(57)【要約】【課題】  基板の表面側から、高濃度不純物領域、中濃度不純物領域及び低濃度不純物領域が配置されている半導体装置の特性を安定させる技術を提供する。【解決手段】  半導体基板１２の表面に露出している第１導電型領域３８における第１導電型不純物の濃度分布を半導体基板の厚み方向に沿って見たときに、表面側から極大値Ｎ１、極小値Ｎ２、極大値Ｎ３、濃度Ｎ４が形成されており、Ｎ１＞Ｎ３＞Ｎ２＞Ｎ４の関係が満たされており、Ｎ３／１０＞Ｎ２の関係が満たされており、表面から極大値Ｎ１を有する深さＤ１までの距離ａが、極大値Ｎ１を有する深さＤ１から極小値Ｎ２を有する深さまＤ２での距離ｂの２倍より大きい半導体装置。【選択図】図２
2015153788.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体基板の表面に露出している第１導電型領域を有しており、
前記第１導電型領域における第１導電型不純物の濃度分布を前記半導体基板の厚み方向に沿って見たときに、極大値Ｎ１、極小値Ｎ２、極大値Ｎ３が形成されており、
前記極大値Ｎ１を有する深さが、前記極小値Ｎ２を有する深さよりも前記表面側に位置しており、
前記極大値Ｎ３を有する深さが、前記極小値Ｎ２を有する前記深さよりも前記表面の反対側に位置しており、
前記極大値Ｎ３を有する前記深さよりも前記表面の反対側に位置する前記第１導電型領域内に、第１導電型不純物の濃度Ｎ４を有する領域が存在し、
Ｎ１＞Ｎ３＞Ｎ２＞Ｎ４の関係が満たされており、
Ｎ３／１０＞Ｎ２の関係が満たされており、
前記表面から前記極大値Ｎ１を有する深さまでの距離ａが、前記極大値Ｎ１を有する深さから前記極小値Ｎ２を有する深さまでの距離ｂの２倍より大きい、
半導体装置。
【請求項２】
前記極大値Ｎ１を有する前記深さよりも前記表面側に、前記極大値Ｎ１の１／１０の第１導電型不純物の濃度Ｎ５を有する深さが存在しており、
前記濃度Ｎ５を有する深さから前記極大値Ｎ１を有する深さまでの距離ｃが、前記距離ｂの２倍より大きい、
半導体装置。
【請求項３】
前記半導体基板に、ダイオードが形成されており、
前記第１導電型領域がダイオードのカソード領域である請求項１または２の半導体装置。
【請求項４】
前記半導体基板に、ＩＧＢＴがさらに形成されている請求項３の半導体装置。
【請求項５】
前記半導体基板に、ＭＯＳＦＥＴが形成されており、
前記第１導電型領域がＭＯＳＦＥＴのソース領域またはドレイン領域である請求項１または２の半導体装置。
【請求項６】
半導体装置を製造する方法であって、
第１導電型の半導体基板の表面に、第１導電型不純物を注入する第１注入工程と、
前記第１注入工程後に、前記半導体基板が溶融しない温度で前記半導体基板を熱処理する工程と、
前記半導体基板の前記表面に、前記第１注入工程よりも低いエネルギーで前記第１注入工程よりも高濃度に第１導電型不純物を注入する第２注入工程と、
第２注入工程後に、前記第１注入工程における第１導電型不純物の平均停止位置よりも前記表面側の領域を溶融させ、その後、固化させる工程、
を有する方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本明細書が開示する技術は、半導体装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、１つの半導体基板にダイオードとＩＧＢＴが形成されたＲＣ−ＩＧＢＴが開示されている。ダイオードの下面に露出する範囲には、ｎ型のカソード層が形成されている。カソード層の上側には、ｎ型のバッファ層が形成されている。バッファ層の上側には、ｎ型のドリフト層が形成されている。ドリフト層のｎ型不純物濃度は、バッファ層及びカソード層よりも低い。バッファ層のｎ型不純物濃度は、カソード層よりも低い。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１１−８２２２０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１のように、基板の表面側から、高濃度不純物領域、中濃度不純物領域及び低濃度不純物領域がこの順に配置されている構造は、ダイオードやＭＯＳＦＥＴ等の種々の半導体装置で用いられる。