(57)【要約】【課題】導光路の単位長さあたりの光の伝送損失の測定に用いる光の強度を容易に検出し得る光検出方法および前記強度に基づいて導光路の単位長さあたりの光の伝送損失を容易に算出することができる光伝送損失測定方法を提供すること。【解決手段】本発明の光検出方法は、導光路の光の伝送損失の測定に用いる光の強度を測定する方法である。光検出方法は、長さがそれぞれ異なるコア部８４ａ〜８４ｄが並設された光導波路８Ａを用意する第１工程と、コア部８４ａ〜８４ｄの一端に光をそれぞれ入射し、コア部８４ａ〜８４ｄの他端から光をそれぞれ出射させ、その出射光を受光して強度を検出する第２工程とを有する。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
導光路の光の伝送損失の測定に用いる光の強度を測定する方法であって、
長さがそれぞれ異なる複数のコア部が並設された導光路被検体を用意する第１工程と、
前記各コア部の一端に光をそれぞれ入射し、前記各コア部の他端から光をそれぞれ出射させ、その出射光を受光して強度を検出する第２工程とを有することを特徴とする光検出方法。
【請求項２】
請求項１に記載の光検出方法により前記第２工程で検出された前記各コア部の出射光の強度と、前記各コア部の長さとに基づいて前記導光路被検体の単位長さあたりの光の伝送損失を算出する第３工程をさらに有することを特徴とする光伝送損失測定方法。
【請求項３】
前記導光路被検体は、長さがそれぞれ等しい複数のコア部を有し、平面視で矩形をなす導光路母材に対して、両端面のうちの少なくとも一端面が前記導光路母材の前記複数のコア部の長手方向に対して傾斜した傾斜面となるように加工してなるものである請求項２に記載の光伝送損失測定方法。
【請求項４】
前記第２工程では、前記傾斜面側から光を入射させる請求項３に記載の光伝送損失測定方法。
【請求項５】
前記傾斜面は、前記導光路被検体の両端に設けられている請求項３または４に記載の光伝送損失測定方法。
【請求項６】
前記各傾斜面は、前記複数のコア部の長手方向に対して、互いに異なる方向に傾斜している請求項５に記載の光伝送損失測定方法。
【請求項７】
前記傾斜面は前記各コア部の延在方向に対して５〜６５°傾斜している請求項３ないし６のいずれか１項に記載の光伝送損失測定方法。
【請求項８】
前記導光路被検体は、前記導光路母材を切断することによって加工されてなるものである請求項３ないし７のいずれか１項に記載の光伝送損失測定方法。
【請求項９】
前記第２工程では、光を出射する１つの光源から前記各コア部に光を一括して入射させる請求項２ないし８のいずれか１項に記載の光伝送損失測定方法。
【請求項１０】
前記第３工程では、前記各コア部の光が出射する端面を撮像し、得られた画像における前記各出射光の像の輝度差と、前記各コア部の長さの差とに基づいて、前記導光路被検体の単位長さあたりの光の伝送損失を算出する請求項２ないし９のいずれか１項に記載の光伝送損失測定方法。
【請求項１１】
前記第３工程では、前記各コア部の光が出射する端面に対して平行に移動しつつ複数枚の画像を撮像する請求項１０に記載の光伝送損失測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光検出方法および光伝送損失測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、光信号を使用してデータを移送する光通信がますます重要になっている。このような光通信では、信号を伝搬する光を一地点から他地点へ導くための手段として、光導波路が用いられる。
【０００３】
光導波路は、例えば、コア層と、該コア層の両面にそれぞれ設けられた一対のクラッド層とで構成されている。コア層は、光を伝送する線状のコア部とクラッド部とを有し、これらが交互に配列されている。
【０００４】
