(57)【要約】【課題】測定システムにおいて、起動時から初回の測定結果出力までの時間を短縮する。【解決手段】センサ値を取得して測定値に変換する処理を繰り返す測定処理部と、所定の期間で測定値を取得して演算を行なう処理を繰り返す演算処理部とを備えた測定システムであって、測定処理部は、起動後にセンサ値を取得したか否かを示す取得情報を生成する取得情報生成手段を備え、演算処理部は、測定処理部から測定値とともに、取得情報を取得し、取得情報がセンサ値を取得していないことを示す場合には、演算を行なわない。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
センサ値を取得して測定値に変換する処理を繰り返す測定処理部と、前記測定値を所定の期間で取得して演算を行なう処理を繰り返す演算処理部とを備えた測定システムであって、
前記測定処理部は、起動後に前記センサ値を取得したか否かを示す取得情報を生成する取得情報生成手段を備え、
前記演算処理部は、前記測定処理部から前記測定値とともに、前記取得情報を取得し、前記取得情報がセンサ値を取得していないことを示す場合には、前記演算を行なわないことを特徴とする測定システム。
【請求項２】
前記演算処理部は、前記取得情報がセンサ値を取得していないことを示す場合は、前記測定値および前記取得情報を取得する繰り返し期間を前記所定の期間より短くすることを特徴とする請求項１に記載の測定システム。
【請求項３】
前記取得情報生成手段は、前記センサ値を取得した回数をカウントするカウンタであり、
前記取得情報は、前記カウンタのカウント値であり、
前記取得情報がセンサ値を取得していないことを示す場合とは、前記カウント値が初期値であることを特徴とする請求項１または２に記載の測定システム。
【請求項４】
前記演算処理部は、前記カウント値が初期値でない場合であっても、今回取得した前記カウント値が前回の取得時から変化していない場合は、前記演算を行なわないことを特徴とする請求項３に記載の測定システム。
【請求項５】
前記演算処理部は、今回取得した前記カウント値が前回の取得時から変化していない状況が所定期間または所定回数継続した場合に、警告を出力することを特徴とする請求項４に記載の測定システム。
【請求項６】
前記演算処理部は、今回取得した前記カウント値が前回の取得時から２以上変化している場合に、警告を出力することを特徴とする請求項３〜５のいずれか１項に記載の測定システム。
【請求項７】
複数個のセンサ値を取得してそれぞれ測定値に変換する処理を繰り返す測定処理部と、前記複数個の測定値を所定の期間で取得して演算を行なう処理を繰り返す演算処理部とを備えた測定システムであって、
前記測定処理部は、起動後に前記センサ値を取得したか否かを示す取得情報を生成する取得情報生成手段をセンサ値毎に備え、
前記演算処理部は、各測定値について前記測定処理部から前記測定値とともに、前記取得情報を取得し、いずれかの取得情報がセンサ値を取得していないことを示す場合には、前記演算を行なわないことを特徴とする測定システム。
【請求項８】
センサ値を取得して測定値に変換する処理を繰り返す測定処理部と、前記測定値を所定の期間で取得して演算を行なう処理を繰り返す演算処理部とを備えた測定システムにおける測定方法であって、
前記測定処理部が、起動後に前記センサ値を取得したか否かを示す取得情報を記録し、
前記演算処理部が、前記測定処理部から前記測定値とともに、前記取得情報を取得し、前記取得情報がセンサ値を取得していないことを示す場合には、前記演算を行なわないことを特徴とする測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はセンサ値を取得して測定値に変換する測定処理部と測定値を用いて演算を行なう演算処理部とを備えた測定システムおよびそのような測定システムにおける測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
プラント等では各種のフィールド機器が用いられているが、代表的なフィールド機器として温度、圧力、流量等の物理量を測定して出力する測定システムがある。
【０００３】
