(57)【要約】【課題】  検査をすり抜けた不良品でも確実に製造ラインから排除することのできる振分装置とそれを備えた振分システムを提供する。【解決手段】  上流から搬送されてくる検査済みの個々の袋詰め商品を各袋詰め商品に対して行われた良・不良の検査結果に基づいて振り分けるに際し、振り分けられる前の、少なくとも検査済みの先行する袋詰め商品と、それに続く後続の検査済みの袋詰め商品とが存在するように設定されている。そして、それらの検査済みの袋詰め商品の内、後続の袋詰め商品の検査結果が不良であれば、それに先行する、検査結果が良であった袋詰め商品と、その検査結果が不良であった後続の袋詰め商品と、さらにそれに続く、検査結果が良であった後続の袋詰め商品とを不良品として排除する。【選択図】図３
2015058382.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
上流から搬送されてくる検査済みの個々の袋詰め商品を各袋詰め商品に対して行われた良・不良の検査結果に基づいて振り分ける振分装置であって、該装置の上流側には、検査済みの先行する袋詰め商品と、それに続く同じく検査済みの後続の袋詰め商品とが存在するように設定され、それらの袋詰め商品の内、後続の袋詰め商品の検査結果が不良であれば、それに先行する袋詰め商品と、当該後続の袋詰め商品と、それに続くさらに後続の袋詰め商品とを不良品として排除する制御手段を備えたことを特徴とする振分装置。
【請求項２】
袋詰め商品を個々に検査してシール部分への内容物の噛み込みを検査する検査装置と、その検査装置から搬送されてくる個々の袋詰め商品を、それぞれの袋詰め商品に対して行われた検査結果に基づいて振り分ける振分装置とを備えた振分システムであって、これらの検査装置と振分装置との間には、検査済みの先行する袋詰め商品と、それに続く同じく検査済みの後続の袋詰め商品とが存在するように設定され、かつ、前記振分装置には、それらの袋詰め商品の内、後続の袋詰め商品の検査結果が不良であれば、それに先行する袋詰め商品と、当該後続の袋詰め商品と、それに続くさらに後続の袋詰め商品とを不良品として排除する制御手段が備えられていることを特徴とする振分システム。
【請求項３】
前記制御手段は、前記後続の袋詰め商品に続くさらに後続の袋詰め商品の検査結果が不良であれば、それよりもさらに後続の袋詰め商品を不良品として排除することを特徴とする請求項１に記載の振分装置又は請求項２に記載の振分システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検査装置で不良品として判定された袋詰め商品をライン外へ排除する振分装置と、前記検査装置と振分装置とを備えた振分システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
袋詰め商品では、袋のシール部分に内容物や調味料が噛み込まれることがある。シール部分に内容物等が噛み込まれると、商品価値が低下するだけでなく、袋の密閉が不完全になり、それに起因して袋から充填ガスが抜けて内容物の品質が劣化したり、袋が扁平になって内容物が押し潰されたりする。そのため、この種の製造ラインには、シール不良検査装置と振分装置とが組み込まれて、検出されたシール不良品を振分装置で製造ラインから排除するようにしている。
【０００３】
例えば、下記特許文献１に記載された包装機では、横シール機がチューブ状の袋を挟んで横シールするときの挟持間隔を近接センサで検出し、検出した間隔が所定値より大きければ、横シール部分に噛み込みが発生したと判断して、下流の振分装置で不良品をライン外へ排除するようにしている。
【０００４】
また、下記特許文献２に記載されたＸ線検査装置では、被検査物を透過したＸ線透過画像に基づいて袋詰め商品のシール部分を特定し、そのシール部分の画像の濃淡レベルからシール部分への内容物等の噛み込みの有無を判別して、噛み込みのある不良品を下流の選別装置で振り分けるようにしている。
【０００５】
