(57)【要約】【課題】第三世代ジオメトリと第四世代検出器との間のオフセットについて正確に把握することができるＸ線コンピュータ断層撮像装置を提供すること。【解決手段】Ｘ線源からのＸ線を検出し、第１のビュー数に関するエネルギー積分データを取得する複数の検出素子を有する第１の検出器と、Ｘ線源からのＸ線を検出し、第１のビュー数よりも小さい第２のビュー数に関するスペクトラムデータを取得する複数の第２の検出器と、複数の第２の検出器の少なくともいずれかにつき、既知の位置に予め配置された複数の減弱器を撮像することで得られた複数のビューに対応するデータのうち、所定の閾値よりも小さいデータに対応する複数のビューを特定し、当該特定されたビュー毎のＸ線源の位置と当該Ｘ線源の位置に最も近い減弱器の位置とを用いて特定される基準位置に基づいて、ずれ量を計算する計算部と、を具備する。【選択図】      図５
2015160139.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線を発生するＸ線源と、
前記Ｘ線源からのＸ線を検出し、第１のビュー数に関するエネルギー積分データを取得する複数の検出素子を有する第１の検出器と、
前記Ｘ線源からのＸ線を検出し、前記第１のビュー数よりも小さい第２のビュー数に関するスペクトラムデータを取得する複数の第２の検出器と、
前記複数の第２の検出器の少なくともいずれかにつき、既知の位置に予め配置された複数の減弱器を撮像することで得られた複数のビューに対応するデータのうち、所定の閾値よりも小さいデータに対応する複数のビューを特定し、当該特定されたビュー毎の前記Ｘ線源の位置と当該Ｘ線源の位置に最も近い前記減弱器の位置とを用いて特定される基準位置に基づいて、ずれ量を計算する計算部と、
を具備するＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項２】
前記計算部は、前記複数の第２の検出器の少なくともいずれかにつき、前記特定された各ビューにおいて、前記Ｘ線源の位置と、前記複数の減弱器のうち前記Ｘ線源の位置に最も近い減弱器の位置とを結ぶ直線を計算し、前記複数のビューに対応する複数の直線の交点に基づいて、前記基準位置を特定すること、を特徴とする請求項１記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項３】
前記計算部は、前記複数の第２の検出器の少なくともいずれかにつき、サイノグラムデータを用いて、前記所定の閾値よりも小さいデータに対応する前記複数のビューを特定することを特徴とする請求項１又は２記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項４】
Ｘ線を発生するＸ線源と、
前記Ｘ線源からのＸ線を検出し、第１のビュー数に関するエネルギー積分データを取得する複数の検出素子を有する第１の検出器と、
前記Ｘ線源からのＸ線を検出し、前記第１のビュー数よりも小さい第２のビュー数に関するスペクトラムデータを取得する複数の第２の検出器と、
複数のビューにつき、前記第１の検出器が出力するデータに基づいて前記複数の第２の検出器に起因して所定の閾値よりも小さいデータが検出される第１の検出器上の位置を特定し、ビュー毎に前記特定された位置と前記Ｘ線源の位置とを用いて特定される基準位置に基づいて、前記複数の第２の検出器の少なくともいずれかのずれ量を計算する計算部と、
を具備するＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項５】
前記計算部は、前記複数のビューにつき、前記Ｘ線源の位置と前記特定された第１の検出器上の位置とを結ぶ直線を計算し、前記複数のビューに対応する複数の直線の交点に基づいて、前記基準位置を特定すること、を特徴とする請求項４記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項６】
前記計算部は、前記複数のビューに対応する複数の直線の交点の最小二乗フィッティング又は前記複数のビューに対応する複数の直線の交点の位置の平均を用いて、前記基準位置を特定することを特徴とする請求項１乃至５のうちいずれか一項記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項７】
前記複数の第２の検出器の少なくともいずれかの前記ずれ量と、前記第１の検出器によって得られた前記エネルギー積分データと、前記複数の第２の検出器によって得られたスペクトラムデータとを用いた再構成処理により、ＣＴ画像を再構成する再構成部をさらに具備する請求項１乃至６のうちいずれか一項記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項８】
Ｘ線を発生するＸ線源と、前記Ｘ線源からのＸ線を検出し、第１のビュー数に関するエネルギー積分データを取得する複数の検出素子を有する第１の検出器と、当該Ｘ線源からのＸ線を検出し、前記第１のビュー数よりも小さい第２のビュー数に関するスペクトラムデータを取得する複数の第２の検出器と、を具備し、前記Ｘ線源と前記第１の検出器とが第三世代ジオメトリを構成し、前記Ｘ線源と、前記複数の第２の検出器とが第四世代ジオメトリを構成するＸ線コンピュータ断層撮影装置におけるレジストレーション方法であって、
前記複数の第２の検出器の少なくともいずれかにつき、既知の位置に予め配置された複数の減弱器を撮像することで得られた複数のビューに対応するデータのうち、所定の閾値よりも小さいデータに対応する複数のビューを特定し、
前記特定されたビュー毎の前記Ｘ線源の位置と当該Ｘ線源の位置に最も近い前記減弱器の位置とを用いて特定される基準位置に基づいて、ずれ量を計算すること、
を具備するレジストレーション方法。
【請求項９】
Ｘ線を発生するＸ線源と、前記Ｘ線源からのＸ線を検出し、第１のビュー数に関するエネルギー積分データを取得する複数の検出素子を有する第１の検出器と、当該Ｘ線源からのＸ線を検出し、前記第１のビュー数よりも小さい第２のビュー数に関するスペクトラムデータを取得する複数の第２の検出器と、を具備し、前記Ｘ線源と前記第１の検出器とが第三世代ジオメトリを構成し、前記Ｘ線源と、前記複数の第２の検出器とが第四世代ジオメトリを構成するＸ線コンピュータ断層撮影装置におけるレジストレーション方法であって、
複数のビューにつき、前記第１の検出器が出力するデータに基づいて前記複数の第２の検出器に起因して所定の閾値よりも小さいデータが検出される第１の検出器上の位置を特定し、
