(57)【要約】【課題】非接地配電方式で複数の分岐回路がある電路の絶縁劣化の箇所を活線状態で特定できる絶縁監視装置を提供することである。【解決手段】  直流電流供給部１６は、非接地配電方式で変圧器１１の二次側の直近の直近配電母線１２ａから分岐した分岐配電母線１２ｂから複数のフィーダが引き出されフィーダ１３に複数の分岐回路がある電路の直近配電母線１２ａに接続され、電路に探査電流を供給し、分岐回路の分岐点の下流側に設けられた電流検出器は、直流電流供給部１６から供給された探査電流を検出し、絶縁状態評価部１７は電流検出器１５で検出された探査電流を入力し予め定めた所定値より大きい探査電流を検出した電流検出器の配置関係から絶縁劣化の箇所を特定する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
非接地配電方式または接地配電方式で非接地状態にした回路構成で変圧器の二次側の直近配電母線から分岐した分岐配電母線から複数のフィーダが引き出され前記フィーダに複数の分岐回路がある電路の前記直近配電母線に接続され前記電路に探査電流を供給する直流電流供給部と、
前記分岐回路の分岐点の下流側に設けられ前記直流電流供給部から供給された探査電流を検出する電流検出器と、
前記電流検出器で検出された探査電流を入力し予め定めた所定値より大きい探査電流を検出した電流検出器の配置関係から絶縁劣化の箇所を特定するための絶縁状態評価部とを備えたことを特徴とする絶縁監視装置。
【請求項２】
前記絶縁状態評価部は、予め定めた所定値より大きい探査電流を検出した前記電流検出器のうち、前記変圧器側から見て前記探査電流の流れる最も下流側の電流検出器より下流側で絶縁劣化の箇所が有ると判定することを特徴とする請求項１に記載の絶縁監視装置。
【請求項３】
前記直近配電母線と前記分岐配電母線との接続点の変圧器側及び前記分岐回路の分岐点の下流側、前記直流電流供給部の前記直近配電母線への接続点を挟んで前記変圧器から見て上流下流の両側に、前記直流電流供給部から供給された探査電流を検出する電流検出器を追加して設けたことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の絶縁監視装置。
【請求項４】
前記直流電流供給部の前記直近配電母線への接続点の下流側に設けられた電流検出器、前記直近配電母線と前記分岐配電母線との接続点の変圧器側に設けられた電流検出器、及び前記分岐回路の分岐点の下流側に設けられた電流検出器が予め定めた所定値より大きい探査電流を検出しているときは、前記直流電流供給部の前記直近配電母線への接続点の下流側に設けられた電流検出器、前記直近配電母線と前記分岐配電母線との接続点の変圧器側に設けられた電流検出器のいずれかに流れる電流が前記分岐回路の分岐点の下流側に設けられた電流検出器に流れる電流より大きいか否かを判定し、大きいときは前記変圧器側から見て前記探査電流の流れる最も下流側の電流検出器より下流側及び前記直流電流供給部の前記直近配電母線への接続点の下流側の直近配電母線または前記分岐配電母線の双方で絶縁劣化の箇所が有ると判定することを特徴とする請求項３に記載の絶縁監視装置。
【請求項５】
前記直流電流供給部の前記直近配電母線への接続点の下流側に設けられた電流検出器、及び前記直近配電母線と前記分岐配電母線との接続点の変圧器側に設けられた電流検出器のみが予め定めた所定値より大きい探査電流を検出しているときは、前記分岐配電母線で絶縁劣化の箇所が有ると判定することを特徴とする請求項３に記載の絶縁監視装置。
【請求項６】
前記直流電流供給部の前記直近配電母線への接続点の下流側に設けられた電流検出器のみが予め定めた所定値より大きい探査電流を検出しているときは、前記直流電流供給部の前記直近配電母線への接続点の下流側の直近配電母線で絶縁劣化の箇所が有ると判定することを特徴とする請求項３に記載の絶縁監視装置。
【請求項７】
前記直流電流供給部の前記直近配電母線への接続点の上流側に設けられた電流検出器のみが予め定めた所定値より大きい探査電流を検出しているときは、前記直流電流供給部の前記直近配電母線への接続点の上流で絶縁劣化の箇所が有ると判定することを特徴とする請求項３に記載の絶縁監視装置。
【請求項８】
前記絶縁状態評価部は、前記電流検出器で検出された探査電流の大きさに基づいて絶縁劣化の箇所の絶縁抵抗を求めることを特徴とする請求項１ないし請求項７のいずれか１項に記載の絶縁監視装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、変圧器の二次側電路が非接地配電方式または接地配電方式で非接地状態にした回路構成で複数の分岐回路がある電路の絶縁劣化を監視する絶縁監視装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
変圧器の二次側を非接地とした非接地配電方式は、一相で絶縁抵抗が低下しても閉回路が形成されない。従って、一相の対地絶縁破壊(地絡)時にも電源の供給を確保できるので、変圧器の二次側電路全体を停電に至らしめることを防止できる。
【０００３】
この非接地配電方式によって、一相で絶縁劣化しても変圧器の二次側電路全体の停電は防ぐことができるが、電路の絶縁劣化が除去できるわけではない。さらにこの状態で他の相が絶縁劣化すると、変圧器の二次側電路全体が停電となる。そこで、絶縁監視装置を設置して電路の絶縁劣化を監視するようにしている。
【０００４】
非接地電路の絶縁監視装置として、複数のバンクとこれらの各バンクから枝分れしている複数のフィーダとで構成された配電設備の各フィーダの漏れ電流を的確に計測できるようにしたものがある（特許文献１参照）。また、非接地電路の絶縁監視方式として、母線から複数のフィーダのどのフィーダが絶縁劣化したのかを監視できるようにしたものがある（例えば、特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００７−２８５９２９号公報
【特許文献２】特開平９−２１８２３７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、特許文献１、２のものでは、どのフィーダが絶縁劣化したのかを監視できるが、絶縁劣化した箇所を特定することは困難である。活線状態で絶縁劣化した箇所を特定するには、例えば、一つ一つ機器をコンセントから抜き、どの機器で絶縁監視装置が絶縁劣化を検出しなくなるかを確認しなければならない。また、絶縁劣化が電線の絶縁劣化によると推察される場合には、開閉器を一つ一つ開放して、どの開閉器を開放したときに絶縁監視装置が絶縁劣化を検出しなくなるかを確認し、電線の絶縁劣化箇所を特定しなければならない。そこで、電路や設備の保護と操業の安全性及び継続性を図るために、活線状態で絶縁劣化の箇所を特定できることが要請されている。
