(57)【要約】【課題】複雑な構成を必要としないで画像処理装置の規模を減少でき、装置コストを抑えながら、補間対象画素位置の欠落画素を補間して、網点の周期性の乱れによる影響を小さくすることができるようにする。【解決手段】本発明の画像補間装置は、線形補間によって補間対象画素の第１の画素値を作成する第１の補間画素作成手段と、欠落画素を中心とした画素群と、欠落画素周辺の１画素を中心とした画素群との差分合計値に基づいて、補間対象画素の参照画素の検出を行い、参照画素によって補間対象画素の第２の画素値を作成する第２の補間画素作成手段と、参照画素のエッジ量の抽出を行う参照画素エッジ量抽出手段と、参照画素のエッジ量と差分合計値とに基づいて、第１の画素値又は第２の画素値を補間画素値とる補間手段とを備える。【選択図】      図１
2015222895.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の画像読取素子が直線状に配列されたコンタクトイメージセンサを複数連結し、その連結部の欠落画素を補間する画像補間装置において、
線形補間によって補間対象画素の第１の画素値を作成する第１の補間画素作成手段と、
欠落画素を中心とした画素群と、欠落画素周辺の１画素を中心とした画素群との差分画素値の合計値に基づいて、補間対象画素の参照画素の検出を行い、前記参照画素によって補間対象画素の第２の画素値を作成する第２の補間画素作成手段と、
前記参照画素のエッジ量の抽出を行う参照画素エッジ量抽出手段と、
前記参照画素のエッジ量と、前記参照画素を中心とした画素群と欠落画素を中心した画素群との差分画素値の合計値とに基づいて、前記第１の画素値又は前記第２の画素値を補間画素値として補間対象画素位置に挿入する補間手段と
を備えることを特徴とする画像補間装置。
【請求項２】
前記参照画素エッジ量抽出手段が、前記参照画素の画素値と、前記参照画素の隣接画素の画素値との差分に基づいて、前記参照画素のエッジ量を抽出するものであることを特徴とする請求項１に記載の画像補間装置。
【請求項３】
前記補間手段が、前記参照画素を中心とした画素群と欠落画素を中心とした画素群との差分画素値の合計値が第１の閾値以下であり、前記参照画素のエッジ量が第２の閾値未満より大きいときに、前記第２の画素値を補間画素値として決定し、それ以外のときに前記第１の画素値を補間画素値として決定するものであることを特徴とする請求項１又は２に記載の画像補間装置。
【請求項４】
複数の画像読取素子が直線状に配列されたコンタクトイメージセンサを複数連結し、その連結部の欠落画素を補間する画像補間プログラムにおいて、
コンピュータを、
線形補間によって補間対象画素の第１の画素値を作成する第１の補間画素作成手段と、
欠落画素を中心とした画素群と、欠落画素周辺の１画素を中心とした画素群との差分画素値の合計値に基づいて、補間対象画素の参照画素の検出を行い、前記参照画素によって補間対象画素の第２の画素値を作成する第２の補間画素作成手段と、
前記参照画素のエッジ量の抽出を行う参照画素エッジ量抽出手段と、
前記参照画素のエッジ量と、前記参照画素を中心とした画素群と欠落画素を中心した画素群との差分画素値の合計値とに基づいて、前記第１の画素値又は前記第２の画素値を補間画素値として補間対象画素位置に挿入する補間手段と
して機能させることを特徴とする画像補間プログラム。
【請求項５】
複数の画像読取素子が直線状に配列されたコンタクトイメージセンサを複数連結させて画像を読み取る画像読取装置において、
前記複数の画像読取素子により読み取られた画素値に基づいて、前記コンタクトイメージセンサの連結部の欠落画素を補間するものであって、請求項１〜３のいずれかに記載の画像補間装置としての画像補間手段を備えることを特徴とする画像読取装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像補間装置、画像補間プログラム及び画像読取装置に関し、例えば、スキャナや複合機等の画像読取装置に用いられるコンタクトイメージセンサ（ＣＩＳ）の欠落画素を補間する画像補間装置、画像補間プログラム及び画像読取装置に適用し得るものである。
