(57)【要約】      （修正有）【課題】記録媒体を複数搭載したライブラリ装置において、搬送部を高精度に位置制御可能とする。【解決手段】ライブラリ装置は、カートリッジ２と、記録再生部１と、カートリッジと記録再生部間で記録媒体を搬送する搬送部４と、カートリッジからの反射光強度に応じた検出信号を出力する位置検出センサ１０と、検出信号にゲイン処理およびオフセット処理を施す信号処理を行って位置信号を生成する信号処理部２４と、を備え、１つ以上のカートリッジにおいて複数に区切られたゾーンのうち、搬送部の位置制御の目標位置が属するゾーンに対応したゲイン設定値およびオフセット設定値を信号処理部に設定し、位置制御の目標位置にあるカートリッジを搬送部が走査することで反射光強度の検出信号を位置検出センサで検出し、検出信号から生成された位置信号に基づき搬送部の位置制御を行う。【選択図】図１
2015118723.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ライブラリ装置であって、
複数の記録媒体を搭載する１つ以上のカートリッジと、
前記記録媒体に対し情報を記録及び再生する記録再生部と、
前記カートリッジと前記記録再生部間で前記記録媒体を搬送する搬送部と、
前記カートリッジからの反射光強度に応じた検出信号を出力する位置検出センサと、
前記検出信号にゲイン処理およびオフセット処理を施す信号処理を行って位置信号を生成する信号処理部と、を備え、
前記１つ以上のカートリッジにおいて複数に区切られたゾーンのうち、前記搬送部の位置制御の目標位置が属するゾーンに対応した前記ゲイン設定値および前記オフセット設定値を前記信号処理部に設定し、
前記位置制御の目標位置にある前記カートリッジを前記搬送部が走査することで反射光強度の検出信号を位置検出センサで検出し、
前記検出信号から前記信号処理部により生成された位置信号に基づいて前記搬送部の位置制御を行う
ことを特徴とするライブラリ装置。
【請求項２】
請求項１に記載のライブラリ装置であって、
前記カートリッジは前記記録媒体を保持するための溝部を有するカートリッジラックを備え、
前記位置検出センサは、前記カートリッジラックからの反射光強度に応じた検出信号を出力することを特徴とするライブラリ装置。
【請求項３】
請求項１に記載のライブラリ装置であって、
前記ゾーンの区切り位置は前記カートリッジ単位の境界と対応する
ことを特徴とするライブラリ装置。
【請求項４】
請求項１に記載のライブラリ装置であって、
前記ゾーンの区切り位置を論理的に設定する
ことを特徴とするライブラリ装置。
【請求項５】
請求項１に記載のライブラリ装置であって、
前記位置信号が所定目標の振幅値およびオフセット値となる様に前記信号処理部のゲイン処理およびオフセット処理を行うための、前記ゾーンごとの設定値を学習する
ことを特徴とするライブラリ装置。
【請求項６】
請求項５に記載のライブラリ装置であって、
学習した前記設定値を記憶する設定値格納部を備えることを特徴とするライブラリ装置。
【請求項７】
請求項５に記載のライブラリ装置であって、
前記位置検出センサを複数有し、
基準とする第一の位置検出センサおよび複数の第二の位置検出センサで、
基準とする所定の前記カートリッジからの反射光強度の検出信号を測定することで、
第一の位置検出センサと複数の第二の位置検出センサとの検出信号の関係を学習し、
前記ゲイン設定値およびオフセット設定値は第一の位置検出センサに対する設定値を学習し、
複数の第二の位置検出センサに対するゲイン設定値およびオフセット設定値は、
前記第一の位置検出センサと複数の第二の位置検出センサとの検出信号の関係を用いて推定を行う
ことを特徴とするライブラリ装置。
【請求項８】
データアーカイブシステムであって、
請求項１に記載のライブラリ装置と
前記ライブラリ装置と接続されたコントローラを備え
前記コントローラは、外部から記録命令、再生命令及びデータを送受信する外部通信部と、前記ライブラリ装置に対し記録命令、再生命令及びデータを送受信するライブラリ通信部とを備えることを特徴とするデータアーカイブシステム。
【請求項９】
ライブラリ装置の搬送位置制御方法であって、
前記ライブラリ装置は、複数の記録媒体を搭載する１つ以上のカートリッジと、前記記録媒体に対し情報を記録及び再生する記録再生部と、前記カートリッジと前記記録再生部間で前記記録媒体を搬送する搬送部と、前記カートリッジからの反射光強度に応じた検出信号を出力する位置検出センサと、前記検出信号にゲイン処理およびオフセット処理を施す信号処理を行って位置信号を生成する信号処理部と、を備え、
１つ以上の前記カートリッジにおいて複数に区切られたゾーンのうち、前記搬送部の位置制御の目標位置が属するゾーンに対応した前記ゲイン設定値および前記オフセット設定値を設定し、
前記位置制御の目標位置にある前記カートリッジを前記搬送部が走査することで反射光強度の検出信号を検出し、
前記検出信号から前記信号処理部により生成された位置信号に基づいて前記搬送部の位置制御を行うことを特徴とする搬送位置制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はライブラリ装置、データアーカイブシステム及び搬送位置制御方法
に関する。
【背景技術】
【０００２】
