(57)【要約】【課題】短い時間で主走査方向の位置ずれ量を検出する画像形成装置を提供する。【解決手段】画像形成装置は、像担持体に検出パターンを形成する形成手段と、検出パターンの検出結果から主走査方向の位置ずれ量を取得する取得手段と、を備えており、検出パターンは、第１領域において、主走査方向に対して第１角度の傾きの第１エッジを有し、第１領域とは主走査方向の位置が異なる第２領域において、主走査方向又は主走査方向に対して第１角度とは異なる第２角度の傾きの第２エッジを有し、第２エッジが形成される副走査方向の位置は、第１エッジが形成される副走査方向の範囲の端部の位置と、第１エッジが形成される副走査方向の範囲とは異なる位置のいずれか、或いは、その両方を含む。【選択図】図６
2015197610.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
像担持体に検出パターンを形成する形成手段と、
前記検出パターンを検出する検出手段と、
前記検出パターンの検出結果から主走査方向の位置ずれ量を取得する取得手段と、
を備えており、
前記検出パターンは、第１領域において、主走査方向に対して第１角度の傾きの第１エッジを有し、前記第１領域とは主走査方向の位置が異なる第２領域において、主走査方向又は主走査方向に対して前記第１角度とは異なる第２角度の傾きの第２エッジを有し、
前記第２エッジが形成される副走査方向の位置は、前記第１エッジが形成される副走査方向の範囲の端部の位置と、前記第１エッジが形成される副走査方向の範囲とは異なる位置のいずれか、或いは、その両方を含むことを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
前記第１エッジと前記第２エッジは、前記第１領域と前記第２領域の境界において接続していることを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記検出パターンは、前記第１領域において、前記第１エッジとは異なる副走査方向の位置に第３エッジを有し、前記第２領域において、前記第２エッジとは異なる副走査方向の位置に第４エッジを有し、
前記第３エッジと前記第１エッジとの副走査方向の距離は、主走査方向の位置が異なれば異なり、
前記第４エッジと前記第２エッジとの副走査方向の距離は、前記第３エッジと前記第１エッジとの副走査方向の距離の最大値以上又は最小値以下であることを特徴とする請求項１又は２に記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記取得手段は、前記検出手段が検出する２つのエッジの検出タイミングの差に基づき位置ずれ量を求めることを特徴とする請求項３に記載の画像形成装置。
【請求項５】
前記第４エッジと前記第２エッジとの副走査方向の距離は、主走査方向の位置によらず所定値であることを特徴とする請求項３又は４に記載の画像形成装置。
【請求項６】
前記第４エッジ及び前記第２エッジは主走査方向のエッジであることを特徴とする請求項３から５のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項７】
前記第３エッジは主走査方向のエッジであることを特徴とする請求項３から６のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項８】
前記第３エッジは、主走査方向に対して前記第１エッジと線対称であることを特徴とする請求項３から７のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項９】
前記検出パターンの検出結果から、前記検出手段が前記第１領域を検出したのか前記第２領域を検出したのかを判定する判定手段と、
前記取得手段が取得した位置ずれ量により位置ずれ補正を行う補正手段と、
前記判定手段が前記第２領域を検出したと判定すると、前記補正手段による位置ずれ補正の後、前記形成手段により前記検出パターンを前記像担持体に形成させて前記補正手段による位置ずれ補正を再度行う様に制御する制御手段と、
をさらに備えていることを特徴とする請求項１から８のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項１０】
前記検出パターンの検出結果から、前記検出手段が前記第１領域を検出したのか前記第２領域を検出したのかを判定する判定手段と、
前記判定手段が前記第１領域を検出したと判定すると、前記取得手段が取得した位置ずれ量により位置ずれ補正を行い、前記判定手段が前記第２領域を検出したと判定すると、所定の位置ずれ量により位置ずれ補正を行う補正手段と、
前記判定手段が前記第２領域を検出したと判定すると、前記補正手段による位置ずれ補正の後、前記形成手段により前記検出パターンを前記像担持体に形成させて前記補正手段による位置ずれ補正を再度行う様に制御する制御手段と、
をさらに備えていることを特徴とする請求項１から８のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項１１】
前記制御手段は、前記判定手段が前記第１領域を検出したと判定するまで、前記形成手段により前記検出パターンを前記像担持体に形成させる制御を繰り返すことを特徴とする請求項９又は１０に記載の画像形成装置。
【請求項１２】
前記判定手段は、前記取得手段が取得した位置ずれ量の絶対値が所定値以上であると、前記第２領域を検出したと判定することを特徴とする請求項９から１１のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項１３】
前記検出パターンの検出結果から、前記検出手段が前記第１領域を検出したのか前記第２領域を検出したのかを判定する判定手段と、
前記取得手段が取得した位置ずれ量により位置ずれ補正を行う補正手段と、
をさらに備えており、
前記取得手段は、前記検出パターンの検出結果と前記検出手段が検出した領域に基づき、位置ずれ量を取得することを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項１４】
前記検出パターンは、前記第２領域において、前記第２エッジとは異なる副走査方向の位置に主走査方向に対して傾いた第５エッジを有することを特徴とする請求項１３に記載の画像形成装置。
【請求項１５】