ビュー毎に前記特定された位置と前記Ｘ線源の位置とを用いて特定される基準位置に基づいて、前記複数の第２の検出器の少なくともいずれかのずれ量を計算すること、
を具備するレジストレーション方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
第三、第四世代が融合したＸ線コンピュータ断層撮像装置、及び第三、第四世代が融合したＸ線コンピュータ断層撮像装置におけるレジストレーション方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
Ｘ線コンピュータ断層影像（CT）とは、最も簡単に表現するならば、対象と検出器とを横断するＸ線ビームの全体的な放射線毎の減弱のことである。減弱は、対象が存在する場合の撮像で得られたＸ線データと対象が存在しない場合の撮像で得られた同一のＸ線データとを比較することで、導出される。この概念的な定義から、画像を適切に構成するためには、いくつかのステップが必要とされる。例えば、Ｘ線発生装置の有限サイズ、発生装置からの超低エネルギーＸ線ブロッキングフィルタ（filter blocking the very low energy X-ray from the generator）の性質や形状、幾何学的配置（ジオメトリ）の詳細と検出器の特性、そして収集システムの容量は、いずれも実際の再構成がいかに実行されるかに影響を与える要素である。
【０００３】
第三、第四世代が合体したコンピュータ断層影像スキャナに対して、システム基盤は、第三世代コンピュータ断層影像システム座標（系）（coordinates）に関する、第四世代間引きされた光子計数検出器（PCDs）のオフセットの知識が必要とされる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００９−２１３５３３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、仮に、第三世代等角点と第四世代検出器との間のオフセットについて正確に把握できていなければ、システム基盤は誤ったものになってしまい、再構成された画像中にアーチファクトを生じさせてしまう。更にオフセットは、温度で誘発された材質の膨張やガントリ回転が原因で、時間の経過によって変化する可能性がある。
【０００６】
目的は、第三世代ジオメトリと第四世代検出器との間のオフセットについて正確に把握することができるＸ線コンピュータ断層撮像装置、及びＸ線コンピュータ断層撮像装置におけるレジストレーション方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮影装置は、Ｘ線を発生するＸ線源と、前記Ｘ線源からのＸ線を検出し、第１のビュー数に関するエネルギー積分データを取得する複数の検出素子を有する第１の検出器と、前記Ｘ線源からのＸ線を検出し、前記第１のビュー数よりも小さい第２のビュー数に関するスペクトラムデータを取得する複数の第２の検出器と、前記複数の第２の検出器の少なくともいずれかにつき、既知の位置に予め配置された複数の減弱器を撮像することで得られた複数のビューに対応するデータのうち、所定の閾値よりも小さいデータに対応する複数のビューを特定し、当該特定されたビュー毎の前記Ｘ線源の位置と当該Ｘ線源の位置に最も近い前記減弱器の位置とを用いて特定される基準位置に基づいて、ずれ量を計算する計算部と、を具備するものである。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】図１は、本実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮像装置の構成を示す図である。
【図２】図２は、第三、第四世代が融合したＸ線コンピュータ断層撮像装置の一例を示した図である。
【図３】図３は、第三、第四世代が融合したＸ線コンピュータ断層撮像装置の他の例を示した図である。
【図４】図４は、第１の実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮像装置におけるレジストレーション処理を説明するための図である。
【図５】図５は、第１の実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮像装置におけるレジストレーション処理を説明するためのフローチャートである。
【図６】図６は、第１の実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮像装置におけるレジストレーション処理を説明するための図であり、光子計数検出器に対して生成された複数の高減弱ラインを示した図である。
【図７】図７は、第２の実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮像装置におけるレジストレーション処理を説明するための図である。
【図８】図８は、第２の実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮像装置におけるレジストレーション処理を説明するためのフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
（第１の実施形態）
第１の実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮像装置について説明する。なお、以下の説明において、略同一の機能及び構成を有する構成要素については、同一符号を付し、重複説明は必要な場合にのみ行う。
【００１０】
図１は、本実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮影装置の構成を示す図である。図１に示すように、本実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮影装置は、架台１０を有する。架台１０は、円筒形状を有する回転フレーム１１を回転軸Ｚ回りに回転可能に支持している。回転フレーム１１は環形状を有する金属枠である。回転フレーム１１には回転軸Ｚを挟んで対向するようにＸ線源１３と第三世代検出器１５とが取り付けられている。回転フレーム１１の開口（bore）にはＦＯＶ（Field Of View）が設定される。回転フレーム１１の開口内には天板１００が挿入される。天板１００には被検体Ｓが載置される。天板１００に載置された被検体Ｓの撮像部位がＦＯＶ内に含まれるように天板１００が位置決めされる。回転フレーム１１は、回転駆動部１７からの動力を受けて回転軸Ｚ回りに一定の角速度で回転する。回転駆動部１７は、例えば、サーボモータ等のモータであり、架台１０に収容される。回転駆動部１７は、スキャン制御部３１からの制御に従って回転フレーム１１を回転させるための動力を発生する。
