(57)【要約】【課題】基準部材の色合いの変化や汚れ等によって比較的広範囲に亘って異常が生じたとしても、適切に白レベルデータを生成すること。【解決手段】複合機１は、複数の読取位置で取得された複数の画素データＤ（ｉ）からシェーディング補正用の白レベルデータを生成する際に、主走査方向に複数の画素を含むセンサチップ単位で、つまり、各センサチップに対応する画素データＤ群毎に正常か否かを判断し、その判断結果に基づいて、センサチップ単位で画素データＤ群を選択する（Ｓ１２６、１３０、Ｓ１３４）。主走査方向に所定の幅を有するセンサチップ単位で画素データＤ群を選択することで、適切に白レベルデータを生成することができる。【選択図】図９
2015050562.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源と、複数の受光素子が主走査方向に配列されたセンサチップが複数個、主走査方向に配列された受光部と、を有する読取部と、
基準部材と、
前記基準部材に対して前記読取部を前記主走査方向に直交する副走査方向に相対移動させる移動部と、
制御部と、
を備え、
前記制御部は、
前記基準部材の前記副走査方向に異なる複数の読取位置に前記読取部をそれぞれ相対移動させ、該読取位置で前記光源に対して光を照射するように指示し、前記受光素子毎に出力される画素データを各読取位置毎にそれぞれ取得する取得処理と、
各読取位置毎に前記取得処理によって取得された受光素子毎の画素データを、前記センサチップ単位で正常か否かを判断する判断処理と、
各センサチップ毎に、前記判断処理によって正常と判断されたうちの１つの前記センサチップ単位の画素データ群を選択して、シェーディング補正用の白レベルデータを生成する生成処理と、
を実行する、画像読取装置。
【請求項２】
請求項１記載の画像読取装置であって、
前記制御部において、
前記取得処理は、
前記基準部材の前記副走査方向に異なる第１読取位置と第２読取位置とに前記読取部をそれぞれ相対移動させ、該読取位置で前記指示し、前記受光素子毎に出力される第１画素データと第２画素データとをそれぞれ取得し、
更に、
前記第１画素データと前記第２画素データとの差分値の絶対値が第１規定値以上となる受光素子を検出する検出処理、
を実行し、
前記判断処理は、
前記検出処理によって検出された受光素子を含むセンサチップ単位の第１画素データ群と第２画素データ群のいずれが正常か否かを判断し、
前記検出処理によって検出された受光素子を含まないセンサチップ単位の第１画素データ群と第２画素データ群のいずれもが正常と判断する、
画像読取装置。
【請求項３】
請求項２記載の画像読取装置であって、
前記制御部において、
前記判断処理は、
前記検出処理によって検出された受光素子を含むセンサチップの全受光素子における第１画素データの代表値と第２画素データの代表値とをそれぞれ取得し、
前記検出された受光素子の第１画素データと前記第１画素データの代表値との差分の絶対値と、前記検出された受光素子の第２画素データと前記第２画素データの代表値との差分の絶対値とを比較し、絶対値が大きい方の画素データの該センサチップにおける画素データ群を正常でないと判断し、絶対値が小さい方の画素データの該センサチップにおける画素データ群を正常と判断する、
画像読取装置。
【請求項４】
請求項３記載の画像読取装置であって、
前記制御部において、
前記判断処理は、
前記センサチップ単位で前記判断する際、前記検出処理によって該センサチップ内に複数の受光素子を検出した場合、検出した受光素子毎に、前記差分の絶対値を比較し、
検出した全ての受光素子において、前記第１画素データ群と第２画素データ群のいずれか一方が、正常と判断された場合、該一方の画素データ群を正常と判断し、他方の画素データ群を正常でないと判断し、
検出した一部の受光素子において、前記第１画素データ群が正常でないと判断され、検出した残りの受光素子において、前記第２画素データ群も正常でないと判断された場合、前記第１画素データ群及び前記第２画素データ群のいずれも正常でないと判断する、
画像読取装置。
【請求項５】
請求項４記載の画像読取装置であって、
前記制御部において、
更に、
前記判断処理によって、前記第１画素データ群及び前記第２画素データ群のいずれも正常でないと判断した場合、前記第１読取位置及び前記第２読取位置と異なる第３読取位置に前記読取部を相対移動させ、該読取位置で前記指示し、前記受光素子毎に出力される第３画素データを取得する追加取得処理、
を実行し、
前記生成処理は、
前記第１画素データ群及び前記第２画素データ群のいずれも正常でないと判断されたセンサチップにおいて、該センサチップにおける第３画素データ群を選択して、シェーディング補正用の白レベルデータを生成する、
画像読取装置。
【請求項６】
請求項５記載の画像読取装置であって、
前記制御部において、
前記検出処理は、
更に、
前記第１画素データ群及び前記第２画素データ群のいずれも正常でないと判断されたセンサチップにおいて、前記第３画素データと前記第１画素データ又は前記第２画素データとの差分値の絶対値が第１規定値以上となる受光素子を検出し、
前記判断処理は、
更に、
前記第１画素データ群及び前記第２画素データ群のいずれも正常でないと判断されたセンサチップにおいて、前記検出処理によって検出された受光素子を含むセンサチップの全受光素子における第３画素データの代表値と該当画素データの代表値とをそれぞれ取得し、
前記検出された受光素子の第３画素データと前記第３画素データの代表値との差分の絶対値と、前記検出された受光素子の該当画素データと前記該当画素データの代表値との差分の絶対値とを比較し、前記第３画素データ群が正常か否かを判断し、
前記生成処理は、
前記第１画素データ群及び前記第２画素データ群のいずれも正常でないと判断されたセンサチップにおいて、前記判断処理によって前記第３画素データ群が正常であると判断された場合、該センサチップにおける第３画素データ群を選択して、シェーディング補正用の白レベルデータを生成する、
画像読取装置。
【請求項７】
請求項４記載の画像読取装置であって、
前記制御部において、
前記検出処理は、
更に、
前記判断処理によって、前記第１画素データ群及び前記第２画素データ群のいずれも正常でないと判断した場合、前記第１読取位置及び前記第２読取位置と異なる第３読取位置に前記読取部を相対移動させ、該読取位置で前記指示し、前記受光素子毎に出力される第３画素データを取得する追加取得処理、
を実行し、
前記検出処理は、
更に、
前記第１画素データ群及び前記第２画素データ群のいずれも正常でないと判断されたセンサチップにおいて、前記第３画素データと前記第１画素データ又は前記第２画素データとの差分値の絶対値が第１規定値以上となる受光素子を検出し、
前記判断処理は、
更に、
前記第１画素データ群及び前記第２画素データ群のいずれも正常でないと判断されたセンサチップにおいて、前記検出処理によって検出された受光素子を含むセンサチップの全受光素子における第３画素データの代表値と該当画素データの代表値とをそれぞれ取得し、
前記検出された受光素子の第３画素データと前記第３画素データの代表値との差分の絶対値と、前記検出された受光素子の該当画素データと前記該当画素データの代表値との差分の絶対値とを比較し、前記第３画素データ群が正常か否かを判断し、
前記生成処理は、
前記第１画素データ群及び前記第２画素データ群のいずれも正常でないと判断されたセンサチップにおいて、前記判断処理によって前記第３画素データ群が正常でないと判断された場合、該センサチップで検出された全ての受光素子における前記差分の絶対値を比較し、最も小さい絶対値に係る画素データ群を選択して、シェーディング補正用の白レベルデータを生成する、
画像読取装置。
【請求項８】
請求項３から請求項７のいずれか一項に記載の画像読取装置であって、
前記制御部において、
前記検出処理は、
前記第１画素データと前記第２画素データとの差分値の絶対値が第１規定値以上となる複数の受光素子であって、主走査方向に連続する前記複数の受光素子を検出した場合、連続する第１連続範囲の中で前記差分値の絶対値のピーク値を検出し、そのピーク値に対応する受光素子を検出し、
前記判断処理は、
前記検出されたピーク値に対応する受光素子の第１画素データと前記第１画素データの代表値との差分の絶対値と、前記検出されたピーク値に対応する受光素子の第２画素データと前記第２画素データの代表値との差分の絶対値とを比較し、該センサチップにおける第１画素データ群と第２画素データ群のいずれが正常か否かを判断する、
画像読取装置。
【請求項９】
請求項８記載の画像読取装置であって、
前記制御部において、
前記検出処理は、
更に、
前記第１画素データと前記第２画素データとの差分値の絶対値が前記第１規定値よりも小さい第２規定値以上となる受光素子を検出し、
