(57)【要約】【課題】  入力した直線の検出・計算結果である一連の座標群の直線性を評価することによって、直線の入力数を可能な限り少なく抑制しながら、局所的な歪みを検出するような評価・検査方法を提供する。【解決手段】  指やペンなどの座標指示器により指示した位置を検出し、出力する座標入力システムにおいて、座標入力領域を構成する面抵抗体の局所的な抵抗値異常を検出する評価方法であって、前記座標入力領域内部に、前記座標指示器によって、互いに直交する２方向に、所定の間隔で複数の直線を入力し、該直線に対応する座標入力システムの出力座標群に対して、第一の閾値以上の大きさを持つ局所的な曲がりが存在するかどうかを判定し、特定の領域に少なくとも複数の前記局所的な曲がりが存在する場合に、該複数の局所的な曲がりを一まとまりの曲がりグループとし、当該領域に前記面抵抗体の局所的な抵抗値異常が存在すると判定する座標入力システムの評価方法。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
指やペンなどの座標指示器により指示した位置を検出し、出力する座標入力システムにおいて、座標入力領域を構成する面抵抗体の局所的な抵抗値異常を検出する評価方法であって、前記座標入力領域内部に、前記座標指示器によって、互いに直交する２方向に、所定の間隔で複数の直線を入力し、該直線に対応する座標入力システムの出力座標群に対して、第一の閾値以上の大きさを持つ局所的な曲がりが存在するかどうかを判定し、特定の領域に少なくとも複数の前記局所的な曲がりが存在する場合に、該複数の局所的な曲がりを一まとまりの曲がりグループとし、当該領域に前記面抵抗体の局所的な抵抗値異常が存在すると判定することを特徴とする座標入力システムの評価方法。
【請求項２】
前記互いに直交する２方向の少なくともいずれかついて、平行に隣り合う前記直線に対応する前記出力座標群のいずれにも前記局所的な曲がりが存在し、前記直線の延びる方向に対して鉛直の方向から見たときに、それぞれの前記出力座標群に存在する前記局所的な曲がりが重複する部分を持つ場合に、前記複数の局所的曲がりを一まとまりの曲がりグループとし、該曲がりグループが存在する領域に、前記面抵抗体の局所的な抵抗値異常が存在すると判定することを特徴とする請求項１に記載の座標入力システムの評価方法。
【請求項３】
前記互いに直交する２方向の複数の直線によって構成される格子の各セルについて、各セルの４辺のうちの、互いに平行する２組の２辺に対応する出力座標群の各組に、少なくとも１個以上、４辺合計で２個以上、前記局所的な曲がりが存在する場合に、該複数の局所的な曲がりを一まとまりの曲がりグループとし、該曲がりグループが存在する領域に、前記面抵抗体の局所的な抵抗値異常が存在すると判定することを特徴とする請求項１に記載の座標入力システムの評価方法。
【請求項４】
前記曲がりグループに属する複数の前記局所的な曲がりのうちの少なくとも１個が、前記第一の閾値よりも大きな第二の閾値以上の大きさを持つ場合に、該曲がりグループが存在する領域に、前記面抵抗体の局所的な抵抗値異常が存在すると判定することを特徴とする請求項２乃至３に記載の座標入力システムの評価方法。
【請求項５】
請求項１乃至４の何れかに記載の座標入力システムの評価方法をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【請求項６】
請求項５に記載のプログラムを記憶したコンピュータ可読な記憶媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、指または座標指示器によりタッチされた位置を検出する座標入力システムもしくは座標入力パネル、主に、静電結合方式における表面型、もしくは抵抗膜方式の製品の評価・検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
まず、表面型の静電結合方式座標入力システムについて説明する。図８に示すのは、長方形の座標入力領域８を有する座標入力パネル１であり、面抵抗体２に、面抵抗体２と電気的に接続するように、面抵抗体２を取り囲む抵抗性周囲電極３を配設しており、４頂点に検出電極４、５、６、及び７を備えている。検出電極４、５、６、及び７は、抵抗性周囲電極３と電気的に接続されている。座標入力領域８は、面抵抗体２上にあり、抵抗性周囲電極３の内側である。
【０００３】
上記座標入力パネル１を用いた座標入力システムの座標検出方法として、座標入力パネル１が受信側であるような、座標指示器（以下入力ペンとする）から信号を発信し、静電容量結合もしくは直接の接触を介して、面抵抗体２が、入力ペンから発信された信号を受信する方法、更には面抵抗体２全体を電圧振動させて、指又は導電物で指示した点の位置を入力パネル側で検出する方法、及び、信号伝達の方向がこれと逆であって、座標入力パネル１が発信側であって、面抵抗体２の各部を信号駆動し、入力ペンで受信する方法がある。
