(57)【要約】【課題】取り付けられたレーザダイオードに応じて適切に発光タイミング制御を行う画像形成装置を提供する。【解決手段】電子写真方式の画像形成装置は、レーザダイオードの光源の発光タイミングを調整するための調整値と、調整値を識別するための識別情報と、を取得する。その取得結果に基づいて、レーザダイオードの種類に応じた発光タイミングの調整を行う。【選択図】図１０
2015141291.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザダイオードから照射されたレーザにより感光ドラム上に静電潜像を形成する画像形成装置であって、
レーザダイオードの光源の発光タイミングを調整するための調整値と、該調整値を識別するための識別情報と、を取得する取得手段と、
前記取得手段の取得結果に基づいて、レーザダイオードの種類に応じた発光タイミングの調整を行う調整手段と、
を備えることを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
前記取得手段により取得した識別情報により当該画像形成装置に搭載されているレーザダイオードの種類を判定する判定手段、をさらに備え、
前記調整手段は、該判定手段により判定されたレーザダイオードの種類に応じ、前記取得手段により取得された前記調整値を用いて発光タイミングの調整を行い、
前記判定手段は、
前記識別情報から、前記調整値が所定の調整値範囲に含まれるか否かを判定し、
前記調整値が当該所定の調整値範囲に含まれる場合に、当該画像形成装置に搭載されているレーザダイオードは光源が所定の公称値の間隔を以って配置されているレーザダイオードであると判定し、
前記調整値が当該所定の調整値範囲に含まれない場合に、当該画像形成装置に搭載されているレーザダイオードは光源が前記所定の公称値の間隔よりも広い間隔で配置されているレーザダイオードであると判定する、
ことを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】
当該画像形成装置に搭載されているレーザダイオードは光源が所定の公称値の間隔を以って配置されているレーザダイオードであると前記判定手段により判定された場合に、
前記取得手段により取得された前記調整値から、前記判定手段により判定されたレーザダイオードに対応した調整値を算出する算出手段、をさらに備え、
前記調整手段は、前記算出手段により算出された調整値により発光タイミングの調整を行う、ことを特徴とする請求項２に記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記算出手段は、前記取得手段により取得された前記調整値から当該調整値に対応する基準値を減算することにより、前記判定手段により判定されたレーザダイオードに対応した調整値を算出することを特徴とする請求項３に記載の画像形成装置。
【請求項５】
外部入力により前記調整値を受け付ける受付手段、をさらに備え、
前記取得手段は、前記受付手段により受け付けた調整値を取得することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項６】
前記調整値は、感光ドラム上のレーザの照射位置に対応することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項７】
前記調整値は、レーザダイオードの光源の間隔の製造誤差に因る発光タイミングを補正するための値であることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項８】
レーザダイオードから照射されたレーザにより感光ドラム上に静電潜像を形成する画像形成装置において実行される制御方法であって、
レーザダイオードの光源の発光タイミングを調整するための調整値と、該調整値を識別するための識別情報と、を取得する取得工程と、
前記取得工程の取得結果に基づいて、レーザダイオードの種類に応じた発光タイミングの調整を行う調整工程と、
を有することを特徴とする制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子写真方式により記録を行う画像形成装置および制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子写真方式の画像形成装置に用いられる光走査装置では、画像信号に応じてレーザ光源からの放射光束を光変調する。そして、光変調された光束を、回転する偏向素子としての回転多面鏡により周期的に偏向させ、Fθ特性を有する結像光学系によって、感光性を有する像担持体である電子写真感光体（感光ドラム）の面上にスポット状に集束させる。結像面上のスポットは、回転多面鏡による主走査と感光ドラムの回転による副走査に伴って静電潜像を形成し、画像記録が行われる。
【０００３】
