(57)【要約】【課題】１次検査・手入れ工程を経た鋼片にオペレータが２次検査・手入れ工程を施す際に、高精度且つ高効率に作業を行うことを可能にする。【解決手段】本発明に係る支援装置１００は、１次検査・手入れ工程Ｐ１で得られた情報を受信可能な記憶装置１と、１次検査・手入れ工程を経た鋼片Ｂを磁粉探傷法により目視検査し、切削によって手入れする２次検査・手入れ工程Ｐ２に設けられた表示装置２とを備える。記憶装置は、１次検査・手入れ工程で検出された表面疵の位置情報と切削された箇所の位置情報とを鋼片の識別子と紐付けて記憶し、表示装置は、前記識別子と紐付けられた表面疵の位置情報と切削箇所の位置情報とを記憶装置から受信し、該受信した位置情報の中から、２次検査・手入れ工程において入力された識別子に紐付けられた表面疵の位置情報と切削箇所の位置情報とを抽出して同時に表示する。【選択図】 図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
鋼片の表面疵検査を行い、該検査によって検出された表面疵を切削によって手入れする１次検査・手入れ工程で得られた情報を受信可能な記憶装置と、
前記１次検査・手入れ工程を経た鋼片を磁粉探傷法により目視検査し、切削によって手入れする２次検査・手入れ工程に設けられた表示装置とを備え、
前記記憶装置は、前記１次検査・手入れ工程で検出された表面疵の位置情報と切削された箇所の位置情報とを鋼片の識別子と紐付けて記憶し、
前記表示装置は、前記識別子と紐付けられた表面疵の位置情報と切削箇所の位置情報とを前記記憶装置から受信し、該受信した位置情報の中から、前記２次検査・手入れ工程において入力された識別子に紐付けられた表面疵の位置情報と切削箇所の位置情報とを抽出して同時に表示することを特徴とする鋼片の検査・手入れ支援装置。
【請求項２】
前記２次検査・手入れ工程に設けられ、鋼片の長手方向切削位置を通り該鋼片の長手方向に直交する方向に延びるスリット光を照射する光照射装置を更に備え、
前記表示装置は、前記光照射装置によって照射されるスリット光の位置を前記表面疵の位置情報及び前記切削箇所の位置情報と共に表示することを特徴とする請求項１に記載の鋼片の検査・手入れ支援装置。
【請求項３】
鋼片の表面疵検査を行い、該検査によって検出された表面疵を切削によって手入れする１次検査・手入れ工程と、
前記１次検査・手入れ工程を経た鋼片を磁粉探傷法により目視検査し、切削によって手入れする２次検査・手入れ工程とを含み、
前記１次検査・手入れ工程において、検出された表面疵の位置情報と切削された箇所の位置情報とを鋼片の識別子と紐付けて記憶し、
前記２次検査・手入れ工程において、前記１次検査・手入れ工程で前記識別子と紐付けられた表面疵の位置情報と切削箇所の位置情報とを受信し、該受信した位置情報の中から、入力された識別子に紐付けられた表面疵の位置情報と切削箇所の位置情報とを抽出して同時に表示することを特徴とする鋼片の検査・手入れ方法。
【請求項４】
前記２次検査・手入れ工程において、鋼片の長手方向切削位置を通り該鋼片の長手方向に直交する方向に延びるスリット光を照射すると共に、該照射されるスリット光の位置を前記表面疵の位置情報と前記切削箇所の位置情報と共に表示することを特徴とする請求項３に記載の鋼片の検査・手入れ方法。
【請求項５】
前記１次検査・手入れ工程は、
鋼片の長手方向端面に予め貼り付けられた該鋼片の識別子と該鋼片の検査面の向きを表す情報とを含むラベルを読み取る工程と、
前記ラベルを読み取った後、前記鋼片の表面疵検査を行い、該検査によって検出された表面疵を切削によって手入れする工程と、
