(57)【要約】【課題】コストの増加を抑えて記録再生品質を向上させる。【解決手段】レーザー光を照射する光源と、前記レーザー光を光ディスクの記録面に集光させる対物レンズと、前記光源と前記対物レンズとの間の光路を形成するために設けられた複数の光学部品と、を含む光ピックアップ装置であって、前記レーザー光の光量を補正して前記対物レンズに入射する前記レーザー光のＲＩＭ強度を、前記記録面を覆って光を透過させる前記光ディスクのカバー層の厚さに応じて決定された第１強度以上、かつ、前記ＲＩＭ強度の最大値よりも低い所定の第２強度以下にさせる補正膜を、前記複数の光学部品のいずれかに有する。【選択図】図１１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザー光を照射する光源と、前記レーザー光を光ディスクの記録面に集光させる対物レンズと、前記光源と前記対物レンズとの間の光路を形成するために設けられた複数の光学部品と、を含む光ピックアップ装置であって、
前記レーザー光の光量を補正して前記対物レンズに入射する前記レーザー光のＲＩＭ強度を、前記記録面を覆って光を透過させる前記光ディスクのカバー層の厚さに応じて決定された第１強度以上、かつ、前記ＲＩＭ強度の最大値よりも低い所定の第２強度以下にさせる補正膜を、前記複数の光学部品のいずれかに有する、ことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項２】
前記ＲＩＭ強度は、前記対物レンズの中心部に入射する光強度と前記対物レンズの外縁部に入射する光強度との比であって、前記光ディスクのトラッキング方向に直交する方向おける光強度間の比であることを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項３】
前記第２強度を０．６７とし、
カバー層の厚さをｔとしたとき前記第１強度Ｙを下記式
Ｙ＝２４．２１×ｔ２−５．４４×ｔ＋０．７２で求めた値としたことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の光ピックアップ装置。
【請求項４】
前記ｔ＝０．０５３５ｍｍとしたとき、前記第１強度Ｙ＝０．５０としたことを特徴とする請求項３に記載の光ピックアップ装置。
【請求項５】
請求項１〜請求項４のいずれかに記載の光ピックアップ装置を備える光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ピックアップ装置および光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
多層の情報記録面を有する光ディスクに対して情報の記録再生を行う光ピックアップ装置が知られている（特許文献１参照）。
また、特定光源以外の少なくとも１つの光源から出射される光束は、その発散角が光学素子にて変更され、対物レンズに取り込まれる光束におけるＲＩＭを理想とするＲＩＭに近づける光ピックアップ装置が知られている（特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１１‐１９８４４６号公報
【特許文献２】特開２００３‐３３１４５６号公報
【特許文献３】特許第３８４９５２３号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
光ピックアップ装置においては、光ディスクの記録面に集光させる対物レンズに入射する光強度の分布の均一性を示すＲＩＭ強度が高い（光強度の均一性が高い）方が、記録面に照射される光のスポット径をより小さくしやすく（スポット径を絞った時にスポットの周縁がボケない）、光ディスクへの記録や光ディスクの再生の精度（以下、記録再生品質）を高められるという側面がある。