【００１１】
Ｘ線源１３はＸ線を発生する。Ｘ線源１３としてはＸ線管が用いられる。Ｘ線源１３はケーブル等を介して高電圧発生部１９に接続されている。高電圧発生部１９は、スキャン制御部３１による制御に従いＸ線源１３に高電圧を印加し、フィラメント電流を供給する。高電圧の印加とフィラメント電流の供給とを受けてＸ線源１３はＸ線を発生する。Ｘ線源１３には前置コリメータ２３が取付けられている。前置コリメータ２３はＸ線源１３により発生されたＸ線のエネルギー及び線量を調節するための金属により形成される。
【００１２】
第三世代検出器１５は、Ｘ線源１３から発生されたＸ線を検出するＸ線検出器である。第三世代検出器１５は、図示しない複数のＸ線検出素子と積分型データ収集回路とを有する。複数のＸ線検出素子は２次元湾曲面状に配列される。各Ｘ線検出素子は、Ｘ線源１３から発生され被検体Ｓにより減弱されたＸ線を検出し、検出されたＸ線の強度に応じた波高値を有する電気信号を発生する。複数のＸ線検出素子はシンチレータと光検出器とを有する。シンチレータはＸ線を受けて蛍光を発生する。光検出器は発生された蛍光を電気信号に変換する。電気信号はＸ線の強度に応じた波高値を有する。光検出器としては、具体的には、光電子増倍管やフォトダイオード（Photo Diode）等の光子を電気信号に変換する機器が用いられる。積分型データ収集回路は、被検体ＳによるＸ線減弱を示すデジタルのデータをビュー毎に収集する。積分型データ収集回路は、例えば、積分回路とＡ／Ｄ変換器とが実装された半導体集積回路により実現される。より詳細には、積分回路は、Ｘ線検出素子からの電気信号をビュー期間に亘り積分し、積分信号を生成する。Ａ／Ｄ変換器は、生成された積分信号をＡ／Ｄ変換し、当該積分信号の波高値に対応するデータ値を有するデジタルデータを生成する。デジタルデータは、各ビュー期間において検出されたＸ線のエネルギーの積分を示す。当該デジタルデータをエネルギー積分データと呼ぶことにする。このようにＸ線源１３と第三世代検出器１５との組合せは第三世代ジオメトリを構成する。なお、本実施形態に係る第三世代検出器１５としては間接検出型の検出器に限定されず、直接検出型の検出器であっても良い。
【００１３】
一方、本実施形態に係る架台１０は中心軸Ｚ回りに互いに離間して配列された複数の第四世代検出器（光子計数検出器：ＰＣＤ Photon Counting Detector）２５を有する。複数の第四世代検出器２５は固定フレーム２７に取付けられる。固定フレーム２７は、開口が形成された金属体であり、回転フレーム１１の内側において架台１０に固定される。固定フレーム２７は回転フレーム１１から独立しており、回転フレーム１１の回転に関わらず静止している。各第四世代検出器２５はＸ線源１３から発生されたＸ線を検出するＸ線検出器である。第四世代検出器２５は、図示しない複数のＸ線検出素子と計数型データ収集回路とを有する。各Ｘ線検出素子は、Ｘ線源１３から発生され被検体Ｓにより減弱されたＸ線を検出し、検出されたＸ線の強度に応じた波高値を有する電気信号を発生する。Ｘ線検出素子の詳細は上記の通りである。計数型データ収集回路は、Ｘ線のカウント数のデータをビュー毎に収集する。計数型データ収集回路は、例えば、Ｘ線検出素子の個数に応じたチャンネル数の読出チャンネルを並列的に実装する半導体集積回路により実現される。各読出チャンネルは、波高弁別回路と予め設定された複数のエネルギー・ビンにそれぞれ対応する複数の計数器とを有する。波高弁別回路は、Ｘ線検出素子からの電気信号の波高値を弁別する。具体的には、波高弁別回路は、Ｘ線検出素子からの電気信号の波高値を閾値処理等により特定し、当該電気信号が属するエネルギー・ビンに対応する計数器にパルス信号を供給する。各計数器は、波高弁別回路からのパルス信号の個数をビュー毎に計数する。これにより計数器は、複数のエネルギー・ビンの各々についてビュー毎のカウント数を示すデータを生成する。当該データをスペクトラムデータと呼ぶことにする。このようにＸ線源１３と第四世代検出器２５との組合せは第四世代ジオメトリを構成する。なお、本実施形態に係る第四世代検出器２５としては間接検出型の検出器に限定されず、直接検出型の検出器であっても良い。
【００１４】
なお、回転フレーム１１が所定の微小角度回転する毎にビューが第三世代検出器１３と第四世代検出器１５とにより切り替えられる。ビューは、エネルギー積分データやスペクトラムデータのサンプリング期間に対応する。
【００１５】
このように本実施形態に係る架台１０は、第三世代ジオメトリと第四世代ジオメトリとが融合された（両方を装備する）複合ジオメトリをなす。なお、架台１０の構成要素は上記構成要素のみに限定されず、Ｘ線管冷却装置やデータ伝送装置、電源装置、チルト機構等の他の構成要素を含んでも良い。
【００１６】
なお、第三世代ジオメトリと第四世代ジオメトリとが融合された複合ジオメトリとしては、図１、図２の様に、複数の第四世代検出器２５が設けられたリングが、Ｘ線源１３が設けられたリング１１よりも内側に位置する「内側リング（inner ring）」デザインに拘泥されない。例えば、図３に示すように、複数の第四世代検出器２５が設けられたリングが、Ｘ線源１３が設けられたリング１１よりも外側に位置する「連結リング（coupled ring）」デザインであってもよい。すなわち、Ｘ線源１３と第三世代検出器１５との組合せが第三世代ジオメトリを構成し、Ｘ線源１３と第四世代検出器２５との組合せが第四世代ジオメトリを構成するものであれば、どのようなデザインであっても、本実施形態に係るレジストレーション処理（後述）は適用可能である。
【００１７】
スキャン制御部３１は、架台１０に搭載された各種機器の制御を統括する。具体的には、スキャン制御部３１は、回転駆動部１７と高電圧発生部１９とを制御する。回転駆動部１７は、スキャン制御部３１による制御に従う一定の角速度で回転する。高電圧発生部１９は、スキャン制御部３１による制御に従って高電圧をＸ線源１３１に印加し、フィラメント電流をＸ線源１３に供給する。
【００１８】
データ記憶部３３は、ＨＤＤ(hard disk drive)やＳＳＤ(solid state drive)、集積回路記憶装置等の記憶装置である。データ記憶部３３は、第三世代検出器１５からのエネルギー積分データと複数の第四世代検出器２５からのスペクトラムデータとを記憶する。ここで画像再構成に必要なビュー数のエネルギー積分データの集合をエネルギー積分データセットと呼び、画像再構成に必要なビュー数のスペクトラムデータの集合をスペクトラムデータセットと呼ぶことにする。なお、エネルギー積分データとスペクトラデータとを総称して投影データと呼ぶ場合もある。
