(57)【要約】【課題】非破壊で赤外吸収スペクトル測定を行うことを可能とした赤外吸収スペクトル測定用治具を提供する。【解決手段】棒状測定試料１０を赤外吸収スペクトル測定装置６０に装着する際に用いられ、棒状測定試料１０を測定位置に移動させる移動機構と、移動機構を支持するハウジング２０とを有する赤外吸収スペクトル測定用治具であって、移動機構は、棒状測定試料１０の傾斜角度θを調整する傾斜角度調整機構（４８，４９，５０）と、棒状測定試料１０をＺ１，Ｚ２方向に昇降させる昇降機構（４３，４４，４５）と、棒状測定試料１０をＢ１，Ｂ２方向に進退させる進退機構（５０，５１，５２）と、棒状測定試料１０をＹ１，Ｙ２方向に水平移動させる水平移動機構（４３，４６，４７）とを有し、ハウジング２０は、移動機構を支持するベース２２と、赤外吸収スペクトル測定装置６０と棒状測定試料１０との間で赤外線の光路を形成する光路形成手段を有する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
棒状測定試料を赤外吸収スペクトル測定装置に装着する際に用いられ、前記棒状測定試料を測定位置に移動させる移動機構と、前記移動機構を支持するハウジングとを有する赤外吸収スペクトル測定用治具であって、
前記移動機構は、前記棒状測定試料の傾斜角度を調整する傾斜角度調整機構、前記棒状測定試料を昇降させる昇降機構、前記棒状測定試料を軸方向に進退させる進退機構、及び前記棒状測定試料を水平方向に移動させる水平移動機構から選定される少なくとも一の機構を有し、
前記ハウジングは、前記移動機構を支持する基台と、前記赤外吸収スペクトル測定装置と前記棒状測定試料との間で赤外線の光路を形成する光路形成手段とを有することを特徴とする赤外吸収スペクトル測定用治具。
【請求項２】
前記移動機構は、前記棒状測定試料を保持する試料ホルダが着脱されるホルダ装着部を有し、
前記試料ホルダは、内部に形成された試料装着孔に保持部材が配設されており、前記棒状測定試料は前記保持部材を介して前記試料ホルダに保持されることを特徴とする請求項１記載の赤外吸収スペクトル測定用治具。
【請求項３】
前記試料ホルダは、前記ホルダ装着部に対して回転可能な構成とされていることを特徴とする請求項２記載の赤外吸収スペクトル測定用治具。
【請求項４】
前記光路形成手段は、前記赤外吸収スペクトル測定装置から照射された赤外線が前記棒状測定試料に至る光路途中に、前記赤外線を絞り込む光絞込み部を有することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一項に記載の赤外吸収スペクトル測定用治具。
【請求項５】
前記棒状測定試料は、口紅であることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか一項に記載の赤外吸収スペクトル測定用治具。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、赤外吸収スペクトル測定する際に用いる赤外吸収スペクトル測定用治具に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、赤外吸収スペクトル測定装置を用いて試料の定量処理や分析処理等（これらを総称して測定処理という）が行われている。赤外吸収スペクトル測定を行うためには、試料に赤外線を照射する必要がある。このため、試料を赤外吸収スペクトル測定用治具（以下、測定用治具という）を用いて赤外吸収スペクトル測定の所定測定位置に装着することが行われている。
【０００３】
従来の測定用治具は、測定試料を装着する装着部が予め形成されていた。この装着部は測定用治具に形成された所定形状（一般に矩形状）の凹部であり、この装着部内に測定試料を装填した状態で赤外吸収スペクトル測定が行われていた（特許文献１）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００７−０１０３５１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従来の測定用治具は、測定試料を装着する装着部が予め形成されており、またその形状も予め設定されていた。このため、例えば口紅等の棒状化粧料を測定試料（この試料を棒状測定試料という）とする場合には、棒状化粧料等を押し潰す等して所定形状の測定部に充填して測定を行っていた。