本明細書では、このような半導体装置において、特性をより安定させることが可能な技術を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本願発明者らは、上述した高濃度不純物領域の不純物濃度をより高める技術を研究している。この技術では、半導体基板の表面近傍に高濃度に不純物を注入した後に、その表面近傍の領域を溶融させ、その後、再度固化させる。不純物は溶融した領域全体に拡散するため、再度固化した領域は高濃度に不純物を含有する領域となる。また、このように半導体基板を溶融させると、高濃度の不純物注入によって形成された結晶欠陥を効率的に消滅させることができる。したがって、不純物濃度が高く、かつ、結晶欠陥密度が低い高濃度不純物領域を形成することが可能である。しかしながら、このように半導体基板の表面を溶融させる技術においては、溶融前に半導体基板の表面に付着していた不純物が、溶融した領域内に拡散することが分かってきた。例えば、ｎ型の高濃度不純物領域を形成する際に、半導体基板の表面に付着しているｐ型不純物が、溶融した領域内に拡散する場合がある。このような場合において、高濃度不純物領域と中濃度不純物領域の境界でｎ型不純物濃度が低くなっていると、そのｎ型不純物濃度が低い領域にｐ型不純物が拡散し、その領域がｐ型化してしまう場合がある。このような問題を解消するためには、高濃度不純物領域と中濃度不純物領域の境界のｎ型不純物濃度が高いことが求められる。しかしながら、当該境界のｎ型不純物濃度が高いと、高濃度不純物領域と中濃度不純物領域が十分に分離されない。すると、高濃度不純物領域と中濃度不純物領域の両方の影響を受けて、高濃度不純物領域への電子の注入効率が変化する。このため、半導体装置の特性の制御が困難となる。
【０００６】
したがって、本明細書では、以下の半導体装置を提供する。この半導体装置は、半導体基板の表面に露出している第１導電型領域を有している。前記第１導電型領域における第１導電型不純物の濃度分布を前記半導体基板の厚み方向に沿って見たときに、極大値Ｎ１、極小値Ｎ２、極大値Ｎ３が形成されている。前記極大値Ｎ１を有する深さが、前記極小値Ｎ２を有する深さよりも前記表面側に位置している。前記極大値Ｎ３を有する深さが、前記極小値Ｎ２を有する前記深さよりも前記表面の反対側に位置している。前記極大値Ｎ３を有する前記深さよりも前記表面の反対側に位置する前記第１導電型領域内に、第１導電型不純物の濃度Ｎ４を有する領域が存在している。Ｎ１＞Ｎ３＞Ｎ２＞Ｎ４の関係が満たされており、Ｎ３／１０＞Ｎ２の関係が満たされている。前記表面から前記極大値Ｎ１を有する深さまでの距離ａが、前記極大値Ｎ１を有する深さから前記極小値Ｎ２を有する深さまでの距離ｂの２倍より大きい。
【０００７】
なお、上記の第１導電型不純物は、ｎ型またはｐ型のいずれか一方を意味する。また、濃度Ｎ４を有する領域の濃度は一定である必要はなく、Ｎ２＞Ｎ４の関係が満たされる範囲内で当該領域の濃度Ｎ４が位置によって変化していてもよい。
【０００８】
この半導体装置では、半導体基板の表面から極大値Ｎ１を有する深さまでの距離ａが、極大値Ｎ１を有する深さから極小値Ｎ２を有する深さまでの距離ｂの２倍より大きい。このような不純物分布は、ボックスプロファイルと呼ばれ、上述した半導体基板を溶融させることで不純物を活性化させる方法によって得られる特徴的な分布である。この半導体装置では、極大値Ｎ１を有する領域が高濃度領域に相当し、極大値Ｎ３を有する領域が中濃度領域に相当し、濃度Ｎ４を有する領域が低濃度領域に相当する。また、極小値Ｎ２を有する深さは、高濃度領域と中濃度領域の境界に相当する。この半導体装置では、極小値Ｎ２が濃度Ｎ４より高い。このため、この半導体装置の製造工程（すなわち、半導体基板の溶融工程）において極小値Ｎ２の深さに第１導電型とは異なる導電型（以下、第２導電型という）の不純物が拡散した場合でも、この深さの領域が第２導電型になり難い。すなわち、この半導体装置では、高濃度領域と中濃度領域の境界に第２導電型領域が形成され難い。また、この半導体装置では、Ｎ３／１０＞Ｎ２の関係が満たされている。