(57)【要約】【課題】スキップヘッドを活用し、ライト環境が劣悪である場合においても、ライト品質の低下を抑制する。【解決手段】スキップ処理部９Ａは、磁気ヘッドＨ０〜Ｈ２にてライトされる時に磁気ヘッドＨ３が選択されないようにスキップ処理を行い、ライト環境検出部９Ｃは、磁気ディスク２、３にライトされる時のライト環境を検出し、ライトデータ退避部９Ｄは、ライト環境の検出結果に基づいて磁気ヘッドＨ３を選択し、磁気ヘッドＨ３を介してライトデータをディスク面Ｍ３にライトさせ、ライトデータ書き戻し部９Ｅは、ライト環境の検出結果に基づいて磁気ヘッドＨ０〜Ｈ２を選択し、ディスク面Ｍ３にライトされたライトデータを各磁気ヘッドＨ０〜Ｈ２を介してディスク面Ｍ０〜Ｍ２にライトさせる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１のディスク面に対応した第１の磁気ヘッドと、
第２のディスク面に対応した第２の磁気ヘッドと、
前記第１の磁気ヘッドにてライトされる時に前記第２の磁気ヘッドが選択されないようにスキップ処理を行うスキップ処理部と、
前記第１のディスク面および前記第２のディスク面が設けられた１以上の磁気ディスクと、
前記磁気ディスクの周辺の振動を検出する振動センサと、
前記磁気ディスクの周辺の温度を検出する温度センサと、
前記磁気ディスクからリードされたデータのエラーレートを測定するエラーレート測定部と、
前記振動、前記温度および前記エラーレートの少なくとも１つに基づいて、前記磁気ディスクにライトされる時の前記ライトを安定して行えるかどうかの指標であるライト環境を検出するライト環境検出部と、
前記ライト環境が所定状態にある場合、前記第２の磁気ヘッドを選択し、前記第１の磁気ヘッドを介して前記第１のディスク面にライトされる場合に比べて記録密度を下げて前記第２の磁気ヘッドを介してライトデータを前記第２のディスク面にライトさせるライトデータ退避部と、
前記ライト環境が前記所定状態にない場合、前記ライト環境の検出結果に基づいて前記第１の磁気ヘッドを選択し、前記第２のディスク面にライトされたライトデータを前記第１の磁気ヘッドを介して前記第１のディスク面にライトさせるライトデータ書き戻し部とを備える磁気ディスク装置。
【請求項２】
第１のディスク面に対応した第１の磁気ヘッドと、
第２のディスク面に対応した第２の磁気ヘッドと、
前記第１の磁気ヘッドにてライトされる時に前記第２の磁気ヘッドが選択されないようにスキップ処理を行うスキップ処理部と、
前記第１のディスク面および前記第２のディスク面が設けられた１以上の磁気ディスクと、
前記磁気ディスクにライトされる時の前記ライトを安定して行えるかどうかの指標であるライト環境を検出するライト環境検出部と、
前記ライト環境の検出結果に基づいて前記第２の磁気ヘッドを選択し、前記第２の磁気ヘッドを介してライトデータを前記第２のディスク面にライトさせるライトデータ退避部と、
前記ライト環境の検出結果に基づいて前記第１の磁気ヘッドを選択し、前記第２のディスク面にライトされたライトデータを前記第１の磁気ヘッドを介して前記第１のディスク面にライトさせるライトデータ書き戻し部とを備える磁気ディスク装置。
【請求項３】
前記ライトデータ退避部は、前記第１の磁気ヘッドを介して前記第１のディスク面にライトされる場合に比べて記録密度を下げて前記第２の磁気ヘッドを介して前記ライトデータを前記第２のディスク面にライトさせる請求項２に記載の磁気ディスク装置。
【請求項４】
前記ライト環境は、前記磁気ディスクの周辺の振動、前記磁気ディスクの周辺の温度または前記磁気ディスクの起動後のリード／ライト特性である請求項２に記載の磁気ディスク装置。
【請求項５】
１以上の磁気ディスクの第１のディスク面に対応した第１の磁気ヘッドにてライトされる時に前記磁気ディスクの第２のディスク面に対応した第２の磁気ヘッドが選択されないようにスキップ処理を行う磁気ディスクのライト方法であって、
