(57)【要約】【課題】磁性粉粒体の製造ラインにおける各場面において当該磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントの測定を正確に行える仕組みを提供する。【解決手段】保持円筒に装入された磁性粉粒体の表面温度Ｔｓを測定する表面温度計７と、雰囲気温度Ｔｒを測定する雰囲気温度計８と、表面温度Ｔｓと雰囲気温度Ｔｒとに基づいて保持円筒に装入された磁性粉粒体の平均温度Ｔを推定する平均温度推定部６１３と、平均温度Ｔに従って基準温度Ｔ0における第１の較正曲線を補正して温度Ｔにおける第２の較正曲線を生成する較正曲線生成部６１５と、第２の較正曲線を用いて磁性粉粒体中の磁性成分の嵩密度ρＭを算出する第１の嵩密度算出部６１８と、磁性粉粒体の嵩密度ρ０を算出する第２の嵩密度算出部６２０と、嵩密度ρＭと嵩密度ρ０とに基づいて磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントの測定値を算出する磁性成分質量パーセント算出部６２１を備える。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
コイルが巻かれた保持円筒に装入された磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントを測定する測定装置であって、
基準温度における前記磁性粉粒体の見かけの比磁化率と前記磁性粉粒体中の磁性成分の嵩密度との関係を示す第１の較正曲線の情報を記憶する較正曲線記憶手段と、
前記保持円筒に装入された磁性粉粒体の表面温度を測定する表面温度測定手段と、
前記保持円筒の周辺の雰囲気温度を測定する雰囲気温度測定手段と、
前記表面温度と、前記雰囲気温度とに基づいて、前記保持円筒に装入された磁性粉粒体の平均温度を推定する平均温度推定手段と、
前記平均温度と、前記磁性粉粒体の見かけの比磁化率における温度依存性を表す温度補正関数の係数である温度補正係数とに基づいて、前記第１の較正曲線を補正して第２の較正曲線を生成する較正曲線生成手段と、
前記磁性粉粒体が前記保持円筒に装入された状態で前記コイルのインダクタンスを取得するインダクタンス取得手段と、
前記インダクタンス取得手段で取得されたインダクタンスに基づいて、前記磁性粉粒体の見かけの比磁化率を算出する見かけの比磁化率算出手段と、
前記第２の較正曲線を用いて、前記見かけの比磁化率算出手段で算出された磁性粉粒体の見かけの比磁化率から、前記磁性粉粒体中の磁性成分の嵩密度を算出する第１の嵩密度算出手段と、
前記保持円筒の空重量と、前記磁性粉粒体が装入された状態の前記保持円筒の総重量とを取得する保持円筒重量取得手段と、
前記保持円筒の空重量と、前記保持円筒の総重量と、前記保持円筒の内容積とに基づいて、前記磁性粉粒体の嵩密度を算出する第２の嵩密度算出手段と、
前記第１の嵩密度算出手段で算出された磁性粉粒体中の磁性成分の嵩密度と、前記第２の嵩密度算出手段で算出された磁性粉粒体の嵩密度とに基づいて、前記磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントの測定値を算出する磁性成分質量パーセント算出手段と
を有することを特徴とする測定装置。
【請求項２】
前記保持円筒に装入された磁性粉粒体の平均温度は、当該磁性粉粒体の表面温度とその周辺の雰囲気温度との線形式で表した値であることを特徴とする請求項１に記載の測定装置。
【請求項３】
前記平均温度推定手段は、前記線形式の係数である温度推定係数を、前記磁性粉粒体に係る試料の磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントの前記測定値と、当該試料の磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントの分析値とに基づいて予め決定し、前記表面温度測定手段で測定された表面温度と、前記雰囲気温度測定手段で測定された雰囲気温度と、前記温度推定係数とを用いて、前記保持円筒に装入された磁性粉粒体の平均温度を推定することを特徴とする請求項２に記載の測定装置。
【請求項４】
前記分析値として、化学分析による分析値を用いることを特徴とする請求項３に記載の測定装置。
【請求項５】
前記平均温度推定手段は、複数の前記試料の磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントの前記測定値と、当該試料の磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントの分析値との差の大きさに係る積算値が最小となるように、前記温度推定係数を決定することを特徴とする請求項３又は４に記載の測定装置。
【請求項６】
前記較正曲線生成手段は、前記第１の較正曲線の係数と、前記温度補正関数とを用いて、前記第２の較正曲線の係数を算出して、前記第２の較正曲線を生成することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の測定装置。
【請求項７】
コイルが巻かれた保持円筒に装入された磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントを測定する測定装置による測定方法であって、
基準温度における前記磁性粉粒体の見かけの比磁化率と前記磁性粉粒体中の磁性成分の嵩密度との関係を示す第１の較正曲線の情報を較正曲線記憶手段に記憶する較正曲線記憶ステップと、
前記保持円筒に装入された磁性粉粒体の表面温度を測定する表面温度測定ステップと、
前記保持円筒の周辺の雰囲気温度を測定する雰囲気温度測定ステップと、
前記表面温度と、前記雰囲気温度とに基づいて、前記保持円筒に装入された磁性粉粒体の平均温度を推定する平均温度推定ステップと、
前記平均温度と、前記磁性粉粒体の見かけの比磁化率における温度依存性を表す温度補正関数の係数である温度補正係数とに基づいて、前記第１の較正曲線を補正して第２の較正曲線を生成する較正曲線生成ステップと、
前記磁性粉粒体が前記保持円筒に装入された状態で前記コイルのインダクタンスを取得するインダクタンス取得ステップと、
前記インダクタンス取得ステップで取得されたインダクタンスに基づいて、前記磁性粉粒体の見かけの比磁化率を算出する見かけの比磁化率算出ステップと、
前記第２の較正曲線を用いて、前記見かけの比磁化率算出ステップで算出された磁性粉粒体の見かけの比磁化率から、前記磁性粉粒体中の磁性成分の嵩密度を算出する第１の嵩密度算出ステップと、
前記保持円筒の空重量と、前記磁性粉粒体が装入された状態の前記保持円筒の総重量とを取得する保持円筒重量取得ステップと、
前記保持円筒の空重量と、前記保持円筒の総重量と、前記保持円筒の内容積とに基づいて、前記磁性粉粒体の嵩密度を算出する第２の嵩密度算出ステップと、
前記第１の嵩密度算出ステップで算出された磁性粉粒体中の磁性成分の嵩密度と、前記第２の嵩密度算出ステップで算出された磁性粉粒体の嵩密度とに基づいて、前記磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントの測定値を算出する磁性成分質量パーセント算出ステップと
