(57)【要約】 【課題】複雑な機構を用いることなくビームを眼底面の所望の位置に走査できる眼科装置を提供する。【解決手段】被検眼にて測定光を走査する走査手段と、走査手段による走査位置を制御する制御手段と、被検眼にて測定光を合焦する光学部材を含み測定光を被検眼に導く測定光学系と、光学部材の位置に関する情報を検出する検出手段と、を眼科装置に配し、制御手段は検出手段により得られた光学部材の位置に関する情報に基づいて測定光の走査位置を変更する。【選択図】図６
2015195953.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検眼にて測定光を走査する走査手段と、
前記走査手段による走査位置を制御する制御手段と、
前記被検眼にて前記測定光を合焦する光学部材を含み、前記測定光を前記被検眼に導く測定光学系と、
前記光学部材の位置に関する情報を検出する検出手段と、を備え、
前記制御手段は前記検出手段により得られた前記光学部材の位置に関する情報に基づいて前記測定光の走査位置を変更することを特徴する眼科装置。
【請求項２】
前記測定光学系における光軸情報を取得する取得手段を備え、
前記取得手段によって得られた前記光軸情報と前記検出手段により得られた前記位置に関する情報から、前記制御手段は前記測定光の走査位置を変更することを特徴とする、請求項１に記載の眼科装置。
【請求項３】
前記取得手段によって得られた前記光軸情報と前記検出手段により得られた前記位置情報とから前記光学部材の位置による前記被検眼の眼底での走査ずれ量を補正するための補正式を算出する補正式算出手段を備え、
前記制御手段は前記補正式に基づいて前記眼底にて前記測定光を走査することを特徴とする請求項２に記載の眼科装置。
【請求項４】
前記光学部材を光軸方向に移動することが可能な移動手段を備え、
前記移動手段は前記被検眼の視度に応じて前記光学部材を移動し、
前記制御手段は、前記移動手段が前記視度に応じて前記光学部材を移動させた量に応じて前記補正式算出手段が算出した補正式に基づいて前記眼底での走査位置を変更することを特徴とする、請求項３に記載の眼科装置。
【請求項５】
前記測定光が走査された前記被検眼の眼底からの戻り光を撮像することで前記眼底の画像を撮像する光画像撮像手段を備えることを特徴する、請求項１乃至４の何れか一項に記載の眼科装置。
【請求項６】
前記測定光が走査された前記被検眼からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記被検眼の断層画像を取得する光断層撮像手段を備えることを特徴とする、請求項１乃至４の何れか一項に記載の眼科装置。
【請求項７】
光軸に沿って移動して光源からの光束を被検眼に合焦させる光学部材を含み、前記光束を前記被検眼に導く光学系と、
前記光学部材の位置に関する情報に基づいて前記光束の前記被検眼での走査位置を制御する制御手段と、を備えることを特徴とする眼科装置。
【請求項８】
前記光軸に関する情報を取得する取得手段を備え、
前記制御手段は、前記取得手段が取得した前記光軸に関する情報と前記光学部材の位置に関する情報とに基づいて前記走査位置を制御することを特徴とする請求項７に記載の眼科装置。
【請求項９】
前記光軸に関する情報と前記光学部材の位置に関する情報とに関する補正式を取得する補正式取得手段を有し、
前記制御手段は前記光学部材の位置と前記補正式とに基づいて前記走査位置を制御することを特徴とする請求項８に記載の眼科装置。
【請求項１０】
被検眼にて測定光を合焦する光学部材を含み、前記測定光を前記被検眼に導く測定光学系において、前記光学部材の位置に関する情報を検出する工程と、
走査手段によって被検眼にて前記測定光を走査する工程と、
前記光学部材の位置に関する情報に基づいて前記測定光の走査位置を変更する工程と、を有することを特徴する眼科装置の制御方法。
【請求項１１】
前記測定光学系における光軸情報を取得する工程と、