ところで、光走査装置においては、高速化や高解像度化に伴い、発光点が１つのレーザダイオードから、発光点を複数有するレーザダイオードが主流となってきている。特許文献１では、発光点が４箇所ある４ビームレーザを用いた光走査装置について、その調整方法として、発光点間隔や印字画像の解像度に応じた調整方法が記載されている。
【０００４】
一方、半導体部品の微細化が進む中で、複数の発光点同士のピッチ間隔がより狭い小型のレーザダイオードが用いられることが多くなってきている。そのような傾向に伴い、従来のピッチ間隔が広いレーザダイオードと、ピッチ間隔がより狭いレーザダイオードとが光走査装置に選択的に取付可能となってきている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平１１−８４２８３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
一般的に、光走査装置を備えた画像形成装置では、各レーザチップの発光タイミングの位相差を補正する機能を保守用ソフトウェアなどで実行することができる。例えば、サービスマンは、レーザダイオードのデバイス固有のピッチ間隔の製造誤差を設定画面上で入力する。すると、画像形成装置は、上記の保守用ソフトウェアにより、入力された製造誤差に応じてレーザダイオードの各レーザチップの発光タイミングを制御し、デバイス固有の製造誤差を吸収することができる。
【０００７】
ピッチ間隔の公称値が広い（例えば１００μｍ）種類のレーザダイオードと、狭い（例えば３０μｍ）種類のレーザダイオードとでは、製造誤差の許容範囲も異なる。従って、一般的に、上記のような保守用ソフトウェアは、個々の種類のレーザダイオードに対応したものとして設計されている。従って、各種類のレーザダイオードが選択的に取付可能となってきている中、各対応する保守用ソフトウェアを実装している場合、取り付けられているレーザダイオードの種類に応じて保守用ソフトウェアを適切に選択して発光タイミング制御を行う必要がある。
【０００８】
本発明の目的は、このような従来の問題点を解決することにある。本発明は、上記の点に鑑み、取り付けられたレーザダイオードに応じて適切に発光タイミング制御を行う画像形成装置および制御方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決するため、本発明に係る画像形成装置は、レーザダイオードから照射されたレーザにより感光ドラム上に静電潜像を形成する画像形成装置であって、レーザダイオードの光源の発光タイミングを調整するための調整値と、該調整値を識別するための識別情報と、を取得する取得手段と、前記取得手段の取得結果に基づいて、レーザダイオードの種類に応じた発光タイミングの調整を行う調整手段と、を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、取り付けられたレーザダイオードに応じて適切に発光タイミング制御を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】画像形成装置の記録部周辺の構成を示す図である。
【図２】記録部の制御系のブロック構成を示す図である。
【図３】ＥＥＰＲＯＭを内蔵しない場合の制御系のブロック構成を示す図である。
【図４】各レーザチップと、ドラム面上の照射位置とを対応付けて示した図である。
【図５】ピッチ間隔が１００μｍの各レーザチップの配置を示す図である。
【図６】ピッチ間隔が３０μｍの各レーザチップの配置を示す図である。
【図７】２種類のレーザダイオードの発光点間隔を並べて示した図である。
【図８】レーザビームの照射位置の補正について説明するための図である。
【図９】ピッチ間隔の異なるレーザダイオードに置き換えた場合を示す図である。
【図１０】識別情報に応じて発光タイミング制御を切り替える処理を示す図である。
【図１１】各レーザチップの調整値を記述したラベルの一例を示す図である。
【図１２】広ピッチ間隔のレーザダイオードの入力可能な調整値範囲を示す図である
【図１３】識別情報に応じて発光タイミング制御を切り替える他の処理を示す図である。
【図１４】入力可能な調整値範囲とドラム面上の照射位置とを対応づけた図である。
【図１５】１００μｍピッチ間隔のレーザダイオードの照射位置を示す図である。
【図１６】３０μｍピッチ間隔のレーザダイオードの照射位置を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、添付図面を参照して本発明の好適な実施形態を詳しく説明する。尚、以下の実施形態は特許請求の範囲に係る本発明を限定するものでなく、また本実施形態で説明されている特徴の組み合わせの全てが本発明の解決手段に必須のものとは限らない。なお、同一の構成要素には同一の参照番号を付して、説明を省略する。
【００１３】
