(57)【要約】【課題】対象物に光部品が装着された状態で光軸のずれ方向やずれ量を把握して光軸調整を行うこと。【解決手段】光部品が装着された対象物と光部品との間の光軸に、光を通すスリットを有するスリット部材が挿入される（ステップＳ１）。スリットが光軸を横切るようにスリット部材が移動しながら、スリットを通って光部品と対象物との間で結合する光の光量が検出される（ステップＳ２）。スリット部材の移動に伴うスリットの位置と光量の変化量との関係から光軸のずれ方向及び光軸のずれ量が把握される（ステップＳ３）。光軸のずれ方向及び光軸のずれ量に基づいて光軸調整が行われる（ステップＳ４）。【選択図】図１
2015087732.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光部品が装着された対象物と、前記光部品との間の光軸に、光を通すスリットを有するスリット部材を挿入し、
前記スリットが前記光軸を横切るように前記スリット部材を移動させながら、前記スリットを通って前記光部品と前記対象物との間で結合する光の光量を検出し、
前記スリット部材の移動に伴う前記スリットの位置と前記光量の変化量との関係から前記光軸のずれ方向及び前記光軸のずれ量を把握し、
前記光軸のずれ方向及び前記光軸のずれ量に基づいて光軸調整を行うことを特徴とする光軸調整方法。
【請求項２】
種々の光軸のずれ方向及び種々の光軸のずれ量の組み合わせに対する前記スリットの位置と前記光量の変化量との関係を予め求めておき、
予め求めておいた前記スリットの位置と前記光量の変化量との関係の中から、前記スリット部材を移動させることによって取得した前記スリットの位置と前記光量の変化量との関係に一致するもの、もしくは近いものを選択することによって、前記光軸のずれ方向及び前記光軸のずれ量を把握することを特徴とする請求項１に記載の光軸調整方法。
【請求項３】
前記スリットの位置と前記光量の変化量との関係は、前記光軸が合っている場合に前記光量のピーク位置に対して対称性を有し、前記光軸がずれている場合に前記光量のピーク位置に対して非対称性を有することを特徴とする請求項１または２に記載の光軸調整方法。
【請求項４】
前記スリットが前記光軸を直交する２方向に横切るように前記スリット部材を移動させることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一項に記載の光軸調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、光軸調整方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ファイバを光軸と垂直で互いに直交する２方向上で移動させて光量を測定し、光ファイバの移動量と光量との関係に基づいて光部品と光ファイバとの光軸調整を行う方法がある（例えば、特許文献１参照）。また、微小スリットを有する測定スリット板を光軸と交わる方向に移動させ、測定スリット板を通過した光の光量が最大となる位置に測定スリット板を配置することによって、濃度計の光軸を調整する方法がある（例えば、特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平９−３１１２５０号公報
【特許文献２】特開２００１−８３０８５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
光部品を装着する対象である対象物に光部品が、光軸がずれた状態で装着された場合、光部品の位置を調整して光軸のずれを解消する必要がある。そのためには、対象物に装着された光部品の光軸がどの方向にどれだけずれているかを知る必要がある。しかしながら、従来の光軸調整方法では、対象物に光部品が装着された状態で光軸のずれ方向やずれ量を把握することができないという問題点がある。
【０００５】
対象物に光部品が装着された状態で光軸のずれ方向やずれ量を把握して光軸調整を行うことができる光軸調整方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この光軸調整方法では、光部品が装着された対象物と光部品との間の光軸に、光を通すスリットを有するスリット部材が挿入される。スリットが光軸を横切るようにスリット部材が移動しながら、スリットを通って光部品と対象物との間で結合する光の光量が検出される。スリット部材の移動に伴うスリットの位置と光量の変化量との関係から光軸のずれ方向及び光軸のずれ量が把握される。光軸のずれ方向及び光軸のずれ量に基づいて光軸調整が行われる。
【発明の効果】
【０００７】
この光軸調整方法によれば、対象物に光部品が装着された状態で光軸のずれ方向やずれ量を把握して光軸調整を行うことができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】図１は、実施の形態にかかる光軸調整方法の一例を示す図である。
【図２】図２は、スリットの移動に伴ってスリットを通る光の変化の様子を順に示す図（その１）である。
【図３】図３は、スリットの移動に伴ってスリットを通る光の変化の様子を順に示す図（その２）である。
【図４】図４は、スリットの移動に伴ってスリットを通る光の変化の様子を順に示す図（その３）である。
【図５】図５は、スリットの移動に伴ってスリットを通る光の変化の様子を順に示す図（その４）である。
【図６】図６は、スリットの移動に伴ってスリットを通る光の変化の様子を順に示す図（その５）である。
【図７】図７は、スリットの移動に伴ってスリットを通る光の変化の様子を順に示す図（その６）である。
【図８】図８は、光軸が合っている場合の光量の変化の様子を示す図である。
【図９】図９は、光軸が左側にずれている場合の光量の変化の様子を示す図である。
【図１０】図１０は、光軸が右側にずれている場合の光量の変化の様子を示す図である。
【図１１】図１１は、光のスポットが光入射面内に納まっている場合の光量の計算結果及びプロファイルを示す図（その１）である。
【図１２】図１２は、光のスポットが光入射面内に納まっている場合の光量の計算結果及びプロファイルを示す図（その２）である。
【図１３】図１３は、光のスポットが光入射面内に納まっている場合の光量の計算結果及びプロファイルを示す図（その３）である。
【図１４】図１４は、光のスポットが光入射面内に納まっている場合の光量の計算結果及びプロファイルを示す図（その４）である。
【図１５】図１５は、光のスポットが光入射面内に納まっている場合の光量の計算結果及びプロファイルを示す図（その５）である。
【図１６】図１６は、光のスポットが光入射面内に納まっている場合の光量の計算結果及びプロファイルを示す図（その６）である。
【図１７】図１７は、光のスポットが光入射面内に納まっている場合の光量の計算結果及びプロファイルを示す図（その７）である。
【図１８】図１８は、光のスポットが光入射面内に納まっている場合の光量の計算結果及びプロファイルを示す図（その８）である。
【図１９】図１９は、光のスポットが光入射面内に納まっている場合のスリット位置と受光量との関係を示す図である。
【図２０】図２０は、光のスポットが光入射面の左側に６μｍずれている場合の光量の計算結果を示す図（その１）である。