【００１９】
画像再構成装置３５は、ハードウェア資源として、ＣＰＵ（Central Processing Unit）やＭＰＵ（Micro Processing Unit）、ＧＰＵ（Graphics Processing Unit）等の演算装置（プロセッサ）とＲＯＭ（Read Only Memory）やＲＡＭ（Random Access Memory）等の記憶装置（メモリ）とを有する。画像再構成装置３５は、第三世代検出器１５からのエネルギー積分データセットと複数の第四世代検出器２５からのスペクトラムデータセットとに基づいて被検体Ｓに関するＣＴ画像を再構成する。具体的には、画像再構成装置３５は、機能的又はソフトウェア的に前処理部３５１と再構成演算部３５３とを有する。また、画像再構成装置３５は、必要に応じて、後述するレジストレーション処理によって取得された第四世代検出器２５毎のずれ量（例えば、第四世代検出器２５の現実の中心軸の位置と、第三世代ジオメトリによって定義される第四世代検出器２５の理想的な中心位置とによって定義される、現実の第四世代検出器２５の第三世代ジオメトリに対するチャネル方向及びスライス方向のうち少なくとも一方に関するずれ量）に基づいて、第三世代ジオメトリと第四世代ジオメトリの間のずれを是正するための補正処理を実行する。当該補正処理には、特に限定はない。
【００２０】
前処理部３５１は、エネルギー積分データセットを複数のサブセットに分割する。前処理部３５１は、複数のサブセットの各々にスペクトラムデータセットを結合し、複数の結合サブセットを生成する。換言すれば、各結合サブセットのビュー数は、各サブセットのビュー数とスペクトラムデータセットのビュー数との合計に等しい。サブセットの個数と結合サブセットの個数とは同数である。
【００２１】
再構成演算部３５３は、複数の結合サブセットにオーダード・サブセット再構成法（以下、ＯＳ再構成と呼ぶ）を施してＣＴ画像を再構成する。なおＯＳ再構成とはＯＳ法を組み込んだ統計学的画像再構成法であり、例えば、ＯＳ−ＳＡＲＴ（ordered subset simultaneous algebraic reconstruction techniques）法やＯＳ−ＥＭ（ordered subset expectation maximization）法等が挙げられる。
【００２２】
画像処理部３７は、ハードウェア資源として、ＣＰＵやＭＰＵ、ＧＰＵ等の演算装置とＲＯＭやＲＡＭ等の記憶装置とを有する。画像処理部３７は、画像再構成装置３５により再構成されたＣＴ画像に種々の画像処理を施す。例えば、画像処理部３７は、当該ＣＴ画像にボリュームレンダリングや、サーフェスボリュームレンダリング、画像値投影処理、ＭＰＲ（Multi-Planer Reconstruction）処理、ＣＰＲ（Curved MPR）処理等の３次元画像処理を施して表示画像を発生する。
【００２３】
表示部３９は、表示画像等の種々の情報を表示機器に表示する。表示機器としては、例えば、ＣＲＴディスプレイや液晶ディスプレイ、有機ＥＬディスプレイ、ＬＥＤディスプレイ、プラズマディスプレイ、又は当技術分野で知られている他の任意のディスプレイが適宜利用可能である。
【００２４】
入力部４１は、入力機器によるユーザからの各種指令や情報入力を受け付ける。入力機器としては、キーボードやマウス、各種スイッチ等が利用可能である。
【００２５】
主記憶部４３は、種々の情報を記憶する、ＨＤＤやＳＳＤ、集積回路記憶装置等の記憶装置である。また、主記憶部４３は、ＣＤ−ＲＯＭドライブやＤＶＤドライブ、フラッシュメモリ等の可搬性記憶媒体との間で種々の情報を読み書きする駆動装置等であっても良い。例えば、主記憶部４３は、本実施形態に係る画像再構成処理に関する画像再構成プログラム等を記憶する。また、主記憶部４３は、後述するレジストレーション処理を実行するための専用プログラムを記憶する。さらに、主記憶部４３は、所定のタイミングで実行されるレジストレーション処理によって取得された第四世代検出器２５毎のずれ量に関するデータを記憶する。
【００２６】
システム制御部４５は、ハードウェア資源として、ＣＰＵやＭＰＵ等の演算装置とＲＯＭやＲＡＭ等の記憶装置とを有する。システム制御部４５は、本実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮影装置の中枢として機能する。また、システム制御部４５は、主記憶部４３に記憶された専用プログラムを読み出し記憶することで、後述するレジストレーション処理を実行する。
【００２７】
なお本実施形態において演算装置は、離散論理ゲートとして、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）やフィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（ＦＰＧＡ）、他の複合プログラマブル論理デバイス（ＣＰＬＤ）に実装されても良い。ＦＰＧＡ又はＣＰＬＤの実装は、ＶＨＤＬ、Ｖｅｒｉｌｏｇ、又は他の任意のハードウェア記述言語でコーディングされてよく、そのコードは、ＦＰＧＡ又はＣＰＬＤ内の電子メモリに直接格納されてもよいし、別の電子メモリとして格納されてもよい。記憶装置は、ＲＯＭ、ＥＰＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭ（登録商標）又はフラッシュメモリ等のように不揮発性であって良い。メモリは、スタティックＲＡＭ又はダイナミックＲＡＭ等のように揮発性であっても良い。マイクロコントローラ又はマイクロプロセッサ等の演算装置は、電子メモリ並びにＦＰＧＡ又はＣＰＬＤとメモリとの間の相互作用を管理するために設けられてもよい。再構成演算装置３５に含まれる演算装置は、本実施形態に係る画像再構成法を実行するためのコンピュータ可読命令を含むコンピュータプログラムを実行することができる。このプログラムは、上述の一時的でない電子メモリやハードディスクドライブ、ＣＤ、ＤＶＤ、フラッシュドライブもしくは他の任意の記憶媒体に格納される。
【００２８】
次に、本実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮影装置において実行されるレジストレーション処理について説明する。本レジストレーション処理は、第四世代検出器の少なくともいずれかにつき、既知の位置に予め配置された複数の減弱器を撮像することで得られた複数のビューに対応するデータのうち、所定の閾値よりも小さいデータに対応する複数のビューを特定し、当該特定されたビュー毎のＸ線源１３の位置と当該Ｘ線源１３の位置に最も近い減弱器の位置とを用いて特定される基準位置に基づいて、第三世代ジオメトリと第四世代ジオメトリの間のずれ量（オフセット）を計算するものである。