を有することを特徴とする測定方法。
【請求項８】
コイルが巻かれた保持円筒に装入された磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントを測定する測定装置による測定方法をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
基準温度における前記磁性粉粒体の見かけの比磁化率と前記磁性粉粒体中の磁性成分の嵩密度との関係を示す第１の較正曲線の情報を較正曲線記憶手段に記憶する較正曲線記憶ステップと、
前記保持円筒に装入された磁性粉粒体の表面温度を測定する表面温度測定ステップと、
前記保持円筒の周辺の雰囲気温度を測定する雰囲気温度測定ステップと、
前記表面温度と、前記雰囲気温度とに基づいて、前記保持円筒に装入された磁性粉粒体の平均温度を推定する平均温度推定ステップと、
前記平均温度と、前記磁性粉粒体の見かけの比磁化率における温度依存性を表す温度補正関数の係数である温度補正係数とに基づいて、前記第１の較正曲線を補正して第２の較正曲線を生成する較正曲線生成ステップと、
前記磁性粉粒体が前記保持円筒に装入された状態で前記コイルのインダクタンスを取得するインダクタンス取得ステップと、
前記インダクタンス取得ステップで取得されたインダクタンスに基づいて、前記磁性粉粒体の見かけの比磁化率を算出する見かけの比磁化率算出ステップと、
前記第２の較正曲線を用いて、前記見かけの比磁化率算出ステップで算出された磁性粉粒体の見かけの比磁化率から、前記磁性粉粒体中の磁性成分の嵩密度を算出する第１の嵩密度算出ステップと、
前記保持円筒の空重量と、前記磁性粉粒体が装入された状態の前記保持円筒の総重量とを取得する保持円筒重量取得ステップと、
前記保持円筒の空重量と、前記保持円筒の総重量と、前記保持円筒の内容積とに基づいて、前記磁性粉粒体の嵩密度を算出する第２の嵩密度算出ステップと、
前記第１の嵩密度算出ステップで算出された磁性粉粒体中の磁性成分の嵩密度と、前記第２の嵩密度算出ステップで算出された磁性粉粒体の嵩密度とに基づいて、前記磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントの測定値を算出する磁性成分質量パーセント算出ステップと
をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、コイルが巻かれた保持円筒に装入された磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセント（ｗｔ％）を測定する測定装置及び測定方法、並びに、当該測定方法をコンピュータに実行させるためのプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
磁性粉粒体の一例である焼結鉱のＦｅＯ％は焼結鉱の焼成度を表す品質指標であり、高炉の要求に応じて目標値が定められている。
【０００３】
この焼結鉱中のＦｅＯ％（大まかに言えば、磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントに比例する量）における従来の測定手法として、下記の特許文献１には、磁性粉粒体（焼結鉱）の見かけの比磁化率と当該磁性粉粒体中の磁性成分の嵩密度との関係を示す較正曲線を用いて、測定により得られた保持円筒内に装入された磁性粉粒体の見かけの比磁化率から磁性粉粒体中の磁性成分の嵩密度を算出し、この磁性粉粒体中の磁性成分の嵩密度と、別途算出した磁性粉粒体の嵩密度とに基づいて、磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントを算出する技術が提案されている。ここで、下記の特許文献１では、「見かけの比磁化率（χeff）」とは、保持円筒内にある空気も含む磁性粉粒体を比磁化率がχeffの一様な円筒状の物質とみなしたときの比磁化率のことであるとし、また、「磁性粉粒体中の磁性成分の嵩密度（ρＭ）」とは、保持円筒内にある空気や他の成分も含む磁性成分を密度がρＭの一様な円筒状の物質とみなしたときの密度のことであるとし、また、「磁性粉粒体の嵩密度（ρ０）」とは、保持円筒内にある空気も含む磁性粉粒体を密度がρ０の一様な円筒状の物質とみなしたときの密度のことであるとしている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１２−１８９５７４号公報
【特許文献２】特公昭５７−２８７３１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明者は、現場の磁性粉粒体（焼結鉱）の製造ラインにおいて、冷却クーラーで１００℃以下に冷却した後に採取した焼結鉱の試料（採取時６０℃程度）について、室温での測定に基づき作成した上述の較正曲線を用いて特許文献１の方法に従って焼結鉱中のＦｅＯ％を測定したところ、焼結鉱中の磁性成分であるマグネタイトの含有量に比例したＦｅＯ％の測定値が化学分析値よりも高くなる結果を得た。この様子を図１１（ａ）の「現場」として示す。一方で、同じ試料を室温程度まで自然冷却した後に再測定したところ、ＦｅＯ％の測定値が化学分析値と同等の数値となる結果を得た。この様子を図１１（ａ）の「再測定」として示す。
【０００６】
また、本発明者は、測定試料中の磁性成分の嵩密度ρＭ［ｋｇ／ｃｍ3］と、見かけの比磁化率χeffとの関係をグラフにプロットしたところ、現場での見かけの比磁化率は室温での測定に基づき作成した上述の較正曲線よりも大きくなるが、室温程度での再測定による見かけの比磁化率では当該較正曲線上に載る結果を得た。この様子を図１１（ｂ）に示す。
【０００７】
さらに、本発明者は、現場において、試料の表面温度を放射温度計で測定するとともに、試料の表面から３０ｍｍ程度の内部の位置に差し込んだ熱電対で温度測定して、試料の表面近傍の温度を監視しながら、見かけの比磁化率の経時変化を測定したところ、試料の温度低下とともに見かけの比磁化率が低下する結果を得た。この様子を図１２に示す。
【０００８】
この点、特許文献１の技術では、磁性粉粒体（焼結鉱）の温度変化が全く考慮されていないため、磁性粉粒体（焼結鉱）の製造ラインにおいて当該磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントの測定を行う際に、当該磁性粉粒体の温度が較正曲線を作成した温度である室温よりも高い等の場合には、当該磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントの測定を正確に行うことが困難であるという問題があった。
【０００９】
また、上記の特許文献２には、焼結鉱の透磁率値と焼結鉱のＦｅＯ値との相関関係を用いて、測定した焼結鉱の透磁率値から焼結鉱のＦｅＯ値を推定するとともに、透磁率検出コイル１０2に設けた測温計１０5の温度変化に応じて焼結鉱のＦｅＯ値を補正する技術が提案されている。
【００１０】