前記磁気ディスクにライトされる時の前記ライトを安定して行えるかどうかの指標であるライト環境の検出結果に基づいて前記第２の磁気ヘッドを選択し、前記第２の磁気ヘッドを介してライトデータを前記第２のディスク面にライトさせ、
前記ライト環境の検出結果に基づいて前記第１の磁気ヘッドを選択し、前記第２のディスク面にライトされたライトデータを前記第１の磁気ヘッドを介して前記第１のディスク面にライトさせる磁気ディスクのライト方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、磁気ディスク装置および磁気ディスクのライト方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
磁気ディスク装置において、スペック容量の確保に必要な本数以上の磁気ヘッドが磁気ディスク装置に組み込まれ、例えば出荷前の試験によって使用ヘッドが選別されることがある。例えば、容量３ＴＢの磁気ディスク装置を製造する場合、１０本の磁気ヘッドと５枚の磁気ディスクを磁気ディスク装置に搭載し、磁気ヘッド１本当たりの面密度が平均３３４ＧＢになるよう調整を行う。装置スペックを満たし容量の大きい磁気ヘッドから順に選択し、３ＴＢの容量確保に必要な９本の磁気ヘッドが選別されると、余った１本の磁気ヘッドはスキップヘッドとしてスキップ処理をされ、それ以後使用されなくなっていた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】ＵＳＰ７６５３８４７
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
本発明の一つの実施形態は、ライト動作を安定して行えるかどうかの指標であるライト環境が劣悪である場合においても、ライト品質の低下を抑制することが可能な磁気ディスク装置および磁気ディスクのライト方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明の一つの実施形態によれば、第１の磁気ヘッドと、第２の磁気ヘッドと、スキップ処理部と、１以上の磁気ディスクと、ライト環境検出部と、ライトデータ退避部と、ライトデータ書き戻し部とが設けられている。第１の磁気ヘッドは、第１のディスク面に対応する。第２の磁気ヘッドは、第２のディスク面に対応する。スキップ処理部は、前記第１の磁気ヘッドにてライトされる時に前記第２の磁気ヘッドが選択されないようにスキップ処理を行う。１以上の磁気ディスクは、前記第１のディスク面および前記第２のディスク面が設けられている。ライト環境検出部は、前記磁気ディスクにライトされる時の前記ライトを安定して行えるかどうかの指標であるライト環境を検出する。ライトデータ退避部は、前記ライト環境の検出結果に基づいて前記第２の磁気ヘッドを選択し、前記第２の磁気ヘッドを介してライトデータを前記第２のディスク面にライトさせる。ライトデータ書き戻し部は、前記ライト環境の検出結果に基づいて前記第１の磁気ヘッドを選択し、前記第２のディスク面にライトされたライトデータを前記第１の磁気ヘッドを介して前記第１のディスク面にライトさせる。
【図面の簡単な説明】
【０００６】
【図１】図１は、第１実施形態に係る磁気ディスク装置の概略構成を示すブロック図である。
【図２】図２（ａ）は、図１の磁気ディスクにおけるトラック配置を示す平面図、図２（ｂ）は、図２（ｂ）のサーボエリアの構成例を示す図である。
【図３】図３は、図１の磁気ディスク装置の退避管理テーブルの構成例を示す図である。
【図４】図４は、第１実施形態に係る磁気ディスク装置の退避動作を示すフローチャートである。
【図５】図５は、第１実施形態に係る磁気ディスク装置の書き戻し動作を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【０００７】
以下に添付図面を参照して、実施形態に係る磁気ディスク装置および磁気ディスクのライト方法を詳細に説明する。なお、これらの実施形態により本発明が限定されるものではない。
【０００８】
（第１実施形態）
図１は、第１実施形態に係る磁気ディスク装置の概略構成を示すブロック図である。