前記第１画素データと前記第２画素データとの差分値の絶対値が第２規定値以上となる複数の受光素子が主走査方向に連続する第２連続範囲であって、前記第１連続範囲を含む前記第２連続範囲に含まれる受光素子が、複数のセンサチップに属する場合、該複数のセンサチップの各センサチップ毎に、前記第２連続範囲の中で前記差分値の絶対値のピーク値を検出し、そのピーク値に対応する受光素子を検出する、
画像読取装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本明細書によって開示される発明は、画像読取装置において、シェーディング補正に用いる白レベルデータを生成する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、画像読取装置が基準板を読み取って、シェーディング補正に用いる白レベルデータを生成する際、基準板に付着していたゴミや塵があると、白レベルデータに異常が生じ、その白レベルデータを用いてシェーディング補正を行うと、画像読取装置が読み取った読取画像に縦筋が生じるという問題が生じる。
この問題に対し、従来から、画像読取装置では、基準板の異なる２つの位置で読み取り、その読み取った２つの信号値をそれぞれ比較し、白レベルデータを生成する技術が提案されている（例えば、特許文献１）。この装置では、２つの読取位置における信号値同士を比較し、最大値となるものを白レベルデータとして選択する。一方の読取位置に対応する白色基準板の表面にゴミが付着しており、対応する一方の信号値が基準値から減少している場合でも、他方の読取位置に対応する白色基準板の表面では、ゴミが付着している可能性が低く、対応する他方の信号値が基準値に保たれている可能性が高い。そのため、最大値となる信号値を選択することで、他方の信号値を選択することができ、適切に白レベルデータを生成することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００２−２７２４７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
白レベルデータの異常の原因が、上記特許文献１のように、ゴミによって信号値が下がるだけであれば、ある特定の画素の２つの信号値を比較し、最大値となる信号値を選択することで適切に白レベルデータを生成することができる。しかし、白レベルデータの異常の原因がゴミによって信号値が下がるだけでなく、白色基準板の傷や汚れ等が比較的広い範囲に生じていることによって乱反射することによって信号値が上がる場合があれば、信号値が上がった異常な箇所を正常とみなして白レベルデータを生成するという問題があった。
【０００５】
本明細書では、基準部材の色合いの変化や汚れ等によって比較的、主走査方向の広範囲に亘って異常が生じたとしても、適切に白レベルデータを生成する技術を開示する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本明細書によって開示される画像読取装置は、光源と、複数の受光素子が主走査方向に配列されたセンサチップが複数個、主走査方向に配列された受光部と、を有する読取部と、基準部材と、前記基準部材に対して前記読取部を前記主走査方向に直交する副走査方向に相対移動させる移動部と、制御部と、を備え、前記制御部は、前記基準部材の前記副走査方向に異なる複数の読取位置に前記読取部をそれぞれ相対移動させ、該読取位置で前記光源に対して光を照射するように指示し、前記受光素子毎に出力される画素データを各読取位置毎にそれぞれ取得する取得処理と、各読取位置毎に前記取得処理によって取得された受光素子毎の画素データを、前記センサチップ単位で正常か否かを判断する判断処理と、各センサチップ毎に、前記判断処理によって正常と判断されたうちの１つの前記センサチップ単位の画素データ群を選択して、シェーディング補正用の白レベルデータを生成する生成処理と、を実行する。
【０００７】
この画像読取装置では、複数の読取位置で取得された複数の画素データから１つの画素データを選択してシェーディング補正用の白レベルデータを生成する際に、センサチップ単位で画素データが正常か否かを判断し、正常と判断された画素データをセンサチップ単位で選択する。センサチップは、主走査方向に複数の受光素子が配列されており、主走査方向に所定の幅を有する。センサチップ単位で画素データを選択することで、基準部材の読取位置に比較的、主走査方向の広範囲に亘って異常が生じたとしても、適切に白レベルデータを生成することができる。
【０００８】
上記画像読取装置では、前記制御部において、前記取得処理は、前記基準部材の前記副走査方向に異なる第１読取位置と第２読取位置とに前記読取部をそれぞれ相対移動させ、該読取位置で前記指示し、前記受光素子毎に出力される第１画素データと第２画素データとをそれぞれ取得し、更に、前記第１画素データと前記第２画素データとの差分値の絶対値が第１規定値以上となる受光素子を検出する検出処理、を実行し、前記判断処理は、前記検出処理によって検出された受光素子を含むセンサチップ単位の第１画素データ群と第２画素データ群のいずれが正常か否かを判断し、前記検出処理によって検出された受光素子を含まないセンサチップ単位の第１画素データ群と第２画素データ群のいずれもが正常と判断する構成としても良い。
【０００９】
この画像読取装置では、第１画素データと第２画素データとの差分値を用いて所定の受光素子を検出して、第１画素データ群及び第２画素データ群が正常か否かを判断する。第１画素データと第２画素データとの差分値を用いることで、比較的簡単に白レベルデータを生成することができる。
【００１０】
上記画像読取装置では、前記制御部において、前記判断処理は、前記検出処理によって検出された受光素子を含むセンサチップの全受光素子における第１画素データの代表値と第２画素データの代表値とをそれぞれ取得し、前記検出された受光素子の第１画素データと前記第１画素データの代表値との差分の絶対値と、前記検出された受光素子の第２画素データと前記第２画素データの代表値との差分の絶対値とを比較し、絶対値が大きい方の画素データの該センサチップにおける画素データ群を正常でないと判断し、絶対値が小さい方の画素データの該センサチップにおける画素データ群を正常と判断する構成としても良い。
【００１１】
この画像読取装置では、検出された受光素子の画素データと、対応する画素データの代表値と、の差分の絶対値を比較し、第１画素データ群と第２画素データ群のいずれが正常か否かを判断する。画素データと代表値との差分は、基準部材の表面に付着したゴミや汚れ、或は、基準部材の表面に生じた傷等の異常により生じ、その異常の種類により、正の値となることもあれば、負の値となることもある。画素データと代表値との差分の絶対値を用い、その絶対値を比較することで、基準部材の表面に生じた異常の種類によらず、適切に白レベルデータを生成することができる。
【００１２】
上記画像読取装置では、前記制御部において、前記判断処理は、前記センサチップ単位で前記判断する際、前記検出処理によって該センサチップ内に複数の受光素子を検出した場合、検出した受光素子毎に、前記差分の絶対値を比較し、検出した全ての受光素子において、前記第１画素データ群と第２画素データ群のいずれか一方が、正常と判断された場合、該一方の画素データ群を正常と判断し、他方の画素データ群を正常でないと判断し、検出した一部の受光素子において、前記第１画素データ群が正常でないと判断され、検出した残りの受光素子において、前記第２画素データ群も正常でないと判断された場合、前記第１画素データ群及び前記第２画素データ群のいずれも正常でないと判断する構成としても良い。
【００１３】
この画像読取装置では、１つのセンサチップ内に複数の受光素子が検出された場合に、検出した受光素子毎に第１画素データ群と第２画素データ群のいずれが正常か否かを判断する。そのため、基準部材の表面の少なくとも１つの異常を含む範囲を読み取って取得された画素データ群を用いて白レベルデータが生成されるのを抑制することができる。
【００１４】
上記画像読取装置では、前記制御部において、更に、前記判断処理によって、前記第１画素データ群及び前記第２画素データ群のいずれも正常でないと判断した場合、前記第１読取位置及び前記第２読取位置と異なる第３読取位置に前記読取部を相対移動させ、該読取位置で前記指示し、前記受光素子毎に出力される第３画素データを取得する追加取得処理、を実行し、前記生成処理は、前記第１画素データ群及び前記第２画素データ群のいずれも正常でないと判断されたセンサチップにおいて、該センサチップにおける第３画素データ群を選択して、シェーディング補正用の白レベルデータを生成する構成としても良い。
【００１５】
この画像読取装置では、１つのセンサチップにおいて第１画素データ群及び第２画素データ群のいずれもが正常でないと判断された場合、更に、第３画素データを取得して第３画素データ群を選択する。そのため、異常と判断された画素データ群を用いて白レベルデータが生成されるのを抑制することができる。
