(57)【要約】【課題】回転する検査対象物の円環又は扇形の検査対象表面領域を回転半径方向又は略回転半径方向で撮像するラインセンサを用いて外観の検査を行う際に、アフィン変換処理を行うことなく検査対象物の表面の欠陥を検出する。【解決手段】欠陥検査装置は、回転する検査対象物の円環又は扇形の検査対象表面領域を回転半径方向又は略回転半径方向で撮像するラインセンサ５を用いて検査対象物の外観の検査を行う。画像処理ボード１５の領域分割部３９は、ラインセンサ５によって撮像された画像データ又はその処理画像データの画素配列領域をラインセンサ５の配置方向に対応する軸方向で複数の分割領域に分割する。欠陥検出部４５は、上記分割領域ごとに設けられたテンプレート群を用いてパターンマッチングを実行して検査対象物の表面の欠陥を検出する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
回転する検査対象物の円環又は扇形の検査対象表面領域を回転半径方向又は略回転半径方向で撮像するラインセンサを用いて検査対象物の外観の検査を行う欠陥検査装置であって、
前記ラインセンサによって撮像された画像データ又はその処理画像データの画素配列領域を前記ラインセンサの配置方向に対応する軸方向で複数の分割領域に分割し、前記分割領域ごとに設けられたテンプレート群を用いてパターンマッチングを実行して前記検査対象物の表面の欠陥を検出する画像処理部を備えたことを特徴とする欠陥検査装置。
【請求項２】
前記検査対象物の前記欠陥は直線状欠陥である請求項１に記載の欠陥検査装置。
【請求項３】
前記画像処理部は、前記パターンマッチングの実行を複数の前記分割領域について並行して行う請求項１又は２に記載の欠陥検査装置。
【請求項４】
前記画像処理部は、前記ラインセンサによって撮像された画像データとマスター画像データとの比較を行って不一致箇所の多値画像データを得る比較部と、
前記比較部が得た前記不一致箇所の多値画像データと閾値データとの比較を行って２値化データを得る２値化処理部と、
前記マスター画像データ、前記不一致箇所の多値画像データ及び前記２値化データのうちいずれかのデータの画素配列領域を前記分割領域に分割する領域分割部と、
前記２値化処理部が得た前記２値化データに対して前記分割領域に応じた前記テンプレート群を用いて前記テンプレート群を構成する複数のテンプレートのうち少なくとも１つとパターンマッチングしている注目画素を検出する欠陥検出部と、
前記欠陥検出部が検出した注目画素の情報を保持する保持部と、を備えている請求項１から３のいずれか一項に記載の欠陥検査装置。
【請求項５】
前記検査対象物はタイヤである請求項１から４のいずれか一項に記載の欠陥検査装置。
【請求項６】
回転する検査対象物の円環又は扇形の検査対象表面領域を回転半径方向又は略回転半径方向で撮像するラインセンサを用いて検査対象物の外観の検査を行う欠陥検査方法であって、
前記ラインセンサによって撮像された画像データ又はその処理画像データの画素配列領域を前記ラインセンサの配置方向に対応する軸方向で複数の分割領域に分割する領域分割ステップと、
前記分割領域ごとに設けられたテンプレート群を用いてパターンマッチングを実行して前記検査対象物の表面の欠陥を検出する欠陥検出ステップと、を含むことを特徴とする欠陥検査方法。
【請求項７】
前記検査対象物の前記欠陥は直線状欠陥である請求項６に記載の欠陥検査方法。
【請求項８】
前記パターンマッチングの実行を複数の前記分割領域について並行して行う請求項６又は７に記載の欠陥検査方法。
【請求項９】
前記ラインセンサによって撮像された画像データとマスター画像データとの比較を行って不一致箇所の多値画像データを得る比較ステップと、
前記比較部が得た前記不一致箇所の多値画像データと閾値データとの比較を行って２値化データを得る２値化ステップと、をさらに含み、
前記領域分割ステップは、前記マスター画像データ、前記不一致箇所の多値画像データ及び前記２値化データのうちいずれかのデータの画素配列領域を前記分割領域に分割し、
前記欠陥検出ステップは、前記２値化処理部が得た前記２値化データに対して前記分割領域に応じた前記テンプレート群を用いて前記テンプレート群を構成する複数のテンプレートのうち少なくとも１つとパターンマッチングしている注目画素を検出する請求項６又は７から８のいずれか一項に記載の欠陥検査方法。
【請求項１０】
前記検査対象物はタイヤである請求項６から９のいずれか一項に記載の欠陥検査方法。
【請求項１１】
請求項６から１０のいずれか一項に記載の欠陥検査方法の各ステップをコンピュータに実行させるための欠陥検査プログラム。
【請求項１２】
請求項６から１０のいずれか一項に記載の欠陥検査方法の各ステップをコンピュータに実行させるための欠陥検査プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、欠陥検査装置、欠陥検査方法、欠陥検査プログラム及び記録媒体に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
タイヤの側面のサイドウォールにある引っ掻き傷等、製造工程内で生じてしまう直線状欠陥を検出したい場合、ラインセンサを用いた欠陥検査装置で、円環状のタイヤを回転させてタイヤの側面が撮像される。
【０００３】
図１８は、欠陥検査装置におけるタイヤとラインセンサの位置関係を説明するための概略的な平面図及び斜視図である。
【０００４】
タイヤ回転台１の回転台の上にタイヤ３が設置される。ラインセンサカメラ５は、タイヤ３の上方でタイヤ回転台１の回転台の回転半径方向に配置されている。タイヤ３の中心はタイヤ回転台１の回転台の回転中心と一致している。タイヤ３のサイドウォールは、タイヤ回転台１によって一周回転されて、ラインセンサカメラ５によって撮像される。
【０００５】
タイヤ３の外径ｒ1（タイヤ直径）と内径ｒ2（ホイール直径）は互いに長さが異なるため、タイヤ３を回転させてラインセンサカメラ５で撮像した画像において、内周側と外周側の間で歪みが生じる。例えば、タイヤ３のサイドウォールにある直線状欠陥は、タイヤ３を回転させてラインセンサカメラ５で撮像した画像では曲線で表示される。
【０００６】
