(57)【要約】【課題】本発明は、開口部の切り替えに際し、測定視野絞りの移動操作に伴い設置される開口部の設置位置が予め定めた設計位置と位置ずれを生じても、測定誤差を小さくできる光学特性測定装置を提供する。【解決手段】本発明の光学特性測定装置としての輝度計は、受光光学系と、大きさの異なる複数の開口部２１〜２３を有する移動可能な測定視野絞りとしてのアパチャーミラー２と、前記開口部２１〜２３を通過した光束を測光する測光部とを備える。アパチャーミラー２は、受光光学系の光軸方向から見た直径が最大の第１開口部２１の前記直径をＤ１とし、２番目に大きい第２開口部２２の前記直径をＤ２とし、前記測光部で測光可能な最大の光束における前記測定視野絞りの位置での前記直径をφとしたとき、Ｄ１＞φ＞Ｄ２の関係を満たすよう構成されている。【選択図】図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象の像を形成する受光光学系と、
前記受光光学系により形成される前記像の位置に配置され、大きさの異なる複数の開口部を有する測定視野絞りと、
光束を規制する光束絞りを持ち、前記測定視野絞りの開口部を通過した光束を測光する測光部とを備え、
前記測定視野絞りは、前記各開口部に前記対物レンズからの光を通過させ得るように、移動可能に配置され、
前記開口部の内で前記受光光学系の光軸方向から見た直径が最大の第１開口部の前記直径をＤ１とし、前記開口部の内で前記直径が２番目に大きい第２開口部の前記直径をＤ２とし、前記測光部で測光可能な最大の光束における前記測定視野絞りの位置での前記直径をφとしたとき、前記直径Ｄ１と前記直径Ｄ２と前記直径φとは、Ｄ１＞φ＞Ｄ２の関係を満たすように構成され、
前記光束絞りは、前記直径φに対応する貫通孔を有し、前記測定視野絞りの前記開口部を通過した光束によって像が形成される位置に配置されていることを特徴とする光学特性測定装置。
【請求項２】
前記第１開口部は、前記第１開口部を通過した光束を測定する際に前記測定視野絞りの移動操作に伴って配置される前記第１開口部の設置位置と予め定められた前記第１開口部の設計位置との位置ずれ量が（Ｄ１−φ）／２よりも小さくなるように形成されていることを特徴とする請求項１記載の光学特性測定装置。
【請求項３】
前記測定対象を確認するためのファインダー部と、前記受光光学系から入射された光束を前記ファインダー部と前記測光部とのそれぞれに分割して導く分岐部材とを、更に備え、
前記分岐部材は、ハーフミラーであることを特徴とする請求項１又は２記載の光学特性測定装置。
【請求項４】
輝度計として用いられる請求項１〜３の何れか一項に記載の光学特性測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば輝度、色彩および光沢等の所定の光学特性を測定する光学特性測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
測定対象からの光を受光光学系で取り込み、その取り込んだ光を測光部へ導いて測光する光学特性測定装置が従来から知られている。例えば特許文献１に、そのような光学特性測定装置が開示されている。
【０００３】
この特許文献１に開示された光学特性測定装置は、受光光学系で形成される測定対象の結像位置に、開口部を有するアパチャーミラーを配置し、その開口部を通過した光を測光部へ導いて測光し、一方、アパチャーミラーで反射された光をファインダー部へ導き、測定対象をファインダー部で確認できるようにしている。又、この特許文献１では、測定範囲（測定角度）がアパチャーミラーの開口径で規制されており（測定視野絞り）、測定範囲を切替えできるようにしている。詳しくは、アパチャーミラーは、径の異なる複数の開口部を備え、そのアパチャーミラーが移動又は回転可能に配置されており、アパチャーミラーが移動又は回転されることで、径の異なる複数の開口部を選択切替えできるようにしている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００５−２２１６５１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１では、アパチャーミラーの移動や回転によって測定範囲を切り替える場合、例えば最大径の開口部を予め設計した設計位置に位置合わせするように回転操作しても、最大径の開口部が常時設計位置にくるとは限らず、測定視野絞りの移動操作に伴って配置される最大径の開口部の位置と前記設計位置とが多少の位置ずれ誤差を伴う場合も多い。このような位置ずれが生じると、測定結果が影響を受けてしまい、正確な測定ができない。
