(57)【要約】      （修正有）【課題】所定のスペクトルを有する物体の捜索を行う際に、適切な波長分解能を迅速に達成することができるスリット幅変更装置とその方法を提供する。【解決手段】幅の異なる複数の長方形スリットを有するスリット板１２０と、前記長方形スリットを通過した入射光から得られる入射スペクトルを取得する取得部１４０と、前記入射スペクトルから前記入射スペクトルの半値波長を取得し、前記半値波長に基づいて前記複数の長方形スリットの１つを選択するスリット選択部２４０とを有している。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
幅の異なる複数の長方形スリットを有するスリット板と、
前記長方形スリットから得られる入射スペクトルを取得する取得部と、
前記入射スペクトルから前記入射スペクトルの半値波長を取得し、前記半値波長に基づいて前記複数の長方形スリットの１つを選択するスリット選択部と、
を有することを特徴とするスリット幅変更装置。
【請求項２】
所定の半値波長と前記所定の半値波長に対応した所定の精度を複数登録したデータベース部をさらに含み、
前記スリット選択部は前記入射スペクトルの半値波長と前記所定の半値波長とが前記所定の精度内で一致するか否かに基づいて前記複数の長方形スリットの１つを選択する
ことを特徴とする請求項１記載のスリット幅変更装置。
【請求項３】
前記入射スペクトルのピーク強度値を算出するピーク強度値算出部と、
前記ピーク強度値が所定の閾値以上の場合に前記スリット選択部による前記長方形スリットの選択を許可するピーク強度比較部とをさらに含む
ことを特徴とする請求項１または請求項２記載のスリット幅変更装置。
【請求項４】
前記入射スペクトルの特定波長域のみを透過するフィルター処理部をさらに有する
ことを特徴とする請求項１から請求項３いずれか記載のスリット幅変更装置。
【請求項５】
前記スリット選択部は視程に基づいて前記ピーク強度閾値を決定する
ことを特徴とする請求項１から請求項４いずれか記載のスリット幅変更装置。
【請求項６】
前記スリット選択部は、取得が開始されたときに最も大きい幅を有する長方形スリットを選択する
ことを特徴とする請求項１から請求項５いずれか記載のスリット幅変更装置。
【請求項７】
請求項６記載のスリット幅変更装置と、
前記取得部により取得された入射スペクトルのＡ／Ｄ変換を行うＡ／Ｄ変換部と、
Ａ／Ｄ変換された前記入射スペクトルを出力する出力インターフェース部と
を含むことを特徴とするスペクトル出力装置。
【請求項８】
幅の異なる複数の長方形スリットの中からスリットを１つ選択することにより、スリット幅を変更するスリット幅変更装置の制御方法であって、
前記長方形スリットを通過した入射光から得られる入射スペクトルを取得するステップと、
前記入射スペクトルの半値波長を算出するステップと、
前記半値波長に基づいて前記複数の長方形スリットの１つを選択するステップと、
を有することを特徴とするスリット幅変更方法。
【請求項９】
前記スリット幅変更装置は所定の半値波長と前記所定の半値波長に対応した所定の精度を複数登録したデータベース部をさらに含み、
前記入射スペクトルの半値波長と前記所定の半値波長とが前記所定の精度内で一致するか否かに基づいて前記複数の長方形スリットの１つを選択するステップをさらに含む
ことを特徴とする請求項８記載のスリット幅変更方法
【請求項１０】
前記入射スペクトルのピーク強度値を算出するピーク強度値算出部を含み、
前記ピーク強度値が閾値以上の場合に前記スリット選択部による前記長方形スリットの選択を許可するステップをさらに含む
ことを特徴とする請求項８または請求項９記載のスリット幅変更方法。
【請求項１１】
前記入射スペクトルの特定波長域のみを透過するフィルター処理を行うステップをさらに含む
ことを特徴とする請求項８から請求項１０いずれか記載のスリット幅変更方法。
【請求項１２】
視程に基づいてピーク強度閾値を決定するステップをさらに含む
ことを特徴とする請求項８から請求項１１いずれか記載のスリット幅変更方法。
【請求項１３】
取得が開始されたときに最も大きい幅を有する長方形スリットを選択するステップをさらに含む
