(57)【要約】【課題】摩擦部材の摩擦摩耗現象をＡＥを用いて解析することができ、また複数の摩擦摩耗現象を同時に解析することができる装置を提供する。【解決手段】摩擦摩耗現象解析装置１は、摩擦部材２を回転部材１０に摩擦接触させる押圧装置６およびＡＥセンサ４を摩擦部材２に当接させる付勢部材５を別系統で備えているので、摩擦部材２の摩擦接触を確実に行って摩擦部材２で発生するＡＥを感度良く検出することができる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
回転する回転部材に摩擦接触する摩擦部材の摩擦摩耗現象を解析する装置であって、
前記摩擦部材を固定する固定部材と、
回転する前記回転部材に摩擦接触する前記摩擦部材で発生するアコースティック・エミッション（ＡＥ）を検出してＡＥ信号を出力するＡＥセンサと、
前記ＡＥセンサのセンサ部を前記摩擦部材に当接させるため、前記固定部材と前記ＡＥセンサとの間に配置され前記ＡＥセンサを前記摩擦部材側に付勢する付勢部材と、
前記摩擦部材を前記回転部材に摩擦接触させるため、前記固定部材を前記回転部材側に押圧する押圧装置と、
を備える摩擦部材の摩擦摩耗現象解析装置。
【請求項２】
前記摩擦部材は、
前記回転部材に摩擦接触する接触面とは反対側の面に前記ＡＥセンサのセンサ部側が挿入される凹部を備える請求項１の摩擦部材の摩擦摩耗現象解析装置。
【請求項３】
前記ＡＥセンサのセンサ部と前記摩擦部材との間には、断熱部材が配置されている、請求項１又は２の摩擦部材の摩擦摩耗現象解析装置。
【請求項４】
前記付勢部材は、弾性を有する部材である、請求項１〜３の何れか一項の摩擦部材の摩擦摩耗現象解析装置。
【請求項５】
前記凹部は、前記凹部の底面から前記回転部材との接触面までの厚さが１１ｍ以下となるように穿設されている、請求項２〜４の何れか一項の摩擦部材の摩擦摩耗現象解析装置。
【請求項６】
前記ＡＥセンサから出力されるＡＥ信号の周波数に基づいて、前記摩擦摩耗現象の性状を特定する現象特定装置、を備える請求項１〜５の何れか一項の摩擦部材の摩擦摩耗現象解析装置。
【請求項７】
前記現象特定装置は、前記特定した摩擦摩耗現象の性状を表示する表示装置、を備える請求項６の摩擦部材の摩擦摩耗現象解析装置。
【請求項８】
前記現象特定装置は、前記ＡＥセンサから出力されるＡＥ信号の所定時間間隔毎の平均値又は積分値の変化点が出現した後に前記ＡＥ信号を周波数分析し、周波数が３００ｋＨｚ以下のＡＥ信号のピーク値が出現した場合、被膜層の破壊・脱落の発生と特定し、周波数が３００ｋＨｚを超えたＡＥ信号のピーク値が出現した場合、凝着摩耗の発生と特定する、請求項６又は７の摩擦部材の摩擦摩耗現象解析装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、回転する回転部材に摩擦接触する摩擦部材の摩擦摩耗現象を解析する装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
自動車用ディスクブレーキに使用されるブレーキパッド（摩擦部材）は、効き・寿命・ＮＶ（Ｎｏｉｓｅ  Ｖｉｂｒａｔｉｏｎ）等の様々な性能を同時に満足させる必要があるため、十数種類の原料を組み合わせた複合材料となっている。このため、ブレーキパッドの摩擦摩耗現象は複雑になるが、この摩擦摩耗現象を明確にして各種原料の配合に反映させることで、各種性能を向上させることができる。
【０００３】
