(57)【要約】【課題】磁気センサのより高精度な測定誤差を得ることが可能な技術を提供する。【解決手段】少なくとも磁気センサの移動中に前記磁気センサによって測定された磁気値または前記磁気値に基づいて得られる情報の時間的な変動を測定する変動測定部と、前記変動に基づいて前記磁気センサの測定誤差を得る測定誤差取得部と、を備える、情報処理装置が提供される。【選択図】図１
2015040783.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも磁気センサの移動中に前記磁気センサによって測定された磁気値または前記磁気値に基づいて得られる情報の時間的な変動を測定する変動測定部と、
前記変動に基づいて前記磁気センサの測定誤差を得る測定誤差取得部と、
を備える、情報処理装置。
【請求項２】
前記情報処理装置は、前記磁気センサの測定誤差に基づいて方位または姿勢を特定する特定部を備える、
請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項３】
前記特定部は、前記磁気センサの測定誤差が高いほど、他のセンサデータを用いた方位または姿勢に対する補正の重みを強める、
請求項２に記載の情報処理装置。
【請求項４】
前記特定部は、前記磁気センサの測定誤差が閾値を上回る場合には、前記他のセンサデータに基づいて方位または姿勢を補正する、
請求項３記載の情報処理装置。
【請求項５】
前記特定部は、前記磁気センサの測定誤差が閾値を上回る場合には、ジャイロセンサにより測定された角速度に基づいて方位または前記磁気センサの姿勢を補正する、
請求項４に記載の情報処理装置。
【請求項６】
前記特定部は、前記磁気センサの測定誤差と他のセンサの測定誤差とに基づいて方位または姿勢を特定する、
請求項３に記載の情報処理装置。
【請求項７】
前記特定部は、前記磁気センサの測定誤差が前記他のセンサの測定誤差を上回る場合には、前記他のセンサにより測定されたセンサデータに基づいて方位または姿勢を補正する、
請求項６に記載の情報処理装置。
【請求項８】
前記特定部は、前記磁気センサの測定誤差がジャイロセンサの測定誤差を上回る場合には、前記ジャイロセンサにより測定された角速度に基づいて方位または姿勢を補正する、
請求項７に記載の情報処理装置。
【請求項９】
前記情報処理装置は、測位センサにより測定された測定位置を取得する位置取得部を備える、
請求項２に記載の情報処理装置。
【請求項１０】
前記位置取得部は、あらかじめ登録された位置情報に基づいて前記測定位置を補正する、
請求項９に記載の情報処理装置。
【請求項１１】
前記位置取得部は、前記測定位置に一致または近接する位置情報に関連付けられたエリア識別情報を選択してユーザの通行履歴として記憶させる、
請求項９に記載の情報処理装置。
【請求項１２】
前記変動測定部は、前記磁気センサの停止中に前記変動を測定する、
請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項１３】
前記情報処理装置は、方位または姿勢を表示させる表示制御部を備える、
請求項２に記載の情報処理装置。
【請求項１４】
前記情報処理装置は、方位または姿勢を表示する表示部を備える、
請求項１３に記載の情報処理装置。
【請求項１５】
前記変動測定部は、第１の測定時刻および第２の測定時刻それぞれにおける磁気値または前記磁気値に基づいて得られる情報の差分値を前記変動として測定する、
請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項１６】
前記第１の測定時刻と前記第２の測定時刻とは、互いに所定時間の隔たりを有する、
請求項１５に記載の情報処理装置。
【請求項１７】
所定時間内に測定された前記磁気値または前記磁気値に基づいて得られる情報のうち、前記第１の測定時刻が最大値であり前記第２の測定時刻が最小値である、
請求項１５に記載の情報処理装置。
【請求項１８】
前記測定誤差取得部は、前記差分値と固定係数との乗算結果または前記差分値を前記磁気センサの測定誤差として得る、
請求項１５に記載の情報処理装置。
【請求項１９】
少なくとも磁気センサの移動中に前記磁気センサによって測定された磁気値または前記磁気値に基づいて得られる情報の時間的な変動を測定することと、
前記変動に基づいて前記磁気センサの測定誤差を得ることと、
を含む、情報処理方法。
【請求項２０】
コンピュータを、
少なくとも磁気センサの移動中に前記磁気センサによって測定された磁気値または前記磁気値に基づいて得られる情報の時間的な変動を測定する変動測定部と、
前記変動に基づいて前記磁気センサの測定誤差を得る測定誤差取得部と、
を備える情報処理装置として機能させるためのプログラムを記録した、コンピュータに読み取り可能な記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、情報処理装置、情報処理方法および記録媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、磁気センサの地磁気センサとしての測定誤差を得る技術として様々な技術が開示されている。例えば、測定位置と地磁気の伏角とが対応付けられた登録情報をデータベースとして用意しておき、実測情報としての測定位置と地磁気の伏角とが取得されると、登録情報と実測情報との比較結果に基づいて地磁気センサとしての測定誤差が正常範囲内か否かを判定する技術が開示されている（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００４−２６４０２８
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、磁気センサのより高精度な測定誤差を得ることが可能な技術が実現されることが望ましい。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本開示によれば、少なくとも磁気センサの移動中に前記磁気センサによって測定された磁気値または前記磁気値に基づいて得られる情報の時間的な変動を測定する変動測定部と、前記変動に基づいて前記磁気センサの測定誤差を得る測定誤差取得部と、を備える、情報処理装置が提供される。
【０００６】
また、本開示によれば、少なくとも磁気センサの移動中に前記磁気センサによって測定された磁気値または前記磁気値に基づいて得られる情報の時間的な変動を測定することと、前記変動に基づいて前記磁気センサの測定誤差を得ることと、を含む、情報処理方法が提供される。
【０００７】
また、本開示によれば、コンピュータを、少なくとも磁気センサの移動中に前記磁気センサによって測定された磁気値または前記磁気値に基づいて得られる情報の時間的な変動を測定する変動測定部と、前記変動に基づいて前記磁気センサの測定誤差を得る測定誤差取得部と、を備える情報処理装置として機能させるためのプログラムを記録した、コンピュータに読み取り可能な記録媒体が提供される。
【発明の効果】
【０００８】
以上説明したように本開示によれば、磁気センサのより高精度な測定誤差を得ることが可能である。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本開示の実施形態に係る情報処理装置の概要を説明するための図である。
【図２】本開示の実施形態に係る情報処理装置の機能構成例を示す図である。
【図３】本開示の実施形態に係る情報処理装置によって得られる測定誤差について説明するための図である。
