(57)【要約】【課題】  診断支援に有用な情報を提供する。【解決手段】  被検眼眼底の断層像を得るための光コヒーレンストモグラフィーデバイスによって取得された断層像を処理して、被検眼眼底の層厚情報を取得する眼底解析装置であって、長眼軸長を有する複数の眼に関する眼底の層厚情報が記憶された第１データベースと、さらに、第１データベースと少なくとも眼軸長の異なる複数の被検眼に関する網膜層の厚み情報が記憶された第２データベースを有し、第１データベース又は第２データベースの少なくとも一方を参照して、被検眼眼底の層厚情報に関する解析情報を取得する解析処理手段を、備える。【選択図】      図１
2015084865.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検眼眼底の断層像を得るための光コヒーレンストモグラフィーデバイスによって取得された前記断層像を処理して、前記被検眼眼底の層厚情報を取得する眼底解析装置であって、
長眼軸長を有する複数の眼に関する眼底の層厚情報が記憶されたデータベースを参照して、前記被検眼眼底の層厚情報に関する解析情報を取得する解析処理手段を備えることを特徴する眼底解析装置。
【請求項２】
請求項１の眼底解析装置において、
前記データベースは、第１データベースであって、
さらに、前記第１データベースと少なくとも眼軸長の異なる複数の被検眼に関する網膜層の厚み情報が記憶された第２データベースを有し、
データベース切換信号を受信手段によって受信することによって、前記１データベースと、前記第２データベースと、の切り換えを制御するデータベース切換手段を備え、
前記解析処理手段は、前記第１データベース又は第２データベースの少なくとも一方を参照して、前記被検眼眼底の層厚情報に関する解析情報を取得することを特徴とする眼底解析装置。
【請求項３】
請求項２の眼底解析装置において、
前記データベース切換手段によって、前記第１データベースと前記第２データベースとの切り換えが行われた場合に、モニタ上における表示形態を変更する制御手段を備えることを特徴とする眼底解析装置。
【請求項４】
請求項２又は３の眼底解析装置において、
操作手段を備え、
前記データベース切換手段は、前記操作手段が操作されることによって出力されるデータベース切換信号を前記受信手段によって受信することによって、前記第１データベースと、前記第２データベースと、の切り換えを制御することを特徴とする眼底解析装置。
【請求項５】
請求項４の眼底解析装置において、
前記操作手段から出力されるデータベース切換信号を前記受信手段によって受信することによって、モニタ上における表示形態を変更する制御手段を備えることを特徴とする眼底解析装置。
【請求項６】
請求項２〜５のいずれかの眼底解析装置において、
前記解析処理手段は、前記光コヒーレンストモグラフィーデバイスによって取得された被検眼眼底の三次元ＯＣＴデータにおける層情報を画像処理により検出し、前記第１データベース又は前記第２データベースを参照して、前記被検眼眼底の層厚情報に関する二次元的な分布を示す解析マップを取得することを特徴とする眼底解析装置。
【請求項７】
請求項６の眼底解析装置において、
前記データ切換手段は、眼軸長値に基づいて出力されるデータベース切換信号を受信手段によって受信することによって、データベースを切り換え、
前記制御手段は、正面画像取得手段によって取得された被検眼眼底の正面画像と，前記解析マップと，を重畳表示させるとともに、前記正面画像に対して前記解析マップのサイズを変更することを特徴とする眼底解析装置。
【請求項８】
請求項２〜７のいずれかの眼底解析装置において、
前記解析処理手段は、被検眼の断層像について、第１データベースを参照して前記被検眼眼底の層厚情報に関する第１解析情報を取得し、第２データベースを参照して前記被検眼眼底の層厚情報に関する第２解析情報を取得し、
前記被検眼眼底の層厚情報に関する第１解析情報及び前記断層像に関する第２解析情報をモニタの同一画面上に表示する制御手段を備えることを特徴とする眼底解析装置。
【請求項９】
請求項２〜８のいずれかの眼底解析装置において、
前記解析処理手段は、同一被検眼における断層像の撮影時期が互いに異なる前記被検眼眼底の複数の層厚情報を取得し、第１データベース又は第２データベースの少なくとも一方を参照して、前記複数の層厚情報に対応する複数の解析情報を取得し、
前記複数の解析情報をモニタの同一画面上に表示する制御手段を備えることを特徴とする眼底解析装置。
【請求項１０】
請求項２〜９のいずれかの眼底解析装置において、
前記データベース切換手段によって、前記第１データベースと前記第２データベースとの切り換えが行われた場合に、解析情報において、前記第１データベース又は前記第２データベースのいずれかのデータベースを参照したものであるかを識別するための識別情報を付加する制御手段を備えることを特徴とする眼底解析装置。
【請求項１１】
被検眼眼底の断層像を得るための光コヒーレンストモグラフィーデバイスによって取得された前記断層像を処理して、前記被検眼眼底の層厚情報を取得する眼底解析装置の動作を制御する制御装置において実行される眼底解析プログラムであって、
前記制御装置のプロセッサによって実行されることで、
長眼軸長を有する複数の眼に関する眼底の層厚情報が記憶されたデータベースを参照して、前記被検眼眼底の層厚情報に関する解析情報を取得する解析処理ステップを前記制御装置に実行させることを特徴とする眼底解析プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
被検眼眼底の断層像を解析する眼底解析装置及び眼底解析プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、光干渉技術を用いて眼底の断層像を取得し、得られた眼底の断層像（網膜断層像）から被検眼の状態を評価するための眼底解析装置が知られている（特許文献１参照）。
【０００３】
このような眼底解析装置では、赤外光により得られる眼底正面画像がモニタに表示され、眼底画像のある領域（部位）が選択される。そして、選択した領域の眼底断層像が光干渉技術を用いて取得され、パーソナル・コンピュータの記憶部（例えば、ハードディスク）などに一旦保存される。その後、取得された眼底断層像は、パーソナル・コンピュータ（ＰＣ）等によって解析され、ＰＣのモニタ上に解析結果が表示される（特許文献２参照）。検者はこのようにして得られた眼底断層像の解析結果を見て被検眼の異常の有無等を判断している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００８−２９４６７号公報
【特許文献２】特開２０１１−９２７０２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従来、正常眼における各層の厚みが記憶された正常眼データベースと、被検者の断層像の各層との比較を行うことによって、解析結果を取得していた。しかしながら、眼軸長に応じて眼底の各層の厚みが変化している場合がある。例えば、長眼軸長を有する被検者の眼底断層像に対して、正常眼データベースを用いて解析結果を取得すると、正常眼データベースの各層の厚みと眼底断層像の各層の厚みとの差が大きくなる場合があった。これによって、検者は、被検眼が長眼軸長であるために正常眼データベースとの差が大きいのか、病気であるために正常眼データベースとの差が大きいのか、診断が困難となる場合があった。
【０００６】
上記従来技術の問題点に鑑み、診断支援に有用な情報を提供できる眼底解析装置及び眼底解析プログラムを提供することを技術課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
【０００８】
（１）  被検眼眼底の断層像を得るための光コヒーレンストモグラフィーデバイスによって取得された前記断層像を処理して、前記被検眼眼底の層厚情報を取得する眼底解析装置であって、長眼軸長を有する複数の眼に関する眼底の層厚情報が記憶されたデータベースを参照して、前記被検眼眼底の層厚情報に関する解析情報を取得する解析処理手段を備えることを特徴する。
