(57)【要約】【課題】導体パターンの端部に位置するランドやスルーホールに、断線検査用の検査ポイントを設定することができる検査ポイント設定装置及びプログラムを提供する。【解決手段】検査ポイント設定装置及びプログラムは、ステップＳ１で基板データを読み込み、ステップＳ２で導体パターンの輪郭を抽出し、ステップＳ３でレジスト開口部の内部に含まれる点であるレジスト開口点を設定し、ステップＳ４で輪郭とレジスト開口点を関連付け、ステップＳ５でレジスト開口点から放射する仮想の放射状線を設定し、ステップＳ６で一対の対向線を選択し、ステップＳ７で注目するレジスト店を選択し、ステップＳ８で導体パターンの輪郭に沿う一対の対向線を繋ぐ経路の中に、他のレジスト開口点から生じた対向線の存在していない経路があるか判別し、ステップＳ９でそこに検査ポイントを設定するものである。【選択図】図３
2015018901.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象となる基板の導体パターンを示す導体パターンデータ、及びレジストを示すレジストデータに基づいて、前記導体パターンに対して検査ポイントを設定する検査ポイント設定装置であって、
前記導体パターンデータ、及び前記レジストデータを読み込むデータ読込手段と、
前記導体パターンデータに基づいて前記導体パターンの輪郭を抽出する輪郭抽出手段と、
前記レジストデータに基づいてレジスト開口部の内部に含まれる点であるレジスト開口点を、各々の前記レジスト開口部に対して設定するレジスト開口点設定手段と、
前記レジスト開口点から放射する仮想の放射状線を、前記レジスト開口点ごとに設定する放射状線設定手段と、
前記レジスト開口点から前記導体パターンの輪郭までの前記放射状線の各々長さを算出し、この長さに基づいて前記放射状線の中から逆向きの対向関係にある一対の対向線を、前記レジスト開口点ごとに選択する対向線選択手段と、
前記導体パターンの輪郭に沿う、注目している前記レジスト開口点の前記一対の対向線を繋ぐ経路の中に、他の前記レジスト開口点から生じた前記対向線の存在していない経路があるときに、前記注目しているレジスト開口点に対応する前記レジスト開口部内の導体パターンに、前記検査ポイントを設定する検査ポイント設定処理手段とを、
備えることを特徴とする検査ポイント設定装置。
【請求項２】
前記レジスト開口点設定手段が、前記レジスト開口部の中央部に前記レジスト開口点を設定することを特徴とする請求項１に記載の検査ポイント設定装置。
【請求項３】
前記対向線選択手段が、前記放射状線の中で、前記導体パターンの輪郭までの長さが最短の前記放射状線、及びこの最短の前記放射状線と対向関係になっている前記放射状線を、前記一対の対向線として選択することを特徴とする請求項１又は２に記載の検査ポイント設定装置。
【請求項４】
前記対向線選択手段が、前記放射状線の中で、前記導体パターンの輪郭までの長さを足し合わせたときに最短で、かつ対向関係になっている前記放射状線の組を、前記一対の対向線として選択することを特徴とする請求項１又は２に記載の検査ポイント設定装置。
【請求項５】
検査対象となる基板の導体パターンを示す導体パターンデータ、及びレジストを示すレジストデータに基づいて、前記導体パターンに対して検査ポイントを設定するためのプログラムであって、
コンピュータを、
前記導体パターンデータ、及び前記レジストデータを読み込むデータ読込手段と、
前記導体パターンデータに基づいて前記導体パターンの輪郭を抽出する輪郭抽出手段と、
前記レジストデータに基づいてレジスト開口部の内部に含まれる点であるレジスト開口点を、各々の前記レジスト開口部に対して設定するレジスト開口点設定手段と、
前記レジスト開口点から放射する仮想の放射状線を、前記レジスト開口点ごとに設定する放射状線設定手段と、
前記レジスト開口点から前記導体パターンの輪郭までの前記放射状線の各々長さを算出し、この長さに基づいて前記放射状線の中から逆向きの対向関係にある一対の対向線を、前記レジスト開口点ごとに選択する対向線選択手段と、
前記導体パターンの輪郭に沿う、注目している前記レジスト開口点の前記一対の対向線を繋ぐ経路の中に、他の前記レジスト開口点から生じた前記対向線の存在していない経路があるときに、前記注目しているレジスト開口点に対応する前記レジスト開口部内の導体パターンに、前記検査ポイントを設定する検査ポイント設定処理手段として、
動作させることを特徴とするプログラム。
【請求項６】
前記レジスト開口点設定手段が、前記レジスト開口部の中央部に前記レジスト開口点を設定することを特徴とする請求項５に記載のプログラム。
【請求項７】
前記対向線選択手段が、前記放射状線の中で、前記導体パターンの輪郭までの長さが最短の前記放射状線、及びこの最短の前記放射状線と対向関係になっている前記放射状線を、前記一対の対向線として選択することを特徴とする請求項５又は６に記載のプログラム。
【請求項８】
前記対向線選択手段が、前記放射状線の中で、前記導体パターンの輪郭までの長さを足し合わせたときに最短で、かつ対向関係になっている前記放射状線の組を、前記一対の対向線として選択することを特徴とする請求項５又は６に記載のプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、基板の導体パターンを示す導体パターンデータ、及びレジストを示すレジストデータに基づいて、導体パターンに対する断線検査に適した位置に検査ポイントを設定する検査ポイント設定装置、及びプログラムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
