(57)【要約】【課題】  従来、充放電試験装置の試験端子に測定器や放電器などを接続して、充放電電圧や充放電電流を計測し、充放電試験装置の設定を調整する作業を定期的に行わなければならないという問題があった。【解決手段】  本発明では、充放電試験装置は、少なくとも１つの充電回路と、充電回路に対向する少なくとも１つの放電回路と、充電回路と放電回路の間に配置された校正ユニットにより計測される計測値を無線により受信する第１通信部と、計測値に基づいて充電回路および放電回路の調整を行う制御部とを有し、校正ユニットは、二次電池の代わりに充放電試験装置に配置可能な形状であって、且つ、二次電池の電源端子と同位置に配置される試験端子を有し、二次電池の代わりに充放電試験装置に接続して、充放電試験装置の充電回路および放電回路の電気的特性を計測する計測部と、計測部の計測値を無線により充放電試験装置に送信する第２通信部とを有する。【選択図】図４
2015052469.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
二次電池の充放電試験を行う充放電試験装置と、前記充放電試験装置を校正するための校正ユニットとを有する充放電試験システムにおいて、
前記充放電試験装置は、少なくとも１つの充電回路と、前記充電回路に対向する少なくとも１つの放電回路と、前記充電回路と前記放電回路の間に配置された前記校正ユニットにより計測される計測値を無線により受信する第１通信部と、前記計測値に基づいて前記充電回路および前記放電回路の調整を行う制御部とを有し、
前記校正ユニットは、前記二次電池の代わりに前記充放電試験装置に配置可能な形状であって、且つ、前記二次電池の電源端子と同位置に配置される試験端子を有し、前記二次電池の前記電源端子の代わりに前記試験端子を前記充放電試験装置に接続して、前記充放電試験装置の前記充電回路および前記放電回路の電気的特性を計測する計測部と、前記計測部が計測した前記計測値を無線により前記充放電試験装置に送信する第２通信部とを有する
ことを特徴とする充放電試験システム。
【請求項２】
請求項１に記載の充放電試験システムにおいて、
前記充電回路および前記放電回路は、充放電電圧および充放電電流を設定する回路をオフセットとゲインにより調整する調整部を有し、
前記制御部は、前記校正ユニットから受信する前記計測値が予め決められた設定値に合致するように、前記調整部のオフセットとゲインを制御する
ことを特徴とする充放電試験システム。
【請求項３】
請求項１に記載の充放電試験システムにおいて、
前記充電回路および前記放電回路は、充放電電圧および充放電電流のモニタ値をオフセットとゲインにより調整するモニタ調整部を有し、
前記制御部は、前記充電回路および前記放電回路の前記モニタ値が予め決められた設定値に合致するように、前記モニタ調整部のオフセットとゲインを制御する
ことを特徴とする充放電試験システム。
【請求項４】
少なくとも１つの充電回路と、
前記充電回路に対向する少なくとも１つの放電回路と、
前記充電回路と前記放電回路の間に配置された校正ユニットにより計測される計測値を無線により受信する第１通信部と、
前記計測値に基づいて前記充電回路および前記放電回路の調整を行う制御部とを有する
ことを特徴とする充放電試験装置。
【請求項５】
請求項４に記載の充放電試験装置において、
前記充電回路および前記放電回路は、充放電電圧および充放電電流を設定する回路をオフセットとゲインにより調整する調整部を有し、
前記制御部は、前記校正ユニットから受信する前記計測値が予め決められた設定値に合致するように、前記調整部のオフセットとゲインを制御する
ことを特徴とする充放電試験装置。
【請求項６】
請求項４に記載の充放電試験装置において、
前記充電回路および前記放電回路は、充放電電圧および充放電電流のモニタ値をオフセットとゲインにより調整するモニタ調整部を有し、
前記制御部は、前記充電回路および前記放電回路の前記モニタ値が予め決められた設定値に合致するように、前記モニタ調整部のオフセットとゲインを制御する
ことを特徴とする充放電試験装置。
【請求項７】
二次電池の充放電試験を行う充放電試験装置を校正ユニットを用いて校正を行う校正方法において、
前記充放電試験装置は、少なくとも１つの充電回路と少なくとも１つの放電回路とを対向させて、前記充電回路および前記放電回路の間に配置された校正ユニットにより計測される計測値を無線により受信し、前記計測値に基づいて前記充電回路および前記放電回路の調整を行い、
前記校正ユニットは、前記二次電池の代わりに前記充放電試験装置に配置可能な形状であって、且つ、前記二次電池の電源端子と同位置に配置される試験端子を有し、前記二次電池の前記電源端子の代わりに前記試験端子を前記充放電試験装置に接続して、前記充放電試験装置の前記充電回路および前記放電回路の電気的特性を計測し、無線により前記計測値を前記充放電試験装置に送信する
ことを特徴とする校正方法。
【請求項８】
請求項７に記載の校正方法において、
前記校正ユニットから受信する前記計測値が予め決められた設定値に合致するように、前記充電回路および前記放電回路の充放電電圧および充放電電流を設定する回路のオフセットとゲインを制御する
ことを特徴とする校正方法。
【請求項９】
請求項７に記載の校正方法において、
充放電電圧および充放電電流をモニタする回路のモニタ値が予め決められた設定値に合致するように、充放電電圧および充放電電流をモニタする回路のオフセットとゲインを制御する
ことを特徴とする校正方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、充放電試験システム、充放電試験装置、校正方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、電気自動車、太陽電池システムの夜間対応、災害時の非常用蓄電池など様々な分野で二次電池が注目されている。二次電池は、充放電試験装置により充電試験や放電試験が行われ、品質が維持されている（例えば特許文献１参照）。
【０００３】
一方、製造者は、二次電池の試験に使用する充放電試験装置の電気的特性が試験仕様に合致しているか否かを定期的に検査して、適正な性能を維持できるように校正することが求められている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１０−２２３８９６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
製造者は、充放電試験装置の試験端子に測定器や放電器などを接続して、充放電電圧や充放電電流を計測し、充放電試験装置の設定を調整する作業を定期的に行わなければならないという問題がある。
【０００６】
本件開示の充放電試験システム、充放電試験装置、校正方法は、二次電池の充放電試験を行いながら自動的に充放電試験装置の校正を行うことができる技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
一つの観点によれば、充放電試験システムは、二次電池の充放電試験を行う充放電試験装置と、充放電試験装置を校正するための校正ユニットとを有する充放電試験システムにおいて、充放電試験装置は、少なくとも１つの充電回路と、充電回路に対向する少なくとも１つの放電回路と、充電回路と放電回路の間に配置された校正ユニットにより計測される計測値を無線により受信する第１通信部と、計測値に基づいて充電回路および放電回路の調整を行う制御部と有し、校正ユニットは、二次電池の代わりに充放電試験装置に配置可能な形状であって、且つ、二次電池の電源端子と同位置に配置される試験端子を有し、二次電池の電源端子の代わりに試験端子を充放電試験装置に接続して、充放電試験装置の充電回路および放電回路の電気的特性を計測する計測部と、計測部が計測した計測値を無線により充放電試験装置に送信する第２通信部とを有することを特徴とする。
【０００８】
一つの観点によれば、充放電試験装置は、少なくとも１つの充電回路と、充電回路に対向する少なくとも１つの放電回路と、充電回路と放電回路の間に配置された校正ユニットにより計測される計測値を無線により受信する第１通信部と、計測値に基づいて充電回路および放電回路の調整を行う制御部とを有することを特徴とする。
【０００９】
一つの観点によれば、校正方法は、二次電池の充放電試験を行う充放電試験装置を校正ユニットを用いて校正を行う校正方法において、充放電試験装置は、少なくとも１つの充電回路と少なくとも１つの放電回路とを対向させて、充電回路および放電回路の間に配置された校正ユニットにより計測される計測値を無線により受信し、計測値に基づいて充電回路および放電回路の調整を行い、校正ユニットは、二次電池の代わりに充放電試験装置に配置可能な形状であって、且つ、二次電池の電源端子と同位置に配置される試験端子を有し、二次電池の電源端子の代わりに試験端子を充放電試験装置に接続して、充放電試験装置の充電回路および放電回路の電気的特性を計測し、無線により計測値を充放電試験装置に送信することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本件開示の充放電試験システム、充放電試験装置、校正方法は、二次電池の充放電試験を行いながら自動的に充放電試験装置の校正を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】二次電池の試験を行うための充放電試験システムの例を示す図である。
【図２】充放電試験装置と校正ユニットおよび二次電池との接続例を示す図である。
【図３】充放電試験システムの例を示す図である。
【図４】校正ユニットにより充放電試験装置の校正を行う時の接続例を示す図である。
【図５】出力回路の動作を示す図である。
【図６】入力回路の動作を示す図である。
【図７】充放電回路の入出力回路および調整回路の一例を示す図である。
【図８】調整回路の一例を示す図である。
【図９】充電電圧および充電電圧の計測値のオフセット調整の処理例を示すフローチャートである。
【図１０】充電電圧および充電電圧の計測値のフルスケール調整の処理例を示すフローチャートである。
【図１１】放電電流および放電電流の計測値のオフセット調整の処理例を示すフローチャートである。
【図１２】放電電流および放電電流の計測値のフルスケール調整の処理例を示すフローチャートである。
【図１３】充電電流および充電電流の計測値のオフセット調整の処理例を示すフローチャートである。
【図１４】充電電流および充電電流の計測値のフルスケール調整の処理例を示すフローチャートである。
【図１５】放電電圧および放電電圧の計測値のオフセット調整の処理例を示すフローチャートである。
【図１６】放電電圧および放電電圧の計測値のフルスケール調整の処理例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、図面を用いて実施形態を説明する。
【００１３】
図１は、二次電池１５０の試験を行うための充放電試験システム１００の例を示す。図１に示した充放電試験システム１００は、製造された二次電池１５０を試験ラインに流して、充電性能や放電性能を検査する充放電試験を行う。充放電試験システム１００は、例えば試験内容別に複数の充放電試験装置１０１を用いる。図１の例では、充放電試験システム１００は、モードＡの試験を行う試験ラインＡ、モードＢの試験を行う試験ラインＢ、モードＣの試験を行う試験ラインＣの三種類の試験ラインを有する。ここで、モードＡ、モードＢおよびモードＣの各試験は、例えば充電電流の大きさや充電パターン、放電電流の大きさや放電パターンなどの試験内容が異なる。例えば、試験内容は、モードＡが急速充電、モードＢが連続放電、モードＣが充電と放電の繰り返し、などである。
