(57)【要約】【課題】過去分と最新分との測定波形を見分けやすくし、波形の重なっている部分の位置とその重なり頻度も目視確認できる測定装置および波形表示方法の提供。【解決手段】時系列測定データを指定回数ｎ回分として順に取り込む入力手段と、取り込まれた前記時系列測定データを各回別の測定波形としてＸ−Ｙ軸上に重ね描きして表示する表示手段と、これら構成各部を統括して演算制御する中央処理手段とを少なくとも備え、ｎ回分の測定波形の表示は、同じＹ軸上に位置する過去回と最新回とのポイント別測定値相互を比較してその差が閾値以上か未満かの判別を行い、判別の結果が閾値以上であれば過去回側を一義的な視別が可能なポイント表示として、閾値未満であれば過去回側を二義的な視別が可能なポイント表示としてそれぞれを再プロットすることで、測定波形相互の視別を可能にして行う。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
１ポイント目測定値から最終ポイント目測定値へと至るポイント別測定値からなる時系列測定データを指定回数ｎ回分として順に取り込む入力手段と、取り込まれた前記時系列測定データを各回別の測定波形としてＸ−Ｙ軸上に重ね描きして表示する表示手段と、これら構成各部を統括して演算制御する中央処理手段とを少なくとも備え、
該中央処理手段を介しての表示手段への前記ｎ回分の前記測定波形の表示は、
前記ポイント別測定値の全体で構成される１回目の前記測定波形を描画した後、前記ｎ回が２回であれば、前記測定波形を構成する前記ポイント別測定値としてＸ軸上の１ポイント目測定値からＸ軸方向に順にプロットする際、同じＹ軸上に位置する前記ポイント別測定値相互を比較してその差が閾値以上か未満かの判別が行われ、
前記ｎ回が３回以上であれば、最過去回である前記１回目側と最新ｎ回目側との間でまず前記判別が行われ、次いで前記１回目と前記最新ｎ回目との間に位置する中間過去回目側を古い方から順に前記最新ｎ回目側との間で前記判別が各別に行われ、
判別の結果が前記閾値以上であれば一義的な視別が可能なポイント表示として、前記閾値未満であれば二義的な視別が可能なポイント表示としてそれぞれを再プロットすることで、前記測定波形相互の視別を可能にして行うことを特徴とする測定装置。
【請求項２】
前記閾値は、前記表示手段が備える表示画面上のグラフエリアの前記Ｙ軸上の総ドット数との関係で定まる特定ドット数である請求項１に記載の測定装置。
【請求項３】
同じ前記Ｙ軸上に位置する前記ポイント別測定値同士の前記一義的な視別は、前記判別対象となっている過去回分と最新回分との間の明度差を大きくして、同じ前記Ｙ軸上に位置する前記ポイント別測定値同士の前記二義的な視別は、前記判別対象となっている過去回分と最新回分との間の明度差を小さくすることで、前記測定波形相互の視別を可能とした請求項１または２に記載の測定装置。
【請求項４】
１ポイント目測定値から最終ポイント目測定値へと至るポイント別測定値からなる時系列測定データを指定回数ｎ回分として順に取り込む入力手段と、取り込まれた前記時系列測定データを各回別の測定波形としてＸ−Ｙ軸上に重ね描きして表示する表示手段と、これら構成各部を統括して演算制御する中央処理手段とを少なくとも備える測定装置に適用され、
該中央処理手段を介しての表示手段への前記ｎ回分の前記測定波形の表示は、
前記ポイント別測定値の全体で構成される１回目の前記測定波形を描画した後、前記ｎ回が２回であれば、前記測定波形を構成する前記ポイント別測定値としてＸ軸上の１ポイント目測定値からＸ軸方向に順にプロットする際、同じＹ軸上に位置する前記ポイント別測定値相互を比較してその差が閾値以上か未満かの判別が行われ、
前記ｎ回が３回以上であれば、最過去回である前記１回目側と最新ｎ回目側との間でまず前記判別が行われ、次いで前記１回目と前記最新ｎ回目との間に位置する中間過去回目側を古い方から順に前記最新ｎ回目側との間で前記判別が各別に行われ、
判別の結果が前記閾値以上であれば一義的な視別が可能なポイント表示として、前記閾値未満であれば二義的な視別が可能なポイント表示としてそれぞれを再プロットすることで、前記測定波形相互の視別を可能にすることを特徴とする波形表示方法。
【請求項５】
前記閾値は、前記表示手段が備える表示画面上のグラフエリアの前記Ｙ軸上の総ドット数との関係で定まる特定ドット数である請求項４に記載の波形表示方法。