【０００６】
詳しくは、一般に、測光部の光学系は、所定の範囲の光束を受光素子へと導き、所定の範囲よりも外周側の光束は、光束規制絞り等でカットされ、受光されないように構成されている。その所定の範囲内の光束であっても、測光部に入射する光束の角度範囲や空間範囲（光束径）が変化すれば、収差のために、測定値が変化する。特に、測光可能な最大光束範囲に近いほど、収差が大きく、その影響が大きい。よって、最大の開口サイズの測定視野絞りに切り替えた際、測定視野絞りの位置がばらついて測光部に入射する光束径が変化すると、測定誤差が大きくなってしまう。
【０００７】
本発明は、上述の事情に鑑みて為された発明であり、その目的は、開口部の切り替えに際し、測定視野絞りの移動操作に伴い設置される開口部の設置位置が予め定めた設計位置と位置ずれを生じても、測定誤差を小さくできる光学特性測定装置を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明者は、種々検討した結果、上記目的は、以下の本発明により達成されることを見出した。すなわち、本発明の一態様にかかる光学特性測定装置は、測定対象の像を形成する受光光学系と、前記受光光学系により形成される前記像の位置に配置され、大きさの異なる複数の開口部を有する測定視野絞りと、光束を規制する光束絞りを持ち、前記測定視野絞りの開口部を通過した光束を測光する測光部とを備え、前記測定視野絞りは、前記各開口部に前記対物レンズからの光を通過させ得るように、移動可能に配置され、前記開口部の内で前記受光光学系の光軸方向から見た直径が最大の第１開口部の前記直径をＤ１とし、前記開口部の内で前記直径が２番目に大きい第２開口部の前記直径をＤ２とし、前記測光部で測光可能な最大の光束における前記測定視野絞りの位置での前記直径をφとしたとき、前記直径Ｄ１と前記直径Ｄ２と前記直径φとは、Ｄ１＞φ＞Ｄ２の関係を満たすように構成され、前記光束絞りは、前記直径φに対応する貫通孔を有し、前記測定視野絞りの前記開口部を通過した光束によって像が形成される位置に配置されていることを特徴とする。
【０００９】
これによれば、Ｄ１＞φ＞Ｄ２となるように構成することで、第１開口部に切り替えた際、測定視野絞りの移動操作に伴い設置される開口部の設置位置が予め定めた設計位置と位置ずれを生じても、測光される光束径が変わり難くなり、安定した測定が可能となる。
【００１０】
一方、測定視野絞りの第２開口部の位置が設計位置と位置ずれを起こしても、第２開口部を通過した光束は、測光可能な最大光束範囲内になるため、測光される光束径は変わらず、測定視野絞りの第２開口部の位置に影響を受け難くなる。
【００１１】
又、光束絞りによって、測定視野絞りの第１開口部を通過する光束が測光部で測光可能な最大光束範囲に的確に制限される。これにより、測定視野絞りの第１開口部の設計位置との位置ずれの影響を受けず、測定を正確に行うことができる。又、光束絞りによって測定視野絞りの第１開口部を通過する光束が過剰にカットされることにより測光部で測光される光量が低下し測定精度が悪化してしまうようなことを防止できる。
【００１２】
他の一態様では、前記光学特性測定装置において、前記第１開口部は、前記第１開口部を通過した光束を測定する際に前記測定視野絞りの移動操作に伴って配置される前記第１開口部の設置位置と予め定められた前記第１開口部の設計位置との位置ずれ量が（Ｄ１−φ）／２よりも小さくなるように形成されていることを特徴とする。
【００１３】