【図４】本開示の実施形態に係る情報処理装置によって得られる測定誤差について説明するための他の図である。
【図５】磁気値と方位誤差との関係の一例を示す図である。
【図６】磁気値に基づいて方位誤差を得る動作の一例を示すフローチャートである。
【図７】磁気値に基づいて方位誤差を得る動作の他の一例を示すフローチャートである。
【図８】ヨー軸、ロール軸およびピッチ軸を説明するための図である。
【図９】方位誤差に基づいて方位を特定する動作の一例を示すフローチャートである。
【図１０】方位誤差に基づいて方位を特定する動作の他の一例を示すフローチャートである。
【図１１】本開示の実施形態に係る情報処理装置および一般的な技術それぞれを用いた場合におけるユーザ位置の軌跡の一例を示す図である。
【図１２】本開示の実施形態に係る情報処理装置および一般的な技術それぞれを用いた場合におけるユーザ位置の軌跡の他の一例を示す図である。
【図１３】本開示の実施形態に係る情報処理装置および一般的な技術それぞれを用いた場合における複数のユーザ位置の軌跡の一例を示す図である。
【図１４】方位誤差に基づいて姿勢を特定する動作の一例を示すフローチャートである。
【図１５】マップマッチング技術を用いた測位位置の補正の一例を示す図である。
【図１６】通行履歴を記憶させる例を説明するための図である。
【図１７】本開示の実施形態に係る情報処理装置のハードウェア構成例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下に添付図面を参照しながら、本開示の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書および図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
【００１１】
また、本明細書および図面において、実質的に同一の機能構成を有する複数の構成要素を、同一の符号の後に異なるアルファベットまたは数字を付して区別する場合もある。ただし、実質的に同一の機能構成を有する複数の構成要素の各々を特に区別する必要がない場合、同一符号のみを付する。
【００１２】
また、以下に示す項目順序に従って当該「発明を実施するための形態」を説明する。
１．情報処理装置の概要
２．情報処理装置の詳細
２−１．情報処理装置の機能構成例
２−２．測定誤差の算出
２−３．方位または姿勢の特定
２−４．測位位置の補正
２−５．通行履歴の記憶
３．ハードウェア構成例
４．むすび
【００１３】
＜＜１．情報処理装置の概要＞＞
まず、本開示の実施形態に係る情報処理装置１００の概要について説明する。図１は、本開示の実施形態に係る情報処理装置１００の概要を説明するための図である。図１を参照すると、情報処理装置１００は、地図情報１７１Ａを表示部１７０に表示させている。地図情報１７１Ａにおける２次元座標は、実空間における水平方向の位置（例えば、緯度経度など）と関連付けられている。
【００１４】
また、図１を参照すると、ユーザは測位センサ１２４を所持している。測位センサ１２４は、ユーザの位置を測定し得る。例えば、測位センサ１２４によってユーザの位置が測定された場合、情報処理装置１００は、地図情報１７１Ａにおいてユーザの位置に対応する位置に所定のマークを表示させてよい。あるいは、ユーザの位置は、測位センサ１２４によって測定される代わりにユーザによって入力されてもよい。
【００１５】
なお、図１には、情報処理装置１００がスマートフォンである場合が示されているが、情報処理装置１００の種類は特に限定されない。例えば、情報処理装置１００は、ビデオカメラであってもよいし、タブレット端末であってもよいし、ＰＤＡ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ  Ｄｉｇｉｔａｌ  Ａｓｓｉｓｔａｎｔｓ）であってもよい。あるいは、情報処理装置１００は、ＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ  Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）であってもよいし、携帯電話であってもよいし、携帯用音楽再生装置であってもよいし、携帯用映像処理装置であってもよいし、携帯用ゲーム機器であってもよい。
【００１６】
ユーザが目的地を入力すると、情報処理装置１００は、地図情報１７１Ａに基づいてユーザの位置から目的地への経路Ｌ１の方位を算出することが可能である。また、図１に示したように、情報処理装置１００は、経路Ｌ１の方位を表示部１７０に表示させることが可能である。ここで、ユーザにとっては自分自身の方位も把握したいという要求が生じ得る。
【００１７】
そこで、図１に示すように、ユーザは磁気センサ１２１を所持している。磁気センサ１２１は、地磁気を含んだ磁気を測定し得る。情報処理装置１００は、磁気センサ１２１によって測定された磁気値に基づいて磁気センサ１２１の方位を特定することが可能である。情報処理装置１００は、磁気センサ１２１の方位を表示部１７０に表示させることが可能である。ユーザは、経路Ｌ１の方位に磁気センサ１２１の方位を合わせて進行することによって目的地に到達できると予想する。
【００１８】
しかし、磁気センサ１２１によって測定される磁気には、地磁気の外乱となる磁気が含まれ得るため、磁気センサ１２１による地磁気の測定には測定誤差が生じ得る。以下では、地磁気の外乱となる磁気を外乱磁気とも言う。測定誤差を含んだ磁気値に基づいて特定される磁気センサ１２１の方位には方位誤差が生じ得る。方位誤差を含んだ磁気センサ１２１の方位に従って進行すれば、ユーザは目的地に辿り着けない可能性がある。
【００１９】
図１には、ユーザが経路Ｌ１の方位に磁気センサ１２１の方位を合わせて進行した場合におけるユーザ位置の軌跡Ｑ１１が示されている。ユーザ位置の軌跡Ｑ１１を参照すると、初期位置Ｐ１０から目的地への経路Ｌ１に対して外れた位置Ｐ１１にユーザが到達してしまっていることが把握される。したがって、磁気センサ１２１の地磁気センサとしての測定誤差を把握することが有用である。本明細書においては、磁気センサ１２１の地磁気センサとしてのより高精度な測定誤差を得ることが可能な技術を提案する。
【００２０】
以上、本開示の実施形態に係る情報処理装置１００の概要について説明した。
【００２１】
＜＜２．情報処理装置の詳細＞＞
続いて、本開示の実施形態に係る情報処理装置１００の詳細について説明する。
【００２２】
＜２−１．情報処理装置の機能構成例＞
まず、本開示の実施形態に係る情報処理装置１００の機能構成例について説明する。図２は、本開示の実施形態に係る情報処理装置１００の機能構成例を示す図である。図２に示したように、情報処理装置１００は、制御部１１０、センサ部１２０、入力部１４０、記憶部１５０および表示部１７０を備える。
【００２３】
制御部１１０は、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）などのプロセッサに相当する。制御部１１０は、記憶部１５０または他の記憶媒体に記憶されるプログラムを実行することにより、制御部１１０が有する様々な機能を発揮する。制御部１１０は、変動測定部１１１、測定誤差取得部１１２，特定部１１３および位置取得部１１４および表示制御部１１５を有する。制御部１１０が有するこれらの各機能部については後に説明する。
【００２４】
