(57)【要約】【課題】粘着剤２の塗布ばらつきを高精度に測定できる粘着剤２の塗布ばらつきを検査する。【解決手段】ペルチェ素子で表面温度を一定にしたフィルム状の基材１の表面に、溶剤を含有する塗布剤２を塗布スタンプによって塗布する。赤外線カメラ１１の測温点は、粘着剤２が塗布された基材１の表面を赤外線カメラ１１のレンズ視野範囲内で走査することにより、基材１の粘着剤２塗膜面と非塗布面の温度が面状の温度分布として検出される。基材１上に塗布された粘着剤２の塗膜面の温度は溶剤の蒸発によって次第に低下するが、基材１上における粘着剤２の塗布量が部分的に変化すると、粘着剤２塗布部分表面の温度の低下の大きさも変化し、よって、粘着剤２塗布表面の温度が粘着剤２塗布量に応じて部分的に変化する。この温度変化を赤外線カメラ１１のレンズ視野範囲内で走査することによって検出することにより、粘着剤２の塗布ばらつきを高精度に検査する。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
塗布剤の塗布によって基材上に塗膜が形成された塗膜製品の製造装置であって、
前記基材の表面温度を均一にする温度均一化手段と、
前記表面温度が均一になった前記基材に塗布剤を塗布する塗布手段と、
前記塗布した塗布剤における温度を各部分毎に測定する温度測定手段と、
前記測定した前記塗布剤の各部分毎の温度に基づいて、前記塗布された塗布剤の膜厚の良否を判定する良否判定手段と、
を具備したことを特徴とする塗膜製品の製造装置。
【請求項２】
前記塗布手段は、熱気化性の溶剤を含む塗布剤を塗布する、
ことを特徴とする請求項１に記載の塗膜製品の製造装置。
【請求項３】
前記温度均一化手段は、前記基材の載置面からペルチェ素子により冷却することで前記基材の表面温度を均一にする、
ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の塗膜製品の製造装置。
【請求項４】
前記温度均一化手段は、その周辺温度よりも低い所定温度に冷却することで前記基材の表面温度を均一にする、
ことを特徴とする請求項１、請求項２、又は請求項３に記載の塗膜製品の製造装置。
【請求項５】
前記塗布手段は、前記基材上に塗布した塗布剤の塗布領域内に、塗布剤が塗布されていない未塗布部分を形成し、
前記良否判定手段は、前記温度測定手段で測定される、前記塗布剤が塗布された部分の温度と、前記未塗布部分の温度との温度差に基づいて前記塗布剤の膜厚の良否を判定する、
ことを特徴とする請求項１から請求項４のうちのいずれか１の請求項に記載の塗膜製品の製造装置。
【請求項６】
前記塗布手段は、前記塗布領域の一端から対向する他端まで連続するスリット状の未塗布部分を形成する、
ことを特徴とする請求項５に記載の塗膜製品の製造装置。
【請求項７】
塗布剤の塗布によって基材上に塗膜が形成された塗膜製品の製造方法であって、
前記基材の表面温度を均一にする温度均一化工程と、
前記表面温度が均一になった前記基材に塗布剤を塗布する塗布工程と、
前記塗布した塗布剤における温度を各部分毎に測定する温度測定工程と、
前記測定した前記塗布剤の各部分毎の温度に基づいて、前記塗布された塗布剤の膜厚の良否を判定する良否判定工程と、
を具備したことを特徴とする塗膜製品の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、塗膜製品の製造装置、及び塗膜製品の製造方法に係り、詳細には、基材上に塗布剤の塗布により形成された塗膜の塗布ばらつきによる良否の検査に関する。
【背景技術】
【０００２】
基材上に塗膜が形成された塗膜製品として、例えば、フィルム上に粘着剤を塗布することで粘着膜を形成した粘着テープ等が広く製造されている。このような粘着テープ等の塗膜製品では、塗布剤による塗布不良を検査する方法として各種方法がとられている。
図６は従来の粘着テープにおける塗布剤の検査方法を表したものである。
図６に示したように、基材１に粘着剤２を塗布した後、粘着剤２に対して光源７から光を照射してその反射光をＣＣＤカメラ６等にて測定することで塗装ムラにより生じる光沢の変化を検出するものである。