これによれば、最大の第１開口部に切り替えた際、測定視野絞りの第１開口部の位置が設計位置と位置ずれを起こしてもその位置ずれ量が（Ｄ１−φ）／２よりも小さい範囲であれば、測定視野絞りの第１開口部の設計位置との位置ずれの影響を受けず、常に、測光される光束径がφとなり、安定した測定が可能となる。
【００１４】
他の一態様では、前記光学特性測定装置において、前記測定対象を確認するためのファインダー部と、前記受光光学系から入射された光束を前記ファインダー部と前記測光部とのそれぞれに分割して導く分岐部材とを、更に備え、前記分岐部材は、ハーフミラーであることを特徴とする。
【００１５】
これによれば、例えば測定視野絞りが測定のための視野絞りと光反射可能な分岐部材とが兼用される場合には、ファインダー部で視認できる測定対象の被写体が開口部に相当する部分で欠けを生じるが、分岐部材がハーフミラーであると、そのような欠けができず、視認しやすいものになる。
【００１６】
又、例えば測定視野絞りが前述のように兼用される場合、測定視野絞りは受光光学系の光軸方向と直交する平面に傾斜されて配置されなければならず、そのため、光軸方向から見て円形状にするために開口部を楕円形状に形成しなければならない。しかし、ハーフミラーを測定視野絞りとは別に分岐部材として用いることで、測定視野絞りは視野を絞るだけでよく、測定視野絞りを受光光学系の光軸方向と直交する平面と平行に配置できる。従って、開口部は円形状に形成されればよく、開口部の形成が容易になる。
【００１７】
他の一態様では、前記光学特性測定装置は、輝度計として用いられる。
【００１８】
これによれば、第１開口部に切り替えた際、測定視野絞りの移動操作に伴い設置される第１開口部の設置位置が予め定めた設計位置と位置ずれを生じても、測光される光束径は変わり難く、安定した輝度測定が可能である。
【発明の効果】
【００１９】
本発明にかかる光学特性測定装置は、開口部の切り替えに際し、測定視野絞りの移動操作に伴い設置される開口部の設置位置が予め定めた設計位置と位置ずれを生じても、測定誤差を小さくできる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本発明にかかる光学特性測定装置としての輝度計の一実施の形態の概略の構成を示す図である。
【図２】図１の要部の拡大図である。
【図３】（ａ）は、アパチャーミラーの正面図、（ｂ）は、図３（ａ）の側面図である。
【図４】ケーシング内に配設された状態のアパチャーミラーの側面図である。
【図５】アパチャーミラーの開口部の直径と光束絞りの貫通孔を通過する光束の直径との関係を説明する図である。
【図６】他の実施形態の概略の構成を示す図である。
【図７】更に他の実施形態の概略の構成を示す図である。
【図８】図７の更に他の実施形態で用いる測定視野絞りの正面図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下、本発明の一実施の形態を図面に基づいて説明する。なお、各図において同一の符号を付した構成は、同一の構成であることを示し、適宜、その説明を省略する。図１は、本発明にかかる光学特性測定装置としての輝度計の一実施の形態の概略の構成を示す図、図２は、図１の要部の拡大図である。
【００２２】
本発明の光学特性測定装置は、例えば輝度、色彩および光沢等の所定の光学特性を測定する、例えば輝度計、分光測色計、色彩計（色彩色差計）および光沢計等の装置である。一例として、本実施形態では、光学特性測定装置が、所定の光学特性として、被測定光の輝度を測定する輝度計である場合について以下に説明するが、もちろん、光学特性測定装置は、上記の通り、所定の光学特性として、例えば色彩を測定する測色計であってよく、また例えば光沢を測定する光沢計であってよい。
【００２３】
この光学特性測定装置としての一例の輝度計１０は、例えば、図１に示すように、受光光学系１と、アパチャーミラー（測定視野絞り、分岐部材）２と、ファインダー部４と、測光部５とを備えている。
【００２４】
受光光学系１は、測定対象１１の被測定域からの放射光（光束）１１ａを入射し、測定対象１１の像を形成する例えば対物レンズ等の光学系である。受光光学系１は、１または複数の光学レンズ等の光学素子を備えて構成される。図１に示す例では、受光光学系１は、全体として正の屈折力（光学的パワー、焦点距離の逆数）を有し、両凸の正レンズと像側に凸のメニスカスレンズとの接合レンズを備えて構成されている。
