(57)【要約】【課題】工場での製造時での工程の増加やコスト高を招くことなく、経年変化による基準発振周波数のずれが発生した場合でも、温度や電圧の変動に対して適切に対処する。【解決手段】電子制御装置１は、高精度発振回路７から出力されるクロック数の計測と低精度発振回路１６から出力されるクロック数の計測とを同時に開始して所定の計測期間後に同時に終了する。そして、計測期間内でのクロック数の差分を示す差分比率を演算し、その演算した差分を、クロック数の計測が同時に終了された時点での基板温度（低精度発振回路１６の温度）や電圧（低精度発振回路１６に印加される電圧）と対応付けて学習値テーブルに記憶する。【選択図】図１
2015154191.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１のクロック信号を出力する第１の発振回路（７）と、
第２のクロック信号を出力する第２の発振回路（１６）と、
前記第１のクロック信号のクロック数を計測する第１の計測手段（９）と、
前記第２のクロック信号のクロック数を計測する第２の計測手段（１７）と、
前記第１のクロック信号及び前記第２のクロック信号のそれぞれのクロック数の計測を同時に開始させて所定の計測期間の経過後に同時に終了させる計測制御手段（８）と、
前記クロック数の計測が同時に終了された時点での当該クロック数の差分を示す指標を演算する差分演算手段（１０）と、
前記第２の発振回路の温度を検出する温度検出手段（１１）及び前記第２の発振回路に印加される電圧を検出する電圧検出手段（１２）のうち少なくとも一方と、
前記指標と、前記クロック数の計測が同時に終了された時点での前記温度検出手段及び前記電圧検出手段のうち少なくとも一方により検出されている物理量との対応を記憶手段（１５）に記憶させる記憶制御手段（１３）と、を備えたことを特徴とする電子制御装置。
【請求項２】
請求項１に記載した電子制御装置において、
前記第２の計測手段により計測された前記第２のクロック信号のクロック数を、前記記憶手段に記憶されている前記指標と前記物理量との対応に基づいて補正する補正手段（１４）を備えたことを特徴とする電子制御装置。
【請求項３】
請求項１又は２に記載した電子制御装置において、
前記記憶制御手段は、前記計測期間内での前記物理量の変動幅が所定値未満である場合に、前記指標と前記物理量との対応を前記記憶手段に記憶させ、前記計測期間内での前記物理量の変動幅が所定値以上である場合に、前記指標と前記物理量との対応の前記記憶手段への記憶を禁止することを特徴とする電子制御装置。
【請求項４】
請求項１から３の何れか一項に記載した電子制御装置において、
前記温度検出手段と前記電圧検出手段との双方を有し、
前記記憶制御手段は、前記指標と、前記クロック数の計測が同時に終了された時点での前記温度検出手段により検出されている温度及び前記電圧検出手段により検出されている電圧との対応を前記記憶手段に記憶させることを特徴とする電子制御装置。
【請求項５】
請求項１から４の何れか一項に記載した電子制御装置において、
前記第１の発振回路は、前記第１のクロック信号を動作クロックとして動作するマイクロコンピュータ（２）に設けられ、
前記第２の発振回路は、前記第２のクロック信号を動作クロックとして動作する集積回路（３）に設けられていることを特徴とする電子制御装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の発振回路を備えた電子制御装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、例えばマイクロコンピュータと集積回路とのそれぞれが発振回路を備えることで、複数の発振回路を備えた電子制御装置（ＥＣＵ：Electronic Control Unit）が供されている。発振回路としてのコンデンサと抵抗を用いたＣＲ発振回路は、水晶発振子を用いる場合と比べて低コストで実現できるという利点があるが、温度や電圧の変動に対して基準発振周波数の精度が貧弱であるという問題がある。