【背景技術】
【０００２】
コンタクトイメージセンサ（ＣＩＳ）は、スキャナやコピー機、複合機、ＦＡＸ等の装置に搭載され、原稿画像の画像読取装置として用いられている。コンタクトイメージセンサは等倍センサであるため、原稿画像を読み取るためには、原稿の幅以上の長さが必要となる。そこで、通常は、複数のコンタクトイメージセンサを連結することにより、画像読取センサを構成している（特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００７−２５１４０４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、複数のコンタクトイメージセンサを連結して、高解像度で画像の読み取りを行なう場合、コンタクトイメージセンサの画像読取素子の間隔が狭くなるため、コンタクトイメージセンサの連結部分で画素データの読み取りができなくなる。そのため、コンタクトイメージセンサの連結部分に対応する補間対象画素位置は画素が欠落し、画像パターンの周期性に乱れが生じてしまう。
【０００５】
前記のようなコンタクトイメージセンサの連結部分の画像を埋めるために、種々の複雑な処理を施して欠落画像を補間することも考えられるが、複雑な構成を行なうことにより、画像処理装置の規模が増大し、装置コストが増大することになる。
【０００６】
そのため、複雑な構成を必要としないで画像処理装置の規模を減少でき、装置コストを抑えながら、補間対象画素位置の欠落画素を補間して、網点の周期性の乱れによる影響を小さくすることができる画像補間装置、画像補間プログラム及び画像読取装置が求められている。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
かかる課題を解決するために、第１の本発明の画像補間装置は、複数の画像読取素子が直線状に配列されたコンタクトイメージセンサを複数連結し、その連結部の欠落画素を補間する画像補間装置において、（１）線形補間によって補間対象画素の第１の画素値を作成する第１の補間画素作成手段と、（２）欠落画素を中心とした画素群と、欠落画素周辺の１画素を中心とした画素群との差分画素値の合計値に基づいて、補間対象画素の参照画素の検出を行い、参照画素によって補間対象画素の第２の画素値を作成する第２の補間画素作成手段と、（３）参照画素のエッジ量の抽出を行う参照画素エッジ量抽出手段と、（４）参照画素のエッジ量と、参照画素を中心とした画素群と欠落画素を中心した画素群との差分画素値の合計値とに基づいて、第１の画素値又は第２の画素値を補間画素値として補間対象画素位置に挿入する補間手段とを備えることを特徴とする。
【０００８】
第２の本発明の画像補間プログラムは、複数の画像読取素子が直線状に配列されたコンタクトイメージセンサを複数連結し、その連結部の欠落画素を補間する画像補間プログラムにおいて、コンピュータを、（１）線形補間によって補間対象画素の第１の画素値を作成する第１の補間画素作成手段と、（２）欠落画素を中心とした画素群と、欠落画素周辺の１画素を中心とした画素群との差分画素値の合計値に基づいて、補間対象画素の参照画素の検出を行い、参照画素によって補間対象画素の第２の画素値を作成する第２の補間画素作成手段と、（３）参照画素のエッジ量の抽出を行う参照画素エッジ量抽出手段と、（４）参照画素のエッジ量と、参照画素を中心とした画素群と欠落画素を中心した画素群との差分画素値の合計値とに基づいて、第１の画素値又は前記第２の画素値を補間画素値として補間対象画素位置に挿入する補間手段として機能させることを特徴とする。
【０００９】