一般的に、光導波路では、コア部の長さが長くなるのに伴って挿入損失が大きくなる。これを利用して単位長さあたりの光の伝送損失を測定する方法として、カットバック法が知られている（例えば、非特許文献１参照）。
【０００５】
この非特許文献１に記載のカットバック法は、以下の（１）〜（４）ステップを有する。
【０００６】
（１）光導波路の一端から光を入射し、他端から出射した光の強度を、光パワーメーターにより測定し、挿入損失を算出する。
（２）光導波路の一端部を切断し（１）での光導波路よりも短い光導波路を形成する。
【０００７】
（３）（２）で得られた光導波路の一端から光を入射し、他端から出射した光の強度を光パワーメーターにより測定し、挿入損失を算出する。
【０００８】
（４）（１）、（３）のステップでの光導波路の長さの差と、（１）、（３）のステップで得た挿入損失の差とに基づいて光導波路の単位長さあたりの光の伝送損失を算出する。
【０００９】
しかしながら、正確な光の伝送損失を算出するためには、上記（１）〜（４）のステップを多数回繰り返し、それらの測定結果に基づいて伝送損失を算出する必要があり、非常に手間がかかるとともに、コストも高くなる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【非特許文献１】社団法人日本電子回路工業会、ＪＰＣＡ規格“高分子光導波路の試験方法”［online］、平成２０年６月、［平成２５年２月１４日検索］、インターネット〈ＵＲＬ：http：／／www.jpca.net／hikari／pdf／jpca−pe02−05−01s−2008.pdf〉
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
本発明の目的は、導光路の単位長さあたりの光の伝送損失の測定に用いる光の強度を容易に検出し得る光検出方法および前記強度に基づいて導光路の単位長さあたりの光の伝送損失を容易に算出することができる光伝送損失測定方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
このような目的は、下記（１）〜（１１）の本発明により達成される。
（１）  導光路の光の伝送損失の測定に用いる光の強度を測定する方法であって、
長さがそれぞれ異なる複数のコア部が並設された導光路被検体を用意する第１工程と、
前記各コア部の一端に光をそれぞれ入射し、前記各コア部の他端から光をそれぞれ出射させ、その出射光を受光して強度を検出する第２工程とを有することを特徴とする光検出方法。
【００１３】
（２）  請求項１に記載の光検出方法により前記第２工程で検出された前記各コア部の出射光の強度と、前記各コア部の長さとに基づいて前記導光路被検体の単位長さあたりの光の伝送損失を算出する第３工程をさらに有することを特徴とする光伝送損失測定方法。
【００１４】
（３）  前記導光路被検体は、長さがそれぞれ等しい複数のコア部を有し、平面視で矩形をなす導光路母材に対して、両端面のうちの少なくとも一端面が前記導光路母材の前記複数のコア部の長手方向に対して傾斜した傾斜面となるように加工してなるものである上記（２）に記載の光伝送損失測定方法。
【００１５】
（４）  前記第２工程では、前記傾斜面側から光を入射させる上記（３）に記載の光伝送損失測定方法。
【００１６】
（５）  前記傾斜面は、前記導光路被検体の両端に設けられている上記（３）または（４）に記載の光伝送損失測定方法。
【００１７】
（６）  前記各傾斜面は、前記複数のコア部の長手方向に対して、互いに異なる方向に傾斜している上記（５）に記載の光伝送損失測定方法。
【００１８】
（７）  前記傾斜面は前記各コア部の延在方向に対して５〜６５°傾斜している上記（３）ないし（６）のいずれか１項に記載の光伝送損失測定方法。
【００１９】
（８）  前記導光路被検体は、前記導光路母材を切断することによって加工されてなるものである上記（３）ないし（７）のいずれか１項に記載の光伝送損失測定方法。
