(57)【要約】【課題】熱雑音や量子化誤差の影響を低減できる光センサを提供する。【解決手段】サンプルホールド回路３１に、サンプリング期間において複数回のサンプリングを行わせる。また、ＡＤ変換回路３２に、サンプルホールド回路３１でサンプリングされた複数のサンプリング値から２つのサンプリング値の組を複数組選択させ、選択した複数組における２つのサンプリング値の差分値をそれぞれデジタル信号に変換させる。そして、ＡＤ変換回路３２で変換されたそれぞれのデジタル信号の時間に対する傾きを平均化して出力する平均化回路４０を備える。【選択図】図１
2015141033.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定光源からの受光量に応じたアナログ信号を出力する受光素子（１１）と、
前記アナログ信号をサンプリングして保持するサンプルホールド回路（３１）と、
前記アナログ信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換回路（３２）と、を備え、
前記サンプルホールド回路は、サンプリング期間において複数回のサンプリングを行い、
前記ＡＤ変換回路は、前記サンプルホールド回路でサンプリングされた複数のサンプリング値から２つのサンプリング値の組を複数組選択し、選択した前記複数組における２つのサンプリング値の差分値をそれぞれ前記デジタル信号に変換し、
前記ＡＤ変換回路で変換されたそれぞれの前記デジタル信号の時間に対する傾きを平均化して出力する平均化回路（４０）を有していることを特徴とする光センサ。
【請求項２】
前記ＡＤ変換回路は、前記２つのサンプリング値の組を複数組選択する際、一方のサンプリング値を共通とすることを特徴とする請求項１に記載の光センサ。
【請求項３】
前記ＡＤ変換回路は、前記２つのサンプリング値の組を複数組選択する際、各組の基準値となるサンプリング値をそれぞれ異ならせることを特徴とする請求項１に記載の光センサ。
【請求項４】
前記サンプリング期間は、前記受光素子に蓄積された電荷をリセットした後からの所定期間であることを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１つに記載の光センサ。
【請求項５】
前記測定光源は、交流電圧にて駆動されるものであり、
前記測定光源の光源輝度の周期に基づき、前記サンプルホールド回路における前記サンプリング期間を前記光源輝度の周期の自然数倍にする制御回路（５０）を備えることを特徴とする請求項１ないし４のいずれか１つに記載の光センサ。
【請求項６】
前記制御回路は、前記サンプリング期間を５０ｍｓの自然数倍とすることを特徴とする請求項５に記載の光センサ。
【請求項７】
前記測定光源からの受光量に応じた検出信号を出力する調査素子（６１）と、
前記調査素子からの検出信号に基づいて前記測定光源の光源輝度の周期を解析する解析回路（６３）と、を備え、
前記制御回路は、前記解析回路の解析に基づき、前記サンプリング期間を調整することを特徴とする請求項５に記載の光センサ。
【請求項８】
ＧＰＳ受信機（６４）と、
前記ＧＰＳ受信機が受信したＧＰＳ信号から前記測定光源の現在地を取得する解析回路（６５）と、を備え、
前記制御回路は、前記解析回路の解析に基づき、前記サンプリング期間を調整することを特徴とする請求項５に記載の光センサ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定光源からの受光量に応じたセンサ信号を出力する受光素子を有する光センサに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来より、例えば、特許文献１には、撮像素子を備える端末装置が提案されている。具体的には、この端末装置では、撮像素子から出力されるセンサ信号（アナログ信号）をＡＤ変換回路でデジタル信号に変換し、当該デジタル信号に基づいて各種の処理を行っている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００２−３７４４５６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、撮像素子から出力されるセンサ信号（アナログ信号）には、撮像素子自体の熱による熱雑音（熱ノイズ）が含まれる。また、ＡＤ変換回路でアナログ信号をデジタル信号に変換する際には、量子化誤差が発生する。このため、デジタル信号に基づいて各種の処理を行う場合、誤動作が発生することがあるという問題がある。
