(57)【要約】【課題】原稿画像を読み取る場合の走査方向に依存する解像力差がある際に、走査方向によらずエッジ強調度合いを同じにする構成に比較して画質が方向の不均一発生を抑制する。【解決手段】第１のフィルタ処理部１５６では、フィルタ処理の原理を利用して、画質低下が相対的に大きい主走査方向のフィルタ係数を、画質低下が相対的に低い副走査方向のフィルタ係数よりもエッジ強調度合いを強くしたウィンドウで、主走査方向と副走査方向との解像力差に依存する画質低下（ぼけやにじみ）を補正している。このウィンドウは、バンドパスフィルタとしてフィルタ係数の数値を設定したウィンドウを基準ウィンドウとしている。このバンドパスフィルタにおいて、注目画素を基準として主走査方向と副走査方向とでフィルタ係数を異ならせることで、特定の帯域に対してエッジ強調処理が実行され、かつ主走査方向の方が副走査方向よりもエッジ強調度合い強いことがわかる。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
一方向に配列された受光素子を備えたセンサ部と原稿とを、当該一方向に対し交差する方向に相対移動させて読み取った画素に対して、フィルタ処理を施す補正手段と、
前記補正手段で適用するフィルタ処理を、補正対象である注目画素を基準とする前記一方向と一方向に対し交差する方向とでエッジ強調度合いを異ならせて設定する設定手段と、
を有する補正制御装置。
【請求項２】
一方向に配列された受光素子を備えたセンサ部と原稿とを、当該一方向に対し交差する方向に相対移動させて読み取った画素が入力される入力部と、
前記画素のうち補正対象である注目画素を基準とした際に、前記一方向の周辺画素と、当該一方向に対し交差する方向の周辺画素とで影響度合いを異ならせて、前記画素を補正する補正手段と、
を有する補正制御装置。
【請求項３】
前記補正手段による補正は、特定の画像濃度変化量に対して鮮鋭度を強調する補正である請求項１又は請求項２に記載の補正制御装置。
【請求項４】
前記補正手段が、画像濃度に基づく特定の周波数帯域に対してエッジ強調されるバンドパスフィルタが適用されたフィルタ処理であり、前記バンドパスフィルタを基準としてフィルタ処理時のフィルタ係数を設定する請求項１〜請求項３の何れか１項記載の補正制御装置。
【請求項５】
前記一方向が主走査方向であり、前記一方向に対し交差する方向が副走査方向であり、前記主走査方向のエッジ強調度合いを、前記副走査方向のエッジ強調度合いよりも強くする請求項１、請求項３、請求項４の何れか１項記載の補正制御装置。
【請求項６】
前記一方向が主走査方向であり、前記一方向に対し交差する方向が副走査方向であり、前記主走査方向の周辺画素の影響度合いを、前記副走査方向の周辺画素の影響度合いよりも少なくする請求項２〜請求項４の何れか１項記載の補正制御装置。
【請求項７】
一方向に配列された複数の受光素子を備えたセンサ部と、
前記センサ部と、画像が記録された原稿とを、前記一方向に対し交差する方向に相対移動させながら原稿に記録された画像を読み取る読取手段と、
前記読取手段で読み取った画像の情報単位である画素に対して、フィルタ処理を施す補正手段と、
前記補正手段で適用するフィルタ係数を、補正対象である注目画素を基準とする前記一方向と、一方向に対し交差する方向とでエッジ強調度合いを異ならせて設定する設定手段と、
を有する画像読取装置。
【請求項８】
前記補正手段によるフィルタ処理には、画像濃度に基づく特定の周波数帯域に対してエッジ強調されるバンドパスフィルタが適用され、前記設定手段では、前記バンドパスフィルタを基準としてフィルタ係数を設定する請求項７記載の画像読取装置。
【請求項９】
前記設定手段が、
解像力測定用パターンが記録された前記原稿を読み取り、当該読み取った画像の情報に基づいて、前記一方向の解像力と、当該一方向に対し交差する方向の解像力とをそれぞれ演算する演算手段を有し、
前記演算手段で演算された一方向の解像力に基づいて、一方向のフィルタ係数を設定し、前記演算手段で演算された一方向に対し交差する方向の解像力に基づいて、一方向に対し交差する方向のフィルタ係数を設定する請求項７又は請求項８記載の画像読取装置。
【請求項１０】
前記一方向が主走査方向であり、前記一方向に対し交差する方向が副走査方向であり、前記主走査方向の前記エッジ強調度合いを、前記副走査方向のエッジ強調度合いよりも強くする請求項７〜請求項９の何れか１項記載の画像読取装置。
【請求項１１】
コンピュータに、
一方向に配列された複数の受光素子を備えたセンサ部と、画像が記録された原稿とを、前記一方向と交差する方向に移動させることで、前記センサ部で読み取った画像の情報単位である画素毎に、フィルタ処理を施す際に、
前記フィルタ処理を、補正対象である注目画素を基準とする前記一方向と一方向に対し交差する方向とでエッジ強調度合いを異ならせて設定する、
ことを実行させる補正制御プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、補正制御装置、画像読取装置、補正制御プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、原稿画像から画像読取装置により読み取った画像情報を、原稿のモード（文字原稿、写真原稿、印刷原稿、混在原稿）に依存するフィルタリング補正処理として、非線形フィルタを用い、エッジ部分を損なうことなしに雑音や網点成分を除去することが記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平０３−０８８４７８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
本発明は、原稿画像を読み取る場合の走査方向に依存する解像力差がある際に、走査方向によらずエッジ強調度合いを同じにする構成に比較して画質が方向によって不均一になるのを抑制することができる補正制御装置、画像読取装置、補正制御プログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
請求項１に記載の発明は、一方向に配列された受光素子を備えたセンサ部と原稿とを、当該一方向に対し交差する方向に相対移動させて読み取った画素に対して、フィルタ処理を施す補正手段と、前記補正手段で適用するフィルタ処理を、補正対象である注目画素を基準とする前記一方向と一方向に対し交差する方向とでエッジ強調度合いを異ならせて設定する設定手段と、を有している。
【０００６】
請求項２に記載の発明は、一方向に配列された受光素子を備えたセンサ部と原稿とを、当該一方向に対し交差する方向に相対移動させて読み取った画素が入力される入力部と、前記画素のうち補正対象である注目画素を基準とした際に、前記一方向の周辺画素と、当該一方向に対し交差する方向の周辺画素とで影響度合いを異ならせて、前記画素を補正する補正手段と、を有している。