【００２０】
（９）  前記第２工程では、光を出射する１つの光源から前記各コア部に光を一括して入射させる上記（２）ないし（８）のいずれか１項に記載の光伝送損失測定方法。
【００２１】
（１０）  前記第３工程では、前記各コア部の光が出射する端面を撮像し、得られた画像における前記各出射光の像の輝度差と、前記各コア部の長さの差とに基づいて、前記導光路被検体の単位長さあたりの光の伝送損失を算出する上記（２）ないし（９）のいずれか１項に記載の光伝送損失測定方法。
【００２２】
（１１）  前記第３工程では、前記各コア部の光が出射する端面に対して平行に移動しつつ複数枚の画像を撮像する上記（１０）に記載の光伝送損失測定方法。
【発明の効果】
【００２３】
本発明によれば、導光路の単位長さあたりの光の伝送損失の測定に用いる光の強度を容易に検出することができ、前記強度に基づいて導光路の単位長さあたりの光の伝送損失を容易に算出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】本発明の光検出方法および光伝送損失測定方法の第１実施形態に用いる測定装置を示す斜視図である。
【図２】図１に示す測定装置の概略構成図である。
【図３】図１に示す導光路被検体を加工する前の導光路母材の斜視図である。
【図４】図１に示す導光路母材の斜視図である。
【図５】図１に示す測定装置による検出結果を示す図である。
【図６】本発明の光検出方法および光伝送損失測定方法の第２実施形態に用いる測定装置を示す斜視図である。
【図７】本発明の光検出方法および光伝送損失測定方法の第３実施形態に用いる測定装置を示す概略構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００２５】
以下、本発明の検出装置および検出方法を添付図面に示す好適な実施形態に基づいて詳細に説明する。
【００２６】
＜第１実施形態＞
図１は、本発明の光検出方法および光伝送損失測定方法の第１実施形態に用いる測定装置を示す斜視図、図２は、図１に示す測定装置の概略構成図、図３は、図１に示す導光路被検体を加工する前の導光路母材の斜視図、図４は、図１に示す導光路母材の斜視図、図５は、図１に示す測定装置による検出結果を示す図である。
【００２７】
なお、以下では、説明の都合上、図１〜図４の上側を「上方」、下側を「下方」と言う。また、図１〜図４の右側を「一端」、左側を「他端」という。
【００２８】
まず、本発明の光検出方法および光伝送損失測定方法で用いられる測定装置１について説明する。
【００２９】
図１に示す測定装置１は、導光路から出射した光の強度を検出し、その検出結果に基づいて、導光路の単位長さあたりの光伝送損失を算出（測定）する装置である。ここで、測定装置１による検出・測定に供される導光路としては、光ファイバーや光導波路等が挙げられ、その形態等は特に限定されないが、以下の説明では、説明の便宜上、導光路は光導波路であるとして説明する。なお、後述する光導波路についての説明は、そのまま光ファイバーにも適用可能である。
【００３０】
測定装置１は、ステージ２と、光源３と、カメラ４と、制御部１００とを有している。この測定装置１は、互いに長さが等しく、かつ、並列するコア部８４ａ〜８４ｄを有する光導波路（導光路母材）８を、互いに長さがことなるように加工した光導波路（導光路被検体）８Ａの一端に光を入射するとともに他端から出射した出射光の強度を検出し、その強度に基づいて光導波路８Ａの単位長さあたりの光伝搬損失（以下、単に「伝送損失」という）を算出する。
【００３１】
以下、本発明の測定装置１の各部の構成について説明する。
（ステージ２）
図１に示すように、ステージ２は、板部材で構成され、光導波路８Ａ等を安定的に支持する機能を有している。
【００３２】
また、ステージ２の上面２１には、光導波路８Ａと当接する部分に、粘着層が設けられているのが好ましい（図示せず）。これにより、前記粘着層を介して、ステージ２に光導波路８Ａを容易に固定することができる。
