(57)【要約】【課題】  波長掃引型の光源から出力される光の波長掃引特性が経年変化等によって変化しても、眼科装置の測定感度あるいは撮像画像の画質を維持する。【解決手段】  眼科装置は、波長掃引型の光源装置からの光路長が予め定められた設定長となり、かつ、光源装置からの光を反射する反射面を有する較正部材を備えている。光源装置は、周期的に駆動される波長掃引素子を介して光源からの光を出力することで、出力される光の波を周期的に掃引する。制御装置は、波長掃引素子の駆動周期に応じて、駆動周期のうち特定の取得期間に受光素子から出力される較正用干渉信号を取得して基準点像分布関数信号を取得する。基準点像分布関数信号のピーク形状が予め設定された形状範囲から外れるときは、基準点像分布関数信号のピーク形状が予め設定された形状範囲内となるように、波長掃引素子の駆動周期に対して取得期間を開始するタイミングを調整する。【選択図】  図７
2015226608.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検眼からの反射光から得られる干渉光を利用して被検眼の検査を行う眼科装置であり、
波長掃引型の光源装置と、
光源装置からの光を案内して参照光とする参照光学系と、
光源装置からの光路長が予め定められた設定長となり、かつ、光源装置からの光を反射する反射面を有する較正部材と、
較正部材の反射面で反射された反射光と参照光学系により案内された参照光とが合成された較正用干渉光を受光する受光素子と、
制御装置と、を備えており、
光源装置は、光源と、可動部と、可動部を周期的に駆動する駆動部と、を有しており、周期的に駆動される可動部を介して光源からの光が出力されることで、光源装置から出力される光の波長が周期的に掃引されるようになっており、
受光素子は、較正用干渉光を受光すると較正用干渉信号を出力し、
制御装置は、
可動部の駆動周期に応じて、当該駆動周期のうち特定の取得期間に受光素子から出力される較正用干渉信号を取得することで基準点像分布関数信号を取得し、
その基準点像分布関数信号のピーク形状が予め設定された形状範囲から外れるときに、基準点像分布関数信号のピーク形状が予め設定された形状範囲内となるように、可動部の駆動周期に対して前記取得期間を開始するタイミングを調整する、眼科装置。
【請求項２】
駆動部は、周期的に出力されるトリガ信号に応じて可動部を駆動し、
制御装置は、
トリガ信号が出力されてから設定時間だけ経過したときに前記取得期間を開始して基準点像分布関数信号を取得し、
基準点像分布関数信号のピーク形状が予め設定された形状範囲から外れるときは、トリガ信号が出力されてから前記取得期間を開始するまでの設定時間を調整する、請求項１に記載の眼科装置。
【請求項３】
制御装置は、基準点像分布関数信号のピーク形状の高さが予め設定された設定高さより低くなるときに、基準点像分布関数信号のピーク形状の高さが予め設定された設定高さより高くなるように、可動部の駆動周期に対して前記取得期間を開始するタイミングを調整する、請求項１又は２に記載の眼科装置。
【請求項４】
制御装置は、基準点像分布関数信号のピーク形状の幅が予め設定された設定幅より大きくなるときに、基準点像分布関数信号のピーク形状の幅が予め設定された設定幅より小さくなるように、可動部の駆動周期に対して前記取得期間を開始するタイミングを調整する、請求項１〜３のいずれか一項に記載の眼科装置。
【請求項５】
制御装置は、基準点像分布関数信号のピーク位置が予め設定されたピーク位置範囲から外れるときに、基準点像分布関数信号のピーク位置が予め設定されたピーク位置範囲となるように、駆動部を制御して光源装置の波長掃引幅を調整する、請求項１〜４のいずれか一項に記載の眼科装置。
【請求項６】
駆動部は、パルス状の駆動信号を出力して可動部を駆動し、
制御装置は、駆動部から出力される駆動信号のパルス幅を調整することで、光源装置の波長掃引幅を調整する、請求項５に記載の眼科装置。
【請求項７】
制御装置は、駆動部から出力される駆動信号の周期を調整することで、光源装置の波長掃引幅を調整する、請求項６に記載の眼科装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本明細書に開示する技術は、被検眼を検査する眼科装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