【０００７】
本発明の目的は、非接地配電方式または接地配電方式で非接地状態にした回路構成で複数の分岐回路がある電路の絶縁劣化の箇所を活線状態で特定できる絶縁監視装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の絶縁監視装置は、非接地配電方式または接地配電方式で非接地状態にした回路構成で変圧器の二次側の直近の直近配電母線から分岐した分岐配電母線から複数のフィーダが引き出され前記フィーダに複数の分岐回路がある電路の前記直近配電母線に接続され前記電路に探査電流を供給する直流電流供給部と、前記分岐回路の分岐点の下流側に設けられ前記直流電流供給部から供給された探査電流を検出する電流検出器と、前記電流検出器で検出された探査電流を入力し予め定めた所定値より大きい探査電流を検出した電流検出器の配置関係から絶縁劣化の箇所を特定する絶縁状態評価部とを備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、非接地配電方式または接地配電方式で非接地状態にした回路構成で変圧器の二次側に複数の分岐回路がある電路の変圧器の二次側の直近配電母線に活線状態で探査電流を供給し、予め定めた所定値より大きい探査電流を検出した電流検出器の配置関係から絶縁劣化の箇所を特定するので、非接地配電方式または接地配電方式で非接地状態にした回路構成で複数の分岐回路がある電路の絶縁劣化の箇所を活線状態で特定できる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の第１実施形態に係る絶縁監視装置を適用した非接地配電方式の電路の一例を示す系統図。
【図２】図１に示した電路の系統図を簡略化した系統図。
【図３】図２に示した電路の末端回路で絶縁劣化があった場合の本発明の第１実施形態に係る絶縁監視装置の動作説明図。
【図４】図２に示した電路の途中で絶縁劣化があった場合の本発明の第１実施形態に係る絶縁監視装置の動作説明図。
【図５】図２に示した電路の２箇所で絶縁劣化があった場合の本発明の第１実施形態に係る絶縁監視装置の動作説明図。
【図６】本発明の第２実施形態に係る絶縁監視装置を適用した非接地配電方式の電路の一例を示す簡略化した系統図。
【図７】図６に示した電路の途中で絶縁劣化があった場合の本発明の第２実施形態に係る絶縁監視装置の動作説明図。
【図８】図６に示した電路の分岐配電母線で絶縁劣化があった場合の本発明の第２実施形態に係る絶縁監視装置の動作説明図。
【図９】図６に示した電路の２箇所で絶縁劣化があった場合の一例を示す本発明の第２実施形態に係る絶縁監視装置の動作説明図。
【図１０】図６に示した電路の直流電流供給部の直近配電母線への接続点の下流側で絶縁劣化があった場合の本発明の第２実施形態に係る絶縁監視装置の動作説明図。
【図１１】図６に示した電路の２箇所で絶縁劣化があった場合の他の一例を示す本発明の第２実施形態に係る絶縁監視装置の動作説明図。
【図１２】図６に示した電路の直流電流供給部の直近配電母線への接続点の上流側で絶縁劣化があった場合の本発明の第２実施形態に係る絶縁監視装置の動作説明図。
【図１３】図６に示した電路の２箇所で絶縁劣化があった場合の別の他の一例を示す本発明の第２実施形態に係る絶縁監視装置の動作説明図。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明の第１実施形態を説明する。本発明は、非接地配電方式だけでなく、接地配電方式で非接地状態にした回路構成にも適用できるが、以下の説明では、非接地配電方式に適用した場合について説明する。
図１は本発明の第１実施形態に係る絶縁監視装置を適用した非接地配電方式の電路の一例を示す系統図である。変圧器１１には図示省略の混触防止板が設けられている。この混触防止板により変圧器の一次側コイル（高圧コイル）と二次側コイル（低圧側コイル）との絶縁が破れても二次側（低圧側）に一次側の高電圧が侵入しないよう保護する。これにより、非接地配電方式を構成している。
【００１２】
このような非接地配電方式の電路は変圧器１１で降圧された電圧が配電母線１２に供給される。配電母線１２は変圧器１１の二次側直近の直近配電母線１２ａと、直近配電母線１２ａから分岐した分岐配電線１２ｂからなる。分岐配電母線１２ｂからは複数のフィーダ１３ａ〜１３ｎが引き出され、分岐配電母線１２ｂを介して各々のフィーダ１３ａ〜１３ｎに電力が供給される。また、各々のフィーダ１３ａ〜１３ｎは複数の分岐回路を有する。二次側電路の分岐点の下流側には開閉器１４が設けられている。開閉器１４は常時は閉じており、開閉器１４の下流側（負荷側）の点検の際に開放される。
【００１３】
本発明の第１実施形態に係る絶縁監視装置は、分岐回路の分岐点の下流側、つまり、各々の開閉器１４の上流側（変圧器側）に、それぞれ設けられた電流検出器１５と、活線状態で変圧器１１の二次側電路に探査電流Ｉｓを供給する直流電流供給部１６と、絶縁劣化の箇所を特定する絶縁状態評価部１７とからなる。
【００１４】
直流電流供給部１６は、変圧器１１の二次側の直近配電母線１２ａに接続される。そして、活線状態で変圧器１１の二次側電路に直流の探査電流Ｉｓを供給する。直流電流供給部１６は、直流電源１８とスイッチ１９と抵抗Ｒ０とからなり、抵抗Ｒ０を介して接地点Ａに接地されている。直流電流供給部１６のスイッチ１９がオンすると、直流電源１８が抵抗Ｒ０を介して接地点Ａに接続される。直流電流供給部１６のスイッチ１９は常時はオンした状態である。探査電流Ｉｓは変圧器１１の二次側電路に絶縁劣化があったときに流れる直流電流であり、絶縁劣化の箇所がない場合は探査電流Ｉｓは零である。
【００１５】
電流検出器１５は、各々の開閉器１４の上流側（分岐回路の分岐点）にそれぞれ設けられ、直流電流供給部１６から供給された探査電流Ｉｓを検出する。例えば、フィーダ１３ａには開閉器１４ａ１〜１４ａ１１の上流側に電流検出器１５ａ１〜１５ａ１１が設けられ、フィーダ１３ｄには開閉器１４ｄ１〜１４ｄ４の上流側に電流検出器１５ｄ１〜１５ｄ４が設けられ、フィーダ１３ｎには開閉器１４ｎ１〜１４ｎ１１の上流側に電流検出器１５ｎ１〜１５ｎ１１が設けられている。
【００１６】
その他のフィーダ１３にも、同様に開閉器１４及び電流検出器１５が設けられるが、図１では、開閉器１４ｂ１、１４ｃ１、１４ｅ１及び電流検出器１５ｂ１、１５ｃ１、１５ｅ１を図示し、それ以外の開閉器１４及び電流検出器１５の図示は省略している。電流検出器１５は、感度の良い計測器｛例えば、マルチ計測器株式会社製のクランプ式の計測器でＡＣ／ＤＣクランプリーカ（Ｍ７００、Ｍ７３０）｝を用いる。
【００１７】
なお、電流検出器１５は、すべての開閉器１４に対応して、その上流側にそれぞれ設けてもよいが、必ずしもすべての開閉器１４の上流側に設ける必要はない。負荷や分岐回路の重要度に応じて必要に応じて分岐回路の分岐点に設ければよい。
