(57)【要約】      （修正有）【課題】異物回避処理を行う画像読取処理の効率を向上する画像読取装置を提供する。【解決手段】原稿を読み取る読取部によって原稿読取動作を行った後に、その原稿読取位置における異物の検出を行い、異物が検出されなかったときは、その位置をメモリに記憶すると共に、その位置のまま次の原稿の読取動作を行う。また異物が発見された場合は、その位置と発見されたい物量をメモリに記憶すると共に、メモリに記憶されている異物が検出されなかった原稿読取位置において、続く原稿の原稿読取動作を行う。【選択図】図３
2015111791.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
原稿を読み取る読取手段と、
前記読取手段によって原稿読取動作を行った後に、原稿読取位置における異物を検出する読取後異物検出手段と、
次の原稿を読み取る際に、前記読取後異物検出手段が検出した異物の無い読取位置に基づいて前記読取手段による原稿の読取動作を行う制御手段と、
を有することを特徴とする画像読取装置。
【請求項２】
前記次の原稿を読み取る際に、前記読取後異物検出手段が検出した異物の無い読取位置において異物の有無を検出する読取前異物検出手段、をさらに備え、
前記制御手段は、前記読取前異物検出手段の検出結果に基づいて決定される読取位置において前記読取手段による前記次の原稿の読取動作を行う、ことを特徴とする請求項１に記載の画像読取装置。
【請求項３】
前記制御手段は、前記読取後異物検出手段が前記異物の無いことを検出した読取位置において異物が無いことを前記読取前異物検出手段が検出した場合、該読取位置により前記読取手段による前記次の原稿の読取動作を行う、ことを特徴とする請求項２に記載の画像読取装置。
【請求項４】
前記読取後異物検出手段によって検出される異物を記憶する記憶手段、をさらに備え、
前記読取後異物検出手段が検出した異物の無い読取位置が、前記読取前異物検出手段の検出結果から異物が有ると検出された場合は、前記記憶手段に記憶された異物が無い他の読取位置において前記読取前異物検出手段による検出を行う、ことを特徴とする請求項２又は３に記載の画像読取装置。
【請求項５】
前記読取後異物検出手段が、異物の無い読取位置を検出しなかった場合に、前記読取手段による読取後のデータを補正可能な異物の量と対応づけられた読取位置を前記記憶手段から取得する第２取得手段、をさらに備え、
前記読取前異物検出手段は、前記第２取得手段により取得された読取位置において異物の量を検出する、ことを特徴とする請求項４に記載の画像読取装置。
【請求項６】
前記第２取得手段は、ゼロより大きく所定量以下の異物の量と対応づけられた読取位置を前記記憶手段から取得することを特徴とする請求項５に記載の画像読取装置。
【請求項７】
前記読取前異物検出手段により検出された異物が補正可能でない量である場合に、前記補正可能な異物の量と対応づけられた読取位置を検索する検索手段、をさらに備え、
前記第２取得手段は、前記検索手段により検索された読取位置を前記記憶手段から取得する、ことを特徴とする請求項５又は６に記載の画像読取装置。
【請求項８】
前記検索手段により読取位置が検索されなかった場合、当該検索されなかった旨を警告する警告手段、をさらに備えることを特徴とする請求項７に記載の画像読取装置。
【請求項９】
原稿を読み取る読取手段を備える画像読取装置において実行される制御方法であって、
前記読取手段によって原稿読取動作を行った後に、原稿読取位置における異物を検出する読取後異物検出工程と、
次の原稿を読み取る際に、前記読取後異物検出工程で検出した異物の無い読取位置に基づいて前記読取手段による原稿の読取動作を行う制御工程と、
を有することを特徴とする制御方法。
【請求項１０】
請求項１乃至８のいずれか１項に記載の画像読取装置の各手段としてコンピュータを機能させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像読取を行う画像読取装置、制御方法及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
