(57)【要約】【課題】耐インラッシュ性能をオンラインで精度良く短時間で判別できると共に、検査工程おいてコンデンサの破裂等を抑制し、生産性と安全性を向上させることができるコンデンサの耐インラッシュ電流特性の良否判定を行うコンデンサの製造方法およびそのコンデンサの検査装置を提供する。【解決手段】放電回路を作動状態にし検査対象コンデンサを放電させた後、該コンデンサにインラッシュ回路を作動させ充電すると共に、電圧保持回路を作動状態にし該コンデンサの電圧を保持ながら、該コンデンサに流れる電流及電圧を該コンデンサの端子間で測定し続けながら、インラッシュ回路を停止状態とし、その後該コンデンサの電圧と電流の値と変動値を測定した後、電圧保持回路を停止状態とすると共に放電回路を作動状態とし、各回路で測定した値と基準値とを比較し、耐インラッシュ電流特性の良否判定を行うコンデンサの製造方法とする。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象コンデンサを放電させる放電回路と、前記検査対象コンデンサにインラッシュ電流を印加して該コンデンサを充電するインラッシュ回路と、前記検査対象コンデンサの端子間電圧を保持する電圧保持回路とを有する検査装置を用いて、
前記検査対象コンデンサの耐インラッシュ特性を検査する検査工程を含むコンデンサの製造方法であって、
前記検査工程は、（１）前記放電回路を作動状態にして、前記検査対象コンデンサを放電させた後、該放電回路を停止状態とする第１ステップと、
（２）次に、所定時間Ｔ１の間、前記インラッシュ回路を作動状態にして、前記検査対象コンデンサに前記インラッシュ電流を印加して該コンデンサを充電すると共に、該コンデンサに流れる電流及び／又は該コンデンサの端子間電圧を連続的又は断続的に測定し続けた後、前記インラッシュ回路を停止状態とする第２ステップと、
（３）前記第２ステップの終了以前から前記第２ステップの終了に至る所定時間Ｔ２の間、前記電圧保持回路を作動状態にして、前記検査対象コンデンサの端子間電圧を保持すると共に、該コンデンサに流れる電流及び／又は該コンデンサの端子間電圧を連続的又は断続的に測定し続けた後、前記電圧保持回路を停止状態とする第３ステップと、
（４）次に、前記放電回路を作動状態にして、前記検査対象コンデンサを放電させた後、前記放電回路を停止状態とする第４ステップと、
（５）最後に、前記第２ステップにおいて測定した前記電流及び／又は電圧、並びに前記第３ステップにおいて測定した前記電流及び／又は電圧を、所定の基準値とそれぞれ比較して、前記検査対象コンデンサの耐インラッシュ電流特性の良否判定を行う第５ステップと
を備えるコンデンサの製造方法。
【請求項２】
前記第２ステップにおいて測定した前記電流の最大値を、前記第５ステップにおいて前記所定に基準値と比較して、前記検査対象コンデンサの耐インラッシュ電流特性の良否判定を行う、請求項１に記載のコンデンサの製造方法。
【請求項３】
前記第３ステップにおいて測定した前記電圧の最小値を、前記第５ステップにおいて前記所定の基準値と比較して、前記検査対象コンデンサの耐インラッシュ電流特性の良否判定を行う、請求項１又は２に記載のコンデンサの製造方法。
【請求項４】
前記所定時間Ｔ１を１０ｍｓ以下とし、前記所定時間Ｔ２を５０ｍｓ以上とする、請求項１、２又は３に記載のコンデンサ製造方法。
【請求項５】
前記第２ステップの後、前記第１ステップに戻ることを所定の有限回繰り返した後、前記第３ステップに進む、請求項１、２、３又は４に記載のコンデンサの製造方法。
【請求項６】
検査対象コンデンサを放電させる放電回路と、
前記検査対象コンデンサにインラッシュ電流を印加して該コンデンサを充電するインラッシュ回路と、
前記検査対象コンデンサの端子間電圧を保持する電圧保持回路と、
前記インラッシュ回路の作動中に、前記検査対象コンデンサに流れる電流を測定することができる第１電流測定回路と、
前記インラッシュ回路の作動中及び電圧保持回路の作動中に、前記検査対象コンデンサの端子間電圧を測定することができる電圧測定回路と、
前記放電回路、インラッシュ回路及び電圧保持回路の作動タイミングを制御する制御回路と、