例えば、特許文献１には、摩擦部材の摩耗を解析する装置が記載されている。この装置は、回転する回転部材に摩擦部材を押し付け、測定したアコースティックエミッション（以下、ＡＥという）等および当該測定位置に基づいて、摩擦部材の摩耗を解析するようになっている。また、特許文献２には、摩擦部材として電動弁に使用されるステムナットの摩耗を検出する装置が記載されている。この装置は、ステムナットから生じるＡＥを検出してＡＥ信号を出力し、ＡＥ信号のうち摩耗に起因する周波数成分を持つＡＥ信号に基づいてＡＥエネルギを算出し、ＡＥエネルギの積算量に基づいてステムナットの摩耗状態を判定するようになっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平６−３０８０１７号公報
【特許文献２】特開２００７−３２９９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上述の特許文献１には、測定したＡＥの具体的な使用例や解析例が開示されていないため、特許文献１に記載の装置では、摩擦部材の摩耗を解析することは困難である。また、特許文献２に記載の装置では、特定の周波数成分を持つＡＥ信号の大きさのみで摩擦部材の摩耗状態を判定するため、複数の摩擦摩耗現象を同時に解析することができない。
【０００６】
本発明は、このような事情に鑑みて為されたものであり、摩擦部材の摩擦摩耗現象をＡＥを用いて解析することができ、また複数の摩擦摩耗現象を同時に解析することができる装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
請求項１に係る発明は、回転する回転部材に摩擦接触する摩擦部材の摩擦摩耗現象を解析する装置であって、前記摩擦部材を固定する固定部材と、回転する前記回転部材に摩擦接触する前記摩擦部材で発生するＡＥを検出してＡＥ信号を出力するＡＥセンサと、前記ＡＥセンサのセンサ部を前記摩擦部材に当接させるため、前記固定部材と前記ＡＥセンサとの間に配置され前記ＡＥセンサを前記摩擦部材側に付勢する付勢部材と、前記摩擦部材を前記回転部材に摩擦接触させるため、前記固定部材を前記回転部材側に押圧する押圧装置と、を備えることである。
【０００８】
請求項１に記載の発明によれば、摩擦摩耗現象解析装置は、摩擦部材を回転部材に摩擦接触させる押圧装置およびＡＥセンサを摩擦部材に当接させる付勢部材を別系統で備えているので、摩擦部材の摩擦接触を確実に行って摩擦部材で発生するＡＥを感度良く検出することができる。
【０００９】
請求項２に係る発明は、前記摩擦部材は、前記回転部材に摩擦接触する接触面とは反対側の面に前記ＡＥセンサのセンサ部側が挿入される凹部を備えることである。
【００１０】
請求項２に記載の発明によれば、ＡＥセンサのセンサ部は、回転部材に摩擦接触する摩擦部材の接触面に近い位置に配置されることになるので、摩擦部材内部での減衰が抑えられたＡＥを確実に検出することができる。また、摩擦部材全体を薄くする必要がないので、固定部材に対する摩擦部材の固定が容易になるとともに、摩擦接触による摩擦部材の破損を防止することができる。
【００１１】
請求項３に係る発明は、前記ＡＥセンサのセンサ部と前記摩擦部材との間には、断熱部材が配置されていることである。
請求項３に記載の発明によれば、回転部材に摩擦接触する摩擦部材の接触面で発生する摩擦熱は、断熱部材によりＡＥセンサのセンサ部に伝熱し難くなるので、ＡＥセンサの熱による破損を防止することができる。
【００１２】
請求項４に係る発明は、前記付勢部材は、弾性を有する部材であることである。