一般的な画像読取方法として、自動原稿搬送装置（ＡＤＦ）を使用して原稿を１枚ずつ搬送しながら読み取る「流し読み」が知られている。この「流し読み」において、画像読取位置に対応するプラテンガラス上に粉塵や汚れが付着していると、読取画像に黒いスジが現れてしまう。このような黒スジ画像の発生を軽減するために、プラテンガラス上のゴミを検出し、ゴミのない位置へ読み取り位置を変更するゴミ回避処理や、周囲の画素情報からゴミの領域を補正する画像補正処理が行われる。
【０００３】
特許文献１では、ゴミ回避処理で検出した「ゴミなし」の位置を次の読取位置に決定し、次の読取動作実行時にはその決定した読取位置で画像読取を行っている。さらに、その決定した読取位置でゴミを検出した場合には、ゴミを検出しない他の読取位置を検索する。そして、全ての読取位置でゴミが検出された場合には流し読みを禁止する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００２−１８５７２７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１では、読取前にゴミ回避処理を行い、ゴミ等の異物の量にかかわらず、異物を検出した場合には、他の読取位置を検索するので、画像読取を開始するまでの時間が長くなっていた。
【０００６】
本発明の目的は、このような従来の問題点を解決することにある。上記の点に鑑み、本発明は、読取前の異物回避処理を行う画像読取処理の効率を向上させる画像読取装置、制御方法およびプログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するため、本発明に係る画像読取装置は、原稿を読み取る読取手段と、前記読取手段によって原稿読取動作を行った後に、原稿読取位置における異物を検出する読取後異物検出手段と、次の原稿を読み取る際に、前記読取後異物検出手段が検出した異物の無い読取位置に基づいて前記読取手段による原稿の読取動作を行う制御手段と、を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、異物回避処理を行う画像読取処理の効率を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】画像読取装置の制御ブロック構成を示す図である。
【図２】原稿自動搬送装置付近の断面図である。
【図３】画像読取制御の処理の手順を示す図である。
【図４】Ｓ３０９の処理の手順を示す図である。
【図５】Ｓ３０３の処理の手順を示す図である。
【図６】Ｓ３０４の処理の手順を示す図である。
【図７】Ｓ３０５の処理の手順を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、添付図面を参照して本発明の好適な実施形態を詳しく説明する。尚、以下の実施形態は特許請求の範囲に係る本発明を限定するものでなく、また本実施形態で説明されている特徴の組み合わせの全てが本発明の解決手段に必須のものとは限らない。なお、同一の構成要素には同一の参照番号を付して、説明を省略する。
【００１１】
図１は、画像読取装置１０の制御ブロック構成を示す図である。画像読取装置１０は、ＣＰＵ１１と、ＲＡＭ１２と、ＲＯＭ１３と、パネル操作部１４と、インタフェース（Ｉ／Ｆ）１５と、不揮発性メモリ１６と、画像読取部１７と、異物検出部１８と、画像補正部１９と、記憶部２０を含む。ＣＰＵ１１は、画像読取装置１０全体の動作を統括的に制御する。ＲＡＭ１２は、ＣＰＵ１１の作業領域及びデータの一時記憶領域として用いられる。ＲＯＭ１３は、本実施形態の動作を実現させるためのファームウェアプログラムや、ファームウェアプログラムを制御するためのブートプログラムを記憶し、ＣＰＵ１１により読み出されて実行される。
【００１２】
パネル操作部１４は、ユーザによる画像読取装置１０の設定操作を受付ける。また、パネル操作部は、ディスプレイ等の表示部を含み、設定操作のためのユーザインタフェース画面や、エラー等、画像読取装置１０の状態を表示する。通信インタフェース（Ｉ／Ｆ）１５は、ＰＣ等の外部装置等と相互に通信可能に接続されており、通信Ｉ／Ｆを介して画像データを受信する。不揮発性メモリ１６は、パネル操作部１４が受け付けた設定操作に対応した、画像読取装置１０の各種設定データを格納する。