【００１６】
上記画像読取装置では、前記制御部において、前記検出処理は、更に、前記第１画素データ群及び前記第２画素データ群のいずれも正常でないと判断されたセンサチップにおいて、前記第３画素データと前記第１画素データ又は前記第２画素データとの差分値の絶対値が第１規定値以上となる受光素子を検出し、前記判断処理は、更に、前記第１画素データ群及び前記第２画素データ群のいずれも正常でないと判断されたセンサチップにおいて、前記検出処理によって検出された受光素子を含むセンサチップの全受光素子における第３画素データの代表値と該当画素データの代表値とをそれぞれ取得し、前記検出された受光素子の第３画素データと前記第３画素データの代表値との差分の絶対値と、前記検出された受光素子の該当画素データと前記該当画素データの代表値との差分の絶対値とを比較し、前記第３画素データ群が正常か否かを判断し、前記生成処理は、前記第１画素データ群及び前記第２画素データ群のいずれも正常でないと判断されたセンサチップにおいて、前記判断処理によって前記第３画素データ群が正常であると判断された場合、該センサチップにおける第３画素データ群を選択して、シェーディング補正用の白レベルデータを生成する構成としても良い。
【００１７】
この画像読取装置では、第１画素データ群及び第２画素データ群のいずれもが正常でないと判断された場合、更に、第３画素データを取得し、該センサチップにおける第３画素データ群が正常であると判断された場合に第３画素データ群を選択する。そのため、正常と判断された画素データ群を用いて白レベルデータを生成することができる。
【００１８】
上記画像読取装置では、前記制御部において、前記検出処理は、更に、前記判断処理によって、前記第１画素データ群及び前記第２画素データ群のいずれも正常でないと判断した場合、前記第１読取位置及び前記第２読取位置と異なる第３読取位置に前記読取部を相対移動させ、該読取位置で前記指示し、前記受光素子毎に出力される第３画素データを取得する追加取得処理、を実行し、前記検出処理は、更に、前記第１画素データ群及び前記第２画素データ群のいずれも正常でないと判断されたセンサチップにおいて、前記第３画素データと前記第１画素データ又は前記第２画素データとの差分値の絶対値が第１規定値以上となる受光素子を検出し、前記判断処理は、更に、前記第１画素データ群及び前記第２画素データ群のいずれも正常でないと判断されたセンサチップにおいて、前記検出処理によって検出された受光素子を含むセンサチップの全受光素子における第３画素データの代表値と該当画素データの代表値とをそれぞれ取得し、前記検出された受光素子の第３画素データと前記第３画素データの代表値との差分の絶対値と、前記検出された受光素子の該当画素データと前記該当画素データの代表値との差分の絶対値とを比較し、前記第３画素データ群が正常か否かを判断し、前記生成処理は、前記第１画素データ群及び前記第２画素データ群のいずれも正常でないと判断されたセンサチップにおいて、前記判断処理によって前記第３画素データ群が正常でないと判断された場合、該センサチップで検出された全ての受光素子における前記差分の絶対値を比較し、最も小さい絶対値に係る画素データ群を選択して、シェーディング補正用の白レベルデータを生成する構成としても良い。
【００１９】
この画像読取装置では、１つのセンサチップにおいて第１画素データ群及び第２画素データ群のいずれもが正常でないと判断された場合、更に、第３画素データを取得する。そして、該センサチップにおける第３画素データ群が正常でないと判断された場合に、差分の絶対値が最も小さい画素データ群を選択する。そのため、基準部材の表面の主走査方向における特定位置に、副走査方向の比較的広範囲に亘る異常が発生し、読取位置を変えても該センサチップにおける正常な画素データが取得されない場合に、画素データの取得が何度も繰り返されるのを抑制することができる。
【００２０】
上記画像読取装置では、前記制御部において、前記検出処理は、前記第１画素データと前記第２画素データとの差分値の絶対値が第１規定値以上となる複数の受光素子であって、主走査方向に連続する前記複数の受光素子を検出した場合、連続する第１連続範囲の中で前記差分値の絶対値のピーク値を検出し、そのピーク値に対応する受光素子を検出し、前記判断処理は、前記検出されたピーク値に対応する受光素子の第１画素データと前記第１画素データの代表値との差分の絶対値と、前記検出されたピーク値に対応する受光素子の第２画素データと前記第２画素データの代表値との差分の絶対値とを比較し、該センサチップにおける第１画素データ群と第２画素データ群のいずれが正常か否かを判断する構成としても良い。
【００２１】
この画像読取装置では、第１画素データと第２画素データとの差分値の絶対値が第１規定値以上となる受光素子が主走査方向に連続している場合に、連続する範囲内の差分値の絶対値のピーク値を検出し、ピーク値に対応する受光素子における差分の絶対値を比較して、第１画素データ群及び第２画素データ群が正常か否かを判断する。ピーク値に対応する受光素子で比較を行うことで、複数の受光素子の各々で比較を行う場合に比べて、比較的簡単に白レベルデータを生成することができる。
【００２２】
上記画像読取装置では、前記制御部において、前記検出処理は、更に、前記第１画素データと前記第２画素データとの差分値の絶対値が前記第１規定値よりも小さい第２規定値以上となる受光素子を検出し、前記第１画素データと前記第２画素データとの差分値の絶対値が第２規定値以上となる複数の受光素子が主走査方向に連続する第２連続範囲であって、前記第１連続範囲を含む前記第２連続範囲に含まれる受光素子が、複数のセンサチップに属する場合、該複数のセンサチップの各センサチップ毎に、前記第２連続範囲の中で前記差分値の絶対値のピーク値を検出し、そのピーク値に対応する受光素子を検出する構成としても良い。
【００２３】
通常、第１画素データと第２画素データとの差分値の絶対値が第１規定値よりも小さい受光素子のみを含むセンサチップでは、当該センサチップにおける第１画素データ群と第２画素データ群は正常と判断され、正常か否かが判断されない。しかし、第１連続範囲に含まれず、第２連続範囲に含まれる範囲の受光素子は、第１画素データと第２画素データとの差分値の絶対値が第１規定値よりも小さい受光素子ではあるが、第１連続範囲の原因となる基準部材の比較的広範囲に亘る異常の隣接位置を読み取っていると考えられる。そのため、比較的広範囲に亘る異常の影響の有無を判断するために、当該受光素子を含むセンサチップ単位の第１画素データ群と第２画素データ群に対しても正常か否かが判断されたほうが良い。
この画像読取装置では、第２連続範囲に属する全てのセンサチップにおいて、各センサチップ毎に第２連続範囲内のピーク値を算出し、第１画素データ群及び第２画素データ群が正常か否かを判断する。そのため、比較的広範囲に亘る異常の隣接位置に対応するセンサチップにおいても、第１画素データ群と第２画素データ群が正常か否かを判断することができる。
【発明の効果】
【００２４】
本明細書によって開示される発明によれば、基準部材の色合いの変化や汚れ等によって比較的、主走査方向の広範囲に亘って異常が生じたとしても、適切に白レベルデータを生成することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】複合機の概略的な断面図
【図２】第１読取部の受光部と白基準板との関係を示す図
【図３】複合機の電気的構成を概略的に示すブロック図
【図４】画像読取処理を示すフローチャート
【図５】白レベルデータ取得処理を示すフローチャート
【図６】ピーク画素検出処理を示すフローチャート
【図７】異常白ライン特定処理を示すフローチャート
【図８】両ライン異常処理を示すフローチャート
【図９】白レベルデータ生成処理を示すフローチャート
【図１０】画素データＤと差分値Ｄｉｆｆと白レベルデータＤＳを示すグラフ
【図１１】差分値Ｄｉｆｆを示すグラフ
【発明を実施するための形態】
【００２６】
＜一実施形態＞
一実施形態について、図１から図１１を参照しつつ説明する。複合機１は、画像読取装置の一例であり、スキャンモードに加えて、コピーモード、印刷モードなど、複数のモードを実行可能である。以下の説明では、図１の紙面右下側を複合機１の前側（Ｆ）とし、紙面左下側を複合機１の左側（Ｌ）とし、紙面上側を複合機１の上側（Ｕ）とする。
【００２７】
１．複合機の機械的構成
図１に示すように、複合機１は、カバー部２と本体部３とを備える。本体部３の上面の後端側には図示しない支持部材が設けられており、カバー部２はこの支持部材を中心に回動可能に連結されている。これにより、点線Ｗから上側のカバー部２は、本体部３の上面を覆う閉姿勢（図１参照）と、本体部３の上面を開放させた開姿勢とに変位可能である。
【００２８】
