(57)【要約】【課題】試験片を非破壊で容易に取り出すことが可能且つ、主要構成部の再利用が可能なプローブを提供する。【解決手段】筒体７に充填してある内部電解質６が筒体下部において外部電解質３と試験片２に電気的に接続してある照合電極５を内部電解質６に電気的に接触させるとともに、試験片２に形成してある貫通孔２３を通して外部電解質３と電気的に接触するように内部電解質６が充填され、試験片２の特定面が外部電解質３に電気的に接触してあるＩＲフリー試験装置において前記筒体７に装着して使用するプローブ１であって、前記試験片２の外径側面を外径側支持体９で、上部側面を上部側支持体１０で、貫通孔側面を内径側支持体１１で、内部電解質６に対して絶縁状態で挟持するとともに、外径側支持体９で筒体７に試験片２を固定してあるプローブ。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電解質を充填してある非導電性の筒体を、その筒体に充填してある内部電解質が筒体上部において外部電解質と絶縁され、かつ、前記内部電解質が筒体下部において前記外部電解質と電気的に接触するように設け、
試験片に電気的に接続してある照合電極を、筒体上部において前記内部電解質に電気的に接触させるとともに、
前記試験片に形成してある貫通孔を通して前記外部電解質と電気的に接触するように前記内部電解質が充填され、
前記試験片の特定面が前記貫通孔を囲む状態で前記外部電解質に電気的に接触し、かつ、当該特定面以外の面が前記貫通孔を囲む状態で前記内部電解質に対して電気的に絶縁されるように、前記試験片を前記筒体に固定して構成され、
前記試験片にリード線を電気的に接続してあるＩＲフリー試験装置において前記筒体に装着して使用するプローブであって、
前記試験片を前記筒の外径側から囲繞するとともに下方側から支持する外径側支持体と、
前記試験片を前記内部電解質側から支持する上部側支持体と、
前記試験片の前記貫通孔に沿って取外し自在に装着され、上部側に伸びる上側延出部を備えた内径側支持体とを備え、
前記試験片の外径側面を前記外径側支持体で、上部側面を前記上部側支持体で、前記貫通孔側面を前記内径側支持体で、前記内部電解質に対して絶縁状態で挟持するとともに、
前記外径側支持体で前記筒体に前記試験片を固定してあるプローブ。
【請求項２】
前記試験片の下面が前記特定面とされている請求項１記載のプローブ。
【請求項３】
前記外径側支持体と前記上部側支持体とが螺合接続されるとともに、当該螺合接続部から前記試験片への前記内部側電解質の侵入を防止する外径側内部電界質侵入防止手段を備え、
前記試験片側から前記螺合接続部への前記外部側電解質の侵入を防止する外部電界質侵入防止手段を備え、
前記上部側支持体に設けられた貫通孔に前記内径側支持体の前記上側延出部が内嵌接続されるとともに、当該内嵌接続部から前記試験片への前記内部側電解質の侵入を防止する内径側内部電界質侵入防止手段を備え、
前記試験片と前記内径側支持体とが絶縁性接着剤で接続されている請求項１又は２記載のプローブ。
【請求項４】
前記外径側内部電界質侵入防止手段、前記外部電界質侵入防止手段及び前記内径側内部電界質侵入防止手段がＯリングである請求項３記載のプローブ。
【請求項５】
前記上部側支持体に上下方向で貫通する支持体貫通孔を設け、前記リード線を前記上部側支持体に対して絶縁状態且つ、前記支持体貫通孔を貫通する状態で設けてある請求項１〜４の何れか一項記載のプローブ。
【請求項６】
前記試験片の上側面に前記リード線を着脱自在な状態で接続するとともに、
前記上部側支持体に設けられた支持体貫通孔に螺合接続されるとともに、内部に前記リード線が相通される相通孔を備えた絶縁性案内部材を備え、
当該螺合接続部から前記試験片への前記内部側電解質の侵入を防止する挿通孔内部電界質侵入防止手段を備えた請求項５記載のプローブ。
【請求項７】
前記リード線と前記絶縁性案内部材とが、前記試験片側への前記内部電解質の侵入を防止する状態で、絶縁被覆接続されている請求項６記載のプローブ。
【請求項８】
前記上部側支持体を上部側から前記内径側支持体に挟持保持する保持部材が備えられている請求項１〜７の何れか一項記載のプローブ。
【請求項９】