請求項４に記載の発明によれば、ＡＥセンサのセンサ部は、付勢部材により接触部材に適度な力で付勢されて密接するので、ＡＥを感度良く検出することができる。また、ＡＥセンサには過度な力が掛からないので、センサ部の破損を防止することができる。
請求項５に係る発明は、前記凹部は、前記凹部の底面から前記回転部材との接触面までの厚さが１１ｍｍ以下となるように穿設されていることである。
請求項５に記載の発明によれば、摩擦部材内部でのＡＥの減衰を抑えることができる。
【００１３】
請求項６に係る発明は、前記ＡＥセンサから出力されるＡＥ信号の周波数に基づいて、前記摩擦摩耗現象の性状を特定する現象特定装置、を備えることである。
請求項６に記載の発明によれば、広い周波数帯域での解析が可能となるので、複数の摩擦摩耗現象の性状を１回の解析で特定することができ、解析時間を大幅に短縮させることができる。
請求項７に係る発明は、前記現象特定装置は、前記特定した摩擦摩耗現象の性状を表示する表示装置、を備えることである。
請求項７に記載の発明によれば、作業者は、摩擦部材の複数の摩擦摩耗現象の性状を視認することができるので、解析作業効率を大幅に向上させることができる。
【００１４】
請求項８に係る発明は、前記現象特定装置は、前記ＡＥセンサから出力されるＡＥ信号の所定時間間隔毎の平均値又は積分値の変化点が出現した後に前記ＡＥ信号を周波数分析し、周波数が３００ｋＨｚ以下のＡＥ信号のピーク値が出現した場合、被膜層の破壊・脱落の発生と特定し、周波数が３００ｋＨｚを超えたＡＥ信号のピーク値が出現した場合、凝着摩耗の発生と特定することである。
請求項８に記載の発明によれば、最初にＡＥ信号の所定時間間隔毎の平均値又は積分値の変化点を判断しているので、データ容量の増大を抑えて長時間の解析が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本実施形態の摩擦部材の摩擦摩耗現象解析装置の概略構成を示す図である。
【図２Ａ】摩擦部材の平面図である。
【図２Ｂ】摩擦部材の側面図である。
【図３】摩擦部材のパッド厚さを変化させたときの摩擦部材で発生するＡＥを検出して出力されるＡＥ信号の強度比を示す図である。
【図４】摩擦摩耗現象解析装置の現象特定装置の一例を示すブロック構成図である。
【図５】摩擦摩耗現象解析装置の現象特定装置の別例を示すブロック構成図である。
【図６】摩擦摩耗現象解析装置の解析動作を説明するためのフローチャートである。
【図７】図４の現象特定装置の表示装置に表示されるＡＥ信号の所定時間間隔毎の平均値又は積分値の経時変化を示す図である。
【図８】図４の現象特定装置の表示装置に表示されるＡＥ信号の所定時間間隔毎の平均値又は積分値の変化点が出現した後にＡＥ信号を周波数分析した結果を示す図である。
【図９】図５の現象特定装置の表示装置に表示される周波数が異なるＡＥ信号の所定時間間隔毎の平均値又は積分値の経時変化を示す図である。
【図１０】別形態の摩擦部材の摩擦摩耗現象解析装置の概略構成を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
（１．摩擦部材の摩擦摩耗現象解析装置）
本発明の実施形態の摩擦部材の摩擦摩耗現象解析装置の概略構成について図を参照して説明する。図１に示すように、この摩擦部材の摩擦摩耗現象解析装置１は、モータ１１の駆動により回転する回転部材１０に摩擦接触する摩擦部材２から発生するＡＥに基づいて、摩擦部材２の摩擦摩耗現象を解析する装置である。すなわち、ＡＥは、固体が変形・破壊する際に、固体内部に蓄えられていた弾性エネルギを弾性波として放出する現象である。摩擦部材２の摩擦摩耗現象においても一種の変形・破壊現象を伴うためＡＥが発生するので、ＡＥ信号の特徴から摩擦部材２の摩擦摩耗現象を解析することができる。