カバー部２は、供給トレイ１１、フロントセンサ（以下、Ｆセンサ）１２、排出トレイ１３、原稿自動搬送装置（Ａｕｔｏ  Ｄｏｃｕｍｅｎｔ  Ｆｅｅｄｅｒ  以下、ＡＤＦ）１４、第１ＡＤＦ用対向部材１５、フラットベット（Ｆｌａｔ  Ｂｅｄ  以下、ＦＢ）用押さえ部材１６、および、第２読取部１７、リアセンサ（以下、Ｒセンサ）１８等を備える。また、カバー部２内には、図示しない原稿シートを、供給トレイ１１からＵ字状に折り返して排出トレイ１３に搬送するための搬送経路Ｒが形成されている。
【００２９】
供給トレイ１１には、画像読取前の原稿シートが複数枚配置可能である。Ｆセンサ１２は、供給トレイ１１の先端側（左端側）の検出位置ＲＦで、供給トレイ１１上の原稿シートの有無を検出する。Ｒセンサ１８は、搬送経路Ｒにおいて検出位置ＲＦよりも下流側の検出位置ＲＲで、原稿シートの有無を検出する。
【００３０】
ＡＤＦ１４は、供給トレイ１１上に載置された複数枚の原稿シートを１枚ずつ分離し、搬送経路Ｒに沿って搬送し、排出トレイ１３に順次排出する。具体的には、ＡＤＦ１４は、供給ローラ１４Ａ、分離ローラ１４Ｂ、分離パッド１４Ｃ、複数の搬送ローラ１４Ｄ、各搬送ローラ１４Ｄに圧接して従動する複数の従動ローラ１４Ｅ、原稿シートを案内する複数のガイド部材１４Ｆ等を有する。
【００３１】
供給ローラ１４Ａ、分離ローラ１４Ｂ、および、搬送ローラ１４Ｄは、駆動モータＵ１（図３参照）によって回転駆動される。これにより、供給ローラ１４Ａは、供給トレイ１１に積載される複数枚の原稿シートを搬送経路Ｒ側へと搬送し、分離ローラ１４Ｂと分離パッド１４Ｃとは、その複数枚の原稿シートを１枚ずつ分離して搬送経路Ｒ内に送り出す。搬送ローラ１４Ｄは、その分離された原稿シートを、搬送経路Ｒに沿って搬送し、排出トレイ１３上に排出する。
【００３２】
第１ＡＤＦ用対向部材１５は、カバー部２が閉姿勢のとき、後述するＡＤＦ用ガラス２１Ａを介して、後述する第１読取部２５に対向する。ＦＢ用押さえ部材１６は、カバー部２の下面側に設けられており、カバー部２が閉姿勢のとき、後述するＦＢ用ガラス２１Ｂを略全面を覆う。第２読取部１７は、上記第１ＡＤＦ用対向部材１５に対して、搬送経路Ｒの下流側に設けられている。第２読取部１７の具体的な構成は、後述する第１読取部２５と同様であるものとし、詳細な説明は省略する。
【００３３】
本体部３は、全体として、左右方向に長い箱状に形成されており、その上面部分にプラテンガラス２１が配置されている。プラテンガラス２１の上面には、左寄りの位置に仕切り部材２２が設けられている。プラテンガラス２１は、この仕切り部材２２により、２つの部分に分けられており、以下、左側の部分を、ＡＤＦ用ガラス２１Ａといい、右側の部分を、ＦＢ用ガラス２１Ｂという。
【００３４】
仕切り部材２２の下面には、白基準板２２Ａ及び黒基準板２２Ｂが設けられている。白基準板２２Ａは、第１読取部２５と対向する対向面の光反射率が概ね均一な白色の部材であり、黒基準板２２Ｂは、第１読取部２５と対向する対向面の光反射率が概ね均一な黒色の部材である。白基準板２２Ａは、基準部材の一例である。
【００３５】
図２に示すように、白基準板２２Ａは左右方向に所定の幅を有し、その左前側角部及び左後側角部において黒基準板２２Ｂが隣接して配置されている。白基準板２２Ａの左前側角部及び左後側角部に配置された黒基準板２２Ｂの右側（Ｒ）端部位置は一致しており、基準位置に設定されている。基準位置から右側に約５ｍｍ移動した位置が、後述する第１読取位置Ｒ１に設定されている。同様に、基準位置から右側に約３ｍｍ移動した位置が、後述する第２読取位置Ｒ２に設定されており、基準位置から右側に約１ｍｍ移動した位置が、後述する第３読取位置Ｒ３に設定されている。
【００３６】
図１に示すように、本体部３内には、第１読取部２５、デバイス移動部２６（図３参照）、第２ＡＤＦ用対向部材２７等が設けられている。第１読取部２５は、カバー部２が閉姿勢のとき、上記第１ＡＤＦ用対向部材１５に対向する。第１読取部２５は、ＣＩＳ（Ｃｏｎｔａｃｔ  Ｉｍａｇｅ  Ｓｅｎｓｏｒ）を有する読取デバイスであり、発光部２５Ａおよび受光部２５Ｂを有する。第１読取部２５は、読取部の一例であり、発光部２５Ａは、光源の一例である。
【００３７】
発光部２５Ａは、本体部３の前後方向に相当する主走査方向Ｚ１に、複数の発光素子（発光ダイオードなど）が配置されて構成される。図２に示すように、受光部２５Ｂは、主走査方向Ｚ１に複数のセンサチップ２８が配置されて構成されており、各センサチップ２８は、主走査方向Ｚ１に複数の画素２９を有している。受光部２５Ｂは、発光部２５Ａから照射され、原稿シートで反射された光を各画素２９を用いて受光し、原稿シートを読み取る。また、各センサチップ２８は、発光部２５Ａから照射され、白基準板２２Ａで反射された光を各画素２９を用いて受光し、白基準板２２Ａを読み取る。画素２９は、受光素子の一例である。
【００３８】
デバイス移動部２６は、第１読取部２５を、プラテンガラス２１の下側において、本体部３の左右方向に相当する、換言すれば主走査方向Ｚ１に直行する副走査方向Ｚ２に沿って相対移動（以下、単に移動）させることが可能である。デバイス移動部２６は、移動モータＵ２（図３参照）によって図示しない移動ローラを回転駆動させ、第１読取部２５を副走査方向Ｚ２に移動させる。デバイス移動部２６は、移動部の一例である。
【００３９】
第１読取部２５は、デバイス移動部２６により、第１ＡＤＦ用対向部材１５に対抗する位置に移動し、ＡＤＦ１４によって搬送経路Ｒを搬送される原稿シートの下面を読み取る、いわゆるＡＤＦ読取を実行する。また、第１読取部２５は、デバイス移動部２６により、ＦＢ用ガラス２１Ｂの下側を副走査方向Ｚ２に移動しながら、ＦＢ用ガラス２１Ｂの上側に載置された原稿シートの下面を読み取る、いわゆるＦＢ読取を実行する。更に、第１読取部２５は、デバイス移動部２６により、白基準板２２Ａに対抗する位置に移動し、予め定められた読取位置Ｒ１〜Ｒ３（図２参照）で、白基準板２２Ａを読み取る
【００４０】
第２ＡＤＦ用対向部材２７は、カバー部２が閉姿勢のとき、第２読取部１７に対向する。第２読取部１７は、ＡＤＦ１４によって搬送経路Ｒの第２読取部１７に対向する位置に搬送された原稿シートの上面を読み取る。本体部３には、この他に、各種設定ボタンからなり、使用者からの各種命令を受け付ける操作部２３（図３参照）や、ＬＥＤや液晶ディスプレイからなり複合機１の状況を表示する表示部２４（図３参照）等が設けられている。
【００４１】
２．複合機の電気的構成
図３に示すように、複合機１は、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ  Ｓｐｅｃｉｆｉｃ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）３９と、ＲＯＭ３６と、ＲＡＭ３７とを備え、これらに読取部１７、２５、ＡＤＦ１４、デバイス移動部２６等が接続されている。図３に実線３１で示すように、ＡＳＩＣ２９と、ＲＯＭ２６と、ＲＡＭ２７とを含めたものが、制御部の一例である。
【００４２】
ＡＳＩＣ３９は、ＣＰＵ３０を含む他、画像処理回路３２等の専用のハード回路を含む。ＲＯＭ３６には、複合機１の動作を制御するための各種のプログラムが記憶されており、ＣＰＵ３０は、ＲＯＭ３６から読み出したプログラムに従って各部の制御を行うとともに、必要に応じてハード回路を用いて後述する画像読取処理等の処理を実行する。ＲＯＭ３６にはまた、後述する第１規定値Ｋ１、第２規定値Ｋ２等が記憶されている。
【００４３】
読取部１７、２５は、ＣＰＵ３０からの命令に基づいて、発光部１７Ａ、２５Ａを発光させ、原稿シート、及び、白基準板２２Ａを読み取る。読取部１７、２５は、１回の読み取りで受光部１７Ｂ、２５Ｂが主走査方向Ｚ１に１ライン読み取り、主走査方向Ｚ１に配置された複数のセンサチップ２８の各画素２９により取得された画素データの集まりである読取画像データを取得する。読取部１７、２５が取得した読取画像データは、デジタル信号の読取画像データに変換されてＲＡＭ２７に記憶される。
【００４４】
画像処理回路３２は、ＣＰＵ３０からの命令に基づいて、ＲＡＭ３７に記憶された読取画像データに対して、２値化処理やエンハンス処理等のエッジ検出処理を行う。また、画像処理回路３２は、ＣＰＵ３０からの命令に基づいて、ＲＡＭ３７に記憶された読取画像データの各画素データの濃度値を用いて、各種演算処理を実行する。
【００４５】
３．画像読取処理
例えば使用者が操作部２３を介して画像読取指示が入力されると、ＣＰＵ３０は、図４に示す読取制御処理を実行する。ＣＰＵ３０は、Ｆセンサ１２の検出結果に基づき、供給トレイ１１上に原稿シートが有ると判断した場合、ＡＤＦ読取を実行し、供給トレイ１１上に原稿シートが無いと判断した場合、ＦＢ読取を実行する。
【００４６】