しかしながら、特許文献２の技術では、測温計１０5は透磁率検出コイル１０2を介した伝熱を測定するものであるため、焼結鉱の温度を正確に測定することが困難であり、その結果、焼結鉱の製造ラインにおける各場面において当該焼結鉱のＦｅＯ値の測定を正確に行うことが難しいという問題がある。
【００１１】
本発明は、このような問題点に鑑みてなされたものであり、磁性粉粒体の製造ラインにおける各場面において、当該磁性粉粒体中の温度が較正曲線を作成した基準温度とは異なる場合にも、当該磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントの測定を正確に行える仕組みを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明の測定装置は、コイルが巻かれた保持円筒に装入された磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントを測定する測定装置であって、基準温度における前記磁性粉粒体の見かけの比磁化率と前記磁性粉粒体中の磁性成分の嵩密度との関係を示す第１の較正曲線の情報を記憶する較正曲線記憶手段と、前記保持円筒に装入された磁性粉粒体の表面温度を測定する表面温度測定手段と、前記保持円筒の周辺の雰囲気温度を測定する雰囲気温度測定手段と、前記表面温度と、前記雰囲気温度とに基づいて、前記保持円筒に装入された磁性粉粒体の平均温度を推定する平均温度推定手段と、前記平均温度と、前記磁性粉粒体の見かけの比磁化率における温度依存性を表す温度補正関数の係数である温度補正係数とに基づいて、前記第１の較正曲線を補正して第２の較正曲線を生成する較正曲線生成手段と、前記磁性粉粒体が前記保持円筒に装入された状態で前記コイルのインダクタンスを取得するインダクタンス取得手段と、前記インダクタンス取得手段で取得されたインダクタンスに基づいて、前記磁性粉粒体の見かけの比磁化率を算出する見かけの比磁化率算出手段と、前記第２の較正曲線を用いて、前記見かけの比磁化率算出手段で算出された磁性粉粒体の見かけの比磁化率から、前記磁性粉粒体中の磁性成分の嵩密度を算出する第１の嵩密度算出手段と、前記保持円筒の空重量と、前記磁性粉粒体が装入された状態の前記保持円筒の総重量とを取得する保持円筒重量取得手段と、前記保持円筒の空重量と、前記保持円筒の総重量と、前記保持円筒の内容積とに基づいて、前記磁性粉粒体の嵩密度を算出する第２の嵩密度算出手段と、前記第１の嵩密度算出手段で算出された磁性粉粒体中の磁性成分の嵩密度と、前記第２の嵩密度算出手段で算出された磁性粉粒体の嵩密度とに基づいて、前記磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントの測定値を算出する磁性成分質量パーセント算出手段とを有する。
また、本発明は、上述した測定装置による測定方法、及び、当該測定方法をコンピュータに実行させるためのプログラムを含む。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、磁性粉粒体の製造ラインにおける各場面において当該磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントの測定を正確に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の実施形態に係る測定装置１００の外観の一例を示す模式図である。
【図２】図１に示すコンピュータのハードウェア構成の一例を示すブロック図である。
【図３】図１に示す測定装置による測定手順の一例を示すフローチャートである。
【図４】図１に示すコンピュータによる磁性成分質量パーセントの算出処理に係る機能構成の一例を示す模式図である。
【図５】本発明の実施形態を示し、較正曲線の一例を示す図である。
【図６】図６は、図１に示すコンピュータによる磁性成分質量パーセントの算出方法の処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図７】本発明の実施形態を示し、各試料の磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントの化学分析値とその測定値とを突き合わせた際の分布図の一例を示す図である。
【図８】本発明の実施形態を示し、温度推定係数の決定方法の処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図９】本発明の実施形態における実施例１を示し、見かけの比磁化率χeff（Ｔ）の温度依存性における測定結果を示す図である。
【図１０】本発明の実施形態における実施例２を示し、温度補正前及び温度補正後のＦｅＯ％の測定値と、ＦｅＯ％の化学分析値との突き合わせ結果を示す図である。
【図１１】現場及び再測定でのＦｅＯ％の測定値と化学分析値との突き合わせ結果と、現場及び再測定での見かけの比磁化率χeffと磁性成分の嵩密度ρＭとの関係を測定した結果を示す図である。
【図１２】見かけの比磁化率χeff及び温度と経過時間との関係を現場で測定した結果を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下に、図面を参照しながら、本発明を実施するための形態（実施形態）について説明する。
【００１６】
＜測定装置１００の外観構成＞
図１は、本発明の実施形態に係る測定装置１００の外観の一例を示す模式図である。
例えば、測定装置１００は、図１に示すように、測定室内に設置されている。
【００１７】
図１において、４は、測定対象である焼結鉱等の磁性粉粒体である。
【００１８】
図１において、３は、装入された磁性粉粒体４を保持する保持円筒、１は、保持円筒上に巻かれて固定されたコイル、２は、保持円筒３が空の状態または磁性粉粒体４が保持円筒３に装入された状態でコイル１のインダクタンスを測定するＬＣＲメーターである。
【００１９】
図１において、５は、保持円筒３が空の状態での空重量または保持円筒３に磁性粉粒体４が装入された状態での総重量を測定する秤量装置であり、５ａは、秤量装置５の受け台である。
【００２０】
図１において、７は、保持円筒３に装入された磁性粉粒体４の表面温度を測定する表面温度計（表面温度測定手段）である。
【００２１】
図１において、８は、測定室内の大気の雰囲気温度、より具体的に例えば保持円筒３の周辺の雰囲気温度を測定する雰囲気温度計（雰囲気温度測定手段）であり、測定装置１００や測定対象である磁性粉粒体４からの熱影響を受けない場所に設置される。
【００２２】
図１において、６は、コンピュータであり、ＬＣＲメーター２、秤量装置５、表面温度計７、及び、雰囲気温度計８の各装置の制御、また、各装置からの信号を受信し、これらの信号を用いて磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセント（ｗｔ％）の測定値を算出する。
【００２３】
＜コンピュータ６のハードウェア構成＞
図２は、図１に示すコンピュータ６のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。
【００２４】
