(57)【要約】【課題】個々の光ファイバではなく、全ての光ファイバのからの放射光を総合した出力光束を対象とした光量測定によって、稼動中においても、個々の光ファイバの破断等の異常を検知できるようにすること。【解決手段】発光素子と、その駆動回路と、光ファイバと、を具備するユニットからなる要素光源の複数個を有し、出力光束と成して出力する光源装置であって、要素光源のなかから、検査対象要素光源と、変動補正要素光源とを選択した上で、出力電力相関量Ｑuを＋ΔＱuだけ徐々に変化するよう検査対象要素光源に属する駆動回路を制御しながら、出力電力相関量Ｑuの変化に起因する光量測定データの変化が打ち消されるよう、変動補正要素光源に属する駆動回路に対するフィードバック制御を行って、変動補正要素光源の出力電力相関量Ｑvを変化させるときの変化量が−ΔＱvであるとき、比ΔＱv／ΔＱuを評価して、検査対象要素光源の異常を検知する。【選択図】図１
2015125834.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
１個以上の発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）と、前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）を駆動する駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）と、前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）から発せられた光を集光する集光光学系（Ｅｃ１，Ｅｃ２，…）と、前記集光光学系（Ｅｃ１，Ｅｃ２，…）が集光した光を入射端（Ｅｉ１，Ｅｉ２，…）で受け導光して出射端（Ｅｏ１，Ｅｏ２，…）から放射する光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）と、を具備するユニットを１個の要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）として、該要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の複数個を有し、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のそれぞれの前記光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）の前記出射端（Ｅｏ１，Ｅｏ２，…）からの放射光を総合して１個の出力光束（Ｆｏ）と成して出力する光源装置であって、該光源装置は、さらに、光センサ（Ａ）と、前記光センサ（Ａ）からの信号を受信して前記光センサ（Ａ）への入射光量を測定し光量測定データ（Ｓｈ）を生成する光量測定回路（Ｈ）と、前記光量測定データ（Ｓｈ）を受信するとともに前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）それぞれに対する出力電力相関量の設定と制御とを行う制御回路（Ｍｃ）と、を有し、前記光源装置は、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のそれぞれの前記光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）の前記出射端（Ｅｏ１，Ｅｏ２，…）からの放射光を総合して１個の光束と成した、少なくともその一部が前記光センサ（Ａ）に照射されることによって、前記制御回路（Ｍｃ）が、前記出力光束（Ｆｏ）の光量に相関する前記光量測定データ（Ｓｈ）を取得することができるように構成してあり、前記制御回路（Ｍｃ）は、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のなかから、１個の検査対象要素光源と、１個以上の変動補正要素光源とを選択した上で、前記制御回路（Ｍｃ）は、前記検査対象要素光源に属する、一つの波長帯域に属する前記発光素子を駆動する前記駆動回路全体を総合した出力電力相関量 Ｑu を、Ｑuo から Ｑuo ＋ ΔＱu まで、徐々に変化するよう前記検査対象要素光源に属する前記駆動回路を制御しながら、前記した出力電力相関量 Ｑu の変化に起因する前記波長帯域に対応する前記光量測定データの変化が打ち消されるよう、前記変動補正要素光源に属する前記駆動回路に対するフィードバック制御を行って、前記変動補正要素光源に属する、前記波長帯域に属する前記発光素子を駆動する前記駆動回路全体を総合した出力電力相関量 Ｑv を変化させるとともに、前記出力電力相関量 Ｑu の Ｑuo から Ｑuo ＋ ΔＱu までの変化に対する前記出力電力相関量 Ｑv の変化が Ｑvo から Ｑvo − ΔＱv までであるとき、前記出力電力相関量 Ｑu の変化分に対する前記出力電力相関量 Ｑv の変化分についての比をとった変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu の値を取得する変化分比取得シーケンスを実施し、前記変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu を評価して、前記検査対象要素光源の異常を検知することを特徴とする光源装置。  
【請求項２】
前記制御回路（Ｍｃ）は、前記した、前記検査対象要素光源として選択された前記要素光源に属する、前記波長帯域に属する前記発光素子を駆動する前記駆動回路が複数個存在するときは、そのうちの１個をさらに選択し、選択された前記駆動回路の出力電力相関量のみを変化することによって前記駆動回路全体を総合した出力電力相関量 Ｑu を変化させて変化分比取得シーケンスを実施することを、前記した選択された前記要素光源に属する、前記波長帯域に属する前記発光素子を駆動する前記駆動回路の全てに亘って順に実行し、取得した前記変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu のうちの最も大きい値を評価して、選択された前記検査対象要素光源に属する前記光ファイバの異常を検知することを特徴とする請求項１に記載の光源装置。  
【請求項３】
前記制御回路（Ｍｃ）は、前記した、前記検査対象要素光源として選択された前記要素光源に属する、前記波長帯域に属する前記発光素子を駆動する前記駆動回路が複数個存在するときは、そのうちの１個をさらに選択し、選択された前記駆動回路の出力電力相関量のみを変化することによって前記駆動回路全体を総合した出力電力相関量 Ｑu を変化させて変化分比取得シーケンスを実施することを、前記した選択された前記要素光源に属する、前記波長帯域に属する前記発光素子を駆動する前記駆動回路の全てに亘って順に実行し、取得した前記変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu のうちの最も大きい値をその検査対象要素光源における変化分比基準値とし、取得した前記変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu についての前記変化分比基準値に対する比の値を評価して、対応する前記駆動回路およびそれに接続される前記発光素子の組の異常を検知することを特徴とする請求項１から２に記載の光源装置。  
【請求項４】
前記制御回路（Ｍｃ）は、前記した、前記変動補正要素光源として選択された前記要素光源に属する、前記波長帯域に属する前記発光素子を駆動する前記駆動回路が複数個存在するときは、そのうちの１個をさらに選択し、選択された前記駆動回路の出力電力相関量のみを変化することによって前記駆動回路全体を総合した出力電力相関量 Ｑv を変化させて変化分比取得シーケンスを実施することとし、前記駆動回路の１個を選択するに際しては、最も小さい値の前記変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu を与えるものを選択することを特徴とする請求項１から３に記載の光源装置。  
【請求項５】
前記制御回路（Ｍｃ）は、前記変動補正要素光源として選択可能な前記要素光源が複数個存在するときは、最も小さい値の前記変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu を与えるものを選択することを特徴とする請求項１から４に記載の光源装置。  
【請求項６】
前記制御回路（Ｍｃ）は、変化分比取得シーケンスの開始に際しては、前記波長帯域に属する同じ要素光源を変動補正要素光源とした前回の変化分比取得シーケンスにおいて設定した、前記出力電力相関量 Ｑu の変化分 ΔＱu とは、逆符号の変化分 ΔＱu を設定することを特徴とする請求項１から５に記載の光源装置。  
【請求項７】
前記制御回路（Ｍｃ）は、変化分比取得シーケンスに際しては、前記出力電力相関量 Ｑu の変化分 ΔＱu を負に設定し、前記変動補正要素光源として選択された前記要素光源に属する、前記駆動回路の複数個によって前記出力電力相関量 Ｑv の変化分 ΔＱv を与えることを特徴とする請求項１から３に記載の光源装置。  
【請求項８】
前記制御回路（Ｍｃ）は、稼動中の前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の全てを、１個づつ順に前記検査対象要素光源として選択し、変化分比取得シーケンスを実施して前記検査対象要素光源の異常の検知を試行するシーケンスを定期的に実施することを特徴とする請求項１から７に記載の光源装置。  
【請求項９】
前記制御回路（Ｍｃ）は、前記した前記変動補正要素光源に属する前記駆動回路に対するフィードバック制御を行うに際しては、前記光量測定データとその目標値との差異が小さくなるように前記出力電力相関量 Ｑv を変化させることを特徴とする請求項１から８に記載の光源装置。  
【請求項１０】
前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）は、発光波長が複数種類の異なる波長帯域に属するものを含んでおり、前記光センサ（Ａｘ，Ａｙ，…）は、前記波長帯域に対応して光を選択的に透過する分光フィルタ（Ｅｒｘ，Ｅｒｙ，…）を備えた複数個のもので構成してあり、光源装置は、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のそれぞれの前記光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）の前記出射端（Ｅｏ１，Ｅｏ２，…）からの複数種類の波長帯域の放射光を総合して１個の光束と成して、少なくともその一部を、複数個の前記光センサ（Ａｘ，Ａｙ，…）のそれぞれに照射することによって、前記制御回路（Ｍｃ）は、前記出力光束（Ｆｏ）のなかのそれぞれの前記波長帯域の光量に相関する前記光量測定データ（Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）を受信することができるように構成してあり、変化分比取得シーケンスの実施に際しては、前記した出力電力相関量 Ｑu の変化が行われている前記駆動回路に接続される前記発光素子が属する前記波長帯域に対応する前記光センサの前記光量測定データを取得し、前記した出力電力相関量 Ｑu の変化が行われている前記駆動回路に接続される前記発光素子が属する前記波長帯域と同じ波長帯域に属する前記発光素子が接続される前記駆動回路のうちから選択して前記した出力電力相関量 Ｑv の変化を行うことを特徴とする請求項１から９に記載の光源装置。  
【請求項１１】
請求項１から１０に記載の光源装置を利用して画像を投影表示することを特徴とするプロジェクタ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば、プロジェクタなどの光学装置において使用可能な、半導体レーザなどの発光素子と光ファイバを用いた光源装置に関する。  
【背景技術】
【０００２】