プリント基板に形成された導体パターンの良否を検査するために、導体パターンの断線検査が行われる。導体パターンの断線検査では、導体パターン上に予め設定された一対の検査ポイントに、基板検査装置が一対のプローブを移動させて接触させ、抵抗値を測定し、抵抗値が所定閾値を超えていれば導体パターンが断線している（不良である）と判定し、抵抗値が所定閾値以下であれば導体パターンが導通している（良好である）と判定する。例えば、特許文献１に、検査ポイントのＸＹ座標の位置を含むＣＡＤデータの供給を受け、その検査ポイントにプローブを接触させて検査を行う検査システムが記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００５−１９１３００号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１に記載のように、検査ポイントがＣＡＤデータに含まれていれば、検査ポイントを一から設定することは不要である。ＣＡＤデータに検査ポイントが含まれていない場合や含まれていてもそのまま使用できない場合には、基板上の適切な位置に検査ポイントを設定する必要がある。
【０００５】
検査ポイントの設定が必要な場合、基板に形成された部品実装用のランド（パッド）やスルーホールなど、導体パターンに対してプローブを接触可能な位置に、検査ポイントを設定する。断線検査では、導体パターンの途中にランドやスルーホールが設けられていても、導体パターンの両端部に設けられたランドやスルーホールに対して検査ポイントを設定することが好ましい。一連の導体パターンの両端部に検査ポイントを設定することで、その導体パターン全体の断線の有無を１回の測定で検査することができる。導体パターンの途中のランド等に検査ポイントを設定すると、導体パターンの断線を部分ごとに検査することになり、導体パターン全体の断線検査に複数回の測定が必要になってしまう。このため、検査ポイントの設定のために、導体パターンの端部に位置するランドやスルーホールを識別することが必要になる。
【０００６】
例えば、図１４（ａ）に示すように、ランド６６、６７、６８がそれらよりも細いライン状パターン６９で接続されている導体パターン６５の場合、ランド６６、６７、６８がレジスト開口部７６、７７、７８に位置していること、及び、ランド６６、６７、６８が細いライン状パターン６９で繋がれているという２つの特徴を利用して、端部のランド６６、６８を識別することが考えられる。具体的には、１本（１方向から）のライン状パターン６９が繋がっているレジスト開口部７６、７８を端部と判別してランド６６、６８に検査ポイントを設定し、２本以上のパターンが繋がっているレジスト開口部７７を端部ではないと判別しランド６７に検査ポイントを設定しないようにすればよい。
【０００７】
しかしながら、上記方法では、図２に示す導体パターン６０のように、レジスト開口部７１、７２、７３よりも導体パターン６０の幅が広く形成されている場合、レジスト開口部７１、７２、７３は導体パターン６０がベタ状になっているため、レジスト開口部７１、７２、７３に繋がるパターンの数を判別することが難しく、導体パターン６０の端部のランド６１、６３を抽出することが難しい。さらに、例えばガーバーデータ形式で幅広の導体パターンを表現する場合、図４（ａ）に示すように導体パターン６０が多数の細いライン状パターン１００で塗り潰すように表現されていたり、図４（ｂ）に示すように導体パターン６０がポリゴン１１０（多角形）による領域指定で表現されていたりする。このため、レジスト開口部７１、７２、７３に繋がるパターンの本数を判別することが一層難しく、上記方法では導体パターン６０の端部のランド等を抽出することが難しい。
【０００８】
本発明は前記の課題を解決するためになされたもので、導体パターンの幅の広狭や導体パターンデータの表現形式に関わらず、導体パターンの端部に位置するランドやスルーホールに検査ポイントを設定することができる検査ポイント設定装置、及びプログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
前記の目的を達成するためになされた、特許請求の範囲の請求項１に記載された検査ポイント設定装置は、検査対象となる基板の導体パターンを示す導体パターンデータ、及びレジストを示すレジストデータに基づいて、前記導体パターンに対して検査ポイントを設定する検査ポイント設定装置であって、前記導体パターンデータ、及び前記レジストデータを読み込むデータ読込手段と、前記導体パターンデータに基づいて前記導体パターンの輪郭を抽出する輪郭抽出手段と、前記レジストデータに基づいてレジスト開口部の内部に含まれる点であるレジスト開口点を、各々の前記レジスト開口部に対して設定するレジスト開口点設定手段と、前記レジスト開口点から放射する仮想の放射状線を、前記レジスト開口点ごとに設定する放射状線設定手段と、前記レジスト開口点から前記導体パターンの輪郭までの前記放射状線の各々長さを算出し、この長さに基づいて前記放射状線の中から逆向きの対向関係にある一対の対向線を、前記レジスト開口点ごとに選択する対向線選択手段と、前記導体パターンの輪郭に沿う、注目している前記レジスト開口点の前記一対の対向線を繋ぐ経路の中に、他の前記レジスト開口点から生じた前記対向線の存在していない経路があるときに、前記注目しているレジスト開口点に対応する前記レジスト開口部内の導体パターンに、前記検査ポイントを設定する検査ポイント設定処理手段とを、備えることを特徴とする。
【００１０】
