(57)【要約】【課題】空間内部の磁場勾配を減少させる。【解決手段】磁気シールド装置は、内部空間を有するパッシブシールドと、前記内部空間の一部である補正対象空間における磁場を補正する第１コイルと、前記内部空間内に設けられた第１磁気センサーと、前記内部空間において前記第１磁気センサーよりも前記第１コイルに近い位置に設けられた第２センサーと、前記第１磁気センサーおよび前記第２磁気センサーにより測定される磁場の勾配が所定のしきい値よりも小さくなるように前記第１コイルを制御する制御部とを有する。【選択図】図１
2015055520.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
内部空間を有するパッシブシールドと、
前記内部空間への流入磁場を補正する第１コイルと、
前記内部空間内への流入磁場を測定する第１磁気センサーと、
前記内部空間において、前記第１磁気センサーよりも、前記第１コイルから遠い位置に設けられた第２磁気センサーと、
前記第１磁気センサーおよび前記第２磁気センサーにより測定される磁場の勾配が所定のしきい値よりも小さくなるように前記第１コイルを制御する制御部と
を有する磁気シールド装置。
【請求項２】
前記パッシブシールドは、少なくとも１の開口部を有する
ことを特徴とする請求項１に記載の磁気シールド装置。
【請求項３】
前記第２磁気センサーは、前記内部空間の一部である補正対象空間に設けられる磁気測定装置の測定軸方向において前記第１磁気センサーよりも前記補正対象空間に近い位置に設けられる
ことを特徴とする請求項１または２に記載の磁気シールド装置。
【請求項４】
前記しきい値は、前記内部空間の一部である補正対象空間に設けられる装置おいて使用される磁場の範囲に応じて決められる
ことを特徴とする請求項１ないし３のいずれか一項に記載の磁気シールド装置。
【請求項５】
前記しきい値は、内部空間の一部である補正対象空間の両端における磁場の差が１０ｎＴ以下となる値である
ことを特徴とする請求項１ないし４のいずれか一項に記載の磁気シールド装置。
【請求項６】
前記内部空間の一部である補正対象空間の磁場を補正する第２コイル
をさらに有する請求項１ないし５のいずれか一項に記載の磁気シールド装置。
【請求項７】
内部空間を有するパッシブシールドと、前記内部空間への流入磁場を補正する第１コイルと、前記内部空間内への流入磁場を測定する第１磁気センサーと、前記内部空間において、前記第１磁気センサーよりも、当該内部空間の一部である補正対象空間に近い位置に設けられた第２磁気センサーとを有する磁気シールド装置において、前記第１磁気センサーおよび前記第２磁気センサーにより測定される磁場の勾配が所定のしきい値よりも小さくなるように前記第１コイルを制御するステップ
を有する磁気シールド方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気シールド装置および磁気シールド方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
医療において画像診断が広く用いられている。画像診断は非侵襲的であるので、心臓や脳などの危険臓器を調べる際に特に好まれて用いられる。画像診断において用いられるものの一つに磁場源描画がある。これらの臓器はニューロンの活動により電流を発する。この電流により生じる磁場を測定することにより、臓器の状態を知ることができる。例えば、心臓により形成される磁場を記録することは心磁図法（Magnetocardiogram、ＭＣＧ）として知られ、脳により形成される磁場を測定する事は脳磁図法（Magnetoencephalogram、ＭＥＧ）として知られている。
【０００３】
これらの磁場を測定するには、以下の２つの問題がある。第１に、これらの磁場を検出するには高感度の測定装置が必要である。第２に、地磁気等の外部磁場は生体から発生する磁場の１０万倍程度大きいため、外部磁場を遮蔽する磁気シールド装置が必要である。外部磁場を遮蔽する磁気シールド装置としては、例えば特許文献１〜８に記載された技術が知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００７−１２９０４９号公報
【特許文献２】特開２００８−２８２９８３号公報
【特許文献３】特開２００９−１７５０６７号公報
【特許文献４】特許第４３７７５６６号公報