【０００６】
よって従来の測定用治具では、非破壊で口紅等の棒状測定試料に対して赤外吸収スペクトル測定を行うことができないという問題点があった。
【０００７】
本発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、非破壊で棒状測定試料に対して赤外吸収スペクトル測定を行うことを可能とした赤外吸収スペクトル測定用治具を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記の課題は、第１の観点からは、
棒状測定試料を赤外吸収スペクトル測定装置に装着する際に用いられ、前記棒状測定試料を測定位置に移動させる移動機構と、前記移動機構を支持するハウジングとを有する赤外吸収スペクトル測定用治具であって、
前記移動機構は、前記棒状測定試料の傾斜角度を調整する傾斜角度調整機構、前記棒状測定試料を昇降させる昇降機構、前記棒状測定試料を軸方向に進退させる進退機構、及び前記棒状測定試料を水平方向に移動させる水平移動機構から選定される少なくとも一の機構を有し、
前記ハウジングは、前記移動機構を支持する基台と、前記赤外吸収スペクトル測定装置と前記固形測定試料との間で赤外線の光路を形成する光路形成手段とを有することを特徴とする赤外吸収スペクトル測定用治具により解決することができる。
【発明の効果】
【０００９】
開示の発明によれば、非破壊で棒状測定試料に対して赤外吸収スペクトル測定を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】図１は、本発明の一実施形態である赤外吸収スペクトル測定用治具を示す平面図である。
【図２】図２は、本発明の一実施形態である赤外吸収スペクトル測定用治具を示す正面図である（手前の側部フレームを取り除いた状態を示す）。
【図３】図３は、本発明の一実施形態である赤外吸収スペクトル測定用治具の中央フレームを取り外した状態を示す右側面図である。
【図４】図４は本発明の一実施形態である赤外吸収スペクトル測定用治具に装着される棒状測定試料及びこれを保持するサンプルホルダを説明するための図であり、（Ａ）は棒状測定試料がサンプルホルダに装着された状態を示す図、（Ｂ）は棒状測定試料がサンプルホルダから取り外された状態を示す図である。
【図５】図５は、本発明の一実施形態である赤外吸収スペクトル測定用治具が装着される赤外吸収スペクトル測定装置を示す構成図である。
【図６】図６は、本発明の一実施形態である赤外吸収スペクトル測定用治具内における赤外線の光路を説明するための図である。
【図７】図７は、本発明の一実施形態である赤外吸収スペクトル測定用治具を用いて口紅の測定したときの赤外スペクトルの変化の一例を示す特性図である。
【図８】図８は、参考例として従来の赤外吸収スペクトル測定用治具を用いて口紅の測定したときの赤外スペクトルの変化の一例を示す特性図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
次に、本発明の実施の形態について図面と共に説明する。
【００１２】
図１〜図３及び図６は、本発明の一実施形態である赤外吸収スペクトル測定用治具１（以下、単に測定用治具１という）を示している。
【００１３】
この測定用治具１は、測定試料１０を装着した上で赤外吸収スペクトル測定装置６０（以下、単に測定装置６０という）に取り付けられる。この測定用治具１を介して測定装置６０に装着された測定試料１０には赤外線（近赤外線）が照射され、その反射光により測定試料１０の測定処理が行われる。
【００１４】
なお以下の説明においては、測定用治具１を赤外吸収スペクトル測定に適用した例について説明するが、本発明は測定試料に対して光等を照射させて試料の測定を行う各種測定に対して適用が可能なものである。
【００１５】