請求項２に記載された検査ポイント設定装置は、請求項１に記載のものであり、前記レジスト開口点設定手段が、前記レジスト開口部の中央部に前記レジスト開口点を設定することを特徴とする。
【００１１】
請求項３に記載された検査ポイント設定装置は、請求項１又は２に記載のものであり、前記対向線選択手段が、前記放射状線の中で、前記導体パターンの輪郭までの長さが最短の前記放射状線、及びこの最短の前記放射状線と対向関係になっている前記放射状線を、前記一対の対向線として選択することを特徴とする。
【００１２】
請求項４に記載された検査ポイント設定装置は、請求項１又は２に記載のものであり、前記対向線選択手段が、前記放射状線の中で、前記導体パターンの輪郭までの長さを足し合わせたときに最短で、かつ対向関係になっている前記放射状線の組を、前記一対の対向線として選択することを特徴とする。
【００１３】
請求項５に記載されたプログラムは、検査対象となる基板の導体パターンを示す導体パターンデータ、及びレジストを示すレジストデータに基づいて、前記導体パターンに対して検査ポイントを設定するためのプログラムであって、コンピュータを、前記導体パターンデータ、及び前記レジストデータを読み込むデータ読込手段と、前記導体パターンデータに基づいて前記導体パターンの輪郭を抽出する輪郭抽出手段と、前記レジストデータに基づいてレジスト開口部の内部に含まれる点であるレジスト開口点を、各々の前記レジスト開口部に対して設定するレジスト開口点設定手段と、前記レジスト開口点から放射する仮想の放射状線を、前記レジスト開口点ごとに設定する放射状線設定手段と、前記レジスト開口点から前記導体パターンの輪郭までの前記放射状線の各々長さを算出し、この長さに基づいて前記放射状線の中から逆向きの対向関係にある一対の対向線を、前記レジスト開口点ごとに選択する対向線選択手段と、前記導体パターンの輪郭に沿う、注目している前記レジスト開口点の前記一対の対向線を繋ぐ経路の中に、他の前記レジスト開口点から生じた前記対向線の存在していない経路があるときに、前記注目しているレジスト開口点に対応する前記レジスト開口部内の導体パターンに、前記検査ポイントを設定する検査ポイント設定処理手段として、動作させることを特徴とする。
【００１４】
請求項６に記載されたプログラムは、請求項５に記載のものであり、前記レジスト開口点設定手段が、前記レジスト開口部の中央部に前記レジスト開口点を設定することを特徴とする。
【００１５】
請求項７に記載されたプログラムは、請求項５又は６に記載のものであり、前記対向線選択手段が、前記放射状線の中で、前記導体パターンの輪郭までの長さが最短の前記放射状線、及びこの最短の前記放射状線と対向関係になっている前記放射状線を、前記一対の対向線として選択することを特徴とする。
【００１６】
請求項８に記載されたプログラムは、請求項５又は６に記載のものであり、前記対向線選択手段が、前記放射状線の中で、前記導体パターンの輪郭までの長さを足し合わせたときに最短で、かつ対向関係になっている前記放射状線の組を、前記一対の対向線として選択することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１７】
本発明の検査ポイント設定装置、及びプログラムによれば、導体パターンの広狭に関わらず、導体パターンの端部に位置するランド（パッドを含む）やスルーホールを識別することができ、断線検査に適した位置に検査ポイントを自動的に設定することができる。又、輪郭抽出部の抽出する導体パターンの輪郭を処理に用いると共に、レジスト開口点設定手段の設定するレジスト開口点を処理に用いるため、導体パターンデータ及びレジストデータのデータ形式や表現形式に関わらず、検査ポイントを設定することができる。
【００１８】
レジスト開口点設定手段が、レジスト開口部の中央部にレジスト開口点を設定する場合、検査ポイントをランドやスルーホールの中央部に設定することができる。
【００１９】
対向線選択手段が、導体パターンの輪郭までの長さが最短の放射状線及びこの最短の放射状線と対向関係になっている放射状線を一対の対向線として選択する場合、又は、導体パターンの輪郭までの長さを足し合わせたときに最短でかつ対向関係になっている放射状線の組を一対の対向線として選択する場合、導体パターンの端部を精度よく検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本発明を適用する検査ポイント設定装置のブロック図である。
【図２】検査ポイントの設定対象となる導体パターン及びレジストを示す基板の一部拡大図である。
【図３】本発明を適用する検査ポイント設定装置及びプログラムの動作を示すフローチャートである。
【図４】導体パターンデータによる導体パターンの表現例を示す模式図である。
【図５】輪郭抽出手段が抽出した導体パターンの輪郭を示す模式図である。
【図６】レジストパターンデータによるレジスト開口部の表現例を示す模式図である。
【図７】レジスト開口点設定手段が設定したレジスト開口点を示す模式図である。
【図８】導体パターンの輪郭及びレジスト開口点を位置合わせ（関連付け）した状態を示す模式図である。
【図９】放射状線設定手段の設定した放射状線を示す模式図である。
【図１０】対向線選択手段の選択した一対の対応線の設定例を示す模式図である。
【図１１】検査ポイント設定処理手段の探索する一対の対向線を繋ぐ経路を示す模式図である。
【図１２】検査ポイント設定処理手段の設定した検査ポイントを示す模式図である。
【図１３】検査ポイント設定処理手段の探索する他の一対の対向線を繋ぐ経路を示す模式図である。