被検眼の内部（例えば、水晶体、網膜等）を検査するための眼科装置が開発されている。この種の眼科装置は、光源からの光を被検眼の内部に照射すると共にその反射光を導く測定光学系と、光源からの光を参照面に照射すると共にその反射光を導く参照光学系を備えている。そして、測定光学系により導かれた反射光と参照光学系により導かれた反射光とを合成した干渉光を利用して、被検眼の内部の検査が行われる。特許文献１には、この種の眼科装置の従来例が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００７−３７９８４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
光干渉を利用して被検眼の内部を検査する方式としては、タイムドメイン方式とフーリエドメイン方式がある。タイムドメイン方式と比較してフーリエドメイン方式では、高速でデータを取得することができるという利点を有する。フーリエドメイン方式には波長掃引型の光源が用いられることがあるが、波長掃引型の光源を用いると、経年変化等によって光源から出力される光の波長掃引特性が変化する。その結果、眼科装置の測定感度あるいは撮像画像の画質が低下するという問題が生じる。
【０００５】
本明細書は、波長掃引型の光源から出力される光の波長掃引特性が経年変化等によって変化しても、眼科装置の測定感度あるいは撮像画像の画質を維持することができる眼科装置を開示する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本明細書に開示する眼科装置は、被検眼からの反射光から得られる干渉光を利用して被検眼の検査を行う。この眼科装置は、波長掃引型の光源装置と、光源装置からの光を案内して参照光とする参照光学系と、光源装置からの光路長が予め定められた設定長となり、かつ、光源装置からの光を反射する反射面を有する較正部材と、較正部材の反射面で反射された反射光と参照光学系により案内された参照光とが合成された較正用干渉光を受光する受光素子と、制御装置と、を備えている。光源装置は、光源と、可動部と、可動部を周期的に駆動する駆動部と、を有しており、周期的に駆動される可動部を介して光源からの光が出力されることで、光源装置から出力される光の波長が周期的に掃引されるようになっている。受光素子は、較正用干渉光を受光すると較正用干渉信号を出力する。制御装置は、可動部の駆動周期に応じて、当該駆動周期のうち特定の取得期間に受光素子から出力される較正用干渉信号を取得することで基準点像分布関数信号を取得し、その基準点像分布関数信号のピーク形状が予め設定された形状範囲から外れるときに、基準点像分布関数信号のピーク形状が予め設定された形状範囲内となるように、可動部の駆動周期に対して前記取得期間を開始するタイミングを調整する。
【０００７】
この眼科装置では、波長掃引型の光源装置からの光を較正部材の反射面に照射し、その反射光と参照光とから較正用干渉光を合成する。そして、較正用干渉光から得られる較正用干渉信号を、光源装置の駆動周期内の定められた取得期間において取得することで、基準点像分布関数信号を取得する。ここで、光源装置の波長掃引特性が変化しなければ、基準点像分布関数信号のピーク形状は変化しない。すなわち、光源装置の波長掃引特性が変化することなく測定感度あるいは撮像画像の画質が高く維持されていると、ピーク形状は鋭くなり、ピーク形状の高さは高く、かつ、その幅も狭くなる。一方、光源装置の波長掃引特性が時間の経過に伴って変化して測定感度あるいは撮像画像の画質が低下すると、基準点像分布関数信号のピーク形状が変化する。すなわち、ピーク形状は鈍くなり、ピーク形状の高さは低く、かつ、その幅が広くなる。したがって、この眼科装置では、基準点像分布関数信号のピーク形状が予め設定された形状範囲内となるか否かで、光源装置の波長掃引特性の変化が許容範囲か否かを判定する。そして、基準点像分布関数信号のピーク形状が予め設定された形状範囲内となるように、可動部の駆動周期に対して信号取得期間を開始するタイミングを調整する。これによって、基準点像分布関数信号のピーク形状が予め設定された形状範囲内となり、測定感度あるいは撮像画像の画質を許容範囲内に維持することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本実施例に係る眼科装置の光学系の概略構成図である。
【図２】本実施例に係る眼科装置の制御系のブロック図である。
【図３】ゼロ点と参照ミラーと被検眼との位置関係を説明するための図である。
