(57)【要約】【課題】種々のＣＩＤガス圧で分析を行う場合でも、マススペクトルの質量電荷比軸のずれを軽減することのできる三連四重極型質量分析装置を提供する。【解決手段】三連四重極型質量分析装置においてコリジョンセル１４での解離操作を伴うＭＳ／ＭＳ分析の測定モードに対応する、ＣＩＤガス圧をパラメータとした質量電荷比と較正値との関係を示す質量較正情報を記憶しておく較正情報記憶手段２２と、実行される測定モード及び指定されたＣＩＤガス圧に応じた質量較正情報を較正情報記憶手段２２から読み出し、該情報を用いて前段四重極１３及び後段四重極１６をそれぞれ駆動することにより、検出器１７により検出されるイオンの質量電荷比を較正する制御手段２０とを設ける。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
試料をイオン化するイオン源と、該イオン源で生成された各種イオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンをプリカーサイオンとして選別するための前段四重極と、該プリカーサイオンを衝突誘起解離ガスと衝突させて解離させるコリジョンセルと、その解離により生成した各種プロダクトイオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンを選別するための後段四重極と、該後段四重極を通過したイオンを検出する検出器と、を具備する三連四重極型質量分析装置であって、
a)前記コリジョンセルでの解離操作を伴うＭＳ／ＭＳ分析の測定モード毎に、衝突誘起解離ガス圧をパラメータとした質量電荷比と較正値との関係を示す質量較正情報を記憶しておく較正情報記憶手段と、
b)実行される測定モード及び指定された衝突誘起解離ガス圧に応じた質量較正情報を前記較正情報記憶手段から読み出し、該情報を用いて前記前段四重極及び前記後段四重極をそれぞれ駆動することにより、前記検出器により検出されるイオンの質量電荷比を較正する制御手段と、
を備えることを特徴とする三連四重極型質量分析装置。
【請求項２】
試料をイオン化するイオン源と、該イオン源で生成された各種イオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンをプリカーサイオンとして選別するための前段四重極と、該プリカーサイオンを解離させるコリジョンセルと、その解離により生成した各種プロダクトイオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンを選別するための後段四重極と、該後段四重極を通過したイオンを検出する検出器と、を具備する三連四重極型質量分析装置であって、
a)前記コリジョンセルでの解離操作を伴うＭＳ／ＭＳ分析において前段四重極の質量スキャンを行う場合の衝突誘起解離ガス圧をパラメータとした質量電荷比と較正値との関係を示す質量較正情報及び後段四重極の質量スキャンを行う場合の衝突誘起解離ガス圧をパラメータとした質量電荷比と較正値との関係を示す質量較正情報を記憶しておく較正情報記憶手段と、
b)実行されるＭＳ／ＭＳ分析の測定モードに応じて、前記較正情報記憶手段に記憶されている質量較正情報の中で必要な組み合わせを選択するとともに、指定された衝突誘起解離ガス圧に応じた質量較正情報を読み出し、該情報を用いて前記前段四重極及び前記後段四重極をそれぞれ駆動することにより、前記検出器により検出されるイオンの質量電荷比を較正する制御手段と、
を備えることを特徴とする三連四重極型質量分析装置。
【請求項３】
前記較正情報記憶手段が、前記質量較正情報として、前記衝突誘起解離ガス圧に加えて質量スキャンの速度をパラメータとした質量較正情報を記憶することを特徴とする請求項１又は２に記載の三連四重極型質量分析装置。
【請求項４】
試料をイオン化するイオン源と、該イオン源で生成された各種イオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンをプリカーサイオンとして選別するための前段四重極と、該プリカーサイオンを衝突誘起解離ガスと衝突させて解離させるコリジョンセルと、その解離により生成した各種プロダクトイオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンを選別するための後段四重極と、該後段四重極を通過したイオンを検出する検出器と、を具備する三連四重極型質量分析装置であって、
a)質量電荷比が既知の標準試料についてユーザより指定された衝突誘起解離ガス圧下で前記コリジョンセルにおける前記プリカーサイオンの解離を伴う分析を行って取得された、質量電荷比と較正値との関係を示す質量較正情報を記憶する較正情報記憶手段と、
b)前記衝突誘起解離ガス圧による目的試料のＭＳ／ＭＳ分析を実行する際に、前記質量較正情報を前記較正情報記憶手段から読み出し、該情報を用いて前記前段四重極及び前記後段四重極をそれぞれ駆動することにより、前記検出器により検出されるイオンの質量電荷比を較正する制御手段と、
を備えることを特徴とする三連四重極型質量分析装置。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれかに記載の三連四重極型質量分析装置であって、
前記較正値は質量電荷比の較正値のほか質量分解能を調整するための較正値も含み、前記制御手段は、前記検出器により検出されるイオンの質量電荷比の較正と同時に、質量分解能の調整も実行することを特徴とする三連四重極型質量分析装置。
【請求項６】
コンピュータを請求項１〜５のいずれかに記載の三連四重極型質量分析装置の各手段として機能させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、三連四重極型質量分析装置及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
四重極型質量分析装置では、測定対象イオンの質量電荷比（m/z）に応じた電圧（直流電圧と高周波電圧とが加算された電圧）を四重極マスフィルタに印加することにより、前記測定対象イオンを選択的に四重極マスフィルタを通過させて検出器で検出する。四重極マスフィルタの機械的な誤差や電気回路の特性のばらつき、使用環境条件等のため、多くの場合、目的とする質量電荷比を持つイオンが選択的に四重極マスフィルタを通過するような制御がなされた状態において、その目的の質量電荷比と実際に検出されるイオンの質量電荷比とにはずれが生じる。そこで、この質量電荷比のずれを補正するために、通常、測定にあたって質量較正（質量電荷比の較正）が実施される。
【０００３】
質量較正作業においては、特許文献１に記載のように、まず質量電荷比の理論値が既知である成分を含む標準試料を測定し、そのときの質量電荷比の実測値と理論値とを比較することにより該質量電荷比における質量偏差を求め、これを較正値としてメモリに記憶しておく。そして、目的試料の測定に際して、制御部はメモリから目的とする質量電荷比に対応した較正値を読み出し、それを用いて質量偏差がゼロになるように四重極マスフィルタに印加する電圧を補正する。その結果、目的とする質量電荷比を有するイオンが四重極マスフィルタを選択的に通過し、検出器に到達して検出されるようになる。
【０００４】
ところで、分子量が大きな物質の同定やその構造の解析を行うために、質量分析の一つの手法としてＭＳ／ＭＳ分析と呼ばれる手法が広く用いられている。ＭＳ／ＭＳ分析を実施するための質量分析装置としては種々の構成のものがあるが、構造が比較的簡単で廉価であることから、三連四重極型質量分析装置が広く利用されている。