したがって、撮像した画像に直線フィルターで直線状欠陥の検出処理を行っても検出することができない。このような不具合は検査対象物がタイヤである場合に限らず、検査対象物を回転させて検査対象物の円環又は扇形の検査対象表面領域をラインセンサで撮像する場合に生じる。
【０００７】
そのため、内周側と外周側の歪みを元の画像に戻す補正処理が必要となる。補正処理の方法として、例えば、アフィン変換と呼ばれる、回転等に対する歪みを補正する処理が知れられている（例えば特許文献１，２を参照。）。
【０００８】
図１９は、ラインセンサで撮像された画像とアフィン変換後の画像とタイヤの形状との関係を説明するための概略的な図である。
【０００９】
ラインセンサで撮像された画像７は長方形である。画像７の長辺はタイヤ３の外周の長さπｒ1に対応している。画像７の短辺はタイヤ３の外径ｒ1と内径ｒ2の差の半分の寸法（ｒ1−ｒ2）／２に対応している。画像７において、タイヤ３の内周の長さが外周の長さと同じになっているので、タイヤ３の内周側と外周側の間で歪みが生じている。
【００１０】
アフィン変換後の画像９は等脚台形である。アフィン変換後の画像９は、ラインセンサで撮像された画像７の内周側が縮小されたものである。画像９の下底はタイヤ３の外周の長さπｒ1に対応している。画像９の上底はタイヤ３の内周の長さπｒ2に対応している。画像９を曲げて底辺でない二辺を繋げるとタイヤ３の形状になる。
【００１１】
図２０は、従来の欠陥検査装置の処理フローの概略を説明するためのフローチャートである。図２０を参照して、従来の欠陥検査装置の処理フローの概略を説明する。
【００１２】
ステップＳ１０１：カメラ（ラインセンサ）からの入力画像データをマスター画像データと比較し、不一致箇所の画像データを得る。
【００１３】
ステップＳ１０２：ステップＳ１０１で得られた不一致箇所の画像データをアフィン変換して、内周側と外周側の歪みを補正する。
【００１４】
ステップＳ１０３：ステップＳ１０２で得られたアフィン変換後の画像データに対してハフ変換などの直線フィルター処理を施して画像処理を行って、直線状欠陥を検出する。
【００１５】
ハフ変換では下記の式（１）を満たす（ρ，θ）が直線となる。また、ハフ変換は計算量が多いことが知られている。
ρ＝ｘｃｏｓθ＋ｙｓｉｎθ    ・・・（１）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１６】
従来の外観欠陥検査装置は、直線状欠陥を検出するために、回転する検査対象物をラインセンサで撮像した画像を元の画像に戻すアフィン変換処理を行った後に、直線フィルター処理（ハフ変換など）を行う。したがって、従来の欠陥検査装置は、２つの処理が必要になるので、処理効率が悪いという問題があった。
【００１７】
また、従来の外観検査装置は、直線状欠陥を検出する場合だけでなく、例えば湾曲した欠陥や折れ曲がった欠陥、環状の欠陥など、直線以外の形状の欠陥を検出する場合にもアフィン変換処理を必要とする。
【００１８】
本発明は、回転する検査対象物の円環又は扇形の検査対象表面領域を回転半径方向又は略回転半径方向で撮像するラインセンサを用いて外観の検査を行う際に、アフィン変換処理を行うことなく検査対象物の表面の欠陥を検出することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
本発明に係る欠陥検査装置は、回転する検査対象物の円環又は扇形の検査対象表面領域を回転半径方向又は略回転半径方向で撮像するラインセンサを用いて検査対象物の外観の検査を行う欠陥検査装置であって、上記ラインセンサによって撮像された画像データ又はその処理画像データの画素配列領域を上記ラインセンサの配置方向に対応する軸方向で複数の分割領域に分割し、上記分割領域ごとに設けられたテンプレート群を用いてパターンマッチングを実行して上記検査対象物の表面の欠陥を検出する画像処理部を備えたことを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００２０】
本発明の欠陥検査装置は、アフィン変換処理を行うことなく検査対象物の表面の欠陥を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明の欠陥検査装置の一実施例を説明するための概略的なブロック図である。
【図２】同実施例を説明するための概略的な構成図である。
【図３】本発明の欠陥検査装置の他の実施例の処理フローの概略を説明するためのフローチャートである。
【図４】図１の欠陥検査装置の実施例の処理フロー及び欠陥検査方法の一実施例を説明するためのフローチャートである。
【図５】直線を検出するためのテンプレートの一例を説明するための図である。
【図６】２値画像の例とテンプレートの大きさを示す図である。
【図７】１つの注目画素について複数のテンプレートを乗算してテンプレートごとに得点を求める工程を説明するための図である。
【図８】図６の２値画像について図７の９０°の直線のテンプレートをかけた結果を示す図である。
【図９】図６の２値画像について図７の４５°の直線のテンプレートをかけた結果を示す図である。
【図１０】図６の２値画像についての直線の検出結果を示す図である。
【図１１】タイヤのサイドウォールにおける直線状欠陥と、ラインセンサによって撮像された画像データにおける上記直線状欠陥との関係を説明するための図である。
【図１２】タイヤの中心からの距離が２００ｍｍの直線状欠陥についてその中点を回転中心として０°から９０°の範囲で５°刻みで回転させたときにラインセンサカメラが取り込んだ局所的な画像を示した図である。
【図１３】タイヤの中心からの距離が３００ｍｍの直線状欠陥についてその中点を回転中心として０°から９０°の範囲で５°刻みで回転させたときにラインセンサカメラが取り込んだ局所的な画像を示した図である。
【図１４】タイヤの実画像における各分割領域での直線状欠陥と、ラインセンサカメラによって取り込まれた画像における各分割領域での直線状欠陥との関係を模式的に示した図である。
【図１５】各分割領域で参照するテンプレート群を模式的に示した図である。
【図１６】ラインセンサカメラによって取り込まれた画像データの画素配列領域と分割領域との関係を説明するための図である。
【図１７】分割領域ごとに用意するテンプレートの求め方を説明するための図である。