また、粘着剤を塗布した後の基材における塗布膜（粘着膜）までの距離をレーザ変位計で測定することで、膜厚を検出する方法もある。
更に、特許文献１では、粘着剤塗布面を赤外線照射によって十分に加熱した後、粘着剤の塗布厚みを蓄熱量として計測する技術が提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平２−３０９２０５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、図６に示したように、基材１の表面に凹凸がある場合、照射した光が凹凸部分で乱反射してしまって正確な検査を行うことができず、またレーザ変位計による方法でもレーザ変位計から照射される光が基材の凹凸部分で散乱することで正確な膜厚測定を行うことができなくなるという問題がある。
また厚さが異なる基材１への塗布の場合、粘着剤２の塗布厚さは一定であっても、レーザ変位計では塗布厚みが一定でないと検出してしまう。
特許文献１記載の方法では、基材の表面にもともと温度ばらつきが生じている場合には蓄熱量が異なるため正確な測定を行うことができない。
【０００５】
本発明の目的は、粘着剤等の塗布剤を塗布した塗膜製品における塗布剤の膜厚の良否をより高精度に判定することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
（１）請求項１に記載の発明では、塗布剤の塗布によって基材上に塗膜が形成された塗膜製品の製造装置であって、前記基材の表面温度を均一にする温度均一化手段と、前記表面温度が均一になった前記基材に塗布剤を塗布する塗布手段と、前記塗布した塗布剤における温度を各部分毎に測定する温度測定手段と、前記測定した前記塗布剤の各部分毎の温度に基づいて、前記塗布された塗布剤の膜厚の良否を判定する良否判定手段と、を具備したことを特徴とする塗膜製品の製造装置を提供する。
（２）請求項２に記載の発明では、前記塗布手段は、熱気化性の溶剤を含む塗布剤を塗布する、ことを特徴とする請求項１に記載の塗膜製品の製造装置を提供する。
（３）請求項３に記載の発明では、前記温度均一化手段は、前記基材の載置面からペルチェ素子により冷却することで前記基材の表面温度を均一にする、ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の塗膜製品の製造装置を提供する。
（４）請求項４に記載の発明では、前記温度均一化手段は、その周辺温度よりも低い所定温度に冷却することで前記基材の表面温度を均一にする、ことを特徴とする請求項１、請求項２、又は請求項３に記載の塗膜製品の製造装置を提供する。
（５）請求項５に記載の発明では、前記塗布手段は、前記基材上に塗布した塗布剤の塗布領域内に、塗布剤が塗布されていない未塗布部分を形成し、前記良否判定手段は、前記温度測定手段で測定される、前記塗布剤が塗布された部分の温度と、前記未塗布部分の温度との温度差に基づいて前記塗布剤の膜厚の良否を判定する、ことを特徴とする請求項１から請求項４のうちのいずれか１の請求項に記載の塗膜製品の製造装置を提供する。
（６）請求項６に記載の発明では、前記塗布手段は、前記塗布領域の一端から対向する他端まで連続するスリット状の未塗布部分を形成する、ことを特徴とする請求項５に記載の塗膜製品の製造装置を提供する。
（７）請求項７に記載の発明では、塗布剤の塗布によって基材上に塗膜が形成された塗膜製品の製造方法であって、前記基材の表面温度を均一にする温度均一化工程と、前記表面温度が均一になった前記基材に塗布剤を塗布する塗布工程と、前記塗布した塗布剤における温度を各部分毎に測定する温度測定工程と、前記測定した前記塗布剤の各部分毎の温度に基づいて、前記塗布された塗布剤の膜厚の良否を判定する良否判定工程と、を具備したことを特徴とする塗膜製品の製造方法を提供する。
【発明の効果】
【０００７】
本発明の目的は、基材の表面温度を均一した基材に塗布剤を塗布し、その温度を各部分毎に測定しているので、塗布剤の膜厚の良否をより高精度に判定することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】基材に塗布された塗布剤の塗布ばらつきの検査方法の原理についての説明図である。
