(57)【要約】【課題】コンデンサの取り扱いに関する知識経験を有しない者でもコンデンサの劣化状態を確認可能なコンデンサ状態自動判定装置及びコンデンサ状態自動判定方法を提供する。【解決手段】コンデンサ状態自動判定装置は、入力された静電容量値である入力静電容量値と、被測定コンデンサの電気的特性を測定して取得された静電容量値である実測静電容量値とを比較して第１の条件を満たすか否か判定し、被測定コンデンサの電気的特性を測定して取得された抵抗値である実測抵抗値と所定の値に設定された抵抗閾値とを比較して第２の条件を満たすか否か判定し、第１及び第２の条件についての判定の結果に応じて実測静電容量値及び実測抵抗値を比較用データと比較して第３の条件を満たすか否か判定し、この判定の結果から被測定コンデンサの劣化状態を判定する。【選択図】図２
2015076501.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
静電容量値を入力する入力部と、
被測定コンデンサの電気的特性を測定して静電容量値を取得する静電容量値測定部と、
前記被測定コンデンサの電気的特性を測定して抵抗値を取得する抵抗値測定部と、
比較用の静電容量データと、比較用の抵抗データとの組合せからなる比較用データを保持するデータベースと、
前記被測定コンデンサの劣化状態を判定する判定部と
を備え、
前記判定部は、
前記入力部から入力された静電容量値である入力静電容量値と前記静電容量値測定部によって取得された静電容量値である実測静電容量値とを比較して第１の条件を満たすか否か判定し、
前記抵抗値測定部によって取得された抵抗値である実測抵抗値と、所定の値に設定された抵抗閾値とを比較して第２の条件を満たすか否か判定し、
前記第１及び第２の条件についての判定の結果に応じて前記実測静電容量値及び前記実測抵抗値を前記比較用データと比較して第３の条件を満たすか否か判定し、この判定の結果から前記被測定コンデンサの劣化状態を判定する
ことを特徴とするコンデンサ状態自動判定装置。
【請求項２】
前記判定部は、
前記第１及び第２の条件がどちらも満たされている場合には、前記実測静電容量値及び前記実測抵抗値を前記比較用データと比較して第３の条件を満たすか否か判定し、この判定の結果から前記被測定コンデンサの劣化状態を判定し、
前記第１及び第２の条件の少なくとも一方が満たされていない場合には、前記第１及び第２の条件の判定の結果から前記被測定コンデンサの劣化状態を判定する
ことを特徴とする請求項１記載のコンデンサ状態自動判定装置。
【請求項３】
前記データベースは、前記比較用データとして第１の比較用データ群と第２の比較用データ群とを保持しており、
前記判定部は、
前記第１及び第２の条件がどちらも満たされている場合には、前記実測静電容量値及び前記実測抵抗値を前記第１の比較用データ群と比較して第３の条件を満たすか否か判定し、この判定の結果から前記被測定コンデンサの劣化状態を判定し、
前記第１及び第２の条件のどちらか一方のみが満たされている場合には、前記実測静電容量値及び前記実測抵抗値を前記第２の比較用データ群と比較して第３の条件を満たすか否か判定し、この判定の結果から前記被測定コンデンサの劣化状態を判定し、
前記第１及び第２の条件がどちらも満たされていない場合には、前記第１及び第２の条件の判定の結果から前記被測定コンデンサの劣化状態を判定する
ことを特徴とする請求項１記載のコンデンサ状態自動判定装置。
【請求項４】
前記判定部は、
前記第１及び第２の条件のどちらか一方のみが満たされている場合には、前記実測静電容量値及び前記実測抵抗値を前記比較用データと比較して第３の条件を満たすか否か判定し、この判定の結果から前記被測定コンデンサの劣化状態を判定し、
前記第１及び第２の条件がどちらも満たされている場合及びどちらも満たされていない場合には、前記第１及び第２の条件の判定の結果から前記被測定コンデンサの劣化状態を判定する
ことを特徴とする請求項１記載のコンデンサ状態自動判定装置。
【請求項５】
前記比較用の静電容量データは、コンデンサの静電容量の公称値と、前記コンデンサの算出された静電容量値との誤差である静電容量誤差であり、
前記比較用の抵抗データは、前記コンデンサの算出された抵抗値である
ことを特徴とする請求項１〜４記載のコンデンサ状態自動判定装置。
【請求項６】
入力された静電容量値である入力静電容量値と、被測定コンデンサの電気的特性を測定して取得された静電容量値である実測静電容量値とを比較して第１の条件を満たすか否か判定し、