図１において、磁気ディスク装置には、複数の磁気ディスク２、３が設けられ、磁気ディスク２の両面にはディスク面Ｍ０、Ｍ１がそれぞれ設けられ、磁気ディスク３の両面にはディスク面Ｍ２、Ｍ３がそれぞれ設けられている。そして、磁気ディスク２、３はスピンドル１４を介して一体的に支持されている。
【０００９】
また、磁気ディスク装置には、ディスク面Ｍ０〜Ｍ３ごとに磁気ヘッドＨ０〜Ｈ３が設けられ、磁気ヘッドＨ０〜Ｈ３は、ディスク面Ｍ０〜Ｍ３にそれぞれ対向するように配置されている。ここで、磁気ヘッドＨ０〜Ｈ３はアームＡ０〜Ａ３をそれぞれ介してディスク面Ｍ０〜Ｍ３上にそれぞれ保持されている。アームＡ０〜Ａ３は、磁気ヘッドＨ０〜Ｈ３を水平面内でそれぞれスライドさせることができる。ここで、この磁気ディスク装置では、製造コスト低減のため、スペック容量の確保に必要な本数以上の磁気ヘッドＨ０〜Ｈ３が組み込まれているものとする。そして、出荷前の試験によって、スペック容量の確保に必要な３本の磁気ヘッドＨ０〜Ｈ２が正規ヘッドとして選別され、余った１本の磁気ヘッドＨ３はスキップヘッドとしてスキップ処理をされるものとする。正規ヘッドは、装置スペックを満たし容量の大きいものから順に選別することができる。
【００１０】
ここで、図２（ａ）に示すように、例えば、ディスク面Ｍ０には、円周方向に沿ってトラックＴが設けられている。各トラックＴには、ユーザデータがライトされるデータエリアＤＡおよびサーボデータがライトされたサーボエリアＳＳが設けられている。ここで、サーボエリアＳＳは放射状に配置され、各トラックＴ上のサーボエリアＳＳ間にデータエリアＤＡが配置されている。
【００１１】
サーボエリアＳＳには、図２（ｂ）に示すように、プリアンブル４０、サーボエリアマーク４１、セクタ／シリンダ情報４２およびバーストパターン４３がライトされている。なお、セクタ／シリンダ情報４２は、ディスク面Ｍ０の円周方向および半径方向のサーボ番地を与えることができ、磁気ヘッドＨ０を目標トラックまで移動させるシーク制御に用いることができる。バーストパターン４３は、磁気ヘッドＨ０を目標トラックの目標範囲内に位置決めするトラッキング制御に用いることができる。このバーストパターン４３は、ヌル型バーストパターン又は面積型バーストパターンであってもよいし、位相差型パターンであってもよい。なお、ディスク面Ｍ１〜Ｍ３もディスク面Ｍ０と同様に構成することができる。
【００１２】
また、図１に示すように、磁気ディスク装置には、アームＡ０〜Ａ３を駆動するボイスコイルモータ４が設けられるとともに、スピンドル１４を介して磁気ディスク２、３を回転させるスピンドルモータ１３が設けられている。そして、磁気ディスク２、３、磁気ヘッドＨ０〜Ｈ３、アームＡ０〜Ａ３、ボイスコイルモータ４、スピンドルモータ１３およびスピンドル１４は、ケース１に収容されている。また、ケース１には、磁気ディスク２、３の周辺の振動を検出する振動センサ１１、磁気ディスク２、３の周辺の温度を検出する温度センサ１２、磁気ディスク２、３の周辺の湿度を検出する湿度センサ１６、磁気ディスク２、３の周辺の気圧を検出する気圧センサ１７が設けられている。なお、振動センサ１１は、磁気記録制御部５が搭載される回路基板に設けるようにしてもよい。また、温度センサ１２、湿度センサ１６および気圧センサ１７は、アームＡ０〜Ａ３に搭載されるフレキシブルプリント基板に設けるようにしてもよい。
【００１３】
また、磁気ディスク装置には磁気記録制御部５が設けられ、磁気記録制御部５には、ヘッド制御部６、パワー制御部７、リードライトチャネル８、ハードディスク制御部９およびバッファ１０が設けられている。ヘッド制御部６には、ライト電流制御部６Ａおよび再生信号検出部６Ｂが設けられている。パワー制御部７には、スピンドルモータ制御部７Ａおよびボイスコイルモータ制御部７Ｂが設けられている。ハードディスク制御部９には、スキップ処理部９Ａ、エラーレート測定部９Ｂ、ライト環境検出部９Ｃ、ライトデータ退避部９Ｄおよびライトデータ書き戻し部９Ｅが設けられている。なお、スキップ処理部９Ａ、エラーレート測定部９Ｂ、ライト環境検出部９Ｃ、ライトデータ退避部９Ｄおよびライトデータ書き戻し部９Ｅの処理は、プロセッサで実行されるファームウェアにより実現される。
