(57)【要約】【課題】Ｘ線コンピュータ断層撮影装置の線量値計算の精度向上を図ることにある。【解決手段】Ｘ線管１０１とＸ線検出器１０３とによる被検体のスキャンをすることにより収集した投影データに基づいてＸ線ＣＴ画像を再構成するＸ線コンピュータ断層撮影装置は、スキャンにおいて設定されるべき複数の撮影条件により決まる線量値を校正するための複数の校正値を複数の撮影条件の少なくとも一つの撮影条件に関する複数の値をそれぞれ対応付けた校正テーブルを記憶するテーブル記憶部１２０と、スキャンにおいて設定された撮影条件に基づいて線量値を計算し、校正テーブルから特定した校正値により線量値を校正する線量値計算部１２２と、校正された線量値を表示する表示部１１６と、校正テーブルを実測データに基づいて繰り返し更新処理をする更新処理部１２１とを具備する。【選択図】図１
2015134106.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線管とＸ線検出器とによる被検体のスキャンをすることにより収集した投影データに基づいてＸ線ＣＴ画像を再構成するＸ線コンピュータ断層撮影装置において、
前記スキャンにおいて設定されるべき複数の撮影条件により決まる線量値を校正するための複数の校正値を複数の撮影条件の少なくとも一つの撮影条件に関する複数の値をそれぞれ対応付けた校正テーブルを記憶するテーブル記憶部と、
前記スキャンにおいて設定された撮影条件に基づいて線量値を計算し、前記校正テーブルから特定した校正値により前記線量値を校正する線量値計算部と、
前記校正された線量値を表示する表示部と、
前記校正テーブルを実測データに基づいて繰り返し更新処理をする更新処理部とを具備することを特徴とするＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項２】
前記校正テーブルは管電圧とＦＯＶに関する複数の組み合わせに対して複数の校正値を対応付けることを特徴とする請求項１記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項３】
前記校正値は経年劣化による線量値変動率を表すことを特徴とする請求項１記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項４】
前記校正テーブルは複数の照射時間に複数の校正値をそれぞれ対応付けたものであることを特徴とする請求項１記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項５】
前記Ｘ線管からのＸ線を直接的に検出するリファレンス検出器をさらに備え、
前記更新処理をされる校正テーブルは、前記リファレンス検出器の検出値から特定されるフォトン数の経時変化に対応する校正値を管電圧又は他の撮影条件に対応付けることを特徴とする請求項１記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項６】
前記更新処理をされる校正テーブルに関するデータをDICOMデータとして出力する出力部をさらに備えたことを特徴とする請求項１記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、Ｘ線コンピュータ断層撮影装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
Ｘ線コンピュータ断層撮影装置（Ｘ線ＣＴ装置）の検査は、画像診断用として広く一般に使用されている。例えばＣＴ画像を得るためには、被検体を透過したＸ線を検出器が受け、それをＡ／Ｄ変換して得られたデータは、光ケーブルなどで装置本体に内蔵しているメモリーやハードディスクにデータとして格納され、さらに画像再構成専用又は汎用のコンピュータを用いて、ＣＴ画像を再構成し、モニタ上に表示を行い、診断を行う。
【０００３】