【００２５】
アパチャーミラー２は、被測定域からの放射光（光束）１１ａのうちの一部の光束の光路を曲げてファインダー部４へ導光するとともに、前記放射光１１ａの光束のうちの残余の光束を測光部５へ導光する反射鏡である。
【００２６】
このアパチャーミラー２は、図３、図４に示すように、矩形板状体の本体部２０と、本体部２０に形成された複数の開口部２１、２２、２３とを有する。この実施形態では、開口部は、図３（ａ）の左側に配設された第１開口部２１と、図３（ａ）の右側に配設された第３開口部２３と、第１開口部２１と第３開口部２３との間に配設された第２開口部２２との３つを備えている。
【００２７】
これらの第１開口部２１〜第３開口部２３は、この実施形態では、本体部２０を厚さ方向に貫通されることにより楕円形状に形成されており、第１開口部２１は、左右方向（図３（ａ）のＸ−Ｙ方向）の開口幅Ｄ１が、第２開口部２２の開口幅Ｄ２及び第３開口部２３の開口幅Ｄ３よりも大きく形成されている。
【００２８】
又、この実施形態では、第１開口部２１の開口幅Ｄ１は、画角が１°になるように設定されている。
【００２９】
第２開口部２２の開口幅Ｄ２は、第３開口部２３の開口幅Ｄ３よりも大きく形成されており、この実施形態では、第２開口部２２の開口幅Ｄ２は、画角が０．２°になるように設定されている。又、第３開口部２３の開口幅Ｄ３は、画角が０．１°になるように設定されている。
【００３０】
本体部２０は、その上端面に、第１開口部２１を光軸Ｏに位置合わせして係止するための第１位置決め用係止部２１ａと、第２開口部２２を光軸Ｏに位置合わせして係止するための第２位置決め用係止部２２ａと、第３開口部２３を光軸Ｏに位置合わせして係止する第３位置決め用係止部２３ａとを備えている。
【００３１】
第１位置決め用係止部２１ａは、第１開口部２１の上方側に、本体部２０の上端面から３角形状にカットされて凹設されている。
【００３２】
第２位置決め用係止部２２ａは、第２開口部２２の上方側に、第１位置決め用係止部２１ａと同様に、本体部２０の上端面から３角形状にカットされて凹設されている。
【００３３】
第３位置決め用係止部２３ａは、第３開口部２３の上方側に、第１位置決め用係止部２１ａと同様に、本体部２０の上端面から３角形状にカットされて凹設されている。
【００３４】
又、本体部２０には、その下部に、アパチャーミラー２を操作する操作部２４が設けられている。この操作部２４は、本体部２０の一方面から突出するように形成されている。
【００３５】
そして、このように構成されたアパチャーミラー２は、図４に示すように、本体部２０が輝度計１０に設けられたケーシング１０ａ内に配設され、操作部２４の先端部がケーシング１０ａ外に突出している。又、アパチャーミラー２の本体部２０は、ケーシング１０ａ内において、本体部２０の下端部が、ケーシング１０ａ内に設けられた摺動溝２５に摺動自在に嵌めいれられているとともに、いずれかの位置決め用係止部２１ａ〜２３ａに、ケーシング１０ａ内に設けられた係止部材２６が入り込んで係止されている。
【００３６】
この係止部材２６は、係止部材本体２６ａと、係止部材本体２６ａの一端部に設けられた半球状の係止突部２６ｂとを備えている。係止部材本体２６ａは、板ばねから構成されており、その他端部が固定されている。
【００３７】
そして、アパチャーミラー２が摺動溝２５を摺動するに際して、いずれかの位置決め用係止部２１ａ〜２３ａが係止部材２６の係止突部２６ｂと合致すると、その合致した位置決め用係止部２１ａ〜２３ａに係止突部２６ｂが入り込む。
【００３８】
例えば図３（ａ）に示すように、第２位置決め用係止部２２ａが係止部材２６の係止突部２６ｂと合致すると、第２位置決め用係止部２２ａに係止突部２６ｂが入り込み、この状態で、第２開口部２２の中心Ｏ２と光軸Ｏとが一致するようになっている。従って、この位置が第２開口部２２を通過した光束を測定する際に予め定められた第２開口部２２の設計位置である。