図１は、本発明に係る実施形態における画像形成装置１００の記録部周辺の構成を示す図である。画像形成装置１００は、レーザビームにより静電潜像を感光ドラム６面上に形成する電子写真方式により記録が行われる。レーザダイオード１は、レーザビームを発光する。コリメータレンズ２は、レーザダイオード１から発光されたレーザビームを集光して指向性を高める。ポリゴンミラー３は、ポリゴンモータ４の駆動により回転してレーザビームを反射し、ドラム６面上でレーザビームを主走査方向に走査する。ｆθレンズ５は、ドラム６面でのレーザビームの移動速度を等速にするためのレンズである。ビームディテクタ（ＢＤセンサ）７は、ポリゴンミラー３の１回転ごと、即ち、ドラム６面上の主走査方向への１ラインの書き込みごとに、レーザビームを検知する。
【００１４】
本実施形態においては、マルチレーザダイオードが用いられており、一例として、４本のレーザビームを発光するマルチレーザビームについて説明する。つまり、本実施形態においては、図１に示すように、４本の各レーザビーム８、９、１０、１１がドラム６面上に主走査方向に平行に照射され、その結果、一度に４ラインの書込みを同時に行い、記録プロセスの速度を向上させることができる。ドラム６面上で、レーザビームの書き込む方向を主走査方向とし、主走査方向に交差するドラム６の回転方向を副走査方向とする。ドラム６面上での各レーザビーム８〜１１の記録間隔は、画像形成装置１００の記録解像度により規定され、本実施形態では、例えば、１２００ｄｐｉとして規定されている。つまり、各レーザビーム８〜１１の記録間隔は、２１．１７μｍとなる。
【００１５】
図２は、図１の記録部の制御系のブロック構成を示す図である。画像形成装置１００において、図１の各部品は、レーザスキャナユニット２００（光走査装置）として構成される。レーザスキャナユニット２００は、レーザダイオード１、ポリゴンモータ４、ＢＤセンサ７、ＦＧセンサ２０５、ＥＥＰＲＯＭ２０６を含む。図１で説明したように、レーザスキャナユニット２００は、一定速度で回転しているポリゴンミラーにレーザビームを照射してドラム６面上の主走査方向に静電潜像を形成していく。その際、まず、ＣＰＵ２０１は、ポリゴンモータ４を起動すると、ＦＧセンサ２０５からのパルス信号に基づいて、その回転速度をモニタし、目標の回転速度となるようポリゴンモータ４を制御する。ポリゴンモータ４が目標の回転速度に到達するとＣＰＵ２０１は、ポリゴンミラー３の回転状態をより高精度にモニタするため、ポリゴンモータ４の回転速度の検出方法をＦＧセンサ２０５の検知信号による方法からＢＤセンサ７の検知信号による方法に切替える。ＣＰＵ２０１は、画像データ入力部２０４により入力された記録対象の画像データに基づいて、ドラム６面上の主走査方向にレーザダイオード１の各レーザチップ（レーザ光源、レーザビーム８〜１１に対応）の発光タイミングを制御する。その結果、ドラム６面上に画像データに対応する静電潜像が形成され、その後、トナーによる現像、シート等の記録媒体への転写、転写されたシートの定着が行われ、印刷出力される。静電潜像以降、印刷出力までの構成は図１及び図２には示されていないが、電子写真方式による画像形成装置に一般的に用いられている構成であれば良い。
【００１６】
ＥＥＰＲＯＭ２０６には、レーザダイオード１の各レーザチップのピッチ間隔の製造誤差を補正するためのパラメータ（調整値）が格納されている。そのような調整値としては、例えば、各レーザチップの発光タイミングや発光強度である。例えば、保守者によってレーザダイオード１の各レーザチップのピッチ間隔の製造誤差がＥＥＰＲＯＭ２０６に格納され、レーザスキャナユニット２００に搭載される。その後、ＣＰＵ２０１は、画像記録を行う際に、搭載されているＥＥＰＲＯＭ２０６に記憶されている調整値を読み出すと、その調整値を不揮発性メモリ２０３に格納し、以降の記録動作においては、不揮発性メモリ２０３に格納された調整値を使用する。
【００１７】
操作部２０２は、パネルディスプレイ等の表示部とハードキー等の入力部とを備えており、記録動作における各設定に関するユーザ操作を受け付ける。図２に示す各ブロックは、システムバス２０７により相互に通信可能に接続されている。また、図２に不図示であるが、汎用的なＲＯＭやＲＡＭもシステムバス２０７に接続されており、ＲＯＭには、読取動作を行うための制御プログラム等が格納されている。制御プログラムには、例えば、上記調整値に基づいてレーザダイオード１の各レーザチップの発光タイミングを制御するためのプログラムも含まれる。ＲＯＭに格納されたプログラムはＣＰＵ２０１によりＲＡＭに読み出されて実行可能であり、その結果、本実施形態の動作も実現される。
【００１８】