【図２】本実施形態における塗布剤の検査装置の構成図である。
【図３】検査対象となる、粘着剤の塗布状態と、赤外線カメラによる撮像範囲について表した、平面図と側面図である。
【図４】レンズ視野範囲を拡大図したもので、粘着剤の表面温度の測定単位を説明するための説明図である。
【図５】基材への粘着剤の塗布、及びに塗布した粘着剤の検査方法の各工程を表した説明図である。
【図６】従来の粘着剤の塗布ばらつき検査装置の構成図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
本発明の塗膜製品の製造装置、及び塗膜製品の製造方法における好適な実施形態について、図１から図５を参照して詳細に説明する。
（１）塗布剤の検査原理
図１は、本実施形態における、基材に塗布された塗布剤の塗布ばらつきの検査方法の原理について表したものである。
本実施形態では、溶剤を含有する塗布剤を使用し、基材１に塗布剤２を塗布する。この塗布剤２に含まれる溶剤が揮発する際に奪われる気化熱に起因する塗布剤２の表面の温度低下に基づいて、塗布剤２の塗装不良（不均一）の有無を検出する。
すなわち、図１（ａ）に示すように、基材１上に塗布した塗布剤２は、その厚さが厚い部分（図中左側の部分）は多くの気化熱が奪われ、薄い部分は気化熱が少ないため、塗布剤２の厚さにより温度差が生じる。図１では、塗布剤２の上に表記した数字が小さい程表面温度が低いことを表している。
そして、図１（ｂ）に示すように、基材１に対して均等に塗布剤２が塗布されている場合には気化熱が均一であるため、表面温度も同じになる。
【００１０】
一方、塗布剤２の表面温度は、基材１の表面温度にも影響される。
すなわち、図１（ｃ）に示すように、基材１の表面温度ｔ１〜ｔ３が不均一（例えば、ｔ１＞ｔ２＞ｔ３）である場合には、塗布剤２が均一に塗布されていたとしても、基材１の温度に影響されるために塗布剤２の表面温度は均一にならない。
一般に塗布する際の塗布剤２の平均温度は基材１の平均温度よりも高温であるため、塗布剤２は基材１に熱を奪われることから、図１（ｃ）に示すように、均一に塗布された塗布剤２の表面温度は、基材１の表面温度が低い箇所ほど塗布剤２の表面温度は低くなる。
逆に、平均温度が塗布剤２よりも基材１の方が高い場合、基材１の熱による塗布剤２の溶剤気化量も多くなることから、塗布剤２の表面温度も高くなる。
いずれの場合であっても、塗布剤２の表面温度は基材１の温度に影響されることになる。
【００１１】
更に、塗布剤２の表面温度は、基材１の厚さにも影響される。
すなわち、図１（ｄ）に示すように、基材１が塗布剤２から奪う熱量Ｑ１〜Ｑ３は、基材１の厚さが厚い程大きくなる（Ｑ１＜Ｑ２＜Ｑ３）。
このため、塗布剤２の厚さが均一であっても、基材１が厚い部分に塗布された塗布剤２の温度は低くなる。
そして、図１（ｅ）に示すように、基材１の薄い部分に厚く、厚い部分に薄く塗布剤２が塗布されると、溶剤による気化熱と、基材１が奪う熱量とにより、不均一な塗布であっても塗布剤２の表面温度が均一になってしまう。
【００１２】
このように、塗布剤２の塗布状態をその気化熱により検査しようとしても、塗布剤２の塗布厚だけでなく、基材１の表面温度や基材１の厚さによって塗布剤２の表面温度が変化してしまう。
そこで、本実施形態では、基材１の表面温度を均一にすることで、基材１が塗布剤２に与える熱的影響を排除することで、塗布剤２の溶剤気化による温度変化から生じる表面温度の分布から均一に塗布されているか否かを検出するものである。
【００１３】
（２）実施形態の概要
以下、基材１の一方の面又は両面に塗布剤を塗布するが、本実施形態では塗布剤２として粘着剤２を使用し、基材１上（一方の面）に塗布する場合を例に説明する。
本実施形態では、ペルチェ素子等を使用した温度均一化装置により、表面温度を一定にしたフィルム状の基材１の表面に、溶剤を含有する塗布剤２を塗布スタンプによって塗布する。塗布剤２は、全面に塗布するのではなく、塗布面の一方の端部から、当該端部に対向する他方の端部まで塗布されていないスリット状の未塗布部分を設けて塗布する。