図２において、６０１は、例えば、後述するＲＯＭ６０３或いは外部メモリ６０４に記憶されたプログラムやデータを用いて、コンピュータ６の全体の制御を行うＣＰＵである。
【００２５】
図２において、６０２は、ＳＤＲＡＭ、ＤＲＡＭなどによって構成され、後述するＲＯＭ６０３或いは外部メモリ６０４からロードされたプログラムやデータを一時的に記憶するエリアを備えるとともに、ＣＰＵ６０１が各種の処理を行うために必要とするワークエリアを備えるＲＡＭである。
【００２６】
図２において、６０３は、変更を必要としないプログラムや各種のパラメータ等のデータなどを格納しているＲＯＭである。
【００２７】
図２において、６０４は、例えば、オペレーティングシステム（ＯＳ）やＣＰＵ６０１が実行するプログラム、更には、本実施形態の説明において既知としているデータや情報などを記憶している外部メモリである。なお、本実施形態においては、ＣＰＵ６０１が本発明に係る処理を実行するためのプログラムは、外部メモリ６０４に記憶されているものとするが、例えばＲＯＭ６０３に記憶されている態様であっても適用可能である。
【００２８】
図２において、６０５は、例えば、マウスやキーボード等を具備して構成されており、例えばユーザがコンピュータ６に対して各種の指示を行う際に操作され、当該指示をＣＰＵ６０１等に入力する入力デバイスである。
【００２９】
図２において、６０６は、例えば、モニタ等を具備して構成されており、ＣＰＵ６０１の制御に基づいて、各種のデータや各種の情報をモニタに出力する表示部である。
【００３０】
図２において、６０７は、コンピュータ６と外部装置Ｇとの間で行われる、各種のデータや各種の情報の送受信を司る通信Ｉ／Ｆ（通信インターフェース）である。
【００３１】
図２において、６０８は、ＣＰＵ６０１、ＲＡＭ６０２、ＲＯＭ６０３、外部メモリ６０４、入力デバイス６０５、表示部６０６及び通信Ｉ／Ｆ６０７を相互に通信可能に接続するバスである。
【００３２】
＜測定装置１００による測定手順＞
図３は、図１に示す測定装置１００による測定手順の一例を示すフローチャートである。
初期の状態では、保持円筒３は、磁性粉粒体（焼結鉱）４が装入されていない空の状態とする。
【００３３】
まず、ステップＳ１０１において、コンピュータ６（ＣＰＵ６０１）は、不図示の移動装置を制御して、空の状態の保持円筒３を、秤量装置５上（より具体的には秤量装置の受け台５ａ上）に移動させる。
【００３４】
続いて、ステップＳ１０２において、コンピュータ６（ＣＰＵ６０１）は、まず、秤量装置５を制御して、保持円筒３の空重量Ｗ０を測定する。次いで、コンピュータ６（ＣＰＵ６０１）は、この状態でＬＣＲメーター２を制御して、保持円筒３が空の状態でのコイル１のインダクタンスＬ１を測定する。
【００３５】
続いて、ステップＳ１０３において、コンピュータ６（ＣＰＵ６０１）は、不図示のサンプラーを用いて磁性粉粒体４を採取し、保持円筒３内に装入する。この際、コンピュータ６（ＣＰＵ６０１）は、不図示のレベルスイッチにより、保持円筒３への磁性粉粒体４の装入状態を確認する。そして、コンピュータ６（ＣＰＵ６０１）は、磁性粉粒体４の装入状態の確認の結果、磁性粉粒体４の嵩がおおよそ保持円筒３の上面と一致すると、不図示のサンプラーを制御して、保持円筒３への磁性粉粒体４の装入を停止する。
【００３６】
続いて、ステップＳ１０４において、コンピュータ６（ＣＰＵ６０１）は、予め測定等により得られた、基準温度Ｔ0（較正データを設定する際の基準となる温度であり、例えば室温（２０℃）が用いられる）における磁性粉粒体４の見かけの比磁化率χeffと当該磁性粉粒体中の磁性成分の嵩密度ρＭとの関係を示す較正曲線（以下、「第１の較正曲線」と称する）の情報を、例えば入力デバイス６０５から受け付ける。ここで、本実施形態において、「見かけの比磁化率（χeff）」とは、特許文献１と同様に、保持円筒３内にある空気も含む磁性粉粒体４を比磁化率がχeffの一様な円筒状の物質とみなしたときの、比磁化率のことであるものとする。また、本実施形態において、「磁性粉粒体中の磁性成分の嵩密度（ρＭ）」とは、特許文献１と同様に、保持円筒３内にある空気や他の成分も含む磁性成分を密度がρＭの一様な円筒状の物質とみなしたときの、密度のことであるものとする。
そして、コンピュータ６（ＣＰＵ６０１）は、例えば入力デバイス６０５から第１の較正曲線の情報が入力されると、この第１の較正曲線の情報を例えば外部メモリ６０４に記憶する。ここで、記憶される第１の較正曲線の情報には、当該第１の較正曲線の係数の情報や基準温度Ｔ0の情報が含まれるものとする。
【００３７】
続いて、ステップＳ１０５において、コンピュータ６（ＣＰＵ６０１）は、予め測定等により得られた、磁性粉粒体４の見かけの比磁化率における温度依存性を表す温度補正関数の係数である温度補正係数（後述のｐ，ｑ）の情報を、例えば入力デバイス６０５から受け付ける。そして、コンピュータ６（ＣＰＵ６０１）は、例えば入力デバイス６０５から温度補正係数の情報が入力されると、この温度補正係数の情報を例えば外部メモリ６０４に記憶する。
【００３８】
続いて、ステップＳ１０６において、コンピュータ６（ＣＰＵ６０１）は、保持円筒３に装入された磁性粉粒体４の空間的な平均温度を、当該磁性粉粒体４の表面温度とその周辺の雰囲気温度との線形式で表した際の、当該線形式の係数である温度推定係数αを決定する。この温度推定係数αの決定方法の具体的な処理手順については、図８を用いて後述する。なお、本実施形態においては、コンピュータ６（ＣＰＵ６０１）において温度推定係数αを決定する処理を行うようにしているが、本発明においてはこの形態に限定されるものではない。例えば、予め測定等により得られた温度推定係数αの情報を、例えば入力デバイス６０５から受け付け、コンピュータ６（ＣＰＵ６０１）は、入力デバイス６０５から入力された温度推定係数αの情報を取得する形態も本発明に含まれる。
そして、コンピュータ６（ＣＰＵ６０１）は、得られた温度推定係数αの情報を例えば外部メモリ６０４に記憶する。
【００３９】
続いて、ステップＳ１０７において、コンピュータ６（ＣＰＵ６０１）は、まず、秤量装置５を制御して、保持円筒３及び保持円筒３内に装入された磁性粉粒体４の総重量Ｗ１を測定する。次いで、コンピュータ６（ＣＰＵ６０１）は、この状態でＬＣＲメーター２を制御して、保持円筒３に磁性粉粒体４が装入された状態でのコイル１のインダクタンスＬを測定する。
【００４０】
続いて、ステップＳ１０８において、コンピュータ６（ＣＰＵ６０１）は、表面温度計７及び雰囲気温度計８を制御して、それぞれの温度計により、保持円筒３に装入された磁性粉粒体４の表面温度Ｔs及び保持円筒３の周辺の雰囲気温度Ｔrを測定する。
【００４１】
続いて、ステップＳ１０９において、コンピュータ６（ＣＰＵ６０１）は、不図示の移動装置を制御して保持円筒３を移動させた後、保持円筒３内の磁性粉粒体４を排出する。
【００４２】
＜コンピュータ６による磁性成分質量パーセントの算出処理に係る機能構成＞
図４は、図１に示すコンピュータ６による磁性成分質量パーセントの算出処理に係る機能構成の一例を示す模式図である。
【００４３】