（２）  （１）の眼底解析装置において、前記データベースは、第１データベースであって、さらに、前記第１データベースと少なくとも眼軸長の異なる複数の被検眼に関する網膜層の厚み情報が記憶された第２データベースを有し、データベース切換信号を受信手段によって受信することによって、前記１データベースと、前記第２データベースと、の切り換えを制御するデータベース切換手段を備え、前記解析処理手段は、前記第１データベース又は第２データベースの少なくとも一方を参照して、前記被検眼眼底の層厚情報に関する解析情報を取得することを特徴とする。
（３）  （２）の眼底解析装置において、前記データベース切換手段によって、前記第１データベースと前記第２データベースとの切り換えが行われた場合に、モニタ上における表示形態を変更する制御手段を備えることを特徴とする。
（４）  （２）又は（３）の眼底解析装置において、操作手段を備え、前記データベース切換手段は、前記操作手段が操作されることによって出力されるデータベース切換信号を前記受信手段によって受信することによって、前記第１データベースと、前記第２データベースと、の切り換えを制御することを特徴とする。
（５）  （４）の眼底解析装置において、前記操作手段から出力されるデータベース切換信号を前記受信手段によって受信することによって、モニタ上における表示形態を変更する制御手段を備えることを特徴とする。
（６）  （２）〜（５）のいずれかの眼底解析装置において、前記解析処理手段は、前記光コヒーレンストモグラフィーデバイスによって取得された被検眼眼底の三次元ＯＣＴデータにおける層情報を画像処理により検出し、前記第１データベース又は前記第２データベースを参照して、前記被検眼眼底の層厚情報に関する二次元的な分布を示す解析マップを取得することを特徴とする。
（７）  （６）の眼底解析装置において、前記データ切換手段は、眼軸長値に基づいて出力されるデータベース切換信号を受信手段によって受信することによって、データベースを切り換え、前記制御手段は、正面画像取得手段によって取得された被検眼眼底の正面画像と，前記解析マップと，を重畳表示させるとともに、前記正面画像に対して前記解析マップのサイズを変更することを特徴とする。
（８）  （２）〜（７）のいずれかの眼底解析装置において、前記解析処理手段は、被検眼の断層像について、第１データベースを参照して前記被検眼眼底の層厚情報に関する第１解析情報を取得し、第２データベースを参照して前記被検眼眼底の層厚情報に関する第２解析情報を取得し、前記被検眼眼底の層厚情報に関する第１解析情報及び前記断層像に関する第２解析情報をモニタの同一画面上に表示する制御手段を備えることを特徴とする。
（９）  （２）〜（８）のいずれかの眼底解析装置において、前記解析処理手段は、同一被検眼における断層像の撮影時期が互いに異なる前記被検眼眼底の複数の層厚情報を取得し、第１データベース又は第２データベースの少なくとも一方を参照して、前記複数の層厚情報に対応する複数の解析情報を取得し、前記複数の解析情報をモニタの同一画面上に表示する制御手段を備えることを特徴とする。
（１０）  （２）〜（９）のいずれかの眼底解析装置において、前記データベース切換手段によって、前記第１データベースと前記第２データベースとの切り換えが行われた場合に、解析情報において、前記第１データベース又は前記第２データベースのいずれかのデータベースを参照したものであるかを識別するための識別情報を付加する制御手段を備えることを特徴とする。
（１１）  被検眼眼底の断層像を得るための光コヒーレンストモグラフィーデバイスによって取得された前記断層像を処理して、前記被検眼眼底の層厚情報を取得する眼底解析装置の動作を制御する制御装置において実行される眼底解析プログラムであって、前記制御装置のプロセッサによって実行されることで、長眼軸長を有する複数の眼に関する眼底の層厚情報が記憶されたデータベースを参照して、前記被検眼眼底の層厚情報に関する解析情報を取得する解析処理ステップを前記制御装置に実行させることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、診断に有用な情報を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本実施例に係る眼底解析装置の構成について説明するブロック図である。
【図２】本実施例に係る眼底撮影装置の構成について説明する概略構成図である。
【図３】比較マップの一例を示す図である。
【図４】解析モードにおける制御動作の一例の流れについて説明するフローチャートである。
【図５】眼底正面像と比較マップとの重畳表示の一例について説明する図である。
【図６】データベース切り換え前後における比較マップについて説明する図である。
【図７】フォローアップ撮影時における解析画面の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
＜概要＞
以下、典型的な実施形態の１つについて、図面を参照して説明する。図１〜図７は本実施形態に係る装置、プログラム、について説明するための図である。以下の説明では、被検眼Ｅの軸方向（前後方向）をＺ方向、水平方向（左右方向）をＸ方向、鉛直方向（上下方向）をＹ方向とする。眼底の表面方向をＸＹ方向として考えてもよい
本実施形態に係る眼底解析装置１は、被検眼眼底の断層像を得るための眼底撮影装置（例えば、光コヒーレンストモグラフィーデバイス（ＯＣＴデバイス））１０によって取得された断層像を処理して、被検眼眼底の層厚情報を取得する。
【００１２】
例えば、眼底解析装置１には、被検眼の所定部位における画像を撮影するための眼底撮影装置１０が接続されている構成であってもよい。また、例えば、眼底解析装置１に眼底撮影装置が一体となった装置であってもよい。
【００１３】
例えば、眼底解析装置１は、ＣＰＵ（演算制御部）７０と、マウス（操作部）７６と、不揮発性メモリ（記憶部）７２と、モニタ７５と、から構成される。各部は、バス等を介して演算制御部（制御部）７０と電気的に接続されている。なお、操作部としては、もちろんマウスに限定されず、キーボード、タッチパネル等のインターフェースが利用されうる。
【００１４】
本実施形態において、例えば、解析処理手段（制御部）７０は、長眼軸長を有する複数の眼に関する眼底の層厚情報が記憶されたデータベースを参照して、被検眼眼底の層厚情報に関する解析情報を取得する。これによって、例えば、検者は、被検眼が長眼軸長であるために正常眼データベースとの差が大きいのか、病気であるために正常眼データベースとの差が大きいのか、の診断をより正確に行うことができる。
【００１５】
例えば、解析情報としては、解析マップ、解析チャート、デビエーションマップ等が挙げられる。例えば、解析マップとしては、比較マップ、差分マップ等が挙げられる。例えば、比較マップは、被検眼の網膜層の厚みと正常眼データベースに記憶された所定の被検眼の網膜層の厚みとの比較結果を示す。また、例えば、差分マップは、被検眼の網膜層の厚みとデータベースに記憶された所定の被検眼の網膜層の厚みとの差分結果を示す。
【００１６】
なお、解析情報は、網膜層に限定されない。例えば、解析情報は、脈絡膜層の関する解析情報であってもよいし、網膜層と脈絡膜層を含む眼底全体の解析情報であってもよい。
【００１７】
本実施例において、例えば、データベースとしては、さらに、長眼軸長を有する複数の眼に関する眼底の層厚情報が記憶されたデータベース（第１データベース）の他に、第１データベースに対して少なくとも眼軸長の異なる複数の被検眼に関する網膜層の厚み情報が記憶された第２データベースを有してもよい。例えば、第１データベースと第２データベースとしては、長眼軸データベース、正常眼データベース等が用いられる。
【００１８】