【００１４】
図１において、試験ラインＡは、充放電試験装置１０１ａ１、充放電試験装置１０１ａ２、充放電試験装置１０１ａ３・・・などの複数の試験装置を有し、例えば充放電試験装置１０１ａ１は、二次電池１５０＿１に対してモードＡの試験を行う。また、試験ラインＢは、充放電試験装置１０１ｂ１、充放電試験装置１０１ｂ２、充放電試験装置１０１ｂ３・・・などの複数の試験装置を有し、例えば充放電試験装置１０１ｂ２は、二次電池１５０＿２に対してモードＢの試験を行う。同様に、試験ラインＣは、充放電試験装置１０１ｃ１、充放電試験装置１０１ｃ２、充放電試験装置１０１ｃ３・・・などの複数の試験装置を有する。そして、例えば充放電試験装置１０１ｃ１は、二次電池１５０＿３に対して、充放電試験装置１０１ｃ２は二次電池１５０＿４に対して、それぞれモードＣの試験を行う。
【００１５】
尚、充放電試験装置１０１ａ１、１０１ａ２、１０１ａ３、１０１ｂ１、１０１ｂ２、１０１ｂ３、１０１ｃ１、１０１ｃ２および１０１ｃ３は、試験モードの選択が可能な同一又は同様の機能を有する試験装置である。以降の説明において、これらの試験装置に共通の内容を説明する場合、試験装置の符号は、アルファベットのａ＊，ｂ＊，ｃ＊（＊は数字）を除いて、例えば充放電試験装置１０１と表記される。二次電池や校正ユニットなどについても同様の考え方で表記し、二次電池の符号は、例えば複数の二次電池に共通の場合は末尾の「＿数字」を除いて二次電池１５０と表記される。同様に、校正ユニットの符号は、複数の校正ユニットに共通の場合は末尾の「＿数字」を除いて校正ユニット１０２と表記される。
【００１６】
ここで、充放電試験システム１００において、従来の方法で校正試験を行う場合について説明する。保守者は、充放電試験装置１０１が二次電池１５０を試験する時の電気的特性を定期的に検査し、検査結果が予め決められた試験仕様を満たしていない場合、充放電試験装置１０１が試験仕様を満たすように電気的特性を調整する。例えば、保守者は、二次電池１５０の充電試験を行う時の充電電流が規定範囲内にあるか否かを測定する。そして、保守者は、充電電流が規定範囲から外れている場合、充電電流が規定範囲の例えば中央値になるように充放電試験装置１０１を調整する。ここで、充電電流が規定範囲から外れている場合、その充放電試験装置１０１で過去に試験された二次電池１５０の再試験を行うことになるため、保守者は、規定範囲から外れかけている場合でも規定範囲から大きく外れないように調整を行って管理する。
【００１７】
このように、従来の校正作業は、保守者が手動で行っていたので、時間やコストが掛かっていた。また、校正には、精度の良い電源装置や放電抵抗器などが用いられ、設備の大型化やコストなどの面で問題があった。さらに、充電試験および放電試験は、電気エネルギーが熱エネルギーとして無駄に消費されるため、電源ロスが大きく、省電力化の点でも問題があった。
【００１８】
そこで、本実施形態では、保守者は、二次電池１５０の代わりに二次電池１５０の筐体と同一又は同様のサイズの校正ユニット１０２を各試験ラインに流すことにより、充放電試験装置１０１を自動的に校正することができる。
【００１９】
図２は、充放電試験装置１０１と校正ユニット１０２および二次電池１５０との接続例を示す。
【００２０】
図２（ａ）は、充放電試験装置１０１に二次電池１５０を接続する様子を示す。図２（ａ）において、充放電試験装置１０１の試験用の端子１１７は、二次電池１５０の端子１５１と一対一に対応するように配置されている。そして、端子１１７が端子１５１に接触した状態になると、充放電試験装置１０１は、二次電池１５０の試験を開始する。
【００２１】
図２（ｂ）は、充放電試験装置１０１に校正ユニット１０２を接続する様子を示す。校正ユニット１０２は、二次電池１５０と同一又は同様のサイズの筐体であり、二次電池１５０の端子１５１と同一又は同様の配置の端子１１８を有する。そして、校正時に、充放電試験装置１０１の端子１１７は、校正ユニット１０２の端子１１８に接触し、校正ユニット１０２は、充放電試験装置１０１の電気的特性を計測する。
【００２２】
尚、図１において、二次電池１５０や校正ユニット１０２の試験ライン内での移動は、作業者が手動で行ってもよいし、コンベヤーやロボットなどで自動的に移動するようにしてもよい。また、校正ユニット１０２は、同じ試験モードのグループ内を移動するようにしてもよいし、異なる試験モードのグループ間を移動するようにしてもよい。さらに、校正ユニット１０２は、試験ラインに流さない場合、待機用ラック１６０などに置いておく。この場合、校正ユニット１０２は、作業者またはコンベヤーやロボットなどで待機用ラック１６０に移動され、校正時に再び試験ラインに流される。尚、校正スケジュールは、製造工程や製造検査項目に応じて予め決められており、充放電試験システム１００は、校正スケジュールに従って充放電試験装置１０１の校正を行う。また、校正を自動的に行う場合、充放電試験システム１００は、校正スケジュールに従って校正ユニット１０２をコンベヤーやロボットなどで試験ラインに流し、各充放電試験装置１０１の校正を行う。
【００２３】
図３は、充放電試験システム１００の例を示す。充放電試験システム１００において、充放電試験装置１０１は、校正ユニット１０２に接続され、試験管理装置１０３によって制御および管理される。充放電試験装置１０１は、試験管理装置１０３と例えばＬＡＮ（Local Area Network）で接続される。尚、試験管理装置１０３は、同じ試験グループの充放電試験装置１０１を管理してもよいし、複数の試験グループの充放電試験装置１０１を共通に管理してもよい。また、図３では、充放電試験装置１０１と試験管理装置１０３とを別の装置として分離したが、充放電試験装置１０１に試験管理装置１０３の機能を含めて充放電試験装置１０１としてもよい。
［充放電試験装置１０１の例］
図３において、充放電試験装置１０１は、例えば、充放電回路ブロック１１１と、制御回路１１２と、電源回路１１３とを有する。ここで、充放電試験システム１００は、製造ライン上の二次電池１５０や校正ユニット１０２が充放電試験装置１０１に接続されたことを検出するために、例えばＲＦＩＤ（Radio Frequency IDentification）機能を有する。ＲＦＩＤ機能は、ＲＦＩＤタグ１９１に予め記憶された情報をＲＦＩＤリーダ１９２で読み取って、ＲＦＩＤタグ１９１が取り付けられた物品などを認識する技術である。図３の例では、二次電池１５０や校正ユニット１０２にＲＦＩＤタグ１９１を取り付けておく。そして、ＲＦＩＤリーダ１９２は、ＲＦＩＤタグ１９１が数センチメートルの近距離に近づいた時にＲＦＩＤタグ１９１の情報を読み取る。読み取った情報は、制御回路１１２または後述する試験管理装置１０３の制御用のパソコン（パーソナルコンピュータ）１３３で解析される。尚、ＲＦＩＤタグ１９１に予め記憶される情報は、固有の識別情報である。固有の識別情報は、例えば、二次電池１５０や校正ユニット１０２の識別情報でもよいし、二次電池１５０や校正ユニット１０２との対応が分かっていれば、ＲＦＩＤタグ１９１自身の識別番号や識別符号などでもよい。固有の識別情報により、試験管理装置１０３は、二次電池１５０や校正ユニット１０２がどの充放電試験装置１０１に接続されているのかを知ることができる。尚、ＲＦＩＤ機能ではなく、識別情報をバーコードなどの符号に印刷して二次電池１５０や校正ユニット１０２に添付しておき、充放電試験装置１０１に設けたバーコードリーダで読み取るようにしてもよい。
【００２４】
充放電回路ブロック１１１は、充放電回路ＣＯＮＶ１からＣＯＮＶ７までの７つの接地が絶縁された回路を有する。例えば、充放電回路ＣＯＮＶ１は、ｃｈ１とｃｈ２の２つの充放電回路を有する。同様に、充放電回路ＣＯＮＶ２はｃｈ３とｃｈ４、充放電回路ＣＯＮＶ３はｃｈ５とｃｈ６、充放電回路ＣＯＮＶ４はｃｈ７とｃｈ８、充放電回路ＣＯＮＶ５はｃｈ９とｃｈ１０、充放電回路ＣＯＮＶ６はｃｈ１１とｃｈ１２、の２つずつの充放電回路を有する。また、充放電回路ＣＯＮＶ７はｃｈ１３の１つの充放電回路を有する。尚、以降の説明において、充放電回路ＣＯＮＶ１からＣＯＮＶ７に共通の事項を説明する場合は、符号末尾の数字を省略して、充放電回路ＣＯＮＶと表記する。また、各充放電回路ＣＯＮＶは、制御回路１１２により、充電回路または放電回路に設定可能である。さらに、充放電回路ＣＯＮＶ１から充放電回路ＣＯＮＶ７は、二次電池１５０や校正ユニット１０２を接続するための端子１１７を有する。図３の例では、充放電試験装置１０１は、チャネルｃｈ１からｃｈ１３までの１３組のチャネルを有するが、１３組でなくてもよい。尚、各チャネルは、正電源（＋）端子と負電源（−）端子とを有する。
【００２５】
そして、充放電回路ＣＯＮＶ１から充放電回路ＣＯＮＶ７は、制御回路１１２によって、充電回路または放電回路に設定される。制御回路１１２は、充電回路の充電電圧や充電電流、放電回路の放電電圧や放電電流などを制御する。充放電回路ＣＯＮＶ１から充放電回路ＣＯＮＶ７は、試験ライン上の二次電池１５０が接続された時に充放電試験を行い、充放電電流や充放電電圧などの電気的特性を計測して制御回路１１２に出力する。尚、二次電池１５０は、複数のセルが積層されており、セル毎に充放電試験装置１０１の端子に接続され、セル毎に電気的特性が試験される。
【００２６】
制御回路１１２は、ＬＡＮインターフェース回路を有し、試験管理装置１０３に接続され、予め設定された試験モード、或いは試験管理装置１０３から指示される試験内容に従って充放電回路ブロック１１１を制御する。例えば、制御回路１１２は、校正ユニット１０２が接続された時に、試験管理装置１０３から指示されるチャネルｃｈを充電回路や放電回路などに設定する。
【００２７】
電源回路１１３は、商用電源（ＡＣ（Alternating Current）１００Ｖなど）に接続され、充放電回路ブロック１１１および制御回路１１２が動作するための電源を供給する。
［試験管理装置１０３の例］
また、図３において、試験管理装置１０３は、例えば、ＨＵＢ１３１と、無線親機１３２と、パソコン１３３とを有する。
【００２８】
ＨＵＢ１３１は、複数の充放電試験装置１０１と、無線親機１３２と、パソコン１３３とをＬＡＮで接続するためのネットワーク装置である。
【００２９】
無線親機１３２は、試験ライン上の複数の校正ユニット１０２の無線子機１２２と無線で通信するための装置である。
【００３０】
パソコン１３３は、同じ試験グループ内の充放電試験装置１０１、または複数の試験グループの充放電試験装置１０１を制御し、二次電池１５０の製造試験や校正ユニット１０２による校正試験を行う。そして、パソコン１３３は、製造試験や校正試験の前には試験内容の設定、試験中は試験状態のモニタおよび制御、試験後は試験結果の取得および管理などを行う。また、パソコン１３３および制御回路１１２は、校正試験の結果が予め決められた試験仕様を満たしていない場合、充放電回路ＣＯＮＶ１が試験仕様を満たすように、電気的特性を調整する。ここで、校正試験時に、パソコン１３３は、無線親機１３２を介して、試験ライン上の複数の校正ユニット１０２との間で制御情報を送受信したり、各校正ユニット１０２の状態や計測結果などを受信する。尚、本実施形態では、１台の校正ユニット１０２の場合について説明するが、試験管理装置１０３は、複数の校正ユニット１０２であってもＲＦＩＤタグ１９１などから得られる識別情報に基づいて、校正ユニット１０２毎に管理および制御を行うことができる。
［校正ユニット１０２の例］