【０００５】
従来、このようなＲＩＭ強度の向上（ＲＩＭ強度の補正）のために、回折素子や液晶素子を用いた手法が採られていたが、それら手法は、必要な部品数の増加や複雑な処理を伴うことによるコストアップという課題があった。
【０００６】
また、対物レンズに入射する光束を通過させるレンズに遮光性を有する膜を塗ることで当該レンズの中心付近における光の透過率を低下させて、結果的に、対物レンズに入射する光強度の分布を均一化する手法も知られている（特許文献３参照）。しかし、当該膜を塗ることで大きな光量の損失が生じるため、光源の出力を上げる必要があり、運転効率が低かった（ランニングコストの増加）。
【０００７】
本発明は上述の課題の少なくとも一つを解決するためになされたものであり、コストの増加を抑えて記録再生品質を向上させる光ピックアップ装置および光ディスク装置を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の態様の一つは、レーザー光を照射する光源と、前記レーザー光を光ディスクの記録面に集光させる対物レンズと、前記光源と前記対物レンズとの間の光路を形成するために設けられた複数の光学部品と、を含む光ピックアップ装置であって、前記レーザー光の光量を補正して前記対物レンズに入射する前記レーザー光のＲＩＭ強度を、前記記録面を覆って光を透過させる前記光ディスクのカバー層の厚さに応じて決定された第１強度以上、かつ、前記ＲＩＭ強度の最大値よりも低い所定の第２強度以下にさせる補正膜を、前記複数の光学部品のいずれかに有する。
【０００９】
本発明によれば、補正膜を前記複数の光学部品のいずれかに形成することでＲＩＭ強度の補正を実現するため、部品点数の増加を招かずコストも低い。また、当該補正膜により、ＲＩＭ強度は、光ディスクのカバー層の厚さに応じて決定された第１強度以上、かつ、ＲＩＭ強度の最大値（１）よりも低い所定の第２強度以下となる。そのため、当該カバー層の厚さに応じて最低限必要なＲＩＭ強度が確保されつつ、光量の損失もできるだけ抑制される。つまり、一定以上の記録再生品質が確保され、かつ光量損失による運転効率の低下等が抑制される。
【００１０】
本発明の技術的思想は、光ピックアップ装置以外の態様によって実現されてもよい。例えば、光ピックアップ装置が実現する技術的思想処理を方法の発明として捉えることも可能である。また、光ピックアップ装置を搭載した装置（光ディスク装置）を一つの発明として捉えることも可能である。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】光ピックアップ装置の概略構成を示す斜視図。
【図２】光ディスク装置の概略構成を示すブロック図。
【図３】カバー層の厚さ毎の、ＲＩＭ強度と自己記録再生性能との関係を例示する図。
【図４】トラッキング方向と接線方向を説明する図。
【図５】４層の記録層を有する光ディスクの簡易的な断面図。
【図６】カバー層の厚さに応じた所定の自己記録再生性能に対応するＲＩＭ強度を示す図。
【図７】従来のＲＩＭ強度の補正を説明するための図。
【図８】第１実施例におけるＲＩＭ強度の範囲を示す図。
【図９】第２実施例におけるＲＩＭ強度の範囲を示す図。
【図１０】第３実施例におけるＲＩＭ強度の範囲を示す図。
【図１１】補正膜を形成した光学部品の断面を例示する断面図。
【図１２】第１実施例による補正膜を形成した光学部品における部品透過率を例示する図。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