極小値Ｎ２がこの程度に低い濃度であると、高濃度領域と中濃度領域とが十分に分離され、これらの領域が互いに影響を及ぼすことを抑制することができる。このため、高濃度不純物領域への電子の注入効率が、中濃度不純物領域の影響をほとんど受けることなく高濃度不純物領域の不純物濃度によって定まるようになる。このように、この半導体装置によれば、前記境界に第２導電型領域が形成されることを抑制することができるとともに、中濃度不純物領域による高濃度不純物領域の電子の注入効率に対する影響を抑制することができる。したがって、この半導体装置は、量産時に特性が安定する。
【０００９】
また、本明細書は、半導体装置を製造する方法を提供する。この方法は、第１導電型の半導体基板の表面に、第１導電型不純物を注入する第１注入工程と、前記第１注入工程後に、前記半導体基板が溶融しない温度で前記半導体基板を熱処理する工程と、前記半導体基板の前記表面に、前記第１注入工程よりも低いエネルギーで前記第１注入工程よりも高濃度に第１導電型不純物を注入する第２注入工程と、第２注入工程後に、前記第１注入工程における第１導電型不純物の平均停止位置よりも前記表面側の領域を溶融させ、その後、固化させる工程を有する。
【００１０】
なお、上記熱処理する工程が第１注入工程の後に行われ、上記溶融・固化させる工程が第２注入工程よりも後に行われる限りは、第１注入工程、上記熱処理する工程、第２注入工程及び上記溶融・固化させる工程は、どのような順序で行われてもよい。
【００１１】
この方法では、第１注入工程で比較的深い位置に第１導電型不純物が注入され、上記熱処理する工程において第１注入工程で注入された第１導電型不純物が活性化する。これによって、中濃度領域が形成される。また、この方法では、第２注入工程で比較的浅い位置に第１導電型不純物が注入され、上記溶融・固化する工程において第２注入工程で注入された第１導電型不純物が活性化する。これによって、高濃度領域が形成される。第１導電型不純物が拡散しなかった領域は、低濃度領域となる。この製造方法によれば、高濃度領域、中濃度領域及び低濃度領域を有する半導体装置を製造することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】実施例１の半導体装置１０の縦断面図。
【図２】図１のＡ−Ａ線におけるｎ型不純物濃度を示すグラフ。
【図３】半導体装置１０の製造工程の説明図。
【図４】半導体装置１０の製造工程の説明図。
【図５】半導体装置１０の製造工程の説明図。
【図６】半導体装置１０の製造工程の説明図。
【図７】半導体装置１０の製造工程の説明図。
【図８】実施例２の半導体装置の図２に対応するグラフ。
【図９】比較例１の半導体装置の図２に対応するグラフ。
【図１０】比較例２の半導体装置の図２に対応するグラフ。
【図１１】比較例３の半導体装置の図２に対応するグラフ。
【図１２】本明細書に開示の技術を適用したＲＣ−ＩＧＢＴの縦断面図。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下に説明する実施例の特徴について、以下に説明する。なお、以下の特徴は、何れも独立して有用なものである。
（特徴１）極大値Ｎ１を有する深さよりも表面側に、極大値Ｎ１の１／１０の第１導電型不純物の濃度Ｎ５を有する深さが存在していてもよい。この場合、濃度Ｎ５を有する深さから極大値Ｎ１を有する深さまでの距離ｃが、距離ｂの２倍より大きくてもよい。
（特徴２）半導体基板にダイオードとＩＧＢＴが形成されており、第１導電型領域がダイオードのカソード領域であってもよい。
（特徴３）極大値Ｎ１を有する深さが表面から０．３〜０．７μｍの範囲内に存在してもよい。
（特徴４）極大値Ｎ３を有する深さが表面から０．５〜３．０μｍの範囲内に存在してもよい。
【実施例１】
【００１４】
図１に示す実施例１の半導体装置１０は、半導体基板１２と、半導体基板１２の上面１２ａに形成されたアノード電極２０と、半導体基板１２の下面１２ｂに形成されたカソード電極２２を有している。
【００１５】
