(57)【要約】【課題】２つの検出器を搭載するＸ線診断装置において、高精細検出器により発生された画像に生じるムラを低減すること。【解決手段】Ｘ線管５は、Ｘ線を発生する。標準検出器７は、Ｘ線管５から発生されたＸ線を検出する。高精細検出器８は、標準検出器７よりも小さい検出面を有し、かつ標準検出器７よりも高い解像度を有し、Ｘ線管５から発生されたＸ線を検出する。移動機構１１は、標準検出器７の検出面の前方において、高精細検出器８を標準検出器７の検出面に対して水平移動自在に支持する。傾動機構１４は、標準検出器７の基準点または高精細検出器８の基準点を傾動の支点として、高精細検出器８の検出面の中心点とＸ線管５の焦点とを結ぶ軸に対して高精細検出器８の検出面を傾動自在に支持する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線を発生するＸ線管と、
前記Ｘ線管から発生されたＸ線を検出する第１検出器と、
前記第１検出器よりも小さい検出面を有し、かつ前記第１検出器よりも高い解像度を有する、前記Ｘ線管から発生されたＸ線を検出する第２検出器と、
前記第１検出器の検出面の前方において、前記第２検出器を前記第１検出器の検出面に対して水平移動自在に支持する移動機構と、
前記第１検出器の基準点または前記第２検出器の基準点を傾動の支点として、前記第２検出器の検出面の中心点と前記Ｘ線管の焦点とを結ぶ軸に対して前記第２検出器の検出面を傾動自在に支持する傾動機構と、
を具備するＸ線診断装置。
【請求項２】
前記傾動機構を制御し、前記第２検出器の検出面の中心点と前記Ｘ線管の焦点とを結ぶ軸に対して直交するように前記第２検出器を傾動させる傾動機構制御部をさらに備える請求項１記載のＸ線診断装置。
【請求項３】
前記移動機構により前記第２検出器が水平移動自在な水平面における前記第２検出器の検出面の中心点位置と、前記第２検出器の検出面の中心点と前記Ｘ線管の焦点との間の距離を計測する計測部と、
前記計測された位置及び距離に基づいて、前記第１検出器の検出面の中心点と前記Ｘ線管の焦点と前記第２検出器の検出面の中心点とが作る角度を計算する計算部と、をさらに備え、
前記傾動機構制御部は、前記計算された角度に応じて前記傾動機構を制御し、前記第２検出器の検出面の中心点と前記Ｘ線管の焦点とを結ぶ軸と、前記第２検出器の検出面とが直交するように前記第２検出器を傾動させる、請求項２記載のＸ線診断装置。
【請求項４】
前記傾動機構制御部は、前記第１検出器の検出面の中心点を前記支点として、前記移動機構を介して前記第１検出器に接続された前記第２検出器を傾動させる、請求項３記載のＸ線診断装置。
【請求項５】
前記傾動機構制御部は、前記第２検出器の検出面の中心点を前記支点として、前記第２検出器を傾動させる、請求項３記載のＸ線診断装置。
【請求項６】
前記第２検出器を前記第１検出器の検出面の前方から退避させる退避機構をさらに備える請求項１記載のＸ線診断装置。
【請求項７】
Ｘ線を発生するＸ線管と、
前記Ｘ線管から発生されたＸ線を検出する第１検出器と、
前記第１検出器よりも小さい検出面を有し、かつ前記第１検出器よりも高い解像度を有する、前記Ｘ線管から発生されたＸ線を検出する第２検出器と、
前記第１検出器の検出面の前方において前記第２検出器を前記第１検出器の検出面に対して水平移動自在、かつ前記第２検出器を前記第１検出器の検出面の前方から退避可能に支持する移動機構と、
前記第２検出器を傾動自在に支持する傾動機構と、
を具備するＸ線診断装置。
【請求項８】
前記第２検出器の検出面にグリッドが装着される請求項１記載のＸ線診断装置。
【請求項９】