前記試験片の装着時に、当該試験片が酸処理された請求項１〜８の何れか一項記載のプローブ。
【請求項１０】
請求項１〜９の何れか一項に記載のプローブを前記筒体に装着したＩＲフリー試験装置であって、
前記試験片と前記照合電極との電位差を構造物の電位として測定できるように構成してあるＩＲフリー試験装置。
【請求項１１】
前記試験片が防食対象の構造物に対する擬似部材であり、前記構造物とに亘って流れる電流を測定可能な電流測定手段を設けてある請求項１０記載のＩＲフリー試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電解質を充填してある非導電性の筒体を、その筒体に充填してある内部電解質が筒体上部において外部電解質と絶縁され、かつ、前記内部電解質が筒体下部において前記外部電解質と電気的に接触するように設け、
試験片に電気的に接続してある照合電極を、筒体上部において前記内部電解質に電気的に接触させるとともに、
前記試験片に形成してある貫通孔を通して前記外部電解質と電気的に接触するように前記内部電解質が充填され、
前記試験片の特定面が前記貫通孔を囲む状態で前記外部電解質に電気的に接触し、かつ、当該特定面以外の面が前記貫通孔を囲む状態で前記内部電解質に対して電気的に絶縁されるように、前記試験片を前記筒体に固定して構成され、
前記試験片にリード線を電気的に接続してあるＩＲフリー試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
このようなＩＲフリー試験装置は、特許文献１〜４に紹介されている。
ＩＲフリー試験装置は、例えば特許文献１においては「電位測定装置」と称されている。特許文献１に於いてそのように称している理由は、ＩＲフリー試験装置を、試験片と照合電極との間の電位差をアノード電極で防食される構造物との電位として測定するために使用しているためであり、本願では、腐食環境下において構造物の腐食量の把握を例に採って説明するため「ＩＲフリー試験装置」と総称する。本願における「ＩＲフリー試験装置」と「電位測定装置」との間で、電気化学的な意味合いで基本的な差異はない。
【０００３】
さて、埋設環境を模擬した腐食試験を行う際には、ＩＲフリー試験装置（例えば、下記特許文献１に記載の「電位測定装置」）等が使用されており、その最も一般的な腐食評価方法としては、試験片に対して試験前後の重量差を測定する方法がある。
【０００４】
ここで、ＩＲフリー試験装置（「電位測定装置」）から試験片を取り出して重量測定を行う場合、その構造上の理由により装置の先端に設けられたプローブを機械的に破壊する必要があり、また取り出した試験片については、試験後の試験面が錆等の腐食生成物で覆われているため、重量測定前に酸洗浄によって前記腐食生成物を除去する必要がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００３−２７０１９２号公報
【特許文献２】特許４１３７０５８号公報
【特許文献３】特許４２７８３９１号公報
【特許文献４】特許４２７８３９２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、このような手法を採用する場合、下記のことが課題となっている。
１．破壊時の手順ミスにより試験片に傷をつけてしまうことで重量測定が不能となる場合がある。
２．試験のたびにプローブ全体を再度作製しなければならない。
【０００７】
従って、本発明の目的は、試験片を非破壊で容易に取り出すことが可能、且つ主要構成部の再利用が可能なプローブを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記の課題を解決するため、請求項１に係る発明は、
電解質を充填してある非導電性の筒体を、その筒体に充填してある内部電解質が筒体上部において外部電解質と絶縁され、かつ、前記内部電解質が筒体下部において前記外部電解質と電気的に接触するように設け、
試験片に電気的に接続してある照合電極を、筒体上部において前記内部電解質に電気的に接触させるとともに、
前記試験片に形成してある貫通孔を通して前記外部電解質と電気的に接触するように前記内部電解質が充填され、
