(57)【要約】【課題】不良品となる電極の数を正確に把握できる電極の検査方法を提供することを課題とする。【解決手段】帯状の金属箔の両面に電極ペーストを間欠塗布して複数の活物質層がそれぞれ形成される電極の検査方法であって、帯状の金属箔において電極の製品部分の一方側の端部位置及び他方側の端部位置に貫通孔をそれぞれ開孔する開孔工程１と、帯状の金属箔の一面側の製品部分内の活物質層をそれぞれ検査する際に一方側の端部位置の貫通孔を検出すると検査を開始し、他方側の端部位置の貫通孔を検出すると検査を終了する一面側検査工程２と、帯状の金属箔の他面側の製品部分内の活物質層をそれぞれ検査する際に他方側の端部位置の貫通孔を検出すると検査を開始し、一方側の端部位置の貫通孔を検出すると検査を終了する他面側検査工程３とを含む。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
帯状の金属箔の両面に電極ペーストを間欠塗布して複数の活物質層がそれぞれ形成される電極の検査方法であって、
帯状の金属箔において電極の製品部分の一方側の端部位置及び他方側の端部位置に貫通孔をそれぞれ開孔する開孔工程と、
帯状の金属箔の一面側の製品部分内に形成された複数の活物質層をそれぞれ検査する一面側検査工程と、
帯状の金属箔の他面側の製品部分内に形成された複数の活物質層をそれぞれ検査する他面側検査工程と、
を含み、
前記一面側検査工程は、前記一方側の端部位置の貫通孔を検出すると検査を開始し、前記他方側の端部位置の貫通孔を検出すると検査を終了し、
前記他面側検査工程は、前記他方側の端部位置の貫通孔を検出すると検査を開始し、前記一方側の端部位置の貫通孔を検出すると検査を終了する、電極の検査方法。
【請求項２】
前記開孔工程は、帯状の金属箔における幅方向の中心位置に前記一方側の端部位置の貫通孔及び前記他方側の端部位置の貫通孔を１個ずつ開孔する、請求項１に記載の電極の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、帯状の金属箔の両面に電極ペーストを間欠塗布して複数の活物質層がそれぞれ形成される電極の検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
電池に用いられる電極を製造する場合、帯状の金属箔に電極ペーストをそれぞれ塗布して活物質層を形成し、活物質層が形成された帯状の金属箔から個々の電極を打抜く。この電極の製造中に、電極として打抜かれる前に、画像検査等によって活物質層が検査される。例えば、特許文献１には、金属箔に活物質合剤が塗布された後に塗布領域の膜厚を測定し、測定された膜厚が所定範囲外となる塗布領域の始点に対応する位置と終点に対応する位置にそれぞれマーキングし、少なくとも始点マークから終点マークまでの間以外の部分を打抜いて電極を製造する電極製造システムについて開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１１−１３４４７９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
電極ペーストを塗布する方法として、連続塗布と間欠塗布がある。間欠塗布の場合、製品となる電極毎に電極ペーストが所定間隔を空けて塗布され、所定間隔を空けて活物質層が形成される。この間欠塗布で形成された活物質層を検査する場合、各電極に対応する活物質層が個々検査され、異常のある活物質層が検出される。特に、金属箔の表裏両面に活物質層がそれぞれ形成される場合、各面について上記検査がそれぞれ行われる。この場合、表面側と裏面側とで異常のある活物質層がそれぞれ検出されるが、表面側と裏面側とで異常のある活物質層の位置の整合が取れないので、不良品となる電極の数を正確に把握できない。特許文献１に開示されている技術を用いて異常のある活物質層に対応する位置にマーキングを行った場合、表面側と裏面側においてマーキングされたマークの個数をそれぞれカウントすることによって表面側において異常のある活物質層の数と裏面側において異常のある活物質層の数をそれぞれ把握できる。しかし、表面側と裏面側とでそれぞれマーキングしているだけでは表面側と裏面側とで異常のある活物質層の位置の整合が取れないので、表面側と裏面側との両面で活物質層が異常となっている位置を把握できない。その結果、表面側と裏面側との両面で活物質層が異常となっている位置（電極）がある場合、表面側の異常のある活物質層の数と裏面側の異常のある活物質層の数との合計数と実際に不良品となる電極の数とが一致しなくなる。このように、不良品となる電極の数を正確に把握できない場合がある。