半導体基板１２内には、ｐ型のアノード領域３０とｎ型のカソード領域３８が形成されている。アノード領域３０は、半導体基板１２の上面１２ａに露出する範囲に形成されており、アノード電極２０に対して接続されている。カソード領域３８は、半導体基板１２の下面１２ｂに露出する範囲に形成されており、カソード電極２２に対して接続されている。すなわち、半導体基板１２内には、ダイオードが形成されている。
【００１６】
図２は、図１のＡ−Ａ線におけるｎ型不純物の濃度分布を示している。なお、図２の横軸は半導体基板１２の下面１２ｂからの深さを示しており、縦軸はｎ型不純物濃度を対数により指名している。ｎ型不純物濃度は、半導体基板１２の下面１２ｂから深い側に向かうにしたがって緩やかに上昇し、極大値Ｎ１となる。ｎ型不純物濃度は、極大値Ｎ１の深さＤ１から深い側に向かうにしたがって急激に減少し、極小値Ｎ２となる。ｎ型不純物濃度は、極小値Ｎ２の深さＤ２から深い側に向かうにしたがって上昇し、極大値Ｎ３となる。ｎ型不純物濃度は、極大値Ｎ３の深さＤ３から深い側に向かうにしたがって減少し、深さＤ４で濃度Ｎ４となる。深さＤ４よりも深い領域では、ｎ型不純物濃度は濃度Ｎ４で略一定となっている。濃度Ｎ１〜Ｎ４は、Ｎ１＞Ｎ３＞Ｎ２＞Ｎ４の関係を満たす。また、極小値Ｎ２は、極大値Ｎ３の十分の一よりも小さい値である。すなわち、Ｎ３／１０＞Ｎ２が満たされる。また、半導体基板１２の下面１２ｂにおけるｎ型不純物濃度Ｎｓは、極大値Ｎ１の十分の一よりも大きい値である。以下では、深さＤ２よりも浅い側（下面１２ｂ側）に位置するカソード領域３８をコンタクト領域３６といい、深さＤ２と深さＤ４の間のカソード領域３８をバッファ領域３４といい、深さＤ４よりも深い側（上面１２ａ側）のカソード領域３８をドリフト領域３２という。本実施例では、深さＤ１＝０．３〜０．７μｍであり、深さＤ３＝０．５〜３．０μｍである。
【００１７】
下面１２ｂと深さＤ１の間の距離ａ（＝Ｄ１）は、深さＤ１と深さＤ２の間の距離ｂ（＝Ｄ２−Ｄ１）の２倍よりも大きい。すなわち、ａ＞２ｂが満たされる。すなわち、コンタクト領域３６内のｎ型不純物濃度分布は、ボックスプロファイルとなっている。すなわち、コンタクト領域３６は、ｎ型不純物を注入した半導体領域を一旦溶融させた後に固化（再結晶化）させて形成されたものである。このため、コンタクト領域３６では、ｎ型不純物濃度が高いにも係らず、結晶欠陥密度が低い。
【００１８】
バッファ領域３４内では、上述した距離ｂの範囲（深さＤ１と深さＤ２の間の範囲）内に比べて緩やかにｎ型不純物濃度が変化している。バッファ領域３４内では、ガウス分布状にｎ型不純物が分布している。バッファ領域３４は、深さＤ３にｎ型不純物を注入した後に、熱処理によってｎ型不純物を拡散及び活性化させることで形成された領域である。
【００１９】
ダイオードがオンすると（すなわち、ダイオードに順電圧が印加されると）、アノード電極２０からカソード電極２２に向かってホールが流れるとともに、カソード電極２２からアノード電極２０に向かって電子が流れる。上記の通り、コンタクト領域３６が高いｎ型不純物濃度を有するため、コンタクト領域３６とカソード電極２２の間のコンタクト抵抗は極めて低くなっている。このため、カソード電極２２からコンタクト領域３６に高い注入効率で電子が注入される。また、コンタクト領域３６の結晶欠陥密度が低いため、電子及びホールがコンタクト領域３６を通過する際に、コンタクト領域３６で損失が生じ難くなっている。このため、このダイオードは低損失で動作することができる。
【００２０】
ダイオードをオフすると（すなわち、ダイオードに逆電圧が印加されると）、アノード領域３０とドリフト領域３２の境界のｐｎ接合から、カソード電極２２に向かって空乏層が伸びる。バッファ領域３４のｎ型不純物濃度が比較的高いため、空乏層はバッファ領域３４内で停止する。これによって、空乏層がコンタクト領域３６に達することが防止され、ダイオードの耐圧が確保される。
【００２１】
また、製造工程において半導体基板１２の下面１２ｂにキズが生じ、そのキズがバッファ領域３４に達すると、ダイオードの耐圧が低下する。しかしながら、この半導体装置１０では、バッファ領域３４が比較的深い位置に形成されている。より具体的には、深さＤ３が０．５〜３．０μｍとなるように形成されている。このため、下面１２ｂにキズが生じても、キズがバッファ領域３４に達し難い。これによって、キズによるダイオードの耐圧低下が生じ難くなっている。
