(57)【要約】【課題】画像に映りこんだ、任意の形状を有する線状の物体を検出できる線検出装置、線検出方法、及びプログラムを提供する。【解決手段】画像処理装置１は、ターゲット画像に含まれている検出対象線の少なくとも一部を含む探索領域を生成する選択部１２０と、検出対象線の、探索領域に含まれる部分を表す線情報を取得し、探索領域から所定の探索方向に所定の距離だけ離れた位置に次の探索領域を生成して線情報を取得する動作を繰り返し、得られた線情報を統合することにより、検出対象線を検出する探索部１６０と、を備える。【選択図】図２
2015118596.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ターゲット画像に含まれている検出対象線の少なくとも一部を含む探索領域を生成する生成部と、
前記検出対象線の、前記探索領域に含まれる部分を表す線情報を取得し、前記探索領域から所定の探索方向に所定の距離だけ離れた位置に次の探索領域を生成して線情報を取得する動作を繰り返し、得られた線情報を統合することにより、検出対象線を検出する探索部と、
を備えることを特徴とする線検出装置。
【請求項２】
前記探索方向は、前記検出対象線の、前記探索領域に含まれる部分の傾きの方向である、
ことを特徴とする請求項１に記載の線検出装置。
【請求項３】
前記探索方向は、前記検出対象線の、前記探索領域に含まれる部分の、所定の位置における接線方向である、
ことを特徴とする請求項１に記載の線検出装置。
【請求項４】
前記探索部は、前記検出対象線の形状を表す探索モデルを求め、探索モデルに基づいて前記探索方向を決定する、
ことを特徴とする請求項１に記載の線検出装置。
【請求項５】
前記探索部は、前記探索領域が画像の周縁を含むか否かを判別し、含んでいると判別されると、線情報を取得する処理を終了する、
ことを特徴とする請求項４に記載の線検出装置。
【請求項６】
前記探索部は、前記探索領域を生成した際に、生成した探索領域内の所定の基準点と、前記検出対象線の前記探索領域に含まれる部分の基準点と、が一致するか否かを判別し、一致しないと判別した場合、生成した探索領域を、これら２つの基準点が一致するように移動する、
ことを特徴とする請求項１乃至５の何れか１項に記載の線検出装置。
【請求項７】
前記探索部で取得された線情報で特定される検出対象線の形状を近似する近似曲線を求める近似手段を更に備える、
ことを特徴とする請求項１乃至６の何れか１項に記載の線検出装置。
【請求項８】
前記近似手段で求められた近似曲線との間の類似度が閾値以上である曲線を前記ターゲット画像から抽出し、抽出した曲線を特定する情報を求める手段を備える、
ことを特徴とする請求項７に記載の線検出装置。
【請求項９】
検出対象線の少なくとも一部を含む探索領域を生成する生成ステップと、
前記検出対象線の前記探索領域に含まれる部分を表す線情報を取得し、検出対象線に沿った位置に次の探索領域を生成して線情報を取得する動作を繰り返す探索ステップと、
を含むことを特徴とする線検出方法。
【請求項１０】
線検出装置を制御するコンピュータに、
検出対象線の少なくとも一部を含む探索領域を生成する生成機能、
前記検出対象線の前記探索領域に含まれる部分を表す線情報を取得し、検出対象線に沿った位置に次の探索領域を生成して線情報を取得する動作を繰り返す探索機能、
を実現させるプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、線検出装置、線検出方法、及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
撮像した画像に映りこんだ、電線等の線状の物体を抽出し、画像処理により除去したいという要望がある。画像処理により電線等を抽出するためには、まず、画像中の電線等を検出しなければならない。画像に映りこんだ電線が直線形状を有する場合、特許文献１に開示された技術を用いてこの電線を検出することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００４−２７２７３４号公報
【非特許文献】
【０００４】
【非特許文献１】宮岡  伸一郎、画像の勾配空間フィルタリング、情報処理学会論文誌、日本、２０１１、Ｖｏｌ．５２、Ｎｏ．２、ｐ．９０１〜ｐ．９０９
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
特許文献１に開示された技術は、画像に映りこんだ、電線等の線状の物体が、直線以外の形状を有していた場合、この電線を検出することができない。
【０００６】
本発明は、上記の課題に鑑みてなされたものであり、画像に映りこんだ、任意の形状を有する線状の物体を検出できる線検出装置、線検出方法、及びプログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記の目的を達成するために、本発明に係る線検出装置は、
ターゲット画像に含まれている検出対象線の少なくとも一部を含む探索領域を生成する生成部と、
前記検出対象線の、前記探索領域に含まれる部分を表す線情報を取得し、前記探索領域から所定の探索方向に所定の距離だけ離れた位置に次の探索領域を生成して線情報を取得する動作を繰り返し、得られた線情報を統合することにより、検出対象線を検出する探索部と、
を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、画像に映りこんだ、任意の形状を有する線状の物体を検出できる線検出装置、線検出方法、及びプログラムを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】実施形態１に係る画像処理装置のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。
【図２】実施形態１に係る画像処理装置の機能構成の一例を示すブロック図である。
【図３】（Ａ）は、ターゲット画像の一例を示す図である。（Ｂ）は、線除去処理の結果を例示するための図である。
【図４】探索領域の生成を説明するための図である。
