(57)【要約】      （修正有）【課題】偏光フィルムの欠陥検出装置及び方法を提供する。【解決手段】偏光フィルムの欠陥検出装置１００において、自動光学検査機で検査された偏光フィルムに対する検査結果を受信する受信部１１０と、前記検査結果を分析して偏光フィルムの欠陥を検出する検出部１３０と、を備え、前記検出部は、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）、デルタＸ（Ｄｘ）、デルタＹ（Ｄｙ）、領域（Ａｒｅａ）、密度（Ｄｅｎｓｉｔｙ）、サイズ（Ｓｉｚｅ）、ピーク（Ｐｅａｋ）、厚さ（Ｔｈｉｃｋｎｅｓｓ）のうちの２つ以上のパラメータに基づいて、前記偏光フィルムの欠陥形態が、接合異物、接合気泡、異物、輝点、スクラッチ、群集性輝点、一糸のうちの少なくともいずれか一つであると判別する。【選択図】図２
2015118089.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
偏光フィルムの欠陥検出装置において、
自動光学検査機で検査された偏光フィルムに対する検査結果を受信する受信部と、
前記検査結果を分析して偏光フィルムの欠陥を検出する検出部と、
を備え、
前記検出部は、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）、デルタＸ（Ｄｘ）、デルタＹ（Ｄｙ）、領域（Ａｒｅａ）、密度（Ｄｅｎｓｉｔｙ）、サイズ（Ｓｉｚｅ）、ピーク（Ｐｅａｋ）、厚さ（Ｔｈｉｃｋｎｅｓｓ）のうちの２つ以上のパラメータに基づいて、前記偏光フィルムの欠陥形態が、接合異物、接合気泡、異物、輝点、スクラッチ、群集性輝点、一糸のうちの少なくともいずれか一つであると判別することを特徴とする装置。
【請求項２】
前記検出部で検出された欠陥形態を出力装置を介して報知する報知部をさらに備えることを特徴とする請求項１に記載の装置。
【請求項３】
前記検出部は、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が凹凸状であり、且つ、サイズ（Ｓｉｚｅ）が３００μｍ以上である場合、前記偏光フィルムの欠陥形態が接合異物であると判別することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の装置。
【請求項４】
前記検出部は、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が黒点であり、サイズ（Ｓｉｚｅ）が１００μｍ以上５４０μｍ未満であり、領域（Ａｒｅａ）が９０μｍ２以上１１４０μｍ２以下であり、デルタＸ（Ｄｘ）が１２０μｍ以上７８０μｍ以下であり、デルタＹ（Ｄｙ）が２１０μｍ以下であり、厚さ（Ｔｈｉｃｋｎｅｓｓ）が６６μｍ未満であり、且つ、ピーク（Ｐｅａｋ）が２０未満である場合、前記偏光フィルムの欠陥形態が接合気泡であると判別することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の装置。
【請求項５】
前記検出部は、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が黒点であり、サイズ（Ｓｉｚｅ）が１６０μｍ以下であり、領域（Ａｒｅａ）が３００μｍ２以下であり、且つ、デルタＸ（Ｄｘ）が１５０μｍ以下である場合、前記偏光フィルムの欠陥形態が異物であると判別することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の装置。
【請求項６】
前記検出部は、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が白点であり、ピーク（Ｐｅａｋ）が１６以上であり、且つ、デルタＹ（Ｄｙ）が４５０μｍ以下である場合、前記偏光フィルムの欠陥形態が輝点であると判別することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の装置。
【請求項７】
前記検出部は、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が白点であり、デルタＸ（Ｄｘ）が１０５μｍ以下であり、デルタＹ（Ｄｙ）が１５０μｍ以上であり、且つ、ピーク（Ｐｅａｋ）が５０以下である場合、前記偏光フィルムの欠陥形態がスクラッチであると判別することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の装置。
【請求項８】
前記検出部は、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が白点であり、デルタＸ（Ｄｘ）とデルタＹ（Ｄｙ）との差分が４５μｍ以上であり、ピーク（Ｐｅａｋ）が１６以上であり、デルタＸ（Ｄｘ）が４２０μｍ以下であり、デルタＹ（Ｄｙ）が１２６０μｍ以下であり、且つ、密度（Ｄｅｎｓｉｔｙ）が７．５以下である場合、前記偏光フィルムの欠陥形態が群集性輝点であると判別することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の装置。