【００１７】
この摩擦摩耗現象解析装置１は、摩擦部材２を固定する固定部材３と、摩擦部材２で発生するＡＥを検出するＡＥセンサ４と、ＡＥセンサ４の先端側のセンサ部４１を摩擦部材２に当接させるため、ＡＥセンサ４を摩擦部材２側に付勢する付勢部材５と、摩擦部材２を回転部材１０に摩擦接触させるため、固定部材３を回転部材１０側に押圧する押圧装置６と、押圧装置６の押圧を制御し、ＡＥセンサ４からＡＥ信号を入力し、摩擦部材２の摩擦摩耗現象を解析する制御装置７等とを備えて構成される。
【００１８】
以上のような構成の摩擦摩耗現象解析装置１は、摩擦部材２を回転部材１０に摩擦接触させる押圧装置６およびＡＥセンサ４を摩擦部材２に当接させる付勢部材５を別系統で備えているので、摩擦部材２の摩擦接触を確実に行って摩擦部材２で発生するＡＥを感度良く検出することができる。
【００１９】
摩擦部材２としては、ディスクブレーキのブレーキパッドから矩形板状に切り出したテストピースが使用され得る。図２Ａ，Ｂに示すように、摩擦部材２は、回転部材に接触する接触部材２１と、接触部材２１を補強する金属でなる補強部材２２と、接触部材２１と補強部材２２とを結合する結合部材２３とを積層して構成される。結合部材２３は、接触部材２１で発生する熱の伝達を抑制する断熱効果も有する。そして、この摩擦部材２には、補強部材２２の表面から結合部材２３を通って接触部材２１の途中に至る深さを有し、ＡＥセンサ４のセンサ部４１側が挿入される円柱状の凹部２４が設けられている。
【００２０】
接触部材２１の接触面２１ａで発生するＡＥが接触部材２１内を透過するとき、ＡＥの透過強度が低下してＡＥセンサ４で検出不可となるおそれがあるが、摩擦部材２に凹部２４を設けて接触部材２１の接触面２１ａから凹部２４の底面２４ａまでのパッド厚さｔを薄くしておくことにより、ＡＥの透過強度の低下を抑えてＡＥセンサ４で検出可能とすることができる。ただし、パッド厚さｔが薄過ぎる場合は、回転部材１０に摩擦接触させるときに接触部材２１が破壊するおそれがあり、パッド厚さｔとしては２ｍｍ以上が好ましい。そこで、パッド厚さｔの限界値を求める実験を行った。
【００２１】
図３に示すように、パッド厚さｔを３ｍｍ、７ｍｍ、１１ｍｍと変化させたとき、摩擦部材２で発生したＡＥをＡＥセンサ４で検出して出力するときのＡＥ信号（中心周波数：１ＭＨｚ）の信号強度比（＝透過信号強度／入射信号強度）は、パッド厚さｔが３ｍｍのとき０．００８、パッド厚さｔが７ｍｍのとき０．００２、パッド厚さｔが１１ｍｍのとき０．０００４となる。信号強度比は０．０００５程度は必要であることから、ＡＥセンサ４で検出可能なパッド厚さｔとしては１１ｍｍ以下とすることが好ましいことが判明した。
【００２２】
以上説明したように、ＡＥセンサ４のセンサ部４１は、回転部材１０に摩擦接触する接触部材２１の接触面２１ａに近い位置に配置されることになるので、接触部材２１内部での減衰が抑えられたＡＥを確実に検出することができる。また、摩擦部材２全体を薄くする必要がないので、固定部材３に対する摩擦部材２の固定が容易になるとともに、摩擦接触による摩擦部材２の破損を防止することができる。
【００２３】