図３は、ＥＥＰＲＯＭ２０６を内蔵しない場合の、図１の記録部の制御系のブロック構成を示す図である。図３は、レーザスキャナユニット３００にＥＥＰＲＯＭ２０６が内蔵されていない点で図２と異なる。図３のレーザスキャナユニット３００の構成により、画像形成装置１００をより安価に提供することができる。図３のレーザスキャナユニット３００が画像形成装置１００に搭載された場合、上記の調整値は、ユーザやサービスマンにより操作部２０２を介して入力される。ＣＰＵ２０１は、入力された調整値を不揮発性メモリ２０３に格納し、以降の記録動作においては、不揮発性メモリ２０３に格納された調整値を使用する。図２におけるＥＥＰＲＯＭ２０６を外した状態のレーザスキャナユニット２００を、図３のレーザスキャナユニット３００として動作させることも可能である。以降の説明においては、レーザスキャナユニット２００を、レーザスキャナユニット２００及び３００の代表として説明する。
【００１９】
図４は、レーザダイオード１の各レーザチップと、ドラム６面上での各レーザビームの照射位置（書込位置）と、を対応付けて示した図である。レーザダイオード１の各レーザチップを、レーザチップＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄとする。図４に示すように、レーザチップＡ〜Ｄは、レーザビーム８〜１１に対応している。レーザダイオード１は、各レーザビームの間隔が１２００ｄｐｉとなるように、所定の角度を以ってレーザスキャナユニット２００に取り付けられている。実際には、レーザダイオード１上での各レーザチップのピッチ間隔は、図１に示す光学系レンズ群により拡大されてドラム６面上に投影される。従って、各レンズの倍率や、各レーザチップのピッチ間隔が変更されると、ドラム６面上でのレーザビームの副走査方向の発光点間隔を１２００ｄｐｉに保つために、レーザダイオード１の取付角度は変更される。
【００２０】
図５は、ピッチ間隔が１００μｍ（以下、広ピッチ間隔ともいう）のレーザダイオード１の各レーザチップの配置を示す図である。ここで、レーザスキャナユニット２００の光学系レンズの主走査方向の倍率を３．４９倍とし、副動作方向の倍率を２．５４倍とする。その場合には、レーザダイオード１を図５の水平方向に対して４．７８度回転させると、ドラム６面上での各レーザビームの副走査方向の発光点間隔が次式（１）により２１．１７μｍとなり、１２００ｄｐｉの規定を満たす。
【００２１】
副走査方向の発光点間隔＝１００［μｍ］×ｓｉｎ４．７８×２．５４  ・・・（１）
その際、各レーザビームの主走査方向の発光点間隔（発光タイミング周期）は、次式（２）により３４７．８μｍとなる。
【００２２】
主走査方向の発光点間隔＝１００［μｍ］×ｃｏｓ４．７８×３．４９  ・・・（２）
以下、本実施形態の動作の説明上、記録動作においては、発光タイミング周期ごとに発光させるレーザチップをＡからＤに順に切り替えていくものとする。つまり、その場合、発光タイミング周期（例えば、３４７．８μｍ）は、隣接するレーザチップ（例えば、Ａ−Ｂ間）の発光タイミングの位相差に対応する。
【００２３】
図６は、ピッチ間隔が３０μｍ（以下、狭ピッチ間隔ともいう）のレーザダイオード１の各レーザチップの配置を示す図である。レーザスキャナユニット２００の光学系レンズの主走査方向及び副走査方向の倍率は図５と同じとする。図５のレーザダイオード１を、ピッチ間隔が３０μｍのレーザダイオード１に取り換えた場合、ドラム６面上での副走査方向の発光点間隔を２１．１７μｍに保つために、レーザダイオード１の取付角度は、図６に示すように１６．１３度としなければならない。これは、次式（３）のように、１６．１３度にした場合に副走査方向の発光点間隔が２１．１７μｍとなるからである。
【００２４】
副走査方向の発光点間隔＝３０［μｍ］×ｓｉｎ１６．１３×２．５４  ・・・（３）
しかしながら、その際、各レーザビームの主走査方向の発光点間隔は、次式（４）により１００．６μｍとなる。
【００２５】
主走査方向の発光点間隔＝３０［μｍ］×ｃｏｓ１６．１３×３．４９  ・・・（４）
図７は、図５及び図６の２種類のレーザダイオード１のドラム６面上での発光点間隔を並べて示した図である。図７に示すように、図６の狭ピッチ間隔のレーザダイオード１のレーザチップＡ−Ｄ間の発光点間隔は、図５の広ピッチ間隔のレーザダイオード１のレーザチップＡ−Ｂの発光点間隔内に含まれてしまうほど狭くなっている。
【００２６】
図８は、レーザビームの照射位置の補正について説明するための図である。図８（ａ）は、レーザダイオード１の発光点間隔の公称値と、デバイスの製造誤差に起因する実際の発光点間隔とのずれを示す図である。ここで、公称値とは、例えば、図５の１００μｍであり、又は、図６の３０μｍである。半導体部品は高精度に製造されるものの、ごくわずかではあるが部品の個体差が存在する。また、同様に、レンズの個体差やユニット組み立て時の製造誤差が原因となって、ドラム６面上でのレーザビームの照射位置がユニットごとに微妙に異なることもある。図８（ａ）では、そのようなレーザビームの照射位置のずれが矢印分発生していることを示している。
【００２７】