図３において、校正ユニット１０２は、例えば、制御回路１２０と、計測ブロック１２１と、無線子機１２２と、電源回路１２３と、バッテリー１２４と、を有する。また、校正ユニット１０２は、先に説明したように、自ユニットの識別情報などが記憶されたＲＦＩＤタグ１９１を有し、充放電試験装置１０１は、ＲＦＩＤリーダ１９２によりＲＦＩＤタグ１９１の情報を読み出す。さらに、校正ユニット１０２は、充放電試験装置１０１の端子１１７に接続される端子１１８を有する。尚、図２で説明したように、校正ユニット１０２の端子１１８は、二次電池１５０の端子１５１と同配置の端子であり、二次電池１５０の代わりに充放電試験装置１０１の端子１１７に接続できる。
【００３１】
制御回路１２０は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）などで実現され、ＣＰＵ内部に記憶されたプログラムに従って校正ユニット１０２全体の動作を制御する。例えば、制御回路１２０は、計測ブロック１２１で計測した結果を無線子機１２２から試験管理装置１０３の無線親機１３２に送信する。
【００３２】
計測ブロック１２１は、充放電試験装置１０１と接続される端子１１８の各チャネルの充放電時の電流や電圧などを計測する。制御回路１２０は、計測ブロック１２１の計測内容（電圧、電流など）に応じて回路の切り替えを制御したり、計測ブロック１２１の計測データを読み出す。ここで、計測ブロック１２１は、計測回路２０１と、シャント抵抗Ｒ１と、スイッチアレイ２０２とを有する。計測回路２０１は、電圧計やシャント抵抗Ｒ１を有する電流計などを備え、計測値を制御回路１２０に出力する。スイッチアレイ２０２は、制御回路１２０により、各チャネルｃｈ間の接続を切り替えたり、計測回路２０１の電圧計、電流計、シャント抵抗Ｒ１を任意の場所に接続することができる。
【００３３】
無線子機１２２は、試験管理装置１０３の無線親機１３２との間で無線回線（例えば無線ＬＡＮ回線）を確立し、校正ユニット１０２の情報（計測データ、ユニット情報など）やアラームなどの制御情報を試験管理装置１０３との間で送受信する。また、試験管理装置１０３は、無線親機１３２および無線子機１２２を介して、校正ユニット１０２の制御回路１２０に校正試験の指令を行い、計測するチャネルｃｈや計測位置などを制御する。
【００３４】
電源回路１２３は、バッテリー１２４から電源の供給を受ける。そして、電源回路１２３は、バッテリー１２４から供給される電源を、制御回路１２０、計測ブロック１２１、無線子機１２２などの動作に要する電圧に変換する。図３の例において、電源回路１２３は、バッテリー１２４から供給されるＤＣ＋１６Ｖの電圧をＤＣ±１５Ｖに変換して計測ブロック１２１に供給する。また、電源回路１２３は、ＤＣ＋１６Ｖの電圧をＤＣ＋３．３Ｖに変換して制御回路１２０に供給する。さらに、電源回路１２３は、ＤＣ＋１６Ｖの電圧をＤＣ＋５Ｖに変換して無線子機１２２に供給する。
【００３５】
このように、校正ユニット１０２は、商用電源に接続するための電源コードが無く、試験ラインの二次電池１５０と同様に、スタンドアロンで扱うことができ、二次電池１５０に混ぜて試験ラインに流すことができる。尚、本実施形態に係る校正ユニット１０２は、二次電池１５０と同一又は同様のサイズの筐体で、二次電池１５０の端子１５１と同一又は同様の配置の端子１１８を有する。また、校正ユニット１０２は、充放電試験装置１０１に接続されている間に、充放電試験装置１０１の充放電回路ブロック１１１の一部のチャネルｃｈからバッテリー１２４を充電できるようにしてもよい。或いは、校正ユニット１０２は、バッテリー１２４を搭載せずに、接続中の充放電試験装置１０１の充放電回路ブロック１１１の一部のチャネルから電源の供給を受けるようにしてもよい。いずれの場合であっても、校正ユニット１０２は、電源ケーブルや通信ケーブルなどが無く、試験ラインに二次電池１５０と共に流すことができ、充放電試験装置１０１を自動的に校正することができる。
【００３６】
図３において、充放電試験回路１０１の充放電回路ブロック１１１は、充放電回路ＣＯＮＶ１からＣＯＮＶ７までの７つの充放電回路を有する。尚、各充放電回路は、それぞれ独立して接地され、互いに絶縁されている。例えば、充放電回路ＣＯＮＶ１は、共通に接地されたチャネルｃｈ１とｃｈ２とを有する。また、充放電回路ＣＯＮＶ２は、共通に接地されたチャネルｃｈ３とｃｈ４、充放電回路ＣＯＮＶ３は、共通に接地されたチャネルｃｈ５とｃｈ６、充放電回路ＣＯＮＶ４は、共通に接地されたチャネルｃｈ７とｃｈ８とを有する。同様に、充放電回路ＣＯＮＶ５は、共通に接地されたチャネルｃｈ９とｃｈ１０、充放電回路ＣＯＮＶ６は、共通に接地されたチャネルｃｈ１１とｃｈ１２とを有する。そして、充放電回路ＣＯＮＶ７は、ｃｈ１３を有する。そして、充放電回路ＣＯＮＶ１からＣＯＮＶ７は、接地が互いに絶縁されている。
【００３７】
そして、充放電回路ＣＯＮＶ１のｃｈ１からＣＯＮＶ３のｃｈ６までのいずれかのチャネルに対して放電回路の校正試験を行う場合、充放電試験装置１０１は、充放電回路ＣＯＮＶ１からＣＯＮＶ３と接地が絶縁された対向する充放電回路ＣＯＮＶを選択する。例えば、充放電試験装置１０１は、対向する充放電回路ＣＯＮＶとして、充放電回路ＣＯＮＶ４のｃｈ７からＣＯＮＶ７のｃｈ１３までのいずれかのチャネルを充電回路に設定する。そして、校正ユニット１０２の計測回路２０１は、放電回路に設定されたチャネルｃｈ１からｃｈ６のいずれかのチャネルの放電電圧や放電電流を計測する。逆に、充放電回路ＣＯＮＶ１からＣＯＮＶ３のチャネルｃｈ１からｃｈ６のいずれかのチャネルに対して充電回路の校正試験を行う場合、充放電試験装置１０１は、充放電回路ＣＯＮＶ１からＣＯＮＶ３と接地が絶縁された対向する充放電回路ＣＯＮＶを選択する。例えば、充放電試験装置１０１は、対向する充放電回路ＣＯＮＶとして、充放電回路ＣＯＮＶ４のｃｈ７からＣＯＮＶ７のｃｈ１３までのいずれかのチャネルを放電回路に設定する。そして、校正ユニット１０２の計測回路２０１は、充電回路に設定されたチャネルｃｈ１からｃｈ６のいずれかのチャネルの充電電圧や充電電流、或いは、放電回路に設定されたチャネルｃｈ７からｃｈ１３のいずれかのチャネルの放電電圧や放電電流を計測する。
【００３８】
このようにして、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、充放電回路ＣＯＮＶ１からＣＯＮＶ７のチャネルｃｈ１からｃｈ１３に対して、充電回路または放電回路の校正試験を行うことができる。
【００３９】
図４は、校正ユニット１０２により充放電試験装置１０１の校正を行う時の接続例を示す。尚、図４において、図３と同符号のブロックは、同一又は同様の機能を有する。
【００４０】
図４に示した充放電試験装置１０１は、図３に示した充放電試験装置１０１の主要部分（充放電回路ブロック１１１と制御回路１１２）を描いてあり、他の部分は省略されている。また、図４に示した校正ユニット１０２は、図３に示した校正ユニット１０２の主要部分（制御回路１２０、計測ブロック１２１、無線子機１２２）を描いてあり、他の部分は省略されている。同様に、図４に示した試験管理装置１０３は、図３に示した試験管理装置１０３の主要部分（無線親機１３２とパソコン１３３）を描いてあり、他の部分は省略されている。
【００４１】
尚、以降で説明する校正例において、充放電試験装置１０１は、充放電回路ブロック１１１の７つの充放電回路ＣＯＮＶのうち、充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１と充放電回路ＣＯＮＶ４のチャネルｃｈ７とを対向させて動作する。そして、充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１は充電回路、充放電回路ＣＯＮＶ４のチャネルｃｈ７は放電回路、にそれぞれ設定され、校正ユニット１０２は、チャネルｃｈ１とチャネルｃｈ７の間の電気的特性を計測する。この時、校正ユニット１０２は、チャネルｃｈ１とチャネルｃｈ７の間の電気的特性を計測できるように、図３に示したスイッチアレイ２０２を制御して、電圧計１４２、電圧計１４３、シャント抵抗Ｒ１および電流計１４１を任意の場所に接続する。尚、電圧計１４２と電圧計１４３は、１台の電圧計を、適宜、切り替えて用いてもよい。
【００４２】
ここで、充放電回路ＣＯＮＶは、制御回路１１２により充電回路または放電回路に設定可能であるが、図４の例では、充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１は、充電回路に設定された状態を示している。同様に、充放電回路ＣＯＮＶ４のチャネルｃｈ７は、放電回路に設定された状態を示している。尚、充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１が放電回路に設定された場合、充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１は、図４の充放電回路ＣＯＮＶ４のチャネルｃｈ７と同じ状態に設定される。同様に、充放電回路ＣＯＮＶ４のチャネルｃｈ７が充電回路に設定された場合、充放電回路ＣＯＮＶ４のチャネルｃｈ７は、図４の充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１と同じ状態に設定される。本実施形態に係る充放電試験システム１００は、他の充放電回路ＣＯＮＶ２，ＣＯＮＶ３，ＣＯＮＶ５，ＣＯＮＶ６およびＣＯＮＶ７の校正を行う場合についても、充放電回路ＣＯＮＶ１および充放電回路ＣＯＮＶ４と同様に設定する。
【００４３】
図４において、充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１は、出力回路１６１と、調整回路１６２と、Ｄ／Ａ（Digital／Analog変換器）１６５，１６６とを有し、充電回路として設定される。さらに、充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１は、シャント抵抗Ｒ２と、調整回路１６３，１６４と、Ａ／Ｄ（Analog／Digital変換器）１６７，１６８とを有し、出力回路１６１から出力される充電時の電圧値および電流値をモニタする。
【００４４】
シャント抵抗Ｒ２は、後述する出力回路１６１の電流値を電圧値に変換してモニタするための抵抗である。尚、図４の例では、シャント抵抗Ｒ２は、正電源（＋）側の経路に配置されているが、充放電回路ＣＯＮＶ１とＣＯＮＶ４の接地は絶縁されているので、負電源（−）側の経路に配置してもよい。
【００４５】
出力回路１６１は、後述する調整回路１６２により調整された電圧および電流を出力する。尚、出力回路１６１は、図３に示した電源回路１１３から供給される電源を所望の電圧値および電流値に変換して出力する。
【００４６】
図５は、出力回路１６１の動作を示す。図５（ａ）において、出力回路１６１は、制御回路１１２により設定された定格電圧および定格電流を維持するように、ＣＶ（定電圧：Constant Voltage）−ＣＣ（定電流：Constant current）動作を行う。例えば、制御回路１１２は、出力回路１６１に対して、定電圧：５Ｖ、定電流：１００Ａのように設定し、負荷抵抗ＶＲａをオープン状態（無限大（∞））からショート状態（０Ω）まで可変して出力回路１６１の充電特性を試験する。図５（ｂ）は、負荷抵抗ＶＲａを∞から０Ωまで可変した時の電圧Ｖと電流Ｉの変化を示す。図５（ｂ）において、横軸が電流Ｉ（Ａ）、縦軸が電圧Ｖ（Ｖ）をそれぞれ示す。図５（ｂ）に示すように、出力回路１６１は、定格電圧（例えば５Ｖ）を維持しながら充電動作を行い、定格電流（例えば１００Ａ）になると電圧Ｖは０Ｖに垂下して、充電を終了する。