【００３３】
このような粘着層の構成材料としては、例えば、シリコーン系粘着剤、ポリ塩化ビニル系粘着剤、ポリエステル系粘着剤、エラストマー系粘着剤、ゴム系粘着剤、アクリル樹脂系粘着剤、ポリビニルエーテル樹脂系粘着剤等が挙げられ、これらのうちの１種または２種以上の混合物が用いられる。また、粘着層として、例えばマジックレジン（大昌電子製）、ボンディングシート、ダイシングフィルム等を用いることもできる。
【００３４】
なお、本実施形態では、ステージ２に光導波路８Ａを固定する方法は、粘着層を用いているが、例えば、板バネ等の付勢部材によって、ステージ２に押し当てる方法や、光導波路８Ａが挿入されるスリットを設け、前記溝の内側面から光導波路の幅方向に付勢し、挟持する方法等であってもよい。
【００３５】
このようなステージ２を構成する材料としては、例えば、各種金属、各種ガラス、各種セラミックス、各種樹脂等が挙げられる。
【００３６】
（光源３）
図１および図２に示すように、ステージ２の一端側、すなわち、光導波路８Ａの一端側には光源３が設けられている。光源３は、コア部８４ａ〜８４ｄに光を一括して入射させるよう、光を出射する。
【００３７】
この光源３は、例えば、発光ダイオード（ＬＥＤ）、各種ランプ、各種レーザー光源等の発光素子で構成される。また、光源３は、例えば、バンドパスフィルター、コリメートレンズ、偏光子等が内蔵された複合体（ユニット）であってもよい。
【００３８】
このような光源３が出射する光の発光スペクトルの最大ピーク波長は、２００〜１３００ｎｍ程度であるのが好ましく、３００〜１１００ｎｍ程度であるのがより好ましい。また、光源３が出射する光は単色光が好ましい。これにより、波長が混在することによる画像のにじみ等が抑制され、よって、画像上のコア部８４ａ〜８４ｄの像の識別性が向上する。
【００３９】
また、光源３は、出射する光の特性等を制御するドライバー３０を内蔵している。このドライバー３０は、後述する制御部１００と電気的に接続されている。ドライバー３０は、制御部１００からの信号に基づいて、出射光の光量、波長、出射の有無などを制御する。
【００４０】
（カメラ４）
図１およぶ図２に示すように、カメラ４は、光導波路８Ａおよびステージ２の他端側に設けられている。カメラ４は、コア部８４ａ〜８４ｄの他端側から光導波路８Ａの他端面を撮像する。
【００４１】
カメラ４としては、例えば、ＣＣＤ（Charge Coupled Device）カメラを用いることができる。これにより、濃淡（明暗）画像を得ることができる。よって、カメラ４で撮像された画像では、この輝度差によってコア部８４ａ〜８４ｄの各部の像が得られるとともに、コア部８４ａ〜８４ｄの出射光の像における輝度の最大値の位置を特定することができる。
【００４２】
なお、このカメラ４としては、ＣＣＤに加えて、ＣＭＯＳ、イメージングプレート、フィルム等の撮像手段を用いてもよい。また、カメラ４は、例えば、バンドパスフィルター、コリメートレンズ、偏光子等が内蔵された複合体（ユニット）であってもよい。
【００４３】
図２に示すように、カメラ４は、リニアアクチュエーター４０により、光導波路８Ａの他端面に沿って平行に移動しつつ、画像を撮像する。カメラ４が移動しつつ複数枚の画像を撮像することによって、カメラ４は、比較的高い倍率で撮像する場合であっても、広い写野を確保することができる。よって、各画像の分解能が向上する。その結果、画像におけるコア部８４ａ〜８４ｄの光強度の検出位置精度が向上する。
【００４４】
リニアアクチュエーター４０は、後述する制御部１００からの信号に基づいて、カメラ４を移動させる。そして、カメラ４で撮像された複数枚の画像は、制御部１００に送信され、必要に応じて、リニアアクチュエーター４０の位置情報に基づいて合成、解析される。
【００４５】
（制御部１００）
