(57)【要約】      （修正有）【課題】プレスキャンの時間をできるだけ長くせずに送信ゲインを調整できる方法を提供する。【解決手段】奇数番目のスライスＳＬ１、ＳＬ３、・・・ＳＬ１３ごとに、シーケンスＢ１〜Ｂｊの各々から得られた磁気共鳴信号の信号強度ｅ１〜ｅｊを求める手段と、信号強度ｅ１〜ｅｊに基づいて、奇数番目のスライスごとに、磁気共鳴信号の信号強度が最大になるときの第１の送信ゲインを求める手段と、第１の送信ゲインに基づいて、偶数番目のスライスＳＬ２、ＳＬ４、・・・ＳＬ１２ごとに、磁気共鳴信号の信号強度が最大になるときの第２の送信ゲインを推定する送信ゲイン推定手段と、第１の送信ゲインおよび第２の送信ゲインに基づいて、本スキャンを実行するときの送信ゲインを決定する送信ゲイン決定手段とを有する磁気共鳴装置。【選択図】図５
2015058146.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮影部位に設定されたｎ枚のスライスから磁気共鳴信号を収集するための本スキャンを実行する磁気共鳴装置であって、
送信ゲインに基づいてＲＦパルスを発生するＲＦパルス発生部を有し、前記ｎ枚のうちのｍ（＜ｎ）枚のスライスから磁気共鳴信号を収集するためのプレスキャンを実行するスキャン手段であって、前記送信ゲインを調整することによりＲＦパルスのフリップ角を変更し、前記ｍ枚のスライスごとに、ＲＦパルスのフリップ角が異なる複数のシーケンスが実行されるように、前記プレスキャンを実行するスキャン手段と、
前記ｍ枚のスライスごとに、前記複数のシーケンスの各々から得られた磁気共鳴信号の信号強度を求める手段と、
前記信号強度に基づいて、前記ｍ枚のスライスごとに、磁気共鳴信号の信号強度が最大になるときの第１の送信ゲインを求める手段と、
前記第１の送信ゲインに基づいて、前記ｎ枚のスライスから前記ｍ枚のスライスを除いた残りの（ｎ−ｍ）枚のスライスごとに、磁気共鳴信号の信号強度が最大になるときの第２の送信ゲインを推定する送信ゲイン推定手段と、
前記第１の送信ゲインおよび前記第２の送信ゲインに基づいて、前記本スキャンを実行するときの送信ゲインを決定する送信ゲイン決定手段と、
を有する磁気共鳴装置。
【請求項２】
前記本スキャンでは、スピンエコー法により前記ｎ枚のスライスの各々から磁気共鳴信号を収集するためのシーケンスが実行され、
前記プレスキャンでは、スピンエコー法により前記ｍ枚のスライスの各々から磁気共鳴信号を収集するためのシーケンスが実行される、請求項１に記載の磁気共鳴装置。
【請求項３】
前記本スキャンでは、グラディエントエコー法により前記ｎ枚のスライスの各々から磁気共鳴信号を収集するためのシーケンスが実行され、
前記プレスキャンでは、スピンエコー法により前記ｍ枚のスライスの各々から磁気共鳴信号を収集するためのシーケンスが実行される、請求項１に記載の磁気共鳴装置。
【請求項４】
前記ｍ枚のスライスごとに、磁気共鳴信号の信号強度が最大になるときのフリップ角を算出するフリップ角算出手段を有する、請求項２又は３に記載の磁気共鳴装置。
【請求項５】
前記フリップ角算出手段により算出されたフリップ角に基づいて、前記（ｎ−ｍ）枚のスライスごとに、磁気共鳴信号の信号強度が最大になるときのフリップ角を推定するフリップ角推定手段を有する、請求項６に記載の磁気共鳴装置。
【請求項６】
前記プレスキャンでは、前記ｍ枚のスライスの他に、前記ｎ枚のスライスとは別のスライスから磁気共鳴信号を収集する、請求項１〜５のうちのいずれか一項に記載の磁気共鳴装置。
【請求項７】
送信ゲインに基づいてＲＦパルスを発生するＲＦパルス発生部を有し、撮影部位に設定されたｎ枚のスライスから磁気共鳴信号を収集するための本スキャンと、前記ｎ枚のうちのｍ（＜ｎ）枚のスライスから磁気共鳴信号を収集するためのプレスキャンとを実行する磁気共鳴装置に適用されるプログラムであって、
前記ｍ枚のスライスごとに、前記複数のシーケンスの各々から得られた磁気共鳴信号の信号強度を求める処理と、
前記信号強度に基づいて、前記ｍ枚のスライスごとに、磁気共鳴信号の信号強度が最大になるときの第１の送信ゲインを求める処理と、
前記第１の送信ゲインに基づいて、前記ｎ枚のスライスから前記ｍ枚のスライスを除いた残りの（ｎ−ｍ）枚のスライスごとに、磁気共鳴信号の信号強度が最大になるときの第２の送信ゲインを推定する送信ゲイン推定処理と、
前記第１の送信ゲインおよび前記第２の送信ゲインに基づいて、前記本スキャンを実行するときの送信ゲインを決定する送信ゲイン決定処理と、
を計算機に実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、送信ゲインを調整する磁気共鳴装置、およびその磁気共鳴装置に適用されるプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
ＲＦパルスのフリップ角を最適化するために送信器の送信ゲインを調整する技術が知られている（特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００６−０４３４７３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
また、送信ゲインを調整する場合、一般的には、本スキャンの前に、送信ゲインを決定するためのプレスキャンが実行される。例えば、本スキャンで複数のスライスの画像を取得する場合、プレスキャンでは複数のスライスのうちの１つスライス（例えば、中央に位置するスライス）から送信ゲインを決定するためのデータが収集される。しかし、この方法では、どのスライスの画像を取得する場合でも同じ送信ゲインが使用されるので、スライス間のコントラストのばらつきが大きくなることがある。
【０００５】
これに対処する方法として、複数のスライスの各々からＭＲ信号を収集し、各スライスに適した送信ゲインを求める方法がある。しかし、この方法では、プレスキャンの時間が長くなるという問題がある。したがって、プレスキャンの時間をできるだけ長くせずに送信ゲインを調整できる方法が望まれている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の第１の観点は、撮影部位に設定されたｎ枚のスライスから磁気共鳴信号を収集するための本スキャンを実行する磁気共鳴装置であって、
送信ゲインに基づいてＲＦパルスを発生するＲＦパルス発生部を有し、前記ｎ枚のうちのｍ（＜ｎ）枚のスライスから磁気共鳴信号を収集するためのプレスキャンを実行するスキャン手段であって、前記送信ゲインを調整することによりＲＦパルスのフリップ角を変更し、前記ｍ枚のスライスごとに、ＲＦパルスのフリップ角が異なる複数のシーケンスが実行されるように、前記プレスキャンを実行するスキャン手段と、
前記ｍ枚のスライスごとに、前記複数のシーケンスの各々から得られた磁気共鳴信号の信号強度を求める手段と、
前記信号強度に基づいて、前記ｍ枚のスライスごとに、磁気共鳴信号の信号強度が最大になるときの第１の送信ゲインを求める手段と、