前記被測定コンデンサの電気的特性を測定して取得された抵抗値である実測抵抗値と所定の値に設定された抵抗閾値とを比較して第２の条件を満たすか否か判定し、
前記第１及び第２の条件についての判定の結果に応じて前記実測静電容量値及び前記実測抵抗値を、比較用の静電容量データと比較用の抵抗データとの組合せからなる比較用データと比較して第３の条件を満たすか否か判定し、この判定の結果から前記被測定コンデンサの劣化状態を判定する
ことを特徴とするコンデンサ状態自動判定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、コンデンサの劣化状態を判定するコンデンサ状態自動判定装置及びコンデンサ状態自動判定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
コンデンサの静電容量値や抵抗値（等価直列抵抗値）等は、経年劣化によって変化する場合がある。従来、このような静電容量値や抵抗値等は、コンデンサの電気的特性を測定することにより取得されていた。一般的にこのような測定に用いられる測定装置は、測定値を数値やグラフ等、種々の態様によって出力していた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１３−５０３５１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
コンデンサの劣化状態を測定値のみから判断するためには、コンデンサの取り扱いに関する相応の知識経験が必要とされる。従って、知識経験を有しない者は自らコンデンサの劣化状態を確認することが困難であった。本発明はこのような課題に鑑みなされたものであり、知識経験を有しない者であってもコンデンサの劣化状態を容易に確認可能なコンデンサ状態自動判定装置及びコンデンサ状態自動判定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明に係るコンデンサ状態自動判定装置は、静電容量値を入力する入力部と、静電容量値測定部と、抵抗値測定部と、比較用データを保持するデータベースと、被測定コンデンサの劣化状態を判定する判定部とを備える。静電容量値測定部は、被測定コンデンサの電気的特性を測定して静電容量値を取得する。抵抗値測定部は、被測定コンデンサの電気的特性を測定して抵抗値を取得する。比較用データは、比較用の静電容量データと、比較用の抵抗データとの組合せからなる。
【０００６】
上記判定部は、入力部から入力された静電容量値である入力静電容量値と静電容量値測定部によって取得された静電容量値である実測静電容量値とを比較して第１の条件を満たすか否か判定する。また、判定部は、抵抗値測定部によって取得された抵抗値である実測抵抗値と、所定の値に設定された抵抗閾値とを比較して第２の条件を満たすか否か判定する。更に、判定部は、第１及び第２の条件についての判定の結果に応じて実測静電容量値及び実測抵抗値を比較用データと比較して第３の条件を満たすか否か判定する。また、判定部は、この判定の結果から被測定コンデンサの劣化状態を判定する。
【０００７】
即ち、本発明に係るコンデンサ状態自動判定装置は、コンデンサの取り扱いに関する相応の知識経験を有する者と同様の判断基準によって被測定コンデンサの劣化状態を判定する。従って、同コンデンサ状態自動判定装置を使用することにより、知識経験を有しない者であっても被測定コンデンサの劣化状態を容易に確認することが可能である。
【０００８】
本発明の一の実施の形態において、上記判定部は、第１及び第２の条件がどちらも満たされている場合には、実測静電容量値及び実測抵抗値を比較用データと比較して第３の条件を満たすか否か判定し、この判定の結果から被測定コンデンサの劣化状態を判定する。また、同判定部は、第１及び第２の条件の少なくとも一方が満たされていない場合には、第１及び第２の条件の判定の結果から被測定コンデンサの劣化状態を判定する。
【０００９】
本発明の他の実施の形態において、上記データベースは、比較用データとして第１の比較用データ群と第２の比較用データ群とを保持している。また、上記判定部は、第１及び第２の条件がどちらも満たされている場合には、実測静電容量値及び実測抵抗値を第１の比較用データ群と比較して第３の条件を満たすか否か判定し、この判定の結果から被測定コンデンサの劣化状態を判定する。また、同判定部は、第１及び第２の条件のどちらか一方のみが満たされている場合には、実測静電容量値及び実測抵抗値を第２の比較用データ群と比較して第３の条件を満たすか否か判定し、この判定の結果から被測定コンデンサの劣化状態を判定する。また、同判定部は、第１及び第２の条件がどちらも満たされていない場合には、第１及び第２の条件の判定の結果から被測定コンデンサの劣化状態を判定する。