【０００５】
そこで、本技術分野では、不良品となる電極の数を正確に把握できる電極の検査方法を提供することが望まれている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の一態様に係る電極の検査方法は、帯状の金属箔の両面に電極ペーストを間欠塗布して複数の活物質層がそれぞれ形成される電極の検査方法であって、帯状の金属箔において電極の製品部分の一方側の端部位置及び他方側の端部位置に貫通孔をそれぞれ開孔する開孔工程と、帯状の金属箔の一面側の製品部分内に形成された複数の活物質層をそれぞれ検査する一面側検査工程と、帯状の金属箔の他面側の製品部分内に形成された複数の活物質層をそれぞれ検査する他面側検査工程とを含み、一面側検査工程は、一方側の端部位置の貫通孔を検出すると検査を開始し、他方側の端部位置の貫通孔を検出すると検査を終了し、他面側検査工程は、他方側の端部位置の貫通孔を検出すると検査を開始し、一方側の端部位置の貫通孔を検出すると検査を終了する。
【０００７】
この電極の検査方法の開孔工程では、帯状の金属箔において電極の製品となる部分の一方側の端部位置及び他方側の端部位置に貫通孔をそれぞれ開孔する。この開孔は、塗布工程中に行ってもよいし、あるいは、塗布工程後に行ってもよい。一方側の端部位置の貫通孔は、帯状の金属箔の一面側の製品部分の開始位置となるので、一面側の検査の開始位置であるとともに、帯状の金属箔の他面側の製品部分の終了位置となるので、他面側の検査の終了位置である。一方、他方側の端部位置の貫通孔は、帯状の金属箔の他面側の製品部分の開始位置となるので、他面側の検査の開始位置であるとともに、帯状の金属箔の一面側の製品部分の終了位置となるので、一面側の検査の終了位置である。そこで、一面側検査工程では、帯状の金属箔の一面側の製品部分内に形成された複数の活物質層を検査する際に、一方側の端部位置の貫通孔を検出するとその貫通孔を検査の開始位置として検査を開始し、他方側の端部位置の貫通孔を検出するとその貫通孔を検査の終了位置として検査を終了する。また、他面側検査工程では、帯状の金属箔の他面側の製品部分内に形成された複数の活物質層を検査する際に、他方側の端部位置の貫通孔を検出するとその貫通孔を検査の開始位置として検査を開始し、一方側の端部位置の貫通孔を検出するとその貫通孔を検査の終了位置として検査を終了する。このように帯状の金属箔を貫通している貫通孔を用いることにより、同じ貫通孔で帯状の金属箔の一面側及び他面側での各検査の開始位置と終了位置とを規定することができ、帯状の金属箔の一面側と他面側とで検査対象とする製品部分についての同期をとることができる。そのため、一面側の検査によって検出された異常のある活物質層の各位置と他面側の検査によって検出された異常のある活物質層の各位置とが同じ位置か否か（同じ電極か否か）を判定することができる。その結果、一面側と他面側との両面で活物質層が異常となっている位置（電極）を抽出でき、一面側の異常のある活物質層の数と他面側の異常のある活物質層の数及び一面側と他面側との両面で活物質層が異常となっている数から、不良品となる電極の数を正確に得ることができる。このように、電極の製造方法は、帯状の金属箔において電極の製品部分の一方側の端部位置及び他方側の端部位置に貫通孔をそれぞれ開孔し、その各貫通孔を帯状の金属箔の一面側及び他面側での各検査の開始位置と終了位置として利用することにより、不良品となる電極の数を正確に把握できる。
【０００８】
一実施態様では、開孔工程は、帯状の金属箔における幅方向の中心位置に一方側の端部位置の貫通孔及び他方側の端部位置の貫通孔を１個ずつ開孔すると好適である。このように幅方向の中心位置に各貫通孔を配置させることにより、一面側検査工程及び他面側検査工程において帯状の金属箔を一方向だけで搬送する場合でも、一方側の端部位置の貫通孔及び他方側の端部位置の貫通孔を共通の検出手段で検出することがきる。
【発明の効果】
【０００９】
本発明の一態様によれば、不良品となる電極の数を正確に把握できる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本実施の形態に係る電極の製造方法の各工程の構成図である。
【図２】金属箔に形成された活物質層及び検査結果の一例を模式的に示す図であり、（ａ）が表面側であり、（ｂ）が裏面側である。
【図３】開始位置と終了位置において貫通孔を幅方向の中央に１個ずつ設けた場合の搬送中の帯状の金属箔を模式的に示す斜視図であり、（ａ）が表面側を検査する場合であり、（ｂ）が裏面側を検査する場合である。