【図２１】図２１は、光のスポットが光入射面の左側に６μｍずれている場合の光量の計算結果を示す図（その２）である。
【図２２】図２２は、光のスポットが光入射面の左側に６μｍずれている場合の光量の計算結果を示す図（その３）である。
【図２３】図２３は、光のスポットが光入射面の左側に６μｍずれている場合の光量の計算結果を示す図（その４）である。
【図２４】図２４は、光のスポットが光入射面の左側に６μｍずれている場合の光量の計算結果を示す図（その５）である。
【図２５】図２５は、光のスポットが光入射面の左側に６μｍずれている場合の光量の計算結果を示す図（その６）である。
【図２６】図２６は、光のスポットが光入射面の左側に６μｍずれている場合の光量の計算結果を示す図（その７）である。
【図２７】図２７は、光のスポットが光入射面の左側に６μｍずれている場合の光量の計算結果を示す図（その８）である。
【図２８】図２８は、光のスポットが光入射面の左側に６μｍずれている場合のスリット位置と受光量との関係を示す図である。
【図２９】図２９は、光のスポットが光入射面の左側に１２μｍずれている場合のスリット位置と受光量との関係を示す図である。
【図３０】図３０は、光のスポットが光入射面の左側に１８μｍずれている場合の光量の計算結果を示す図である。
【図３１】図３１は、光のスポットが光入射面の左側に１８μｍずれている場合のスリット位置と受光量との関係を示す図である。
【図３２】図３２は、光のスポットが光入射面の下側に１２μｍずれている場合の光量の計算結果を示す図である。
【図３３】図３３は、光のスポットが光入射面の下側に１２μｍずれている場合のスリット位置と受光量との関係を示す図である。
【図３４】図３４は、光軸が左側にずれている場合のスリット位置と受光量とずれ量との関係を示す図である。
【図３５】図３５は、光軸が右側にずれている場合のスリット位置と受光量とずれ量との関係を示す図である。
【図３６】図３６は、光軸が左側及び右側のそれぞれにずれている場合のスリット位置と受光量との関係を示す図である。
【図３７】図３７は、光軸が左側、下側及び左下側にずれている場合のスリット位置と受光量との関係を示す図である。
【図３８】図３８は、光軸が左下側及び右下側のそれぞれにずれている場合のスリット位置と受光量との関係を示す図である。
【図３９】図３９は、実施の形態にかかる光軸調整方法によって、発光素子を有する光部品の光軸調整を行う様子を示す図である。
【図４０】図４０は、スリットがＸ方向へ移動する場合のスリット部材及び光導波路を上から見た様子を示す図である。
【図４１】図４１は、スリットがＹ方向へ移動する場合のスリット部材及び光導波路を上から見た様子を示す図である。
【図４２】図４２は、光部品の取付手順の一例を示す図である。
【図４３】図４３は、実施の形態にかかる光軸調整方法によって、受光素子を有する光部品の光軸調整を行う様子を示す図である。
【図４４】図４４は、複数の発光素子を有する光部品が傾いて取り付けられている様子を示す図である。
【図４５】図４５は、図１に示す光軸調整方法を適用した別の例を示す図である。
【図４６】図４６は、図１に示す光軸調整方法を適用したさらに別の例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下に添付図面を参照して、この光軸調整方法の好適な実施の形態を詳細に説明する。以下の各実施例の説明においては、同様の構成要素には同一の符号を付して、重複する説明を省略する。
【００１０】
・光軸調整方法の一例
図１は、実施の形態にかかる光軸調整方法の一例を示す図である。図１に示すように、光部品が装着された対象物と光部品との間の光軸調整処理が開始されると、まず、光部品が装着された対象物と光部品との間の光軸に、光を通すスリットを有するスリット部材が挿入される（ステップＳ１）。スリット部材のスリット以外の部分は、光を通さない遮光部分となっている。
【００１１】
次いで、スリットが光軸を横切るようにスリット部材が移動しながら、スリットを通って光部品と対象物との間で結合する光の光量が検出される（ステップＳ２）。次いで、スリット部材の移動に伴うスリットの位置と光量の変化量との関係から光軸のずれ方向及び光軸のずれ量が把握される（ステップＳ３）。
【００１２】
光軸のずれ方向及び光軸のずれ量に基づいて光軸調整が行われる（ステップＳ４）。そして、一連の光軸調整処理が終了する。
【００１３】
図２〜図７は、スリットの移動に伴ってスリットを通る光の変化の様子を順に示す図である。図２〜図７においては、発光素子を有する光部品１から光２が出射され、その光２がスリット部材３のスリット４を通って対象物５の光入射面６に入射するものとし、光入射面６に入射した光の光量が検出される。また、図２〜図７においては、スリット部材３は各図の左側から右側へ移動し、光入射面６は、例えば各図の手前側から奥側へ向かって下る傾斜面となっているものとする。
【００１４】
光軸がずれている場合、光部品１から出射した光２が光入射面６に当たった状態において、光２の中心が光入射面６の中心からずれる。本実施の形態では、光軸がずれている場合、光入射面６の中心に対して光２の中心のずれている方向が光軸のずれ方向であり、光入射面６の中心からの光２の中心のずれ量が光軸のずれ量である。ここでは、光２の光軸が合っている状態を例にして説明する。
【００１５】
図２に示すように、スリット４が光入射面６上から外れている場合、光部品１から出射された光２は、スリット部材３のスリット４でない遮光部分に遮られる。そのため、光２は、光入射面６に入射しない。
【００１６】
図３に示すように、図２の状態からスリット部材３が右側へ移動すると、スリット４の一部が光入射面６上に到達する。そのため、光２の左側の周辺部分がスリット４を通って光入射面６に入射する。
【００１７】
図４に示すように、図３の状態からスリット部材３がさらに右側へ移動すると、スリット４のより多くの部分が光入射面６上に到達する。そのため、光２のより多くの周辺部分がスリット４を通って光入射面６に入射する。
【００１８】
図５に示すように、図４の状態からスリット部材３がさらに右側へ移動すると、スリット４が光入射面６の真上近辺に到達する。そのため、光２の中心部分がスリット４を通って光入射面６に入射する。
【００１９】
図６に示すように、図５の状態からスリット部材３がさらに右側へ移動すると、スリット部材３の左側の遮光部分が光入射面６上に到達する。そのため、光２の中心部分がスリット部材３の遮光部分に遮られ、光２の右側の周辺部分がスリット４を通って光入射面６に入射する。
【００２０】
図７に示すように、図６の状態からスリット部材３がさらに右側へ移動すると、スリット部材３の左側の遮光部分のより多くの部分が光入射面６上に到達する。そのため、スリット４を通って光入射面６に入射する光２の周辺部分がより少なくなる。
【００２１】
図８、図９及び図１０は、光軸が合っている場合、光軸が左側にずれている場合及び光軸が右側にずれている場合のそれぞれについて、光量の変化の様子を示す図である。図８〜図１０には、矢印で示すように各図の左側から右側へ移動するスリット部材３のスリット４を通った光２が、各図の手前側から奥側へ向かって下る傾斜面となっている光入射面６に入射し始めた状態が示されている。
