(57)【要約】【課題】歯車型のロータの凹凸構造に応じた２値化信号を出力する回転検出装置において、２値化信号の誤出力を防止することができる構成を提供する。【解決手段】検出部３０は、複数の磁気抵抗素子対３１〜３３の抵抗値の変化に基づいて、ロータ１０の凸部１２及び凹部１３の凹凸構造に対応した波形のメイン信号Ｓ３と、メイン信号Ｓ３に対して位相差を持った波形のサブ信号Ｓ４と、をそれぞれ生成する。また、判定回路部４０は、検出部３０からメイン信号Ｓ３及びサブ信号Ｓ４を入力し、メイン信号Ｓ３と２値化閾値とを比較してメイン信号Ｓ３を２値化した２値化信号を生成すると共に、サブ信号Ｓ４と２値化閾値とを比較してサブ信号Ｓ４を２値化する。さらに、判定回路部４０は、２値化されたサブ信号Ｓ４のうち凸部１２に対応する凸部期間４６では２値化信号の出力を禁止する。【選択図】図３
2015206750.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
凸部（１２）と凹部（１３）とが回転方向に交互に設けられた歯車型のロータ（１０）の回転態様を検出する回転検出装置であって、
前記ロータ（１０）の回転に伴って抵抗値が変化する複数の磁気抵抗素子対（３１〜３３）を有し、前記複数の磁気抵抗素子対（３１〜３３）の抵抗値の変化に基づいて、前記ロータ（１０）の前記凸部（１２）及び前記凹部（１３）の凹凸構造に対応した波形のメイン信号と、前記メイン信号に対して位相差を持った波形のサブ信号と、をそれぞれ生成する検出部（３０）と、
前記メイン信号及び前記サブ信号を２値化するための２値化閾値を有し、前記検出部（３０）から前記メイン信号及び前記サブ信号を入力し、前記メイン信号と前記２値化閾値とを比較して前記メイン信号を２値化した２値化信号を生成すると共に、前記サブ信号と前記２値化閾値とを比較して前記サブ信号を２値化し、さらに、前記２値化されたサブ信号のうち前記凹部（１３）に対応する凹部期間（４５）及び前記凸部（１２）に対応する凸部期間（４６）のうちのいずれか一方の期間では前記２値化信号の出力を許可し、他方の期間では前記２値化信号の出力を禁止する判定回路部（４０）と、
を備えていることを特徴とする回転検出装置。
【請求項２】
前記判定回路部（４０）は、前記凸部期間（４６）では前記２値化信号の出力を許可する一方、前記凹部期間では前記２値化信号の出力を禁止することを特徴とする請求項１に記載の回転検出装置。
【請求項３】
前記判定回路部（４０）は、前記凹部期間（４５）では前記２値化信号の出力を許可する一方、前記凸部期間では前記２値化信号の出力を禁止することを特徴とする請求項１に記載の回転検出装置。
【請求項４】
前記複数の磁気抵抗素子対は、ハーフブリッジ回路を構成する第１磁気抵抗素子対（３１）、第２磁気抵抗素子対（３２）、及び第３磁気抵抗素子対（３３）から構成され、前記ロータ（１０）の回転方向において前記第２磁気抵抗素子対（３２）が前記第１磁気抵抗素子対（３１）と前記第３磁気抵抗素子対（３３）との間に位置するように各々が配置されており、
前記第１磁気抵抗素子対（３１）の中点電位をＡ、第２磁気抵抗素子対（３２）の中点電位をＢ、第３磁気抵抗素子対（３３）の中点電位をＣと定義すると、
前記検出部（３０）は、（Ａ−Ｂ）−（Ｂ−Ｃ）を前記メイン信号として取得し、Ａ−Ｃを前記サブ信号として取得することを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１つに記載の回転検出装置。
【請求項５】