前記インラッシュ回路の作動中に前記第１電流測定回路により測定した電流及び前記電圧保持回路の作動中に前記電圧測定回路により測定した電圧を、所定の基準値とそれぞれ比較して、前記検査対象コンデンサの耐インラッシュ電流特性の良否判定を行う判定回路とを備えるコンデンサの検査装置。
【請求項７】
前記電圧保持回路の作動中に、前記検査対象コンデンサに流れる電流を測定することができる第２電流測定回路を更に備え、
前記判定回路は、前記インラッシュ回路の作動中に前記電圧測定回路により測定した電圧及び／又は前記電圧保持回路の作動中に前記第２電流測定回路により測定した電圧を、所定の基準値とそれぞれ比較して、前記検査対象コンデンサの耐インラッシュ電流特性の良否判定を行うこともできる請求項６に記載のコンデンサの検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、各種電子機器、電気機器、産業機器、自動車用機器等に使用されるコンデンサの耐インラッシュ特性を検査する検査工程を含むコンデンサの製造方法およびそのコンデンサの検査装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
昨今、自動車等の電子制御化が進展しており、これに伴いバッテリーの性能向上も著しく、瞬時に１００Ａを超える電流を供給できるものが一般化している。これらのバッテリー等の電源回路で適用されている各種の電子部品は、電子機器等のデジタル化の進展に伴い、より小型、薄型のものが求められるようになってきている。
【０００３】
例えば、平滑回路や制御回路に使用される電子部品であるコンデンサに対しては、小型、大容量で高周波領域における等価直列抵抗（以下、ＥＳＲと略す）の小さいものが要望されている。
【０００４】
特に電解コンデンサは、バッテリー等の電源回路にスイッチング素子を介して直結されており、スイッチング素子がオンされるとバッテリーからダイレクトに電解コンデンサに充電電流が流れ込んでくる。
【０００５】
従って、ＥＳＲが低い電解コンデンサほどインラッシュ電流が大きくなるため、特に高信頼性が必要となる自動車電装用途では、電解コンデンサ一品一品における耐インラッシュ特性が大変重要となってくる。
【０００６】
図１０は、従来のコンデンサの構成を示した断面図で、図１１は、コンデンサ素子の構成斜視図である。
【０００７】
この従来のコンデンサは、図１０と図１１に示すように、機能素子であるコンデンサ素子５２と、このコンデンサ素子５２にそれぞれ一方の端部を接続した一対のリード線５１ａ、５１ｂと、これらリード線５１ａ、５１ｂの他方の端部を外部に導出するようにして、コンデンサ素子５２を駆動用電解液（図示せず）と共に封じた外装体５５とからなっている。
【０００８】
また、前記外装体５５は、駆動用電解液を含浸したコンデンサ素子５２を収納した有底筒状の外装ケース５３と、前記リード線５１ａ、５１ｂをそれぞれ挿通させる貫通孔５４ａ、５４ｂを備えると共に外装ケース５３の開口部に配置され、外装ケース５３の外周面に設けた絞り加工部５３ａで圧縮変形させることによって外装ケース５３の開口部を封止した封口体５４とで構成されている。なお、封口体５４には、ゴムパッキングが用いられている。
【０００９】
また、前記コンデンサ素子５２は、図１１に示すように、アルミニウム等の弁金属からなる箔をエッチング処理により粗面化しさらにその表面に陽極酸化皮膜の誘電体層を化成処理によって形成した陽極箔５２ａと、アルミニウム等の弁金属からなる陰極箔５２ｂとを、セパレータ５２ｃを介して積層して巻回することにより構成されている。
【００１０】
このように作成したコンデンサは、エージングで陽極箔５２ａの修復化成を行うことにより、より品質の高いコンデンサを得るようにしている。
【００１１】
次に、上記従来のコンデンサの内部に不具合箇所があり、これにインラッシュ電流が加わった場合の破壊メカニズムについて説明する。
【００１２】
図１２は、内部に不具合を有するコンデンサにインラッシュ電流を加えた場合のコンデンサ素子内の状態を示した断面模式図である。この図１２に示すように、コンデンサ素子５２の内部において、陽極酸化皮膜の誘電体層６１を表面に有するアルミニウム等の弁金属からなる陽極箔５２ａと、不具合箇所である導電性突起物６２を有する陰極箔５２ｂとが、セパレータ５２ｃを挟んで対向している。
