(57)【要約】【課題】集積回路の狭いスペースにある信号ポイントに、プローブを簡単に素早く接続可能にする。【解決手段】回路４００に接続されたプローブ・タブ４０６を設ける。このプローブ・タブ４０６をコネクタ４０２のスロット４０８に挿入することで、プローブ・タブ４０６をコネクタ４０２に対して電気的及び物理的に簡単に素早く着脱可能に接続できる。コネクタ４０２は、同軸ケーブル・アセンブリ４０４を介してオシロスコープのような試験測定装置に電気的に接続される。プローブ・タブ４０６を回路４００に複数設け、これらプローブ・タブ４０６に対してコネクタ４０２の着脱を繰り返せば、回路４００中の異なる信号を順次測定することも可能となる。【選択図】図４
2015083974.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
インターポーザと、
該インターポーザに接続された少なくとも１つのプローブ・タブと、
少なくとも１つの上記プローブ・タブに着脱可能に接続でき、上記インターポーザからの信号を測定するためのコネクタと
を具える試験測定プローブ接続システム。
【請求項２】
上記インターポーザに接続された上記プローブ・タブが少なくとも２個ある請求項１記載の試験測定プローブ接続システム。
【請求項３】
上記コネクタを１つ目の上記プローブ・タブから取り外し、２つ目の上記プローブ・タブに着脱可能に接続することにより、上記インターポーザからの異なる信号を測定する請求項２記載の試験測定プローブ接続システム。
【請求項４】
少なくとも１つの上記プローブ・タブがフレキシブル回路又は印刷回路基板である請求項１記載の試験測定プローブ接続システム。
【請求項５】
上記インターポーザが回路であることを特徴とする請求項１から４のいずれかに記載の試験測定プローブ接続システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、回路に接続されるプローブ・タブと、このプローブ・タブに着脱可能なコネクタとを有し、回路の信号を測定するための試験測定プローブ接続システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
インターポーザは、メモリ集積回路（ＩＣ）チップと印刷回路基板との間に挿入されるデバイスで、このとき、メモリＩＣチップは、通常、この印刷回路基板上にマウントされる。インターポーザは、小さな印刷回路基板又はフレキシブル回路基板で、メモリＩＣチップ及び印刷回路基板間の信号を仲介する。オシロスコープのような試験測定装置は、プローブを介してインターポーザに接続することで、その信号を測定できる。
【０００３】
試験測定装置は、典型的には、ブラウザ・プローブか、又は、半田付け（Solder down）プローブ・チップを介してインターポーザに接続される。半田付けプローブ用のセット・アップの例が、図１に示されている。なお、図１中の各要素の縮尺は、説明の都合上、必ずしも同一ではない。インターポーザ１００は、印刷回路基板１０２上にマウントされる。メモリＩＣチップ１０４は、インターポーザ１００の上に載置される。試験測定装置のプローブ・チップを半田付けするための半田付けポイント１０６がインターポーザ１００上に用意される。
【０００４】
非特許文献１では、テクトロニクス社製のＰ７５００型プローブが紹介されており、この中で、半田付け（Solder down）によりプローブ・チップを回路に接続する例が写真で開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０００−３１４７４５号公報
【非特許文献】
【０００６】
【非特許文献１】「P7500 TriMode Probe Family」の紹介ページ、テクトロニクス社、［オンライン］、［２０１４年１０月１５日検索］、インターネット<http://jp.tek.com/datasheet/differential-probe-low-voltage/p7500-series-datasheet>
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
半田付けプローブは、形状が小さく、また、近年のメモリ・システムでは広い帯域幅が必要なことから、使用に難がある。ブラウザ・プローブも、インターポーザ上で適切な位置に保持する必要があり、また、半田付けプローブよりも帯域幅が狭いことが多く、使用に難がある。
【０００８】