【図５】実施形態１に係る画像処理装置が実行する線除去処理を説明するためのフローチャートである。
【図６】実施形態１に係る画像処理装置が実行する線探索処理を説明するためのフローチャートである。
【図７】（Ａ）〜（Ｅ）は、いずれも、実施形態１に係る画像処理装置が実行する線探索処理を説明するための図である。
【図８】実施形態２に係る画像処理装置が実行する線探索処理を説明するためのフローチャートである。
【図９】（Ａ）〜（Ｄ）は、いずれも、実施形態２に係る画像処理装置が実行する線探索処理を説明するための図である。
【図１０】実施形態２の変形例に係る画像処理装置が実行する線探索処理を説明するための図である。
【図１１】実施形態３に係る画像処理装置が実行する線探索処理を説明するためのフローチャートである。
【図１２】実施形態３に係る画像処理装置が実行する線探索処理を説明するための図である。
【図１３】実施形態４に係る画像処理装置が実行する線除去処理を説明するためのフローチャートである。
【図１４】（Ａ）は、ターゲット画像の一例を示す図である。（Ｂ）は、線除去処理の結果を例示するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
（実施形態１）
以下、本発明に係る線検出装置及び線検出方法を、画像処理装置を例に用い、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、図中同一又は同等の部分には同じ符号を付す。
【００１１】
本実施形態に係る画像処理装置１は、画像に映りこんだ線状の物体を特定して除去する機能を有し、図１に示すように、制御部１１、主記憶部１２、外部記憶部１３、操作部１４、ディスプレイ１５、及びこれらの各部を相互に接続するシステムバスＳＢをハードウェア構成として備える。
【００１２】
制御部１１は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）を備える。制御部１１は、外部記憶部１３が記憶している制御プログラム１６を実行することにより画像処理装置１全体を制御すると共に、後述する、線探索、線抽出、線除去を含む各種機能を実現する。
【００１３】
主記憶部１２は、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）を備える。主記憶部１２は、制御部１１のワークメモリとして機能し、処理対象の画像や処理過程の画像、その他のデータ、プログラムを一時的に記憶する。外部記憶部１３が記憶している制御プログラム１６は、主記憶部１２に展開される。
【００１４】
外部記憶部１３は、不揮発性メモリ（例えば、フラッシュメモリやハードディスク）を備え、線検出装置１全体の制御に必要な制御プログラム１６、線除去を行うための画像処理プログラムを含む各種プログラム、各種固定データ等を固定的に記憶する。外部記憶部１３は、記憶しているデータやプログラムを制御部１１に供給する。また、外部記憶部１３は、制御部１１から供給されたデータを記憶する。
【００１５】
操作部１４は、キーボード、マウス等の入力デバイスを備え、ユーザによる操作にしたがって入力を受け付け、制御部１１に伝達する。
【００１６】
ディスプレイ１５は、制御部１１の制御に従って、主記憶部１２及び外部記憶部１３が記憶している各種画像や各種データを表示する。ディスプレイ１５は、例えば、ＣＲＴ（Ｃａｔｈｏｄｅ  Ｒａｙ  Ｔｕｂｅ）やＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ  Ｃｒｙｓｔａｌ  Ｄｉｓｐｌａｙ）を備える。
【００１７】
システムバスＳＢは、制御部１１〜ディスプレイ１５を相互に接続する。
【００１８】
上記のハードウェア構成を有する画像処理装置１は、機能的には、図２に示すように、記憶部１００と、表示部１１０と、選択部１２０と、線抽出部１３０と、微分部１４０と、勾配フィルタリング部１５０と、探索部１６０と、マスキング部１７０と、を備える。
【００１９】
記憶部１００は、処理対象のターゲット画像ＴＧを記憶する。ターゲット画像ＴＧは、図３に例示するように、除去対象となる電線ＰＬの画像を含む処理対象の画像である。ターゲット画像ＴＧは、外部の画像入力装置（例えば、デジタルカメラやメモリカード、ネットワーク）から取りこまれる。記憶部１００は、外部記憶部１３等によって実現される。
【００２０】
表示部１１０は、ターゲット画像ＴＧを含む種々の画像を表示する。表示部１１０は、ディスプレイ１５等によって実現される。
【００２１】
選択部１２０は、ユーザが、ターゲット画像ＴＧに含まれる、除去を所望する電線ＰＬ上の任意の点ＰＯを選択した場合、この点ＰＯの位置を取得する。選択部１２０は、操作部１４、ディスプレイ１５、制御部１１等から構成される。
【００２２】
選択部１２０は、図４に示すように、ユーザが選択した点ＰＯを基準として、所定サイズの矩形領域（探索領域ＳＲ）を生成する。所定のサイズは、電線ＰＬの少なくとも一部を含むように任意の方法で設定されている。本実施形態において、探索領域ＳＲは、あらかじめ設定した、電線ＰＬの探索領域ＳＲに含まれる部分が直線とみなせる程度のサイズに予め設定されている。
【００２３】
線抽出部１３０は、図２に示すように、二値化部１３１と、線検出部１３２と、特徴量取得部１３３と、を備える。
【００２４】
二値化部１３１は、探索領域ＳＲの画像を、探索領域ＳＲの輝度情報に基づいて設定した閾値を用いて二値化する。二値化部１３１は、制御部１１等から構成される。
【００２５】
線検出部１３２は、二値化部１３１によって生成された探索領域ＳＲの二値化画像から、公知技術により、電線ＰＬを検出する。線検出部１３２は、制御部１１等から構成される。
【００２６】
特徴量取得部１３３は、線検出部１３２によって検出された電線ＰＬの幅ｗと、探索領域ＳＲ内の電線ＰＬとそれ以外の部分との平均輝度の差ｄとを電線ＰＬの特徴量として取得する。特徴量取得部１３３は、制御部１１等から構成される。
【００２７】