【００１８】
絶縁状態評価部１７は、各々の電流検出器１５で検出された探査電流Ｉｓの検出値を入力する。各々の電流検出器１５の検出値は図示省略の信号線により絶縁状態評価部１７に入力される。また、無線通信により絶縁状態評価部１７に入力されるようにしてもよい。
【００１９】
絶縁状態評価部１７は、予め定めた所定値より大きい探査電流Ｉｓを検出した電流検出器１５を判定し、それら電流検出器の配置関係から絶縁劣化の箇所を特定するためのものである。例えば、予め定めた所定値より大きい探査電流Ｉｓを検出した電流検出器１５を出力し、作業員に絶縁劣化の箇所を特定するための情報を提供する。また、電流検出器の配置関係から絶縁劣化の箇所を特定する。さらに、必要に応じて、絶縁状態評価部１７は、電流検出器１５で探査電流Ｉｓが検出されると、その探査電流Ｉｓの大きさに基づいて絶縁抵抗Ｒを求め、求めた絶縁抵抗Ｒの大きさにより絶縁状態を評価する。
【００２０】
絶縁状態評価部１７で得られた絶縁抵抗の評価結果や絶縁劣化の箇所の情報は、記憶装置に記憶するようにしてもよいし、必要に応じて、警報装置、表示装置、印刷装置、通信装置などの出力装置に出力するようにしてもよい。
【００２１】
図２は、図１に示した電路の系統図を簡略化した系統図であり、フィーダ１３は５本のフィーダ１３ａ〜１３ｅの場合を示しており、各々のフィーダ１３ａ〜１３ｅの分岐点での分岐回路の図示を省略している。電流検出器１５は分岐点の下流側に設けられるので、実際には、各々の電流検出器の上流側で分岐回路が分岐しているが、その分岐回路の図示を省略している。また、開閉器１４の図示も省略している。以下、図２示す簡略化した系統図に基づいて説明する。
【００２２】
図３は、図２に示した電路の末端回路で絶縁劣化があった場合の本発明の第１実施形態に係る絶縁監視装置の動作説明図である。いま、フィーダ１３ｅの末端回路のＦ１点で絶縁抵抗Ｒ１の絶縁劣化があったとする。そうすると、直流電流供給部１６のスイッチ１９はオンした状態であるので、直流電流供給部１６の直流電源１８、接地点Ａ、絶縁劣化点Ｆ１、フィーダ１３ｅ、分岐配電母線１２ｂ、直近配電母線１２ａ、直流電流供給部１６の直流電源１８の閉回路（以下、Ｆ１閉回路という）が形成され、図３中の矢印で示す方向に、直流電流供給部１６の直流電源１８から探査電流Ｉｓ１が流れる。この探査電流Ｉｓ１は、変圧器側から見て下流側（負荷側）から上流側（変圧器側）に流れ込み、フィーダ１３ｅの電流検出器１５ｅ４、１５ｅ３、１５ｅ２、１５ｅ１で検出される。
【００２３】
絶縁状態評価部１７は、電流検出器１５ｅ４、１５ｅ３、１５ｅ２、１５ｅ１で探査電流Ｉｓ１が検出されると、電流検出器１５ｅ４、１５ｅ３、１５ｅ２、１５ｅ１で検出された探査電流Ｉｓ１が予め定めた所定値より大きいか否かを判定し、予め定めた所定値より大きいときは、その情報を外部に出力する。これにより、作業員は絶縁劣化の箇所が特定できる。
【００２４】
また、絶縁状態評価部１７は、電流検出器１５ｅ４、１５ｅ３、１５ｅ２、１５ｅ１の配置関係から絶縁劣化の箇所を特定する。すなわち、絶縁状態評価部１７は、予め定めた所定値より大きい探査電流を検出した電流検出器１５ｅ４、１５ｅ３、１５ｅ２、１５ｅ１のうち、探査電流Ｉｓ１の流れる最も下流側の電流検出器１５ｅ４より下流側の負荷側で絶縁劣化の箇所が有ると判断する。これは、電流検出器１５ｅ４より上流側の電流検出器１５ｅ３、１５ｅ２、１５ｅ１に流れる探査電流Ｉｓ１は、電流検出器１５ｅ４より下流側の箇所で絶縁劣化が発生した影響で流れているからである。
【００２５】
さらに、絶縁状態評価部１７は、その探査電流Ｉｓ１の大きさに基づいて絶縁劣化点Ｆ１の絶縁抵抗Ｒ１を評価する。絶縁劣化点Ｆ１のときのＦ１閉回路においては、電流検出器１５ｅ４、１５ｅ３、１５ｅ２、１５ｅ１で検出された探査電流Ｉｓ１が入力され、その探査電流Ｉｓ１の大きさに基づいて絶縁抵抗Ｒ１を演算する。Ｆ１閉回路での電流検出器１５ｅ４、１５ｅ３、１５ｅ２、１５ｅ１で検出された探査電流Ｉｓ１は、絶縁劣化点Ｆ１以外に絶縁劣化箇所がないので同じ値である。
【００２６】
直流電流供給部１６の直流電源１８の電圧をＥとすると、下記（１）式が成り立ち、（１）式から絶縁抵抗Ｒ１を求めると、絶縁抵抗Ｒ１は（２）式で示される。
【００２７】
Ｉｓ１＝Ｅ／（Ｒ０＋Ｒ１）  …（１）
Ｒ１＝（Ｅ／Ｉｓ１）−Ｒ０  …（２）
直流電源１８の電圧Ｅ、直流電流供給部１６の抵抗Ｒ０は既知であり、探査電流Ｉｓ１は電流検出器１５ｅ４、１５ｅ３、１５ｅ２、１５ｅ１で検出された値であるので、（２）式から絶縁抵抗Ｒ１を求めることができる。絶縁状態評価部１７は、求めた絶縁抵抗Ｒ１の大きさにより絶縁状態を評価する。
【００２８】
このように、絶縁状態評価部１７は、予め定めた所定値より大きい探査電流Ｉｓを検出した電流検出器１５の情報を出力するととともに、それらの電流検出器１５の配置関係から絶縁劣化の箇所を特定し、必要に応じて絶縁抵抗を求める。図３のＦ１点で絶縁劣化があった場合には、探査電流Ｉｓ１の流れる最も下流側の電流検出器１５ｅ４より下流の箇所で絶縁劣化が発生したと判定する。また、電流検出器１５ｅ４、１５ｅ３、１５ｅ２、１５ｅ１で検出された探査電流Ｉｓ１の大きさに基づいて絶縁抵抗Ｒ１を求める。
【００２９】
図４は図２に示した電路の途中で絶縁劣化があった場合の本発明の第１実施形態に係る絶縁監視装置の動作説明図である。いま、フィーダ１３ｅの途中のＦ２点で絶縁抵抗Ｒ２の絶縁劣化があったとする。そうすると、直流電流供給部１６の直流電源１８、接地点Ａ、絶縁劣化点Ｆ２、フィーダ１３ｅ、分岐配電母線１２ｂ、直近配電母線１２ａ、直流電流供給部１６の直流電源１８の閉回路（Ｆ２閉回路）が形成され、図４中の矢印で示す方向に、直流電流供給部１６の直流電源１８から探査電流Ｉｓ２が流れる。この探査電流Ｉｓ２はフィーダ１３eの電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１で検出される。
【００３０】
絶縁状態評価部１７は、Ｆ２閉回路において、電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１で探査電流Ｉｓ２が検出されると、電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１で検出された探査電流Ｉｓ２が予め定めた所定値より大きいか否かを判定し、予め定めた所定値より大きいときは、その情報を外部に出力する。これにより、作業員は絶縁劣化の箇所が特定できる。
【００３１】