【００２９】
図４は、第１の実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮像装置におけるレジストレーション処理を説明するための図である。同図は、ＦＯＶに配置されたファントムに埋め込まれた複数の減弱器（高減弱ライン対象）２０２、２０４、２０６、２０８、２１０と、当該複数の減弱器２０２、２０４、２０６、２０８、２１０とを撮像する際に回転フレーム１１内に沿って回転するＸ線源１３と、Ｘ線源１３が発生するＸ線を検出する第四世代検出器２５（すなわち、ＰＣＤ）との幾何学的関係を示している。ここで、減弱器とは、一定の剛性を有するＸ線吸収体であり、例えば細長い金属製の物体（針金、金属製の棒等）である。この減弱器は、第三世代ジオメトリに対する第四世代検出器２５のずれ量の計算に用いるものであるから、空間分解能の観点から、できる限り細いものが好ましい。
【００３０】
なお、複数の減弱器２０２、２０４、２０６、２０８、２１０の各ビューに対する位置（座標）は、予め決められており、把握されているものとする。さらに、Ｘ線の線源の正確な位置（座標）は、各ビュー角に対して所与である。また、図４の例では、五つの減弱器２０２、２０４、２０６、２０８、２１０が例示されている。しかしながら、当該例に拘泥されず、任意の数の減弱器が利用できる。
【００３１】
図５は、図４に示された様な複数の減弱器のセットを利用して光子計数検出器の位置を決定する、Ｘ線コンピュータ断層撮像装置におけるレジストレーション処理を説明するためのフローチャートである。
【００３２】
ステップ３０１で、システム制御部４５は、第三世代ジオメトリに対して所定の第四世代検出器２５をレジストレーションするために、複数の減弱器２０２、２０４、２０６、２０８、２１０を含むファントムについて、スキャンを実行する。なお、このスキャン（以下、「レジストレーションスキャン」と呼ぶ）。は、図４に示す様に、複数ビュー角（典型的には、３６０度分）についてのデータが得られるようにＸ線源１３を回転させながら実行される。
【００３３】
その結果、所定の第四世代検出器２５に関して、複数ビュー角分の第四世代サイノグラムデータが得られる。このサイノグラムデータは、例えば、所定の第四世代検出器２５の総カウント数（total counts）をビュー角毎に示す関数（function）である。
【００３４】
サイノグラムデータにおいて、減弱器２０２、２０４、２０６、２０８、２１０の影響を受けるビュー角のカウント数は、減弱器の影響を受けないビュー角のカウント数に比して少なくなり、突如減少又は「くぼみ」となって現れる。この減少又は「くぼみ」は、Ｘ線源１３と所定の第四世代検出器２５との間を結ぶ直線上に直接的に存在する減弱器２０２、２０４、２０６、２０８、２１０のうちの一つに相当する。なお、このサイノグラムデータ上の減少又は「くぼみ」は、例えば、各ビューにおけるカウント値と所定の閾値との比較により、特定することができる。
【００３５】
ステップ３０２では、システム制御部４５は、第四世代サイノグラムデータの各くぼみに対応する各ビュー角を特定し、当該特定された各ビュー角において、Ｘ線源１３の位置と複数の減弱器の最も近いものとを結ぶ線を計算（生成）する。上述した様に、各減弱器の座標は、所与であり、Ｘ線の線源の位置も、所与である。従って、Ｘ線源１３から各減弱器までの距離は、距離の公式を利用して決定でき、最も近い減弱器は、計算された最も小さい距離を有するものとして決定される。従って、最も近い減弱器の座標と、Ｘ線源１３の座標は、このステップにおいて、上記各線を定めるために利用される。
【００３６】
ステップ３０３において、システム制御部４５は、ステップ３０２において生成した各線と、所定の第四世代検出器２５との交差位置を特定するために、ステップ３０２において生成した各線を予め定めた距離に延長する。
【００３７】
図６は、ステップ３０３において延長された各線と所定の第四世代検出器２５との交差位置を例示した図である。同図に示す様に、延長された複数の線は、誤測定、及び交差点の寸法、形状、深さ、そして複数の第四世代検出器２５の極地効果（polar effect）により、一点では交わらない可能性があることに留意されたい。しかし、図６に示す様に、複数の減弱器を貫く複数の線は、所定の第四世代検出器２５の（理想的な）中心線上のどこかで交差する。
【００３８】
ステップ３０４において、複数の（全ての）交差点の位置が得られる。複数の交差点は、第四世代検出器２５の表面に対して垂直な近似直線を形成することに留意されたい。
【００３９】
ステップ３０５において、複数の交差点の最小二乗フィッティング（a least squares fit）は第四世代検出器２５の（理想的な）中心線を決定するのに利用される。また、当該最小二乗フィッティングに限らず、その他複数のライン-フィッティング（line-fitting）方法を、所定の光子計数検出器の（理想的な）中心線を探し出すのに利用することもできる。さらに、全ての複数の交差点の位置は、第四世代検出器２５の（x, y）位置を決定するのに、平均化されてもよい。
【００４０】
上記ステップ３０１から３０５は、対応する第四世代検出器２５の中心線又は第四世代検出器２５の（x, y）位置を取得するために、リング内に固定された各第四世代検出器２５に対して繰り返される。
【００４１】
上記ステップ３０１から３０５によって第四世代検出器２５毎に得られた中心線は、各第四世代検出器２５が配置されるべき理想的な中心線であり、現実に配置されている第四世代検出器２５の中心線は、この理想的な中心線（基準位置）と一致することが望ましい。この理想的な中心線と、現実に配置されている第四世代検出器２５の中心線とのずれを計算することにより、各第四世代検出器２５のアライメント（或いは、各第四世代検出器２５の第三世代ジオメトリに対するレジストレーション）するための方向及び調整量を把握することができる。
【００４２】
なお、上記レジストレーション処理は、ＦＯＶ内に複数の減弱器を配置し、上記レジストレーションスキャンを実行することで、任意のタイミングで実行することが可能である。典型的には、Ｘ線コンピュータ断層撮像装置の出荷時において上記レジストレーション処理を実行する、或いは、装置の設置時やメンテナンス時に実行されるキャリブレーション処理に含めることができる。上記レジストレーション処理によって取得された第四世代検出器２５毎のずれ量は、主記憶部４３等に記憶される。