前記取得する工程によって得られた前記光軸情報と前記検出された位置に関する情報とから、前記測定光の走査位置の変更が行われることを特徴とする、請求項１０に記載の眼科装置の制御方法。
【請求項１２】
前記取得する工程によって得られた前記光軸情報と前記検出された位置情報とから前記光学部材の位置による前記被検眼の眼底での走査ずれ量を補正するための補正式を算出する工程を備え、
前記測定光は、前記補正式に基づいて前記眼底にて走査されることを特徴とする請求項１１に記載の眼科装置の制御方法。
【請求項１３】
前記光学部材を光軸方向に移動する工程を備え、
前記移動する工程では前記被検眼の視度に応じて前記光学部材を移動し、
前記視度に応じて前記光学部材が移動された量に応じて算出された補正式に基づいて前記眼底での走査位置が変更されることを特徴とする、請求項１２に記載の眼科装置の制御方法。
【請求項１４】
前記測定光が走査された前記被検眼の眼底からの戻り光を撮像することで前記眼底の画像を撮像する光画像撮像工程を備えることを特徴する、請求項１０乃至１３の何れか一項に記載の眼科装置の制御方法。
【請求項１５】
前記測定光が走査された前記被検眼からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記被検眼の断層画像を取得する光断層撮像工程を備えることを特徴とする、請求項１０乃至１３の何れか一項に記載の眼科装置の制御方法。
【請求項１６】
光軸に沿って移動して光源からの光束を被検眼に合焦させる光学部材を含み、前記光束を前記被検眼に導く光学系を有する眼科装置において、
前記光学部材の位置に関する情報を取得する工程と、
前記取得された情報に基づいて前記光束の前記被検眼での走査位置を制御する工程と、を備えることを特徴とする眼科装置の制御方法。
【請求項１７】
前記光軸に関する情報を取得する工程を備え、
前記取得する工程で取得した前記光軸に関する情報と前記光学部材の位置に関する情報とに基づいて前記走査位置の制御が行なわれることを特徴とする請求項１６に記載の眼科装置の制御方法。
【請求項１８】
前記光軸に関する情報と前記光学部材の位置に関する情報とに関する補正式を取得する工程を有し、
前記走査位置の制御は前記光学部材の位置と前記補正式とに基づいて行われることを特徴とする請求項１７に記載の眼科装置の制御方法。
【請求項１９】
請求項１０乃至１８の何れか一項に記載の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、眼科診療等で使用される眼科装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
現在、光学機器を用いた様々な眼科用機器が知られている。例えば、被検眼を観察する
光学機器として、前眼部撮影機、眼底カメラなど、様々な機器が使用されている。中でも、共焦点レーザー走査検眼鏡や光断層撮像装置は、被検眼の眼底像や断層像を高解像度で取得することができる。共焦点レーザー走査検眼鏡（Ｓｃａｎｎｉｎｇ  Ｌａｓｅｒ  Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ、以下ＳＬＯ）は、測定光であるレーザーを眼底に対してラスタースキャンを行い、その戻り光の強度から平面像を高分解能かつ高速に得る装置である。光断層撮像装置は、多波長光波干渉を利用した光コヒーレンストモグラフィ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ、以下ＯＣＴ）により、被検眼の眼底像や断層像を高解像度で取得することができる装置である。これら装置は、眼科用機器として網膜の専門外来では必要不可欠な装置になりつつある。
【０００３】