測定システムでは、センサから取得したセンサ値に基づいて演算を行ない、演算結果を測定結果として出力することが多いが、一般に、これらの一連の処理は単一の処理装置で行なわれている。近年、装置の共用化を図るために、機能毎にモジュール化することが行なわれるようになっており、測定システムでもセンサ値を取得する取得処理部と演算を行なう演算処理部とでモジュール化を進めることにより、それぞれのモジュールの汎用化や組み合わせ自由度の向上等が期待される。
【０００４】
図１３は、モジュール化を行なった場合に想定される測定システムの構成例を示すブロック図である。本図に示すように測定システム３００は、測定処理部３１０、センサ３２０、演算処理部３３０を備えている。測定処理部３１０、演算処理部３３０は、ＣＰＵ、メモリ、入出力回路等を備えたマイクロコントローラ等で構成され、センサ３２０は測定対象に応じたデバイスが利用される。例えば、測定対象が温度であれば、熱電対、測温抵抗体等が用いられる。測定処理部３１０と演算処理部３３０とは独立に構成されており、Ｍｏｄｂｕｓ等の通信プロトコルにより情報のやり取りを行なう。
【０００５】
測定処理部３１０は、センサ３２０を用いてセンサ値を取得し、デジタル変換等のデータ変換処理を行ない、内部のメモリに測定値として格納する。演算処理部３３０は、測定処理部３１０から測定値を取得し、出力すべき物理量への変換、補正、単位変換、アラーム判定等の演算を行ない、得られた値やアラーム情報を測定結果として表示装置や上位装置等に出力する。
【０００６】
測定処理部３１０のセンサ値の取得タイミングと、演算処理部３３０の測定値の取得タイミングとは非同期であり、それぞれ独立した周期でデータの取得を行なうものとする。
【０００７】
演算処理部３３０が測定処理部３１０から測定値を取得する場合には、測定処理部３１０に測定値要求を送り、その返信として測定処理部３１０から測定値を受信するものとする。これは、演算処理部３３０がスペック上要求される測定結果の出力レートに間に合うように測定値を自主的に取得する必要があるのと、通信プロトコルの要求から、演算処理部３３０をマスタとして動作させ、測定処理部３１０をスレーブとして動作させるためである。
【０００８】
図１４は、起動時における測定処理部３１０のセンサ値の取得タイミングと、演算処理部３３０の測定値の取得タイミングとを説明するタイミング図である。時刻ｔ０において測定システム３００の電源がＯＮになると、測定処理部３１０、演算処理部３３０はそれぞれ起動処理を開始する。
【０００９】
時刻ｔ１で演算処理部３３０の起動処理が完了するが、測定処理部３１０では、センサ関連のウォームアップを行なう必要があるため、起動処理により長い時間を要する。
【００１０】
時刻ｔ２で測定処理部３１０の起動処理が完了すると、測定処理部３１０が測定を開始し、時刻ｔ３に１回目のセンサ値取得を行なう。演算処理部３３０は、１回目のセンサ値取得が完了していると想定される時刻ｔ４に測定処理部３１０に測定値要求を送り、その返信として測定値を取得する。
【００１１】
以降は、所定間隔で測定処理部３１０がセンサ値を取得する処理と、所定間隔で演算処理部３３０が測定処理部３１０に測定値要求を送り、測定値を取得するという処理が繰り返される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１２】
【特許文献１】特開２０１３−１６０５０５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
演算処理部３３０は、測定処理部３１０が１回目のセンサ値を取得した後に１回目の測定値要求を行なうために、起動時あるいは起動処理完了時から所定の待ち時間経過後に１回目の測定値要求を行なうようにしている。このとき、測定処理部３１０が確実に１回目のセンサ値を取得している必要があるため、ウォームアップ完了の遅れ等に対応した十分なマージンを設定しなければならず、その分、起動時から初回の測定結果が出力されるまでの時間が長くなることになる。
【００１４】