【図４】測定光学系の光路長を所定の光路長範囲で走査したときに得られる干渉信号波形を処理する手順を説明するための図である。
【図５】本実施例に係る眼科装置の処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図６】較正用干渉信号から得られる基準点像分布関数信号を模式的に示す図であり、（ａ）は初期状態における基準点像分布関数信号を示し、（ｂ）は光源装置が経年変化した後の基準点像分布関数信号を示す。
【図７】光源装置から出力される光の波長の変化と、光源装置のＭＥＭＳミラーを駆動する駆動電圧信号と、トリガ信号とを合わせて示す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
本明細書に開示する眼科装置では、駆動部は、周期的に出力されるトリガ信号に応じて可動部を駆動してもよい。制御装置は、トリガ信号が出力されてから設定時間だけ経過したときに前記取得期間を開始して基準点像分布関数信号を取得してもよい。この場合、制御装置は、基準点像分布関数信号のピーク形状が予め設定された形状範囲から外れるときは、トリガ信号が出力されてから前記取得期間を開始するまでの設定時間を調整してもよい。このような構成によると、トリガ信号を利用して可動部を駆動すると共に、取得期間の開始タイミングを調整するため、簡易な方法で適切に基準点像分布関数信号のピーク形状を調整することができる。
【００１０】
本明細書に開示する眼科装置では、制御装置は、基準点像分布関数信号のピーク形状の高さが予め設定された設定高さより低くなるときに、基準点像分布関数信号のピーク形状の高さが予め設定された設定高さより高くなるように、可動部の駆動周期に対して前記取得期間を開始するタイミングを調整してもよい。このような構成によると、基準点像分布関数信号のピーク形状の高さを基準とすることで、ピーク形状の変化を検出することができる。
【００１１】
本明細書に開示する眼科装置では、制御装置は、基準点像分布関数信号のピーク形状の幅が予め設定された設定幅より大きくなるときに、基準点像分布関数信号のピーク形状の幅が予め設定された設定幅より小さくなるように、可動部の駆動周期に対して前記取得期間を開始するタイミングを調整してもよい。このような構成によると、基準点像分布関数信号のピーク形状の幅を基準とすることで、ピーク形状の変化を検出することができる。
【００１２】
本明細書に開示する眼科装置では、制御装置は、基準点像分布関数信号のピーク位置が予め設定されたピーク位置範囲から外れるときに、基準点像分布関数信号のピーク位置が予め設定されたピーク位置範囲となるように、駆動部を制御して光源装置の波長掃引幅を調整してもよい。基準点像分布関数信号のピーク位置の変化は、光源装置から出力される光の波長掃引幅の変化により生じる。このため、光源装置の波長掃引幅を調整することで、眼科装置の測定感度あるいは撮像画像の画質を高めることができる。
【００１３】
本明細書に開示する眼科装置では、駆動部は、パルス状の駆動信号を出力して可動部を駆動してもよい。この場合に、制御装置は、駆動部から出力される駆動信号のパルス幅を調整することで、光源装置の波長掃引幅を調整してもよい。あるいは、制御装置は、駆動部から出力される駆動信号の周期を調整することで、光源装置の波長掃引幅を調整してもよい。このような構成によると、可動部を駆動するパルス状の駆動信号のパルス幅（高さ方向及び／又は横方向）や、駆動振動の出力周期を調整することで、光源装置の波長掃引幅を簡易に調整することができる。
【００１４】
なお、本明細書に開示する眼科装置では、光源からの光を被検眼の内部に照射すると共にその反射光を導く測定光学系をさらに備えてもよい。この場合、受光素子は、測定光学系により導かれた反射光と参照光学系により案内された参照光とが合成された測定用干渉光をさらに受光してもよい。そして、制御装置は、受光素子で受光された測定用干渉光をフーリエ解析することで、被検眼内部の測定対象部位の位置を特定してもよい。
【実施例１】
【００１５】
図１に示すように、本実施例の眼科装置は、被検眼１００を検査するための測定部１０を有している。測定部１０は、被検眼１００から反射される反射光と参照光とを干渉させる干渉光学系１４と、被検眼１００の前眼部を観察する観察光学系５０と、被検眼１００に対して測定部１０を所定の位置関係にアライメントするためのアライメント光学系（図示省略）を有している。アライメント光学系は、公知の眼科装置に用いられているものを用いることができるため、その詳細な説明は省略する。