この点に対し、例えば特許文献１には、工場での製造時に基準発振周波数の温度特性や電圧特性を不揮発性メモリに記憶させておく技術が開示されている。特許文献１によれば、不揮発性メモリに記憶されている温度特性や電圧特性を使用時に参照することで、温度や電圧の変動による基準発振周波数のずれに対して適切に対処することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平５−７５４４５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、特許文献１では、工場での製造時に基準発振周波数の温度特性や電圧特性を不揮発性メモリに記憶させておく必要があるので、工程の増加やコスト高を招くという問題がある。又、ＣＲ発振回路は、経年変化により基準発振周波数のずれが発生する可能性もあるが、特許文献１では、経年変化による基準発振周波数のずれが考慮されていない。そのため、経年変化による基準発振周波数のずれが発生すると、不揮発性メモリに記憶されている温度特性や電圧特性を参照したとしても、温度や電圧の変動による基準発振周波数のずれに対して適切に対処することができない虞もある。
【０００５】
本発明は、上記した事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、工場での製造時での工程の増加やコスト高を招くことなく、経年変化による基準発振周波数のずれが発生した場合でも、温度や電圧の変動に対して適切に対処することができる電子制御装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
請求項１に記載した発明によれば、第１の計測手段は、第１の発振回路から出力される第１のクロック信号のクロック数を計測する。第２の計測手段は、第２の発振回路から出力される第２のクロック信号のクロック数を計測する。計測制御手段は、第１のクロック信号及び第２のクロック信号のそれぞれのクロック数の計測を同時に開始させて所定の計測期間の経過後に同時に終了させる。差分演算手段は、クロック数の計測が同時に終了された時点での当該クロック数の差分を示す指標を演算する。記憶制御手段は、その演算された指標と、クロック数の計測が同時に終了された時点での第２の発振回路の温度及び第２の発振回路に印加される電圧のうち少なくとも一方の物理量との対応を記憶手段に記憶させる。
【０００７】
第１の発振回路では経年変化による基準発振周波数のずれが発生していないが、第２の発振回路で経年変化による基準発振周波数のずれが発生すると、所定の計測期間内でのクロック数の差分が発生する。この場合、そのクロック数の差分を示す指標を演算し、その演算した指標を用いることで、第２の発振回路から出力されるクロック数を、第１の発振回路から出力されるクロック数に合わせて補正することができる。又、その演算した指標を、クロック数の計測が同時に終了された時点での温度や電圧と対応付けて記憶することで、温度や電圧の変動をも考慮してクロック数を補正することができる。その結果、複数の発振回路を備える構成において、何れかの発振回路で経年変化による基準発振周波数のずれが発生した場合でも、温度や電圧の変動に対して適切に対処することができる。このとき、工場での製造時に基準発振周波数の温度特性や電圧特性を記憶させておく必要はなく、工程の増加やコスト高を招くことはない。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本発明の一実施形態を示す機能ブロック図
【図２】フローチャート
【図３】基板温度及び電圧の変動を示す図（その１）
【図４】学習値テーブルを示す図（その１）
【図５】基板温度及び電圧の変動を示す図（その２）
【図６】学習値テーブルを示す図（その２）
【図７】学習値テーブルを示す図（その３）
【図８】学習値テーブルを示す図（その４）