【００４７】
図４において、調整回路１６２は、制御回路１１２から与えられる充電時の電圧設定値および充電時の電流設定値になるように、出力回路１６１を調整する。そして、電圧調整用のオフセットおよびゲインと、電流調整用のオフセットおよびゲインとが制御回路１１２から与えられる。
【００４８】
ここで、制御回路１１２が調整回路１６２および後述する調整回路１６３，１６４，１７２，１７３，１７４に対して行うオフセット調整とフルスケール調整について説明する。オフセット調整は、０Ｖ（または０Ａ）などのゼロ点を調整する処理である。例えば、オフセット調整は、０Ｖ（または０Ａ）を設定した時に、実際の回路の充放電電圧（または充放電電流）が０Ｖ（または０Ａ）になるようにオフセットを求める。また、フルスケール調整は、例えば５Ｖ（または１００Ａ）などの最大定格値に合わせる処理である。例えば、充放電試験装置１０１は、オフセット調整された０Ｖ（または０Ａ）と、最大定格値の５Ｖ（または１００Ａ）との電圧特性（または電流特性）の傾きに相当するゲインを求める。尚、本実施形態では、例えば０Ｖ（または０Ａ）から５Ｖ（または１００Ａ）までの特性は、直線であるものとして扱う。従って、充放電回路ＣＯＮＶの充放電電圧（または充放電電流）のオフセット調整とフルスケール調整とを行うことにより、充放電回路ＣＯＮＶの電圧特性（または電流特性）の校正を行うことができる。
【００４９】
調整回路１６３は、シャント抵抗Ｒ２の両端の電位差から出力回路１６１の電流値をモニタするための回路を有する。そして、制御回路１１２は、モニタする電流値が出力回路１６１に設定された電流値に合致するように、調整回路１６３の電流モニタ用のオフセットおよびゲインを調整する。
【００５０】
調整回路１６４は、チャネルｃｈ１から出力される充電時の電圧値をモニタするための回路を有する。そして、制御回路１１２は、モニタする充電時の電圧値が出力回路１６１に設定された電圧値に合致するように、調整回路１６４の電圧モニタ用のオフセットおよびゲインを調整する。
【００５１】
Ｄ／Ａ１６５は、制御回路１１２からデジタル値で与えられる充電時の電圧設定値をアナログ信号に変換して調整回路１６２に出力する。
【００５２】
Ｄ／Ａ１６６は、制御回路１１２からデジタル値で与えられる充電時の電流設定値をアナログ信号に変換して調整回路１６２に出力する。
【００５３】
Ａ／Ｄ１６７は、調整回路１６３でモニタされた充電時の電流値を示すアナログ信号をデジタル値に変換して制御回路１１２に出力する。
【００５４】
Ａ／Ｄ１６８は、調整回路１６４でモニタされた充電時の電圧値を示すアナログ信号をデジタル値に変換して制御回路１１２に出力する。
【００５５】
一方、図４において、放電回路に設定された充放電回路ＣＯＮＶ４のチャネルｃｈ７は、入力回路１７１と、調整回路１７２と、Ｄ／Ａ１７５，１７６とを有し、放電回路として設定される。さらに、充放電回路ＣＯＮＶ４のチャネルｃｈ７は、シャント抵抗Ｒ３と、調整回路１７３，１７４と、Ａ／Ｄ１７７，１７８とを有し、校正ユニット１０２を介してチャネルｃｈ７に入力される放電時の電圧値および電流値をモニタする。
【００５６】
シャント抵抗Ｒ３は、校正ユニット１０２を介してチャネルｃｈ７に入力される放電時の電流値を電圧値に変換してモニタするための抵抗である。尚、図４の例では、シャント抵抗Ｒ３は、正電源（＋）側の経路に配置されているが、充放電回路ＣＯＮＶ１とＣＯＮＶ４の接地は絶縁されているので、負電源（−）側の経路に配置してもよい。
【００５７】
入力回路１７１は、放電試験時の負荷として機能し、制御回路１１２により設定された放電電圧および放電電流になるように、後述する調整回路１７２により調整される。尚、入力回路１７１は、放電時の電気エネルギーを図３に示した電源回路１１３に回生する機能を有する。
【００５８】
図６は、入力回路１７１の動作を示す。図６（ａ）は、直流電源ＰＳと内部インピーダンスＺの等価回路で示した電源側（二次電池１５０または充電回路）を入力回路１７１に接続する様子を示している。図６（ａ）において、入力回路１７１は、制御回路１１２により設定された定格電圧および定格電流を維持するように、ＣＶ−ＣＣ動作を行う。例えば、制御回路１１２は、入力回路１７１に対して、定電圧：５Ｖ、定電流：１００Ａのように設定し、入力回路１７１は、５Ｖと１００Ａを維持しながら放電試験を行う。図６（ｂ）は、定電圧ダイオードＤｖと定電流ダイオードＤａを並列に配置した入力回路１７１の等価回路の一例を示している。このように、入力回路１７１は、定電圧ダイオードＤｖと定電流ダイオードＤａにより、例えば５Ｖの定電圧と１００Ａの定電流を維持する。尚、図６（ｂ）の例では、放電エネルギーは各ダイオードで熱になるが、実際には回生回路によって放電エネルギーは電源側に回生される。
【００５９】
図４において、調整回路１７２は、制御回路１１２から与えられる放電時の電圧設定値および放電時の電流設定値になるように、入力回路１７１を調整する。そして、電圧調整用のオフセットおよびゲインと、電流調整用のオフセットおよびゲインとが制御回路１１２から与えられる。
【００６０】
調整回路１７３は、シャント抵抗Ｒ３の両端の電位差から放電時の電流値をモニタするための回路を有する。そして、制御回路１１２は、モニタする放電時の電流値が入力回路１７１に設定された電流値に合致するように、調整回路１７３の電流モニタ用のオフセットおよびゲインを調整する。
【００６１】
調整回路１７４は、チャネルｃｈ７に入力される放電時の電圧値をモニタするための回路を有する。そして、制御回路１１２は、モニタする放電時の電圧値が入力回路１７１に設定された電圧値に合致するように、調整回路１７４の電圧モニタ用のオフセットおよびゲインを調整する。
【００６２】
Ｄ／Ａ１７５は、制御回路１１２からデジタル値で与えられる放電時の電圧設定値をアナログ信号に変換して調整回路１７２に出力する。
【００６３】
Ｄ／Ａ１７６は、制御回路１１２からデジタル値で与えられる放電時の電流設定値をアナログ信号に変換して調整回路１７２に出力する。
【００６４】
Ａ／Ｄ１７７は、調整回路１７３でモニタされた放電時の電流値を示すアナログ信号をデジタル値に変換して制御回路１１２に出力する。
【００６５】
Ａ／Ｄ１７８は、調整回路１７４でモニタされた放電時の電圧値を示すアナログ信号をデジタル値に変換して制御回路１１２に出力する。
【００６６】
このようにして、充放電試験装置１０１は、充放電回路ブロック１１１の７つの充放電回路ＣＯＮＶのうち、充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１と充放電回路ＣＯＮＶ４のチャネルｃｈ７とを対向させて動作する。そして、制御回路１１２は、充電回路に設定された充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１の充電時の電圧値および電流値を設定し、調整回路１６２を調整する。また、制御回路１１２は、放電回路に設定された充放電回路ＣＯＮＶ４のチャネルｃｈ７の放電時の電圧値および電流値を設定し、調整回路１７２を調整する。さらに、制御回路１１２は、充電側でモニタする電圧値が出力回路１６１の電圧設定値に合致するように、モニタ時の調整回路１６４の電圧調整用のオフセットおよびゲインを調整する。同様に、制御回路１１２は、充電側でモニタする電流値が出力回路１６１の電流設定値に合致するように、モニタ時の調整回路１６３の電流調整用のオフセットおよびゲインを調整する。また、制御回路１１２は、放電側でモニタする電圧値が入力回路１７１の電圧設定値に合致するように、モニタ時の調整回路１７４の電圧調整用のオフセットおよびゲインを調整する。同様に、制御回路１１２は、放電側でモニタする電流値が入力回路１７１の電流設定値に合致するように、モニタ時の調整回路１７４の電流調整用のオフセットおよびゲインを調整する。
【００６７】
一方、図４において、校正ユニット１０２のチャネルｃｈ１は、充放電試験装置１０１のチャネルｃｈ１に、校正ユニット１０２のチャネルｃｈ７は、充放電試験装置１０１のチャネルｃｈ７に、それぞれ接続される。そして、計測ブロック１２１の内部で、チャネルｃｈ１の負電源（−）側はチャネルｃｈ７の負電源（−）側と接続され、チャネルｃｈ１の正電源（＋）側はチャネルｃｈ７の正電源（＋）側とシャント抵抗Ｒ１を介して接続される。尚、充放電回路ＣＯＮＶ１とＣＯＮＶ４の接地は絶縁されているので、シャント抵抗Ｒ１は、負電源（−）側の経路に配置してもよい。
【００６８】
図４の例では、制御回路１２０は、チャネルｃｈ１の正電源（＋）と負電源（−）の電圧（Ｖｋｃ）を電圧計１４３でモニタし、無線子機１２２から試験管理装置１０３の無線親機１３２に送信する。同様に、制御回路１２０は、チャネルｃｈ７の正電源（＋）と負電源（−）の電圧（Ｖｋｄ）を電圧計１４２でモニタし、無線子機１２２から試験管理装置１０３の無線親機１３２に送信する。また、制御回路１２０は、チャネルｃｈ１の正電源（＋）とチャネルｃｈ７の正電源（＋）との間に配置されたシャント抵抗Ｒ１に流れる電流（Ｉｋ）を電流計１４１でモニタし、無線子機１２２から試験管理装置１０３の無線親機１３２に送信する。
【００６９】
ここで、充放電試験装置１０１は、二次電池１５０の充電試験を行う場合、充放電回路ＣＯＮＶを充電回路に設定し、二次電池１５０を充電する時の充電電圧や充電電流をモニタして二次電池１５０の充電特性を検査する。或いは、充放電試験装置１０１は、二次電池１５０の放電試験を行う場合、充放電回路ＣＯＮＶを放電回路に設定し、二次電池１５０が放電する時の放電電圧や放電電流をモニタして二次電池１５０の放電特性を検査する。このようにして、充放電試験装置１０１は、二次電池１５０の品質を検査する。本実施形態に係る充放電試験システム１００は、充放電試験装置１０１の充電回路や放電回路が規定通りに動作しているか否かを校正ユニット１０２を用いて校正するシステムである。
【００７０】
例えば、充放電試験装置１０１の充電回路を校正する場合、充電回路に接続される二次電池１５０の代わりに、充電回路に対向する充放電回路ＣＯＮＶを放電回路に設定する。そして、校正ユニット１０２は、充電回路と放電回路との間に接続され、充電回路の充電電圧や充電電流を計測し、計測値を充放電試験装置１０１にフィードバックして充電回路の校正を行う。
【００７１】
また、充放電試験装置１０１の放電回路を校正する場合、放電回路に接続される二次電池１５０の代わりに、放電回路に対向する充放電回路ＣＯＮＶを充電回路に設定する。そして、校正ユニット１０２は、放電回路と充電回路との間に接続され、放電回路の放電電圧や放電電流を計測し、計測値を充放電試験装置１０１にフィードバックして放電回路の校正を行う。
【００７２】
このように、校正ユニット１０２は、充電回路と放電回路との間に接続されて、充電電圧、充電電流、放電電圧、放電電流などの電気的特性を計測し、各計測値を無線で試験管理装置１０３に送信する。そして、試験管理装置１０３は、校正ユニット１０２から受信した各計測値をパソコン１３３から充放電試験装置１０１の制御回路１１２に出力する。制御回路１１２は、校正ユニット１０２の各計測値に基づいて、充電回路または放電回路の電気的特性が予め決められた規定値になるように調整する。尚、充放電試験装置１０１は、充放電回路ＣＯＮＶの内部でモニタする電気的特性の計測値も調整する。尚、パソコン１３３と制御回路１１２とが行う制御は、パソコン１３３または制御回路１１２のどちらが行ってもよく、パソコン１３３と制御回路１１２の機能を併合した１つの制御部を設けてもよい。
【００７３】