前記試験片の特定面が前記貫通孔を囲む状態で前記外部電解質に電気的に接触し、かつ、当該特定面以外の面が前記貫通孔を囲む状態で前記内部電解質に対して電気的に絶縁されるように、前記試験片を前記筒体に固定して構成され、
前記試験片にリード線を電気的に接続してあるＩＲフリー試験装置において前記筒体に装着して使用するプローブであって、
前記試験片を前記筒の外径側から囲繞するとともに下方側から支持する外径側支持体と、
前記試験片を前記内部電解質側から支持する上部側支持体と、
前記試験片の前記貫通孔に沿って取外し自在に装着され、上部側に伸びる上側延出部を備えた内径側支持体とを備え、
前記試験片の外径側面を前記外径側支持体で、上部側面を前記上部側支持体で、前記貫通孔側面を前記内径側支持体で、前記内部電解質に対して絶縁状態で挟持するとともに、
前記外径側支持体で前記筒体に前記試験片を固定してあるプローブとしたことにある。
【０００９】
本願に係るプローブは、ＩＲフリー試験装置で使用する筒体に装着して使用する。
装着は、例えば、筒体の先端に装着することにより行われる。そして、プローブを筒体に装着した状態で、筒体を外部電解質（例えば試験環境とする土壌内）に差し込む。
一方、プローブのより筒体内には、内部電界質が充填され、その内部電解質と電気的に接続する状態で照合電極を載置する。
【００１０】
試験片は、その外周に関して、試験片の外径側面を外径側支持体で、上部側面を前記上部側支持体で、前記貫通孔側面を前記内径側支持体で、前記内部電解質に対して絶縁状態で挟持する構成とされる。
【００１１】
従って試験片に対して、外径側支持体、上部側支持体及び内径側支持体を分離可能とすることができ、さらに、貫通孔を介する内部電界質、外部電界質と試験片の特定面との電気的接続を除いては、試験片が内部電界質と電気的に接続されることは避けられる。即ち、試験片が内部電界質と直接電気的に接続することはない。
一方、試験片の下面に関しては、外部電界質と直接電気的に接続する状態が実現する。即ち、少なくとも試験片の下面の全部又は一部を少なくとも特定面とできる。
結果、試験片を非破壊で容易に取り出すことが可能且つ、主要構成部の再利用が可能なプローブを提供することができた。
【００１２】
請求項２に係る発明は、請求項１において、
前記試験片の下面が前記特定面とされていることにある。
【００１３】
この構成では、試験片の下面の全部または一部を特定面として試験を行なうことができる。
【００１４】
請求項３に係る発明は、請求項１又は請求項２において、
前記外径側支持体と前記上部側支持体とが螺合接続されるとともに、当該螺合接続部から前記試験片への前記内部側電解質の侵入を防止する外径側内部電界質侵入防止手段を備え、
前記試験片側から前記螺合接続部への前記外部側電解質の侵入を防止する外部電界質侵入防止手段を備え、
前記上部側支持体に設けられた貫通孔に前記内径側支持体の前記上側延出部が内嵌接続されるとともに、当該内嵌接続部から前記試験片への前記内部側電解質の侵入を防止する内径側内部電界質侵入防止手段を備え、
前記試験片と前記内径側支持体とが絶縁性接着剤で接続されていることにある。
【００１５】
この構成では、外径側支持体と上部側支持体との接続を螺合とすることで、上部側支持体と内径側支持体との接合を内嵌接続とすることで分離可能とできる。また、内部電解質と外部電解質と試験片とに関する絶縁を、外径側内部電界質侵入防止手段、外部電界質侵入防止手段及び、内径側内部電界質侵入防止手段で実現できる。
さらに、試験片と内径側支持体とを絶縁性接着剤で接続することで、両者間で接続と絶縁との用を実現することができる。
【００１６】
請求項４に係る発明は、請求項１〜３の何れか一項において、
前記外径側内部電界質侵入防止手段、前記外部電界質侵入防止手段及び前記内径側内部電界質侵入防止手段がＯリングであることにある。
【００１７】
この構成にあっては、電界質侵入防止手段をＯリングで実現できる。
【００１８】
請求項５に係る発明は、請求項１〜４の何れか一項において、
前記上部側支持体に上下方向で貫通する支持体貫通孔を設け、前記リード線を前記上部側支持体に対して絶縁状態且つ、前記支持体貫通孔を貫通する状態で設けてあることにある。