さらに、下記特許文献３に記載された検査装置では、透光性のある包装シートで包まれた包装体に近赤外線等を照射し、それをカメラで撮像して、シール部分に異物が噛み込まれているか否かを判定するようにしている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０１２−９８１６２号公報
【特許文献２】特開２００５−２４５４９号公報
【特許文献３】特開２０１３−７５９７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ところが、これらの検査装置を用いても検出できない噛み込みがある。例えば、スナック菓子のように内容物が脆く、破片が発生し易い加工食品を縦ピロー包装機で包装するときは、内容物の小さな破片や調味料の結晶（以下、これらを総称して微片という。）が絶えず袋内に落下してくる。そのため、こうした微片が袋のシール部分や、そのシール部分と内容物の収納領域との境界で噛み込まれると、その部分の包材が薄くなって充填ガスがリークしたりそこにピンホールが生じて空気中の酸素や湿気が流入したりする。しかし、現在の検査装置では、そうした微片は、殆ど検出できないのが現状である。
【０００８】
また、縦ピロー包装機で袋をシールするときは、先行袋の上端部とそれに続く後続袋の下端部とを同時に横シールするが、その際、図１に示すように、先行袋Ａ１の横シール部分Ｓ２に内容物の微片Ｃが噛み込まれると、その微片Ｃの周囲には、横シールが不完全な領域Ｒが形成される。その不完全領域Ｒは、先行袋Ａ１の横シール部分Ｓ２だけに留まらず、それと連なる後続袋Ａ２の横シール部分Ｓ１にも広がることがある。そうした後続袋Ａ２が先行袋Ａ１と分離された状態でＸ線検査装置において検査されると、後続袋Ａ２のシール不完全領域Ｒには、微片Ｃが含まれていないために、検査装置は、それを良品と判断してしまう。
【０００９】
こうした不完全領域Ｒのある袋は、そこのシール性能が劣るため、温度上昇や外圧等による袋の膨張によって、そこから充填ガスがリークしたり裂けたりする。したがって、こうしたシール不良品も排除する必要があるが、これまでの検査装置では、こうしたシール不良品も見逃されてしまうという問題があった。
【００１０】
本発明は、こうした検査をすり抜けた不良品でも確実に製造ラインから排除することのできる新たな振分装置とそれを備えた振分システムを提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明は、検査装置によって一つの袋に噛み込み不良が検出されれば、その袋と繋がっていた前後の袋にも、検出されないシール不良や噛み込み不良が発生している可能性が高いとの知見に基づいて発明したもので、本発明に係る振分装置は、上流から搬送されてくる検査済みの個々の袋詰め商品を各袋詰め商品に対して行われた良・不良の検査結果に基づいて振り分ける振分装置であって、該装置の上流側には、検査済みの先行する袋詰め商品と、それに続く同じく検査済みの後続の袋詰め商品とが存在するように設定され、それらの袋詰め商品の内、後続の袋詰め商品の検査結果が不良であれば、それに先行する袋詰め商品と、当該後続の袋詰め商品と、それに続くさらに後続の袋詰め商品とを不良品として排除する制御手段を備えたことを特徴とする。  
【００１２】
図２は、本発明の説明図である。この図において、振分装置１０は、検査装置１００の出口直後に配置され、検査対象である袋詰め商品Ｂ１〜Ｂ４は、一定間隔の一列縦隊で矢印方向Ｆに搬送されているものとする。また、検査装置１００は、袋詰め商品Ｂ１〜Ｂ４が一点鎖線で示すラインＲ１を通過した時点で検査を終了し、その検査結果は、直ちに振分装置１０に送信されて内蔵のメモリに記憶されるものとする。
【００１３】
また、振分装置１０を横断する一点鎖線で示すラインＲ２は、振分開始点を示し、袋詰め商品Ｂ１〜Ｂ４がその開始点Ｒ２に到達すると、到達した袋詰め商品Ｂ１〜Ｂ４の検査結果（「良」「不良」）がメモリから読み出され、それに基づいて、袋詰め商品Ｂ１〜Ｂ４がライン外へ排除されたり、されなかったりする。したがって、本発明では、振分装置１０の振分開始点Ｒ２より上流側には、振り分けられる前の検査を終えた少なくとも先行の袋詰め商品Ｂ２と、それに続く後続の袋詰め商品Ｂ３とが存在するように設定されている。