【００２２】
図８〜図１０において、二点鎖線７は、設計上の光軸、すなわちずれていない場合の光軸を表し、一点鎖線８は、各図の状態に対応するグラフ９上の位置を指し示している。図８〜図１０に示す各グラフ９は、スリット４の位置に対する光量の関係を表しており、縦軸は光量であり、横軸はスリットの位置である。
【００２３】
光部品１から出射された光２は、中心に近いほど光が強く、周辺に行くほど光が弱くなるため、中心に近いほど光量が多く、周辺に行くほど光量が少なくなる。従って、図８に示すように、光部品１の光軸が合っている場合、スリット４が光入射面６上の左寄りに位置する状態では、光２の左側の周辺部分がスリット４を通って光入射面６に入射するため、検出される光量は少ない。
【００２４】
スリット４が右側へ向かって移動し、スリット４が光部品１の光軸上もしくはその近傍に位置する状態になると、光２の中心部分がスリット４を通って光入射面６に入射する。そのため、最大の光量が検出される。スリット４がさらに右側へ向かって移動してスリット４が光入射面６上の右寄りに位置する状態になると、光２の右側の周辺部分がスリット４を通って光入射面６に入射するため、検出される光量が再び少なくなる。
【００２５】
そして、光２の中心を挟んで左側の周辺部と右側の周辺部とでは、光２の中心から周辺へ向かって同じような傾向で光量が少なくなる。そのため、光部品１の光軸が合っている場合には、グラフ９は、光量が最大となる位置を挟んで左右対称な形状となる。
【００２６】
図９に示すように、光部品１の光軸が左側にずれている場合、スリット４が左側から右側へ向かって移動しても、スリット４が光入射面６と重なる前の段階では、スリット４を通った光２は光入射面６に入射しない。そのため、スリット４が光入射面６と重なり始めるまでは、光量は０である。
【００２７】
スリット４が光入射面６上の左端に重なると、光２の中心部分がスリット４を通って光入射面６に入射するため、最大の光量が検出される。従って、グラフ９は、急峻に起ち上がる形状となる。その状態からスリット４が右側へ向かって移動するのに伴って光２のより右側の周辺部分がスリット４を通って光入射面６に入射するため、検出される光量が徐々に少なくなる。そのため、グラフ９は、緩やかに下がる形状となる。
【００２８】
つまり、光部品１の光軸が左側にずれている場合、グラフ９は、急峻に起ち上がって最大の光量となり、その後緩やかに下がるというように、左右で非対称な形状となる。
【００２９】
図１０に示すように、光部品１の光軸が右側にずれている場合、スリット４が左側から右側へ向かって移動しても、スリット４の右端が光２の左側の周辺部分に到達する前の段階では、光２はスリット部材３の遮光部分に遮られて光入射面６に入射しない。
【００３０】
その状態からスリット４が右側へ向かって移動するのに伴って光２の中心部分により近い部分がスリット４を通って光入射面６に入射するため、検出される光量が徐々に多くなる。そのため、グラフ９は、緩やかに上がる形状となる。
【００３１】
スリット４がさらに右側へ向かって移動し、スリット４が光部品１の光軸上もしくはその近傍に位置する状態になると、光２の中心部分がスリット４を通って光入射面６に入射するため、最大の光量が検出される。スリット４がさらに右側へ向かって移動すると、スリット４が光入射面６上から外れていくため、検出される光量が急速に減る。
【００３２】
つまり、光部品１の光軸が右側にずれている場合、グラフ９は、緩やかに上がっていって最大の光量となり、その後急速に下がるというように、左右で非対称な形状で、かつ光部品１の光軸が左側にずれている場合と逆パターンの形状となる。
【００３３】
スリット部材３の厚さは、光部品１と対象物５の光入射面６との間に入る程度であればよい。スリット部材３は、例えばステンレス製などの金属でできており、スリット４が打ち抜かれてできていてもよいし、例えば光を通すガラス板でできており、光を通さない遮光部分が黒く塗り潰されてできていてもよい。
【００３４】
光入射面６に当たる光２のスポット径が光入射面６よりも大きい場合、スリット４の幅は、光入射面６の幅の半分以下であるのが好ましい。また、光入射面６に当たる光２のスポット径が光入射面６よりも小さい場合には、スリット４の幅は、スポット径の半分以下であるのが好ましい。スリット４の幅が、光入射面６の幅の１／４程度であれば、より高い精度で光軸のずれ方向及び光軸のずれ量を求めることができる。
【００３５】
ただし、スリット４の幅が狭すぎると、スリット４を通って光入射面６に入射する光の量が少なくなるため、良好な結果が得られなくなってしまう。また、理論的には、光干渉しない程度、すなわち光学上は光源の波長以上のスリット幅が必要である。
【００３６】
上述したように、スリットの位置と光量の変化量との関係は、光部品１の光軸がずれているか否か、ずれている場合には、どの方向にどれだけずれているか、ということを反映している。従って、スリットの位置と光量の変化量との関係を求めることによって、光部品１の光軸のずれ方向及びずれ量を把握することができる。
【００３７】
そのためには、種々の光軸のずれ方向及び種々の光軸のずれ量の組み合わせに対するスリットの位置と光量の変化量との関係を予め求めておき、その求めたデータを、光軸調整を行う装置にデータベースとして格納しておいてもよい。そして、そのデータベースの中から、図１に示す光軸調整処理におけるステップＳ２で光量を検出することによって得られたスリットの位置と光量の変化量との関係に一致するもの、もしくは近いものを選択してもよい。そのデータベースから選択したデータのずれ方向及びずれ量を、光部品１の光軸のずれ方向及びずれ量としてもよい。
【００３８】
種々の光軸のずれ方向及び種々の光軸のずれ量の組み合わせに対するスリットの位置と光量の変化量との関係を予め求めるにあたっては、例えば後述するように、光源から出た光をガウス分布に近似し、スリットを通過した光だけを積分するという理論計算を行ってもよい。または、光線追跡やＢＰＭ法（Ｂｅａｍ  Ｐｒｏｐａｇａｔｉｏｎ  Ｍｅｔｈｏｄ、ビーム伝搬法）やＦＤＴＤ法（Ｆｉｎｉｔｅ−Ｄｉｆｆｅｒｅｎｃｅ  Ｔｉｍｅ−Ｄｏｍａｉｎ  ｍｅｔｈｏｄ、有限差分時間領域法）などのシミュレーションによって光量を計算してもよい。あるいは、設計段階や試作段階で実際にスリット部材を移動させながら光量を検出することによって、検量線となるデータを採取しておいてもよい。
【００３９】
公知の方法によって、予め求めておいた種々のスリットの位置と光量の変化量との関係のデータベース中から、実際の製品の製造段階で得られたスリットの位置と光量の変化量との関係に一致するもの、もしくは近いものを選択することができる。例えば、予め求めておいた種々のスリットの位置と光量の変化量との関係と、実際の製品の製造段階で得られたスリットの位置と光量の変化量との関係との差分の値が最も小さくなるものを解として選択してもよい。また、文字認識などで用いられているパターン認識技術を用いてもよい。予め求めておいた種々のスリットの位置と光量の変化量との関係のデータベース中から、実際の製品の製造段階で得られたスリットの位置と光量の変化量との関係に一致するもの、もしくは近いものを選択する処理は、例えばコンピュータによって実行されてもよい。