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、本発明を、車両に搭載可能な電子制御装置（ＥＣＵ：Electronic Control Unit）に適用した一実施形態について図面を参照して説明する。電子制御装置１は、例えば車両の駆動源であるエンジンの駆動を制御するエンジンＥＣＵであり、周囲温度の変動が激しい環境で使用される装置である。電子制御装置１は、マイクロコンピュータ（マイコン）２と、タイマＩＣ（Integrated Circuit）３（集積回路）と、水晶発振子４と、温度センサ５と、ＡＤ変換部６とを有する。
【００１０】
マイコン２は、高精度発振回路７（第１の発振回路）を有する。又、マイコン２は、実行する機能に応じて、計測制御部８（計測制御手段）と、計測部９（第１の計測手段）と、差分比率演算部１０（差分演算手段）と、温度検出部１１（温度検出手段）と、電圧検出部１２（電圧検出手段）と、記憶制御部１３（記憶制御手段）と、補正部１４（補正手段）とを有する。マイコン２は、これら各部８〜１４をソフトウェアにより実現している。又、マイコン２は、不揮発性メモリ１５（記憶手段）を有する。タイマＩＣ３は、低精度発振回路１６（第２の発振回路）を有する。又、タイマＩＣ３は、計測部１７（第２の計測手段）をソフトウェアにより実現している。
【００１１】
水晶発振子４は、圧電体である水晶の結晶に電圧が加えられると（電界が印加されると）、圧電体が変形して発振信号を出力する（発振する）。マイコン２において、高精度発振回路７は、水晶発振子４から発振信号を入力すると、その入力した発振信号からクロック信号（第１のクロック信号）を生成して計測制御部８及び計測部９に出力する。マイコン２は、高精度発振回路７から出力されるクロック信号を動作クロックとして動作する。高精度発振回路７は、水晶発振子４の発振周波数の精度が高いことから、経年変化による基準発振周波数のずれが極めて小さい性質を有する。
【００１２】
計測制御部８は、後述するタイマ差分比率演算処理の開始タイミングになると、開始命令を計測部９、温度検出部１１、電圧検出部１２及びタイマＩＣ３の計測部１７に同時に出力する。又、計測制御部８は、開始命令を出力すると同時に、高精度発振回路７から入力しているクロック信号のクロック数（パルス数）の計測を開始する。そして、計測制御部８は、計測中のクロック数が予め規定されている基準値に達すると、終了命令を計測部９、温度検出部１１、電圧検出部１２及びタイマＩＣ３の計測部１７に同時に出力し、クロック数の計測を終了する。基準値は、工場での製造時に設定される固定値であっても良いし整備士等が例えば使用環境等を考慮して変更可能な可変値であっても良い。
【００１３】
計測部９は、計測制御部８から開始命令を入力すると、高精度発振回路７から入力しているクロック信号のクロック数（パルス数）の計測を開始する。そして、計測部９は、クロック数の計測中に計測制御部８から終了命令を入力すると、クロック数の計測を終了し、その計測したクロック数（計測期間内のクロック数）に応じた値をマイコン内のタイマ値として差分比率演算部１０に出力する。
【００１４】
タイマＩＣ３において、低精度発振回路１６は、ＣＲ発振回路により構成されており、ＣＲ発振回路により発振された発振信号からクロック信号（第２クロック信号）を生成して計測部１７に出力する。タイマＩＣ３は、低精度発振回路１６から出力されるクロック信号を動作クロックとして動作する。低精度発振回路１６を構成するＣＲ発振回路は、温度や電圧の変動に対して基準発振周波数の精度が貧弱であり、又、経年変化による基準発振周波数のずれが上記した高精度発振回路７よりも大きい性質を有する。
【００１５】
計測部１７は、計測制御部８から開始命令を入力すると、低精度発振回路１６から入力しているクロック信号のクロック数（パルス数）の計測を開始する。そして、計測部１７は、クロック数の計測中に計測制御部８から終了命令を入力すると、クロック数の計測を終了し、その計測したクロック数（計測期間内のクロック数）に応じた値をタイマＩＣ内のタイマ値として差分比率演算部１０及び補正部１４に出力する。
【００１６】
