(57)【要約】【課題】チップ部品についての各種パラメータを低コストでしかも迅速かつ容易に測定し得る位置決め用治具および測定用治具を提供する。【解決手段】測定対象のチップ部品を位置決めする位置決め用凹部２１が形成された位置決め用治具であって、底部に向かって傾斜する傾斜面Ｆが設けられて傾斜面Ｆ上に落下させられたチップ部品を底部に向けて案内する案内用凹部２２が形成されると共に、位置決め用凹部２１が案内用凹部２２の底部に形成されている。この場合、案内用凹部２２の底部には、チップ部品を嵌入可能に形成されて位置決め用凹部２１に向けてチップ部品を案内する案内用溝２３が形成されている。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象のチップ部品を位置決めする位置決め用凹部が形成された位置決め用治具であって、
底部に向かって傾斜する傾斜面が設けられて当該傾斜面上に落下させられた前記チップ部品を当該底部に向けて案内する案内用凹部が形成されると共に、前記位置決め用凹部が前記案内用凹部の前記底部に形成されている位置決め用治具。
【請求項２】
前記案内用凹部の前記底部には、前記チップ部品を嵌入可能に形成されて前記位置決め用凹部に向けて当該チップ部品を案内する案内用溝が形成されている請求項１記載の位置決め用治具。
【請求項３】
前記案内用溝は、上縁部から下縁部に向かうほど幅狭となるように形成されている請求項２記載の位置決め用治具。
【請求項４】
前記案内用凹部の前記傾斜面は、前記底部から遠ざかるほど大きく傾斜するように湾曲面で構成されている請求項１から３のいずれかに記載の位置決め用治具。
【請求項５】
前記位置決め用凹部に嵌入して当該位置決め用凹部の底面から突出させられた接触子に接触可能な凸部を有する補正用治具の嵌入が可能な嵌入用溝が前記案内用凹部を横切るようにして形成されている請求項１から４のいずれかに記載の位置決め用治具。
【請求項６】
前記補正用治具に形成されている位置決め用孔に挿通可能に構成されて当該補正用治具を前記嵌入用溝内の規定位置に位置決めするための位置決め用ピンが配設されている請求項５記載の位置決め用治具。
【請求項７】
請求項１から６のいずれかに記載の位置決め用治具と、
前記位置決め用凹部の底面から突出させられて前記チップ部品の電極に接触させられる接触子とを備えている測定用治具。
【請求項８】
前記位置決め用凹部の前記底面に対して前記接触子を上下動させる上下動機構を備えている請求項７記載の測定用治具。
【請求項９】
前記位置決め用凹部内に位置決めされた前記チップ部品を前記底面に向けて押圧する押圧機構を備えている請求項７または８記載の測定用治具。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定対象のチップ部品を位置決めする位置決め用凹部が形成された位置決め用治具、およびそのような位置決め用治具を備えた測定用治具に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
チップ部品の製造時や、回路基板に対するチップ部品の実装時には、チップ部品が正常品であるか否かを検査するためにチップ部品についての任意のパラメータ（一例として電気的パラメータ：例えば抵抗値や静電容量値など）を測定する測定処理が行われる。この場合、今日では、回路基板の小型化（ファインピッチ化）に伴い、実装されるチップ部品も非常に小さくなっているため、測定処理に際してチップ部品の電極に接触子を接触させるには、予め規定された位置に電極が位置した状態となるようにチップ部品を測定処理位置に位置決めする必要がある。また、チップ部品を測定処理位置に位置決めする際には、ピンセット等の保持具を用いてチップ部品を保持して測定処理位置に搬送する必要が生じるが、載置姿勢が相違する複数のチップ部品のなかから測定対象の１つのチップ部品だけを保持する作業が困難であるため、パーツフィーダ等を用いてチップ部品を個々に整列させておく必要がある。
【０００３】
具体的には、一例として、まず、下記の特許文献１に開示されているパーツフィーダを用いてチップ部品を整列させる。次いで、整列させられたチップ部品を、保持具によって保持する。続いて、保持したチップ部品を、出願人が下記の特許文献２に開示している四端子測定用チップ部品治具（以下、単に「チップ部品治具」ともいう）まで搬送し、チップ部品治具によってチップ部品を測定処理位置に位置決めした状態において、良否判定に必要なパラメータを測定し、測定結果と判定用基準値とに基づき、チップ部品の良否を検査する。
【０００４】
この場合、出願人が開示しているチップ部品治具は、凹状に形成された定置部に一対の接触端子が配設された端子台を２つ備えて構成されている。また、このチップ部品治具では、両端子台の定置部を近接させるようにして両端子台を対向配置した状態において、一方の端子台における定置部上にチップ部品における一端部側部位を載置し、かつ他方の端子台における定置部上にチップ部品における他端部側部位を載置して（両定置部上にチップ部品を掛け渡すように配置して）チップ部品を位置決めすることにより、チップ部品の一端部側部位に形成されている電極が一方の端子台における両接触端子に接触させられ、かつチップ部品の多端部側部位に形成されている電極が他方の端子台における両接触端子に接触させられる。これにより、出願人が開示しているチップ部品治具では、小さなチップ部品の電極にそれぞれ一対の接触端子を接触させた状態で四端子法によって抵抗値や静電容量値などのパラメータを測定することが可能となっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平６−３２０１１６号公報（第２−３頁、第１−３図）