【０００５】
本発明は上記点に鑑みて、熱雑音や量子化誤差の影響を低減できる光センサを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するため、請求項１に記載の発明では、測定光源からの受光量に応じたアナログ信号を出力する受光素子（１１）と、アナログ信号をサンプリングして保持するサンプルホールド回路（３１）と、アナログ信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換回路（３２）とを備え、以下の点を特徴としている。
【０００７】
すなわち、サンプルホールド回路は、サンプリング期間において複数回のサンプリングを行い、ＡＤ変換回路は、サンプルホールド回路でサンプリングされた複数のサンプリング値から２つのサンプリング値の組を複数組選択し、選択した複数組における２つのサンプリング値の差分値をそれぞれデジタル信号に変換し、ＡＤ変換回路で変換されたそれぞれのデジタル信号の時間に対する傾きを平均化して出力する平均化回路（４０）を有していることを特徴としている。
【０００８】
これによれば、各デジタル信号の時間に対する傾きを平均化して出力する際、各デジタル信号に含まれる熱雑音や量子化誤差が相殺されるため、平均化回路から出力した信号に熱雑音や量子化誤差が含まれることを抑制できる。
【０００９】
また、請求項５に記載の発明のように、測定光源が交流電圧にて駆動されるものである場合には、測定光源の光源輝度の周期に基づき、サンプルホールド回路におけるサンプリング期間を光源輝度の周期の自然数倍にする制御回路（５０）を備えるようにしてもよい。
【００１０】
これによれば、測定光源が交流電圧にて駆動されるものであっても検出精度が低下することを抑制できる。
【００１１】
なお、この欄および特許請求の範囲で記載した各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものである。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の第１実施形態における光センサの全体構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示す光センサのタイミングチャートである。
【図３】熱雑音によるセンサ信号と時間との関係を示す図である。
【図４】本発明の第２実施形態における光センサのタイミングチャートである。
【図５】交流電圧にて駆動される測定光源の光源輝度と時間との関係を示す図である。
【図６Ａ】交流電圧にて駆動される測定光源のサンプリング期間と光源周期との関係を示す図であり、サンプリング期間が光源周期の自然数倍でない場合の図である。
【図６Ｂ】交流電圧にて駆動される測定光源のサンプリング期間と光源周期との関係を示す図であり、サンプリング期間が光源周期の自然数倍である場合の図である。る。
【図７】本発明の第５実施形態における光センサの全体構成を示すブロック図である。
【図８】本発明の第６実施形態における光センサの全体構成を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各実施形態相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、同一符号を付して説明を行う。
【００１４】
（第１実施形態）
本発明の第１実施形態について図面を参照しつつ説明する。図１に示されるように、光センサは、フォトセル１０と、増幅回路２０と、相関二重サンプリング回路３０と、平均化回路４０と、制御回路５０とを備えている。
【００１５】
フォトセル１０は、測定光源からの受光量に応じたセンサ信号（アナログ信号）を出力するフォトダイオード１１を有している。そして、フォトダイオード１１は、第１スイッチング素子１２を介して増幅回路２０に接続されていると共に、第２スイッチング素子１３を介してグランドに接続されている。
【００１６】
なお、本実施形態では、フォトダイオード１１が本発明の受光素子に相当している。また、第１、第２スイッチング素子１２、１３は、例えば、トランジスタ等のスイッチング素子が用いられ、制御回路５０からの制御信号Ｓ１、Ｓ２によってオン、オフが制御されるようになっている。
【００１７】