図４において、６１１は、基準温度Ｔ0における磁性粉粒体４の見かけの比磁化率χeffと当該磁性粉粒体中の磁性成分の嵩密度ρＭとの関係を示す第１の較正曲線の情報を記憶する較正曲線記憶部である。ここで、較正曲線記憶部６１１に記憶される第１の較正曲線の情報には、当該第１の較正曲線の係数の情報や基準温度Ｔ0の情報が含まれるものとする。また、較正曲線記憶部６１１は、例えば、図２に示す外部メモリ６０４から構成されており、第１の較正曲線の情報は、図３のステップＳ１０４の処理により得られたものである。
【００４４】
図４において、６１２は、保持円筒３に装入された磁性粉粒体４の空間的な平均温度を、当該磁性粉粒体４の表面温度とその周辺の雰囲気温度との線形式で表した際の、当該線形式の係数である温度推定係数αの情報を記憶する温度推定係数記憶部である。ここで、温度推定係数記憶部６１２は、例えば、図２に示す外部メモリ６０４から構成されており、温度推定係数αの情報は、図３のステップＳ１０６の処理により得られたものである。
【００４５】
図４において、６１３は、表面温度計７で測定された、保持円筒３に装入された磁性粉粒体４の表面温度Ｔｓと、雰囲気温度計８で測定された、保持円筒３の周辺の雰囲気温度Ｔｒとに基づいて、保持円筒３に装入された磁性粉粒体４の空間的な平均温度Ｔを推定する平均温度推定部である。具体的に、本実施形態においては、平均温度推定部６１３は、上述した温度推定係数αを決定する処理も行い、保持円筒３に装入された磁性粉粒体４の表面温度Ｔｓと、保持円筒３の周辺の雰囲気温度Ｔｒと、決定した温度推定係数αとを用いて、保持円筒３に装入された磁性粉粒体４の空間的な平均温度Ｔを推定する。ここで、平均温度推定部６１３は、例えば、図２に示すＣＰＵ６０１及び外部メモリ６０４に記憶されているプログラム、並びに、通信Ｉ／Ｆ６０７から構成される。
【００４６】
図４において、６１４は、磁性粉粒体４の見かけの比磁化率χeffにおける温度依存性を表す温度補正関数の係数である温度補正係数（後述のｐ，ｑ）の情報を記憶する温度補正係数記憶部である。ここで、温度補正係数記憶部６１４は、例えば、図２に示す外部メモリ６０４から構成されており、温度補正係数の情報は、図３のステップＳ１０５の処理により得られたものである。
【００４７】
図４において、６１５は、平均温度推定部６１３で推定された平均温度Ｔと、温度補正係数記憶部６１４に記憶されている温度補正係数（後述のｐ，ｑ）とに基づいて、較正曲線記憶部６１１に記憶されている第１の較正曲線を補正して第２の較正曲線を生成する較正曲線生成部である。ここで、較正曲線生成部６１５は、例えば、図２に示すＣＰＵ６０１及び外部メモリ６０４に記憶されているプログラムから構成される。
図５は、本発明の実施形態を示し、較正曲線の一例を示す図である。
較正曲線生成部６１５は、例えば、図５に示す、基準温度Ｔ0における磁性粉粒体４の見かけの比磁化率χeffと当該磁性粉粒体中の磁性成分の嵩密度ρＭとの関係を示す第１の較正曲線５１０を補正して、温度Ｔにおける第２の較正曲線５２０を生成する。
【００４８】
図４において、６１６は、ＬＣＲメーター２から、磁性粉粒体４が保持円筒３に装入された状態でのコイル１のインダクタンスＬを取得するインダクタンス取得部である。ここで、インダクタンス取得部６１６は、コイル１の巻き数調整等に用いるため、磁性粉粒体４が保持円筒３に装入されていない状態でのコイル１のインダクタンスＬ１を取得してもよい。また、インダクタンス取得部６１６は、例えば、図２に示すＣＰＵ６０１及び外部メモリ６０４に記憶されているプログラム、並びに、通信Ｉ／Ｆ６０７から構成される。
【００４９】
図４において、６１７は、インダクタンス取得部６１６で取得されたインダクタンスＬに基づいて、保持円筒３に装入された磁性粉粒体４の見かけの比磁化率χeffを算出する、見かけの比磁化率算出部である。ここで、見かけの比磁化率算出部６１７は、例えば、図２に示すＣＰＵ６０１及び外部メモリ６０４に記憶されているプログラムから構成される。
【００５０】
図４において、６１８は、較正曲線生成部６１５で生成された第２の較正曲線を用いて、見かけの比磁化率算出部６１７で算出された磁性粉粒体４の見かけの比磁化率χeffから、磁性粉粒体４中の磁性成分の嵩密度ρＭを算出する第１の嵩密度算出部である。ここで、第１の嵩密度算出部６１８は、例えば、図２に示すＣＰＵ６０１及び外部メモリ６０４に記憶されているプログラムから構成される。
【００５１】
図４において、６１９は、秤量装置５から、保持円筒３の空重量Ｗ０と、磁性粉粒体４が装入された状態の保持円筒３の総重量Ｗ１とを取得する保持円筒重量取得部である。ここで、保持円筒重量取得部６１９は、例えば、図２に示すＣＰＵ６０１及び外部メモリ６０４に記憶されているプログラム、並びに、通信Ｉ／Ｆ６０７から構成される。
【００５２】
図４において、６２０は、保持円筒重量取得部６１９で取得された保持円筒３の空重量Ｗ０及び保持円筒３の総重量Ｗ１と、入力デバイス６０５から入力された保持円筒３の内容積Ｖとに基づいて、保持円筒３内の磁性粉粒体４の嵩密度ρ０を算出する第２の嵩密度算出部である。ここで、本実施形態において、「磁性粉粒体の嵩密度（ρ０）」とは、特許文献１と同様に、保持円筒３内にある空気も含む磁性粉粒体４を密度がρ０の一様な円筒状の物質とみなしたときの、密度のことであるものとする。また、第２の嵩密度算出部６２０は、例えば、図２に示すＣＰＵ６０１及び外部メモリ６０４に記憶されているプログラムから構成される。
【００５３】
図４において、６２１は、第１の嵩密度算出部６１８で算出された磁性粉粒体４中の磁性成分の嵩密度ρＭと、第２の嵩密度算出部６２０で算出された磁性粉粒体４の嵩密度ρ０とに基づいて、磁性粉粒体４中の磁性成分の質量パーセントの測定値を算出する磁性成分質量パーセント算出部である。ここで、磁性成分質量パーセント算出部６２１は、例えば、図２に示すＣＰＵ６０１及び外部メモリ６０４に記憶されているプログラムから構成される。
【００５４】
上述した図１２に示すように、磁性粉粒体４の温度が高くなると見かけの比磁化率χeffも高くなる。この場合、高温の状態で高くなった見かけの比磁化率χeffと、室温での測定に基づき作成した較正曲線（例えば図５に示す基準温度Ｔ0における第１の較正曲線５１０）を用いて、磁性粉粒体４中の磁性成分の質量パーセントを測定すると、実際よりもその測定値が高くなる不具合が生じる。これを回避するために、本実施形態に係る測定装置１００では、保持円筒３に装入された磁性粉粒体４の空間的な平均温度Ｔと、磁性粉粒体４の見かけの比磁化率χeffにおける温度依存性を表す温度補正関数の係数である温度補正係数とに基づいて、基準温度Ｔ0における第１の較正曲線を補正して温度Ｔにおける第２の較正曲線を生成し、当該第２の較正曲線を用いて磁性粉粒体４中の磁性成分の質量パーセントを測定するようにしている。
【００５５】
＜コンピュータ６による磁性成分質量パーセントの具体的な算出方法＞
（見かけの比磁化率χeffの温度依存性の定量化）
まず、温度Ｔ［℃］における見かけの比磁化率χeff（Ｔ）を実測し、見かけの比磁化率χeffの温度依存性を定量化する方法について説明する。