【請求項６】
同じ前記Ｙ軸上に位置する前記ポイント別測定値同士の前記一義的な視別は、前記判別対象となっている過去回分と最新回分との間の明度差を大きくして、同じ前記Ｙ軸上に位置する前記ポイント別測定値同士の前記二義的な視別は、前記判別対象となっている過去回分と最新回分との間の明度差を小さくすることで、前記測定波形相互の視別を可能とする請求項４または５に記載の波形表示方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電気的特性を測定波形として記録する波形記録計に係り、さらに詳しくは、電子部品や回路などのインピーダンスＺやＬ，Ｃ，Ｒなどの定数を測定して取り込んだ時系列測定データを測定波形として表示手段に表示する測定装置および波形表示方法に関する技術である。
【背景技術】
【０００２】
通常、複数のチャンネルから測定装置に取り込まれた時系列測定データは、ＣＲＴなどの表示手段に測定波形として表示させることができるほか、プリンタを介してリアルタイムで記録紙にも同時に印字して出力させることができるようになっている例が多い。。
【０００３】
このような測定装置にあっては、例えば特許文献１にも開示されているように、時系列測定データが表示手段の表示画面に測定波形として出力表示され、予め設定されている基準ラインとの関係でその適否が判定できるように構成されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平１０−５４７３７号公報
【０００５】
この場合、特許文献１には、一本の測定波形が表示されている例が示されているが、必要によっては時系列測定データを複数回にわたり測定し、それぞれを測定波形として表示手段に一括表示するようにしているものもある。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
このように、測定装置が時系列測定データを複数回にわたり測定し、それぞれを測定波形として表示手段に一括表示する場合には、個々の測定波形が部分的に重ね描きされた状態で表示されることもあり、その際に過去の測定波形と最新の測定波形との見分けがつき難くなるという不都合があった。
【０００７】
また、複数本の測定波形が重なっている場合には、重なり合っている部分がどこなのか、どのくらいの頻度で重なったのかなどの波形情報が波形画面からは目視確認することが困難になる不具合もあった。
【０００８】
本発明は従来技術にみられた上記課題に鑑み、過去の測定波形と最新の測定波形とを見分けやすくするとともに、波形の重なっている部分の位置とその重なり頻度とを目視確認できる測定装置および波形表示方法を提供することにその目的がある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明は上記目的を達成すべくなされたものであり、そのうちの第１の発明（測定装置）の構成上の特徴は、１ポイント目測定値から最終ポイント目測定値へと至るポイント別測定値からなる時系列測定データを指定回数ｎ回分として順に取り込む入力手段と、取り込まれた前記時系列測定データを各回別の測定波形としてＸ−Ｙ軸上に重ね描きして表示する表示手段と、これら構成各部を統括して演算制御する中央処理手段とを少なくとも備え、該中央処理手段を介しての表示手段への前記ｎ回分の前記測定波形の表示は、前記ポイント別測定値の全体で構成される１回目の前記測定波形を描画した後、前記ｎ回が２回であれば、前記測定波形を構成する前記ポイント別測定値としてＸ軸上の１ポイント目測定値からＸ軸方向に順にプロットする際、同じＹ軸上に位置する前記ポイント別測定値相互を比較してその差が閾値以上か未満かの判別が行われ、前記ｎ回が３回以上であれば、最過去回である前記１回目側と最新ｎ回目側との間でまず前記判別が行われ、次いで前記１回目と前記最新ｎ回目との間に位置する中間過去回目側を古い方から順に前記最新ｎ回目側との間で前記判別が各別に行われ、判別の結果が前記閾値以上であれば一義的な視別が可能なポイント表示として、前記閾値未満であれば二義的な視別が可能なポイント表示としてそれぞれを再プロットすることで、前記測定波形相互の視別を可能にして行わせることにある。
【００１０】
