(57)【要約】【課題】  補正可能上限個数を超えた場合でも、補正が必要なキズを補正する。【解決手段】  黒画像から欠陥画素の検出を行ない、欠陥画素数が補正可能上限個数を超えている場合には、欠陥画素閾値を変更して再度欠陥画素の検出を行うとともに、欠陥画素データを用いて被写体画像を補正する。全ての欠陥画素の検出が終了するまで上記処理を繰り返す。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被写体を撮像して被写体画像信号を出力する撮像素子と、
前記撮像素子を遮光した状態で得られる遮光画像信号に基づいて前記撮像素子の欠陥画素を検出する検出手段と、
前記検出手段により検出された前記欠陥画素に関する情報を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された前記欠陥画素に関する情報に基づいて前記遮光画像信号および前記被写体画像信号に含まれる前記欠陥画素の出力信号を補正する補正手段と、
前記検出手段による検出処理、前記記憶手段による記憶処理および前記補正手段による補正処理を繰り返すように制御する制御手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記制御手段は、前記検出手段により前記撮像素子の全ての欠陥画素を検出するまで、前記検出手段による検出処理、前記記憶手段による記憶処理および前記補正手段による補正処理を繰り返すように制御することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記制御手段は、前記検出手段によって検出された前記欠陥画素の画素数が所定数を超えている場合に、前記欠陥画素検出手段の検出閾値を変更するように制御することを特徴とする請求項１または２に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記制御手段は、前記検出手段により検出される前記欠陥画素の画素数が補正許容数を超えているか否かを判定することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記制御手段は、前記判定処理を領域毎に行なうことを特徴とする請求項４に記載の撮像装置。
【請求項６】
前記検出手段は、前記遮光画像信号が所定の閾値よりも大きい場合に、その画素を欠陥画素として検出することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項７】
前記補正手段は、前記欠陥画素の出力を前記欠陥画素の周辺画素の出力で置き換えることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項８】
前記補正手段は、前記欠陥画素の出力を所定の黒レベルで置き換えることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項９】
被写体を撮像して被写体画像信号を出力する撮像素子を備えた撮像装置の制御方法であって、
前記撮像素子を遮光した状態で得られる遮光画像信号に基づいて前記撮像素子の欠陥画素を検出する検出工程と、
前記検出工程により検出された前記欠陥画素に関する情報を記憶する記憶工程と、
前記記憶工程において記憶された前記欠陥画素に関する情報に基づいて前記遮光画像信号および前記被写体画像信号に含まれる前記欠陥画素の出力信号を補正する補正工程と、を有し、
前記検出工程、前記記憶工程および前記補正工程を繰り返すように制御することを特徴とする撮像装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像装置及びその制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
長時間露光撮影は、撮像素子における電荷蓄積時間を長くすることによって露光時間を長くし、これによって低照度下でもストロボなどの補助照明を使用することなく撮影できるようにする技術として知られている。
【０００３】
一方、ＣＣＤ等の固体撮像素子においては、いわゆる暗電流の存在などによる暗出力が存在し、これが画像信号に重畳されるために画質劣化の要因となっている。この暗出力レベルが大きい画素が存在する場合は、欠陥画素としてその出力情報は用いず、近隣画素の出力情報を用いて情報を補間することが行われている。例えば、所定の標準露光時間で暗出力を評価し、そのレベルが大きい画素については欠陥画素として上記したような欠陥画素補正を適用する。
