(57)【要約】【課題】光学調整の簡便化が図れ、レーザ出力の温度に対する安定性を向上させることができるレーザ装置を実現すること。【解決手段】ベースの一方の面にはヒートシンクが設けられ、このベースのヒートシンクと対向する他方の面にはレーザヘッドが配置されたことを特徴とするもの。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ベースの一方の面にはヒートシンクが設けられ、このベースのヒートシンクと対向する他方の面にはレーザヘッドが配置されたことを特徴とするレーザ装置。
【請求項２】
前記ヒートシンクは前記ベースと一体化されていることを特徴とする請求項１記載のレーザ装置。
【請求項３】
前記ベースのレーザヘッドの配置面には、ビームシフト用ガラスおよびダイクロイックミラーも配置されていることを特徴とする請求項１または請求項２記載のレーザ装置。
【請求項４】
前記レーザヘッドは複数系統配置されていることを特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載のレーザ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザ装置に関し、詳しくは、ビームコンバイナに組み込まれる放熱機構に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
図３は、特許文献１に記載されているビームコンバイナを用いた蛍光分光分析装置の構成説明図である。図３において、異なる励起波長を有する複数のレーザ光源１から出力される複数本のレーザビームはビームコンバイナ２により１本に合成された後、ビームスプリッタ３で分割される。分割されたレーザビームはカップリングレンズ４を介して光ファイバ５に導入される。
【０００３】
光ファイバ５の他方の端面は結像レンズの結像面に設けられていて、この光ファイバ２の端面で形成される多波長の複数光源が図示しない対物レンズを介して試料に照射されることにより、試料中に複数の観測領域が形成される。試料から発生した蛍光は再び対物レンズおよび結像レンズ６を通過して光ファイバ２の端面に入射される。このとき光ファイバ２のコアによってピンホールと同等の共焦点効果が生じ、共焦点検出が行われる。
【０００４】
試料からの蛍光は、光ファイバ２から射出した後、ビームスプリッタ３を介して検出器７に入射される。複数の蛍光波長領域を含んだ蛍光は、ダイクロイックミラーによって励起波長に対応する各蛍光波長領域の蛍光に分けられ、それぞれの励起波長毎に検出素子７によって検出される。ここで、検出素子７としてはたとえばアバランシェフォトダイオードが用いられる。
【０００５】
検出素子７で検出された蛍光強度信号は解析装置８に入力され、統計分布等の必要なデータが計算される。また、得られた複数のデータは、その空間分布に従って、通常顕微鏡画像に重ねて表示することもできる。これにより、たとえば細胞のどの位置にどのような変化が生じているかなどをリアルタイムに表示できる。
【０００６】
図４は従来のビームコンバイナ２の一例を示す構成説明図、図５は図４の部分拡大断面図である。図４および図５において、ベース２１上には、異なる励起波長を有する４系統のレーザヘッド２２がそれぞれヒートシンク２３を介して配置されている。
【０００７】
これらレーザヘッド２２の出力ビームは、それぞれビームシフト用ガラス２４を介してダイクロイックミラー２５に入射され、ファイバ２６に入射されるように光軸調整が行われる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２００４−１９１２５１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかし、このような従来の構成によれば、レーザヘッド２２のそれぞれにヒートシンク２３が設けられているため、ヒートシンク２３を個別に冷却する必要がある。
【００１０】
また、ヒートシンク２３を高精度で加工することが望ましいが、加工精度には限界があることから光学基準面が定まらず、光軸調整が困難である。
【００１１】
さらに、レーザヘッド２２を駆動した場合、レーザの発熱に伴ってヒートシンク２３がある部分とない部分とでベース２１に温度ムラが生じてベース２１の熱膨張に偏りが生じやすい機構となっていることから、レーザ使用時に光軸ずれが生じやすいという問題もある。
【００１２】
本発明は、これらの課題を解決するものであって、その目的は、光学調整の簡便化が図れ、レーザ出力の温度に対する安定性を向上させることができるレーザ装置を実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
ベースの一方の面にはヒートシンクが設けられ、このベースのヒートシンクと対向する他方の面にはレーザヘッドが配置されたことを特徴とするレーザ装置である。
【００１４】
請求項２の発明は、請求項１記載のレーザ装置において、
前記ヒートシンクは前記ベースと一体化されていることを特徴とする。
【００１５】
請求項３の発明は、請求項１または請求項２記載のレーザ装置において、
前記ベースのレーザヘッドの配置面には、ビームシフト用ガラスおよびダイクロイックミラーも配置されていることを特徴とする。
【００１６】
請求項４の発明は、請求項１から請求項３のいずれかに記載のレーザ装置において、
前記レーザヘッドは複数系統配置されていることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１７】
これらにより、光学調整の簡便化が図れ、レーザ出力の温度に対する安定性を向上させることができるレーザ装置を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明の一実施例を示す構成説明図である。
【図２】図１の部分拡大断面図である。
【図３】特許文献１に記載されているビームコンバイナを用いた蛍光分光分析装置の構成説明図である。
【図４】従来のビームコンバイナ２の一例を示す構成説明図である。
【図５】図４の部分拡大断面図である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明の一実施例を示す構成説明図、図２は図１の部分拡大断面図であり、図４および図５と共通する部分には同一の符号を付けている。図１および図２において、ヒートシンクベース２７の一方の面には異なる励起波長を有する４系統のレーザヘッド２２がヒートシンクを介することなく直接配置され、他方の面にはレーザヘッド２２とそれぞれ対向するように４系統のヒートシンク２３が配置されている。
【００２０】
なお、４系統のヒートシンク２３は、４系統分が一体化されたものを用いてもよい。一体化されたヒートシンクを用いることにより、４系統間に発生する温度差をヒートシンク自体で等温化できる。
【００２１】
レーザヘッド２２が配置されている面には、ビームシフト用ガラス２４およびダイクロイックミラー２５も配置されている。これらビームシフト用ガラス２４およびダイクロイックミラー２５は、レーザヘッド２２が有しているビームの中心ズレや角度ズレを補正するためのものである。
【００２２】
ビームの中心と角度が補正されたレーザ光は、ダイクロイックミラー２５で透過、反射されてファイバ２６に入射される。
【００２３】
このような構成によれば、ヒートシンクとベースがヒートシンクベース２７として一体化されていることから、従来のビームコンバイナと比較すると、機械的な基準面にレーザヘッド２２を配置できるので、ヒートシンク２３の加工精度に起因する光軸ずれの影響を受けることがない。
【００２４】
また、ヒートシンクとベースをヒートシンクベース２７として一体化することにより、個別にたとえば空冷ファンなどの冷却機構を設ける必要はない。
【００２５】
さらに、レーザヘッド２２の直下にヒートシンクベース２７があるため、レーザの発熱による温度ムラの影響を受けにくく、熱膨張による光軸ズレを低減できる。
【００２６】
このように構成されるレーザ装置は、ヒートシンク２３の加工精度に起因する光軸ずれの影響を受けないこと、個別の冷却機構が不要であること、熱膨張による光軸ズレを低減できることなどから、たとえば蛍光分光分析装置の光源として好適である。
【００２７】
以上説明したように、本発明によれば、光学調整の簡便化が図れ、レーザ出力の温度に対する安定性を向上させることができるレーザ装置を実現できる。
【符号の説明】
【００２８】
２２  レーザヘッド
２３  ヒートシンク
２４  ビームシフト用ガラス
２５  ダイクロイックミラー
２７  ヒートシンクベース
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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