【図１８】欠陥検査装置におけるタイヤとラインセンサの位置関係を説明するための概略的な平面図及び斜視図である。
【図１９】ラインセンサで撮像された画像とアフィン変換後の画像とタイヤの形状との関係を説明するための概略的な図である。
【図２０】従来の欠陥検査装置の処理フローの概略を説明するためのフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
本発明の欠陥検査装置が検出する上記検査対象物の上記欠陥は、例えば直線状欠陥である。ただし、本発明の欠陥検査装置が検出する欠陥は直線状欠陥に限定されない。その欠陥は、例えば湾曲した欠陥や、折れ曲がった欠陥、環状の欠陥など、任意の形状であってもよい。
【００２３】
本発明の欠陥検査装置において、上記画像処理部は、上記パターンマッチングの実行を複数の上記分割領域について並行して行う例を挙げることができる。ただし、画像処理部はパターンマッチングの実行を複数の分割領域について順番に行ってもよい。
【００２４】
本発明の欠陥検査装置において、上記画像処理部は、上記ラインセンサによって撮像された画像データとマスター画像データとの比較を行って不一致箇所の多値画像データを得る比較部と、上記比較部が得た上記不一致箇所の多値画像データと閾値データとの比較を行って２値化データを得る２値化処理部と、上記マスター画像データ、上記不一致箇所の多値画像データ及び上記２値化データのうちいずれかのデータの画素配列領域を上記分割領域に分割する領域分割部と、上記２値化処理部が得た上記２値化データに対して上記分割領域に応じた上記テンプレート群を用いて上記テンプレート群を構成する複数のテンプレートのうち少なくとも１つとパターンマッチングしている注目画素を検出する欠陥検出部と、上記欠陥検出部が検出した注目画素の情報を保持する保持部と、を備えている例を挙げることができる。
【００２５】
ただし、本発明の欠陥検査装置において、画像処理部の構成は上記の構成に限定されるものではない。本発明の欠陥検査装置において、画像処理部の構成は、ラインセンサによって撮像された画像データ又はその処理画像データの画素配列領域をラインセンサの配置方向に対応する軸方向で複数の分割領域に分割し、分割領域ごとに設けられたテンプレート群を用いてパターンマッチングを実行して検査対象物の表面の直線状欠陥を検出することができる構成であれば、どのような構成であってもよい。
【００２６】
本発明の欠陥検査装置において、上記検査対象物はタイヤである例を挙げることができる。ただし、本発明の欠陥検査装置において、検査対象物はタイヤに限定されない。該検査対象物は、ラインセンサに対して相対的に回転させることができるものであれば特に限定されない。また、該検査対象物は、円環形状のものに限定されない。本発明の欠陥検査装置は、検査対象物をラインセンサに対して相対的に回転させたときラインセンサによって撮像される円環又は扇形の表面領域を検査対象領域とすることができる。
【００２７】
本発明に係る欠陥検査方法は、回転する検査対象物の円環又は扇形の検査対象表面領域を回転半径方向又は略回転半径方向で撮像するラインセンサを用いて検査対象物の外観の検査を行う欠陥検査方法であって、上記ラインセンサによって撮像された画像データ又はその処理画像データの画素配列領域を上記ラインセンサの配置方向に対応する軸方向で複数の分割領域に分割する領域分割ステップと、上記分割領域ごとに設けられたテンプレート群を用いてパターンマッチングを実行して上記検査対象物の表面の欠陥を検出する欠陥検出ステップと、を含むことを特徴とする。
【００２８】
本発明の欠陥検査方法が検出する上記検査対象物の上記欠陥は、例えば直線状欠陥である。ただし、本発明の欠陥検査方法が検出する欠陥は直線状欠陥に限定されない。その欠陥は、例えば湾曲した欠陥や、折れ曲がった欠陥、環状の欠陥など、任意の形状であってもよい。
【００２９】
本発明の欠陥検査方法において、上記パターンマッチングの実行を複数の上記分割領域について並行して行う例を挙げることができる。ただし、パターンマッチングの実行を複数の分割領域について順番に行ってもよい。
【００３０】
本発明の欠陥検査方法において、上記ラインセンサによって撮像された画像データとマスター画像データとの比較を行って不一致箇所の多値画像データを得る比較ステップと、上記比較部が得た上記不一致箇所の多値画像データと閾値データとの比較を行って２値化データを得る２値化ステップと、をさらに含み、上記領域分割ステップは、上記マスター画像データ、上記不一致箇所の多値画像データ及び上記２値化データのうちいずれかのデータの画素配列領域を上記分割領域に分割し、上記欠陥検出ステップは、上記２値化処理部が得た上記２値化データに対して上記分割領域に応じた上記テンプレート群を用いて上記テンプレート群を構成する複数のテンプレートのうち少なくとも１つとパターンマッチングしている注目画素を検出する例を挙げることができる。
【００３１】
ただし、本発明の欠陥検査方法は、上記比較ステップと上記２値化ステップとを含むことに限定されるものではない。本発明の欠陥検査方法は、上記領域分割ステップと上記欠陥検出ステップとを少なくとも含む構成であれば、どのような構成であってもよい。
【００３２】
本発明の欠陥検査装置及び本発明の欠陥検査方法において、上記検査対象物はタイヤである例を挙げることができる。ただし、本発明の欠陥検査装置及び本発明の欠陥検査方法において、検査対象物はタイヤに限定されない。該検査対象物は、ラインセンサに対して相対的に回転させることができるものであれば特に限定されない。また、該検査対象物は、円環形状のものに限定されない。本発明の欠陥検査装置及び本発明の欠陥検査方法は、検査対象物をラインセンサに対して相対的に回転させたときラインセンサによって撮像される円環又は扇形の表面領域を検査対象領域とすることができる。
【００３３】
本発明に係る欠陥検査プログラムは、本発明の欠陥検査方法の各ステップをコンピュータに実行させるための欠陥検査プログラムである。
【００３４】
本発明に係る記録媒体は、本発明の欠陥検査方法の各ステップをコンピュータに実行させるための欠陥検査プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体である。
【００３５】