【０００４】
ところで、欠陥画素は温度依存や経時変化を伴うため、欠陥画素の評価を工場出荷前に行うだけでは不十分である。そこで、電源オン直後にアイリスを閉じることで受光面を遮光し、カメラの使用に先立って暗出力を評価することで欠陥画素を検出して、欠陥画素補正を行うことが知られている（特許文献１参照）。
【０００５】
このように工場出荷後の完成品としてのカメラ装置において欠陥画素を検出して補正する場合、検出された欠陥画素のアドレスを一旦カメラ内の所定のメモリ領域に登録し、登録されたアドレス情報をもとに周辺画素情報による補正処理を行うことになる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平６−０３８１１３
【特許文献２】特開２００３−１９８９４６
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ところで、ＣＭＯＳ型撮像素子については、ＣＣＤ型撮像素子と比べて欠陥画素が多く発生する傾向にある。ここで補正可能上限個数を超えた欠陥画素が存在する場合、全ての欠陥画素を補正することができず、欠陥画素信号を含んだ撮像信号が出力されることになる。
【０００８】
そこで、補正処理数の最大値を越えた欠陥画素対策として、欠陥レベルの大きい画素を優先して選択的に処理し、欠陥レベルの小さい画素については、そのまま補正せずに出力することにより、できるだけ画質の劣化を抑制している（特許文献２参照）。しかしながら、この方法では補正が必要な全ての欠陥画素を補正できないため、画質の劣化を完全に抑制することは出来ない。
【０００９】
本発明の目的は、欠陥画素情報を記憶する記憶容量が限られており、欠陥画素の個数が補正可能上限個数を超えた場合でも、より多くの欠陥画素出力信号を補正することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、被写体を撮像して被写体画像信号を出力する撮像素子と、前記撮像素子を遮光した状態で得られる遮光画像信号に基づいて前記撮像素子の欠陥画素を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された前記欠陥画素に関する情報を記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された前記欠陥画素に関する情報に基づいて前記遮光画像信号および前記被写体画像信号に含まれる前記欠陥画素の出力信号を補正する補正手段と、前記検出手段による検出処理、前記記憶手段による記憶処理および前記補正手段による補正処理を繰り返すように制御する制御手段と、
を有することを特徴とする。
【００１１】
また、被写体を撮像して被写体画像信号を出力する撮像素子を備えた撮像装置の制御方法であって、前記撮像素子を遮光した状態で得られる遮光画像信号に基づいて前記撮像素子の欠陥画素を検出する検出工程と、前記検出工程により検出された前記欠陥画素に関する情報を記憶する記憶工程と、前記記憶工程において記憶された前記欠陥画素に関する情報に基づいて前記遮光画像信号および前記被写体画像信号に含まれる前記欠陥画素の出力信号を補正する補正工程と、を有し、前記検出工程、前記記憶工程および前記補正工程を繰り返すように制御することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、欠陥画素情報を記憶する記憶容量が限られている場合でも、より多くの欠陥画素の出力信号を補正することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】実施例に係る撮像装置の全体ブロック図である。
【図２】実施例１の欠陥画素検出処理を示すフローチャートである。
【図３】実施例１の全体制御回路と欠陥画素回路との間の通信の流れを示すブロック図である。
【図４】ａは実施例１の補正処理前の黒画像の信号レベルの分布を模式的に示した図である。ｂは実施例１の閾値Ｔｈで補正処理した後の黒画像の信号レベルの分布を模式的に示した図である。
【図５】実施例２の欠陥画素検出処理を示すフローチャートである。
【図６】黒画像を分割した様子を模式的に示した図である。
