(57)【要約】【課題】  ブルーミングキズが発生した場合に正しい補正を行う。【解決手段】  欠陥画素の位置を予め検出しておき、撮影の際に、電荷蓄積時間中に欠陥画素のＰＤをリセットすることでブルーミングキズの発生を抑制する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の画素が配列された画素部と、
前記画素部における所定画素のアドレスを記憶する記憶部と、
前記記憶部に記憶されている所定画素と前記所定画素以外の画素に対する駆動方法を異ならせるように前記画素部を駆動制御する制御部と、
を備えることを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記記憶部にアドレスが記憶されている所定画素は、欠陥画素であることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記複数の画素の各々は、光電変換により電荷を発生する光電変換素子と、前記光電変換素子で発生した電荷をフローティングディフュージョンに転送する転送トランジスタと、前記光電変換素子および前記フローティングディフュージョンをリセットするリセットトランジスタとを備え、
前記制御部は、前記所定画素以外の前記光電変換素子における電荷蓄積期間に、前記所定画素の前記リセットトランジスタによる前記光電変換素子および前記フローティングディフュージョンをリセットするように制御することを特徴とする請求項１または２のいずれかに記載の撮像装置。
【請求項４】
前記制御部は、前記所定画素以外の前記光電変換素子における電荷蓄積期間に、前記所定画素の前記リセットトランジスタによる前記光電変換素子および前記フローティングディフュージョンを断続的にリセットするように制御することを特徴とする請求項３に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記記憶部には、前記所定画素が複数のグループに分けて記憶され、前記制御手段は、撮影条件に応じてグループ毎に異なる駆動制御を行うことを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項６】
前記撮影条件は、温度または蓄積時間を含むことを特徴とする請求項５に記載の撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像素子を用いた撮像装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年のデジタルスチルカメラでは、低照度下での動画撮影や静止画撮影を実現する目的で、露光時間を長くする長時間露光撮影を行うことができる。しかし、長時間露光撮影では、いわゆる暗電流の影響で暗出力が映像信号に重畳され、特に暗出力の大きい画素は画像上に白い点として現れることがある。これは、一般的に白欠陥や白キズと言われる欠陥画素であり、画質劣化の原因となっている。更に長時間露光撮影を行ったり、高温環境下で撮影したりすると、これらの欠陥画素における信号電荷が飽和して、周囲の画素へ信号電荷が溢れ出る、いわゆるブルーミングを発生させる。このブルーミングによって信号値が増えた画素を、以降ブルーミングキズと呼ぶ。
【０００３】
図９は、蓄積時間とブルーミングキズの様子を示す図である。図９（ａ）は、単一欠陥画素を示している。蓄積時間が長くなるにつれて、図９（ｂ）、（ｃ）、（ｄ）の順に欠陥画素からのブルーミングによってブルーミングキズが見掛け上、巨大な隣接キズのように広がる。また、ブルーミングキズは、単一欠陥画素の補正方法では正しく補正できない。
【０００４】
図１０は、欠陥画素の補正方法を説明する図である。図１０（ａ）は補正前の信号値、図１０（ｂ）は補正後の信号値を模式的に示している。ここでは、カラーフィルタがベイヤ配列で配置された撮像素子の欠陥画素補正について説明する。具体的には、補正する欠陥画素の同色左右の画素を参照し、参照した画素の信号値の平均値で欠陥画素を補間する補正処理を行う。図１０（ａ）において、予め検出されている補正前の欠陥画素１００１は、参照画素１００２、１００３の平均値を用いて補正され、図１０（ｂ）の補正後の欠陥画素１００４に示すように、欠陥画素の痕跡の無い自然な補正が可能である。
【０００５】