前記グリッドは集束グリッドである請求項８記載のＸ線診断装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、Ｘ線診断装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
Ｘ線診断装置を用いて、通常の空間分解能を有する検出器（標準検出器）を用いて２００μｍ以下の幅を有する穿通枝等の細い血管やこれらの血管に挿入される非対称ステント等の微細な血管内デバイスの画像化を行なう場合、十分な解像度を有した画像データを得ることは困難な場合が多い。
【０００３】
このような問題点を解決するために、上述の標準検出器の他に高い空間分解能を有した高精細検出器を別途装備する方法が提案されている（例えば、特許文献１参照）。標準検出器を用いて生成された画像データにおける上述の血管や血管内デバイスの空間分解能が不十分な場合には、標準検出器の検出面の前方における当該箇所に高精細検出器を標準検出器の検出面に水平に配置することにより、当該箇所の良質な画像データを収集する。散乱線の影響を防ぐため、高精細検出器にもグリッドが装着される。
【０００４】
しかし、標準検出器の中心から離れた箇所に高精細検出器が配置される場合、図１３に示すように、Ｘ線は高精細検出器に装着されたグリッドに対して斜めに入射される。すなわち、高精細検出器が標準検出器の中心から離れるほど高精細検出器に装着されたグリッドの指向性により、高精細検出器に入射するＸ線量にムラが生じてしまうという問題がある。一般的に、平行グリッドの場合、高精細検出器のうち標準検出器の中心から離れた位置ほどＸ線の入射線量が少なくなる。また、集束グリッドの場合、高精細検出器のうち標準検出器の中心から離れた位置ほどＸ線の入射線量が多くなる。従って、高精細検出器により得られる画像データにムラが生じてしまう。すなわち、高精細検出器が標準検出器の中心から離れると、Ｘ線の入射線量が少なくなる部分に合わせてＸ線の照射量を増加させなくてはならないため、被検者へのＸ線の被曝が増大する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００５−１５２６４０号公報
【特許文献２】特開２００８−２２９２７０号公報
【特許文献３】特開２０１１−００４９６６号公報
【特許文献４】特開２０１１−１０４３５３号公報
【特許文献５】特開２０１１−２００５７３号公報
【特許文献６】特開２０１１−２５５０９８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
目的は、２つの検出器を搭載するＸ線診断装置において、高精細検出器により発生された画像に生じるムラを低減することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本実施形態に係るＸ線診断装置は、Ｘ線を発生するＸ線管と、前記Ｘ線管から発生されたＸ線を検出する第１検出器と、前記第１検出器よりも小さい検出面を有し、かつ前記第１検出器よりも高い解像度を有する、前記Ｘ線管から発生されたＸ線を検出する第２検出器と、前記第１検出器の検出面の前方において、前記第２検出器を前記第１検出器の検出面に対して水平移動自在に支持する移動機構と、前記第１検出器の基準点または前記第２検出器の基準点を傾動の支点として、前記第２検出器の検出面の中心点と前記Ｘ線管の焦点とを結ぶ軸に対して前記第２検出器の検出面を傾動自在に支持する傾動機構と、を具備する。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本実施形態に係るＸ線診断装置の構成を示す図。
【図２】図１の標準検出器と高精細検出器と移動機構との配置関係の一例を示す図。
【図３】図１の退避機構の動作を説明するための図。