図７は、充放電回路ＣＯＮＶの入出力回路および調整回路の一例を示す。尚、図７は、図４に示した出力回路１６１（または入力回路１７１）および調整回路１６２（または調整回路１７２）の回路例である。ここで、充放電回路ＣＯＮＶは、充電回路として動作する場合は出力回路１６１に、放電回路として動作する場合は入力回路１７１にそれぞれ設定することができる。
【００７４】
図７において、出力回路１６１（または入力回路１７１）は、図３に示した電源回路１１３から供給される電源ＰＷ１と、回生インバータＩＮＶ１とを有する。出力回路１６１の場合、電源ＰＷ１は、回生インバータＩＮＶ１を介して電源を供給する。入力回路１７１の場合、回生インバータＩＮＶ１は、放電時の電気エネルギーを電源ＰＷ１に回生する。これにより、放熱抵抗器を用いて放電試験を行う方法に比べて、省電力化を図ることができる。尚、コンデンサＣ１は、平滑用のコンデンサである。
【００７５】
出力回路１６１として動作させる場合、制御回路１１２は、入出力切替信号ＳＥＬを出力して、スイッチＳＷ３をａ側に切り替え、調整回路１６２の出力をスイッチＳＷ１に与える。そして、調整回路１６２は、スイッチＳＷ１をスイッチングさせて、出力電圧および出力電流を制御する。ここで、ダイオードＤ１は、スイッチＳＷ１をスイッチングする時に生じるコイルＬ１の逆電流をバイパスする。また、ダイオードＤ１は、放電時の電流を回生インバータＩＮＶ１に流し、回生インバータＩＮＶ１は、電気エネルギーを電源ＰＷ１に回生する。尚、コイルＬ１は、チョークコイルとして機能し、コンデンサＣ２と共に、出力する電源の平滑化を行う。
【００７６】
抵抗Ｒ１１は、出力回路１６１が出力する電流をモニタするためのシャント抵抗である。抵抗Ｒ１１の両端に生じる電位差は、調整回路１６２に入力され、抵抗Ｒ１１に流れる電流値としてモニタされる。
【００７７】
抵抗Ｒ１２および抵抗Ｒ１３は、出力回路１６１が出力する電圧をモニタするための抵抗で、出力回路１６１の正電源（＋）と負電源（−）に直列に挿入され、分圧された電圧が調整回路１６２に入力される。
【００７８】
ここで、上記の説明は、出力回路１６１の例を示すが、入力回路１７１として動作させる場合、制御回路１１２は、入出力切替信号ＳＥＬによりスイッチＳＷ３をｂ側に切り替え、調整回路１７２の出力をスイッチＳＷ２に与える。そして、調整回路１７２は、スイッチＳＷ２をスイッチングさせて、放電時の入力電圧および入力電流を制御する。ここで、ダイオードＤ２は、スイッチＳＷ２をスイッチングする時に生じる逆電流をバイパスする。
【００７９】
このようにして、制御回路１１２は、入出力切替信号ＳＥＬにより、スイッチＳＷ３を切り替えて、充放電回路ＣＯＮＶの各チャネルｃｈを出力回路１６１または入力回路１７１に設定する。
【００８０】
次に、調整回路１６２または調整回路１７２について説明する。図７において、調整回路１６２または調整回路１７２は、オペアンプＯＰ１と、オペアンプＯＰ２と、オペアンプＯＰ３と、ダイオードＤ３と、ダイオードＤ４と、コンパレータＣＭＰ１と、抵抗Ｒ１４と、鋸波発振器ＧＥＮ１とを有する。
【００８１】
オペアンプＯＰ１は、抵抗Ｒ１１の両端に生じる電位差を充電時または放電時の電流値として検出する。尚、抵抗Ｒ１１は、例えば抵抗値がミリオームオーダーの電流計測用のシャント抵抗であり、抵抗Ｒ１１による電圧降下は無視できる。
【００８２】
オペアンプＯＰ２は、オペアンプＯＰ１が検出した電流値と制御回路１１２により設定される電流値との差分を出力する。
【００８３】
オペアンプＯＰ３は、抵抗Ｒ１２および抵抗Ｒ１３により検出される電圧値と制御回路１１２により設定される電圧値との差分を出力する。尚、抵抗Ｒ１２および抵抗Ｒ１３は、例えば抵抗値がメガオームオーダーであり、抵抗Ｒ１２および抵抗Ｒ１３に流れる電流は無視できる。
【００８４】
ダイオードＤ３およびダイオードＤ４は、抵抗Ｒ１４で電源電圧Ｖｃｃにプルアップされており、オペアンプＯＰ２およびオペアンプＯＰ３の出力の論理和を求める。そして、ダイオードＤ３およびダイオードＤ４が出力する論理和は、コンパレータＣＭＰ１に入力される。
【００８５】
コンパレータＣＭＰ１は、後述する鋸波発振器ＧＥＮ１が出力する鋸波と、ダイオードＤ３およびダイオードＤ４の論理和の出力とを比較し、矩形波を出力する。尚、オペアンプＯＰ２またはオペアンプＯＰ３の出力が小さくなると、コンパレータＣＭＰ１が出力する矩形波の正の期間が長くなる。逆に、オペアンプＯＰ２またはオペアンプＯＰ３の出力が大きくなると、コンパレータＣＭＰ１が出力する矩形波の正の期間が短くなる。ここで、コンパレータＣＭＰ１が出力する矩形波の正の期間は、スイッチＳＷ１またはスイッチＳＷ２を閉じる期間に対応する。
【００８６】
鋸波発振器ＧＥＮ１は、予め設定された周期の鋸波を出力する発振器である。
【００８７】
このようにして、制御回路１１２は、スイッチＳＷ１（またはスイッチＳＷ２）をオンオフする比率を可変して、出力電圧および出力電流（または入力電圧および入力電流）を制御する。
【００８８】
ここで、オペアンプＯＰ２およびオペアンプＯＰ３は、図７の点線の吹き出し部分に示したように、増幅率を調整するための可変抵抗ＶＲ１が出力端子から入力端子にフィードバックされている。可変抵抗ＶＲ１は、電圧（または電流）を可変するためのゲイン調整に用いられ、制御回路１１２により制御される。尚、ゲイン調整は、ゲインを大きくすると電圧（または電流）が大きくなり、ゲインを小さくすると電圧（または電流）が小さくなる。また、オペアンプＯＰ２およびオペアンプＯＰ３には、出力信号のオフセットを調整するための可変抵抗ＶＲ２が接続されている。可変抵抗ＶＲ２は、電圧（または電流）のオフセット調整を行うために用いられ、制御回路１１２により制御される。尚、オフセット調整は、電圧（または電流）の設定が０Ｖ（または０Ａ）の時に実際の出力が０Ｖ（または０Ａ）になるように制御回路１１２により制御される。このようにして、制御回路１１２は、可変抵抗ＶＲ１および可変抵抗ＶＲ２を制御して、出力回路１６１の充電電圧または充電電流と、入力回路１７１の放電電圧または放電電流との調整を行う。尚、調整は、制御回路１１２から与えられる電圧設定値、電流設定値、電圧調整用のゲイン／オフセット、電流調整用のゲイン／オフセットなどにより行われる。
【００８９】
同様に、図４に示した調整回路１６３，１６４は、制御回路１１２から与えられるモニタ電圧調整用のゲイン（Ｇｃ）／オフセット（ＯＦｃ）およびモニタ電流調整用のゲイン（Ｇｄ）／オフセット（ＯＦｄ）により、それぞれ調整される。
【００９０】
図８は、調整回路１６３，１６４の一例を示す。
【００９１】
図８において、調整回路１６３は、オペアンプＯＰ１１と、可変抵抗ＶＲ１１と、可変抵抗ＶＲ１２とを有する。オペアンプＯＰ１１は、シャント抵抗Ｒ２の両端に生じる電位差を出力回路１６１が出力する電流値として検出する。オペアンプＯＰ１１は、図７に示したオペアンプＯＰ３と同様に、可変抵抗ＶＲ１１によりゲイン（Ｇｃ）を調整することができ、可変抵抗ＶＲ１１は、制御回路１１２により制御される。また、オペアンプＯＰ１１は、図７に示したオペアンプＯＰ３と同様に、出力信号のオフセット（ＯＦｃ）を調整するための可変抵抗ＶＲ１２が接続され、可変抵抗ＶＲ１２は、制御回路１１２により制御される。このようにして、調整回路１６３は、シャント抵抗Ｒ２により検出した電流値の大きさを調整してＡ／Ｄ１６７に出力し、Ａ／Ｄ１６７は、アナログの電流値をデジタルの電流値（Ｉｃｍ）に変換して制御回路１１２に出力する。
【００９２】
図８において、調整回路１６４は、オペアンプＯＰ１２と、可変抵抗ＶＲ２１と、可変抵抗ＶＲ２２とを有する。オペアンプＯＰ１２は、チャネルｃｈ１の正電源（＋）と負電源（−）との間の電圧値を検出する。オペアンプＯＰ１２は、オペアンプＯＰ１１と同様に、可変抵抗ＶＲ２１によりゲイン（Ｇｄ）、可変抵抗ＶＲ２２によりオフセット（ＯＦｄ）をそれぞれ調整することができ、可変抵抗ＶＲ２１、ＶＲ２２は、制御回路１１２により制御される。このようにして、調整回路１６４は、チャネルｃｈ１の正電源（＋）と負電源（−）との間の電圧値の大きさを調整してＡ／Ｄ１６８に出力し、Ａ／Ｄ１６８は、アナログの電圧値をデジタルの電圧値（Ｖｃｍ）に変換して制御回路１１２に出力する。
【００９３】
尚、図４に示した調整回路１７３は、図８に示した調整回路１６３と同様の回路を有し、シャント抵抗Ｒ２の代わりにシャント抵抗Ｒ３に流れる電流値を検出し、Ａ／Ｄ１７７でデジタル値に変換した電流値（Ｉｄｍ）を制御回路１１２に出力する。そして、調整回路１７３は、調整回路１６３と同様に、オフセット（ＯＦｇ）およびゲイン（Ｇｇ）により、検出した電流値の大きさを可変することができ、制御回路１１２により制御される。
【００９４】
また、図４に示した調整回路１７４は、図８に示した調整回路１６４と同様の回路を有し、チャネルｃｈ７の正電源（＋）と負電源（−）との間の電圧値の大きさを調整してＡ／Ｄ１７８に出力する。Ａ／Ｄ１７８は、アナログの電圧値をデジタルの電圧値（Ｖｄｍ）に変換して制御回路１１２に出力する。そして、調整回路１７４は、調整回路１６４と同様に、オフセット（ＯＦｈ）およびゲイン（Ｇｈ）により、検出した電圧値の大きさを可変することができ、制御回路１１２により制御される。
【００９５】
このようにして、制御回路１１２は、調整回路１６２と調整回路１７２により、出力回路１６１の充電電圧または充電電流と、入力回路１７１の放電電圧または放電電流との調整を行う。また、制御回路１１２は、調整回路１６３，１６４，１７３，１７４により、充電電圧または充電電流のモニタ値と、入力回路１７１の放電電圧または放電電流のモニタ値との調整を行う。
［充電電圧および充電電圧の計測値のオフセット調整］
図９は、充電電圧および充電電圧の計測値のオフセット調整の処理例を示す。
【００９６】
図９のフローチャートは、充放電試験装置１０１の制御回路１１２と、校正ユニット１０２の制御回路１２０と、試験管理装置１０３のパソコン１３３とにより実行される処理である。ここで、試験管理装置１０３が充放電試験装置１０１に一体化される場合は、図９のフローチャートは、充放電試験装置１０１の制御回路１１２と、校正ユニット１０２の制御回路１２０とにより実行される。尚、後で説明する図１０から図１６までのフローチャートについても同様である。
【００９７】
ステップＳ１０１において、制御回路１１２は、充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１を充電回路に設定する。例えば、充電回路に設定する場合、制御回路１１２は、図７に示したように、入出力切替信号ＳＥＬによりスイッチＳＷ３をａ側に切り替え、充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１を出力回路１６１として動作させる。
【００９８】
ステップＳ１０２において、制御回路１１２は、充電電圧（Ｖｃ）を設定する。図９の例ではオフセット調整を行うので、制御回路１１２は、Ｖｃ＝０Ｖに設定する。
【００９９】
ステップＳ１０３において、制御回路１１２は、充電電圧のオフセット（ＯＦａ）を設定する。例えば、制御回路１１２は、オフセットの初期値として、ＯＦａ＝最大値に設定する。尚、最大値は、回路的に設定可能な値で、例えば充電電圧が５Ｖの場合、０．２Ｖなどの値に設定される。
【０１００】
ステップＳ１０４において、制御回路１１２は、試験管理装置１０３を介して、校正ユニット１０２からチャネルｃｈ１の電圧計１４３の計測電圧（Ｖｋｃ）を取得する。
【０１０１】