また、第２の発明（波形表示方法）の構成上の特徴は、１ポイント目測定値から最終ポイント目測定値へと至るポイント別測定値からなる時系列測定データを指定回数ｎ回分として順に取り込む入力手段と、取り込まれた前記時系列測定データを各回別の測定波形としてＸ−Ｙ軸上に重ね描きして表示する表示手段と、これら構成各部を統括して演算制御する中央処理手段とを少なくとも備える測定装置に適用され、該中央処理手段を介しての表示手段への前記ｎ回分の前記測定波形の表示は、前記ポイント別測定値の全体で構成される１回目の前記測定波形を描画した後、前記ｎ回が２回であれば、前記測定波形を構成する前記ポイント別測定値としてＸ軸上の１ポイント目測定値からＸ軸方向に順にプロットする際、同じＹ軸上に位置する前記ポイント別測定値相互を比較してその差が閾値以上か未満かの判別が行われ、前記ｎ回が３回以上であれば、最過去回である前記１回目側と最新ｎ回目側との間でまず前記判別が行われ、次いで前記１回目と前記最新ｎ回目との間に位置する中間過去回目側を古い方から順に前記最新ｎ回目側との間で前記判別が各別に行われ、判別の結果が前記閾値以上であれば一義的な視別が可能なポイント表示として、前記閾値未満であれば二義的な視別が可能なポイント表示としてそれぞれを再プロットすることで、前記測定波形相互の視別を可能にすることにある。
【００１１】
また、本発明における前記閾値は、前記表示手段が備える表示画面上のグラフエリアの前記Ｙ軸上の総ドット数との関係で定まる特定ドット数とすることができる。また、同じ前記Ｙ軸上に位置する前記ポイント別測定値同士の前記一義的な視別は、前記判別対象となっている過去回分と最新回分との間の明度差を大きくして、同じ前記Ｙ軸上に位置する前記ポイント別測定値同士の前記二義的な視別は、前記判別対象となっている過去回分と最新回分との間の明度差を小さくすることで、前記測定波形相互の視別を可能とするのが好ましい。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、各回別にＸ軸上の１ポイント目測定値からＸ軸方向での最終ポイント目測定値へと至るポイント別測定値としてプロットされる時系列測定データをｎ回分の測定波形として重ね描きする際に、同じＹ軸上に位置するポイント別測定値相互を比較してその差が閾値以上か未満かを判別し、閾値以上であれば過去回分と最新回分との一義的な視別が可能なポイント表示として再プロットし、閾値未満であれば二義的な視別が可能なポイント表示として再プロットすることができるので、個々の測定波形の測定順を容易に見分けることができる。
【００１３】
しかも、ｎ回分の測定波形を構成するそれぞれのポイント別測定値は、同じＹ軸上に位置するポイント表示の重なり合う度合いが多くなれば、閾値未満と判別されて二義的な視別処理が繰り返し行われることになるので、ポイント表示が大きくばらついているものに比べて視認性がよくなり、該当するポイント別測定値の測定精度の高いことを容易に把握することができる。
【００１４】
また、表示手段が備える表示画面上のグラフエリアのＹ軸上の総ドット数との関係で定まる特定ドット数を閾値とする場合は、任意の閾値を必要に応じて自由に設定することができる。
【００１５】
さらに、同じＹ軸上のポイント別測定値相互の一義的な視別を判別対象となっている過去分と最新分との間の明度差を大きくして行い、同じＹ軸上のポイント別測定値相互の二義的な視別を判別対象となっている過去分と最新分との間の明度差を小さくして行う場合は、明度差を手がかりに各測定波形を容易に視別することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】第1の発明に係る測定装置の概略構成例を示すブロック図。
【図２】本発明において各測定波形を表示画面に表示する際の処理手順例を示すフローチャート図。
【図３】本発明による表示画面への１回目の測定波形の表示例を示す説明図。
【図４】本発明により表示画面に２回目の測定波形を表示する際の１回目の表示波形と関係についての表示例を示す説明図。
【図５】本発明により表示画面に３回目の測定波形を表示する際の１回目の測定波形と２回目の測定波形との関係についての表示例を示す説明図。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