図２に示すように、制御部１００は、検出装置１の各部を制御する機能を有している。制御部１００は、光検出手段５と、光伝送損失算出手段６とを有している。さらに、前述したように、制御部１００は、ドライバー３０およびカメラ４を移動させるリニアアクチュエーター４０と電気的に接続されている。これにより、制御部１００は、光源３とカメラ４の駆動を同期させることができる。
【００４６】
制御部１００は、さらに、画像解析やマッチング等の演算処理を行う演算部（図示せず）を含んでいる。具体的な演算部としては、例えば、ＬＳＩ、ＩＣ、ＣＰＵ、ＭＰＵ、パーソナルコンピューター等が挙げられる。また、必要に応じて、設定値等を入力する入力部（キーボード等）、設定値やプログラム等を記憶する記憶部（ＲＡＭ、ＲＯＭ等）等を備えていてもよい。
【００４７】
制御部１００では、必要に応じて、カメラ４で撮像された画像に画像処理を施してもよい。この画像処理としては、例えば、２値化処理、ノイズ除去、パターンマッチング等が挙げられる。これにより、コア部８４ａ〜８４ｄの出射光の検出精度を高めることができる。
【００４８】
光検出手段５は、制御部１００に内蔵されたソフトウェアである。光検出手段５はコア部８４ａ〜８４ｄの出射光を受光して強度を検出する。具体的には、カメラ４によって撮像された画像におけるコア部８４ａ〜８４ｄの出射光の像の輝度値に基づいて、その強度をそれぞれ検出する。
【００４９】
光伝送損失算出手段６は、制御部１００に内蔵されたソフトウェアである。光伝送損失算出手段６は、コア部８４ａ〜８４ｄの長さ（長さの差）と、光検出手段５で検出されたコア部８４ａ〜８４ｄの出射光の強度とに基づいて光導波路８Ａの単位長さあたりの光の伝送損失を算出する。
【００５０】
なお、各実施形態の光検出手段、光伝送損失算出手段および結合損失推定手段は、それぞれ制御部に内蔵されたソフトウェアであるが、本発明ではこれに限定されず、同様の機能を有するハードウェア等であってもよい。
【００５１】
（光導波路８）
図３に示す光導波路８は、その全体形状（矩形）が帯状をなしている。
【００５２】
光導波路８は、クラッド層（第１のクラッド層（クラッド部））８３ａと、コア層８２と、クラッド層（第２のクラッド層（クラッド部））８３ｂとで構成され、これらの層をこの順に下側から積層してなるものである。
【００５３】
コア層８２は、長尺状をなす複数本（本実施形態では、４本）のコア部（導波路チャンネル）８４ａ、８４ｂ、８４ｃ、８４ｄと、複数本（本実施形態では、５本）の側面クラッド部（クラッド部）８５ａ、８５ｂ、８５ｃ、８５ｄ、８５ｅとを有し、これらが光導波路８の幅方向に交互に配置されている。このように光導波路８は、複数本のコア部を有するマルチチャンネルタイプである。
【００５４】
また、コア部８４ａ〜８４ｄは、側面クラッド部８５ａ〜８５ｅに比べて屈折率が高い材料で構成され、また、クラッド層８３ａ、８３ｂに対しても屈折率が高い材料で構成されている。
【００５５】
コア部８４ａ〜８４ｄ、側面クラッド部８５ａ〜８５ｅの各構成材料は、それぞれ、特に限定されない。
【００５６】
図３に示すコア層８２の両面には、クラッド層８３ａ、８３ｂが配置されている。クラッド層８３ａ、８３ｂは、それぞれ、コア層８２の下部および上部に位置するクラッド部を構成するものであり、コア層８２に接している。これにより、コア部８４ａ〜８４ｄは、それぞれ、その全外側面をクラッド部に囲まれる構成となる。よって、コア部８４ａ〜８４ｄは、それぞれ導光路として機能する。
【００５７】
（光導波路８Ａ）
光導波路８Ａは、前述した光導波路８の一端部をコア部８４ａ〜８４ｄの長手方向に対して斜めに切断することによって得られた測定用資料である。これにより、８Ａのコア部８４ａ〜８４ｄの長さは、互いに異なったものとなる。
【００５８】
（光検出方法および光伝送損失測定方法）