【００１０】
本発明の更に他の実施の形態において、上記判定部は、第１及び第２の条件のどちらか一方のみが満たされている場合には、実測静電容量値及び実測抵抗値を比較用データと比較して第３の条件を満たすか否か判定し、この判定の結果から被測定コンデンサの劣化状態を判定する。また、同判定部は、第１及び第２の条件がどちらも満たされている場合及びどちらも満たされていない場合には、第１及び第２の条件の判定の結果から被測定コンデンサの劣化状態を判定する。
【００１１】
上記比較用の静電容量データは、コンデンサの静電容量の公称値と、同コンデンサの算出された静電容量値との誤差である静電容量誤差であっても良い。また、上記比較用の抵抗データは、同コンデンサの算出された抵抗値であっても良い。
【００１２】
本発明に係るコンデンサ状態自動判定方法においては、入力静電容量値と実測静電容量値とを比較して第１の条件を満たすか否か判定する。入力静電容量値は入力された静電容量値であり、実測静電容量値は被測定コンデンサの電気的特性を測定して取得された静電容量値である。また、同方法においては、被測定コンデンサの電気的特性を測定して取得された抵抗値である実測抵抗値と所定の値に設定された抵抗閾値とを比較して第２の条件を満たすか否か判定する。更に、同方法においては、第１及び第２の条件についての判定の結果に応じて実測静電容量値及び実測抵抗値を比較用データと比較して、第３の条件を満たすか否か判定し、この判定の結果から被測定コンデンサの劣化状態を判定する。比較用データは、比較用の静電容量データと比較用の抵抗データとの組合せからなる。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、コンデンサの取り扱いに関する知識経験を有しない者であってもコンデンサの劣化状態を容易に確認することが可能なコンデンサ状態自動判定装置及びコンデンサ状態自動判定方法を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の第１の実施の形態に係るコンデンサ状態自動判定装置１の外観を示す斜視図である。
【図２】同コンデンサ状態自動判定装置１の構成を示す機能ブロック図である。
【図３】同コンデンサ状態自動判定装置１の静電容量値測定回路３４の回路構成の一例を示す回路図である。
【図４】同コンデンサ状態自動判定装置１の抵抗値測定回路３５の回路構成の一例を示す回路図である。
【図５】同コンデンサ状態自動判定装置１のデータベース３７について説明するための模式図である。
【図６】同コンデンサ状態自動判定装置１の動作を説明するフローチャートの一部である。
【図７】同動作を説明するフローチャートの一部である。
【図８】同動作を説明するフローチャートの一部である。
【図９】同動作を説明するフローチャートの一部である。
【図１０】本発明の第２の実施の形態に係るコンデンサ状態自動判定装置１のデータベース３７について説明するための模式図である。
【図１１】同コンデンサ状態自動判定装置１の動作を説明するフローチャートの一部である。
【図１２】本発明の第３の実施の形態に係るコンデンサ状態自動判定装置１の動作を説明するフローチャートの一部である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
［本発明の第１の実施の形態に係るコンデンサ状態自動判定装置の構成］
図１は、本発明の第１の実施の形態に係るコンデンサ状態自動判定装置１の外観を示す斜視図である。コンデンサ状態自動判定装置１は、プローブ１１及びプローブ１２を備える。また、図１に示す例において、測定対象物２は基板２１と、被測定コンデンサ２４とを備える。被測定コンデンサ２４は、陽極端子２２及び陰極端子２３を介して基板２１上に設けられる。プローブ１１は陽極端子２２に接続され、プローブ１２は陰極端子２３に接続される。
【００１６】
コンデンサ状態自動判定装置１は、各種構成を格納する筐体１３を備える。筐体１３の側面には、コンデンサ状態自動判定装置１の主電源をＯＮ／ＯＦＦするための電源スイッチ１４が設けられている。筐体１３の前面には、数値等を入力可能なテンキー１５及び測定の開始等を指示する測定開始スイッチ１６が設けられている。また、筐体１３の前面には、入力された数値、測定及び判定の進行状況及び結果等（以下、「判定の結果等」と呼ぶ。）を表示する液晶表示部１７が設けられる。