【０００７】
請求項３に記載の発明は、前記請求項１又は請求項２に記載の発明において、前記補正手段による補正は、特定の画像濃度変化量に対して鮮鋭度を強調する補正である。
【０００８】
請求項４に記載の発明は、前記請求項１〜請求項３の何れか１項記載の発明において、前記補正手段が、画像濃度に基づく特定の周波数帯域に対してエッジ強調されるバンドパスフィルが適用されたフィルタ処理であり、前記設定手段では、前記バンドパスフィルタを基準としてフィルタ係数を設定する。
【０００９】
請求項５に記載の発明は、前記請求項１、請求項３、請求項４の何れか１項記載の発明において、前記一方向が主走査方向であり、前記一方向に対し交差する方向が副走査方向であり、前記主走査方向のエッジ強調度合いを、前記副走査方向のエッジ強調度合いよりも強くする。
【００１０】
請求項６に記載の発明は、前記請求項２〜請求項４の何れか１項記載の発明において、前記一方向が主走査方向であり、前記一方向に対し交差する方向が副走査方向であり、前記主走査方向の周辺画素の影響度合いを、前記副走査方向の周辺画素の影響度合いよりも少なくする。
【００１１】
請求項７に記載の発明は、一方向に配列された複数の受光素子を備えたセンサ部と、前記センサ部と、画像が記録された原稿とを、前記一方向に対し交差する方向に相対移動させながら原稿に記録された画像を読み取る読取手段と、前記読取手段で読み取った画像の情報単位である画素に対して、フィルタ処理を施す補正手段と、前記補正手段で適用するフィルタ係数を、補正対象である注目画素を基準とする前記一方向と、一方向に対し交差する方向とでエッジ強調度合いを異ならせて設定する設定手段と、を有している。
【００１２】
請求項８に記載の発明は、前記請求項７に記載の発明において、前記補正手段によるフィルタ処理には、画像濃度に基づく特定の周波数帯域に対してエッジ強調されるバンドパスフィルタが適用され、前記設定手段では、前記バンドパスフィルタを基準としてフィルタ係数を設定する。
【００１３】
請求項９に記載の発明は、前記請求項７又は請求項８に記載の発明において、前記設定手段が、解像力測定用パターンが記録された前記原稿を読み取り、当該読み取った画像の情報に基づいて、前記一方向の解像力と、当該一方向に対し交差する方向の解像力とをそれぞれ演算する演算手段を有し、前記演算手段で演算された一方向の解像力に基づいて、一方向のフィルタ係数を設定し、前記演算手段で演算された一方向に対し交差する方向の解像力に基づいて、一方向に対し交差する方向のフィルタ係数を設定する。
【００１４】
請求項１０に記載の発明は、前記請求項７〜請求項９の何れか１項記載の発明において、前記一方向が主走査方向であり、前記一方向に対し交差する方向が副走査方向であり、前記主走査方向の前記エッジ強調度合いを、前記副走査方向のエッジ強調度合いよりも強くする。
【００１５】
請求項１１に記載の発明は、コンピュータに、一方向に配列された複数の受光素子を備えたセンサ部と、画像が記録された原稿とを、前記一方向と交差する方向に移動させることで、前記センサ部で読み取った画像の情報単位である画素毎に、フィルタ処理を施す際に、前記フィルタ処理を、補正対象である注目画素を基準とする前記一方向と一方向に対し交差する方向とでエッジ強調度合いを異ならせて設定する、ことを実行させる補正制御プログラムである。
【発明の効果】
【００１６】
請求項１記載の発明によれば、原稿画像を読み取る場合の走査方向に依存する解像力差がある際に、走査方向によらずエッジ強調度合いを同じにする構成に比較して画質が方向によって不均一になるのを抑制することができる。
【００１７】
請求項２記載の発明によれば、原稿画像を読み取る場合の走査方向に依存する解像力差がある際に、走査方向によらず周辺画素の影響度合いを同じにする構成に比較して画質低下を抑制することができる。
【００１８】
請求項３，４に記載の発明によれば、ハイパスフィルタやローパスフィルタを使用する場合と比較して画質のがさつきを抑えつつ文字や細線を強調する事が可能となる。
【００１９】
請求項５に記載の発明によれば、受光素子が配列された主走査方向の解像力が相対的に低いにも関わらず走査方向によらずエッジ強調度合いを同じにする構成に比較して画質が方向によって不均一になるのを抑制することができる。
【００２０】
請求項６に記載の発明によれば、受光素子が配列された主走査方向の解像力が相対的に低いにも関わらず走査方向によらず周辺画素の影響度合いを同じにする構成に比較して画質低下を抑制することができる。
【００２１】
請求項７に記載の発明によれば、原稿画像を読み取る場合の走査方向に依存する解像力差がある際に、走査方向によらずエッジ強調度合いを同じにする構成に比較して画質が方向によって不均一になるのを抑制することができる。
【００２２】
請求項８に記載の発明によれば、ハイパスフィルタやローパスフィルタを使用する場合と比較して画質のがさつきを抑えつつ文字や細線を強調する事が可能となる。
【００２３】
請求項９に記載の発明によれば、それぞれの走査方向の解像力に基づいて、エッジ強調度合いを設定することができる。
【００２４】
請求項１０に記載の発明によれば、受光素子が配列された主走査方向の解像力が相対的に低いにも関わらず走査方向によらずエッジ強調度合いを同じにする構成に比較して画質が方向によって不均一になるのを抑制することができる。
【００２５】
請求項１１に記載の発明によれば、原稿画像を読み取る場合の走査方向に依存する解像力差がある際に、走査方向によらずエッジ強調度合いを同じにする構成に比較して画質が方向によって不均一になるのを抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】本実施の形態に係る画像処理装置の概略図である。
【図２】（Ａ）は本実施の形態に係る画像読取部の構成の一例を示す概略断面図、（Ｂ）は読取領域の拡大図である。
【図３】本実施の形態に係る画像読取部の信号処理での画像処理制御のための機能ブロック図である。
【図４】（Ａ）本実施の形態に係るエッジ強調フィルタの基準ウィンドウのフィルタ係数の配置パターン図、（Ｂ）はフィルタ係数の変数の意味しめす図表、（Ｃ）は画像読取時にフィルタ処理する注目画素を特定する原稿の正面図、（Ｄ）はフィルタ処理のための演算式をしめす図表である。
【図５】（Ａ）はフィルタ処理前の文字画像の正面図及びその強調度合いを示す特性図、（Ｂ）はフィルタ処理後の文字画像の正面図及びその強調度合いを示す特性図である。
【図６】解像力測定用原稿の正面図である。
【図７】本実施の形態に係るエッジ強調フィルタ処理前後の細線の状態を示す正面図である。
