(57)【要約】【課題】実質的に波打ち欠陥の無い状態を維持、又は気泡混入やそれに伴う視認性低下の問題を生じない程度に波打ち欠陥を抑制できる偏光板の保管方法及び製造方法を提供する。【解決手段】偏光子及びその上に積層される保護フィルムを含む偏光板であって、２３℃相対湿度５５％の環境下で１週間保管したときに、いずれかの辺において高さが３ｍｍを超える波打ち欠陥を生じるか、又はいずれかの辺において３個以上の波打ち欠陥を生じる偏光板を用意する工程と、保管後の偏光板水分率が、２３℃相対湿度５５％の環境下で１週間保管したときの偏光板水分率よりも低くなる環境下で前記偏光板を保管する工程とを含む偏光板の保管方法及び製造方法である。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
偏光子及びその上に積層される少なくとも１つの保護フィルムを含む偏光板であって、２３℃相対湿度５５％の環境下で１週間保管したときに、いずれかの辺において高さが３ｍｍを超える波打ち欠陥を生じるか、又はいずれかの辺において３個以上の波打ち欠陥を生じる偏光板を用意する工程と、
保管後の偏光板水分率が、２３℃相対湿度５５％の環境下で１週間保管したときの偏光板水分率よりも低くなる環境下で前記偏光板を保管する工程と、
を含む、偏光板の保管方法。
【請求項２】
偏光子及びその上に積層される少なくとも１つの保護フィルムを含む偏光板であって、いずれかの辺において高さが３ｍｍを超える波打ち欠陥を有するか、又はいずれかの辺において３個以上の波打ち欠陥を有する偏光板を用意する工程と、
保管後の偏光板水分率が保管前の偏光板水分率よりも低くなる環境下で前記偏光板を保管する工程と、
を含む、偏光板が有する波打ち欠陥の解消又は低減方法。
【請求項３】
偏光子及びその上に積層される少なくとも１つの保護フィルムを含む偏光板であって、２３℃相対湿度５５％の環境下で１週間保管したときに、いずれかの辺において高さが３ｍｍを超える波打ち欠陥を生じるか、又はいずれかの辺において３個以上の波打ち欠陥を生じる偏光板を用意する工程と、
保管後の偏光板水分率が、２３℃相対湿度５５％の環境下で１週間保管したときの偏光板水分率よりも低くなる環境下で前記偏光板を保管する工程と、
を含む、偏光板の製造方法。
【請求項４】
偏光子及びその上に積層される少なくとも１つの保護フィルムを含む偏光板であって、いずれかの辺において高さが３ｍｍを超える波打ち欠陥を有するか、又はいずれかの辺において３個以上の波打ち欠陥を有する偏光板を用意する工程と、
保管後の偏光板水分率が保管前の偏光板水分率よりも低くなる環境下で前記偏光板を保管する工程と、
を含む、偏光板の製造方法。
【請求項５】
前記保管する工程が相対湿度３０〜５０％の環境下で偏光板を保管する工程を含む、請求項１〜４のいずれか１項に記載の方法。
【請求項６】
前記保管する工程において偏光板は、密封容器内で保管される、請求項１〜５のいずれか１項に記載の方法。
【請求項７】
前記保管する工程において偏光板は、除湿剤の入った密封容器内で保管される、請求項１〜５のいずれか１項に記載の方法。
【請求項８】
前記用意する工程で用意される偏光板は、長辺７００ｍｍ以上短辺４００ｍｍ以上の方形形状を有する、請求項１〜７のいずれか１項に記載の方法。
【請求項９】
前記保護フィルムのうち少なくとも１つは、ポリオレフィン系樹脂フィルム及び（メタ）アクリル系樹脂フィルムからなる群より選ばれる熱可塑性樹脂フィルムである、請求項１〜８のいずれか１項に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、液晶表示装置等の画像表示装置に好適に用いられる偏光板の保管方法、偏光板が有する波打ち欠陥の解消又は低減方法、及び偏光板の製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
液晶表示装置として、液晶セル及びその表裏に貼合された偏光板からなる液晶パネルと、液晶パネルを収納する筐体とを備え、液晶パネル及び表側偏光板の周縁部を覆い隠すための額縁を筐体の表側に設けたものが広く使用されている。この額縁は、デザイン性等の観点から、幅をより狭くすることが要求されている。
【０００３】
一方、偏光板は一般に、偏光子の片面又は両面に接着剤層を介して保護フィルムを貼合した積層構造を有している（例えば特許文献１）。偏光子と保護フィルムとは通常、材質を異にしており、そのためもあってか、製造後の保管中に偏光板がウェーブ状に波打つ変形（ウェーブカールともいう。）を生じることがある。本明細書中では、このような偏光板がウェーブ状に変形する外観上の不具合を「波打ち欠陥」という。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００４−２４５９２５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