【００４３】
主記憶部４３に記憶された第四世代検出器２５毎のずれ量は、例えば画像再構成装置３５が実行する再構成処理において利用される。すなわち、画像再構成装置３５は、上記レジストレーション処理によって取得された第四世代検出器２５毎のずれ量を用いて、撮像で実際に取得されたデータの空間的なずれを補正し、画像再構成処理を実行する。なお、上記撮像で実際に取得されたデータの空間的なずれを補正は、例えば、対象となる第四世代検出器２５によって取得されたサイノグラムデータを所定の方向（チャネル方向及びスライス方向の少なくとも一方）にスライドさせること等で、実現することができる。
【００４４】
なお、上記利用例に限らず、上記レジストレーション処理によって取得された第四世代検出器２５毎のずれ量を用いて、各第四世代検出器２５の位置を調整するようにしてもよい。
【００４５】
以上述べた構成によれば、第三、第四世代が融合したＸ線コンピュータ断層撮像装置において、少なくとも一つの第四世代検出器２５を用いて予め位置が知られた複数の減弱器を複数のビューについて撮像し、少なくとも一つの第四世代検出器２５の出力において減弱が発生した複数のビューを特定し、当該特定された複数のビュー毎のＸ線源の位置と、複数の減弱器のうちＸ線源の位置に最も近い減弱器の位置とを結ぶ直線を計算し、複数のビューに対応する複数の直線の交点に基づいて基準位置を特定する。この基準位置は、幾何学的に厳密に特定することができる。従って、当該基準位置と現実の第四世代検出器２５の中心軸の位置とのずれ量を把握し、これを用いて再構成段階の補正、或いは機械的な第四世代検出器２５の位置調整を行うことができる。その結果、システム基盤のずれに起因して再構成画像中のアーチファクトを抑制することができ、質の高い診断画像を提供することができる。
【００４６】
（第２の実施形態）
次に、第２の実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮像装置について説明する。本実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮像装置が実行するレジストレーション処理は、複数のビューにつき、第三世代検出器が出力するデータに基づいて、第４世代検出器に起因して減弱したデータが検出される第１の検出器上の位置を特定し、ビュー毎に特定された位置とＸ線源の位置とを用いて特定される基準位置に基づいて、ずれ量を計算するものである。
【００４７】
図７は、第２の実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮像装置におけるレジストレーション処理を説明するための図である。図７のジオメトリにおいて、所定のビュー角で、例示された第四世代検出器２５は、第三世代検出器１５により集められたデータ中に「影」を落とすことになる。この様にして、第三世代検出器１５上の影位置は、所定のビュー角について決定することができる。また、図７に示すように、影位置と所定のビュー角でのＸ線源１３の位置とを結ぶ直線は、所定の第四世代検出器２５を貫通する。さらにこの直線は、第四世代検出器２５毎に異なるビュー角で取得することができ、この様に第四世代検出器２５毎に得られた複数の直線は、第四世代検出器２５の（理想的な）中心線上のどこかで交差する。
【００４８】
第１の実施形態と同じく、第四世代検出器２５の（理想的な）中心線は、線の複数の交差点に対し最小二乗フィッティング、その他複数のライン-フィッティング（line-fitting）方法を利用して決定することができる。代替的に、線の複数の交差点は、所定の光子計数検出器の（x, y）位置を見つけ出すために、平均化されてもよい。この方法は、複数の光子計数検出器のそれぞれに対して、繰り返し実行してもよい。
【００４９】
図８は、第２の実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮像装置におけるレジストレーション処理を説明するためのフローチャートである。なお、同フローチャートは、所定の第四世代検出器２５に対するレジストレーション処理を例示するものである。各第四世代検出器２５に同レジストレーション処理を実行する場合には、それぞれに対して同フローチャートに従うレジストレーション処理が実行されることになる。
【００５０】
ステップ６０１において、システム制御部４５は、所定の第四世代検出器２５が、第三世代検出器１５上に影を落とすと推定される複数のビュー角のセットを、Ｘ線源１３及び第三世代検出器１５の第三世代ジオメトリと、所定の第四世代検出器２５のおおよその位置から計算し決定する。
【００５１】
ステップ６０２において、システム制御部４５は、ステップ６０１で決定された複数のビュー角のそれぞれにつき、空気／ファントムを撮像することで第三世代検出器１５から出力されるデータを分析し、第三世代検出器１５上の対応する影位置を決定する。この対応する影位置とは、複数の影位置のセットを決定するために、所定の第四世代検出器２５の存在によって検出されたＸ線の強度が小さくなった検出素子或いは第三世代検出器１５上の位置であり、所定の閾値と検出素子から出力される信号強度との比較によって判別、特定することができる。また、所定のビュー角で所定の第四世代検出器２５に対する第三世代検出器上には、影位置が一つ存在することに留意されたい。
【００５２】
ステップ６０３において、システム制御部４５は、複数の直線のセットを生成するために、各ビュー角（或いは、所定の複数のビュー角）につき、Ｘ線源１３の位置とステップ３０２で決定された対応する影位置（複数の影位置のセット）とを繋いで、一つの直線を生成する。これにより、ビュー角のセットの各ビューについて、一つの直線が生成されることになる。
【００５３】
ステップ６０４において、システム制御部４５は、全ての直線を用いた複数の交差点の位置を取得する。複数の交差点は、第四世代検出器２５の表面に対して垂直な近似直線を形成することに留意されたい。
【００５４】
ステップ６０５において、複数の交差点の最小二乗フィッティングは、検出器の中心線を決定するのに利用される。その他複数のライン-フィッティング（line-fitting）方法は、所定の光子計数検出器の中心線を探し出すのに利用され得る。代替的に、全ての複数の交差点の位置は、光子計数検出器の（x, y）位置を決定するのに、平均化されてもよい。
【００５５】