【００１４】
ヘッド制御部６は、記録再生時における信号を増幅する。ライト電流制御部６Ａは、磁気ヘッドＨ０〜Ｈ３に流れるライト電流を制御する。再生信号検出部６Ｂは、磁気ヘッドＨ０〜Ｈ３にて読み出された信号を検出する。パワー制御部７は、ボイスコイルモータ４およびスピンドルモータ１３を駆動する。スピンドルモータ制御部７Ａは、スピンドルモータ１３の回転を制御する。ボイスコイルモータ制御部７Ｂは、ボイスコイルモータ４の駆動を制御することができる。リードライトチャネル８は、磁気ヘッドＨ０〜Ｈ３にて再生される信号をホスト１５で扱われるデータ形式に変換したり、ホスト１５から出力されるデータを磁気ヘッドＨ０〜Ｈ３にて記録される信号形式に変換したりする。このような形式変換としては、ＤＡ変換や符号化を挙げることができる。また、リードライトチャネル８は、磁気ヘッドＨ０〜Ｈ３にて再生された信号のデコード処理を行ったり、ホスト１５から出力されるデータをコード変調したりする。ハードディスク制御部９は、ホスト１５からの指令に基づいて記録再生制御を行ったり、ホスト１５とリードライトチャネル８との間でデータの受け渡しを行ったりする。スキップ処理部９Ａは、ライト環境の検出結果に基づいて磁気ヘッドＨ３が選択されないようにスキップ処理を行う。エラーレート測定部９Ｂは、磁気ディスク２、３からリードされたデータのエラーレートを測定する。ライト環境検出部９Ｃは、磁気ディスク２、３にライトされる時のライト環境を検出する。なお、ライト環境は、ライトを安定して行えるかどうかの指標であり、例えば、磁気ディスク装置における振動、温度、湿度または気圧を挙げることができる。ライトデータ退避部９Ｄは、ライト環境の検出結果に基づいてスキップヘッドである磁気ヘッドＨ３を選択し、磁気ヘッドＨ３を介してライトデータをディスク面Ｍ３にライトさせる。ライトデータ書き戻し部９Ｅは、ライト環境の検出結果に基づいて磁気ヘッドＨ０〜Ｈ２を選択し、ディスク面Ｍ３にライトされたライトデータを各磁気ヘッドＨ０〜Ｈ２を介してディスク面Ｍ０〜Ｍ２にライトさせる。バッファ１０は、ホスト１５からのライトコマンドをキューとして保持したり、ライト動作を管理する管理情報を保持したりすることができる。バッファ１０としては、ＮＡＮＤフラッシュメモリなどの不揮発性半導体メモリを用いることができる。
【００１５】
また、磁気記録制御部５はホスト１５に接続されている。ホスト１５としては、ライトコマンドやリードコマンドなどを磁気ディスク装置に発行するパーソナルコンピュータであってもよいし、外部インターフェースであってもよい。
【００１６】
そして、ホスト１５からライトコマンドが発行されると、ライト環境検出部９Ｃにてライト環境が検出される。この時、ライト環境検出部９Ｃは、振動センサ１１にて検出された振動に基づいてライト環境を判定することができる。あるいは、ライト環境検出部９Ｃは、温度センサ１２にて検出された温度、湿度センサ１６にて検出された湿度、または気圧センサ１７にて検出された気圧に基づいてライト環境を判定するようにしてもよい。そして、ライト環境検出部９Ｃは、振動センサ１１にて検出された振動が規定値を超える場合、ライト環境が所定状態にあると判定する。あるいは、ライト環境検出部９Ｃは、温度センサ１２にて検出された温度が所定範囲外（例えば、極高温または極低温環境下）にある場合、湿度センサ１６にて検出された湿度が規定値を超える場合、または気圧センサ１７にて検出された気圧が所定範囲外（例えば、極低圧または極高圧環境下）にある場合、ライト環境が所定状態にあると判定するようにしてもよい。
【００１７】
