(57)【要約】【課題】起動時以外にも、欠陥画素の検出及び登録を自動で行うことができ、撮影された画像や動画の画像品質が上昇する撮像装置を提供する。【解決手段】非撮影時又は非撮影モードへの移行操作時に、センサの温度を測定する温度測定手段により測定された温度が、予め設定された温度範囲内にあるか否かを判定し（ステップＳ４０１）、センサの温度が予め設定した閾値計算可能範囲内にあると判定した場合には、ステップＳ４０２に進む。ステップＳ４０２において、検出されたセンサの温度と、前回行ったピクセルマッピング時のセンサの温度との差分の絶対値が、予め設定した差分の閾値以上である場合には、欠陥画素判定用閾値を再計算する。ステップＳ４０２において、差分の絶対値が、予め設定した差分の閾値より小さいと判定した場合には閾値の再計算を許可せず、処理を中断し、前回ピクセルマッピングを行った時に登録した閾値を使用する。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像素子を備え、画像の取り込みを行う画像取込手段と、
リアルタイムで画像を表示しない、非撮影時又は非撮影モードへの移行操作時に、前記撮像素子の温度を測定する温度測定手段と、
前記温度測定手段で測定された温度が、予め設定された温度範囲内にあるか否かを判定する温度確認手段と、
前記取り込んだ画像を構成する複数の画素に含まれる欠陥画素と、前記欠陥画素の位置を検出する欠陥画素検出手段と、
検出した欠陥画素の位置と、前記温度測定手段で測定された温度を記録する記録手段と、
検出された欠陥画素の画素値を表す画素データを補正する画素データ補正手段とを備え、
前記欠陥画素検出手段は、検出対象となる注目画素の画素値が、欠陥画素判定用閾値を超えている場合には、前記注目画素が欠陥画素であると判定し、
前記欠陥画素判定用閾値は、前記温度測定手段で測定された撮像素子の第１の温度と、前記記録手段に記録されている撮像素子の第２の温度との差分の絶対値に基づいて設定されることを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
更に、欠陥画素判定用閾値設定部を備え、
前記欠陥画素判定用閾値設定部は、前記差分の絶対値が予め設定した所定の差分の閾値以上であると判定した場合には、第１の欠陥画素判定用閾値を算出して設定し、前記記録手段に記録することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記欠陥画素判定用閾値設定部が、前記差分の絶対値が予め設定した差分の閾値より小さいと判定した場合には、前記第１の欠陥画素判定用閾値を算出せずに、前記記録手段に記録されている第２の欠陥画素判定用閾値を欠陥画素の判定に用いることを特徴とする請求項２に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記第２の欠陥画素判定用閾値は、前記第２の温度の測定時に算出されたことを特徴とする請求項３に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記リアルタイムで画像を表示しない、非撮影時又は非撮影モードへの移行操作時に、前記撮像素子の駆動を行うことを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項６】
前記画像取込手段によって取り込んだ画像を表示する画像表示部を備える請求項１に記載の撮像装置。
【請求項７】
前記撮像素子は、撮像された画像を構成する複数の画素にそれぞれ対応し、該対応する画素の画素値を表す画素データをそれぞれ出力する複数の受光素子を備えることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項８】
撮像装置によって撮像された画像を構成する複数の画素の中から、欠陥画素を検出し、その位置を記録する欠陥画素検出方法であって、