また、絶縁状態評価部１７は、電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１の配置関係から絶縁劣化の箇所を特定する。すなわち、絶縁状態評価部１７は、予め定めた所定値より大きい探査電流を検出した電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１のうち、探査電流Ｉｓ１の流れる最も下流側の電流検出器１５ｅ２より下流側の負荷側で絶縁劣化の箇所が有ると判断する。なお、電流検出器１５ｅ２より下流側の電流検出器１５ｅ３、１５ｅ４が予め定めた所定値より大きい探査電流Ｉｓ２を検出していないので、絶縁劣化の箇所は、電流検出器１５ｅ３の上流側であると判断する。
【００３２】
さらに、絶縁状態評価部１７は、その探査電流Ｉｓ２の大きさに基づいて絶縁劣化点Ｆ２の絶縁抵抗Ｒ２を評価する。前述の（１）式、（２）式を用いて、（１）式のＩｓ１をＩｓ２に、Ｒ１をＲ２に置き換えて、絶縁抵抗Ｒ２を求め、求めた絶縁抵抗Ｒ２の大きさにより絶縁状態を評価する。
【００３３】
このように、絶縁状態評価部１７は、予め定めた所定値より大きい探査電流Ｉｓを検出した電流検出器１５の情報を出力するととともに、それらの電流検出器１５の配置関係から絶縁劣化の箇所を特定し、必要に応じて絶縁抵抗を求める。図４のＦ２点で絶縁劣化があった場合には、探査電流Ｉｓ２の流れる最も下流側の電流検出器１５ｅ２より下流の箇所で、電流検出器１５ｅ３の上流側で絶縁劣化が発生したと判定する。また、電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１で検出された探査電流Ｉｓ２の大きさに基づいて絶縁抵抗Ｒ２を求める。
【００３４】
図５は図２に示した電路の２箇所で絶縁劣化があった場合の本発明の第１実施形態に係る絶縁監視装置の動作説明図である。いま、フィーダ１３ｅの途中のＦ３点で絶縁抵抗Ｒ３の絶縁劣化があり、フィーダ１３ｂの途中のＦ４点でも絶縁抵抗Ｒ４の絶縁劣化があったとする。
【００３５】
そうすると、直流電流供給部１６の直流電源１８、接地点Ａ、絶縁劣化点Ｆ３、フィーダ１３ｅ、分岐配電母線１２ｂ、直近配電母線１２ａ、直流電流供給部１６の直流電源１８の閉回路（Ｆ３閉回路）が形成され、図４中の矢印で示す方向に、直流電流供給部１６の直流電源１８から探査電流Ｉｓ３が流れる。探査電流Ｉｓ３はフィーダ１３ｅの電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１で検出される。
【００３６】
同様に、直流電流供給部１６の直流電源１８、接地点Ａ、絶縁劣化点Ｆ４、フィーダ１３ｂ、分岐配電母線１２ｂ、直近配電母線１２ａ、直流電流供給部１６の直流電源１８の閉回路（Ｆ４閉回路）が形成され、図５中の矢印で示す方向に、直流電流供給部１６の直流電源１８から探査電流Ｉｓ４が流れる。この探査電流Ｉｓ４はフィーダ１３ｂの電流検出器１５ｂ３、１５ｂ２、１５ｂ１で検出される。なお、大地の一部にはＦ３点での絶縁劣化による探査電流Ｉｓ３と絶縁劣化点Ｆ４点での絶縁劣化による探査電流Ｉｓ４との合計電流Ｉｓ３＋Ｉｓ４が流れる。
【００３７】
まず、絶縁状態評価部１７は、Ｆ３閉回路において、電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１で探査電流Ｉｓ３が検出されると、電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１で検出された探査電流Ｉｓ３が予め定めた所定値より大きいか否かを判定し、予め定めた所定値より大きいときは、その情報を外部に出力する。これにより、作業員は絶縁劣化の箇所が特定できる。
【００３８】
また、絶縁状態評価部１７は、電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１の配置関係から絶縁劣化の箇所を特定する。すなわち、絶縁状態評価部１７は、予め定めた所定値より大きい探査電流を検出した電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１のうち、探査電流Ｉｓ３の流れる最も下流側の電流検出器１５ｅ２より下流側の負荷側で絶縁劣化の箇所が有ると判断する。これは、電流検出器１５ｅ２より上流側の電流検出器１５ｅ１に流れる探査電流Ｉｓ３は、電流検出器１５ｅ２より下流側の箇所で絶縁劣化が発生した影響で流れているからである。
【００３９】
さらに、絶縁状態評価部１７は、その探査電流Ｉｓ３の大きさに基づいて絶縁劣化点Ｆ３の絶縁抵抗Ｒ３を評価する。前述の（１）式、（２）式を用いて、（１）式のＩｓ１をＩｓ３に、Ｒ１をＲ３に置き換えて、絶縁抵抗Ｒ３を求め、求めた絶縁抵抗Ｒ３の大きさにより絶縁状態を評価する。
【００４０】
同様に、絶縁状態評価部１７は、Ｆ４閉回路において、電流検出器１５ｂ３、１５ｂ２、１５ｂ１で探査電流Ｉｓ４が検出されると、電流検出器１５ｂ３、１５ｂ２、１５ｂ１で検出された探査電流Ｉｓ４が予め定めた所定値より大きいか否かを判定し、予め定めた所定値より大きいときは、その情報を外部に出力する。これにより、作業員は絶縁劣化の箇所が特定できる。
【００４１】
また、絶縁状態評価部１７は、電流検出器１５ｂ３、１５ｂ２、１５ｂ１の配置関係から絶縁劣化の箇所を特定する。すなわち、絶縁状態評価部１７は、予め定めた所定値より大きい探査電流を検出した電流検出器１５ｂ３、１５ｂ２、１５ｂ１のうち、探査電流Ｉｓ４の流れる最も下流側の電流検出器１５ｂ３より下流側の負荷側で絶縁劣化の箇所が有ると判断する。これは、電流検出器１５ｂ３より上流側の電流検出器１５ｂ２、１５ｂ１に流れる探査電流Ｉｓ４は、電流検出器１５ｂ３より下流側の箇所で絶縁劣化が発生した影響で流れているからである。
【００４２】
さらに、絶縁状態評価部１７は、その探査電流Ｉｓ４の大きさに基づいて絶縁劣化点Ｆ４の絶縁抵抗Ｒ４を評価する。前述の（１）式、（２）式を用いて、（１）式のＩｓ１をＩｓ４に、Ｒ１をＲ４に置き換えて、絶縁抵抗Ｒ４を求め、求めた絶縁抵抗Ｒ４の大きさにより絶縁状態を評価する。
【００４３】
このように、変圧器１１の二次側電路の２箇所で絶縁劣化があった場合であっても、絶縁劣化の箇所を特定でき、絶縁劣化による絶縁抵抗Ｒの評価ができる。
【００４４】
本発明の第１実施形態では、絶縁監視装置の直流電流供給部１６を変圧器１１の二次側の直近の配電母線１２に接続するので、変圧器１１の二次側電路のいずれで絶縁劣化の箇所があったとしても、探査電流Ｉｓは変圧器側から見て下流側（負荷側）から上流側（変圧器側）に流れる。従って、探査電流Ｉｓを検出した電流検出器１５のうち、変圧器側から見て探査電流Ｉｓの流れる最も下流側の電流検出器１５より下流側で絶縁劣化の箇所が有ると判定できる。これにより、非接地配電方式で複数の分岐回路がある電路の絶縁劣化の箇所を活線状態で特定できる。
【００４５】
