(57)【要約】【課題】複雑な初期設定を行うことなく、かつ目視検査による見落としや検査漏れを減らし、信頼性及び検査作業効率が高い外観検査を行うことが可能な外観検査システムを提供する。【解決手段】基準となる検査対象物の良品の所定の検査箇所を撮像手段によって撮像し、基準画像データを表示手段に表示し、基準画像データのうち自動検査を行う箇所と目視検査を行う箇所とを区分けするサンプリング工程を行った後、記憶手段に記憶し、検査対象物の所定の検査箇所を撮像手段によって撮像し、得られた撮像画像の自動検査を行う箇所の良否を基準画像データと比較して判定する処理を自動検査手段に実行させ、撮像画像の目視検査を行う箇所の良否を目視により判定し、不良有と判定された箇所に不良有を示す入力を行い、不良無と判定された箇所に不良無を示す入力を行うことを特徴とする外観検査システム【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象物の外観を検査する外観検査システムであって、
前記検査対象物の所定の検査箇所を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段によって撮像された撮像画像を記憶する記憶手段と、
前記撮像画像の自動検査を行う箇所に対して自動検査の初期設定を行い、目視検査を行う箇所に不良有を示す入力及び不良無を示す入力が可能な目視判定マークを上書き表示する入力手段と、
前記目視判定マークが上書き表示された撮像画像を表示する表示手段と、
前記自動検査を行う箇所の画像に対して画像処理による自動検査を実施する自動検査手段とを備え、
基準となる検査対象物の良品の所定の検査箇所を前記撮像手段によって撮像し、基準画像データを前記表示手段に表示し、前記基準画像データのうち前記自動検査を行う箇所と前記目視検査を行う箇所とを区分けするサンプリング工程を行った後、前記記憶手段に記憶し、
前記検査対象物の所定の検査箇所を前記撮像手段によって撮像し、
得られた撮像画像の自動検査を行う箇所の良否を前記基準画像データと比較して判定する処理を前記自動検査手段に実行させ、
前記撮像画像の目視検査を行う箇所の良否を目視により判定し、不良有と判定された箇所に不良有を示す入力を行い、不良無と判定された箇所に不良無を示す入力を行うことを特徴とする外観検査システム。
【請求項２】
請求項１に記載の外観検査システムであって、目視検査を行う全ての箇所に不良有又は不良無を示す入力を行うことにより、検査完了を示す表示が前記表示手段になされ、次の検査対象物の外観検査を行うことが可能となることを特徴とする外観検査システム。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の外観検査システムであって、前記検査対象物が不良有と判定された場合、その検査対象物の廃棄が確認できなければ、次の検査対象物の外観検査を行うことができないことを特徴とする外観検査システム。
【請求項４】
請求項３に記載の外観検査システムであって、製品検出センサを有する不良品収納手段をさらに備え、前記不良有と判定された検査対象物を前記不良品収納手段に収納するのを前記製品検出センサが感知することにより、検査対象物の廃棄の確認を行うことを特徴とする外観検査システム。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれかに記載の外観検査システムであって、前記基準画像データの任意の箇所に前記入力手段によって位置決めマークを上書き表示し、前記位置決めマークされた部分と、対応する前記検査対象物の部分の位置が一致するように、前記撮像画像の位置補正を行うことを特徴とする外観検査システム。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれかに記載の外観検査システムであって、前記表示手段は前記入力手段を兼ねたタッチパネルであり、自動検査を行う箇所の設定及び目視検査を行う箇所への目視判定マークを上書きと、前記目視判定マークへの不良有又は不良無を示す入力とを前記タッチパネルを用いて行うことを特徴とする外観検査システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は検査対象物の外観を検査するシステムに関する。
