(57)【要約】【課題】  Ｘ線ビーム経路ができるだけ近接する透過Ｘ線データを用いてＸ線検出器における不良素子の値を補正し、正確な不良素子補正を行うことが可能なＸ線ＣＴ装置及び不良素子補正方法を提供する。【解決手段】  不良素子へ入射するＸ線のビーム経路と略一致するビーム経路であって不良素子の近傍の正常素子へ入射するＸ線をＸ線管装置１０１におけるＸ線焦点シフトによって作り出し、その正常素子の出力値を用いて不良素子の出力値を補正する。画像処理装置１２２は、複数のＸ線焦点位置から照射されたＸ線による透過Ｘ線データを取得し、第１の焦点位置から照射されたＸ線による透過Ｘ線データに基づいて投影データを生成する際に、不良素子の出力値を、第２の焦点位置から照射されたＸ線による不良素子の近傍の正常素子の出力値に置換する。【選択図】図２
2015116408.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体にＸ線を照射するＸ線管装置と、
前記Ｘ線管装置に対向配置され、前記被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出器と、
前記Ｘ線管装置及び前記Ｘ線検出器を搭載し、前記被検体の周囲を回転する回転盤と、
前記Ｘ線検出器における不良素子へ入射するＸ線のビーム経路と前記不良素子の近傍の正常素子へ入射するＸ線のビーム経路とが略一致するように前記Ｘ線管装置におけるＸ線焦点位置を複数の位置にシフトさせてＸ線を照射させるＸ線制御部と、
前記Ｘ線検出器により検出された透過Ｘ線データに基づいて投影データを生成する投影データ生成部と、
前記投影データ生成部において第１の焦点位置から照射されたＸ線による透過Ｘ線データに基づいて前記投影データを生成する際に、前記Ｘ線検出器における不良素子の出力値を、前記第１の焦点位置と異なる第２の焦点位置から照射されたＸ線による前記不良素子の近傍の正常素子の出力値に置換して、前記投影データを補正する不良素子補正部と、
前記不良素子補正部により補正された投影データに基づいて画像を再構成する再構成演算部と、
を備えることを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項２】
前記第１及び第２の焦点位置のシフト方向は、前記回転盤の回転方向と直交する方向であるスライス方向であることを特徴とする請求項１に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項３】
前記第１及び第２の焦点位置のシフト方向は、前記回転盤の回転方向であるチャンネル方向であることを特徴とする請求項１に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項４】
前記第１の焦点位置と前記第２の焦点位置とのシフト距離は、前記Ｘ線検出素子における不良素子と不良素子補正に用いる正常素子との素子間距離と、前記Ｘ線焦点から計測中心までの距離と、前記Ｘ線焦点から前記Ｘ線検出器までの距離とに基づいて決定されることを特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項５】
前記Ｘ線制御部は、前記第１及び第２の焦点位置からのＸ線照射に加え、前記第１の焦点位置と前記第２の焦点位置とのシフト距離の半分の距離だけ前記第１及び第２の焦点位置からそれぞれシフトさせた第３及び第４の焦点位置からＸ線を照射させ、
前記投影データ生成部は、前記第１及び第２の焦点位置から照射されたＸ線により生成され、前記不良素子補正部による不良素子補正が行われた第１投影データと、前記第３及び第４の焦点位置から照射されたＸ線により生成され、前記不良素子補正部による不良素子補正が行われた第２投影データとを生成し、
前記第１投影データ及び第２投影データを組み合わせた空間分解能向上投影データを生成する空間分解能向上投影データ生成部を更に備えることを特徴とする請求項１から請求項４のいずれかに記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項６】
前記Ｘ線管装置における不良素子の配置情報を取得する不良素子配置情報取得部を更に備え、
前記Ｘ線制御部は、前記不良素子の配置情報に基づいて、前記Ｘ線焦点位置のシフト方向を前記回転盤の回転方向と直交する方向であるスライス方向とするか、前記回転盤の回転方向であるチャンネル方向とするかを切り替える切替部を更に備えることを特徴とする請求項１に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項７】
１つのＸ線焦点位置から照射されたＸ線により得られ、前記不良素子に隣接する正常素子にて検出された値を用いて前記不良素子の出力値を補間により求める補間演算部を更に備え、
前記投影データ生成部は、前記不良素子補正部により前記正常素子の値に置換された前記不良素子の出力値と、前記補間演算部により求められた前記不良素子の出力値とを加重平均して前記投影データを生成することを特徴とする請求項１から請求項６のいずれかに記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項８】
前記加重平均の重みを入力する入力部を更に備えることを特徴とする請求項７に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項９】
前記不良素子補正部により前記不良素子の出力値を補正して生成した補正投影データと、前記不良素子の出力値を補正しないで生成した未補正投影データとを並べて表示する表示部を更に備えることを特徴とする請求項１から請求項８のいずれかに記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項１０】
設定されたＸ線焦点シフト量と実際のＸ線焦点シフト量との誤差を算出する焦点シフト量誤差算出部を更に備え、
前記不良素子補正部は、前記Ｘ線焦点シフト量の誤差に基づいて前記不良素子の出力値の置換に用いる正常素子を特定することを特徴とする請求項１から請求項９のいずれかに記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項１１】
Ｘ線検出器における不良素子へ入射するＸ線のビーム経路と前記不良素子の近傍の正常素子へ入射するＸ線のビーム経路とが略一致するようにＸ線管装置におけるＸ線焦点位置を複数の位置にシフトさせてＸ線を照射し、
画像処理装置が、
複数のＸ線焦点位置から照射されたＸ線による透過Ｘ線データを取得し、
第１の焦点位置から照射されたＸ線による透過Ｘ線データに基づいて投影データを生成する際に、前記Ｘ線検出器における不良素子の出力値を、前記第１の焦点位置と異なる第２の焦点位置から照射されたＸ線による前記不良素子の近傍の正常素子の出力値に置換して、前記投影データを補正する
ことを特徴とする不良素子補正方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ｘ線ＣＴ装置及び不良素子補正方法に係り、詳細には、Ｘ線検出器における不良素子の出力値の補正に関する。
【背景技術】
【０００２】
Ｘ線ＣＴ装置は、Ｘ線管装置とＸ線検出器とを対向配置させた状態で被検体の周囲を周回させ、複数の回転角度方向（ビュー）からＸ線を照射してビュー毎に被検体を透過したＸ線をＸ線検出器により検出し、検出した透過Ｘ線データに基づいて被検体の断層像を生成する装置である。上述のＸ線検出器は、例えばシンチレータとフォトダイオードの組み合わせによって構成される複数のＸ線検出素子をチャネル方向（周回方向）及び列方向（体軸方向）に配列したものであるが、フォトダイオードや回路等の故障が原因で透過Ｘ線を正常に検出できない素子が発生することがある。このような不良素子がある状態でＸ線ＣＴ装置を使用すると、再構成画像にアーチファクトが生じ、画像診断の妨げになる。
【０００３】
不良素子の対策として、不良素子またはＸ線検出器自体を交換する方法がある。しかしながら、交換には正常な素子もしくはＸ線検出器を準備する必要があり、多くの時間、費用、及び人員が必要となる。また、交換作業を実施する間、臨床の現場ではＸ線ＣＴ装置が使用できないデッドタイムが生じてしまう。不良素子対策の他の方法として、信号処理により不良素子の出力値を補う方法がある。例えば、特許文献１には、不良素子（故障チャネル）の近隣８個または２４個の素子の出力値を用いて不良素子の出力値を算出する方法について記載されている。このように演算により不良素子の出力値を求めることにより、交換によるデメリットを最小限に抑えることが可能である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特許第４３０９２６６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１の方法では、近隣素子の現在及び直前の出力値の平均値を用いて不良素子の出力値を補正しているため、必ずしも正確な値とはならないという問題がある。これは、不良素子に入射するＸ線ビームと近隣素子に入射するＸ線ビームとは被検体を透過する経路が異なるからである。特に、不良素子の位置が、例えばエアと被検体との境界部等のように、隣接する素子間で出力値の差が大きくなるエッジ部と重なってしまう場合は、近隣素子の平均値を用いて不良素子の出力値を補正すると、補正の精度が著しく低下することがある。