【００１３】
画像読取部１７は、原稿台に置かれた原稿を光学的に読み取って画像データを生成する。異物検出部１８は、読取位置に対応するプラテンガラス上のゴミ（異物）を検出する。例えば、画像読取部１７により読み取られた、読取ガラス２０８上の読取位置の各画素の輝度値のうち、予め定められた輝度値以下の画素を異物領域の画素として検出する。また、読取位置とは、複数枚の原稿を一枚ずつ搬送しながら、原稿の搬送方向と交差する方向に、記録媒体の幅分の読取領域に渡って複数配置されたライン型イメージセンサにより画像を光学的に読み取る、いわゆる流し読みにおける読取位置である。画像読取装置１０は、例えば、ＣＩＳ（Ｃｏｎｔａｃｔ  Ｉｍａｇｅ  Ｓｅｎｓｏｒ）方式やＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ  Ｃｏｕｐｌｅｄ  Ｄｅｖｉｃｅｓ）方式により画像を読み取る。
【００１４】
記憶部２０は、異物検出部１８により検出されたゴミの量を記憶する。ここで、ゴミの量とは、例えば、読取位置においてゴミが検出された画素数である。画像補正部１９は、ゴミを検出した領域（異物領域）の画像データを補正する。画像データの補正は、例えば、異物領域に隣接する画素値に基づく補間処理や置換え処理によって行われる。システムバス２２は、図１に示す各ブロックを相互のデータ送受信を可能なように接続する。
【００１５】
図２は、画像読取部１７の原稿自動搬送装置２００付近の断面図である。ユーザは、画像読取の対象の原稿を原稿トレイ２０１に置く。ユーザが画像読取の開始をパネル操作部１４を介して指示すると、ピックアップローラ２０２を回転させながら下降させ、分離ローラ２０３と分離パッド２０４とで、原稿を１枚ずつ分離して内部に送り出す。給紙ローラ２０５〜２０７は、読取位置まで原稿を搬送する。原稿が読取位置の上に位置する読取ガラス（プラテンガラス）２０８上を通過する時に、読取ガラス２０８の下側から光を照射し、その反射光をセンサにより受信することで画像読取を実行する。ここで、読取位置は、図２の読取ガラス２０８付近の白三角印で示されている。
【００１６】
排紙・反転ローラ２１１は、原稿の両面を読み取る場合には、原稿を反転させてフラッパ２０９を介して再度、原稿読取位置まで搬送する。画像読取の終了した原稿は、排紙トレイ２１０に排出される。図２中の黒三角印は、搬送路中の記録媒体の有無を検出するためのセンサである。
【００１７】
図３は、画像読取制御の処理の手順を示すフローチャートである。ユーザにより、画像読取装置１０の原稿台に原稿が置かれ、パネル操作部１４上のコピーボタンが押下されると図３の処理が開始される。なお、図３の各処理は、例えば、ＣＰＵ１１がＲＡＭ１２に読み出された制御プログラムを実行して各部を制御することにより実現される。
【００１８】
本実施形態では、ユーザによりコピーボタンが押下されると、原稿を搬送する前に、後述するＳ３１１の結果から、Ｓ３０１で異物回避処理が必要か否かを判断し、読取ガラス２０８上のゴミ（異物）の回避処理（Ｓ３０２〜Ｓ３０６）を実行する。その処理により、読取ガラス２０８上での異物の位置を回避して、若しくは、補正処理が可能な位置において画像読取を行うことができる。Ｓ３０３、Ｓ３０５、Ｓ３０６により特定された読取位置で画像読取が行われると、ＣＰＵ１１は、読取ガラス２０８上の異物の分布情報を取得して記憶部２０に格納する。
【００１９】
最初に、Ｓ３１１の処理を説明する。Ｓ３１１の処理は、原稿台に置かれた原稿の画像読取が終了した後ごとに行われる。（Ｓ３０１〜Ｓ３１０の詳細については、後述する。）
図４は、Ｓ３１１のジョブ終了時異物検出処理の手順を示すフローチャートである。Ｓ４０１において、ＣＰＵ１１は、Ｓ４０２〜Ｓ４０６の処理の対象となる読取位置を対象読取位置として特定する。本実施形態において、読取位置は、読取ガラス２０８上で記録媒体搬送方向に複数特定可能である。例えば、ライン型イメージセンサの記録媒体搬送方向への駆動単位に基づいて、基準となる読取位置から記録媒体搬送方向上で順に特定されていき、各特定された読取位置においてＳ４０２〜Ｓ４０６の処理が行われる。
【００２０】