こうしたことから、インターポーザに簡単に素早く接続可能で、メモリＩＣチップ及び印刷回路基板間の信号を正確にサンプル可能にするプローブが望まれている。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の実施形態のなかには、試験測定プローブ接続システムが含まれ、これは、インターポーザと、このインターポーザに接続された少なくとも１つのプローブ・タブと、この少なくとも１つのプローブ・タブに着脱可能に接続でき、インターポーザからの信号を測定するためのコネクタとを具えている。
【００１０】
また、本発明の実施形態のなかには、別の試験測定プローブ接続システムも含まれ、これは、回路と、この回路に接続された少なくとも１つのプローブ・タブと、この少なくとも１つのプローブ・タブに着脱可能に接続可能で、回路からの信号を測定するためのコネクタとを具えている。
【００１１】
より具体的な例を挙げれば、本発明の概念１は、試験測定プローブ接続システムであって、
インターポーザと、
該インターポーザに接続された少なくとも１つのプローブ・タブと、
少なくとも１つの上記プローブ・タブに着脱可能に接続でき、上記インターポーザからの信号を測定するためのコネクタと
を具えている。
【００１２】
本発明の概念２は、上記概念１の試験測定プローブ接続システムであって、上記インターポーザに接続された上記プローブ・タブが少なくとも２個であることを特徴としている。
【００１３】
本発明の概念３は、上記概念２の試験測定プローブ接続システムであって、このとき、上記コネクタを１つ目のプローブ・タブから取り外し、２つ目のプローブ・タブに着脱可能に接続することにより、上記インターポーザからの異なる信号を測定できることを特徴としている。
【００１４】
本発明の概念４は、上記概念１の試験測定プローブ接続システムであって、少なくとも１つの上記プローブ・タブがフレキシブル回路又は印刷回路基板であることを特徴としている。
【００１５】
本発明の概念５は、上記概念２の試験測定プローブ接続システムであって、少なくとも２つの上記プローブ・タブのそれぞれに着脱可能に接続可能で、上記インターポーザからの少なくとも２つの信号を測定するための２つのコネクタを更に具えている。
【００１６】
本発明の概念６は、上記概念１の試験測定プローブ接続システムであって、このとき、少なくとも１つの上記プローブ・タブは、上記インターポーザと一体に形成されることを特徴としている。
【００１７】
本発明の概念７は、試験測定プローブ接続システムであって、
回路と、
該回路に接続された少なくとも１つのプローブ・タブと、
少なくとも１つの上記プローブ・タブに着脱可能に接続可能で、上記回路からの信号を測定するためのコネクタと
を具えている。このとき、上記回路は、インターポーザであっても良い。
【００１８】
本発明の概念８は、上記概念７の試験測定プローブ接続システムであって、上記回路に接続された上記プローブ・タブが少なくとも２個であることを特徴としている。
【００１９】
本発明の概念９は、上記概念８の試験測定プローブ接続システムであって、このとき、上記コネクタを１つ目のプローブ・タブから取り外し、２つ目のプローブ・タブに着脱可能に接続し、上記回路からの異なる信号を測定できることを特徴としている。
【００２０】
本発明の概念１０は、上記概念７の試験測定プローブ接続システムであって、少なくとも１つの上記プローブ・タブがフレキシブル回路又は印刷回路基板であることを特徴としている。
【００２１】
本発明の概念１１は、上記概念８の試験測定プローブ接続システムであって、少なくとも２つの上記プローブ・タブのそれぞれに着脱可能に接続可能で、上記回路からの少なくとも２つの信号を測定するための２つのコネクタを更に具えている。
【００２２】
本発明の概念１２は、上記概念１の試験測定プローブ接続システムであって、このとき、少なくとも１つの上記プローブ・タブは、上記回路と一体に形成されることを特徴としている。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】図１は、半田付けプローブ・チップ用の半田付けポイントを有する従来のインターポーザの例を示す。
【図２】図２は、本発明によるプローブ・タブを有するインターポーザの例を示す。
【図３】図３は、本発明による複数のプローブ・タブが取り付けられたインターポーザの例を示す。
【図４】図４は、コネクタをプローブ・タブに接続するためのプローブ・タブ接続システムの例を示す。
【図５】図５は、本発明によるインターポーザの例を示す。