微分部１４０は、ターゲット画像ＴＧに微分フィルタを適用し、ターゲット画像ＴＧのＸ方向微分画像ｇｘ及びＹ方向微分画像ｇｙを生成する。微分部１４０は、制御部１１等から構成される。
【００２８】
勾配フィルタリング部１５０は、微分部１４０が生成したＸ方向微分画像ｇｘ及びＹ方向微分画像ｇｙを非特許文献１に開示されている技術を用いて勾配フィルタリングを行うことにより、勾配フィルタ画像Ｅｘ、Ｅｙを生成する。勾配フィルタリング部１５０は、さらに、Ｅｘ画像とＥｙ画像を加算してＥｘ＋Ｅｙ画像を生成し、さらに、これを二値化することにより、勾配フィルタ画像を生成する。勾配フィルタリング部１５０は、制御部１１等から構成される。
【００２９】
具体的には、勾配フィルタリング部１５０は、Ｘ方向微分画像ｇｘに下記の式（１）を適用してＥｘ画像を生成し、Ｙ方向微分画像ｇｙに下記の式（２）を適用してＥｙ画像を生成する。
【００３０】
【数１】
2015118596.tif 000003
【００３１】
【数２】
2015118596.tif 000004
【００３２】
ここで、定数ｒは、評価対象画素の近傍−（２ｗ＋１）〜＋（２ｗ＋１）の範囲に属する整数である。ｗは、特徴量取得部１３３が特徴量として取得した、探索領域ＳＲの二値化画像から従来技術を用いて線検出部１３２により検出された電線ＰＬの幅ｗである。
【００３３】
勾配フィルタリング部１５０は、さらに、Ｅｘ画像とＥｙ画像の同一座標位置の画素の輝度を加算することによりＥｘ＋Ｅｙ画像を生成する。
【００３４】
勾配フィルタリング部１５０は、Ｅｘ＋Ｅｙ画像中の、輝度が（Ｅｘ＋Ｅｙ）≧ｔｈ（式（３））を満たす画素に「１」の輝度を、式（３）を満たさない画素に「０」の輝度を、それぞれ付与することにより勾配フィルタ画像を生成する。
【００３５】
式（３）中の閾値ｔｈは、例えば、特徴量取得部１３３が特徴量として取得した、線検出部１３２が電線ＰＬとして抽出した部分とそれ以外の部分との間の輝度差ｄの半分ｄ／２に設定される。
【００３６】
探索部１６０は、勾配フィルタリング部１５０が生成した勾配フィルタ画像内において電線ＰＬに沿って線探索を行い、電線ＰＬを構成する画素の位置（座標）を示す線情報を順次取得して蓄積する。探索部１６０は、制御部１１等から構成される。
【００３７】
具体的には、探索部１６０は、勾配フィルタ画像内で、ユーザが選択した点ＰＯを基点として、探索領域ＳＲを電線ＰＬに沿って移動しながら順次生成し、探索領域ＳＲに含まれる輝度値が「１」の画素の位置を示す線情報を生成する。探索部１６０が行う線探索処理の詳細については図５，図６のフローチャートを参照して後述する。
【００３８】
マスキング部１７０は、線情報で示される位置にある画素の輝度値として、例えば、電線ＰＬ近傍の背景画像を構成する画素の輝度値を付与することにより、マスク画像を作成する。マスキング部１７０は、さらに、生成したマスク画像を用いて、ターゲット画像ＴＧをマスクすることにより、ターゲット画像ＴＧ中の電線ＰＬを除去する。
【００３９】
以下、上記の機能構成を有する画像処理装置１が、電線ＰＬの画像をターゲット画像ＴＧから除去する動作を、図５〜図７を参照しながら説明する。
【００４０】
画像処理装置１が備える外部記憶部１３は、あらかじめ、ユーザが除去を所望する電線ＰＬの画像を含むターゲット画像ＴＧを外部の画像入力装置から取りこみ、記憶している。
【００４１】
ターゲット画像ＴＧに含まれる電線ＰＬの画像を除去したい場合、ターゲット画像ＴＧを主記憶部１２に展開すると共に画像処理装置１が備える複数の動作モードの１つである線除去モードを選択する。
【００４２】
ユーザが線除去モードを選択すると、制御部１１は、外部記憶部１３から線探索プログラム及び画像処理プログラムをロードし、主記憶部１２に展開する。ディスプレイ１５は、図３（Ａ）に例示するターゲット画像ＴＧを表示する。
【００４３】
ユーザは、ディスプレイ１５によって表示されたターゲット画像ＴＧ、例えば、図３（Ａ）に示す画像ＴＧ中の、除去を所望する電線ＰＬ上の任意の点を、操作部１４を用いて指定する。
【００４４】
制御部１１は、ユーザ操作に応答し、図５のフローチャートに示す除去処理を開始する。
【００４５】
選択部１２０は、ユーザが指定した点ＰＯのターゲット画像ＴＧ内における位置（座標（ｘ，ｙ））を取得する（ステップＳ１０１）。選択部１２０は、図４に例示するように、ステップＳ１０１で取得した点ＰＯの位置を中心として、矩形の探索領域ＳＲを生成する（ステップＳ１０２）。上述したように、探索領域ＳＲは、電線ＰＬの探索領域ＳＲに含まれる部分を直線とみなすことができる程十分に小さいサイズに予め設定されている。
【００４６】
二値化部１３１は、探索領域ＳＲの画像を、平均輝度値等の予め設定した閾値を用いて二値化する（ステップＳ１０３）。線検出部１３２は、生成された二値化画像から、既知の任意の技術を用いて電線ＰＬを検出する（ステップＳ１０４）。なお、ここで検出された電線ＰＬは、ユーザが除去を所望する電線ＰＬに加えて、孤立点や背景などのノイズを含んでいる可能性がある。このため、ここで検出された電線ＰＬは、後述するステップＳ１０７で定数ｒ及び閾値ｔｈを算出することにのみ利用する。
【００４７】
次に、特徴量取得部１３３は、検出された電線ＰＬの特徴量を取得する（ステップＳ１０５）。具体的には、特徴量取得部１３３は、検出された電線ＰＬの幅ｗを特徴量として取得する。さらに、特徴量取得部１３３は、ターゲット画像ＴＧ上で、探索領域ＳＲ内の電線ＰＬとして検出された部分とそれ以外の部分との平均輝度値をそれぞれ算出し、これらの平均輝度値の差ｄを特徴量として取得する。
【００４８】
次に、微分部１４０は、ターゲット画像ＴＧを微分して微分画像を生成する（ステップＳ１０６）。具体的には、微分部１４０は、ターゲット画像ＴＧに対して微分フィルタを適用し、ターゲット画像ＴＧのＸ方向の輝度の勾配を表すＸ方向微分画像ｇｘと、ターゲット画像ＴＧのＹ方向の輝度の勾配を表すＹ方向微分画像ｇｙと、を生成する。
【００４９】
勾配フィルタリング部１５０は、ステップＳ１０５で特徴量として取得した電線ＰＬの幅ｗと輝度差ｄとに基づいて、式（１）〜（３）で使用する定数ｒと閾値ｔｈとを下記（４）式、（５）式により算出する（ステップＳ１０７）。
