(57)【要約】      （修正有）【課題】光ネットワーク試験機器内の光源の安定性を改善する自己完結型更正方法を提供する。【解決手段】トラッキング・エラー調整プログラムにおいて、光源の温度掃引試験を実行し４０２、光源の光出力パワーを周期的に測定する４０４。測定した光出力パワーに基づいて温度補正値を発生する４０８。光源の光出力パワーが実質的に一定となるように、温度補正値を供給して、光源の光出力パワーを調整する４１２。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ネットワーク試験機器内の光源の安定性を改善する方法であって、
上記光源の温度掃引試験を実行するステップと、
上記光源の光出力パワーを測定するステップと、
上記測定した光出力パワーに基づいて温度補正値を発生するステップと、
上記温度補正値を供給して上記光源の上記光出力パワーを調整して、上記光源の実質的に一定の光出力パワーを得るステップと
を備えた方法。
【請求項２】
上記温度補正値を発生するステップは、トラッキング・エラー値を計算することを備える請求項１の方法。
【請求項３】
上記温度掃引試験は、上記光源に機能的に結合されたヒーターにより実行する請求項１の方法。
【請求項４】
１つ以上の温度センサを上記光源に機能的に結合した請求項１の方法。
【請求項５】
上記１つ以上の温度センサは、上記光源の上記温度を表す出力信号を発生する請求項４の方法。
【請求項６】
光出力パワーの測定を上記光ネットワーク試験機器のパワー・メータ要素により実行する請求項１の方法。
【請求項７】
上記温度補正値は、温度補正曲線多項式値から成る請求項１の方法。
【請求項８】
上記温度補正値を発生した後に、上記光ネットワーク試験機器内に上記温度補正値を蓄積するステップを更に備えた請求項１の方法。
【請求項９】
上記光源の上記光出力パワーを調整するステップは、上記光ネットワーク試験機器の補償回路要素により制御される請求項１の方法。
【請求項１０】
上記光源は、発光ダイオード（ＬＥＤ）と、ファイバ・レーザと、周波数２倍ファイバ・レーザと、ダイオード・レーザと、周波数２倍ダイオード・レーザと、これらの組合せとから選択された少なくとも１つを備える請求項１の方法。
【請求項１１】
光ネットワーク試験機器内の光源の安定性を改善するコンピュータ・プログラム・プロダクトであって、
１つ以上のコンピュータ読み取り可能なストレージ装置と、
上記１つ以上のコンピュータ読み取り可能なストレージ装置に蓄積された複数のプログラム・インストラクションとを備え、
上記複数のプログラム・インストラクションは、
上記光源の温度掃引試験を実行するプログラム・インストラクションと、
上記光源の光出力パワーを測定するプログラム・インストラクションと、
上記測定した光出力パワーに基づいて温度補正値を発生するプログラム・インストラクションと、
上記温度補正値を供給して上記光源の上記光出力パワーを調整して、上記光源の実質的に一定の光出力パワーを得るプログラム・インストラクションと
を備えたコンピュータ・プログラム・プロダクト。
【請求項１２】
上記温度補正値を発生するプログラム・インストラクションは、トラッキング・エラー値を計算するプログラム・インストラクションを備える請求項１１のコンピュータ・プログラム・プロダクト。
【請求項１３】
上記温度掃引試験を実行するプログラム・インストラクションは、上記光源に機能的に結合されたヒーターを制御するプログラム・インストラクションを備える請求項１１のコンピュータ・プログラム・プロダクト。
【請求項１４】
１つ以上の温度センサを上記光源に機能的に結合した請求項１１のコンピュータ・プログラム・プロダクト。
【請求項１５】
上記１つ以上の温度センサから、上記光源の上記温度を表す出力信号を受けるプログラム・インストラクションを更に備える請求項１４のコンピュータ・プログラム・プロダクト。
【請求項１６】
光出力パワーを測定するプログラム・インストラクションは、上記光ネットワーク試験機器のパワー・メータ要素から上記光出力パワーを表す値を受けるプログラム・インストラクションを備える請求項１１のコンピュータ・プログラム・プロダクト。
【請求項１７】
上記温度補正値は、温度補正曲線多項式値から成る請求項１１のコンピュータ・プログラム・プロダクト。
【請求項１８】
上記光ネットワーク試験機器内に上記温度補正値を蓄積するプログラム・インストラクションを更に備えた請求項１１のコンピュータ・プログラム・プロダクト。
【請求項１９】
上記光源の上記光出力パワーを調整するプログラム・インストラクションは、上記光ネットワーク試験機器の補償回路要素を制御するプログラム・インストラクションを備える請求項１１のコンピュータ・プログラム・プロダクト。
【請求項２０】
上記光源は、発光ダイオード（ＬＥＤ）と、ファイバ・レーザと、周波数２倍ファイバ・レーザと、ダイオード・レーザと、周波数２倍ダイオード・レーザと、これらの組合せとから選択された少なくとも１つを備える請求項１１のコンピュータ・プログラム・プロダクト。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ファイバ光送信機に関し、特に、光ネットワーク試験機器内の光源の安定性を改善することに関する。