【特許文献５】特開２００２−２５７９１４号公報
【特許文献６】特開２００２−９４２８０号公報
【特許文献７】特開平６−１６７５８３号公報
【特許文献８】特開２００５−２９４５３７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
特許文献１〜８に記載された技術は、制御対象とする空間の磁場が最小になるように打ち消し磁場を生成したり、あるいはシールド開口部などへの流入磁場が最小になるように打ち消し磁場を生成したりしている。制御対象とする空間の磁場が最小になるように打ち消し磁場を生成すると、流入磁場による磁場勾配が残ってしまう。流入磁場が最小になるように打ち消し磁場を生成すると、内部の磁場と開口部付近の磁場の差による磁場勾配が残ってしまう。
【０００６】
これに対し本発明は、空間内部の磁場勾配を減少させる磁気シールド装置および磁気シールド方法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、内部空間を有するパッシブシールドと、前記内部空間への流入磁場を補正する第１コイルと、前記内部空間内への流入磁場を測定する第１磁気センサーと、前記内部空間において、前記第１磁気センサーよりも、前記第１コイルから遠い位置に設けられた第２磁気センサーと、前記第１磁気センサーおよび前記第２磁気センサーにより測定される磁場の勾配が所定のしきい値よりも小さくなるように前記第１コイルを制御する制御部とを有する磁気シールド装置を提供する。
この磁気シールド装置によれば、空間内部の磁場勾配を所定のしきい値よりも小さくすることができる。
【０００８】
前記パッシブシールドは、少なくとも１の開口部を有してもよい。
この磁気シールド装置によれば、開口部を有するパッシブシールドの空間内部の磁場勾配を所定のしきい値よりも小さくすることができる。
【０００９】
前記第２磁気センサーは、前記内部空間の一部である補正対象空間に設けられる磁気測定装置の測定軸方向において前記第１磁気センサーよりも前記補正対象空間に近い位置に設けられてもよい。
この磁気シールド装置によれば、開口部を有するパッシブシールドの空間内部の、測定軸方向の磁場勾配を所定のしきい値よりも小さくすることができる。
【００１０】
前記しきい値は、前記内部空間の一部である補正対象空間に設けられる装置おいて使用される磁場の範囲に応じて決められてもよい。
この磁気シールド装置によれば、開口部を有するパッシブシールドの空間内部の磁場勾配を、使用される装置に応じて所定のしきい値よりも小さくすることができる。
【００１１】
前記しきい値は、内部空間の一部である補正対象空間の両端における磁場の差が１０ｎＴ以下となる値であってもよい。
この磁気シールド装置によれば、空間内部の磁場勾配を所定のしきい値よりも小さくすることができる。
【００１２】
この磁気シールド装置は、前前記内部空間の一部である補正対象空間の磁場を補正する第２コイルをさらに有してもよい。
この磁気シールド装置によれば、補正対象空間の磁場のオフセットを調整することができる。
【００１３】
また、本発明は、内部空間を有するパッシブシールドと、前記内部空間への流入磁場を補正する第１コイルと、前記内部空間内への流入磁場を測定する第１磁気センサーと、前記内部空間において、前記第１磁気センサーよりも、当該内部空間の一部である補正対象空間に近い位置に設けられた第２磁気センサーとを有する磁気シールド装置において、前記第１磁気センサーおよび前記第２磁気センサーにより測定される磁場の勾配が所定のしきい値よりも小さくなるように前記第１コイルを制御するステップを有する磁気シールド方法を提供する。
この磁気シールド方法によれば、空間内部の磁場勾配を所定のしきい値よりも小さくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】一実施形態に係る磁気シールド装置１の外観を例示する図である。
【図２】磁気シールド装置１の構成を示す図である。
【図３】磁気シールド装置１の動作を示すフローチャートである。
【図４】低減された磁場勾配を例示する図である。
【図５】磁気センサーの配置例（その２）を示している。
【図６】磁気センサーの配置例（その３）を示している。
【図７】磁気センサーの配置例（その４）を示している。
【図８】磁気センサーの配置例（その５）を示している。
