(57)【要約】【課題】水門の開度に関する精密なデータの表示をできるだけ長い期間実現することを課題とする。【解決手段】水門の開度を測定する開度計と、前記開度計による測定結果を出力する信号変換器と、前記信号変換器から出力される前記測定結果を表示する表示器とを有する開度表示システムであって、前記開度計は、パルス電流を導通する磁歪線を備える検出素子と、前記パルス電流の導通により前記磁歪線上に発生する磁界と、前記水門の開閉に連動して前記検出素子内を移動する磁性体の磁界とが交差することによって、前記磁歪線上に発生する振動波が当該磁歪線上を伝播する時間に基づいて、前記開度を測定する測定部とを有し、前記信号変換器は、前記測定結果として入力される入力信号を２進化１０進数の表現に変換する変換回路と、前記変換回路により前記２進化１０進数の表現に変換された信号を出力する半導体絶縁素子とを有する。【選択図】図１
2015040467.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
水門の開度を測定する開度計と、前記開度計による測定結果を出力する信号変換器と、前記信号変換器から出力される前記測定結果を表示する表示器とを有する開度表示システムであって、
前記信号変換器は、
前記開度計による測定結果として入力される入力信号を２進化１０進数の表現に変換する変換回路と、
前記変換回路により前記２進化１０進数の表現に変換された信号を出力する半導体絶縁素子と
を有することを特徴とする開度表示システム。
【請求項２】
前記開度計は、
磁歪式の位置検出方式に基づいて前記水門の開度を測定する機器であって、
パルス電流を導通する磁歪線を備える検出素子と、
前記パルス電流の導通により前記磁歪線上に発生する磁界と、前記水門の開閉に連動して前記検出素子内を移動する磁性体の磁界とが交差することによって、前記磁歪線上に発生する振動波が当該磁歪線上を伝播する時間に基づいて、前記開度を測定する測定部と
を有することを特徴とする請求項１に記載の開度表示システム。
【請求項３】
前記変換回路は、前記入力信号に含まれるパリティを奇数パリティに変換することを特徴とする請求項１または２に記載の開度表示システム。
【請求項４】
前記信号変換器は、前記入力信号のうち警報に関する信号のみを出力するリレー素子をさらに有することを特徴とする請求項１〜３のいずれか１つに記載の開度表示システム。
【請求項５】
水門の開度を測定する開度計と、前記開度計による測定結果を出力する第１信号変換器及び第２信号変換器と、前記第１信号変換器から出力される前記測定結果及び前記第２信号変換器から出力される前記測定結果のいずれか一方を出力対象として選択する信号切替器と、前記信号切替器から出力される前記測定結果を表示する表示器とを有する開度表示システムであって、
前記開度計は、
パルス電流を導通する磁歪線を備える検出素子と、
前記パルス電流の導通により前記磁歪線上に発生する磁界と、前記水門の開閉に連動して前記検出素子内を移動する磁性体の磁界とが交差することによって、前記磁歪線上に発生する振動波が当該磁歪線上を伝播する時間に基づいて、前記開度を測定する測定部と
を有し、
前記第１信号変換器及び前記第２信号変換器は、
前記測定結果として入力される入力信号を２進化１０進数の表現に変換する変換回路と、
前記変換回路により前記２進化１０進数の表現に変換された信号を出力する半導体絶縁素子と
を有し、
前記信号切替器は、
切替信号に従って、前記第１信号変換器から出力される信号及び前記第２信号変換器から出力される信号のいずれか一方を、前記表示器に表示させる信号に決定する切替回路と、
前記切替回路により決定された信号を出力する半導体絶縁素子と
を有することを特徴とする開度表示システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、開度表示システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、ダム、貯水池などの貯水量を調整することを目的として、水門の開度を制御する技術の運用が行われている（例えば、特許文献１参照）。例えば、水門の開度を測定する開度計の測定結果をリレー接点出力により中継し、この測定結果に基づいて水門の開度の制御が行われる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特許第３５９９３９５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
近年、水資源の有効利用の観点等から、水門の開度について精密な制御が求められつつある。従来のリレー接点出力の場合、機械的に接点を開閉する構造を採用している。このため、水門の開度の精密な測定に必要とされる応答速度に対応させようとすると、開閉する構造部分の消耗が激しくなり、機器の寿命が短くなってしまうという問題がある。