波打ち欠陥は、とりわけ偏光板サイズが大きいときに、生じる波打ちの高さ及び／又は数において顕著になりやすい。偏光板に波打ち欠陥が生じていると、例えば液晶表示装置に適用する場合を例に挙げれば、粘着剤層を介して偏光板と液晶セルとを貼合するときに、粘着剤層と液晶セルとの貼合界面、特に貼合界面の周縁部又はその近傍に気泡が混入しやすくなる。この気泡が液晶パネルの画像表示領域内に生じると、点灯時に輝点となって視認性を低下させ得る。従って、偏光板、とりわけ上述のような額縁幅の狭い筐体を用いた液晶表示装置に適用され、偏光板周縁部により近い領域が画像表示領域に利用される偏光板には、液晶セルとの貼合時において波打ち欠陥を有しないか、又は波打ち欠陥が上述の気泡混入やそれに伴う視認性低下の問題を生じない程度まで十分低減されていることが求められる。
【０００６】
そこで本発明は、実質的に波打ち欠陥の無い状態を維持できるか、又は上述の気泡混入やそれに伴う視認性低下の問題を生じない程度に波打ち欠陥を抑制できる偏光板の保管方法の提供を目的とする。また本発明の他の目的は、波打ち欠陥を生じるに至った偏光板の当該波打ち欠陥を実質的に解消、又は上記問題を生じない程度に波打ち欠陥を抑制できる方法を提供することにある。本発明のさらに他の目的は、実質的に波打ち欠陥を有しないか、又は上記問題を生じない程度に波打ち欠陥が抑制された偏光板の製造方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、以下に示す偏光板の保管方法、偏光板が有する波打ち欠陥の解消又は低減方法、及び偏光板の製造方法を提供する。
【０００８】
［１］偏光子及びその上に積層される少なくとも１つの保護フィルムを含む偏光板であって、２３℃相対湿度５５％の環境下で１週間保管したときに、いずれかの辺において高さが３ｍｍを超える波打ち欠陥を生じるか、又はいずれかの辺において３個以上の波打ち欠陥を生じる偏光板を用意する工程と、
保管後の偏光板水分率が、２３℃相対湿度５５％の環境下で１週間保管したときの偏光板水分率よりも低くなる環境下で前記偏光板を保管する工程と、
を含む、偏光板の保管方法。
【０００９】
［２］偏光子及びその上に積層される少なくとも１つの保護フィルムを含む偏光板であって、いずれかの辺において高さが３ｍｍを超える波打ち欠陥を有するか、又はいずれかの辺において３個以上の波打ち欠陥を有する偏光板を用意する工程と、
保管後の偏光板水分率が保管前の偏光板水分率よりも低くなる環境下で前記偏光板を保管する工程と、
を含む、偏光板が有する波打ち欠陥の解消又は低減方法。
【００１０】
［３］偏光子及びその上に積層される少なくとも１つの保護フィルムを含む偏光板であって、２３℃相対湿度５５％の環境下で１週間保管したときに、いずれかの辺において高さが３ｍｍを超える波打ち欠陥を生じるか、又はいずれかの辺において３個以上の波打ち欠陥を生じる偏光板を用意する工程と、
保管後の偏光板水分率が、２３℃相対湿度５５％の環境下で１週間保管したときの偏光板水分率よりも低くなる環境下で前記偏光板を保管する工程と、
を含む、偏光板の製造方法。
【００１１】
［４］偏光子及びその上に積層される少なくとも１つの保護フィルムを含む偏光板であって、いずれかの辺において高さが３ｍｍを超える波打ち欠陥を有するか、又はいずれかの辺において３個以上の波打ち欠陥を有する偏光板を用意する工程と、
保管後の偏光板水分率が保管前の偏光板水分率よりも低くなる環境下で前記偏光板を保管する工程と、
を含む、偏光板の製造方法。
【００１２】
［５］前記保管する工程が相対湿度３０〜５０％の環境下で偏光板を保管する工程を含む、［１］〜［４］のいずれかに記載の方法。
【００１３】
［６］前記保管する工程において偏光板は、密封容器内で保管される、［１］〜［５］のいずれかに記載の方法。
【００１４】
［７］前記保管する工程において偏光板は、除湿剤の入った密封容器内で保管される、［１］〜［５］のいずれかに記載の方法。
【００１５】
［８］前記用意する工程で用意される偏光板は、長辺７００ｍｍ以上短辺４００ｍｍ以上の方形形状を有する、［１］〜［７］のいずれかに記載の方法。
【００１６】
［９］前記保護フィルムのうち少なくとも１つは、ポリオレフィン系樹脂フィルム及び（メタ）アクリル系樹脂フィルムからなる群より選ばれる熱可塑性樹脂フィルムである、［１］〜［８］のいずれかに記載の方法。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、例えば液晶セルのような他の部材との貼合時において実質的に波打ち欠陥を有しないか、又は波打ち欠陥が上述の気泡混入やそれに伴う視認性低下の問題を生じない程度に抑制された偏光板を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】波打ち欠陥を有する偏光板の一例を示す側面図である。
【図２】本発明の保管方法、波打ち欠陥の解消又は低減方法、及び偏光板の製造方法に供される偏光板の層構成の一例を示す概略断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