【００２２】
次に、半導体装置１０の製造方法について説明する。まず、図３に示すｎ型の半導体基板１２を準備する。この段階では、半導体基板１２の全体が、上述した濃度Ｎ４と等しいｎ型不純物濃度を有している。
【００２３】
（バッファ注入工程）
次に、図４に示すように、半導体基板１２の裏面に、ｎ型不純物を注入する。ここでは、ｎ型不純物の平均停止位置が、半導体基板１２の下面１２ｂから深さＤ３の位置となるように、注入エネルギーを調節する。
【００２４】
（バッファアニール工程）
次に、炉またはレーザアニール装置を用いることによって、半導体基板１２をアニールする。ここでは、バッファ注入工程でｎ型不純物が注入された深さＤ３の位置が十分に加熱されるようにアニールを行う。また、アニールは、半導体基板１２の表面が溶融しない温度で行う。これによって、バッファ注入工程で注入されたｎ型不純物を拡散、活性化させる。これによって、図５に示すように、半導体基板１２中にバッファ領域３４が形成される。すなわち、バッファアニール工程を実施することで、図２に示すようにガウス分布状にｎ型不純物が分布するバッファ領域３４が形成される。バッファ注入工程におけるｎ型不純物の平均停止深さが深さＤ３であるので、バッファアニール工程後に、図２に示すように深さＤ３にｎ型不純物濃度の極大値Ｎ３が形成される。また、バッファ領域３４よりも上面１２ａ側のｎ型不純物濃度が低い領域は、ドリフト領域３２となる。
【００２５】
（コンタクト注入工程）
次に、図６に示すように、半導体基板１２の下面１２ｂに、ｎ型不純物を注入する。ここでは、ｎ型不純物の平均停止位置が、バッファ領域３４よりも浅い位置となるように注入エネルギーを調節する。また、コンタクト注入工程では、バッファ注入工程よりも高い濃度でｎ型不純物を注入する。このため、コンタクト注入工程でｎ型不純物の注入を受けた領域（すなわち、下面１２ｂ近傍の領域）には、高密度の結晶欠陥が形成される。
【００２６】
（コンタクトアニール工程）
次に、レーザアニールによって、半導体基板１２をアニールする。ここでは、半導体基板１２の下面１２ｂにレーザを照射することによって、下面１２ｂ近傍を局所的にアニールする。より詳細には、レーザアニールは、バッファ領域３４に多くの熱が伝わらないように、短時間で行われる。また、レーザアニールは、下面１２ｂ近傍の半導体層が溶融する温度まで昇温するように実施される。具体的には、深さＤ２よりも深い側（上面１２ａ側）の領域が溶融しないように、レーザアニールが実施される。レーザアニールによって溶融した領域３６は、その後、固化して再結晶化する。コンタクト注入工程で注入されたｎ型不純物は、溶融した領域３６内に略均等に拡散する。このため、領域３６が再結晶化すると、領域３６は高濃度にｎ型不純物を含有するコンタクト領域３６となる。すなわち、図７に示すように、半導体基板１２の下面１２ｂに露出する範囲に、コンタクト領域３６が形成される。
【００２７】
上記の通り、コンタクトアニール工程で領域３６が溶融すると、ｎ型不純物が領域３６内に略均等に拡散する。他方、ｎ型不純物は、溶融しなかった領域にはほとんど拡散しない。その結果、図２に示すように、下面１２ｂと深さＤ１の間の領域ではｎ型不純物濃度があまり大きく変化せず、深さＤ１から深さＤ２に向かってｎ型不純物濃度が急激に減少する分布が得られる。したがって、図の距離ａ、ｂが、ａ＞２ｂの関係を満たすようになる。このように、コンタクトアニール工程を実施することで、ボックス分布を有するコンタクト領域３６が形成される。溶融させる領域が極めて浅い領域に限定されているので、コンタクト領域３６の厚みは薄くなり（深さＤ１が０．３〜０．７μｍ）、コンタクト領域３６のピーク濃度Ｎ１が高くなる。また、領域３６を溶融し、その後、固化させる過程において、領域３６内に高密度に存在していた結晶欠陥の大部分が消滅する。このため、再結晶化後のコンタクト領域３６には、結晶欠陥が少ない。すなわち、コンタクトアニール工程を実施することで、ｎ型不純物濃度（より詳細には、ピークｎ型不純物濃度Ｎ１）が高く、かつ、結晶欠陥密度が低いコンタクト領域３６が形成される。なお、コンタクトアニール工程は、コンタクトアニール工程後にＮ３／１０＞Ｎ２＞Ｎ４の関係を満たすｎ型不純物濃度Ｎ２（図２参照）が得られるように実施する。