なお、図２では、ラインＲ１から振分開始点Ｒ２までの間に２つの袋詰め商品Ｂ２、Ｂ３を存在させているが、実施に際しては、ラインＲ１と振分開始点Ｒ２との間をさらに引き離して、これらの間に袋詰め商品Ｂが少なくとも３つ以上存在するように設定しておくのが良い。こうすれば、商品間隔が開いて商品数が２つに減少しても、余裕を持って対処することができる。
【００１４】
こうした設定の下で、図２において、メモリに記憶された先行の袋詰め商品Ｂ２の検査結果が「良」で、それに続く後続の袋詰め商品Ｂ３の検査結果が「不良」であれば、制御手段は、後続の袋詰め商品の検査結果（「不良」）に基づいて、先行の袋詰め商品Ｂ２の検査結果を「良」から「不良」に書き換える。さらに、後続する袋詰め商品Ｂ４に対する検査が未了であっても、その袋詰め商品Ｂ４には、シール不良や噛み込み不良が疑われるので、その検査結果が「良」であれば、それも「不良」に書き換える。そして、先行する袋詰め商品Ｂ２が振分開始点Ｒ２に到達すると、書き換えられた「不良」の検査結果がメモリから読み出され、それに基づいて振分アーム１１が駆動されて、先行する袋詰め商品Ｂ２がライン外へ排除される。続く後続の袋詰め商品Ｂ３も、検査結果が「不良」であるから、同様にライン外へ排除され、さらにそれに続く後続の袋詰め商品Ｂ４も同様にライン外へ排除される。
【００１５】
このように、本発明の振分装置１０では、検査結果が「不良」であった袋詰め商品Ｂ３だけでなく、その前後の袋詰め商品Ｂ２、Ｂ４も不良品と見做して排除するのである。これにより、これまでの検査装置１００では検出できないようなシール不良や噛み込み不良のある商品をライン外へ排除して、見落とされた不良品が市場に出回るリスクを軽減するのである。
【００１６】
ここで使用する振分装置１０としては、図２に示すアーム式の他、ベルトコンベアを水平姿勢から下向き傾斜に切り替えて排出するドロップベルト式や、不良品をエアーで吹き飛ばすエアジェット式、さらには袋詰め商品の搬送方向と直行する方向にプッシャーを進退させて、袋詰め商品を搬送方向の側方に排出するプッシャー式等があり、これらを袋詰め商品の特性に応じて使い分けることができる。
【００１７】
本発明に係る振分システムは、袋詰め商品を個々に検査してシール部分への内容物の噛み込みを検査する検査装置と、その検査装置から搬送されてくる個々の袋詰め商品を、それぞれの袋詰め商品に対して行われた検査結果に基づいて振り分ける振分装置とを備えた振分システムであって、これらの検査装置と振分装置との間には、検査済みの先行する袋詰め商品と、それに続く同じく検査済みの後続の袋詰め商品とが存在するように設定されており、かつ、その振分装置には、それらの袋詰め商品の内、後続の袋詰め商品の検査結果が不良であれば、それに先行する袋詰め商品と、当該後続の袋詰め商品と、それに続くさらに後続の袋詰め商品とを不良品として排除する制御手段が備えられていることを特徴とする。
【００１８】
本発明に係る振分装置、或いは、振分システムにおいては、検査済み袋詰め商品の内、検査結果が「不良」であった袋詰め商品の前後の袋詰め商品の検査結果を「良」から「不良」に書き換えるが、書き換える前の後続の袋詰め商品の検査結果が「不良」であれば、それをさらに「不良」に書き換える必要はないから、その場合には、それに続くさらに後続の袋詰め商品を書き換えの対象とする。そして、その検査結果も「不良」であれば、さらに後続の袋詰め商品を書き換えの対象とする。こうして、検査装置１００では検出できないようなシール不良や噛み込み不良のある商品を確実に検査ラインから排除して、不良品が市場に出回るリスクを軽減するのである。
【００１９】
ここで使用する検査装置としては、例えば、特許文献１に記載の近接センサでシール部分への内容物の噛み込みを検出するものや、特許文献２に記載のＸ線検査装置でシール部分への噛み込みを検査するもの等が使用できる。さらに特許文献３に記載された近赤外線を袋詰め商品に照射してシール部分への内容物の噛み込みを検査する検査装置も使用することができる。
また、この振分システムで使用する振分装置１０としては、前述同様、アーム式、ドロップベルト式、エアジェット式、プッシャー式等の振分装置を使用することができる。
【発明の効果】
【００２０】