レーザスキャナユニット２００を搭載した画像形成装置１００は、レーザビームの照射位置のずれ量を取得した場合、そのずれ量に応じて、レーザチップＡに対する、レーザチップＢ〜Ｄの各発光タイミングを早めるか若しくは遅くすることによって発光タイミングを制御し、各レーザビームの発光タイミング周期を揃えるようにする。その結果、副走査方向上の例えば直線などについても、主走査方向のぶれがない所望の画像を得ることができる。
【００２８】
画像形成装置１００における補正可能なずれ量は、画像形成装置１００に固有のものとして予め定められている。例えば、図８（ｂ）に示すように、各レーザチップの発光点の理論上（理想上）の位置を基準として、主走査方向プラス側に６６０μｍまで、及び、マイナス側に−６６０μｍまでの範囲として定められている。発光点の理論上の位置とは、上記の公称値に基づいた発光点のドラム６面上の座標である。ＣＰＵ２０１は、発光タイミングを早めることにより、ドラム６面上の発光点の位置を主走査方向マイナス側に移動させ、また、発光タイミングを遅くすることにより、ドラム６面上の発光点の位置を主走査方向プラス側に移動させることができる。また、移動（補正）は所定単位で行われ、例えば、主走査方向上１．３２μｍずつ行われる。その場合、主走査方向プラス側およびマイナス側にそれぞれ、５１２段階の補正が可能となる。そのような補正可能範囲は、デバイスの固体差や製造誤差の発生を十分にカバーできる範囲として定められている。
【００２９】
上記のような発光タイミングの補正制御は、例えば、画像形成装置１００に実装される保守用ソフトウェア（制御プログラム）によって実行される。広ピッチ間隔のレーザダイオード１と、狭ピッチ間隔のレーザダイオード１とでは、製造誤差の許容範囲が異なるので、一般的に、上記のような保守用ソフトウェアは、レーザダイオードに対応して設計されている。
【００３０】
図９は、１００ｕｍピッチ間隔のレーザダイオード１を、３０ｕｍピッチ間隔のレーザダイオード１に置き換えた場合を示す図である。図９の場合、画像形成装置１００は、１００μｍピッチ間隔のレーザダイオード１に対応した保守用ソフトウェアを運用している。また、その保守用ソフトウェアでは、各レーザチップのドラム６面上の発光点の位置の補正可能範囲は、発光点の理論上の位置を基準として、主走査方向上±６６０μｍの範囲として定められている。そして、１００ｕｍピッチ間隔のレーザダイオード１を、３０ｕｍピッチ間隔のレーザダイオード１に置き換えるとする。すると、図９に示すように、３０μｍピッチ間隔のレーザチップＡ−Ｄの主走査方向の発光点間隔が、１００μｍピッチ間隔のレーザチップＡ−Ｂの主走査方向の発光点間隔内に含まれてしまう。その場合、レーザチップＢ及びＣの発光点の位置は、±６６０μｍの補正可能範囲内にあるので補正可能であるものの、レーザチップＤの発光点の位置は補正可能範囲外となるので、補正できなくなってしまう。その結果、各レーザビームの発光タイミング周期が不揃いとなり、画質劣化を招いてしまう。
【００３１】
上記のようなことは、たとえ画像形成装置１００が１００μｍピッチ間隔と３０μｍピッチ間隔のレーザダイオードに対応した２種類の保守用ソフトウェアを実装していたとしても起こり得る。そこで、本実施形態では、レーザダイオード１を置き換えた時点での新しい方のレーザダイオード１の調整値の情報を取得すると、その調整値の情報に基づいて、いずれの種類のレーザダイオードが取り付けられているかを判定する。そして、適切な保守用ソフトウェアを選択して発光タイミング制御を行う。
【００３２】
図１０は、保守者がＥＥＰＲＯＭ２０６に、１００μｍピッチ間隔のレーザダイオード１と、３０μｍピッチ間隔のレーザダイオード１とを識別するための識別情報を格納しておき、その識別情報に応じて発光タイミング制御を切り替える処理を示す図である。
【００３３】
保守者がＥＥＰＲＯＭ２０６をレーザスキャナユニット２００に装着すると、ＣＰＵ２０１は、ＥＥＰＲＯＭ２０６内の所定領域にアクセスして識別情報を読み出し、いずれのピッチ間隔のレーザダイオード１が装着されたかを判定する（Ｓ１００１）。その際の識別情報は、レーザダイオード１の種類を識別できるものであれば良い。例えば、識別情報を示すビット列の先頭ビットが「０」であれば、１００μｍピッチ間隔のレーザダイオード１が取り付けられたと判定し、先頭ビットが「１」であれば、３０μｍピッチ間隔のレーザダイオード１が取り付けられたと判定するようにしても良い。
【００３４】
Ｓ１００１で１００μｍピッチ間隔（広ピッチ間隔）のレーザダイオード１が取り付けられたと判定された場合には、Ｓ１００２に進み、３０μｍピッチ間隔（狭ピッチ間隔）のレーザダイオード１が取り付けられたと判定された場合には、Ｓ１００６に進む。
【００３５】
Ｓ１００２において、ＣＰＵ２０１は、広ピッチ間隔のレーザダイオード１に対応した保守用ソフトウェアを起動して処理を開始する。そして、Ｓ１００３において、ＣＰＵ２０１は、各レーザチップの発光点のドラム６面上のゼロ点を、レーザダイオード１の公称値１００μｍに基づいて設定する。ゼロ点とは、調整値に基づいて調整を行う基準となるドラム６面上の座標である。