ステップＳ１０５において、制御回路１１２は、Ｖｋｃ＝０Ｖであるか否かを判別し、Ｖｋｃ＝０Ｖではない場合、ステップＳ１０６の処理に進み、Ｖｋｃ＝０Ｖの場合、ステップＳ１０７の処理に進む。尚、計測電圧（Ｖｋｃ）が０Ｖであるか否かは、予め決められた所定の範囲（例えば、±０．００１Ｖの範囲）にあるか否かで判別してもよい。
【０１０２】
ステップＳ１０６において、制御回路１１２は、調整回路１６２の充電電圧のオフセット（ＯＦａ）を調整する。例えば、ＯＦａ＝最大値に設定されている場合、制御回路１１２は、ＯＦａを徐々に小さい値に変更する。そして、制御回路１１２は、ステップＳ１０６の処理後にステップＳ１０４の処理に戻る。
【０１０３】
ここで、以降の説明において、オフセットやゲインの調整は、初期値に応じてオフセットやゲインを徐々に変更して、ステップＳ１０５の条件に合致するオフセットやゲインの調整値を求める。例えば、制御回路１１２は、ＯＦａの初期値が最大値に設定されている場合は最大値から徐々に小さい値に変更し、ＯＦａの初期値が最小値に設定されている場合は最小値から徐々に大きい値に変更する。
【０１０４】
ステップＳ１０７において、制御回路１１２は、計測電圧（Ｖｋｃ）が０Ｖになった時の充電電圧のオフセット（ＯＦａ）の調整値をＣＯＮＶ１の調整値として保存する。例えば、Ｖｋｃ＝０Ｖになった時の充電電圧のオフセット（ＯＦａ）がＯＦａ１の場合、調整値はＯＦａ１となる。尚、調整値のＯＦａ１は、二次電池１５０の充電試験を行う時の調整回路１６２の電圧用のオフセットとして使用される。
【０１０５】
ステップＳ１０１からＳ１０７までの処理により、調整回路１６２による充電電圧（Ｖｃ）のオフセット（ＯＦａ）の調整が終了する。続いて、制御回路１１２は、調整回路１６４による充電電圧のモニタ電圧（Ｖｃｍ）のオフセット（ＯＦｄ）を調整する。
【０１０６】
ステップＳ１０８において、制御回路１１２は、調整回路１６４により、チャネルｃｈ１の正電源（＋）と負電源（−）の間のモニタ電圧（Ｖｃｍ）を計測する。
【０１０７】
ステップＳ１０９において、制御回路１１２は、Ｖｃｍ＝０Ｖであるか否かを判別し、Ｖｃｍ＝０Ｖではない場合、ステップＳ１１０の処理に進み、Ｖｃｍ＝０Ｖの場合、ステップＳ１１１の処理に進む。尚、モニタ電圧（Ｖｃｍ）が０Ｖであるか否かは、ステップＳ１０５の計測電圧（Ｖｋｃ）と同様に、０Ｖ近傍の範囲内にあるか否かで判断してもよい。
【０１０８】
ステップＳ１１０において、制御回路１１２は、調整回路１６４のモニタ電圧（Ｖｃｍ）のオフセット（ＯＦｄ）を調整する。そして、制御回路１１２は、ステップＳ１１０の処理後にステップＳ１０８の処理に戻る。
【０１０９】
ステップＳ１１１において、制御回路１１２は、モニタ電圧（Ｖｃｍ）が０Ｖになった時のモニタ電圧のオフセット（ＯＦｄ）の調整値をＣＯＮＶ１の調整値として保存する。例えば、Ｖｃｍ＝０Ｖになった時のモニタ電圧のオフセット（ＯＦｄ）がＯＦｄ１の場合、調整値はＯＦｄ１となる。尚、調整値のＯＦｄ１は、二次電池１５０の充電試験を行う時の調整回路１６４のオフセットとして使用される。
【０１１０】
このようにして、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、充電電圧および充電電圧の計測値のオフセット調整を行う。
［充電電圧および充電電圧の計測値のフルスケール調整］
図１０は、充電電圧および充電電圧の計測値のフルスケール調整の処理例を示す。
【０１１１】
ステップＳ２０１において、制御回路１１２は、充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１を充電回路に設定する。尚、図９に示したオフセット調整後に図１０のフルスケール調整を行う場合は、既に充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１が充電回路に設定されているので、本処理は省略してもよい。
【０１１２】
ステップＳ２０２において、制御回路１１２は、充電電圧（Ｖｃ）を設定する。図１０の例ではフルスケール調整を行うので、制御回路１１２は、例えば最大定格値のＶｃ＝５Ｖに設定する。
【０１１３】
ステップＳ２０３において、制御回路１１２は、試験管理装置１０３を介して、校正ユニット１０２からチャネルｃｈ１の電圧計１４３の計測電圧（Ｖｋｃ）を取得する。
【０１１４】
ステップＳ２０４において、制御回路１１２は、Ｖｋｃ＝Ｖｃであるか否かを判別し、Ｖｋｃ＝Ｖｃではない場合、ステップＳ２０５の処理に進み、Ｖｋｃ＝Ｖｃの場合、ステップＳ２０６の処理に進む。尚、計測電圧（Ｖｋｃ）がＶｃであるか否かは、予め決められた所定の範囲（例えば、Ｖｃ±０．００１Ｖの範囲）にあるか否かで判別してもよい。
【０１１５】
ステップＳ２０５において、制御回路１１２は、調整回路１６２の充電電圧のゲイン（Ｇａ）を調整する。例えば、制御回路１１２は、Ｖｋｃ＜Ｖｃの場合はＧａを現在値よりも大きくし、Ｖｋｃ＞Ｖｃの場合はＧａを現在値よりも小さくする。そして、制御回路１１２は、ステップＳ２０５の処理後にステップＳ２０３の処理に戻る。
【０１１６】
ステップＳ２０６において、制御回路１１２は、計測電圧（Ｖｋｃ）がＶｃになった時の充電電圧のゲイン（Ｇａ）の調整値をＣＯＮＶ１の調整値として保存する。例えば、Ｖｋｃ＝Ｖｃになった時の充電電圧のゲイン（Ｇａ）がＧａ１の場合、調整値はＧａ１となる。尚、調整値のＧａ１は、二次電池１５０の充電試験を行う時の調整回路１６２の電圧用のゲインとして使用される。
【０１１７】
ステップＳ２０１からＳ２０６までの処理により、調整回路１６２による充電電圧（Ｖｃ）のゲイン（Ｇａ）の調整が終了する。続いて、制御回路１１２は、調整回路１６４による充電電圧のモニタ電圧（Ｖｃｍ）のゲイン（Ｇｄ）を調整する。
【０１１８】
ステップＳ２０７において、制御回路１１２は、調整回路１６４により、チャネルｃｈ１の正電源（＋）と負電源（−）の間のモニタ電圧（Ｖｃｍ）を計測する。
【０１１９】
ステップＳ２０８において、制御回路１１２は、Ｖｃｍ＝Ｖｃであるか否かを判別し、Ｖｃｍ＝Ｖｃではない場合、ステップＳ２０９の処理に進み、Ｖｃｍ＝Ｖｃの場合、ステップＳ２１０の処理に進む。尚、モニタ電圧（Ｖｃｍ）がＶｃであるか否かは、ステップＳ２０４の計測電圧（Ｖｋｃ）と同様に、Ｖｃ近傍の範囲内にあるか否かで判断してもよい。
【０１２０】
ステップＳ２０９において、制御回路１１２は、調整回路１６４のモニタ電圧（Ｖｃｍ）のゲイン（Ｇｄ）を調整する。例えば、制御回路１１２は、Ｖｃｍ＜Ｖｃの場合はＧｄを現在値よりも大きくし、Ｖｃｍ＞Ｖｃの場合はＧｄを現在値よりも小さくする。
【０１２１】
ステップＳ２１０において、制御回路１１２は、モニタ電圧（Ｖｃｍ）がＶｃになった時のモニタ電圧のゲイン（Ｇｄ）の調整値をＣＯＮＶ１の調整値として保存する。例えば、Ｖｃｍ＝Ｖｃになった時のモニタ電圧のゲイン（Ｇｄ）がＧｄ１の場合、調整値はＧｄ１となる。尚、調整値のＧｄ１は、二次電池１５０の充電試験を行う時の調整回路１６４のゲインとして使用される。
【０１２２】
このようにして、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、充電電圧および充電電圧の計測値のフルスケール調整を行う。
［放電電流および放電電流の計測値のオフセット調整］
図１１は、放電電流および放電電流の計測値のオフセット調整の処理例を示す。
【０１２３】
ステップＳ３０１において、制御回路１１２は、充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１を充電回路、充放電回路ＣＯＮＶ４のチャネルｃｈ７を放電回路にそれぞれ設定する。尚、制御回路１１２は、図７に示したように、充電回路に設定する場合は、入出力切替信号ＳＥＬによりスイッチＳＷ３をａ側に切り替えて、図４に示した出力回路１６１として動作させる。逆に、制御回路１１２は、放電回路に設定する場合は、入出力切替信号ＳＥＬによりスイッチＳＷ３をｂ側に切り替えて、図４に示した入力回路１７１として動作させる。
【０１２４】
ステップＳ３０２において、制御回路１１２は、充電電圧（Ｖｃ）および充電電流（Ｉｃ）と、放電電圧（Ｖｄ）および放電電流（Ｉｄ）とをそれぞれ設定する。図１１の例ではオフセット調整を行うので、制御回路１１２は、Ｖｃ＞Ｖｄ、Ｉｃ＞Ｉｄ＝０Ａに設定する。例えば、制御回路１１２は、Ｖｃ＝５．１Ｖ、Ｉｃ＝１０１Ａ、Ｖｄ＝５．０Ｖ、Ｉｄ＝０Ａのように設定する。
【０１２５】
ステップＳ３０３において、制御回路１１２は、試験管理装置１０３を介して、校正ユニット１０２からチャネルｃｈ１の電流計１４１の計測電流（Ｉｋ）を取得する。
【０１２６】
ステップＳ３０４において、制御回路１１２は、Ｉｋ＝０Ａであるか否かを判別し、Ｉｋ＝０Ａではない場合、ステップＳ３０５の処理に進み、Ｉｋ＝０Ａの場合、ステップＳ３０６の処理に進む。尚、計測電流（Ｉｋ）が０Ａであるか否かは、予め決められた所定の範囲（例えば、±０．００１Ａの範囲）にあるか否かで判別してもよい。
【０１２７】
ステップＳ３０５において、制御回路１１２は、充放電回路ＣＯＮＶ４のチャネルｃｈ７の入力回路１７１に対する調整回路１７２の放電電流のオフセット（ＯＦｆ）を調整する。そして、制御回路１１２は、ステップＳ３０５の処理後にステップＳ３０３の処理に戻る。
【０１２８】
ステップＳ３０６において、制御回路１１２は、計測電流（Ｉｋ）が０Ａになった時の放電電流のオフセット（ＯＦｆ）の調整値をＣＯＮＶ４の調整値として保存する。例えば、Ｉｋ＝０Ａになった時の放電電流のオフセット（ＯＦｆ）がＯＦｆ１の場合、調整値はＯＦｆ１となる。尚、調整値のＯＦｆ１は、二次電池１５０の放電試験を行う時の調整回路１７２の電流用のオフセットとして使用される。
【０１２９】
ステップＳ３０１からＳ３０６までの処理により、調整回路１７２による放電電流（Ｉｄ）のオフセット（ＯＦｆ）の調整が終了する。続いて、制御回路１１２は、調整回路１７３による放電電流のモニタ電流（Ｉｄｍ）のオフセット（ＯＦｇ）を調整する。
【０１３０】
ステップＳ３０７において、制御回路１１２は、調整回路１７３により、シャント抵抗Ｒ３に流れるモニタ電流（Ｉｄｍ）を計測する。
【０１３１】
ステップＳ３０８において、制御回路１１２は、Ｉｄｍ＝０Ａであるか否かを判別し、Ｉｄｍ＝０Ａではない場合、ステップＳ３０９の処理に進み、Ｉｄｍ＝０Ａの場合、ステップＳ３１０の処理に進む。尚、モニタ電流（Ｉｄｍ）が０Ａであるか否かは、ステップＳ３０４の計測電流（Ｉｋ）と同様に、０Ａ近傍の範囲内にあるか否かで判断してもよい。
【０１３２】
ステップＳ３０９において、制御回路１１２は、調整回路１７３のモニタ電流（Ｉｄｍ）のオフセット（ＯＦｇ）を調整する。そして、制御回路１１２は、ステップＳ３０９の処理後にステップＳ３０７の処理に戻る。
【０１３３】
ステップＳ３１０において、制御回路１１２は、モニタ電流（Ｉｄｍ）が０Ａになった時のモニタ電流の調整値をＣＯＮＶ４の調整値として保存する。例えば、Ｉｄｍ＝０Ａになった時のオフセット（ＯＦｇ）がＯＦｇ１の場合、調整値はＯＦｇ１となる。尚、調整値のＯＦｇ１は、二次電池１５０の放電試験を行う時の調整回路１７３のオフセットとして使用される。
【０１３４】
このようにして、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、放電電流および放電電流の計測値のオフセット調整を行う。
［放電電流および放電電流の計測値のフルスケール調整］
図１２は、放電電流および放電電流の計測値のフルスケール調整の処理例を示す。
【０１３５】
ステップＳ４０１において、制御回路１１２は、ステップＳ３０１と同様に、充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１を充電回路、充放電回路ＣＯＮＶ４のチャネルｃｈ７を放電回路にそれぞれ設定する。