前記ロータ（１０）は、前記凸部（１２）のうちのいずれかの前記回転方向の長さが他よりも長い長山部（１４）として構成されたものであることを特徴とする請求項１ないし４のいずれか１つに記載の回転検出装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、歯車型のロータの回転態様を検出する回転検出装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、歯車型のロータの回転態様を検出するように構成された回転検出装置が、例えば特許文献１で提案されている。具体的には、複数の磁気抵抗素子と、各磁気抵抗素子の出力を処理する処理回路と、を備えた回転検出装置の構成が提案されている。各磁気抵抗素子は、ロータに対向する位置に配置されて電気的に各々ハーフブリッジ回路を形成する第１磁気抵抗素子対及び第２磁気抵抗素子対を構成している。
【０００３】
そして、各磁気抵抗素子対の中点電位がロータの各歯に応じて変化する。したがって、処理回路は、各磁気抵抗素子対の中点電位の差動出力を閾値と比較することによってこの差動出力を２値化した２値化信号を出力する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特許第４４６６３５５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記従来の技術では、ロータの凹凸構造に応じた各磁気抵抗素子対の中点電位の変化は小さいので、各磁気抵抗素子対の中点電位の値に近い値を閾値に設定する必要がある。このため、ロータの凸部に付いた傷や、回転検出装置に入ったノイズ等によって各磁気抵抗素子対の中点電位の差動出力が閾値を超えてしまう可能性がある。これにより、処理回路が誤判定を行い、その結果、回転検出装置が２値化信号を誤出力してしまうという問題がある。
【０００６】
本発明は上記点に鑑み、歯車型のロータの凹凸構造に応じた２値化信号を出力する回転検出装置において、２値化信号の誤出力を防止することができる構成を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するため、請求項１に記載の発明では、凸部（１２）と凹部（１３）とが回転方向に交互に設けられた歯車型のロータ（１０）の回転態様を検出する回転検出装置であって、以下の点を特徴としている。
【０００８】
すなわち、ロータ（１０）の回転に伴って抵抗値が変化する複数の磁気抵抗素子（３１〜３３）を有し、複数の磁気抵抗素子（３１〜３３）の抵抗値の変化に基づいて、ロータ（１０）の凸部（１２）及び凹部（１３）の凹凸構造に対応した波形のメイン信号と、メイン信号に対して位相差を持った波形のサブ信号と、をそれぞれ生成する検出部（３０）を備えている。
【０００９】
また、メイン信号及びサブ信号を２値化するための２値化閾値を有し、検出部（３０）からメイン信号及びサブ信号を入力し、メイン信号と２値化閾値とを比較してメイン信号を２値化した２値化信号を生成すると共に、サブ信号と２値化閾値とを比較してサブ信号を２値化し、さらに、２値化されたサブ信号のうち凹部（１３）に対応する凹部期間（４５）及び凸部（１２）に対応する凸部期間（４６）のうちのいずれか一方の期間では２値化信号の出力を許可し、他方の期間では２値化信号の出力を禁止する判定回路部（４０）を備えていることを特徴とする。
【００１０】
これによると、傷やノイズ等によってメイン信号が２値化閾値を横切ったとしても、凹部期間（４５）及び凸部期間（４６）のうちのいずれか一方の期間では２値化信号の出力が禁止される。したがって、２値化信号の誤出力を防止することができる。
【００１１】
なお、この欄及び特許請求の範囲で記載した各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものである。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の第１実施形態に係る回転検出装置と歯車型のロータとの配置関係を示した図である。