検者はこれらの装置を使い、ビームを被検眼の眼底面に照射し、所望の画像を得る。その際、装置に内蔵されている固視灯を被検者に固視させることで、所望の位置をＳＬＯやＯＣＴで撮影する。これら装置では、被検眼が固視灯を固視し易くするために、被検眼のＤｉｏｐｔｅｒに応じて固視灯を被検眼の眼底位置と略共役の位置になるようにピント調整する機構を設けている場合も多い。また、ＯＣＴのビームやＳＬＯのビームの波長は近赤外を用いることが多いが、固視灯は検者が視認できる必要があることから可視光の光源を用いる。その結果、ＯＣＴまたはＳＬＯの光学系と固視灯の光学系は異なる光路を通る場合が多く、そのような場合はダイクロイックミラーを用いて波長分離して光路を分けることが一般的である。また、特許文献１には、被検者の視度に応じて固視灯の位置を変える構成が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１３−１６９３３２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、製造上必要な公差などにより前述したダイクロイックミラー等のミラーに傾きが生じる等、ＯＣＴやＳＬＯの光学系や固視灯の光学系に微小な光軸の傾きが生じる場合が考えられる。このような場合には、被検者のＤｉｏｐｔｅｒによっては、被検者が固視灯を固視してもＳＬＯやＯＣＴの走査位置が所望の位置からずれてしまい、所望の眼底位置を観察できない場合がある。
【０００６】
特許文献１に開示される構成は、光学設計上のずれ量を補正することを目的としており、ミラーの傾きの影響など、装置固有の特性を補正する手法については触れられていない。
【０００７】
本発明は以上の状況に鑑みて為されたものであって、ＯＣＴやＳＬＯにおけるビームについて、光学系に光軸の傾きが生じた場合であっても、眼底面の所望の位置を走査可能とする眼科装置及びその制御方法の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明に係る眼科装置は、被検眼にて測定光を走査する走査手段と、
前記走査手段による走査位置を制御する制御手段と、
前記被検眼にて前記測定光を合焦する光学部材を含み、前記測定光を前記被検眼に導く測定光学系と、
前記光学部材の位置に関する情報を検出する検出手段と、を備え、
前記制御手段は前記検出手段により得られた前記光学部材の位置に関する情報に基づいて前記測定光の走査位置を変更することを特徴する。
【発明の効果】
【０００９】
本発明に係る眼科装置によれば、光学系に光軸の傾きが生じた場合であっても、ＯＣＴ、ＳＬＯのビームを眼底面の所望の位置に走査することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の実施例１に係る眼科装置の全体的な構成を表す模式図である。
【図２】図１に示す眼科装置において、ミラーが傾いている時のＳＬＯ光路を示す図である。
【図３】眼底観察用の光源位置を調整することで、眼底観察用の光源の光束が眼底面の略中心位置に照射されることを示す図である。
【図４】ミラーが傾いていると、ＳＬＯ合焦レンズの位置が変わったときに、眼底観察用の光源の光束が眼底面に照射する位置が変わることを示す図である。
【図５】ＳＬＯ合焦レンズ位置と眼底面での光束結像位置の関係式を求めるためのグラフである。
【図６】製造工程における調整を説明するための図である。
【図７】本発明の実施例２に係る眼科装置の全体的の構成を表す模式図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
［実施例１］
（眼科装置の構成）
まず、本実施形態に係る眼科装置の全体的な構成について、図１を参照して説明する。
図１は光断層撮像装置（ＯＣＴ装置）と眼底観察装置（ＳＬＯ装置）とが一体になった装置の測定部の概略構成を示す図である。本眼科装置は、光学ヘッド４００と、分光器１８０とを備えている。光断層撮像装置は、走査部を介して測定光が走査された被検眼からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、被検眼の断層画像を取得する。
【００１２】