本発明によれば、検査装置では検出できないようなシール不良品や噛み込み不良品であっても、それらを検査ラインから排除することができるから、これまでの検査装置では見逃されていた不良品の出荷を減らすことができる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】連続する袋Ａ１、Ａ２の横シール部Ｓ２に噛み込みが発生すると、それと繋がった後続袋Ａ２の横シール部Ｓ１にもシール不完全領域Ｒが広がることの説明図。
【図２】本発明の説明図。
【図３】本発明に係る振分システムの一実施形態の概略構成図。
【図４】上記実施形態において、袋詰め商品の搬送状態を示す平面図。
【図５】上記実施形態の構成ブロック図。
【図６】メモリに記憶された検査結果の書き換え説明図。
【図７】メモリに記憶された検査結果の書き換え説明図。
【図８】上記実施形態において、検査結果を書き換えるフローチャート。
【図９】上記実施形態において、振分処理のフローチャート。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
以下、本発明に係る振分システムの一実施形態を図面に基づいて説明する。
【００２３】
図３は、検査装置として、Ｘ線検査装置を用いた振分システム１の一実施形態の概略構成図を示す。また、図４は、その振分システム１で搬送される袋詰め商品Ｂの搬送状態の平面図を示す。
これらの図において、Ｘ線検査装置１００の入口側には、コンベア２０が接続され、出口側には、振分装置１０が接続されている。また、振分装置１０の出口側には、出荷ラインに繋がるコンベア３０が接続されている。そして、上流の包装機から搬送されてきた袋詰め商品Ｂは、コンベア２０を介してＸ線検査装置１００に搬入され、そこでシール部分への内容物の噛み込み検査が行われ、検査の終了した袋詰め商品Ｂは、そのまま振分装置１０へ搬送される。また、袋詰め商品Ｂに対する検査結果は、検査が終了する都度、振分装置１０に送信されて内蔵のメモリＭ（図５参照）に記憶される。
【００２４】
この振分装置１０は、水平面内で搖動して袋詰め商品Ｂをライン外へ排除する振分アーム１１と、その振分アーム１１を駆動する駆動部１２（図５参照）と、袋詰め商品Ｂを搬送するコンベア１３と、コンベア１３の入口側で、搬送されてくる袋詰め商品Ｂを検出する光電センサ１４と、メモリＭ（図５参照）に記憶された検査結果に基づいて、排除すべき袋詰め商品Ｂの検査結果を書き換えたり、その検査結果と光電センサ１４の検出出力とに基づいて駆動部１２を制御したりする制御手段１５（図５参照）と、装置１０全体を支持する支持脚１６とを備えている。
【００２５】
振分アーム１１は、アーム１１の回転軸がコンベア１３の側部に取り付けられ、その回転軸には、エアーシリンダやモータ等からなる駆動部１２（図５参照）が取り付けられて袋詰め商品Ｂの搬送方向Ｆに沿う位置と袋詰め商品Ｂを斜めに遮る振分位置（図４の実線で示す位置）との間を移動して、不良品とされた袋詰め商品Ｂをライン外へ排除するように構成されている。  
【００２６】
光電センサ１４は、図４に示すように、光を照射する投光器１４ａと照射された光を受光する受光器１４ｂとで構成され、投光器１４ａから照射された光が袋詰め商品Ｂに遮られて受光器１４ｂで検出できなくなると、制御手段１５は、袋詰め商品Ｂが検出ラインＲ３に到着したと判断して振分タイマーを始動させる。そのタイマーが所定時間を計測してタイムアップすると、袋詰め商品Ｂが図４の振分開始点Ｒ２の直前に到達するので、制御手段１５は、直ちにその袋詰め商品Ｂの検査結果をメモリＭから読み出して、振分アーム１１を駆動するかどうかを決定する。
【００２７】
なお、図４において、袋詰め商品Ｂ５がＸ線検査装置１００のラインセンサ１４０を通過すると、Ｘ線検査装置１００は、直ちに噛み込み検査を開始し、袋詰め商品Ｂ５が一点鎖線で示すラインＲ１を通過すると、その時点で袋詰め商品Ｂ５に対する検査が終了し、その検査結果Ｓは、直ちに振分装置１０に送信されるように構成されている。
【００２８】