【図４】開始位置と終了位置において貫通孔を幅方向の中央に１個ずつ設けた場合の各検査工程を模式的に示す図であり、（ａ）が表面側検査工程の場合であり、（ｂ）が裏面側検査工程の場合である。
【図５】開始位置と終了位置において貫通孔を幅方向の中央以外に１個ずつ設けた場合の搬送中の帯状の金属箔を模式的に示す斜視図であり、（ａ）が表面側を検査する場合であり、（ｂ）が裏面側を検査する場合である。
【図６】開始位置と終了位置において貫通孔を幅方向の中央以外に対称位置に２個ずつ設けた場合の搬送中の帯状の金属箔を模式的に示す斜視図であり、（ａ）が表面側を検査する場合であり、（ｂ）が裏面側を検査する場合である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、図面を参照して、本発明に係る電極の検査方法の実施の形態を説明する。なお、各図において同一又は相当する要素については同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
【００１２】
本実施の形態では、本発明を、帯状の金属箔の表裏両面に間欠塗布によって活物質層がそれぞれ形成される電極の検査方法に適用する。本実施の形態に係る電極の製造方法は、製造中に帯状の金属箔の表面側と裏面側とをそれぞれ検査して、製造中に不良品となる電極の数を把握するために、電極の製造ラインに組み込まれる開孔工程（特許請求の範囲に記載の開孔工程に相当）、表面側検査工程（特許請求の範囲に記載の一面側検査工程に相当）、裏面側検査工程（特許請求の範囲に記載の他面側検査工程に相当）、集計工程からなる。なお、製造される電極は、例えば、二次電池又は電気二重層キャパシタ等の蓄電装置に用いられる。二次電池としては、例えば、リチウムイオン二次電池等の非水電解質二次電池である。また、製造される電極は、一次電池に用いられてもよい。但し、金属箔の表裏両面に間欠塗布で活物質層がそれぞれ形成され電極を用いる電池である。本実施の形態では、リチウムイオン二次電池に用いられる電極を製造する場合とする。また、本実施の形態では、検査工程等において帯状の金属箔の搬送方向を正方向の一方向だけでとする。なお、本実施の形態では、帯状の金属箔の表面が特許請求の範囲における帯状の金属箔の一面に相当し、帯状の金属箔の裏面が特許請求の範囲における帯状の金属箔の他面に相当する。
【００１３】
電極は、金属箔の表裏両面に電極ペーストがそれぞれ間欠塗布されて活物質層が形成されており、電極ペーストが塗布されていないタブも有している。金属箔は、例えば、銅箔、アルミニウム箔である。電極ペーストは、活物質、バインダ、溶剤等を含んでいる。活物質は、正極活物質及び負極活物質のいずれであってもよい。正極活物質としては、例えば、複合酸化物、金属リチウム、硫黄である。複合酸化物は、マンガン、ニッケル、コバルト及びアルミニウムの少なくとも１つとリチウムとを含む。負極活物質は、例えば、黒鉛、高配向性グラファイト、メソカーボンマイクロビーズ、ハードカーボン、ソフトカーボン等のカーボン、リチウム、ナトリウム等のアルカリ金属、金属化合物、ＳｉＯｘ（０．５≦ｘ≦１．５）等の金属酸化物、ホウ素添加炭素である。溶剤は、例えば、ＮＭＰ（Ｎ−メチルピロリドン）、メタノール、メチルイソブチルケトン等の有機溶剤、水である。また、電極ペーストは、カーボンブラック、黒鉛、アセチレンブラック、ケッチェンブラック等の導電助剤を含んでいてもよい。また、電極ペーストは、カルボキシメチルセルロース（ＣＭＣ）等の増粘剤を含んでいてもよい。
【００１４】
なお、製造中に不良品となる電極の数を正確に把握しておかないと、製造後に電極を検査して、不良品が抽出され、抽出された不良品が破棄される際に、その破棄される不良品の数と製造中に得られる不良品となる電極の数とが一致しなくなる。このように数が一致しないと、再度、製造後の電極の検査等が必要となる。
【００１５】
図１〜図４を参照して、本実施の形態に係る製造ラインに組み込まれる開孔工程１、表面側検査工程２、裏面側検査工程３、集計工程４について説明する。図１は、本実施の形態に係る電極の製造方法の各工程の構成図である。図２は、金属箔に形成された活物質層及び検査結果の一例を模式的に示す図である。図３は、開始位置と終了位置において貫通孔を幅方向の中央に１個ずつ設けた場合の搬送中の帯状の金属箔を模式的に示す斜視図である。図４は、開始位置と終了位置において貫通孔を幅方向の中央に１個ずつ設けた場合の各検査工程を模式的に示す図である。各工程１，２，３，４について説明する前に、関連する塗布工程、乾燥工程について説明しておく。