次に、本発明の第２実施形態を説明する。図６は、本発明の第２実施形態に係る絶縁監視装置を適用した非接地配電方式の電路の一例を示す簡略化した系統図である。この第２の実施の形態は、図２に示す第１実施形態に対し、直近配電母線１２ａと分岐配電母線１２ｂとの接続点の変圧器側に電流検出器１５Ｔ１、直流電流供給部１６の直近配電母線１２ａへの接続点を挟んで変圧器１１から見て上流側に電流検出器１５Ｔ２、下流側に電流検出器１５Ｔ３を追加して設けたものである。これらの電流検出器１５Ｔ１、電流検出器１５Ｔ２、電流検出器１５Ｔ３を設けることにより、直近配電母線１２ａ、分岐配電母線１２ｂの絶縁劣化を検出できるようにしている。図２と同一要素には同一符号を付し重複する説明は省略する。
【００４６】
図７は図６に示した電路の途中で絶縁劣化があった場合の本発明の第２実施形態に係る絶縁監視装置の動作説明図である。いま、フィーダ１３ｅの途中のＦ５点で絶縁抵抗Ｒ５の絶縁劣化があったとする。そうすると、直流電流供給部１６の直流電源１８、接地点Ａ、絶縁劣化点Ｆ５、フィーダ１３ｅ、分岐配電母線１２ｂ、直近配電母線１２ａ、直流電流供給部１６の直流電源１８の閉回路（Ｆ５閉回路）が形成され、図７中の矢印で示す方向に、直流電流供給部１６の直流電源１８から探査電流Ｉｓ５が流れる。この探査電流Ｉｓ５はフィーダ１３eの電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１、分岐配電母線１２ｂとの接続点の変圧器側の電流検出器１５Ｔ１、直流電流供給部１６の直近配電母線１２ａへの接続点を挟んで変圧器１１から見て下流側の電流検出器１５Ｔ３で検出される。
【００４７】
絶縁状態評価部１７は、Ｆ５閉回路において、電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１、１５Ｔ１、１５Ｔ３で探査電流Ｉｓ５が検出されると、これら電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１、１５Ｔ１、１５Ｔ３で検出された探査電流Ｉｓ５が予め定めた所定値より大きいか否かを判定し、予め定めた所定値より大きいときは、その情報を外部に出力する。これにより、作業員は絶縁劣化の箇所が特定できる。
【００４８】
また、絶縁状態評価部１７は、電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１、１５Ｔ１、１５Ｔ３の配置関係から絶縁劣化の箇所を特定する。すなわち、絶縁状態評価部１７は、予め定めた所定値より大きい探査電流を検出した電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１、１５Ｔ１、１５Ｔ３のうち、探査電流Ｉｓ１の流れる最も下流側の電流検出器１５ｅ２より下流側の負荷側で絶縁劣化の箇所が有ると判断する。なお、電流検出器１５ｅ２より下流側の電流検出器１５ｅ３、１５ｅ４が予め定めた所定値より大きい探査電流Ｉｓ５を検出していないので、絶縁劣化の箇所は、電流検出器１５ｅ３の上流側であると判断する。
【００４９】
さらに、絶縁状態評価部１７は、その探査電流Ｉｓ５の大きさに基づいて絶縁劣化点Ｆ５の絶縁抵抗Ｒ５を評価する。前述の（１）式、（２）式を用いて、（１）式のＩｓ１をＩｓ５に、Ｒ１をＲ５に置き換えて、絶縁抵抗Ｒ５を求め、求めた絶縁抵抗Ｒ５の大きさにより絶縁状態を評価する。
【００５０】
このように、直近配電母線１２ａと分岐配電母線１２ｂとの接続点の変圧器側に電流検出器１５Ｔ１、直流電流供給部１６の直近配電母線１２ａへの接続点を挟んで変圧器１１から見て上流側に電流検出器１５Ｔ２、下流側に電流検出器１５Ｔ３を追加して設けた場合であっても、本発明の実施形態１と同様に、絶縁劣化の箇所を特定でき、絶縁劣化による絶縁抵抗Ｒの評価ができる。すなわち、図７のＦ５点で絶縁劣化があった場合には、探査電流Ｉｓ５の流れる最も下流側の電流検出器１５ｅ２より下流の箇所で、電流検出器１５ｅ３の上流側であると判断する。
【００５１】
図８は図６に示した電路の分岐配電母線１２ｂで絶縁劣化があった場合の本発明の第２実施形態に係る絶縁監視装置の動作説明図である。いま、フィーダ１３ｃの引出点とフィーダ１３ｄの引出点との間の分岐配電母線１２ｂのＦ６点で絶縁抵抗Ｒ６の絶縁劣化があったとする。そうすると、直流電流供給部１６の直流電源１８、接地点Ａ、絶縁劣化点Ｆ６、分岐配電母線１２ｂ、直流電流供給部１６の直流電源１８の閉回路（Ｆ６閉回路）が形成され、図８中の矢印で示す方向に、直流電流供給部１６の直流電源１８から探査電流Ｉｓ６が流れる。この探査電流Ｉｓ６は、直近配電母線１２ａと分岐配電母線１２ｂとの接続点の変圧器側の電流検出器１５Ｔ１、直流電流供給部１６の直近配電母線１２ａへの接続点を挟んで変圧器１１から見て下流側の電流検出器１５Ｔ３で検出される。各々のフィーダ１３の電流検出器１５は、各々のフィーダ１３を通る閉回路が形成されないので、この探査電流Ｉｓ６を検出することはない。
【００５２】
絶縁状態評価部１７は、電流検出器１５Ｔ１、１５Ｔ３で探査電流Ｉｓ６が検出されると、電流検出器１５Ｔ１、１５Ｔ３で検出された探査電流Ｉｓ６が予め定めた所定値より大きいか否かを判定し、予め定めた所定値より大きいときは、その情報を外部に出力する。これにより、作業員は絶縁劣化の箇所が特定できる。
【００５３】
また、絶縁状態評価部１７は、Ｆ６閉回路において、電流検出器１５Ｔ１、１５Ｔ３の配置関係から絶縁劣化の箇所を特定する。すなわち、絶縁状態評価部１７は、電流検出器１５Ｔ１の下流側の分岐配電母線１２ｂで絶縁劣化の箇所が有ると判断する。これは、各々のフィーダ１３の電流検出器１５は、探査電流Ｉｓ６を検出していないからである。
【００５４】
さらに、絶縁状態評価部１７は、その探査電流Ｉｓ６の大きさに基づいて絶縁劣化点Ｆ６の絶縁抵抗Ｒ６を評価する。前述の（１）式、（２）式を用いて、（１）式のＩｓ１をＩｓ６に、Ｒ１をＲ６に置き換えて、絶縁抵抗Ｒ６を求め、求めた絶縁抵抗Ｒ６の大きさにより絶縁状態を評価する。
【００５５】
このように、絶縁状態評価部１７は、予め定めた所定値より大きい探査電流Ｉｓを検出した電流検出器１５の情報を出力するととともに、それらの電流検出器１５の配置関係から絶縁劣化の箇所を特定し、必要に応じて絶縁抵抗を求める。図８のＦ６点で絶縁劣化があった場合には、探査電流Ｉｓ６の流れる最も下流側の電流検出器１５Ｔ１より下流の箇所で、探査電流Ｉｓ６を検出していない各々のフィーダ１３の電流検出器１５の上流側、つまり、電流検出器１５Ｔ１の下流側の分岐配電母線１２ｂで絶縁劣化の箇所が有ると判定する。また、電流検出器１５Ｔ１、１５Ｔ３で検出された探査電流Ｉｓ６の大きさに基づいて絶縁抵抗Ｒ６を求める。
【００５６】