【００１７】
更に、筐体１３の前面には、判定の結果等に応じて発光するＬＥＤ表示部１８が設けられる。尚、図１中、ＬＥＤ表示部１８のＧで表された部分は、被測定コンデンサ２４が劣化していないと判定された場合等に緑色に発光する。Ｙで表された部分は、被測定コンデンサ２４が劣化中であると判定された場合等に黄色に発光する。Ｒで表された部分は、被測定コンデンサ２４が故障していると判定された場合等に赤色に発光する。ユーザは、液晶表示部１７の視認が困難である場合等であってもＬＥＤ表示部１８の発光状態等に応じて判定の結果等を確認することが可能である。
【００１８】
図２は、本実施の形態に係るコンデンサ状態自動判定装置１の構成を示す機能ブロック図である。同コンデンサ状態自動判定装置１は、電源３１と、入力回路３２と、制御回路３３と、静電容量値測定回路３４と、抵抗値測定回路３５と、コンデンサ状態判定回路３６と、データベース３７と、液晶表示回路３８と、ＬＥＤ表示回路３９と、スイッチ回路４０とを備える。
【００１９】
電源３１は、電源スイッチ１４の操作に応じて各構成に電力を供給し、又は各構成への電力の供給を遮断する。入力回路３２は、ユーザがテンキー１５によって入力した被測定コンデンサ２４の静電容量値や、測定開始スイッチ１６の操作結果等を制御回路３３に入力する。尚、本実施の形態において、入力回路３２からは、被測定コンデンサ２４の静電容量値として、公称値が入力される。このような公称値は、被測定コンデンサ２４の表面に記載されていることがある。以下、入力回路３２によって制御回路３３に入力された静電容量値を「入力静電容量値Ｃｉｎ」と呼ぶ。
【００２０】
制御回路３３は、ＣＰＵ等の演算装置やメモリ等を備える。また、制御回路３３は、バス等によって他の構成と接続される。スイッチ回路４０は、プローブ１１及び１２にそれぞれ接続されたスイッチを備える。スイッチ回路４０は、制御回路３３からの制御信号に応じてプローブ１１及び１２を選択的に静電容量値測定回路３４又は抵抗値測定回路３５に接続する。また、スイッチ回路４０は、制御回路３３からの制御信号に応じてプローブ１１及び１２を静電容量値測定回路３４及び抵抗値測定回路３５の双方から切り離すことも可能である。
【００２１】
静電容量値測定回路３４及び抵抗値測定回路３５は、それぞれ制御回路３３からの制御信号に応じて被測定コンデンサ２４の電気的特性を測定し、測定結果を制御回路３３に入力する。制御回路３３は、入力された測定結果から実測静電容量値Ｃｍｅｓ及び実測抵抗値Ｒｍｅｓを算出する。尚、実測抵抗値Ｒｍｅｓは被測定コンデンサ２４の等価直列抵抗（ＥＳＲ：Equivalent Series Resistance）である。
【００２２】
また、制御回路３３は、入力静電容量値Ｃｉｎ、実測静電容量値Ｃｍｅｓ及び実測抵抗値Ｒｍｅｓをコンデンサ状態判定回路３６に入力する。コンデンサ状態判定回路３６は、データベース３７から比較用の静電容量データの一例としての静電容量誤差ＣＣｃｏｍ、及び比較用の抵抗データの一例としての抵抗値Ｒｃｏｍを取得する。また、コンデンサ状態判定回路３６は、入力静電容量値Ｃｉｎ、実測静電容量値Ｃｍｅｓ、実測抵抗値Ｒｍｅｓ、静電容量誤差ＣＣｃｏｍ及び抵抗値Ｒｃｏｍから被測定コンデンサ２４の劣化状態を判定する。
【００２３】
制御回路３３は、コンデンサ状態判定回路３６から判定結果を取得する。また、制御回路３３は、取得した判定結果を液晶表示回路３８及びＬＥＤ表示回路３９に入力する。液晶表示回路３８は液晶表示部１７のドライバであり、制御回路３３から入力された判定結果に応じて液晶表示部１７に表示を行う。ＬＥＤ表示回路３９はＬＥＤ表示部１８のドライバであり、制御回路３３から入力された判定結果に応じてＬＥＤ表示部１８に表示を行う。
【００２４】
図３は、本実施の形態に係る静電容量値測定回路３４の回路構成の一例を示す回路図である。静電容量値測定回路３４は、交流電源３４１と、抵抗素子３４２と、差動増幅器３４３と、電圧計３４４と、電圧計３４５とを備える。交流電源３４１、抵抗素子３４２及び差動増幅器３４３は、被測定コンデンサ２４と共に平衡ブリッジ回路を構成する。電圧計３４４及び３４５は、それぞれ被測定コンデンサ２４の陽極端子２２及び抵抗素子３４２の陰極端子の電位を測定する。
【００２５】