＜偏光板の保管方法＞
本発明に係る偏光板の保管方法は、次の工程：
（１）偏光子及びその上に積層される少なくとも１つの保護フィルムを含む偏光板であって、２３℃相対湿度５５％の環境下で１週間保管したときに、いずれかの辺において高さが３ｍｍを超える波打ち欠陥を生じるか、又はいずれかの辺において３個以上の波打ち欠陥を生じる偏光板Ａを用意する工程、及び
（２）保管後の偏光板水分率が、２３℃相対湿度５５％の環境下で１週間保管したときの偏光板水分率よりも低くなる環境下で偏光板Ａを保管する工程、
を含む。以下、各工程について説明する。
【００２０】
（１）偏光板Ａを用意する工程
本発明に係る偏光板の保管方法に供される偏光板Ａは、通常の保管条件では上述したような気泡混入やそれに伴う視認性低下の問題を伴う波打ち欠陥を生じやすい偏光板であり、具体的には、図１を参照して、２３℃相対湿度５５％の環境下で１週間保管したときに、いずれかの辺において高さが３ｍｍを超える波打ち欠陥を生じるか、又はいずれかの辺において３個以上の波打ち欠陥を生じてしまう偏光板である。このような波打ち欠陥を有する偏光板は、上記問題を極めて生じやすい。図１は、波打ち欠陥を有する偏光板の一例を示す側面図であり、その偏光板における波打ち欠陥が生じている辺を示したものである。図１の例において当該辺は、波打ち欠陥を５個有しており（図１中のウェーブ状変形Ｗ、Ｘ及びＺ）、そのうち１個は高さが３ｍｍを超える波打ち欠陥である（図１中のウェーブ状変形Ｗ）。
【００２１】
波打ち欠陥の高さとは、偏光板を平面台に載置した場合における平面台から波打ち欠陥頂部までの高さである。当該高さは、偏光板の辺（端部）において測定される。また、波打ち欠陥の数は、実質的に波打ち欠陥と認められるものの数であり、具体的には、偏光板を平面台に載置したときに高さが平面台から０．５ｍｍ以上である波打ち欠陥の数である。従って、図１に示されるＹのように高さが平面台から０．５ｍｍ未満であるウェーブ状変形は波打ち欠陥としてカウントされない。図１に示されるウェーブ状変形Ｚは高さが０．５ｍｍであり、波打ち欠陥としてカウントされる。波打ち欠陥の数もまた、偏光板の辺（端部）において測定される。なお、図１に示されるＫのように、偏光板の辺（端部）の端（角部）は、平面台から浮き上がっていても波打ち欠陥としてはカウントされない。
【００２２】
偏光板Ａの形状は特に制限されないが、長辺７００ｍｍ以上短辺４００ｍｍ以上の方形（典型的には長方形）の偏光板枚葉体であることが好ましい。これよりサイズの小さい偏光板においては、波打ち欠陥は一般に問題となりにくい。枚葉体である偏光板Ａは、例えば、長尺体として製造された偏光板を裁断することにより得ることができる。本明細書において「偏光板Ａを用意する」とは、偏光板Ａを得る（製造する）ことをも含む。
【００２３】
偏光板Ａの層構成は、偏光子及びその上に積層される少なくとも１つの保護フィルムを備える限り特に制限されないが、実用に供される前の保管時、例えば液晶表示装置用の偏光板においては、液晶セルに貼合する前の保管時においては、偏光板は液晶セルに貼合するための粘着剤層を有することが一般的であり、かつこの粘着剤層の表面（外面）を保護するためのセパレートフィルムや、保護フィルムの表面（外面）を保護するためのプロテクトフィルム（表面保護フィルム）を設けることが一般的であることから、偏光板Ａは、偏光子及び保護フィルムに加えて、粘着剤層、セパレートフィルム及びプロテクトフィルムを有するものであることが好ましい。
【００２４】
偏光板Ａの層構成の一例を図２に示す。図２に示される偏光板１は、偏光子１０；偏光子１０の一方の面に貼合される第１保護フィルム２０；偏光子１０の他方の面に貼合される第２保護フィルム３０；第２保護フィルム３０の外面に積層される粘着剤層４０；粘着剤層４０の外面に積層されるセパレートフィルム５０；第１保護フィルム２０の外面に積層されるプロテクトフィルム６０を含む。
【００２５】
偏光子１０は、光学軸に平行な振動面をもつ直線偏光を吸収し、光学軸に直交する振動面をもつ直線偏光を透過する性質を有する光学フィルムであり、例えば、一軸延伸され、二色性色素が吸着配向されたポリビニルアルコール系樹脂フィルムであることができる。二色性色素としては、ヨウ素や二色性有機染料が用いられる。偏光子１０を構成するポリビニルアルコール系樹脂は、ポリ酢酸ビニルのケン化物であるポリビニルアルコールのほか、酢酸ビニルとそれに共重合可能な他のモノマー（例えばエチレンや不飽和カルボン酸等）との共重合体のケン化物であるビニルアルコール系共重合体であってもよい。偏光子１０の厚みは通常、５〜４０μｍ程度である。
【００２６】