第３の本発明の画像読取装置は、複数の画像読取素子が直線状に配列されたコンタクトイメージセンサを複数連結させて画像を読み取る画像読取装置において、複数の画像読取素子により読み取られた画素値に基づいて、コンタクトイメージセンサの連結部の欠落画素を補間するものであって、第１の本発明の画像補間装置としての画像補間手段を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、複雑な構成を必要としないで画像処理装置の規模を減少でき、装置コストを抑えながら、補間対象画素位置の欠落画素を補間して、網点の周期性の乱れによる影響を小さくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】実施形態に係る画像読取センサの構成を示す構成図である。
【図２】実施形態に係る画像補間装置の内部構成を示す内部構成図である。
【図３】実施形態に係る参照画素抽出処理部の構成を示す構成図である。
【図４】実施形態に係る画像補間装置における画像補間処理を説明する説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
（Ａ）主たる実施形態
以下では、本発明に係る画像補間装置、画像補間プログラム及び画像読取装置の実施形態を、図面を参照しながら詳細に説明する。
【００１３】
（Ａ−１）実施形態の構成
図１は、実施形態に係る画像読取センサの構成を示す構成図である。図１において、実施形態に係る画像読取センサ１は、複数個（図１では２個）のコンタクトイメージセンサ（ＣＩＳ）１０及び２０を有する。
【００１４】
画像読取センサ１は、複数個のコンタクトイメージセンサ１０及び２０を連結して構成されるものである。図１では、２個のコンタクトイメージセンサ１０及び２０を有する場合を例示しているが、３個以上のコンタクトイメージセンサを連結したものであっても良い。
【００１５】
コンタクトイメージセンサ１０、２０はそれぞれ、等間隔で一列に配列した複数の画像読取素子１１、２１を有する。コンタクトイメージセンサ１０、２０は、例えばＣＭＯＳセンサ等の画像読取素子１１、２１を複数有し、たとえばＬＥＤ等の光源を用いて画像を読み取る。なお、コンタクトイメージセンサ１０及び２０に搭載される画像読取素子１１及び２１の数は特に限定されるものではないが、ここでは、説明を容易にするために、それぞれ８個の画像読取素子１１及び２１を備える場合を説明する。
【００１６】
ここで、コンタクトイメージセンサ１０内の各画像読取素子１１が読み取った読取画像データを、図１に示すように、ＤＬ７、ＤＬ６、ＤＬ５、・・・、ＤＬ０とする。また、コンタクトイメージセンサ２０内の各読取素子２１が読み取った読取画像データを、図１に示すように、ＤＲ０、ＤＲ１、ＤＲ２、・・・、ＤＲ７とする。コンタクトイメージセンサ１０とコンタクトイメージセンサ２０との連結部に対応する画素が補間対象画素（欠落画素）であり、この補間対象画素の画素データをＤＸとする。
【００１７】
画像読取センサ１は、各コンタクトイメージセンサ１０及び２０の各画像読取素子１１及び２１が読み取った読取画像データ（以下、画素データとも呼ぶ。）を、後述する画像補間装置１００に与える。このとき、画像読取センサ１は、各画像読取素子１１及び２１の読取画像データを、ＤＬ７→ＤＬ６→・・・→ＤＬ０→ＤＲ０→・・・→ＤＲ６→ＤＲ７の順に画像補間装置１００に出力する。なお、ここでは、図１に示す画像読取センサ１のコンタクトイメージセンサ１０の左側の画像読取素子１１から右側方向に順番に画素データを出力する場合を例示する。
【００１８】
図２は、この実施形態に係る画像補間装置１００の内部構成を示す内部構成図である。この実施形態に係る画像補間装置１００は、線形補間処理部５０、参照画素抽出処理部６０、参照画素エッジ量抽出処理部７０、補間画素選択処理部８０を有する。
【００１９】
ここで、特許請求の範囲に記載の「第１の補間画素作成手段」は、線形補間処理部５０を含むものである。「第２の補間画素作成手段」は、参照画素抽出処理部６０を含むものである。「参照画素エッジ量抽出手段」は、参照画素エッジ量抽出処理部７０を含むものである。
【００２０】
