(57)【要約】      （修正有）【課題】活性光線照射手段から発生させる光量の経時変化における波長帯域依存性、及び光量を測定する受光素子の受光特性が考慮されたインクジェット記録装置及び活性光線光量測定方法を提供する。【解決手段】活性光線硬化型インクを吐出させるインクジェットヘッドと、記録媒体Ｐを搬送させる搬送手段と、形成された画像に対して活性光線を照射する活性光線照射手段７４と、受光素子１３４Ｄを具備し、活性光線照射手段７４から照射された活性光線の光量を測定する光量測定手段１３４を備え、光量測定手段１３４は、活性光線のインクの硬化に寄与する波長帯域における活性光線照射手段７４の経時変化により活性光線照射手段７４から照射される活性光線の光量が変化する波長領域に対応して受光素子１３４Ｄへ入射させる活性光線の波長帯域を制限するフィルタ１３４Ｅを備えている。【選択図】図８
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
活性光線を照射させて硬化させるインクを吐出させるインクジェットヘッドと、
記録媒体を搬送させる搬送手段と、
前記記録媒体に形成された画像に対して活性光線を照射する活性光線照射手段と、
前記活性光線照射手段から照射された活性光線を受光する受光素子を具備し、前記活性光線照射手段から照射された活性光線の光量を測定する光量測定手段と、
を備え、
前記光量測定手段は、前記活性光線照射手段から照射される活性光線のインクの硬化に寄与する波長帯域における前記活性光線照射手段の経時変化により前記活性光線照射手段から照射される活性光線の光量が変化する波長領域に対応して前記受光素子へ入射させる活性光線の波長帯域を通過させるフィルタを備えたインクジェット記録装置。
【請求項２】
前記光量測定手段は、前記受光素子及び前記フィルタを前記活性光線から遮光する筐体を備え、
前記筐体は、前記受光素子及び前記フィルタの配設位置に対応する位置に採光穴が設けられ、前記採光穴が前記フィルタの一部を露出させる構造を有する請求項１に記載のインクジェット記録装置。
【請求項３】
前記筐体に設けられた採光穴は、前記受光素子の受光面の一部を遮蔽する構造を有する請求項２に記載のインクジェット記録装置。
【請求項４】
前記光量測定手段は、前記採光穴を覆う遮光部材、及び前記採光穴を覆う位置と前記採光穴を露出させる位置との間において前記遮光部材を移動させる遮光部材移動手段を具備する請求項２又は３に記載のインクジェット記録装置。
【請求項５】
前記フィルタは、前記受光素子の受光面の全面を覆う構造を有する請求項１から４のいずれか１項に記載のインクジェット記録装置。
【請求項６】
前記活性光線照射手段は、記録媒体の搬送方向と直交する記録媒体の幅方向について、使用される記録媒体の最大幅以上の長さにわたる活性光線の照射範囲を有し、
前記光量測定手段は、前記活性光線照射手段の照射範囲における前記記録媒体の幅方向の端部において活性光線の光量を検出する請求項１から５のいずれか１項に記載のインクジェット記録装置。
【請求項７】
前記光量測定手段を、活性光線の測定を行う測定位置と活性光線が照射されない待機位置との間を移動させる移動手段を備えた請求項１から６のいずれか１項に記載のインクジェット記録装置。
【請求項８】
前記光量測定手段は、前記光量測定手段の活性光線の照射による温度変化の許容範囲、及び前記光量測定手段の活性光線の照射による劣化の程度を考慮して決められる最低限の測定期間内に、前記活性光線照射手段から照射される活性光線の光量を測定する請求項１から７のいずれか１項に記載のインクジェット記録装置。
【請求項９】
前記光量測定手段は、印刷の開始前に前記活性光線照射手段から照射される活性光線の光量を測定する請求項１から８のいずれか１項に記載のインクジェット記録装置。
【請求項１０】
前記フィルタは、前記活性光線照射手段の経時変化に伴い前記活性光線照射手段から照射される活性光線の光量が減少する波長帯域の活性光線を通過させる特性を有する請求項１から９のいずれか１項に記載のインクジェット記録装置。
【請求項１１】
インクジェットヘッドから活性光線を照射させて硬化させるインクを記録媒体に吐出させ、記録媒体に形成された画像に対して活性光線照射手段から活性光線を照射してインクを硬化させるインクジェット記録装置において、
前記活性光線照射手段から照射される活性光線のインクの硬化に寄与する波長帯域における前記活性光線照射手段の経時変化により前記活性光線照射手段から照射される活性光線の光量が変化する波長領域の活性光線を通過させ、前記通過させた波長帯域の活性光線を受光素子へ受光させて、前記活性光線の光量を測定する測定工程を含む活性光線光量測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はインクジェット記録装置及び活性光線光量測定方法に係り、特に活性光線を照射してインクを硬化させるインクジェット記録装置における活性光線の光量測定技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
紫外線などの活性光線を照射してインクを硬化させるインクジェット記録装置が知られている。インクを硬化させる活性光線を照射する手段として、高出力が可能な紫外線ランプ（ＵＶランプ）が好適である。
【０００３】
紫外線ランプは長期使用による劣化によって発生する光量が低下する。そうすると、紫外線の光量不足によるインク（画像）の硬化異常（定着異常）が発生して、画像品質の低下の原因となりうる。
【０００４】
特許文献１は、活性光線硬化性（光硬化性）のインクを用いたインクジェット記録装置において、光源から発生させる光量を測定する光量測定センサを備え、光量測定センサから得られる測定結果に基づいて光源から発生させる光量が調整されて、インクに対して照射される光量が一定に保たれる構成が記載されている。
【０００５】
特許文献２は、活性光線（紫外線）を照射してインクを硬化させるインクジェット記録装置において、紫外線光量を測定する光量測定センサを保護し、かつ、紫外線の遮光性を有するカバー部材を備える形態が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００４−１９５９６６号公報
【特許文献２】特開２００５−２７１５８２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、紫外線ランプは、経時変化により発生する光量の低下がすべての波長帯域において均一ではなく、波長帯域によってまちまちである。そして、経時変化によって発生する光量が増加する波長帯域が存在することもある。
【０００８】
一方、活性光線の光量測定に用いられるＵＶセンサ（紫外線センサ）は、受光感度帯域が広いために、ＵＶセンサが有する受光感度領域全体で測定（受光）してしまう。そうすると、インクを硬化させるために必要な波長帯域における光量の低下を適切に検出できないことがありうる。
【０００９】
特許文献１、２に記載の光量測定では、光源から発生させる光量の低下の波長帯域依存性や、光量を測定するセンサの受光特性（波長帯域依存性）について考慮されていないので、測定結果から光量の低下を正確に把握できないことが懸念される。
【００１０】
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、活性光線照射手段から発生させる光量の経時変化における波長帯域依存性、及び光量を測定する受光素子の受光特性が考慮されたインクジェット記録装置及び活性光線光量測定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成するために、本発明に係るインクジェット記録装置は、活性光線を照射させて硬化させるインクを吐出させるインクジェットヘッドと、記録媒体を搬送させる搬送手段と、記録媒体に形成された画像に対して活性光線を照射する活性光線照射手段と、活性光線照射手段から照射された活性光線を受光する受光素子を具備し、活性光線照射手段から照射された活性光線の光量を測定する光量測定手段と、を備え、光量測定手段は、活性光線照射手段から照射される活性光線のインクの硬化に寄与する波長帯域における活性光線照射手段の経時変化により活性光線照射手段から照射される活性光線の光量が変化する波長領域に対応して受光素子へ入射させる活性光線の波長帯域を通過させるフィルタを備えている。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、活性光線照射手段から照射される活性光線の光量を測定する際に、インクの硬化に寄与する波長帯域における活性光線照射手段の経時変化により活性光線照射手段から照射される活性光線の光量が変化する波長領域を通過させるフィルタを介して活性光線を受光素子へ入射させることで、測定対象の活性光線の波長帯域がインクの硬化に寄与する波長帯域に限定され、インクの硬化に寄与する波長帯域における活性光線照射手段の経時変化による活性光線照射手段から照射される活性光線の光量の変動を正確に把握することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の実施形態に係るインクジェット記録装置の全体構成図