【図１４】他の導体パターンに対する検査ポイント設定処理の処理途中の状態を順に示す模式図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下、本発明を実施するための形態を詳細に説明するが、本発明の範囲はこれらの例に限定されるものではない。
【００２２】
図１に、本発明を適用する検査ポイント設定装置１の構成を示す。この検査ポイント設定装置１は、一例として、ハードウエアが汎用的なコンピュータにより構成され、このコンピュータを本発明に係るプログラムで動作させることで実現されている。検査ポイント設定装置１のハードウエア（つまりコンピュータ）は、ＣＰＵ２、データ読込手段３、記憶手段４、表示手段５、及び操作手段６を備えている。
【００２３】
ＣＰＵ２は、プログラムに従って演算処理や各部の制御を行い、コンピュータ全体を統括的に制御するものである。ＣＰＵ２は、プログラムに従って動作して、本発明における輪郭抽出手段１１、レジスト開口点設定手段１２、放射状線設定手段１３、対向線選択手段１４、及び検査ポイント設定処理手段１５として動作する。
【００２４】
データ読込手段３は、ＣＰＵ２に制御されて、基板データを外部から読み込むためのものである。データ読込手段３は、外部Ｉ／Ｆ（インタフェース）部２１、及び外部記録装置２２によって構成されている。外部Ｉ／Ｆ部２１は、外部機器接続用のインタフェースである。外部Ｉ／Ｆ部２１は、例えば、無線や有線によるＬＡＮ（ローカル・エリア・ネットワーク）、モデム、ＵＳＢ（ユニバーサル・シリアル・バス）、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）などである。外部記録装置２２は、ＵＳＢメモリやＳＤ（エスディー）メモリカードなどの携帯可能な半導体メモリや、ＣＤ（コンパクトディスク）−Ｒ（レコーダブル）／ＲＷ（リライタブル）、ＤＶＤといった光学ディスクメモリなどの外部記録媒体にデータを記録したり、外部記録媒体からデータを読み込んだりするための外部記憶媒体の書込／読込装置である。データ読込手段３として、外部Ｉ／Ｆ部２１及び外部記録装置２２のいずれか一方だけが備えられていてもよい。
【００２５】
記憶手段４は、書き換え可能な不揮発性メモリであり、一例として、フラッシュメモリなどの半導体メモリやハードディスクである。この例では、記憶手段４が、動作用のプログラムを記憶するプログラム記憶用メモリと、基板データ、輪郭データ、レジスト開口点データ、放射状線データ、対向線データ、及び検査ポイントデータなどのデータを記憶するデータ記憶用メモリとを兼ねている。
【００２６】
表示手段５は、画像を表示可能な表示画面を有する例えば液晶パネル、ＣＲＴ（陰極線管）である。操作手段６は、オペレータの操作を検査ポイント設定装置１に入力するためのものであり、例えばキーボードやマウスである。表示手段５及び操作手段６がタッチパネルで構成されていてもよい。
【００２７】
次に、検査ポイント設定装置１の動作について説明する。
【００２８】
ここでは、図２に一部拡大図で示す基板５０の導体パターン６０に対し、断線検査用の検査ポイントの設定を行う例を説明する。基板５０に形成された導体パターン６０は、表面実装部品を半田付けするためのランド（パッド）６１、リード部品を半田付けするためのランド６２、別のリード部品を半田付けするためのランド６３を有している。この例は、帯状に形成された導体パターン６０の幅がランド６１、６２、６３の形状よりも幅広に形成されている例である。ランド６２、６３の中央には、リード部品のリードを差し込むためのスルーホール６２ａ、６３ａが形成されている。導体パターン６０上には、同図にハッチングで示すレジスト７０が形成されている。レジスト７０には、導体パターン６０のランド６１、６２、６３を基板５０の表面に表出させるために、ランド６１、６２、６３と同形に開口するレジスト開口部７１、７２、７３が形成されている。つまり、レジスト開口部７１、７２、７３が導体パターン６０上に形成されていることで、導体パターン６０にランド６１、６２、６３が形成されている。
【００２９】
ＣＰＵ２は、データ読込手段３によりプログラムを外部から読み込んで、予め記憶手段４に記憶させておく。ＣＰＵ２は、オペレータの操作により、又は起動と共に自動的に、記憶手段４に記憶されている本発明に係るプログラムを読み込んで、プログラムに従って動作を開始する。
【００３０】
図３に、本発明のプログラムによる検査ポイント設定装置１の動作（検査ポイント設定処理）をフローチャートで示す。
【００３１】
ステップＳ１で、ＣＰＵ２は、データ読込手段３により、外部から基板データを読み込む。基板データは、基板設計用ＣＡＤ装置から、基板の製造用データとして、例えばガーバーデータ形式で出力されるものである。読み込むデータは、オペレータによる操作手段６の操作で選択可能であってもよいし、例えばファイル名や拡張子名でＣＰＵ２が基板データであることを判別し、自動的に読み込むようにしてもよい。
【００３２】
基板データは、基板を製造するために必要な、導体パターンの配置（形状及び位置）を示す導体パターンデータ、レジスト（レジスト開口部）の配置を示すレジストデータ、ビア（スルーホール含む）の配置を示すビアデータ、基板の形状寸法を示す形状データ、シンボルマーク（シルク）の配置を示すシンボルマークデータなどを含んでいる。基板データは、ネット情報を示すネット情報データなど、他のデータを含んでいてもよい。多層基板の場合であれば、基板データは、各層の導体パターンデータを含んでいることが好ましい。本発明では、基板データが少なくとも導体パターンデータ、及びレジストデータを含んでいることが必要である。基板データとして、導体パターンデータと、レジストデータとが別々のファイルで作成されていて、別々のファイルを個々に読み込むようにしてもよい。ＣＰＵ２は、読み込んだ基板データを記憶手段４に記憶させる。