【００３９】
同様に、第１位置決め用係止部２１ａに係止突部２６ｂが入り込んだ状態で、第１開口部２１の中心Ｏ１と光軸Ｏとが一致する。そして、その位置が第１開口部２１を通過した光束を測定する際に予め定められた第１開口部２１の設計位置である。又、第３位置決め用係止部２３ａに係止突部２６ｂが入り込んだ状態で、第３開口部２３の中心Ｏ３と光軸Ｏとが一致する。そして、その位置が第３開口部２３を通過した光束を測定する際に予め定められた第３開口部２３の設計位置である。
【００４０】
又、この状態で、図４に示すようにアパチャーミラー２の本体部２０が、光軸Ｏと直交する平面Ｈに対して所定の角度αをなしており、第１開口部２１、第２開口部２２及び第３開口部２３が光軸Ｏの方向から見て円形になる。従って、第１開口部２１の開口幅Ｄ１は、光軸Ｏの方向から見て第１開口部２１の直径となる。同様に、第２開口部２２の開口幅Ｄ２は、光軸Ｏの方向から見て第２開口部２２の直径となり、第３開口部２３の開口幅Ｄ２は、光軸Ｏの方向から見て第３開口部２３の直径となる。
【００４１】
ファインダー部４は、図１、図４に示すように、平面鏡４１と、ファインダリレー光学系４２と、ファインダ接眼光学系４３とを備えている。そして、アパチャーミラー２からの放射光は平面鏡４１で全反射され、ファインダリレー光学系４２でリレー像が作られ、操作者は図示しない接眼部からファインダ接眼光学系４３を通して前記リレー像を確認することができる。尚、このとき、前記リレー像において、アパチャーミラー２の開口部２１〜２３に対応する部分が欠落する。このようにして、単一の受光光学系１を用いて、測定対象１１の被測定域を、距離などによるずれなく、確認できるようになっている。
【００４２】
測光部５は、この実施形態では、図２に示すようにリレー光学系５１ａ、５１ｂ、５１ｃと、光束絞り５２と，入射開口５３と、結像光学系５４と、回折格子５５と、センサアレイ５６、制御処理部６とを備えている。
【００４３】
リレー光学系５１ａ、５１ｂ、５１ｃは、アパチャーミラー２の開口部２１〜２３からの光束を入射開口５３に導光する。
【００４４】
光束絞り５２は、リレー光学系５１から入射開口５３に入る光束を規制するもので、例えば、貫通孔５２ａを有し、被測定光の波長範囲に対し遮光性を有する材料によって形成された板状部材である。
【００４５】
この光束絞り５２は、アパチャーミラー２の開口部２１〜２３を通過した光束によって像が形成される位置に配置されている。そして、この光束絞り５２の貫通孔５２ａを通過した光束が測光部５で測光される。従って、光束絞り５２の貫通孔５２ａの直径が、測光部で測光可能な最大の光束における測定視野絞りの位置での直径φと対応する。
【００４６】
この実施形態では、貫通孔５２ａの直径により決まる最大光束１３は、図５に示すようにアパチャーミラー２の位置で、その直径φがアパチャーミラー２の第１開口部２１の直径Ｄ１よりも半径でｅだけ小さい。又、最大光束１３は、アパチャーミラー２の位置で、その直径φがアパチャーミラー２の第２開口部２２の直径Ｄ２及び第３開口部２３の直径Ｄ３１よりも大きい。
【００４７】
図２に戻って、入射開口５３から入射された被測定光は、結像光学系５４に入射し、この結像光学系５４によって平行化（コリメート）されて反射型の回折格子５５に入射し、その回折格子５５によって回折されて反射される。この反射光は、再び、結像光学系５４に入射し、この結像光学系５４によってセンサアレイ５６の受光面上に光像の波長分散像として結像される。
【００４８】
センサアレイ５６は、一方向に沿って配列された複数の光電変換素子を備えて構成される。前記光電変換素子は、例えば、シリコンホトダイオード（ＳＰＤ）等である。センサアレイ５６は、前記受光面上に形成された光像の波長分散像を前記複数の光電変換素子それぞれによって光電変換することによって、各波長ごとの強度レベルを表す電気信号を生成する。そして、センサアレイ５６は、この電気信号を制御処理部６へ出力する。
【００４９】
制御処理部６は、例えば入出力部８に接続され、当該輝度計１０に対し所定の操作入力を行い、当該輝度計１０から所定の情報を出力するものである。入出力部８は、例えば、入力部８１と、出力部８２と、インターフェース部（ＩＦ部）８３とを備える。