【図２】図１に示された回転検出装置の回路構成を示した図である。
【図３】回転検出装置の作動を説明するためのタイミングチャートである。
【図４】第２実施形態に係るロータの平面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各実施形態相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、図中、同一符号を付してある。
【００１４】
（第１実施形態）
以下、本発明の第１実施形態について図を参照して説明する。本発明に係る回転検出装置は、例えば内燃機関のクランク角判定装置として用いられる。図１に示されるように、内燃機関であるエンジンのクランク軸に固定された歯車型のロータ１０の外周部１１に対向するように回転検出装置２０が配置されている。回転検出装置２０は、ロータ１０の回転態様を検出するように構成されている。なお、図１ではロータ１０の外周部１１の一部を直線状に展開して示してある。図３についても同じである。
【００１５】
ロータ１０の外周部１１には凸部１２と凹部１３とが回転方向に交互に設けられている。また、ロータ１０は、複数の凸部１２のうちの一つの回転方向の長さが他よりも長い長山部１４として構成されたものである。本実施形態では、長山部１４はロータ１０に一つ設けられている。長山部１４はロータ１０の回転基準位置すなわちクランク角の基準角度に対応している。
【００１６】
そして、回転検出装置２０は、円筒状のバイアス磁石２１とこのバイアス磁石２１に対し、所定の位置に配置されたセンサチップ２２とを備えて構成されている。バイアス磁石２１は、回転検出装置２０の磁界の検出感度を一定分だけ上昇させる役割を果たす。バイアス磁石２１の中空部にはセンサチップ２２が配置されている。
【００１７】
センサチップ２２は、ロータ１０の回転に伴って外周部１１の位置すなわちクランク角に応じた検出信号を出力するように構成された検出部３０を備えている。検出部３０は、ロータ１０の回転に伴って抵抗値が変化する第１磁気抵抗素子対３１、第２磁気抵抗素子対３２、及び第３磁気抵抗素子対３３の３つの素子対を備えている。
【００１８】
ロータ１０の回転方向において、第２磁気抵抗素子対３２が第１磁気抵抗素子対３１と第３磁気抵抗素子対３３との間に位置するように各々が配置されている。つまり、第２磁気抵抗素子対３２が第１磁気抵抗素子対３１と第３磁気抵抗素子対３３とに挟まれるように配置されている。そして、第２磁気抵抗素子対３２にはバイアス磁石２１の中心軸に沿ったバイアス磁界が印加される。一方、第１磁気抵抗素子対３１及び第３磁気抵抗素子対３３にはバイアス磁石２１の端部を巻き込むバイアス磁界が印加される。
【００１９】
各磁気抵抗素子対３１〜３３は、ハーフブリッジ回路として構成されている。具体的には、図２に示されるように、第１磁気抵抗素子対３１は、電源（Ｖｃｃ）とグランド（ＧＮＤ）との間に直列接続された２つの磁気抵抗素子３１ａ、３１ｂによって構成されている。第１磁気抵抗素子対３１は、ロータ１０の回転に伴って各磁気抵抗素子３１ａ、３１ｂが磁場の影響を受けたときの抵抗値の変化を検出する。また、第１磁気抵抗素子対３１は、当該抵抗値の変化に基づいて、各磁気抵抗素子３１ａ、３１ｂの中点３１ｃの電圧を波形信号として出力する。
【００２０】
第２磁気抵抗素子対３２は、電源（Ｖｃｃ）とグランド（ＧＮＤ）との間に直列接続された２つの磁気抵抗素子３２ａ、３２ｂによって構成されている。そして、第２磁気抵抗素子対３２は、ロータ１０の回転に伴って各磁気抵抗素子３２ａ、３２ｂが磁場の影響を受けたときの抵抗値の変化に基づいて、各磁気抵抗素子３２ａ、３２ｂの中点３２ｃの電圧を波形信号として出力する。