【図２】図１に図示したインクジェット記録装置における制御系の概略構成を示すブロック図
【図３】図１に示すインクジェット記録装置に具備されるインクジェットヘッドの構成図
【図４】図３に示すインクジェットヘッドに具備されるヘッドモジュールの構成例を示す斜視図
【図５】図４に示すヘッドモジュールのノズル配列の説明図
【図６】図４に示すヘッドモジュールの内部構造を示す断面図
【図７】第１実施形態におけるＵＶ光量検出部の構成例を示す説明図
【図８】図７に示す光量測定部の詳細構成を示す説明図
【図９】図７に示す光量測定部の他の移動形態を示す説明図
【図１０】ＵＶ光の波長特性の説明図、（ａ）：初期状態の説明図、（ｂ）：経時変化後の説明図
【図１１】バンドパスフィルタの説明図
【図１２】光量測定の流れを示すフローチャート
【図１３】装置の全体制御の概略を示すフローチャート
【図１４】第２実施形態における光量測定部の構成例を示す説明図、（ａ）：保護状態を模式的に示す説明図、（ｂ）：測定状態を模式的に示す説明図
【図１５】図１４に示す光量測定部の詳細構成を示す説明図
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、添付図面に従って本発明の好ましい実施の形態について詳説する。
【００１５】
〔インクジェット記録装置の全体構成〕
図１は、本発明の実施形態に係るインクジェット記録装置の全体構成図である。
【００１６】
同図に示すインクジェット記録装置１０は、枚葉の用紙Ｐに水性ＵＶインク（水性媒体を使用したＵＶ（紫外線）硬化型インク）を用いてインクジェット方式で画像を記録するインクジェット記録装置である。
【００１７】
インクジェット記録装置１０は、主として、用紙Ｐを給紙する給紙部１２と、給紙部１２から給紙された用紙Ｐの表面に処理液を付与する処理液付与部１４と、処理液付与部１４で処理液が付与された用紙Ｐの乾燥処理を行う処理液乾燥処理部１６と、処理液乾燥処理部１６で乾燥処理が施された用紙Ｐの表面に水性ＵＶインクを用いてインクジェット方式で画像を記録する画像形成部１８と、画像形成部１８で画像が記録された用紙Ｐの乾燥処理を行うインク乾燥処理部２０と、インク乾燥処理部２０で乾燥処理された用紙ＰにＵＶ光（活性光線）の照射を行って画像を定着させるＵＶ照射処理部２２と、ＵＶ照射処理部２２でＵＶ照射処理された用紙Ｐを排紙する排紙部２４と、を含んで構成される。
【００１８】
〈給紙部〉
給紙部１２は、主として、給紙台３０と、サッカー装置３２と、給紙ローラ対３４と、フィーダボード３６と、前当て３８と、給紙ドラム４０を含んで構成され、給紙台３０に積載された用紙Ｐを１枚ずつ処理液付与部１４へ給紙する。
【００１９】
給紙台３０の上に積載された用紙Ｐは、サッカー装置３２（サクションフィット３２Ａ）によって上から順に１枚ずつ引き上げられて、給紙ローラ対３４（上下一対のローラ３４Ａ，３４Ｂの間）に給紙される。
【００２０】
給紙ローラ対３４に給紙された用紙Ｐは、上下一対のローラ３４Ａ，３４Ｂによって前方に送り出され、フィーダボード３６の上に載置される。フィーダボード３６の上に載置された用紙Ｐは、フィーダボード３６の搬送面に設けられたテープフィーダ３６Ａによって搬送される。
【００２１】
そして、その搬送過程でリテーナ３６Ｂ、ガイドローラ３６Ｃによってフィーダボード３６の搬送面に押し付けられ、凹凸が矯正される。フィーダボード３６によって搬送された用紙Ｐは、先端が前当て３８に当接されることにより、傾きが矯正され、その後、給紙ドラム４０に受け渡される。そして、給紙ドラム４０のグリッパ４０Ａにより先端部を把持されて処理液付与部１４へと搬送される。
【００２２】
〈処理液付与部〉
処理液付与部１４は、主として、用紙Ｐを搬送する処理液付与ドラム４２と、処理液付与ドラム４２によって搬送される用紙Ｐの表面に所定の処理液を付与する処理液付与ユニット４４と、を含んで構成され、用紙Ｐの表面に処理液を付与（塗布）する。
【００２３】
用紙Ｐの表面に塗布される処理液は、後段の画像形成部１８で用紙Ｐに打滴される水性ＵＶインク中の色材を凝集させる機能を有する処理液が塗布される。用紙Ｐの表面に処理液を塗布して水性ＵＶインクを打滴することにより、汎用の印刷用紙を用いても着弾干渉等を起こすことなく、高品位な印刷を行うことができる。
【００２４】
給紙部１２の給紙ドラム４０から受け渡された用紙Ｐは、処理液付与ドラム４２に受け渡される。処理液付与ドラム４２は、用紙Ｐの先端をグリッパ４２Ａで把持して（咥えて）回転することにより、用紙Ｐを周面に巻き掛けて搬送する。
【００２５】
この搬送過程で、処理液皿４４Ｂから計量ローラ４４Ｃにより一定量に計量された処理液が付与された塗布ローラ４４Ａを用紙Ｐの表面に押圧当接させることで、用紙Ｐの表面に処理液が塗布される。なお、処理液を塗布する形態はローラ塗布に限定されず、インクジェット方式、ブレードによる塗布など、他の形態を適用することも可能である。
【００２６】
〈処理液乾燥処理部〉
処理液乾燥処理部１６は、主として、用紙Ｐを搬送する処理液乾燥処理ドラム４６と、用紙Ｐの裏面を支持（ガイド）する用紙搬送ガイド４８と、処理液乾燥処理ドラム４６によって搬送される用紙Ｐの表面に熱風を吹き当てて乾燥させる処理液乾燥処理ユニット５０と、を含んで構成され、表面に処理液が付与された用紙Ｐに対して乾燥処理を施す。
【００２７】
処理液付与部１４の処理液付与ドラム４２から処理液乾燥処理ドラム４６へ受け渡された用紙Ｐは、処理液乾燥処理ドラム４６に具備されるグリッパ４６Ａによって先端を把持される。
【００２８】
また、用紙Ｐは、表面（処理液が塗布された面）を内側に向けた状態で裏面を用紙搬送ガイド４８によって支持される。この状態で処理液乾燥処理ドラム４６を回転させることにより用紙Ｐを搬送させる。
【００２９】
処理液乾燥処理ドラム４６によって搬送される過程で、処理液乾燥処理ドラム４６の内側に設置された処理液乾燥処理ユニット５０から熱風が用紙Ｐの表面に吹き当てられて、用紙Ｐに乾燥処理が施され、処理液中の溶媒成分が除去されて、用紙Ｐの表面にインク凝集層が形成される。
【００３０】
〈画像形成部〉
画像形成部１８は、主として、用紙Ｐを搬送する画像形成ドラム５２と、画像形成ドラム５２によって搬送される用紙Ｐを押圧して、用紙Ｐを画像形成ドラム５２の周面に密着させる用紙押さえローラ５４と、用紙ＰにＣ，Ｍ，Ｙ，Ｋの各色のインク液滴を吐出するインクジェットヘッド５６Ｃ，５６Ｍ，５６Ｙ，５６Ｋと、用紙Ｐに記録された画像を読み取るインラインセンサ５８と、インクミストを捕捉するミストフィルタ６０と、ドラム冷却ユニット６２と、を含んで構成され、処理液層が形成された用紙Ｐの表面にＣ，Ｍ，Ｙ，Ｋの各色のインク（水性ＵＶインク）の液滴を打滴して、用紙Ｐの表面にカラー画像を描画する。
【００３１】
本例に適用されるインクジェットヘッドには、圧電素子のたわみ変形を利用してインクを吐出させる圧電方式（図６参照）、インクを加熱して膜沸騰現象を発生させてインクを吐出させるサーマル方式、帯電させたインクを静電気力によって記録媒体へ着弾させる静電方式など、様々な吐出方式を適用することができる。
【００３２】
また、本例に適用されるインクジェットヘッドは、用紙Ｐの全幅（用紙Ｐの相対移動方向と直交する主走査方向の全長）に対応する長さにわたってノズルが形成されるライン型ヘッドが適用される（図３参照）。
【００３３】
処理液乾燥処理部１６の処理液乾燥処理ドラム４６から画像形成ドラム５２へ受け渡された用紙Ｐは、画像形成ドラム５２に具備されるグリッパ５２Ａによって先端を把持される。さらに、用紙Ｐを用紙押さえローラ５４の下を通過させることで、用紙Ｐは画像形成ドラム５２の周面に密着する。
【００３４】
画像形成ドラム５２の周面に密着させた用紙Ｐは、画像形成ドラム５２の周面に形成された吸着穴に発生させた負圧によって吸着されて、画像形成ドラム５２の周面に吸着保持される。
【００３５】
画像形成ドラム５２の周面に吸着保持され搬送される用紙Ｐは、各インクジェットヘッド５６Ｃ，５６Ｍ，５６Ｙ，５６Ｋの直下のインク打滴領域を通過する際に、各インクジェットヘッド５６Ｃ，５６Ｍ，５６Ｙ，５６ＫからＣ，Ｍ，Ｙ，Ｋの各色のインクの液滴が表面に打滴されて、表面にカラー画像が描画される。
【００３６】
用紙Ｐの表面に打滴されたインクは、用紙Ｐの表面に形成されたインク凝集層と反応し、フェザリングやブリーディング等を起こすことなく用紙Ｐの表面に定着し、用紙Ｐの表面には高品位な画像が形成される。