例えば、制御部７０は、データベース切換信号を受信手段によって受信することによって、第１データベースと、第２データベースと、の切り換えを制御してもよい。また、制御部７０は、第１データベース又は第２データベースの少なくとも一方を参照して、被検眼眼底の層厚情報に関する解析情報を取得してもよい。これによって、例えば、検者は、種々の眼軸長に応じた解析情報を取得することが可能となる。また、例えば、検者は、複数のデータベースにて、解析情報を取得することができ、より多くの情報を考慮した診断を行うことができる。
【００１９】
例えば、データベースの切り換えを行う構成としては、制御部７０は、検者によって操作部７６が操作されることによって出力されるデータベース切換信号を、受信することによって、第１データベースと、第２データベースと、の切り換えを制御してもよい。例えば、検者による操作部７６の操作としては、眼軸長値の入力が挙げられる。この場合、例えば、眼軸長値に基づいて、切換信号出力手段がデータベース切換信号を出力し、受信手段がデータベース切換信号を受信することによって、データベースの切り換えを制御してもよい。また、例えば、検者による操作部７６の操作としては、データベース切り換えスイッチの選択が挙げられる。この場合、データベース切り換えスイッチが選択されることによって、切換信号出力手段がデータベース切換信号を出力し、受信手段がデータベース切換信号を受信することによって、データベースの切り換えを制御してもよい。なお、本実施形態においては、切換信号出力手段と受信手段は、制御部７０が兼用する。もちろん、別途、切換信号出力手段と受信手段の構成が設けられるようにしてもよい。
【００２０】
また、例えば、データベースの切り換えを行う構成としては、制御部７０は、眼軸長測定装置と接続され、眼軸長測定装置によって測定された眼軸長値を受信する構成としてもよい。また、例えば、制御部７０は、眼軸長値が記憶されているメモリ又は装置から、被検者の眼軸長を取得する構成としてもよい。この場合、例えば、眼軸長値に基づいて、切換信号出力手段がデータベース切換信号を出力し、受信手段がデータベース切換信号を受信することによって、データベースの切り換えを制御してもよい。なお、本実施形態においては、切換信号出力手段と受信手段は、制御部７０が兼用する。
【００２１】
例えば、制御部７０は、第１データベースと第２データベースとの切り換えが行われた場合に、モニタ７５上における表示形態を変更してもよい。例えば、モニタ７５は、外部ＰＣのモニタを用いてもよいし、眼底撮影装置１０又は眼底解析装置１と一体となったモニタを用いてもよい。
【００２２】
例えば、表示形態を変更する構成としては、解析マップのサイズを変更する構成が挙げられる。また、例えば、制御部７０は、データベースが切り換えられた場合に、解析情報を取得する際に、参照したデータベースが何のデータベースであるのかを識別できるように表示（色の変更、文字のサイズ変更、対応するデータベースのマーク表示等）を変更する構成が挙げられる。また、例えば、制御部７０は、解析情報に関するパラメータを変更する構成が挙げられる。これによって、例えば、データベースの切り換えにあわせて、解析情報の表示が変更されるため、検者は、容易に現在の解析条件を確認することができる。
【００２３】
なお、制御部７０は、第１データベースと第２データベースとの切り換えが行われた場合に、モニタの表示形態を変更する構成としたがこれに限定されない。例えば、制御部７０は、第１データベースと第２データベースとの切り換えが行われた場合に、解析情報において、第１データベース又は第２データベースのいずれかのデータベースを参照したものであるかを識別するための識別情報を付加する構成であればよい。例えば、制御部７０は、解析情報を取得する際に、参照したデータベースが何のデータベースであるのかを識別できるように表示（色の変更、文字のサイズ変更、対応するデータベースのマーク表示等）を変更して、出力をしてもよい。例えば、出力は、プリンタ（印刷機）への出力又はモニタ等への出力が挙げられる。これによって、例えば、検者は、解析条件を改めて確認する必要がなく、検者の手間、負担等を軽減することができる。また、検者の意図とは異なるデータベースで解析情報を取得してしまうことを抑制することができる。
【００２４】
本実施形態において、例えば、制御部７０は、光コヒーレンストモグラフィーデバイスによって取得された被検眼眼底の三次元ＯＣＴデータにおける層情報を画像処理により検出し、第１データベース又は第２データベースを参照して、被検眼眼底の層厚情報に関する二次元的な分布を示す解析マップを取得してもよい。例えば、制御部７０は、眼軸長値に基づいて出力されるデータベース切換信号を受信手段によって受信することによって、データベースを切り換えてもよい。制御部７０は、正面画像取得手段によって取得された被検眼眼底の正面画像と，解析マップと，を重畳表示させるとともに、正面画像に対して解析マップのサイズを変更してもよい。
【００２５】
例えば、正面画像取得手段（正面観察光学系）２００は、眼底Ｅｆの正面画像を得るために設けられてもよい。例えば、正面観察光学系（観察光学系）２００は、眼科用走査型レーザ検眼鏡（ＳＬＯ）、眼底カメラタイプ等が挙げられる。また、例えば、観察光学系２００は、正面画像は、二次元的に得られた断層像を形成するデータを用いて取得されるようにしてもよい（例えば、三次元断層像の深さ方向への積算画像、ＸＹ各位置でのスペクトルデータの積算値、ある一定の深さ方向におけるＸＹ各位置での輝度データ、網膜表層画像、等）。
【００２６】
なお、本実施形態に開示した技術は、一枚の断層像に対して適用するようにしてもよい。この場合、制御部７０は、複数のデータベースを参照して、複数の解析情報を取得してもよい。例えば、制御部７０は、被検眼の断層像について、第１データベースを参照して被検眼眼底の層厚情報に関する第１解析情報を取得し、第２データベースを参照して被検眼眼底の層厚情報に関する第２解析情報を取得してもよい。制御部７０は、被検眼眼底の層厚情報に関する第１解析情報及び断層像に関する第２解析情報をモニタ７５の同一画面上に表示してもよい。これによって、例えば、検者は、種々の診断支援ツールにて、被検眼を診断することが可能となるため、診断を行いやすくなる。
【００２７】
なお、本実施形態に開示した技術は、フォローアップ時にデータベースを変更して観察を行う場合にも適用できる。例えば、制御部７０は、同一被検眼における断層像の撮影時期が互いに異なる被検眼眼底の複数の層厚情報を取得し、第１データベース又は第２データベースの少なくとも一方を参照して、複数の層厚情報に対応する複数の解析情報を取得してもよい。制御部７０は、複数の解析情報をモニタの同一画面上に表示してもよい。
【００２８】
例えば、制御部７０は、被検眼眼底の第１層厚情報に関して第１データベースが参照された第１の解析情報を取得し、第１層厚情報とは断層画像の取得時期が異なる被検眼眼底の第２層厚情報に関して第２データベースが参照された第２の解析情報を取得してもよい。例えば、制御部７０は、被検眼眼底の第１層厚情報に関して第１データベースが参照された第１の解析情報と、第１層厚情報とは断層画像の取得時期が異なる被検眼眼底の第２層厚情報に関して第２データベースが参照された第２の解析情報と、モニタの同一画面上に表示してもよい。この場合、断層画像の取得時期が異なる２つの解析情報を出力する場合に限定されず、もちろん断層画像の取得時期が異なる少なくとも３つの解析情報を出力する場合においても適用可能である。このような構成とすることによって、例えば、異なる日で撮影を行った場合に、眼軸長が変化していた場合であっても、眼軸長の変化に対応した状態で、診断を行うことができる。また、例えば、従来では、眼軸長の変化によって、良好な解析情報を取得できなくなり、継続して観察することが困難であった被検眼に対しても、継続して観察することが可能となる。
【００２９】