近年のＸ線ＣＴ装置では、操作者が、ＣＴ検査の前に、被検体への被ばく（線量）として適切な撮影条件になっているのかどうかを確認するための情報として、主に撮影条件からなる検査条件として計算した線量値及び検査後の線量値をコンソール上に表示する機能や検査で事前設定した線量値を超える場合は注意・警告する表示機能などを有している。
【０００４】
また、近年の個人レベルでの線量管理の必要性が言われてきており、個人線量管理の目的で検査ごとの線量値をDICOMデータで外部データベースに出力できる機能を有するＸ線ＣＴ装置もでてきている。
【０００５】
なお、ここで述べているＸ線ＣＴ装置での線量とは、CTDI(CT DOSE INDEX)という一般的な線量指標であり、ＣＴ検査範囲を平均化した線量指標値として扱っている。そのため、通常ではこの値は、装置の設計値としての線量校正表と基礎となる値を事前に用意しておき、検査ごとに変わる撮影条件（管電圧、管電流、照射時間、撮影スライス幅、Ｘ線管焦点サイズ（Focus）、患者体型（ファントムサイズ）、フィルタ種（Filter種）など）に合わせて、定数として線量校正表を作成して、線量を算出する。そのため、装置にはあらかじめ線量に影響する項目ごとに定数テーブルを設計値として作成している。
【０００６】
最初に、基準となる線量としての表(テーブル)を作成する必要があるが、これは撮影条件の中から基準となる撮影条件を決めて、基準線量値として決めた値を表にしたものである。今回の例では管電圧とＦＯＶ(撮影サイズ）をもとに基準線量値テーブルを作成している。そして、管電圧とＦＯＶ(撮影サイズ）以外の撮影条件に関しては、基準条件を同一にして１つないし２つの撮影条件を変更したときに想定される数値の比率を相対化した相対値テーブル（表）を作成しておくことで、比率計算で撮影条件に合った線量値（指標値）を算出することができる。
【０００７】
具体的に、以下のような撮影条件の場合を例示する。  
120kV/300mA/1s/ＦＯＶ S/スライス4mm/列数4列/Focus S/Phantom 160mm/Filter S
この例だと、１つの基準線量値テーブル及びその他の条件を反映した相対値の２つのテーブルを作成することで撮影条件の組み合わせを簡単に表にして、煩雑な線量計算の処理をしないで済む。また、この場合、管電流と照射時間は計算時の撮影条件として決めていないことになるが、この２つの要素は線量に比例することがわかっているので、この条件については撮影条件の設定値を利用することで、線量計算をすることができる。その結果、以下の計算式をもって線量値（指標値）をあらわすことができる。
【０００８】
基準線量値テーブルからの値(mGy/mAs)×管電流(mA)×照射時間(s) X定数１X定数２
そして、実際に線量値を求める際は、最初に基準線量値テーブルから管電圧＆ＦＯＶにあった数値、この表では0.09（mGy/mAs）を選択する。次に、ファントム種 ・焦点サイズ用の相対値テーブル１からスライス・列数にあった1.00及びフィルタ種用の相対値テーブル２からファントム種 ・管電圧にあった1.00を選択する。最後に、今回の管電流と照射時間は、撮影条件の数値である、300mAと1sが決まる。
【０００９】
これで、線量計算のための値及び定数が決まったので、これらを上記の式に当てはめて線量値（指標値）を求めると、以下の通り27.0mGyとなるので、これをコンソールでの表示や線量値の記録で使用する。  
線量値（指標値）＝0.09（mGy/mAs）×300（mA）×1.0（s）×1.00×1.00=27.0mGy
現在の装置では，これらの線量値は、装置で実測したうえ設計値を決めていることから、基本的には同一装置の場合では、途中の装置仕様の変更などで線量値に影響がない限りは、どこに据付した装置であっても、これらの線量値は変わるものではない。いいかえると、装置の線量値は、装置の設計値であり、それは一般的でかつ平均的な値を提示している。
【００１０】