検出された表面疵の位置情報と切削された箇所の位置情報とを、前記読み取ったラベルに含まれる前記鋼片の識別子と前記鋼片の検査面の向きを表す情報とに基づき、前記鋼片の識別子と紐付けて該鋼片の検査面毎に記憶する工程と、
前記ラベルと同種のラベルを前記表面疵検査及び手入れを行った後の鋼片の長手方向端面に貼り付ける工程とを含み、
前記２次検査・手入れ工程は、
前記１次検査・手入れ工程で前記識別子と紐付けられた前記鋼片の検査面毎の表面疵の位置情報と切削箇所の位置情報とを受信する工程と、
前記ラベルを読み取る工程と、
前記読み取ったラベルに含まれる識別子に基づき、前記受信した位置情報の中から、前記読み取ったラベルに含まれる識別子に紐付けられた前記鋼片の検査面毎の表面疵の位置情報と切削箇所の位置情報とを抽出して同時に表示する工程とを含むことを特徴とする請求項３又は４に記載の鋼片の検査・手入れ方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、自動表面疵検査及び自動手入れ（１次検査・手入れ工程）を経た鋼片をオペレータが目視検査・手入れ（２次検査・手入れ工程）する際に、高精度且つ高効率に作業を行うことを可能にする鋼片の検査・手入れ支援装置、及びこれを用いた鋼片の検査・手入れ方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
鉄鋼業では、鋼片の品質向上のため、鋼片の表面疵の検査を行い、検査によって検出された表面疵を切削除去する「手入れ」が行われている。現在では、オペレータによる目視での検査、手動での手入れのみならず、自動検査装置や自動手入れ（切削）装置を用いて検査・手入れする場合も多い。しかしながら、自動検査装置・自動手入れ装置のみでは検査・手入れ後に表面疵が残存するおそれがあるため、自動検査装置・自動手入れ装置を用いた検査・手入れ（１次検査・手入れ工程）を行った後に改めて、特許文献１に記載のような磁粉探傷法による目視検査とグラインダーによる手動手入れ（２次検査・手入れ工程）を行う場合が多い。このように、鋼片の品質向上のためには、現状ではオペレータによる目視検査・手動手入れが必要不可欠な作業となっている。
【０００３】
しかしながら、２次検査・手入れ工程は、オペレータの目視作業が前提となっているため、表面疵の取り残しによる品質悪化のおそれがある。また、表面疵の取り残しをおそれるあまり、過度に時間をかけて検査・手入れを行えば、作業効率が悪くなり、生産性が悪化する。
このため、２次検査・手入れ工程における作業を効率的に精度良く行うことが求められている。
【０００４】
鋼片の１次検査・手入れ工程及び２次検査・手入れ工程に関連する技術としては、例えば、特許文献２に記載の技術が提案されている。
【０００５】
具体的には、特許文献２には、鋼片表面の自動表面疵検査を行った後、この自動表面疵検査により探傷した疵を手入れする手入れ工程（前述した１次検査・手入れ工程に相当）の後に、磁粉探傷法による目視検査（前述した２次検査・手入れ工程に相当）を行うに当たり、前記自動表面疵検査において取り込んだ目視検査対象当該鋼片の疵情報により手入れ前の疵位置を図式的に表示する疵マップを目視検査工程にて表示し、検査者が、該疵マップを参照して、磁粉探傷法による当該鋼片の目視検査を行なうことを特徴とする鋼片の表面疵検査方法が提案されている（特許文献２の請求項１）。
【０００６】
特許文献２に記載の方法によれば、１次検査・手入れ工程によって検出された表面疵の位置情報を見ながら、２次検査・手入れ工程において目視検査を行うことができるため、１次検査・手入れ工程における結果が何ら表示されることなく２次検査・手入れ工程を行う場合に比べれば、検査や手入れの精度や効率が高まることが期待できるものの、必ずしも十分とはいえない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】実開平６−６３２６４号公報