起動時から初回の測定結果出力までの時間を短縮することができれば、ユーザの待ち時間が短くなって使用勝手が向上するのに加え、製品スペックとして現わるため測定システムの商品価値を高めることができる。
【００１５】
そこで、本発明は、センサ値を取得して測定値に変換する測定処理部と測定値を取得して演算を行なう演算処理部とを備えた測定システムにおいて、起動時から初回の測定結果出力までの時間を短縮することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
上記課題を解決するため、本発明の第１の態様である測定システムは、センサ値を取得して測定値に変換する処理を繰り返す測定処理部と、前記測定値を所定の期間で取得して演算を行なう処理を繰り返す演算処理部とを備えた測定システムであって、前記測定処理部は、起動後に前記センサ値を取得したか否かを示す取得情報を生成する取得情報生成手段を備え、前記演算処理部は、前記測定処理部から前記測定値とともに、前記取得情報を取得し、前記取得情報がセンサ値を取得していないことを示す場合には、前記演算を行なわないことを特徴とする。
ここで、前記演算処理部は、前記取得情報がセンサ値を取得していないことを示す場合は、前記測定値および前記取得情報を取得する繰り返し期間を前記所定の期間より短くすることが望ましい。
また、前記取得情報生成手段は、前記センサ値を取得した回数をカウントするカウンタであり、前記取得情報は、前記カウンタのカウント値であり、前記取得情報がセンサ値を取得していないことを示す場合とは、前記カウント値が初期値であることとすることができる。
また、前記演算処理部は、前記カウント値が初期値でない場合であっても、今回取得した前記カウント値が前回の取得時から変化していない場合は、前記演算を行なわないようにしてもよい。
また、前記演算処理部は、今回取得した前記カウント値が前回の取得時から変化していない状況が所定期間または所定回数継続した場合に、警告を出力するようにしてもよい。
また、前記演算処理部は、今回取得した前記カウント値が前回の取得時から２以上変化している場合に、警告を出力するようにしてもよい。
上記課題を解決するため、本発明の第２の態様である測定システムは、複数個のセンサ値を取得してそれぞれ測定値に変換する処理を繰り返す測定処理部と、前記複数個の測定値を所定の期間で取得して演算を行なう処理を繰り返す演算処理部とを備えた測定システムであって、前記測定処理部は、起動後に前記センサ値を取得したか否かを示す取得情報を生成する取得情報生成手段をセンサ値毎に備え、前記演算処理部は、各測定値について前記測定処理部から前記測定値とともに、前記取得情報を取得し、いずれかの取得情報がセンサ値を取得していないことを示す場合には、前記演算を行なわないことを特徴とする。
上記課題を解決するため、本発明の第３の態様である測定方法は、センサ値を取得して測定値に変換する処理を繰り返す測定処理部と、前記測定値を所定の期間で取得して演算を行なう処理を繰り返す演算処理部とを備えた測定システムにおける測定方法であって、前記測定処理部が、起動後に前記センサ値を取得したか否かを示す取得情報を記録し、前記演算処理部が、前記測定処理部から前記測定値とともに、前記取得情報を取得し、前記取得情報がセンサ値を取得していないことを示す場合には、前記演算を行なわないことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、センサ値を取得して測定値に変換する測定処理部と測定値を取得して演算を行なう演算処理部とを備えた測定システムにおいて、起動時から初回の測定結果出力までの時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明の第１実施形態に係る測定システムの構成を示すブロック図である。
【図２】測定処理部の第１実施例における動作を説明するフローチャートである。
【図３】演算処理部の第１実施例における動作を説明するフローチャートである。
【図４】第１実施例の測定システムにおける起動時の測定処理部のセンサ値の取得タイミングと、演算処理部の測定値の取得タイミングとを説明するタイミング図である。
【図５】本発明の第２実施形態に係る測定システムの構成を示すブロック図である。