前記第１の送信ゲインに基づいて、前記ｎ枚のスライスから前記ｍ枚のスライスを除いた残りの（ｎ−ｍ）枚のスライスごとに、磁気共鳴信号の信号強度が最大になるときの第２の送信ゲインを推定する送信ゲイン推定手段と、
前記第１の送信ゲインおよび前記第２の送信ゲインに基づいて、前記本スキャンを実行するときの送信ゲインを決定する送信ゲイン決定手段と、
を有する磁気共鳴装置である。
【０００７】
本発明の第２の観点は、送信ゲインに基づいてＲＦパルスを発生するＲＦパルス発生部を有し、撮影部位に設定されたｎ枚のスライスから磁気共鳴信号を収集するための本スキャンと、前記ｎ枚のうちのｍ（＜ｎ）枚のスライスから磁気共鳴信号を収集するためのプレスキャンとを実行する磁気共鳴装置に適用されるプログラムであって、
前記ｍ枚のスライスごとに、前記複数のシーケンスの各々から得られた磁気共鳴信号の信号強度を求める処理と、
前記信号強度に基づいて、前記ｍ枚のスライスごとに、磁気共鳴信号の信号強度が最大になるときの第１の送信ゲインを求める処理と、
前記第１の送信ゲインに基づいて、前記ｎ枚のスライスから前記ｍ枚のスライスを除いた残りの（ｎ−ｍ）枚のスライスごとに、磁気共鳴信号の信号強度が最大になるときの第２の送信ゲインを推定する送信ゲイン推定処理と、
前記第１の送信ゲインおよび前記第２の送信ゲインに基づいて、前記本スキャンを実行するときの送信ゲインを決定する送信ゲイン決定処理と、
を計算機に実行させるためのプログラムである。
【発明の効果】
【０００８】
ｍ枚のスライスごとに求められた第１の送信ゲインに基づいて（ｎ−ｍ）枚のスライスの第２の送信ゲインを推定する。したがって、プレスキャンにおいて、（ｎ−ｍ）枚のスライスからデータを収集するためのシーケンスを実行する必要がないので、スキャン時間を短くすることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明の一形態の磁気共鳴装置の概略図である。
【図２】本形態において実行されるスキャンを概略的に示す図である。
【図３】ローカライザスキャンＡの説明図である。
【図４】本スキャンＣの説明図である。
【図５】プリスキャンＢの説明図である。
【図６】シーケンスＢ１〜Ｂｊで使用されるＲＦパルスのフリップ角の大きさを示すグラフである。
【図７】ローカライザスキャンＡ、プレスキャンＢ、および本スキャンＣを実行するときのフローを示す図である。
【図８】本形態におけるシーケンスＢ１〜Ｂｊと送信ゲインとの関係を示す図である。
【図９】シーケンスＢ１のＲＦパルスｖおよびｗを発生させるときの送信器の動作の説明図である。
【図１０】シーケンスＢ２のＲＦパルスｖおよびｗを発生させるときの送信器の動作の説明図である。
【図１１】最後に実行されるシーケンスＢｊのＲＦパルスｖおよびｗを発生させるときの送信器の動作の説明図である。
【図１２】シーケンスＢ１〜Ｂｊを実行することにより各スライスから収集されたエコーを概略的に示す図である。
【図１３】スライスＳＬ１から収集されたエコーＥ１〜Ｅｊの信号強度ｅ１〜ｅｊを示す図である。
【図１４】信号強度ｅ１〜ｅｊに最も当てはまる曲線ａ１を示す図である。
【図１５】スライスＳＬ３における送信ゲインＴＧおよびフリップ角（α１，α２）の求め方の説明図である。
【図１６】スライスＳＬ３における送信ゲインＴＧおよびフリップ角（α１，α２）の求め方の説明図である。
【図１７】奇数番目の最後のスライスＳＬ１３における送信ゲインＴＧおよびフリップ角（α１，α２）の求め方を示す図である。
【図１８】奇数番目の最後のスライスＳＬ１３における送信ゲインＴＧおよびフリップ角（α１，α２）の求め方を示す図である。
【図１９】メモリに記憶された送信ゲインＴＧおよびフリップ角（α１，α２）を概略的に示す図である。
【図２０】偶数番目のスライスＳＬ２、ＳＬ４、ＳＬ６、・・・、ＳＬ１２の送信ゲインＴＧおよびフリップ角（α１，α２）を求めるときの説明図である。
【図２１】シーケンスＣ１を実行するときの送信器の動作の説明図である。
【図２２】シーケンスＣ２を実行するときの送信器の動作の説明図である。
【図２３】本スキャンＣにおいてグラディエントエコー法のシーケンスを用いる一例を示す図である。
【図２４】ＲＦパルスｗの振幅をＲＦパルスｖの振幅に一致させた場合のプレスキャンを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、発明を実施するための形態について説明するが、本発明は、以下の形態に限定されることはない。
【００１１】
図１は、本発明の一形態の磁気共鳴装置の概略図である。
磁気共鳴装置（以下、「ＭＲ装置」と呼ぶ。ＭＲ：Magnetic Resonance）１００は、マグネット２、テーブル３、受信コイル４などを有している。
【００１２】
マグネット２は、被検体１１が収容されるボア２１を有している。また、マグネット２には、ＲＦコイル２２や勾配コイル（図示せず）などが内蔵されている。
【００１３】
テーブル３は、被検体１１を支持するクレードル３ａを有している。クレードル３ａは、ボア２１内に移動できるように構成されている。クレードル３ａによって、被検体１１はボア２１に搬送される。
【００１４】
受信コイル４は、被検体１１に取り付けられている。受信コイル４は、被検体１１からの磁気共鳴信号を受信する。
【００１５】
ＭＲ装置１００は、更に、送信器５、勾配磁場電源６、受信器７、制御部８、操作部９、および表示部１０などを有している。
【００１６】
送信器５は送信ゲインＴＧ（Transmit Gain）に基づいてＲＦコイルにＲＦ電流を供給する。送信ゲインＴＧは、ＲＦ電流の振幅を調整するためのパラメータである。送信器は、送信ゲインの値に応じてＲＦ電流の振幅を調整することができる。したがって、送信ゲインの値を調整することによって、ＲＦパルスのフリップ角を変更することができる。送信ゲインの調整方法については後述する。尚、送信器５およびＲＦコイル２２を合わせたものがＲＦパルス発生部に相当する。
【００１７】
勾配磁場電源６は勾配コイルに電流を供給する。受信器７は、受信コイル４から受け取った信号に対して、検波などの信号処理を実行する。尚、マグネット２、受信コイル４、送信器５、勾配磁場電源６、および受信器７を合わせたものが、スキャン手段に相当する。
【００１８】
制御部８は、表示部１０に必要な情報を伝送したり、受信コイル４から受け取ったデータに基づいて画像を再構成するなど、ＭＲ装置１００の各種の動作を実現するように、ＭＲ装置１００の各部の動作を制御する。制御部８は、信号強度算出手段８１〜メモリ８８などを有している。
【００１９】
信号強度算出手段８１はエコーの信号強度ｅ１〜ｅｊ（例えば図１３参照）を算出する。
フィッティング手段８２は、信号強度ｅ１〜ｅｊを用いて後述する式（１１）のフィッティングを行う。
送信ゲイン特定手段８３は、信号強度が最大値になるときの送信ゲインを特定する。
フリップ角決定手段８４は、エコーの信号強度が最大値になるときのＲＦパルスのフリップ角を決定する。
送信ゲイン推定手段８５は送信ゲインを推定する。