複数枚の光ディスクと光ディスクに記録再生する光ディスクドライブと光ディスクを搬送するディスク搬送機構を搭載するディスクライブラリ装置では、ディスク搬送機構によって光ディスクをピックアップするため、ディスク搬送機構を光ディスクの位置へ位置制御する必要がある。ディスク搬送機構の位置制御方法としては例えば特許文献１に記載されている。特許文献１では光ディスクや光ディスクドライブの位置を示すスリットを設けたスリット板と、スリットを検出するために搬送部に設置されたスリットセンサによってディスク搬送機構の位置制御を行っている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０００−１１３５５６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
前記特許文献１のディスクライブラリ装置では、スリット板に設けたスリットをスリットセンサにより検出して位置制御を行っている。ここでスリットの位置が光ディスクを搭載した位置とずれがある場合、ディスク搬送部を正確に位置制御することが出来ない。しかし例えば光ディスクとスリットの位置は部品の機械精度に依存し、ある程度の機械誤差が生じる。この機械誤差は、ディスク搬送部を高精度に位置制御する場合に問題となる。
本発明は、かかる実情に鑑みてなされたものであり、搬送部を高精度に位置制御可能とすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記課題は、例えば特許請求の範囲に記載の構成により解決される。
【発明の効果】
【０００６】
本発明によれば、搬送部を高精度に位置制御することが可能となる。
【０００７】
上記した以外の課題、構成及び効果は、以下の実施形態の説明により明らかにされる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】ディスクライブラリ装置の構成図の例である。
【図２】光ディスクドライブ１、ディスクカートリッジ２およびディスク搬送機構４の構成図の例である。
【図３】ディスク搬送機構４の構成図の例である。
【図４】反射型光センサ１０とセンサ検出信号処理手段２４を構成する信号処理回路のブロック図の例である。
【図５】ディスクライブラリ装置の反射型光センサ１０の光スポット１５と、反射型光センサ１０から出力される検出信号を示した例である。
【図６】ゾーンごとのゲイン・オフセット設定値の設定方法に関するフローチャートの例である。
【図７】ゾーンの区切り位置をディスクカートリッジ単位として物理的な境界と一致させる例である。
【図８】ゾーンの区切り位置をディスクカートリッジ単位の境界と一致せず、ゾーンの区切り位置を論理的に設定する例である。
【図９】ゾーンごとに反射型光センサの検出信号１６ｒから目標検出信号値を取得する方法の例である。
【図１０】ゾーンごとのゲイン・オフセットの学習方法に関するフローチャートの例である。
【図１１】ゲイン・オフセット設定値格納テーブルの例である。
【図１２】ゲイン・オフセット補正値格納テーブルを用いた場合のゾーンごとのゲイン・オフセットの設定方法に関するフローチャートの例である。
【図１３】同一のスロットで複数の反射型光センサから取得される検出信号を示した例である。
【図１４】ゲイン・オフセット補正値格納テーブルを用いた場合のゾーンごとのゲイン・オフセットの学習方法に関するフローチャートの例である。
【図１５】ゲイン・オフセット補正値格納テーブルの例である。
【図１６】データアーカイブシステム１１１の構成の例である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
【実施例１】
【００１０】
本実施例では、ディスクカートリッジを複数のゾーンで区切り、適切なゲイン設定値およびオフセット設定値を学習することで、適切な振幅値およびオフセット値で位置信号の読み出しを行い、ディスク搬送機構を高精度かつ効率的にディスク搭載位置に位置制御可能とするディスクライブラリ装置の例を説明する。
【００１１】
図１はディスクライブラリ装置の構成図の例である。
ディスクライブラリ装置には光ディスクドライブ１、光ディスクを複数搭載したディスクカートリッジ２、光ディスクを光ディスクドライブ１とディスクカートリッジ２間で搬送するディスク搬送機構４、ディスク搬送機構４を移動するディスク搬送機構移動手段３１およびディスクライブラリ制御手段２２により構成されている。ディスク搬送機構４にはディスクカートリッジ２に搭載された光ディスクを取り出すディスク取り出し機構２９および、ディスク搬送機構４内に光ディスクを引き込むディスク引き込み機構３０が配置されており、ディスク取り出し制御手段２６、ディスク引き込み制御手段２７により制御されている。
【００１２】
またディスク搬送機構移動手段３１はディスク搬送機構制御手段２５によりディスクカートリッジ２に搭載された光ディスクの位置あるいは光ディスクドライブ１の位置にディスク搬送機構４を移動する。ディスク搬送機構４の移動には反射型光センサ１０を用いてディスクカートリッジ２からの反射光強度に応じた検出信号をセンサ検出信号処理手段２４により信号処理を行って位置情報を生成し使用する。
【００１３】
光ディスクドライブ１はディスクカートリッジ２に搭載された任意の光ディスクに対し、記録あるいは再生を行い記録再生データはインターフェース２８を通して外部機器と通信される。
【００１４】
図２は光ディスクドライブ１、ディスクカートリッジ２およびディスク搬送機構４の構成図の例である。図２によりディスクライブラリ装置の具体的な動作例について説明する。
【００１５】