本発明において、回転する検査対象物の円環又は扇形の検査対象表面領域を回転半径方向又は略回転半径方向で撮像するラインセンサによって撮像した画像は回転の中心側に対応する領域がより歪んでいる。しかし、例えば１ｍｍ（ミリメートル）四方など、局所的に見るとその歪みは小さい。したがって、例えば直線状欠陥をラインセンサによって撮像した画像において直線と見ることができる。
【００３６】
本発明では、テンプレート群を用いたパターンマッチングを用いて直線状欠陥の検出を行う。１つのテンプレート群で検出を行う解像度を小さくすることで、欠陥形状に対して歪んでいる軌跡、例えば直線に対して歪んでいる軌跡を直線状欠陥として扱うことができる。
【００３７】
ラインセンサによって撮像した画像において、検査対象物の表面の欠陥、例えば直線状欠陥が歪む量は内周側と外周側とで異なる。そこで、本発明は、ラインセンサによって撮像された画像データ又はその処理画像データの画素配列領域をラインセンサの配置方向に対応する軸方向で複数の分割領域に分割する。そして、本発明は、画像データにおける画像の歪みを考慮して、分割領域ごとにテンプレート群を設ける。これにより、本発明は、テンプレート群を変えるだけで、どの分割領域においても同じ処理でフィルター処理を行うことができる。
【００３８】
検査対象物の表面の直線状欠陥を検出する本発明の実施例について説明する。
図３は、本発明の欠陥検査装置の実施例の処理フローの概略を説明するためのフローチャートである。
【００３９】
ステップＳ１：カメラ（ラインセンサ）からの入力画像データをマスター画像データと比較し、不一致箇所の画像データを得る。
【００４０】
ステップＳ２：ステップＳ１で得られた不一致箇所の画像データの画素配列領域をラインセンサの配置方向に対応する軸方向で複数の分割領域に分割する。ステップＳ１で得られた不一致箇所の画像データに対して、分割領域ごとに設けられたテンプレート群を用いてパターンマッチングを実行して検査対象物の表面の直線状欠陥を検出する。複数の分割領域に分割するステップと、直線状欠陥を検出する欠陥検出ステップは、欠陥検出フィスター処理として一連の画像処理で行われる。
【００４１】
本発明は、アフィン変換処理を行う必要が無く、取得した画像データを直接フィルター処理にかけることができる。したがって、本発明は、処理効率が向上し、処理速度の向上が見込める。
【００４２】
図１は、本発明の欠陥検査装置の一実施例を説明するための概略的なブロック図である。図２は、この実施例を説明するための概略的な構成図である。
【００４３】
この実施例の欠陥検査装置は、タイヤ回転台１、ラインセンサカメラ５（ラインセンサ）、パーソナルコンピュータ１１、モニタ１３を備えている。
【００４４】
タイヤ回転台１の回転台の上に検査対象物であるタイヤ３が設置される。タイヤ３のサイドウォール（円環）が検査対象表面領域である。
【００４５】
ラインセンサカメラ５は、タイヤ回転台１によって回転されるタイヤ３のサイドウォールを回転半径方向で撮像する。ここで、ラインセンサカメラ５の配置方向（撮像素子が配列されている方向）は厳密にタイヤ３の回転半径方向と一致していなくてもよい。例えば、ラインセンサカメラ５は、タイヤ回転台１によって回転されるタイヤ３の回転半径方向に対して角度をもつ略回転半径方向に配置されていてもよい。
【００４６】
図２に示されるように、パーソナルコンピュータ１１は画像処理ボード１５（画像処理部）とＨＤＤ（ハードディスクドライブ）１７を備えている。ＨＤＤ１７は、図１においてマスター画像データ保持部１９を構成している。
【００４７】
ＨＤＤ１７は本発明の欠陥検査方法の各ステップをコンピュータに実行させるための欠陥検査プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体を構成している。ただし、本発明の記録媒体はＨＤＤに限定されず、他の記録媒体、例えばＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭ、ＥＰＲＯＭ、フラッシュメモリ、フレキシブルディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ、ＳＤカード、ＭＯなどであってもよい。
【００４８】
図２に示されるように、画像処理ボード１５は、ＦＰＧＡ（field-programmable gate array）２１、メモリ２３、複数のＦＰＧＡ２５、複数の画像処理チップ２７、画像処理チップ２７ごとに設けられた複数のメモリ２９、及びメモリ３１を備えている。１つのＦＰＧＡ２５について複数の画像処理チップ２７が設けられている。メモリ２３，２９，３１は例えばＤＤＲ  ＳＤＲＡＭ（Double Data Rate Synchronous Dynamic Random Access Memory）によって実現される。
【００４９】
ＦＰＧＡ２１は、図１において、画像入力部３３、位置合わせ部３５、比較部３７、領域分割部３９、ラベリング処理部４９、直線状欠陥判定部５１を構成している。
ＦＰＧＡ２５は、図１において、エッジ検出部４１、２値化処理部４３を構成している。
画像処理チップ２７は、図１において、欠陥検出部４５を構成している。
メモリ２９は、図１において、保持部４７を構成している。
【００５０】
図１に示されるように、画像処理ボード１５は回転台制御部５３も備えている。図２において、回転台制御部５３に対応する素子の図示は省略されている。
【００５１】
図４は、この欠陥検査装置の実施例の処理フロー及び欠陥検査方法の一実施例を説明するためのフローチャートである。図１、図２及び図４を参照してこの実施例の処理の流れについて説明する。
【００５２】
ステップＳ１１：画像処理ボード１５は回転台制御部５３によりタイヤ回転台１の動作を制御してタイヤ３を１回転させる。ラインセンサカメラ５はタイヤ３のサイドウォールを撮像する。ラインセンサカメラ５が撮像した画像データは、画像処理ボード１５の画像入力部３３（ＦＰＧＡ２１）に入力される。入力された画像データはメモリ２３に保持される。
【００５３】