図１は、本発明が適用される測定装置の概略構成例を示すブロック図であり、測定装置１１の全体は、入力端子Ｔを介して１ポイント目測定値から最終ポイント目測定値へと至るポイント別測定値からなる時系列測定データを指定回数であるｎ回分として順に取り込む入力手段（Ａ／Ｄ変換器を含む）１２と、取り込まれた前記時系列測定データを各回別の測定波形としてＸ−Ｙ軸上に重ね描きして表示するＬＣＤなどからなる表示手段１３と、これら構成各部を統括して演算制御する中央処理手段（ＣＰＵ）１４とを少なくとも備えて構成されている。
【００１８】
図２は、各測定波形を表示手段１３が備える表示画面１３ａに表示する際の処理手順例を示すフローチャート図である。また、図３〜図５は、表示画面１３ａへの測定波形の表示プロセスを例示する説明図であり、そのうちの図３は、１回目の測定波形Ｗ１における１〜９ポイント目測定値２１〜２９の表示例を、図４は、１回目の測定波形Ｗ１における１ポイント目測定値２１と２ポイント目測定値２２と、２回目の測定波形Ｗ２における１ポイント目測定値３１と２ポイント目測定値３２との位置関係の表示例を、図５は、１回目と２回目との各測定波形Ｗ１，Ｗ２における１ポイント目測定値２１，３１と２ポイント目測定値２２，３２と、３回目の測定波形Ｗ３における１ポイント目測定値４１と２ポイント目測定値４２との位置関係の表示例をそれぞれ示す。
【００１９】
ここで、図３〜図５を参酌しながら図２のフローチャート図に従い表示画面１３ａへの測定波形Ｗ１〜Ｗ３の表示プロセスを説明すれば、１回目の測定が開始されると、１回目の測定波形Ｗ１が最初である１ポイント目測定値２１から最終である９ポイント目測定値２９に至るまでのポイント別測定値の時系列測定データとして、図３に示すように例えば通常波形色で表示画面１３ａに描画して表示される。なお、この場合における表示画面１３ａのグラフエリアのＹ軸方向でのドット数は、例えば５００ドットとする。
【００２０】
１回目の測定波形Ｗ１が図３に示すように表示画面１３ａに表示された後は、予め定められている指定回数であるｎ回目に測定回数が達しているか否かが判別され、指定回数に達していれば、図３に示されているように１回目の測定波形Ｗ１が１ポイント目測定値２１から最終ポイント目測定値２９に至るまで通常波形色のもとで表示画面１３ａに表示して測定作業を終了する。
【００２１】
しかし、未だ指定回数に達していないと判別された場合には、次順である２回目（ｎ＋１＝２）の測定に入り、２回目の測定波形Ｗ２を構成する１〜９ポイント目測定値からなるポイント別測定値の全てのプロットが完了しているか否かが判別され、完了していれば、指定回数測定終了の判別ステップへと戻る。
【００２２】
つまり、１回目の測定が行われると、図３に示されているように１回目の測定波形Ｗ１が１ポイント目測定値２１から最終ポイント目測定値２９に至るまで通常波形色のもとで表示画面１３ａに表示される。
【００２３】
また、２回目の測定が行われると、２回目の測定波形Ｗ２も１ポイント目測定値３１から図示は省略してあるが最終ポイント目測定値に至るまで通常波形色のもとで描画されて表示画面１３ａに表示されることになる。
【００２４】
しかし、２回目の測定波形Ｗ２における１〜９ポイント目測定値の全てについてのプロットが未だ完了していないと判別された場合は、Ｘ軸方向の次順のポイント別測定値へと移行する。
【００２５】
このような処理は、１〜ｎ回分（例えばｎ＋１＝３）から導かれる３回目の測定波形Ｗ３の全ての再プロットを完了するまで行われ、全て完了していると判別された場合は最新回である例えば３回目の測定波形Ｗ３を構成している各ポイント別測定値を通常波形色でプロットして全測定ポイントのプロットが完了しているか否かの判別ステップへと戻る。
【００２６】
しかし、１〜ｎ回分（例えば３回分）全ての再プロットが未だ完了していないと判別された場合には、次の過去波形（２回目）へと移行し、現ポイント測定値の位置にある最新の測定値とｎ回前（１回目）の測定値との差が計算され、その際の計算結果（差）が閾値以上か未満かが判別される。なお、ここでいう閾値は、先述のように例えば表示画面１３ａのグラフエリアのＹ軸方向でのドット数が例えば５００ドットであるとする場合に、同じくＹ軸方向でのドット数を１００ドットとして設定するなど、必要に応じて適宜決めることができる。
【００２７】