ことを特徴とする請求項８から請求項１２いずれか記載のスリット幅変更方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は取得波長域のスペクトル分布を取得しスリット幅を変更する装置、方法に関する
【背景技術】
【０００２】
海難救助活動において、ハイパースペクトルセンサが広く利用されている。救助活動においては捜索範囲内における捜索対象物（以下ターゲットと呼ぶ）の有無を迅速に判定する必要があり、その判定精度は主にセンサの波長分解能に依存する。センサへの入射光量を調節する光学部品をスリットというが、特にスリット幅を細くすることで波長分解能が向上し、詳細なスペクトル画像を取得することができる。
【０００３】
特開２０１２−２３００７４号公報には、スペクトル形状が未知の試料に対して、真のスペクトルピークを取得可能なスリット幅決定条件とそれを用いた分光光度計が開示されている。光源と、光源からの光を単色光に分光する回折格子と光取得部と、光源からの光が通過する隙間幅の大きさが異なる複数のスリットとを有する。試料に単色光を照射することで発生するスペクトルに対して、スリットの隙間幅別のスペクトルを取得する。この後、隙間幅別のスペクトル比較結果に基づいて、試料の取得に使用する少なくとも１つのスリット幅とこのスリットの幅を適用する少なくとも１つの波長範囲の関係を規定するスリット条件が決定される。これにより試料のスペクトル取得に最適な波長分解能を決定することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１２−２３００７４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ハイパースペクトルセンサは１ｎｍ−１０ｎｍといった細かい波長分解能を持ち、非常に多くのバンド数を連続して有している。そのため波長別のデータを出力すると、各波長に関する詳細な情報が得られる反面、全体のデータ量が多くなるという課題がある。取得範囲内におけるターゲットの有無を判定する場合、特開２０１２−２３００７４号に開示のスリット幅決定方法では迅速な判定を行うことができない。なぜならば取得された全波長域に対してスペクトル強度を比較するため、その処理時間が無視できないためである。
【０００６】
本発明は上述の課題を解決し、迅速かつ正確に取得範囲内におけるターゲットの有無を判定可能なスリット幅変更装置及び方法並びにスペクトル出力装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
幅の異なる複数の長方形スリットを有するスリット板と、前記長方形スリットを通過した入射光から得られる入射スペクトルを取得する取得部と、前記入射スペクトルから前記入射スペクトルの半値波長を取得し、前記半値波長に基づいて前記複数の長方形スリットの１つを選択するスリット選択部とを有している。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、取得範囲内におけるターゲットの有無を判定可能な波長分解能を迅速に達成できる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】スリット幅変更装置概略図
【図２】スリット板構成図
【図３】スリット板の他の構成図
【図４】スリット幅指定部の構成図
【図５】ＤＢ部格納データ例
【図６】実施形態１フローチャート
【図７】スリットａを用いた場合の入射スペクトル取得例
【図８】スリットｂを用いた場合の入射スペクトル取得例
【図９】フィルター処理部を有するスリット幅変更装置概略図
【図１０】実施形態２フローチャート
【図１１】フィルター処理前後の入射スペクトル取得例
【図１２】実施形態３フローチャート
【図１３】Ｉｔｈ設定変更例
【発明を実施するための形態】
【００１０】
本発明の実施の形態について図面を参照し詳細に説明する。ここでは例として海難事故時における人命救助を想定し、ターゲットは人間であるとする。なお、本発明の実施形態は後述する形態例に限定されるものではなく、その技術思想の範囲において種々の変形が可能である。