図１に示すように、固定部材３は、厚さが摩擦部材２の厚さより薄い直方体状の受け部材３１と、側面視コの字の略直方体状の中間部材３２と、直方体状の基台３３とで構成される。受け部材３１には、矩形板状の摩擦部材２を嵌め込むことが可能な軸方向断面が矩形状の貫通穴３１ａが設けられている。中間部材３２には、円筒状のＡＥセンサ４を貫装させることが可能な軸方向断面が円形状の貫通穴３２ａが設けられている。基台３３には、直方体状の付勢部材５の一端側を挿入することが可能な軸方向断面が矩形状の有底穴３３ａが設けられている。
【００２４】
ＡＥセンサ４は、円筒状の筐体の一端側に圧電素子等のセンサ部４１が備えられた一般的な広帯域（周波数特性：０．１ＭＨｚ〜１ＭＨｚ）のＡＥセンサである。
付勢部材５は、本例では直方体状のゴム等でなる弾性部材が用いられる。ＡＥセンサ４のセンサ部４１は、付勢部材５により接触部材２１に適度な力で付勢されて密接するので、ＡＥを感度良く検出することができる。また、ＡＥセンサ４には過度な力が掛からないので、センサ部４１の破損を防止することができる。なお、付勢部材５として基台３３の押圧装置６側から摩擦部材２側に向かって貫通するボルトを設け、このボルトの先端部をＡＥセンサ４の後端に当接してボルトを回すことによりＡＥセンサ４を付勢する構成としてもよい。
【００２５】
押圧装置６は、本例では圧力センサ６１を備え、エア圧で押圧可能なエアシリンダが用いられる。なお、押圧装置６として油圧で押圧可能な油圧シリンダを用いてもよい。
制御装置７は、圧力センサ６１から圧力信号を入力し、押圧装置６の加圧・除圧を制御する圧力制御装置７１と、ＡＥセンサ４からＡＥ信号を入力し、摩擦部材２の摩擦摩耗現象の性状を特定し、特定した摩擦摩耗現象の性状を表示する表示装置７３を有する現象特定装置７２等とを備えている。
【００２６】
図４に示すように、現象特定装置７２の一例として、この現象特定装置７２Ａは、ＡＥセンサ４からのＡＥ信号を増幅器７２１で増幅し、機械振動の影響を排除するために例えば２０ｋＨｚ以上の周波数を通過させるハイパスフィルタ７２２で濾波し、濾波したＡＥ信号を増幅器７２３で増幅してＡＥ信号演算部７２４に入力する。
【００２７】
そして、ＡＥ信号演算部７２４は、所定時間間隔毎にＡＥ信号の包絡線検波波形に平均化処理を行った平均値又は積分処理を行った積分値を求めて表示装置７３に表示し、ＡＥ信号の平均値又は積分値が上昇もしくは変動する変化点が出現したとき、分析開始信号を周波数分析部７２５に出力する。周波数分析部７２５は、ＡＥ信号の平均値又は積分値の変化点が出現したときのＡＥ信号の周波数特性を求めて表示装置７３に表示する。なお、ＡＥ信号演算部７２４および周波数分析部７２５の具体的処理については後述する。
【００２８】
また、図５に示すように、現象特定装置７２の別例として、現象特定装置７２Ｂは、ＡＥセンサ４からのＡＥ信号を増幅器７２１で増幅し、例えば３００ｋＨｚを超える周波数を通過させる第一バンドパスフィルタ７２７ａで濾波し、濾波したＡＥ信号を第一増幅器７２３ａで増幅して第一ＡＥ信号演算部７２４ａに入力するとともに、３００ｋＨｚ以下の周波数を通過させる第二バンドパスフィルタ７２７ｂで濾波し、濾波したＡＥ信号を第二増幅器７２３ｂで増幅して第二ＡＥ信号演算部７２４ｂに入力する。
【００２９】
そして、第一ＡＥ信号演算部７２４ａで所定時間毎に３００ｋＨｚを超える周波数に濾波したＡＥ信号の平均値を求めるとともに、第二ＡＥ信号演算部７２４ｂで所定時間毎に３００ｋＨｚ以下の周波数に濾波したＡＥ信号の平均値を求め、これらのＡＥ信号の平均値を表示装置７３に重ねて表示する。このように、ＡＥ信号を周波数毎に分けて重ねて表示することにより、作業者が視認により摩擦部材２の複数の摩擦摩耗現象を確実に特定することができる。なお、第一、第二ＡＥ信号演算部７２４ａ，７２４ｂの具体的処理については後述する。