前記検出パターンは、前記第１領域において、前記第１エッジとは異なる副走査方向の位置に第３エッジを有し、前記第２領域において前記第２エッジ及び前記第５エッジとは異なる副走査方向の位置に第４エッジを有し、
前記第３エッジと前記第１エッジとの副走査方向の距離は、主走査方向の位置が異なれば異なり、
前記第４エッジと前記第２エッジとの副走査方向の距離は、主走査方向によらず所定長であり、
前記第４エッジと前記第５エッジとの副走査方向の距離は、主走査方向の位置が異なれば異なることを特徴とする請求項１４に記載の画像形成装置。
【請求項１６】
前記判定手段は、副走査方向のエッジ間の距離として前記所定長を検出すると、前記第２領域を検出していると判定し、前記所定長を検出しないと、前記第１領域を検出していると判定し、
前記取得手段は、前記判定手段が前記第１領域を検出したと判定すると、前記検出手段が検出する前記第３エッジと前記第１エッジとの検出タイミングの差に基づき位置ずれ量を求め、前記判定手段が前記第２領域を検出したと判定すると、前記検出手段が検出する前記第４エッジと前記第５エッジの検出タイミングの差に基づき位置ずれ量を求めることを特徴とする請求項１５に記載の画像形成装置。
【請求項１７】
前記第１エッジは、主走査方向の位置が正側に移動すると、前記像担持体の移動方向の下流側に向かう形状であり、前記第５エッジは、主走査方向の位置が正側に移動すると、前記像担持体の移動方向の上流側に向かう形状であることを特徴とする請求項１５又は１６に記載の画像形成装置。
【請求項１８】
前記第２角度は零より大きく、かつ、前記第１角度より小さいことを特徴とする請求項１３に記載の画像形成装置。
【請求項１９】
前記検出パターンは、前記第１領域において、前記第１エッジとは異なる副走査方向の位置に第３エッジを有し、前記第２領域において、前記第２エッジとは異なる副走査方向の位置に第４エッジを有し、
前記第３エッジと前記第１エッジとの副走査方向の距離は、主走査方向の位置が異なれば異なり、
前記第４エッジと前記第２エッジとの副走査方向の距離は、主走査方向の位置が異なれば異なり、かつ、前記第３エッジと前記第１エッジとの副走査方向の距離の最大値以上又は最小値以下であることを特徴とする請求項１８に記載の画像形成装置。
【請求項２０】
前記判定手段は、前記検出手段が検出する２つのエッジの検出タイミングの差により検出している領域を判定することを特徴とする請求項１９に記載の画像形成装置。
【請求項２１】
前記第２領域は、主走査方向において前記第１領域の両側に設けられることを特徴とする請求項１から２０のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項２２】
像担持体に検出パターンを形成する形成手段と、
前記検出パターンを検出する検出手段と、
前記検出パターンの検出結果から主走査方向の位置ずれ量を取得する取得手段と、
を備えており、
前記検出パターンは、基準画像と、前記基準画像に対する副走査方向の距離が主走査方向の位置により異なる第１画像と、前記第１画像とは主走査方向の位置が異なり、かつ、前記基準画像に対する副走査方向の距離が、前記基準画像と前記第１画像の副走査方向の距離の最大値以上又は最小値以下である第２画像を有することを特徴とする画像形成装置。
【請求項２３】
前記第１画像と前記第２画像は、互いに接していることを特徴とする請求項２２に記載の画像形成装置。
【請求項２４】
前記検出手段が検出した２つの画像の副走査方向の距離に基づき、前記検出手段が前記第１画像を検出しているか、前記第２画像を検出しているかを判定する判定手段と、
前記判定手段が前記第１画像を検出していると判定すると、前記取得手段が取得する前記基準画像と前記第１画像との距離に応じた位置ずれ量に基づき位置ずれ補正を行い、前記判定手段が前記第２画像を検出していると判定すると、所定の位置ずれ量に基づき位置ずれ補正を行う補正手段と、
前記判定手段が前記第２画像を検出していると判定すると、前記補正手段による位置ずれ補正の後、前記形成手段により前記検出パターンを前記像担持体に形成させて前記補正手段による位置ずれ補正を再度行う様に制御する制御手段と、
をさらに備えていることを特徴とする請求項２２又は２３に記載の画像形成装置。
【請求項２５】
前記制御手段は、前記判定手段が前記第１画像を検出したと判定するまで、前記形成手段により前記検出パターンを前記像担持体に形成させる制御を繰り返すことを特徴とする請求項２４に記載の画像形成装置。
【請求項２６】
前記第２画像は、前記基準画像に対する副走査方向の距離が主走査方向の位置により異なり、前記基準画像に対する傾きが、前記第１画像の前記基準画像に対する傾きより小さいことを特徴とする請求項２２又は２３に記載の画像形成装置。
【請求項２７】
像担持体に検出パターンを形成する形成手段と、
前記検出パターンを検出する検出手段と、
前記検出パターンの検出結果から主走査方向の位置ずれ量を取得する取得手段と、
を備えており、
前記検出パターンは、基準画像と、前記基準画像に対する副走査方向の距離が主走査方向の位置による異なる第１画像と、前記第１画像とは主走査方向の位置が異なり、かつ、前記第１画像とは、濃度、副走査方向の幅、副走査方向における数及び副走査方向の間隔の少なくとも１つが異なる第２画像を有することを特徴とする画像形成装置。
【請求項２８】
前記検出手段が検出した画像の濃度、副走査方向の幅、副走査方向における数及び副走査方向の間隔のいずれかに基づき、前記検出手段が前記第１画像を検出しているか、前記第２画像を検出しているかを判定する判定手段と、
前記判定手段が前記第１画像を検出していると判定すると、前記取得手段が取得する前記基準画像と前記第１画像との距離に応じた位置ずれ量に基づき位置ずれ補正を行い、前記判定手段が前記第２画像を検出していると判定すると、所定の位置ずれ量に基づき位置ずれ補正を行う補正手段と、
前記判定手段が前記第２画像を検出していると判定すると、前記補正手段による位置ずれ補正の後、前記形成手段により前記検出パターンを前記像担持体に形成させて前記補正手段による位置ずれ補正を再度行う様に制御する制御手段と、
をさらに備えていることを特徴とする請求項２７に記載の画像形成装置。
【請求項２９】
像担持体に、第１画像及び前記第１画像とは主走査方向の位置が異なる第２画像を含む検出パターンを形成する形成手段と、
前記検出パターンを検出する検出手段と、
前記検出手段が前記第１画像を検出しているか、前記第２画像を検出しているかを判定する判定手段と、