【０００４】
座標入力パネル１が受信側である場合は、面抵抗体２の一点に出入りする電流の、４頂点（４、５、６、及び７）へ配分される電流値を計測するものが知られている（特許３２３７６２９号（特許文献１）参照）。一方、座標入力パネル１が発信側である場合は、面抵抗体２に、検出電極４、５、６、及び７を一定電位やグランドに振り分けて接続することによって外部から電位勾配を与え、入力ペンによって指示座標点の電圧レベルを検出するものが知られている。指や入力ペンで指示した座標入力領域８内の位置の座標は、面抵抗体２に出入りする電流の４頂点への配分値、もしくは４頂点を駆動した際に入力ペンで計測した電圧を用いて、計算される。
【０００５】
４頂点への電流の配分、もしくは４頂点の駆動の仕方としては、４頂点全てに電流を配分したり、４頂点全てを一定電位かグランドのどちらかに振り分けて接続する方法が知られている。また、４頂点を、対角にある２個を１組として２組に組分けし、２組を交互に選択してそれらの対角の２頂点に電流を配分したり、２組を交互に選択してそれらの対角の２頂点を一定電位とグランドに接続して対角方向に電位勾配を与えるような、対角方式が知られている（特許４１６８５３７号（特許文献２））。
【０００６】
抵抗性周囲電極３の抵抗値は、一般的に、座標の直線性を向上させるために、抵抗性周囲電極３が取り囲む面抵抗体２の抵抗値よりも低くされる。しかし、抵抗性周囲電極２の抵抗値に対する、面抵抗体２の抵抗値の比率が十分に大きくできない場合、計算結果である座標が、正しい位置からずれることがあった。ただし、この要因によって発生するずれは、面抵抗体２の全域にわたって、直線が糸巻型に歪むような性質のものである。
【０００７】
このように、正確な位置からずれた検出座標を補正する方法としては、例えば、特許３５０５９７０号（特許文献３）や、同一出願人による特開２０１０−２３７９１３号（特許文献４）に開示されているようなものが知られている。特許文献３に開示されている方法は、入力範囲を四角形のセルを持つ格子に分割し、格子点位置の正確な基準座標値と、基準座標の位置を座標指示器によって指示したときに実際に検出される基準検出座標値を、製造時に予め記憶しておき、基準検出座標を格子点として形成される（歪んだ）格子の特定のセル内に検出された座標について、当該座標を通る水平線及び垂直線がそのセルの四辺と交わる点の情報に基づいて、当該座標を補正するものである。
【０００８】
しかしながら、いずれの方法とも、補正対象領域を格子状に区切って、各セルに対して補正を行うものであるため、セルの大きさよりも小さい領域で局所的な歪みが発生する場合には、補正することができない場合があった。このような局所的な歪みの原因としては、均一であるべき面抵抗体２に、局所的な欠陥、もしくは局所的な抵抗値異常が存在する場合が考えられる。局所的な欠陥は、極めて小さければ、近傍を流れる電流の流れを阻害しないため、問題にならないが、ある程度の大きさを持つ場合、その近傍の座標の計算結果にずれをもたらす原因になる。同様に、局所的に抵抗値が周囲よりも大きかったり小さかったりする領域が存在する場合にも、ずれが発生する。
【０００９】
また、静電結合方式でない方式として、抵抗膜方式は、面抵抗体を２枚、空隙を設けて対向させて配置し、指や入力ペンで押圧した位置で２枚の面抵抗体が互いに接触したときに、一方の面抵抗体を駆動する信号を他方の面抵抗体から検出することによって、押圧した位置の座標を計算する。抵抗膜方式においても、静電結合方式と同様に、面抵抗体全域にわたる歪みを補正することができるが、局所的な欠陥もしくは抵抗値異常が存在する場合には、補正することができない場合があった。
【００１０】
これらのような場合、対応策として、補正対象領域をより小さな格子で区切る、ということが考えられるが、予め記憶しておかなくてはならない座標の数が増え、且つ、製造時の工数もその分増大するため、現実の製品としては、格子のセルの大きさを、あまり小さくすることはできない。
このような条件下では、製品に、局所的な欠陥もしくは抵抗値異常等に起因する座標のずれが存在するかどうかを、検査によって評価する必要がある。許容できない座標のずれが存在する場合には、当該個体を不良と判定する。それには、例えば、特開２００５−１９０２３６（特許文献５）に開示されているように、マトリックス状に設定した複数の測定点において信号を測定し、直線性を評価する、といった方法が考えられる。
【００１１】