【００１４】
そして、赤外線カメラによって塗膜した粘着剤２（塗膜）を、赤外線カメラ１１のレンズ視野範囲内で面状に走査して温度分布を測定し、赤外線カメラからの出力信号を温度に変換し、粘着剤２における赤外線検知ピクセルごとの温度分布（面状の温度分布）を求めることで、粘着剤２塗膜の塗布ばらつきを検出し、工程能力指数範囲による検定で良否判定を行う。
その際、粘着剤２の表面温度のばらつきだけでなく、粘着剤２の未塗布部分の表面温度（基材１の温度）を検出することで、基材表面温度と各赤外線検知ピクセルとの温度差から、粘着剤２の膜厚も測定する。
【００１５】
本実施形態によれば、表面温度を均一にした基材１に粘着剤２を塗布した後、粘着剤２中の溶剤が揮発する際に奪われる気化熱に起因する粘着剤２の表面の温度低下に基づいて、粘着剤２の塗布不良の有無を検出することができる。
すなわち、基材１の表面温度を所定温度Ｔに均一化しているので、基材１に塗布した粘着剤２に塗布ばらつきが無くてその塗布量（塗布厚）が均一であれば、粘着剤２に含まれる溶剤の気化による表面温度の変化も塗布面全面にわたって均一となる。他方、粘着剤２の塗布量に不均一があると、厚い部分の温度が薄い部分の温度よりも低くなる。このように塗布剤２の表面温度が均一か否かにより塗布不良の有無が検出される。
【００１６】
また、溶剤の気化により低下する粘着剤２の表面温度と、粘着剤２の未塗布部分の基材１の温度と粘着剤２が塗布されている部分の基材１の温度との差を導出することで、粘着剤２塗布前の基材１に元々存在する温度ばらつき等とは無関係に基材１の粘着剤２塗布不良の有無を正確に判定することができ、特に表面に凹凸を有する基材１などのような部分的に熱容量の異なる部位（厚さの差や温度差）がある基材１における粘着剤２塗布不良の有無の判定に好適なものである。
【００１７】
（３）実施形態の詳細
図２は、本実施形態における塗膜製品の製造装置の構成を表したものである。
図２に示すように、検査装置１００は、温度均一化装置１０と、粘着剤塗布装置（図示しない）と、赤外線カメラ１１と制御部２０を備えている。
図２中の点線は、赤外線カメラ１１のレンズ視野範囲４を表した仮想のものである。
温度均一化装置１０は、基材１の表面温度（粘着剤２の塗布面の温度）を均一にする均一化手段として機能し、基材１を載置する載置面に配設したペルチェ素子により基材１の表面温度を所定温度Ｔに調整する。この所定温度Ｔは、装置周辺の温度ｔよりも低い温度が選択され、例えば、Ｔ＝ｔ−５°Ｃに設定される。
【００１８】
なお、温度均一化装置１０はペルチェ素子による温度の均一化に限らず、基材１を所定時間滞在させることでその表面温度を所定温度Ｔにする冷却室としてもよい。この場合の冷却室は、所定時間の前半を温度Ｔ以下とすることで表面温度をＴにするまでの所定時間を短くすることができる。
また、温度均一化装置１０は、基材１の載置面下に冷却水を通水することで基材１の表面温度をＴに調整することも可能である。
【００１９】
本実施形態では、温度均一化装置１０によって表面温度が所定温度Ｔに調節された基材１に対して、粘着剤塗布装置によって、粘着剤２が塗布される。図２における符号３は、粘着剤２がスリット状に塗布されていない未塗布部分３を表している（詳細は後述する）。
図示しない粘着剤塗布装置は、塗布スタンプによって基材１の表面に粘着剤２を塗布するが、他の公知方法により基材１上に粘着剤２を塗布するようにしてもよい。なお、粘着剤２以外の塗布剤を塗布する場合には、各塗布剤に応じた塗布方法が選択される。
【００２０】
赤外線カメラ１１は、集光レンズと、赤外線の入射により抵抗値が減少する光導電効果を利用した赤外線検出素子を備え、粘着剤２の表面から放出される赤外線を検出し、そのエネルギー量に対応する電気量を出力し、制御部に供給する。
この赤外線カメラ１１は、粘着剤２の表面温度を測定する表面温度測定手段の一部として機能する。
物体から放射される赤外線エネルギーの量は物体の温度と相関関係があるので、赤外線カメラ１１で検出された赤外線エネルギーから走査線方向に沿った接着剤塗膜の温度分布が得られる。粘着剤２は、後述するように溶剤を含有した状態で基材１に塗布されるため、塗布後に基材１から溶剤が蒸発し、その際、気化熱の影響により変化する粘着剤２表面の温度変化を検出する。