【図８】本実施の形態に係るフィルタ係数設定モード制御ルーチンを示すフローチャートである。
【図９】本実施の形態に係る画像読取制御ルーチンを示すフローチャートである。
【図１０】フィルタ係数設定の遷移状態を示し、（Ａ）は基準ウィンドウのパターン図、（Ｂ）はバンドパスフィルタに対して主走査方向と副走査方向とで異なるエッジ強調度合いとしたフィルタ係数の数値例を示すウィンドウのパターン図、（Ｃ）は一般的はハイパスフィルタ及びローパスフィルタのフィルタ係数の数値例を示すウィンドウのパターン図である。
【発明を実施するための形態】
【００２７】
図１には、本実施の形態に係る画像処理装置１０が示されている。
【００２８】
画像処理装置１０は、記録用紙に画像を形成する画像形成部１２と、原稿画像を読み取る画像読取部１４と、ファクシミリ通信制御回路１６を備えている。
【００２９】
画像処理装置１０は、メインコントローラ１８を備えており、画像形成部１２、画像読取部１４、ファクシミリ通信制御回路１６を制御して、例えば、画像読取部１４で読み取った原稿画像の画像データを一次的に記憶したり、読み取った画像データを画像形成部１２又はファクシミリ通信制御回路１６へ送出したりする。なお、画像読取部１４は上部筐体１０Ａに覆われ、画像形成部１２，ファクシミリ通信制御回路１６、メインコントローラ１８は下部筐体１０Ｂに覆われている。下部筐体１０Ｂのさらに下部は記録用紙を収容する複数段のトレイユニット２４が設けられている。
【００３０】
また、前記画像読取部１４を被覆する上部筐体１０Ａの上面かつ前方には、画像読取処理、複写処理、画像形成処理、送受信処理を含む処理動作（サービス）項目を指示したり、それぞれの処理動作の詳細設定を指示すると共に、画像処理装置１０の状態を表示するためのユーザーインターフェイス２６（以下、「ＵＩ２６」という場合がある。）が配置されている。ＵＩ２６には、表示画面に操作者の指等を接触することで指示可能なタッチパネル部２８と、機械的動作（例えば、押圧動作）で指示可能な複数のハードキー（図示省略）が設けられたハードキー配列部３０とが設けられている。
【００３１】
メインコントローラ１８にはインターネット等のネットワーク通信回線網２０が接続され、ファクシミリ通信制御回路１６には電話回線網２２が接続されている。メインコントローラ１８は、例えば、ネットワーク通信回線網２０を介してホストコンピュータと接続され、画像データを受信したり、ファクシミリ通信制御回路１６を介して電話回線網２２を用いてファクシミリ受信及びファクシミリ送信を実行する役目を有している。
【００３２】
本実施の形態では、上記画像形成部１２、画像読取部１４、ファクシミリ通信制御回路１６を用いて、スキャン、複写、プリント、ファクシミリ送信、ファクシミリ受信、受信後のプリントを含むサービス（処理形態）が実行可能である。
【００３３】
画像形成部１２は、感光体を備え、感光体の周囲には、感光体を一様に帯電する帯電装置と、画像データに基づいて光ビームを走査する走査露光部と、前記走査露光部によって走査露光されることで形成された静電潜像を現像する画像現像部と、現像化された感光体上の画像を記録用紙へ転写する転写部と、転写後の感光体の表面をクリーニングするクリーニング部と、が設けられている。また、記録用紙の搬送経路上には、転写後の記録用紙上の画像を定着する定着部を備えている。
【００３４】
図２（Ａ）に示される如く、画像読取部１４を収容する上部筐体１０Ａの上面には、自動原稿送り装置５０が設けられている。
【００３５】
また、上部筐体１０Ａの上面、すなわち、自動原稿送り装置５０に対向する面には、画像を読み取る原稿が置かれる読取ガラス７０が設けられている。
【００３６】
自動原稿送り装置５０は、原稿が置かれる原稿台６０と、画像を読み取った後の原稿が排出される排出台６２と、を有する。
【００３７】
原稿台６０から排出台６２までの原稿搬送路６１は、その一部が円弧状に形成されることで原稿Ｍを反転させる機能を有している。
【００３８】
原稿搬送路６１の最上流側には、用紙送出部６３が設けられている。用紙送出部６３は、原稿台６０に置かれた原稿Ｍを枚葉（ピックアップ）する。原稿搬送路６１は、複数のローラ対（送出ローラ対６４、位置合わせローラ対６６、アウトローラ対６８、排出ローラ対６９）によって形成される。なお、原稿搬送路６１の適宜位置には、原稿Ｍの搬送を案内する案内板６５が設けられている。
【００３９】
送出ローラ対６４は、用紙送出部６３から送られた原稿のうち最上部にある原稿を反転しながら内部に供給する。
【００４０】
位置合わせローラ対６６は、上流側から送られた原稿Ｍを、読み取りタイミングを調整し、読取ガラス７４の対峙領域（読取領域）を通過させる。
【００４１】
図２（Ｂ）は、この読取り領域における原稿搬送路６１の詳細を示したものである。
【００４２】
図２（Ｂ）に示される如く、読取ガラス７４に対して、原稿Ｍの搬送側の上流側では、原稿Ｍを読取ガラス側に案内する薄膜状の弾性フィルム１０９が配置されている。弾性フィルム１０９の下方には、読取ガラス７４の左端上面に、パッド１１１が支持されている。パッド１１１は、弾性フィルム１０９で下方に案内された原稿Ｍを図２（Ｂ）の右方に案内するように、例えば、剛性の高い案内板に比べて低摩擦材料で構成されている。パッド１１１で案内された原稿Ｍは、読取ガラス７４の上方を、所定の隙間Ｇをもって通過して、原稿Ｍのジャンプガイド板１１５で案内され、下流側のアウトローラ対６８で搬送される。
【００４３】
読取ガラス７４の下部には、後述する本実施の形態における密着型センサの一例であるＣＩＳユニット８８が待機しており、このＣＩＳユニット８８によって原稿Ｍの画像が読み取られるようになっている。
【００４４】
アウトローラ対６８および排出ローラ対６９は、読み取った原稿Ｍを排出台６２へ排出する。
【００４５】
図２（Ａ）に示される如く、前記上部筐体１０Ａに収容された画像読取部１４は、ＣＩＳ（Contact Image Sensor）ユニット８８と、当該ＣＩＳユニット８８で読み取った画像情報信号を処理する信号処理部９０、並びにＣＩＳユニット８８の走査を制御する走査制御部９２を備えている。
【００４６】
図２（Ｂ）に示される如く、ＣＩＳユニット８８は、図２（Ｂ）の奥行き方向を長手方向とする筐体８９に収容されており、図示しないレール機構部に沿って、読取ガラス７４の下方、並びに、読取ガラス７０の下方を移動可能となっている。
【００４７】
このとき、ＣＩＳユニット８８は、読取ガラス７４の下方では、予め定めた位置に固定配置されており（図２（Ｂ）の実線位置参照）、前記原稿搬送路６１に沿って搬送されてくる原稿Ｍの画像面に対して、順次対峙することになる。すなわち、自動原稿送り装置５０から送られる原稿Ｍに対する副走査となる（以下、「ＤＡＤＦ副走査」という）。
【００４８】