撮像素子を備え、前記欠陥画素の検出対象となる注目画素の画素値を表す画素データと、前記注目画素の周辺に配置された複数の周辺画素の画素値を表す画素データを取得する画素データ取得工程と、
リアルタイムで画像を表示しない、非撮影時又は非撮影モードへの移行操作時に、前記撮像素子の温度を測定する温度測定工程と、
前記温度測定手段で測定された温度が、予め設定された温度範囲内にあるか否かを判定する温度確認工程と、
前記取り込んだ画像を構成する複数の画素に含まれる欠陥画素と、前記欠陥画素の位置を検出する欠陥画素検出工程と、
検出した欠陥画素の位置と、前記温度測定手段で測定された温度を記録する記録工程と、
検出された欠陥画素の画素値を表す画素データを補正する画素データ補正工程とを備え、
前記欠陥画素検出工程において、検出対象となる注目画素の画素値が、欠陥画素判定用閾値を超えている場合には、前記注目画素が欠陥画素であると判定し、
前記欠陥画素判定用閾値は、前記温度測定手段で測定された撮像素子の第１の温度と、前記記録手段に記録されている撮像素子の第２の温度との差分の絶対値に基づいて設定されることを特徴とする欠陥画素検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像装置及び欠陥画素検出方法に関し、特に、欠陥画素を自動で検出し、登録可能な撮像装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
撮像装置において、撮像素子の動作不良等に起因する欠陥画素が存在し、欠陥画素の撮像出力に起因する、いわゆる白キズや黒キズが生じる場合がある。これらのキズが存在すると、撮影された画像の品質が低下するため、撮像された画像を構成する複数の画素の中から、撮像素子の動作不良等による欠陥画素を検出し、これを補正する技術が提案されている。
【０００３】
例えば、デジタルカメラ等の撮像装置において、欠陥画素検出手段が欠陥画素を検出する際の検出条件及び温度計測手段から得られる温度情報を対応づけた情報をテーブルとして保持し、テーブル情報と温度計測手段から得られた温度情報を用いて、欠陥画素を検出する際の検出条件を算出して欠陥画素の補正を行う技術がある（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１２−１３４６８４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記した技術では、起動時のみに欠陥画素検出及び欠陥画素の登録を行っているため、それ以降の温度上昇等で新たに現れる欠陥画素には適応できない。
【０００６】
したがって、本発明は、起動時以外にも、欠陥画素の検出及び登録を自動で行うことができ、撮影された画像や動画の画像品質が上昇する撮像装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明に係る撮像装置は、撮像素子を備え、画像の取り込みを行う画像取込手段と、リアルタイムで画像を表示しない、非撮影時又は非撮影モードへの移行操作時に、撮像素子の温度を測定する温度測定手段と、温度測定手段で測定された温度が、予め設定された温度範囲内にあるか否かを判定する温度確認手段と、取り込んだ画像を構成する複数の画素に含まれる欠陥画素と、欠陥画素の位置を検出する欠陥画素検出手段と、検出した欠陥画素の位置と、前記温度測定手段で測定された温度を記録する記録手段と、検出された欠陥画素の画素値を表す画素データを補正する画素データ補正手段とを備え、欠陥画素検出手段は、検出対象となる注目画素の画素値が、欠陥画素判定用閾値を超えている場合には、注目画素が欠陥画素であると判定し、欠陥画素判定用閾値は、温度測定手段で測定された撮像素子の第１の温度と、記録手段に記録されている撮像素子の第２の温度との差分の絶対値に基づいて設定されることを特徴とする。
【０００８】
この構成により、本発明に係る撮像装置は、起動時以外にも、欠陥画素の検出及び登録を自動で行うことができ、撮影された画像や動画の画像品質が上昇する撮像装置を提供することを課題とする。  