【０１３６】
ステップＳ４０２において、制御回路１１２は、充電電圧（Ｖｃ）および充電電流（Ｉｃ）と、放電電圧（Ｖｄ）および放電電流（Ｉｄ）とをそれぞれ設定する。図１２の例ではフルスケール調整を行うので、制御回路１１２は、Ｖｃ＞Ｖｄ、Ｉｃ＞Ｉｄに設定する。例えば、制御回路１１２は、Ｖｃ＝５．１Ｖ、Ｉｃ＝１０１Ａ、Ｖｄ＝５．０Ｖ、Ｉｄ＝１００Ａのように設定する。
【０１３７】
ステップＳ４０３において、制御回路１１２は、試験管理装置１０３を介して、校正ユニット１０２からチャネルｃｈ１の電流計１４１の計測電流（Ｉｋ）を取得する。
【０１３８】
ステップＳ４０４において、制御回路１１２は、Ｉｋ＝Ｉｄであるか否かを判別し、Ｉｋ＝Ｉｄではない場合、ステップＳ４０５の処理に進み、Ｉｋ＝Ｉｄの場合、ステップＳ４０６の処理に進む。尚、計測電流（Ｉｋ）がＩｄであるか否かは、予め決められた所定の範囲（例えば、Ｉｄ±０．００１Ａの範囲）にあるか否かで判別してもよい。
【０１３９】
ステップＳ４０５において、制御回路１１２は、充放電回路ＣＯＮＶ４のチャネルｃｈ７の入力回路１７１に対する調整回路１７２の放電電流のゲイン（Ｇｆ）を調整する。そして、制御回路１１２は、ステップＳ４０５の処理後にステップＳ４０３の処理に戻る。
【０１４０】
ステップＳ４０６において、制御回路１１２は、Ｉｋ＝Ｉｄになった時の放電電流のゲイン（Ｇｆ）の調整値をＣＯＮＶ４の調整値として保存する。例えば、Ｉｋ＝Ｉｄになった時の放電電流のゲイン（Ｇｆ）がＧｆ１の場合、調整値はＧｆ１となる。尚、調整値のＧｆ１は、二次電池１５０の放電試験を行う時の調整回路１７２の電流用のゲインとして使用される。
【０１４１】
ステップＳ４０１からＳ４０６までの処理により、調整回路１７２による放電電流（Ｉｄ）のゲイン（Ｇｆ）の調整が終了する。続いて、制御回路１１２は、調整回路１７３による放電電流のモニタ電流（Ｉｄｍ）のゲイン（Ｇｇ）を調整する。
【０１４２】
ステップＳ４０７において、制御回路１１２は、調整回路１７３により、シャント抵抗Ｒ３に流れるモニタ電流（Ｉｄｍ）を計測する。
【０１４３】
ステップＳ４０８において、制御回路１１２は、Ｉｄｍ＝Ｉｄであるか否かを判別し、Ｉｄｍ＝Ｉｄではない場合、ステップＳ４０９の処理に進み、Ｉｄｍ＝Ｉｄの場合、ステップＳ４１０の処理に進む。尚、Ｉｄｍ＝Ｉｄであるか否かは、ステップＳ４０４と同様に、ＩｄｍがＩｄを基準とする所定の範囲内にあるか否かで判断してもよい。
【０１４４】
ステップＳ４０９において、制御回路１１２は、モニタ電流（Ｉｄｍ）のゲイン（Ｇｇ）を調整する。そして、制御回路１１２は、ステップＳ４０９の処理後にステップＳ４０７の処理に戻る。
【０１４５】
ステップＳ４１０において、制御回路１１２は、Ｉｄｍ＝Ｉｄになった時のモニタ電流のゲイン（Ｇｇ）の調整値をＣＯＮＶ４の調整値として保存する。例えば、Ｉｄｍ＝Ｉｄになった時のモニタ電流のゲイン（Ｇｇ）がＧｇ１の場合、調整値はＧｇ１となる。尚、調整値のＧｇ１は、二次電池１５０の放電試験を行う時の調整回路１７３のゲインとして使用される。
【０１４６】
このようにして、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、放電電流および放電電流の計測値のフルスケール調整を行う。
［充電電流および充電電流の計測値のオフセット調整］
図１３は、充電電流および充電電流の計測値のオフセット調整の処理例を示す。
【０１４７】
ステップＳ５０１において、制御回路１１２は、充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１を充電回路、充放電回路ＣＯＮＶ４のチャネルｃｈ７を放電回路にそれぞれ設定する。
【０１４８】
ステップＳ５０２において、制御回路１１２は、充電電圧（Ｖｃ）および充電電流（Ｉｃ）と、放電電圧（Ｖｄ）および放電電流（Ｉｄ）とをそれぞれ設定する。図１３の例ではオフセット調整を行うので、制御回路１１２は、Ｖｃ＞Ｖｄ、Ｉｃ＝０Ａ＜Ｉｄに設定する。例えば、制御回路１１２は、Ｖｃ＝５．１Ｖ、Ｉｃ＝０Ａ、Ｖｄ＝５．０Ｖ、Ｉｄ＝１０１Ａのように設定する。
【０１４９】
ステップＳ５０３において、制御回路１１２は、試験管理装置１０３を介して、校正ユニット１０２からチャネルｃｈ１の電流計１４１の計測電流（Ｉｋ）を取得する。
【０１５０】
ステップＳ５０４において、制御回路１１２は、Ｉｋ＝０Ａであるか否かを判別し、Ｉｋ＝０Ａではない場合、ステップＳ５０５の処理に進み、Ｉｋ＝０Ａの場合、ステップＳ５０６の処理に進む。尚、計測電流（Ｉｋ）が０Ａであるか否かは、予め決められた所定の範囲（例えば、±０．００１Ａの範囲）にあるか否かで判別してもよい。
【０１５１】
ステップＳ５０５において、制御回路１１２は、充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１の出力回路１６１に対する調整回路１６２の充電電流のオフセット（ＯＦｂ）を調整する。そして、制御回路１１２は、ステップＳ５０５の処理後にステップＳ５０３の処理に戻る。
【０１５２】
ステップＳ５０６において、制御回路１１２は、計測電流（Ｉｋ）が０Ａになった時の充電電流のオフセット（ＯＦｂ）の調整値をＣＯＮＶ１の調整値として保存する。例えば、Ｉｋ＝０Ａになった時の充電電流のオフセット（ＯＦｂ）がＯＦｂ１の場合、調整値はＯＦｂ１となる。尚、調整値のＯＦｂ１は、二次電池１５０の充電試験を行う時の調整回路１６２の電流用のオフセットとして使用される。
【０１５３】
ステップＳ５０１からＳ５０６までの処理により、調整回路１６２による充電電流（Ｉｃ）のオフセット（ＯＦｂ）の調整が終了する。続いて、制御回路１１２は、調整回路１６３による充電電流のモニタ電流（Ｉｃｍ）のオフセット（ＯＦｃ）を調整する。
【０１５４】
ステップＳ５０７において、制御回路１１２は、調整回路１６３により、シャント抵抗Ｒ２に流れるモニタ電流（Ｉｃｍ）を計測する。
【０１５５】
ステップＳ５０８において、制御回路１１２は、Ｉｃｍ＝０Ａであるか否かを判別し、Ｉｃｍ＝０Ａではない場合、ステップＳ５０９の処理に進み、Ｉｃｍ＝０Ａの場合、ステップＳ５１０の処理に進む。尚、モニタ電流（Ｉｃｍ）が０Ａであるか否かは、ステップＳ５０４の計測電流（Ｉｋ）と同様に、０Ａ近傍の範囲内にあるか否かで判断してもよい。
【０１５６】
ステップＳ５０９において、制御回路１１２は、調整回路１６３のモニタ電流（Ｉｃｍ）のオフセット（ＯＦｃ）を調整する。そして、制御回路１１２は、ステップＳ５０９の処理後にステップＳ５０７の処理に戻る。
【０１５７】
ステップＳ５１０において、制御回路１１２は、モニタ電流（Ｉｃｍ）が０Ａになった時のモニタ電流の調整値をＣＯＮＶ１の調整値として保存する。例えば、Ｉｃｍ＝０Ａになった時のオフセット（ＯＦｃ）がＯＦｃ１の場合、調整値はＯＦｃ１となる。尚、調整値のＯＦｃ１は、二次電池１５０の充電試験を行う時の調整回路１６３のオフセットとして使用される。
【０１５８】
このようにして、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、充電電流および充電電流の計測値のオフセット調整を行う。
［充電電流および充電電流の計測値のフルスケール調整］
図１４は、充電電流および充電電流の計測値のフルスケール調整の処理例を示す。
【０１５９】
ステップＳ６０１において、制御回路１１２は、ステップＳ５０１と同様に、充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１を充電回路、充放電回路ＣＯＮＶ４のチャネルｃｈ７を放電回路にそれぞれ設定する。
【０１６０】
ステップＳ６０２において、制御回路１１２は、充電電圧（Ｖｃ）および充電電流（Ｉｃ）と、放電電圧（Ｖｄ）および放電電流（Ｉｄ）とをそれぞれ設定する。図１４の例ではフルスケール調整を行うので、制御回路１１２は、Ｖｃ＞Ｖｄ、Ｉｃ＜Ｉｄに設定する。例えば、制御回路１１２は、Ｖｃ＝５．１Ｖ、Ｉｃ＝１００Ａ、Ｖｄ＝５．０Ｖ、Ｉｄ＝１０１Ａのように設定する。
【０１６１】
ステップＳ６０３において、制御回路１１２は、試験管理装置１０３を介して、校正ユニット１０２からチャネルｃｈ１の電流計１４１の計測電流（Ｉｋ）を取得する。
【０１６２】
ステップＳ６０４において、制御回路１１２は、Ｉｋ＝Ｉｃであるか否かを判別し、Ｉｋ＝Ｉｃではない場合、ステップＳ６０５の処理に進み、Ｉｋ＝Ｉｃの場合、ステップＳ６０６の処理に進む。尚、計測電流（Ｉｋ）がＩｃであるか否かは、予め決められた所定の範囲（例えば、Ｉｃ±０．００１Ａの範囲）にある場合にＩｋ＝Ｉｃであると判断するようにしてもよい。
【０１６３】
ステップＳ６０５において、制御回路１１２は、充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１の出力回路１６１に対する調整回路１６２の充電電流のゲイン（Ｇｂ）を調整する。そして、制御回路１１２は、ステップＳ６０５の処理後にステップＳ６０３の処理に戻る。
【０１６４】
ステップＳ６０６において、制御回路１１２は、Ｉｋ＝Ｉｃになった時の充電電流のゲイン（Ｇｂ）の調整値をＣＯＮＶ１の調整値として保存する。例えば、Ｉｋ＝Ｉｃになった時の充電電流のゲイン（Ｇｂ）がＧｂ１の場合、調整値はＧｂ１となる。尚、調整値のＧｂ１は、二次電池１５０の充電試験を行う時の調整回路１６２の電流用のゲインとして使用される。
【０１６５】
ステップＳ６０１からＳ６０６までの処理により、調整回路１６２による充電電流（Ｉｃ）のゲイン（Ｇｂ）の調整が終了する。続いて、制御回路１１２は、調整回路１６３による充電電流のモニタ電流（Ｉｃｍ）のゲイン（Ｇｃ）を調整する。
【０１６６】
ステップＳ６０７において、制御回路１１２は、調整回路１６３により、シャント抵抗Ｒ２に流れるモニタ電流（Ｉｃｍ）を計測する。
【０１６７】
ステップＳ６０８において、制御回路１１２は、Ｉｃｍ＝Ｉｃであるか否かを判別し、Ｉｃｍ＝Ｉｃではない場合、ステップＳ６０９の処理に進み、Ｉｃｍ＝Ｉｃの場合、ステップＳ６１０の処理に進む。尚、Ｉｃｍ＝Ｉｃであるか否かは、ステップＳ６０４と同様に、ＩｃｍがＩｃを基準とする所定の範囲内にあるか否かで判断してもよい。
【０１６８】
ステップＳ６０９において、制御回路１１２は、モニタ電流（Ｉｃｍ）のゲイン（Ｇｃ）を調整する。そして、制御回路１１２は、ステップＳ６０９の処理後にステップＳ６０７の処理に戻る。
【０１６９】
ステップＳ６１０において、制御回路１１２は、Ｉｃｍ＝Ｉｃになった時のモニタ電流のゲイン（Ｇｃ）の調整値をＣＯＮＶ１の調整値として保存する。例えば、Ｉｃｍ＝Ｉｃになった時のモニタ電流のゲイン（Ｇｃ）がＧｃ１の場合、調整値はＧｃ１となる。尚、調整値のＧｃ１は、二次電池１５０の充電試験を行う時の調整回路１６３のゲインとして使用される。
【０１７０】
このようにして、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、充電電流および充電電流の計測値のフルスケール調整を行う。
［放電電圧および放電電圧の計測値のオフセット調整］
図１５は、放電電圧および放電電圧の計測値のオフセット調整の処理例を示す。
【０１７１】
ステップＳ７０１において、制御回路１１２は、充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１を充電回路、充放電回路ＣＯＮＶ４のチャネルｃｈ７を放電回路にそれぞれ設定する。
【０１７２】