【００５０】
入力部８１は、制御処理部６に接続され、例えば、被測定光の測定を指示するコマンド等の各種コマンド、および、例えば被測定光における識別子の入力等の測定する上で必要な各種データを輝度計１０に入力する機器であり、例えば、所定の機能を割り付けられた複数の入力スイッチや、キーボードや、マウス等である。出力部８２は、制御処理部６に接続され、制御処理部６の制御に従って、入力部８１から入力されたコマンドやデータ、および、輝度計１０によって測定された測定結果を出力する機器であり、例えばＣＲＴディスプレイ、ＬＣＤおよび有機ＥＬディスプレイ等の表示装置やプリンタ等の印刷装置等である。
【００５１】
なお、入力部８１および出力部８２からタッチパネルが構成されてもよい。このタッチパネルを構成する場合において、入力部８１は、例えば抵抗膜方式や静電容量方式等の操作位置を検出して入力する位置入力装置であり、出力部８２は、表示装置である。
【００５２】
ＩＦ部８３は、制御処理部６に接続され、制御処理部６の制御に従って、外部機器との間でデータの入出力を行う回路であり、例えば、シリアル通信方式であるＲＳ−２３２Ｃのインターフェース回路、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）規格を用いたインターフェース回路、ＩｒＤＡ（Ｉｎｆｒａｒｅｄ  Ｄａｔａ  Ａｓｓｃｏｉａｔｉｏｎ）規格等の赤外線通信を行うインターフェース回路、および、ＵＳＢ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ  Ｓｅｒｉａｌ  Ｂｕｓ）規格を用いたインターフェース回路等である。
【００５３】
記憶部９は、制御処理部６に接続され、制御処理部６の制御に従って、各種の所定のプログラムおよび各種の所定のデータを記憶する回路である。前記各種の所定のプログラムには、例えば、被測定光を測定するための測定プログラム等の制御処理プログラムが含まれる。このような記憶部９は、例えば不揮発性の記憶素子であるＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）や書き換え可能な不揮発性の記憶素子であるＥＥＰＲＯＭ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ  Ｅｒａｓａｂｌｅ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）等を備える。そして、記憶部９は、前記所定のプログラムの実行中に生じるデータ等を記憶するいわゆる制御処理部６のワーキングメモリとなるＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）等を含む。
【００５４】
又、この制御処理部６は、輝度計１０の各部を当該各部の機能に応じてそれぞれ制御し、被測定光の光学特性である輝度を求めるための回路である。制御処理部６は、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）およびその周辺回路を備えて構成される。制御処理部６には、制御処理プログラムが実行されることによって、制御部６１および光学特性演算部６２が機能的に構成される。
【００５５】
制御部６１は、輝度計１０の各部を当該各部の機能に応じてそれぞれ制御するためのものである。
【００５６】
光学特性演算部６２は、被測定光の所定の光学特性（本実施形態では被測定光の輝度）を求めるものである。
【００５７】
次に、この輝度計１０の動作について説明する。例えば図３（ａ）に示すように、第２開口部２２の中心Ｏ２が光軸Ｏに位置合わせされた状態で、図１に示すように測定対象１１の被測定域からの放射光（光束）１１ａが受光光学系１に入射すると、入射した放射光（光束）１１ａは、アパチャーミラー２の第２開口部２２に入らない一部の光束がファインダー部４へ導かれ、放射光１１ａの光束のうちの第２開口部２２を通過した残余の光束が測光部５へ導かれる。