【請求項９】
前記検出部は、ピーク（Ｐｅａｋ）が５０以上であり、密度（Ｄｅｎｓｉｔｙ）が６．７５以下であり、厚さ（Ｔｈｉｃｋｎｅｓｓ）が４２μｍ以上であり、且つ、デルタＸ（Ｄｘ）が１５０μｍ以上である場合、前記偏光フィルムの欠陥形態が一糸であると判別することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の装置。
【請求項１０】
前記検出部は、接合異物、接合気泡、異物、輝点、スクラッチ、群集性輝点、一糸のうちのいずれか一つの欠陥形態を検出できずにスキップ（Ｓｋｉｐ）した場合、他の欠陥形態を再び検出することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の装置。
【請求項１１】
偏光フィルム欠陥検出方法において、
自動光学検査機で検査された偏光フィルムに対する検査結果を受信するステップと、
前記検査結果を分析して偏光フィルムの欠陥を検出するステップと、
を含み、
前記欠陥を検出するステップでは、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）、デルタＸ（Ｄｘ）、デルタＹ（Ｄｙ）、領域（Ａｒｅａ）、密度（Ｄｅｎｓｉｔｙ）、サイズ（Ｓｉｚｅ）、ピーク（Ｐｅａｋ）、厚さ（Ｔｈｉｃｋｎｅｓｓ）のうちの２つ以上のパラメータに基づいて、前記偏光フィルムの欠陥形態が、接合異物、接合気泡、異物、輝点、スクラッチ、群集性輝点、一糸のうちの少なくともいずれか一つであると判別することを特徴とする方法。
【請求項１２】
前記検出された欠陥形態を出力装置を介して報知するステップをさらに含むことを特徴とする請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】
前記検出ステップでは、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が凹凸状であり、且つ、サイズ（Ｓｉｚｅ）が３００μｍ以上である場合、前記偏光フィルムの欠陥形態が接合異物であると判別することを特徴とする請求項１１又は請求項１２に記載の方法。
【請求項１４】
前記検出ステップでは、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が黒点であり、サイズ（Ｓｉｚｅ）が１００μｍ以上５４０μｍ未満であり、領域（Ａｒｅａ）が９０μｍ２以上１１４０μｍ２以下であり、デルタＸ（Ｄｘ）が１２０μｍ以上７８０μｍ以下であり、デルタＹ（Ｄｙ）が２１０μｍ以下であり、厚さ（Ｔｈｉｃｋｎｅｓｓ）が６６μｍ未満であり、且つ、ピーク（Ｐｅａｋ）が２０未満である場合、前記偏光フィルムの欠陥形態が接合気泡であると判別することを特徴とする請求項１１又は請求項１２に記載の方法。
【請求項１５】
前記検出ステップでは、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が黒点であり、サイズ（Ｓｉｚｅ）が１６０μｍ以下であり、領域（Ａｒｅａ）が３００μｍ２以下であり、且つ、デルタＸ（Ｄｘ）が１５０μｍ以下である場合、前記偏光フィルムの欠陥形態が異物であると判別することを特徴とする請求項１１又は請求項１２に記載の方法。
【請求項１６】
前記検出ステップでは、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が白点であり、ピーク（Ｐｅａｋ）が１６以上であり、且つ、デルタＹ（Ｄｙ）が４５０μｍ以下である場合、前記偏光フィルムの欠陥形態が輝点であると判別することを特徴とする請求項１１又は請求項１２に記載の方法。
【請求項１７】
前記検出ステップでは、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が白点であり、デルタＸ（Ｄｘ）が１０５μｍ以下であり、デルタＹ（Ｄｙ）が１５０μｍ以上であり、且つ、ピーク（Ｐｅａｋ）が５０以下である場合、前記偏光フィルムの欠陥形態がスクラッチであると判別することを特徴とする請求項１１又は請求項１２に記載の方法。
【請求項１８】
前記検出ステップでは、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が白点であり、デルタＸ（Ｄｘ）とデルタＹ（Ｄｙ）との差分が４５μｍ以上であり、ピーク（Ｐｅａｋ）が１６以上であり、デルタＸ（Ｄｘ）が４２０μｍ以下であり、デルタＹ（Ｄｙ）が１２６０μｍ以下であり、且つ、密度（Ｄｅｎｓｉｔｙ）が７.５以下である場合、前記偏光フィルムの欠陥形態が群集性輝点であると判別することを特徴とする請求項１１又は請求項１２に記載の方法。
【請求項１９】
前記検出ステップでは、ピーク（Ｐｅａｋ）が５０以上であり、密度（Ｄｅｎｓｉｔｙ）が６．７５以下であり、厚さ（Ｔｈｉｃｋｎｅｓｓ）が４２μｍ以上であり、且つ、デルタＸ（Ｄｘ）が１５０μｍ以上である場合、前記偏光フィルムの欠陥形態が一糸であると判別することを特徴とする請求項１１又は請求項１２に記載の方法。