【００１３】
まず、（Ａ）の段階では、バッテリー６３により、電子６４が陰極箔５２ｂに供給されると共に誘電体層６１に接する陽極箔５２ａ表面の電子６４がバッテリー６３に移動し、誘電体層６１に接する陽極箔５２ａ表面に正孔６５が形成される。
【００１４】
次に、（Ｂ）の段階では、陰極箔５２ｂ内の電子６４が、駆動用電解液よりも抵抗の低い導電性突起物６２を経由してクーロン力で正孔６５のある陽極箔側５２ａに引きつけられ、誘電体層６１の表面に集中する。
【００１５】
そして最後に、（Ｃ）の段階では、陽極箔５２ａの正孔６５と導電性突起物６２により、一極集中した電子６４と正孔６５の電位が誘電体層６１の耐電圧を超えると、電子なだれが発生し、陽極箔５２ａと陰極箔５２ｂ間に大電流が流れ、絶縁破壊（パンク）に至る。
【００１６】
このようなメカニズムより、インラッシュ電流が大きいほど、駆動用電解液よりも抵抗の低い導電性突起物６２に電子が集中しやすいため、電子なだれの発生頻度は高くなり、絶縁破壊になりやすい。
【００１７】
図１３は、耐インラッシュ電流検査におけるコンデンサの電圧および電流の検査波形図を示したもので、（Ａ）は、コンデンサの良品における電圧および電流の検査波形図、（Ｂ）は、コンデンサの不良品における電圧および電流の検査波形図を示す。（Ｂ）の不良品の波形において、７１と７３は、コンデンサ充電途中の電圧スパークノイズと電流スパークノイズで、大きなスパークが発生した場合を示す。７２と７４は、コンデンサ充電後の電圧印加中に微小スパークが発生した場合で、電圧ノイズと電流ノイズを示す。
【００１８】
このようにコンデンサ素子５２内で電子なだれが発生するまでの時間は、突起物の大きさや、酸化被膜の形成状態に大きく影響されるが、早いものは７１と７３のように数μｓ、遅いものは７２と７４のように電圧飽和後、数十ｍｓ経過してから電子なだれが発生することが実験的にわかっている。
【００１９】
なお、本発明に関連する先行技術文献情報としては、例えば、特許文献１〜３が知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００２０】
【特許文献１】特開２０００−３４８９９０号公報
【特許文献２】特開２００１−３３８８５１号公報
【特許文献３】特開２００２−１１０４８５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００２１】
しかし、上記従来のコンデンサの検査工程や装置では、コンデンサに急速充電するためのインラッシュ電流を印加する回路を作動させたままで電圧・電流波形を数十ｍｓの間検査しているため、充電時のインラッシュ電流の数千分の１となる微小スパークによる電圧スパークノイズや電流スパークノイズが検出できなかったり、スパークによる酸化被膜欠損で発生する微小な電圧変動や電流変動を検査工程で検出できないという課題があった。
【００２２】
また、リード線と陽極箔及び陰極箔との接続抵抗は、通常１ｍΩ以下であるが、接続不良により１０ｍΩ以上になる場合がある。これが原因で断線不良に至る場合があるが、コンデンサの完成品の内部抵抗は、通常１００ｍΩ以上あるため、１０ｍΩレベルの接続抵抗は誤差範囲となり、検査器での直接的な測定はできないという課題があった。
【００２３】
また、検査対象コンデンサがショートした場合、大容量コンデンサが並列に接続されたインラッシュ回路より供給されるエネルギーにより、検査対象コンデンサがパンクや発火に至り、かつ、検査工程に電解液が飛散して生産ラインが汚染されるという課題があった。
【００２４】
そこで本発明は、このような従来のコンデンサの耐インラッシュ特性を検査する検査工程における課題を解決し、検査工程における微小スパークでも感度良く検出すると共に、従来の検査工程にはなかった、リード線と電極箔の接続部の接続異常を検出することにより、高信頼性のコンデンサの製造方法及びそのコンデンサの検査装置を提供することを目的とする。
【００２５】
