(57)【要約】【課題】非破壊で赤外吸収スペクトル測定を行うことを可能とした赤外吸収スペクトル測定用治具を提供する。【解決手段】固形試料１０を赤外吸収スペクトル測定装置に装着する際に用いられる赤外吸収スペクトル測定用治具であって、固形試料１０が載置される昇降ベース４４と、この昇降ベース４４を昇降させる昇降機構４１と、固形試料１０を平面的に移動させることにより固形試料１０の位置調整を行う位置調整機構５０とを有する移動機構４０と、移動機構４０を支持するベース２２と、赤外吸収スペクトル測定装置と固形試料１０との間で赤外線の光路を形成する光路形成手段（第１及び第２の反射板３０，３１、中央フレーム２８等）とを有するハウジング２０とを設ける。【選択図】図１
2015014580.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
固形の測定試料を赤外吸収スペクトル測定装置に装着する際に用いられる赤外吸収スペクトル測定用治具であって、
前記測定試料が載置されるベース部材と、前記ベース部材を昇降させる昇降機構と、前記測定試料を平面的に移動させることにより前記測定試料の位置調整を行う位置調整機構とを有する移動機構と、
前記移動機構を支持すると共に、前記赤外吸収スペクトル測定装置と前記測定試料との間で赤外線の光路を形成する光路形成手段を有するハウジングと、
を具備することを特徴とする赤外吸収スペクトル測定用治具。
【請求項２】
前記光路形成手段は、不要な赤外線を除去する遮光部材を有することを特徴する請求項１記載の赤外吸収スペクトル測定用治具。
【請求項３】
前記光路形成手段は、前記赤外吸収スペクトル測定装置から照射された赤外線の光路途中に、前記赤外線を絞り込む光絞込み部を有することを特徴とする請求項１又は２記載の赤外吸収スペクトル測定用治具。
【請求項４】
前記位置調整機構は、前記測定試料を前記ベース部材上で移動させることにより位置決めを行う構成としたことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一項に記載の赤外吸収スペクトル測定用治具。
【請求項５】
前記測定試料は、固形化された粉状化粧料であることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか一項に記載の赤外吸収スペクトル測定用治具。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、赤外吸収スペクトル測定する際に用いる赤外吸収スペクトル測定用治具に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、赤外吸収スペクトル測定装置を用いて試料の定量や分析が行われている。赤外吸収スペクトル測定を行うためには、試料に赤外線を照射する必要がある。このため、試料を赤外吸収スペクトル測定用治具（以下、測定用治具という）を用いて赤外吸収スペクトル測定の所定測定位置に装着することが行われている。
【０００３】
従来の測定用治具は、測定試料を装着する装着部が予め形成されていた。この装着部は測定用治具に形成された所定形状（一般に矩形状）の凹部であり、この装着部内に測定試料を装填した状態で赤外吸収スペクトル測定が行われていた（特許文献１）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００７−０１０３５１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従来の測定用治具は、測定試料を装着する装着部が予め形成されており、またその形状も予め設定されていた。このため、例えば固形化された粉状化粧料（固形ファンデーション等）やビスケット等の製菓品等を測定試料（この試料を固形試料という）とする場合には、粉状化粧料や製菓品を粉砕或いは押し潰す等して粉状とし、この粉状とした測定試料を装着部に充填して測定を行っていた。
【０００６】
このため従来の測定用治具では、非破壊で固形ファンデーションやビスケット等の測定試料に対して赤外吸収スペクトル測定を行うことができないという問題点があった。特にこの問題点は、非破壊状態の測定試料上の所定箇所における測定を望む場合に重大となる。
【０００７】
本発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、非破壊で赤外吸収スペクトル測定を行うことを可能とした赤外吸収スペクトル測定用治具を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記の課題は、第１の観点からは、