【００５６】
見かけの比磁化率χeffの温度による変化を定量的に把握するために、測定容器に入れた磁性粉粒体４に係る試料を恒温槽に１時間〜２時間程度入れて一定温度に保持し、恒温槽から測定容器を取り出した直後に測定容器をコイルに挿入し、見かけの比磁化率χeffを測定したところ、見かけの比磁化率χeffの温度に対する変化は、ｃ、ｄ、ｅを係数とする以下の（１）式に示す２次式の形で近似できることが分かった。
【００５７】
【数１】
2015184135.tif 000003
【００５８】
ここで、（１）式に示す温度Ｔにおける見かけの比磁化率χeff（Ｔ）と、基準温度Ｔ0における見かけの比磁化率χeff（Ｔ0）との関係を明確にするために、（１）式を以下の（２）式のようにＴ−Ｔ0の２次式の形に変形する。
【００５９】
【数２】
2015184135.tif 000004
【００６０】
したがって、温度Ｔにおける見かけの比磁化率χeff（Ｔ）は、以下の（４）式のような温度に関する２次式で表される温度補正関数ｆ（Ｔ）、及び、基準温度Ｔ0における見かけの比磁化率χeff（Ｔ0）と温度補正係数ｐ，ｑを表す以下の（５）式〜（７）式を用いて、以下の（３）式のように表すことができる。
【００６１】
【数３】
2015184135.tif 000005
【００６２】
（較正曲線の温度依存性の定量化）
上記で定量化した温度Ｔにおける見かけの比磁化率χeff（Ｔ）の温度依存性に基づき、基準温度Ｔ0における第１の較正曲線から温度Ｔにおける第２の較正曲線を求め、較正曲線の温度依存性の定量化する方法について説明する。
【００６３】
基準温度Ｔ0における、磁性粉粒体４中の磁性成分の嵩密度ρＭに対する見かけの比磁化率χeff（Ｔ0）の関係を示す第１の較正曲線は、以下の（８）式のように、基準温度Ｔ0における第１の較正曲線の係数ａ（Ｔ0），ｂ（Ｔ0）を係数とする２次式で表される。
【００６４】
【数４】
2015184135.tif 000006
【００６５】
そして、（８）式を（３）式に代入すると、温度Ｔにおける第２の較正曲線は、以下の（１０）式に示す較正曲線の係数の変換式を用いて、以下の（９）式のように表せる。
【００６６】
【数５】
2015184135.tif 000007
【００６７】
したがって、（１０）式に示す較正曲線の係数の変換により、温度Ｔにおける第２の較正曲線を基準温度Ｔ0における第１の較正曲線から導出することができる。
さらに、（９）式をρＭに関して解いて得られる下記の（１１）式から、磁性粉粒体４中の磁性成分の嵩密度ρＭを算出することができる。
【００６８】
【数６】
2015184135.tif 000008
【００６９】
（磁性成分質量パーセントの具体的な算出方法の処理手順）
図６は、図１に示すコンピュータ６による磁性成分質量パーセントの算出方法の処理手順の一例を示すフローチャートである。
【００７０】
図６の処理を開始する前に、予め、較正曲線記憶部６１１には、基準温度Ｔ0における第１の較正曲線の情報が記憶されており（図３のＳ１０４の処理が終了しており）、また、温度補正係数記憶部６１４には、磁性粉粒体４の見かけの比磁化率における温度依存性を表す温度補正関数の係数である温度補正係数の情報が記憶されており（図３のＳ１０５の処理が終了しており）、また、温度推定係数記憶部６１２には、温度推定係数αの情報が記憶されており（図３のＳ１０６の処理が終了しており）、さらに、表面温度計７及び雰囲気温度計８により、それぞれ、保持円筒３に装入された磁性粉粒体４の表面温度Ｔs及び保持円筒３の周辺の雰囲気温度Ｔrの測定がなされているものとする（図３のＳ１０７の処理が終了しているものとする）。
なお、上述した式との対応関係を明確にするため、第１の較正曲線の情報に含まれる第１の較正曲線の係数をａ（Ｔ0），ｂ（Ｔ0）とし、温度補正係数をｐ，ｑとする。
【００７１】
まず、ステップＳ２０１において、平均温度推定部６１３は、表面温度計７で測定された、保持円筒３に装入された磁性粉粒体４の表面温度Ｔｓと、雰囲気温度計８で測定された、保持円筒３の周辺の雰囲気温度Ｔｒと、図３のステップＳ１０６で決定した温度推定係数αとを用いて、保持円筒３に装入された磁性粉粒体４の空間的な平均温度Ｔを推定する。
【００７２】
続いて、ステップＳ２０２において、較正曲線生成部６１５は、較正曲線記憶部６１１に記憶されている第１の較正曲線の情報に含まれる基準温度Ｔ0及び第１の較正曲線の係数ａ（Ｔ0），ｂ（Ｔ0）と、温度補正係数記憶部６１４に記憶されている温度補正係数ｐ，ｑと、ステップＳ２０１で推定された平均温度Ｔを入力する。そして、較正曲線生成部６１５は、これらの入力された情報に基づいて、（４）式と（１０）式を用いて、温度Ｔにおける第２の較正曲線の係数ａ（Ｔ），ｂ（Ｔ）を算出して、（９）式に示す温度Ｔにおける第２の較正曲線を生成する。
【００７３】
また、ステップＳ２０３において、インダクタンス取得部６１６は、ＬＣＲメーター２で測定された、保持円筒３が空状態でのコイル１のインダクタンスＬ１と、保持円筒３に磁性粉粒体４が装入された状態でのコイル１のインダクタンスＬを取得する。ここで、本実施形態においては、保持円筒３が空状態でのコイル１のインダクタンスＬ１は、後述の処理で特に用いないが、実操業では、コイル１の巻き数調整等に用いられる。
【００７４】
続いて、ステップＳ２０４において、見かけの比磁化率算出部６１７は、保持円筒３に磁性粉粒体４が装入された状態でのコイル１のインダクタンスＬに基づいて、保持円筒３内に装入された温度Ｔにおける磁性粉粒体４の見かけの比磁化率χeffを算出する。このステップＳ２０４の具体的な算出方法としては、例えば、特許文献１に記載された手法を用いることができる。
【００７５】
続いて、ステップＳ２０５において、第１の嵩密度算出部６１８は、ステップＳ２０２で生成された温度Ｔにおける第２の較正曲線を用いて、ステップＳ２０４で算出された温度Ｔにおける磁性粉粒体４の見かけの比磁化率χeffから、磁性粉粒体４中の磁性成分の嵩密度ρＭを算出する。
具体的に、ステップＳ２０５では、ステップＳ２０２で算出された温度Ｔにおける第２の較正曲線の係数ａ（Ｔ），ｂ（Ｔ）、及び、ステップＳ２０４で算出された温度Ｔにおける磁性粉粒体４の見かけの比磁化率χeffから、（１１）式を用いて、磁性粉粒体４中の磁性成分の嵩密度ρＭを算出する。
【００７６】
また、ステップＳ２０６において、保持円筒重量取得部６１９は、秤量装置５で測定された、保持円筒３の空重量Ｗ０と、磁性粉粒体４が装入された状態の保持円筒３の総重量Ｗ１とを取得する。
【００７７】
続いて、ステップＳ２０７において、第２の嵩密度算出部６２０は、ステップＳ２０６で取得された、保持円筒３の空重量Ｗ０と保持円筒３に磁性粉粒体４が装入された状態での総重量Ｗ１から、まず、磁性粉粒体４の装入重量Ｗ＝Ｗ１−Ｗ０を算出する。次に、第２の嵩密度算出部６２０は、磁性粉粒体４の装入重量Ｗと、保持円筒３の内径と高さから定められる内容積Ｖとから、保持円筒３内の磁性粉粒体４の嵩密度ρ０＝Ｗ／Ｖを算出する。
【００７８】