【背景技術】
【０００２】
生産現場などにおいては、製品の検査として、外観上正しく組み立てられているかといったことが検査される。このような検査は、正常な製品と検査対象の製品とを検査担当者の目視で比較することに行われる。また近年では、画像処理装置を用いて、検査対象の画像と基準画像とを比較して画像処理による自動検査が行われている。
【０００３】
画像処理による検査の自動化は、例えば検査対象の画像と基準画像とが90％合致すれば良品であり、合致の率がそれ未満であれば不良品というように、合否を分けるしきい値を設定する必要がある。検査の質について均一化を図ることが容易であるが、装置が大規模となるため、設備に要するコストが高くなる。また検査用のプログラミング（設定、準備、立ち上げなど）に時間がかかる。加えて、自動検査により発見できるエラーは設定次第であり、検査対象の一部にのみ不良箇所があるが、全体として高い合致率を有する場合、良品として判定されてしまう場合がある。検査精度を高めるためには、検査対象を細分化して設定する必要がある。しかも一時的に部品が変更された場合、変更部分がエラーと判定されてしまう。このように、画像処理による検査は、精度や速度の点では、目視検査より優れているが、融通性に欠け、初期設定に時間と手間が膨大にかかるという欠点がある。そのため、特に少量多品種の製品の検査を行う場合、自動検査に伴う初期設定の負担が大きい。
【０００４】
検査担当者による目視検査は、画像処理による検査のようなプログラミング等の初期設定が不要であり、かつ融通性に富んでいる。また目視検査は、画像処理では判断の難しい、検査対象と正常な製品との微妙な差異を判断することができる。しかし、多量の電子部品が実装されたプリント基板を目視検査する場合、検査に時間と手間がかかる。目視検査において良否の判断を下すのは作業者自身であるため、目視検査における不良の見落しが生じる恐れがある。
【０００５】
特許第3105365号（特許文献１）は、検査対象物の所定の検査箇所の映像を、カメラ及び拡大レンズを用いてディスプレイに表示することによって、検査者に対して上記検査箇所の映像画面を提供する手段と、該検査箇所の検査結果に関する情報を入力する入力装置と、この入力装置により入力された情報を記録，処理するコントロール部と、を有する目視検査システムであって、上記検査者による検査と並行して、上記コントロール部が独自に上記検査箇所の画像に対して画像処理による自動検査を実施し、このコントロール部により上記検査箇所が不良であると判定された場合に、上記映像画面上の該当箇所に所定のエラーマークを上書き表示し、このエラーマークが上書き表示された箇所に対し、上記入力装置により不良有を示す入力又は不良無に対応するロック解除を示す入力が行われない限り、上記ディスプレイ上の映像画面の切換を禁止する自動検査機能付き目視検査システムを開示している。
【０００６】
この検査システムでは、検査箇所の全ての画像に対して画像処理による自動検査を実施しているので、装置が大規模となり、初期設定に時間と手間がかかるため、設備に要するコストが高くなる。また画像処理による検査は発見できるエラーも設定次第であり、融通性に欠けるため、本来不良である検査箇所を画像処理検査により良品と判断してしまう場合がある。画像処理検査により不良無と判断された検査箇所は目視検査が行われないため、不良有りの製品であってもそのまま外観検査が合格となってしまう。
【０００７】
特開2007-17311号公報（特許文献２）は、被検査物体の外観状態を検査して不良状態を判定する第１の検査装置と、第１の検査装置を制御するとともに当該第１の検査装置より被検査物体を検査した外観状態の検査データを所定の数値データに変換処理する第１のコンピュータと、第１の検査装置の検査後の被検査物体を目視検査する目視検査装置とを備え、第１の検査装置で外観状態を示す数値データを当該数値データの正常範囲を教示する教示データに基づいて不良と判断された被検査物体を目視検査装置にて目視検査しその外観状態の良、不良の目視検査の判断結果データを第１のコンピュータに送信し、当該判断結果データに基づいて第１のコンピュータにより第１の検査装置の正常範囲を示す教示データの閾値を変更する外観検査システムを開示している。