本発明の実施形態として、前記ＲＩＭ強度は、前記対物レンズの中心部に入射する光強度と前記対物レンズの外縁部に入射する光強度との比であって、前記光ディスクのトラッキング方向に直交する方向における光強度間の比であるとしてもよい。
また、本発明の実施形態として、前記第２強度を０．６７とし、カバー層の厚さをｔとしたとき前記第１強度Ｙを式
Ｙ＝２４．２１×ｔ２−５．４４×ｔ＋０．７２で求めた値としてもよい。
また、本発明の実施形態として、前記ｔ＝０．０５３５ｍｍとしたとき、前記第１強度Ｙ＝０．５０としてもよい。
【００１３】
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態を更に説明する。
（第１実施例）
図１は、光ピックアップ装置１０の概略構成を斜視図により示している。光ピックアップ装置１０において、光源としての発光素子１１は、ＤＶＤとＣＤに対応するレーザーダイオードを備えており、回折格子１２に対面している。発光素子１１から出射されるレーザー光は、回折格子１２を通過してハーフミラー１３に入射されその進路を水平面内で９０度屈曲されて偏光ビームスプリッタ１４に入光する。偏光ビームスプリッタ１４を直進して通過した光路上にはコリメータレンズ１５が介在され、さらにその先にはＤＶＤ側の打ち上げミラー１６が配置されているので、レーザー光は９０度鉛直方向に屈曲され、波長板１７と対物レンズ１８を通過してＤＶＤ（光ディスク）の記録面に照射される。なお、ＤＶＤからの反射光は、対物レンズ１８から、波長板１７、打ち上げミラー１６、コリメータレンズ１５、偏光ビームスプリッタ１４への経路を進行し、ハーフミラー１３に入射する。ハーフミラー１３では光の一部は発光素子１１側に屈曲されるものの、残りはハーフミラー１３を通過して直進し、ホログラム１９を経て受光素子２０に入光される。
【００１４】
また、光ピックアップ装置１０には、ブルーレイディスク（ＢＤ）に対応して、光源としての発光素子２１も備えられており、発光素子２１から出射されるレーザー光は偏光ビームスプリッタ１４に入光するとその進路を水平面内で９０度屈曲され、ＤＶＤ用のレーザー光と同一の進路を進む。偏光ビームスプリッタ１４から出射したレーザー光の光路上にはコリメータレンズ１５が介在され、さらにその先のＤＶＤ側の打ち上げミラー１６に入射する。しかし、ブルーレイディスク用のレーザー光はＤＶＤ側の打ち上げミラー１６を通過してその先にあるブルーレイディスク用の打ち上げミラー２２にて９０度鉛直方向に屈曲され、波長板２３と対物レンズ２４を通過してブルーレイディスク（光ディスク）の記録面に照射される。なお、ブルーレイディスクからの反射光は、対物レンズ２４から波長板２３、打ち上げミラー２２、コリメータレンズ１５、偏光ビームスプリッタ１４への経路を進行し、ハーフミラー１３に入射する。ハーフミラー１３では光の一部は発光素子１１の側に屈曲されるものの、残りはハーフミラー１３を通過して直進し、ホログラム１９を経て受光素子２０に入光される。なお、ハーフミラー１３から打ち上げミラー１６，２２へと向かう光路の延長上には光軸調整のためのフロントモニタ２５が配置されている。
【００１５】
回折格子１２、ハーフミラー１３、ビームスプリッタ１４、コリメータレンズ１５、打ち上げミラー１６，２２、波長板１７，２３は、光源と対物レンズとの間の光路を形成するために設けられた複数の光学部品の例である。なお、コリメータレンズ１５は、多層の記録面を有するブルーレイディスクの各層の記録再生に対応するために光路方向に沿って移動する可動レンズである。
【００１６】