次に、Ｓ４０２において、異物検出部１８により、対象読取位置における読取ガラス２０８上の異物の有無が判定される。異物の判定については、画像読取部１７により読み取った読取ガラス２０８上の対象読取位置の各画素の輝度値のうち、異物検出部１８によって予め定められた輝度値以下であると判定された画素があれば、Ｓ４０２において「異物あり」と判定する。Ｓ４０２で「異物なし（異物量がゼロ）」と判定された場合、Ｓ４０３において、対象読取位置と「異物なし」の属性とをフラグ等により対応付けて記憶部２０に格納する。Ｓ４０２で「異物あり」と判定された場合、Ｓ４０４に進む。
【００２１】
Ｓ４０４において、異物検出部１８により予め定められた輝度値以下であると判定された画素数がＭ以下（閾値以下）であるか否かが判定される。ここで、Ｍ以下であると判定された場合、Ｓ４０５に進み、Ｍより大きいと判定された場合、Ｓ４０６に進む。ここで、Ｍとは、画像読取装置１０が補正可能な異物領域の画素数であり、予め記憶部２０に格納されている。例えば、その画素数が８であれば、異物検出部１８により予め定められた輝度値以下であると判定された画素数が８画素以内であれば、異物領域を補間処理や置換え処理により補正することができる。
【００２２】
Ｓ４０５では、対象読取位置と、異物検出部１８により予め定められた輝度値以下であると判定された画素数と、異物が補正可能な大きさであることを表わす「異物（小）」の属性とをフラグ等により対応付けて記憶部２０に格納する。また、Ｓ４０６では、対象読取位置と、異物検出部１８により予め定められた輝度値以下であると判定された画素数と、異物が補正不可能な大きさであることを表わす「異物（大）」の属性とをフラグ等により対応付けて記憶部２０に格納する。
【００２３】
Ｓ４０３、Ｓ４０５、Ｓ４０６の処理後、Ｓ４０７に進む。Ｓ４０７においては、読取ガラス２０８上の全ての読取位置を対象としたか否かを判定する。ここで、全ての読取位置を対象としたと判定された場合、Ｓ３１１の処理を終了し、全ての読取位置を対象としていないと判定された場合、Ｓ４０１の処理に戻る。
【００２４】
Ｓ４０２での判定処理においては、予め定められた輝度値以下であると判定された画素数が所定数以上である場合に、「異物あり」と判定するようにしても良いと説明した。ここで、予め定められた輝度値以下であると判定され且つ互いに隣接した画素数が所定数以上である場合に、「異物あり」と判定するようにしても良い。また、Ｓ４０４での判定処理においては、予め定められた輝度値以下であると判定された画素数がＭ以下であるか否かを判定すると説明した。ここで、予め定められた輝度値以下であると判定され且つ互いに隣接した画素数がＭ以下であるか否かを判定するようにしても良い。
【００２５】
次に、図３の画像読取制御の処理手順を示すフローチャートに戻って本実施例の説明をする。図３のＳ３０１において、ＣＰＵ１１は、前回ジョブのＳ３１１のジョブ終了時異物検出処理により記憶部２０に格納された異物の分布情報を参照し、Ｓ３０２〜Ｓ３０６の異物回避処理を行うか否かを判定する。例えば、異物の分布情報を参照した結果、読取ガラス２０８上の全ての読取位置の属性が「異物なし」であれば（Ｓ３０１のＮｏ）、異物回避処理は不要であるので、異物回避処理を行わないと判定する。その場合、予め定められた基準読取位置を、今回の画像読取処理における読取位置として特定し、Ｓ３０７に進む。一方、「異物（小）」若しくは「異物（大）」の属性を有する読取位置が１つでもあれば（Ｓ３０１のＹｅｓ）、異物回避処理が必要であるので、異物回避処理を行うと判定し、Ｓ３０２に進む。
【００２６】
Ｓ３０２において、異物の分布情報のうち、「異物なし」の属性を有する読取位置が一つでもあるか否かを判定する。ここで、「異物なし」の属性を有する読取位置があると判定された場合にはＳ３０３に進み、ないと判定された場合にはＳ３０４に進み、読取位置を特定する。「異物なし」の属性を有する読取位置がないと判定された場合、Ｓ３０４において、「異物（小）」の属性を有する読取位置があるか否かを判定する。ここで、「異物（小）」の属性を有する読取位置があると判定された場合にはＳ３０５に進み、読取位置を特定する。「異物（小）」の属性を有する読取位置がないと判定された場合にはＳ３０６に進み、読取位置を特定する。以下、Ｓ３０３、Ｓ３０５、Ｓ３０６の各処理について説明する。
