(57)【要約】【課題】検査処理能力を向上可能な波長多重型光トランシーバの検査方法を提供する。【解決手段】波長多重型光トランシーバ２の送信チャネル、受信チャネル毎に、検査用信号を生成する信号発生器８と、ビットエラー率を検出するエラー検出器９を有するセルフテスト機能内蔵ＩＣを備え、各セルフテスト機能内蔵ＩＣ１０を用いて各チャネルの検査を同時に行う。【選択図】図１
2015233233.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の送信チャネルと複数の受信チャネルを有し、各チャネルで波長の異なる光信号を送受信するように構成され、当該波長の異なる光信号を多重した多重光信号を送受信する波長多重型光トランシーバを検査すべく、
前記波長多重型光トランシーバに検査用信号を入力し、前記波長多重型光トランシーバから送信された多重光信号を１台の送信側光減衰器で減衰させて受信器に入力し、前記波長多重型光トランシーバに入力した検査用信号に対する受信器の出力信号のビットエラー率を検出して送信側の検査を行うと共に、
送信器に検査用信号を入力し、前記送信器から送信された多重光信号を１台の受信側光減衰器で減衰させて前記波長多重型光トランシーバに入力し、前記送信器に入力した検査用信号に対する前記波長多重型光トランシーバの出力信号のビットエラー率を検出して受信側の検査を行う波長多重型光トランシーバの検査方法において、
前記波長多重型光トランシーバの送信チャネル、受信チャネル毎に、前記検査用信号を生成する信号発生器と、前記ビットエラー率を検出するエラー検出器を有するセルフテスト機能内蔵ＩＣを備え、前記各セルフテスト機能内蔵ＩＣを用いて各チャネルの検査を同時に行うようにした
ことを特徴とする波長多重型光トランシーバの検査方法。
【請求項２】
前記送信側光減衰器の減衰量を、各送信チャネルの信号レベルの最大値と、消光比の最大値とに応じて設定し、
前記受信側光減衰器の減衰量を、各受信チャネルの信号レベルの最大値と、消光比の最大値とに応じて設定する
請求項１記載の波長多重型光トランシーバの検査方法。
【請求項３】
前記検査にて不合格となるチャネルが発生したとき、
不合格となったチャネルが送信チャネルである場合、当該不合格となった送信チャネルの信号レベルと消光比とに応じて前記送信側光減衰器の減衰量を再設定し、
不合格となったチャネルが受信チャネルである場合、当該不合格となった受信チャネルの信号レベルと消光比とに応じて前記受信側光減衰器の減衰量を再設定し、
不合格となったチャネルの再検査を行う
請求項２記載の波長多重型光トランシーバの検査方法。
【請求項４】
前記検査にて不合格となるチャネルが複数発生したとき、
不合格となったチャネルに送信チャネルが含まれる場合、当該不合格となった送信チャネルの信号レベルの最大値と、消光比の最大値とに応じて前記送信側光減衰器の減衰量を再設定し、
不合格となったチャネルに受信チャネルが含まれる場合、不合格となった受信チャネルの信号レベルの最大値と、消光比の最大値とに応じて前記受信側光減衰器の減衰量を再設定し、
不合格となった複数のチャネルの再検査を同時に行う
請求項２または３記載の波長多重型光トランシーバの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、セルフテスト機能内蔵ＩＣによる信号発生器・エラー検出器を用いた波長多重型光トランシーバの検査方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、光トランシーバとして、１０Ｇｂｉｔ／ｓｅｃから４０Ｇｂｉｔ／ｓｅｃの大容量信号を伝送可能なものが広く用いられている。複数個のＬＤやＰＤを内蔵し、波長を多重化して１本の光ファイバで信号伝送する技術を適用した波長多重型光トランシーバも知られている。
【０００３】
一般的な光トランシーバの双方向試験に用いるシステムの一例を図３に示す。なお、ここでは単一の波長の光信号を用いる光トランシーバの検査を行う場合を示している。
【０００４】
図３に示すように、従来の光トランシーバの検査方法では、演算装置としてのＰＣ（パーソナルコンピュータ）３１で設定された信号発生器３２からランダムな検査用信号が検査対象の光トランシーバ３３に出力される。光トランシーバ３３から出力された光信号は、レベル調整用の光減衰器３４で減衰され受信器３５に入力され、受信器３５からの信号がエラー検出器３６に出力される。エラー検出器３６は、光トランシーバ３３に入力した検査用信号に対する受信器３５の出力信号のビットエラー率を検出して送信側の検査を行う。
【０００５】