まず光学ヘッド４００の内部構成について説明する。光学ヘッド４００は、眼底観察像（ＳＬＯ画像）、および断層画像を撮像するための測定光学系により構成されている。被検眼１００に対向して対物レンズ１０１が設置され、その光軸上で光路分岐部である第１ダイクロイックミラー１０２によって光路が分離される。すなわち、ＯＣＴ光学系の測定光路Ｌ１と、ＳＬＯ光路および固視灯光路を含む光路Ｌ２とに、波長帯域ごとに分離される。
【００１３】
次にＳＬＯの光学系について図１を用いて説明する。
【００１４】
ＳＬＯ光源２０２から照射された光束はＳＬＯ光路Ｌ２−２に沿って、ミラー１１７で反射し、穴あきミラー１０７の穴を通過し、ＳＬＯ合焦レンズ１０６を介し、ＳＬＯガルバノスキャナ（Ｘ）１０４およびＳＬＯガルバノスキャナ（Ｙ）１０５に至る。両スキャナを経て、ミラー１１８および第２ダイクロイックミラー１０９で反射し、その後レンズ１０３、第一ダイクロイックミラー１０２、および対物レンズ１０１を介して眼底面に至る光束はこれらスキャナにより眼底面を走査される。本実施例におけるＳＬＯ合焦レンズ１０６は被検眼にて測定光を合焦する光学部材に対応し、当該ＳＬＯ合焦レンズ１０６を含みＳＬＯ光路Ｌ２−２に配される構成は測定光を被検眼に導く測定光学系に対応する。
【００１５】
ＳＬＯガルバノスキャナ（Ｘ）１０４およびＳＬＯガルバノスキャナ（Ｙ）１０５はそれぞれのミラー面を揺動させることで眼底面上のＸ、Ｙ方向に光束を走査し、本体制御部（不図示）からの指示により、眼底面の任意の位置の走査が可能である。本実施例ではこれらガルバノスキャナが被検眼にて測定光を走査する走査手段に対応する。
【００１６】
眼底面から反射した測定光は第１ダイクロイックミラー１０２を透過し、その後第二ダイクロイックミラー１０９、ミラー１１８で反射し、穴あきミラー１０７で反射する光路Ｌ２−１を通り、ＳＬＯセンサ２００で受光され、ＳＬＯ像を形成する。
【００１７】
ここで、ＳＬＯセンサはＣＣＤセンサを用いても良いし、ＡＰＤセンサなどその他のセンサを用いても良い。該ＳＬＯセンサ２００は、測定光が走査された被検眼の眼底からの戻り光を撮像することで眼底の画像を撮像する光画像撮像手段を構成する。
【００１８】
ＳＬＯ合焦レンズ１０６はＳＬＯセンサ２００およびＳＬＯ光源２０２を被検眼１００の眼底面と略共役な関係にするため、モータ（不図示）によって光軸方向の任意の位置に移動することが可能である。ＳＬＯ合焦レンズ１０６の光軸方向の位置は位置検出器２０１により検出する。位置検出器２０１には磁器式検出器やレーザー式検出器を用いるのが一般的だが、その他の検出器を用いても良い。従って、当該検出器は位置のみならず位置に関する情報を検出する構成として把握される。本実施例の位置検出器２０１は、光学部材であるＳＬＯ合焦レンズ１０６の位置に関する情報を検出する検出手段を構成する。また、前述したモータは、ＳＬＯ合焦レンズ１０６を光軸方向に移動することが可能な移動手段に対応する。
【００１９】
実際の撮影では、被検眼のＤｉｏｐｔｅｒに応じ、ＳＬＯセンサ２００およびＳＬＯ光源２０２が眼底面と略共役になるような適切なレンズ位置を本体制御部（不図示）にて算出した後、制御部からの信号によりＳＬＯ合焦レンズ１０６は所望の位置まで移動する。即ち、光学部材始動手段たるモータは、被検眼の視度に応じてＳＬＯ合焦レンズ１０６を移動すると好適である。レンズ位置は被検眼のＤｉｏｐｔｅｒにより決めても良いし、ＳＬＯ画像の輝度などから、合焦調整し、適切な位置を決めても良い。
【００２０】
次に固視灯光学系について図１を用いて説明する。
【００２１】
固視灯２０３から照射された光束は固視灯合焦レンズ１１０を通り、第２ダイクロイックミラー１０９を透過した後、第１ダイクロイックミラー１０２を透過し、眼底面に照射される。固視灯合焦レンズ１１０については、ＳＬＯ合焦レンズ１０６と同様に固視灯位置検出器２０４により光軸方向の位置を検出し、被検眼のＤｉｏｐｔｅｒに応じて、固視灯２０３が眼底面と略共役にするように移動される。これにより被検者の固視を促すことができる。