【００５８】
従って、測定対象１１を確認する場合は、操作者はファインダー部４で測定対象１１を確認できる。
【００５９】
一方、測光部５へ導かれた光束は、リレー光学系５１ａ、５１ｂ、５１ｃ、光束絞り５２の貫通孔５２ａを通過して入射開口５３に入り、入射開口５３に導光する。
【００６０】
この光束絞り５２の貫通孔５２ａを通過するに際し、図５に示すように、貫通孔５２ａの直径により決まる最大光束１３がアパチャーミラー２の位置でその直径φがアパチャーミラー２の第２開口部２２の直径Ｄ２よりも大きいので、第２開口部２２の中心Ｏ２が光軸Ｏに対して位置ずれを生じている場合でも、第２開口部２２を通過してきた光束が全部、光束絞り５２の貫通孔５２ａを通過できる。
【００６１】
従って、アパチャーミラー２の第２開口部２２の位置が設計位置と位置ずれしている場合でも、測光される光束径は変わらず、アパチャーミラー２の第２開口部２２の位置に影響を受け難くなる。
【００６２】
そして、入射開口５３から入射された光束は、結像光学系５４に入射し、この結像光学系５４から反射型の回折格子５５に入射し、その回折格子５５によって回折されて反射される。この反射光は、再び、結像光学系５４に入射し、この結像光学系５４によってセンサアレイ５６の受光面上に光像の波長分散像として結像される。そして、センサアレイ５６で、波長分散像を複数の光電変換素子それぞれによって光電変換することによって、各波長ごとの強度レベルを表す電気信号を生成し制御処理部６へ出力され、制御処理部６で処理されることにより、０．２°の画角での輝度が計測される。
【００６３】
又、画角を変更する場合、例えば画角を１°にする場合は、操作者によって操作部２４が係止部材２６の弾性に抗してＹ方向に引き操作（又は押し操作）されることにより、係止突部２６ｂが第２位置決め用係止部２２ａから出てアパチャーミラー２が係止解除された状態になって摺動する。
【００６４】
そして、アパチャーミラー２の第１位置決め用係止部２１ａが係止部材２６の係止突部２６ｂと合致すると、第１位置決め用係止部２１ａに係止突部２６ｂが係止部材２６の弾性によって入り込む。この状態で、第１開口部２２の中心Ｏ１と光軸Ｏとが一致する。
【００６５】
そして、この状態で、測定対象１１の被測定域からの放射光（光束）１１ａが受光光学系１に入射した放射光（光束）１１ａが、上述したと同様に、アパチャーミラー２の第１開口部２２に入らない一部の光束がファインダー部４へ導光し、放射光１１ａの光束のうちの第１開口部２２を通過した残余の光束が測光部５へ導かれる。
【００６６】
又、同様に、測光部５へ導かれた光束は、リレー光学系５１ａ、５１ｂ、５１ｃ、光束絞り５２の貫通孔５２ａを通過して入射開口５３に入り、入射開口５３に導光する。
【００６７】
この光束絞り５２の貫通孔５２ａを通過するに際し、図５に示すように、貫通孔５２ａの直径により決まる最大光束１３におけるアパチャーミラー２の位置での直径φがアパチャーミラー２の第１開口部２１の直径Ｄ１よりも半径でｅだけ小さい。従って、例えば図５中に２点鎖線で示すように第１開口部２１が設計位置よりもｅだけ位置ずれした状態では、未だ最大光束１３が第１開口部２１の外側にはみ出さないが、ｅ以上に位置ずれすると、最大光束１３の一部が第１開口部２１の外側にはみ出すことになり、最大光束１３が小さくなってしまう。よって、第１開口部２１が光束絞り５２の貫通孔５２ａに対して位置ずれを生じている場合でも上記ｅ以下、即ち、（Ｄ１−φ）／２よりも小さければ（（Ｄ１−φ）／２＞ｅ）、光束絞り５２の貫通孔５２ａを通過する光束径は変わらず、測光される光束径は変わらない。従って、測光部５は、アパチャーミラー２の第１開口部２１の位置に影響を受け難くなる。
【００６８】
入射開口５３を通過した光束は、上述したと同様に、結像光学系５４、反射型の回折格子５５、センサアレイ５６に入り、センサアレイ５６で各波長ごとの電気信号が生成され制御処理部６へ出力され、制御処理部６で処理されることにより、１．０°の画角での輝度が計測される。
【００６９】