［第一の実施形態］
［構成の説明］
図１は本発明の第一の実施形態であるスリット幅変更装置の概略図である。本発明によるスリット幅変更装置は光学系１００と光学系からのアナログ画像情報を処理するデータ処理系２００とを含む。
光学系１００は集光光学部１１０、スリット板１２０、分光器１３０、取得部１４０、駆動部１５０を含み、前記データ処理系２００は取得部データアナログ処理部２１０、Ａ／Ｄ変換部２２０、出力インターフェース部（以下、出力Ｉ／Ｆ部）２３０、スリット選択部２４０、データベース部（以下、ＤＢ部）２５０を含む。
【００１１】
集光光学部１１０は目標からの入射光を集光する。入射光は反射鏡１１１で反射され、ミラーａ１１２、ｂ１１３を経由した後スリット板１２０上に集光される。その後、スリット板上に設けられた長方形スリットを通過し、分光器１３０で波長分解され、取得部１４０に入射する。図１では凹面基盤を有する反射鏡１１１と２つのミラーａ１１２、ｂ１１３からなる反射光学系としたが、反射鏡の代わりに集光レンズを用いた屈折光学系としてもよい。
【００１２】
スリット板１２０は集光光学部１１０が集光した入射光の光量を調節する光学部品である。スリットとはスリット板１２０の板厚方向に形成された長方形形状の空間であり、本実施形態の場合は幅の異なる４つの長方形スリットＡ／Ｄが設けられている。図２にスリット板１２０の構造を示す。長方形スリットＡ／Ｄにおいてスリット幅をそれぞれｈａ、ｈｂ、ｈｃ、ｈｄとすると、ｈａ＞ｈｂ＞ｈｃ＞ｈｄの関係を満たすように各スリット幅は設定される。一般的に波長分解能はスリット幅に反比例することから、スリットａの波長分解能が最も低く、ｂ、ｃの順に上昇しスリットｄの波長分解能が最も高い。また、長方形スリットＡ／Ｄの長辺は全て同一長さである。本実施例では４つのスリットを示したが、図３に示すようにスリットは４つである必要は無く、またその配置も回転軸１２５を中心に放射状に形成されていてもよい。
【００１３】
分光器１３０はスリットを通過した入射光を波長に応じて展開し入射スペクトルを取得する光学部品である。ここでは凹面回折格子を用いることで、回折格子での反射光を直接取得部１４０に集光できるので、レンズなどの集光光学部品を用いることなく簡便な装置構成とすることができる。
【００１４】
取得部１４０は入射スペクトルを取得し、取得結果をデータ処理系２００に出力する。
【００１５】
取得部１４０での入射スペクトル取得結果はノイズ除去を行う取得データアナログ処理部２１０、Ａ／Ｄ変換を行うＡ／Ｄ変換部２２０、スペクトル取得結果を出力する出力Ｉ／Ｆ部２３０の順に入力される。
【００１６】
スリット選択部２４０は取得部１４０での入射スペクトル取得結果に基づき、スリット板１２０に複数設けられた長方形スリットＡ／Ｄのいずれかを指定する指定信号を駆動部に出力する。
【００１７】
図４にスリット選択部の構成を示す。スリット選択部２４０は入射スペクトルのピーク強度値Ｉｍａｘを算出するＩｍａｘ算出部２４１、ピーク強度閾値Ｉｔｈを設定するＩｔｈ設定部２４２、ＩｍａｘとＩｔｈを比較するピーク強度値比較部２４３、入射スペクトルの強度がＩｍａｘの半分となる波長、すなわち半値波長λ１、λ２（ただしλ１＜λ２とする）を算出するλ１、λ２算出部２４４、算出されたλ１、λ２とＤＢ部に格納されたターゲットの有する所定の半値波長λＡ、λＢ（ただしλＡ＜λＢとする）を比較する半値波長比較部２４５、ピーク強度値比較結果と半値波長比較結果に基づきスリットを決定するスリット決定部２４６、決定されたスリットに対応するスリット指定信号を駆動部１５０に発する指定信号発信部２４７により構成される。
【００１８】
ＤＢ部２５０はλＡ、λＢと、λＡ、λＢとλ１、λ２との一致を判定する際の精度α、βを格納し、観測者の指示に応じて半値波長比較部２４５にλＡ、λＢ、α、βを出力する。図５にＤＢ部格納データ例を示す。データはターゲットと非ターゲットに大別され各項目に対応するλＡ、λＢ、α、βが登録される。人命救出を行う場合、ターゲットデータは人肌や髪色などであり、非ターゲットデータは海洋や森林といったターゲット周囲環境が登録される。特にターゲットが人命である場合α、βは１ｎｍ−３ｎｍ程度の小さい値に設定し一致精度を高めることで人命救出の可能性を高めることができる。