【図９】磁気センサーの配置例（その６）を示している。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
１．構成
図１は、一実施形態に係る磁気シールド装置１の外観を例示する図である。磁気シールド装置１は、磁気測定装置等の装置を使用する際に、外部磁場（測定対象物以外の物に起因する磁場）を遮蔽するために用いられる。磁気シールド装置１は、パッシブシールド１１と、外部コイル１２と、内部コイル１３と、磁気センサー１４とを有する。
【００１６】
パッシブシールド１１は、強磁性体（例えば、パーマロイ、フェライト、または鉄、クロムもしくはコバルト系のアモルファス）または高伝導率の導体（例えばアルミニウム。渦電流効果により磁場低減効果がある。）により形成される。パッシブシールド１１は、断面が四角形の筒状の形状を有している。パッシブシールド１１で囲まれた空間をパッシブシールド１１の内部空間といい、それ以外の空間を外部空間という。内部空間は、磁気測定装置（例えば心磁計）およびその被検体（例えば人間）を収容できる程度の大きさを有する。内部空間のうち、磁場補正の対象となる空間を補正対象空間（図１では図示略）という。磁気シールド装置１において、磁気測定装置は、補正対象空間に設置される。ので、文面の修正をお願いします。
【００１７】
以下の説明において用いるため、３次元直行座標系を用いる。パッシブシールド１１の長手方向（幅方向）、奥行き方向、および高さ方向を、それぞれ、ｘ軸、ｙ軸、およびｚ軸として定義する。この例で、パッシブシールド１１は、開口部１１１Ａおよび開口部１１１Ｂの２つの開口部を有する。
【００１８】
外部コイル１２Ａおよび外部コイル１２Ｂは、パッシブシールド１１の内部空間への流入磁場を補正するためのコイルである。外部コイル１２Ａおよび外部コイル１２Ｂは、パッシブシールド１１の外部空間において開口部１１１Ａおよび開口部１１１Ｂの近傍にそれぞれ設けられている。
【００１９】
磁気センサー１４Ａは、内部空間への流入磁場を測定するセンサーである。この例で、磁気センサー１４Ａは、開口部１１１Ａの中心に設けられている。なおこの例で、磁気センサー１４Ａは、後述する磁場勾配の測定にも用いられる。
【００２０】
図２は、磁気シールド装置１の構成を示す図である。ここでは、パッシブシールド１１のｙ軸に垂直な断面の模式図に加えて、駆動回路１５および制御装置１６が示されている。内部コイル１３Ａおよび内部コイル１３Ｂは、補正対象空間の磁場を補正するコイルである。この例で、外部コイル１２および内部コイル１３はいずれもヘルムホルツコイルである。すなわち、内部コイル１３により、補正対象空間には空間的に一様な磁場が与えられ、補正対象空間の磁場のオフセットを調節することができる。
【００２１】
磁気センサー１４Ｂは、内部磁場を測定するためのセンサーである。磁気センサー１４Ｂは、磁気センサー１４Ａよりも補正対象空間（より詳細には、補正対象空間の重心）に近い位置に設けられている。この例では、磁気センサー１４Ｂは補正対象空間の外に設けられている。より詳細には、磁気センサー１４Ｂは、補正対象空間に設けられる磁気測定装置の測定軸方向（例えばｘ軸方向）において磁気センサー１４Ａよりも補正対象空間に近い位置に設けられる。なお、磁気センサー１４Ａについては、磁気センサー１４Ｂよりも、外部コイル１２に近い位置に設けられているといえる。
【００２２】
駆動回路１５Ａは、外部コイル１２を駆動する回路である。駆動回路１５Ｂは、内部コイル１３を駆動する回路である。制御装置１６は、磁気センサー１４により測定された磁場に応じて駆動回路１５を制御する装置である。具体的には、制御装置１６は、磁気センサー１４Ａにより測定される磁場と磁気センサー１４Ｂにより測定される磁場との勾配（差）が所定のしきい値以下になるように、駆動回路１５Ａ（すなわち外部コイル１２）を制御する。このしきい値は、磁気シールド装置１のメモリーにあらかじめ記憶されていてもよいし、ユーザーにより入力されてもよい。
【００２３】
２．動作
図３は、磁気シールド装置１の動作を示すフローチャートである。図３の処理は、例えば、磁気シールド装置１が起動されたことを契機として開始される。
【００２４】
ステップＳ１０１において、磁気シールド装置１は、パッシブシールド１１の開口部近傍の磁場を測定する。具体的には、制御装置１６は、磁気センサー１４Ａから、磁場の測定結果を示す信号を取得する。
【００２５】
