(57)【要約】【課題】リールに巻回されたテープ体に貼付された複数の電子部品を確実に、かつ、容易に計数することができるようにする。【解決手段】放射線を発生し被検体に向けて放出する放射線源１及びテープ体１０１を透過した放射線を検出する放射線検出器４を有する透視撮像手段を用いて、複数の電子部品１０３が長手方向に並べられて貼付されリール１０２に巻回されたテープ体１０１を撮像し、放射線検出器４により検出された放射線量の二次元分布を画像化し、この画像において電子部品１０３の像を抽出し、電子部品１０３の数を計数する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線を発生し、複数の電子部品を含む被検体に向けて放出する放射線源及び前記被検体を透過した放射線を検出する放射線検出器を有する透視撮像手段と、
前記放射線検出器により検出された放射線量の二次元分布を画像化し、この画像において、前記電子部品の像を抽出する信号処理手段と
を備え、
前記被検体は、複数の電子部品が長手方向に並べられて貼付され、リールに巻回されたテープ体であり、
撮像された画像において抽出された電子部品の像に基づいて、計数手段により、前記電子部品の数を計数する
ことを特徴とする電子部品の計数装置。
【請求項２】
前記放射線検出器は、前記リールの半径に相当する長さのセンサラインを有するラインセンサであって、前記センサラインの方向を前記リールの半径方向となる状態を維持して、前記リールを前記テープ体とともに回転操作することにより、または、前記透視撮像手段を回転移動操作することにより、前記テープ体の全体を撮像する
ことを特徴とする請求項１記載の電子部品の計数装置。
【請求項３】
前記計数手段は、因子分解法による画像解析手段により、前記電子部品の数を計数する
ことを特徴とする請求項１、または、請求項２記載の電子部品の計数装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、リールに巻回されたテープ体の長手方向に並べられて貼付された複数の電子部品の計数装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１に記載されているように、抵抗、コンデンサや半導体装置等の電子部品には、絶縁性フィルムからなるテープ体（キャリヤテープ：ＴＡＢテープ）に貼付、固定されたものがある。このテープ体においては、複数の電子部品が長手方向に並べられて貼付されている。このテープ体は、リール（チップカセット）に巻回された状態で、保管や搬送をされる。テープ体が巻回されるリールの直径は、例えば、１８０ｍｍ乃至３８０ｍｍ程度である。このような電子部品は、テープ体から離脱されて、電子回路基板上に実装され、電子回路を構成する。
【０００３】
このような電子部品は、リールに巻回されたテープ体に貼付された状態において、棚卸等の際に、計数する必要がある。従来、このような電子部品を計数するには、計数装置（チップカウンタ）が使用されている。この計数装置は、図７に示すように、テープ体１０１が巻回された一方のリール１０２からテープ体１０１を引出して、このテープ体１０１を他方のリール１０４に巻取るように構成されている。そして、この計数装置は、一方のリール１０２から他方のリール１０４に移動するテープ体１０１上の電子部品を、所定の一箇所において光学センサ１０５等により検出して計数するように構成されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０００−０２５７０９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、前述のような計数装置においては、リール１０２からテープ体１０１を引出して移動させながら、電子部品を１個ずつ検出し係数するため、巻取り、巻戻しの工数が必要となる。例えば、計数が１分間で完了するとしても、次の１分間で巻戻す必要がある。テープ体１０１を引き延ばしてセットするなどの時間を含めると、３分間乃至４間程度の時間を要する。
【０００６】
また、この計数装置においては、テープ体１０１を高速で巻取り、また、巻戻すため、テープ体１０１及び電子部品を損傷させる虞がある。
【０００７】
そこで、本発明は、前述の実情に鑑みて提案されるものであって、リールに巻回されたテープ体に貼付された複数の電子部品を、テープ体及び電子部品を損傷させることなく、迅速に、かつ、容易に計数することができる電子部品の計数装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明に係る電子部品の計数装置は、前記課題を解決するため、以下の構成のいずれか一を有するものである。
【０００９】
〔構成１〕
放射線を発生し複数の電子部品を含む被検体に向けて放出する放射線源及び被検体を透過した放射線を検出する放射線検出器を有する透視撮像手段と、放射線検出器により検出された放射線量の二次元分布を画像化しこの画像において電子部品の像を抽出する信号処理手段とを備え、被検体は、複数の電子部品が長手方向に並べられて貼付されリールに巻回されたテープ体であり、撮像された画像において抽出された電子部品の像に基づいて計数手段により電子部品の数を計数することを特徴とするものである。