図５は、Ｘ線検査装置１００と振分装置１０とで構成される振分システム１の一実施形態の構成ブロック図を示す。この図において、振分装置１０の制御手段１５はコンピューターで構成され、前述の駆動部１２やコンベア１３と接続されてこれらを駆動制御する。また、制御手段１５は、光電センサ１４と接続されて、その出力を常時モニタしており、それによって袋詰め商品Ｂが検出されれば、前述の振分タイマーを始動させる。さらに、受信ポートも常時モニタして、Ｘ線検査装置１００から検査結果が送信されれば、それをメモリＭに記憶する。さらに、制御手段１５は、メモリＭに記憶された検査結果に基づいて、どの袋詰め商品Ｂを不良品とするかを決定し、決定した不良品については、メモリＭに記憶された検査結果を書き換える。
【００２９】
図６、図７は、メモリＭに記憶された検査結果を書き換える説明図である。これらの図において、Ｘ線検査装置１００から送信された検査結果は、まず、バッファメモリｍ０に書き込まれる。そして、振分処理のために、先頭の袋詰め商品Ｂ、例えば、図４に示す袋詰め商品Ｂ２の検査結果がメモリｍ３から読み出されると、メモリｍ２の内容はメモリｍ３に、メモリｍ１の内容はメモリｍ２に、バッファメモリｍ０の内容はメモリｍ１に順次シフトされる。そうして、図４の並びでは、先頭を行く袋詰め商品Ｂ３の検査結果はメモリｍ３に、それに続く袋詰め商品Ｂ４の検査結果はメモリｍ２に、それに続くさらに後続の袋詰め商品Ｂ５の検査結果はメモリｍ１にそれぞれ記憶される。
【００３０】
こうしてメモリｍ０〜ｍ２の内容が次のメモリｍ１〜ｍ３にシフトされると、そのタイミングで、制御手段１５は、後続の袋詰め商品Ｂの検査結果に基づいて、即ち、図４の例では、先頭から２番目の袋詰め商品Ｂ４の検査結果（メモリｍ２の内容）に基づいて、先頭の袋詰め商品Ｂ３の検査結果（メモリｍ３の内容）と３番目の袋詰め商品Ｂ５の検査結果（メモリｍ１の内容）を書き換えるかどうかを判断する。そして、図６に示すように、２番目の袋詰め商品Ｂ４の検査結果（メモリｍ２の内容）が「不良」であれば、先頭の袋詰め商品Ｂ３の検査結果を「良」から「不良」に書き換え、続く３番目の袋詰め商品Ｂ５の検査結果も「良」であれば、それを「不良」に書き換える。なお、書き換えた検査結果には、書き換えたことを示すフラッグを付しておく（図６では、このフラッグを黒丸で表している。）。
【００３１】
そして、先行する袋詰め商品Ｂ３が振分開始点Ｒ２の直前に到達すると、それに対応するメモリｍ３の内容が読み出され、それが「不良」であれば、初期位置にあった振分アーム１１は駆動されて振分位置まで移動する。また、それが「良」であれば、初期位置にあった振分アーム１１は駆動されないが、それが初期位置ではなく、振分位置にあったならば、振分アーム１１は、逆方向に駆動されて初期位置まで戻される。振分アーム１１が振分位置にあると、図４に示すように、振分アーム１１が袋詰め商品Ｂの進路を遮るため、袋詰め商品Ｂは、振分アーム１１に沿って斜めに移動しながらライン外へ排出される。
【００３２】
こうして、新たな検査結果がバッファメモリｍ０に書き込まれ、先頭の袋詰め商品Ｂが振分開始点Ｒ２に到達して読み出されると、各メモリｍ０〜ｍ２の内容が次の各メモリｍ１〜ｍ３にシフトされて、２番目のメモリｍ２の内容に基づいて、メモリｍ３とメモリｍ１の検査結果を書き換えるかどうかが判断される。その際、図７に示すように、メモリｍ２に記憶された検査結果が「良」から「不良」に書き換えられたものである場合は、それをフラッグから判別できる（図７では、黒丸をフラッグとしている）ので、その場合は、前後のメモリｍ３、ｍ１の書き換えは行わない。
【００３３】
なお、図４では、振分開始点Ｒ２より上流側には、検査済みの袋詰め商品Ｂ３〜Ｂ５が３つあるので、図６、図７では、３つのメモリｍ１〜ｍ３を設けているが、これが２つになれば、メモリも２つ設けることになる。しかし、メモリの数を固定せずに、検査済みの商品個数を計数するカウンタを用意し、検査が終了して検査結果がバッファメモリｍ０に書き込まれると、カウント値を＋１にし、振分開始点Ｒ２に到達して検査結果が読み出されると、そのカウント値を−１にして、ラインＲ１から振分開始点Ｒ２までの商品個数がカウント値から把握できるようにしても良い。このようにすれば、振分直前の袋詰め商品と、それに続く後続の袋詰め商品とが特定できるので、整列搬送される袋詰め商品等に歯抜けが生じても、十分対応することができる。