ｒ＝２ｗ＋１  （式（４））
ｔｈ＝ｄ／２  （式（５））
【００５０】
次に、勾配フィルタリング部１５０は、微分画像Ｘ方向微分画像ｇｘとＹ方向微分画像ｇｙとに、定数ｒ及び閾値ｔｈを用いて勾配フィルタリングを行い、勾配フィルタ画像を生成する（ステップＳ１０８）。
【００５１】
具体的には、勾配フィルタリング部１５０は、Ｘ方向微分画像ｇｘに前述の式（１）を用いてＥｘ画像を生成し、Ｙ方向微分画像ｇｙに前述の式（２）を用いてＥｙ画像を生成する。続いて、勾配フィルタリング部１５０は、Ｅｘ画像とＥｙ画像の相対位置が同一の画素の輝度値を加算することによりＥｘ＋Ｅｙ画像を生成する。さらに、勾配フィルタリング部１５０は、Ｅｘ＋Ｅｙ画像中の、輝度値が式（３）を満たす画素に「１」の輝度値を、輝度値が式（３）を満たさない画素に「０」の輝度値を、それぞれ付与することにより二値の勾配フィルタ画像を生成する。
【００５２】
次に、探索部１６０は、ステップＳ１０８で生成された勾配フィルタ画像中で、図６のフローチャートに詳細を示す線探索処理を行い、電線ＰＬを構成する画素の位置を示す線情報を取得する（ステップＳ１０９）。ここで、図６及び図７を参照して、探索部１６０が行う線探索処理を詳細に説明する。
【００５３】
探索部１６０は、図５のフローチャートのステップＳ１０２で生成した探索領域ＳＲを基点とする線探索処理を行う。
【００５４】
まず、探索部１６０は、ステップＳ１０２において生成した探索領域ＳＲを、その中心が除去対象の線上になる位置に補正する（ステップＳ１００１）。より詳細には、図７（Ａ）に例示するように、ユーザが指定した点ＰＯは除去対象の電線ＰＬからずれていることがある。探索部１６０は、図７（Ｂ）に示すように、探索領域ＳＲを、その中心ＣＥが電線ＰＬ上に来る位置に移動する。
【００５５】
次に、探索部１６０は、勾配フィルタ画像上で、探索領域ＳＲ内で「１」の輝度値を有する画素の位置を、除去対象の電線ＰＬを構成する画素の位置を示す線情報として取得し、記憶する（ステップＳ１００２）。
【００５６】
続いて、探索部１６０は、次の探索を行うため、勾配フィルタ画像上で、探索領域ＳＲを電線ＰＬに沿って移動する必要がある。そこで、探索部１６０は、まず、探索領域ＳＲの移動方向と移動量を示す移動ベクトルＡを求める（ステップＳ１００３）。
移動ベクトルＡを求めるに際し、探索領域ＳＲの移動方向は、ユーザが指示した点ＰＯを起点として、電線ＰＬに沿って２方向存在する。そこで、探索部１６０は、始めに、何れの方向に探索を行うかを特定する。これは、例えば、右方向優先というように予め設定しておけばよい。さらに、元の探索領域ＳＲと新たな探索領域ＳＲ’とは、電線ＰＬを構成する画像の抽出漏れを防ぐため、一部重複している必要がある。このため、探索部１６０は、探索領域ＳＲを、電線ＰＬの延びる方向に、探索領域ＳＲに含まれる電線ＰＬの長さＬ以下の距離だけ移動して、新たな探索領域ＳＲ’とする必要がある。また、電線ＰＬが実際には曲線であることを考慮すると、移動量は、Ｌ／２程度が望ましい。
【００５７】
そこで、探索部１６０は、電線ＰＬの探索領域ＳＲに含まれる部分の始点と終点を、図７（Ｃ）に示すように、それぞれ（ｘ１、ｙ１）及び（ｘ２、ｙ２）とすると、移動ベクトルＡを、Ａ＝（（ｙ２−ｙ１）／２，（ｘ２−ｘ１）／２）  （式（５））と求める。
【００５８】
探索部１６０は、図７（Ｄ）に示すように、探索領域ＳＲを、移動ベクトルＡが示す方向に、移動ベクトルＡの大きさだけ移動し、新たな探索領域ＳＲ’を生成する（ステップＳ１００４）。
【００５９】
探索部１６０は、ハフ変換、テンプレートマッチング等を用いて、元の探索領域ＳＲの画像と、ステップＳ１００４で生成した探索領域ＳＲ’の画像と、の間の画像間類似度を算出する（ステップＳ１００５）。
【００６０】
探索部１６０は、ステップＳ１００５で算出した画像間類似度が、所定の閾値以上か否かを判定する（ステップＳ１００６）。
【００６１】
探索部１６０は、画像間類似度が閾値以上であると判別した場合（ステップＳ１００６；Ｙｅｓ）、ステップＳ１００２〜ステップＳ１００６を繰り返し、探索領域ＳＲを電線ＰＬに沿って一方向に微小量ずつ移動しながら、ユーザにより特定された電線ＰＬを構成する画素の位置情報を蓄積する。
【００６２】
一方、探索部１６０が、ステップＳ１００６で、画像間類似度が閾値より小さいと判別した場合（ステップＳ１００６；Ｎｏ）、図７（Ｅ）に示すように、探索領域ＳＲが電線ＰＬの一端に達したと推定されるので、電線ＰＬの一端へ向かう線探索を終了し、ステップＳ１００７へ移る。
【００６３】
探索部１６０は、電線ＰＬの両端に向かって探索を行ったか否かを判別する（ステップＳ１００７）。
【００６４】
この例では、探索部１６０は、電線ＰＬの他端に向かって探索をまだ行っていないので、Ｎｏと判別し、ステップＳ１００８に進む。
【００６５】
ステップＳ１００８で、探索部１６０は、ステップＳ１００１で位置を修正した探索領域ＳＲから、電線ＰＬの他端に向かう移動ベクトルＡを求め、新たな探索領域ＳＲを生成する（ステップＳ１００８）。そして、ステップＳ１００２〜ステップＳ１００６の動作を、電線ＰＬの他端側に向かって繰り返す。
【００６６】
処理が進み、ステップＳ１００６で、新旧探索領域ＳＲの画像の類似度が閾値以下と判別されると（ステップＳ１００６；Ｎｏ）、ステップＳ１００７で、電線ＰＬの両端に向かって探索済みであると判別され（ステップＳ１００７；Ｙｅｓ）、処理はステップＳ１００９に進む。
【００６７】
探索部１６０は、ステップＳ１００９で、それまでに蓄積した線情報によって示される電線ＰＬの画像を構成する画素の位置を、重複を省きつつ統合し（ステップＳ１００９）、線探索処理を終了し、図５のステップＳ１１０に進む。
【００６８】
ステップＳ１１０において、マスキング部１７０は、ステップＳ１０９で探索部１６０が電線ＰＬの画素であるとして特定した位置（座標）に、電線ＰＬの近傍の背景に相当する画像を展開して、マスク画像を作成する（ステップＳ１１０）。
【００６９】