【図４】図１の傾動機構の概観図。
【図５】図４の傾動機構によって検出器の傾動角度が調整されたときの概観図。
【図６】図１の傾動機構による検出器の傾動角度を調整する典型的な流れを示す図。
【図７】本実施形態に係る高精細検出器の傾動角度について説明するための図。
【図８】本実施形態に係る標準検出器をθＸＺ１°傾けたときの角度の関係を説明するための図。
【図９】本実施形態に係る高精細検出器をθＸＺ°かつθＹＺ°傾けたときの焦点と高精細検出器との位置関係を示す図。
【図１０】変形例１に係る傾動機構の一例を説明するための図。
【図１１】変形例１に係る高精細検出器の傾動角度について説明するための図。
【図１２】変形例２に係る移動機構の一例を説明するための図。
【図１３】従来例に係る高精細検出器に装着されたグリッドに対してＸ線が斜めに入射される一例を説明するための図。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、図面を参照しながら実施形態に係るＸ線診断装置１を説明する。なお、以下の説明において、略同一の機能及び構成を有する構成要素については、同一符号を付し、重複説明は必要な場合にのみ行う。
【００１０】
図１は、Ｘ線診断装置１の構成を示す図である。Ｘ線診断装置１は、撮影機構２と画像処理装置３とを有する。
【００１１】
撮影機構２は、アーム４を有する。アーム４の一端には、Ｘ線管５が設けられている。Ｘ線管５は、高電圧発生部６から高電圧の印加とフィラメント電流の供給とを受けてＸ線を発生する。
【００１２】
アーム４の他端には、標準検出器７が設けられている。標準検出器７は、例えば平面検出器（Ｆｌａｔ  Ｐａｎｅｌ  Ｄｅｔｅｃｔｏｒ：ＦＰＤ）により実現される。ＦＰＤは、２次元状に配列された複数の画素を有する。各画素は、Ｘ線管５から発生されたＸ線を検出し、検出されたＸ線を電気信号に変換する。各画素において発生された電気信号は、図示しないアナログディジタル変換器（Ａｎａｌｏｇ  ｔｏ  Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ：以下、Ａ／Ｄ変換器と呼ぶ）に出力される。Ａ／Ｄ変換器は、電気信号をディジタルデータに変換する。Ａ／Ｄ変換器は、ディジタルデータを後述する画像発生部２１に出力する。
【００１３】
標準検出器７の検出面の前方には、後述する移動機構１１を介して高精細検出器８が設けられている。高精細検出器８は、標準検出器７よりも小さい検出面を有し、かつ標準検出器７よりも高い解像度を有する。具体的には、高精細検出器８は、標準検出器７では画像化が困難な細かい部位を、操作者が視認可能な程度に精細に画像化可能な高い解像度を有する。細かい部位とは、例えば、２００μｍ以下の幅を有する穿通枝等の細い血管やこれらの血管に挿入される非対称ステント等の微細な血管内デバイスなどである。Ｘ線診断時においては、Ｘ線管５と標準検出器７（高精細検出器８使用時は高精細検出器８も含む）との間に、天板９に載置された被検体Ｐが配置される。天板９は、後述する入力部２３を介した操作者からの指示に従って、寝台により移動可能に支持される。
【００１４】
高精細検出器８の検出面には、散乱線を除去するためのグリッド１０が装着される。グリッド１０は、例えば平行グリッドでも良いし、集束グリッドでも良い。
【００１５】