【特許文献２】特開２００８−２６２６０号公報（第３−７頁、第１−６図）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところが、上記のようにパーツフィーダによって整列させたチップ部品を保持具によって保持してチップ部品治具に搬送し、チップ部品治具によって位置決めした状態でパラメータを測定する一連の測定手順には、以下のような改善すべき課題が存在する。すなわち、チップ部品等を整列させるためのパーツフィーダでは、対象部品を好適に整列させることができるように、部品の種類（形状、大きさおよび質量など）に応じて、振動周期やガイド部材の配置などを最適化する必要がある。このため、形状、大きさおよび質量などが相違するチップ部品についてのパラメータを測定する際には、その都度、パーツフィーダの動作を微調整する作業が必要となっており、測定処理を迅速に開始するのが困難になっているという課題がある。
【０００７】
また、形状、大きさおよび質量のいずれかが大きく相違するチップ部品を測定対象とするときには、パーツフィーダを改造したり、対象部品の整列に適した他のパーツフィーダを新たに導入したりする必要が生じる。このため、パーツフィーダの改造費用や導入費用の分だけ、チップ部品についてのパラメータの測定に要するコストの低減が困難となっているという課題もある。さらに、パーツフィーダによってチップ部品を整列させる際には、パーツフィーダによって電力が消費されるため、この電力消費に起因して、チップ部品についてのパラメータの測定に要するコストの低減が一層困難となっているという課題もある。また、大きく重いパーツフィーダを使用するために、剛性が高く、かつ十分に大きい作業台が必要となっているという課題もある。
【０００８】
さらに、上記した測定手順では、パーツフィーダによって整列させられたチップ部品を保持具によって保持してチップ部品治具における定置部上に載置する必要があるが、測定対象のチップ部品の小型化に伴い、チップ部品治具における定置部の大きさも非常に小さくなっている。このため、測定対象のチップ部品を定置部上に載置する作業自体が極めて煩雑となっており、熟練者以外がチップ部品についての測定処理を行うのが困難になっているという現状もある。
【０００９】
本発明は、かかる改善すべき課題に鑑みてなされたものであり、チップ部品についての各種パラメータを低コストでしかも迅速かつ容易に測定し得る位置決め用治具および測定用治具を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成すべく、請求項１記載の位置決め用治具は、測定対象のチップ部品を位置決めする位置決め用凹部が形成された位置決め用治具であって、底部に向かって傾斜する傾斜面が設けられて当該傾斜面上に落下させられた前記チップ部品を当該底部に向けて案内する案内用凹部が形成されると共に、前記位置決め用凹部が前記案内用凹部の前記底部に形成されている。
【００１１】
また、請求項２記載の位置決め用治具は、請求項１記載の位置決め用治具において、前記案内用凹部の前記底部には、前記チップ部品を嵌入可能に形成されて前記位置決め用凹部に向けて当該チップ部品を案内する案内用溝が形成されている。
【００１２】
さらに、請求項３記載の位置決め用治具は、請求項２記載の位置決め用治具において、前記案内用溝は、上縁部から下縁部に向かうほど幅狭となるように形成されている。
【００１３】
また、請求項４記載の位置決め用治具は、請求項１から３のいずれかに記載の位置決め用治具において、前記案内用凹部の前記傾斜面は、前記底部から遠ざかるほど大きく傾斜するように湾曲面で構成されている。
【００１４】
また、請求項５記載の位置決め用治具は、請求項１から４のいずれかに記載の位置決め用治具において、前記位置決め用凹部に嵌入して当該位置決め用凹部の底面から突出させられた接触子に接触可能な凸部を有する補正用治具の嵌入が可能な嵌入用溝が前記案内用凹部を横切るようにして形成されている。
【００１５】
また、請求項６記載の位置決め用治具は、請求項５記載の位置決め用治具において、前記補正用治具に形成されている位置決め用孔に挿通可能に構成されて当該補正用治具を前記嵌入用溝内の規定位置に位置決めするための位置決め用ピンが配設されている。
【００１６】
また、請求項７記載の測定用治具は、請求項１から６のいずれかに記載の位置決め用治具と、前記位置決め用凹部の底面から突出させられて前記チップ部品の電極に接触させられる接触子とを備えている。
【００１７】
さらに、請求項８記載の測定用治具は、請求項７記載の測定用治具において、前記位置決め用凹部の前記底面に対して前記接触子を上下動させる上下動機構を備えている。
【００１８】
また、請求項９記載の測定用治具は、請求項７または８記載の測定用治具において、前記位置決め用凹部内に位置決めされた前記チップ部品を前記底面に向けて押圧する押圧機構を備えている。