【００３７】
インクジェットヘッド５６Ｃ，５６Ｍ，５６Ｙ，５６Ｋによって画像が形成された用紙Ｐは、インラインセンサ５８の読取領域を通過する際に、表面に形成された画像が読み取られる。
【００３８】
インラインセンサ５８による画像の読み取りは必要に応じて行われ、画像の読取データから吐出不良、濃度むら等の画像欠陥（画像異常）の検査が行われる。インラインセンサ５８の読取領域を通過した用紙Ｐは、吸着が解除された後、ガイド５９の下を通過して、インク乾燥処理部２０へと受け渡される。
【００３９】
〈インク乾燥処理部〉
インク乾燥処理部２０は、チェーングリッパ６４（相対搬送手段）によって搬送される用紙Ｐに対して乾燥処理を施すインク乾燥処理ユニット６８を含んで構成され、画像形成後の用紙Ｐに対して乾燥処理を施し、用紙Ｐの表面に残存する液体成分を除去する。
【００４０】
インク乾燥処理ユニット６８の構成例として、ハロゲンヒータ、赤外線（ＩＲ）ヒータ等の熱源と、熱源によって熱せられた空気（気体、流体）を用紙Ｐへ吹き付けるファンと、を具備する態様が挙げられる。
【００４１】
画像形成部１８の画像形成ドラム５２からチェーングリッパ６４へ受け渡された用紙Ｐは、チェーングリッパ６４に具備されるグリッパ６４Ｄによって先端を把持される。
【００４２】
チェーングリッパ６４は、第１スプロケット６４Ａ及び第２スプロケット６４Ｂに一対の無端状のチェーン６４Ｃが巻き掛けられた構造を有している。
【００４３】
また、用紙Ｐの後端の裏面は、チェーングリッパ６４との間の一定の距離を離して配置されたガイドプレート７２の用紙保持面に吸着保持される。
【００４４】
〈ＵＶ照射処理部〉
ＵＶ照射処理部２２（活性光線照射手段）は、ＵＶ照射ユニット７４を含んで構成され、水性ＵＶインクを用いて記録された画像に紫外線を照射して、用紙Ｐの表面に画像を定着させる。
【００４５】
チェーングリッパ６４によって搬送される用紙ＰがＵＶ照射ユニット７４のＵＶ光照射領域に到達すると、チェーングリッパ６４の内部に設置されたＵＶ照射ユニット７４によりＵＶ照射処理が施される。
【００４６】
すなわち、先端をグリッパによって把持され、後端の裏面を用紙保持面に吸着保持されてチェーングリッパ６４によって搬送される用紙Ｐは、用紙Ｐの搬送経路において用紙Ｐの表面と対応する位置に配置されたＵＶ照射ユニット７４からＵＶ光が照射される。ＵＶ光が照射された画像（インク）は、硬化反応が発現して用紙Ｐの表面に定着する。
【００４７】
ＵＶ照射処理が施された用紙Ｐは、傾斜搬送経路７０Ｂを経由して排紙部２４へ送られる。傾斜搬送経路７０Ｂを通過する用紙Ｐに対して、冷却処理を施す冷却処理部を備えてもよい。
【００４８】
ＵＶ照射ユニット７４の構成例として、ＵＶ光を発生させる紫外線光源として機能するＵＶランプ（紫外線ランプ、図７に符号７４Ａを付して図示）、及びＵＶランプを支持する灯具（ランプハウス、図７に符号７４Ｂを付して図示）を含む態様が挙げられる。
【００４９】
図１における図示は省略するが、ＵＶ照射処理部２２のＵＶ照射領域に照射されるＵＶ光の光量を測定する光量測定部（図２に符号１３４を付して図示）が設けられている。光量測定部の詳細は後述する。
【００５０】
〈排紙部〉
一連の画像形成処理が行われた用紙Ｐを回収する排紙部２４は、用紙Ｐを積み重ねて回収する排紙台７６を含んで構成される。
【００５１】
チェーングリッパ６４（グリッパ６４Ｄ）は、排紙台７６の上で用紙Ｐを開放し、排紙台７６の上に用紙Ｐをスタックさせる。排紙台７６は、チェーングリッパ６４から開放された用紙Ｐを積み重ねて回収する。排紙台７６には、用紙Ｐが整然と積み重ねられるように、不図示の用紙当て（前用紙当て、後用紙当て、横用紙当て等）が備えられる。
【００５２】
また、排紙台７６は、図示しない排紙台昇降装置によって昇降可能に設けられる。排紙台昇降装置は、排紙台７６にスタックされる用紙Ｐの増減に連動して、その駆動が制御され、最上位に位置する用紙Ｐが常に一定の高さに位置するように、排紙台７６を昇降させる。
【００５３】
〈制御系の説明〉
図２は、図１に示すインクジェット記録装置１０の制御系の概略構成を示すブロック図である。
【００５４】
同図に示すように、インクジェット記録装置１０は、システムコントローラ１００、通信部１０２、画像メモリ１０４、搬送制御部１１０、給紙制御部１１２、処理液付与制御部１１４、処理液乾燥制御部１１６、画像形成制御部１１８、インク乾燥制御部１２０、ＵＶ照射制御部１２２、排紙制御部１２４、操作部１３０、表示部１３２等が備えられる。
【００５５】
システムコントローラ１００は、インクジェット記録装置１０の各部を統括制御する制御手段として機能し、かつ、各種演算処理を行う演算手段として機能する。このシステムコントローラ１００は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）１００Ａ及び、ＲＯＭ（Read Only Memory）１００Ｂ、ＲＡＭ（Random Access Memory）１００Ｃを内蔵している。
【００５６】
システムコントローラ１００は、ＲＯＭ１００Ｂ、ＲＡＭ１００Ｃ、画像メモリ１０４等のメモリへのデータの書き込み、これらのメモリからのデータの読み出しを制御するメモリコントローラとしても機能する。
【００５７】
図２には、システムコントローラ１００にＲＯＭ１００Ｂ、ＲＡＭ１００Ｃ等のメモリを内蔵する態様を例示したが、ＲＯＭ１００Ｂ、ＲＡＭ１００Ｃ等のメモリは、システムコントローラ１００の外部に設けられていてもよい。
【００５８】
通信部１０２は、所要の通信インターフェースを備え、通信インターフェースと接続されたホストコンピュータとの間でデータの送受信を行う。
【００５９】
画像メモリ１０４は、画像データを含む各種データの一時記憶手段として機能し、システムコントローラ１００を通じてデータの読み書きが行われる。通信部１０２を介してホストコンピュータから取り込まれた画像データは、一旦画像メモリ１０４に格納される。
【００６０】
搬送制御部１１０は、インクジェット記録装置１０における用紙Ｐの搬送系の動作（給紙部１２から排紙部２４までの用紙Ｐの搬送）を制御する。搬送系には、図１に図示した処理液付与部１４における処理液付与ドラム４２、処理液乾燥処理部１６における処理液乾燥処理ドラム４６、画像形成部１８における画像形成ドラム５２、インク乾燥処理部２０、ＵＶ照射処理部２２及び排紙部２４で共通して用いられるチェーングリッパ６４が含まれる（図１参照）。
【００６１】
給紙制御部１１２は、システムコントローラ１００からの指令に応じて、給紙ローラ対３４の駆動、テープフィーダ３６Ａの駆動等の給紙部１２の各部の動作を制御する。
【００６２】
処理液付与制御部１１４は、システムコントローラ１００からの指令に応じて、処理液付与ユニット４４の動作等の処理液付与部１４の各部の動作（処理液の付与量、付与タイミング等）を制御する。
【００６３】
処理液乾燥制御部１１６は、システムコントローラ１００からの指令に応じて、処理液乾燥処理部１６の各部の動作を制御する。すなわち、処理液乾燥制御部１１６は、乾燥温度、乾燥気体の流量、乾燥気体の噴射タイミングなど、処理液乾燥処理ユニット５０（図１参照）の動作を制御する。
【００６４】
画像形成制御部１１８は、システムコントローラ１００からの指令に応じて、画像形成部１８（インクジェットヘッド５６Ｃ，５６Ｍ，５６Ｙ，５６Ｋ、図１参照）からのインク打滴（吐出）を制御する。
【００６５】
すなわち、図２の画像形成制御部１１８は、入力画像データからドットデータを形成する画像処理部と、駆動電圧の波形を生成する波形生成部（不図示）と、駆動電圧の波形を記憶する波形記憶部と、インクジェットヘッド５６Ｃ，５６Ｍ，５６Ｙ，５６Ｋのそれぞれに対して、ドットデータに応じた駆動波形を有する駆動電圧を供給する駆動回路と、を含んで構成される。
【００６６】
画像処理部では、入力画像データ（０から２５５のデジタル値で表されるラスターデータ）に対してＲＧＢの各色に分解する色分解（分版）処理、ＲＧＢをＣＭＹＫに変換する色変換処理、ガンマ補正、むら補正等の補正処理、Ｍ値の各色のデータをＮ値（Ｍ＞Ｎ、Ｍは３以上の整数、Ｎは２以上の整数）の各色データに変換するハーフトーン処理が施される。
【００６７】
画像処理部による処理を経て生成されたドットデータに基づいて、各画素位置の打滴タイミング、インク打滴量が決められ、各画素位置の打滴タイミング、インク打滴量に応じた駆動電圧、駆動信号（各画素の打滴タイミングを決める制御信号）が生成され、この駆動電圧がインクジェットヘッド５６Ｃ，５６Ｍ，５６Ｙ，５６Ｋへ供給され、インクジェットヘッド５６Ｃ，５６Ｍ，５６Ｙ，５６Ｋから打滴されたインク液滴によって各画素位置にドットが形成される。
【００６８】