移動機構１１は、標準検出器７の検出面の前方において、高精細検出器８を標準検出器７の検出面に対して水平移動自在に支持する。図２は、標準検出器７と高精細検出器８と移動機構１１との配置関係の一例を示す図である。図２に示すように、標準検出器７は標準検出器保持部１２に収容され、高精細検出器８は後述する高精細検出器保持部３１に収容されている。移動機構１１は、第１ガイドレール１１−１と第２ガイドレール１１−２とを有する。第１ガイドレール１１−１は、例えば、標準検出器保持部１２の両側に設けられる。ここで、２本の第１ガイドレール１１−１は平行である。第１ガイドレール１１−１と第２ガイドレール１１−２とは直交する。第１ガイドレール１１−１は、第２ガイドレール１１−２をｙ軸方向に水平移動可能に支持する。水平移動は、例えば、第２ガイドレール１１−２が第１ガイドレール１１−１に係り合う車輪を持つことにより実現される。第２ガイドレール１１−２は、高精細検出器８を第２ガイドレール１１−２に沿ってｘ軸方向に水平移動可能に支持する。水平移動は、例えば、高精細検出器保持部３１が第２ガイドレール１１−２に係り合う車輪を有することにより実現される。第２ガイドレール１１−２は、Ｘ線を透過しやすい素材を有する。以上のように、第１ガイドレール１１−１と第２ガイドレール１１−２とにより、高精細検出器８の２次元的な水平移動が実現される。なお、移動機構１１は、他の機構により高精細検出器８の２次元的な水平移動を実現しても良い。なお、移動機構１１は、標準検出器７と高精細検出器８との間隔を可変自在に、標準検出器７と高精細検出器８とを支持しても良い。
【００１６】
退避機構１３は、標準検出器７の検出面の前方から高精細検出器８を退避可能に支持する。図３は、退避機構１３の動作を説明するための図である。標準検出器の検出面の前方にあるときの高精細検出器８の位置、即ち高精細検出器８によりＸ線を検出するときの高精細検出器８の位置を使用ポジションと呼ぶことにする。退避機構１３は、操作者の手などにより外された第１ガイドレール１１−１に係り合った第２ガイドレール１１−２を回転させることにより、高精細検出器８を標準検出器７の検出面の前方から退避させる（以下、退避された高精細検出器８の位置、即ち標準検出器７によりＸ線を検出するときの高精細検出器８の位置を退避ポジションと呼ぶ）。具体的には、例えば、退避機構１３は、第２ガイドレール１１−２を標準検出器保持部１２の側面まで回転させ（図３の例だと、略２７０°の回転）、第２ガイドレール１１−２を標準検出器保持部１２に固定させる。以上の動作により、高精細検出器８は標準検出器７の前方から退避され、標準検出器７のみを用いて通常のＸ線撮影が可能となる。
【００１７】
傾動機構１４は、高精細検出器８の検出面の中心点とＸ線管５の焦点とを結ぶ軸に対して、高精細検出器８の検出面を当該軸回りに傾動自在に支持する。傾動機構１４は、標準検出器７の基準点または高精細検出器８の基準点を傾動の支点として、高精細検出器８の検出面を当該軸回りに傾動自在に支持する。基準点は、例えば、標準検出器７の検出面の中心点または高精細検出器８の検出面の中心点である。なお、基準点は、標準検出器７の検出面の中心点近傍の点或いは高精細検出器８の検出面の中心点近傍の点でも良い。基準点は、標準検出器７の検出面の端点または高精細検出器８の検出面の端点でも良い。基準点は、標準検出器７の中心点或いは高精細検出器８の中心点でも良い。基準点は、標準検出器７の中心点近傍の点または高精細検出器８の中心点近傍の点でも良い。以下の説明においては、基準点は、標準検出器７の検出面の中心点或いは高精細検出器８の検出面の中心点であるとする。傾動機構１４は、例えば、標準検出器保持部１２に設けられる。
【００１８】
計測部１５は、移動機構１１により高精細検出器８が水平移動自在な水平面における高精細検出器８の検出面の中心点位置（以下、簡略的に高精細検出器８の位置と呼ぶ）と、高精細検出器８の検出面の中心点とＸ線管５の焦点とを結ぶ軸との間の距離（Ｓｏｕｒｃｅ−Ｉｍａｇｅ  Ｄｉｓｔａｎｃｅ：以下、高精細検出器８のＳＩＤと呼ぶ）を計測する。水平面における高精細検出器８の位置は、（ｘ，ｙ）座標で表現される。