【背景技術】
【０００２】
デジタル技術の発展により、非常に大量の情報を電気的にアクセスできるようになった。情報へのアクセスの増大は、情報を迅速に入手し処理したいという要望を増大させている。この要望は、次に、より早く且つより高い能力の電子情報処理（コンピュータ）や、処理装置にリンクした伝送ネットワーク及びシステムへの要求を更に増大させている。なお、伝送ネットワーク及びシステムには、電話回線、ケーブル・テレビジョン（ＣＡＴＶ）システム、ローカル・エリア・ネットワーク（ＬＡＮ）、ワイド・エリア・ネットワーク（ＷＡＮ）及びメトロポリタン・エリア・ネットワーク（ＭＡＮ）などがある。これら要求により、今日用いられている多くの伝送システムは、電気ネットワークから光ネットワークに変更されているか、変更されつつある。光伝送システムは、電気システムよりも非常に大きな情報伝送帯域幅を提供する。光伝送システムは、ファイバ光ケーブルの形式で光ファイバを用いる。光ファイバ・ケーブルは、事故に合うと、その性能が劣化するので、欠陥を迅速に検出し、効率的にその位置を求め、素早く修理することを確実にするため、通信媒体及びシステムの両方を試験できることが非常に重要になってきている。
【０００３】
光ネットワーク内の挿入損失を測定できるようにファイバ光ネットワークを設置及び／又はサービスすることが必要である。隣接した光ファイバ間の適切な物理的接触を確認し、システム損失バジェットを維持するために、光ネットワーク内の挿入損失を許容範囲内に決定しなければならない。現在、挿入損失を求める１つの特定方法は、ハンドヘルド光ネットワーク試験機器を用いることである。この試験機器は、隣接した光ファイバ間に１つ以上の接合点を含むファイバの長さに沿って挿入損失を測定する。かかる光ネットワーク試験機器は、典型的には１つ以上の光源を含んでいる。ネットワーク試験機器内の光源に対する関心事の１つは、性能である。性能問題には、種々の条件下におけるレーザの安定性も含む。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００９−７６５２５号公報
【特許文献２】特願２００７−２３３６３７公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
損失試験の精度を改善するために、光ネットワーク試験機器内の光源の安定性を改善することが望ましい。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
課題を解決するための本発明の態様を以下に示す。
（１）光ネットワーク試験機器内の光源の安定性を改善する方法であって；上記光源の温度掃引試験を実行するステップと；上記光源の光出力パワーを測定するステップと；上記測定した光出力パワーに基づいて温度補正値を発生するステップと；上記温度補正値を供給して上記光源の上記光出力パワーを調整して、上記光源の実質的に一定の光出力パワーを得るステップとを備えている。
（２）上記温度補正値を発生するステップは、トラッキング・エラー値を計算することを備えている。
（３）上記温度掃引試験は、上記光源に機能的に結合されたヒーターにより実行する。
（４）１つ以上の温度センサを上記光源に機能的に結合している。
（５）上記１つ以上の温度センサは、上記光源の上記温度を表す出力信号を発生する。
（６）光出力パワーの測定を上記光ネットワーク試験機器のパワー・メータ要素により実行する。
（７）上記温度補正値は、温度補正曲線多項式値から成る。
（８）上記温度補正値を発生した後に、上記光ネットワーク試験機器内に上記温度補正値を蓄積するステップを更に備えている。
（９）上記光源の上記光出力パワーを調整するステップは、上記光ネットワーク試験機器の補償回路要素により制御される。
（１０）上記光源は、発光ダイオード（ＬＥＤ）と、ファイバ・レーザと、周波数２倍ファイバ・レーザと、ダイオード・レーザと、周波数２倍ダイオード・レーザと、これらの組合せとから選択された少なくとも１つを備えている。
（１１）光ネットワーク試験機器内の光源の安定性を改善するコンピュータ・プログラム・プロダクトであって；１つ以上のコンピュータ読み取り可能なストレージ装置と；上記１つ以上のコンピュータ読み取り可能なストレージ装置に蓄積された複数のプログラム・インストラクションとを備え；上記複数のプログラム・インストラクションは；上記光源の温度掃引試験を実行するプログラム・インストラクションと；  上記光源の光出力パワーを測定するプログラム・インストラクションと；上記測定した光出力パワーに基づいて温度補正値を発生するプログラム・インストラクションと；上記温度補正値を供給して上記光源の上記光出力パワーを調整して、上記光源の実質的に一定の光出力パワーを得るプログラム・インストラクションとを備えている。
（１２）上記温度補正値を発生するプログラム・インストラクションは、トラッキング・エラー値を計算するプログラム・インストラクションを備えている。
（１３）上記温度掃引試験を実行するプログラム・インストラクションは、上記光源に機能的に結合されたヒーターを制御するプログラム・インストラクションを備えている。