【００１６】
塗布工程は、帯状の金属箔の表裏両面に活物質層を形成するための電極用の電極ペーストを表面と裏面にそれぞれ間欠塗布する工程である。塗布工程は、間欠塗布により、所定間隔を空けて各電極の位置に対応して電極ペーストを塗布する。塗布方式としては、例えば、ダイ方式である。塗布工程は、製品となる電極の電極ペーストを塗布する前に、電極ペーストを適正に塗布するために条件出しの塗布を行う。条件出しでは、例えば、適正な重量を塗布するために電極ペーストの重量調整を行う。乾燥工程は、塗布工程の直後に行われ、塗布工程で帯状の金属箔の表裏両面に塗布された電極ペーストを乾燥し、電極ペースト中の溶剤を除去する工程である。
【００１７】
まず、巻き取られた状態の帯状の金属箔の表面側が上方になるように巻出ロールにセットされ、巻取ロールで帯状の金属箔の巻き取りが開始すると、帯状の金属箔が表面を上方として搬送される。この際、塗布工程では、帯状の金属箔の表面に条件出し用の間欠塗布を行い、条件出しが終了すると製品用の間欠塗布を行う。また、乾燥工程では、帯状の金属箔の表面に所定間隔を空けて塗布されている電極ペーストを加熱し、電極ペースト中の溶剤を蒸発させ、電極ペーストを乾燥する。これによって、帯状の金属箔の表面に所定間隔を空けて多数の活物質層が形成される。次に、巻き取られた状態の帯状の金属箔を上下裏返しにして、この帯状の金属箔の裏面側が上方になるように巻出ロールにセットされ、巻取ロールで帯状の金属箔の巻き取りが開始すると、帯状の金属箔が裏面を上方として搬送される。この際、塗布工程では、帯状の金属箔の裏面に条件出し用の間欠塗布を行い、条件出しが終了すると製品用の間欠塗布を行う。また、乾燥工程では、帯状の金属箔の裏面に所定間隔を空けて塗布されている電極ペーストを加熱し、電極ペースト中の溶剤を蒸発させ、電極ペーストを乾燥する。これによって、帯状の金属箔の裏面に所定間隔を空けて多数の活物質層が形成される。なお、帯状の金属箔の表面側と裏面側とおいては、製品部分として塗布される区間は同じ区間である。この製品部分の区間では、帯状の金属箔の長手方向において表面側に電極ペーストが間欠塗布される位置と裏面側に電極ペーストが間欠塗布される位置とは同じ位置である。
【００１８】
図２には、帯状の金属箔Ｌに形成された活物質層の一例を示しており、（ａ）が帯状の金属箔Ｌの表面ＬＡ側であり、（ｂ）が帯状の金属箔Ｌの裏面ＬＢ側である。なお、図２に描かれている帯状の金属箔Ｌの長さが幅に比べて非常に短く、形成されている活物質層の数が非常に少ないが、実際には帯状の金属箔の長さは幅に比べて非常に長く、形成されている活物質層の数も非常に多い。図２では、黒塗りの長方形で活物質層を示している。
【００１９】
帯状の金属箔Ｌの表面ＬＡでは、図２（ａ）示すように、条件出し部分が区間ＳＡ１であり、製品部分が区間ＳＡ２である。帯状の金属箔Ｌの裏面ＬＢでは、図２（ｂ）示すように、条件出し部分が区間ＳＢ１であり、製品部分が区間ＳＢ２である。表面ＬＡの条件出し部分の区間ＳＡ１は、裏面ＬＢでは区間ＳＢ３になる。また、裏面ＬＢの条件出し部分の区間ＳＢ１は、表面ＬＡでは区間ＳＡ３になる。帯状の金属箔Ｌの表面ＬＡの製品部分の区間ＳＡ２と裏面ＬＢの製品部分の区間ＳＢ２とは、同じ位置でありかつ同じ長さである。但し、表面ＬＡの製品部分の区間ＳＡ２において間欠塗布や検査の開始位置は裏面ＬＢの製品部分の区間ＳＢ２では間欠塗布や検査の終了位置になり、表面ＬＡの製品部分の区間ＳＡ２の間欠塗布や検査の終了位置は裏面ＬＢの製品部分の区間ＳＢ２では間欠塗布や検査の開始位置になる。したがって、例えば、表面ＬＡの製品部分の１番目に形成された活物質層ＭＡ１の位置においては、その位置の裏面ＬＢには製品部分の最後に形成された活物質層ＭＢ６が位置する。このように各電極は表面ＬＡと裏面ＬＢの両面に活物質層が形成されているので、表面ＬＡの活物質層だけに異常がある場合、裏面ＬＢの活物質層だけに異常がある場合、表面ＬＡの活物質層及び裏面ＬＢの活物質層に異常がある場合のうちのいずれかの場合に不良品となる。なお、表面ＬＡの製品部分の区間ＳＡ２の後の区間ＳＡ３、裏面ＬＢの製品部分の区間ＳＢ２の後の区間ＳＢ３にも、活物質層が形成されているが、これらの区間には活物質層が形成されなくてもよい。それでは、以下に、各工程１，２，３，４について説明する。
【００２０】