【特許文献２】特開２００５−１６４５１１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本発明は、上記のような従来技術の問題点を解決するためになされたものであり、自動表面疵検査及び自動手入れ（１次検査・手入れ工程）を経た鋼片をオペレータが目視検査・手入れ（２次検査・手入れ工程）する際に、高精度且つ高効率に作業を行うことを可能にする鋼片の検査・手入れ支援装置、及びこれを用いた鋼片の検査・手入れ方法を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
前記課題を解決するため、本発明は、鋼片の表面疵検査を行い、該検査によって検出された表面疵を切削によって手入れする１次検査・手入れ工程で得られた情報を受信可能な記憶装置と、前記１次検査・手入れ工程を経た鋼片を磁粉探傷法により目視検査し、切削によって手入れする２次検査・手入れ工程に設けられた表示装置とを備え、前記記憶装置は、前記１次検査・手入れ工程で検出された表面疵の位置情報と切削された箇所の位置情報とを鋼片の識別子と紐付けて記憶し、前記表示装置は、前記識別子と紐付けられた表面疵の位置情報と切削箇所の位置情報とを前記記憶装置から受信し、該受信した位置情報の中から、前記２次検査・手入れ工程において入力された識別子に紐付けられた表面疵の位置情報と切削箇所の位置情報とを抽出して同時に表示することを特徴とする鋼片の検査・手入れ支援装置を提供する。
【００１０】
本発明に係る鋼片の検査・手入れ支援装置によれば、２次検査・手入れ工程に設けられた表示装置によって、２次検査・手入れ工程を施している鋼片（入力された識別子に対応する鋼片）について１次検査・手入れ工程で検出された表面疵の位置情報と切削された箇所の位置情報とが同時に表示されることになる。
前述した特許文献２に記載の技術のように、検出された表面疵の位置情報を表示するのみでは、検出された表面疵が１次検査・手入れ工程で切削されたか否かが明確でないため、表示された表面疵の全てを入念に検査する必要が生じ、作業効率が低下するおそれがある。一方、切削された箇所の位置情報を表示するのみでは、例えば、１次検査・手入れ工程で表面疵が検出されたにも関わらず、手入れに用いる切削装置の不具合等によって切削除去されなかった表面疵が残存する場合に、その表面疵を２次検査・手入れ工程で見逃すおそれがある。
しかしながら、本発明に係る鋼片の検査・手入れ支援装置によれば、前述のように、１次検査・手入れ工程で検出された表面疵の位置情報と切削された箇所の位置情報とが同時に表示されるため、例えば、１次検査・手入れ工程で検出されたけれども、切削されていない箇所に存在する表面疵を識別することができ、この表面疵を２次検査・手入れ工程で重点的に検査・手入れすることで、高精度且つ高効率に検査・手入れ作業を行うことが可能である。
なお、本発明に係る鋼片の検査・手入れ支援装置が備える記憶装置と表示装置とは、別体であっても良いし、一体化されている（表示装置が記憶装置の機能を兼ね備える）構成であっても良い。記憶装置と表示装置とが別体である場合、表示装置は、前述のように２次検査・手入れ工程に設けられる一方、記憶装置は、例えば１次検査・手入れ工程に設けることができる。記憶装置と表示装置とが一体化されている場合、記憶装置の機能を兼ね備えた表示装置は、２次検査・手入れ工程に設けられる。また、記憶装置と表示装置とが一体化されている場合、本発明における「表示装置は、前記識別子と紐付けられた表面疵の位置情報と切削箇所の位置情報とを前記記憶装置から受信し」とは、一体化された装置の中で表示装置の機能を奏する部分（表示部）が、記憶装置の機能を奏する部分（記憶部）から各位置情報を受信することを意味する。