【発明の効果】
【００１９】
請求項１記載の位置決め用治具によれば、傾斜面上に落下させられたチップ部品を底部に向けて案内可能に形成した案内用凹部の底部に位置決め用凹部を形成したことにより、案内用凹部内にチップ部品を落下させるだけでチップ部品が傾斜面を滑落して案内用凹部の底部に移動するため、底部に移動したチップ部品を位置決め用凹部上に移動させるだけで、位置決め用凹部によってチップ部品を位置決めすることができる。これにより、パーツフィーダが不要となるため、チップ部品の種類に応じてパーツフィーダの動作を調整したり、チップ部品の種類に応じてパーツフィーダを改造したり、チップ部品の種類に応じて新たなパーツフィーダを導入したりする必要がなくなると共に、パーツフィーダによる電力消費がなくなり、かつ、パーツフィーダを載置可能な高剛性の大きな作業台も不要となるため、チップ部品についての各種パラメータを低コストで迅速かつ容易に測定することができる。また、位置決め用凹部内にチップ部品を直接嵌入する必要がないため、測定処理に不慣れな者であっても、チップ部品を容易に位置決めして各種パラメータを測定することができる。
【００２０】
また、請求項２記載の位置決め用治具によれば、位置決め用凹部に向けてチップ部品を案内する案内用溝を案内用凹部の底部に形成したことにより、案内用凹部の底部に滑落したチップ部品を位置決め用凹部まで容易に移動させることができるため、チップ部品を位置決め用凹部内に一層容易に嵌入させることができる。
【００２１】
さらに、請求項３記載の位置決め用治具によれば、上縁部から下縁部に向かうほど幅狭となるように案内用溝を形成したことにより、案内用溝上に移動させたチップ部品を案内用溝内にスムーズに落下させることができるため、チップ部品を位置決め用凹部内に一層容易に嵌入させることができる。
【００２２】
また、請求項４記載の位置決め用治具によれば、底部から遠ざかるほど大きく傾斜するように案内用凹部の傾斜面を湾曲面で構成したことにより、位置決め用凹部が形成されている底部から離れた位置にチップ部品を落下させたとしても、このチップ部品が案内用凹部の底部（位置決め用凹部の近傍）に向かって好適に移動させられるため、チップ部品を位置決め用凹部内に一層容易に嵌入させることができる。
【００２３】
また、請求項５記載の位置決め用治具では、位置決め用凹部に嵌入して位置決め用凹部の底面から突出させられた接触子に接触可能な凸部を有する補正用治具の嵌入が可能な嵌入用溝が案内用凹部を横切るようにして形成されている。この場合、嵌入用溝が形成されていない位置決め用治具を用いるときには、補正用治具の全体の大きさを案内用凹部に挿入可能な大きさにする、つまり補正用治具を案内用凹部よりも小形にする必要がある。このため、嵌入用溝が形成されていない位置決め用治具を用いるときには、取り扱いがし難い小形の補正用治具を用いて補正処理を行うこととなり、補正処理の効率の向上が困難となる。これに対して、この位置決め用治具によれば、嵌入用溝を形成したことにより、案内用凹部よりも大形で取り扱いがし易い補正用治具を用いて補正処理を行うことができるため、補正処理の効率を十分に向上させることができる。
【００２４】
また、請求項６記載の位置決め用治具によれば、補正用治具に形成されている位置決め用孔に挿通可能に構成されて補正用治具を嵌入用溝内の規定位置に位置決めするための位置決め用ピンを配設したことにより、補正用治具の位置決め用孔に位置決め用ピンを挿通させるだけで、補正用治具の位置決めを正確かつ容易に行うことができるため、補正処理を正確かつ容易に行うことができる。
【００２５】
さらに、請求項７記載の測定用治具によれば、チップ部品の電極に接触可能な接触子を、位置決め用凹部の底面から突出するように配設したことにより、位置決め用凹部によってチップ部品を位置決めすることで、各接触子を位置決め用凹部内のチップ部品における電極に対して確実に接触させることができるため、チップ部品についての各種パラメータを一層容易に測定することができる。
【００２６】
また、請求項８記載の測定用治具によれば、位置決め用凹部の底面に対して接触子を上下動させる上下動機構を備えたことにより、位置決め用凹部内にチップ部品を嵌入させる作業時に接触子を下動させておくことで接触子が破損する事態を好適に回避することができるだけでなく、位置決め用凹部内にチップ部品を嵌入させた後に各接触子を上動させることでその先端部をチップ部品の電極に好適な接触圧で押し付けることができるため、チップ部品についての各種パラメータを正確に測定することができる。
【００２７】
また、請求項９記載の測定用治具によれば、位置決め用凹部内に位置決めされたチップ部品を底面に向けて押圧する押圧機構を備えたことにより、位置決め用凹部によって位置決めされているチップ部品を各接触子に対して好適な押圧力で押し付けることができるため、チップ部品についての各種パラメータを一層正確に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】測定用治具１の外観斜視図である。
【図２】測定用治具１における位置決め用凹部２１ａ〜２１ｃの近傍の断面図である。
【図３】測定用治具１における位置決め用凹部２１ａ〜２１ｃの近傍の外観斜視図である。
【図４】測定用治具１における位置決め用凹部２１ａ〜２１ｃの近傍の平面図である。