開孔工程１は、帯状の金属箔Ｌにおいて電極の製品部分の一方側の端部位置及び他方側の端部位置に貫通孔をそれぞれ開孔する工程である。開孔工程１は、従来の周知のポンチ機構装置（図示せず）を備える。ポンチ機構装置は、帯状の金属箔Ｌに所定形状のポンチを打ち抜いて、帯状の金属箔Ｌに貫通孔を形成する。このポンチ機構装置でのポンチを打ち抜くタイミング等の制御は、製造ラインの制御装置（図示せず）によって行われる。あるいは、作業者が、ポンチ機構装置を操作して、ポンチを打ち抜くタイミングを指示するようにしてもよい。製品部分の一方側の端部位置は、帯状の金属箔Ｌの表面ＬＡ側の検査を開始する位置（開始位置）であるとともに、裏面ＬＢ側の検査を終了する位置（終了位置）である。一方、製品部分の他方側の端部位置は、裏面ＬＢ側の検査を開始する位置（開始位置）であるとともに、表面ＬＡ側の検査を終了する位置（終了位置）である。貫通孔の形状は、所定の形状を適宜設定してよく、例えば、円形状とする。貫通孔を開孔する位置は、帯状の金属箔Ｌにおいて幅方向の中央位置である。開孔工程１は、各検査工程２，３の前で行えばよく、例えば、塗布工程中に行ってもよいし、プレス工程中などに行ってもよい。例えば、塗布工程中に行う場合、帯状の金属箔Ｌの表面ＬＡに電極ペーストＰを塗布する際に、開孔工程１では、表面ＬＡにおける条件出しの塗布が終了すると、製品となる電極の塗布を開始する前に帯状の金属箔Ｌの幅方向の中央位置に貫通孔を開孔し、製品となる電極の塗布が終了すると、帯状の金属箔Ｌの幅方向の中央位置に貫通孔を開孔する。
【００２１】
図２（ａ）に示すように、帯状の金属箔Ｌの表面ＬＡでは、条件出し部分の区間ＳＡ１が終了して製品部分の区間ＳＡ２において開始側の端部の中央に貫通孔Ｈ１が開孔されており、製品部分の区間ＳＡ２において終了側の端部の中央に貫通孔Ｈ２が開孔されている。一方、図２（ｂ）に示すように、帯状の金属箔Ｌの裏面ＬＢでは、条件出し部分の区間ＳＢ１が終了して製品部分の区間ＳＢ２において開始側の端部の中央に貫通孔Ｈ２が開孔されており、製品部分の区間ＳＢ２において終了側の端部の中央に貫通孔Ｈ１が開孔されている。
【００２２】
表面側検査工程２と裏面側検査工程３とは、同じ検査装置等を用いて、順番に行われる。まず、表面側検査工程２では、巻き取られた状態の帯状の金属箔Ｌの表面ＬＡ側が上方になるように巻出ロール（図示せず）にセットされ、検査中は巻出ロールと巻取ロール(図示せず)との間で帯状の金属箔Ｌが表面ＬＡを上方として搬送され、帯状の金属箔Ｌが巻取ロールに巻き取られる。次に、裏面側検査工程３では、巻き取られた状態の帯状の金属箔Ｌが上下裏返されて、帯状の金属箔Ｌの裏面ＬＢ側が上方になるように同じ巻出ロールにセットされ、検査中は巻出ロールと巻取ロールとの間で帯状の金属箔Ｌが裏面ＬＢを上方として搬送され、帯状の金属箔Ｌが巻取ロールに巻き取られる。搬送中の帯状の金属箔Ｌは、図４に示すように、上方と下方にそれぞれ配置された補助ロール１０，１０によって案内される。表面側検査工程２及び裏面側検査工程３は、乾燥工程の後に行えばよく、例えば、乾燥工程後に行ってもよいし、プレス工程後に行ってもよい。
【００２３】
表面側検査工程２は、帯状の金属箔Ｌの表面ＬＡ側（一面側）の製品部分内に形成された複数の活物質層をそれぞれ検査する工程である。特に、表面側検査工程２は、表面ＬＡの製品部分の開始位置に開孔されている貫通孔Ｈ１を検出すると検査を開始し、製品部分の終了位置に開孔されている貫通孔Ｈ２を検出すると検査を終了する。表面側検査工程２は、検査中、検査を行った活物質層に通し番号を順次付与し、異常のある活物質層の通し番号を記憶する。表面側検査工程２は、透過式センサ１１、検査装置１２を備えている。
【００２４】
裏面側検査工程３は、帯状の金属箔Ｌの裏面ＬＢ側（他面側）の製品部分内に形成された複数の活物質層をそれぞれ検査する工程である。特に、裏面側検査工程３は、裏面ＬＢの製品部分の開始位置に開孔されている貫通孔Ｈ２を検出すると検査を開始し、製品部分の終了位置に開孔されている貫通孔Ｈ１を検出すると検査を終了する。裏面側検査工程３は、検査中、検査を行った活物質層に通し番号を順次付与し、異常のある活物質層の通し番号を記憶する。裏面側検査工程３は、表面側検査工程２と共通の透過式センサ１１、検査装置１２を備えている。
【００２５】