【０００８】
しかしこの外観検査システムも検査箇所の全ての画像に対して画像処理による自動検査を実施しているので、やはり装置が大規模となり、初期設定に時間と手間がかかるため、設備に要するコストが高くなる。加えて、画像処理検査により不良無と判断された検査箇所は目視検査が行われないため、自動検査による判別が難しい箇所で不良品を良品と誤判定していまう検査ミスが生じやすい。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特許第3105365号公報
【特許文献２】特開2007-17311号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
従って本発明の目的は、被検査物体の自動検査を行うのが好適な箇所を自動検査し、検査者による目視検査を行うのが好適な箇所を目視検査するように適宜振り分けることにより、少量多品種の検査における検査システムの導入の妨げとなっていた複雑な初期設定を行うことなく、かつ目視検査による見落としや検査漏れを減らし、信頼性及び検査作業効率が高い外観検査を行うことが可能な外観検査システムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記課題に鑑み鋭意研究の結果、本発明者らは、被検査物体の自動検査を行う箇所と検査者による目視検査を行う箇所とを適宜振り分けることにより、複雑な初期設定を行うことなく、かつ目視検査による見落としや検査漏れを防止し、信頼性及び検査作業効率が高い外観検査を行うことができることを発見し、本発明に想到した。
【００１２】
即ち、本発明の外観検査システムは以下の特徴を有している。
[1]  検査対象物の外観を検査する外観検査システムであって、
前記検査対象物の所定の検査箇所を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段によって撮像された撮像画像を記憶する記憶手段と、
前記撮像画像の自動検査を行う箇所に対して自動検査の初期設定を行い、目視検査を行う箇所に不良有を示す入力及び不良無を示す入力が可能な目視判定マークを上書き表示する入力手段と、
前記目視判定マークが上書き表示された撮像画像を表示する表示手段と、
前記自動検査を行う箇所の画像に対して画像処理による自動検査を実施する自動検査手段とを備え、
基準となる検査対象物の良品の所定の検査箇所を前記撮像手段によって撮像し、基準画像データを前記表示手段に表示し、前記基準画像データのうち前記自動検査を行う箇所と前記目視検査を行う箇所とを区分けするサンプリング工程を行った後、前記記憶手段に記憶し、
前記検査対象物の所定の検査箇所を前記撮像手段によって撮像し、
得られた撮像画像の自動検査を行う箇所の良否を前記基準画像データと比較して判定する処理を前記自動検査手段に実行させ、
前記撮像画像の目視検査を行う箇所の良否を目視により判定し、不良有と判定された箇所に不良有を示す入力を行い、不良無と判定された箇所に不良無を示す入力を行うことを特徴とする外観検査システム。
[2]  上記[1] に記載の外観検査システムであって、目視検査を行う全ての箇所に不良有又は不良無を示す入力を行うことにより、検査完了を示す表示が前記表示手段になされ、次の検査対象物の外観検査を行うことが可能となることを特徴とする外観検査システム。
[3]  上記[1] 又は[2] に記載の外観検査システムであって、前記検査対象物が不良有と判定された場合、その検査対象物の廃棄が確認できなければ、次の検査対象物の外観検査を行うことができないことを特徴とする外観検査システム。
[4]  上記[3] に記載の外観検査システムであって、製品検出センサを有する不良品収納手段をさらに備え、前記不良有と判定された検査対象物を前記不良品収納手段に収納するのを前記製品検出センサが感知することにより、検査対象物の廃棄の確認を行うことを特徴とする外観検査システム。