【００１１】
本発明に係る鋼片の検査・手入れ支援装置は、前記２次検査・手入れ工程に設けられ、鋼片の長手方向切削位置を通り該鋼片の長手方向に直交する方向に延びるスリット光を照射する光照射装置を更に備え、前記表示装置は、前記光照射装置によって照射されるスリット光の位置を前記表面疵の位置情報及び前記切削箇所の位置情報と共に表示することが好ましい。
【００１２】
斯かる好ましい構成によれば、表示装置によって、鋼片に照射されるスリット光の位置（２次検査・手入れ工程において、当該鋼片の切削を行っている位置）が表面疵の位置情報及び切削箇所の位置情報と共に表示されるため、この表示装置に表示されたスリット光の位置と、実際の鋼片に照射されたスリット光の位置とを目視で対比することで、表示装置に表示された各位置情報が実際の鋼片において何処に位置しているかを把握し易くなる。このため、より一層、高精度且つ高効率に検査・手入れ作業を行うことが可能である。
【００１３】
また、前記課題を解決するため、本発明は、鋼片の表面疵検査を行い、該検査によって検出された表面疵を切削によって手入れする１次検査・手入れ工程と、前記１次検査・手入れ工程を経た鋼片を磁粉探傷法により目視検査し、切削によって手入れする２次検査・手入れ工程とを含み、前記１次検査・手入れ工程において、検出された表面疵の位置情報と切削された箇所の位置情報とを鋼片の識別子と紐付けて記憶し、前記２次検査・手入れ工程において、前記１次検査・手入れ工程で前記識別子と紐付けられた表面疵の位置情報と切削箇所の位置情報とを受信し、該受信した位置情報の中から、入力された識別子に紐付けられた表面疵の位置情報と切削箇所の位置情報とを抽出して同時に表示することを特徴とする鋼片の検査・手入れ方法としても提供される。
【００１４】
本発明に係る鋼片の検査・手入れ方法によれば、２次検査・手入れ工程において、１次検査・手入れ工程で検出された表面疵の位置情報と切削された箇所の位置情報とが同時に表示される。このため、例えば、１次検査・手入れ工程で検出されたけれども、切削されていない箇所に存在する表面疵を識別することができ、この表面疵を２次検査・手入れ工程で重点的に検査・手入れすることで、高精度且つ高効率に検査・手入れ作業を行うことが可能である。
【００１５】
前記２次検査・手入れ工程においては、鋼片の長手方向切削位置を通り該鋼片の長手方向に直交する方向に延びるスリット光を照射すると共に、該照射されるスリット光の位置を前記表面疵の位置情報と前記切削箇所の位置情報と共に表示することが好ましい。
【００１６】
斯かる好ましい方法によれば、２次検査・手入れ工程において、鋼片に照射されるスリット光の位置（２次検査・手入れ工程において、当該鋼片の切削を行っている位置）が表面疵の位置情報及び切削箇所の位置情報と共に表示されるため、この表示されたスリット光の位置と、実際の鋼片に照射されたスリット光の位置とを目視で対比することで、表示された各位置情報が実際の鋼片においてどこに位置しているかを把握し易くなる。このため、より一層、高精度且つ高効率に検査・手入れ作業を行うことが可能である。
【００１７】