上記ステップ６０１から６０５によって第四世代検出器２５毎に得られた中心線は、各第四世代検出器２５が配置されるべき理想的な中心線であり、現実に配置されている第四世代検出器２５の中心線は、この理想的な中心線（基準位置）と一致することが望ましい。この理想的な中心線と、現実に配置されている第四世代検出器２５の中心線とのずれを計算することにより、各第四世代検出器２５のアライメント（或いは、各第四世代検出器２５の第三世代ジオメトリに対するレジストレーション）するための方向及び調整量を把握することができる。
【００５６】
なお、上記レジストレーション処理は、ＦＯＶ内に複数の減弱器を配置し、上記レジストレーションスキャンを実行することで、任意のタイミングで実行することが可能である。典型的には、Ｘ線コンピュータ断層撮像装置の出荷時において上記レジストレーション処理を実行する、或いは、装置の設置時やメンテナンス時に実行されるキャリブレーション処理に含めることができる。上記レジストレーション処理によって取得された第四世代検出器２５毎のずれ量は、主記憶部４３等に記憶される。
【００５７】
主記憶部４３に記憶された第四世代検出器２５毎のずれ量は、例えば画像再構成装置３５が実行する再構成処理において利用される。すなわち、画像再構成装置３５は、上記レジストレーション処理によって取得された第四世代検出器２５毎のずれ量を用いて、例えば撮像で実際に取得されたデータの空間的なずれを補正し、画像再構成処理を実行する。
【００５８】
なお、上記利用例に限らず、上記レジストレーション処理によって取得された第四世代検出器２５毎のずれ量を用いて、各第四世代検出器２５の位置を調整するようにしてもよい。
【００５９】
以上述べた構成によれば、第三、第四世代が融合したＸ線コンピュータ断層撮像装置において、第三世代検出器が出力するデータに基づいて、第４世代検出器に起因して減弱したデータが検出される第１の検出器上の位置を特定し、ビュー毎に特定された位置とＸ線源の位置とを用いて特定される基準位置に基づいて、ずれ量を計算する。この基準位置は、幾何学的に厳密に特定することができる。従って、当該基準位置と現実の第四世代検出器２５の中心軸の位置とのずれ量を把握し、これを用いて再構成段階の補正、或いは機械的な第四世代検出器２５の位置調整を行うことができる。その結果、システム基盤のずれに起因して再構成画像中のアーチファクトを抑制することができ、質の高い診断画像を提供することができる。
【００６０】
（１）上記第１の実施形態においては、サイノグラムデータ上において減弱器に起因するくぼみ、及び当該くぼみに対応するビュー角を特定するものとして説明した。しかしながら、サイノグラムの生成は必須ではなく、例えば例えば第四世代検出器のカウント値と所定の閾値とを比較し、当該閾値を下回ったときのビューを特定することでも、第１の実施形態に係るレジストレーション処理を実現することができる。
【００６１】
（２）当業者であれば理解される様に、システム制御部４５やスキャン制御部３１を構成するプロセッサは、特定用途向けIC（ASIC）、書替可能ゲートアレイ（FPGA）、又はその他複合PLD（CPLD）などの様な、個別の倫理ゲートとして実行され得るCPUを含むことが可能である。書替可能ゲートアレイ又は複合PLDでの実行は、VHDL、Verilog又は任意のハードウェア記述言語で暗号化されてもよく、その暗号は書替可能ゲートアレイ、複合PLD内の電子メモリに直接格納されてもよいし、又は独立の電子メモリとして格納されてもよい。更にメモリは、ROM、EPROM、EEPROM又はFLASHメモリなどの不揮発性のものであってもよい。メモリは、スタティック又はダイナミックRAMなどの揮発性でも可能であり、マイクロコントローラやマイクロプロセッサなどのプロセッサは、書替可能ゲートアレイ又は複合PLDと、メモリ間の対話と同様に、電子メモリを管理するために提供されてもよい。
【００６２】
代替的に、システム制御部４５やスキャン制御部３１を構成するプロセッサは、本開示で述べられた複数の機能を実行するコンピュータ可読の複数の指示のセットを含むコンピュータプログラムを実行できる。そのプログラムは、任意の上記に述べられた複数の不揮発性電子メモリ、及び/又はハードディスクドライブ、CD、DVD、FLASHドライブ、又は任意の所与の格納メディアに格納される。更に複数のコンピュータ可読指示は、ユーティリティアプリケーション、背景デーモン（background daemon）、又はオペレーティングシステムの構成要素、又はそれらを組み合わせて提供されてもよく、所定のプロセッサ、所定のオペレーティングシステム、そして当業者にとっては馴染みのあるその他オペレーティングシステムと共に実行する。
【００６３】
前再構成プロセッサによって一度処理された後、処理された複数の信号は、複数のコンピュータ断層影像画像を生成するように構成された再構成プロセッサへと渡る。複数の画像は、メモリ内、及び/又はディスプレイ上に表示される。当業者であれば理解される様に、メモリは、ハードディスクドライブ、CD-ROMドライブ、DVDドライブ、FLASHドライブ、RAM、ROMなど、当技術分野では馴染みのある任意の電子媒体に格納してもよい。ディスプレイは、液晶ディスプレイ、ブラウン管ディスプレイ、プラズマディスプレイ、有機発光ダイオード、LEDなど、当技術分野では馴染みのある任意のディスプレイである。この様にして、本開示で提供されたメモリ及びディスプレイの説明は、単に例示として挙げただけであり、本願発明によりもたらされる利益の範囲を制限するものではない。
【００６４】
（３）また、一実施形態によると、第三世代Ｘ線源及び検出器システムと、固定され間引きされた複数の光子計数検出器（ＰＣＤｓ）とを含む、第四世代コンピュータ断層影像スキャナに対する、複数の光子計数検出器の各光子計数検出器の位置を決定する方法が提供されており、その方法とは、（１）複数の光子計数検出器の所定の光子計数検出器に対して、コンピュータ断層影像スキャナにおいて予め分かっている固定位置に配置された複数のライン減弱器（line attenuators）のリファレンススキャンからのサイノグラムデータを取得し、（２）サイノグラムデータを分析することで、複数のライン減弱器（line attenuators）のうちの一つが落とした影（shadow cast）を示す、カウント値の減少をサイノグラムデータが呈する、Ｘ線源の複数のビュー角のセットを決定し、（３）複数のビュー角のセットにおける各ビュー角に対して、複数の線のセットを生成するために、ビュー角でのＸ線源の位置と、ビュー角でのＸ線源の位置に最も近い複数のライン減弱器のライン減弱器の位置と、を繋げる線を生成し、（４）延長された複数の線のセットを生成するために、複数の線のセットにおいて各線を所定の距離に延長し、（５）延長された複数の線のセットの全ての複数の交差点の位置を決定し、（６）複数の交差点の決定された複数の位置に基づいて、所定の光子計数検出器の光子計数検出器の中心線を決定すること、を具備する。