温度センサ５は、タイマＩＣ３が実装されている基板の温度（基板温度）を低精度発振回路１６の温度として検出し、その検出した基板温度を温度検出部１１に出力する。温度検出部１１は、計測制御部８から開始命令を入力すると、温度センサ５から入力している基板温度の監視を開始する。温度検出部１１は、基板温度の監視を開始すると、監視を開始した以降で基板温度が最大値を上回る毎に基板温度の最大値を更新し、最小値を下回る毎に基板温度の最小値を更新する。温度検出部１１は、基板温度の監視中に計測制御部８から終了命令を入力すると、温度センサ５から入力している基板温度の監視を終了する。そして、温度検出部１１は、開始命令を入力してから終了命令を入力するまでの計測期間内での基板温度の最大値と最小値との差分の絶対値を演算し、その演算した差分の絶対値を予め規定されている所定値と比較する。基板温度の判定基準となる所定値も、上記した基準値と同様に、工場での製造時に設定される固定値であっても良いし整備士等が例えば使用環境等を考慮して変更可能な可変値であっても良い。温度検出部１１は、演算した差分の絶対値が所定値未満であれば、監視を終了した時点での基板温度を記憶制御部１３に出力する。一方、温度検出部１１は、演算した差分の絶対値が所定値以上であれば、監視を終了した時点での基板温度を記憶制御部１３に出力しない（出力を禁止する）。
【００１７】
ＡＤ変換部６は、タイマＩＣ３に印加される電圧（タイマＩＣ３の電源電圧であり、正常時では例えば５［Ｖ］）を検出し、その検出した電圧を電圧検出部１２に出力する。電圧検出部１２は、計測制御部８から開始命令を入力すると、ＡＤ変換部６から入力している電圧の監視を開始する。電圧検出部１２は、電圧の監視を開始すると、監視を開始した以降で電圧が最大値を上回る毎に電圧の最大値を更新し、最小値を下回る毎に電圧の最小値を更新する。電圧検出部１２は、電圧の監視中に計測制御部８から終了命令を入力すると、ＡＤ変換部６から入力している電圧の監視を終了する。そして、電圧検出部１２は、開始命令を入力してから終了命令を入力するまでの計測期間内での電圧の最大値と最小値との差分の絶対値を演算し、その演算した差分の絶対値を予め規定されている所定値と比較する。電圧の判定基準となる所定値も、上記した基準値と同様に、工場での製造時に設定される固定値であっても良いし整備士等が例えば使用環境等を考慮して変更可能な可変値であっても良い。電圧検出部１２は、演算した差分の絶対値が所定値未満であれば、監視を終了した時点での電圧を記憶制御部１３に出力する。一方、電圧検出部１２は、演算した差分の絶対値が所定値以上であれば、監視を終了した時点での電圧を記憶制御部１３に出力しない（出力を禁止する）。
【００１８】
記憶制御部１３は、温度検出部１１から基板温度を入力し、且つ電圧検出部１２から電圧を入力したことを条件とし、演算命令を差分比率演算部１０に出力する。
差分比率演算部１０は、記憶制御部１３から演算命令を入力すると、計測部９から入力しているマイコン内のタイマ値と、計測部１７から入力しているタイマＩＣ内のタイマ値とを用い、タイマ差分比率を以下の演算式にしたがって演算する。
タイマ差分比率＝マイコン内のタイマ値／タイマＩＣ内のタイマ値
そして、差分比率演算部１０は、その演算したタイマ差分比率を記憶制御部１３に出力する。
【００１９】
不揮発性メモリ１５は、基板温度及び電圧を軸（変数）としてタイマ差分比率を記憶可能な学習値テーブルを保持する。記憶制御部１３は、差分比率演算部１０からタイマ差分比率を入力すると、その入力したタイマ差分比率を、温度検出部１１から入力している基板温度と、電圧検出部１２から入力している電圧とに対応付けて不揮発性メモリ１５の学習値テーブルに記憶させる。又、記憶制御部１３は、不揮発性メモリ１５の学習値テーブルに記憶されているタイマ差分比率を読出し、その読出したタイマ差分比率を補正部１４に出力する。
【００２０】
補正部１４は、計測部１７からタイマＩＣ内のタイマ値を入力し、記憶制御部１３からタイマ差分比率を入力すると、計測部１７から入力したタイマＩＣ内のタイマ値を、記憶制御部１３から入力したタイマ差分比率を用いて補正する。即ち、補正部１４は、補正後のタイマＩＣ内のタイマ値を以下の演算式にしたがって演算する。