画像補間装置１００は、画像読取センサ１から画素データ（以下、画素値とも呼ぶ。）を入力し、その入力された画素データに基づいて、読取画像の補間処理を行うものである。また、画像補間装置１００は、補間処理を行った画素データを後続する画像処理装置に出力するものである。
【００２１】
なお、画像補間装置１００は、画像読取センサ１における各画像読取素子１１及び２１の位置及び間隔については予め認識しているものとする。画像補間装置１００は、例えば、ＣＰＵ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭ、入出力インタフェース等を有するものであり、ＣＰＵが、ＲＯＭに格納される画像補間プログラムを実行することにより実現することができる。また、画像補間プログラムがインストールされることにより画像補間装置１００の機能を構築しても良く、その場合でも、画像補間プログラムは図２及び後述する図３で示すことができる。
【００２２】
線形補間処理部５０は、画像読取センサ１から出力された画素データを入力し、入力された画素データ中の欠落画素の両側の画素データの平均データを補間画素Ｓ１として補間画素選択処理部８０に出力するものである。なお、「第１の画素値」は、補間画素Ｓ１を含む概念である。
【００２３】
つまり、線形補間処理部５０は、連結するコンタクトイメージセンサ１０の右側に位置する画像読取素子が出力した画素データＤＬ０と、コンタクトイメージセンサ２０の左側に位置する画素読取素子が出力した画素データＤＲ０とに基づいて平均化処理を行う。
【００２４】
ここで、線形補間処理部５０による画素データの平均化処理の一例を説明する。線形補間処理部５０は、欠落画素の両側の画素データである画素データＤＬ０及びＤＲ０を用いて、式（１）に従って画素データの平均データを算出する。
（補間画素Ｓ１）＝（ＤＬ０＋ＤＲ０）／２    …（１）
【００２５】
参照画素抽出処理部６０は、画像読取センサ１から出力された画素データを入力し、入力された画素データに基づいて、参照画素と補間画素Ｓ２と差分合計値とを算出するものである。参照画素抽出処理部６０は、算出した参照画素を参照画素エッジ量抽出処理部７０に出力する。なお、「第２の画素値」は、補間画素Ｓ２を含む概念である。
【００２６】
また、参照画素抽出処理部６０は、補間画素Ｓ２及び差分合計値を補間画素選択処理部８０に与えるものである。
【００２７】
図３は、この実施形態に係る参照画素抽出処理部６０の構成を示す構成図である。図３において、参照画素抽出処理部６０は、基準画素群抽出部６１、探索画素群抽出部６２、差分合計値算出部６３、出力選択部６４を有する。
【００２８】
基準画素群抽出部６１は、画像読取センサ１から入力された画素データに基づいて、欠落画素の左右に隣接する４画素を基準画素群として画素データを抽出し、その抽出した基準画素群の画素データを差分合計値算出部６３に出力する。図１の例の場合、基準画素群抽出部６１は、欠落画素の左右に隣接する４画素として、ＤＬ１、ＤＬ０、ＤＲ０、ＤＲ１の４画素データを抽出して出力する。
【００２９】
探索画素抽出部６２は、画像読取センサ１から入力された画素データに基づいて、欠落画素周辺の所定の範囲の画素データから連続する５画素分のデータを探索画素群として、差分合計値算出部６３及び出力選択分６４に出力するものである。
【００３０】
例えば、図１の例の場合、探索画素抽出部６２は、（ＤＬ７、ＤＬ６、ＤＬ５、ＤＬ４、ＤＬ３）、（ＤＬ６、ＤＬ５、ＤＬ４、ＤＬ３、ＤＬ２）、（ＤＬ５、ＤＬ４、ＤＬ３、ＤＬ２、ＤＬ１）、（ＤＬ４、ＤＬ３、ＤＬ２、ＤＬ１、ＤＬ０）、（ＤＲ０、ＤＲｌ、ＤＲ２、ＤＲ３、ＤＲ４）、（ＤＲ１、ＤＲ２、ＤＲ３、ＤＲ４、ＤＲ５）、（ＤＲ２、ＤＲ３、ＤＲ４、ＤＲ５、ＤＲ６）、（ＤＲ３、ＤＲ４、ＤＲ５、ＤＲ６、ＤＲ７）の画素データを、各探索画素群として抽出する。
【００３１】
なお、ここでは、欠落画素周辺の所定の範囲が、図１に例示するコンタクトイメージセンサ１０のＤＬ７から、コンタクトイメージセンサ２０のＤＲ７の範囲としている。この欠落画素周辺の所定の範囲は、適宜決定することができる。
【００３２】