なお、本発明においては、本実施形態に記載した装置に限定されない。例えば、上記実施形態の機能を行う眼底解析ソフトウェア（プログラム）をネットワーク又は各種記憶媒体等を介して、システムあるいは装置に供給する。そして、システムあるいは装置のコンピュータ（例えば、ＣＰＵ等）がプログラムを読み出し、実行することも可能である。
【００３０】
＜実施例＞
以下、典型的な実施例の１つについて、図面を参照して説明する。図１は本実施例に係る眼底解析装置の構成について説明するブロック図である。
【００３１】
眼底解析装置１は、眼底撮影装置（例えば、光コヒーレンストモグラフィーデバイス（ＯＣＴデバイス））によって撮影された眼底画像をモニタ上で観察するために用いられる。眼底解析装置１は、一例として、ＣＰＵ（演算制御部）７０と、マウス（操作部）７６と、不揮発性メモリ（記憶部）７２と、モニタ７５と、から構成される。各部は、バス等を介して演算制御部（制御部）７０と電気的に接続されている。
【００３２】
なお、眼底解析装置１には、被検眼の所定部位における画像を撮影するための眼底撮影装置１０が接続されている。一例として、本実施例では、眼底撮影装置として、被検者眼Ｅの眼底Ｅｆの断層像を撮影するためのＯＣＴデバイスを例に挙げて説明する。なお、本実施例においては、眼底解析装置１に眼底撮影装置１０が接続されている構成を例としているがこれに限定されない。眼底解析装置１に眼底撮影装置が一体となった装置であってもよい。
【００３３】
図２は本実施例に係る眼底撮影装置の構成について説明する概略構成図である。以下、図１と図２を用いて装置構成の概略を説明する。本眼底撮影装置は、被検者眼Ｅの眼底Ｅｆの断層像を撮影するための眼底撮影装置１０である。眼底撮影装置１０は、干渉光学系（ＯＣＴ光学系）１００を主に備え、さらに、正面観察光学系２００と、固視標投影ユニット３００と、を含んでもよい。眼底撮影装置１０は、制御部７０と接続されている。すなわち、眼底解析装置１と眼底撮影装置１０が接続されている。
【００３４】
ＯＣＴ光学系１００は、眼底に測定光を照射する。ＯＣＴ光学系１００は、眼底から反射された測定光と，参照光との干渉状態を受光素子（検出器１２０）によって検出する。ＯＣＴ光学系１００は、眼底Ｅｆ上の撮像位置を変更するため、眼底Ｅｆ上における測定光の照射位置を変更する照射位置変更ユニット（例えば、光スキャナ１０８、固視標投影ユニット３００）を備える。制御部７０は、設定された撮像位置情報に基づいて照射位置変更ユニットの動作を制御し、検出器１２０からの受光信号に基づいて断層像を取得する。
【００３５】
＜ＯＣＴ光学系＞
ＯＣＴ光学系１００は、いわゆる眼科用光断層干渉計（ＯＣＴ：Optical coherence tomography）の装置構成を持ち、眼Ｅの断層像を撮像する。ＯＣＴ光学系１００は、測定光源１０２から出射された光をカップラー（光分割器）１０４によって測定光（試料光）と参照光に分割する。そして、ＯＣＴ光学系１００は、測定光学系１０６によって測定光を眼Ｅの眼底Ｅｆに導き，また、参照光を参照光学系１１０に導く。その後、眼底Ｅｆによって反射された測定光と，参照光との合成による干渉光を検出器（受光素子）１２０に受光させる。
【００３６】
検出器１２０は、測定光と参照光との干渉状態を検出する。フーリエドメインＯＣＴの場合では、干渉光のスペクトル強度が検出器１２０によって検出され、スペクトル強度データに対するフーリエ変換によって所定範囲における深さプロファイル（Ａスキャン信号）が取得される。例えば、Spectral-domain OCT（ＳＤ−ＯＣＴ）、Swept-source OCT（ＳＳ−ＯＣＴ）が挙げられる。また、Time-domain OCT（ＴＤ−ＯＣＴ）であってもよい。
【００３７】
ＳＤ−ＯＣＴの場合、光源１０２として低コヒーレント光源（広帯域光源）が用いられ、検出器１２０には、干渉光を各周波数成分（各波長成分）に分光する分光光学系（スペクトルメータ）が設けられる。スペクトロメータは、例えば、回折格子とラインセンサからなる。
【００３８】
ＳＳ−ＯＣＴの場合、光源１０２として出射波長を時間的に高速で変化させる波長走査型光源（波長可変光源）が用いられ、検出器１２０として、例えば、単一の受光素子が設けられる。光源１０２は、例えば、光源、ファイバーリング共振器、及び波長選択フィルタによって構成される。そして、波長選択フィルタとして、例えば、回折格子とポリゴンミラーの組み合わせ、ファブリー・ペローエタロンを用いたものが挙げられる。
【００３９】
光源１０２から出射された光は、カップラー１０４によって測定光束と参照光束に分割される。そして、測定光束は、光ファイバーを通過した後、空気中へ出射される。その光束は、光スキャナ１０８、及び測定光学系１０６の他の光学部材を介して眼底Ｅｆに集光される。そして、眼底Ｅｆで反射された光は、同様の光路を経て光ファイバーに戻される。
【００４０】
光スキャナ１０８は、眼底上で二次元的に（ＸＹ方向（横断方向））に測定光を走査させる。光スキャナ１０８は、瞳孔と略共役な位置に配置される。光スキャナ１０８は、例えば、２つのガルバノミラーであり、その反射角度が駆動機構５０によって任意に調整される。
【００４１】
これにより、光源１０２から出射された光束はその反射（進行）方向が変化され、眼底上で任意の方向に走査される。これにより、眼底Ｅｆ上における撮像位置が変更される。光スキャナ１０８としては、光を偏向させる構成であればよい。例えば、反射ミラー（ガルバノミラー、ポリゴンミラー、レゾナントスキャナ）の他、光の進行（偏向）方向を変化させる音響光学素子（ＡＯＭ）等が用いられる。
【００４２】
参照光学系１１０は、眼底Ｅｆでの測定光の反射によって取得される反射光と合成される参照光を生成する。参照光学系１１０は、マイケルソンタイプであってもよいし、マッハツェンダタイプであっても良い。参照光学系１１０は、例えば、反射光学系（例えば、参照ミラー）によって形成され、カップラー１０４からの光を反射光学系により反射することにより再度カップラー１０４に戻し、検出器１２０に導く。他の例としては、参照光学系１１０は、透過光学系（例えば、光ファイバー）によって形成され、カップラー１０４からの光を戻さず透過させることにより検出器１２０へと導く。
【００４３】
参照光学系１１０は、参照光路中の光学部材を移動させることにより、測定光と参照光との光路長差を変更する構成を有する。例えば、参照ミラーが光軸方向に移動される。光路長差を変更するための構成は、測定光学系１０６の測定光路中に配置されてもよい。
【００４４】
＜正面観察光学系＞
正面観察光学系２００は、眼底Ｅｆの正面画像を得るために設けられている。観察光学系２００は、例えば、光源から発せられた測定光（例えば、赤外光）を眼底上で二次元的に走査させる光スキャナと、眼底と略共役位置に配置された共焦点開口を介して眼底反射光を受光する第２の受光素子と、を備え、いわゆる眼科用走査型レーザ検眼鏡（ＳＬＯ）の装置構成を持つ。
【００４５】
なお、観察光学系２００の構成としては、いわゆる眼底カメラタイプの構成であってもよい。また、ＯＣＴ光学系１００は、観察光学系２００を兼用してもよい。すなわち、正面画像は、二次元的に得られた断層像を形成するデータを用いて取得されるようにしてもよい（例えば、三次元断層像の深さ方向への積算画像、ＸＹ各位置でのスペクトルデータの積算値、ある一定の深さ方向におけるＸＹ各位置での輝度データ、網膜表層画像、等）。
【００４６】
＜固視標投影ユニット＞
固視標投影ユニット３００は、眼Ｅの視線方向を誘導するための光学系を有する。投影ユニット３００は、眼Ｅに呈示する固視標を有し、複数の方向に眼Ｅを誘導できる。
【００４７】
例えば、固視標投影ユニット３００は、可視光を発する可視光源を有し、視標の呈示位置を二次元的に変更させる。これにより、視線方向が変更され、結果的に撮像部位が変更される。例えば、撮影光軸と同方向から固視標が呈示されると、眼底の中心部が撮像部位として設定される。また、撮影光軸に対して固視標が上方に呈示されると、眼底の上部が撮像部位として設定される。すなわち、撮影光軸に対する視標の位置に応じて撮影部位が変更される。