【００２１】
第３磁気抵抗素子対３３は、電源（Ｖｃｃ）とグランド（ＧＮＤ）との間に直列接続された２つの磁気抵抗素子３３ａ、３３ｂによって構成されている。そして、第３磁気抵抗素子対３３は、ロータ１０の回転に伴って各磁気抵抗素子３３ａ、３３ｂが磁場の影響を受けたときの抵抗値の変化に基づいて、各磁気抵抗素子３３ａ、３３ｂの中点３３ｃの電圧を波形信号として出力する。
【００２２】
また、検出部３０は、各磁気抵抗素子対３１〜３３の他に、第１〜第４オペアンプ３４〜３７を備えている。第１磁気抵抗素子対３１の中点３１ｃの中点電位をＡと定義すると共に、第２磁気抵抗素子対３２の中点３２ｃの中点電位をＢと定義すると、第１オペアンプ３４は、Ａ−Ｂを演算してその結果をＳ１として出力するように構成された差動増幅器である。また、第３磁気抵抗素子対３３の中点３３ｃの中点電位をＣと定義すると、第２オペアンプ３５は、Ｂ−Ｃを演算してその結果をＳ２として出力するように構成された差動増幅器である。
【００２３】
第３オペアンプ３６は、第１オペアンプ３４からＳ１（＝Ａ−Ｂ）を入力すると共に第２オペアンプ３５からＳ２（＝Ｂ−Ｃ）を入力し、Ｓ１−Ｓ２を演算してその結果をＳ３（＝（Ａ−Ｂ）−（Ｂ−Ｃ））として出力するように構成された差動増幅器である。このＳ３の信号は、ロータ１０の凸部１２及び凹部１３の凹凸構造に対応した波形のメイン信号である。例えば、メイン信号Ｓ３は、ロータ１０の凹部１３から凸部１２に切り替わるエッジ部分で振幅が最大となり、凸部１２から凹部１３に切り替わるエッジ部分で振幅が最小となる波形の信号である。
【００２４】
第４オペアンプ３７は、第１磁気抵抗素子対３１の中点３１ｃから中点電位Ａを入力すると共に、第３磁気抵抗素子対３３の中点３３ｃから中点電位Ｃを入力し、Ａ−Ｃを演算してその結果をＳ４として出力するように構成された差動増幅器である。このＳ４の信号は、メイン信号Ｓ３に対して位相差を持った波形のサブ信号である。例えば、サブ信号Ｓ４は、ロータ１０の歯である凸部１２の回転方向中心で振幅が最大となり、凹部１３の回転方向中心で振幅が最小となる波形の信号である。
【００２５】
このように、検出部３０は、各磁気抵抗素子対３１〜３３の出力からメイン信号Ｓ３（＝（Ａ−Ｂ）−（Ｂ−Ｃ））及びサブ信号Ｓ４（＝Ａ−Ｃ）を生成及び取得するように構成されている。
【００２６】
また、回転検出装置２０は、検出部３０で検出されたロータ１０の回転態様に応じた出力信号を生成する判定回路部４０を備えている。判定回路部４０は、上述のセンサチップ２２に形成されていても良いし、図示しない別の半導体チップに形成されていても良い。
【００２７】
判定回路部４０は、閾値生成部４１、第１コンパレータ４２、第２コンパレータ４３、及び制御部４４を備えている。閾値生成部４１は、電源（Ｖｃｃ）とグランド（ＧＮＤ）との間に直列接続された２つの抵抗４１ａ、４１ｂによって構成されている。各抵抗４１ａ、４１ｂの中点４１ｃの電位が２値化閾値とされる。２値化閾値はメイン信号Ｓ３及びサブ信号Ｓ４を２値化するための閾値として用いられる。
【００２８】
第１コンパレータ４２は、検出部３０の第３オペアンプ３６からメイン信号Ｓ３を入力すると共に閾値生成部４１から２値化閾値を入力し、メイン信号Ｓ３と２値化閾値とを比較してメイン信号Ｓ３を２値化した２値化信号を生成するものである。
【００２９】
第２コンパレータ４３は、検出部３０の第４オペアンプ３７からサブ信号Ｓ４を入力すると共に閾値生成部４１から２値化閾値を入力し、サブ信号Ｓ４と２値化閾値とを比較してサブ信号Ｓ４を２値化するものである。