【００３０】
以上のような現象特定装置７２によれば、広い周波数帯域での解析が可能となるので、複数の摩擦摩耗現象の性状を１回の解析で特定することができ、解析時間を大幅に短縮させることができる。また、最初にＡＥ信号の平均値又は積分値の変化点を判断しているので、データ容量の増大を抑えて長時間の解析が可能となる。また、ＡＥ信号演算部７２４でＡＥ信号の平均値又は積分値を求めて表示しているので、作業者は、摩擦部材２の摩擦摩耗現象が変化するタイミングを確実に捉えることができる。また、周波数分析部７２５でＡＥ信号の周波数特性を求めて表示しているので、作業者は、摩擦部材２の複数の摩擦摩耗現象の性状を視認することができ、解析作業効率を大幅に向上させることができる。
【００３１】
（２．摩擦摩耗現象解析装置の解析動作）
次に、摩擦摩耗現象解析装置１の解析動作について図６のフローチャートを参照して説明する。先ず、準備作業として、受け部材３１を中間部材３２にボルトで固定し、中間部材３２を基台３３にボルトで固定して固定部材３を組み立てる。そして、ＡＥセンサ４の先端（センサ部４１）を中間部材３２と基台３３との間から中間部材３２の貫通穴３２ａに挿通し、付勢部材５をＡＥセンサ４の後端と基台３３の有底穴３３ａとの間に配置する。次に、摩擦部材２の凹部２４にＡＥセンサ４の先端（センサ部４１）を挿入するとともに、摩擦部材２を受け部材３１の貫通穴３１ａに差し込む。
【００３２】
そして、摩擦部材２を接触部材２１側から押圧し付勢部材５を弾性変形させ、摩擦部材２の補強部材２２を中間部材３２に当接させ、摩擦部材２を受け部材３１にボルトで固定する。これにより、ＡＥセンサ４は付勢部材５の復元力により摩擦部材２側に付勢されるので、センサ部４１は摩擦部材２の凹部２４の底面２４ａに当接される。そして、基台３３を押圧装置６のシリンダロッド６２にボルトで固定する。以上により、摩擦摩耗現象解析装置１における摩擦部材２のセッティングが完了する（ステップＳ１）。
【００３３】
次に、制御装置７０の圧力制御装置７１は、押圧装置６を制御して摩擦部材２を回転している回転部材１０に摩擦接触させる（ステップＳ２）。現象特定装置７２は、ＡＥセンサ４からＡＥ信号を入力し、ＡＥ信号の周波数に基づいて、摩擦部材２の摩擦摩耗現象の性状を特定する（ステップＳ３）。
ここで、現象特定装置７２Ａの場合、ＡＥ信号演算部７２４は、所定時間間隔毎にＡＥ信号の平均値又は積分値を求めて表示装置７３に表示し、ＡＥ信号の平均値又は積分値が上昇もしくは変動する変化点が出現したとき、分析開始信号を周波数分析部７２５に出力する。
【００３４】
具体的には、図７に示すように、ＡＥ信号の平均値又は積分値は、ある時点ｔａにおいて急激に上昇するので、このときに分析開始信号を周波数分析部７２５に出力する。周波数分析部７２５は、ＡＥ信号の平均値又は積分値が上昇したときのＡＥ信号の周波数特性を求めて表示装置７３に表示し、摩擦部材２の摩擦摩耗現象の性状を特定する。
【００３５】