インク乾燥制御部１２０は、システムコントローラ１００からの指令に応じて、インク乾燥処理部２０の動作を制御する。すなわち、インク乾燥制御部１２０は、乾燥温度、乾燥気体の流量、乾燥気体の噴射タイミングなど、インク乾燥処理ユニット６８（図１参照）の動作を制御する。
【００６９】
ＵＶ照射制御部１２２は、システムコントローラ１００からの指令に応じて、ＵＶ照射処理部２２によるＵＶ光の光量（ＵＶ光の照射エネルギー）を制御し、かつ、ＵＶ光の照射タイミングを制御する。
【００７０】
排紙制御部１２４は、システムコントローラ１００からの指令に応じて、排紙台７６（図１参照）に用紙Ｐがスタックされるように、排紙部２４の動作を制御する。
【００７１】
操作部１３０は、操作ボタン、キーボード、タッチパネル等の操作部材を備え、その操作部材から入力された操作情報をシステムコントローラ１００に送出する。システムコントローラ１００は、この操作部１３０から送出された操作情報に応じて各種処理を実行する。
【００７２】
表示部１３２は、ＬＣＤパネル等の表示装置を備え、システムコントローラ１００からの指令に応じて、装置の各種設定情報、異常情報などの情報を表示装置に表示させる。
【００７３】
インラインセンサ５８から出力される検出信号（検出データ）は、ノイズ除去、波形整形等の処理が施され、システムコントローラ１００を介して予め決められたメモリ（例えば、ＲＡＭ１００Ｃ）に記憶される。
【００７４】
光量測定部１３４（光量測定手段）は、ＵＶ照射処理部２２からインク（画像）に対して照射されるＵＶ光の光量を測定し、光量の情報を取得する。光量測定部１３４によって取得された光量の情報に基づいて、紫外線ランプの調整を変更し、紫外線ランプの劣化状態が判断される。
【００７５】
移動部１３５（移動手段）は、光量測定部１３４を移動させる手段であり、光量測定部１３４をＵＶ光の光量の測定を行う測定位置とＵＶ光の非照射領域に設けられる退避位置との間を移動させる。移動部１３５は、移動制御部１３６を介してシステムコントローラ１００から送出される指令信号に基づいて動作が制御される。
【００７６】
〔インクジェットヘッドの構造〕
次に、本発明の実施形態に係るインクジェットヘッドの構造について詳細に説明する。
【００７７】
〈全体構造〉
図３は、図１に図示したインクジェットヘッド５６Ｃ，５６Ｍ，５６Ｙ，５６Ｋの構成図である。ＣＭＹＫの各色に対応するインクジェットヘッド５６Ｃ，５６Ｍ，５６Ｙ，５６Ｋには同一の構造が適用されるので、これらを区別する必要がない場合にはインクジェットヘッド５６Ｃ，５６Ｍ，５６Ｙ，５６Ｋのアルファベットを省略することがある。
【００７８】
図３に示すインクジェットヘッド５６は、用紙Ｐの相対搬送方向（Ｙ方向）と直交する用紙Ｐの幅方向（Ｘ方向）について複数のヘッドモジュール２００がつなぎ合わせられた構造を有している。
【００７９】
ヘッドモジュール２００に付した枝番号（「−」（ハイフン）の後ろに付した整数）は、ｉ（１からｎの整数）番目のヘッドモジュールであることを表している。
【００８０】
各ヘッドモジュール２００のインク吐出面２７７には、複数のノズル開口（図３中不図示、図５に符号２８０を付して図示）が配置されている。
【００８１】
すなわち、図３に図示したインクジェットヘッド５６は、用紙Ｐの全幅Ｌｍａｘに対応する長さにわたって複数のノズル開口が配置されたフルライン型のインクジェットヘッド（シングルパス・ページワイドヘッド）である。
【００８２】
ここで、「用紙Ｐの全幅Ｌｍａｘ」とは、用紙Ｐの幅方向における用紙Ｐの全長である。
【００８３】
本明細書における「直交」という用語には、９０°未満の角度、又は９０°を超える角度をなして交差する態様のうち、実質的に９０°の角度をなして交差する場合と同様の作用効果を発生させる態様が含まれる。
【００８４】
なお、本例では、用紙Ｐの最大幅に対応する長さにわたって複数のノズルが配置されたフルライン型のインクジェットヘッドを用いた画像形成を例示したが、用紙Ｐの幅に満たない短尺のシリアルヘッドを用紙Ｐの幅方向に走査させて同方向の印字を行い、同方向の印字が終わると相対搬送方向に用紙Ｐを一定量移動させ、次の領域について用紙Ｐの幅方向への印字を行い、この動作を繰り返して用紙Ｐの全面に印字を行うシリアルヘッドを用いた画像形成にも適用可能である。
【００８５】
〈ヘッドモジュールの構造例〉
図４は、ヘッドモジュール２００の斜視図（部分断面図を含む図）であり、図５は図４に示したヘッドモジュール２００におけるノズル面の平面透視図である。
【００８６】
図４に示すように、ヘッドモジュール２００は、ノズル板２７５のインク吐出面２７７と反対側（図４において上側）にインク供給室２３２とインク循環室２３６等からなるインク供給ユニットを有している。
【００８７】
インク供給室２３２は、供給管路２５２を介してインクタンク（不図示）に接続され、インク循環室２３６は、循環管路２５６を介して回収タンク（不図示）に接続される。
【００８８】
図５ではノズル数を省略して描いているが、１個のヘッドモジュール２００のノズル板２７５のインク吐出面２７７には、２次元のノズル配列によって複数のノズル開口２８０が形成されている。
【００８９】
すなわち、ヘッドモジュール２００は、Ｘ方向に対して角度βの傾きを有するＶ方向に沿った長辺側の端面と、Ｙ方向に対して角度αの傾きを持つＷ方向に沿った短辺側の端面とを有する平行四辺形の平面形状となっており、Ｖ方向に沿う行方向、及びＷ方向に沿う列方向について、複数のノズル開口２８０がマトリクス配置されている。
【００９０】
なお、ノズル開口２８０の配置は、図５に図示した態様に限定されず、Ｘ方向に沿う行方向、及びＸ方向に対して斜めに交差する列方向に沿って複数のノズル開口２８０を配置してもよい。
【００９１】
すなわち、ノズル開口２８０（ノズル部２８１）のマトリクス配置とは、Ｘ方向に並ぶように各ノズル開口２８０を投影させた投影ノズル列において、ノズル開口２８０の配置間隔（ノズル間ピッチ）が均一になるようにノズル開口２８０が配置される。
【００９２】
図６は、ヘッドモジュール２００の内部構造を示す断面図である。符号２１４はインク供給路、２１８は圧力室（液室）、２１６は各圧力室２１８とインク供給路２１４とをつなぐ個別供給路、２２０は圧力室２１８からノズル開口２８０につながるノズル連通路、２２６はノズル連通路２２０と循環共通流路２２８とをつなぐ循環個別流路である。
【００９３】
これら流路部（２１４，２１６，２１８，２２０，２２６，２２８）を構成する流路構造体２１０の上に、振動板２６６が設けられる。振動板２６６の上には接着層２６７を介して、下部電極（共通電極）２６５、圧電体層２３１及び上部電極（個別電極）２６４の積層構造から成る圧電素子２３０が配設されている。
【００９４】
上部電極２６４は、各圧力室２１８の形状に対応してパターニングされた個別電極となっており、圧力室２１８ごとに、それぞれ圧電素子２３０が設けられている。
【００９５】
インク供給路２１４は、図４で説明したインク供給室２３２につながっており、インク供給路から個別供給路２１６を介して圧力室２１８にインクが供給される。描画すべき画像の画像信号に応じて、対応する圧力室２１８に設けられた圧電素子２３０の上部電極２６４に駆動電圧を印加することによって、該圧電素子２３０及び振動板２６６が変形して圧力室２１８の容積が変化し、これに伴う圧力変化によりノズル連通路２２０を介してノズル開口２８０からインクが吐出される。
【００９６】
画像情報から生成されるドット配置データに応じて各ノズル開口２８０に対応した圧電素子２３０の駆動を制御することにより、ノズル開口２８０からインク滴を吐出させることができる。用紙Ｐ（図３参照）を一定の速度でＹ方向に搬送しながら、その搬送速度に合わせて各ノズル開口２８０からのインク吐出タイミングを制御することによって、用紙上に所望の画像を記録することができる。
【００９７】
図示は省略するが、各ノズル開口２８０に対応して設けられている圧力室２１８は、その平面形状が概略正方形となっており、対角線上の両隅部の一方にノズル開口２８０への流出口が設けられ、他方に供給インクの流入口（個別供給路）２１６が設けられている。
【００９８】
なお、圧力室の形状は、正方形に限定されない。圧力室の平面形状は、四角形（菱形、長方形など）、五角形、六角形その他の多角形、円形、楕円形など、多様な形態があり得る。
【００９９】
ノズル開口２８０及びノズル連通路２２０を含むノズル部２８１には、循環出口（不図示）が形成され、ノズル部２８１は循環出口を介して循環個別流路２２６と連通される。
【０１００】
ノズル部２８１のインクのうち、吐出に使用されないインクは循環個別流路２２６を介して循環共通流路２２８へ回収（循環）される。
【０１０１】
循環共通流路２２８は、図５で説明したインク循環室２３６につながっており、循環個別流路２２６を通って常時インクが循環共通流路２２８へ回収されることにより、非吐出（非駆動）時におけるノズル部のインクの増粘が防止される。
【０１０２】
なお、本発明の適用範囲は、図４から図６に図示した構造に限定されない。ノズル開口２８０（ノズル部２８１）の配置は、用紙Ｐの幅方向について一列に配置してもよいし、二列の千鳥配置でもよい。
【０１０３】
また、ノズル開口２８０から液体を吐出させる方式として、サーマル方式、静電方式など、圧電方式以外の吐出方式を適用することも可能である。
【０１０４】
〔光量測定の詳細な説明〕
次に、ＵＶ照射処理部２２から用紙Ｐに形成された画像に対して照射されるＵＶ光の光量の測定について詳細に説明する。
【０１０５】
〈課題の説明〉
ＵＶ照射処理部２２から照射されるＵＶ光の光量を正確に測定しようとすると、ＵＶランプ（ＵＶ光源、図７に符号７４Ａを付して図示）の直下に光量測定部１３４（図２参照）を配置して、直接ＵＶ光の光量を測定する必要がある。
【０１０６】
しかし、ＵＶ光を直接測定しようとすると、以下の課題が存在する。
（１）ＵＶ光が照射された部材における温度上昇が大きい。例えば、１０秒間で３０℃程度（数秒から１０秒程度（１０秒間以下）の照射で数十℃）の温度上昇がみられる。
（２）ＵＶ光が照射された部材における劣化が懸念される。ＵＶ光の光量を測定するセンサ、センサの出力信号を処理する電気回路、電気回路が搭載される基板、電気回路から出力される電気信号を伝送する配線部材等の劣化が懸念される。
【０１０７】
したがって、以下に説明するＵＶ光の光量測定では、上記（１）、（２）の課題を解決するための構成が採用されている。
【０１０８】
〈第１実施形態〉
図７は、第１実施形態における光量測定部１３４の構成例を示す説明図である。図１では、ＵＶ照射ユニット７４として３つの構造体を図示したが、図７ではそのうちの１つのみが図示されている。また、図７では図１に図示したチェーングリッパ６４の図示が省略されている。
【０１０９】
図７に図示した破線ＰＡは、用紙Ｐの搬送経路における用紙Ｐの幅方向の端を表しており、ガイドプレート７２に支持された用紙Ｐは破線ＰＡの間を通過する。
【０１１０】
図７に図示したＵＶ照射ユニット７４は、ＵＶランプ７４Ａ、及びＵＶランプ７４Ａを支持する灯具（ランプハウス）７４Ｂを含んで構成される。ＵＶランプ７４Ａは、用紙Ｐの幅方向について用紙Ｐの最大幅以上の長さの照射領域を有している。
【０１１１】
灯具７４Ｂは、ＵＶランプ７４Ａを支持する支持部（不図示）が設けられ、内部が反射ミラーとして構成される。また、図示を省略するが、ＵＶランプ７４Ａを冷却するための冷却構造が具備される。
【０１１２】
図７に符号７４Ｃを付した一点破線は、ＵＶランプ７４Ａの用紙Ｐの相対搬送方向における中心線（用紙Ｐの相対搬送方向におけるＵＶ光の照射領域の中心線）である。以下の説明では、単に「ＵＶランプ７４Ａの中心線」と記載することがある。
【０１１３】
図７に示すＵＶ照射ユニット７４は、ＵＶランプ７４Ａが用紙Ｐの最大幅以上の長さを有している。なお、複数のＵＶランプ７４Ａをつなぎ合わせて、用紙Ｐの全幅に対応するＵＶ光の照射領域を形成してもよい。
【０１１４】
光量測定部１３４は、板金エンクロージャー１３４Ａ（光量測定手段、筐体）に、ＵＶセンサ（光量測定手段、受光素子、図７中不図示、図８に符号１３４Ｄを付して図示）、バンドバスフィルタ（光量測定手段、フィルタ、図７中不図示、図８に符号１３４Ｅを付して図示）などが内蔵（支持）された構造を有している。
【０１１５】
板金エンクロージャー１３４Ａには、板金エンクロージャー１３４Ａの内部にＵＶ光を取り込むための採光穴１３４Ｂが形成されている。
【０１１６】
採光穴１３４Ｂの平面形状は、円形状に限定されず、円以外の多角形形状や、スリットを適宜適用することができる。
【０１１７】
図７に実線で図示した光量測定部１３４は、ＵＶランプ７４Ａ（ＵＶ照射ユニット７４）から照射されたＵＶ光の光量を測定する測定位置に配置された状態（測定状態）である。測定位置に配置された状態における光量測定部１３４は、用紙Ｐの相対搬送方向におけるＵＶ光の照射領域の一方の端部に配置され、ＵＶランプ７４Ａの直下に採光穴１３４Ｂが配置され、ＵＶランプ７４Ａに対して採光穴１３４Ｂが対向する。
【０１１８】
図７には、光量測定部１３４が測定位置に配置された状態で、ＵＶランプ７４Ａの中心線を採光穴１３４Ｂが形成される面に投影した場合に、前記投影した中心線が採光穴１３４Ｂの中心（重心）を通っている。
【０１１９】
図７に破線で図示した光量測定部１３４は、ＵＶランプ７４Ａから照射されたＵＶ光の光量を測定しない場合の退避位置（非測定位置）に配置された状態（退避状態）である。光量測定部１３４は、回転軸１３４Ｃの回りに９０°回転動作させることで、測定位置から退避位置へ移動させることができ、測定位置から退避位置への移動と反対方向へ９０°回転動作させることで、退避位置から測定位置へ移動させることが可能である。
【０１２０】
なお、図７に図示した測定位置、及び退避位置は一例であり、測定位置はＵＶ照射領域に採光穴１３４Ｂが位置すればよく、退避位置は板金エンクロージャー１３４Ａ全体がＵＶ光の照射領域外に位置すればよく、退避位置は常に同じ位置でなくてもよい。
【０１２１】
また、測定位置が常に同じ位置であれば、採光穴１３４Ｂの中心がＵＶランプ７４Ａの中心線７４Ｃからずれていてもよい。
【０１２２】
ＵＶ光の光量の測定は、数秒から１０秒程度の短期間で行われる。すなわち、ＵＶ光の光量の測定の直前に光量測定部１３４を測定位置に配置させ、ＵＶ光の光量の測定が終了すると直ちに光量測定部１３４を退避位置へ移動させる。
【０１２３】
このように、ＵＶ光の光量の測定に必要最小限の期間のみ、光量測定部１３４を測定位置に配置させ、非測定の際は光量測定部１３４を退避位置に退避させることで、光量測定部１３４の温度上昇が抑制される。
【０１２４】
つまり、「ＵＶ光の光量の測定に必要最小限の期間」は、光量測定部１３４の活性光線の照射による温度変化の許容範囲、及び光量測定部１３４の活性光線の照射による劣化の程度を考慮して決められる最低限の測定期間であり、最低限の測定期間内に、ＵＶランプ７４Ａから照射される活性光線の光量が測定される。
【０１２５】
図８は、図７に示す光量測定部１３４の詳細構成を示す説明図であり、図７に図示した板金エンクロージャー１３４Ａの内部が透視して図示されている。なお、図８に図示した下向きの矢印線は、ＵＶランプ７４Ａから照射されるＵＶ光を模式的に図示したものである。
【０１２６】
光量測定部１３４は、ＵＶ光を受光するＵＶセンサ１３４Ｄと、ＵＶセンサ１３４Ｄに入射する（ＵＶセンサ１３４Ｄが受光する）ＵＶ光の波長帯域を制限する（ＵＶ光の予め決められた波長帯域を通過させる）バンドパスフィルタ１３４Ｅと、ＵＶセンサ１３４Ｄ及びＵＶセンサ１３４Ｄの出力信号を処理する電気回路１３４Ｆが搭載される基板１３４Ｇ（光量測定手段）と、を含んで構成される。
【０１２７】
また、光量測定部１３４の測定位置は、用紙Ｐの通過位置（符号Ｐを付して破線により図示）よりもＵＶランプ７４Ａ側とされる。光量測定部１３４とＵＶランプ７４Ａとの間隔は、ＵＶセンサ１３４Ｄの感度、光量測定部１３４の温度上昇の観点から適宜決められている。
【０１２８】
ＵＶセンサ１３４Ｄの一例として、フォトダイオード等のＵＶ光の受光光量に応じた光電流を発生させる素子が挙げられる。光電流は電気回路１３４Ｆによって電圧に換算され、この電圧値又は電圧値の変化がＵＶ光の光量の測定値となる。
【０１２９】
光量測定部１３４（板金エンクロージャー１３４Ａ）は、アーム１３５Ａによって回転軸１３４Ｃの回りを回転可能に支持される。
【０１３０】
光量測定部１３４を回転移動させる移動部１３５は、アーム１３５Ａ、及びアーム１３５Ａを回転可能に支持する回転機構１３５Ｂを含んで構成されている。回転機構１３５Ｂの構成は特に限定されず、ロータリーソレノイドを用いたもの、モータ、ギア等を組み合わせたものなどを適用することができる。
【０１３１】
図８に図示した符号Ｌ１は採光穴１３４Ｂの直径（幅）であり、符号Ｌ２はＵＶセンサ１３４Ｄの用紙Ｐの幅方向における長さ（ＵＶセンサ１３４Ｄの幅）であり、Ｌ１＜Ｌ２の関係を有している。
【０１３２】
すなわち、採光穴１３４Ｂは、ＵＶセンサ１３４Ｄの受光面積を規制する手段として機能している。すなわち、ＵＶセンサ１３４Ｄの受光面積は、採光穴１３４Ｂの面積と同一となる。なお、ここでいう「同一」とは、実質的に同一となる場合を含んでいる。
【０１３３】
換言すると、採光穴１３４Ｂの面積は、ＵＶ光の光量の測定が可能であるＵＶ光の受光光量を確保するという観点で決められており、一方、ＵＶセンサ１３４Ｄ受光面積を規制することで、必要以上のＵＶ光がＵＶセンサ１３４Ｄに対して照射されることが防止される。
【０１３４】
