(57)【要約】  検査装置とその上に体液を持ったテストストリップ（４０）のあいだに、電気的接続を確立するためのコネクターは、テストストリップ上のコンタクトパッド（４２）と検査装置中の１つ以上のコンタクトワイヤ（５０）を、包含する。テストストリップを検査装置中に挿入するときに、挿入方向に対して法線方向に、コンタクトワイヤを押し付けて、テストストリップの端は、コンタクトワイヤ中の湾曲部（５６）とかみ合う。コンタクトワイヤの移動は、ワイヤの第２部分（５８）をハウジングの一部に対して押し付け、それにより、該ワイヤを変形させかつ該ワイヤの他の部分（６２）をコンタクトパッドに向けて移動させる。本発明の実施の態様のいくつかは、（４、６、８、１５）個またはそれ以上のコンタクトを含み、またそれは、実質的に同時にテストストリップの端を受け取るように、置かれてもよいし、または（２、３）列またはそれ以上で互い違いにされて、提示される移動に対する抵抗を展開してもよい。
2008512823.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
コネクターと一致させるための少なくとも１つのコンタクトパッドを持つテストストリップに適用される体液中の重要な検体を測定するために適合される検査装置に使用されるコネクターであって、該コネクターは、
テストストリップが、挿入方向に移動されるときに、テストストリップを受け取るためのスロットを、そこに持っているハウジングと、
該スロットに隣接して配置された少なくとも１つのコンタクトワイヤとからなり、
該コンタクトは、最近接部および最近接部とスロットのあいだに配置されたコンタクト部を持ち、該コンタクトワイヤは、挿入位置でのテストストリップの挿入により、テストストリップが、コンタクト部に触れることもなくコンタクト部に隣接して通過しかつコンタクトワイヤとのテストストリップの最初の関与が、最近接部に起こるようにスロットに関して配置され、
そこでは、挿入方向でのスロット中への該テストストリップの挿入により、テストストリップが、最近接部をテストストリップから遠くに押しやり、またテストストリップのさらなる挿入により、コンタクトワイヤが、ハウジングと連動しかつそこからゆがめられ、それにより、コンタクト部をテストストリップに向けて押し込みまた少なくとも１つのパッドに関与するように押し込むことを特徴とするコネクター。
【請求項２】
該ハウジングは、トップ部と底部を有し、また少なくとも１つのコンタクトワイヤの各々は、第１部分、第２部分および第３部分からなることを特徴とし、少なくとも１つのコンタクトワイヤの各々に対して、該テストストリップが、スロットを経由して挿入されると、テストストリップは、第１部分とハウジングの底部分のあいだを通りまた第１部分には触らなくて、
第１部分を通過した後、テストストリップは、コンタクトワイヤの第３部分とハウジングの底部分のあいだを通り、両者に触れて、コンタクトワイヤの第３部分は、ハウジングの底部分から移動しそしてテストストリップをハウジングの底部分に対して歪めて、
コンタクトワイヤが、ハウジングの底部分から移動するのに対応し、コンタクトワイヤの第２部分が、ハウジングのトップ部分に力を加え、そして
コンタクトワイヤが、ハウジングのトップ部分に力を加えるのに対応して、コンタクトワイヤの第１部分が、少なくとも１つのコンタクトパッドの各々をテストストリップ上に接触させるように、コンタクトワイヤが、変形されることを特徴とする請求項１記載のコネクター。
【請求項３】
コンタクトワイヤの接触部分は、テストストリップの挿入方向に対して実質的に法線方向に、力をハウジングに対して加えることを特徴とする請求項１記載のコネクター。
【請求項４】
少なくとも１つのコンタクトワイヤが、２つ以上のコンタクトワイヤからなっていることを特徴とする請求項１または２記載のコネクター。
【請求項５】
少なくとも１つのコンタクトワイヤが、６以上のコンタクトワイヤからなっていることを特徴とする請求項１または２記載のコネクター。
【請求項６】
各コンタクトワイヤの接触部分は、銅および鉄からなる群からの合金の１つから作られていることを特徴とする請求項１または２記載のコネクター。
【請求項７】
各コンタクトワイヤの接触部分が、ニッケル、ＮｉＰｄ、ＮｉＣｏ、Ｐｄ、ＰｄＣｏ、Ｓｎ、ＳｎＰｂ、Ａｇ、Ｃｕ、ＡｕおよびＧｅＡｇからなる群からの金属の１つでメッキされていることを特徴とする請求項１または２記載のコネクター。
【請求項８】