【００１９】
この構成にあっては、上部側支持体に対する試験片からの絶縁状態でのリード線の取出しを、支持体貫通孔を介して実現できる。
【００２０】
請求項６に係る発明は、請求項５において、
前記試験片の上側面に前記リード線を着脱自在な状態で接続するとともに、
前記上部側支持体に設けられた支持体貫通孔に螺合接続されるとともに、内部に前記リード線が相通される相通孔を備えた絶縁性案内部材を備え、
当該螺合接続部から前記試験片への前記内部側電解質の侵入を防止する挿通孔内部電界質侵入防止手段を備えたことにある。
【００２１】
前記した試験片からのリード線の取出しに関して、試験片からリード線を着脱可能とでき、さらに、絶縁性案内部材で、上部側支持体とリード線との絶縁を絶縁性案内部材で実現できる。またこの絶縁性案内部材を上部側支持体と螺合接合することで、容易に分離できる。また、挿通孔内部電界質侵入防止手段で、試験片への内部側電解質の侵入を防止し、絶縁状態を確保できる。
【００２２】
請求項７に係る発明は、請求項６において、
前記リード線と前記絶縁性案内部材とが、前記試験片側への前記内部電解質の侵入を防止する状態で、絶縁被覆接続されていることにある。
【００２３】
この構成を採用することで、リード線と絶縁性案内部材との間からの内部電界質の侵入を防止できる。
【００２４】
請求項８に係る発明は、請求項１〜７の何れか一項において、
前記上部側支持体を上部側から前記内径側支持体に挟持保持する保持部材が備えられていることにある。
【００２５】
この構成を採用することで、上部側支持体と内径側支持体との固定を保持部材で確保できる。
【００２６】
そして、請求項９に係る発明のように、前記試験片の装着時に、当該試験片を酸処理することにより、信頼性の高い試験を行える。
ここで、酸処理を行う場合、所謂、インヒビターを使用するが、この処理により僅かではあるが試験片自身も溶解するため、試験前後の重量差が微小である場合には、予め酸処理を施すことで測定精度を上げることができる。
【００２７】
さらに、請求項１０に係る発明のように、前記試験片と前記照合電極との電位差を構造物の電位として測定できるように構成としておくと、先に説明した、試験片と照合電極との間の電位差をアノード電極で擬似される構造物との電位として測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】本願に係るプローブの使用状態を示す図
【図２】本願に係るプローブの先端近傍の構成を示す図
【図３】本願に係るプローブの先端近傍の分解斜視図
【発明を実施するための形態】
【００２９】
以下、本願に係るプローブ１を図面に基づいて説明する。
図１に、本願に係るプローブ１を採用したＩＲフリー試験装置５０の使用状態を示した。この例では、試験片２を備えたＩＲフリー試験装置５０を所定の腐食環境下に設置し、外部電解質３（例えば埋設管が埋設された土壌）内にあるアノード電極４（このアノード電極は電気防食対象である埋設管に電流を流入させるための対極として配置される電極であり、一般的には白金族混合物の酸化物を表面に焼成させたチタン電極が使用される。）、試験片２及び照合電極５間に発生する電位差や、試験片２の電位を規定値に設定した際に流れる電流を測定可能とするとともに、流れる電流により発生する試験片２の腐食の進行状態を試験可能としている状況を示している。
【００３０】
図１において、電気化学試験コントローラ５５は、アノード電極４、試験片２、及び照合電極５を所定の電位状態に設定するとともに、各部材間に流れる電流を測定可能な装置である。
アノード電極４と電気化学試験コントローラ５５は絶縁ケーブル５６で接続される。
試験片２と電気化学試験コントローラ５５はリード線５７で接続される。
照合電極５と電気化学試験コントローラ５５は絶縁ケーブル５８で接続される。
【００３１】
以上が、本願に係るＩＲフリー試験装置５０の使用状況の説明であるが、以下、このＩＲフリー試験装置５０の構成に関して説明する。