フリップ角推定手段８６はフリップ角を推定する。
送信ゲイン決定手段８７は本スキャンを実行するときの送信ゲインを決定する。
メモリ８８は送信ゲインの値およびフリップ角の値を記憶する。
【００２０】
尚、制御部８は、信号強度算出手段８１〜送信ゲイン決定手段８７を構成する一例であり、所定のプログラムを実行することにより、これらの手段として機能する。また、フィッティング手段８２および送信ゲイン特定手段８３を合わせたものが、第１の送信ゲインを求める手段に相当する。
【００２１】
操作部９は、オペレータにより操作され、種々の情報を制御部８に入力する。表示部１０は種々の情報を表示する。
ＭＲ装置１００は、上記のように構成されている。
【００２２】
図２は、本形態において実行されるスキャンを概略的に示す図である。
本形態では、ローカライザスキャンＡ、プリスキャンＢ、および本スキャンＣが実行される。
【００２３】
ローカライザスキャンＡは、スライスの位置を設定するために使用されるローカライザ画像を取得するためのスキャンである。
プリスキャンＢは、本スキャンＣを実行するときの送信パワーを決定するために実行されるスキャンである。
本スキャンＣは、スライスの画像を取得するためのスキャンである。
【００２４】
以下、ローカライザスキャンＡ、プレスキャンＢ、および本スキャンＣについて順に説明する。
【００２５】
図３はローカライザスキャンＡの説明図である。
ローカライザスキャンＡを実行することによって、スライスの位置を設定するために使用されるローカライザ画像Ｄを取得することができる。オペレータは、ローカライザ画像Ｄを参考にしながら、本スキャンＣを実行するときのｎ枚のスライスを設定する。本形態では、ｎ＝１３、即ち、オペレータが１３枚のスライスＳＬ１〜ＳＬ１３を設定したとする。ローカライザスキャンＡを実行した後、プレスキャンＢおよび本スキャンＣが実行される。次に、プレスキャンＢおよび本スキャンＣについて説明する。尚、プレスキャンＢおよび本スキャンＣの説明に当たっては、説明の便宜上、先に本スキャンＣについて説明にし、最後にプレスキャンＢについて説明する。
【００２６】
図４は本スキャンＣの説明図である。
本スキャンＣでは、マルチスキャン法によって、繰り返し時間ＴＲの間に複数枚のスライスのデータを収集する。本形態では、１ＴＲの間に、オペレータが設定した１３枚のスライスＳＬ１〜ＳＬ１３（図３参照）からデータが収集される。図４には、スライスＳＬ１〜ＳＬ１３からデータを収集するために使用されるシーケンスＣ１〜Ｃ１３が示されている。本形態では、シーケンスＣ１〜Ｃ１３はスピンエコー法を用いたシーケンスである。以下、本スキャンＣで実行されるシーケンスＣ１〜Ｃ１３について具体的に説明する。
【００２７】
先ず、シーケンスＣ１について説明する。シーケンスＣ１は、スライスＳＬ１からデータを収集するためのシーケンスである。シーケンスＣ１は繰り返し時間ＴＲの間隔で実行されるシーケンスである。シーケンスＣ１の具体的なシーケンスチャートが図４（ａ）に示されている。
【００２８】
シーケンスＣ１は２つのＲＦパルスｖおよびｗを有している。ＲＦパルスｖはスライスを励起するためのパルスであり、フリップ角α１はα１＝９０°である。一方、ＲＦパルスｗはスピンの位相を再収束するためのリフォーカスパルスであり、フリップ角α２はα２＝１８０°である。
【００２９】
シーケンスＣ１は、更に、スライス選択勾配パルス、位相エンコード勾配パルス、および周波数エンコード勾配パルスを有している。これらのＲＦパルスおよび勾配パルを印加することによって、エコーを取得することができる。
【００３０】
次に、シーケンスＣ２について説明する。シーケンスＣ２はスライスＳＬ２のデータを収集するためのシーケンスである。シーケンスＣ２は、シーケンスＣ１の後に実行される。シーケンスＣ２の具体的なシーケンスチャートが図４（ｂ）に示されている。
【００３１】
シーケンスＣ２は、シーケンスＣ１と比較すると、ＲＦパルスｖの励起周波数およびＲＦパルスｗの励起周波数が異なるが、その他については、シーケンスＣ１と同じである。
【００３２】
以下同様に、スライスＳＬ３〜ＳＬ１３のデータを収集するためのシーケンスＣ３〜Ｃ１３が実行される。シーケンスＣ３〜Ｃ１３は、シーケンスＣ１と比較すると、ＲＦパルスｖの励起周波数およびＲＦパルスｗの励起周波数が異なるが、その他については、シーケンスＣ１と同じである。
次に、プレスキャンＢについて説明する。
【００３３】
図５はプリスキャンＢの説明図である。
プリスキャンＢでも、本スキャンＣと同様に、マルチスキャン法によって、繰り返し時間ＴＲの間に複数枚のスライスのデータを収集する。しかし、プレスキャンＢでは、本スキャンＣと異なり、オペレータが設定した１３枚のスライスＳＬ１〜ＳＬ１３（図３参照）からデータを収集するのではなく、１３枚のスライスＳＬ１〜ＳＬ１３よりも少ないｍ枚のスライスからデータを収集する。本形態では、ｍ＝７とし、具体的には、奇数番目のスライスＳＬ１、ＳＬ３、ＳＬ５、・・・、ＳＬ１３のみからデータを収集するとする。図５には、奇数番目のスライスＳＬ１、ＳＬ３、ＳＬ５、・・・、ＳＬ１３からデータを収集するために使用されるシーケンスが、符号「Ｂ１」、「Ｂ２」、・・・、「Ｂｊ」で示されている。
【００３４】
図５の下側には、シーケンスＢ１〜Ｂｊのうち、代表して、３つのシーケンスＢ１、Ｂ２、およびＢｊのシーケンスチャートが具体的に示されている。
【００３５】
シーケンスＢ１〜Ｂｊは、本スキャンＣで使用されるシーケンスＣ１〜Ｃ１３と同様に、ＲＦパルスｖおよびｗと、各種勾配パルスとを有している。ただし、プレスキャンＢでは、位相エンコード方向の位置情報を得る必要が無いので、位相エンコード勾配パルスは印加されていない。
【００３６】
図６は、シーケンスＢ１〜Ｂｊで使用されるＲＦパルスのフリップ角の大きさを示すグラフである。
【００３７】
グラフの横軸はシーケンスＢ１〜Ｂｊを表しており、グラフの縦軸はＲＦパルスｖのフリップ角α１とＲＦパルスｗのフリップ角α２を表している。グラフには、２つの曲線ｘおよびｙが示されている。曲線ｘは、シーケンスＢ１〜ＢｊのＲＦパルスｖのフリップ角α１を表しており、曲線ｙは、シーケンスＢ１〜ＢｊのＲＦパルスｗのフリップ角α２を表している。
【００３８】
以下に、図５および図６を参照しながら、プリスキャンＢで実行されるシーケンスＢ１〜Ｂｊについて具体的に説明する。
【００３９】
プレスキャンＢの最初の繰り返し時間ＴＲ（期間Ｐ１）では、奇数番目のスライスＳＬ１、ＳＬ３、ＳＬ５、・・・、ＳＬ１３からデータを収集するためのシーケンスＢ１が実行される。
【００４０】
シーケンスＢ１は２つのＲＦパルスｖおよびｗを有している。ＲＦパルスｖのフリップ角α１はα１＝α０である。一方、ＲＦパルスｗのフリップ角α２はα２＝２α０である。図６に、シーケンスＢ１におけるフリップ角α１（＝α０）およびα２（＝２α０）の大きさの違いが示されている。シーケンスＢ１では、α１＝α０およびα２＝２α０であるので、ＲＦパルスｖとｗのフリップ角の比はα０：２α０＝１：２に設定されている。