【００１９】
また、Ｘ線診断装置１は、撮影機構２とともに画像処理装置３を備えている。画像処理装置３は、画像発生部２１、計算部２２、入力部２３、記憶部２４、表示部２５、インターフェース部２６、Ｘ線制御部２７、駆動制御部２８、システム制御部２９、を有する。
【００２０】
画像発生部２１は、標準検出器７から出力されたディジタルデータに前処理を施して、Ｘ線画像（以下、標準Ｘ線画像と呼ぶ）を発生する。画像発生部２１は、高精細検出器８から出力されたディジタルデータに前処理を施して、Ｘ線画像（以下、高精細Ｘ線画像と呼ぶ）を発生する。前処理とは、ＦＰＤにおけるチャンネル間の感度不均一の補正、及び脱落に関する補正等である。画像発生部２１は、発生したＸ線画像を後述する記憶部２４に出力する。
【００２１】
計算部２２は、計測部１５で計測された高精細検出器８の位置及びＳＩＤに基づいて、標準検出器７の検出面の中心点とＸ線管５の焦点と高精細検出器８の検出面の中心点とが作る角度を計算する。
【００２２】
入力部２３は、操作者が所望するＸ線条件、Ｘ線撮影位置、Ｘ線撮影の開始及び終了などを入力する。入力部２３は、操作者からの各種指示、命令、情報、選択、設定などを後述するシステム制御部２９に入力する。
【００２３】
記憶部２４は、入力部２３から供給される操作者からの指示を記憶する。記憶部２４は、種々のデータを記憶する。また、記憶部２４は、画像発生部２１で発生されたＸ線画像等を記憶しても良い。記憶部２４は、記憶したＸ線画像を適宜、表示部２５、インターフェース部２６などへ出力する。
【００２４】
表示部２５は、種々の情報をモニタに表示する。表示部２５は、例えば、画像発生部２１により発生された標準Ｘ線画像と高精細Ｘ線画像とを位置整合して表示する。また、表示部２５は、記憶部２４に記憶されている任意の画像データを読み込み表示しても良い。
【００２５】
インターフェース部２６は、ネットワークを介して図示していないＰＡＣＳ（Ｐｉｃｔｕｒｅ  Ａｒｃｈｉｖｉｎｇ  ａｎｄ  Ｃｏｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎ  Ｓｙｓｔｅｍｓ）や他のコンピュータに接続される。
【００２６】
Ｘ線制御部２７は、システム制御部２９からの指示に従って、高電圧発生部６を制御する。
【００２７】
駆動制御部２８は、システム制御部２９からの指示に従って、移動機構１１と傾動機構１４とを連動制御する。移動機構１１は、駆動制御部２８からの指示に従って、標準検出器７の検出面の前方において、高精細検出器８を標準検出器７の検出面に対して平行に移動させる。駆動制御部２８は、システム制御部２９からの指示に従って、傾動機構１４を制御する。傾動機構１４は、駆動制御部２８からの指示に従って、高精細検出器８の検出面の中心点とＸ線管５の焦点とを結ぶ軸に対して、高精細検出器８の検出面を傾動させる。駆動制御部２８は、標準検出器７に対する高精細検出器８の位置に関わらず、高精細検出器８の検出面の中心点と焦点とを結ぶ軸に対する高精細検出器８の検出面を３次元的に直交させる。
【００２８】
システム制御部２９は、Ｘ線診断装置１の中枢として機能する。システム制御部２９は、Ｘ線診断装置１に含まれる各構成要素を統括的に制御し、本実施形態に係る各種動作を実現する。
【００２９】
以下、傾動機構１４により標準検出器７と高精細検出器８とを傾動させる動作例を説明する。
【００３０】