又、画角を０．１°に変更する場合は、同様に、操作者によって操作部２４が係止部材２６の弾性に抗してＸ方向に押し操作（又は引き操作）されることにより、第３開口部２３の中心Ｏ３と光軸Ｏとが一致する。そして、この状態で、上述したと同様に、０．１°の画角での輝度が計測される。この場合においても、光束絞り５２の貫通孔５２ａを通過するに際し、貫通孔５２ａの直径により決まる最大光束１３のアパチャーミラー２の位置でその直径φがアパチャーミラー２の第３開口部２３の直径Ｄ３よりも大きいので、第３開口部２３の中心Ｏ３が光軸Ｏに対して多少の位置ずれを生じている場合でも、第３開口部２３を通過してきた光束が全部、光束絞り５２の貫通孔５２ａを通過できる。
【００７０】
従って、アパチャーミラー２の第３開口部２３の位置が設計位置と位置ずれしている場合でも、測光される光束径は変わらず、アパチャーミラー２の第３開口部２３の位置に影響を受け難くなる。
【００７１】
以上のように構成されることにより、開口部２１〜２３の切り替えに際し、アパチャーミラー２の移動操作に伴い設置される開口部２１〜２３の設置位置が予め定めた設計位置と位置ずれを生じても、輝度の測定誤差は小さくなる。
【００７２】
なお、上記実施形態では、光束絞り５２は、入射開口５３よりも測定対象１１側の位置に配置されたが、この形態のものに限らず、適宜変更できる。例えば図６に示すように、光束絞り１５２は、反射型の回折格子５５上に付設され、これにより、光束絞り１５２が開口部２１〜２３を通過してきた光束により回折格子５５上に形成される像を円形状の貫通孔１５２ａで規制するようにしてもよい。
【００７３】
又、上記実施形態では、測定視野絞りはアパチャーミラー２とされて光反射可能な分岐部材と兼用されたが、この形態のものに限らず、適宜変更できる。例えば図７に示すように分岐部材としてハーフミラー１２０が用いられ、測定視野絞り１０２は、視野を絞るだけに用いられてもよい。これにより、測定視野絞り１０２は、受光光学系１の光軸方向と直交する平面Ｈと平行に配置できる。従って、図８に示すように第１開口部１２１、第２開口部１２２及び第３開口部１２３は円形状に形成されればよく、開口部１２１〜１２３の形成が容易になる。
【００７４】
又、分岐部材としてハーフミラー１２０を用いることにより、ファインダー部で視認できる測定対象の被写体に開口部１２１〜１２３に相当する部分の欠けが生じることがなく、視認しやすいものになる。
【００７５】
又、上記実施形態では、開口部は、３つとされたが、この形態のものに限らず、２つ又は４つ以上でもよく、適宜変更できる。
【００７６】
本発明を表現するために、上述において図面を参照しながら実施形態を通して本発明を適切且つ十分に説明したが、当業者であれば上述の実施形態を変更および／または改良することは容易に為し得ることであると認識すべきである。したがって、当業者が実施する変更形態または改良形態が、請求の範囲に記載された請求項の権利範囲を離脱するレベルのものでない限り、当該変更形態または当該改良形態は、当該請求項の権利範囲に包括されると解釈される。
【符号の説明】
【００７７】
１  受光光学系
２  アパチャーミラー（測定視野絞り、分岐部材）
４  ファインダー部
５  測光部
１０  輝度計（光学特性測定装置）
２１，１２１  第１開口部
２２、１２２  第２開口部
２３、１２３  第３開口部
５２、１５２  光束絞り
５２ａ、１５２ａ  貫通孔
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図８】
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【図１】
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【図２】
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【図６】
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【図７】
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