【図６】演算処理部の第２実施例における動作を説明するフローチャートである。
【図７】本発明の第３実施形態に係る測定システムの構成を示すブロック図である。
【図８】演算処理部の第３実施例における動作を説明するフローチャートである。
【図９】センサが複数の場合の構成を示すブロック図である。
【図１０】センサが複数の場合の演算開始タイミングを説明する図である。
【図１１】センサ値が複数の場合の構成を示すブロック図である。
【図１２】センサおよび測定処理部が複数の場合の構成を示すブロック図である。
【図１３】モジュール化構造を採用した場合の測定システムの構成例を示すブロック図である。
【図１４】起動時における測定処理部のセンサ値の取得タイミングと、演算処理部の測定値の取得タイミングとを説明するタイミング図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。図１は、本発明の第１実施形態に係る測定システムの構成を示すブロック図である。
【００２０】
本図に示すように測定システム１００は、測定処理部１１０、センサ１２０、演算処理部１３０を備えている。測定処理部１１０、演算処理部１３０は、ＣＰＵ、メモリ、入出力回路等を備えたマイクロコントローラ等で構成され、センサ１２０は測定対象に応じたデバイスが利用される。例えば、測定対象が温度であれば、熱電対、測温抵抗体等が用いられる。測定処理部１１０と演算処理部１３０とは独立に構成されており、Ｍｏｄｂｕｓ等の通信プロトコルにより情報のやり取りを行なっている。測定処理部１１０と演算処理部１３０とは、同じ筐体内に組み込んでもよいし、別装置として構成してもよい。
【００２１】
測定処理部１１０は、センサ値取得部１１１、カウンタ１１２、変換部１１３、測定値メモリ１１４を備えている。
【００２２】
センサ値取得部１１１は、センサ１２０を用いてセンサ値を取得する。カウンタ１１２は、センサ値取得部１１１がセンサ値を取得した回数をカウントする。カウント値は起動時に初期値である０にリセットされる。このため、カウント値は、起動後にセンサ値を取得した回数を示すことになる。なお、カウント値は、所定の値、所定のタイミング等でリセットするようにしてもよい。
【００２３】
変換部１１３は、センサ値取得部１１１がセンサ１２０から取得したセンサ値をデジタル変換等のデータ変換処理を行ない、測定値メモリ１１４に測定値として格納する。
【００２４】
演算処理部３３０は、測定値・カウント値取得部１３１、演算部１３２を備えている。
【００２５】
測定値・カウント値取得部１３１は、測定処理部１１０に測定値・カウント値の取得要求を送り、測定値メモリ１１４に格納されている測定値とカウンタ１１２が計測するカウント値を取得する。
【００２６】
演算部１３２は、測定値・カウント値取得部１３１が取得した測定値に対して出力すべき物理量への変換、補正、単位変換、アラーム判定等の演算を行ない、得られた値やアラーム情報を測定結果として表示装置や上位装置等に出力する。ただし、演算部１３２は、起動後１回目の演算に用いる測定値について、カウント値が０のときの測定値は無効とし、演算は行なわない。
【００２７】
上記構成の測定システム１００の動作について説明する。図２は、測定処理部１１０の動作を説明するフローチャートである。
【００２８】
測定処理部１１０は、測定システム１００の電源がＯＮになると、ウォームアップを含む起動処理を行なう（Ｓ１０１）。
【００２９】
そして、ウォームアップが完了すると（Ｓ１０２：Ｙｅｓ）、センサ値の取得タイミング毎（Ｓ１０３：Ｙｅｓ）に、センサ値取得部１１１が、センサ１２０からセンサ値を取得する（Ｓ１０４）。センサ値を取得すると、カウンタ１１２のカウント値を増加させるとともに（Ｓ１０５）、変換部１１３によってセンサ値をデータ変換して測定値として測定値メモリ１１４に格納する（Ｓ１０６）。
【００３０】
演算処理部３３０から測定値・カウント値取得要求を受信した場合には、測定値メモリ１１４に格納されている測定値とカウンタ１１２のカウント値とを演算処理部１３０に返信する（Ｓ１０８）。
【００３１】