【発明を実施するための形態】
【００２４】
以下に示す複数の図面において、類似又は対応する要素には、同じ符号を付して説明する。なお、これら図面において、各要素の縮尺は、説明の都合上、必ずしも同一ではない。
【００２５】
本願で開示する発明によれば、様々な回路の信号を測定するのに、ブラウザ・プローブや半田付けプローブを利用する必要がない。図２は、回路２０２及びメモリＩＣチップ２０４間に配置されたインターポーザ２００を示している。これは、半田付けプローブを取り付けるためのインターポーザ上の半田付けポイントではなくて、プローブ・タブ２０６がインターポーザ２００に取り付けられている。プローブ・タブ２０６は、インターポーザ２００の一部分である。このプローブ・タブ２０６によって、試験測定装置は、インターポーザ２００上に配置されたメモリＩＣチップ２０４から信号をサンプルすることが可能になる。詳しくは後述するように、試験測定装置に取り付けられるコネクタは、プローブ・タブ２０６に簡単に着脱可能であり、これによって、インターポーザ２００から信号を読み出すことが可能になる。
【００２６】
図３は、６個のプローブ・タブ２０６を有するインターポーザ２００の例を示す。これらプローブ・タブ２０６は、好ましくは、インターポーザ２００の一部分として製造される。即ち、これらプローブ・タブ２０６は、インターポーザ２００と一体に形成される。しかし、これらプローブ・タブ２０６を、製造中に、又は後からユーザによって、インターポーザ２００に半田付けしても良い。
【００２７】
複数のプローブ・タブ２０６があることで、各プローブ・タブ２０６で、インターポーザ２００に接続されるＩＣチップ又は回路からの異なる信号を測定することが可能になる。図３では、プローブ・タブ２０６が６個の例を示しているが、本発明は、６個のプローブ・タブ２０６に限定されるものではない。図２に示すように、１個のプローブ・タブ２０６を使用することも可能であるし、インターポーザの大きさや形状と適合できれば、任意の個数のプローブ・タブを必要に応じて設けても良い。詳しくは後述するように、各プローブ・タブ２０６によって、回路から所望の信号を取り出すことができる。プローブ・タブ２０６は、従来のインターポーザ１００で使われていた半田付けポイント１０６と同様な方法で利用される。
【００２８】
図４は、プローブ・タブ４０６とコネクタ４０２との接続方法を説明する図である。図４に示すように、プローブ・タブ４０６は、回路４００から所望の信号を取り出すために、回路４００に取り付けられる。プローブ・タブ４０６は、上述したプローブ・タブ２０６と同じように機能する。例えば、回路４００は、上述したインターポーザでも良い。次に、コネクタ４０２が、回路４００からの信号を測定するために、プローブ・タブ４０６に着脱可能に取り付けられる。そして、もし他の信号の測定が必要になれば、コネクタ４０２を現在のプローブ・タブ４０６から取り外して、別のプローブ・タブ４０６へと配置できる。これによって、半田付けプローブが不要になると共に、ユーザにとっては、半田付けプローブをインターポーザに半田付けする技能なしに、所望の信号を簡単に測定することが可能になる。
【００２９】
図４では、１個のプローブ・タブ４０６と、１個のコネクタ４０２とを示しているが、図３と同様に、本発明は、回路４００上に複数のプローブ・タブ４０６を設けても良い。更に、同様にして、複数のコネクタ４０２を利用し、各コネクタ４０２を異なるプローブ・タブ４０６に接続しても良い。
【００３０】
コネクタ４０２は、後ろが試験測定装置（図示せず）に接続された同軸（フレキシブル）ケーブル・アセンブリ４０４の端部に取り付けられる。複数の同軸（フレキシブル）ケーブル・アセンブリ４０４を用意しても良い。これら同軸（フレキシブル）ケーブル・アセンブリ４０４は、それぞれがその端部にプローブ・タブ４０６からの信号を測定するためのコネクタ４０２を有し、複数の被測定信号にそれぞれ結合されることで、複数の信号を一度に測定することが可能になる。
【００３１】
コネクタ４０２は、上述のように、プローブ・タブ４０６に着脱可能に接続できる。これは、種々の方法で実現できる。例えば、図４に示すように、プローブ・タブ４０６を挿入するスロット４０８をコネクタ４０２に設けても良い。別の実施形態では、コネクタ４０２の上部に開閉可能なふたを設け、このふたを開けて、コネクタ４０２の内部にプローブ・タブ４０６を配置可能にしても良い。そして、コネクタ４０２のふたを閉じて、プローブ・タブ４０６を締め付けるようにしても良い。プローブ・タブ４０６を外すには、単に、コネクタ４０２のふたを再度開ければ良い。コネクタ４０２を着脱可能にすることで、ユーザは、小さなインターポーザ又は回路上に半田付けプローブ・タブを半田付けする技能を必要とせずに、素早く且つ効率良く信号を測定可能になる。