また、検査対象コンデンサがショートした場合でも、パンクや発火を抑制することができるので、生産性と安全性を向上するコンデンサの製造方法及びそのコンデンサの検査装置を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【００２６】
上記目的を達成するために本発明は、検査対象コンデンサの耐インラッシュ特性を検査する検査工程を含むコンデンサの製造方法であって、
前記検査工程は、
（１）前記放電回路を作動状態にして、前記検査対象コンデンサを放電させた後、該放電回路を停止状態とする第１ステップと、
（２）次に、所定時間Ｔ１の間、前記インラッシュ回路を作動状態にして、前記検査対象コンデンサに前記インラッシュ電流を印加して該コンデンサを充電すると共に、該コンデンサに流れる電流及び／又は該コンデンサの端子間電圧を連続的又は断続的に測定し続けた後、前記インラッシュ回路を停止状態とする第２ステップと、
（３）前記第２ステップの終了以前から前記第２ステップの終了に至る所定時間Ｔ２の間、前記電圧保持回路を作動状態にして、前記検査対象コンデンサの端子間電圧を保持すると共に、該コンデンサに流れる電流及び／又は該コンデンサの端子間電圧を連続的又は断続的に測定し続けた後、前記電圧保持回路を停止状態とする第３ステップと、
（４）次に、前記放電回路を作動状態にして、前記検査対象コンデンサを放電させた後、前記放電回路を停止状態とする第４ステップと、
（５）最後に、前記第２ステップにおいて測定した前記電流及び／又は電圧、並びに前記第３ステップにおいて測定した前記電流及び／又は電圧を、所定の基準値とそれぞれ比較して、
前記検査対象コンデンサの耐インラッシュ電流特性の良否判定を行う第５ステップとを備えるコンデンサの製造方法である。
【発明の効果】
【００２７】
以上のように本発明によれば、検査対象コンデンサに所定の時間インラッシュ電流を急速に印加充電した後、連続して電圧保持回路により低電流測定に切り替えるため、スパークによる酸化被膜欠損で発生する微小な電圧変動や電流上昇を検出できる。また、リード線と電極箔等の電極部材との接続部の接続抵抗が、基準となる良品よりも高ければ、前記接続部が熱膨張や溶融によって不具合をきたし検出できる。
【００２８】
また、コンデンサの急速充電以外は、インラッシュ回路をオフにしているため、検査対象コンデンサがショートした場合でもコンデンサがパンクや発火を抑制することができる。
【００２９】
この結果、この検査工程を用いてコンデンサを製造することにより、耐インラッシュ性能をオンラインで精度良く短時間で判別できると共に、不良品に大電流を加え続けることがないため、検査工程おいてコンデンサの破裂等を抑制できる。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】本発明の実施の形態１におけるコンデンサの耐インラッシュ電流検査装置の回路構成図
【図２】本発明の実施の形態１における回路のスイッチングのタイミングチャート
【図３】（Ａ）本発明の実施の形態１におけるコンデンサが良品の場合の電圧・電流検査波形図、（Ｂ）本発明の実施の形態１におけるコンデンサが不良品の場合の電圧・電流検査波形図
【図４】本発明の実施の形態１におけるコンデンサの耐インラッシュ電流検査でのコンデンサ放電時間を示すグラフ
【図５】本発明の実施の形態１におけるコンデンサの耐インラッシュ電流検査でのコンデンサ破壊時間を示すグラフ
【図６】本発明の実施の形態２における回路のスイッチングのタイミングチャート
【図７】本発明の実施の形態２におけるコンデンサの電圧・電流検査波形図
【図８】本発明の実施の形態３におけるコンデンサの構成を示した断面図
【図９】本発明の実施の形態３におけるコンデンサのコンデンサ素子の展開斜視図
【図１０】従来コンデンサの構成を示した断面図
【図１１】従来コンデンサのコンデンサ素子の展開斜視図
【図１２】従来不具合を有するコンデンサにインラッシュ電流を加えた場合のコンデンサ素子内の状態を示した断面模式図
【図１３】（Ａ）従来コンデンサの良品の場合の電圧および電流検査波形図、（Ｂ）従来コンデンサの不良品の場合の電圧および電流検査波形図
【発明を実施するための形態】
【００３１】
（実施の形態１）