【００１６】
干渉光学系１４は、光源装置１２と、光源装置１２からの光を被検眼１００の内部に照射すると共にその反射光を導く測定光学系（２４，７２，４８）と、光源装置１２からの光を参照面２２ａに照射すると共にその反射光を導く参照光学系（２４，２２）と、光源装置１２からの光を反射面（７４ａ，７４ｂ）に照射すると共にその反射光を導く較正光学系（２４，７２，７４）と、測定光学系により導かれた反射光と参照光学系により導かれた反射光とが合成された測定用干渉光と、較正光学系により導かれた反射光と参照光学系により導かれた反射光とが合成された較正用干渉光とを受光する受光素子２６によって構成されている。
【００１７】
光源装置１２は、波長掃引型の光源であり、出射される光の波長が所定の周期で変化するようになっている。すなわち、本実施例の眼科装置では、光源装置１２から出射される光を、その波長を変化（走査）させながら被検眼１００に照射する。そして、被検眼１００からの反射光と参照光との干渉光から得られる信号をフーリエ解析することで、被検眼１００の深さ方向の各部位から反射される光の強度分布を得る。被検眼１００の深さ方向の光強度分布が得られると、後述するように、被検眼１００の内部の各部位（すなわち、水晶体１０４や網膜１０６）の位置を特定することが可能となる。なお、光源装置１２から照射される光の波長掃引特性は、光源装置１２の経年変化によって変化する。このため、眼科装置の経年変化によって、干渉光から得られる信号をフーリエ解析した結果も変化することとなる。
【００１８】
光源装置１２は、例えば、レーザ光源（コーヒーレンス光源）と、波長掃引素子（ＭＥＭＳミラー）と、波長選択素子（回折格子）と、駆動回路によって構成されている。すなわち、レーザ光源からの光は、波長掃引素子（ＭＥＭＳミラー）を介して波長選択素子（回折格子）に導かれる。波長選択素子（回折格子）に導かれた光は、所定の波長の光のみが波長選択素子（回折格子）を通過して外部に出力される。駆動回路が波長掃引素子（ＭＥＭＳミラー）を周期的に駆動することで、波長選択素子（回折格子）を通過する光の波長が周期的に変化する。これによって、光源装置１２から出力される光の波長が周期的に変化する。具体的には、図７に示すように、駆動回路は、演算装置６４から周期的に出力されるトリガ信号に応じて、パルス状の駆動信号を波長掃引素子（ＭＥＭＳミラー）に出力する。これによって、波長掃引素子（ＭＥＭＳミラー）が駆動され、レーザ光源からの光が異なる入射角で波長選択素子（回折格子）に入射する。その結果、光源装置１２から出力される光の波長が周期的に変化する。なお、波長掃引素子としては、ＭＥＭＳミラー以外にも、ポリゴンミラーや可動ミラー等を用いることができる。
【００１９】
測定光学系は、ビームスプリッタ２４と、ビームスプリッタ７２と、ホットミラー４８によって構成されている。光源装置１２から出射された光は、ビームスプリッタ２４、ビームスプリッタ７２及びホットミラー４８を介して被検眼１００に照射される。被検眼１００からの反射光は、ホットミラー４８、ビームスプリッタ７２及びビームスプリッタ２４を介して受光素子２６に導かれる。
【００２０】
参照光学系は、ビームスプリッタ２４と参照ミラー２２によって構成されている。光源装置１２から出射された光の一部は、ビームスプリッタ２４で反射され、参照ミラー２２の参照面２２ａに照射され、参照ミラー２２の参照面２２ａによって反射される。参照ミラー２２で反射された光は、ビームスプリッタ２４を介して受光素子２６に導かれる。参照ミラー２２とビームスプリッタ２４と受光素子２６は、干渉計２０内に配置され、その位置が固定されている。このため、本実施例の眼科装置では、参照光学系の参照光路長は一定で変化しない。
【００２１】
較正光学系は、ビームスプリッタ２４と、ビームスプリッタ７２と、光学部材７４により構成されている。光源装置１２から出射された光は、ビームスプリッタ２４及びビームスプリッタ７２を介して光学部材７４に照射される。光学部材７４は、その一端に設けられた第１反射面７４ａと、その他端に設けられた第２反射面７４ｂを有している。したがって、光学部材７４に照射される光の一部は、第１反射面７４ａで反射され、その残りが光学部材７４内に入射する。光学部材７４内に入射した光の一部は、第２反射面７４ｂで反射され、残りは光学部材７４から外部に照射される。第１反射面７４ａで反射された光と第２反射面７４ｂで反射された光は、ビームスプリッタ７２及びビームスプリッタ２４を介して受光素子２６に導かれる。