【００２２】
次に、ＯＣＴ光学系について図１を用いて説明する。
【００２３】
ＯＣＴ光学系は、本実施例での光断層撮像手段により被検眼１００の眼底の断層画像を撮像するために使用される。より具体的には、断層像を形成するための干渉信号を取得するために使用される。ＯＣＴ光学系光路である光路Ｌ１には、レンズ１０８と、ミラー１１１と、走査部であるＯＣＴガルバノスキャナ（Ｘ）１１２とＯＣＴガルバノスキャナ（Ｙ）１１３が配置されていて、光束を被検眼１００の眼底上で、Ｘ方向（主走査方向）、Ｙ方向（副走査方向）へ走査する。
【００２４】
次に、ＳＬＤ光源２０５から出射された光束の光路、参照光学系、分光器１８０の構成について説明する。ＳＬＤ光源２０５、ミラー１１５、分散補償用ガラス（不図示）、光カプラー３０１、光ファイバー３０２〜３０５、レンズ１１６、および分光器１８０によってマイケルソン干渉系が構成されている。
【００２５】
光源２０５から出射された光は、光ファイバー３０４を通じて光カプラー３０１を介して光ファイバー３０２側へ出射される測定光と、光ファイバー３０３側に出射される参照光とに分割される。ファイバー端３００がＯＣＴ光源となり、眼底面と略共役位置に配置されている。測定光は、前述のＯＣＴ光学系光路を通じ、観察対象である被検眼１００の眼底に照射され、網膜による反射や散乱により同じ光路を通じて光カプラー３０１に到達する。
【００２６】
一方、参照光は、光ファイバー３０３、レンズ１１６、および、測定光と参照光との分散を合わせるために挿入された分散補償用ガラス（不図示）を介して、ミラー１１５に到達し反射される。そして同じ光路を戻り光カプラー３０１に到達する。
【００２７】
光カプラー３０１によって、測定光（被検眼からの戻り光）および参照光は合波されて干渉光となる。ここで、測定光の光路長と参照光の光路長とが略同一となったときに干渉を生じる。干渉光は光ファイバー３０５を介して分光器１８０へ導かれる。
【００２８】
分光器１８０は、レンズ１８１と、回折格子１８２と、レンズ１８３と、ラインセンサ１８４とを備えている。光ファイバー３０５から出射された干渉光は、レンズ１８１を介して略平行光となった後、回折格子１８２により分光され、レンズ１８３によってラインセンサ１８４に結像される。
【００２９】
光源２０５は、代表的な低コヒーレント光源であるＳＬＤ（Ｓｕｐｅｒ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ  Ｄｉｏｄｅ）である。また光源の種類は、ここではＳＬＤを選択したが、低コヒーレント光を出射できればよく、ＡＳＥ（Ａｍｐｌｉｆｉｅｄ  Ｓｐｏｎｔａｎｅｏｕｓ  Ｅｍｉｓｓｉｏｎ）等も用いることができる。
なお、本実施形態では干渉計としてマイケルソン干渉計を用いているが、マッハツェンダー干渉計を用いてもよい。
【００３０】
ところで、本実施例の光学系ではＳＬＯ光源２０２から照射された光束がミラー１１７で反射する光学系を用いている。ミラー１１７の面精度およびミラー１１７を保持する部品（不図示）は製造上必要な角度公差を持っている。それによりミラー１１７が傾くと、図２に示すようにその傾き角度分だけミラー１１７以降のＳＬＯ光学系の光軸が傾きをもつ。図２は、図１に示す眼科装置において、ミラーが傾いている時のＳＬＯ光路を示している。一方、固視灯光学系は図１に示す通り、第１ダイクロイックミラー１０２と第２ダイクロイックミラー１０９では光束は透過するだけである。そのため、第一ダイクロイックミラー１０２、第二ダイクロイックミラー１０９が傾いたとしても、光軸は平行移動するだけであり、傾きは生じない。すなわち、ミラー１１７、ミラー１１８、及び第２ダイクロイックミラー１０９の何れかが傾くと、ＳＬＯ光学系の光軸のみが傾きを生じることになる。
【００３１】
ここで、ミラー１１７のミラー面に傾きを生じた場合の影響について説明する。
【００３２】