【００４０】
・理論計算の一例
図１１〜図１８は、光のスポットが光入射面内に納まっている場合の光量の計算結果及びプロファイルを示す図である。図１１〜図１８の各図において、上段の図には、光２のスポット１１とスリット４と光入射面６との位置関係及びそのときの光量を数値で表した分布が示されており、下段の図には、光量の分布が３次元的に表されている。直交する２方向の一方をＸ方向または左右方向とし、他方をＹ方向または上下方向とする。
【００４１】
図１１〜図１８の各上段の図において、４つの同心円は光２のスポット１１を表し、大きい四角は光入射面６であり、縦に細長い長方形はスリット４である。光２のスポット１１に接するＸ方向及びＹ方向にそれぞれ伸びる「３」〜「３０」の数値の入った帯はスケール１２，１３を表す。例えば図１２に示すように、スリット４の右辺が「６」と「９」の間に位置する場合、スリット４の位置は６μｍである。
【００４２】
Ｘ方向のスケール１２とＹ方向のスケール１３との交点に記されている数値は、受光量を規格化した値を表す。例えば、図１２に示す例では、Ｘ方向のスケール１２とＹ方向のスケール１３との交点に「０．５」が記されているため、受光量を規格化した値は０．５である。
【００４３】
図１１〜図１８の各下段の図において、四角は光入射面６を表し、光入射面６の二辺に沿って付された「３」〜「３０」の数値は、上段の図におけるスケール１２，１３の数値に対応している。Ｚ方向の「０」〜「１０」の数値は、受光量である。下段の図では、上段の図において数値で示されている受光量が、Ｚ方向の高さとして示される。
【００４４】
例えば図１４に示すように、光２のスポット１１において、最も内側の円内が最も受光量の多い領域であり、その受光量を１０とする。２番目に内側の環状部内がその次に受光量の多い領域であり、その受光量を６とする。３番目に内側の環状部内がさらにその次に受光量の多い領域であり、その受光量を４とする。
【００４５】
最も外側の環状部内が最も受光量の少ない領域であり、その受光量を１とする。光２のスポット１１の外側は、受光量が０である。また、受光量の値が異なる隣り合う領域の境界線上の受光量を、隣り合う２つの領域の受光量の値の中間の値としてもよい。
【００４６】
図１１に示すように、スリット４の位置が０μｍである場合、スリット４が光２のスポット１１に重ならないため、受光量を規格化した値は０．０である。図１２に示すように、スリット４の位置が６μｍになると、例えばスリット４の一部と光２のスポット１１とが重なった部分に１及び０．５の受光量が分布しており、受光量を規格化した値は０．５である。
【００４７】
図１３に示すように、スリット４の位置が１２μｍになると、例えばスリット４と光２のスポット１１とが重なった部分に０．５、１、３、４、５及び６の受光量が分布しており、受光量を規格化した値は２．７である。図１４に示すように、スリット４の位置が１８μｍになると、例えばスリット４と光２のスポット１１とが重なった部分に１、３、４、５、６及び１０の受光量が分布しており、受光量を規格化した値は５．７である。
【００４８】
図１５に示すように、スリット４の位置が２１μｍになると、例えばスリット４と光２のスポット１１とが重なった部分に１、３、４、５、６及び１０の受光量が分布しており、受光量を規格化した値は５．７である。図１６に示すように、スリット４の位置が２７μｍになると、例えばスリット４と光２のスポット１１とが重なった部分に０．５、１、３、４、５及び６の受光量が分布しており、受光量を規格化した値は２．７である。
【００４９】
図１７に示すように、スリット４の位置が３３μｍになると、例えばスリット４の一部と光２のスポット１１とが重なった部分に１及び０．５の受光量が分布しており、受光量を規格化した値は０．５である。図１８に示すように、スリット４の位置が３９μｍである場合、スリット４が光２のスポット１１に重ならないため、受光量を規格化した値は０．０である。
【００５０】
図１９は、光のスポットが光入射面内に納まっている場合のスリット位置と受光量との関係を示す図である。図１９において、縦軸は受光量であり、横軸はスリットの位置である。図１９には、図１１〜図１８に示すデータの他に、スリット４の位置が３μｍ、９μｍ、１５μｍ、２４μｍ、３０μｍ及び３６μｍであるときのデータも含まれている。図１９に示すように、光軸がずれていない場合には、グラフは左右対称な形状となる。
【００５１】
図２０〜図２７は、光のスポットが光入射面の左側に６μｍずれている場合の光量の計算結果を示す図である。図２０〜図２７の各図には、光２のスポット１１とスリット４と光入射面６との位置関係及びそのときの光量を数値で表した分布が示されている。光２のスポット１１、光入射面６、スリット４、Ｘ方向のスケール１２及びＹ方向のスケール１３については、図１１〜図１８と同様である。
【００５２】
図２０に示すように、スリット４の位置が０μｍである場合、スリット４が光入射面６上にないため、受光量を規格化した値は０．０である。図２１に示すように、スリット４の位置が６μｍである場合もスリット４が光入射面６上にないため、受光量を規格化した値は０．０である。
【００５３】
図２２に示すように、スリット４の位置が９μｍになると、例えばスリット４の一部が光入射面６上に位置して光２のスポット１１に重なり、その重なった部分に１、３及び４の受光量が分布しており、受光量を規格化した値は０．９である。図２３に示すように、スリット４の位置が１８μｍになると、例えばスリット４と光２のスポット１１とが重なった部分に１、３、４、５、６及び１０の受光量が分布しており、受光量を規格化した値は５．７である。
【００５４】
図２４に示すように、スリット４の位置が２１μｍになると、例えばスリット４と光２のスポット１１とが重なった部分に１、３、４、５、６及び１０の受光量が分布しており、受光量を規格化した値は５．７である。図２５に示すように、スリット４の位置が２７μｍになると、例えばスリット４と光２のスポット１１とが重なった部分に０．５、１、３、４、５及び６の受光量が分布しており、受光量を規格化した値は２．７である。
【００５５】
図２６に示すように、スリット４の位置が３３μｍになると、例えばスリット４の一部が光２のスポット１１に重なり、その重なった部分に０．５及び１の受光量が分布しており、受光量を規格化した値は０．５である。図２７に示すように、スリット４の位置が３９μｍである場合、スリット４と光２のスポット１１とが重ならないため、受光量を規格化した値は０．０である。
【００５６】
図２８は、光のスポットが光入射面の左側に６μｍずれている場合のスリット位置と受光量との関係を示す図である。図２８において、縦軸は受光量であり、横軸はスリットの位置である。図２８には、図２０〜図２７に示すデータの他に、スリット４の位置が３μｍ、１２μｍ、１５μｍ、２４μｍ、３０μｍ及び３６μｍであるときのデータも含まれている。図２８に示すように、光のスポットが光入射面の左側に６μｍずれている場合には、グラフは左右で非対称な形状となり、かつスリットの位置が６μｍを超えるまでは受光量を規格化した値が０となる。