差分合計値算出部６３は、画像読取センサ１から入力された基準画素群と探索画素群とに基づいて、基準画素群と探索画素群との対応する各画素データの差分の絶対値を合計した差分合計値を算出し、差分合計値を出力選択部６４に出力するものである。
【００３３】
前述したように、基準画素群として（ＤＬ１、ＤＬ０、ＤＲ０、ＤＲ１）が入力され、探索画素群として（ＤＬ７、ＤＬ６、ＤＬ５、ＤＬ４、ＤＬ３）、（ＤＬ６、ＤＬ５、ＤＬ４、ＤＬ３、ＤＬ２）、（ＤＬ５、ＤＬ４、ＤＬ３、ＤＬ２、ＤＬ１）、（ＤＬ４、ＤＬ３、ＤＬ２、ＤＬ１、ＤＬ０）、（ＤＲ０、ＤＲｌ、ＤＲ２、ＤＲ３、ＤＲ４）、（ＤＲ１、ＤＲ２、ＤＲ３、ＤＲ４、ＤＲ５）、（ＤＲ２、ＤＲ３、ＤＲ４、ＤＲ５、ＤＲ６）、（ＤＲ３、ＤＲ４、ＤＲ５、ＤＲ６、ＤＲ７）が入力された場合、差分合計値算出部６３は、式（２）及び式（３）で、算出した値を差分合計値として出力する。なお、下式において、ａｂｓ（）は絶対値を表している。
【００３４】
例えば、ＤＬ（ｎ）を中心とした探索画素群の差分合計値は、式（２）に従って算出される。
（ＤＬ（ｎ）を中心とした探索画素群の差分合計値）＝
ａｂｓ（ＤＬ１−ＤＬ（ｎ−２））＋ａｂｓ（ＤＬ０−ＤＬ（ｎ−１））
＋ａｂｓ（ＤＲ０−ＤＬ（ｎ＋１））＋ａｂｓ（ＤＲ１−ＤＬ（ｎ＋２））
…（２）
【００３５】
例えば、ＤＲ（ｎ）を中心とした探索画素群の差分合計値は、式（３）に従って算出される。
（ＤＲ（ｎ）を中心とした探索画素群の差分合計値）＝
ａｂｓ（ＤＬ１−ＤＲ（ｎ−２））＋ａｂｓ（ＤＬ０−ＤＲ（ｎ−１））
＋ａｂｓ（ＤＲ０−ＤＲ（ｎ＋１））＋ａｂｓ（ＤＲ１−ＤＲ（ｎ＋２））
…（３）
【００３６】
出力選択部６４は、探索画素群抽出部６２から各探索画素群と、差分合計値算出部６３から各差分合計値とを入力し、それら入力された差分合計値が最小となる探索画素群の中央に位置する画素データを、補間画素Ｓ２として補間画素選択処理部８０に出力する。また、出力選択部６４は、最小となる差分合計値を、補間画素選択処理部８０に出力する。
【００３７】
また、出力選択部６４は、差分合計値が最小となる探索画素群の中央に位置する画素データと、その中央に位置する画素データに隣接する２画素の画素データとを、参照画素として参照画素エッジ量抽出処理部７０に出力する。
【００３８】
例えば、図１の例の場合、入力画素データにおいて探索画素群（ＤＬ４、ＤＬ３、ＤＬ２、ＤＬ１、ＤＬ０）の差分合計値が最小となった場合は、出力選択部６４は、前記探索画素群の中央に位置する画素データＤＬ２を補間画素Ｓ２として出力し、又出力選択部６４は、（ＤＬ３、ＤＬ２、ＤＬ１）を参照画素として出力する。
【００３９】
参照画素エッジ量算出部７０では、入力された参照画素のエッジ量を算出し、その算出したエッジ量を補間画素選択処理部８０に出力するものである。
【００４０】
ここで、参照画素エッジ量算出部７０が算出するエッジ量は、参照画素の中央に位置する画素データと、その中央に位置する画素データに隣接する画素データとの各差分値の絶対値とする。
【００４１】
例えば、参照画素エッジ量算出部７０において、（ＤＬ３、ＤＬ２、ＤＬ１）が参照画素として入力された場合には、参照画素エッジ量算出部７０は式（４）及び（５）に従ってエッジ量を算出する。
（エッジ量１）＝ａｂｓ（ＤＬ２−ＤＬ３）    …（４）
（エッジ量２）＝ａｂｓ（ＤＬ２−ＤＬ１）    …（５）
【００４２】
補間画素選択処理部８０は、入力された差分合計値とエッジ量とに基づいて、入力された補間画素Ｓ１と補間画素Ｓ２とのいずれかの画素データを補間画素として決定し、その補間画素を欠落画素ＤＸに挿入する。そして、補間画素選択処理部８０は出力画素を出力するものである。
【００４３】
例えば、補間画素選択処理部８０は、差分合計値を評価するための閾値と、エッジ量を評価するための閾値とを予め有しているものとする。そして、補間画素選択処理部８０は、差分合計値を所定の閾値で評価すると共に、エッジ量を所定の閾値で評価し、これらの評価結果に基づいて、出力画素を決定するようにしても良い。