はじめに、傾動機構１４による標準検出器７と高精細検出器８との傾動角度（３次元角度）の調整について説明する。図４は、傾動機構１４の概観図である。傾動機構１４は、標準検出器保持部１２に設けられる。Ｘ線管５の焦点と標準検出器７の検出面の中心点とを通る直線を、軸Ｒ０と定義する。傾動機構１４は、標準検出器７と高精細検出器８とを標準検出器７の検出面の中心点を支点として軸Ｒ０回りに傾動可能に支持する。具体的には、傾動機構１４は、ダイヤルＸ１４−１と構造体Ｘ１４−３とを有する。傾動機構１４は、ダイヤルＹ１４−２と構造体Ｙ１４−４とを有する。ダイヤルＸ１４−１は、回転軸ＸＲ３回りに回転可能に標準検出器保持部１２に設けられる。回転軸ＸＲ３と軸Ｒ０が直交するように、ダイヤルＸ１４−１は設けられる。ダイヤルＹ１４−２は、回転軸ＹＲ４回りに回転可能に標準検出器保持部１２に設けられる。回転軸ＹＲ４と軸Ｒ０が直交するように、ダイヤルＹ１４−２は設けられる。構造体Ｘ１４−３は、標準検出器保持部１２に連結される。構造体Ｙ１４−４は、標準検出器保持部１２に連結される。傾動軸Ｒ１は、標準検出器７の検出面の中心点を通りＸ軸に平行する軸として定義される。標準検出器７は、傾動軸Ｒ１回りに傾動可能である。傾動軸Ｒ２は、標準検出器７の検出面の中心点を通りＹ軸に平行する軸として定義される。標準検出器７は、傾動軸Ｒ２回りに傾動可能である。傾動軸Ｒ１と傾動軸Ｒ２とは軸Ｒ０上において互いに直交する。
【００３１】
駆動制御部２８による制御により、ダイヤルＸ１４−１が回転することにより構造体Ｘ１４−３は、ダイヤルＸ１４−１の回転方向及び回転量に応じた傾き角度に標準検出器保持部１２を傾動する。標準検出器保持部１２の傾動に連携して、高精細検出器保持部３１に保持された高精細検出器８は傾動軸Ｒ１を傾きの支点として傾動される。例えば、ダイヤルＸ１４−１を右回転させることにより、標準検出器７と高精細検出器８とは一体に右回りに傾動される。駆動制御部２８による制御により、ダイヤルＹ１４−２が回転することにより構造体Ｙ１４−４は、ダイヤルＹ１４−２の回転方向及び回転量に応じた傾き角度に標準検出器保持部１２を傾動する。標準検出器保持部１２の傾動に連携して、高精細検出器保持部３１に保持された高精細検出器８は傾動軸Ｒ１を傾きの支点として傾動される。例えば、ダイヤルＹ１４−２を右回転させることにより、標準検出器７と高精細検出器８とは一体に右回りに傾動される。
【００３２】
上記の通り、傾動機構１４は、軸Ｒ０に直交する２軸の傾動によって高精細検出器８を３次元的に傾動自在にする。
【００３３】
また、傾動機構１４による標準検出器７と高精細検出器８との傾動角度の調整は、ダイヤルと構造体１４−３以外のもので実現されても良い。傾動機構１４は、例えば、自在継手のような構造により実現されても良い。
【００３４】
傾動機構１４は、標準検出器７を３次元的に傾動させる。具体的には、傾動機構１４は、駆動制御部２８により駆動される。傾動機構駆動部は、ダイヤルＸ１４−１を回転させることにより、標準検出器７のＸＺ平面上における標準検出器７の検出面の中心点と焦点とを結ぶ軸に対する標準検出器７の検出面の角度をθＸＺ１°になるよう傾動させる。傾動機構１４は、駆動制御部２８により駆動される。傾動機構駆動部は、ダイヤルＹ１４−２を回転させることにより標準検出器７のＹＺ平面上における標準検出器７の検出面の中心点と焦点とを結ぶ軸に対する標準検出器７の検出面の角度をθＹＺ１°になるよう傾動させる。なお、ダイヤルＸ１４−１とダイヤルＹ１４−２とは、操作者によって手動で操作されても良い。図５は、傾動機構１４によって検出器の傾動角度が調整されたときの概観図である。このとき、標準検出器７は、θＸＺ１°かつθＹＺ１°になるよう傾動されている。ここで、図２に示したように、標準検出器７と高精細検出器８とは、第１ガイドレール１１−１と第２ガイドレール１１−２とを介して接続されている。標準検出器７と高精細検出器８とは、第１ガイドレール１１−１と第２ガイドレール１１−２とにより、３次元的に平行に保たれている。従って、傾動機構１４が標準検出器７をある３次元角度（例えばθＸＺ°かつθＹＺ°）になるよう傾動させたとき、高精細検出器８は標準検出器７と同じ３次元角度になるよう傾動される。