【００４１】
シーケンスＢ１を実行することにより、奇数番目のスライスＳＬ１、ＳＬ３、ＳＬ５、・・・、ＳＬ１３から、フリップ角をα１＝α０およびα２＝２α０に設定したときのエコーを収集することができる。期間Ｐ１においてシーケンスＢ１を実行した後、次の繰り返し時間ＴＲ（期間Ｐ２）に移行する。
【００４２】
期間Ｐ２では、奇数番目のスライスＳＬ１、ＳＬ３、ＳＬ５、・・・、ＳＬ１３からデータを収集するためのシーケンスＢ２が実行される。
【００４３】
シーケンスＢ２では、ＲＦパルスｖのフリップ角α１およびＲＦパルスｗのフリップ角α２は、以下の値に設定されている。
α１＝ｃ・α０    ・・・（１）
α２＝ｃ・２α０    ・・・（２）
ただし、０＜ｃ＜１
【００４４】
式（１）および（２）のｃは、０＜ｃ＜１である。したがって、図６に示すように、シーケンスＢ２におけるフリップ角α１はシーケンスＢ１のフリップ角α１よりも小さい値に設定されており、シーケンスＢ２におけるフリップ角α２はシーケンスＢ１のフリップ角α２よりも小さい値に設定されている。
【００４５】
尚、シーケンスＢ２では、ＲＦパルスｖのフリップ角α１はα１＝ｃ・α０であり、ＲＦパルスｗのフリップ角α２はα２＝ｃ・２α０であるので、フリップ角の比は１：２である。したがって、シーケンスＢ２におけるフリップ角の比は、シーケンスＢ１におけるフリップ角の比と同じ値（１：２）に保持されている。
【００４６】
シーケンスＢ２を実行することにより、奇数番目のスライスＳＬ１、ＳＬ３、ＳＬ５、・・・、ＳＬ１３から、フリップ角をα１＝ｃ・α０およびα２＝ｃ・２α０に設定したときのエコーを収集することができる。
【００４７】
以下同様に、繰り返し時間ＴＲが経過するたびに、シーケンスのＲＦパルスのフリップ角α１およびα２をｃ倍（０＜ｃ＜１）にし、奇数番目のスライスからデータを収集する。そして、最後の繰り返し時間ＴＲ（期間Ｐｊ）において、奇数番目のスライスＳＬ１、ＳＬ３、ＳＬ５、・・・、ＳＬ１３からデータを収集するためのシーケンスＢｊが実行される。
【００４８】
上記のように、繰り返し時間ＴＲが経過するたびに、シーケンスのＲＦパルスのフリップ角α１およびα２はｃ倍になるので、シーケンスＢｊでは、ＲＦパルスｖのフリップ角α１およびＲＦパルスｗのフリップ角α２は、以下の値に設定されている。
α１＝ｃｊ−１・α０    ・・・（３）
α２＝ｃｊ−１・２α０    ・・・（４）
【００４９】
式（３）および（４）に示すように、シーケンスＢｊでは、フリップ角α１はα０のｃｊ−１倍に設定されており、フリップ角α２は２α０のｃｊ−１倍に設定されている。したがって、図６に示すように、シーケンスＢｊにおけるフリップ角α１は他のシーケンスＢ１〜Ｂｊ−１のフリップ角α１よりも小さい値に設定されており、シーケンスＢｊにおけるフリップ角α２は他のシーケンスＢ１〜Ｂｊ−１のフリップ角α２よりも小さい値に設定されている。
【００５０】
尚、シーケンスＢｊでは、ＲＦパルスｖのフリップ角α１はα１＝ｃｊ−１・α０であり、ＲＦパルスｗのフリップ角α２はα２＝ｃｊ−１・２α０であるので、フリップ角の比は１：２である。したがって、シーケンスＢｊにおけるフリップ角の比は１：２に保持されている。
【００５１】
図６を参照すると、ＲＦパルスｖのフリップ角α１およびＲＦパルスｗのフリップ角α２は、シーケンスＢ１、Ｂ２、Ｂ３、・・・、Ｂｊの順で小さくなるように設定されていることが分かる。
【００５２】
本形態では、プレスキャンＢにより収集されたデータに基づいて、本スキャンＣを実行するときの送信ゲインが決定される。送信ゲインの決定方法については後述する。
【００５３】
次に、ローカライザスキャンＡ、プレスキャンＢ、および本スキャンＣを実行するときのフローについて説明する。
【００５４】
図７は、ローカライザスキャンＡ、プレスキャンＢ、および本スキャンＣを実行するときのフローを示す図である。
ステップＳＴ１では、ローカライザスキャンＡが実行される。ローカライザスキャンＡを実行することにより、ローカライザ画像Ｄ（図３参照）が取得される。ローカライザ画像Ｄを取得した後、オペレータは、ローカライザ画像Ｄに基づいて、本スキャンＣを実行するときのスライスＳＬ１〜ＳＬ１３（図３参照）を設定する。スライスＳＬ１〜ＳＬ１３を設定した後、ステップＳＴ２に進む。
【００５５】
ステップＳＴ２では、プリスキャンＢが実行される。
プリスキャンＢでは、図６に示すように、シーケンスＢ１〜Ｂｊに応じて、ＲＦパルスｖおよびｗのフリップ角α１およびα２を変更する必要がある。そこで、本形態では、シーケンスＢ１〜Ｂｊに応じたフリップ角が実現されるように、シーケンスＢ１〜Ｂｊごとに送信ゲインＴＧを変更している。図８に、本形態におけるシーケンスＢ１〜Ｂｊと送信ゲインＴＧとの関係を示す。
【００５６】
シーケンスＢ１では、送信ゲインＴＧは、ＴＧ＝ＴＧ０に設定される。しかし、次のシーケンスＢ２を実行する場合には、送信ゲインＴＧは、以下の値に設定される。
ＴＧ＝ｃ・ＴＧ０    ・・・（５）
ただし、０＜ｃ＜１
【００５７】
式（５）のｃは、０＜ｃ＜１である。したがって、シーケンスＢ２の送信ゲインＴＧはシーケンスＢ１の送信ゲインＴＧよりも小さい値に設定されている。
【００５８】
以下同様に、送信ゲインＴＧがｃ倍になるように、シーケンスＢ３、・・・、Ｂｊの送信ゲインＴＧを設定する。したがって、シーケンスＢｊの送信ゲインＴＧは、以下の値に設定されている。
ＴＧ＝ｃｊ−１・ＴＧ０    ・・・（６）
【００５９】
式（６）に示すように、シーケンスＢｊでは、送信ゲインＴＧはＴＧ０のｃｊ−１倍に設定されている。したがって、シーケンスＢｊの送信ゲインＴＧは他のシーケンスＢ１〜Ｂｊ−１の送信ゲインＴＧよりも小さい値に設定されている。
【００６０】
図８を参照すると、送信ゲインＴＧは、シーケンスＢ１、Ｂ２、Ｂ３、・・・、Ｂｊの順で小さくなるように設定されていることが分かる。
【００６１】
次に、シーケンスＢ１〜ＢｊのＲＦパルスｖおよびｗを発生させるときの送信器の動作について説明する。尚、プレスキャンＢでは、最初にシーケンスＢ１が実行されるので、先ず、シーケンスＢ１のＲＦパルスｖおよびｗを発生させるときの送信器の動作について、図９を参照しながら説明する。
【００６２】
図９は、シーケンスＢ１のＲＦパルスｖおよびｗを発生させるときの送信器の動作の説明図である。
先ず、送信器は送信ゲインＴＧを設定する。ここでは、シーケンスＢ１を実行するので、送信器は、シーケンスＢ１に応じた送信ゲインを設定する。図８を参照すると、シーケンスＢ１を実行するときの送信ゲインＴＧは、ＴＧ＝ＴＧ０に設定されている。したがって、送信器は送信ゲインをＴＧ＝ＴＧ０に設定する。
【００６３】
ＴＧ＝ＴＧ０に設定した後、送信器に、ＲＦパルスｖを発生させるための信号ｓ１が供給される。送信器は、送信ゲインＴＧ０に基づいて信号ｓ１の振幅を調整し、振幅が調整された信号ｓ１を増幅する。増幅された信号ｓ１は、ＲＦ電流Ｊ１としてＲＦコイルに供給される。したがって、ＲＦコイルは、フリップ角α１＝α０のＲＦパルスｖを印加することができる。