【００６５】
もう一つの実施形態において、光子計数検出器の中心線を決定するステップは、複数の交差点の複数の位置の最小二乗フィッティング（least-squares fit）を利用して、光子計数検出器の中心線を決定することを具備する。
【００６６】
またもう一つの実施形態において、複数の交差点の複数の位置の平均を計算することで、所定の光子計数検出器の中心位置（center position）を決定することを更に具備する方法である。
【００６７】
もう一つの実施形態において、第三世代Ｘ線源及び検出器システムと、固定され間引きされた複数の光子計数検出器（ＰＣＤｓ）とを含む、第四世代コンピュータ断層影像スキャナに対する、複数の光子計数検出器の各光子計数検出器の位置を決定する装置が提供されており、その装置とは、複数の光子計数検出器の所定の光子計数検出器に対して、コンピュータ断層影像スキャナにおいて予め分かっている固定位置に配置された複数のライン減弱器（line attenuators）のリファレンススキャンからのサイノグラムデータを取得し、サイノグラムデータを分析することで、複数のライン減弱器（line attenuators）のうちの一つが落とした影（shadow cast）を示す、カウント値の減少をサイノグラムデータが呈する、Ｘ線源の複数のビュー角のセットを決定し、複数のビュー角のセットにおける各ビュー角に対して、複数の線のセットを生成するために、ビュー角でのＸ線源の位置と、ビュー角でのＸ線源の位置に最も近い複数のライン減弱器のライン減弱器の位置とを繋げる線を生成し、延長された複数の線のセットを生成するために、複数の線のセットにおいて各線を所定の距離に延長し、延長された複数の線のセットの全ての複数の交差点の位置を決定し、複数の交差点の決定された複数の位置に基づいて、所定の光子計数検出器の光子計数検出器の中心線を決定するよう構成された処理回路を具備する。
【００６８】
もう一つの実施形態によると、第三世代Ｘ線源及び検出器システムと、固定され間引きされた複数の光子計数検出器（ＰＣＤｓ）とを含む、第四世代コンピュータ断層影像スキャナに対する、複数の光子計数検出器の各光子計数検出器の位置を決定する方法が提供されており、その方法とは、（１）複数の光子計数検出器の所定の光子計数検出器が、光子計数検出器が第三世代検出器上に影を落とすと思われる複数のビュー角のセットを決定し、（２）決定された複数のビュー角のセットにおける各ビュー角について、複数の影位置のセットを決定するために、リファレンススキャンから取得された投影データを分析することで、所定の光子計数検出器によって引き起こされた第三世代検出器上の対応する影位置を決定し、（３）複数のビュー角のセットにおける各ビュー角について、複数の線のセットを生成するために、ビュー角でのＸ線源の位置と、複数の影位置のセットの対応する影位置と、を繋げる線を生成し、（４）複数の線のセットの全ての複数の交差点の複数の位置を決定し、（５）複数の交差点の所定の複数の位置に基づいた所定の光子計数検出器の光子計数検出器の中心線を決定することを具備する。
【００６９】
もう一つの実施形態によると、光子計数検出器の中心線を決定するステップは、複数の交差点の複数の位置の最小二乗フィッティング（least-squares fit）を利用して、光子計数検出器の中心線を決定することを具備する。
【００７０】
もう一つの実施形態によると、複数の交差点の複数の位置の平均を計算することで、所定の光子計数検出器の中心位置（center position）を決定することを更に具備する方法である。
【００７１】
もう一つの実施形態によると、第三世代Ｘ線源及び検出器システムと、固定され間引きされた複数の光子計数検出器（ＰＣＤｓ）とを含む、第四世代コンピュータ断層影像スキャナに対する、複数の光子計数検出器の各光子計数検出器位置を決定する装置が提供されており、その装置とは、複数の光子計数検出器の所定の光子計数検出器が、光子計数検出器が第三世代検出器上に影を落とすと思われる複数のビュー角のセットを決定し、決定された複数のビュー角のセットにおける各ビュー角について、複数の影位置のセットを決定するために、リファレンススキャンから取得された投影データを分析することで、所定の光子計数検出器によって引き起こされた第三世代検出器上の対応する影位置を決定し、複数のビュー角のセットにおける各ビュー角について、複数の線のセットを生成するために、ビュー角でのＸ線源の位置と、複数の影位置のセットの対応する影位置と、を繋げる線を生成し、複数の線のセットの全ての複数の交差点の位置を決定し、複数の交差点の所定の複数の位置に基づいた所定の光子計数検出器の光子計数検出器の中心線を決定するよう構成された処理回路を具備する。
【００７２】
（４）特定の実施形態について記載してきたが、これらの実施形態は単なる一例として提示したのみであり、本発明の範囲を限定する意図はない。実際に、本明細書に記載される新規な複数の方法及び複数のシステムは、他の様々な形態で具体化されても良く、さらに、本発明の趣旨から逸脱することなく、本明細書に記載される複数の方法及び複数のシステムの形態における様々な省略、置換、並びに変更が行われても良い。添付の請求項及びそれらの等価物は、係る形態及び修正を、本発明の範囲内にあるものとして包含するものとする。
【符号の説明】
【００７３】
１０…架台、１１…回転フレーム、１３…Ｘ線源、１５…第３世代検出器、１７…回転駆動部、１９…高電圧発生部、２３…前置コリメータ、２５…第４世代検出器、２７…固定フレーム、３１…スキャン制御部、３３…データ記憶部、３５…画像再構成装置、３７…画像処理部、３９…表示部、４１…入力部、４３…主記憶部、１００…天板、２０２、２０４、２０６、２０８、２１０…減弱器、３５１…前処理部、３５３…再構成演算部
【図１】
2015160139.tif 000003
【図２】
2015160139.tif 000004
【図３】
2015160139.tif 000005
【図４】
2015160139.tif 000006
【図５】
2015160139.tif 000007
【図６】
2015160139.tif 000008
【図７】
2015160139.tif 000009
【図８】
2015160139.tif 000010