固形の測定試料を赤外吸収スペクトル測定装置に装着する際に用いられる赤外吸収スペクトル測定用治具であって、
前記測定試料が載置されるベース部材と、前記ベース部材を昇降させる昇降機構と、前記測定試料を平面的に移動させることにより前記測定試料の位置調整を行う位置調整機構とを有する移動機構と、
前記移動機構を支持すると共に、前記赤外吸収スペクトル測定装置と前記測定試料との間で赤外線の光路を形成する光路形成手段を有するハウジングと、
を具備することを特徴とする赤外吸収スペクトル測定用治具により解決することができる。
【発明の効果】
【０００９】
開示の発明によれば、非破壊で測定試料に対して赤外吸収スペクトル測定を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】図１は、本発明の一実施形態である赤外吸収スペクトル測定用治具を示す正面図である。
【図２】図２は、本発明の一実施形態である赤外吸収スペクトル測定用治具を示す左側面図である。
【図３】図３は、本発明の一実施形態である赤外吸収スペクトル測定用治具の上部及び中央フレームを取り外した状態を示す平面図である。
【図４】図４は本発明の一実施形態である赤外吸収スペクトル測定用治具に装着される測定試料を示す図であり、（Ａ）は平面図、（Ｂ）は横断面図である。
【図５】図５は、本発明の一実施形態である赤外吸収スペクトル測定用治具が装着される赤外吸収スペクトル測定装置を示す構成図である。
【図６】図６は、本発明の一実施形態である赤外吸収スペクトル測定用治具内における赤外線の光路を説明するための図である。
【図７】図７は、本発明の一実施形態である赤外吸収スペクトル測定用治具に設けられる移動機構を拡大して示す左側面図である。
【図８】図８は、本発明の一実施形態である赤外吸収スペクトル測定用治具に設けられる移動機構を拡大して示す平面図である。
【図９】図９は、本発明の一実施形態である赤外吸収スペクトル測定用治具を用いて固形試料の分析をしたときの赤外スペクトルの変化を示す特性図である。
【図１０】図１０は、参考例として従来の赤外吸収スペクトル測定用治具を用いて固形試料の分析をしたときの赤外スペクトルの変化を示す特性図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
次に、本発明の実施の形態について図面と共に説明する。
【００１２】
図１〜図３及び図６〜図８は、本発明の一実施形態である赤外吸収スペクトル測定用治具１（以下、単に測定用治具１という）を示している。
【００１３】
この測定用治具１は、測定試料１０を装着した上で赤外吸収スペクトル測定装置６０（以下、単に測定装置６０という）に取り付けられる。この測定用治具１を介して測定装置６０に装着された測定試料１０には赤外線（近赤外線）が照射され、その反射光により測定試料１０の分析処理が行われる（図６参照）。
【００１４】
なお以下の説明においては、測定用治具１を赤外吸収スペクトル測定に適用した例について説明するが、本発明は測定試料に対して光等を照射させて試料分析を行う各種測定に対して適用が可能なものである。
【００１５】
先ず、図４を参照して測定試料１０について説明する。
【００１６】
本実施形態において測定試料１０とするのは、例えば固形化された粉状化粧料（固形ファンデーション等）やビスケット等の製菓品等の通常の販売形態で所定の形状を維持するものである。この種の固形の測定試料１０（以下、固形試料１０という）は、これを粉砕或いは加工することなく、非破壊で分析処理を行うことが望まれている。本実施形態に測定用治具１は、固形試料１０を非破壊で分析することを可能としている。
【００１７】
以下の説明では、固形試料１０として粉状化粧料である固形ファンデーションを例に挙げて説明するが、本願発明はビスケット等或いは非破壊の分析処理が望まれる各種試料に対して適用が可能なものである。
【００１８】
固形試料１０は、図４に示されるように、レフィルとなる容器１１内に収納されている。この固形試料１０は、容器１１内に粉状化粧料を装填した後にプレス加工等により押し固めることにより製造される。
【００１９】
次に、測定用治具１について説明する。
【００２０】