次に、演算処理部１３０の第１実施例における動作を図３のフローチャートを参照して説明する。
【００３２】
演算処理部１３０は、測定システム１００の電源がＯＮになると、起動処理を行なう（Ｓ２０１）。
【００３３】
起動処理が完了すると、測定値・カウント値取得部１３１が、所定の初回取得要求タイミングで（Ｓ２０２：Ｙｅｓ）、測定処理部１１０に測定値・カウント値取得要求を送る（Ｓ２０３）。初回の測定値・カウント値取得要求は、測定処理部１１０の起動処理の確実な完了を待つ必要はなく、従来の待ち時間後の１回目の測定値要求よりも早いタイミングで送ることができる。
【００３４】
測定値・カウント値取得要求の返信として測定値とカウント値とを取得すると（Ｓ２０４）、取得したカウント値が０かどうかを判定する（Ｓ２０５）。その結果、カウント値が０の場合は（Ｓ２０５：Ｙｅｓ）、測定処理部１１０でまだセンサ値取得が行なわれていないことを示すため、取得した測定値を無効として、次の初回取得要求のタイミングを待つ（Ｓ２０２）。次の初回取得要求までの間隔は、測定値を有効として演算を実行し、測定結果を出力し始めた後の通常の測定値取得要求の間隔よりも短くすることが望ましい。これにより、カウント値が１になった状態をより早く検出することが可能となる。
【００３５】
一方、カウント値が０でない場合は（Ｓ２０５：Ｎｏ）、測定処理部１１０でセンサ値取得が行なわれたことを示すため、取得した測定値を用いて演算部１３２が初回の演算を行なう（Ｓ２０６）。そして、演算結果を初回の測定結果として出力する（Ｓ２０７）。これにより、起動時から初回の測定結果出力までの時間を短縮することができる。
【００３６】
以降は、従来の測定値取得要求の間隔と同じタイミングで（Ｓ２０８）、測定値・カウント値取得要求を測定処理部１１０に送り（Ｓ２０９）、測定値とカウント値とを取得する（Ｓ２１０）。ただし、測定値のみを取得するようにしてもよい。そして、取得した測定値を用いて演算部１３２が演算を行ない（Ｓ２１１）、演算結果を測定結果として出力する（Ｓ２１２）。そして、所定のタイミングで次の取得要求を行なう（Ｓ２０８）。
【００３７】
なお、第１実施例においては、カウンタ１１２に代えて、センサ値を取得したか否かを示すフラグを用いるようにしてもよい。センサ値を取得していない状態を０で表わし、センサ値を取得した状態を１で表わすとすると、演算処理部１３０は、フラグが０であれば取得した測定値を無効とし、フラグが１であれば取得した測定値を用いて演算を行なうようにすればよい。
【００３８】
図４は、第１実施例の測定システム１００における起動時の測定処理部１１０のセンサ値の取得タイミングと、演算処理部１３０の測定値の取得タイミングとを説明するタイミング図である。
【００３９】
時刻ｔ０において測定システム１００の電源がＯＮになると、測定処理部１１０、演算処理部１３０はそれぞれ起動処理を開始する。
【００４０】
時刻ｔ１で演算処理部１３０の起動処理が完了すると、従来の待ち時間を確保することなく時刻ｔ２に測定値・カウント値取得要求を測定処理部１１０に送り、その返信として測定値とカウント値とを取得する。この時点でカウント値は０のため、取得した測定値は無効となる。
【００４１】
時刻ｔ３で測定処理部１１０の起動処理が完了すると、測定処理部１１０が測定を開始し、時刻ｔ４に１回目のセンサ値取得を行なう。これによりカウント値は１になる。
【００４２】
時刻ｔ５で演算処理部１３０が測定値・カウント値要求を測定処理部１１０に送り、その返信として測定値とカウント値とを取得すると、カウント値は１となっているため、取得した測定値を用いて演算を実行する。
【００４３】
以降は、所定間隔で測定処理部１１０がセンサ値を取得し、演算処理部１３０が測定値・カウント値取得要求を送り、測定値とカウント値とを取得するという処理が繰り返される。
【００４４】
以上説明したように、第１実施例の測定システム１００によれば、演算処理部１３０は起動後十分なマージンを含んだ待ち時間分待つことなく測定値の取得要求を行なうことができるため、起動時から初回の測定結果出力までの時間を短縮することができる。
【００４５】