【００５７】
図２９は、光のスポットが光入射面の左側に１２μｍずれている場合のスリット位置と受光量との関係を示す図である。図２９において、縦軸は受光量であり、横軸はスリットの位置である。図２９に示すように、光のスポットが光入射面の左側に１２μｍずれている場合には、光のスポットが光入射面の左側に６μｍずれている場合と同様に、グラフは左右で非対称な形状となり、かつスリットの位置が１２μｍを超えるまでは受光量を規格化した値が０となる。
【００５８】
図３０は、光のスポットが光入射面の左側に１８μｍずれている場合の光量の計算結果を示す図である。図３０には、光２のスポット１１とスリット４と光入射面６との位置関係及びそのときの光量を数値で表した分布が示されている。光２のスポット１１、光入射面６、スリット４、Ｘ方向のスケール１２及びＹ方向のスケール１３については、図１１〜図１８と同様である。
【００５９】
図３０に示すように、光のスポットが光入射面６の左側に１８μｍずれている場合には、光２のスポット１１の最も受光量の多い領域、すなわち受光量が１０である領域は、すでに光入射面６の左側に外れている。そして、スリット４の位置が２７μｍになると、初めてスリット４の全体が光入射面６と重なる状態となる。
【００６０】
スリット４の位置が２７μｍである場合のスリット４と光２のスポット１１とが重なった部分には、例えば０．５、１、３、４、５及び６の受光量が分布している。そして、受光量を規格化した値は２．７である。スリット４がさらに右側へ移動すると、光２のスポット１１のより右側の周辺部分がスリット４を通って光入射面６に入射するため、受光量を規格化した値が小さくなる。
【００６１】
図３１は、光のスポットが光入射面の左側に１８μｍずれている場合のスリット位置と受光量との関係を示す図である。図３１において、縦軸は受光量であり、横軸はスリットの位置である。図３１に示すように、光のスポットが光入射面６の左側に１８μｍずれている場合には、光のスポットが光入射面６の左側に６μｍずれている場合と同様に、グラフは左右で非対称な形状となり、かつスリットの位置が１８μｍを超えるまでは受光量を規格化した値が０となる。さらに、光２のスポット１１の最も受光量の多い領域が光入射面６の左側に外れているため、受光量を規格化した値の最大値が図１９や図２８や図２９における最大値よりも小さくなる。
【００６２】
図３２は、光のスポットが光入射面の下側に１２μｍずれている場合の光量の計算結果を示す図である。図３２には、光２のスポット１１とスリット４と光入射面６との位置関係及びそのときの光量を数値で表した分布が示されている。光２のスポット１１、光入射面６、スリット４、Ｘ方向のスケール１２及びＹ方向のスケール１３については、図１１〜図１８と同様である。
【００６３】
図３２に示すように、光のスポットが光入射面６の下側に１２μｍずれている場合には、光２のスポット１１の下側の部分が光入射面６の下側に外れている。そのため、受光量を規格化した値は、例えば図１１〜図１８に示すように光２のスポット１１が光入射面６に対して上下方向に外れていない場合よりも小さくなる。
【００６４】
図３３は、光のスポットが光入射面の下側に１２μｍずれている場合のスリット位置と受光量との関係を示す図である。図３３において、縦軸は受光量であり、横軸はスリットの位置である。図３３に示すように、光のスポットが光入射面６の下側に１２μｍずれている場合には、グラフは、光２のスポット１１が光入射面６に対して上下方向に外れていない場合と同様の形状となるが、受光量を規格化した値は小さくなる。
【００６５】
図３４は、光軸が左側にずれている場合のスリット位置と受光量とずれ量との関係を示す図である。図３４において、縦軸は受光量であり、横軸はスリットの位置である。図３４には、光軸の左側へのずれ量が６μｍ、１２μｍ及び１８μｍである場合のグラフと、参考として光軸のずれがない場合のグラフが示されている。図３４に示すように、光軸が左側にずれている場合、グラフは、左右で非対称な形状であり、左側へのずれ量が多いほど光量が最大となる位置がより右側に位置する。
【００６６】
図３５は、光軸が右側にずれている場合のスリット位置と受光量とずれ量との関係を示す図である。図３５において、縦軸は受光量であり、横軸はスリットの位置である。図３５には、光軸の右側へのずれ量が６μｍ、１２μｍ及び１８μｍである場合のグラフと、参考として光軸のずれがない場合のグラフが示されている。図３５に示すように、光軸が右側にずれている場合、グラフは、左右で非対称な形状であり、右側へのずれ量が多いほど光量が最大となる位置がより左側に位置する。
【００６７】
図３６は、光軸が左側及び右側のそれぞれにずれている場合のスリット位置と受光量との関係を示す図である。図３６において、縦軸は受光量であり、横軸はスリットの位置である。図３６には、図３４における光軸の左側へのずれ量が１２μｍである場合のグラフと、図３５における光軸の右側へのずれ量が１２μｍである場合のグラフとが示されている。図３６に示すように、光軸が右側にずれている場合のグラフは、光軸が左側にずれている場合のグラフを反転させた形状となる。ずれ量が１２μｍ以外である場合も同様である。
【００６８】
図３７は、光軸が左側、下側及び左下側にずれている場合のスリット位置と受光量との関係を示す図である。図３７において、縦軸は受光量であり、横軸はスリットの位置である。図３７には、図３４における光軸の左側へのずれ量が１２μｍである場合のグラフと、光軸の下側へのずれ量が１２μｍである場合のグラフと、光軸の左側及び下側へのずれ量がそれぞれ１２μｍである場合のグラフとが示されている。図３７に示すように、光軸が下側にずれている場合のグラフの形状は、光軸が下側にずれていない場合のグラフと同様であるが、受光量は小さくなる。ずれ量が１２μｍ以外である場合も同様である。
【００６９】
図３８は、光軸が左下側及び右下側のそれぞれにずれている場合のスリット位置と受光量との関係を示す図である。図３８において、縦軸は受光量であり、横軸はスリットの位置である。図３８には、光軸の左側及び下側へのずれ量がそれぞれ１２μｍである場合のグラフと、光軸の右側及び下側へのずれ量がそれぞれ１２μｍである場合のグラフとが示されている。図３８に示すように、光軸が右下側にずれている場合のグラフは、光軸が左下側にずれている場合のグラフを反転させた形状となる。ずれ量が１２μｍ以外である場合も同様である。
【００７０】
図１に示す光軸調整方法によれば、スリット４を通って光部品１と対象物５との間で結合する光２の光量がスリット４の位置に応じて変化するため、スリット４の位置と光量の変化量との関係を求めることによって、対象物５に光部品１が装着された状態で光軸のずれ方向やずれ量を把握することができる。従って、把握した光軸のずれ方向やずれ量に基づいて光部品１の光軸を調整することができる。
【００７１】
・光インターコネクト技術への適用