マスキング部１７０は、生成したマスク画像を用いて、ターゲット画像ＴＧ中の電線ＰＬをマスクすることにより、図３（Ｂ）に例示するように、電線ＰＬを除去し（ステップＳ１１１）、これをディスプレイ１５に表示し、線除去処理を終了する。
【００７０】
以上説明したように、画像処理装置１は、ユーザが指定した電線ＰＬに沿って探索領域ＳＲを順次生成しながら線探索を行うことにより、任意の形状を有する電線ＰＬを構成する画素の位置を特定することができる。さらに、孤立点や背景を誤って線として抽出してしまうことを防げる。
【００７１】
勾配フィルタリングに用いる閾値ｒ、ｔｈが、特徴量取得部１３３が取得した特徴量ｗとｄに基づいて決定されるため、ユーザが試行錯誤を通じて閾値を設定する必要がない。
【００７２】
なお、以上説明した施形態では、ターゲット画像ＴＧに含まれる電線を線探索し、抽出し、画像処理により除去する例を示したが、本発明はこれに限定されない。例えば、送配電線、電話線、ロープ、ホース等の、線状の任意の物体の画像を抽出して除去する場合に適用できる。
【００７３】
本実施形態では、探索領域ＳＲを縦長の長方形の領域として図示が、正方形でも、円形でもよく、その形状は任意である。
【００７４】
本実施形態では、微分部１４０は、線探索を行う前に、ターゲット画像ＴＧ全体を微分することで微分画像を取得した。しかし、これに限定されず、ターゲット画像ＴＧ全体ではなく、探索領域ＳＲのみを微分して微分画像を取得することとしてもよい。この場合には、ステップＳ１００１とＳ１００４で、探索領域ＳＲを生成する度に、ステップＳ１０６〜Ｓ１０８の処理を行って、探索領域ＳＲの微分画像ｇｘとｇｙを生成し、勾配フィルタ画像を生成する。
【００７５】
本実施形態では、ある探索領域ＳＲから、この探索領域ＳＲに含まれる電線ＰＬの長さＬの半分の距離Ｌ／２だけ離れた位置に、次の探索領域ＳＲを生成した。これに限定されず、２つの探索領域ＳＲの間の距離は、２つの探索領域ＳＲが共通部分を有する範囲で任意に設定できる。また、移動ベクトルＡの向きは、探索領域ＳＲの中心ＣＥから電線ＰＬの探索領域ＳＲ内の端点に向かう方向とする等、適宜設定可能である。
【００７６】
（実施形態２）
実施形態１では、探索部１６０は、電線ＰＬの探索領域ＳＲに含まれる部分を直線とみなし、この直線の傾きの方向へ探索領域ＳＲを順次生成することにより電線ＰＬに沿った線探索を行った。
実施形態１で示した方法とは異なる方法を用いて線探索を行うことができる。
【００７７】
以下、電線ＰＬの、探索領域ＳＲに含まれる部分の接線方向へ探索領域ＳＲを順次生成することにより、電線ＰＬに沿った線探索を行う画像処理装置の機能及び動作を説明する。
【００７８】
本実施形態に係る画像処理装置１は、実施形態１に係る画像処理装置１とほぼ同様の機能構成を備える。ただし、探索部１６０の機能が実施形態１とは一部異なる。
【００７９】
本実施形態に係る画像処理装置１が備える探索部１６０は、電線ＰＬの、探索領域ＳＲに含まれる部分の接線方向へ探索領域ＳＲを順次生成しながら線探索を行う。
【００８０】
また、探索部１６０は、探索領域ＳＲを生成する度に、生成した探索領域ＳＲが線探索対象の電線ＰＬから外れていないかを判別し、探索領域ＳＲが電線ＰＬから外れていた場合、この探索領域ＳＲを電線ＰＬ上に移動する。すなわち、探索部１６０は、順次生成される探索領域ＳＲが全て電線ＰＬに載るように各探索領域ＳＲの位置を修正しながら線探索を行う。
【００８１】
以下、図８のフローチャートを参照して、探索部１６０が行う線探索処理を詳細に説明する。
【００８２】
本実施形態に係る画像処理装置１は、実施形態１に係る画像処理装置１と同様に、図５のフローチャートに示す除去処理と同様の除去処理を行う。ただし、探索部１６０は、ステップＳ１０９において、図６のフローチャートに示す線探索処理の代わりに、図８のフローチャートに示す線探索処理を、勾配フィルタ画像中で行う。
【００８３】
探索部１６０は、図８のフローチャートに示す線探索処理を開始すると、まず、図５のフローチャートのステップＳ１０２で生成した探索領域ＳＲが電線ＰＬから外れている可能性があるため、図９（Ａ）に示すように、この探索領域ＳＲの中心ＣＥと、電線ＰＬの探索領域ＳＲに含まれている部分の中心ＣＮと、が一致する位置に補正する（ステップＳ２００１）。
【００８４】
探索部１６０は、位置を補正した探索領域ＳＲが含む、勾配フィルタ画像内で「１」の輝度値を有する画素の位置を、電線ＰＬの画像を構成する画素の位置を示す線情報として取得し、保存する（ステップＳ２００２）。
【００８５】
次に、探索部１６０は、移動ベクトルＢを生成する。ここでは、探索領域ＳＲの中心ＣＥにおける電線ＰＬの接線を求め、接線の方向を移動ベクトルＢの向きとする（ステップＳ２００３）。一方、移動ベクトルＢの大きさは、探索領域ＳＲのサイズに基づいて、元の探索領域ＳＲと新探索領域ＳＲ’とが必ず重なるように予め設定されている大きさとする。
【００８６】
探索部１６０は、図９（Ｂ）に示すように、探索領域ＳＲを移動ベクトルＢ従って移動し新たな探索領域ＳＲ’を生成する（ステップＳ２００４）。
【００８７】
探索部１６０は、生成した新たな探索領域ＳＲ’の中心位置ＣＥと、新探索領域ＳＲ’が含む電線ＰＬの中心ＣＮと、が一致するか否かを判別する（ステップＳ２００５）。２つの中心ＣＥとＣＮが一致すると判別すると（ステップＳ２００５；Ｙｅｓ）、ステップＳ２００７へ移る。
【００８８】
一方、新探索領域ＳＲ’の中心ＣＥと新探索領域ＳＲ’内の電線ＰＬの中心ＣＮとが図９（ｃ）に示すような位置関係の場合、探索部１６０は両中心が一致しないと判別する（ステップＳ２００５；Ｎｏ）。この場合、探索部１６０は、探索領域ＳＲ’を、図９（Ｄ）に示すように、その中心ＣＥと、探索領域ＳＲ’に含まれる電線ＰＬの中心ＣＮと、が一致する位置に補正する（ステップＳ２００６）。
【００８９】
探索部１６０は、元の探索領域ＳＲの画像と、位置を補正した新探索領域ＳＲ’の画像と、の間の類似度を算出する（ステップＳ２００７）。
【００９０】
探索部１６０は、ステップＳ２００７で算出した画像間類似度が、所定の閾値以上か否かを判定する（ステップＳ２００８）。