【００２７】
図５は、Ｓ３０３の読取位置特定処理の手順を示すフローチャートである。Ｓ５０１において、画像読取部１７は、「異物なし」の属性を有する読取位置のうちの１つに、ライン型イメージセンサを移動させる。ここで、ライン型イメージセンサの移動先が複数あった場合には、搬送方向に近い順にサイクリックに決定するようにしても良い。Ｓ５０２において、異物検出処理として画像読取部１７により、読取ガラス２０８上を読み取る。次に、Ｓ５０３において、Ｓ５０２で読み取った値の中に異物検出部１８により予め定められた輝度値以下の画素があるか否かが判定される。ここで、予め定められた輝度値以下の画素がない（異物なし）と判定された場合、その読取位置を、今回の画像読取処理における読取位置として特定し、図５の処理を終了して図３のＳ３０７に進む。一方、Ｓ５０３で異物ありと判定された場合、その「異物あり」と判定された読取位置をＲＡＭ１２等に一時的に格納し、Ｓ５０４に進む。
【００２８】
Ｓ５０４において、「異物なし」の属性を有する全ての読取位置についてＳ５０２の処理を行ったか否かを判定する。ここで、行っていないと判定された場合にはＳ５０５に進み、行ったと判定された場合にはＳ５０６に進む。Ｓ５０５において、画像読取部１７は、「異物なし」の属性を有する他の読取位置に、ライン型イメージセンサを移動させる。Ｓ５０５の処理後、Ｓ５０２からの処理を繰り返す。
【００２９】
Ｓ５０６において、異物の分布情報上の「異物なし」の属性を有する全ての読取位置のうち、Ｓ５０３で予め定められた輝度値以下の画素があると判定された読取位置があるか否かを判定する。ここで、「異物なし」の読取位置がないと判定された場合にはＳ５０７に進み、「異物なし」の読取位置があると判定された場合には図５の処理を終了して図３のＳ３０７に進む。なお、画像読取部１７がライン型イメージセンサの移動先をサイクリックに決定してＳ５０３の判定を行う構成上、Ｓ５０６の判定結果が「Ｎｏ」の場合はないことが明らかな場合は、Ｓ５０６の処理を省略しても良い。
【００３０】
Ｓ５０７において、Ｓ５０３で「異物あり」と判定された読取位置のうち、補正可能な読取位置があるか否かを判定する。例えば、予め定められた輝度値以下の互いに隣接する画素が８画素以内であれば、補正可能であると判定するようにしても良い。ここで、補正可能であると判定された場合には、Ｓ５０８において、今回の画像読取処理における読取位置を特定する。例えば、補正可能であると判定された読取位置のうち、予め定められた基準読取位置から最も近い読取位置を、今回の画像読取処理における読取位置として特定しても良い。Ｓ５０８の処理後、図３のＳ３０７に進む。一方、Ｓ５０７で補正可能な読取位置がないと判定された場合、図３のＳ３０５の処理を行う。
【００３１】
以上のように、図５においては、前回の画像読取処理において取得された異物の分布情報上の「異物なし」の属性を有する読取位置について、現在の異物の存在状況を確認する。そして、異物がなければ、若しくは、異物があっても補正可能であれば、その読取位置を今回の画像読取処理における読取位置として特定する。図５の説明において、前回ジョブ終了時の異物検出処理にて「異物なし」と判定された読取位置が「異物あり」となっていた場合、「異物なし」の読取位置を探すために「異物なし」の属性を有する全ての読取位置について異物検出処理を行うとした。ここで、前回ジョブ終了時に「異物なし」と判定されたが次回ジョブ開始時に判定結果が「異物あり」となっている読取ラインがあった場合、その読取ラインの異物が補正可能であるか否かを判定し、補正可能であればそこを読取位置と特定してもよい。こうすることで、はじめに異物検出処理を行った読取位置が補正可能であった場合、そこで異物検出処理を終了できるので、全ラインにおける異物検出処理を省略でき、読取前の異物回避処理を行う画像読取処理の効率を向上させることができる。
【００３２】
図６は、Ｓ３０５の処理の手順を示すフローチャートである。Ｓ６０１において、画像読取部１７は、「異物（小）」の属性を有する読取位置のうちの１つに、ライン型イメージセンサを移動させる。ここで、ライン型イメージセンサの移動先が複数あった場合には、搬送方向に近い順にサイクリックに決定するようにしても良い。Ｓ６０２において、画像読取部１７により、読取ガラス２０８上を読み取る。