【０００６】
本発明は、前述した問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とすることは、Ｘ線ビーム経路ができるだけ近接する透過Ｘ線データを用いて不良素子の値を補正し、正確な不良素子補正を行うことが可能なＸ線ＣＴ装置及び不良素子補正方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前述した目的を達成するために第１の発明は、被検体にＸ線を照射するＸ線管装置と、前記Ｘ線管装置に対向配置され、前記被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出器と、前記Ｘ線管装置及び前記Ｘ線検出器を搭載し、前記被検体の周囲を回転する回転盤と、前記Ｘ線検出器における不良素子へ入射するＸ線のビーム経路と前記不良素子の近傍の正常素子へ入射するＸ線のビーム経路とが略一致するように前記Ｘ線管装置におけるＸ線焦点位置を複数の位置にシフトさせてＸ線を照射させるＸ線制御部と、前記Ｘ線検出器により検出された透過Ｘ線データに基づいて投影データを生成する投影データ生成部と、前記投影データ生成部において第１の焦点位置から照射されたＸ線による透過Ｘ線データに基づいて前記投影データを生成する際に、前記Ｘ線検出器における不良素子の出力値を、前記第１の焦点位置と異なる第２の焦点位置から照射されたＸ線による前記不良素子の近傍の正常素子の出力値に置換して、前記投影データを補正する不良素子補正部と、前記不良素子補正部により補正された投影データに基づいて画像を再構成する再構成演算部と、を備えることを特徴とするＸ線ＣＴ装置である。
【０００８】
第２の発明は、Ｘ線検出器における不良素子へ入射するＸ線のビーム経路と前記不良素子の近傍の正常素子へ入射するＸ線のビーム経路とが略一致するようにＸ線管装置におけるＸ線焦点位置を複数の位置にシフトさせてＸ線を照射し、画像処理装置が、複数のＸ線焦点位置から照射されたＸ線による透過Ｘ線データを取得し、第１の焦点位置から照射されたＸ線による透過Ｘ線データに基づいて投影データを生成する際に、前記Ｘ線検出器における不良素子の出力値を、前記第１の焦点位置と異なる第２の焦点位置から照射されたＸ線による前記不良素子の近傍の正常素子の出力値に置換して、前記投影データを補正することを特徴とする不良素子補正方法である。
【発明の効果】
【０００９】
本発明により、Ｘ線ビーム経路ができるだけ近接する透過Ｘ線データを用いて不良素子の値を補正し、正確な不良素子補正を行うことが可能なＸ線ＣＴ装置及び不良素子補正方法を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】Ｘ線ＣＴ装置１の全体構成図
【図２】スライス方向にＸ線焦点位置をシフトさせた際に各検出素子に入射するＸ線ビーム経路について説明する図
【図３】本発明に係る不良素子補正処理を含む撮影処理全体の流れを説明するフローチャート
【図４】チャンネル方向にＸ線焦点位置をシフトさせた際に各検出素子に入射するＸ線ビーム経路について説明する図
【図５】空間分解能向上処理と不良素子補正処理とを共に行うための焦点シフトについて説明する図
【図６】空間分解能向上処理と不良素子補正処理とを含む撮影処理全体の流れを説明するフローチャート
【図７】Ｘ線検出器１０６における不良素子の配置について説明する図
【図８】Ｘ線検出器１０６における不良素子の配置について説明する図
【図９】不良素子が複数並んでいる場合の不良素子補正処理の流れを説明する図
【図１０】透過Ｘ線データ６４におけるエッジ部と不良素子の配置との関係について説明する図
【図１１】設定画面７１の一例を示す図
【図１２】不良素子補正部１２７による補正値と、補間演算による補正値とを加重平均して不良素子補正を行う場合の処理の流れを説明するフローチャート
【図１３】補正投影データ表示画面７ａ，７ｂの一例を示す図
【図１４】シフト誤差測定画面８の一例を示す図
【図１５】Ｘ線検出器１０６の各検出素子の出力値８５の一例を示す図
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。
【００１２】
［第１の実施の形態］
まず、図１を参照して、Ｘ線ＣＴ装置１の全体構成について説明する。
図１に示すように、Ｘ線ＣＴ装置１は、スキャンガントリ部１００、寝台１０５、及び操作卓１２０を備える。
【００１３】
スキャンガントリ部１００は、被検体に対してＸ線を照射するとともに被検体を透過したＸ線を検出する装置であり、Ｘ線管装置１０１、回転盤１０２、コリメータ１０３、Ｘ線検出器１０６、データ収集装置１０７、ガントリ制御装置１０８、寝台制御装置１０９、焦点シフトＸ線制御装置１１０、及び検出器制御装置１１１を備える。
【００１４】
回転盤１０２には開口部１０４が設けられ、開口部１０４を介してＸ線管装置１０１とＸ線検出器１０５とが対向配置される。開口部１０４内に寝台１０５に載置された被検体が挿入される。回転盤１０２は、ガントリ制御装置１０８によって制御される回転盤駆動装置から駆動伝達系を通じて伝達される駆動力によって被検体の周囲を回転する。
【００１５】
操作卓１２０は、スキャンガントリ部１００の各部を制御するとともにスキャンガントリ部１００で計測したデータを取得し、画像の生成を行う装置であり、入力装置１２１、画像処理装置１２２、記憶装置１２３、システム制御装置１２４、及び表示装置１２５を備える。
【００１６】
Ｘ線管装置１０１は回転陽極（ターゲット）における焦点位置を移動可能なフライング焦点Ｘ線管装置である。Ｘ線ＣＴ装置１の回転軸方向をＺ方向とすると、フライング焦点Ｘ線管装置は、回転陽極（ターゲット）に照射する電子ビームをＺ方向またはＺ方向に直交するＸ方向またはＹ方向に偏向させる。これによりＸ線焦点位置をシフトさせ、同じビュー位置から微小に異なる経路のＸ線を照射する。
【００１７】
Ｘ線管装置１０１は、焦点シフトＸ線制御装置１１０に制御されて所定の強度のＸ線を連続的または断続的に照射する。焦点シフトＸ線制御装置１１０は、操作卓１２０のシステム制御装置１２４により決定されたＸ線管電圧及びＸ線管電流に従って、Ｘ線管装置１０１に印加または供給するＸ線管電圧及びＸ線管電流を制御する。また、焦点シフトＸ線制御装置１１０は、回転盤１０２の回転に伴い、ビュー毎にＸ線焦点位置を複数の焦点位置に移動させるフライング焦点制御を行う。
【００１８】
Ｘ線管装置１０１のＸ線照射口にはコリメータ１０３が設けられる。コリメータ１０３は、Ｘ線管１０１から放射されたＸ線の照射範囲を制限する。例えばコーンビーム（円錐形または角錐形ビーム）等に成形する。コリメータ１０３の開口幅はシステム制御装置１２４により制御される。
【００１９】
Ｘ線管装置１０１から照射され、コリメータ１０３を通過し、被検体を透過したＸ線はＸ線検出器１０６に入射する。
【００２０】
Ｘ線検出器１０６は、例えばシンチレータとフォトダイオードの組み合わせによって構成されるＸ線検出素子群をチャネル方向（周回方向）に例えば１０００個程度、列方向（体軸方向）に例えば１〜３２０個程度配列したものである。Ｘ線検出器１０６は、被検体を介してＸ線管装置１０１に対向するように配置される。Ｘ線検出器１０６はＸ線管装置１０１から照射されて被検体を透過したＸ線量を検出し、データ収集装置１０７に出力する。
【００２１】
データ収集装置１０７は、検出器制御装置１１１の制御により、Ｘ線検出器１０６の個々のＸ線検出素子により検出されるＸ線量を収集し、ディジタルデータに変換し、透過Ｘ線データとして操作卓１２０の画像処理装置１２２に順次出力する。
【００２２】
画像処理装置１２２は、データ収集装置１０７から入力された透過Ｘ線データを取得する。本発明では、Ｘ線管装置１０１における複数のＸ線焦点位置からＸ線が照射されるため、画像処理装置１２２には、複数のＸ線焦点位置からの透過Ｘ線データが入力される。
【００２３】
画像処理装置１２２は、画像再構成に必要な投影データを生成する投影データ生成部１２６と、投影データ生成部１２６により生成された投影データを用いて断層像等の画像を再構成する再構成演算部１２８とを備える。また本発明において、投影データ生成部１２６は、Ｘ線検出器１０６における不良素子の出力値を補正する不良素子補正部１２７を有する。
【００２４】
投影データ生成部１２６は、データ収集装置１０７から入力された透過Ｘ線データを取得し、対数変換、感度補正等の前処理を行って再構成に必要な投影データを作成する。投影データ生成部１２６には複数のＸ線焦点位置から照射されたＸ線による透過Ｘ線データが入力されるため、投影データ生成部１２６は、これらの透過Ｘ線データを用いて、複数のＸ線焦点位置のうちいずれか１つのＸ線焦点位置（以下、第１の焦点位置）から照射されたＸ線による投影データを生成する。