【０００５】
特許文献２などに開示されているように、一般的な三連四重極型質量分析装置は、前段の四重極マスフィルタ（以下、「前段四重極」と称す）と後段の四重極マスフィルタ（以下、「後段四重極」と称す）との間に、イオンを衝突誘起解離（ＣＩＤ＝Collision Induced Dissociation）により解離させるコリジョンセル（衝突室）を備える。このコリジョンセル内には、イオンを収束させつつ輸送するために四重極（又はそれ以上の多重極）型のイオンガイドが配設される。
【０００６】
試料から生成された各種イオンが前段四重極に導入されると、該前段四重極は特定の質量電荷比を有するイオンのみをプリカーサイオンとして選択的に通過させる。コリジョンセル内にはアルゴンガスなどの衝突誘起解離ガス（ＣＩＤガス）が導入され、コリジョンセル内に導入された上記プリカーサイオンはＣＩＤガスと衝突し、解離して各種のプロダクトイオンが生成される。プリカーサイオンや各種のプロダクトイオンは四重極型イオンガイドにより形成される高周波電場の作用で収束される。ＣＩＤにより生成された各種プロダクトイオンが後段四重極に導入されると、該後段四重極は特定の質量電荷比を有するプロダクトイオンのみを選択的に通過させ、後段四重極を通過し得たプロダクトイオンが検出器に到達して検出される。
【０００７】
このような三連四重極型質量分析装置では、多重反応モニタリング（ＭＲＭ＝Multiple Reaction Monitoring）測定、プロダクトイオンスキャン測定、プリカーサイオンスキャン測定、ニュートラルロススキャン測定など、様々なモードのＭＳ／ＭＳ分析が可能である。
【０００８】
ＭＲＭ測定では、前段四重極と後段四重極とを通過し得るイオンの質量電荷比をそれぞれ固定し、特定のプリカーサイオンに対する特定のプロダクトイオンの強度を測定する。プロダクトイオンスキャン測定では、前段四重極を通過するイオンの質量電荷比を或る値に固定する一方、後段四重極を通過するイオンの質量電荷比を所定質量範囲で走査（スキャン）する。これにより、特定のプリカーサイオンに対するプロダクトイオンのマススペクトルを取得することができる。
【０００９】
プリカーサイオンスキャン測定ではプロダクトイオンスキャン測定とは逆に、後段四重極を通過するイオンの質量電荷比を或る値に固定する一方、前段四重極を通過するイオンの質量電荷比を所定質量範囲でスキャンする。これにより、特定のプロダクトイオンを生成するプリカーサイオンのマススペクトルを取得することができる。ニュートラルロススキャン測定では、前段四重極を通過するイオンの質量電荷比と後段四重極を通過するイオンの質量電荷比との差（つまりニュートラルロス）を一定に保ちつつ前段四重極及び後段四重極においてそれぞれ所定の質量範囲で質量スキャンを行う。これにより、特定のニュートラルロスを有するプリカーサイオン／プロダクトイオンのマススペクトルを取得することができる。
【００１０】
当然のことながら、三連四重極型質量分析装置では、コリジョンセル内でイオンのＣＩＤを行わずに通常のスキャン測定や選択イオンモニタリング（ＳＩＭ＝Selected Ion Monitoring）測定を行うことも可能である。この場合には、前段四重極又は後段四重極の一方では質量電荷比に応じたイオンの選択動作は行われず、全てのイオンがその四重極を通過する。
【００１１】
上述したように三連四重極型質量分析装置は前段及び後段の二つの四重極マスフィルタを備えるため、プリカーサイオンの選択性やプロダクトイオンの選択性を高めるには、前段と後段とでそれぞれ独立に質量較正を行う必要がある。従来の三連四重極型質量分析装置では一般に、ＭＳ／ＭＳ分析のための質量較正情報は、標準試料を用いた或る低速のスキャン速度のＭＳ分析による実測結果に基づいて前段四重極と後段四重極とで独立に作成されている。しかしながら、このようにして求められた質量較正情報に基づいて質量較正を行った場合、プリカーサイオンスキャンやニュートラルロススキャンなどの測定モードにおいてスキャン速度が速くなるに従いマススペクトルにおける質量電荷比軸のずれが大きくなるという問題があった。
【００１２】
また、質量分解能についても質量較正と同様に標準試料を用いた或る低速のスキャン速度のＭＳ分析による実測結果を利用した調整が行われているが、プリカーサイオンスキャンやニュートラルロススキャンなどの測定モードにおいてスキャン速度が速くなるに従い質量分解能が低下する（一つの成分に対するピークプロファイルのピーク幅が太くなる）か、或いは、質量分解能が低下しない場合でもイオンの通過量が減じて感度が大きく低下するという問題があった。
【００１３】
近年、測定対象物質はますます複雑化する一方、分析作業の効率アップや分析の質の向上も強く求められている。例えば、液体クロマトグラフ（ＬＣ）と三連四重極型質量分析装置とを組み合わせた装置では、試料に含まれる多種の成分の分子量測定と併せて構造情報を取得するために、ＭＲＭ測定や通常のスキャン測定をトリガとしたプロダクトイオンスキャン測定が行われる場合がある。こうした場合、ピーク当たりのデータ点数を十分に確保するため、或いは、正負イオン両方で更には複数のコリジョンエネルギー条件の下でプロダクトイオンスキャン測定を行うためには、スキャン速度を高速にしてより短い時間単位でスキャン測定を繰り返す必要がある。そうした要求を満たすために質量スキャンの高速化は必須であり、上述したような質量電荷比軸のずれや質量分解能の低下などの問題は一層顕著になる。
【００１４】
そこで、本発明者らは、特許文献３において、スキャン速度をパラメータとした質量電荷比と較正値（又は分解能調整値）との関係を示す質量較正情報をＭＳ分析及びＭＳ／ＭＳ分析の測定モード毎に記憶しておき、実行される測定モード及び指定されたスキャン速度に応じた質量較正値（又は分解能調整値）を用いて前段四重極及び後段四重極をそれぞれ駆動することで検出器で検出されるイオンの質量電荷比を較正する機能を備えた三連四重極型質量分析装置を提案している。上記特許文献３に記載の三連四重極型質量分析装置によれば、高速スキャンを伴うＭＳ／ＭＳ分析を行う場合でも、マススペクトルの質量電荷比軸のずれや質量分解能の低下を軽減して高質量精度、高質量分解能のマススペクトルを得ることが可能となる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１５】
【特許文献１】特開平11-183439号公報
【特許文献２】特開平7-201304号公報
【特許文献３】特開2012-159336号公報
【特許文献４】特開2012-043721号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１６】
上記従来のスキャン速度をパラメータとした質量較正機能を備えた三連四重極型質量分析装置は、コリジョンセルにおけるＣＩＤガス圧の設定可能範囲が比較的小さい場合には特に問題を生じない。しかしながら、近年、コリジョンセルにおけるＣＩＤ効率（イオンの解離効率）向上のため、三連四重極型質量分析装置におけるＣＩＤガス圧の設定可能範囲の上限が高められる傾向にある。こうしたＣＩＤガス圧の設定可能範囲が広い質量分析装置において、或るＣＩＤ圧下で取得した質量較正値や分解能調整値を利用して、前記ＣＩＤガス圧と大きく異なるＣＩＤガス圧の下で試料分析を行うと、質量電荷比軸がずれたり、分解能が低下してピーク形状が悪化したりするという問題が生じていた。