次に、同様の補正処理をブルーミングキズの発生した欠陥画素に対して行った場合の効果を図１０（ｃ）、（ｄ）に示す。図１０（ｃ）は補正前の信号値、図１０（ｄ）は補正後の信号値を模式的に示している。図１０（ｃ）は図１０（ａ）と異なり、予め検出されている欠陥画素１００５を補正するために用いる参照画素１００６、１００７がブルーミングキズとなっている。そのため、図１０（ｄ）に示すように、ブルーミングキズの発生した参照画素１００６、１００７の出力平均値を用いて欠陥画素１００５の補間処理を行うことになり、補正後の欠陥画素１００８に示すように、正しく補正できない。また、予め検出していないブルーミングキズも発生したままとなり、補正することができない。以上のように、ブルーミングキズが発生した場合、単一欠陥画素と同様に補正処理を行うことは困難である。そのため、これらの課題に対応するため下記の対応策が提案されている。
【０００６】
対応策の一つは、予めブルーミングキズのアドレスと形状を記憶しておき、撮影時にブルーミングキズの形状に応じて適切な補正行う方法である（特許文献１参照）。この方法によれば、図１０のような誤補正を行うことなく、適切な補正が実現できる。別の対応策では、予め検出した欠陥画素のレベルから、ブルーミングキズが発生する撮影条件を予測する。そして、ブルーミングキズが発生する撮影条件になると、蓄積時間の制限を設けたり、画素加算撮影を行いブルーミングキズの発生を目立たなくしたりする方法が提案されている（特許文献２参照）。この方法によれば、ブルーミングキズによる画質への影響を低減できる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００５−３１１７３３号公報
【特許文献２】特開２０１１−１７６４２１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
特許文献１は、予めブルーミングキズのアドレスと形状を記憶しておき、撮影時にブルーミングキズの形状に応じて適切な補正行う方法を示している。一方で、図１０（ｃ）に示したように、欠陥画素の補正を行う際の参照画素もブルーミングキズとなることがある。この場合、更に離れた画素を参照して補間値を求めることが考えられるが、補正対象画素と大きく異なるアドレスの信号から補間値を求めるために正しく補正できず、いわゆる補正痕となることが多い。そのため、特許文献１の方法では、目立つ補正痕が残るという課題がある。
【０００９】
また、ブルーミングキズの形状は、温度や蓄積時間に応じて変化する。特許文献２は、温度や蓄積時間などの撮影条件に制限を設けてブルーミングキズの発生を抑制したり、制限を超える条件下では画素加算撮影を行いブルーミングキズの発生を目立たなくしたりする。そのため、特許文献２の方法は、撮影条件によっては所望の撮影ができず、使用感が低下するという課題がある。
【００１０】
本発明の目的は、温度や撮影条件によって変化するブルーミングキズの発生量を抑制しつつ、補正後の画質劣化を低減すること、加えて撮像装置の使用感も著しく悪化しない撮像装置及び撮像装置の制御方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明は、上記の目的を達成するためになされたものであり、複数画素が配列された画素部と、前記画素部における所定画素のアドレスを記憶する記憶部と、前記記憶部に記憶されている所定画素と前記所定画素以外の画素に対する駆動方法を異ならせるように前記画素部を駆動制御する制御部と、を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、欠陥画素の電荷が隣接画素へ流出することにより発生するブルーミングキズを抑制できる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の実施例１の撮像装置の構成を示す図である。
【図２】本発明の実施例１の信号処部の構成を示す図である。
【図３】本発明の実施例１の欠陥画素と温度・蓄積時間との関係をグループ分けした図である。
【図４】本発明の実施例１の撮像素子の構成を示す図である。
【図５】本発明の実施例１の画素の構成を示す図である。
【図６】本発明の実施例１の画素内のトランジスタのタイミングチャートである。
【図７】本発明の実施例１の欠陥画素の補正処理のフローチャートである。