【００２２】
本実施例の較正光学系は、ゼロ点からの光路長が第１の光路長となる第１光路部（光源装置１２→第１反射面７４ａ→受光素子２６）と、ゼロ点からの光路長が第２の光路長となる第２光路部（光源装置１２→第２反射面７４ｂ→受光素子２６）を有している。具体的には、ゼロ点を基準にして光学部材７４の位置が設定されており、ゼロ点から第１反射面７４ａまでの光路長、及び、ゼロ点から第２反射面７４ｂまでの光路長が、ゼロ点から被検眼１００の網膜までの距離よりも長くなるように設定されている。ここで、ゼロ点とは、参照光学系の光路長（参照光路長）と物体光学系の光路長（物体光路長）とが同一となる点を意味する（図３参照）。上述の説明から明らかなように、第１光路部と第２光路部の光路長の差は、光学部材７４の一端の第１反射面７４ａから他端の第２反射面７４ｂまでの長さによって決まる。すなわち、第１光路部と第２光路部の光路長の差は、光学部材７４と他の部材との位置関係に影響を受けず、光学部材７４によってのみ決定される。したがって、光学部材７４の形状精度を高めることで、第１光路部と第２光路部の光路長の差を精度良く管理することができる。なお、後述するように、光源装置１２の波長掃引特性の調整には、光学部材７４の第１反射面７４ａで反射された光のみが利用される。
【００２３】
なお、光学部材７４としては、例えば、光学ガラスを用いることができる。光源装置１２からの光を光学ガラスに照射することで、光学ガラスの一端（入射面）を第１反射面として機能させ、光学ガラスの他端（出射面）を第２反射面として機能させることができる。光学部材７４の他の例としては、例えば、光学プラスチック等を用いることができる。
【００２４】
受光素子２６は、参照光学系により導かれた光と測定光学系により導かれた光とを合成した測定用干渉光と、参照光学系により導かれた光と較正光学系により導かれた光とを合成した較正用干渉光を検出する。上述の説明から明らかなように、較正用干渉光には、第１反射面７４ａで反射された光（第１光路部により導かれた光）と参照光学系により導かれた光を合成した第１較正用干渉光と、第２反射面７４ｂで反射された光（第２光路部により導かれた光）と参照光学系により導かれた光を合成した第２較正用干渉光とが含まれる。したがって、受光素子２６は、測定用干渉光と第１較正用干渉光と第２較正用干渉光を検出する。受光素子２６は、測定用干渉光と第１較正用干渉光と第２較正用干渉光を受光すると、それに応じた干渉信号を出力する。すなわち、測定用干渉光による信号（測定用干渉信号）と、第１較正用干渉光による信号（第１較正用干渉信号）と、第２較正用干渉光による信号（第２較正用干渉信号）を出力する。これらの信号は、演算装置６４に入力される。受光素子２６としては、例えば、フォトダイオードを用いることができる。なお、前述したように、光源装置１２の波長掃引特性の調整は、第１較正用干渉信号のみを用いて行われる。このため、被検眼１００の検査を行うか否かに関係なく、光源装置１２の波長掃引特性の調整を行うことができる。
【００２５】
観察光学系５０は、被検眼１００にホットミラー４８を介して観察光を照射すると共に、被検眼１００から反射される反射光（すなわち、照射された観察光の反射光）を撮影する。ここで、ホットミラー４８は、光源装置１２からの光を反射する一方で、観察光学系の光源からの光を透過する。このため、本実施例の眼科装置では、干渉光学系による測定と、観察光学系５０による前眼部の観察を同時に行うことができる。なお、観察光学系５０には、公知の眼科装置に用いられているものを用いることができるため、その詳細な構成については説明を省略する。
【００２６】
なお、本実施例の眼科装置では、被検眼１００に対して測定部１０の位置を調整するための位置調整機構１６（図２に図示）と、その位置調整機構１６を駆動する第１駆動装置５４（図２に図示）を備えている。第１駆動装置５４を駆動することで、被検眼１００に対する測定部１０の位置が調整される。
【００２７】
次に、本実施例の眼科装置の制御系の構成を説明する。図２に示すように、眼科装置は演算装置６４によって制御される。演算装置６４は、ＣＰＵ，ＲＯＭ，ＲＡＭ等からなるマイクロコンピュータ（マイクロプロセッサ）と高速演算用ゲートアレイによって構成されている。演算装置６４には、光源装置１２と、第１駆動装置５４と、モニタ６２と、観察光学系５０が接続されている。演算装置６４は、光源装置１２のオン／オフを制御すると共に、光源装置１２から出力される光の波長掃引を制御する。具体的には、演算装置６４は、光源装置１２のレーザ光源をオン／オフすると共に、光源装置１２の駆動回路にトリガ信号を出力する。これによって、光源装置１２から出力される光の波長が周期的に掃引される。また、演算装置６４は、第１駆動装置５４を制御することで位置調整機構１６を駆動し、また、観察光学系５０を制御して観察光学系５０で撮像される前眼部像をモニタ６２に表示する。