【０００５】
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、水門の開度に関する精密なデータの表示をできるだけ長い期間に渡って実現することができる開度表示システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、水門の開度を測定する開度計と、前記開度計による測定結果を出力する信号変換器と、前記信号変換器から出力される前記測定結果を表示する表示器とを有する開度表示システムであって、前記開度計は、パルス電流を導通する磁歪線を備える検出素子と、前記パルス電流の導通により前記磁歪線上に発生する磁界と、前記水門の開閉に連動して前記検出素子内を移動する磁性体の磁界とが交差することによって、前記磁歪線上に発生する振動波が当該磁歪線上を伝播する時間に基づいて、前記開度を測定する測定部とを有し、前記信号変換器は、前記測定結果として入力される入力信号を２進化１０進数の表現に変換する変換回路と、前記変換回路により前記２進化１０進数の表現に変換された信号を出力する半導体絶縁素子とを有することを特徴とする。
【０００７】
また、本発明は、水門の開度を測定する開度計と、前記開度計による測定結果を出力する第１信号変換器及び第２信号変換器と、前記第１信号変換器から出力される前記測定結果及び前記第２信号変換器から出力される前記測定結果のいずれか一方を出力対象として選択する信号切替器と、前記信号切替器から出力される前記測定結果を表示する表示器とを有する開度表示システムであって、前記開度計は、パルス電流を導通する磁歪線を備える検出素子と、前記パルス電流の導通により前記磁歪線上に発生する磁界と、前記水門の開閉に連動して前記検出素子内を移動する磁性体の磁界とが交差することによって、前記磁歪線上に発生する振動波が当該磁歪線上を伝播する時間に基づいて、前記開度を測定する測定部とを有し、前記第１信号変換器及び前記第２信号変換器は、前記測定結果として入力される入力信号を２進化１０進数の表現に変換する変換回路と、前記変換回路により前記２進化１０進数の表現に変換された信号を出力する半導体絶縁素子とを有し、前記信号切替器は、切替信号に従って、前記第１信号変換器から出力される信号及び前記第２信号変換器から出力される信号のいずれか一方を、前記表示器に表示させる信号に決定する切替回路と、前記切替回路により決定された信号を出力する半導体絶縁素子とを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明に係る開度表示システムは、水門の開度に関する精密なデータの表示をできるだけ長い期間に渡って実現することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】図１は、実施例１に係る開度表示システムの概念的な構成の一例を示す図である。
【図２】図２は、信号変換器の機能構成を示すブロック図である。
【図３】図３は、実施例１に係る信号変換器による処理の流れを示すフローチャートである。
【図４】図４は、実施例２に係る開度表示システムの概念的な構成の一例を説明する。
【図５】図５は、信号切替器の機能構成を示すブロック図である。
【図６】図６は、実施例２に係る信号切替器による処理の流れを示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下に、本発明に係る開度表示システムの実施例を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施例によりこの発明が限定されるものではない。さらに、この実施例における構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のもの、いわゆる均等の範囲のものが含まれる。
【実施例１】
【００１１】
［全体構成］
図１を参照しつつ、実施例１に係る開度表示システムの概念的な構成の一例を説明する。図１は、実施例１に係る開度表示システムの概念的な構成の一例を示す図である。なお、図１は、実施例１に係る開度表示システムを説明する上で必要となる構成部分のみを示し、その他の構成部分については図示を省略する。
【００１２】
図１に示すように、水門１０には、水門１０を開閉させるための動力を伝えるシャフト２０と、水門１０の開度を測定するための棒３０が接続される。シャフト２０には、シャフト２０を上下動させるシリンダ４０に接続される。棒３０には、シャフト２０の動き（水門１０の開閉）に連動して、後述する開度計１００内を移動する磁性体３１が取り付けられる。
【００１３】
図１に示すように、開度表示システム１は、開度計１００と、パラレル変換器２００と、信号変換器３００と、表示器５００とを有する。
【００１４】