交流電源３４１は、制御回路３３からの制御信号に応じて電源３１から電力を供給され、交流電圧を発生させる。また、交流電源３４１は、スイッチ回路４０及びプローブ１１を介して被測定コンデンサ２４の陽極端子２２と接続される。抵抗素子３４２の陽極端子は、スイッチ回路４０及びプローブ１２を介して被測定コンデンサ２４の陰極端子２３と接続される。差動増幅器３４３の反転入力端子は抵抗素子３４２の陽極端子に接続され、非反転入力端子は接地端子に接続され、出力端子は抵抗素子３４２の陰極端子に接続される。
【００２６】
電圧計３４４によって測定される電位Ｅ１及び電圧計３４５によって測定される電位Ｅ２は、下記の通りに表すことが可能である。
2015076501.tif 000003
【００２７】
更に、上記交流電圧の角周波数をω、抵抗素子３４２の抵抗値をＲとすると、被測定コンデンサ２４、抵抗素子３４２及び差動増幅器３４３からなる回路のインピーダンスＺ１及びリアクタンスＸｍｅｓと、実測静電容量値Ｃｍｅｓの値は、下記の通りに表すことが可能である。制御回路３３は、例えば下記計算式に従って、測定結果として取得した電位Ｅ１及びＥ２から実測静電容量値Ｃｍｅｓを算出する。
2015076501.tif 000004
【００２８】
図４は、本実施の形態に係る抵抗値測定回路３５の回路構成の一例を示す回路図である。抵抗値測定回路３５は、直流電源３５１と、抵抗素子３５２と、電流計３５３とを備える。また、直流電源３５１、抵抗素子３５２及び電流計３５３は、被測定コンデンサ２４と共に直列回路を構成する。
【００２９】
直流電源３５１は、スイッチ回路４０及びプローブ１１を介して被測定コンデンサ２４の陽極端子２２と接続される。また、直流電源３５１は、制御回路３３からの制御信号に応じて電源３１から電力を供給され、直流電圧を発生させる。更に、直流電源３５１は、この直流電圧によって被測定コンデンサ２４に充電を行う。また、抵抗素子３５２は、スイッチ回路４０及びプローブ１２を介して被測定コンデンサ２４の陰極端子２３と接続される。
【００３０】
電流計３５３は、抵抗素子３５２及び直流電源３５１に接続される。また、電流計３５３は、例えば制御回路３３からの制御信号に応じて抵抗値測定回路３５内の電流値Ｉを測定する。制御回路３３は、この電流値Ｉを測定結果として取得し、この電流値Ｉの時間変化から実測抵抗値Ｒｍｅｓを算出する。
【００３１】
図５は、本実施の形態に係るデータベース３７について説明するための模式図である。データベース３７は、過去の知見に基づいて収集された比較用データを格納している。この実施の形態での比較用データは、過去に行われた測定やシミュレーション等により、特性が『良好』であるとの最終判断を受けた多数（Ｎ個）のコンデンサの特性に関するデータの集合（第１の比較用データ群）である。このデータベース中のデータの１つの組と、測定された実測静電容量値Ｃｍｅｓ及び実測抵抗値Ｒｍｅｓの組とが略一致する場合には、被測定コンデンサの特性は『良好』と判断される。
【００３２】
この図５の例では、Ｎ個（Ｎｏ.１〜Ｎ）のコンデンサの各々について、比較用データとして静電容量誤差ＣＣｃｏｍ、及び抵抗値Ｒｃｏｍが取得され、データベース３７に格納されている。
【００３３】
静電容量誤差ＣＣｃｏｍとは、各コンデンサの静電容量の公称値Ｃ０（例えば、コンデンサのパッケージの表面にプリントされた値）と、そのコンデンサの電気的特性を実際に測定またはシミュレーションして算出された静電容量値Ｃ１との間の誤差（＝（Ｃ１−Ｃ０）／Ｃ０×１００）を意味する。また、抵抗値Ｒｃｏｍは、そのコンデンサの電気的特性を実際に測定又はシミュレーションして算出された抵抗値である。なお、静電容量誤差ＣＣｃｏｍ及び抵抗値Ｒｃｏｍは、各種製品の一部品としてのコンデンサを実際に測定して得たものであっても良いし、データ収集のために特別に用意されたコンデンサを実際に測定して得たものであっても良い。また、実物のコンデンサを準備することなく、シミュレーションにより静電容量誤差ＣＣｃｏｍ及び抵抗値Ｒｃｏｍを算出することもできる。
【００３４】
［本発明の第１の実施の形態に係るコンデンサ状態自動判定装置の動作］
図６〜図９は、本実施の形態に係るコンデンサ状態自動判定装置１の動作を説明するフローチャートである。電源スイッチ１４がＯＮ状態とされ、測定開始スイッチ１６が押圧されると、以下の動作が行われる。
【００３５】
ステップＳ１０１において、制御回路３３は静電容量値の入力待ち状態となる。ここで、ユーザがテンキー１５を用いて被測定コンデンサ２４の静電容量値の公称値を入力した場合、制御回路３３は、入力回路３２の入力に応じて入力静電容量値Ｃｉｎを取得する。