ディスクカートリッジ２には、光ディスク１７を搭載、固定するカートリッジラック３があり、カートリッジラック３に形成された溝部（スロット）２１に光ディスク１７は搭載されている。カートリッジラック３の溝部２１は、光ディスク１７を一定の隙間を有しながら、ディスク厚み方向に積層できるように形成されている。
【００１６】
またディスク搬送機構４は搬送レール７にガイドされ、図示していない駆動源により光ディスク１７が積層された方向に移動可能である。この搬送レール７、図示していない駆動源が図１のディスク搬送機構移動手段３１に相当する。
【００１７】
また光ディスクドライブ１はスロットローディング方式のドライブであり、挿入口から一定量光ディスクを押し込むと自動的に光ディスクをローディングし、またイジェクトコマンドを受信すると、光ディスクドライブから光ディスクを一定量排出する機能を有している。
【００１８】
次に、光ディスク１７をディスクカートリッジ２から光ディスクドライブ１へ搬送する方法について説明する。まずディスク搬送機構４を目的の光ディスク１７に対向する位置まで移動する。ディスク搬送機構４の位置制御はディスク搬送機構４に取り付けられた反射型光センサ１０を用いて行う。この反射型光センサ１０はカートリッジラック３に対向した位置にあり、カートリッジラック３に形成された溝部２１に光をあて、その反射光の強弱を電気信号に変換し検出信号とする。この検出信号から溝部２１を検出して位置情報とし位置制御を行う。
【００１９】
次に、キッカーアーム８先端に取り付けたディスクキッカー９をキッカーモータ１１の駆動力により回動し光ディスク１７の背面を押す。ディスクキッカー９により押し出された光ディスク１７はディスク搬送機構４方向へ移動し、ディスクカートリッジ２から取り出すことが出来る。
【００２０】
ディスク搬送機構４では、クランパモータ６により、ディスククランパ５をディスクカートリッジ２方向に移動し、ディスクカートリッジ２から移動してきた光ディスク１７のセンタホールをディスククランパ５でクランプし、再度クランパモータ６で、ディスククランパ５でクランプした光ディスク１７を、ディスク搬送機構４内へ引き込む。
【００２１】
ここで、ディスクキッカー９およびキッカーモータ１１が図１のディスク取り出し機構２９に相当し、ディスククランパ５、クランパモータ６が図１のディスク引き込み機構３０に相当する。
【００２２】
次に、ディスク搬送機構４を光ディスクドライブ１と対向する位置に移動する。このときも、反射型光センサ１０からの検出信号を用いてディスク搬送機構４の位置を検出して移動する。光ディスクドライブ１には光ディスクを挿入する開口部があるため、この開口部を反射型光センサ１０で検出し位置制御を行う。
【００２３】
ディスク搬送機構４を移動した後、クランパモータ６により、ディスククランパ５でクランプした光ディスク１７を光ディスクドライブ１方向へ移動する。ディスククランパ５を光ディスクドライブ１方向へ最大量移動したあと光ディスク１７のクランプを解除し、ディスククランパ５を反対方向に移動する。移動後、ディスククランパ５を再動作させ、光ディスク１７の後部端に接触させる。この状態でディスククランパ５を光ディスクドライブ１方向へ再移動し、光ディスクドライブ１内に光ディスク１７を押し込む。
【００２４】
ディスククランパ５は、センタホールをクランプした状態では光ディスク１７を光ディスクドライブ１に途中までしか押し込むことが出来ない。このため一旦、ディスククランパ５をディスク搬送機構４の内部に戻し、光ディスク１７の後部端を押し出すことで、完全に光ディスク１７を光ディスクドライブ１に挿入する。この方法により、ディスクカートリッジ２から光ディスクドライブ１へ光ディスク１７を搬送することができる。
【００２５】
光ディスクドライブ１からディスクカートリッジ２へ光ディスク１７を搬送するときは、光ディスクドライブ１に光ディスクドライブ制御手段２３からイジェクトコマンドを発行し、光ディスク１７を取り出してディスク搬送機構４に取り込み、他は同様の方法で実現できる。
【００２６】
なお、ディスク搬送機構４を光ディスクドライブ１位置に移動する際、反射型光センサ１０からの検出信号ではなく、従来のスリット板およびスリットセンサによる位置制御を行ってもよい。次に、ディスク搬送機構４について詳細に説明する。
【００２７】
図３はディスク搬送機構４の構成図の例である。
【００２８】
ディスク搬送機構４には、光ディスク１７をディスク搬送機構４内に取り込むディスク挿入口１２があり、ディスクキッカー９で押し出された光ディスク１７はディスク挿入口１２を通って、ディスク搬送機構４の中に移動する。
【００２９】
ディスク挿入口１２の下部には、反射型光センサ１０ａ、１０ｂが、ディスク搬送機構４移動方向に一定の距離をおいて取り付けてある。この反射型光センサ１０ａ、１０ｂは、溝部２１と対向する位置に取り付けられている。反射型光センサ１０ａ、１０ｂで取得する検出信号は、センサ検出信号処理手段２４により信号処理を行った後に、位置情報の生成に使用する。センサ検出信号処理手段２４を構成する信号処理回路について以下詳細に説明する。
【００３０】
図４は反射型光センサ１０とセンサ検出信号処理手段２４を構成する信号処理回路のブロック図の例である。
【００３１】
反射型光センサ１０の信号は、オフセット除去回路１０２、増幅回路１０３を経てＡＤコンバータ１０４でデジタル化され、ＣＰＵ１０５で処理が行われる。オフセット除去回路１０２のオフセット設定値、および増幅回路１０３のゲイン設定値は、検出信号がＡＤコンバータ１０４のダイナミックレンジ内であり、また必要な分解能が得られる範囲となる適切な値に設定される。