【００２５】
投影データ生成部１２６が投影データを生成する際、まず、不良素子補正部１２７はＸ線検出器１０６における不良素子の出力値を補正する。具体的には、投影データ生成部１２６が例えば第１の焦点位置から照射されたＸ線について投影データを生成する場合には、不良素子補正部１２７は、不良素子の出力値を第１の焦点位置とは異なる焦点位置（第２の焦点位置）から照射されたＸ線による透過Ｘ線データであって、不良素子近傍の正常素子において検出された出力値に置換する。
【００２６】
なお、第１の焦点位置から不良素子に入射するＸ線ビームと、第２の焦点位置から不良素子の近傍のある正常素子に入射するＸ線ビームとは経路が略一致するように、Ｘ線管装置１０１におけるＸ線焦点のシフト量（シフト距離）が調整されている。シフト距離の詳細については後述する。
【００２７】
投影データ生成部１２６は、Ｘ線検出器１０６における正常素子については第１の焦点位置Ｐ１からの透過Ｘ線データを利用し、不良素子については不良素子補正部１２７により補正された値を用いて投影データを生成する。投影データ生成部１２６は、不良素子補正部１２７により不良素子の値が補正された透過Ｘ線データに対して対数変換、感度補正等の前処理を行って、投影データを作成する。
【００２８】
図２を参照して、複数のＸ線焦点位置からＸ線検出器１０６に入射するＸ線ビームについて説明する。図２では、Ｘ線管装置１０１によるＸ線焦点位置のシフト方向をスライス方向とする場合について説明する。
図２（ａ）はスライス方向に異なる２つの焦点位置Ｐ１，Ｐ２から照射されＸ線検出器１０６に入射するＸ線を説明するための図である。図中Ｚ方向（横方向）がＸ線検出器１０６のスライス方向である。スライス方向とは、回転盤１０２の回転方向と直交する方向である。
【００２９】
Ｘ線検出器１０６の検出素子２２は不良素子とする。また、不良素子２２に隣接する各検出素子２１，２３は正常素子とする。また、Ｘ線焦点をスライス方向の２箇所にシフトさせた各Ｘ線焦点位置のうち、Ｐ１を第１の焦点位置、Ｐ２を第２の焦点位置と呼ぶ。
【００３０】
隣接する正常素子２１，２３の出力値を不良素子２２の出力値に置換する場合、第１の焦点位置Ｐ１と第２の焦点位置Ｐ２との間の最適な距離（シフト距離）Ｄｓｈｉｆｔは、不良素子２２と不良素子補正に用いる正常素子２１（または２３）との素子間距離ＺＰｉｔｃｈと、Ｘ線焦点から計測中心までの距離ＳＯＤと、Ｘ線焦点からＸ線検出器１０６までの距離ＳＩＤとに基づいて決定される。
具体的には、最適なシフト距離Ｄｓｈｉｆｔは以下の式（１）により算出される。
【００３１】
【数１】
2015116408.tif 000003
【００３２】
図２（ｂ）に示すように、第２のＸ線焦点Ｐ２から不良素子２２へのＸ線ビーム経路３１と第１のＸ線焦点Ｐ１から不良素子２２に隣接する正常素子２３へのＸ線ビーム経路３２とは、計測中心付近で非常に接近し、ほとんど一致する。
同様に、図２（ｃ）に示すように、第１のＸ線焦点Ｐ１から不良素子２２へのＸ線ビーム経路３３と第２のＸ線焦点Ｐ２から不良素子２２に隣接する正常素子２１へのＸ線ビーム経路３４とが、計測中心付近で非常に接近し、ほとんど一致する。
【００３３】
つまり図２（ｂ）及び図２（ｃ）に示すように、スライス方向に最適なシフト距離ＤｓｈｉｆｔだけＸ線焦点位置をシフトした各Ｘ線焦点位置Ｐ１，Ｐ２から照射され、スライス方向に隣り合う検出素子に入射するＸ線ビーム経路は計測中心付近で非常に接近する。したがって、ほとんど同一の経路で被検体を透過する。
【００３４】
このことを利用し、本発明では、画像処理装置１２２は一方のＸ線焦点位置（例えば、第１の焦点位置Ｐ１）から照射され不良素子２２に入射したＸ線による不良素子２２の出力値を、他方のＸ線焦点位置（例えば、第２の焦点位置Ｐ２）から照射され隣接する正常素子（例えば、正常素子２１）に入射したＸ線による当該正常素子２１の出力値に置き換える。そして、不良素子２２の値が正常素子２１の出力値に置換された投影データを生成する。
【００３５】
これにより、投影データには不良素子のデータが含まれず、すべて正常素子の出力値となる。また不良素子２２へ入射するＸ線ビームと略一致する経路であって正常素子２１に入射するＸ線ビームをＸ線管装置１０１における焦点シフトにより作り出し、このＸ線ビームによる正常素子２１の出力値を不良素子補正に用いるため、より正確に不良素子の値を補正できる。
【００３６】
再構成演算部１２８は、投影データ生成部１２６により生成され、不良素子補正部１２７により不良素子の出力値が補正された投影データに基づいて被検体の断層像等の画像を再構成する。画像の再構成処理は、例えばフィルタ補正逆投影法等の解析的方法や逐次近似法等のいずれの方法を用いてもよい。
【００３７】
画像処理装置１２２（再構成演算部１２８）により再構成された画像データは、システム制御装置１２４に入力され、記憶装置１２３に保存されるとともに表示装置１２５に表示される。
【００３８】
システム制御装置１２４は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）等を備えたコンピュータである。記憶装置１２３はハードディスク等のデータ記録装置であり、Ｘ線ＣＴ装置１の機能を実現するためのプログラムやデータ等が予め記憶される。
【００３９】
システム制御装置１２４は、図３に示す処理手順に従って撮影処理を行う。撮処理においてシステム制御装置１２４は、操作者により設定された撮影条件に応じた制御信号をスキャンガントリ部１００の焦点シフトＸ線制御装置１１０、寝台制御装置１０９、及びガントリ制御装置１０８に送出し、上述の各部を制御する。各処理の詳細については後述する。
【００４０】
表示装置１２５は、液晶パネル、ＣＲＴモニタ等のディスプレイ装置と、ディスプレイ装置と連携して表示処理を実行するための論理回路で構成され、システム制御装置１２４に接続される。表示装置１２５は画像演算装置１２２から出力される再構成画像、並びにシステム制御装置１２４が取り扱う種々の情報を表示する。
【００４１】
入力装置１２１は、例えば、キーボード、マウス等のポインティングデバイス、テンキー、及び各種スイッチボタン等により構成され、操作者によって入力される各種の指示や情報をシステム制御装置１２４に出力する。操作者は、表示装置１２５及び入力装置１２１を使用して対話的にＸ線ＣＴ装置１を操作する。入力装置１２１は表示装置１２５の表示画面と一体的に構成されるタッチパネル式の入力装置としてもよい。
【００４２】
次に、図３を参照して、Ｘ線ＣＴ装置１の動作を説明する。
図３は、本発明に係るＸ線ＣＴ装置１が実行する撮影処理全体の流れを説明するフローチャートである。
【００４３】
撮影処理において、まずシステム制御装置１２４は、撮影条件及び再構成条件の入力を受け付ける（ステップＳ１０１）。撮影条件は、Ｘ線管電圧、Ｘ線管電流等のＸ線条件、撮影範囲、ガントリ回転速度、寝台速度、らせんピッチ等を含む。再構成条件は、再構成ＦＯＶ、再構成スライス厚等を含む。
【００４４】
入力装置１２１等を介して撮影条件及び再構成条件が入力されると、システム制御装置１２４は所定のシフト距離だけ離れた複数のＸ線焦点位置からＸ線を照射するようＸ線管装置１０１を制御し、透過Ｘ線データを得る（ステップＳ１０２）。
【００４５】
ステップＳ１０２において、システム制御装置１２４は、撮影条件に基づいて焦点シフトＸ線制御装置１１０、ガントリ制御装置１０８、検出器制御装置１１１、及び寝台制御装置１０９に制御信号を送る。焦点シフトＸ線制御装置１１０は、システム制御装置１２４から入力される制御信号に基づいてＸ線管装置１０１に入力する電力を制御する。また焦点シフトＸ線制御装置１１０は、Ｘ線管装置１０１の回転陽極に照射する電子ビームを所定のタイミングで所定の方向及び距離だけ移動させることにより、Ｘ線焦点位置をビュー毎に交互に移動させてＸ線を照射するフライング焦点シフト制御を行う。
【００４６】
例えば、Ｘ線管装置１０１における焦点のシフト距離を上述のＤｓｈｉｆｔとする場合、基準焦点位置からスライス方向に「−Ｄｓｈｉｆｔ／２」だけシフトした位置を第１の焦点位置Ｐ１とし、「＋Ｄｓｈｉｆｔ／２」だけシフトした位置を第２の焦点位置Ｐ２とする。
【００４７】
ガントリ制御装置１０８は回転速度等の撮影条件に従って回転盤１０２の駆動系を制御し、回転盤１０２を回転させる。寝台制御装置１０９は、撮影範囲に基づいて寝台を所定の撮影開始位置へ位置合わせし、撮影中は寝台速度（らせんピッチ）等の撮影条件に基づいて寝台を移動させる。
【００４８】
Ｘ線管装置１０１からのＸ線照射とＸ線検出器１０６による透過Ｘ線データの計測が、回転盤１０２の回転とともに繰り返される。データ収集装置１０７は、被検体の周囲の様々な角度（ビュー）においてＸ線検出器１０６により計測された透過Ｘ線データを取得し、画像処理装置１２２に送る。画像処理装置１２２は、データ収集装置１０７から入力された透過Ｘ線データを取得する。
【００４９】