例えば、ＤＬＰ(TM)プロジェクタや液晶プロジェクタのような画像表示用のプロジェクタや、フォトマスク露光装置においては、これまで、キセノンランプや超高圧水銀ランプなどの高輝度放電ランプ（ＨＩＤランプ）が使用されてきた。  
一例として、本発明のプロジェクタに係わる従来のプロジェクタの一種の一部の一形態を説明する図である、図４を用いてプロジェクタの原理について述べる（参考：特開２００４−２５２１１２号など）。  
【０００３】
前記したように、高輝度放電ランプ等からなる光源（ＳｊＡ）からの光は、凹面反射鏡やレンズ等からなる集光手段（図示を省略）の助けを借りるなどして、光均一化手段（ＦｍＡ）の入射端（ＰｍｉＡ）に入力され、射出端（ＰｍｏＡ）から出力される。  
ここで、前記光均一化手段（ＦｍＡ）として、例えば、光ガイドを使うことができ、これは、ロッドインテグレータ、ライトトンネルなどの名称でも呼ばれており、ガラスや樹脂などの光透過性の材料からなる角柱によって構成され、前記入射端（ＰｍｉＡ）に入力された光は、光ファイバと同じ原理に従って、前記光均一化手段（ＦｍＡ）の側面で全反射を繰り返しながら、前記光均一化手段（ＦｍＡ）の中を伝播することにより、仮に前記入射端（ＰｍｉＡ）に入力された光の分布にムラがあったとしても、前記射出端（ＰｍｏＡ）上の照度が十分に均一化されるように機能する。  
【０００４】
なお、いま述べた光ガイドに関しては、前記した、ガラスや樹脂などの光透過性の材料からなる角柱によって構成されるものの他に、中空の角筒で、その内面が反射鏡になっており、同様に内面で反射を繰り返しながら光を伝播させ、同様の機能を果たすものもある。  
【０００５】
前記射出端（ＰｍｏＡ）の四角形の像が、２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＡ）上に結像されるよう、照明レンズ（Ｅｊ１Ａ）を配置することにより、前記射出端（ＰｍｏＡ）から出力された光によって前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＡ）が照明される。  
ただし、図４においては、前記照明レンズ（Ｅｊ１Ａ）と前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＡ）との間にミラー（ＭｊＡ）を配置してある。  
そして前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＡ）は、映像信号に従って、画素毎に光を投影レンズ（Ｅｊ２Ａ）に入射される方向に向かわせる、あるいは入射されない方向に向かわせるように変調することにより、スクリーン（Ｔｊ）上に画像を表示する。  
【０００６】
なお、前記したような２次元光振幅変調素子は、ライトバルブと呼ばれることもあり、図４の光学系の場合は、前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＡ）として、一般にＤＭＤ(TM)（ディジタル・マイクロミラー・デバイス）が使われることが多い。  
【０００７】
光均一化手段に関しては、前記した光ガイドの他に、フライアイインテグレータという名称で呼ばれるものもあり、この光均一化手段を使ったプロジェクタについて、一例として、本発明のプロジェクタに係わる従来のプロジェクタの一種の一部の一形態を説明する図である、図５を用いてその原理を述べる（参考：特開２００１−１４２１４１号など）。  
【０００８】
高輝度放電ランプ等からなる光源（ＳｊＢ）からの光は、凹面反射鏡やレンズ等からなるコリメータ手段（図示を省略）の助けを借りるなどして、略平行光束として、フライアイインテグレータによる光均一化手段（ＦｍＢ）の入射端（ＰｍｉＢ）に入力され、射出端（ＰｍｏＢ）から出力される。  
ここで、前記光均一化手段（ＦｍＢ）は、入射側の前段フライアイレンズ（Ｆ１Ｂ）と射出側の後段フライアイレンズ（Ｆ２Ｂ）と照明レンズ（Ｅｊ１Ｂ）の組合せで構成される。  
前記前段フライアイレンズ（Ｆ１Ｂ）、前記後段フライアイレンズ（Ｆ２Ｂ）ともに、同一焦点距離、同一形状の四角形のレンズを、縦横それぞれに多数並べたものとして形成されている。  
【０００９】
前記前段フライアイレンズ（Ｆ１Ｂ）の各レンズと、それぞれの後段にある、前記後段フライアイレンズ（Ｆ２Ｂ）の対応するレンズとは、ケーラー照明と呼ばれる光学系を構成しており、したがって、ケーラー照明光学系が縦横に多数並んでいることになる。  
一般にケーラー照明光学系とは、２枚のレンズから構成され、前段レンズが光を集めて対象面を照明するに際し、前段レンズは、対象面に光源像を結像するのではなく、後段レンズ中央の面上に光源像を結像し、後段レンズが前段レンズの外形の四角形を対象面（照明したい面）に結像するよう配置することにより、対象面を均一に照明するものである。  
後段レンズの働きは、もしこれが無い場合は、光源が完全な点光源でなく有限の大きさを持つとき、その大きさに依存して対象面の四角形の周囲部の照度が落ちる現象を防ぐためで、後段レンズによって、光源の大きさに依存せずに、対象面の四角形の周囲部まで均一な照度にすることができる。  
【００１０】
ここで、図５の光学系の場合、前記光均一化手段（ＦｍＢ）には略平行光束が入力されることを基本としているため、前記前段フライアイレンズ（Ｆ１Ｂ）と前記後段フライアイレンズ（Ｆ２Ｂ）との間隔は、それらの焦点距離に等しくなるように配置され、よってケーラー照明光学系としての均一照明の対象面の像は無限遠に生成される。  
ただし、前記後段フライアイレンズ（Ｆ２Ｂ）の後段には、前記照明レンズ（Ｅｊ１Ｂ）を配置してあるため、対象面は、無限遠から前記照明レンズ（Ｅｊ１Ｂ）の焦点面上に引き寄せられる。  
縦横に多数並んでいるケーラー照明光学系は、入射光軸（ＺｉＢ）に平行であり、それぞれの中心軸に対して略軸対称に光束が入力されるため、出力光束も略軸対称であるから、レンズ面に同じ角度で入射した光線は、レンズ面上の入射位置によらず、焦点面上の同じ点に向かうよう屈折される、というレンズの性質、即ちレンズのフーリエ変換作用により、全てのケーラー照明光学系の出力は、前記照明レンズ（Ｅｊ１Ｂ）の焦点面上の同じ対象面に結像される。  
【００１１】
その結果、前記前段フライアイレンズ（Ｆ１Ｂ）の各レンズ面での照度分布が全て重ね合わされ、よって、ケーラー照明光学系が１個の場合よりも照度分布がより均一となった、１個の合成四角形の像が、前記入射光軸（ＺｉＢ）上に形成されることになる。  
前記合成四角形の像の位置に２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＢ）を配置することにより、前記射出端（ＰｍｏＢ）から出力された光によって、照明対象である前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＢ）が照明される。  
ただし、照明に際しては、前記照明レンズ（Ｅｊ１Ｂ）と前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＢ）との間に偏光ビームスプリッタ（ＭｊＢ）を配置して、これにより光が前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＢ）に向けて反射されるようにしてある。  
そして前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＢ）は、映像信号に従って、画素毎に光の偏光方向を９０度回転させる、あるいは回転させないように変調して反射することにより、回転させられた光のみが、前記偏光ビームスプリッタ（ＭｊＢ）を透過して投影レンズ（Ｅｊ３Ｂ）に入射され、スクリーン（Ｔｊ）上に画像を表示する。  
【００１２】
なお、図５の光学系の場合、前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＡ）として、一般にＬＣＯＳ(TM)（シリコン液晶デバイス）が使われることが多い。  
このような液晶デバイスの場合、規定の偏光方向の光の成分しか有効に変調できないため、普通は、規定の偏光方向に平行な成分はそのまま透過させるが、規定の偏光方向に垂直な成分のみ偏光方向を９０度回転させ、結果として全ての光を有効利用できるようにするための偏光整列機能素子（ＰｃＢ）が、例えば前記後段フライアイレンズ（Ｆ２Ｂ）の後段に挿入される。  
また、前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＢ）には略平行光が入射されるよう、例えばその直前に、フィールドレンズ（Ｅｊ２Ｂ）が挿入される。  
【００１３】
なお、２次元光振幅変調素子に関しては、図５に記載したような反射型のものの他に、透過型の液晶デバイス（ＬＣＤ）も、それに適合する光学配置にして使用される（参考：特開平１０−１３３３０３号など）。  
【００１４】
ところで、通常のプロジェクタでは、画像をカラー表示するために、例えば、前記光均一化手段の後段にカラーホイールなどの動的色フィルタを配置して、Ｒ・Ｇ・Ｂ（赤および緑、青）の色順次光束として前記２次元光振幅変調素子を照明し、時分割によってカラー表示を実現したり、あるいは、前記光均一化手段の後段にダイクロイックミラーやダイクロイックプリズムを配置してＲ・Ｇ・Ｂの３原色に色分解した光で各色独立に設けた２次元光振幅変調素子を照明し、Ｒ・Ｇ・Ｂの３原色の変調光束の色合成を行うためのダイクロイックミラーやダイクロイックプリズムを配置したりするが、複雑になることを避けるため、図４、図５においては省略してある。  
【００１５】
しかしながら、前記した高輝度放電ランプは、投入電力から光パワーへの変換効率が低い、すなわち発熱損が大きい、あるいは寿命が短い、などの欠点を有していた。  
これらの欠点を克服した代替光源として、近年、ＬＥＤや半導体レーザ等の固体光源が注目されている。  
このうち、ＬＥＤについては、放電ランプと比較して発熱損が小さく、また長寿命であるが、放射される光に関しては、放電ランプと同様に指向性が無いため、前記したプロジェクタや露光装置等の、特定の方向の光のみが利用可能な用途においては、光の利用効率が低いという問題があった。  
【００１６】
一方、半導体レーザについては、その高い可干渉性に起因してスペックルが発生するという欠点があるが、例えば拡散板を用いるなどの種々の技術的改良により克服が可能であり、ＬＥＤと同様に、発熱損が小さく、長寿命である上に、指向性が高いため、前記したプロジェクタや露光装置等の、特定の方向の光のみが利用可能な用途においても、光の利用効率が高いという利点がある。  
また、高い指向性を活かして、光ファイバによる光伝送を高効率で行えるため、半導体レーザの設置場所と、プロジェクタなど、その光を利用する場所とを分離することが可能であり、装置設計の自由度を高めることができる。  
【００１７】
ただし、半導体レーザは、同じ電流を流す場合でも、環境温度変化または自己発熱による温度上昇によって、さらに累積通電時間の増加に伴う劣化によって明るさが変化するため、これをプロジェクタに応用する場合は、光量安定化を行うべくフィードバック制御されることが望ましい。  
それを実現するためには、光量を測定する手段が必須であり、特に、プロジェクタへの光の入り口、即ち、光ファイバの出射端においてＲ・Ｇ・Ｂそれぞれの光量を測定するための光センサを設置することが望ましい。  
【００１８】
ところで、光ファイバについては、前記した利便性の反面、石英などの脆弱なガラスを素材としているため、破断の危険性があるという欠点がある。  
例えば、１万ＡＮＳＩルーメンの明るさを有するプロジェクタを実現しようとする場合、光学系の効率にもよるが、約２００Ｗの光パワーを光ファイバで伝送する必要がある。  
このために、仮に６本の光ファイバに分けて伝送するとしても、１本あたり３０Ｗ以上の光パワーを伝送しなければならないことになる。  
因みに、光ファイバの本数をさらに増せば、１本あたりのパワーを減らすことができるが、コスト増となるため、無闇に光ファイバの本数を増すことはできない。  