一方、ＣＩＳユニット８８は、読取ガラス７０の下方では、予め定めた範囲内を往復移動する。図２（Ｂ）の鎖線で示したＣＩＳユニット８８は、この往復移動におけるホームポジションである。
【００４９】
ここで、読取ガラス７０の上面に原稿Ｍが位置決めされている場合、往復移動の一方（往路又は復路）が、当該原稿Ｍから画像を読み取るための副走査となる（以下、「プラテン副走査」という）。
【００５０】
走査制御部９２は、ＤＡＤＦ副走査の際は、読取ガラス７４の下方における予め定めた位置にＣＩＳユニット８８を位置決めする制御を実行し、プラテン副走査の際は、読取ガラス７０の下方を予め定めた速度で往復移動させる制御を実行する。
【００５１】
ＣＩＳユニット８８は、光源１００、ロッドレンズアレイ１０２、光電変換素子１０４Ａが取り付けられたセンサ基板１０４が設けられている。
【００５２】
光源１００は、原稿Ｍを照明するためのものであり、例えば、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の各色の発光波長を持つ発光素子を備え、順次又は選択又は一斉点灯するように制御される。なお、光源１００から発光した光は、原稿Ｍの幅方向（図２（Ｂ）の奥行き方向）に配置された細長形状の導光体（図示省略）によって、前記読取ガラス７４の上方の読取領域を通過する原稿Ｍに照射されるようになっている。
【００５３】
ロッドレンズアレイ１０２は、正立等倍結像型の結像素子を導光体の長手方向と同方向に複数配列したものであり、原稿Ｍからの反射光をセンサ基板１０４上の光電変換素子１０４Ａに結像する。
【００５４】
この光電変換素子１０４Ａは、ロッドレンズアレイ１０２の長手方向に沿って複数配列され、長手方向の一方から他方にかけて順次原稿Ｍからの反射光がロッドレンズアレイ１０２を介して結像される（ＤＡＤＦ副走査及びプラテン副走査での共通の主走査）。
【００５５】
光電変換素子１０４Ａは、結像された反射光を電気信号に変換する。また、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の各色の反射光を全て電気信号に変更することで、カラー画像の主走査が実行され、当該電気信号は、本実施の形態における入力部を兼ねる信号処理部９０へ送出される。
【００５６】
ところで、画像読取部１４において、自動原稿送り装置５０から原稿搬送路６１に沿って搬送されて読取ガラス７４の上を通過（ＤＡＤＦ副走査）する原稿Ｍから画像を読み取る（以下、「ＤＡＤＦ読み」という）とき、読取ガラス７０の下方を移動（プラテン副走査）しながら、読取ガラス７０に位置決めされた原稿Ｍから画像を読み取る（以下、「プラテン読み」という）とき、の何れにおいて、ＣＩＳユニット８８と原稿Ｍとの間では、主走査及び副走査が実行される。
【００５７】
より具体的には、ＤＡＤＦ読みでは、ＣＩＳユニット８８が固定配置されて主走査を実行しながら、原稿Ｍを副走査方向へ搬送している。一方、プラテン読みでは、原稿Ｍを固定配置しながら、ＣＩＳユニット８８を主走査を行い、かつＣＩＳユニット８８を副走査方向へ移動させている。
【００５８】
このとき、ＣＩＳユニット８８の構造上、例えば、光電変換素子１０４Ａとロッドレンズアレイ８９との相対位置差を含む機差、並びに読取モード（ＤＡＤＦ読み、プラテン読み）に起因して、主走査方向の解像力（後述）の差が、副走査方向の解像力の差よりも多く生じる。
【００５９】
解像力の差は、主走査により読み取った画像の主走査方向に沿った細線Ｌｓｍと、主走査により読み取った画像の副走査方向に沿った細線Ｌｓｓの「ぼけ」や「にじみ」の違いとして顕著に現れる場合がある（図７参照）。
【００６０】
この場合、通常フィルタ処理を行い、鮮鋭度合いを補正することが考えられる。ここで、一般に、フィルタ処理の対象は、読み取った画像の濃度に基づき解析した周波数帯域である。すなわち、相対的に、濃淡がなだらかに変化する場合は低い周波数、濃淡が急激に変化する場合は高い周波数である。フィルタ処理は、特定の周波数帯域の濃度変化等を調整するものである。例えば、注目画素の濃度に対して、周囲の画素に基づいて補正倍率（フィルタ係数）を設定するものである（詳細後述、図４参照）。
【００６１】
ところが、画像全体に鮮鋭度を強調するフィルタ（図１０（Ｃ）に示すハイパスフィルタ）をかけると、文字や細線は強調されて、「ぼけ」や「にじみ」が解消されるが、画質がガサガサになる場合ある。
【００６２】
なお、参考として、画像全体に鮮鋭度を和らげて平滑化するフィルタ（図１０（Ｃ）に示すローパスフィルタ）をかけると、ザラツキをなくすため、画質がぼやける場合がある。
【００６３】
そこで、本実施の形態では、前述した鮮鋭化を目的としたハイパスフィルタと、画像の平滑化を目的としたローパスフィルタと、の双方の機能を持ち、特定の帯域に対して、鮮鋭度を強調するフィルタをかけるバンドパスフィルタに着目し、このバンドパスフィルタのフィルタ係数を主走査方向と副走査方向とで異ならせるようにした。すなわち、フィルタ処理対象の注目画素に対して、主走査方向のフィルタ係数と副走査方向フィルタ係数とを、通常は同一フィルタ係数が設定されるところを、別々に設定するようにした。
【００６４】
図３は、画像読取部１４における、信号処理部９０を機能的に示したブロック図である。なお、このブロック図は、信号処理部９０のハード構成を限定するものではない。
【００６５】
ＣＩＳユニット８８の光電変換素子１０４Ａは、受付部１５０に接続されており、光電変換信号（アナログの電気信号）を、受付部１５０へ送出する。
【００６６】
受付部１５０では、少なくとも受け付けたＲＧＢの各色の電気信号（アナログ）をデジタル信号に変換（Ａ／Ｄ変換）し、通常モードでは、変換後のデジタル信号をシェーディング処理部１５２へ送出する。
【００６７】
一方、走査方向依存フィルタ係数設定モードでは、デジタル変換した電気信号（画像情報）は、ウィンドウ設定部１５４へ送出される。なお、走査方向依存フィルタ係数設定モードについては後述する。
【００６８】
シェーディング処理部１５２には、予めＣＩＳユニット８８において主走査方向に配列された光電変換素子１０４Ａの出力信号のばらつき（検出ムラ）を補正するための補正テーブルを記憶している。すなわち、例えば、主走査方向に一定の濃度の原稿を読み取ったときの出力の差を補正して、一定値にする。
【００６９】
シェーディング処理部１５２は、第１のフィルタ処理部１５６に接続されている。この第１のフィルタ処理部１５６は、主走査方向と副走査方向との解像力の差によって生じる画質の低下（「ぼけ」や「にじみ」）を補正する役目を有している。特に、主走査方向に沿う細線の方が、副走査方向に沿う細線よりも「ぼけ」や「にじみ」が顕著に現れる。
【００７０】