また、従来の光トランシーバの検査方法では、信号発生器３７からランダムな検査用信号が送信器３８に出力される。送信器３８から出力された光信号は、光減衰器３９で減衰され検査対象の光トランシーバ３３に入力され、光トランシーバ３３からの信号がエラー検出器４０に出力される。エラー検出器４０は、送信器３８に入力した検査用信号に対する光トランシーバ３３の出力信号のビットエラー率を検出して受信側の検査を行う。
【０００６】
光減衰器３４，３９での減衰量は、ＰＣ３１により設定されるようになっており、送受信する光信号の信号レベルと消光比とを基に設定される。
【０００７】
なお、この出願の発明に関連する先行技術文献情報としては、特許文献１がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２００４−６１５１４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、従来方法では、１チャネルの双方向伝送試験しか実施することができないため、複数のチャネルを有する波長多重型光トランシーバに適用した場合に、検査に時間がかかり、十分な検査処理能力を得ることができないという問題があった。
【００１０】
そこで、本発明の目的は、上記課題を解決し、検査処理能力を向上可能な波長多重型光トランシーバの検査方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明は上記目的を達成するために創案されたものであり、複数の送信チャネルと複数の受信チャネルを有し、各チャネルで波長の異なる光信号を送受信するように構成され、当該波長の異なる光信号を多重した多重光信号を送受信する波長多重型光トランシーバを検査すべく、前記波長多重型光トランシーバに検査用信号を入力し、前記波長多重型光トランシーバから送信された多重光信号を１台の送信側光減衰器で減衰させて受信器に入力し、前記波長多重型光トランシーバに入力した検査用信号に対する受信器の出力信号のビットエラー率を検出して送信側の検査を行うと共に、送信器に検査用信号を入力し、前記送信器から送信された多重光信号を１台の受信側光減衰器で減衰させて前記波長多重型光トランシーバに入力し、前記送信器に入力した検査用信号に対する前記波長多重型光トランシーバの出力信号のビットエラー率を検出して受信側の検査を行う波長多重型光トランシーバの検査方法において、前記波長多重型光トランシーバの送信チャネル、受信チャネル毎に、前記検査用信号を生成する信号発生器と、前記ビットエラー率を検出するエラー検出器を有するセルフテスト機能内蔵ＩＣを備え、前記各セルフテスト機能内蔵ＩＣを用いて各チャネルの検査を同時に行うようにした波長多重型光トランシーバの検査方法である。
【００１２】
前記送信側光減衰器の減衰量を、各送信チャネルの信号レベルの最大値と、消光比の最大値とに応じて設定し、前記受信側光減衰器の減衰量を、各受信チャネルの信号レベルの最大値と、消光比の最大値とに応じて設定してもよい。
【００１３】
前記検査にて不合格となるチャネルが発生したとき、不合格となったチャネルが送信チャネルである場合、当該不合格となった送信チャネルの信号レベルと消光比とに応じて前記送信側光減衰器の減衰量を再設定し、不合格となったチャネルが受信チャネルである場合、当該不合格となった受信チャネルの信号レベルと消光比とに応じて前記受信側光減衰器の減衰量を再設定し、不合格となったチャネルの再検査を行ってもよい。
【００１４】
前記検査にて不合格となるチャネルが複数発生したとき、不合格となったチャネルに送信チャネルが含まれる場合、当該不合格となった送信チャネルの信号レベルの最大値と、消光比の最大値とに応じて前記送信側光減衰器の減衰量を再設定し、不合格となったチャネルに受信チャネルが含まれる場合、不合格となった受信チャネルの信号レベルの最大値と、消光比の最大値とに応じて前記受信側光減衰器の減衰量を再設定し、不合格となった複数のチャネルの再検査を同時に行ってもよい。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、双方向伝送試験の検査処理能力を向上可能な波長多重型光トランシーバの検査方法を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の一実施形態に係る波長多重型光トランシーバの検査方法に用いる波長多重型光トランシーバの検査システムの概略構成図である。
【図２】本発明において、再検査を行う際の制御フローを示すフロー図である。
【図３】従来の波長多重型光トランシーバの検査システムの概略構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明の実施形態を添付図面にしたがって説明する。
【００１８】
図１は、本実施形態に係る波長多重型光トランシーバの検査方法に用いる波長多重型光トランシーバの検査システムの概略構成図である。