このような大きなパワーを伝送する光ファイバが破断すると、破断箇所から光パワーが漏洩して光ファイバを機械的に保護するために設けた被覆材に吸収され、被覆材が焼損に至る可能性があるため、光ファイバの破断が起きれば、それを検知して半導体レーザを消灯する安全対策が必要となる。  
【００１９】
このような部材の焼損の可能性があるような高パワー応用のものから通信用などの低パワー応用のものまで、従来より光ファイバの破断を検知するための技術が開発されて来た。  
例えば、特開平０６−０５０８４１号には、主として通信用の光ファイバに対し、伝送すべき波長の光とともに、それとは異なる波長のモニタ用の光を送信側から送出し、受信側ではモニタ用の光を反射して戻すフィルタを備え、送信側でモニタ用の光の戻りの有無を監視することにより、光ファイバの破断を検知する技術が記載されている。  
【００２０】
さらに、例えば特開平０９−２６９２４８号には、主として通信用の光ファイバに対し、パルス光を入射したときの戻り光の波形に基づいて、光ファイバの破断の有無を検知し、破断している場合は破断点までの距離を算出する技術が記載されている。  
【００２１】
また、例えば特開平１０−０３８７５１号には、主としてレーザ加工用の高パワー光ファイバに対し、入射端側および出射端側それぞれのレンズ系近傍に、レンズ系内の迷光を検出する光センサを設けておき、両方の光センサの検出光量を比較して光ファイバの破断を検知する技術が記載されている。  
【００２２】
さらに、例えば特開平１１−００５１８７号には、主としてレーザ加工用の高パワー光ファイバに対し、それを覆う保護管を設け、その内側に光ファイバから漏洩するレーザ光を検出する複数のセンサを並べて配置し、光ファイバの破断を検知する技術が記載されている。  
【００２３】
さらに、例えば特開平１１−３４４４１７号には、主としてレーザ加工用の高パワー光ファイバに対し、伝送すべき波長の光とともに、それとは異なる波長のモニタ用の光を送信側から送出し、受信側でモニタ用の光の有無を監視することにより、光ファイバの破断を検知する技術が記載されている。  
【００２４】
さらに、例えば特開２００２−３５０６９４号、および特開２００４−２１９２４４号には、通信用やレーザ加工用の光ファイバに対し、その外周面に導電性被膜を設け、入射端側と出射端側の間の導通状態を監視することにより光ファイバの破断を検知する技術が記載されている。  
【００２５】
さらに、例えば特開２００３−２７９４４４号には、主としてレーザ加工用の高パワー光ファイバに対し、多数の温度ヒューズを直列接続したケーブルを沿わせて設置し、温度ヒューズの溶断によって光ファイバの破断を検知する技術が記載されている。  
【００２６】
さらに、例えば特開２００６−０６４３９９号には、主として通信用の光ファイバに対し、変調を加えた光を入射したときの戻り変調光の位相差に基づいて、光ファイバの破断の有無を検知し、破断している場合は破断点までの距離を算出する技術が記載されている。  
【００２７】
さらに、例えば特開２０１２−１４７８６０号には、主として内視鏡照明用の光ファイバに対し、光の入射端側で測定した入射光量と戻り光量の比に基づいて光ファイバの破断を検知する技術が記載されている。  
【００２８】
しかしながら、これら従来の技術は、前記したようなプロジェクタ用光源として半導体レーザを応用する場合に適用する事は有利ではなかった。  
その理由は、複数本の光ファイバを併用する場合、モニタ用光源や破断検出機構などの何らかの仕掛けを光ファイバの１本づつに施すことはコスト高となるからである。  
前記したように、光量安定化を目的として、光ファイバの出射端においてＲ・Ｇ・Ｂそれぞれの光量を測定するための光センサを設置するのであれば、光ファイバの破断検知においても、これをこれを流用できることが望ましい。  
ところが、複数本の光ファイバや複数個の駆動回路を有する光源装置であっても、光ファイバの１本づつの光量を分離して測定ができるようにすることは、前記と同様にコスト高となる上に、プロジェクタに供給する光束の光量安定化の達成のためには必要性に乏しく、全ての光ファイバからの総合した光量を、色別に測定できれば十分である。  
しかし、このような、全ての光ファイバからの総合した光量しか測定できない条件では、光ファイバの破断検知を正しく行うことは出来なかった。  
その理由は、仮に１本の光ファイバが破断しても、他の複数本の光ファイバから光が供給されて来るため、発光素子の劣化が進んでいなければ、光量安定化フィードバック制御によって、全ての光ファイバからの総合した光量が目標値に維持されてしまうからである。  
【００２９】
したがって、全ての光ファイバからの総合した光量しか測定できない条件で、個々の光ファイバの状態を調べるためには、これまで、各光ファイバに光を導波している発光素子を、個別に点灯状態と消灯状態(または減光状態)とに制御して、そのときの全ての光ファイバからの総合した光量の測定結果を比較して分析する、などの方法によらざるを得なかった。  
ところが、例えばプロジェクタに光束を供給する光源装置の場合、光ファイバに通す光量の意図的な増減を伴う光ファイバの破断検知シーケンスは、もしプロジェクタの稼動中に実施すると投影映像に悪影響が出るため、稼動開始の直後から映像投影の開始前の限定された期間内にしか実施することができなかった。  
例えば、各光ファイバに光を導波している発光素子を一斉に起動するのではなく、１個づつ順に起動して行き、全ての光ファイバからの総合した光量が、期待される階段状の増光を示すか否かにより異常検知を試行する、などである。
稼動中でも、映像投影しない期間が存在する場合に、その旨の情報がプロジェクタから光源装置に伝達されるなら、その期間に実施することも可能であるが、それでも稼動中の常時監視はできないという問題があった。  
【先行技術文献】
【特許文献】
【００３０】
【特許文献１】特開平０６−０５０８４１号公報
【特許文献２】特開平０９−２６９２４８号公報
【特許文献３】特開平１０−０３８７５１号公報
【特許文献４】特開平１１−００５１８７号公報
【特許文献５】特開平１１−３４４４１７号公報
【特許文献６】特開２００２−３５０６９４号公報
【特許文献７】特開２００４−２１９２４４号公報
【特許文献８】特開２００３−２７９４４４号公報
【特許文献９】特開２００６−０６４３９９号公報
【特許文献１０】特開２０１２−１４７８６０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００３１】
本発明が解決しようとする課題は、個々の光ファイバではなく、全ての光ファイバのからの放射光を総合した出力光束を対象とした光量測定によって、稼動中においても、個々の光ファイバの破断等の異常を検知できるようにした光源装置およびプロジェクタを提供することにある。  
【課題を解決するための手段】
【００３２】
本発明における第１の発明の光源装置は、１個以上の発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）と、前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）を駆動する駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）と、前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）から発せられた光を集光する集光光学系（Ｅｃ１，Ｅｃ２，…）と、前記集光光学系（Ｅｃ１，Ｅｃ２，…）が集光した光を入射端（Ｅｉ１，Ｅｉ２，…）で受け導光して出射端（Ｅｏ１，Ｅｏ２，…）から放射する光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）と、を具備するユニットを１個の要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）として、該要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の複数個を有し、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のそれぞれの前記光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）の前記出射端（Ｅｏ１，Ｅｏ２，…）からの放射光を総合して１個の出力光束（Ｆｏ）と成して出力する光源装置であって、該光源装置は、さらに、光センサ（Ａ）と、前記光センサ（Ａ）からの信号を受信して前記光センサ（Ａ）への入射光量を測定し光量測定データ（Ｓｈ）を生成する光量測定回路（Ｈ）と、前記光量測定データ（Ｓｈ）を受信するとともに前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）それぞれに対する出力電力相関量の設定と制御とを行う制御回路（Ｍｃ）と、を有し、前記光源装置は、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のそれぞれの前記光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）の前記出射端（Ｅｏ１，Ｅｏ２，…）からの放射光を総合して１個の光束と成した、少なくともその一部が前記光センサ（Ａ）に照射されることによって、前記制御回路（Ｍｃ）が、前記出力光束（Ｆｏ）の光量に相関する前記光量測定データ（Ｓｈ）を取得することができるように構成してあり、前記制御回路（Ｍｃ）は、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のなかから、１個の検査対象要素光源と、１個以上の変動補正要素光源とを選択した上で、前記制御回路（Ｍｃ）は、前記検査対象要素光源に属する、一つの波長帯域に属する前記発光素子を駆動する前記駆動回路全体を総合した出力電力相関量 Ｑu を、Ｑuo から Ｑuo ＋ ΔＱu まで、徐々に変化するよう前記検査対象要素光源に属する前記駆動回路を制御しながら、前記した出力電力相関量 Ｑu の変化に起因する前記波長帯域に対応する前記光量測定データの変化が打ち消されるよう、前記変動補正要素光源に属する前記駆動回路に対するフィードバック制御を行って、前記変動補正要素光源に属する、前記波長帯域に属する前記発光素子を駆動する前記駆動回路全体を総合した出力電力相関量 Ｑv を変化させるとともに、前記出力電力相関量 Ｑu の Ｑuo から Ｑuo ＋ ΔＱu までの変化に対する前記出力電力相関量 Ｑv の変化が Ｑvo から Ｑvo − ΔＱv までであるとき、前記出力電力相関量 Ｑu の変化分に対する前記出力電力相関量 Ｑv の変化分についての比をとった変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu の値を取得する変化分比取得シーケンスを実施し、前記変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu を評価して、前記検査対象要素光源の異常を検知することを特徴とするものである。  
【００３３】
ただし、前記した記述における、一つの波長帯域、および前記波長帯域、とは、本発明の光源装置が唯一つの波長帯域に属する発光素子のみを含んでいる場合は、発光素子が属する当該波長帯域、を指し、また本発明の光源装置が複数の波長帯域に属する発光素子を含んでいる場合は、それらの波長帯域のうちの一つの注目する波長帯域、を指しており、これ以降における記述においても同様である。  
【００３４】
本発明における第２の発明の光源装置は、前記制御回路（Ｍｃ）は、前記した、前記検査対象要素光源として選択された前記要素光源に属する、前記波長帯域に属する前記発光素子を駆動する前記駆動回路が複数個存在するときは、そのうちの１個をさらに選択し、選択された前記駆動回路の出力電力相関量のみを変化することによって前記駆動回路全体を総合した出力電力相関量 Ｑu を変化させて変化分比取得シーケンスを実施することを、前記した選択された前記要素光源に属する、前記波長帯域に属する前記発光素子を駆動する前記駆動回路の全てに亘って順に実行し、取得した前記変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu のうちの最も大きい値を評価して、選択された前記検査対象要素光源に属する前記光ファイバの異常を検知することを特徴とするものである。  