（１４）１つ以上の温度センサを上記光源に機能的に結合している。
（１５）上記１つ以上の温度センサから、上記光源の上記温度を表す出力信号を受けるプログラム・インストラクションを更に備えている。
（１６）光出力パワーを測定するプログラム・インストラクションは、上記光ネットワーク試験機器のパワー・メータ要素から上記光出力パワーを表す値を受けるプログラム・インストラクションを備えている。
（１７）上記温度補正値は、温度補正曲線多項式値から成る。
（１８）上記光ネットワーク試験機器内に上記温度補正値を蓄積するプログラム・インストラクションを更に備えている。
（１９）上記光源の上記光出力パワーを調整するプログラム・インストラクションは、上記光ネットワーク試験機器の補償回路要素を制御するプログラム・インストラクションを備えている。
（２０）上記光源は、発光ダイオード（ＬＥＤ）と、ファイバ・レーザと、周波数２倍ファイバ・レーザと、ダイオード・レーザと、周波数２倍ダイオード・レーザと、これらの組合せとから選択された少なくとも１つを備えている。
【０００７】
本発明の目的及び利点は、以下の記載にされており、以下の説明から明らかになろう。本発明の追加の利点は、添付図を参照した以下の説明及び請求項に特定された装置、システム及び方法により実現できるし、達成できるであろう。なお、添付図は、本発明による種々の例及び発明の概念を示すが、本発明を限定するものではない。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】従来技術による試験セットアップを示すブロック図である。
【図２】本発明の実施例によるネットワーク試験機器のブロック図である。
【図３】トラッキング・エラー値及び温度の間の関係を示すグラフ図である。
【図４】本発明の実施例により、図２のネットワーク試験機器がトラッキング・エラー調整プログラムを実行する際のステップを説明する流れ図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
本発明の目的によれば、１つの概念において、光ネットワーク試験機器における光源の安定性を改善する方法を提供する。光源の温度掃引試験を実行する。光源の光出力パワーを周期的に測定する。測定した光出力パワーに基づいて、温度補正値を発生する。温度補正値を与えて光源の出力パワーを調整し、光源の実質的に一定の光出力パワーを得る。
【００１０】
本発明の別の概念において、光ネットワーク試験機器内の光源の安定性を改善するコンピュータ・プログラム・プロダクトを提供する。コンピュータ・プログラム・プロダクトは、１つ以上のコンピュータ読み取り可能なストレージ（蓄積）装置と、この１つ以上の読み取り可能なストレージ装置の少なくとも１つに蓄積された複数のプログラム・インストラクションとを備えている。これら複数のプログラム・インストラクションは、光源の温度掃引試験を実行するプログラム・インストラクションを含んでいる。また、複数のプログラム・インストラクションは、光源の光出力パワーを周期的に測定するプログラム・インストラクションを更に含んでいる。複数のプログラム・インストラクションは、測定した光源の光出力パワーに基づいて温度補正値を発生するプログラム・インストラクションを更に含んでいる。複数のプログラム・インストラクションは、温度補正値を供給することによって光源の出力パワーを調整して、光源の実質的に一定の光出力パワーを得るプログラム・インストラクションも更に含んでいる。
【実施例】
【００１１】
以下、添付図を参照して、本発明をより詳細に説明する。なお、本発明の図示の実施例において、同様な参照符号は、同様な要素を示す。また、本発明は、いかなる意味においても、図示の実施例に限定されるものではない。後述の実施例は、本発明の単なる例に過ぎず、当業者に明らかな如く、本発明は、種々の態様で実現できる。したがって、ここに開示するいかなる構造的及び機能的な詳細も本発明の限定を意図するものではなく、単に請求項の根拠として、本発明を種々に利用できることを当業者に説明するためであることが理解できよう。さらに、ここで用いる用語及び熟語は、本発明の限定を意図するものではなく、本発明を理解するためのものである。
【００１２】
定義しない限り、ここで用いる技術的及び科学的用語は、本発明が属する技術における当業者が通常に理解できるのと同じ意味である。ここで説明するのと類似又は等価ないかなる方法及びシステムも本発明の実行又は試験に用いることができるが、ここでは例示的な方法及びシステムについて記載する。ここで述べる全ての刊行物は、これら刊行物が引用することに関連した方法及び／又はシステムを開示し記載するための参考としてここに含める。ここで開示するこれら刊行物は、本願の出願日前の開示として単独で提供するものである。本発明は、以前の発明によって、係る刊行物よりも先立つものではない。さらに、提供された刊行物の日付は、個別に確認する必要があるかもしれず、実際の刊行日と異なっている可能性もある。
【００１３】
本明細書及び請求項にて用いる単数表現は、その文脈から明らかな場合を除いて、複数表現も含むことに留意されたい。よって、例えば、「単一の刺激」は、複数の場合の刺激も含むし、「その信号」は、１つ以上の信号や当業者に既知の等価な信号も含むし、以下同様である。