増幅回路２０は、周知のオペアンプ等を用いて構成されており、フォトセル１０（フォトダイオード１１）から出力されたセンサ信号を所定倍に増幅する。
【００１８】
相関二重サンプリング回路３０は、サンプルホールド回路（以下では、Ｓ／Ｈ回路という）３１およびＡＤ変換回路３２を有している。Ｓ／Ｈ回路３１は、制御回路５０からの制御信号Ｓ３に基づき、増幅回路２０で増幅されたセンサ信号の所定時の電圧値をサンプリングしてレジスタ等の記憶手段に記憶する。なお、本実施形態では、サンプリングした電圧値が本発明のサンプリング値に相当する。
【００１９】
ＡＤ変換回路３２は、制御回路５０からの制御信号Ｓ４に基づき、Ｓ／Ｈ回路３１でサンプリングされた複数の電圧値から２つの電圧値（サンプリング値）の組を複数組選択する。そして、選択した複数組における２つの電圧値の差分値をそれぞれデジタル信号に変換して平均化回路４０に出力する。本実施形態では、ＡＤ変換回路３２は、２つの電圧値の組を複数組選択する際、一方の電圧値を共通としている。具体的には、Ｓ／Ｈ回路３１で１回目にサンプリングした電圧値Ｖ１と、２回目以降にサンプリングした電圧値Ｖ２〜Ｖｎとの差分値｛（Ｖ２〜Ｖｎ）−Ｖ１｝をそれぞれデジタル信号ＡＤ１〜ＡＤｎ−１に変換する。
【００２０】
平均化回路４０は、ＡＤ変換回路３２からデジタル信号ＡＤ１〜ＡＤｎ−１が入力されると、入力されたデジタル信号ＡＤ１〜ＡＤｎ−１をレジスタ等の記憶手段に記憶する。そして、制御回路５０からの制御信号Ｓ５に基づき、記憶手段に記憶された各デジタル信号ＡＤ１〜ＡＤｎ−１の時間に対する傾きの平均値を演算し、演算した結果を出力する。
【００２１】
具体的には、平均化回路４０には、本実施形態では、Ｓ／Ｈ回路３１に入力される制御信号Ｓ３と同じ制御信号Ｓ３が入力されるようになっている。このため、制御信号Ｓ３に基づき、デジタル信号ＡＤ１〜ＡＤｎ−１に相当する期間を演算する。例えば、デジタル信号ＡＤ１は、Ｓ／Ｈ回路３１で２回目にサンプリングした電圧値Ｖ２と１回目にサンプリングした電圧値Ｖ１との差分値Ｖ２−Ｖ１に対するデジタル信号である。このため、Ｓ／Ｈ回路３１で行った２回目のサンプリングと１回目のサンプリングとの間の期間を演算する。そして、各デジタル信号ＡＤ１〜ＡＤｎ−１と、各デジタル信号ＡＤ１〜ＡＤｎ−１に対する期間とを用いて、サンプリング期間における各デジタル信号ＡＤ１〜ＡＤｎ−１の時間に対する傾きの平均値を演算する。
【００２２】
制御回路５０は、タイミング回路を有するものであり、所定のタイミングでパルス信号である制御信号Ｓ１〜Ｓ５を出力して第１、第２スイッチング素子１２、１３、Ｓ／Ｈ回路３１、ＡＤ変換回路３２、平均化回路４０を制御する。
【００２３】
以上が本実施形態における光センサの構成である。次に、このような光センサの作動について図１および図２を参照しつつ説明する。
【００２４】
図１および図２に示されるように、制御回路５０は、制御信号Ｓ１を出力して第１スイッチング素子１２をオンしてフォトダイオード１１と増幅回路２０とを接続した後、制御信号Ｓ２を出力して第２スイッチング素子１３を所定期間オンする。第２スイッチング素子１３を所定期間オンするのは、フォトダイオード１１に蓄積されている電荷を一旦リセットするためである。
【００２５】
そして、第２スイッチング素子１３がオフされると、フォトダイオード１１から受光量に応じたセンサ信号が出力され、制御回路５０は、適宜制御信号Ｓ３〜Ｓ５を出力してＳ／Ｈ回路３１、ＡＤ変換回路３２、平均化回路４０を制御する。
【００２６】
具体的には、制御回路５０は、サンプリング期間において、Ｓ／Ｈ回路３１が複数回のサンプリングを行うように制御信号Ｓ３を出力する。これにより、Ｓ／Ｈ回路３１は、サンプリング期間において、複数回のサンプリングを行う。すなわち、Ｓ／Ｈ回路３１は、サンプリング期間において、複数の電圧値Ｖ１〜Ｖｎを取得する。
【００２７】
また、制御回路５０は、ＡＤ変換回路３２に、制御信号Ｓ４を出力する。これにより、ＡＤ変換回路３２は、Ｓ／Ｈ回路３１がサンプリングした１回目の電圧値Ｖ１と、２回目以降の電圧値Ｖ２〜Ｖｎとの差分値｛（Ｖ２〜Ｖｎ）−Ｖ１｝をデジタル信号ＡＤ１〜ＡＤｎ−１に変換する。そして、当該デジタル信号ＡＤ１〜ＡＤｎ−１を平均化回路４０に出力する。
【００２８】