【図５】図４におけるＡ−Ａ線断面図である。
【図６】図４におけるＢ−Ｂ線断面図である。
【図７】嵌入用溝２５に補正用治具Ｘを嵌入した状態の位置決め用凹部２１ａ〜２１ｃの近傍の外観斜視図である。
【図８】位置決め部２によるチップ部品Ｐの位置決め作業について説明するための断面図（図４におけるＣ−Ｃ線断面図）である。
【図９】位置決め部２によるチップ部品Ｐの位置決め作業について説明するための他の断面図（図４におけるＡ−Ａ線断面図）である。
【図１０】位置決め用凹部２１によって位置決めされたチップ部品Ｐを押圧機構４のプッシャー４３によって下向きに押圧した状態の断面図（図４におけるＡ−Ａ線断面図）である。
【図１１】他の実施の形態に係る測定用治具１Ａにおける位置決め用凹部２１の近傍の断面図である。
【図１２】さらに他の実施の形態に係る測定用治具１Ｂにおける位置決め用凹部２１の近傍の断面図である。
【図１３】補正用治具Ｘを下面Ｘｂ側から見た外観斜視図である。
【図１４】位置決め部２および上下動機構６の構成を示す外観斜視図である。
【図１５】接触子３１の先端部をベース部１１内に退避させた状態の位置決め部２および上下動機構６の断面図（図１４の断面Ｓで切断した断面図）である。
【図１６】接触子３１の先端部を位置決め用凹部２１ａ〜２１ｃ内に突出させた状態の位置決め部２および上下動機構６の断面図（図１４の断面Ｓで切断した断面図）である。
【発明を実施するための形態】
【００２９】
以下、位置決め用治具および測定用治具の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。
【００３０】
図１に示す測定用治具１は、「位置決め用治具」を備えて構成された「測定用治具」の一例であって、位置決め部２、接続部３、押圧機構４および筐体５を備えて構成されている。位置決め部２は、図１，２および図１４〜図１６に示すように、２枚のベース板１１ａ，１１ｂで構成されて筐体５の天板から突出させられたベース部１１と、ベース部１１にねじ止め固定された凹部形成片１２と、ベース部１１に固定された支持ブロック１３と、支持ブロック１３を筐体５に取り付けるためのブラケット１４とを備え、筐体５と相まって「位置決め用治具」を構成する。
【００３１】
また、図２〜４に示すように、凹部形成片１２には、位置決め用凹部２１ａが底部に形成された案内用凹部２２ａ、位置決め用凹部２１ｂが底部に形成された案内用凹部２２ｂ、および位置決め用凹部２１ｃが底部に形成された案内用凹部２２ｃが並んで形成されている。この場合、本例の測定用治具１では、位置決め用凹部２１ａ〜２１ｃ（以下、これらを区別しないときには「位置決め用凹部２１」ともいう）がそれぞれ「位置決め用凹部」に相当すると共に、案内用凹部２２ａ〜２２ｃ（以下、これらを区別しないときには「案内用凹部２２」ともいう）がそれぞれ「案内用凹部」に相当する。
【００３２】
また、本例の凹部形成片１２では、一例として、１．０ｍｍ×０．５ｍｍのチップ部品Ｐを位置決め可能に（嵌入可能に）位置決め用凹部２１ａが形成され、０．６ｍｍ×０．３ｍｍのチップ部品Ｐを位置決め可能に（嵌入可能に）位置決め用凹部２１ｂが形成され、かつ０．４ｍｍ×０．２ｍｍのチップ部品Ｐを位置決め可能に（嵌入可能に）位置決め用凹部２１ｃが形成されている。さらに、各案内用凹部２２は、図５，６に示すように、位置決め用凹部２１が形成された底部に向かって傾斜する傾斜面Ｆが設けられ、後述するように、傾斜面Ｆ上に落下させられたチップ部品Ｐを底部に向けて案内可能に構成されている。この場合、各案内用凹部２２の傾斜面Ｆは、底部から遠ざかるほど大きく傾斜するように（傾斜がきつくなるように）湾曲面で構成されている。
【００３３】
また、図３，４に示すように、各案内用凹部２２の底部には、チップ部品Ｐを嵌入可能に形成されて位置決め用凹部２１に向けてチップ部品Ｐを案内可能な案内用溝２３ａ〜２３ｃ（以下、これらを区別しないときには「案内用溝２３」ともいう）がそれぞれ形成されている。この場合、図５，６に示すように、各案内用溝２３は、その内側面が垂直方向に対して３°〜５°の範囲内（一例として４°）で傾斜させられ、上縁部から下縁部に向かうほど幅狭となるように形成されている。
【００３４】
なお、本例の測定用治具１では、位置決め用凹部２１ａに向けてチップ部品Ｐを案内する案内用溝２３ａにおける下縁部側の溝幅が０．５ｍｍよりもやや広く形成され、位置決め用凹部２１ｂに向けてチップ部品Ｐを案内する案内用溝２３ｂにおける下縁部側の溝幅が０．３ｍｍよりもやや広く形成され、位置決め用凹部２１ｃに向けてチップ部品Ｐを案内する案内用溝２３ｃにおける下縁部側の溝幅が０．２ｍｍよりもやや広く形成されている（「案内用溝」の溝幅が、「チップ部品」の平面視における短尺方向の幅と同程度に形成されている構成の例）。また、図３，４に示すように、本例の測定用治具１では、平面視における位置決め用凹部２１の一端部側および他端部側に案内用溝２３がそれぞれ形成されている。
【００３５】