この焦点位置の差による画質低下は、バンドパスフィルタによる特定帯域のエッジ強調フィルタ処理によって補正している。
【００７１】
（エッジ強調フィルタ処理の原理）
図４は、基準となるエッジ強調フィルタ処理の原理について説明したものである。
【００７２】
図４（Ａ）は、縦５コマ×横５コマの合計２５コマのマトリクス配置された基準フィルタ係数テーブル１１０（以下、「基準ウィンドウ１１０」という場合がある。）であり、各コマは光電変換素子１０４Ａによって読み取った画素に相当する。フィルタ処理される画素は、基準ウィンドウ１１０の中央（図４（Ａ）では符号Ａ）となる。
【００７３】
基準ウィンドウ１１０の各コマには、Ａ〜Ｉまでの９個の符号が割り当てられており、それぞれの符号が異なるフィルタ係数となる。
【００７４】
図４（Ａ）の基準ウィンドウ１１０は、記号が左右上下で対称配置されており、この結果、２５コマの画素であっても、９種類の符号（９種類のフィルタ係数）で処理されることを意味する。
【００７５】
図４（Ｂ）は、各符号のフィルタ係数を示した図表である。Ｃｏｅｆ  （記号）は予め定めた数値であり、基準ウィンドウ１１０の記号に対するフィルタ係数である。例えば、ＣｏｅｆＡは予め定めた数値であり、基準ウィンドウ１１０の記号Ａに対するフィルタ係数である。以下、ＣｏｅｆＢ〜ＣｏｅｆＩは、記号Ｂ〜Ｉ対するフィルタ係数である。
【００７６】
なお、ＦｉｌｌＶａｌは、光電変換素子１０４Ａが原稿Ｍの画像読取領域外に位置するときに使用する画素値係数である。なお、このフィルタ係数の数値設定により、フィルタ種（ハイパスフィルタ、ローパスフィルタ、バンドパスフィルタ）が決まる。
【００７７】
図４（Ｃ）の右図は、原稿Ｍの画像読取りを開始した直後、すなわち、原稿Ｍの左上角部から走査（主走査及び副走査）を開始するときの、基準ウィンドウ１１０の対応配置状態を示したものである。この基準ウィンドウ１１０の配置状態で、光電変換素子１０４Ａでは、図４（Ｃ）の左図に示すように、それぞれ読取情報Ｐを読み取る。なお、記号Ｐの後の２桁の数値は、一の位が主走査方向、十の位が副走査方向を示しており、Ｐ００〜Ｐ０４、Ｐ１０〜Ｐ１４、Ｐ２０〜Ｐ２４、Ｐ３０〜Ｐ３４、Ｐ４０〜Ｐ４４で合計２５コマの読取情報Ｐが区別される。
【００７８】
ここで、注目画素（図４（Ｃ）では、Ｐ２２）を対象としてフィルタ処理する場合は、図４（Ｄ）に示す演算で求めることになる。
【００７９】
すなわち、注目画素Ｐ２２の出力は、以下の演算式（１）で演算される。
【００８０】
P22
＝P00×Coef I＋P01×Coef H＋P02×Coef F＋P03×Coef H＋P04×Coef I
＋P10×Coef G＋P11×Coef E＋P12×Coef C＋P13×Coef E＋P14×Coef G
＋P20×Coef D＋P21×Coef B＋P22×Coef A＋P23×Coef B＋P24×Coef D
＋P30×Coef G＋P31×Coef E＋P32×Coef C＋P33×Coef E＋P34×Coef G
＋P40×Coef I＋P41×Coef H＋P42×Coef F＋P43×Coef H＋P44×Coef I
・・・（１）
なお、上記例では、Ｐ００〜Ｐ０４、Ｐ１０〜Ｐ１４、Ｐ２０、Ｐ２１、Ｐ３０、Ｐ３１、Ｐ４０、Ｐ４１が画像読取領域外なので、画素値として「ＦｉｌｌＶａｌ」が適用される。なお、そのフィルタ係数は画像読取領域外を含まない場合と同じ係数をつかう。
【００８１】
図５は、エッジ強調処理による注目画素の濃度とその周辺画素の濃度との相対差を示す特性図である。
【００８２】
図５（Ａ）は受付部１５０（図３参照）で受け付けた画像情報を示し、図５（Ｂ）はエッジ強調処理を実行した画像情報を示す。
【００８３】
図５に示される如く、エッジ強調処理により、注目画素と周辺画素との濃度差が大きくなり、例えば、焦点距離のずれによるぼけやにじみ等の画質低下を、フィルタ処理（エッジ強調処理）で補正可能であることがわかる。
【００８４】
ここで、本実施の形態の第１のフィルタ処理部１５６（図３参照）では、上記フィルタ処理の原理を利用して、画質低下が相対的に大きい主走査方向のフィルタ係数（図４（Ａ）の符号Ｂ、Ｄに相当）を、画質低下が相対的に低い副走査方向のフィルタ係数（図４（Ａ）の符号ＣＦに相当）よりもエッジ強調度合いを強くしたウィンドウ（図１０（Ｂ）参照）で、主走査方向と副走査方向との解像力差に依存する画質低下（ぼけやにじみ）を補正している。
【００８５】
図１０（Ｂ）のウィンドウは、バンドパスフィルタとしてフィルタ係数の数値を設定したウィンドウを基準ウィンドウ（図３の基準ウィンドウ記憶部１５５に記憶するウィンドウ）としている。この基準ウィンドウ（バンドパスフィルタ）において、注目画素を基準として主走査方向と副走査方向とでフィルタ係数を異ならせることで、特定の帯域に対してエッジ強調処理が実行され、かつ主走査方向の方が副走査方向よりもエッジ強調度合い強いことがわかる。
【００８６】
なお、ＤＡＤＦ読みとプラテン読みとで、独立したフィルタ係数テーブル(ＤＡＤＦ用ウィンドウ１１０Ｄ、プラテン用ウィンドウ１１０Ｐ)を設定しておき、それぞれの読み取り形態に応じて、ウィンドウ(ＤＡＤＦ用ウィンドウ１１０Ｄ、プラテン用ウィンドウ１１０Ｐ)を選択して適用することが好ましい。
【００８７】
すなわち、図３に示される如く、第１のフィルタ処理部１５６には、ウィンドウ一時格納部１５８が接続されている。このウィンドウ一時格納部１５８には、読み取り形態（ＤＡＤＦ読み又はプラテン読み）に対応するフィルタ係数がマトリクス配置されたウィンドウ(ＤＡＤＦ用ウィンドウ１１０Ｄ又はプラテン用ウィンドウ１１０Ｐ)が格納されている。
【００８８】
ウィンドウ一時格納部１５８は、ウィンドウ読出部１６０に接続されている。ウィンドウ読出部１６０は、読取モード情報読込部１６２及びウィンドウ記憶部１６４に接続されている。
【００８９】
ここで、読取モード情報読込部１６２では、走査制御部９２から読取モード情報（ＤＡＤＦ読み又はプラテン読み）を読み込み、ウィンドウ読出部１６０へ送出する。ウィンドウ読出部１６０では、読取モード情報に基づいて、ウィンドウ記憶部１６４からＤＡＤＦ用のフィルタ係数が設定されたＤＡＤＦ用ウィンドウ１１０Ｄ、或いは、プラテン用のフィルタ係数が設定されたプラテン用ウィンドウ１１０Ｐの何れかを読み出し、ウィンドウ一時格納部１５８へ格納する。すなわち、ウィンドウ一時格納部１５８には、これから画像読取部１４で実行される画像読み取りの際の読取モードに応じて、逐次格納されるウィンドウ(ＤＡＤＦ用ウィンドウ１１０Ｄ又はプラテン用ウィンドウ１１０Ｐ)が変更されるようになっている。
【００９０】
