対するレスポンス値Ｒ１は、線量率Ｇが第１飽和値Ｇ１より大きくなると１よりも小さくなる。同様に、第２パルス信号に対するレスポンス値Ｒ２は、線量率Ｇが第２飽和値Ｇ２より大きくなると１よりも小さくなる。そのため、第１計数値Ｃ１のみ、または第２計数値Ｃ２のみを用いて線量率を測定する場合には、線量率Ｇが各飽和値より大きくなると測定精度が低下し、線量率が測定可能な範囲が狭くなってしまう。また、増幅部１２および波高弁別部１４のパルスレスポンスが遅い場合には、第１飽和値Ｇ１および第２飽和値Ｇ２が小さくなり、線量率が測定可能な範囲が狭くなることがある。
【００４５】
そこで、本実施形態に係る放射線測定装置では、第１計数値Ｃ１および第２計測値Ｃ２を用いて計数比γを求め、計数比γが第２閾値ＴＨ２より大きい場合には、計数比γおよび線量率測定テーブルに基づいて線量率測定値を求める。これによって、第１計数値Ｃ１のみ、または第２計数値Ｃ２のみを用いる場合に比べて広い範囲で線量率を測定することができる。さらに、複数の検出部１０を用いる必要がないため、構造が単純化される。
【００４６】
また、線量率演算部２４は、第１計数値Ｃ１と第２計数値Ｃ２との差異を表す計数比γが所定範囲外、すなわち、計数比γが第２閾値ＴＨ２より大きい範囲にあるときに、計数比γに対応する線量率を線量率テーブルから求める。一方、計数比γが所定範囲内、すなわち、計数比γが第２閾値ＴＨ２以下の範囲にあるときに、第１計数値または第２計数値に基づいて線量率測定値を求める。第１計数値Ｃ１および第２計数値Ｃ２についての数え落としの頻度が十分に小さい場合には、第１計数値Ｃ１または第２計数値Ｃ２に基づいて直接的に線量率測定値を求めた方が測定が単純となり、測定の信頼性がより高まる。
【００４７】
なお、上記では、計数比γに基づいて、第１計数値Ｃ１、第２計数値Ｃ２、および計数比γのうちいずれかを選択し、選択した値に基づいて線量率測定値を求める処理について説明した。このように計数比γを用いる代わりに、第２レスポンス値Ｒ２から第１レスポンス値Ｒ２を減じた値であるレスポンス差Ｄを用いてもよい。レスポンス差Ｄもまた、第１計数値Ｃ１と第２計数値Ｃ２との差異を示す差異値としての意義を有するためである。この場合、計数比γに対する第１閾値ＴＨ１、第２閾値ＴＨ２および最大値Ｍを、レスポンス差Ｄに対する各値に換算して用いればよい。
【００４８】
また、上記では、計数比γが第１閾値ＴＨ１以下であるときに、第１計数値Ｃ１を用いて線量率測定値を求める処理について説明した。このような処理の他、計数比γが第１閾値ＴＨ１以下である場合に、第２計数値Ｃ２を用いて線量率測定値を求める処理を実行してもよい。
【符号の説明】
【００４９】
１０  検出部、１２  増幅部、１４  波高弁別部、１６  第１パルス整形部、１８  第１計数部、２０  第２パルス整形部、２２  第２計数部、２４  線量率演算部、２６  計数比算出部、２８  選択部、３０  線量率決定部、３２  記憶部、３４  表示部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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