センサ部１２０は、所定のセンサデータを検出して制御部１１０に出力する。図２に示した例では、センサ部１２０は、磁気センサ１２１、ジャイロセンサ１２２、加速度センサ１２３および測位センサ１２４を有している。磁気センサ１２１は磁気値を測定するセンサであり、ジャイロセンサ１２２は、角速度を測定するセンサであり、加速度センサ１２３は、加速度を測定するセンサである。以下では、磁気センサ１２１、ジャイロセンサ１２２および加速度センサ１２３それぞれの種類が３軸型である場合について主に説明するが、磁気センサ１２１、ジャイロセンサ１２２および加速度センサ１２３それぞれの種類は特に限定されず、２軸型であってもよい。
【００２５】
測位センサ１２４は、位置を検出するセンサである。位置の表現形式は特に限定されず緯度経度であってよい。測位センサ１２４は、ＧＰＳ（Ｇｌｏｂａｌ  Ｐｏｓｉｔｉｏｎｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍ）アンテナを有しており、ＧＰＳアンテナによって受信されたＧＰＳ信号を用いて算出された位置を検出してよいが、測位センサ１２４の種類は特に限定されない。例えば、測位センサ１２４は、基地局からの無線信号を受信するアンテナを有しており、そのアンテナによって受信された無線信号を用いて算出された位置を検出してもよい。図２に示した例では、センサ部１２０は情報処理装置１００に組み込まれているが、センサ部１２０の一部または全部は情報処理装置１００の外部に存在してもよい。
【００２６】
入力部１４０は、ユーザからの操作を受け付ける機能を有する。入力部１４０は、ユーザから受け付けた操作を制御部１１０に出力する。操作はプログラムの実行に用いられ得る。例えば、入力部１４０は、ユーザからプログラムの起動を開始する操作を受け付けることもできる。また、例えば、入力部１４０は、ユーザからプログラムの実行を終了する操作を受け付けることもできる。図２に示した例では、入力部１４０は情報処理装置１００に組み込まれているが、入力部１４０は情報処理装置１００の外部に存在してもよい。
【００２７】
記憶部１５０は、半導体メモリまたはハードディスクなどの記憶媒体を用いて、制御部１１０を動作させるためのプログラムを記憶する。また、例えば、記憶部１５０は、プログラムによって使用される各種のデータ（例えば、各種の設定情報、コンテンツなど）を記憶することもできる。なお、図２に示した例では、記憶部１５０は情報処理装置１００に組み込まれているが、記憶部１５０は情報処理装置１００の外部に存在してもよい。
【００２８】
表示部１７０は、制御部１１０による制御に従って各種情報の表示を行う。例えば、表示部１７０は、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ  Ｃｒｙｓｔａｌ  Ｄｉｓｐｌａｙ）であってもよいし、有機ＥＬ（Ｅｌｅｃｔｒｏｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ）ディスプレイ装置であってもよい。あるいは、表示部１７０は、スピーカおよびヘッドホンなどの音声出力装置を含んでもよい。なお、図２に示した例では、表示部１７０は情報処理装置１００に組み込まれているが、表示部１７０は情報処理装置１００の外部に存在してもよい。
【００２９】
以上、本開示の実施形態に係る情報処理装置１００の機能構成例について説明した。
【００３０】
＜２−２．測定誤差の算出＞
上記したように、磁気センサ１２１による地磁気の測定には測定誤差が生じ得る。以下では、本開示の実施形態に係る情報処理装置１００によって得られる測定誤差について説明する。図３は、本開示の実施形態に係る情報処理装置１００によって得られる測定誤差について説明するための図である。具体的に、図３には、測定された磁気値が３軸上にプロットされた結果の例が示されている。
【００３１】
例えば、測定位置と地磁気の伏角と地磁気の絶対値とが対応付けられた登録情報をデータベースとして用意しておき、登録情報と実測情報との比較結果に基づいて地磁気センサとしての測定誤差を得る一般的な技術を想定する。かかる一般的な技術においては、登録情報と実測情報とにおいて伏角および絶対値が類似していない場合には、測定誤差がより高いと推測され得る。
【００３２】
一方、かかる一般的な技術においては、登録情報と実測情報とにおいて伏角および絶対値が一致または類似している場合には、測定誤差を推測するのが困難である。第一に、登録情報と実測情報とにおいて伏角および絶対値が一致している場合であっても、測定された磁気値を示す点は円Ｃ１上のいずれかにあるということしか把握され得ず、登録情報と実測情報とにおいて方位または姿勢は異なる可能性が想定されるからである。第二に、外乱の影響がどの程度あるかを把握するのが困難だからである。
【００３３】
本明細書においては、磁気値または磁気値に基づいて得られる情報の時間的な変動に基づいて測定誤差を得る手法を提案する。磁気値は、磁気値の絶対値（磁気ベクトルの大きさ）であってもよいし、磁気値の何れかの軸方向成分であってもよい。また、磁気値に基づいて得られる情報は、磁気値から得られる伏角であってもよいし、磁気値の絶対値であってもよいし、磁気値から得られる方位であってもよいし、磁気値から得られる姿勢であってもよい。かかる手法によれば、伏角および絶対値以外の情報も測定誤差に反映させることによって、より高精度な測定誤差を得ることが可能となる。また、かかる手法によれば、登録情報をあらかじめ用意しておく必要性がなくなる。
【００３４】
また、本明細書においては、少なくとも磁気センサ１２１の移動中に磁気値を測定する手法を提案する。かかる手法によれば、磁気センサ１２１の移動中に測定された空間的な磁気分布が測定誤差に反映されるようになる。空間的な磁気分布は測定誤差との相関性が高いことが推測される。したがって、かかる手法によれば、より高精度な測定誤差を得ることが可能となる。
【００３５】
図４は、本開示の実施形態に係る情報処理装置１００によって得られる測定誤差について説明するための他の図である。図４を参照すると、鉄鋼材質の建物の領域Ｒ１が存在し、領域Ｒ１に囲まれた領域Ｒ２が存在している。ここで、領域Ｒ２においては、領域Ｒ１と比較して磁束が疎になり易いため、磁気値の絶対値は小さくなり得るが、登録情報の精度によっては領域Ｒ２において登録されている地磁気の絶対値が領域Ｒ１において登録されている地磁気の絶対値と同程度になってしまっていることもあり得る。そのため、上記の一般的な技術においては、領域Ｒ２において登録情報と実測情報とにおいて絶対値が類似していないと判断され、方位誤差がさほど高くない場合であっても測定誤差が高いと推測され得る。
【００３６】
本明細書においては、磁気値または磁気値に基づいて得られる情報の時間的な変動に基づいて測定誤差を得る手法を提案する。かかる手法によれば、実測情報と登録情報とを比較する必要がなくなるため、登録情報の精度の高さに依存しない、より高精度な測定誤差を得ることが可能となる。
【００３７】
また、本明細書においては、少なくとも磁気センサ１２１の移動中に磁気値を測定する手法を提案する。かかる手法によれば、磁気センサ１２１の移動中に測定された空間的な磁気分布が測定誤差に反映されるようになる。磁束が疎になり易い領域Ｒ２において、方位誤差がさほど高くない場合には、空間的な磁気分布もさほど変化しない可能性があり、上記の一般的な技術と比較して低めの測定誤差がより高精度に得られる可能性がある。
【００３８】