先ず、図４を参照して測定試料１０について説明する。
【００１６】
本実施形態において測定試料１０とするのは、例えば口紅等の通常状態で棒状の形態を有するものである（以下、この測定試料を棒状測定試料１０という）。この種の棒状測定試料１０は、これを粉砕或いは加工することなく、非破壊で測定処理を行うことが望まれている。本実施形態に測定用治具１は、棒状測定試料１０を非破壊で測定することを可能としている。
【００１７】
以下の説明では、棒状測定試料１０として棒状化粧料である口紅を例に挙げて説明するが、本願発明は非破壊の測定処理が望まれる各種棒状試料に対して適用が可能なものである。
【００１８】
棒状測定試料１０は、図４に示されるように、繰り出し容器となる容器１１に口紅１５を装填した構成とされている。この棒状測定試料１０は、例えば予め製造された容器１１に、オジーブ等を用いて予め所定形状に成形された口紅１５を装着することにより製造される。
【００１９】
製造された棒状測定試料１０は、操作部１１ａを回転させることにより口紅１５が容器１１に対して進退する。口紅１５に対する測定処理は、口紅１５を容器１１に対してと繰り出した状態で行う。なお後述するように、棒状測定試料１０はサンプルホルダ５４に装着された状態で測定用治具１に取り付けられる。
【００２０】
次に、測定用治具１について説明する。
【００２１】
棒状測定試料１０が収納された容器１１は、測定装置６０の試料室６３に装着される。測定用治具１により、棒状測定試料１０は試料室６３内の近赤外線が照射される所定照射位置に保持（位置決め）される。棒状測定試料１０が所定照射位置に位置決めされると、測定装置６０は棒状測定試料１０に対して近赤外線を照射し、この棒状測定試料１０から反射された近赤外線を検出することにより赤外吸収スペクトルの測定を行う。
【００２２】
ここで測定用治具１の説明に先立ち、図５を用いて測定装置６０について説明する。
【００２３】
測定装置６０は、光源６１、マイケルソン干渉計６２、試料室６３、検出器６４、Ａ／Ｄ変換器６５、コンピュータ６６、及び出力装置６７を備えている。
【００２４】
光源６１は、例えば12000〜4000cm-1の波数領域を含む近赤外線を発する。
【００２５】
マイケルソン干渉計６２は、ビームスプリッタ７０、固定鏡７１、及び移動鏡７２等を有している。光源６１からマイケルソン干渉計６２内に進行した近赤外線は、ビームスプリッタ７０によって分光される。
【００２６】
分光された一方の光は、ビームスプリッタ７０と固定鏡７１との間を往復した後に、試料室６３に向けて進行する。これに対し、他方の分光された光は、ビームスプリッタ７０と移動鏡７２との間を往復した後に、試料室６３に向けて進行する。
【００２７】
移動鏡７２は、図示しない駆動装置によって反射光の光軸方向（図中、矢印Ｂで示す方向）に移動可能な構成とされている。マイケルソン干渉計６２を上記構成とすることにより、分光された光の間には光路差が発生し、各光を合成したときにこの合成光は干渉光となる。
【００２８】
マイケルソン干渉計６２で上記のようにして生成された合成光は、試料室６３内に装着された棒状測定試料１０に照射される。この際、棒状測定試料１０は測定用治具１を用いて試料室６３内の所定照射位置に保持（位置決め）された状態となっている。
【００２９】
検出器６４は、マイケルソン干渉計６２から試料室６３内の棒状測定試料１０に照射され、棒状測定試料１０で反射された光を検出する。この検出信号は、Ａ／Ｄ変換器６５によってＡＤ変換されてからコンピュータ６６に入力される。
【００３０】
コンピュータ６６は、その入力信号をフーリエ変換して透過スペクトルのデータを求め、その波形を出力装置６７に表示させる。なお図５中、試料室６３と検出器６４との間に配設されているのは、光路を変換するためのミラー６８である。
【００３１】
次に、図１〜図３、図６を主に用いて測定用治具１について説明する。
【００３２】
測定用治具１は、ハウジング２０と移動機構４０とを有している。ハウジング２０は、測定用治具１内で近赤外線の光路を形成する光路形成手段を有している。またハウジング２０は、後述する移動機構４０を支持する支持部材としても機能する。