【００３６】
ステップＳ１０２において、制御回路３３はスイッチ回路４０に制御信号を送り、静電容量値測定回路３４をプローブ１１及び１２に接続する。また、制御回路３３は静電容量値測定回路３４に制御信号を送り、被測定コンデンサ２４の電気的特性を測定する。更に、制御回路３３は静電容量値測定回路３４から測定結果を取得し、実測静電容量値Ｃｍｅｓを算出して記憶する。
【００３７】
ステップＳ１０３において、制御回路３３はスイッチ回路４０に制御信号を送り、抵抗値測定回路３５をプローブ１１及び１２に接続する。また、制御回路３３は抵抗値測定回路３５に制御信号を送り、被測定コンデンサ２４の電気的特性を測定する。更に、制御回路３３は抵抗値測定回路３５から測定結果を取得し、実測抵抗値Ｒｍｅｓを算出して記憶する。
【００３８】
ステップＳ１０４において、制御回路３３はコンデンサ状態判定回路３６に実測静電容量値Ｃｍｅｓ及び入力静電容量値Ｃｉｎを入力する。また、制御回路３３はコンデンサ状態判定回路３６に制御信号を送り、第１の条件が満たされているか否かを判定させる。本実施の形態において、第１の条件は、実測静電容量値Ｃｍｅｓと入力静電容量値Ｃｉｎとの間の誤差が±２０％未満であるか否かである。尚、「実測静電容量値Ｃｍｅｓと入力静電容量値Ｃｉｎとの間の誤差が±２０％未満である」と言う事は、「０．８Ｃｉｎ＜Ｃｍｅｓ＜１．２Ｃｉｎである」と言う事を意味する。
【００３９】
ステップＳ１０４において実測静電容量値Ｃｍｅｓと入力静電容量値Ｃｉｎとの間の誤差が±２０％未満であった場合、ステップＳ１０５において、制御回路３３がコンデンサ状態判定回路３６に実測抵抗値Ｒｍｅｓを入力する。また、制御回路３３は、第２の条件が満たされているか否か判定する。本実施の形態において、第２の条件は、実測抵抗値Ｒｍｅｓが抵抗閾値（例：３Ω）未満であるか否かである。ステップＳ１０４において実測静電容量値Ｃｍｅｓと入力静電容量値Ｃｉｎとの間の誤差が±２０％未満で無かった場合、ステップＳ１０６において、ステップＳ１０５と同様の処理が行われる。
【００４０】
ステップＳ１０５において実測抵抗値Ｒｍｅｓが抵抗閾値（３Ω）未満であると判定された場合、図７に示す通り、ステップＳ１０７において、制御回路３３がコンデンサ状態判定回路３６に制御信号を送り、以下の動作を行う。即ち、コンデンサ状態判定回路３６は、実測静電容量値Ｃｍｅｓ及び実測抵抗値Ｒｍｅｓを、データベース３７中の良好比較用データと比較して、比較用データとＣｍｅｓ、Ｒｍｅｓが略一致するか否かを判定する（第３の条件判定）。
【００４１】
具体的には、コンデンサ状態判定回路３６が、実測静電容量値Ｃｍｅｓと入力静電容量値Ｃｉｎとから実測静電容量誤差ＲＣｃｏｍを算出する。実測静電容量誤差ＲＣｃｏｍは、ＲＣｃｏｍ＝（Ｃｍｅｓ−Ｃｉｎ）／Ｃｉｎ×１００によって算出される。この実測静電容量誤差ＲＣｃｏｍと、実測抵抗値Ｒｍｅｓとの組み合わせが、比較用データ中の静電容量誤差ＣＣｃｏｍと抵抗値Ｒｃｏｍの組み合わせと略一致するか否かが、ステップＳ１０７において判断される。「略一致」とは、両者の間の誤差が±５％程度である場合とすることができるが、これに限定されるものではなく、より小さい誤差を設定することも可能である。
【００４２】
ステップＳ１０７において略一致と判定された場合、ステップＳ１０８において、コンデンサ状態判定回路３６は、被測定コンデンサ２４の劣化状態を『良好』と判定する。制御回路３３はコンデンサ状態判定回路３６による判定結果を取得する。また、制御回路３３は液晶表示部１７に『良好』と表示し、ＬＥＤ表示部１８の緑色のランプを点灯させる。
【００４３】
ステップＳ１０７において不一致と判定された場合、ステップＳ１０９において、コンデンサ状態判定回路３６は、被測定コンデンサ２４の劣化状態を『良好（ただし信頼性低）』と判定する。制御回路３３はコンデンサ状態判定回路３６による判定結果を取得する。また、制御回路３３は液晶表示部１７に『＊良好』と表示し、ＬＥＤ表示部１８の緑色のランプを点灯させる。
【００４４】