【０００９】
本発明に係る撮像装置は、更に、欠陥画素判定用閾値設定部を備え、欠陥画素判定用閾値設定部は、差分の絶対値が予め設定した所定の差分の閾値以上であると判定した場合には、第１の欠陥画素判定用閾値を算出して設定し、記録手段に記録することを特徴とする。
【００１０】
本発明に係る撮像装置は、欠陥画素判定用閾値設定部が、差分の絶対値が予め設定した差分の閾値より小さいと判定した場合には、第１の欠陥画素判定用閾値を算出せずに、記録手段に記録されている第２の欠陥画素判定用閾値を欠陥画素の判定に用いることを特徴とする。
【００１１】
本発明に係る撮像装置において、第２の欠陥画素判定用閾値は、第２の温度の測定時に算出されたことを特徴とする。また、リアルタイムで画像を表示しない、非撮影時又は非撮影モードへの移行操作時に、撮像素子の駆動を行うことを特徴とする。
【００１２】
本発明に係る撮像装置では、画像取込手段によって取り込んだ画像を表示する画像表示部を備え、撮像素子は、撮像された画像を構成する複数の画素にそれぞれ対応し、該対応する画素の画素値を表す画素データをそれぞれ出力する複数の受光素子を備えることを特徴とする。
【００１３】
本発明に係る欠陥画素検出方法は、撮像装置によって撮像された画像を構成する複数の画素の中から、欠陥画素を検出し、その位置を記録する欠陥画素検出方法であって、撮像素子を備え、前記欠陥画素の検出対象となる注目画素の画素値を表す画素データと、注目画素の周辺に配置された複数の周辺画素の画素値を表す画素データを取得する画素データ取得工程と、リアルタイムで画像を表示しない、非撮影時又は非撮影モードへの移行操作時に、撮像素子の温度を測定する温度測定工程と、温度測定手段で測定された温度が、予め設定された温度範囲内にあるか否かを判定する温度確認工程と、取り込んだ画像を構成する複数の画素に含まれる欠陥画素と、欠陥画素の位置を検出する欠陥画素検出工程と、検出した欠陥画素の位置と、温度測定手段で測定された温度を記録する記録工程と、検出された欠陥画素の画素値を表す画素データを補正する画素データ補正工程とを備え、欠陥画素検出工程において、検出対象となる注目画素の画素値が、欠陥画素判定用閾値を超えている場合には、注目画素が欠陥画素であると判定し、欠陥画素判定用閾値は、温度測定手段で測定された撮像素子の第１の温度と、記録手段に記録されている撮像素子の第２の温度との差分の絶対値に基づいて設定されることを特徴とする。
【００１４】
この構成により、本発明に係る欠陥画素検出方法は、起動時以外にも、欠陥画素の検出及び登録を自動で行うことができる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、起動時以外にも、欠陥画素の検出及び登録を自動で行うことができ、撮影された画像や動画の画像品質が上昇する撮像装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の実施形態に係る撮像装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施形態に係る撮像装置において、欠陥画素を検出し、得られた結果をメモリ部に登録する方法の基本的な流れを示すフローチャートである。
【図３】図２のステップＳ２０３でのセンサ駆動について説明するフローチャートである。
【図４】図２のステップＳ２０５での閾値の再計算確認動作について説明するフローチャートである。
【図５】図２のステップＳ２１０での閾値の書き込み条件判定動作について説明するフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。
【００１８】
図１は、本発明の実施形態に係る撮像装置の構成を示すブロック図である。図１に示すように、撮像装置１０は、イメージセンサ部１１と、ＤＳＰ１２と、画像表示部１３と、メモリ部１４を備える。
【００１９】