透過式センサ１１は、帯状の金属箔Ｌに開孔されている貫通孔Ｈ１，Ｈ２を検出するためのセンサである。透過式センサ１１は、従来の周知の透過式センサであり、図４に示すように投光部１１ａと受光部１１ｂからなる。投光部１１ａは、搬送中の帯状の金属箔Ｌの上方かつ幅方向の中央に配置され、下方に向けて所定の波長の光を出射する。受光部１１ｂは、搬送中の帯状の金属箔Ｌの下方かつ幅方向の中央に配置され、投光部１１ａから出射された光が貫通孔Ｈ１，Ｈ２を通過した場合にその光を受光する。透過式センサ１１では、帯状の金属箔Ｌの搬送が開始されると、投光部１１ａが帯状の金属箔Ｌの上側の面に向けて光を出射し、投光部１１ａと受光部１１ｂとの間に貫通孔Ｈ１，Ｈ２が通過するときに受光部１１ｂで投光部１１ａから出射された光を受光する。透過式センサ１１では、帯状の金属箔Ｌの搬送が開始してから、受光部１１ｂが１回目に受光できたとき（すなわち、製品部分の開始位置を検出したとき）に検査装置１２に検査開始信号を送信し、受光部１１ｂが２回目に受光できたとき（すなわち、製品部分の終了位置を検出したとき）に検査装置１２に検査終了信号を送信する。表面側検査工程２の場合、貫通孔Ｈ１が通過したときに受光部１１ｂで１回目の受光ができ、貫通孔Ｈ２が通過したときに受光部１１ｂで２回目の受光ができる。一方、裏面側検査工程３の場合、貫通孔Ｈ２が通過したときに受光部１１ｂで１回目の受光ができ、貫通孔Ｈ１が通過したときに受光部１１ｂで２回目の受光ができる。
【００２６】
検査装置１２は、帯状の金属箔Ｌの表面ＬＡ、裏面ＬＢの各製品部分にそれぞれ形成されている活物質層を検査するための装置である。検査装置１２は、従来の周知のカメラを用いた画像による検査装置であり、従来の周知の画像認識による判定方法によって活物質層に異常があるか否かを判定する。活物質層の異常としては、例えば、予め決められた箇所に活物質層が塗布されていない、活物質層の一部が欠けている、活物質層に異物が混入している、活物質層の表面の一部が盛り上がっているがある。検査装置１２では、透過式センサ１１から検査開始信号を受信すると検査を開始し、製品部分内に所定間隔をあけて配置される活物質層を順次検査し、正常／異常を判定し、透過式センサ１１から検査終了信号を受信すると検査を終了する。検査装置１２では、各面ＬＡ，ＬＢについて、活物質層を検査する毎に活物質層に「１」から順に通し番号を付すとともに、異常のあった活物質層に付与されている通し番号を記憶する。表面側検査工程２の場合、検査装置１２では透過式センサ１１で貫通孔Ｈ１を検出した後に検査を開始し、透過式センサ１１で貫通孔Ｈ２を検出した後に検査を終了する。一方、裏面側検査工程３の場合、検査装置１２では透過式センサ１１で貫通孔Ｈ２を検出した後に検査を開始し、透過式センサ１１で貫通孔Ｈ１を検出した後に検査を終了する。
【００２７】
表面ＬＡ側での最終の通し番号（通し番号の最大値）と裏面ＬＢ側での最終の通し番号とは、同じ番号である。但し、表面ＬＡ側では貫通孔Ｈ１を開始位置として「１」から順に付与された通し番号であり、裏面ＬＢ側では貫通孔Ｈ２を開始位置として「１」から順に付与された通し番号である。したがって、表面ＬＡ側での通し番号として「１」と付与された活物質層の位置では、裏面ＬＢ側においては長手方向で同じ位置になる活物質層の通し番号は最終の通し番号である。図２に示す例の場合、表面ＬＡ側での通し番号「１」の活物質層ＭＡ１の位置と裏面ＬＢ側での最大の通し番号「６」の活物質層ＭＢ６の位置とは、同じ位置である。また、図２に示す例の場合、異常のあった活物質層に「×」印を示している。帯状の金属箔Ｌの表面ＬＡでは、活物質層ＭＡ１，ＭＡ３が異常のある活物質層である。裏面ＬＢでは、活物質層ＭＢ１，ＭＢ４，ＭＢ５が異常のある活物質層である。この例の場合、表面ＬＡで異常のある活物質層ＭＡ３（表面ＬＡ側での通し番号が「３」）と裏面ＬＢで異常のある活物質層ＭＢ４（裏面ＬＢ側での通し番号が「４」）とは、帯状の金属箔Ｌの長手方向において同じ位置であり、同じ電極の表裏両面の活物質層である。それ以外は、電極の片面のみに異常のある活物質層となっている。いずれの場合も、電極としては不良品（ＮＧ）となる。
【００２８】
集計工程４は、帯状の金属箔Ｌの表面ＬＡ、裏面ＬＢの各製品部分にそれぞれ形成されている異常の活物質層の情報から不良品（ＮＧ）となる電極の数を集計する工程である。集計工程４は、コンピュータ等に構成され、例えば、製造ラインの制御装置（図示せず）で行われる工程である。集計工程４は、上記の検査装置１２に組み込まれる工程でもよい。集計工程４は、表面側検査工程２及び裏面側検査工程３が終了した後に行われる工程である。集計工程４では、表面側検査工程２における表面ＬＡ側での活物質層の最終の通し番号（製品部分内の活物質層の数に相当）及び異常のある活物質層の各通し番号を取得するとともに、裏面側検査工程３における裏面ＬＢ側での活物質層の最終の通し番号及び異常のある活物質層の各通し番号を取得する。そして、集計工程４では、表面ＬＡ側での異常のある活物質層の各通し番号と裏面ＬＢ側での異常のある活物質層の各通し番号とをそれぞれ比較することにより、帯状の金属箔Ｌの長手方向における同じ位置（すなわち、同じ電極）において表面ＬＡ側と裏面ＬＢ側の両面に活物質層に異常のある位置（電極）を抽出し、その抽出できた位置（電極）の数をカウントする。この位置の電極が、不良品となる電極のうち表面ＬＡ側と裏面ＬＢ側の両面に活物質層に異常のあるものである。さらに、集計工程４では、表面ＬＡ側で異常のある活物質層の数と裏面ＬＢ側で異常のある活物質層の数とを加算し、その加算値から表裏両面に活物質層の異常のある電極の数を減算し、この減算値を不良品（ＮＧ）となる電極の数とする。