ステップＳ１０５において実測抵抗値Ｒｍｅｓが抵抗閾値の３Ω未満でない（３Ω以上である）と判定された場合、図８に示す通り、ステップＳ１１０において、コンデンサ状態判定回路３６は、被測定コンデンサ２４の劣化状態を『劣化中』と判定する。実測静電容量値Ｃｍｅｓと公称値Ｃ０との差が充分小さい場合であっても、実測抵抗値Ｒｍｅｓが抵抗閾値以上である場合には、被測定コンデンサ２４は既に良好でないと判定され得るからである。制御回路３３はコンデンサ状態判定回路３６による判定結果を取得する。また、制御回路３３は液晶表示部１７に『劣化中』と表示し、ＬＥＤ表示部１８の黄色のランプを点灯させる。尚、ステップＳ１０６において実測抵抗値Ｒｍｅｓが抵抗閾値の３Ω未満であると判定された場合にも、同様に、被測定コンデンサ２４の劣化状態を『劣化中』と判定する。実測抵抗値Ｒｍｅｓが抵抗閾値未満であっても、実測静電容量値Ｃｍｅｓと公称値Ｃ０との差が充分大きい場合には、被測定コンデンサ２４は既に良好でないと判定され得るからである。
【００４５】
ステップＳ１０６において実測抵抗値Ｒｍｅｓが抵抗閾値の３Ω未満でない（３Ω以上である）と判定された場合、図９に示す通り、ステップＳ１１１において、コンデンサ状態判定回路３６は、被測定コンデンサ２４の劣化状態を『故障』と判定する。実測静電容量値Ｃｍｅｓと公称値Ｃ０との差が充分大きく、実測抵抗値Ｒｍｅｓが抵抗閾値以上である場合には、被測定コンデンサ２４はコンデンサとして正常に機能し得ないと判定されるからである。制御回路３３はコンデンサ状態判定回路３６による判定結果を取得する。また、制御回路３３は液晶表示部１７に『故障』と表示し、ＬＥＤ表示部１８の赤色のランプを点灯させる。
【００４６】
［本発明の第１の実施の形態に係るコンデンサ状態自動判定装置１の効果］
本実施の形態に係るコンデンサ状態自動判定装置１は、過去の知見に基づいて収集された比較用データを格納するデータベース３７を使用することにより、コンデンサの取り扱いに関する相応の知識経験を有する者と同様の判断基準によって被測定コンデンサ２４の劣化状態を判定する。従って、コンデンサ状態自動判定装置１を使用することにより、知識経験を有しない者であっても被測定コンデンサ２４の劣化状態を容易に確認することが可能である。
【００４７】
［本発明の第２の実施の形態に係るコンデンサ状態自動判定装置］
次に、本発明の第２の実施の形態に係るコンデンサ状態自動判定装置１について説明する。本実施の形態に係るコンデンサ状態自動判定装置１は、基本的には第１の実施の形態に係るコンデンサ状態自動判定装置１と同様に構成されているが、下記の２点において異なっている。
【００４８】
第１に、本実施の形態においては、データベース３７に第１の比較用データ群だけでなく、第２の比較用データ群も保持される。図１０は、本実施の形態に係るデータベース３７について説明するための模式図である。第２の比較用データ群は、過去に行われた測定やシミュレーション等により、特性が『故障』であるとの最終判断を受けた多数（Ｎ個）のコンデンサの特性に関するデータの集合である。このデータベース中のデータの１つの組と、測定された実測静電容量値Ｃｍｅｓ及び実測抵抗値Ｒｍｅｓの組とが略一致する場合には、被測定コンデンサの特性は『故障』と判断される。
【００４９】
第２に、本実施の形態においては、コンデンサ状態自動判定装置１の動作が一部異なる。図１１は、本実施の形態に係るコンデンサ状態自動判定装置１の動作を説明するフローチャートである。本実施の形態においては、ステップＳ１１０以外の動作は第１の実施の形態と同様に行われる。
【００５０】
本実施の形態において、ステップＳ１０５において実測抵抗値Ｒｍｅｓが抵抗閾値の３Ω未満でない（３Ω以上である）と判定された場合及びステップＳ１０６において実測抵抗値Ｒｍｅｓが抵抗閾値の３Ω未満であると判定された場合、図１１に示す通り、ステップＳ２０１において、制御回路３３がコンデンサ状態判定回路３６に制御信号を送り、以下の動作を行う。即ち、コンデンサ状態判定回路３６は、実測静電容量値Ｃｍｅｓ及び実測抵抗値Ｒｍｅｓを、データベース３７中の故障比較用データと比較して、比較用データとＣｍｅｓ、Ｒｍｅｓが略一致するか否かを判定する（第３の条件判定）。
【００５１】
ステップＳ２０１において不一致と判定された場合、ステップＳ２０２において、コンデンサ状態判定回路３６は、被測定コンデンサ２４の劣化状態を『劣化中』と判定する。制御回路３３はコンデンサ状態判定回路３６による判定結果を取得する。また、制御回路３３は、第１の実施の形態におけるステップＳ１１０と同様の動作を行う。
【００５２】
ステップＳ２０１において略一致と判定された場合、ステップＳ２０３において、コンデンサ状態判定回路３６は、被測定コンデンサ２４の劣化状態を『故障』と判定する。制御回路３３はコンデンサ状態判定回路３６による判定結果を取得する。また、制御回路３３は、第１の実施の形態におけるステップＳ１１１と同様の動作を行う。