【００６４】
次に、送信器には、ＲＦパルスｗを発生させるための信号ｓ２が供給される。信号ｓ２の振幅は、信号ｓ１の振幅の２倍に設定されている。送信器は、送信ゲインＴＧ０に基づいて信号ｓ２の振幅を調整し、振幅が調整された信号ｓ２を増幅する。増幅された信号ｓ２は、ＲＦ電流Ｊ２としてＲＦコイルに供給される。したがって、ＲＦコイルは、フリップ角α２＝２α０のＲＦパルスｗを印加することができる。
シーケンスＢ１を実行した後、シーケンスＢ２が実行される。
【００６５】
図１０は、シーケンスＢ２のＲＦパルスｖおよびｗを発生させるときの送信器の動作の説明図である。
先ず、送信器は送信ゲインＴＧを設定する。ここでは、シーケンスＢ２を実行するので、送信器は、シーケンスＢ２に応じた送信ゲインを設定する。図８を参照すると、シーケンスＢ２を実行するときの送信ゲインＴＧは、ＴＧ＝ｃ・ＴＧ０に設定されている。したがって、送信器は送信ゲインをＴＧ＝ｃ・ＴＧ０に設定する。
【００６６】
ＴＧ＝ｃ・ＴＧ０に設定した後、送信器に、ＲＦパルスｖを発生させるための信号ｓ１が供給される。送信器は、送信ゲインＴＧ０に基づいて信号ｓ１の振幅を調整し、振幅が調整された信号ｓ１を増幅する。増幅された信号ｓ１は、ＲＦ電流Ｊ１としてＲＦコイルに供給される。したがって、ＲＦコイルは、フリップ角α１＝ｃ・α０のＲＦパルスｖを印加することができる。
【００６７】
次に、送信器には、ＲＦパルスｗを発生させるための信号ｓ２が供給される。送信器は、送信ゲインｃ・ＴＧ０に基づいて信号ｓ２の振幅を調整し、振幅が調整された信号ｓ２を増幅する。増幅された信号ｓ２は、ＲＦ電流Ｊ２としてＲＦコイルに供給される。したがって、ＲＦコイルは、フリップ角α２＝ｃ・２α０のＲＦパルスｗを印加することができる。
以下同様に、送信ゲインＴＧを調整しながら、シーケンスＢ３〜Ｂｊを実行する。
【００６８】
図１１は、最後に実行されるシーケンスＢｊのＲＦパルスｖおよびｗを発生させるときの送信器の動作の説明図である。
先ず、送信器は送信ゲインＴＧを設定する。ここでは、シーケンスＢｊを実行するので、送信器は、シーケンスＢｊに応じた送信ゲインを設定する。図８を参照すると、シーケンスＢｊを実行するときの送信ゲインＴＧは、ＴＧ＝ｃｊ−１・ＴＧ０に設定されている。したがって、送信器は送信ゲインをＴＧ＝ｃｊ−１・ＴＧ０に設定する。
【００６９】
ＴＧ＝ｃｊ−１・ＴＧ０に設定した後、送信器に、ＲＦパルスｖを発生させるための信号ｓ１が供給される。送信器は、送信ゲインＴＧ０に基づいて信号ｓ１の振幅を調整し、振幅が調整された信号ｓ１を増幅する。増幅された信号ｓ１は、ＲＦ電流Ｊ１としてＲＦコイルに供給される。したがって、ＲＦコイルは、フリップ角α１＝ｃｊ−１・α０のＲＦパルスｖを印加することができる。
【００７０】
次に、送信器には、ＲＦパルスｗを発生させるための信号ｓ２が供給される。送信器は、送信ゲインｃｊ−１・ＴＧ０に基づいて信号ｓ２の振幅を調整し、振幅が調整された信号ｓ２を増幅する。増幅された信号ｓ２は、ＲＦ電流Ｊ２としてＲＦコイルに供給されるので、ＲＦコイルは、フリップ角α２＝ｃｊ−１・２α０のＲＦパルスｗを印加することができる。
【００７１】
したがって、図８に示す送信ゲインＴＧの曲線ｚに従って送信ゲインを調整することにより、ＲＦパルスのフリップ角を変更しながら、シーケンスＢ１〜Ｂｊを実行することができる。
【００７２】
シーケンスＢ１〜Ｂｊを実行することにより、奇数番目のスライスＳＬ１、ＳＬ３、ＳＬ５、・・・、ＳＬ１３から、フリップ角を変更したときのエコーを取得することができる。図１２に、シーケンスＢ１〜Ｂｊを実行することにより奇数番目のスライスＳＬ１、ＳＬ３、ＳＬ５、・・・、ＳＬ１３から収集されたエコーを概略的に示す。図１２では、シーケンスＢ１により収集されたエコーは符号「Ｅ１」で示し、シーケンスＢ２により収集されたエコーは符号「Ｅ２」で示し、シーケンスＢｊにより収集されたエコーは符号「Ｅｊ」で示してある。エコーＥ１は送信ゲインＴＧ＝ＴＧ０のときに収集されたエコーであり、エコーＥ２は送信ゲインＴＧ＝ｃ・ＴＧ０のときに収集されたエコーであり、エコーＥｊは送信ゲインＴＧ＝ｃｊ−１・ＴＧ０のときに収集されたエコーである。これらのエコーを収集した後、ステップＳＴ３に進む。
【００７３】
ステップＳＴ３では、プレスキャンＢにより収集されたエコーＥ１〜Ｅｊに基づいて、奇数番目のスライスＳＬ１、ＳＬ３、ＳＬ５、・・・、ＳＬ１３ごとに、エコーの信号強度が最大になるときの送信ゲインＴＧおよびフリップ角（α１，α２）を求める。以下では、先ず、スライスＳＬ１について、エコーの信号強度が最大になるときの送信ゲインＴＧおよびフリップ角（α１，α２）の求め方について説明する。
【００７４】
プレスキャンＢでは、フリップ角（α１，α２）を変更しながらシーケンスＢ１〜Ｂｊを実行している。したがって、シーケンスＢ１〜Ｂｊの大部分では、フリップ角（α１，α２）は（α１，α２）≠（９０°，１８０°）であると考えられる。このため、シーケンスＢ１〜Ｂｊの各々で得られるエコーはハーンエコーと見なすことができる。ハーンエコーの信号強度は、ＲＦパルスｖのフリップ角α１およびＲＦパルスｗのフリップ角α２を用いて以下の式で表すことができる。
Ｓ＝Ｓ０＊ｓｉｎα１＊ｓｉｎ２α２＝  ・・・（７）
ここで、Ｓ０：（α１，α２）＝（９０°，１８０°）のときに得られるエコーの信号強度
【００７５】
式（７）は、ハーンエコーの信号強度を表す式として知られている一般的な式である。式（７）から、プレスキャンＢのシーケンスＢ１〜Ｂｊで得られるエコーの信号強度Ｓは、Ｓ０、α１、α２から計算できることが分かる。ここで、α１とα２との関係を以下の式で定義する。
α２／α１＝ｋ  ・・・（８）
【００７６】
式（８）を式（７）に代入すると、以下の式が得られる。
Ｓ＝Ｓ０＊ｓｉｎα１＊ｓｉｎ２ｋα１＝  ・・・（９）
【００７７】
また、フリップ角α１は送信ゲインＴＧによって決まる値であるので、以下の式で表すことができる。
α１＝ｆ（ＴＧ）  ・・・（１０）
【００７８】
したがって、式（１０）を式（９）に代入すると、以下の式が得られる。
Ｓ＝Ｓ０＊ｓｉｎ｛ｆ（ＴＧ）｝＊ｓｉｎ２｛ｋｆ（ＴＧ）｝  ・・・（１１）
【００７９】
式（１１）から、エコーの信号強度Ｓは、送信ゲインＴＧに依存することが分かる。
本形態では、式（１１）を用いて、スライスＳＬ１から最大の信号強度が得られるときの送信ゲインＴＧを求める。以下に、式（１１）を用いてスライスＳＬ１から最大の信号強度が得られるときの送信ゲインＴＧを求める方法を説明する。
【００８０】
信号強度算出手段８１（図１参照）は、スライスＳＬ１から収集されたエコーＥ１〜Ｅｊ（図１２参照）の信号強度ｅを求める。図１３に、スライスＳＬ１から収集されたエコーＥ１〜Ｅｊの信号強度ｅ１〜ｅｊを示す。また、図１３の下側には、スライスＳＬ１における信号強度ｅと送信ゲインＴＧとの関係を散布図を用いて表してある。散布図を参照すると、スライスＳＬ１から収集されたエコーＥ１〜Ｅｊのｅ１〜ｅｊは、送信ゲインＴＧの値に応じて異なることが分かる。