【００２９】
図２に示す例の場合、表面ＬＡ側で異常のある活物質層ＭＡ１，ＭＡ３の各通し番号「１」、「３」と裏面ＬＢ側で異常のある活物質層ＭＢ１，ＭＢ４，ＭＢ５の各通し番号「１」、「４」、「５」とをそれぞれ比較する。この例の場合、活物質層の最終の通し番号が「６」（すなわち、各面に形成されている活物質層の数が６）であるので、例えば、表面ＬＡ側での通し番号と裏面ＬＢ側での通し番号とを加算して７（＝最終の通し番号＋１）になると表面ＬＡ側と裏面ＬＢ側とで同じ位置と判断する。したがって、表面ＬＡ側での活物質層ＭＡ３（通し番号「３」）と裏面ＬＢ側での活物質層ＭＢ４（通し番号「４」）とは、長手方向における同じ位置（同じ電極）の活物質層である。これが、不良品となる電極のうち表面ＬＡ側と裏面ＬＢ側の両面に活物質層に異常のあるものである。したがって、表面ＬＡ側で異常のある活物質層の数の２と裏面ＬＢ側で異常のある活物質層の数の３とを加算し、その加算値の３から両面に活物質層の異常のある電極の数の１を減算することにより、不良品となる電極の数が４となる。
【００３０】
図１〜図４を参照して、上記構成の開孔工程１、表面側検査工程２、裏面側検査工程３及び集計工程４の作用を説明する。
【００３１】
開孔工程１では、帯状の金属箔Ｌにおいて製品部分の一方側の端部位置（表面ＬＡ側の製品部分の開始位置かつ裏面ＬＢ側の製品部分の終了位置）に貫通孔Ｈ１を開孔するともに、製品部分の他方側の端部位置（表面ＬＡ側の製品部分の終了位置かつ裏面ＬＢ側の製品部分の開始位置）に貫通孔Ｈ２を開孔する。
【００３２】
巻き取られている帯状の金属箔Ｌの表面ＬＡ側を上側にして巻出ロールにセットされ、その表面ＬＡ側を上側にして巻出ロールと巻取ロールとの間で搬送が開始されると、表面側検査工程２では、透過式センサ１１で貫通孔の検出を開始する。透過式センサ１１で１つ目の貫通孔Ｈ１を検出すると、表面側検査工程２では、検査装置１２での検査を開始する。検査装置１２では、帯状の金属箔Ｌの表面ＬＡ側の製品部分内に所定間隔を空けて形成されている活物質層を順次検査し、活物質層に表面ＬＡ側での通し番号を順次付与し、活物質層に異常がある場合にはその活物質層の表面ＬＡ側での通し番号を記憶する。透過式センサ１１で２つ目の貫通孔Ｈ２を検出すると、表面側検査工程２では、検査装置１２での検査を終了する。表面ＬＡ側の検査が終了すると、巻き取られた帯状の金属箔Ｌを上下裏返し、裏面ＬＢ側を上側にして巻出ロールにセットされる。
【００３３】
帯状の金属箔Ｌの裏面ＬＢ側を上側にして巻出ロールと巻取ロールとの間で搬送が開始されると、裏面側検査工程３では、透過式センサ１１で貫通孔の検出を開始する。透過式センサ１１で１つ目の貫通孔Ｈ２を検出すると、裏面側検査工程３では、検査装置１２での検査を開始する。検査装置１２では、帯状の金属箔Ｌの裏面ＬＢ側の製品部分内に所定間隔を空けて形成されている活物質層を順次検査し、活物質層に裏面ＬＢ側での通し番号を順次付与し、活物質層に異常がある場合にはその活物質層の裏面ＬＢ側での通し番号を記憶する。透過式センサ１１で２つ目の貫通孔Ｈ１を検出すると、裏面側検査工程３では、検査装置１２での検査を終了する。
【００３４】
集計工程４では、表面側検査工程２における表面ＬＡ側での最終の通し番号及び異常のある活物質層の各通し番号を取得するとともに、裏面側検査工程３における裏面ＬＢ側での最終の通し番号及び異常のある活物質層の各通し番号を取得する。そして、集計工程４では、表面ＬＡ側での異常のある活物質層の各通し番号と裏面ＬＢ側での異常のある活物質層の各通し番号とをそれぞれ比較して、表面ＬＡ側と裏面ＬＢ側の両面に活物質層に異常のある位置（電極）を抽出し、その抽出できた位置（電極）の数をカウントする。さらに、集計工程４では、表面ＬＡ側で異常のある活物質層の数と裏面ＬＢ側で異常のある活物質層の数及び表裏両面に活物質層の異常のある位置（電極）の数から不良品（ＮＧ）となる電極の数を算出する。この不良品となる電極の数は、打抜工程で各電極が打ち抜かれた後に不良品が抽出されたときの不良品の数と整合を取るため等に用いられる。