偏光子１０は、ポリビニルアルコール系樹脂フィルムを一軸延伸する工程、ポリビニルアルコール系樹脂フィルムを二色性色素で染色してその二色性色素を吸着させる工程、二色性色素が吸着されたポリビニルアルコール系樹脂フィルムをホウ酸水溶液で処理する工程、及びホウ酸水溶液による処理後に水洗する工程を経て製造することができる。二色性色素の染色は二色性色素を含有する水溶液にフィルムを浸漬することにより、ホウ酸水溶液による処理はホウ酸水溶液にフィルムを浸漬することにより行うことができる。
【００２７】
ポリビニルアルコール系樹脂フィルムの一軸延伸は、二色性色素の染色前、染色と同時、又は染色の後に行うことができる。一軸延伸を染色の後で行う場合、この一軸延伸は、ホウ酸処理の前又はホウ酸処理中に行ってもよい。また、これらの複数の段階で一軸延伸を行ってもよい。
【００２８】
第１及び第２保護フィルム２０，３０は、透光性を有する（好ましくは光学的に透明な）熱可塑性樹脂フィルムであることができる。熱可塑性樹脂の具体例は、鎖状ポリオレフィン系樹脂、環状ポリオレフィン系樹脂（ノルボルネン系樹脂など）のようなポリオレフィン系樹脂；ポリエチレンテレフタレートのようなポリエステル系樹脂；メタクリル酸メチル系樹脂のような（メタ）アクリル系樹脂；セルローストリアセテート、セルロースジアセテートのようなセルロース系樹脂；ポリカーボネート系樹脂；ポリビニルアルコール系樹脂；ポリ酢酸ビニル系樹脂；ポリアリレート系樹脂；ポリスチレン系樹脂；ポリエーテルスルホン系樹脂；ポリスルホン系樹脂；ポリアミド系樹脂；ポリイミド系樹脂；及びこれらの混合物、共重合物を含む。なお本明細書において「（メタ）アクリル系樹脂」とは、アクリル系樹脂及びメタクリル系樹脂よりなる群から選ばれる少なくとも１種を表す。その他の「（メタ）」を付した用語においても同様である。偏光板Ａが有する保護フィルムの少なくとも１つは、ポリオレフィン系樹脂フィルム及び（メタ）アクリル系樹脂フィルムからなる群より選ばれる熱可塑性樹脂フィルムであることが好ましい。
【００２９】
第１保護フィルム２０と第２保護フィルム３０とは、同種の熱可塑性樹脂で構成されていてもよいし、異種の熱可塑性樹脂で構成されていてもよい。第１及び第２保護フィルム２０，３０の厚みは、例えば５〜２００μｍ程度であり、好ましくは１０〜１５０μｍ、より好ましくは２０〜１００μｍである。
【００３０】
粘着剤層４０は、液晶セルのような他の部材に偏光板を貼合するための層である。粘着剤層４０を構成する粘着剤としては、例えば（メタ）アクリル系粘着剤、ウレタン系粘着剤、シリコーン系粘着剤、ポリエステル系粘着剤、ポリアミド系粘着剤、ポリエーテル系粘着剤、フッ素系粘着剤、ゴム系粘着剤等が挙げられる。中でも、透明性、粘着力、信頼性、リワーク性等の観点から、（メタ）アクリル系粘着剤が好ましく用いられる。粘着剤層４０の厚みは通常、２〜４０μｍである。
【００３１】
セパレートフィルム５０及びプロテクトフィルム６０はそれぞれ、偏光板を保管又は運搬したり、検査したりするときに、粘着剤層４０、第１保護フィルム２０を仮保護する目的で設けられる。粘着剤層４０を保護するセパレートフィルム５０は、偏光板１が実用に供される（例えば液晶セルのような他の部材に貼合される）直前に剥離除去される。また、プロテクトフィルム６０は通常、偏光板１が実用に供された（例えば液晶セルのような他の部材に貼合された）後に、その粘着剤層ごと剥離除去される。
【００３２】
セパレートフィルム５０は通常、片面に離型処理が施された熱可塑性樹脂フィルムで構成され、その離型処理面が粘着剤層４０に貼り合わされる。また、プロテクトフィルム６０は通常、熱可塑性樹脂フィルムの片面に粘着剤層を設けて構成される。セパレートフィルム５０及びプロテクトフィルム６０を構成する熱可塑性樹脂は、例えば、ポリエチレンのようなポリエチレン系樹脂、ポリプロピレンのようなポリプロピレン系樹脂、ポリエチレンテレフタレートやポリエチレンナフタレートのようなポリエステル系樹脂等であることができる。プロテクトフィルム６０が有する粘着剤層については、前述した粘着剤層４０についての記述が引用される。
【００３３】
偏光板Ａの層構成は図２に示される例に限定されるものではなく、例えば次のような層構成であることもできる。
【００３４】
〔ａ〕粘着剤層４０、セパレートフィルム５０及びプロテクトフィルム６０のいずれか１以上を省略した構成、
〔ｂ〕第１保護フィルム２０及び第２保護フィルム３０のいずれか一方を省略した構成、
〔ｃ〕第２保護フィルム３０として位相差フィルムのような光学補償フィルムを用いる構成、
〔ｄ〕第１保護フィルム２０及び第２保護フィルム３０に加えて、位相差フィルムのような光学補償フィルムを有する構成。
【００３５】
上記〔ｂ〕の一例は第２保護フィルム３０を省略した構成であり、その好適な具体例は、偏光子１０におけるプロテクトフィルム６０とは反対側の面に粘着剤層４０を直接積層して、プロテクトフィルム６０／第１保護フィルム２０／偏光子１０／粘着剤層４０／セパレートフィルム５０の層構成としたものである。
【００３６】