コンタクトワイヤの第２部分は、テストストリップの挿入方向に対して実質的に法線方向に、ハウジングトップ部分に対して力を加えることを特徴とする請求項２記載のコネクター。
【請求項９】
各コンタクトワイヤの第１部分が、Ｎｉ上にＡｕでメッキされていることを特徴とする請求項２記載のコネクター。
【請求項１０】
コネクターと一致させるための少なくとも１つのコンタクトパッドを持つテストストリップに適用される体液中の重要な検体を測定するために適合される検査装置に使用されるコネクターであって、該コネクターは、
ハウジング遠位端とハウジング最近接端を有するハウジングと、
テストストリップが、挿入方向でハウジング内に挿入されるときに、該テストストリップを受け取るためのハウジング遠位端中に形成されるスロットと、
ハウジング内に定められかつ該スロットに通じているワイヤキャビテイと、
テストストリップが、ハウジング内に挿入されるときに、少なくとも１つのコンタクトパッドの各１つと電気的接触を確立するために、該ワイヤキャビテイ内に配置されている少なくとも１つのコンタクトワイヤと、ワイヤキャビテイ内に配置されかつコンタクトワイヤ遠位端とコンタクトワイヤ最近接端を有している各少なくとも１つのコンタクトワイヤと、コンタクトワイヤ遠位端とコンタクトワイヤ最近接端のあいだに配置されたコンタクトワイヤ湾曲部とからなり、
該ワイヤキャビテイは、テストストリップが、ワイヤキャビテイ内に含まれるときに、テストストリップに対して実質的に垂直な方向で測定される最大高さＨを持っていることを特徴とし、
静隠状態にある各少なくとも１つのコンタクトワイヤは、コンタクトワイヤ湾曲部とコンタクトワイヤ遠位端のあいだに、最大全コンタクトワイヤ高さＣを持っていることを特徴とし、
該テストストリップは、該ワイヤキャビテイ内のテストストリップ最大高さＴを持ち、Ｈ＜Ｃ＋Ｔであることを特徴とするコネクター。
【請求項１１】
ハウジングと、
ハウジング中に配置されているコネクターと、
該コネクター中に挿入するために適合されるテストストリップであって、該テストストリップは、その上に少なくとも１つのコンタクトパッドを有し、
該コネクター中に挿入されるテストストリップの少なくとも１つのコンタクトパッドを経由して、電気的応答に基づく出力信号を生じるために適合される電子回路とからなる検査システムであって、
該コネクターは、少なくとも１つのコンタクトワイヤからなり、テストストリップが、コネクター中に挿入されるときに、該テストストリップが、該コンタクトワイヤに対して力を発揮し、該力は、該ハウジングに対してコンタクトワイヤを変形させ、該テストストリップ上のコンタクトパッドとコンタクトワイヤを電気的に通じさせるように、各コンタクトワイヤが、形成されていることを特徴とする検査システム。
【請求項１２】
該出力信号が、テストストリップに接触している体液サンプル中の検体の存在または濃度に対応していることを特徴とする請求項１１記載の検査システム。
【請求項１３】
該コンタクトワイヤの接触部分は、ダイテストストリップの挿入方向に対して実質的に法線方向に、該ハウジングに力を加えることを特徴とする請求項１１記載の検査システム。
【請求項１４】
該少なくとも１つのコンタクトワイヤが、２つ以上のコンタクトワイヤからなることを特徴とする請求項１１記載の検査システム。
【請求項１５】
該少なくとも１つのコンタクトワイヤは、６以上のコンタクトワイヤからなることを特徴とする請求項１１記載の検査システム。
【請求項１６】
各コンタクトワイヤの接触部分は、銅および鉄からなる群からの合金の１つから作られていることを特徴とする請求項１１記載の検査システム。
【請求項１７】
各コンタクトワイヤの該接触部分が、ニッケル、ＮｉＰｄ、ＮｉＣｏ、Ｐｄ、ＰｄＣｏ、Ｓｎ、ＳｎＰｂ、Ａｇ、Ｃｕ、ＡｕおよびＧｅＡｇからなる群からの金属の１つでメッキされていることを特徴とする請求項１１記載の検査システム。
【請求項１８】
検査装置内に配置されたコネクターと一致させるための少なくとも１つのコンタクトパッドを持つテストストリップに適用される体液中の重要な検体を測定するために適合される検査装置からなる検査システムであって、該コネクターは、
ハウジング遠位端とハウジング最近接端を有するハウジングと、
テストストリップが、挿入方向でハウジング内に挿入されるときに、該テストストリップを受け取るためのハウジング遠位端中に形成されるスロットと、
ハウジング内に定められかつ該スロットに通じているワイヤキャビテイと、