【００３３】
Ｓ６０３において、Ｓ６０２で読み取られた結果、異物検出部１８により予め定められた輝度値以下であると判定された画素数が、「異物（小）」の属性と対応付けられた画素数より減少しているか否かを判定する。ここで、減少していると判定された場合、Ｓ６０５に進み、減少していないと判定された場合、Ｓ６０４に進む。
【００３４】
Ｓ６０５において、予め定められた輝度値以下であると判定されていた画素数が０（異物なし）となったか否かが判定される。ここで、「異物なし」（画素数が０）と判定された場合、Ｓ６０９において、現在の読取位置に対応する読取ガラス２０８上には異物はないと判定し、その読取位置を、今回の画像読取処理における読取位置として特定し、図６の処理を終了して図３のＳ３０７の処理に進む。一方、Ｓ６０５で「異物あり」（画素数が０ではない）と判定された場合、Ｓ６０６において、「異物（小）」の属性を有する全ての読取位置についてＳ６０２の処理を行ったか否かを判定する。ここで、行ったと判定された場合にはＳ６０８に進み、行っていないと判定された場合にはＳ６０７に進む。Ｓ６０７において、「異物（小）」の属性を有する他の読取位置に、ライン型イメージセンサを移動させる。つまり、前回の画像読取処理時に比べると異物が少なくなっており、異物がなくなっている読取位置がある可能性があるからである。Ｓ６０７の処理後は、Ｓ６０２からの処理を繰り返す。
【００３５】
Ｓ６０８において、Ｓ６０２の処理の結果、予め定められた輝度値以下であると判定された画素数が、補正可能な所定数Ｍ以下の読取位置が１つでもあったか否かを判定する。ここで、１つでもあったと判定された場合、Ｓ６０９において、現在の読取位置に対応する読取ガラス２０８上に異物があっても補正可能であると判定し、その読取位置を、今回の画像読取処理における読取位置として特定し、図６の処理を終了して図３のＳ３０７の処理に進む。一方、予め定められた輝度値以下であると判定された画素数が所定数Ｍ以下の読取位置がないと判定された場合、図３のＳ３０６の処理を行う。
【００３６】
以上のように、図６においては、前回の画像読取処理において取得された異物の分布情報上の「異物（小）」の属性を有する読取位置について、現在の異物の存在状況を確認する。そして、現在の異物の量が減少傾向にある場合には、異物がなくなっている読取位置を検索し、検索された読取位置を今回の画像読取処理における読取位置として特定する。また、異物がなくなっている読取位置がない場合には、異物の量が減少している読取位置を今回の画像読取処理における読取位置として特定する。また、現在の異物の量が増加傾向にある場合には、減少傾向、若しくは、異物がなくなっている読取位置を検索する。
【００３７】
上記の通り、異物の量が減少している読取位置、または異物がなくなっている読取位置にて画像読取処理を行うことで、より正確に原稿画像を取得することができる。
【００３８】
図６の説明において、前回ジョブ終了時の異物検出処理にて「異物（小）」と判定された読取位置の異物量が変化していた場合、「異物なし」の読取位置を探すために「異物なし」の属性を有する全ての読取位置について異物検出処理を行うとした。ここで、前回ジョブ終了時に「異物（小）」と判定されたが次回ジョブ開始時に判定結果が変化していた場合、その読取ラインの異物が補正可能であるか否かを判定し、補正可能であればそこを読取位置と特定してもよい。こうすることで、はじめに異物検出処理を行った読取位置が補正可能であった場合、そこで異物検出処理を終了できるので、全ラインにおける異物検出処理を省略でき、読取前の異物回避処理を行う画像読取処理の効率を向上させることができる。
【００３９】
図７は、Ｓ３０６の処理の手順を示すフローチャートである。Ｓ７０１において、画像読取部１７は、「異物（大）」の属性を有する読取位置のうちの１つに、ライン型イメージセンサを移動させる。ここで、ライン型イメージセンサの移動先が複数あった場合には、搬送方向に近い順にサイクリックに決定するようにしても良い。Ｓ７０２において、画像読取部１７により、読取ガラス２０８上を読み取る。
【００４０】