固形試料１０が収納された容器１１は、測定装置６０の試料室６３に装着される。測定用治具１により、固形試料１０は試料室６３内の近赤外線が照射される所定照射位置に保持（位置決め）される。固形試料１０が所定照射位置に位置決めされると、測定装置６０は固形試料１０に対して近赤外線を照射し、この固形試料１０から反射された近赤外線を検出することにより赤外吸収スペクトルの測定を行う。
【００２１】
ここで測定用治具１の説明に先立ち、図５を用いて測定装置６０について説明する。
【００２２】
測定装置６０は、光源６１、マイケルソン干渉計６２、試料室６３、検出器６４、Ａ／Ｄ変換器６５、コンピュータ６６、及び出力装置６７を備えている。
【００２３】
光源６１は、例えば12000〜4000cm-1の波数領域を含む近赤外線を発する。
【００２４】
マイケルソン干渉計６２は、ビームスプリッタ７０、固定鏡７１、及び移動鏡７２等を有している。光源６１からマイケルソン干渉計６２内に進行した近赤外線は、ビームスプリッタ７０によって分光される。
【００２５】
分光された一方の光は、ビームスプリッタ７０と固定鏡７１との間を往復した後に、試料室６３に向けて進行する。これに対し、他方の分光された光は、ビームスプリッタ７０と移動鏡７２との間を往復した後に、試料室６３に向けて進行する。
【００２６】
移動鏡７２は、図示しない駆動装置によって反射光の光軸方向（図中、矢印Ｂで示す方向）に移動可能な構成とされている。マイケルソン干渉計６２を上記構成とすることにより、分光された光の間には光路差が発生し、各光を合成したときにこの合成光は干渉光となる。
【００２７】
マイケルソン干渉計６２で上記のようにして生成された合成光は、試料室６３内に装着された固形試料１０に照射される。この際、固形試料１０は測定用治具１を用いて試料室６３内の所定照射位置に保持（位置決め）された状態となっている。
【００２８】
検出器６４は、マイケルソン干渉計６２から試料室６３内の固形試料１０に照射され、固形試料１０で反射された光を検出する。この検出信号は、Ａ／Ｄ変換器６５によってＡＤ変換されてからコンピュータ６６に入力される。
【００２９】
コンピュータ６６は、その入力信号をフーリエ変換して透過スペクトルのデータを求め、その波形を出力装置６７に表示させる。なお図４中、試料室６３と検出器６４との間に配設されているのは、光路を変換するためのミラー６８である。
【００３０】
次に、図１〜図３、図８を主に用いて測定用治具１について説明する。
【００３１】
測定用治具１は、ハウジング２０と移動機構４０とを有している。ハウジング２０は、測定用治具１内で近赤外線の光路を形成する光路形成手段を有している。またハウジング２０は、後述する移動機構４０を支持する支持部材としても機能する。
【００３２】
ハウジング２０は、ベース２２、下部フレーム２４、側部フレーム２５，２６、上部フレーム２７、及び中央フレーム２８等を有している。
【００３３】
ベース２２は、所定の厚みを有した金属板である。このベース２２は、各種フレーム２４〜２８及び移動機構４０等を支持する基台として機能する。
【００３４】
下部フレーム２４は、ベース２２の上部に固定されている。この下部フレーム２４は、例えば固定ネジを用いてベース２２に固定される。
【００３５】
一対の側部フレーム２５，２６は、下部フレーム２４の上部に固定される。この一対の側部フレーム２５，２６は、図１に示すように、移動機構４０が配設される位置を挟んで対向離間するよう配設される。
【００３６】
側部フレーム２５には第１の貫通孔３３が形成されており、また側部フレーム２６には第２の貫通孔３４が形成されている。また、第１の貫通孔３３の中心軸は、第２の貫通孔３４の中心軸と一致するよう構成されている。固形試料１０の測定時において、近赤外線はこの第１及び第２の貫通孔３３，３４内を通過する。
【００３７】
上部フレーム２７及び中央フレーム２８は、一対の側部フレーム２５，２６の間に配設されている（図１及び図６参照）。上部フレーム２７は一対の側部フレーム２５，２６の上部に配設され、中央フレーム２８は中央部に配設されている。
【００３８】
このように、一対の側部フレーム２５，２６は上部フレーム２７及び中央フレーム２８の２本のフレームで補強されているため、ベース２２にガタツクことなく強固に固定される。
【００３９】
次に、光路形成手段について説明する。光路形成手段は、第１及び第２の反射板３０，３１、第１及び第２の貫通孔３３，３４、及び光通過孔３５等を有している。
【００４０】
第１及び第２の反射板３０，３１は、図１及び図６に示されるように、装着台２９を用いて上部フレーム２７に固定されている。また、前記したように第１及び第２の貫通孔３３，３４は、側部フレーム２５，２６に形成されている。