【図７】実施例３の欠陥画素検出処理を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、図面を参照して本発明の実施形態を詳細に説明する。なお、以下に説明する実施形態は、本発明の実現手段としての一例であり、本発明が適用される装置の構成や各種条件によって適宜修正又は変更されるべきものであり、本発明は以下の実施形態に限定されるものではない。
【００１５】
（実施例１）
図１は、本発明の実施例１に係る撮像装置の概略構成を示すブロック図である。図１において、撮影レンズ１０１は、レンズ制御部１０２より制御される。レンズ制御部１０２は、全体制御回路１１２による制御に基づいて、撮影レンズ１０１のフォーカスやズーム、絞りを制御する。なお、図１では、撮影レンズ１０１を１つのレンズとして表しているが、実際にはフォーカスレンズやズームレンズ、絞り等が含まれる。メカニカルシャッタ１０３は、撮像素子１０５への光を露光／遮光する。シャッタ駆動部１０４は、撮影時にメカニカルシャッタ１０３を駆動して、被写体の光を一定期間撮像素子１０５に露光させる。
【００１６】
固体撮像素子１０５は、被写体を撮像して光信号を電気信号に変換し、被写体画像信号として出力する。タイミング発生部１０６は、全体制御回路１１２による制御に基づいて撮像素子１０５を駆動し、撮影時の蓄積時間などを変更することができる。撮像素子１０５から出力された画像信号は、欠陥画素検出回路１０８を備える画像処理回路１０７に取り込まれる。欠陥画素検出回路１０８は、撮像素子１０５から出力された画像信号から撮像素子１０５の欠陥画素を検出する機能を備える。
【００１７】
また、欠陥画素検出回路１０８は、欠陥画素検出回路１０８で検出された欠陥画素に関する情報を一時的に記憶するためのＲＡＭ１０９を備える。画像処理回路１０７は、露出条件算出回路１１０も備える。露出条件算出回路１１０は、入力された画像信号から適正露出を算出し、出された露出条件は全体制御回路１１２に伝達される。画像処理回路１０７では、画像信号のゲイン制御やデジタル信号への変換を行うとともに、ガンマ処理やホワイトバランス処理などの各種信号処理を行う。これらの処理に際し、メモリ１１１との間で画像信号の書き込み／読み出し処理を行う。
【００１８】
また、画像処理回路１０７から出力される画像は、ＬＣＤ１１３にて表示することも可能となっている。画像処理回路１０７で所定の画像処理が施された画像データは、画像変換回路１１４において圧縮処理され、メモリカード１１５に書き込まれる。画像変換回路１１４は、画像処理回路１０７から出力される画像データを圧縮してメモリカード１１５へ出力する機能と、メモリカード１１５より読み出した画像データを伸長して画像処理回路１０７へ出力する機能を有している。
【００１９】
また、全体制御回路１１２は、画像処理回路１０７にて処理された信号を用いて、ＴＴＬ（スルー・ザ・レンズ）方式のオートフォーカス（ＡＦ）制御、自動露出（ＡＥ）制御、フラッシュプリ発光（ＥＦ）制御等の処理を行う。なお、画像撮影時の露出条件については、露出条件算出回路１１０の算出結果などから撮影に適した条件を、レンズ駆動部１０２やタイミング発生部１０６に指示する。操作部１１７は、例えば、レリーズボタンやモード切り換えダイヤルなど、撮影者が撮像装置に指示を入力するための操作部であり、その入力内容は、全体制御回路１１２に通知される。
【００２０】
図２は、本実施形態の欠陥画素検出処理を示すフローチャートである。以下、欠陥画素検出処理について説明する。ステップＳ２０１でユーザーの指示により撮影が開始されると、ステップＳ２０２で露出条件算出回路１１０により露出条件を算出し、算出された露出条件で被写体の撮影を行う。ステップＳ２０３では、ステップＳ２０２で算出された露出条件と同条件で、メカニカルシャッタを閉じた状態（すなわち、撮像素子１０５を遮光した状態）で撮影動作を行い、黒画像（すなわち遮光画像信号）を取得する。
【００２１】
以下、ステップＳ２０４からは欠陥画素検出の動作となる。欠陥画素検出方法については後ほど詳しく説明する。ステップＳ２０４では、ＲＡＭ１０９に記憶されている欠陥画素数ｎを０として初期化を行なう。ステップＳ２０５では、欠陥画素の検出を行なう際に欠陥画素か否かを判別する閾値Ｔｈを初期値Ｔｈ０に設定する。
【００２２】