開度計１００は、ヴィーデマン効果に基づく磁歪式の位置検出方式を利用することにより、水門の開度を測定する。開度計１００は、検出素子１０１及び測定部１０２を有する。検出素子１０１は、パルス電流を導通する磁歪線を内部に備える。検出素子１０１は、磁歪線上に発生する振動波を検出する。振動波は、パルス電流の導通により磁歪線上に発生する磁界と、検出素子１０１の近傍に位置する磁性体３１の磁界とが交差することにより発生し、磁歪線上を伝播する。
【００１５】
測定部１０２は、検出素子１０１により検出された振動波が、前記磁歪線上を伝播する時間に基づいて、水門１０の開度を測定する。振動波が伝播する時間は、振動波が伝播する距離に比例して大きくなる。測定部１０２は、水門１０の開度に関する測定値を出力する。測定部１０２は、測定値を出力する際に、測定値に属性に関する情報（警報ビット）を書き込む。例えば、測定部１０２は、測定値に警報に関する情報を書き込む。測定部１０２は、測定値に関する情報にパリティ（誤り訂正符号）を追加する。測定部１０２から出力される測定値は、シリアルデータとなっている。
【００１６】
パラレル変換器２００は、開度計１００から出力された水門１０の開度に関する測定値をパラレルデータに変換する。パラレル変換器２００は、水門１０の開度に関する測定値の測定結果として、水門１０の開度に関する測定値に対応するパラレルデータを信号変換器３００に出力する。
【００１７】
信号変換器３００は、パラレル変換器２００から出力されたパラレルデータ（以下、適宜、入力信号と表記する）を２進化１０進数の表現（ＢＣＤ：Ｂａｉｎａｒｙ−Ｃｏｄｅｄ  Ｄｅｃｉｍａｌ、以下、適宜、ＢＣＤと表記する）に変換する。図２は、信号変換器の機能構成を示すブロック図である。
【００１８】
図２に示すように、信号変換器３００は、半導体絶縁素子３０１と、入力回路３０２と、変換回路３０３と、出力回路３０４と、半導体絶縁出力素子３０５と、半導体絶縁出力素子３０６と、警報出力回路３０７と、絶縁リレー３０８と、設定表示回路３０９と、電源回路３１０とを有する。
【００１９】
半導体絶縁素子３０１は、水門１０の開度に関する測定値の測定結果としてパラレル変換器２００から入力される入力信号（バイナリ入力）を入力回路３０２に送り出す。半導体絶縁素子３０１は、例えば、フォトカプラにより実装される。半導体絶縁素子３０１は、フォトＭＯＳ（Ｍｅｔａｌ−Ｏｘｉｄｅ−Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）により実装されてもよい。入力回路３０２は、入力信号を変換回路３０３に送り出す。
【００２０】
変換回路３０３は、入力信号をＢＣＤに変換する。変換回路３０３は、入力信号に含まれるパリティビット（エラーチェック符合）を奇数パリティに変換する。続いて、変換回路３０３は、入力信号の属性が警報であるか（警報ビットが含まれるか及びパリティが合っているか）を判定する。変換回路３０３は、判定の結果、パリティが合っていて、警報ではない場合には、ＢＣＤに変換した信号を出力回路３０４に送り出す。一方、変換回路３０３は、判定の結果、パリティが合っていて、警報である場合には、ＢＣＤに変換した信号を警報出力回路３０７に送り出すとともに、警報信号を警報出力回路３０７に送り出す。なお、変換回路３０３は、パリティが合っていない場合には、信号の再送を要求してもよいし、ＥＣＣ（Ｅｒｒｏｒ  Ｃｏｒｒｅｃｔｉｎｇ  Ｃｏｄｅ）を備える場合には、信号の再送を要求せずにＥＣＣを用いて信号の誤り訂正を行ってもよい。変換回路３０３は、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｓｃｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）、ＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ−Ｐｒｏｃｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）等により実装される。
【００２１】
変換回路３０３は、上記入力信号をＢＣＤに変換するだけでなく、水門１０の測定値の０．００１ミリメートル単位の入力から１ミリメートル単位の出力への変換、ＺＥＲＯ調整、ホールド処理、出力値や設定値のＬＥＤ表示、設定値の変更や記憶などを実行する。
【００２２】