ステップＳ１２：位置合せ部３５（ＦＰＧＡ２１）は、画像入力部３３に入力された画像データの位置合わせを行う。検査を開始する位置を決めるため、マスター画像データの基準点を決めておく。例えばタイヤ３のサイドウォールに一箇所ある製造年週等を基準とする。なお、マスター画像データの基準点はこれに限定されない。マスター画像データの基準点に対してラインセンサカメラ５から画像入力部３３に入力された画像データの位置を合わせる。位置合せされた画像データはメモリ２３に保持される。
【００５４】
ステップＳ１３：比較部３７はマスター画像データ保持部１９（ＨＤＤ１７）に保持されているマスター画像データを読み込む。さらに、比較部３７（ＦＰＧＡ２１）は、位置合せ部３５によって位置合わせされた画像データと、マスター画像データとを比較して、不一致箇所の多値画像データ（処理画像データ）を得る。得られた不一致箇所の多値画像データはメモリ２３に保持される。
【００５５】
ステップＳ１４：領域分割部３９（ＦＰＧＡ２１）は、不一致箇所の多値画像データをラインセンサカメラ５の配置方向に対応する軸方向で複数の分割領域に分割する。例えば、領域分割部３９は不一致箇所の多値画像データを８つの分割領域Ａ１〜Ａ８に分割する。
【００５６】
ステップＳ１５：エッジ検出部４１（ＦＰＧＡ２５）は不一致箇所の多値画像データのエッジ検出を行う。エッジ検出部４１は例えば２つのＦＰＧＡ２５で構成されている。例えば、一方のＦＰＧＡ２５が分割領域Ａ１〜Ａ４についてエッジ検出処理を行い、他方のＦＰＧＡ２５が分割領域Ａ５〜Ａ８についてエッジ検出処理を行う。
【００５７】
ステップＳ１６：２値化処理部４３（ＦＰＧＡ２５）はエッジ検出された画像データについて２値化処理を行う。２値化処理部４３は例えば上記エッジ検出処理も行う２つのＦＰＧＡ２５で構成されている。例えば、一方のＦＰＧＡ２５は分割領域Ａ１〜Ａ４についてエッジ検出処理及び２値化処理を行い、他方のＦＰＧＡ２５は分割領域Ａ５〜Ａ８についてエッジ検出処理及び２値化処理を行う。これにより、１つのＦＰＧＡでエッジ検出処理及び２値化処理を行う場合に比べて処理速度が向上する。
【００５８】
ステップＳ１７：欠陥検出部４５（画像処理チップ２７）は、２値化された画像データについて、分割領域Ａ１〜Ａ８ごとに設けられたテンプレート群を用いてパターンマッチングを実行してタイヤ３の表面の直線状欠陥を検出する。具体的には、欠陥検出部４５は、２値化された画像データについてテンプレート群を構成する複数のテンプレートのうち少なくとも１つとパターンマッチングしている注目画素を検出する。分割領域Ａ１〜Ａ８ごとに設けられたテンプレート群については後述する。また、パターンマッチング処理の具体例については後述する。
【００５９】
欠陥検出部４５は、例えば４つの画像処理チップ２７で構成されている。例えば、第１の画像処理チップ２７は分割領域Ａ１，Ａ２についてパターンマッチング処理を行う。第２の画像処理チップ２７は分割領域Ａ３，Ａ４についてパターンマッチング処理を行う。第３の画像処理チップ２７は分割領域Ａ５，Ａ６についてパターンマッチング処理を行う。第４の画像処理チップ２７は分割領域Ａ７，Ａ８についてパターンマッチング処理を行う。４つの画像処理チップ２７はパターンマッチング処理を並行して行う。これにより、１つの画像処理チップでパターンマッチング処理を行う場合に比べて処理速度が向上する。
【００６０】
ステップＳ１８：保持部４７（メモリ２９）は欠陥検出部４５が検出した注目画素の情報を保持する。ここで保持される情報は、例えば注目画素の位置情報とパターンマッチングしたテンプレートの情報である。
【００６１】
ステップＳ１９：ラベリング処理部４９（ＦＰＧＡ２１）は欠陥検出部４５が検出した注目画素のラベリングを行う。欠陥検出部４５によって検出されてメモリ２９に保持された注目画素の情報は、画像処理チップ２７及びＦＰＧＡ２５を介してＦＰＧＡ２１に送られる。
【００６２】
ステップＳ２０：直線状欠陥判定部５１（ＦＰＧＡ２１）は、パターンマッチングによって検出され、ラベリングされた連続する注目画素群が直線状欠陥であるか否かを判定する。直線状欠陥であるか否かの判定は、隣り合う画素又は周囲画素の連続するフラグ（欠陥検出部４５が検出した注目画素）の有無により判定する。例えば、１ｄｏｔ（ドット）の解像度が０.１ｍｍの場合、１０個の連続するフラグを検出すると１ｍｍ以上の直線状欠陥があることになる。ここで「１ｍｍ以上」としているのは、テンプレートを用いたパターンマッチングでは直線状欠陥の両端に位置する画素は得点（後述する）を満たさず、欠陥と認識されないからである。直線状欠陥であると判定された注目画素群はメモリ３１に保持される。ＦＰＧＡ２１は直線状欠陥であると判定された注目画素群をモニタ１３に表示させる。
【００６３】
このように、この欠陥検査装置の実施例及び欠陥検査方法の実施例は、回転するタイヤ３の円環の検査対象表面領域を回転半径方向で撮像するラインセンサカメラ５を用いて外観の検査を行い、アフィン変換処理を行うことなく直線状欠陥を検出することができる。
【００６４】
次に、テンプレートを用いたパターンマッチングの概要について説明する。
図５は、直線を検出するためのテンプレートの一例を説明するための図である。図５において、（Ａ）は７×７のテンプレート５５ａ、（Ｂ）は９×９のテンプレート５５ｂ、（Ｃ）は１９×１９のテンプレート５５ｃをそれぞれ示している。
【００６５】
各テンプレート５５ａ，５５ｂ，５５ｃにおいて、丸印の画素は注目画素５７を示す。また、各テンプレート５５ａ，５５ｂ，５５ｃ中の数字は注目画素５７に対しての角度を示している。
【００６６】
テンプレートのサイズを調整することで、検出できる直線状欠陥の長さが決まる。ただし、小さいテンプレートだと検出できる直線の角度が限られてしまう。例えば１９×１９のテンプレート５５ｃであれば、約６°刻みのフィルターを作成することができるので、検出精度としては十分である。テンプレート５５ｃの大きさは、タイヤ３の実際の寸法に変換すると、例えば１ｄｏｔの解像度が０.１ｍｍの場合、１.９ｍｍ×１.９ｍｍである。
【００６７】
次に、直線の検出例を７×７のテンプレートを４つ用いて説明をする。
図６は、２値画像の例とテンプレートの大きさを示す図である。
【００６８】
２値画像５９は、説明のために１５×１５の小さいサイズで示されている。２値画像５９において、数字「１」は白色、空白は黒色をそれぞれ示している。２値画像５９は９０°と４５°の直線が交じり合っている例を示している。