[5]  上記[1] 〜[4] のいずれかに記載の外観検査システムであって、前記基準画像データの任意の箇所に前記入力手段によって位置決めマークを上書き表示し、前記位置決めマークされた部分と、対応する前記検査対象物の部分の位置が一致するように、前記撮像画像の位置補正を行うことを特徴とする外観検査システム。
[6]  上記[1] 〜[5] のいずれかに記載の外観検査システムであって、前記表示手段は前記入力手段を兼ねたタッチパネルであり、自動検査を行う箇所の設定及び目視検査を行う箇所への目視判定マークを上書きと、前記目視判定マークへの不良有又は不良無を示す入力とを前記タッチパネルを用いて行うことを特徴とする外観検査システム。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、被検査物体の自動検査を行う箇所と検査者による目視検査を行う箇所とを適宜振り分けることにより、複雑な初期設定を行うことなく、かつ目視検査による見落としや検査漏れを防止し、信頼性及び検査作業効率が高い外観検査を行うことが可能な外観検査システムが得られる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の一実施例による外観検査システムを模式的に示す図である。
【図２】被検査物体の一例を示す図である。
【図３】外観検査の工程を示すフローチャートである。
【図４】位置決めマークが上書き表示された被検査物体の一例を示す図である。
【図５】自動検査範囲の区分けがなされた被検査物体の一例を示す図である。
【図６】目視判定マークが上書き表示された被検査物体の一例を示す図である。
【図７】表示手段の画面に一例を示す図である。
【図８】被検査物体のICチップを示す拡大図である。
【図９】自動検査範囲の区分けがなされたICチップを示す拡大図である。
【図１０】被検査物体の抵抗素子を示す拡大図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
[1] 外観検査システム
本発明の一実施例による外観検査システムを図１に示す。図１の外観検査システムは、検査対象物の所定の検査箇所を撮像する撮像手段１と、検査対象物を裁置する台２と、撮像手段１によって撮像された撮像画像を記憶する記憶手段４と、撮像画像の自動検査を行う箇所に対して自動検査の初期設定を行い、目視検査を行う箇所に不良有を示す入力及び不良無を示す入力が可能な目視判定マークを上書き表示する入力手段５と、目視判定マークが上書き表示された撮像画像を表示する表示手段６と、自動検査を行う箇所の画像に対して画像処理による自動検査を実施する自動検査手段７と、製品検出センサ９を有する不良品収納手段８とを有する。
【００１６】
撮像手段１は、拡大レンズ及びカメラを備えているのが好ましい。検査対象物と基準画像用の検査対象物の良品とで表面への照射光を揃えるために、照射光を調節する照明を備えていても良い。撮像手段１はネットワークを介して記憶手段４を含む外観検査システムの制御部と接続しており、撮像手段１で撮影された検査対象物の所定の検査箇所の映像は、デジタルデータとして記憶手段４に記憶される。撮像手段１は、検査対象物を異なる角度から撮影可能なように、複数設けても良い。
【００１７】
裁置台２は、検査対象物を裁置する面に検査対象物の取り付け及び取り外しを検知するセンサ３を有する。裁置台２のセンサ３は、ネットワークを介して記憶手段４を含む外観検査システムの制御部と接続しており、センサ３によって検出された検査対象物の取り付け及び取り外しに関する情報は、外観検査システムの制御部に送られる。
【００１８】
入力手段５は特に限定されないが、通常のマウス及びキーボードを用いることができる。またタッチパネル操作により表示手段６に直接入力しても良い。
【００１９】
表示手段６はネットワークを介して記憶手段４及び入力手段５を含む外観検査システムの制御部と接続しており、制御部によって処理された画像データを表示する。表示手段６は入力手段５を備えたタッチパネルであるのが好ましい。例えばタッチパネル機能を備えたディスプレイを有するパーソナルコンピュータを用いることができる。
【００２０】
自動検査手段７は、基準となる検査対象物の良品の基準画像データと、撮像手段１により撮影された検査対象物の撮像画像とを比較して不良の有無を判定する。比較・判定方法は従来技術のものを用いることができる。