好ましくは、前記１次検査・手入れ工程は、鋼片の長手方向端面に予め貼り付けられた該鋼片の識別子と該鋼片の検査面の向きを表す情報とを含むラベルを読み取る工程と、前記ラベルを読み取った後、前記鋼片の表面疵検査を行い、該検査によって検出された表面疵を切削によって手入れする工程と、検出された表面疵の位置情報と切削された箇所の位置情報とを、前記読み取ったラベルに含まれる前記鋼片の識別子と前記鋼片の検査面の向きを表す情報とに基づき、前記鋼片の識別子と紐付けて該鋼片の検査面毎に記憶する工程と、前記ラベルと同種のラベルを前記表面疵検査及び手入れを行った後の鋼片の長手方向端面に貼り付ける工程とを含み、前記２次検査・手入れ工程は、前記１次検査・手入れ工程で前記識別子と紐付けられた前記鋼片の検査面毎の表面疵の位置情報と切削箇所の位置情報とを受信する工程と、前記ラベルを読み取る工程と、前記読み取ったラベルに含まれる識別子に基づき、前記受信した位置情報の中から、前記読み取ったラベルに含まれる識別子に紐付けられた前記鋼片の検査面毎の表面疵の位置情報と切削箇所の位置情報とを抽出して同時に表示する工程とを含む。
【００１８】
斯かる好ましい方法によれば、貼り付けられたラベルを読み取ることで鋼片の識別子を容易に認識することができ、２次検査・手入れ工程において、認識した識別子に紐付けられた各位置情報を確実に表示することが可能である。また、ラベルには鋼片の検査面の向きを表す情報（例えば、鋼片が断面矩形で、上面、下面、左面、右面のうちいずれが検査面になっているかを示す情報）が含まれているため、２次検査・手入れ工程において、オペレータが貼り付けたラベルを目視等で読み取ることで、鋼片の検査面を容易に認識することができ、表示された検査面毎の各位置情報との対比が容易になる。その結果、より一層、高精度且つ高効率に検査・手入れ作業を行うことが可能である。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、１次検査・手入れ工程を経た鋼片をオペレータが２次検査・手入れ工程する際に、高精度且つ高効率に作業を行うことが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】図１は、本発明の一実施形態に係る鋼片の検査・手入れ支援装置の概略構成を示す図である。
【図２】図２は、図１に示す鋼片の検査・手入れ支援装置を用いた鋼片の検査・手入れ方法で使用される、鋼片の長手方向端面に貼り付けられるラベルの一例を示す図である。
【図３】図３は、図１に示す鋼片の検査・手入れ支援装置の表示装置によって表示される表示画面例を模式的に示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下、添付図面を適宜参照しつつ、本発明の一実施形態に係る鋼片の検査・手入れ支援装置、及びこれを用いた鋼片の検査・手入れ方法について、鋼材が断面矩形の鋼片である場合を例に挙げて説明する。
【００２２】
図１は、本発明の一実施形態に係る鋼片の検査・手入れ支援装置（以下、適宜、「支援装置」と略称する）の概略構成を示す図である。図２（ａ）、（ｂ）は、図１に示す支援装置を用いた鋼片の検査・手入れ方法で使用される、鋼片の長手方向端面に貼り付けられるラベルの一例を示す図である。鋼片の長手方向端面とは、鋼片の長手方向に対して略垂直に形成された端面であり、鋼片のトップ又はテールの面である。
図１に示すように、本実施形態に係る支援装置１００は、鋼片Ｂの表面疵検査を行い、該検査によって検出された表面疵を切削によって手入れする１次検査・手入れ工程Ｐ１に設けられた記憶装置１と、１次検査・手入れ工程Ｐ１を経た鋼片Ｂを磁粉探傷法により目視検査し、切削によって手入れする２次検査・手入れ工程Ｐ２に設けられた表示装置２とを備えている。すなわち、本実施形態では、記憶装置１と表示装置２とが別体とされている。また、本実施形態に係る支援装置１００は、好ましい構成として、２次検査・手入れ工程Ｐ２に設けられ、鋼片Ｂの長手方向切削位置を通り鋼片Ｂの長手方向に直交する方向に延びるスリット光ＳＬを照射する光照射装置５を備えている。さらに、本実施形態に係る支援装置１００は、好ましい構成として、鋼片Ｂの長手方向の変位を測定するためのレーザ距離計８を備えている。