【００６９】
７×７のテンプレート５５ａの注目画素５７は２値画像５９の各画素に対して走査される。７×７のテンプレート５５ａの一部分が２値画像５９からはみ出す位置に注目画素５７が配置される場合、はみ出した部分のテンプレート５５ａに対応する画素は空白（黒色）であると判定される。
図６では、テンプレート５５ａの注目画素５７は２値画像５９のｘｙ座標で（４，４）の位置に配置されている。
【００７０】
図７は、１つの注目画素について複数のテンプレートを乗算してテンプレートごとに得点を求める工程を説明するための図である。
例えば図６においてｘｙ座標で（４，４）の画素が注目画素５７であるとする。参照する画像は（１，１）、（１，７）、（７，７）、（７，１）を頂点とする矩形の画素範囲である。
【００７１】
ここでは４つの７×７のテンプレート５５ａ（９０°、７５°、６０°、４５°）について説明する。なお、例えば１５°刻みでテンプレートが用意される場合、０°から１６５°の範囲について１５°刻みで１２個のテンプレートが用意される。
【００７２】
参照した画像にテンプレートの値を乗算してテンプレートごとに得点を求める。図７において参照された画像では、９０°の直線のテンプレート５５ａについて６０点、７５°の直線のテンプレート５５ａについて５９点、６０°の直線のテンプレート５５ａについて４０点、４５°の直線のテンプレート５５ａについて１０点が得られる。
【００７３】
各テンプレート５５ａの得点結果と閾値の値を比較して直線であるかを判断する。例えば閾値を６０以上とすると、図７において９０°の直線のテンプレート５５ａについて６０点が得られたので、注目画素５７である（４，４）の画素は直線成分があると判定される。直線成分があると判定された画素（４，４）にフラグを立てる。
【００７４】
図６の２値画像の各画素に対して注目画素５７が走査され、直線成分があると判定された画素についてフラグが立てられる。
【００７５】
図８は、図６の２値画像について図７の９０°の直線のテンプレートをかけた結果を示す図である。図９は、図６の２値画像について図７の４５°の直線のテンプレートをかけた結果を示す図である。
【００７６】
図８及び図９において、フラグが立っている画素は数字「１」で示されている。空白の画素はフラグが立っていない画素である。
【００７７】
図１０は、図６の２値画像についての直線の検出結果を示す図である。図１０において、フラグが立っている画素（直線成分があると判定された画素）は数字「１」で示され、それ以外の白色画素は丸印で示されている。
【００７８】
このように、太線内の画素領域について、白色画素を直線とそれ以外に分離することができる。
上記説明では、７×７のテンプレート５５ａでの説明であるので、検出可能な角度が十分ではないが、アプリケーションによりテンプレートのサイズを大きく調整することで細かい検出を行う設定が可能となる。
【００７９】
本発明では、ラインセンサの配置方向に対応する軸方向で複数の領域に分割された分割領域ごとに、直線の１８０度分の複数のテンプレートとその閾値が用意される。
【００８０】
次に、回転するタイヤのサイドウォールを回転半径方向で撮像するラインセンサによって撮像された画像データにおける直線状欠陥の歪みについて説明する。
図１１は、タイヤのサイドウォールにおける直線状欠陥と、ラインセンサによって撮像された画像データにおける上記直線状欠陥との関係を説明するための図である。
【００８１】
例えばタイヤ３のサイズが１７５／６５Ｒ１５の場合、外径の半径Ｒ1は３０４.５ｍｍであり、内径の半径Ｒ2は１９０.５ｍｍである。例えば４本の直線状欠陥６１，６３，６５，６７があるとする。直線状欠陥６１はタイヤ３の中心からの距離が５０ｍｍである。直線状欠陥６３はタイヤ３の中心からの距離が２００ｍｍである。直線状欠陥６５はタイヤ３の中心からの距離が２８０ｍｍである。直線状欠陥６７はタイヤ３の中心からの距離が３００ｍｍである。
【００８２】
直線状欠陥６１についてのタイヤ３の中心からの距離は、直線状欠陥６１の垂線であってタイヤ３の中心を通る直線における直線状欠陥６１とタイヤ３の中心との間の線分の長さである。直線状欠陥６３，６５，６７についてのタイヤ３の中心からの距離も同様である。
【００８３】
なお、図１１において、直線状欠陥６１は、タイヤ３の中心からの距離を理解しやすいように、タイヤ３の内周で囲まれた領域においても便宜上図示されている。また、直線状欠陥６１，６３，６５，６７は、両端がタイヤ３の外周又は内周と接しているが、タイヤ３のサイドウォールにおける直線状欠陥はこれらに限定されない。
【００８４】
タイヤ３のサイドウォールにおける直線状欠陥は、少なくとも一端がタイヤ３の外周及び内周と接していないものもあり得る。このような直線状欠陥について、タイヤ３の中心からの距離は、直線状欠陥の垂線又は直線状欠陥を延長した直線の垂線であってタイヤ３の中心を通る直線における直線状欠陥とタイヤ３の中心との間の線分の長さとする。
【００８５】
タイヤ３が走査方向に回転され、タイヤ３のサイドウォールの画像がラインセンサカメラ５によって取得される。ラインセンサカメラ５で読み取られた画像がマスター画像と比較されて得られる不一致箇所の画像が２値化された画像６９は、右側の図のようになる。
【００８６】
画像６９において、曲線６１ａは直線状欠陥６１に対応し、曲線６３ａは直線状欠陥６３に対応し、曲線６５ａは直線状欠陥６５に対応し、曲線６７ａは直線状欠陥６７に対応している。また、画像６９において、ラインセンサカメラ５の配置方向に対応する軸方向は、タイヤ中心からの距離軸方向である。
【００８７】
画像６９において、タイヤ３の中心からの距離が２８０ｍｍの直線状欠陥６５に対応する曲線６５ａと、タイヤ３の中心からの距離が２００ｍｍの直線状欠陥６３に対応する曲線６３ａとを比較すると、タイヤ３の内周側と外周側では歪み方が違うことが分かる。同じ直線でも、ラインセンサカメラ５で読み取られた画像においてタイヤ３の外側と内側で見え方が異なっている。これは曲線６１ａ，６３ａ，６５ａ，６７ａを局所的に見て直線に置き換えた場合、局所的に見た直線は、タイヤ３の中心から同一の距離範囲において、曲線６１ａ，６３ａ，６６５ａ，６７ａで傾きが互いに異なるということである。
【００８８】