テストストリップが、ハウジング内に挿入されるときに、少なくとも１つのコンタクトパッドの各１つと電気的接触を確立するために、該ワイヤキャビテイ内に配置されている少なくとも１つのコンタクトワイヤと、ワイヤキャビテイ内に配置されかつコンタクトワイヤ遠位端とコンタクトワイヤ最近接端を有している各少なくとも１つのコンタクトワイヤと、コンタクトワイヤ遠位端とコンタクトワイヤ最近接端のあいだに配置されたコンタクトワイヤ湾曲部とからなり、
該ワイヤキャビテイは、テストストリップが、ワイヤキャビテイ内に含まれるときに、テストストリップに対して実質的に垂直な方向で測定される最大高さＨを持っており、
静隠状態にあるが、各少なくとも１つのコンタクトワイヤは、コンタクトワイヤ湾曲部とコンタクトワイヤ遠位端のあいだに、最大全コンタクトワイヤ高さＣを持っており、
該テストストリップは、該ワイヤキャビテイ内のテストストリップ最大高さＴを持ち、またＨ＜Ｃ＋Ｔであることを特徴とする検査システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、体液中の１つ以上の物質の存在または濃度を正確にテストするためのテスト装置に関するものであり、さらに特には、テストストリップ（体液のサンプルを運ぶ）とテスト計のあいだに１つ以上の電気接続を含む装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
特に他の物質中に存在する物質の濃度の測定は、多くの流体中で重要である。このことは、医療検査および診断において、特に真実となる。たとえば、血液などの体液中のグルコースの測定は、糖尿病の有効な治療には、きわめて重要である。
【０００３】
血液中のサンプル中の検体、たとえばグルコースの濃度を測定する多数の方法が、知られている。そのような方法は、典型的には、２つの範疇；光学的方法および電気化学的方法のうちの１つに当てはまる。一般的には、光学的方法は、試薬中のスペクトルシフトを観察するための反射または吸収の分光分析法を包含する。そのようなシフトは、検体濃度を示す色変化を生じる化学反応により、起因する。電気化学的方法は、一般的には、検体濃度を示す電流測定またはクーロン測定的応答のいずれかを包含する。たとえば、ここに、完全に組み入れられているコロンバスの米国特許第４２３３０２９号、ペースの米国特許第４２２５４１０号、コロンバスの米国特許第４３２３５３６号、マギーの米国特許第４００８４４８号、リルジャらの米国特許第４６５４１９７号、スツミンスキーらの米国特許第５１０８５６４号、南海らの米国特許第５１２０４２０号、スツミンスキーらの米国特許第５１２８０１５号、ホワイトらの米国特許第５２４３５１６号、デイーホルドらの米国特許第５４３７９９９号、ポールマンらの米国特許第５２８８６３６号、カーターらの米国特許第５６２８８９０号、ヒルらの米国特許第５６８２８８４号、ヒルらの米国特許第５７２７５４８号、クリスモアらの米国特許第５９９７８１７号、藤原らの米国特許第６００４４４１号、プリーデルらの米国特許第４９１９７７０号、シーの米国特許第６０５４０３９号を参照のこと。
【０００４】
検査装置のサンプル受け取り部分は、典型的には血液サンプルの形状を制御する。血糖測定器の場合には、血液サンプルは、典型的には、検査装置中に挿入される使い捨てのテストストリップ上に、または中に置かれる。電気化学的検査装置の場合には、電気信号は、装置およびテストストリップのあいだ、およびその逆に、移送されなければならない。
【０００５】
検査装置設計者は、使用者の経験を向上させるために、正確な測定に必要なサンプルのサイズを最小限にすることを望んでいる。得られるテストセンサーおよびテストストリップを最小化することにより、メッキまたはその後のレーザー除去などにより、プラスチック物質上に蒸着された貴金属からなるテストストリップパターンが、使用され、電極およびテストストリップの連結したコネクター接触パッドを形成する。これらの技術により、テストストリップ上の端末品質を、改良できるし、金属化された機構の次元分解能を向上させることができる。このような薄膜塗布は、現在市場で入手可能なコネクターにより傷をつけられがちである。したがって、テストストリップ接触パッドと装置コネクターコンタクトワイヤのあいだの磨耗を減少させることが、バイオセンサー設計において特に重要である。テストストリップの反復挿入（２回から４回）は、これらの薄膜塗布バイオセンサーを使い物にならないものにしてしまう。検査装置へのテストストリップの１回の挿入でさえ、検査装置コネクターにより、これらの薄膜塗膜を除去する原因となる。この結果は、テストストリップ上のコンタクトパッドと検査装置中のコネクターコンタクトワイヤ間の接触を、より信頼性のないものにする。