【００４４】
つまり、補間画素選択処理部８０は、差分合計値及びエッジ量をそれぞれの所定の閾値で評価を行い、差分合計値が所定の閾値より小さく、かつ、エッジ量が所定の閾値より大きい場合、補間画素選択処理部８０は、入力された補間画素Ｓ２を出力画素として決定して出力する。また、差分合計値及びエッジ量の評価結果が上記以外の場合、補間画素選択処理部８０は、補間画素Ｓ１を出力画素として決定して出力する。
【００４５】
この実施形態では、補間画素選択処理部８０が補間画素Ｓ２を選択する際に、割り算を用いた複雑なパターンマッチング等の複雑な処理を行わず、補間画素選択処理部８０が、差分合計値のみにより補間画素（出力画素）を選択することができる。割り算を用いないことで欠落画素の前後で画素値変化が緩やかな箇所の画素についても補間画素として選択し得るが、補間画素選択処理部８０は、前記参照画素のエッジ量の評価を最終的な出力選択に使用することで、前記欠落画素の前後で画素値変化の緩やかな箇所の画素についての補間画素の選択をエッジ量の変化の大きい箇所のみに制限することができる。また、参照画素のエッジ量の評価を最終的な出力選択に使用することで、連結部分の周期乱れの影響を受けずに、画像の補間を行なうことができる。
【００４６】
なお、この実施形態では、補間画素選択処理部８０が、補間画素Ｓ１と補間画素Ｓ２のいずれかを出力画素として選択して出力する例をあげたが、補間画素選択処理部８０は、補間画素Ｓ１と補間画素Ｓ２をエッジ量や差分合計値を用いて重みづけして出力する構成としても良い。
【００４７】
（Ａ−２）実施形態の動作
次に、この実施形態に係る画像補間装置１００における画像補間処理を、図面を参照しながら説明する。
【００４８】
図４は、実施形態に係る画像補間装置１００における画像補間処理を説明する説明図である。
【００４９】
画像読取センサ１が画像を読み取り、その読取画像データ（画素データ）が画像補間装置１００に入力される。
【００５０】
ここで、図４（ａ）は、画像読取センサ１が画像を読み取った時点の画素データを示している。図４（ａ）に示すように、ＤＬ７〜ＤＲ７の真ん中に位置する画素データＤＸが、コンタクトイメージセンサ１０及び２０の連結部分に位置する画素であり、画像読取センサ１が画像を読み取りした時点に欠落する欠落画素である。
【００５１】
先に説明したように、画像読取センサ１からの画素データは、ＤＬ７→ＤＬ６→・・・→ＤＬ０→ＤＲ０→・・・→ＤＲ６→ＤＲ７の順に画像補間装置１００に入力される。図４（ｂ）は、画像補間装置１００に入力される画素データを示している。図４（ｂ）に示すように、画像補間装置１００に入力される画素データのうち、欠落画素の画素データは欠落しているため、欠落位置でパターンの周期性に乱れが生じる。
【００５２】
画像補間装置１００において、線形補間処理部５０は、欠落画素ＤＸの両側の画素データＤＬ０及びＤＲ０に基づいて平均化処理を行ない、補間画素Ｓ１を算出して、補間画素Ｓ１を補間画素選択処理部８０に与える。
【００５３】
参照画素抽出処理部６０では、基準画素群抽出部６１が、入力された画素データに基づいて、欠落画素の左右に隣接する４画素（ＤＬ１、ＤＬ０、ＤＲ０、ＤＲ１）を基準画素群として画素データを抽出する。その抽出した基準画素群の画素データは差分合計値算出部６３に与える。
【００５４】
また、参照画素抽出処理部６０において、探索画素抽出部６２は、入力された画素データに基づいて、欠落画素周辺の所定の範囲の画素データから連続する５画素分のデータを探索画素群として、差分合計値算出部６３及び出力選択分６４に出力する。
【００５５】
例えば、（ＤＬ７、ＤＬ６、ＤＬ５、ＤＬ４、ＤＬ３）、（ＤＬ６、ＤＬ５、ＤＬ４、ＤＬ３、ＤＬ２）、（ＤＬ５、ＤＬ４、ＤＬ３、ＤＬ２、ＤＬ１）、（ＤＬ４、ＤＬ３、ＤＬ２、ＤＬ１、ＤＬ０）、（ＤＲ０、ＤＲｌ、ＤＲ２、ＤＲ３、ＤＲ４）、（ＤＲ１、ＤＲ２、ＤＲ３、ＤＲ４、ＤＲ５）、（ＤＲ２、ＤＲ３、ＤＲ４、ＤＲ５、ＤＲ６）、（ＤＲ３、ＤＲ４、ＤＲ５、ＤＲ６、ＤＲ７）の画素データを、各探索画素群として抽出する。