赤外線カメラ１１は、制御部２０による制御のもと、図示しない駆動機構により、基材１のＸＹ方向に平面状に走査移動するようになっており、測定対象である粘着剤２をレンズ視野範囲で面状に走査する。
【００２１】
制御部２０は、温度制御部２１、ＸＹ駆動部２２、及び良否判定部２３等の各機能部を備えている。
制御部２０におけるこれらの各機能部は、各種演算処理などを行うＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）、温度制御プログラム、駆動制御プログラム等、良否判定プログラム等の各種プログラムやデータが格納された不揮発性の記憶装置（ＥＥＰＲＯＭ等）、作業領域として使用されるＲＡＭ、ハードディスク等の外部記憶装置、入力装置、ディスプレイ等を備えたコンピュータシステムで構成されている。制御部２０は、このコンピュータシステムにより、ＣＰＵが各種プログラムに従った処理を行うことで、温度制御部２１、ＸＹ駆動部２２、及び良否判定部２３等の各機能部として機能する。
【００２２】
温度制御部２１は、温度均一化装置１０上に配設された基材１の表面温度が所定温度Ｔとなるように温度均一化装置１０を制御する。本実施形態では、所定温度Ｔとして、温度均一化装置１０周辺の温度（室内温度）ｔよりも５°Ｃ低い温度（Ｔ＝ｔ−５°Ｃ）に設定されている。
ＸＹ駆動部２２は、基材１上に塗布された粘着剤２の表面温度を赤外線カメラ１１で測定する際に、赤外線カメラ１１をＸＹ方向に平面状に走査移動するように図示しない駆動機構を制御する。
良否判定部２３は、赤外線カメラ１１で検出した赤外線（出力信号）を温度に変換し、粘着剤２の各ピクセル（赤外線エネルギー測定分解能面積単位）毎の温度分布や未塗布部分３の温度を求めて、粘着剤２の塗布ばらつきを検出し、工程能力指数範囲による検定で良否判定を行う。良否判定部２３は、赤外線カメラ１１で検出したピクセル毎に行うことで、塗布した粘着剤２における不良箇所をＸＹ座標で特定することができる。これにより、塗布不良箇所の特定により、その原因の特定が容易になる。
【００２３】
図３は、本実施形態による検査対象となる、粘着剤２の塗布状態と、赤外線カメラ１１による撮像範囲について表した、平面図と側面図である。
本実施形態では、フィルム状の基材１上に粘着剤２が塗布される。粘着剤２の塗布は、温度均一化装置１０により予め所定の温度Ｔに冷却された基材１に対して塗布される。
基材１としては、プラスチックフィルム、セロハン、紙、金属箔等の各種材料が使用可能である。また基材１は薄いシート状であっても厚みを持ったパネル等も対象となる。
粘着剤２は、基材１の全面に対して、塗布面の一方側の端部（図では左端部）から右端部までスリット状の未塗布部分３がＸ軸方向に形成されるように塗布される。
【００２４】
このレンズ視野範囲４の幅に対して、１本ずつの未塗布部分３が形成される。この未塗布部分３は、レンズ視野範囲４内における粘着剤２の表面温度と比較することで粘着剤２の厚さを求めるための基準温度を求めるために形成されるもので、未塗布部分３における基材１の測定温度が基準温度となる。従って、基準温度を測定するための未塗布部分３は、レンズ視野範囲４内に少なくとも１箇所存在すればよい。
但し、本実施形態では、Ｘ軸方向に連続するスリット状に未塗布部分３を形成することで、レンズ視野範囲４内での各温度検出単位（ピクセル）毎に、対応する基準温度を測定することができ、より精度よく温度対比を行うことができる。
また、本実施形態では、未塗布部分３を粘着剤２の両端部間にわたって形成しているので、粘着剤２を介して基材１をガラス面等の所定面や他の基材に貼り合わせる際に、粘着剤２部分に巻き込んで入った空気を未塗布部分３に移動させて外部に抜く空気抜き（空気の脱泡経路）として機能させることができる。
【００２５】
なお、未塗布部分３は、Ｘ方向に所定間隔で設ける場合について説明したが、更にＹ方向に設けるようにしてもよい。
また未塗布部分３の形状としてスリット状ではなく、点状（ピクセルサイズ）の未塗布部分３を１つ若しくは複数設けるようにしてもよい。