【００３５】
本発明における第３の発明の光源装置は、前記制御回路（Ｍｃ）は、前記した、前記検査対象要素光源として選択された前記要素光源に属する、前記波長帯域に属する前記発光素子を駆動する前記駆動回路が複数個存在するときは、そのうちの１個をさらに選択し、選択された前記駆動回路の出力電力相関量のみを変化することによって前記駆動回路全体を総合した出力電力相関量 Ｑu を変化させて変化分比取得シーケンスを実施することを、前記した選択された前記要素光源に属する、前記波長帯域に属する前記発光素子を駆動する前記駆動回路の全てに亘って順に実行し、取得した前記変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu のうちの最も大きい値をその検査対象要素光源における変化分比基準値とし、取得した前記変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu についての前記変化分比基準値に対する比の値を評価して、対応する前記駆動回路およびそれに接続される前記発光素子の組の異常を検知することを特徴とするものである。  
【００３６】
本発明における第４の発明の光源装置は、前記制御回路（Ｍｃ）は、前記した、前記変動補正要素光源として選択された前記要素光源に属する、前記波長帯域に属する前記発光素子を駆動する前記駆動回路が複数個存在するときは、そのうちの１個をさらに選択し、選択された前記駆動回路の出力電力相関量のみを変化することによって前記駆動回路全体を総合した出力電力相関量 Ｑv を変化させて変化分比取得シーケンスを実施することとし、前記駆動回路の１個を選択するに際しては、最も小さい値の前記変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu を与えるものを選択することを特徴とするものである。  
【００３７】
本発明における第５の発明の光源装置は、前記制御回路（Ｍｃ）は、前記変動補正要素光源として選択可能な前記要素光源が複数個存在するときは、最も小さい値の前記変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu を与えるものを選択することを特徴とするものである。  
【００３８】
本発明における第６の発明の光源装置は、前記制御回路（Ｍｃ）は、変化分比取得シーケンスの開始に際しては、前記波長帯域に属する同じ要素光源を変動補正要素光源とした前回の変化分比取得シーケンスにおいて設定した、前記出力電力相関量 Ｑu の変化分 ΔＱu とは、逆符号の変化分 ΔＱu を設定することを特徴とするものである。  
【００３９】
本発明における第７の発明の光源装置は、前記制御回路（Ｍｃ）は、変化分比取得シーケンスに際しては、前記出力電力相関量 Ｑu の変化分 ΔＱu を負に設定し、前記変動補正要素光源として選択された前記要素光源に属する、前記駆動回路の複数個によって前記出力電力相関量 Ｑv の変化分 ΔＱv を与えることを特徴とするものである。  
【００４０】
本発明における第８の発明の光源装置は、前記制御回路（Ｍｃ）は、稼動中の前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の全てを、１個づつ順に前記検査対象要素光源として選択し、変化分比取得シーケンスを実施して前記検査対象要素光源の異常の検知を試行するシーケンスを定期的に実施することを特徴とするものである。  
【００４１】
本発明における第９の発明の光源装置は、前記制御回路（Ｍｃ）は、前記した前記変動補正要素光源に属する前記駆動回路に対するフィードバック制御を行うに際しては、前記光量測定データとその目標値との差異が小さくなるように前記出力電力相関量 Ｑv を変化させることを特徴とするものである。  
【００４２】
本発明における第１０の発明の光源装置は、前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）は、発光波長が複数種類の異なる波長帯域に属するものを含んでおり、前記光センサ（Ａｘ，Ａｙ，…）は、前記波長帯域に対応して光を選択的に透過する分光フィルタ（Ｅｒｘ，Ｅｒｙ，…）を備えた複数個のもので構成してあり、光源装置は、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のそれぞれの前記光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）の前記出射端（Ｅｏ１，Ｅｏ２，…）からの複数種類の波長帯域の放射光を総合して１個の光束と成して、少なくともその一部を、複数個の前記光センサ（Ａｘ，Ａｙ，…）のそれぞれに照射することによって、前記制御回路（Ｍｃ）は、前記出力光束（Ｆｏ）のなかのそれぞれの前記波長帯域の光量に相関する前記光量測定データ（Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）を受信することができるように構成してあり、変化分比取得シーケンスの実施に際しては、前記した出力電力相関量 Ｑu の変化が行われている前記駆動回路に接続される前記発光素子が属する前記波長帯域に対応する前記光センサの前記光量測定データを取得し、前記した出力電力相関量 Ｑu の変化が行われている前記駆動回路に接続される前記発光素子が属する前記波長帯域と同じ波長帯域に属する前記発光素子が接続される前記駆動回路のうちから選択して前記した出力電力相関量 Ｑv の変化を行うことを特徴とするものである。  
【００４３】
本発明における第１１の発明のプロジェクタは、第１から１０の発明に記載の光源装置を利用して画像を投影表示することを特徴とするものである。  
【発明の効果】
【００４４】
個々の光ファイバではなく、全ての光ファイバのからの放射光を総合した出力光束を対象とした光量測定によって、稼動中においても、個々の光ファイバの破断等の異常を検知できるようにした光源装置およびプロジェクタを提供することができる。  
【図面の簡単な説明】
【００４５】
【図１】本発明の光源装置を簡略化して示すブロック図を表す。
【図２】本発明の光源装置を簡略化して示すブロック図を表す。
【図３】本発明の光源装置の実施例の一形態を簡略化して示す図を表す。
【図４】本発明のプロジェクタに係わる従来のプロジェクタの一種の一部の一形態を説明する図を表す。
【図５】本発明のプロジェクタに係わる従来のプロジェクタの一種の一部の一形態を説明する図を表す。
【発明を実施するための形態】
【００４６】
先ず、本発明の光源装置を簡略化して示すブロック図である図１を用いて、本発明を実施するための形態について説明する。  
要素光源（Ｕ１）に設けられている発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…）は、駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…）によって駆動されて発光し、発せられた光は、例えばレンズから成る集光光学系（Ｅｃ１）によって光ファイバ（Ｅｆ１）の入射端（Ｅｉ１）に集光され、前記光ファイバ（Ｅｆ１）のコアを伝播して出射端（Ｅｏ１）から放射される。  
ここで、説明を簡略化するために、当面は、本発明の光源装置が唯一つの波長帯域に属する発光素子のみを含んでいる場合を想定することとする。  
複数の波長帯域に属する発光素子を含んでいる場合については後述する。  
【００４７】
なお、前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…）については、ここでは、例えば半導体レーザや、半導体レーザの放射光を、高調波発生・光パラメトリック効果などのような非線形光学現象を利用して波長変換する光源などであり、そのような光源の複数個を直列接続、あるいは並列接続、さらには直並列接続するなどして、１個の前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…）によって駆動できるものとしている。  
また、前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…）については、ここでは、直流電源（図示を省略）によって給電される、例えば降圧チョッパや昇圧チョッパなど方式の回路によって構成された、ＤＣ／ＤＣコンバータであり、前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…）に規定の電力を投入できるものとしている。  
【００４８】
本発明の光源装置は、前記要素光源（Ｕ１）と同様の要素光源の複数個を有しており、これら要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）の出射端（Ｅｏ１，Ｅｏ２，…）からの放射光は、総合されて１個の出力光束（Ｆｏ）として本発明の光源装置から出力される。  
なお、複数個の前記出射端（Ｅｏ１，Ｅｏ２，…）からの放射光の総合方法としては、最も簡単には、前記出射端（Ｅｏ１，Ｅｏ２，…）が同一平面上に位置するように揃えて、前記光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）の出射端部を束ねる事により実現することができる。  
【００４９】
前記出力光束（Ｆｏ）の光量に相関する光量測定データ（Ｓｈ）を生成するために、前記出力光束（Ｆｏ）と同様に、前記出射端（Ｅｏ１，Ｅｏ２，…）からの放射光の一部を総合した測定用出力光束（Ｆｏ’）を生成して光センサ（Ａ）に照射し、該光センサ（Ａ）の信号（Ｓｇ）を光量測定回路（Ｈ）によって増幅やＡＤ変換等の必要な処理を行い、前記光量測定データ（Ｓｈ）を生成する。  
なお、前記測定用出力光束（Ｆｏ’）は、前記出力光束（Ｆｏ）から分割して生成してもよいし、前記出力光束（Ｆｏ）の生成に際して生じた、有効に利用できない、迷光となる光などでもよく、前記出力光束（Ｆｏ）の光量に相関する光量を有するものであれば、どのような光でも利用できる。  
そして制御回路（Ｍｃ）は、生成された前記光量測定データ（Ｓｈ）を取得することができ、さらに、駆動回路制御信号（Ｊ１ａ，Ｊ１ｂ，…，Ｊ２ａ，Ｊ２ｂ，…）を介して前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）毎に独立に制御し、それぞれの前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）への投入電力に相関する量、すなわち前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）それぞれの出力電力相関量に対応するデータを設定できるように構成されている。  
【００５０】
なお、ここで言う出力電力相関量としては、前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）それぞれに印加される電圧と流れる電流との積で定義される電力値を採用することは当然可能であるが、より簡便な指標、例えば前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）が半導体レーザの複数個を直列接続したものである場合では、それに発生する電圧(順方向電圧)が略一定であることを利用して、それらに流す電流値とすることができる。  
また、直列接続の個数が異なるものが混在する場合は、電力値への相関が良くなるよう、たとえば、電流値に直列個数を乗じた代替値を出力電力相関量として採用するようにしてもよい。  
【００５１】