【００３３】
続いて、ステップＳ２に進み、ＣＰＵ２は、輪郭抽出手段１１として動作して、記憶手段４に記憶させた導体パターンデータに基づいて、導体パターンの輪郭を抽出し輪郭化する。輪郭抽出手段１１は、導体パターンの輪郭データを記憶手段４に記憶させる。
【００３４】
図４に、ステップＳ１で読み込んだ導体パターン６０を示す導体パターンデータの幾つかの表現例を示す。図４（ａ）は、導体パターン６０の領域（ベタ領域）を多数の細いライン状パターン１００で塗り潰すように配置して表現すると共に、ランド６１、６２、６３を予め決められた丸型、四角型などの形状のフラッシュ１０１、１０２、１０３で表現した例である。ライン状パターン１００とフラッシュ１０１、１０２、１０３とが１つのファイル（データ）内に記録されている場合もあるし、別々のファイルで作成されていて両ファイルのデータを重ね合わせることでランド６１、６２、６３を含む導体パターン６０が表現される場合もある。図４（ｂ）は、導体パターン６０の輪郭（外縁）をポリゴン１１０で表現すると共に、ランド６１、６２、６３の部位をそれぞれ多数の細いライン状パターン１１１、１１２、１１３で塗り潰すように表現した例である。ポリゴン１１０とライン状パターン１１１、１１２、１１３とが１つのファイル（データ）内に記録されている場合もあるし、別々のファイルで作成されている場合もある。導体パターン６０を示す導体パターンデータの表現例はこれらの例に限られず、その表現形式は限定されない。
【００３５】
図５に、ステップＳ２で輪郭化した導体パターン６０の輪郭６０ａを示す。輪郭６０ａの抽出は、例えば図４（ａ）の場合、ライン状パターン１００とフラッシュ１０１、１０２、１０３との論理和を算出後その外縁を抽出する。輪郭６０ａの抽出は、公知の種々の方法で抽出することができる。
【００３６】
輪郭６０ａは、辺Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３、Ｌ４がこの順に反時計回りに繋がって構成されている。輪郭６０ａのように、閉じた閉図形内の内側が導体（導体パターン６０）で塗り潰されるような場合、図５の辺Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３、Ｌ４に矢印を付して示すように、輪郭６０ａを構成する各辺Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３、Ｌ４の始点終点の関係が反時計回り（又は時計回り）になるように、方向付け（ベクトル化）しておくことが、後の処理が容易になるため好ましい。又、図示しないが、例えば導体パターンの中に導体を形成しない部分（抜き窓）を設けるように、閉じた閉図形内の内側が導体で塗り潰されない場合、抜き窓部分を構成する辺の始点終点の関係が時計回り（又は反時計回り）になるように辺を方向付けしておくことが好ましい。各辺は直線であってもよく、曲線であってもよい。
【００３７】
続いて、ステップＳ３（図３参照）に進み、ＣＰＵ２は、レジスト開口点設定手段１２として動作して、レジストデータに基づいてレジスト開口部の内部に含まれる点であるレジスト開口点を、導体パターン６０上の各々のレジスト開口部に対して設定する。レジスト開口点は、レジスト開口部内の何れの位置に設定してもよいが、レジスト開口部の中央部、特に中心点に設定することが好ましい。なお、レジスト開口点設定手段１２は、レジスト開口部が導体パターン６０上に位置するかしないかを判断することなく、基板５０上の全てのレジスト開口部に対して設定してもよい。レジスト開口点設定手段１２は、レジスト開口部データを記憶手段４に記憶させる。ステップＳ２とステップＳ３とを行う順番は、逆にしてもよい。
【００３８】
図６に、ステップＳ１で読み込んだレジスト７０を示すレジストデータの幾つかの表現例を示す。図６（ａ）は、レジスト７０のレジスト開口部７１、７２、７３をそれぞれフラッシュ２０１、２０２、２０３で表現した例である。図４（ｂ）は、レジスト開口部７１、７２、７３の部位をそれぞれ多数の細いライン状パターン２１１、２１２、２１３で塗り潰すように表現した例である。図６(ａ)、図６（ｂ）はいずれもレジスト７０を反転表現（ネガ表示）した例である。レジスト開口部７１、７２、７３以外のレジスト７０がライン状パターンで塗り潰されて表現（ポジ表示）されている場合もある。レジストデータの表現例はこれらの例に限られず、その表現形式は限定されない。
【００３９】
図７に、ステップＳ３で設定したレジスト開口点Ａ、Ｂ、Ｃを示す。レジスト開口点設定手段１２は、例えば図６に示したレジスト開口部７１、７２、７３の輪郭７１ａ、７２ａ、７３ａを抽出し輪郭化する。続いて、レジスト開口点設定手段１２は、輪郭７１ａ、７２ａ、７３ａの中心点（重心）を算出し、算出したそれぞれの中心点をレジスト開口点Ａ、Ｂ、Ｃとする。
【００４０】
続いて、ステップＳ４（図３参照）に進み、ＣＰＵ２は、放射状線設定手段１３として動作して、図８に示すように、輪郭６０ａと、レジスト開口点Ａ、Ｂ、Ｃとを位置合わせするように関連付ける。
【００４１】