一方、差が閾値以上であると判別された場合には、一義的な視別が可能なポイント表示として再プロットされる。なお、本明細書で使用する「一義的な視別」とは、同じＹ軸上に位置するポイント表示の彼此の別を明確に視認できる表示パターンをいい、例えば図示例のように現ポイント測定値が位置する測定値のｎ回前の測定値の波形色の明度を当初の明度よりも所定ダウン率分だけダウンさせるなどして実現することができる。
【００２８】
また、差が閾値未満であると判別された場合には、二義的な視別が可能なポイント表示として再プロットされる。なお、本明細書で使用する「二義的な視別」とは、同じＹ軸上に位置するポイント表示の彼此の別が一義的な視別よりは劣るが比較的明確に視認できる表示パターンをいい、例えば図示例のように現ポイントのｎ回前の波形色の明度を前記所定ダウン率より低いダウン率でダウンさせるなどして実現することができる。
【００２９】
ここで、上記再プロットの具体例をより具体的に説明すれば、２回目の測定波形Ｗ２が描示された後は、該測定波形Ｗ２における１ポイント目測定値３１が１回目の測定波形Ｗ１の１ポイント目測定値２１と比較される。
【００３０】
そして、その際の差Ａが例えば図４に示されているように予め定めてある閾値以上であれば、１回目の測定波形Ｗ１の１ポイント目測定値２１の測定波形色の明度を所定ダウン率分、例えば５０％ダウンさせた一義的な視別が可能な暗いポイント表示として表示画面１３ａに再プロットされ、２回目の測定波形Ｗ２の１ポイント目測定値３１を通常波形色のポイント表示として表示画面１３ａにプロットされる。
【００３１】
次いで、２回目の測定波形Ｗ２における２ポイント目測定値４２が１回目の測定波形Ｗ１の２ポイント目測定値３２と比較され、その差Ｂが例えば図４に示されているように閾値未満であれば、１回目の測定波形Ｗ１の２ポイント目測定値３１の測定波形色明度を閾値以上の場合の所定ダウン率（例えば５０％）より低いダウン率、例えば２５％ダウンさせた二義的な視別が可能な比較的暗いポイント表示として表示画面１３ａに再プロットされ、２回目の測定波形Ｗ２の２ポイント目測定値３２を通常波形色のポイント表示として表示画面１３ａにプロットされる。
【００３２】
このような比較は、１回目の測定波形Ｗ１と２回目の測定波形Ｗ２との間で最終ポイント目測定値に至るまで行われ、閾値以上か未満かで定まる例えば明度のダウン率の高低で定まる一義的な視別が可能か二義的な視別が可能かの違いにより１回目の測定波形Ｗ１側の各ポイント目測定値２１〜２９が対応する例えば明度ダウン率のポイント表示として表示画面１３ａに再プロットされた状態のもとで測定波形Ｗ１として描画されることになる。このとき、２回目の測定波形Ｗ２の各ポイント目測定値は、全て通常波形色のポイント表示としてプロットされる。以下、一義的な視別が可能な状態は、測定波形色の明度を５０％ダウンさせた場合を例にして、二義的な視別が可能な状態は、測定波形色の明度を２５％ダウンさせた場合を例にしてそれぞれ説明する。
【００３３】
このようにして１回目の測定波形Ｗ１と２回目の測定波形Ｗ２とが描画された後、さらに３回目の測定が行われる場合には、３回目の測定波形Ｗ３も１ポイント目測定値４１から最終ポイント目測定値にいたるまで通常波形色のもとで表示画面１３ａにプロットされる。
【００３４】
かくして、３回目の測定波形Ｗ３が描画された後は、該測定波形Ｗ３における１ポイント目測定値４１が１回目の測定波形Ｗ１の１ポイント目測定値２１と比較される。
【００３５】
そして、その際の差Ｃが例えば図５に示されているよう閾値以上であれば、１回目の測定波形Ｗ１の１ポイント目測定値２１の測定波形色の明度をさらに５０％ダウンさせた暗いポイント表示、つまり一義的な視別の程度がより高まった暗いポイント表示として表示画面１３ａに再プロットされる。
【００３６】
次いで、測定波形Ｗ３における１ポイント目測定値４１が２回目の測定波形Ｗ２の１ポイント目測定値３１と比較される。
【００３７】
そして、その際の差Ｄが例えば図５に示されているように閾値以上であれば、２回目の測定波形Ｗ２の１ポイント目測定値３１の測定波形色明度を現明度から５０％ダウンさせて一義的な視別が可能な暗いポイント表示として表示画面１３ａに再プロットされる。このとき、３回目の測定波形Ｗ３の１ポイント目測定値４１は、通常波形色のポイント表示として表示画面１３ａにプロットされる。