図１２は、タイヤ３の中心からの距離が２００ｍｍの直線状欠陥６３についてその中点を回転中心として０°から９０°の範囲で５°刻みで回転させたときにラインセンサカメラ５が取り込んだ局所的な画像を示した図である。図１３は、タイヤ３の中心からの距離が３００ｍｍの直線状欠陥６７についてその中点を回転中心として０°から９０°の範囲で５°刻みで回転させたときにラインセンサカメラ５が取り込んだ局所的な画像を示した図である。
【００８９】
図１２及び図１３はラインセンサカメラ５で取り込まれた画像を局所的に示している。図１２はタイヤ３の中心からの距離が２００ｍｍ〜２０２ｍｍの範囲を示している。図１３はタイヤ３の中心からの距離が３００ｍｍ〜３０２ｍｍの範囲を示している。
【００９０】
図１３に示されるように、タイヤ３の中心からの距離が３００ｍｍ〜３０２ｍｍの範囲において直線は各角度でほぼ均一に遷移している。これに対して、図１２に示されるように、タイヤ３の中心からの距離が２００ｍｍ〜２０２ｍｍの範囲においては、角度の小さい時は隣の角度の直線と間隔があるが、角度が大きくなるにつれて間隔が小さくなっている。これが歪みである。
【００９１】
そこで、本発明では、主走査（ラインセンサカメラ５の配置方向）を複数の分割領域に分割して、分割領域ごとにテンプレート群を用意する。分割領域ごとに設けられるテンプレート群を構成する各テンプレートは、例えば図６を参照して説明したように、直線のテンプレートである。
【００９２】
例えば、上記で説明したようにラインセンサカメラ５によって取り込まれた画像データの画素配列領域をラインセンサカメラ５の配置方向に対応する軸方向で８つの分割領域Ａ１〜Ａ８に分割したとする。分割領域Ａ１〜Ａ８について、ラインセンサカメラ５の配置方向に対応する軸方向の寸法を例えばそれぞれ１５ｍｍとすると、１２０ｍｍの範囲の検査をすることが可能となる。
【００９３】
図１４は、タイヤの実画像における各分割領域での直線状欠陥と、ラインセンサカメラによって取り込まれた画像における各分割領域での直線状欠陥との関係を模式的に示した図である。図１５は、各分割領域で参照するテンプレート群を模式的に示した図である。図１６は、ラインセンサカメラによって取り込まれた画像データの画素配列領域と分割領域との関係を説明するための図である。
【００９４】
例えば、分割領域Ａ１は、タイヤ中心からの距離（ラインセンサカメラ５の配置方向に対応する軸方向）で１８５ｍｍ〜２００ｍｍの範囲を検査対象とする。同様に、分割領域Ａ２は２００ｍｍ〜２１５ｍｍの範囲を検査対象とする。分割領域Ａ３は２１５ｍｍ〜２３０ｍｍの範囲を検査対象とする。分割領域Ａ４は２３０ｍｍ〜２４５ｍｍの範囲を検査対象とする。分割領域Ａ５は２４５ｍｍ〜２６０ｍｍの範囲を検査対象とする。分割領域Ａ６は２６０ｍｍ〜２７５ｍｍの範囲を検査対象とする。分割領域Ａ７は２７５ｍｍ〜２９０ｍｍの範囲を検査対象とする。分割領域Ａ８は２９０ｍｍ〜３０５ｍｍの範囲を検査対象とする。
【００９５】
図１７は、分割領域ごとに用意するテンプレートの求め方を説明するための図である。
例えば、分割領域Ａ１については、直線状欠陥の中心点Ｐまでの距離ｒをタイヤ中心からの距離の範囲（１８５ｍｍ〜２００ｍｍ）の中点付近（１９２．５ｍｍ）とする。同様に、分割領域Ａ２，Ａ３，Ａ４，Ａ５，Ａ６，Ａ７，Ａ８の距離ｒは順に２０７．５ｍｍ、２２２．５ｍｍ、２３７．５ｍｍ、２５２．５ｍｍ、２６７．５ｍｍ、２８２．５ｍｍ、２９７．５ｍｍとする。
【００９６】
図１７の計算式を用いて、分割領域Ａ１〜Ａ８ごとに、例えば０°から１８０°の範囲で５°刻みで角度θを変化させてテンプレートとなる直線を求める（図１２及び図１３も参照。）。求められたそれぞれの角度の直線のテンプレートごとに、例えば図７に示されるようなテンプレートの係数を決めていく。
【００９７】
例えば、図１２において、３０°の直線は約４５°の傾きとなっている。これをテンプレートに置き換えると、図７の４５°の直線のテンプレートと同様のテンプレートとなる。
【００９８】
例えば、タイヤ３の中心からの距離が２００ｍｍである直線状欠陥６３を検出するためのテンプレート群を例に挙げると、分割領域Ａ１〜Ａ８ごとに、マッチングする直線のテンプレートの角度を変える。
【００９９】
図１６を参照して説明すると、例えば、直線状欠陥６３に対応する曲線６３ａは、タイヤ中心からの距離が２００ｍｍ付近（分割領域Ａ２）において、タイヤ中心からの距離軸（ラインセンサカメラ５の配置方向に対応する軸方向）とほぼ直交する。したがって、分割領域Ａ２では、直線状欠陥６３は９０°の直線のテンプレート（図７も参照。）で検出される。
【０１００】
また、分割領域Ａ２において、曲線６３ａの接線は、タイヤ中心からの距離軸に対して６０°〜１２０°程度の範囲で変化している。したがって、曲線６３ａは、局所的に見ると、直線のテンプレートを１５°刻みとした場合、６０°の直線、７５°の直線、１０５°、１２０°の直線とみなせる。つまり、分割領域Ａ２では、直線状欠陥６３は、６０°の直線のテンプレート及び７５°の直線のテンプレート（図７も参照。）ならびに１０５°の直線のテンプレート及び１２０°の直線のテンプレートでも検出される。
【０１０１】
分割領域Ａ３において、曲線６３ａの接線は、タイヤ中心からの距離軸に対して４５°〜６０°程度の範囲、及び１２０°〜１３５°程度の範囲で変化している。したがって、分割領域Ａ３では、直線状欠陥６３は、４５°の直線のテンプレート及び６０°の直線のテンプレート（図７も参照。）ならびに１２０°の直線のテンプレート及び１３５°の直線のテンプレートで検出される。
【０１０２】
分割領域Ａ４において、曲線６３ａの接線は、タイヤ中心からの距離軸に対して３０°〜４５°程度の範囲、及び１３５°〜１５０°程度の範囲で変化している。したがって、分割領域Ａ４では、直線状欠陥６３は、３０°の直線のテンプレート、４５°の直線のテンプレート、１３５°の直線のテンプレート及び１５０°の直線のテンプレートで検出される。
【０１０３】
分割領域Ａ５及び分割領域Ａ６において、曲線６３ａの接線は、タイヤ中心からの距離軸に対して３０°程度、及び１５０°程度である。したがって、分割領域Ａ５及び分割領域Ａ６では、直線状欠陥６３は、３０°の直線のテンプレート及び１５０°の直線のテンプレートで検出される。
【０１０４】