【００３３】
ハウジング２０は、ベース２２、下部フレーム２４、側部フレーム２５，２６、反射板用フレーム２７、及び中央フレーム２８等を有している。
【００３４】
ベース２２は、所定の厚みを有した金属板である。このベース２２は、各種フレーム２４〜２８及び移動機構４０等を支持する基台として機能する。
【００３５】
下部フレーム２４は、ベース２２の上部に固定されている。この下部フレーム２４は、例えば固定ネジを用いてベース２２に固定される。
【００３６】
一対の側部フレーム２５，２６は、下部フレーム２４の上部に固定される。この一対の側部フレーム２５，２６は、図１及び図３に示すように、移動機構４０が配設される位置を挟んで対向離間するよう配設される。
【００３７】
側部フレーム２５には第１の貫通孔３３が形成されており、また側部フレーム２６には第２の貫通孔３４が形成されている。また、第１の貫通孔３３の中心軸は、第２の貫通孔３４の中心軸と一致するよう構成されている。棒状測定試料１０の測定時において、近赤外線はこの第１及び第２の貫通孔３３，３４内を通過する。
【００３８】
反射板用フレーム２７及び中央フレーム２８は、一対の側部フレーム２５，２６の間に配設されている（図２及び図６参照）。反射板用フレーム２７は下部フレーム２４の上部（矢印Ｚ１方向側）に配設され、中央フレーム２８は反射板用フレーム２７よりも更に上方に配設されている。一対の側部フレーム２５，２６は、この反射板用フレーム２７及び中央フレーム２８の２本のフレームで補強されているため、ガタツクことなくベース２２に強固に固定される。
【００３９】
次に、光路形成手段について説明する。光路形成手段は、第１及び第２の反射板３０，３１、第１及び第２の貫通孔３３，３４、及び光通過孔３５等を有している。
【００４０】
第１及び第２の反射板３０，３１は、図２及び図５に示されるように、装着台２９を用いて反射板用フレーム２７に固定されている。また、前記したように第１及び第２の貫通孔３３，３４は、側部フレーム２５，２６に形成されている。
【００４１】
光通過孔３５は、中央フレーム２８に形成されている。この光通過孔３５の形成位置は、後述する移動機構４０に棒状測定試料１０が装着された状態で、この棒状測定試料１０と対向する位置となるよう構成されている。また光通過孔３５は、第１及び第２の反射板３０，３１とも対向するよう構成されている。
【００４２】
ここで、図５及び図６を主に用いて測定用治具１内における近赤外線の光路について説明する。前記のようにマイケルソン干渉計６２で干渉光とされた近赤外線は、試料室６３に入射される。試料室６３に入射した近赤外線は、側部フレーム２５に形成された第１の貫通孔３３を介して測定用治具１内に進行する。
【００４３】
第１の反射板３０は、第１の貫通孔３３と対向する位置に設けられている。また、第１の反射板３０は装着台２９に対して所定の角度を有して取り付けられている。この角度は、第１の貫通孔３３から入射した近赤外線が第１の反射板３０で反射した後、光通過孔３５に入射するよう設定されている。
【００４４】
また、前記のように中央フレーム２８に形成された光通過孔３５と対向する位置には、移動機構４０に装着された棒状測定試料１０が位置するよう構成されている。よって、第１の貫通孔３３を通過した近赤外線は、第１の反射板３０で反射された後、光通過孔３５を介して棒状測定試料１０に照射される。
【００４５】
第２の反射板３１は、装着台２９に所定の角度を有して取り付けられている。この角度は、棒状測定試料１０で反射され光通過孔３５を介して入射された近赤外線が第２の貫通孔３４に向け反射されるよう設定されている。また第２の反射板３１は、第２の貫通孔３４と対向する位置に設けられている。
【００４６】
近赤外線が棒状測定試料１０で反射する際、近赤外線には棒状測定試料１０の情報が重畳される。この棒状測定試料１０で反射した近赤外線は、第２の反射板３１で反射することにより第２の貫通孔３４を通過し、試料室６３から出射される。この試料室６３から出射した棒状測定試料１０の情報が重畳された近赤外線は、試料室６３を介して検出器６４に進行する。