近時、光インターコネクト技術が注目されている。光インターコネクト技術は、例えばスーパーコンピュータを用いたサーバシステムやネットワークシステム機器におけるデータ伝送を光通信で行うものである。光インターコネクト技術を適用したプリント配線板には光導波路が設けられており、この光導波路の一端に、発光素子を有する光部品から出射された信号光が入射する。光導波路内を伝搬した信号光は、光導波路の他端から出射し、受光素子を有する光部品で受光される。
【００７２】
光インターコネクト技術を適用したプリント配線板では、例えば光導波路の一端の真上に発光素子が配置され、光導波路の他端の真上に受光素子が配置されることがある。この構成の場合、発光素子から下向きに出射した光は、光導波路の一端に形成された４５°ミラーで反射して光導波路のコア内へ入射し、光導波路のコア内を伝搬して、光導波路の他端に形成された４５°ミラーで反射してコアから出射し、受光素子へ入射する。
【００７３】
光導波路のコアの大きさは、おおよそ３０μｍ〜５０μｍ四方である。光を光導波路の４５°ミラーから外さないためには、４５°ミラーに対する発光素子または受光素子の位置をおおよそ±５μｍ以下の精度で合わせることが望まれる。将来、光導波路のコアがさらに小さくなると、プリント配線板に発光素子または受光素子を取り付ける際に、さらに高い位置合わせ精度が要求される。
【００７４】
また、発光素子から出射して４５°ミラーへ入射する光の伝搬方向と、光導波路内の光の伝搬方向とのなす角度が９０°に近いほど、４５°ミラーにおける結合損失が小さくなる。従って、４５°ミラーにおける結合損失を最小限に抑えるためには、発光素子が４５°ミラーの真上に位置するのが望ましい。
【００７５】
図３９は、実施の形態にかかる光軸調整方法によって、発光素子を有する光部品の光軸調整を行う様子を示す図である。図４０は、スリットがＸ方向へ移動する場合のスリット部材及び光導波路を上から見た様子を示す図である。図４１は、スリットがＹ方向へ移動する場合のスリット部材及び光導波路を上から見た様子を示す図である。
【００７６】
図３９〜図４１において、符号２１は、光部品１に設けられている発光素子である。ＶＣＳＥＬ（Ｖｅｒｔｉｃａｌ  Ｃａｖｉｔｙ  Ｓｕｒｆａｃｅ  Ｅｍｉｔｔｉｎｇ  ＬＡＳＥＲ、垂直共振器面発光レーザ）は、発光素子２１の一例である。符号２２は、スリット部材３を移動させる図示しない微動マシンに取り付けられる取付部であり、この取付部はスリット部材３に固定されている。符号２３は、プリント配線板であり、このプリント配線板２３の上側の面に光導波路２４が取り付けられている。光導波路２４を備えたプリント配線板２３は、対象物の一例である。
【００７７】
光導波路２４は、コア２５及びクラッド２６を有し、コア２５の両端面に４５°ミラー２７，２８が形成されている。一方の４５°ミラー２７は、光入射面の一例であり、発光素子２１から出射された光２を反射させて光導波路２４のコア２５内へ導く。発光素子２１を有する光部品１の光軸調整を行う場合には、もう一方の４５°ミラー２８の上に例えば光パワーメータ２９が配置される。光パワーメータ２９は、もう一方の４５°ミラー２８から出射する光の光量を測定する。
【００７８】
図３９においては、プリント配線板２３の表面に設けられているフットプリント、光部品１の裏面に設けられている端子、及び光部品１の端子とフットプリントとを接合している半田などの接合材は、図示省略されている。
【００７９】
図４０に示す例では、光部品１に複数の発光素子２１がＸ方向に一列に設けられている。例えば、光部品１には１２個の発光素子２１が設けられていてもよい。複数の発光素子２１が設けられている場合、図４０に示すように、Ｘ方向に移動するスリット部材３には、発光素子２１の数と同じ数だけＹ方向に伸びるスリット４が設けられていてもよい。
【００８０】
図４１に示す例では、光部品１に複数の発光素子２１がＸ方向に一列に設けられているため、Ｙ方向に移動するスリット部材３には、Ｘ方向に伸びるスリット４が１個以上設けられていればよい。Ｘ方向及びＹ方向は、直交する２方向であれば、図４０及び図４１に示す方向に限らない。
【００８１】
図４２は、光部品の取付手順の一例を示す図である。図４２に示すように、発光素子２１を有する光部品１の取り付けが開始されると、まず、プリント配線板２３のフットプリントの上に半田などの接合材が塗布される（ステップＳ１１）。次いで、マウンターなどの装置の吸着ノズルによって光部品１が吸着され（ステップＳ１２）、吸着ノズルに吸着された光部品１の位置が認識される（ステップＳ１３）。
【００８２】
次いで、光部品１がプリント配線板２３の所定の搭載位置まで移動され（ステップＳ１４）、所定の搭載位置に搭載される（ステップＳ１５）。次いで、リフロー半田付けによって光部品１がプリント配線板２３に固定される（ステップＳ１６）。なお、リフロー半田付けによって、光部品１以外の他の電子部品や光部品もプリント配線板２３に固定される。ただし、この段階では、受光素子を有する光部品は取り付けられない。
【００８３】
リフロー半田付けの終了後、図３９に示すように、発光素子２１から出射された光２を受ける側の４５°ミラー２８の上に光パワーメータ２９が配置され、発光素子２１を光らせて光パワーメータ２９で光量が測定される。その結果、所望の光量が得られた場合には、光パワーメータ２９が外され、発光素子２１を有する光部品１の取り付けが終了する。
【００８４】
一方、光パワーメータ２９で所望の光量が得られなかった場合には、図３９に示すように、光パワーメータ２９が配置された状態で、光部品１と光導波路２４との間にスリット部材３が挿入される。そして、発光素子２１を光らせ、図４０に示すように、スリット部材３の移動によってスリット４がＸ方向に移動しながら、光パワーメータ２９で光量が測定される。それによって、Ｘ方向について、図８〜図１０にそれぞれ示すグラフ９のようなスリットの位置と光量の変化量との関係が得られる。
【００８５】
続いて、発光素子２１が光った状態で、図４１に示すように、スリット部材３の移動によってスリット４がＹ方向に移動しながら、光パワーメータ２９で光量が測定される。それによって、Ｙ方向について、図８〜図１０にそれぞれ示すグラフ９のようなスリットの位置と光量の変化量との関係が得られる（ステップＳ１７）。
【００８６】
次いで、ステップＳ１７で得られたＸ方向及びＹ方向のグラフのそれぞれについて、図３４〜図３８に示すような検量線となるデータとのマッチングが行われ、一致または近い検量線のデータが選択される。それによって、Ｘ方向の光軸のずれ方向及びずれ量、並びにＹ方向の光軸のずれ方向及びずれ量が把握される（ステップＳ１８）。Ｘ方向とＹ方向とで別々に光軸のずれ方向及びずれ量を把握してもよいし、Ｘ方向の光軸のずれ方向及びずれ量とＹ方向の光軸のずれ方向及びずれ量とを合成して、光軸がどちらの方向へどれだけずれているかということを把握してもよい。
【００８７】
次いで、光部品１が加熱され、光部品１を固定している半田などの接合材が溶融し、光部品１が自由に動くようになる（ステップＳ１９）。次いで、ステップＳ１８で把握された光軸のずれ方向及びずれ量に基づいて、光軸のずれ方向と反対の方向に光軸のずれ量分だけ光部品１が移動させられる（ステップＳ２０）。
【００８８】