【００２１】
不良品収納手段８は、外観検査によって不良品と判定された検査対象物を収納する。不良品収納手段８に備えられた製品検出センサ９によって、不良品収納手段８に検査対象物が収納されたことを感知し、その情報はネットワークを介して外観検査システムの制御部に送られる。
【００２２】
[2] 外観検査
上記外観検査システムを用いて検査対象物の外観検査を行う方法を、検査対象物として図２に示すプリント基板10を使用し、図３に示すフローチャートを用いて以下詳細に説明する。
【００２３】
図２に示すプリント基板10の表面上には、ICチップ11a，11bと、抵抗素子12と、コンデンサ13a，13bと、ダイオード14と、トランジスタ15と、接続端子16とが実装されている。本発明の外観検査システムが使用可能な検査対象物はICチップ、コンデンサ、抵抗素子等が実装されたプリント基板に限らず、撮影された撮像画像を用いて検査可能なものであれば良く、例えば加工部品や組立品等が挙げられる。
【００２４】
(2-1) サンプリング
基準となるプリント基板10の良品を裁置台２にセットし、撮像手段１によって撮影する。得られた基準画像データを記憶手段４に記憶する。記憶手段４に記憶された基準画像データは、表示手段６に表示される。
【００２５】
基準画像データの任意の箇所に入力手段５によって位置決めマークＡを上書き表示する。この例では、図２に示すプリント基板10のうち、ICチップ11bを位置決めマークＡを上書き表示する素子とする。位置決めマークＡは、マウス又はタッチパネル操作により、図４に示すように、ICチップ11bを囲むように設けることができる。位置決めマークＡが上書き表示された素子（ICチップ11b）の画像データ、及び位置決めマークＡとICチップ11bとの位置関係は制御部により計算され、記憶手段４に記憶される。
【００２６】
基準画像データのうち自動検査を行う箇所と目視検査を行う箇所とを区分けする。この例では、図２に示すプリント基板10のうち、ICチップ11a、抵抗素子12、コンデンサ13b及びダイオード14を目視検査を行う箇所とし、ICチップ11b、コンデンサ13a、トランジスタ15及び接続端子16とを自動検査を行う箇所とする。
【００２７】
端子数の多いICチップ11aなどの検査対象が多い素子は、自動検査の初期設定に時間と手間がかかる上に、一箇所のみに不具合があった場合自動検査により検出されない恐れがあるため、目視検査を行う箇所に含めるのが望ましい。また抵抗素子12のように、ある程度傾いて設置されても良品となるような素子も、自動検査では合致率が低いとして不良品として判断されることがあるため、目視検査を行う箇所に含めるのが望ましい。一方、トランジスタ15及び接続端子16等の検査対象ごとに外観の相違が生じにくい箇所や、図示していないがプリント基板上にプリントされた記号や文字などは、自動検査を行う箇所に含めるのが望ましい。
【００２８】
自動検査の設定は従来技術を用いることができる。具体的には、自動検査を行う箇所を、マウス又はタッチパネル操作により、図５に示すように、各自動検査範囲Ｂに区分けすることができる。各自動検査範囲Ｂに区分けされた箇所の基準画像データと検査対象物の撮像画像との合致率が例えば90％以上であれば良品であり、合致率がそれ未満であれば不良品というように、合否を分けるしきい値を設定する。自動検査の区分け箇所Ｂと位置決めマークＡとの位置関係、自動検査の区分け箇所Ｂにおける各素子の外観及び配置は制御部により計算され、設定したしきい値とともに記憶手段４に記憶される。
【００２９】
基準画像データのどの箇所を自動検査又は目視検査を行う箇所とするかは、任意に決定することができるが、自動検査の設定が煩雑な箇所、モデルチェンジで頻繁に構成が変わる箇所、自動検査によりエラーの検出が難しい箇所等を目視検査を行う箇所として設定するのが望ましい。それにより外観検査精度を損なうことなく、外観検査の初期設定の時間を大幅に短縮することができる。
【００３０】