図３では、粘着剤２が基材１と同サイズに塗布される場合について記載しているが、基材１よりも小さいサイズで粘着剤２を塗布することも可能である。この場合、粘着剤２の周囲の部分の基材１は、基準温度を測定するための未塗布部分３として使用することもできる。
【００２６】
粘着剤２の材質は、特定のものに限定されないが、溶剤を含有すること、すなわち、主たる粘着材料を溶剤に溶かしたものの使用が望ましい。
粘着剤２に溶剤が含有することで、溶剤の蒸発によって生じる気化熱の影響が、粘着剤２の表面温度の大きな差となって現れるため、小さな塗布量の変化（差）もより確実に検出することが可能になる。
【００２７】
図４は、図３で示したレンズ視野範囲４を拡大図したもので、本実施形態における粘着剤２の表面温度の測定単位を説明するためのものである。なお、図４においても周囲の点線及びマス目を表す線分はいずれも説明のための仮想線である。
図４に示すように、基材１に塗布した粘着剤２を、赤外線カメラ１１のレンズ視野範囲４で面状に走査する。そして、赤外線カメラ１１の走査結果に対して、制御部２０の良否判定部２３が、レンズ視野範囲４を更に細分化した赤外線エネルギー測定分解能面積単位５（ピクセル）毎に粘着剤２及び未塗布部分３の表面温度を求める。
赤外線カメラ１１のレンズ視野範囲４の単位でＸ方向、Ｙ方向に移動しながら順次走査されることで、基材１の全面に対応する各ピクセル（粘着剤２と未塗布部分３）の温度が求まる。
【００２８】
粘着剤２の各ピクセルに対して求めた温度は、当該ピクセルに最も近い（Ｙ座標が同じである）未塗布部分３の温度と比較され、良否の判定が行われる。
すなわち、制御部２０の良否判定部２３が、各ピクセルにおける粘着剤２の温度と、対応する未塗布部分３の温度との差分により、当該ピクセル部分の粘着剤２の塗布厚を求め、上限規格値及び下限規格値以内であるか、工程能力指数Ｃｐｋの値を判断して良品か不良品かの判断を行う。
【００２９】
粘着剤２の塗布厚が上限規格値及び下限規格値か否かの判定において、例えば基材１のある箇所の測定された温度が所定の上限規格値よりも高いときには、塗布された粘着剤２の量が許容限界量よりも少ないものと判定できる。この場合、制御部２０は、ＮＧ判定を画面表示することで、粘着剤２の塗布状態が不良であることを告知する。
同様に、粘着剤２の塗布量が正常の場合に比べて多いと判定される場合も、ＮＧ判定を表示して告知する。ＮＧ判定の表示は、その判定理由（多いためか少ないためか）、及び、ＮＧと判定されたピクセルの座標も併せて表示される。
【００３０】
なお、所定の上限下限規格値としては、基材１及び粘着剤２の材質に応じた適切な値、あるいは粘着剤２の塗布装置を配設した環境に応じた適切な値を選択する。
具体的には、経験的に選択される一定の値を上限下限規格値として決めることができる。
【００３１】
図５は、本実施形態による基材１への粘着剤２の塗布、及びに塗布した粘着剤２の検査方法の各工程を表したものである。
図５に示すように、基材表面温度調整５１、接着剤塗布５２、ＸＹ駆動５３、赤外線検知５４、良否判定５５の各工程の順に行われる。
基材表面温度調整５１では、基材１を温度均一化装置１０上に配置し、基材１の表面温度が所定温度Ｔとなるように温度制御部２１が温度均一化装置１０を制御する。所定の温度Ｔは上述したように、装置の周辺温度より５°Ｃ低い温度に設定される。
接着剤塗布５２では、表面温度Ｔで均一になった基材１の表面に、塗布スタンプによって未塗布部分３を形成しながら粘着剤２を塗布する。
この接着剤塗布５２による基材１への粘着剤２の塗布は、温度均一化装置１０上おいて行うが、他の場所で行うようにしてもよい。但し、移動後の基材１の配置場所も均一化後の所定温度Ｔであることが望ましい。
【００３２】
ＸＹ駆動５３、ＸＹ駆動部２２が、基材１上に塗布した粘着剤２上を、レンズ視野範囲４の中に粘着剤２の塗布部分と、未塗布部分３が入るように赤外線カメラ１１をＸＹ方向に順次走査する。
赤外線検知５４では、ＸＹ方向に走査される赤外線カメラ１１が、粘着剤２及び未塗布部分３からの赤外線を順次撮像し、良否判定部に供給する。