平均化回路４０は、デジタル信号ＡＤ１〜ＡＤｎ−１が入力されると、当該デジタル信号ＡＤ１〜ＡＤｎ−１を記憶手段に一旦記憶する。また、平均化回路４０には、Ｓ／Ｈ回路３１に出力される制御信号Ｓ３と同じ制御信号Ｓ３が入力されるため、１回目に入力された制御信号Ｓ３と、２回目以降に入力された制御信号Ｓ３との間の期間を演算する。つまり、各デジタル信号ＡＤ１〜ＡＤｎ−１に対する期間を演算する。
【００２９】
そして、制御回路５０は、サンプリング期間が経過すると、平均化回路４０に制御信号Ｓ５を出力する。これにより、平均化回路４０は、記憶手段に記憶されているデジタル信号ＡＤ１〜ＡＤｎ−１と、演算した各デジタル信号ＡＤ１〜ＡＤｎ−１に対する期間とを用いて、各デジタル信号ＡＤ１〜ＡＤｎ−１の時間に対する傾きの平均値を演算して外部回路に出力する。その後、図示しない外部回路にて出力された傾きから測定光源の輝度が測定される。
【００３０】
以上説明したように、本実施形態では、ＡＤ変換回路３２で変換された各デジタル信号ＡＤ１〜ＡＤｎ−１の時間に対する傾きを平均化して出力している。このため、出力される信号に熱雑音や量子化誤差が含まれることを抑制でき、検出精度が低下することを抑制できる。
【００３１】
すなわち、図３に示されるように、フォトダイオード１１からのセンサ信号は、理想的には時間に比例する理想信号線となる。しかしながら、実際にはフォトダイオード１１自体の熱雑音により、理想信号線に対して正誤差と負誤差とが印加される。つまり、センサ信号は、理想信号線に対して正誤差が印加された正誤差信号線と負誤差が印加された負誤差信号線との間をばらついた信号となる。
【００３２】
このため、サンプリング期間において、サンプリング開始時の電圧値と、サンプリング終了時の電圧値との差分値から傾きを演算すると、検出精度が低下することがある。例えば、サンプリング開始時のセンサ信号が正誤差信号線上にあり、サンプリング終了時のセンサ信号が負誤差信号線上にある場合には、理想信号線より傾きが小さくなる。一方、サンプリング開始時のセンサ信号が負誤差信号線上にあり、サンプリング終了時のセンサ信号が正誤差信号線上にある場合には、理想信号線に対して傾きが大きくなる。
【００３３】
これに対し、本実施形態では、各デジタル信号ＡＤ１〜ＡＤｎ−１の時間に対する傾きの平均値を演算している。このため、各デジタル信号ＡＤ１〜ＡＤｎ−１には、熱雑音や量子化誤差が含まれるが、これらの平均を演算することによって各デジタル信号ＡＤ１〜ＡＤｎ−１に含まれる熱雑音や量子化誤差を互いに相殺することができる。したがって、検出精度が低下することを抑制できる。
【００３４】
（第２実施形態）
本発明の第２実施形態について説明する。本実施形態は、第１実施形態に対してＡＤ変換回路３２で選択する電圧値を変更したものであり、その他に関しては第１実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
【００３５】
本実施形態では、図４に示されるように、ＡＤ変換回路３２は、デジタル信号に変換する際、変換する各組の基準値となる電圧値がそれぞれ異なるようにしている。
【００３６】
具体的には、本実施形態のＡＤ変換回路３２は、４回目にサンプリングした電圧値Ｖ４と１回目にサンプリングした電圧値Ｖ１との差分値Ｖ４−Ｖ１、５回目にサンプリングした電圧値Ｖ５と２回目にサンプリングした電圧値Ｖ２との差分値Ｖ５−Ｖ２、６回目にサンプリングした電圧値Ｖ６と３回目にサンプリングした電圧値Ｖ３との差分値Ｖ６−Ｖ３をデジタル信号ＡＤ１〜ＡＤ３に変換する。つまり、デジタル信号ＡＤ１では電圧値Ｖ１が基準値とされ、デジタル信号ＡＤ２では電圧値Ｖ２が基準値とされ、デジタル信号ＡＤ３では電圧値Ｖ３が基準値とされている。また、図４では、全てを図示していないが、実際にはさらに複数の電圧値をデジタル信号に変換し、ｎ−１回目の電圧値Ｖｎ−１とｎ＋２回目の電圧値Ｖｎ＋２との差分値Ｖｎ＋２−Ｖｎ−１をデジタル信号ＡＤｎ−１に変換する。
【００３７】
これによれば、１回目のサンプリング値に大きな熱雑音や量子化誤差が含まれるような場合であっても、複数の基準値を用いるため、検出精度をさらに向上できる。
【００３８】
なお、各組の基準値となる電圧値が異なっていれば、選択する電圧値は適宜変更可能である。例えば、２回目にサンプリングした電圧値Ｖ２と１回目にサンプリングした電圧値Ｖ１との差分値Ｖ２−Ｖ１をデジタル信号ＡＤ１に変換し、４回目にサンプリングした電圧値Ｖ４と３回目にサンプリングした電圧値Ｖ３との差分値Ｖ４−Ｖ３をデジタル信号ＡＤ２に変換するようにしてもよい。
【００３９】
（第３実施形態）