画像処理装置１２２は、不良素子の配置情報を取得する（ステップＳ１０３）。不良素子の配置情報は予め測定され、記憶装置１２３等に記憶されているものとしてもよいし、操作者が入力装置１２１を介して入力したものでもよい。
【００５０】
画像処理装置１２２の不良素子補正部１２７は、ステップＳ１０３で取得した不良素子の配置情報に基づいて、不良素子補正に用いる正常素子を特定する（ステップＳ１０４）。例えば、図２の第１の焦点位置Ｐ１から照射されたＸ線についての投影データを生成する場合は、Ｘ線焦点位置をシフトした際にＸ線ビーム経路が略一致する正常素子２１の出力値を不良素子の補正に用いる（図２（ｃ）参照）。同様に、第２の焦点位置Ｐ２から照射されたＸ線についての投影データを生成する場合は、不良素子２２の補正に用いる正常素子は素子２３とすればよい（図２（ｂ）参照）。
【００５１】
不良素子補正部１２７は、ステップＳ１０４で特定した正常素子の出力値を不良素子の出力値に置換する（ステップＳ１０５）。
不良素子補正部１２７は、全ての不良素子について出力値の補正が完了したか否かを判定する（ステップＳ１０６）。すなわち、画像処理装置１２２は、不良素子の配置情報に基づいて他に不良素子があるか否かを判定し、未補正の不良素子がある場合は（ステップＳ１０６；Ｎｏ）、ステップＳ１０４、ステップＳ１０５の処理を繰り返し、未補正の不良素子の補正に用いる正常素子の特定、及び出力値の置換を行う。
【００５２】
全ての不良素子について出力値の補正（置換）が完了すると（ステップＳ１０６；Ｙｅｓ）、投影データ生成部１２６は、不良素子の出力値が補正された透過Ｘ線データに基づいて投影データ（補正投影データ）を生成し（ステップＳ１０７）、再構成演算部１２８へ送る。
【００５３】
ステップＳ１０４〜ステップＳ１０７の処理により、２つのＸ線焦点位置Ｐ１，Ｐ２からの透過Ｘ線データのうち、正常素子についてはいずれか一方の焦点位置（例えば、第１の焦点位置Ｐ１）からの透過Ｘ線データを使用し、不良素子については、他方の焦点位置（例えば、第２の焦点位置Ｐ２）からの透過Ｘ線データであって隣接する正常素子にて検出された値を使用した補正投影データ（例えば、−Ｄｓｈｉｆｔ／２投影データ）が作成される。
【００５４】
再構成演算部１２８は、入力された補正投影データを用い、ステップＳ１０１で入力された再構成条件に基づいて画像の再構成処理を行う（ステップＳ１０８）。画像の再構成処理において使用する画像再構成アルゴリズムはどのような種類のものを用いてもよい。例えば、Feldkamp法等の逆投影処理を行ってもよいし、逐次近似法等を用いてもよい。
【００５５】
ステップＳ１０８において画像が再構成されると、システム制御装置１２４は、再構成された画像を表示装置１２５に表示し（ステップＳ１０９）、一連の撮影処理を終了する。
【００５６】
以上説明したように、本実施の形態のＸ線ＣＴ装置１は、不良素子へ入射するＸ線のビーム経路と略一致するビーム経路であって不良素子の近傍の正常素子へ入射するＸ線をＸ線管装置１０１におけるＸ線焦点シフトによって作り出し、その正常素子の出力値を用いて不良素子の出力値を補正する。したがって、投影データには不良素子の値は含まれず、またＸ線ビーム経路が略一致する近傍の素子のデータを利用しているため、より正確な投影データを生成できる。
【００５７】
なお、上述の実施の形態では、スライス方向に１素子離れた（隣接する）正常素子の出力値を用いて、不良素子の出力値を補正するものとしたが、これに限定されない。例えば、不良素子から２素子離れた正常素子を不良素子の補正に用いてもよい。ただし、２素子離れた正常素子を補正に用いる場合は、Ｘ線焦点のシフト距離Ｄｓｈｉｆｔを２倍の距離とする必要がある。これは、Ｘ線焦点のシフト量Ｄｓｈｉｆｔを求める上述の式（１）において、検出素子間の距離ＺＰｉｔｃｈを２ＺＰｉｔｃｈとするからである。
【００５８】
［第２の実施の形態］
次に、本発明のＸ線ＣＴ装置１の第２の実施の形態について説明する。
なお、以下の説明において、第１の実施の形態と同一の構成及び動作については説明を省略し、第１の実施の形態と同一の符号を付して説明する。
【００５９】
第１の実施の形態では、Ｘ線焦点をスライス方向に移動させ、スライス方向に隣接する正常素子の出力値を用いて不良素子の出力値を補正したが、本発明の不良素子補正は、チャンネル方向にも適用できる。チャンネル方向とは、回転盤１０２の回転方向と同じ方向である。
【００６０】
図４を参照して、第２の実施の形態における不良素子補正について説明する。
図４（ａ）はチャンネル方向に異なる２つの焦点位置Ｑ１，Ｑ２から照射されＸ線検出器１０６に入射するＸ線について説明する図である。図中Ｘ方向（横方向）がＸ線検出器１０６のチャンネル方向である。
【００６１】
Ｘ線検出器１０６の検出素子４２は不良素子とする。また、不良素子４２に隣接する各検出素子４１，４３は正常素子とする。また、Ｘ線焦点をチャンネル方向の２箇所にシフトさせた各焦点位置のうち、Ｑ１が第１の焦点位置、Ｑ２が第２の焦点位置である。
【００６２】
第２の実施の形態において、Ｘ線管装置１０１によるＸ線焦点の移動方向はＸ線ＣＴ装置１の回転方向であるチャンネル方向とする。また、第１の焦点位置Ｑ１と第２の焦点位置Ｑ２との間の最適な距離（シフト距離）Ｄ’ｓｈｉｆｔは、不良素子２２と不良素子補正に用いる正常素子４１（または４３）とのチャンネル方向の素子間距離ＸＰｉｔｃｈと、Ｘ線焦点から計測中心までの距離ＳＯＤと、Ｘ線焦点からＸ線検出器１０６までの距離ＳＩＤとに基づいて決定される。
具体的には、チャンネル方向に隣接する正常素子の値を不良素子の出力値とする場合は、最適なシフト距離Ｄ’ｓｈｉｆｔは以下の式（２）により算出される。
【００６３】
【数２】
2015116408.tif 000004
【００６４】
図４（ｂ）に示すように、第２のＸ線焦点Ｑ２から不良素子４２へのＸ線ビーム経路５１と第１のＸ線焦点Ｑ１から不良素子４２に隣接する正常素子４３へのＸ線ビーム経路５２とは、計測中心付近で非常に接近し、ほとんど一致する。
同様に、図４（ｃ）に示すように、第１のＸ線焦点Ｑ１から不良素子４２へのＸ線ビーム経路５３と第２のＸ線焦点Ｑ２から不良素子４２に隣接する正常素子４１へのＸ線ビーム経路５４とが、計測中心付近で非常に接近し、ほとんど一致する。
【００６５】
つまり図４（ｂ）及び図４（ｃ）に示すように、チャンネル方向にＤ’ｓｈｉｆｔだけＸ線焦点位置をシフトした各Ｘ線焦点位置Ｑ１，Ｑ２から照射され、チャンネル方向に隣り合う検出素子に入射するＸ線ビーム経路は計測中心付近で非常に接近する。したがって、ほとんど同一の経路で被検体を透過する。
【００６６】
このことを利用し、第１の実施の形態と同様に第２の実施の形態においても画像処理装置１２２は、一方のＸ線焦点位置（例えば、第１の焦点位置Ｑ１）から照射され不良素子４２に入射したＸ線についての不良素子の出力値を、他方のＸ線焦点位置（例えば、第２の焦点位置Ｑ２）から照射され隣接する正常素子（例えば、正常素子４１）に入射したＸ線についての当該正常素子４１の出力値に置き換える。そして、不良素子の値が正常素子の出力値に置換された投影データを生成する。
【００６７】
これにより、投影データには不良素子のデータが含まれず、すべて正常素子の出力値となる。またＸ線管装置１０１におけるＸ線焦点の最適なシフト距離（焦点間距離）Ｄ’ｓｈｉｆｔを、Ｘ線管装置１０１とＸ線検出器１０６と不良素子と正常素子との位置関係に基づいて算出し、不良素子へ入射するＸ線ビームと不良素子補正に用いる正常素子へ入射するＸ線ビームとが略一致するようにしているため、正確に不良素子の値を補正できる。
【００６８】
なお、第２の実施の形態についても第１の実施の形態と同様に、チャンネル方向に２素子離れた（隣接する）正常素子の出力値を不良素子の補正に用いてもよい。ただし、２素子離れた正常素子を補正に用いる場合は、Ｘ線焦点のシフト距離Ｄ’ｓｈｉｆｔを２倍の距離とする。これは、Ｘ線焦点のシフト量Ｄ’ｓｈｉｆｔを求める上述の式（２）において、検出素子間の距離ＸＰｉｔｃｈを２ＸＰｉｔｃｈとするからである。
【００６９】
［第３の実施の形態］
次に、本発明のＸ線ＣＴ装置１の第３の実施の形態について説明する。
第１及び第２の実施の形態では、スライス方向に所定のシフト距離Ｄｓｈｉｆｔ（またはチャンネル方向に所定のシフト距離Ｄ’ｓｈｉｆｔ）だけ離れた２点にＸ線焦点をシフトさせた透過Ｘ線データを用いて不良素子出力値の補正を行ったが、これら２つの焦点位置に加え、シフト距離Ｄｓｈｉｆｔ／２（またはＤ’ｓｈｉｆｔ／２）だけ離れた２点にＸ線焦点をシフトさせて、計４つの焦点から透過Ｘ線データを取得する。これにより投影データの空間分解能を向上させる。
【００７０】
第３の実施の形態において、焦点シフトＸ線制御部１１０は、第１または第２の実施の形態における上述の第１及び第２の焦点位置Ｐ１，Ｐ２（或いはＱ１，Ｑ２）からのＸ線照射に加え、第３及び第４の焦点位置からＸ線を照射させる。第３及び第４の焦点位置は、不良素子補正のためのシフト距離Ｄｓｈｉｆｔの半分の距離Ｄｓｈｉｆｔ／２（或いはＤ’ｓｈｉｆｔ／２）だけ、第１及び第２の焦点位置Ｐ１，Ｐ２（或いはＱ１，Ｑ２）からそれぞれシフトさせた位置である。