【００１９】
駆動部１５０はモーターもしくは各種アクチュエータを備え、スリット選択部２４０からの指定信号に応じ回転軸１２５を中心にスリット板１２０を周方向に回転させる。この時、指定されたスリットは集光光学部１１０によって集光された入射光路上に配置されるよう位置決めされる。
［動作の説明］
次に図６を用いて本実施形態に係るスリット幅変更装置の動作を説明する。今回使用するスリット板１２０は図２に示すとおりであり、例として幅の異なる４つの長方形スリットＡ／Ｄを有するものとする。
【００２０】
スリット選択部２４０は最もスリット幅の大きいスリットａを指定する指定信号を駆動部１５０に出力する（Ｓ１）。駆動部１５０はスリット選択部２４０からの指定信号に基づきスリットａが、集光された入射光路上に配置されるようスリット板１２０を回転させる。次に取得部１４０は入射スペクトルを取得する（Ｓ２）。図７に入射スペクトル取得結果の例を示す。本実施例では、取得された入射スペクトルの波形は単一のピークを有するものとする。
【００２１】
Ｉｍａｘ算出部２４１は得られた入射スペクトルからスリットａを用いた場合のピーク強度値Ｉｍａｘ＿ａを算出する（Ｓ３）。Ｉｍａｘ＿ａの算出には例えばピークホールド回路が用いられる。続いてＩｔｈ設定部２４２は図示しない入力装置による観測者からの入力に基づいてＩｔｈを設定する。Ｉｔｈは視程などの入射スペクトル取得条件に応じて任意に設定、変更可能である。次に、ピーク強度値比較部２４３はＩｍａｘ＿ａとＩｔｈの大小を比較する演算を行い、その結果に従ってＳ５もしくはＳ８に進む（Ｓ４）。Ｉｍａｘ＿ａ＜Ｉｔｈの場合、入射スペクトルはノイズ信号に対して十分なＳ／Ｎ比を有していない可能性が高い。よって図示しない表示部にＩｍａｘ＿ａがＩｔｈ未満である旨を表示し、入射スペクトルの取得を中止する（Ｓ８）。Ｉｍａｘ＿ａ≧Ｉｔｈの場合、入射スペクトル強度はノイズ信号強度に対して十分なＳ／Ｎ比を有していると考えられるので、Ｓ５に進む。
【００２２】
Ｓ５においてλ１、λ２算出部２４４は入射スペクトルの半値波長を算出する。図７のように入射スペクトルの波形が単一のピークを有する場合、半値波長としてλ１、λ２が１組算出される。次に算出されたλ１、λ２に対して、半値波長比較部２４５はＤＢ部２５０に格納されたターゲットの有する所定の半値波長λＡ、λＢと一致するか否かの演算を行う（Ｓ６）。ここでいう「一致」とは得られたλ１、λ２が
λＡ−α＜λ１＜λＡ＋α…（１）式
λＢ−β＜λ２＜λＢ＋β…（２）式
を共に満たすものとする。半値波長比較部２４５は１式、２式の演算式に基づいて演算を行い、その結果に従ってＳ７もしくはＳ８に進む。λ１、λ２がそれぞれ１式、２式を満たす場合、図示しない表示部にターゲットが存在する旨を表示し、取得を終了する（Ｓ８）。一方、λ１、λ２がそれぞれ１式、２式を満たさなかった場合、波長分解能が不十分である可能性が高い。そこでスリット幅決定部２４６はスリットａと比較して幅が１段階小さいスリットｂを指定し、指定信号発信部２４７は指定信号を駆動部１５０に出力する（Ｓ７）。駆動部１５０は指定信号発信部２４７からの指定信号に基づきスリットｂが入射光路上に配置されるようスリット板１２０を回転させる。その後再び観測を行いスリットａと同様の処理を行う。
【００２３】
スリットｂによる取得結果を図８に示す。スリット幅を狭めたことにより取得部１４０への入射光量が減少する。よってスリットｂを用いた場合のピーク強度値Ｉｍａｘ＿ｂはＩｍａｘ＿ａよりも小さくなっている。一方で波長分解能は向上することから、λ１、λ２算出部はより細かい目盛間隔を用いることができる。その結果スリットａを用いた場合と比較してλ１、λ２をより正確に算出することができる。図７ではλ１＝４９０−５００ｎｍ、λ２＝５００−５１０ｎｍ程度の読取り精度であるが図８ではλ１＝４９６ｎｍ、λ２＝５０４ｎｍと読みとれる。
【００２４】
本実施の形態では取得範囲内にターゲットの存在が判明した場合、もしくは同様の処理をスリットｃ、スリットｄの順に適用したにもかかわらず、λ１、λ２がそれぞれ１式、２式を満たさなかった場合、終了となる（Ｓ８）。