そのため、ＣＴ装置間でも線量に影響する設計仕様の公差（Ｘ線管の焦点サイズやコリメータの幅の誤差）にあたる部分や、Ｘ線高電圧装置の出力調整の差といったＣＴ装置個々の違いは、線量指標としては誤差として当然出てくるものである。そのため、ＣＴ装置における一般的な線量値の誤差は表示値の２０％程度に設定されていて、さらに経年変化等(管球のターゲットが劣化し線量が少なくなる)によるＸ線出力変化（低下）などの装置の経年劣化による線量値が変化していくことなども考慮するとさらに大きな誤差を含んでいることが前提で考えられている。
【００１１】
さらに、Ｘ線ＣＴ装置では、個人線量管理の情報として用いている指標が他に適切なものがないことから、この装置に依存した誤差はあえて考慮しないで線量値（指標値）として扱っている。
【００１２】
さらに、線量に重要な要因のユニットの一つとしてＸ線管装置があり、一般的には経時変化によって保障スライス限界まで使用すると新品と比べて約５〜７％X線出力が落ちることが分かっているような消耗品である。
【００１３】
また、現状では、AEC(Ｘ線の自動照射制御）を有する装置が一般的になってきており、それらの装置ではＸ線管装置が保障スライス限度まで使われてきたときには、線量値（指標値）は設計値通りなので変化しないにもかかわらず、相対的に径時変化により線量低下が起きても、画像SDの値が落ちていくことを補うために、線量を増やす方向で撮影条件を再設定する可能性がある。もちろん、この状態は被検体の防護の観点からみると線量増加という悪い条件の表示をしていることになるので、抑制する立場をとると、撮影条件は据え置くので、放射線防護上の安全には有利に働く側面がある。しかし、その一方で、実際の線量より低く見積もることにより、ＣＴ検査として画質の低下を招くことから、線量不足による検査の有効性に影響を与える可能性もある。
【００１４】
そのため、ＣＴ検査での被検体への線量に関わることについて、できるだけ誤差の少ない値をＣＴ装置として提供することが必要とされている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１５】
【特許文献１】特開2012-148028号公報
【特許文献２】特開2009-42247号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１６】
目的は、Ｘ線コンピュータ断層撮影装置において、線量値計算の精度向上を図ることにある。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
本実施形態は、Ｘ線管とＸ線検出器とによる被検体のスキャンをすることにより収集した投影データに基づいてＸ線ＣＴ画像を再構成するＸ線コンピュータ断層撮影装置において、前記スキャンにおいて設定されるべき複数の撮影条件により決まる線量値を校正するための複数の校正値を複数の撮影条件の少なくとも一つの撮影条件に関する複数の値をそれぞれ対応付けた校正テーブルを記憶するテーブル記憶部と、前記スキャンにおいて設定された撮影条件に基づいて線量値を計算し、前記校正テーブルから特定した校正値により前記線量値を校正する線量値計算部と、前記校正された線量値を表示する表示部と、前記校正テーブルを実測データに基づいて繰り返し更新処理をする更新処理部とを具備する。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮影装置の構成を示す図である。
【図２】図1の架台部の外観を寝台部とともに示す図である。
【図３】図１の基準線量値テーブル記憶部に記憶される基準線量値テーブルの一例を示す図である。
【図４】図１の基準線量値テーブル記憶部に記憶される換算値テーブルの一例を示す図である。
【図５】図１の基準線量値テーブル記憶部に記憶される換算値テーブルの一例を示す図である。
【図６】図１の校正値テーブル記憶部に記憶される校正値テーブルの一例を示す図である。