【００３６】
Ｓ１００４において、ＣＰＵ２０１は、Ｓ１００１で読み出した識別情報に含まれる調整値に基づいて、各レーザチップの発光点のドラム６面上の補正位置を設定する。例えば、識別情報のビット列の所定ビットの表わす値が＋６であるならば、ドラム６面上の主走査方向上の位置をプラス方向に６移動させた位置を補正位置として設定する。Ｓ１００５において、ＣＰＵ２０１は、Ｓ１００４で設定された補正位置に対応して、各レーザチップの発光タイミングを制御する。例えば、主走査方向上プラスに補正された場合には、発光タイミングをその分遅らせ、主走査方向上マイナスに補正された場合には、発光タイミングをその分早める。
【００３７】
一方、Ｓ１００６において、ＣＰＵ２０１は、狭ピッチ間隔のレーザダイオード１に対応した保守用ソフトウェアを起動して処理を開始する。そして、Ｓ１００７において、ＣＰＵ２０１は、各レーザチップの発光点のドラム６面上のゼロ点を、レーザダイオード１の公称値３０μｍに基づいて設定する。Ｓ１００８において、ＣＰＵ２０１は、Ｓ１００１で読み出した識別情報に含まれる調整値に基づいて、各レーザチップの発光点のドラム６面上の補正位置を設定する。Ｓ１００９において、ＣＰＵ２０１は、Ｓ１００８で設定された補正位置に対応して、各レーザチップの発光タイミングを制御する。
【００３８】
上記では、ＥＥＰＲＯＭ２０６に識別情報を記憶させておく方法を説明したが、以下、他の方法について説明する。
【００３９】
図１１は、レーザダイオード１の置換えの際に、保守者が各レーザチップの調整値を記述するラベルの一例を示す図である。図１１に示すラベルは、レーザスキャナユニット２００の外装部品に貼り付けられている。調整値１１０１はレーザチップＢの調整値を示し、調整値１１０２はレーザチップＣの調整値を示し、調整値１１０３はレーザチップＤの調整値を示す。以下、レーザチップのピッチ間隔が１００μｍのレーザダイオード１の発光点の位置の補正可能範囲、即ち、入力可能な調整値範囲を、主走査方向上、−５１２〜＋５１１までとする。その場合には、１０２４段階に補正可能である。しかしながら、実際には、レーザダイオード１のデバイス個体差や製造組み立て誤差により、１０２４段階の補正を必要とするようなずれは生じず、現実的には、１０２４段階中、１０段階程度の使用に留まる。つまり、調整値の入力受付の仕様上存在するものの、現実には使うことのない調整値の入力範囲が少なくても９００段階以上あるということになる。
【００４０】
本実施形態においては、そのような現実的には使用することのない調整値範囲を用いて、レーザダイオード１のピッチ間隔に応じた発光タイミング制御の切り替えを行う。
【００４１】
図１２（ａ）は、１００μｍピッチ間隔（広ピッチ間隔）のレーザダイオード１の入力可能な調整値範囲を示す図である。図１２（ａ）に示すように、保守者は、調整値として、ゼロ点を基準とした−５１２〜＋５１１の範囲の値を入力可能である。図１２（ｂ）は、１００μｍピッチ間隔のレーザダイオードの調整値範囲の一部を、３０μｍピッチ間隔（狭ピッチ間隔）のレーザダイオード１の調整値の範囲として割り当てた例を示す図である。図１２（ｂ）に示すように、１００μｍピッチ間隔のレーザダイオード１の入力可能な調整値範囲のうち、＋１０１〜＋５１１の範囲が３０μｍピッチ間隔のレーザダイオード１の調整値の範囲として割り当てられている。また、１００μｍピッチ間隔のレーザダイオード１の入力可能な調整値範囲は、−５１２〜＋１００となる。
【００４２】
例えば、製造者等の第１の保守者が１００μｍピッチ間隔のレーザダイオード１のレーザチップＢの調整値を「−２」とする必要があると判断した場合を説明する。その場合には、図１１の調整値１１０１に「−２」を記述し、図１１のラベルをレーザスキャナユニット２００の外装部品に貼り付ける。その後、サービスマン等の第２の保守者が、操作部２０２のパネルディスプレイ上にレーザダイオード１の調整用の設定画面を表示させ、レーザチップＢの調整値の入力項目に「−２」を入力する。ＣＰＵ２０１は、「−２」という値は−５１２〜＋１００の範囲の値であるので、まず、第１の保守者が調整値を設定した対象は１００μｍピッチ間隔のレーザダイオード１のレーザチップＢであると判定する。そして、ＣＰＵ２０１は、１００μピッチ間隔のレーザダイオード１に対応した保守用ソフトウェアを起動し、調整値「−２」に基づいてレーザチップＢの発光タイミングを制御する。
【００４３】