本発明の第３実施形態について説明する。本実施形態は、第１実施形態に対して交流電圧にて駆動されるものを測定光源とするものであり、その他に関しては第１実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
【００４０】
本実施形態は、基本的には第１実施形態と同様の構成であるが、交流電圧にて駆動されるものを測定光源としている。このため、図５に示されるように、測定光源の光源輝度は、位相ａや位相ｂのように周期的に変化する。なお、交流電圧にて駆動される光源輝度の周期（以下では、光源周期という）は、駆動（印加）される交流電圧の周期の１／２周期となることが知られている。
【００４１】
そして、本実施形態では、サンプリング期間を光源周期の自然数（１、２、３…）倍としている。ここで、サンプリング期間と光源周期との関係について図６Ａおよび図６Ｂを参照しつつ説明する。なお、図６Ａおよび図６Ｂでは、サンプリング期間における開始時の電圧値と終了時の電圧値との差分値をデジタル信号に変換したものをＡＤａ、ＡＤｂとして示している。
【００４２】
図５および図６Ａに示されるように、サンプリング期間が光源周期の自然数倍でない場合、光源輝度が位相ａである場合と位相ｂである場合とでデジタル信号ＡＤａ、ＡＤｂの大きさが異なる。つまり、同じサンプリング期間であっても、光源周期によってデジタル信号ＡＤａとデジタル信号ＡＤｂとで時間に対する傾きが異なる。
【００４３】
これに対し、図５および図６Ｂに示されるように、サンプリング期間が光源周期の自然数倍である場合（図６Ｂではサンプリング期間が光源周期の１倍）、光源輝度が位相ａである場合と位相ｂである場合とでデジタル信号ＡＤａ、ＡＤｂの大きさは変わらない。つまり、光源周期によってデジタル信号ＡＤａとデジタル信号ＡＤｂとで時間に対する傾きが等しくなる。このため、本実施形態では、サンプリング期間を光源周期の自然数倍としている。
【００４４】
なお、図６Ａおよび図６Ｂでは、理解をし易くするために、サンプリング期間における開始時の電圧値と終了時の電圧値との差分値をデジタル信号ＡＤａ、ＡＤｂとして示しているが、実際には、上記各実施形態と同様に、サンプリング期間で複数回のサンプリングを行っている。
【００４５】
以上説明したように、本実施形態では、測定光源が交流電圧にて駆動されるものの場合には、サンプリング期間を光源周期の自然数倍としている。このため、測定光源が交流電圧にて駆動されるものであっても検出精度が低下することを抑制しつつ、上記第１実施形態と同様の効果を得ることができる。
【００４６】
（第４実施形態）
本発明の第４実施形態について説明する。本実施形態は、第３実施形態に対してサンプリング期間を調整したものであり、その他に関しては第３実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
【００４７】
本実施形態の光センサは、基本的には第３実施形態と同様の構成であるが、サンプリング期間を５０ｍｓの自然数倍としていることが第３実施形態と異なっている。ここで、サンプリング期間を５０ｍｓの自然数倍することについて説明する。
【００４８】
現状、東日本では交流電圧の商用周波数が５０Ｈｚであり、西日本では交流電圧の商用周波数が６０Ｈｚである。つまり、測定光源が交流電圧にて駆動されるものの場合、東日本では光源輝度の周波数が１００Ｈｚとなり、西日本では光源輝度の周波数が１２０Ｈｚとなる。すなわち、東日本では光源周期が１０ｍｓとなり、西日本では光源周期が８．３３ｍｓとなる。
【００４９】
このため、東日本における光源周期と西日本における光源周期の最小公倍数である５０ｍｓの自然数倍をサンプリング期間とすることにより、東日本および西日本のいずれにおいても、サンプリング期間を光源周期の自然数倍とできる。
【００５０】
このように、サンプリング期間を５０ｍｓの自然数倍とするようにしても、上記第３実施形態と同様の効果を得ることができる。
【００５１】
（第５実施形態）
本発明の第５実施形態について説明する。本実施形態は、第３実施形態に対してサンプリング期間を調整するものであり、その他に関しては第３実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
【００５２】
本実施形態の光センサは、図７に示されるように、位置検出回路６０を備えている。本実施形態の位置検出回路６０は、フォトダイオード６１と、増幅回路６２と、解析回路６３とを有する構成とされている。