光部品１を移動させる際に光部品１を持ち上げる場合には、光部品１を持ち上げ過ぎると、溶融した半田などの接合材が途切れてしまうため、接合材が途切れないように、光部品１を持ち上げる高さに注意が必要である。その後、溶融した半田などの接合材が冷却されて固まり（ステップＳ２１）、光部品１の取り付けが終了する。
【００８９】
なお、リフロー半田付けによってプリント配線板２３に光部品を取り付ける代わりに、フリップチップボンダーを用いてフリップチップボンディングによってプリント配線板２３に光部品１を取り付けてもよい。また、ステップＳ１７で得られるスリットの位置と光量の変化量との関係が波形であるため、ステップＳ１８において、フーリエ変換後にスペクトルで検量線となるデータとのマッチングを行ってもよい。波形のマッチングを行う場合、判別分析や分散分析などの統計的な手法を用いてもよい。統計的な手法を用いることによって、マッチングの精度が向上する。
【００９０】
発光素子２１を有する光部品１の取り付けが終了したら、受光素子を有する光部品がプリント配線板２３に搭載される。プリント配線板２３に、受光素子を有する光部品を半田などの接合材を用いて取り付けた後、既に光軸が合っている発光素子２１を光らせて、受光素子に流れる電流量を測定することによって、受光素子で所望の光量が得られているか否かがわかる。所望の光量が得られた場合には、受光素子を有する光部品の取り付けが終了する。所望の光量が得られなかった場合には、図４２のステップＳ１７以降を行うことによって、受光素子を有する光部品の光軸が調整される。
【００９１】
図４３は、実施の形態にかかる光軸調整方法によって、受光素子を有する光部品の光軸調整を行う様子を示す図である。図４３において、符号３１は、光部品１に設けられている受光素子である。符号３２は、発光素子２１を有する光部品である。受光素子３１を有する光部品１の光軸調整を行う場合には、既に光軸が合っている発光素子２１を光らせ、４５°ミラー２８から出射する光を受光素子３１で受光し、受光素子３１を流れる電流量を測定すればよい。
【００９２】
図４３においては、プリント配線板２３の表面に設けられているフットプリント、光部品１，３２の裏面に設けられている端子、及び光部品１，３２の端子とフットプリントとを接合している半田などの接合材は、図示省略されている。
【００９３】
図４４は、複数の発光素子を有する光部品が傾いて取り付けられている様子を示す図である。光部品１に複数の発光素子２１が設けられている場合、Ｘ方向の光軸のずれ方向及びずれ量と、Ｙ方向の光軸のずれ方向及びずれ量とから、光導波路２４のコア２５の伸びる方向に対する光部品１の傾きを求めることができる。
【００９４】
例えば、図４４に示すように、光導波路２４の複数のコア２５の一端にそれぞれ設けられた４５°ミラー２７を結ぶ線４１と、複数の発光素子２１からそれぞれ出射された光の照射位置４２を結ぶ線４３とのなす角度θを求めることによって、光部品１の傾きを求めることができる。４５°ミラー２７を結ぶ線４１は、例えば各４５°ミラー２７の位置から最小二乗法により各４５°ミラー２７を結ぶ近似線を求めることにより、求められる。
【００９５】
同様に、光の照射位置４２を結ぶ線４３は、例えば各光の照射位置４２から最小二乗法により各光の照射位置４２を結ぶ近似線を求めることにより、求められる。あるいは、例えば、図４４において、左端の４５°ミラー２７に対する光の照射位置４２の位置と、例えば右端の４５°ミラー２７に対する光の照射位置４２の位置とから、４５°ミラー２７を結ぶ線４１と光の照射位置４２とのなす角度θを求めてもよい。
【００９６】
光導波路２４のコア２５の伸びる方向に対する光部品１の傾きがわかれば、ステップＳ２０で光部品１を移動させて光軸調整を行う際に、各光の照射位置４２が各４５°ミラー２７に一致するように、光部品１の傾きをなくすことができる。光部品１の傾きがなくなれば、各発光素子２１から出射して各４５°ミラー２７へ入射する光の伝搬方向と、光導波路２４のコア２５内の光の伝搬方向とのなす角度が９０°になるため、４５°ミラー２７における結合損失を小さくすることができる。
【００９７】
図１に示す光軸調整方法を適用してプリント配線板２３に光部品１を取り付けることによって、プリント配線板２３に光部品１が装着された状態で光軸のずれ方向やずれ量を把握することができるため、光部品１を取り外さずに光部品１の光軸を調整することができる。この場合には、プリント配線板２３に光部品１を固定している半田を加熱溶融して光軸を調整するため、プリント配線板２３や光導波路２４にかかる熱履歴が１回で済む。
【００９８】
それに対して、所望の光量が得られない場合に、光部品１を新しいものに取り替えることもできる。しかし、その場合には、光部品１を固定している半田を加熱溶融して光部品１を取り外し、プリント配線板２３に残った半田を加熱溶融して取り除き、新たな光部品１を半田付けすることになるため、プリント配線板２３や光導波路２４に熱履歴が３回かかってしまう。高速用の部品の耐熱性は低い傾向にあるため、熱履歴の回数は少ない方が好ましい。従って、図１に示す光軸調整方法を適用して光部品１を取り付けることによって、プリント配線板２３及び光導波路２４への熱の負担を軽減することができる。また、新しい光部品１が不要となるため、光部品１のコストや取り付け作業のコストを下げることができる。
【００９９】
また、図１に示す光軸調整方法を適用してプリント配線板２３に光部品１を取り付けることによって、プリント配線板２３に光部品１が装着された状態で光軸のずれ方向やずれ量を把握することができるため、光軸のずれ方向及びずれ量のデータを蓄積することができる。そして、蓄積した光軸ずれのデータを、光部品１を取り付ける作業や装置にフィードバックすることができる。
【０１００】
それに対して、所望の光量が得られない場合に、光部品１と光導波路２４との光結合部分を切断して、光軸のずれの有無を確かめることもできる。しかし、その場合には、光部品１及びプリント配線板２３が破壊されているため、実際に発光素子２１を光らせて光路を確認することができない。また、切断面に対して直交する方向の光軸のずれを求めることができない。そのため、光軸のずれ方向及びずれ量を正確に把握することができない。従って、光軸のずれ方向及びずれ量のデータを蓄積して、光部品１を取り付ける作業や装置にそのデータをフィードバックすることができない。また、光部品１及びプリント配線板２３を再利用することができないため、コストの増大を招く。
【０１０１】
また、光路が複数チャネルある場合には、光導波路２４に複数のコア２５があり、光部品１に、コア２５の数に対応する数の発光素子２１または受光素子３１がある。この場合には、図１に示す光軸調整方法を適用してプリント配線板２３に光部品１を取り付けることによって、光部品１の搭載位置のずれが原因で所望の光量が得られないのか、素子の破壊または光路への異物の混入が原因で所望の光量が得られないのか、を判別することができる。例えば、ほぼ全部のチャネルで所望の光量が得られない場合には、光部品１の搭載位置がずれていることが原因であると判断することができる。一方、ほぼ全部のチャネルで所望の光量が得られているが、一部のチャネルで所望の光量が得られない場合には、所望の光量が得られないチャネルの発光素子２１または受光素子３１が破壊されているか、所望の光量が得られないチャネルの光路に異物が混入していることが原因であると判断することができる。