【００２３】
１次検査・手入れ工程Ｐ１においては、公知の自動磁粉探傷装置３を用いて、鋼片Ｂを長手方向に搬送しながら一の検査面についての検査が実施され、自動磁粉探傷装置３で検出された表面疵の切削は、フライスカッターを有する公知の自動切削装置４を用いて実施される。当該一の検査面についての検査・切削が終了すれば鋼片Ｂを長手方向の軸回りに９０°回転させ、他の検査面についての検査・切削を実施し、これを繰り返すことで、鋼片Ｂの全ての検査面（上面、下面、左面、右面）についての表面疵検査及び切削が実施される。
自動磁粉探傷装置３によって検出された表面疵情報（本実施形態では、検出された表面疵の位置情報だけでなく、検出された表面疵の種類毎の個数も含む）、及び、自動切削装置４によって切削された箇所の位置情報（以下、適宜、「切削位置情報」と略称する）は、記憶装置１に送信される。本実施形態の記憶装置１は、プロセスコンピュータから構成されている。
【００２４】
なお、本実施形態では、鋼片Ｂを１次検査・手入れ工程Ｐ１に搬送する前に、鋼片Ｂの長手方向端面に、図２（ａ）に示すような、鋼片Ｂの識別子と鋼片Ｂの検査面の向きを表す情報とを含むラベルＬを予め貼り付ける。図２（ａ）に示す例では、ラベルＬに記載の「０１２３４５−６７」という文字が鋼片Ｂの識別子に相当する。ラベルＬに記載のバーコードにも同じ鋼片Ｂの識別子がエンコードされている。また、図２（ａ）に示すラベルＬの状態のとき（ラベルＬに記載の文字が正立しているとき）に上方向に位置する鋼片Ｂの面を上面、下方向に位置する鋼片Ｂの面を下面、ラベルＬに向かって左側を左面、右側を右面と規定することで、仮に上方向に位置する鋼片Ｂの面が検査面であれば、図２（ａ）に示す状態では上面が検査面であり、図２（ｂ）に示す状態では、左面が検査面であることを認識できる。従い、ラベルＬには、鋼片Ｂの識別子と鋼片Ｂの検査面の向きを表す情報とが含まれているといえる。
そして、本実施形態では、自動磁粉探傷装置３で鋼片Ｂに表面疵検査を行う前に、ラベルＬを読み取り、ラベルＬに含まれる鋼片Ｂの識別子及び検査面情報（検査面の向きを表す情報）を記憶装置１に送信する。具体的には、撮像装置５によってラベルＬを撮像し、画像解析装置６で撮像画を解析することで、ラベルＬに含まれる識別子及び検査面情報を抽出して、記憶装置１に送信する。例えば、撮像装置５によって図２（ａ）に示す状態のラベルＬを撮像したのであれば、自動磁粉探傷装置３ではまず最初に上面を検査するという情報が記憶装置１に送信されることになる。
【００２５】
記憶装置１は、自動磁粉探傷装置３で検出された表面疵情報と、自動切削装置４によって出力される切削位置情報とを、画像解析装置６で抽出された鋼片Ｂの識別子と紐付けて記憶する。特に、本実施形態の記憶装置１は、画像解析装置６で抽出された検査面情報に基づき、鋼片Ｂの検査面毎に前記各情報を記憶する。具体的には、記憶装置１は、鋼片Ｂを長手方向の軸回りに回転させる回転装置（図示せず）から出力される回転情報（例えば、９０°回転し終わる毎に出力される信号）を受信するように構成されており、画像解析装置６から送信された検査面情報（最初の検査面情報）と、前記回転装置から送信された回転情報とに基づき、受信した表面疵情報及び切削位置情報が鋼片Ｂの何れの検査面についての情報であるかを認識可能である。従い、記憶装置１は、表面疵情報と切削位置情報とを鋼片Ｂの識別子と紐付けて鋼片Ｂの検査面毎に記憶可能である。
【００２６】
なお、１次検査・手入れ工程Ｐ１においては、通常、自動磁粉探傷装置３で表面疵検査を実施する前に、ショットブラスト等を施して鋼片Ｂの表面の酸化スケールを除去する。この際、鋼片Ｂに予め貼り付けられたラベルＬは剥がれてしまうため、ラベルＬと同種のラベルＬ’を自動磁粉探傷装置３による表面疵検査及び自動切削装置４による手入れを行った後の鋼片Ｂの長手方向端面に貼り付け、２次検査・手入れ工程Ｐ１に搬送する。