【００５３】
フォトダイオード６１は、測定光源からの受光量に応じた検出信号（アナログ信号）を出力するものであり、本実施形態では、フォトダイオード１１と同じものが用いられる。なお、本実施形態では、フォトダイオード６１が本発明の調査素子に相当する。
【００５４】
増幅回路６２は、増幅回路２０と同様に、周知のオペアンプ等を用いて構成されており、フォトダイオード６１から出力された検出信号を所定倍に増幅する。
【００５５】
解析回路６３は、増幅回路６２から出力された検出信号をフーリエ変換等することによって測定光源の光源周期（光源周波数）を解析し、解析結果を制御回路５０に出力する。
【００５６】
そして、本実施形態の制御回路５０は、解析回路６３の解析結果に基づいて、サンプリング期間が光源周期の自然数倍となるように制御信号Ｓ３を出力する。
【００５７】
以上説明したように、位置検出回路６０で測定光源の光源周期を演算し、演算した光源周期に基づいてサンプリング期間を光源周期の自然数倍となるようにしても、上記第３実施形態と同様の効果を得ることができる。
【００５８】
（第６実施形態）
本発明の第６実施形態について説明する。本実施形態は、第５実施形態に対して位置検出回路６０の構成を変更したものであり、その他に関しては第５実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
【００５９】
本実施形態の位置検出回路６０は、図８に示されるように、ＧＰＳ（Global Positioning System）受信機６４と、解析回路６５とを有する構成とされている。
【００６０】
ＧＰＳ受信機６４は、ＧＰＳ衛星からのＧＰＳ信号を受信する。
【００６１】
解析回路６５は、ＧＰＳ受信機６４で受信したＧＰＳ信号および記憶している地図情報等から測定光源（ＧＰＳ受信機６４）の現在地を解析することにより、測定光源を駆動する交流電圧の周期を解析する。つまり、測定光源の光源周期（光源周波数）を解析する。そして、解析結果を制御回路５０に出力する。
【００６２】
また、制御回路５０は、解析回路６５の解析結果に基づいて、サンプリング期間が光源周期の自然数倍となるように制御信号Ｓ３を出力する。
【００６３】
このように、位置検出回路６０で測定光源の現在地を解析し、現在地に基づいてサンプリング期間を光源周期の自然数倍となるようにしても、上記第３実施形態と同様の効果を得ることができる。
【００６４】
（他の実施形態）
本発明は上記した実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載した範囲内において適宜変更が可能である。
【００６５】
例えば、上記第１、第３〜第６実施形態では、平均化回路４０は、制御信号Ｓ３からデジタル信号ＡＤ１〜ＡＤｎ−１に相当する期間を演算する例について説明した。しかしながら、平均化回路４０の記憶手段に、各デジタル信号ＡＤ１〜ＡＤｎ−１に相当する期間を予め記憶しておき、当該記憶手段に記憶されている期間を用いてサンプリング期間における各デジタル信号ＡＤ１〜ＡＤｎ−１の時間に対する傾きの平均値を演算するようにしてもよい。同様に、上記第２実施形態において、平均化回路４０の記憶手段に、各デジタル信号ＡＤ１〜ＡＤｎ−１に相当する期間を予め記憶するようにしてもよい。この場合、制御回路５０は、平均化回路４０に制御信号Ｓ３を出力しなくてもよい。
【００６６】
また、上記第５実施形態において、受光素子と調査素子とを異なるもので構成してもよい。
【００６７】
さらに、上記各実施形態を適宜組み合わせた光センサとすることもできる。例えば、上記第２実施形態を第３〜第６実施形態に組み合わせた光センサとしてもよい。
【符号の説明】
【００６８】
１１    フォトダイオード（受光素子）
３１    サンプルホールド回路
３２    ＡＤ変換回路
４０    平均化回路
【図１】
2015141033.tif 000003
【図２】
2015141033.tif 000004
【図３】
2015141033.tif 000005
【図４】
2015141033.tif 000006
【図５】
2015141033.tif 000007
【図６Ａ】
2015141033.tif 000008
【図６Ｂ】
2015141033.tif 000009
【図７】
2015141033.tif 000010
【図８】
2015141033.tif 000011