続いて、本開示の実施形態に係る情報処理装置１００が測定誤差を得る手法についてさらに詳細に説明する。まず、変動測定部１１１は、少なくとも磁気センサ１２１の移動中に磁気センサ１２１によって測定された磁気値または磁気値に基づいて得られる情報の時間的な変動を測定する。測定誤差取得部１１２は、変動測定部１１１によって測定された変動に基づいて磁気センサ１２１の地磁気センサとしての測定誤差を得る。かかる手法によれば、上記したようにより高精度な測定誤差を得ることが可能となる。
【００３９】
磁気センサ１２１の移動中であるか否かは、制御部１１０によって自動的に判断されてもよいし、ユーザによって入力されてもよい。磁気センサ１２１の移動中であるか否かの判断はどのようになされてもよく、センサ部１２０によって測定されたセンサデータに基づいてなされてもよい。例えば、制御部１１０は、測位センサ１２４によって測定された測位位置が変化した場合に、磁気センサ１２１が移動中であると判断してもよいし、歩数計によって磁気センサ１２１が移動中であるか否かが判断されてもよい。なお、変動測定部１１１は、磁気センサ１２１の停止中に変動を測定してもよい。
【００４０】
変動測定部１１１による変動の測定としては様々な測定の手法が想定される。例えば、変動測定部１１１は、所定の２つの測定時刻を第１の測定時刻および第２の測定時刻とし、第１の測定時刻および第２の測定時刻それぞれにおける磁気値または磁気値に基づいて得られる情報の差分値を変動として測定してよい。このようにして差分値を変動として測定すれば、簡易な処理によって変動を測定することが可能となる。
【００４１】
第１の測定時刻および第２の測定時刻それぞれはどのような時刻であってもよいが、例えば、所定時間内に測定された磁気値または磁気値に基づいて得られる情報のうち、第１の測定時刻が最大値であり第２の測定時刻が最小値であってもよい。以下においては、第１の測定時刻が最大値であり第２の測定時刻が最小値である場合について、図５および図６を参照しながら説明する。図５および図６には、所定時間が１０秒である場合が示されているが、所定時間の長さは限定されない。
【００４２】
なお、以下では、方位の特定に測定誤差を利用することを想定し、測定誤差の例として方位誤差を用いる場合を主に説明するが、測定誤差は方位の特定以外に利用されてもよい。また、以下では、変動測定部１１１が磁気センサ１２１によって測定された磁気値の時間的な変動を測定する場合を主に説明するが、変動測定部１１１は、磁気値に基づいて得られる情報の時間的な変動を測定してもよい。
【００４３】
図５は、磁気値の絶対値と方位誤差との関係の一例を示す図である。また、図６は、磁気値に基づいて方位誤差を得る動作の一例を示すフローチャートである。まず、磁気センサ１２１は、３軸磁気値を検出し（Ｓ１１）、検出した３軸磁気値からオフセットを除去する（Ｓ１２）。変動測定部１１１は、３軸磁気値の絶対値を算出してバッファに蓄積する（Ｓ１３）。３軸磁気値の絶対値は、図５に示されているように変化し得る。制御部１１０は、１０秒分の絶対値がバッファに蓄積されていない場合には（Ｓ１４において「Ｎｏ」）、Ｓ１１に動作を移行させる。
【００４４】
一方、測定誤差取得部１１２は、１０秒分の絶対値がバッファに蓄積された場合には（Ｓ１４において「Ｙｅｓ」）、バッファに蓄積された１０秒分の絶対値のうち最大値から最小値を減算して差分値を算出し（Ｓ１５）、差分値に固定係数を乗じることによって方位誤差を算出する（Ｓ１６）。図５には、バッファに蓄積された１０秒分の絶対値のうちの最大値と最小値とが示されている。制御部１１０は、３軸地磁気の絶対値の蓄積位置を示すバッファポインタをインクリメントし（Ｓ１７）、Ｓ１１に動作を移行させる。
【００４５】
なお、ここでは所定時間内に測定された磁気値または磁気値に基づいて得られる情報のうち、第１の測定時刻が最大値であり第２の測定時刻が最小値である例を説明したが、上記したように、第１の測定時刻および第２の測定時刻それぞれはどのような時刻であってもよい。例えば、第１の測定時刻と第２の測定時刻とは、互いに所定時間の隔たりを有していてもよい。
【００４６】
以下においては、第１の測定時刻と第２の測定時刻とが互いに所定時間の隔たりを有する場合について、図７を参照しながら説明する。図７には、所定時間が１秒である場合が示されているが、所定時間の長さは限定されない。
【００４７】
図７は、磁気値に基づいて方位誤差を得る動作の他の一例を示すフローチャートである。まず、磁気センサ１２１は、３軸磁気値を検出し（Ｓ２１）、検出した３軸磁気値からオフセットを除去する（Ｓ２２）。変動測定部１１１は、３軸磁気値の絶対値を算出してバッファに蓄積する（Ｓ２３）。制御部１１０は、１秒分の絶対値がバッファに蓄積されていない場合には（Ｓ２４において「Ｎｏ」）、Ｓ２１に動作を移行させる。
【００４８】
一方、測定誤差取得部１１２は、１秒分の絶対値がバッファに蓄積された場合には（Ｓ２４において「Ｙｅｓ」）、バッファに蓄積された１秒分の絶対値のうち現在の絶対値から１秒前の絶対値を減算して差分値を算出し（Ｓ２５）、差分値に固定係数を乗じることによって方位誤差を算出する（Ｓ２６）。制御部１１０は、３軸地磁気の絶対値の蓄積位置を示すバッファポインタをインクリメントし（Ｓ２７）、Ｓ２１に動作を移行させる。
【００４９】
なお、図６および図７には、測定誤差取得部１１２が、差分値と固定係数との乗算結果を磁気センサ１２１の方位誤差として算出する例が示されているが、方位誤差の算出手法はかかる例に限定されない。例えば、測定誤差取得部１１２は、差分値自体を磁気センサ１２１の方位誤差として得てもよい。したがって、測定誤差取得部１１２は、差分値と固定係数との乗算結果または差分値を磁気センサ１２１の測定誤差として得てよい。
【００５０】
以上、本開示の実施形態に係る情報処理装置１００によって得られる測定誤差について説明した。
【００５１】
＜２−３．方位または姿勢の特定＞
以上に説明したようにして得られる測定誤差はどのようにして利用されてもよい。例えば、特定部１１３は、磁気センサ１２１の測定誤差に基づいて方位または姿勢を特定してよい。まず、磁気センサ１２１の方位または姿勢の特定に用いられ得る磁気センサ１２１の姿勢角としてヨー角、ロール角およびピッチ角について説明する。図８は、ヨー角、ロール角およびピッチ角を説明するための図である。
【００５２】
図８に示したように、情報処理装置１００の前方ベクトルに沿ってロール軸（Ｙ軸）が設定されてよい。また、情報処理装置１００の左右方向に沿ってピッチ軸（Ｘ軸）が設定されてよい。ヨー軸（Ｚ軸）は、重力ベクトルに沿って設定されてよい。以下の説明においては、ピッチ角、ロール角およびヨー角は、ピッチ軸、ロール軸およびヨー軸それぞれに対する回転角に相当する。また、ヨー角は方位に相当し、ピッチ角およびロール角は姿勢に相当し得る。
【００５３】
磁気センサ１２１の測定誤差に基づいて方位または姿勢を特定する手法は特に限定されないが、特定部１１３は、磁気センサ１２１の測定誤差が高いほど、他のセンサデータを用いた方位または姿勢に対する補正の重みを強めてよい。かかる構成によれば、より高精度に方位または姿勢を特定することが可能となる。他のセンサデータを用いた方位または姿勢に対する補正の重みを強める手法についても特に限定されない。
【００５４】