【０００６】
テストストリップ・コンタクトパッドおよび装置のコネクターコンタクトワイヤ間の摩擦を減少させることは、検査装置の長寿命化にも重要である。典型的な検査装置は、１万回のテストストリップ挿入の寿命要求を持っている。通常の使用中には、検査が、完全に終了する前に、テストストリップは、装置から、数回挿入され、また除去される。コネクターコンタクトワイヤとコンタクトパッドのあいだの摩擦接触は、検査装置の寿命を減少させ、そのため、さらにシステムの信頼性をさらに減少させる。いくつかのバイオセンサーシステムは、高湿度環境中などのデザイン規格の縁における環境でシステムを使用することにより、または空気を含む腐食性成分に装置を暴露することにより、時々検査システムに対してさらなるストレスを架ける消費者による使用に対して、設計されている。
【０００７】
このようにして、テストストリップ・コンタクトパッドおよび装置コネクターコンタクトワイヤの改良された性能と抵抗性を提供するコネクターを含めた、バイオセンサーシステム技術の更なる貢献と改良を求めるニーズがある。
【発明の開示】
【０００８】
本発明の目的は、バイオセンサーシステムに対して改良されたコネクターを提供することである。本発明のさらなる目的は、先行する多くのシステムより、コンタクトパッドとコンタクトワイヤの磨耗を少なくし、その結果信頼性損失を少なくするコネクターを提供することである。
【０００９】
本発明のいくつかの形態は、挿入されたテストストリップと信頼性のある接触をさせる検査装置コネクターの確率を増加させることにより、ユーザの体験を向上させる。１つの形態は、体液中の重要な検体を測定するシステムを包含し、そこでは、コネクターは、体液を運ぶテストストリップと検査装置のあいだの接触面を提供する。テストストリップが、スロットを形成している開口部を経由して、装置ハウジング中に挿入されるときに、重要な検体は、コネクターと一致するための少なくとも１つのコンタクトパッドを持つテストストリップに、適用される。該コネクターは、ハウジング内に配置された少なくとも１つのコンタクトワイヤからなり、そこでは、各コンタクトワイヤは、遠位部分と最近接部分を持っている。コンタクトワイヤの最近接部分は、コネクターハウジングとかみ合い、遠位部分をコネクターハウジングに固定させる。該コンタクトワイヤは、テストストリップを完全に挿入して、検査装置中にテストストリップを接触させる。
【００１０】
本発明の他の形態においては、コネクターと一致させるための少なくとも１つのコンタクトパッドを持つテストストリップに適用される体液中の重要な検体を測定するために適合される検査装置に使用されるコネクターが、開示され、該コネクターは、テストストリップが、挿入方向に移動されるときに、テストストリップを受け取るためのスロットを、そこに持っているハウジングと、該スロットに隣接して配置された少なくとも１つのコンタクトワイヤとからなり、該コンタクトは、最近接部および最近接部とスロットのあいだに配置されたコンタクト部を持ち、該コンタクトワイヤは、挿入位置でのテストストリップの挿入により、テストストリップが、コンタクト部に触れることもなくコンタクト部に隣接して通過しかつコンタクトワイヤとのテストストリップの最初の関与が、最近接部に起こるようにスロットに関して配置され、そこでは、挿入方向でのスロット中への該テストストリップの挿入により、テストストリップが、最近接部をテストストリップから遠くに押しやり、またテストストリップのさらなる挿入により、コンタクトワイヤが、ハウジングと連動しかつそこからゆがめられ、それにより、コンタクト部をテストストリップに向けて押し込みまた少なくとも１つのパッドに関与するように押し込むことを特徴とする。
【００１１】