また、図３〜６に示すように、各案内用凹部２２の底部には、後述するように位置決め用凹部２１に位置決めしたチップ部品Ｐを位置決め用凹部２１の底面に向けて押圧するためのプッシャー４３（図１，１０参照）が凹部形成片１２に当接するのを回避可能に平面視円形状の当接回避用凹部２４が形成され、この当接回避用凹部２４の中央部に各位置決め用凹部２１がそれぞれ形成されている。この場合、本例の測定用治具１では、図５，６に示すように、各要素２１，２３，２４のうちで、位置決め用凹部２１の深さ（案内用凹部２２の底面からの深さ）が最も深く、かつ当接回避用凹部２４が最も浅く形成されると共に、案内用溝２３が位置決め用凹部２１の深さよりも浅く、かつ当接回避用凹部２４の深さよりも深くなるようにこれらが形成されている。
【００３６】
この場合、本例の測定用治具１では、各位置決め用凹部２１や案内用凹部２２が形成されている凹部形成片１２を、測定用治具１の本体部（ベース部１１や筐体５）とは別体に形成することにより、上記の位置決め用凹部２１ａ〜２１ｃによって好適に位置決めすることのできないチップ部品Ｐを測定対象とするときには、そのチップ部品Ｐを好適に位置決め可能な大きさおよび形状の「位置決め用凹部」を形成した他の凹部形成片１２（図示せず）を製作してベース部１１に取り付けることにより、凹部形成片１２以外の構成要素を新たに製作することなく、継続して使用することが可能となっている。
【００３７】
さらに、図２〜４に示すように、本例の測定用治具１では、後述する測定器の補正処理時に使用する補正用治具Ｘ（図７，１３参照）を嵌入可能な嵌入用溝２５が凹部形成片１２に形成されると共に、補正用治具Ｘを嵌入用溝２５内の規定位置に位置決めするための４本の位置決め用ピン２６が配設されている。なお、この嵌入用溝２５および位置決め用ピン２６は、「位置決め用治具（測定用治具）」に必須の構成要素ではなく、補正用治具Ｘを用いた補正処理を実行する必要がないときには、この嵌入用溝２５および位置決め用ピン２６を不要とすることもできる。
【００３８】
一方、接続部３は、各位置決め用凹部２１の底面から突出させられるように配設された接触子３１と、筐体５の背面に配設されて各接触子３１に接続された接続用コネクタ３２（図１参照）と、接触子３１および接続用コネクタ３２を相互に接続する配線基板および接続線（共に図示せず）とを備えている。
【００３９】
この場合、本例の測定用治具１では、出願人が上記の特許文献２に開示しているチップ部品治具と同様にしてチップ部品Ｐについての任意のパラメータ（一例として電気的パラメータ：例えば抵抗値や静電容量値など）を四端子法によって測定することができるように、１つの位置決め用凹部２１につき４本の接触子３１がそれぞれ配設されている。具体的には、後述するように位置決め用凹部２１内に嵌入されて位置決めされた状態のチップ部品Ｐにおける一方の電極に接触させられる一対の接触子３１，３１と、そのチップ部品Ｐにおける他方の電極に接触させられる一対の接触子３１，３１とが位置決め用凹部２１の底面から突出させられている。
【００４０】
また、本例の測定用治具１は、凹部形成片１２に対して各接触子３１を上下動させる上下動機構６を備えている。この場合、上下動機構６は、図１４〜１６に示すように、操作レバー３３と、位置決め部２を構成する支持ブロック１３によって支持されると共に先端部に操作レバー３３が取り付けられた回動軸３４と、回動軸３４の基端部側に取り付けられた偏芯カム３５と、２枚の保持板３６ａ，３６ｂで構成されて接触子３１の基端部側を保持する接触子保持部３６と、接触子３１の基端部に電気的に接続される導体パターンが形成された基板３７と、接触子保持部３６を上方（凹部形成片１２側）に付勢するスプリング３８とを備えて構成されている。本例の上下動機構６では、操作レバー３３を回動操作させたときに回動軸３４および偏芯カム３５が回動し、偏芯カム３５の回動に伴って接触子保持部３６が上下動する。この場合、スプリング３８の付勢力に抗して偏芯カム３５が接触子保持部３６を下向きに押圧することによって接触子保持部３６が下動し、偏芯カム３５の回動に伴って接触子保持部３６に対する下向きへの押圧が解除されたときにスプリング３８の付勢力によって接触子保持部３６が上動する。なお、図１５では、接触子保持部３６が下動した状態を図示し、図１６では、接触子保持部３６が上動した状態を図示している。また、本例の上下動機構６では、接触子保持部３６を上動させることにより、図５，６に実線で示すように、接触子保持部３６によって基端部側が保持されている各接触子３１の先端部（上端部）が凹部形成片１２における位置決め用凹部２１の底面から位置決め用凹部２１内に突出した状態となり、接触子保持部３６を下動させることにより、図９に破線で示すように、各接触子３１の先端部（上端部）が位置決め用凹部２１の底面よりも下方に位置させられた状態（接触子３１の先端部がベース部１１内に退避させられた状態）となる。
【００４１】
押圧機構４は、「押圧機構」の一例であって、図１に示すように、筐体５に固定されたガイドレール４１と、矢印Ｄの方向（各位置決め用凹部２１の並設方向）に沿ってスライド可能にガイドレール４１に取り付けられたアーム４２と、アーム４２に対して上下動可能に取り付けられたプッシャー４３とを備えている。この場合、プッシャー４３には、位置決め用凹部２１内に嵌入されたチップ部品Ｐを位置決め用凹部２１の底面に向けて好適な押圧力で押圧することができるようにウェイト４３ａが取り付けられている。
【００４２】