【００８１】
スライスＳＬ１から収集されたエコーＥ１〜Ｅｊの信号強度ｅ１〜ｅｊを求めた後、フィッティング手段８２（図１参照）は、信号強度ｅ１〜ｅｊを用いて式（１１）のフィッティングを行い、信号強度ｅ１〜ｅｊに最も当てはまる曲線を求める。図１４に、信号強度ｅ１〜ｅｊに最も当てはまる曲線ａ１を示す。この曲線ａ１を求めることにより、式（１１）が信号強度ｅ１〜ｅｊに最もよく当てはまるときのｋの値を算出することができる。ここでは、ｋは、ｋ＝２．１であるとする。ｋ＝２．１を式（８）に代入すると、以下の式が得られる。
α２／α１＝２．１  ・・・（１２）
【００８２】
送信ゲイン特定手段８３（図１参照）は、曲線ａ１上から信号強度の最大値ｍａｘを検出し、信号強度が最大値ｍａｘになるときの送信ゲインＴＧ１を特定する。したがって、スライスＳＬ１において信号強度ｅが最大値になるときの送信ゲインＴＧの値「ＴＧ１」を求めることができる。
【００８３】
送信ゲインＴＧ１を求めた後、フリップ角決定手段８４（図１参照）は、式（１２）を用いて、スライスＳＬ１から収集されるエコーの信号強度が最大値ｍａｘになるときのＲＦパルスのフリップ角α１およびα２を決定する。以下に、フリップ角α１およびα２の求め方について説明する。
【００８４】
エコーの信号強度が最大となるときのフリップ角α１およびα２の理想値は、（α１，α２）＝（９０°，１８０°）である。しかし、式（１２）に（α１，α２）＝（９０°，１８０°）を代入すると、式（１２）の左辺が１８０°／９０°＝２となるので、式（１２）を満たさなくなる。そこで、本形態では、α２については、α２の理想値（１８０°）をそのまま使い、α１については、式（１２）を用いて計算する。式（１２）より、α１は、以下の式で表される。
α１＝α２／２．１  ・・・（１３）
【００８５】
α２＝１８０°を式（１３）に代入すると、α１は以下の値となる。
α１＝α２／２．１
＝１８０°／２．１
≒８６°
【００８６】
したがって、スライスＳＬ１において信号強度が最大値ｍａｘになるときの（α１，α２）は、以下の値となる。
（α１，α２）＝（８６°，１８０°）  ・・・（１４）
【００８７】
以上のようにして、スライスＳＬ１について、エコーの信号強度が最大になるときの送信ゲインＴＧ１およびフリップ角（８６°，１８０°）を求めることができる。
【００８８】
スライスＳＬ１の送信ゲインＴＧ１およびフリップ角（８６°，１８０°）を求めた後、スライスＳＬ３について、エコーの信号強度が最大になるときの送信ゲインＴＧおよびフリップ角（α１，α２）を求める（図１５および図１６参照）。
【００８９】
図１５および図１６は、スライスＳＬ３における送信ゲインＴＧおよびフリップ角（α１，α２）の求め方の説明図である。
【００９０】
先ず、図１５に示すように、スライスＳＬ３から収集されたエコーＥ１〜Ｅｊの信号強度ｅ１〜ｅｊを求める。そして、図１６に示すように、信号強度ｅ１〜ｅｊを用いて式（１１）のフィッティングを行い、信号強度ｅ１〜ｅｊに最も当てはまる曲線ａ３を求める。この曲線ａ３を求めることにより、式（１１）が信号強度ｅ１〜ｅｊに最もよく当てはまるときのｋの値を算出することができる。ここでは、ｋは、ｋ＝２．２であるとする。ｋ＝２．２を式（８）に代入すると、以下の式が得られる。
α２／α１＝２．２  ・・・（１５）
【００９１】
送信ゲイン特定手段８３は、曲線ａ３上から信号強度の最大値ｍａｘを検出し、信号強度の最大値ｍａｘになるときの送信ゲインＴＧ３を特定する。したがって、スライスＳＬ３において信号強度が最大値ｍａｘになるときの送信ゲインＴＧの値「ＴＧ３」を求めることができる。
【００９２】
送信ゲインＴＧ３を求めた後、フリップ角決定手段８４は、式（１５）を用いて、スライスＳＬ３から収集されるエコーの信号強度が最大値ｍａｘになるときのＲＦパルスのフリップ角α１およびα２を求める。α２については、α２の理想値（１８０°）をそのまま使い、α１については、式（１５）を用いて計算する。式（１５）より、α１は、以下の式で表される。
α１＝α２／２．２  ・・・（１６）
【００９３】
α２＝１８０°を式（１６）に代入すると、α１は以下の値となる。
α１＝α２／２．２
＝１８０°／２．２
≒８２°
【００９４】
したがって、スライスＳＬ３において信号強度が最大値ｍａｘになるときの（α１，α２）は、以下の値となる。
（α１，α２）＝（８２°，１８０°）  ・・・（１７）
【００９５】
以上のようにして、スライスＳＬ３について、エコーの信号強度が最大になるときの送信ゲインＴＧ３およびフリップ角（８２°，１８０°）を求めることができる。
【００９６】
以下同様に、残りの奇数番目のスライスＳＬ５、・・・、ＳＬ１３についても、同様の手順で、式（１１）のフィッティングを行い、フィッティングの結果に基づいて、エコーの信号強度が最大になるときの送信ゲインＴＧおよびフリップ角（α１，α２）を求める。図１７および図１８に、奇数番目の最後のスライスＳＬ１３における送信ゲインＴＧおよびフリップ角（α１，α２）の求め方を示す。
【００９７】
先ず、図１７に示すように、スライスＳＬ１３から収集されたエコーＥ１〜Ｅｊの信号強度ｅ１〜ｅｊを求める。そして、図１８に示すように、信号強度ｅ１〜ｅｊを用いて式（１１）のフィッティングを行い、信号強度ｅ１〜ｅｊに最も当てはまる曲線ａ１３を求める。この曲線ａ１３を求めることにより、式（１１）が信号強度ｅ１〜ｅｊに最もよく当てはまるときのｋの値を算出することができる。ここでは、ｋは、ｋ＝１．９であるとする。ｋ＝１．９を式（８）に代入すると、以下の式が得られる。
α２／α１＝１．９  ・・・（１８）
【００９８】
送信ゲイン特定手段８３は、曲線ａ１３上から信号強度の最大値ｍａｘを検出し、信号強度の最大値ｍａｘになるときの送信ゲインＴＧ１３を特定する。したがって、スライスＳＬ１３において信号強度が最大値ｍａｘになるときの送信ゲインＴＧの値「ＴＧ１３」を求めることができる。
【００９９】
送信ゲインＴＧ１３を求めた後、フリップ角決定手段８４は、式（１８）を用いて、スライスＳＬ１３から収集されるエコーの信号強度が最大値ｍａｘになるときのＲＦパルスのフリップ角α１およびα２を求める。α２については、α２の理想値（１８０°）をそのまま使い、α１については、式（１８）を用いて計算する。式（１８）より、α１は、以下の式で表される。
α１＝α２／１．９  ・・・（１９）
【０１００】
α２＝１８０°を式（１９）に代入すると、α１は以下の値となる。
α１＝α２／１．９
＝１８０°／１．９
≒９５°
【０１０１】
したがって、スライスＳＬ１３において信号強度が最大値ｍａｘになるときの（α１，α２）は、以下の値となる。
（α１，α２）＝（９５°，１８０°）  ・・・（２０）
【０１０２】