本発明の光源装置の異常の有無を調べるために、前記制御回路（Ｍｃ）は、先ず、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のなかから異常の有無を検査する対象とする要素光源、すなわち検査対象要素光源を１個選択し、さらに、検査行為が前記出力光束（Ｆｏ）の光量への変動を及ぼさないよう、光量補正を行う機能を果たす要素光源、すなわち変動補正要素光源を１個または複数個選択する。  
その上で前記制御回路（Ｍｃ）は、前記検査対象要素光源全体を総合した出力電力相関量 Ｑu を、初期値 Ｑuo から Ｑuo ＋ ΔＱu まで、徐々に変化するよう前記検査対象要素光源に属する前記駆動回路を制御しながら、これに並行して、前記出力電力相関量 Ｑu を変化させたことに起因して前記出力光束（Ｆｏ）の光量が変化しないように、すなわち前記光量測定データの変化が打ち消された状態が常に維持されるように、前記変動補正要素光源に属する前記駆動回路に対するフィードバック制御を行って、前記変動補正要素光源全体を総合した出力電力相関量 Ｑv を連続的に調整する。  
そして前記出力電力相関量 Ｑu の Ｑuo ＋ ΔＱu までの変化を終えたとき、前記出力電力相関量 Ｑv は、初期値 Ｑvo から Ｑvo − ΔＱv まで変化していたとするとき、前記出力電力相関量 Ｑu の変化分に対する前記出力電力相関量 Ｑv の変化分についての比をとった変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu の値を計算して取得する。  
【００５２】
なお前記した、前記検査対象要素光源の出力電力相関量 Ｑu を初期値 Ｑuo から徐々に変化させることを開始してから変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu の値を取得するまでのシーケンスを、ここでは、変化分比取得シーケンスと呼ぶ。  
本発明の光源装置においては、変化分比取得シーケンスによって取得した前記変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu を評価して、前記検査対象要素光源の異常を検知することができ、その理由を以下において説明する。  
【００５３】
いま、簡単のため、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）それぞれに含まれる前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）それぞれは、投入電力から光パワーへの変換効率が全て同じであり、前記集光光学系（Ｅｃ１，Ｅｃ２，…）と前記光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）を介して前記出力光束（Ｆｏ）に至る光の利用効率に、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）毎の差異が全く無い、完全に正常な、単純化した場合を仮定し、前記した変化分比取得シーケンスを実施することを考える。  
前記検査対象要素光源として前記要素光源（Ｕ２）を選択し、前記変動補正要素光源として前記要素光源（Ｕ１）を選択したとして、また前記要素光源（Ｕ２）に含まれる前記駆動回路（Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）のなかから、出力電力相関量 Ｑu の変化を与える操作に使うための駆動回路、すなわち変化操作対象駆動回路として前記駆動回路（Ｐ２ａ）をさらに選択し、前記要素光源（Ｕ１）に含まれる前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…）のなかから、出力電力相関量 Ｑv を調整して変化を補正する操作に使うための駆動回路、すなわち補正操作対象駆動回路として前記駆動回路（Ｐ１ａ）をさらに選択したとする。  
【００５４】
そして前記制御回路（Ｍｃ）は、前記駆動回路（Ｐ２ａ）の出力電力相関量 Ｑu を、徐々に ΔＱu だけ増加させることと並行して、前記光量測定データ（Ｓｈ）を継続して監視し、その値、すなわち前記出力光束（Ｆｏ）の明るさが変化しないよう、前記駆動回路（Ｐ１ａ）の出力電力相関量 Ｑv を継続して調整する。  
前記駆動回路（Ｐ２ａ）の出力電力相関量 Ｑu を増加させるため、当然、前記光量測定データ（Ｓｈ）の値が変化しないためには、前記駆動回路（Ｐ１ａ）の出力電力相関量 Ｑv は減少させなければならない。  
そのようにして出力電力相関量 Ｑu が ΔＱu だけ増加し終えた段階では、前記した単純化した仮定の下では、出力電力相関量 Ｑv の減少量 ΔＱv は ΔＱu に等しく、よって ΔＱv ＝ ΔＱu であり、結局 ΔＱv ／ ΔＱu ＝ １ となるはずであるから、逆に言えば、変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu の値を評価して、ΔＱv ／ ΔＱu ＝ １ が確認できれば、正常であることが判ることになる。  
【００５５】
反対に、前記要素光源（Ｕ２）の前記光ファイバ（Ｅｆ２）が完全に破断しており、前記要素光源（Ｕ２）の光の利用効率が零である、完全に異常な、単純化した場合を仮定し、前記した変化分比取得シーケンスを実施することを考える。  
この仮定の下では、前記駆動回路（Ｐ２ａ）の出力電力相関量 Ｑu を増加させても、前記発光素子（Ｙ２ａ）から発した光は前記光ファイバ（Ｅｆ２）の前記出射端（Ｅｏ２）から全く出て来ないため、当然、前記制御回路（Ｍｃ）が前記駆動回路（Ｐ１ａ）の出力電力相関量 Ｑv を変化させなくても前記光量測定データ（Ｓｈ）の値は変化しない。  
したがって ΔＱv ＝ ０ であり、結局 ΔＱv ／ ΔＱu ＝ ０ となるはずであるから、逆に言えば、変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu の値を評価して、ΔＱv ／ ΔＱu ＝ ０ なる結果を得れば、異常であることが判ることになる。  
【００５６】
さらに前記要素光源（Ｕ１）の前記光ファイバ（Ｅｆ１）が完全に破断しており、前記要素光源（Ｕ１）の光の利用効率が零である、完全に異常な、単純化した場合を仮定し、前記した変化分比取得シーケンスを実施することを考える。  
この仮定の下では、前記駆動回路（Ｐ１ａ）の出力電力相関量 Ｑv をいくら変化させても、前記発光素子（Ｙ１ａ）から発した光は前記光ファイバ（Ｅｆ１）の前記出射端（Ｅｏ１）から全く出て来ないため、当然、前記制御回路（Ｍｃ）が与えた前記駆動回路（Ｐ２ａ）の出力電力相関量 Ｑu の変化に起因する前記光量測定データ（Ｓｈ）の値の変化を打ち消すことができない。  
この症状は、前記駆動回路（Ｐ２ａ）の出力電力相関量 Ｑu を、初期値 Ｑuo から徐々に変化させることを開始すれば、ΔＱu まで変化させずとも早期に判明するから、判明し次第、変化分比取得シーケンスを中止すればよい。  
この状況を、前記した例に対応して、敢えて数学的に表現すると ΔＱv ＝ ∞ であり、結局 ΔＱv ／ ΔＱu ＝ ∞ となるはずであるから、逆に言えば、変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu の値を評価して、ΔＱv ／ ΔＱu ＝ ∞ なる結果を得ても、異常であることが判ることになる。  
ただし、この場合は、異常の有無を検査する対象とする要素光源の異常ではないため、特別の扱いをする必要がある。  
特別の扱いとは、具体的には、例えば、この状況を検知した場合は、変化分比取得シーケンスを直ちに中止して元の状態に戻し、稼働中の前記要素光源が３個以上ある光源装置の場合は、前記変動補正要素光源の選択をやり直すことが好適である。  
【００５７】
以上において説明したように、変化分比取得シーケンスを実施して変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu を評価すれば、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の異常の有無を検知できることが理解できる。  
当然ながら、現実の光源装置においては、いま仮定した単純化した条件が厳密に当て嵌まるとは限らず、変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu が、必ず正確に １ または ０、∞ の何れかになる訳ではないため、異常と判定するための閾値を決めて評価するなどの工夫が必要である。  
【００５８】
ここで、正常の場合も、異常であっても、前記した変化分比取得シーケンスによって前記出力光束（Ｆｏ）の明るさが変化することが無い点に注意されたい。  
そうなる理由は、前記した説明から明らかなように、前記出力光束（Ｆｏ）の明るさが変化しないように、前記制御回路（Ｍｃ）が、前記駆動回路（Ｐ１ａ）の出力電力相関量 Ｑv を意図的にフィードバック制御しているからであり、この特長により、本発明の光源装置は、例えばプロジェクタ用の光源として利用した場合、映像の投影中においても変化分比取得シーケンスを定期的に実施するなどして、光源装置の異常の有無を常時監視することができるようになる。  
【００５９】
なお、先の説明では、検査対象要素光源の出力電力相関量 Ｑu を徐々に、すなわち遅い速度で変化させる旨を記載したが、その理由は、もし変化が速過ぎる場合は、前記出力光束（Ｆｏ）の光量が変化しないように、変動補正要素光源のフィードバック制御が追いつかずに、前記出力光束（Ｆｏ）の光量が変動してしまうからである。  
したがって、出力電力相関量 Ｑu を変化させる速度の遅さの程度については、前記したフィードバック制御が十分に追いつき、例えばプロジェクタ用など、光源装置の用途の照らして必要とされる、前記出力光束（Ｆｏ）の光量の安定性に対する精度が達成可能となる程度の遅さであればよい。  
【００６０】
また、前記出力電力相関量 Ｑu を変化させる量 ΔＱu の符号については、正または負の何れの選択も可能である。  
一方、ΔＱu の大きさ、すなわち絶対値については、これがあまりにも微小であれば、正確な評価・判定ができないため、光源装置の用途に照らして求められる異常検知に関する誤検知確率の低さを、達成するために必要なダイナミックレンジやＳＮ比（信号対ノイズ比）が実現できる程度の、適度な大きさを与える必要があるが、具体的には実験的に決めるとよい。  
【００６１】
先述の単純化した例においては、完全に破断した光ファイバでは、出射端から光が全く出て来ないものとして説明したが、実際の光源装置においては、破断の状態によっては、減衰した光が出て来る場合があり得る。  
また、発光素子の劣化や駆動回路の故障が原因で、弱い光しか出て来こない場合があり得る。  
ここでは、前記検査対象要素光源に前記駆動回路が複数個存在するときに、これらを区別して検知する方法について述べる。  
【００６２】
前記検査対象要素光源として選択された前記要素光源（Ｕ２）に、複数個の前記駆動回路（Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）が存在するときは、そのうちの１個を前記した変化操作対象駆動回路として選択し、選択された前記駆動回路の出力電力相関量を変化させることによって前記駆動回路全体を総合した出力電力相関量 Ｑu を変化させて変化分比取得シーケンスを実施することを、前記検査対象要素光源に属する前記駆動回路（Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）の全てに亘って順に実行する。  
このようにすることにより、前記駆動回路（Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）のそれぞれに対応して変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu を取得し、そのうちの最も大きい値を選択して調べ、それが規定した閾値に満たないと評価された場合は、前記検査対象要素光源に属する前記光ファイバ（Ｅｆ２）において、破断等の異常を検知したと見なすことができる。  