補正後のタイマＩＣ内のタイマ値＝補正前のタイマＩＣ内のタイマ値×タイマ差分比率
このように構成されている電子制御装置１は、例えば車両のＡＣＣ（アクセサリ）スイッチに連動して起動状態と停止状態とを切換える。即ち、電子制御装置１は、ＡＣＣスイッチのオフからオンへの切換を判定すると、停止状態から起動状態に切換わり、ＡＣＣスイッチのオンからオフへの切換を判定すると、起動状態から停止状態に切換わる。
【００２１】
次に、上記した構成の作用について、図２から図８も参照して説明する。
マイコン２は、電子制御装置１の起動状態では、本発明に関連するタイマ差分比率演算処理の実行要求が発生すると、タイマ差分比率演算処理を実行する。この場合、マイコン２は、例えば実行要求を所定周期で定期的に発生しても良いし、タイマＩＣ３からの命令を受けて実行要求を発生しても良い。
【００２２】
マイコン２は、タイマ差分比率演算処理を開始すると、計測制御部８から開始命令を計測部９、温度検出部１１、電圧検出部１２及びタイマＩＣ３の計測部１７に同時に出力する。マイコン２は、自身の高精度発振回路７から出力されているクロック信号の計測を計測部９にて開始し、タイマＩＣ３の低精度発振回路１６から出力されているクロック信号の計測を計測部１７にて開始させる（Ｓ１）。このとき、マイコン２は、温度センサ５から入力している基板温度の監視を温度検出部１１にて開始し、ＡＤ変換部６から入力している電圧の監視を電圧検出部１２にて開始する。これ以降、マイコン２は、基板温度が最大値を上回る毎に基板温度の最大値を更新し、最小値を下回る毎に基板温度の最小値を更新する。又、マイコン２は、電圧が最大値を上回る毎に電圧の最大値を更新し、最小値を下回る毎に電圧の最小値を更新する（Ｓ２）。マイコン２は、計測制御部８にて計測中のクロック数が基準値に達したと判定するまで（Ｓ３：ＮＯ）、基板温度及び電圧の更新を繰返して行う。
【００２３】
次いで、マイコン２は、計測制御部８にて計測中のクロック数が基準値に達した（所定の計測期間が経過した）と判定すると（Ｓ３：ＹＥＳ）、計測制御部８から終了命令を計測部９、温度検出部１１、電圧検出部１２及びタイマＩＣ３の計測部１７に同時に出力する。マイコン２は、自身の高精度発振回路７から出力されているクロック信号の計測を終了し、タイマＩＣ３の低精度発振回路１６から出力されているクロック信号の計測を終了させる（Ｓ４）。
【００２４】
次いで、マイコン２は、計測期間内での基板温度の最大値と最小値との差分の絶対値を温度検出部１１にて演算し、その演算した差分の絶対値と所定値とを温度検出部１１にて比較する（Ｓ５）。マイコン２は、演算した差分の絶対値が所定値未満であると判定すると（Ｓ５：ＹＥＳ）、監視を終了した時点での基板温度を現在の基板温度として温度検出部１１から記憶制御部１３に出力する。
【００２５】
次いで、マイコン２は、計測期間内での電圧の最大値と最小値との差分の絶対値を電圧検出部１２にて演算し、その演算した差分の絶対値と所定値とを電圧検出部１２にて比較する（Ｓ６）。マイコン２は、演算した差分の絶対値が所定値未満であると判定すると（Ｓ６：ＹＥＳ）、監視を終了した時点での電圧を現在の電圧として電圧検出部１２から記憶制御部１３に出力する。
【００２６】
次いで、マイコン２は、記憶制御部１３から演算命令を差分比率演算部１０に出力し、計測部９から入力しているマイコン内のタイマ値と、計測部１７から入力しているタイマＩＣ内のタイマ値とを用い、タイマ差分比率を差分比率演算部１０にて演算する（Ｓ７）。次いで、マイコン２は、現在の基板温度を学習値テーブルにおいて軸検索し（Ｓ８）、現在の電圧を学習値テーブルにおいて軸検索する（Ｓ９）。そして、マイコン２は、差分比率演算部１０にて演算したタイマ差分比率を、現在の基板温度と現在の電圧に対応付けて不揮発性メモリ１５の学習値テーブルに記憶させ（Ｓ１０）、タイマ差分比率演算処理を終了する。尚、マイコン２は、計測期間内での基板温度の最大値と最小値との差分の絶対値が所定値未満でない（所定値以上である）と判定すると（Ｓ５：ＮＯ）、タイマ差分比率を差分比率演算部１０にて演算することなくタイマ差分比率演算処理を終了する。又、マイコン２は、計測期間内での電圧の最大値と最小値との差分の絶対値が所定値未満でない（所定値以上である）と判定すると（Ｓ６：ＮＯ）、この場合も、タイマ差分比率を差分比率演算部１０にて演算することなくタイマ差分比率演算処理を終了する。