また、定規やロボットなどを用いて、入力ペンで直線を引き、検出した信号を元に計算した一連の座標群の直線性を評価する、といった方法が考えられる。例えば、水平もしくは垂直な直線を引き、直線の方向に直交する座標軸の座標値の、正しい位置からのずれの最小値及び最大値が、既定値を超える場合に、その直線の付近に何らかの異常があると判断することができる。しかし、互いに隣り合う２本の直線の中間に局所的な歪みが存在する場合には、直線の位置におけるずれが、異常であると判断できるほど大きくならない可能性がある。従って、局所的な歪みを検出するためには、できるだけ細かく直線を引く必要があった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１２】
【特許文献１】特許３２３７６２９号
【特許文献２】特許４１６８５３７号
【特許文献３】特許３５０５９７０号
【特許文献４】特開２０１０−２３７９１３号
【特許文献５】特開２００５−１９０２３６号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
本発明はこのような点を考慮してなされたものであり、入力した直線の検出・計算結果である一連の座標群の直線性を評価することによって、直線の入力数を可能な限り少なく抑制しながら、局所的な歪みを検出するような評価・検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明は、指やペンなどの座標指示器により指示した位置を検出し、出力する座標入力システムにおいて、座標入力領域を構成する面抵抗体の局所的な抵抗値異常を検出する評価方法であって、前記座標入力領域内部に、前記座標指示器によって、互いに直交する２方向に、所定の間隔で複数の直線を入力し、該直線に対応する座標入力システムの出力座標群に対して、第一の閾値以上の大きさを持つ局所的な曲がりが存在するかどうかを判定し、特定の領域に少なくとも複数の前記局所的な曲がりが存在する場合に、該複数の局所的な曲がりを一まとまりの曲がりグループとし、当該領域に前記面抵抗体の局所的な抵抗値異常が存在すると判定することを特徴とする座標入力システムの評価方法を要旨とする。
【発明の効果】
【００１５】
本発明による座標入力システムの評価方法によれば、直線の入力数を少なく抑制しながら、局所的な抵抗値異常を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】座標入力システムの例を示す模式図
【図２】局所的な抵抗値異常を検出する方法の例を示すフローチャート
【図３】曲がりグループ判定方法の例を示すフローチャート
【図４】曲がりグループ判定方法の別の例を示すフローチャート
【図５】第１の実施例の出力座標群と局所的な曲がりの例を示す図
【図６】第２の実施例の出力座標群と局所的な曲がりの例を示す図
【図７】第３の実施例の出力座標群と局所的な曲がりの例を示す図
【図８】長方形の座標入力パネルを示す模式図
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、添付図面に従って、本発明に係る座標入力システムの好ましい実施の形態について詳説する。
【００１８】
図１は、本実施の形態になる座標入力システムの評価方法に用いる座標入力システムの一例を示す模式図である。面抵抗体１２は、透明なガラス、樹脂、または不透明な絶縁基材の片面に塗布、蒸着等により均一に形成したものである。面抵抗体１２の表面は、入力ペン２１が面抵抗体１２に直接触れない様に絶縁処理することによって、入力ペン２１と面抵抗体１２との静電容量結合による信号伝達をさせる。
面抵抗体１２の周囲又は内部に、各辺が直線である長方形の抵抗性周囲電極１３を密着配設し、抵抗性周囲電極１３の内部を長方形の座標入力領域１８とする。
抵抗性周囲電極１３上の、長方形の座標入力領域１８の各頂点に当たる位置に駆動電極１４〜１７を形成し、そこにそれぞれ１本ずつ引き出し線２２〜２５を接続する。引き出し線２２〜２５は、それぞれ外部抵抗成分２６〜２９を含む。引き出し線２２〜２５を、駆動電極切り替えスイッチ３０に接続する。
【００１９】
面抵抗体１２は、不透明なカーボン膜、または、スパッタ法によって形成した透明なＩＴＯ（インジウム錫酸化物）膜、ＣＶＤ法によって形成したＮＥＳＡ（酸化錫）膜、等を、基材上に均一に成膜したものであり、面抵抗値は約１ＫΩ／□程度が好ましい。基材は、例えば、ソーダガラスを使用することができるが、特に材質が限定されるものではなく、任意のガラス素材あるいはアクリル樹脂、ポリエチレン樹脂などの透明な樹脂素材を使用できる。用途によっては不透明な絶縁性の基材を用いてもよい。
面抵抗体１２の周囲又は内部に、各辺が直線である長方形の抵抗性周囲電極１３を、全ての辺が面抵抗体１２と電気的に接触する様に設ける。面抵抗体１２を取り囲む抵抗性周囲電極１３は、カーボン、銀カーボン、又は銀等を密着配設したものであり、例えば、銀インクのような導電性インクをスクリーン印刷し、焼成する等の手法で作成する。抵抗性周囲電極１３の各辺は、幅を持った直線形状でもよいし、低抵抗の導電性エレメントを互いに分離させて配列し、面抵抗体１２の抵抗を活用して形成するようにしたものでもよい。抵抗性周囲電極１３は、少なくとも各辺毎、好ましくは対辺毎に長さ当たりの抵抗値を一定にする。