【００３２】
図５はディスクライブラリ装置の反射型光センサ１０の光スポット１５と、反射型光センサ１０から出力される検出信号を示した例である。
【００３３】
光スポット１５が溝部２１を形成するための仕切り板２０部分にあるときは反射光が強くなり、溝部２１にあるときは反射光が弱くなる。この反射光の強弱を反射型光センサは検出することができ、この検出信号により光スポット１５がカートリッジラック３のどの位置にあるかを検出することが出来る。例えば、デジタル化した信号の信号振幅値Ｃに対し、中心値で位置制御を行う場合は、目標となる信号値Ｄ＝Ｃ／２で位置制御を行う。
【００３４】
カートリッジラック３の溝形状や反射率が一定であり、ディスクカートリッジ２に湾曲がなく反射型光センサが一定の高さを走査可能な場合、カートリッジラック３を光スポット１５が横切る時に反射型光センサ１０から出力される検出信号１６は、一定の振幅値およびオフセット値となる理想波形となる。
【００３５】
しかし、実際のカートリッジラック３では、溝形状の成型上のばらつきや反射率のばらつきの影響と、ディスクカートリッジ２の湾曲やディスク搬送機構移動手段３１の湾曲により反射型光センサが一定の高さを走査できない影響により、検出信号１６ｒに振幅のばらつき、あるいはオフセットのばらつきが発生する。
【００３６】
この場合、固定のゲイン設定値およびオフセット設定値を用いて信号処理を行うと、カートリッジ溝部２１によっては、検出信号１６ｒがＡＤコンバータのダイナミックレンジを超える可能性や、または必要な分解能が得られない可能性がある。ディスク搬送機構４の位置決めは、検出信号１６ｒを用いて行うため、ダイナミックレンジを超えて極点が欠落する場合や、分解能が不足する場合には、正確な位置制御が行えない。そこで、センサ検出信号処理手段２４では、高精度な位置づけを行うために各カートリッジ溝部２１に応じた適正値にゲイン設定値およびオフセット設定値を設定する必要がある。
【００３７】
しかし、全てのカートリッジ溝部２１それぞれに応じたゲイン設定値およびオフセット設定値の調整を、ディスク搬送機構４の位置決め時に実施すると調整に時間を要し高速な位置決めを実現することができない。
【００３８】
そこで本発明は複数のカートリッジ溝部２１を一つの単位と見立てたゾーンの概念を導入し、上記ゾーンごとにゲイン設定値およびオフセット設定値の調整を行う。同一のゾーン内では、同一のゲイン設定値およびオフセット設定値を適用できるため、全てのカートリッジ溝部２１それぞれに応じた調整を行うよりも調整回数が削減でき、高精度かつ効率的な位置決めが可能となる。
【００３９】
さらに、ディスク搬送機構４の位置決め時の時間短縮のため、ゲイン設定値およびオフセット設定値の調整はディスクライブラリ装置の電源投入時の初期調整で行う。これにより、位置決め時の調整動作が不要となり、高精度でありながら更に効率的な位置決めを実現することができる。
【００４０】
以降、ゾーンごとのゲイン・オフセットの設定方法に関しフローチャートを用いて詳細に説明する。
【００４１】
図６はゾーンごとのゲイン・オフセット設定値の設定方法に関するフローチャートの例である。
【００４２】
まず、ステップＳ６０１で、ディスク搬送機構４の移動先のスロットが属するゾーンが、現在ディスク搬送機構４が位置しているゾーンと異なるか判定を行う。ステップＳ６０１で、ゾーンが異なると判定された場合、ステップＳ６０２に遷移し、ステップＳ６０１で、ゾーンが同じと判定された場合、ゲイン設定値およびオフセット設定値を変更せずステップＳ６０３に遷移する。
【００４３】
次に、ステップＳ６０２で、ゲイン・オフセット設定値格納テーブルから移動先のスロットが属するゾーンのゲイン設定値およびオフセット設定値を参照し、オフセットキャンセル回路１０２、ゲインアンプ１０３の設定を行う。
【００４４】
最後に、ステップＳ６０３で、位置制御を行うスロットの位置信号を取得し、ディスク搬送機構４の位置制御を行う。
【００４５】
なお、ディスク搬送機構４の移動中の設定切り替えのタイミングはゾーンの切り替わり位置か、エンコーダやステッピングモータ等を用いた粗移動を行う場合は、移動前や移動中や移動後等どのタイミングで切り替えてもよい。
【００４６】
以降、ディスクカートリッジ２をゾーンに区切る方法について説明する。
【００４７】
図７はゾーンの区切り位置をディスクカートリッジ単位として物理的な境界と一致させる例である。
【００４８】
ディスクカートリッジ２は、所定数のカートリッジラック３を有する。所定数より多くの光ディスクを格納するディスクライブラリ装置の場合は、複数のディスクカートリッジ２を接合することで、任意の数の光ディスクを格納可能とする方法がある。
【００４９】
図７では、ディスクカートリッジ２は３つのカートリッジラック３を有し、６つのディスクカートリッジ２を有する例で示す。なお、ディスクカートリッジ２およびカートリッジラック３の数はこれに限らない。以降、複数のディスクカートリッジ２をカートリッジＮ（Ｎは自然数）と番号づける。
【００５０】
製造上、成形単位であるディスクカートリッジ２内であれば、溝形状や反射率はある程度同一の品質となり、さらに検出信号１６ｒがＡＤコンバータのダイナミックレンジを超えるほどの湾曲はディスクカートリッジ２に生じない。
【００５１】
しかし、ディスクカートリッジ２が異なると、製造時の条件や製造ロットの違いから、溝形状や反射率が異なる品質となる可能性があり、また複数のディスクカートリッジ２を接合することで自重による湾曲が生じる可能性がある。