以上のようにして、奇数番目のスライスＳＬ１、ＳＬ３、ＳＬ５、・・・、ＳＬ１３ごとに、エコーの信号強度が最大になるときの送信ゲインＴＧおよびフリップ角（α１，α２）を求めることができる。送信ゲインＴＧおよびフリップ角（α１，α２）はスライスの位置に対応付けてメモリ８８（図１参照）に記憶される。図１９に、メモリ８８に記憶された送信ゲインＴＧおよびフリップ角（α１，α２）を概略的に示す。図１９には、奇数番目のスライスＳＬ１、ＳＬ３、ＳＬ５、・・・、ＳＬ１３と送信ゲインＴＧとの関係を表すグラフが示されており、グラフの上には、奇数番目のスライスＳＬ１、ＳＬ３、ＳＬ５、・・・、ＳＬ１３ごとに求められたフリップ角（α１，α２）が示されている。図１９を参照すると、スライスの位置に応じて送信ゲインＴＧの値やフリップ角α１の値が異なっていることが分かる。ただし、プレスキャンＢでは偶数番目のスライスＳＬ２、ＳＬ４、ＳＬ６、・・・、ＳＬ１２のデータは収集されていない。したがって、図１９に示すように、偶数番目のスライスＳＬ２、ＳＬ４、ＳＬ６、・・・、ＳＬ１２については、エコーの信号強度が最大になるときの送信ゲインＴＧおよびフリップ角（α１，α２）は求められていない。そこで、偶数番目のスライスＳＬ２、ＳＬ４、ＳＬ６、・・・、ＳＬ１２の送信ゲインＴＧおよびフリップ角（α１，α２）を求めるために、ステップＳＴ４に進む。
【０１０３】
ステップＳＴ４では、偶数番目のスライスＳＬ２、ＳＬ４、ＳＬ６、・・・、ＳＬ１２について、エコーの信号強度が最大になるときの送信ゲインＴＧおよびフリップ角（α１，α２）を求める。以下に、偶数番目のスライスＳＬ２、ＳＬ４、ＳＬ６、・・・、ＳＬ１２の送信ゲインＴＧおよびフリップ角（α１，α２）を求める方法について説明する。
【０１０４】
図２０は、偶数番目のスライスＳＬ２、ＳＬ４、ＳＬ６、・・・、ＳＬ１２の送信ゲインＴＧおよびフリップ角（α１，α２）を求めるときの説明図である。
送信ゲイン推定手段８５（図１参照）は、奇数番目のスライスＳＬ１、ＳＬ３、ＳＬ５、・・・、ＳＬ１３ごとに求められた送信ゲインＴＧに基づいて、偶数番目のスライスＳＬ２、ＳＬ４、ＳＬ６、・・・、ＳＬ１２の送信ゲインを推定する。送信ゲインの推定方法としては、線形補間を用いることができる。例えば、スライスＳＬ１とＳＬ３との間にはスライスＳＬ２が位置しているので、スライスＳＬ１の送信ゲインＴＧ１とスライスＳＬ３の送信ゲインＴＧ３との平均値を、スライスＳＬ２の送信ゲインＴＧ２として求める。したがって、偶数番目のスライスＳＬ２、ＳＬ４、ＳＬ６、・・・、ＳＬ１２の送信ゲインＴＧを推定することができる。図２０に、推定された偶数番目のスライスＳＬ２、ＳＬ４、ＳＬ６、・・・、ＳＬ１２の送信ゲインＴＧ２、ＴＧ４、ＴＧ６、・・・、ＴＧ１２を示してある。
【０１０５】
送信ゲインを推定した後、フリップ角推定手段８６（図１参照）はフリップ角（α１，α２）を推定する。フリップ角（α１，α２）も線形補間を用いて求めることができる。例えば、スライスＳＬ１のフリップ角α１＝８６°であり、スライスＳＬ３のフリップ角α１＝８２°であるので、スライスＳＬ２のフリップ角α１は、α１＝（８６°＋８４°）／２＝８４°として求めることができる。尚、スライスＳＬ１のフリップ角α２＝１８０°であり、スライスＳＬ３のフリップ角α２＝１８０°であるので、スライスＳＬ２のフリップ角α２は、α２＝（１８０°＋１８０°）／２＝１８０°となる。したがって、偶数番目のスライスＳＬ２、ＳＬ４、ＳＬ６、・・・、ＳＬ１２のフリップ角（α１，α２）を推定することができる。図２０に、推定された偶数番目のスライスＳＬ２、ＳＬ４、ＳＬ６、・・・、ＳＬ１２のフリップ角（α１，α２）を示してある。
【０１０６】
偶数番目のスライスＳＬ２、ＳＬ４、ＳＬ６、・・・、ＳＬ１２の送信ゲインＴＧおよびフリップ角（α１，α２）の各々の値を推定した後、これらの推定値をメモリ８８に記憶し、ステップＳＴ５に進む。
【０１０７】
ステップＳＴ５では、本スキャンＣが実行される。本スキャンＣでは、スライスＳＬ１〜ＳＬ１３からデータを収集するためのシーケンスＣ１〜Ｃ１３（図４参照）が実行される。以下に、シーケンスＣ１〜Ｃ１３を実行するときの送信器の動作について順に説明する。
【０１０８】
（１）シーケンスＣ１を実行するときの動作について
シーケンスＣ１を実行する場合、先ず、送信ゲイン決定手段８７（図１参照）は、シーケンスＣ１を実行するときの送信ゲインを決定する。以下に、送信ゲインの決定方法について説明する。
【０１０９】
送信ゲイン決定手段８７は、メモリ８８から、スライスＳＬ１の位置に対応付けられている送信ゲインＴＧ１（図２０参照）を読み出す。
【０１１０】
次に、送信ゲイン決定手段８７は、送信ゲインをＴＧ１に設定したときのフリップ角α１およびα２を確認する。図２０を参照すると、送信ゲインをＴＧ１に設定した場合、（α１，α２）＝（８６°，１８０°）である。一方、シーケンスＣ１を実行する場合、図４に示すように、（α１，α２）＝（９０°，１８０°）に設定する必要がある。したがって、送信ゲインをＴＧ１に設定した場合、α２＝１８０°は実現することができるが、α１＝９０°を実現することはできない。そこで、送信ゲイン決定手段８７は、α１＝９０°を実現するために必要な送信ゲインＴＧ１′を計算する。送信ゲインＴＧ１′の値は、以下の比例式から計算することができる。
ＴＧ１：８６°＝ＴＧ１′：９０°    ・・・（２１）
【０１１１】
比例式（２１）から、ＴＧ１′は以下の式で表すことができる。
ＴＧ１′＝（９０°／８６°）・ＴＧ１    ・・・（２２）
【０１１２】
したがって、送信ゲイン決定手段８７は、ＲＦパルスｖを発生させるときの送信ゲインＴＧを、ＴＧ＝ＴＧ１′＝（９０°／８６°）・ＴＧ１と決定する。一方、ＴＧ＝ＴＧ１に設定することによりα２＝１８０°とすることができるので、送信ゲイン決定手段８７は、ＲＦパルスｗを発生させるときの送信ゲインＴＧを、ＴＧ＝ＴＧ１と決定する。
【０１１３】
ＭＲ装置は、送信ゲイン決定手段８７により決定された送信ゲインに基づいてＲＦパルスｖおよびｗを発生する。以下に、ＲＦパルスｖおよびｗを発生するときのＭＲ装置の動作について説明する。
【０１１４】
図２１は、ＲＦパルスｖおよびｗを発生するときのＭＲ装置の動作の説明図である。
先ず、図２１（ａ）を参照しながら、ＲＦパルスｖを発生させるときの動作について説明する。
【０１１５】
送信ゲイン決定手段８７は、ＲＦパルスｖを発生させるときの送信ゲインをＴＧ１′（式（２２）参照）と決定している。したがって、送信器は、送信ゲインをＴＧ１′に調整する。送信ゲインを調整した後、送信器に、ＲＦパルスｖを発生させるための信号ｓ１が供給される。送信器は、送信ゲインＴＧ１′に基づいて信号ｓ１の振幅を調整し、振幅が調整された信号ｓ１を増幅する。増幅された信号ｓ１は、ＲＦ電流Ｊ１としてＲＦコイルに供給される。したがって、ＲＦコイルは、フリップ角α１＝９０°のＲＦパルスｖを印加することができる。
【０１１６】
次に、図２１（ｂ）を参照しながら、ＲＦパルスｗを発生させるときの動作について説明する。