また、抵抗性周囲電極１３の抵抗値は面抵抗体１２の抵抗値に比べて低い方がよく、面抵抗体１２の面抵抗値を１ＫΩ／□程度とした場合は、抵抗性周囲電極１３の隣り合う頂点間の抵抗値を、２０〜２００Ω程度にするのが好ましい。
【００２０】
各頂点の駆動電極１４〜１７は、引き出し線を接続するためのものであり、ハンダ付け可能な導電性インクを印刷・焼成して形成する。駆動電極１４〜１７を形成するための導電性インクとして、抵抗性周囲電極１３と同じものを使用することができる場合には、駆動電極１４〜１７と、抵抗性周囲電極１３は、一回の処理で印刷・焼成して形成することが可能である。
抵抗性周囲電極１３及び面抵抗体１２の形状は、基材に収まるものであればよく、必ずしも抵抗性周囲電極１３及び面抵抗体１２と基材の形状を略一致させる必要はないが、抵抗性周囲電極１３及び面抵抗体１２と基材の形状を同じようにした方が、座標入力システムを何らかの製品に組み込む際に、組み込む製品のデザイン上の自由度が大きくなるため好ましい。
外部抵抗成分２６〜２９は、引き出し線２２〜２５、駆動電極切り替えスイッチ３０、及び信号発生器３１といった要素に含まれる抵抗成分の、駆動電極１４〜１７の各々から発する経路毎の合計である。一般に、引き出し線２２〜２５に内在する抵抗がそのうちの大きな部分を占める。引き出し線２２〜２５として、充分に低抵抗のリード線等を使用する場合は、外部抵抗成分２６〜２９は、抵抗性周囲電極１３の抵抗値よりも極めて小さくなり、座標を計算する上で、独立して考慮しなくても済む程度になる。一方で、例えば、引き出し線２２〜２５の延長が長かったり、引き出し線２２〜２５の材質や形状によって抵抗が比較的高い場合などには、外部抵抗成分２６〜２９が大きくなる場合があるが、これらは、各部の抵抗値が既知ならば補正可能である。
【００２１】
座標を検出するには、電位出力手段である信号発生器３１によって面抵抗体１２にＡＣ電位勾配を与える。電位勾配は、駆動電極切り替えスイッチ３０によって、長方形の座標入力領域１８の対角を同時に接続する組み合わせで与えるようにする。即ち、次の４つの組み合わせが存在する。一つめ、駆動電極１４を信号発生器３１の出力側に接続し、駆動電極１６を接地側に接続し、駆動電極１５及び１７を非接続にする。二つめ、駆動電極１５及び１７を非接続のまま、駆動電極１４と１６の、信号発生器３１に対する出力側と接地側の接続を入れ替える。三つめ、駆動電極１５を信号発生器３１の出力側に接続し、駆動電極１７を接地側に接続し、駆動電極１４及び１６を非接続にする。四つめ、駆動電極１４及び１６を非接続のまま、駆動電極１５と１７の、信号発生器３１に対する出力側と接地側の接続を入れ替える。
【００２２】
これらのそれぞれの接続状態において、面抵抗体１２の、入力ペン２１の先端に近い位置のＡＣ信号レベルは、静電容量結合を介して入力ペン２１に伝達され、更にケーブル３２を通じてアナログ信号処理部３３に伝達される。アナログ信号処理部３３は、図示しないが、増幅器、帯域通過フィルタ、ＡＣ／ＤＣ変換器（ＡＭ検波器）等を含み、入力したＡＣ信号レベルに比例したＤＣ信号レベルを出力する。ＣＰＵ３５は、Ａ／Ｄコンバータ３４が出力するデジタル値を入力し、入力ペン２１の指示位置を計算する。
今、入力ペン２１の先端に近い位置の電位を測定した値のうち、駆動電極切り替えスイッチ３０によって駆動電極１４（頂点Ａ）が信号発生器３１の出力側に、駆動電極１６が接地側に接続され、駆動電極１５と１７が非接続のときの測定値を測定値Ａ、駆動電極１５（頂点Ｂ）が信号発生器３１の出力側に、駆動電極１７が接地側に接続され、駆動電極１４と１６が非接続のときの測定値を測定値Ｂ、駆動電極１６（頂点Ｃ）が信号発生器３１の出力側に、駆動電極１４が接地側に接続され、駆動電極１５と１７が非接続のときの測定値を測定値Ｃ、駆動電極１７（頂点Ｄ）が信号発生器３１の出力側に、駆動電極１５が接地側に接続され、駆動電極１４と１６が非接続のときの測定値を測定値Ｄとする。このとき、入力ペン２１の位置は、外部抵抗成分２６〜２９の抵抗値を無視できる場合には、例えば、水平方向をＸ軸で右を正、垂直方向をＹ軸で下を正、原点を座標入力領域１８の中心とし、座標入力領域１８の範囲をＸ＝［−１，１］、Ｙ＝［−１，１］に正規化すると、Ｘ＝２（Ｂ＋Ｃ−Ａ−Ｄ）／（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）、Ｙ＝２（Ｃ＋Ｄ−Ａ−Ｂ）／（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）といった式で計算することができる。
【００２３】