【００２７】
２次検査・手入れ工程Ｐ２においても、鋼片Ｂを長手方向に搬送しながら、磁粉探傷装置（図示せず）及びグラインダ（図示せず）によって一の検査面についての検査・切削を実施し、当該一の検査面についての検査・切削が終了すれば鋼片Ｂを長手方向の軸回りに９０°回転させ、他の検査面についての検査・切削を実施し、これを繰り返すことで、鋼片Ｂの全ての検査面についての表面疵検査及び切削が実施される。
【００２８】
２次検査・手入れ工程Ｐ２に設けられた本実施形態の表示装置２は、プロセスコンピュータ２１と、モニタ２２と、バーコード読取装置２３とを具備する。
表示装置２が具備するプロセスコンピュータ２１には、鋼片Ｂの識別子と紐付けられた鋼片Ｂの検査面毎の表面疵情報と切削位置情報とが記憶装置１から送信され、記憶されている。
【００２９】
２次検査・手入れ工程Ｐ２に鋼片Ｂが搬入され、オペレータがバーコード読取装置２３を用いて鋼片Ｂに貼り付けられたラベルＬ’に記載のバーコードを読み取ることで、バーコードに含まれる鋼片Ｂの識別子がデコードされ、プロセスコンピュータ２１に送信される。プロセスコンピュータ２１は、記憶された位置情報の中から、バーコード読取装置２３から送信された識別子に紐付けられた鋼片Ｂの検査面毎の表面疵情報と切削位置情報とを抽出して、これらをモニタ２２に同時に表示させる。
なお、本実施形態の表示装置２は、好ましい構成として、２次検査・手入れ工程Ｐ２に設けられた光照射装置７によって照射されるスリット光ＳＬの位置を表面疵情報及び切削位置情報と共に表示するように構成されている。具体的には、２次検査・手入れ工程Ｐ２に設けられたレーザ距離計８によって、鋼片Ｂの長手方向の変位を測定し、その測定結果をプロセスコンピュータ２１に送信する。プロセスコンピュータ２１は、レーザ距離計８で測定した鋼片Ｂの長手方向の変位と、光照射装置７の配置位置とに基づき、光照射装置７によって照射されたスリット光ＳＬの位置（鋼片Ｂの長手方向端面からの距離）を演算し、鋼片Ｂの表面疵情報と切削位置情報と共にモニタ２２に表示させる。
【００３０】
図３は、支援装置１００の表示装置２によって表示される表示画面例を模式的に示す図である。
図３に示すように、表示装置２（モニタ２２）には、対象となっている鋼片Ｂの識別子（図３に示す例では、鋼片Ｎｏの枠内の数字）が表示される。また、表面疵情報として、１次検査・手入れ工程Ｐ１において検出された表面疵の位置情報（図３において斜線のハッチングを施された領域）が各検査面毎に表示される。また、表面疵情報として、１次検査・手入れ工程Ｐ１において検出された表面疵の種類（図３に示す例では、割れ疵、ヘゲ、大欠陥の３種類）毎の個数が各検査面毎に表示される。また、１次検査・手入れ工程Ｐ１における切削位置情報（図３において太線の枠で囲った領域）が各検査面毎に表示される。さらには、２次検査・手入れ工程Ｐ２に設けられた光照射装置７によって照射されるスリット光ＳＬの位置（２次検査・手入れ工程Ｐ２において、鋼片Ｂの切削を実施しようとする位置。図３において鋼片Ｂの端面から４ｍ近辺に表示されているハッチングを施された領域）が表示される。このスリット光ＳＬの位置は、２次検査・手入れ工程Ｐ２において鋼片Ｂの切削を行う際に、鋼片Ｂを長手方向に搬送することで鋼片Ｂに対して相対的に移動するため、モニタ２２に表示されるスリット光ＳＬの位置も移動することになる。
【００３１】