【００２８】
また、演算装置６４には、受光素子２６が接続され、受光素子２６で検出される干渉光（すなわち、測定用干渉光，第１較正用干渉光，第２較正用干渉光）の強度に応じた干渉信号が入力する。演算装置６４は、受光素子２６から入力する干渉信号を、予め定められたタイミングで取得する。具体的には、図７に示すように、光源装置１２にトリガ信号を出力してから所定の期間（データ取込待機期間）は干渉信号の取込みを待機し、所定のデータ取込待機期間が経過した後の所定の期間（データ取込期間）で干渉信号の取込みを行う。これによって、光源装置１２から出力される光の波長がリニアに変化する期間にデータ取込が行われることになる。このため、被検眼１００の検査を精度良く行うことができる。なお、トリガ信号と光源装置１２から出力される光の波長掃引との関係は、光源装置１２の経年変化によって変化する（例えば、図７の実線の波長掃引→点線の波長掃引）。その結果、干渉信号を取込むデータ取込期間もずれ、測定感度あるいは撮像画像の画質を劣化させることとなる。そこで、本実施例の眼科装置では、第１較正用干渉信号を用いて、光源装置１２の波長掃引特性の調整を行う。演算装置６４による光源装置１２の波長掃引特性の調整する処理の詳細については後述する。
【００２９】
また、演算装置６４は、上記のように取込んだ受光素子２６からの干渉信号をフーリエ変換することによって、被検眼１００の各部位（角膜１０２の前後面、水晶体１０４の前後面、網膜１０６の表面）及び光学部材７４の反射面７４ａ，７４ｂの位置を特定し、これらを用いて被検眼１００の眼軸長を算出する。すなわち、受光素子２６から出力される干渉信号は、図４に示すように、信号強度が時間によって変化する信号となり、この信号には被検眼１００の各部（角膜１０２の前面及び後面、水晶体１０４の前面及び後面、網膜１０６の表面）及び第１、第２反射面７４ａ，７４ｂから反射された各反射光と参照光とを合成した干渉波による信号が含まれている。そこで、演算装置６４は、受光素子２６から入力する信号をフーリエ変換することで、その信号から被検眼１００の各部（角膜１０２の前面及び後面、水晶体１０４の前面及び後面、網膜１０６の表面）及び第１、第２反射面７４ａ，７４ｂから反射された反射光による干渉信号成分を分離する（図４の下段のグラフ参照）。これにより、演算装置６４は、被検眼１００の各部の位置及び第１、第２反射面７４ａ，７４ｂの位置を特定することができる。被検眼１００の各部の位置が特定されると、被検眼１００の眼軸長を算出することができる。
【００３０】
次に、本実施例の眼科装置を用いて光源装置１２の波長掃引特性を調整する際の手順を説明する。上述したように、光源装置１２の波長掃引特性の調整は、被検眼１００の検査を行うか否かに係らず行うことができる。このため、光源装置１２の波長掃引特性の調整は、予め定められた期間が経過する毎に定期的（例えば、１か月毎）に行われてもよいし、あるいは、眼科装置の起動時（通電開始時）や測定・撮影モードへの移行時等の任意のタイミングで行われてもよい。
【００３１】
図５に示すように、まず、演算装置６４は光源装置１２の駆動を開始し、光源装置６４からの光の出力を開始する（Ｓ１０）。すなわち、演算装置６４は、光源装置１２のレーザ光源をオンすると共に、光源装置１２の駆動回路にトリガ信号を出力する。光源装置１２の駆動回路は、トリガ信号に応じて駆動信号（パルス信号）を波長掃引素子に出力する。これによって、光源装置１２から出力される光の波長が掃引される。
【００３２】
次に、演算装置６４は、受光素子２６から入力する干渉信号を、予め定められたタイミングで取得し、その取得した干渉信号をフーリエ変換することで基準点像分布関数信号を取得する（Ｓ１２）。すなわち、演算装置６４は、光源装置１２にトリガ信号を出力してから所定のデータ取込待機期間は干渉信号の取込みを待機し、その後、所定のデータ取込期間の間だけ干渉信号の取込みを行う。次に、演算装置６４は、上記のように取込んだ干渉信号をフーリエ変換する。ここで、干渉信号には、光学部材７４の第１反射面７４ａと第２反射面７４ｂから反射された各反射光と参照光とを合成した干渉波による信号が含まれている。このため、演算装置６４は、取込んだ干渉信号をフーリエ変換することで、第１反射面７４ａから反射された反射光による干渉信号成分と、第２反射面７４ｂから反射された反射光による干渉信号成分とを分離する。そして、第１反射面７４ａから反射された反射光による干渉信号成分による信号、すなわち基準点像分布関数信号を取得する。