【００５２】
そのため、複数のディスクカートリッジ２を接合している場合、検出信号１６ｒに振幅のばらつき、あるいはオフセットのばらつきが発生する可能性がある。同一のゾーン内では、同一のゲイン設定値およびオフセット設定値を適用するため、ゾーンの区切り位置は、振幅およびオフセットが同程度の分布となる位置に合わせて区切ることが望ましい。
【００５３】
そこで、図７では検出信号１６ｒの振幅、オフセットがある程度同一と想定される同一のディスクカートリッジ２単位となる３スロットごとにゾーンを設定する。上記のように、ゾーンの区切り位置を物理的な境界と一致させることで、簡便かつ効率的にゾーンを区切ることが可能となる。このように設定されたゾーンごとにセンサ検出信号処理手段２４で、適切なゲイン設定値とオフセット設定値に設定し信号処理を行う。
【００５４】
上記の通りに従えば、各ゾーンで適切なゲイン設定値およびオフセット設定値に設定することで、適切な振幅値およびオフセット値で検出信号１６ｒの高精度な読み出しが可能となる。また、各スロットで設定を行わず、複数スロットをまとめたゾーン単位での設定とすることで、適切なゲイン設定値およびオフセット設定値の調整回数が削減でき、高精度かつ効率的な位置決めが可能となる。
【００５５】
一方、次に物理的な境界とは一致せず、ゾーンの区切り位置を論理的に設定する方法を説明する。
【００５６】
図８はゾーンの区切り位置をディスクカートリッジ単位の境界と一致せず、ゾーンの区切り位置を論理的に設定する例である。
【００５７】
ディスクカートリッジ２は３つのカートリッジラック３を有し、６つのディスクカートリッジ２を有する例で示す。なお、ディスクカートリッジ２およびカートリッジラック３の数はこれに限らない。
【００５８】
前述の通り、同一のゾーン内では、同一のゲイン設定値およびオフセット設定値を適用するため、ゾーンの区切り位置は、振幅およびオフセットが同程度の分布となる位置に合わせて区切ることが望ましい。
【００５９】
複数のディスクカートリッジ２を接合した場合でも、溝形状や反射率がある程度同一の品質であり、ディスクカートリッジの湾曲やディスク搬送機構移動手段の湾曲が小さければ、複数のディスクカートリッジ間で振幅およびオフセットが同程度の分布となる場合がある。
【００６０】
そのような場合、振幅およびオフセットが同程度の分布となる複数のディスクカートリッジ２を一つのカートリッジと見立てることができ、物理的なディスクカートリッジ２の境界とは完全には一致せずにゾーンの区切り位置を論理的に設定することができる。
【００６１】
複数のディスクカートリッジ２をまたいで論理的にゾーンの設定を行う判断は、ゾーン内で固定のゲイン設定値およびオフセット設定値を用いて信号処理を行った時に、ゾーン内の任意のスロットにおいて検出信号１６ｒがＡＤコンバータ１０４のダイナミックレンジ内であり、また必要な分解能が得られる範囲でゲイン設定値およびオフセット設定値が設定可能かで判断できる。
【００６２】
図８では、ゾーン１をカートリッジ１からカートリッジ２にまたいで４スロットと設定し、ゾーン２をカートリッジ２からカートリッジ３にまたいで５スロットと設定し、ゾーン３をカートッリッジ４の３スロットと設定し、ゾーン４をカートリッジ５からカートリッジ６にまたいで６スロットと設定する。設定されたゾーンごとにセンサ検出信号処理手段２４で、適切なゲイン設定値とオフセット設定値を設定し信号処理を行う。
【００６３】
上記の通りに従えば、各ゾーンで適切なゲイン設定値およびオフセット設定値を設定することで、適切な振幅値およびオフセット値で検出信号１６ｒの高精度な読み出しが可能となる。また、各スロットで設定を行わず、複数スロットをまとめたゾーン単位での設定とすることで、適切なゲイン設定値およびオフセット設定値の調整回数が削減でき、高精度かつ効率的な位置決めが可能となる。
【００６４】
ディスク搬送４の位置制御を行う際に各ゾーンに応じた設定値にて信号処理を行う必要があるため、これまで述べてきたゲイン設定値およびオフセット設定値を各ゾーンに応じて学習することが必要となる。
【００６５】
図９はゾーンごとに反射型光センサの検出信号１６ｒから目標検出信号値を取得する方法の例である。ディスクライブラリ装置制御手段２２にて、検出信号１６ｒはゾーン１からゾーン６に区切られる。また目標振幅値をＣＴ、目標オフセット値をＥＴで記す。
【００６６】
ゾーン内の各スロットにおいて取得した検出信号１６ｒの最大値および最小値の差から、目標振幅値ＣＴに収まるゲイン設定、および目標オフセット値ＥＴとなるオフセット設定を行う。各ゾーンともに目標振幅値ＣＴ、目標オフセット値ＥＴは同一であり、ゲイン設定値およびオフセット設定値の学習後の位置信号は、全てのスロットにおいて目標振幅値ＣＴ以下となり、各ゾーン内の位置信号値の中心値が目標オフセット値ＥＴと同一となる。
【００６７】
なお、初期学習前はゲイン設定値およびオフセット設定値を全てのスロットに対して少なくともS字波形が検出でき、かつダイナミックレンジを超えない設定値とするか、エンコーダやステッピングモータ等を用いた粗移動を行う場合は、初期学習前は任意の設定値でもよい。
【００６８】
また下図にゾーン１を例に信号処理前の検出信号から信号処理後の目標検出信号値を算出する方法の例を示す。破線が信号処理前の検出信号、実線が信号処理後の位置信号である。信号処理前の検出信号の振幅値をＣＮ、オフセット値をＥＮで記す。