図４に示すように、ＣＰＵ３０は、画像読取処理を開始すると、まず、第１読取部２５の副走査方向Ｚ２における位置を初期化するために、第１読取位置Ｒ１を意味するホームポジション（以下、ＨＰ）を検出するＨＰ検出処理を実行する（Ｓ２）。ＨＰ検出処理において、ＣＰＵ３０は、デバイス移動部２６に第１読取部２５を基準距離ずつ移動させながら、第１読取部２５に読取画像データを取得させる。ＣＰＵ３０は、取得された読取画像データから、副走査方向Ｚ２において白基準板２２Ａと黒基準板２２Ｂが隣接する基準位置を検出し、第１読取部２５を第１読取位置Ｒ１に移動させる。
【００４７】
次に、ＣＰＵ３０は、光量調整処理を実行する（Ｓ４）。光量調整処理において、ＣＰＵ３０は、第１読取位置Ｒ１で発光部２５Ａの発光時間を変化させた複数回の読み取りを繰り返し、取得された読取画像データから、以降の処理において読取画像データを取得する際の発光部２５Ａの発光時間を決定する。ＣＰＵ３０は、光量調整処理を終了すると、白レベルデータ取得処理を実行する（Ｓ６）。
【００４８】
（白レベルデータ取得処理）
図５に、白レベルデータ取得処理のフローチャートを示す。白レベルデータ取得処理において、ＣＰＵ３０は、まず、画素データＤ１（ｉ）、Ｄ２（ｉ）を取得する（Ｓ２２）。ここで「ｉ」は、各画素２９の画素番号を意味し、受光部２５Ｂでは、主走査方向Ｚ１に沿って、各画素２９に１〜Ｎ（Ｎ：２以上の自然数）の画素番号ｉが設定されている。同様に、受光部２５Ｂでは、主走査方向Ｚ１に沿って、各センサチップ２８に１〜Ｋ（Ｋ：２以上の自然数）のチップ番号Ｍが設定されている。
【００４９】
ＣＰＵ３０は、第１読取位置Ｒ１で第１読取部２５に白基準板２２Ａを読み取らせて画素データＤ１（ｉ）を取得する。また、ＣＰＵ３０は、デバイス移動部２６に第１読取部２５を第２読取位置Ｒ２に移動させ、第２読取位置Ｒ２で第１読取部２５に白基準板２２Ａを読み取らせて画素データＤ２（ｉ）を取得する。画素データＤ１（ｉ）は、第１画素データの一例であり、画素データＤ２（ｉ）は、第２画素データの一例である。
【００５０】
図１０に、取得された画素データＤ１（ｉ）、Ｄ２（ｉ）を示す。図１０において、点線で区切られた範囲は、各センサチップ２８に対応する範囲を示す。図１０に示すように、画素データＤは、各画素２９の受光特性のバラツキにより、同一のセンサチップ２８内であってもその濃度値は一定値とはならず、変動する。また、各画素２９の受光素子のバラツキは、異なるセンサチップ２８間ではより大きくなり、異なるセンサチップ２８から得られた画素データＤには、チップギャップＣＧと呼ばれる濃度値の差が表れる。
【００５１】
また、画素データＤは、白基準板２２Ａの第１読取部２５と対向する対向面の状態によっても変動し、図１０のＰ１、Ｐ３に示すように、白基準板２２Ａの対向面にゴミ等が付着していると、濃度値が減少する。また、図１０のＰ２に示すように、白基準板２２Ａの対向面に傷が生じていると、光の反射が変化して濃度値が上昇することもありえる。白レベルデータ取得処理では、ゴミ等の付着や傷など、白基準板２２Ａの対向面に異常が生じている場合でも、当該異常による影響を抑制した適切な白レベルデータを取得する。ＣＰＵ３０は、画素データＤ１（ｉ）、Ｄ２（ｉ）を取得すると、ピーク画素検出処理を実行する（Ｓ２４）。
【００５２】
（ピーク画素検出処理）
図６に、ピーク画素検出処理のフローチャートを示す。ピーク画素検出処理において、ＣＰＵ３０は、まず、各画素２９毎に、画素データＤ１（ｉ）と画素データＤ２（ｉ）との差分値Ｄｉｆｆ（ｉ）を算出する（Ｓ４２）。ＣＰＵ３０は、算出された差分値Ｄｉｆｆ（ｉ）の絶対値をＲＯＭ３６に予め記憶された第１規定値Ｋ１と比較し、差分値Ｄｉｆｆ（ｉ）の絶対値が第１規定値Ｋ１以上となる画素２９を検出する（Ｓ４４）。ＣＰＵ３０は、当該画素２９が存在しない場合（Ｓ４４：ＮＯ）、ピーク画素なしと判定し（Ｓ４６）、ピーク画素検出処理を終了する。
Ｄｉｆｆ（ｉ）＝Ｄ２（ｉ）―Ｄ１（ｉ）
【００５３】
その一方、差分値Ｄｉｆｆ（ｉ）の絶対値が第１規定値Ｋ１以上となる画素２９が存在する場合（Ｓ４４：ＹＥＳ）、ＣＰＵ３０は、画素データＤ１（ｉ）、Ｄ２（ｉ）にピーク画素ありと判定し（Ｓ４７）、ピーク画素を検出する処理を継続する。具体的には、ＣＰＵ３０は、差分値Ｄｉｆｆ（ｉ）の絶対値が第１規定値Ｋ１以上となる全ての画素２９を検出する（Ｓ４８）。次に、ＣＰＵ３０は、検出した画素２９に、主走査方向Ｚ１に連続する画素２９が存在するか、つまり、検出した画素２９に、画素番号ｉが連続する複数の画素２９が含まれているかを判断する（Ｓ５０）。
【００５４】
ＣＰＵ３０は、検出した各画素２９毎に上記判断を行い、画素番号ｉが連続する画素２９が存在しない場合（Ｓ５０：ＮＯ）、当該画素２９をピーク画素として検出する（Ｓ５２  図１０  ｉ１、ｉ４参照）。一方、画素番号ｉが連続する複数の画素２９が存在する場合（Ｓ５０：ＹＥＳ）、ＣＰＵ３０は、図１０のＸＩ部分を図１１に拡大して示すように、これら複数の画素２９が連続する第１連続範囲ＲＨ１において、差分値Ｄｉｆｆ（ｉ）の絶対値のピーク値を検出する。そして、ＣＰＵ３０は、検出したピーク値に対応する画素２９を、ピーク画素として検出する（Ｓ５４  図１１  ｉ３参照）。ＣＰＵ３０は、検出されたピーク画素の画素番号ｊ（＝ｉ１、ｉ３、ｉ４）と、各ピーク画素が含まれるセンサチップ２８のチップ番号Ｍ（＝Ｍ１、Ｍ２、Ｍ４）を関連付けてＲＡＭ３７に記憶する（Ｓ５６）。
【００５５】
ＣＰＵ３０は、ピーク画素を検出すると、そのピーク画素の周辺にピーク画素として検出するべき画素の有無を判断する。具体的には、ＣＰＵ３０は、ＲＡＭ３７に記憶されたピーク画素の１つを対象ピーク画素ｊとして選択し（Ｓ５８）、対象ピーク画素ｊの周辺において、差分値Ｄｉｆｆ（ｉ）の絶対値が第２規定値Ｋ２以上となる画素２９、及び、当該画素２９が主走査方向Ｚ１に連続する第２連続範囲ＲＨ２を検出する（Ｓ６０）。第２規定値Ｋ２は、第１規定値Ｋ１よりも小さい値であり、ＲＯＭ３６に予め記憶されている。
【００５６】
図１０のピーク画素ｉ１、ｉ４に示すように、差分値Ｄｉｆｆ（ｉ）の絶対値が第１規定値Ｋ１以上となる画素２９が主走査方向Ｚ１に連続しないと判断されたピーク画素では、差分値Ｄｉｆｆ（ｉ）の絶対値が第２規定値Ｋ２以上となる画素２９も主走査方向Ｚ１に連続しない場合がある。この場合、ＣＰＵ３０は、第２連続範囲ＲＨ２を検出しない。その一方、図１１のピーク画素ｉ３に示すように、第１連続範囲ＲＨ１から検出されたピーク画素では、ＣＰＵ３０は第２連続範囲ＲＨ２を検出する。第２連続範囲ＲＨ２には、対象ピーク画素ｊ（＝ｉ３）を含む他、第１連続範囲ＲＨ１が含まれる。
【００５７】
ＣＰＵ３０は、第２連続範囲ＲＨ２に含まれる画素２９が、対象ピーク画素ｊが含まれるセンサチップ２８に隣接するセンサチップ２８に属するかを判断する（Ｓ６２）。ＣＰＵ３０は、図１１に示すように、第２連続範囲ＲＨ２に含まれる画素２９が隣接するセンサチップ２８に属する場合（Ｓ６２：ＹＥＳ）、隣接するセンサチップ２８においてもピーク画素を検出する。
【００５８】
ＣＰＵ３０は、隣接するセンサチップ２８の第２連続範囲ＲＨ２内の画素２９において、差分値Ｄｉｆｆ（ｉ）の絶対値のピーク値を検出する。そして、ＣＰＵ３０は、検出したピーク値に対応する画素２９を、ピーク画素として検出する（Ｓ６４  図１１  ｉ２参照）。ＣＰＵ３０は、検出されたピーク画素の画素番号ｊ（＝ｉ２）と、各ピーク画素が含まれるセンサチップ２８のチップ番号Ｍ（＝Ｍ１）を関連付けてＲＡＭ３７に記憶する（Ｓ６６）。
【００５９】
ＣＰＵ３０は、Ｓ６６の処理が終了した場合、或は、第２連続範囲ＲＨ２が検出されない場合（Ｓ６２：ＮＯ）、或は、第２連続範囲ＲＨ２が検出されたけれども第２連続範囲ＲＨ２が隣接するセンサチップ２８にまで達していない場合（Ｓ６２：ＮＯ）、対象ピーク画素ｊに対する処理を終了する。ＣＰＵ３０は、Ｓ５６の処理においてＲＡＭ３７に記憶された全てのピーク画素が対象ピーク画素ｊとして選択されるまで（Ｓ６８：ＮＯ）、Ｓ６０からの処理を繰り返す。そして、ＲＡＭ３７に記憶された全てのピーク画素が対象ピーク画素ｊとして選択された場合（Ｓ６８：ＹＥＳ）、ＣＰＵ３０は、ピーク画素検出処理を終了する。
【００６０】
ＣＰＵ３０は、ピーク画素検出処理を終了すると、図５に示す白レベルデータ取得処理に戻り、センサチップ２８の１つを対象センサチップＭとして選択する（Ｓ２６）。次に、ＣＰＵ３０は、対象センサチップＭにピーク画素が含まれるかを判断する（Ｓ２８）。具体的には、ＣＰＵ３０は、Ｓ５６、Ｓ６６でＲＡＭ３７に記憶されたチップ番号Ｍに、対象センサチップＭのチップ番号が含まれるか否かを確認する。ＣＰＵ３０は、対象センサチップＭにピーク画素が含まれる場合（Ｓ２８：ＹＥＳ）、異常白ライン特定処理を実行する（Ｓ２４）つまり、異常白ライン特定処理は、対象センサチップＭ毎に実行される。
【００６１】
（異常白ライン特定処理）