【図８】本発明の実施例２の画素内のトランジスタのタイミングチャートである。
【図９】ブルーミングキズの影響を示した図である。
【図１０】欠陥画素の補正処理を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、図面を参照して本発明の実施形態を詳細に説明する。なお、以下に説明する実施形態は、本発明の実現手段としての一例であり、本発明が適用される装置の構成や各種条件によって適宜修正又は変更されるべきものであり、本発明は以下の実施形態に限定されるものではない。
【００１５】
（実施例１）
図１は、本発明の実施例１に係る撮像装置の構成を示す図である。実施例１では、静止画撮影を行う際の、ブルーミングキズ抑制処理について説明する。本実施例１の撮像装置は、光学系１０１、撮像素子１０２、駆動回路部１０３、前処理部１０４、信号処理部１０５、画像を記憶するメモリ部１０６、画像表示部１０７、画像記録部１０８、操作部１０９および同期制御部１１０から構成されている。
【００１６】
光学系１０１は、被写体像を撮像素子１０２に結像させる合焦レンズ、光学ズームを行うズームレンズ、被写体像の明るさを調整する絞り、露光を制御するシャッタからなり、それらは駆動回路１０３により駆動される。撮像素子１０２は、水平垂直方向に配列された複数の画素と、これらの画素から読み出された信号を所定の順番で出力する回路から構成されている。駆動回路部１０３は、同期制御部１１０からの制御信号により、定電圧やドライブ能力を強化させたパルスを供給することで、光学系１０１および撮像素子１０２を動作させる。
【００１７】
前処理部１０４は、同期制御部１１０からの制御信号により制御され、アナログ信号である撮像素子１０２の出力信号に含まれるリセットノイズなどのノイズ成分を除去する相関２重サンプリング回路（ＣＤＳ回路）、ノイズが除去された出力信号の振幅を調整するゲインコントールアンプ、および、振幅が調整されたアナログ信号である出力信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換回路から構成される。
【００１８】
信号処理部１０５は、同期制御部１１０からの制御信号により制御され、前処理部１０４から送られてくるデジタル出力信号に対して適切な信号処理を行い画像データに変換する。また、メモリ部１０６や画像記録部１０８へデジタル信号に変換された出力信号や画像データを出力する。あるいは、メモリ部１０６や画像記録部１０８からの画像データを受けて所定の信号処理を行う。さらに、撮像素子の信号から合焦状態や露光量等の測光データを検出し、同期制御部１１０に送信する機能も持っている。
【００１９】
メモリ部１０６は、同期制御部１１０からの制御信号により制御され、デジタル信号に変換された撮像素子１０２の出力信号や、信号処理された画像データを一時的に記憶する。さらに、表示用の画像データを画像表示部１０７へ出力する。画像表示部１０７は、同期制御部１１０からの制御信号により制御され、メモリ部１０６に記憶する表示用の画像データを、撮影前の構図決めや撮影後の画像の確認を行うために表示するものであり、電子ビューファインダー（ＥＶＦ）や液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）で構成される。画像記録部１０８は、着脱可能なメモリ等を備え、同期制御部１１０からの制御信号により制御され、信号処理部１０５から送られてくるデジタル信号に変換された出力信号や画像データの記録や着脱可能なメモリからの読み出しを行うことができる。
【００２０】
操作部１０９は、スイッチや押しボタン等の操作部材を備え、操作部材の操作による指示、例えば、撮像装置の電源スイッチの状態、撮影前の画像表示の指示、撮影の各種指示を同期制御部１１０に伝える。また、撮影した画像の表示、あるいは、撮像装置の動作をあらかじめ指示するメニュー操作等を同期制御部１１０に伝える。さらに、操作部１０９は、ＬＣＤやフォトダイオード等の表示部材を備え、操作部１０９の表示部材あるいは画像表示部１０７を用いて、同期制御部１１０からの制御信号により、撮像装置の状態を表示することができる。また、画像表示部１０７に装着したタッチパネルを用いて、オンスクリーンでの操作を行ってもよい。
【００２１】