その理由は、ある光ファイバが破断している場合、何れの発光素子から発した光であるかには関係無く、その光ファイバを通る光は全て減衰するため、劣化が最も進んでいない発光素子による検査、すなわち変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu の最も大きい値によって評価するだけで十分だからである。  
当然、前記要素光源（Ｕ２）の前記発光素子（Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）の全ての劣化、または前記駆動回路（Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）の全ての故障が原因で異常が検知される可能性も、原理的には排除できないが、前記したように、光ファイバの破断は、被覆材の焼損などの重大事故につながる可能性があるため、仮に誤検知であっても、光源装置全体の稼動停止や、検査対象要素光源のみの部分的稼動停止など、安全側の対策を発動させる結果になるだけであるため、大きな問題ではない。  
【００６３】
また、前記した、取出された最も大きい変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu の値をその検査対象要素光源における変化分比基準値とし、前記駆動回路（Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）のそれぞれを変化操作対象駆動回路に選択して取得した前記変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu についての前記変化分比基準値に対する比の値、すなわち維持指数を計算する。  
これらを１個づつ調べ、それが規定した閾値に満たないと評価されたものを見出した場合は、対応する前記駆動回路と、それに接続される前記発光素子との組の異常を検知したと見なすことができる。  
その理由は、同じ波長帯域に属する発光素子では、投入電力から光パワーへの変換効率は元々個体差は少ないため、維持指数が小さい前記駆動回路と前記発光素子との組では、駆動回路または発光素子の何れかまたは両方の劣化が進んでいると考えられるからである。  
ここで得た情報のみからは、駆動回路と発光素子の何れの異常であるかは識別できないが、この異常が検出された前記組に対しては、前記駆動回路の稼動の停止など、安全のための対応を実施することができる。  
【００６４】
いま、前記検査対象要素光源に前記駆動回路が複数個存在するときの扱いについて述べたが、ここでは、同様に前記変動補正要素光源に前記駆動回路が複数個存在するときの扱いについて述べる。  
先述の単純化した例において述べた特別の扱いとした現象は、前記光ファイバの破断のみならず、前記変動補正要素光源における前記発光素子の劣化や前記駆動回路の故障によっても発生し得る。  
前記変動補正要素光源の前記駆動回路全体を総合した出力電力相関量 Ｑv を変化させるための前記駆動回路の１個を選択する場合は、その駆動回路またはそれに接続された発光素子が完全に故障・劣化して光を全く発しないものを選択しないことは当然として、そのようなものと対極にある、可能な限り劣化の少ない健全な、すなわち投入電力から光パワーへの変換効率の高い前記駆動回路と前記発光素子との組を選択することが好適である。  
【００６５】
すなわち、前記変動補正要素光源として選択された前記要素光源（Ｕ１）に、複数個の前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…）が存在するときは、そのうちの１個を前記した補正操作対象駆動回路として選択し、選択された前記駆動回路の出力電力相関量を変化させることによって前記駆動回路全体を総合した出力電力相関量 Ｑv を変化させて変化分比取得シーケンスを実施することを、前記変動補正要素光源に属する前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…）の全てに亘って順に実行する。  
ただし、変化分比取得シーケンスの実施のための前記検査対象要素光源は適当な１個を選択しておく。  
このようにすることにより、前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…）のそれぞれに対応して変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu が取得されるが、そのうちの最も小さい値を与える前記駆動回路を選択すればよい。  
理由は、投入電力から光パワーへの変換効率が高いほど、与えた出力電力相関量 Ｑu の変化に起因する光量測定データの変化を打ち消すために必要な出力電力相関量 Ｑv の変化は小さくて済むからである。  
【００６６】
いま述べた方法は、前記変動補正要素光源のなかから前記駆動回路の１個を選択するために、記載のようなシーケンスを実施するものであった。  
しかし、このようなシーケンスを特別に実施せずとも、先に説明した、前記検査対象要素光源において、前記駆動回路のそれぞれに対応して変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu を取得し、そのうちの最も大きい値を選択して調べ、それが規定した閾値に満たないと評価された場合は、前記検査対象要素光源に属する前記光ファイバにおいて、破断等の異常を検知するシーケンスを、前記要素光源（Ｕ１）を前記検査対象要素光源として実施する際に取得する、最も大きい変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu の値を与えた前記駆動回路を選択すればよい。  
理由は、その駆動回路が投入電力から光パワーへの変換効率が最も高い前記駆動回路と前記発光素子との組に対応するからである。  
【００６７】
前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）全体のなかから前記変動補正要素光源の１個を選択するに際しては、光ファイバが、完全に破断して出射端から光が全く出て来ないものや、破断によって減衰した光が出て来るようなものを、前記変動補正要素光源を選択しないようにするため、可能な限り発光素子の出力光量から出力光束（Ｆｏ）の光量への伝達効率の高い前記要素光源を選択することが好適である。  
しかし、この伝達効率の測定を可能にするためには、例えば前記光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）の個々への入力光量を測定できるようにする必要があり、コスト高となってしまうため、代わりに、前記した、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）それぞれにおいて可能な限り投入電力から光パワーへの変換効率の高い前記駆動回路と前記発光素子との組を選択することを前提として、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のうちで、最も高い投入電力から光パワーへの変換効率を有する前記駆動回路と前記発光素子との組を含む前記要素光源を前記変動補正要素光源として選択すればよい。  
【００６８】
このことは、取りも直さず、前記変動補正要素光源として選択可能な前記要素光源のうち、最も小さい値の前記変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu を与えるものを選択すればよいことを意味する。  
理由は、先述と同様に、投入電力から光パワーへの変換効率が高いほど、与えた出力電力相関量 Ｑu の変化に起因する光量測定データの変化を打ち消すために必要な出力電力相関量 Ｑv の変化は小さくて済むからである。  
よって結局、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）全体に含まれる前記駆動回路と前記発光素子との組の全体のなかで、最も大きな出力電力相関量 Ｑu が取得される前記駆動回路と前記発光素子との組を含む前記要素光源を前記変動補正要素光源として選択すればよいことが判る。  
なお、前記変動補正要素光源の選択が完了後は、そのなかから補正操作対象駆動回路として、最も投入電力から光パワーへの変換効率の高い前記駆動回路と前記発光素子との組を選択することが好適であるが、さらに、例えば２番目に投入電力から光パワーへの変換効率の高い前記駆動回路と前記発光素子との組を、補正操作対象駆動回路として加えたり、さらに３番目に投入電力から光パワーへの変換効率の高い前記駆動回路と前記発光素子との組を加えるなどとしてもよい。
【００６９】
したがって、先に説明した、前記検査対象要素光源において、前記駆動回路のそれぞれに対応して変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu を取得し、そのうちの最も大きい値を選択して調べ、それが規定した閾値に満たないと評価された場合は、前記検査対象要素光源に属する前記光ファイバにおいて、破断等の異常を検知するシーケンスや、前記駆動回路と、それに接続される前記発光素子との組の異常を検知するシーケンスとも合わせた、一つの大きなシーケンス、すなわち要素光源走査総合検査シーケンスによって前記変動補正要素光源の決定を行うことが好適であり、この要素光源走査総合検査シーケンスの一例を以下に述べる。  
【００７０】
先ず、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）のなかから適当な１個、例えば１番目の前記要素光源（Ｕ１）を選択して仮の変動補正要素光源とし、それに含まれる前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…）のなかから適当な１個、例えば１番目の前記駆動回路（Ｐ１ａ）を補正操作対象駆動回路として選択する。  
次に、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の２番目の前記要素光源（Ｕ２）を検査対象要素光源として選択し、この要素光源に含まれる前記発光素子（Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）の全部に亘って、１番目の駆動回路（Ｐ２ａ）から順に、１個づつ変化操作対象駆動回路として選択した上で変化分比取得シーケンスを実施して変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu を取得することにより、変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu の値の列 Ｒ21，Ｒ22，… を生成する。  
そして、この列のなかの最大値 Ｒm2 を、この要素光源における変化分比基準値として抽出し、前記した変化分比の列 Ｒ21，Ｒ22，… の各値を最大値 Ｒm2 で除して算出した値、すなわち維持指数の列 Ｒ21／Ｒm2，Ｒ22／Ｒm2，… を生成する。  
そこで、この維持指数の列のなかで、規定した閾値に満たないものがあれば、その維持指数の値に対応する前記駆動回路と、それに接続される前記発光素子との組の異常を検知する。  
【００７１】
そして、いま述べた前記要素光源（Ｕ２）に対して実施したことと同様の処理を、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の３番目およびそれ以降の、残りの要素光源全部に亘って、１個づつ順に選択して実施し、変化分比基準値の列 Ｒm2，Ｒm3，… を生成する。  
これだけでは、仮の変動補正要素光源として選択した前記要素光源（Ｕ１）に関する情報が欠けているため、今度は、前記要素光源（Ｕ１）を除く前記要素光源全体のなかから適当な１個、例えば２番目の前記要素光源（Ｕ２）を選択して仮の変動補正要素光源とし、それに含まれる、前記駆動回路（Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）のなかから適当な１個、例えば前記変化分比基準値 Ｒm2 を与えた駆動回路を補正操作対象駆動回路として選択する。  