【００９１】
探索部１６０は、画像間類似度が閾値以上であると判別した場合（ステップＳ２００８；Ｙｅｓ）、ステップＳ２００２〜ステップＳ２００８を繰り返す。
【００９２】
探索部１６０は、画像間類似度が閾値より小さいと判別した場合（ステップＳ２００８；Ｎｏ）、電線ＰＬの一端に達したと推定されるので、電線ＰＬの一端へ向かう線探索を終了し、ステップＳ２００９へ移る。
【００９３】
探索部１６０は、電線ＰＬの両端に向かって探索を行ったか否かを判別する（ステップＳ２００９）。
【００９４】
探索部１６０は、電線ＰＬの両端に向かって探索をまだ行っていないと判別すると（ステップＳ２００９；Ｎｏ）、ステップＳ２０１０へ移り、電線ＰＬの他端へ向かう探索を開始する。
【００９５】
探索部１６０は、ステップＳ２００１で位置を補正した探索領域ＳＲから、電線ＰＬの他端に向かう方向への移動ベクトルＢを生成し、新たな探索領域ＳＲを生成する（ステップＳ２０１０）。そして、ステップＳ２００２〜ステップＳ２００８の動作を、電線ＰＬの他端に向かって繰り返す。
【００９６】
探索部１６０は、ステップＳ２００９で、電線ＰＬの両端に向かって探索済みであると判別すると（ステップＳ２００９；Ｙｅｓ）、それまでに取得した線情報によって示される、電線ＰＬの画像を構成する画素の位置を、重複を省きつつ統合し、除去対象の電線ＰＬを構成する画素の位置を示す線情報とし（ステップＳ２０１１）、線探索処理を終了する。
【００９７】
以上説明したように、本実施形態に係る画像処理装置１は、実施形態１に係る画像処理装置１と異なる方法を用いて電線ＰＬに沿って線探索処理を行い、任意の形状を有する電線ＰＬを抽出することができる。
【００９８】
実施形態１では、その領域に含まれる線を直線とみなせる程度に十分小さい領域を探索領域ＳＲとした。本実施形態では、実施形態１における探索領域ＳＲよりも大きい領域を探索領域ＳＲとして用いることができる。このため、線探索が実施形態１に比べてより高速になり、処理負荷も小さくなる。
【００９９】
本実施形態では、探索領域ＳＲの中心ＣＥが電線ＰＬから外れた場合には、中心ＣＥが電線ＰＬ上に戻るよう補正しながら線探索を行う。このため、確実に電線ＰＬに沿って線探索を行い、電線ＰＬを正確に抽出できる。
【０１００】
本実施形態では、探索領域ＳＲ内の電線ＰＬの中心ＣＮにおける接線方向ベクトルを移動ベクトルＢとしたが、これに限定されない。中心ＣＮ以外の任意の点における接線方向ベクトルを移動ベクトルＢの向きとしてもよい。具体的には、図１０に例示するように、探索領域ＳＲ内における電線ＰＬの端点ＥＰ１及びＥＰ２における接線方向１、２の方向ベクトルを移動ベクトルＢの向きとしてもよい。
【０１０１】
また、探索領域ＳＲの中心ＣＥが電線ＰＬからずれたときに、電線ＰＬの最短距離の位置に中心ＣＥが来るように探索領域ＳＲの位置を補正する等してもよい。また、これに限らず、探索領域ＳＲ中の任意の基準点と、電線ＰＬ上の任意の基準点と、が一致するように探索領域ＳＲの位置を補正することができる。
【０１０２】
（実施形態３）
実施形態１、２では、移動ベクトルＡ，Ｂを生成し、移動ベクトルに基づいて探索領域ＳＲを順次生成することにより線探索を行ったが、探索領域ＳＲを移動する手法は任意である。
【０１０３】
以下、電線ＰＬの形状を予想し、予想した形状に沿って探索領域を移動しつつ線探索を行う実施形態を説明する。
【０１０４】
本実施形態に係る画像処理装置１は、実施形態１に係る画像処理装置１とほぼ同様の機能構成を備える。ただし、探索部１６０の機能が実施形態１とは一部異なる。
【０１０５】
本実施形態に係る画像処理装置１が備える探索部１６０は、電線ＰＬの形状を示す探索モデル（形状パターン）を予め複数記憶している。具体的には、探索部１６０は、電線ＰＬの形状として予想される各種の曲線（例えば、懸垂曲線、放物線、ペジェ曲線）を表す関数を探索モデルとして記憶している。
【０１０６】
探索部１６０は、勾配フィルタ画像上で、電線ＰＬの形状を何れかの探索モデルで近似し、近似した探索モデルに沿って線探索処理を行う。
【０１０７】
以下、図１１のフローチャートを参照して、探索部１６０が行う線探索処理を詳細に説明する。
【０１０８】
本実施形態に係る画像処理装置１は、実施形態１に係る画像処理装置１と同様に、図５のフローチャートに示す除去処理とほぼ同様の除去処理を行う。ただし、探索部１６０は、図５のフローチャートのステップＳ１０９において、図６のフローチャートに示す線探索処理の代わりに、図１１のフローチャートに示す線探索処理を、勾配フィルタ画像中で行う。
【０１０９】
探索部１６０は、まず、探索領域ＳＲの中心ＣＥが電線ＰＬ上に来るように、探索領域ＳＲの位置を補正する（ステップＳ３００１）。
【０１１０】
次に、探索部１６０は、勾配フィルタ画像上の探索領域ＳＲ内で「１」の輝度値を有する画素の位置に基づいて、探索モデルを決定する（ステップＳ３００２）。具体的には、探索部１６０は、輝度値が「１」の画素の位置を、各探索モデルで表される曲線でフィッティングし、最も近似度の高い探索モデルを選択する。
【０１１１】
次に、探索部１６０は、勾配フィルタ画像上で探索領域ＳＲに含まれている輝度値が「１」の画素の位置を、電線ＰＬの画像を構成する画素の位置として取得する（ステップＳ３００３）。
【０１１２】
続いて、探索部１６０は、図１２に示すように、探索領域ＳＲを、ステップＳ３００２で決定した探索モデルで表される曲線ＦＣに沿って、曲線ＦＣの一端に向かって、予め設定した距離だけ移動し、次の探索領域ＳＲ’を生成する（ステップＳ３００４）。
【０１１３】
探索部１６０は、ステップＳ３００４で生成した探索領域ＳＲ’が、勾配フィルタ画像の周縁部に達したか否かを判別する（ステップＳ３００５）。
【０１１４】
探索部１６０は、探索領域ＳＲ’が画像の周縁に達していないと判別した場合（ステップＳ３００５；Ｎｏ）、ステップＳ３００３〜ステップＳ３００５を繰り返す。
【０１１５】
探索部１６０は、探索領域ＳＲ’が画像の周縁に達したと判別した場合（ステップＳ３００５；Ｙｅｓ）、探索モデルで表される曲線ＦＣの一端へ向かう線探索を終了し、ステップＳ３００６へ移る。