ステップＳ１０２において、制御装置１６は、開口部近傍の磁場の大きさが所定の値以下となるようにコイルを制御する。具体的には、制御装置１６は、磁気センサー１４Ａによって測定された磁場をゼロにする（キャンセルする）電流を外部コイル１２に供給させるための信号を駆動回路１５Ａに出力する。駆動回路１５Ａは、制御装置１６から出力された信号に基づいて外部コイル１２に電流を供給する。外部コイル１２に供給する電流の向きは、磁気センサー１４Ａが測定した磁場に対向する磁場を発生させる向きである。外部コイル１２に供給する電流の大きさは、磁気センサー１４Ａが測定した磁場と同じ大きさの磁場が外部コイル１２の内部に生じる電流の大きさである。外部コイル１２に供給する電流の大きさと、外部コイル１２の内部に生じる磁場との対応関係は、あらかじめ制御装置１６のＲＯＭに記憶されている。
【００２６】
この例で、制御装置１６はさらに、所定の規則にしたがって内部コイル１３を制御する。例えば、制御装置１６は、磁気センサー１４Ｂによって測定された磁場をゼロにする（キャンセルする）電流を内部コイル１３に供給させるための信号を駆動回路１５Ｂに出力する。
【００２７】
ステップＳ１０３において、制御装置１６は、開口部近傍の磁場の大きさが所定の値（例えば１０ｎＴ）以下になっているか判断する。具体的には、制御装置１６は、磁場の測定結果を示す信号を磁気センサー１４Ａから取得し、この信号により示される磁場の大きさが所定の値以下になっているか判断する。開口部近傍の磁場の大きさが所定の値よりも大きいと判断された場合（ステップＳ１０３：ＮＯ）、制御装置１６は、処理をステップＳ１０２に移行する。開口部近傍の磁場の大きさが所定の値よりも大きいと判断された場合（ステップＳ１０３：ＮＯ）、制御装置１６は、処理をステップＳ１０４に移行する。
【００２８】
ステップＳ１０４において、制御装置１６は、内部空間における磁場勾配を測定する。具体的には、制御装置１６は、内部空間における磁場の測定結果を示す信号を磁気センサー１４Ｂから取得する。制御装置１６は、磁気センサー１４Ａにより測定された磁場、磁気センサー１４Ｂにより測定された磁場、および磁気センサー１４Ａと磁気センサー１４Ｂとの距離から、磁気センサー１４Ａと磁気センサー１４Ｂとの間における磁場の勾配を算出する。磁気センサー１４Ａと磁気センサー１４Ｂとの距離は、制御装置１６のＲＯＭに記憶されている。あるいは、磁気センサー１４Ａと磁気センサー１４Ｂとの距離は、ユーザーにより測定および入力されてもよい。
【００２９】
ステップＳ１０５において、制御装置１６は、内部空間における磁場勾配の大きさが所定の値以下になっているか判断する。内部空間における磁場勾配の大きさが所定の値以下になっていると判断された場合、制御装置１６は、処理をステップＳ１０６に移行する。内部空間における磁場勾配の大きさが所定の値を超えていると判断された場合、制御装置１６は、処理をステップＳ１０７に移行する。
【００３０】
なお、ステップＳ１０５の制御における磁場勾配のしきい値は、例えば、補正対象空間において用いられる装置（例えば磁気測定装置）の使用範囲（例えば磁気測定装置における測定のダイナミックレンジ）に応じて決められる。より詳細には、補正対象空間の両端における磁場の差が、磁気測定装置のダイナミックレンジに応じた所定の値（例えば１０ｎＴ）以下となるように決定される。例えば、磁気測定装置における測定のダイナミックレンジが１０ｎＴであった場合、補正対象空間のｘ軸方向両端における磁場の差（磁場勾配と補正対象空間のｘ軸方向長さとの積）が、このダイナミックレンジ以下になるように、磁場勾配のしきい値が決められる。例えばこの例で、補正対象空間のｘ軸方向長さが１ｍであった場合、磁場勾配のしきい値は１０ｎＴ／ｍと決められる。なお、補正対象空間の両端における磁場の差のしきい値は、１０ｎＴよりも小さい値、例えば３ｎＴであってもよい。
【００３１】
ステップＳ１０６において、制御装置１６は、外部コイル１２および内部コイル１３に供給される電流を維持する。制御装置１６は、処理をステップＳ１０３に移行する。
【００３２】