出力回路３０４は、変換回路３０３からの信号を半導体絶縁出力素子３０５及び半導体絶縁出力素子３０６に送り出す。半導体絶縁出力素子３０５及び半導体絶縁出力素子３０６は、出力回路３０４からの信号を表示器５００などに出力する。半導体絶縁出力素子３０５及び半導体絶縁出力素子３０６は、例えば、半導体絶縁出力素子３０５及び半導体絶縁出力素子３０６は、例えば、出力先の機器のハード仕様に応じて、信号を出力する際の電流及び電圧などを調整する。フォトＭＯＳ（Ｍｅｔａｌ−Ｏｘｉｄｅ−Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）により実装される。半導体絶縁出力素子３０５及び半導体絶縁出力素子３０６は、フォトカプラにより実装されてもよい。なお、フォトカプラは、ＯＮ時の電圧が大きく信号にノイズが乗りやすいので、ＯＮ時の電圧が小さいフォトＭＯＳにより実装する方が望ましい。
【００２３】
警報出力回路３０７は、変換回路３０３からの警報信号を絶縁リレー３０８に出力する。絶縁リレー３０８は、警報出力回路３０７からの警報信号を表示器５００などに出力する。
【００２４】
設定表示回路３０９は、信号変換器３００における各種情報の表示、及び変換回路３０３への設定入力を行う。
【００２５】
電源回路３１０は、電源を信号変換器３００の各部に供給する。
【００２６】
表示器５００は、水門１０の開度に関する測定値を表示する。
【００２７】
［実施例１による処理］
図３を用いて、実施例１に係る信号変換器による処理の流れを説明する。図３は、実施例１に係る信号変換器による処理の流れを示すフローチャートである。図３に示す処理は、信号変換器３００が有する変換回路３０３により実行される。
【００２８】
図３に示すように、変換回路３０３は、入力回路３０２から送出された入力信号を取得すると（ステップＳ１０１）、入力信号をＢＣＤに変換する（ステップＳ１０２）。続いて、変換回路３０３は、入力信号の属性が警報であるか否か（警報ビットが含まれるか否か）を判定する（ステップＳ１０３）。なお、以下の説明では、入力信号のパリティがあっているものとする。
【００２９】
変換回路３０３は、判定の結果、入力信号の属性が警報ではない場合には（ステップＳ１０３，Ｎｏ）、入力信号をＢＣＤに変換した信号を出力回路３０４に送り出し（ステップＳ１０４）、図３に示す処理を修了する。
【００３０】
一方、変換回路３０３は、判定の結果、入力信号の属性が警報である場合には（ステップＳ１０３，Ｙｅｓ）、入力信号をＢＣＤに変換した信号を出力回路３０４に送り出すとともに、警報信号を警報出力回路３０７に送り出し（ステップＳ１０５）、図３に示す処理を修了する。
【００３１】
上述してきたように、実施例１では、開度表示システム１が、ヴィーデマン効果を利用した磁歪式の検出方式により、水門の開度を測定する開度計１００を有する。さらに、実施例１では、開度表示システム１が、開度計１００による測定値に対応する信号を半導体絶縁素子により外部出力する信号変換器３００を有する。このため、実施例１に係る開度表示システム１は、開度計１００により水門の開度に関する精密なデータを取得でき、取得した精密なデータの表示を信号変換器により長期間に渡って実現することができる。
【００３２】
すなわち、磁歪式の位置検出方式を利用する開度計１００は、高速応答の機器である。このため、信号変換器３００において、開度計１００からの信号をリレー接点出力により出力する場合、リレーが機械的な可動部分を持つ為、可動部分の消耗が激しくなり、どうしてもリレーの寿命が短くなってしまう。例えば、開度計１００において１秒間に１０回の処理速度でデータ更新が行われる場合、リレーの寿命は、約０．１６年となる。従って、磁歪式の位置検出方式を利用する開度計１００の高速応答に対応しつつ、製品寿命を延ばす為には、機械的な可動部分を持たない出力方法を適用することがある。信号の出力を行う必要がる。このような事情に鑑み、実施例１に係る信号変換器３００は、リレーの代わりに、半導体絶縁素子により出力を行うので、リレー接点出力を利用する従来技術よりも、製品寿命を延ばすだけでなく、高速な応答を実現できる。
【００３３】
また、実施例１では、信号変換器３００は、信号に含まれるパリティを奇数パリティに変換するので、例えば、偶数パリティに対応している新たな機器を導入することなく、業界的に奇数パリティを標準使用している既存の機器をそのまま利用することができる。
【００３４】
また、実施例１では、信号変換器３００は、警報に対応する信号については、従来どおり、絶縁リレー３０８によりリレー接点出力を行うので、使用頻度が高くないと考えられる部分のコスト負担を抑えることができる。
【００３５】
また、実施例１において、信号変換器３００から送出される２つの出力信号のうち、一方の信号（例えば、ＯＵＴＰＵＴ１、図２参照）の送り先を表示器５００に設定し、他方の信号（例えば、ＯＵＴＰＵＴ２、図２参照）の送り先をダム、貯水池などの貯水量を監視する中央制御室の制御コンピュータに設定するなど、信号変換器から送出される出力信号の送り先を必要に応じて任意に変更してもよい。
【実施例２】
【００３６】
図４は、実施例２に係る開度表示システムの概念的な構成の一例を説明する。図４は、実施例２に係る開度表示システムの概念的な構成の一例を示す図である。実施例２に係る開度表示システムは、信号変換器が冗長構成されている点、及び信号切替器を有する点が実施例１とは異なる。