一方、例えば、第１の保守者が１００μｍピッチ間隔のレーザダイオード１を３０μｍピッチ間隔のレーザダイオード１に取り換えて、レーザチップＢの調整値を「−２」とする必要があると判断した場合を説明する。その場合には、図１１の調整値１１０１に、「−２」に３００を加算した値「２０８」を記述し、図１１のラベルをレーザスキャナユニット２００の外装部品に張り付ける。その後、第２の保守者が、走査部２０２のパネルディスプレイ上にレーザダイオード１の調整用の設定画面を表示し、レーザチップＢの調整値の入力項目に「２０８」を入力する。ＣＰＵ２０１は、「２０８」という値は＋１０１〜＋５１１の範囲の値であるので、まず、第１の保守者が調整値を設定した対象は３０μｍピッチ間隔のレーザダイオード１のレーザチップＢであると判定する。そして、ＣＰＵ２０１は、３０μｍピッチ間隔のレーザダイオード１に対応した保守用ソフトウェアを起動し、調整値「２０８」から３００を減算した値「−２」に基づいてレーザチップＢの発光タイミングを制御する。
【００４４】
以上のように、従来の入力可能な調整値範囲のうち、現実的に使用されない範囲を、調整対象のレーザダイオードの種類を識別するための識別情報の領域として、且つ、調整値の領域として割り当てる。そのような構成により、複数種類のピッチ間隔のレーザダイオードがレーザスキャナユニット２００に選択的に取付可能であっても、新たな識別情報を用いることなく、第１の保守者が選択したレーザダイオードの種類に基づいて適切なレーザダイオードの発光タイミングの制御を行うことができる。
【００４５】
以上の例において、例えば、第１の保守者が、図１１のラベルの調整値１１０１〜１１０３をそれぞれ、「＋５」、「＋３００」、「＋２００」と入力したとする。その場合、ＣＰＵ２０１は、レーザダイオード１の調整用の設定画面上で受け付けた上記３つの値のうち、少なくとも１つが＋１０１〜＋５１１の範囲にある場合には、第１の保守者が調整値を設定した対象は３０μｍピッチ間隔のレーザダイオード１であると判定する。そして、ＣＰＵ２０１は、３０μｍピッチ間隔のレーザダイオード１に対応した保守用ソフトウェアを起動するとともに、各調整値から３００を減算した値を求める。つまり、上記３つの調整値の場合には、「−２９５」、「０」、「−１００」を算出する。そして、ＣＰＵ２０１は、レーザチップＢの発光タイミングを調整値「−２９５」に基づいて制御し、レーザチップＤの発光タイミングを調整値「−１００」に基づいて制御する。また、レーザチップＣについては、調整値「０」であるので、ゼロ点の位置（公称値に基づくドラム６面上の位置）にレーザビームが照射される。
【００４６】
また、第１の保守者が、図１１のラベルの調整値１１０１〜１１０３をそれぞれ、「−３」、「＋５」、「−１１」と入力したとする。その場合、ＣＰＵ２０１は、レーザダイオード１の調整用の設定画面上で受け付けた上記３つの値のうち、少なくとも１つが＋１０１〜＋５１１の範囲にあるか否かを判定する。この場合、調整値は範囲外であるため、ＣＰＵ２０１は１００μｍピッチ間隔のレーザダイオードに対応した保守用ソフトウェアを起動する。そして、ＣＰＵ２０１は、レーザチップＢの発光タイミングを調整値「−３」に基づいて制御し、レーザチップＣの発光タイミングを調整値「＋５」に基づいて制御し、レーザチップＤの発光タイミングを調整値「−１１」に基づいて制御する。
【００４７】
図１３は、発光タイミング制御の切換処理を示すフローチャートである。第１の保守者が操作部２０２のパネルディスプレイ上でレーザチップＢ、Ｃ、Ｄの各調整値を入力すると、ＣＰＵ２０１は、−５１２〜＋１００の範囲の値が少なくとも１つあるか否かを判定する（Ｓ１３０１）。ここで、−５１２〜＋１００の範囲の値が少なくとも１つあると判定された場合には、Ｓ１３０６に進み、ないと判定された場合には、Ｓ１３０２に進む。
【００４８】
Ｓ１３０２において、ＣＰＵ２０１は、広ピッチ間隔のレーザダイオード１に対応した保守用ソフトウェアを起動して処理を開始する。そして、Ｓ１３０３において、ＣＰＵ２０１は、各レーザチップの発光点のドラム６面上のゼロ点を、レーザダイオード１の公称値１００μｍに基づいて設定する。
【００４９】
Ｓ１３０４において、ＣＰＵ２０１は、Ｓ１３０１で受け付けた調整値に基づいて、各レーザチップの発光点のドラム６面上の補正位置を設定する。例えば、識別情報のビット列の所定ビットの表わす値が＋６であるならば、ドラム６面上の主走査方向上の位置をプラス方向に＋６移動させた位置を補正位置として設定する。Ｓ１３０５において、ＣＰＵ２０１は、Ｓ１３０４で設定された補正位置に対応して、各レーザチップの発光タイミングを制御する。例えば、主走査方向上プラスに補正された場合には、発光タイミングをその分遅らせ、主走査方向上マイナスに補正された場合には、発光タイミングをその分早める。
【００５０】
一方、Ｓ１３０６において、ＣＰＵ２０１は、狭ピッチ間隔のレーザダイオード１に対応した保守用ソフトウェアを起動して処理を開始する。そして、Ｓ１３０７において、ＣＰＵ２０１は、各レーザチップの発光点のドラム６面上のゼロ点を、レーザダイオード１の公称値３０μｍに基づいて設定する。Ｓ１００８において、ＣＰＵ２０１は、Ｓ１３０１で受け付けた各調整値から３００を減算する。例えば、「１００」、「１０１」、「３００」と入力された場合には、「−２００」、「−１９９」、「０」が求められる。その減算された値に基づいて、各レーザチップの発光点のドラム６面上の補正位置を設定する。Ｓ１３０９において、ＣＰＵ２０１は、Ｓ１３０８で設定された補正位置に対応して、各レーザチップの発光タイミングを制御する。