【００１７】
上記従来の三連四重極型質量分析装置による測定で得られる特定のピークプロファイル波形の実測例を図６に示す。なお、これらの実測例では、質量電荷比軸のずれが観察しやすいよう、後述する前段四重極スキャン測定モードにおいてコリジョンセルにＣＩＤガスを導入して測定を行った結果を示している。また、これらの実測例は、いずれもＣＩＤガス圧190kPaで取得した質量較正値及び分解能調整値を用いて、上述のようなスキャン速度をパラメータとした質量較正及び分解能調整を行ったものである。各測定の実行時におけるＣＩＤガス圧は（ａ）、（ｂ）が前記質量較正値及び分解能調整値の取得時と同じ190kPa、（ｃ）はそれより高圧の300kPa、（ｄ）は更に高圧の330kPaである。また、各測定の実行時における前段四重極のスキャン速度は（ａ）が30u/s、（ｂ）〜（ｄ）が300u/sである。前記質量較正値及び分解能調整値の取得時と同一のＣＩＤガス圧下で測定された（ａ）、（ｂ）では、いずれも縦線で示すセントロイドピークがグラフ横軸上のほぼ中央にあり、質量電荷比軸にずれがないことが分かる。これに対し、質量較正値及び分解能調整値の取得時よりも高いＣＩＤガス圧下で測定された（ｃ）、（ｄ）では、いずれも質量スキャン速度が前記（ｂ）と同じであるにもかかわらず、質量電荷比軸にずれが生じており、特に、ＣＩＤガス圧がより高い（ｄ）において大きなずれがみられる。また、（ｃ）及び（ｄ）では、（ａ）及び（ｂ）に比べてピーク形状が悪化しており、質量分解能が適切に調整されていないことが分かる。
【００１８】
本発明は上記の点に鑑みて成されたものであり、その主な目的とするところは、種々のＣＩＤガス圧で分析を行う場合でも、マススペクトルの質量電荷比軸のずれを軽減することのできる三連四重極型質量分析装置を提供することにある。また、本発明の別の目的は、種々のＣＩＤガス圧で分析を行う場合でも、質量分解能の低下を軽減することのできる三連四重極型質量分析装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
上記課題を解決するために成された第１発明は、試料をイオン化するイオン源と、該イオン源で生成された各種イオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンをプリカーサイオンとして選別するための前段四重極と、該プリカーサイオンを衝突誘起解離ガスと衝突させて解離させるコリジョンセルと、その解離により生成した各種プロダクトイオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンを選別するための後段四重極と、該後段四重極を通過したイオンを検出する検出器と、を具備する三連四重極型質量分析装置であって、
a)前記コリジョンセルでの解離操作を伴うＭＳ／ＭＳ分析の測定モード毎に、衝突誘起解離ガス圧をパラメータとした質量電荷比と較正値との関係を示す質量較正情報を記憶しておく較正情報記憶手段と、
b)実行される測定モード及び指定された衝突誘起解離ガス圧に応じた質量較正情報を前記較正情報記憶手段から読み出し、該情報を用いて前記前段四重極及び前記後段四重極をそれぞれ駆動することにより、前記検出器により検出されるイオンの質量電荷比を較正する制御手段と、
を備えることを特徴としている。
【００２０】
また上記課題を解決するために成された第２発明は、試料をイオン化するイオン源と、該イオン源で生成された各種イオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンをプリカーサイオンとして選別するための前段四重極と、該プリカーサイオンを解離させるコリジョンセルと、その解離により生成した各種プロダクトイオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンを選別するための後段四重極と、該後段四重極を通過したイオンを検出する検出器と、を具備する三連四重極型質量分析装置であって、
a)前記コリジョンセルでの解離操作を伴うＭＳ／ＭＳ分析において前段四重極の質量スキャンを行う場合の衝突誘起解離ガス圧をパラメータとした質量電荷比と較正値との関係を示す質量較正情報及び後段四重極の質量スキャンを行う場合の衝突誘起解離ガス圧をパラメータとした質量電荷比と較正値との関係を示す質量較正情報を記憶しておく較正情報記憶手段と、
b)実行されるＭＳ／ＭＳ分析の測定モードに応じて、前記較正情報記憶手段に記憶されている質量較正情報の中で必要な組み合わせを選択するとともに、指定された衝突誘起解離ガス圧に応じた質量較正情報を読み出し、該情報を用いて前記前段四重極及び前記後段四重極をそれぞれ駆動することにより、前記検出器により検出されるイオンの質量電荷比を較正する制御手段と、
を備えることを特徴としている。
【００２１】
第１発明及び第２発明において、ＭＳ／ＭＳ分析の測定モードとは典型的には、ＭＲＭ測定、プリカーサイオンスキャン測定、プロダクトイオンスキャン測定、及びニュートラルロススキャン測定である。
【００２２】
また、衝突誘起解離ガス圧をパラメータとした質量電荷比と較正値との関係を示す質量較正情報の具体例としては、行方向又は列方向の一方向に配列された複数のセルがそれぞれ異なる質量電荷比に対する較正値を設定するための欄であり、行方向又は列方向の他方向に配列された複数のセルがそれぞれ異なる衝突誘起解離ガス圧に対する較正値を設定するための欄である、２次元的なテーブルとすることができる。
【００２３】
第１発明及び第２発明に係る三連四重極型質量分析装置はいずれも、コリジョンセルでのイオンの解離操作を伴うＭＳ／ＭＳ分析の際に用いられる質量較正情報を較正情報記憶手段に保持している。第１発明と第２発明との相違は、第１発明では上述したようなＭＳ／ＭＳ分析の各測定モードに対応してそれぞれ質量較正情報を有しているのに対し、第２発明ではＭＳ／ＭＳ分析の各測定モードに共通である前段四重極用の質量較正情報と後段四重極用の質量較正情報とを有しているという点である。
【００２４】
したがって、第１発明に係る三連四重極型質量分析装置では例えば、プロダクトイオンスキャン測定とニュートラルロススキャン測定とでいずれも後段四重極の質量スキャンを実施するが、両測定モードで異なる質量較正情報を用いた後段四重極の質量較正を行うことが可能である。一方、第２発明に係る三連四重極型質量分析装置では例えば、プロダクトイオンスキャン測定とニュートラルロススキャン測定とで異なる質量較正情報を用いた後段四重極の質量較正を行うことはできないが、保持しておくべき質量較正情報の量が少なくて済むという利点がある。
【００２５】
第１発明及び第２発明のいずれにおいても、制御手段は、実行されるＭＳ／ＭＳ分析の測定モード及び指定された衝突誘起解離ガス圧に対応した質量較正情報を較正情報記憶手段から取得し、該情報を用いて前段四重極及び後段四重極をそれぞれ駆動する。
【００２６】
なお、本発明における較正情報記憶手段は、前記質量較正情報として、前記衝突誘起解離ガス圧に加えて質量スキャンの速度をパラメータとした、質量電荷比と較正値との関係を示す質量較正情報を記憶するものとすることが望ましい。
【００２７】