本発明の他の形態においては、コネクターと一致させるための少なくとも１つのコンタクトパッドを持つテストストリップに適用される体液中の重要な検体を測定するために適合される検査装置に使用されるコネクターが、開示され、該コネクターは、実質的に堅固に固定された空間関係で、トップ部と底部を有しまたそのあいだにスロットを定めるハウジングと、テストストリップが、スロット中に挿入されると、テストストリップの少なくとも１つのコンタクトパッドの各１つと電気的接触を確立するための少なくとも１つのコンタクトワイヤを有し、少なくとも１つのコンタクトワイヤの各々は、第１部分、第２部分および第３部分からなることを特徴とするハウジングからなり、そこでは、テストストリップが、スロットを経由して少なくとも１つのコンタクトワイヤの各々に対して挿入されると、テストストリップは、第１部分とハウジングの底部分のあいだを通りまた第１部分には触れずに、第１部分を通過した後、テストストリップは、コンタクトワイヤの第３部分とハウジングの底部分のあいだを通り、両者に触れて、コンタクトワイヤの第３部分は、ハウジングの底部分から移動しそしてテストストリップをハウジングの底部分に対して歪めて、コンタクトワイヤが、ハウジングの底部分から移動するのに対応し、コンタクトワイヤの第２部分が、ハウジングのトップ部分に力を加え、そしてコンタクトワイヤが、ハウジングのトップ部分に力を加えるのに対応して、コンタクトワイヤの第１部分が、少なくとも１つのコンタクトパッドの各々をテストストリップ上に接触させるように、コンタクトワイヤが、変形されることを特徴とする。
【００１２】
本発明の他の形態においては、コネクターと一致させるための少なくとも１つのコンタクトパッドを持つテストストリップに適用される体液中の重要な検体を測定するために適合される検査装置に使用されるコネクターが、開示され、該コネクターは、ハウジング遠位端とハウジング最近接端を有するハウジングと、テストストリップが、挿入方向でハウジング内に挿入されるときに、該テストストリップを受け取るためのハウジング遠位端中に形成されるスロットと、ハウジング内に定められかつ該スロットに通じているワイヤキャビテイと、テストストリップが、ハウジング内に挿入されるときに、少なくとも１つのコンタクトパッドの各１つと電気的接触を確立するために、該ワイヤキャビテイ内に配置されている少なくとも１つのコンタクトワイヤと、ワイヤキャビテイ内に配置されかつコンタクトワイヤ遠位端とコンタクトワイヤ最近接端を有している各少なくとも１つのコンタクトワイヤと、コンタクトワイヤ遠位端とコンタクトワイヤ最近接端のあいだに配置されたコンタクトワイヤ湾曲部とからなり、該ワイヤキャビテイは、テストストリップが、ワイヤキャビテイ内に含まれるときに、テストストリップに対して実質的に垂直な方向で測定される最大高さＨを持っていることを特徴とし、静隠状態にある各々少なくとも１つのコンタクトワイヤは、コンタクトワイヤ湾曲部とコンタクトワイヤ遠位端のあいだに、最大全コンタクトワイヤ高さＣを持っていることを特徴とし、該テストストリップは、該ワイヤキャビテイ内のテストストリップ最大高さＴを持ち、Ｈ＜Ｃ＋Ｔであることを特徴とする。
【００１３】
本発明の他の形態においては、検査装置が、開示され、それは、ハウジングと、ハウジング中に配置されているコネクターと、該コネクター中に挿入するために適合されるテストストリップであって、該テストストリップは、その上に少なくとも１つのコンタクトパッドを有し、該コネクター中に挿入されるテストストリップの少なくとも１つのコンタクトパッドを経由して、電気的応答に基づく出力信号を生じるために適合される電子回路とからなることを特徴とし、該コネクターは、少なくとも１つのコンタクトワイヤからなり、テストストリップが、コネクター中に挿入されるときに、該テストストリップが、該コンタクトワイヤに対して力を発揮し、該力は、該ハウジングに対してコンタクトワイヤを変形させ、該テストストリップ上のコンタクトパッドとコンタクトワイヤを電気的に通じさせるように、各少なくとも１つのコンタクトワイヤが、形成されていることを特徴とする。
【００１４】
本発明の他の形態においては、検査装置内に配置されたコネクターと一致させるための少なくとも１つのコンタクトパッドを持つテストストリップに適用される体液中の重要な検体を測定するために適合される検査装置からなる検査システムが開示され、該コネクターは、ハウジング遠位端とハウジング最近接端を有するハウジングと、テストストリップが、挿入方向でハウジング内に挿入されるときに、該テストストリップを受け取るためのハウジング遠位端中に形成されるスロットと、ハウジング内に定められかつ該スロットに通じているワイヤキャビテイと、テストストリップが、ハウジング内に挿入されるときに、少なくとも１つのコンタクトパッドの各１つと電気的接触を確立するために、該ワイヤキャビテイ内に配置されている少なくとも１つのコンタクトワイヤと、ワイヤキャビテイ内に配置されかつコンタクトワイヤ遠位端とコンタクトワイヤ最近接端を有している各少なくとも１つのコンタクトワイヤと、コンタクトワイヤ遠位端とコンタクトワイヤ最近接端のあいだに配置されたコンタクトワイヤ湾曲部とからなり、該ワイヤキャビテイは、テストストリップが、ワイヤキャビテイ内に含まれるときに、テストストリップに対して実質的に垂直な方向で測定される最大高さＨを持っており、静隠状態にある各少なくとも１つのコンタクトワイヤは、コンタクトワイヤ湾曲部とコンタクトワイヤ遠位端のあいだに、最大全コンタクトワイヤ高さＣを持っており、該テストストリップは、該ワイヤキャビテイ内のテストストリップ最大高さＴを持ち、またＨ＜Ｃ＋Ｔであることを特徴とする。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
本発明の原理の理解を促進する目的のために、図面中に図示された実施の態様を参照し、かつ同じものを記述するために、特定の語彙を使用する。それにもかかわらず、それにより、本発明の範囲を限定する意図がないことを理解されるものとする。記述された実施の態様中のいかなる修正およびいかなる変更も、またそこに図示されている本発明の原理のさらなる応用も、本発明に関係する当業者に対して通常起こるものとして、考慮される。
【００１６】
本出願は、完全を期するために、ここに組み入れられている、ＡＣ励起を用いた検体測定用システムおよび方法というタイトルの出願（米国特許仮出願、第６０／４８０２９８、２００３年６月２０日にファイルされた）、バイオセンサーの制作方法というタイトルの出願（ケース番号ＢＭＩＤ９９５８  ＣＩＰ米国、２００３年６月２０日にファイルされた）、検体センサーに関係する装置および方法というタイトルの出願（米国仮出願第６０／４８０３９７、２００３年６月２０日付出願）およびマイクロ電極からなる電極、方法、装置というタイトルの出願（米国特許出願第１０／２６４８９１、２００２年１０月４日付出願）、および米国特許第６３７９５１３Ｂ１が参照として組み入れられている。
【００１７】
医療用テストストリップに対するレーザー除去技術の最近の改良の応用は、金属化されたコンタクトパッドの分解能および精密さおよびテストストリップに対するコネクターのトレース形状を著しく増加させてきた。この変革が、体液中の重要な検体の正確な測定に必要なサンプルサイズを減少させてきた。しかし、これらの詳細なかつ繊細な構造が、磨耗損傷を受けやすい。結果として、より磨耗の少ない接合システムおよび挿入と引き出しのあいだのテストストリップ磨耗を最小にする技術に対するニーズがある。本発明の実施の態様は、技術のこの態様における顕著な改良を提供する。
【００１８】
本発明は、テストストリップを検査装置に挿入するときに、金属の薄層で形成されたテストストリップのコンタクトパッドの磨耗を最小限にするかまたは除去する。本発明の非接触デザインにより、本発明を用いるときには、コネクターによるテストストリップ薄膜表面に対する、またはテストストリップによるコネクターコンタクトワイヤに対する損傷は、まったく生じないか、生じることが少ない。検査装置中にテストストリップを実質的に完全に挿入した後でのみ、コネクターコンタクトワイヤは、テストストリップ・コンタクトパッドと接触するようになる。
【００１９】
一般的には、図１中に示した例としての生体検査システム２０は、遠位端３４を持った再使用可能な検査装置３０を包含する。使い捨てテストストリップ４０が、端３４中のスロット３２を経由して、Ｉ方向で挿入される。テストストリップ４０は、その端４４の近くで少なくとも１つのコンタクトパッド４２（ただ例として、図１には、４つのコンタクトパッドを示している）。これらのコンタクトパッドは、反対端４４（すなわち、引き出し方向矢印Ｅにより示される方向で、端近く）のテストストリップ４０の端近くで、導線４６を経由して電極（図示していない）に接続されている。非限定的例として、１つの実施の態様は、４つの電極に接続された４つのコンタクトパッドを持っている。本発明の他の実施の態様は、与えられたテストストリップ４０上に、より多くのまたはより少ないコンタクトパッド、異なった数およびパターンの導線トレース４６、および／または異なった数の電極を含んでいてもよい。テストストリップ４０は、挿入方向Ｉで、検査装置３０中に挿入される。
【００２０】