ステップＳ１０７において、制御装置１６は、磁場勾配の大きさがより小さくなるように、外部コイル１２および内部コイル１３の少なくとも一方を制御する。この場合において、制御装置１６は、補正対象空間の磁場が所定のしきい値（例えば１０ｎＴ。なおこのしきい値は、ステップＳ１０３において用いられるしきい値と異なっていてもよい）以下である状態を保ちつつ、磁場勾配の大きさがより小さくなる制御をする。この例で、磁気センサー１４Ｂは補正対象空間の外にあるので、補正対象空間の磁場を直接測定することはできない。そこで、制御装置１６は、補正対象空間の磁場を予測する。制御装置１６は、（補正対象空間における）予測される磁場の大きさが所定のしきい値以下となり、かつ、磁場勾配が所定のしきい値以下となるように、外部コイル１２および内部コイル１３の少なくとも一方を制御する。
【００３３】
この制御に用いられるアルゴリズムはどのようなものであってもよい。例えば、磁気センサー１４Ｂにより測定された磁場が磁気センサー１４Ａにより測定された磁場よりも大きい場合、制御装置１６は、外部コイル１２により生じる磁場が大きくなるように、外部コイル１２に供給される電流を制御する。磁気センサー１４Ｂにより測定された磁場が磁気センサー１４Ａにより測定された磁場よりも小さい場合、制御装置１６は、外部コイル１２により生じる磁場が小さくなるように、外部コイル１２に供給される電流を制御する。電流値を制御した後、制御装置１６は、補正対象空間の磁場を予測する。補正対象空間の磁場は、例えば、磁気センサー１４Ａおよび１４Ｂの測定結果、および磁気センサー１４Ａと１４Ｂとの距離を用いて予測される。予測された磁場の大きさがしきい値を超えていた場合、制御装置１６は、補正対象空間の磁場の大きさが小さくなるように、内部コイル１３に供給される電流を制御する（すなわちオフセットを調整する）。
【００３４】
コイルの制御をすると、制御装置１６は、処理をステップＳ１０２に移行する。なお、ステップＳ１０７において、外部コイル１２の制御に加え、または外部コイル１２の制御に代えて、内部コイル１２の電流が制御されてもよい。
【００３５】
図４は、低減された磁場勾配を例示する図である。縦軸は磁場を、横軸は空間内の位置を示している。破線は磁場勾配を低減する処理を行わなかった場合の内部磁場の特性を、実践は磁場勾配を低減する処理を行った場合の内部磁場の特性を、それぞれ示している。図３の処理によれば、パッシブシールド１１への外部からの流入磁場の大きさを所定の値以下に抑えつつ、さらに、パッシブシールド１１の内部空間における磁場勾配を所定の値以下に抑えることができる。すなわち、磁場勾配の影響を低減した内部空間を提供することができる。
【００３６】
３．磁気センサーの配置例
磁気センサーの配置は、図２で例示したものに限定されない。以下、磁気センサーの他の配置例をいくつか説明する。なお、図５〜図９においては、補正対象空間１１２を図示している。また、内部コイル１３および駆動回路１５Ｂについては図示を省略している。
【００３７】
図５は、磁気センサーの配置例（その２）を示している。この例では、磁気センサー１４Ａはパッシブシールド１１の内部空間ではなく、パッシブシールド１１の外にある。なお、磁気センサー１４Ｂは、補正対象空間１１２の外にあってもよい。
【００３８】
図６は、磁気センサーの配置例（その３）を示している。この例では、単一の外部コイル（外部コイル１２Ｂ）のみが駆動され、外部コイル１２Ａは駆動されない。
【００３９】
図７は、磁気センサーの配置例（その４）を示している。この例では、流入磁場を測定する磁気センサーと内部空間の磁場を測定する磁気センサーとの組が２つ、設けられている。磁気センサー１４Ａおよび磁気センサー１４Ｃは、流入磁場を測定する。この例で、パッシブシールド１１には２つの開口部があり、磁気センサー１４Ａおよび磁気センサー１４Ｃは、それぞれ別の開口部近傍の磁場を測定する。磁気センサー１４Ｂおよび磁気センサー１４Ｄは、内部空間の磁場を測定する。磁気センサー１４Ｂは磁気センサー１４Ａのより近くに設けられており、磁気センサー１４Ｄは磁気センサー１４Ｂのより近くに設けられている。この例では、磁気センサー１４Ａと磁気センサー１４Ｂとの間の磁場勾配の大きさ、および磁気センサー１４Ｃと磁気センサー１４Ｄとの間の磁気勾配の大きさがそれぞれ所定の値以下になるように制御される。
【００４０】
図８は磁気センサーの配置例（その５）を示している。この例では、磁気勾配の測定に３つの磁気センサーが用いられる。磁気センサー１４Ａは流入磁場を測定し、磁気センサー１４Ｂおよび磁気センサー１４Ｅは内部空間の磁場を測定する。磁気センサー１４Ｂおよび磁気センサー１４Ｅは異なる位置に設けられている。この例では、３つの測定点における磁場の測定結果を用いて所定の演算（例えば最小自乗近似）を行うことにより、磁場勾配が決定される。なお、磁場勾配の測定に４つ以上の磁気センサーが用いられてもよい。