【００３７】
すなわち、図４に示すように、実施例２に係る開度表示システムは、開度計１００と、第１系統に属するパラレル変換器２００Ａ及び信号変換器３００Ａと、第２系統に属するパラレル変換器２００Ｂ及び信号変換器３００Ｂと、信号切替器４００と、表示器５００とを有する。パラレル変換器２００Ａ及びパラレル変換器２００Ｂは、実施例１に係るパラレル変換器２００と同様の機能を有する。信号変換器３００Ａ及び信号変換器３００Ｂは、実施例１に係る信号変換器３００と同様の機能を有する。
【００３８】
信号切替器４００は、第１系統に属する信号変換器３００Ａからの入力信号及び第２系統に属する信号変換器３００Ｂからの入力信号のいずれか一方を選択する。図５は、信号切替器４００の機能構成を示すブロック図である。
【００３９】
図５に示すように、信号切替器４００は、半導体絶縁素子４０１と、入力回路４０２と、半導体絶縁素子４０３と、入力回路４０４と、半導体絶縁素子４０５と、入力回路４０６と、切替回路４０７と、出力回路４０８と、半導体絶縁出力素子４０９と、半導体絶縁出力素子４１０と、パリティチェック回路４１１と、警報出力回路４１２と、絶縁リレー４１３と、状態出力回路４１４と、絶縁リレー４１５と、電源回路４１６とを有する。
【００４０】
半導体絶縁素子４０１は、例えば、第１系統に属する信号変換器３００Ａからの入力信号を入力回路４０２に送り出す。入力回路４０２は、入力信号を切替回路４０７に送り出す。
【００４１】
半導体絶縁素子４０３は、例えば、第２系統に属する信号変換器３００Ｂからの入力信号を入力回路４０４に送り出す。入力回路４０４は、入力信号を切替回路４０７に送り出す。
【００４２】
半導体絶縁素子４０５は、例えば、操作盤などで作業員により手入力される切替信号を入力回路４０６に送り出す。入力回路４０６は、切替信号を切替回路４０７に送り出す。
【００４３】
半導体絶縁素子４０１、半導体絶縁素子４０３及び半導体絶縁素子４０５は、実施例１と同様に、例えば、フォトカプラにより実装される。半導体絶縁素子４０１、半導体絶縁素子４０３及び半導体絶縁素子４０５は、フォトＭＯＳ（Ｍｅｔａｌ−Ｏｘｉｄｅ−Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）により実装されてもよい。
【００４４】
切替回路４０７は、切替信号に従って、第１系統に属する信号変換器３００Ａからの入力信号及び第２系統に属する信号変換器３００Ｂからの入力信号のいずれか一方を、表示器５００に表示させる信号に決定する。
【００４５】
すなわち、切替回路４０７は、入力回路４０２、入力回路４０４及び入力回路４０６から送出される信号を取得する。続いて、切替回路４０７は、取得した信号の中に切替信号が含まれるかを判定する。切替回路４０７は、判定の結果、切替信号が含まれる場合には、切替信号に合致する系統の信号を表示器５００に表示させる信号に決定する。一方、切替回路４０７は、判定の結果、切替信号が含まれない場合には、表示器５００に表示させる信号の切替を行わず、現在選択中の系統の信号を表示器５００に表示させる信号として維持する。続いて、切替回路４０７は、表示器５００に表示させる信号を出力回路４０８、パリティチェック回路４１１及び状態出力回路４１４に送り出す。切替回路４０７は、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｓｃｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）、ＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ−Ｐｒｏｃｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）等により実装される。
【００４６】
出力回路４０８は、切替回路４０７からの信号を半導体絶縁出力素子４０９及び半導体絶縁出力素子４１０に送り出す。半導体絶縁出力素子４０９及び半導体絶縁出力素子４１０は、出力回路４０８からの信号を表示器５００などに出力する。半導体絶縁出力素子４０９及び半導体絶縁出力素子４１０は、例えば、フォトＭＯＳ（Ｍｅｔａｌ−Ｏｘｉｄｅ−Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）により実装される。半導体絶縁出力素子４０９及び半導体絶縁出力素子４１０は、フォトカプラにより実装されてもよい。
【００４７】