このＩＲフリー試験装置５０は、例えば特許文献１においては、「電位測定装置」と称されているが、特許文献１に於いてそのように称している理由は、特許文献１においては、ＩＲフリー試験装置５０を、試験片２と照合電極５との間の電位差をアノード電極４で防食される構造物との電位として測定するために使用しているためであり、本願では、腐食環境下において構造物の腐食量の把握を例に採って説明するため「ＩＲフリー試験装置５０」と総称する。本願において、「ＩＲフリー試験装置５０」と「電位測定装置」との間で、電気化学的な意味合いで基本的な差異はない。
【００３２】
図１．図２、図３からも判明するように、「ＩＲフリー試験装置５０」も、
電解質（内部電解質）６を充填してある非導電性の筒体７を、その筒体７に充填してある内部電解質６が筒体上部において外部電解質３と絶縁され、かつ、内部電解質６が筒体下部において外部電解質３と電気的に接触するように設け、
試験片２に電気的に接続してある照合電極５を筒体上部において内部電解質６に電気的に接触させるとともに、
試験片２に形成してある試験片貫通孔８を通して外部電解質３と電気的に接触するように内部電解質６が充填され、
試験片２の特定面（具体的には下面２ａ）が試験片貫通孔８を囲む状態で外部電解質３に電気的に接触し、かつ、当該特定面２ａ以外の面が試験片貫通孔８を囲む状態で前記内部電解質６に対して電気的に絶縁されるように、試験片２を筒体７に固定して構成され、試験片２にリード線５７を電気的に接続して構成される。
ここで、前記試験片２の前記筒体７への固定は間接的な固定となっている。
【００３３】
本願に係るプローブ１は、このＩＲフリー試験装置５０において筒体の先端近傍に装着して使用する。
図２、図３からも判明するように、このプローブ１には、試験片２を筒体７の外径側から囲繞するとともに下方側から支持する外径側支持体９と、試験片２を内部電解質側から支持する上部側支持体１０と、試験片２の貫通孔８に沿って取外し自在に装着され、上部側に伸びる上側延出部１１ａを備えた内径側支持体１１とが備えられ、試験片２の外径側面を外径側支持体９で、上部側面を上部側支持体１０で、貫通孔側面を内径側支持体１１で、内部電解質６に対して絶縁状態で挟持するとともに、外径側支持体９で筒体７に試験片２を間接的に固定してある。
【００３４】
さらに詳細に、本願で採用している連結構造と絶縁構造に関して説明すると、
外径側支持体９と上部側支持体１０とが螺合接続されるとともに、当該螺合接続部１２から試験片２への内部側電解質７の侵入を防止する外径側内部電界質侵入防止手段１３を備え、試験片側から螺合接続部１２への外部側電解質３の侵入を防止する外部電界質侵入防止手段１４を備え、
上部側支持体１０に貫通孔１０ａを設け、内径側支持体１１の上側延出部１１ａを相互移動可能な状態で内嵌接続するとともに、当該内嵌接続状態で当接する当接接続部（内嵌接続部）１５から試験片２への内部側電解質６の侵入を防止する内径側内部電界質侵入防止手段１６を備え、試験片２と内径側支持体１１とが絶縁性接着剤１７で接続されている。
【００３５】
ここで、前記外径側内部電界質侵入防止手段１３、前記外部電界質侵入防止手段１４及び前記内径側内部電界質侵入防止手段１６は、具体的には、それぞれＯリングを採用している。
【００３６】
さらに、上部側支持体１０を上部側から内径側支持体１１に挟持保持する保持部材１８が備えられている。この保持部材１８は、前記内径側支持体１１の上側延出部１１ａが外径側で螺合接続されている。
【００３７】
以上が、試験片２の挟持構造であるが、以下、試験片２とリード線５７との接続構造に関して説明する。
【００３８】
上部側支持体１０には、その上下方向で貫通する支持体貫通孔２０が設けられており、リード線５７を上部側支持体１０に対して絶縁状態且つ、支持体貫通孔２０を貫通する状態で配置してある。
【００３９】
そして、試験片２の上側面にボルト孔２１を設けるとともに、リード線５７が固定接続されたボルト２２をボルト孔２１に螺合させることで、リード線５７を試験片２に着脱自在な状態で接続している。
一方、上部側支持体１０に設けられた支持体貫通孔２０に螺合接続されるとともに、内部にリード線５７が相通される相通孔２３を備えた絶縁性案内部材２４を備え、絶縁性案内部材２４の螺合接続部２５から試験片２への内部電解質６の侵入を防止する挿通孔内部電界質侵入防止手段２６を備えて、リード線５７を内部電解質６内へ導出している。