同期制御部１１０は、操作部１０９からの指示により、撮像装置全体を制御する。また、信号処理部１０５から送られてくる合焦状態や露光量等の測光データに応じて、光学系１０１を制御して、最適な被写体像を撮像素子１０２に結像させる。さらに、メモリ部１０６の使用状況や画像記録部１０８の着脱可能なメモリの状況を検出することもできる。
【００２２】
次に、撮像装置の動作について説明する。
【００２３】
＜表示画像の制御＞
（１）操作部１０９の電源スイッチからの指示により電源をオンする。
（２）信号処理部１０５で、撮像素子１０２からの信号を表示用の画像データに変換して、画像表示部１０７に表示するとともに、測光データを検出し、同期制御部１１０に送信する。
（３）測光データを元にして、同期制御部１１０が駆動回路部１０３を介して光学系１０１を制御する。
（４）（２）および（３）を繰り返すとともに、操作部１０９からの指示を待つ。
【００２４】
＜静止画撮影の制御＞
（１）操作部１０９の撮影スイッチからの指示により静止画撮影の制御を開始する。
（２）信号処理部１０５で、撮像素子１０２からの信号から測光データを検出し、同期制御部１１０に送信する。
（３）測光データを元にして、同期制御部１１０が駆動回路部１０３を介して光学系１０１を制御する。
（４）撮像素子１０２において、静止画記録用の露光と信号の出力を行う。
（５）信号処理部１０５で、撮像素子１０２からの信号を記録用の画像データに変換して、画像記録部１０８に送り、着脱可能なメモリに記録するとともに、表示用の画像データに変換して、画像表示部１０７に表示する。
（６）表示画像の制御に戻る。
【００２５】
次に、本実施例のブルーミングキズ抑制処理について説明する。図２は、図１の撮像装置の中で撮像素子部１０２と信号処理部１０５で行う、ブルーミングキズ抑制処理のフローチャートを示しており、操作部１０９で撮影操作を行うことで、この処理が実行される。なお、この処理は画素毎に行われる。
【００２６】
図２のＳ２０１において撮影が開始されると、Ｓ２０２において、処理対象となる欠陥画素を正常画素として処理するか、或いはブルーミング抑制処理を行うかを図３に示す表を用いて判定する。図３は、各撮影条件に対してブルーミング抑制処理を行う欠陥画素（所定画素）を示した表である。本実施例では、欠陥画素を各画素で単位時間当たりに発生する暗電流の大きさに応じて複数のグループに分ける。ここでは、暗電流が大きい順にＧ１、Ｇ２、Ｇ３として３グループに分け、撮影条件に応じてブルーミング抑制処理を行う欠陥画素を判定する場合について説明する。例えば、蓄積時間（ｔｉｍｅ）がＴｖ１≦ｔｉｍｅ＜Ｔｖ２であり、温度（ｔｅｍｐ）がＴ２≦ｔｅｍｐである場合、グループＧ１、Ｇ２に属する欠陥画素をブルーミング抑制処理の対象として扱う。また、上記した蓄積時間と温度の条件では、Ｇ３はブルーミング抑制処理対象ではなく、正常画素処理として処理される。これは、暗電流が高温や長秒の条件で増える特性を持つためで、暗電流の増加しやすい画素は、より多くの条件でブルーミング抑制処理を行い、増加度合いの小さい画素については、限定された条件以外ではブルーミング抑制処理を行わないようにしている。
【００２７】
Ｓ２０２における図３の表を用いた判定処理において、ブルーミング抑制処理の対象画素（所定画素）であると判定された場合には、Ｓ２０４においてブルーミング抑制処理を行い、正常画素処理の対象画素（所定画素以外の画素）であると判定された場合には、Ｓ２０３において正常画素処理を行う。なお、ブルーミング抑制処理の説明は後述する。
【００２８】
Ｓ２０５において、予め決められた蓄積時間が経過したら、正常画素処理の対象画素もブルーミング抑制処理の対象画素も同様の信号読み出し処理によって画素信号を読み出し、撮像素子１０２から画素信号を出力する。撮像素子１０２から出力された画素信号は、前処理部１０４を経て、信号処理部１０５へ入力される。Ｓ２０６において、信号処理部１０５は、欠陥画素の信号値を周囲の画素の信号値を参照して補正する欠陥画素補正処理を行う。
【００２９】
次に、Ｓ２０７において、欠陥画素が補正された画像に対して現像処理を行い、Ｓ２０８において、撮影を終了する。
【００３０】