そして、ライト環境検出部９Ｃにてライト環境が所定状態にないと判定された場合、スキップ処理部９Ａにて磁気ヘッドＨ３が選択されないようにスキップ処理が行われる。そして、スピンドルモータ１３により磁気ディスク２、３が回転されながら、磁気ヘッドＨ０〜Ｈ２それぞれを介してディスク面Ｍ０〜Ｍ２から信号が読み出され、再生信号検出部６Ｂにて検出される。再生信号検出部６Ｂにて検出された信号は、リードライトチャネル８にてデータ変換された後、ハードディスク制御部９に送られる。そして、ハードディスク制御部９において、再生信号検出部６Ｂにて検出された信号に含まれるバーストパターン４３に基づいて磁気ヘッドＨ０〜Ｈ２のトラッキング制御が行われる。また、再生信号検出部６Ｂにて検出された信号に含まれるセクタ／シリンダ情報４２に基づいて磁気ヘッドＨ０〜Ｈ２の現在位置が算出され、磁気ヘッドＨ０〜Ｈ２が目標位置に近づくようにシーク制御が行われる。そして、ライトコマンドで指定されるアドレスに対応する磁気ヘッドＨ０〜Ｈ２それぞれを介してディスク面Ｍ０〜Ｍ２にライトデータがライトされる。
【００１８】
一方、ライト環境検出部９Ｃにてライト環境が所定状態にあると判定された場合、ライトデータ退避部９Ｄにて磁気ヘッドＨ３が選択される。そして、スピンドルモータ１３により磁気ディスク２、３が回転されながら、磁気ヘッドＨ３を介してディスク面Ｍ３から信号が読み出され、再生信号検出部６Ｂにて検出される。再生信号検出部６Ｂにて検出された信号は、リードライトチャネル８にてデータ変換された後、ハードディスク制御部９に送られる。そして、ハードディスク制御部９において、再生信号検出部６Ｂにて検出された信号に含まれるバーストパターン４３に基づいて磁気ヘッドＨ３のトラッキング制御が行われる。また、再生信号検出部６Ｂにて検出された信号に含まれるセクタ／シリンダ情報４２に基づいて磁気ヘッドＨ３の現在位置が算出され、磁気ヘッドＨ３が目標位置に近づくようにシーク制御が行われる。そして、ライトデータ退避部９Ｄにおいて、磁気ヘッドＨ３を介してライトデータがディスク面Ｍ３にライトされる。この時、磁気ヘッドＨ０〜Ｈ２を介してディスク面Ｍ０〜Ｍにライトされる場合に比べて記録密度を下げることができる。記録密度を下げる場合、ＢＰＩ（ビット／インチ）を低下させるようにしてもよいし、ＴＰＩ（トラック／インチ）を低下させるようにしてもよい。
【００１９】
また、磁気ヘッドＨ３を介してライトデータがディスク面Ｍ３にライトされる場合、ライトコマンドごとにカウント値１０Ａが１だけインクリメントされ、バッファ１０に保持される。また、ライトコマンドで指定されたアドレスと、ディスク面Ｍ３上のライト位置との対応関係が退避管理テーブル１０Ｂに登録され、バッファ１０に保持される。
【００２０】
図３は、図１の磁気ディスク装置の退避管理テーブルの構成例を示す図である。
図３において、ライトコマンドで指定されたＬＢＡ（論理ブロックアドレス）はディスク面Ｍ０〜Ｍ２に割り当てられるのに対して、磁気ヘッドＨ３を介してライトされるスキップ領域はディスク面Ｍ３上に割り当てられる。そして、ライトコマンドでＬＢＡが指定されると、そのＬＢＡに対応するスキップ領域のアドレスを退避管理テーブル１０Ｂに登録することができる。スキップ領域のアドレスには、ディスク面Ｍ３の物理アドレスを適用することができる。
【００２１】
そして、図１において、カウント値１０Ａが１以上でかつ新たなコマンド（ライトコマンド及びリードコマンドを含む）が一定時間以上発行されていない時に、ライト環境検出部９Ｃにてライト環境が所定状態にないと判定されると、ライトデータ書き戻し部９Ｅにおいて、磁気ヘッドＨ０〜Ｈ２が選択される。そして、ディスク面Ｍ３にライトされたライトデータが各磁気ヘッドＨ０〜Ｈ２を介してディスク面Ｍ０〜Ｍ２にライトされる。この時、退避管理テーブル１０Ｂが参照され、ディスク面Ｍ３上のスキップ領域にライトされたライトデータが、ライトコマンドで指定された各ディスク面Ｍ０〜Ｍ２上のＬＢＡの領域にライトされる。また、併せて、カウント値１０Ａが１だけデクリメントされる。なお、ディスク面Ｍ３にライトされたライトデータが各磁気ヘッドＨ０〜Ｈ２を介してディスク面Ｍ０〜Ｍ２にライトされている時に、新たなコマンドが発行された場合、この書き戻し動作を中断し、次の機会にその書き戻し動作を最初から開始することができる。