ここで設定される閾値Ｔｈ０は、補正が必要な全ての欠陥画素を検出するための閾値とする。閾値Ｔｈ０は、事前に工場出荷時などに設定された値でも良いし、取得した画像から算出される値でもよい。また、閾値Ｔｈ０は、条件によらず固定の値としても良いし、撮影条件毎や撮影モード毎に値を変更しても良い。
【００２３】
ステップＳ２０６では、欠陥画素検出回路１０８内で撮像素子１０５から出力される黒画像の画素信号レベルと欠陥画素閾値Ｔｈ０とを比較することで、閾値Ｔｈ０よりも出力信号レベルが大きい画素を欠陥画素として検出する。そして、欠陥画素として検出された画素の個数ｎ１をカウントし、検出された欠陥画素の個数ｎ１をＲＡＭ１０９に欠陥画素数ｎとして記憶する。この時点では、検出された欠陥画素の画素アドレス等は記憶されず、検出された欠陥画素の個数ｎ１のみが記憶される。
【００２４】
ステップＳ２０７では、ＲＡＭ１０９に記憶された欠陥画素の個数ｎ１が補正可能上限個数（所定数）ｍを超えているか否かを判別する。ここで判定に用いる補正可能上限個数ｍとは、ＲＡＭ１０９に記憶することができる欠陥画素データの上限個数を示している。欠陥画素の個数ｎ１と補正可能上限個数ｍの比較を行うことで、検出された全ての欠陥画素データがＲＡＭ１０９に記憶できるか否かを判断する。
【００２５】
ステップＳ２０７で検出された欠陥画素の個数ｎ１が補正可能上限個数ｍを超えている場合、つまり全ての欠陥画素データをＲＡＭ１０９に記憶することができない場合には、ステップＳ２０８に進む。そして、ステップＳ２０８では、欠陥画素検出閾値Ｔｈをαだけ上げて、再度、ステップＳ２０６からステップＳ２０７の処理を繰り返す。
【００２６】
閾値を上げて検出を行なうことで、閾値Ｔｈよりも信号レベルが大きく、閾値Ｔｈ＋α以下である画素は欠陥画素として検出されず、閾値Ｔｈ＋αよりも信号レベルが大きい画素だけを欠陥画素として検出する。つまり、閾値を上げることで欠陥画素の検出数が減り、検出された全ての欠陥画素データをＲＡＭ１０９に記憶することができるようになる。
【００２７】
ここで、ステップＳ２０８におけるαの値は任意に設定される。例えば、αの値を固定値としても良いし、状況に応じてαの値を変更してもよい。状況に応じてαの値を変更する例としては、次のような場合が考えられる。すなわち、検出された欠陥画素の個数ｎ１が補正可能上限個数ｍをぎりぎりで超えている場合は、αの値を例えば１０ＬＳＢに設定する。また、検出された欠陥画素の個数ｎ１が補正可能上限個数ｍを大幅に超えている場合は、αの値を例えば５０ＬＳＢに変更すれば良い。
【００２８】
ステップＳ２０７で検出された欠陥画素の個数ｎ１が補正可能上限個数ｍを超えていない場合、つまり検出された全ての欠陥画素データがＲＡＭに記憶できる場合には、ステップＳ２０９に進んで、欠陥画素のアドレス情報、欠陥レベル情報等の欠陥画素データをＲＡＭ１０９に記憶する記憶処理を実行する。ステップＳ２１０において、ＲＡＭ１０９に記憶された欠陥画素データを用いて被写体画像データに含まれる欠陥画素を補正する。欠陥画素の補正方法としては、欠陥画素と判断された画素の出力信号は用いず、近隣画素（周辺画素）の出力信号を用いて欠陥画素を補間する方法などが挙げられる。
【００２９】
ステップＳ２１１において、設定されている欠陥画素検出閾値Ｔｈが初期閾値Ｔｈ０であるか否かを判断する。ここでは、補正が必要な全ての欠陥画素が検出されたか否かを判断する。前述したように、閾値Ｔｈ０は補正が必要な全ての欠陥画素を検出するための閾値であるため、検出閾値Ｔｈが初期閾値Ｔｈ０と一致するということは、全ての欠陥画素が検出されたことを意味する。
【００３０】
ステップＳ２１１において、設定されている欠陥画素検出閾値Ｔｈが初期閾値Ｔｈ０ではない場合、つまり、補正が必要な全ての欠陥画素が検出されていない場合には、ステップＳ２１２に進み、ＲＡＭ１０９に記憶されている欠陥画素データを用いて黒画像データ（遮光画像信号）に含まれる欠陥画素を補正する。
【００３１】
黒画像における欠陥画素の補正方法としては、被写体画像の補正と同じように、近隣画素の出力信号を用いて補間してもよいし、補正を簡単化するために、黒レベルの基準値をそのまま欠陥画素の信号値としてもよい。
【００３２】
ステップＳ２１２で黒画像の欠陥画素補正が終了すると、再度ステップＳ２０４からステップＳ２１０の処理を繰り返す。この際、ステップＳ２１２で欠陥画素の補正が行われた黒画像を用いて、欠陥画素の検出が行なわれる。また、ステップＳ２１１で欠陥画素検出閾値Ｔｈが初期閾値Ｔｈ０である場合、つまり補正が必要な全ての欠陥画素が検出された場合には、ステップＳ２１３に進んで処理を終了する。