【００４７】
このように、ハウジング２０に設けられる光路形成手段は、マイケルソン干渉計６２と棒状測定試料１０との間、及び棒状測定試料１０と検出器６４との間で近赤外線の光路を形成する。
【００４８】
この際、本実施形態では中央フレーム２８に光通過孔３５が形成されており、第１の貫通孔３３から入射した近赤外線及び棒状測定試料１０で反射した近赤外線は、光通過孔３５で絞られ光軸中心から離間した不要な近赤外線（迷光）が除去される。この光通過孔３５の大きさは、例えば直径8mm〜13mmとすることが望ましい。
【００４９】
また、第２の反射板３１から第２の貫通孔３４に至る近赤外線の光路途中には、遮光板３６が設けられている。この遮光板３６によっても、光軸中心から離間した不要な近赤外線（迷光）が除去される。
【００５０】
このように本実施形態に係る測定用治具１によれば、不要な近赤外線は光通過孔３５及び遮光板３６により除去され、棒状測定試料１０の情報を含む有効な近赤外線のみが第２の貫通孔３４から検出器６４に進行するため、測定装置６０における棒状測定試料１０の測定精度（分析精度）を高めることができる。
【００５１】
次に、図１〜図３を主に用いて移動機構４０について説明する。
【００５２】
移動機構４０は棒状測定試料１０を所定の測定位置に移動させるものであり、昇降機構、水平移動機構、傾斜角度調整機構、及び進退機構等を有している。
【００５３】
先ず、昇降機構について説明する。昇降機構は棒状測定試料１０を昇降させるものであり、昇降フレーム４３、昇降調整用ネジ４４、及び昇降ベース４５等を有している（図３に詳しい）。昇降フレーム４３は板状の部材であり、その上部に棒状測定試料１０を支持するホルダ装着部５３，ホルダベース５０，及び支持フレーム４８等が配設される。
【００５４】
この昇降フレーム４３の一端部（矢印Ｙ１方向側の端部）は、昇降ベース４５に固定されている。よって昇降フレーム４３は、昇降ベース４５に片持ち梁状の構成となっている。なお、側部フレーム２５にも昇降可能な昇降ベースを設け、昇降フレーム４３を両持ち梁状の構成とすることも可能である。
【００５５】
昇降ベース４５は、側部フレーム２６に対して昇降可能（矢印Ｚ１，Ｚ２方向に移動可能）な構成とされている。この昇降ベース４５は、昇降調整用ネジ４４を操作することにより昇降する構成されている。従って本実施形態に係る昇降機構によれば、昇降調整用ネジ４４を操作することにより、Ｙ方向移動ベース４６及び支持フレーム４８等を介して棒状測定試料１０を中央フレーム２８（光通過孔３５）に対して昇降させることができる。
【００５６】
また昇降機構は、昇降調整用ネジ４４の回転を停止した際、昇降フレーム４３が当該停止位置から移動しないよう構成されている。よって昇降機構により、棒状測定試料１０の高さ方向（矢印Ｚ１，Ｚ２方向）の位置決めを容易かつ確実に行うことができる。
【００５７】
次に、水平移動機構について説明する。水平移動機構は棒状測定試料１０をベース２２と平行に水平方向（本実施形態では、矢印Ｙ１，Ｙ２方向）に移動させるものであり、Ｙ方向移動ベース４６とＹ方向調整用ネジ４７等を有している。
【００５８】
Ｙ方向移動ベース４６は、前記した昇降機構を構成する昇降フレーム４３上を矢印Ｙ１，Ｙ２方向に移動可能な構成されている。またＹ方向移動ベース４６の上部には、支持フレーム４８及びホルダベース５０等を介して棒状測定試料１０が装着される。
【００５９】
Ｙ方向調整用ネジ４７は、矢印Ｙ１方向側の端部がＹ方向移動ベース４６と接続されている。よって、Ｙ方向調整用ネジ４７を操作することにより、Ｙ方向移動ベース４６は昇降フレーム４３上を水平方向に移動する。従って、Ｙ方向調整用ネジ４７を操作することにより、棒状測定試料１０を水平方向（矢印Ｙ１，Ｙ２方向）に対して位置決めすることが可能となる。
【００６０】
なお昇降ベース４５を昇降動作せる機構及びＹ方向移動ベース４６を昇降フレーム４３上で矢印Ｙ１，Ｙ２方向に移動させる構成は、昇降調整用ネジ４４及びＹ方向調整用ネジ４７を用いたものに限定されるものではない。例えば、ラック・ピニオン機構を用いた機構、タイミングベルトを利用した機構、また昇降調整用ネジ４４を電気スイッチに代えると共にモータを利用して電動で昇降動作させる機構を用いることも可能である。