【図７】図１の基準線量値テーブル記憶部に記憶されるファントム等を挟まないで空気のみ挟む状態での基準線量値テーブルの一例を示す図である。
【図８】図１の校正値テーブル記憶部に記憶される校正値テーブルの一例を示す図である。
【図９】図１の校正値テーブル記憶部に記憶される校正値テーブルの一例を示す図である。
【図１０】本実施形態において、撮影作業の工程の流れを示す図である。
【図１１】図１０の工程Ｓ１３で表示される線量値に関する表示画面の一例を示す図である。
【図１２】図１０の工程Ｓ１７で表示される注意警告画面の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、図面を参照しながら本実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮影装置を説明する。なお、Ｘ線コンピュータ断層撮影装置には、Ｘ線管球とＸ線検出器とが１体として被検体の周囲を回転する回転／回転方式と、リング状に多数のＸ線検出器が配置され、Ｘ線管球のみが被検体の周囲を回転する固定／回転方式と、複数のＸ線管球がリング上に配置され、複数のＸ線検出器も同様にリング上に配置された固定／固定方式等様々な方式があり、いずれの方式でも適用可能である。回転／回転方式に関して、一対のＸ線管球とＸ線検出器とが回転フレームに搭載された一管球型と、Ｘ線管球とＸ線検出器との対が回転フレームに複数搭載されたいわゆる多管球型とがあるが、いずれの型でも適用可能である。Ｘ線検出器に関して、被検体を透過したＸ線をシンチレータ等の蛍光体で光に変換してからフォトダイオード等の光電変換素子で電荷に変換する間接変換形と、Ｘ線による半導体内の電子正孔対の生成及びその電極への移動すなわち光導電現象を利用した直接変換形とがあるが、いずれの形を採用してもよい。
【００２０】
図１に、本実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮影装置の構成をブロック図により示している。図２は図1の架台部の外観を寝台部とともに示している。スキャン本体１００は、回転軸（Ｚ軸）を中心として回転自在に支持され、架台駆動部１０７に回転駆動される円環状の回転フレーム１０２を有する。Ｚ軸に体軸がほぼ一致するように寝台２００に載置された被検体が撮影領域に配置される。回転フレーム１０２に例えばコーンビーム形Ｘ線を発生するＸ線管球１０１と２次元検出器１０３とが対向して配置されている。コーンビーム形Ｘ線管球１０１は、高電圧発生器１０９からスリップリング１０８を経由して管電圧の印加及びフィラメント電流の供給等を受けてＸ線を発生する。発生されたＸ線は放射口１１３で四角錐形に整形されて出力される。
【００２１】
２次元検出器１０３には、一般的にＤＡＳ(data acquisition system) と呼ばれているデータ収集システム１０４が接続されている。データ収集システム１０４には、２次元検出器１０３の各チャンネルの電流信号を電圧に変換するＩ−Ｖ変換器と、この電圧信号をＸ線の曝射周期に同期して周期的に積分する積分器と、この積分器の出力信号を増幅するアンプと、このプリアンプの出力信号をディジタル信号に変換するアナログ・ディジタル・コンバータとが、チャンネルごとに設けられている。ＤＡＳ１０４の出力には光学的又は電磁的な非接触データ伝送装置１０５を介して前処理装置１０６が接続される。前処理装置１０６では、ＤＡＳ１０４で検出された投影データに対して、チャンネル間の感度不均一を補正したり、またＸ線強吸収体、主に金属部による極端な信号強度の低下又は信号脱落を補正する等の前処理を実行する。前処理装置１０６で補正を受けた投影データは記憶装置１１２に記憶され、またボリューム再構成処理部１１８においてボリュームデータの再構成に用いられる。
【００２２】
ホストコントローラ１１０は、投影データの収集動作、つまりスキャンを実行するために回転フレーム１０２を定速で安定的に回転させると共に、高電圧発生器１０９から高電圧等を発生させ、そして高電圧等の発生に同期してＤＡＳ１０４に収集動作をさせる等のスキャンに関わるコントロールを統括している。