抵抗性周囲電極１３の抵抗値と面抵抗体１２の抵抗値との比率によっては、計算結果の座標が、面抵抗体１２の全域にわたって、直線が糸巻型に歪むことがある。このような歪みは、例えば、座標入力領域１８を四角形のセルを持つ格子に分割し、格子点位置の正確な基準座標値と、基準座標の位置を座標指示器によって指示したときに実際に検出される基準検出座標値を、製造時に予め記憶しておき、基準検出座標を格子点として形成される（歪んだ）格子の特定のセル内に検出された座標について、その座標を通る水平線及び垂直線がそのセルの四辺と交わる点の情報に基づいて、補正することができる。
【００２４】
成膜方法に応じて面抵抗体１２上に生じるピンホール程度の大きさの小さな欠陥（面抵抗体１２を形成する物質が固着しなかった領域）のような、面抵抗体１２内部の電流の巨視的な流れを阻害しないものであれば、あっても何ら問題にならない。受傷等によってより大きな欠陥が生じた場合は、少なくともその欠陥の周りで、欠陥の大きさに応じて座標が指示位置からずれる。欠陥から離れるほど入力ペン２１の指示位置の座標計算に及ぼす影響は小さくなるが、欠陥の大きさによっては、少なくとも欠陥の直近における座標のずれが、許容できない程度にまで大きくなる場合がある。また、局所的な抵抗値異常（面抵抗体１２を形成する物質が固着してはいるものの、例えば量が十分でなく、周囲よりも抵抗値が高くなってしまった等の領域）が存在する場合にも、抵抗値異常の程度や領域の大きさによって、同様の問題が発生する場合がある。以下では、欠陥と抵抗値異常をまとめて、抵抗値異常と呼称する。
【００２５】
局所的な抵抗値異常を検出する方法を、図２、図３、及び図４を用いて説明する。まず、入力ペン２１で、座標入力領域１８内に直線を描き、ＣＰＵ３５が計算する座標データを、各直線毎に出力座標群として出力したものを入力する（Ｓ１０１）。直線を描くには、入力ペン２１をロボットに取りつけてもよいし、座標入力領域１８上に直線の定規を載置して、その定規に沿って人力で入力ペン２１を動かすようにしてもよい。
【００２６】
ある直線に対応する出力座標群の評価は、出力座標群のデータから直線を計算し、該直線と、出力座標群に属する各座標データとの距離を計算することによって行う。出力座標群のデータから直線を計算するには、よく知られた最小２乗法を使用することができる。ただし、出力座標群に局所的な曲がりが存在する場合、局所的な曲がりに属するデータも含めて計算することになるため、計算結果の直線は、僅かに局所的な曲がりが直線から突出している方向に逸れたものとなる。局所的な曲がりが存在する場合にも、出力座標群の大半のデータがその上に存在する直線を計算するためには、これもよく知られた、重みつきの最小２乗法を繰り返し適用する方法を使用することができる。これは、最小化する残差平方和の各項に、最小２乗法によって求めた直線から離れたデータほど小さくなるような重みを付加し、改めて重みを付加した残差平方和を最小化するような直線を計算し直すという方法である。新たに計算された直線は、前回計算された直線よりも、出力座標群の大半のデータがその上に存在する直線により近づいたものとなる。これを、計算結果が収束するまで繰り返すことにより、局所的な曲がりの影響を除去して直線を計算することができる（Ｓ１０２）。
【００２７】
また、そのようにして求めた直線と、出力座標群に属する各座標データとの距離は、点（ｘ，ｙ）と直線ｙ＝ａｘ＋ｂとの距離ｄを表す式である、ｄ＝｜ｙ−（ａｘ＋ｂ）｜／√（１＋ａ２）を用いて計算することができる。ある一つの曲がりは、計算した直線のいずれか片側に、所定の距離以上離れた、出力順で連続する座標群と定義する。ここで言う所定の距離は、出力座標群に属する座標が直線を離れたと判断する基準であり、評価対象の座標入力システムの分解能に応じて、できるだけ小さい値を設定する。一つの曲がりに属する座標群の、直線からの距離の最大値を、その曲がりの大きさと定義する（Ｓ１０３）。
【００２８】
ある直線に対応する出力座標群について、それらのうちに存在するいずれかの曲がりの大きさが、単独で不良と判断できる程度に大きい場合も考えられる（Ｓ１０４）。単独で不良と判断できる程度に大きい、とは、入力した直線上で直ちに、評価対象の座標入力システムの、仕様として定めた精度を満足できない、つまり、いずれかの曲がりの大きさが、所定の閾値以上である、という意味である。この閾値を、以下で、第零の閾値と呼称する。そのような場合には、不良の判断に問題はない（Ｓ１０５）。
【００２９】
従って、座標入力領域５８内で、直線を隈なく入力すれば、各直線に対応する出力座標群を個別に評価すればよいことになる。しかし、それでは工数がかかりすぎ、現実的でない。