次に、図４を用いて、撮像素子１０２の内部構成について説明する。画素部４０１は、画素が格子状に複数配列されている。制御部４０２は、画素内のトランジスタを画素単位で個別に駆動制御する。撮像素子内記憶部４０３には欠陥画素の位置（アドレス）情報とグループが記憶されており、欠陥画素の位置と属するグループの情報を制御部４０２に送ることが可能である。出力部４０４は、画素部からの電圧信号を、前処理部１０４へ出力する。
【００３１】
次に、図５を用いて画素部４０１内の１画素の構造について説明する。光電変換素子であるフォトダイオード（以下、ＰＤ）５０１は、感光すると光電変換を行い、信号電荷を発生する。転送トランジスタ５０２は、制御部４０２からの制御信号Ｔｒａ．Ｓｉｇに応じて、ＰＤ５０１からフローティングディフュージョン（以下、ＦＤ）５０４への信号電荷の転送処理を行う。リセットトランジスタ５０３は、制御部４０２からの制御信号Ｒｅｓ．Ｓｉｇに応じて、ＰＤ５０１やＦＤ５０４の信号電荷を所定量にリセットする。ＦＤ５０４は、ＰＤ５０１の信号電荷を保持し、画素ソースフォロワ（以下、画素ＳＦ）５０５へ入力する。画素ＳＦ５０５は、ＦＤ５０４の信号電荷を信号電圧に変換して垂直出力線５０７へ出力する。選択トランジスタ５０６は、制御部４０２からの制御信号Ｓｅｌ．Ｓｉｇによって、画素信号の垂直出力線への出力を制御する。垂直出力線５０７は、信号電圧をＡＤ変換機など後段の処理へ出力する。
【００３２】
次に、図２のＳ２０３で説明した正常画素処理とブルーミング抑制処理の駆動制御について、図６を用いて説明する。
【００３３】
図６（ａ）は、正常画素処理のタイミングチャートである。まず時刻ｔ１において、制御信号Ｒｅｓ．Ｓｉｇと制御信号Ｔｒａ．ＳｉｇをＨＩＧＨにして、ＰＤ５０１とＦＤ５０４の信号電荷をリセットする。時刻ｔ２において、制御信号Ｒｅｓ．Ｓｉｇと制御信号Ｔｒａ．ＳｉｇをＬＯＷにして、ＰＤ５０１とＦＤ５０４のリセットを止める。同時にＰＤ５０１が光電変換を始め、電荷蓄積を開始する。
【００３４】
時刻ｔ３において、制御信号Ｒｅｓ．Ｓｉｇと制御信号Ｓｅｌ．ＳｉｇをＨＩＧＨにして、ＦＤ５０４をリセットする。時刻ｔ４において、制御信号Ｒｅｓ．ＳｉｇをＬＯＷにして、ＦＤ５０４のリセットを止める。また、制御信号Ｓｅｌ．ＳｉｇをＨＩＧＨにして、時刻ｔ４〜ｔ５の間に基準信号を垂直出力線５０９へ出力する。
【００３５】
時刻ｔ５において、制御信号Ｔｒａ．ＳｉｇをＨＩＧＨにして、ＰＤ５０１からＦＤ５０４へ信号電荷を転送し、時刻ｔ５〜ｔ６の間に画素信号を垂直出力線５０９へ出力し、ここでＰＤ５０１における信号電荷の蓄積が終了する。すなわち、時刻ｔ２〜ｔ５がＰＤ５０１における電荷蓄積期間となる。時刻ｔ６において、制御信号Ｔｒａ．Ｓｉｇと制御信号Ｓｅｌ．ＳｉｇをＬＯＷにして、画素信号の読み出し処理を終了する。
【００３６】
次に、図６（ｂ）は、ブルーミング抑制処理のタイミングチャートである。図６（ａ）では、時刻ｔ２〜ｔ３の電荷蓄積期間の間、制御信号Ｒｅｓ．Ｓｉｇと制御信号Ｔｒａ．ＳｉｇがＬＯＷになり、ＰＤ５０１において信号電荷が蓄積されているのに対し、図６（ｂ）では、時刻ｔ２〜ｔ３の期間、リセット処理を行っている点である。なお、制御信号Ｓｅｌ．Ｓｉｇについては図６（ａ）と同様のタイミングで処理するため、説明を省略し、ここでは制御信号Ｒｅｓ．Ｓｉｇと制御信号Ｔｒａ．Ｓｉｇの処理について説明する。
【００３７】
時刻ｔ１において、制御信号Ｒｅｓ．Ｓｉｇと制御信号Ｔｒａ．ＳｉｇをＨＩＧＨにして、ＰＤ５０１とＦＤ５０４の信号電荷をリセットする。この状態を時刻ｔ３まで維持し、ＰＤ５０１とＦＤ５０４の電荷のリセットを継続する。以上の処理によって、欠陥画素によって発生した電荷がリセットされ、周囲の正常画素におけるブルーミングキズの発生を抑制できる。なお、時刻ｔ４以降は図６（ａ）と同様であるため、説明を省略する。
【００３８】
図７に、図２のＳ２０６で説明した信号処理部１０５による欠陥画素補正処理のフローチャートを示す。Ｓ７０１において、信号処理部１０５は前処理部１０４から画素信号を順次取得する。Ｓ７０２において、メモリ部１０６から予め取得した画素情報から処理する画素信号が正常画素から出力されたものであるのか、或いは、欠陥画素から出力されたものであるのかを判定する。
【００３９】
正常画素から出力された画素信号である場合には、Ｓ７０５における画素信号の現像処理（図２のＳ２０７）を行う。また、欠陥画素から出力された画素信号である場合には、Ｓ７０３に進む。Ｓ７０３では、図１０（ａ）、（ｂ）で説明したとおり、欠陥画素の左右の同色画素を参照値として参照値の平均値を補間値として取得し、Ｓ７０４では、取得した補間値を用いて欠陥画素の信号値に代入する。そして、Ｓ７０５における画素信号の現像処理（図２のＳ２０７）を行う。