続いて、ステップＳ５（図３参照）に進み、放射状線設定手段１３は、図９に示すように、レジスト開口点Ａ、Ｂ、Ｃから放射する仮想の放射状線を、レジスト開口点Ａ、Ｂ、Ｃごとに設定する。放射状線は、輪郭６０ａまで少なくとも達する長さで設定する。放射状線は、等角度の間隔で放射するように設定する。放射状線は偶数本（偶数方向）で設定し、少なくとも４本（４方向）以上で設定することが好ましく、ここでは８本（８方向）に設定した例を示している。放射状線の数は限定されないが、計算量を考慮して８本程度であることが好ましい。又、角度が９０度の関係にある放射状線が含まれるように、放射状線の数を４の倍数で設定することが好ましい。同図に示すように、レジスト開口点Ａに対し放射状線Ａ１〜Ａ８を設定し、レジスト開口点Ｂに対し放射状線Ｂ１〜Ｂ８を設定し、レジスト開口点Ｃに対し放射状線Ｃ１〜Ｃ８を設定する。
【００４２】
次に、ステップＳ６（図３参照）に進み、ＣＰＵ２は、対向線選択手段１４として動作する。対向線選択手段１４は、レジスト開口点Ａから輪郭６０ａまでの放射状線Ａ１〜Ａ８の各々長さを算出し、この長さに基づいて、放射状線Ａ１〜Ａ８の中から逆向きの対向（対角）関係にある一対の対向線Ａ３、Ａ７（図１０参照）を選択する。同様にして、対向線選択手段１４は、レジスト開口点Ｂについても放射状線Ｂ１〜Ｂ８の中から一対の対向線Ｂ３、Ｂ７（図１０参照）を選択し、レジスト開口点Ｃについても放射状線Ｃ１〜Ｃ８の中から一対の対向線Ｃ３、Ｃ７（図１０参照）を選択する。
【００４３】
対向線選択手段１４は、放射状線Ａ１〜Ａ８の中で、輪郭６０ａまで最短の長さの放射状線Ａ３、及びこの最短の長さの放射状線Ａ３と対向関係になっている放射状線Ａ７を、一対の対向線Ａ３、Ａ７として選択する。最短の長さの放射状線が複数あるときは、その中の何れの放射状線を最短の長さの放射状線として選択してもよい。同様にして、対向線選択手段１４は、一対の対向線Ｂ３、Ｂ７、及び一対の対向線Ｃ３、Ｃ７を選択する。
【００４４】
なお、対向線選択手段１４は、ステップＳ６において、放射状線Ａ１〜Ａ８の中で、輪郭６０ａまでの長さを足し合わせたときに最短で、かつ対向関係になっている放射状線Ａ３、Ａ７の組を、一対の対向線Ａ３、Ａ７として選択するようにしてもよい。足し合わせた長さが最短になる対向関係の組が複数あるときは、いずれの組を一対の対向線として選択してもよい。一対の対向線Ｂ３、Ｂ７、及び一対の対向線Ｃ３、Ｃ７を同様に選択してもよい。このように、足し合わせた長さが最短となる一対の対向線Ａ３、Ａ７を選択することで、レジスト開口点Ａが輪郭６０ａの端部の近くに位置していて放射状線Ａ５の長さが最短であるときに、一対の対向線として放射状線Ａ５、Ａ１が選択されてしまうことを防止することができる。
【００４５】
続いて、ステップＳ７（図３参照）に進み、ＣＰＵ２は、検査ポイント設定処理手段１５として動作して、複数存在しているレジスト開口点Ａ、Ｂ、Ｃの中から注目するレジスト開口点を１つ選択する。一例として、検査ポイント設定処理手段１５は、レジスト開口点Ａを選択する。レジスト開口点Ａ、Ｂ、Ｃの中から選択する順番は、どのように設定してもよい。
【００４６】
続いて、ステップＳ８（図３参照）に進み、検査ポイント設定処理手段１５は、輪郭６０ａに沿う、注目しているレジスト開口点Ａの一対の対向線Ａ３、Ａ７を繋ぐ経路の中に、他のレジスト開口点Ｂ、Ｃから生じた対向線Ｂ３、Ｂ７、及び対向線Ｃ３、Ｃ７のいずれも存在していない経路があるか判別する。輪郭６０ａに沿う一対の対向線Ａ３、Ａ７を繋ぐ経路とは、輪郭６０ａと対向線Ａ３との交点と、輪郭６０ａと対向線Ａ７との交点とを繋ぐ、輪郭６０ａに沿った経路である。
【００４７】
輪郭６０ａに沿う経路の中で、対向線Ａ３、Ａ７を繋ぐ経路として考えられるものは、対向線Ａ３から時計回りに対向線Ａ７に至る経路、対向線Ａ３から反時計回りに対向線Ａ７に至る経路、対向線Ａ７から時計回りに対向線Ａ３に至る経路、及び、対向線Ａ７から反時計回りに対向線Ａ３に至る経路の４通りの経路がある。このうち対向線Ａ３から時計回りに対向線Ａ７に至る経路と、対向線Ａ７から反時計回りに対向線Ａ３に至る経路とは、方向が逆方向という違いはあるが重複している。又、対向線Ａ３から反時計回りに対向線Ａ７に至る経路と、対向線Ａ７から時計回りに対向線Ａ３に至る経路は、方向が逆方向という違いはあるが重複している。したがって、検査ポイント設定処理手段１５は、上記の４通りの経路の中から重複していない２つの経路について判別を行えばよい。ここでは、検査ポイント設定処理手段１５は、輪郭６０ａを構成する辺Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３、Ｌ４に、ステップＳ２で予め方向付けた反時計回りの方向に進む経路で、判別を行う。
【００４８】
図１１に、対向線Ａ３、Ａ７を繋ぐ輪郭６０ａに沿った経路の例を図示する。検査ポイント設定処理手段１５が判別を行うのは、ステップＳ２で方向付けた、対向線Ａ３から反時計回りに対向線Ａ７に至る経路ＲＡＬ、及び、対向線Ａ７から反時計回りに対向線Ａ３に至る経路ＲＡＲの２つの経路である。検査ポイント設定処理手段１５は、経路ＲＡＬ内に対向線Ｂ３、Ｂ７、Ｃ３、Ｃ７が存在していないと判別する。又、検査ポイント設定処理手段１５は、経路ＲＡＲ内に対向線Ｂ３、Ｂ７、Ｃ３、Ｃ７が存在していると判別する。
【００４９】
検査ポイント設定処理手段１５は、２つの経路ＲＡＬ、ＲＡＲの中で、他のレジスト開口点Ｂ、Ｃの対向線Ｂ３、Ｂ７、Ｃ３、Ｃ７が存在していない経路（この場合、経路ＲＡＬ）を１つでも見つけたら、他の経路（この場合、経路ＲＡＲ）について対向線Ｂ３、Ｂ７、Ｃ３、Ｃ７の存在を判別せずに次のステップＳ９に進んでもよい。又、検査ポイント設定処理手段１５は、経路ＲＡＲに沿って探索するときに、他のレジスト開口点Ｂ、Ｃの対向線Ｂ３、Ｂ７、Ｃ３、Ｃ７の内の１つ（この場合、対向線Ｂ７）でも存在していることを判別したら、その経路内の残りについては探索しなくてもよい。このようにすることで、検査ポイント設定処理手段１５の行う処理を少なくすることができる。