【００２７】
これ以降、マイコン２は、低精度発振回路１６から出力されるクロック信号を用いる際には、その時点での基板温度と電圧に対応して不揮発性メモリ１５に記憶されているタイマ差分比率を読出す。そして、マイコン２は、計測部１７から入力したタイマＩＣ内のタイマ値を、不揮発性メモリ１５から読出したタイマ差分比率を用いて補正部１４にて補正する。
【００２８】
マイコン２は、上記したタイマ差分比率演算処理を実行することで、タイマ差分比率の記憶（更新）を以下のようにして行う。マイコン２は、図３に示すように、例えば計測期間を「６００ｓ」とし、その計測期間内での基板温度の変動幅（|Ｔｍａｘ−Ｔｍｉｎ|）が所定値（Ａ）未満であり、且つ電圧の変動幅（|Ｖｍａｘ−Ｖｍｉｎ|）が所定値（Ｂ）未満であるときに、マイコン内のタイマ値を「６００ｓ」と計測し、タイマＩＣ内のタイマ値を「６３０ｓ」と計測すると、タイマ差分比率を以下の演算式にしたがって演算する。
タイマ差分比率＝６００ｓ／６３０ｓ≒０．９５
【００２９】
そして、マイコン２は、例えば現在の基板温度を「３０℃」と特定し、現在の電圧を「５Ｖ」と特定すると、演算したタイマ差分比率である「０．９５」を、現在の基板温度である「３０℃」と現在の電圧である「５Ｖ」に対応付けて不揮発性メモリ１５の学習値テーブルに記憶させる。即ち、マイコン２は、図４に示すように、それまでの基板温度が「３０℃」、電圧が「５Ｖ」であるときのタイマ差分比率である「０．９６」を、今回の演算によるタイマ差分比率である「０．９５」に更新する。尚、マイコン２は、タイマ差分比率を小数第２位まで演算せずに分数のまま記憶させても良く、「６００ｓ／６３０ｓ」を記憶させても良い。即ち、マイコン２は、タイマ差分比率を小数第２位まで演算せずに分数で記憶させておくことで、タイマＩＣ内のタイマ値を補正する際の誤差を抑制する（精度の低下を回避する）。
【００３０】
補正部１４は、計測部１７から入力した補正前のタイマＩＣ内のタイマ値を、今回の演算したタイマ差分比率を用いて補正する。即ち、補正部１４は、計測部１７から入力した補正前のタイマＩＣ内のタイマ値である「６３０ｓ」に、今回の演算したタイマ差分比率である「６００ｓ／６３０ｓ」を乗算し、補正後のタイマＩＣ内のタイマ値を以下の演算式にしたがって演算する。
補正後のタイマＩＣ内のタイマ値＝６３０ｓ×（６００ｓ／６３０ｓ）＝６００ｓ
【００３１】
一方、マイコン２は、図５に示すように、計測期間内での電圧の変動幅が所定値未満であるが、基板温度の変動幅が所定値以上であると、タイマ差分比率を演算することはない。即ち、マイコン２は、図６に示すように、それまでの基板温度が「３０℃」、電圧が「５Ｖ」であるときのタイマ差分比率である「０．９６」を更新せずに継続する。尚、マイコン２は、計測期間内での基板温度の変動幅が所定値未満であるが、電圧の変動幅が所定値以上である場合も同様であり、タイマ差分比率を演算することはない。更に、マイコン２は、計測期間内での基板温度の変動幅及び電圧の変動幅の双方がそれぞれの所定値以上である場合も同様であり、タイマ差分比率を演算することはない。
【００３２】
以上は、不揮発性メモリ１５において、基板温度及び電圧の双方を軸とする学習値テーブルを保持する構成を説明したが、基板温度及び電圧の何れかを軸とする学習値テーブルを保持するようにしても良い。即ち、基板温度の変動は大きいが、電圧の変動が小さい（例えば５［Ｖ］で安定している）環境であれば、図７に示すように、基板温度のみを軸とする学習値テーブルを保持しても良い。又、電圧の変動は大きいが、基板温度の変動が小さい（例えば３０［℃］で安定している）環境であれば、図８に示すように、電圧のみを軸とする学習値テーブルを保持しても良い。即ち、電子制御装置１が使用される環境に応じて学習値テーブルの軸を決定すれば良い。尚、以上の図３から図８に示した数値は例示である。