【００４０】
以上説明したように、本実施形態によれば、予めブルーミングキズが発生する恐れのある欠陥画素に対し、蓄積時間中にリセット処理を行うことで、当該欠陥画素の電荷が隣接画素へ流出するのを防ぎ、ブルーミングキズの発生を抑制することができる。また、ブルーミングキズが発生しないことから、欠陥画素１画素のみが補正対象となり、ブルーミングキズが発生した複数の画素を補正する場合と比較して、補正対象が少ないことから画質の低下を抑えられる利点がある。更に、ブルーミングキズ抑制処理は蓄積時間中に行われるため、撮像装置全体の処理時間を遅延させることもなく、使用感も低下しない。
【００４１】
（実施例２）
実施例１では、蓄積時間中に正常画素処理の対象画素は光電変換処理を行い、ブルーミング抑制処理の対象画素はリセット処理を行っていた。また、一般的に、ブルーミングキズは短蓄積時間で発生することは稀で、多くの場合、長蓄積時間撮影時に発生する。そのため、垂直同期信号に同期してリセット処理を行う等、ある時間間隔で定期的にリセット処理を行うだけでも、ブルーミングキズ抑制の効果を十分得ることができ、また処理も容易になる。そこで、本実施例２では、蓄積時間中のリセット処理をある周期で断続的に行う処理について説明し、ここでは、垂直同期信号に同期してリセット処理を行う例を説明する。
【００４２】
実施例２の構成や処理は実施例１と概ね同様であり、図２のＳ２０４において行っている図６（ｂ）で説明したブルーミング抑制処理のタイミングチャートが実施例１と異なっている。図８（ａ）は、実施例２における正常画素処理のタイミングチャートであり、図８（ｂ）は、実施例２における欠陥画素処理のタイミングチャートである。なお、図８（ａ）に示す正常画素のタイミングチャートは、実施例１で説明した図６（ａ）と同じであるため、説明を省略する。なお、図６（ａ）のｔ３〜ｔ６は、図８（ａ）のｔ９〜ｔ１２に相当する。
【００４３】
次に、ブルーミング抑制処理のタイミングチャートについて、図８（ｂ）を用いて説明する。まず時刻ｔ１において、制御信号Ｒｅｓ．Ｓｉｇと制御信号Ｔｒａ．ＳｉｇをＨＩＧＨにして、ＰＤ５０１とＦＤ５０４の信号電荷をリセットする。時刻ｔ２において、制御信号Ｒｅｓ．Ｓｉｇと制御信号Ｔｒａ．ＳｉｇをＬＯＷにして、ＰＤ５０１とＦＤ５０４のリセットを止める。時刻ｔ２から正常画素処理と同様に蓄積処理を開始するが、時刻ｔ１〜ｔ２と同様のリセット動作を垂直同期信号に同期して定期的に行う。これは垂直同期信号とリセット動作を同期させて短秒蓄積時と全く同じ制御にすることにより、リセット動作が複雑にならないというメリットがある。
【００４４】
ここでは、時刻ｔ３〜ｔ４、ｔ５〜ｔ６、ｔ７〜ｔ８の期間にリセット動作を行っている。なお、本実施例では垂直同期信号に同期してリセットを行っているが、そのほかのタイミングに同期しても良い。時刻ｔ９以降は、図８（ａ）の正常画素処理と同様の信号読み出し処理となるため、説明を省略する。
【００４５】
以上説明したように、本実施形態によれば、予めブルーミングキズが発生する恐れのある欠陥画素に対し、蓄積時間中にリセット処理を行うことで、当該欠陥画素の電荷が隣接画素へ流出するのを防ぎ、ブルーミングキズの発生を抑制することができる。なお、本実施例では、垂直同期信号に同期して画素のリセット処理を行うことで、ブルーミングキズの発生を抑制したが、リセット処理の周期は任意に行っても良い。また、欠陥画素グループ毎に行うリセット処理の周期を切り替えても良い。
【００４６】
（その他の実施例）
本発明は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
【符号の説明】
【００４７】
４０２  制御部
４０３  記憶部
５０１  フォトダイオード
５０２  転送トランジスタ
５０３  リセットトランジスタ
５０４  フローティングディフュージョン
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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