【００３４】
例えば、図４において、先頭から２番目の袋詰め商品Ｂ４が歯抜けになって、検査済み商品Ｂとしては、先頭の袋詰め商品Ｂ３と後続の袋詰め商品Ｂ５しか存在しない場合は、メモリｍ２には、先頭の袋詰め商品Ｂ３の検査結果が記憶され、メモリｍ１には、袋詰め商品Ｂ５の検査結果が記憶されることになる。そうした場合は、振り分け直前のカウント値が２であることから、先頭から数えて２番目の袋詰め商品Ｂ５の検査結果に基づいて先頭の袋詰め商品Ｂ３の検査結果を書き換えるかどうかを判断する。  
【００３５】
また、袋詰め商品Ｂが光電センサ１４で検出されると、振分タイマーが始動し、それがタイムアップすると、袋詰め商品Ｂは、振分開始点Ｒ２（図４参照）の直前に到達するように時間設定されているので、そのタイミングでカウント値から先頭の袋詰め商品Ｂの検査結果が収められたメモリを特定し、そこから検査結果を読み出すようにすれば良い。
【００３６】
図３に戻って、Ｘ線検査装置１００は、Ｘ線を遮蔽するシールドボックス１１０と、シールボックス１１０の出入口間に架け渡された搬送コンベア１２０と、搬送される袋詰め商品ＢにＸ線を照射するＸ線照射手段１３０と、照射されたＸ線を検出するラインセンサ１４０と、操作画面を操作して運転条件や検査条件を設定するタッチパネル１５０と、これらを制御する制御部１６０（図５参照）と、シールドボックス１１０を含む装置全体を支持する支持脚１７０とを備えた公知のものである。
【００３７】
搬送コンベア１２０は、シールドボックス１１０の入口と出口との間に架け渡されたベルトコンベアで構成され、設定速度でもって袋詰め商品Ｂを搬送するように構成されている。また、その入口と出口には、Ｘ線の漏洩を防止する図示しない遮蔽暖簾がそれぞれ設けられている。
【００３８】
Ｘ線照射手段１３０は、シールドボックス１１０内に格納された図示しないＸ線管と、Ｘ線管から照射されるＸ線を袋詰め商品Ｂの搬送方向と直行する方向に扇状に広げて照射する図示しないコリメータとで構成されている。そして、ラインセンサ１４０に向けて照射されたＸ線は、袋詰め商品Ｂと搬送コンベア１２０のベルトとを透過してラインセンサ１４０に入力される。
【００３９】
ラインセンサ１４０は、袋詰め商品Ｂの搬送方向と直行する方向に配列された直線状の複数のフォトダイオードと、その上に重ねられた複数のシンチレータとで構成され、袋詰め商品Ｂを透過したＸ線は、各シンチレータで光に変換され、その光が各フォトダイオードで電気信号に変換されて、Ｘ線透過信号として出力される。こうして出力されたＸ線透過信号は、図示しないＡ／Ｄ変換器でデジタル量に変換された後、図５の制御部１６０に入力される。
【００４０】
図５の制御部１６０は、コンピュータで構成され、搬送コンベア１２０、Ｘ線照射手段１３０、ラインセンサ１４０、タッチパネル１５０と接続されて、これらを制御するように構成されている。また、振分装置１０と接続されて、検査結果Ｓを振分装置１０に送信するように構成されている。
【００４１】
タッチパネル１５０は、フルドット表示の液晶ディスプレイで構成され、そこに表示される設定画面を操作することにより、Ｘ線検査装置１００の起動・停止、必要な運転条件や検査条件等が設定できるようになっている。例えば、運転開始前の初期画面では、搬送コンベア１２０の搬送速度やＸ線照射手段１３０のＸ線強度等の運転条件が設定可能であり、運転開始後の予約画面では、例えば、Ｘ線透過画像を処理するときの検出感度やシール部分を特定するための袋サイズやシール部分の寸法等が設定可能となっている。
【００４２】
コンピュータで構成された制御部１６０のメモリには、袋詰め商品Ｂのシール部分への噛み込み検査や異物混入検査を行う各種プログラムが格納され、それらが実行されることにより、噛み込み検査や異物混入検査が行われるように構成されている。例えば、画像生成プログラムが実行されると、ラインセンサ１４０から入力されたＸ線透過信号が二次元のＸ線画像に生成され、輪郭抽出モジュールが実行されると、袋詰め商品ＢのＸ線画像の輪郭が抽出され、シール領域特定モジュールが実行されると、予め設定されたシール部分の寸法情報からＸ線画像におけるシール領域が特定される。