上記〔ｃ〕の好適な具体例は、プロテクトフィルム６０／第１保護フィルム２０／偏光子１０／位相差フィルム（第２保護フィルム３０）／粘着剤層４０／セパレートフィルム５０の層構成としたものである。上記〔ｄ〕の好適な具体例は、プロテクトフィルム６０／第１保護フィルム２０／偏光子１０／第２保護フィルム３０／位相差フィルム／粘着剤層４０／セパレートフィルム５０の層構成としたものである。
【００３７】
位相差フィルムは、一軸又は二軸等の光学異方性を有する光学フィルムであり、例えば熱可塑性樹脂の延伸フィルムであることができる。熱可塑性樹脂は、第１及び第２保護フィルム２０，３０について上で例示したものであることができるほか、ポリビニリデンフルオライド／ポリメチルメタクリレート共重合体、液晶ポリエステル、アセチルセルロース、エチレン−酢酸ビニル共重合体のケン化物、ポリ塩化ビニル等を用いることもできる。延伸倍率は通常、１．０１〜６倍程度である。
【００３８】
偏光子１０と、第１保護フィルム２０及び第２保護フィルム３０（位相差フィルムである場合を含む。）とは、接着剤又は粘着剤（この粘着剤については、前述した粘着剤層４０についての記述が引用される。）を用いて貼合することができる。接着剤としては、水系接着剤、すなわち、接着剤成分を水に溶解したもの又は水に分散させたものや、活性エネルギー線硬化性接着剤を用いることができる。
【００３９】
水系接着剤の接着剤成分は、例えばポリビニルアルコール系樹脂やウレタン樹脂であることができる。活性エネルギー線硬化性接着剤は、例えば、エポキシ系化合物や（メタ）アクリル系化合物等の活性エネルギー線硬化性化合物と、重合開始剤とを含む硬化性組成物であることができる。活性エネルギー線硬化性接着剤は、無溶剤型の接着剤であることができるが、有機溶剤（水以外の溶剤）を含むこともできる。無溶剤型の接着剤を用いれば、溶剤を除去するための乾燥処理が不要となる。活性エネルギー線硬化性接着剤を使用する場合、接着剤を介してフィルムを貼合した後、可視光線、紫外線、Ｘ線、電子線等の活性エネルギー線、好ましくは紫外線を照射して接着剤層を硬化させる。
【００４０】
水系接着剤を使用する場合、接着剤を介して貼合されたフィルム積層体は通常、乾燥処理が施され、接着剤層の水分除去が行われる。この場合において、偏光子１０に貼合されるフィルムが透湿度の低い熱可塑性樹脂フィルムであるときには、乾燥時間が長くなり生産性が低下したり、水系接着剤中の水分を十分に乾燥できずに、接着力が低下したりすることがある。この点、活性エネルギー線硬化性接着剤は、透湿度の低い熱可塑性樹脂フィルムを貼合する場合においても上記の問題が生じるおそれがないため、有利である。
【００４１】
偏光子１０に透湿度の低い熱可塑性樹脂フィルムを貼合する場合には、偏光子１０との水分率の差が大きくなり、偏光板の波打ち欠陥が大きくなる傾向にある。従って、第１保護フィルム２０及び／又は第２保護フィルム３０（位相差フィルムである場合を含む。）として透湿度の低い熱可塑性樹脂フィルムを用いる場合に、本発明はとりわけ有効である。透湿度の低い熱可塑性樹脂フィルムの具体例は、鎖状ポリオレフィン系樹脂、環状ポリオレフィン系樹脂（ノルボルネン系樹脂など）のようなポリオレフィン系樹脂；メタクリル酸メチル系樹脂のような（メタ）アクリル系樹脂を挙げることができる。
【００４２】
（２）偏光板Ａを保管する工程
本工程において偏光板Ａは、保管後の偏光板水分率Ｓ１が、２３℃相対湿度５５％の環境下で１週間保管したときの偏光板水分率Ｓ０よりも低くなる環境下で保管される。なお、ここでいう保管とは、偏光板Ａを運搬等する場合を含む。
【００４３】
上述のように偏光板Ａは、２３℃相対湿度５５％、１週間での保管条件ではいずれかの辺において高さが３ｍｍを超える波打ち欠陥を生じるか、又はいずれかの辺において３個以上の波打ち欠陥を生じてしまう偏光板であるが、本工程に従う保管方法によれば、実質的に波打ち欠陥の無い状態を維持しながら、又は気泡混入やそれに伴う視認性低下の問題を生じない程度に波打ち欠陥を抑制しながら、すなわち、いずれの辺においても高さが３ｍｍを超える波打ち欠陥を生じず、かついずれの辺においても３個以上の波打ち欠陥を生じない状態で偏光板を保管することができる。
【００４４】
偏光板水分率は、次の乾燥試験によって求められる。すなわち、測定対象の偏光板から２００ｍｍ×３００ｍｍの試料を切り出し、この試料について、設定１０５℃のオーブン内で２時間乾燥させる乾燥試験を行う。乾燥試験前の試料の重量をＷ０、乾燥試験後の試料の重量をＷ１とするとき、偏光板水分率（％）は、下記式：
偏光板水分率（％）＝１００×｛（Ｗ０−Ｗ１）／Ｗ０｝
で定義される。
【００４５】
保管後の偏光板Ａの偏光板水分率Ｓ１は、波打ち欠陥を効果的に抑制する観点から、２３℃相対湿度５５％の環境下で１週間保管したときの偏光板水分率Ｓ０の０．９倍以下（Ｓ１≦０．９Ｓ０）であることが好ましく、０．８５倍以下（Ｓ１≦０．８５Ｓ０）であることがより好ましい。なお、通常、偏光板水分率Ｓ１は、偏光板水分率Ｓ０の０．５倍以上（Ｓ１≧０．５Ｓ０）である。
【００４６】