イメージセンサ部１１は、センサ（撮像素子；図示せず）を備え、通常ビュー表示、欠陥画素の閾値の検出、及び欠陥画素であるか否かを判定する際の画像の取り込みを行う。センサは、撮像された画像を構成する複数の画素にそれぞれ対応し、この対応する画素の画素値を表す画素データをそれぞれ出力する複数の受光素子（図示せず）を備える。また、イメージセンサ部１１は、画像の取り込みの際に、センサの温度を測定する温度測定手段（図示せず）を備える。温度測定手段は、非撮影時又は非撮影モード、つまり、撮影時の通常ビュー以外の、メニューモード、再生モード等のリアルタイムで画像を表示しないモードへの移行操作時において、画像の取り込みの際に、センサの温度を測定する。
【００２０】
ＤＳＰ１２は、イメージセンサ部１１から取り込んだ画像の画像処理を行う他に、非撮影時又は非撮影モードにおいて、欠陥画素の閾値の計算、及び欠陥画素であるか否かを判定する。画像表示部１３は、撮影時又は撮影モードにおいて通常ビューを表示する他に、非撮影時又は非撮影モードにおいて、通常ビュー以外の表示を行う。メモリ部１４は、イメージセンサ部１１から取り込んだ画像をバッファとして保存する他、ピクセルマッピングにより検出された欠陥画素の位置、イメージセンサ部１１の温度及びピクセルマッピングにより計算して得られた画素値の閾値を登録する。
【００２１】
これらの構成を備えた撮像装置１０は、以下の処理により、起動時以外の通常ビュー以外を表示する時に、欠陥画素を検出するピクセルマッピングを自動で行う機能を有し、検出した欠陥画素の位置等を登録し、撮影の際や、画像表示部１３にビュー表示する際の欠陥画素補正に利用する。なお、欠陥画素であるか否かの判定は、検出対象となる注目画素の画素値が、設定した所定の画素値の閾値を超えているか否かで判定するものとし、注目画素の画素値が所定の画素値の閾値を超えている場合には、その注目画素は欠陥画素であると判定する。
【００２２】
図２〜５を参照して、本発明の実施形態に係る撮像装置１０において、ピクセルマッピングにより欠陥画素を検出し、欠陥画素の位置、ピクセルマッピング時のイメージセンサ部１１のセンサの温度及びピクセルマッピングで計算して得られた画素値の閾値をメモリ部１４に登録する方法について説明する。まず、図２を用いて、撮像装置１０において、ピクセルマッピングにより欠陥画素を検出し、得られた結果をメモリ部１４に登録する方法の基本的な流れを説明する。図２は、撮像装置１０において、ピクセルマッピングにより欠陥画素を検出し、得られた結果をメモリ部１４に登録する方法の基本的な流れを示すフローチャートである。
【００２３】
本発明の実施形態に係る撮像装置１０では、起動時に限られず、起動時以外のメニューモード、再生モード等の、リアルタイムで画像を表示しないモードにおいて、自動でイメージセンサ部１１のセンサ駆動を行うことによりピクセルマッピングを行う。なお、本実施形態では自動でピクセルマッピングを開始する例を示すが、ユーザが画像表示部１３に表示されたメニューモード（図示せず）からピクセルマッピングを選択する等の専用モードにより、ピクセルマッピングを開始しても構わない。
【００２４】
まず、ステップＳ２０１では、現在の状況が、ピクセルマッピングが行える状況にあるか否かを判定する。ピクセルマッピングが行えない条件としては、例えば、撮像装置１０の電池残容量が少ない、撮像装置１０において、レンズが取り外されている等の遮光されていない状態等があげられる。現在ピクセルマッピングが行える状況にあると判定した場合には、ピクセルマッピングを許可し、ステップＳ２０２に進む。現在ピクセルマッピングが行えない状況にあると判定した場合には、ピクセルマッピングを許可せずに終了する。
【００２５】
ステップＳ２０２では、イメージセンサ部１１のセンサが駆動中であるか否かを判定する。センサが駆動していないと判定した場合には、ステップＳ２０３に進んでセンサ駆動を行い、ステップＳ２０４に進む。ステップＳ２０２においてセンサが駆動中であると判定した場合には、ステップＳ２０４に進む。