【請求項２０】
前記検出ステップでは、接合異物、接合気泡、異物、輝点、スクラッチ、群集性輝点、一糸のうちのいずれか一つの欠陥形態を検出できずにスキップ（Ｓｋｉｐ）した場合、他の欠陥形態を再び検出することを特徴とする請求項１１又は請求項１２に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、偏光フィルムの欠陥検出装置及び方法に係り、さらに詳しくは、自動光学検査機の検査結果を用いて、リアルタイムで生産される偏光フィルムの不良を自動的に検出するシステム及び方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＬＣＤ光学材料として用いられる偏光フィルムを生産するメーカーにおいては、高速で生産される製品の実時間検査のためにインライン（ＩＮ−ＬＩＮＥ）自動光学検査システム（Ａｕｔｏｍａｔｅｄ Ｏｐｔｉｃａｌ Ｉｎｓｐｅｃｔｉｏｎ Ｓｙｓｔｅｍ、以下、「自動光学検査機」と称する。）を利用している。一般に、インライン自動光学検査機は、欠陥の発生個所にインキを付けたりバーコードマーキングを施したりし、後続工程においてインキを付けたりバーコードマーキングを施したりした個所を廃棄したりこれに対するさらなる検査を行ったりしている。
【０００３】
しかしながら、前記欠陥が特定の時点に集中して連続して発生した場合や、微細欠陥など実際に欠陥が発生したか否かが不明である場合には、前記自動光学検査機の過負荷及びハードウェア性能の問題によって前記全ての欠陥の発生個所に漏れなくマーキングを施すことができないという不都合がある。なお、欠陥の発生個所にマーキングが施されていない製品は、後続工程において不良品として認識されずに顧客社まで出市されてしまうような状況に陥る虞がある。この理由から、後続工程においては、検査員が製品を最終的に目視で検査しているが、このような目視による検査作業には、高コスト、手間がかかるという問題点がある。
【０００４】
さらに、従来の技術においては、偏光フィルム円盤内で検出された欠陥数のみを用いた欠陥発生率の情報しか取得することができなかったため、欠陥の流出（すなわち、欠陥の発生個所へのマーキング漏れ）可能性を考慮することができないという問題点がある。
【０００５】
一方、それぞれが複数のメモリセルを有するチップが複数形成される半導体ウェーハの致命的な不良を自動的に抽出する不良解析システム及び方法が提案されているが（例えば、下記の特許文献１参照）、前記不良解析システム及び方法においては、単にＸ、Ｙ方向性の不良のみを考慮して良否を判別しているため、接合異物、接合気泡、異物、輝点、スクラッチ、群集性輝点、一糸などの様々な欠陥を精度よく判別することができないという問題がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】大韓民国公開特許第２０００−００７７０２４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明は上述した問題点を解消するために案出されたものであり、その目的は、自動光学検査機の検査結果を用いて、リアルタイムで生産される偏光フィルムの不良を自動的に検出することのできる装置及び方法を提供することである。
【０００８】
本発明の他の目的は、接合異物、接合気泡、異物、輝点、スクラッチ、群集性輝点、一糸などの偏光フィルムの様々な欠陥を精度よく判別することのできる偏光フィルムの欠陥検出装置及び方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上述した目的を達成するために、本発明は、自動光学検査機で検査された偏光フィルムに対する検査結果を受信する受信部と、前記検査結果を分析して偏光フィルムの欠陥を検出する検出部と、を備え、前記検出部は、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）、デルタＸ（Ｄｘ）、デルタＹ（Ｄｙ）、領域（Ａｒｅａ）、密度（Ｄｅｎｓｉｔｙ）、サイズ（Ｓｉｚｅ）、ピーク（Ｐｅａｋ）、厚さ（Ｔｈｉｃｋｎｅｓｓ）のうちの２つ以上のパラメータに基づいて、前記偏光フィルムの欠陥形態が、接合異物、接合気泡、異物、輝点、スクラッチ、群集性輝点、一糸のうちの少なくともいずれか一つであると判別することを特徴とする偏光フィルムの欠陥検出装置を提供する。
【００１０】
また、上述した目的を達成するために、本発明は、自動光学検査機で検査された偏光フィルムに対する検査結果を受信するステップと、前記検査結果を分析して偏光フィルムの欠陥を検出するステップと、を含み、前記欠陥を検出するステップでは、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）、デルタＸ（Ｄｘ）、デルタＹ（Ｄｙ）、領域（Ａｒｅａ）、密度（Ｄｅｎｓｉｔｙ）、サイズ（Ｓｉｚｅ）、ピーク（Ｐｅａｋ）、厚さ（Ｔｈｉｃｋｎｅｓｓ）のうちの２つ以上のパラメータに基づいて、前記偏光フィルムの欠陥形態が、接合異物、接合気泡、異物、輝点、スクラッチ、群集性輝点、一糸のうちの少なくともいずれか一つであると判別することを特徴とする偏光フィルムの欠陥検出方法を提供する。