【００４１】
光通過孔３５は、中央フレーム２８に形成されている。この光通過孔３５の形成位置は、後述する移動機構４０に固形試料１０が装着された状態で、この固形試料１０と対向する位置となるよう構成されている。また光通過孔３５は、第１及び第２の反射板３０，３１とも対向するよう構成されている。
【００４２】
ここで、図５及び図６を主に用いて測定用治具１内における近赤外線の光路について説明する。前記のようにマイケルソン干渉計６２で干渉光とされた近赤外線は、試料室６３に入射される。試料室６３に入射した近赤外線は、側部フレーム２５に形成された第１の貫通孔３３を介して測定用治具１内に進行する。
【００４３】
第１の反射板３０は、第１の貫通孔３３と対向する位置に設けられている。また、第１の反射板３０は装着台２９に対して所定の角度を有して取り付けられている。この角度は、第１の貫通孔３３から入射した近赤外線が第１の反射板３０で反射した後、光通過孔３５に入射するよう設定されている。
【００４４】
また、前記のように中央フレーム２８に形成された光通過孔３５と対向する位置には、移動機構４０に装着された固形試料１０が位置するよう構成されている。よって、第１の貫通孔３３を通過した近赤外線は、第１の反射板３０で反射された後、光通過孔３５を介して固形試料１０に照射される。
【００４５】
第２の反射板３１は、装着台２９に所定の角度を有して取り付けられている。この角度は、固形試料１０で反射され光通過孔３５を介して入射された近赤外線が第２の貫通孔３４に向け反射されるよう設定されている。また第２の反射板３１は、第２の貫通孔３４と対向する位置に設けられている。
【００４６】
近赤外線が固形試料１０で反射する際、近赤外線には固形試料１０の情報が重畳される。この固形試料１０で反射した近赤外線は、第２の反射板３１で反射することにより第２の貫通孔３４を通過し、試料室６３から出射される。この試料室６３から出射した固形試料１０の情報が重畳された近赤外線は、試料室６３を介して検出器６４に進行する。
【００４７】
このように、ハウジング２０に設けられる光路形成手段は、マイケルソン干渉計６２と固形試料１０との間、及び固形試料１０と検出器６４との間で近赤外線の光路を形成する。
【００４８】
この際、本実施形態では中央フレーム２８に光通過孔３５が形成されており、第１の貫通孔３３から入射した近赤外線及び固形試料１０で反射した近赤外線は、光通過孔３５で絞られ光軸中心から離間した不要な近赤外線（迷光）が除去される。この光通過孔３５の大きさは、例えば直径8mm〜13mmとすることが望ましい。
【００４９】
また、第２の反射板３１から第２の貫通孔３４に至る近赤外線の光路途中には、遮光板３６が設けられている。この遮光板３６によっても、光軸中心から離間した不要な近赤外線（迷光）が除去される。
【００５０】
このように本実施形態に係る測定用治具１によれば、不要な近赤外線は光通過孔３５及び遮光板３６により除去され、固形試料１０の情報を含む有効な近赤外線のみが第２の貫通孔３４から検出器６４に進行するため、測定装置６０における固形試料１０の測定精度（分析精度）を高めることができる。
【００５１】
次に、図１〜図３、図７、図８を主に用いて移動機構４０について説明する。
【００５２】
移動機構４０は、昇降機構４１と位置調整機構５０とを有している。昇降機構４１は、固形試料１０が載置される昇降ベース４４を昇降させるものである。また、位置調整機構５０は、固形試料１０を平面的（図中矢印Ｘ１，Ｘ２方向）に移動させるものである。
【００５３】
昇降機構４１は、昇降フレーム４２、及び昇降調整ネジ４３等を有している。昇降機構４１は、ベース２２に固定されている。この昇降機構４１は、昇降調整ネジ４３を回転させることにより、昇降フレーム４２を図中矢印Ｚ１，Ｚ２方向に移動（昇降）させる構成とされている。
【００５４】
昇降フレーム４２は、図１に示すように、正面視で略三角形状を有している。昇降ベース４４は、この昇降フレーム４２に固定されている。
【００５５】
また、昇降調整ネジ４３の回転により昇降フレーム４２を昇降させ機構としては、例えばラック・ピニオン機構を用いることができる。しかしながら、昇降フレーム４２を昇降させ機構はこれに限定されるものではなく、タイミングベルトを利用した機構としても、また昇降調整ネジ４３を電気スイッチに代えると共にモータを利用して電動で昇降動作させる機構としてもよい。