図９は図６に示した電路の２箇所で絶縁劣化があった場合の一例を示す本発明の第２実施形態に係る絶縁監視装置の動作説明図である。いま、フィーダ１３ｃの引出点とフィーダ１３ｄの引出点との間の分岐配電母線１２ｂのＦ７点で絶縁抵抗Ｒ７の絶縁劣化があり、フィーダ１３ｅの途中のＦ８点でも絶縁抵抗Ｒ８の絶縁劣化があったとする。
【００５７】
そうすると、直流電流供給部１６の直流電源１８、接地点Ａ、絶縁劣化点Ｆ７、分岐配電母線１２ｂ、直流電流供給部１６の直流電源１８の閉回路（Ｆ７閉回路）が形成され、図９中の矢印で示す方向に、直流電流供給部１６の直流電源１８から探査電流Ｉｓ７が流れる。この探査電流Ｉｓ７は、電流検出器１５Ｔ１、電流検出器１５Ｔ３で検出される。各々のフィーダ１３を通る閉回路は形成されないので、各々のフィーダ１３の電流検出器１５は、この探査電流Ｉｓ７を検出することはない。
【００５８】
同様に、直流電流供給部１６の直流電源１８、接地点Ａ、絶縁劣化点Ｆ８、フィーダ１３ｅ、分岐配電母線１２ｂ、直近配電母線１２ａ、直流電流供給部１６の直流電源１８の閉回路（Ｆ８閉回路）が形成され、図９中の矢印で示す方向に、直流電流供給部１６の直流電源１８から探査電流Ｉｓ８が流れる。探査電流Ｉｓ８はフィーダ１３ｅの電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１、電流検出器１５Ｔ１、電流検出器１５Ｔ３で検出される。なお、分岐配電母線１２ｂの一部、及び直近配電母線１２ａにはＦ７点での絶縁劣化による探査電流Ｉｓ７と絶縁劣化点Ｆ８点での絶縁劣化による探査電流Ｉｓ８との合計電流Ｉｓ７＋Ｉｓ８が流れる。
【００５９】
ここで、フィーダ１３ｅの電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１と配電母線１２の電流検出器１５Ｔ１、１５Ｔ３との双方の電流検出器１５が探査電流Ｉｓを検出しているときは、図９に示すようにフィーダ１３と配電母線１２との双方で絶縁劣化があった場合だけでなく、図７に示すようにフィーダ１３に絶縁劣化があった場合も同じである。
【００６０】
そこで、絶縁状態評価部１７は、電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１、１５Ｔ１、１５Ｔ３で探査電流Ｉｓが検出されると、これら電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１、１５Ｔ１、１５Ｔ３で検出された探査電流Ｉｓが予め定めた所定値より大きいか否かを判定し、予め定めた所定値より大きいときは、さらに、フィーダ１３の電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１が検出した探査電流Ｉｓと、配電母線１２の電流検出器１５Ｔ１、１５Ｔ３が検出した探査電流Ｉｓとを比較する。そして、それら情報を外部に出力する。
【００６１】
図９に示すようにフィーダ１３と配電母線１２との双方で絶縁劣化があった場合には、電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１で検出された探査電流ＩｓはＩｓ８であり、電流検出器１５Ｔ１、１５Ｔ３で検出された探査電流Ｉｓは、Ｉｓ７＋Ｉｓ８である。これら検出した探査電流Ｉｓの大きさも外部出力する。これにより、作業員は、絶縁劣化点Ｆ７及び絶縁劣化点Ｆ８の特定が容易となり絶縁劣化の箇所が特定できる。
【００６２】
絶縁状態評価部１７は、Ｆ８閉回路において、電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１、１５Ｔ１、１５Ｔ３の配置関係及び探査電流Ｉｓの大きさから絶縁劣化の箇所を特定する。まず、電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１、１５Ｔ１、１５Ｔ３の配置関係から探査電流Ｉｓの流れる最も下流側の電流検出器１５ｅ２より下流側の負荷側で絶縁劣化の箇所が有ると判断する。一方、探査電流Ｉｓの大きさから、異なる値の探査電流Ｉｓを検出した電流検出器１５ｅ１、１５Ｔ１の間で絶縁劣化が発生していると判断する。具体的には、Ｆ７閉回路において、探査電流Ｉｓ７＋Ｉｓ８を検出した電流検出器１５Ｔ１と、探査電流Ｉｓ８を検出した電流検出器１５ｅ１と間で絶縁劣化が発生していると判断する。
【００６３】
さらに、絶縁状態評価部１７は、前述の（１）式、（２）式を用いて、探査電流Ｉｓ７＋Ｉｓ８の大きさに基づいて絶縁劣化点Ｆ７の絶縁抵抗Ｒ７を評価する。また、探査電流Ｉｓ８の大きさに基づいて絶縁劣化点Ｆ８の絶縁抵抗Ｒ８を評価する。
【００６４】
このように、変圧器１１の二次側の配電母線１２とフィーダ１３との２箇所で絶縁劣化があった場合であっても、絶縁劣化の箇所を特定でき、絶縁劣化による絶縁抵抗Ｒの評価ができる。
【００６５】
図１０は、図６に示した電路の直流電流供給部１６の直近配電母線１２ａへの接続点の下流側で絶縁劣化があった場合の本発明の第２実施形態に係る絶縁監視装置の動作説明図である。いま、直流電流供給部１６の直近配電母線１２ａへの接続点の下流側における直近配電母線１２ａのＦ９点で絶縁抵抗Ｒ９の絶縁劣化があったとする。
【００６６】
そうすると、直流電流供給部１６の直流電源１８、接地点Ａ、絶縁劣化点Ｆ９、直流電流供給部１６の直流電源１８の閉回路（Ｆ９閉回路）が形成され、図１０中の矢印で示す方向に、直流電流供給部１６の直流電源１８から探査電流Ｉｓ９が流れる。この探査電流Ｉｓ９は、電流検出器１５Ｔ３で検出される。各々のフィーダ１３を通る閉回路は形成されないので、各々のフィーダ１３の電流検出器１５は、この探査電流Ｉｓ９を検出することはない。
【００６７】
絶縁状態評価部１７は、Ｆ９閉回路において、電流検出器１５Ｔ３で探査電流Ｉｓ９が検出されると、電流検出器１５Ｔ３で検出された探査電流Ｉｓ９が予め定めた所定値より大きいか否かを判定し、予め定めた所定値より大きいときは、その情報を外部に出力する。これにより、作業員は絶縁劣化の箇所が特定できる。
【００６８】
また、絶縁状態評価部１７は、電流検出器１５Ｔ３の配置関係から絶縁劣化の箇所を特定する。すなわち、絶縁状態評価部１７は、電流検出器１５Ｔ３の下流側の分岐配電母線１２ａで絶縁劣化の箇所が有ると判断する。これは、電流検出器１５Ｔ１及び各々のフィーダ１３の電流検出器１５は、探査電流Ｉｓ９を検出していないからである。
【００６９】
さらに、絶縁状態評価部１７は、その探査電流Ｉｓ９の大きさに基づいて絶縁劣化点Ｆ９の絶縁抵抗Ｒ９を評価する。前述の（１）式、（２）式を用いて、（１）式のＩｓ１をＩｓ９に、Ｒ１をＲ９に置き換えて、絶縁抵抗Ｒ９を求め、求めた絶縁抵抗Ｒ９の大きさにより絶縁状態を評価する。
【００７０】