【発明の効果】
【００１１】
本発明に係る偏光フィルムの欠陥検出装置及び方法によれば、自動光学検査機の検査結果を用いて、リアルタイムで生産される偏光フィルムの不良を自動的に検出することができる。特に、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）、デルタＸ（Ｄｘ）、デルタＹ（Ｄｙ）、領域（Ａｒｅａ）、密度（Ｄｅｎｓｉｔｙ）、サイズ（Ｓｉｚｅ）、ピーク（Ｐｅａｋ）、厚さ（Ｔｈｉｃｋｎｅｓｓ）などに基づいて、偏光フィルムの欠陥形態が、接合異物、接合気泡、異物、輝点、スクラッチ、群集性輝点、一糸などであると精度よく判別することができる。
【００１２】
また、これにより、作業員（運転員）による不良の分析過程をなくし、しかも、欠陥要因を即座で判別することにより、偏光フィルムの不良発生区間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明において採用可能な自動光学検査機の一例を示す構成図である。
【図２】本発明の一実施形態に係る偏光フィルムの欠陥検出装置の構成図である。
【図３】本発明の一実施形態に係る接合異物検出アルゴリズムを示す図である。
【図４】本発明の一実施形態に係る接合気泡検出アルゴリズムを示す図である。
【図５】本発明の一実施形態に係る異物検出アルゴリズムを示す図である。
【図６】本発明の一実施形態に係る輝点検出アルゴリズムを示す図である。
【図７】本発明の一実施形態に係るスクラッチ検出アルゴリズムを示す図である。
【図８】本発明の一実施形態に係る群集性輝点検出アルゴリズムを示す図である。
【図９】本発明の一実施形態に係る一糸検出アルゴリズムを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、添付図面に基づき、本発明に係る偏光フィルムの欠陥検出装置及び方法について詳細に説明する。
【００１５】
まず、本発明の理解への一助となるために、自動光学検査機について簡略に説明する。図１は、偏光フィルムに対する欠陥検査を行う自動光学検査機の一例を示す図である。
【００１６】
製作された偏光フィルムは、クルクル巻いて円盤状にして保存するが、このような偏光フィルム円盤は、欠陥の検査に際して繰出部（図示せず）から繰出されてローラ１２によって所定の進行方向に搬送される。このとき、偏光フィルム１０の搬送速度はエンコーダ１１などの速度感知装置によって感知されて、今後欠陥発生個所の情報を生成するのに用いられる。
【００１７】
このとき、前記自動光学検査機は、少なくとも一つの照明装置２１と、これに対応する少なくとも一つの撮像装置２２と、を有する光学装置２０を備えることにより、前記搬送中の偏光フィルムに対する光学映像を取得することができる。
【００１８】
光学装置２０の構成及び設計方式は、前記自動光学検査機を用いて検出しようとする欠陥の項目（すなわち、種類及び内容）に応じて異なるが、一般に、自動光学検査機においては、偏光フィルムに対する透過検査、反射検査、偏光遮断検査（いわゆる、交差検査）などを行う。
【００１９】
このため、光学装置２０は、検査しようとする欠陥項目に応じて反射照明とこれに対応する撮像装置、透過照明とこれに対応する撮像装置などを選択的にまたは並列的に駆動することにより、様々な欠陥類型を検出するための光学映像を取得するように設計される。
【００２０】
そして、このように光学装置２０を介して取得した光学映像は映像分析／検査装置４０に転送され、映像分析／検査装置４０は、転送された光学映像に対する分析を行うことにより、偏光フィルムに存在する様々な欠陥を検出する。なお、映像分析／検査装置４０は、検出された欠陥に関するデータ（以下、「検査結果データ」と称する。）を生成してこれを格納する。
【００２１】
このとき、前記検査結果データに基づく欠陥の発生個所はマーキングシステム３０に転送され、前記マーキングシステム３０のマーキング制御部３２は、マーキング手段３１を制御することにより、前記欠陥の発生個所に対応して前記偏光フィルムに欠陥のマーキングを施す。
【００２２】
また、前記検査結果データは、出力装置５０、表示装置６０などに転送されてその結果が出力され、管理者のサーバ７０に転送されて格納及び管理される。
【００２３】
上述したように欠陥検査の終わった偏光フィルムは、巻取部（図示せず）により再びクルクル巻かれることにより、元の円盤状に保存される。
【００２４】
自動光学検査機の検査結果データは、一般に、データベースまたはエクセルなどのファイル形式で格納される。自動光学検査機は、個別の偏光フィルム円盤ＬＯＴに対する検査結果として、欠陥の明るさ、幅、長さ、サイズ（面積）、形状（円形性／線形性）、検出光学群（投射／反射／偏光遮断）など様々なデータを生成して格納する。
【００２５】