【００６１】
次に、傾斜角度調整機構について説明する。傾斜角度調整機構は棒状測定試料１０の光通過孔３５に対する傾斜角度を調整するものであり、支持フレーム４８、傾斜位置調整ネジ４９、及びホルダベース５０等を有している。
【００６２】
支持フレーム４８は、前記した水平機構を構成するＹ方向移動ベース４６に立設するよう固定されている（図３参照）。このＹ方向移動ベース４６には、円弧形状を有した円弧状孔４８ａが形成されている。この円弧状孔４８ａの円弧の中心位置は、前記した中央フレーム２８に形成された光通過孔３５の位置と略一致するよう設定されている。
【００６３】
傾斜位置調整ネジ４９は、支持フレーム４８に形成された円弧状孔４８ａに矢印Ｙ１方向に挿通される。またホルダベース５０は、支持フレーム４８の矢印Ｙ１方向側に配設されている。このホルダベース５０の所定位置には、傾斜位置調整ネジ４９と螺着するネジ孔（図に表れず）が設けられている。
【００６４】
よって、傾斜位置調整ネジ４９を円弧状孔４８ａを介してホルダベース５０に形成されたネジ孔に締結することにより、ホルダベース５０は支持フレーム４８に固定される。また、前記のように支持フレーム４８には円弧状孔４８ａが形成されており、傾斜位置調整ネジ４９はこの円弧状孔４８ａの形成範囲で移動することができ、また任意位置で締結することができる。
【００６５】
よって、傾斜位置調整ネジ４９をホルダベース５０に対して緩めた状態で円弧状孔４８ａに沿って移動させることにより、ホルダベース５０は図２に矢印Ａ１，Ａ２で示す方向に移動（回転）する。
【００６６】
また、ホルダベース５０には進退ベース５１が固定されており、この進退ベース５１にはホルダ装着部５３を介して棒状測定試料１０が装着される。よって、傾斜位置調整ネジ４９を円弧状孔４８ａに沿って移動させ、ホルダベース５０を矢印Ａ１，Ａ２方向に回転させることにより、棒状測定試料１０も回転する。
【００６７】
前記のように、円弧状孔４８ａの曲率中心位置は、光通過孔３５の略中心位置とされている。このため、棒状測定試料１０の先端部（具体的には、口紅１５の先端部）を光通過孔３５の形成位置まで繰り出しておくことにより、棒状測定試料１０の先端部と傾斜位置調整ネジ４９との距離は、円弧状孔４８ａの曲率半径と略等しくなる。
【００６８】
これにより、傾斜位置調整ネジ４９の操作により棒状測定試料１０は光通過孔３５の形成位置を中心として回転することになり、よって光通過孔３５に対する棒状測定試料１０の傾斜角度（図２に矢印θで示す）を調整することが可能となる。そして、所定の角度において傾斜位置調整ネジ４９をホルダベース５０に締結することにより、棒状測定試料１０の光通過孔３５に対する傾斜角度の角度決めを行うことができる。
【００６９】
次に、進退機構について説明する。進退機構は棒状測定試料１０をその中心軸（図２中、矢印ＣＬで示す一点鎖線）に沿って進退させるものであり、進退ベース５１、進退調整用ネジ５２、及びホルダ装着部５３等を有している。
【００７０】
進退ベース５１は、ホルダベース５０に図１に矢印Ｂ１，Ｂ２で示す方向に移動可能な構成で配設されている。このホルダベース５０の移動方向（矢印Ｂ１，Ｂ２方向）は、ホルダ装着部５３に棒状測定試料１０が装着された際、棒状測定試料１０の中心軸ＣＬの延在方向と一致するよう構成されている。
【００７１】
また、進退ベース５１にはホルダ装着部５３が設けられている（図１に詳しい）。このホルダ装着部５３は、後述するサンプルホルダ５４を介して棒状測定試料１０が装着される。
【００７２】
進退調整用ネジ５２は、矢印Ｘ２方向側の端部が進退ベース５１と接続されている。よって、進退調整用ネジ５２を操作することにより、進退ベース５１はホルダベース５０上を進退方向（矢印Ｂ１，Ｂ２方向）に移動する。従って、進退調整用ネジ５２を操作することにより、棒状測定試料１０を進退方向（矢印Ｂ１，Ｂ２方向）に対して位置決めすることが可能となる。