【００２６】
ステップＳ２０４では、イメージセンサ部１１のセンサの温度を検出し、ステップＳ２０５に進む。ステップＳ２０５では、後述する画素値の閾値の再計算を行うか否かを確認する。閾値の再計算を行わないと判定した場合には、メモリ部１４に登録されている閾値、すなわち、起動時又は前回ピクセルマッピングを行ったときの閾値を使う。新たに閾値を再計算せずに、既に登録されている値を使うか否かの判定に際しては、例えば、検出されたセンサの温度と、前回行ったピクセルマッピング時のセンサの温度との差分の絶対値が、予め設定した値より小さい場合には、前回ピクセルマッピングを行った時に登録した閾値を使用するようにする。
【００２７】
ステップＳ２０６では、ピクセルマッピング用の画像を取得し、ステップＳ２０７に進む。ステップＳ２０７では、画素値の閾値を再計算するか否かを判定する。画素値は温度によって変化するため、画素値の閾値の再計算の方法（閾値判定式）は、所定の温度に対する画素値の閾値を予め設定し、その閾値に対して、温度による変化を考慮した値を計算するものとする。ステップＳ２０７において、画素値の閾値を再計算すると判定した場合には、ステップＳ２０８に進んで閾値の再計算を行い、ステップＳ２１０に進む。ステップＳ２０７において閾値を再計算しないと判定した場合にはステップＳ２０９に進み、前回ピクセルマッピングを行った際の閾値をメモリ部１４より取得し、ステップＳ２１０に進む。
【００２８】
ステップＳ２１０において、メモリ部１４への書き込み条件を判定してステップＳ２１１に進む。ステップＳ２１１において、メモリ部１４への書き込みを許可するか否かを判定し、書き込みを許可すると判定した場合にはステップＳ２１２に進む。ステップＳ２１２では、ピクセルマッピングにより検出された欠陥画素の位置、その際のイメージセンサ部１１のセンサの温度及びピクセルマッピングで計算して得られた画素値の閾値をメモリ部１４に登録し、その後、処理を終了する。ステップＳ２１１において、書き込みを許可しないと判定した場合には、処理を中断することにより処理を終了する。このように、ステップＳ２０１からステップＳ２１２までの各動作において、ユーザからの終了要求や閾値計算で得られた値に異常がみられる場合には、処理を中断し、ピクセルマッピングを行わない。
【００２９】
次に、図３を参照して、図２のステップＳ２０３におけるイメージセンサ部１１のセンサ駆動動作について説明する。図３は、図２のステップＳ２０２においてイメージセンサ部１１が駆動していないと判定された場合における、ステップＳ２０３でのセンサ駆動動作の流れを示すフローチャートである。
【００３０】
まず、ステップＳ３０１において、駆動制御のためにイメージセンサ部１１へ電源が供給されているか否かを確認する。ステップＳ３０１において、イメージセンサ部１１へ電源が供給されていないと判定した場合には、ステップＳ３０２に進み、イメージセンサ部１１へ電源を供給する。ステップＳ３０１において、イメージセンサ部１１へ電源が供給されていると判定した場合、又はステップＳ３０２においてイメージセンサ部１１へ電源が供給された場合には、ステップＳ３０３に進む。
【００３１】
ステップＳ３０３では、イメージセンサ部１１へクロック信号が供給されているか否かを確認する。ステップＳ３０３において、イメージセンサ部１１へクロック信号が供給されていないと判定した場合には、ステップＳ３０４に進み、イメージセンサ部１１にクロックを供給する。ステップＳ３０３において、イメージセンサ部１１にクロック信号が供給されていると判定された場合、又はステップＳ３０４においてイメージセンサ部１１にクロック信号が供給された場合には、ステップＳ３０５に進む。
【００３２】