前記判定手段が前記第１画像を検出していると判定すると、前記検出パターンの検出結果から求めた位置ずれ量に基づき位置ずれ補正を行い、前記判定手段が前記第２画像を検出していると判定すると、所定の位置ずれ量に基づき位置ずれ補正を行う補正手段と、
前記判定手段が前記第２画像を検出していると判定すると、前記補正手段による位置ずれ補正の後、前記形成手段により前記検出パターンを前記像担持体に形成させて前記補正手段による位置ずれ補正を再度行う様に制御する制御手段と、
を備えていることを特徴とする画像形成装置。
【請求項３０】
前記判定手段は、検出した画像の濃度、副走査方向の幅、副走査方向における数及び副走査方向の間隔のいずれかに基づき、前記検出手段が前記第１画像を検出しているか、前記第２画像を検出しているかを判定することを特徴とする請求項２９に記載の画像形成装置。
【請求項３１】
前記判定手段は、画像の検出タイミングに基づき前記検出手段が前記第１画像を検出しているか、前記第２画像を検出しているかを判定することを特徴とする請求項２９に記載の画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像形成装置における色ずれ補正技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子写真方式の画像形成装置として、各色の画像形成部を独立して設けた、所謂、タンデム方式が知られている。このタンデム方式の画像形成装置では、各色の画像形成部から順次中間転写ベルトに画像を転写し、更に中間転写ベルトから記録材に一括して画像を転写する構成がとられている。この様な画像形成装置では、各色の画像形成部における機械的要因により、画像を重ね合わせたときに色ずれ（位置ずれ）が生じ得る。位置ずれを補正するため、画像形成装置では、各色の検出用パターンを中間転写ベルト上に形成して主走査方向や副走査方向の位置ずれ量を求めて位置ずれを補正する。
【０００３】
特許文献１は、主走査方向に対して一定角度の斜線を含む検出パターンを使用して主走査方向の位置ずれ量を求める構成を開示している。例えば、主走査方向に対して対称な２つの斜線間の距離や、１つの斜線と主走査方向の線との距離は、主走査方向の位置ずれにより理想的な値からずれる。したがって、このずれ量を検出することで主走査方向の位置ずれ量を求めることができる。この様な検出パターンでは、その副走査方向の長さは、想定される主走査方向の位置ずれ量の最大値に応じて大きくなる。検出パターンの副走査方向の長さが長くなると、検出パターンの検出時間が増大する。さらに、中間転写ベルトの長さによっては、総ての色の検出パターンを中間転写ベルトの１周内に配置できなくなる。
【０００４】
このため、特許文献２は、同じ傾きの２つの斜線を含む検出パターンにより、検出パターンの副走査方向の長さを短くする構成を開示している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００１−３５６５４２号公報
【特許文献２】特開２００９−０５３５００号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
検出できる主走査方向の位置ずれ量の最大値が同じである場合、特許文献２が開示する検出パターンは、主走査方向に４５度だけ傾けた斜線による検出パターンと比較して副走査方向の長さを２／３にすることができる。しかしながら、さらに、副走査方向の長さを短くし、主走査方向の位置ずれ量を短い時間で検出することが望まれている。
【０００７】
本発明は、短い時間で主走査方向の位置ずれ量を検出する画像形成装置を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の一側面によると、画像形成装置は、像担持体に検出パターンを形成する形成手段と、前記検出パターンを検出する検出手段と、前記検出パターンの検出結果から主走査方向の位置ずれ量を取得する取得手段と、を備えており、前記検出パターンは、第１領域において、主走査方向に対して第１角度の傾きの第１エッジを有し、前記第１領域とは主走査方向の位置が異なる第２領域において、主走査方向又は主走査方向に対して前記第１角度とは異なる第２角度の傾きの第２エッジを有し、前記第２エッジが形成される副走査方向の位置は、前記第１エッジが形成される副走査方向の範囲の端部の位置と、前記第１エッジが形成される副走査方向の範囲とは異なる位置のいずれか、或いは、その両方を含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
短い時間で主走査方向の位置ずれ量を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】一実施形態による画像形成装置の概略的な構成図。
【図２】一実施形態による検出センサの配置を示す図。
【図３】一実施形態による画像形成装置の制御構成図。
【図４】主走査方向の位置ずれの説明図。
【図５】一実施形態による位置ずれ補正制御のフローチャート。
【図６】一実施形態による検出パターンを示す図。
【図７】一実施形態による検出パターンの検出方法の説明図。
【図８】一実施形態による実際の位置ずれ量と検出した位置ずれ量との関係を示す図。
【図９】一実施形態による検出パターンを示す図。
【図１０】一実施形態による検出パターンを示す図。
【図１１】一実施形態による検出パターンを示す図。
【図１２】一実施形態による実際の位置ずれ量と検出した位置ずれ量との関係を示す図。
【図１３】一実施形態による検出パターンを示す図。
【図１４】一実施形態による領域の判定の説明図。
【図１５】一実施形態による位置ずれ量の判定処理のフローチャート。
【図１６】一実施形態による検出パターンを示す図。
【図１７】一実施形態による位置ずれ補正制御のフローチャート。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明の例示的な実施形態について図面を参照して説明する。なお、以下の実施形態は例示であり、本発明を実施形態の内容に限定するものではない。また、以下の各図においては、実施形態の説明に必要ではない構成要素については図から省略する。
【００１２】
＜第一実施形態＞