以下、本発明の実施の形態１におけるコンデンサの耐インラッシュ電流検査装置および検査工程について図１〜３を用いて説明する。
【００３２】
図１は本発明の実施の形態１におけるコンデンサの耐インラッシュ電流検査工程の回路構成図、図２は本発明の実施の形態１における回路のスイッチングのタイミングチャート、図３（Ａ）は本発明の実施の形態１におけるコンデンサが良品の場合の電圧・電流検査波形図、（Ｂ）本発明の実施の形態１におけるコンデンサが不良品の場合の電圧・電流検査波形図を示したものである。
【００３３】
図１において、１は電源で、２はインラッシュ電流を維持するバックアップ用コンデンサである。３はインラッシュ電流用スイッチング素子で、インラッシュ回路（経路）２１をスイッチングする。４、５はインラッシュ電流を測定する測定部のインラッシュ電流測定用抵抗とインラッシュ電流測定用電圧計であり、インラッシュ電流測定用抵抗４の抵抗値は１ｍΩ〜１０００ｍΩのものが好ましい。６は電圧保持回路用スイッチング素子で、低電流で電圧を保持する電圧保持回路（経路）２２をスイッチングする。７、８は電圧または電流の変動を測定する測定部の低電流測定用抵抗と低電流測定用電圧計であり、低電流測定用抵抗７の抵抗値は１０Ω〜１０００Ωのものが好ましい。インラッシュ電流測定用抵抗４と低電流測定用抵抗７を１：１０００の比率とした場合、インラッシュ電流と漏れ電流の測定レンジが１０００倍変化するため、感度良く漏れ電流の測定ができる。９は放電回路用スイッチング素子で、放電回路（経路）２３のスイッチングを行う。１０は放電抵抗である。１３は耐インラッシュ電流の検査対象となる検査対象コンデンサであり、１１は検査対象コンデンサの端子電圧測定用電圧計である。１２は、インラッシュ電流用スイッチング素子３、電圧保持回路用スイッチング素子６、放電回路用スイッチング素子９のスイッチタイミングの制御や、インラッシュ電流測定用電圧計５、低電流測定用電圧計８、検査対象コンデンサの端子電圧測定用電圧計１１の計測タイミングの制御や、検査結果を判定する制御・検査部である。
【００３４】
上記、制御・検査部１２はＰＬＣ等で構成し、各回路のＯＮ・ＯＦＦの制御や電圧入力をＡ／Ｄコンバータで数値化して検査値の比較及び判定を行うことができる。
【００３５】
次に、図２のタイミングチャートを図１の回路構成図を用いて回路の動作を説明する。
【００３６】
まず、検査対象コンデンサ１３の耐インラッシュ電流検査前の状態は、検査開始まで、放電回路用スイッチング素子９であるＴｒ３が有効となっており、検査対象コンデンサ１３を放電する放電回路（経路）２３が作動している。
【００３７】
次に、検査開始と同時に、放電回路用スイッチング素子９であるＴｒ３を無効にして放電回路（経路）２３を停止させる。
【００３８】
検査開始後、所定の時間Ｔ１の間、インラッシュ電流用スイッチング素子３であるＴｒ１を有効にして、インラッシュ電流を検査対象コンデンサ１３に印加するインラッシュ回路（経路）２１を作動させる。これにより、設定した電圧まで検査対象コンデンサ１３を急速充電する。この間、インラッシュ電流測定用電圧計５であるＶ２の値を読み込み、ピーク値を電流値に換算してインラッシュ電流値として保存する。
【００３９】
次に、回路切換の電圧変動を抑えるため、時間Ｔ１の間に、電圧保持回路用スイッチング素子６であるＴｒ２を有効にし、電圧保持回路（経路）２２を作動させる。そして、時間Ｔ２の間、検査対象コンデンサ１３の電圧を低電流で保持するとともに、検査対象コンデンサの端子電圧測定用電圧計１１であるＶ１と低電流測定用電圧計８であるＶ３の電圧（電流測定）変動と値を制御・検査部１２によりモニタリングする。
【００４０】
最後に、時間Ｔ２が経過したら、電圧保持回路用スイッチング素子６（Ｔｒ２）を無効にし、電圧保持回路（経路）２２を停止させると共に、放電回路用スイッチング素子９（Ｔｒ３）を有効にして、検査対象コンデンサ１３を放電させる放電回路（経路）２３を作動させ、検査工程を終了させる。
【００４１】
次に、図３を用いて、上記一連の動作により、検査対象コンデンサ１３のスパーク不良を判定する工程について説明する。
【００４２】