【００６９】
この時、学習したゲイン設定値ＧＮ、オフセット設定値ＯＮは、それぞれＧＮ＝20log(ＣＴ／ＣＮ)、ＯＮ＝ＥＴ−ＥＮと計算される。なお、ゲイン設定値ＧＮ、オフセット設定値ＯＮの計算方法はこれに限らず、たとえばゲイン設定値ＧＮを、ＧＮ＝ＣＴ／ＣＮのように単純に比率で算出する方法でもよい。
【００７０】
なお、ゾーン内の検出信号１６ｒの最大値および最小値を取得する例を示したが、ゾーン内の代表スロットの検出信号１６ｒの最大値および最小値を取得する方法でも良い。上記方法であれば、検出信号がダイナミックレンジ内であり、また必要な分解能が得られる範囲となるゲイン設定値とオフセット設定値の学習時間を短縮することができる。また、ここで示したゾーン幅は図７および図８で説明したゾーンの区切りどちらにも対応する。
【００７１】
図１０はゾーンごとのゲイン・オフセットの学習方法に関するフローチャートの例である。
【００７２】
まず、ステップＳ５０１で、ディスクライブラリ装置の電源が投入される。
【００７３】
次に、ステップＳ５０２で、ゲイン設定値およびオフセット設定値の学習に必要な初期設定を行う。
【００７４】
次に、ステップＳ５０３で、反射型光センサからの検出信号で、Ｎ番目のゾーン内で最大値、最小値となる検出信号を取得する。
【００７５】
次に、ステップＳ５０４で、学習目標とする振幅値ＣＴ、オフセット値ＥＴとなるようゲイン設定値ＧＮ、オフセット設定値ＯＮを算出する。
【００７６】
最後に、ステップＳ５０５で、ゲイン設定値およびオフセット設定値の学習を行ったゾーンが最後のゾーンか判定を行う。ステップＳ５０５で、最後のゾーンと判定されない場合、ステップＳ５０６で、次のゾーンにディスク搬送機構４を移動し、ステップＳ５０３に戻る。ステップＳ５０５で、最後のゾーンと判定される場合、ゲイン・オフセットの学習を終了する。
【００７７】
なお、学習契機は電源投入時に限らず、例えば位置決めのためにディスク搬送機構４が移動している時に、ゲイン・オフセットの学習を行ってもよい。
【００７８】
上記の通りに従えば、各ゾーンで適切なゲイン設定値およびオフセット設定値を学習することで、適切な振幅値およびオフセット値で位置信号の読み出しが可能となる。すなわち、光ディスクを複数搭載したディスクライブラリ装置において、ディスク搬送機構を高精度にディスク搭載位置に位置制御可能となる。
【００７９】
また、各スロットで学習を行わず、複数スロットをまとめたゾーン単位での学習とすることで、適切なゲイン設定値およびオフセット設定値を学習する学習時間が短縮され、効率的な学習が可能となる。以下、学習結果を保持する一例としてゲイン・オフセット設定値格納テーブルの例を説明する。
【００８０】
図１１はゲイン・オフセット設定値格納テーブルの例である。
ゾーンごとに学習したゲイン設定値およびオフセット設定値は、センサ検出信号処理手段２４内のメモリ内に保持するゲイン・オフセット設定値格納テーブルに記憶される。ゾーン１ではゲイン設定値Ｇ１、オフセット設定値Ｏ１、ゾーンＮではゲイン設定値ＧＮ、オフセット設定値ＯＮのように、ゾーンごとに各設定値が記憶される。
【００８１】
ディスク搬送機構４の位置制御を行う際は、位置制御を行うスロットが属するゾーンを判別し、ゲイン・オフセット設定値格納テーブルから対象ゾーンのゲイン設定値およびオフセット設定値を参照する。参照したゲイン設定値およびオフセット設定値にて信号処理を行った後の位置信号を用いてディスク搬送機構４の位置制御を行う。
【００８２】
上記の通りに従えば、ゲイン設定値およびオフセット設定値の学習結果は各ゾーンに応じて設定値を保持することができ、ディスク搬送４の位置制御を行う際に各ゾーンに応じた設定値にて信号処理を行うことが可能となる。
【００８３】
上記の通り本実施例に従えば、各ゾーンで適切なゲイン設定値およびオフセット設定値を学習することで、適切な振幅値、オフセット値で位置信号の読み出しが可能となる。すなわち、光ディスクを複数搭載したディスクライブラリ装置において、ディスク搬送機構を高精度にディスク搭載位置に位置制御可能となる。
【００８４】
また、各スロットで学習を行わず、複数スロットをまとめたゾーン単位での学習とすることで、適切なゲイン、オフセット設定を学習する学習時間が短縮され、効率的な学習が可能となる。
【実施例２】
【００８５】
本実施例では、各ゾーンで適切なゲイン設定値およびオフセット設定値を学習することで、適切な振幅値、オフセット値で位置信号の読み出しを行うことで、ディスク搬送機構を高精度にディスク搭載位置に位置制御可能とする。さらに複数の反射型センサのゲイン設定値およびオフセット設定値の学習を効率的に行い、学習時間を更に短縮可能とするディスクライブラリ装置の例を説明する。
図１から図１１の構成は、本実施例においても同様であるため説明を省略する。
【００８６】
図１２はゲイン・オフセット補正値格納テーブルを用いた場合のゾーンごとのゲイン・オフセットの設定方法に関するフローチャートの例である。
【００８７】
まず、ステップＳ８０１で、位置制御を行う反射型センサが、現在、使用している反射型センサと異なるか判定を行う。ステップＳ８０１で、反射型センサが異なると判定された場合、ステップＳ８０２に遷移し、ステップＳ８０１で、反射型センサが同じと判定された場合、ゲイン補正値、オフセット補正値を変更せずステップＳ８０３に遷移する。
【００８８】
次に、ステップＳ８０２で、ゲイン・オフセット補正値格納テーブルから使用する反射型センサのゲイン補正値、オフセット補正値を参照する。