続いて、ステップＳ２０８において、磁性成分質量パーセント算出部６２１は、ステップＳ２０５で算出された磁性粉粒体４中の磁性成分の嵩密度ρＭと、ステップＳ２０７で算出された磁性粉粒体４の嵩密度ρ０から、磁性成分の質量％（重量％）をｗｔ％＝ρＭ／ρ０×１００で算出する。
なお、ここで求められる磁性成分の質量％は、例えば、マグネタイトＦｅ3Ｏ4の質量％である。マグネタイトＦｅ3Ｏ4＝ＦｅＯ・Ｆｅ2Ｏ3など２価鉄を含む成分中のＦｅＯが化学分析で溶出する。ＦｅＯが全てマグネタイトから溶出するわけではないが、ＦｅＯ％は磁性成分量と相関がある。仮に、ＦｅＯが全てマグネタイトから溶出したと仮定すると、マグネタイト換算の質量％はＦｅ3Ｏ4％=ＦｅＯ％×３．２２となる。この「３．２２」は化学式Ｆｅ3Ｏ4とＦｅＯの分子量の比Ｆｅ3Ｏ4／ＦｅＯに相当する数値である。即ち、本実施形態において、磁性粉粒体（焼結鉱）の焼成度を表す品質指標であるＦｅＯ％を求めるには、算出した磁性成分の質量％を「３．２２」で除算すればよいことになる。
【００７９】
（磁性粉粒体４の平均温度Ｔの推定方法）
次に、図６のステップＳ２０１における磁性粉粒体４の平均温度Ｔの推定方法について説明する。
実際の製造ラインで採取した磁性粉粒体４は、恒温槽から取り出した直後のように熱平衡には達していないため、磁性粉粒体４の平均温度Ｔを直接測定することはできない。このため、本実施形態に係る測定装置１００では、保持円筒３に装入された磁性粉粒体４の表面温度Ｔｓを測定する表面温度計７と、測定室内の雰囲気温度Ｔｒを測定する雰囲気温度計８を設置し、それぞれの温度計で測定された表面温度Ｔｓと雰囲気温度Ｔｒから磁性粉粒体４の平均温度Ｔを推定する方法を採用している。
【００８０】
ここで、本実施形態では、表面温度計７として放射温度計を用いる。これは、表面温度計７として熱電対を用いた場合には、温度測定をするまでにある程度の時間を要することや、保持円筒３に装入された磁性粉粒体４の表面温度のばらつきが大きくなるという課題があり、これに対して、表面温度計７として放射温度計を用いた場合には、瞬時に測定ができることや、保持円筒３に装入された磁性粉粒体４の表面の広い面積の温度をある程度平均化したような温度が測定できるという利点があるからである。
【００８１】
本実施形態では、保持円筒３に装入された磁性粉粒体４の表面温度をＴｓ、雰囲気温度をＴｒ、温度推定係数をαとして、磁性粉粒体４の平均温度Ｔを、以下の（１２）式で表す。
【００８２】
【数７】
2015184135.tif 000009
【００８３】
続いて、温度推定係数αの決定方法について説明する。
温度推定係数αは、（１２）式で示すように、保持円筒３に装入された磁性粉粒体４の平均温度Ｔを当該磁性粉粒体４の表面温度Ｔｓとその周辺の雰囲気温度Ｔｒとの線形式で表した際に、当該線形式の係数である。
そして、本実施形態では、平均温度推定部６１３において、温度推定係数αを、保持円筒３に装入された磁性粉粒体４に係る試料の磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントにおける測定値と、当該試料の磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントの化学分析による分析値（化学分析値）とに基づいて決定する。より詳細には、平均温度推定部６１３において、複数の試料の磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントにおける測定値と、当該試料の磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントにおける化学分析値との差の大きさに係る積算値が最小となるように、温度推定係数αを決定する。
【００８４】
この温度推定係数αの具体的な決定方法の一例について以下に示す。
温度推定係数αを決定するのに必要な試料としては、製造ラインで採取した磁性粉粒体の試料、或いは、製造ラインで採取した磁性粉粒体と同様の原料、製法にて作製された磁性粉粒体の試料を用いる。
試料数Ｎのうちのｉ番目の試料に関し、磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントの化学分析値をｘ（ｉ）とし、その測定値をｙ（ｉ）とする。そして、各試料ｉに対して測定値ｙ（ｉ）を図６のフローチャートの処理手順に従って算出する。
図７は、本発明の実施形態を示し、各試料の磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントの化学分析値とその測定値とを突き合わせた際の分布図の一例を示す図である。
本実施形態では、図７に示す温度補正前の分布７１０が、ｙ＝ｘの直線上付近に分布するように（図７に示す温度補正後の分布７２０となるように）、温度推定係数αを決定する。例えば、図８に示すような処理によって、温度推定係数αを決定する。
【００８５】
図８は、本発明の実施形態を示し、温度推定係数αの決定方法の処理手順の一例を示すフローチャートである。
【００８６】
まず、ステップＳ３０１において、平均温度推定部６１３は、温度推定係数αの仮の値α（ｊ）を設定する。このα（ｊ）は、初期値α０から始まり、Δαの刻みで最大Ｍ個の範囲まで設定できるものとする。
【００８７】
続いて、ステップＳ３０２において、平均温度推定部６１３は、試料ｉについて、その表面温度Ｔｓ（ｉ）及び雰囲気温度Ｔｒ（ｉ）から、（１２）式を用いて、平均温度Ｔ（ｉ）を算出する。
【００８８】
続いて、ステップＳ３０３において、平均温度推定部６１３は、ステップＳ３０２で算出した平均温度Ｔ（ｉ）、並びに、測定により得られた試料ｉにおける見かけの比磁化率χeff（ｉ）及び嵩密度ρ０（ｉ）から、図６のフローチャートの処理により、試料ｉの磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントの測定値ｙ（ｉ）を算出する。
【００８９】
そして、ステップＳ３０２〜Ｓ３０３の処理を繰り返し行い、試料数Ｎ個分の測定値ｙ（ｉ）（ｉ＝１，２，…，Ｎ）を得る。
【００９０】
続いて、ステップＳ３０４において、平均温度推定部６１３は、ステップＳ３０３で算出された測定値ｙ（ｉ）と、化学分析値ｘ（ｉ）から、例えば、以下の（１３）式でβ＝２として表される評価関数値Ｅ（ｊ）を算出する。
【００９１】
【数８】
2015184135.tif 000010
【００９２】
そして、ステップＳ３０１〜Ｓ３０４の処理を繰り返し行い、最大Ｍ個分の温度推定係数αの仮の値α（ｊ）（ｊ＝０，１，…，Ｍ−１）に対応するＥ（ｊ）を得る。
【００９３】
続いて、ステップＳ３０５において、平均温度推定部６１３は、最小の評価関数値Ｅ（ｊ）を与える温度推定係数αの仮の値α（ｊmin）を算出し、これを最終的な温度推定係数αとして決定する。
即ち、本実施形態では、複数の試料の磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントにおける測定値と、当該試料の磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントにおける化学分析値との差の大きさに係る積算値（本例では評価関数値Ｅ（ｊ））が最小となるように、温度推定係数αを決定する。