【００３３】
良否判定５５では、温度変換５６、未塗布部分３との差分算出５７、工程能力指数範囲検定５８、良否判定表示５９が行われる。
温度変換５６では、赤外線カメラ１１による撮像データから、基材１の全面に対応する各ピクセル（粘着剤２と未塗布部分３）単位での温度を求める。
未塗布部分３との差分算出５７では、求めた各ピクセルにおける粘着剤２の塗布部分と、対応する未塗布部分３との温度差を求める。
工程能力指数範囲検定５８では、各ピクセルに対して求めた温度差から当該ピクセル部分の粘着剤２の塗布厚を求め、上限規格値及び下限規格値以内であるか、工程能力指数Ｃｐｋの値を判断して良品か不良品かの判断を行う。
良否判定表示５９では、良品か不良品かの判断結果を表示画面に映像として表示する。不良品（ＮＧ）と判定された場合には、ＮＧとなったピクセルの座標と、当該ピクセルの塗布厚が厚いためのＮＧか、薄いためのＮＧかも併せて表示することで、作業員に警告を報じる。
【００３４】
以上説明したように、本実施形態では、ペルチェ素子等を使用した温度均一化装置１０により、表面温度を一定にしたフィルム状の基材１の表面に、溶剤を含有する塗布剤２を塗布スタンプによって塗布する。赤外線カメラ１１の測温点は、粘着剤２が塗布された基材１の表面を前記赤外線カメラ１１のレンズ視野範囲内で走査することにより、基材１の粘着剤２塗膜面と非塗布面の温度が面状の温度分布として検出される。基材１上に塗布された粘着剤２塗膜面の温度は溶剤の蒸発によって次第に低下するが、基材１上における粘着剤２の塗布量が部分的に変化すると、粘着剤２塗布部分表面の温度の低下の大きさも変化し、よって、粘着剤２塗布表面の温度が粘着剤２塗布量に応じて部分的に変化する。この温度変化を赤外線カメラ１１のレンズ視野範囲内で走査することによって検出することにより、粘着剤２の塗布ばらつきを高精度に検査する。
【００３５】
このように本実施形態によれば、表面温度を均一にした基材１に粘着剤２を塗布しているので、基材１の表面温度のばらつきや基材１の厚さのばらつきによる影響がない状態で、粘着剤２の溶剤が揮発する際に奪われる気化熱に起因する粘着剤２の膜厚に対応した表面温度を精度よく検出でき、その結果、粘着剤２の塗布不良の有無も精度よく検出することができる。
【００３６】
また本実施形態では、温度均一化装置１０により基材１を冷却することで、その表面温度を所定温度Ｔに均一化するものであり、粘着剤２を加熱していないので、加熱により粘着剤２が劣化するということがない。
なお、本実施形態では、基材１の表面温度（所定温度Ｔ）を装置の周辺温度ｔよりも５°Ｃ低くする場合について説明したが、この温度に限定されるものではなく、基材１の表面温度Ｔを、基材周辺温度ｔよりもｓ°Ｃ低い温度、すなわち、Ｔ＝ｔ−ｓ°Ｃ（ｓ≧０．１）に冷却できればよい。
【００３７】
また、本実施形態では、粘着剤２と未塗布部分３とをほぼ同時に温度測定しているので、時間経過による温度変化の影響を受けず、より精度良く温度差を測定し良否判定を行うことができる。
【００３８】
以上、本発明の塗布剤の検査装置、及び塗布剤の検査方法における１実施形態について説明したが、本発明は説明した実施形態に限定されるものではなく、各請求項に記載した範囲において各種の変形を行うことが可能である。
例えば、説明した実施形態では、各ピクセルに対応する粘着剤２の温度と、対応する未塗布部分３との温度差を求めることで、当該ピクセル単位毎の膜厚が適正範囲か否かを工程能力指数Ｃｐｋの値から判断する場合について説明した。
これに対して、未塗布部分３の温度は検出せずに、粘着剤２が塗布された部分の各ピクセル毎の温度を求め、その最高温度と最低温度との差が所定の閾値を超えている場合に不良品と判断するようにしてもよい。この場合、最高温度と最低温度との差が閾値以内か否かの判断は、レンズ視野範囲４内で行うようにしても良く、より広い範囲、例えば、複数のレンズ視野範囲４単位、粘着剤２の塗布面全体等の単位で行うようにしてもよい。
なお、この変形例の場合には、未塗布部分３は不要であるが、脱泡の目的で未塗布部分３を形成するようにしてもよい。
【００３９】