【００４８】
固視標投影ユニット３００としては、例えば、マトリクス状に配列されたＬＥＤの点灯位置により固視位置を調整する構成、光源からの光を光スキャナを用いて走査させ、光源の点灯制御により固視位置を調整する構成、等、種々の構成が考えられる。また、投影ユニット３００は、内部固視灯タイプであってもよいし、外部固視灯タイプであってもよい。
【００４９】
＜制御部＞
制御部７０は、ＣＰＵ（プロセッサ）、ＲＡＭ、ＲＯＭ等を備える。制御部７０のＣＰＵは、各構成１００〜３００の各部材など、装置全体（眼底解析装置１、眼底撮影装置１０）の制御を司る。ＲＡＭは、各種情報を一時的に記憶する。制御部７０のＲＯＭには、装置全体の動作を制御するための各種プログラム、初期値等が記憶されている。なお、制御部７０は、複数の制御部（つまり、複数のプロセッサ）によって構成されてもよい。
【００５０】
制御部７０には、不揮発性メモリ（記憶手段）７２、操作部（コントロール部）７６、および表示部（モニタ）７５等が電気的に接続されている。不揮発性メモリ（メモリ）７２は、電源の供給が遮断されても記憶内容を保持できる非一過性の記憶媒体である。例えば、ハードディスクドライブ、フラッシュＲＯＭ、眼底解析装置１、及び、眼底撮影装置１０に着脱可能に装着されるＵＳＢメモリ等を不揮発性メモリ７２として使用することができる。メモリ７２には、眼底撮影装置１０による正面画像および断層画像の撮影を制御するための撮影制御プログラムが記憶されている。また、メモリ７２には、眼底解析装置１を使用することを可能にする眼底解析プログラムが記憶されている。また、メモリ７２には、走査ラインにおける断層像（ＯＣＴデータ）、三次元断層像（三次元ＯＣＴデータ）、眼底正面像、断層像の撮影位置の情報等、撮影に関する各種情報が記憶される。操作部７４には、検者による各種操作指示が入力される。
【００５１】
操作部７６は、入力された操作指示に応じた信号を制御部７０に出力する。操作部７４には、例えば、マウス、ジョイスティック、キーボード、タッチパネル等の少なくともいずれかを用いればよい。
【００５２】
モニタ７５は、眼底撮影装置１０の本体に搭載されたディスプレイであってもよいし、本体に接続されたディスプレイであってもよい。パーソナルコンピュータ（以下、「ＰＣ」という。）のディスプレイを用いてもよい。複数のディスプレイが併用されてもよい。また、モニタ７５は、タッチパネルであってもよい。なお、モニタ７５がタッチパネルである場合に、モニタ７５が操作部として機能する。モニタ７５には、眼底撮影装置１０によって撮影された断層画像および正面画像を含む各種画像が表示される。
【００５３】
＜断層像の取得＞
以下、本装置における撮影動作について説明する。初めに、眼底撮影装置１０によって、断層像が取得される。検者は、固視標投影ユニット３００の固視標を注視するように被検者に指示した後、図示無き前眼部観察用カメラで撮影される前眼部観察像をモニタ７５で見ながら、被検眼の瞳孔中心に測定光軸がくるように、操作部７６（例えば、図示無きジョイスティック）を用いて、アライメント操作を行う。
【００５４】
制御部７０は、光スキャナ１０８の駆動を制御し、眼底上で測定光を所定方向に関して走査させ、走査中に検出器１２０から出力される出力信号から所定の走査領域に対応する受光信号を取得して断層像を形成する。また、制御部７０は、ＯＣＴ光学系１００を制御し、断層像を取得すると共に、観察光学系２００を制御し、眼底正面像を取得する。そして、制御部７０は、ＯＣＴ光学系１００によって断層像、観察光学系２００によって眼底正面像（正面像）を随時取得する。これによって、モニタ７５の画面上に断層像と眼底正面像が表示される。
【００５５】
本実施例では、ＯＣＴ光学系１００によって、三次元断層像を取得し、解析を行う。検者は、三次元断層像を得るとき、操作部７６を操作し、観察光学系２００の眼底正面像を用いて、走査位置を設定する。そして、検者は、操作部７６を操作して図示無き撮影スイッチを選択する。操作部７６から撮影開始の信号が出力されると、制御部７０は、光スキャナ１０８の動作を制御し、撮像領域に対応する走査範囲において測定光をＸＹ方向に二次元的に走査させることにより三次元断層像を取得する。なお、走査パターンとして、例えば、ラスタースキャン、複数のラインスキャンが考えられる。なお、三次元断層像には、ＸＹ方向に関して二次元的にＡスキャン信号を並べた画像データ、三次元グラフィック画像、などが含まれる。
【００５６】
制御部７０は、取得した三次元断層像、眼底正面像をメモリ７２に記憶される。検者によって、操作部７６が操作され、モニタ７５画面上の解析モード切り換えスイッチが選択されると、制御部７０は、モード切り換えを行う。解析モードにおいて、制御部７０は、メモリ７２に記憶された三次元断層像を解析処理し、解析情報を取得する。なお、解析モードへの切り換えは、例えば、眼底撮影装置１０によって断層像が取得された後に、自動的に切り換えられる構成としてもよい。この場合、例えば、制御部７０は、取得した断層像をメモリ７２に記憶させるとともに、解析モードへと切り換えを行う。
【００５７】
＜解析モード＞
解析モードに切り換え後、制御部７０は、取得された断層像（例えば、三次元断層像）における眼底の層情報を画像処理により検出する。制御部７０は、正常眼データベース（詳細は後述する）を参照して各層の検出結果を解析し、解析情報を取得する。そして、解析情報は、メモリ７２、又は外部のメモリ（例えば、パーソナルコンピュータのメモリ、サーバーのメモリ）に断層像と共に記憶される。また、制御部７０は、メモリ７２に記憶した解析情報を断層像共にモニタ７５の画面上に表示する。もちろん、制御部７０は、モニタ７５の画面上に表示する画像として、解析情報又は断層像の少なくとも一方を表示する構成としてもよい。
【００５８】
例えば、解析情報としては、解析マップ、解析チャート、デビエーションマップ等が挙げられる。例えば、解析マップとしては、比較マップ、差分マップ等が挙げられる。比較マップは、被検眼の網膜層の厚みと正常眼データベースに記憶された所定の被検眼の網膜層の厚みとの比較結果を示す（詳細は後述する）。差分マップは、被検眼の網膜層の厚みとデータベースに記憶された所定の被検眼の網膜層の厚みとの差分結果を示す。なお、解析情報は、網膜層に限定されず、脈絡膜層の関する解析情報であってもよいし、網膜層と脈絡膜層を含む眼底全体の解析情報であってもよい。
【００５９】
また、例えば、デビエーションマップは、被検眼の網膜層の厚みと正常眼データベースに記憶された所定の被検眼の網膜層の厚みとのずれを、正常眼データベースに記憶された所定の被検眼の網膜層の厚みで割った、割合を示したマップである。また、例えば、デビエーションマップは、被検眼の網膜層の厚みと正常眼データベースに記憶された所定の被検眼の網膜層の厚みとのずれを標準偏差にて示したマップである。
【００６０】
また、例えば、解析チャート（図７の解析チャート参照）は、予め設定されたセクション毎に解析値を示すチャートである。制御部７０は、解析値として、予め設定されたセクション毎に解析結果の基本統計量を求めてもよい。基本統計量しては、代表値（平均値、中央値、最頻値、最大値、最小値、など）、散布度（分散、標準偏差、変動係数）などであってもよい。より具体的には、解析チャートは、予め設定されたセクション毎に解析結果の代表値（例えば、平均値、中央値）を示すチャートであってもよい。解析チャートは、予め設定されたセクション毎に解析結果の最大値又は最小値を示すチャートであってもよい。セクション毎の解析結果には、セクション内での各位置での解析結果が含まれることで、安定した解析値が得られる。
【００６１】