図１は、本実施形態における画像形成装置の画像形成部の構成図である。なお、参照符号の末尾の英文字ａ、ｂ、ｃ及びｄは、それぞれ、当該部材がイエロー（Ｙ）、マゼンタ（Ｍ）、シアン（Ｃ）、ブラック（Ｂｋ）の現像剤像を形成するためのものであることを示している。また、色を区別する必要が無い場合には、末尾の英文字ａ、ｂ、ｃ及びｄを除いた参照符号を使用する。感光体２２は、像担持体であり回転駆動される。帯電ローラ２３は、対応する感光体２２の表面を一様な電位に帯電させる。一例として、帯電ローラ２３が出力する帯電バイアスは−１２００Ｖであり、これにより、感光体２２の表面は−７００Ｖ（暗電位）の電位に帯電される。露光部２０は、形成する画像の画像データに応じたレーザ光で感光体２２の表面を走査して露光することで、感光体２２に静電潜像を形成する。一例として、レーザ光での露光により、静電潜像が形成されている箇所の電位は−１００Ｖ（明電位）となる。現像部２５は、それぞれ、対応する色の現像剤を有し、現像スリーブ２４により、感光体２２上に形成された静電潜像に現像剤を供給することで、感光体２２の静電潜像を現像する。一例として、現像スリーブ２４が出力する現像バイアスは−３５０Ｖであり、この電位により現像部２５は現像剤を静電潜像に付着させる。１次転写ローラ２６は、感光体２２に形成された現像剤像を、像担持体であり、ローラ３１、３２及び３３により周回駆動される中間転写ベルト３０に１次転写する。一例として、１次転写ローラ２６が出力する１次転写バイアスは＋１０００Ｖであり、この電位により１次転写ローラ２６は現像剤を中間転写ベルト３０に転写する。なお、このとき、各感光体２２の現像剤像を重ね合わせて中間転写ベルト３０に転写することでカラー画像が形成される。
【００１３】
２次転写ローラ２７は、搬送路１８を搬送される記録材１２に、中間転写ベルト３０の現像剤像を２次転写する。定着ローラ対１６及び１７は、記録材１２に転写された現像剤像を加熱定着する。ここで、２次転写ローラ２７によって、中間転写ベルト３０から記録材１２に転写されなかった現像剤は、クリーニングブレード３５によって容器３６に回収される。また、位置ずれ補正制御を行うため、検出センサ６が中間転写ベルト３０に対向して設けられている。
【００１４】
なお、露光部２０は、レーザではなく、ＬＥＤアレイ等により感光体２２を露光する形態とすることができる。また、中間転写ベルト３０を設けるのではなく、各感光体２２の現像剤像を記録材１２に直接転写する記録材搬送ベルトを有する構成の画像形成装置であっても良い。
【００１５】
本実施形態において、検出センサ６は、図２に示す様に、主走査方向に配置された２つの検出センサ６Ｌと６Ｒを備えている。検出センサ６Ｌは、感光体２２への静電潜像の形成開始位置近傍に対応する位置に配置され、検出センサ６Ｒは、感光体２２への静電潜像の形成終了位置近傍に対応する位置に配置されている。検出センサ６Ｌ及び６Ｒは、それぞれ、発光素子、例えば、ＬＥＤと、受光素子、例えば、フォトトランジスタを備えている。発光素子からの光は中間転写ベルト３０の表面や、中間転写ベルト３０の表面に形成された検出パターンで反射し、受光素子はこの反射光を受光し、受光量を示す信号を出力する。なお、本実施形態において、受光素子は、中間転写ベルト３０の表面や、その表面に形成された検出パターンでの正反射光を受光するものとするが、乱反射光を受光するものであっても良い。さらには、正反射光と乱反射光を受光する２つの受光素子を有するものであっても良い。
【００１６】
図３は、本実施形態による位置ずれ補正に関する制御構成を示す図である。制御部１は、位置ずれ補正制御の動作を統括的に制御する。ＣＰＵ２は、ＲＡＭ３を主メモリ、ワークエリアとして利用し、ＥＥＰＲＯＭ４に格納される位置ずれ補正動作に関わる各種データに従い、各ブロックを制御する。画像形成部４１は、位置ずれ補正制御において、ＥＥＰＲＯＭ４に格納された検出パターンを示す画像データに基づき図１の各部を制御して中間転写ベルト３０に検出パターンを形成する。なお、本実施形態において、検出パターンは、中間転写ベルト３０の各側、つまり、検出センサ６Ｌ及び６Ｒが検出できる位置にそれぞれ形成される。検出センサ６Ｌ及び６Ｒは、反射光量に応じた信号を検出センサ制御部４５に出力する。検出センサ制御部４５は、反射光量に応じた信号を閾値判定し、検出パターンのエッジの検出タイミングを制御部１に出力する。制御部１は、検出パターンのエッジの検出タイミングから位置ずれ量を求める。求められた位置ずれ量は、ＥＥＰＲＯＭ４に格納される。
【００１７】
なお、以下の説明では、本実施形態が対象とする主走査方向の位置ずれ補正についてのみ説明し、副走査方向の位置ずれ補正に関する説明は省略する。よって、以下の説明における位置ずれ量や、位置ずれ補正とは、特に明記しない限り主走査方向についてのものとする。図４に示す様に、主走査方向の位置ずれは、理想的な画像に対して主走査方向の開始位置がずれる書出し位置のずれと、理想的な画像に対して主走査方向の長さが変化する倍率ずれにより生じる。ここで、書出し位置のずれは、露光部２０と感光体２２の相対的な位置関係が変化する等の理由により生じる。また、倍率ずれは、露光部２０と感光体２２との距離の変化等により生じる。
【００１８】
以下、本実施形態による位置ずれ補正制御について説明する。なお、以下に説明する位置ずれ補正制御は、各色についてそれぞれ実行する。図５は、本実施形態による位置ずれ補正制御のフローチャートである。位置ずれ補正の開始により、制御部１は、Ｓ１０で、画像形成部４１により検出パターンを中間転写ベルト３０に形成させる。なお、位置ずれ補正制御は、例えば、電源投入時や、連続印刷等により画像形成装置内の温度が所定値以上変動したとき等の所定の条件に適合した際に実行される。
【００１９】
図６は、本実施形態による検出パターンを示している。検出パターンは、基準画像７１と検出画像７２を含んでいる。基準画像７１は、中間転写ベルト３０の移動方向と直交する方向、つまり、主走査方向のライン状の画像である。また、基準画像７１は、主走査方向の２つのエッジを有する画像である。検出画像７２は、主走査方向に対して４５度の角度のライン状の第１画像７２１と、第１画像７２１の両側において基準画像７１と平行なライン状の第２画像７２２とを有する画像である。なお、以下では第１画像７２１が形成される領域を領域Ｃと呼び、第２画像７２２が形成される領域Ｃの両側の領域をそれぞれ領域Ｌ及び領域Ｒと呼ぶ。図６において第２画像７２２は、第１画像７２１と領域の境界において接続している。しかし、基準画像７１と第２画像７２２との副走査方向の距離が、基準画像７１と第１画像７２１との副走査方向の距離の最大値以上であるか、最小値以下であれば、第２画像７２２と第１画像７２１は領域の境界において接続していなくとも良い。