【００３０】
第１コンパレータ４２及び第２コンパレータ４３は、それぞれヒステリシス特性を有している。本実施形態では、メイン信号Ｓ３が２値化閾値よりも小さくなったときに２値化閾値が第１の値になり、メイン信号Ｓ３が２値化閾値よりも大きくなったときに２値化閾値が第１の値よりも小さい第２の値になるように設定されている。つまり、第１コンパレータ４２及び第２コンパレータ４３は、メイン信号Ｓ３に応じて２値化閾値を第１の値または第２の値に切り替える。これにより、ロータ１０の長山部１４に対応するメイン信号Ｓ３にノイズ等が入ったとしてもメイン信号Ｓ３が２値化閾値を超えにくくなるので、ノイズ耐性が向上する。
【００３１】
制御部４４は、第１コンパレータ４２から２値化信号を入力すると共に第２コンパレータ４３から２値化されたサブ信号Ｓ４を入力し、この２値化されたサブ信号Ｓ４に基づいて２値化信号の出力の許可または禁止を制御するように構成された制御回路である。制御部４４は、出力が許可された２値化信号を出力端子２３（Ｖｏｕｔ）を介して図示しない外部機器に出力する。
【００３２】
以上が、本実施形態に係る回転検出装置２０の全体構成である。なお、回転検出装置２０は外部機器に接続される電源端子２４（Ｖｃｃ）及びグランド端子２５（ＧＮＤ）を備え、これらを介して外部機器から電源供給される構成となっている。
【００３３】
次に、回転検出装置２０の作動について説明する。まず、ロータ１０が回転すると、図３に示されるように、検出部３０とロータ１０の外周部１１とのギャップの変化に基づいて、検出部３０ではメイン信号Ｓ３及びサブ信号Ｓ４が取得される。
【００３４】
メイン信号Ｓ３は、ロータ１０の凹部１３の回転方向中心で２値化閾値を超えるような波形の信号となっている。一方、サブ信号Ｓ４は、メイン信号Ｓ３に対して位相差を持った波形、具体的にはロータ１０の凸部１２の回転方向中心で振幅が最大となる波形の信号となっている。
【００３５】
そして、検出部３０で取得されたメイン信号Ｓ３は、判定回路部４０の第１コンパレータ４２において２値化閾値と比較される。メイン信号Ｓ３の振幅が２値化閾値より大きい場合は例えばＬｏ、メイン信号Ｓ３の振幅が２値化閾値より小さい場合は例えばＨｉの２値化信号が第１コンパレータ４２で生成され、制御部４４に出力される。
【００３６】
ここで、本実施形態では、２値化信号のパルス幅は制御部４４によって所定の幅になるように制御される。これは、外部機器の要求に合わせた処理である。したがって、２値化信号のパルス幅はメイン信号Ｓ３の振幅が２値化閾値よりも大きい期間よりも狭くなっている。もちろん、外部機器の要求が無ければ、このような処理を制御部４４に行わせなくても良い。
【００３７】
また、検出部３０で取得されたサブ信号Ｓ４は、判定回路部４０の第２コンパレータ４３において２値化閾値と比較される。サブ信号Ｓ４の振幅が２値化閾値より大きい場合は例えばＨｉ、サブ信号Ｓ４の振幅が２値化閾値より小さい場合は例えばＬｏの信号が第２コンパレータ４３で生成され、制御部４４に出力される。
【００３８】
上記のように、随時、ロータ１０の回転に伴ってメイン信号Ｓ３、サブ信号Ｓ４、２値化信号、及び２値化されたサブ信号Ｓ４が生成され、２値化信号と２値化されたサブ信号Ｓ４が判定回路部４０に入力される。これに伴い、判定回路部４０では、２値化信号を出力信号として外部機器に出力するための処理が行われる。
【００３９】
具体的には、判定回路部４０の処理は以下のように行われる。まず、時点Ｔ１０では、メイン信号Ｓ３の振幅が２値化閾値よりも小さいので、２値化信号はＨｉとなる。また、サブ信号Ｓ４の振幅が２値化閾値よりも小さいので、２値化されたサブ信号Ｓ４はＬｏとなる。
【００４０】