次に、光検出方法および光伝送損失測定方法について説明する。光検出方法および光伝送損失測定方法は、［１］光導波路８を加工して８Ａを用意する用意工程と、［２］光導波路８Ａに光を入射するよう光を出射する光出射工程と、［３］光導波路８Ａから出射した光を撮像（受光）する撮像工程と、［４］光導波路８Ａから出射した光の強度を検出する光検出工程と、［５］光出射工程で得られた出射光の強度から挿入損失を算出し、その算出結果と、コア部８４ａ〜８４ｄの長さに基づいて伝送損失を算出する光伝送損失算出工程とを有している。以下、各工程について順次説明する。
【００５９】
［１］用意工程（第１工程）
まず、光導波路８の一端部をコア部８４ａ〜８４ｄの長手方向に対して斜めに切断して加工する。このとき、切断された端面である傾斜面８０は、コア部８４ａ〜８４ｄの長手方向（延在方向）に対して、５〜６５°傾斜しているのが好ましく、１０〜５５°傾斜しているのがより好ましい。
【００６０】
これにより、確実に長さの異なるコア部８４ａ〜８４ｄを得ることができるとともに、光源３からの光を確実にコア部８４ａ〜８４ｄに入射させることができる。
【００６１】
光導波路８の加工方法としては、特に限定されず、例えば、ダイシングソー、カッター等による切断方法を用いることができる。また、必要に応じて、傾斜面８０を研磨加工してもよい。
【００６２】
次に、光導波路８Ａをステージ２に固定する（図１参照）。
［２］光出射工程（第２工程）
次に、図１および図２に示すように、光導波路８Ａのコア部８４ａ〜８４ｄに光を一括して入射させるよう光源３のドライバー３０を駆動する。このとき、光源３から出射した光は、傾斜面８０に入射する。傾斜面８０はコア部８４ａ〜８４ｄに対して傾斜しているため、傾斜面８０でのコア部８４ａ〜８４ｄの一端面の面積は、光導波路８の一端面でのコア部８４ａ〜８４ｄの一端面の面積よりも大きい。これにより、光源３から出射した光は、より確実にコア部８４ａ〜８４ｄに入射することができる。
【００６３】
［３］撮像（受光）工程
次に、リニアアクチュエーター４０を駆動し、カメラ４を光導波路８Ａの他端面に沿って移動させつつ、コア部８４ａ〜８４ｄの他端面の画像を複数枚撮像する。本実施形態では、リニアアクチュエーター４０によりカメラ４を光導波路８Ａの幅方向に移動させるという簡単な動作で、空間的に連続した複枚の画像を容易に取得することができる。
【００６４】
［４］光検出工程（第２工程）
次に、光検出手段５によって、撮像工程で得られた画像におけるコア部８４ａ〜８４ｄの出射光の像の輝度（強度）をそれぞれ検出（測定）する。
【００６５】
なお、測定値は、コア部８４ａ〜８４ｄの各出射光の像における輝度の最大値でもよく、前記各像における輝度の平均値でもよく、前記各像における輝度の総和であってもよい。
【００６６】
さらに、画像に収めさえすれば、複数のコア部の各輝度を一括検出することもできる。その場合、コア部１つあたりの輝度測定に要する時間を短縮することができる。
【００６７】
また、各コア部の出射光の像の形状等により、各コア部の製造上の異常も検出することができる。
【００６８】
［５］光伝送損失算出工程（第３工程）
次に、光伝送損失算出手段６によって、まず、コア部８４ａ〜８４ｄの挿入損失Ｌｉ（ｄＢ）をそれぞれ算出する。具体的には、光伝送損失算出手段６は、［４］工程で得られたコア部８４ａの出射光の強度の検出結果と、光源３から出射した光の強度とに基づいてコア部８４ａの挿入損失Ｌｉ１を算出し、［４］で得られたコア部８４ｂの出射光の強度の検出結果と、光源３から出射した光の強度とに基づいてコア部８４ｂの挿入損失Ｌｉ２を算出し、［４］で得られたコア部８４ｃの出射光の強度の検出結果と、光源３から出射した光の強度とに基づいて、コア部８４ｃの挿入損失Ｌｉ３を算出し、［４］で得られたコア部８４ｄの出射光の強度の検出結果と、光源３から出射した光の強度とに基づいてコア部８４ｄの挿入損失Ｌｉ４を算出する。
【００６９】
この挿入損失Ｌｉ１〜Ｌｉ４は、以下の式（１）または式（２）で求めることができる。