このとき、前記検査結果データの転送には、多数のユーザーまたは管理者の接近性を確保するために、ファイル転送プロトコル（ＦＴＰ：ｆｉｌｅ ｔｒａｎｓｆｅｒ ｐｒｏｔｏｃｏｌ）が用いられる。このように転送された検査結果データは、本発明に係る偏光フィルムの欠陥検出装置内の格納部に格納され、分析フォーマットの一元化のためにデータ変換部を介して所定の共通フォーマットに変換される。ここで、前記共通フォーマットは、データ言語であるマーク付け言語、例えば、拡張可能なマーク付け言語（ＸＭＬ：Ｅｘｔｅｎｓｉｂｌｅ  Ｍａｒｋｕｐ  Ｌａｎｇｕａｇｅ）、ハイパーテキストマーク付け言語（ＨＴＭＬ：Ｈｙｐｅｒｔｅｘｔ  Ｍａｒｋｕｐ  Ｌａｎｇｕａｇｅ）などである。このため、今後、データ分析は、変換されたＸＭＬなどで行われる。
【００２６】
但し、上述したような検査結果データの変換は、ライン別に検査機格納データ形式が異なる場合があることを前提として、異機種の検査機から取得されたデータ分析のために一元化された共通フォーマットに変換するためのものであるが、これとは異なり、検査機の格納データ形式がいずれも同様である場合にはデータの変換過程は省略可能である。なお、それぞれの格納データ形式が異なる場合にもそれぞれのデータ形式に合わせてデータ分析を行うことができるため、このような場合にも省略可能であるということはいうまでもない。
【００２７】
以下、図２から図９に基づき、本発明に係る偏光フィルムの欠陥検出装置及び方法について説明する。参考までに、本発明に係る偏光フィルムの欠陥検出装置は、上述した映像分析／検査装置４０そのもの若しくはその一部により実現されてもよく、または、別途の装置により実現されてもよい。
【００２８】
図２は、本発明の一実施形態に係る偏光フィルムの欠陥検出装置の構成図である。図２を参照すると、本発明の一実施形態に係る偏光フィルムの欠陥検出装置１００は、受信部１１０と、格納部１２０と、検出部１３０と、報知部１４０などを備える。
【００２９】
まず、受信部１１０は、自動光学検査機で検査された偏光フィルムに関する検査結果データを受信する。なお、格納部１２０は、前記受信された検査結果データを格納する。
【００３０】
ここで、検査結果データは、上述したように、自動光学検査機の検査結果を示すデータであり、本発明の好適な実施形態の場合、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）、デルタＸ（Ｄｘ）、デルタＹ（Ｄｙ）、領域（Ａｒｅａ）、密度（Ｄｅｎｓｉｔｙ）、サイズ（Ｓｉｚｅ）、ピーク（Ｐｅａｋ）、厚さ（Ｔｈｉｃｋｎｅｓｓ）などに関する情報を含む。
【００３１】
参考までに、下記表１は、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）、デルタＸ（Ｄｘ）、デルタＹ（Ｄｙ）、領域（Ａｒｅａ）、密度（Ｄｅｎｓｉｔｙ）、サイズ（Ｓｉｚｅ）、ピーク（Ｐｅａｋ）、厚さ（Ｔｈｉｃｋｎｅｓｓ）に対するパラメータの定義を示すものである。
【００３２】
【表１】
2015118089.tif 000003
【００３３】
表１を参照すると、デルタＸ（Ｄｘ）は、欠陥として認識された領域のＸ軸（偏光フィルムの幅方向）サイズを示し、デルタＹ（Ｄｙ）は、欠陥として認識された領域のＹ軸（偏光フィルムの長手方向）サイズを示す。前記デルタＸ（Ｄｘ）とデルタＹ（Ｄｙ）はピクセルを基準として設定し、例えば、欠陥として認識された領域のＸ軸ピクセルの数にＸ軸空間解像度（Ｘ軸ピクセルの実際のサイズ）を乗算し、欠陥として認識された領域のＹ軸ピクセルの数にＹ軸空間解像度（Ｙ軸ピクセルの実際のサイズ）を乗算して決定する。領域（Ａｒｅａ）は、欠陥として認識された総領域を示す。前記領域（Ａｒｅａ）も同様にピクセルを基準として設定し、例えば、欠陥として認識された総ピクセルの数にピクセルの実際の単位面積を乗算して決定する。密度（Ｄｅｎｓｉｔｙ）は、欠陥として認識された領域のＸ軸及びＹ軸の全体の四角形面積に実際に欠陥として認識された領域が占める割合、すなわち、Ａｒｅａ×１００／（Ｄｘ×Ｄｙ）を示す。サイズ（Ｓｉｚｅ）は欠陥のサイズを示すが、本発明の一実施形態においては、デルタＸ（Ｄｘ）とデルタＹ（Ｄｙ）の平均をとって欠陥のサイズを推定する。ピーク（Ｐｅａｋ）は、欠陥として認識された部分の明るさの最高値／最低値と周りの平均明るさとの差分を示す。参考までに、前記明るさは、モニター上に表示されるときに黒色を０のデジタル値、白色を２５５のデジタル値に換算して０〜２５５の値で表示することができる。厚さ（Ｔｈｉｃｋｎｅｓｓ）は欠陥の厚さを示すが、本発明の一実施形態においては、Ａｒｅａ／（√Ｄｘ２＋Ｄｙ２）に基づいて欠陥の厚さを推定する。欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）は、黒欠陥（黒点）、白欠陥（白点）、黒白欠陥（凹凸状）に分けられ、黒欠陥（黒点）は、基準陰影（Ｇｒａｙ）よりも低い（暗い）欠陥を意味し、白欠陥（白点）は、基準陰影（Ｇｒａｙ）よりも高い（明るい）欠陥を意味し、黒白欠陥（凹凸状）は、基準陰影（Ｇｒａｙ）よりも高くて低い部分を含む欠陥を意味する。
【００３４】