【００１０】
〔構成２〕
構成１を有する電子部品の計数装置において、放射線検出器は、リールの半径に相当する長さのセンサラインを有するラインセンサであって、センサラインの方向をリールの半径方向となる状態を維持して、リールをテープ体とともに回転操作することにより、または、透視撮像手段を回転移動操作することにより、テープ体の全体を撮像することを特徴とするものである。
【００１１】
〔構成３〕
構成１、または、構成２を有する電子部品の計数装置において、計数手段は、因子分解法による画像解析手段により、電子部品の数を計数することを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１２】
構成１を有する本発明に係る電子部品の計数装置においては、透視撮像手段により、複数の電子部品が長手方向に並べられて貼付されリールに巻回されたテープ体を撮像し、撮像された画像において抽出された電子部品の像に基づいて電子部品の数を計数するので、テープ体の巻取り及び巻戻しが不要であり、テープ体及び電子部品を損傷させることなく、迅速に、かつ、容易に電子部品の数を計数することができる。
【００１３】
構成２を有する本発明に係る電子部品の計数装置においては、放射線検出器は、リールの半径に相当する長さのセンサラインを有するラインセンサであって、センサラインの方向をリールの半径方向となる状態を維持して、リールをテープ体とともに回転操作することにより、または、透視撮像手段を回転移動操作することにより、テープ体の全体を撮像するので、装置構成が簡素化でき、製造コストを低廉とすることができる。
【００１４】
構成３を有する本発明に係る電子部品の計数装置においては、電子部品の数の計数は、因子分解法による画像解析手段により行うので、三次元的に分布した電子部品を確実に、かつ、容易に計数することができる。
【００１５】
すなわち、本発明は、リールに巻回されたテープ体に貼付された複数の電子部品を、テープ体及び電子部品を損傷させることなく、迅速に、かつ、容易に計数することができる電子部品の計数装置を提供することができるものである。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明に係る電子部品の計測装置の構成を示す側面図である。
【図２】本発明に係る電子部品の計測装置における被検体となるリールに巻回されたテープ体を示す平面図である。
【図３】本発明に係る電子部品の計測装置の構成を示す斜視図である。
【図４】本発明に係る電子部品の計測装置において長いラインセンサを用いた構成を示す斜視図である。
【図５】本発明に係る電子部品の計測装置において短いラインセンサを用いた構成を示す斜視図である。
【図６】本発明に係る電子部品の計測装置において撮像された実際の画像を示す図である。
【図７】従来の電子部品の計測装置の構成を示す平面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
【００１８】
〔電子部品の計測装置の構成〕
図１は、本発明に係る電子部品の計測装置の構成を示す側面図である。
【００１９】
この電子部品の計測装置は、図１に示すように、Ｘ線などの放射線を発生し被検体に向けて放出する放射線源となるＸ線管１及び被検体を透過した放射線を検出する放射線検出器となるＸ線検出器４を有する透視撮像手段を備えている。
【００２０】
図２は、本発明に係る電子部品の計測装置における被検体となるリールに巻回されたテープ体を示す平面図である。
【００２１】
被検体は、図１及び図２に示すように、複数の電子部品１０３が長手方向に並べられて貼付されリール１０２に巻回されたテープ体１０１である。
【００２２】
Ｘ線管１は、放射状のＸ線ビームＸをテープ体１０１に向けて放射する。このＸ線管１は、Ｘ線制御装置２によって制御されている。Ｘ線制御装置２は、制御装置１０により制御される。
【００２３】
図３は、本発明に係る電子部品の計測装置の構成を示す斜視図である。
【００２４】
テープ体１０１は、図１及び図２に示すように、移動操作機構３上に設置される。この移動操作機構３は、テープ体１０１をＸ線ビームＸの放射範囲内においてＸ線ビームＸを横切る方向に移動させる。
【００２５】
なお、制御装置１０は、移動操作機構１１により、Ｘ線管１を移動操作することもできる。
【００２６】
テープ体１０１は、移動操作機構３により、図１において紙面に直交する方向及び紙面に沿う左右方向に移動操作される。Ｘ線管１より発せられ、テープ体１０１を透過したＸ線ビームＸは、Ｘ線検出器４により検出される。
【００２７】
Ｘ線検出器４としては、通常使用されている撮像管タイプのものを使用することができる。このタイプのＸ線検出器４は、感知部においてＸ線量に比例して帯電した電荷を電子ビームで走査して読み出すという原理で検出するものである。
【００２８】