そこで、座標入力領域５８内部に、互いに直交する２方向を設定し、それぞれの方向について、所定の間隔で直線を入力し、それらに対応する出力座標群を評価する。以下では、互いに直交する２方向を、先に定義したＸ軸及びＹ軸とする。直線を入力する間隔は、Ｘ軸と平行な直線群とＹ軸に平行な直線群とで変えても構わないし、同一でも構わない。ただし、間隔をあまり大きくすると、局所的な抵抗値異常による影響が、直線を入力する位置にまで及ばない可能性がある。従って、これらの直線の間隔は、互いに隣り合う直線の中間点に抵抗値異常が存在する場合に、直線を入力する位置に、第零の閾値を超えはしないものの、第零の閾値よりも小さい第一の閾値以上の大きさを持つ局所的な曲がりが発生すると想定できる程度の大きさに設定する必要がある。第一の閾値は、その程度の大きさを持つ局所的な曲がりが単独で存在した場合に、直ちに不良とは判断できないような大きさとする。これによって、局所的な抵抗値異常に起因する、第一の閾値以上の大きさを持つ局所的な曲がりが、当該抵抗値異常の近傍に、少なくとも２個以上発生する。これらの複数の局所的な曲がりを、曲がりグループと定義する。Ｘ軸と平行な直線群とＹ軸に平行な直線群をすべて入力したら（Ｓ１０６）、各直線に対応する出力座標群を元に、曲がりグループ判定を行う（Ｓ１０７）。
【００３０】
曲がりグループ判定の方法の一つを図３に示す。前記のような直線の間隔と第一の閾値を設定した場合、座標入力領域１８内部の、平行に隣り合う２本の直線の中間点に局所的な抵抗値異常が存在するならば、その２本の直線に対応する出力座標群の両方に、第一の閾値以上の大きさを持つ局所的な曲がりが発生する。例えば、Ｙ軸に平行に隣り合う２本の直線の中間点に局所的な抵抗値異常が存在するならば、その２本の直線に対応する出力座標群のそれぞれに、Ｙ軸に鉛直の方向、つまりＸ軸に平行な方向から見たときに、重複する部分を持つような、局所的な曲がりが発生する。従って、Ｘ軸に平行な直線に対応する複数の出力座標群、及び、Ｙ軸に平行な直線に対応する複数の出力座標群のそれぞれについて、まず端の直線に対応する出力座標群を選択し（Ｓ１１１）、その出力座標群に、第一の閾値以上の大きさを持つ局所的な曲がりが存在し（Ｓ１１２）、且つ、当該直線に平行に隣り合う直線に対応する出力座標群にも、直線の延びる方向に対して鉛直の方向から見たときに互いに重複する領域を持つような、第一の閾値以上の大きさを持つ局所的な曲がりが存在するならば（Ｓ１１３）、曲がりグループが存在する、と判定することができる（Ｓ１１４）。当該出力座標群に、他にも第一の閾値以上の大きさを持つ局所的な曲がりが存在する場合には（Ｓ１１５）、平行に隣り合う直線に対応する出力座標群について、同様な評価を行う（Ｓ１１３）。当該出力座標群に、第一の閾値以上の大きさを持つ局所的な曲がりが存在しないか、全ての局所的な曲がりを評価し終えたら、当該直線に平行に隣り合う直線があれば（Ｓ１１６）、その直線を選択して（Ｓ１１７）、同様の評価を行う（Ｓ１１２）。全ての直線を評価し終えたら終了する。
【００３１】
直線の間隔と第一の閾値をより厳しめに設定した場合には、そのような領域を検出した段階で、当該領域に局所的な抵抗値異常が存在し、評価対象の座標入力システムを不良であると判断するようにしてもよい。もしくは、直線の間隔と第一の閾値をそこまで厳しく設定しなかった場合には、そのような領域を検出した後、当該領域内に限って、より細かい間隔で直線を入力し、それらの直線に対応する出力座標群に、第零の閾値以上の大きさを持つ曲がりが発生するかどうか、追加で評価するようにしてもよい。
【００３２】
抵抗値異常が、欠陥、及び、面抵抗体１２を構成する物質の固着が十分でないといった、抵抗値が高くなるものである場合、直線に発生する局所的な曲がりは、抵抗値異常のある領域から遠ざかる形状で形成される。つまり、平行に隣り合う２本の直線の間にそのような抵抗値異常が存在する場合、それらの直線の両者に発生する局所的な曲がりは、曲がりが突出する方向が、平行に隣り合う２本の直線のそれぞれ外側になる。
一方、抵抗値異常が、面抵抗体１２を構成する物質を局所的に多く固着させすぎたといった、抵抗値が低くなるものである場合、直線に発生する局所的な曲がりは、抵抗値異常のある領域に近づく形状で形成される。つまり、曲がりが突出する方向は、平行に隣り合う直線のそれぞれ内側になる。
【００３３】
また、局所的な抵抗値異常が、比較的広い範囲に及ぶ場合には、平行に隣り合う２本の直線のそれぞれに対応する出力座標群に発生する局所的な曲がりの突出する方向が、同一であることもある。
例えば、成膜方法に応じて、抵抗値が低くなるような抵抗値異常が発生する可能性が低いと想定できる場合には、Ｙ軸に平行に隣り合う２本の直線のそれぞれに対応する出力座標群に、Ｘ軸に平行な方向から見たときに重複する部分を持ち、大きさが第一の閾値以上である局所的な曲がりが発生しているときに、曲がりが突出する方向が、平行に隣り合う直線のそれぞれ内側であったら、それらの曲がりは、両者の中間に抵抗値が低い局所的な抵抗値異常が存在するために発生したのではなく、両者の外側に、個別に、問題にならない程度の、抵抗値が高い局所的な抵抗値異常が存在するために発生した、という判断をすることが可能である。