【００２２】
なお、カウント値１０Ａ及び退避管理テーブル１０Ｂは、ライトコマンドやリードコマンドに対する処理の実行時以外のアイドル状態で、バッファ１０から不揮発性の記憶領域（例えば磁気ディスク２，３）に記録されることが好ましい。また、磁気ディスク装置のパワーオン（起動）以降で、カウント値１０Ａ及び退避管理テーブル１０Ｂがバッファ１０に読み出されることで、それまでの情報を復元することができる。また、磁気ディスク装置のパワーオン（起動）時にカウント値１０Ａを参照し、カウント値１０Ａが１以上であれば、退避管理テーブル１０Ｂを参照し、アドレスの読み替えを行う。
【００２３】
図４は、第１実施形態に係る磁気ディスク装置の退避動作を示すフローチャートである。
図４において、ホスト１５からライトコマンドが発行されると（Ｓ１）、ライト環境がチェックされる。そして、ライト環境のチェック結果から所定のライトマージンがあるかどうかが判断され（Ｓ２）、所定のライトマージンがある場合（Ｓ２の問題なし）、磁気ヘッドＨ０〜Ｈ２が正規ヘッドとして選択され（Ｓ６）、各磁気ヘッドＨ０〜Ｈ２を介してディスク面Ｍ０〜Ｍ２にライトデータがライトされる（Ｓ７）。
【００２４】
一方、所定のライトマージンがない場合（Ｓ２のライトマージンレス）、磁気ヘッドＨ３がスキップヘッドとして選択され（Ｓ３）、磁気ヘッドＨ３を介してディスク面Ｍ３にライトデータが退避データとしてライトされるとともに、本来ライトするアドレスと退避データのライト位置との対応関係が退避管理テーブル１０Ｂに登録される（Ｓ４）。同時に、図１のバッファ１０のカウント値１０Ａ（以下、退避カウンタとも言う）が１だけインクリメントされ、退避データがあることが記録される（Ｓ５）。
【００２５】
図５は、第１実施形態に係る磁気ディスク装置の書き戻し動作を示すフローチャートである。
図５において、磁気ディスク装置がアイドル状態かどうかが判断され（Ｓ１１）、磁気ディスク装置がアイドル状態でない場合（Ｓ１１のＮｏ）、書き戻し動作以外の他の処理が優先される（Ｓ２０）。一方、磁気ディスク装置がアイドル状態である場合（Ｓ１１のＹｅｓ）、退避カウンタが１以上かどうかが判断される（Ｓ１２）。この時、退避カウンタが１以上でない場合（Ｓ１２のＮｏ）、書き戻し動作の処理を終了する。一方、退避カウンタが１以上である場合（Ｓ１２のＹｅｓ）、ライト環境がチェックされる（Ｓ１３）。そして、ライト環境のチェック結果から所定のライトマージンがあるかどうかが判断され、所定のライトマージンがない場合（Ｓ１３のライトマージンレス）、タイムカウントが行われる（Ｓ２１）。そして、タイムカウントの結果、規定時間経過すると、Ｓ１３に戻り、ライト環境がチェックされる。そして、ライト環境のチェック結果から所定のライトマージンがない場合、Ｓ１３およびＳ２１の処理が繰り返される。ライト環境のチェック結果、問題ないと判断されると（Ｓ１３の問題なし）、磁気ヘッドＨ３がスキップヘッドとして選択される（Ｓ１４）。そして、退避管理テーブル１０Ｂが参照されることにより、本来ライトするアドレスに対応する退避データのライト位置が取得され、磁気ヘッドＨ３を介してディスク面Ｍ３から退避データがリードされる（Ｓ１５）。
また、磁気ヘッドＨ３を介して退避データがリードされると共に、磁気ヘッドＨ０〜Ｈ２が正規ヘッドとして選択され（Ｓ１６）、磁気ヘッドＨ０〜Ｈ２を介してディスク面Ｍ０〜Ｍ２の本来ライトするアドレスに退避データがライトされる（Ｓ１７）。同時に、退避カウンタが１だけデクリメントされ（Ｓ１８）、退避カウンタが１以上かどうかが判断される（Ｓ１９）。そして、退避カウンタが１以上である場合（Ｓ１９のＹｅｓ）、退避カウンタが０になるまで（Ｓ１９のＮｏ）、Ｓ１４〜Ｓ１９の処理が繰り返される。なお、ディスク面Ｍ３にライトされた退避データをディスク面Ｍ０〜Ｍ２に書き戻す場合、磁気ヘッドＨ３を介して退避データをリードしながら、磁気ヘッドＨ０〜Ｈ２を介して退避データをライトするようにしてもよいし、磁気ヘッドＨ３を介してリードされた退避データを一旦バッファ１０に格納し、バッファ１０から退避データをリードしながら、磁気ヘッドＨ０〜Ｈ２を介して退避データをライトするようにしてもよい。