このような構成とすることにより、実行されるＭＳ／ＭＳ分析の測定モード及び指定された衝突誘起解離ガス圧（ＣＩＤガス圧）に加え、指定された質量スキャンの速度をも考慮した質量較正を行うことが可能となる。なお、このように、衝突誘起解離ガス圧及び質量スキャンの速度をパラメータとした質量電荷比と較正値との関係を示す質量較正情報の具体例としては、例えば、複数の衝突誘起解離ガス圧の値に対応した複数の二次元的テーブルから成るものとすることができる。前記複数の二次元的テーブルは、それぞれ対応する衝突誘起解離ガス圧下でのＭＳ／ＭＳ分析時における質量スキャン速度及び質量電荷比と較正値との関係を示すものであり、例えば、行方向又は列方向の一方向に配列された複数のセルをそれぞれ異なる質量電荷比に対する較正値を設定するための欄とし、行方向又は列方向の他方向に配列された複数のセルをそれぞれ異なる質量スキャン速度を設定するための欄とする。
【００２８】
なお、上記構成において、例えばＭＲＭ測定やプロダクトイオンスキャン測定のように、前段四重極及び／又は後段四重極を通過させるイオンの質量電荷比が固定されている測定モードを実行する場合には、その測定モードに対応した前段四重極及び／又は後段四重極の質量較正情報の中で最も遅いスキャン速度に対応した質量較正情報が用いられる。
【００２９】
上記課題を解決するために成された第３発明は、試料をイオン化するイオン源と、該イオン源で生成された各種イオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンをプリカーサイオンとして選別するための前段四重極と、該プリカーサイオンを衝突誘起解離ガスと衝突させて解離させるコリジョンセルと、その解離により生成した各種プロダクトイオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンを選別するための後段四重極と、該後段四重極を通過したイオンを検出する検出器と、を具備する三連四重極型質量分析装置であって、
a)質量電荷比が既知の標準試料についてユーザより指定された衝突誘起解離ガス圧下で前記コリジョンセルにおける前記プリカーサイオンの解離を伴う分析を行って取得された、質量電荷比と較正値との関係を示す質量較正情報を記憶する較正情報記憶手段と、
b)前記衝突誘起解離ガス圧による目的試料のＭＳ／ＭＳ分析を実行する際に、前記質量較正情報を前記較正情報記憶手段から読み出し、該情報を用いて前記前段四重極及び前記後段四重極をそれぞれ駆動することにより、前記検出器により検出されるイオンの質量電荷比を較正する制御手段と、
を備えることを特徴としている。
【００３０】
ここで、「前記コリジョンセルにおける前記プリカーサイオンの解離を伴う分析」とは、典型的にはＭＳ／ＭＳ分析であるが、前段四重極又は後段四重極のいずれか一方のみで質量電荷比によるイオンの選別を行うＭＳ分析（例えば、後述の前段四重極スキャン測定）においてコリジョンセルにＣＩＤガスを導入して行った分析であってもよい。また、「質量電荷比が既知の標準試料」とは該標準試料について前記「コリジョンセルにおけるプリカーサイオンの解離を伴う分析」を行った場合に検出器で検出されるイオン（プロダクトイオン）の質量電荷比が既知であることを意味している。
【００３１】
上記第３発明では、第１発明及び第２発明のように複数の衝突誘起解離ガス圧について質量較正情報を記憶するのでなく、ユーザが指定した衝突誘起解離ガス圧に関する質量較正情報のみを較正情報記憶手段に記憶し、該衝突誘起解離ガス圧による目的試料のＭＳ／ＭＳ分析をする際に、該質量較正情報を用いた質量較正を実行する。このような構成によれば、保持しておくべき質量較正情報の量が一層少なくて済むという利点がある。なお、前記「ユーザより指定された衝突誘起解離ガス圧下で前記コリジョンセルにおける前記プリカーサイオンの解離を伴う分析を行って取得された、質量電荷比と較正値との関係を示す質量較正情報」は、前記「ユーザより指定された衝突誘起解離ガス圧下」で、ユーザが指定した一つの測定モードによる分析を行って得られたものであってもよく、あるいは前記「ユーザより指定された衝突誘起解離ガス圧下」で種々の測定モードによる分析を行って取得されたものであってもよい。前者の場合、制御手段は前記一つの測定モードによる分析を行って得られた質量較正情報を前記較正情報記憶手段から読み出し、該情報に基づいて前段四重極及び後段四重極をそれぞれ駆動するものとする。一方、後者の場合、較正情報記憶手段に記憶される質量較正情報は、前記「ユーザより指定された衝突誘起解離ガス圧」下における質量電荷比と較正値との関係を測定モード毎に記述したものとなるため、制御手段は実行されるＭＳ／ＭＳ分析の測定モードに応じた質量較正情報を前記較正情報記憶手段読み出し、該情報に基づいて前段四重極及び後段四重極をそれぞれ駆動するものとする。
【００３２】
なお、上記第３発明においても、衝突誘起解離ガス圧に加えて質量スキャンの速度も考慮した質量較正を行う構成とすることが望ましい。この場合、較正情報記憶手段には、ユーザが指定した衝突誘起解離ガス圧下で質量スキャン速度（又は測定モードと質量スキャン速度）を種々に変えながら標準試料についてコリジョンセルにおけるプリカーサイオンの解離を伴う分析を行って取得した質量較正情報を較正情報記憶手段に記憶し、目的試料を前記衝突誘起解離ガス圧下でＭＳ／ＭＳ分析する際に、該分析に適用する質量スキャン速度（又は測定モードと質量スキャン速度）に対応した質量較正情報を制御手段が前記較正情報記憶手段から読み出し、該情報を用いて質量電荷比の較正を行うものとする。
【００３３】
また、上記第１発明、第２発明、又は第３発明は、前記較正値が質量電荷比の較正値のほか質量分解能を調整するための較正値も含み、前記制御手段が、前記検出器により検出されるイオンの質量電荷比の較正と同時に、質量分解能の調整も実行するものとすることが望ましい。
【発明の効果】
【００３４】
このように本発明に係る三連四重極型質量分析装置によれば、ＭＳ／ＭＳ分析において種々の衝突誘起解離ガス圧（ＣＩＤガス圧）下で分析を行った場合でも、その衝突誘起解離ガス圧に応じた適切な質量較正が行われるので、マススペクトル（ＭＳ／ＭＳスペクトル）の質量電荷比軸のずれを抑えることができる。それにより、質量精度の高いマススペクトルを取得することができ、目的成分の定量精度や構造解析の精度を向上させることができる。
【００３５】
また、上記のように衝突誘起解離ガス圧に応じた適切な質量較正のみならず質量分解能の調整も行う構成とした場合には、マススペクトル（ＭＳ／ＭＳスペクトル）の質量分解能の低下や感度の低下も抑えることができ、目的成分の定量精度や構造解析の精度を一層向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００３６】
【図１】本発明の一実施例である三連四重極型質量分析装置の概略構成図。
【図２】ＭＳ分析及びＭＳ／ＭＳ分析における前段四重極（Ｑ１）及び後段四重極（Ｑ３）の駆動モードを示す図。
【図３】質量較正テーブル記憶部に格納されるテーブルの内容を示す模式図。
【図４】質量較正テーブルの具体例を示す図。
【図５】三連四重極型質量分析装置による実測例を示す図であって、（ａ）は従来装置を用いて得られたピークプロファイル波形、（ｂ）は本発明に係る装置を用いて得られたピークプロファイル波形である。
【図６】従来の三連四重極型質量分析装置による実測例を示す図。
【発明を実施するための形態】
【００３７】
以下、本発明の一実施例である三連四重極型質量分析装置について添付図面を参照して説明する。図１は本実施例の三連四重極型質量分析装置の概略構成図である。
【００３８】