ステップＳ７０２において、制御回路１１２は、充電電圧（Ｖｃ）および充電電流（Ｉｃ）と、放電電圧（Ｖｄ）および放電電流（Ｉｄ）とをそれぞれ設定する。図１５の例ではオフセット調整を行うので、制御回路１１２は、Ｖｃ＞Ｖｄ（動作可能な微小電圧）、Ｉｃ＜Ｉｄに設定する。例えば、制御回路１１２は、Ｖｃ＝５．１Ｖ、Ｉｃ＝１００Ａ、Ｖｄ＝５０ｍＶ、Ｉｄ＝１０１Ａのように設定する。尚、Ｖｄは、理想的には０Ｖに設定されるが、充放電試験装置１０１がＣＣ（Constant Current:定電流）動作するための微小電圧が要る場合がある。そこで、本実施形態では、Ｖｄは、例えばフルスケールの電圧（最大定格電圧）の１％の電圧に設定される。上記の例では、最大定格電圧が５Ｖなので、Ｖｄは、５Ｖの１％の電圧の５０ｍＶに設定される。
【０１７３】
ステップＳ７０３において、制御回路１１２は、試験管理装置１０３を介して、校正ユニット１０２からチャネルｃｈ７の電圧計１４２の計測電圧（Ｖｋｄ）を取得する。
【０１７４】
ステップＳ７０４において、制御回路１１２は、Ｖｋｄ＝５０ｍＶであるか否かを判別し、Ｖｋｄ＝５０ｍＶではない場合、ステップＳ７０５の処理に進み、Ｖｋｄ＝５０ｍＶの場合、ステップＳ７０６の処理に進む。尚、Ｖｋｄ＝５０ｍＶであるか否かは、Ｖｋｄが予め決められた所定の範囲（例えば、５０ｍＶ±０．１ｍＶの範囲）にあるか否かで判別してもよい。
【０１７５】
ステップＳ７０５において、制御回路１１２は、充放電回路ＣＯＮＶ４のチャネルｃｈ７の入力回路１７１に対する調整回路１７２の放電電圧のオフセット（ＯＦｅ）を調整する。そして、制御回路１１２は、ステップＳ７０５の処理後にステップＳ７０３の処理に戻る。
【０１７６】
ステップＳ７０６において、制御回路１１２は、Ｖｋｄ＝５０ｍＶになった時の放電電圧のオフセット（ＯＦｅ）の調整値をＣＯＮＶ４の調整値として保存する。例えば、Ｖｋｄ＝５０ｍＶになった時の放電電圧のオフセット（ＯＦｅ）がＯＦｅ１の場合、調整値はＯＦｅ１となる。尚、調整値のＯＦｅ１は、二次電池１５０の放電試験を行う時の調整回路１７２の電圧用のオフセットとして使用される。
【０１７７】
ステップＳ７０１からＳ７０６までの処理により、調整回路１７２による放電電圧（Ｖｄ）のオフセット（ＯＦｅ）の調整が終了する。続いて、制御回路１１２は、調整回路１７４による放電電圧のモニタ電圧（Ｖｄｍ）のオフセット（ＯＦｈ）を調整する。
【０１７８】
ステップＳ７０７において、制御回路１１２は、充電電圧（Ｖｃ）および充電電流（Ｉｃ）と、放電電圧（Ｖｄ）および放電電流（Ｉｄ）とをそれぞれ設定する。図１５の例ではオフセット調整を行うので、制御回路１１２は、（動作可能な微小電圧）Ｖｃ＞Ｖｄ、Ｉｃ＜Ｉｄに設定する。例えば、制御回路１１２は、Ｖｃ＝５０ｍＶ、Ｉｃ＝１００Ａ、Ｉｄ＝１０１Ａのように設定する。尚、Ｖｄは５０ｍＶよりも小さく、充放電試験装置１０１はＣＣ動作している状態にある。また、Ｖｃは、充放電試験装置１０１がＣＣ動作するための微小電圧が与えられ、本実施形態では、例えばＶｃはフルスケールの電圧の１％の電圧のに設定される。上記の例では、Ｖｃは、５Ｖの１％の電圧の５０ｍＶに設定される。
【０１７９】
ステップＳ７０８において、制御回路１１２は、調整回路１７４により、チャネルｃｈ７の正電源（＋）と負電源（−）の間のモニタ電圧（Ｖｄｍ）を計測する。
【０１８０】
ステップＳ７０９において、制御回路１１２は、Ｖｄｍ＝５０ｍＶであるか否かを判別し、Ｖｄｍ＝５０ｍＶではない場合、ステップＳ７１０の処理に進み、Ｖｄｍ＝５０ｍＶの場合、ステップＳ７１１の処理に進む。尚、モニタ電圧（Ｖｄｍ）が５０ｍＶであるか否かは、ステップＳ７０４と同様に、５０ｍＶ近傍の範囲内にあるか否かで判断してもよい。
【０１８１】
ステップＳ７１０において、制御回路１１２は、調整回路１７３のモニタ電圧（Ｖｄｍ）のオフセット（ＯＦｈ）を調整する。そして、制御回路１１２は、ステップＳ７１０の処理後にステップＳ７０８の処理に戻る。
【０１８２】
ステップＳ７１１において、制御回路１１２は、Ｖｄｍ＝５０ｍＶになった時のモニタ電圧の調整値をＣＯＮＶ４の調整値として保存する。例えば、Ｖｄｍ＝５０ｍＶになった時のオフセット（ＯＦｈ）がＯＦｈ１の場合、調整値はＯＦｈ１となる。尚、調整値のＯＦｈ１は、二次電池１５０の放電試験を行う時の調整回路１７４のオフセットとして使用される。
【０１８３】
このようにして、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、放電電圧および放電電圧の計測値のオフセット調整を行う。
［放電電圧および放電電圧の計測値のフルスケール調整］
図１６は、放電電圧および放電電圧の計測値のフルスケール調整の処理例を示す。
【０１８４】
ステップＳ８０１において、制御回路１１２は、充放電回路ＣＯＮＶ１のチャネルｃｈ１を充電回路、充放電回路ＣＯＮＶ４のチャネルｃｈ７を放電回路にそれぞれ設定する。
【０１８５】
ステップＳ８０２において、制御回路１１２は、充電電圧（Ｖｃ）および充電電流（Ｉｃ）と、放電電圧（Ｖｄ）および放電電流（Ｉｄ）とをそれぞれ設定する。図１６の例では、制御回路１１２は、Ｖｃ＞Ｖｄ、Ｉｃ＜Ｉｄに設定する。例えば、制御回路１１２は、Ｖｃ＝５．１Ｖ、Ｉｃ＝１００Ａ、Ｖｄ＝５．０Ｖ、Ｉｄ＝１０１Ａのように設定する。
【０１８６】
ステップＳ８０３において、制御回路１１２は、試験管理装置１０３を介して、校正ユニット１０２からチャネルｃｈ７の電圧計１４２の計測電圧（Ｖｋｄ）を取得する。
【０１８７】
ステップＳ８０４において、制御回路１１２は、Ｖｋｄ＝Ｖｄであるか否かを判別し、Ｖｋｄ＝Ｖｄではない場合、ステップＳ８０５の処理に進み、Ｖｋｄ＝Ｖｄの場合、ステップＳ８０６の処理に進む。尚、Ｖｋｄ＝Ｖｄであるか否かは、Ｖｋｄが予め決められた所定の範囲（例えば、Ｖｄ±０．００１Ｖの範囲）にあるか否かで判別してもよい。
【０１８８】
ステップＳ８０５において、制御回路１１２は、充放電回路ＣＯＮＶ４のチャネルｃｈ７の入力回路１７１に対する調整回路１７２の放電電圧のゲイン（Ｇｅ）を調整する。そして、制御回路１１２は、ステップＳ８０５の処理後にステップＳ８０３の処理に戻る。
【０１８９】
ステップＳ８０６において、制御回路１１２は、Ｖｋｄ＝５０ｍＶになった時の放電電圧のゲイン（Ｇｅ）の調整値をＣＯＮＶ４の調整値として保存する。例えば、Ｖｋｄ＝５０ｍＶになった時の放電電圧のゲイン（Ｇｅ）がＧｅ１の場合、調整値はＧｅ１となる。尚、調整値のＧｅ１は、二次電池１５０の放電試験を行う時の調整回路１７２の電圧用のゲインとして使用される。
【０１９０】
ステップＳ８０１からＳ８０６までの処理により、調整回路１７２による放電電圧（Ｖｄ）のゲイン（Ｇｅ）の調整が終了する。続いて、制御回路１１２は、調整回路１７４による放電電圧のモニタ電圧（Ｖｄｍ）のゲイン（Ｇｈ）を調整する。
【０１９１】
ステップＳ８０７において、制御回路１１２は、調整回路１７４により、チャネルｃｈ７の正電源（＋）と負電源（−）の間のモニタ電圧（Ｖｄｍ）を計測する。
【０１９２】
ステップＳ８０８において、制御回路１１２は、Ｖｄｍ＝Ｖｄであるか否かを判別し、Ｖｄｍ＝Ｖｄではない場合、ステップＳ８０９の処理に進み、Ｖｄｍ＝Ｖｄの場合、ステップＳ８１０の処理に進む。尚、モニタ電圧（Ｖｄｍ）がＶｄであるか否かは、ステップＳ８０４と同様に、ＶｄｍがＶｄ近傍の範囲内にあるか否かで判断してもよい。
【０１９３】
ステップＳ８０９において、制御回路１１２は、調整回路１７３のモニタ電圧（Ｖｄｍ）のゲイン（Ｇｈ）を調整する。そして、制御回路１１２は、ステップＳ８０９の処理後にステップＳ８０７の処理に戻る。
【０１９４】
ステップＳ８１０において、制御回路１１２は、Ｖｄｍ＝Ｖｄになった時のモニタ電圧の調整値をＣＯＮＶ４の調整値として保存する。例えば、Ｖｄｍ＝Ｖｄになった時のゲイン（Ｇｈ）がＧｈ１の場合、調整値はＧｈ１となる。尚、調整値のＧｈ１は、二次電池１５０の放電試験を行う時の調整回路１７４のゲインとして使用される。
【０１９５】
このようにして、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、放電電圧および放電電圧の計測値のフルスケール調整を行う。
【０１９６】
以上、説明したように、本実施形態に係る充放電試験システム１００は、二次電池１５０と同一又は同様の端子を有する校正ユニット１０２を二次電池１５０の試験ラインに流す。そして、充放電試験装置１０１は、二次電池１５０の代わりに校正ユニット１０２が接続された場合に、対向する充放電回路ＣＯＮＶを充電回路と放電回路とに設定し、充電回路と放電回路との間に校正ユニット１０２を配置する。そして、校正ユニット１０２は、充電電圧、充電電流、放電電圧、放電電流を計測し、それぞれの計測値を無線により試験管理装置１０３および充放電試験装置１０１に送信する。このようにして、試験管理装置１０３および充放電試験装置１０１は、校正ユニット１０２から無線で受信する計測値に基づいて、充電回路および放電回路の調整を行うことができる。
【０１９７】
以上の詳細な説明により、実施形態の特徴点および利点は明らかになるであろう。これは、特許請求の範囲がその精神および権利範囲を逸脱しない範囲で前述のような実施形態の特徴点および利点にまで及ぶことを意図するものである。また、当該技術分野において通常の知識を有する者であれば、あらゆる改良および変更に容易に想到できるはずである。したがって、発明性を有する実施形態の範囲を前述したものに限定する意図はなく、実施形態に開示された範囲に含まれる適当な改良物および均等物に拠ることも可能である。
【符号の説明】
【０１９８】
１００・・・充放電試験システム；１０１，１０１ａ１，１０１ａ２，１０１ａ３，１０１ｂ１，１０１ｂ２，１０１ｂ３，１０１ｃ１，１０１ｃ２，１０１ｃ３・・・充放電試験装置；１０２，１０２＿１，１０２＿２，１０２＿３，１０２＿４，１０２＿５，１０２＿６，１０２ａ，１０２ｂ，１０２ｃ・・・校正ユニット；１０３・・・試験管理装置；１１１・・・充放電回路ブロック；１１２・・・制御回路；１１３・・・電源回路；１１７，１１８，１５１・・・端子；１２０・・・制御回路；１２１・・・計測ブロック；１２２・・・無線子機；１２３・・・補助電源回路；１２４・・・バッテリー；１３１・・・ＨＵＢ；１３２・・・無線親機；１３３・・・パソコン；１４１・・・電流計；１４２，１４３・・・電圧計；１５０・・・二次電池；１６０・・・待機ラック；１６１・・・出力回路；１６２，１６３，１６４，１７２，１７３，１７４・・・調整回路；１６５，１６６，１７５，１７６・・・Ｄ／Ａ；１６７，１６８，１７７，１７８・・・Ａ／Ｄ；１７１・・・入力回路；１９１・・・ＲＦＩＤタグ；１９２・・・ＲＦＩＤリーダ；２０１・・・計測回路；２０２・・・スイッチアレイ；Ｃ１，Ｃ２・・・コンデンサ；ＣＭＰ１・・・コンパレータ；ＣＯＮＶ・・・充放電回路；Ｄ１，Ｄ２，Ｄ３，Ｄ４・・・ダイオード；ＧＥＮ１・・・鋸波発振器；ＩＮＶ１・・・回生インバータ；Ｌ１・・・コイル；ＯＰ１，ＯＰ２，ＯＰ３，ＯＰ１１，ＯＰ１２・・・オペアンプ；ＰＷ１・・・電源；Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３・・・シャント抵抗；Ｒ１１，Ｒ１２，Ｒ１３，Ｒ１４・・・抵抗；ＳＥＬ・・・入出力切替信号；ＳＷ１，ＳＷ２，ＳＷ３・・・スイッチ；ＶＲ１，ＶＲ２，ＶＲ１１，ＶＲ１２，ＶＲ２１，ＶＲ２２・・・可変抵抗
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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