そして、前記要素光源（Ｕ１）を検査対象要素光源として選択し、前記した前記要素光源（Ｕ２）に対して実施したことと同様の処理を実施して、変化分比基準値 Ｒm1’を取得する。  
さらに前記要素光源（Ｕ１）および前記要素光源（Ｕ２）を除く前記要素光源全体のなかから、比較対象としての適当な１個、例えば３番目の要素光源を検査対象要素光源として選択し、変化分比基準値 Ｒm3’を取得するとこの Ｒm3’に対する Ｒm3 の比が、前記要素光源（Ｕ２）を変動補正要素光源として取得した変化分比に対する前記要素光源（Ｕ１）を変動補正要素光源として取得した変化分比の比を与えるから、次式、
Ｒm1 ＝ Ｒm1’・ Ｒm3 ／ Ｒm3’
によって、他と比較可能な前記要素光源（Ｕ１）に関する変化分比基準値が求められ、互いに比較可能な変化分比基準値の列 Ｒm1，Ｒm2，Ｒm3，… が決定される。  
【００７２】
そして、この列のなかの最大値 Ｒg を総合変化分比基準値として抽出し、前記した変化分比基準値の列 Ｒm1，Ｒm2，Ｒm3，… の各値を総合変化分比基準値 Ｒg で除して算出した値、すなわち総合維持指数 Ｒm1／Ｒg，Ｒm2／Ｒg，Ｒm3／Ｒg，… を生成する。  
そこで、この総合維持指数の列のなかで、規定した閾値に満たないものがあれば、その総合維持指数の値に対応する前記要素光源に属する前記光ファイバにおける破断等の異常を検知する。  
【００７３】
以上において述べた要素光源走査総合検査シーケンスによって、前記駆動回路と、それに接続される前記発光素子との組の異常を検知、および前記光ファイバにおける破断等の異常を検知を試行するとともに、前記要素光源それぞれ毎において変化分比基準値を与える駆動回路が決定され、そのうちの最大値である総合変化分比基準値を与える要素光源が決定されるから、要素光源走査総合検査シーケンスは間欠的な実施とし、その間の期間においては、これらの決定された情報に基づいて、変動補正要素光源の選択や、補正操作対象駆動回路の選択、検査対象要素光源からの変化操作対象駆動回路の選択を行う、簡素化された検査シーケンスとしてもよい。  
【００７４】
先に、前記検査対象要素光源の出力電力相関量 Ｑu を初期値 Ｑuo から Ｑuo ＋ ΔＱu まで徐々に変化させながら、前記出力光束（Ｆｏ）の光量が変化しないよう、前記変動補正要素光源の出力電力相関量 Ｑv を初期値 Ｑvo から Ｑvo − ΔＱv まで変化させて、変化分比 ΔＱv ／ ΔＱu の値を取得することを述べた。  
そのとき、前記変化分比の取得後の処理については言及しなかったが、前記検査対象要素光源および前記変動補正要素光源の出力電力相関量 Ｑu および Ｑv を、変化させる前の、元の状態に戻してもよいが、特段の不都合が無ければ、元の状態に戻さずにおく処理とすることにより、処理時間が節約できる利点を得ることができる。  
ただし、この処理の場合、変化分比取得シーケンスの開始に際しては、同じ要素光源を変動補正要素光源とした前回の変化分比取得シーケンスにおいて前記検査対象要素光源に設定した、前記出力電力相関量 Ｑu の変化分 ΔＱu とは逆符号の変化分 ΔＱu を、次に選択された前記検査対象要素光源に設定する、すなわち正の変化分と負の変化分とを交互に設定することが好適である。  
【００７５】
理由は、例えば負の、すなわち減少する方向の出力電力相関量 Ｑu の変化を前記検査対象要素光源に対して与えるならば、前記変動補正要素光源は出力電力相関量 Ｑv を増加させることになるが、これを元の状態に戻さずに、次の検査対象要素光源に対しても同じく減少する方向の出力電力相関量 Ｑu の変化を与えることを繰り返したならば、前記変動補正要素光源の出力電力相関量 Ｑv が増加し続けることになり、その結果、能力の限界に達して処理が続行できなくなったり、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の間の電力バランスが崩れて劣化の進行速度のバランスが崩れるなどの不都合が生じるからである。  
この不都合が生じることは、正の変化を与える場合でも同様である。  
同じ理由により、前記検査対象要素光源の１個の駆動回路に注目したとき、同じ駆動回路を変化操作対象駆動回路として選択する場合は、変化分比取得シーケンスのために正と負の出力電力相関量 Ｑu の変化を交互に与えることが好適である。  
【００７６】
なお、前記変化分比の取得後に、前記検査対象要素光源および前記変動補正要素光源の出力電力相関量 Ｑu および Ｑv を、変化分比取得シーケンス開始前の元の状態に戻す場合は、それぞれの初期値 Ｑuo および Ｑvo を設定することにより、一足飛びに戻す方法もあるが、この場合、発光素子の発熱状態が急に変化することによる、出力光束（Ｆｏ）の総合した光量の不連続が発生する可能性があるため、変化分比取得シーケンスのために与えた変化と逆の変化を徐々に与えることによって元の状態に戻すことが好適である。  
このことは、前記した特別の扱いの場合に元の状態に戻すときも同様である。
【００７７】
前記したように、変化分比取得シーケンスにおける前記出力電力相関量 Ｑu の変化分 ΔＱu の大きさについては、必要なダイナミックレンジやＳＮ比が実現できる程度の、適度な大きさを与えるべきであるが、ΔＱu の符号を正または負の何れに設定しても、前記検査対象要素光源または前記変動補正要素光源の何れかにおいて電力を増加させる必要がある。  
したがって、(絶対値の)大きな ΔＱu を与えようとすると、前記駆動回路と前記発光素子との組が大きな電力増加の余裕を持っている必要があることになり、例えば、前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）の劣化が進行した状態の光源装置においては、実現が困難になる問題がある。  
【００７８】
しかし、変化分比取得シーケンスに際しては、前記検査対象要素光源における前記出力電力相関量 Ｑu の変化分 ΔＱu を負に設定することとし、前記変動補正要素光源として選択された前記要素光源に属する、前記駆動回路の複数個によって前記出力電力相関量 Ｑv の変化分 ΔＱv を与えるようにするならば、前記検査対象要素光源で減少させた電力に見合う前記変動補正要素光源での電力増加分を、複数個の前記補正操作対象駆動回路で分担して供給することができるため、前記補正操作対象駆動回路１個あたりが担う電力増加分は僅かで済むようになり、問題を解決することができる。  
なお、電力増加を担う複数個の前記補正操作対象駆動回路は、前記変動補正要素光源として選ばれた１個の要素光源から選択してもよいし、前記変動補正要素光源として選ばれた複数個の要素光源から選択するようにしてもよい。  
前記補正操作対象駆動回路の選択に際しては、できる限り高い維持指数を示した前記駆動回路から選ぶことが好適である。  
【００７９】
本発明の光源装置における変化分比取得シーケンスの実施の形態としては、稼動中の前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の全てを、１個づつ順に前記検査対象要素光源として選択し、変化分比取得シーケンスを実施して前記検査対象要素光源の異常の検知を試行するシーケンス、すなわち検査対象要素光源走査シーケンスを定期的に実施することが好適であるが、いま述べた定期的実施の形態として、例えば１０分間毎に間欠的に実施する形態や、間断なく継続的に実施する形態とすることができる。  
当然ながら、前記した要素光源走査総合検査シーケンスも、いま述べた検査対象要素光源走査シーケンスの一種である。  
【００８０】
一般に、光源装置に対しては、光量の安定性が求められるが、本発明の光源装置において光量の安定化を実現する場合は、出力光束（Ｆｏ）の光量、すなわち前記光量測定データと、その目標値との差異が小さくなるように、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）全体を合わせた出力電力を増加または減少させるようフィードバック制御する動作、すなわち光量安定化フィードバック制御動作を、前記検査対象要素光源走査シーケンスの定期的実施の合間に挿入することにより実現することができる。  
しかし、本発明の光源装置において前記検査対象要素光源走査シーケンスを定期的に実施する際に、変化分比取得シーケンスにおける前記した動作形態である、前記した出力電力相関量 Ｑu の変化に起因する前記光量測定データの変化が打ち消されるよう、前記変動補正要素光源に属する前記駆動回路に対するフィードバック制御する動作形態を実現する動作形態の一種として、前記光量測定データとその目標値との差異が小さくなるように前記出力電力相関量 Ｑv を変化させる動作形態とすることにより、前記検査対象要素光源走査シーケンスが、前記した光量安定化フィードバック制御動作を兼ねるようにすることができる。  
このようにする場合、例えば前記した前記変化分比の取得後に、前記検査対象要素光源および前記変動補正要素光源の出力電力相関量 Ｑu および Ｑv を、変化分比取得シーケンス開始前の元の状態に戻す動作に際しては、前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）それぞれに与える電力負担量の配分を、例えば均等化するなど、適正化させるよう工夫することができる。  
【００８１】
図１に記載の本光源装置に関しては、これまで唯一つの波長帯域に属する発光素子のみを含んでいるものとしてきたが、そうであっても、例えば、Ｒ色の発光素子のみを実装した単色のＲ色の本光源装置と、Ｇ色の発光素子のみを実装した単色のＧ色の本光源装置と、Ｂ色の発光素子のみを実装した単色のＢ色の本光源装置、すなわち、合わせて３台の単色のＲ色、Ｇ色、Ｂ色の本光源装置を用いて、例えば、カラー表示が可能なプロジェクタを構成することが可能である。  
【００８２】
具体的には、例えば図４のような構造のプロジェクタ光学系において、第１の前記光均一化手段（ＦｍＡ）の前記入射端（ＰｍｉＡ）に、図１の第１のＲ色の本光源装置の前記出力光束（Ｆｏ）を入力して第１の前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＡ）をＲ色で照明し、前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＡ）からの反射光によって形成されるＲ色の画像を生成する第１の光学系と、同様に第２の前記光均一化手段（ＦｍＡ）の前記入射端（ＰｍｉＡ）に、第２のＧ色の本光源装置の前記出力光束（Ｆｏ）を入力して第２の前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＡ）をＧ色で照明し、前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＡ）からの反射光によって形成されるＧ色の画像を生成する第２の光学系と、第３の前記光均一化手段（ＦｍＡ）の前記入射端（ＰｍｉＡ）に、第３のＢ色の本光源装置の前記出力光束（Ｆｏ）を入力して第３の前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＡ）をＢ色で照明し、前記２次元光振幅変調素子（ＤｍｊＡ）からの反射光によって形成されるＢ色の画像を生成する第３の光学系とを用意し、生成されたＲ・Ｇ・Ｂの３色の画像を合成して投影レンズ（Ｅｊ２Ａ）を用いてスクリーン（Ｔｊ）に投影するように構成すればよい。  
なお、前記した３台の本光源装置において、前記制御回路（Ｍｃ）は共通とすることができる。  
【００８３】
次に、本発明の光源装置を簡略化して示すブロック図である図２を用いて、本発明を実施するためのさらなる形態について説明する。  
これまでは、本光源装置が唯一つの波長帯域に属する発光素子のみを含んでいる場合について説明して来たが、複数の波長帯域に属する発光素子を含んでいる場合は、これまで述べて来た動作を、それぞれの波長帯域毎に独立に実施すればよい。  
【００８４】