なお、本発明の実施形態においては、評価関数Ｅ（ｊ）として（１３）式でβ＝２として表される、磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントにおける化学分析値との差の大きさの二乗に係る積算値を用いたが、β≧１なるβ乗に係る積算値を用いてもよい。
【００９４】
その後、平均温度推定部６１３は、図３のステップＳ１０７で測定された表面温度Ｔｓ及び雰囲気温度Ｔｒと、図８のフローチャートの処理で決定された温度推定係数αとを用いて、（１２）式から、保持円筒３に装入された磁性粉粒体４の平均温度Ｔを推定する。
【実施例１】
【００９５】
本発明の実施形態における実施例１では、温度補正係数ｐ，ｑを決定するための恒温槽試験を行った。
【００９６】
試料は、ＦｅＯ％＝７．４％程度、粒度１５ｍｍ以下の焼結鉱を、内径１３４ｍｍ程度のアクリル製の円筒容器に高さ３２０ｍｍ程度入れたものを用意した。そして、試料の入った円筒容器を恒温槽に１時間〜２時間程度入れて、熱平衡状態にした。
【００９７】
そして、試料の入った円筒容器を恒温槽から取り出した直後に円筒容器をコイル（銅線部の外径が１５０ｍｍ程度、長さが１５０ｍｍ程度）に挿入し、上述した本実施形態における方法を用いて温度Ｔにおける見かけの比磁化率χeff（Ｔ）を評価した。具体的に、恒温槽の温度は、Ｔ＝２０℃から１０℃刻みで円筒容器の耐熱温度以下の６０℃まで設定し、見かけの比磁化率χeff（Ｔ）の温度依存性を測定した。
【００９８】
図９は、本発明の実施形態における実施例１を示し、見かけの比磁化率χeff（Ｔ）の温度依存性における測定結果を示す図である。
この図９に示す測定結果を２次式で近似して得られる、（１）式の係数ｃ，ｄ，ｅは、以下の表１に示すように、ｃ＝１．４２０×１０-6，ｄ＝１．６３７×１０-4，ｅ＝２．３４１×１０-1と決定できた。
また、基準温度をＴ0＝２０℃とし、（１）式の係数ｃ，ｄ，ｅから、（５）式〜（７）式を用いると、以下の表１に示すように、基準温度Ｔ0における見かけの比磁化率は、χeff（Ｔ0）＝２．３７９×１０-1、温度補正係数は、ｐ＝５．９６８×１０-6，ｑ＝９．２６７×１０-4と決定できた。
【００９９】
【表１】
2015184135.tif 000011
【実施例２】
【０１００】
本発明の実施形態における実施例２では、温度推定係数αを決定するため、焼結鉱の製造ラインで試料を採取して現場試験を行った。
【０１０１】
表面温度計７には、常温付近で感度の高い１０μｍ波長帯の放射温度計を用い、放射率は０．８に設定した。また、雰囲気温度計８には、白金測温抵抗体のものを用いた。
また、温度補正係数は、実施例１で得られたｐ，ｑの値を用い、基準温度Ｔ0における第１の較正曲線の係数は、室温での突き合わせ試験で得たａ（Ｔ0）＝２．９９５×１０-7，ｂ（Ｔ0）＝４．６９５×１０-4を用いた。
【０１０２】
図１０は、本発明の実施形態における実施例２を示し、温度補正前及び温度補正後のＦｅＯ％の測定値と、ＦｅＯ％の化学分析値との突き合わせ結果を示す図である。
【０１０３】
図１０（ａ）は、基準温度Ｔ0における第１の較正曲線を用いて算出した、温度補正前のＦｅＯ％の測定値と、ＦｅＯ％の化学分析値との突き合わせ結果を示している。図１０（ａ）に示す結果から、温度補正前のＦｅＯ％の測定値は、ＦｅＯ％の化学分析値よりも平均して０．５％程度高めの数値となっている。
そして、温度推定係数αの仮の値を１．０〜３．０まで設定し、刻み幅Δα＝０．１とし、図８のフローチャートの処理に従って温度推定係数αを決定したところ、温度推定係数α＝２．０となった。
【０１０４】
図１０（ｂ）は、温度推定係数α＝２．０とし、第１の較正曲線を温度補正して得た第２の較正曲線を用いて算出したＦｅＯ％の測定値と、ＦｅＯ％の化学分析値との突き合わせ結果を示している。図１０（ｂ）に示す結果から、温度補正後のＦｅＯ％の測定値は、ｙ＝ｘの直線上付近に分布し、平均してＦｅＯ％の化学分析値と合うようになった。
【０１０５】
以上説明したように、本実施形態に係る測定装置１００では、保持円筒３に装入された磁性粉粒体４の表面温度Ｔｓと保持円筒３の周辺の雰囲気温度Ｔｒを測定し、この表面温度Ｔｓと雰囲気温度Ｔｒとに基づいて保持円筒３に装入された磁性粉粒体４の空間的な平均温度Ｔを推定し、この平均温度Ｔに従って基準温度Ｔ0における第１の較正曲線を補正して温度Ｔにおける第２の較正曲線を生成した後、この第２の較正曲線を用いて磁性粉粒体４中の磁性成分の質量パーセントの測定値を算出するようにしている。
かかる構成によれば、磁性粉粒体の製造ラインにおいて、当該磁性粉粒体中の温度が較正曲線を作成した基準温度とは異なる場合にも、当該磁性粉粒体の磁性成分の質量パーセントの測定を正確に行うことができる。即ち、磁性粉粒体の製造ラインにおける各場面において当該磁性粉粒体中の磁性成分の質量パーセントの測定を正確に行うことができる。
【０１０６】
（その他の実施形態）
上述した実施例２等では、試料の磁性成分の質量％（ＦｅＯ％）の測定値が化学分析値と合うように温度推定係数αを求めたが、例えば、試料の実効的な密度（嵩密度）や、比熱、熱伝導係数、熱伝達係数等を与え、有限要素法などの伝熱計算によって、試料の平均温度と、表面温度及び雰囲気温度の関係を求めて、温度推定係数αを求めてもよい。
また、磁性成分の質量％を分析する方法は、化学分析に限らず、例えば、Ｘ線回折法、磁気特性を測定する振動試料型磁力計や磁気天秤等、他の分析法から得られる磁性成分の分析値と合うように、温度推定係数αを求めてもよい。
【０１０７】
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。
即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。
このプログラム及び当該プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体は、本発明に含まれる。
【０１０８】
なお、前述した本発明の実施形態は、何れも本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。即ち、本発明はその技術思想、又はその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。
【符号の説明】
【０１０９】
６１１  較正曲線記憶部、６１２  温度推定係数記憶部、６１３  平均温度推定部、６１４  温度補正係数記憶部、６１５  較正曲線生成部、６１６  インダクタンス取得部、６１７  見かけの比磁化率算出部、６１８  第１の嵩密度算出部、６１９  保持円筒重量取得部、６２０  第２の嵩密度算出部、６２１  磁性成分質量パーセント算出部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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