Ｘ線ビームＸは、Ｘ線管１より発せられて放射状に拡散するビームであるので、テープ体１０１を透過した後も拡散してＸ線検出器４により検出される。したがって、Ｘ線検出器４においては、テープ体１０１の拡大透過像が検出される。このときの拡大率は、Ｘ線管１からテープ体１０１までの距離と、Ｘ線管１からＸ線検出器４までの距離との比率によって決まり、例えば、８乃至１０倍程度となされる。
【００２９】
Ｘ線検出器４は、２次元センサ（面センサ）であってもラインセンサであってもよい。Ｘ線検出器４が２次元センサである場合には、テープ体１０１及びＸ線管１を移動操作することなく、テープ体１０１の全体を透過した放射線量（Ｘ線量）の二次元分布を撮像することができる。この場合のＸ線検出器４としては、Ｘ線フラットパネルディテクタ、Ｘ線イメージ・インテンシファイヤ、ＭＣＰ（マルチチャンネルプレート）などがある。
【００３０】
図４は、本発明に係る電子部品の計測装置において長いラインセンサを用いた構成を示す斜視図である。
【００３１】
Ｘ線検出器４がラインセンサである場合には、図４に示すように、テープ体１０１を図４中矢印Ａで示す一方向に移動操作することにより、または、Ｘ線管１を移動操作することにより、テープ体１０１の全体を透過した放射線量（Ｘ線量）の二次元分布を時分割的に撮像することができる。テープ体１０１、または、Ｘ線管１を移動操作する方向は、Ｘ線検出器４のセンサライン４ａに直交する方向である。なお、テープ体１０１及びＸ線管１の両方を同時に移動操作するようにしてもよい。
【００３２】
図５は、本発明に係る電子部品の計測装置において短いラインセンサを用いた構成を示す斜視図である。
【００３３】
Ｘ線検出器４がラインセンサである場合には、図５に示すように、Ｘ線検出器４のセンサライン４ａの長さは、リール１０２の半径に相当する長さ（拡大率を考慮した長さ）であってもよい。この場合には、リール１０２をテープ体１０１とともに図５中矢印Ｂで示す一方向に回転操作することにより、または、Ｘ線管１及びＸ線検出器４を回転移動操作することにより、テープ体１０１の全体を透過した放射線量（Ｘ線量）の二次元分布を時分割的に撮像することができる。この場合には、Ｘ線検出器４のセンサライン４ａの方向がリール１０２の半径方向となる状態を維持して、リール１０２を回転操作し、または、Ｘ線管１及びＸ線検出器４を回転移動操作する。
【００３４】
Ｘ線検出器４は、図１に示すように、検出器コントローラ５に接続され、この検出器コントローラ５によって制御されるとともに、検出した放射線強度情報を増幅されるようになっている。検出器コントローラ５で増幅された放射線強度情報は、信号処理手段となる画像化回路６に供給される。画像化回路６は、Ｘ線検出器４の検出出力（放射線量の二次元分布）を画像信号に変換して表示装置７及び計数手段となる計数回路１２に送る。また、画像化回路６は、撮像された画像において電子部品１０３の像を抽出する。
【００３５】
図６は、本発明に係る電子部品の計測装置において撮像された実際の画像を示す図である。
【００３６】
このようにして、図６に示すように、リール１０２に巻回されたテープ体１０１及び電子部品１０３の像が得られる。
【００３７】
表示装置７は、画像化回路６から送られた信号に応じた画像を表示する。計数回路１２は、撮像された画像において抽出された電子部品１０３の像に基づいて、電子部品１０３の数を計数する。
【００３８】
この電子部品の計数装置において、１個のリール１０２に巻回されたテープ体１０１全体の電子部品１０３の数を計数は、例えば、１分間程度で完了する。
【００３９】
〔計測手法〕
計数回路１２による電子部品１０３の数の計数は、１個の電子部品１０３の投影面積（画素数）と撮像された全ての電子部品１０３の投影面積（画素数）とから割り出すことができる。すなわち、１個の電子部品１０３の撮像された画像における投影面積（画素数）は既知であるとする。そして、テープ体１０１の全体を撮像し、全ての電子部品１０３の投影面積（画素数）を求める。そして、全ての電子部品１０３の投影面積（画素数）を、一個の電子部品１０３の投影面積（画素数）によって除すれば、電子部品１０３の数量（個数）が求められる。
【００４０】
また、計数回路１２による電子部品１０３の数の計数は、例えば、因子分解法によって行うことができる。因子分解法は、統計学的の手法を含んでおり、観測データが合成量であると仮定し、個々の構成要素や特徴量を得ようとするものである。
【産業上の利用可能性】
【００４１】
本発明は、リールに巻回されたテープ体の長手方向に並べられて貼付された複数の電子部品の計数装置に適用される。
【符号の説明】
【００４２】
１  Ｘ線源（放射線源）
３  移動操作機構
４  Ｘ線検出器（放射線検出器）
６  画像化回路（信号処理手段）
１０  制御装置
１２  計数装置（計数手段）
１０１  テープ体
１０２  リール
１０３  電子部品
Ｘ    Ｘ線ビーム（放射線）
【図１】
2015043174.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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