【００１４】
以下に説明する本発明の実施例は、コンピュータが利用可能な媒体に記録された好ましいソフトウェア・アルゴリズム、プログラム又はコードであり、その制御ロジックは、コンピュータ・プロセッサを有するマシーン上で実行可能であることが明らかである。このマシーンは、コンピュータ・アルゴリズム又はプログラムの実行から出力を行うように構成されたメモリ・ストレージを典型的に含む。
【００１５】
ここで用いる用語「ソフトウェア」は、ハードウェア、ファームウェアにて、又はディスク、メモリ・ストレージ装置上で、若しくは遠隔マシーンからのダウンロードで利用可能なソフトウェア・コンピュータ・プロダクトにて実現されるかにかかわらず、ホスト・コンピュータのプロセッサ内に存在できる任意のコード又はプログラムと同意語を意味する。また、「コンピュータ・プログラム・プロダクト」も同様である。ここで記載する実施例は、上述の均等物、関連性及びアルゴリズムを実現するソフトウェアを含むものである。また、上述の実施例に基づく本発明の特徴及び利点が当業者に理解できよう。よって、本発明は、請求項が示すものを除いて、何を特に示し且つ説明したかによって制限されない。
【００１６】
本発明の好適実施例による方法は、光ネットワーク試験機器内の光源の安定性を改善する技術である。本発明の実施例によれば、ネットワーク試験機器の種々のインテリジェント要素は、その特定の動作環境において光源がどの様な動きをするかを学習して、特定動作状況で安定且つ正確な動作特性（例えば、光出力パワー）を維持するような制御に適合する。本発明の好適実施例によれば、学習した光源の動作及び特性を光ネットワーク試験機器の内部メモリに蓄積する。有利な点として、光源の改善した安定性により、光源の不確実な原因を減らすことによって、ネットワーク試験機器が実行する挿入損失試験の精度を改善できる。
【００１７】
上述の如く、設置、修理、移動／追加／更新などの後に、光ファイバの損失及び／又は長さを試験することは、一般的なことである。今日まで、最も一般的なトポロジは、ファイバの単一ストランドに取り付けられた単一ファイバ・コネクタで構成されている。これらファイバは、典型的には二重トポロジに用いられるので、一方のファイバが一方向にネットワーク・トラフィックを伝送し、他方のファイバが逆方向に伝送する。複数の個別のファイバをケーブル内の１つの大きなグループ内にしばしば束ねるが、ファイバの各端部にてコネクタにより個別に終端する。図１は、二重ファイバ・システムに適用する一般的なやり方を示す。ここでは、主試験ユニット１０２をブレークアウトにてファイバに接続し、遠隔試験ユニット１０４をケーブルの遠隔端部にて対応ファイバに接続して、これら２つのユニット１０２及び１０４を用いて試験を実行する。
【００１８】
図１に示す如く、例示の試験設定では、２つの二重試験基準コード（ＴＲＣ：test reference cord）１０６及び１０８を用いる。第１二重コード１０６は、ファイバの２つのストランド、例えば、ファイバ１０６ａ及び１０６ｂを備える。第２二重コード１０８も、２つのストランド、例えば、ファイバ１０８ａ及び１０８ｂを備える。ＴＲＣ１０６及び１０８の各ストランドは、ＳＣ、ＳＴ、ＬＣなどの適切なファイバ光コネクタ・インタフェースにより終端される。図示の設定において、被試験光ファイバ・リンクは、１対のファイバ（ファイバ１１０及び１１２）を備えている。一端１１０ａにて、第１ファイバ１１０は、ＬＣコネクタ１１４を介して主ユニット１０２に接続される。一方、第１ファイバ１１０の反対端１１０ｂは、ＬＣコネクタ１１６を介して、遠隔ユニット１０４に接続される。同様に、一端１１２ａにて、第２ファイバ１１２は、ＬＣコネクタ１１８を介して主ユニット１０２に接続される。一方、第２ファイバ１１２の反対端１１２ｂは、ＬＣコネクタ１２０を介して遠隔ユニット１０４に接続される。
【００１９】
主ユニット１０２及び遠隔ユニット１０４の両方が被試験光ファイバ・リンク（即ち、ファイバ１１０及び１１２）に接続されると、ネットワーク試験機器は、被試験ファイバ・リンクの総合挿入損失を測定できる。各ユニットにて、光源（図２に示す）は、各出力ポートを介して、選択された波長の連続波を放射する。遠い端部にて、パワー・メータは、光パワーのレベルを測定する。これらパワー・メータは、入力ポートを介して光パワーを受け、これを基準パワー・レベルと比較して、光損失の総合量を計算する。
【００２０】