【０１１６】
探索部１６０は、曲線ＦＣの両端に向かって探索を既に行ったか否かを判別する（ステップＳ３００６）。
【０１１７】
探索部１６０は、曲線ＦＣの両端に向かって探索をまだ行っていないと判別すると（ステップＳ３００６；Ｎｏ）、ステップＳ３００７へ移り、曲線ＦＣの他端へ向かう探索を開始する。
【０１１８】
探索部１６０は、曲線ＦＣの両端に向かって探索済みであると判別すると（ステップＳ３００６；Ｙｅｓ）、それまでに取得した線情報によって示される、電線ＰＬの画像を構成する画素の位置を、重複を省きつつ統合し、線情報を生成し（ステップＳ３００８）、線探索処理を終了する。
【０１１９】
以上説明したように、本実施形態に係る画像処理装置１は、探索モデルに基づいて線探索処理を行い、電線ＰＬを抽出する。探索モデルに基づいて線探索を行うため、孤立点や背景などを電線ＰＬの一部として誤って認識してしまうことを防げる。また、電線ＰＬの像が部分的かすれていたり、隠れていたりしても、電線ＰＬを探索の途中で見失うことも防げるため、頑健な線探索を行うことができる。
【０１２０】
本実施形態に係る画像処理装置１は、実施形態１、２に係る画像処理装置とは異なり、次の探索領域ＳＲを生成するために、その直前に生成した探索領域ＳＲに含まれる電線ＰＬの情報を取得する必要がない。このため、本実施形態に係る画像処理装置１にかかる処理負荷は、実施形態１、２に係る画像処理装置にかかる処理負担に比べて小さい。
【０１２１】
本実施形態に係る画像処理装置１は、探索領域ＳＲの画像と、次に生成した探索領域ＳＲ’の画像と、の間の画像間類似度に関わらず、ターゲット画像ＴＧのエッジに達するまで線探索処理を行う。このため、線探索処理の対象の電線ＰＬが、図３に例示したターゲット画像ＴＧ中の電線ＰＬのように一部を遮られていたとしても、探索モデルに基づいて線探索処理を続行し、電線ＰＬの、ターゲット画像ＴＧに含まれる全ての部分を検出できる。
【０１２２】
なお、本実施形態と実施形態１又は２とを組み合わせることができる。
【０１２３】
例えば、実施形態１又は２に係る線探索処理を行い、所定数以上の電線ＰＬを構成する画素の位置を取得した時点で、本実施形態に係る線探索処理に切り替えてもよい。
【０１２４】
なお、ユーザが選択した探索モデルに基づいて線探索処理を行ってもよい。
【０１２５】
（実施形態４）
電線が写り込んでいる場合、複数本の電線が写り込んでいる場合が多い。実施形態１〜３では、ユーザが指定した電線の画像のみをマスクため、ユーザは除去したい電線を順次指定しなければならず、煩雑である。
以下、ユーザが１つの電線を指定することで、類似する複数の電線の画像を除去する実施形態を説明する。
【０１２６】
本実施形態に係る画像処理装置１が備えるマスキング部１７０は、電線の予測される形状を示す近似モデル（例えば、懸垂曲線、放物線、ペジェ曲線）を記憶している。
【０１２７】
以下、図１３のフローチャートを参照して、本実施形態に係る画像処理装置１が行う除去処理を説明する。
【０１２８】
なお、理解を容易にするため、この例では、図１４（Ａ）に示すターゲット画像ＴＧ上で、ユーザにより電線ＬＮが除去対象として指定されたものとする。
【０１２９】
マスキング部１７０は、実施形態１〜３と同様の手順により（他の手法でもかまわない）、指定された電線ＬＮの線情報を取得する（ステップＳ４０９）。
次に、マスキング部１７０は、線情報で示される各画素の位置を、あらかじめ記憶している近似モデルでフィッティングし、最も近似度が高い線の形状を求める（ステップＳ４１０）。マスキング部１７０は、求めた最も近似度が高い線の形状を指定された電線ＬＮの形状として線情報に加える（ステップＳ４１１）。
【０１３０】
マスキング部１７０は、次に、ステップＳ４１１で線情報に加えた形状を有する曲線との類似度があらかじめ設定した閾値以上である線をターゲット画像ＴＧから抽出し（ステップＳ４１２）、抽出した線を特定する情報（その線を構成する画素の位置情報でも、その線をフィッティングする線の情報でもいずれもでも良い）を線情報に加える（ステップＳ４１３）。
【０１３１】
マスキング部１７０は、線情報で特定される複数の線の画素に、マスク用の画像を展開することにより、マスク画像を作成し（ステップＳ４１４）、マスク画像を適用して、ターゲット画像ＴＧから複数の電線の画像を纏めて除去する（ステップＳ４１５）。
【０１３２】
例えば、図１４（Ａ）で電線ＬＮが除去対象として指定されたとする。この場合、まず、電線ＬＮの線情報が収集される（ステップＳ４０９）。続いて、マスキング部１７０は、電線ＬＮを最も良くフィッティングする線の形状が求められる（ステップＳ４１０）。ステップＳ４１０で求めた線の形状をステップＳ４０９で収集した線情報に追加すると（ステップＳ４１１）、続いて、マスキング部１７０は、電線ＬＮをフィッティングする線に類似する線をターゲット画像ＴＧ上で求め、例えば、図１４（Ａ）の電線ＬＮ１，ＬＮ２、ＬＮ３を特定する（ステップＳ４１２）。
マスキング部１７０は、電線ＬＮ１，ＬＮ２、ＬＮ３を特定する情報を線情報に追加する（ステップＳ４１３）。
【０１３３】
マスキング部１７０は、線情報で特定される画素群上、マスク用の画像を展開することにより、マスク画像を作成する（ステップＳ４１４）。
【０１３４】
マスキング部１７０が生成したマスク画像を用いてターゲット画像ＴＧから、図１４（Ｂ）に示すように電線ＬＮ、及びＬＮ１〜ＬＮ３をまとめて除去し（ステップＳ４１５）、除去処理を終了する。
【０１３５】
以上説明したように、本実施形態に係る画像処理装置１によれば、ターゲット画像ＴＧ上で、１つの電線を除去対象として特定することで、類似の形状を有する電線の画像を纏めて除去することができる。
【０１３６】
実施形態１〜実施形態４では、本発明に係る線検出装置及び線検出方法を、画像処理装置１を例として用いて説明した。本発明に係る線検出装置及び線検出方法は、コンピュータや携帯電話機、ＰＤＡ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ  Ｄｉｇｉｔａｌ  Ａｓｓｉｓｔａｎｃｅ）等の電子機器によって実現することもできる。