本実施例の三連四重極型質量分析装置は、図示しない真空ポンプにより真空排気される分析室１１の内部に、測定対象である試料をイオン化するイオン源１２と、それぞれ４本のロッド電極から成る前段四重極マスフィルタ（前段四重極）１３及び後段四重極マスフィルタ（後段四重極）１６と、内部に多重極型イオンガイド１５が配設されたコリジョンセル１４と、イオンを検出してイオン量に応じた検出信号を出力する検出器１７と、を備える。流路切替部１０は、例えば図示しないガスクロマトグラフから供給される測定対象である試料と較正・調整用の標準試料とを切り替えてイオン源１２に供給する。標準試料としては、ＰＥＧ（ポリエチレングリコール）、ＴＦＡ（トリフルオロ酢酸）、ＰＦＴＢＡ（パーフルオロトリブチルアミン）など、様々な化合物を用いることができる。試料が気体である場合にはイオン源１２としてＥＩ（電子イオン化）法、ＣＩ（化学イオン化）法などによる試料のイオン化を行うものが用いられ、試料が液体である場合には、イオン源１２としてＥＳＩ（エレクトロスプレーイオン化）法、ＡＰＣＩ（大気圧化学イオン化）法、ＡＰＰＩ（大気圧光イオン化法）法などの大気圧イオン化法による試料のイオン化を行うものが用いられる。なお、大気圧イオン化法による試料のイオン化を行う場合には、イオン源１２は分析室１１の外部に設けられ、該イオン源１２については上記真空ポンプによる真空排気は行わない構成とされる。この場合、イオン源１２と分析室１１の間には脱溶媒部が設けられ、イオン源１２で生成されたイオンは該脱溶媒部を介して分析室１１に導入される。
【００３９】
入力部２９や表示部３０が接続された制御部２０は、自動／手動調整制御部２１、質量較正テーブル記憶部２２、分解能調整テーブル記憶部２３、などを含む。制御部２０による制御の下で、前段四重極１３にはＱ１電源部２４から、多重極型イオンガイド１５にはｑ２電源部２６から、後段四重極１６にはＱ３電源部２７から、それぞれ所定の電圧が印加される。また、制御部２０による制御の下で、コリジョンセル１４にはＣＩＤガス供給部２５によりヘリウムガスやアルゴンガス等から成る衝突誘起解離ガス（ＣＩＤガス）が供給される。検出器１７による検出信号（イオン強度信号）はデータ処理部２８に入力され、データ処理部２８では所定のデータ処理が実行されてマススペクトル等が作成される。なお、制御部２０やデータ処理部２８はパーソナルコンピュータをハードウエアとして、該コンピュータにインストールされた専用の制御・処理ソフトウエアを実行することにより具現化される機能ブロックである。
【００４０】
周知のように、制御部２０による制御の下でＱ１電源部２４から前段四重極１３に印加される電圧及びＱ３電源部２７から後段四重極１６に印加される電圧はいずれも、直流電圧に高周波電圧が加算された電圧である。また、ｑ２電源部２６から多重極型イオンガイド１５に印加される電圧はイオン収束用の高周波電圧である。ただし、一般には、四重極１３、１６、イオンガイド１５には更に直流バイアス電圧も印加される。
【００４１】
本実施例の三連四重極型質量分析装置では、コリジョンセル１４でのイオンの解離操作を行わない通常のＭＳ分析として、前段四重極ＳＩＭ測定、前段四重極スキャン測定、後段四重極ＳＩＭ測定、後段四重極スキャン測定の４つの測定モードが用意されている。また、コリジョンセル１４でのイオンの解離操作を行うＭＳ／ＭＳ分析として、ＭＲＭ測定、プリカーサイオンスキャン測定、プロダクトイオンスキャン測定、ニュートラルロススキャン測定の４つの測定モードが用意されている。これら各測定モードにおいて、前段四重極（図では「Ｑ１」と記す）１３及び後段四重極（図では「Ｑ３」と記す）１６の駆動モードを示したのが図２である。
【００４２】
図２において「ＳＩＭ」とは、ＳＩＭ測定と同様に、指定された特定の質量電荷比（m/z）のイオンのみを通過させるように四重極を駆動することを意味する。また、「スキャン」とはスキャン測定と同様に、指定されたスキャン測定で指定された質量電荷比範囲の質量スキャンを行うように四重極を駆動することを意味する。図２から明らかなように、ＭＳ分析では、前段四重極１３又は後段四重極１６のいずれか一方が、ＳＩＭ駆動モード又はスキャン駆動モードのいずれかに設定される。ＭＳ／ＭＳ分析では、前段四重極１３及び後段四重極１６はそれぞれＳＩＭ駆動モード又はスキャン駆動モードのいずれかに設定される。
【００４３】
図３は質量較正テーブル記憶部２２に格納されるテーブル内容を示す模式図である。図示するように、質量較正テーブル記憶部２２に格納されるテーブルは、ＭＳ分析用質量較正テーブル群２２ＡとＭＳ／ＭＳ分析用質量較正テーブル群２２Ｂとに大別される。ＭＳ分析用質量較正テーブル群２２Ａは、Ｑ１質量分析用質量較正テーブル２２Ａ１とＱ３質量分析用質量較正テーブル２２Ａ２の二つの質量較正テーブルを含んでいる。一方、ＭＳ／ＭＳ分析用質量較正テーブル群２２Ｂは、それぞれ複数の質量較正テーブルから成るＱ１スキャン用質量較正テーブルセット２２Ｂ１とＱ３スキャン用質量較正テーブルセット２２Ｂ２を含んでいる。
【００４４】
一つの質量較正テーブルは、行方向に異なるスキャン速度（S1, S2, … Sn）、列方向に異なる質量電荷比（M1, M2, … Mn）をそれぞれパラメータとした各セルに質量偏差値を記載した２次元テーブルである。このテーブルは、スキャン速度毎に質量電荷比と質量偏差との関係を示していると捉えることができる。なお、ＭＳ分析ではコリジョンセル１４におけるイオンの解離操作を行わないため、ＭＳ分析における質量較正ではＣＩＤガス圧を考慮する必要はない。
【００４５】
一方、Ｑ１スキャン用質量較正テーブルセット２２Ｂ１及びＱ３スキャン用質量較正テーブルセット２２Ｂ２に含まれる複数の質量較正テーブルは、いずれも上記同様に行方向に異なるスキャン速度（S1, S2, … Sn）、列方向に異なる質量電荷比（M1, M2, … Mn）をとって各セルに質量偏差値を記載した２次元テーブルを複数含んで成るものであり、各質量較正テーブルは、それぞれ異なるＣＩＤ圧（P1, P2, … Pn）に対応している（図３参照）。すなわち、これらの質量較正テーブルセット２２Ｂ１、２２Ｂ２は、様々なＣＩＤ圧とスキャン速度の組み合わせ毎に質量電荷比と質量偏差との関係を記述したものと捉えることができる。
【００４６】
図４に、ＭＳ／ＭＳ分析用質量較正テーブル群２２Ｂに属する二つの質量較正テーブルセット２２Ｂ１、２２Ｂ２にそれぞれ含まれる複数の質量較正テーブルの内の一つについて実例を示す。例えば、図中上段の質量較正テーブルは、Ｑ１スキャン用質量較正テーブルセット２２Ｂ１に属する質量較正テーブルの一つであって、ＣＩＤ圧が200kPaのときに適用される質量較正値を示したものであり、同テーブルの１行目の各セルは、左端から右方に向かって、スキャン速度が最低である125u/sの下での、m/z65.05、m/z168.10、m/z344.20、m/z652.40、m/z1004.60、m/z1312.80における質量偏差値を示している。
【００４７】
本実施例の三連四重極型質量分析装置では、目的試料を測定するに先立つ適宜の時点で、標準試料を分析した結果に基づいて上述したような質量較正テーブルを予め作成しておく。質量較正テーブルの作成手法、つまり各質量電荷比に対応した質量偏差値の求め方には、自動調整による方法と手動調整による方法とがある。自動調整による場合には以下の手順で質量較正テーブルを作成する。
【００４８】
（１）Ｑ１質量分析用質量較正テーブルの作成