【００２８】
次に、半導体基板１２の上面１２ａにｐ型不純物を注入し、活性化させることで、アノード領域３０を形成する。次に、半導体基板１２の上面１２ａにアノード電極２０を形成する。次に、半導体基板１２の下面１２ｂにカソード電極２２を形成する。以上の工程によって、図１に示す半導体装置１０が完成する。
【００２９】
以上に説明したように、実施例の方法によれば、ｎ型不純物濃度が高く、かつ、結晶欠陥密度が低いコンタクト領域３６を形成することができる。したがって、低損失のダイオードを形成することができる。
【００３０】
また、実施例の方法では、表面を溶融させるコンタクトアニール工程とは別のアニール工程（バッファアニール工程）によりバッファ領域３４内のｎ型不純物を活性化させる。このため、深い位置にバッファ領域３４を形成することができる。したがって、下面１２ｂへのキズ等による耐圧低下を抑制することができる。
【００３１】
また、実施例の方法では、Ｎ２＞Ｎ４の関係が満たされるようにコンタクトアニール工程が実施される。これによって、深さＤ２近傍にｐ型領域が形成されることが防止される。すなわち、コンタクトアニール工程前の半導体基板１２の下面１２ｂには、意図せず、ｐ型不純物が付着している場合がある。このような場合に、コンタクトアニール工程において領域３６を溶融させると、ｐ型不純物が３６中に拡散する。従って、深さＤ２においてｎ型不純物濃度が極端に低いと、深さＤ２近傍においてｐ型不純物濃度がｎ型不純物濃度を上回り、深さＤ２近傍にｐ型領域が形成されるおそれがある。しかしながら、本実施例の方法では、Ｎ２＞Ｎ４の関係が満たされる（すなわち、深さＤ２におけるｎ型不純物濃度Ｎ２が原料の半導体基板１２のｎ型不純物濃度Ｎ４よりも高くなる）ようにコンタクトアニール工程が実施される。このため、深さＤ２近傍に微量のｐ型不純物が拡散しても、深さＤ２近傍の領域がｐ型化し難い。したがって、深さＤ２にｐ型領域が形成されることが防止される。このため、実施例の方法により半導体装置１０を量産したときには、ダイオードの特性（特に、ＶＦ）が安定する。
【００３２】
また、実施例の方法では、Ｎ３／１０＞Ｎ２の関係が満たされるようにダイオードを形成する。これによって、ダイオードの特性の安定化が図られる。すなわち、深さＤ１におけるｎ型不純物濃度Ｎ２が高すぎると、コンタクト領域３６とバッファ領域３４が単一の領域として機能するようになり、コンタクト領域３６のｎ型不純物濃度とバッファ領域３４のｎ型不純物濃度が、互いの特性に影響を及ぼし合うようになる。例えば、ｎ型不純物濃度Ｎ２が高いと、カソード電極２２からコンタクト領域３６への電子の注入効率が、コンタクト領域３６のｎ型不純物濃度だけでなく、バッファ領域３４のｎ型不純物濃度によっても変化するようになる。このため、この電子の注入効率を正確に制御することが困難となり、半導体装置の量産時に電子の注入効率に大きいばらつきが生じるようになる。これに対し、実施例の方法では、Ｎ３／１０＞Ｎ２の関係が満たされるため、電子の注入効率が、バッファ領域３４の影響を受け難い。したがって、実施例の方法によれば、量産時に、各半導体装置のコンタクト領域３６への電子の注入効率にばらつきが生じ難い。
【実施例２】
【００３３】
実施例２の半導体装置では、図８に示すように、下面１２ｂにおけるｎ型不純物濃度Ｎｓが、実施例１に比べて低い。実施例２では、Ｎ１／１０＞Ｎｓとなっている。このため、深さＤ１よりも浅い領域内に、Ｎ５＝Ｎ１／１０となるｎ型不純物濃度Ｎ５を有する深さＤ５が存在する。実施例２では、深さＤ５から深さＤ１までの距離ｃが、ｃ＞２ｂの関係を満たす。実施例２の半導体装置は、実施例１と同様の方法により製造される。半導体基板の表面を溶融させる方法によって比較的厚みが厚いコンタクト領域３６を形成する際には、実施例２のように、下面１２ｂにおけるｎ型不純物濃度Ｎｓが低くなる場合がある。この場合でも、典型的なボックスプロファイルにおいては、ｃ＞２ｂの関係が満たされる。このように濃度Ｎｓが低い場合には、距離ｃと距離ｂによってボックスプロファイルを定義することもできる（実施例１のように下面１２ｂにおけるｎ型不純物濃度ＮｓがＮｓ＞Ｎ１／１０を満たす場合には、実施例１のように下面１２ｂと深さＤ１の間の距離ａがａ＞２ｂの関係を満たせばよい）。実施例２の半導体装置及びその製造方法でも、実施例１の半導体装置と略同じ利点が得られる。