【００３４】
曲がりグループ判定の別の方法を図４に示す。抵抗値異常が、Ｘ軸と平行に隣り合う２本の直線の中間点から一方の直線の方に寄った位置で、且つ、Ｙ軸と平行に隣り合う２本の直線の中間点から一方の直線の方に寄った位置に存在するならば、少なくとも、抵抗値異常からより近い、Ｘ軸と平行な直線、及びＹ軸と平行な直線の合計２本に対応する出力座標群に、第一の閾値以上の大きさを持つ局所的な曲がりが発生する。
つまり、Ｘ軸と平行な方向、Ｙ軸と平行な方向の２方向の直線群によって格子状に区切られるセルについて、例えば、局所的な抵抗値異常が、あるセルの中心よりも左下に寄った位置に存在するならば、少なくとも左側の垂直辺と下側の水平辺に対応する出力座標群に、第一の閾値以上の大きさを持つ曲がりが発生する。あるセルに関して、そのセルを構成する４辺のうち、たかだか１つの辺に対応する出力座標群にのみ、第一の閾値以上の大きさを持つ曲がりが発生した場合は、問題となる抵抗値異常が当該セル内に存在する可能性は低いと考えられる。
【００３５】
従って、各セルの４辺のうちの、互いに平行する２組の２辺に対応する出力座標群の各組に、少なくとも１個以上、４辺合計で２個以上、第一の閾値以上の大きさを持つ局所的な曲がりが存在する場合に、それら複数の局所的な曲がりを曲がりグループと判定することができる。ただし、局所的な曲がりは、互いに隣り合う複数のセルにまたがる場合もある。そこで、あるセルについて（Ｓ１２１）、セルの４辺のいずれかに、第一の閾値以上の大きさを持つ局所的な曲がりが少なくとも１個以上存在する場合に（Ｓ１２２）、それらの局所的な曲がりについて、互いに隣り合う複数のセルにまたがるものが存在するかどうかを評価し（Ｓ１２３）、存在する場合には、互いに隣り合う複数のセルを統合して（Ｓ１２４）、統合したセルに属する全ての辺に関して、Ｘ軸と平行な２辺以上の直線に対応する出力座標群のうちに１個以上、且つ、Ｙ軸と平行な２辺以上の直線に対応する出力座標群のうちに１個以上、第一の閾値以上の大きさを持つ局所的な曲がりが存在するときに（Ｓ１２５）、それら複数の局所的な曲がりを曲がりグループと定義するようにしてもよい。セルを統合した場合には、統合したセルに属する全てのセルを評価済みとし、未評価のセルが存在しなくなるまで評価を繰り返す（Ｓ１２７）。
検出した曲がりグループが存在する領域については、前述のように、直線の間隔と第一の閾値等に応じて、不良と即断するようにしてもよいし、当該領域内でより細かい間隔で直線を入力し、それらの直線に対応する出力座標群に、第零の閾値以上の大きさを持つ曲がりが発生するかどうか、追加で評価するようにしてもよい。
【００３６】
更に、第一の閾値をより小さく設定し、第一の閾値より大きく、第零の閾値よりも小さい第二の閾値を設定して、第一の閾値を基準に前述のようにして検出した曲がりグループに関し、当該曲がりグループに属する局所的な曲がりのうちのいずれかが、第二の閾値以上の大きさを持つ場合に、その曲がりグループが存在する領域に局所的な抵抗値異常が存在する、と判断するようにしてもよい。こうすることによって、より小さい局所的な曲がりの集団を検出しつつ、それらのうちに比較的大きな曲がりを持つものが存在する場合にのみ、局所的な抵抗値異常があると判断するので、より直線の間隔を広くすることができる。
【００３７】
前記の方法の全部もしくは一部は、汎用コンピュータもしくはプロセッサによって実行されるためのコンピュータプログラムとして実装することができ、そのようなプログラムは、コンピュータ可読な記憶媒体に記憶することが可能である。コンピュータ可読な記憶媒体の例としては、ＲＯＭ（読み出し専用メモリ）、ＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）、フラッシュドライブといった半導体メモリ、ハードディスクのような磁気媒体、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭといった光学媒体が挙げられる。
【実施例】
【００３８】
以下、実施例により、本発明を説明する。本発明は、以下の実施例に限定されるものでなく、本発明の技術範囲において、種々の変形例を含むものである。
【００３９】
（実施例１）
図１に座標入力システムの構成を示す。座標指示器（入力ペン）２１が座標入力パネル１１の長方形の座標入力領域１８内で指示した位置の座標（Ｘ，Ｙ）を検出する。面抵抗体１２としては、四角いガラス基材の上に、長方形の形状にＮＥＳＡ（酸化錫）膜を形成した。抵抗性周囲電極１３は、銀カーボンインクのスクリーン印刷によって、座標入力領域１８の四辺上に形成した。更に、座標入力領域１８をガラス系コーティング剤で絶縁処理することによって、入力ペン２１と面抵抗体１２との静電容量結合による信号伝達をさせるようにした。