本実施例においては、解析情報として、比較マップを取得する場合を例に挙げて説明する。例えば、制御部７０は、層を検出する場合、断層像の輝度レベルを検出する。制御部７０は、所定の網膜層（例えば、網膜表面と網膜色素上皮層）に相当する層境界を画像処理により抽出する。そして、制御部７０は、層境界の間隔を計測することにより、層厚（層の厚み）情報を取得する。なお、本実施例において、解析情報として、比較マップを用いる構成を例に挙げたがこれに限定されない。例えば、解析情報としては、他の解析情報を取得する構成であってもよい。また、例えば、複数の解析情報を取得する構成であってもよい。
【００６２】
制御部７０は、ＸＹ方向における各位置での層厚情報を取得し、各位置での層厚情報に対して、正常眼データベースを参照して、層厚に関する解析情報を取得する。また、もちろん層厚を用いた解析において、複数の層厚の合計値が用いられてもよい。
【００６３】
例えば、正常眼データベースとしては、正常とされる被検眼における特徴情報（各層の間隔、所定部位の形状、所定部位のサイズ、等）が記憶されてもよい。なお、正常眼データベースは、複数の被検眼のデータを統合することによって作成されてもよい。例えば、正常眼データベースとして、複数の被検眼のデータから取得された統計的な特徴情報が記憶されてもよい。
【００６４】
例えば、層厚に関する解析情報を取得する場合、制御部７０は、少なくともデータベースに記憶されている各層の間隔を用いて、解析情報を取得する。例えば、正常眼データベースにおける各層の間隔の情報としては、正常であるとされる層厚の範囲、正常のボーダーラインとされる層厚の範囲、異常であるとされる層厚の範囲、等が層厚に関する情報として記憶されている。
【００６５】
例えば、制御部７０は、各位置の層厚情報が正常眼データベースにおける、どの層厚の範囲に属するのかを判定する。制御部７０は、判定結果に基づいて、正常眼データベースを参照して、比較マップを取得する。
【００６６】
本実施例において、制御部７０は、比較マップとして、判定結果に基づいて、三次元断層像の解析情報をグラフィックにて示すマップ（例えば、カラーマップ）を作成する。図３は、比較マップＭの一例を示す図である。例えば、図３に示されるように、比較マップＭは、被検眼の網膜層の層厚を正常眼データベースに記憶された層厚と比較して、比較結果に応じて、正常部位Ｓ、ボーダーライン部位（実線のハッチングＲ参照）、異常部位を示すグラフィック（点線のハッチングＬ参照）を表示する。例えば、ハッチングＲ、Ｌについて、特定の色にて表示される（例えば、赤色、黄色等）。本実施例において、正常部位Ｓは緑色で表示される。また、本実施例において、ボーダーライン部位Ｒは黄色で表示される。また、本実施例において、異常部位Ｌは、赤色で表示される。
【００６７】
なお、本実施例においては、比較結果を特定の色にて表示する構成としたがこれに限定されない。比較結果が識別可能なグラフィックで表示されればよい。例えば、制御部７０は、ボーダーライン部位や異常部位をマーカーで囲むようにしてもよい。以上のようにして、解析情報が取得される。
【００６８】
ここで、正常眼データベースは、正常とされる被検眼のデータから取得されたデータである。例えば、正常眼データベースの作成にあたっては、所定の条件を満たす被検眼が適用されている。例えば、所定の条件としては、被検眼における平均的な眼軸長値の範囲（例えば、眼軸長が２６ｍｍ未満）が設定されている。すなわち、正常眼データベースは、眼軸長値が、所定の眼軸長の範囲内である被検眼にのみ適用可能である。このため、所定の眼軸長の範囲を外れる眼軸長値を有する被検眼に対して、正常眼データベースを参照することは、解析情報の信頼度が低下することに繋がる。例えば、被検眼の眼軸長が伸びている場合、眼底の網膜層の厚みが薄くなっている可能性がある。この場合、正常眼データベースを参照すると、正常眼データベースの各層の厚みと眼底断層像の各層の厚みとの差が大きくなる場合があった。これによって、検者は、被検眼が長眼軸長であるために正常眼データベースとの差が大きいのか、病気であるために正常眼データベースとの差が大きいのか、診断が困難となる。
【００６９】
本実施例において、長眼軸長（例えば、２６ｍｍ以上の眼軸長）を有する被検眼の特徴情報（例えば、層厚情報）が記憶された長眼軸データベースを有する。本実施例において、データベースは、正常眼データベースと、長眼軸データベースとがメモリ７２に記憶されている。例えば、制御部７０は、正常眼データベースと長眼軸データベースを切り換える。制御部７０は、少なくとも一方のデータベースを参照して、被検眼眼底の層厚情報に関する解析情報を取得する。
【００７０】
長眼軸データベースは、例えば、正常眼データベースの適用範囲（例えば、眼軸長が２６ｍｍ以下の被検眼）よりも眼軸長が長い被検眼の解析を想定したデータベースであってもよい。より詳細には、長眼軸データベースとしては、基準の閾値（例えば、２６ｍｍ）を超える眼軸長を持つ被検眼に関して、正常とされる被検眼における特徴情報（各層の間隔、所定部位の形状、所定部位のサイズ、等）が記憶されてもよい。
【００７１】
長眼軸データベースは、例えば、基準の閾値（例えば、２６ｍｍ）を超える眼軸長を持つ複数の被検眼のデータを統合することによって作成されてもよい。長眼軸データベースは、例えば、被検眼のデータから取得された統計的な特徴情報が記憶されてもよい。
【００７２】
なお、正常眼データベースと長眼軸データベースの適用範囲は、基準の閾値を境界として明確に区別されるのが好ましいが、これに限定されない。例えば、適用範囲の境界付近において、適用範囲の一部が重複してもよい。
【００７３】
図４は、解析モードにおける制御動作の一例の流れについて説明するフローチャートである。制御部７０は、図４のフローチャートの制御を実行する。以下、図４を用いて、解析モードにおける制御動作について説明する。例えば、本実施例において、予め、解析モード切り換え前に眼軸長値が入力されていない場合において、解析モードに切り換えた際に、制御部７０は、正常眼データベースを参照して、解析情報（本実施例においては、比較マップ）を取得する。そして、制御部７０は、眼底正面像上において、比較マップを重畳表示させる（Ｓ１）。
【００７４】
図５は、眼底正面像と比較マップとの重畳表示の一例について説明する図である。例えば、制御部７０は、眼底正面像Ｆに対し、比較マップＭを画像処理により重畳させ、比較マップＭと眼底正面像Ｆとを関連付ける。そして、制御部７０は、比較マップＭと眼底正面像Ｆとの重畳画像をモニタ７５に表示する。例えば、重畳表示を行う場合、制御部７０は、解析に用いた三次元断層像からＯＣＴ正面像を生成し、生成されたＯＣＴ正面像と比較マップとを関連付けさせることによって、pixel-to-pixelの関係で両データを対応付けできる。制御部７０は、例えば、生成されたＯＣＴ正面像と、観察光学系２００によって取得される眼底正面像とをマッチングさせ、比較マップと眼底正面像との相対位置を調整する。
【００７５】
なお、比較マップと眼底観察像を同時に表示する場合、重畳表示に限定されない。例えば、並列表示であってもよいし、同一画面上で表示されてもよいし、別のモニタで表示されてもよい。
【００７６】
ここで、検者は、解析モードにおいて、操作部７６を操作し、図示無き眼軸長値入力スイッチを選択する。眼軸長入力スイッチが選択されると、制御部７０は、眼軸長を入力可能な入力画面をモニタ７５上に表示する。検者は、操作部７６を操作し、眼軸長値を入力する。検者は、眼軸長値を入力後、図示無き眼軸長値入力完了スイッチを選択する。制御部７０は、検者によって眼軸長値が入力されることよって、眼軸長値を取得する（Ｓ２）。なお、眼軸長の取得は、検者による入力に限定されない。例えば、制御部７０は、眼軸長測定装置と接続され、眼軸長測定装置によって測定された眼軸長値を受信する構成としてもよい。また、例えば、制御部７０は、眼軸長値が記憶されているメモリ又は装置から、被検者の眼軸長を取得する構成としてもよい。
【００７７】