分割領域Ａ７において、曲線６３ａの接線は、タイヤ中心からの距離軸に対して１５°〜３０°程度の範囲、及び１５０°〜１６５°程度の範囲で変化している。したがって、分割領域Ａ７では、直線状欠陥６３は、１５°の直線のテンプレート、３０°の直線のテンプレート、１５０°の直線のテンプレート及び１６５°の直線のテンプレートで検出される。
【０１０５】
分割領域Ａ８において、曲線６３ａの接線は、タイヤ中心からの距離軸に対して１５°程度、及び１６５°程度である。したがって、分割領域Ａ８では、直線状欠陥６３は、１５°の直線のテンプレート及び１６５°の直線のテンプレートで検出される。
【０１０６】
なお、曲線６３ａは分割領域Ａ１には存在していないので、直線状欠陥６３は分割領域Ａ１では検出されない。
【０１０７】
また、テンプレートの注目画素が隣り合う分割領域の境界の近傍に配置されたとき、テンプレートの大きさに応じて参照される画素領域は２つの分割領域にまたがる。このとき、直線状欠陥の検出のために参照される画素は隣り合う２つの分割領域にまたがる。
【０１０８】
このように、直線状欠陥６３を検出可能なテンプレートを関連付けすれば、複数の分割領域Ａ２〜Ａ８にまたがる曲線６３ａを１つの直線状欠陥６３として検出することができる。同様にして、曲線６１ａ，６５ａ，６７ａについても、それぞれ対応する１つの直線状欠陥６１，６５，６７として検出することができる。
【０１０９】
上記の説明では分割領域は８つであるが、ラインセンサカメラ５によって取り込まれた画像データの画素配列領域を、ラインセンサカメラ５の配置方向に対応する軸方向でより細かく、例えば９つ以上の分割領域に分割してもよい。これにより、複数の分割領域にまたがる１つ曲線を１つの直線状欠陥としてより精度よく検出することができる。なお、本発明において、分割領域は７つ以下であってもよい。
【０１１０】
また、上記の説明ではテンプレート群を構成する複数の直線のテンプレートは１５°刻みであるが、テンプレート群を構成する複数の直線のテンプレートは１５°よりも小さい角度間隔で設けられていてもよい。なお、テンプレート群を構成する複数の直線のテンプレートは１５°よりも大きい角度間隔で設けられていてもよい。また、テンプレート群を構成する複数の直線のテンプレートの各角度は等間隔でなくてもよい。
【０１１１】
また、テンプレート群を構成する複数の直線のテンプレートの数や角度は、複数のテンプレート群の間で、同じであってもよいし、互いに異なっていてもよい。また、テンプレートに対応する閾値も、分割領域ごとにそれぞれ異なった値を設定してもよい。
【０１１２】
ラインセンサカメラ５によって撮像された画像データの画素配列（例えば図１１の右図参照）において、直線成分を含むとしてフラグが立っている画素群は、例えばタイヤ３を模式的に表示した円環画像とともにモニタ１３（図１を参照。）に表示される。フラグが立っている画素群は、モニタ１３において、タイヤ３を模式的に表示した円環画像内に直線状欠陥として直線状に表示される。
【０１１３】
タイヤ３のサイドウォールに対してラインセンサカメラ５によって撮像が開始される位置が予め決まっていれば、タイヤ３を模式的に表示した円環画像の画素配列とラインセンサカメラ５によって撮像された画像データの画素配列とを対応させることは容易である。
【０１１４】
以上、本発明の実施例を説明したが、上記実施例での数値、材料、配置、個数等は一例であり、本発明はこれらに限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の範囲内で種々の変更が可能である。
【０１１５】
例えば、上記実施例は検査対象物の検査対象表面領域をタイヤのサイドウォールとしているが、本発明における検査対象物の検査対象表面領域はこれに限定されない。本発明において、検査対象物は円環形状のものでなくてもよい。また、本発明において、検査対象物の検査対象表面領域は円環ではなく扇形であってもよい。本発明は、回転する検査対象物の円環又は扇形の検査対象表面領域を検査対象とすることができる。
【０１１６】
また、上記実施例は検出する欠陥を直線状欠陥としているが、本発明が検出する検査対象物の表面の欠陥は直線状欠陥に限定されない。本発明が検出する欠陥は、例えば湾曲した欠陥や、折れ曲がった欠陥、環状の欠陥など、任意の形状であってもよい。本発明は、ラインセンサによって撮像された画像において歪んでいる欠陥形状の軌跡を、局所的に直線状欠陥とみなして検出するので、任意の形状の欠陥を検出できる。
【符号の説明】
【０１１７】
３  タイヤ（検査対象物）
５  ラインセンサカメラ（ラインセンサ）
１５  画像処理ボード（画像処理部）
３７  比較部
３９  領域分割部
４３  ２値化処理部
４５  欠陥検出部と、
４７  保持部
５５ａ，５５ｂ，５５ｃ  テンプレート
５７  注目画素
６１，６３，６５，６７  直線状欠陥
【先行技術文献】
【特許文献】
【０１１８】
【特許文献１】特許４８５９０６１号公報
【特許文献２】特許４６５５２４２号公報
【図１】
2015055580.tif 000003
【図２】
2015055580.tif 000004
【図３】
2015055580.tif 000005
【図４】
2015055580.tif 000006
【図５】
2015055580.tif 000007
【図６】
2015055580.tif 000008
【図７】
2015055580.tif 000009
【図８】
2015055580.tif 000010
【図９】
2015055580.tif 000011
【図１０】
2015055580.tif 000012
【図１１】
2015055580.tif 000013
【図１２】
2015055580.tif 000014
【図１３】
2015055580.tif 000015
【図１４】
2015055580.tif 000016
【図１５】
2015055580.tif 000017
【図１６】
2015055580.tif 000018
【図１７】
2015055580.tif 000019
【図１８】
2015055580.tif 000020
【図１９】
2015055580.tif 000021
【図２０】
2015055580.tif 000022