図２は、光ピックアップ装置１０を搭載した光ディスク装置１００の概略構成をブロック図により示している。光ディスク装置１００は、光ピックアップ装置１０と、信号演算器３０と、デジタルサーボプロセッサ４０と、トラッキングアクチュエータ５０と、フォーカスアクチュエータ６０と、データ記録再生部７０とを有する。光ディスク装置１００は、光ディスクＤに対してレーザー光を照射することにより、光ディスクＤにデータを記録し、また、光ディスクＤに記録されているデータを読み出す（再生する）。
【００１７】
光ピックアップ装置１０の受光部（受光素子２０）は、受光した光を電流に変換して、電気信号を信号演算器３０に出力する。一方、データ記録再生部７０から記録データが入力されると、光ピックアップ装置１０は記録データに応じて変調したレーザー光を光ディスクＤの記録面に照射し、記録を行う。
【００１８】
データ記録再生部７０は、信号演算器３０から増幅して出力される信号に復調処理、誤り検出及び訂正処理などを施すことにより情報を所定形式のデジタルデータに再生し、映像や音声を外部に出力する。また、データ記録再生部７０は、テレビジョン放送受像部や外部装置（図示せず）等から前記記録データが入力されると、ＲＦ信号に変換して、上述したように光ピックアップ装置１０へ出力する。
【００１９】
信号演算器３０は、前記受光部から出力される信号から、トラッキングエラー信号とフォーカスエラー信号を生成する。トラッキングエラー信号とフォーカスエラー信号は、信号演算器３０から、デジタルサーボプロセッサ４０へ入力される。デジタルサーボプロセッサ４０は、トラッキングエラー信号に応じて、光ピックアップ装置１０が光ディスクＤのトラックに追従するように、光ピックアップ１０を駆動するトラッキングアクチュエータ５０を制御する。また、デジタルサーボプロセッサ４０は、光ピックアップ１０内に設けられた対物レンズと光ディスクＤとの間の距離が適正となるように、フォーカスアクチュエータ６０を制御する。
【００２０】
次に、光学部品に形成される補正膜と、補正膜によって実現するＲＩＭ強度について説明する。
図３は、ＲＩＭ強度の変化に対する自己記録再生性能（％）の変化を示している。図３において横軸がＲＩＭ強度、縦軸が自己記録再生性能である。ここで、対物レンズ２４の中心部に入射する光強度と、対物レンズ２４の外縁部に入射する光強度を、それぞれ、Ｉ０、Ｉ１とすると、対物レンズ２４に入射するレーザー光のＲＩＭ強度（対物レンズ２４の中心部に入射する光強度に対する、対物レンズ２４の外縁部に入射する光強度の比）は、Ｉ１／Ｉ０と表される。ＲＩＭ強度は、その値が高いほど光強度の分布の均一性が高いことを意味し、最大値は１である。
【００２１】
また、本実施例では、ラジアル（ｒａｄ）方向のＲＩＭ強度とタンジェント（ｔａｎ）方向のＲＩＭ強度というものを想定する。ｒａｄ方向のＲＩＭ強度とは、光ディスクＤの半径方向（トラッキング方向ｄ１、図４参照。）におけるＩ１／Ｉ０を指し、ｔａｎ方向のＲＩＭ強度とは、トラッキング方向と直交する、光ディスクＤの円の接線方向ｄ２（図４参照。）におけるＩ１／Ｉ０を指す。本実施例では、ｔａｎ方向のＲＩＭ強度を最適な範囲とするために補正膜を用いる。これは、ｔａｎ方向のＲＩＭ強度が、光ディスクＤの記録面に照射されるスポットのｔａｎ方向のぼやけ度合いに影響し、当該記録面おけるピットの読込みあるいは記録の精度に影響を与えるからである。従って、特に断らない限り、以下、単にＲＩＭ強度と言ったときは、ｔａｎ方向のＲＩＭ強度を指す。
【００２２】
自己記録再生性能は、エラー率とも呼べる。つまり、自己記録再生性能は、光ディスク装置１００を用いて光ディスクに所定のテストデータを記録し、かつ、当該記録したデータを再生したときのエラー率（テストデータのうち正しく再生できなかった割合）である。図３の縦軸は、その値が低い程、自己記録再生性能が高いことを示す。また、図３では、光ディスクのカバー層の異なる厚さｔ毎の計測結果（ｔ＝０．０５３５ｍｍとしたときの測定結果（▲）、ｔ＝０．０７５ｍｍとしたときの測定結果（■）、ｔ＝０．１０ｍｍとしたときの測定結果（◆））を示している。