【００３４】
次に、比較例の半導体装置と、その製造方法について説明する。なお、比較例の半導体装置も、実施例１、２と同様に、コンタクト領域、バッファ領域、ドリフト領域、アノード領域、カソード電極及びアノード電極を有している。比較例の半導体装置において、これらの領域の不純物濃度及び寸法は異なるものの、これらの領域の基本的な機能は実施例１、２と同じである。したがって、以下では、実施例１、２と共通性を有する部分を、実施例１、２と同じ番号を用いて説明する。また、以下の比較例は、何れも、本願発明者らが実験において実施したものであり、公然知られたものではない。
【００３５】
（比較例１）
図９は、比較例１の半導体装置のコンタクト領域３６、バッファ領域３４、ドリフト領域３２のｎ型不純物濃度分布を示している。比較例１の半導体装置の製造方法では、まず、半導体基板の深さＤ３にｎ型不純物を注入する。次に、半導体基板１２の下面１２ｂ近傍（例えば、深さＤ１）にｎ型不純物を注入する。次に、レーザアニールによって、半導体基板１２の下面１２ｂを溶融させる。このとき、図９に示す深さＤ２までの領域を溶融させる。これによって、コンタクト領域３６が形成される。また、深さＤ３近傍の領域は、溶融しないものの、レーザアニールにより加熱される。このため、深さＤ３近傍においてｎ型不純物が活性化し、深さＤ３近傍にバッファ領域３４が形成される。これによって、図９に示すようにｎ型不純物が分布する半導体装置が得られる。比較例１の方法では、レーザアニールの熱によってバッファ領域３４を形成するため、バッファ領域３４を下面１２ｂに近い位置に形成する必要がある（すなわち、深さＤ３を浅くする必要がある）。このため、バッファ領域３４を深い位置に形成することができない。したがって、比較例１の半導体装置は、下面１２ｂにキズが生じたときに、耐圧が低下しやすい。また、深さＤ２におけるｎ型不純物濃度が高いため、コンタクト領域３６とバッファ領域３４が十分に分離されない。このため、この方法で半導体装置を量産した場合には、コンタクト領域３６への電子の注入効率にばらつきが生じやすい。
【００３６】
（比較例２）
図１０は、比較例２の半導体装置のコンタクト領域３６、バッファ領域３４、ドリフト領域３２のｎ型不純物濃度分布を示している。比較例２の半導体装置の製造方法は、比較例１と同様である。但し、バッファ領域３４に対するｎ型不純物の注入深さＤ３が、比較例１よりも深い。また、レーザアニールでは、比較例１よりも深い深さＤ３に注入されたｎ型不純物を活性化させるために、比較例１よりも深い位置まで半導体基板１２を溶融させる。このため、図１０に示すように、比較例２の半導体装置では、バッファ領域３４が比較例１よりも深い位置に形成されている一方で、コンタクト領域３６が幅広となり、コンタクト領域３６のｎ型不純物濃度が低くなっている。このため、比較例２の半導体装置では、コンタクト領域３６のカソード電極２２に対するコンタクト抵抗が高いという問題がある。また、比較例２の半導体装置でも、極小値Ｎ２が高く、コンタクト領域３６とバッファ領域３４が十分に分離されない。
【００３７】
（比較例３）