【００４３】
こうしてシール領域が特定されると、その領域について噛み込み検査が行われる。具体的には、予め設定された閾値でシール領域の画像データを二値化して、破片のみの画像を抽出する。一般的に、内容物の破片の方が包材よりもＸ線透過量が低いので、タッチパネル１５０から包材のＸ線透過量と内容物の破片のＸ線透過量との略中間レベル付近に閾値を設定しておけば、この閾値よりも低いＸ線透過量の部分が内容物の破片となって抽出される。こうしてシール領域の噛み込み検査が終了すると、制御部１６０は、その検査結果を示す「良」・「不良」の信号Ｓを振分装置１０に送信する。
【００４４】
次に、この実施形態に係る振分装置１０の動作について説明する。なお、ここでは、図４のように、袋詰め商品Ｂが一列縦隊で搬送されているとして振分動作を説明する。
【００４５】
まず、運転開始前に、図４に示すラインＲ１の位置から振分開始点Ｒ２までの間に、袋詰め商品Ｂが２個以上存在するかどうかを確認する。
一つの袋詰め商品Ｂに要する検査時間は、制御部１６０の処理能力と袋詰め商品Ｂのサイズとで決まるが、この種の検査時間は、数十ミリ秒程度で収まり、搬送コンベア１２０の設定速度も既知であるから、ラインセンサ１４０を通過した袋詰め商品ＢがラインＲ１に至るまでの走行距離は、凡そ数十ミリメートルとなる。それがラインセンサ１４０を起点としたラインＲ１までの距離となる。この距離を既知であるラインセンサ１４０から振分開始点Ｒ２までの距離から引けば、ラインＲ１から振分開始点Ｒ２までの距離が把握できる。
次に、搬送される袋詰め商品Ｂの最大間隔を確認し、それに基づいてラインＲ１から振分開始点Ｒ２までの間に、袋詰め商品Ｂが２個以上、好ましくは、３個以上存在するかどうかを確認する。３個未満であれば、Ｘ線検査装置１００と振分装置１０との間に補助コンベアを挿入すると良い。
【００４６】
こうした初期設定の後、運転を開始すると、袋詰め商品Ｂは、図４に示すような一列縦隊となってＸ線検査装置１００に搬入される。そして、袋詰め商品Ｂがラインセンサ１４０を通過すると、制御部１６０は、Ｘ線透過信号に基づいて二次元のＸ線画像を生成し、そのＸ線画像に基づいてシール部分に対する噛み込み検査を実行し、その検査結果を「良」「不良」の信号Ｓとして振分装置１０に送信する。
【００４７】
図８は、振分装置１０の制御手段１５による検査結果の記憶処理と、それを書き換えるフローチャートを示し、図９は、その検査結果に基づいて商品を振り分ける振分処理のフローチャートを示す。
これらの図において、制御手段１５は、まずステップＳ１において、受信ポートをチェックして送信の有無を確認する。送信がなければ、図９の振分処理へ移行し、送信があれば、受信した検査結果をバッファメモリｍ０に書き込む（ステップＳ２）。次に、先行する袋詰め商品が振り分けられたか否かをチェックする（ステップＳ３）。例えば、図４の例では、先頭の袋詰め商品Ｂ３の検査結果がメモリｍ３から読み出されていれば、それで振分終了と判断する。終了していなければ、メモリｍ３の内容を更新できないので、最初のステップＳ１に戻り、終了していれば、メモリｍ２の内容をメモリｍ３に、メモリｍ１の内容をメモリｍ２に、バッファメモリｍ０の内容をメモリｍ１に順次シフトする（ステップＳ４）。
【００４８】
続いて、制御手段１５は、ステップＳ５において、先頭の袋詰め商品Ｂ３から２番目の袋詰め商品Ｂ４の検査結果をメモリｍ２から読み出し、それが「良」であれば、何もせずに最初のステップＳ１に戻るが、それが「不良」であれば、それが書き換えられた「不良」であるか否かをフラッグでもってチェックする（ステップＳ６）。フラッグがセットされていれば、それは書き換えられた「不良」であるから、そのままステップＳ１に移行し、フラッグがリセットされていれば、先頭の袋詰め商品Ｂ３の検査結果（メモリｍ３の内容）をチェックする（ステップＳ７）。それが「良」であれば、メモリｍ３の内容を「不良」に書き換えてフラッグをセットし（ステップＳ８）、それが「不良」であれば、それを書き換える必要がないから、次に、３番目の袋詰め商品Ｂ５の検査結果（メモリｍ１の内容）をチェックする（ステップＳ９）。チェックの結果、それが「良」であれば、メモリｍ１の内容を「不良」に書き換えてフラッグをセットし（ステップＳ１０）、それが「不良」であれば、メモリｍ１の内容を書き換えずに元のステップＳ１に戻る。