【００７１】
本第３の実施の形態では、シフトしない場合のＸ線焦点である基準焦点位置から、例えばチャンネル方向に「±Ｄｓｈｉｆｔ／４」及び「±３Ｄｓｈｉｆｔ／４」の４か所にＸ線焦点をシフトする。
【００７２】
図５を参照して、第３の実施の形態における不良素子補正と空間分解能向上処理について説明する。
【００７３】
図５（ａ）はチャンネル方向に異なる４つの焦点位置Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ４から照射されＸ線検出器１０６に入射するＸ線を説明するための模式図である。図中Ｘ方向（横方向）がＸ線検出器１０６のチャンネル方向である。
【００７４】
Ｘ線検出器１０６の検出素子４２は不良素子とする。また、不良素子４２に隣接する各検出素子４１，４３は正常素子とする。また、Ｘ線焦点をチャンネル方向の４箇所にシフトさせた各焦点位置のうち、Ｒ１が第１の焦点位置、Ｒ２が第２の焦点位置、Ｒ３が第３の焦点位置、Ｒ４が第４の焦点位置、である。
【００７５】
第１の焦点位置Ｒ１は、基準焦点位置から「−Ｄ’ｓｈｉｆｔ／４」だけシフトし、第２の焦点位置Ｒ２は、基準焦点位置から「＋３Ｄ’ｓｈｉｆｔ／４」だけシフトする。第１及び第２の焦点位置のシフト距離はＤ’
ｓｈｉｆｔである。 
第３の焦点位置Ｒ３は、基準焦点位置から「−３Ｄ’ｓｈｉｆｔ／４」だけシフトし、第４の焦点位置Ｒ２は、基準焦点位置から「＋Ｄ’ｓｈｉｆｔ／４」だけシフトする。第３及び第４の焦点位置のシフト距離はＤ’
ｓｈｉｆｔである。 
【００７６】
図５（ａ）に示すように、第１のＸ線焦点Ｒ１から不良素子４２へのＸ線ビーム経路５６と第２のＸ線焦点Ｒ２から不良素子４２に隣接する正常素子４１へのＸ線ビーム経路５５とは計測中心付近で非常に接近し、ほとんど一致する。したがって、第１及び第２のＸ線焦点Ｒ１、Ｒ２から得られる透過Ｘ線データを用いて不良素子補正部１２７による不良素子補正が可能である。投影データ生成部１２６は、不良素子補正が行われた−Ｄ’ｓｈｉｆｔ／４シフト投影データ（以下、第１投影データという）を生成する。
【００７７】
同様に、図５（ｂ）に示すように、第４のＸ線焦点Ｒ４から不良素子４２へのＸ線ビーム経路５６と第３のＸ線焦点Ｒ３から不良素子４２に隣接する正常素子４３へのＸ線ビーム経路５７とは計測中心付近で非常に接近し、ほとんど一致する。したがって、第３及び第４のＸ線焦点Ｒ３、Ｒ４から得られる透過Ｘ線データを用いて不良素子補正部１２７による不良素子補正が可能である。投影データ生成部１２６は、不良素子補正が行われた＋Ｄ’ｓｈｉｆｔ／４シフト投影データ（以下、第２投影データという）を生成する。
【００７８】
投影データ生成部１２６（空間分解能向上投影データ生成部）は、第１及び第２の焦点位置Ｒ１，Ｒ２から照射されたＸ線により生成され、不良素子補正部１２７による不良素子補正が行われた第１投影データを生成する。また第３及び第４の焦点位置Ｒ３，Ｒ４から照射されたＸ線により生成され、不良素子補正部１２７による不良素子補正が行われた第２投影データを生成する。これらの第１投影データ及び第２投影データを組み合わせることにより、空間分解能向上投影データを生成する。
【００７９】
再構成演算部１２８は、投影データ生成部１２６により生成され、不良素子補正部１２７により不良素子の出力値が補正された空間分解能向上投影データに基づいて被検体の断層像等の画像を再構成する。
【００８０】
次に、図６を参照して、第３の実施の形態におけるＸ線ＣＴ装置１の動作を説明する。
【００８１】
まずシステム制御装置１２４は、撮影条件及び再構成条件の入力を受け付ける（ステップＳ２０１）。撮影条件及び再構成条件の入力については、図３のステップＳ１０１と同様である。
【００８２】
入力装置１２１等を介して撮影条件及び再構成条件が入力されると（ステップＳ２０１）、システム制御装置１２４は、チャンネル方向にＤ’ｓｈｉｆｔ／４ずつ離れた４つのＸ線焦点位置Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ４からＸ線を照射するようＸ線管装置１０１を制御し、透過Ｘ線データを得る（ステップＳ２０２）。
【００８３】
例えば、図５に示すように、基準焦点位置からスライス方向に「−３Ｄ’ｓｈｉｆｔ／４」だけシフトした位置（−３／４位置）を第３の焦点位置Ｒ３とし、「−Ｄ’ｓｈｉｆｔ／４」だけシフトした位置（−１／４位置）を第１の焦点位置Ｒ１とし、「＋Ｄ’ｓｈｉｆｔ／４」だけシフトした位置（＋１／４位置）を第４の焦点位置Ｒ４とし、「＋３Ｄ’ｓｈｉｆｔ／４」だけシフトした位置（＋３／４位置）を第２の焦点位置Ｒ２とする。
【００８４】
Ｘ線管装置１０１からのＸ線照射とＸ線検出器１０６による透過Ｘ線データの計測が、回転盤１０２の回転とともに繰り返される。データ収集装置１０７は、被検体の周囲の様々な角度（ビュー）においてＸ線検出器１０６により計測された透過Ｘ線データを取得し、画像処理装置１２２に送る。画像処理装置１２２は、データ収集装置１０７から入力された透過Ｘ線データを取得する。
【００８５】
次に、画像処理装置１２２は、Ｘ線検出器１０６における不良素子の配置情報を取得する（ステップＳ２０３）。
【００８６】
画像処理装置１２２は、４つのＸ線焦点位置Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ４からの透過Ｘ線データのうち、シフト距離がＤ’ｓｈｉｆｔとなる２つのＸ線焦点位置からの透過Ｘ線データを用いて、それぞれ不良素子補正された投影データを生成する。すなわち、−１／４位置であるＸ線焦点位置Ｒ１と、＋３／４位置であるＸ線焦点位置Ｒ２からの透過Ｘ線データを用いて不良素子補正を行った投影データ（第１投影データ）を生成する（ステップＳ２０４）。
【００８７】
また、画像処理装置１２２は、−３／４位置であるＸ線焦点位置Ｒ３と、＋１／４位置であるＸ線焦点位置Ｒ４からの透過Ｘ線データとを用いて、不良素子補正を行った投影データ（第２投影データ）を生成する（ステップＳ２０５）。
ステップＳ２０４及びステップＳ２０５における不良素子補正の方法は、第２の実施の形態と同様である。
【００８８】
投影データ生成部１２６は、第１投影データと第２投影データとを組み合わせ、空間分解能向上投影データを作成し、再構成演算部１２８へ送る（ステップＳ２０６）。
【００８９】
再構成演算部１２８は、入力された空間分解能向上投影データを用い、ステップＳ２０１で入力された再構成条件に基づいて画像の再構成処理を行う（ステップＳ２０７）。画像の再構成処理において使用する画像再構成アルゴリズムはどのような種類のものを用いてもよい。例えば、Feldkamp法等の逆投影処理を行ってもよいし、逐次近似法等を用いてもよい。
【００９０】
ステップＳ２０７において画像が再構成されると、システム制御装置１２４は、再構成された画像を表示装置１２５に表示し（ステップＳ２０８）、一連の撮影処理を終了する。
【００９１】
以上説明したように、第３の実施の形態のＸ線ＣＴ装置１は、チャンネル方向にＤ’ｓｈｉｆｔ／４ずつ異なる４か所にＸ線焦点位置を移動させて被検体に対してＸ線照射を行い、シフト距離がＤ’ｓｈｉｆｔだけシフトしたＸ線焦点位置から照射されたＸ線による透過Ｘ線データを組み合わせて、不良素子補正された投影データ（第１及び第２投影データ）を２つ生成する。これらの投影データは、チャンネル方向に±１／４素子分シフトした投影データであり、これらを組み合わせ、チャンネル数を倍密度化した空間分解能向上投影データを生成し、画像の再構成を行うことにより、画像の空間分解能を向上させることができる。第１及び第２の投影データは、不良素子の出力値を含まず、すべてＸ線経路が略一致する正常素子の出力値を用いて生成されるため、正確な投影データとなる。
【００９２】
なお、上述の実施の形態では、Ｘ線焦点位置をチャンネル方向にシフトし、チャンネル方向に不良素子補正及び空間分解能向上を行う例を説明したが、スライス方向にも適用可能である。
また、第３の実施の形態についても、第１及び第２の実施の形態と同様に、２素子離れた（隣接する）正常素子の出力値を不良素子の補正に用いてもよい。
【００９３】
［第４の実施の形態］
次に、本発明のＸ線ＣＴ装置１の第４の実施の形態について説明する。
第１〜第３の実施の形態では、Ｘ線検出器１０６において不良素子が１つの場合における不良素子補正の方法を説明したが、第４の実施の形態では、不良素子が複数並んでいる場合における不良素子補正の方法を説明する。
【００９４】
図７は、Ｘ線検出器１０６の素子配列を上面（Ｙ方向）から見た図である。
図７に示すように、例えば、素子ａ３２と素子ａ３３が不良素子であるとする。つまり不良素子がチャンネル方向に複数並んでいる。
【００９５】
このように、例えば、チャンネル方向に不良素子が複数並んでいる場合、不良素子とチャンネル方向に隣接した素子の出力値を用いて不良素子の出力値を補正すると、隣接した素子も不良素子であるため、正しい補正値を得ることができない。そのため、チャンネル方向に不良素子が並んで配置されている場合は、スライス方向に隣接した正常素子の出力値を用いて不良素子補正を行うことが望ましい。