図７に、異常白ライン特定処理のフローチャートを示す。異常白ライン特定処理において、ＣＰＵ３０は、まず、対象センサチップＭの画素データＤ１（ｉ）の平均値Ｊ１（Ｍ）、及び、画素データＤ２（ｉ）の平均値Ｊ２（Ｍ）を算出する（Ｓ７２）。ＣＰＵ３０は、対象センサチップＭの全画素２９における画素データＤ１（ｉ）（以下、対象センサチップＭにおける画素データＤ１群）を平均して平均値Ｊ１（Ｍ）を算出し、対象センサチップＭの全画素２９における画素データＤ２（ｉ）（以下、対象センサチップＭにおける画素データＤ２群））を平均して平均値Ｊ２（Ｍ）を算出する。
【００６２】
ＣＰＵ３０は、平均値Ｊ１（Ｍ）、Ｊ２（Ｍ）を算出すると、算出した平均値Ｊ１（Ｍ）、Ｊ２（Ｍ）を用いて、対象センサチップＭの各画素２９毎に、画素データＤ１（ｉ）、Ｄ２（ｉ）の偏差Ｄｅｖ１（ｉ）、Ｄｅｖ２（ｉ）を算出する（Ｓ７４）。
Ｄｅｖ１（ｉ）＝Ｄ１（ｉ）―Ｊ１（Ｍ）
Ｄｅｖ２（ｉ）＝Ｄ２（ｉ）―Ｊ２（Ｍ）
【００６３】
次に、ＣＰＵ３０は、対象センサチップＭに含まれるピーク画素の１つを対象ピーク画素ｊとして選択し（Ｓ７６）、対象ピーク画素ｊにおける偏差Ｄｅｖ１（ｊ）の絶対値と、偏差Ｄｅｖ２（ｊ）の絶対値とを比較する（Ｓ７８）。ＣＰＵ３０は、偏差Ｄｅｖ１（ｊ）の絶対値が偏差Ｄｅｖ２（ｊ）の絶対値よりも大きい場合（Ｓ７８：ＹＥＳ）、対象ピーク画素ｊの画素データＤ１（ｊ）が異常と判断する（Ｓ８０）。一方、ＣＰＵ３０は、偏差Ｄｅｖ１（ｊ）の絶対値が偏差Ｄｅｖ２（ｊ）の絶対値以下である場合（Ｓ７８：ＮＯ）、対象ピーク画素ｊの画素データＤ１（ｊ）が異常と判断する（Ｓ８２）。
【００６４】
ＣＰＵ３０は、図１０に示すチップ番号Ｍ１のセンサチップ２８のように、対象センサチップＭに複数のピーク画素（ｉ１、ｉ２）が含まれる場合、全てのピーク画素が対象ピーク画素ｊとして選択されるまで（Ｓ８４：ＮＯ）、Ｓ７６からの処理を繰り返す。つまり、対象センサチップＭに複数のピーク画素が含まれる場合、各ピーク画素毎に、偏差Ｄｅｖ１（ｉ）の絶対値と偏差Ｄｅｖ２（ｉ）の絶対値とを比較し、各ピーク画素毎に、対象ピーク画素ｊの画素データＤ１（ｊ）と画素データＤ２（ｊ）のいずれかを異常と判断する。
【００６５】
そして、対象センサチップＭに含まれる全てのピーク画素が対象ピーク画素ｊとして選択された場合（Ｓ８４：ＹＥＳ）、ＣＰＵ３０は、対象センサチップＭにおける画素データＤ２群に異常と判断された画素データＤ２（ｉ）が存在するかを判断する（Ｓ８６）。ＣＰＵ３０は、図１０に示すチップ番号Ｍ４のセンサチップ２８のように、対象センサチップＭにおける画素データＤ２群に異常と判断された画素データＤ２（ｉ）が存在しない場合、つまり、対象センサチップＭに含まれる全てのピーク画素において、画素データＤ１（ｊ）が異常と判断された場合（Ｓ８６：ＮＯ）、対象センサチップＭにおける画素データＤ１群を異常、対象センサチップＭにおける画素データＤ２群を正常と判断し（Ｓ８８）、異常白ライン特定処理を終了する。
【００６６】
また、ＣＰＵ３０は、対象センサチップＭにおける画素データＤ２群に異常と判断された画素データＤ２（ｉ）が存在する場合（Ｓ８６：ＹＥＳ）、更に、対象センサチップＭにおける画素データＤ１群に異常と判断された画素データＤ１（ｉ）が存在するかを判断する（Ｓ９０）。ＣＰＵ３０は、図１０に示すチップ番号Ｍ２のセンサチップ２８のように、対象センサチップＭにおける画素データＤ１群に異常と判断された画素データＤ１（ｉ）が存在しない場合、つまり、対象センサチップＭに含まれる全てのピーク画素において、画素データＤ２（ｊ）が異常と判断された場合（Ｓ９０：ＮＯ）、対象センサチップＭにおける画素データＤ１群を正常、対象センサチップＭにおける画素データＤ２群を異常正常と判断し（Ｓ９２）、異常白ライン特定処理を終了する。
【００６７】
その一方、ＣＰＵ３０は、図１０に示すチップ番号Ｍ１のセンサチップ２８のように、対象センサチップＭにおける両画素データＤ１群、Ｄ２群のいずれもに異常と判断された画素データＤ１（ｉ）、Ｄ２（ｉ）が存在する場合、つまり、対象センサチップＭに含まれる一部のピーク画素において、画素データＤ１（ｊ）が異常と判断され、対象センサチップＭに含まれる残りのピーク画素において、画素データＤ２（ｊ）が異常と判断された場合（Ｓ９０：ＹＥＳ）、対象センサチップＭにおける両画素データＤ１群、Ｄ２群のいずれも異常と判断し（Ｓ９４）、異常白ライン特定処理を終了する。
【００６８】
ＣＰＵ３０は、異常白ライン特定処理を終了すると、図５に示す白レベルデータ取得処理に戻り、対象センサチップＭにおける両画素データＤ１群、Ｄ２群のいずれもが異常と判断されたか否かを確認する（Ｓ３２）。ＣＰＵ３０は、図１０に示すチップ番号Ｍ１のセンサチップ２８のように、対象センサチップＭにおける両画素データＤ１群、Ｄ２群のいずれもが異常と判断された場合（Ｓ３２：ＹＥＳ）、両ライン異常処理を実行する（Ｓ３４）。つまり、両ライン異常処理は、対象センサチップＭ毎に実行される。
【００６９】
（両ライン異常処理）
図８に、両ライン異常処理のフローチャートを示す。両ライン異常処理において、ＣＰＵ３０は、まず、画素データＤ３（ｉ）を取得する（Ｓ１０２）。ＣＰＵ３０は、デバイス移動部２６に第１読取部２５を第３読取位置Ｒ３に移動させ、第３読取位置Ｒ３で第１読取部２５に白基準板２２Ａを読み取らせて画素データＤ３（ｉ）を取得する（図１０参照）。画素データＤ３（ｉ）は、第３画素データの一例である。なお、異なるセンサチップ２８を対象センサチップＭとした両ライン異常処理において、既に画素データＤ３（ｉ）が取得されている場合には、その画素データＤ３（ｉ）を利用しても良い。
【００７０】
次に、ＣＰＵ３０は、画素データＤ１（ｉ）、Ｄ３（ｉ）を用いてピーク画素検出処理を実行する（Ｓ１０６）。画素データＤ１（ｉ）、Ｄ３（ｉ）を用いたピーク画素検出処理は、図６に示すフローチャートに従って実行される。画素データＤ１（ｉ）、Ｄ３（ｉ）を用いたピーク画素検出処理において、ＣＰＵ３０は、画素データＤ１（ｉ）、Ｄ３（ｉ）の差分値Ｄｉｆｆ２（ｉ）を算出し（Ｓ４２相当）、算出された差分値Ｄｉｆｆ２（ｉ）の絶対値を第１規定値Ｋ１と比較する（Ｓ４４相当）。ＣＰＵ３０は、差分値Ｄｉｆｆ２（ｉ）の絶対値が第１規定値Ｋ１以上となる画素２９が存在する場合（Ｓ４４：ＹＥＳ相当）、ピーク画素を検出し（Ｓ５２、Ｓ５４相当）、検出されたピーク画素の画素番号ｘ（＝ｉ１）をＲＡＭ３７に記憶する（Ｓ５６相当）。なお、画素データＤ１（ｉ）、Ｄ３（ｉ）を用いたピーク画素検出処理では、Ｓ５８からＳ６８の処理は行われない。
Ｄｉｆｆ２（ｉ）＝Ｄ３（ｉ）―Ｄ１（ｉ）
【００７１】
次に、ＣＰＵ３０は、画素データＤ１（ｉ）、Ｄ３（ｉ）を用いたピーク画素検出処理でピーク画素が検出されたか否かを確認する（Ｓ１０８）。ＣＰＵ３０は、上記処理でピーク画素が検出された場合（Ｓ１０８：ＹＥＳ）、更に、画素データＤ１（ｉ）、Ｄ３（ｉ）を用いて異常白ライン特定処理を実行する（Ｓ１１０）。
【００７２】
画素データＤ１（ｉ）、Ｄ３（ｉ）を用いた異常白ライン特定処理は、図７に示すフローチャートに従って実行される。画素データＤ１（ｉ）、Ｄ３（ｉ）を用いた異常白ライン特定処理において、ＣＰＵ３０は、対象センサチップＭの画素データＤ１（ｉ）の平均値Ｊ１（Ｍ）、及び、画素データＤ３（ｉ）の平均値Ｊ３（Ｍ）を算出し（Ｓ７２相当）、偏差Ｄｅｖ１（ｉ）、Ｄｅｖ３（ｉ）を算出する（Ｓ７４相当）。なお、Ｓ３０の異常白ライン特定処理において、既に平均値Ｊ１（Ｍ）及び偏差Ｄｅｖ１（ｉ）が算出されている場合には、その平均値Ｊ１（Ｍ）及び偏差Ｄｅｖ１（ｉ）を利用しても良い。
Ｄｅｖ３（ｉ）＝Ｄ３（ｉ）―Ｊ３（Ｍ）
【００７３】
ＣＰＵ３０は、画素データＤ１（ｉ）、Ｄ３（ｉ）を用いたピーク画素検出処理で検出されたピーク画素ｘ毎に、偏差Ｄｅｖ１（ｘ）の絶対値と偏差Ｄｅｖ３（ｘ）の絶対値とを比較する（Ｓ７８相当）。ＣＰＵ３０は、偏差Ｄｅｖ３（ｘ）の絶対値が偏差Ｄｅｖ１（ｘ）の絶対値以上である場合（Ｓ７８：ＮＯ相当）、対象ピーク画素ｘの画素データＤ３（ｘ）が異常と判断する（Ｓ８０相当）。そして、ＣＰＵ３０は、対象センサチップＭの全画素２９における画素データＤ３（ｉ）（以下、対象センサチップＭにおける画素データＤ３群）に異常と判断された画素データＤ３（ｉ）が存在しない場合（Ｓ８６：ＮＯ相当）、対象センサチップＭにおける画素データＤ３群を正常と判断する（Ｓ８８相当  図１０参照）。一方、ＣＰＵ３０は、対象センサチップＭにおける画素データＤ３群に異常と判断された画素データＤ３（ｉ）が存在する場合（Ｓ８６：ＹＥＳ相当）、対象センサチップＭにおける画素データＤ３群を異常と判断する（Ｓ９２、Ｓ９４相当）。
【００７４】
その一方、ＣＰＵ３０は、画素データＤ１（ｉ）、Ｄ３（ｉ）を用いたピーク画素検出処理でピーク画素が検出されなかった場合（Ｓ１０８：ＮＯ）、対象センサチップＭにおける画素データＤ３群を正常と判断する（Ｓ１１１）。
【００７５】