【００３３】
次に、演算装置６４は、ステップＳ１２で取得した基準点像分布関数信号のピーク形状が予め設定された形状範囲（正常な形状範囲）から外れるか否かを判定する（Ｓ１４）。具体的には、図６に示すように、基準点像分布関数信号のピーク形状の高さｈと幅ｄが予め設定された範囲内となるか否かを判定する。すなわち、光源装置１２に経年変化が生じていないときは、図６（ａ）に示すように、基準点像分布関数信号のピーク形状の高さｈ１は高く、その幅ｄ１は小さい。一方、光源装置１２に経年変化が生じて光源装置１２の波長掃引特性が変化すると、図６（ｂ）に示すように、基準点像分布関数信号のピーク形状の高さｈ２は低くなり、その幅ｄ２は大きくなる。したがって、ステップＳ１４では、演算装置６４は、ステップＳ１２で得られた基準点像分布関数信号のピーク形状の高さｈが予め設定された高さより低くなり、かつ、そのピーク形状の幅ｄが予め設定された幅より大きくなったときに、基準点像分布関数信号のピーク形状が予め設定された形状範囲から外れると判断する。一方、演算装置６４は、ステップＳ１２で得られた基準点像分布関数信号のピーク形状の高さｈが予め設定された高さより高く、あるいは、そのピーク形状の幅ｄが予め設定された幅より小さいときは、基準点像分布関数信号のピーク形状が予め設定された形状範囲から外れていないと判断する。基準点像分布関数信号のピーク形状が予め設定された形状範囲から外れていないと判断される場合（ステップＳ１４でＹＥＳ）は、ステップＳ１６をスキップして、ステップＳ１８に進む。
【００３４】
基準点像分布関数信号のピーク形状が予め設定された形状範囲から外れると判断する場合（ステップＳ１４でＮＯ）は、演算装置６４は、トリガ信号が出力されてからデータ取込期間を開始するまでのデータ取込待機期間を調整する（Ｓ１６）。すなわち、本発明者が鋭意検討したところ、基準点像分布関数信号のピーク形状が予め設定された形状範囲から外れる原因は、光源装置１２の波長掃引の周期に対して、データ取込期間の位相がずれることが原因であることが判明した。このため、演算装置６４は、データ取込待機期間を調整することで、基準点像分布関数信号のピーク形状が予め設定された形状範囲内となるようにする。すなわち、データ取込待機期間を長くすることでピーク形状が正常範囲に近づくときはデータ取込待機期間を長くし、一方、データ取込待機期間を短くすることでピーク形状が正常範囲に近づくときはデータ取込待機期間を短くする。なお、基準点像分布関数信号のピーク形状が予め設定された形状範囲から外れる場合、眼科装置で得られる撮像画像の画質あるいは測定感度が低下する。ステップＳ１６によって、基準点像分布関数信号のピーク形状が予め設定された形状範囲内となるように調整することで、眼科装置で得られる撮像画像の画質あるいは測定感度の低下が抑制される。これによって、被検眼１００を精度良く検査することができる。
【００３５】
なお、本実施例では、基準点像分布関数信号のピーク形状の高さ及び幅の両者がともに設定範囲内から外れるときにピーク形状が設定範囲から外れると判断したが、ピーク形状の高さ及び幅の少なくとも一方が外れるときにピーク形状が設定範囲から外れると判断してもよい。このように判断することで、ピーク形状の正常又は異常判定が厳しく行われることとなり、光源装置１２の経年変化をより適切に調整することができる。
【００３６】
ステップＳ１８に進むと、演算装置６４は、ステップＳ１２で取得した基準点像分布関数信号のピーク位置が予め設定された位置範囲（正常な位置範囲）から外れるか否かを判定する。すなわち、光学部材７４の第１反射面７４ａの位置は一定で変化しないため、光源装置１２の波長掃引特性が変化しなければ、基準点像分布関数信号のピーク位置（すなわち、第１反射面７４ａの位置に相当）も一定となる。一方、光源装置１２の波長掃引特性が変化すると、基準点像分布関数信号のピーク位置（すなわち、第１反射面７４ａの位置に相当）が変化する（例えば、図６（ａ）に示す状態→図６（ｂ）に示す状態）。したがって、ステップＳ１８では、演算装置６４は、ステップＳ１２で得られた基準点像分布関数信号のピーク位置（例えば、図６（ｂ）に示すピーク位置）と、初期状態における基準点像分布関数信号の位置（例えば、図６（ａ）に示すピーク位置）との差ｌが設定値より大きくなったときに、基準点像分布関数信号のピーク位置が予め設定された位置範囲（正常な位置範囲）から外れると判断する。基準点像分布関数信号のピーク位置が予め設定された位置範囲から外れていないと判断される場合（ステップＳ１８でＹＥＳ）は、ステップＳ２０をスキップして処理を終了する。