【００２０】
なお、図６の例では、領域Ｌ、Ｃ及びＲの主走査方向の長さをそれぞれ５０ドットとしている。また、第２画像７２２の副走査方向の長さと、基準画像７１の副走査方向の長さと、領域Ｒにおける基準画像７１と検出画像７２との間隔は、基準画像７１及び検出画像７２を確実に検出できるように１０ドットとしている。したがって、本実施形態の検出パターンは、主走査方向の長さＸが１５０ドットであり、副走査方向の長さＹが８０ドットである。例えば、６００ｄｐｉであると、長さＸは約６．４ｍｍであり、長さＹは約３．４ｍｍである。また、図６の点線は、検出センサ６の検出位置を示している。つまり、検出センサ６は、図６の点線に沿って検出パターンを検出する。なお、図６及び以下の説明において使用する図６と類似した図において、検出センサ６とは、検出センサ６Ｌ及び６Ｒの総称である。
【００２１】
図５に戻り、Ｓ１１で、検出センサ制御部４５は、検出センサ６の出力から検出パターンのエッジを検出する。図７は、検出パターンが中間転写ベルト３０の移動により、検出センサ６の検出領域を通過した際に、検出センサ６が出力する信号を簡略化して示したものである。検出パターンの画像が検出センサ６の検出領域に入ると正反射光が減少するため検出センサ６の出力もそれ以外のときより小さくなる。図７において参照符号８１で示す出力の減少は基準画像７１によるものであり、参照符号８２で示す出力の減少は検出画像７２によるものである。制御部１は、例えば、最初の立下りと立ち上がりの中心を基準画像７１の検出時刻とし、次の立下りと立ち上がりの中心を検出画像７２の検出時刻とし、その差を検出値Ｔとする。なお、信号の立下りや立ち上がりのいずれか、つまり、エッジの検出時刻を基準画像７１や検出画像７２の検出時刻とすることもできる。また、実際の検出センサ６の出力は、検出パターンの画像が検出センサ６の検出領域に入るに従って徐々に減少し、検出パターンの画像が検出センサ６の検出領域から抜けるに従って徐々に増加し、図７の様に急激に変化しない。しかしながら、検出センサ制御部４５は、検出センサ６の出力をコンパレータで閾値と比較して２値化することで図７の様な信号波形を得る。制御部１は、検出値ＴをＲＡＭ３に保存する。
【００２２】
図５に戻り、制御部１は、Ｓ１２で検出センサ６Ｒによる検出値Ｔから位置ずれ量ｘＲを求め、検出センサ６Ｌによる検出値Ｔから位置ずれ量ｘＬを求める。なお、以下の説明において、位置ずれ量ｘＬ及びｘＲを纏めて位置ずれ量ｘとする。例えば、領域Ｃの第１画像７２１は主走査方向に対して４５度傾いているので、検出パターンが理想的な位置にある場合の検出値をＴ０、中間転写ベルト３０の移動速度をＶｐとすると位置ずれ量（距離）ｘは、ｘ＝（Ｔ−Ｔ０）×Ｖｐで求められる。なお、図６の検出パターンにおいて、検出パターンが理想的な位置から右方向にずれると、検出値Ｔの値は大きくなり、（Ｔ−Ｔ０）の値は正となる。また、検出パターンが理想的な位置から左方向にずれると、検出値Ｔの値は小さくなり、（Ｔ−Ｔ０）の値は負となる。つまり、位置ずれ量ｘの正負により、検出パターンの理想位置からのずれの方向が分かり、位置ずれ量ｘの絶対値によりそのずれ量が分かる。
【００２３】
図８の参照符号９１で示す線は、検出パターンの理想位置からの実際の位置ずれ量と、検出パターンにより検出される位置ずれ量ｘとの関係を示している。なお、検出パターンの理想位置は、領域Ｃの主走査方向の中心が検出センサ６で検出される位置とし、図８では、距離をドット数で示している。図６の領域Ｃの長さは５０ドットであるため、主走査方向の実際の位置ずれが−２５ドットから２５ドットの範囲であれば、位置ずれ量を正しく検出できる。しかしながら、実際の位置ずれ量の絶対値が２５ドットより大きい場合には、常に、その正負に応じて−２５ドット又は２５ドットの位置ずれ量として検出される。つまり、位置ずれにより、領域Ｒや領域Ｌが検出センサ６の検出領域にあると、実際の位置ずれ量に拘らず、検出される位置ずれ量ｘは−２５ドット又は＋２５ドットとなる。なお、図８の参照符号９０は、領域Ｌ及びＲを設けず、検出画像７２を傾いた画像のみとした場合に、実際に発生している位置ずれ量と検出する位置ずれ量ｘの関係を示しいている。検出画像７２を傾いた画像のみとすることで、実際の位置ずれ量の絶対値が２５ドットより大きくても、位置ずれ量を正しく検出することができるが、この場合、検出パターンに必要な副走査方向の長さＹは１８０ドットとなる。つまり、図６の検出パターンの長さＹ＝８０ドットの２倍以上の長さが必要になる。
【００２４】
図５に戻り、制御部１は、Ｓ１３で、位置ずれ量ｘＬ及びｘＲから倍率ずれの値を求めて倍率ずれの補正を行う。なお、倍率ずれ値ｘｗ＝ｘＲ−ｘＬであり、理想的な主走査方向の長さからのずれ量である。制御部１は、倍率ずれ値ｘｗに基づき画像形成のためのクロックを補正して、主走査方向の長さが理想的な長さとなる様に制御する。続いて、制御部１は、Ｓ１４で位置ずれ量ｘＬ及びｘＲから書き出し位置のずれ量を算出して書出し位置のずれを補正する。なお、書き出し位置のずれ量ｘｔｏｐは（ｘＬ＋ｘＲ）／２として求める。これは、２つの位置ずれ値ｘＬ及びｘＲの平均値である。
【００２５】
図５のＳ１２で検出する位置ずれ量ｘは、図８を用いて説明した様に、領域Ｒ及び領域Ｌを検出センサ６が検出していると上限値又は下限値になる。例えば、図８において上限値は＋２５ドットであり、下限値は−２５ドットである。したがって、Ｓ１２で検出した位置ずれ量ｘが、この下限値又は上限値であると、Ｓ１３及びＳ１４における補正は、実際の位置ずれ量に基づくものではない可能性が高く、よって、位置ずれが正しく補正されていない可能性が高い。したがって、制御部１は、Ｓ１５において、位置ずれ量が上限値未満、かつ、下限値より大きいかを判定し、そうであれば、正しく補正されたものとして処理を終了する。一方、位置ずれ量が下限値又は上限値であると、十分な補正が行われていない可能性が高いため、Ｓ１０からの処理を再度行う。
【００２６】