ＣＰＵ３０は、Ｓ１１０、Ｓ１１１の処理において対象センサチップＭにおける画素データＤ３群が正常と判断されたかを確認する（Ｓ１１２）。ＣＰＵ３０は、対象センサチップＭにおける画素データＤ３群が正常と判断された場合、両画素データ群異常処理を終了する。その一方、ＣＰＵ３０は、対象センサチップＭにおける画素データＤ３群が異常と判断された場合、つまり、対象センサチップＭにおいて正常と判断される画素データＤ群が取得されなかった場合、対象センサチップＭにおける全画素データＤ１群、Ｄ２群、Ｄ３群から、ピーク画素ｊ、ｘの偏差Ｄｅｖ（ｊ）の絶対値が最小となる画素データＤ群を選択する（Ｓ１１４）。
【００７６】
具体的には、ＣＰＵ３０は、対象センサチップＭにおいて、Ｓ２４のピーク画素検出処理において検出されたピーク画素ｊの偏差Ｄｅｖ１（ｊ）の絶対値と、Ｄｅｖ２（ｊ）の絶対値、及び、Ｓ１０６のピーク画素検出処理において検出されたピーク画素ｘの偏差Ｄｅｖ１（ｘ）の絶対値と、Ｄｅｖ３（ｘ）の絶対値とを比較する。ＣＰＵ３０は、これらの偏差Ｄｅｖのうち、絶対値が最も大きい偏差Ｄｅｖに係る画素データＤ群を除外する。そして、ＣＰＵ３０は、残った２つの画素データＤ群に含まれるピーク画素ｊ、ｘの偏差Ｄｅｖの絶対値を再度比較する。ＣＰＵ３０は、絶対値が最も大きい偏差Ｄｅｖに係る画素データＤ群を再度除外し、残った１つの画素データＤ群を選択する。ＣＰＵ３０は、１つの画素データＤ群を選択すると、両ライン異常処理を終了する。
【００７７】
ＣＰＵ３０は、両ライン異常処理を終了すると、図５に示す白レベルデータ取得処理を実行する。ＣＰＵ３０は、白レベルデータ取得処理において、図１０に示すチップ番号Ｍ３のセンサチップ２８のように、対象センサチップＭにピーク画素が含まれていない場合（Ｓ２８：ＮＯ）、対象センサチップＭにおける両画素データＤ１群、Ｄ２群のいずれもが正常と判断する（Ｓ２９）。
【００７８】
ＣＰＵ３０は、Ｓ２９、Ｓ３４の処理が終了した場合、或は、対象センサチップＭにおける両画素データＤ１群、Ｄ２群のいずれか一方が正常と判断された場合（Ｓ３２：ＮＯ）、対象センサチップＭに対する処理を終了する。ＣＰＵ３０は、受光部２５Ｂに含まれる全てのセンサチップ２８が対象センサチップＭとして選択されるまで（Ｓ３６：ＮＯ）、Ｓ２６からの処理を繰り返す。そして、受光部２５Ｂに含まれる全てのセンサチップ２８が対象センサチップＭとして選択された場合（Ｓ３６：ＹＥＳ）、ＣＰＵ３０は、白レベルデータ生成処理を実行する（Ｓ３８）。
【００７９】
（白レベルデータ生成処理）
図９に、白レベルデータ生成処理のフローチャートを示す。白レベルデータ生成処理において、ＣＰＵ３０は、まず、センサチップ２８の１つを対象センサチップＭとして選択する（Ｓ１２２）。次に、ＣＰＵ３０は、対象センサチップＭにおける画素データＤ１群が正常か否かを判断し（Ｓ１２４）、対象センサチップＭにおける画素データＤ１群が正常である場合（Ｓ１２４：ＹＥＳ）、画素データＤ１群を選択する（Ｓ１２６）。
【００８０】
ＣＰＵ３０は、対象センサチップＭにおける画素データＤ１群が異常である場合（Ｓ１２４：ＮＯ）、次に、対象センサチップＭにおける画素データＤ２群が正常か否かを判断する（Ｓ１２８）。ＣＰＵ３０は、対象センサチップＭにおける画素データＤ２群が正常である場合（Ｓ１２８：ＹＥＳ）、画素データＤ２群を選択する（Ｓ１３０）。
【００８１】
ＣＰＵ３０は、対象センサチップＭにおける画素データＤ２群が異常である場合（Ｓ１２８：ＮＯ）、更に、対象センサチップＭにおける画素データＤ３群が正常か否かを判断する（Ｓ１３２）。ＣＰＵ３０は、対象センサチップＭにおける画素データＤ３群が正常である場合（Ｓ１３２：ＹＥＳ）、画素データＤ３群を選択する（Ｓ１３４）。
【００８２】
その一方、ＣＰＵ３０は、対象センサチップＭにおける画素データＤ３群が異常である場合、つまり、対象センサチップＭにおける全画素データＤ１群、Ｄ２群、Ｄ３群が異常である場合（Ｓ１３２：ＮＯ）、両ライン異常処理で選択された画素データＤ群を選択する（Ｓ１３６）。
【００８３】
ＣＰＵ３０は、Ｓ１２６、Ｓ１３０、Ｓ１３４、Ｓ１３６の処理において対象センサチップＭにおける１つの画素データＤ群が選択されると、対象センサチップＭに対する処理を終了する。ＣＰＵ３０は、受光部２５Ｂに含まれる全てのセンサチップ２８が対象センサチップＭとして選択されるまで（Ｓ１３８：ＮＯ）、Ｓ１２２からの処理を繰り返す。そして、受光部２５Ｂに含まれる全てのセンサチップ２８が対象センサチップＭとして選択された場合（Ｓ１３８：ＹＥＳ）、ＣＰＵ３０は、白レベルデータ生成処理、及び、白レベルデータ取得処理を終了する。
【００８４】
白レベルデータ生成処理により、ＣＰＵ３０は、センサチップ２８単位で選択された画素データＤ群を集めて、シェーディング補正用の白レベルデータＤＳ（ｉ）を取得することができる（図１０参照）。具体的には、チップ番号Ｍ１のセンサチップ２８では、画素データＤ３（ｉ）から画素データＤ３群を読み出し、チップ番号Ｍ２、Ｍ３のセンサチップ２８では、画素データＤ１（ｉ）から画素データＤ１群を読み出し、チップ番号Ｍ４のセンサチップ２８では、画素データＤ２（ｉ）から画素データＤ２群を読み出すことで、シェーディング補正用の白レベルデータＤＳ（ｉ）を取得することができる。
【００８５】
ＣＰＵ３０は、白レベルデータ取得処理を終了すると、図４に示す画像読取処理を実行する。ＣＰＵ３０は、画像読取処理において、次に、黒レベルデータ取得処理を実行する（Ｓ８）。黒レベルデータ取得処理において、ＣＰＵ３０は、デバイス移動部２６に第１読取部２５を第１読取位置Ｒ１に移動させた後に、発光部２５Ａを消灯させた状態で第１読取部２５に読み取りを実行させる。ＣＰＵ３０は、上記の読み取りで取得された読取画像データを黒レベルデータとして取得する。
【００８６】
次に、ＣＰＵ３０は、シェーディング補正処理を実行する（Ｓ１０）。シェーディング補正処理において、ＣＰＵ３０は、白レベルデータ取得処理において取得された白レベルデータ、及び、黒レベルデータ取得処理において取得された黒レベルデータを用い、公知の方法によって、シェーディング補正データを生成する。
【００８７】
ＣＰＵ３０は、シェーディング補正処理後、読取処理を実行する（Ｓ１２）。ＣＰＵ３０は、ＡＤＦ読取を実行する場合において、使用者からの画像読取指示に片面読取指示が含まれている場合には、第１読取部２５を用いて原稿シートを読み取る。また、ＡＤＦ読取を実行する場合において、使用者からの画像読取指示に両面読取指示が含まれている場合には、ＣＰＵ３０は、第１読取部２５及び第２読取部を用いて原稿シートを読み取る。また、ＦＢ読取を実行する場合、ＣＰＵ３０は、第１読取部２５を用いて原稿シートを読み取る。本実施形態では、ＡＤＦ読取の片面読取の場合について説明する。
【００８８】
読取処理において、ＣＰＵ３０は、デバイス移動部２６に第１読取部２５を第１ＡＤＦ用対向部材１５に対抗する位置に移動させ（図１参照）、ＡＤＦ１４によって搬送経路Ｒを搬送される原稿シートの下面を第１読取部２５に読み取らせる。ＣＰＵ３０は、第１読取部２５を用いて取得された読取画像データを、シェーディング補正処理により生成されたシェーディング補正データを用いて補正し、補正後の読取画像データをＲＡＭ３７に記憶する。
【００８９】
ＣＰＵ３０は、Ｒセンサ１８の検出結果に基づき、原稿シートが検出位置ＲＲを通過したことを検出すると、その所定時間後に、第１読取部２５に読み取りを終了させ、原稿シートの読み取りを終了する。そして、ＣＰＵ３０は、読取処理を終了し、画像読取処理を終了する。
【００９０】
３．本実施形態の効果
（１）本実施形態の複合機１では、画素データＤ１（ｉ）、画素データＤ２（ｉ）、からシェーディング補正用の白レベルデータＤＳ（ｉ）を生成する際に、センサチップ２８単位、つまり、画素データＤ群毎に正常か否かを判断し、正常と判断された画素データＤ群をセンサチップ２８単位で選択する。センサチップ２８は、主走査方向Ｚ１に複数の画素２９が配列されており、主走査方向Ｚ１に画素２９の幅よりも広い所定の幅を有している。そのため、図１０のＰ２に示すように、白基準板２２Ａの対向面の色合いの変化や汚れ等によって、当該対向面に比較的広範囲な異常、具体的には主走査方向Ｚ１における幅が複数個の画素２９に係る画像データの濃度値の振動等が発生した場合でも、その影響を抑制して白レベルデータＤＳ（ｉ）を生成することができる。
【００９１】
（２）本実施形態の複合機１では、画素データＤ群毎に正常か否かを判断する際に、差分値Ｄｉｆｆ（ｉ）の絶対値からピーク画素を検出し、ピーク画素を有するセンサチップ２８において各画素データＤ群が正常か否かを判断する。差分値Ｄｉｆｆ（ｉ）の絶対値からピーク画素を検出することで、比較的簡単にピーク画素を検出することができ、また、比較的簡単に各画素データＤ群が正常か否かを判断することができる。
【００９２】