具体的には、コンピュータや携帯電話機、ＰＤＡ等に本発明に係る線検出装置の動作を実行させるためのプログラムを、コンピュータや携帯電話機、ＰＤＡ等が読み取り可能な記録媒体（例えば、メモリカードやＣＤ−ＲＯＭ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ  Ｒｅａｄ−Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）、ＤＶＤ−ＲＯＭ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ  Ｒｅａｄ−Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）等）に格納して配布し、このプログラムをコンピュータや携帯電話機、ＰＤＡ等にインストールすることにより、本発明に係る線検出装置を実現することができる。
【０１３７】
あるいは、上記プログラムを、インターネット等の通信ネットワーク上のサーバ装置が有する記憶装置（例えば、ディスク装置等）に格納しておき、コンピュータや携帯電話機、ＰＤＡ等がこのプログラムをダウンロードすることによって本発明に係る線検出装置を実現してもよい。
【０１３８】
本発明に係る線検出装置の機能を、オペレーティングシステム（ＯＳ）とアプリケーションプログラムとの協働又は分担により実現する場合には、アプリケーションプログラム部分のみを記録媒体や記憶装置に格納してもよい。
【０１３９】
アプリケーションプログラムを搬送波に重畳し、通信ネットワークを介して配信してもよい。例えば、通信ネットワーク上の掲示板（ＢＢＳ：Ｂｕｌｌｅｔｉｎ  Ｂｏａｒｄ  Ｓｙｓｔｅｍ）にアプリケーションプログラムを掲示し、ネットワークを介してアプリケーションプログラムを配信してもよい。そして、このアプリケーションプログラムをコンピュータにインストールして起動し、ＯＳの制御下で、他のアプリケーションプログラムと同様に実行することにより、本発明に係る線検出装置を実現してもよい。
【０１４０】
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明は係る特定の実施形態に限定されるものではなく、本発明には、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲が含まれる。以下に、本願出願当初の特許請求の範囲に記載された発明を付記する。
【０１４１】
（付記１）
ターゲット画像に含まれている検出対象線の少なくとも一部を含む探索領域を生成する生成部と、
前記検出対象線の、前記探索領域に含まれる部分を表す線情報を取得し、前記探索領域から所定の探索方向に所定の距離だけ離れた位置に次の探索領域を生成して線情報を取得する動作を繰り返し、得られた線情報を統合することにより、検出対象線を検出する探索部と、
を備えることを特徴とする線検出装置。
【０１４２】
（付記２）
前記探索方向は、前記検出対象線の、前記探索領域に含まれる部分の傾きの方向である、
ことを特徴とする付記１に記載の線検出装置。
【０１４３】
（付記３）
前記探索方向は、前記検出対象線の、前記探索領域に含まれる部分の、所定の位置における接線方向である、
ことを特徴とする付記１に記載の線検出装置。
【０１４４】
（付記４）
前記探索部は、前記検出対象線の形状を表す探索モデルを求め、探索モデルに基づいて前記探索方向を決定する、
ことを特徴とする付記１に記載の線検出装置。
【０１４５】
（付記５）
前記探索部は、前記探索領域が画像の周縁を含むか否かを判別し、含んでいると判別されると、線情報を取得する処理を終了する、
ことを特徴とする付記４に記載の線検出装置。
【０１４６】
（付記６）
前記探索部は、前記探索領域を生成した際に、生成した探索領域内の所定の基準点と、前記検出対象線の前記探索領域に含まれる部分の基準点と、が一致するか否かを判別し、一致しないと判別した場合、生成した探索領域を、これら２つの基準点が一致するように移動する、
ことを特徴とする付記１乃至５の何れか１つに記載の線検出装置。
【０１４７】
（付記７）
前記探索部で取得された線情報で特定される検出対象線の形状を近似する近似曲線を求める近似手段を更に備える、
ことを特徴とする付記１乃至６の何れか１つに記載の線検出装置。
【０１４８】
（付記８）
前記近似手段で求められた近似曲線との間の類似度が閾値以上である曲線を前記ターゲット画像から抽出し、抽出した曲線を特定する情報を求める手段を備える、
ことを特徴とする付記７に記載の線検出装置。
【０１４９】
（付記９）
検出対象線の少なくとも一部を含む探索領域を生成する生成ステップと、
前記検出対象線の前記探索領域に含まれる部分を表す線情報を取得し、検出対象線に沿った位置に次の探索領域を生成して線情報を取得する動作を繰り返す探索ステップと、
を含むことを特徴とする線検出方法。
【０１５０】
（付記１０）
線検出装置を制御するコンピュータに、
検出対象線の少なくとも一部を含む探索領域を生成する生成機能、
前記検出対象線の前記探索領域に含まれる部分を表す線情報を取得し、検出対象線に沿った位置に次の探索領域を生成して線情報を取得する動作を繰り返す探索機能、
を実現させるプログラム。
【符号の説明】
【０１５１】
１…画像処理装置、１１…制御部、１２…主記憶部、１３…外部記憶部、１４…操作部、１５…ディスプレイ、１６…制御プログラム、ＳＢ…システムバス、１００…記憶部、１１０…表示部、１２０…選択部、１３０…線抽出部、１３１…二値化部、１３２…線検出部、１３３…特徴量取得部、１４０…微分部、１５０…勾配フィルタリング部、１６０…探索部、１７０…マスキング部
【図１】
2015118596.tif 000005
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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