Ｓ７０３において、Ｓ７０２で読み取られた結果、異物検出部１８により予め定められた輝度値以下であると判定された画素数が、「異物（大）」の属性と対応付けられた画素数より減少しているか否かを判定する。ここで、減少していると判定された場合、Ｓ７０４に進み、減少していないと判定された場合、Ｓ７０５に進む。
【００４１】
Ｓ７０４において、予め定められた輝度値以下であると判定された画素数が０であるか否かが判定される。ここで、０であると判定された場合、Ｓ７０９において、現在の読取位置に対応する読取ガラス２０８上には異物はないと判定し、その読取位置を、今回の画像読取処理における読取位置として特定し、図７の処理を終了して図３のＳ３０７に進む。一方、Ｓ７０４で０でないと判定された場合、Ｓ７０５に進む。
【００４２】
Ｓ７０５において、「異物（大）」の属性を有する全ての読取位置についてＳ７０２の処理を行ったか否かを判定する。ここで、行ったと判定された場合にはＳ７０７に進み、行っていないと判定された場合にはＳ７０６に進む。Ｓ７０６において、「異物（大）」の属性を有する他の読取位置に、ライン型イメージセンサを移動させる。
【００４３】
Ｓ７０７において、Ｓ７０２の処理が行われた読取位置のうち、補正可能な読取位置があるか否かを判定する。例えば、予め定められた輝度値以下の互いに隣接する画素が８画素以内であれば、補正可能であると判定するようにしても良い。ここで、補正可能であると判定された場合には、Ｓ７０９において、今回の画像読取処理における読取位置を特定する。例えば、補正可能であると判定された読取位置のうち、予め定められた基準読取位置から最も近い読取位置を、今回の画像読取処理における読取位置として特定しても良い。Ｓ７０９の処理後、図３のＳ３０７に進む。一方、Ｓ７０７で補正可能な読取位置がないと判定された場合、異物回避処理は不可能であることをパネル操作部１４に警告表示し、図７の処理を終了する。
【００４４】
図７に示すように、異物の分布情報で全ての読取位置が「異物（大）」の属性を有していたとしても、現在の異物検出処理の結果、予め定められた輝度値以下の画素数がＭ以下の読取位置があるのであれば、補正可能な読取位置、若しくは、異物がなくなっている読取位置を検索する。これは、前回の画像読取処理後に、読取ガラス２０８上がクリーニングされた等が考えられ、異物がない状態の読取位置が見つかる可能性があるからである。
【００４５】
再び、図３を参照する。Ｓ３０７において、画像読取部１７は、Ｓ３０３、Ｓ３０５、Ｓ３０６で特定された読取位置に、ライン型イメージセンサを移動させて、記録媒体を搬送しながら、画像読取処理を開始する。その際に、Ｓ３０７でライン型イメージセンサを移動した読取位置において、画像の補正処理が必要である場合には、異物領域に隣接する画素を用いて、補間処理や置換え処理等を行って補正処理を行う（Ｓ３０８：Ｙｅｓ−Ｓ３０９）。一方、画像の補正処理が必要でない場合には、通常の画像読取処理を行う（Ｓ３０８：Ｎｏ）。Ｓ３１０において、ＣＰＵ１１は、全ての記録媒体についての画像読取の終了を検出すると、先述のＳ３１１の処理を行う。
【００４６】
以上のように、本実施形態によれば、前回に得られた異物の分布情報に基づいて、画像読取処理の際の読取位置を決定する。その際に、異物の分布情報に関わらず、現在異物なしと判定された読取位置があれば、その読取位置を優先的に画像読取処理における読取位置として特定する。また、前回では異物があると判定されていた読取位置に現在異物が検出され、その異物の量が少なくなっている場合には、異物がない他の読取位置を検索する。また、異物がある場合についても、その異物の量が補正可能である場合は「異物なし」として流し読みを実行してもよい。その結果、異物の補正処理をすることにはなるが、次の読取位置での異物検出を行わなくなるため、異物回避処理を行う画像読取処理の効率を向上することができる。また、ジョブ終了時に記憶した異物の情報から、次ジョブ時に異物検知処理を行わずに、前回異物検知処理時に「異物なし」と判定された読取位置を次ジョブ時の読取位置に特定してもよい。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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