ここで、検査対象コンデンサ１３がスパークした際に生じる電圧変動には、検査対象コンデンサ１３が良品の場合の小さなものと、不良品の場合の大きなものとがあり、これらを区別するため、変動規定値設定が必要である。
【００４３】
図３の（Ａ）は、本発明の実施の形態１における検査対象コンデンサ１３が良品の場合の電圧・電流検査波形図を示し、（Ｂ）は、本発明の実施の形態１における検査対象コンデンサ１３が不良品の場合の電圧・電流検査波形図を示したものである。
【００４４】
まず、（Ａ）の検査対象コンデンサ１３が良品の場合、インラッシュ電流は、検査対象コンデンサ１３が同一品番であれば安定しているため、検査対象コンデンサ１３のスパーク有無により、電流値の絶対値が変化する。
【００４５】
したがって、検査結果の合否判定は、（１）インラッシュ電流（図１のインラッシュ電流測定用電圧計５の値、すなわち、Ｖ２値）が、基準よりも多く流れたり少なく流れたりした場合に、ＮＧ判定とすればよく、これにより検出レベルが高くなる。
【００４６】
次に、（Ｂ）の検査対象コンデンサ１３が不良品の場合、特に明らかに耐インラッシュ性能が不足している場合、インラッシュ電流印加中にスパークが発生すると、３１の電圧降下が発生し、３３の放電電流が流れる。
【００４７】
したがって、電圧降下３１は、検査対象コンデンサ１３の容量やスパークの状態により大きく変化するため、安定した波形が得にくいが、検査結果の合否判定は、上記（１）の判定により判別することができる。
【００４８】
また、検査対象コンデンサ１３が不良品であるが、耐インラッシュ性能がギリギリの場合、インラッシュ電流印加後、数十ｍｓ後にスパークが発生する場合も多い。このため、検出能力を上げるには、電圧を保持しておく必要がある。本発明のように高抵抗（１０から１０００Ω）で電圧を保持するとスパークが発生した場合、電圧変動３２が大きく取れるので、微小な電流変化３４を検出することができる。
【００４９】
したがって、検査結果の合否判定は、（２）時間Ｔ２の低電流保持の間、Ｖ１（図１の検査対象コンデンサの端子電圧測定用電圧計１１の値）またはＶ３（図１の低電流測定用電圧計８の値）の電圧変動が変動規定値を超えた場合に、ＮＧ判定とすればよく、これにより検出レベルが高くなる。
【００５０】
また、検査対象コンデンサ１３内部でスパークした場合、電極箔は表面の酸化被膜が欠損し、修復電流３５が流れる。
【００５１】
したがって、検査結果の合否判定は、（３）時間Ｔ２終了時のＶ３の値が規定値を越えた場合に、ＮＧ判定とすることにより、精度良く検査対象コンデンサ１３のスパーク不良を判定することができる。
【００５２】
なお、（Ａ）の検査対象コンデンサ１３が良品の場合、検査の過程で電圧変動３６が生じるが、この電圧変動３６は、インラッシュ回路（経路）２１を停止した際に発生する小さな電圧変動である。このため、（Ｂ）の検査対象コンデンサ１３が不良品の場合のスパークによる大きな電圧変動３２と区別できる変動規定値の設定が必要である。なお、電圧変動３６は、インラッシュ回路２１の停止と電圧保持回路２２の作動タイミングをオーバーラップして切換ることにより低減できる。
【００５３】
上記（１）、（２）、（３）の検査結果の合否判定法を用いて検査対象コンデンサ１３を検査することにより、耐インラッシュ性能をオンラインで精度良く短時間で判別できると共に、不良品に大電流を加え続けることがないため、検査工程おいてコンデンサの破裂等を抑制できる。この結果、コンデンサを高品質化できると共に、生産性と安全性も向上させることができる。
【００５４】
なお、図４に示すように、インラッシュ電流印加後の検査対象コンデンサ１３の放電現象は、５０ｍｓ以内に発生する場合が多く、電圧保持回路は、５０ｍｓ以上作動させることが好ましい。
【００５５】
また、図５に示すように、検査対象コンデンサ１３にインラッシュ電流を加える時間を、１０ｍｓ以下にすると、破壊（パンク）に至る検査対象コンデンサ１３は極端に減少する。
【００５６】
（実施の形態２）
以下、本実施の形態２のコンデンサの耐インラッシュ電流検査装置および検査方法について図６、７を用いて説明する。
【００５７】