【００４１】
別の例で、図８の配置において、磁気センサー１４Ａは磁場勾配の測定に用いられなくてもよい。すなわち、磁気センサー１４Ａは外部コイル１２Ａの制御（流入磁場の測定）にのみ用いられてもよい。この場合、磁気センサー１４Ｂおよび磁気センサー１４Ｃにより、磁場勾配が測定される。
【００４２】
図９は磁気センサーの配置例（その６）を示している。この例では、磁気センサー１４Ａは、パッシブシールド１１の外部のやや離れた位置に設けられている。パッシブシールド１１の内部空間への流入磁場を推定できればよいので、開口部の近傍ではなく、やや離れた位置に設けられていてもよい。
【００４３】
磁気センサー１４Ｂが補正対象空間の外に設けられる例をいくつか説明したが、磁気センサー１４Ｂは、補正対象空間内に設けられてもよい。さらに、磁気センサー１４Ｂは、補正対象空間の近傍に設けられる必要もない。補正対象空間内に磁気センサーを設け、その磁気センサーにより計測される磁場の大きさを所定の範囲に収めようとする場合は、流入磁場の測定に用いられる磁気センサーよりも高感度な磁気センサーが必要であるが、本実施形態によれば、例えば開口部の近傍に２つの磁気センサーを設けてもよく、この場合、磁気センサー１４Ｂの感度は、磁気センサー１４Ａと同程度であっても、磁場勾配を補正する制御をすることができる。また、補正対象空間に磁気センサーを配置しない場合においては、補正対象空間を有効に活用することができる。
【００４４】
４．変形例
本発明は上述の実施形態に限定されるものではなく、種々の変形実施が可能である。以下、変形例をいくつか説明する。以下の変形例のうち２つ以上のものが組み合わせて用いられてももよい。
【００４５】
パッシブシールド１１の形状は、実施形態で説明したものに限定されない。例えば、パッシブシールド１１が有する開口部の数および形状は、実施形態で説明したものに限定されない。パッシブシールド１１は、開口部を有していなくてもよいし、少なくとも１つの開口部を有していてもよい。あるいは、開口部は蓋により覆われてもよい。
【００４６】
パッシブシールド１１をｘ軸方向からみた断面は、正方形である場合に限らない。例えば、パッシブシールド１１をｘ軸方向からみた断面は、正方形以外の多角形、円形、または楕円形であってもよい。また、パッシブシールド１１の材料は、単層のものに限定されず、多層のものが用いられてももよい。
【００４７】
内部コイル１３は省略されてもよい。磁気シールド装置１が内部コイル１３を有さない場合、磁場勾配は、外部コイル１２に供給される電流により制御あれる。また、外部コイル１２および内部コイル１３の形状は、実施形態で説明したものに限定されない。これらのコイルの形状は、正方形以外の多角形、円形、または楕円形であってもよい。
【００４８】
実施形態においては、ｘ軸方向の１軸の磁場を補正する例を説明した。しかし、内部空間において、２軸以上の成分の磁場が補正されてもよい。この場合、磁気シールド装置１は、２組以上の内部コイル１３を有する。具体的には、磁気シールド装置１は、ｘ、ｙ、およびｚ軸の３軸それぞれについて内部コイル１３を有し、３軸方向それぞれの成分の磁場を補正してもよい。
【００４９】
各コイルの制御方法は実施形態で説明したものに限定されない。実施形態においては、各コイルがフィードバック制御される例を説明したが、フィードバック制御以外の方法により、各コイルが制御されてもよい。
【符号の説明】
【００５０】
１…磁気シールド装置、１１…パッシブシールド、１２…外部コイル、１３…内部コイル、１４…磁気センサー、１５…駆動回路、１６…制御装置、１１１…開口部、１１２…補正対象空間
【図１】
2015055520.tif 000003
【図２】
2015055520.tif 000004
【図３】
2015055520.tif 000005
【図４】
2015055520.tif 000006
【図５】
2015055520.tif 000007
【図６】
2015055520.tif 000008
【図７】
2015055520.tif 000009
【図８】
2015055520.tif 000010
【図９】
2015055520.tif 000011