図２は、本発明の実施例によるネットワーク試験機器の主ユニット１０２のブロック図である。説明を簡単にするため、この主ユニット１０２を「ネットワーク試験機器」と以下において呼ぶ。好適実施例において、ネットワーク試験機器１０２は、少なくとも１つの光源２０４を備える。本発明の種々の実施例において光源２０４として用いられるレーザは、発光ダイオード（ＬＥＤ）、ファイバ・レーザ、周波数２倍ファイバ・レーザ、ダイオード・レーザ、周波数２倍ダイオード・レーザ、又はこれらの組合せを含むが、これらに限定されるものではない。好適実施例において、光源２０４は、連続波（ＣＷ）又は変調伝送が可能なダイオード・レーザであるが、ネットワーク試験機器１０２の出力ポート２０６にて終端してもよい。ネットワーク試験機器１０２の入力ポート２０８は、試験機器のパワー・メータ部分用に用いるが、光パワー・メータ２１０を含んでもよいし、光パワー・メータ２１０に接続してもよい。パワー・メータ２１０は、伝送された光を電気エネルギーに変換し、この電気エネルギーは、演算増幅器（図２に示さず）に供給され、増幅される。この演算増幅器の利得は、光パワー・レベルの広レンジを検出するように変更できる。光源２０４の光パワーを測定するために、限定するものではないが、例えば、ＴＲＣ１０６及び１０８（図１に示す）の一方の如く、試験基準コードの一方によって、ネットワーク試験機器１０２の出力ポート２０６をネットワーク試験機器１０２の入力ポート２０８に接続してもよい。試験期間中、光源２１２が伝送した光は、出力ポート２０６から入力ポート２０８に伝搬することに留意されたい。
【００２１】
光源２０４の温度が変動すると、光出力パワーも変動する。しかし、動作期間中に、この出力パワーを一貫して予測できることが望ましい。よって、周囲温度に関わらず、光源２０４の温度を一定レベルに維持することが望ましい。本発明の好適実施例において、ヒーター２０２を光源２０４に機能的に接続して、光源２０４を加熱し、実質的に一定の温度に維持する。さらに、１つ以上の温度センサ２２６を光源２０４に接触させるか、光源２０４に近接近させてもよい。温度センサ２２６は、光源２０４の温度を表す出力信号を温度補償回路２２４に供給する。
【００２２】
本発明の実施例において、温度補償回路２２４をネットワーク試験機器１０２内に設けて、光源２０４の出力パワーに応じてヒーター２０２の出力を制御してもよい。パワー・メータ２１０は、光源２０４のパワーを周期的にモニタし、測定値をトラッキング・エラー（ＴＥ）調整プログラム２３０（後述する）に供給する。これら測定値の受信に応答して、トラッキング・エラー調整プログラム２３０は、好ましくは、測定した光出力パワーに基づいて、温度補正値を発生する。さらに、トラッキング・エラー調整プログラム２３０は、好ましくは、温度補償回路２２４及びヒーター２０２により、光源２０４の温度を調整して、光源２０４用の動作温度を得る。ここで、光源２０４は、実質的に一定の出力パワーを発生する。別の実施例において、ヒーター２０２の代わりに、ヒート・シンク（図２に示さず）を光源２０４に結合して、光源を受動的に冷却してもよい。これにより、光源２０４を実質的に一定温度に効果的に維持できる。ここで用いるように、用語「ヒート・シンク」は、光源２０４から熱を奪い取る任意の部品又は組立体をいう。
【００２３】
１つ以上のマイクロプロセッサ（ＣＰＵ）２２０は、ソフトウェア・プログラムを実行し、データ構造を走査するのに適したハードウェア要素又はハードウェア・ロジックを備えている。１つ以上のマイクロプロセッサ２２０は、例えば、トラッキング・エラー調整プログラム２３０を実行できる。トラッキング・エラー調整プログラム２３０は、１つ以上のコンピュータ読み取り可能なストレージ装置に蓄積されたプログラム・インストラクションを備えている。このプログラム・インデックスは、伝送手段を介して伝送されてきたものであってもよい。これらコンピュータ読み取り可能なストレージ装置は、ネットワーク試験機器１０２の内部メモリ２２８及び／又は内部ストレージ２２２を含んでいる。トラッキング・エラー調整プログラム２３０は、例えば、求めた温度補正係数に基づいて光源２０４の温度調整を制御するコンピュータ・プログラム又はプログラム・コンポーネントである。トラッキング・エラー調整プログラム２３０が用いるために収集し、発生し、維持したデータを主ネットワーク試験機器１０２の内部ストレージ２２２内に保持する。パワー（電源）ブロック２１６は、電源を供給して、ネットワーク試験機器１０２を動作させる。これには、ポータブル・ハンドヘルド用途の場合、バッテリ電源が適する。入出力装置（Ｉ／Ｏ）２１２は、ネットワーク試験機器１０２のユーザとの１つ以上のインタフェースを提供する。このＩ／Ｏ２１２は、表示器２１４と、カーソル制御キー及び他のキーの如き入力装置２１８とを含んでもよく、この場合、ユーザ操作と結果の表示／出力とを可能にできる。
【００２４】
図３は、トラッキング・エラー値及び温度の間の関係を示すグラフ図である。ここで用いる用語「トラッキング・エラー」は、温度に対して光源の出力パワーがどの様に変化するかを定めるパラメータである。トラッキング・エラーは、この関係が線形からずれている最大偏差の尺度である。これら偏差の主な原因は、ネットワーク試験機器１０２の光部品を構成する材料の熱膨張係数における不一致である。トラッキング・エラーは、装置毎に異なる。また、光ネットワーク試験機器の製造業者が、典型的には、許容限界又は許容範囲（例えば、１０℃につき約±０．２ｄＢ）を定める。よって、この変動は、温度の関数であるが、この変動は、複数の装置の間で一致しない。
【００２５】