【００５１】
図１４は、従来の、１種類のピッチ間隔のレーザダイオードのみが取り付けられるレーザスキャナユニットの場合の入力可能な調整値範囲と、ドラム面上の各レーザビームの照射位置とを対応づけた図である。図１４では、レーザチップＢについて、−５１２〜＋５１１の範囲の値が入力可能であることが示されている。
【００５２】
図１５は、本実施形態における、２種類のピッチ間隔（１００μｍと３０μｍ）のレーザダイオードが選択的に取り付けられるレーザスキャナユニット２００において、レーザチップＢ〜Ｄについての調整値が−５１２〜＋１００の範囲の値で入力された場合のドラム６面上での各レーザビームの照射位置を示す図である。図１５に示すように、ＣＰＵ２０１は、レーザチップＢ〜Ｄについて、−５１２〜＋１００の範囲の調整値に基づいて発光タイミング制御を行う。ドラム６面上の各レーザビームの照射位置は、−５１２〜＋１００の調整値に対応した範囲となる。図１５では、入力可能な調整値範囲が、図１４と異なり、プラス側への調整幅が狭くなっているが、１００段階の補正が可能であるので実用上問題ない。
【００５３】
図１６は、本実施形態における、２種類のピッチ間隔（１００μｍと３０μｍ）のレーザダイオードが選択的に取り付けられるレーザスキャナユニット２００において、少なくとも１つのレーザチップについての調整値が＋１０１〜＋５１１の範囲の値で入力された場合のドラム６面上での各レーザビームの照射位置を示す図である。図１６に示すように、ＣＰＵ２０１は、レーザチップＢ〜Ｄについて、＋１０１〜＋５１１から３００を減算した−１９９〜＋２１１の範囲の調整値に基づいて発光タイミング制御を行う。ドラム６面上の各レーザビームの照射位置は、−１９９〜＋２１１の調整値に対応した範囲となる。図１６においても、プラス側に２１１段階、マイナス側に１９９段階の補正が可能であるので、実用上問題ない。
【００５４】
以上のように、入力される調整値が−５１２〜＋１００の範囲内であるか否かによってレーザチップのピッチ間隔を識別し、その上で、適切な調整値に基づいて各レーザチップの発光タイミングを制御し、ドラム６面上での照射位置を最適化させることができる。その結果、各レーザビームの発光点間隔（発光タイミング周期）が不揃いになることによる画質劣化を防ぐことができる。
【００５５】
また、本実施形態において、１００μｍピッチ間隔、３０μｍピッチ間隔のレーザダイオードを例とした。しかしながら、画像形成装置１００が実装している保守用ソフトウェアと、調整対象のレーザダイオードとが対応しているのであれば、他のピッチ間隔の場合でも、本実施形態の動作を実現することができる。
【００５６】
また、ピッチ間隔が２種類のレーザダイオードだけではなく、３種類以上のレーザダイオードにも、既存調整値の範囲を細かく分割することで本実施形態の動作を実現することができる。例えば、１００μｍピッチ間隔、５０μｍピッチ間隔、３０μｍピッチ間隔のレーザダイオード１が選択的にレーザスキャナユニット２００に取付可能であるとする。その場合、＋１０１〜＋５１１の範囲をさらに、＋１０１〜＋３００の第２の範囲（２００を基準値とする）と、＋３０１〜＋５１１の第３の範囲（４００を基準値とする）に分割しても良い。その場合、入力された調整値が全てのレーザチップについて−５１２〜＋１００の第１の範囲内の値である場合には、１００μｍピッチ間隔のレーザダイオード１が取り付けられていると判定し、０の点を中心として調整値に基づいて発光タイミングを制御する。
【００５７】
また、入力された調整値が全てのレーザチップについて第２の範囲内の値である場合には、５０μｍピッチ間隔のレーザダイオード１が取り付けられていると判定し、入力された調整値から２００を減算した値に基づいて、２００の位置を基準とした発光タイミング制御を行う。その場合、第１の保守者が図１１のラベルに記述する際には、所望する調整値に２００を加算した値を記述することになる。
【００５８】
また、入力された調整値が全てのレーザチップについて第３の範囲内の値である場合には、３０μｍピッチ間隔のレーザダイオード１が取り付けられていると判定し、入力された調整値から４００を減算した値に基づいて、４００の位置を基準とした発光タイミング制御を行う。その場合、第１の保守者が図１１のラベルに記述する際には、所望する調整値に４００を加算した値を記述することになる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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