【００３５】
この開孔工程１、表面側検査工程２、裏面側検査工程３及び集計工程４による電極の検査方法によれば、帯状の金属箔Ｌにおいて製品部分の一方側の端部位置及び他方側の端部位置に貫通孔Ｈ１，Ｈ２をそれぞれ開孔し、その各貫通孔Ｈ１，Ｈ２を帯状の金属箔Ｌの表面ＬＡ側及び裏面ＬＢ側での各検査の開始位置と終了位置として利用することにより、不良品となる電極の数を正確に把握できる。つまり、帯状の金属箔Ｌを貫通している貫通孔Ｈ１，Ｈ２を用いることにより、同じ貫通孔Ｈ１，Ｈ２で帯状の表面ＬＡ側及び裏面ＬＢ側での各検査の開始位置と終了位置とを規定することができ、表面ＬＡ側と裏面ＬＢ側とで検査対象とする製品部分についての同期をとることができる。そのため、表面ＬＡ側の検査によって検出された異常のある活物質層の各位置と裏面ＬＢ側の検査によって検出された異常のある活物質層の各位置とが同じ位置か否か（同じ電極か否か）を判定することができる。その結果、表面ＬＡ側と裏面ＬＢ側との両面で活物質層が異常となっている電極を抽出でき、表面ＬＡ側で異常のある活物質層の数と裏面ＬＢ側で異常のある活物質層の数及び表面ＬＡ側と裏面ＬＢ側との両面で活物質層が異常となっている位置（電極）の数から、不良品となる電極の数を正確に得ることができる。
【００３６】
また、この電極の検査方法によれば、帯状の金属箔Ｌにおける製品部分の各端部位置の幅方向の中心位置に貫通孔Ｈ１，Ｈ２を１個ずつ開孔することにより、表面側検査工程２及び裏面側検査工程３において帯状の金属箔を同じ方向で搬送する場合でも、共通の透過式センサ１１で貫通孔Ｈ１，Ｈ２を検出することがきる。その結果、コストを抑制できる。
【００３７】
以上、本発明に係る実施の形態について説明したが、本発明は上記実施の形態に限定されることなく様々な形態で実施される。
【００３８】
例えば、本実施の形態では帯状の金属箔Ｌにおいて製品部分の各端部位置に貫通孔を１個ずつ幅方向の中央にそれぞれ開孔する構成としたが、貫通孔の個数、幅方向における位置については適宜設定可能である。例えば、図５に示す例の場合、帯状の金属箔の搬送方向が表面側検査工程と裏面側検査工程とで正方向と逆方向の二方向であり、裏面側検査工程では帯状の金属箔を裏返しにて搬送方向を表面側検査工程と逆方向にして搬送する。この場合、製品部分の各端部位置において幅方向の中央以外の同じ位置に１個ずつの貫通孔Ｈ３と貫通孔Ｈ４を開孔しても、共通の透過式センサによって表面側検査工程と裏面側検査工程で貫通孔Ｈ３，Ｈ４をそれぞれ検出することができる。また、図６に示す例の場合、帯状の金属箔の搬送方向が表面側検査工程と裏面側検査工程とで正方向の一方向だけである。この場合、製品部分の各端部位置において幅方向の中央以外の対称の同じ位置に２個ずつの貫通孔Ｈ５，Ｈ６と貫通孔Ｈ７，Ｈ８をそれぞれ開孔すると、共通の透過式センサによって表面側検査工程では貫通孔Ｈ５と貫通孔Ｈ７を検出でき、裏面側検査工程では貫通孔Ｈ６と貫通孔Ｈ８を検出することができる。
【００３９】
また、本実施の形態では不良品となる電極の数を集計するために、各検査工程で活物質層に通し番号を付与するとともに異常のあった活物質層の通し番号を記憶しておき、これらの情報から表裏両面に異常のある活物質層の位置を判断して、不良品となる電極の数を集計する構成としたが、これ以外の方法で不良品となる電極の数を集計してもよい。例えば、各検査工程で異常のあった活物質層の位置にそれぞれマーキングを行い、貫通孔の位置を基準としてマーキングされた各位置の相対位置をそれぞれ取得し、表面におけるマーキングの相対位置と裏面におけるマーキングの相対位置から表裏両面に異常のある活物質層を判断し、不良品となる電極の数を集計する。
【００４０】
また、本実施の形態では貫通孔の形状としては円形状としたが、三角形状、矩形状等の他の形状でもよい。
【００４１】
また、本実施の形態では貫通孔を検出するために透過式センサを用いたが、貫通孔を検出できれば他のセンサでもよい。また、本実施の形態では活物質層の検査として画像による検査装置を用いたが、他の検査装置でもよい。
【符号の説明】
【００４２】
１…開孔工程、２…表面側検査工程、３…裏面側検査工程、４…集計工程，１０…補助ロール、１１…透過式センサ、１１ａ…投光部、１１ｂ…受光部、１２…検査装置。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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