【００５６】
上記のように昇降ベース４４は昇降フレーム４２に固定されているため、昇降調整ネジ４３を回転させ昇降ベース４４も昇降することにより、固形試料１０も昇降する。また昇降機構４１は、昇降調整ネジ４３の回転を停止した際、昇降ベース４４は当該停止位置から移動しないよう構成されている。よって昇降機構４１により、固形試料１０の高さ方向（矢印Ｚ１，Ｚ２方向）の位置決めを容易かつ確実に行うことができる。
【００５７】
このように昇降機構４１は昇降ベース４４を昇降させることにより、固形試料１０を光通過孔３５及び各反射板３０，３１に対して近接及び離間する方向（矢印Ｚ１，Ｚ２方向）に移動させることができる。そして、固形試料１０が測定に適した所定の高さ位置となったときに昇降調整ネジ４３の操作を停止することにより、固形試料１０を所定の高さ（測定高さ位置）に位置決めすることができる。
【００５８】
図３及び図８は、位置調整機構５０を示している。図３では、位置調整機構５０を明確に示すため、上部フレーム２７及び中央フレーム２８を取り外した状態の測定用治具１を示している。また図８は、移動機構４０のみを拡大して示す平面図である。
【００５９】
位置調整機構５０は、昇降ベース４４上に設けられている。昇降ベース４４は、その上部にＹ方向フレーム４６，４７及びＸ方向フレーム４８，４９が配設されている。
【００６０】
このＹ方向フレーム４６，４７とＸ方向フレーム４８，４９は、昇降ベース４４上で格子状となるよう配置されている。また、格子状に配置された各フレーム４６〜４９の中央位置には、固形試料１０が装着される試料装着部４５が形成されている。
【００６１】
試料装着部４５の大きさは、固形試料１０が充填された容器１１の大きさ（即ち、測定しようとする測定試料の大きさ）よりも十分大きく設定されている。ここで、測定試料の大きさよりも十分大きいとは、試料装着部４５の大きさが固形試料１０に加工を加えることなくそのまま装着することが可能な大きさで、かつ、試料装着部４５の内部で測定試料を平面方向（図中矢印Ｘ１，Ｘ２方向及び矢印Ｙ１，Ｙ２方向）に位置調整するために移動させることができる大きさをいうものとする。
【００６２】
位置調整機構５０は、Ｙ方向調整ネジ５２及びＸ方向調整ネジ５３を有している。Ｙ方向調整ネジ５２は、Ｙ方向フレーム４６とＹ方向フレーム４７との間に設けられた連結アーム５４に配設されている。また、Ｘ方向調整ネジ５３は、Ｘ方向フレーム４８とＸ方向フレーム４９との間に設けられた連結アーム５５に配設されている。
【００６３】
Ｙ方向調整ネジ５２は、矢印Ｙ２方向側の端部が操作される操作部５２ａとされており、他端部５２ｂが試料装着部４５に突出した構成とされている。またＸ方向調整ネジ５３は、矢印Ｘ２方向側の端部が操作される操作部５３ａとされており、他端部５３ｂが試料装着部４５に突出した構成とされている。
【００６４】
よって操作部５２ａ，５３ａを回転させ、Ｙ方向調整ネジ５２及びＸ方向調整ネジ５３を操作することにより、試料装着部４５上で固形試料１０（容器１１）を矢印Ｘ１方向及び矢印Ｙ１方向に移動させることができ、測定用治具１上における固形試料１０の面方向（矢印Ｘ１，Ｘ２方向，矢印Ｙ１，Ｙ２方向）の位置決めを行うことができる。
【００６５】
このように移動機構４０は、昇降機構４１により固形試料１０の昇降方向（矢印Ｚ１，Ｚ２方向）の位置決めを行い、位置調整機構５０により固形試料１０の平面方向（矢印Ｘ１，Ｚ２方向及び矢印Ｙ１，Ｙ２方向）の位置決めを行うことができる。
【００６６】
また本実施形態に係る測定用治具１は、昇降ベース４４に設けられた試料装着部４５に対して測定を行おうとする固形試料１０（容器１１）をそのまま装着することができる。このため、従来のように測定を行うために固形化された粉状化粧料（固形試料）を粉砕或いは押し潰す等して粉状とする必要はなく、非破壊で固形試料１０に対して赤外吸収スペクトル測定を行うことができる。
【００６７】
よって、例えば製品として販売される固形ファンデーションを固形試料１０とした場合には、製品である固形ファンデーションに対して、直接赤外吸収スペクトル測定を行うことができ、製品の品質評価を直接的かつ正確に行うことができる。
【００６８】