偏光板水分率Ｓ１が、２３℃相対湿度５５％の環境下で１週間保管したときの偏光板水分率Ｓ０よりも低くなる環境下で保管するための具体的方法としては、偏光板Ａを低湿度条件下で保管する方法が好適である。低湿度条件下で保管する方法としては、防水性（防湿性）及びガスバリア性を有する密封可能なフィルム包装体を密封容器として用い、これで偏光板Ａを密封梱包する方法や、密封可能なプラスチック製容器又は金属製容器等を密封容器として用い、これで偏光板Ａを密封梱包する方法などを挙げることができる。
【００４７】
また、波打ち欠陥を効果的に抑制する観点から、本工程は相対湿度３０〜５０％の環境下で偏光板Ａを保管する工程を含むことが好ましく、内部の相対湿度を３０〜５０％とした上述のような密封容器内で偏光板Ａを保管する工程を含むことがより好ましく、内部の相対湿度を３５〜４５％とした上述のような密封容器内で偏光板Ａを保管する工程を含むことがさらに好ましい。相対湿度３０％未満の環境下で保管すると、波打ち欠陥の高さが大きくなる傾向にある。また、相対湿度が５０％を超える環境下で保管すると、波打ち欠陥の数が増加する傾向にある。
【００４８】
密封容器内の相対湿度を上述の範囲とする（密封容器内の相対湿度を低下させる）好適な方法は、低湿度の不活性ガス（窒素、空気等）や乾燥剤のような除湿剤を密封容器内に入れることである。不活性ガスを用いる場合には、密封容器内に不活性ガスを導入して該ガスで置換した状態で偏光板Ａを密封梱包すればよい。乾燥剤を用いる場合には、密封容器内に乾燥剤を入れ、偏光板Ａとともに密封梱包すればよい。
【００４９】
低湿度の空気としては、乾燥空気、例えばコンプレッサーで圧縮された計装空気（その相対湿度は通常、４０％程度以下である。）を用いることができる。乾燥剤としては、各種多孔質体、例えば、シリカゲル（シリカゲルＡ型、シリカゲルＢ型等）、モレキュラーシーブ、活性炭などを用いることができる。
【００５０】
本発明は、上述の偏光板Ａを上述の環境下で保管する工程を含む偏光板の製造方法にも関連している。当該偏光板の製造方法は、次の工程：
（１’）偏光子及びその上に積層される少なくとも１つの保護フィルムを含む偏光板であって、２３℃相対湿度５５％の環境下で１週間保管したときに、いずれかの辺において高さが３ｍｍを超える波打ち欠陥を生じるか、又はいずれかの辺において３個以上の波打ち欠陥を生じる偏光板Ａを用意する工程、及び
（２’）保管後の偏光板水分率が、２３℃相対湿度５５％の環境下で１週間保管したときの偏光板水分率よりも低くなる環境下で偏光板Ａを保管する工程、
を含む。
【００５１】
工程（１’）及び（２’）の詳細については、前述した工程（１）及び（２）についての記述が引用される。当該偏光板の製造方法によれば、実質的に波打ち欠陥を有しないか、又は上述の気泡混入やそれに伴う視認性低下の問題を生じない程度に波打ち欠陥が抑制された偏光板を提供することができる。
【００５２】
＜波打ち欠陥の解消又は低減方法＞
本発明に係る波打ち欠陥の解消又は低減方法は、次の工程：
（Ｉ）偏光子及びその上に積層される少なくとも１つの保護フィルムを含む偏光板であって、いずれかの辺において高さが３ｍｍを超える波打ち欠陥を有するか、又はいずれかの辺において３個以上の波打ち欠陥を有する偏光板Ｂを用意する工程、及び
（ＩＩ）保管後の偏光板水分率が保管前の偏光板水分率よりも低くなる環境下で偏光板Ｂを保管する工程、
を含む。
【００５３】
本発明に係る波打ち欠陥の解消又は低減方法に供される偏光板Ｂは、上述したような気泡混入やそれに伴う視認性低下の問題を伴う波打ち欠陥を生じている偏光板であり、具体的には、いずれかの辺において高さが３ｍｍを超える波打ち欠陥を有するか、又はいずれかの辺において３個以上の波打ち欠陥を有する偏光板である。波打ち欠陥の高さ及び数の意味や測定方法は上記と同じである。
【００５４】
偏光板Ｂの形状は特に制限されないが、長辺７００ｍｍ以上短辺４００ｍｍ以上の方形（典型的には長方形）の偏光板枚葉体であることが好ましい。これよりサイズの小さい偏光板においては、波打ち欠陥は一般に問題となりにくい。枚葉体である偏光板Ｂは、例えば、長尺体として製造された偏光板を裁断するした後、何らかの条件下で保管、運搬する等の過程で波打ち欠陥が生じた偏光板であることができる。偏光板Ｂの層構成については、偏光板Ａについての記述が引用される。本明細書において「偏光板Ｂを用意する」とは、偏光板Ｂを得る（製造する）ことをも含む。
【００５５】
上記工程（ＩＩ）に従い、保管後の偏光板水分率Ｔ１が保管前の偏光板水分率Ｔ０よりも低くなる環境下で偏光板Ｂを保管することにより、偏光板Ｂの波打ち欠陥を実質的に解消できるか、又は気泡混入やそれに伴う視認性低下の問題を生じない程度に波打ち欠陥を抑制できる。すなわち、いずれの辺においても高さが３ｍｍを超える波打ち欠陥を有さず、かついずれの辺においても３個以上の波打ち欠陥を有しない偏光板を得ることができる。なお、ここでいう保管もまた、偏光板Ｂを運搬等する場合を含む。偏光板水分率の求め方は上記のとおりである。