すなわち、図８に示すように、周波数が３００ｋＨｚ以下のＡＥ信号のピーク値ｐａもしくはその信号を基本波とした高調波が出現したときは、摩擦部材２の接触部材２１の接触面２１ａ（摩擦被膜層）の破壊・脱落が発生したと特定する。また、周波数が３００ｋＨｚを超えたＡＥ信号のピーク値ｐｂが出現したときは、摩擦部材２の接触部材２１の接触面２１ａに凝着摩耗が発生したと特定する。これらの摩擦摩耗現象は、摩擦部材２の接触部材２１の接触面２１ａをレーザ顕微鏡で観察するとともに、生成した摩耗粉を電界放射型走査電子顕微鏡で観察することにより特定することができる。
【００３６】
また、現象特定装置７２Ｂの場合、第一ＡＥ信号演算部７２４ａは、所定時間間隔毎に３００ｋＨｚを超えた周波数に濾波したＡＥ信号の平均値又は積分値を求め、第二ＡＥ信号演算部７２４ｂは、所定時間間隔毎に３００ｋＨｚ以下の周波数に濾波したＡＥ信号の平均値又は積分値を求め、これらのＡＥ信号の平均値又は積分値を表示装置７３に重ねて表示し、摩擦部材２の摩擦摩耗現象の性状を特定する。
【００３７】
具体的には、図９に示すように、周波数が３００ｋＨｚ以下のＡＥ信号のピーク値ｐａもしくはその信号を基本波とした高調波が出現したときは、摩擦部材２の接触部材２１の接触面２１ａ（摩擦被膜層）の破壊・脱落が発生したと特定する。また、周波数が３００ｋＨｚを超えたＡＥ信号のピーク値ｐｂが出現したときは、摩擦部材２の接触部材２１の接触面２１ａに凝着摩耗が発生したと特定する。これらの摩擦摩耗現象は、摩擦部材２の接触部材２１の接触面２１ａをレーザ顕微鏡で観察するとともに、生成した摩耗粉を電界放射型走査電子顕微鏡で観察することにより特定することができる。
【００３８】
（３．摩擦摩耗現象解析装置の別形態）
図１に対応させた図１０に示すように、ＡＥセンサ４のセンサ部４１と摩擦部材２の接触部材２１との間に、断熱部材８を配置するように構成してもよい。この断熱部材８としては、石英ガラスが好ましいが、熱伝導率が低く、高周波数のＡＥが減衰し難いセラミックス等の材料でもよい。これにより、回転部材１０に摩擦接触する接触部材２１の接触面で発生する摩擦熱は、断熱部材８によりＡＥセンサ４のセンサ部４１に伝熱し難くなるので、ＡＥセンサ４の熱による破損を防止することができる。
【００３９】
また、上述した実施形態では、現象特定装置７２Ｂは、第一ＡＥ信号演算部７２４ａおよび第二ＡＥ信号演算部７２４ｂにより二種類の摩擦摩耗現象の性状を特定する構成としたが、３つ以上のＡＥ演算部を備えて三種類以上の摩擦摩耗現象の性状を特定する構成としてもよい。
【符号の説明】
【００４０】
１：摩擦摩耗現象解析装置、２：摩擦部材、３：固定部材、４：ＡＥセンサ、４１：センサ部、５：付勢部材、６：押圧装置、７：制御装置、７１：圧力制御装置、７２，７２Ａ，７２Ｂ：現象特定装置、７２２：ハイパスフィルタ、７２４：ＡＥ信号演算部、７２５：周波数分析部、７２４ａ：第一ＡＥ信号演算部、７２４ｂ：第二ＡＥ信号演算部、７２７ａ：第一バンドパスフィルタ、７２７ｂ：第二バンドパスフィルタ、１０：回転部材、２１：接触部材、２１ａ：接触面、２２：補強部材、２３：断熱部材、２４：凹部、２４ａ：底面、３１：受部材、３１ａ：貫通穴、３２：中間部材、３２ａ：貫通穴、３３：基台、３３ａ：有底穴
【図１】
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【図２Ａ】
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【図２Ｂ】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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