再び図３を参照する。プロット３０２及び３０４は、２つの別個のネットワーク試験機器に対するトラッキング・エラー値対温度の関係を示す。図３から判る如く、トラッキング・エラーは、一定ではなく、いくつかの機器にて、逆の方向を示すことさえある。トラッキング・エラーの原因を求める際にいくつかの複雑な要因が存在し、また、トラッキング・エラーが一定ではないので、他の温度依存パラメータのように容易に補償することができない。したがって、本発明の好適実施例は、トラッキング・エラーの影響を相殺するために、ネットワーク試験機器１０２の動作期間中に、トラッキング・エラー調整プログラム２３０の如きソフトウェア・プログラムを用いることを考慮した。
【００２６】
図４は、本発明の好適実施例により、図２のトラッキング・エラー調整プログラム２３０の動作ステップを説明する流れ図である。トラッキング・エラー調整プログラム２３０は、例えば、コンピュータ・プログラム又はプログラム・コンポーネントであり、トラッキング・エラーの影響を相殺することによって、ネットワーク試験機器１０２の光源２０２の安定性を改善している。以下に説明するステップは、ネットワーク試験機器１０２の自己完結型校正処理を備えている。説明のため、図２に関連して上述したように、外部パッチ・コードにより出力ポート２０６が入力ポート２０８に接続されていると仮定する。光源２０４がオンになった後、好ましくは、ステップ４０２にて、トラッキング・エラー調整プログラム２３０は、光源２０４の温度を掃引（スィープ）して試験するステップ（温度掃引試験）を実行する。好適実施例において、好ましくは光源２０４に機能的に結合されたヒーター２０２は、トラッキング・エラー調整プログラム２３０の制御下で、温度掃引試験を実行する。掃引試験期間中、全体の所望動作温度範囲にわたるトラッキング・エラーの特徴を特性曲線として表すことができる。この特徴曲線を所定のサンプリング点にてサンプルする。このサンプリング点の数は、任意に、例えば、必要な程度に多く選択することができる。利点としては、ヒーター要素２０２が光源２０４自体に近接して統合されていると事実によって、全ての加熱パワーを光源２０４の構造に直接集中させている。よって、全体的な所望温度範囲にわたる高速な温度掃引によるサンプリングを実行できる。得たサンプリング点のデータは、ネットワーク試験機器１０２のストレージ装置２２２に蓄積できる。
【００２７】
温度掃引試験を実行した後、また、光源２０４の安定動作温度を得た後に、ネットワーク試験機器１０２の校正期間中に、ステップ４０４にて、トラッキング・エラー調整プログラム２３０は、好ましくは、光源２０４の光パワー出力を連続的に測定する。本発明の実施例において、このステップは、好ましくは、図２に示すように、出力ポート２０６及び入力ポート２０８を夫々介して、光源２０４に機能的に結合された１つ以上のパワー・メータ２１０から周期的な測定データを得ることを含んでいる。
【００２８】
次に、ステップ４０６にて、トラッキング・エラー調整プログラム２３０は、好ましくは、光源２０４の測定された光出力パワー（測定光出力パワー）が許容範囲内か否かを判断する。好ましくは、測定光出力パワー利得／損失は、周囲温度に関係なく、０．０５ｄＢを超えてはならない。光源２０４の測定光出力パワーが許容範囲内であるの判断（ステップ４０６にてイエスの場合）に応じて、トラッキング・エラー調整プログラム２３０は、所定時間後に次の測定（ステップ４０４の動作）を行う。すなわち、光源が許容内の出力を発生しているとトラッキング調整プログラム２３０が判断すると、トラッキング・エラーの変化を補償する必要がない。
【００２９】
しかし、光源２０４の測定光出力パワーが許容範囲外であるとの判断（ステップ４０６にてノーの場合）に応答して、トラッキング・エラー調整プログラム２３０は、好ましくは、ステップ４０８にて、温度補正値を発生する。本発明の実施例において、温度補正値は、トラッキング・エラー値に対応する。図３に関連して上述したように、温度関数としてトラッキング・エラー値を示す曲線を確立することができる。本発明の実施例において、トラッキング・エラー調整プログラム２３０は、好ましくは、トラッキング・エラー値を対の値ｘ、ｙとして示す。なお、ｘが温度を表し、ｙがトラッキング・エラー調整値を表す。すなわち、トラッキング・エラーを温度の関数として説明できる動作温度範囲にわたって、個別のデータ点が存在する。
【００３０】
本発明の別の実施例において、トラッキング・エラー調整プログラム２３０は、好ましくは、これら個別のデータ点を用いて、実際のデータに非常に近似した関数ｙ＝ｆ（ｘ）を定義できる。これら関数を用いて、ステップ４０４にて測定した生のデータの一部ではない温度値に対しても、解釈、補間などが可能になる。多項式は、その簡便性及び計算速度の観点から、近似関数として一般的に用いられている。よって、本発明の別の実施例において、これら多項式を用いることができる。トラッキング・エラー調整プログラム２３０は、好ましくは、近似関数ｙ＝ｆ（ｘ）を決定するのに適合する多項式曲線を用いる。多項式曲線を適合させることにより、Ｎ次の単一の多項式が得られる。これは、元のデータ測定値の最小二乗近似である。この多項式曲線適合は、実際には、最小二乗重回帰（least squares multiple regression）の場合である。多項式（１）の形式は、次のようになる。
【００３１】
y=c0+c1x1+c2x2+c3x3+…+cnxn  （１）
【００３２】