【００３３】
次に、欠陥画素を検出する際の全体制御回路１１２と欠陥画素検出回路１０８の間のデータ通信について説明する。図３は、全体制御回路１１２と欠陥画素検出回路１０８との間の通信の流れを示すブロック図である。
【００３４】
まず、全体制御回路１１２から欠陥画素検出回路１０８に欠陥検出開始指示Ｑ１と欠陥検出閾値Ｑ２が出力される。欠陥画素検出回路１０８は、欠陥検出閾値Ｑ２に基づいて撮像素子１０５から出力される黒画像信号の各信号レベルを評価し、欠陥画素であると検出した画素の個数Ｑ３（すなわちｎ１）を全体制御回路１１２に通知する。そして、全体制御回路１１２からのアドレス要求Ｑ４に対して、検出した欠陥画素のアドレスＱ５を全体制御回路１１２に通知し、さらに検出終了報告Ｑ６を通知して終了する。
【００３５】
次に、欠陥画素検出閾値の設定方法について、模式的に説明する。図４ａは、欠陥画素を補正処理する前の黒画像の信号レベルの累積分布を模式的に示した図である。また、図４ｂは、欠陥画素を補正処理した後の黒画像の信号レベルの累積分布を模式的に示した図である。
【００３６】
図４ａ、図４ｂにおいて、横軸は画素の信号レベルを示す。ここで信号レベルは１０ｂｉｔで表現され、最大１０２４ＬＳＢである。また、縦軸は累積画素数を示している。信号レベルが閾値Ｔｈ０以下である領域ａに含まれる画素は正常画素であり、信号レベルが閾値Ｔｈ０より大きい領域ｂに含まれる画素は欠陥画素である。そして、黒画像の信号レベルが大きい（すなわち、横軸上で右方向に位置する）ほど、欠陥レベルの大きい欠陥画素であることを意味する。
【００３７】
図４ａに示す補正処理前の黒画像の信号レベルの分布では、閾値Ｔｈ０より信号レベルが大きい領域ｂに含まれる画素の個数が、補正可能上限個数ｍを超えているため、閾値Ｔｈ０よりも信号レベルが大きい画素をすべてＲＡＭ１０９に記憶することができない。すなわち、検出された欠陥画素をすべて補正することができない。
【００３８】
そこで、欠陥画素として検出される画素数が補正可能上限個数ｍを超えない画素数となるまで閾値Ｔｈを大きくしていき、欠陥画素として検出される画素数が補正可能上限個数ｍを超えない画素数になった段階で、信号レベルが閾値Ｔｈより大きい領域ｃに含まれる画素を欠陥画素として、被写体画像に含まれる欠陥画素を補正する。また、同様にして黒画像に含まれる欠陥画素を補正する。
【００３９】
被写体画像と黒画像の欠陥画素補正が終了すると、欠陥画像検出閾値Ｔｈを閾値Ｔｈ０まで下げ、欠陥画素が補正された黒画像を用いて、再度、欠陥画素を検出する。図４ｂでは、図４ａの領域ｃに含まれていた画素を欠陥画素として補正したことにより、図４ａの領域ｃに含まれていた画素の信号レベルが図４ｂにおける領域ａの信号レベルとなる。
【００４０】
そのため、図４ｂの領域ｂに含まれる画素の個数が補正可能上限個数ｍを下回り、領域ｂに含まれる画素をすべて欠陥画素として検出することができる。そして、信号レベルが閾値Ｔｈ０より大きい領域ｂに含まれる画素を欠陥画素として、被写体画像に含まれる欠陥画素を補正する。
【００４１】
このように黒画像を用いた欠陥画素の検出と補正を複数回に分けて行なうことで、図４ａの領域ｂに含まれる全ての欠陥画素を補正することができる。なお、本実施例では、欠陥画素検出を簡単化するために、黒画像による欠陥画素の検出を行なっている。これは、黒画像における正常画素の信号値が基準黒レベルと同等の値となることで、欠陥画素の検出を出力された信号値のまま行なうことができ、周囲画素との差分を算出するなどの処理が不要となるためである。
【００４２】
以上説明したように、本実施例の欠陥画素処理方法では複数回に分けて欠陥画素の検出を行なうとともに被写体画像と黒画像を補正することで、補正が必要な全ての欠陥画素を補正することができる。
【００４３】
（実施例２）
実施例１では、補正が必要な全ての欠陥画素の補正を行なうために、検出と補正を繰り返す処理について説明したが、より多くの欠陥画素が発生する場合には、欠陥画素検出初期閾値Ｔｈ０に達するまで補正を行なうと過補正となり、画質がより悪化してしまうことがある。つまり、画質の悪化を抑えるためには、欠陥画素の補正個数がある一定数を超えないようにする必要がある。
【００４４】