また、図８に図示した符号Ｌ３はバンドパスフィルタ１３４Ｅの用紙Ｐの幅方向における全長（全幅）であり、Ｌ１＜Ｌ２＜Ｌ３の関係を有している。すなわち、バンドパスフィルタ１３４ＥはＵＶセンサ１３４Ｄの全面を覆う面積を有し、ＵＶセンサ１３４Ｄの全面を覆う配置を有している。
【０１３５】
かかる構成によれば、バンドパスフィルタ１３４Ｅを通過した波長帯域を有するＵＶ光のみがＵＶセンサ１３４Ｄへ入射されることで、測定対象の波長帯域が制限されたＵＶ光の光量の測定が可能となる。
【０１３６】
さらに、電気回路１３４Ｆ、基板１３４Ｇ等を板金エンクロージャー１３４ＡによってＵＶ光から遮蔽することで、光量測定部１３４を構成する部品がＵＶ光による被ばくから保護される。
【０１３７】
図９は、図７に示す光量測定部１３４の他の移動形態を示す説明図である。図７には、光量測定部１３４を回転移動させる態様を例示したが、図９に示すように、光量測定部１３４を用紙Ｐの相対搬送方向に対して直交する方向へスライドさせてもよい。光量測定部１３４をスライドさせる方向は用紙Ｐの相対搬送方向と交差する方向であり、ＵＶ光の照射領域が離れる方向であればよい。
【０１３８】
〈バンドパスフィルタの説明〉
次に、図８に図示したバンドパスフィルタ１３４Ｅについて詳細に説明する。蛍光灯などの一般的なランプは、全波長帯域において経時変化に伴い光量が低下するものの、ＵＶ光を発生させるＵＶランプ７４Ａは、経時変化に伴う光量の低下が波長帯域によってまちまちであり、経時変化に伴い光量が増加する波長帯域が存在する。
【０１３９】
一方、ＵＶセンサ１３４Ｄは受光可能な波長帯域が広いため、ＵＶセンサ１３４Ｄの受光可能な波長帯域の全域のＵＶ光を受光すると、ＵＶランプ７４Ａの光量の低下をリニアに（正確に）検出することが困難である。
【０１４０】
そこで、以下に説明する特性を有するバンドパスフィルタ１３４Ｅを適用して、ＵＶセンサ１３４Ｄに入射されるＵＶ光のうち、インクの硬化に寄与しない（インクの硬化への寄与が小さい）波長帯域を制限して、ＵＶランプ７４Ａのインクの硬化に寄与する（インクの硬化への寄与が大きい）波長帯域の光量の低下を正確に検出している。
【０１４１】
ここで、「インクの硬化に寄与する波長帯域」とは、予め決められた照射期間、照射光量で、インクの状態を硬化状態（インクが移動しない程度に硬化した状態（半硬化状態）を含む）へ変化させることが可能な波長帯域である。「インクの硬化に寄与する波長帯域」は、インクの種類ごとに予め決められている。
【０１４２】
図１０は、ＵＶ光の波長特性の説明図（分光分布図）である。図１０（ａ）は初期状態（例えば、使用開始時）の分光分布、図１０（ｂ）は経時変化後（寿命末期（初期状態から光量が５０％低下した状態））の分光分布である。図１０（ａ），（ｂ）に図示したデータは、ＵＶランプ７４Ａとしてメタルハライドランプ（出力３６キロワット）が適用されて測定されたものである。
【０１４３】
図１０（ａ），（ｂ）の横系列は波長（ナノメートル）であり、縦系列は光量（積算光量、マイクロワット毎平方センチメートル毎ナノメートル）である。
【０１４４】
図１０（ａ），（ｂ）に符号Ｗ１を付した波長帯域は、インクの硬化に寄与する波長帯域である。また、符号Ｗ２を付した波長領域は、光量測定の対象とされる波長領域であり、インクの硬化に寄与する波長帯域のうち、ＵＶランプ７４Ａの経時変化により光量（波長帯域内の積算光量）が減少する波長帯域である。
【０１４５】
図１０（ａ），（ｂ）に示す例では、インクの硬化に寄与する波長帯域Ｗ１及び光量測定対象波長帯域Ｗ２は、中心波長が３３０ナノメートルであり同一となっている。
【０１４６】
すなわち、インクの硬化に寄与する波長帯域であり、かつ、経時変化によって光量が減少する波長帯域を通過させるバンドパスフィルタ１３４Ｅ（図８参照）が適用される。
【０１４７】
図１１は、バンドパスフィルタ１３４Ｅの説明図であり、バンドパスフィルタ１３４Ｅの光透過帯域特性を表している。図１１の横系列は波長（ナノメートル）であり、縦系列は透過率（パーセント）である。
【０１４８】
図１１に示すようにバンドパスフィルタ１３４Ｅは、中心波長を３３０ナノメートルとし、主として３２０ナノメートルから３４０ナノメートルの波長帯域のＵＶ光を通過させる。
【０１４９】
ここで説明したバンドパスフィルタ１３４Ｅの有効波長帯域（通過させる波長領域）は、インクの硬化特性（インクの硬化に寄与する波長帯域）、ＵＶランプ７４Ａの特性（経時変化と発生させる光量の変化との関係）を考慮して適宜決められる。
【０１５０】
すなわち、インクの種類とＵＶランプ７４Ａとの組み合わせごとに、バンドパスフィルタ１３４Ｅの通過させる波長帯域が決められる。また、ＵＶランプ７４Ａの特性によって採光穴１３４Ｂ（図８参照）の面積（直径Ｌ１）が決められる。
【０１５１】
本例では、インクの硬化に寄与する波長帯域において、経時変化により光量が低下する波長帯域を測定対象の波長帯域とする態様を例示したが、インクの硬化に寄与する波長帯域において、経時変化により光量が増加する波長帯域を測定対象の波長帯域としてもよい。
【０１５２】
すなわち、インクの硬化に寄与する波長帯域において、ＵＶランプ７４Ａの経時変化によってＵＶランプ７４Ａから照射される光量が変化する波長帯域を測定対象の波長帯域とすることができる。
【０１５３】
また、バンドパスフィルタ１３４Ｅが通過させる波長帯域は、インクの硬化に寄与する波長帯域が含まれていればよく、バンドパスフィルタ１３４Ｅが通過させる波長帯域の中心波長と、インクの硬化に寄与する波長帯域の中心波長とは一致していなくてもよい。
【０１５４】
〈光量測定のフローチャートの説明〉
図１２は、ＵＶランプ７４Ａ（図７参照）から照射される光量測定の流れを示すフローチャートである。ＵＶランプ７４Ａの光量測定が開始されると（ステップＳ１０）、光量測定部１３４を退避位置（図７参照）から測定位置へ移動させ（ステップＳ１２）、ＵＶランプ７４Ａを点灯させ（ステップＳ１４）、光量が測定される（ステップＳ１６、測定工程）。
【０１５５】
ステップＳ１６に示す光量測定の期間は、１秒から１０秒とされる。光量測定期間は、ＵＶセンサ１３４Ｄの感度から決められる。板金エンクロージャー１３４ＡのＵＶ光に対する耐久性や、光量測定部１３４のＵＶ光の照射による温度上昇を考慮すると、できる限り短期間で光量測定を行うことが好ましい。
【０１５６】
ステップＳ１６において得られた光量測定値は、予め決められた記憶部に記憶され（ステップＳ１７）、ＵＶランプ７４Ａを消灯させ（ステップＳ１８）、光量測定部１３４を退避位置へ移動させる（ステップＳ１９）。
【０１５７】
ステップＳ１７において記憶された光量測定値は、ＵＶランプ７４Ａの光量調整、交換の判断に使用される。
【０１５８】
すなわち、光量測定値は予め決められている変更基準値と比較され（ステップＳ２０）、光量測定値が変更基準値以上の場合には（Ｙｅｓ判定）、ＵＶランプ７４Ａの調整変更が不要であり、ＵＶランプ７４Ａの設定を変更せずに光量測定が終了される（ステップＳ３２）。
【０１５９】
一方、ステップＳ２０において、光量測定値が変更基準値未満の場合には（Ｎｏ判定）、ステップＳ２２に進み、光量測定値はＵＶランプ７４Ａを交換する際の基準とされる交換基準値と比較される。
【０１６０】
ステップＳ２２において、光量測定値が交換基準値以下の場合には（Ｙｅｓ判定）、ＵＶランプ７４Ａの交換が必要であると判断され、ＵＶランプ７４Ａの交換が必要である旨の報知がされ（ステップＳ２６）、光量測定が終了される（ステップＳ３２）。
【０１６１】
ＵＶランプ７４Ａの交換が必要である旨の報知は、図２に図示した表示部１３２に文字情報の形態で表示させる。なお、音声（音）による報知、ランプの点灯、点滅、消灯等による報知を適用、又はこれらを併用してもよい。
【０１６２】
一方、ステップＳ２２において、光量測定値が交換基準値を超えている場合には（Ｎｏ判定）、ＵＶランプ７４Ａの設定変更が可能であるか否かが判断される（ステップＳ２４）。
【０１６３】
すなわち、ＵＶランプ７４Ａの経時による発生光量の低下を補い、標準の光量を発生させるように、ＵＶランプ７４Ａの設定値が変更される。ＵＶランプの設定範囲の限界まで設定が達した場合には、ＵＶランプ７４Ａは寿命であり、交換が必要であると判断される。
【０１６４】
ステップＳ２４において、設定変更が可能である（設定範囲内の調整で標準の発生光量を実現できる）場合には（Ｙｓｅ判定）、ＵＶランプ７４Ａの設定変更がされ（ステップＳ２８）、光量測定が終了される（ステップＳ３２）。
【０１６５】
一方、ステップＳ２４において、設定変更が不可能である場合は（Ｎｏ判定）、ステップＳ２６に進み、ＵＶランプ７４Ａの交換が必要である旨が報知され、光量測定が終了される（ステップＳ３２）。
【０１６６】
ＵＶランプ７４Ａの光量測定は、必要最小限の回数とすることが好ましい。そこで、ＵＶランプ７４Ａの経時変化の特性を調べて把握しておき、経時変化の特性に応じて、ＵＶランプ７４Ａの光量測定の実施時期が決められる。