なお、本実施の形態２では、実施の形態１と同じ回路構成、すなわち図１に示した回路構成を適用する。実施の形態１と相違する点は、回路におけるスイッチングのタイミングチャートである。
【００５８】
図６は、本発明の実施の形態２における回路のタイミングチャートである。
【００５９】
ここで、図６のタイミングチャートと、図１の回路構成図とにより、回路の動作を説明する。
【００６０】
まず、検査対象コンデンサ１３の耐インラッシュ電流検査前の状態は、検査開始まで、放電回路用スイッチング素子９であるＴｒ３が有効となっており、検査対象コンデンサ１３を放電する放電回路（経路）２３が作動している。
【００６１】
次に、検査開始と同時に、放電回路用スイッチング素子９であるＴｒ３を無効にして放電回路（経路）２３を停止させる。
【００６２】
そして、検査開始後、時間Ｔ４の間、インラッシュ電流用スイッチング素子３であるＴｒ１を有効にして、インラッシュ電流を検査対象コンデンサ１３に印加するインラッシュ回路（経路）２１を作動させる。これにより、設定した電圧まで検査対象コンデンサ１３を急速充電する。この間、インラッシュ電流測定用電圧計５であるＶ２の値を読み込み、ピーク値を電流値に換算してインラッシュ電流値として保存する。
【００６３】
その後、時間Ｔ５の間、インラッシュ電流用スイッチング素子３であるＴｒ１を無効にしてインラッシュ回路（経路）２１を停止し、放電回路用スイッチング素子９であるＴｒ３を有効にして、検査対象コンデンサ１３を放電する放電回路（経路）２３を作動させる。
【００６４】
次に、前記インラッシュ回路（経路）２１とそれに続く前記放電回路（経路）２３における一連の動作を複数回繰り返し行う。
【００６５】
その後、時間Ｔ４の間、インラッシュ電流用スイッチング素子３であるＴｒ１を有効にして、インラッシュ電流を検査対象コンデンサ１３に印加するインラッシュ回路（経路）２１を作動させる。これにより、設定した電圧まで検査対象コンデンサ１３を急速充電する。この間、インラッシュ電流測定用電圧計５であるＶ２の値を読み込み、ピーク値を電流値に換算してインラッシュ電流値として保存する。
【００６６】
次に、インラッシュ電流用スイッチング素子３であるＴｒ１を無効にして前記インラッシュ回路（経路）２１を作動から停止へ切り替える前に、電圧保持回路用スイッチング素子６であるＴｒ２を有効にし、電圧保持回路（経路）２２を作動させる。これにより回路切換時の電圧変動を少なくすることができる。
【００６７】
その後、連続して時間Ｔ６の間、検査対象コンデンサ１３の電圧を低電流で保持するとともに、検査対象コンデンサの端子電圧測定用電圧計１１であるＶ１と低電流測定用電圧計８であるＶ３の電圧（電流測定）変動と値を制御・検査部１２によりモニタリングする。
【００６８】
最後に、時間Ｔ６が経過したら、電圧保持回路用スイッチング素子６（Ｔｒ２）を無効にし、電圧保持回路（経路）２２を停止させると共に、放電回路用スイッチング素子９（Ｔｒ３）を有効にして、検査対象コンデンサ１３を放電させる放電回路（経路）２３を作動させ、検査工程を終了させる。
【００６９】
なお、本検査方法を効率よく行うためには、図１における放電抵抗１０を１０ｍΩ〜１０００ｍΩと小さく設定することが好ましい。
【００７０】
ここで、本発明の実施の形態２におけるコンデンサの電圧・電流検査波形図を図７に示す。図７に示すように、時間Ｔ４の間、インラッシュ回路（経路）２１を作動させ、時間Ｔ５の間、放電回路（経路）２３を作動させることにより、検査対象コンデンサ１３には、充電・放電の大電流が、継続的に加わる。この際に、検査対象コンデンサ１３の内部において、リード線と電極箔等の電極部材との接続部の接続抵抗が、基準となる良品よりも高ければ、前記接続部が熱膨張や溶融によって不具合をきたす。この要因は、Ｅ＝Ｉ2Ｒの公式により、例えば抵抗値が１０倍になると発熱も１０倍となるからである。
【００７１】
この結果、検査対象コンデンサ１３は、半ショートや瞬時断線しやすくなるため、断続的に複数回インラッシュ電流を印加した後、即、高感度の電流変動検出する検査方法により、従来検査できなかった接続部の異常を検出でき、高品質のコンデンサを提供できる。
【００７２】
（実施の形態３）
本発明の実施の形態３におけるコンデンサについて、図８、９を用いて説明する。