ステップＳ３０５では、イメージセンサ部１１と同期するためのＨＤ信号及びＶＤ信号がイメージセンサ部１１に供給されているか否かを確認する。ステップＳ３０５において、イメージセンサ部１１にＨＤ信号及びＶＤ信号が供給されていないと判定した場合には、ステップＳ３０６に進み、イメージセンサ部１１にＨＤ信号及びＶＤ信号を供給する。ステップＳ３０５において、イメージセンサ部１１にＨＤ信号及びＶＤ信号が供給されていると判定した場合、又はステップＳ３０６においてイメージセンサ部１１にＨＤ信号及びＶＤ信号を供給した場合には、ステップＳ３０７に進み、イメージセンサ部１１のセンサ駆動に必要なレジスタを送信する。なお、センサは図２のステップＳ２０６の画像取得まで駆動している。
【００３３】
次に、図４を参照して、図２のステップＳ２０５における画素値の閾値の再計算を行うか否かを確認する、閾値の再計算確認動作の処理内容について説明する。図４は、本発明の実施形態における撮像装置１０の閾値再計算確認動作についての流れを示すフローチャートである。
【００３４】
まず、ステップＳ４０１において、イメージセンサ部１１のセンサの温度が、予め設定した閾値計算可能範囲内にあるか否かを判定する。ステップＳ４０１において、センサの温度が予め設定した閾値計算可能範囲内にあると判定した場合には、ステップＳ４０２に進む。ステップＳ４０１において、センサの温度が予め設定した閾値計算可能範囲外であると判定した場合には、ステップＳ４０５に進んで閾値の計算を許可せず、処理を中断し、前回ピクセルマッピングを行った時に登録した閾値を使用する。このように、イメージセンサ部１１のセンサの温度に閾値計算可能範囲を設定する理由は、上述したように、欠陥画素を検出する際に用いられる閾値判定式がセンサの温度に依存するため、欠陥画素を検出するのに適正な温度範囲が存在するためである。
【００３５】
次に、ステップＳ４０２において、ステップＳ２０４で検出されたセンサの温度と、前回行ったピクセルマッピング時のセンサの温度との差分の絶対値が、予め設定した差分の閾値以上であるか否かを判定する。ステップＳ４０２において、差分の絶対値が、予め設定した差分の閾値以上であると判定した場合には、ステップＳ４０３に進む。これに対し、ステップＳ４０２において、差分の絶対値が、予め設定した差分の閾値より小さいと判定した場合には、ステップＳ４０５に進んで閾値の計算を許可せず、処理を中断し、前回ピクセルマッピングを行った時に登録した閾値を使用する。このように、差分の絶対値に閾値を設けているのは、差分の絶対値が閾値以上の場合において、既に登録された欠陥画素検出用の閾値を使用すると、欠陥画素の検出の際に、検出を誤ることが予想されるためである。
【００３６】
ステップＳ４０３では、電池容量がフルである等、電池の残り容量が予め設定した電池容量の閾値以上であるか否かを判定する。ステップＳ４０３において、電池の残り容量が予め設定した電池容量の閾値以上であると判定した場合には、ステップＳ４０４に進み、欠陥画素を判定する際の閾値の値の計算を許可する。これに対し、ステップＳ４０３において、電池の残り容量が予め設定した電池容量の閾値より小さいと判定した場合には、ピクセルマッピング時、又はピクセルマッピングを行った結果をメモリ部１４に保存している間に電池容量がなくなる場合があるため、ステップＳ４０５に進んで閾値の計算を許可せず、処理を中断し、前回ピクセルマッピングを行った時に登録した閾値を使用する。
【００３７】
次に、図５を参照して、図２のステップＳ２１０において、メモリ部１４への書き込みを許可し、ピクセルマッピングを継続するか否かを判定する際の書き込み条件判定動作の処理内容について説明する。図５は、本発明の実施形態における撮像装置１０の閾値の書き込み条件判定動作についての流れを示すフローチャートである。ここでは、書き込み条件確認として、イメージセンサ部１１の温度や電池残容量の確認、レンズの取り外しの有無、ユーザからの終了条件の有無を確認し、ピクセルマッピングが継続できるか否かを確認する。
【００３８】