【００８９】
次に、ステップＳ８０３で、ディスク搬送機構４の移動先のスロットが属するゾーンが、現在、ディスク搬送機構４が位置しているゾーンと異なるか判定を行う。ステップＳ８０３で、ゾーンが異なると判定された場合、ステップＳ８０４に遷移し、ステップＳ８０３で、ゾーンが同じと判定された場合、ゲイン設定値およびオフセット設定値を変更せずステップＳ８０５に遷移する。
【００９０】
次に、ステップＳ８０４で、ゲイン・オフセット設定値格納テーブルから移動先のスロットが属するゾーンのゲイン設定値およびオフセット設定値を参照する。
【００９１】
次に、ステップＳ８０５で、対応する反射型センサの反射型センサのゲイン補正値、オフセット補正値と対応するゾーンのゲイン設定値およびオフセット設定値をもとに、オフセットキャンセル回路１０２、ゲインアンプ１０３の設定を行う。
【００９２】
最後に、ステップＳ８０６で、位置制御を行うスロットの位置信号を取得し、ディスク搬送機構４の位置制御を行う。
【００９３】
図１３は同一のスロットで複数の反射型光センサから取得される検出信号を示した例である。
【００９４】
反射型センサ１０ａから取得される検出信号１６ａの振幅値をＣａ、オフセット値をＥａで示し、反射型センサ１０ｂから取得される検出信号１６ｂの振幅値をＣｂ、オフセット値をＥｂで示す。なお、反射型センサの数はこれに限らず、３つ以上の複数の反射型センサを具備してよい。
【００９５】
反射型センサが異なると、反射型センサのレーザ特性、受光部特性、回路特性または経年劣化の違いにより、同一のスロットを反射型センサが走査した際の反射光であっても出力される検出信号の振幅値やオフセット値は異なる。
【００９６】
ただし、各反射型センサ同士での振幅比率やオフセット差は、異なるスロットの検出信号でも同一となる。この特性を利用し、反射型センサ１０ｂは、反射型センサ１０ａとの振幅比率であるゲイン補正値やオフセット差であるオフセット補正値を算出することで、目標とするゲイン設定値、およびオフセット設定値の補正を行う。すなわち、すべてのゾーンで学習を実施するのは基準となる反射型センサ１０ａのみとし、反射型センサ１０ｂは、基準となる所定のスロットのみで検出信号の取得を行う。
【００９７】
反射型センサ１０ｂで位置制御を行う場合には、算出したゲイン補正値やオフセット補正値を適用することで、検出信号の取得を行う。反射型センサ１０ａを基準としたとき、学習したゲイン補正値ＧＲｂ、オフセット補正値ＯＲｂは、それぞれＧＲｂ＝20log(Ｃａ／Ｃｂ)、ＯＲｂ＝Ｅａ−Ｅｂと計算される。
【００９８】
なお、ゲイン補正値ＧＲｂ、オフセット補正値ＯＲｂの計算方法はこれに限らず、たとえばゲイン補正値ＧＲｂを、ＧＲｂ＝Ｃａ／Ｃｂのように単純に比率で算出する方法でもよい。以降、ゾーンごとのゲイン・オフセットの学習方法に関し、フローチャートを用いて詳細に説明する。
【００９９】
図１４はゲイン・オフセット補正値格納テーブルを用いた場合のゾーンごとのゲイン・オフセットの学習方法に関するフローチャートの例である。
【０１００】
まず、ステップＳ７０１で、ディスクライブラリ装置の電源が投入される。
【０１０１】
次に、ステップＳ７０２で、基準となる所定のスロットで、すべての反射型センサの検出信号を取得する。
【０１０２】
次に、ステップＳ７０３で、反射型センサごとに学習したゲイン補正値、オフセット補正値を、ゲイン・オフセット補正値格納テーブルに記憶する。
【０１０３】
次に、ステップＳ７０４で、基準となる反射型センサに切り替える。
【０１０４】
次に、ステップＳ７０５で、ゲイン設定値およびオフセット設定値の学習に必要な初期設定を行う。
【０１０５】
次に、ステップＳ７０６で、反射型光センサからの検出信号で、Ｎ番目のゾーン内で最大値、最小値となる検出信号を取得する。
【０１０６】
次に、ステップＳ７０７で、学習目標とする振幅ＣＴ、オフセットＥＴとなるようゲイン設定値ＧＮ、オフセット設定値ＯＮを算出する。
【０１０７】
次に、ステップＳ７０８で、Ｎ番目のゾーンのゲイン設定値ＧＮ、オフセット設定値ＯＮをゲイン・オフセット設定値格納テーブルに記憶する。
【０１０８】
最後に、ステップＳ７０９で、ゲイン設定値およびオフセット設定値の学習を行ったゾーンが最後のゾーンか判定を行う。ステップＳ７０９で、最後のゾーンと判定されない場合、ステップＳ７１０で、次のゾーンにディスク搬送機構４を移動し、ステップＳ７０６に戻る。ステップＳ７０９で、最後のゾーンと判定される場合、ゲイン・オフセットの学習を終了する。
【０１０９】
なお、学習契機は電源投入時に限らず、例えば位置決めのためにディスク搬送機構４が移動している時に、ゲイン・オフセットの学習を行ってもよい。
【０１１０】
図１５はゲイン・オフセット補正値格納テーブルの例である。
【０１１１】
反射型センサごとに学習したゲイン補正値、オフセット補正値は、センサ検出信号処理手段２４内のメモリ内に保持するゲイン・オフセット補正値格納テーブルに記憶される。ここでは、反射型センサａを基準としているため、ゲイン・オフセット補正値格納テーブルの反射型センサａはゲイン補正値、オフセット補正値ともに設定値無しとする。または、補正を行わないため０と設定してもよい。反射型センサｂではゲイン補正値ＧＲｂ、オフセット補正値ＯＲｂ、反射型センサxではゲイン補正値ＧＲｘ、オフセット補正値ＯＲｘのように、反射型センサごとに各補正値が記憶される。
【０１１２】