なお、ウィンドウ記憶部１６４に記憶された、ＤＡＤＦ用ウィンドウ１１０Ｄ、並びに、プラテン用ウィンドウ１１０Ｐは、解像力測定用原稿Ｍ１（図６（Ａ）参照）のパターンを読み取ることによって生成されるようになっており、当該生成手順については後述する。
【００９１】
第１のフィルタ処理部１５６では、ウィンドウ一時格納部１５８に格納されたウィンドウ(ＤＡＤＦ用ウィンドウ１１０Ｄ又はプラテン用ウィンドウ１１０Ｐ)のフィルタ係数を用いて、前述した演算式（１）に基づいて各画素の濃度を演算する。
【００９２】
第１のフィルタ処理部１５６でフィルタ処理された画像情報は、色変換処理部１６６へ送出される。色変換処理部１６６では、入力画像情報がＲＧＢであるのに対し、例えば、画像形成部１２での画像形成のための画像情報であるＣＭＹＫに変換する。この色変換の際、例えば、Ｌ＊ａ＊ｂ＊色空間を介してＣＭＹＫに色変換してもよい（ＲＧＢ→Ｌ＊ａ＊ｂ＊→ＣＭＹＫ）。なお、色変換は、ＣＭＹＫに限らず、指定された色空間に変換してもよい。
【００９３】
色変換処理部１６６は、第２のフィルタ処理部１６８が接続されている。この第２のフィルタ処理部１６８は、画像モード依存で実行されるフィルタ処理である。例えば、原稿画像が文字モード、写真モード、印刷モード、混在モードに分類され、それぞれの画像に適したフィルタ処理が実行される。この第２のフィルタ処理部１６８では、例えば、非線形フィルタが用いられ、エッジ部分を損なうことなしに雑音や網点成分を除去する。より具体的には、非線形平滑用フィルタと非線形エッジ強調フィルタを適用する。非線形平滑用フィルタではエッジ部を保存しつつ雑音や網点成分を除去する。また、非線形エッジ強調用フィルタでは、雑音を強調せずエッジ部分のみ強調する。
【００９４】
また、色変換処理部１６６は、濃度調整部１７０に接続されている。濃度調整部１７０では、例えば、フィルタ処理、色変換処理が終了した画像情報に対して、最終的に全画素の積算平均濃度が予め定めたグレースケール（例えば、中間値）になるように全ての画素を一律に補正する。なお、濃度調整部１７０の調整は、前記例に限定されるものではない。
【００９５】
濃度調整部１７０で濃度調整された画像情報は、出力部１７２を介して、例えば、画像形成部１２へ送出される。或いは、画像読取を指示したＰＣや、サーバー等へ転送するようにしてもよい。
【００９６】
（フィルタ係数をマトリクス配置したウィンドウの生成）
本実施の形態では、解像力が異なる注目画素に対する主走査方向と副走査方向のフィルタ係数を異ならせて、主走査方向及び副走査方向の双方向で最適なエッジ強調処理を実行するためのフィルタ係数を設定する。
【００９７】
このフィルタ係数の設定は、前述した通常モードとは異なり、走査方向依存フィルタ係数設定モードにおいて実行される。フィルタ係数設定モードでは、受付部１５０で受け付け、Ａ／Ｄ変換された画像情報をウィンドウ設定部１５４へ送出する。
【００９８】
また、フィルタ係数設定モードでは、当該フィルタ係数設定専用の解像力測定用原稿Ｍ１（図６（Ａ）参照）を適用する。
【００９９】
図６に示される如く、解像力測定用原稿Ｍ１は、主走査方向解析用のＣＴＦ（解像力）測定用パターン１１３Ｓｍと、副走査方向解析用のＣＴＦ（解像力）測定用パターン１１３Ｓｓと、が印刷されている。当該ＣＴＦ測定用パターン１１３Ｓｍ、１１３Ｓｓは、それぞれ１ｍｍの間に黒線と白線が交互に存在するペアが５本あるパターン（５ＬＰ（LinePair）／mm）である。ＣＴＦ測定用パターン１１３Ｍは、主走査方向の解像度測定に用いられる。一方、ＣＴＦ測定用パターン１１３Ｓｓは、副走査方向の解像度測定に用いられる。
【０１００】
走査方向依存フィルタ係数設定モードでは、前記解像力測定用原稿Ｍ１を用いて画像読取処理を実行し、ウィンドウ設定部１５４（図３参照）において、読み取った画像情報に基づき、以下の演算式（２）で解像力を演算する。
【０１０１】
CTF＝(黒線の濃度−白線の濃度)/(黒基準の濃度−白基準の濃度)×100［%］・・・（２）
例えば、黒線の濃度が１６０、白線の濃度が７０、黒基準の濃度が２００、白基準の濃度が５０とすると、上記演算式（２）によれば、ＣＴＦ値は６０％となる。
【０１０２】
例えば、上記演算結果のＣＴＦ値６０％は、焦点が合っていることを示し、６０％未満の結果であると、その数値に応じた「ぼけ」や「にじみ」が発生していることを示す。
【０１０３】
図３に示される如く、ウィンドウ設定部１５４では、基準ウィンドウ記憶部１５５から取り込んだ基準ウィンドウ１１０のフィルタ係数（バンドパスフィルタ）を基準として、ウィンドウの各コマ（図４（Ａ）の符号Ａ〜Ｉに相当するＣｏｅｆ値）を設定する。なお、ＤＡＤＦ読みと、プラテン読みとで別々に実行することが好ましい。
【０１０４】
設定されたＤＡＤＦ用ウィンドウ１１０Ｄ及びプラテン用ウィンドウ１１０Ｐは、ウィンドウ書込部１７４へ送出され、ウィンドウ書込部１７４では、受け付けたＤＡＤＦ用ウィンドウ１１０Ｄ及びプラテン用ウィンドウ１１０Ｐをウィンドウ記憶部１６４に記憶する。
【０１０５】
なお、基準ウィンドウ記憶部１５５に記憶された基準ウィンドウ１１０は、設計上のフィルタ係数を設定したものである。
【０１０６】
以下に本実施の形態の作用を説明する。
【０１０７】
（フィルタ係数設定モード制御ルーチン）
図８のフローチャートに従い、ＤＡＤＦ用及びプラテン用のそれぞれにおいて、主走査方向と副走査方向とで異なるフィルタ係数を割り当てたウィンドウ（ＤＡＤＦ用ウィンドウ１１０Ｄ及びプラテン用ウィンドウ１１０Ｐ）を設定するフィルタ係数設定について説明する。
【０１０８】
ステップ２００では、自動原稿送り装置５０に解像力計測用原稿Ｍ１を装填するように指示する。例えば、ＵＩ２６に装填を促すメッセージを表示するといったことが考えられる。
【０１０９】
次のステップ２０２では、読取開始指示があったか否かが判断され、肯定判定されると、ステップ２０４へ移行して、ＣＩＳユニット８８による原稿画像の読取制御を実行する。ここでは、読取制御は、ＣＩＳユニット８８を読取ガラス７４の下方に固定配置し、搬送される解像力測定用原稿Ｍ１を読み取る。
【０１１０】
次のステップ２０６では、原稿Ｍ１から読み取った画像情報（図６に示すＣＴＦ測定用パターン１１３Ｓｍ（主走査）、ＣＴＦ測定用パターン１１３Ｓｓ（副走査））を受け付け、次いで、ステップ２０８でＡ／Ｄ変換を含む初期処理を実行し、当該画像情報（デジタル）をウィンドウ設定部１５４へ送出する。
【０１１１】
次のステップ２１０では、画像情報を解析し、演算式（２）に基づいて、ＣＴＦ測定用パターン１１３Ｓｍ、ＣＴＦ測定用パターン１１３Ｓｓのそれぞれに基づいて、ＣＴＦ値を演算し、次いでステップ２１２へ移行して、主走査方向のフィルタ係数を設定し、次いでステップ２１３へ移行して、副走査方向のフィルタ係数を設定する。
【０１１２】