図１１は、比較例３の半導体装置のコンタクト領域３６、バッファ領域３４、ドリフト領域３２のｎ型不純物濃度分布を示している。比較例３の半導体装置の製造方法では、まず、深さＤ３にｎ型不純物を注入する。比較例３の深さＤ３は、実施例１の深さＤ３と同等である。次に、半導体基板１２の下面１２ｂをレーザアニールによって溶融させる。ここでは、深さＤ３の領域は溶融させないものの、深さＤ１に近い深さ（図１１の深さＤａ）までを溶融させることで、深さＤ１を加熱する。これによって、深さＤ１に注入された不純物を拡散させ、バッファ領域３４を形成する。次に、半導体基板１２の下面１２ｂ近傍の深さにｎ型不純物を注入する。次に、半導体基板１２の下面１２ｂをレーザアニールによって溶融させる。すなわち、深さＤａよりも浅い領域のみを溶融させ、その溶融させた領域にｎ型不純物を拡散させる。これによって、コンタクト領域３６を形成する。比較例３の方法によれば、図１１に示すように、ｎ型不純物濃度が高いコンタクト領域３６と、深い位置に形成されたバッファ領域３４を実現することができる。しかしながら、比較例３の方法では、半導体基板１２の下面１２ｂにｐ型不純物が意図せず付着している場合に、最初のレーザアニール（深さＤａまで溶融させるレーザアニール）において溶融領域内にｐ型不純物が拡散する。これによって、図１１に示すように、下面１２ｂから深さＤａまでの領域にｐ型不純物が拡散する場合がある。すると、ｎ型不純物の極小値Ｎ２を有する深さＤ２において、ｐ型不純物濃度がｎ型不純物濃度を上回る場合がある。すなわち、コンタクト領域３６とバッファ領域３４の間にｐ型領域が形成される場合がある。このように、比較例３の方法では、コンタクト領域３６とバッファ領域３４の間にｐ型領域が形成されるおそれがあり、量産時にダイオードの特性が安定しない。
【００３８】
実施例１、２の方法では、上述した比較例１〜３のいずれの問題も生じず、高い特性を有する半導体装置を安定的に製造することができる。
【００３９】
なお、上述した実施例１、２では、バッファ注入工程、バッファアニール工程、コンタクト注入工程、コンタクトアニール工程の順にこれらの工程を実施したが、これらの工程の実施順序を変更してもよい。バッファアニール工程がバッファ工程よりも後に行われ、コンタクトアニール工程がコンタクト注入工程よりも後に行われれば、どのように順序を変更してもよい。
【００４０】
また、上述した実施例では、ダイオードのみが形成されている半導体装置について説明したが、ダイオードとＩＧＢＴが単一の半導体基板に形成されているＲＣ−ＩＧＢＴのダイオード部分に上述した技術を適用してもよい。なお、ＲＣ−ＩＧＢＴとしては、例として、図１２に示す構成を挙げることができる。図１２において、参照番号２０〜２２及び３０〜３６は、実施例１に対応する。また、参照番号５１はエミッタ領域であり、参照番号５２はボディ領域であり、参照番号５３はコレクタ領域であり、参照番号５５はゲート絶縁膜であり、参照番号５６はゲート電極である。これらの構成要素５１〜５６及び領域３２、３４によって、ＩＧＢＴが形成されている。また、アノード電極２０はＩＧＢＴのエミッタ電極を兼ねており、カソード電極２２はＩＧＢＴのコレクタ電極を兼ねている。
【００４１】
また、上述した実施例では、ダイオードについて説明したが、上述した技術をＦＥＴ（例えば、ＭＯＳＦＥＴ）のソース領域とソース電極のコンタクト部分やドレイン領域とドレイン電極のコンタクト部分に適用してもよい。
【００４２】
以上、本発明の具体例を詳細に説明したが、これらは例示にすぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例をさまざまに変形、変更したものが含まれる。
本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組み合わせによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組み合わせに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は複数目的を同時に達成するものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。
【符号の説明】
【００４３】
１０：半導体装置
１２：半導体基板
１２ａ：上面
１２ｂ：下面
２０：アノード電極
２２：カソード電極
３０：アノード領域
３２：ドリフト領域
３４：バッファ領域
３６：コンタクト領域
３８：カソード領域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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