【００７３】
次に、ホルダ装着部５３及びサンプルホルダ５４について説明する。ホルダ装着部５３は、前記のように進退ベース５１に配設されている。このホルダ装着部５３は、図４（Ａ）に示すように、サンプルホルダ５４が装着される装着孔５３ａが形成されている。この装着孔５３ａは、図中矢印Ｂ１，Ｂ２方向に貫通した貫通孔とされている。
【００７４】
ホルダ装着部５３ａの内径とサンプルホルダ５４の外径は略等しく設定されており、サンプルホルダ５４が装着孔５３ａに挿入された状態で、ホルダ装着部５３とサンプルホルダ５４との間にガタツキがなく、かつ装着孔５３ａ内においてサンプルホルダ５４が回転可能となるよう構成されている。
【００７５】
また、棒状測定試料１０はサンプルホルダ５４の内部に形成された装着凹部５４ａに装着される。この装着凹部５４ａの内径は、一般的な棒状測定試料（口紅）の容器の直径よりも大きく設定されている。即ち、サンプルホルダ５４は、一般的な棒状測定試料の全てが装着可能である。よって装着凹部５４ａは、本実施形態に係る棒状測定試料１０の容器１１の直径に対しても大きくなっている。
【００７６】
しかしながら図４（Ｂ）に示すように、装着凹部５４ａの内部にはＯリング５６が配設されている。よって、棒状測定試料１０をサンプルホルダ５４に装着すると、容器１１の外周と装着凹部５４ａの内周との間にはＯリング５６が介在することになり、このＯリング５６の弾性力により容器１１（棒状測定試料１０）はサンプルホルダ５４に保持される。
【００７７】
Ｏリング５６は弾性変形可能であるため、このＯリング５６を配設することにより、容器の直径寸法が異なる種々の棒状測定試料をサンプルホルダ５４内に装着することが可能となる。また、サンプルホルダ５４に対する棒状測定試料１０の装着脱は、単に容器１１をサンプルホルダ５４の装着凹部５４ａに押し込む或いは引き抜くだけの処理であるため、容易に行うことができる。
【００７８】
よって本実施形態のサンプルホルダ５４を用いることにより、直径寸法が異なる種々の棒状測定試料の個々に対してサンプルホルダを作製する必要がなくなり、また測定コストの低減及び測定処理の簡単化を図ることができる。
【００７９】
なお本実施形態では、棒状測定試料１０をサンプルホルダ５４内に保持する保持部材としてＯリング５６を用いているが、棒状測定試料１０をサンプルホルダ５４に確実に保持できるものであれば、他の保持部材を用いることも可能である。具体的には、装着凹部５４ａの内部にシリコンゴムを配設し、これを保持部材として用いることも可能である。
【００８０】
図３は、サンプルホルダ５４をホルダ装着部５３に装着した状態を背面視した図である。同図に示すように、ホルダ装着部５３の底部５３ｂには回転角度スケール５３ｃが設けられており、またサンプルホルダ５４の底部５４ｂには回転角度スケール５４ｃが設けられている。よって、ホルダ装着部５３に対してサンプルホルダ５４を矢印Ｃ１，Ｃ２方向に回転させる際、この二つの回転角度スケール５３ｃ，５４ｃからサンプルホルダ５４（即ち、棒状測定試料１０）の回転角度を知ることができる。
【００８１】
上記構成とされた本実施形態に係る測定用治具１は、測定を行おうとする棒状測定試料１０をそのまま装着することができる。このため、従来のように測定を行うために成形された口紅１５を粉砕或いは押し潰す等の処理は必要でなく、非破壊で棒状測定試料１０に対して赤外吸収スペクトル測定を行うことができる。
【００８２】
よって、例えば製品として販売される棒状測定試料１０に対して、直接赤外吸収スペクトル測定を行うことができ、製品の品質評価を直接的かつ正確に行うことができる。
【００８３】
また本実施形態に係る測定用治具１は、近赤外線が照射される光通過孔３５に対し、棒状測定試料１０を各種方向に移動調整することができる。
【００８４】
具体的には、昇降機構により棒状測定試料１０を矢印Ｚ１，Ｚ２方向に移動させ（図３参照）（、水平移動機構により棒状測定試料１０を矢印Ｙ１，Ｙ２方向に移動させ（図１及び図３参照）、傾斜角度調整機構により棒状測定試料１０を矢印Ａ１，Ａ２方向に回転させることにより傾斜角度を調整し（図２参照）、更に進退機構により棒状測定試料１０を矢印Ｂ１，Ｂ２方向に移動させることができる（図１参照）。更に、ホルダ装着部５３に対してサンプルホルダ５４を回転させることにより、棒状測定試料１０を矢印Ｃ１，Ｃ２方向に回転させることができる（図３参照）。