次のステップ２１４では、設定したフィルタ係数に基づいて基準ウィンドウ１１０を補正し、ＤＡＤＦ用ウィンドウ１１０Ｄを生成し、ステップ２１６へ移行して、ウィンドウ記憶部１６４に記憶する。以上で、ＤＡＤＦ用ウィンドウ１１０Ｄの生成が終了し、続いて、プラテン用ウィンドウ１１０Ｐの生成を実行する。
【０１１３】
次のステップ２１８では、読取ガラス７０に解像力測定用原稿Ｍ１を装填するように指示する。例えば、ＵＩ２６に装填を促すメッセージを表示するといったことが考えられる。
【０１１４】
次のステップ２２０では、読取開始指示があったか否かが判断され、肯定判定されると、ステップ２２２へ移行して、ＣＩＳユニット８８による原稿画像の読取制御を実行する。ここでは、読取制御は、ＣＩＳユニット８８を読取ガラス７０の下方のホームポジションに移動し、このホームポジションから往復移動することで、読取ガラス７０の上面に固定配置された解像力測定用原稿Ｍ１を読み取る。
【０１１５】
次のステップ２２４では、読み取った画像情報（図６に示すＣＴＦ測定用パターン１１３Ｓｍ（主走査）、ＣＴＦ測定用パターン１１３Ｓｓ（副走査））を受け付け、次いで、ステップ２２６でＡ／Ｄ変換を含む初期処理を実行し、当該画像情報（デジタル）をウィンドウ設定部１５４へ送出する。
【０１１６】
次のステップ２２８では、画像情報を解析し、演算式（２）に基づいて、ＣＴＦ測定用パターン１１３Ｓｍ、ＣＴＦ測定用パターン１１３Ｓｓのそれぞれに基づいて、ＣＴＦ値を演算し、次いでステップ２３０へ移行して、主走査方向のフィルタ係数を設定し、次いでステップ２３１へ移行して、副走査方向のフィルタ係数を設定する。
【０１１７】
次のステップ２３２では、設定したフィルタ係数に基づいて基準ウィンドウ１１０を補正し、プラテン用ウィンドウ１１０Ｐを生成し、ステップ２３４へ移行して、ウィンドウ記憶部１６４に記憶する。以上で、プラテン用ウィンドウ及びＤＡＤＦ用ウィンドウの生成が終了し、このルーチンは終了する。
【０１１８】
なお、図８では、ＤＡＤＦ用ウィンドウ１１０Ｄの生成に続きプラテン用ウィンドウ１１０Ｐの生成をシリアルに実行したが、生成順は逆でもよい。また、原稿Ｍ１を用いて、ＤＡＤＦ読み及びプラテン読みを先に実行しておき、時分割で並行処理してもよい。また、ＤＡＤＦ用ウィンドウ１１０Ｄの生成とプラテン用ウィンドウ１１０Ｐの生成とを別々のフローチャートで独立して実行するようにしてもよい。
【０１１９】
また、主走査方向と副走査方向とでそれぞれ設定したフィルタ係数が、ＤＡＤＦ読みとプラテン読みとで同一（或いは、予め定めた一定の許容範囲内）であれば、ＤＡＤＦ用及びプラテン用で共用可能ナ単一のウィンドウを生成してもよい。
【０１２０】
（画像読取制御ルーチン）
図９は、通常モードである画像読取制御ルーチンを示すフローチャートである。
【０１２１】
通常モードの画像読取制御では、既に、図８のフローチャートにおけるフィルタ係数設定が終了し、ウィンドウ記憶部１６４にＤＡＤＦ用ウィンドウ１１０Ｄとプラテン用ウィンドウ１１０Ｐが記憶されていることを前提とする。
【０１２２】
ステップ２５０では、原稿Ｍが装填されたか否かが判断される。この判断は、例えば、用紙サイズセンサ等からの信号で、自動原稿送り装置５０に装填されたのか、読取ガラス７０の上面に装填されたのかを判別することが可能である。
【０１２３】
ステップ２５０で否定判定された場合はこのルーチンは終了し、肯定判定された場合は、ステップ２５２へ移行する。
【０１２４】
ステップ２５２では、読取モードを判別する。このステップ２５２で、原稿Ｍが自動原稿送り装置５０に装填されたと判別された場合は、ＤＡＤＦ読みと判断し、ステップ２５４へ移行して、ウィンドウ記憶部１６４からＤＡＤＦ用ウィンドウ１１０Ｄを読み出してステップ２５８へ移行する。
【０１２５】
また、ステップ２５２で、原稿Ｍが読取ガラス７０上に装填されたと判別された場合は、プラテン読みと判断し、ステップ２５６へ移行して、ウィンドウ記憶部１６４からプラテン用ウィンドウを読み出してステップ２５８へ移行する。
【０１２６】
ステップ２５８では、読み出した何れかのウィンドウをウィンドウ一時格納部１５８へ格納し、ステップ２６０へ移行する。ステップ２６０では、読取開始指示があったか否かが判断され、否定判定されると、ステップ２６２へ移行して、中止指示があったか否かが判断される。このステップ２６２で否定判定されると、ステップ２６０へ戻り、ステップ２６０又はステップ２６２の何れかで肯定判定されるまで、ステップ２６０及びステップ２６２を繰り返す。
【０１２７】
ここで、ステップ２６２で肯定判定されると、原稿読み取りを中止して、このルーチンは終了する。また、ステップ２６０で肯定判定されると、ステップ２６４へ移行して、読取モードに基づく、ＣＩＳユニット８８による原稿画像の読取制御を実行する。
【０１２８】
ＤＡＤＦ読みの場合の読取制御は、ＣＩＳユニット８８を読取ガラス７４の下方に固定配置し、原稿搬送路６１に沿って搬送される原稿Ｍを読み取る。
【０１２９】
一方、プラテン読みの読取制御は、ＣＩＳユニット８８を読取ガラス７０の下方のホームポジションに移動し、このホームポジションから往復移動することで、読取ガラス７０の上面に固定配置された原稿Ｍを読み取る。
【０１３０】
次のステップ２６６では、読み取った画像情報（アナログ）を受け付け、次いでステップ２６８へ移行してＡ／Ｄ変換を含む初期処理を実行し、ステップ２７０へ移行してシェーディング処理が実行される。
【０１３１】
次のステップ２７２では、ウィンドウ一時格納部１５８に格納されているウィンドウを読み出し、次いでステップ２７４で、デバイス依存のフィルタ処理を実行する。この場合、ウィンドウ一時格納部１５８には、読取モードに基づいて、ＤＡＤＦ用ウィンドウ１１０Ｄ又はプラテン用ウィンドウ１１０Ｐが格納されているため、それぞれの焦点距離に合ったフィルタ処理（エッジ強調処理）が実行される。
【０１３２】
従って、ＤＡＤＦ読みとプラテン読みとで画質が変化するようなことはなく、何れの読取モードであっても、ぼけやにじみを解消することが可能となる。
【０１３３】
次のステップ２７６では色変換処理が実行され、次いでステップ２７８へ移行して、画像モード（文字、写真、印刷、混在）依存のフィルタ処理が実行され、ステップ２８０へ移行する。例えば、色変換では、送出先が画像形成部１２であれば、ＲＧＢ→Ｌ＊ａ＊ｂ＊→ＣＭＹＫの順に色変換される。
【０１３４】
ステップ２８０では、濃度調整が実行されてステップ２８２へ移行し、例えば、画像形成部１２へ出力される。
【０１３５】
図７は、主走査で読み取った主走査方向の細線Ｌｓｍ（縦線）と、主走査で読み取った服走査方向に沿った細線Ｌｓｓ（横線）の「ぼけ」や「にじみ」の状態を観察した結果を示している。なお、本実施の形態における「細線」は、ＣＩＳユニット８８の読取解像度にもよるが、幅寸法が１ｍｍ以下の線を言うものとする。