【００２３】
図５は、一例として、４層の記録層（Ｌ０〜Ｌ３）を有する光ディスクＤ（ブルーレイディスク）の断面を簡易的に示している。光ディスクＤは、対物レンズと対面する側（記録面）が、光を透過させるカバー層ＣＧによって覆われている。カバー層ＣＧは、ガラスやフィルム等で形成されている。図５に示した４層タイプのブルーレイディスクは、カバー層ＣＧの厚さｔが０．０５３５ｍｍである。つまり、カバー層ＣＧの表面から対物レンズに最も近い側の記録層Ｌ３までの距離が０．０５３５ｍｍである。一方、記録層が１層のみのブルーレイディスクでは、カバー層ＣＧの厚さｔは、０．１０ｍｍである。０．１０ｍｍという値は、図５に示した４層タイプのブルーレイディスクにおける、カバー層ＣＧの表面から対物レンズに最も遠い記録層Ｌ０までの距離に等しい。カバー層ＣＧの厚さｔは、記録層数が多い光ディスクほど薄い。図３では、カバー層ＣＧの厚さｔが異なる種々の光ディスクを用いて、ＲＩＭ強度を可変にして自己記録再生性能（％）を測定した結果を示している。
【００２４】
図３から判るように、ＲＩＭ強度が高いほど、自己記録再生性能は高い（エラー率が低い）結果が得られている。また、ＲＩＭ強度が同じであれば、カバー層ＣＧの厚さｔが薄いほど、自己記録再生性能は低い（エラー率が高い）。このような図３によれば、一定以上の自己記録再生性能を得るには、カバー層ＣＧの厚さｔが薄いほど、ＲＩＭ強度を高くする必要があると言える。
【００２５】
本実施例では、自己記録再生性能を示す数値として１３．５％（自己記録再生性能のしきい値ＴＨ１）以下の値を、良好な自己記録再生性能と定義する。そこで、当該１３．５％に対応するＲＩＭ強度を、ＲＩＭ強度の下限値（第１強度）とする。具体的には、カバー層ＣＧの厚さｔが、市販されているブルーレイディスクの中でも層数が多い前記４層タイプのブルーレイディスクのカバー層ＣＧの厚さ「０．０５３５ｍｍ」であるときに当該１３．５％以下の値が得られるＲＩＭ強度を、第１強度として採用する。図３によれば、第１強度は、約０．５０である。
【００２６】
図６は、横軸をカバー層ＣＧの厚さｔとし、縦軸をＲＩＭ強度とし、図３に示した厚さｔ（ｔ＝０．０５３５ｍｍ、ｔ＝０．０７５ｍｍ、ｔ＝０．１０ｍｍ）毎の、前記しきい値ＴＨ１としての自己記録再生性能（１３．５％）に対応するＲＩＭ強度をプロットした結果である。つまり、図６に示した関数Ｙは、ｔ（ｔ＝０．０５３５ｍｍ、ｔ＝０．０７５ｍｍ、ｔ＝０．１０ｍｍ）毎の、前記しきい値ＴＨ１としての自己記録再生性能（１３．５％）に対応するＲＩＭ強度を満足する（あるいは近似した）関数である。言い換えると、関数Ｙから任意の厚さｔに対応する下限値としてのＲＩＭ強度が導き出せる。ちなみに、関数Ｙは下記式（１）により表される。
Ｙ＝２４．２１×ｔ２−５．４４×ｔ＋０．７２
上述した第１強度としての値「０．５０」は、ｔ＝０．０５３５ｍｍとしたときに式（１）から導かれる値でもある。
【００２７】
次に、ＲＩＭ強度の上限値（第２強度）について説明する。
図７は、従来行われていたＲＩＭ強度の補正を説明するための図である。図７上段のグラフは、当該補正を何らしない場合の光強度を示している。図７上段のグラフ（および下段のグラフ）では、横軸を、前記ｔａｎ方向における対物レンズ内の位置とし（ただし、−１〜＋１に規格化しており、０は対物レンズの中心位置を示す。）、縦軸を光強度としている。図７上段のグラフに示すように、対物レンズへ入射されるレーザー光は、通常、中心部の光強度が最も高く、外縁に近づくに連れて光強度が弱まっている。図７上段のグラフでは、中心部の光強度を基準（１００％）として各位置の光強度を示している。