例えば、全体倍率ずれが０であり、書き出し位置のずれ量が＋６０ドットである場合を考える。この場合、実際の位置ずれ量ｘＬ及びｘＲは共に＋６０ドットである。しかしながら、図６の検出パターンを用いると、制御部１が検出する位置ずれ量ｘＬ及びｘＲは共に＋２５ドットなり、１回目の書き出し位置補正では、書き出し位置が２５ドットだけ補正される。これにより、実際の書き出し位置のずれ量は＋３５ドットとなる。制御部１は、２回目のＳ１２で位置ずれ量ｘＬ及びｘＲとして＋２５ドットを検出し、よって、２回目の補正後の書き出し位置のずれ量は＋１０ドットなる。したがって、３回目において、制御部１は、位置ずれ量ｘＬ及びｘＲとして共に＋１０ドットを検出し、３回目の書き出し位置補正により補正が完了する。
【００２７】
以上、検出パターンの検出結果から位置ずれ量を取得する。また、位置ずれ量に基づき検出しているのが領域Ｃであるのか、領域Ｌ又はＲであるのかを判定する。言い換えると、基準画像に対する検出画像の検出タイミングにより、検出しているのが領域Ｃであるのか、領域Ｌ又はＲであるのかを判定する。領域Ｃを検出している場合、実際の位置ずれ量を取得しているので、制御部１は、取得した位置ずれ量に基づき位置ずれ補正を行う。一方、領域Ｌ又はＲを検出している場合、取得している位置ずれ量より実際の位置ずれ量は大きい。したがって、取得している位置ずれ量により位置ずれ補正を行った後、再度、検出パターンを形成して位置ずれ補正を行うことで、実際に生じている位置ずれを補正する。なお、本実施形態では、検出した位置ずれ量により領域Ｌ又は領域Ｒを検出しているかを判定し、領域Ｌ又はＲを検出していると、検出した位置ずれ量により補正を行っていた。しかしながら、領域Ｌ又はＲを検出していると、検出した位置ずれ量ではなく所定量の位置ずれ量により補正を行う形態とすることもできる。例えば、図６の例では、２５ドットの位置ずれ量を検出すると、３０ドットの位置ずれ補正を行う構成とすることができる。
【００２８】
本実施形態による検出パターンにより、検出パターンの副走査方向の長さを短くすることができる。例えば、図６の例では検出パターンの副走査方向の長さＹ＝８０ドットであり、図８の参照符号９０に対応する検出パターンの副走査方向の長さＹ＝１８０ドットと比較して約４４％程度にまで短縮化できる。なお、これは１色分の値であり、画像形成に使用する総ての色では４００ドットの長さを削減できる。さらに、実際の位置ずれ補正では、感光体２２の１回転周期の速度変動成分を相殺するために、各色について検出パターンを複数回形成する。したがって、削減できる長さは形成する回数に応じて増加する。
【００２９】
なお、本実施形態の検出パターンでは、実際に発生している位置ずれ量の絶対値が所定値以上であると、検出パターンの形成と位置ずれ補正を複数回、繰り返す必要がある。しかしながら、比較的大きな位置ずれが発生するのは製造時や部品交換時であり、これらの発生頻度はそれ程高くない。したがって、１回の処理で検出できる位置ずれ量の範囲を、画像形成装置の通常の使用で発生する範囲とし、製造時や部品交換時に発生し得る大きな位置ずれについてはその範囲外となる様に設定する。これにより、検出パターンの形成と補正が複数回、繰り返されることの発生頻度を抑えつつ、検出パターンの副走査方向の長さを短くすることができる。なお、本実施形態において、主走査方向での大きな位置ずれを検出するためには、図６の領域Ｌ及びＲを長くすれば良く、主走査方向のサイズを拡大するのみで、副走査方向のサイズを拡大する必要はない。
【００３０】
なお、図５のＳ１５において、繰り返しの判断を検出可能範囲の上限値及び下限値と比較することで行ったが、上限値と下限値のいずれか又は両方に、検出可能範囲が狭くなる方向のマージンを持たせても良い。例えば、下限値及び上限値がそれぞれ−２５ドット及び＋２５ドットである場合において、位置ずれ量を−２３ドット及び＋２３ドットと比較して、繰り返しを行うか否かを判定することができる。
【００３１】
また、図６の検出パターンの領域Ｃは、主走査方向に対して４５度の傾きとしたが、傾きの角度はその他の値であっても良い。さらに、図６の検出パターンでは、領域Ｃの両側に領域Ｌ及びＲを設けたが、ずれの方向が同じである場合には、領域Ｌと領域Ｒのいずれかのみを設ける構成であっても良い。また、図６の検出パターンにおいて基準画像７１は、主走査方向に平行な直線上の画像とした。しかしながら、基準画像７１と第１画像７２１との副走査方向の距離が主走査方向の位置に応じて変化し、かつ、基準画像７１と第２画像７２２との副走査方向の距離が主走査方向の位置によらず所定値であれば良い。なお、当該所定値は、基準画像７１と第１画像７２１との副走査方向の距離の最大値以上か最小値以下とする。さらに、領域Ｒと領域Ｌの２つの領域を領域Ｃの両側に設ける場合は、領域Ｌにおける基準画像７１と第２画像７２２との副走査方向の距離と、領域Ｒにおける基準画像７１と第２画像７２２との副走査方向の距離とは互いに異ならせる。これにより、制御部１は、検出している領域を判定でき、領域Ｒや領域Ｌを検出している場合には、検出した位置ずれ量による補正では不十分と判定して、領域Ｃを検出するまで位置ずれ補正を繰り返すことができる。よって、図９に示す様に、検出画像７２と主走査方向のラインに対して線対称な基準画像７１を使用することもできる。
【００３２】
なお、図６の検出パターンでは第１画像７２１と第２画像７２２は互いに接続し、第２画像は主走査方向と平行であった。しかしながら、第２画像７２２は、主走査方向に対し第１画像７２１と同じ方向に、第１画像７２１より小さい角度で傾いていても良い。第２画像７２２を第１画像７２１より小さい角度で傾けても検出パターンの副走査方向の長さを短くできる。また、第２画像７２２を第１画像７２１と接続しない様にすることもできる。例えば、図６の領域Ｒの第２画像７２２を、第１画像７２１の基準画像７１側の端部より基準画像７１側に移動させた位置に形成しても良い。領域Ｌの第２画像７２２についても同様の考え方を適用できる。つまり、第２画像７２２については、第１画像７２１の副走査方向の端部と、第１画像７２１の副走査方向の位置以外の位置のいずれか、或いは、その両方を含む範囲に形成すれば良い。この構成により、第１画像７２１を検出したと仮定して取得した位置ずれ量から、検出した領域がいずれであるかを判定できる。なお、位置ずれ量から検出した領域を判定するのではなく、単純に、検出した２つのエッジ又は２つの画像の検出タイミングの差により検出した領域を判定しても良い。
【００３３】