【００２３】
Ｘ線線量は検査の種類や被検体ごとに最適な線量値（上限値）を決めてＣＴ検査を実施している。この中で、線量値（又はその指標値）は、検査においてＸ線を被検体に照射しても適切かどうかを判断するための材料として最も重要である。基準線量値テーブル記憶部（ＲＯＭ）１１７は図３、図７に示す基準線量値テーブルを記憶する。図３に示す基準線量値テーブルは、代表的な複数の管電圧（例えば８０ｋＶ、１００ｋＶ、１２０ｋＶ）と、代表的な複数のＦＯＶ（撮影視野サイズ（例えば小さいサイズから順番にSS、S、M、L、LLのサイズがある）に関するサイズ区分（SS/S/Mの区分と/L/LLの区分との2区分）との複数の組み合わせごとに、基準線量値が１ｍＡあたりに換算した換算値として単位ｍＧｙ／ｍＡｓであらかじめ与えられている。
【００２４】
図３の例では、管電圧８０ｋＶでは、ＦＯＶがサイズLL/Lのいずれかであるとき、換算値は0.040が与えられ、ＦＯＶがサイズSS/S/Mのいずれかであるとき、換算値は0.030が与えられる。管電圧１００ｋＶでは、ＦＯＶがサイズLL/Lのいずれかであるとき、換算値は0.070が与えられ、ＦＯＶがサイズSS/S/Mのいずれかであるとき、換算値は0.060が与えられる。管電圧１２０ｋＶでは、ＦＯＶがサイズLL/Lのいずれかであるとき、換算値は0.110が与えられ、ＦＯＶがサイズSS/S/Mのいずれかであるとき、換算値は0.090が与えられる。
【００２５】
図７の例では、管電圧８０ｋＶでは、ＦＯＶがサイズLL/Lのいずれかであるとき、換算値は0.058が与えられ、ＦＯＶがサイズSS/S/Mのいずれかであるとき、換算値は0.053が与えられる。管電圧１００ｋＶでは、ＦＯＶがサイズLL/Lのいずれかであるとき、換算値は0.110が与えられ、ＦＯＶがサイズSS/S/Mのいずれかであるとき、換算値は0.101が与えられる。管電圧１２０ｋＶでは、ＦＯＶがサイズLL/Lのいずれかであるとき、換算値は0.177が与えられ、ＦＯＶがサイズSS/S/Mのいずれかであるとき、換算値は0.162が与えられる。
【００２６】
なお、線量値（指標値）としては、上記CTDIwの代わりに、Ｘ線管１０１とＸ線検出器１０３との間の撮影領域にファントム等を配置しない状態でのCTDIとしてのCTDIfree airを用いてもよい。図７に示すように設計値としての同様の基準線量値テーブル(CTDIfree air)が用意されている。図３の基準線量値テーブルではファントムが必要だが、こちらはファントム不要なので、測定は容易である。
【００２７】
線量値計算部１２２は、基準線量値テーブルを使って特定した基準線量を管電流や照射時間等を乗算し、さらに図４，図５に例示する換算値テーブルからスライス厚、列数等により特定される換算値により換算することにより、実際の線量値を計算する。実際に線量値を求める際は、最初に基準線量値テーブルから管電圧とＦＯＶに応じた数値、例えば0.09（mGy/mAs）を選択する。
【００２８】
基準線量値テーブルからの値(mGy/mAs)×管電流(mA)×照射時間(s)
線量値計算部１２２は、図４に例示するファントム種・焦点サイズ用の相対値テーブル１からスライス・列数にあった換算値ａ、及び図５に例示するフィルタ種類用の相対値テーブル２からファントム種・管電圧にあった換算値ｂを選択する。複数の相対値テーブル１があらかじめ用意される。図４に例示する複数の相対値テーブル１は、ファントム種と焦点サイズとに関する複数の組み合わせに対してそれぞれ対応付けられる。撮影条件上の検出器列数として16列、8列、4列、2列が例示され、スライス厚として1mm,2mm,3mm,4mmが例示される。列数が１６のとき、スライス厚1mm,2mmそれぞれに対して換算値が1.05,1.02が与えられる。列数が8のとき、スライス厚1mm,2mm,3mm,4mmそれぞれに対して換算値が1.20,1.09,1.00,1.00が与えられる。列数が4のとき、スライス厚1mm,2mm,3mm,4mmそれぞれに対して換算値が1.80,1.25,1.00,1.00が与えられる。列数が2のとき、スライス厚1mm,2mm,3mm,4mmそれぞれに対して換算値が2.75,1.62,1.00,1.00が与えられる。もちろん換算値が1.00は実質的に換算しないことを意味する。