次に、本発明の第２実施例について説明する。第２実施例では、前回の演算時からカウント値が増加していれば演算を行なうようにする。すなわち、演算の開始後に、演算処理部１３０の測定値取得のタイミングが早すぎて、測定値が更新されていない場合は、演算を行なわないようにすることで演算処理部１３０の処理の効率を向上させる。
【００４６】
図５は、本発明の第２実施形態に係る測定システムの構成を示すブロック図である。第１実施例と同じブロックについては同じ符号を付している。
【００４７】
本図に示すように第２実施例の測定システム１００は、測定処理部１１０、センサ１２０、演算処理部１３０を備えている。測定処理部１１０およびセンサ１２０は、第１実施例と同様である。演算処理部１３０は、第１実施例の測定値・カウント値取得部１３１、演算部１３２に加えて、カウント値メモリ１３３を備えている。カウント値メモリ１３３は、測定処理部１１０から取得したカウント値を一時的に格納するメモリである。
【００４８】
上記構成の第２実施例の測定システム１００の動作について説明する。測定処理部１１０の動作は第１実施例と同様である。図６は、第２実施例の演算処理部１３０の動作を説明するフローチャートである。
【００４９】
演算処理部１３０は、測定システム１００の電源がＯＮになると、起動処理を行なう（Ｓ３０１）。
【００５０】
起動処理が完了すると、測定値・カウント値取得部１３１が、所定の初回取得要求タイミングで（Ｓ３０２：Ｙｅｓ）、測定処理部１１０に測定値・カウント値取得要求を送る（Ｓ３０３）。初回の測定値・カウント値取得要求は、従来の待ち時間後の１回目の測定値要求よりも早いタイミングで送ることができる。
【００５１】
測定値・カウント値取得要求の返信として測定値とカウント値とを取得すると（Ｓ３０４）、カウント値をカウント値メモリ１３３に格納し（Ｓ３０５）、取得したカウント値が０かどうかを判定する（Ｓ３０６）。
【００５２】
その結果、カウント値が０の場合は（Ｓ３０６：Ｙｅｓ）、測定処理部１１０でまだセンサ値取得が行なわれていないことを示すため、取得した測定値を無効として、次の初回取得要求のタイミングを待つ（Ｓ３０２）。次の初回取得要求までの間隔は、通常の測定値取得要求の間隔よりも短くすることが望ましい。これにより、カウント値が１になった状態をより早く検出することが可能となる。
【００５３】
一方、カウント値が０でない場合は（Ｓ３０６：Ｎｏ）、測定処理部１１０でセンサ値取得が行なわれたことを示すため、取得した測定値を用いて演算部１３２が初回の演算を行なう（Ｓ３０７）。そして、演算結果を初回の測定結果として出力する（Ｓ３０８）。これにより、起動時点から初回の測定結果出力までの時間を短縮することができる。
【００５４】
以降は、従来の測定値取得要求の間隔と同じタイミングで（Ｓ３０９）、測定値・カウント値取得要求を測定処理部１１０に送り（Ｓ３１０）、測定値とカウント値とを取得する（Ｓ３１１）。
【００５５】
そして、今回最新に取得したカウント値がカウント値メモリ１３３に格納されている値（前回取得したカウント値）から増加しているかどうかを判定する（Ｓ３１２）。カウント値が増加していない場合（Ｓ３１２：Ｎｏ）は、前回の取得時から測定値が更新されていないことを示すため、再度、測定値・カウント値取得要求を測定処理部１１０に送り（Ｓ３１０）、測定値とカウント値とを取得する（Ｓ３１１）。このときの測定値・カウント値取得要求を送る間隔は、演算開始後の通常の間隔よりも短くすることが望ましい。なお、減算カウンタを用いる場合は、取得したカウント値がカウント値メモリ１３３に格納されている値から減少しているかどうかを判定すればよい。他の例についても同様である。
【００５６】
取得したカウント値がカウント値メモリ１３３に格納されている値から増加している場合（Ｓ３１２：Ｙｅｓ）は、測定値が更新されていることを示すため、取得したカウント値をカウント値メモリ１３３に格納する（Ｓ３１３）とともに、取得した測定値を用いて演算部１３２が演算を行ない（Ｓ３１４）、演算結果を測定結果として出力する（Ｓ３１５）。そして、所定のタイミングで次の取得要求を行なう（Ｓ３０９）。
【００５７】