【００４９】
次に、図９の振分処理に移行した場合について説明する。制御手段１５は、まずステップＳ１１で受光器１４ｂの出力をチェックして、袋詰め商品Ｂが検出ラインＲ３を遮断しているか否かを確認する。遮断していれば、ステップＳ１２で振分タイマーが始動しているか否かをチェックし、始動していなければ、次のステップＳ１３で振分タイマーを始動させるが、始動していれば、次のステップＳ１４に移行して振分タイマーがタイムアップしたか否かをチェックする。
【００５０】
一方、ステップＳ１１のチェックにおいて、袋詰め商品Ｂを検出していなければ、袋詰め商品Ｂが検出ラインＲ３を通過したか、未だそのラインＲ３に到着していないかのどちらかであるため、ステップＳ１４に移行して振分タイマーがタイムアップしたか否かを確認する。タイムアップしていなければ、図８のステップＳ３にジャンプするが、タイムアップしていれば、先頭の袋詰め商品Ｂ３の検査結果をメモリｍ３から読み出し（ステップＳ１５）、その内容に基づいて振分アーム１１を駆動するかどうかを決める（ステップＳ１６）。
【００５１】
すなわち、メモリｍ３の内容が「不良」であれば、ステップＳ１７で振分アーム１１が初期位置にあるか、振分位置にあるかをチェックする。振分位置にあれば、振分アーム１１を駆動する必要はないので、何もせずにステップＳ１１に戻るが、初期位置にあれば、振分アーム１１を駆動して振分位置に移動させる（ステップＳ１８）。これにより、振分アーム１１が袋詰め商品Ｂの進路を斜めに遮ってそれをライン外へ排出する。
【００５２】
また、前記メモリｍ３の内容が「良」であれば、ステップＳ１９で振分アーム１１が振分位置にあるか、初期位置にあるかをチェックする。初期位置にあれば、何もせずにステップＳ１１に戻るが、振分位置にあれば、振分アーム１１を初期位置に戻して正常品を素通りさせる（ステップＳ２０）。こうした一連の処理を繰り返しながら、シール不良や噛み込み不良が疑われる袋詰め商品Ｂの検査結果を「不良」に書き換えて、真の不良品とともにライン外へ排除する。
なお、このフローチャートでは、ステップＳ１７〜Ｓ２０を経た後は、元のステップＳ１１に戻っているが、これに替えて、図８のステップＳ３へジャンプするようにしても良い。
【００５３】
以上の実施形態では、噛み込み検査を中心に説明したが、Ｘ線検査装置１００に異物混入検査や欠品検査等を併せて行わせることもできる。その場合は、振分装置１０として、袋詰め商品を２方向や３方向に振り分ける振分装置を使用し、Ｘ線検査装置１００からは前述の「良」・「不良」の信号とは別に、異物ありの信号や、欠品ありの信号を送信するようにして、それらの信号に基づいて、振分装置が噛み込み不良品として、異物混入品として、或いは、欠品不良品として、それぞれ異なる方向へ排出するようにしても良い。
また、検査装置で噛み込みありと判定された袋詰め商品と、「良」の検査結果が「不良」に書き換えられた袋詰め商品とを異なる方向に振り分けて、シール不良や噛み込み不良が疑われて排除された商品を作業者が後から再検査するようにしても良い。
【００５４】
また、以上の実施形態では、先行する袋詰め商品に続く後続の袋詰め商品を特定するために、先頭から２番目の袋詰め商品を後続の袋詰め商品として特定したが、これに替えて
検査結果が出た直後の袋詰め商品、例えば、図２の袋詰め商品Ｂ３や図４の袋詰め商品Ｂ５を後続の袋詰め商品として特定し、その検査結果に基づいて、その前後の袋詰め商品、図２では、商品Ｂ２とＢ４、図４では、商品Ｂ４とＢ６の検査結果を書き換えるかどうかを判断するようにしてもよい。
【符号の説明】
【００５５】
Ｂ      袋詰め商品
１      振分システム
１０      振分装置
１５      制御手段
１００      検査装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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