【００２９】
線量値計算部１２２は、装置固有のファントム種と焦点サイズとに応じて相対値テーブル１を選択し、選択した相対値テーブル１から撮影条件として設定されたスライス・列数に対応する換算値ａを特定する。図５に示す複数の相対値テーブル２は、複数のフィルタ種類に対してそれぞれ対応付けられる。線量値計算部１２２は、フィルタ種類に応じて相対値テーブル２を選択し、選択した相対値テーブル２から撮影条件として設定されたファントム種と管電圧に対応する換算値ｂを特定する。ファントム種として160mmの直径のもの、320mmの直径のものが例示される。ファントム種として160mmの直径のものに関しては管電圧８０ｋＶ、１００ｋＶ、１２０ｋＶに関わらず換算値は1.00、つまり換算しない。ファントム種として320mmの直径のものに関しては管電圧８０ｋＶ、１００ｋＶ、１２０ｋＶそれぞれについて換算値は2.39,2.29,2.22が与えられる。次式の通り線量値が計算される。
【００３０】
線量値＝基準線量値(mGy/mAs)×管電流(mA)×照射時間(s)×換算値ａ×換算値ｂ
さらに線量値計算部１２２は、上記計算した線量値を、校正値テーブル記憶部（不揮発性メモリ）１２０に記憶されている校正値テーブルから特定した校正値により校正する。当該校正処理により、装置の経年劣化等による変動要因を加味した実際の線量値が計算される。
【００３１】
例えば基準撮影条件は、120kV/100mA/1s/ＦＯＶ S又はL/スライス4mm/列数4列/Focus S/Phantom 160mm/Filter Sとしたときに、同じ撮影条件を実測して、ＦＯＶ Sのとき測定値(CTDIw)9.20mGy、ＦＯＶ Lのとき測定値(CTDIw) 11.44mGyの線量値を得たとする。そのとき、基準線量値（指標値）と比較すると、ＦＯＶ Sは２％、ＦＯＶ Lは４％だけ装置実測値が高い結果となっている。そこで校正値テーブル３（図６）として、新たに基準線量値より２％及び４％高い値として補正する相対値テーブル３を用意しておき、相対値として得られる1.02又は1.04を入力すると、線量値（指標値）の校正値テーブル３が得られる。校正値テーブル３は、基準線量値テーブルと同じ撮影条件としての管電圧とＦＯＶに関する複数の組み合わせに対して複数の校正値を対応付けている。図６の例では、ＦＯＶがサイズLL/Lのいずれかであるとき、管電圧に関わらず換算値は1.04が与えられ、ＦＯＶがサイズSS/S/Mのいずれかであるとき、管電圧に関わらず換算値は1.02が与えられる。  この校正値テーブル３から校正値ｃを撮影条件に合わせて取り出して、線量値を校正する。また、測定に関してはＦＯＶ別２点と限定するだけでなく、管電圧毎に実測してそれぞれ相対値を作成することも可能である。そのときは、個別に求めた校正値を校正値テーブル３に入力することになる。もちろん線量測定を行わない場合は、この校正値テーブル３は、デフォルト値として1.00として用意しておくことで、計測時のみに修正変更すると定数３は線量計算で常数としてあつかうことができる。ここでの計算式は、以下の通りである。
【００３２】
校正された線量値＝基準線量値(mGy/mAs)×管電流(mA)×照射時間(s)×換算値ａ×換算値ｂ×校正値ｃ
図８に示す校正値テーブル４は、図７の基準線量値テーブルをともに用いられ、リファレンス検出器の出力から求めた経年劣化等による変動値に応じた校正値を管電圧ごとに規定している。図８の例では、管電圧が８０ｋＶのとき、変動値／基礎値は1.05で与えられ、管電圧が１００ｋＶのとき、変動値／基礎値は1.06で与えられ、管電圧が１２０ｋＶのとき、変動値／基礎値は1.07で与えられる。