そこで、本実施例においては、欠陥画素の補正許容数を考慮する。ここでいう補正許容数とは、欠陥画素の補正を行なっても画質が悪化しない個数を示している。補正許容数については撮影する被写体や補正処理の性能によっても異なるが、一般的には、補正個数が総画素数の１０％程度を超えてくると画質が悪化すると考えられている。
【００４５】
図５は、本実施例の欠陥画素検出処理を示すフローチャートである。以下、欠陥画素検出処理について説明する。ステップＳ５０１からステップＳ５０３は、図２のステップＳ２０１からステップＳ２０３と同様の処理であるため、ここでは説明を省略する。ステップＳ５０４において、欠陥画素として検出された検出総数Ｎを初期値０に設定する。
【００４６】
ステップＳ５０５からステップＳ５１０についても、図２のステップＳ２０４からステップＳ２０９と同様の処理であるため、ここでは説明を省略する。ステップＳ５１１では、総画素数Ｎに検出された欠陥画素の個数ｎ１を加算することで、黒画像から検出した欠陥画素の検出総数Ｎを算出する。検出総数Ｎは、繰り返し検出された欠陥画素の総検出数を表している。
【００４７】
ステップＳ５１２では、ステップＳ５１１で算出した検出総数Ｎと補正許容数Ｍとの比較を行うことで、検出総数Ｎが補正許容数Ｍを超えているか否かを判定する判定処理を実行する。ステップＳ５１２において、検出総数Ｎが補正許容数Ｍを超えていない場合には、ステップＳ５１３からステップＳ５１５の処理を行なう。
【００４８】
ステップＳ５１３からステップＳ５１５の処理についても、図２のステップＳ２１０からステップＳ２１２と同様の処理であるため、ここでは説明を省略する。また、ステップＳ５１２において、補正総数Ｎが補正許容数Ｍを超えている場合には、ステップＳ５１６に進んで処理を終了する。
【００４９】
以上説明した通り、本実施例の欠陥画素処理方法では、欠陥画素の検出と補正を行なう際に、補正許容数を超えないようにすることで、過度な補正による画質の劣化を抑えることができる。
【００５０】
（実施例３）
実施例２では、画像全体で検出総数が補正許容数を超えないようにする処理について説明した。しかし、欠陥画素は画像内の特定の領域に固まることがあるため、本実施例では、画像内で所定の領域毎に補正許容数を設定する場合について説明する。
【００５１】
図６は、欠陥画素検出に用いる黒画像を４分割した様子を模式的に示した図である。また、図７は、本実施例の欠陥画素検出処理を示すフローチャートである。本実施例では、図６で示したように黒画像を４つの領域に分割し、それぞれの領域毎に補正許容数を設定したうえで、欠陥画素の検出を行なう。図６の場合には、黒画像を４等分してそれぞれの領域に１から４の番号を割り当てている。以下、欠陥画素検出処理について説明する。
【００５２】
図７のステップＳ７０１からステップＳ７０３は、図５のステップＳ５０１からステップＳ５０３と同様の処理であるため、ここでは説明を省略する。ステップＳ７０４において、検出領域Ｅを設定する。ここでは、図６の領域１から順に検出を行なっていくため、Ｅ＝１を設定する。
【００５３】
ステップＳ７０５からステップＳ７１６についても、図５のステップＳ５０４からステップＳ５１５と同様の処理であるため、ここでは説明を省略する。ステップＳ７１７では、検出領域Ｅが最後の検出領域Ｅｆであるか否かを判別する。図６の黒画像の場合には、最後の検出領域Ｅｆは４となる。
【００５４】
ステップＳ７１７において、まだ最後の検出領域まで至っていない場合には、ステップＳ７１８で次の領域へ移り、ステップＳ７０５からステップＳ７１６の処理を繰り返す。また、ステップＳ７１７において、最後の検出領域の欠陥画素検出を行なった場合には、ステップＳ７１９に進んで処理を終了する。
【００５５】
以上説明した通り、本実施例の欠陥画素処理方法では、領域毎に欠陥画素検出処理を行い、補正許容数を超えないようにすることで、特定の領域での過度な補正を抑えることができる。
【００５６】
（その他の実施例）
本発明は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
【符号の説明】
【００５７】
１０５  撮像素子
１０７  画像処理回路
１０８  欠陥画素検出回路
１０９  ＲＡＭ
１１２  全体制御回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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