【００９６】
同様に、図８に示すように、スライス方向に不良素子が複数並んでいる場合は（例えば、図８のａ２３とａ３３）、チャンネル方向に隣接した正常素子の出力値を用いて不良素子補正を行うことが望ましい。
【００９７】
以下、図９のフローチャートを参照して、第４の実施の形態におけるＸ線ＣＴ装置１の動作を説明する。
【００９８】
まずシステム制御装置１２４は、撮影条件及び再構成条件の入力を受け付ける（ステップＳ３０１）。撮影条件及び再構成条件の入力については、第１〜第３の実施の形態と同様である。
【００９９】
次に、画像処理装置１２２は、不良素子の配置情報を取得する（ステップＳ３０２）。不良素子の配置情報は、例えば記憶装置１２３等に記憶されているものとしてもよいし、入力装置１２１から操作者により入力されるものとしてもよい。
【０１００】
画像処理装置１２２は、ステップＳ３０２で取得した不良素子の配置情報に基づいて、不良素子の配列の仕方を判定する（ステップＳ３０３，ステップＳ３０６）。
【０１０１】
不良素子がスライス方向に複数並んでいる場合（ステップＳ３０３；Ｙｅｓ）、システム制御装置１２４は、チャンネル方向にシフト距離Ｄ’ｓｈｉｆｔだけ離れた２つのＸ線焦点位置Ｑ１，Ｑ２からＸ線を照射させ、２つのＸ線焦点位置Ｑ１，Ｑ２からの透過Ｘ線データを取得する（ステップＳ３０４）。
【０１０２】
画像処理装置１２２は、取得した２つのＸ線焦点位置Ｑ１，Ｑ２からの透過Ｘ線データを用いて、不良素子の出力値を補正した投影データを生成する（ステップＳ３０５）。図８に示すようにスライス方向に複数の不良素子ａ２３，ａ３３が並んでいる場合は、ステップＳ３０５において投影データ生成部１２６（不良素子補正部１２７）は、第２の実施の形態で説明したように、一方のＸ線焦点位置（例えば、第１の焦点位置Ｑ１）から照射され不良素子ａ２３に入射したＸ線による不良素子ａ２３の出力値を、他方のＸ線焦点位置（例えば、第２の焦点位置Ｑ２）から照射されチャンネル方向に隣接する正常素子（例えば、正常素子ａ２２，ａ２４）に入射したＸ線による当該正常素子ａ２２，ａ２４の出力値に置き換える。同様に、不良素子ａ３３の出力値を、他方のＸ線焦点位置から照射されチャンネル方向に隣接する正常素子（例えば、正常素子ａ３２，ａ３４）に入射したＸ線による当該正常素子ａ３２，ａ３４の出力値に置き換える。
このようにして、不良素子の値が正常素子の出力値に置換された投影データ（補正投影データ）を生成する。
【０１０３】
図８の例では不良素子は２箇所あるが、不良素子補正のためのＸ線焦点シフトは、不良素子が１箇所の場合と同様に２点でよい。
【０１０４】
不良素子がチャンネル方向に複数並んでいる場合（ステップＳ３０６；Ｙｅｓ）、システム制御装置１２４は、スライス方向にシフト距離Ｄｓｈｉｆｔだけ離れた２つのＸ線焦点位置Ｐ１，Ｐ２からＸ線を照射させ、２つのＸ線焦点位置Ｐ１，Ｐ２からの透過Ｘ線データを取得する（ステップＳ３０７）。
【０１０５】
画像処理装置１２２は、取得した２つのＸ線焦点位置Ｐ１，Ｐ２からの透過Ｘ線データを用いて、不良素子の出力値を補正した投影データを生成する（ステップＳ３０５）。例えば図７に示すようにチャンネル方向に複数の不良素子ａ３２，ａ３３が並んでいる場合は、ステップＳ３０５において投影データ生成部１２６（不良素子補正部１２７）は、第１の実施の形態で説明したように、一方のＸ線焦点位置（例えば、第１の焦点位置Ｐ１）から照射され不良素子ａ３２に入射したＸ線による不良素子ａ３２の出力値を、他方のＸ線焦点位置（例えば、第２の焦点位置Ｐ２）から照射されスライス方向に隣接する正常素子（例えば、正常素子ａ２２，ａ４２）に入射したＸ線による当該正常素子ａ２２，ａ４２の出力値に置き換える。同様に、不良素子ａ３３の出力値を、他方のＸ線焦点位置から照射されスライス方向に隣接する正常素子（例えば、正常素子ａ２３，ａ４３）に入射したＸ線による当該正常素子ａ２３，ａ４３の出力値に置き換える。
このようにして、不良素子の値が正常素子の出力値に置換された投影データ（補正投影データ）を生成する。
【０１０６】
不良素子がスライス方向にもチャンネル方向にも並んでいない場合（ステップＳ３０３；Ｎｏ→ステップＳ３０６;Ｎｏ）、不良素子補正部１２７はチャンネル方向の不良素子補正を行ってもよいし、スライス方向の不良素子補正を行ってもよい。すなわち、チャンネル方向またはスライス方向のいずれかの方向に焦点シフトした２つのＸ線焦点位置からの透過Ｘ線データを取得し（ステップＳ３０８）、第１または第２の実施の形態のいずれかの方法で不良素子の出力値を補正した投影データ（補正投影データ）を生成する。
【０１０７】
生成された補正投影データは再構成演算部１２８へ送出される。
再構成演算部１２８は、入力された補正投影データを用い、ステップＳ３０１で入力された再構成条件に基づいて画像の再構成処理を行う（ステップＳ３０９）。画像の再構成処理において使用する画像再構成アルゴリズムはどのような種類のものを用いてもよい。例えば、Feldkamp法等の逆投影処理を行ってもよいし、逐次近似法等を用いてもよい。
【０１０８】
ステップＳ３０９において画像が再構成されると、システム制御装置１２４は、再構成された画像を表示装置１２５に表示し（ステップＳ３１０）、一連の撮影処理を終了する。
【０１０９】
以上説明したように、第４の実施の形態のＸ線ＣＴ装置１は、Ｘ線検出器１０６において不良素子が複数並んでいる場合は、不良素子の配列方向とは異なる方向に隣接する正常素子の出力値であってＸ線焦点位置が異なる透過Ｘ線データを用いて不良素子の出力値を補正（置換）する。
これにより、不良素子が複数並んでいる場合にも、より近いＸ線ビーム経路による正常素子の値を用いて不良素子の補正を正確に行うことが可能である。
【０１１０】
なお、第４の実施の形態おいて、第３の実施の形態の空間分解能向上処理を組み合わせて行うようにしてもよい。
【０１１１】
空間分解能向上処理をスライス方向に行う場合で、不良素子がスライス方向に複数並んで配置されている場合は、システム制御装置１２４は、空間分解能向上のためにスライス方向へ±Ｄｓｈｉｆｔ／４だけのＸ線焦点シフト制御を行うとともに、不良素子補正のためにチャンネル方向へ±Ｄ’ｓｈｉｆｔ／２だけのＸ線焦点シフト制御を行う。
【０１１２】
空間分解能向上処理をスライス方向に行う場合で、不良素子がチャンネル方向に複数並んで配置されている場合は、システム制御装置１２４は、空間分解能向上のためにスライス方向へ±Ｄｓｈｉｆｔ／４だけのＸ線焦点シフト制御を行うとともに、不良素子補正のためにスライス方向へ±３Ｄｓｈｉｆｔ／２だけのＸ線焦点シフト制御を行う（第３の実施の形態の処理のスライス方向への適用と同様）。
【０１１３】
空間分解能向上処理をチャンネル方向に行う場合で、不良素子がスライス方向に複数並んで配置されている場合は、システム制御装置１２４は、空間分解能向上のためにチャンネル方向へ±Ｄ’ｓｈｉｆｔ／４だけのＸ線焦点シフト制御を行うとともに、不良素子補正のためにチャンネル方向へ±３Ｄ’ｓｈｉｆｔ／２だけのＸ線焦点シフト制御を行う（第３の実施の形態の処理と同様）。
【０１１４】
空間分解能向上処理をチャンネル方向に行う場合で、不良素子がチャンネル方向に複数並んで配置されている場合は、システム制御装置１２４は、空間分解能向上のためにチャンネル方向へ±Ｄ’ｓｈｉｆｔ／４だけのＸ線焦点シフト制御を行うとともに、不良素子補正のためにスライス方向へ±Ｄｓｈｉｆｔ／２だけのＸ線焦点シフト制御を行う。
【０１１５】
上述したように、不良素子の配列方向と空間分解能向上のためのＸ線焦点シフトの方向を双方考慮して、不良素子補正のためのＸ線焦点シフトの方向及び移動量を調整すれば、空間分解能向上処理と不良素子補正処理とを効率よく行うことができる。
【０１１６】
［第５の実施の形態］
第５の実施の形態では、被検体画像（或いは透過Ｘ線データ）のエッジとなる部分に不良素子が存在する場合に好適な不良素子補正の方法について説明する。
【０１１７】
図１０は、透過Ｘ線データ６４におけるエッジ部分に不良素子が位置する場合について説明する図である。透過Ｘ線データ６４におけるエッジ部分とは、隣接する検出素子間で透過Ｘ線の値が急減に変化する部分である。例えば、エアと被検体との境界部等がエッジ部分となる。図１０に示すＸ線検出器１０６において素子４２が不良素子であり、その両隣の素子４１，４３は正常素子とする。
【０１１８】
図１０に示すように、不良素子４２の位置が透過Ｘ線データ６４におけるエッジ部分と重なる場合、例えば、従来の手法（特願２００３−５２８２３２号）のように、同一のＸ線焦点位置からの透過Ｘ線データにおける正常素子４１，４３の値を用いて不良素子４２の値を補間演算により求めると、図１０の破線部６５のように補間値が正常素子４１，４３の間の値となり、本来の値（不良素子が正常に機能する場合に得られる値）とは誤差が大きくなる恐れがある。
【０１１９】