【０１６７】
図１３を用いて説明する装置の全体制御では、装置の稼働開始時にＵＶランプ７４Ａの光量測定が実施される。
【０１６８】
図１３は、装置の全体制御の概略を示すフローチャートである。同図に示すように、装置の稼働が開始されると（ステップＳ１００）、装置の初期化処理（イニシャライズ処理）が実行される（ステップＳ１０２）。
【０１６９】
ステップＳ１０２に示す初期化処理には、装置各部の開始準備、リセット、インクジェットヘッド５６Ｃ，５６Ｍ，５６Ｙ，５６Ｋ（図１参照）の回復処理等が含まれる。
【０１７０】
次に、ＵＶランプ７４Ａ（図７参照）の光量測定が実行され（ステップＳ１０４）、光量測定の結果に基づいて、ＵＶランプ７４Ａの調整変更、ＵＶランプ７４Ａの交換が必要である旨の報知（ＵＶランプ７４Ａの交換）が適宜実行される。
【０１７１】
このようにして、印刷の準備が整うと、印刷が開始され（ステップＳ１０６）、印刷が終了すると、装置の終了処理が実行され（ステップＳ１０８）、装置稼働は終了される（ステップＳ１１０）。
【０１７２】
ＵＶランプ７４Ａの光量測定は、必要に応じて実行することも可能である。例えば、用紙ＰがＵＶランプ７４Ａと光量測定部１３４との間を通過していない場合には、適宜光量測定部１３４を測定位置に移動させて、ＵＶランプ７４Ａの光量測定を実行することが可能である。
【０１７３】
このようにして、装置の稼働開始の際にＵＶランプ７４Ａの光量測定が実行されることで、装置稼働中は安定したＵＶ光の照射が実現され、ＵＶランプ７４Ａの光量測定を最小限にとどめて、ＵＶランプ７４Ａの光量を測定する光量測定部１３４におけるＵＶ光の照射による劣化が抑制される。
【０１７４】
〈第２実施形態〉
図１４は、第２実施形態における光量測定部３３４の構成例を示す説明図であり、図１４（ａ）は保護状態を模式的に示す説明図であり、図１４（ｂ）は測定状態を模式的に示す説明図である。なお、同図において、先に説明した同一又は類似する部分には同一の符号を付し、その説明は省略する。
【０１７５】
図１４（ａ）、（ｂ）に示す光量測定部３３４は固定配置される。光量測定部３３４の配置位置は、図７に図示した光量測定部１３４の測定位置と同じ条件で決められる。また、図１４（ａ）、（ｂ）に示す光量測定部３３４は、非測定の際に遮蔽部材（シャッター）３３４Ｈによって少なくとも採光穴３３４Ｂが遮蔽される。
【０１７６】
図１４（ａ）に示す態様では、非測定の際、遮蔽部材３３４Ｈによって光量測定部３３４の全体がＵＶ光から遮蔽される。
【０１７７】
遮蔽部材３３４Ｈは、ＵＶ光を透過させない材料又は透過させにくい材料であり、ＵＶ光に対する耐久性を有する材料（例えば、金属）が適用される。図１４（ｂ）に示す測定状態では、遮蔽部材３３４Ｈをスライド移動させて採光穴３３４Ｂを露出させる。
【０１７８】
図１５は、図１４に示す光量測定部の詳細構成を示す説明図である。なお、同図において、図８及び図１４（ａ），（ｂ）と同一又は類似する部分には同一の符号を付し、その説明は省略する。
【０１７９】
図１５に図示した板金エンクロージャー３３４Ａ、採光穴３３４Ｂ、ＵＶセンサ３３４Ｄ、バンドパスフィルタ３３４Ｅ、電気回路３３４Ｆ、基板３３４Ｇは、図７の板金エンクロージャー１３４Ａ、採光穴１３４Ｂ、ＵＶセンサ１３４Ｄ、バンドパスフィルタ１３４Ｅ、電気回路１３４Ｆ、基板１３４Ｇが適用できるので、ここでの説明は省略する。
【０１８０】
図１５に図示したアーム３３５は、板金エンクロージャー３３４Ａを固定支持する支持部材であり、図７に図示したアーム１３５Ａと同様の材料、形状を適用することができる。
【０１８１】
図１５では、遮蔽部材３３４Ｈをスライド移動させる移動機構の図示が省略されている。遮蔽部材３３４Ｈの移動機構（遮光部材移動手段）の一例として、ボールねじ、リニアスライダーなどの直動機構、直動機構の駆動源を含む態様が挙げられる。リニアモータ等の直動アクチュエータを用いて直動機構と駆動源とを一体構成としてもよい。
【０１８２】
遮蔽部材３３４Ｈの移動機構は、図２に図示した移動制御部１３６によって動作が制御される。
【０１８３】
本例に示す光量測定部３３４を用いた光量測定の制御フローには、図１２及び図１３に図示したフローチャートの一部を変更して適用することができる。
【０１８４】
図１２のステップＳ１２の光量測定部移動工程に代わり、遮蔽部材３３４Ｈをスライド移動させて、少なくとも採光穴３３４Ｂを露出させる露出工程が含まれる。また、ステップＳ１９の光量測定部退避工程に代わり、遮蔽部材３３４Ｈをスライド移動させて、少なくとも採光穴３３４Ｂを遮蔽する遮蔽工程が含まれる。
【０１８５】
以上説明した第２実施形態によれば、光量測定部３３４を固定配置とし、光量測定の際にのみ採光穴３３４Ｂを露出させ、光量の非測定の際には採光穴３３４Ｂを遮蔽することで、ＵＶセンサ３３４Ｄ等の光量測定部３３４を構成する部品をＵＶ光の照射による劣化を保護することが可能である。
【０１８６】
また、第１実施形態に示した光量測定部１３４全体を移動させる代わりに、遮蔽部材３３４Ｈをスライド移動させる構成を採用することで、図７に図示した移動部１３５よりも簡単な構成で、光量測定部３３４を構成する部品のＵＶ光の照射による劣化からの保護が実現される。
【０１８７】
第２実施形態の応用例として、光量測定部３３４をガイドプレート７２（用紙Ｐが搬送される際に支持される用紙支持面）に埋め込む態様が挙げられる。かかる態様によれば、光量測定部３３４を支持する支持部材が用紙Ｐを支持する支持部材と兼用され、光量測定部３３４を支持する構成の簡略化が見込まれる。
【０１８８】
〈インクの説明〉
本例に適用される紫外線硬化型インク（水性ＵＶインク）は、顔料、ポリマー粒子及び活性エネルギー線により重合する水溶性の重合性化合物を含有する。水性紫外線硬化型インクは、紫外線を照射することで硬化可能であり、耐察性に優れ膜強度が高いという性質を有する。
【０１８９】
顔料は、その表面の少なくとも一部がポリマー分散剤で被覆された水分散性顔料が用いられる。
【０１９０】
ポリマー分散剤は、酸価が２５から１０００（ＫＯＨｍｇ／ｇ）のポリマー分散剤が用いられる。自己分散性の安定性が良好、かつ、処理液が接触したときの凝集性が良好になる。
【０１９１】
ポリマー粒子は、酸価が２０から５０（ＫＯＨｍｇ／ｇ）の自己分散性ポリマー粒子が用いられる。自己分散性の安定性が良好、かつ、処理液が接触したときの凝集性が良好になる。
【０１９２】
重合性化合物としては、凝集剤と顔料、ポリマー粒子との反応を妨げない点でノニオン性又はカチオン性の重合性化合物が好ましく、水に対する溶解度が１０質量パーセント以上（更には１５質量パーセント以上）の重合性化合物を用いることが好ましい。
【０１９３】
また、インクは、活性光線により重合性化合物の重合を開始する開始剤を含有する。開始剤は、活性光線により重合反応を開始し得る化合物を適宜選択して含有することができ、たとえば、放射線若しくは光又は電子線により活性種（ラジカル、酸、塩基など）を発生する開始剤（たとえば、光重合開始剤等）を用いることができる。なお、開始剤は処理液に含有させることもでき、インクと処理液の少なくとも一方に含有させればよい。
【０１９４】
また、インクは水を５０から７０質量パーセント含有する。また、インクには添加剤を含有することができる。たとえば、水溶性有機溶媒や乾燥防止剤（湿潤剤）、褪色防止剤、乳化安定剤、浸透促進剤、紫外線吸収剤、防腐剤、防黴剤、pH調整剤、表面張力調整剤、消泡剤、粘度調整剤、分散剤、分散安定剤、防錆剤、キレート剤等の公知の添加剤を含有することができる。
【０１９５】
本明細書では、画像形成装置の一例としてインクジェット記録装置を例示したが、本発明は、グラフィック用途のインクジェット記録装置に限定されず、紫外線等の活性光線を照射して硬化させる液体を用いた工業用途（電気配線形成、マスクパターン形成）のインクジェット方式のパターン形成装置に対しても広く適用することが可能である。
【０１９６】
以上説明したインクジェット記録装置及び活性光線光量測定方法は、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、適宜変更、追加、削除をすることが可能である。また、上述した構成例は、適宜組み合わせることが可能である。
【０１９７】
〔本明細書が開示する発明〕
上記に詳述した発明の実施形態についての記載から把握されるとおり、本明細書は少なくとも以下に示す発明を含む多様な技術思想の開示を含んでいる。
【０１９８】