このように、絶縁状態評価部１７は、予め定めた所定値より大きい探査電流Ｉｓを検出した電流検出器１５の情報を出力するととともに、それらの電流検出器１５の配置関係から絶縁劣化の箇所を特定し、必要に応じて絶縁抵抗を求める。図１０のＦ９点で絶縁劣化があった場合には、探査電流Ｉｓ９の流れる最も下流側の電流検出器１５Ｔ３より下流の箇所で、探査電流Ｉｓ９を検出していない検出器１５Ｔ１、各々のフィーダ１３の電流検出器１５の上流側、つまり、電流検出器１５Ｔ３の下流側の直近配電母線１２ａで絶縁劣化の箇所が有ると判定する。また、電流検出器１５Ｔ３で検出された探査電流Ｉｓ９の大きさに基づいて絶縁抵抗Ｒ９を求める。
【００７１】
図１１は、図６に示した電路の２箇所で絶縁劣化があった場合の他の一例を示す本発明の第２実施形態に係る絶縁監視装置の動作説明図である。いま、電路の直流電流供給部１６の直近配電母線１２ａへの接続点の下流側のＦ１０点で絶縁抵抗Ｒ１０の絶縁劣化があり、フィーダ１３ｅの途中のＦ１１点でも絶縁抵抗Ｒ１１の絶縁劣化があったとする。
【００７２】
そうすると、直流電流供給部１６の直流電源１８、接地点Ａ、絶縁劣化点Ｆ１０、直流電流供給部１６の直流電源１８の閉回路（Ｆ１０閉回路）が形成され、図１１中の矢印で示す方向に、直流電流供給部１６の直流電源１８から探査電流Ｉｓ１０が流れる。この探査電流Ｉｓ１０は、電流検出器１５Ｔ３で検出される。
【００７３】
同様に、直流電流供給部１６の直流電源１８、接地点Ａ、絶縁劣化点Ｆ１１、フィーダ１３ｅ、分岐配電母線１２ｂ、直近配電母線１２ａ、直流電流供給部１６の直流電源１８の閉回路（Ｆ１１閉回路）が形成され、図１１中の矢印で示す方向に、直流電流供給部１６の直流電源１８から探査電流Ｉｓ１１が流れる。探査電流Ｉｓ１１はフィーダ１３ｅの電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１、電流検出器１５Ｔ１、電流検出器１５Ｔ３で検出される。なお、大地の一部及び直近配電母線１２ａの一部にはＦ１０点での絶縁劣化による探査電流Ｉｓ１０と絶縁劣化点Ｆ１１点での絶縁劣化による探査電流Ｉｓ１１との合計電流Ｉｓ１０＋Ｉｓ１１が流れる。
【００７４】
ここで、フィーダ１３の電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１と配電母線１２の電流検出器１５Ｔ１、１５Ｔ３との双方の電流検出器１５が探査電流Ｉｓを検出しているときは、図１１に示すようにフィーダ１３と配電母線１２との双方で絶縁劣化があった場合だけでなく、図７に示すようにフィーダ１３に絶縁劣化があった場合も同じである。
【００７５】
そこで、絶縁状態評価部１７は、電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１、１５Ｔ１、１５Ｔ３で探査電流Ｉｓが検出されると、これら電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１、１５Ｔ１、１５Ｔ３で検出された探査電流Ｉｓが予め定めた所定値より大きいか否かを判定し、予め定めた所定値より大きいときは、さらに、フィーダ１３の電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１が検出した探査電流Ｉｓと、配電母線１２の電流検出器１５Ｔ１、１５Ｔ３が検出した探査電流Ｉｓとを比較する。そして、それら情報を外部に出力する。
【００７６】
図１１に示すようにフィーダ１３と電流検出器１５Ｔ３の下流の直近配電母線１２ａとの双方で絶縁劣化があった場合には、電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１、１５Ｔ１で検出された探査電流ＩｓはＩｓ１１であり、電流検出器１５Ｔ３で検出された探査電流Ｉｓは、Ｉｓ１０＋Ｉｓ１１である。これら検出した探査電流Ｉｓの大きさも外部出力する。これにより、作業員は、絶縁劣化点Ｆ１０及び絶縁劣化点Ｆ１１の特定が容易となり絶縁劣化の箇所が特定できる。
【００７７】
絶縁状態評価部１７は、Ｆ１１閉回路において、電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１、１５Ｔ１、１５Ｔ３の配置関係及び探査電流Ｉｓの大きさから絶縁劣化の箇所を特定する。まず、電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１、１５Ｔ１、１５Ｔ３の配置関係から探査電流Ｉｓの流れる最も下流側の電流検出器１５ｅ２より下流側の負荷側で絶縁劣化の箇所が有ると判断する。一方、探査電流Ｉｓの大きさから、異なる値の探査電流Ｉｓを検出した電流検出器１５Ｔ１、１５Ｔ３の間で絶縁劣化が発生していると判断する。具体的には、Ｆ１０閉回路において、探査電流Ｉｓ１０＋Ｉｓ１１を検出した電流検出器１５Ｔ３と、探査電流Ｉｓ１１を検出した電流検出器１５Ｔ１と間で絶縁劣化が発生していると判断する。
【００７８】
さらに、絶縁状態評価部１７は、前述の（１）式、（２）式を用いて、探査電流Ｉｓ１０＋Ｉｓ１１の大きさに基づいて絶縁劣化点Ｆ１０の絶縁抵抗Ｒ１０を評価する。また、探査電流Ｉｓ１０の大きさに基づいて絶縁劣化点Ｆ１１の絶縁抵抗Ｒ１１を評価する。
【００７９】
このように、変圧器１１の二次側の配電母線１２とフィーダ１３との２箇所で絶縁劣化があった場合であっても、絶縁劣化の箇所を特定でき、絶縁劣化による絶縁抵抗Ｒの評価ができる。
【００８０】
図１２は、図６に示した電路の直流電流供給部１６の直近配電母線１２ａへの接続点の上流側で絶縁劣化があった場合の本発明の第２実施形態に係る絶縁監視装置の動作説明図である。いま、直流電流供給部１６の直近配電母線１２ａへの接続点の上流側における直近配電母線１２ａのＦ１２点で絶縁抵抗Ｒ１２の絶縁劣化があったとする。
【００８１】
そうすると、直流電流供給部１６の直流電源１８、接地点Ａ、絶縁劣化点Ｆ１２、直近配電母線１２ａ、直流電流供給部１６の直流電源１８の閉回路（Ｆ１２閉回路）が形成され、図１２中の矢印で示す方向に、直流電流供給部１６の直流電源１８から探査電流Ｉｓ１２が流れる。この探査電流Ｉｓ１２は、電流検出器１５Ｔ２で検出される。各々のフィーダ１３を通る閉回路は形成されないので、各々のフィーダ１３の電流検出器１５は、この探査電流Ｉｓ１２を検出することはない。
【００８２】
絶縁状態評価部１７は、電流検出器１５Ｔ２で探査電流Ｉｓ１２が検出されると、電流検出器１５Ｔ２で検出された探査電流Ｉｓ１２が予め定めた所定値より大きいか否かを判定し、予め定めた所定値より大きいときは、その情報を外部に出力する。これにより、作業員は絶縁劣化の箇所が特定できる。
【００８３】