【００２８】
従来では、図７下段のグラフに示すような部品透過率（％）を実現させる遮光膜（補正膜の一種）を、光源から対物レンズに到る光路に設けられた光学部品（例えばコリメータレンズ）に形成していた。部品透過率とは、当該光学部品に補正膜を形成することで実現される、当該光学部品を通るレーザー光の透過率である。図７下段のグラフでは、部品透過率０％は、遮光しないことを意味し、−６０％は、６０％遮光する（４０％透過させる）ことを意味する。このような部品透過率を示す曲線は、図７上段の曲線を略反転させた形状である。そのため、このような従来手法（図７）によれば、対物レンズに入射するレーザー光の光強度の分布は極めて均一性が高くなる（ＲＩＭ強度が、最大値１に極力近づくように補正される）。
【００２９】
説明したように、ＲＩＭ強度を最大値に近づけるほど高い自己記録再生性能が得られるが、ＲＩＭ強度を高い値へ補正するということは、図７の説明から判るように、光源から対物レンズへ到達する光量の一部をカットすることでもある（図７下段のグラフによれば、中心位置に至っては約６０％もの光量の損失がある）。このように、対物レンズに入射される光量の損失が大きいと、レーザー光を発する光源の出力自体を上昇させる必要が生じるが、光源の出力を上昇させることで、消費電力増大（運転効率の低下）、光源の寿命短縮、高熱発生、といった様々な問題が生じる。
【００３０】
そこで本実施例では、ユーザが満足する自己記録再生性能を得るためにＲＩＭ値を最大にまで引き上げる必要は無いという思想の下、上述したような光量の損失を極力少なくするために、ＲＩＭ強度の最大値よりも低い所定の値を、ＲＩＭ強度の上限値（第２強度）として採用する。
【００３１】
図８は、本実施例におけるＲＩＭ強度の範囲を示している。図８は、横軸をＲＩＭ強度とし、一方の縦軸を部品透過率（％）とし、他方の縦軸を自己記録再生性能（％）としている。また、曲線（実線）は、ＲＩＭ強度と部品透過率との関係を示し、直線（２点鎖線）は、ＲＩＭ強度とカバー層ＣＧの厚さｔ＝０．０５３５ｍｍであるときの自己記録再生性能との関係（図３に示した測定結果（▲）を近似した直線）を示している。図８における部品透過率は、光源（光源２１）から対物レンズ（対物レンズ２４）に到る光路に設けられた光学部品（コリメータレンズ１５）に補正膜を形成することで実現される、当該光学部品を通るレーザー光の、中心位置（レンズ中心）における透過率である。図８では、部品透過率１００％は、遮光しないことを意味し、８０％は、２０％遮光する（８０％透過させる）ことを意味する。図８に示すように、部品透過率を下げるほど（光量の損失を多くするほど）ＲＩＭ強度は上がる。
【００３２】
本実施例では、鋭意検討した結果、約８０％の部品透過率に対応するＲＩＭ強度を、第２強度とする。図８によれば、第２強度は、約０．６７である。
つまり本実施例では、カバー層ＣＧの厚さｔ＝０．０５３５ｍｍと想定し、ＲＩＭ強度を、０．５０以上かつ０．６７以下とする。
【００３３】
図１１Ａおよび図１１Ｂは、表面に補正膜８０を形成した光学部品（コリメータレンズ１５）の断面をそれぞれ例示している。図１１Ａは、補正膜８０として遮光性を有する遮光膜を形成した例であり、図１１Ｂは、補正膜８０として無反射膜を形成した例である。遮光膜は、膜厚を厚くするほど遮光性が高まる膜であり、無反射膜は逆に、膜厚を厚くするほど光の透過性が高まる膜（例えば、ＡＲコート）である。図１１Ａの例では、コリメータレンズ１５の中心部で補正膜８０（遮光膜）を最も厚くし、コリメータレンズ１５の外縁部側へ行くほど補正膜８０（遮光膜）を薄くしている。図１１Ｂの例では、コリメータレンズ１５の中心部で補正膜８０（無反射膜）を最も薄くし、コリメータレンズ１５の外縁部側へ行くほど補正膜８０（無反射膜）を厚くしている。