【００２６】
本実施形態によれば、ライト環境が劣悪である場合にはスキップヘッドを介してライトデータを退避させ、ライト環境が良好である時に、その退避させたライトデータを本来の位置に書き戻すことができる。このため、ライト環境が劣悪である場合においても、ライトマージンの低下を抑制することができ、ライト品質の低下を抑制することが可能となる。この結果、ライト品質の低下によるデータのリードエラーや、ライトフォルトによるライト動作の遅延を回避させることができ、ライトパフォーマンスを向上させることができる。
【００２７】
（第２実施形態）
第１実施形態では、ライト環境検出部９Ｃは、振動センサ１１にて検出された振動または温度センサ１２にて検出された温度に基づいて、ライト環境を判定する方法について説明したが、磁気ディスク２、３の起動後のリード／ライト特性に基づいて、ライト環境を判定するようにしてもよい。
【００２８】
すなわち、磁気ディスク装置のパワーオン（起動）後やスタンバイ状態からの復帰後などのように、磁気ディスク２、３の起動（回転開始）直後にホスト１５からライトコマンドが発行されると、エラーレート測定部９Ｂにおいて、磁気ディスク２、３からリードされたデータのエラーレートが測定される。なお、エラーレートを測定するためのチェックデータはディスク面Ｍ０〜Ｍ２に予めライトしてもよい。そして、ライト環境検出部９Ｃは、エラーレート測定部９Ｂにて測定されたエラーレートに基づいてライト環境を判定することができる。そして、ライト環境検出部９Ｃは、エラーレート測定部９Ｂにて測定されたエラーレートが規定値を超えない場合、ライト環境が所定状態にあると判定する。この動作は、ライトコマンド発行時のライト処理よりも優先して行うことができる。また、磁気ディスク２、３のパワーオン起動時にカウント値１０Ａを参照し、カウント値１０Ａが１以上であれば、退避管理テーブル１０Ｂを参照し、アドレスの読み替えを行う。
【００２９】
磁気ディスク２、３の起動後にリード／ライト特性が悪化する場合として、以下のような現象を挙げることができる。
（１）低温起動後（パワーオフまたはアンロード状態のまま所定時間放置した状態からの起動直後）において、磁気ディスク２、３の潤滑剤などが磁気ヘッドＨ０〜Ｈ３に付着しているために、磁気ヘッドＨ０〜Ｈ３の浮上位置が上昇する場合。
（２）磁気ディスク２、３の回転が開始された直後のように磁気ディスク装置が過渡状態（非定常状態）にある場合。
【００３０】
なお、上述した実施形態では、２枚の磁気ディスク２、３と４本の磁気ヘッドＨ０〜Ｈ３が設けられた磁気ディスク装置を例にとって説明したが、磁気ディスクは１枚以上なら何枚でもよいし、磁気ヘッドは２本以上なら何本でもよい。
【００３１】
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【符号の説明】
【００３２】
１  ケース、２、３  磁気ディスク、Ｍ０〜Ｍ３  ディスク面、Ｈ０〜Ｈ３  磁気ヘッド、Ａ０〜Ａ３  アーム、４  ボイスコイルモータ、５  磁気記録制御部、６  ヘッド制御部、６Ａ  ライト電流制御部、６Ｂ  再生信号検出部、７  パワー制御部、７Ａ  スピンドルモータ制御部、７Ｂ  ボイスコイルモータ制御部、８  リードライトチャネル、９  ハードディスク制御部、９Ａ  スキップ処理部、９Ｂ  エラーレート測定部、９Ｃ  ライト環境検出部、９Ｄ  ライトデータ退避部、９Ｅ  ライトデータ書き戻し部、１０  バッファ、１０Ａ  カウント値、１０Ｂ  退避管理テーブル、１１  振動センサ、１２  温度センサ、１３  スピンドルモータ、１４  スピンドル、１５  ホスト、１６  湿度センサ、１７  気圧センサ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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