パリティチェック回路４１１は、切替回路４０７からの信号のパリティチェックを行い、信号の属性が警報であるか（警報ビットが含まれるか及びパリティが合っているか）を判定する。パリティチェック回路４１１は、判定の結果、パリティが合っていて、警報である場合には、警報信号を警報出力回路４１２に送り出す。一方、パリティチェック回路４１１は、判定の結果、パリティが合っていて、警報ではない場合には、警報信号を警報出力回路４１２に送出しない。なお、パリティチェック回路４１１は、パリティが合っていない場合には、信号の再送を要求してもよいし、ＥＣＣ（Ｅｒｒｏｒ  Ｃｏｒｒｅｃｔｉｎｇ  Ｃｏｄｅ）を備える場合には、信号の再送を要求せずにＥＣＣを用いて信号の誤り訂正を行ってもよい。
【００４８】
警報出力回路４１２は、パリティチェック回路４１１からの警報信号を絶縁リレー４１３に出力する。絶縁リレー４１３は、警報出力回路４１２からの警報信号を表示器５００などに出力する。
【００４９】
状態出力回路４１４は、切替回路４０７からの信号に基づいて、現在選択中の系統が第１系統か第２系統かを示す系統信号を絶縁リレー４１５に出力する。絶縁リレー４１５は、状態出力回路４１４からの系統信号を表示器５００などに出力する。
【００５０】
電源回路４１６は、電源を信号切替器４００の各部に供給する。
【００５１】
［実施例２による処理］
図６を用いて、実施例２に係る信号切替器による処理の流れを説明する。図６は、実施例２に係る信号切替器による処理の流れを示すフローチャートである。図６に示す処理は、信号切替器４００が有する切替回路４０７により実行される。
【００５２】
図６に示すように、切替回路４０７は、入力回路４０２、入力回路４０４及び入力回路４０６の各入力回路から送出される信号を取得する（ステップＳ２０１）。続いて、切替回路４０７は、取得した信号の中に切替信号が含まれるか否かを判定する（ステップＳ２０２）。
【００５３】
切替回路４０７は、判定の結果、切替信号が含まれる場合には（ステップＳ２０２，Ｙｅｓ）、切替信号に合致する系統の信号を表示器５００に表示させる信号に決定する（ステップＳ２０３）。これとは反対に、切替回路４０７は、切替信号が含まれない場合には（ステップＳ２０２，Ｎｏ）、表示器５００に表示させる信号の切替を行わず、現在選択中の系統の信号を表示器５００に表示させる信号として維持する。
【００５４】
続いて、切替回路４０７は、ステップＳ２０１で取得した信号を出力回路４０８及びパリティチェック回路４１１に送り出し（ステップＳ２０４）、図６に示す処理を修了する。
【００５５】
上述してきたように、実施例２では、開度表示システムが、信号変換器３００Ａ及び信号変換器３００Ｂから送出された信号を、半導体絶縁素子により外部出力する信号切替器４００を有する。このため、信号変換器が冗長構成されている場合であっても、開度計１００により水門の開度に関する精密なデータの表示を長期間に渡って実現することができる。
【００５６】
図２に示す信号変換器３００の各構成要素、及び図５に示す信号切替器４００の各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。例えば、図２に示す信号変換器３００の各構成要素、及び図５に示す信号切換器４００の各構成要素の全部または一部を、各種の負荷や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的または物理的に分散・統合して構成してもよい。
【００５７】
また、図２に示す信号変換器３００の変換回路３０３は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｓｃｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）、ＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ−Ｐｒｏｃｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）の代わりに、ＰＬＣ（Ｐｒｏｇｒａｍａｂｌｅ  Ｌｏｇｉｃ  Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）などにより実装してもよい。ＰＬＣにより実装する場合、信号変換器３００（３００Ａ，３００Ｂ）と同様の処理を行うように設計したプログラムをＰＬＣ組む込むことにより、フォトカプラ入力ユニットからバイナリ信号を取り込んで、フォトカプラ絶縁出力ユニットからＢＣＤを出力する処理を実現させる。
【符号の説明】
【００５８】
１  開度表示システム
１０  水門
２０  シャフト
３０  棒
４０  シリンダ
１００  開度計
２００  パラレル変換器
３００  信号変換器
４００  信号切替器
５００  表示器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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