［効果の説明］
スリット幅が小さければ小さいほど波長分解能は向上するが、その分データ処理時間が無視できなくなる。本実施形態ではピーク強度値及び半値波長の取得結果のみに基づいた判定を行うことから、ターゲットの有無の判定に必要十分な波長分解能を迅速に達成することができる。加えて上述のα、βを例えば５ｎｍのように小さく設定することでターゲットの有無を正確に判断することができる。さらに、最も広い幅を有するスリットを用いて入射スペクトルの取得を開始することでターゲット有無を判定するために必要なデータ量を抑制し、取得回数を最小限にとどめることができる。
［第二の実施形態］
［構成の説明］
図９は本発明の第二の実施形態であるスリット幅変更装置のシステム概略図である。本実施形態ではデータ処理系２００にフィルター処理部２７０が追加される点で第一の実施形態と異なる。その他第一の実施形態と同様の構成要件に関しては図１と同一の符号を付し詳細な説明は省略する。
【００２５】
取得範囲からの入射光は第一の実施形態と同様の光学系１００を経てデータ処理系２００へと導かれる。取得部１４０からの取得データはフィルター処理部２７０を経て取得部データアナログ処理部２１０へと導かれた後、第一の実施形態と同様の処理がなされる。
【００２６】
フィルター処理部２７０は例えばＢＰＦ（バンドパスフィルター）回路が用いられる。ＢＰＦの中心波長はターゲットが有する中心波長と略同一となるように設定される。ターゲットの有する中心波長は別途ＤＢ部２５０に別途登録された値を設定してもよいし、あるいはλＡ、λＢの平均値として設定してもよい。また、図９では取得部１４０と取得部データアナログ処理部２１０の間にフィルター処理部２７０を設ける構成としたが、例えば取得部１４０前や分光器１３０前といったように取得部データアナログ処理部２１０以前であればどこに設置されてもよい。
【００２７】
ＢＰＦの通過波長域はターゲットに応じて適宜変更可能であり、通過波長帯域をλＢＰＦ１＜λ＜λＢＰＦ２とすると、
（λＢＰＦ１＜λＡ−α）∧（λＢ＋β＜λＢＰＦ２）…（３）式
を満たすようにλＢＰＦ１、λＢＰＦ２を設定する。
［動作の説明］
次に図１０を用いて本実施形態に係るスリット幅変更装置の動作を説明する。第一の実施形態と同様の動作については図６と同一の符号を付し詳細な説明は省略する。ここでは取得範囲内にターゲットのみならず、ターゲットと類似のスペクトルを有する物体が存在した場合を考える。この時、図１１（ａ）に示すような、複数のピークを同時に有する入射スペクトルが得られる。このような入射スペクトル取得結果に対してフィルター処理部２７０はＢＰＦ回路により３式を満たすような波長域のみを透過させ、取得部アナログ処理部１０へと導く（Ｓ９）。即ち入射スペクトルの波形が複数のピークを有する場合、フィルター処理を行うことで、図１１（ｂ）に示すような単一のピークを有する波形を抜き出した後、取得部アナログ処理部１０へと導く。その結果λ１、λ２算出部２４４はλ１、λ２の組を１組に絞り込むことができる。ただし取得部１４０以前にフィルター処理部２７０を設ける場合はＳ９の後にＳ２の処理が行われる。取得部データアナログ処理部２１０以降は第一の実施形態と同様の処理がなされる。
［効果の説明］
新たにフィルター処理部２７０を設けることで、測定範囲内にターゲットとターゲットに類似のスペクトルを有する物体が複数同時に存在した場合でもターゲットに的を絞って波長分解能を迅速に設定することができる。また、フィルター処理を施すことでＳ３−Ｓ６において扱うデータ量を削減できることからデータ処理に要する時間を短縮することができる。
［第三の実施形態］
第一、第二の実施形態では視程の良／不良が入射スペクトルの取得に及ぼす影響を無視した場合の実施形態を示した。本実施形態では視程不良である場合のスリット幅変更装置の動作を説明する。装置構成は第一の実施形態と同様であるため、詳細な説明は省略する。本実施形態では図示しない視程計を用いて視程を取得し、所定の視程閾値よりも小さい場合に視程不良であるとする。
【００２８】