時点Ｔ１１では、メイン信号Ｓ３の振幅が２値化閾値よりも大きくなるので、２値化信号はＬｏとなる。また、メイン信号Ｓ３の振幅が２値化閾値を上回ったことに伴って、２値化閾値の値が小さくなる。つまり、２値化閾値が第２の値に切り替わる。なお、時点Ｔ１１は、ロータ１０の凹部１３の回転方向中心に対応している。
【００４１】
ここで、通常、２値化信号のパルス幅は時点Ｔ１１からメイン信号Ｓ３の振幅が２値化閾値を下回るまでの期間に相当する。本実施形態では、外部機器の要求に合わせて２値化信号のパルス幅が通常のパルス幅よりも狭くなるように制御部４４によって２値化信号のパルス幅が制御されている。このため、Ｌｏの２値化信号は通常よりも早くＨｉに戻る。
【００４２】
時点Ｔ１２では、サブ信号Ｓ４の振幅が２値化閾値よりも大きくなるので、２値化されたサブ信号Ｓ４はＨｉとなる。サブ信号Ｓ４がＬｏとなる時点Ｔ１０から時点Ｔ１２までの期間は、ロータ１０の凹部１３に対応している。この凹部１３に対応する期間を凹部期間４５とする。この凹部期間４５では２値化信号の出力が許可される。したがって、この凹部期間４５では２値化信号が出力信号として制御部４４から外部機器に出力される。この後、メイン信号Ｓ３の振幅が２値化閾値を下回ったことに伴って、２値化閾値の値が元の第１の値に戻る。
【００４３】
時点Ｔ１３では、サブ信号Ｓ４の振幅が２値化閾値よりも小さくなるので、２値化されたサブ信号Ｓ４はＬｏとなる。サブ信号Ｓ４がＨｉとなる時点Ｔ１２から時点Ｔ１３までの期間は、ロータ１０の凸部１２に対応している。この凸部１２に対応する期間を凸部期間４６とする。この凸部期間４６では、凸部期間では２値化信号の出力が禁止される。したがって、凸部期間４６では制御部４４から２値化信号は出力されない。
【００４４】
時点Ｔ１４では、時点Ｔ１１の場合と同様に、メイン信号Ｓ３の振幅が２値化閾値よりも大きくなるので、２値化信号はＬｏとなる。また、２値化閾値の値が第１の値よりも小さい第２の値に切り替わる。
【００４５】
時点Ｔ１５では、時点Ｔ１２の場合と同様に、サブ信号Ｓ４の振幅が２値化閾値よりも大きくなるので、２値化されたサブ信号Ｓ４はＨｉとなる。時点Ｔ１３から時点Ｔ１５までの期間は凹部期間４５に該当する。また、時点Ｔ１５から凸部期間４６が始まる。
【００４６】
この後、ロータ１０の長山部１４が検出部３０の上方を通過する。例えば長山部１４の表面に傷１５が付いていた場合、図３に示されるように、メイン信号Ｓ３に傷１５に応じたノイズ成分が含まれる。このため、時点Ｔ１６では、メイン信号Ｓ３の振幅が２値化閾値を下回り、２値化信号はＬｏとなる。しかしながら、時点Ｔ１６は凸部期間４６すなわち２値化信号の出力が禁止される期間に含まれるので、２値化信号は制御部４４から外部機器に対して出力されない。
【００４７】
そして、ロータ１０の長山部１４が通過し終わると、時点Ｔ１７では、時点Ｔ１３の場合と同様に、サブ信号Ｓ４の振幅が２値化閾値よりも小さくなるので、２値化されたサブ信号Ｓ４はＬｏとなる。時点Ｔ１５から時点Ｔ１７までの期間が凸部期間４６に該当する。
【００４８】
この後の時点Ｔ１８、時点Ｔ１９、時点Ｔ２０、時点Ｔ２１、時点Ｔ２２は、上述の時点Ｔ１１、時点Ｔ１２、時点Ｔ１３、時点Ｔ１４、時点Ｔ１５と同じ動作となる。
【００４９】
以上説明したように、本実施形態では、判定回路部４０は、２値化信号を外部機器に出力するに際し、凹部期間４５では２値化信号の出力を許可する一方、凸部期間では２値化信号の出力を禁止することが特徴となっている。すなわち、生成された２値化信号はそのまま出力されることが通常であるが、本実施形態に係る判定回路部４０では２値化信号の出力を禁止する出力停止期間が設けられている。このため、ロータ１０に付いた傷１５やノイズ等によってメイン信号Ｓ３が２値化閾値を横切ったとしても、凸部期間４６では２値化信号の出力が禁止される。したがって、２値化信号の誤出力を防止することができる。