（３）本実施形態の複合機１では、各画素データＤ群が正常か否かを判断する際、ピーク画素における偏差Ｄｅｖ（ｉ）の絶対値同士を比較する。図１０に示すように、白基準板２２Ａの対向面に異常が発生した場合、その異常の原因によって、異常が発生した範囲から取得された画素データＤ（ｉ）は、正常な範囲から取得された画素データＤ（ｉ）に比べて大きくなったり、小さくなったりする。そのため、異常の原因によって、異常が発生した範囲から算出された偏差Ｄｅｖ（ｉ）と、正常な範囲から算出された偏差Ｄｅｖ（ｉ）の大小が逆転することが起こり得る。この複合機１では、偏差Ｄｅｖ（ｉ）の絶対値同士を比較するので、常に、異常の原因によらず、異常が発生した範囲から算出された偏差Ｄｅｖ（ｉ）の絶対値を、正常な範囲から算出された偏差Ｄｅｖ（ｉ）の絶対値よりも大きい値とすることができ、各画素データＤ群が正常か否かを判断することができる。
【００９３】
（４）本実施形態の複合機１では、１つのセンサチップ２８内に複数のピーク画素が含まれる場合には、各ピーク画素毎に偏差Ｄｅｖ（ｉ）の絶対値同士を比較し、各画素データＤ群が正常か否かを判断する。ピーク画素として検出される画素２９では、差分値Ｄｉｆｆ（ｉ）の絶対値が比較的大きいことから、第１読取位置Ｒ１と第２読取位置Ｒ２の当該画素２９に相当する範囲のいずれかに異常が発生していると考えられる。そして、１つのセンサチップ２８内に複数のピーク画素が含まれる場合には、その異常が複数個存在していると考えられる。この複合機１では、各ピーク画素毎に各画素データＤ群が正常か否かを判断する。そのため、各異常が第１読取位置Ｒ１と第２読取位置Ｒ２のいずれに属するかをそれぞれ判断することができ、異常を含む範囲から取得された画素データＤ群を用いて白レベルデータＤＳ（ｉ）が生成されることを抑制することができる。
【００９４】
（５）本実施形態の複合機１では、１つのセンサチップ２８において各画素データＤ群が正常か否かを判断した結果、当該センサチップ２８における画素データＤ１群及び画素データＤ２群のいずれもが異常と判断された場合、更に、第３画素データＤ３（ｉ）を取得して当該センサチップ２８における画素データＤ３群を選択可能とする。そのため、異常と判断された画素データＤ１群及び画素データＤ２群を用いて白レベルデータが生成されるのを抑制することができる。
【００９５】
（６）具体的には、対象とするセンサチップ２８における画素データＤ３群に対しても正常か否かを判断し、正常と判断されれば、当該センサチップ２８における画素データＤ３群を選択する。これにより、正常と判断された画素データＤ群を用いて白レベルデータＤＳ（ｉ）を生成することができる。
【００９６】
（７）その一方、対象とするセンサチップ２８における画素データＤ３群も異常と判断された場合には、偏差Ｄｅｖ（ｉ）の絶対値の大小に応じて、当該センサチップ２８における画素データＤ１群、画素データＤ２群、画素データＤ３群の中から１つの画素データＤ３群を選択する。上記の場合、つまり、読取位置を変えた複数の画素データＤ（ｉ）において、主走査方向Ｚ１の略同一位置に異常が見つかる場合、これらは同一の異常であることが考えられる。つまり、白基準板２２Ａの対向面の主走査方向Ｚ１における特定位置に、副走査方向Ｚ２の比較的広範囲に亘る異常が発生していることが考えられる。このような場合には、当該センサチップ２８における画素データＤ１群、画素データＤ２群、画素データＤ３群の中から１つの画素データＤ３群を選択することで、画素データＤの取得が何度も繰り返されるのを抑制することができる。
【００９７】
そして、対象とするセンサチップ２８における画素データＤ１群、画素データＤ２群、画素データＤ３群の中から１つの画素データＤ３群を選択する際に、偏差Ｄｅｖ（ｉ）の絶対値の大小を基準とすることで、異常と判断された画素データＤ群を用いて白レベルデータが生成される場合でも、その影響を抑制することができる。
【００９８】
（８）本実施形態の複合機１では、差分値Ｄｉｆｆ（ｉ）からピーク画素を検出する際に、差分値Ｄｉｆｆ（ｉ）が第１規定値Ｋ１以上となる画素２９を選出し、選出した画素２９が主走査方向Ｚ１に連続する場合には、差分値Ｄｉｆｆ（ｉ）がピーク値となる画素２９をピーク画素として検出する。そのため、偏差Ｄｅｖ（ｉ）の絶対値同士を比較して各画素データＤ群が正常か否かを判断する際に、差分値Ｄｉｆｆ（ｉ）が第１規定値Ｋ１以上となる画素２９の全てにおいて偏差Ｄｅｖ（ｉ）の絶対値同士を比較する必要がなく、比較的簡単に白レベルデータＤＳ（ｉ）を生成することができる。
【００９９】
（９）そして、差分値Ｄｉｆｆ（ｉ）が第１規定値Ｋ１以上となる画素２９が主走査方向Ｚ１に連続する場合、主走査方向Ｚ１の比較的広範囲に亘る異常が発生していることが考えられる。この場合には、差分値Ｄｉｆｆ（ｉ）が第１規定値Ｋ１以上となる画素２９の周辺では、比較的広範囲に亘る異常の影響が及んでいることが考えられる。本実施形態の複合機１では、画素データＤ群毎に正常か否かを判断し、画素データＤ群をセンサチップ２８単位で選択するが、比較的広範囲に亘る異常の影響がセンサチップ２８の範囲を超えて広がっている場合には、隣接するセンサチップ２８に対しても正常か否かを判断することが好ましい。
【０１００】
本実施形態の複合機１では、第１規定値Ｋ１よりも小さい第２規定値Ｋ２を用いて比較的広範囲に亘る異常の周辺への影響を検出し、差分値Ｄｉｆｆ（ｉ）が第２規定値Ｋ２以上となる画素２９が隣接するセンサチップ２８にまで広がっている場合には、隣接するセンサチップ２８に対してもピーク画素を検出する。そのため、比較的広範囲に亘る異常の影響が隣接するセンサチップ２８にまで広がっていると考えられる場合に、隣接するセンサチップ２８に対しても正常か否かを判断することができる。
【０１０１】
＜他の実施形態＞
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような種々の態様も本発明の技術的範囲に含まれる。
（１）上記実施形態では、スキャン機能、コピー機能、印刷機能などの複数の機能を備えた複合機１を用いて説明を行ったが、本発明はこれに限られず、スキャナ機能のみを備えた画像読取装置であってもよい。また、複合機１は、ＡＤＦ読取、ＦＢ読取のいずれか一方のみ実行可能な構成でもよく、片面読取のみ可能な構成でもよい。この場合、第２読取部１７は必ずしも必要ない。
【０１０２】
（２）上記実施形態では、複合機１がＣＰＵ３０を有するＡＳＩＣ３９を備え、このＣＰＵ３０が必要に応じてＡＳＩＣ３９内のハード回路を用いて画像読取処理等の各種処理を実行する制御部が構成される例を用いて説明を行ったが、本発明はこれに限られない。例えば、ＣＰＵがＡＳＩＣとは別体として存在し、このＣＰＵにより制御部が実行する処理が実行されてもよければ、ＡＳＩＣ内にＣＰＵが存在せず、ＡＳＩＣに設けられたハード回路により制御部が実行する処理が実行されてもよい。さらには、単数又は複数のＣＰＵ及びＡＳＩＣによって、制御部が実行する処理を実行していてもよい。
【０１０３】
（３）また、ＣＰＵ３０が実行するプログラムは必ずしもＲＯＭ３６に記憶されている必要はなく、ＣＰＵ３０自身に記憶されていてもよければ、他の記憶装置に記憶されていてもよい。
【０１０４】
（４）上記実施形態では、画像読取処理において、ＨＰ検出処理や光量調整処理が行われる例を用いて説明を行ったが、本発明はこれに限られない。例えば、複合機１の電源オンされて最初の画像読取処理において、ＨＰ検出処理や光量調整処理が実行されていれば、複合機１の電源がオンされている間は、ＨＰ検出処理や光量調整処理は省略されてもよい。
【０１０５】
（５）上記実施形態では、偏差Ｄｅｖ（ｉ）を算出する際に、平均値Ｊ（Ｍ）を用いる例を用いて説明を行ったが、本発明はこれに限られない。例えば、平均値Ｊ（Ｍ）に代えて、センサチップ２８の全画素２９における画素データＤ１（ｉ）の中間値を用いてもよい。
【符号の説明】
【０１０６】
２２Ａ：白基準板、２５：第１読取部、２５Ｂ：受光部、２６：デバイス移動部、２８：センサチップ、２９：画素、Ｄ：画素データ、Ｄｅｖ：偏差、Ｄｉｆｆ：差分値、Ｊ：平均値、ＤＳ：白レベルデータ、ｉ：画素番号、Ｍ：チップ番号、ｊ、ｘ：ピーク画素、Ｒ１〜Ｒ３：読取位置、
【図１】
2015050562.tif 000003
【図２】
2015050562.tif 000004
【図３】
2015050562.tif 000005
【図４】
2015050562.tif 000006
【図５】
2015050562.tif 000007
【図６】
2015050562.tif 000008
【図７】
2015050562.tif 000009
【図８】
2015050562.tif 000010
【図９】
2015050562.tif 000011
【図１０】
2015050562.tif 000012
【図１１】
2015050562.tif 000013