【００５６】
保管後の偏光板Ｂの偏光板水分率Ｔ１は、波打ち欠陥を効果的に解消又は低減する観点から、保管前の偏光板水分率Ｔ０の０．９倍以下（Ｔ１≦０．９Ｔ０）であることが好ましく、０．８５倍以下（Ｔ１≦０．８５Ｔ０）であることがより好ましい。なお、通常、偏光板水分率Ｔ１は、偏光板水分率Ｔ０の０．５倍以上（Ｔ１≧０．５Ｔ０）である。
【００５７】
保管後の偏光板水分率Ｔ１が保管前の偏光板水分率Ｔ０よりも低くなる環境下で保管するための具体的方法は、上述の偏光板水分率Ｓ１が、２３℃相対湿度５５％の環境下で１週間保管したときの偏光板水分率Ｓ０よりも低くなる環境下で偏光板Ａを保管するための具体的方法と同様であることができる。
【００５８】
波打ち欠陥を効果的に解消又は低減する観点から、上記工程（ＩＩ）は相対湿度３０〜５０％の環境下で偏光板Ｂを保管する工程を含むことが好ましく、内部の相対湿度を３０〜５０％とした密封容器内で偏光板Ｂを保管する工程を含むことがより好ましく、内部の相対湿度を３５〜４５％とした密封容器内で偏光板Ｂを保管する工程を含むことがさらに好ましい。相対湿度３０％未満の環境下で保管すると、波打ち欠陥の高さが大きくなる傾向にある。また、相対湿度が５０％を超える環境下で保管すると、波打ち欠陥の数が増加する傾向にある。密封容器内の相対湿度を上述の範囲とする（密封容器内の相対湿度を低下させる）具体的方法については、偏光板Ａを保管する方法についての記述が引用される。
【００５９】
本発明は、上述の偏光板Ｂを上述の環境下で保管する工程を含む偏光板の製造方法にも関連している。当該偏光板の製造方法は、次の工程：
（Ｉ’）偏光子及びその上に積層される少なくとも１つの保護フィルムを含む偏光板であって、いずれかの辺において高さが３ｍｍを超える波打ち欠陥を有するか、又はいずれかの辺において３個以上の波打ち欠陥を有する偏光板Ｂを用意する工程、及び
（ＩＩ’）保管後の偏光板水分率が保管前の偏光板水分率よりも低くなる環境下で偏光板Ｂを保管する工程、
を含む。
【００６０】
工程（Ｉ’）及び（ＩＩ’）の詳細については、前述した工程（Ｉ）及び（ＩＩ）についての記述が引用される。当該偏光板の製造方法によれば、実質的に波打ち欠陥を有しないか、又は上述の気泡混入やそれに伴う視認性低下の問題を生じない程度に波打ち欠陥が抑制された偏光板を提供することができる。
【実施例】
【００６１】
以下、実施例を示して本発明をさらに具体的に説明するが、本発明はこれらの例によって限定されるものではない。
【００６２】
＜実験１＞
〔１〕偏光板の作製
図２に示される構成を有する長尺の偏光板を用意した。この偏光板の層構成は、厚み７５μｍのプロテクトフィルム６０（（メタ）アクリル系粘着剤層とポリエチレンテレフタレートフィルムとからなる）／厚み８０μｍの第１保護フィルム２０（（メタ）アクリル系樹脂フィルム）／厚み２３μｍの偏光子１０（ヨウ素が吸着配向しているポリビニルアルコールフィルム）／厚み５０μｍの第２保護フィルム３０（環状ポリオレフィン系樹脂からなる位相差フィルム）／厚み２５μｍの粘着剤層４０（（メタ）アクリル系粘着剤層）／厚み３８μｍのセパレートフィルム５０（ポリエチレンテレフタレートフィルム）である。この長尺の偏光板を１２２０ｍｍ×６９０ｍｍの長方形に裁断し、枚葉体の偏光板Ａを得た。
【００６３】
〔２〕偏光板Ａの保管
上で得られた枚葉体の偏光板Ａについて、下記の参考例１、比較例１及び実施例１〜２の４種の条件で保管工程を実施した。下記４種の保管工程は、枚葉体の偏光板Ａを切り出した後ただちに実施した。
【００６４】
（参考例１）
２００枚の偏光板Ａを容器に収容することなく、２３℃相対湿度５５％の環境下で７日間保管した。
【００６５】
（比較例１）
開口部の淵にゴムパッキンを有し、水分を通さないプラスチック容器に２００枚の偏光板Ａを入れ、密封し、２３℃の環境下で１０日間保管した。保管開始当初の相対湿度は５５％であり、１０日間保管後の相対湿度は５３％であった。容器内の温度及び湿度の測定には、「おんどとり」（Ｔ＆Ｄ  Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ社製  Ｔｒ−７２Ｕｉ）を用いた（以下同様。）。
【００６６】
（実施例１）
比較例１で用いたのと同じプラスチック容器に、２００枚の偏光板Ａを入れるとともに、シリカゲルＡ型（富士ゲル産業株式会社製  ＣＰシリーズ）１０ｇを入れ、密封し、２３℃の環境下で１０日間保管した。保管開始当初の相対湿度は５５％であり、１０日間保管後の相対湿度は４２％であった。
【００６７】
（実施例２）
比較例１で用いたのと同じプラスチック容器に２００枚の偏光板Ａを入れた後、２３℃相対湿度３０％の計装空気を容器内に導入し充填して密封し、２３℃の環境下で１０日間保管した。保管開始当初の相対湿度は４５％であり、１０日間保管後の相対湿度は４７％であった。
【００６８】
〔３〕保管後の偏光板の評価