検出部１３０は、前記検査結果データを分析して偏光フィルムの欠陥を検出する。これに関し、図３から図９は、本発明の実施形態に係る検出アルゴリズムを示すものであるが、以下では、図３から図９を参照して前記検出部１３０で行われる本発明に係る偏光フィルムの欠陥検出方法について説明する。
【００３５】
図３は、本発明の一実施形態に係る接合異物検出アルゴリズムを示す図である。
【００３６】
図３を参照すると、ステップＳ３１０において、検出部１３０は、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が凹凸状（黒白欠陥）であるか否かを判断し、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が凹凸状（黒白欠陥）ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が凹凸状（黒白欠陥）である場合、ステップＳ３２０において、検出部１３０は、サイズ（Ｓｉｚｅ）が３００μｍ以上であるか否かを判断し、サイズ（Ｓｉｚｅ）が３００μｍ以上ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。そして、もし、サイズ（Ｓｉｚｅ）が３００μｍ以上である場合は、ステップＳ３３０において、検出部１３０は、当該偏光フィルムの欠陥形態が接合異物であると判別する。
【００３７】
図４は、本発明の一実施形態に係る接合気泡検出アルゴリズムを示す図である。
【００３８】
図４を参照すると、ステップＳ４１０において、検出部１３０は、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が黒点（黒欠陥）であるか否かを判断し、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が黒点（黒欠陥）ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が黒点（黒欠陥）である場合は、ステップＳ４２０において、検出部１３０は、サイズ（Ｓｉｚｅ）が１００μｍ以上５４０μｍ未満であるか否かを判断し、サイズ（Ｓｉｚｅ）が１００μｍ以上５４０μｍ未満ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、サイズ（Ｓｉｚｅ）が１００μｍ以上５４０μｍ未満である場合は、ステップＳ４３０において、検出部１３０は、領域（Ａｒｅａ）が９０μｍ２以上１１４０μｍ２以下であるか否かを判断し、領域（Ａｒｅａ）が９０μｍ２以上１１４０μｍ２以下ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、領域（Ａｒｅａ）が９０μｍ２以上１１４０μｍ２以下である場合は、ステップＳ４４０において、検出部１３０は、デルタＸ（Ｄｘ）が１２０μｍ以上７８０μｍ以下であるか否かを判断し、デルタＸ（Ｄｘ）が１２０μｍ以上７８０μｍ以下ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、デルタＸ（Ｄｘ）が１２０μｍ以上７８０μｍ以下である場合、ステップＳ４５０において、検出部１３０は、デルタＹ（Ｄｙ）が２１０μｍ以下であるか否かを判断し、デルタＹ（Ｄｙ）が２１０μｍ以下ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、デルタＹ（Ｄｙ）が２１０μｍ以下である場合、ステップＳ４６０において、検出部１３０は、厚さ（Ｔｈｉｃｋｎｅｓｓ）が６６μｍ未満であるか否かを判断し、厚さ（Ｔｈｉｃｋｎｅｓｓ）が６６μｍ未満ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、厚さ（Ｔｈｉｃｋｎｅｓｓ）が６６μｍ未満である場合、ステップＳ４７０において、検出部１３０は、ピーク（Ｐｅａｋ）が２０未満であるか否かを判断し、ピーク（Ｐｅａｋ）が２０未満ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、ピーク（Ｐｅａｋ）が２０未満である場合、ステップＳ４８０において、検出部１３０は、当該偏光フィルムの欠陥形態が接合気泡であると判別する。
【００３９】
図５は、本発明の一実施形態に係る異物検出アルゴリズムを示す図である。
【００４０】