図２に記載の要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）が有する発光素子には、その発光波長が、例えばＲ・Ｇ・Ｂなど、複数種類の異なる波長帯域に属するものが含まれている。  
図１について説明したものと同様に、要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）の出射端からの複数種類の波長帯域が混合された放射光は、総合されて１個の、例えば白色の出力光束（Ｆｏ）として本発明の光源装置から出力される。  
当然、前記光ファイバ（Ｅｆ１，Ｅｆ２，…）のそれぞれについて、１個の光ファイバに唯一つの波長帯域の光を導光させるようにしてもよいし、１個の光ファイバに複数の波長帯域の光を混合して、例えば白色光として導光させるようにしてもよい。  
【００８５】
そして、波長帯域別に前記出力光束（Ｆｏ）の光量に相関する光量測定データ（Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）を生成するために、前記出力光束（Ｆｏ）と同様に、前記出射端からの複数種類の波長帯域が混合された放射光の一部を総合した測定用出力光束（Ｆｏ’）を生成して光センサ（Ａｘ，Ａｙ，…）に照射し、該光センサ（Ａｘ，Ａｙ，…）の信号（Ｓｇｘ，Ｓｇｙ，…）を光量測定回路（Ｈｘ，Ｈｙ，…）によって増幅やＡＤ変換等の必要な処理を行い、前記光量測定データ（Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）を生成する。  
ただし、前記光センサ（Ａｘ，Ａｙ，…）には、前記波長帯域に対応して光を選択的に透過する分光フィルタ（Ｅｒｘ，Ｅｒｙ，…）が前置されている。  
【００８６】
前記制御回路（Ｍｃ）は、前記検査対象要素光源として選択した前記要素光源に含まれる、変化分比取得シーケンスに適用すべく選択した波長帯域に属する発光素子が接続された前記駆動回路を選択し、さらに、前記変動補正要素光源として選択した前記要素光源に含まれる、前記した変化分比取得シーケンスに適用すべく選択した波長帯域と同じ波長帯域に属する発光素子が接続された前記駆動回路を選択した上で、これまでの説明と同様に変化分比取得シーケンスを実施する。  
その際、前記制御回路（Ｍｃ）は、生成された波長帯域別の前記光量測定データ（Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）をそれぞれ受信できるが、前記変化分比取得シーケンスの実施に際しては、前記光センサ（Ａｘ，Ａｙ，…）のうち、前記した出力電力相関量 Ｑu の変化が行われている前記駆動回路に接続される前記発光素子が属する前記波長帯域に対応する前記光センサの前記光量測定データのみを取得すればよい。  
変化分比取得シーケンスは、本光源装置が含んでいる複数の波長帯域の全てに亘って、例えばＲ・Ｇ・Ｂの順に実施する。  
しかし、各光ファイバが白色光を導光させるものの場合で、光ファイバの破断の有無のみを検知すればよいのであれば、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）それぞれあたり１種の波長帯域について変化分比取得シーケンスを実施するだけでもよい。  
【００８７】
なお、波長帯域によって、あるいは前記光センサ（Ａｘ，Ａｙ，…）毎のバラツキや、分光感度の差異によって光検出感度の差異がある場合は、前記光量測定回路（Ｈｘ，Ｈｙ，…）のゲイン設定などにより、その差異を吸収すればよい。  
【００８８】
ところで、分光フィルタ（Ｅｒｘ，Ｅｒｙ，…）の分光特性が前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）の発光波長帯域と完全に整合していない場合、例えば、前記発光素子のうちの一つの波長帯域のもののみを発光させたとき、前記光量測定データ（Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）においては、二つの色のデータが現れるような現象が起き、色データ混合が生じるため、そのままでは正しい処理ができない問題が生じる。  
このような場合は、前記制御回路（Ｍｃ）は、色毎の前記光量測定データ（Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）それぞれの線形演算によって正しい光量測定データに色補正して問題を回避することができる。  
【００８９】
具体的には、前記光量測定データ（Ｓｈｘ，Ｓｈｙ，…）のＲ・Ｇ・Ｂ各色の信号値を Ｖr，Ｖg，Ｖb とすると、色補正された波長帯域毎の信号値 Ｖx，Ｖy，Ｖz は、次の線形演算式
Ｖx ＝ Ｋ11・Ｖr ＋ Ｋ12・Ｖg ＋ Ｋ13・Ｖb
Ｖy ＝ Ｋ21・Ｖr ＋ Ｋ22・Ｖg ＋ Ｋ23・Ｖb
Ｖz ＝ Ｋ31・Ｖr ＋ Ｋ32・Ｖg ＋ Ｋ33・Ｖb
によって求めればよい。  
ここで、 Ｋ11，Ｋ12，…，Ｋ32，Ｋ33 は、線形演算のための定数係数であり、前記した色データ混合が補正されるような組み合わせを実験的に求めればよい。  
因みに、前記した色データ混合が生じない場合は、前記した線形演算式において対角成分 Ｋ11，Ｋ22，Ｋ33 以外を０とすればよい。  
【００９０】
以上のように構成することにより、複数種類の異なる波長帯域の光が混合された前記出力光束（Ｆｏ）を生成するものであっても、図２に記載の本発明の光源装置は、前記した変化分比取得シーケンスを実施することにより、前記要素光源（Ｕ１，Ｕ２，…）の異常、または前記駆動回路（Ｐ１ａ，Ｐ１ｂ，…，Ｐ２ａ，Ｐ２ｂ，…）とそれに接続される前記発光素子（Ｙ１ａ，Ｙ１ｂ，…，Ｙ２ａ，Ｙ２ｂ，…）とからなる組の異常を検出することができる。  
【００９１】
次に、本発明の光源装置の実施例の一形態を簡略化して示す図である図３を用いて、本発明を実施するための形態として、本発明の光源装置を利用した、本発明のプロジェクタの、特に光ファイバおよびその出射端以降の、より具体的な構成について述べる。  
本光源装置は、Ｒ・Ｇ・Ｂの３原色に対応して、各色複数本の光ファイバ、すなわちＲ色光源用光ファイバ（ＥｆＲ１，ＥｆＲ２，…）、Ｇ色光源用光ファイバ（ＥｆＧ１，ＥｆＧ２，…）、Ｂ色光源用光ファイバ（ＥｆＢ１，ＥｆＢ２，…）は、それぞれ出射端を揃えて束ねられた、ファイババンドルとして構成され、これら３本のファイババンドルの出射端を、それぞれコリメータレンズ（ＥｓＲ，ＥｓＧ，ＥｓＢ）で無限遠の像に変換した光束を、ミラー（ＨｕＲ）およびダイクロイックミラー（ＨｕＧ，ＨｕＢ）を用いて色合成して、本光源装置の出力光束（Ｆｏ）を生成するように構成してある。  
【００９２】
そして、前記出力光束（Ｆｏ）は集光レンズ（Ｅｕ）に入力され、スペックルを除去するための拡散素子（Ｅｄｍ）を介して、ロッドインテグレータによる光均一化手段（Ｆｍ）の入射端（Ｐｍｉ）に入射される。  
前記光均一化手段（Ｆｍ）の射出端（Ｐｍｏ）以降の光学系については、先に図４に関して述べたものと同様である。  
当然ながら、本発明の光源装置は、フライアイインテグレータによる光均一化手段を用いた、先に図５に関して述べたプロジェクタにおいても利用できる。  
【００９３】
前記ダイクロイックミラー（ＨｕＢ）は、Ｒ・Ｇ色の光を可能な限り多く透過し、かつＢ色の光を可能な限り多く反射するように作成されているが、Ｒ・Ｇ色の反射光、およびＢ色の透過光が少なからず存在し、普通これらの光は迷光として捨てられるが、図３の本光源装置においては、これを有効利用して測定用出力光束（Ｆｏ’）を得るようにしてある。  
前記測定用出力光束（Ｆｏ’）は、スペックルの影響による測定バラツキを抑えるための拡散素子（Ｅｄｓ）を介して、Ｒ・Ｇ・Ｂ各色をそれぞれ選択的に透過する分光フィルタ（ＥｒＲ，ＥｒＧ，ＥｒＢ）を前置した、光センサ（ＡＲ，ＡＧ，ＡＢ）によって、Ｒ・Ｇ・Ｂ各色毎の光量を測定できるように構成されている。  
なお、このようにして生成した前記測定用出力光束（Ｆｏ’）のＲ・Ｇ・Ｂ各色光の成分比は、前記出力光束（Ｆｏ）のそれと同じとは限らないが、前記光センサ（ＡＲ，ＡＧ，ＡＢ）の後段に設けられる、先に図２に関して述べた、各色毎の光量測定回路のゲインの設定によって補正が可能である。  
【００９４】
なお、前記光センサ（ＡＲ，ＡＧ，ＡＢ）の設置に関しては、図３に記載の仕方以外にも、前記コリメータレンズ（ＥｓＲ，ＥｓＧ，ＥｓＢ）の直後の３箇所の光束それぞれに対し、半透過ミラーを挿入するなどして一部を分割し、分割されたそれぞれの光束を前記光センサ（ＡＲ，ＡＧ，ＡＢ）に別々に照射するように構成することもできる。  
この構成の場合、前記した光束分割用の半透過ミラーが追加で必要になる反面、前記分光フィルタ（ＥｒＲ，ＥｒＧ，ＥｒＢ）が不要になる。  
因みに、この構成としたときは、前記した合わせて３台の単色のＲ色、Ｇ色、Ｂ色の本光源装置を用いる場合に対応する。  
【産業上の利用可能性】
【００９５】
本発明は、プロジェクタなどの光学装置において使用可能な、半導体レーザなどの発光素子と光ファイバを用いた光源装置を設計・製造する産業において利用可能である。  
【符号の説明】
【００９６】
Ａ        光センサ
ＡＢ      光センサ
ＡＧ      光センサ
ＡＲ      光センサ
Ａｘ      光センサ
Ａｙ      光センサ
ＤｍｊＡ  ２次元光振幅変調素子
ＤｍｊＢ  ２次元光振幅変調素子
Ｅｃ１    集光光学系
Ｅｃ２    集光光学系
Ｅｄｍ    拡散素子
Ｅｄｓ    拡散素子
Ｅｆ１    光ファイバ
Ｅｆ２    光ファイバ
ＥｆＢ１  Ｂ色光源用光ファイバ
ＥｆＢ２  Ｂ色光源用光ファイバ
ＥｆＧ１  Ｇ色光源用光ファイバ
ＥｆＧ２  Ｇ色光源用光ファイバ
ＥｆＲ１  Ｒ色光源用光ファイバ
ＥｆＲ２  Ｒ色光源用光ファイバ
Ｅｉ１    入射端
Ｅｉ２    入射端
Ｅｊ１Ａ  照明レンズ
Ｅｊ１Ｂ  照明レンズ
Ｅｊ２Ａ  投影レンズ
Ｅｊ２Ｂ  フィールドレンズ
Ｅｊ３Ｂ  投影レンズ
Ｅｏ１    出射端
Ｅｏ２    出射端
ＥｒＢ    分光フィルタ
ＥｒＧ    分光フィルタ
ＥｒＲ    分光フィルタ
Ｅｒｘ    分光フィルタ
Ｅｒｙ    分光フィルタ
ＥｓＢ    コリメータレンズ
ＥｓＧ    コリメータレンズ
ＥｓＲ    コリメータレンズ
Ｅｕ      集光レンズ
Ｆ１Ｂ    前段フライアイレンズ
Ｆ２Ｂ    後段フライアイレンズ
Ｆｍ      光均一化手段
ＦｍＡ    光均一化手段
ＦｍＢ    光均一化手段
Ｆｏ      出力光束
Ｆｏ’    測定用出力光束
Ｈ        光量測定回路
ＨｕＢ    ダイクロイックミラー
ＨｕＧ    ダイクロイックミラー
ＨｕＲ    ミラー
Ｈｘ      光量測定回路
Ｈｙ      光量測定回路
Ｊ１ａ    駆動回路制御信号
Ｊ１ｂ    駆動回路制御信号
Ｊ２ａ    駆動回路制御信号
Ｊ２ｂ    駆動回路制御信号
ＬＣＤ    液晶デバイス
Ｍｃ      制御回路
ＭｊＡ    ミラー
ＭｊＢ    偏光ビームスプリッタ
Ｐ１ａ    駆動回路
Ｐ１ｂ    駆動回路
Ｐ２ａ    駆動回路
Ｐ２ｂ    駆動回路
ＰｃＢ    偏光整列機能素子
Ｐｍｉ    入射端
ＰｍｉＡ  入射端
ＰｍｉＢ  入射端
Ｐｍｏ    射出端
ＰｍｏＡ  射出端
ＰｍｏＢ  射出端
Ｓｇ      信号
Ｓｇｘ    信号
Ｓｇｙ    信号
Ｓｈ      光量測定データ
Ｓｈｘ    光量測定データ
Ｓｈｙ    光量測定データ
ＳｊＡ    光源
ＳｊＢ    光源
Ｔｊ      スクリーン
Ｕ１      要素光源
Ｕ２      要素光源
Ｙ１ａ    発光素子
Ｙ１ｂ    発光素子
Ｙ２ａ    発光素子
Ｙ２ｂ    発光素子
ＺｉＢ    入射光軸
【図１】
2015125834.tif 000003
【図２】
2015125834.tif 000004
【図３】
2015125834.tif 000005
【図４】
2015125834.tif 000006
【図５】
2015125834.tif 000007