眼軸長値が取得されると、制御部７０は、取得された眼軸長値に基づいて、正常眼データベースと長眼軸データベースのいずれかのデータベースを選択する。例えば、制御部７０は、眼軸長値が、閾値を超えるか否かを判定する（Ｓ３）。例えば、閾値は、一定の値で設定される構成であってもよいし、任意に値が変更可能な構成であってもよい。例えば、閾値としては、正常眼データベースの眼軸長の範囲と、長眼軸データベースの眼軸長の範囲との境界の眼軸長値を設定する構成が挙げられる。もちろん、閾値の設定は境界の眼軸長値を設定する構成に限定されない。検者は、任意の眼軸長値を設定することができる。
【００７８】
本実施例において、正常眼データベースの眼軸長範囲と長眼軸データベースの眼軸長範囲の境界である眼軸長値（例えば、２６ｍｍ）を閾値として設定する。
【００７９】
制御部７０は、取得された眼軸長値が閾値を超えない場合、正常眼データベースを参照して取得した比較マップをモニタ７５上に表示した状態を維持する（Ｓ７）。また、制御部７０は、取得された眼軸長値が閾値を超える場合、データベースの切り換えを行う（Ｓ５）。制御部７０は、長眼軸データベースをメモリ７２より取得する。制御部７０は、長眼軸データベースを参照して取得された断層像の各層の検出結果を解析し、比較マップを取得する（Ｓ６）。制御部７０は、取得した比較マップを眼底正面像上に重畳表示する（Ｓ７）。なお、本実施例のおいては、比較マップを表示する構成としたがこれに限定されない。他の解析情報が表示される構成であってもよい。また、複数の解析情報が表示される構成であってもよい。
【００８０】
図６は、データベース切り換え前後における比較マップについて説明する図である。例え、図６（ａ）は、正常眼データベースを参照して取得された比較マップを示している。例えば、図６（ｂ）は、長眼軸データベースを参照して取得された比較マップを示している。データベースが切り換えられることによって、正常眼データベースを参照した比較マップＭ１において異常部位Ｌと判定された部位が、長眼軸データベースを参照した比較マップＭ２においてボータライン部位Ｒとして判定される場合がある。また、正常眼データベースを参照した比較マップＭ１においてボーダーライン部位Ｌと判定された部位が、長眼軸データベースを参照した比較マップＭ２において正常部位Ｓとして判定される場合がある。このように、長眼軸長を有する被検眼に対して、長眼軸データベースを参照して、比較マップを取得することで、長眼軸長に対応した判定結果を確認することができる。
【００８１】
なお、制御部７０は、眼底正面像上に重畳表示する際に、比較マップの表示サイズを変更する。すなわち、制御部７０は、データベースの切り換えとともに、眼底正面像Ｆに対する比較マップＭのサイズを変更する。比較マップは、データベースが記憶している範囲内での解析結果である。本実施例において、比較マップ（解析情報）を取得する範囲は、データベースと同様の範囲にて、処理される。本実施例において、例えば、眼底正面像は、１０．０×１０．０ｍｍの範囲で画像が取得される。また、正常眼データベースは、９．５×９．５ｍｍの範囲で特徴情報が取得されている。また、長眼軸データベースは、１０．０×１０．０ｍｍの範囲で特徴情報が取得されている。正常眼データベースの範囲と、長眼軸データベース範囲とが異なるのは、眼軸長の影響が大きい。例えば、長眼軸データベースでは、長眼軸長を有する被検眼の撮影を行い、データベースの作成が行われる。このため、正常眼データベースを作成するために撮影を行った際の撮影条件（走査範囲、走査位置、スキャンパターン等）によって、長眼軸長を有する被検眼を撮影した場合に眼軸長が長いため、測定光が眼底到達した際の照射範囲が大きくなる。このため、長眼軸データベースは、正常眼データベース作成時と同様の撮影条件で撮影を行った場合であっても、撮影範囲が大きくなる。結果として、データベースによって、データベースの範囲（データベース化された層厚分布の範囲）が異なるため、制御部７０は、比較マップを重畳表示する際に、データベースの範囲に応じて、眼底正面像に対する比較マップのサイズを変更する。
【００８２】
例えば、長眼軸データベースへ切り換えを行った場合に、制御部７０は、長眼軸データベースを参照した比較マップＭ２を、正常眼データベースを参照した比較マップＭ１のサイズよりも、大きなサイズに変更して、重畳表示させてもよい（図６参照）。なお、本実施例においては、比較マップのサイズを変更する構成を例に挙げたがこれに限定されない。例えば、眼底正面像をサイズを変更する構成としてもよい。
【００８３】
なお、本実施例において、比較マップ（解析情報）を取得する範囲は、データベースと同様の範囲にて、処理される構成としたがこれに限定されない。比較マップを取得する範囲は、任意に設定可能な構成であってもよい。もちろん、比較マップを取得する範囲は、任意に変更可能な構成であってもよい。例えば、制御部７０は、データベースの範囲よりも狭い範囲において、解析を行い、比較マップを取得する構成が挙げられる。
【００８４】
以上のように、長眼軸データベースを用いることによって、眼軸長に応じた解析情報を取得することが可能となる。これによって、検者は、被検眼が長眼軸長であるために正常眼データベースとの差が大きいのか、病気であるために正常眼データベースとの差が大きいのか、の診断をより正確に行うことができる。また、正常眼データベースと長眼軸データベースを切り換えて用いることで、種々の眼軸長に応じた解析情報に取得することが可能となり、診断支援に有用な情報を提供できる。
【００８５】
＜変容例＞
なお、本実施例において開示した技術は、フォローアップ撮影に適用し、被検眼の経過観察時に利用することができる。異なる日で撮影した同一の被検眼の画像において、解析処理をそれぞれ行い、それらの解析情報を表示するようにしてもよい。例えば、検者は、異なる日で撮影した第１の断層像と第２の断層像に対して、解析処理を行う際に、異なるデータベースを参照して、解析情報を取得することができる。
【００８６】
例えば、フォローアップ撮影の解析時において、制御部７０は、第１の断層像を解析した際のデータベースを参照できるように、被検眼及び撮影条件に関する情報をメモリ７２に記憶させておく。例えば、メモリ７２には、第１の断層像の取得時期と同時期に測定された被検眼の眼軸長値が記憶される。制御部７０は、第１の断層像の取得時期と同時期に測定された被検眼の眼軸長値を基準として、第１の断層像の解析において参照されるデータベースを呼び出すことができる。
【００８７】
制御部７０は、第２の断層像を解析する際に、第１の断層像の解析に参照したデータベースの情報を呼び出す。制御部７０は、第２の断層像に対して、第１の断層像の解析に参照したデータベースを参照し、第２の断層像の解析情報を取得する。このとき、被検眼の状態が変化していなければ、第１の断層像の解析に参照したデータベースを参照して解析情報を取得すればよい。しかしながら、時間の経過に伴って、被検眼の状態が変化していた場合には、再度、参照するデータベースを選択したほうが好ましい。例えば、被検眼の眼軸長値が変化していた場合に、第１の断層像の解析に参照したデータベースの対象とする眼軸長の範囲を超えてしまう場合がある。
【００８８】
この場合、異なるデータベースに切り換えを行い、異なるデータベースを参照して、解析情報が取得されることが好ましい。例えば、第１の断層像が正常眼データベースを参照して、解析情報が取得されていた場合において、検者によって、操作部７６が操作され、第２の断層像の解析時に眼軸長値が入力される。入力される眼軸長値として、例えば、第２の断層像の取得時期と同時期に測定された被検眼の眼軸長値が入力される。
【００８９】
制御部７０は、眼軸長値が正常眼データベースの眼軸長の範囲を超えていた場合に、長眼軸データベースを参照して、解析情報を取得する。もちろん、制御部７０は、眼軸長値が正常眼データベースの眼軸長の範囲を超えていた場合であっても、検者による操作部７６の操作によって、データベースの切り換えが行われない場合には、正常眼データベースを参照して、解析情報を取得してもよい。もちろん、制御部７０は、第２の断層像に対して、正常眼データベースの長眼軸データベースの双方を参照して、それぞれ解析情報を取得する構成であってもよい。すなわち、異なる日に撮影されたそれぞれの断層像に対して、複数のデータベースを参照して、複数の解析情報をそれぞれの断層像に対して取得する構成であってもよい。なお、本実施例においては、異なる日の断層像として、２つの断層像を例に挙げて説明したがこれに限定されない。断層像の数は、２つ以上であってもよい。