被検者に固視灯２０３を固視させる目的は、真っすぐ固視させて眼底の中心部を観察する、或いは斜め方向に固視させて眼底の周辺部を観察することである。そのため、被検者が固視すれば所望の眼底位置に光束を走査できることが必要である。通常は製造工程において、固視灯２０３の位置と、ＳＬＯ光源２０２の位置をそれぞれ略眼底中心位置になるように調整する。これらの調整を行うことで、図３に示すようにミラー１１７のミラー面が傾いていてもＳＬＯ光源２０２の光束は略眼底中心に走査される。
【００３３】
ＳＬＯ合焦レンズ１０６が光軸方向に移動しない光学系の場合はこれらの調整を行うだけで、ＳＬＯ光源２０２からの光束は略眼底中心位置に走査できる。
【００３４】
しかしながら、本実施例のようにＳＬＯ合焦レンズ１０６が光軸方向に移動できるような構成を用いていて、かつミラー１１７が傾いている場合は、図４に示すようにＳＬＯ合焦レンズ１０６の光軸方向への移動と共に、ＳＬＯ光源２０２による光束が被検眼の眼底面を走査する位置も中心部からずれてしまう。これを回避するためには、ミラー１１７が傾きを生じないよう高精度の位置決めを行うか、製造工程において高精度な調整を行う必要がある。しかしながら、これらは部品コストや生産コストの増加を伴う場合が多い。
【００３５】
本実施例では、ＳＬＯ合焦レンズ１０６の位置とＳＬＯ光源２０２の光束が被検眼の眼底面を走査する位置の関係から、図５に示すような関係式を算出し、その関係式をあらかじめ本体制御部（不図示）により記憶する。そして、被検眼のＤｉｏｐｔｅｒによってＳＬＯ合焦レンズ１０６の位置が移動した場合には、その位置に応じてＳＬＯガルバノスキャナ（Ｘ）１０４、ＳＬＯガルバノスキャナ（Ｙ）１０５の走査制御を変えることで所望の眼底位置を照射できるようにしている。
【００３６】
その具体的なフローについ図２および図６を用いて説明する。まずは製造工程における調整方法の一例について説明する。図２および図６はＳＬＯ光学系を示しており、本実施例ではミラー１１７は製造上の公差により、時計回り方向に傾いている。
【００３７】
最初に、被検眼のＤｉｏｐｔｅｒが０Ｄの場合にＳＬＯ光源２０２が略眼底共役になるようにＳＬＯ合焦レンズ１０６を移動する。このときのＳＬＯ合焦レンズ１０６の位置を０ｍｍとする。これは設計上の値を用いても良いし、図６のように０Ｄの眼底面上にセンサ１７２を配置した工具１７１を用いて、ＳＬＯ光源２０２と眼底面上のセンサ１７２が略共役になるようにＳＬＯ合焦レンズ１０６を動かして調整しても良い。この調整は光軸方向（Ｚ方向）のみの調整なので、この時点では図２のようにＳＬＯ光源２０２から照射される光束は眼底中心からずれた位置に走査される。次にＳＬＯ光源２０２から照射された光束が眼底面の略中心を走査するようにＳＬＯ光源２０２のＸ方向、Ｙ方向の位置を調整する。これらの調整を行うことで、図３のように被検眼のＤｉｏｐｔｅｒが０Ｄであれば、ＳＬＯ光源２０２から照射された光束が略眼底中心に走査されるようになる。
固視灯２０３についても同様に、固視灯２０３が眼底面と略共役位置になるように調整する。
【００３８】
次に、ＳＬＯ合焦レンズ１０６を移動させたときに生じる眼底位置での走査ずれを補正する方法について図６を用いて説明する。
【００３９】
本体制御部（不図示）からの指示によりＳＬＯ合焦レンズ１０６をＺａの位置まで移動させる。これは装置が測定しうるＤｉｏｐｔｅｒ範囲と同一あるいはそれを超えた値が望ましい。前述のとおり、ＳＬＯ光路Ｌ２−２は傾きを生じているので、ＳＬＯ合焦レンズ１０６をＺａの位置まで移動すると、ＳＬＯ光源２０２から照射された光束の眼底面での走査位置もΔＹａまで移動する。このときの眼底面での走査位置（ΔＹａ）を眼底面上にセンサ１７２を配置した工具１７１を用いて測定する。その際、センサ受光面がＳＬＯ光源２０２と眼底面が略共役になるように、ＳＬＯ合焦レンズ１０６の移動量に応じて、適切な量だけセンサ１７２を移動させる。これらにより、図５のａ点に対応する測定結果が得られる。