本実施例は気化熱に起因する基材１の温度変化に基づいて粘着剤２の塗布ばらつきを測定するので、吸光法や重量法を用いた測定方法に比べて、より多種類の基材１及び粘着剤２の塗膜に対して正確な測定を行うことができる。
例えば、水性アンカーコート剤、溶剤系アンカーコート剤、接着剤、ホットメルト系（すなわち、加熱することにより接着性が発現する）接着剤、及び薬剤等といった各種の塗膜の塗布ばらつきを検出することができる。
また、気化熱に起因する基材１の温度変化に基づいて塗膜の塗布ばらつきを測定するので、塗布量の多少に関わらずその塗布ばらつきを正確に検出できる。
【００４０】
さらに、説明した実施形態に基づき、検査方法として次のように構成することもできる。
（１）構成１「粘着剤２の塗膜を面状に走査して温度分布を測定し、基材１の粘着剤２塗膜面と非塗布面の温度分布範囲内の温度差に基づいて塗膜の塗布ばらつきを求めることを特徴とする粘着剤２の塗布ばらつき検査方法」
（２）構成２「粘着剤２が塗布された基材１を赤外線カメラ１１による測温点を走査移動させ、赤外線カメラ１１によって検出される赤外線エネルギーに基づいて基材１の粘着剤２塗膜面に関する面状の温度分布を測定することを特徴とする粘着剤２の塗布ばらつき検査方法」
（３）構成３「基材１に粘着剤２塗布しない箇所を設け、赤外線カメラ１１のレンズ視野範囲内で走査することにより基材１の粘着剤２塗膜面と非塗布面の温度分布範囲内の温度差に基づいて塗膜の塗布ばらつきを求めることを特徴とする粘着剤２の塗布ばらつき検査方法」
（４）構成４「前記基材１に粘着剤２塗布しない箇所を粘着剤２塗膜面貫通する形状に設けることにより基材１の平滑度を赤外線カメラ１１のレンズ視野範囲内において、線上に連続的に測定することを特徴とする粘着剤２の塗布ばらつき検査方法」
（５）構成５「基材１に塗布される粘着剤２は溶剤を含む材料によって形成され、そして上記温度分布は気化熱に起因する粘着剤２塗膜の温度変化を含むことを特徴とする塗膜の粘着剤２の塗布ばらつき検査方法」
（６）構成６「構成１から構成４うちのいずれか１つに記載の塗膜の塗布ばらつき検査方法において、上記温度分布範囲内の工程能力指数Ｃｐｋを算出し、その工程能力指数Ｃｐｋからの温度差に基づいて塗布ばらつきを判定することを特徴とする粘着剤２の塗布ばらつき検査方法」
（７）構成７「基材１に塗布された粘着剤２の塗布ばらつきを検査する粘着剤２の塗布ばらつき検査装置において、基材１の粘着剤２塗膜面の温度を面状に走査して温度を検出する温度検出手段と、温度検出手段の出力信号に基づいて温度分布を演算しその温度分布範囲内の温度差に基づいて粘着剤２塗膜の塗布ばらつきを検出する塗布ばらつき演算部とを有することを特徴とする粘着剤２の塗布ばらつき検査装置」
（８）構成８「基材１に塗布された粘着剤２の塗布ばらつきを検査する粘着剤２の塗布ばらつき検査装置において、基材１の粘着剤２塗膜面と非塗布面の温度を面状に走査して温度を検出する温度検出手段と、温度検出手段の出力信号に基づいて温度分布を演算しその温度分布範囲内の温度差に基づいて粘着剤２塗膜の塗布ばらつきを検出する塗布ばらつき演算部とを有することを特徴とする粘着剤２の塗布ばらつき検査装置」
（９）構成９「構成７または構成８記載の粘着剤２の塗布ばらつき検査装置において、温度検出手段は赤外線カメラ１１を有することを特徴とする粘着剤２の塗布ばらつき検査装置」
（１０）構成１０「構成７または構成８または構成９記載の粘着剤２の塗布ばらつき検査装置において、粘着剤２の塗布ばらつきが許容限界を外れるときにＮＧ判定を表示する手段を設けたことを特徴とする粘着剤２の塗布ばらつき検査装置」
【符号の説明】
【００４１】
１  基材
２  粘着剤
３  未塗布部分
４  レンズ視野範囲
５  赤外線エネルギー測定分解能面積単位
１０  温度均一化装置
１１  赤外線カメラ
２０  制御部
２１  温度制御部
２２  ＸＹ駆動部
２３  良否判定部
１００  検査装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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