なお、本実施形態では連結アーム５０，５１にそれぞれ１本の調整ネジ５２，５３を設けた構成例を示したが、連結アーム５０，５１に設ける調整ネジ５２，５３の数は特に限定されるものではない。例えば、Ｙ方向フレーム４６，４７の連結アーム５４が配設された端部と反対側にもＹ方向調整ネジを有する連結アームを設けると共に、Ｘ方向フレーム４８，４９の連結アーム５５が配設された端部と反対側にもＸ方向調整ネジを設け、各調整ねじを操作することにより固形試料１０（容器１１）をＹ１，Ｙ２方向及びＸ１，Ｘ２方向に任意に移動しうる構成としてもよい。
【００６９】
また、Ｘ方向フレーム４８に固形試料１０（容器１１）を矢印Ｙ２方向に弾性付勢するＹ方向弾性付勢部材を設けると共に、Ｙ方向フレーム４６に固形試料１０（容器１１）を矢印Ｘ２方向に弾性付勢するＸ方向弾性付勢部材を設けてもよい。
【００７０】
これにより、各調整ネジ５２，５３の操作により容器１１を移動させた際、容器１１に対して各弾性付勢手段により移動方向と逆方向に弾性力（戻り力）が印加される。よって、調整ネジ５２，５３を後退方向（矢印Ｘ２，Ｙ２方向）に操作した場合、容器１１は各弾性付勢手段に付勢されて矢印Ｘ２方向，Ｙ２方向に戻り動作するため、固形試料１０（１１）の位置決め操作を容易に行うことができる。
【００７１】
図９は、本実施形態に係る測定用治具１を用いて固形試料１０（固形ファンデーション）
に対して赤外吸収スペクトル測定を行った結果を示している。また参考例として図１０には、従来のように固形ファンデーションを粉砕或いは押し潰すことにより粉状とし、この粉状の測定試料に対して赤外吸収スペクトル測定を行った結果を示している。なお、図９及び図１０に示すいずれの測定結果も、試料上の６箇所を測定した結果をそれぞれ示している。
【００７２】
図９に示すように、本実施形態に係る測定用治具１を用いて固形試料１０固形試料１０（固形ファンデーション）に対して赤外吸収スペクトル測定を行った場合、ベースライン（図９中、矢印ＢＬ１で示す）は安定しており、また吸収強度（図９中、矢印ＡＳ１で示す）は大きくなっている。
【００７３】
これに対して図１０に示す参考例に係る赤外吸収スペクトル測定方法を用いた場合には、本実施形態に係る測定用治具１を用いた場合に比べてベースライン（図１０中、矢印ＢＬ２で示す）は広くなり不安定になっている（ＢＬ１＜ＢＬ２）。また、吸収強度（図１０中、矢印ＡＳ２で示す）は図９に示す本実施形態に係る測定用治具１を用いた場合の吸収強度ＡＳ１に対して小さくなっている（ＡＳ１＞ＡＳ２）。
【００７４】
この相違は、本実施形態では固形試料１０を非破壊で測定しているのに対し、比較例では試料を粉砕した後に測定するという、試料のサンプリング方法に差があることに起因していると考えられる。
【００７５】
図９及び図１０に示す結果より、本実施形態に係る測定用治具１を用いて固形試料１０に対して非破壊で赤外吸収スペクトル測定を行うことにより、スペクトルの吸収強度の向上及びベースラインの安定化を図ることができ、固形試料１０の品質評価を有効に行えることが実証された。
【００７６】
以上、本発明の好ましい実施形態について詳述したが、本発明は上記した特定の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能なものである。
【符号の説明】
【００７７】
１  測定用治具
１０  固形試料
１１  容器
２０  ハウジング
２２  ベース
２４  下部フレーム
２５，２６  側部フレーム
２７  上部フレーム
２８  中央フレーム
２９  装着台
３０  第１の反射板
３１  第２の反射板
３３  第１の貫通孔
３４  第２の貫通孔
３５  光通過孔
３６  遮光板
４０  移動機構
４１  昇降機構
４２  昇降フレーム
４３  昇降調整ネジ
４４  昇降ベース
４５  試料装着部
４６，４７  Ｙ方向フレーム
４８，４９  Ｘ方向フレーム
５０  位置調整機構
５２  Ｙ方向調整ネジ
５３  Ｘ方向調整ネジ
５４，５５  連結アーム
６０  測定装置
６１  光源
６２  マイケルソン干渉計
６３  試料室
６４  検出器
６５  Ａ／Ｄ変換器
６６  コンピュータ
６７  出力装置
６８  ミラー
７０  ビームスプリッタ
７１  固定鏡
７２  移動鏡
【図１】
2015014580.tif 000003
【図２】
2015014580.tif 000004
【図３】
2015014580.tif 000005
【図４】
2015014580.tif 000006
【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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