【００４０】
次に、ＳＬＯ合焦レンズ１０６の位置をＺｂの位置まで移動させる。逆側と同様にこれも装置が測定しうるＤｉｏｐｔｅｒ範囲と同一あるいはそれを超えた値が望ましい。また、ＺａにＳＬＯ合焦レンズ１０６を移動したときと同様にＳＬＯ光路の傾きの影響により、眼底面での走査位置もΔＹｂまで移動する。この走査位置ΔＹｂを眼底面上にセンサ１７２を配置した工具１７１を用いて測定する。これらにより図５のｂ点に対応する測定結果が得られる。以上により、図５の通りａ、ｂ点および０点を通る関係式あるいは近似式が生成される。これを本体制御部にて記憶させる。本実施例におけるこれら関係式は、取得手段によって得られた光軸情報と位置検出器２０１により得られた位置情報とからＳＬＯ合焦レンズ１０６の位置による被検眼の眼底での走査ずれ量を補正するための補正式に対応する。当該補正式は、本体制御部において補正式取得手段として機能するモジュール領域によって読み出され、制御手段は該補正式に基づいて眼底にて測定光を走査する。
【００４１】
なお、該ΔＹａ等は光軸に関する情報であって、当該情報の入力は本体制御部における光学情報取得手段として機能するモジュール領域を介して行われる。
【００４２】
次に実際の測定において、走査ずれを補正するフローについて説明する。
【００４３】
固視灯２０３を被検者に固視させるために、被検眼のＤｉｏｐｔｅｒに応じて固視灯合焦レンズ１１０の位置を移動する。被検眼のＤｉｏｐｔｅｒは、外部機器で測定した結果を入力しても良いし、本装置により測定した結果を用いても良い。同様に、被検眼のＤｉｏｐｔｅｒに応じてＳＬＯ合焦レンズ１０６の位置を適切な位置まで移動する。そのときのＳＬＯ合焦レンズ１０６の位置を位置検出器２０１にて検知する。ＳＬＯ合焦レンズ１０６の位置は被検眼のＤｉｏｐｔｅｒの値を用いても良いし、ＳＬＯ画像の輝度などから合焦調整を行い、適切な位置を求めても良い。
【００４４】
ＳＬＯ合焦レンズ１０６の位置Ｚをあらかじめ本体制御部にて記憶した関係式に入力し、適切な眼底走査位置Ｙを算出する。算出した眼底走査位置Ｙにもとづき、本体制御部はＳＬＯガルバノスキャナ（Ｘ）１０４とＳＬＯガルバノスキャナ（Ｙ）１０５に信号をおくり、ＳＬＯ光源２０２の被検眼眼底面上での走査位置を変える。従って、本実施例における本体制御部は、スキャナによる測定光の走査位置を制御すると共に位置検出器２０１により得られた該ＳＬＯ合焦レンズ１０６の位置に関する情報に基づいて測定光の走査位置を変更する。本実施例では、本体制御部における制御手段として機能するモジュール領域によって両ガルバノスキャナによる走査位置が制御され、当該制御手段は、以上の説明のごとく、位置検出器２０１により得られたＳＬＯ合焦レンズ１０６の位置に関する情報に基づいて測定光の被検眼上での走査位置を変更する。
【００４５】
ここで、前述したように、光学部材始動手段たるモータは、被検眼の視度に応じてＳＬＯ合焦レンズ１０６を移動すると好適である。よって、制御手段は、該モータが被検眼の視度に応じてＳＬＯ合焦レンズ１０６を移動させた量に応じて、補正式算出手段が算出した補正式に基づいて眼底での走査位置を変更することが好ましい。
【００４６】
以上により、ミラーの高精度な位置決め、製造工程での高精度なミラー角度調整を行わなくても、被検者のＤｉｏｐｔｅｒに応じて容易にＳＬＯ光源を所望の眼底位置に走査することができる。
【００４７】
なお、ＳＬＯ合焦レンズ１０６の位置とＳＬＯ光源２０２の光束が被検眼の眼底面に結像する位置の関係式を算出するためには、本実施例のように製造工程内で測定した値を記憶する手法を用いても良いし、製品装置内に別途補償光学系を設けて算出してもよい。
【００４８】
［実施例２］
次に、実施例１の変形例として、光断層像撮影に適用した場合について図７を用いて説明する。なお、実施例１と共通の光学系については説明を省略する。
【００４９】