【００８５】
よって本実施形態に係る測定用治具１を用いることにより、光通過孔３５に対して口紅１５の全範囲（外周側面の全部及び先端部等）を対向させるよう移動させることができ、口紅１５の全範囲に対して非破壊で赤外吸収スペクトル測定を行うことができる。
【００８６】
図７は、本実施形態に係る測定用治具１を用いて棒状測定試料１０に対して赤外吸収スペクトル測定を行った結果を示している。また参考例として図８には、従来のように口紅を粉砕し押し潰す加工を施した口紅に対して赤外吸収スペクトル測定を行った結果を示している。なお、図７及び図８に示すいずれの測定結果も、試料上の６箇所を測定した結果を示している。
【００８７】
図７に示すように、本実施形態に係る測定用治具１を用いて棒状測定試料１０に対して赤外吸収スペクトル測定を行った場合、ベースライン（図７中、矢印ＢＬ１で示す）は安定している。これに対して図１０に示す参考例に係る赤外吸収スペクトル測定方法を用いた場合には、本実施形態に係る測定用治具１を用いた場合に比べてベースライン（図８中、矢印ＢＬ２で示す）は広くなり不安定になっている（ＢＬ１＜ＢＬ２）。
【００８８】
この相違は、本実施形態では棒状測定試料１０を非破壊で測定しているのに対し、比較例では試料を粉砕或いは圧縮等の加工をした後に測定するという、試料のサンプリング方法に差があることに起因していると考えられる。
【００８９】
図７及び図８に示す結果より、本実施形態に係る測定用治具１を用いて棒状測定試料１０に対して非破壊で赤外吸収スペクトル測定を行うことにより、ベースラインの安定化を図ることができ、棒状測定試料１０の品質評価を有効に行えることが実証された。
【００９０】
以上、本発明の好ましい実施形態について詳述したが、本発明は上記した特定の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能なものである。
【００９１】
具体的には、上記した実施形態に係る測定用治具１では、昇降機構、水平移動機構、傾斜角度調整機構、及び進退機構の全ての機構を設けた構成例を示した。しかしながら、測定に際して棒状測定試料１０の移動方向が特定されている場合には、昇降機構、水平移動機構、傾斜角度調整機構、及び進退機構の全ての機構を設ける必要はなく、棒状測定試料１０の測定に必要とされる方向に移動を行わせる一つ或いは複数の機構を選択的に設けた構成とすることもできる。
【符号の説明】
【００９２】
１  測定用治具
１０  棒状測定試料
１１  容器
２０  ハウジング
２２  ベース
２５  側部フレーム
２６  側部フレーム
２８  中央フレーム
２９  装着台
３０  第１の反射板
３１  第２の反射板
３３  第１の貫通孔
３４  第２の貫通孔
３５  光通過孔
４０  移動機構
４３  昇降フレーム
４４  昇降調整用ネジ
４５  昇降ベース
４６  Ｙ方向移動ベース
４７  Ｙ方向調整用ネジ
４８  支持フレーム
４８ａ  円弧状孔
４９  傾斜位置調整ネジ
５０  ホルダベース
５１  進退ベース
５２  進退調整用ネジ
５３  ホルダ装着部
５３ａ  装着孔
５３ｂ，５４ｂ  底部
５３ｃ，５４ｃ  回転角度スケール
５４  サンプルホルダ
５４ａ  装着凹部
５６  Ｏリング
６０  測定装置
６１  光源
６２  マイケルソン干渉計
６３  試料室
６４  検出器
６５  Ａ／Ｄ変換器
６６  コンピュータ
６７  出力装置
６８  ミラー
７０  ビームスプリッタ
７１  固定鏡
７２  移動鏡
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2015014521.tif 000009
【図８】
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