【００３３】
以上に説明したように本実施形態によれば、電子制御装置１において、高精度発振回路７から出力されるクロック数の計測と低精度発振回路１６から出力されるクロック数の計測とを同時に開始して所定の計測期間後に同時に終了する。そして、計測期間内でのクロック数の差分を示す差分比率を演算し、その演算した差分を、クロック数の計測が同時に終了された時点での基板温度や電圧と対応付けて学習値テーブルに記憶するようにした。これにより、低精度発振回路１６で経年変化による基準発振周波数のずれが発生した場合でも、基板温度や電圧の変動に対して適切に対処することができる。このとき、工場での製造時に基準発振周波数の温度特性や電圧特性を記憶させておく必要はなく、工程の増加やコスト高を招くことはない。
【００３４】
又、補正前のタイマＩＣ内のタイマ値を、タイマ差分比率を用いて補正するようにした。これにより、経年変化による基準発振周波数のずれの影響を速やかに解消することができる。
【００３５】
又、計測期間内での基板温度の変動幅が所定値未満であり、且つ電圧の変動幅が所定値未満である場合に、タイマ差分比率を演算して記憶し、基板温度の変動幅が所定値以上である、又は電圧の変動幅が所定値以上である場合に、タイマ差分比率を演算しないようにした。これにより、変動幅が所定値以上である場合には誤学習の可能性が高いので、誤学習の可能性が高いタイマ差分比率を記憶してしまうことを未然に回避し、信頼性を高めることができる。
【００３６】
本発明は、上記した実施形態にのみ限定されるものではなく、以下のように変形又は拡張することができる。
水晶発振子を用いることに限らず、経年変化による基準発振周波数のずれが水晶発振子と同程度のセラミック発振子を用いても良い。
クロック数の差分を示す指標として、マイコン内のタイマ値をタイマＩＣ内のタイマ値で除算した値（比率）を演算することに限らず、タイマＩＣ内のタイマ値からマイコン内のタイマ値を減算した値（差分）を演算しても良い。その場合、タイマ差分を以下の演算式にしたがって演算し、
タイマ差分＝タイマＩＣ内のタイマ値−マイコン内のタイマ値
補正後のタイマＩＣ内のタイマ値を以下の演算式にしたがって演算しても良い。
【００３７】
補正後のタイマＩＣ内のタイマ値＝補正前のタイマＩＣ内のタイマ値−タイマ差分
開始命令と終了命令とを区別してクロック数の計測の開始と終了とを制御することに限らず、１つの命令でクロック数の計測の開始と終了とを制御しても良い。即ち、１つの命令でクロック数の計測を終了すると共に次の計測を開始する（再開する）ことで、所定の計測期間の計測を連続的に行っても良い。
【００３８】
タイマ差分比率を演算した後に、計測期間内での基板温度の変動幅や電圧の変動幅をそれぞれの所定値と比較し、条件を満たした場合に、その演算したタイマ差分比率を、現在の基板温度と現在の電圧に対応付けて記憶させても良い。即ち、基板温度の変動幅や電圧の変動幅をそれぞれの所定値と比較した後にタイマ差分比率を演算しても良いし、タイマ差分比率を演算した後に基板温度の変動幅や電圧の変動幅をそれぞれの所定値と比較しても良い。
【符号の説明】
【００３９】
図面中、１は電子制御装置、２はマイクロコンピュータ、３はタイマＩＣ（集積回路）、７は高精度発振回路（第１の発振回路）、８は計測制御部（計測制御手段）、９は計測部（第１の計測手段）、１０は差分比率演算部（差分演算手段）、１１は温度検出部（温度検出手段）、１２は電圧検出部（電圧検出手段）、１３は記憶制御部（記憶制御手段）、１４は補正部（補正手段）、１５は不揮発性メモリ（記憶手段）、１６は低精度発振回路（第２の発振回路）、１７は計測部（第２の計測手段）である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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