一般的に、視程不良であるスペクトル取得環境下では視程良好の場合と比較して取得部１４０への入射光量が少ない。このような取得環境下において視程良好時と同様のＩｔｈを用いた場合、Ｉｍａｘ＜Ｉｔｈとなる可能性が高い。その結果取得終了となり、取得範囲内におけるターゲットの有無を判定できない。そこで本実施形態では、視程不良時におけるスペクトルの取得に限りＩｔｈを引き下げターゲットの有無を判定しやすくするような動作が行われる。
［動作の説明］
図１２を用いて本実施形態に係るスリット幅変更装置の動作を説明する。第一の実施形態と同様の動作については図６と同一の符号を付し詳細な説明は省略する。まず、第一の実施形態と同様に最も広い幅を有するスリットａを用いて入射光スペクトルの取得を行い、図１３のような取得結果を得る。続いてＩｍａｘ算出部２４１においてＩｍａｘを算出しピーク強度値比較部２４３にてＩｍａｘとＩｔｈを比較する演算を行い、演算結果に基づいてＳ９またはＳ１０に進む。Ｉｔｈ≦Ｉｍａｘの場合は第一の実施形態と同様の処理がなされる。Ｉｔｈ＞Ｉｍａｘの場合、Ｉｔｈ設定部２４２は図示しない入力装置による観測者からの入力に基づいてＩｔｈよりも小さいピーク強度閾値、Ｉｔｈ＿２を設定する（Ｓ１０）。例えばＩｔｈ＿２＝０．９Ｉｔｈ＿１である。その後再び入射スペクトルの取得を行い、Ｉｍａｘを算出し、Ｉｔｈ＿２と比較する演算を行う。Ｉｔｈ＿２≦Ｉｍａｘとなった場合、Ｉｔｈ≡Ｉｔｈ＿２のようにＩｔｈを再設定する（Ｓ１０）。その後はＩｔｈ＿２を基に第一の実施形態と同様の処理がなされる。ただしＩｔｈ＿２＞Ｉｍａｘとなった場合は終了する。
［効果の説明］
Ｉｔｈを引き下げることで視程が不良である場合においても取得対象範囲内におけるターゲットの有無を判定可能な波長分解能を迅速に達成することができる。
【００２９】
本スリット幅変更装置は光学系、データ処理系はひとまとまりであってもよいが、これに限らない。例えば光学系とデータ処理系は外部と情報をやり取りするための送受信部をそれぞれ備えており、取得部データアナログ処理部２１０、Ａ／Ｄ変換部２２０、出力Ｉ／Ｆ部２３０、スリット選択部２４０、ＤＢ部２５０、フィルター処理部２６０のいずれかまたは全てが、スリット幅変更装置の外部に設けられた情報処理センターなどに設けられてもよい。このようにしても上記の各実施形態と同様の作用効果を得ることができる。
【００３０】
上記各実施の形態では分光器１３０として凹面回折格子を用いたが、これに限るものではない。例えばプリズムやグリズムなどの光を透過させる分光器を用いてもよい。このようにしても上記の各実施形態と同様の作用効果を得ることができる。
【００３１】
上記各実施の形態では凹面回折格子を用いることで、回折格子での反射光を直接取得部１４０に集光させたが、これに限らない。例えば、凸レンズなどの光を透過させる結像器や、凹面鏡を用いて集光させてもよい。このようにしても上記の各実施形態と同様の作用効果を得ることができる。
【産業上の利用可能性】
【００３２】
海難事故時などにハイパースペクトルセンサカメラなどのスペクトルカメラを用いてターゲットを捜索する捜索システムに対して適用できる。
【符号の説明】
【００３３】
１００    光学系
１１０    集光光学部
１１１    反射鏡
１１２    ミラーａ
１１３    ミラーｂ
１２０    スリット板
１２１    スリットａ
１２２    スリットｂ
１２３    スリットｃ
１２４    スリットｄ
１２５    回転軸
１３０    分光器
１４０    取得部
１５０    駆動部
２００    データ処理系
２１０    取得部データアナログ処理部
２２０    Ａ／Ｄ変換部
２３０    出力Ｉ／Ｆ部
２４０    スリット選択部
２４１    Ｉｍａｘ算出部
２４２    Ｉｔｈ設定部
２４３    ピーク強度値比較部
２４４    λ１、λ２算出部
２４５    半値波長比較部
２４６    スリット幅決定部
２４７    指定信号発信部
２５０    ＤＢ部
２６０    フィルター処理部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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