【００３７】
基準点像分布関数信号のピーク位置が予め設定された位置範囲から外れると判断する場合（ステップＳ１８でＮＯ）は、演算装置６４は、基準点像分布関数信号のピーク位置が予め設定されたピーク位置範囲となるように、光源装置１２の波長掃引幅を調整する（Ｓ２０）。すなわち、光源装置１２の波長掃引幅が変動すると、それに応じて基準点像分布関数信号のピーク位置も変動する。このため、基準点像分布関数信号のピーク位置のずれに応じて、光源装置１２の波長掃引幅を調整することで、基準点像分布関数信号のピーク位置を予め設定された位置範囲内とすることができる。具体的には、演算装置６４は光源装置１２を制御して、光源装置１２の駆動回路から波長掃引素子に出力される駆動信号のパルス幅（高さ（電圧）及び／又は幅（時間））を調整する。あるいは、光源装置１２から駆動回路に出力されるトリガ信号の出力周期を調整することで、波長掃引素子の駆動周期を調整する。これによって、光源装置１２の波長掃引幅が調整され、基準点像分布関数信号のピーク位置が予め設定されたピーク位置範囲に調整される。なお、基準点像分布関数信号のピーク位置が予め設定された位置範囲から外れる場合、測定分解能が維持できないため、眼科装置で得られる被検眼１００の各部の位置の精度が低下する。ステップＳ２０によって、基準点像分布関数信号のピーク位置が予め設定された形状範囲内となるように調整することで、被検眼１００の各部の位置を精度良く特定することができる。ステップＳ２０が終了すると、演算装置６４は処理を終了する。
【００３８】
上述の説明から明らかように、本実施例に係る眼科装置では、光学部材７４の第１反射面７４ａから反射される光を利用して基準点像分布関数信号を取得し、その基準点像分布関数信号から光源装置１２の経年変化を判定する。光源装置１２の経年変化により波長掃引特性が変化している場合は、上述した波長掃引特性の調整が適宜のタイミングで行われるため、眼科装置の測定感度あるいは撮像画像の画質を良好に維持することができる。
【００３９】
また、光源装置１２の経年変化が検出されたときは、データ取込待機期間の調整及び／又は波長掃引幅の調整を行うだけでよい。このため、短時間で光源１２の経年変化の影響を打ち消すことができる。
【００４０】
以上、本発明の実施例について詳細に説明したが、これは例示に過ぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。
【００４１】
例えば、上述した実施例では、２つの反射面７４ａ，７４ｂからの反射光を利用する較正光学系であったが、１つの反射面からの反射光を利用する較正光学系としてもよい。すなわち、光源装置１２の波長掃引特性の調整には一つの反射面７４ａのみを利用しているため、光学部材７４は２つの反射面を有する必要はなく、１つの反射面のみを備えていてもよい。
【００４２】
本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組み合わせによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組み合わせに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は複数目的を同時に達成するものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。
【符号の説明】
【００４３】
１０・・測定部
１２・・光源
１４・・干渉光学系
２０・・干渉計
２２・・参照ミラー
２４・・ビームスプリッタ
２６・・受光素子
４８・・ホットミラー
５０・・観察光学系
５４・・第１駆動装置
６２・・モニタ
６４・・演算装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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