【０１３６】
図７に示される如く、本実施の形態に係る主走査・副走査で異なるフィルタ係数としたウィンドウでエッジ強調処理を実行する前は、細線Ｌｓｍには「ぼけ」や「にじみ」が有り、細線Ｌｓｓには「ぼけ」や「にじみ」が無く、鮮鋭度を有している。
【０１３７】
次に、図７に示される如く、本実施の形態に係る主走査・副走査で異なるフィルタ係数としたウィンドウでエッジ強調処理を実行した後は、細線Ｌｓｍにおいて、「ぼけ」や「にじみ」が無くなっていることがわかる。また、細線Ｌｓｓは、エッジ強調処理前の鮮鋭度を維持していることがわかる。
【０１３８】
なお、図示は省略したが、前記と同一の細線線（縦線、横線）を、副走査で読み取った場合は、副走査方向のフィルタ係数に基づくエッジ強調処理の実行によって「ぼけ」や「にじみ」が無く、鮮鋭度が維持される。仮に、主走査方向にフィルタ係数と同一のフィルタ係数とすると、鮮鋭度が過度に強調される不具合が発生する場合があるが、本実施の形態のように、主走査方向と副走査方向とでフィルタ係数を異ならせることで、このような不具合は発生しない。
【０１３９】
（ＤＡＤＦ読みとプラテン読みとによる、ＣＩＳユニット８８と原稿との距離差によるフィルタ係数調整）
なお、本実施の形態では、注目画素に対して主走査方向と副走査方向とでフィルタ係数を異ならせて、特定の帯域に対してエッジ強調するバンドパスフィルタを生成した。
【０１４０】
ところで、図２（Ｂ）に示される如く、画像読取部１４において、ＤＡＤＦ読みでの原稿ＭからＣＩＳユニット８８の上端面までの距離Ｌ１と、プラテン読みでの原稿ＭからＣＩＳユニット８８の上端面までの距離Ｌ２とに差分Δが生じている。
【０１４１】
差分Δは、読取ガラス７０と読取りガラス７４とが同一平面上であるにも関わらず、読取ガラス７０上では、原稿Ｍを密着させて画像を読み取り、読取ガラス７４上では、搬送される原稿Ｍが読取ガラス７４と接触しながら移動（摺動）することを回避するための隙間Ｇをもって搬送していることが、１つの要因となっている。なお、読取ガラス７０，７４の上面間に段差がある場合は、この段差も要因の１つとなる場合がある。
【０１４２】
ＣＩＳユニット８８は、例えば、ＣＣＤ（個体撮像素子）に比べて、焦点深度が浅い。このため、前記差分Δによって、一方の焦点が合っている場合、他方の焦点がずれ、双方で読み取った画像の画質に差が生じる場合があった。
【０１４３】
或いは、設計上の基準となる焦点深度に対して、ＣＩＳユニット８８を含むデバイスの機差、並びに組み付け時の誤差を含む誤差（以下、総称して「デバイス依存の誤差」という）に起因して、ＤＡＤＦ読み、プラテン読みの双方において焦点が合わない場合もあり得る。
【０１４４】
そこで、距離想定用原稿Ｍ１を用いて解像力を演算し（演算式（２）参照）、当該解像力と距離との相関関係から距離を推定して焦点ずれを認識し、焦点ずれ分をエッジ強調処理を加味して、画質低下を抑制性するようにしてもよい。距離の推定は、白色の濃度パターンを用いてもよい。
【０１４５】
例えば、図１０（Ｂ）に示すウィンドウは、ＤＡＤＦ用ウィンドウ１１０Ｄとして、図１０（Ａ）に示す基準ウィンドウに具体的な数値（フィルタ係数）を設定したものである。このＤＡＤＦ用ウィンドウ１１０Ｄに対する、プラテン用ウィンドウ１１０Ｐの具体的数値（フィルタ係数）は、図示は省略したが、ＤＡＤＦ用ウィンドウ１１０Ｄの各フィルタ係数値よりも一律に小さくすればよい。「一律」は、加減算であってもよいし、乗除算であってもよい。
【０１４６】
なお、本実施の形態におけるフィルタ処理により、主走査方向（一方向）と副走査方向（一方向に対し交差する方向）でとで、周辺画素の影響度合い、すなわち、エッジ強調度合いを異ならせ、鮮鋭戸を強調する補正を行ったが、狭義のフィルタ処理に限定されるものではなく、一方向の周辺画素と、当該一方向に対し交差する方向の周辺画素とで影響度合いを異ならせて、画素を補正し得る他の手段（広義のフィルタ処理）を用いてもよい。
【符号の説明】
【０１４７】
Ｍ    原稿
Ｍ１    距離測定用原稿
Ｍ２    距離測定用原稿
１０    画像処理装置
１０Ａ    上部筐体
１０Ｂ    下部筐体
１２    画像形成部
１４    画像読取部
１６    ファクシミリ通信制御回路
１８    メインコントローラ
２４    トレイユニット
２６    ユーザーインターフェイス（ＵＩ）
２８    タッチパネル部
３０    ハードキー配列部
５０    自動原稿送り装置
６０    原稿台
６１    原稿搬送路
６２    排出台
６３    用紙送出部
６４    送出ローラ対
６５    案内板
６６    位置合わせローラ対
６８    アウトローラ対
６９    排出ローラ対
７０    読取ガラス
７４    読取ガラス
８８    ＣＩＳユニット
９０    信号処理部
９２    走査制御部
１００    光源
１０２    ロッドレンズアレイ
１０４    センサ基板
１０４Ａ    光電変換素子
１０９    弾性フィルム
１１０    基準ウィンドウ
１１０Ｄ    ＤＡＤＦ用ウィンドウ
１１０Ｐ    プラテン用ウィンドウ
１１１    パッド
１１３Ｓｍ、１１３Ｓｓ    ＣＴＦ測定用パターン
１１４    濃度測定用パターン
１１５    ジャンプガイド板
１５０    受付部
１５２    シェーディング処理部
１５４    ウィンドウ設定部（走査方向依存フィルタ係数設定）
１５６    第１のフィルタ処理部
１５８    ウィンドウ一時格納部
１６０    ウィンドウ読出部
１６２    読取モード情報読込部
１６４    ウィンドウ記憶部
１６６    色変換処理部
１６８    第２のフィルタ処理部
１７０    濃度調整部
１７２    出力部
１７４    ウィンドウ書込部
【図１】
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【図３】
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【図６】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図２】
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【図４】
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【図５】
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【図７】
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