【００３３】
校正値更新制御部１１９では、半年単位もしくはＸ線管交換時期において校正値テーブル３の更新処理を促すメッセージを表示装置１１６に表示する。更新処理を促すメッセージ表示に呼応してユーザサイドで更新プログラムを起動すると、ファントムを用いて複数、ここでは３種類の管電圧を切り替えながら、各管電圧において２種類のＦＯＶにより更新撮影を実行する。校正値更新部１２１では、測定された線量値を基準線量値と比較して校正値を計算し、図６に示す校正値テーブルを更新する。なお、頻繁に線量測定を実施したうえで、フィードバックすることは難しい。もう少し短期間での変動を線量計算に反映させることが望ましく、短期間のサイクルで線量測定に影響するもしくは準ずるものを利用して変動を確認できる。
【００３４】
Ｘ線ＣＴは、周知の通り、ＣＴ値の精度確保のためリファレンス検出器を有している。これは、一般的にはコリメータ内部に備えられており、Ｘ線管１０１からのＸ線を直接的に検出するということに際して、そのデータを利用することができる。しかも、定期的(日、週、月単位)で収集する自動Airキャリブレーションを行うことで、そのデータは日常的にデータ収集を実施している。そこで、このリファレンス検出器のおける収集データの変動から線量測定の際の値と同じく校正値テーブルを作成することで、線量計算の定数として利用できる。具体的には、リファレンス補正後のからフォトン数の推定値を求めることができるので、これをＸ線管交換時期の際に収集したフォトン数(基礎値)と自動Airキャリブレーションとのフォトン数（変動値）を、上記線量測定と同様の換算比率を算出した換算値テーブルとして作成する。フォトン数は以下の式で計算される。
【００３５】
フォトン数＝(N/S)ref補正後＝K／√Np    Np：フォトン数
一方で、当然のことながらリファレンス検出器も使用するうちに経時変化としては、検出能は劣化していくことから、この場合は単独で扱うのではなく、換算値ａ、換算値ｂ、校正値ｃを補完する形で線量計算に利用することが望ましいので、以下の計算式によって実現する。  
校正された線量値＝基準線量値(mGy/mAs)×管電流(mA)×照射時間(s)×換算値ａ×換算値ｂ×校正値ｃ×校正値ｄ
線量計算の精度上げるための定数としては、上記のような経時変化を前提した校正値ｃ×校正値ｄを設定しない場合でも、装置毎の変数としてあらかじめ設計値として持っている管電流値及び照射時間値も、装置固有の値を持っているので同様に展開することもできる。この場合は、それぞれ実測値と設定値（設計値）の比率を校正値ｄとして校正値テーブル（図９）として作成する。図９の例では、照射時間が０．５秒、１．０秒、１．５秒に関わらず、測定値／設定値は1.01で与えられる。
【００３６】
この計算式は、以下の通り与えられる。  
校正された線量値＝基準線量値(mGy/mAs)×管電流(mA)×照射時間(s)×換算値ａ×換算値ｂ×校正値ｃ×校正値ｄ×校正値ｅ
図１０にはホストコントローラ１１０の制御によるＸ線ＣＴ検査の中の流れを示している。病院内情報システム（ＨＩＳ）や放射線情報システム（ＲＩＳ）から被検体情報が検査依頼情報とともにＸ線ＣＴのホストコントローラ１１０に供給され（Ｓ１０）、その情報に従って撮影計画のための画面上に被検体情報が設定される（Ｓ１１）。検査技師は被検体情報及び検査依頼情報を確認して、複数の撮影条件を含む撮影プランを選択する（Ｓ１２）。撮影プランが選択されると、線量計算部１２２では撮影条件に従って図３又は図７の基準線量テーブル、図４及び図５の換算値テーブルから線量値を計算し、さらにその線量値を図６又は図８の校正値テーブルを用いて校正する。この校正された線量値は、図１１に例示するように操作者による撮影条件の確認工程（Ｓ１３）の中で表示される。検査技師は表示された線量値を確認して、撮影開始を許可する（Ｓ１４）。ホストコントローラ１１０では、計算された線量値が操作者によって事前に設定された値（設定線量値）を超えるかどうかの判断をして（Ｓ１５）、設定値以上の値になったときは図１２に例示する注意・警告を示す表示ウインドウを表示する（Ｓ１７）。継続処理（Ｓ１６）又は中止する（Ｓ１９）かの判断を操作者が行うことになる。