目視検査を行う箇所には、不良有を示す入力及び不良無を示す入力が可能な目視判定マークＣを上書き表示する。目視判定マークＣの上書き表示は、位置決めマークＡと同様に、マウス又はタッチパネル操作により、図６に示すように、各素子を囲むように設けることができる。目視判定マークＣが上書き表示された各素子の画像データ及び目視判定マークＣとの位置関係、及び位置決めマークＡと目視判定マークＣとの位置関係は制御部により計算され、記憶手段４に記憶される。
【００３１】
(2-2) 撮影
検査対象物であるプリント基板10を裁置台２にセットし、基準となる良品を撮影したのと同じ条件で撮像手段１により撮影する。得られた撮像画像を記憶手段４に記憶する。
【００３２】
(2-3) 表示
得られた撮像画像を表示手段６に表示する。その際、位置決めマークＡが上書き表示された基準画像データのICチップ11bと、撮像画像のICチップ11bとを照合し、両者の位置が一致していなければ、両者が一致するように、撮像画像を位置補正する。
【００３３】
位置決めマークＡと撮像画像のICチップ11bとの位置補正が完了すると、撮像画像が表示手段６に表示される。その際、目視判定マークＣが表示手段６に表示される。位置決めマークＡによる位置補正を行っているので、各目視判定マークＣは対応する各素子に上書き表示された状態となる。位置決めマークＡも表示手段６に表示しても良い。
【００３４】
図７に表示手段６の一例を示す。この例では、目視判定マークＣが上書き表示された撮像画像は、画面の左上部分6aに表示される。画面の右上部分6bには目視検査を行う各素子が列挙されている。列挙方法は、単に番号をふっても良いし、目視検査を行う素子の名前をそれぞれ入力しても良い。右上部分6bの番号部分をチェックすると、左上部分6aの撮像画像の該当する位置決めマークＡが着色等で強調され、左下部分6cの画面に該当する位置決めマークＡが上書き表示された箇所が拡大表示される。図７の例では右上部分6bの番号４をチェックすると、対応するICチップ11bの拡大表示が左下部分6cに表示される。目視判定の入力を行った箇所に対応する番号部分を文字太さを小さくする等で分別することにより、目視判定を行っていない箇所が一目で分かるようにしても良い。全ての箇所の目視検査が終了すると、右下部分6dに「OK」又は「NG」等の検査結果が表示される。
【００３５】
(2-4) 自動検査
撮像画像と基準画像データとの自動検査を行う箇所を比較して良否を判定する処理を自動検査手段７により行う。具体的には、自動検査の初期設定に区分けされた範囲Ｂごとに両画像を比較し、その差分が設定したしきい値を超えているかどうかで合否を判定する。自動検査により判定された合否情報は、制御部に送られる。
【００３６】
自動検査により不良有と判定された箇所は、さらに目視判定を行っても良い。具体的には、自動検査により不良有と判定された場合、自動検査を行う箇所を囲んでいる囲み線Ｂを、不良有を示す入力及び不良無を示す入力が可能な目視判定マークＣに制御部により変換するのが好ましい。
【００３７】
(2-5) 目視判定
目視判定を行う箇所の良否を目視により判定を行う。不良有と判定された箇所に上書き表示された目視判定マークＣに不良有を示す入力を行い、不良無と判定された箇所に上書き表示された目視判定マークＣに不良無を示す入力を行う。これらの入力は、マウス又はタッチパネル操作により行うことができる。例えば、タッチパネル式の表示手段６に表示された目視判定マークＣを一回タッチすると、上書き表示された箇所が不良無である旨を示す「OK」のマークが表示され、目視判定マークＣをもう一回タッチすると、上書き表示された箇所が不良有である旨を示す「NG」のマークが表示される。不良無と判定された箇所と、不良有と判定箇所と、まだ判定を行っていない箇所とを色分けで分類しても良い。
【００３８】
目視判定の具体例を図８を用いて説明する。図８は検査対象物であるプリント基板10における目視判定マークＣが上書き表示されたICチップ11aの一部を示す。ICチップ11aの外部端子はプリント基板上にプリントされた導電パターン30-1〜30-10とはんだ11a-1〜11a-10を介して接続している。目視検査により、はんだがICチップ11aの外部端子と導電パターンとを適切に接続しているかどうかを判定する。
【００３９】