図２からも判明するように、挿通孔内部電界質侵入防止手段２６としても、本例にあっては、Ｏリングを採用している。
【００４０】
さらに、リード線５７と絶縁性案内部材２４とが絶縁性接着剤２７で接合されることにより、試験片側への内部電解質６の侵入を防止する状態で、絶縁被覆接続されている。
【００４１】
結果、プローブ１の分解が可能な状態でありながら、試験片２の特定面（具体的には下面２ａ）が貫通孔８を囲む状態で外部電解質３に電気的に接触され、かつ、当該特定面以外の面が貫通孔８を囲む状態で前記内部電解質６に対して電気的に絶縁され、試験片２を前記筒体７に固定され、試験片２にリード線５７を電気的に接続した構造を達成できた。
【００４２】
以下、本願に係るプローブ１（試験片２を含む）を使用して腐食試験を行なう場合について説明する。
１．試験片の前処理
試験片２に対し、次のａ）〜ｃ）の手順を繰り返し行い、酸処理による重量減少が十分に小さく、一定となることを確認する。
ａ）規定量のインヒビター（具体的にはアンモニウム塩等）を添加した塩酸中に試験片２を浸漬し、５分間超音波洗浄を行う。
ｂ）試験片２を取り出し、大量の水道水で十分に酸液を洗い落す。
ｃ）アセトン中で5分間超音波洗浄を行い、その後ブローによりアセトンを完全に除去する。
その後、試験面２ａとなる部分のみ♯８００湿式研磨等を行い、酸処理前の状態にする。
【００４３】
２．プローブの組み立て
ａ）試験片２にボルト２２を介してリード線５７を連結する。
ｂ）試験片２の貫通孔内面に内径側支持体１１を絶縁性樹脂１７で接合する。
ｃ）リード線５７を上部側支持体１０の支持体貫通孔２０に貫通させた状態で、Ｏリング１３、１４、１６を所定位置に配置した状態で、外径側支持体９、上部側支持体１０、内径側支持体１１、及び保持部材１８を連結組立る。
ｄ）支持体貫通孔２０を貫通した状態にあるリード線５７が絶縁性案内部材２４に挿通した状態且つ、Ｏリング２６を所定位置に配置した状態で、絶縁性案内部材２４に螺合連結するとともに、その内部電解質側を絶縁性接着剤２７で接着する。
ｅ）筒７下部に前記外径側支持体９を接続するともに、筒内部に内部電解質６及び照合電極５を配置する。
【００４４】
３．腐食試験
上記の過程を経てプローブ１が得られた状態で、試験片２を試験土壌等の外部電解質３に接触させ、リード線２７、 照合電極５、 アノード電極４を 電気化学試験コントローラ５５（ポテンショスタット等）に接続した状態で腐食試験環境を完成する。
【００４５】
４．試験片の取り出し
プローブ１を螺合連結部に関して全て取り外す。ここで、内径側支持体１１のみ 試験片２と接着されているが、アセトン等の有機溶媒中で超音波洗浄を行うことにより、内径側支持体１１を容易に溶解・除去することができる。その後、取り出した試験片２に対して酸洗浄を行い、重量を測定する。
【００４６】
結果、この方法により、試験片に対してIRドロップの含まれない電気化学試験を実施することができる。特に、試験片の重量変化を測定したい場合に、精度の高い測定が行なえる。
〔別実施形態〕
（１）
上記の実施形態では、腐食試験を行なう状態に関して説明したが、試験片が防食対象の構造物に対する擬似部材であり、構造物とに亘って流れる電流を測定可能な電流測定手段を設けて試験を行うことができる。
【符号の説明】
【００４７】
１    ：プローブ
２    ：試験片
３    ：外部電解質
４    ：アノード電極
５    ：照合電極
６    ：内部電解質
７    ：筒体
８    ：試験片貫通孔
９    ：外径側支持体
１０  ：上部側支持体
１１  ：内径側支持体
１３  ：外径側内部電解質侵入防止手段（Ｏリング）
１４  ：外部電解質侵入防止手段（Ｏリング）
１６  ：内径側内部電解質侵入防止手段（Ｏリング）
１７  ：絶縁性接着剤
１８  ：保持部材
２０  ：支持体貫通孔
２３  ：挿通孔
２４  ：絶縁性案内部材
２６  ：挿通孔内部電解質侵入防止手段（Ｏリング）
５７  ：リード線
【図１】
2015187550.tif 000003
【図２】
2015187550.tif 000004
【図３】
2015187550.tif 000005