まず、ステップＳ５０１において、イメージセンサ部１１のセンサの温度が、予め設定した温度の閾値計算可能範囲内であるか否かを判定する。ステップＳ５０１において、センサの温度が予め設定した温度の閾値計算可能範囲内であると判定した場合には、ステップＳ５０２に進む。ステップＳ５０１において、センサの温度が予め設定した温度の閾値計算可能範囲外であると判定した場合には、ピクセルマッピングに失敗したと判定し、ステップＳ５０６に進んでピクセルマッピングを終了する。
【００３９】
ステップＳ５０２では、電池容量がフルである等、電池の残り容量が予め設定した許容範囲内であるか否かを確認する。ステップＳ５０２において、電池の残り容量が予め設定した許容範囲内であると判定した場合には、ステップＳ５０３に進む。ステップＳ５０２において、電池の残り容量が予め設定した許容範囲外であると判定した場合には、電池残り容量が少ないため、ステップＳ５０６に進んでピクセルマッピングを終了する。
【００４０】
次に、ステップＳ５０３では、レンズが取り外されていないか否かを確認する。ステップＳ５０３において、レンズが取り外されていないと判定した場合には、ステップＳ５０４に進む。ステップＳ５０３において、レンズが取り外されていると判定した場合には、イメージセンサ部１１が遮光されていないため、欠陥画素を検出することができない。この場合には、ピクセルマッピングに失敗したと判定し、ステップＳ５０６に進んでピクセルマッピングを終了する。
【００４１】
ステップＳ５０４では、例えば、電源オフ要求等の、ユーザから終了条件が無いか否かを確認する。ステップＳ５０４において、ユーザから終了条件が無いと判定した場合には、ステップＳ５０５に進み、ピクセルマッピングを継続する。ステップＳ５０４において、ユーザから終了条件があると判定した場合には、ステップＳ５０６に進み、ピクセルマッピングを終了する。
【００４２】
以上示したように、本発明の実施形態に係る撮像装置では、起動時以外の非撮影時又は非撮影モードへの移行操作時毎に、自動で、現在の状況が、ピクセルマッピングが行える状況にあるか否かを判定し、ピクセルマッピングが行える状況にある場合にはピクセルマッピングを行う。このため、起動時以降に温度上昇等で欠陥画素が新たに現れても適応でき、撮影された画像や動画の画像品質が上昇する撮像装置を提供することができる。また、現在ピクセルマッピングが行えない状況にあると判定した場合には、ピクセルマッピングを許可せずに終了する。このため、電池容量を無駄に消費することがない。
【００４３】
また、本発明の実施形態に係る撮像装置では、ピクセルマッピング毎に、画素値の閾値の再計算を行うか否かを確認し、閾値の再計算を行わないと判定した場合には、メモリ部に登録されている閾値、すなわち、起動時又は前回ピクセルマッピングを行ったときの閾値を使う。このように、毎回閾値の再計算を行わずに済むため、電池容量を無駄に消費することがない。
【００４４】
更に、本発明の実施形態に係る撮像装置では、画素値の閾値を再計算するか否かの判定を、検出されたセンサの温度と、前回行ったピクセルマッピング時のセンサの温度との差分の絶対値に基づいて設定する。このため、ピクセルマッピングを行う際に、まず画像を取り込むことなく、センサの温度を測定するたけで、効率よく画素値の閾値の再計算をするか否かの判定を行うことができる。
【００４５】
また、本発明の実施形態に係る撮像装置では、毎回、センサの温度や電池残容量の確認、レンズの取り外しの有無、ユーザからの終了条件の有無を確認し、ピクセルマッピングが継続できるか否かを確認する。このように、終了要求や、ピクセルマッピングの失敗に対応可能であり、確実にピクセルマッピングを行うことができる。
【符号の説明】
【００４６】
１０  撮像装置
１１  イメージセンサ部（画像取込手段、温度測定手段）
１２  ＤＳＰ（温度確認手段、欠陥画素検出手段、画素データ補正手段、欠陥画素判定用閾値設定部）
１３  画像表示部
１４  メモリ部（記録手段）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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