下記項目について、保管工程後の偏光板の評価を行った。結果を表１に示す。
【００６９】
（偏光板水分率）
保管工程後の偏光板２００枚の中からランダムに１枚抜き取り、この偏光板について上述の乾燥試験を行い、上述の定義式に従って偏光板水分率を算出した。なお、保管前（裁断直後）における偏光板Ａの偏光板水分率は、１．８％であった。
【００７０】
（波打ち欠陥の数及び高さ）
保管工程後の偏光板２００枚の中からランダムに１枚抜き取り、この偏光板をプロテクトフィルム６０側を下向きにして平面台に載置し、偏光板の各辺における波打ち欠陥の数（上述のように、高さが平面台から０．５ｍｍ以上である波打ち欠陥に限る。）、及び波打ち欠陥の平面台からの高さを測定した。表１には、最も多くの波打ち欠陥を有する辺における波打ち欠陥の数、すべての波打ち欠陥のうち最も高い波打ち欠陥の高さを記載している。
【００７１】
（気泡の有無）
保管工程後の偏光板２００枚の中からランダムに１枚抜き取り、この偏光板を大型精密貼合機（クライムプロダクツ社製、ＨＡＬ−１４８５）を用いて、偏光板の粘着剤層を介して無アルカリガラス（コーニング社製、イーグルＸＧ）に貼合し、粘着剤層と無アルカリガラスとの貼合界面の周縁部における気泡の有無を目視で確認した。
【００７２】
【表１】
2015163952.tif 000003
【００７３】
＜実験２＞
〔１〕偏光板Ａの保管
実験１で作製した枚葉体の偏光板Ａについて、下記の比較例２及び実施例３〜５の４種の条件で保管工程を実施した。下記４種の保管工程は、枚葉体の偏光板Ａを切り出した後ただちに実施した。
【００７４】
（比較例２）
防水性とガスバリア性を有するフィルム包装体として、アルミニウム薄膜を防湿層とし、ガスバリア性の樹脂フィルムが複数層ラミネートされたレトルト袋（カイト化学工業（株）製）に３０枚の偏光板Ａを入れ、密封し、２３℃の環境下で１０日間保管した。保管開始当初の相対湿度は５５％であり、１０日間保管後の相対湿度は５０％であった。
【００７５】
（実施例３）
比較例２で用いたのと同じレトルト袋に偏光板３０枚を入れた後、２３℃相対湿度３０％の計装空気を容器内に導入し充填して密封し、２３℃の環境下で１０日間保管した。保管開始当初の相対湿度は３６％であり、１０日間保管後の相対湿度は３９％であった。
【００７６】
（実施例４）
比較例２で用いたのと同じレトルト袋に偏光板３０枚を入れた後、２３℃の窒素ガスを容器内に導入し充填して密封し、２３℃の環境下で１０日間保管した。保管開始当初の相対湿度は３５％であり、１０日間保管後の相対湿度は３６％であった。
【００７７】
（実施例５）
比較例２で用いたのと同じレトルト袋に、３０枚の偏光板Ａを入れるとともに、シリカゲルＡ型（富士ゲル産業株式会社製  ＣＰシリーズ）１０ｇを入れ、密封し、２３℃の環境下で１０日間保管した。保管開始当初の相対湿度は５５％であり、１０日間保管後の相対湿度は３５％であった。
【００７８】
〔２〕保管後の偏光板の評価
保管工程後の偏光板について、実験１と同様にして偏光板水分率、波打ち欠陥の数及び高さ、気泡の有無の評価を行った。結果を表２に示す。なお表２には、比較のため、参考例１の保管条件及び評価結果を併せて示している。
【００７９】
【表２】
2015163952.tif 000004
【００８０】
＜実験３＞
〔１〕偏光板Ｂの保管（波打ち欠陥の解消又は低減）
参考例１で得られた保管工程後の偏光板（偏光板Ｂ）について、下記の実施例６〜７の２種の条件で保管工程を実施し、波打ち欠陥の解消又は低減を行った。
【００８１】
（実施例６）
比較例１で用いたのと同じプラスチック容器に２００枚の偏光板Ｂを入れた後、２３℃相対湿度３０％の計装空気を容器内に導入し充填して密封し、２３℃の環境下で５日間保管した。保管開始当初の相対湿度は４４％であり（相対湿度は、計装空気の導入時間により調整した。）、５日間保管後の相対湿度は４５％であった。
【００８２】
（実施例７）
比較例１で用いたのと同じプラスチック容器に２００枚の偏光板Ｂを入れた後、２３℃相対湿度３０％の計装空気を容器内に導入し充填して密封し、２３℃の環境下で５日間保管した。保管開始当初の相対湿度は３８％であり（相対湿度は、計装空気の導入時間により調整した。）、５日間保管後の相対湿度は４０％であった。
【００８３】
〔２〕保管後の偏光板の評価
保管工程後の偏光板について、実験１と同様にして偏光板水分率、波打ち欠陥の数及び高さ、気泡の有無の評価を行った。結果を表３に示す。なお表３には、比較のため、参考例１の保管条件及び評価結果を併せて示している。
【００８４】
【表３】
2015163952.tif 000005
【符号の説明】
【００８５】
１  偏光板、１０  偏光子、２０  第１保護フィルム、３０  第２保護フィルム、４０  粘着剤層、５０  セパレートフィルム、６０  プロテクトフィルム。
【図２】
2015163952.tif 000006
【図１】
2015163952.tif 000007