【００３５】
次に、図６を参照しながら、検出器の傾動角度の調整についての一連の動作例を説明する。図６は、傾動機構１４による検出器の傾動角度を調整する典型的な流れを示す図である。まず、システム制御部２９は、計測部１５により高精細検出器８の位置（ｘ,ｙ）とＳＩＤ（ｚ）とを計測させる（ステップＳ１）。図７は、高精細検出器８の傾動角度について説明するための図である。計測部１５は、高精細検出器８の移動量（ｘ：Ｘ方向移動量，ｙ：Ｙ方向移動量）と高精細検出器８のＳＩＤ（ｚ）とを計測する。計測部１５は、計測した高精細検出器８の位置（ｘ，ｙ）と高精細検出器８のＳＩＤ（ｚ）とを、計算部２２に出力する。
【００３６】
ステップＳ１が行われるとシステム制御部２９は、計測された高精細検出器８の位置（ｘ,ｙ）とＳＩＤ（ｚ）とに基づいて、計算部２２によりθＸＺ°とθＹＺ°とを計算させる（ステップＳ２）。図８は、標準検出器７をθＸＺ１°傾けたときの角度の関係を説明するための図である。焦点と標準検出器７の検出面とを最短距離で結ぶ直線とは、垂直に交わる。また、高精細検出器８の検出面と標準検出器７の検出面とは３次元的に平行なので、θＸＺ１°＝θＸＺ２°、θＹＺ１°＝θＹＺ２°ある。従って、標準検出器７がθＸＺ１°傾いているとき、θＸＺ＝θＸＺ１°＝θＸＺ２°＝ｔａｎ−１（ｘ／ｚ）の計算により求められる。同様に、標準検出器７がθＹＺ１°傾いているとき、θＹＺ°＝θＹＺ１°＝θＹＺ２°＝ｔａｎ−１（ｙ／ｚ）である。
【００３７】
ステップＳ２が行われるとシステム制御部２９は、傾動機構１４により高精細検出器８をθＸＺ°かつθＹＺ°に傾けさせる（ステップＳ３）。このとき、Ｘ線管５に設けられるＸ線絞り器（図示せず）は、高精細検出器８のみにＸ線が照射されるよう、絞り羽根を稼働させる。
【００３８】
図９は、高精細検出器８をθＸＺ°かつθＹＺ°傾けたときの焦点と高精細検出器８との位置関係を示す図である。従って、グリッドの指向性による影響が低減され、高精細検出器８にグリッドを取り付けた状態でも高精細検出器８には略均一な線量のＸ線が入射されるようになる。
【００３９】
（変形例１）
上記の実施形態では、傾動機構１４は、標準検出器保持部１２に設けられていた。傾動機構１４は、高精細検出器８が３次元的に傾動可能であれば、標準検出器保持部１２に設けられていなくても良い。変形例１に係る傾動機構１４は、高精細検出器保持部３１に設けられている。傾動機構１４は、直交する２軸の回転軸により高精細検出器８を傾動自在に支持する。変形例１において、傾動機構１４は、例えば、高精細検出器保持部３１に直交する２軸の回転軸を持つ。
【００４０】
図１０は、変形例１における傾動機構１４の一例を説明するための図である。傾動機構１４は、高精細検出器８を保持する高精細検出器保持部３１に設けられる。傾動機構１４は、標準検出器７から独立して、高精細検出器８を３次元的に傾動させる。具体的には、図１０の場合、傾動機構１４は、傾動機構制御部（図示せず）により傾動機構駆動部（図示せず）を駆動させる。傾動機構駆動部は、回転軸ＸＲ３を回転させることにより、標準検出器７のＸＺ平面上における標準検出器７の検出面の中心点と焦点とを結ぶ軸に対する標準検出器７の検出面の角度をθＸＺ２°になるよう傾動させる。傾動機構１４は、傾動機構制御部（図示せず）により傾動機構駆動部（図示せず）を駆動させる。傾動機構駆動部は、回転軸ＹＲ４を回転させることにより標準検出器７のＹＺ平面上における標準検出器７の検出面の中心点と焦点とを結ぶ軸に対する標準検出器７の検出面の角度をθＹＺ２°になるよう傾動させる。