【００９０】
解析情報の表示方法は、異なる日で撮影された断層像が比較できる表示方法であればよい。例えば、撮影日の異なる解析情報を並べて表示してもよいし、撮影日の異なる解析情報に関するパラメータ（例えば、層厚値、差分値等）をグラフにて表示するようにしてもよい。図７は、フォローアップ撮影時における解析画面の一例を示す図である。図７に示されるように、本実施例において、制御部７０は、モニタ７５の画面上において、第１の断層像に関する解析情報（比較マップＭ１）と、第２の断層像に関する解析情報（比較マップＭ２）を並べて配置する。また、制御部７０は、解析情報として、第１の断層像に関する解析チャートＣ１と、第２の断層像に関する解析チャートＣ２を並べて表示する。
【００９１】
以上のように、フォローアップ撮影の解析時において、眼軸長に応じてデータベースを切り換えて確認できることで、異なる日で撮影を行った場合に、眼軸長が変化していた場合であっても、眼軸長の変化に対応した状態で、診断を行うことができる。また、従来では、眼軸長の変化によって、良好な解析情報を取得できなくなり、継続して観察することが困難であった被検眼に対しても、継続して観察することが可能となる。さらに、検者は、１つの断層像に対しても、複数のデータベースにて、解析情報を取得することができ、より多くの情報を考慮した診断を行うことができる。
【００９２】
なお、解析モード切り換え前に、眼軸長値が取得されていた場合に、解析モード切り換え時において、制御部７０は、予め、取得された眼軸長に基づいて、データベースを切り換えて、解析情報を取得する構成としてもよい。例えば、制御部７０は、眼軸長値が正常眼データベースの対象とする眼軸長値を超えていた場合に、解析モードに切り換えるとともに、長眼軸データベースを参照して、解析情報を取得する。制御部７０は、取得した解析情報をモニタ７５上に表示する。もちろん、解析モード切り換え前に、予め、取得された眼軸長値が長眼軸データベースの対象とする眼軸長の範囲内であった場合であっても、制御部７０は、解析モード切り換え時において、正常眼データベースを参照して、解析情報を取得する構成としてもよい。
【００９３】
なお、本実施例においては、データベースとしては、正常眼データベースと、長眼軸データベースと、がメモリ７２に記憶されて、参照される構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。さらに多くのデータベースが設けられる構成としてもよい。例えば、正常眼データベースと、第１長眼軸データベースと、第２長眼軸データベースと、を設ける構成が挙げられる。この場合、例えば、第２眼軸長データベースは、第１長眼軸データベースが対象とする眼軸長の範囲より、長い眼軸長を対象とする第２長眼軸データベースである。このように、段階的に参照するためのデータベースを設けることによって、より詳細な解析情報を取得することができる。
【００９４】
なお、本実施例において、解析情報が、切り換えられて表示される構成としたがこれに限定されない。同一の断層像に対して、複数のデータベースを参照して、複数の解析情報が取得される構成としてもよい。例えば、制御部７０は、断層像に対して、各データベースを参照して、複数の解析情報を取得する。このような構成によって、これによって、検者は、種々のデータベースを参照した解析情報を確認して、被検眼を診断することが可能となるため、診断を行いやすくなる。
【００９５】
なお、本実施例において、制御部７０が、眼軸長値に基づいて、データベースの切り換え処理を行う構成を例に挙げたがこれに限定されない。データベース切り換え処理は、種々の方法によって実行することができる。例えば、データベース切り換えスイッチが設けられ、検者によって操作部７６が操作され、データベース切り換えスイッチが選択されることによって、制御部７０がデータベースを切り換える構成が挙げられる。
【００９６】
長眼軸データベースを参照して、比較マップを取得する構成としたがこれに限定されない。長眼軸データベースを参照して、解析情報を取得することができる。例えば、長眼軸データベースを参照して、解析チャート、デビエーションマップ等を取得することができる。これらの解析情報は、眼底正面像と重畳表示される。なお、解析情報は、重畳表示される構成に限定されない。例えば、解析情報は、眼底正面像と重畳表示させることなく、モニタ７５の同一画面上に表示される構成としてもよい。また、例えば、解析情報は、モニタ７５上に、解析情報のみを表示される構成としてもよい。
【００９７】
なお、本実施例おいては、データベースを切り換えた際に、解析マップのサイズを変更する構成を例に挙げて説明したが、これに限定されない。データベースの切り換えが行われた場合に、制御部７０は、モニタ７５上における表示を変更することができる。例えば、制御部７０は、データベースが切り換えられた場合に、解析情報を取得する際に、参照したデータベースが何のデータベースであるのかを識別できるように表示（色の変更、文字のサイズ変更、対応するデータベースのマーク表示等）を変更する。また、例えば、制御部７０は、データベースを切り換えた場合に、解析情報に関するパラメータを変更する構成が挙げられる。このように、データベースの切り換えにあわせて、モニタ上における画面の表示が変更されるため、検者は、容易に現在の解析条件を確認することができる。このため、検者は、解析条件を改めて確認する必要がなく、検者の手間、負担等を軽減することができる。また、検者の意図とは異なるデータベースで解析情報を取得してしまうことを抑制することができる。
【００９８】
なお、本実施例において、制御部７０は、解析情報を出力する際に、モニタ７５上における表示を変更する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。制御部７０は、解析情報を出力する際の形態を変更する構成であればよい。例えば、制御部７０は、解析情報を印刷する等の際に、印刷形態を変更するようにしてもよい。また、解析情報を外部にデータ出力する際に、データの出力形態（例えば、解析情報を含む画像データの画像形態を変更する）を変更するようにしてもよい。
【００９９】
なお、本実施例において、解析情報を取得するための被検眼が各データベースの対象とする被検眼の条件から外れていた場合に、被検眼がデータベースの適用範囲から外れているということを報知させる表示をする構成としてもよい。例えば、正常眼データベースで解析をしていた場合に、解析を行った被検眼の眼軸長が正常眼データベースの眼軸長の範囲を外れていた場合に、警告表示又は色の少なくともいずれかの変更を行う構成が挙げられる。
【０１００】
なお、本実施例においては、三次元画像を解析する構成としたがこれに限定されない。例えば、所定のスキャン位置における断層像の加算平均画像を取得する。そして、ある横断方向に関する加算平均断層像（Ｂスキャン画像）において、層厚情報を取得し、所定のスキャンラインにおける層の解析を行う構成としてもよい。
【符号の説明】
【０１０１】
１  眼底解析装置
１０  眼底撮影装置（光コヒーレンストモグラフィーデバイス）
７０  制御部
７２  メモリ
７５  モニタ
７６  操作部
１００  干渉光学系（ＯＣＴ光学系）
１０８  光スキャナ
１２０  検出器
２００  正面観察光学系
３００  固視標投影ユニット
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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