次に、本発明の第３実施例について説明する。第３実施例では、カウント値を用いて測定処理部１１０の診断を行ない、異常が検出されると演算処理部１３０がアラーム情報を出力する。
【００５８】
図７は、本発明の第３実施形態に係る測定システムの構成を示すブロック図である。第１実施例、第２実施例と同じブロックについては同じ符号を付している。
【００５９】
本図に示すように第３実施例の測定システム１００は、測定処理部１１０、センサ１２０、演算処理部１３０を備えている。測定処理部１１０およびセンサ１２０は、第１実施例、第２実施例と同様である。演算処理部１３０は、第１実施例の測定値・カウント値取得部１３１、演算部１３２、第２実施例のカウント値メモリ１３３に加えて、異常判定部１３４を備えている。異常判定部１３４は、取得したカウント値に基づいて測定処理部１１０の異常を判定し、異常を検出した場合には、表示装置や上位装置等にアラーム情報を出力する。
【００６０】
上記構成の第２実施例の測定システム１００の動作について説明する。測定処理部１１０の動作は第１実施例、第２実施例と同様である。図８は、演算処理部１３０の第３実施例の動作を説明するフローチャートである。初回測定結果を出力する処理（Ｓ３０８）までは、図６のフローチャートに示した第２実施例の動作と同様であるため、説明を省略する。
【００６１】
初回測定結果の出力以降は、従来の測定値取得要求の間隔と同じタイミングで（Ｓ４０１）、測定値・カウント値取得要求を測定処理部１１０に送り（Ｓ４０２）、測定値とカウント値とを取得する（Ｓ４０３）。
【００６２】
そして、取得したカウント値がカウント値メモリ１３３に格納されている値から増加しているかどうかを判定し（Ｓ４０４）、増加していない場合（Ｓ４０４：Ｎｏ）は、さらに、カウント値が増加していない状態が所定期間または所定回数連続しているかどうかを異常判定部１３４が判定する（Ｓ４０５）。
【００６３】
カウント値が増加していない状態が所定期間または所定回数連続している場合（Ｓ４０５：Ｙｅｓ）は、測定処理部１１０に何らかの異常が発生し、正常な周期で測定値を更新できなくなっているおそれがあるため、異常判定部１３４がアラームを出力して、異常が発生したことをユーザに通知する（Ｓ４０８）。
【００６４】
カウント値が増加していない状態が所定期間または所定回数連続していない場合（Ｓ４０５：Ｎｏ）は、再度、測定値・カウント値取得要求を測定処理部１１０に送り（Ｓ４０２）、測定値とカウント値とを取得する（Ｓ４０３）。このときの測定値・カウント値取得要求を送る間隔は、通常の間隔よりも短くすることが望ましい。
【００６５】
取得したカウント値がカウント値メモリ１３３に格納されている値から増加している場合（Ｓ４０４：Ｙｅｓ）は、取得したカウント値がカウント値メモリ１３３に格納されている値と連続しているかどうかを異常判定部１３４が判定する（Ｓ４０６）。
【００６６】
取得したカウント値がカウント値メモリ１３３に格納されている値と連続していない場合（Ｓ４０６：Ｙｅｓ）は、測定値が飛ばされたことを意味しているため、通信異常や測定値取得周期の異常等が発生したおそれがあるとして、異常判定部１３４がアラームを出力して、異常が発生したことをユーザに通知する（Ｓ４０８）。この異常判定は、最大値、最小値測定等のすべての測定値を取得すべき測定において特に有効である。
【００６７】
取得したカウント値がカウント値メモリ１３３に格納されている値と連続している場合（Ｓ４０６：Ｎｏ）は、測定値が正常に更新されていることを示すため、取得したカウント値をカウント値メモリ１３３に格納するとともに（Ｓ４０７）、取得した測定値を用いて演算部１３２が演算を行ない（Ｓ４０９）、演算結果を測定結果として出力する（Ｓ４１０）。そして、所定のタイミングで次の取得要求を行なう（Ｓ４０１）。
【００６８】
なお、上記の第１実施例〜第３実施例では、センサ１２０が１つでセンサ値も１つの場合について説明したが、本発明は、センサが複数個の場合やセンサ値が複数個の場合等にも適用することができる。図９は、センサが複数個の場合の測定システム１００の構成を示すブロック図である。本図の例は第１実施例の構成に対応しているが、第２実施例、第３実施例の構成に対応させることもできる。