光断層像は、ＯＣＴガルバノスキャナ（Ｘ）１１２とＯＣＴガルバノスキャナ（Ｙ）１１３を制御することにより、被検眼１００の眼底における所望部位の断層画像を撮像することができる。図７では第一ダイクロイックミラー１０２が製造上の公差内で反時計回り方向に傾いている。固視灯の光路Ｌ２は第一ダイクロイックミラー１０２を透過するので前述の通り、傾きの影響は受けないで光路が平行移動するのみである。一方、ＯＣＴ撮影の光路Ｌ１は、第一ダイクロイックミラー１０２の傾きにより、光軸が傾く。そのため、前述した通り、ＯＣＴ合焦レンズ１１４の移動によりＯＣＴ光源３００の眼底での走査位置もずれる。
【００５０】
実施例１と同様の原理で、ＯＣＴ合焦レンズ１１４の移動量に応じた眼底での走査位置を測定しておき、その関係式を記憶し、被検眼を撮影する際は、その関係式を用いてＯＣＴガルバノスキャナを制御して所望の眼底位置を走査する。
【００５１】
これにより、第一ダイクロイックミラー１０２に傾きが生じていても、被検眼のＤｉｏｐｔｅｒによらずＯＣＴ光源３００走査から照射される光束を所望の位置に走査することが可能になる。
【００５２】
［実施例３］
実施例１、実施例２では固視灯光学系はミラー反射を介さない光学系を用いているが、ミラー反射を介した固視灯光学系において、固視灯を眼底面と略共役位置に配置し、かつミラーが傾いていた場合は、前述した原理で被検眼のＤｉｏｐｔｅｒにより、眼底面での固視灯の位置がＸ方向あるいはＹ方向にずれる現象が生じてしまう。これは被検眼が固視灯を固視しても斜め方向に固視することになり、これにより所望の位置に走査することができない可能性がある。
【００５３】
本実施例では、固視灯合焦レンズ１１０の位置を変えた時の眼底面上での固視灯位置の関係式をあらかじめ本体内に記憶しておき、実際の測定の時には固視灯合焦レンズ１１０の位置から算出した量だけ固視灯２０３位置をずらすことで、被検眼に対して真っすぐ固視することを促すことが可能になる。この際、固視灯としては有機ＥＬ上に画像パターンを表示させるようなものであれば、画像パターン位置を変えることで固視灯位置をかえることが容易である。
【００５４】
（その他の実施例）
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理についても本発明の一形態を構成する。
【００５５】
更に、本発明は上記の実施例に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内において、種々の変形、変更して実施することができる。例えば、上記の実施例では、被測定物が眼更にはその眼底の場合について述べているが、眼以外の皮膚や臓器等の被測定物に本発明を適用することも可能である。この場合、本発明は眼科装置以外の、例えば内視鏡等の医療機器としての態様を有する。従って、本発明は眼科装置に例示される検査装置として把握され、被検眼は被検査物の一態様として把握されることが望ましい。
【符号の説明】
【００５６】
１００・・・被検眼
１０１・・・対物レンズ
１０２・・・第一ダイクロイックミラー
１０４・・・ＳＬＯガルバノスキャナ（Ｘ）
１０５・・・ＳＬＯガルバノスキャナ（Ｙ）
１０６・・・ＳＬＯ合焦レンズ
１０７・・・穴あきミラー
１１０・・・固視灯合焦レンズ
１１２・・・ＯＣＴガルバノスキャナ（Ｘ）
１１３・・・ＯＣＴガルバノスキャナ（Ｘ）
１１４・・・ＯＣＴ合焦レンズ
１１５・・・ミラー
１１７・・・ミラー
１７０・・・位置検出器
１７１・・・工具
１７２・・・工具センサ
１８０・・・分光器
２００・・・ＳＬＯセンサ
２０１・・・合焦レンズ位置検出器
２０２・・・眼底観察用の光源
２０３・・・固視灯
２０５・・・ＯＣＴ光源
３００・・・ファイバ端
３０１・・・光カプラー
４００・・・光学ヘッド
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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