例えば、特定部１１３は、磁気センサ１２１の測定誤差が閾値を上回る場合には、他のセンサデータに基づいて方位または姿勢を補正してよい。他のセンサデータも特に限定されないが、ジャイロセンサ１２２により測定された角速度であってよい。したがって、特定部１１３は、磁気センサ１２１の測定誤差が閾値を上回る場合には、ジャイロセンサ１２２により測定された角速度に基づいて方位または姿勢を補正してよい。かかる補正についてさらに具体的に説明する。
【００５５】
図９は、方位誤差に基づいて方位を特定する動作の一例を示すフローチャートである。まず、制御部１１０は、磁気センサ１２１によって検出された磁気値に基づく方位（以下、「地磁気方位」とも言う。）を算出する（Ｓ３１）。また、制御部１１０は、ジャイロセンサ１２２によって検出された角速度に基づくヨー角速度（以下、「ジャイロヨー角速度」とも言う。）を算出する（Ｓ３２）。ヨー軸の方向は、加速度センサ１２３によって検出された加速度から推定された重力ベクトルに基づいて定められてよい。
【００５６】
続いて、変動測定部１１１は、少なくとも磁気センサ１２１の移動中に磁気センサ１２１によって測定された磁気値または磁気値に基づいて得られる情報の時間的な変動を測定し、測定誤差取得部１１２は、変動測定部１１１によって測定された変動に基づいて磁気センサ１２１の地磁気センサとしての測定誤差（以下、「地磁気方位誤差」とも言う。）を算出する（Ｓ３３）。
【００５７】
特定部１１３は、地磁気方位誤差が１０度を上回る場合には（Ｓ３４において「Ｙｅｓ」）、１秒前の補正方位に対してジャイロヨー角速度と１秒との乗算結果を加算することによって新たな補正方位を算出し（Ｓ３５）、Ｓ３７に動作が移行される。一方、特定部１１３は、地磁気方位誤差が１０度を下回る場合には（Ｓ３４において「Ｎｏ」）、地磁気方位を新たな補正方位とし（Ｓ３６）、Ｓ３７に動作が移行される。地磁気方位誤差が１０度と等しい場合には、Ｓ３５およびＳ３６の何れに動作が移行されてもよい。
【００５８】
特定部１１３は、補正方位をバッファに蓄積し（Ｓ３７）、制御部１１０は、１秒待機して（Ｓ３８）、Ｓ３１に動作を移行させる。なお、図９には、地磁気方位誤差と比較される閾値が１０度である場合が示されているが、かかる閾値の大きさは限定されない。また、図９には、方位の補正が１秒ごとになされる場合が示されているが、方位の補正がなされる時間間隔は限定されず、適宜に変更されてよい。
【００５９】
以上においては、磁気センサ１２１の測定誤差に基づいて方位または姿勢を特定する例を説明したが、特定部１１３は、磁気センサ１２１の測定誤差と他のセンサの測定誤差とに基づいて方位または姿勢を特定してもよい。磁気センサ１２１の測定誤差と他のセンサの測定誤差とに基づいて方位または姿勢を特定する手法は特に限定されない。
【００６０】
例えば、特定部１１３は、磁気センサ１２１の測定誤差が他のセンサの測定誤差を上回る場合に、他のセンサにより測定されたセンサデータに基づいて方位または姿勢を補正してもよい。かかる構成によれば、より高精度に方位または姿勢を特定することが可能となる。他のセンサも特に限定されないが、ジャイロセンサ１２２であってよい。したがって、特定部１１３は、磁気センサ１２１の測定誤差がジャイロセンサ１２２の測定誤差を上回る場合には、ジャイロセンサ１２２により測定された角速度に基づいて方位または姿勢を補正してよい。かかる補正についてさらに具体的に説明する。
【００６１】
図１０は、方位誤差に基づいて方位を特定する動作の他の一例を示すフローチャートである。まず、制御部１１０は、地磁気方位を算出する（Ｓ４１）。また、制御部１１０は、ジャイロヨー角速度を算出する（Ｓ４２）。ヨー軸の方向は、加速度センサ１２３によって検出された加速度から推定された重力ベクトルに基づいて定められてよい。続いて、変動測定部１１１は、少なくとも磁気センサ１２１の移動中に磁気センサ１２１によって測定された磁気値または磁気値に基づいて得られる情報の時間的な変動を測定し、測定誤差取得部１１２は、変動測定部１１１によって測定された変動に基づいて地磁気方位誤差を算出する（Ｓ４３）。
【００６２】
測定誤差取得部１１２は、ジャイロセンサ１２２の測定誤差（以下、「ジャイロ方位誤差」とも言う。）を算出する（Ｓ４４）。ジャイロセンサ１２２の測定誤差の算出手法は特に限定されないが、オフセット補正を行った時点からの経過時間が長いほど、ジャイロセンサ１２２の測定誤差は長くなり得るという特性を考慮し、ジャイロセンサ１２２に対して前回オフセット補正がなされた時点からの経過時間がジャイロセンサ１２２の測定誤差として算出されてもよい。
【００６３】
特定部１１３は、地磁気方位誤差がジャイロ方位誤差を上回る場合には（Ｓ４５において「Ｙｅｓ」）、１秒前の補正方位に対してジャイロヨー角速度と１秒との乗算結果を加算することによって新たな補正方位を算出し（Ｓ４６）、Ｓ４８に動作が移行される。一方、特定部１１３は、地磁気方位誤差がジャイロ方位誤差を下回る場合には（Ｓ４５において「Ｎｏ」）、地磁気方位を新たな補正方位とし（Ｓ４７）、制御部１１０は、Ｓ４８に動作が移行される。地磁気方位誤差がジャイロ方位誤差と等しい場合には、Ｓ４６およびＳ４７の何れに動作が移行されてもよい。
【００６４】
特定部１１３は、補正方位をバッファに蓄積し（Ｓ４８）、制御部１１０は、１秒待機して（Ｓ４９）、Ｓ４１に動作を移行させる。なお、図１０には、方位の補正が１秒ごとになされる場合が示されているが、方位の補正がなされる時間間隔は限定されず、適宜に変更されてよい。
【００６５】
図１１は、本開示の実施形態に係る情報処理装置１００および一般的な技術それぞれを用いた場合におけるユーザ位置の軌跡の一例を示す図である。図１１を参照しながら、本開示の実施形態に係る情報処理装置１００および一般的な技術それぞれを用いた場合におけるユーザ位置の軌跡の相違の一例を説明する。地図情報１７１Ｂを参照すると、ユーザ位置の軌跡が示されている。
【００６６】
具体的には、変動測定部１１１および測定誤差取得部１１２によって得られた測定誤差を用い、図１０に示したような地磁気方位誤差とジャイロ方位誤差との比較結果に基づいて方位を特定した場合におけるユーザ位置の軌跡Ｑ１１が示されている。一方、上記の一般的な技術による測定誤差を用い、図１０に示したような地磁気方位誤差とジャイロ方位誤差との比較結果に基づいて方位を特定した場合におけるユーザ位置の軌跡Ｑ１２が示されている。
【００６７】
ここで、一般的に屋内においては屋外よりも地磁気の大きさが弱くなる傾向がある。例えば、屋内をユーザが進行している状況において、登録情報と実測情報とを比較する一般的な技術を用いた場合には、磁気値の絶対値が小さくなり易く地磁気方位誤差が大きくない易い。その結果として地磁気方位誤差がジャイロ方位誤差を上回り易く、ジャイロセンサによって測定された角速度に基づいて方位が特定され易い。しかし、ジャイロセンサの測定結果にはオフセット誤差が含まれるため、ジャイロセンサによって測定された角速度が蓄積されていくと、軌跡Ｑ１２に示すように測定誤差が次第に大きくなっていく。
【００６８】
一方、例えば、同様の状況において、変動測定部１１１および測定誤差取得部１１２によって得られた測定誤差を用いた場合には、地磁気方位誤差はさほど大きくならないため、ユーザが位置Ｐ１１に到達した時点において地磁気方位誤差がジャイロ方位誤差を下回っている。ユーザが位置Ｐ１１およびＰ１２に到達したときには、磁気センサ１２１によって測定された磁気値に基づいて方位が特定されるため、ユーザ位置の軌跡Ｑ１１は、経路Ｌ１からさほど外れていないことが把握される。
【００６９】