送信ゲイン決定手段８７は、ＲＦパルスｗを発生させるときの送信ゲインをＴＧ１と決定している。したがって、送信器は、送信ゲインをＴＧ１に調整する。送信ゲインを調整した後、送信器に、ＲＦパルスｗを発生させるための信号ｓ２が供給される。信号ｓ２の振幅は、信号ｓ１の振幅の２倍に設定されている。送信器は、送信ゲインＴＧ１に基づいて信号ｓ２の振幅を調整し、振幅が調整された信号ｓ２を増幅する。増幅された信号ｓ２は、ＲＦ電流Ｊ２としてＲＦコイルに供給される。したがって、ＲＦコイルは、フリップ角α２＝１８０°のＲＦパルスｗを印加することができる。
【０１１７】
（２）シーケンスＣ２を実行するときの動作について
シーケンスＣ２を実行する場合、先ず、送信ゲイン決定手段８７（図１参照）は、シーケンスＣ２を実行するときの送信ゲインを決定する。以下に、送信ゲインの決定方法について説明する。
【０１１８】
送信ゲイン決定手段８７は、メモリ８８から、スライスＳＬ２の位置に対応付けられている送信ゲインＴＧ２（図２０参照）を読み出す。
【０１１９】
次に、送信ゲイン決定手段８７は、送信ゲインをＴＧ２に設定したときのフリップ角α１およびα２を確認する。図２０を参照すると、送信ゲインをＴＧ２に設定した場合、（α１，α２）＝（８４°，１８０°）である。一方、シーケンスＣ２を実行する場合、図４に示すように、（α１，α２）＝（９０°，１８０°）に設定する必要がある。したがって、送信ゲインをＴＧ２に設定した場合、α２＝１８０°は実現することができるが、α１＝９０°を実現することはできない。そこで、送信ゲイン決定手段８７は、α１＝９０°を実現するために必要な送信ゲインＴＧ２′を計算する。送信ゲインＴＧ２′の値は、以下の比例式から計算することができる。
ＴＧ２：８４°＝ＴＧ２′：９０°    ・・・（２３）
【０１２０】
比例式（２３）から、ＴＧ２′は以下の式で表すことができる。
ＴＧ２′＝（９０°／８４°）・ＴＧ２    ・・・（２４）
【０１２１】
したがって、送信ゲイン決定手段８７は、ＲＦパルスｗを発生させるときの送信ゲインＴＧを、ＴＧ＝ＴＧ２′＝（９０°／８４°）・ＴＧ２と決定する。一方、ＴＧ＝ＴＧ２に設定することによりα２＝１８０°とすることができるので、送信ゲイン決定手段８７は、ＲＦパルスｗを発生させるときの送信ゲインＴＧを、ＴＧ＝ＴＧ２と決定する。
【０１２２】
ＭＲ装置は、送信ゲイン決定手段８７により決定された送信ゲインに基づいてＲＦパルスｖおよびｗを発生する。以下に、ＲＦパルスｖおよびｗを発生するときのＭＲ装置の動作について説明する。
【０１２３】
図２２は、ＲＦパルスｖおよびｗを発生するときのＭＲ装置の動作の説明図である。
先ず、図２２（ａ）を参照しながら、ＲＦパルスｖを発生させるときの動作について説明する。
【０１２４】
送信ゲイン決定手段８７は、ＲＦパルスｖを発生させるときの送信ゲインをＴＧ２′（式（２４）参照）と決定している。したがって、送信器は、送信ゲインをＴＧ２′に調整する。送信ゲインを調整した後、送信器に、ＲＦパルスｖを発生させるための信号ｓ１が供給される。送信器は、送信ゲインＴＧ２′に基づいて信号ｓ１の振幅を調整し、振幅が調整された信号ｓ１を増幅する。増幅された信号ｓ１は、ＲＦ電流Ｊ１としてＲＦコイルに供給される。したがって、ＲＦコイルは、フリップ角α１＝９０°のＲＦパルスｖを印加することができる。
【０１２５】
次に、図２２（ｂ）を参照しながら、ＲＦパルスｗを発生させるときの動作について説明する。
送信ゲイン決定手段８７は、ＲＦパルスｗを発生させるときの送信ゲインをＴＧ２と決定している。したがって、送信器は、送信ゲインをＴＧ２に調整する。送信ゲインを調整した後、送信器に、ＲＦパルスｗを発生させるための信号ｓ２が供給される。信号ｓ２の振幅は、信号ｓ１の振幅の２倍に設定されている。送信器は、送信ゲインＴＧ２に基づいて信号ｓ２の振幅を調整し、振幅が調整された信号ｓ２を増幅する。増幅された信号ｓ２は、ＲＦ電流Ｊ２としてＲＦコイルに供給される。したがって、ＲＦコイルは、フリップ角α２＝１８０°のＲＦパルスｗを印加することができる。
【０１２６】
以下同様に、他のシーケンスＣ３〜Ｃ１３を実行する場合も、メモリに記憶されている送信ゲインＴＧとフリップ角（α１，α２）に基づいて送信ゲインＴＧを調整する。したがって、シーケンスＣ１〜Ｃ１３の中のどのシーケンスを実行する場合であっても、フリップ角α１＝９０°、α２＝１８０°に設定することができるので、スライス間でコントラストのばらつきが軽減された画像を取得することができる。
【０１２７】
また、プレスキャンＢでは、奇数番目のスライスのみからデータを収集すればよく、偶数番目のスライスからデータを収集することは不要である。したがって、プレスキャンＢでは、本スキャンＣよりも、データを収集するスライスの枚数が少なくて済むので、プレスキャンＢのスキャン時間を短くすることが可能となる。
【０１２８】
尚、本形態では、プレスキャンＢにおいてデータが収集されるスライスは、本スキャンＣにおいてデータが収集されるスライスＳＬ１〜ＳＬ１３の中から選択されている。しかし、スライスＳＬ１〜ＳＬ１３とは別のスライスからデータを収集してもよい。図２３に、その例を示す。図２３では、プレスキャンＢにおいて、スライスＨ１〜Ｈ８からデータが収集される。スライスＨ１はスライスＳＬ１であり、スライスＨ８はスライスＳＬ１３であるが、他のスライスＨ２〜Ｈ７は、スライスＳＬ１〜ＳＬ１３とは別のスライスである。プレスキャンＢにおいてスライスＨ１〜Ｈ８からデータを収集した場合でも、線形補間などの補間法を用いることによって、スライスＳＬ１〜ＳＬ１３の送信ゲインを推定することができる。したがって、スライスＳＬ１〜ＳＬ１３に適した送信ゲインで本スキャンＣを実行することができる。また、図２３の場合、プレスキャンＢでは８枚のスライスＨ１〜Ｈ８からデータを収集すればよいので、本スキャンＣよりも、データを収集するスライスの枚数を少なくすることができ、プレスキャンＢのスキャン時間を短くすることが可能となる。
【０１２９】
尚、本形態では、本スキャンＣにおいて、スピンエコー法によるシーケンスＣ１〜Ｃ１３が実行されているが、スピンエコー法に限定されることはない。本スキャンＣにおいて、例えば、グラディエントエコー法によるシーケンスＣ１〜Ｃ１３を実行してもよい。本スキャンＣにおいて、グラディエントエコー法を用いた場合にも、図５に示すシーケンスＢ１〜Ｂｊを用いることができる。また、図５に示すシーケンスＢ１〜Ｂｊの代わりに、図２４に示すシーケンスＢ１〜Ｂｊを用いてもよい。図２４では、ＲＦパルスｗの振幅がＲＦパルスｖの振幅に一致するようにＲＦパルスが設定されている。この場合、ＲＦパルスｗのパルス幅をＲＦパルスｖのパルス幅よりも広げることによって、フリップ角α１およびα２の比を、１：２に保持することができる。
【符号の説明】
【０１３０】
２  マグネット
３  テーブル
３ａ  クレードル
４  受信コイル
５  送信器
６  勾配磁場電源
７  制御部
８  操作部
９  表示部
１０  被検体
２１  ボア
２２  ＲＦコイル
１００  ＭＲ装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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