自動調整が指示されると、自動／手動調整制御部２１は標準試料がイオン源１２に連続的に導入されるように流路切替部１０を制御する。また、イオンが後段四重極１６を素通りするように（質量電荷比による選別が実施されないように）Ｑ３電源部２７を制御する。この場合、Ｑ３電源部２７から後段四重極１６に対してはイオン選択用の電圧が印加されないか、或いは後段四重極１６が単なるイオンガイドとしてのみ機能するような電圧を印加する。また、コリジョンセル１４にはＣＩＤガスを供給しないか、又はＣＩＤガスを供給する場合にはコリジョンエネルギーが小さくなるように印加するバイアス電圧を調整し、コリジョンセル１４でのイオンの解離作用を抑え、調整に利用する質量電荷比のピーク感度が十分に得られるような状態とする。この状態で自動／手動調整制御部２１は、前段四重極１３において複数段階のスキャン速度S1, S2, … Snで所定の質量電荷比範囲の質量スキャンがなされるようにＱ１電源部２４を制御する。このときに前段四重極１３に印加される電圧は、例えば本装置がユーザに納入される段階で設定されているデフォルト値で決まるものとする。
【００４９】
データ処理部２８は、１回の質量スキャン毎に検出器１７から得られる検出信号に基づいて、スキャン速度毎に所定質量電荷比範囲のピークプロファイルを求める。なお、通常、ピークプロファイルは同一スキャン速度で実行された複数回のスキャン測定で得られるデータを積算することにより作成される。このピークプロファイルは質量スキャンの際の連続的なイオンの質量電荷比と信号強度との関係を表したものであり、ピークプロファイル上には標準試料に含まれる標準成分に対応したピーク波形が観測される。
【００５０】
標準成分の精密な質量電荷比（例えば理論値）は既知であり、仮に質量偏差がないとすると、ピークプロファイル上で観測される標準成分のピーク位置（例えばピーク波形の重心位置）から求まる質量電荷比の実測値と質量電荷比の理論値は一致する筈である。しかしながら、実際には様々な要因によって装置特有の又は同一装置でも時間経過や周囲環境によって変動する質量偏差が存在する。そこで自動／手動調整制御部２１は、標準成分のピークが現れる質量電荷比毎に、実測値と理論値との差つまり質量偏差値を求める。これがＱ１質量分析用質量較正テーブル２２Ａ１中に記載される質量偏差値となる。
【００５１】
（２）Ｑ３質量分析用質量較正テーブルの作成
次いで自動／手動調整制御部２１は、イオンが前段四重極１３を素通りするように（質量電荷比による選別が実施されないように）Ｑ１電源部２４を制御する。この場合、Ｑ１電源部２４から前段四重極１３に対してはイオン選択用の電圧が印加されないか、或いは前段四重極１３が単なるイオンガイドとしてのみ機能するような電圧を印加する。この状態で自動／手動調整制御部２１は、後段四重極１６において複数段階のスキャン速度S1, S2, … Snで所定の質量電荷比範囲のスキャンがなされるようにＱ３電源部２７を制御する。このときに後段四重極１６に印加される電圧も、例えば本装置がユーザに納入される段階で設定されているデフォルト値で決まるものとする。
【００５２】
前段四重極１３での質量スキャン時と同様に、データ処理部２８は、１回の質量スキャン毎に検出器１７から得られる検出信号に基づいて、スキャン速度毎に所定質量電荷比範囲のピークプロファイルを求める。そして自動／手動調整制御部２１は、標準成分のピークが現れる質量電荷比毎に、質量電荷比の実測値と理論値との差つまり質量偏差値を求める。これがＱ３質量分析用質量較正テーブル２２Ａ２中に記載される質量偏差値となる。
【００５３】
三連四重極型質量分析装置において、前段四重極１３及び後段四重極１６のいずれか一方のみで質量電荷比によるイオンの選別を行うＭＳ分析では、前段四重極１３を通過したイオンはコリジョンセル１４における衝突誘起解離を受けることなく後段四重極１６に導入される。そのため、ＭＳ分析用質量較正テーブル群２２Ａに属するＱ１質量分析用質量較正テーブル２２Ａ１及びＱ３質量分析用質量較正テーブル２２Ａ２を作成する際には、上述のように、コリジョンセル１４にＣＩＤガスを供給しないか、又はＣＩＤガスを供給する場合にはコリジョンエネルギーが小さくなるように印加するバイアス電圧を調整し、コリジョンセル１４でのイオンの解離作用を抑えた状態で上記ピークプロファイルが取得される。
【００５４】
一方、ＭＳ／ＭＳ分析では、前段四重極１３を通過したイオンがコリジョンセル１４における衝突誘起解離を受けた上で後段四重極１６に導入され、このときＣＩＤガスとの衝突によってイオンの通過速度が低下する。コリジョンセル１４におけるＣＩＤガス圧が高いほど前記通過速度の低下度合いが大きくなるため、或るＣＩＤガス圧下で得られた質量較正値を用いて、それとは異なるＣＩＤガス圧下で目的試料のＭＳ／ＭＳ分析を行うと、質量電荷比軸にずれが生じることとなる。そこで、本実施例の三連四重極型質量分析装置では、複数のＣＩＤガス圧下で上記のようなピークプロファイルを求めることにより、ＭＳ／ＭＳ分析用質量較正テーブル群２２Ｂに属するＱ１スキャン用質量較正テーブルセット２２Ｂ１とＱ３スキャン用質量較正テーブルセット２２Ｂ２を作成する。これらのテーブルセット２２Ｂ１、２２Ｂ２の作成手順を以下に説明する。
【００５５】
（３）Ｑ１スキャン用質量較正テーブルセットの作成
まず、自動／手動調整制御部２１が標準試料をイオン源１２に連続的に導入するように流路切替部１０を制御すると共に、イオンが後段四重極１６を素通りするように（質量電荷比による選別が実施されないように）Ｑ３電源部２７を制御する。更に、自動／手動調整制御部２１は、ＣＩＤガス供給部２５によるコリジョンセル１４へのＣＩＤガスの供給を制御することによりコリジョンセル１４内のＣＩＤガス圧を予め定められた値（P1）とする。そして、上記と同様にして前段四重極１３における質量スキャン、並びにデータ処理部２８によるピークプロファイルの作成及び質量偏差値の算出を行う。すなわち、自動／手動調整制御部２１が、前段四重極１３において複数段階のスキャン速度S1, S2, … Snで所定の質量電荷比範囲の質量スキャンがなされるようにＱ１電源部２４を制御する。そして、１回の質量スキャン毎に検出器１７から得られる検出信号に基づいて、データ処理部２８がスキャン速度毎に所定質量電荷比範囲のピークプロファイルを求めると共に、前記標準成分のピークが現れる質量電荷比毎に、実測値と理論値との差つまり質量偏差値を求める。これが、Ｑ１スキャン用質量較正テーブルセット２２Ｂ１に含まれる「Ｐ１用テーブル」中に記載される質量偏差値となる。
【００５６】
その後、自動／手動調整制御部２１は、ＣＩＤガス供給部２５を制御することにより、コリジョンセル１４内のＣＩＤガス圧をP2, P3, … Pnと段階的に変化させ、各段階において上記同様の質量スキャン、ピークプロファイル、及び質量偏差値の算出を行う。これにより得られた質量偏差値が、それぞれＱ１スキャン用質量較正テーブルセット２２Ｂ１に含まれる各質量較正テーブル（すなわち、図中の「Ｐ２用テーブル」 … 「Ｐｎ用テーブル」）中に記載される質量偏差値となる。
【００５７】
（４）Ｑ３スキャン用質量較正テーブルセットの作成