【００４１】
また、図１１は、変形例１における高精細検出器８の傾動角度について説明するための図である。θＸＺ°とθＹＺ°とは上記の実施形態と同じく規定される。高精細検出器８がθＸＺ２°傾いているとき、θＸＺ°＝θＸＺ２°＝ｔａｎ−１（ｘ／ｚ）である。高精細検出器８がθＹＺ２°傾いているとき、θＹＺ°＝θＹＺ２°＝ｔａｎ−１（ｙ／ｚ）である。なお、標準検出器７は傾動機構１４によって傾動されない。
【００４２】
（変形例２）
上記の実施形態では、標準検出器７の検出面の前方から高精細検出器８を退避可能に支持する退避機構１３に退避ポジションが設けられていた。退避ポジションは、高精細検出器８が標準検出器７の検出面の前方から退避可能であれば、退避機構１３に設けられていなくても良い。変形例２に係る退避ポジションは、移動機構１１に設けられている。
【００４３】
図１２は、変形例２における移動機構１１の一例を説明するための図である。移動機構１１に属する第２ガイドレール１１−２は、第１ガイドレール１１−１から突き出して設けられても良い。即ち、第２ガイドレール１１−２の突き出した部分が、退避ポジションに設定されても良い。この際、移動機構１１は退避機構１３の機能を併せ持ち、退避機構１３は必ずしも必要ではなくなる。
【００４４】
上記のとおり、本実施形態に係るＸ線診断装置１は、傾動機構１４を有する。高精細検出器８の検出面の中心点と焦点とを結ぶ軸に対する高精細検出器８の検出面とは３次元的に垂直である場合の高精細検出器８の傾動角度を計算することができる。さらに、計算された傾動角度に高精細検出器８を傾けることができる。従って、グリッドの指向性による影響が低減され、高精細検出器８にグリッドを取り付けた状態でも高精細検出器８には、標準検出器７に対する高精細検出器８の位置によらず、全ての画素に亘ってグリッド１０によるＸ線の低減差を略均一にすることができる。即ち、高精細検出器８により得られる画像データに生じるムラを軽減することができる。
【００４５】
また、画像データのムラを解消する他の手段として、標準検出器７の検出面の中心点と高精細検出器８の検出面の中心点とがＺ軸上に３次元的に平行になるよう配置するというものもある。しかし、その場合、撮影対象としたい関心領域（Ｒｅｇｉｏｎ  ｏｆ  Ｉｎｔｅｒｅｓｔ：ＲＯＩ）と２つの検出面の中心点に対応する位置に移動させるために、操作者は被検者の体を移動させなくてはならない。従って、操作者と被検者とに負担がかかる。本実施形態に係るＸ線診断装置１によれば、操作者は被検者の体を移動させる必要がないため、操作者と被検者とに負担は軽減される。
【００４６】
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
【符号の説明】
【００４７】
１…Ｘ線診断装置、２…撮影機構、３…画像処理装置、４…アーム、５…Ｘ線管、６…高電圧発生部、７…標準検出器、８…高精細検出器、９…天板、１０…グリッド、１１…移動機構、１２…標準検出器保持部、１３…退避機構、１４…傾動機構、１５…計測部、２１…画像発生部、２２…計算部、２３…入力部、２４…記憶部、２５…表示部、２６…インターフェース部、２７…Ｘ線制御部、２８…駆動制御部、２９…システム制御部、３１…高精細検出器保持部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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