【００１９】
図１に示すように、波長多重型光トランシーバの検査システム１は、送信側の検査に用いる受信器３と、受信側の検査に用いる送信器４と、検査対象の波長多重型光トランシーバ２から入力された多重光信号を減衰して受信器３に出力する１台の送信側光減衰器５と、送信器４から入力された多重光信号を減衰して波長多重型光トランシーバ２に出力する１台の受信側光減衰器６と、演算装置としてのＰＣ７と、を備えている。
【００２０】
波長多重型光トランシーバ２は、複数の送信チャネルと複数の受信チャネルを有し、各チャネルで波長の異なる光信号を送受信するように構成され、当該波長の異なる光信号を多重した多重光信号を１本の光ファイバ（図示せず）で送受信するように構成されたものである。ここでは、一例として、波長多重型光トランシーバ２が４つの送信チャネルと４つの受信チャネルとを有する場合を説明する。
【００２１】
本実施形態に係る波長多重型光トランシーバの検査システム１では、波長多重型光トランシーバ２の送信チャネル、受信チャネル毎に、検査用信号を生成する信号発生器８と、ビットエラー率を検出するエラー検出器９を有するセルフテスト機能内蔵ＩＣ１０を備え、各セルフテスト機能内蔵ＩＣ１０を用いて各チャネルの検査を同時に行えるように構成されている。
【００２２】
ここでは、波長多重型光トランシーバ２が４つの送信チャネルと４つの受信チャネルとを有しているため、各チャネル毎に、信号発生器８として用いるセルフテスト機能内蔵ＩＣ１０とエラー検出器９として用いるセルフテスト機能内蔵ＩＣ１０を備え、合計１６個のセルフテスト機能内蔵ＩＣ１０が備えられる。以下、送信チャネルの検査に用いるセルフテスト機能内蔵ＩＣ１０を送信側セルフテスト機能内蔵ＩＣ１０ａ、受信チャネルの検査に用いるセルフテスト機能内蔵ＩＣ１０を受信側セルフテスト機能内蔵ＩＣ１０ｂと呼称する。
【００２３】
また、図示していないが、波長多重型光トランシーバの検査システム１は、各チャネルの信号レベルを測定する装置（光パワーメータなど）や、消光比を測定する装置（ＤＣＡ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｃｏｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎ  Ａｎａｌｙｚｅｒ）など）を備えている。
【００２４】
次に、本実施形態に係る波長多重型光トランシーバの検査方法を説明する。
【００２５】
本実施形態に係る波長多重型光トランシーバの検査方法では、送信側セルフテスト機能内蔵ＩＣ１０ａの信号発生器８から波長多重型光トランシーバ２に検査用信号を入力し、波長多重型光トランシーバ２から送信された多重光信号を１台の送信側光減衰器５で減衰させて受信器３に入力し、受信器３の出力信号を送信側セルフテスト機能内蔵ＩＣ１０ａのエラー検出器９に入力する。送信側セルフテスト機能内蔵ＩＣ１０ａのエラー検出器９は、波長多重型光トランシーバ２に入力した検査用信号に対する受信器３の出力信号のビットエラー率を検出して送信側の検査を行う。
【００２６】
また、本実施形態に係る波長多重型光トランシーバの検査方法では、受信側セルフテスト機能内蔵ＩＣ１０ｂの信号発生器８から送信器４に検査用信号を入力し、送信器４から送信された多重光信号を１台の受信側光減衰器６で減衰させて波長多重型光トランシーバ２に入力し、波長多重型光トランシーバ２の出力信号を受信側セルフテスト機能内蔵ＩＣ１０ｂのエラー検出器９に入力する。受信側セルフテスト機能内蔵ＩＣ１０ｂのエラー検出器９は、送信器４に入力した検査用信号に対する波長多重型光トランシーバ２の出力信号のビットエラー率を検出して受信側の検査を行う。
【００２７】
このとき、ＰＣ７は、送信側光減衰器５の減衰量を、各送信チャネルの信号レベルの最大値と、消光比の最大値とに応じて設定し、受信側光減衰器６の減衰量を、各受信チャネルの信号レベルの最大値と、消光比の最大値とに応じて設定する。
【００２８】
本実施形態では、波長多重型光トランシーバ２の送信チャネル、受信チャネル毎に、信号発生器８とエラー検出器９を有するセルフテスト機能内蔵ＩＣ１０を備えているため、各セルフテスト機能内蔵ＩＣ１０を用いて各チャネルの検査を同時に行うことが可能である。
【００２９】
ところで、本来、受信器３に入力する信号レベルは全チャネルとも規格値であることが望ましいが、チャネル間で信号レベルにばらつきが生じることも考えられる。本実施形態では、送信側光減衰器５と受信側光減衰器６により多重光信号を減衰させており、各チャネルの光信号が一括して減衰されるようになっているため、チャネル間の信号レベルのばらつきが大きい場合には、信号レベルが低いチャネルにおいて検査が不合格になってしまうことも考えられる。