なお、測定用治具１を用いたチップ部品Ｐの検査に際しては、チップ部品Ｐを保持する保持具（保持具等）、接続用ケーブルを介して接続部３の接続用コネクタ３２に接続されてチップ部品Ｐについての各種パラメータを測定する測定器、および後述するように位置決め用凹部２１へのチップ部品Ｐの嵌入作業時に各位置決め用凹部２１の近傍およびチップ部品Ｐの視認性を向上させるための拡大鏡などを使用するが、測定用治具１（「位置決め用治具」および「測定用治具」）についての理解を容易とするために、保持具、測定器および拡大鏡についての図示および詳細な説明を省略する。
【００４３】
この測定用治具１を用いたチップ部品Ｐの検査に際しては、測定用治具１の近傍に拡大鏡をセットすると共に、接続用ケーブルを介して接続部３の接続用コネクタ３２を測定器に接続する。これにより、接続部３の各接触子３１が測定器に接続された状態となる。次いで、測定器の補正処理を実行する。具体的には、ガイドレール４１に対してアーム４２をスライドさせることで凹部形成片１２上からプッシャー４３を退避させると共に、操作レバー３３を操作することによって接触子保持部３６を下動させて各接触子３１をベース部１１内に退避させる。続いて、図７に示すように、補正用治具Ｘに形成されている位置決め用孔Ｘａに位置決め用ピン２６，２６を挿通させるようにして嵌入用溝２５に補正用治具Ｘを嵌入する。この場合、図１３に示すように、補正用治具Ｘの下面Ｘｂには、位置決め用凹部２１内に嵌入可能に形成されると共に各接触子３１を短絡可能に構成された凸部Ｘｃが形成されている。
【００４４】
ここで、嵌入用溝２５が形成されていない測定用治具（位置決め用治具）を用いるときには、補正用治具Ｘの全体の大きさを案内用凹部２２に挿入可能な大きさにする、つまり補正用治具Ｘを案内用凹部２２よりも小形にする必要がある。このため、嵌入用溝２５が形成されていない測定用治具を用いるときには、取り扱いがし難い小形の補正用治具Ｘを用いて補正処理を行うこととなり、補正処理の効率の向上が困難となる。これに対して、この測定用治具１では、嵌入用溝２５が形成されているため、案内用凹部２２よりも大形で取り扱いがし易い補正用治具Ｘを用いて補正処理を行うことができるため、補正処理の効率を十分に向上させることが可能となっている。
【００４５】
また、この測定用治具１では、位置決め用ピン２６，２６が配設されているため、補正用治具Ｘの位置決め用孔Ｘａに位置決め用ピン２６，２６を挿通させるだけで、補正用治具Ｘの位置決めを正確かつ容易に行うことができるため、補正処理を正確かつ容易に行うことができる。
【００４６】
次いで、操作レバー３３を操作することによって接触子保持部３６を上動させて各接触子３１を位置決め用凹部２１の底面から突出させる。これにより、位置決め用凹部２１内の各接触子３１が短絡された状態となる。なお、図７では、案内用凹部２２ｂの底部に形成された位置決め用凹部２１ｂ（図３参照）に補正用治具Ｘの凸部Ｘｃ（図１３参照）を嵌入させた状態を図示している。
【００４７】
この後、測定器を操作して予め規定されたパラメータ（電気的パラメータ）を測定し、その測定結果に基づいて測定器を補正する。なお、図示および説明を省略するが、上記の補正処理については、位置決め用凹部２１ａ内の各接触子３１、および位置決め用凹部２１ｃ内の各接触子３１についても同様にして実行する。また、これらの補正処理の実行頻度については、利用者が適宜規定する。
【００４８】
一方、チップ部品Ｐの検査に際しては、まず、嵌入用溝２５から補正用治具Ｘを撤去した状態において操作レバー３３を操作することにより、接触子保持部３６を下動させて各接触子３１をベース部１１内に退避させる。次いで、図８に破線で示すように、保持具によって保持したチップ部品Ｐを案内用凹部２２の上方に搬送し、保持具による保持を解除することにより、矢印Ｅ１で示すようにチップ部品Ｐを案内用凹部２２内に落下させる。この際に、測定対象のチップ部品Ｐを位置決め用凹部２１内に直接落下させるのが好ましいが、本例の測定用治具１では、後述するように、案内用凹部２２の傾斜面Ｆに落下させたチップ部品Ｐを位置決め用凹部２１まで容易に移動させることができるため、位置決め用凹部２１の形成位置を意識することなく、チップ部品Ｐを案内用凹部２２内に落下させればよい。
【００４９】
この場合、図８に一点鎖線で示すように、案内用凹部２２の傾斜面Ｆ上にチップ部品Ｐが落下したときには、矢印Ｅ２で示すように、チップ部品Ｐが自重によって案内用凹部２２の底部（傾斜面Ｆの下方部位）に向かって滑落して同図に二点鎖線で示すように案内用溝２３の近傍に位置した状態となる。この際に、本例の測定用治具１では、底部から遠ざかるほど大きく傾斜する（傾斜がきつくなる）ように案内用凹部２２の傾斜面Ｆが湾曲面で構成されているため、位置決め用凹部２１や案内用溝２３が形成されている底部から離れた位置にチップ部品Ｐが落下したとしても、このチップ部品Ｐが案内用凹部２２の底部（位置決め用凹部２１や案内用溝２３の近傍）に向かって好適に移動させられる。
【００５０】
続いて、矢印Ｅ３で示すように、図示しない保持具等を利用してチップ部品Ｐを案内用溝２３上に向けて移動させる。この際には、図８に実線で示すように、案内用溝２３上に移動させられたチップ部品Ｐが自重によって案内用溝２３内に落下する。この場合、本例の測定用治具１では、案内用溝２３の内側面が垂直方向に対して傾斜させられて、上縁部から下縁部に向かうほど幅狭となるように形成されているため、移動させられたチップ部品Ｐが案内用溝２３内にスムーズに落下する。