以上に説明したように、本実施形態に係る支援装置１００及びこれを用いた鋼片Ｂの検査・手入れ方法によれば、２次検査・手入れ工程Ｐ２に設けられた表示装置２によって、２次検査・手入れ工程Ｐ２を施している鋼片Ｂ（バーコード読取装置２３によって入力された識別子に対応する鋼片Ｂ）について１次検査・手入れ工程Ｐ１で検出された表面疵の位置情報と切削された箇所の位置情報とが同時に表示されることになる。
検出された表面疵の位置情報を表示するのみでは、検出された表面疵が１次検査・手入れ工程Ｐ１で切削されたか否かが明確でないため、表示された表面疵の全てを入念に検査する必要が生じ、作業効率が低下するおそれがある。一方、切削された箇所の位置情報を表示するのみでは、例えば、１次検査・手入れ工程Ｐ１で表面疵が検出されたにも関わらず、手入れに用いる切削装置の不具合等によって切削除去されなかった表面疵が残存する場合に、その表面疵を２次検査・手入れ工程Ｐ２で見逃すおそれがある。
しかしながら、本実施形態に係る支援装置１００及びこれを用いた鋼片Ｂの検査・手入れ方法によれば、前述のように、１次検査・手入れ工程Ｐ１で検出された表面疵の位置情報と切削された箇所の位置情報とが同時に表示されるため、例えば、１次検査・手入れ工程Ｐ１で検出されたけれども、切削されていない箇所に存在する表面疵を識別することができ、この表面疵を２次検査・手入れ工程Ｐ２で重点的に検査・手入れすることで、高精度且つ高効率に検査・手入れ作業を行うことが可能である。
【００３２】
また、本実施形態に係る支援装置１００及びこれを用いた鋼片Ｂの検査・手入れ方法によれば、表示装置２によって、鋼片Ｂに照射されるスリット光ＳＬの位置が表面疵の位置情報及び切削箇所の位置情報と共に表示されるため、この表示装置２に表示されたスリット光ＳＬの位置と、実際の鋼片Ｂに照射されたスリット光ＳＬの位置とを目視で対比することで、表示装置２に表示された各位置情報が実際の鋼片Ｂにおいて何処に位置しているかを把握し易くなる。このため、より一層、高精度且つ高効率に検査・手入れ作業を行うことが可能である。
【００３３】
さらに、本実施形態に係る支援装置１００及びこれを用いた鋼片Ｂの検査・手入れ方法によれば、貼り付けられたラベルＬ’を読み取ることで鋼片Ｂの識別子を容易に認識することができ、２次検査・手入れ工程Ｐ２において、認識した識別子に紐付けられた各位置情報を確実に表示することが可能である。また、ラベルＬ’には鋼片Ｂの検査面の向きを表す情報が含まれているため、２次検査・手入れ工程Ｐ２において、オペレータが貼り付けたラベルＬ’を目視等で読み取ることで、鋼片Ｂの検査面を容易に認識することができ、表示された検査面毎の各位置情報との対比が容易になる。その結果、より一層、高精度且つ高効率に検査・手入れ作業を行うことが可能である。
【００３４】
なお、本実施形態では、記憶装置１と表示装置２とが別体である場合について説明したが、本発明はこれに限るものではなく、両者が一体化されている（表示装置２が記憶装置１の機能を兼ね備える）構成であっても良い。この場合、一体化された装置（記憶装置１の機能を兼ね備えた表示装置２）は、本実施形態の表示装置２と同様に、２次検査・手入れ工程Ｐ２に設けられる。
【符号の説明】
【００３５】
１・・・記憶装置
２・・・表示装置
３・・・自動磁粉探傷装置
４・・・自動切削装置
７・・・光照射装置
８・・・レーザ距離計
２１・・・プロセスコンピュータ
２２・・・モニタ
２３・・・バーコード読取装置
１００・・・鋼片の検査・手入れ支援装置
Ｂ・・・鋼片
ＳＬ・・・スリット光
Ｐ１・・・１次検査・手入れ工程
Ｐ２・・・２次検査・手入れ工程
【図１】
2015075451.tif 000003
【図２】
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【図３】
2015075451.tif 000005