【００５０】
同図から明らかなように、他の対向線Ｂ３、Ｂ７、Ｃ３、Ｃ７の存在していない経路ＲＡＬが輪郭６０ａ（導体パターン６０）の端部を含んでいて、レジスト開口点Ａが輪郭６０ａの端部に存在している。従って、上記のように判別を行うことで、導体パターン６０の端部に位置するレジスト開口部７１（図２参照）を抽出することができる。検査ポイント設定処理手段１５は、対向線Ｂ３、Ｂ７、Ｃ３、Ｃ７の存在していない辺Ｌ３を、輪郭６０ａ（導体パターン６０）の端部の辺であると判別することもできる。
【００５１】
検査ポイント設定処理手段１５は、ステップＳ８（図３参照）で、他の対向線Ｂ３、Ｂ７、Ｃ３、Ｃ７が存在していない経路ＲＡＬがあると判別したため、ステップＳ９に進む。
【００５２】
図１２に示すように、ステップＳ９（図３参照）で、検査ポイント設定処理手段１５は、注目しているレジスト開口点Ａに対応するレジスト開口部７１内のランド６１（導体パターン６０）に、検査ポイントＰＡを設定する。検査ポイント設定処理手段１５は、ランド６１の中心点であるレジスト開口点Ａの位置に検査ポイントＰＡを設定してもよいし、ランド６１内の任意の位置に設定してもよい。検査ポイント設定処理手段１５は、設定した検査ポイントＰＡを示す検査ポイントデータを、例えば基板５０に対するＸＹ座標に対応付けて、記憶手段４に記憶させる。
【００５３】
続いて、ステップＳ１０（図３参照）に進み、検査ポイント設定処理手段１５は、輪郭６０ａに対応する全てのレジスト開口点Ａ、Ｂ、Ｃについての処理（ステップＳ７〜Ｓ８）が終了しているか判別し、終了していなければステップＳ７に戻り、終了していれば検査ポイント設定処理を終了する。この例では、まだレジスト開口点Ａについての処理が行われただけであるので、ステップＳ７に戻る。
【００５４】
ステップＳ７（図３参照）で、検査ポイント設定処理手段１５は、まだ選択されていないレジスト開口点Ｂ、Ｃの中から、一例として、注目するレジスト開口点Ｂを選択する。続いて、ステップＳ８に進み、検査ポイント設定処理手段１５は、輪郭６０ａに沿う、注目しているレジスト開口点Ｂの一対の対向線Ｂ３、Ｂ７を繋ぐ経路の中に、他のレジスト開口点Ａ、Ｃから生じた対向線Ａ３、Ａ７、及び対向線Ｃ３、Ｃ７のいずれも存在していない経路があるか判別する。
【００５５】
図１３に、対向線Ｂ３、Ｂ７を繋ぐ輪郭６０ａに沿った経路の例を図示する。検査ポイント設定処理手段１５は、一対の対向線Ｂ３、Ｂ７を繋ぐ経路ＲＢＬ、ＲＢＲ内に対向線Ａ３、Ａ７、Ｃ３、Ｃ７の存在していない経路があるか判別する。この例では、経路ＲＢＬ内に対向線Ａ３、Ａ７が存在し、経路ＲＢＲ内にも対向線Ｃ３、Ｃ７が存在している。そのため、検査ポイント設定処理手段１５は、ステップＳ８からステップＳ１０に進み、検査ポイントの設定を行わない。
【００５６】
同図から明らかなように、経路ＲＢＬ及び経路ＲＢＲ内に対向線Ａ３、Ａ７、Ｃ３、Ｃ７が存在するレジスト開口点Ｂは、輪郭６０ａ（導体パターン６０）の端部に位置していない。
【００５７】
ステップＳ１０（図３参照）では、レジスト開口点Ｃに対する処理が終了していないため、ステップＳ７に戻る。レジスト開口点Ｃについては詳述しないが、検査ポイント設定処理手段１５がレジスト開口点Ａとほぼ同様のステップＳ７〜Ｓ９の処理を行ない、レジスト開口点Ｃに検査ポイントＰＣ（図１２参照）を設定する。レジスト開口点Ｃは、スルーホール６３ａを有するランド６３（図２参照）の中心点に設定されたものであるので、検査ポイントＰＣは、スルーホール６３ａの中心点に設定される。
【００５８】
以上で、検査ポイント設定処理が終了する。基板に複数の導体パターンが形成されている場合、各々の導体パターンに対して上記の検査ポイント設定処理を行えばよい。複数の導体パターンが形成されている場合、ステップＳ２〜Ｓ６を、全ての導体パターンに対して実行しておき、ステップＳ７〜Ｓ１０を、導体パターンごとに実行するようにしてもよいし、導体パターンごとにステップＳ２〜Ｓ６を実行してもよい。
【００５９】
次に、図１４（ａ）に示す別の導体パターン６５が基板５０に形成されている場合の検査ポイント設定処理について説明する。導体パターン６５は、ランド６６、６７、６８を、細いライン状パターン６９で繋いだ形状に形成されている。導体パターン６５上には、レジスト７０が形成され、ランド６６、６７、６８の位置には、レジスト開口部７６、７７、７８が形成されている。レジスト開口部７６、７７、７８の径は、ランド６６、６７、６８の径よりも通常大きく形成されている。
【００６０】
図１４（ｂ）は、導体パターンデータに基づいて抽出（ステップＳ２）した導体パターン６５の輪郭６５ａと、レジストデータに基づいて設定（ステップＳ３）したレジスト開口部７６、７７、７８の内部に含まれる点であるレジスト開口点Ｄ、Ｅ、Ｆとを、位置合わせするように関連付けて（ステップＳ４）示した図である。輪郭６５ａは、同図に矢印で示すように、反時計回り（又は時計回り）で方向付けしておくことが好ましい。レジスト開口部７６、７７、７８の径はランド６６、６７、６８の径よりも大きいため、レジスト開口点Ｄ、Ｅ、Ｆをランド６６、６７、６８内（輪郭６５ａ内）に設定することが必要である。レジスト開口点Ｄ、Ｅ、Ｆをレジスト開口部７６、７７、７８の中央部（例えば中心点）に設定すると、レジスト開口点Ｄ、Ｅ、Ｆが輪郭６５ａ内に確実に設定されるため、好ましい。
【００６１】
図１４（ｃ）は、レジスト開口点Ｄに放射状線Ｄ１〜Ｄ８を設定し、レジスト開口点Ｅに放射状線Ｅ１〜Ｅ８を設定し、レジスト開口点Ｆに放射状線Ｆ１〜Ｆ８を設定した例である（ステップＳ５）。