【００５６】
さらに、参照画素抽出処理部６０において、差分合計値算出部６３が、基準画素群と探索画素群との対応する各画素データの差分の絶対値を合計した差分合計値を算出し、差分合計値を出力選択部６４に出力する。
【００５７】
出力選択部６４では、入力された差分合計値が最小となる探索画素群の中央に位置する画素データである補間画素Ｓ２及び最小となる差分合計値を補間画素選択処理部８０に出力する。また、出力選択部６４は、差分合計値が最小となる探索画素群の中央に位置する画素データと、その中央に位置する画素データに隣接する２画素の画素データとを、参照画素として参照画素エッジ量抽出処理部７０に出力する。
【００５８】
参照画素エッジ量算出部７０では、入力された参照画素（ＤＬ３、ＤＬ２、ＤＬ１）のエッジ量を算出し、その算出したエッジ量を補間画素選択処理部８０に出力する。
【００５９】
補間画素選択処理部８０は、差分合計値を所定の閾値で評価すると共に、エッジ量を所定の閾値で評価し、これらの評価結果に応じて、補間画素Ｓ１又は補間画素Ｓ２を選択し、その選択した補間画素を出力画素として決定し出力する。この実施形態では、例えば、入力された差分合計値が所定閾値以下であり、入力されたエッジ量が所定閾値より大きいときに、補間画素選択処理部８０は補間画素Ｓ２を選択して出力する。
【００６０】
図４（ｃ）は、画像補間装置１００により欠落画素が補間された画像データである。図４（ｃ）に示すように、欠落画素ＤＸの位置に画像補間装置１００が出力した画素データが挿入される。これにより、欠落画素ＤＸの部分を補間することができる。
【００６１】
（Ａ−３）実施形態の効果
以上のように、この実施形態によれば、例えば、網点領域の判別手段やパターンマッチング処理で割り算や乗算等を行なう構成手段が必要ないため、画像処理装置を小さくでき、コストを抑えることができる。
【００６２】
また、この実施形態によれば、参照画素のエッジ量によって、コンタクトイメージセンサの連結部分に対応する位置の補間画素データを切り替えることができるため、補間対象画素位置の画素欠落による網点の周期性の乱れの影響を受けずに補間することができる。
【００６３】
（Ｂ）他の実施形態
上述した実施形態においても種々の変形実施形態を言及したが、本発明は以下の変形実施形態にも適用することができる。
【００６４】
（Ｂ−１）本発明は、例えばスキャナやコピー機、複合機、ＦＡＸ等の画像読取装置に広く適用することができる。
【００６５】
（Ｂ−２）上述した実施形態で説明した画像補間装置は、基準画素群を４個とし、探索画素群を５個とする場合を例示したが、基準画素群及び探索画素群に属する画素データの個数は特に限定されるものではない。例えば、基準画素群が６個であり、探索画素群が７個としても良い。
【００６６】
（Ｂ−３）また、上述した実施形態において、探索画素群の範囲は、欠落画素周辺の範囲とし、上述した実施形態の例では、欠落画素を中心に左右に隣接する７画素分の範囲を探索画素群の範囲として説明したが、探索画素群の範囲は特に限定されるものではない。例えば、欠落画素を中心に左右に隣接する８画素以上の範囲としても良いし、７画素未満の範囲としても良い。画像読取センサが高画質の画像を読み取る場合には、コンタクトイメージセンサに搭載される画像読取素子の配置間隔が狭くなるため、探索画素群の範囲を広く取るようにしても良い。
【符号の説明】
【００６７】
１…画像読取センサ、１０…コンタクトイメージセンサ、２０…コンタクトイメージセンサ、１１及び２１…画像読取素子、１００…画像補間装置、５０…線形補間処理部、６０…参照が奏抽出処理部、７０…参照画像エッジ量、８０…補間画素選択処理部、６１…基準画素群抽出部、６２…探索群抽出部、６３…差分合計値算出部、６４…出力選択部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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