【００５１】
次いで、保持具等を利用して案内用溝２３内のチップ部品Ｐを位置決め用凹部２１に向けてスライドさせる。この際に、本例の測定用治具１では、案内用溝２３の溝幅がチップ部品Ｐの平面視における短尺方向の幅と同程度に形成されているため、案内用溝２３内においてチップ部品Ｐが傾いたり回動したりすることなく、位置決め用凹部２１に向かって案内される。これにより、図９に実線で示すように、位置決め用凹部２１上に移動させられたチップ部品Ｐが自重によって位置決め用凹部２１内に落下し、位置決め用凹部２１によって測定処理位置（つまり、位置決め用凹部２１の底部の位置）に位置決めされた状態となる。
【００５２】
次いで、ガイドレール４１に対してアーム４２をスライドさせて位置決め用凹部２１の上方（位置決め用凹部２１によって位置決めされた状態のチップ部品Ｐの上方）にプッシャー４３の先端部を位置させる。続いて、図１０に示すように、操作レバー３３を操作することによって接触子保持部３６を上動させて各接触子３１を位置決め用凹部２１の底面から突出させると共に、アーム４２に対してプッシャー４３を下動させることによってチップ部品Ｐを位置決め用凹部２１の底面に向けて押圧する。
【００５３】
この際には、位置決め用凹部２１内に突出させられた接触子３１の先端部が位置決め用凹部２１内のチップ部品Ｐにおける各電極に押し付けられて、チップ部品Ｐの電極と接触子３１とが電気的に接続された状態となる。この場合、本例の測定用治具１では、接触子保持部３６の上動に伴って上動させられる各接触子３１が座屈変形し、その弾性復帰力によって各接触子３１の先端部が好適な接触圧でチップ部品Ｐの電極に押し付けられた状態となる。この状態において測定器を操作することにより、一例として、四端子法によって抵抗値を測定させる。これにより、測定対象（検査対象）のチップ部品Ｐについての測定処理が完了する。この後、測定処理の測定結果（測定された抵抗値）と、良品のチップ部品Ｐから取得した基準抵抗値とを比較することにより、チップ部品Ｐが正常品であるか否かが検査される。なお、チップ部品Ｐの良否判定（検査）については、利用者が測定結果と判定用の基準値とを比較して良否を判定する方法だけでなく、そのような判定機能を測定器に設けて自動的に行うこともできる。
【００５４】
一方、上記の測定処理を完了したときには、チップ部品Ｐ上からプッシャー４３を退避させる。この際には、各接触子３１の弾性復帰力によってチップ部品Ｐが上動させられる。次いで、保持具を用いてチップ部品Ｐを保持することにより、検査完了品（測定完了品）の載置場所まで搬送する。この後、上記の一連の測定処理と同様の手順で他のチップ部品Ｐについての測定処理を実行する。
【００５５】
このように、位置決め部２を備えた測定用治具１によれば、傾斜面Ｆ上に落下させられたチップ部品Ｐを底部に向けて案内可能に形成した案内用凹部２２の底部に位置決め用凹部２１を形成したことにより、案内用凹部２２内にチップ部品Ｐを落下させるだけでチップ部品Ｐが傾斜面Ｆを滑落して案内用凹部２２の底部に移動するため、底部に移動したチップ部品Ｐを位置決め用凹部２１上に移動させるだけで、位置決め用凹部２１によってチップ部品Ｐを位置決めすることができる。これにより、パーツフィーダが不要となるため、チップ部品Ｐの種類に応じてパーツフィーダの動作を調整したり、チップ部品Ｐの種類に応じてパーツフィーダを改造したり、チップ部品Ｐの種類に応じて新たなパーツフィーダを導入したりする必要がなくなると共に、パーツフィーダによる電力消費がなくなり、かつ、パーツフィーダを載置可能な高剛性の大きな作業台も不要となるため、チップ部品Ｐについての各種パラメータを低コストで迅速かつ容易に測定することができる。また、「位置決め用凹部」内にチップ部品Ｐを直接嵌入する必要がないため、測定処理に不慣れな者であっても、チップ部品Ｐを容易に位置決めして各種パラメータを測定することができる。
【００５６】
また、この測定用治具１によれば、位置決め用凹部２１に向けてチップ部品Ｐを案内する案内用溝２３を案内用凹部２２の底部に形成したことにより、案内用凹部２２の底部に滑落したチップ部品Ｐを位置決め用凹部２１まで容易に移動させることができるため、チップ部品Ｐを位置決め用凹部２１内に一層容易に嵌入させることができる。
【００５７】
さらに、この測定用治具１によれば、上縁部から下縁部に向かうほど幅狭となるように案内用溝２３を形成したことにより、案内用溝２３上に移動させたチップ部品Ｐを案内用溝２３内にスムーズに落下させることができるため、チップ部品Ｐを位置決め用凹部２１内に一層容易に嵌入させることができる。
【００５８】
また、この測定用治具１によれば、底部から遠ざかるほど大きく傾斜するように案内用凹部２２の傾斜面Ｆを湾曲面で構成したことにより、位置決め用凹部２１が形成されている底部から離れた位置にチップ部品Ｐを落下させたとしても、このチップ部品Ｐが案内用凹部２２の底部（位置決め用凹部２１の近傍）に向かって好適に移動させられるため、チップ部品Ｐを位置決め用凹部２１内に一層容易に嵌入させることができる。
【００５９】