また、絶縁状態評価部１７は、Ｆ１２閉回路において、電流検出器１５Ｔ２の配置関係から絶縁劣化の箇所を特定する。すなわち、絶縁状態評価部１７は、電流検出器１５Ｔ２の上流側の直近配電母線１２ａで絶縁劣化の箇所が有ると判断する。これは、電流検出器１５Ｔ２が探査電流Ｉｓを検出するのは、電流検出器１５Ｔ２の上流側の直近配電母線１２ａで絶縁劣化の箇所が有る場合に限られるからである。
【００８４】
さらに、絶縁状態評価部１７は、その探査電流Ｉｓ１２の大きさに基づいて絶縁劣化点Ｆ１２の絶縁抵抗Ｒ１２を評価する。前述の（１）式、（２）式を用いて、（１）式のＩｓ１をＩｓ１２に、Ｒ１をＲ１２に置き換えて、絶縁抵抗Ｒ１２を求め、求めた絶縁抵抗Ｒ１２の大きさにより絶縁状態を評価する。
【００８５】
このように、絶縁状態評価部１７は、予め定めた所定値より大きい探査電流Ｉｓを検出した電流検出器１５の情報を出力するととともに、それらの電流検出器１５の配置関係から絶縁劣化の箇所を特定し、必要に応じて絶縁抵抗を求める。図１２のＦ１２点で絶縁劣化があった場合には、探査電流Ｉｓ１２の流れる電流検出器１５Ｔ２より上流の直近配電母線１２ａで絶縁劣化の箇所が有ると判定する。また、電流検出器１５Ｔ１で検出された探査電流Ｉｓ１２の大きさに基づいて絶縁抵抗Ｒ１２を求める。
【００８６】
以上の説明では、直流電流供給部１６の直近配電母線１２ａへの接続点の上流側における直近配電母線１２ａのＦ１２点で絶縁抵抗Ｒ１２の絶縁劣化があった場合について説明したが、直流電流供給部１６の直近配電母線１２ａへの接続点の上流側における変圧器２次側コイルに絶縁劣化があった場合も同様に検出できる。つまり、直流電流供給部１６の直近配電母線１２ａへの接続点の上流側のいずれかの箇所の絶縁劣化を検出できる。直近配電母線１２ａの絶縁劣化と変圧器２次側コイルの絶縁劣化とを区別するには、直近配電母線１２ａと変圧器２次側コイルとの境界部分に電流検出器１５を設ければよい。
【００８７】
図１３は、図６に示した電路の２箇所で絶縁劣化があった場合の別の他の一例を示す本発明の第２実施形態に係る絶縁監視装置の動作説明図である。いま、電路の直流電流供給部１６の直近配電母線１２ａへの接続点の上流側のＦ１３点で絶縁抵抗Ｒ１３の絶縁劣化があり、フィーダ１３ｅの途中のＦ１４点でも絶縁抵抗Ｒ１４の絶縁劣化があったとする。
【００８８】
そうすると、直流電流供給部１６の直流電源１８、接地点Ａ、絶縁劣化点Ｆ１３、直流電流供給部１６の直流電源１８の閉回路（Ｆ１３閉回路）が形成され、図１３中の矢印で示す方向に、直流電流供給部１６の直流電源１８から探査電流Ｉｓ１３が流れる。この探査電流Ｉｓ１３は、電流検出器１５Ｔ２で検出される。
【００８９】
同様に、直流電流供給部１６の直流電源１８、接地点Ａ、絶縁劣化点Ｆ１４、フィーダ１３ｅ、分岐配電母線１２ｂ、直近配電母線１２ａ、直流電流供給部１６の直流電源１８の閉回路（Ｆ１４閉回路）が形成され、図１３中の矢印で示す方向に、直流電流供給部１６の直流電源１８から探査電流Ｉｓ１４が流れる。探査電流Ｉｓ１４はフィーダ１３ｅの電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１、電流検出器１５Ｔ１、電流検出器１５Ｔ３で検出される。
【００９０】
絶縁状態評価部１７は、電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１、１５Ｔ１、１５Ｔ３、１５Ｔ２で探査電流Ｉｓが検出されると、これら電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１、１５Ｔ１、１５Ｔ３、１５Ｔ２で検出された探査電流Ｉｓが予め定めた所定値より大きいか否かを判定し、予め定めた所定値より大きいときは、それら情報を外部に出力する。これにより、作業員は、絶縁劣化点Ｆ１３及び絶縁劣化点Ｆ１４の特定が容易となり絶縁劣化の箇所が特定できる。なお、図１３に示すようにフィーダ１３と電流検出器１５Ｔ２の上流の直近配電母線１２ａとの双方で絶縁劣化があった場合には、電流検出器１５Ｔ２で検出された探査電流ＩｓはＩｓ１３であり、電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１、１５Ｔ１、１５Ｔ３で検出された探査電流ＩｓはＩｓ１４である。
【００９１】
絶縁状態評価部１７は、Ｆ１３閉回路において、電流検出器１５Ｔ２の配置関係から絶縁劣化の箇所を特定する。すなわち、絶縁状態評価部１７は、電流検出器１５Ｔ２の上流側の直近配電母線１２ａで絶縁劣化の箇所が有ると判断する。これは、前述したように、電流検出器１５Ｔ２が探査電流Ｉｓを検出するのは、電流検出器１５Ｔ２の上流側の直近配電母線１２ａで絶縁劣化の箇所が有る場合に限られるからである。
【００９２】
また、絶縁状態評価部１７は、Ｆ１４閉回路において、電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１、１５Ｔ１、１５Ｔ３、１５Ｔ２の配置関係及び探査電流Ｉｓの大きさから絶縁劣化の箇所を特定する。まず、Ｆ１４閉回路において、電流検出器１５ｅ２、１５ｅ１、１５Ｔ１、１５Ｔ３の配置関係から探査電流Ｉｓの流れる最も下流側の電流検出器１５ｅ２より下流側の負荷側で絶縁劣化の箇所が有ると判断する。
【００９３】
さらに、絶縁状態評価部１７は、前述の（１）式、（２）式を用いて、探査電流Ｉｓ１３の大きさに基づいて絶縁劣化点Ｆ１３の絶縁抵抗Ｒ１３を評価する。また、探査電流Ｉｓ１４の大きさに基づいて絶縁劣化点Ｆ１４の絶縁抵抗Ｒ１４を評価する。
【００９４】
このように、直流電流供給部１６の直近配電母線１２ａへの接続点の上流側と、フィーダ１３との２箇所で絶縁劣化があった場合であっても、絶縁劣化の箇所を特定でき、絶縁劣化による絶縁抵抗Ｒの評価ができる。
【００９５】
この場合も、図１２の場合と同様に、直流電流供給部１６の直近配電母線１２ａへの接続点の上流側のいずれかの箇所の絶縁劣化（直近配電母線１２ａの絶縁劣化及び変圧器２次側コイルの絶縁劣化）を検出できる。直近配電母線１２ａの絶縁劣化と変圧器２次側コイルの絶縁劣化とを区別するには、直近配電母線１２ａと変圧器２次側コイルとの境界部分に電流検出器１５を設ければよい。
【００９６】
以上、本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これらの実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【符号の説明】
【００９７】
１１…変圧器、１２…配電母線、１３…フィーダ、１４…開閉器、１５…電流検出器、１６…直流電流供給部、１７…絶縁状態評価部、１８…直流電源、１９…スイッチ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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