【００７０】
挿入損失Ｌｉ（ｄＢ）＝入射光の強度（ｄＢｍ）−出射光の強度（ｄＢｍ）…式（１）（光の強度の単位をｄＢｍとした場合）
【００７１】
挿入損失Ｌｉ（ｄＢ）＝−１０・ｌｏｇ｛入射光の強度（ｍＷ）／出射光の強度（ｍＷ）｝…式（２）（光の強度をｍＷとした場合）
【００７２】
次に、光伝送損失算出手段６によって、伝送損失Ｌｔを算出する。伝送損失Ｌｔは、挿入損失Ｌｉ１〜Ｌｉ４と、各コア部の長さＬ１〜Ｌ４とに基づいて算出され、以下の式（３）で求めることができる。
【００７３】
伝送損失Ｌｔ（ｄＢ／ｃｍ）＝挿入損失Ｌｉの変化量（各コア部の挿入損失Ｌｉの差）ΔＬｉ（ｄＢ）／各コア部の長さの差ΔＬ（ｃｍ）…式（３）
具体的には、各コア部の長さ（コア部８４ａの長さＬ１、コア部８４ｂの長さＬ２、コア部８４ｃの長さＬ３およびコア部８４ｄの長さＬ４）を横軸とし、各コア部の挿入損失Ｌｉ１〜Ｌｉ４を縦軸としてプロットし、最小二乗法により傾きを求める。この傾きが伝送損失Ｌｔ（ｄＢ／ｃｍ）となる（図５参照）。
【００７４】
以上のような演算を光伝送損失算出手段６により行うことで、第２工程で検出されたコア部８４ａ〜８４ｄの出射光の強度と、コア部８４ａ〜８４ｄの長さに基づいて光導波路８Ａの伝送損失Ｌｔを算出することができる。
【００７５】
なお、従来は、光導波路の伝送損失を算出する方法は、以下の（１）、（２）の工程を経ていた。
【００７６】
（１）光導波路の一端から光を入射し、他端から出射した光の強度を、光パワーメーターにより測定し、挿入損失を算出する。
（２）光導波路の一端部を切断し（１）での光導波路よりも短い光導波路を形成する。
【００７７】
（１）、（２）の工程を多数回繰り返し行った上で、そのときの測定結果に基づいて伝送損失を算出していた。ところが、このような方法は、（１）、（２）の工程を多数回繰り返し行う必要があるため、非常に手間がかかるものであった。
【００７８】
これに対し、本発明の光検出方法および光伝送損失測定方法によれば、前述したように光導波路８を一度切断するという非常に簡単な加工により、各コア部の長さＬ１〜Ｌ４がそれぞれ異なる光導波路８Ａを形成し、これを用いることによって、伝送損失Ｌｔの測定の大幅な簡略化を可能にした。すなわち、１つの導波路内で互いに長さが異なるコア部８４ａ〜８４ｄを伝搬する光の強度を検出することのみで、光導波路８Ａの伝送損失Ｌｔを容易に算出することができるという点で、本発明は有用である。
【００７９】
なお、光導波路（導光路母材）８の挿入損失を予め測定し、その測定結果に基づいて、［５］工程におけるコア部８４ａ〜８４ｄの挿入損失Ｌｉ１〜Ｌｉ４を補正することで、伝送損失Ｌｔをより正確に測定することができる。
【００８０】
さらに、光導波路８の各コア部の挿入損失Ｌｉを予め測定し、その測定結果を伝送損失Ｌｔの算出結果に加味することで、コア部８４ａ〜８４ｄの個体差による伝送損失Ｌｔのずれ（誤差）の発生を抑制することができる。これにより、より正確な伝送損失Ｌｔを得ることができる。
【００８１】
＜第２実施形態＞
図６は、本発明の光検出方法および光伝送損失測定方法の第２実施形態に用いる測定装置を示す斜視図である。
【００８２】
以下、この図を参照して本発明の検出装置および検出方法の第２実施形態について説明するが、前述した実施形態との相違点を中心に説明し、同様の事項はその説明を省略する。
【００８３】
本実施形態は、光導波路（導光路被検体）の構成が異なること以外は前記第１実施形態と同様である。
【００８４】
光導波路８Ｂは、前述した光導波路８Ａの他端部を、さらに、コア部８４ａ〜８４ｄの長手方向に対して交わる方向（傾斜面８０と異なる方向）に切断することによって加工されてなるものである。
【００８５】
切断された端面である傾斜面８０Ｂは、コア部８４ａ〜８４ｄの長手方向（延在方向）に対して、５〜６５°傾斜しているのが好ましく、１０〜５５°傾斜しているのがより好ましい。