【０１０２】
また、図１に示す光軸調整方法を適用してプリント配線板２３に光部品１を取り付けることによって、実際にスリットの位置と光量の変化量との関係を測定した後、予め求めておいたスリットの位置と光量の変化量との関係の中から、実際の測定によって得た関係に一致するもの、もしくは近いものを選択すればよい。そのため、容易に光軸のずれ方向やずれ量を把握することができる。
【０１０３】
また、図１に示す光軸調整方法を適用してプリント配線板２３に光部品１を取り付けることによって、スリットの位置と光量の変化量との関係が対称性を有するか否かによって光軸がずれているか否かがわかるため、光軸がずれているか否かを容易に把握することができる。また、スリット４が光軸を直交する２方向に横切るように移動することによって、４５°ミラー２７，２８の面に対していずれの方向に光軸がずれていても、光軸のずれ方向やずれ量を把握することができる。
【０１０４】
また、図１に示す光軸調整方法を適用してプリント配線板２３に光部品１を取り付けることによって、発光素子２１及び受光素子３１のそれぞれについて、光軸のずれ方向及びずれ量を把握して調整することができる。そのため、プリント配線板２３に発光素子２１及び受光素子３１の両方を高い結合効率で取り付けることができる。
【０１０５】
図４５は、図１に示す光軸調整方法を適用した別の例を示す図である。図４５に示すように、発光素子を有する発光側光部品５１と受光素子を有する受光側光部品５２とが相対峙する光学系において、図１に示す光軸調整方法を適用してもよい。例えば、スリット部材３を移動させて、発光側光部品５１から出射して受光側光部品５２に入射する光２の光軸をスリット４が横切ることによって、光軸のずれ方向及びずれ量を把握してもよい。そして、把握した光軸のずれ方向及びずれ量に基づいて発光側光部品５１または受光側光部品５２を移動させることによって、光軸調整を行うようにしてもよい。
【０１０６】
図４６は、図１に示す光軸調整方法を適用したさらに別の例を示す図である。図４６に示すように、発光素子を有する発光側光部品５１と受光素子を有する受光側光部品５２との間にレンズ５３，５４が挿入されている光学系において、図１に示す光軸調整方法を適用してもよい。例えば、スリット部材３を移動させて、発光側光部品５１から出射してレンズ５３を通り、さらにレンズ５４を通って受光側光部品５２に入射する光２の光軸をスリット４が横切ることによって、光軸のずれ方向及びずれ量を把握してもよい。そして、把握した光軸のずれ方向及びずれ量に基づいて発光側光部品５１、レンズ５３、レンズ５４または受光側光部品５２を移動させることによって、光軸調整を行うようにしてもよい。
【０１０７】
上述した各実施例を含む実施の形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
【０１０８】
（付記１）光部品が装着された対象物と、前記光部品との間の光軸に、光を通すスリットを有するスリット部材を挿入し、前記スリットが前記光軸を横切るように前記スリット部材を移動させながら、前記スリットを通って前記光部品と前記対象物との間で結合する光の光量を検出し、前記スリット部材の移動に伴う前記スリットの位置と前記光量の変化量との関係から前記光軸のずれ方向及び前記光軸のずれ量を把握し、前記光軸のずれ方向及び前記光軸のずれ量に基づいて光軸調整を行うことを特徴とする光軸調整方法。
【０１０９】
（付記２）種々の光軸のずれ方向及び種々の光軸のずれ量の組み合わせに対する前記スリットの位置と前記光量の変化量との関係を予め求めておき、予め求めておいた前記スリットの位置と前記光量の変化量との関係の中から、前記スリット部材を移動させることによって取得した前記スリットの位置と前記光量の変化量との関係に一致するもの、もしくは近いものを選択することによって、前記光軸のずれ方向及び前記光軸のずれ量を把握することを特徴とする付記１に記載の光軸調整方法。
【０１１０】
（付記３）前記スリットの位置と前記光量の変化量との関係は、前記光軸が合っている場合に前記光量のピーク位置に対して対称性を有し、前記光軸がずれている場合に前記光量のピーク位置に対して非対称性を有することを特徴とする付記１または２に記載の光軸調整方法。
【０１１１】
（付記４）前記スリットが前記光軸を直交する２方向に横切るように前記スリット部材を移動させることを特徴とする付記１乃至３のいずれか一つに記載の光軸調整方法。
【０１１２】
（付記５）前記光部品は、発光素子を有し、前記対象物は、前記発光素子から出射された光が入射する光導波路を備えたプリント配線板であり、前記光部品と前記対象物との間で結合する光が前記光導波路の一端の端面に入射することを特徴とする付記１乃至４のいずれか一つに記載の光軸調整方法。
【０１１３】
（付記６）前記光部品は、受光素子を有し、前記対象物は、前記受光素子へ光を出射する光導波路を備えたプリント配線板であり、前記光部品と前記対象物との間で結合する光が前記光導波路の一端の端面から出射することを特徴とする付記１乃至４のいずれか一つに記載の光軸調整方法。
【符号の説明】
【０１１４】
１  光部品
２  光
３  スリット部材
４  スリット
５  対象物
２１  発光素子
２３  プリント配線板
２４  光導波路
３１  受光素子
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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【図３５】
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【図３６】
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【図３７】
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【図３８】
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【図３９】
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【図４０】
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【図４１】
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【図４２】
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【図４３】
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【図４４】
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【図４５】
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【図４６】
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