一方、本発明の第１から第４の実施形態において説明した不良素子補正を行えば、経路が略一致するＸ線ビームにより取得した正常素子の出力値を不良素子の値とみなすので、同一Ｘ線焦点（Ｘ線焦点シフトなし）による投影データの補間演算による不良素子補正と比較して、より正確に不良素子の値を補正できる。
【０１２０】
しかしながら、本発明の不良素子補正方法では、フライング焦点制御を行って、各ビューでＸ線焦点位置を交互に移動させながら投影データを取得する。そのため、それぞれの焦点位置で回転方向のサンプリング数が低減する。サンプリング数の低減による画質への影響は、Ｘ線検出器１０６の中心部に位置する検出素子についてはほとんどない。しかし、Ｘ線検出器１０６の中心から遠い位置にある検出素子については、サンプリング数低減による再構成画像への影響が大きくなることが知られている。したがって、不良素子の位置がＸ線検出器１０６の中心から遠い位置に配置されている場合には、本発明の手法による不良素子補正を実施するよりも、同一Ｘ線焦点（Ｘ線焦点シフトなし）による投影データの補間演算を利用した方が正確な投影データとなることがある。
【０１２１】
そこで、第５の実施の形態では、投影データ生成部１２６は、第１から第４の実施の形態のいずれかの方法による不良素子補正部１２７と、１つのＸ線焦点位置から照射されたＸ線により得られ、不良素子の近傍の正常素子により検出された値を用いて不良素子の出力値を補間により求める補間演算部とを備える。そして、投影データ生成部１２６は、不良素子補正部１２７により求められた不良素子の補正値と、上述の補間演算部により求められた不良素子の補正値とを加重平均して投影データを生成する。
【０１２２】
重みの大きさは、不良素子の位置や透過Ｘ線データのエッジ部の影響等を考慮して調整することが好ましい。
例えば、不良素子補正部１２７により求められた不良素子の出力値にかける重みをα、補間演算部により求められた不良素子の出力値にかける重みをβ（＝１−α）とした場合、不良素子の位置がＸ線検出器１０６の中心に近い場合はαを大きく、βを小さく設定し、不良素子の位置がＸ線検出器１０６の中心から遠い場合は、αを小さく、βを大きく設定することが好ましい。
【０１２３】
第５の実施の形態において、システム制御部１２４は、操作者が不良素子の位置を登録したり、重みを調整するための設定画面７１を表示装置１２５に表示することが好ましい。
【０１２４】
図１１は、設定画面７１の一例を示す図である。
図１１に示すように、設定画面７１は、各不良素子のスライス番号を入力する入力欄７１ａ、チャンネル番号を入力する入力欄７１ｂ、焦点シフトを利用した補正値（不良素子補正部１２７による補正値）の寄与割合（重みα）を入力する重み入力欄７１ｃ等を有する。図１１に示す例では、入力欄７１ａにスライス番号「８」が入力され、入力欄７１ｂにチャンネル番号「５００」が入力され、重み入力欄７１ｃに「７０（％）」が入力されている。この場合、投影データ生成部１２６は、不良素子補正部１２７により求められた不良素子の出力値に対して７０％の重みを乗じ、補間演算部により求められた不良素子の出力値に３０％の重みを乗じ、加算することにより不良素子の補正値を算出する。
【０１２５】
以下、図１２のフローチャートを参照して、第５の実施の形態におけるＸ線ＣＴ装置１の動作を説明する。
【０１２６】
まずシステム制御装置１２４は、撮影条件及び再構成条件の入力を受け付ける（ステップＳ４０１）。撮影条件及び再構成条件の入力については、図３のステップＳ１０１と同様である。
【０１２７】
次にシステム制御装置１２４は、所定のシフト距離（ＤｓｈｉｆｔまたはＤ’Ｓｈｉｆｔ）離れた２つのＸ線焦点位置（例えば、図２のＰ１，Ｐ２または図４のＱ１，Ｑ２）からＸ線を照射するようＸ線管装置１０１を制御し、透過Ｘ線データを得る（ステップＳ４０２）。
【０１２８】
次に、画像処理装置は１２２は、不良素子の配置情報を取得する（ステップＳ４０３）。不良素子の配置情報は、例えば記憶装置１２３等に記憶されているものとしてもよいし、図１１に示す設定画面７１等を利用して入力装置１２１から操作者により入力されるものとしてもよい。
【０１２９】
画像処理装置１２２は、不良素子補正部１２７により、異なる焦点位置からの透過Ｘ線データを利用して不良素子の出力値を求める（ステップＳ４０４）。ステップＳ４０４の不良素子補正では、異なる焦点位置からの透過Ｘ線データであって近傍の正常素子の値を不良素子の値と置き換える。以下の説明では、ステップＳ４０４の不良素子補正部１２７により算出された不良素子の出力値を補正値Ｓと呼ぶ。
【０１３０】
画像処理装置１２２は、補間演算部により、同じＸ線焦点位置からの透過Ｘ線データであって不良素子の近傍の正常素子にて検出された値を用いて、補間演算により不良素子の出力値を算出する（ステップＳ４０５）。ステップＳ４０５
の補間演算では、例えば、不良素子の近傍の正常素子の値の平均値等を算出する。以下の説明では、ステップＳ４０５の補間演算により算出された不良素子の出力値を補正値Ｔと呼ぶ。
【０１３１】
画像処理装置１２２は、各補正値Ｓ，Ｔにかける重みα，βを決定する（ステップＳ４０６）。重みα，βの値は、例えば図１１に示す設定画面７１等を利用して操作者により入力された値としてもよいし、画像処理装置１２２が算出してもよい。画像処理装置１２２が重みα，βの値を算出する場合、不良素子の位置や、取得した透過Ｘ線データのエッジ部との重なり方等を考慮することが望ましい。例えば、不良素子の位置がＸ線検出器１０６の中心に近い場合はαを大きく、βを小さく設定し、不良素子の位置がＸ線検出器１０６の中心から遠い場合は、αを小さく、βを大きく設定することが好ましい。更に、不良素子の位置が透過Ｘ線データのエッジ部と重なる位置にある場合は、αを大きく設定することが望ましい。
【０１３２】
画像処理装置１２２は、ステップＳ４０４，ステップＳ４０５の処理によって算出された補正値Ｓ，ＴをステップＳ４０６において決定された重みα，βを用いて加重平均し、不良素子の出力値を算出する（ステップＳ４０７）。不良素子の出力値は、α・Ｓ＋β・Ｔにより求められる。
【０１３３】
投影データ生成部１２６は、ステップＳ４０７により算出した不良素子の出力値を用いて投影データ（補正投影データ）を生成し、再構成演算部１２８へ送る（ステップＳ４０８）。
【０１３４】
再構成演算部１２８は、入力された補正投影データを用い、ステップＳ４０１で入力された再構成条件に基づいて画像の再構成処理を行う（ステップＳ４０９）。システム制御装置１２４は、再構成された画像を表示装置１２５に表示し（ステップＳ４１０）、一連の撮影処理を終了する。
【０１３５】
以上説明したように、第５の実施の形態のＸ線ＣＴ装置１は、複数の焦点位置からの透過Ｘ線データを利用して近傍の正常素子の値に置換することにより求める不良素子の補正値Ｓと、同一焦点位置からの透過Ｘ線データを利用し、補間演算により求める補正値Ｔとを加重平均して、不良素子の補正値を算出する。これにより、フライング焦点制御によるチャンネル方向のサンプリング数の低減の影響や、不良素子と透過Ｘ線データのエッジ部との位置関係とを考慮して、最適な補正値を得ることが可能となる。
【０１３６】
［第６の実施の形態］
次に、本発明のＸ線ＣＴ装置１の第６の実施の形態について説明する。
上述の第１から第５の実施の形態において、不良素子の値が補正された補正投影データを表示装置１２５に表示し、操作者が視認できることが望ましい。また、不良素子補正の効果がどの程度かを確認するためには、不良素子の値を補正しないで生成した未補正投影データと、不良素子補正を行った補正投影データとを並べて表示する機能を有することが望ましい。
【０１３７】
更に、Ｘ線焦点を＋方向にシフトした場合に生成される補正投影データと、−方向にシフトした場合に生成される補正投影データとを並べて表示する機能を有することが望ましい。
【０１３８】
そこで、第６の実施の形態のＸ線ＣＴ装置１は、補正投影データを表示する補正投影データ表示部を備えるものとする。補正投影データは、例えば、図１３に示すようにサイノグラムの形式で表示されるものとする。サイノグラムとは、横軸をチャンネル方向、縦軸をビュー方向（時系列）とし、投影データの値を階調値（濃淡）で表したものである。
【０１３９】
図１３（ａ）は、第１及び第２の実施の形態のＸ線ＣＴ装置１に好適な補正投影データ表示画面７ａである。
【０１４０】
図１３（ａ）の補正投影データ表示画面７ａには、上段に不良素子補正前の未補正投影データ７１，７２が表示され、下段に不良素子補正後の補正投影データ７３，７４が表示される。また、左側はＸ線焦点位置を−方向にシフトして得られる投影データ（未補正投影データ７１，補正投影データ７３）であり、右側はＸ線焦点位置を＋方向にシフトして得られる投影データ（未補正投影データ７２，補正投影データ７４）である。
【０１４１】
図１３（ａ）の補正投影データ表示画面７ａのように、補正投影データと未補正投影データとを並べて表示することにより、補正の効果を容易に確認することができる。また、焦点位置のシフト方向についても、それぞれ補正投影データ及び未補正投影データを並べて表示することにより、Ｘ線焦点のシフト方向による補正投影データの違いを確認しやすくなる。