【００６２】
図１４（ｄ）は、レジスト開口点Ｄに対して一対の対向線Ｄ２、Ｄ６を設定し、レジスト開口点Ｅに対して一対の対向線Ｅ２、Ｅ６を設定し、レジスト開口点Ｆに対して一対の対向線Ｆ４、Ｆ８を設定した例である（ステップＳ６）。一対の対向線に成り得る放射状線の組が複数存在しているときは、何れの組を選択してもよい。例えば、レジスト開口点Ｄは円形のランド６６の中心に位置しているため、放射状線Ｄ２、Ｄ６の組、放射状線Ｄ３、Ｄ７の組、放射状線Ｄ４、Ｄ８の組が一対の対向線に成り得るが、この中のいずれの組を一対の対向線として設定してもよい。
【００６３】
図１４（ｅ）には、レジスト開口点Ｄに注目したとき（ステップＳ７）、一対の対向線Ｄ２、Ｄ６を繋ぐ輪郭６５ａに沿った経路の中で、他のレジスト開口点Ｅ、Ｆの対向線Ｅ２、Ｅ６、Ｆ４、Ｆ８の存在しない経路ＲＤＬ（ステップＳ８）を示している。又、同図には、レジスト開口点Ｆに注目したときに、一対の対向線Ｆ４、Ｆ８を繋ぐ輪郭６５ａに沿った経路の中で、他のレジスト開口点Ｄ、Ｅの対向線Ｄ２、Ｄ６、Ｅ２、Ｅ６の存在しない経路ＲＦＲを示している。経路ＲＤＬ、ＲＦＲが存在するため、レジスト開口点Ｄ、Ｆにそれぞれ検査ポイントＰＤ、ＰＦを設定する（ステップＳ９）。
【００６４】
図１４（ｆ）には、レジスト開口点Ｅに注目したとき（ステップＳ７）、一対の対向線Ｅ２、Ｅ６を繋ぐ輪郭６５ａに沿った２通りの経路ＲＥＬ、ＲＥＲを示している。経路ＲＥＬには、他のレジスト開口点Ｄの対向線Ｄ２、Ｄ６が存在し、経路ＲＥＲには、他のレジスト開口点Ｆの対向線Ｆ４、Ｆ８が存在するため（ステップＳ８）、検査ポイントを設定しない。
【００６５】
このように、本発明の検査ポイント設定装置１及びプログラムによれば、細いライン状パターン６９で繋がれた導体パターン６５に対しても、端部のランド６６、６８（スルーホール６６ａ、６８ａ）に検査ポイントを自動的に設定することができる。
【００６６】
なお、汎用的なコンピュータを本発明に係るプログラムで動作させることで、検査ポイント設定装置１とした例について説明したが、汎用的なコンピュータを用いずに、専用のハードウエアで検査ポイント設定装置１を構成してもよい。ＣＰＵ２は、図２、図４〜図１４に示すような画像を表示手段５に表示させることが好ましい。つまり、導体パターン、導体パターンの輪郭、レジスト、レジスト開口点、放射状線、一対の対向線、輪郭線に沿った経路、他のレジスト開口点の対向線の存在しない経路及び存在する経路、検査ポイントを表示手段５に表示させることが好ましい。表示させる画像は、操作手段６の操作によって、任意に切り替え可能であることが好ましい。又、基板上の表示位置、表示倍率を、操作手段６の操作で変更可能であることが好ましい。又、検査ポイント設定処理を、基板に含まれる複数の全ての導体パターンに対して実行してもよいし、注目する１つ、又は例えば領域で選択された複数の導体パターンに対して実行してもよい。又、操作手段６を手動により操作して、設定された検査ポイントを消去したり、任意の位置に検査ポイントの追加をしたりできることが好ましい。
【００６７】
又、対向線選択手段１４が、導体パターンの輪郭までの長さが最短の放射状線及びこの最短の放射状線と対向関係になっている放射状線を一対の対向線として選択する例や、導体パターンの輪郭までの長さを足し合わせたときに最短でかつ対向関係になっている放射状線の組を一対の対向線として選択する例について説明したが、導体パターンの輪郭までの長さが２番目に短い放射線及びこの２番目に短い放射状線と対向関係になっている放射状線を一対の対向線として選択するようにしてもよい。対向線選択手段が、一対の対向線を選択する方法は適宜変更してもよい。又、放射状線設定手段が、放射状線の数を偶数で設定した例について説明したが、奇数で設定してもよい。奇数で設定した場合、逆向きの対向関係にある一対の放射状線として、逆向きの対向関係に最も近い放射状線を選択するようにすればよい。
【符号の説明】
【００６８】
１は検査ポイント設定装置、２はＣＰＵ、３はデータ読込手段、４は記憶手段、５は表示手段、６は操作手段、１１は輪郭抽出手段、１２はレジスト開口点設定手段、１３は放射状線設定手段、１４は対向線選択手段、１５は検査ポイント設定処理手段、２１は外部Ｉ／Ｆ部、２２は外部記録装置、５０は基板、６０は導体パターン、６０ａは輪郭、６１・６２・６３はランド、６２ａ・６３ａはスルーホール、６５は導体パターン、６５ａは輪郭、６６・６７・６８はランド、６９はライン状パターン、７０はレジスト、７１・７２・７３はレジスト開口部、７１ａ・７２ａ・７３ａは輪郭、７６・７７・７８はレジスト開口部、１００はライン状パターン、１０１・１０２・１０３はフラッシュ、１１０はポリゴン、１１１・１１２・１１３はライン状パターン、２０１・２０２・２０３はフラッシュ、２１１・２１２・２１３はライン状パターン、Ａ・Ｂ・Ｃ・Ｄ・Ｅ・Ｆはレジスト開口点、Ａ１〜Ａ８・Ｂ１〜Ｂ８・Ｃ１〜Ｃ８・Ｄ１〜Ｄ８・Ｅ１〜Ｅ８・Ｆ１〜Ｆ８は放射状線、Ａ３・Ａ７・Ｂ３・Ｂ７・Ｃ３・Ｃ７・Ｄ２・Ｄ６・Ｅ２・Ｅ６・Ｆ４・Ｆ８は対向線（放射状線）、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３、Ｌ４は辺、ＰＡ・ＰＤ・ＰＦは検査ポイント、ＲＡＬ・ＲＡＲ・ＲＢＬ・ＲＢＲ・ＲＤＬ・ＲＦＲ・ＲＥＬ・ＲＥＲは経路である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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