すなわち、本発明の別の実施例において、トラッキング・エラー調整プログラム２３０は、好ましくは、ステップ４０８にて、上述の如く、多項式曲線適合を用いて温度補正値（トラッキング・エラー値）を見積る。
【００３３】
次に、ステップ４１０にて、トラッキング・エラー調整プログラム２３０は、オプションとして、計算した温度補正値及び／又は求めた光パワー測定値を、例えば、ネットワーク試験機器１０２内のストレージ装置２２２に蓄積する。本発明の好適実施例において、トラッキング・エラー調整プログラム２３０は、このデータをテーブル（表）形式でロードする。なお、この表のデータは、所定温度又は多項式係数に関連してステップ４０８にて計算した値である。かかるテーブルの各エントリ（データ）は、対応する温度に対して用いるべき値を示す。テーブル内の各ライン・エントリは、温度の増分変化を表す。テーブル・エントリ毎の温度のステップ（変化間隔）は、必要に応じて大きくも小さくもできるが、ネットワーク試験機器１０２のストレージ装置２２２で利用可能なメモリ容量によってのみ制限される。
【００３４】
ステップ４１２において、トラッキング・エラー調整プログラム２３０は、好ましくは、例えば、ステップ４０８にて求めた温度補正値に基づいて、光源２０４の温度を調整する。本発明の実施例によれば、トラッキング・エラー調整プログラム２３０は、補償回路２２４と通信をするように構成されている。補償回路２２４は、好ましくは、ヒーター２０２の温度を制御するようになっている。実施例のある導入において、光源２０４の動作パワーが上述の許容範囲内ではないとトラッキング・エラー調整プログラム２３０が判断すると、光源２０４の光出力パワーを実質的に一定に維持するために、トラッキング・エラー調整プログラム２３０が提供した温度補正値に基づいて、補償回路２１０は、光源２０４の出力（パワー）を適切に調整することができる。
【００３５】
要約すれば、本発明の種々の実施例は、光ネットワーク試験機器の自己完結型環境にて、光源の安定性を改善し、コスト的にも効果のある方法を提供する。利点としては、ネットワーク試験機器の種々の要素は、その特定の動作環境において光源がいかなる動作をするかを学習し、それに応じた制御に適応して、特定の動作条件にわたって、動作特性を安定且つ正確に維持する。
【００３６】
当業者には明らかなように、本発明の概念は、システム、方法、又はコンピュータ・プログラム・プロダクトとして実施することができる。よって、本発明の概念は、全体的にハードウェアの実施例、全体的にソフトウェア実施例（ファームウェア、内蔵ソフトウェア、マイクロ・コードなど）、又は、ソフトウェア及びハードウェアの概念を組合せた実施例の形式をとることができ、これらは全てここでは一般的に「回路」、「モジュール」又は「システム」と呼んでもよい。さらに、本発明の概念は、具体化したコンピュータ読み取り可能なプログラム・コードを有する１つ以上のコンピュータ読み取り可能な媒体にて実施されたコンピュータ・プログラム・プロダクトの形式をとることもできる。
【００３７】
１つ以上のコンピュータ読み取り可能な媒体の任意の組合せを用いることもできる。コンピュータ読み取り可能な媒体は、コンピュータ読み取り可能な信号媒体、又はコンピュータ読み取り可能なストレージ媒体（記録媒体）でもよい。コンピュータ読み取り可能なストレージ媒体は、例えば、電気的、磁気的、光学的、電気磁気的、赤外線、又は半導体のシステム、装置又はデバイス、若しくは、これらの任意の適切な組合せでもよいが、これらに限定されるものではない。コンピュータ読み取り可能なストレージ媒体の更なる特定例（不完全なリスト）は、１つ以上のワイヤを有する電気的接続、ポータブル・コンピュータ・ディスケット、ハードディスク、ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）、リード・オンリ・メモリ（ＲＯＭ）、消去可能なプログラマブル・リード・オンリ・メモリ（ＥＰＲＯＭ又はフラッシュ・メモリ）、光学ファイバ、ポータブル・コンパクト・ディスク・リード・オンリ・メモリ（ＣＤ−ＲＯＭ）、光学ストレージ・デバイス、磁気ストレージ・デバイス、又はこれらの任意適切な組合せを含む。本明細書の文脈において、コンピュータ読み取り可能なストレージ媒体は、命令実行システム、装置又はデバイスにより又はこれらに関連して用いるプログラムを含む又は蓄積できる任意の具体的な媒体でもよい。
【００３８】
コンピュータ読み取り可能な信号媒体には、例えば、ベースバンド又はキャリア波の部分にて具体化されたコンピュータ読み取り可能なプログラム・コードを伴う伝搬されたデータ信号が含まれる。かかる伝搬された信号は、電気磁気、光又はこれらの任意の適切な組合せを含む種々の形式をとるが、これらに限定されるものではない。コンピュータ読み取り可能な信号媒体は、インストラクション実行システム、装置又はデバイスによって又は関連して使用されるためにプログラムを通信する、伝搬する又は伝送することが可能であるが、コンピュータ読み取り可能なストレージ媒体ではない任意のコンピュータ読み取り可能な媒体でもよい。
【００３９】