【００３４】
図１１Ａ，１１Ｂいずれの場合でも、例えば、マスキングと、素材（補正膜８０の素材）の付着（蒸着等）を繰り返し、当該素材による複数の層を形成することにより、コリメータレンズ１５上の位置に応じて膜厚が段階的に異なる補正膜８０を形成する。このとき、結果的に得られるＲＩＭ強度が第１強度以上かつ第２強度以下の数値範囲に収まるように、膜厚を調整して形成する。なお、図１１Ａ，１１Ｂではコリメータレンズ１５の形状を簡易的に示しているが、コリメータレンズ１５の表面は実際には曲面である。
【００３５】
図１２は、本実施例による補正膜８０を形成した光学部品（コリメータレンズ１５）における部品透過率（％）を、図７下段のグラフと同じ表示態様で示している。また、図１２には、図７下段のグラフに示した曲線を参考までに破線で示している。図１２によれば、従来と比較して、光量の損失（図１２において斜線で示した範囲）が大幅に減っていることが判る。
【００３６】
このような本実施例によれば、レーザー光の光量を補正して対物レンズに入射するレーザー光のＲＩＭ強度を、光ディスクのカバー層ＣＧの厚さｔに応じて決定された第１強度（ｔ＝０．０５３５ｍｍとしたとき０．５０）以上、かつ、ＲＩＭ強度の最大値よりも低い所定の第２強度（０．６７）以下にさせる補正膜８０を、光学部品（コリメータレンズ１５）に形成した。これにより、エラー率約１３．５％以下という良好な自己記録再生性能（記録再生品質）が得られ、かつ、当該光学部品の中心位置で見たときの光量の損失を約２０％以下に抑えることができる。つまり、安価な補正膜８０の形成という処理のみで、高い記録再生品質が得られ、かつ、消費電力増大（運転効率の低下）、光源（２１）の寿命短縮、高熱発生、といった様々な問題を回避することができる。
【００３７】
実施形態は上述の内容に限られるものではなく種々の態様が考えられ、後述するような各実施例を採用可能である。本明細書における実施形態や実施例を適宜組み合わせた構成も、本発明の開示範囲に入る。以下では、既に説明した事項が適宜適用されるものとし、主に、既に説明した事項と異なる点を主に説明する。
【００３８】
（第２実施例）
図９は、第２実施例におけるＲＩＭ強度の範囲を、図８と同じ表現態様にて示している。図９における曲線（実線）は、図８における曲線（実線）と同じであり、ＲＩＭ強度と部品透過率との関係を示している。図９における直線（２点鎖線）は、ＲＩＭ強度とカバー層ＣＧの厚さｔ＝０．０７５ｍｍであるときの自己記録再生性能との関係（図３に示した測定結果（■）を近似した直線）を示している。
【００３９】
第２実施例でも、第１実施例と同様に、約８０％の部品透過率に対応するＲＩＭ強度を第２強度とする。つまり、第２強度は約０．６７である。
また、カバー層ＣＧの厚さｔ＝０．０７５ｍｍとしたとき、前記しきい値ＴＨ１としての自己記録再生性能（１３．５％）に対応するＲＩＭ強度は、前記式（１）によれば、約０．４５である。つまり第２実施例では、カバー層ＣＧの厚さｔ＝０．０７５ｍｍと想定し、ＲＩＭ強度を、０．４５以上かつ０．６７以下とする。すなわち、前記４層タイプのブルーレイディスクよりもカバー層ＣＧの厚さｔが厚いタイプの光ディスクを使用することを想定した場合、ＲＩＭ強度の範囲を第１実施例よりも広く設定でき、このような設定した範囲にＲＩＭ強度が収まるように、膜厚を調整した補正膜８０をコリメータレンズ１５に形成する。
【００４０】
（第３実施例）