図５を参照すると、ステップＳ５１０において、検出部１３０は、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が黒点（黒欠陥）であるか否かを判断し、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が黒点（黒欠陥）ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が黒点（黒欠陥）である場合、ステップＳ５２０において、検出部１３０は、サイズ（Ｓｉｚｅ）が１６０μｍ以下であるか否かを判断し、サイズ（Ｓｉｚｅ）が１６０μｍ以下ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、サイズ（Ｓｉｚｅ）が１６０μｍ以下である場合、ステップＳ５３０において、検出部１３０は、領域（Ａｒｅａ）が３００μｍ２以下であるか否かを判断し、領域（Ａｒｅａ）が３００μｍ２以下ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、領域（Ａｒｅａ）が３００μｍ２以下である場合、ステップＳ５４０において、検出部１３０は、デルタＸ（Ｄｘ）が１５０μｍ以下であるか否かを判断し、デルタＸ（Ｄｘ）が１５０μｍ以下ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、デルタＸ（Ｄｘ）が１５０μｍ以下である場合、ステップＳ５５０において、検出部１３０は、当該偏光フィルムの欠陥形態が異物であると判別する。
【００４１】
図６は、本発明の一実施形態に係る輝点検出アルゴリズムを示す図である。
【００４２】
図６を参照すると、ステップＳ６１０において、検出部１３０は、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が白点（白欠陥）であるか否かを判断し、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が白点（白欠陥）ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が白点（白欠陥）である場合、ステップＳ６２０において、検出部１３０は、ピーク（Ｐｅａｋ）が１６以上であるか否かを判断し、ピーク（Ｐｅａｋ）が１６以上ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、ピーク（Ｐｅａｋ）が１６以上である場合、ステップＳ６３０において、検出部１３０は、デルタＹ（Ｄｙ）が４５０μｍ以下であるか否かを判断し、デルタＹ（Ｄｙ）が４５０μｍ以下ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、デルタＹ（Ｄｙ）が４５０μｍ以下である場合、ステップＳ６４０において、検出部１３０は、当該偏光フィルムの欠陥形態が輝点であると判別する。
【００４３】
図７は、本発明の一実施形態に係るスクラッチ検出アルゴリズムを示す図である。
【００４４】
図７を参照すると、ステップＳ７１０において、検出部１３０は、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が白点（白欠陥）であるか否かを判断し、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が白点（白欠陥）ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が白点（白欠陥）である場合、ステップＳ７２０において、検出部１３０は、デルタＸ（Ｄｘ）が１０５μｍ以下であるか否かを判断し、デルタＸ（Ｄｘ）が１０５μｍ以下ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、デルタＸ（Ｄｘ）が１０５μｍ以下である場合、ステップＳ７３０において、検出部１３０は、デルタＹ（Ｄｙ）が１５０μｍ以上であるか否かを判断し、デルタＹ（Ｄｙ）が１５０μｍ以上ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、デルタＹ（Ｄｙ）が１５０μｍ以上である場合、ステップＳ７４０において、検出部１３０は、ピーク（Ｐｅａｋ）が５０以下であるか否かを判断し、ピーク（Ｐｅａｋ）が５０以下ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、ピーク（Ｐｅａｋ）が５０以下である場合、ステップＳ７５０において、検出部１３０は、当該偏光フィルムの欠陥形態がスクラッチであると判別する。
【００４５】
図８は、本発明の一実施形態に係る群集性輝点検出アルゴリズムを示す図である。
【００４６】
図８を参照すると、ステップＳ８１０において、検出部１３０は、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が白点（白欠陥）であるか否かを判断し、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が白点（白欠陥）ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、欠陥タイプ（Ｄｅｆｅｃｔ Ｔｙｐｅ）が白点（白欠陥）である場合、ステップＳ８２０において、検出部１３０は、デルタＸ（Ｄｘ）とデルタＹ（Ｄｙ）との差分が４５μｍ以上であるか否かを判断し、デルタＸ（Ｄｘ）とデルタＹ（Ｄｙ）との差分が４５μｍ以上ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、デルタＸ（Ｄｘ）とデルタＹ（Ｄｙ）との差分が４５μｍ以上である場合、ステップＳ８３０において、検出部１３０は、ピーク（Ｐｅａｋ）が１６以上であるか否かを判断し、ピーク（Ｐｅａｋ）が１６以上ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、ピーク（Ｐｅａｋ）が１６以上である場合、ステップＳ８４０において、検出部１３０は、デルタＸ（Ｄｘ）が４２０μｍ以下であるか否かを判断し、デルタＸ（Ｄｘ）が４２０μｍ以下ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、デルタＸ（Ｄｘ）が４２０μｍ以下である場合、ステップＳ８５０において、検出部１３０は、デルタＹ（Ｄｙ）が１２６０μｍ以下であるか否かを判断し、デルタＹ（Ｄｙ）が１２６０μｍ以下ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、デルタＹ（Ｄｙ）が１２６０μｍ以下である場合、ステップＳ８６０において、検出部１３０は、密度（Ｄｅｎｓｉｔｙ）が７．５以下であるか否かを判断し、密度（Ｄｅｎｓｉｔｙ）が７．５以下ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、密度（Ｄｅｎｓｉｔｙ）が７．５以下である場合、ステップＳ８７０において、検出部１３０は、当該偏光フィルムの欠陥形態が群集性輝点であると判別する。
【００４７】
図９は、本発明の一実施形態に係る一糸検出アルゴリズムを示す図である。
【００４８】
図９を参照すると、ステップＳ９１０において、検出部１３０は、ピーク（Ｐｅａｋ）が５０以上であるか否かを判断し、ピーク（Ｐｅａｋ）が５０以上ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、ピーク（Ｐｅａｋ）が５０以上である場合、ステップＳ９２０において、検出部１３０は、密度（Ｄｅｎｓｉｔｙ）が６．７５以下であるか否かを判断し、密度（Ｄｅｎｓｉｔｙ）が６．７５以下ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、密度（Ｄｅｎｓｉｔｙ）が６．７５以下である場合、ステップＳ９３０において、検出部１３０は、厚さ（Ｔｈｉｃｋｎｅｓｓ）が４２μｍ以上であるか否かを判断し、厚さ（Ｔｈｉｃｋｎｅｓｓ）が４２μｍ以上ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、厚さ（Ｔｈｉｃｋｎｅｓｓ）が４２μｍ以上である場合、ステップＳ９４０において、検出部１３０は、デルタＸ（Ｄｘ）が１５０μｍ以上であるか否かを判断し、デルタＸ（Ｄｘ）が１５０μｍ以上ではない場合にスキップ（Ｓｋｉｐ）する。もし、デルタＸ（Ｄｘ）が１５０μｍ以上である場合、ステップＳ９５０において、検出部１３０は、当該偏光フィルムの欠陥形態が一糸であると判別する。
【００４９】
一方、本発明の好適な実施形態によれば、前記検出部１３０は、接合異物、接合気泡、異物、輝点、スクラッチ、群集性輝点、一糸のうちのいずれか一つの欠陥形態を検出できずにスキップ（Ｓｋｉｐ）した場合、他の欠陥形態を見出すために再検出を行う。
【００５０】
例えば、検出部１３０は、接合異物検出アルゴリズムを行ったところ、接合異物を検出できずにスキップ（Ｓｋｉｐ）した場合、接合気泡検出アルゴリズムを行う。そして、もし、接合気泡検出アルゴリズムを行ったところ、接合気泡を検出できずにスキップ（Ｓｋｉｐ）した場合、再び異物検出アルゴリズムを行い、様々な欠陥形態に対して検出を行う。
【００５１】
図２に戻ると、報知部１４０は、前記検出部１３０で検出された欠陥形態を出力装置（例えば、ディスプレイ、欠陥報知装置など）を介して外部に報知して、偏光フィルムを検収する作業員（運転員）が欠陥形態を即座で把握できるようにしてそれに対応する欠陥要因を速やかに除去できるようにする。
【００５２】
以上、本発明の実施形態を参照して本発明について詳細に説明したが、本発明が属する技術分野において通常の知識を有する者にとってこのような具体的な技術は単なる好適な実現例に過ぎず、これにより本発明の範囲が制限されないということはいうまでもない。例えば、上述したそれぞれの欠陥検出アルゴリズムにおいてこれを構成する個別のステップはその順序が変更されても同じ検出機能を行うことができ、且つ、それぞれの欠陥検出アルゴリズムはその順序が変更されても構わない。
【００５３】
よって、本発明が属する技術分野において通常の知識を有する者であれば、前記内容に基づいて本発明の範囲内において様々な応用及び変形を行うことが可能であり、よって、本発明の実質的な範囲は添付の特許請求の範囲とその等価物によって定義されるべきである。
【符号の説明】
【００５４】
１００：偏光フィルムの欠陥検出装置
１１０：受信部
１２０：格納部
１３０：検出部
１４０：報知部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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