コンピュータ読み取り可能な媒体にて具体化されるプログラム・コードは、無線、有線、光ファイバ・ケーブル、ＲＦなど、又はこれらの任意の適切な組合せを含む任意の適切な媒体を用いて伝送できるが、これらに限定されるものではない。したがって、本願において、コンピュータ・プログラム・プロダクトとは、１つ以上のコンピュータ読み取り可能なストレージ装置と、この１つ以上のコンピュータ読み取り可能なストレージ装置に蓄積された複数のプログラム・インストラクションとがあることを前提に、このプログラム・インストラクションがコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録されたプログラムや、種々の通信によって伝送されたコンピュータ・プログラムの場合である。
【００４０】
本発明の概念に対して動作を実行するコンピュータ・プログラム・コードは、Java（登録商標）、Smalltalk、C++などのオブジェクト指向プログラミング言語や、Ｃプログラミング言語又は類似のプログラミング言語の如き従来の手続きプログラミング言語を含む１つ以上のプログラミング言語の任意の組合せによって記述できる。
【００４１】
本発明の実施例による方法、装置（システム）及びコンピュータ・プログラム・プロダクトの流れ図及び／又はブロック図を参照して本発明の概念を上述した。流れ図及び／又はブロック図の各ステップ／ブロックと、流れ図及び／又はブロック図内のステップ／ブロックの組合せは、コンピュータ・プログラム・インストラクションで実現できることが理解できよう。これらコンピュータ・プログラム・インストラクションを汎用コンピュータ、特定目的コンピュータ又は他のプログラマブル・データ処理装置のプロセッサに供給してマシーンを構成できる。よって、コンピュータ又は他のプログラマブル・データ処理装置のプロセッサにより実行されるインストラクションは、流れ図及び／又はブロック図の単一又は複数のブロックにて特定される機能／動作を実現する手段を形成する。
【００４２】
これらコンピュータ・プログラム・インストラクションは、コンピュータ、他のプログラマブル・データ処理装置又は他のデバイスを命令できるコンピュータ読み取り可能な媒体にも蓄積（記録）されて、特定の方法で機能する。よって、コンピュータ読み取り可能な媒体に蓄積されたインストラクションは、流れ図及び／又はブロック図の単一又は複数のブロックにて特定された機能／動作を実現するインストラクションを含むプロダクトを生み出す。
【００４３】
コンピュータ、他のプログラマブル・データ処理装置、又は他のデバイスにコンピュータ・プログラム・インストラクションをロードでき、コンピュータ、他のプログラマブル装置又は他のデバイスにて一連の動作ステップを実行し、コンピュータで実行する処理を生成できる。よって、コンピュータ又は他のプログラマブル装置で実行するインストラクションは、流れ図及び／又はブロック図の単一又は複数のブロックにて特定される機能／動作を実現する処理を提供する。
【００４４】
図示した流れ図及びブロック図は、本発明の実施例によるシステム、方法及びコンピュータ・プログラム・プロダクトの可能な実施のアーキテクチャ、機能及び動作を示す。この点に関し、流れ図又はブロック図における各ブロックは、モジュール、セグメント又はコード部分を表す。これらは、特定の論理的機能を実現する１つ以上の実行可能なインストラクションを構成する。いくつかの別の実施において、ブロックが示す機能が図に示す順序で行われなくてもよいことに留意されたい。例えば、図示の連続した２つのブロックは、含まれる機能に応じて、実際には、ほぼ同時に実行してもよいし、これらブロックを時として逆の順序で実行してもよい。ブロック図及び／又は流れ図の各ブロック／ステップと、ブロック図及び／又は流れ図における複数のブロック／ステップの組合せは、特定機能又は動作を実行する特定目的のハードウェアに基づくシステム、又は特定目的ハードウェア及びコンピュータ・インストラクションの組合せによって実現できる点に留意されたい。
【００４５】
説明のために本発明の種々の実施例を述べたが、開示した実施例に限定しようとするものではない。本発明の要旨及び精神を逸脱することなく、多くの変形変更が可能であることが当業者には明らかであろう。本発明の原理、実際のアプリケーション、又は市場において見つかる技術に対する技術的な改良を最良に説明するために、また、当業者にここで開示した本発明の実施例を理解できるように、本願で用いた用語を選択したものである。
【符号の説明】
【００４６】
１０２  ネットワーク試験機器（主試験ユニット）
１０４  遠隔試験ユニット
１０６、１０８  二重試験基準コード
１０６ａ、１０６ｂ  ファイバ
１０８ａ、１０８ｂ  ファイバ
１１４、１１６、１１８、１２０  ＬＣコネクタ
２０２  ヒーター
２０４  光源
２０６  出力ポート
２０８  入力ポート
２１０  パワー・メータ
２１２  Ｉ／Ｏ装置
２１４  表示器
２１６  パワー（電源）ブロック
２１８  入力装置
２２０  マイクロプロセッサ
２２２  ストレージ装置
２２４  補償回路
２２８  メモリ
２３０  トラッキング・エラー調整プログラム
【図１】
2015130500.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
2015130500.tif 000006