【００３８】
次に、３回目の測定波形Ｗ３における２ポイント目測定値４２が１回目の測定波形Ｗ１の２ポイント目測定値３２と比較され、その差Ｅが例えば図５に示されているように閾値以上であれば、１回目の測定波形Ｗ１の２ポイント目測定値２１の測定波形色の明度が図５の二義的な視別が可能な現明度をさらに５０％ダウンさせた一義的な視別が可能な暗いポイント表示として表示画面１３ａに再プロットされる。
【００３９】
さらに、３回目の測定波形Ｗ３における２ポイント目測定値４２が２回目の測定波形Ｗ２の２ポイント目測定値３２と比較され、その差Ｆが例えば図５に示されているように閾値未満であれば、２回目の測定波形Ｗ２の２ポイント目測定値３２の測定波形色の明度が、閾値以上の場合のダウン率５０％より低いダウン率である２５％ダウンさせた二義的な視別が可能な比較的暗いポイント表示として表示画面１３ａに再プロットされる。このとき、３回目の測定波形Ｗ３の２ポイント目測定値４２は、通常波形色のポイント表示として表示画面１３ａにプロットされる。
【００４０】
このような再プロット処理を行った後は、１〜ｎ回分全ての再プロットを完了したか否の判別ステップへと戻り、全て完了していると判別された場合は、最新の測定値を通常波形色でプロットして全ての処理を終了する。
【００４１】
次に、上記構成からなる本発明の作用効果を説明すれば、各回別にＸ軸上の１ポイント目測定値２１，３１，４１からＸ軸方向での最終ポイント目測定値へと至るポイント別測定値としてプロットされる時系列測定データをｎ回分の、例えば図５に示すように３回分の測定波形Ｗ１，Ｗ２，Ｗ３として重ね描きする際に、同じＹ軸上に位置するポイント別測定値相互を比較してその差が閾値以上か未満かを判別し、閾値以上であれば最新回側に対し過去回側を一義的な視別が可能なポイント表示である例えば波形色の明度を５０％ダウンさせるなどして再プロットし、閾値未満であれば二義的な視別が可能なポイント表示である例えば波形色の明度を２５％ダウンさせるなどして再プロットすることができるので、個々の測定波形の測定順を容易に見分けることができる。
【００４２】
しかも、ｎ回分の測定波形、例えば図５に示す３回分の測定波形Ｗ１，Ｗ２，Ｗ３を構成するそれぞれのポイント別測定値は、同じＹ軸上のものの重なり合う度合いが多くなれば閾値未満と判別されて二義的な視別処理が繰り返し行われることになるので、ポイント表示が大きくばらついているものに比べて視認性がよくなり、該当するポイント別測定値の測定精度の高いことを容易に把握することができる。
【００４３】
また、閾値が表示手段１３が備える表示画面１３ａ上のグラフエリアのＹ軸上の総ドット数との関係で定まる特定ドット数として設定されている場合には、任意の閾値を必要に応じて自由に設定することができる。
【００４４】
さらに、同じＹ軸上のポイント別測定値相互の一義的な視別を判別対象となっている過去分と最新分との間の明度差を大きくし、同じＹ軸上のポイント別測定値相互の二義的な視別を判別対象となっている過去分と最新分との間の明度差を小さくしている場合には、明度差を手がかりに各測定波形を容易に視別することができる。
【００４５】
以上は、本発明を図示例に即して説明したものであり、その具体的な実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、一義的な視別と二義的な視別とは、図示例とは反対に最新回側のポイント表示の明度のダウン率の高低の程度により可能にしたり、ポイント表示の輝度を変えたり、ポイント表示の模様を変えるなどして実現することもできる。また、閾値も必要に応じて適宜設定することができる。
【符号の説明】
【００４６】
１１ 測定装置
１２ 入力手段
１３ 表示手段
１３ａ 表示画面
１４  中央処理手段（ＣＰＵ）
Ｔ  入力端子
Ｗ１  １回目の測定波形
２１〜２９  １〜９ポイント目測定値
Ｗ２  ２回目の測定波形
３１  １ポイント目測定値
３２  ２ポイント目測定値
Ｗ３  ３回目の測定波形
４１  １ポイント目測定値
４２  ２ポイント目測定値
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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