ディスク搬送機構４の位置制御を行う際は、位置制御を行う反射型センサを判別し、ゲイン・オフセット補正値格納テーブルから対象の反射型センサのゲイン補正値ＧＲｘ、オフセット補正値ＯＲｘを参照する。その後、位置制御を行うスロットが属するゾーンを判別し、ゲイン・オフセット設定値格納テーブルから対象ゾーンのゲイン設定値ＧＮ、オフセット設定値ＯＮを参照する。参照した補正値および設定値からゲインアンプ１０３をＧＮ＋ＧＲｘ、オフセットキャンセル回路１０２をＯＮ＋ＯＲｘと設定し、信号処理を行った後に位置信号を用いてディスク搬送機構４の位置制御を行う。
【０１１３】
上記の通り本実施例に従えば、各ゾーンで適切なゲイン設定値およびオフセット設定値を学習することで、適切な振幅値およびオフセット値で位置信号の読み出しが可能となる。すなわち、光ディスクを複数搭載したディスクライブラリ装置において、ディスク搬送機構を高精度にディスク搭載位置に位置制御可能となる。
【０１１４】
また、各スロットで学習を行わず、複数スロットをまとめたゾーン単位での学習とすることで、適切なゲイン設定値およびオフセット設定値を学習する学習時間が短縮され、効率的な学習が可能となる。
【０１１５】
さらに、複数の反射型センサの学習を行う場合に、基準となる反射型センサとその他の反射型センサとの検出信号の比率関係を利用することで、ゲイン設定値およびオフセット設定値の学習時間が短縮され、更なる効率的な学習が可能となる。
【実施例３】
【０１１６】
図１６はデータアーカイブシステム１１１の構成を示すブロック図である。
【０１１７】
本システムでは、コントローラ１１２が外部通信部を備え、ネットワーク１１４で外部と接続されている。
【０１１８】
前記コントローラ１１２には、ハードディスク１１３、実施例１あるいは実施例２で述べたディスクライブラリ装置が接続されている。ハードディスク１１３やディスクライブラリ装置は複数台接続されても良い。
【０１１９】
コントローラ１１２は、ライブラリ通信部を備え、コントローラ１１２とディスクライブラリ装置との間で、記録／再生するデータや各種制御コマンドや通知を送受信する。ディスクライブラリ装置は、記録時には、コントローラ１１２からデータ記録命令を受け、データを受け取り、受け取ったデータを光ディスクに記録する。再生時には、光ディスクからデータを再生し、コントローラ１１２にデータを受け渡す。
【０１２０】
ディスクライブラリ装置の詳細は、実施例１あるいは実施例２で述べた通りであるので詳細な説明は省略する。
【０１２１】
上述のシステムにおいて、本実施例１あるいは実施例２で述べたディスクライブラリ装置を用いることにより、アーカイブシステムとしての信頼性を高めることができる。
【０１２２】
なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。
【０１２３】
また、上記の各構成、機能、処理部、処理手段等は、それらの一部又は全部を、例えば集積回路で設計する等によりハードウェアで実現してもよい。また、上記の各構成、機能等は、プロセッサがそれぞれの機能を実現するプログラムを解釈し、実行することによりソフトウェアで実現してもよい。各機能を実現するプログラム、テーブル、ファイル等の情報は、メモリや、ハードディスク、ＳＳＤ（Ｓｏｌｉｄ  Ｓｔａｔｅ  Ｄｒｉｖｅ）等の記録装置、または、ＩＣカード、ＳＤカード等の記録媒体に置くことができる。
【０１２４】
また、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしも全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には殆ど全ての構成が相互に接続されていると考えてもよい。
【符号の説明】
【０１２５】
１・・・光ディスクドライブ
２・・・ディスクカートリッジ
３・・・カートリッジラック
４・・・ディスク搬送機構
５・・・ディスククランパ
６・・・クランパモータ
７・・・搬送レール
８・・・キッカーアーム
９・・・ディスクキッカー
１０、１０ａ、１０ｂ・・・反射型光センサ
１１・・・キッカーモータ
１２・・・ディスク挿入口
１５・・・光スポット
１６、１６ｒ、１６ａ、１６ｂ・・・検出信号
１７・・・光ディスク
２０・・・カートリッジラック仕切り板
２１・・・カートリッジラック溝部（スロット）
２２・・・ディスクライブラリ制御手段
２３・・・光ディスクドライブ制御手段
２４・・・センサ検出信号処理手段
２５・・・ディスク搬送機構制御手段
２６・・・ディスク取り出し制御手段
２７・・・ディスク引き込み制御手段
２８・・・インターフェース
２９・・・ディスク取り出し機構
３０・・・ディスク引き込み機構
３１・・・ディスク搬送機構移動手段
１０２・・・オフセットキャンセル回路
１０３・・・ゲインアンプ
１０４・・・ＡＤコンバータ
１０５・・・ＣＰＵ
１１１・・・データアーカイブシステム
１１２・・・コントローラ
１１３・・・ハードディスク
１１４・・・ネットワーク
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
2015118723.tif 000013
【図１２】
2015118723.tif 000014
【図１３】
2015118723.tif 000015
【図１４】
2015118723.tif 000016
【図１５】
2015118723.tif 000017
【図１６】
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