【００５０】
また、本実施形態では、ロータ１０の長山部１４に対応した凸部期間４６での２値化信号の出力が禁止されている。したがって、傷１５が付きやすい長山部１４を有するロータ１０の回転態様を検出する際には特に２値化信号の誤出力を防止することができる。
【００５１】
さらに、２値化信号の誤出力を防止することができるので、ロータ１０と検出部３０との距離すなわちエアギャップの制約が無くなる。したがって、ロータ１０に対する回転検出装置２０の搭載性を向上させることができる。
【００５２】
（第２実施形態）
本実施形態では、第１実施形態と異なる部分について説明する。図４に示されるように、ロータ１０には２つの長山部１４が設けられている。このように、回転検出装置２０は、２つの長山部１４が設けられたロータ１０の回転態様を検出することもできる。
【００５３】
（他の実施形態）
上記各実施形態で示された回転検出装置２０の構成は一例であり、上記で示した構成に限定されることなく、本発明を実現できる他の構成とすることもできる。例えば、検出部３０に設けられる磁気抵抗素子対の数は上記各実施形態のように３つに限られない。第１磁気抵抗素子対３１と第３磁気抵抗素子対３３の２つの場合、メイン信号Ｓ３をＡ−Ｃの微分値とし、サブ信号Ｓ４をＡ−Ｃとすれば良い。同様に、磁気抵抗素子は５個設けられていても良い。この場合、各磁気抵抗素子対の中点電位をＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅとすると、メイン信号Ｓ３を（Ａ−Ｃ）＋（Ｂ−Ｃ）−（Ｃ−Ｄ）−（Ｃ−Ｅ）とし、サブ信号Ｓ４を（Ａ−Ｅ）または（Ｂ−Ｅ）とすれば良い。このように、磁気抵抗素子の数は適宜変更可能である。
【００５４】
上記各実施形態では、制御部４４は、凸部期間４６では２値化信号の出力を禁止していたが、凸部期間４６では２値化信号の出力を許可し、凹部期間４５では２値化信号の出力を禁止するようにしても良い。
【００５５】
上記各実施形態では、ロータ１０に１つまたは２つの長山部１４が設けられたものが示されているが、これはロータ１０の一例である。例えば、凸部１２の全てが長山部１４として形成されたものが測定対象になっていても良い。すなわち、凸部１２のうちのいずれかの回転方向の長さが他よりも長い長山部１４として構成されたロータ１０を測定対象としても良い。一方、凹部１３の回転方向における長さが凸部１２よりも長い長谷のロータ１０が測定対象になっていても良い。凹部１３が凸部１２よりも長いロータ１０を測定対象とする場合は、凹部期間４５での２値化信号の出力を禁止するようにすれば良い。
【００５６】
上記各実施形態では、判定回路部４０の各コンパレータ４２、４３はヒステリシス特性を有していたが、２値化閾値にヒステリシス特性を持たせない構成としても良い。
【００５７】
上記各実施形態では、ロータ１０は内燃機関であるエンジンのクランク軸に固定されるものであったが、回転検出装置２０の適用は内燃機関に限られない。
【符号の説明】
【００５８】
１０        ロータ
１２        凸部
１３        凹部
３０        検出部
３１〜３３  磁気抵抗素子対
４０        判定回路部
４５        凹部期間
４６        凸部期間
【図１】
2015206750.tif 000003
【図２】
2015206750.tif 000004
【図３】
2015206750.tif 000005
【図４】
2015206750.tif 000006