【００６９】
本図に示すように、測定システム１００は、３つのセンサ（センサａ１２０ａ、センサｂ１２０ｂ、センサｃ１２０ｃ）を備え、測定処理部１１０は、各センサに対応させた３つのカウンタ（カウンタａ１１２ａ、カウンタｂ１１２ｂ、カウンタｃ１１２ｃ）と３つの測定値メモリ（測定値メモリａ１１４ａ、測定値メモリｂ１１４ｂ、測定値メモリｃ１１４ｃ）を備えている。
【００７０】
カウンタａ１１２ａは、センサａ１２０ａからのセンサ値取得回数をカウントし、カウンタｂ１１２ｂは、センサｂ１２０ｂからのセンサ値取得回数をカウントし、カウンタｃ１１２ｃは、センサｃ１２０ｃからのセンサ値取得回数をカウントする。
【００７１】
また、測定値メモリａ１１４ａは、センサａ１２０ａから取得したセンサ値ａに基づく測定値ａを格納し、測定値メモリｂ１１４ｂは、センサｂ１２０ｂから取得したセンサ値ｂに基づく測定値ｂを格納し、測定値メモリｃ１１４ｃは、センサｃ１２０ｃから取得したセンサ値ｃに基づく測定値ｃを格納する。
【００７２】
演算処理部１３０の測定値・カウント値取得部１３１が、測定処理部１１０に測定値・カウント値要求を送ると、測定処理部１１０は、測定値メモリａ１１４ａに格納されている測定値ａ、カウンタａ１１２ａのカウント値ａ、測定値メモリｂ１１４ｂに格納されている測定値ｂ、カウンタｂ１１２ｂのカウント値ｂ、測定値メモリｃ１１４ｃに格納されている測定値ｃ、カウンタｃ１１２ｃのカウント値ｃを返送する。
【００７３】
そして、演算処理部１３０の演算部１３２は、測定値ａ、測定値ｂ、測定値ｃを用いて演算を行なって、測定結果を出力するものとする。
【００７４】
各センサ１２０のウォームアップ完了時間が異なる場合、図１０に示すように、各カウンタ１１２のカウントスタートタイミングが異なるが、演算部１３２は、すべてのカウント値が０でなくなった時点から演算を開始するようにする。この場合も、初回の測定値・カウント値要求は、各センサ１２０の確実なウォームアップ完了を待つことなく送ることができる。また、演算開始前の取得要求の間隔は、演算開始後の取得要求の間隔よりも短くすることが望ましい。
【００７５】
図１１は、１つのセンサ１２０で複数個のセンサ値を取得する場合の構成を示すブロック図である。本図の例では、測定処理部１１０は、センサ１２０からセンサ値ａ、センサ値ｂ、センサ値ｃを取得する。この場合も、測定処理部１１０には、各センサ値に対応させた３つのカウンタ（カウンタａ１１２ａ、カウンタｂ１１２ｂ、カウンタｃ１１２ｃ）と測定値メモリ（測定値メモリａ１１４ａ、測定値メモリｂ１１４ｂ、測定値メモリｃ１１４ｃ）を備えさせることで、センサが複数個との場合と同じ処理を行なうことができる。
【００７６】
図１２は、複数個の測定処理部を設けた場合の構成を示すブロック図である。本図の例では、センサａ１２０ａからセンサ値ａを取得する測定処理部ａ１１０ａとセンサｂ１２０ｂからセンサ値ｂを取得する測定処理部ｂ１１０ｂが設けられている。
【００７７】
そして、演算処理部１３０の演算部１３２は、測定処理部ａ１１０ａから取得した測定値ａと測定処理部ｂ１１０ｂから取得した測定値ｂとを用いて演算を行なって、測定結果を出力するものとする。
【００７８】
この場合、演算処理部１３０は測定処理部ａ１１０ａと測定処理部ｂ１１０ｂに同時に測定値・カウント値要求を送り、測定処理部ａ１１０ａからの返信として測定値ａとカウント値ａとを取得し、測定処理部ｂ１１０ｂからの返信として測定値ｂとカウント値ｂとを取得する。そして、カウント値ａ、カウント値ｂとも０でなくなった時点から演算を開始するようにすればよい。
【符号の説明】
【００７９】
１００…測定システム
１１０…測定処理部
１１１…センサ値取得部
１１２…カウンタ
１１３…変換部
１１４…測定値メモリ
１２０…センサ
１３０…演算処理部
１３１…測定値・カウント値取得部
１３２…演算部
１３３…カウント値メモリ
１３４…異常判定部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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