次いで自動／手動調整制御部２１は、イオンが前段四重極１３を素通りするように（質量電荷比による選別が実施されないように）Ｑ１電源部２４を制御する。更に、自動／手動調整制御部２１は、ＣＩＤガス供給部２５によるコリジョンセル１４へのＣＩＤガスの供給を制御することによりコリジョンセル１４内のＣＩＤガス圧を予め定められた値（P1）とする。そして、上記と同様にして後段四重極１６における複数段階のスキャン速度S1, S2, … Snでの質量スキャン、並びにデータ処理部２８による前記各スキャン速度におけるピークプロファイルの作成と質量偏差値の算出を行う。これが、Ｑ３スキャン用質量較正テーブルセット２２Ｂ２に含まれる「Ｐ１用テーブル」中に記載される質量偏差値となる。
【００５８】
その後、自動／手動調整制御部２１は、ＣＩＤガス供給部２５を制御することにより、コリジョンセル１４内のＣＩＤガス圧をP2, P3, … Pnと段階的に変化させ、各段階において上記同様の後段四重極１６における質量スキャン、ピークプロファイルの作成、及び質量偏差値の算出を行う。これにより得られた質量偏差値が、それぞれＱ３スキャン用質量較正テーブルセット２２Ｂ２に含まれる各質量較正テーブル（すなわち、「Ｐ２用テーブル」 … 「Ｐｎ用テーブル」）中に記載される質量偏差値となる。
【００５９】
以上により、図３に示した全ての質量較正テーブル２２Ａ１、２２Ａ２及び質量較正テーブルセット２２Ｂ１、２２Ｂ２が完成する。
【００６０】
一方、標準試料の純度が比較的低いなどの要因のために実測のピークプロファイルの形状があまり良好でないような場合には、上述した自動調整では十分な較正精度が得られないことがある。また、分析目的などによっては、ユーザが特定の測定モードにおいて特定の成分についての分析を高精度で行いたいような場合もあり、自動調整による質量較正よりも高い精度が要求されることがある。こうした場合、ユーザ自身或いはサービス担当者による手動の質量較正が実施される。手動調整の実行が指示された場合には、自動／手動調整制御部２１は、図４に示したような質量較正テーブル及び該テーブル中の任意のスキャン速度及び質量電荷比におけるピークプロファイルを表示部３０の画面上に表示する。
【００６１】
ユーザは表示された質量較正テーブル中の任意のセルを選択してそのセルに対応した質量電荷比付近のピークプロファイルを表示させ、目的のセントロイドピークがピークプロファイル波形表示枠の横軸（質量電荷比軸）の中央に来るように、指定したセル内の質量偏差の値を適宜書き換える。これにより、その質量電荷比に対する較正値が決まる。ユーザは自らの経験に基づいて、同様に、異なる質量電荷比及びスキャン速度に対するピークにおける較正値を一つずつ調整することで、質量較正テーブル中の全てのセルに対する較正値を決定することができる。このような手動調整ではユーザがピーク波形の変形を目視で判断できるので、ピーク毎に的確に質量偏差を求めることが可能である。なお、手動調整をより効率良く行うために、例えば本出願人が特開2012-043721号で提案しているような方法を用いてもよい。
【００６２】
次に、上述のように質量較正テーブル記憶部２２に質量較正テーブル２２Ａ１、２２Ａ２及び質量較正テーブルセット２２Ｂ１、２２Ｂ２が保持されている状態で、目的試料に対する分析が実行される際の動作を説明する。ここでは一例として目的試料に対するプロダクトイオンスキャン測定を実行する場合について述べる。
【００６３】
プロダクトイオンスキャン測定の場合には、後段四重極１６での質量電荷比範囲とスキャン速度、プリカーサイオンの質量電荷比などの分析条件パラメータが入力部２９により設定される。ただし、前述のように、ＭＲＭ測定や通常のスキャン測定をトリガとしたプロダクトイオンスキャン測定が行われる場合には、ＭＲＭ測定やスキャン測定の結果によりプリカーサイオンの質量電荷比などが自動的に決定される。また、コリジョンセルにおいて適切なＣＩＤ効率を得るため、前記分析条件パラメータの一つとして更に、ＣＩＤガス圧が入力部２９により設定される。ここでは、分析条件パラメータとして、後段四重極１６での質量電荷比範囲：m/z70〜1300、スキャン速度：2000u/s、プリカーサイオンの質量電荷比：m/z1200、及びＣＩＤガス圧：200kPaが設定された場合を例に挙げて説明する。
【００６４】
制御部２０は、質量較正テーブル記憶部２２に保持されているＱ１スキャン用質量較正テーブルセット２２Ｂ１の中でＣＩＤガス圧200kPaに対応した質量較正テーブルを参照し、該テーブルに記載された最低のスキャン速度125u/sに対応する較正値を読み出す。すなわち、図４上段のテーブルにおける１行目の較正値（-0.94, -0.84, …）である。そして、この各質量電荷比に対する較正値から例えば補間処理によって、目的とするプリカーサイオンの質量電荷比m/z1200に対する較正値を計算する。ここで、最低のスキャン速度125u/sに対応する較正値を用いるのは、図２中に示すように、プロダクトイオンスキャン測定では前段四重極１３はＳＩＭ駆動モードで駆動されるためである。制御部２０は、計算により求まる上記較正値を用いてＱ１電源部２４を制御し、質量電荷比m/z1200のイオンが前段四重極１３を選択的に通過するようにする。
【００６５】
また制御部２０は、質量較正テーブル記憶部２２に保持されているＱ３スキャン用質量較正テーブル２２Ｂ２の中でＣＩＤガス圧200kPaに対応した質量較正テーブルを参照し、指定されたスキャン速度2000u/sに対応する較正値を読み出す。すなわち、図４下段のテーブルにおける５行目の較正値（-0.79, -0.69, -0.48,…）である。そして、制御部２０は、読み出した較正値を用いてＱ３電源部２７を制御し、後段四重極１６においてスキャン速度2000u/sで質量電荷比範囲m/z70〜1300の質量スキャンが繰り返されるようにする。
【００６６】
上述したように前段四重極１３、後段四重極１６がそれぞれ設定された状態で、目的試料がイオン源１２に導入されると、試料中の成分がイオン源１２でイオン化され、生成された各種イオンの中で質量電荷比m/z1200であるイオンのみが前段四重極１３を選択的に通過し、プリカーサイオンとしてコリジョンセル１４に導入される。コリジョンセル１４には、該セル内のＣＩＤガス圧が200kPaとなるよう、ＣＩＤガス供給部２５によって連続的にＣＩＤガスが導入されており、プリカーサイオンは該ＣＩＤガスに接触して解離し、各種のプロダクトイオンが生成される。プロダクトイオンは多重極型イオンガイド１５により形成される高周波電場により収束されつつ輸送され、後段四重極１６に送り込まれる。後段四重極１６は上述のように質量スキャンされるので、各種のプロダクトイオンの中で通過条件に適合した質量電荷比を持つプロダクトイオンのみが後段四重極１６を通過し、検出器１７に到達して検出される。データ処理部２８は検出器１７からの検出信号を受け、所定質量電荷比範囲のピークプロファイルを作成し、更に各ピーク波形のセントロイドピークを求めることでマススペクトル（m/z1200のプリカーサイオンに対するＭＳ／ＭＳスペクトル）を作成する。
【００６７】
なお、上記例では、分析条件パラメータとして設定されたＣＩＤ圧に対応する質量較正テーブルがＱ１スキャン用質量較正テーブルセット２２Ｂ１及びＱ３スキャン用質量較正テーブルセット２２Ｂ２に含まれている場合を示したが、分析条件パラメータとして設定されたＣＩＤ圧に対応する質量較正テーブルがテーブルセット２２Ｂ１、２２Ｂ２に含まれていないときには、各テーブルセット２２Ｂ１、２２Ｂ２に含まれる質量較正テーブル間の較正値から補間処理によって所望のＣＩＤ圧に対する較正値を求めるようにすればよい。また、質量較正テーブル上に登録されていないスキャン速度（例えば図４の例では1750u/sなど）が設定されたときには、質量較正テーブル上の較正値から補間処理によって所望のスキャン速度に対する較正値を求めるようにすればよい。