【００７３】
図８は、本発明の実施の形態３におけるコンデンサの構成を示した断面図、図９は、同コンデンサのコンデンサ素子の展開斜視図である。
【００７４】
図８、９において、アルミニウム等の弁金属からなる箔をエッチング処理により粗面化しさらにその表面に陽極酸化皮膜の誘電体層を化成処理によって形成した陽極箔４２ａと、アルミニウム等の弁金属からなる陰極箔４２ｂにそれぞれリード線４１ａ、４１ｂを接続してセパレータ４２ｃと共に巻回することによりコンデンサ素子４２を構成している。
【００７５】
このコンデンサ素子４２に図示しない駆動用電解液を含浸させた後、アルミニウム等の有底筒状の金属ケース４３に収納し、金属ケースの開口部を封口体４４で封止している。
【００７６】
前記封口体４４は、ＥＰＴやＩＩＲ等のゴム材料のほか、エポキシ樹脂などの樹脂材料を用いることができる。
【００７７】
なお、コンデンサ素子４２を構成する電極は、電極箔を巻回する以外に複数枚の電極箔を積層する構成であってもよい。
【００７８】
前記セパレータ４２ｃは、セルロース、クラフト、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリフェニレンサルファイド、ナイロン、芳香族ポリアミド、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリエーテルイミド、レーヨン、ガラス質等を含有する不織布を用いることができる。
【００７９】
前記駆動用電解液は、溶媒に溶質を溶解する形で構成されている。溶媒材料としては、γ−ブチロラクトン、エチレングリコール、スルホラン等が挙げられる。そして、溶質材料としては、無機酸アンモニウム塩、無機酸アミン塩、無機酸アルキル置換アミジン塩またはその４級化物、有機酸アンモニウム塩、有機酸アミン塩、有機酸アルキル置換アミジン塩またはその４級化物等が挙げられる。
【００８０】
なお、駆動用電解液には、ガス吸収、耐電圧の安定化、ｐＨ調整、酸化防止等を目的とした添加剤を適宜含むことができる。
【００８１】
その後、このコンデンサについて、本発明の実施の形態１、若しくは実施の形態２に示した回路構成によって、耐インラッシュ電流検査を行い、その検査結果の合否判定により、良品を選別する。
【００８２】
以上のように、本発明の実施の形態３におけるコンデンサを用いて本発明の実施の形態１または２を用いて検査装置を行った結果、コンデンサの耐インラッシュ性能をオンラインで精度良く短時間で判別できると共に、不良品に大電流を加え続けることがなく、検査工程において、駆動用電解液を飛散させることもない。また、断続的に複数回インラッシュ電流を印加した後、即、高感度の電流変動検出する検査工程により、従来検査できなかった接続部の異常を検出できる。この結果、コンデンサを高品質化できると共に、生産性と安全性も向上させることができる。
【産業上の利用可能性】
【００８３】
本発明の耐インラッシュ電流特性を検査する検査工程を用いて製造したコンデンサは、バッテリーや家庭用コンセント直結のスイッチング用途に好適であり、雷サージ等の外来ノイズによるインラッシュ電流に強いという特徴を有し、電源のＯＮ−ＯＦＦが頻繁に行われ、長期に渡る高信頼性が要求される自動車電装機器やＦＡの制御回路や照明機器のバラスト回路において有用である。
【符号の説明】
【００８４】
１  電源
２  バックアップ用コンデンサ
３  インラッシュ電流用スイッチング素子
４  インラッシュ電流測定用抵抗
５  インラッシュ電流測定用電圧計
６  電圧保持回路用スイッチング素子
７  低電流測定用抵抗
８  低電流測定用電圧計
９  放電回路用スイッチング素子
１０  放電抵抗
１１  検査対象コンデンサの端子電圧測定用電圧計
１２  制御・検査部
１３  検査対象コンデンサ
２１  インラッシュ回路（経路）
２２  電圧保持回路（経路）
２３  放電回路（経路）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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