はんだ11a-4はICチップ11aの外部端子と接続していない不良部分を有する。そのため目視検査ではこのはんだは不良と判断される。しかし、このような端子の数が多いICチップを自動検査する場合は、各端子に接続するはんだごとに基準画像データとの対比を行うことは困難である。そのためICチップ全体を区分けしてICチップ全体で対比を行うか、ある一定範囲ごとに自動検査箇所を区分けして対比を行う必要がある。図９はICチップ全体を８分割して、そのうちの１つの自動検査箇所Ｂを示している。この場合、自動検査箇所Ｂの画像全体で基準画像データとの合致率を判断するため、複数あるはんだの一箇所がはんだ11a-4のように接続していなかったとしても、画像全体としての合致率が高ければ、不良無と判断されてしまう。合致率のしきい値を上げると、ほとんどの検査対象物が不良有と判断されるようになる。自動検査箇所の区分けの範囲Ｂを狭くすることでこの問題は防げるが、自動検査の初期設定に膨大な時間と手間がかかる。
【００４０】
一方はんだ11a-1は中央部分が太くなっており、はんだ11a-5は中央部分が細くなっているが、隣接するはんだと接触することなく、ICチップ11aと対応する導電パターン30-1，30-5とを電気的に接続しており、仕様としては問題ない。そのため、目視検査ではこれらのはんだは合格と判定される。しかし、自動検査では、はんだ11a-1やはんだ11a-5は基準画像データの対応するはんだと形状が異なるため、合致率がしきい値以下として不良有と判断される恐れがある。
【００４１】
目視判定の別の具体例を図10を用いて説明する。図10は目視判定マークＣが上書き表示された抵抗素子12を示し、図10(a) は基準画像データの抵抗素子12であり、図10(b) 及び(c) は検査対象物の抵抗素子12である。図10(b) 及び(c) の抵抗素子12はいずれも斜めに傾いて設置されているが、電気的接続に支障は無く、良品である。そのため目視判定では不良無と判断される。しかし、自動検査では抵抗素子12は基準画像データの対応する抵抗素子12と傾きが異なるため、合致率がしきい値以下として不良有と判断される恐れがある。
【００４２】
以上の通り、外部端子の多いICチップ素子や、設置する角度が各素子で異なる抵抗素子等は、外観検査を行うことなく、目視検査のみを行うのが望ましい。また外部端子やプリントされた文字などは、自動検査により不具合がないかの判定が容易であり、自動検査の初期設定も複雑ではない。そのため自動検査の初期設定及び判定が容易な部分は、自動検査を行う箇所とすることにより、目視検査の負担を軽減することができる。従って本発明の外観検査システムによれば、目視検査の負担を軽減し、自動検査の煩雑な初期設定を省くことができる上に、自動検査の検査ミスにより不良品が検査合格してしまうのを防ぐことができる。
【００４３】
(2-6) 検査終了
目視検査を行う全ての箇所に不良有又は不良無を示す入力を行った後、表示手段６に検査完了を示す表示がなされ、目視検査にて不良有と判定された箇所がない場合、次の検査対象物の外観検査を行うことが可能となる。このように、目視検査を行う全ての箇所に不良有又は不良無を示す入力を行わなければ、検査終了とはならず、次の検査対象物の外観検査を行うことができない。検査終了していない状態で検査対象物であるプリント基板10を裁置台２から取り外すと、エラー音やエラーメッセージが生じるようにしても良い。これにより、目視検査の検査漏れを確実に防止することができる。
【００４４】
目視検査にて不良有と判定された箇所がある場合、不良有と判定されたプリント基板10を不良品収納手段８に収納する。製品検出センサ９によりプリント基板10が不良品収納手段８に収納されたかどうかを検知し、その情報は制御部に送られる。制御部はこのプリント基板10が確実に廃棄されたことを確認したため、次の検査対象物の外観検査を行うことが可能になる。これにより不良品と判断されたプリント基板が良品の中に混在するのを確実に防止することができる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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