さらに、図１０に示す様に、図６の基準画像７１と検出画像７２との間も総て現像剤を付着させた１つの検出画像７６のみとすることもできる。図１０の検出パターンでは、中間転写ベルト３０の移動方向において、下流側の検出画像７６のエッジを検出してから、上流側のエッジを検出するまでの時間を、基準値と比較することで位置ずれ量を求めることができる。また、図１０の検出画像の周囲の部分のみに現像剤を付着させた検出パターンとすることもできる。また、上記例では、中間転写ベルト３０の移動方向において、基準画像を検出画像の下流側に設けていたが、上流側に設ける構成であっても良い。
【００３４】
＜第二実施形態＞
以下、第二実施形態について第一実施形態との相違点を中心に説明する。第一実施形態では、主走査方向の位置ずれ量が大きく、図６の領域Ｌや領域Ｒが検出センサ６の検出位置に来ると、検出される位置ずれ量は、検出可能範囲の上限値又は下限値となり、よって、この場合には図５の処理を繰り返していた。本実施形態では、図６の検出パターンと異なり、図１１に示す様に、領域Ｌ及び領域Ｒの第２画像７２２も主走査方向に対して傾きを持たせる。この構成により、領域Ｌ及び領域Ｒが検出センサ６の位置に来ても、位置ずれ量ｘを求めることができる。なお、第２画像７２２の主走査方向に対する傾きの角度は第１画像７２１の主走査方向に対する角度より小さくする。これにより副走査方向における長さを抑えつつ、第一実施形態における処理の繰り返しを避けることができる。
【００３５】
図１２は、本実施形態による位置ずれ量ｘの計算について説明する図である。実線９２は、実際の位置ずれ量と、制御部１が検出する位置ずれ量ｘとの関係を示している。なお、点線９３は、実際の位置ずれ量と、制御部１が検出すべき位置ずれ量を示している。制御部１は、検出した位置ずれ量ｘの絶対値が、領域Ｃで検出できる位置ずれ量の絶対値である２５ドットより大きい場合、領域Ｌ又は領域Ｒを検出したものと判定する。そして、その場合、実線９２で示す検出した位置ずれ量ｘから、領域Ｒ及び領域Ｌの主走査方向に対する角度に基づき実際の位置ずれ量を求める。より詳しくは、領域Ｒ及び領域Ｌを検出したものと判定すると、基準画像７１と検出画像７２の２つの画像の検出タイミングの差と、第１画像７２１及び第２画像７２２の主走査方向位置と、その主走査方向に対する傾きにより、実際の位置ずれ量を求める。
【００３６】
＜第三実施形態＞
続いて、本実施形態について第二実施形態との相違点を中心に説明する。第二実施形態では、第一実施形態と異なり、実際の位置ずれ量が大きく、領域Ｌや領域Ｒが検出センサ６の検出領域にきたとしても、実際の位置ずれ量を検出することを可能にするものであった。しかしながら、そのため、検出パターンの副走査方向のサイズが第一実施形態の検出パターンより長くなっていた。本実施形態は、第二実施形態と比較して、検出パターンの副走査方向の長さを短くする。
【００３７】
図１３は、本実施形態による検出パターンを示している。本実施形態による検出パターンの第１画像７２１は第一実施形態と同じである。つまり、第１画像７２１は、主走査方向に対して傾きを持った２つのエッジを有する画像である。一方、領域Ｌ及びＲの第２画像７２２は、第一実施形態と異なり台形形状である。なお、第２画像７２２は三角形の形状であっても良い。詳細には、領域Ｌの第２画像７２２は中間転写ベルト３０の搬送方向の上流側（以下、単に上流側と呼ぶ。）に主走査方向のエッジを有し、当該搬送方向の下流側（以下、単に下流側と呼ぶ。）には主走査方向に対して傾いたエッジを有している。また、領域Ｒの第２画像７２２は下流側に主走査方向のエッジを有し、上流側には主走査方向に対して傾いたエッジを有している。なお、第１画像７２１の２つのエッジは、主走査方向に沿って右側（正側）に移動するにつれて下流側に向かう傾きを有する。一方、領域Ｌの第２画像７２２の下流側のエッジと領域Ｒの第２画像７２２の上流側のエッジは、主走査方向に沿って右側（正側）に移動するにつれて上流側に向かう。つまり、第１画像７２１の２つのエッジと、第２画像７２２の傾きを持ったエッジの傾きの方向は互いに逆向きである。
【００３８】
図１３から明らかな様に、本実施形態による検出パターンの副走査方向の長さは第一実施形態における検出パターンと同じである。これは、第２画像７２２の傾きを持ったエッジの傾きの方向を第１画像７２１の２つのエッジとは逆向きにしたことによる。なお、図１３において、参照符号１０５は、領域Ｌ、Ｃ及びＲにおいて主走査方向に対して４５度の傾きをもつ検出画像であり、参考のために表示している。
【００３９】
領域Ｌ、Ｃ及びＲのそれぞれが検出センサ６の検出領域にある場合に、検出センサ６が出力する信号をそれぞれ図１４（Ａ）、（Ｂ）及び（Ｃ）に示す。図１４において参照符号８３で示す出力の減少は基準画像７１によるものであり、参照符号８４で示す出力の減少は検出画像７２よるものである。時間Ｔ２は、基準画像７１の上流側のエッジを検出してから検出画像７２の上流側のエッジを検出するまでの時刻であり、領域Ｌが検出センサ６の検出領域にあると時間Ｔ２は所定の最大値となる。一方、時間Ｔ１は、基準画像７１の上流側のエッジを検出してから検出画像７２の下流側のエッジを検出するまでの時刻であり、領域Ｒが検出センサ６の検出領域にあると時間Ｔ１は所定の最小値となる。したがって、制御部１は、時間Ｔ２が所定の最大値の場合、領域Ｌを検出していると判定でき、時間Ｔ１が所定の最小値の場合、領域Ｒを検出していると判定でき、それ以外の場合には領域Ｃを検出していると判定することができる。つまり、基準画像７１のエッジと、第２画像７２２の主走査方向のエッジの２つのエッジ間の距離が所定長であると、領域Ｒ又は領域Ｌを検出していると判定できる。
【００４０】
本実施形態による位置ずれ補正制御のフローチャートは図５と同じであるが、Ｓ１２における位置ずれ量の検出処理は第一実施形態と異なる。図１５に、本実施形態における位置ずれ量の検出処理のフローチャートを示す。制御部１は、Ｓ２０で時間Ｔ１を検出し、Ｓ２１で時間Ｔ２を検出する。制御部１は、Ｓ２２で時間Ｔ１が所定の最小値に等しいかを判定する。なお、等しいか否かの判定については、所定の最小値に検出誤差を考慮することができる。制御部１は、Ｓ２２で時間Ｔ１が所定の最小値に等しいと、Ｓ２３において、検出しているのは領域Ｒであると判定し検出値Ｔを求める。なお、検出値Ｔは、時間Ｔ１及びＴ２と、領域Ｃ及び領域Ｒの形状及び傾きの角度から求める。例えば、図１３の参照符号１０６の線上で時間Ｔ１と時間Ｔ２を検出した場合、参照符号１０７で示す時間を求めて検出値Ｔとする。一方、Ｓ２２で時間Ｔ１が所定の最小値に等しくないと、制御部１は、Ｓ２４で時間Ｔ２が所定の最大値に等しいかを判定する。なお、等しいか否かの判定については、所定の最大値に検出誤差を考慮することができる。制御部１は、Ｓ２４で時間Ｔ２が所定の最大値に等しいと、Ｓ２５において、検出しているのは領域Ｌであると判定し検出値Ｔを求める。なお、検出値Ｔは、時間Ｔ１及びＴ２と、領域Ｃ及び領域Ｌの形状及び傾きの角度から求める。例えば、図１３の参照符号１０８の線上で時間Ｔ１と時間Ｔ２を検出した場合、参照符号１０９で示す時間を求めて検出値Ｔとする。一方、Ｓ２４で時間Ｔ１が所定の最小値に等しくないと、制御部１は、検出しているのは領域Ｃであると判定し、時間Ｔ２を検出値Ｔとする。その後、制御部１、検出値Ｔと中間転写ベルト３０の移動速度に基づき、第一実施形態と同様に位置ずれ量ｘを算出する。