また、この測定用治具１では、位置決め用凹部２１に嵌入して位置決め用凹部２１の底面から突出させられた接触子３１に接触可能な凸部Ｘｃを有する補正用治具Ｘの嵌入が可能な嵌入用溝２５が形成されている。この場合、嵌入用溝２５が形成されていない位置決め用治具を用いるときには、補正用治具Ｘの全体の大きさを案内用凹部２２に挿入可能な大きさにする、つまり補正用治具Ｘを案内用凹部２２よりも小形にする必要がある。このため、嵌入用溝２５が形成されていない位置決め用治具を用いるときには、取り扱いがし難い小形の補正用治具Ｘを用いて補正処理を行うこととなり、補正処理の効率の向上が困難となる。これに対して、この測定用治具１によれば、嵌入用溝２５を形成したことにより、案内用凹部２２よりも大形で取り扱いがし易い補正用治具Ｘを用いて補正処理を行うことができるため、補正処理の効率を十分に向上させることができる。
【００６０】
また、この測定用治具１によれば、補正用治具Ｘに形成されている位置決め用孔Ｘａに挿通可能に構成されて補正用治具Ｘを嵌入用溝内の規定位置に位置決めするための位置決め用ピン２６，２６を配設したことにより、補正用治具Ｘの位置決め用孔Ｘａに位置決め用ピン２６，２６を挿通させるだけで、補正用治具Ｘの位置決めを正確かつ容易に行うことができるため、補正処理を正確かつ容易に行うことができる。
【００６１】
さらに、この測定用治具１によれば、チップ部品Ｐの電極に接触可能な接触子３１を、位置決め用凹部２１の底面から突出するように配設したことにより、位置決め用凹部２１によってチップ部品Ｐを位置決めすることで、各接触子３１を位置決め用凹部２１内のチップ部品Ｐにおける電極に対して確実に接触させることができるため、チップ部品Ｐについての各種パラメータを一層容易に測定することができる。
【００６２】
また、この測定用治具１によれば、位置決め用凹部２１の底面に対して接触子３１を上下動させる上下動機構６（本例では、操作レバー３３、回動軸３４、偏芯カム３５、接触子保持部３６、基板３７およびスプリング３８等）を備えたことにより、位置決め用凹部２１内にチップ部品Ｐを嵌入させる作業時に接触子３１を下動させておくことで接触子３１が破損する事態を好適に回避することができるだけでなく、位置決め用凹部２１内にチップ部品Ｐを嵌入させた後に各接触子３１を上動させることでその先端部をチップ部品Ｐの電極に好適な接触圧で押し付けることができるため、チップ部品Ｐについての各種パラメータを正確に測定することができる。
【００６３】
また、この測定用治具１によれば、位置決め用凹部２１内に位置決めされたチップ部品Ｐを底面に向けて押圧する押圧機構４（プッシャー４３等）を備えたことにより、位置決め用凹部２１によって位置決めされているチップ部品Ｐを各接触子３１に対して好適な押圧力で押し付けることができるため、チップ部品Ｐについての各種パラメータを一層正確に測定することができる。
【００６４】
なお、平面視における位置決め用凹部２１の一端部側および他端部側に案内用溝２３がそれぞれ形成された案内用凹部２２を有する位置決め部２（測定用治具１）を例に挙げて説明したが、図１１に示す測定用治具１Ａにおける位置決め部２ａのように、平面視における位置決め用凹部２１の一端部側（同図における上端部側）だけに案内用溝２３を形成した案内用凹部２７ａを「案内用凹部」として形成することもできる。なお、同図および図１２において、上記の測定用治具１における各構成要素と同様の機能を有する構成要素については、同一の符号を付して重複する説明を省略する。また、プッシャー４３の当接を回避するための当接回避用凹部２４を形成した例について説明したが、当接回避用凹部２４については必須の構成要素ではなく、これを形成しない構成を採用することもできる（図示せず）。
【００６５】
さらに、底部から遠ざかるほど大きく傾斜する湾曲面で構成した傾斜面Ｆを有する案内用凹部２２を例に挙げて説明したが、このような構成に代えて、図１２に示す測定用治具１Ｂにおける位置決め部２ｂのように、傾斜が一定の傾斜面Ｆｂを有する案内用凹部２７ｂを「案内用凹部」として形成することもできる。
【符号の説明】
【００６６】
１，１Ａ，１Ｂ  測定用治具
２，２ａ，２ｂ  位置決め部
３  接続部
４  押圧機構
５  筐体
６  上下動機構
１１  ベース部
１１ａ，１１ｂ  ベース板
１２  凹部形成片
１３  支持ブロック
１４  ブラケット
２１，２１ａ〜２１ｃ  位置決め用凹部
２２，２２ａ〜２２ｃ，２７ａ，２７ｂ  案内用凹部
２３，２３ａ〜２３ｃ  案内用溝
２４  当接回避用凹部
２５  嵌入用溝
２６  位置決め用ピン
３１  接触子
３２  接続用コネクタ
３３  操作レバー
３４  回動軸
３５  偏芯カム
３６  接触子保持部
３６ａ，３６ｂ  保持板
３７  基板
３８  スプリング
４１  ガイドレール
４２  アーム
４３  プッシャー
４３ａ  ウェイト
Ｆ，Ｆｂ  傾斜面
Ｐ  チップ部品
Ｘ  補正用治具
Ｘａ  位置決め用孔
Ｘｃ  凸部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
2015179812.tif 000014
【図１３】
2015179812.tif 000015
【図１４】
2015179812.tif 000016
【図１５】
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【図１６】
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