【００５３】
［本発明の第３の実施の形態に係るコンデンサ状態自動判定装置］
次に、本発明の第３の実施の形態に係るコンデンサ状態自動判定装置１について説明する。本実施の形態に係るコンデンサ状態自動判定装置１は、基本的には第２の実施の形態に係るコンデンサ状態自動判定装置１と同様に構成されているが、下記の２点において異なっている。
【００５４】
第１に、本実施の形態においては、データベース３７に第１の比較用データ群が保持されておらず、第２の比較用データ群のみが保持される。第２に、本実施の形態においては、コンデンサ状態自動判定装置１の動作が一部異なる。図１２は、本実施の形態に係るコンデンサ状態自動判定装置１の動作を説明するフローチャートの一部である。本実施の形態においては、ステップＳ１０７〜Ｓ１０９以外の動作は第２の実施の形態と同様に行われる。
【００５５】
本実施の形態において、ステップＳ１０５において実測抵抗値Ｒｍｅｓが抵抗閾値の３Ω未満であると判定された場合、図１２に示す通り、ステップＳ３０１において、コンデンサ状態判定回路３６は、被測定コンデンサ２４の劣化状態を『良好』と判定する。制御回路３３はコンデンサ状態判定回路３６による判定結果を取得する。また、制御回路３３は液晶表示部１７に『良好』と表示し、ＬＥＤ表示部１８の緑色のランプを点灯させる。
【００５６】
［その他の実施の形態に係るコンデンサ状態自動判定装置］
上記実施の形態に係るコンデンサ状態自動判定装置１が備える各構成は、種々の構成に置き換えることが可能である。例えば、テンキー１５や測定開始スイッチ１６の配置や構成等は適宜変更可能である。また、液晶表示部１７にバックライト等を搭載してＬＥＤ表示部１８を省略することも可能である。更に、判定の結果等を、ＵＳＢ、ＬＡＮ等を介して外部に出力可能とすることも考えられる。
【００５７】
また、コンデンサ状態判定回路３６における処理の一部又は全部をソフトウェア等によって行い、コンデンサ状態判定回路３６を省略することも可能である。更に、静電容量値測定回路３４及び抵抗値測定回路３５の回路構成は適宜変更可能である。更に、キャリブレーション用の回路を設けて、被測定コンデンサ２４にプローブ１１及び１２を接続した後に被測定コンデンサ２４に残留した電荷を解放することとしても良い。
【００５８】
また、比較用データに含まれる比較用の静電容量データ及び比較用の抵抗データが抵抗値Ｒｃｏｍ及び静電容量誤差ＣＣｃｏｍである必要は無く、測定結果との比較によって被測定コンデンサ２４の劣化状態を評価可能な値であれば良い。例えば、コンデンサの電気的特性を測定して測定結果から算出された静電容量値Ｃ１及びコンデンサの公称値Ｃ０を静電容量値に関するデータとしても良い。
【００５９】
また、ステップＳ１０１〜Ｓ１０３はどのような順番で行われても良く、ステップＳ１０４及びＳ１０５（又はＳ１０６）の順番を入れ替えることも可能である。更に、第１の条件では実測静電容量値Ｃｍｅｓと入力静電容量値Ｃｉｎとがどの程度異なるのかを判定できれば良く、±２０％とは異なる割合を用いたり、異なる基準によって判定することも可能である。同様に、第２の条件では、実測抵抗値Ｒｍｅｓがどの程度の値であるのかを判定できれば良い。従って、抵抗閾値を３Ωとは異なる値に設定したり、異なる基準によって判定することも可能である。
【００６０】
更に、第３の条件は、例えば、実測静電容量誤差ＲＣｃｏｍが静電容量誤差ＣＣｃｏｍ以下であり、実測抵抗値Ｒｍｅｓが抵抗値Ｒｃｏｍ以下である場合や、実測静電容量誤差ＲＣｃｏｍと静電容量誤差ＣＣｃｏｍとの差が所定の値以下であり、実測抵抗値Ｒｍｅｓと抵抗値Ｒｃｏｍとの差が所定の値以下である場合等に満たされることとしても良い。
【符号の説明】
【００６１】
１…コンデンサ状態自動判定装置、２…測定対象物、１１、１２…プローブ、１３…筐体、１４…電源スイッチ、１５…テンキー、１６…測定開始スイッチ、１７…液晶表示部、１８…ＬＥＤ表示部、２１…基板、２２…陽極端子、２３…陰極端子、２４…被測定コンデンサ、３１…電源、３２…入力回路、３３…制御回路、３４…静電容量値測定回路、３５…抵抗値測定回路、３６…コンデンサ状態判定回路、３７…データベース、３８…液晶表示回路、３９…ＬＥＤ表示回路、４０…スイッチ回路。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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