図２では、生体検査システム２０は、断面で示されている。検査装置３０は、テストストリップ４０と一致させるためのコネクターを包含しており、該コネクターは、上方のコネクターハウジング部分３６および下方のコネクターハウジング部分３８からなり、それらは、実質的に堅固な空間関係で組み立てられている。少なくとも１つのコネクターコンタクトワイヤ５０は、上方のコネクターハウジング部分３６および下方のコネクターハウジング部分３８のあいだに捕らえられる。好ましい実施の態様においては、上方のコネクターハウジング部分３６および下方のコネクターハウジング部分３８は、射出成型されたプラスチックから形成されかつコンタクトワイヤ５０を捕捉するワイヤキャビテイ３９を定める組み立てられたハウジングを形成するために、共にパチンと閉じられる。種々の実施の態様においては、コンタクトワイヤ５０は、未メッキの、または既メッキの延伸された丸型または四角のワイヤにより形成できて、それは、望みの形状に曲げられる。非限定的例として、コンタクトワイヤ５０は、ニッケルでメッキされた後金の薄いメッキを用いて、硬い金、パラジュウムまたはパラジュウムベースの合金によりメッキされる冷延伸された銅ベースの合金で形成されてもよい。または、コンタクトワイヤ５０は、上述のように希望の形状に形成され、スタンプでおされ、また後メッキされる平らなストリップ金属合金から形成されていてもよい。
【００２１】
上方のコネクターハウジング部分３６および下方のコネクターハウジング部分３８は、共に、断面５２とテストストリップ挿入制限壁５４を捕らえるコンタクトワイヤ最近接端を定める。上方のコネクターハウジング部分３６および下方のコネクターハウジング部分３８が、組み立てられると、コンタクトワイヤ５０は、領域５２中の曲がりと丸められた突起５４を経由して通過する。図２の実施の態様において、コンタクトワイヤ５０最近接端は、プリント配線ボード（ＰＷＢ）に対して表面積載可能に形成されている。他の実施の態様においては、コンタクトワイヤ５０は、ウエーブソルダリング用のＰＷＢ中のメッキされたスルーホール中に搭載可能に方向付けられている。
【００２２】
図２は、上方のコネクターハウジング部分３６および下方のコネクターハウジング部分３８により形成されたスロット３２を示しているが、本発明の他の実施の態様は、検査装置３０のハウジングにより形成されかつコネクターハウジング中の別の開口部と通じるスロット３２を意図している。生体検査システム２０を使用するために、テストストリップ４０は、Ｉ挿入方向で、スロット３２中に挿入される。このことが、テストストリップ４０の遠位端を、ワイヤキャビテイ３９中に入らせる原因となる。テストストリップ４０が、挿入されるにしたがって、テストストリップ４０のリード端４４は、コンタクト部分６２に触れることなく、コンタクトワイヤ５０のコンタクト部分６２の下を通過する。このことにより、テストストリップ４０が、コンタクト部分６２により滑るにしたがって、コンタクトワイヤ５０が、コンタクトパッド４２の磨耗を防ぐことになる。
【００２３】
さらに、Ｉ挿入方向でのテストストリップ４０は、コンタクトワイヤ５０中で形成される湾曲部５６において、テストストリップ４０の遠位端４４が、コネクターコンタクトワイヤ５０と接触する原因となる。テストストリップ４０が、さらに挿入されるに従い、テストストリップ４０とコンタクトワイヤ５０の湾曲部５６のあいだの相互作用は、Ｎ1方向で、下方のコネクターハウジング部分３８から、コンタクトワイヤ５０を強制的に引き剥がし始め、それが、挿入Ｉの方向に対して実質的に法線方向である。
【００２４】
ここで使用されているように、Ｈは、テストストリップ４０に対して実質的に垂直な方向で測定されるワイヤキャビテイ３９の最大高さであり、Ｃは、湾曲部５６とコネクター３０の遠位端３４のあいだで、実質的にテストストリップ４０に対して垂直なコンタクトワイヤ５０により占められる全最大垂直距離であり、またＴは、ワイヤキャビテイ３９内のテストストリップ４０の最大垂直高さである。好ましい実施の態様においては、Ｈ＜Ｃ＋Ｔである。この高さの差の結果は、テストストリップ４０は、コンタクトワイヤ５０を押し付けることなくワイヤキャビテイ３９中に完全に挿入できないことである。
【００２５】