図１２は、本開示の実施形態に係る情報処理装置１００および一般的な技術それぞれを用いた場合におけるユーザ位置の軌跡の他の一例を示す図である。図１２を参照しながら、本開示の実施形態に係る情報処理装置１００および一般的な技術それぞれを用いた場合におけるユーザ位置の軌跡の相違の他の一例を説明する。地図情報１７１Ｃを参照すると、ユーザ位置の軌跡が示されている。
【００７０】
図１２においても、ユーザ位置の軌跡Ｑ１１およびＱ１２が示されている。例えば、屋内をユーザが進行している状況において、登録情報と実測情報とを比較する一般的な技術を用いた場合には、軌跡Ｑ１２に示すように測定誤差が次第に大きくなっていく。ここで、上記したように、登録情報と実測情報とにおいて伏角および絶対値が一致または類似している場合であっても、登録情報と実測情報とにおいて伏角および絶対値が一致している場合には地磁気方位誤差が低いと推測され易いが、登録情報と実測情報とにおいて方位は異なっている可能性がある。
【００７１】
ユーザが位置Ｐ１３に到達した時点において地磁気方位誤差がジャイロ方位誤差を下回ったとする。ユーザが位置Ｐ１３に到達したときには、磁気センサ１２１によって測定された磁気値に基づいて方位が特定されるが、実際には測定された方位は誤っているため、ユーザ位置の軌跡Ｑ１２は、ユーザが位置Ｐ１３に到達した後において経路Ｌ１からさらに大きく外れていることが把握される。
【００７２】
図１３は、本開示の実施形態に係る情報処理装置１００および一般的な技術それぞれを用いた場合における複数のユーザ位置の軌跡の一例を示す図である。図１３を参照しながら、本開示の実施形態に係る情報処理装置１００および一般的な技術それぞれを用いた場合における複数のユーザ位置の軌跡の一例を説明する。地図情報１７１Ｄを参照すると、第１のユーザ位置および第２のユーザ位置それぞれの軌跡が示されている。第１のユーザは、初期位置Ｐ１０から経路Ｌ１の方位に進行しようとしており、第２のユーザは、初期位置Ｐ２０から経路Ｌ２の方位に進行しようとしている。
【００７３】
具体的には、変動測定部１１１および測定誤差取得部１１２によって得られた測定誤差を用い、図１０に示したような地磁気方位誤差とジャイロ方位誤差との比較結果に基づいて方位を特定した場合における第１のユーザ位置の軌跡Ｑ１１および第２のユーザ位置の軌跡Ｑ２１が示されている。一方、上記の一般的な技術による測定誤差を用い、図１０に示したような地磁気方位誤差とジャイロ方位誤差との比較結果に基づいて方位を特定した場合における第１のユーザ位置の軌跡Ｑ１２および第２のユーザ位置の軌跡Ｑ２２が示されている。
【００７４】
一般的な技術を用いた場合における第１のユーザ位置の軌跡Ｑ１２と第２のユーザ位置の軌跡Ｑ２２とを参照すると、第１のユーザと第２のユーザとは経路Ｌ１および経路Ｌ２の合流地点からは離れてしまっていることが把握される。一方、本開示の実施形態に係る情報処理装置１００を用いた場合における第１のユーザ位置の軌跡Ｑ１１と第２のユーザ位置の軌跡Ｑ２１とを参照すると、第１のユーザと第２のユーザとは経路Ｌ１および経路Ｌ２の合流地点に近づいていることが把握される。
【００７５】
図１４は、方位誤差に基づいて姿勢を特定する動作の一例を示すフローチャートである。まず、制御部１１０は、加速度センサ１２３によって検出された加速度から重力ベクトルを算出する（Ｓ５１）。また、制御部１１０は、重力ベクトルからピッチ角およびロール角それぞれの初期値を算出する（Ｓ５２）。続いて、制御部１１０は、ジャイロセンサ１２２によって検出されたピッチ角速度（以下、「ジャイロピッチ角速度」とも言う。）およびロール角速度（以下、「ジャイロロール角速度」とも言う。）を検出する（Ｓ５３）。
【００７６】
続いて、制御部１１０は、磁気センサ１２１によって検出された磁気値に基づいてピッチ角速度（以下、「地磁気ピッチ角速度」とも言う。）およびロール角速度（以下、「地磁気ロール角速度」とも言う。）を算出する（Ｓ５４）。具体的には、制御部１１０は、ＸＺ平面およびＹＺ平面それぞれに地磁気ベクトルを射影したときの偏角を地磁気ロール角および地磁気ピッチ角とし、１秒前からの変化量を地磁気ロール角速度および地磁気ピッチ角速度として算出すればよい。
【００７７】
続いて、変動測定部１１１は、少なくとも磁気センサ１２１の移動中に磁気センサ１２１によって測定された磁気値または磁気値に基づいて得られる情報の時間的な変動を測定し、測定誤差取得部１１２は、変動測定部１１１によって測定された変動に基づいて地磁気方位誤差を算出する（Ｓ５５）。
【００７８】
特定部１１３は、地磁気方位誤差が１０度を上回る場合には（Ｓ５６において「Ｙｅｓ」）、１秒前の補正ピッチ角に対してジャイロピッチ角速度を加算することによって新たな補正ピッチ角を算出するとともに、１秒前の補正ロール角に対してジャイロロール角速度を加算することによって新たな補正ロール角を算出し（Ｓ５７）、Ｓ５９に動作が移行される。一方、特定部１１３は、地磁気方位誤差が１０度を下回る場合には（Ｓ５６において「Ｎｏ」）、１秒前の補正ピッチ角に対して地磁気ピッチ角速度を加算することによって新たな補正ピッチ角を算出するとともに、１秒前の補正ロール角に対して地磁気ロール角速度を加算することによって新たな補正ロール角を算出し（Ｓ５８）、Ｓ５９に動作が移行される。地磁気方位誤差が１０度と等しい場合には、Ｓ５７およびＳ５８の何れに動作が移行されてもよい。
【００７９】
特定部１１３は、補正ピッチ角、補正ロール角および磁気値をバッファに蓄積し（Ｓ５９）、制御部１１０は、１秒待機して（Ｓ６０）、Ｓ５３に動作を移行させる。なお、図１４には、地磁気方位誤差と比較される閾値が１０度である場合が示されているが、かかる閾値の大きさは限定されない。また、図１４には、方位の補正が１秒ごとになされる場合が示されているが、方位の補正がなされる時間間隔は限定されず、適宜に変更されてよい。
【００８０】
以上、磁気センサ１２１の測定誤差に基づいて方位または姿勢を特定する手法について説明した。なお、表示制御部１１５は、磁気センサ１２１の方位または姿勢を表示部１７０に表示させることが可能である。また、表示部１７０は、磁気センサ１２１の方位または姿勢を表示することが可能である。
【００８１】
＜２−４．測位位置の補正＞
以上においては、センサデータを用いて方位または姿勢を特定する手法を説明した。しかし、本開示の実施形態に係る情報処理装置１００による方位または姿勢の特定は、様々な機能と併用されることによって、さらに格別な効果を奏することが期待される。例えば、情報処理装置１００による方位または姿勢の特定は、マップマッチングの技術を用いた測位位置の補正とも併用され得る。図１５は、マップマッチング技術を用いた測位位置の補正の一例を示す図である。
【００８２】
位置取得部１１４は、測位センサ１２４により測定された測定位置を取得する。地図情報１７１Ｅに示したように、表示制御部１１５は、位置取得部１１４によって取得された測位位置を表示部１７０に表示させることが可能である。表示部１７０は、位置取得部１１４によって取得された測位位置を表示することが可能である。ここで、位置取得部１１４は、マップマッチング技術を用いて、あらかじめ登録された位置情報に基づいて測定位置を補正してよい。
【００８３】