【００６８】
質量スキャンを伴わないＭＲＭ測定を行う場合には、前段四重極１３、後段四重極１６共にＳＩＭ駆動モードであるので、質量較正テーブル記憶部２２に保持されているＱ１スキャン用質量較正テーブルセット２２Ｂ１のうち、ユーザに指定されたＣＩＤガス圧に対応した質量較正テーブルで最低のスキャン速度125u/sに対応する較正値が前段四重極１３の駆動に用いられ、更にＱ３スキャン用質量較正テーブルセット２２Ｂ２のうち、前記ＣＩＤガス圧に対応した質量較正テーブルで最低のスキャン速度125u/sに対応する較正値が後段四重極１６の駆動に用いられる。ここで、最低のスキャン速度125u/sに対応する較正値を用いているのは、これより遅いスキャン速度ではスキャン速度が125u/sであるときと校正値が同一であることが予め確認されているためである。したがって、それよりも速いスキャン速度でも校正値が同一であることが確認されている場合には、質量較正テーブル中で最低のスキャン速度に対応する較正値を選択せずに、より速いスキャン速度に対応する較正値を選択しても構わない。
【００６９】
ニュートラルロススキャン測定を行う場合には、前段四重極１３、後段四重極１６共にスキャン駆動モードであるので、質量較正テーブル記憶部２２に保持されているＱ１スキャン用質量較正テーブルセット２２Ｂ１の内のユーザに指定されたＣＩＤガス圧に対応した質量較正テーブル上において、前段四重極１３のスキャン速度として指定されているスキャン速度に対応する較正値が前段四重極１３の駆動に用いられ、Ｑ３スキャン用質量較正テーブルセット２２Ｂ２中の前記ＣＩＤガス圧に対応した質量較正テーブル上において後段四重極１６のスキャン速度として指定されているスキャン速度に対応する較正値が後段四重極１６の駆動に用いられる。
【００７０】
また、ＭＳ／ＭＳ分析ではなくイオンの解離操作を伴わないＭＳ分析が行われる場合には、図２に記載したような測定モードに応じて、質量較正テーブル記憶部２２に保持されているＱ１質量分析用質量較正テーブル２２Ａ１又はＱ３質量分析用質量較正テーブル２２Ａ２が選択され、指定されたスキャン速度に対応した較正値又は最低のスキャン速度125u/sに対応する較正値が読み出されて前段四重極１３又は後段四重極１６を駆動するために用いられる。
【００７１】
上記説明では質量較正についてのみ述べたが、質量分解能についても同様に、ＭＳ分析用とＭＳ／ＭＳ分析用とで独立に、且つ前段四重極１３用と後段四重極１６用とで独立に、スキャン速度をパラメータとした質量電荷比と分解能調整値との関係を示すテーブルが分解能調整テーブル記憶部２３に格納され、このテーブル中に記載の分解能調整値を用いた制御が実行される。それにより、質量精度、質量分解能が共に良好なマススペクトルを取得することができる。
【００７２】
図５は実測で得られた特定のピークプロファイル波形を示す図である。なお、本発明はコリジョンセルでのイオンの解離操作を伴うＭＳ／ＭＳ分析において特に効果を発揮するものであるが、ここでは質量電荷比軸のずれが観察しやすいよう、Ｑ１−スキャン測定においてコリジョンセルにＣＩＤガスを導入して測定を行った結果を示している。同図の（ａ）は、図６と同様にスキャンスピードをパラメータとした従来の質量較正及び分解能調整を行ったものであり、（ｂ）はＣＩＤガス圧とスキャンスピードをパラメータとした本発明に係る質量較正及び分解能調整を行ったものである。なお、いずれも測定時のＣＩＤガス圧は390kPa、前段四重極のスキャンスピードは30u/sである。図５（ａ）に示すように、従来の質量較正を行ったものでは、縦線で示すセントロイドピークがグラフ横軸上の中央から外れており、質量電荷比のずれが大きい状態であることが分かる。これに対し、本実施例の質量較正を行ったものは、図５（ｂ）に示すように、セントロイドピークがグラフ横軸上のほぼ中央に位置しており、質量電荷比のずれが小さくなっていることが分かる。また、同図の（ｂ）では（ａ）に比べてピークが明瞭になっており、質量分解能も適切に調整されていることが分かる。
【００７３】
以上のように、本実施例の三連四重極型質量分析装置では、低いＣＩＤガス圧から高いＣＩＤガス圧まで、広いＣＩＤガス圧範囲に亘り、ユーザによる再調整の作業なしに、質量精度や質量分解能が高い状態に維持される。そのため、例えば低ＣＩＤガス圧の分析から高ＣＩＤガス圧の分析まで、多様な分析を適宜組み合わせて一度に実行することができる。
【００７４】
また、上記実施例では、ＭＳ／ＭＳ分析用のテーブルセットとして、前段四重極１３における質量較正のためのテーブルセット（Ｑ１スキャン用質量較正テーブルセット２２Ｂ１）と後段四重極１６における質量較正のためのテーブルセット（Ｑ３スキャン用質量較正テーブルセット２２Ｂ２）との二つのテーブルセットだけを備えており、いずれの測定モードでもそれら二つのテーブルセットを利用していた。そのため、質量較正テーブル記憶部２２の記憶容量は節約できるものの、ＭＳ／ＭＳ分析の中で測定モード毎に異なる較正値を利用することはできない。そこで、変形例として、測定モード毎に質量較正テーブルセットを用意するようにしてもよい。その場合、自動調整時には異なる測定モードに対して同一の較正値を設定し、手動調整により測定モード毎に較正値を変更できるようにすればよい。
【００７５】
更に、上記実施例では、質量較正テーブル記憶部２２に種々のＣＩＤガス圧に対応した質量較正テーブルを記憶する構成としたが、これに限らず、例えば目的試料のＭＳ／ＭＳ分析を行う前に、質量電荷比が既知の標準試料について、ユーザより指定されたＣＩＤガス圧下でコリジョンセルにおけるプリカーサイオンの解離を伴う分析を行い、該分析によって取得された、前記ＣＩＤガス圧下における質量電荷比と較正値との関係を示す質量較正テーブルを質量較正テーブル記憶部２２に記憶する構成としてもよい。この場合、前記目的試料のＭＳ／ＭＳ分析を実行する際に、制御部２０が質量較正テーブル記憶部２２から前記質量較正テーブルを読み出し、該テーブルに記載された較正値に基づいてＱ１電源部２４及びＱ３電源部２７をそれぞれ制御することで、検出器１７により検出されるイオンの質量電荷比を較正する。
【００７６】
また、上記実施例は本発明の一例にすぎないから、本発明の趣旨の範囲で適宜に変形、追加、修正を行っても本願特許請求の範囲に包含されることは明らかである。
【符号の説明】
【００７７】
１０…流路切替部
１１…分析室
１２…イオン源
１３…前段四重極
１４…コリジョンセル
１５…多重極型イオンガイド
１６…後段四重極
１７…検出器
２１…自動／手動調整制御部
２０…制御部
２２…質量較正テーブル記憶部
２２Ａ…ＭＳ分析用質量較正テーブル群
２２Ａ１…Ｑ１質量分析用質量較正テーブル
２２Ａ２…Ｑ３質量分析用質量較正テーブル
２２Ｂ…ＭＳ／ＭＳ分析用質量較正テーブル群
２２Ｂ１…Ｑ１スキャン用質量較正テーブルセット
２２Ｂ２…Ｑ３スキャン用質量較正テーブルセット
２３…分解能調整テーブル記憶部
２４…Ｑ１電源部
２５…ＣＩＤガス供給部
２６…ｑ２電源部
２７…Ｑ３電源部
２８…データ処理部
２９…入力部
３０…表示部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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