図３に示すように、テストストリップ４０の挿入は、挿入方向Ｉでのさらなる挿入が避けられるテストストリップ挿入制限壁５４にまで、テストストリップ端４４が到達するまで、挿入方向Ｉに進行する。この点により、法線方向Ｎ1でのコンタクトワイヤ５０の移動は、ポイント６０におけるハウジング上方部分３６の下方表面と、コンタクトワイヤ部分５８が、移動しまた接触する原因となる。言い換えると、このことは、法線方向Ｎ２でコンタクトワイヤ５０に印加される反対力を生じる原因となる。コンタクトワイヤ５０は、この点で変形され、コンタクト部分６２が、テストストリップ４０のコンタクトパッド４２と電気的に接触するために移動する原因となる。好ましい実施の態様において、テストストリップ４０の完全挿入が、テストストリップ４０と上方のコネクターハウジング部分３６のあいだに押し込まれる原因となる。本発明の好ましい実施の態様において、コンタクトワイヤ領域５６および５８の移動は、テストストリップ４０の移動の挿入方向Ｉに対して法線方向であり、またコンタクトワイヤ５０の変形が、挿入方向Ｉでのテストストリップ移動に対して実質的に法線方向であるＮ2方向における移動を経由して、ワイヤコンタクト部分６２を、コンタクトパッド４２と接触させることになることは、理解されよう。
【００２６】
方向Ｎ2におけるコンタクトワイヤ５０の下方への歪は、湾曲部５６のコンタクトワイヤ５０が、テストストリップ４０の遠位端４４と無理やりに接触させるようにして、そのことが、テストストリップ４０を、完全に挿入された位置に保持するように手助けをすることが、上記の記述により理解されるものとする。さらに、テストストリップ４０が、コンタクトワイヤに沿って湾曲部５６を擦るところで、コンタクトワイヤ５０とテストストリップ４０とのあいだでの幾分かの摩擦があるけれども、電気的接触が、湾曲部５６における滑り行動から離れた点で起きるから、プロセスにおいて、コンタクトパッド４２またはコンタクトワイヤコンタクト部分６２から、接触金属が剥がれないか、ほとんど剥がれないように、テストストリップ４０が、設計されている。さらに、コンタクトワイヤ５０の実際の接触領域６２は、摩擦力を招くコンタクトワイヤコンタクト部分５６から除去されるから、いくつかの実施の態様において、コンタクト部分６２は、限定するものではないが、Ｐｄ、Ｎｉ、ＮｉＰｄ、ＮｉＣｏ、Ｓｎ、ＳｎＰｂ、Ａｇ、Ｃｕ、ＡｕおよびＧｅＡｇを含む材料でこの領域をメッキすることなどにより、該コンタクトを改良するために特に処理されるが、コンタクトワイヤ５０の湾曲部５６は、電気をよく通さない塗膜を用いてさえも、摩擦を低下させるために特別に処理可能である。
【００２７】
本実施の態様に対するある変形は、ここで示された４つのものよりも、多いまたは少ないコンタクトパッドおよびコンタクトワイヤを包含している。たとえば、コネクターハウジングの半分のあいだに、隣り合って実質的に同一のコネクターコンタクトワイヤ５０を置くことにより、２、４、６、８、１５、２４または他のコンタクト数を、コネクター中に詰めてもよい。これらの実施の態様の幾分かにおいて、コンタクトワイヤ５０の湾曲部５８は、すぐ近くのコンタクトワイヤのいずれかより異なったモーメントでテストストリップ４０により、最初にかみ合わされるように、該ワイヤは、好ましくは２列または３列のねじれ配列で置かれる。この変形は、コンタクトワイヤ５０の下のテストストリップ４０を通過するに必要な挿入力を減少させるが、テストストリップ４０を保持する全力は、１列デザインと同じになるように、置くことができる（一度それが、完全に挿入されると）。
【００２８】
本発明を、図面および先の記載中に、詳細に説明しかつ記載してきたが、同じことは、説明に役立ちかつ符号に制限的ではないと考えられ、かつ好ましい実施の態様のみを示しかつ記載してきたと考えられ、かつ本発明の精神以内に入る全ての変化および変更は、保護されることが望ましいと考えられる。
【００２９】
ここに引用した全ての文献、以前の出願および他の文書は、あたかも各々が、個々に参照として組み入れられまた完全に説明されるかのように、完全に参照としてここに組み入れられている。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】図１は、本発明の１つの実施の態様を用いた生体検査システムの透視図である。
【図２】図２は、テストストリップの挿入時のあるポイントにおける図１に示されたシステムの断面図である。
【図３】図３は、テストストリップを完全に挿入した後での、図１のシステムの断面図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【国際調査報告】
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