図１５に示した例では、ユーザが存在することが可能な位置Ｃ１１およびＣ１２それぞれを示す位置情報があらかじめ登録されており、位置取得部１１４は、本開示の実施形態に係る情報処理装置１００を用いた場合における測位位置を位置Ｃ１１に補正している。また、位置取得部１１４は、一般的な技術を用いた場合における測位位置を位置Ｃ１２に補正している。測位位置の補正は、測位位置があらかじめ登録された位置情報が示す位置に一致または類似した場合になされてよい。図１５を参照すると、本開示の実施形態に係る情報処理装置１００を用いた場合には、経路Ｌ１に沿った位置Ｃ１１に測位位置が補正されているが、一般的な技術を用いた場合には、経路Ｌ１とは外れた位置Ｃ１２に測位位置が補正されている。
【００８４】
この例のように、方位または姿勢の特定の精度が向上すれば、特に方位または姿勢の特定技術とマップマッチング技術とが併用された場合に、誤った位置に測位位置が補正されてしまう可能性を低減することが可能となる。特に、図１５に示したような徒歩道は、車両道路よりも２次元的に幅を有する可能性が高く、徒歩道をユーザが進行している間にはマップマッチング技術の適用がなされにくい。そのため、特に徒歩道をユーザが進行している間には、本開示の実施形態に示したように高精度に方位が特定されることが効果的である。
【００８５】
以上、情報処理装置１００による方位または姿勢の特定がマップマッチングの技術を用いた測位位置の補正と併用される場合について説明したが、例えば、情報処理装置１００による方位または姿勢の特定は、ユーザの通行履歴を記憶させる技術とも併用され得る。図１６は、通行履歴を記憶させる例を説明するための図である。
【００８６】
位置取得部１１４は、測位センサ１２４により測定された測定位置を取得する。地図情報１７１Ｆに示したように、表示制御部１１５は、位置取得部１１４によって取得された測位位置を表示部１７０に表示させることが可能である。また、表示部１７０は、位置取得部１１４によって取得された測位位置を表示することが可能である。ここで、位置取得部１１４は、測定位置に一致または近接する位置情報に関連付けられたエリア識別情報を選択してユーザの通行履歴として記憶させてよい。
【００８７】
図１６に示した例では、ユーザが存在することが可能なエリアＥ１１およびＥ１２それぞれを識別するためのエリア識別情報があらかじめ登録されており、それぞれのエリア識別情報には位置情報が関連付けられている。エリアの種類は特に限定されず、店舗などといった動きのないものの存在場所であってもよいし、人、乗り物、屋台、イベント（花火大会など）の場所などといった動きのあるものの存在場所であってもよい。図１６に示した例では、エリアＥ１１が改札口であり、エリアＥ１２が地下街に存在する店舗である。
【００８８】
また、図１６に示した例では、位置取得部１１４は、本開示の実施形態に係る情報処理装置１００を用いた場合における測位位置に近接する位置情報を取得し、この位置情報に関連付けられたエリアＥ１１のエリア識別情報を選択してユーザの通行履歴として記憶させている。また、位置取得部１１４は、一般的な技術を用いた場合における測位位置に近接する位置情報を取得し、この位置情報に関連付けられたエリアＥ１２のエリア識別情報を選択してユーザの通行履歴として記憶させている。
【００８９】
図１６を参照すると、本開示の実施形態に係る情報処理装置１００を用いた場合には、経路Ｌ１に沿ったエリアＥ１１のエリア識別情報が進行履歴として記憶されるが、一般的な技術を用いた場合には、経路Ｌ１とは外れたエリアＥ１２のエリア識別情報が進行履歴として記憶されてしまう。
【００９０】
この例のように、方位または姿勢の特定の精度が向上すれば、特に方位または姿勢の特定技術とユーザの通行履歴を記憶させる技術とが併用された場合に、誤った通行履歴が記憶されてしまう可能性を低減することが可能となる。このようにして得られた通行履歴はどのように利用されてもよい。例えば、通行履歴を分析することによってユーザの嗜好情報を得ることも可能となる。
【００９１】
以上においては、情報処理装置１００による方位または姿勢の特定が、マップマッチングの技術を用いた測位位置の補正と併用される場合や、ユーザの通行履歴を記憶させる技術と併用される場合について説明した。しかし、情報処理装置１００による方位または姿勢の特定は、他の技術と併用されても格別な効果を奏し得る。
【００９２】
例えば、情報処理装置１００による方位または姿勢の特定は、ユーザ位置とユーザの方位とに基づいてユーザが到達するエリアを推測する技術とも併用され得る。また、情報処理装置１００による方位または姿勢の特定は、通行履歴に基づいてユーザの存在するエリアを推測する技術とも併用され得る。情報処理装置１００による方位または姿勢の特定は、時間帯ごとの通行履歴に基づいて、ある時間帯においてユーザの存在するエリアを推測する技術とも併用され得る。
【００９３】
＜＜３．ハードウェア構成例＞＞
続いて、本開示の実施形態に係る情報処理装置１００のハードウェア構成例について説明する。図１７は、本開示の実施形態に係る情報処理装置１００のハードウェア構成例を示す図である。ただし、図１７に示したハードウェア構成例は、情報処理装置１００のハードウェア構成の一例を示したに過ぎない。したがって、情報処理装置１００のハードウェア構成は、図１７に示した例に限定されない。
【００９４】
図１７に示したように、情報処理装置１００は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）８０１と、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）８０２と、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）８０３と、センサ８０４と、入力装置８０８と、出力装置８１０と、ストレージ装置８１１と、ドライブ８１２とを備える。
【００９５】
ＣＰＵ８０１は、演算処理装置および制御装置として機能し、各種プログラムに従って情報処理装置１００内の動作全般を制御する。また、ＣＰＵ８０１は、マイクロプロセッサであってもよい。ＲＯＭ８０２は、ＣＰＵ８０１が使用するプログラムや演算パラメータ等を記憶する。ＲＡＭ８０３は、ＣＰＵ８０１の実行において使用するプログラムや、その実行において適宜変化するパラメータ等を一時記憶する。これらはＣＰＵバスなどから構成されるホストバスにより相互に接続されている。
【００９６】
センサ８０４は、情報処理装置１００の状態を検出するためのセンサとその周辺回路からなる。センサ８０４としては、磁気センサ、ジャイロセンサ、加速度センサ、測位センサなどを挙げることができる。センサ８０４により検出されたセンサデータは、ＣＰＵ８０１に送られる。これにより、ＣＰＵ８０１は、情報処理装置１００の状態（方位、角速度、加速度、位置など）を知ることができる。
【００９７】
入力装置８０８は、マウス、キーボード、タッチパネル、ボタン、マイクロフォン、スイッチおよびレバーなどユーザが情報を入力するための入力部と、ユーザによる入力に基づいて入力信号を生成し、ＣＰＵ８０１に出力する入力制御回路などから構成されている。情報処理装置１００のユーザは、該入力装置８０８を操作することにより、情報処理装置１００に対して各種のデータを入力したり処理動作を指示したりすることができる。
【００９８】
出力装置８１０は、例えば、液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）装置、ＯＬＥＤ（Ｏｒｇａｎｉｃ  Ｌｉｇｈｔ  Ｅｍｉｔｔｉｎｇ  Ｄｉｏｄｅ）装置およびランプなどの表示装置を含む。さらに、出力装置８１０は、スピーカおよびヘッドホンなどの音声出力装置を含んでもよい。例えば、表示装置は、撮像された画像や生成された画像などを表示する。一方、音声出力装置は、音声データを音声に変換して出力する。