【００３７】
装置固有の線量値（指標値）に加えて、装置単体レベルで線量に影響する要素について、実際の使用段階での関連データを入力できる機能を持たせ、そのデータをもとにして、後天的な校正値テーブル３，４，５（図６、図８、図９）を作成し、現状の線量計算と同じように計算機能の中に組み込む。このことで、設計値以外の装置毎の情報を線量値（指標値）のテーブルとして組み込めるので、線量値（指標値）の精度を上げることが可能になる。
【００３８】
撮影条件確認（Ｓ１４）から撮影（Ｓ１６）までの処理は追加や継続撮影処理が残っている間繰り返される（Ｓ１８）。撮影終了（Ｓ１９）の後には、撮影情報が、個人線量管理のために検査ごとの線量値をＤＩＣＯＭデータで内部又は外部データベースに出力し記録され（Ｓ２０）、検査は終了する（Ｓ２１）。
【００３９】
なお、校正値に関しては、装置が製造、据付、稼働段階における、線量に関連する項目に対応して必要なだけ設定しておくことにより、装置毎のばらつきを計算することで線量を計算できる。それらは操作者や製造業者側から入力することが可能であり、一方で日常の関連収集データの中から自動的に校正値データへ変換しデータを当てはめることもできる。つまり、従来のように設計値だけの換算値を設定して線量計算をするだけでなく、装置毎のばらつきを補正するための校正値を使って製造、据付、稼働段階での線量値または相当する値を定数に校正して、線量値（指標値）に反映することで精度を上げることが可能になる。
【００４０】
以上説明したように、装置における設計値をベースにした線量値（指標値）を、製造、据付、稼働時における装置の変化量を校正値化したテーブルを持つことによって、より精度のある線量値（指標値）を操作者に提供することができ、被検体に対しても個人線量管理のための線量値（指標値）をより精度の高い値で提供できる。そのことによって、装置情報としてより適切な線量値（指標値）となるので、より安全なＣＴ検査を提供できるＸ線ＣＴ装置を提供することになる。
【００４１】
装置における線量値（指標値）を設計値として画一的だけにとどめるのではなく、装置単体で、製造、据付、使用時における線量値を継続的に反映できるように、装置個別の線量計算のための定数として持たせることにより、設計値だけでない装置単体情報として利用できる適切な線量値（指標値）を操作者に提供し、被検体の個人線量管理のために、より正確な情報を提供することによって、安全なＣＴ検査を受けることができるＸ線コンピュータ断層撮影装置を提供することができる。
【００４２】
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
【符号の説明】
【００４３】
１００・・・スキャン本体、２００・・・寝台、１０１・・・Ｘ線管球、１０２・・・回転フレーム、１０３・・・２次元検出器、１０４・・・データ収集システム、１０５・・・非接触データ伝送装置、１０６・・・前処理装置、１０８・・・スリップリング、１０９・・・高電圧発生器、１１０・・・ホストコントローラ、１１２・・・記憶装置、１１３・・・放射口、１１７・・・基準線量値テーブル記憶部（ＲＯＭ）、１１８・・・ボリューム再構成処理部、１１９・・・校正値更新制御部、１２０・・・校正値テーブル記憶部（不揮発性メモリ）、１２１・・・校正値更新部、１２２・・・線量値計算部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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