（第１態様）：活性光線を照射させて硬化させるインクを吐出させるインクジェットヘッドと、記録媒体を搬送させる搬送手段と、記録媒体に形成された画像に対して活性光線を照射する活性光線照射手段と、活性光線照射手段から照射された活性光線を受光する受光素子を具備し、活性光線照射手段から照射された活性光線の光量を測定する光量測定手段と、を備え、光量測定手段は、活性光線照射手段から照射される活性光線のインクの硬化に寄与する波長帯域における活性光線照射手段の経時変化により活性光線照射手段から照射される活性光線の光量が変化する波長領域に対応して受光素子へ入射させる活性光線の波長帯域を通過させるフィルタを備えたインクジェット記録装置。
【０１９９】
第１態様によれば、活性光線照射手段から照射される活性光線の光量を測定する際に、インクの硬化に寄与する波長帯域における活性光線照射手段の経時変化により活性光線照射手段から照射される活性光線の光量が変化する波長領域を通過させるフィルタを介して活性光線を受光素子へ入射させることで、測定対象の活性光線の波長帯域がインクの硬化に寄与する波長帯域に限定され、インクの硬化に寄与する波長帯域における活性光線照射手段の経時変化による活性光線照射手段から照射される活性光線の光量の変動を正確に把握することができる。
【０２００】
光量測定手段の一例として、受光素子から出力された出力信号を処理する電気回路、電気回路から電気信号を取り出す端子、当該電気回路、端子等が搭載される基板、受光素子、フィルタ、当該基板を支持する支持部材、を備える態様が挙げられる。
【０２０１】
（第２態様）：第１態様に記載のインクジェット記録装置において、光量測定手段は、受光素子及びフィルタを活性光線から遮光する筐体を備え、筐体は、受光素子及びフィルタの配設位置に対応する位置に採光穴が設けられ、採光穴がフィルタの一部を露出させる構造を有している。
【０２０２】
第２態様によれば、受光素子及びフィルタ以外の光量測定手段を構成する部品を活性光線から遮蔽することで、光量測定手段を構成する部品の活性光線の照射による劣化及び温度上昇が防止される。
【０２０３】
筐体は、受光素子、フィルタ、当該基板を支持する支持部材と兼用することが可能である。
【０２０４】
（第３態様）：第２態様に記載のインクジェット記録装置において、筐体に設けられた採光穴は、受光素子の受光面の一部を遮蔽する構造を有している。
【０２０５】
第３態様によれば、光量測定に必要な最小限の活性光線のみを、フィルタを介して受光素子へ入射させることで、活性光線の照射によるフィルタ及び受光素子の劣化及び温度上昇が防止される。
【０２０６】
（第４態様）：第２態様又は第３態様に記載のインクジェット記録装置において、光量測定手段は、採光穴を覆う遮光部材、及び採光穴を覆う位置と採光穴を露出させる位置との間において遮光部材を移動させる遮光部材移動手段を具備している。
【０２０７】
第４態様によれば、光量測定をする測定状態のみ採光穴を露出させ、非測定状態では採光穴を遮蔽することができる。
【０２０８】
（第５態様）：第１態様から第４態様のいずれかに記載のインクジェット記録装置において、フィルタは、受光素子の受光面の全面を覆う構造を有している。
【０２０９】
第５態様によれば、非測定対象の波長帯域の活性光線が受光素子へ入射されることがなく、測定対象の波長領域に絞った光量測定が可能である。
【０２１０】
（第６態様）：第１態様から第５態様のいずれかに記載のインクジェット記録装置において、活性光線照射手段は、記録媒体の搬送方向と直交する記録媒体の幅方向について、使用される記録媒体の最大幅以上の長さにわたる活性光線の照射範囲を有し、光量測定手段は、活性光線照射手段の照射範囲における記録媒体の幅方向の端部において活性光線の光量を検出する。
【０２１１】
第６態様によれば、活性光線照射手段の照射領域における端部において、活性光線の光量測定がされるので、光量測定手段に対する活性光線の照射を最小限にとどめることができ、光量測定手段の活性光線の照射による劣化及び温度上昇を抑制しうる。
【０２１２】
第６態様において、少なくとも採光穴が活性光線照射手段の照射領域に位置すればよい。
【０２１３】
（第７態様）：第１態様から第６態様のいずれかに記載のインクジェット記録装置において、光量測定手段を、活性光線の測定を行う測定位置と活性光線が照射されない待機位置との間を移動させる移動手段を備えている。
【０２１４】
第７態様によれば、測定状態では測定位置に光量測定手段を配置し、非測定状態では退避位置に光量測定手段を配置することで、非測定状態における光量測定手段への活性光線の照射を回避することができる。
【０２１５】
（第８態様）：第１態様から第７態様のいずれかに記載のインクジェット記録装置において、光量測定手段は、光量測定手段の活性光線の照射による温度変化の許容範囲、及び光量測定手段の活性光線の照射による劣化の程度を考慮して決められる最低限の測定期間内に、活性光線照射手段から照射される活性光線の光量を測定する。
【０２１６】
第８態様によれば、必要最小限の短期間で活性光線の光量測定ができ、光量測定手段の活性光線の照射による劣化及び温度上昇が防止される。
【０２１７】
（第９態様）：第１態様から第８態様のいずれかに記載のインクジェット記録装置において、光量測定手段は、印刷の開始前に活性光線照射手段から照射される活性光線の光量を測定する。
【０２１８】
第９態様によれば、活性光線の光量測定を必要最小限にとどめることで、光量測定手段の活性光線の照射による劣化及び温度上昇が防止される。
【０２１９】
（第１０態様）：第１態様から第９態様のいずれかに記載のインクジェット記録装置において、フィルタは、活性光線照射手段の経時変化に伴い活性光線照射手段から照射される活性光線の光量が減少する波長帯域の活性光線を通過させる特性を有する。
【０２２０】
第１０態様によれば、活性光線照射手段の経時変化を活性光線の光量の減少として把握することができる。
【０２２１】
第１０態様において、光量測定手段の活性光線の照射による温度変化の許容範囲、及び光量測定手段の活性光線の照射による劣化の程度を考慮して決められる最低限の測定期間内に、活性光線照射手段から照射される活性光線の光量を測定する態様が好ましい。
【０２２２】
第１０態様において、印刷前に測定工程が実行される態様が好ましい。
【０２２３】
（第１１態様）：インクジェットヘッドから活性光線を照射させて硬化させるインクを記録媒体に吐出させ、記録媒体に形成された画像に対して活性光線照射手段から活性光線を照射してインクを硬化させるインクジェット記録装置において、活性光線照射手段から照射される活性光線のインクの硬化に寄与する波長帯域における活性光線照射手段の経時変化により活性光線照射手段から照射される活性光線の光量が変化する波長領域の活性光線を通過させ、通過させた波長帯域の活性光線を受光素子へ受光させて、活性光線の光量を測定する測定工程を含む活性光線光量測定方法。
【０２２４】
第１１態様において、測定工程の前に活性光線の光量を測定する光量測定手段を測定状態とする測定状態遷移工程と、測定工程の前であり光量測定手段が測定状態となった後に、活性光線照射手段から活性光線を照射させ、測定工程の後に活性光線の照射を停止させる活性光線照射工程と、活性光線の照射が停止された後に、光量測定手段を非測定状態に遷移させる非測定状態遷移工程と、を含む態様が好ましい。
【０２２５】
測定状態遷移工程は、光量測定手段を退避位置から測定位置へ移動させる第１移動工程を含む態様や、光量測定手段が具備する遮蔽部材を移動させて、光量測定手段が具備する受光素子を遮蔽した状態から露出させた状態へ遷移させる第１遷移工程を含む態様がある。
【０２２６】
非測定状態遷移工程は、光量測定手段を測定位置から退避位置へ移動させる第２移動工程を含む態様や、光量測定手段が具備する遮蔽部材を移動させて、光量測定手段が具備する受光素子を露出させた状態から遮蔽した状態へ遷移させる第２遷移工程を含む態様がある。
【符号の説明】
【０２２７】
１０…インクジェット記録装置、５６，５６Ｃ，５６Ｍ，５６Ｙ，５６Ｋ…インクジェットヘッド、２２…ＵＶ照射処理部、６４…チェーングリッパ、７４…ＵＶ照射ユニット、７４Ａ…ＵＶ、１３４、３３４…光量測定部、１３４Ａ，３３４Ａ…板金エンクロージャー、１３４Ｂ，３３４Ｂ…採光穴、１３４Ｄ，３３４Ｄ…ＵＶセンサ、１３４Ｅ，３３４Ｅ…バンドパスフィルタ、１３５…移動部、３３４Ｈ…遮蔽部材
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2015058571.tif 000009
【図８】
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【図９】
2015058571.tif 000011
【図１０】
2015058571.tif 000012
【図１１】
2015058571.tif 000013
【図１２】
2015058571.tif 000014
【図１３】
2015058571.tif 000015
【図１４】
2015058571.tif 000016
【図１５】
2015058571.tif 000017