【００３２】
更に、プローブ・タブ２０６及び４０６並びにコネクタ４０２は、広帯域幅に対応可能に形成されるので、ユーザは、より広い帯域幅で回路からの信号を正確にサンプル又は測定することが可能になる。
【００３３】
プローブ・タブ２０６及び４０６は、好ましくは、インターポーザ２００に取り付けられたフレキシブル回路である。しかし、プローブ・タブ２０６は、インターポーザ２００又は回路４００に取り付けられる印刷回路基板であっても良い。プローブ・タブ２０６は、コネクタに着脱可能に接続されなければならない。プローブ・タブ２０６には、内部に電気リード線があり、これがインターポーザ２００を通してメモリＩＣチップ２０４から得られる信号をプローブ・タブ２０６の端部へと伝送する。図４に関して更に詳細に後述するが、コネクタは、プローブ・タブ２０６に着脱可能に取り付けられ、プローブ・タブ２０６上の電気リード線を通して伝送される信号を読み出すのに利用される。
【００３４】
図５は、インターポーザ２００の例を示す。インターポーザ２００には、色々なビア５０６や半田付けパッド５００があり、これらは上述したメモリＩＣチップ２０４のようなＩＣチップをマウントするのに利用される。インターポーザ２００には、複数のプローブ・タブ２０６もある。更に、インターポーザ２００には、図５に示す複数の内部抵抗５０２もある。内部抵抗５０２は、インターポーザ２００上の内部金属トレース５０４に接続される。この内部金属トレース５０４は、ビア５０６と、表面金属トレース５０８とに接続される。メモリＩＣチップ２０４からの信号は、内部抵抗５０２から内部金属トレース５０４を通り、更にビア５０６を通って、表面金属トレース５０８へと伝送される。
【００３５】
コネクタ４０２は、２つの導体（図示せず）を含んでいる。これら２つの導体は、プローブ・タブ２０６上の表面金属トレース５０８と一直線上で揃うようにそれぞれ配置（align）されている。そして、表面金属トレース５０８上の信号は、コネクタ４０２中のこれら２つの導体を通して試験測定装置へと送られる。
【００３６】
上述では、メモリＩＣチップと共に用いるインターポーザについて説明したきたが、本発明は、こうした実施形態に限定されるものではない。プローブ・タブを有するインターポーザは、任意のＩＣチップと共に利用可能である。更に、本発明は、インターポーザと共に用いることに限定されるものでもない。より正確に言えば、回路内の信号を測定することが望まれる任意の形式の回路と共に利用可能である。プローブ・タブを回路に取付可能で、コネクタをプローブ・タブに接続可能であれば、信号を測定できる。本発明によれば、プローブ・タブを半田付けしたり、ブラウザ・プローブ・タブを保持することなしに、狭いスペース内の信号を測定可能になる。ユーザは、コネクタをプローブ・タブに配置し、信号を測定し、続いてコネクタを外して次のプローブ・タブに配置するだけで、回路内の種々の信号を素早く測定できる。更に、プローブ・タブ２０６は、コネクタ４０２に接続可能である限り、任意の形状として良い。プローブ・タブ２０６及び４０６の形状は、本発明の本質的な問題ではない。例えば、その形状は、図３及び図４に示したものでも良いし、プローブ・タブ２０６及び４０６を、図５に示した矩形のように、もっとシンプルな形状としても良い。
【００３７】
本発明の原理を好ましい実施形態と通して説明し、図示してきたが、こうした原理から離れることなく、図示した実施形態の構成や詳細を変更したり、望ましい形態に組み合わせても良いことが理解できよう。
【符号の説明】
【００３８】
２００  インターポーザ
２０２  回路
２０４  メモリＩＣチップ
２０６  プローブ・タブ
４００  回路
４０２  コネクタ
４０４  同軸（フレキシブル）ケーブル・アセンブリ
４０６  プローブ・タブ
４０８  スリット
５００  半田付けパッド
５０２  内部抵抗
５０４  内部金属トレース
５０６  ビア
５０８  表面金属トレース
【図１】
2015083974.tif 000003
【図２】
2015083974.tif 000004
【図３】
2015083974.tif 000005
【図４】
2015083974.tif 000006
【図５】
2015083974.tif 000007