図１０は、第３実施例におけるＲＩＭ強度の範囲を、図８，９と同じ表現態様にて示している。図１０における曲線（実線）は、図８，９における曲線（実線）と同じであり、ＲＩＭ強度と部品透過率との関係を示している。図１０における直線（２点鎖線）は、ＲＩＭ強度とカバー層ＣＧの厚さｔ＝０．１０ｍｍであるときの自己記録再生性能との関係（図３に示した測定結果（◆）を近似した直線）を示している。
【００４１】
第３実施例でも、第１，２実施例と同様に、約８０％の部品透過率に対応するＲＩＭ強度を第２強度とする。つまり、第２強度は約０．６７である。
また、カバー層ＣＧの厚さｔ＝０．１０ｍｍとしたとき、前記しきい値ＴＨ１としての自己記録再生性能（１３．５％）に対応するＲＩＭ強度は、前記式（１）によれば、約０．４２である。つまり第３実施例では、カバー層ＣＧの厚さｔ＝０．１０ｍｍと想定し、ＲＩＭ強度を、０．４２以上かつ０．６７以下とする。すなわち、前記４層タイプのブルーレイディスクよりもカバー層ＣＧの厚さｔが厚い１層タイプの光ディスクを使用することを想定した場合、ＲＩＭ強度の範囲を第１実施例（および第２実施例）よりも広く設定でき、このような設定した範囲にＲＩＭ強度が収まるように、膜厚を調整した補正膜８０をコリメータレンズ１５に形成する。
【００４２】
（第４実施例）
ｔａｎ方向のＲＩＭ強度に加え、ｒａｄ方向のＲＩＭ強度についても、第１〜第３実施例で説明したような、カバー層ＣＧの厚さｔに応じたいずれかの範囲（第１強度以上、第２強度以下の範囲）に収めさせるように補正膜８０を光学部品に形成してもよい。
なお、図１１に例示した補正膜８０がコリメータレンズ１５の全周に亘って（つまり、図１１に例示した断面を３６０°回転させて得られる形状で）形成されていれば、対物レンズ２４に入射するレーザー光のＲＩＭ強度は、ｔａｎ方向やｒａｄ方向を含む全方向で、第１強度以上、第２強度以下の範囲に収められる。一方、コリメータレンズ１５表面上で前記ｔａｎ方向に対応する方向にのみ、図１１に例示した補正膜８０の断面が沿って形勢されていれば、ｔａｎ方向のＲＩＭ強度のみ、第１強度以上、第２強度以下の範囲に収められる。
【００４３】
（第５実施例）
なお、補正膜８０を形成する光学部品は、コリメータレンズ１５に限定されない。光ピックアップ装置１０は、コリメータレンズ１５以外の光学部品（ミラー等）に補正膜８０を形成してもよい。
また、少なくとも特許請求の範囲における独立項や請求項２の思想は、光源（２１）、対物レンズ２４およびブルーレイディスクの組み合わせ以外にも、光源（１１）、対物レンズ１８およびＤＶＤやＣＤの組み合わせにも適用できる。
【００４４】
さらに、
・上記各実施例の中で開示した相互に置換可能な部材および構成等を適宜その組み合わせを変更して適用すること、
・上記各実施例の中で開示されていないが、公知技術であって上記各実施例の中で開示した部材および構成等と相互に置換可能な部材および構成等を適宜置換し、またその組み合わせを変更して適用すること、
・上記各実施例の中で開示されていないが、公知技術等に基づいて当業者が上記各実施例の中で開示した部材および構成等の代用として想定し得る部材および構成等と適宜置換し、またその組み合わせを変更して適用すること、
は本発明の一実施例として開示されるものである。
【符号の説明】
【００４５】
１０…光ピックアップ装置、１１，２１…発光素子、１５…コリメータレンズ、１８，２４…対物レンズ、２０…受光素子、８０…補正膜、１００…光ディスク装置、Ｄ…光ディスク
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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