【００４０】
また、座標検出は、〈実施の形態〉において説明したようにして行い、検出座標値を、ＣＰＵ３５から出力させ、シリアル通信によってパソコンに取り込むようにした。前記Ｓ１０１〜Ｓ１０７、及びＳ１１１〜Ｓ１１７のステップを、パソコン上で実行できるプログラムとして作成し、パソコンに組み込まれたハードディスクに記憶させた。後続の実施例においても同様にした。
入力パネル１２上に、水平及び垂直に直線の定規を載置し、その定規に沿って入力ペン２１を動かして、直線を引く毎に定規を所定の間隔で移動させ、直線毎に、出力座標群をパソコン側に入力した。直線を引く間隔と第一の閾値との組み合わせは、前記プログラム内で、直線の間隔を４０ｍｍ、第一の閾値を１．５ｍｍとした。ただし、直線の間隔は、Ｘ軸方向には４０ｍｍ、Ｙ軸方向には３０ｍｍとした。設定した間隔よりも狭い場合には、工数増大以外の問題は発生しない。また、本実施例、及び以下の実施例では、局所的な抵抗値異常として、抵抗が局所的に高い場合を検出する。
【００４１】
平行に隣り合う２本の直線に対応する出力座標群に、第一の閾値以上の大きさを持つ局所的な曲がりが発生した場合の、前記プログラムの動作結果の例を図５に示す。図５（ａ）に、検出された局所的な抵抗値異常領域近傍の、出力座標群を対応する直線毎に接続して描いた線を示す。図５（ｂ）に、第一の閾値以上の大きさを持つ局所的な曲がりについて、対応する直線から突出した領域を塗り潰した絵を示す。これらの複数の局所的な曲がりは、Ｙ軸に平行な、互いに隣り合う直線に対応する出力座標群に発生し、Ｘ軸方向から見たときに互いに重複する領域を持っている。また、曲がりが突出する方向は、Ｘ軸方向でそれぞれ外側、つまり隣り合う直線の反対側の方向である。これにより、当該領域に、抵抗が高い局所的な抵抗値異常が存在することを検出することができた。
【００４２】
（実施例２）
Ｘ軸と平行な方向、Ｙ軸と平行な方向の２方向の直線群によって格子状に区切られるセルについて、各セルの４辺のうちの、互いに平行する２組の２辺に対応する出力座標群の各組に、少なくとも１個以上、４辺合計で２個以上、第一の閾値以上の大きさを持つ局所的な曲がりが存在する場合の結果の例を図６に示す。図６（ａ）に、検出された局所的な抵抗値異常領域近傍の、出力座標群を対応する直線毎に接続して描いた線を示す。図６（ｂ）に、第一の閾値以上の大きさを持つ局所的な曲がりについて、対応する直線から突出した領域を塗り潰した絵を示す。Ｘ軸に平行な直線に対応する出力座標群における第一の閾値以上の大きさを持つ局所的な曲がりが、Ｘ軸方向に隣り合う２つのセルにまたがって、３個、また、Ｙ軸に平行な直線に対応する出力座標群における第一の閾値以上の大きさを持つ局所的な曲がりが、Ｙ軸方向に隣り合う３つのセルにまたがって、１個、計４個の、第一の閾値以上の大きさを持つ局所的な曲がりが検出されている。これにより、当該領域に、抵抗が高い局所的な抵抗値異常が存在することを検出することができた。
【００４３】
（実施例３）
第一の閾値を１．０ｍｍ、第二の閾値を２．０ｍｍとし、第一の閾値を基準に検出した曲がりグループについて、その中に第二の閾値以上の大きさを持つ局所的な曲がりが存在する場合の結果の例を図７に示す。図７（ａ）に、検出された局所的な抵抗値異常領域近傍の、出力座標群を対応する直線毎に接続して描いた線を示す。図７（ｂ）に、第一の閾値以上の大きさを持つ局所的な曲がりについて、対応する直線から突出した領域を塗り潰した絵を示す。Ｘ軸に平行な直線に対応する出力座標群における第一の閾値以上の大きさを持つ局所的な曲がりは、２個検出されているが、いずれも第二の閾値未満の大きさを持つ。Ｙ軸に平行な直線に対応する出力座標群における第一の閾値以上の大きさを持つ局所的な曲がりは、２個検出されており、左側の局所的な曲がりの大きさが、第二の閾値以上の大きさを持つ。これにより、当該領域に、抵抗が高い局所的な抵抗値異常が存在することを検出することができた。
【符号の説明】
【００４４】
１  座標入力パネル
２  面抵抗体
３  抵抗性周囲電極
４、５、６、７  検出電極
８  座標入力面
１１  座標入力パネル
１２  面抵抗体
１３  抵抗性周囲電極
１４、１５、１６、１７  駆動電極
１８  座標入力面
２１  入力ペン
２２、２３、２４、２５  引き出し線
２６、２７、２８、２９  外部抵抗成分
３０  駆動電極切り替えスイッチ
３１  信号発生器
３２  ケーブル
３３  アナログ信号処理部
３４  Ａ／Ｄコンバータ
３５  ＣＰＵ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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