【００３０】
そのため、本実施形態では、検査にて不合格となるチャネルが発生したとき、送信側光減衰器５と受信側光減衰器６の減衰量を再設定して自動的に再検査を行うようになっている。これにより、検査直行率を向上させることが可能になる。
【００３１】
具体的には、本実施形態では、検査にて不合格となるチャネルが発生したとき、不合格となったチャネルが送信チャネルである場合、当該不合格となった送信チャネルの信号レベルと消光比とに応じて送信側光減衰器５の減衰量を再設定し、不合格となったチャネルの再検査を行う。また、不合格となったチャネルが受信チャネルである場合、当該不合格となった受信チャネルの信号レベルと消光比とに応じて受信側光減衰器６の減衰量を再設定し、不合格となったチャネルの再検査を行う。
【００３２】
検査にて不合格となるチャネルが複数発生したときには、不合格となったチャネル毎に順次検査を行うようにしてもよいが、この場合、検査に時間がかかってしまう。そこで、本実施形態では、不合格となった複数のチャネルの再検査を同時に行うようにしている。
【００３３】
具体的には、検査にて不合格となるチャネルが複数発生したとき、不合格となったチャネルに送信チャネルが含まれる場合、当該不合格となった送信チャネルの信号レベルの最大値と、消光比の最大値とに応じて送信側光減衰器５の減衰量を再設定し、不合格となったチャネルに受信チャネルが含まれる場合、不合格となった受信チャネルの信号レベルの最大値と、消光比の最大値とに応じて受信側光減衰器６の減衰量を再設定し、不合格となった複数のチャネルの再検査を同時に行う。
【００３４】
ここで、再検査を行う際の制御フローについて図２を用いて説明する。
【００３５】
まず、ステップＳ１にて、通常の検査が終了するまで待つ。検査が終了した後、ステップＳ２にて、試験回数を示す変数Ｎに初期値０を代入し、ステップＳ３にて、全チャネルが合格したかを判断する。
【００３６】
ステップＳ３でＮＯと判断された場合、ステップＳ４にて、変数Ｎが試験回数上限値以上であるかを判断する。ここでは、送受信各４チャネルの波長多重型光トランシーバ２の検査を行うため、試験回数上限値を４に設定している。
【００３７】
ステップＳ４でＮＯと判断された場合、ステップＳ５にて、光減衰器５，６の再設定を行う。このとき、ＰＣ７が不合格となったチャネルの信号レベル、消光比の最大値を基に光減衰量を決定する。
【００３８】
その後、ステップＳ６にて、セルフテスト機能内蔵ＩＣ１０を初期設定に戻し、エラーカウントをリセットし、ステップＳ７にて再試験を行う。再試験後、ステップＳ８にて変数Ｎをインクリメントし、ステップＳ３に戻る。
【００３９】
ステップＳ３またはＳ４にてＹＥＳと判断された場合、ステップＳ９にて、検査結果を保存して、制御を終了する。
【００４０】
以上説明したように、本実施形態に係る波長多重型光トランシーバの検査方法では、波長多重型光トランシーバ２の送信チャネル、受信チャネル毎に、検査用信号を生成する信号発生器８と、ビットエラー率を検出するエラー検出器９を有するセルフテスト機能内蔵ＩＣ１０を備え、各セルフテスト機能内蔵ＩＣ１０を用いて各チャネルの検査を同時に行うようにしている。
【００４１】
これにより、双方向伝送試験を各チャネルで同時に実施することが可能になり、双方向伝送試験の検査処理能力を向上させることが可能になる。
【００４２】
また、本実施形態では、検査にて不合格となるチャネルが発生したとき、不合格となったチャネルが送信チャネルである場合、当該不合格となった送信チャネルの信号レベルと消光比とに応じて送信側光減衰器５の減衰量を再設定し、不合格となったチャネルが受信チャネルである場合、当該不合格となった受信チャネルの信号レベルと消光比とに応じて受信側光減衰器６の減衰量を再設定し、不合格となったチャネルの再検査を行うようにしている。
【００４３】
これにより、１台の送信側光減衰器５と１台の受信側光減衰器６を用いて一括して各チャネルの減衰量を調整する構成としても、検査直行率を向上させることが可能になる。
【００４４】
本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加え得ることは勿論である。
【符号の説明】
【００４５】
１  波長多重型光トランシーバの検査システム
２  波長多重型光トランシーバ
３  受信器
４  送信器
５  送信側光減衰器
６  受信側光減衰器
７  ＰＣ
８  信号発生器
９  エラー検出器
１０  セルフテスト機能内蔵ＩＣ
【図１】
2015233233.tif 000003
【図２】
2015233233.tif 000004
【図３】
2015233233.tif 000005