【００９９】
ストレージ装置８１１は、情報処理装置１００の記憶部の一例として構成されたデータ格納用の装置である。ストレージ装置８１１は、記憶媒体、記憶媒体にデータを記録する記録装置、記憶媒体からデータを読み出す読出し装置および記憶媒体に記録されたデータを削除する削除装置などを含んでもよい。このストレージ装置８１１は、ＣＰＵ８０１が実行するプログラムや各種データを格納する。
【０１００】
ドライブ８１２は、記憶媒体用リーダライタであり、情報処理装置１００に内蔵、あるいは外付けされる。ドライブ８１２は、装着されている磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク、または半導体メモリなどのリムーバブル記憶媒体に記録されている情報を読み出して、ＲＡＭ８０３に出力する。また、ドライブ８１２は、リムーバブル記憶媒体に情報を書き込むこともできる。
【０１０１】
以上、本開示の実施形態に係る情報処理装置１００のハードウェア構成例について説明した。
【０１０２】
＜＜４．むすび＞＞
以上説明したように、本開示の実施形態によれば、少なくとも磁気センサの移動中に磁気センサ１２１によって測定された磁気値または磁気値に基づいて得られる情報の時間的な変動を測定する変動測定部１１１と、変動に基づいて磁気センサ１２１の測定誤差を得る測定誤差取得部１１２と、を備える、情報処理装置１００が提供される。
【０１０３】
かかる構成によれば、磁気センサ１２１の移動中に測定された空間的な磁気分布が測定誤差に反映されるようになる。空間的な磁気分布は測定誤差との相関性が高いことが推測される。したがって、かかる手法によれば、より高精度な測定誤差を得ることが可能となる。また、かかる手法によれば、登録情報をあらかじめ用意しておく必要性がなくなるという効果も奏し得る。
【０１０４】
なお、添付図面を参照しながら本開示の好適な実施形態について詳細に説明したが、本開示の技術的範囲はかかる例に限定されない。本開示の技術分野における通常の知識を有する者であれば、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、これらについても、当然に本開示の技術的範囲に属するものと了解される。
【０１０５】
また、コンピュータに内蔵されるＣＰＵ、ＲＯＭおよびＲＡＭなどのハードウェアを、上記した情報処理装置１００が有する機能と同等の機能を発揮させるためのプログラムも作成可能である。また、該プログラムを記録した、コンピュータに読み取り可能な記録媒体も提供され得る。
【０１０６】
なお、以下のような構成も本開示の技術的範囲に属する。
（１）
少なくとも磁気センサの移動中に前記磁気センサによって測定された磁気値または前記磁気値に基づいて得られる情報の時間的な変動を測定する変動測定部と、
前記変動に基づいて前記磁気センサの測定誤差を得る測定誤差取得部と、
を備える、情報処理装置。
（２）
前記情報処理装置は、前記磁気センサの測定誤差に基づいて方位または姿勢を特定する特定部を備える、
前記（１）に記載の情報処理装置。
（３）
前記特定部は、前記磁気センサの測定誤差が高いほど、他のセンサデータを用いた方位または姿勢に対する補正の重みを強める、
前記（２）に記載の情報処理装置。
（４）
前記特定部は、前記磁気センサの測定誤差が閾値を上回る場合には、前記他のセンサデータに基づいて方位または姿勢を補正する、
前記（３）に記載の情報処理装置。
（５）
前記特定部は、前記磁気センサの測定誤差が閾値を上回る場合には、ジャイロセンサにより測定された角速度に基づいて方位または前記磁気センサの姿勢を補正する、
前記（４）に記載の情報処理装置。
（６）
前記特定部は、前記磁気センサの測定誤差と他のセンサの測定誤差とに基づいて方位または姿勢を特定する、
前記（３）または（４）に記載の情報処理装置。
（７）
前記特定部は、前記磁気センサの測定誤差が前記他のセンサの測定誤差を上回る場合には、前記他のセンサにより測定されたセンサデータに基づいて方位または姿勢を補正する、
前記（６）に記載の情報処理装置。
（８）
前記特定部は、前記磁気センサの測定誤差がジャイロセンサの測定誤差を上回る場合には、前記ジャイロセンサにより測定された角速度に基づいて方位または姿勢を補正する、
前記（７）に記載の情報処理装置。
（９）
前記情報処理装置は、測位センサにより測定された測定位置を取得する位置取得部を備える、
前記（２）〜（８）のいずれか一項に記載の情報処理装置。
（１０）
前記位置取得部は、あらかじめ登録された位置情報に基づいて前記測定位置を補正する、
前記（９）に記載の情報処理装置。
（１１）
前記位置取得部は、前記測定位置に一致または近接する位置情報に関連付けられたエリア識別情報を選択してユーザの通行履歴として記憶させる、
前記（９）または（１０）に記載の情報処理装置。
（１２）
前記変動測定部は、前記磁気センサの停止中に前記変動を測定する、
前記（１）〜（１１）のいずれか一項に記載の情報処理装置。
（１３）
前記情報処理装置は、方位または姿勢を表示させる表示制御部を備える、
前記（２）〜（１２）のいずれか一項に記載の情報処理装置。
（１４）
前記情報処理装置は、方位または姿勢を表示する表示部を備える、
前記（１３）に記載の情報処理装置。
（１５）
前記変動測定部は、第１の測定時刻および第２の測定時刻それぞれにおける磁気値または前記磁気値に基づいて得られる情報の差分値を前記変動として測定する、
前記（１）に記載の情報処理装置。
（１６）
前記第１の測定時刻と前記第２の測定時刻とは、互いに所定時間の隔たりを有する、
前記（１５）に記載の情報処理装置。
（１７）
所定時間内に測定された前記磁気値または前記磁気値に基づいて得られる情報のうち、前記第１の測定時刻が最大値であり前記第２の測定時刻が最小値である、
前記（１５）に記載の情報処理装置。
（１８）
前記測定誤差取得部は、前記差分値と固定係数との乗算結果または前記差分値を前記磁気センサの測定誤差として得る、
前記（１５）〜（１７）のいずれか一項に記載の情報処理装置。
（１９）
少なくとも磁気センサの移動中に前記磁気センサによって測定された磁気値または前記磁気値に基づいて得られる情報の時間的な変動を測定することと、
前記変動に基づいて前記磁気センサの測定誤差を得ることと、
を含む、情報処理方法。
（２０）
コンピュータを、
少なくとも磁気センサの移動中に前記磁気センサによって測定された磁気値または前記磁気値に基づいて得られる情報の時間的な変動を測定する変動測定部と、
前記変動に基づいて前記磁気センサの測定誤差を得る測定誤差取得部と、
を備える情報処理装置として機能させるためのプログラムを記録した、コンピュータに読み取り可能な記録媒体。
【符号の説明】
【０１０７】
１００  情報処理装置
１１０  制御部
１１１  変動測定部
１１２  測定誤差取得部
１１３  特定部
１１４  位置取得部
１１５  表示制御部
１２０  センサ部
１２１  磁気センサ
１２２  ジャイロセンサ
１２３  加速度センサ
１２４  測位センサ
１４０  入力部
１５０  記憶部
１７０  表示部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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