【００４１】
以上の構成により、副走査方向のサイズを短くしたまま、領域Ｌや領域Ｒが検出センサ６の検出領域にきたとしても主走査方向の位置ずれ量ｘを検出することができる。なお、図１３の検出パターンでは、領域Ｌの下流側のエッジや、領域Ｒの上流側のエッジの主走査方向に対する傾きを４５度としたが、他の角度であっても良い。また、図１３の領域Ｌでの時間Ｔ１の最小値は、領域Ｒにおける時間Ｔ１と等しく、さらに、領域Ｒでの時間Ｔ２の最大値は、領域Ｌにおける時間Ｔ２の値と同じである。したがって、領域Ｌの下流側のエッジと、領域Ｒの上流側のエッジの傾きを互いに異ならせ、誤検出を避ける構成とすることができる。
【００４２】
＜第四実施形態＞
続いて、本実施形態について第一実施形態との相違点を中心に説明する。第一実施形態では、領域Ｌや領域Ｒが検出センサ６の検出領域にきていたとしても、検出誤差により領域Ｃであると判定する可能性がある。本実施形態は、その様な誤検出を防ぐものである。
【００４３】
図１６は、本実施形態による検出パターンを示している。なお、第一実施形態との相違点は、本実施形態による検出画像７２は領域Ｌ及び領域Ｃのみに形成されることと、領域Ｌにおいて、検出画像７２を２つ形成することである。より具体的には、１つ目の検出画像７２は、第一実施形態における領域Ｒの第２画像７２２を削除したものであり、２つ目の領域Ｌにのみ形成する検出画像７２は、第２画像７２２と同じである。なお、２つの検出画像７２の各第２画像７２２は、主走査方向に対して傾きがあっても良い。
【００４４】
図１７は、本実施形態による位置ずれ補正制御のフローチャートである。位置ずれ補正の開始により、制御部１は、Ｓ３０で、画像形成部４１により図１６の検出パターンを中間転写ベルト３０に形成する。Ｓ３１で、検出センサ６は、検出パターンを検出し、制御部１は、Ｓ３２で検出パターンのエッジの検出タイミングから位置ずれ量ｘを求める。なお、本実施形態において、制御部１は、検出センサ６の出力から、検出した画像の数をまず求める。ここで、本例においては、基準画像を検出した画像の数に含めるが、含めなくても良い。図７から明らかな様に、制御部１は、検出センサ６の出力のエッジ数をカウントすることで検出した画像の数を判定することができる。図１６の検出パターンより、領域Ｃが検出センサ６の検出領域にあると、制御部１は、基準画像７１及び１つの検出画像７２の２つの画像を検出する。また、領域Ｌが検出センサ６の検出領域にあると、制御部１は、基準画像７１及び２つの検出画像７２の３つの画像を検出する。一方、領域Ｒが検出センサ６の検出領域にあると、制御部１は、基準画像７１のみ、つまり、１つの画像を検出する。この様に検出した画像の数により制御部１は、検出した領域を判定することができる。
【００４５】
制御部１は、検出しているのが領域Ｃであると判定すると、Ｓ３２で第一実施形態と同様に位置ずれ量ｘを求める。一方、検出しているのが領域Ｌであると判定すると、Ｓ３２で所定の位置ずれ量ｘを検出したものとする。ここで、領域Ｌと判定した場合の所定の位置ずれ量は、第一実施形態と同様に、領域Ｃにおいて検出できる正方向の位置ずれ量の最大値とすることができる。しかしながら異なる値であっても良い。また、検出しているのが領域Ｒであると判定すると、制御部１は、Ｓ３２で所定の色ずれ量ｘを検出したものとする。ここで、領域Ｒと判定した場合の所定の位置ずれ量は、第一実施形態と同様に、領域Ｃにおいて検出できる負方向の位置ずれ量の最大値とすることができる。しかしながら異なる値であっても良い。その後、第一実施形態と同様に、制御部１は、Ｓ３３及びＳ３４で倍率ずれと書き出し位置のずれを補正し、Ｓ３５において、Ｓ３１での検出領域が領域Ｌ又はＲであったかを判定する。Ｓ３１での検出領域が領域Ｌ又はＲであると、制御部１は、第一実施形態と同様にＳ３０からの処理を繰り返す。一方、Ｓ３１での検出領域が領域Ｃであると、制御部１は処理を終了する。
【００４６】
以上の構成により領域の誤検出を防ぐことができる。なお、本実施形態では、領域Ｌに２つの第２画像７２２を設けた。しかし、領域Ｌ及Ｒを複数のサブ領域に分割し、それぞれにおいて形成する第２画像７２２の数を変えることで領域を細かく判定することができる。例えば、領域Ｌを領域Ｌ１、Ｌ２に分割し、領域Ｒをサブ領域Ｒ１、Ｒ２に分割する。そして、各サブ領域Ｒ２、Ｒ１、Ｌ１、Ｌ２での第２画像７２２の数を、それぞれ、０、２、３、４とすることができる。そして、Ｓ３２で求める位置ずれ量ｘについては、サブ領域毎に決めておく。この構成により、領域Ｌや領域Ｒを検出した場合の図１７の処理の繰り返し回数を低減することができる。また、領域Ｃにおいても第１画像７２１とは異なる副走査方向の位置に画像を設け、サブ領域Ｒ２、Ｒ１、領域Ｃ、サブ領域Ｌ１、Ｌ２での検出画像数を、それぞれ、１、２、３、４、５とすることもできる。
【００４７】
また、検出した画像数ではなく、第２画像７２２の濃度、副走査方向の幅、間隔のいずれか、或いは、複数を異ならせることで、検出している領域を判定する構成とすることもできる。
【００４８】
［その他の実施形態］
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。
【符号の説明】
【００４９】
４１：画像形成部、６Ｌ、６Ｒ：検出センサ、１：制御部、７１、７２、７６：検出パターン
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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