【００８６】
このような本実施形態によれば、第１実施形態のように一端部のみを加工する場合に比べて、コア部８４ａ〜８４ｄのそれぞれの長さの差は、より大きくなる。したがって、本発明の光検出方法および光伝送損失測定方法によって得られる検出結果および測定結果は、より正確なものとなる。
【００８７】
＜第３実施形態＞
図７は、本発明の光検出方法および光伝送損失測定方法の第３実施形態に用いる測定装置を示す概略構成図である。
【００８８】
以下、この図を参照して本発明の検出装置および検出方法の第３実施形態について説明するが、前述した実施形態との相違点を中心に説明し、同様の事項はその説明を省略する。
【００８９】
本実施形態は、カメラ（撮像手段）の構成が異なること以外は前記第１実施形態と同様である。
【００９０】
図７に示すように、本実施形態の測定装置１’は、４つのカメラ４ａ、４ｂ、４ｃ、４ｄを有している。カメラ４ａ〜４ｄは、光導波路８Ａの他端面にそれぞれ対向するよう、光導波路８Ａの幅方向に沿って設けられている。また、カメラ４ａ〜４ｄは、制御部１００とそれぞれ電気的に接続されている。これにより、光源３とカメラ４ａ〜４ｄとの同期をとることができる。
【００９１】
このように４つのカメラ４ａ〜４ｄを設けることにより、リニアアクチュエーター４０を省略することができ、よって、検出装置１’の構成が比較的簡素なものになる。また、リニアアクチュエーター４０によるカメラ４の移動に要する時間を省略することができる。リニアアクチュエーター４０の駆動誤差に伴う位置ずれを解消することができる。
【００９２】
以上、本発明の光検出方法および光伝送損失測定方法を図示の実施形態について説明したが、本発明は、これに限定されるものではなく、各実施形態の構成（特徴）を組み合わせたものであってもよい。また、任意の構成（特徴）が付加されていてもよい。
【００９３】
なお、各実施形態では、第２工程では、各コア部の出射光の強度を検出するが、本発明ではこれに限定されず、１つのコア部の出射光の強度を検出してもよい。この場合、前記１つのコア部以外のコア部については、取得済の情報に基づいて推定してもよい。
【００９４】
また、第１実施形態および第２実施形態では、カメラはリニアアクチュエーターにより移動操作されるが、本発明ではこれに限定されず、カメラを移動させる機能を有するものであれば、いかなる装置および方法を用いてもよい。
【００９５】
また、第２実施形態では、４つのカメラが設置されているが、本発明ではこれに限定されず、４つ以下のカメラ、または、４つ以上のカメラが設置されていてもよい。
【符号の説明】
【００９６】
１、１’    測定装置
２          ステージ
２１        上面
３          光源
３０        ドライバー
４、４ａ、４ｂ、４ｃ、４ｄ  カメラ
４０        リニアアクチュエーター
５          光検出手段
６          光伝送損失算出手段
８          光導波路（導光路母材）
８Ａ、８Ｂ  光導波路（導光路被検体）
８０、８０Ｂ  傾斜面
８２        コア層
８３ａ      クラッド層（第１のクラッド層（クラッド部））
８３ｂ      クラッド層（第２のクラッド層（クラッド部））
８４ａ、８４ｂ、８４ｃ、８４ｄ  コア部（導波路チャンネル）
８５ａ、８５ｂ、８５ｃ、８５ｄ、８５ｅ  側面クラッド部（クラッド部）
１００      制御部
Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３、Ｌ４  長さ
Ｌｉ１、Ｌｉ２、Ｌｉ３、Ｌｉ４  挿入損失
Ｌｔ        伝送損失
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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