【０１４２】
図１３（ｂ）は、第３の実施の形態のＸ線ＣＴ装置１に好適な補正投影データ表示画面７ｂである。つまり、不良素子補正処理に加え、空間分解能向上処理を行う場合に好適な表示例である。
【０１４３】
図１３（ｂ）の補正投影データ表示画面７ｂには、上段に不良素子補正前の未補正投影データ７５，７６が表示され、下段に不良素子補正後の補正投影データ７７が表示される。上段左側はＸ線焦点位置を−ＤＳｈｉｆｔ／４位置（または＋ＤＳｈｉｆｔ／４位置）にシフトして得られた投影データ（未補正投影データ７５）であり、上段右側はＸ線焦点位置を＋３ＤＳｈｉｆｔ／４位置（または−３ＤＳｈｉｆｔ／４位置）にシフトして得られた投影データ（未補正投影データ７６）である。ボタン７８は、表示する投影データのシフト方向の符号（＋、−）を切り替える際に操作される。
【０１４４】
図１３（ｂ）の下段に表示される不良素子補正後の投影データ７７は、上段に表示される未補正投影データ７５，７６を用いて生成される補正投影データである。
【０１４５】
図１３（ｂ）の補正投影データ表示画面７ｂのように、４点に焦点位置をシフトさせて空間分解能を向上させる場合にも、補正投影データと未補正投影データとを並べて表示することにより、不良素子補正の効果を容易に確認することができる。また、ボタン７８によって焦点位置のシフト位置を切り替えた場合の補正投影データ及び未補正投影データを並べて表示できるため、Ｘ線焦点のシフト方向による補正投影データの違いも確認しやすくなる。
【０１４６】
［第７の実施の形態］
次に、本発明のＸ線ＣＴ装置１の第７の実施の形態について説明する。
Ｘ線ＣＴ装置１において、実際のＸ線焦点シフト量は設定値と比較して誤差が生じる可能性がある。そこで、第７の実施の形態では、画像処理装置１２２は、Ｘ線焦点シフト量の誤差を測定し、シフト量の誤差を考慮した不良素子補正処理を行う。
【０１４７】
第７の実施の形態においてＸ線ＣＴ装置１は、被検体を撮影する一連の処理に先立ち、Ｘ線焦点シフト量の設定値と実測値との誤差を求める。以下の説明において、Ｘ線焦点シフト量の設定値と実測値との誤差を、シフト誤差と呼ぶ。
【０１４８】
シフト誤差の測定では、例えばＸ線吸収率が高く細長い円柱状の物をＸ線ＣＴ装置１を用いて撮影する。そして、Ｘ線検出器１０６の各素子の出力値からＸ線焦点シフトの誤差を算出する。Ｘ線ＣＴ装置１は、例えば、図１４に示すシフト誤差測定画面８を表示することが望ましい。
【０１４９】
シフト誤差測定画面８には、Ｘ線焦点シフト後投影データとして、−方向にＸ線焦点をシフトした場合に得られる投影データのサイノグラム８１と、＋方向にＸ線焦点をシフトした場合に得られる投影データのサイノグラム８２とが並べて表示される。また、不良素子補正のために設定したＸ線焦点シフト量が設定値表示欄８３に表示される。Ｘ線焦点シフト量の単位は、「素子分」等のように操作者にとって分かりやすい表記とすることが望ましい。Ｘ線焦点シフト量の設定値の初期値は、例えば「１」素子分とする。１素子分のシフト量とは、第１及び第２の実施の形態で説明したように、スライス方向に隣接する正常素子の値を用いて不良素子補正を行う場合はＤｓｈｉｆｔ，チャンネル方向に隣接する正常素子の値を用いて不良素子補正を行う場合はＤ’ｓｈｉｆｔである。
測定値表示欄８４には、実際のＸ線焦点シフト量（測定値）が表示される。測定値は、各検出素子からの出力値に基づいて画像処理装置１２２により算出することができる。
【０１５０】
実際のＸ線焦点シフト量を算出するため、画像処理装置１２２は、−方向シフト及び＋方向シフトの各投影データのサイノグラム８１，８２の重心位置を求め、重心位置の差を算出する。重心位置の差が実際のＸ線焦点シフト量（測定値）であり、設定値表示欄８３に表示されるＸ線焦点シフト量にシフト誤差を足した値である。
【０１５１】
図１５を参照して、シフト誤差の求め方について説明する。
図１５は、Ｘ線検出器１０６の各検出素子と、このＸ線検出器１０６から得られた投影データのサイノグラム８５をデータ値（各検出素子の出力値）を縦軸として表したものである。Ｘ線検出器１０６は、チャンネル方向に１０００個の検出素子が並んでいるものとし、５００番目の素子の出力値をＳ５００，５０１番目の素子の出力値をＳ５０１，５０２番目の素子の出力値をＳ５０２，５０３番目の素子の出力値をＳ５０３，５０４番目の素子の出力値をＳ５０４と表している。
【０１５２】
このとき、重心となる素子のチャンネル番号Ｇは以下の式（３）により求められる。式（３）において、ｉは、素子のチャンネル番号である。Ｇの値は、小数点を含む実数となる。
【０１５３】
【数３】
2015116408.tif 000005
【０１５４】
画像処理装置１２２は、図１４に示すように、マイナス方向シフト投影データ８１とプラス方向シフト投影データ８２について、式（３）によりそれぞれ重心位置を求めて差分をとる。これにより、実際のＸ線焦点シフト量（何素子分のシフト量か）が求められる。システム制御装置１２４は算出したシフト量をシフト誤差測定画面８の測定値表示欄８４に表示する。
【０１５５】
Ｘ線シフト量の測定値と設定値との誤差が整数値であれば、不良素子補正部１２６は、不良素子から整数倍の素子分だけ離れた正常素子の出力値を不良素子の出力値と置き換えることで、本発明における不良素子補正を行える。
【０１５６】
Ｘ線シフト量の測定値と設定値との誤差が少数点以下を含む実数値の場合は、不良素子補正部１２６は、正常素子２つの出力値を加重平均した値を不良素子補正に用いればよい。
具体的には、Ｘ線シフト量の測定値の整数部分をｎ、小数部分をａ（０≦ａ＜１）とし、不良素子からｎ素子分離れた正常素子の出力値をＳｎ、不良素子からｎ＋１素子分離れた正常素子の出力値をＳｎ＋１としたとき、不良素子の出力値Ｓｆは、以下の式（４）により求めることができる。
【０１５７】
【数４】
2015116408.tif 000006
【０１５８】
以上説明したように、第７の実施の形態のＸ線ＣＴ装置１は、Ｘ線焦点シフト量の設定値と実際のＸ線焦点シフト量（測定値）との誤差を測定し、誤差が生じている場合は、誤差に応じて不良素子の投影データを算出するために用いる正常素子を適切に選択する。これにより、実際のＸ線シフト量に応じて正確に不良素子補正を行うことが可能となる。
【０１５９】
なお、上述の説明において、実際のＸ線焦点シフト量（測定値）が１素子分より小さい場合は、不良素子の投影データを算出するために用いる素子が不良素子自身となる。この場合は、不良素子から１素子分離れた正常素子の出力値と２素子分離れた正常素子の出力値とを用いた外挿補間で不良素子の出力値を算出することが望ましい。
【０１６０】
以上、本発明に係るＸ線ＣＴ装置の好適な実施形態について説明したが、本発明は、上述の実施形態に限定されるものではない。例えば、上述の各実施形態では、Ｘ線管装置１０１におけるＸ線焦点をシフトさせて得られた投影データを用いて不良素子の補正を行うものとしたが、Ｘ線焦点のシフトに代えてＸ線管球本体またはＸ線検出器をシフトさせた場合にも、本発明の不良素子補正を適用することができる。また、複数のＸ線焦点を有する面管球を使用する場合についても同様に、Ｘ線管球またはＸ線検出器をシフトさせて本発明の不良素子補正を適用することができる。その他、当業者であれば、本願で開示した技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
【符号の説明】
【０１６１】
１・・・・・・・・・Ｘ線ＣＴ装置
１００・・・・・・・スキャンガントリ部
１０１・・・・・・・Ｘ線管装置
１０２・・・・・・・回転盤
１０６・・・・・・・Ｘ線検出器
１１０・・・・・・・焦点シフトＸ線制御装置
１２０・・・・・・・操作卓
１２２・・・・・・・画像処理装置
１２３・・・・・・・記憶装置
１２４・・・・・・・システム制御装置
１２５・・・・・・・表示装置
１２６・・・・・・・投影データ生成部
１２７・・・・・・・不良素子補正部
１２８・・・・・・・再構成演算部
【図１】
2015116408.tif 000007
【図２】
2015116408.tif 000008
【図３】
2015116408.tif 000009
【図４】
2015116408.tif 000010
【図５】
2015116408.tif 000011
【図６】
2015116408.tif 000012
【図７】
2015116408.tif 000013
【図８】
2015116408.tif 000014
【図９】
2015116408.tif 000015
【図１０】
2015116408.tif 000016
【図１１】
2015116408.tif 000017
【図１２】
2015116408.tif 000018
【図１３】
2015116408.tif 000019
【図１４】
2015116408.tif 000020
【図１５】
2015116408.tif 000021